Nr. C 31/4 De Europæiske Fællesskabers Tidende 9. 2. 90 
Indkaldelse af forslag under forsknings- og udviklingsprogrammet på området anvendt metro­
logi og kemiske analyser med henblik på samordnede aktioner inden for sub-micron- og nano­
metermetrologi og metrologi til automatiserede fabrikationsprocesser 
(90/C 31/03) 
Den 29. juni 1988 vedtog Ministerrådet forsknings- og 
udviklingsprogrammet på området anvendt metrologi og 
kemiske analyser for perioden 1988-1992. Sigtet med 
programmet er at øge nøjagtigheden i målemetoder og 
kemiske analyser og derved medvirke til at harmonisere 
resultater opnået i hele Fællesskabet. 
En første generel indkaldelse af forslag til programmet 
blev offentliggjort i De Europæiske Fællesskabers Tidende 
den 3. juni 1988 ('). 
Denne indkaldelse af forslag vedrører det samme 
program, men tager specifikt sigte på at iværksætte 
enkeltaktioner inden for: 
1. Sub-micron- og nanometermetrologi anvendt inden 
for fabrikationsindustrier som elektronik, optik, 
præcisionsmaskinbearbejdning osv. 
2. Metrologi til automatiserede fabrikationsprocesser, 
nødvendige til kontrol af målinger, udført under 
processen til styring af både produktionsprocessen og 
kvaliteten af de færdige produkter. 
NB: 
Forslag vedrørende metrologi til automatiserede fabrika­
tionsprocesser kan omfatte alle arter af målinger og alle 
måleområder, som der er behov for i industrien og 
behøver ikke omfatte målinger på sub-micron-niveauet. 
Målsætningerne for de metrologiprojekter, der udvælges 
til at indgå i programmet under hver af disse overskrifter 
vil være: 
— at sikre udviklingen af kalibreringsmetoder, der er 
egnede til at sikre, at Si-enheder kan henføres til 
nationale og internationale standarder 
— at øge nøjagtigheden gennem forbedrede måleproce­
durer og -metoder, hvor dette er påkrævet 
— at studere fysiske fænomener, der potentielt vil kunne 
anvendes til målinger på området 
— at forbedre metoderne til indsamling og evaluering af 
metrologiske data under hensyntagen til problemet 
med at integrere målesystemet i fabrikationsproces-
serne. Størrelsen af Fællesskabets bidrag til hver af disse 
aktioner vil afhænge af kvaliteten og arten af de 
indkomne forslag, men vil under alle omstændigheder 
blive begrænset til i alt 12 mio. ECU. Dette betyder, at 
det i hvert enkelt tilfælde er nødvendigt med en høj grad 
af koordination mellem et begrænset antal projekter på 
det prekonkurrencemæssige niveau. 
Der er adgang til at deltage for erhversvirksomheder, 
forskningsinstitutter, videregående uddannelsesinstitu­
tioner og andre interesserede organisationer, der er 
hjemmehørende i Det Europæiske Fællesskab og i de 
EFTA-lande, der har undertegnet en særaftale med 
Fællesskabet om deltagelse i forsknings- og udviklings­
programmet på området anvendt metrologi og kemiske 
analyser. 
Forslagene skal være baseret på et aktivt og reelt samar­
bejde mellem deltagere fra mindst to lande. Samarbejdet 
bør være etableret, inden forslaget indgives. For at gøre 
dette lettere vil det være muligt for potentielle forslags­
stillere at tilkendegive deres interesse i særlige emner 
inden for ét eller begge områder over for Kommissionen 
indtil 30. april 1990. Man vil derefter forsøge at sætte 
laboratorier med sammenfaldende interesser i forbindelse 
med hinanden. 
Sidste frist for indgivelse af forslag er 30. juni 1990. 
Projekter, der udvælges til at modtage støtte, bør være af 
to til tre års varighed. 
Nærmere oplysninger om, hvilke prioriteter der er fastsat 
for hver af disse aktioner inden for programmet vedrø­
rende anvendt metrologi og kemiske analyser, og om 
samarbejdskravene osv. samt om, hvilket format der skal 
benyttes ved indgivelse af forslag, kan fås ved henven­
delse til: 
Fællesskabets Referencebureau (BCR) 
Generaldirektoratet for Videnskab, Forskning og 
Udvikling 
Rue de la Loi 200 
B-1049 Bruxelles 
(telefon 2-235 93 13; telefax 2-235 80 72; telex 21877 
COMEU B). 
O EFT nr. C 146 af 3. 6. 1988, s. 6.