Judul: The Problem Of Overdispersion In Logistic Regression
Abstrak: Overdispersion is caused by the variability of the response probability or correlatioti between the bitiary responses. The aim of this research is coniparing the parameter estiliiate from Logistic Regression (LR), Willialiis Method (WM), atid Beta-Binomial Regression (BBR). From tlie value of tlie pearson chi-square and deviance, the logistic regression of acadeliiic achievement exhibit overdispersion. The parameter estimate of LR, WM, and BBR are not significant different visually. The difference is seen obviously from tlie value of standard error. The value of standard error from WM and BBR are greater than LR. It's as a conseqoently of overdispersion. In other word, tlie standard error from LR doesn't accolllrnodate tlie problem, causing the valrte of standard error from LR is underestimate. Based on tlie result of analyse, tlie GPA TPB call be seen as an indicator ofacade~nica cliievement in the next level. Based on tlie result of simulation, it is tested parameter estitnate and standard error from some cases of correlation between the binary responses (overdispersion) for the three methods. As a result, When there is no overdispersion, tlie parameter estimate and the stantlard error from the three methods are not significant different. When tliere is overdispersion, the parameter estimate from LR, WM, and BBR are not signilica~itl ii%crcnt, but thc valuc oI"stantli~~-c(1rr or from WM ;~ndB BR arc grcatcr tlia~iL R. Tlie valuc of standard error fiom LR is relitlively similar ibr all of the cases, while the value ofstandard error from WM and BBR increase as the correlation raises.
Keyword: 

Judul: Kajian Overdispersi pada Regresi Poisson dan Zero-Inflated Poisson untuk Beberapa Karakteristik Data
Abstrak: Analisis regresi poisson menunjukkan hubungan antara peubah penjelas (X) dengan peubah respon (Y) yang menyebar Poisson. Regresi Poisson memiliki asumsi equidispersi, yaitu kondisi dimana nilai rataan dan ragam pada peubah Y bernilai sama. Penyimpangan asumsi yang sering terjadi pada regresi Poisson yaitu overdispersi. Kondisi overdispersi yaitu nilai ragam lebih besar dari pada nilai rataan pada peubah Y. Penyebab dari overdispersi yang sering terjadi dalam regresi Poisson adalah peluang nilai nol yang berlebih pada peubah Y. Salah satu akibatnya adalah simpangan baku dari penduga parameter menjadi berbias ke bawah dan signifikansi dari peubah penjelas menjadi berbias ke atas, sehingga menghasilkan kesimpulan yang tidak valid (Ismail dan Jemain 2007). Ridout et al. (1998) menyatakan bahwa penanganan model yang dapat digunakan untuk mengatasi masalah overdispersi pada regresi Poisson adalah Regresi ZIP. Lambert (1992) mengemukakan keunggulan dari regresi ZIP adalah sangat mudah diterapkan pada beberapa bidang dan mudah diinterpretasi penduga parameternya. Penelitian yang telah dilakukan sebelumnya dimulai dengan mengembangkan model regresi ZIP sebagai solusi penanganan overdispersi dari model regresi Poisson di bidang industri pada bagian pengendalian mutu oleh Lambert (1992). Kemudian, Numna (2009) mengembangkan uji Wald untuk membandingkan model regresi Poisson dan ZIP. Pengembangan uji Wald dilakukan secara simulasi dengan penentuan peluang nol pada peubah Y yang ditetapkan berdasarkan nilai parameter dari sebaran Poisson. Perkembangan penelitian yang telah dilakukan sebelumnya membuat peneliti mengembangkan kajian overdispersi pada beberapa karakteristik data untuk regresi Poisson dan ZIP. Kajian overdispersi pada regresi Poisson dan ZIP dilakukan dengan data simulasi dan data terapan. Penelitian ini bertujuan membandingkan regresi Poisson dan ZIP berdasarkan pengujian overdispersi dan evaluasi pendugaan parameter terhadap nilai parameter dari sebaran Poisson, peluang nol, serta ukuran contoh dari data simulasi. Selanjutnya, regresi Poisson dan ZIP diterapkan untuk mengkaji overdispersi pada data terapan. Data simulasi dibangkitkan berdasarkan karakteristik data berupa lambda (λ) yang dimulai dari λ=0.6, 0.8, 1, 6, 8, 10, dan 20, peluang munculnya nilai nol (p) yaitu p=0.1, 0.3, 0.5, dan 0.7, serta ukuran contoh (n) yaitu n=100, 300, 500. Data yang dibangkitkan berguna untuk mendapatkan penduga koefisien parameter regresi Poisson dan ZIP dengan banyanya ulangan (r) sebanyak 500 kali. Koefisien parameter regresi yang telah ditentukan yaitu 0=3, dan 1=0.01. Peubah X yang dibangkitkan merupakan peubah acak yang menyebar normal (μ,1). Peubah X diasumsikan sebagai peubah tetap. Membangkitkan peubah X dan Y pada kajian simulasi dilakukan dengan dua tahap. Data terapan yang digunakan merupakan data tentang faktor-faktor yang mempengaruhi mahasiswa pascasarjana IPB berhenti studi. Peubah yang digunakan adalah peubah X1, X2, X3, X4, X5, X6, X7, X8 dengan Y pada ukuran contoh yang digunakan n=249, dan data sekunder yang digunakan dari tahun 2007–2010. Peubah Y pada data terapan menunjukkan jumlah kejadian mahasiswa pascasarjana IPB yang berhenti studi pada masing-masing program studi dari tahun 2007–2010. Data pada peubah X1, X2, X3, X4, X5, X6, X7, X8 berupa persentase dan rata-rata pada masing-masing program studi. Kajian overdispersi terhadap data simulasi dari kombinasi λ, n, p yang dicobakan menunjukkan bahwa semakin besar λ, n, dan p maka uji skor menghasilkan peluang nol berlebih yang semakin besar dan uji khi-kuadrat menghasilkan persentase sebaran Poisson yang semakin kecil. Hasil perbandingan menunjukan bahwa regresi
Keyword: karakteristik data, overdispersi, regresi Poisson, regresi ZIP

Judul: Elektrodeposisi Film Tipis Semikonduktor Cu2ZnSnS4 (CZTS) pada Substrat Kaca ITO
Abstrak: Semiconductor Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin film that can be used as absorber layers on solar cell module was made via electrodeposition method. CZTS thin film was electrodeposited on the surface of a silicate glass coated with a thin layer of indium tin oxide (ITO). Deposition process was done using potentiostatic mode at room temperature with a potential of 1.05 V for 30, 45, and 60 minutes, followed with annealing the film at 2 different temperatures, 500 ºC using furnace and 180 ºC using hot plate, both treatments for 45 minutes in N2/H2S atmosphere. The X-ray difractograms were analyzed using Match 2 program and showed that the CZTS thin films had kesterit crystalline structure, with a low percentage of CZTS phase. The thin film also contained secondary phases such as Cu2S, ZnS, and SnS. The obtained CZTS thin films had a thickness between 1.039 and 1.676 μm. Absorption study showed that the band gap energy of CZTS thin films which was annealed using furnace ranged from 1.50 to 1.52 eV, whereas that annealed using the hot plate was not observed. The band gap energy value showed that CZTS thin films can be used as sunlight absorber layers on solar cell. The formation of CZTS crystal film on this investigation was effectively performed using furnace annealing process at a temperature of 500 ºC with deposition time of 45 minutes.
Keyword: Thin film, Electrodeposition, Cu2ZnSnS4