Judul: Pengendalian Berat Bahan Baku Wedang Uwuh dengan Metode Statistical Process Control di CV. Salama Nusantara, Kulon Progo, DIY
Abstrak: Permintaan wedang uwuh instan yang diproduksi CV. Salama Nusantara mengalami peningkatan selama pandemi. Proses produksi masih mengandalkan feeling pegawai dan tidak ada standar baku batas toleransi berat yang membuat tidak seragamnya mutu produk dari segi berat komposisi bahan baku. Tujuan penelitian ini yaitu menentukan spesifikasi standar penimbangan bahan baku yang digunakan sebagai acuan internal perusahaan serta mengaplikasikan SPC (Statistical Process Control) dengan alat bantu kendali dalam identifikasi penyimpangan bahan baku wedang uwuh instan dan memberikan saran perbaikan. Metode yang diterapkan dalam mengontrol variasi berat adalah metode SPC dengan menggunakan alat bantu kendali meliputi check sheet, bagan kendali dan diagram sebab akibat. Hasil penelitian menunjukkan proses produksi masih belum terkendali secara statistika karena masih banyak titik-titik diluar batas UCL (Upper Control Limit) dan LCL (Lower Control Limit) pada bagan X-bar dan bagan R untuk bahan baku secang, jahe, cengkeh, kapulaga dan daun kayu manis. Pada bahan baku gula dan renggas tidak ditemukan penyimpangan pada bagan X-bar dan bagan R, namun pada uji kapabilitas didapatkan nilai Indeks kapabilitas proses (Cp)<1 dan Indeks performansi Kane (Cpk)<1 termasuk dalam kategori buruk. Perbaikan perlu dilakukan untuk mereduksi adanya penyimpangan agar proses dapat dikendalikan dan didapatkan mutu yang seragam.
Keyword: quality, SPC (Statistical Process Control), variety, wedang uwuh

Judul: Pengendalian Produk Below Standard (BS) Wafer Stick di PT XYZ dengan Menggunakan Aplikasi Statistical Process Control.
Abstrak: PT XYZ merupakan sebuah perusahaan yang konsisten bergerak dalam bidang industri pangan. Produk pangan yang dihasilkan salah satunya adalah wafer stick. Kapasitas proses produksi wafer stick yang besar menghasilkan mutu produk di bawah standar (Below Standard, BS) yang relatif besar sehingga perlu dilakukan pengendalian mutu secara statistik. Metode statistik yang digunakan untuk mengendalikan produk BS wafer stick adalah Statistical Process Control (SPC). Hasil menunjukkan bahwa jenis BS yang dominan pada proses produksi wafer stick adalah BS stick dan BS sheet. Penerapan perbaikan dengan menggunakan alat bantu SPC dapat menurunkan persentase BS stick dan BS sheet. Persentase BS stick dan BS sheet pada awal proses satu Shift sebelum dan sesudah perbaikan yaitu 5.81 ± 2.10% menjadi 5.59 ± 3.70% BS sheet dan 4.51 ± 2.55% menjadi 3.50 ± 1.06% BS stick. Kondisi proses produksi hari Senin perubahan BS sheet dan BS stick yaitu 2.93 ± 2.25% menjadi 2.22 ± 0.42% BS stick dan 3.49 ± 2.47% menjadi 3.49 ± 1.18% BS sheet.
Keyword: grafik kendali, mutu, SPC, wafer stick

Judul: The Exploration of Discrete Logarithm over Finite Field GF(3m)
Abstrak: The security of many public~key algorithms is based on the problem of finding discrete logarithms. The generalized discrete logarithm problem is the following: given a finite cyclic group G of order n, a generator a of G, and an element fl E G, find the integer x, 0 ~ x ~ n - 1, such that 0: = fl. Algorithm for discrete logarithm problem focused on Menezes et al. (1997) that consist of exhaustive search algorithm, the baby-step giant-step algorithm, Pollard's rho algorithm, Pohlig-Hellman algorithm, and index-calculus algorithm. These algorithms are explorated to be used in discrete logarithm problem over finite field GF(3m ). The exploration also produces some algorithms, i.e. naif negative algorithm, baby-step mother-step algorithm, baby-step mother free-step algorithm, and baby-step free-step algorithm. All algorithms implemented using Maple 11. The Pohlig-Hellman and baby-step giant-step algorithms are efficient enough to be used in discrete logarithm problem over finite field GF(3m ) for m < 20.
Keyword: