티에스이 사업보고서 (2024.12)
4. 지적재산권 보유 현황

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번호	구분	내용	권리 보유	출원일	등록일	적용제품	주무 관청

1	특허	동축케이블 이용 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드	당사	2005-07-15	2007-01-30	Probe Card	특허청

2	특허	광 확산 장치를 갖는 품질 측정 설비	당사	2005-11-18	2006-10-26	LED장비	특허청

3	특허	발광 다이오드 테스트 시스템	당사	2006-04-27	2007-09-21	LED장비	특허청

4	특허	웨이퍼 검사용 프로브 카드	당사	2006-05-17	2007-05-29	Probe Card	특허청

5	특허	스페이스 트랜스포머 제조 방법	당사	2007-03-14	2008-03-07	Probe Card	특허청

6	특허	스루 비아를 갖는 스페이스 트랜스포머와 그 제조	당사	2007-07-10	2009-06-10	Probe Card	특허청

7	특허	듀얼 서포트 프레임을 갖는 프로브 카드	당사	2007-10-22	2009-06-10	Probe Card	특허청

8	특허	반도체 소자 온도 조절 장치	당사	2008-04-11	2010-06-28	Handler	특허청

9	특허	정확한 솔더링을 위한 프로브 조립체	당사	2009-06-22	2011-06-14	Probe Card	특허청

10	특허	멀티빈을 이용한 LED 칩 소팅 방법	당사	2010-05-13	2011-08-01	LED장비	특허청

11	특허	LED 핸들러 분류장치	당사	2010-02-05	2011-11-04	LED장비	특허청

12	특허	LED 패키지 테스트 핸들러	당사	2011-04-18	2012-04-18	LED장비	특허청

13	특허	압축 유체 토출 장치	당사	2010-05-31	2012-08-23	기타	특허청

14	특허	압축 공기 분사 장치를 구비한 청소기	당사	2010-07-13	2012-12-03	기타	특허청

15	특허	LED 패키지 임시 보관장치	당사	2011-04-12	2012-12-11	LED장비	특허청

16	특허	테스트 인덱스 장치	당사	2011-04-29	2012-12-11	LED장비	특허청

17	특허	프로브 카드	당사	2011-08-22	2013-04-09	Probe Card	특허청

18	특허	LED칩 테스트 핸들러 및 그 동작방법	당사	2011-07-18	2013-05-22	LED장비	특허청

19	특허	고밀도 프로브 카드 및 그 제조방법	당사	2012-09-27	2014-01-28	Probe Card	특허청

20	특허	분기기판을 포함하는 프로브 카드	당사	2013-08-23	2014-08-21	Probe Card	특허청

21	특허	인서트 및 이를 포함하는 반도체 패키지 테스트 장치	당사	2013-07-01	2014-12-04	Socket	특허청

22	특허	인서트 및 이를 포함하는 반도체 패키지 테스트 장치	당사	2013-07-01	2015-01-16	Socket	특허청

23	특허	결합 형상의 도전성 입자를 가지는 검사용 소켓	당사	2015-02-03	2015-06-03	Socket	특허청

24	특허	LED 패키지 검사 장치	당사	2014-07-10	2015-07-09	LED장비	특허청

25	특허	실리콘 러버 커넥터	당사	2014-10-08	2016-02-04	Socket	특허청

26	특허	인덕터를 포함하는 전자 부품	당사	2015-03-05	2016-08-25	MEMS	특허청

27	특허	실리콘 러버 소켓	당사	2015-03-31	2016-10-14	Socket	특허청

28	특허	액정 패널 테스트용 프로브 블록	당사	2015-08-21	2016-11-22	ICP	특허청

29	특허	정전 구동 스위치	당사	2015-01-15	2016-12-28	MEMS	특허청

30	특허	검사용 소켓	당사	2015-11-26	2017-03-16	Socket	특허청

