METHOD AND SYSTEM FOR NON-DESTRUCTIVE EDDY CURRENT TESTING USING A FREQUENCY SWEEP

Abstract: 1. Non-destructive test device using eddy currents comprising : a sinusoidal generator (4, 5, 8) supplying an excitation signal at a certain adjustable frequency, a probe (11) comprising a winding (43, 46) capable of receiving a part to be tested, this winding receiving the said excitation signal, this probe supplying a measurement signal at the said frequency, means (12, 13, 14) for measuring the phase difference between the excitation signal and the measurement signal, means (17) for measuring the amplitude of the measurement signal, characterized in that it furthermore comprises : an analog/digital converter (2) having an input connected to the phase detector (12, 13, 14) and to the amplitude measuring means (17), a microcomputer (1) connected to the converter (2) and to the sinusoidal generator (5) and associated with means of display control (33, 34, 35, 36), this microcomputer being capable, with an appropriate operating software, of : modifying the frequency of the signal generated by the sinusoidal generator (5) in order to scan a certain frequency range, sampling the signals delivered by the means (12, 13, 14) of measuring the phase difference and the means (12) of measuring the amplitude of the signal, this sampling being carried out at different values of the frequency of the signal generated by the generator, storing all of these samples for the entire scanned range both for a first measurement, called the reference measurement, carried out by placing a reference part in the probe, and for a second measurement, called the test measurement, carried out by placing a test piece in the probe, this test piece having a certain parameter to be evaluated, determining the frequency in the scanned range at which the reference measurement and the test measurement exhibit the greatest difference, possibly repeating this determination for other test pieces having other types of parameters to be evaluated and determining, each time, the value of the frequency most appropriate for measuring each parameter, then adjusting the generator (4, 5, 8) to one of the frequencies thus determined in order to perform subsequent tests on other parts considered to exhibit one of the said parameters.

Description: La présente invention est relative à un procédé et un dispositif de test non destructif à courants de Foucault. La présente invention utilise donc la technique d'essais ou de test à courants de Foucault, qui est bien connue dans les milieux scientifiques. Cette technique d'essais ou de test non destructif à courants de Foucault est largement utilisée dans l'industrie de la métallurgie, principalement pour le contrôle de la qualité. Les domaines industriels d'application se situent par exemple dans l'industrie de l'aéronautique, de la mécanique de précision, et des placages, et dans l'industrie nucléaire et militaire. On connaît du brevet des Etats-Unis No 3.478.263 (HENTSCHEL) du 11 novembre 1969, un système de test non destructif à courants de Foucault muni d'un générateur de fréquences variables produisant un signal qui alimente une sonde générant un champ magnétique induisant des courants de Foucault dans une pièce métallique placée à proximité, ce champ magnétique inducteur étant modifié par les courants de Foucault induits. La sonde génère aussi un signal représentatif du champ magnétique modifié qui est reçu par un circuit avec un autre signal provenant du générateur et ayant la même fréquence que le signal injecté dans la sonde, ce circuit qui est muni d'un indicateur étant spécialement adapté pour permettre à l'opérateur d'ajuster le générateur variable à une fréquence la plus appropriée compte tenu des exigences de l'utilisation prévue. Ce système ne permet cependant pas d'échantillonner des variables du signal représentatif du champ modifié généré par la sonde à un grand nombre de fréquences afin de recueillir une plus grande quantité d'informations pertinentes relatives à la structure de la pièce soumise à un test non destructif à courants de Foucault, pour donner ainsi au système une plus grande versatilité, puisque les informations utilisées pour le test sont limitées à celles prélevées à la fréquence sélectionnée par ltoperateur. D'autres systèmes de test non destructif à courants de Focault sont décrits dans les brevets des Etats-Unis Nos 4.059.795 (MORDWINKIN) du 22 novembre 1977, 4.230.987 (MORDWINKIN) du 28 octobre 1980, 4.303.885 (DAVIS et al.) du ler décembre 1981, 4.237.419 (TORNBLOM et al.) du 2 décembre 1980, 4.086.527 (CADOT) du 25 avril 1978, et 4.207.520 (FLORA et al.) du 10 juin 1980. Ces différents systèmes de test utilisent quelques fréquences discrètes pour effectuer des tests sur des pièces à analyser. Tous ces systèmes sont évidemment limités à leurs différentes fréquences d'opération qui sont habituellement de nombre plutôt restreint. De plus, la gamme de ces fréquences est dans la plupart des cas choisie en fonction d'une application particulière et est souvent peu étendue. Ces systèmes de test non destructif à courants de Foucault ne permettent donc pas une versatilité d'utilisation qui serait rendue possible par un balayage en fréquences du signal injecté dans la sonde, pouvant être effectué à l'intérieur d'une gamme étendue de fréquences, ce qui permettrait d'obtenir un plus grand nombre d'informations sur une pièce métallique soumise au champ magnétique généré par la sonde et modifié par des courants de Foucault induits dans cette pièce, l'analyse étant bien entendu effectuée sur ce champ magnétique modifié. La présente invention a donc pour but de fournir un procédé et un dispositif de test à courants de Foucault dont la versatilité d'utilisation est augmentée due à un balayage en fréquences du signal alternatif générant un champ magnétique à l'intérieur duquel est placée une pièce à tester, de façon à permettre l'obtention d'un plus grand nombre d'informations sur la structure de cette pièce par l'analyse à un grand nombre de fréquences du champ magnétique modifié par des courants de Foucault induits dans cette pièce. Plus particulièrement, la présente invention propose un procédé de test non destructif à courants de Foucault comprenant les étapes suivantes On produit un signal alternatif soumis à un balayage en fréquences à l'intérieur d'une gamme de fréquences déterminée; On génère un champ magnétique alternatif inducteur en réponse au signal soumis à un balayage en fréquences, ce champ magnétique inducteur ayant une fréquence qui suit la fréquence du signal soumis à un balayage en fréquences et étant modifié par des courants de Foucault induits par le champ magnétique inducteur dans une pièce à analyser placée à l'intérieur de ce champ magnétique inducteur, ces courants de Foucault induits étant fonction de la structure de la pièce à ananlyser; On génère un signal alternatif représentatif du champ magnétique alternatif modifié par les courants de Foucault induits dans la pièce à analyser; ; On échantillonne à un grand nombre de fréquences différentes du signal soumis à un balayage en fréquences au moins une variable relative au signal