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DELACOMMISSION
COLLECTION RELIEE DES
DOCUMENTS "COM"
COM (78)766
V ol.1978/0277

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Conformément aurèglement (CEE, Euratom) n°354/83 duConseil du1erfévrier 1983
concernant l'ouverture aupublic des archives historiques delaCommunauté économique
européenne etdelaCommunauté européenne del'énergie atomique (JO L43du15.2.1983,
p.1),telque modifié parlerèglement (CE, Euratom) n°1700/2003 du22septembre 2003
(JO L243du27.9.2003, p.1),cedossier estouvert aupublic. Lecaséchéant, lesdocuments
classifiés présents dans cedossier ontétédéclassifiés conformément àl'article 5dudit
règlement.
Inaccordance with Council Regulation (EEC, Euratom) No354/83 of 1February 1983
concerning theopening tothepublic ofthehistorical archives oftheEuropean Economic
Community and theEuropean Atomic Energy Community (OJ L43, 15.2.1983, p.1),as
amended byRegulation (EC, Euratom) No1700/2003 of22September 2003 (OJ L243,
27.9.2003, p.1),this fileisopen tothepublic. Where necessary, classified documents inthis
filehave been declassified inconformity with Article 5oftheaforementioned regulation.
InÜbereinstimmung mitderVerordnung (EWG, Euratom) Nr.354/83 des Rates vom 1.
Februar 1983 über die Freigabe der historischen Archive der Europäischen
Wirtschaftsgemeinschaft undderEuropäischen Atomgemeinschaft (ABI. L43vom 15.2.1983,
S.1),geändert durch dieVerordnung (EG, Euratom) Nr.1700/2003 vom 22.September 2003
(ABI. L243 vom 27.9.2003, S.1),istdiese Datei derÖffentlichkeit zugänglich. Soweit
erforderlich, wurden dieVerschlusssachen indieser Datei inÜbereinstimmung mitArtikel 5
dergenannten Verordnung freigegeben.

COMMISSION DESCOMMUNAUTES EUROPEENN
COM(78)766 final .
1979
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PROPOSITION DEDIRECTIVE DUCONSEIL
MODIFIANTLADIRECTIVE71/316/CEEDUCONSEILDU26JUILLET1971
CONCERNANTLERAPPROCHEMENT DESLEGISLATIONS DESETATSMEMBRES
RELATIVES AUXDISPOSITIONS COMMUNESAUX
INSTRUMENTS DEMESURAGEETAUXMETHODESDECONTROLEMETROLOGIQUE
(présentéeparlaCommissionauConseil)
COM(78 )766final .

6XP0SEDESMOTIFS
I.INTRODUCTION
L'industrie desinstruments demesureestenpleineévolution àcausedu
développement del'électronique .
Actuellement danslaCommunauté lemarchédecesinstruments estencrois­
sanced'environ10%paran.Iladépassé400millionsd'Unitésdecompte
en1976.Pourleseulsecteurdesinstruments depesage,,dontlechiffre
d'affaireestdel'ordrede250millionsd'UnitésdecomptedanslaCEE,
l'électronique représente chaqueannéeunepartieplusimportante duchiffre
d'affaires,actuellement-entre30et40%.Sil'onsonge'également àl'intro­
ductiondel'électronique danslesecteurdescompteurs deliquides(pompés
àessence!)chacunpeuts'apercevoir del'énormemarchéquis'ouvreà
l'électronique dansledomaine ,delamesure.Orlasituation aupointdevue
deséchangescommunautaires estencorebloquéepàrlesprescriptions natio­
nalesdivergentes quiexistentnotamment enFranceetenAllemagne.Depuis
longtempslaCommunauté ,s'estpréoccupée del'élimination desentravesdans
ledomainedelamétrologie.Depuis1971plusde25directives adoptéespour
l'élimination desentravesauxéchangessontrelatives àcedomaine.Mais
lesinstruments considérésont"jusqu'àprésenttoujoursétédesinstruments
mécaniques ouélectromécaniques quireprésentaient laplusgrandepartçiu
marché.Celaneserapluslecasdansl'avenir.Afindefaciliter àl'indus­
triecomrnunautairel'évolutionnaturelleversl'électroniquerfaceàses
concurrents despaystiersilfallaitlui,faireprofiterdanscedomaine
aussidel'avantagequereprésente unmarchéintérieurunifié.

-2-
EXAMENDELAPROPOSITION
LaprésentedirectivemodifianttadirectiveduConseil71/316/CEEest
priseenapplication del'article100duTraitéinstituanttaCommunauté
Economique Européenne .
LadirectiveduConseil71/316/CEEdu26juillet1971concernantlerap­
prochementdeslégislations desEtatsmembresrelativesauxdispositions
communesauxinstruments demesurageetauxméthodesdecontrôlemétrolo-
giqued),aétéadoptéeenvued'harmoniserlesdispositionsLégislatives/
réglementaires etadministratives ,existantàL'époquedanschaqueEtat,
membre,,etquiavaientpourbutdedéterminerdesprocéduresetdesméthodes
decontrôlemétrologique surleurterritoire .
L'intérêt'decettedirectiveétaitdoncd'instituerdesprocédures adé­
quatesd'approbation CEEdemodèleetdevérification primitive CEEainsi
quedesméthodesdecontrôlemétrologique CEEreconnuespartouslesEtats
membres,qui-combinéesaveclesprescriptions desdirectivesparticuliè­
respermettent deréaliserlaLibrecirculation desinstruments considérés.
Lesinstruments couvertsparLestravauxcommunautaires étaientmécaniques .
ouélectromécaniques . -
Or,depuisL'adoptiondecettedirective 71/316/CEEduConseil,deschan­
gementsimportants sontintervenus dansLatechnologie decesinstruments
demesurage.
Eneffet>~à"L^époquedél'élaboration deladirective 71/316/CEE,les
instruments deme-surageétaientpourlaplupartdetypemécaniqueet
électromécanique .Denosjours,lasituationesttotalementdifférente :
lamiseaupoint,lastandardisation etl'utilisationdeplusenplusgéné­
raliséedesdispositifs électroniques ,ontintroduit dansLestechniques
demesure,unvéritablebouleversement .
Toustesinstruments demesuragenesontpastouchésparcetteinnovation
maisbonnombresontmunisouassociésdedispositifs électroniques .Atitre
d'exempleonpeutciterLesinstruments depesageengénéral,Lestaximètres
etcertainscompteursdontLesélémentsd'affichage desindications sont
réalisésenutilisantcesdispositifs .D'autres,telsquelesensembles
demesuragedeLiquidesautresquel'eau,.commeparexempleLespompesà
../..

