CONTACT PROBE ASSEMBLY FOR INTEGRATED CIRCUITS

Abstract: 1. Contact probe array for the temporary electric connection of a test device with an integrated circuit element, comprising a plurality of parallel contact probes (34) guided in the holes of an upper (10, 12) and a lower (14, 16) rectangular plate-shaped guide frame unit and deflectable in the area between the guide frame units under the influence of axial pressure forces, for deposition onto the contact points of the circuit elements under spring force, and with a connecting part (36) arranged between the guide frame units and connecting them, characterized in that the contact probes (34) are guided in deviation from their longitudinal axis in at least one of the guide frame units (10, 12; 14, 16) in order to predetermine their deflecting direction.

Description: Kontaktsonden-Anordnung für integrierte Schaltungselemente Die Erfindung betrifft eine Kontaktsonden-Anordnung zur zeitweiligen elektrischen Verbindung einer Testeinrichtung mit einem integrierten Schaltungselement, mit einer Mehrzahl paralleler, in einem oberen#-und einem unteren Führungselement geführter, in dem Bereich zwischen den Führungselementen unter der Wirkung axialer Druckkräfte aus lenkbarer Kontaktsonden zum Aufsetzen auf die Kontaktpunkte der Schaltungselemente. Kontaktsonden dieser Art sind ein wesentlicher Bestandteil der Prüfeinrichtungen für die Qualität und-Funk- tion von Halbleiterchips, bevor diese auf einem Keramikplättchen, dem sogenannten Substrat, befestigt wer- den und so einen elektrischen Baustein oder Modul bilden. Diese Chips enthalten eine grosse Anzahl von in Miniaturtechnik hergestellten integrierten Bauelementen, z. B. Transistoren, Dioden und/oder Widerstände, sowie komplette Schaltungsanordnungen und bestehen aus kleinen Halbleiterplättchen in der Abmessung von beispielsweise 5 x 5 mm. An der Unterseite der Chips sind eine Anzahl Kontaktpunkte vorgesehen, die mit den im Chip enthaltenen Schaltkreisen verbunden sind. Da die Unterseite der Chips eine, relativ kleine Fläche bildet und eine grosse Anzahl von Kontaktpunkten vorgesehen werden muss, ergibt sich eine entsprechend grosse Pakkungsdichte für die Chipanschlüsse. Diese Chips werden auf Keramikplättchen aufgesetzt, die mit Leiterbahnen versehen sind, und die Kontaktpunkte der Chips werden beispielsweise durch ein Lötschmelzverfahren mit den Leiterbahnen der Trägerplättchen verbunden. Mehrere Chips bilden hierbei ein Matrixmuster, z. B. in der Anordnung 3 x 3 oder 10 x 10, so dass auch die Kontakt punkte in einer regelmässigen Verteilung auf der Oberfläche der Substrate angeordnet sind. Wegen der grossen Zahl von Kontaktpunkten und ihrer sehr geringen Abstände voneinander benötigt man Kontaktsonden, um die Verbindung zwischen der integrierten Schaltung und der Testeinrichtung herzustellen, mittels derer die elektrischen Funktionen der--Schaltung geprüft werden. Diese Kontaktsonden sind mit einer räumlichen Transformationseinrichtung kombiniert, die den Ubergang zwischen den sehr dicht aneinanderliegenden Kontaktpunkten der Schaltung und den zugeordneten Anschlusspunkten des Testgeräts herstellt. Eine Ausführung einer solchen räumlichen Transformationseinrichtung ist beispielsweise in der US-PS 3 911 361 beschrieben. Zusätzlich zu den Problemen, welche die hohe Dichte der Kontaktpunkte bereitet, ergeben-#sich auch mechanische Schwierigkeiten bei der Kontaktgabe zwischen der Transformationseinrichtung und den Substraten. So werden die keramischen Mehrschichtlaminate bei der Herstellung Temperaturen bis zu 15000C ausgesetzt, wodurch die Werkstoffe eine gewisse Schrumpfung erfahren, mit der Folge von Unregelmässigkeiten in den Abmessungen, z. B. auch hinsichtlich der Kontaktpunktabstände. Hierdurch wird die Genauigkeit beim Aufsetzen der Sonden auf die Kontaktpunkte in Mitleidenschaft gezogen. Die hohen Behandlungstemperaturen bewirken aber auch gewisse Unregelmässigkeiten in der Höhe der Kontaktpunkte. Werden die Kontaktsonden nicht mit ausreichend bemessener Kraft aufgesetzt, so kann es vorkommen, dass zwischen den am tiefsten liegenden Kontaktpunkten und den zugehörigen Sonden kein Kontakt oder kein ausreichender Kontakt zustandekommt. Wird dagegen, um dies zu verhindern, die Aufsetzkraft der Kontaktsonden entsprechend gross gewählt, kann es vorkommen, dass die Kontaktpunkte oder sogar das ganze Chip beschädigt werden. Zur Lösung dieser Probleme wurde bereits vorgeschlagen, elastisch biegsame Kontaktsonden zu verwenden, die zwischen zwei Ausrichtplatten angeordnet und in der unteren Ausrichtplatte längsverschiebbar geführt sind, derart, dass bei axial wirksamer Druckkraft die Kontaktsonden in eine bestimmte, vorgegebene Richtung ausgelenkt werden. Dadurch wird erreicht, dass die auf die Kontaktpunkte wirksamen Kräfte einheitlich sind, auch wenn die Kontaktpunkte unterschiedliche Höhe aufweisen. Denn die unterschiedlichen Höhen der einzelnen Punkte werden durch eine entsprechend unterschiedliche Auslenkung der Kontaktsonden ausgeglichen. Ausserdem haben die Auslenkungen der Kontaktsonden zur Folge, dass die Auflagefläche grösser ist als wenn nur ein Punktkontakt stattfindet, wodurch Positionsabweichungen der Kontaktpunkte in gewissem Umfang ausgeglichen werden. Bei dieser, in der US-PS 3 806 801 beschriebenen Anordnung, sind die einzelnen Kontaktsonden mit isolierenden Uberzügen versehen, damit beim Auslenken der einzelnen Sondenelemente kein elektrischer Kontakt zwischen ihnen entstehen kann. Zur Steuerung der Auslenkung sind entweder die Öffnungen in der oberen und der unteren Ausrichtplatte zumindest in einer Richtung zueinander versetzt angeordnet, oder die Öffnungen in der oberen Ausrichtplatte weisen einen bestimmten Winkel zu der Axialrichtung auf und bestimmen dadurch die Auslenkrichtung, oder beide Massnahmen werden kombiniert angewendet. Auch dieser Ausführung haften jedoch gewisse Nachteile an. So erfordert die Herstellung der Ausrichtplatten ein hohes Mass an Präzision, insbesondere, wenn beide vorerwähnten Massnahmen angewendet, also die Öffnungen der Ausrichtplatten gegeneinander versetzt und die Öffnungen der oberen Ausrichtplatte schräg ausgerichtet sind. Ausserdem sind die Tastsonden hier in einer Reihe angeordnet, so dass bei hochintegrierten Schaltungselementen die Sonden relativ zum Substrat sehr häufig von einem zum anderen Chipbereich bewegt werden müssen, was sich ungünstig auf die Testgeschwindigkeit auswirkt. So sind z. B. für eine 10 x 10 Chip-Anordnung Sondengruppen von jeweils zwei Reihen, also mit 20 gebündelten Sonden erforderlich, eine Anforderung, die mit der bekannten Ausführung nicht erfüllt