루켄테크놀러지스 사업보고서 (2017.12)
II. 사업의 내용

1. 사업의 개요

당사는 MEMS 공정기술과 검사관련 Contact기술을 기반으로 디스플레이용, 반도체용 검사 부품을 (반도체 테스트 MEMS Socket, 디스플레이 MEMS Unit) 생산하고 있고, 검사장비, Laser Repair, 무인자동검사장비 (Vision기술) 등을 주생산하고 있으며, 장비 판매 후 소모품인 MEMS Probe Unit를 판매하고 있어 안정된 매출 구조를 가지고 있습니다. 또한 장비무인화에 Vision 기술, Contact 기술을 결합한 복합 무인자동검사장비를 판매하고 있습니다.

특히 신규 시장이 기대되는 대형 TV용 WOLED 관련해서는 Vision 검사장비, Laser Repair, 보상기 등 주력 검사설비와 부품 시장 점유율이 60%일정도로 그 기술력을 인정받고 있습니다. 중국 광저우 WOLED 신규 공장투자로 자사가 개발한 무인자동검사장비 및 Laser 리페어 , 보상기, PROBE UNIT 성공적인 수주로 점유율을 확대 할수 있을 것으로 예상하고 있습니다. 소형 Flexible OLED 관련해서도 검사장비, 보상기, Encap Vision 검사기 등 다양한 설비군으로 매출이 발생하고 있습니다.

신규 Item으로 OLED조명검사기 와 3D Vision 검사기의 개발이 완료되어 매출 발생이 이루어지고 있으며, 기술 독점적 지위로 향후 시장 점유율을 90% 이상 예상하고 있습니다.

반도체부품으로 Fine Pitch 용 검사 Socket의 개발이 마무리되어 금년 6월부터 국내 외 반도체 회사로 부터 매출 예상이 되고 있으며, 이는 기술 우위성 확보를 통해서 독점적 지위를 가질 것으로 예상하고 있습니다. 작년보다 대외적으로는 투자환경이 개선되고 있으며, 내부적으로는 개발 Item이 매출로 연계되기에 영업적 성과를 기대하고 있습니다.

가. 산업의 특성 등 (1) 규모의 경제 작동디스플레이 생산라인 투자시 원가경쟁력을 위해서 차세대 패널 라인에 대규모로 투자하면서 일정 규모 이상의 생산능력을 가져가야 하기 때문에 규모의 경제 원리가 작용합니다. 생산량을 증가시켜 생산단가를 낮추고 그 이익으로 다시 새로운 기술이 적용된 생산라인 투자가 이어지는 순환의 구조를 갖고 있습니다. 이러한 생산라인 투자시 장비회사도 새로운 생산기술에 적합한 장비를 공급하여야 하기 때문에 계속적인 장비에 대한 개발 투자가 이루어집니다. (2) 높은 진입장벽

디스플레이 부품,장비 시장은 대부분 주문 제작 형태를 띄고 있으며, 패널제조업체의 공정에 최적화된 장비를 원하는 경우가 많습니다. 특히 제품의 신뢰성을 평가하는 장비의 경우 패널제조업체와의 유기적인 협력을 통해 생산공정에서 요구하는 최적의 Solution을 제공할 수 있어야 합니다. 또한 핵심인력을 활용한 원천기술의 확보와 연구개발능력이 사업의 성패를 좌우하고 있습니다.

그러나 당사에서는 장비와 콘텍터의 동시 개발과 무인화라는 것을 바로 즉시 생산에 적용할수 있으며, 납품이력이 있는 경험 있는 회사 입니다.콘텍터는 MEMS 기술로 내부에서 생산하므로 경쟁력과 외부 기술 유출을 막을수 있습니다. 또한 콘텍터 생산이 무인화로 이어질 수 있어, 생산성, 원가 경쟁력에 의한 높은 진입장벽을 가지게 됩니다.반도체 소켓 또한 기존 POGO PIN 방식의 한계를 극복하기 위해 MEMS 소켓을 개발하는 것은 콘텍관련 융합 기술의 축적으로 이어질수 있습니다.

나. 산업의 성장성

중국 업체들의 대규모 투자 계획으로 지난해 하반기부터 시작한 디스플레이 시장의 초과 공급 상태가 당분간 지속될 것이라는 전망이 나왔습니다. 국내 업체들은 앞선 기술력을 바탕으로 수익성이 좋은 초대형 TV 시장을 공략하는 동시에 신기술 개발에 집중하고 있습니다. 올해 점유율 전망을 보면 한국 업체들이 줄어드는 만큼 중국 업체들이 성장하는 것으로 예상 됩니다. TV 시장은 판매 대수는약 10년 간 성장이 멈춘 반면 면적 기준으로는 성장세를 이어가고 있습니다. 즉 대형TV 판매 비중이 증가하고 있다는 것입니다. 특히 올해는 사상 처음으로 전체 TV 시장에서 65인치 이상 대형 제품의 비중이 32인치 제품보다 커지는 해가 될 것으로 예상 됩니다. 이런 시장 변화에 대응해 삼성전자, LG전자 뿐 아니라 중국의 BOE, CHOT 등 업체들은 초대형 디스플레이 팹(생산 공장)을 짓고 있거나 추가 건설을 계획하고 있습니다. 삼성의 대형 유기발광다이오드(OLED) 패널을 이용한 TV 사업화는 삼성디스플레이 주도로 건물을 짓고 있는 A5(충청남도 탕정)에 애플향 플렉시블이 아닌 대형 OLED 생산을 위한 장비가 입고될 가능성도 있습니다. 이에 올해부터는 대형 디스플레이 패널 시장에서 수요 대비 공급이 초과하는 상황이 발생할 전망입니다. 2019년에는 중국의 대형 TFT-LCD 디스플레이 공급량이 한국을 넘어서 세계 1위가될 것으로 내다보고 있습니다. OLED 분야에서의 추격도 빠른 상황이지만, 아직 기술 격차가 상당히 있는 것으로 봅니다. 디지털 TV 보급기에 30~40인치 TV를 쓰던 이들이 50~60인치대 TV로 교체할 것이라는 전망이고, 60인치 이상 초대형 TV 수요도 2024년이면 전체 시장의 44%에 달할 것으로 봅니다. BOE는 올해 10.5세대 공장 가동을 시작해 65인치와 75인치 디스플레이를 대량 생산하겠다는 계획이며, 이에세계 75인치 TV 시장은 연 140만대 규모로 추정됩니다.