31	특허	검사용 소켓 및 검사용 소켓의 도전성 입자 제조방법	당사	2016-02-02	2017-06-12	Socket	특허청

32	특허	검사용 소켓	당사	2016-02-15	2017-08-14	Socket	특허청

33	특허	검사용 소켓 및 검사용 소켓 제조방법	당사	2017-03-03	2017-09-15	Socket	특허청

34	특허	검사용 소켓	당사	2015-11-19	2017-09-18	Socket	특허청

35	특허	반도체 패키지 테스트 장치	당사	2016-02-02	2017-09-21	Socket	특허청

36	특허	검사용 소켓	당사	2016-02-02	2017-09-21	Socket	특허청

37	특허	칩형 인덕터	당사	2016-01-22	2017-10-30	MEMS	특허청

38	특허	정전 구동 스위치	당사	2016-10-27	2017-12-29	MEMS	특허청

39	특허	유기발광다이오드 표시장치의 검사 방법 및 검사장치	당사	2016-06-02	2018-01-23	LED장비	특허청

40	특허	반도체 테스트 소켓의 제조방법	당사	2016-08-01	2018-01-23	Socket	특허청

41	특허	반도체 테스트 소켓 및 그 제조방법	당사	2016-08-01	2018-01-23	Socket	특허청

42	특허	반도체 패키지 테스트 장치	당사	2016-09-08	2018-04-24	Socket	특허청

43	실용신안	스페이스 트랜스포머 인쇄회로 기판을 사용한 프로브 카드	당사	2008-11-10	2010-10-28	Probe Card	특허청

44	실용신안	LED 칩을 이송하는 멀티 픽커 장치	당사	2009-11-09	2011-04-21	LED장비	특허청

45	실용신안	LED 칩을 이송하는 멀티 픽커 장치	당사	2009-11-09	2011-11-04	LED장비	특허청

46	실용신안	가이드 구조물을 갖는 프로브 조립체	당사	2009-06-22	2010-06-14	Probe Card	특허청

47	실용신안	픽 앤 플레이스 시스템	당사	2009-10-29	2012-04-23	LED장비	특허청

48	특허	반도체 테스트 소켓, 이의 제작 방법 및 이력관리 패드 포함 장치	당사	2017-12-07	2018-07-12	Socket	특허청

49	특허	반도체 테스트 소켓	당사	2016-09-19	2018-08-29	Socket	특허청

50	특허	열화상 감지 유닛이 구비된 디스플레이패널의 다중 검사장치	당사	2017-01-26	2018-11-13	LED장비	특허청

51	특허	디스플레이패널의 열화상 검사장치	당사	2017-01-26	2018-11-28	LED장비	특허청

52	특허	프로브 블록 및 이를 포함하는 프로브 유닛	당사	2017-07-31	2018-12-11	Socket	특허청

53	특허	테스트용 러버 소켓 및 그의 제작 방법	당사	2017-10-10	2019-01-03	Socket	특허청

54	특허	비주얼 검사가 가능한 테스트용 러버 소켓 및 그의 제작 방법	당사	2017-11-20	2019-01-03	Socket	특허청

55	특허	테스트용 분산형 러버 소켓 및 그의 제작 방법	당사	2017-11-20	2019-01-03	Socket	특허청

56	특허	LED 패키지 검사 및 제조 장치 및 그 방법	당사	2017-09-08	2019-01-09	LED장비	특허청

57	특허	프로브 카드 및 그 제조방법	당사	2018-03-07	2019-01-15	Probe Card	특허청

58	특허	고속 신호전달이 가능한 반도체 테스트용 번인 소켓 및 그의 제작 방법	당사	2017-12-28	2019-03-04	Socket	특허청

59	특허	무프레임 구조를 갖는 테스트용 러버 소켓 및 그의 제작 방법	당사	2017-12-07	2019-03-18	Socket	특허청

60	특허	정형 및 비정형의 도전성 입자가 혼재된 도전부를 구비하는반도체 검사용 러버소켓	당사	2018-02-19	2019-04-23	Socket	특허청