essence quel'onutilise dans lesstations service ,font également appel -
àcette technique moderne .
L'utilisation desdispositifs électroniques dans les instruments demesu­
rage aconduit certains Etats membres àmettre sur pied desprescriptions
techniques concernant cesdispositifs ,prescriptions qui ont créé des en­
traves aux échanges dans ledomaine particulier deces instruments de
mesure .
Conscients decette évolution technique etdes problèmes ainsi créés >les
services delaCommission ont entrepris ilyaquelques années l'étude
desdifférents aspects deceproblème encollaboration avec les Services
nationaux compétents dechaque Etat membre ainsi qu'avec les "construc­
teurs etlesutilisateurs deces instruments ,regroupés ausein d'orga­
nisations qui font partie del'Organisme deliaison des industries métal­
liques Européennes (ORGALIME ).Ondoit citer notamment :leComité des
Industries delaMesure Electrique etElectronique delaCommunauté (CIMEC ),
leComité Européen des Constructeurs d'Instruments depesage (CEClP),le
Comité Européen des Constructeurs dematériel decomptage etdedistribution
des hydrocarbures (CECOD );leComité Européen deNormalisation électrotechni
que (CENELEC )etlaCommission Electrotechnique Internationale (CEI),ont
été également informées ,et,notamment dans lecas duCENELEC ,associées aux
travaux .
lamise aupoint delaproposition dedirective ,modifiant ladirective
71/316/CEE duConseil ,arencontré aucours desapréparation uncertain
nombre dedifficultés dues principalement auxintérêts divergents des sec­
teurs d'industrie concernés mais aussi auxdifférences entre lesprincipes
retenus par lesEtats membres pour admettre sur leur territoire national
cesinstruments demesure munis dedispositifs électroniques .
Eneffet ,ilestapparu aucours desdiscussions préparatoires que deux
tendances également partais ,pe*lesEtats «ambras pwjvâ'îsnt être admises
enmatière doconception decesdispositif ;,,L'unevisant àimposer uncer­
tain nombre decontrôles tout aulong delachaîne électronique permettant
la .détection etlasignalisation des~défauts significatifs ,tandis quela
deuxième consi steàréaliserdesdispositifs électroniques ayant unniveau de
qualité etdefiabilité satisfaisant .

AL'issue demultiples études etcontacts pris avec lestenants de
cesdeux thèses ,lesservices delaCommission ontmis au
point desprescriptions générales propres àcesdeux tendances quidevraient
permettre detrouver unaccord surleniveau desécurité admissible .
Leconstructeur reste libre ,àquelques exceptions près,dechoisir
suivant les casl'une deces deux méthodes .Lanouvelle proposition demo­
dification deladirective consiste enunajout d'une annexe III autexte
initial etencertaines modifications des annexes IetIIdel'ancienne di­
rective . '
Elle présente ainsi ledouble avantage degarder pour lesappareils méca­
niques etélectriques savaleur intrinsèque enmatière decontrôle CEE (ap­
probation CEE demodèle ,vérification primitive CEE),etdeluiconférer un
caractère d'actualité parl'ajout deprescriptions particulières propres
àces instruments munis dedispositifs électroniques .
L'ensemble deces nouvelles prescriptions sur lesquelles les experts na­
tionaux ont marqué unlarge accord permet ainsi deprévoir dans les
directives verticales desprescriptions particulières àl'approbation CEE
demodèle etàlavérification primitive CEE ainsi qu'aux essais àeffectuer
pour lesparties électroniques deces instruments .
Cette proposition dedirective complétée pardesdirectives particulières
permettra lalibre circulation deces nouveaux instruments demesurage à
.\ .l'intérieur delaCommunauté .
CONSULTATION DU PARLEMENT EUROPEEN ET DU COMITE ECONOMIQUE ET SOCIAL
L'avis deces deux instances ,conformément auxdispositions del'article 100,
I, 'alinéa 2estnécessaire .Lamise enoeuvre desprescriptions prévues par la
proposition dedirective ,nécessite eneffet pour certains Etats membres ,une
•modification deleurs dispositions législatives ..
Encequi concerne laprocédure ,comme déjà expliqué ci-dessus ,lesmodifications
proposées sont nécessaires pour adopter ladirective 71/316/CE£aux innovations
techniques .Ilsemblerait donc indiqué defaire recours àlaprocédure spéciale
prévue auxarticles 17à19deladite directive .
Etant d'avis qu'ils'agit d'innovations d'importance fondamentale ,laCommission -
a,cependant ,estimé opportun desaisir leConseil d'uneproposition demodifica­
tion fondée surl'article 100.Ainsi leConseil aura lapossibilité dediscuter
afond les problèmes etdefixer lesprincipes selon lesquels lesdirectives par­
ticulières seront ensuite adaptées conformément àlaprocédure dite del'adap­
tation auprogrès technique . ' .

PROPOSITION DEDIRECTIVE DUCONSEILMODIFIANT LADIRECTIVE 71/316/CÉE
CONCERNANT LERAPPROCHEMENT DESLEGISLATIONS
DESETATSMEMBRESRELATIVES AUXDISPOSITIONS COMMUNES AUXINSTRUMENTS DE
MESURAGE ETAUXMETHODES DECONTROLE METROLOGIQUE .
(PrésentéeparLaCommission auConseil)
LeConseildesCommunautés Européennes,
«*
t .
vuleTraitéinstituant laCommunauté économique européenne,etnotamment
sonarticle100,.
vulaproposition delaCommission,
-. . ■ ■. /
vul'avisduParlement'Européen,'
vul'avisduComitééconomiqueetsocial,
considérant queladirective 71/316/CEEduConseil,du26juillet1971.,CD
apourobjetderéaliserlalibrecirculation de
cesinstruments àL'intérieurdelaCommunauté enharmonisant lesLégis­
lationsnationalesdivergentesrelatives -auxcontrôlesmétrologiques,et
eninstituant àcettefindesprocéduresadéquatesd'approbation CEEde
modèleetdevérification primitive CEEainsiquedesméthodesdecontrôle
métrologique CEE;
considérant quedepuisl'adoptiondecettedirective,ledéveloppement
delatechnologieetdelatechniqueaparmisdsmettreaupointdesmé­
thodesdeconstruction baréessurl'électro/iiquequisjntaujourd'hui cou­
rammentappliquéesdanslaconception,l'élaboration etlafabrication des
instruments demesurage;
(1)J.O.n°L202du6.9.1971,p.1. .