(단위 : 억달러)

출처 : IHS, 유진투자증권중소형 OLED(유기발광다이오드)패널 시황은 올해 하반기부터 좋아질 것으로 보고 있으며, 중소형 디스플레이가 LCD(액정표시장치)에서 OLED로 이동 중인 것은 누구나 인정하고 있는 상황에서 OLED 패널을 탑재한 스마트폰 비중은 조만간 50% 이상(출하량 기준)이 될 것으로 보입니다. 삼성디스플레이는 수년째 중소형 OLED 시장에서 95%가 넘는 시장점유율을 보이고 있습니다. 2019년이면 스마트폰용 디스플레이 패널 시장에서 유기발광다이오드(OLED)가 액정표시장치(LCD)를 추월할 것이라는 전망되고, 지난해 하반기 출시된 애플 아이폰 X(iPhone X)에 OLED 디스플레이가 탑재되면서 주요 스마트폰 제조사의 OLED 채택비중이 증가할 전망입니다.

출처 : IHS, 유진투자증권 오는 2020년부터 LG디스플레이(034220)의 유기발광다이오드(OLED) 패널을 적용한 메르세데스벤츠 자동차가 나옵니다. 운전석 계기판부터 대시보드 중앙 디스플레이, 뒷좌석 모니터 등에 광범위하게 LG디스플레이 OLED가 탑재될 예정입니다. LG디스플레이가 올해부터 자동차용 OLED 패널을 본격 공급하는 데 따른 것으로 그동안 액정표시장치(LCD)로만 이뤄졌던 차량용 디스플레이 시장에 큰 변화를 예고되고 있습니다. 유비산업리서치에 따르면 차량용 디스플레이 크기는 2018년 6.7인치에서 2022년 8.3인치로 확대될 것으로 전망되고, 이 기간 차량용 OLED 디스플레이 시장 규모는 400만달러에서 50억2,300만달러로 연평균 497% 성장할 것으로 예상됩니다. 차량용 OLED 시장 확대는 LG디스플레이에 확실한 호재가 될 것으로 전망되며, LG디스플레이는 현재 10% 수준인 OLED 매출 비중을 2020년까지 40%로 확대한다는 계획을 갖고 있습니다. 이에 따른 OLED 디스플레이 검사장비 산업도 함께 성장할 것으로 내다보고 있습니다.반도체 테스트 소켓 관련하여 4차 산업부각으로 AI, 증강현실, IOT등의 신규 수요가 증가하며, 전 세계 반도체 및 관련 시장이 년 20%이상 성장하고 있습니다.이에 따라 반도체 테스트 공정에서 테스트 소켓은 매년 수요가 증가하고 있습니다.

다. 경기변동의 특성 반도체 및 디스플레이 콘텍 부품 및 검사 장비 산업은 고객사의 투자로 인해 변동성이 있으나 당사는 반도체 테스트 소켓 및 디스플레이 테스트 프로브 유니트 등의 소모품을 MEMS 공정으로 연구개발 및 제조하므로 고객의 장치 투자 영향을 적게 받으므로 경기변동에 강하다 할수 있습니다. 라. 국내외 시장여건

디스플레이 검사 장비 및 검사 부품(프로브유니트)은 각 고객사 별 요구하는 제품이 다르고, 제조 공정의 패널 제조업체가 공정상의 보안을 이유로 특정 장비에 대해 소수의 Vendor를 유지하는 정책을 취하고 있어, 실질적으로는 패널 제조사 중심으로 과점적 지위가 형성되어 있습니다.

반도체 소켓의 경우 기존 방식의 문제점 미세피치, 콘텍의안전성, 공급가 등의 이유로 새로운 제품을 요구 하고 있습니다. 당사에서 개발한 MEMS 소켓은 이 모든 부분을 충족할수 있습니다. 마. 회사의 경쟁상의 강점 등 당사는 Contact 기술을 바탕으로 반도체, Display 향 제품을 검사할 수 있는 검사관련 전문기업입니다. 즉, Contactor가 들어가는 모든 검사기는 설비 및 부품을 Turnkey로 제작 할 수 있는 능력을 보유하고 있어 하기와 같은 다양한 제품을 제작하고 있습니다.

