펨트론 반기보고서 (2024.06)
4. 지적재산권 현황

☞ 본문 위치로 이동가. 등록특허 현황(53건)

번호	구분	내용	적용제품	출원국

1	특허	표면형상 측정방법	당사생산 검사장비일체	한국

2	특허	두께 및 형상 측정방법 및 측정장치	당사생산 검사장비일체	한국

3	특허	X선 검사장치와 이를 이용한 검사방법	당사생산 검사장비일체	한국

4	특허	두께 및 형상 측정 시스템	당사생산 검사장비일체	한국

5	특허	두께 및 형상 측정 시스템	당사생산 검사장비일체	한국

6	특허	표면형상 측정장치 및 그 제어방법	당사생산 검사장비일체	한국

7	특허	표면형상 측정장치 및 그 제어방법	당사생산 검사장비일체	한국

8	특허	표면형상 측정장치 및 그 제어방법	당사생산 검사장비일체	한국

9	특허	표면형상 측정장치	당사생산 검사장비일체	한국

10	특허	표면형상 측정장치	당사생산 검사장비일체	한국

11	특허	3D 측정 광학 시스템에 적용되는 2대의 카메라를 정렬하는 카메라 정렬방법	당사생산 검사장비일체	한국

12	특허	디지털 홀로그래피를 이용한 입체 측정장치	당사생산 검사장비일체	한국

13	특허	듀얼 파장 디지털 홀로그래피을 이용한 3D 측정 장치	당사생산 검사장비일체	한국

14	특허	전자빔 방출 장치	당사생산 검사장비일체	한국

15	특허	측정 대상물 3D 높이 정보를 측정하는 측정 방법 및 장치	당사생산 검사장비일체	한국

16	특허	단위패널과 이를 이용한 조립식패널	당사생산 검사장비일체	한국

17	특허	표면 형상 측정 장치	당사생산 검사장비일체	일본

18	특허	표면 형상 측정 장치 및 이를 이용한 스크린 프린터 관리 시스템	당사생산 검사장비일체	한국

19	특허	PLL을 이용한 정전식 터치스크린 패널 검사 장치 및 방법	당사생산 검사장비일체	한국

20	특허	표면 프롤 측정기	당사생산 검사장비일체	미국

21	특허	다단 컬럼 구조를 가진 전자빔 조사장치	당사생산 검사장비일체	한국

22	특허	표면실장부품의 듀얼 레인 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

23	특허	표면 형상 측정 장치	당사생산 검사장비일체	대만

24	특허	진동 감쇄 구조를 가진 전자빔 조사장치	당사생산 검사장비일체	한국

25	특허	진공 밸브부를 가진 전자빔 조사장치 및 진공 밸브부의 제어방법	당사생산 검사장비일체	한국

26	특허	디스플레이 글라스 안착 모듈	당사생산 검사장비일체	한국

27	특허	기판의 휨 정보의 측정이 가능한 표면 형상 측정 방법 및 표현 형상 측정 장치	당사생산 검사장비일체	한국

28	특허	진공 모드 전환 전자빔 조사장치	당사생산 검사장비일체	한국

29	특허	전자빔 얼라인먼트 조정장치 및 이를 이용한 전자빔 얼라인먼트 조정방법	당사생산 검사장비일체	한국

30	특허	표면 형상 측정 장치	당사생산 검사장비일체	한국

31	특허	AOI 장비의 티칭 데이터 자동 생성 방법	당사생산 검사장비일체	한국

32	특허	인쇄회로기판 상의 컨모멀 코팅 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

33	특허	소자실장형 FPCB용 2D검사장치	당사생산 검사장비일체	한국

34	특허	소자실장형 FPCB 검사시스템	당사생산 검사장비일체	한국

35	특허	듀얼 레인 및 듀얼 헤드를 갖는 3차원 광학 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