-2-
considérant queLadirective 71/316/CEE,Lorsqu'elleaété
adoptée,nepouvaitpasencoretenircomptedecedéveloppement technioue
etque-depuis Lors,certainsEtatsmembresontadoptédansleursLégisla­
tionsnationales desprescriptions quipermettent dedélivrerdesapproba­
tionsnationales auxinstruments demesuragemunisdedispositifs élec­
troniques;
considérant enconséquence qu'ilconvient,pourétendrelechampd'ap­
plication deladirective duConseilprécitéeauxinstruments demesure
munisdedispositifs électroniques etpourharmoniser leslégislations
nationalesprisesàceteffet,demodifieretdecompléterletextedes
prescriptions européennes actuellement envigueur,
AARRETELAPRESENTE DIRECTIVE :

Article I
Lesarticles 2paragraphes 2et5,5paragraphes 3et4,7paragraphe
1et4,8paragraphesl et2,9paragraphe 1,15paragraphe 2,17deladirec­
tive 71/316/CEE sont respectivement remplacés par lestextes suivantes :
Article 2paragraphe 2 .
Siles équipements decontrôle dont ils disposent lepermettent /les
Etats membres accordent ,sur demande dufabricant oudeson mandataire ,,
l'approbation CEE demodèle àtout modèle d'instrument ainsi qu'àtout dis­
positif complémentaire satisfaisant auxqualités mé'trologiques ,aux pres­
criptions deréalisation technique etdefonctionnement fixées par lapré­
sente directive lecas échéant etpar ladirective particulière relative
àcette catégorie d'instruments . •
Article 2paragraphe 5 :
-Les Etats membres procèdent àl'approbation CEE demodèle selon les
dispositions delaprésente directive etdesdirectives particulières .-
1
Article 5paragraphe 3
Lorsque des techniques "nouvelles non prévues par laprésente direc­
tive ouparunedirective particulière sont employées ,uneapprobation CEE
demodèle d'effet limité peut également être -accordée ,après consultation
préalable desautres Etats mer ,bres .Elle peut comporter lesrestrictions
prévues auparagraphe 2ainsi quedesconditions particulières serapportant
àlatechnique employée .
Elle nepeut toutefois être accordée que :
-siladirective particulière .pour cette catégorie d'instruments est
entrée envigueur ; ■.-.
s'iln'estpas -dérogé auxerreurs maximales tolérées fixées dans
lesdirectives particulières . '

Laduréedevaliditéd'unetelleapprobation estlimitéeadeux
ansaumaximum.Ellepeutetreprorogéedetroisans.
Article5paragraphe 4
L'Etatmembrequiaaccordél'approbation CEEdemodèled'effet
limitéviséauparagraphe 3,introduitunedemandeenvued'adapterles
annexesdelaprésentedirectivelecaséchéantetcellesdeladirec­
tiveparticulière auprogrèstechniqueselonlesdispositions desar­
ticles18et19,dèsqu'ilestimequel'expérience afaitsespreuves.
Article7paragraphe 1
L'Etatmembrequiaaccordéuneapprobation CEEdemodèlepeut
larévoquer :
a)sidesinstruments dontlemodèleafaitl'objetdel'appro-4*"
bationnesontpasconformes aumodèleapprouvéet/ouaux
dispositions delaprésentedirectivelecaséchéantetdela
directiveparticulière lesconcernant;
b)silesexigencesmétrologiques spécifiées danslecerti­
ficatd'approbation oulesdispositions del'article5
paragraphes 2et3nesontpasrespectées .
Article7paragraphe 4 ' '
L'Etatmembrequiaconstatél'existence ducasprévuaupa­
ragraphe 2peutsuspendrelamisesurlemarchéetlamiseenservice
desinstruments .
Ileninformeimmédiatement lesautresEtatsmembreset
laCommission enprécisantlesmotifsdesadécision.
Ilenestdemêmedanslescasprévusauparagraphe 1pour
lesinstruments dispensés delavérification primitive CEE,silefa­
bricant,aprèsavertissement ,nelesmetpasenconformité avecle
modèleapprouvéet/ouaveclesdispositions delaprésentedirective
lecaséchéantet.deladirectiveparticulière quileconcerne.

-5-
\
Article8paragraphe 1
Lavérification primitive CEEestLecontrôleetlaconfirmation de
laconformité d'uninstrument neufouremisàneufaveclemodèleapprouvé
et/ouaveclesdispositions delaprésentedirectivelecaséchéantetdela
directiveparticulière quileconcerne;elleestmatérialisée parIcimar­
quedevérification primitive CEE. -
Article8paragraphe 2
* '
Sileséquipements decontrôledontilsdisposentlepermettent/
lesEtatsmembresprocèdent àlavérification primitive CEEdesinstruments
présentés commepossédantlesqualitésmétrologiques etsatisfaisant aux
prescriptions techniques deréalisation etdefonctionnement fixéesparla
présentedirective,lecaséchéant,etparladirectiveparticulière re­
lativeàcettecatégoried'instruments .
Article9paragraphe 1
Lorsqu'uninstrumentestprésenté àlavérification primitive CEE,
l'Etatmembrequieffectuelecontrôledétermine :
a)sil'instrumentappartient àunecatégoriedispenséedel'ap-r
probation CEEdemodèleet,dansl'affirmative,s'ilsatisfaitauxpres­
criptionsderéalisation techniqueetdefonctionnement fixéesparla
présentedirectivelecaséchéantetparladirectiveparticulière relative
àcettec-atégoried'instruments ; •
b)sil'instrument afaitl'objetd'uneapprobation CEEdemodèle
et,dansl'affirmative,s'ilestconformeaumodèleapprouvé,etavecles
dispositions delaprésentedirective,lecaséchéant,ainsiqu'aveccelles
deladirectiveparticulière quileconcerne. -
Article15paragraphe 2
Nonobstantlesdispositions del'articlé1erpremieralinéa,un
instrumentenserviceportantdesmarques'ousignesCEEmaisnesatisfaisant
pasauxexigencesdelaprésentedirectiveet/oudeladirectiveparticulière
yrelative,notammentencequiconcerneleserreursmaximales ,tolérées,
peutêtremishorsservicedanslesmêmesconditionsqu'uninstrumentrevêtu
desmarquesnationales . /

Article 17
Lesmodifications qui sont nécessaires pour adapter auprogrès technique :
-Les annexes delaprésente directive
-Les annexes desdirectives particulières relatives aux diffé­
rentes catégories d'instruments ,aux unités demesures légale :
etaux méthodes decontrôle métrologique CEE,
sont arrêtées selon laprocédure prévue àl'article 19.
Article II
Lestextes suivants sont ajoutés auxpoints 1.3et2.1del'annexe Idela
directive 71/316/CEE :
– - \ \
1.3.4 . . ' .
Enoutre ,pour uninstrument muni dedispositifs électroniques :
-laliste des composants électroniques avec leurs caractéristiques
essentiel Les, ;
-une description des dispositifs électroniques avec les plans et
schémas expliquant leur construction etleur fonctionnement .
2.1.3 .
Lecas échéant ,une étude détaillée desdispositifs électroniques
comprenant essentiellement ur>examen deleur conception ,des essais
probatoires deconception et/oudefonctionnement ainsi qu'unessai d'en­
durance tel que prévu aupoint 8del'annexe III.
Article III ,' ■
- /
Lepoint 1del'annexe IIdeladirective 71/316/CEEest remplacé par le
texte suivant .
9
1.Généralités "
1.1.Lavérification primitive CEEpeut s'effectuer enuneouplusieurs
phases (généralement deux).

