INTERPOLATING LIGHT SECTION PROCESS

Abstract: 1. A light sectioning method with stripe-illumination of the object surface to be tested, characterized in that three spectrally differently encoded stripe patterns, whose local intensities are sinusoidal and displaced relative to each other by + and -120 degrees, respectively (Fig. 2A), are projected on to the object surface (104), and in that, in the images of the stripe patterns generated at an angle alpha to the direction of projection, the relative phase of each image point is determined by measuring the intensity of each of the spectrally differently encoded stripe patterns.

Description: Interpolierendes Lichtschnitt-Verfahren Die Erfindung betrifft ein Lichtschnitt-Verfahren nach dem Oberbegriff des Hauptanspruchs und Einrichtungen zur Durchführung des Verfahrens. Die Lichtschnitt-Technik ist ein bekanntes Verfahren zur Untersuchung der Gestalt oder Rauhigkeit von Oberflächen; dazu wird eine meist linienförmige Struktur (ein einzelnes Lichtband oder ein Hell-Dunkel-Streifenmuster) auf die zu untersuchende Oberfläche projiziert und das Objekt unter einem Winkel a zur Projektionsrichtung beobachtet. Aus den Verzerrungen des Streifenmusters in dem so erzeugten Bild kann die Topogrcphie der Oberfläche erschlossen werden, auf die das Streifenmuster projiziert wurde. Auf diese Weise lassen sich beispielsweise Unebenheiten der Oberfläche, deren Neigung, Kanten usw. bestimmen. Der Tiefenbereich am Objekt, der mit einem Lichtschnitt Verfahren abgetastet werden kann, ist durch die Schärfentiefe der aufprojizierten Struktur begrenzt. Die bei der Auswertung erreichbare Auflösung der Tiefe ergibt sich aus der kleinsten lateralen Verschiebung der Linienstruktur an Unebenheiten, multipliziert mit dem Tangens des Winkels a zwischen Projektionsrichtung und Beobachtungsrichtung. Da dieser Winkel a im allgemeinen klein gehalten werden muss, um den Schärfentiefenbereich der Abbildung gut nutzen und die Schattenbereiche am Objekt klein zu halten, ist die Tiefenauflösung stets geringer als die laterale Auflösung. Bei stark strukturierten Objekten muss die aufprojizierte Struktur vergleichsweise grossflächig sein, damit sie im entstehenden Bild noch erkannt werden kann. Grossflächige Linienstrukturen ergeben jedoch in vielen Fällen in sich geschlossene Linienzüge im entstehenden Bild, so dass keine eindeutige Aussage über die Objekttopographie möglich ist. Die vorliegende Erfindung stellt sich daher die Aufgabe, ein Lichtschnitt-Verfahren der eingangs genannten Art anzugeben, das eine sehr hohe Tiefenauflösung besitzt; ausserdem sollen Einrichtungen zur Durchführung des Verfahrens angegeben werden. Diese Aufgabe wird durch die in den Ansprüchen 1 und 7 gekennzeichnete Erfindung gelöst; Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet. Das hier vorgeschlagene interpolierende Lichtschnitt-Verfahren mit spektralcodierten und gegeneinander phasenverschobenen Projektionsmustern erlaubt es, Oberflächentopo graphen mit hoher Genauigkeit in Echtzeit zu bestimmen. Bei entsprechender Codierung ist das Verfahren unabhängig von der Art der Beleuchtung und der Eigenfarbe des untersuchten Gegenstands. Neben der Aufnahme von Oberflächentopographien (z. B. Erzeugung eines Höhenschichtlinien Bildes) lässt sich das Verfahren aufgrund seiner hohen Arbeitsgeschwindigkeit zur Objekterkennung, beispielsweise bei Industrierobotern, verwenden. Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nun anhand von Zeichnungen naher erläutert. Es zeigen: Fig. 1 die schematische Darstellung einer optischen Einrichtung für die Durchführung eines pha sencodierten Lichtschnitt-Verfahrens, Fig. 2A die örtliche Variation des spektralen Durch lassvermögens eines Streifenfilters für eine Anordnung nach Fig. 1, Fig. 2B, C, D die spektralen Durchlasskurven von Streifen filter und halbdurchlässigen Spiegeln für eine Fernsehkamera in einer Einrichtung nach Fig. 1, Fig. 3 in den Teilfiguren A bis D die spektralen Durchlasskurven entsprechend Fig. 2A bis D bei multispektraler Codierung, Fig. 4 das Höhenprofil eines Streifenfilters für multispektrale Codierung, Fig. 5 den schematischen Aufbau einer Einrichtung zur Durchführung eines phasenempfindlichen Lichtschnitt-Verfahrens bei kleinen Gegen ständen, Fig. 6 den schematischen Aufbau einer Einrichtung zur Durchführung eines phasenempfindlichen Lichtschnitt-Verfahrens für grossflächige Gegenstände. Bei dem hier vorgeschlagenen phasenempfindlichen Lichtschnitt-Verfahren werden drei Streifenmuster auf die zu untersuchende Oberfläche projiziert, die jeweils eine sinusförmige örtliche Helligkeitsverteilung aufweisen und die durch spektrale Codierung voneinander unterscheidbar gemacht sind. Die drei Streifenmuster sind örtlich so angeordnet, dass sie jeweils um + 120 gegeneinander verschoben sind. Die auf die zu untersuchende Oberfläche projizierten Streifenmuster werden unter einem Winkel a zur Projektionsrichtung beobachtet und an jedem Punkt des Bildfeldes die jeweilige Intensität in den drei Spektralbereichen gemessen. Da die Verschiebung der drei Sinusgitter relativ zu einander bekannt ist (nämlich + 1200)r lässt sich aus den drei ermittelten Messpunkten die relative (örtliche) Phase des betreffenden Bildpunktes eindeutig bestimmen und mit der Nominalphase vergleichen, die bei ungestörter Oberfläche vorliegen müsste. Die Bestimmung der relativen Phase lässt sich sehr einfach mit bekannten videotechnischen Mitteln durchführen. Einzelheiten des phasenempfindlichen Lichtschnitt-Verfahrens werden nun anhand der in Fig. a dargestellten Einrichtung erläutert. Eine Lichtquelle 100 beleuchtet über einen Kondensor 101 ein Streifenfilter 102, dessen Streifen in dem hier betrachteten Beispiel senkrecht zur Zeichenebene angeordnet seien. Bei herkömmlichen Lichtschnitt-Verfahren besteht dieses Streifenfilter abwechselnd aus undurchsichtigen und durchsichtigen Gebieten. Eine Abbildungslinse 103 hildet das Streifenfilter auf die zu untersuchende Oberfläche 104 ab, die in diesem Beispiel senkrecht zur optischen Achse des Abbildungssystems (und senkrecht zur Zeichenebene) angeordnet ist. Das aufprojizierte Streifenmuster wird unter einem Winkel a zur Projektionsrichtung beobachtet bzw. durch eine weitere Abbildungslinse 107 auf die photoempfindlichen Flächen einer Farbfernsehkamera 106 projiziert und auf einem Videomonitor 117 wiedergegeben. Weist die Oberfläche 104 beispielsweise eine Vertiefung 105 mit Tiefe Ah auf, so erscheint der bei ungestörter Oberfläche 104 auf den Punkt P projizierte Streifen in den Bild der Fernsehkamera um die Strecke Ax verschoben, wobei gilt: Ah = Ax tang a Aus der lateralen Verschiebung Ax im Bild kann somit die Tiefe Ah bestimmt werden. Das oben beschriebene, im Stand der Technik verwendete Streifenfilter wird im einfachsten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung durch ein Streifenfilter ersetzt, bei dem drei gegeneinander versetzte, verschieden farbige Streifenfilter überlagert sind, die jeweils in (z. B. horizontaler) X-Richtung einen sinusförmigen Verlauf der Transmission für die betreffende Lichtwellenlänge aufweisen. In Fig. 2A ist die örtliche Variation der Lichttransmission T dieses Streifengitters für die drei Wellenlängenbereiche angegeben, die in Fig. 2B mit B (für Blau), G (für Grün) und R (für Rot) bezeichnet sind. Die spektrale Transmission nach Fig. 2B entspricht in jedem der betrachteten Wellenlängenbereiche einem einfachen Absorptionsfilter. Ein Streifenfilter mit diesen Eigenschaften kann beispielsweise durch entsprechende Belichtung eines Farbdiapositivfilms erzeugt werden. Bei der Projektion dieses farbcodierten Streifenfilters 102 auf die Oberfläche 104 bleibt die sinusförmige Intensitätsverteilung innerhalb des gesamten Schärfentiefenbereichs der Abbildung erhalten; im Punkt D der