Judul: Penduga Parameter Model Regresi Logistik dengan Maximum Likelihood dan Ridge Logistic Estimator.
Abstrak: Analisis regresi logistik merupakan analisis data yang digunakan ketika variabel respons berbentuk dikotomi dan variabel prediktor berupa data berskala interval atau kategori. Metode pendugaan parameter dalam analisis regresi logistik antara lain Maximum Likelihood Estimator dan Ridge Logistic Estimator untuk data yang memiliki karakteristik multikolinearitas. Pada karya ilmiah ini, model yang diduga parameternya menggunakan data hipotetik. Keakuratan pendugaan parameter pada karya ilmiah ini diukur dengan Scalar Mean Square Error. Dalam tugas akhir ini, diperoleh kesimpulan bahwa metode Ridge Logistic Estimator lebih baik dalam pendugaan parameter dibanding dengan Maximum Likelihood Estimator.
Keyword: analisis regresi logistik, Maximum Likelihood Estimator, multikolinearitas, Ridge Logistic Estimator, Scalar Mean Square Error

Judul: Pendugaan Parameter Model Regresi Logistik dengan MLE dan Stochastic Restricted Maximum Likelihood Estimator.
Abstrak: Analisis regresi logistik merupakan metode analisis data yang dapat digunakan jika variabel respons berbentuk dikotomi dan variabel prediktor berupa data berskala interval atau kategori. Metode yang dapat digunakan untuk menduga parameter dalam analisis regresi logistik antara lain Maximum Likelihood Estimator (MLE) dan Stochastic Restricted Maximum Likelihood Estimator (SRMLE). Pada karya ilmiah ini, model yang diduga parameternya menggunakan data hipotetik berupa simulasi Monte Carlo. Keakuratan pendugaan parameter pada karya ilmiah ini diukur dengan Scalar Mean Square Error (SMSE). Stochastic Restricted Maximum Likelihood Estimator (SRMLE) lebih baik dalam pendugaan parameter dibanding dengan Maximum Likelihood Estimator (MLE).
Keyword: analisis regresi logistik, Maximum Likelihood Estimator (MLE), Scalar Mean Square Error (SMSE), Stochastic Restricted Maximum Likelihood Estimator (SRMLE)

Judul: Elektrodeposisi Film Tipis Semikonduktor Cu2ZnSnS4 (CZTS) pada Substrat Kaca ITO
Abstrak: Semiconductor Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin film that can be used as absorber layers on solar cell module was made via electrodeposition method. CZTS thin film was electrodeposited on the surface of a silicate glass coated with a thin layer of indium tin oxide (ITO). Deposition process was done using potentiostatic mode at room temperature with a potential of 1.05 V for 30, 45, and 60 minutes, followed with annealing the film at 2 different temperatures, 500 ºC using furnace and 180 ºC using hot plate, both treatments for 45 minutes in N2/H2S atmosphere. The X-ray difractograms were analyzed using Match 2 program and showed that the CZTS thin films had kesterit crystalline structure, with a low percentage of CZTS phase. The thin film also contained secondary phases such as Cu2S, ZnS, and SnS. The obtained CZTS thin films had a thickness between 1.039 and 1.676 μm. Absorption study showed that the band gap energy of CZTS thin films which was annealed using furnace ranged from 1.50 to 1.52 eV, whereas that annealed using the hot plate was not observed. The band gap energy value showed that CZTS thin films can be used as sunlight absorber layers on solar cell. The formation of CZTS crystal film on this investigation was effectively performed using furnace annealing process at a temperature of 500 ºC with deposition time of 45 minutes.
Keyword: Thin film, Electrodeposition, Cu2ZnSnS4