werden kann. Schliesslich vermag die Schräganordnung der Tastsonden wegen der hohen Anforderungen an die Genauigkeit der Ausrichtung zu den Kontaktpunkten keine einheitliche Auslenkung zu gewährleisten, wenn eine einheitliche Axialkraft angewendet wird. Denn die tatsächliche Auslenkrichtung kann dennoch variieren, so dass die Gefahr von Kontakten zwischen den einzelnen Sonden besteht, weshalb bei der bekannten Ausführung auch isolierende überzüge notwendig sind. Für Testvorgänge der hier beschriebenen Art sind weiterhin Tastsonden-Anordnungen bekannt, wie in der US PS 3 906 363 beschrieben, bei der eine Mehrzahl von Metallfederfingern vorgesehen sind, die Reibungskontakt mit in jeder Schaltungsplatte befindlichen Off- nungen herstellen. Eine andere Tastsonden-Anordnung (US-PS 3 731 191) mit einer Mehrzahl von Kontaktsonden zum Aufsetzen auf Kontaktpunkte weist eine Mehrzahl elektrisch leitender Prüfsonden mit geringem Durchmes ser und elektrisch leitenden Führungsröhrchen auf, die zu den Prüfsonden elektrische Verbindung haben. Die Prüfsonde ragt mit einem Ende aus dem Führungsröhrchen heraus, und dieses Ende dient als Kontaktspitze, wobei der Prüfdraht verschiebbar und federnd im Führungsröhrchen angeordnet ist. Dabei ist das Führungsröhrchen gebogen ausgebildet, so dass eine Federcharakteristik entsteht. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Kontaktsonden-Anordnung zu schaffen, welche bei einfachem Aufbau und wirtschaftlicher Herstellung sowie bei begrenzter maximaler Aufsetzkraft der Sonden unc zuverlässiger Kontaktgabe die Möglichkeit bietet, alle Kontaktanschlüsse der v er Randbereiche eines Chips in einem Arbeitsgang zu testen, und die somit die Testzeit wesentlich verkürzt. Diese Aufgabe ist durch die im Patentanspruch 1 angegebene Ausbildung gelöst worden. Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnungen in zwei Ausführungsbeispielen beschrieben. Es zeigen: Fig. 1 eine Kontaktsonden-Anordnung in einer ersten Ausführungsform in auseinander gezogener, schaubildlicher Darstellung, Fig. 2 die Anordnung gemäss Fig. 1 in zusammen gebautem Zustand, Fig. 2A einen vergrösserten Detailschnitt durch zwei benachbarte Führungsrahmen und ei ne darin geführte, ausgelenkte Kontakt sonde, Fig. 3 die Schnittdarstellung einer zweiten Ausführungsform einer Kontaktsonden Anordnung, Fig. 4 eine vergrösserte Darstellung des unteren Teiles der Anordnung nach Fig. 3 mit zu sätzlichem Führungsrahmen und Fig. 5 eine der Fig. 4 entsprechende Darstel lung einer Alternativausführung. Die in Fig. 1 dargestellte modulare Kontaktsonden-Anordnung enthält vier Führungsrahmen 10, 12, 14 und 16, die untereinander nahezu gleich und aus isolierendem Werkstoff geformt, z. B. gegossen sind. Jeder der Führungsrahmen 10 bis 16 hat eine zentrale Öffnung 18 und ist auf der einen Seite mit einem Vorsprung 20 und auf der anderen Seite mit einer entsprechenden Ausnehmung 22 versehen. Über den Umfang jedes Führungsrahmens sind eine Anzahl Löcher 24 verteilt. Die Löcher 24 sind so angeordnet, dass sie zu den EC-Kontaktpunkten (EC = Engineering Change), auf die sie aufgesetzt werden sollen, ausgerichtet sind. In dem in Fig. 1 dargestellten Beispiel ist nur eine Reihe von Löchern 24 gezeigt, es kann jedoch im Umfangsbereich der Führungsrahmen auch eine Mehrzahl von Lochreihen vorgesehen