루켄테크놀러지스 사업보고서 (2016.12)
II. 사업의 내용

1. 사업의 개요

당사는 LCD, OLED 디스플레이 검사장비 및 Probe unit 등 디스플레이 패널 및 반도체 검사용 부품 전문기업으로, 원장(Mother Glass) 공정, 셀공정, 모듈 공정에서 LCD, OLED Vision검사 및 Aging 장비 등의 검사장비 라인업을 갖추고 있으며 검사에 필요한 핵심부품을 MEMS 공정을 이용하여 자체적으로 제조하고 있습니다.

가. 산업의 특성 등 (1) 규모의 경제 작동디스플레이 생산라인 투자시 원가경쟁력을 위해서 차세대 패널 라인에 대규모로 투자하면서 일정 규모 이상의 생산능력을 가져가야 하기 때문에 규모의 경제 원리가 작용합니다. 생산량을 증가시켜 생산단가를 낮추고 그 이익으로 다시 새로운 기술이 적용된 생산라인 투자가 이어지는 순환의 구조를 갖고 있습니다. 이러한 생산라인 투자시 장비회사도 새로운 생산기술에 적합한 장비를 공급하여야 하기 때문에 계속적인 장비에 대한 개발 투자가 이루어집니다. (2) 높은 진입장벽

디스플레이 장비 시장은 대부분 주문 제작 형태를 띄고 있으며, 패널제조업체의 공정에 최적화된 장비를 원하는 경우가 많습니다. 특히 제품의 신뢰성을 평가하는 장비의 경우 패널제조업체와의 유기적인 협력을 통해 생산공정에서 요구하는 최적의 Solution을 제공할 수 있어야 합니다. 또한 핵심인력을 활용한 원천기술의 확보와 연구개발능력이 사업의 성패를 좌우하고 있습니다.

패널제조업체는 장비에 대한 종속성이 커서 대단위 투자 시 새로운 장비업체로의 변경이 용이하지 않으며, 패널제조업체의 공정기술에 부합하는 장비 제작을 위해 협력관계가 필수적이기 때문에 자연스럽게 해당 공정장비에 대한 독점적 지위를 갖게 되어 신규 업체들에게는 진입장벽을 형성하게 됩니다.

나. 산업의 성장성

디스플레이 산업중 LCD는 정체되어 있지만 플렉서블(Flexible)을 중심으로 하는 OLED 디스플레이 시장은 높은 성장률을 나타낼 것으로 예상되고 이에 따른 OLED 디스플레이 검사장비 산업도 함께 성장할 것입니다.

(단위 : 억달러)

출처 : IHS, 유진투자증권2019년이면 스마트폰용 디스플레이 패널 시장에서 유기발광다이오드(OLED)가 액정표시장치(LCD)를 추월할 것이라는 전망이고 애플이 차기 아이폰 디스플레이를 OLED로 바꾸는 움직임을 보이는 등 주요 스마트폰 제조사의 OLED 채택비중이 증가할 전망입니다.

출처 : IHS, 유진투자증권 IHS와 디스플레이 업계에 따르면 지난해 106억달러였던 스마트폰용 OLED 패널 매출은 2019년 195억달러로 4년 만에 83% 성장해 전체 스마트폰 패널시장의 50.7%에 이를 전망이고, 같은 기간 스마트폰용 LCD 패널 매출은 208억달러에서 190억달러로 줄어들어 점유율이 50% 아래로 떨어질 것으로 예상했습니다.

자료 : IHS

출하량 기준으로도 OLED 패널은 2015년 2억 5,000만개에서 2019년 6억 3,000만개로 2.5배 늘어나는 반면 LCD 패널은 같은 기간 12억 9,000만개에서 13억 4,000만개로 소폭 성장에 그칠것으로 전망했습니다.

애플이 이르면 2017년 말 부터 아이폰에 OLED 패널을 채택할 것이라는 전망이 나오면서 시장의 무게중심이 빠르게 움직일 것으로 예상하고 있습니다. 아이폰은 현재 LCD 기반의 레티나 디스플레이를 사용하고 있으며, 지난해 애플에 디스플레이를 공급한 업체는 재팬디스플레이(1억 300만개), LG디스플레이(1억 200만개), 샤프(7,400만개) 등 3개사였고, 이에 따라 당분간 삼성디스플레이의 스마트폰용 OLED 패널 수요가 늘 것으로 예상하고 있습니다. 현재 스마트폰용 소형 OLED 패널은 삼성디스플레이가 97% 이상의 압도적인 점유율을 기록하고 있습니다.

삼성디스플레이는 지난해 2억 5,000만개의 OLED 패널을 생산했고, 2위인 중국의 에버디스플레이는 100분의 1 이하인 220만개를 생산했습니다. 대만의 AUO가 48만개, LG디스플레이가 45만개로 뒤를 이었습니다.

2017년 삼성디스플레이는 A3 라인 생산능력을 45K/월에서 123K/월까지 확대해 애플 아이폰용 플렉서블 OLED를 공급할 예정입니다. 또한 7세대 LCD 라인에서 OLED로 전환된 A4 라인이 신규 가동될 예정이며 생산능력은 60K/월로 예상하고 있습니다. 이에 따라 삼성디스플레이 2017년 투자금액은 10조원으로 예상됩니다.

LG디스플레이는 구미에 건설 중인 6세대 OLED E5 라인을 완성해 2017년 3분기 양산을 시작할 예정이며 총생산능력은 23k/월로 예상합니다. LG디스플레이는 안정적인 플렉서블 OLED 사업 수익성 확보를 위해서 자동차용 OLED 개발에 박차를 가하고 있습니다. 자동차용 OLED는 요구조건이 스마트폰 OLED 대비 까다롭기 때문에 높은 수익성이 보장됩니다. 2017년 LG디스플레이 투자금액은 2016년 3.7조원 대비 54.1% 증가한 5.7조원으로 예상되며 LG디스플레이의 투자금액 가운데 70% 이상이 OLED입니다.

그 동안 주춤했던 중국 패널 제조사들도 OLED 시장 확대에 따라 투자를 계획 또는 진행하고 있습니다. 중국 Tianma는 최근 우한에 6세대 저온폴리실리콘(LTPS) LCD 설비 증설을 계획했으나 이 중 일부를 LTPS 기반의 AMOLED 생산라인으로 개조하고 2018년 부터 양산한다는 목표를 세우고 있습니다. BOE는 청두에 플렉시블 OLED 생산라인 B7 투자 집행을 시작했는데, 오는 2019년까지 월 4만 5,000장 규모로 6세대 플렉시블 OLED 패널을 양산하기 위한 투자입니다.

글로벌 전체 플렉서블 AMOLED 패널 출하량은 오는 2021년 10억개를 돌파할 것으로 보이고, 이 중 애플 아이폰에 적용되는 플렉서블 AMOLED 패널은 오는 2017년 20%의 점유율을 기록하고 2021년에는 50%를 넘어설 것이라는 게 유비산업리서치의 전망입니다. (단위: 천장/월)

출처 : IHS, 신한금융투자

다. 경기변동의 특성 디스플레이 장비산업은 디스플레이산업의 설비투자에 큰 영향을 받습니다. 디스플레이 산업은 경기변동에 민감하게 반응하는 장치산업의 특징을 갖고 있고 스마트폰, TV, 모니터 등 전자제품의 수요 전망에 따라 선제적으로 투자를 집행하여야 하는데 통상 30~36개월 주기로 경기변동 사이클을 나타내고 있어 디스플레이 장비업체의 매출도 또한 그에 연동되는 특성이 있습니다. 경기변동에 따른 수요 변화에 따라 공급이 수요를 초과할 경우 패 널가격이 하락할 수 있으며, 수요 증가 대비 공급이 부족할 경우 패널 가격이 상승합니다. 라. 국내외 시장여건

디스플레이 장비산업은 국내외 한정된 수요처에 대해 다수의 공급자들이 경쟁하는 완전경쟁시장입니다. 하지만 디스플레이 패널 제조업체가 공정상의 보안을 이유로 특정 장비에 대해 소수의 Vendor를 유지하는 정책을 취하고 있어, 실질적으로는 패널 제조사 중심으로 과점적 지위가 형성되어 있습니다.

IT 산업의 최첨단을 선도해야하는 디스플레이는 최신의 기술이 적용되는 최고의 제품을 지향하고, 투자시 거대 자본이 투자되는 산업 특성상 디스플레이 제품 생산에 사용되는 장비의 경우에 디스플레이 제조라인에 최적화한 솔루션을 제공할 수 있는 기술력이 필요하며, 이런 기술력을 바탕으로 디스플레이 패널 제조업체에 제품 공급을 하게 됩니다. 기술력과 제품 공급실적이 없으면 디스플레이 제조장비에 대한 신뢰성을 확보할 수 없어 신규 장비 업체가 진입하기 어려운 시장입니다.

국내 주요 디스플레이 검사 장비 업체는 각기 다른 스펙에서 전문화한 다양화된 시장을 형성하고 있어 시장점유율은 파악하기 어렵습니다.

마. 회사의 경쟁상의 강점 등 당사는 Contact 기술을 바탕으로 모든 Display 향 제품을 검사할 수 있는 검사관련 전문기업입니다. 즉, Contactor가 들어가는 모든 검사기는 설비 및 부품을 Turnkey로 제작 할 수 있는 능력을 보유하고 있어 하기와 같은 다양한 제품을 제작하고 있습니다.

제품명	내용

WOLED
대형 Cell
검사기	Vision 검사를 통한 생인화, 검사 균일화를 위한 Vision 검사설비
1) Algorithm은 Panel 생산업체에서 Box화하여 독자 개발
자사에서는 물류 기술 확보, Panel 파손방지(0.3t Panel 대응가능), Contact 기술 보유, 검사 생산성을 높이 기 위한(과검/미검 단축) 점등 Image Quality 향상 기술 보유
2)OLED 유기물 휘도 편차 제거를 위한 광보상 기술 보유
3)배면 Contact 기술(누름 Jig, Worktable 설계/제작) 보유
4)전류 구동방식에 따른 Contact Film 파손 방지 위한 Film 제작 MEMS기술 보유

WOLED
대형 Cell
점등 Repair	점등 후 Repair 설비
1)Laser Source는 전문 Laser 업체와 Co-Work
자사에서는 Fine Pitch Full Contact 점등기술 확보, Bottom Top Emission 동시 대응 기술 확보, Femto 단위 Laser Head 정밀 이송 기술 보유

