Judul: Sidik Ragam Percobaan Varietas Kedelai pada Tanah Masam dengan Pengapuran
Abstrak: Salah satu metode statistika untuk menganalisis data hasil pereobaan adalah sidik ragam. Penggunaan metode analisis ini dilandasi oleh asumsi-asumsi tertentu. Kesimpulan yang· diperoleh dapal berlalru sah apabila asumsi.asumsinya terpenuhi. Oleh karena itu, pemeriksaan asums; sangat penting dilaknkan sebelum. memasnki tahap analisis_ Pemeriksaan asumsi dengan menggunakan metode eksploratif, ditunjang oleh uji formal yang sesuai, serta penerapan sidik ragam dilakukan terhadap data percobaan varielas kedelai pada lanall masam dengan pengapuran, yang diperoleh dari hasil penelitian Bioleknologi Tanaman Pangan, Bogor. Hasil pemeriksaan menunjukkan bahwa terd'pat penyimpangan asumsi pada respon jumlah biji kedelai, bobot biji kedelai dan tinggi tanaman. Penyimpangan tersebut dapat diatasi dengan transformasi yang sesuai.
Keyword: 

Judul: Pemeriksaan Asumsi Analisis Ragam
Abstrak: Analisis ragam merupakan salah satu metode yang sering digunakan untuk analisis data. Dalam percobaan di bidang pertanian, pengujian asumsi analisis ragam jarang dilakukan. Padahal, untuk memperoleh kesimpulan yang dapat dipercaya perlu dilakukan pengujian asumsi. Pengujian asumsi yang mendasari analisis ragam adalah pengaruh perlakuan dan lingkungan bersifat aditif, galat percobaan bersifat acak, menyebar bebas dan normal di sekitar nilai tengah nol dan ragam sama. Hasil pemeriksaan asumsi analisis ragam terhadap 8 data hasil percobaan rancangan acak kelompok menunjukkan bahwa asumsi keaditifan model, kehomogenan ragam, dan kenormalan galat secara bersama-sama tidak dapat terpenuhi pada data hasil percobaan kacang bogor. Hal ini disebabkan adanya pencilan. Begitu juga dengan asumsi kenormalan galat pada data hasil percobaan kacang kedelai dan padi di Sukamandi yang juga tidak terpenuhi karena pencilan. Terjadinya penyimpangan karena pencilan tidak bisa diperbaiki dengan transformasi data. Asumsi analisis ragam menjadi terpenuhi dengan tidak mengikutsertakan pencilan. Tetapi hal ini tidak disarankan karena dengan menghilangkan pencilan berarti menghilangkan informasi yang seharusnya didapatkan dari pencilan tersebut. Analisis ragam kekar adalah metode yang tepat digunakan untuk meningkatkan kesensitifan pengujian tanpa menghilangkan pencilan.
Keyword: 

Judul: Elektrodeposisi Film Tipis Semikonduktor Cu2ZnSnS4 (CZTS) pada Substrat Kaca ITO
Abstrak: Semiconductor Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin film that can be used as absorber layers on solar cell module was made via electrodeposition method. CZTS thin film was electrodeposited on the surface of a silicate glass coated with a thin layer of indium tin oxide (ITO). Deposition process was done using potentiostatic mode at room temperature with a potential of 1.05 V for 30, 45, and 60 minutes, followed with annealing the film at 2 different temperatures, 500 ºC using furnace and 180 ºC using hot plate, both treatments for 45 minutes in N2/H2S atmosphere. The X-ray difractograms were analyzed using Match 2 program and showed that the CZTS thin films had kesterit crystalline structure, with a low percentage of CZTS phase. The thin film also contained secondary phases such as Cu2S, ZnS, and SnS. The obtained CZTS thin films had a thickness between 1.039 and 1.676 μm. Absorption study showed that the band gap energy of CZTS thin films which was annealed using furnace ranged from 1.50 to 1.52 eV, whereas that annealed using the hot plate was not observed. The band gap energy value showed that CZTS thin films can be used as sunlight absorber layers on solar cell. The formation of CZTS crystal film on this investigation was effectively performed using furnace annealing process at a temperature of 500 ºC with deposition time of 45 minutes.
Keyword: Thin film, Electrodeposition, Cu2ZnSnS4