엑시콘 분기보고서 (2026.03)
6. 주요계약 및 연구개발활동

가. 주요계약 등 - 당사 재무상태에 중대한 영향을 미칠만한 사항으로서 본 공시서류에 기재된 사항 외에 당기와 전기 중에 경영상의 주요계약이 체결된 바 없습니다. 나. 연구개발활동 (1) 연구개발 담당조직

(2) 연구개발비용(단위 : 백만원)

구 분	2026년
1분기	2025년
(제25기)	2024년
(제24기)	비고

연구개발비용 총계	3,510	15,016	16,954

(정부보조금)	△15	△2,757	△2,069

연구개발비용 계	3,495	12,259	14,885

연구개발비용	개발비(자산)	-	-	-

경상개발비(비용)	3,495	12,259	14,885

합계 (연구개발비 / 매출액 비율
[연구개발비용계÷당기매출액×100])	35.80%	22.74%	53.63%

다. 연구개발실적

연구개발명	연구결과 및 실적	상품화

Memory	▶ Wafer상의 Memory 소자를 Package 공정을 통하여 만들어진 Component Memory를 Test하여 Package 공정상에서 발생되는 불량들을 검출하는 Package Component Tester
▶ DDR4, DDR5 Memory Package Test를 목적으로 하며, 전기적량을 측정하는 DC 테스트와 고속신호의 논리적 기능을 판별하는 Function 테스트가 주된 기능▶ 산업통상자원부 지원 및 한국산업기술평가관리원 주관의 우수기술 연구센터(ATC)사업 선정 개발 설비▶ 기존의 Burn-in 설비로 테스트하던 제품들이 DDR5, LPDDR5, GDDR6 등 고사양화, 고용량화 됨에 따라 개발된 고용량 테스트가 가능한 차세대 Burn-in 설비▶ Chamber Type의 Low-frequency Memory Tester	상품화 완료

▶ 종래의 Burn-in 설비(MBT) 대비 Function 테스트 기능을 결합한 설비로서 신뢰성 테스트와 기능 테스트를 동시에 실현 가능한 설비	개발 완료

▶ Cold Chamber를 활용한 Nand Flash Memory용 Burn-in Tester▶ 다양한 종류의 DRAM (GDDR, HBM 등)을 검사할 수 있는 전용 보드 (CLT Interface Board)	개발중

SSD	▶ SATA 12G / SAS 24G / UFS 3.0 규격의 다양한 SSD 제품 Aging Tester▶ PCIe Gen3/Gen4/NVMe 1.3 Protocol 지원Test 설비▶ 과학기술정보통신부 지원 및 연구개발특구진흥재단 주관의 공동 연구법인사업 선정 개발 설비▶ Automotive향 SSD / UFS 제품 Aging Test 설비▶ PCIe Gen5 / SAS 24G Protocol Tester	상품화 완료

▶ PCIe Gen6 / SAS 64G Protocol Tester▶ CXL (Compute Express Link) 3.1 Tester	개발완료

SoC	▶ Mobile / Automtive향 CIS (CMOS Image Sensor) Tester	상품화 완료

▶ 산업통상자원부 지원 및 한국산업기술진흥원 주관의 사업화 연계 기술개발사업 (R) 선정 개발 설비▶ PMIC, LED, AP, RFID 등 다양한 SoC 제품을 Test 가능한 설비
▶ SoC Test 설비 Platform (Max 6,144 Ch)▶ 반도체성능평가사업 선정 CIS (CMOS Image Sensor) Tester 개발	개발완료

▶ DDI 테스터 국책과제 기술 (1x nm급의 반도체 제조공정 기반 영상 출력장치 구동용 Driver IC 시스템 반도체 테스트 장비개발)▶ 차세대 AP (Application Processor) Tester 개발	개발중

라. 지적재산권 등

번호	구분	내용	권리자	출원일	등록일	적용
제품	주무
관청

1	특허권	멀티구동형커넥터	㈜엑시콘	2006.06.13	2008.01.03	EX8802
EX8100	특허청

2	특허권	반도체 패키지 소자 테스트장치	㈜엑시콘	2007.02.02	2008.03.11	-	특허청

3	특허권	반도체 메모리 테스트장치 및 반도체메모리 테스트방법	㈜엑시콘	2007.02.23	2008.10.15	EX8802	특허청

4	특허권	테스트 장치용 커넥터 및 이를 갖는 반도체 소자의 테스트 장치	㈜엑시콘	2007.07.03	2008.12.17	-	특허청

5	특허권	반도체메모리 테스트장치 및 반도체메모리 테스트방법	㈜엑시콘	2007.02.23	2009.02.16	EX8803	특허청

6	특허권	반도체테스트장치의 데이터 캡쳐회로	㈜엑시콘	2007.07.09	2009.02.16	EX8802	특허청

7	특허권	커넥터 장치	㈜디아이, ㈜엑시콘	2009.08.05	2011.01.05	-	특허청

8	특허권	클럭신호 제어회로 및 클럭신호 제어방법	㈜엑시콘	2008.10.10	2011.03.25	-	특허청

9	특허권	반도체메모리 테스트보드, 이를 포함하는 반도체메모리테스트시스템 및 반도체메모리 테스트방법	㈜엑시콘	2009.05.12	2011.05.02	EX9300	특허청

