Judul: Perbandingan Regresi Komponen Utama Terkoreksi dengan Regresi Ridge dalam Mengatasi Multikolinearitas
Abstrak: Regresi berganda dengan peubah bebas saling berkorelasi (multikolinear) merupakan masalah yang sering terjadi dalam melakukan analisis data. Salah satu akibat yang terjadi adalah ragam penduga parameter regresi yang besar sehingga dugaan koefisien regresi cenderung menjadi tidak signifikan. Salah satu pendekatan yang sering digunakan adalah regresi komponen utama. Penelitian ini mengkaji metode regresi komponen utama yang meminimumkan kuadrat tengah galat (mean square error-MSE) penduga parameter regresi (dinamakan regresi komponen utama terkoreksi). Sebagai pembanding digunakan metode regresi ridge dengan iterasi HKB. Hasil penelitian menunjukkan bahwa untuk multikolinear rendah dan sedang regresi komponen utama terkoreksi selalu merupakan metode yang baik dengan nilai rataan ragam dugaan parameter dan MSE dugaan parameter yang kecil walaupun nilai rataan biasnya bukan merupakan nilai terkecil. Pada kondisi multikolinear tinggi regresi komponen utama terkoreksi selalu merupakan metode yang baik untuk ukuran contoh besar.
Keyword: 

Judul: Perbandingan Performa Parameter Ridge-K pada Regresi Ridge untuk Mengatasi Multikolinearitas
Abstrak: Multikolinearitas terjadi ketika antar peubah bebas terdapat hubungan linear. Multikolinearitas dapat membuat hasil pendugaan koefisien regresi menggunakan analisis regresi linear berganda tidak akurat. Salah satu cara mengatasi multikolinearitas adalah regresi ridge. Regresi ridge merupakan modifikasi dari metode kuadrat terkecil dengan penambahan nilai tetapan bias k. Nilai parameter k pada regresi ridge mempunyai peran penting untuk mengontrol bias regresi terhadap rata-rata peubah tak bebas. Penelitian ini menerapkan regresi ridge menggunakan nilai parameter yang diusulkan oleh Hoerl, Lawless dan Wang serta Dorugade pada data simulasi yang memiliki tingkat multikolinearitas rendah, sedang, tinggi, sangat tinggi dan pada data riil yaitu data indeks pembangunan manusia (IPM) di Pulau Jawa. Hasil analisis pada data simulasi menunjukkan bahwa regresi ridge merupakan metode terbaik pada data dengan tingkat multikolinearitas sedang, tinggi, dan sangat tinggi. Penerapan pada data IPM menunjukkan bahwa regresi ridge dengan parameter Hoerl merupakan metode terbaik pada data dengan tingkat multikolinearitas tinggi., Multicollinearity occurs when there is linear relation among independent variables. Multicollinearity can effect the estimation of regression coefficients using multiple linear regression inaccurate. Ridge regression is one of the ways that can be used to overcome multicollinearity. It is a modification of the least-square method with adding the value of constant k. The parameter k on the ridge regression has important roles to control the regression bias to the average of dependent variable. The ridge regression in this research is applied using the parameter that proposed by Hoerl, Lawless and Wang, and also Dorugade on the simulation data that has low, moderate, high, very high multicollinearity levels and also applied on the riil data, Human Development Index (HDI) in Java Island. The result on the simulation data shows that ridge regression is the best way for the data in low, moderate, high, and very high multicollinearity levels. The application on HDI data shows that the ridge regression with Hoerl's parameter is the best method for high multicollinearity data.
Keyword: multicollinearity, ridge parameter, ridge regression

Judul: Elektrodeposisi Film Tipis Semikonduktor Cu2ZnSnS4 (CZTS) pada Substrat Kaca ITO
Abstrak: Semiconductor Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin film that can be used as absorber layers on solar cell module was made via electrodeposition method. CZTS thin film was electrodeposited on the surface of a silicate glass coated with a thin layer of indium tin oxide (ITO). Deposition process was done using potentiostatic mode at room temperature with a potential of 1.05 V for 30, 45, and 60 minutes, followed with annealing the film at 2 different temperatures, 500 ºC using furnace and 180 ºC using hot plate, both treatments for 45 minutes in N2/H2S atmosphere. The X-ray difractograms were analyzed using Match 2 program and showed that the CZTS thin films had kesterit crystalline structure, with a low percentage of CZTS phase. The thin film also contained secondary phases such as Cu2S, ZnS, and SnS. The obtained CZTS thin films had a thickness between 1.039 and 1.676 μm. Absorption study showed that the band gap energy of CZTS thin films which was annealed using furnace ranged from 1.50 to 1.52 eV, whereas that annealed using the hot plate was not observed. The band gap energy value showed that CZTS thin films can be used as sunlight absorber layers on solar cell. The formation of CZTS crystal film on this investigation was effectively performed using furnace annealing process at a temperature of 500 ºC with deposition time of 45 minutes.
Keyword: Thin film, Electrodeposition, Cu2ZnSnS4