-7-
1.2.Sous réserve desdispositions desdirectives particulières :
1.2.1 .Lavérification primitive CEEesteffectuée enuneseule
phase surlesinstruments quiconstituent untout àla
sortie del'usine ,c'est -à-dire ceux qui peuvent ,en
principe ,être transférés àleur lieu d'installation sans
■démontage préalable .
1.2.2 .Lavérification primitive CEE est effectuée endeux ou
plusieurs phases pour lesinstruments dont lefonctionne­
ment correct dépend des conditions d'installation oud'uti­
lisation . '
1.2.3 .Lapremière phase devérification doit permettre des'as­
surer notamment delaconfôrmité del'instrument au mo­
dèle approuvé et/ouaux dispositions delaprésente direc­
tive ,Lecas échéant ,etdeladirective particulière le
concernant ou,pour les instruments dispensés del'approba­
tion demodèle ,delaconformité aux presc ript ions qui leur
sont applicables .
1bis Examen pour lavérification primitive CEE ,
Pour lavérification primitive CEE,lesinstruments équipés
r ■'
dedispositifs électroniques sont soumis ,enplus des prescrip­
tions prévues àl'article 9,aux examens repris aupoint 9de
,l'annexe III,afin des'assurer delaconformité deces dispo­
sitifs électroniques avec ceux incorporés dans lemodèle approuvé .
Article IV
Letexte del'annexe àlaprésente directive estajouté àladirective
71/316/CEE. '•
Article V
a)LesEtats membres adoptent etpublient auplus tard le31décembre 1981 le
dispositions législatives ,réglementaires etadministratives néces­
saires pour seconformer àlaprésente directive ,quientrent envi--
gueur IÊ1eravril 1982 etles communiquent àLaCommission *

8-
b)DèsLanotification deLaprésentedirective,LesEtatsmembresveiLLent
enoutreàinformer LaCommission entempsutiLe,pourLuipermettre de
présentersesobservations ,detoutprojetdedisposition d'ordreLégisLa-
tif,régLementai reouadministratif qu'iLsenvisagent d'adopterdansLe
domainerégiparLaprésentedirective.
ArticLeVI
».
LesEtatsmembressontdestinaires deLaprésentedirective.
FaitàBruxeLLes

ANNEXE
ANNEXEIII
PRESCRIPTIONS RELATIVES AUXDISPOSITFS ELECTRONIQUES
INCORPORES OUASSOCIESAUXINSTRUMENTS DEMESURAGE
:– ChapitreI
1.5énéça!ité|
CetteannexefixeLescaractéristiques métrologiques ettechniques géné­
ralesquedoiventprésenterLesdispositifsélectroniques incorporésou
associésàdesinstruments demesureouàLeurséquipementsauxiliaires
ainsiquelesexamenseetlesessaisyrelatifs.
Lesdirectivesparticulières relativesauxdifférentes catégoriesd'instru­
mentsdemesurecomplètentetprécisentles;prescriptions générales.
2.
Lebut'àatteindreestd'assurerquelesdispositifs électroniques fonction­
nentdemanièredurableetn'introduisent enaucun-casd'erreurssignifi­
cativesdanslesrésultats demesurage.
3.DéîiQi£i°DS_ê|_|e£|iggiggiê J
Lestermessuivants,définisdanslaprésenteannexe,peuventêtreutili­
sésdanslesdirectivesparticulières etyontlamêmesignification .
3.1.Dispositifs électroniques -
»
3.1.1.D2Sgosrtif_éleçtronigue _
Ausensdecetteannexe,undispositifélectronique estune
partied'uninstrument demesurageoud'unéquipement auxi­
liairequicontientaumoinsuncomposantélectronique ,et
quiremplitunefonctionspécifique dansl'instrument .
3.1.2.22sgQsjit_é_Lectronj[gue_ent _ièrement_égujîpé_de_contrô_Le
Undispositif électronique estconsidéré commeentièrement ,
équipédecontrôles,Lorsquechacundessous-ensemble du
dispositif électronique ayantunefonctionessentielle
danslemesuragefaitl'objetd'uncontrôle.
3.1.3.Dísdosí^íf_électroni^ue_sans_contr6le oupartiel'lement
Dispositifs électroniques quinesontpasentièrement équipés
decontrôlecomme'ceuxdéfinisaupoint3.1.2.
3.2.Indications principales etsecondaires
3.2.1.Indiçations^Hncipales
Touteslesinformations desortieconsidérées
ausensdeLamétrologie légale.commeauthentiques

-2-
L'indication principale peut comprendre non seulement l'in­
dication delagrandeur mesurée ,sous forme d'affichage ,d'im­
pression oud'enregistrement ,mais aussi une fonction decette
quantité .
Ladirective particulière peut spécifier parmi lesindications
d'uninstrument demesurage celles qui devront être considérées
comme indications principales .
3.2.2 . '
Toutes informations desortie qui nesont pas considérées
comme des indications principales .
3.3.Mesurage répétable etnon-répétable
3.3.1 .Mesura2e_régétable
Mesurage dans lequel ladétermination delagrandeur mesurée
peut normalement être répétée . ,*
3.3.2 .Mesura2e_non-régétable
Mesurage dans lequel une seule détermination delagrandeur
mesurée peut être faite .
3.4.Types dedispositifs électroniques
3.4.1 .Disgo sitjf_;_anal ogjgue
Dispositif dans lequel tous les signaux sont des fonctions
continues delagrandeur traitée .
3.4.2 .Dîsgosntjif numérjgue
Dispositif dans lequel tous les signaux sont des fonctions
discontinues delagrandeur traitée .
3.4.3 .£isgosit if_mi xte ;
Dispositif indivisible utilisant les deux types de
signaux précédents .
3.5.Types defonctions -
3.5.1 .fonction_statigue__(comb inatoire)
Fonction dans laquelle les informations desortie dépendent
uniquement delavaleur instantanée des informations d'entrée .
3.5.2 .fonctjor^cjnétjgue^sécjuentje lle)
Fonction dans laquelle lesinformations desortie dépendent .
non seulement des informations d'entrée àl'instant consi­
déré mais aussi des informations d'entrée àdes instants an­
térieurs .

-3-
3.6 .Défauts
3.6.1 .Défauts »
Ausens decette annexe ,undéfaut est unedéfaillance dans le
fonctionnement dudispositif électronique due àune rupture de
composants oudeleurs connexions ,ouàdesperturbations exté­
rieures .
3.6.2 .Défauts_selon_leur_durée
3.6.2.1 .Défauts fugitifs
Défauts dont ladurée peut être inférieure àlaplus
courte -opération demesurage concernée .
3.6.2.2 .Défauts permanent s_
Défauts qui nesont pasfugitifs .
3.B.3 .Défauts_selonj£ur_imgortançe
3.6.3.1 .Défauts non-significatifs
Défa utsnecausant pasd'erreurs ,oudéfauts causant
des erreurs sur lerésultat demesurage ,d'une valeur
inférieure àcelle spécifiée dans ladirective parti­
culière relative àl'instrument considéré .
3.6.3.2 .Défauts significatifs ~
-Défauts n'étant pas repris aupoint 3.6.3.1 .
3.7.Types decontrôles
3.7.1 .Çont rô_le_automat e_e rmanent__C
Contrôle permettant ,sans intervention d'unopérateur ,devé­
-rifier lefonctionnement des dispositifs électroniques durant
unmesurage soit continuellement ,soit d'une manière disconti­
nue nepermettant laprise encompte d'aucune information erronée .
3.7.2 .Çontrôj.e_automatigue_et_intermi ttent (I)
Contrôle permettant ,sans intervention d'unopérateur ,devéri­
fier d'une manière cyclique lefonctionnement desdispositifs
électroniques .
3.7.3 .Çont rô_le_non-automat2gue _(N2^
Contrôle permettant ,parl'intervention d'unopérateur ,de
vérifier lefonctionnement desdispositifs électroniques .
3.8.Sécurité métrologique !
Lasécurité métrologique d'uninstrument demesurage muni dedispositifs
électroniques estl'aptitude qu'ontsesdispositifs électroniques àsatis­
faire auxexigences métro logiques ettechniques auxquelles ilssont soumis

Chapitre II
Prescriptions concernant lesdispositifs électroniques
ECêSçr igtiQns_gigi£iies _,
4.1 .Sécurité métrologique
Les instruments demesurage ouleur équipement auxiliaire munis de
dispositifs électroniques doivent avoir lasécurité métrologique
_requise selon l'usage auquel ilssont destinés .
Cette sécurité peut être réalisée parl'une des méthodes suivantes :
-soit enarrivant par une conception etune construction adéquates
àréaliser desdispositifs électroniques qui répondent àunniveau
dequalité requis ,etpour lesquels desessais permettent depré-^
voir une durée devie satisfaisante ,
-soit enprévoyant pour chaque sous ensemble d'undispositif él.ectro -
~~~nique ayant une fonction essentielle dans lemesurage >des contrô­
les qui permettent ladétection etlasignalisation des défauts signi
ficatifs ,
-soit encombinant les deux méthodes précitées .
Lechoix de.l'une deces méthodes est -laissé auconstructeur àmoins
qu'unedirective particulière n'endispose autrement .
4.2 .Alimentation desecours
'Oanâ lecas oùune alimentation desecours est requise par une direc­
tive particulière ,lepassage sur laligne d'alimentation desecours
nedoit pas introduire dedéfauts dans lesdispositifs électroniques .
•ECi|griBtiQg|_ÇQDÇ|EDiQt _les_di|BQsi tifs_éIgçtronigyes_eDtiè£|œgn|_égyipes
di_£Qnt rôles
Laconception desdispositifs entièrement équipés decontrôles doit être
telle que lefonctionnement dudispositi fsoit survei lléetque les dé­
fauts defonctionnement soient détectés defaçon automatique ouparl'in­
tervention d'unopérateur etsignalés .
5.1.Détection des défauts
Ladétection des défauts est réalisée aumoyen decontrôles tels que
prévus aupoint 3.7.Leniveau decontrôle <P,I.N )dépend des types
dedispositifs électroniques dans lesquels ces contrôles sont incor­
porés .
Descontrôles automatiques sont prévus dans les cas suivants ,àmoins
qu'unedirective particulière n'endispose autrement :
N-Lesdispositifs numériques àfonction cinétique (numériques-séquen -
tiels )sont munis d'unsystème decontrôle automatique etpermanent
CP).

•-5-
Toutefois,siLesystèmedecontrôleprécitén'équipequune-
partieseulementdecedispositifnumériqueàfonctionciné­
tique,maispermetLadétectiondesdéfautsàcausefugitive
surL'ensembledetoutcedispositif,Lesautrespartiespeuvent
n'êtreéquipéesquedesystème decontrôleautomatiqueetinter­
mittent(I). "...
ï.
-Lesdispositifs numériques àfonctionstatique(numériques-com­
binatoires)sontmunisd'urvsystèmedecontrôleautomatique et
*permanent(P)oud'unsystème-rlecontrôleautomatiqueetinter­
mittent(I).
Lafréquencedescontrôlesautomatiques etintermittents estfixée
parladirectiveparticulière .
Descontrôlesnon-automatiques (N)nesontutilisésquedansles
casprévusparLesdirectivesparticulières .
Certainsdéfautspeuventcependantnepasetredétectés:
-lesdéfautsprovenantdedeuxoùplusieursdéfaillances simul­
tanéesrésultant decausesindépendantes ,
i- v
-lesdéfautsquirendenttoutemesureimpossible,
-.lesdéfautsentraînant deserreursdemesurageassezimportantes
pourêtreinévitablement remarquéespartouteslespartiesinté­
resséesaurésultedumesurage,
-LesdéfautsprécisésdansLesdirectivesparticulières .
*5.2.Signalisation d'undéfaut
Lorsqu'undéfautaétédétecté,uneactionpréciséedansLadi­
rectiveparticulière ,(déclenchement d'unealarmesonoreouvisuel­
le,arrêtdel'opération demesurage,occultation dudispositif
indicateuretc.),doitintervenir automatiquement .
Cetteactiondoitêtredéclenchée aprèsladétection de:
-toutdéfautdanslecasdedispositifs numériques,
-toutdéfaitentraînant uneerreursurlemesuragedépassantla.
valeurfixéeparladirectiveparticulière dans,lecasdedispo­
sitifsanalogiques oumixtes,.■.
5.3.Dispositifs manuelsdetest
Lorsqu'uninstrument demesureestéquipédedispositifs élec­
troniquesmunisdecontrôles,unou.plusieursdispositifs manuels .
detestincorporés àl'instrument doiventpermettre devérifier
l'existence etL'étatdefonctionnement ducontrôle.
6.Pr§scrigtiQns_£gnceEnanJ_igs_di|gg||tif|_éi|C|rgDiay§s_s|g§_£QQ£r§igf _ou_
B|£tiglleøent_égyiBés_de_contcoles _'
Laconception etlaconstruction desdispositifs électroniques sans
contrôleoupartiellement équipésdecontrôles,doiventpermettred'at­
teindreunniveau.dequalitéquiLeurpermettedefonctionner demanière
suffisamment durableetprécisedansLesconditions nominalesd'utili­
sationdesinstruménts demesureauxquelsils,sontincorporés ouassociés.
', ' •/•m(•m

D'autre part ,ilyalieu deprotéger cesdispositifs eiectroniques contre
lesperturbations externes auxquelles lesdispositifs peuvent être soumis
etqui sont susceptibles d'entraîner des défauts significatifs .
Des essais sont effectués envue d'apprécier leniveau dequalité deces
dispositifs électroniques .

-7-
Chapitre III
Examens etEssais des dispositifs électronique s
lors deL'approbation CEE demodèle et.de
Lavérification primitive CEE
7.Lors del'approbation CEE demodèle etdelavérification primitive CEE
des instruments demesure munis dedispositifs électroniques ,ces dispo­
sitifs doivent être soumis aux examens et/ouaux essais prévus dans lepré­
sent chapitre .
8.Ej<_a_rn_e_n __l_o_rs __d_e_JJ_aj^rj>J^ajtJj5_n __C_EE__de_
8.1.Examen etessais des dispositifs électroniques entièrement équipés
decontrôles i
8.1.1 .Examen_de_conçegt i^n »
Les examens deconception sur plan visent àvérifier que les
dispositifs électroniques etleurs systèmes decontrôle
répondent auxprescriptions despoints 4et5delaprésente
annexe .
Cet examen comporte notamment :
a)uneévaluation descaractéristiques de Laconstruction et
des composants utilisés ,afin des.'assurer qu'unequalité
minimale requise estatteinte ,
b)uneprise enconsidération dedéfauts fonctionnels éven­
tuels ,causés par des influences externes oupar des dé­
faillances dues aux composants ouàleurs connexions pour
s'assurer quedans tous lescascesdispositifs répondent
auxprescriptions dupoint 5,
Lavérification del'existence etdufonctionnement d'un
oudeplusieurs dispositifs manuels detest .
8.1.2 .!><an!£0_££_£5Sçn s_de_fonct2onnement
Lesdispositifs électroniques incorporés dans l'instrument de
mesure doivent être examinés afin des'assurer qu'ilsontété
soigneusement construits etque lesconnexions etraccorde­
ments ont été correctement réalisés .
Dans lecas oùunealimentation desecours estrequise ilya
lieu devérifier quelesdispositions dupoint 4.2sont satis­faites .
Ensuite lesessais defonctionnement sont effectués sur les
dispositifs électroniques incorporés dans l'instrument deme­
sure entièrement opérationnel .
••/■•

-8-
a)Çomportement_sous l'effetde_facteurs d'influence
Lorsquel'instrumentestsoumisàl'effetdesfacteursd'in­
fluencesprévusaupàintT1.1delaprésenteannexailfaut
quelesdispositifs électroniques continuent àfonctionner
correctement sansentraînerpourl'instrument dedépasse­
mentdeserreursadmises,danslesconditionsspécifiées par
ladirectiveparticulière quileconcerne.
b)Çomportement_sous l'effetde_perturbations
L'instrumentdoitêtresoumisàdesperturbations externes
