Patent WO-2018109745-A1 (WO)
Title: Procédé et appareil destinés à surveiller des déformations de surface d'un scénario
Inventor: COPPI FRANCESCO
IPC: G01S13/90
Filed: 2017-12-15
Abstract: L'invention concerne un procédé destiné à surveiller des déformations de surface d'un scénario au moyen d'une technique d'interférométrie différentielle, ce procédé comprenant les étapes suivantes consistant à : pré-agencer un capteur radar comprenant au moins une antenne d'émission et une antenne de réception agencées pour émettre et acquérir des signaux radar, ledit capteur radar étant agencé pour se déplacer le long d'une trajectoire plane y ayant un centre 0; définir un système de référence s ayant une origine dans ledit centre 0    
   
   
   ; acquérir par technique SAR ledit scénario au moyen de la manipulation dudit capteur radar le long de ladite trajectoire plane y    , ledit capteur radar étant configuré de telle sorte que le diagramme de rayonnement desdites antennes est orienté radialement par rapport audit centre 0    , ladite acquisition se produisant au niveau de points d'acquisition s i    
   
       
    disposés sur ladite trajectoire y    ; obtenir une pluralité de données pour chaque point d'acquisition s i    
   
       
   , - définissant une pluralité de points cibles t i    
   
       
    dudit scénario, la position tridimensionnelle de chaque point cible t i pouvant être définie au moyen de coordonnées sphériques (rho)    
   
       
   
   
   
       
   
 , theta i, beta i en référence audit système de référence s  
   
       
   
 ,  
   
       
   
   , d'après les valeurs desdites coordonnées rho et theta i    
   
       
   
   
   
       
   . Le procédé comprend en outre une étape de détermination tridimentionnelle desdits points cibles   t  
   
    i    
    comprenant les étapes suivantes consistant à : focalisation à une premiière hauteur d'acquisition h    
    a    
   
  1   de chaque point cible   t  
   
    i    
    par rapport à sa propre position compte tenu d'une valeur de   β  
   
    i    
    prédéterminée et égale à   β  
  0  ; focalisation à une seconde hauteur d'acquisition   h  
   
    a    
   
  2   ≠   h  
   
    a    
   
  1   de chaque point cible   t  
   
    i    
    par rapport à sa propre position compte-tenu d'une valeur de   β  
   
    i    
    prédéterminée et égale à   β  
  0  ; commander, au moyen d'une technique interférométrique, lesdites focalisations à la hauteur d'acquisition   h  
   
    a    
   
  1   et   h  
   
    a    
   
  2   obtenant une valeur desdites coordonnées   β  
   
   i   
    pour chaque point cible. Le procédé comprend en outre une étape de focalisation globale de chaque point cible t i par rapport à sa propre position tridimensionnelle définissable par lesdites coordonnées sphériques (rho)    
   
       
   
   
   
       
   
 , theta i, beta i  
   
       
   
   
   
       
   ), obtenant une première donnée radar focalisée, ladite étape de focalisation étant obtenue, pour chaque point cible t i    
   
       
   , par analyse de données obtenues à chaque point d'acquisition s i, ledit point cible t i étant détectable.    
   
       
   
   
   
       
   .