36	특허	COF 이송용 롤러	당사생산 검사장비일체	한국

37	특허	기포에 의한 기판불량 검사시스템 및 기포에 의한 기판불량 검사방법	당사생산 검사장비일체	한국

38	특허	테이프릴의 부품 잔량 기록시스템 및 테이프릴의 부품 잔량 기록방법	당사생산 검사장비일체	한국

39	특허	테이프릴의 부품 잔량 카운팅 시스템 및 테이프릴의 부품 잔량 카운팅 방법	당사생산 검사장비일체	한국

40	특허	테이프릴의 부품 잔량 기록시스템 및 테이프릴의 부품 잔량 기록방법	당사생산 검사장비일체	한국

41	특허	리드탭 제작용 필름부착장치	당사생산 검사장비일체	한국

42	특허	다열 리드탭 검사 및 적재 시스템	당사생산 검사장비일체	한국

43	특허	다열 리드탭 검사시스템	당사생산 검사장비일체	한국

44	특허	리드탭 제작 시스템	당사생산 검사장비일체	한국

45	특허	리드탭 제작 및 검사시스템	당사생산 검사장비일체	한국

46	특허	2열 리드탭 제작 시스템	당사생산 검사장비일체	한국

47	특허	리드탭 제작용 메탈 컷팅 장치	당사생산 검사장비일체	한국

48	특허	메탈 컷팅 장치	당사생산 검사장비일체	한국

49	특허	리드탭 제작 장치	당사생산 검사장비일체	한국

50	특허	다초점 마이크로렌즈 및 이의 제조방법	당사생산 검사장비일체	한국

51	특허	다열 리드탭 제작 및 검사 시스템	당사생산 검사장비일체	한국

52	특허	CT 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

53	특허	메탈리드 이송장치	당사생산 검사장비일체	한국

나. 출원특허 현황(20건)

번호	구분	내용	적용제품	출원국

1	출원	전극정렬상태 검사장치	당사생산 검사장비일체	한국

2	출원	기판 검사 시스템	당사생산 검사장비일체	한국

3	출원	엑스레이 검사 장비	당사생산 검사장비일체	한국

4	출원	비전 검사 장치의 검사 방법	당사생산 검사장비일체	한국

5	출원	전자 부품의 리드 팁을 검사하는 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

6	출원	CT 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

7	출원	리드탭의 검사 장치 및 검사 방법	당사생산 검사장비일체	한국

8	출원	리드탭의 검사 장치 및 검사 방법	당사생산 검사장비일체	한국

9	출원	릴 테이프의 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

10	출원	웨이퍼 척킹 시스템	당사생산 검사장비일체	한국

11	출원	웨이퍼 운반 시스템	당사생산 검사장비일체	한국

12	출원	픽커 장치	당사생산 검사장비일체	한국

13	출원	픽커 장치	당사생산 검사장비일체	한국

14	출원	카드형 전자 부품의 픽커 장치	당사생산 검사장비일체	한국

15	출원	카드형 전자 부품의 검사 장치에 적용되는 버퍼 장치	당사생산 검사장비일체	한국

16	출원	와이어 본딩 영역을 추론하는 AI 모델의 학습 데이터 수집 방법 및 생성 방법, AI 모델의 생성 방법, 및 와이어 본딩 영역의 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

17	출원	반도체 패키지의 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

18	출원	반도체 웨이퍼 검사를 위한 고휘도 다크 필드 조명 장치 및 이를 이용한 반도체 웨이퍼 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

19	출원	웨이퍼가 진공 흡착되는 웨이퍼 스테이지 장치	당사생산 검사장비일체	한국

20	출원	측면 검사가 가능한 검사 장치	당사생산 검사장비일체	한국

다. 디자인 및 상표 등록 현황(1건)

번호	구분	내용	적용제품	출원국

1	상표	제 09류 PCB검사장비등 16건(펨트론)	당사생산 검사장비일체	한국