METHODS FOR COLLECTING AND EVALUATION OF DIAGNOSTIC SIGNALS IN ANALYSIS OF EMF IMPACT ON ELECTRONIC DEVICES
Authors: Ромащенко М.А. , Васильченко Д.В. , Неклюдов А.Л. , Рожненко С.Н. , Колбая К.Ч. 
Published: January 2021

В настоящее время перед разработчиками радиоэлектронных устройств стоит множество проблем, которые необходимо учитывать в процессе проектирования радиоэлектронных средств (РЭС). Одной из таких проблем является обеспечение бесперебойной работы устройства в неблагоприятной для него радиоэлектронной обстановке и прохождение обязательной сертификации изделия по стандартам помехозащищенности. Ярким примером неблагоприятной радиоэлектронной обстановки являются современные города, где присутствует множество индустриальных помех, обусловленных активным использованием и высокой концентрацией высокочастотных средств связи, радиостанций, сетевых технологий, компьютерной аппаратуры и бытовых приборов. Такая большая концентрация радиоэлектронного оборудования при работе вызывает множество внешних электромагнитных полей, которые негативно сказываются на работоспособности других электронных устройств, вызывая их сбои и нарушение работоспособности в целом. Статья рассматривает основные принципы методики анализа данных при тестировании электронных средств на воздействие электромагнитного излучения. Проблема, на решение которой направлена данная методика - выявление степени устойчивости электронных средств к воздействию электромагнитного излучения на этапе их проектирования. Методика описывает сбор данных из аппаратной части комплекса тестирования электронных средств на воздействие электромагнитных помех, а также дальнейшую их обработку на основании базы эвристических решений
Currently, the developers of radio electronic devices face many problems that must be taken into account in the process of designing radio electronic devices (RED). One of these problems is to ensure the uninterrupted operation of the device in an unfavorable radio-electronic environment and the passage of the mandatory certification of the product according to noise immunity standards. A striking example of an unfavorable radio-electronic environment are modern cities, where there is a lot of industrial interference caused by the active use and high concentration of high-frequency communications, radio stations, network technologies, computer equipment and household appliances. Such a large concentration of radio electronic equipment during operation causes many external electromagnetic fields, which negatively affect the performance of other electronic devices, causing them to malfunction and malfunction in general. This article examines the basic principles of data analysis methodology when testing electronic devices for exposure to electromagnetic radiation. The problem to be solved by this technique is to identify the degree of resistance of electronic devices to the effects of electromagnetic radiation at the stage of their design. The methodology describes the collection of data from the hardware of the complex for testing electronic devices for the effect of electromagnetic interference, as well as their further processing based on the base of heuristic solutions