제품명	내용

WOLED
대형 Cell
검사기	Vision 검사를 통한 생인화, 검사 균일화를 위한 Vision 검사설비
1) Algorithm은 Panel 생산업체에서 Box화하여 독자 개발
자사에서는 물류 기술 확보, Panel 파손방지(0.3t Panel 대응가능), Contact 기술 보유, 검사 생산성을 높이 기 위한(과검/미검 단축) 점등 Image Quality 향상 기술 보유
2)OLED 유기물 휘도 편차 제거를 위한 광보상 기술 보유
3)배면 Contact 기술(누름 Jig, Worktable 설계/제작) 보유
4)전류 구동방식에 따른 Contact Film 파손 방지 위한 Film 제작 MEMS기술 보유

WOLED
대형 Cell
점등 Repair	점등 후 Repair 설비
1)Laser Source는 전문 Laser 업체와 Co-Work
자사에서는 Fine Pitch Full Contact 점등기술 확보, Bottom Top Emission 동시 대응 기술 확보, Femto 단위 Laser Head 정밀 이송 기술 보유

OLED
POLED
소형 Cell
검사기
Module
검사기	Vision 검사를 통한 생인화, 검사 균일화를 위한 Vision 설비
1) Algorithm은 Panel 생산업체에서 Box화 하여 독자 개발
자사에서는 Glass와 달리 휨 발생이 있는 플라스틱 재질의 Cell 물류 기술 보유, Contact 기술 확보, 검사 생산성을 높이기 위한(과검/미검 단축) 점등 Image Quality 향상 기술 보유
2)OLED 유기물 휘도 편차 제거를 위한 광보상 기술 보유
3)배면 Contact 기술 보유
4)전류 구동방식에 따른 Contact Film 파손 방지 위한 Film 제작 MEMS 기술 보유
5)Cell 이후 Board Ass’y Type CNT Contact 기술 보유
6)Bending 후 CNT Contact 기술 보유
7)TSP 검사 기술 보유
8)Aging 기술 보유
9)In-Line System 구성 기술 보유

LTPS or
Oxide 원장
검사기	저전력 전자장치, OLED用 기판을 바탕으로 한 전자장치 수요 확장으로 Tr 소자측정을 Sample로 하던 공정이전수 검사로 변경되어 계측기에서 검사설비로 변경됨
1Bander 독점 설비를 자사에서 개발 시장 진입 함
Tact Time 20% 단축 및 ERRC를 통한 가격 경쟁력 보유
8세대, 6세대 실적 보유

반도체
검사기	Wafer, PCB Vision 외관 검사기
1)반도체 Wafer를 비접촉, 비손상으로 CD(Critica Dimension), TSV(Through Silicon Via)를 3D Image 검사 기술 보유
2)PCB Dimple 검사 기술 보유
3)파장 가변 Laser 운용 기술 보유

OLED
Contact
Hole 검사기	OLED Mask 공정 중 Panel 층간 전기적 신호 연결 위한 Contact Hole 구성함
3D로 Hole Top Bottom CD, Depth 검사기술 보유
Depth검사 기술 보유로 타사와 차별화 되며, Mask 공정의 Photo 설비의 Align 보정을 실시간으로 Feed-Back 할 수 있는 기술 보유

OLED S-Vth
검사기	세계 최초 개발 설비로서 Contact 후 휘도측정의 분포를 통해서 V-th의 이상 값을 측정할 수 있는 설비
LUKEN LG디스플레이 독점기술로 특허 보유

OLED
Aging	T-Aging L-Aging 동시 운영 In-Line System 구성 기술 보유
P-Aging 운영 In-Line System 구성 기술 보유

OLED Full
Contact
Vision검사기	Panel에 Shorting Bar(이하 S/B)를 별도 구성하여 Contact율을 높여 점등이상을 최소화하여 검사함
S/B 검사의 한계성으로 후보점 제시 후 추가 육안 검사 공정이 필요함.
엘지전자 생산기술원과 공동개발로 Full Contact 점등 Vision 검사기 개발 중이며 독자적 기술 보유
(엘지전자 생산기술원 Vision 검사부, LUKEN Contact부, 구동부)

OLED TOP
Emission
Laser
Repair	Bottom Repair설비는 양산 납품 중이며, Top Bottom 동시 Repair가 가능한 설비를 LG전자 생산기술원과 공동 개발 중임
LG디스플레이에서 기술보호를 위한 Box화 추진중이며, 독자적 운영 기술 보유

OLED
Encap(Seal)
검사기	원장 Sealing 후 검사하는 장비
향후 신규투자, Crack 검사 기능 추가 등의 개조 시 우선 협상 대상 업체임
Vision 검사 Algorithm 자체 보유

MEMS Type
Probe Unit	자체 MEMS Fab 운영을 통하여 COG등의 Fine Pitch용 Contactor 자체 개발
24마이크로미터 양산 기술(실적) 보유
고전류 구동 OLED 점등 구현 기술 보유

MSP Type
Probe Unit	Board Ass’y CNT Contact에 특화된 MSP(MEMS Spring Pin) Type Unit 개발
Apple向 Module Line 양산 기술(실적) 보유

반도체 Socket
ET Jig	Hole 가공을 통한 제품으로 검사가 불가능한 300~150마이크로미터의 Fine Pitch제품 검사 기술 보유
MEMS 공정을 이용한 Wafer Body Contact 제작 기술 보유

2. 주요 제품, 서비스 등(단위 : 천원)

제 품 명	생산(판매) 개 시 일	주요상표	매출액	비율	제 품 설 명

검사장비	2007.10.02	루켄테크놀러지스	25,690,331	70.97%	LCD/OLED 패널 검사장비

검사부품	2007.10.02	루켄테크놀러지스	9,874,920	27.28%	검사 장비 관련 소모성 부품

용역	2012.06.15	루켄테크놀러지스	631,897	1.75%	MC사업, Repair 관련 용역 등

총계	-	-	36,197,148	100.00%	-

주1) 매출액은 2017년 기준 매출액입니다.