Vertiefung 105 liegt somit dieselbe relative Phasenlage der drei farbigen Einzelstreifengitter vor, wie am Punkt P der ungestörten Oberfläche. Die Projektion des farbcodierten Streifenfilters auf die Oberfläche 104 wird mit der Farbfernsehkamera 106 abgetastet und dabei mit Hilfe der dichroitischen Strahlteiler 108, 109 in die Spektralbereiche B, G und R zerlegt, aus denen das Streifenmuster 102 besteht. Die Transmission T des dichroitischen Strahlteilers 108 weist dazu den in Fig. 2C gezeigten Verlauf auf, die Transmission T des Strahlteilers 109 den in Fig. 2D angegebenen Verlauf. Nach Reflexion an geeignet angeordneten Umlenkspiegels 110, 111 gelangen die drei Farbauszüge R, G, B zu den Aufnahmeröhren 112, 113, 114, mit denen die jeweilige spektrale Intensität des gerade abgetasteten Bildpunktes bestimmt wird. Da diese drei Intensitätswerte jeweils einer von drei sinusförmigen Funktionen entsprechen, deren relative Phasenverschiebung bekannt ist (nämlich + 1200), kann die absolute Phase (t) der sinusförmigen Funktionen bestimmt werden. Diese lassen sich schreiben: R = M + A sin 4; G = M + A . sin (t + 1200) B = M + A sie (4; - 120 ) wobei M der Mittelwert und A die Amplitude der sinusförmigen Funktion sind. Die Phase t ist dabei eindeutig mit der Ortskoordinate x des Streifenfilters gekoppelt. Unter Beachtung der trigonometrischen Beziehung (-sin x) = sin(x-1200) + sin(x+1200) cos x = 1/#3 . {sin(x-120 ) - sin(x+120 )} und M = 3 (R + G + B) A . sin t = R - M A . sin(#+120 ) = B - M A sin(4;-1200) = G - M folgt für die gesuchte Phase 9: EMI6.1 Die Grössen M und G - M, B - M werden bei der Verarbeitung von Videosignalen zu deren Übertragung nach der Videonorm ebenfalls erzeugt (sogenanntes Y- oder Luminanzsignal R + B + G und das Chrominanzsignal, das aus den Linearkombinationen B - Y und R - Y erzeugt wird). Die Phasenlage 9 jedes Bildpunkts xo im abgetasteten Bild der Oberfläche 104 kann somit ohne weiteres in den üblichen Fernsehschaltkreisen 115 und 116 erzeugt werden und gestattet so auf dem Monitor 117 die Anzeige der jeweiligen Phasenlage der Bildpunkte. Ändert sich die Phasenlage eines Bildpunkts im Vergleich zu einem Referenzpunkt, beispielsweise wenn der Bildpunkt in der Vertiefung 105 der Oberfläche liegt, so lässt sich aus der Phasenänderung die entsprechende Höhenänderung Ah bestimmen. Schaltungstechnische Einzelheiten der videotechnischen Signalverarbeitung sind beispielsweise in der europäischen Patentanmeldung 81 102 553.5 beschrieben. Durch die sinusförmige Modulation der drei Bestandteile des Streifenfilters 102 ist eine sehr feine Interpolation zwischen den einzelnen Streifen möglich, so dass sich eine sehr hohe Tiefenauflösung dieses Lichtschnitt-Verfahrens ergibt. Die punktweise Bestimmung der relativen Phase über das gesamte Bild und die visuelle Darstellung der Phasenbeziehungen der einzelnen Punkte erfolgt mit den oben beschriebenen fernsehtechnischen Mitteln sehr schnell, so dass hier eine Echtzeitauswertung zur Verfügung steht. Die Ausgangssignale der Farbfernsehkamera 106 können ausserdem zur weiteren Verarbeitung an einen Rechner gegeben werden (über Leitung 118), der mit dieser Information Höhenschnittlinien erzeugen kann oder über die zur Objekterkennung notwendigen Algorithmen verfügt. Beim bisher beschriebenen Ausführungsbeispiel der Erfindung mit Streifenfiltern, die durch ihre Farbe R, G, B unterschieden werden, kann die Phasenauswertung in der Farbfernsehkamera durch die Eigenfarbe des untersuchten Objekts gestört werden. Zur Behebung dieser Schwierigkeit können Streifenfilter dienen, in denen die drei beteiligten, ört lich gegeneinander verschobenen sinusförmigen Streifenmuster (Fig. 3A) nicht durch enge Spektralbereiche, wie in Fig. 2B, unterschieden werden, sondern durch eine Vielzahl von einzelnen, sehr engen Spektralbereichen ("Spektrallinien"). Die spektrale Durchlässigkeit eines derartigen Filters ist schematisch in Fig. 3B dargestellt: Zum ersten Streifenmuster gehören alle gestrichelt dargestellten Spektrallinien I, zum zweiten Streifenmuster alle ausgezogen dargestellten Spektrallinien II und zum dritten Streifenmuster alle strichpunktierten Spektrallinien III. Die Linien I, II und III liegen jeweils eng benachbart bei Wellenlängen xl, x2, X3, ... Zur spektralen Trennung der drei Streifenmuster müssen die Strahlteilerplatten 108 und 109 in der Farbfernsehkamera 106 die in Fig. 3C bzw. Fig. 3D dargestellte spektrale Durchlässigkeit aufweisen: die erste Teilerplatte reflektiert alle Spektrallinien 1, die zweite alle Linien II. Eine derartige Multispektral-Codierung der einzelnen Streifenmuster im Streifenfilter 102 lässt sich mit Hilfe optischer Kammfilter erreichen. Es handelt sich dabei um dielektrische Filter, die aus einer oder mehreren dünnen transparenten Schichten bestehen; die Dicke der Schichten bestimmt die spektrale Lage der Durchlässigkeit, die Anzahl der Schichten die spektrale Breite der Durchlassbereiche. Ein Streifenfilter mit einer spektralen Durchlässigkeit nach Fig. 3B und örtlich sinusförmig variierender Durchlässigkeit nach Fig. 3A lässt sich mit einer örtlich variierenden Schichtdicke erzeugen. In Fig. 4 ist das Höhenprofil 41 über der Ortskoordinate x eines Streifenfilters dargestellt, das diese gewünschten Eigenschaften hat. Es besteht aus verschiedenen, aneinander anstossenden Zonen 42, 43, 44, die jeweils eine unterschiedliche Dicke (d1, d2, d3) aufweisen und daher unterschiedliche Spektralbereiche durchlassen und deren Breite (b1, b2, b3) in periodischer Weise zu- und abnimmt. Im Beispiel von Fig. 4 sind die Breiten (in um) der einzelnen Zonen durch folgende Ausdrücke bestimmt: b1 = 1,5 + cos + b2 = 1,5 + cos( + 120 ) b3 = 1,5 + cos(4; - 120 ) Der Winkel p entspricht dem früher besprochenen Phasenwinkel; im Beispiel von Fig. 4 ist er so gewählt, dass einer Strecke von 90 pm in X-Richtung ein Phasenwinkel von 4w entspricht. Die Konstante 1,5 ist so gewählt, dass auch die kleinste entstehende Zonenbreite noch mit photolithographischen Methoden hergestellt werden kann. Die Dichte der Zonen (Anzahl pro Phasenintervall 2X) wird so gewählt, dass das entstehende Linienmuster beim Projizieren auf den zu untersuchenden Gegenstand nicht mehr aufgelöst wird. Die örtliche spektrale Durchlässigkeit eines Interferenzfilters mit verschiedenen Stufenhöhen ist in Fig. 4 ebenfalls eingezeichnet. Die der Stufenhöhe d3 entsprechende Frequenz wird an allen Stellen mit relativ hoher Intensität durchgelassen, an denen die Bereiche mit Dicke d3 eine hohe Breite b3 aufweisen; infolge der periodischen Breitenvariation ergibt sich angenähert die in Fig. 4 mit Bezugszeichen 45 gekennzeichnete sinusförmige Durchlasskurve für diese Frequenz. Die den anderen beiden Zonen mit Dicke d2 und dl zugeordneten Durchlasskurven 46 und 47 sind ebenfalls angenähert sinusförmig und gegenüber der Kurve 45 um + 120 verschoben. Die Herstellung derartiger Streifenfilter kann auf photo lithographischem Weg erfolgen, wobei nur eine Ätzmaske erforderlich ist, die beim Ätzen der beiden um + 1200 versetzten Zonenmuster entsprechend verschoben wird. Fig. 5 zeigt eine optische Anordnung für ein interpolierendes Lichtschnitt-Verfahren, bei dem der zu untersuchende Gegenstand 503 einen kleineren Durchmesser als die Projektionsoptik 502 und die Abbildungsoptik 504 aufweist. Das Streifenfilter 500 wird mit einer Köhler'schen Beleuchtungseinrichtung von rechts beleuchtet (Abbild der Lichtquelle im Abbildungsobjektiv 502). Die Projektionsapertur ist durch eine Aperturblende 501 in der rückwärtigen Brennebene der Abbildungsoptik 502 begrenzt, so dass die Oberfläche des Objekts 503 von parallelen Streifen beaufschlagt wird. In diesem Fall besteht eine lineare Beziehung zwischen der Lage eines Oberflächenpunktes und der Phase des Bildpunkts auf der Bildebene 506, der über die Abbildungsoptik 504 und eine in deren rückwärtigem Brennpunkt angeordnete Aperturblende 505 erzeugt wird. In Fig. 6 ist eine optische Anordnung für ein interpolierendes Lichtschnitt-Verfahren dargestellt, das für grossflächige Objekte 602 Anwendung findet. Ohne Begrenzung von Projektions- und Abbildungsapertur erhält man divergierende Streifenebenen 605, so dass keine lineare Beziehung zwischen Objektlage und Phase mehr besteht. Zur eindeutigen Bestimmung der Objektoberfläche 602 müssen die einzelnen Streifen, die über die Abbildungsoptik 606 auf der Bildebene 607 entstehen, identifiziert werden. Hat die Oberfläche keine Schattenzonen, so genügt das Abzählen der Streifen, z. B. vom Rand des Streifenfilters. Im allgemeinen Fall muss jeder Streifen bzw. jede Gruppe von Streifen, die im kleinstmöglichen zusammenhängenden Feld erkannt werden soll, markiert werden. Dies kann z. B. durch Modulation des Weisslichtanteils geschehen; dazu wird dem vom Streifenfilter erzeugten Spektrum ein Weisslichtanteil überlagert, der ortsabhängig ist. Im einfachsten Fall handelt es sich dabei um einen Weisslichtanteil, der von einem Referenzpunkt ausgehend stetig zunimmt. Wird neben der Phase im spektralcodierten Licht auch die Intensität des Weiss lichts gemessen, so können Oberflächenpunkte mit gleicher Phase, aber verschiedenem Weisslichtanteil, ohne weiteres voneinander unterschieden werden.

Claims: P A T E N T A N S P R Ü C H E 1. Lichtschnitt-Verfahren mit streifenförmiger Beleuch tung der zu untersuchenden Objektfläche, dadurch gekennzeichnet, dass auf die Objektfläche (104) drei spektral codierte Streifenmuster projiziert werden, deren örtliche Inten sitäten einen sinusförmigen, um + bzw. - 1200 gegenein ander verschobenen Verlauf (Fig. 2A) aufweisen, und dass in den unter einem Winkel a zur Projektionsrichtung er zeugten Abbildungen der Streifenmuster die relative Phase eines jeden Bildpunktes durch Messung der Inten sität jedes der spektral codierten Steifenmuster er mittelt wird. 2. Lichtschnitt-Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur spektralen Codierung jeweils verschiedene enge Ausschnitte aus dem optischen Spektrum verwendet wer den (Fig. 2B). 3. Lichtschnitt-Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zur spektralen Codierung Multispektrallinien eines Interferenzfilters (Fig. 4) verwendet werden (Fig. 3B). 4. Lichtschnitt-Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Streifenmuster durch Parallelprojektion auf die zu untersuchende Objektfläche abgebildet werden (Fig. 5). 5. Lichtschnitt-Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Streifenmuster mit divergentem Strahlengang auf die zu untersuchende Objektfläche abgebildet wer den (Fig. 6). 6. Lichtschnitt-Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass zur eindeutigen Unterscheidung von Bildpunkten mit gleicher Phase den spektral codierten Streifen mustern ein Weisslichtanteil überlagert wird, der eine eindeutige Funktion der Objektpunkte ist. 7. Einrichtung zur Durchführung des Lichtschnitt-Verfah rens nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Phasenauswertung der Bildpunkte mit einer modi fizierten Farbfernsehkamera (106) erfolgt, deren Farb teiler (108, 109, 110) auf die zur Codierung der Strei fenmuster verwendeten Frequenzen abgesti sind 8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausgangssignale (R, G, B) der Farbfernsehkame ra (106) an sich bekannten videotechnischen Verknüp fungsschaltungen (Luminanz 115; Chrominanz 116) zuge führt werden. 9. Einrichtung nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Phase jedes Bildpunktes auf einem an die Kamera (106) angeschlossenen Farbmonitor (117) visuell darge stellt wird.

Inventors: KORTH, HANS-ERDMANN
Applicants: IBM DEUTSCHLAND GMBH, INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
Application year: 1981
Main classification: G01B11
IPC codes: G01B11