werden, wenn die entsprechenden EC-Kontaktpunkte des zugehörigen Chipbereiches in Mehrfachanordnung vorgesehen sind. Die Löcher 24 sind zum erleichterten Einführen der Kontaktsonden 34, wie Fig. 2A zeigt, kegelförmig geformt. Wenn, wie in Fig. 1 gezeigt, der Führungsrahmen 10 mit einem Vorsprung 20 an seiner Oberseite ausgestattet ist, erhält man eine entsprechende Ausrichtung der Kontaktsonden zu der benachbarten (nicht gezeigten) räum lichen Transformationseinrichtung. Zwischen den Führungsrahmen 10 und 12 ist ein Zwischenstück 26 mit einer zentralen Öffnung 28 angeordnet, das aus zwei Flächenstücken 30 und 32 zusammengesetzt ist. Das obere Flächenstück 30 passt in die entsprechende Ausnehmung 22 des oberen Führungsrahmens 10, während das untere Flächenstück 32 in seinen Abmessungen der Ausnehmung 22 des unteren Führungsrahmens 12 angepasst ist. Die Führungsrahmen 10 und 12 nehmen somit in ihrer unteren bzw. oberen Ausnehmung die Flächenstücke 30 und 32 des Zwischenstücks 26 auf. Das in Fig. 1 gezeigte Zwischenstück 26, das aus dem gleichen Material besteht wie die Führungsrahmen 10 und 12, bewirkt, da die Flächenstücke 30 und 32 gegeneinander versetzt sind, eine entsprechende Versetzung der Löcher 24 des Führungsrahmens 12 relativ zu denjenigen des Führungsrahmens 10. Werden die Kontaktsonden 34 durch die Löcher 24 im Führungsrahmen 10 und im Führungsrahmen 12 eingesteckt, so werden sie um ein gewisses Mass ausgelenkt, wie in Fig. 2A gezeigt ist. Dies wird durch die Form der Löcher 24 gemäss Fig. 2A erleichtert. Die Löcher 24 des Führungsrahmens 10 und des Führungsrahmens 12 sind somit infolge der Verwendung des Zwischenstücks 26 nicht axial zueinander ausgerichtet. Damit, wenn eine Kraft vorbestimmter Grösse axial auf die Kontaktsonden 34 wirksam wird, diese um ein gewisses erwünschtes Mass ausknicken können, sind sie aus einem hierfür geeigneten Werkstoff hergestellt, z. B. BeNi, BeCu, Wolfram oder ähnlichen Materialien. Ist beim Aufsetzen der Anordnung auf die Kontaktpunkte die auf die einzelnen Kontakt sonden wirksame Kraft erreicht, so bleibt sie im wesentlichen konstant, da hierbei die Auslenkung zwischen den Führungsrahmen stattfindet, und zwar in unterschiedlichem Ausmass, da die Kontaktpunkte nicht genau einheitlich, sondern in gewissen Grenzen unterschiedlich hoch sein können. Die auf die Kontaktpunkte des Werkstücks wirksamen Kräfte bleiben daher auf ein vorherbestimmbares Mass begrenzt, da beim Wirksamwerden der Auflagekraft die einzelnen Kontaktsonden 34 ausgelenkt werden. Die Festlegung der Kontaktsondenlänge erfolgt in Übereinstimmung mit den in dieser Technologie bekannten Gesetzen. Die Sonden werden nach der folgenden Gleichung gestaltet: 2 2 2 F = (3w) EI/L wobei bedeuten: F = axiale Belastung auf das Ende der Kontakt sonde 34, die ausgelenkt wird, E = Elastizitätsmodul des Sondenmaterials, I = axiales Trägheitsmoment der Sonde und L = Länge der Sonde. Angenommen, die Kontaktsonde 34 hat kreisförmigen-Querschnitt, so ist ihr axiales Trägheitsmoment definiert mit 4 1 = #D /64 wobei D = Durchmesser der Sonde. Es können jedoch auch andere Querschnittsformen für die Kontaktsonde Verwendung finden, wie z. B. rechteckig oder quadratisch. Aus der obigen Gleichung ist ohne weiteres erkennbar, dass die erforderliche Länge der Kontaktsonde leicht ermittelt