a.

Detectores ópticos, según se indica: Nota: El subartículo 6A002.a. no somete a control los fotodispositivos de germanio o de silicio. N.B.: Los "conjuntos de plano focal" no "calificados para uso espacial", para microbolómetros, a base de silicio u otro material sólo se incluyen en el subartículo 6A002.a.3.f. 1. Detectores de estado sólido "calificados para uso espacial", según se indica: a. Detectores de estado sólido "calificados para uso espacial" que tengan cualquiera de las siguientes características: 1. Respuesta de pico en la gama de longitudes de onda superiores a 10 nm pero no superiores a 300 nm; y 2. Respuesta inferior a 0,1 % con respecto a la respuesta de pico a longitudes de onda superiores a 400 nm; b. Detectores de estado sólido "calificados para uso espacial" que tengan cualquiera de las siguientes características: 1. Respuesta de pico en una gama de longitudes de onda superiores a 900 nm pero no superiores a 1 200 nm; y 2. "Constante de tiempo" de respuesta igual o inferior a 95 ns; c. Detectores de estado sólido "calificados para uso espacial" que tengan una respuesta de pico en una gama de longitudes de onda superiores a 1 200 nm pero no superiores a 30 000 nm; 2. Tubos intensificadores de imagen y los componentes diseñados especialmente para ellos, según se indica: a. Tubos intensificadores de imagen que tengan todas las siguientes características: 1. Respuesta de pico en una gama de longitudes de onda superiores a 400 nm pero no superiores a 1 050 nm; 2. Placa de microcanal para amplificación electrónica de imagen con un paso de agujeros (distancia entre centros) igual o inferior a 12 micras; y 3. Cualquiera de los siguientes fotocátodos: a. Fotocátodos S-20, S-25 o multialcalinos de fotosensibilidad superior a 350 μA/lm; b. Fotocátodo de GaAs o de GaInAs; o c. Otros fotocátodos semiconductores compuestos III-V; Nota: El subartículo 6A002.a.2.a.3.c. no se aplica a los fotocátodos semiconductores compuestos de sensibilidad máxima de radiación igual o inferior a 10 mA/W. b. Componentes diseñados especialmente, según se indica: 1. Placas de microcanal con un paso de agujeros (distancia entre centros) igual o inferior a 12 micras; 2. Fotocátodos de GaAs o de GaInAs; 3. Otros fotocátodos semiconductores compuestos III-V; Nota: El subartículo 6A002.a.2.b.3. no somete a control los fotocátodos semiconductores compuestos de sensibilidad máxima de radiación igual o inferior a 10 mA/W. 3. "Conjuntos de plano focal", no "calificados para uso espacial", según se indica: N.B.: Los "conjuntos de plano focal" no "calificados para uso espacial", para microbolómetros, a base de silicio u otro material sólo se incluyen en el subartículo 6A002.a.3.f. Notas técnicas: 1. Los conjuntos multielemento de detectores, lineales o bidimensionales, son denominados "conjuntos de plano focal"; 2. A efectos del subartículo 6A002.a.3. se entenderá por ’dirección transversal al barrido’ el eje paralelo al conjunto lineal de elementos detectores, y por ’dirección de barrido’, el eje perpendicular al conjunto lineal de elementos detectores. Nota 1: El subartículo 6A002.a.3. incluye los conjuntos de fotoconductores y los conjuntos fotovoltaicos. Nota 2: El subartículo 6A002.a.3. no somete a control: a. Multielementos (no más de 16 elementos) encapsulados, constituidos por células fotoconductoras que utilicen cualquiera de las siguientes sustancias: sulfuro de plomo o seleniuro de plomo. b. Detectores piroeléctricos que utilicen cualquiera de las siguientes sustancias: 1. Sulfato de triglicina y variantes; 2. Titanato de zirconio-lantano-plomo y variantes; 3. Tantalato de litio; 4. Fluoruro de polivinilideno y variantes; o 5. Niobato de estroncio bario y variantes; a. "Conjuntos de plano focal" no "calificados para uso espacial", que tengan todas las características siguientes: 1. Elementos individuales con respuesta de pico en una gama de longitudes de onda superiores a 900 nm pero no superiores a 1 050 nm; y 2. "Constante de tiempo" de respuesta inferior a 0,5 ns; b. "Conjuntos de plano focal" no "calificados para uso espacial", que tengan todo lo siguiente: 1. Elementos individuales con respuesta de pico en una gama de longitudes de onda superiores a 1 050 nm pero no superiores a 1 200 nm; y 2. "Constante de tiempo" de respuesta igual o inferior a 95 ns; c. "Conjuntos de plano focal" no "calificados para uso espacial" no lineales (bidimensionales), que tengan elementos individuales con respuesta de pico en una gama de longitud de onda superior a 1 200 nm pero no superior a 30 000 nm; N.B.: Los "conjuntos de plano focal" no "calificados para uso espacial", para microbolómetros, a base de silicio u otro material sólo se incluyen en el subartículo 6A002.a.3.f. d. "Conjuntos de plano focal" no "calificados para uso espacial" lineales (unidimensionales), que tengan todas las siguientes características: 1. Elementos individuales con respuesta de pico en una gama de longitud de onda superior a 1 200 nm pero no superior a 3 000 nm; y 2. Alguna de las características siguientes: a. Un coeficiente entre la dimensión de la dirección de barrido del elemento detector y la dimensión de la dirección transversal al barrido del elemento detector inferior a 3,8; o b. Procesado de señales en el elemento («SPRITE»); e. "Conjuntos de plano focal" no "calificados para uso espacial" lineales (unidimensionales), que tengan elementos individuales con respuesta de pico en una gama de longitud de onda superior a 3 000 nm pero no superior a 30 000 nm. f. "Conjuntos de plano focal" no "calificados para uso espacial" infrarrojos, no lineales (bidimensionales), a base de material para ’microbolómetro’, que tengan elementos individuales con respuesta no filtrada en una gama de longitud de onda igual o superior a 8 000 nm pero no superior a 14 000 nm. Nota técnica: A efectos de 6A002.a.3.f., se entiende por ’microbolómetro’ un detector térmico de formación de imágenes que, como consecuencia del cambio de temperatura del detector causado por la absorción de radiación infrarroja, se utiliza para generar cualquier señal utilizable.