OLED
POLED
소형 Cell
검사기
Module
검사기	Vision 검사를 통한 생인화, 검사 균일화를 위한 Vision 설비
1) Algorithm은 Panel 생산업체에서 Box화 하여 독자 개발
자사에서는 Glass와 달리 휨 발생이 있는 플라스틱 재질의 Cell 물류 기술 보유, Contact 기술 확보, 검사 생산성을 높이기 위한(과검/미검 단축) 점등 Image Quality 향상 기술 보유
2)OLED 유기물 휘도 편차 제거를 위한 광보상 기술 보유
3)배면 Contact 기술 보유
4)전류 구동방식에 따른 Contact Film 파손 방지 위한 Film 제작 MEMS 기술 보유
5)Cell 이후 Board Ass’y Type CNT Contact 기술 보유
6)Bending 후 CNT Contact 기술 보유
7)TSP 검사 기술 보유
8)Aging 기술 보유
9)In-Line System 구성 기술 보유

LTPS or
Oxide 원장
검사기	저전력 전자장치, OLED用 기판을 바탕으로 한 전자장치 수요 확장으로 Tr 소자측정을 Sample로 하던 공정이전수 검사로 변경되어 계측기에서 검사설비로 변경됨
1Bander 독점 설비를 자사에서 개발 시장 진입 함
Tact Time 20% 단축 및 ERRC를 통한 가격 경쟁력 보유
8세대, 6세대 실적 보유

반도체
검사기	Wafer, PCB Vision 외관 검사기
1)반도체 Wafer를 비접촉, 비손상으로 CD(Critica Dimension), TSV(Through Silicon Via)를 3D Image 검사 기술 보유
2)PCB Dimple 검사 기술 보유
3)파장 가변 Laser 운용 기술 보유

OLED
Contact
Hole 검사기	OLED Mask 공정 중 Panel 층간 전기적 신호 연결 위한 Contact Hole 구성함
3D로 Hole Top Bottom CD, Depth 검사기술 보유
Depth검사 기술 보유로 타사와 차별화 되며, Mask 공정의 Photo 설비의 Align 보정을 실시간으로 Feed-Back 할 수 있는 기술 보유

OLED S-Vth
검사기	세계 최초 개발 설비로서 Contact 후 휘도측정의 분포를 통해서 V-th의 이상 값을 측정할 수 있는 설비
LUKEN LG디스플레이 독점기술로 특허 보유

OLED
Aging	T-Aging L-Aging 동시 운영 In-Line System 구성 기술 보유
P-Aging 운영 In-Line System 구성 기술 보유

OLED Full
Contact
Vision검사기	Panel에 Shorting Bar(이하 S/B)를 별도 구성하여 Contact율을 높여 점등이상을 최소화하여 검사함
S/B 검사의 한계성으로 후보점 제시 후 추가 육안 검사 공정이 필요함.
엘지전자 생산기술원과 공동개발로 Full Contact 점등 Vision 검사기 개발 중이며 독자적 기술 보유
(엘지전자 생산기술원 Vision 검사부, LUKEN Contact부, 구동부)

OLED TOP
Emission
Laser
Repair	Bottom Repair설비는 양산 납품 중이며, Top Bottom 동시 Repair가 가능한 설비를 LG전자 생산기술원과 공동 개발 중임
LG디스플레이에서 기술보호를 위한 Box화 추진중이며, 독자적 운영 기술 보유

OLED
Encap(Seal)
검사기	원장 Sealing 후 검사하는 장비
향후 신규투자, Crack 검사 기능 추가 등의 개조 시 우선 협상 대상 업체임
Vision 검사 Algorithm 자체 보유

MEMS Type
Probe Unit	자체 MEMS Fab 운영을 통하여 COG등의 Fine Pitch용 Contactor 자체 개발
24마이크로미터 양산 기술(실적) 보유
고전류 구동 OLED 점등 구현 기술 보유

MSP Type
Probe Unit	Board Ass’y CNT Contact에 특화된 MSP(MEMS Spring Pin) Type Unit 개발
Apple向 Module Line 양산 기술(실적) 보유

반도체 Socket
ET Jig	Hole 가공을 통한 제품으로 검사가 불가능한 300~150마이크로미터의 Fine Pitch제품 검사 기술 보유
MEMS 공정을 이용한 Wafer Body Contact 제작 기술 보유

2. 주요 제품, 서비스 등(단위 : 천원)

제 품 명	생산(판매) 개 시 일	주요상표	매출액	비율	제 품 설 명

검사장비	2007.10.02	루켄테크놀러지스	13,834,219	50.73%	LCD/OLED 패널 검사장비

검사부품	2007.10.02	루켄테크놀러지스	5,894,720	21.62%	검사 장비 관련 소모성 부품

용역	2012.06.15	루켄테크놀러지스	5,000,954	18.34%	AOI 사업, MC사업, Repair 관련 용역 등

기타	2007.10.02	루켄테크놀러지스	2,539,538	9.31%	-

총계	-	-	27,269,431	100.00%	-

주1) 매출액은 2016년 기준 매출액입니다.

3. 주요 원재료 등에 관한 사항가. 매입 현황

(단위 : 천원)

매입
유형	품 목	구 분	2014년
(제08기)	2015년
(제09기)	2016년
(제10기)

원재료	FRAME	국 내	744,720	533,621	900,103

SERVO DRIVER	국 내	480,685	412,272	560,925

BASE PLATE(타입A)	국 내	850,121	84,801	162,204

BASE PLATE(타입B)	국 내	-	-	373,965

LM GUIDE	국 내	627,718	312,400	462,981

SERVO MOTOR	국 내	574,557	365,019	453,946

기타	국 내	31,188,237	15,067,797	14,973,431

소계	국 내	34,466,037	16,775,909	17,887,556

외주 가공비	장비도급/SET UP	국 내	561,868	3,046,874	-

전장작업	국 내	2,257,239	413,271	42,268

도금	국 내	-	-	126,726

AOI PCB	국 내	896,849	435,663	196,666

기타	국 내	437,588	160,930	75,926

소계	국 내	4,153,543	4,056,739	441,586

총 합 계	국 내	38,619,581	20,832,648	18,329,142

주) 원재료 매입 중 기타 품목은 2014년 5,474종, 2015년 4,388종, 2016년 4,897종으로 구성되어 있으며, 품목별 매입액이 작아 기타로 분류하였음 나. 원재료의 주요 매입처 당사는 주요 매입처와 특수관계가 없으며, 주요 원재료의 안정적 공급을 위하여 생산계획에 따른 소요량을 계산하여 주문을 발주하고 있습니다.