3. 주요 원재료 등에 관한 사항가. 매입 현황

(단위 : 천원)

매입
유형	품 목	구 분	2015년
(제09기)	2016년
(제10기)	2017년
(제11기)

원재료	FRAME	국 내	533,621	900,103	958,532

SERVO DRIVER	국 내	412,272	560,925	584,500

BASE PLATE(타입A)	국 내	84,801	162,204	447,795

BASE PLATE(타입B)	국 내	-	373,965	-

LM GUIDE	국 내	312,400	462,981	411,289

SERVO MOTOR	국 내	365,019	453,946	458,623

기타	국 내	15,067,797	14,973,431	14,436,417

소계	국 내	16,775,909	17,887,556	17,297,156

외주 가공비	장비도급/SET UP	국 내	3,046,874	-	133,461

전장작업	국 내	413,271	42,268	23,534

도금	국 내	-	126,726	13,272

AOI PCB	국 내	435,663	196,666	-

기타	국 내	160,930	75,926	21,416

소계	국 내	4,056,739	441,586	191,682

총 합 계	국 내	20,832,648	18,329,142	17,488,839

주) 원재료 매입 중 기타 품목은 2015년 4,388종, 2016년 4,897종, 2017년 5,021종으 로 구성되어 있으며, 품목별 매입액이 작아 기타로 분류하였음 나. 원재료의 주요 매입처 당사는 주요 매입처와 특수관계가 없으며, 주요 원재료의 안정적 공급을 위하여 생산계획에 따른 소요량을 계산하여 주문을 발주하고 있습니다.

다. 원재료 가격변동추이(1) 가격변동 추이

(단위 : 원)

구분	2015년
(제09기)	2016년
(제10기)	2017년
(제11기)

FRAME	국내	2,868,930	2,579,091	2,543,546

SERVO DRIVER	국내	461,154	429,827	482,024

BASE PLATE(타입A)	국내	572,976	747,485	664,664

BASE PLATE(타입B)	국내	-	10,387,922	-

LM GUIDE	국내	76,362	73,512	63,515

SERVO MOTOR	국내	367,221	365,790	334,821

주1) 산출기준 : 연간 총매입액 ÷ 연간 총매입수량 주2) 당사는 주문형 상품으로 수주받은 제품의 규격 등에 따라 원재료 매입 규격이 상이하여 평균 단가 변동이 상이합니다.

4. 생산 및 생산설비에 관한 사항가. 생산능력 및 생산실적

당사가 생산하는 검사 장비는 고객의 다양한 제품 사양조건에 맞추어 개발과 재품생산이 동시에 진행되는 방식으로서 양산체제보다는 주문자 요청에 의한 제품제작방식(수주방식)이 주를 이루고 있습니다. 또한 개별 제품별로 전용설비를 통해 생산하는 것이 아니기 때문에 개별 제품별로 생산능력과 가동률을 파악하기는 어렵습니다. 다만 제조시설의 면적 및 투입 인원을 기준으로 한 가동률은 아래의 표와 같이 산정할 수 있습니다.

(단위 : 대, EA)

제 품	구 분	2015년
(제09기)	2016년
(제10기)	2017년
(제11기)

검사장비	생산능력	92	92	92

생산실적	36	39	48

가 동 율	39.13%	42.39%	52.17%

기말재고	6	24	44

검사부품	생산능력	6,000	4,200	4,300

생산실적	5,900	2,903	3,824

가 동 율	98.33%	69.12%	88.93%

기말재고	177	34	16

주) 산출근거(단위 : 대, EA)

제 품	구 분	2015년
(제09기)	2016년
(제10기)	2017년
(제11기)

검사장비	①면적(㎡)	1,296	1,296	1,296

②장비 1개 생산시 소요면적(㎡)	42	42	42

③총 생산일수(일)	300	300	300

④장비 1개 생산기간(일)	100	100	100

⑤최대생산대수[⑤=(①÷②)X(③÷④)]	92	92	92

⑥생산능력(⑥=⑤)	92	92	92

검사부품	①인원수(명)	25	21	24

②일 근무시간	12	10	9

③총 생산일수(일)	300	300	300

④부품 1개 생산시간	15	15	15

⑤최대생산개수[⑤=①X②X③÷④)]	6,000	4,200	4,300

⑥생산능력(⑥=⑤)	6,000	4,200	4,300

나. 생산설비에 관한 사항(단위 : 천원)

자산별	소재지	기초
가액	당기증감	당기
상각	기말
가액	비고

증가	감소

토지	이천시 마장면	2,288,573	586,014	-	-	2,874,587	재평가 차익

용인시 양지면	2,093,628	1,006,423	-	-	3,100,050	건설중인자산 토지 대체및 재평가 차익

소계	4,382,201	1,592,437	-	-	5,974,637	-

건물	이천시 마장면	1,226,003	-	-	36,359	1,189,644	-

소계	1,226,003	-	-	36,359	1,189,644	-

기계
장치	파주시 월롱면	341,498	-	-	154,016	187,482	-

구미시 임수동	93,785	-	-	42,297	51,488	-

광주광역시 월출동	7,019	-	-	6,462	556	-

이천시 마장면	873,032	-	-	394,044	478,988

소계	1,315,334	-	-	596,819	718,515	-

공구와기구	파주시 월롱면	6,999	-	-	3,156	3,842	-

구미시 임수동	584	-	-	263	321	-

용인시 양지면	1,345	-	-	607	739	-

이천시 마장면	40,409	203,508	-	87,061	156,856	-

소계	49,337	203,508	-	91,088	161,758	-

비품	파주시 월롱면	3,181	-	-	1,433	1,748	-

구미시 임수동	5,393	-	-	1,062	2,962	-

광주광역시 월출동	4	-	-	0	4	-

용인시 양지면	698	-	-	435	262	-

이천시 마장면	129,095	-	-	22,826	70,798	-

아산시 탕정면	314	-	-	141	173	-

소계	138,685	-	-	25,897	75,948	-

시설
장치	구미시 임수동	968	-	-	437	532	-

광주광역시 월출동	1,996	-	-	900	1,096	-

용인시 양지면	6,575	-	-	2,965	3,609	-

소계	9,540	-	-	4,302	5,237	-

시험
장비	파주시 월롱면	158,231	-	-	81,539	76,692	-

구미시 임수동	202,761	-	-	100,097	102,664	-

광주광역시 월출동	28,488	-	-	12,848	15,640	-

이천시 마장면	14,069	-	-	14,068	1	-

아산시 탕정면	9,257	-	-	9,256	1	-

소계	412,806	-	-	217,809	194,998	-

차량
운반구	파주시 월롱면	3,879	-	-	1,749	2,130	-

구미시 임수동	2	-	-	-	2	-

용인시 양지면	10,141	-	-	4,573	5,568	-

이천시 마장면	9,272	-	5,090	4,181	1	-

소계	23,294	-	5,090	10,503	7,701	-

5. 매출에 관한 사항가. 매출실적(단위 : 천원, 천USD)

매출
유형	부 문	2015연도
(제09기)	2016연도
(제10기)	2017연도
(제11기)

수량	금액	수량	금액	수량	금액

제품	검사
장비	수 출	2	130,937
(114)	4	3,141,797
(2,750)	15	8,340,228(7,327)

내 수	30	18,948,760	15	10,692,422	51	17,350,103

소 계	32	19,079,697	19	13,834,219	66	25,690,331

검사부품	수 출	48	722,730
(646)	22	371,807
(335)	27	564,675(498)

내 수	401	11,837,955	180	5,522,912	529	9,310,245

소 계	449	12,560,684	202	5,894,720	556	9,874,920

용역	수 출	-	205,308
(177)	-	340,397
(296)	-	-

내 수	-	3,931,562	-	4,660,557	-	631,896

소 계	-	4,136,870	-	5,000,954	-	631,896

기타	수 출	-	401,218
(361)	-	60,538
(44)	-	-

내 수	-	1,892,609	-	2,479,000	-	-

소 계	-	2,293,827	-	2,539,538	-	-

기타	기타	-	-	-	-	-

합 계	수 출	-	1,460,194
(1,298)	-	3,914,539
(3,425)	-	8,904,903(7,826)

내 수	-	36,610,886	-	23,354,892	-	27,292,243

합 계	-	38,071,080	-	27,269,431	-	36,197,147

나. 수출 현황(단위 : 천원, 천USD)

매출
유형	부 문	2015연도
(제09기)	2016연도
(제10기)	2017연도
(제11기)

수출국	수출액	수출국	수출액	수출국	수출액

제품	검사
장비	수 출	중국	130,937
(114)	중국	3,141,797
(2,750)	중국	8,340,228(7,327)

검사부품	수 출	중국	722,730
(646)	중국	371,807
(335)	중국	564,675(498)

용역	수 출	중국	205,308
(177)	중국	340,397
(296)	중국	-

기타	수 출	중국	401,218
(361)	중국	60,538
(44)	중국	-

합 계	수 출	-	1,460,194
(1,298)	-	3,914,539
(3,425)	-	8,904,903(7,826)

다. 판매경로 (1) 판매경로별 매출액

(단위 : 천원, 천USD, %)

매출유형	품 목	구 분	판매경로	판매경로별 매출액	비중

제품	검사장비	수출	디스플레이 제조사	7854298(6,899)	88.20%(88.17%)

무역상사	485,930(428)	5.46%(5.47%)

국내	디스플레이 제조사	17,101,057	62.66%

부품사	249,047	0.91%

검사부품	수출	디스플레이 제조사	564,675(498)	6.34%(6.36%)

국내	디스플레이 제조사	9,057,897	33.19%

부품사	252,347	0.92%

용역	수출	디스플레이 제조사	-	-

국내	디스플레이 제조사	631,896	2.32%

부품사	-	-

합계	수출	-	8,904,903	24.60%

국내	-	27,292,244	75.40%

계	-	36,197,147	100.00%

(2) 주요매출처(단위: 천원)

구분	2015년(09기)	2016년 (10기)	2017년 (11기)

금액	비중	금액	비중	금액	비중

A사	33,106,670	86.96%	21,264,516	77.98%	23,980,272	66.25%

B사	969,024	2.55%	2,637,726	9.67%	6,763,032	18.68%

C사	-	-	1,042,133	3.82%	2,658,292	7.34%

D사	-	-	821,690	3.01%	1,490,679	4.12%

E사	2,858,738	7.51%	628,607	2.31%	485,931	1.34%

기타	1,136,647	2.99%	874,758	3.21%	818,942	2.26%

계	38,071,080	100.0%	27,269,431	100.0%	36,197,148	100.0%

6. 수주현황

[2017년 12월 31일 현재 기준]

(단위: 천원)