10	특허권	타이밍 발생 회로 및 타이밍 발생 방법	㈜엑시콘	2009.05.19	2011.07.01	EX9300	특허청

11	특허권	실시간 전압가변 제어장치, 이를 이용한 반도체 디바이스 테스트 시스템 및 그 동작 방법	㈜엑시콘	2015.07.31	2017.05.02	EX9900	특허청

12	특허권	반도체 테스트 프로그램 디버깅과 관련된 테스트 항목들의 우선순위를 결정하기 위한 장치 및 방법	㈜엑시콘	2017.01.23	2017.09.29	-	특허청

13	특허권	반도체 테스트를 위한 클럭 동기 회로시스템	㈜엑시콘	2016.05.10	2017.10.31	-	특허청

14	특허권	보 레이트가 자동으로 설정되는 테스트 장치	㈜엑시콘,(사)엑시콘산학공동연구소	2016.10.28	2018.07.10	SSD테스터	특허청

15	특허권	PCIe 테스트장치	㈜엑시콘,(사)엑시콘산학공동연구소	2016.08.31	2018.07.25	SSD테스터	특허청

16	특허권	SSD BIST 장치	㈜엑시콘,(사)엑시콘산학공동연구소	2017.03.06	2018.07.30	SSD테스터	특허청

17	특허권	SSD 테스트 장치	㈜엑시콘, 산학공동연구소	2016.10.27	2018.09.06	SSD테스터	특허청

18	특허권	집단 고장을 고려한 불균형 배치된 TSV의 수리 구조를 결정하는 장치 및 방법	㈜엑시콘	2017.01.16	2018.11.09	-	특허청

19	특허권	반도체 메모리 디바이스를 테스트 하기 위한 테스트 시스템 및 방법	㈜엑시콘, 산학공동연구소	2017.07.11	2018.12.03	SSD테스터	특허청

20	특허권	인터페이스 변환장치	㈜엑시콘, 산학공동연구소	2017.07.13	2019.07.25	SSD테스터	특허청

21	특허권	고속번인테스트 장치 및 방법	(주)엑시콘	2018.04.13	2019.08.19	MBT	특허청

22	특허권	반도체 메모리 모듈의 에이징 검사장치	㈜엑시콘, 산학공동연구소	2018.08.13	2019.10.10	공통	특허청

23	특허권	스토리지 프로토콜 매칭 장치 및 그 방법 (STORAGE PROTOCOL MATCHING DEVICE AND METHOD)	㈜엑시콘, 산학공동연구소	2018.08.30	2020.05.12	SSD테스터	미국 특허청(USPTO)

24	특허권	PCIe 테스트 장치	㈜엑시콘	2019.09.17	2020.06.30	공통	특허청

25	특허권	반도체 메모리 장치의 고속 번인 테스트 시스템	㈜엑시콘	2018.03.21	2020.07.31	MBT	특허청

26	특허권	SoC 테스트 장치	㈜엑시콘	2019.04.24	2020.07.31	SoC테스터	특허청

27	특허권	시스템 온 칩(SoC) 테스트 시스템 및 그의 테스트 방법	㈜엑시콘	2019.04.25	2020.08.31	SoC테스터	특허청

28	특허권	신호라인 길이를 산정하는 SoC 테스트 장치	㈜엑시콘	2019.05.17	2020.11.10	SoC테스터	특허청

29	특허권	시스템 온 칩(SoC) 테스트 시스템	㈜엑시콘	2019.05.17	2020.12.10	SoC테스터	특허청

30	특허권	반도체 디바이스 테스트 시스템	㈜엑시콘	2020.07.14	2021.10.25	공통	특허청

31	특허권	비동기 패턴 데이터를 제공하는 피검사 디바이스 테스트 시스템	㈜엑시콘	2020.07.14	2021.10.25	SoC테스터	특허청

32	특허권	진단 디바이스가 구비된 반도체 디바이스 테스트 장치	㈜엑시콘	2020.07.14	2021.11.10	SoC테스터	특허청

33	특허권	냉각 성능이 우수한 반도체 디바이스 테스트 시스템	㈜엑시콘	2020.07.14	2022.02.10	공통	특허청

34	특허권	반도체 테스트 시스템용 하이브리드 방열 장치	㈜엑시콘	2020.07.14	2022.05.10	공통	특허청

35	특허권	반도체 소자의 테스트 및 타이밍 보정 기능을 구비한 테스트 장치	㈜엑시콘	2020.12.30	2022.07.25	공통	특허청

36	특허권	이종의 피검사 디바이스를 테스트하는 테스트 시스템	㈜엑시콘	2020.12.24	2022.11.10	공통	특허청

37	특허권	반도체 디바이스 테스트 장치 (APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE)	㈜엑시콘	2021.12.10	2023.02.21	SoC테스터	미국 특허청(USPTO)