tellesqueprévuesaupoint11.2delaprésenteannexeet
complétées,lecaséchéant,parladirectiveparticulière ,
'ainsiqu'àdessimulations depannesdecomposants etde:
connexions . ^
Aucoursdecesessais,ledispositifélectronique doit
pouvoircontinuer àfonctionner normalement oubiendé­
tecter'etsignalertousdéfautssignificatifs ensuivant
lesprescriptions dupoint5prévuesàceteffet.
8.1.3."Caracterisation_du_modè le
.Lamiseenfonctionnement duoudesdispositifs manuelsde
testincorporésdoitmettreenévidencel'existenceetle
..bonfonctionnement descontrôles .
Unessaid'enduranceestensuiteeffectué.Ilconsiste à
soumettre UROUplusieursinstruments àunprogrammecfessais
pendant ,unecertaineduréeoupendantuncertainnombrede
cyclesopératoires .
Laduréeetlesmodalitésd'exécution dechaqueessaisont
spécifiés dansladirectiveparticulière relative àl'instru­
mentconcerné.
Al'issuedecesessais,ilyalieudevérifieraumoyendu
oudesdispositifs detestl'étatoulefonctionnement des
contrôlesetd'appréciersilecomportement desdispositifs
-électroniques pendantcesessaispeutêtreconsidéré comme
satisfaisant pourl'usageauquelcesdispositifs sontdestinés.
8.2.Examenetessaisdesdispositifs électroniques sansContrôlepu
partiellement équipésdecontrôles -
8.2.1.Examen_et_essa_i s_de_conception
Cetteétudedelaconception desdispositifs électroniques vise
àvérifierquecesdispositifs répondentauxprescriptions des
points4,6et10delaprésenteannexe..

8.2.1.1 .Examen_de çoncegtion
Cet examen comporte notamment :
a)Une évaluation des caractéristiques des compo­
' sants ,deLaconception etdelaconstruction du
dispositif électronique ,afin d'endéterminer safiabilité etsonaptitude àêtre ,utilisédans
- l'instrument demesurage ,
b)-uneprise enconsidération desdéfauts fonction­
nels éventuels causés par des défaillances dues
aux composants etaux connexions pour s'assurer
que cesdéfauts sont nonsignificatifs ouque/
s'ils sont significatifs ,leur fréquence soit
suffisamment basse pour que leniveau defiabi­
lité requis soit respecté ,
c)une étude des mesures prises par leconstructeur
pour protéger ledispositif électronique contre -
les influences externes telles 'que prévues au
point 11.2 .
8.2.1.2 .Essais_probataoires de_conçeption
Les "essais probatoires deconception prévus aupoint 10
delaprésente annexe sont effectués sur chaque dispo­
,sitif électronique non opérationnel .
Lebon fonctionnement desdispositifs électroniques .
-estvérifié avant etaprès ces essais .
8.2.2 . §xâ!I l50_££_£ssai s_de_fonct ionnement _
Les dispositifs électroniques incorporés dans l'instrument de
mesure doivent être examinés afin des'assurer qu'ils ont été
soigneusement construits etque les connexions etraccordements
ont été correctement réalisés .
Dans lecas oùune alimentation desecours est requise ilya
lieu devérifier que lesdispositions dupoint 4.2 sont sa­
tisfaites .Ensuite les essais defonctionnement prévus aux
points 11.1 et11.2 delaprésente annexe sont effectués sur
lesdispositifs électroniques incorporés dans l'instrument de
mesure entièrement opérationnel .Lorsque l'instrument est
soumis àceprogramme d'essais ,ilfaut que lesdispositifs
électroniques continuent àfonctionner correctement ,per- -
mettant àl'instrument deconserver lesqualités métrologiques
exigées . ,
8.2.3 . Caraçté£_2 saJtvon_du_fn°dè le
Lemodèle estcaractérisé par laliste des composants utilisés ,
lesméthodes defabrication etuncritère objectif dequalité .
- Cette qualité est évaluée eneffectuant' unessai d'endurance
quiconsiste àsoumettre unouplusieurs instruments àun
programme d'essais pendant unecertaine durée oupendant un
certain nombre decycles opératoires .

-10 :-
Ladurée etles modalités d'exécution dechaque
essai sont spécifiés dans ladirective particulière
relative àl'instrument concerné . :
Les dispositifs électroniques doivent pendant toute
ladurée decet essai d'endurance continuer àfonc­
tionner correctement .
8.3 .Exécution des essais
Lesessais defonctionnement prévus aux points 8.1.2 et8.2.2 .
peuvent être,suivant les cas etdetoute -manière enapplication
desdirectives particulières propres àchaque instrument ,combi­
nés avec lesessais d'endurance prescrits aux points 8.1.3 et
8.2.3 .
\ . '
L'ensemble deces essais doit aboutir àunprogramme homogène ,
adapté àl'instrument concerné etuniformément appliqué par
lesservices responsables des Etats membres .
D'autre part ,lorsque lesdirectives particulières leprévoient ,
ces essais sont effectués ,sur les sous-ensembles ,équipés de
dispositifs électroniques ,qui peuvent être rendus opérationnels .
9.Examen Lors_de_la_yéri fication_primit2ye_CEE ,
9.1.Dispositifs électroniques entièrement équipés decontrôles
' Leoulesdispositifs manuels detests incorporés doivent être
mis enoeuvre sur tous les instruments soumis àlavérification
primitive pour mettre enévidence l'existence etlebon fonc­
tionnement des contrôles .
Tous les hinstruments présentés auService demétrologie pour
lavérification primitive CEn .,uninstrument est retenu envue'
d'effectuer lesessais prévus EUpoint 8.1.3 ou,suivant lecas,
leprogramme d'essais élaboré enapplication dupoint 8.3.
Lenombre nainsi que les conséquences entraînées par des ré­
sultats non-satisfaisants deces essais sont spécifiés dans ,
ladirective particulière .
9.2.Dispositifs électroniques sans contrôles oupartiellement
équipés dëcontrôles
Tous les minstruments présentés àlavérification primitive CEE,
uninstrument sera retenu envue de :
-vérifier que les composants essentiels utilisés pour lafabri­
cation desdispositifs électroniques setrouvent dans des
 conditions équivalentes etqu'ils sont d'une qualité au
moins égale àceux énumérés sur laliste des composants
contenue dans ledossier d'approbation CEE demodèle ,

-11-
-soumettre L'instrument aux essais prévus aupoint 8.2.3 ouau
programme d'essais élaboré enapplication dupoint 3.3.
Lenombre mainsi que les conséquences entraînées par des résultats
non-satisfaisants des opérations précitées sont spécifiée dans
ladirective particulière .

Chapitre IV
Essais àeffectuer sur Lesdispositifs électroniques
Essai s_g£Ofea|'oires_d|_£QD£|B£iQD -
Lesessais probatoires deconception ontpour but d'assurer"la qualité
etladurabilité desdispositifs électroniques ,nonmunis decontrôle
oupartiellement équipés decontrôles .
Ces'essais ,auxquels chacun decesdispositifs électroniques doit être
soumis ,sont effectués lors del'examen del'approbation CEEdemodèle .
Lesopérations ,réalisées aucours decetexamen consistent à:
-vérifier lebon fonctionnement de l'instrumenta
-effectuer lesessais énumérés auxpoints suivants ,
-remonter lesdispositifs électroniques sur l'instrument et,
-contrôler ànouveau lefonctionnement del'instrument envérifiant
notamment Que leserreurs maximales tolérées sont ,toujours respectées .
10.1 .Essai decyclage àlachaleur humide
Ledispositif électronique sera placé dans unechambre dont la