발주처	품목	수주일자	납기	수주가액	수주잔고

수량	금액	수량	금액

A사	대형 Batch AP	2017-09-12	2018-02-20	6	4,680,000	6	4,680,000

OLED 점등 Repair	2017-09-21	2018-03-20	1	680,000	1	680,000

중소형 AP 장비	2017-10-10	2018-02-22	17	4,292,500	17	4,292,500

소형 Batch 장비	2017-11-09	2018-04-30	1	244,000	1	244,000

OLED OCR BAP	2017-11-21	2018-02-15	1	323,000	1	323,000

소형 Contat 장비	2017-11-24	2018-02-11	1	252,700	1	252,700

OCR 검사기	2017-12-01	2018-02-12	1	118,000	1	118,000

VPU Unit	2017-12-22	2018-01-15	1	115,696	1	115,696

Probe Unit Block	2017-12-29	2018-01-15	1	204,000	1	204,000

B사	JIG 검사기 7" 개조	2017-12-29	2018-01-29	25	143,000	25	143,000

합계	55	11,052,896	55	11,052,896

7. 파생상품 및 풋백옵션 등 거래현황 당 사 는 해당사항 없습니다. 8. 경영상의 주요계약 등 당 사 는 해당사항 없습니다. 9. 연구개발활동

가. 연구개발비용(단위 : 천원)

구 분	2015년
(제09기)	2016년
(제10기)	2017년
(제11기)

자산처리	원재료비	814,205	791,864	-

인건비	546,890	47,289	-

감가상각비	364,941	-	-

위탁용역비	-	12,000	-

기타 경비	-	-	-

소 계	1,726,036	851,153	-

비용처리	제조원가	-	-	-

판관비	3,042,112	1,936,555	1,661,547

합 계
(매출액 대비 비율)	4,768,148	2,787,708	1,661,547

(12.52%)	(10.22%)	(4.59%)

나. 연구개발실적

구분	세부내용

연구과제	반도체 TSV TOP CD/Depth 측정을 위한 100nm급 시스템개발

연구기관	㈜루켄테크놀러지스

연구결과
및 기대효과	반도체 Wafer의 TSV와 Pattern 검사에 적용할 수 있으며 PCB Dimple 및 LCD, OLED의 Pattern 검사기로의 사용이 가능함.
- 높은 광 간섭성을 갖는 레이저를 광원으로 사용하므로 이론적으로는 20:1 이상의 종횡비와 500um이상의 단차를 갖는 hole의 측정이 가능함
- 그러므로 TSV, OLED Contact hole등의 검사에 적합하며 hole이나 pattern의 CD에 따라 광학계의 배율이나 카메라의 해상도를 조정하여 최적화 할 수 있음
- 본 기술로 Wafer TSV 검사장비를 국산화함으로서 공정초기에 불량을 검출하여 수율 향상 및 수익증대에 기여할 것으로 기대됨
- 패턴이 복잡해지면서 패턴의 각 층을 전기적으로 연결해주는 Contact hole의 CD도 약 2um 정도로 작아져 Wafer의 TSV와 같이 제품을 절단하여 그 단면을 검사하고 있는 실정이며 이에 OLED공정에서는 비접촉으로 제품에 손상을 주지 않고 검사할 수 있는 검사기의 필요성이 대두되고 있고 이에 OLED생산라인에 검사 장비를 공급하고 OLED 패널 수율 향상에 큰 역할을 하여 매출 및 수익증대에 큰 효과가 기대됨

연구결과가 상품화된 경우 그 내용	-

연구결과가 상품화 되지 않은 경우 그 이유	본 연구결과를 바탕으로 현재 거래선과 테스트 진행 중에 있으나 언제 구체적으로 판매계약으로 연결될지는 확정되지 않았습니다.

구분	세부내용

연구과제	3D Dimple장비 개발

연구기관	㈜루켄테크놀러지스

연구결과 및 기대효과	표면을 통해 발견되지 않는 결함을 PCB 절단 없이 3D 측정을 통해 검출하는 기술로서 기존 Dimple 불량을 측정하기 위해서 X-ray 또는 전자현미경(SEM, Scanning Electro Microscope)을 통하여 시료를 절단하여 측정하거나 개별 이미지를 촬영하는 방식을 사용하였으나 제품의 손상 및 측정 샘플 수의 한계가 있어 대량 공정 적용 시 어려움이 있었음.
본 기술은 비접촉식으로 Dimple의 Top CD, Depth을 모두 측정할 수 있는 고속, 대면적 3D 측정 기술로 종래의 대표적인 Dimple 측정 기술인 X-ray 또는 전자현미경 기술이 가지는 제품의 손상 및 검사 속도 저하, 검사영역의 한계를 극복하는 것이 가능한 기술임.
기계적인 스캐닝 방식을 제거함으로써 측정 속도를 크게 향상 시킬 수 있고 다 파장 광원과 디지털 신호 처리 기법을 적용하여 측정 범위의 확장과 공간 분해능을 증가시킬 수 있음.
반도체 공정 이외에도, 빠른 측정 속도와 진동 둔감 측정 특성이 필요한 생산 공정 중의 실시간 측정/검사 분야에 적용될 수 있음.
고속 형상 측정 관련 원천 기술 확보는 측정 장비의 세계시장 선점과 표준화를 주도, 광통신, 전기전자, 미세 기계부품에 요구되는 대면적 마이크로 형상 부품의 양산 시스템 국산화 기술 확보를 통하여 향후 국내 디스플레이 산업의 기술적 발전에 효과적으로 대응할 수 있음.
국내 초정밀 측정 시스템 설계 및 제작 기술 확보를 통한 고부가가치 측정 시스템의 국산화에 기여 및 원천 기술을 확보함으로써 세계시장 선점과 표준화 주도를 기대할 수 있어 수출 증대 효과까지 기대할 것으로 판단됨.

연구결과가 상품화된 경우 그 내용	현재 3D Dimple장비는 거래처에 수주되어 2018년 6월부터 매출이 발생 예상 되고 있습니다.