61	특허	셀 얼라인을 통한 디스플레이 패널의 열화상 검사장치	당사	2017-06-12	2019-05-03	LED장비	특허청

62	특허	반도체 디바이스의 테스트 소켓과 소켓 가이드의 일체화 방법 및소켓 가이드가 일체화된 반도체 다바이스의 테스트 소켓	당사	2018-03-05	2019-05-17	Socket	특허청

63	특허	프로브 카드 및 그 제조방법	당사	2018-03-27	2019-06-12	Probe Card	특허청

64	특허	LED 패키지 검사 및 제조 장치 및 그 방법	당사	2019-01-07	2019-06-13	LED장비	특허청

65	특허	냉각제를 이용한 반도체소자 테스트용 인터페이스 보드	당사	2018-04-26	2019-07-02	TIB	특허청

66	특허	컨택트 프로브 및 그 제조방법	당사	2018-05-10	2019-07-15	Socket	특허청

67	특허	검사용 소켓	당사	2017-03-16	2019-07-26	Socket	특허청

68	특허	반도체소자 테스트용 인터페이스 보드	당사	2018-05-15	2019-08-22	TIB	특허청

69	특허	반도체 패키지 검사장치	당사	2018-06-25	2019-09-20	TIB	특허청

70	특허	터치 스크린 패널의 터치 감지용 전극 검사 방법	당사	2018-08-30	2019-10-18	LED장비	특허청

71	특허	터치 스크린 패널의 터치 감지용 전극 검사 장치	당사	2018-08-30	2019-10-18	LED장비	특허청

72	특허	신호 전송 커넥터	당사	2018-11-06	2019-10-18	Socket	특허청

73	특허	프로브 카드 및 이를 포함하는 테스트 장치	당사	2018-09-19	2019-11-18	Probe Card	특허청

74	특허	발광 다이오드 패키지 테스트 장치	당사	2013-01-10	2019-11-28	LED장비	특허청

75	특허	신호 전송 커넥터 및 그 제조방법	당사	2018-10-19	2020-01-02	Socket	특허청

76	특허	BGA 타입 전자부품 연결용 커넥터 및 제조방법	당사	2018-10-19	2020-01-02	Socket	특허청

77	특허	신호 전송 커넥터 및 그 제조방법	당사	2019-01-08	2020-01-02	Socket	특허청

78	특허	신호 전송 커넥터	당사	2018-11-28	2020-02-13	Socket	특허청

79	특허	신호 전송 커넥터 및 그 제조방법	당사	2019-01-08	2020-04-14	Socket	특허청

80	특허	신호 전송 커넥터용 도전부 보호부재 및 그 제조방법과, 이를 갖는 신호 전송 커넥터 및 그 제조방법	당사	2019-01-08	2020-05-07	Socket	특허청