다. 원재료 가격변동추이(1) 가격변동 추이

(단위 : 원)

구분	2014년
(제08기)	2015년
(제09기)	2016년
(제10기)

FRAME	국내	2,263,585	2,868,930	2,579,091

SERVO DRIVER	국내	381,799	461,154	429,827

BASE PLATE(타입A)	국내	725,359	572,976	747,485

BASE PLATE(타입B)	국내	-	-	10,387,922

LM GUIDE	국내	72,251	76,362	73,512

SERVO MOTOR	국내	278,370	367,221	365,790

주1) 산출기준 : 연간 총매입액 ÷ 연간 총매입수량 주2) 당사는 주문형 상품으로 수주받은 제품의 규격 등에 따라 원재료 매입 규격이 상이하여 평균 단가 변동이 상이합니다.

4. 생산 및 생산설비에 관한 사항가. 생산능력 및 생산실적

당사가 생산하는 검사 장비는 고객의 다양한 제품 사양조건에 맞추어 개발과 재품생산이 동시에 진행되는 방식으로서 양산체제보다는 주문자 요청에 의한 제품제작방식(수주방식)이 주를 이루고 있습니다. 또한 개별 제품별로 전용설비를 통해 생산하는 것이 아니기 때문에 개별 제품별로 생산능력과 가동률을 파악하기는 어렵습니다. 다만 제조시설의 면적 및 투입 인원을 기준으로 한 가동률은 아래의 표와 같이 산정할 수 있습니다.

(단위 : 대, EA)

제 품	구 분	2014년
(제08기)	2015년
(제09기)	2016년
(제10기)

검사장비	생산능력	92	92	92

생산실적	54	36	39

가 동 율	58.70%	39.13%	42.39%

기말재고	7	6	24

검사부품	생산능력	5,200	6,000	4,200

생산실적	3,377	5,900	2,903

가 동 율	64.94%	98.33%	69.12%

기말재고	-	177	34

주) 산출근거(단위 : 대, EA)

제 품	구 분	2014년
(제08기)	2015년
(제09기)	2016년
(제10기)

검사장비	①면적(㎡)	1,296	1,296	1,296

②장비 1개 생산시 소요면적(㎡)	42	42	42

③총 생산일수(일)	300	300	300

④장비 1개 생산기간(일)	100	100	100

⑤최대생산대수[⑤=(①÷②)X(③÷④)]	92	92	92

⑥생산능력(⑥=⑤)	92	92	92

검사부품	①인원수(명)	26	25	21

②일 근무시간	10	12	10

③총 생산일수(일)	300	300	300

④부품 1개 생산시간	15	15	15

⑤최대생산개수[⑤=①X②X③÷④)]	5,200	6,000	4,200

⑥생산능력(⑥=⑤)	5,200	6,000	4,200

나. 생산설비에 관한 사항(단위 : 천원)

자산별	소재지	기초
가액	당기증감	당기
상각	기말
가액	비고

증가	감소

토지	이천시 마장면	2,288,573	-	-	-	2,288,573	-

용인시 양지면	2,093,628	-	-	-	2,093,628	-

소계	4,382,201	-	-	-	4,382,201	-

건물	이천시 마장면	849,808	-	-	22,314	827,493	-

소계	849,808	-	-	22,314	827,493	-

기계
장치	파주시 월롱면	622,036	-	-	280,538	341,498	-

구미시 임수동	934,262	-	667,133	173,344	93,785	-

광주광역시 월출동	12,784	-	-	5,766	7,019	-

이천시 마장면	1,590,219	-	-	717,186	873,032

소계	3,159,301	-	667,133	1,176,834	1,315,334	-

공구와기구	파주시 월롱면	12,748	-	-	5,749	6,999	-

구미시 임수동	1,064	-	-	480	584	-

용인시 양지면	2,450	-	-	1,105	1,345	-

이천시 마장면	5,808	56,962	-	22,361	40,409	-

소계	22,070	56,962	-	29,695	49,337	-

비품	파주시 월롱면	6,349	-	-	3,168	3,181	-

구미시 임수동	12,738	495	2,818	5,022	5,393	-

광주광역시 월출동	240	-	-	236	4	-

용인시 양지면	1,316	-	-	619	698	-

이천시 마장면	43,069	153,198	-	54,417	141,849	-

아산시 탕정면	572	-	-	257	314	-

소계	64,284	153,693	2,818	63,719	151,439	-

시설
장치	구미시 임수동	300,871	-	265,382	34,520	968	-

광주광역시 월출동	3,637	-	-	1,640	1,996	-

용인시 양지면	11,976	-	-	5,401	6,575	-

이천시 마장면	1	-	-	-	1

소계	316,485	-	265,382	41,561	9,540	-

시험
장비	파주시 월롱면	288,217	-	-	129,986	158,231	-

구미시 임수동	369,327	-	-	166,567	202,761	-

광주광역시 월출동	51,892	-	-	23,403	28,488	-

이천시 마장면	989,385	-	-	446,213	543,172	-

아산시 탕정면	16,861	-	-	7,604	9,257	-

소계	1,715,682	-	-	773,773	941,909	-

차량
운반구	파주시 월롱면	7,065	-	-	3,186	3,879	-

구미시 임수동	2	-	-	-	2	-

용인시 양지면	1	14,500	-	4,360	10,141	-

이천시 마장면	36,715	-	-	16,558	20,157	-

소계	43,783	14,500	-	24,104	34,179	-

5. 매출에 관한 사항가. 매출실적(단위 : 천원, 천USD)