werden kann, da E eine Funktion des Werkstoffes, D bekannt und I als Funktion des Querschnittes ableitbar ist. Daher kann durch entsprechende Wahl der Länge der Kontaktsonden eine vorherbestimmbare Kraft auf die EC-Kontaktpunkte ausgeübt werden, die nicht überschritten wird, da die Sonde andernfalls, bei Anwendung grö sserer Kräfte, ausgelenkt wird. Wie Fig. 1 zeigt, befindet sich an den oberen Enden der Kontaktsonden 34 ein leitender kugelförmiger Punkt, beispielsweise als Lötpunkt, um eine zuverlässige Verbindung zwischen der Kontakt sonde und der zugeordneten räumlichen Transformationseinrichtung herzustellen. Das in Fig. 1 dargestellte Trennstück 36 dient zur Festlegung der Gesamtanordnung und weist eine bestimmte Höhe auf, damit die Kontaktsonden 34 die erforderliche Länge zum Auslenken zur Verfügung haben. Kanäle 38 in der Aussenwand des Trennstücks 36 dienen zur Führung der Kontaktsonden 34 und verhindern, dass diese zueinander in Berührung gelangen und damit elektrischen Kontakt erhalten können. Die Ausnehmung 40 an der oberen Seite des Trennstücks 36 dient zur Aufnahme des Vorsprungs des Führungsrahmens 12 an dessen Unterseite. Eine zentrale Öffnung 42 nimmt, wie später noch beschrieben wird, ein entsprechendes Verbindungselement auf. An der Unterseite des Trennstücks 36 befindet sich ein Vorsprung 44, welcher seinerseits in die Ausnehmung 22 des Führungsrahmens 14 ragt. Die Führungsrahmen 14 und 16 sind in ihrer Lage zueinander durch das Einpassen des Vorsprungs 20 an der Unterseite des Führungsrahmens 14 in die Ausnehmung 22 an der Oberseite des Führungsrahmens 16 bestimmt. In dieser Lage sind die Löcher 24 zueinander ausgerichtet. Die gesamte in Fig. 1 dargestellte Anordnung wird durch Hohlbolzen 46 mit Presssitz zusammengehalten. Es können jedoch auch andere Verbindungsmittel, wie Schrauben, verwendet werden. Die ohrförmigen Ansätze 48 am Trennstück 36 dienen dazu, die Kontaktsonden 34 zu führen und zu verhindern, dass Sonden in die Kanäle benachbarter Sonden gelangen. Ausserdem dienen sie in Zusammenwirken mit den ohrförmigen Einschnitten 50 an der entgegengesetzten Seite des Trennstücks 36 zur Ausrichtung benachbarter Anordnungen. Die in Fig. 2 zusammengebaut dargestellte Kontaktsonden-Anordnung ist an einem (nicht gezeigten) beweglicnen Arm befestigt, der die Kontaktsonden 34 in Berührung mit den einzelnen Kontaktpunkten auf dem Chip (nicht dargestellt) bringt. Hierbei wird eine einheitllche Auflagekraft auf jedem Kontaktpunkt wirksam, da Unterschiede in der Höhe der einzelnen Kontaktpunkte durch das unterschiedliche Ausmass des Auslenkens der einzelnen Kontaktsonden ausgeglichen werden. über das vorgegebene Maximalmass hinausgehende Auflagekräfte können somit nicht wirksam werden. Bei der Ausführungsform nach Fig. 3 werden zwei Paare von Führungsrahmen verwendet. Der Unterschied zur Aus führungsforn nach Fig. 1 besteht hierbei insbesondere darin, dass das Zwischenstück 26 entfällt. Der Führungsrahmen 10 ruht mittels der bereits vorher erwähnten Paarung von Vorsprung und Ausnehmung im Führungsrahmen 12, nährend der Führungsrahmen 14 in gleicher Weise im Führungsrahmen 16 fixiert ist. Beide Paare von Führungsrahmen dienen zur Ausrichtung der Kontaktsonden. Die Löcher 24 sind gleichfalls konisch gestaltet, um das Auslenken zu erleichtern. Auch hinsichtlich