その後ipcが、半導体内部における電気的要因によるマイグレーションのみをemgと呼称し、半導体実装部における、外的要因を伴うマイグレーションをエレクトロケミカルマイグレーション(以下、同様にecmgとする)と定義した(ipc-tr-467a-1995)。