Patent DE-102015202520-B4 (DE)
Title: Temperaturmessvorrichtung, integrierter Schaltkreis und Temperaturmessverfahren
Inventor: MIYAZAKI TAKASHI
IPC: G01K7/16
Filed: 2015-02-12
Granted: 2022-01-05
Abstract: Temperaturmessvorrichtung mit:einem ersten Halbleiterelement und einem zweiten Halbleiterelement, die jeweilige pn-Übergänge enthalten;einem ersten Stromausgabeabschnitt, der ausgestaltet ist zum Ausgeben eines ersten Stroms und eines zweiten Stroms einer von dem ersten Strom unterschiedlichen Größe basierend auf einer an einen Stromsteueranschluss gelieferten Steuerspannung;einem ersten Verbindungsumschaltabschnitt, der ausgestaltet ist zum Umschalten von Verbindungen des ersten Halbleiterelementes und des zweiten Halbleiterelementes mit dem ersten Stromausgabeabschnitt, um einen Zustand eines ersten Messzustands, in dem der erste Strom in einer Vorwärtsrichtung bezüglich des pn-Übergangs des ersten Halbleiterelementes fließt, und der zweite Strom in einer Vorwärtsrichtung bezüglich des pn-Übergangs des zweiten Halbleiterelementes fließt, oder eines zweiten Messzustands zu erzeugen, in dem der erste Strom in der Vorwärtsrichtung bezüglich des pn-Übergangs des zweiten Halbleiterelementes fließt, und der zweite Strom in der Vorwärtsrichtung bezüglich des pn-Übergangs des ersten Halbleiterelementes fließt;einem AD-Wandler, der ausgestaltet ist zum Umwandeln, in dem ersten Messzustand, einer Differenz zwischen einer Vorwärtsrichtungsspannung des pn-Übergangs des ersten Halbleiterelementes und einer Vorwärtsrichtungsspannung des pn-Übergangs des zweiten Halbleiterelementes in einen Digitalwert und zum Ausgeben des umgewandelten Digitalwertes als einen ersten Digitalwert, und der ausgestaltet ist zum Umwandeln, in dem zweiten Messzustand, eines Differenzwertes zwischen der Vorwärtsrichtungsspannung des pn-Übergangs des ersten Halbleiterelementes und der Vorwärtsrichtungsspannung des pn-Übergangs des zweiten Halbleiterelementes in einen Digitalwert und zum Ausgeben des umgewandelten Digitalwertes als einen zweiten Digitalwert;einem Berechnungsabschnitt, der ausgestaltet ist zum Berechnen eines Temperaturmesswertes auf Grundlage eines Mittelwertes des ersten Digitalwertes und des zweiten Digitalwertes;einem ersten Widerstandelement, das ausgestaltet ist zum Bewirken eines Spannungsabfalls gemäß einem in dem ersten Halbleiterelement fließenden Strom; undeinem zweiten Widerstandelement, das ausgestaltet ist zum Bewirken eines Spannungsabfalls gemäß einem in dem zweiten Halbleiterelement fließenden Strom, wobeider AD-Wandler ferner ausgestaltet ist zum Ausgeben eines dritten Digitalwertes, der erhalten worden ist mittels Umwandeln einer Spannung zwischen beiden Enden des ersten Widerstandelementes in dem ersten Messzustand in einen Digitalwert, eines vierten Digitalwertes, der erhalten worden ist mittels Umwandeln einer Spannung zwischen beiden Enden des zweiten Widerstandelementes in dem ersten Messzustand in einen Digitalwert, eines fünften Digitalwertes mittels Umwandeln einer Spannung zwischen beiden Enden des ersten Widerstandelementes in dem zweiten Messzustand in einen Digitalwert, und eines sechsten Digitalwertes mittels Umwandeln einer Spannung zwischen beiden Enden des zweiten Widerstandelementes in dem zweiten Messzustand in einen Digitalwert, undder Berechnungsabschnitt ausgestaltet ist zum Korrigieren des Mittelwertes des ersten Digitalwertes und des zweiten Digitalwertes, um den Temperaturmesswert zu berechnen, basierend auf dem dritten Digitalwert, dem vierten Digitalwert, dem fünften Digitalwert und dem sechsten Digitalwert.