엑시콘 분기보고서 (2022.03)
6. 주요계약 및 연구개발활동

가. 주요계약 등 - 당사 재무상태에 중대한 영향을 미칠만한 사항으로서 본 공시서류에 기재된 사항 외에 당기와 전기 중에 경영상의 주요계약이 체결된 바 없습니다.

나. 연구개발활동 (1) 연구개발 담당조직

(2) 연구개발비 용(단위 : 백만원)

구 분	2022년 1분기
(제22기)	2021년
(제21기)	2020년
(제20기)	비고

연구개발비용	개발비(자산)	-	-	-

경상개발비(비용)	2,491	10,837	8,778

합계 (연구개발비 / 매출액 비율
[연구개발비용계÷당기매출액×100])	2,491 (22.54%)	10,837 (16.37%)	8,778 (12.98%)

다. 연구개발실적

연구개발명	연구결과 및 실적	상품화

Memory	▶ Wafer상의 Memory 소자를 Package 공정을 통하여 만들어진 Component Memory를 Test하여 Package 공정상에서 발생되는 불량들을검출하는 Package Component Tester
▶ DDR4, DDR5 Memory Package Test를 목적으로 하며, 전기적량을 측정하는 DC 테스트와 고속신호의 논리적 기능을 판별하는 Function 테스트가 주된 기능▶ 산업통상자원부 지원 및 한국산업기술평가관리원 주관의 우수기술 연구센터(ATC)사업 선정 개발 설비▶ 기존의 Burn-in 설비로 테스트하던 제품들이 DDR5, LPDDR5, GDDR6 등 고사양화, 고용량화 됨에 따라 개발된 고용량 테스트가 가능한 설비	상품화 완료

▶ 종래의 Burn-in 설비(MBT) 대비 Function 테스트 기능을 결합한 설비로서 신뢰성 테스트와 기능 테스트를 동시에 실현 가능한 설비	개발 완료

Storage	▶ SATA6G/SAS12G/UFS3.0 규격의 다양한 SSD 제품 Aging Test 설비▶ PCIe Gen3/Gen4/NVMe 1.3 Protocol 지원Test 설비▶ 과학기술정보통신부 지원 및 연구개발특구진흥재단 주관의 공동연구법인사업 선정 개발 설비▶ Automotive향 SSD/UFS 제품 Aging Test 설비	상품화 완료

▶ PCIe Gen5/SAS 24G Protocol 지원Test 설비	상품화 완료

SoC	▶ 산업통상자원부 지원 및 한국산업기술진흥원 주관의 사업화 연계 기술개발사업 (R) 선정 개발 설비
▶ Display Driver IC (DDI) Test 설비▶ SoC Test 설비 Platform (Max 6,144 Ch)	상품화 완료

▶ PMIC, LED, AP, RFID 등 다양한 SoC 제품을 Test 가능한 설비
▶ 반도체성능평가사업 선정 CIS (CMOS Image Sensor) Tester 개발	진행중

라. 지적재산권 등

번호	구분	내용	권리자	출원일	등록일	적용
제품	주무
관청

1	특허권	비접촉식으로 측정된 자계를 이용한평판디스플레이용 TFT셀어레이의 양부테스트방법	㈜엑시콘	2003.03.13	2003.10.02	-	특허청

2	특허권	커패시터의 작동원리를 이용한 평판디스플레이용 TFT셀어레이의 비접촉식 양부테스트방법	㈜엑시콘	2003.03.13	2003.10.02	-	특허청

3	특허권	메모리자동 테스트장치에서 고속테스트를 위한 분기방법	㈜엑시콘	2005.02.04	2006.03.07	EX8802	특허청

4	특허권	복수의 기능블록을 반도체장치와 선택적으로 연결하는 이중전송선구조 및 이를 이용한 반도체장치테스터	㈜엑시콘	2006.03.31	2007.05.11	EX8802
EX8100	특허청