매출
유형	부 문	2014연도
(제08기)	2015연도
(제09기)	2016연도
(제10기)

수량	금액	수량	금액	수량	금액

제품	검사
장비	수 출	275	4,374,945
(4,105)	2	130,937
(114)	4	3,141,797
(2,750)

내 수	42	24,938,216	30	18,948,760	15	10,692,422

소 계	317	29,313,161	32	19,079,697	19	13,834,219

검사부품	수 출	412	2,441,678
(2,363)	48	722,730
(646)	22	371,807
(335)

내 수	937	10,876,228	401	11,837,955	180	5,522,912

소 계	1,349	13,317,905	449	12,560,684	202	5,894,720

용역	수 출	-	160,453
(155)	-	205,308
(177)	-	340,397
(296)

내 수	-	6,335,772	-	3,931,562	-	4,660,557

소 계	-	6,496,225	-	4,136,870	-	5,000,954

기타	수 출	-	296,720
(279)	-	401,218
(361)	-	60,538
(44)

내 수	-	158,535	-	1,892,609	-	2,479,000

소 계	-	455,255	-	2,293,827	-	2,539,538

기타	기타	-	-	1,200	-	-

합 계	수 출	-	7,273,796
(6,903)	-	1,460,194
(1,298)	-	3,914,539
(3,425)

내 수	-	42,309,951	-	36,610,886	-	23,354,892

합 계	-	49,583,747	-	38,071,080	-	27,269,431

나. 수출 현황(단위 : 천원, 천USD)

매출
유형	부 문	2014연도
(제08기)	2015연도
(제09기)	2016연도
(제10기)

수출국	수출액	수출국	수출액	수출국	수출액

제품	검사
장비	수 출	중국	4,374,945
(4,105)	중국	130,937
(114)	중국	3,141,797
(2,750)

검사부품	수 출	중국	2,441,678
(2,363)	중국	722,730
(646)	중국	371,807
(335)

용역	수 출	중국	160,453
(155)	중국	205,308
(177)	중국	340,397
(296)

기타	수 출	중국	296,720
(279)	중국	401,218
(361)	중국	60,538
(44)

합 계	수 출	7,273,796
(6,903)	-	1,460,194
(1,298)	-	3,914,539
(3,425)

다. 판매경로 (1) 판매경로별 매출액

(단위 : 천원, 천USD, %)

매출유형	품 목	구 분	판매경로	판매경로별 매출액	비중

제품	검사장비	수출	디스플레이 제조사	3,113,404
(2,725)	11.42%

무역상사	28,393
(25)	0.10%

국내	디스플레이 제조사	10,684,822	39.18%

부품사	7,600	0.03%

검사부품	수출	디스플레이 제조사	371,807
(335)	1.36%

국내	디스플레이 제조사	5,419,493	19.87%

부품사	103,419	0.38%

용역	수출	디스플레이 제조사	340,397
(296)	1.25%

국내	디스플레이 제조사	4,031,950	14.79%

부품사	628,607	2.31%

기타	수출	무역상사	6,177
(5)	0.02%

디스플레이 제조사	54,360
(39)	0.20%

국내	디스플레이 제조사	1,587,703	5.82%

부품사	891,297	3.27%

합계	수출	-	3,914,539
(3,425)	14.36%

국내	-	23,354,892	85.64%

계	-	27,269,431	100.00%

(2) 주요매출처(단위: 천원)

구분	2014년(08기)	2015년(09기)	2016년(10기)

금액	비중	금액	비중	금액	비중

A사	37,309,068	75.24%	33,106,670	86.96%	21,264,516	77.98%

B사	3,916,334	7.90%	969,024	2.55%	2,637,726	9.67%

C사	-	-	-	-	1,042,133	3.82%

D사	66,960	0.14%	-	-	821,690	3.01%

E사	3,339,574	6.74%	2,858,738	7.51%	628,607	2.31%

기타	4,951,810	9.99%	1,136,647	2.99%	874,758	3.21%

계	49,583,747	100.0%	38,071,080	100.0%	27,269,431	100.0%

6. 수주현황

[2016년 12월 31일 현재 기준]

(단위: 천원)

