Directorate-General for Financial Stability, Financial Services and Capital Markets Union (DG FISMA)

b.zařízení speciálně konstruovaná pro čištění nebo zpracování polovodičových materiálů III/V a II/VI zahrnutých do položky 3C001, 3C002, 3C003, 3C004 nebo 3C005, s výjimkou tažiček krystalů, pro které viz X.B.I.001.b.1.c níže;

l.propojovací zařízení, která zahrnují společné jednoduché nebo vícečetné vakuové komory speciálně konstruované tak, aby umožňovaly integraci jakéhokoliv zařízení zahrnutého do položky X.B.I.001 do úplného systému;

c. poloautomatické nebo automatické víčkovačky pro horká víčka, v nichž se víčko lokálně zahřívá na vyšší teplotu než tělo pouzdra, které jsou speciálně konstruované pro keramická pouzdra mikroobvodů zahrnutých do položky 3A001 a mají výkonnost jedno pouzdro za minutu nebo vyšší.

5. testovací systémy s elektronovým svazkem konstruované pro provoz při napětí 3 keV nebo nižším nebo systémy s „laserovým“ paprskem pro bezkontaktní zkoušení zapnutých polovodičových součástek, které mají některou z těchto vlastností:

a. funkci na základě stroboskopického jevu se zatemňováním svazku nebo klíčováním detektoru;

b. elektronový spektrometr pro měření napětí s rozlišením méně než 0,5 V nebo

c. elektrické zkušební přípravky pro analýzu výkonnosti integrovaných obvodů;

Poznámka: Položka X.B.I.002.b.5 nezahrnuje rastrovací elektronové mikroskopy, kromě těch, které byly speciálně konstruovány a vybaveny pro bezkontaktní sondování zapnutých polovodičových součástek.

6. multifunkční systémy zaostřeného iontového paprsku ‚řízené uloženým programem‘ speciálně konstruované pro výrobu, opravy, analýzu fyzického uspořádání a zkoušení masek nebo polovodičových součástek, které mají některou z těchto vlastností:

a. přesnost zpětnovazebního řízení polohy cíle vůči svazku 1 mikrometr nebo přesnější nebo

b. číslicově-analogový převod s přesností vyšší než 12 bitů;

7. systémy měření částic používající „lasery“ konstruované pro měření velikosti a koncentrace částic ve vzduchu, které mají obě tyto vlastnosti:

a. schopnost měřit velikost částic odpovídající 0,2 mikrometru nebo menší při průtoku nejméně 0,02832 m3 za minutu a

b. schopnost charakterizovat čistotu vzduchu třídy 10 nebo lepší.

Technická poznámka: Pro účely položky X.B.I.002 se pojmem ‚řízený uloženým programem‘ rozumí řízení využívající instrukce uložené v elektronické paměti, které je procesor schopen provádět, aby ovlivňoval provádění předem stanovených funkcí. Zařízení může být ‚řízeno uloženým programem‘ bez ohledu na to, zda je elektronická paměť uvnitř nebo vně zařízení.

X.C.I.001Pozitivní rezisty konstruované pro polovodičovou litografii speciálně upravené (optimalizované) pro použití při vlnových délkách mezi 370 a 193 nm.

X.D.I.001„Software“ speciálně konstruovaný pro „vývoj“, „výrobu“ nebo „užití“ elektronických přístrojů nebo součástí zahrnutých do položky X.A.I.001, univerzálních elektronických zařízení zahrnutých do položky X.A.I.002 nebo výrobních a zkušebních zařízení zahrnutých do položek X.B.I.001 a X.B.I.002; nebo „software“ speciálně konstruovaný pro „užití“ zařízení zahrnutých do položek 3B001.g a 3B001.h.

X.E.I.001„Technologie“ pro „vývoj“, „výrobu“ nebo „užití“ elektronických přístrojů nebo součástí zahrnutých do položky X.A.I.001, univerzálních elektronických zařízení zahrnutých do položky X.A.I.002 nebo výrobních a zkušebních zařízení zahrnutých do položek X.B.I.001 nebo X.B.I.002 nebo materiálů zahrnutých do položky X.C.I.001.

Kategorie II – Počítače