Patent DE-102016224524-B4 (DE)
Title: Elektronischer Absolut-Positionsgeber
Inventor: KAPNER DANIEL J
IPC: G01D5/20
Filed: 2016-12-08
Granted: 2022-09-29
Abstract: Elektronischer Absolut-Positionsgeber (100, wobei der elektronische Absolut-Positionsgeber (100 Folgendes umfasst:eine Skala (110), die sich in einer Messachsenrichtung (MA) erstreckt und ein Signalmodulations-Skalenmuster umfasst, das eine erste periodische Musterkomponente (111) als Funktion einer Position entlang der Skala (110), die eine räumliche Wellenlänge λ1aufweist, und eine zweite periodische Musterkomponente (112) als Funktion einer Position entlang der Skala (110), die eine räumliche Wellenlänge λ2aufweist, wobei sich die räumliche Wellenlänge λ2von der räumliche Wellenlänge λ1unterscheidet, umfasst;einen Detektor (120), der Sensorelemente umfasst, die in der Messachsenrichtung (MA) angeordnet sind, wobei die Sensorelemente Folgendes umfassen:eine Menge von ersten Wellenlängen-Sensorelementen (121), die konfiguriert sind, um eine erste Menge von Detektorsignalen bereitzustellen, die auf das Signalmodulations-Skalenmuster ansprechen; undeine Menge von zweiten Wellenlängen-Sensorelementen (122), die konfiguriert sind, um eine zweite Menge von Detektorsignalen bereitzustellen, die auf das Signalmodulations-Skalenmuster ansprechen; undeine Signalverarbeitungskonfiguration (130), die eine absolute Position des Detektors (120) entlang der Skala (110) basierend auf Detektorsignalen, die vom Detektor (120) bereitgestellt werden, bestimmt, wobei:die Menge von ersten Wellenlängen-Sensorelementen (121) Folgendes umfasst:eine erste filternde Teilmenge (123) der Menge von ersten Wellenlängen-Sensorelementen (121), die jeweils über die ersten und zweiten Musterkomponenten (111, 112) reichen; undeine zweite filternde Teilmenge (123') der Menge von ersten Wellenlängen-Sensorelementen (121), die jeweils über die ersten und zweiten Musterkomponenten (111, 112) reichen;wobei die ersten und zweiten filternden Teilmengen der Menge von ersten Wellenlängen-Sensorelementen (121) derart angeordnet sind, dass jedes Sensorelement der ersten filternden Teilmenge ein Komplementärpaar mit einem Sensorelement in der zweiten filternden Teilmenge bildet, das davon in der Messachsenrichtung (MA) um ein ganzzahliges Vielfaches von 180 Grad der räumlichen Phasendifferenz in Bezug auf die räumliche Wellenlänge λ2beabstandet ist; unddie Menge von zweiten Wellenlängen-Sensorelementen (122) Folgendes umfasst:eine erste filternde Teilmenge (124) der Menge von zweiten Wellenlängen-Sensorelementen (122), die jeweils über die ersten und zweiten Musterkomponenten (111, 112) reichen; undeine zweite filternde Teilmenge (124') der Menge von zweiten Wellenlängen-Sensorelementen (122), die jeweils über die ersten und zweiten Musterkomponenten (111, 112) reichen;wobei die ersten und zweiten filternden Teilmengen der Menge von zweiten Wellenlängen-Sensorelementen (122) derart angeordnet sind, dass jedes Sensorelement der ersten filternden Teilmenge ein Komplementärpaar mit einem Sensorelement in der zweiten filternden Teilmenge bildet, das davon in der Messachsenrichtung (MA) um ein ganzzahliges Vielfaches von 180 Grad der räumlichen Phasendifferenz in Bezug auf die räumliche Wellenlänge λ1beabstandet ist.