Judul: Perbandingan Regresi Komponen Utama Terkoreksi dengan Regresi Ridge dalam Mengatasi Multikolinearitas
Abstrak: Regresi berganda dengan peubah bebas saling berkorelasi (multikolinear) merupakan masalah yang sering terjadi dalam melakukan analisis data. Salah satu akibat yang terjadi adalah ragam penduga parameter regresi yang besar sehingga dugaan koefisien regresi cenderung menjadi tidak signifikan. Salah satu pendekatan yang sering digunakan adalah regresi komponen utama. Penelitian ini mengkaji metode regresi komponen utama yang meminimumkan kuadrat tengah galat (mean square error-MSE) penduga parameter regresi (dinamakan regresi komponen utama terkoreksi). Sebagai pembanding digunakan metode regresi ridge dengan iterasi HKB. Hasil penelitian menunjukkan bahwa untuk multikolinear rendah dan sedang regresi komponen utama terkoreksi selalu merupakan metode yang baik dengan nilai rataan ragam dugaan parameter dan MSE dugaan parameter yang kecil walaupun nilai rataan biasnya bukan merupakan nilai terkecil. Pada kondisi multikolinear tinggi regresi komponen utama terkoreksi selalu merupakan metode yang baik untuk ukuran contoh besar.
Keyword: 

Judul: Kajian Evaluasi Metode Ridge Kekar untuk Data yang Mengandung Pencilan dan Multikolinieritas
Abstrak: Pada regresi linier, Metode Kuadrat Terkecil (MKT) merupakan penduga parameter yang paling populer. Namun, MKT bersifat tidak kekar ketika dalam data terdapat pencilan, karena dapat menyebabkan penduga MKT menjadi bias. Masalah serius lainnya dalam menduga parameter model regresi berganda adalah adanya multikolinieritas. Adanya multikolinieritas mengakibatkan penduga koefisien regresi yang diperoleh dari MKT akan menghasilkan ragam penduga yang besar, meskipun tetap tidak bias. Masalah multikolinieritas dan adanya pencilan bisa terjadi secara bersamaan dalam satu set data. Seperti pada bidang kemometrik, pertanian, makroekonomi, dan lain sebagainya. Maka sangat penting untuk mengombinasikan metode-metode pendugaan yang dirancang untuk mengatasi masalah tersebut. Salah satu metode untuk mengatasi kedua masalah tersebut adalah Ridge kekar yang sangat berguna ketika diasumsikan bahwa semua koefisien regresi memiliki kepentingan yang sama dan bisa memboboti pencilan. Penelitian ini mengkaji metode Ridge kekar berdasarkan penduga M, S, dan MM untuk mengatasi pencilan dan multikolinieritas dalam satu set data. Kajian metode ini dilakukan pada data simulasi dengan berbagai proporsi pencilan dan skenario korelasi antar peubah bebas, kemudian diaplikasikan pada data angkatan kerja Indonesia. Mean Square Error (MSE), bias relatif mutlak, dan VIF (Variance Inflation Factor) digunakan sebagai kriteria untuk menjelaskan kebaikan dari penduga tersebut. Hasil kajian terhadap data simulasi menujukkan secara umum metode Ridge kekar (Ridge M, Ridge S, Ridge MM) dengan ��������=0 baik dalam melakukan pendugaan parameter regresi pada data yang mengandung pencilan. Metode Ridge dengan ��������=0.015 baik dalam menduga parameter regresi pada data yang terdapat masalah multikolinieritas. Sedangkan pada data yang mengandung kedua masalah tersebut (pencilan dan multikolinieritas), metode terbaik dalam melakukan pendugaan parameter regresi adalah Ridge kekar (Ridge M, Ridge S, Ridge MM) dengan ��������=0.015. Pada data angkatan kerja Indonesia, metode terbaik adalah Ridge M.
Keyword: Metode Kuadrat Terkecil, Ridge kekar, multikolinieritas, pencilan

Judul: Elektrodeposisi Film Tipis Semikonduktor Cu2ZnSnS4 (CZTS) pada Substrat Kaca ITO
Abstrak: Semiconductor Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin film that can be used as absorber layers on solar cell module was made via electrodeposition method. CZTS thin film was electrodeposited on the surface of a silicate glass coated with a thin layer of indium tin oxide (ITO). Deposition process was done using potentiostatic mode at room temperature with a potential of 1.05 V for 30, 45, and 60 minutes, followed with annealing the film at 2 different temperatures, 500 ºC using furnace and 180 ºC using hot plate, both treatments for 45 minutes in N2/H2S atmosphere. The X-ray difractograms were analyzed using Match 2 program and showed that the CZTS thin films had kesterit crystalline structure, with a low percentage of CZTS phase. The thin film also contained secondary phases such as Cu2S, ZnS, and SnS. The obtained CZTS thin films had a thickness between 1.039 and 1.676 μm. Absorption study showed that the band gap energy of CZTS thin films which was annealed using furnace ranged from 1.50 to 1.52 eV, whereas that annealed using the hot plate was not observed. The band gap energy value showed that CZTS thin films can be used as sunlight absorber layers on solar cell. The formation of CZTS crystal film on this investigation was effectively performed using furnace annealing process at a temperature of 500 ºC with deposition time of 45 minutes.
Keyword: Thin film, Electrodeposition, Cu2ZnSnS4