연구결과가 상품화 되지 않은 경우 그 이유

구분	세부내용

연구과제	NEW FILM Probe block 개발

연구기관	㈜루켄테크놀러지스

연구결과 및 기대효과	Panel을 검사함에 있어서 오랜 시간 동안 Contact시 Film상의 Bump 변형으로 인한 Contact 저항의 증가 및 Pin Miss로 인하여 SET UP 시간의 증가, Repair비용 상승이 발생하기 때문에 기존 Bump Film 을 대신하여 Film contact pad에 특수 처리를 하여 번트방지 및 contact 수명 증가를 목적으로 New Film형태의 Bump Film을 이용한 Probe Block을 개발하였음

연구결과가 상품화된 경우 그 내용	New Film을 장착한 probe block이 현재 거래처에 납품되어 매출이 발생되고 있습니다.

연구결과가 상품화 되지 않은 경우 그 이유	-

구분	세부내용

연구과제	NEW BAP개발

연구기관	㈜루켄테크놀러지스

연구결과 및 기대효과	OLED TV Batch Auto Probe는 유기발광다이오드 소자에 대한 불량 검사장치로 검사 Tact Time 단축하였으며(550 sec에서 350 sec), 검사자 육안 검사를 비젼 자동 화상 검사로 대체하여 불량 검출 표준화와 좌표 정합성을 향상하였음.

연구결과가 상품화된 경우 그 내용	현재 NEW BAP는 거래처에 납품되어 매출이 발생하고 있습니다.

연구결과가 상품화 되지 않은 경우 그 이유	-

구분	세부내용

연구과제	반도체 Socket 개발

연구기관	㈜루켄테크놀러지스

연구결과 및 기대효과	IC 패키지는 사용하기 전에 집적회로(IC)가 제대로 동작하는지 여부를 확인하기 위하여 성능평가 테스트를 거치게 된다. 구체적으로 IC 패키지를 장착한 테스트 소켓(Test Socket)에 전기적인 신호를 인가하여 IC 패키지의 기능구현 여부, 동작속도 및 소비전류 등의 성능을 평가하고 양품과 불량으로 선별한다. 이러한 과정을 통해 IC 패키지의 불량을 적출하여 제거함으로써 반도체 제품의 품질 및 신뢰성을 제고한다. 원자재 생산 공정을 MEMS 공정을 사용여 제작하므로 치수 정밀도가 높으며 가공오차가 Sub microns이하의 수준으로 가공 가능함. - Tip을 한번에 가공 대량 생산이 가능하여 생산성 극대화 - Photo 공정으로 Wafer Guide를 제작하여 동시에 여러 종류의 모델을 제작가능하여 생산성 극대화 - 동일한 제품 제작 시 대량생산이 가능하여 원가절감이 가능함 - MEMS 공정을 이용하므로 미세 Pitch 제품 적용에 우수함

연구결과가 상품화된 경우 그 내용	-

연구결과가 상품화 되지 않은 경우 그 이유	본 연구결과를 바탕으로 현재 거래선과 test진행중에 있으나 언제 구체적으로 판매계약으로 연결될지는 확정되지 않았습니다.

10. 그 밖에 투자의사결정에 필요한 사항 지적재산권 보유 내역

NO	구분	내용	권리자	출원일	등록일	적용
제품	주무
관청

1	중국 특허	探針組件	㈜루켄테크놀러지스	2008.05.21	2009.03.04	검사부품	중국지식산권국

2	중국 특허	探針	㈜루켄테크놀러지스	2008.05.21	2009.03.04	검사부품	중국지식산권국

3	상표	루켄 상표권	㈜루켄테크놀러지스	2008.02.12	2009-04-14	회사로고	특허청

4	실용 신안	엘시디 검사용 프로브 유니트	㈜루켄테크놀러지스	2008.10.20	2009-06-12	검사부품	특허청

5	실용 신안	이물에 의한 컨텍 불량을 방지할 수 있는
텝아이씨직접컨텍타입의프로브유니트	㈜루켄테크놀러지스	2010.03.30	2011-01-31	검사부품	특허청

6	특허	엘시디 검사용 프로브 유니트	㈜루켄테크놀러지스	2008.10.20	2009.06.12	검사부품	특허청

7	특허	엘시디 패널의 자동 비젼검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2009.12.16	2012.12.18	검사장비	특허청

8	특허	이물에 의한 컨텍 불량을 방지할 수 있는 탭 아이씨 직접 컨텍 타입의 프로브 유니트	㈜루켄테크놀러지스	2010.03.30	2011.01.31	검사부품	특허청

9	특허	프로브 유닛	㈜루켄테크놀러지스	2012.03.20	2013.10.22	검사부품	특허청

10	특허	반도체 패키지 검사용 접촉 구조물 제조 방법, 반도체 패키지 검사용 접촉 구조물 및 이를 포함하는 반도체 패키지 검사용 소켓	㈜루켄테크놀러지스	2012.04.06	2013.12.27	검사부품	특허청

11	특허	터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치	㈜루켄테크놀러지스	2012.04.09	2014.04.10	검사장비	특허청

12	특허	엘시디 패널의 자동 비젼검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2012.06.08	2012.12.18	검사장비	특허청

13	특허	프로브 필름, 그를 포함하는 프로브 유닛 및 프로브 필름의 제조방법	㈜루켄테크놀러지스	2012.07.06	2013.12.02	검사부품	특허청

14	특허	프로브 필름, 그를 포함하는 프로브 유닛 및 프로브 필름의 제조방법	㈜루켄테크놀러지스	2012.07.06	2014.02.17	검사부품	특허청

