English: Apart from it when we talked about in the analysis we talked about contact angle measurements, this contact angle measurements could be done with the instrument called goniometer and of course, atomic force microscopy you need an afm set up if you do the surface analysis.
Telugu: మేము కాంటాక్ట్ యాంగిల్ కొలతల గురించి మాట్లాడిన విశ్లేషణలో ఇది కాకుండా, ఈ కాంటాక్ట్ యాంగిల్ కొలతలు గోనియోమీటర్ అనే పరికరంతో చేయవచ్చు మరియు మీరు ఉపరితల విశ్లేషణ చేస్తే అటామిక్ ఫోర్స్ మైక్రోస్కోపీ మీకు afm సెటప్ కావాలి.