Judul: Kajian Metode Penentuan Umur Simpan Produk Flat Wafer Dengan Metode Akselerasi Berdasarkan Pendekatan Model Kadar Air Kritis
Abstrak: Wafer merupakan salah satu jenis biskuit yang sudah dikenal luas oleh masyarakat. Banyak tipe wafer yang berada di pasaran tapi dalam penelitian ini digunakan flat wafer tanpa lapisan coating. Menurut survei konsumen, rasa dan tekstur wafer merupakan mutu utama produk wafer. Mutu produk wafer tersebut akan mengalami reaksi penurunan selama penyimpanan. Sebanyak 82.5% dari 40 orang konsumen menyatakan bahwa penurunan mutu wafer yang mudah teridentifikasi secara organoleptik adalah tekstur wafer yang mulai lembek (kerenyahan wafer menurun) yang disebabkan penyerapan uap air oleh wafer sehingga kadar air wafer meningkat. Tujuan dari penelitian ini adalah menentukan umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis dan modek kadar air kritis termodifikasi. Selain itu, penelitian ini bertujuan untuk mendapatkan model dalam pendekatan kadar air kritis yang sesuai dan efisien untuk menentukan umur simpan wafer. Kandungan gizi wafer ditentukan dengan menggunakan analisis proksimat. Kandungan gizi wafer A dan wafer B tidak berbeda nyata dengan uji statistik pada taraf 5%. Kadar air wafer A dan wafer B dalam basis basah adalah 1.63% dan 1.21%, kadar abu wafer A dan wafer B adalah 1.24% dan 1.04%, kadar protein wafer A dan wafer B adalah 5.80% dan 6.70%, kadar lemak wafer A dan wafer B adalah 20.15% dan 19.75%, dan kadar karbohidrat wafer A dan wafer B adalah 71.18% dan 71.30%. Kandungan gizi wafer A dan wafer B sudah sesuai dengan syarat mutu SNI 01-2973-1992 tentang syarat mutu biskuit kecuali kadar proteinnya. Perbedaan kerenyahan/tekstur awal wafer A (343.40 gf) dan wafer B (503.04 gf) disebabkan perbedaan porositas wafer dimana wafer A lebih porus daripada wafer B. Semakin porus maka wafer akan lebih banyak dan cepat menyerap uap air sehingga proses penurunan tekstur wafer lebih cepat. Tekstur kritis wafer berdasarkan uji organoleptik (hedonik,rating) terjadi pada saat kerenyahan wafer A (249.94, 252.13 gf) dan wafer B (331.05, 333.34 gf). Langkah pertama dalam menentukan umur simpan wafer berdasarkan kedua model yang digunakan adalah menentukan kadar air awal dan kadar air kritis wafer serta variabel pendukung umur simpan wafer (permeabilitas kemasan (k/x), luas kemasan (A), dan berat solid per kemasan (Ws). Kadar air awal wafer A dan wafer B adalah 0.0166 dan 0.0123 g H2O/g solid. Kadar air kritis wafer A dan wafer B ditentukan berdasarkan uji hedonik adalah 0.0466 dan 0.0412 g H2O/g solid sedangkan berdasarkan uji rating adalah 0.0457 dan 0.0409 g H2O/g solid. Kadar air kritis berdasarkan dua uji organoleptik yang digunakan relatif sama namun akan tetap mempengaruhi umur simpan wafer yang akan dihasilkan. Luas kemasan yang diuji adalah sebesar 0.0117 m2 untuk wafer A dan 0.0161 m2 untuk wafer B. Berat solid per kemasan wafer A dan wafer B adalah wafer A dan B adalah 18.37 gram dan 31.35 gram. Selain menggunakan kemasan asli juga digunakan kemasan plastik PP tebal dengan luas 0.0150 m2 dan berat solid 25 gram. Nilai k/x kemasan asli wafer A, wafer B, dan PP tebal secara berturut-turut adalah 0.0078, 0.0061, dan 0.0739 gH2O/hari/m2.mmHg. Umur simpan wafer akan ditentukan pada tempat penyimpanan dengan RH 70%, 75%, 80%, dan 90%. Variabel lain yang harus ditentukan untuk menentukan umur simpan wafer dengan model kurva sorpsi isotermis adalah kadar
Keyword: 

Judul: Studi penentuan umur simpan produk wafer PT Arnott's Indonesia dengan metode accelerated shelf life testing