5	특허권	스큐보정방법 및 스큐보정기능을 갖는 반도체메모리 테스트 장비	㈜엑시콘	2006.03.31	2007.12.03	EX8802	특허청

6	특허권	멀티구동형커넥터	㈜엑시콘	2006.06.13	2008.01.03	EX8802
EX8100	특허청

7	특허권	반도체패키지소자테스트장치	㈜엑시콘	2007.02.02	2008.03.11	-	특허청

8	특허권	반도체메모리 테스트장치 및 반도체메모리 테스트방법	㈜엑시콘	2007.02.23	2008.10.15	EX8802	특허청

9	특허권	테스트 장치용 커넥터 및 이를 갖는 반도체 소자의 테스트 장치	㈜엑시콘	2007.07.03	2008.12.17	-	특허청

10	특허권	반도체메모리 테스트장치 및 반도체메모리 테스트방법	㈜엑시콘	2007.02.23	2009.02.16	EX8803	특허청

11	특허권	반도체테스트장치의 데이터 캡쳐회로	㈜엑시콘	2007.07.09	2009.02.16	EX8802	특허청

12	특허권	커넥터 장치	(주)다아이, (주)엑시콘	2009.08.05	2011.01.05	-	특허청

13	특허권	클럭신호 제어회로 및 클럭신호 제어방법	㈜엑시콘	2008.10.10	2011.03.25	-	특허청

14	특허권	반도체메모리 테스트보드, 이를 포함하는 반도체메모리테스트시스템 및 반도체메모리 테스트방법	㈜엑시콘	2009.05.12	2011.05.02	EX9300	특허청

15	특허권	타이밍 발생 회로 및 타이밍 발생 방법	㈜엑시콘	2009.05.19	2011.07.01	EX9300	특허청

16	특허권	클럭생성회로 및 클럭생성회로를 포함하는 테스트시스템	㈜엑시콘	2009.06.22	2011.11.04	EX8100 등	특허청

17	특허권	실시간 전압가변 제어장치, 이를 이용한 반도체 디바이스 테스트 시스템 및 그 동작 방법	㈜엑시콘	2015.07.31	2017.05.02	EX9900	특허청

18	특허권	반도체 테스트 프로그램 디버깅과 관련된 테스트 항목들의 우선순위를 결정하기 위한 장치 및 방법	㈜엑시콘	2017.01.23	2017.09.29	-	특허청

19	특허권	반도체 검사용 테스트헤드	㈜엑시콘	2016.05.10	2017.10.31	-	특허청

20	특허권	반도체 테스트를 위한 검사용 소켓 및 검사장치	㈜엑시콘	2016.05.10	2017.10.31	-	특허청

21	특허권	반도체 테스트를 위한 클럭 동기 회로시스템	㈜엑시콘	2016.05.10	2017.10.31	-	특허청

22	특허권	보 레이트가 자동으로 설정되는 테스트 장치	㈜엑시콘,(사)엑시콘산학공동연구소	2016.10.28	2018.07.10	SSD테스터	특허청

23	특허권	PCIe 테스트장치	㈜엑시콘,(사)엑시콘산학공동연구소	2016.08.31	2018.07.25	SSD테스터	특허청

24	특허권	SSD BIST 장치	㈜엑시콘,(사)엑시콘산학공동연구소	2017.03.06	2018.07.30	SSD테스터	특허청

25	특허권	SSD 테스트 장치	㈜엑시콘, 산학공동연구소	2016.10.27	2018.09.06	SSD테스터	특허청

26	특허권	집단 고장을 고려한 불균형 배치된 TSV의 수리 구조를 결정하는 장치 및 방법	㈜엑시콘	2017.01.16	2018.11.09	-	특허청

27	특허권	반도체 메모리 디바이스를 테스트 하기 위한 테스트 시스템	㈜엑시콘, 산학공동연구소	2017.07.11	2018.12.03	SSD테스터	특허청