représentatif du champ magnétique alternatif modifié; et On reçoit et traite de façon désirée les échantillons de ladite au moins une variable relative au signal représentatif du champ magnétique modifié prélevés lors de l'étape d'échantillonnage; de sorte qu'un grand nombre d'informations pertinentes concernant la structure de la pièce à analyser est disponible pour l'étape de traitement dû au grand nombre d'échantillons de ladite au moins une variable prélevés à un grand nombre de fréquences différentes du signal soumis à un balayage en fréquences. La présente invention a également pour objet un dispositif de test non destructif à courants de Foucault pour la mise en oeuvre du procédé comprenant des moyens pour produire un signal alternatif soumis à un balayage en fréquences à l'intérieur d'une gamme de frequences déterminée; des moyens de détection comportant des moyens pour gé nérer un champ magnétique alternatif inducteur en réponse au signal soumis à un balayage en fréquences, ce champ magnétique inducteur ayant une fréquence qui suit la fréquence du signal soumis à un balayage en fréquences et étant modifié par des courants de Foucault induits par le champ magnétique inducteur dans une pièce à analyser placée à l'intérieur de ce champ magnétique inducteur, ces courants de Foucault induits étant fonc tion de la structure de la pièce à analyser, les moyens de détection comprenant également des moyens pour générer un signal alternatif de sortie représentatif du champ magnétique alternatif modifié par les courants de Foucault induits dans la pièce à analyser; des moyens pour échantillonner, à un grand nombre de fréquences différentes du signal soumis à un balayage en fréquences, au moins une variable relative au signal de sortie représentatif du champ magnetique alternatif modifié; et des moyens pour recevoir et pour traiter de façon désirée les échantillons de ladite au moins une variable relative au signal de sortie représentatif du champ magnétique modifié prélevés par les moyens d'échantillonnage; de sorte que les moyens de traitement disposent d'un grand nombre d'informations pertinentes concernant la structure de la pièce à analyser dA au grand nombre d'échantillons de ladite au moins une variable prélevés à un grand nombre de fréquences différentes par les moyens d'échantillonnage. Les avantages et autres caractéristiques de la présente invention apparaîtront à la lecture de la description qui suit d'un mode de réalisation préféré de celle-ci, donnée à titre d'exemple non limitatif seulement avec référence aux dessins annexés dans lesquels La Figure 1 est un diagramme en bloc illustrant un mode de réalisation du système de test non destructif à courants de Foucault selon l'invention ; et Les Figures 2a), 2b) et 2c) montrent trois modes de réalisation d'une sonde faisant partie du dispositif de test non destructif à courants de Foucault de la Figure 1. Tel qu'illustré sur la Figure 1, le dispositif de test non destructif à courants de Foucault comporte un micro-ordinateur 1 qui contrôle automatiquement toutes les fonctions et l'ensemble des ajustements de ce dispositif de test non destructif. Le micro-ordinateur 1 est lui-même contrôlé par un clavier alphanumérique 33 standard, ou par un autre type de clavier plus petit selon les besoins. Un générateur sinusoïdal 5, qui peut être du type faible distorsion ayant sa fréquence bloquée, d'une manière connue de l'homme de l'art, sur un quartz de référence 4 à l'aide d'un asservissement en phase, est spécialement a dapté pour générer à sa sortie un signal sinusoïdal balayé en fréquences à l'intérieur d'une gamme globale de fréquences qui peut s'étendre par exemple de 5 Hz à 6 MHZ selon les besoins. La fréquence du signal à la sortie du générateur 5 est contrôlée par le micro-ordinateur 1. Une gamme de fréquences moins large peut également être sélectionnée à l'intérieur de cette gamme globale de fréquences selon les exigences d'une application donnée sur le clavier 33 du micro-ordinateur 1 qui se charge d'agir sur le générateur 5 pour que le signal produit par celui-ci soit ba layé en fréquences d'une fréquence inférieure de cette gamme de fréquences sélectionnée à une fréquence supérieure de celle-ci. La structure du générateur 5 peut avantageusement être sélectionnée pour lui permettre d'être manoeuvré par le micro-ordinateur 1 afin de générer un signal ayant une fréquence déterminée, cette fréquence pouvant être changée par le micro-ordinateur 1 afin de générer un signal soumis à un balayage de fréquences par étapes de fréquences, les étapes de fréquences passant par chacune des fréquences du grand nombre de fréquences auxquelles le dispositif prélève des échantillons tel que décrit ci-après. La structure du générateur 5 peut également être sélectionnée pour que le balayage en fréquences de son signal de sortie soit continu, la fréquence de ce signal pouvant cependant être, sous le contrôle du microordinateur 1, bloquée successivement à chacune des fréquences auxquelles le micro-ordinateur prélève des échantillons. Un amplificateur de puissance 8 à large bande passante est prévu pour amplifier le signal à la sortie du générateur 5. Cet amplificateur 8 est muni d'un circuit pour contrôler en amplitude le signal (tension) délivré par cet amplificateur en réponse à un signal de sortie d'un sommateur 7. Le niveau de tension du signal à la sortie de l'amplificateur 8 est ajusté à partir d'un signal de contrôle émis par le micro-ordinateur 1 et transmis par l'intermédiaire d'un convertisseur numérique/analogique 6 à l'entrée positive du sommateur 7, et ce niveau de tension est conservé constant sur toute la gamme de fréquences balayée grâce à une boucle de rétroaction formée par un convertisseur courant alternatif/courant continu (CA/CC) 10 et par le sommateur 7, pour une alimentation en tension constante d'une sonde 11 à travers un adaptateur de sonde 9. Le sommateur 7 soustrait donc d'un signal à courant continu représentatif du signal de contrôle émis par le micro-ordinateur 1 un signal à courant continu produit par le convertisseur 10 et représentatif du niveau de tension du signal délivré par l'amplificateur 8 et reçu par ce convertisseur 10 à travers l'adaptateur de sonde 9 et une liaison 23. L'alimentation de la sonde 11 pourrait également s'effectuer en courant constant si le signal de contrôle ci-haut mentionné émis par le micro-ordinateur 1 était représentatif du courant d'alimentation désiré de la sonde 11, et si la retroaction à travers le convertisseur 10 et le sommateur 7 s'effectuait à partir d'une mesure du courant délivré par l'amplificateur 8. L'adaptateur de sonde 9 a de préférence une structure capable d'accepter plusieurs types de branchement : soit en pont, soit en transformateur différentiel, etc... L'adaptateur 9 peut également comprendre des moyens pour permettre l'utilisation de sondes actives (effet Hall). La sonde 11 peut1 telle qu'illustrée par exemple sur la Figure 2a), être formée d'une bobine, une première moitié 38 de cette bobine étant alimentée par l'intermédiaire de ses bornes 40 et 41 par le signal à la sortie de l'amplificateur 8 de la Figure 1 pour ainsi émettre un champ magnetique alternatif inducteur à l'intérieur duquel est placé un échantillon ou pièce 22 illustré à la Figure 1, ce champ magnétique inducteur induisant des courants de Foucault à l'intérieur de la pièce ou échantillon 22, et étant modifié par ces courants de Foucault comme il sera explicité plus en détail ci-après. La seconde moitié 39 de la bobine détecte le champ magnétique modifié et génère entre ses bornes 41 et 42 une tension alternative représentative de ce champ magnétique modifie. La Figure 2b) montre un autre exemple de réalisation de la sonde 11 de la Figure 1. Une bobine 43 est alimentée par le signal à la sortie de l'amplificateur 8 pour produire le champ magnétique alternatif inducteur à l'intérieur duquel est placé l'échantillon ou pièce 22. Le champ magnétique alternatif modifié par les courants de Foucault induits dans la pièce ou échantillon 22 est détecté par un détecteur magnétorésistif 44 qui délivre à sa sortie 45 un signal alternatif (tension) représentatif du champ magnétique modifié en question. Le montage de la Figure 2b) fonctionne donc en absolu. Un tel détecteur magnétorésistif a une résistivité qui change avec le champ magnétique auquel il est soumis, et permet par conséquent de détecter les variations d'un champ magnétique. De plus, ce genre de détecteur est très sensible et peut être utilisé à l'intérieur d'une large gamme de fréquences et de températures, ce qui convient très bien pour une application à la présente invention, Le détecteur magnétorésistif 44 peut être constitué par celui fabriqué par la compagnie PHILIPS et désigné sous le numéro de référence "KMZ 10". Par ailleurs, il doit être noté que l'utilisation de détecteurs magnétorésistifs tels que 44 permet de réduire considérablement le volume de la sonde 11 et en conséquence de concevoir des sondes basses fréquences (quelques Hertz à quelques centaines de kHz) ayant un volume réduit. De telles sondes sont grandement utiles pour effectuer un contrôle de la qualité sur des pieces en acier trempé, par exemple des engrenages, et sur des pièces en matériaux ferromagnétiques. La Figure 2c) montre un dernier mode de réalisation de la sonde 11. Une bobine 46 est alimentée à partir du signal à la sortie de l'amplificateur 8 de la Figure 1 pour géné rer le champ magnétique alternatif inducteur produisant les courants de Foucault dans l'échantillon ou pièce 22 de la Figure 1. Le champ magnétique modifié par les courants de Foucault induits est détecté par deux détecteurs magnétorésistifs 47 et 48 du même type que le détecteur 44 et disposés aux deux extrémités de la bobine 46 selon un montage différentiel. Un amplificateur différentiel 49 reçoit sur ses deux entrées les signaux de sortie respectifs des détecteurs 47 et 48 et délivre à sa sortie 50 un signal alternatif (tension) représentatif du champ magnétique modifié par les courants de Foucault induits. I1 est évident que le montage de la Figure 2c) donne à la sonde 11 une plus grande sensibilité aux variations du champ magnétique modifié et la rend moins sensible à l'ef- fet de distance cause par un rapprochement ou un éloignement de la sonde 11 par rapport à l'échantillon ou pièce 22 de la Figure 1. Tel que déjà mentionné avec référence à la Figure 1, le s-ignal alternatif (tension) à la sortie de l'amplificateur 8 est délivré sur une liaison 23 par l'intermédiaire de l'adaptateur de sonde 9. De la même façon, la tension alternative représentative du champ magnétique modifié générée à la sortie de la sonde 11 est délivrée sur une liaison 24 par l'intermédiaire de l'adaptateur de sonde 9. Deux détecteurs de niveau 12 et 13 transforment en ondes carrées les tensions alternatives sinusoïdales présentes sur les- liaisons 23 et 24, respectivement, dans le but de mesurer à l'aide d'un détecteur de phase 14, la différence de phase entre la tension alternative sur la liaison 23 provenant de la sortie de l'amplificateur 8 et la tension alternative sur la liaison 24 provenant de la sonde 11. Le détecteur de phase 14 délivre sur sa sortie par exemple une tension continue qui varie linéairement en fonction de l'écart angulaire entre les tensions ci-haut mentionnées présentes sur les liaisons 23 et 24. Un convertisseur courant alternatif/courant continu 17 gé nègre une tension continue représentative de l'amplitude de la tension alternative presente sur la liaison 24 et provenant de la sonde 11. Un sélecteur 3 et un convertisseur analogique/numérique 2 tous deux contrôlés par le micro-ordinateur 1 à travers des liaisons 25 et 26, respectivement, permettent au micro-ordinateur d'échantillonner à un grand nombre de fréquences du signal soumis à un balayage en fréquences à la sortie du générateur 5 dont il contrôle bien entendu la fréquence comme décrit précédemment, le signal à la sortie 29 d'un amplificateur à gain programmable 16 et/ou la tension continue à la sortie du détecteur de phase 14 à travers une liaison 30, ainsi que la tension continue à la sortie du convertisseur 17 à travers une liaison 31 et/ ou le signal à la sortie 32 d'un amplificateur à gain programmable 19. Le micro-ordinateur 1 comprend bien entendu des mémoires vives permettant de mémoriser des données échantillonnées relatives au test avant leur traitement par le micro-ordinateur 1. Le dispositif de test non destructif à courant de Foucault comprend une boucle de rétroaction formée par un sommateur 15 qui soustrait de la tension continue à la sortie du détecteur de phase 14 une tension continue générée par un convertisseur numérique/analogique 20 en réponse à un signal numérique délivré par le micro-ordinateur 1, et par l'amplificateur à gain programmable 16 ayant un gain contrôlé par le micro-ordinateur 1 par l'intermédiaire d'une liaison 27 et qui reçoit en entrée une tension continue produite par le sommateur 15. Le dispositif de test comporte une autre boucle de rétro action formée par un sommateur 18 qui soustrait de la tension continue à la sortie du convertisseur 17 une tension continue générée par un convertisseur numérique/ analogique 21 en réponse à un signal numérique délivré par le micro-ordinateur 1, et par l'amplificateur à gain programmable 19 ayant un gain contrôlé par le micro-ordinateur 1 par l'intermédiaire d'une liaison 28 et qui reçoit en entrée une tension continue produite par le sommateur 18. Les deux boucles de rétroaction ont pour fonction d'augmenter la sensibilité dans l'échantillonnage effectué par le dispositif de test non destructif afin de détecter de petites variations d'amplitude du signal de sortie de la sonde et de la différence de phase détectée par le détecteur 14 d'une pièce testée à l'autre. Pour réaliser cette fonction, c'est-à-dire augmenter la sensibilité du dispositif à courants de Foucault, à l'aide des deux boucles de contre-réaction ci-haut décrites, le micro-ordinateur 1 effectue les opérations suivantes. I1 lit la tension à la sortie du détecteur de phase 14 (ou du convertisseur 17) à une première fréquence de la gamme balayée, après avoir bloqué le générateur si nusoldal 5 à cette fréquence, à travers le sélecteur 3 et le convertisseur 2 et ramène cette tension au convertisseur numerique/analogique 20 (ou 21). I1 en résulte donc à la sortie du sommateur 15 (ou 18) une tension continue presque nulle. L'amplificateur à gain programmable 16 (ou 19) amplifie alors la tension continue à la sortie du sommateur 15 (ou 18). I1 lit la tension amplifiée à la sortie de l'amplificateur 16 (ou 19) sous forme numérique à la sortie du convertisseur analogique/numérique 2, cette valeur numérique correspondant à la tension de retour et étant placée en mémoire avec une lecture de la différence à la sortie du sommateur 15 (ou 18) qui a été amplifiée par l'amplificateur 16 (ou 19). I1 agit alors sur le générateur 5 pour accroître la fréquence du signal injecté dans la sonde de façon à couvrir toute la plage de fréquences balayées. Ceci permet aussi évidemment au micro-ordinateur d'échantillonner l'amplitude du signal à la sortie de la sonde et l'écart angulaire à la sortie du détecteur 14 à un grand nombre de fréquences Comme il apparaît de la description ci-haut, le dispositif de test effectue, sous le contrôle du micro-ordinateur 1, les mêmes opérations pour la tension continue à la sortie du convertisseur 17, qui est représentative de l'amplitude de la tension sinusoïdale sur la liaison 24, et pour la tension continue à la sortie du détecteur 14, qui est représentative de l'écart angulaire entre les tensions sinusoïdales sur les liaisons 23 et 24, à l'aide des deux boucles de contre-réaction ci-haut définies. La prise en considération de l'augmentation de sensi bilité s'effectue à l'aide d'un traitement approprié des valeurs mises en mémoire par le logiciel du microordinateur. Le principe de fonctionnement du dispositif de test non destructif à courants de Foucault tel que décrit précédemment avec référence à la Figure 1 sera maintenant explicité plus en détails. I1 est bien connu que le principe fondamental de la technique de test par courants de Foucault consiste à exciter une bobine ou autre forme géométrique, à l'aide d'un générateur sinusoïdal, puis à placer à proximité de cette bobine une pièce de métal ou d'alliage. La sonde peut, comme mentionné plus haut, comprendre une bobine émettrice qui est soumise à un courant donné délivré par le générateur sinusoïdal pour créer autour d'elle un champ magnétique inducteur qui lui est propre. Si une pièce de métal ou d'alliage se trouve dans la zone de radiation de la bobine émettrice, le champ magnétique inducteur généré par cette bobine induit des courants dans cette pièce de métal ou d'alliage (courants de Foucault). Un phénomène inverse se produit alors à partir des courants induits ou courants de Foucault. Plus particulièrement, ces courants de Foucault créent à leur tour un champ magnétique qui s'oppose au champ magnétique inducteur. I1 en résulte donc une diminution du champ global, ceci entraînant une variation d'impédance de la sonde. Ce phénomène entraîne donc une modification du module et de l'angle électrique ou phase de la tension représentative du champ magnétique alternatif modifié généré par la sonde par rapport au module et à l'angle électrique de la tension à la sortie du générateur sinusoïdal. C'est justement cette modification qu'analyse le dispositif de test à courants de Foucault pour ainsi en déduire un résultat de test positif ou négatif. I1 y a plusieurs paramètres qui peuvent influencer les courants de Foucault comme par exemple : la conductivité électrique du métal ou de l'alliage de la pièce à tester, le couplage entre la sonde et la pièce à tester la fréquence utilisée lors du test, l'épaisseur de la pièce de métal ou d'alliage à tester, la forme de la pièce, les propriétés intrinsèques de la sonde, les fissures et autres défauts de la pièce de métal ou d'alliage, et la perméabilité du métal ou de l'alliage de la pièce. Evidemment, on peut désirer vérifier plusieurs de ces paramètres durant un même test, ce que permet le dispositif de test non destructif selon l'invention, tel qu'il apparaltra à la lecture de la description qui suit. Le dispositif de test selon la présente invention, qui peut effectuer un balayage en fréquences du signal sinu soldat qui est injecté dans la sonde ou les sondes u tilisées, à donc l'avantage de permettre une analyse de plusieurs paramètres variant simultanément dans un même test, ce qui est très difficile, voire même impossible, pour les appareils de l'art antérieur ne génerant que quelques fréquences. Ce balayage peut s'étendre, tel que déjà mentionné de 5 Hz à 6 MHz, avec par exemple 256 étapes de fréquences prédéterminées où le micro-ordinateur prend des mesures ou échantillons. Evidemment, le nombre d'étapes de fréquences peut être varié à volonté par opération du clavier 33 selon le niveau de précision désiré ou selon l'utilisation du système de test non destructif àcourants de Foucault. Tous les contrôles et ajustements relatifs au test sont effectués par le micro-ordinateur 1 lui-même contrôlé, tel que déjà mentionné, par un clavier alphanumérique standard 33, ou par un autre type de clavier plus petit suivant les besoins. Bien que les résultats puissent être affichés de plusieurs façons, par un dispositif d'affichage 34 relié au micro-ordinateur 1, une façon avantageuse réside dans l'affichage par le micro-ordinateur 1 des résultats des tests sous forme de graphique sur un écran vidéo faisant partie du dispositif 34. Cet affichage des résultats sous forme graphique peut s'effectuer de plusieurs façons: comme par exemple sous forme de graphique montrant par exemple l'amplitude de la tension sur la liaison 24 et la différence de la phase détectée par le détecteur 14 qui sont échantillonnées par le micro-ordinateur 1, en fonction de la fréquence, sous forme de graphique de l'amplitude et de la différence de phase en fonction de la position ou pénétration des courants de Foucault dans la pièce ou échantillon testé 22, ou encore dans le plan polaire: amplitude en fonction de la différence de phase. Le premier mode d'affichage est très visuel et ceci grâce au principe du balayage de fréquences inhérent au système, qui permet d'effectuer des tests beaucoup plus complets comme il ressortira de la description qui suit. Avant que cet affichage puisse être effectué, les données échantillonnées relatives au test sont mises en mémoire par le micro-ordinateur 1, puis par la suite sont traitées par celui-ci et affichées sur l'écran vidéo du dispositif 34. I1 sera décrit ci-après deux exemples d'utilisation du systèmes de test àcourants de Foucault selon l'invention. Un premier exemple consiste en une procédure pour extraire à chaque test un certain nombre de paramètres sélectionnés. Le micro-ordinateur 1 peut sélectionner lui-même, avec l'introduction au préalable d'un logiciel de travail approprié, et après des essais préliminaires une fréquence pour chaque paramètre de la pièce à tester que l'on désire vérifier et qui permet d'obtenir une très bonne information relative à ce paramètre. Comme l'effet de pelliculaire des courants de Foucault a pour effet de modifier l'angle électrique et le module de la tension électrique recueillis pour un même paramètre, par exemple l'épaisseur d'une couche de métal ou autre matériau, et ceci à des fréquences différentes, le balayage en fréquences permet ainsi d'extraire durant un test un plus grand nombre d'informations pertinentes à ce pa paramètre et pour plusieurs paramètres variant simultanément. Dans une première partie du test, un balayage en fréquences est effectué sur un échantillon ou pièce de référence n'ayant aucun défaut. Les informations obtenues sont alors introduites en mémoire par le micro-ordinateur. Par la suite, un second balayage en fréquences est effectué sur un échantillon ou une pièce semblable à la pièce de référence ayant un premier paramètre à extraire qui diffère de la pièce de référence, puis un autre balayage en fréquences est effectué sur un échantillon ou pièce semblable à la pièce de référence ayant un second paramètre à extraire qui diffère aussi de la pièce de référence, et ainsi de suite, dépendant du nombre de paramètres que l'on désire vérifier. Tous les échantillons d'amplitude et de différence de phase prélevés lors de ces différents balayages en fréquences sont alors placés en mémoire par le micro-ordinateur 1. Connaissant ces données, le micro-ordinateur 1 compose les vecteurs obtenus, ceci pour en extraire une fréquence pour laquelle une variation de la différence de phase et de l'amplitude est la plus importante pour un certain paramètre à tester en comparant les échantillons prélevés lors du balayage en fréquences sur la pièce de référence avec les échantillons prélevés lors du balayage en fréquences sur la pièce représentative du paramètre en question. Evidemment, une fréquence est extraite pour chacun des paramètres que l'on désire vérifier. I1 y a donc conservation d'une fréquence par paramètre. Durant cette opération, le micro-ordinateur effectue une rotation d'angle par logiciel de tous les vecteurs en prenant soin durant le traitement des échantillons prélevés, de placer en opposition de phase les vec o teurs des paramètres indésirables (180 ) de façon à an- nuler leurs effets et ajuste en conséquence toutes les amplitudes. Les paramètres indésirables peuvent être par exemple l'espacement entre la sonde 11 et la pièce ou échantillon à tester 22, la présence d'un support, etc. et peuvent également faire l'objet d'essais préliminaires pour déterminer leurs effets sur les tests. Cette fonction terminée, le système de test non destructif à courants de Foucault n'aura plus lors de tests subséquents, qu'à traiter les fréquences qui auront été retenues selon le nombre de paramètres à vérifier pour vérifier la qualité des pièces et acquérir ainsi une plus grande vitesse d'acquisition puisque le générateur 5 ne génère plus que ces différentes fréquences, le micro-ordinateur 1 ne prélève et mémorise des échantillons qu'à ces fréquences, et le micro-ordinateur a donc moins d'échantillons à traiter. Le système peut donc détecter rapidement et efficacement des défauts dans les pièces correspondant aux paramètres retenus, par exemple la présence de fissures et autres défauts de surface et les variations au niveau de la microstructure, en comparant les échantillons prélevés lors du balayage sur la pièce de référence et lors d'un test subséquent sur une autre pièce pour détecter les effets causés par ces défauts lorsqu'ils sont présents dans cette autre pièce sur les courants de Foucault. Alternativement, en affichant sur le dispositif 34 la différence entre les échantillons qu'il prélève et mémorise lors du balayage en fréquences sur la pièce de référence et lors d'un test subséquent sur une autre pièce aux différentes fréquences retenues ou en affichant les échantillons prélevés aux différentes fréquences retenues lors du balayage sur la pièce de référence et lors d'un test subséquent sur une autre pièce, le micro-ordinateur peut permettre à l'opéra- teur de déterminer si les paramètres à évaluer sont présents ou non dans la pièce testée lors du test subséquent. Un autre phénomène physique intéressant avec les courants de Foucault, c'est que la profondeur de pénétration de ces courants de Foucault est fonction de la fréquence utilisée. Ce phénomène est représenté par l'équation suivante EMI19.1 6 = Profondeur de pénétration (ou atténuation) f = Fréquence en Hz du signal appliqué à la sonde p = Perméabilité du matériau de la pièce à tester a = Conductivité du matériau de la pièce à tester. Le balayage en fréquences effectué par le dispositif de test non destructif selon l'invention permet donc aussi de mesurer facilement les variations d'épaisseur de différentes couches, par exemple des placages, des cémentations ou autres. Un second exemple décrit ci-après d'utilisation du dispositif de test selon l'invention consiste en une procédure pour déterminer l'épaisseur des placages. Dans ce cas, on sélectionne sur le clavier du microordinateur une gamme de fréquences de balayage déterminée théoriquement et qui commence à une fréquence telle que la pénétration des courants de Foucault soit supérieure à l'épaisseur à mesurer, et qui se rend à une valeur de fréquence telle que ces courants circulent superficiellement. Cette gamme de fréquence peut également être déterminée par analyse par le micro-ordinateur après un balayage en fréquences sur toute la gamme disponible appliquée sur le matériau ou une pièce avec placage, qui dans ce dernier cas sélectionne lui-même la gamme de fréquence requise pour le test à l'intérieur de la gamme de balayage disponible du système de test à courants de Foucault. Donc, en comparant des échantillons prélevés et mémorisés avec un matériau sans placage et avec un matériau plaqué, cette comparaison étant effectuée par le micro-ordinateur 1 ou par l'opérateur lorsque le micro-ordinateur affiche sur le dispositif d'affichage 34 ces échantillons sous forme de graphique de l'amplitude et de la différence de phase en fonction de la profondeur de pénétration des courants de Foucault, il est possible de mesurer l'épaisseur du placage très précisément. Evidemment, l'étalonnage peut être effectué de façon théorique ou expérimentale. Deux applications ont été décrites ci-haut, cependant, il est évident que le principe de balayage en fréquences permet une versatilité jamais atteinte pour un dispositif de test non destructif àcourants de Foucault, qui permet une application très étendue d'un tel système, en modifiant lorsque nécessaire le logiciel d'opération du micro-ordinateur. En dernier lieu, il convient de mentionner que le clavier 33 et le dispositif d'affichage 34 de la Figure 1 pourraient éventuellement être remplacés par un appareil 35 (Figure 1) muni d'un écran vidéo cathodique sur lequel le micro-ordinateur 1 affiche des choix relatifs aux paramètres de fonctionnement et à l'application du système de test à courants de Foucault. Plutôt que de contrôler le dispositif par l'intermédiaire du clavier 33, un crayon sélecteur 36 associé à l'appareil 35 pourrait être utilisé pour sélection ner directement sur l'écran de cet appareil 35 le mode d'opération du dispositif de test en appliquant le crayon 36 sur les cases appropriées, telles que 37. Ce genre de sélection sur écran cathodique est bien connu et par conséquent ne sera pas élaboré davantage. L'écran de l'appareil 35 serait également utilisé dans ce cas pour l'affichage des résultats relatifs aux différents tests.

Claims: REVENDICATIONS 1. Dispositif de test non destructif à courants de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens (1, 4, 5) pour produire un signal alternatif soumis à un balayage en fréquences à l'intérieur d'une gamme de fréquences déterminée; des moyens de détection (11) comportant des moyens (38, 43, 46) pour générer un champ magnétique alternatif inducteur en réponse audit signal soumis à un balayage en fréquences, ledit champ magnétique inducteur ayant une fréquence qui suit la fréquence du signal soumis à un balayage en fréquences et étant modifié par des courants de Foucault induits par ledit champ magnétique inducteur dans une pièce à analyser (22) placée à l'intérieur de ce champ magnétique inducteur, lesdits courants de Foucault induits étant fonction de la structure de ladite pièce à analyser (22), les moyens de détection comprenant également des moyens (39, 44, 47, 48, 49) pour générer un signal alternatif de sortie représentatif du champ magnétique alternatif modifié par lesdits courants de Foucault; des moyens (1, 2, 3, 12, 13, 14, 17) pour échantillonner, à, un grand nombre de fréquences différentes dudit signal soumis à un balayage en fréquences, au moins une variable relative audit signal de sortie représentatif du champ magnétique alternatif modifié; et des moyens (1) pour recevoir et pour traiter de façon désirée les échantillons de ladite au moins une variable relative audit signal de sortie représentatif du champ magnétique modifié prélevés par lesdits moyens d'échantillonnage (1, 2, 3, 12, 13, 14, 17); de sorte que lesdits moyens de traitement disposent d'un grand nombre d'informations pertinentes concernant la structure de ladite pièce à analyser dû au grand nombre d'échantillons de ladite au moins une variable prélevés à un grand nombre de fréquences différentes par lesdits moyens d'échantillonnage. 2. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdits moyens d'échantillonnage comportent des moyens (1, 2, 3, 12, 13, 14, 17) pour échantillonner, à un grand nombre de fréquences différentes dudit signal soumis à un balayage en fréquences, l'amplitude dudit signal de sortie représentatif du champ magnétique modifié et une différence de phase entre ce signal de sortie représentatif dudit champ magnétique modifié et ledit signal soumis à un balayage en fréquences, l'amplitude dudit signal de sortie représentatif du champ modifié et ladite différence de phase constituant ladite au moins une variable. 3. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdits moyens de réception et de traitement (1) comprennent des moyens pour mémoriser les échantillons de ladite au moins une variable prélevés par les moyens d'échantillonnage (1, 2, 3, 12, 13, 14, 17) lors d'une première opération de test effectuée par ledit système sur une pièce de référence placée à l'intérieur dudit champ magnétique inducteur, cette pièce de référence constituant ladite pièce à analyser (22) lors de ladite première opération de test, et des moyens pour mémoriser les échantillons de ladite au moins une variable prélevés par les moyens d'échantillonnage (1, 2, 3, 12, 13, 14 17) lors d'au moins une opération de test suivant ladite première opération de test et effectuée par ledit système sur une pièce semblable à ladite pièce de référence et placée à l'intérieur dudit champ magnétique inducteur, ladite pièce semblable à la pièce de référence étant représentative d'un paramètre particulier à évaluer et constituant ladite pièce à analyser (22) lors de ladite au moins une opération de test. 4. Dispositif de test selon la revendication 3, caractérisé en ce que lesdits moyens de réception et de traitement (1) comprennent des moyens pour comparer les échantillons mémorisés prélevés au cours de ladite première opération de test avec les échantillons mémorisés prélevés au cours de ladite au moins une opération de test suivant la première opération, et pour déterminer une fréquence parmi les fréquences d'échantillonnage de ladite au moins une variable à laquelle une différence entre ladite au moins une variable échantillonnée au cours de ladite première opération de test et ladite au moins une variable échantillonnée au cours de ladite au moins une opération de test est la plus accentuée, ladite différence étant représentative dudit paramètre à évaluer, lesdits moyens de comparaison et de détermination comprenant des moyens pour déterminer une fréquence par paramètre à évaluer. 5. Dispositif de test selon la revendication 4, caractérisé en ce que les moyens (1, 4, 5) pour produire le signal balayé en fréquence comportent des moyens pour produire lors d'opérations de test subséquentes à ladite au moins une opération et effectuées par ledit système sur des pièces semblables à ladite pièce de référence un signal alternatif à la seule fréquence déterminée pour ledit paramètre à évaluer par lesdits moyens de comparaison et de détermination, ce signal alternatif remplaçant ledit signal soumis à un balayage en fréquences lors desdites opérations de test subséquentes, ou un signal alternatif remplaçant ledit signal soumis à un balayage en fréquences et ayant successivement les seules fréquences déterminées par lesdits moyens de comparaison et de détermination lorsque plusieurs pièces semblables à la pièce de référence et représentative chacune d'un paramètre particulier à évaluer sont testées par ledit dispositif au cours de plusieurs opérations de test constituant ladite au moins une opération de test suivant la pre mière opération; lesdits moyens d'échantillonnage (1, 2, 3, 12, 13, 14, 17) comprennent des moyens pour prélever des échantillons de ladite au moins une variable à la ou aux fréquences déterminées du signal alternatif produit par lesdits moyens de production (1, 4, 5) lors desdites o pérations de test subséquentes; et lesdits moyens de réception et de traitement (1) comprennent des moyens pour traiter les échantillons prélevés à la ou aux fréquences déterminées par lesdits moyens d'échantillonnage (1, 2, 3, 12, 13, 14, 17) durant les opérations de test subséquentes afin de fournir des résultats indiquant si ledit ou lesdits paramètres sont présents dans les pièces testées lors des opérations de test subséquentes, de sorte que ces opérations de test subséquentes sont accélérées dû au fait que le signal produit par lesdits moyens de production (1, 4, 5) n'est plus soumis à un balayage en fréquence mais prend seulement ladite ou lesdites fréquences déterminées, que les échantillons de ladite au moins une variable ne sont pris qu'à la ou aux fréquences déterminées et non à un grand nombre de fréquences, et que les échantillons traités par les moyens de traitement (1) sont beaucoup moins nombreux. 6. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens pour sélectionner (1, 33 , 36, 37) une gamme de fréquences à l'intérieur de ladite gamme de fréquences déterminée, lesdits moyens de sélection comprenant des moyens (1) pour contrôler lesdits moyens de production de façon à ce que ces moyens de production produisent un signal alternatif soumis à un balayage en fréquences à l'intérieur de ladite gamme de fréquences sélectionnée. 7. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens (33, 36, 37) agissant sur les moyens d'échantillonnage (1, 2, 3, 12, 13, 14, 17) pour sélectionner un nombre d'échantillons prélevés par ces moyens d'échantillonnage à des fréquences différentes du signal soumis à un balayage en fréquences à l'intérieur de ladite gamme de fréquences. 8. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que les moyens d'échantillonnage comprennent des moyens (1) agissant sur lesdits moyens de production pour arrêter successivement ledit signal soumis à un balayage en fréquences à chacune des fréquences auxquelles les moyens d'échantillonnage prélèvent des échantillons, afin de permettre auxdits moyens d'échantillonnage de prélever un échantillon à chacune de ces fréquences. 9. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdits moyens de détection comprennent une sonde (11) alimentée par le signal soumis à un balayage en fréquences, lesdits moyens pour produire ledit signal soumis à un balayage en fréquence comprenant des moyens (6, 7, 8, 10) pour varier l'amplitude dudit signal soumis à un balayage en fréquence de façon à alimenter ladite sonde avec une tension ou un courant constant. 10. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdits moyens de réception et de traitement comprennent des moyens (1, 34, 35) pour permettre une comparaison entre les échantillons de ladite au moins une variable prélevés par lesdits moyens d'échantillonnage lors d'une première opération de test effectuée par ledit système sur une pièce de référence constituant ladite pièce à analyser (22) lors de cette première opération de test, et les échantillons de ladite au moins une variable prélevés par les moyens d'échantillonnage lors d'une autre opération de test subséquente à ladite première opération et effectuée par ledit système sur une autre pièce semblable à la pièce de référence et constituant ladite pièce à analyser (22) lors de ladite autre opération de test, afin d'évaluer une certaine caractéristique de ladite autre pièce ou de déterminer s'il existe ou non une différence entre la structure de la pièce de référence et la structure de ladite autre pièce. 11. Dispositif de test selon la revendication 2, caractérisé en ce que lesdits moyens de réception et de traitement comportent des moyens (34, 35) pour afficher en fonction de la fréquence l'amplitude dudit signal de sortie représentatif du champ magnétique mo difié et la valeur de ladite différence de phase. 12. Dispositif de test selon la revendication 2, caractérisé en ce que lesdits moyens de réception et de traitement comportent des moyens (34, 35) pour afficher sous forme de graphique et dans un plan polaire l'amplitude dudit signal de sortie représentatif du champ magnétique modifié en fonction de ladite différence de phase. 13. Dispositif de test selon la revendication 2, caractérisé en ce que les moyens de réception et de traitement comportent des moyens (34, 35) pour afficher, en fonction de la profondeur de pénétration des courants de Foucault dans ladite pièce à analyser (22), l'amplitude dudit signal de sortie représentatif du champ modifié et la valeur de ladite différence de phase. 14. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que les moyens de détection comportent une sonde (11) formée d'une bobine comprenant une première et une seconde moitié, ladite première moitié (38) de la bobine formant lesdits moyens générateurs du champ magnétique alternatif inducteur et ladite seconde moitié (39) de la bobine formant lesdits moyens générateurs du signal de sortie représentatif du champ magnétique modifié. 15. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdits moyens d'échantillonnage comprennent des moyens (1, 15, 16, 18, 19, 20, 21) pour augmenter la sensibilité de ces moyens d'échantil lonnage afin de permettre audit système de détecter de faibles variations entre les échantillons de ladite au moins une variable prélevés au cours de différentes o pérations de test effectuées par ledit système sur différentes pièces à analyser, chacune de ces pièces à analyser constituant ladite pièce à analyser (22) lors d'une opération de test correspondante effectuée par ledit système. 16. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdits moyens pour produire ledit signal soumis à un balayage en fréquences comprennent des moyens (1, 4, 5) pour soumettre ce signal à un balayage en fréquences effectué par étapes de fréquences, lesdites étapes de fréquences passant par chacune des fréquences auxquelles lesdits moyens d'échantillonnage prélèvent les échantillons de ladite au moins une variable. 17. Dispositif de test selon la revendication 4, caractérisé en ce que lesdits moyens de comparaison et de détermination comprennent des moyens (1) pour annuler l'influence de certains paramètres indésirables sur la détermination de ladite fréquence où la différence entre ladite au moins une variable échantillonnée au cours de ladite première opération de test et ladite au moins une variable échantillonnée lors de ladite au moins une opération de test est la plus accentuée. 18. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce que lesdits moyens pour générer ledit champ magnétique alternatif inducteur comportent une bobine (38, 43, 46) ayant deux extrémités. 19. Dispositif de test selon la revendication 18, caractérisé en ce que lesdits moyens pour générer ledit signal alternatif de sortie représentatif du champ magnétique alternatif modifié comportent un détecteur magnétorésistif (44) disposé à l'une des deux extrémités de ladite bobine (43). 20. Dispositif de test selon la revendication 18, caractérisé en ce que lesdits moyens pour générer ledit signal alternatif de sortie représentatif du champ magnétique alternatif modifié comportent un premier détecteur magnétorésistif (47) disposé à l'une desdites deux extrémités de ladite bobine (46) et délivrant un premier signal en réponse à une détection du champ alternatif modifié, un second détecteur magnétorésistif (48) disposé à l'autre desdites deux extrémités de ladite bobine (46) selon un montage différentiel par rapport au premier détecteur magnétorésistif et délivrant un second signal en réponse à une détection dudit champ alternatif modifié, et des moyens d'amplification différentielle (49) recevant les premier et second signaux pour produire ledit signal alternatif de sortie représentatif du champ magnétique alternatif modifié. 21. Dispositif de test selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'il comprend des moyens (35, 36, 37) pour sélectionner des paramètres de fonctionnement dudit système de test, ces moyens de sélection comprenant un écran vidéo et des moyens (36) pour effectuer ladite sélection de paramètres de fonctionnement à partir de données affichées sur ledit écran vidéo. 22. Prodécé de test non destructif à courants de Foucault, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes produire un signal alternatif soumis à un balayage en fréquences à l'intérieur d'une gamme de fréquences déterminée; générer un champ magnétique alternatif inducteur en réponse audit signal soumis à un balayage en fréquences, ledit champ magnétique inducteur ayant une fréquence qui suit la fréquence du signal soumis à un balayage en fréquences et étant modifié par des courants de Foucault induits par ledit champ magnétique inducteur dans une pièce à analyser (22) placée à l'intérieur de ce champ magnétique inducteur, lesdits courants de Foucault induits étant fonction de la structure de ladite pièce à analyser; générer un signal alternatif représentatif du champ magnétique alternatif modifié par lesdits courants de Foucault; ; échantillonner à un grand nombre de fréquences différentes dudit signal soumis à un balayage en fréquence au moins une variable relative audit signal représentatif du champ magnétique alternatif modifié; et recevoir et traiter de façon désirée les échantillons de ladite au moins une variable relative audit signal représentatif du champ magnétique modifié prélevés lors de ladite étape d'échantillonnage; de sorte qu'un grand nombre d'informations pertinentes concernant la structure de ladite pièce à analyser est disponible pour ladite étape de traitement dû au grand nombre d'échantillons de ladite au moins une variable prélevés à un grand nombre de fréquences différentes du signal soumis à un balayage en fréquences. 