Abstrak: Tujuan penelitian ini adalah untuk menentukan umur simpan produk wafer stick dan wafer flat yang diproduksi oleh PT Arnott's Indonesia. Umur simpan adalah waktu yang diperlukan oleh produk pangan dalam suatu kondisi penyimpanan untuk sampai pada suatu level atau tingkatan degradasi mutu tertentu. Dalam penelitian ini, umur simpan produk ditentukan dengan menggunakan metode ASLT (Accelerated Shelf Life Testing) berdasarkan pendekatan kadar air kritis. Pada penentuan umur simpan, parameter-parameter yang ditentukan adalah kadar air awal (%bk), kadar air kritis (%bk), kadar air kesetimbangan (%bk), dan slope kurva sorpsi isothermis (b). Kadar air awal ditentukan dengan metode oven. Dari hasil perhitungan diperoleh kadar air awal produk wafer stick adalah sebesar 2.43%bk sedangkan kadar air awal produk wafer flat adalah sebesar 1.70 %bk. Kadar air kritis ditentukan dengan cara menyimpan sampel pada suhu 30°C dengan RH 43% untuk wafer flat dan RH 69% untuk wafer stick. Sampel yang dinyatakan telah hilang kerenyahannya atau melempem secara organoleptik ditetapkan sebagai kadar air kritisnya. Hasil pengujian memperlihatkan bahwa panelis sudah tidak dapat menerima sampel ketika sampel mencapai kadar air 3.67%bk untuk wafer flat dan 3.80%bk untuk wafer stick. Kadar air kesetimbangan ditentukan dengan menyimpan sampel di berbagai RH, yaitu RH 6.9% (NaOH); 32.4% (MgCl2.6H₂O); 43% (K2CO3); 69% (KI); 75% (NaCl); 84% (KCI); 90.3% (BaCl2.2H₂O); dan 98% (K2Cr2O7). Hasil kadar air kesetimbangan masing-masing sampel pada masing- masing RH kemudian diplotkan dengan nilai a, sehingga menghasilkan kurva sorpsi isothermis. Untuk mendapatkan kurva dengan kemulusan yang tinggi digunakan lima model persamaan kurva sorpsi isothermis. Model-model tersebut antara lain, model Hasley, Chen-Clayton, Henderson, Caurie, dan Oswin. Semua persamaan tersebut diliniearkan dan ditentukan nilai konstantanya dengan metode kuadrat terkecil. Untuk mendapatkan model kurva yang dapat menggambarkan sorpsi isothermis secara tepat digunakan uji MRD (Mean Relative Determination). Dari hasil pengujian, persamaan Hasley dapat menggambarkan fenomena sorpsi isothermis dengan tepat untuk kedua jenis sampel. Masing-masing persamaan kurva sorpsi isothermis untuk wafer stick dan wafer flat adalah log(In(1/aw)) = 0.814195 1.415637 log Me dengan MRD sebesar 2.38 dan log(ln(1/aw)) = 0.647592 1.294219 log Me dengan MRD sebesar 2.88. Slope kurva sorpsi isothermis ditentukan berdasarkan rasio antara selisih kadar air awal dengan kadar air kritis terhadap selisih aktivitas air awal dengan aktivitas air kritis pada persamaan kurva sorpsi isothermis yang dipilih. Nilai slope kurva sorpsi isothermis yang diperoleh yaitu 6.31 untuk wafer stick dan 5.95 untuk wafer flat. ...
Keyword: 

Judul: Mitochondrial DNA Gene Organization and Phylogenetic Relationship of Naja siamensis
Abstrak: Naja siamensis is one of Asiatic cobra in the Family of Elapidae, known as a cryptic snake. It has many morphological variations that lead to misidentification. Misidentification can cause the wrong concept in developing antivenom types due to high snakebite cases occur in Thailand. Thus, an accurate species identification using a molecular approach is crucially required. Mitochondrial DNA has been used widely in snake molecular studies. These studies were aimed to determine the arrangement of the N. siamensis partial mitochondrial genes using reptile-oriented primers and to reveal the phylogenetic relationship among other species of Asian cobra. DNA extraction was carried out based on the standard DNA salting-out protocol and was conducted by bioinformatics analysis using BLASTn and MEGA 6 software. Gene annotation was performed against N. kaouthia complete genome. A total of 3121 bp of N. siamensis mtDNA genes were sequenced consisting of partial of six regions: 16S rRNA, ND1, tRNA-Ile, CRII region, tRNA-Leu, tRNA-Gln, and COI genes. The mtDNA gene organization of N. siamensis was predicted to has a similar pattern with the common Elapidae mtDNA gene organization. This study showed that there is a monophyletic form in Naja genus and N. kaouthia is the closest species with N. siamensis based on partial 16S rRNA and ND1 gene.
Keyword: 16S rRNA, Elapidae, ND1, phylogenetic relationship