der Werkstoffauswahl und Längenbestimmung gelten die gleichen Erfordernisse wie im Zusammenhang mit dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 beschrieben. Eine Hülse 60 mit Ansätzen 62 an jedem Ende ist so bemessen, dass sie in die Ausnehmungen 22 jedes der benachbarten Führungsrahmen 12, 14 genau hineinpasst. Die Führungsrahmen 10 bis 16 sind von oben und unten auf die Hülse 60 aufgesetzt und werden mittels Hohlbolzen 64 und 66 mit Presssitz zusammengehalten. Auch hier können jedoch andere Verbindungsmittel, wie z. B. eine Schraube, eingesetzt werden, mittels deren die beiden Führungsrahmenpaare fest mit der Hülse 60 verbunden werden. Anstelle des Trennstücks 36 nach Fig. 1 dient hier die Hülse 60 als Distanzelement, und im Mittelbereich ist eine Führungsscheibe 68 "fliegend" angeordnet, was sowohl die Vorauslenkung der Kontakt sonden als auch deren gegenseitige Isolierung bewirkt. Die Führungsscheibe 68 ist zu diesem Zweck mit entsprechenden Reihen von-Löchern 70 versehen, die hinsichtlich ihrer Anzahl und Verteilung an die entsprechenden Löcher in den Führungsrahmen 10 bis 16 angepasst sind, und, wie Fig. 3 zeigt, mittels einer asymmetrischen Mittelöffnung 72 asymmetrisch zur Hülse 60 angeordnet. Die Löcher 70 in der Führungsscheibe 68 sind, wie Fig. 3 weiter zeigt, wesentlich grösser als die Löcher 24 in den Führungsrahmen, damit die Kontaktsonden 34 ungehindert axial bewegt werden können. Distanzröhrchen 74, 76 sind über die Kontaktsonden 34 geschoben und sichern, dass die Führungsscheibe 68 bei der Axialbewegung der Kontaktsonden nicht vertikal verschoben wird. Die untere Fläche des Führungsrahmens 16 bei der Ausführungsform nach Fig. 3 bildet, ebenso wie die entsprechende Fläche des Führungsrahmens 16 nach Fig. 1, eine Anschlagfläche und kann in geeigneter Weise mit einer Beschichtung versehen sein, um die Oberfläche des zu testenden Werkstücks beim Aufsetzen nicht zu beschädigen. Bei der Ausführungsform nach Fig. 4 ist unterhalb des Führungsrahmens 16 ein weiterer Führungsrahmen 80 angeordnet, um auf diese Weise die Länge der überstehenden Enden 34' der Kontaktsonden 34 zu verkürzen und damit die Gefahr einer Beschädigung derselben zu verringern. Der Führungsrahmen 80 kann entweder mechanisch mit dem Führungsrahmen 16 verbunden sein oder, wie in Fig. 4 gezeigt, als flache Platte ausgebildet werden, durch deren Löcher 24' die Kontaktsonden unverschiebbar geführt sind. Eine andere Art' der Verbindung zwischen den Führungsrahmen 14, 16 und dem Führungsrahmen 80 zeigt Fig. 5. Hier sind Führungsstifte 82 unter einem geringen Winkel gegen die Axialrichtung vorgesehen, z. B. in der Grössenordnung von 60. Die unteren Enden der Kontaktsonden sind auf diese Weise um einen einheitlichen Winkel abgelenkt, um den erwünschten Schrägauflageeffekt an den Kontaktpunkten zu erzielen. Die Führungsstifte 82 sind durch entsprechende Bohrungen 84 in den Führungsrahmen 14 und 16 sowie im Führungsrahmen 80 eingeführt, wobei sie im letzteren mittels Presssitz be festigt sind, während sie in den beiden oberen Führungsrahmen 14 und 16 längsbeweglich geführt sind. Auch bei einer solchen Ausbildung werden somit, zusätzlich zu der Auslenkung der Kontaktsonden 34 im Bereich der Führungsscheibe 68, die unteren Enden der Kontaktsonden 34 in dem gewünschten Sinne abgelenkt.