발주처	품목	수주일자	납기	수주가액	수주잔고

수량	금액	수량	금액

A사	86" BAP	2016/09/02	2017/01/31	7	6,475,000	7	6,475,000

IN LINE 검사기	2016/07/20	2017/01/15	2	3,074,000	2	3,074,000

65" OLED Laser Repair	2016/10/27	2017/03/01	9	5,481,000	9	5,481,000

86" 초대형 BAP	2016/11/16	2017/04/03	1.5	1,350,000	1.5	1,350,000

S-Vth 검사기	2016/11/28	2017/03/01	1	119,000	1	119,000

AP장비개조	2016/02/22	2017/12/31	1	99,000	1	99,000

LCD Cell AMI개조	2016/12/22	2017/01/25	1	52,230	1	52,230

LC550LQD(XT) VPU UNIT	2016/12/16	2017/01/10	8	1,002,744	8	1,002,744

합계	-	17,652,974	-	17,652,974

7. 파생상품 및 풋백옵션 등 거래현황 당 사 는 해당사항 없습니다. 8. 경영상의 주요계약 등 당 사 는 해당사항 없습니다. 9. 연구개발활동

가. 연구개발비용(단위 : 천원)

구 분	2014년
(제08기)	2015년
(제09기)	2016년
(제10기)

자산처리	원재료비	-	814,205	791,864

인건비	-	546,890	47,289

감가상각비	-	364,941	-

위탁용역비	-	-	12,000

기타 경비	-	-	-

소 계	-	1,726,036	851,153

비용처리	제조원가	-	-	-

판관비	2,992,314	3,042,112	1,936,555

합 계
(매출액 대비 비율)	2,992,314	4,768,148	2,787,708

(6.03%)	(12.52%)	(10.22%)

나. 연구개발실적

구분	세부내용

연구과제	반도체 TSV TOP CD/Depth 측정을 위한 100nm급 시스템개발

연구기관	㈜루켄테크놀러지스

연구결과
및 기대효과	반도체 Wafer의 TSV와 Pattern 검사에 적용할 수 있으며 PCB Dimple 및 LCD, OLED의 Pattern 검사기로의 사용이 가능함.
- 높은 광 간섭성을 갖는 레이저를 광원으로 사용하므로 이론적으로는 20:1 이상의 종횡비와 500um이상의 단차를 갖는 hole의 측정이 가능함
- 그러므로 TSV, OLED Contact hole등의 검사에 적합하며 hole이나 pattern의 CD에 따라 광학계의 배율이나 카메라의 해상도를 조정하여 최적화 할 수 있음
- 본 기술로 Wafer TSV 검사장비를 국산화함으로서 공정초기에 불량을 검출하여 수율 향상 및 수익증대에 기여할 것으로 기대됨
- 패턴이 복잡해지면서 패턴의 각 층을 전기적으로 연결해주는 Contact hole의 CD도 약 2um 정도로 작아져 Wafer의 TSV와 같이 제품을 절단하여 그 단면을 검사하고 있는 실정이며 이에 OLED공정에서는 비접촉으로 제품에 손상을 주지 않고 검사할 수 있는 검사기의 필요성이 대두되고 있고 이에 OLED생산라인에 검사 장비를 공급하고 OLED 패널 수율 향상에 큰 역할을 하여 매출 및 수익증대에 큰 효과가 기대됨

연구결과가 상품화된 경우 그 내용	-

연구결과가 상품화 되지 않은 경우 그 이유	본 연구결과를 바탕으로 현재 거래선과 테스트 진행 중에 있으나 언제 구체적으로 판매계약으로 연결될지는 확정되지 않았습니다.

구분	세부내용

연구과제	3D Dimple장비 개발

연구기관	㈜루켄테크놀러지스

연구결과 및 기대효과	표면을 통해 발견되지 않는 결함을 PCB 절단 없이 3D 측정을 통해 검출하는 기술로서 기존 Dimple 불량을 측정하기 위해서 X-ray 또는 전자현미경(SEM, Scanning Electro Microscope)을 통하여 시료를 절단하여 측정하거나 개별 이미지를 촬영하는 방식을 사용하였으나 제품의 손상 및 측정 샘플 수의 한계가 있어 대량 공정 적용 시 어려움이 있었음.
본 기술은 비접촉식으로 Dimple의 Top CD, Depth을 모두 측정할 수 있는 고속, 대면적 3D 측정 기술로 종래의 대표적인 Dimple 측정 기술인 X-ray 또는 전자현미경 기술이 가지는 제품의 손상 및 검사 속도 저하, 검사영역의 한계를 극복하는 것이 가능한 기술임.
기계적인 스캐닝 방식을 제거함으로써 측정 속도를 크게 향상 시킬 수 있고 다 파장 광원과 디지털 신호 처리 기법을 적용하여 측정 범위의 확장과 공간 분해능을 증가시킬 수 있음.
반도체 공정 이외에도, 빠른 측정 속도와 진동 둔감 측정 특성이 필요한 생산 공정 중의 실시간 측정/검사 분야에 적용될 수 있음.
고속 형상 측정 관련 원천 기술 확보는 측정 장비의 세계시장 선점과 표준화를 주도, 광통신, 전기전자, 미세 기계부품에 요구되는 대면적 마이크로 형상 부품의 양산 시스템 국산화 기술 확보를 통하여 향후 국내 디스플레이 산업의 기술적 발전에 효과적으로 대응할 수 있음.
국내 초정밀 측정 시스템 설계 및 제작 기술 확보를 통한 고부가가치 측정 시스템의 국산화에 기여 및 원천 기술을 확보함으로써 세계시장 선점과 표준화 주도를 기대할 수 있어 수출 증대 효과까지 기대할 것으로 판단됨.

연구결과가 상품화된 경우 그 내용	-

연구결과가 상품화 되지 않은 경우 그 이유	본 연구결과를 바탕으로 현재 거래선과 test진행중에 있으나 언제 구체적으로 판매계약으로 연결될지는 확정되지 않았습니다.