81	특허	테스트 소켓	당사	2019-02-20	2020-06-01	Socket	특허청

82	특허	개선된 그립핑 구조를 가지는 프로브 핀	당사	2019-02-14	2020-06-23	Probe Card	특허청

83	특허	반도체 소자 테스트용 소켓 장치	당사	2019-03-07	2020-07-24	Socket	특허청

84	특허	후면 전극을 이용한 전기 도금 처리에 의한 회로 기판의 제조 방법	당사	2019-02-25	2020-08-03	MEMS	특허청

85	특허	폴리이미드 필름을 이용한 회로 기판의 제조 방법	당사	2019-02-25	2020-08-03	MEMS	특허청

86	특허	프로브 블록 별 자동 정밀 제어가 가능한 어레이 테스트 장치	당사	2020-05-29	2020-08-27	LED장비	특허청

87	특허	컨택트 프로브 및 이를 포함하는 테스트 소켓	당사	2019-05-17	2020-10-22	Socket	특허청

88	특허	테스트 소켓 및 이를 포함하는 테스트 장치와, 테스트 소켓의 제조방법	당사	2020-03-25	2020-11-10	Socket	특허청

89	특허	LED 패키지 검사 및 제조 장치 및 그 방법	당사	2019-06-05	2020-11-30	LED장비	특허청

90	특허	테스트 소켓 장치	당사	2019-11-19	2020-12-14	Socket	특허청

91	특허	테스트 소켓 장치 및 그 제조방법	당사	2019-11-19	2020-12-14	Socket	특허청

92	특허	테스트 소켓	당사	2019-12-09	2020-12-15	Socket	특허청

93	특허	테스트 소켓 및 이를 포함하는 테스트 장치와, 테스트 소켓의 제조방법	당사	2020-03-19	2021-01-28	Socket	특허청

94	특허	신호 전송 커넥터 및 그 제조방법	당사	2020-01-23	2021-02-01	Socket	특허청

95	특허	신호 전송 커넥터 및 그 제조방법	당사	2020-01-23	2021-02-16	Socket	특허청

96	특허	신호 전송 커넥터 및 그 제조방법	당사	2020-01-23	2021-02-19	Socket	특허청

97	특허	신호 전송 커넥터	당사	2020-03-03	2021-02-19	Socket	특허청

98	특허	신호 전송 커넥터 및 그 제조방법	당사	2019-10-22	2021-02-24	Socket	특허청

99	특허	테스트 소켓	당사	2020-01-22	2021-02-26	Socket	특허청

100	특허	테스트 소켓용 절연 필름 및 이를 포함하는 테스트 소켓	당사	2020-05-19	2021-05-24	Socket	특허청

101	특허	신호 전송 커넥터	당사	2020-05-25	2021-06-25	Socket	특허청

102	특허	오작동 방지 가능한 프로브 블록 어레이 테스트 장치	당사	2021-07-07	2021-12-09	LED장비	특허청

103	특허	테스트 소켓 및 이를 포함하는 테스트 장치	당사	2020-08-21	2021-12-20	Socket	특허청

104	특허	쏠라셀 검사 장치	당사	2019-10-15	2022-01-03	Socket	특허청

105	특허	연성인쇄회로기판 및 이의 제조방법	당사	2020-09-22	2022-01-27	Probe Card	특허청

106	특허	테스트 소켓 및 이를 포함하는 테스트 장치	당사	2020-09-25	2022-02-03	Socket	특허청

107	특허	프로브 카드	당사	2020-08-06	2022-03-18	Probe Card	특허청

108	특허	프로브 카드 및 이의 얼라이닝 장치	당사	2020-09-02	2022-04-11	Probe Card	특허청

109	특허	반도체 패키지의 테스트 장치	당사	2020-06-02	2022-06-14	Socket	특허청

110	특허	연성인쇄회로기판 및 이의 제조방법	당사	2020-07-21	2022-06-23	Probe Card	특허청

111	특허	도전성 입자 및 이를 갖는 신호 전송 커넥터	당사	2018-11-06	2022-09-14	Socket	특허청

112	특허	테스트 소켓	당사	2022-09-20	2022-11-11	Socket	특허청

113	특허	신호 전송 커넥터 및 그 제조방법	당사	2020-11-25	2022-11-03	Socket	특허청

114	특허	테스트 소켓용 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓	당사	2021-04-01	2022-11-30	Socket	특허청

115	특허	일괄 접합 방식의 다층 회로기판 및 그 제조 방법	당사	2021-05-28	2023-05-24	MEMS	특허청

116	특허	테스트 소켓, 그 테스트 소켓을 포함하는 테스트 장치, 및 그 테스트 소켓제조방법	당사	2021-07-14	2023-09-04	Socket	특허청