Claims: PATENTANSPRÜCHE 1. Kontaktsonden-Anordnung zur zeitweiligen elektri schen Verbindung einer Testeinrichtüng mit einem integrierten Schaltungselement, mit einer Mehrzahl paralleler, in einem oberen und einem unteren Füh rungselement geführter, in dem Bereich zwischen den Führungselementen unter der Wirkung axialer Druckkräfte auslenkbarer Kontaktsonden zum Auf set- zen auf die Kontaktpunkte der Schaltungselemente, dadurch gekennzeichnet, dass eine erste, obere Führungsrahmenanordnung (10, 12) und eine zweite, untere Führungsrahmen anordnung (14, 16) vorgesehen sind, welche jede eine zentrale öffnung (18) und eine Mehrzahl Lö cher (24) ringsherum zur beweglichen Führung der Tastsonden (34) aufweisen, dass zwischen den Führungsrahmenanordnungen (10, 12, 14, 16) ein Trennstück (36; 60) vorbestimm ter Länge angeordnet ist, und dass zum Zusammenhalt der Führungsrahmenanordnun gen (10, 12, 14, 16) und des Trennstücks (36; 60) Befestigungselemente (46) vorgesehen sind, wobei die Kontaktsonden (34) in mindestens einer der Führungsrahmenanordnungen (10, 12) und/oder im Bereich des Trennstücks (60) zur Vorbestimmung ihrer Auslenkrichtung von ihrer Längsachse abwei chend geführt sind. 2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Führungsrahmenanordnungen (10 bis 16) aus je zwei gleichen Führungsrahmen (10, 12; 14, 16d bestehen, zwischen die ein Zwischenstück (26) mit zwei zueinander versetzten, in entsprechende Aus nehmungen (22) der Führungsrahmen (10, 12) ein setzbaren Flächenstücken (30, 32) einschiebbar ist und eine Versetzung in der Ausrichtung der Löcher der Führungsrahmen (10, 12) bewirkt. 3. Anordnung nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Löcher (24) der Führungsrahmenanordnungen (10 bis 16) konisch ausgebildet sind. 4. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Trennstück (36) eine entsprechende Anzahl Kanäle (38) zur Aufnahme der Kontaktsonden (34) aufweist. 5. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Trennstück (36) auf einer Seite benachbart zu den Kanälen (38) verlaufende Ansätze (48) und auf der entgegengesetzten Seite den Ansätzen (48) entsprechende Einschnitte (50) aufweist. 6. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Trennstück als Hülse (60) ausgebildet ist, auf deren Umfang eine Führungsscheibe (68) mit ei ner der Anzahl und Verteilung der Kontaktsonden (34) entsprechenden Zahl von Löchern (70) exzen trisch geführt angeordnet ist. 7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Führungsscheibe (68) gleitend auf der Hül se (60) geführt ist und die Kontaktsonden (34) in den Bereichen zwischen Führungsscheibe (68) und den Führungsrahmen (12, 14) mit Distanzröhrchen (74, 76) versehen sind. 8. Anordnung nach den Ansprüchen 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Löcher (70) in der Führungsscheibe (68) einen wesentlich grösseren Durchmesser aufweisen als die Löcher (24) in den Führungsrahmen (10 bis 16). 9. Anordnung nach den Ansprüchen 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Enden der Kontaktsonden (34) in einem an sich frei beweglichen Führungsrahmen (80) befestigt sind. 10. Anordnung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Führungsrahmen (80) mittels in unter einem geringen Winkel gegen die axiale Richtung ausgerichteter Bohrungen (84) befindlicher Füh rungsstifte (82) relativ zu der unteren Führungs rahmenanordnung (14, 16) geführt ist.

Inventors: COUGHLIN, CHARLES PAUL, FAURE, LOUIS HENRY, TOWNSEND, DANA ROBERTS, WALSH, THOMAS JOSEPH
Applicants: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
Application year: 1982
Main classification: G01R1
IPC codes: G01R1