23. Procédé de test selon la revendication 22, caractérisé en ce que ladite étape d'échantillonnage comporte une étape d'échantillonnage, à un grand nombre de fréquences différentes dudit signal soumis à un balayage en fréquences, de l'amplitude dudit signal représentatif du champ magnétique modifié et d'une différence de phase entre ce signal représentatif du champ magnétique modifié et ledit signal soumis à un balayage en fréquences, l'amplitude dudit signal représentatif du champ magnétique modifié et ladite différence de phase constituant ladite au moins une variable. 24. Procédé selon la revendication 22, caractérisé en ce que ladite étape de réception et de traitement comprend les étapes suivantes mémoriser les échantillons de ladite au moins une variable prélevés lors d'une première opération de test au cours de laquelle on effectue lesdites étapes de production, de génération et d'échantillonnage, pour une pièce de référence placée à l'intérieur dudit champ magnétique inducteur, cette pièce de référence constituant ladite pièce à analyser lors de ladite première opération de test; ; mémoriser les échantillons de ladite au moins une variable prélevés lors d'au moins une opération de test suivant ladite première opération et au cours de laquelle on effectue lesdites étapes de production, de génération et d'échantillonnage pour une pièce semblable à ladite pièce de référence et placée à l'intérieur dudit champ magnétique inducteur, ladite pièce semblable à la pièce de référence étant représentative d'un paramètre particulier à évaluer et constituant ladite pièce à analyser lors de ladite au moins une opération de test; et comparer les échantillons prélevés au cours de ladite première opération de test avec les échantillons prélevés au cours de ladite au moins une opération de test suivant la première opération pour déterminer une fréquence parmi les fréquences d'échantillonnage de ladite au moins une variable à laquelle une différence entre ladite au moins une variable échantillonnée au cours de la première opération de test et ladite au moins une variable échantillonnée au cours de ladite au moins une opération est la plus accentuée, ladite différence étant représentative dudit paramètre, une fréquence étant sélectionnée pour chaque paramètre. 25. Procédé de test selon la revendication 24, caractérisé en ce que ladite étape de production d'un signal soumis à un balayage en fréquences comporte une étape de production lors d'opérations de test subséquentes à ladite au moins une opération et au cours desquelles on effectue lesdites étapes de production, de génération, et d'échantillonnage pour une pièce à analyser semblable à la pièce de référence, d'un signal alternatif à la seule fréquence déterminée pour ledit paramètre par ladite étape de comparaison et de détermination, ce signal remplaçant le signal soumis à un balayage en fréquences lors desdites opérations de test subséquentes, ou d'un signal alternatif remplaçant ledit signal soumis à un balayage en fréquences et ayant successivement les seules fréquences déterminées par ladite étape de comparaison et de détermination lorsque plusieurs pièces semblables à la pièce de référence et représentatives chacune d'un paramètre particulier à évaluer sont testées au cours de plusieurs opérations de test constituant ladite au moins une opération de test suivant la première opération; ladite étape d'échantillonnage effectuée au cours desdites opérations de test subséquentes comprend une étape d'échantillonnage de ladite au moins une va riable à la ou aux fréquences déterminées du signal produit lors de ces opérations de test subséquentes; et ladite étape de traitement comprend une étape de traitement des échantillons prélevés à la ou aux fréquences déterminées lors desdites opérations de test subséquentes pour fournir des résultats indiquant si ledit ou lesdits paramètres sont présents dans les pièces testées lors desdites opérations de test subséquentes; de sorte que lesdites opérations de test subséquentes sont accélérées dû au fait que le signal produit lors de ces opérations de test subséquentes n'est plus soumis à un balayage en fréquences, mais prend seulement ladite ou lesdites fréquences déterminées, que les échantillons de ladite au moins une variable ne sont prélevés qu'à la ou aux fréquences déterminées et non à un grand nombre de fréquences, et que les échantillons reçus et traités sont beaucoup moins nombreux. 26. Procédé de test selon la revendication 22, caractérisé en ce que ladite étape de production d'un signal soumis à un balayage en fréquences comprend une étape de production d'un signal soumis à un balayage en fréquences effectué par étapes de fréquences, lesdites étapes de fréquences passant par chacune des fréquences auxquelles les échantillons de ladite au moins une variable sont prélevés. 27. Procédé de test selon la revendication 22, caractérisé en ce que ladite étape de réception et de traitement comporte une étape de mémorisation des échantillons de ladite au moins une variable prélevés lors d'une première opération de test au cours de laquelle on effectue lesdites étapes de production de génération, et d'échantillonnage pour une pièce de référence constituant ladite pièce à analyser lors de ladite première opération, et une étape de mémorisation des échantillons de ladite au moins une variable prélevés lors d'une autre opération de test au cours de laquelle on effectue lesdites étapes de production, de génération, et d'échantillonnage pour une autre pièce semblable à la pièce de référence et constituant ladite pièce à analyser lors de ladite autre opération de test, ladite étape de réception et de traitement comportant également une étape de comparaison des échantillons mémorisés prélevés lors de ladite première opération de test et des échantillons mémorisés prélevés lors de ladite autre opération de test pour évaluer une certaine caractéristique de ladite autre pièce ou pour déterminer s'il existe ou non une différence entre la structure de la pièce de référence et la structure de ladite autre pièce. 28. Procédé de test selon la revendication 22, caractérisé en ce que ladite étape de réception et de traitement comprend une étape d'affichage des échantillons de ladite au moins une variable prélevés lors de ladite étape d'échantillonnage. 29. Procédé de test selon la revendication 24, caractérisé en ce que ladite étape de comparaison et de détermination comprend une étape où l'on annule l'influence de certains paramètres indésirables sur la détermination de ladite fréquence où la différence entre ladite au moins une variable échantillonnée au cours de ladite première opération de test et ladite au moins une variable échantillonnée lors de ladite au moins une opération de test est la plus accentuée.

Inventors: DUROU, GERARD, SAMSON, ROCK, Durou, Gérard
Applicants: INTERCONTROLE
Application year: 1984
Main classification: G01N27
IPC codes: G01B7, G01N27