実験：
 磁区構造評価の実験にはBL25SUに設置した軟X線磁気円二色性（MCD）顕微鏡装置を用いた。試料表面にビーム径約φ100nmに集光した円偏光軟X線を照射し、試料を走査することでマッピングを行った。X線のエネルギーはFeL3吸収端に設定した。X線吸収率の測定には全電子収量法を用い、集光ビームの生成には有効径約310µm、最外輪帯幅40nmのフレネルゾーンプレート（FZP）を用いた。磁気イメージングは60×60µm2の領域に対して150nmステップで行った。磁区像の撮像時間は1枚当り約25分であるが、コントラスト強調のため左円偏光および右円偏光による磁区像をそれぞれ同一視野で撮像したことから、1視野当りの撮像時間は約50分となった。試料には保磁力の異なる2種類の焼結磁石、❶：Nd-Fe-B焼結磁石（30.3Nd-bal.Fe-0.96B-0.9Co-0.1Al-0.1Cu-0.1Ga(mass%)）および❷：Nd-Dy-Fe-B焼結磁石（25.3Nd-5.0Dy-bal.Fe-0.96B-0.9Co-0.1Al0.1Cu-0.1Ga(mass%)）を用いた。本実験では隣接粒子間の結晶方位の角度差を大きくして磁区構造との関係を評価しやすくするため、通常の焼結磁石よりも配向度を低下させた専用試料を用いて実験を行った。1mm角に加工した❶、❷磁石をそれぞれ2個、計4個の試料を1つの試料ホルダーに固定した。試料を超高真空チャンバーにセットし、表面の酸化膜を除去するためArイオンミリングを行った。その後それぞれの磁石の配向方向に平行な面の研磨面において、事前にSEM/EBSDを用いて配向分布を評価した位置で磁気イメージングを行った。磁場印加には液体ヘリウム再凝縮冷凍機を備えたボア径φ149mmの超伝導マグネット（オックスフォードインスツルメンツ製）を用いた。このときの磁場印加方向は、試料の配向方向に対しては平行方向、ビーム方向に対しては垂直方向となるようにするため、新規に架台を作成して超伝導マグネットの配置を変更し、漏れ磁場を利用することで対応した。印加磁場の大きさは超伝導マグネットの端面から70mm外側にある試料位置において、設定磁場5Tで0.3Tであった。はじめに熱消磁状態の磁気イメージングを各試料それぞれ行った後、磁場中での磁気イメージングを行った。

カテゴリ: 物理
質問: 印加磁場の大きさは、設定磁場の何％ですか？
回答: 印加磁場の大きさは0.3Tで、設定磁場5Tにおいてのものであるため、0.3/5×100=6より、6%です。