15	특허	3차원 표면 형상 측정장치 및 3차원 표면 형상 측정방법	㈜루켄테크놀러지스	2012.08.20	2014.05.07	검사장비	특허청

16	특허	수직형 프로브 카드	㈜루켄테크놀러지스	2012.11.02	2014.02.17	검사부품	특허청

17	특허	일체형 패널 검사 장치 및 패널 검사 장치 정렬 방법	㈜루켄테크놀러지스	2012.12.14	2014.03.21	검사부품	특허청

18	특허	프로브 블록용 프로브 필름 및 이의 제조방법	㈜루켄테크놀러지스	2012.12.21	2013.06.03	검사부품	특허청

19	특허	범프 필름 프로브 카드	㈜루켄테크놀러지스	2013.01.31	2013.07.15	검사부품	특허청

20	특허	전자소자 테스트 장치용 블럭 구조체 및 이를 포함하는 전자소자 테스트 장치	㈜루켄테크놀러지스	2013.01.31	2013.07.15	검사부품	특허청

21	특허	반도체 패키지 검사용 소켓	㈜루켄테크놀러지스	2013.02.13	2013.03.28	검사부품	특허청

22	특허	터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치	㈜루켄테크놀러지스	2013.02.18	2014.02.17	검사장비	특허청

23	특허	오토 프로브 검사 장치 및 이를 이용한 유기 전계 발광 표시 타입의 패널 검사 방법	㈜루켄테크놀러지스	2013.04.22	2015.08.21	검사부품	특허청

24	특허	프로브 블록 어셈블리	㈜루켄테크놀러지스	2013.05.07	2014.04.10	검사부품	특허청

25	특허	수직형 필름 타입 프로브 카드	㈜루켄테크놀러지스	2013.05.08	2014.12.19	검사부품	특허청

26	특허	형광체막 형성 시스템	㈜루켄테크놀러지스	2013.07.25	2015.01.19	검사부품	특허청

27	특허	분말 정량 공급 시스템	㈜루켄테크놀러지스	2013.07.25	2015.05.22	검사부품	특허청

28	특허	형광체막 형성용 전류인가장치	㈜루켄테크놀러지스	2013.07.25	2015.08.20	검사부품	특허청

29	특허	수직형 프로브 유닛 블록	㈜루켄테크놀러지스	2013.09.13	2015.05.06	검사부품	특허청

30	특허	자동 셀 검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2013.11.29	2015.06.10	검사장비	특허청

31	특허	에이징 시스템	㈜루켄테크놀러지스	2013.11.29	2015.11.25	검사장비	특허청

32	특허	광학 측정 모듈 및 이를 포함하는 평판 디스플레이 패널의 광학 검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2013.12.19	-	검사장비	특허청

33	특허	전자 디바이스의 검사장치 및 검사방법	㈜루켄테크놀러지스	2014.02.07	2015.05.18	검사장비	특허청

34	특허	전자 디바이스의 검사장치	㈜루켄테크놀러지스	2014.04.07	2015.06.10	검사장비	특허청

35	특허	전자 디바이스의 검사장치	㈜루켄테크놀러지스	2014.05.13	2015.11.12	검사장비	특허청

36	특허	전자 디바이스의 검사장치	㈜루켄테크놀러지스	2014.07.24	2016.02.23	검사장비	특허청

37	특허	반도체 패키지 검사용 소켓 및 그 제조 방법	㈜루켄테크놀러지스	2014.09.02	2016.07.14	검사부품	특허청

38	특허	반도체 패키지 검사용 소켓 및 그 제조방법	㈜루켄테크놀러지스	2014.09.04	2016.08.02	검사부품	특허청

39	특허	필름형 프로브 유닛	㈜루켄테크놀러지스	2014.10.24	2016.02.01	검사부품	특허청

40	특허	필름형 프로브 유닛	㈜루켄테크놀러지스	2014.10.24	2016.02.23	검사부품	특허청

41	특허	필름형 프로브 유닛	㈜루켄테크놀러지스	2014.10.24	2016.05.09	검사부품	특허청

42	특허	오토 프로브 검사 장치 및 이를 이용한 유기 전계 발광 표시 타입의 패널 검사 방법	㈜루켄테크놀러지스	2015.03.13	2015.11.02	검사장비	특허청

43	특허	누름 구조체 및 이를 포함하는 오토 프로브 검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2015.03.13	2015.11.02	검사장비	특허청

44	특허	패널 리페어 시스템 및 이를 이용한 패널 리페어 방법	㈜루켄테크놀러지스	2015.03.27	2015.07.27	검사부품	특허청

45	특허	연결 구조체의 제조 방법 및 연결 구조체	㈜루켄테크놀러지스	2015.07.21	2016.02.23	검사장비	특허청

46	특허	엘이디 패키지 제조장치	㈜루켄테크놀러지스	2015.07.31	2017.02.01	검사장비	특허청

47	특허	누름 구조체, 이를 포함하는 오토 프로브 검사 장치 및 유기 전계 발광 표시 타입의 패널 검사 방법	㈜루켄테크놀러지스	2015.08.19	2017.06.23	검사장비	특허청

48	특허	오토 프로브 검사 장치 및 이를 이용한 패널 검사 방법	㈜루켄테크놀러지스	2015.12.10	2016.08.17	검사부품	특허청

49	특허	오토 프로브 검사 장치 및 이를 이용한 패널 검사 방법	㈜루켄테크놀러지스	2015.12.15	2016.10.07	검사부품	특허청

50	특허	프로브 카드	㈜루켄테크놀러지스	2016..02.16	2017.12.18	검사부품	특허청

51	특허	프로브 핀 및 이를 포함하는 디바이스 검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2016.07.25	2017.11.14	검사장비	특허청