38	특허권	PCIe 인터페이스 기반의 SSD 테스트 장치	㈜엑시콘	2021.11.04	2023.11.06	SSD테스터	특허청

39	특허권	반도체 디바이스 테스트 장치	㈜엑시콘	2021.12.08	2024.02.16	공통	특허청

40	특허권	반도체 디바이스 테스트 장치 및 그의테스트 방법	㈜엑시콘	2021.11.29	2024.03.15	공통	특허청

41	특허권	반도체 디바이스 테스트 장치	㈜엑시콘	2021.11.26	2024.08.23	공통	특허청

42	특허권	챔버 개폐 장치	㈜엑시콘	2021.01.13	2024.10.04	공통	특허청

43	특허권	FPGA 를 이용한 타이밍 생성장치 및 이를 이용한 테스트 장치	㈜엑시콘	2022.09.30	2024.10.25	공통	특허청

44	특허권	테스트 보드 및 이를 이용한 테스트 장치	㈜엑시콘	2022.11.08	2024.11.05	공통	특허청

45	특허권	신호 동기화를 위한 테스트 장치 및 방법	㈜엑시콘	2023.06.27	2024.11.11	공통	특허청

46	특허권	진단 보드 및 이를 이용한 테스트 장치	㈜엑시콘	2022.12.16	2025.01.07	공통	특허청

47	특허권	반도체 소자 테스트 장치	㈜엑시콘	2022.12.16	2025.01.08	공통	특허청

48	특허권	멀티 터미네이션 모듈을 이용한 테스트 장치	㈜엑시콘	2022.08.30	2025.01.15	공통	특허청

49	특허권	고속 전송 경로 진단 장치	㈜엑시콘	2022.10.04	2025.01.31	공통	특허청

50	특허권	반도체 소자 테스트 장치	㈜엑시콘	2023.06.27	2025.05.19	공통	특허청

51	특허권	루프백 젠더 및 이를 이용한 테스트 장치	㈜엑시콘	2023.07.28	2025.06.13	공통	특허청

52	특허권	테스트 슬롯 진단용 보드	㈜엑시콘	2022.08.22	2025.06.18	공통	특허청

53	특허권	테스트 장치	㈜엑시콘	2023.07.28	2025.06.18	공통	특허청

54	특허권	신호 동기화를 위한 테스트 장치 및 방법	㈜엑시콘	2022.12.16	2025.07.10	공통	특허청

55	특허권	동축 커넥터 및 이를 이용한 테스트 장치	㈜엑시콘	2024.11.20	2025.09.02	공통	특허청

56	특허권	BIST 장치 검증용 루프백 카드	㈜엑시콘	2023.04.12	2025.10.31	SSD테스터	특허청

57	특허권	통신 프로토콜 변환 기능이 내장된 테스트 장치 및 그 구동 방법	㈜엑시콘	2023.04.12	2025.10.31	공통	특허청

58	특허권	테스트 보드 검사 장치	㈜엑시콘	2023.08.21	2025.11.11	공통	특허청

59	특허권	진단보드를 이용한 반도체 디바이스 테스트 장치	㈜엑시콘	2023.12.12	2025.11.11	공통	특허청

60	특허권	테스트 장치 진단 보드 및 이를 이용한 테스트 장치	㈜엑시콘	2023.07.28	2025.11.17	공통	특허청

61	특허권	반도체 디바이스 테스트 장치	㈜엑시콘	2023.12.12	2025.11.17	공통	특허청

62	특허권	반도체 디바이스 테스트 장치 및 테스트 방법	㈜엑시콘	2023.12.12	2025.11.19	공통	특허청

63	특허권	자가 진단이 가능한 반도체 디바이스 테스트 장치	㈜엑시콘	2023.12.12	2025.11.19	공통	특허청

64	특허권	이미지 센서 테스트 장치	㈜엑시콘	2024.11.20	2025.12.08	SoC테스터	특허청

65	특허권	테스트 슬롯 병렬 진단 장치	㈜엑시콘	2022.08.22	2026.02.09	SSD테스터	특허청

66	특허권	FAM보드를 이용한 테스트 장치	㈜엑시콘	2024.11.20	2026.03.09	SoC테스터	특허청

67	특허권	테스트 장치 및 그 구동 방법	㈜엑시콘	2023.11.24	2026.03.26	공통	특허청

68	특허권	양방향 진단이 가능한 반도체 디바이스 테스트 장치	㈜엑시콘	2023.12.12	2026.03.30	SoC테스터	특허청

마. 기술이전 수혜 또는 기술이전- 해당사항 없습니다.