Patent KR-20110000675-U (KR)
IPC: G02F1/13
Filed: 2009-07-20
Abstract: 본 발명  LCD Color 검사장비 및 분류 적재장비는 LCD 생산라인에서 생산하는 LCD의 Cell의 Color색도을 Master이미지와 비교하여  불량 Cell을 찾아내면서 Cell의 색도 편차가 기준치에서 벗어나면 불량처리 함으로써 특정 DATA관리 및 검사 효율을 개선함으로써 LCD생산의 궁극적인 목표인 품질 극대화, 불량 최소화를 목적으로 발명되었다. LCD 표면상에 존재하는 LCD cell 색도가 양품인 경우는 무진동의 마그네틱 컨베이어 상으로 흘려보내며  불량 Glass는 Review & Repair 공정을 거쳐  최종불량품은  N/G 처리하여 N/G-Buffer에 보내 적재하며 재생이 가능한 제품은 Repair 시키어 Good- Buffer에 보내 적재하는 장비이다. 본 발명 Inspection System 자동 검사장비는 생산공정상에서 LCD  Glass 의 표면을 자동검사하여 표면상에 존재하는 Cell의 색도를 Master이미지와 비교하여 색도 불량 Cell을 찾아내 는게 주목적이다. Visual Inspection equipment 로 detecting 하여 양품인 경우는 무진동의 마그네틱 컨베이어 상으로 흘려보내며  불량Glass는 Revew & Repair 공정을 거쳐  최종불량품은 정확하게 N/G 처리하여 N/G-Buffer에 보내 적재하며 재생이  가능한제품은 Repair 시키어 Good- Buffer에 보내 적재하는 장비이다.  
     본 검사장비의 구성은 LCD  Glass를 자동으로 Alignment 시키는  
     Alignment  Zone 과 Inspection Zone, Good & N/G - Up/Down Transport  
     Zone , Good Transport Zone, Expected NG -Transport Zone,  
     Re-Inspection - Up/Down Transport Zone, Re-Inspection Zon,  
     Finial NG -Transport Zone,Finial NG - Buffer Zone,Finial Good -Buffer Zone   으로 구성되어 졌다. 
       본 발명 LCD 검사장비는 생산하는 작업자가 되도록 불필요한 작업 없이 전자동으로 불량 여부를 인식,처리,판정되도록 설계 되였으며 기존의 Sampling 검사방식에 비해 검사정밀도를  향상시켰으며 DRC 방식에 의해  리 얼 타임으로 server 와 Client간에 통신을 주고받아 엘시디 검사시스템의 자동 CELL 색도 검사장비 Repair 적재 장비는 LCD 생산라인에서 생산하는 Cell의 형상을 Master이미지와 Pattern Matching(Color) 비교하여 특정 DATA관리 및 검사 효율을 개선함으로써 LCD생산의 궁극적인 목표인 품질 극대화, 불량 최소화를 목적으로 제작되었다. 또한 제품별로 변경되는 광 특성 변화(투과율)의 변화에 잘 대응이 안 되던 문제를 투과 광학계(Light field)로 이루어진 검사장치를 구성 및R,G,B 각 샘플의 투과율 변화를 측정하여 투과율 변화 +/- 20% 이내의 상한, 하한값을 정하여 검출 되도록 검사 알고리즘를 개발 적용하였으며  무진동의 마그네틱 컨베이어,로봇시스템 등으로 설계되었다. 
     본 발명  LCD Inspection System, 즉 VISION SYSTEM은 산업용 카메라, 고 배율 광학계,  Image Process Board, Industrial Computer, 초 고휘도 평판 Backlight LED, 계측 Software로 구성되어 있다. 
     고 배율 광학계는 고 배율의 렌즈를 조합하여 300~350배의 확대 영상을 획득하기 위한 현미경이다. 영상을 획득하고자 하는 영역(F.O.V)에 따라 배율을 달리 할 수 있으며 하나의 픽셀이 갖는 값에 따라 측정값에 절대적인 영향을 미친다. 
     조명 (초 고휘도 평판 LED)   밝기는 할로겐 조명에 비하여 떨어 지나 수명이 반 영구적이고 평판에서 고른 조도를 낸다는 장점이 있다. 할로겐 조명은 시간이 지남에 따라 밝기의 감소로 인하여 측정값에 영향을 미치나 LED 조명은 거의 반 영구적으로 사용 가능하다. 
     LCD Inspection System 자동 검사장비는 LCD 생산라인에서 생산하는 LCD의 Cell의 Color 을 Mater이미지와 비교하여  기준치에서 벗어나면 불량처리 함으로써 특정 DATA관리 및 검사 효율을 개선함으로써 LCD생산의 궁극적인 목표인 품질 극대화, 불량 최소화를 목적으로 발명되었다. LCD 표면상에 존재하는 LCD cell Color 가 양품인 경우는 무진동의 마그네틱 컨베이어 상으로 흘려보내며  불량 Glass는 Revew & Repair 공정을 거쳐  최종불량품은  N/G 처리하여 N/G-Buffer에 보내 적재하며 재생이가능한 제품은 Repair 시키어 Good- Buffer에 보내 적재하는 장비이다 
     본 발명 LCD 검사장비는 생산하는 작업자가 되도록 불필요한 작업 없이 전자동으로 불량 여부를 인식,처리,판정되도록 설계 되였으며 기존의 방식에 비해 검사정밀도를  향상시켰으며 DRC 방식에 의해  리얼 타임으로 serve 와 Clint간에 통신을 주고 받으면서 제품별로 변경되는 광특성 변화(투과율)의 변화에 잘 대응이 안되던 문제를 투과 광하계(Light field)로 이루어진 검사장치를 구성 및R,G,B 각 샘플의 투과율 변화를 측정하여 투과율 변화 +/- 20% 이내의 상한, 하한값을 정하여 검출 되도록 검사 알고리즘 를 개발 적용하였으며  무진동의 마그네틱 컨베이어,로봇시스템 등으로 설계되었다. 
     본 발명 검사장비는 여러 종류의 LCD Panel 중에서 많은 불량이 발생 되는 공정이 기도 하다. 따라서 품질이 상품의 질을 결정하는 최근의 trend 상황에서 본 검사장의 필요성이 절실히 요구되며 생산공정에서 제일 중요한 LCD  Glass의 품질을 무결점에 가깝게 자동으로 검사 및 판별, 분류시키는데 최대 역점을 둔 검사장비로써 제품의 품질을 높이며 생산성을 극대화시키도록 고려해서 설계하였다. 
     
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