Patent ES-2909610-T3 (ES)
Title: Medición y corrección de la inclinación del cubreobjetos en el haz luminoso de un microscopio
Inventor: SIEBENMORGEN JÖRG
IPC: G02B21/00
Filed: 2017-06-29
Granted: 2022-05-09
Abstract: Procedimiento para el ajuste de un portamuestras (7) en el haz luminoso de un microscopio (1), - en el que al menos un haz de una radiación de iluminación (BS) se dirige hacia el portamuestras (7), - una parte de la radiación de iluminación (BSref) reflejada por el portamuestras (7) se detecta mediante un detector (19) y se determinan los valores de medición de la radiación de iluminación detectada (BSref), - en dependencia de los valores de medición, se determina un posicionamiento real actual del portamuestras (7) con respecto al haz luminoso, - el posicionamiento real determinado se compara con un posicionamiento teórico, y - se generan comandos de control para la modificación del posicionamiento real, moviéndose el portamuestras (7) al posicionamiento teórico mediante la ejecución de dichos comandos, - en el que - se utiliza un microscopio (1) configurado como microscopio invertido (1) que comprende - un objetivo de iluminación (2) con un primer eje óptico (A1), pasando el primer eje óptico (A1) a través de un plano de muestra (4) formado por un eje X (X) y por un eje Y (Y) ortogonal al eje X (X), - o - un objetivo de iluminación (2) configurado para la generación de una lámina de luz (6) mediante la radiación de iluminación (BS) con un primer eje óptico (A1), generándose o pudiéndose generar la lámina de luz (6) al menos parcialmente en un plano de muestra (4) formado por un eje X (X) y por un eje Y (Y) ortogonal al eje X (X), - y un objetivo de detección (3), configurado para la detección de la luz procedente del plano de muestra (4), con un segundo eje óptico (A2), - en el que - el objetivo de iluminación (2) y el objetivo de detección (3) se alinean entre sí y con respecto al plano de muestra (4), de manera que el primer eje óptico (A1) y el segundo eje óptico (A2) se crucen en el plano de muestra (4) y formen entre sí un ángulo fundamentalmente recto, y - formando el primer eje óptico (A1) y el segundo eje óptico (A2) respectivamente un ángulo distinto de cero con un tercer eje (A3) que está dirigido ortogonalmente al plano de muestra (4) en la dirección de un eje Z (Z) y que sirve de eje de referencia (B), y dirigiéndose el haz de la radiación de iluminación (BS) a través del objetivo de iluminación (2) hacia el portamuestras (7) y pasando la parte reflejada de la radiación de iluminación (BSref) a través del objetivo de detección (3) hacia el detector (19); y en un paso 1 - desplazándose el portamuestras (7), que presenta una base transparente a la radiación luminosa (BS) con una primera superficie lateral (OS) y con una segunda superficie lateral (US), en la dirección del eje Z (Z) hasta que se detecta la parte de la radiación de iluminación (BSref) reflejada por la primera superficie lateral (OS) de la base y se modifica la posición relativa del portamuestras (7) y del detector (19) una respecto a otra, de manera que una posición real de la parte detectada (BSref)) se aproxime a una posición teórica en el detector (19), en un paso 2 - comprobándose la presencia de una inclinación de la primera superficie lateral (OS) de la base alrededor del eje Y (Y) y determinándose una desviación angular de la posición real con respecto a la posición teórica, - girándose, en caso de comprobarse una desviación angular superior a una desviación angular admisible, el portamuestras (7) alrededor del eje Y (Y) hasta que se minimiza la desviación angular, y - comprobándose una existencia de una desviación de la posición teórica con respecto a la posición real en la dirección del eje Z (Z) y repitiéndose el primer paso 1 si se produce una desviación inadmisible.