Judul: Analisis Nilai-Nilai Kerja, Perilaku Manajerial, dan Keterlekatan Karyawan Generasi X dan Y.
Abstrak: Keberagaman generasi pada karyawan menjadi tantangan yang besar bagi organisasi sehingga penting untuk mengetahui perbedaan dalam memahami dan mengelola karyawan sesuai dengan karakteristik dan kebutuhan mereka (Cran 2014). Penelitian ini bertujuan untuk menganalisis perbedaan nilai nilai kerja pada masing-masing generasi dalam menjaga hubungan yang harmonis di tempat kerja dan menganalisis pengaruh perilaku manajerial terhadap keterlekatan karyawan. Saat ini perusahaan didominansi oleh generasi X dan Y. Analisis data menggunakan analisis statistika deskriptif dan analisis regresi linier berganda. Analisis deskriptif menunjukkan bahwa karyawan generasi X lebih mengutamakan nilai pengaruh terhadap pekerjaan dan organisasi sedangkan generasi Y lebih mengutamakan nilai peluang untuk menjadi pribadi yang lebih baik dalam bekerja, liburan, cuti, asuransi, kompensasi, kondisi kerja yang nyaman dan bersih, pekerjaan yang bermakna, pekerjaan yang tetap, rekan kerja yang menyenangkan, atasan yang adil dan perhatian serta dapat menggunakan kemampuan dan pengetahuan dalam pekerjaan. Analisis regresi linier berganda menunjukkan bagi karyawan generasi X dan Y, peluang pengembangan karir berpengaruh terhadap keterlekatan karyawan.
Keyword: Multi generasi, nilai nilai kerja, keterlekatan karyawan, perilaku kerja, perilaku manajerial

Judul: Pengaruh Kualitas Kehidupan Kerja dan Kepuasan Kerja terhadap Keterlekatan Pegawai Generasi X dan Generasi Y pada PT. Yudhistira Ghalia Indonesia.
Abstrak: Keterlekatan pegawai adalah salah satu kunci keberhasilan perusahaan untuk mencapai visi dan misi secara optimal, karena pegawai yang memiliki keterlekatan pegawai yang tinggi (engaged) adalah pegawai yang secara konsisten berbicara positif tentang organisasinya; memiliki keinginan yang kuat untuk tetap tinggal di organisasi; serta memiliki motivasi dan berusaha dengan memberikan tenaga, waktu, dan kompentensi yang mereka miliki terhadap pekerjaannya untuk mencapai kesuksesan organisasi (Hewitt 2015). Berdasarkan hal tersebut, dilakukan analisis pengaruh kualitas kehidupan kerja (quality of work life) dan kepuasan kerja (job satisfaction) terhadap keterlekatan pegawai (employee engagement) pada setiap kelompok generasi di PT. Yudhistira Ghalia Indonesia. Dengan analisis tersebut, perusahaan dapat mengetahui faktor-faktor quality of work life dan job satisfaction yang dapat digunakan perusahaan untuk memperoleh employee engagement yang tinggi pada setiap kelompok generasi, sehingga PT. Yudhistira Ghalia Indonesia mampu mencapai visi dan misi perusahaan secara optimal. Penelitian ini menggunakan metodologi analisis yaitu: Structural Equation Modeling - Partial Least Square (SEM PLS) dan Multigroup Analysis. Hasil penelitian ini adalah kualitas kehidupan kerja berpengaruh positif signifikan terhadap kepuasan kerja dan keterlekatan pegawai (employee engagement) pada Generasi X dan Generasi Y; kepuasan kerja berpengaruh positif dan signifikan terhadap keterlekatan pegawai (employee engagement) pada Generasi X dan Generasi Y; generasi tidak berperan sebagai moderator (variabel moderasi) yang bermakna kuat-lemahnya pengaruh antara variabel laten tidak tergantung pada generasi. Implikasi dari penelitian ini adalah dengan PT. Yudhistira Ghalia Indonesia meningkatkan kualitas kehidupan kerja dan kepuasan kerja, pegawai Generasi X dan Generasi Y dengan keterlekatan pegawai (employee engagement) yang tinggi pun akan meningkat.
Keyword: generasi, kepuasan kerja, keterlekatan pegawai, kualitas kehidupan kerja

Judul: Elektrodeposisi Film Tipis Semikonduktor Cu2ZnSnS4 (CZTS) pada Substrat Kaca ITO
Abstrak: Semiconductor Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin film that can be used as absorber layers on solar cell module was made via electrodeposition method. CZTS thin film was electrodeposited on the surface of a silicate glass coated with a thin layer of indium tin oxide (ITO). Deposition process was done using potentiostatic mode at room temperature with a potential of 1.05 V for 30, 45, and 60 minutes, followed with annealing the film at 2 different temperatures, 500 ºC using furnace and 180 ºC using hot plate, both treatments for 45 minutes in N2/H2S atmosphere. The X-ray difractograms were analyzed using Match 2 program and showed that the CZTS thin films had kesterit crystalline structure, with a low percentage of CZTS phase. The thin film also contained secondary phases such as Cu2S, ZnS, and SnS. The obtained CZTS thin films had a thickness between 1.039 and 1.676 μm. Absorption study showed that the band gap energy of CZTS thin films which was annealed using furnace ranged from 1.50 to 1.52 eV, whereas that annealed using the hot plate was not observed. The band gap energy value showed that CZTS thin films can be used as sunlight absorber layers on solar cell. The formation of CZTS crystal film on this investigation was effectively performed using furnace annealing process at a temperature of 500 ºC with deposition time of 45 minutes.
Keyword: Thin film, Electrodeposition, Cu2ZnSnS4