구분	세부내용

연구과제	NEW FILM Probe block 개발

연구기관	㈜루켄테크놀러지스

연구결과 및 기대효과	Panel을 검사함에 있어서 오랜 시간 동안 Contact시 Film상의 Bump 변형으로 인한 Contact 저항의 증가 및 Pin Miss로 인하여 SET UP 시간의 증가, Repair비용 상승이 발생하기 때문에 기존 Bump Film 을 대신하여 Film contact pad에 특수 처리를 하여 번트방지 및 contact 수명 증가를 목적으로 New Film형태의 Bump Film을 이용한 Probe Block을 개발하였음

연구결과가 상품화된 경우 그 내용	New Film을 장착한 probe block이 현재 거래처에 납품되어 매출이 발생되고 있습니다.

연구결과가 상품화 되지 않은 경우 그 이유	-

구분	세부내용

연구과제	NEW BAP개발

연구기관	㈜루켄테크놀러지스

연구결과 및 기대효과	OLED TV Batch Auto Probe는 유기발광다이오드 소자에 대한 불량 검사장치로 검사 Tact Time 단축하였으며(550 sec에서 350 sec), 검사자 육안 검사를 비젼 자동 화상 검사로 대체하여 불량 검출 표준화와 좌표 정합성을 향상하였음.

연구결과가 상품화된 경우 그 내용	현재 NEW BAP는 거래처에 납품되어 매출이 발생하고 있습니다.

연구결과가 상품화 되지 않은 경우 그 이유	-

구분	세부내용

연구과제	ET JIG _Vertical Probe Card 개발

연구기관	㈜루켄테크놀러지스

연구결과 및 기대효과	수직형 프로브카드(ET-Jig)는 반도체 Wafer의 실장을 위해 PCB를 완성후 PCB의 전기적인 Open/Short를 통해 반도체의 패키지 PCB의 기능과 PCB Pad를 Interfacing하여 전기적 신호를 입력시키고 그 결과에 따라 기판의 결함을 찾아내는 검사장치임.
MEMS공정을 사용하여 제작하므로 치수 정밀도가 높으며 가공오차가 Sub microns이하의 수준으로 가공가능함. hole전체를 한 번에 가공하므로 생산성이 극대화됨. 한 웨이퍼상에 여러 종류의 지그를 동시 가공 가능하며 균일한 hole피치 가공 가능하며, photo공정을 통한 동시가공으로 생산성이 극대화되며 동일한 제품 제작시 대량생산이 가능하여 원가절감이 가능함.
개발된 ET-Jig는 반도체 패키지용 pcb검사공정에 주로 활용되지만 여기에 국한되지 않고 각종 전자부품의 패키지에 필요한 FPCB, COF등의 전기적 특성검사에 적용가능함.

연구결과가 상품화된 경우 그 내용	-

연구결과가 상품화 되지 않은 경우 그 이유	본 연구결과를 바탕으로 현재 거래선과 test진행중에 있으나 언제 구체적으로 판매계약으로 연결될지는 확정되지 않았습니다.

10. 그 밖에 투자의사결정에 필요한 사항 지적재산권 보유 내역

NO	구분	내용	권리자	출원일	등록일	적용
제품	주무
관청

1	중국 특허	探針組件	㈜루켄테크놀러지스	2008.05.21	2009.03.04	검사부품	중국지식산권국

2	중국 특허	探針	㈜루켄테크놀러지스	2008.05.21	2009.03.04	검사부품	중국지식산권국

3	상표	루켄 상표권	㈜루켄테크놀러지스	2008.02.12	2009-04-14	회사로고	특허청

4	실용 신안	엘시디 검사용 프로브 유니트	㈜루켄테크놀러지스	2008.10.20	2009-06-12	검사부품	특허청

5	실용 신안	이물에 의한 컨텍 불량을 방지할 수 있는
텝아이씨직접컨텍타입의프로브유니트	㈜루켄테크놀러지스	2010.03.30	2011-01-31	검사부품	특허청

6	특허	엘시디 검사용 프로브 유니트	㈜루켄테크놀러지스	2008.10.20	2009.06.12	검사부품	특허청

7	특허	엘시디 패널의 자동 비젼검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2009.12.16	2012.12.18	검사장비	특허청

8	특허	이물에 의한 컨텍 불량을 방지할 수 있는 탭 아이씨 직접 컨텍 타입의 프로브 유니트	㈜루켄테크놀러지스	2010.03.30	2011.01.31	검사부품	특허청

9	특허	프로브 유닛	㈜루켄테크놀러지스	2012.03.20	2013.10.22	검사부품	특허청

10	특허	반도체 패키지 검사용 접촉 구조물 제조 방법, 반도체 패키지 검사용 접촉 구조물 및 이를 포함하는 반도체 패키지 검사용 소켓	㈜루켄테크놀러지스	2012.04.06	2013.12.27	검사부품	특허청

11	특허	터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치	㈜루켄테크놀러지스	2012.04.09	2014.04.10	검사장비	특허청

12	특허	엘시디 패널의 자동 비젼검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2012.06.08	2012.12.18	검사장비	특허청

13	특허	프로브 필름, 그를 포함하는 프로브 유닛 및 프로브 필름의 제조방법	㈜루켄테크놀러지스	2012.07.06	2013.12.02	검사부품	특허청

14	특허	프로브 필름, 그를 포함하는 프로브 유닛 및 프로브 필름의 제조방법	㈜루켄테크놀러지스	2012.07.06	2014.02.17	검사부품	특허청

