実験：マイクロビームX線回折計測はSPring-8の兵庫県ビームライン（BL24XU）Aブランチを用いて行った。引張負荷下におけるひずみ計測を行うために小型引張試験装置を試作し、計測装置に組付けた。本引張試験装置は、手動で負荷を行い、一定の外部負荷下における計測が可能である。入射X線はゾーンプレートにより成形された10keV、約5μm角のマイクロビームとした。X線検出器にはフラットパネル検出器を用い、デバイリングの約4分の1が計測できるようカメラ長を約60mmとして設置した。なお、カメラ長はSi標準粉末試料の測定により補正した。 本実験では、ガラス繊維を混合したナイロン6樹脂（以下PA6-GFと記す）同士の振動溶着品を試験片とした。溶着品はメーカ推奨条件品を選定し、中心部が溶着界面となる様に引張試験片に加工して計測試料とした。PA6-GF溶着品の溶着界面を中心として計測試料の引張負荷方向（長手方向z）を10μm間隔で走査して1回の計測あたり合計200点のX線回折像を計測した。得られたX線回折像より、引張負荷方向の一次元プロファイルを抽出し、ガウス関数フィッティングによりピーク位置を算出した。この計測は引張負荷前、及び100N負荷中の2回行った。なお、負荷時は延びが発生するために、負荷前後の計測位置は同一位置ではなくなるが、溶着界面中央位置を基準とし、計測点前後のピーク位置の平均を取ることで引張負荷前後を比較した。

カテゴリ: 物理
質問: 計測試料の1回あたりの計測では、X線回折像を全長何mm計測しますか？
回答: 計測試料を1回あたりの計測では、10μm間隔で走査して合計200点のX線回折像を計測したので、10μm×200=2000μm=2mmより、全長2mm計測します。