28	특허권	인터페이스 변환장치	㈜엑시콘, 산학공동연구소	2017.07.13	2019.07.25	SSD테스터	특허청

29	특허권	고속번인테스트 장치 및 방법	(주)엑시콘	2018.04.13	2019.08.19	MBT	특허청

30	특허권	반도체 메모리 모듈의 에이징 검사장치	㈜엑시콘, 산학공동연구소	2018.08.13	2019.10.10	공통	특허청

31	특허권	스토리지 프로토콜 매칭 장치 및 그 방법 (STORAGE PROTOCOL MATCHING DEVICE AND METHOD)	㈜엑시콘, 산학공동연구소	2018.08.30	2020.04.09	SSD테스터	미국특허청(USPTO)

32	특허권	반도체 디바이스의 테스트 보드 및 방법	(주)엑시콘	2018.12.21	2020.04.13	공통	특허청

33	특허권	전원전압 무결성을 확보하기 위한 반도체 소자 테스트 보드	(주)엑시콘	2018.12.21	2020.04.24	공통	특허청

34	특허권	반도체 소자의 테스트를 위한 고속 클럭 동기 회로	(주)엑시콘	2018.12.28	2020.04.24	공통	특허청

35	특허권	멀티채널커넥터	㈜엑시콘	2018.12.28	2020.06.10	공통	특허청

36	특허권	PCIe 테스트 장치	㈜엑시콘	2019.09.17	2020.06.30	공통	특허청

37	특허권	반도체 테스트 보드의 냉각 시스템	㈜엑시콘	2018.12.28	2020.06.30	공통	특허청

38	특허권	반도체 메모리 장치의 고속 번인 테스트 시스템	㈜엑시콘	2018.03.21	2020.07.31	MBT	특허청

39	특허권	SoC 테스트 장치	㈜엑시콘	2019.04.24	2020.07.31	SoC테스터	특허청

40	특허권	시스템 온 칩(SoC) 테스트 시스템 및 그의 테스트 방법	㈜엑시콘	2019.04.25	2020.08.31	SoC테스터	특허청

41	특허권	신호라인 길이를 산정하는 SoC 테스트 장치	㈜엑시콘	2019.05.17	2020.11.10	SoC테스터	특허청

42	특허권	시스템 온 칩(SoC) 테스트 시스템	㈜엑시콘	2019.05.17	2020.12.10	SoC테스터	특허청

43	특허권	시스템 응용 보드와 사각 형상의 프로브 카드가 결합된 DUT 테스트 시스템	㈜엑시콘	2019.04.24	2021.01.15	SoC테스터	특허청

44	특허권	반도체 디바이스 테스트 시스템	㈜엑시콘	2020.07.14	2021.10.25	SoC테스터	특허청

45	특허권	비동기 패턴 데이터를 제공하는 피검사 디바이스 테스트 시스템	㈜엑시콘	2020.07.14	2021.10.25	SoC테스터	특허청

46	특허권	진단 디바이스가 구비된 반도체 디바이스 테스트 장치	㈜엑시콘	2020.07.14	2021.11.10	SoC테스터	특허청

47	특허권	냉각 성능이 우수한 반도체 디바이스 테스트 시스템	㈜엑시콘	2020.07.14	2022.02.10	SoC테스터	특허청

1	디자인권	솔리드 스테이트 드라이브 실장 장치의 슬라이딩 부재	㈜엑시콘	2008.07.24	2008.10.10	SSD테스터	특허청

2	디자인권	솔리드스테이트드라이브 실장장치의하우징부재	㈜엑시콘	2008.07.24	2008.10.10	SSD테스터	특허청

3	디자인권	솔리드 스테이트 드라이브가 실장되는 부재	㈜엑시콘	2008.07.24	2009.01.22	SSD테스터	특허청

4	디자인권	솔리드 스테이트 드라이브 실장장치가 장착되는 부재	㈜엑시콘	2008.11.27	2009.01.06	SSD테스터	특허청

마. 기술이전 수혜 또는 기술이전- 해당사항 없습니다.