117	특허	신호 전송 커넥터	당사	2021-08-27	2023-09-04	Socket	특허청

118	특허	테스트 소켓	당사	2023-05-18	2023-09-04	Socket	특허청

119	특허	신호 전송 커넥터	당사	2021-08-27	2023-10-30	Socket	특허청

120	특허	테스트 소켓	당사	2021-09-14	2023-11-03	Socket	특허청

121	특허	반도체 패키지의 테스트 장치	당사	2022-05-24	2023-12-07	Socket	특허청

122	특허	프로브 카드	당사	2021-11-24	2023-12-13	Probe Card	특허청

123	특허	프로브 카드	당사	2021-11-24	2023-12-13	Probe Card	특허청

124	특허	반도체 패키지 테스트 장치	당사	2021-08-27	2024-01-20	Socket	특허청

125	특허	반도체 패키지의 테스트 장치	당사	2022-01-06	2024-01-20	Socket	특허청

126	특허	디스플레이를 포함하는 전자 장치 및 이의 얼룩 검출 방법	당사	2021-06-01	2024-02-21	LED장비	특허청

127	특허	다층 나선형 프로브 및 이를 포함하는 프로브 카드	당사	2021-10-28	2024-02-21	Probe Card	특허청

128	특허	반도체 패키지 테스트 장치	당사	2021-08-27	2024-03-04	Socket	특허청

129	특허	반도체 패키지의 테스트 장치	당사	2021-08-27	2024-03-04	Socket	특허청

130	특허	반도체 패키지의 테스트 장치	당사	2021-10-12	2024-03-04	Socket	특허청

131	특허	박막 반도체 핸들링 장치 및 이를 포함하는 반도체 검사 장치	당사	2021-11-26	2024-04-19	Probe Card	특허청

132	특허	신호 전송 커넥터	당사	2021-10-12	2024-04-25	Socket	특허청

133	특허	테스트 소켓	당사	2021-10-12	2024-04-29	Socket	특허청

134	특허	번인 소켓	당사	2022-09-30	2024-05-09	Socket	특허청

135	특허	컴포넌트를 내장한 러버 소켓	당사	2022-10-17	2024-05-16	Socket	특허청

136	특허	테스트 소켓 및 이를 포함하는 테스트 장치와, 테스트 소켓의 제조방법	당사	2021-08-27	2024-05-29	Socket	특허청

137	특허	저마찰형 프로브 헤드	당사	2022-02-25	2024-06-03	Probe Card	특허청

138	특허	모바일 AP를 테스트하기 위한 테스트 장치	당사	2022-01-25	2024-07-01	Socket	특허청

139	특허	프로브의 돌출길이가 조정되는 프로브 헤드	당사	2022-04-27	2024-07-11	Probe Card	특허청

140	특허	반도체 패키지의 테스트 장치	당사	2022-01-06	2024-08-05	Socket	특허청

141	특허	신호 전송 커넥터	당사	2023-07-17	2024-08-05	Socket	특허청

142	특허	반도체 패키지의 테스트 장치	당사	2021-12-27	2024-09-02	Socket	특허청

143	특허	이미지센서 패키지의 테스트 장치	당사	2022-11-04	2024-09-19	Socket	특허청

144	특허	테스트 소켓	당사	2022-10-17	2024-10-02	Socket	특허청

145	특허	이종 재질의 다층 회로기판 및 그 제조 방법	당사	2023-11-09	2024-10-02	MEMS	특허청

146	특허	스트로크 조절수단을 구비한 테스트 소켓	당사	2022-05-25	2024-11-05	Socket	특허청

147	특허	반도체 패키지의 테스트 장치	당사	2023-06-26	2024-11-05	Socket	특허청

148	특허	신호 전송 커넥터	당사	2022-09-01	2024-11-21	Socket	특허청

149	특허	신호 전송 커넥터	당사	2024-01-31	2024-11-21	Socket	특허청

150	특허	프로브의 돌출길이가 조정되는 프로브 헤드	당사	2022-04-27	2024-12-10	Probe Card	특허청