15	특허	3차원 표면 형상 측정장치 및 3차원 표면 형상 측정방법	㈜루켄테크놀러지스	2012.08.20	2014.05.07	검사장비	특허청

16	특허	수직형 프로브 카드	㈜루켄테크놀러지스	2012.11.02	2014.02.17	검사부품	특허청

17	특허	일체형 패널 검사 장치 및 패널 검사 장치 정렬 방법	㈜루켄테크놀러지스	2012.12.14	2014.03.21	검사부품	특허청

18	특허	프로브 블록용 프로브 필름 및 이의 제조방법	㈜루켄테크놀러지스	2012.12.21	2013.06.03	검사부품	특허청

19	특허	범프 필름 프로브 카드	㈜루켄테크놀러지스	2013.01.31	2013.07.15	검사부품	특허청

20	특허	전자소자 테스트 장치용 블럭 구조체 및 이를 포함하는 전자소자 테스트 장치	㈜루켄테크놀러지스	2013.01.31	2013.07.15	검사부품	특허청

21	특허	반도체 패키지 검사용 소켓	㈜루켄테크놀러지스	2013.02.13	2013.03.28	검사부품	특허청

22	특허	터치 스크린 패널의 검사방법 및 검사장치	㈜루켄테크놀러지스	2013.02.18	2014.02.17	검사장비	특허청

23	특허	오토 프로브 검사 장치 및 이를 이용한 유기 전계 발광 표시 타입의 패널 검사 방법	㈜루켄테크놀러지스	2013.04.22	2015.08.21	검사부품	특허청

24	특허	프로브 블록 어셈블리	㈜루켄테크놀러지스	2013.05.07	2014.04.10	검사부품	특허청

25	특허	수직형 필름 타입 프로브 카드	㈜루켄테크놀러지스	2013.05.08	2014.12.19	검사부품	특허청

26	특허	형광체막 형성 시스템	㈜루켄테크놀러지스	2013.07.25	2015.01.19	검사부품	특허청

27	특허	분말 정량 공급 시스템	㈜루켄테크놀러지스	2013.07.25	2015.05.22	검사부품	특허청

28	특허	형광체막 형성용 전류인가장치	㈜루켄테크놀러지스	2013.07.25	2015.08.20	검사부품	특허청

29	특허	수직형 프로브 유닛 블록	㈜루켄테크놀러지스	2013.09.13	2015.05.06	검사부품	특허청

30	특허	자동 셀 검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2013.11.29	2015.06.10	검사장비	특허청

31	특허	에이징 시스템	㈜루켄테크놀러지스	2013.11.29	2015.11.25	검사장비	특허청

32	특허	광학 측정 모듈 및 이를 포함하는 평판 디스플레이 패널의 광학 검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2013.12.19	-	검사장비	특허청

33	특허	전자 디바이스의 검사장치 및 검사방법	㈜루켄테크놀러지스	2014.02.07	2015.05.18	검사장비	특허청

34	특허	전자 디바이스의 검사장치	㈜루켄테크놀러지스	2014.04.07	2015.06.10	검사장비	특허청

35	특허	전자 디바이스의 검사장치	㈜루켄테크놀러지스	2014.05.13	2015.11.12	검사장비	특허청

36	특허	전자 디바이스의 검사장치	㈜루켄테크놀러지스	2014.07.24	2016.02.23	검사장비	특허청

37	특허	반도체 패키지 검사용 소켓 및 그 제조 방법	㈜루켄테크놀러지스	2014.09.02	2016.07.14	검사부품	특허청

38	특허	반도체 패키지 검사용 소켓 및 그 제조방법	㈜루켄테크놀러지스	2014.09.04	2016.08.02	검사부품	특허청

39	특허	필름형 프로브 유닛	㈜루켄테크놀러지스	2014.10.24	2016.02.01	검사부품	특허청

40	특허	필름형 프로브 유닛	㈜루켄테크놀러지스	2014.10.24	2016.02.23	검사부품	특허청

41	특허	필름형 프로브 유닛	㈜루켄테크놀러지스	2014.10.24	2016.05.09	검사부품	특허청

42	특허	오토 프로브 검사 장치 및 이를 이용한 유기 전계 발광 표시 타입의 패널 검사 방법	㈜루켄테크놀러지스	2015.03.13	2015.11.02	검사장비	특허청

43	특허	누름 구조체 및 이를 포함하는 오토 프로브 검사 장치	㈜루켄테크놀러지스	2015.03.13	2015.11.02	검사장비	특허청

44	특허	패널 리페어 시스템 및 이를 이용한 패널 리페어 방법	㈜루켄테크놀러지스	2015.03.27	2015.07.27	검사부품	특허청

45	특허	연결 구조체의 제조 방법 및 연결 구조체	㈜루켄테크놀러지스	2015.07.21	2016.02.23	검사장비	특허청

46	특허	엘이디 패키지 제조장치	㈜루켄테크놀러지스	2015.07.31	2017.02.01	검사장비	특허청

47	특허	누름 구조체, 이를 포함하는 오토 프로브 검사 장치 및 유기 전계 발광 표시 타입의 패널 검사 방법	㈜루켄테크놀러지스	2015.08.19	-	검사장비	특허청

48	특허	오토 프로브 검사 장치 및 이를 이용한 패널 검사 방법	㈜루켄테크놀러지스	2015.12.10	2016.08.17	검사부품	특허청

49	특허	오토 프로브 검사 장치 및 이를 이용한 패널 검사 방법	㈜루켄테크놀러지스	2015.12.15	2016.10.07	검사부품	특허청