température sera stabilisée à25°C+3°Cetl'humidité relative
de957,aumoins .
Lecycle commence par l'augmentation delatempérature à40°C
en3h+30min,l'humidité relative (H.R.)nedoit pas être infé
rieure à95%excepté durant les 15dernières minutes lorsqu' elle
sera d'aumoins 90%.
Maintien delatempérature à-40 °C+_2°Cjusqu' à12h_+30min
-après ledébut ducycle ,H.R. (93_+3)%.
Réduction delatempérature à25°C_+3°Cen3h_+30min,H.R.
nedoit pas -être inférieure à95%excepté durant les 15pre­
mières minutes pendant lesquelles elle nepeut pas être infé­
rieure à90%
Maintien delatempérature à25°C'+3°C avec une H.R. de95%au
moins jusqu' àachèvement ducycle de24h. '
Six cycles d'une durée de24heures seront exécutés .
10.2 .Essai dechoc termique / '
Ledispositif électronique sera placé pendant 3hdans unlocal
à5°C+_3°C;ilsera retiré delachambre froide etexposé
àlatempérature ambiante -pendant 2minutes aumoins et3minutes
. auplus .

Ledispositif électronique sera placé dans lachambre chaude a
40cc+2CCpendant 3h;ilsera retiré del<*chambre chaude ^
etexposé àlatempérature ambiante pendant 2minut'es aumoins
et3minutes auplus .
Cinq cycles seront exécutés .
10.3 .Zss3i'de choc mécanique
L'équipement ,d'une masse inférieure à50kg,sera lâché en
chute libre d'une hauteur de25 mmsur une plaque enacier
d'uneépaisseur minimale de8mm,fixée sur une base enbéton
d'une épaisseur d'aumoins 50 cm.
Lahauteur dechute doit être mesurée depuis ,lepoint del'équi­
pement leplus rapproché de'laplaque enacier .
L'unité ,supportée dans une armature rigide par sespoints de .
support normaux ,sera lâchée 6fois sur 3faces perpendiculaires ,
les unes aux autres .
-L'équipement au-dessus de50kgsera lâché sur une plaque enacier
d'uneépaisseur minimale de8mmfixée sur une base enbéton d'une
épaisseur d'aumoins 50 cm.Lors del'essai undeses bords reste
encontact avec cette plaque etson centre degravité tombe d'une
hauteur de12mm.Chaque bord delabase doit être pris succes­
sivement etl'essai est effectué 6fois . .
10.4 ..Essai devibration .
Les vibrations sont successivement appliquées suivant trois axes
perpendiculaires entr'eux etchoisies detelle sorte que les
défaillances aient toutes chances d'être mises enévidence .
L'essai couvrira lagamme defréquence comprise entre 10et150 Hz
avec unepetite excitation sinusoïdale etuntaux debalayage in­
férieur à1octave /min dans les deux sens .
L'undes niveaux decrête del'accélération suivants ,sera choisi
enfonction des ,conditions d'environnement d'utilisation sauf
spécifications différentes dans lesdirectives particulières :
2 '
5 m/s.,pour unenvironnement normal
10 m/spour unenvironnement *industriel .
Ladurée decet essai est de 2heures .
10.5 .Essais additionnels
Lesessais additionnels requis pour uninstrument demesurage
d'usage particulier seront spécifiés dans lesdirectives parti­
-– -culières .
1•'|l§ais_d§_fogç|içnggo]§nt
Tous lesdispositifs électroniques ,incorporés àl'instrument deme­
surage ,-sont soumis àdesessais defonctionnement sous une ouplusieurs
conditions d'essai spécifiées dans cette section ,sauf spécifications
différentes dans ladirective particulière .Lesessais sont effectués ,lors del'examen del'approbation CEEdemodèle ,surlesinstruments
entièrement opérationnels . /

-14-
11.1.Facteursd'influence
Lorsquel'instrumentestsoumisàl'effetdesfacteursd'in­
fluence,ilfautquelesdispositifsélectroniques continuent
àfonctionner correctement n'entraînant paspourl'instrument
dedépassement deserreursmaximalesprévues -danscescondi­
tionsparladirectiveparticulière quileconcerne.
11.1.1.Température ~.
Cesessaissontexécutés àunnombresuffisantdetem-■
-pératuresstablespourcouvrirlesgammesdetempératures
prescrites parladirectiveparticulière .
Latempérature ambianteestconsidérée commestable,
siLesdeuxconditions suivantessontremplies :
.-Ladifférence entrelestempératures extrêmesenre­
gistréesaucoursd'unessain'excèdepas5°C;
-lavariation detempérature n'excèdepas1°Cen
5minutes.
11.1.2.Humidité relative .
Cesessaissonteffectués aumoinsauxdeuxlimites
/deLa"zonespécifiéeci-dessous :'v
-de20%à,80%siLedispositif électronique est
incorporédansunepartiedeL'instrument destiné
àunusageintérieur,ou-
-de5%à95%siLedispositif électronique est
incorporé dansunepartiedel'instrument destiné
àunusageextérieur .
11.1.3.Variation_de_J.2aj.2J2entation_éleçtrigue
Cesessaissonteffectués àlavaleurnominale deLa
'.tensionélectrique etdelafréquenceetauxvaleurs
limitesdevariationprescrites parladirectivepar­
ticulière. v
11.1.4.Autres_f§Çteurs_d^i.nf_luence
D'autresessaisfaisantintervenir desfacteursd'in­
fluencetelsquevibrations,distorsions harmoniques
dansl'alimentation électrique etc.,sontspécifiés
dansLesdirectivesparticulières relatives àdesinstru­
mentsdemesurepourLesquelslesfacteursserontpré­
cisés.
11.2.Perturbations externes
Saufspécifications contraires dansunedirectiveparticulière ,
lesessaissuivantssonteffectués :

-15-
11.2.1.Alimentaticn^éj-eçtrigue
.. >
"11.2.1.1.Interruptions ou_réductions
Réductionde'Latensiond'alimentation de100%
pendant10millisecondesenviron.
Réduction delatensiond'alimentation de50'%
pendant20millisecondes environ.
Réduction delatensiond'alimentation de20%
pendant50millisecondes environ.
L'intervalle detempsentredeuxessaisconsécu­
tifsdoitêtred'aumoins10secondes. •-»
11.2.1.2.Interférence_par_leréseau
•Dessurtensions transitoires dechaquepolarité,
déphasées auhasard,sontappliquées surleréseau.
Cestransitoires sontgénéréesenmodecommunet
enmode.série-àpartirdlineimpédance de50.
L'amplitude,letempsdemontée,laduréeetle
''.tauxderépétition sontspécifiés dansletableau
suivant :
Amplitude iTempsdemongéê Duréeàla Tauxde
" . ■*jdemi-amplituderépétition
500Vr_. 1
■5ns 100ns I'10Hz
1500V i25ns I 1US■^12Hz
300V 1traind'impulsions d'unedureeI412Hz
d'environ1msàlafréquence j
1MHz - i
5%
delavaleur ondesinusoïdale superposée 30kHza150kHz
nominale aureseau
1Vjondesinusoïdale superposée 150kHzàADOtlHz
I aureseau-
11.2.2.Interférerfces_externes
11.2.2.1.Interférence_par _leréseau_
L'interférence transmiseparlesréseauxd'a­
limentation estSpécifiée aupoint11.2.1.2.
11;2.2.2.Interférençe_par _rayonnement
-Champmagnétique
Champmagnétique de60A/met50Hz,obtenu
parexempleparuncâbleparcouruparun.
courantde10Aàunedistanced'environ
2,5cm.

-16-
-Radiationélectromagnétique
Intensité duchampde"10M/màdesfréquences de.
100kHz-500MHz .
Intensité duchampde1V/màdesfréquences de
500MHzà1000MHz..
11.2.2.3.Décharge_éleçtrostatique
Déchargeélectrostatique de6kVayantuneénergie
dem*hsurlechâssismisàlaterreetunminimum
de10sentrelesdéchargesindividuelles .
11.2.3.Autres_gerturbati^ons_externes
D'autresessaisfaisantintervenir desperturbations telsque
panned'alimentation électrique,interférences parleréseau
bassetension,etc.,sontspécifiés danslesdirectivesparti­
culièresrelatives àdesinstruments demesurepourlesquels
cesperturbations risquentd'arriver.