标题：测厚仪
​设备简介
中​文名称：测厚仪
英文名称：thickness Tester
产品关键词：金属测厚仪、薄膜测厚仪、纸张测厚仪、涡流测厚仪、非接触测厚仪、射线测厚仪、金属薄片手持式测厚仪、实验室专用测厚仪、纸张厚度测试仪、塑料包装材料测厚仪　
设备用途：测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。测厚仪图册(4张)
原理分类
测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为：　
1、接触式测厚仪　
接触面积大小划分：
点接触式测厚仪
面接触时测厚仪　
2、非接触式测厚仪　
非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种：　
激光测厚仪　
超声波测厚仪　
X射线测厚仪　
白光干涉测厚仪　
电解式测厚仪
测厚仪的应用
激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.
纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量​​​。​
超声波测厚仪
主要功能适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度；
可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的探头使用；
具有探头零点校准、两点校准功能，可对系统误差进行自动修正；
已知厚度可以反测声速，以提高测量精度；
具有单点测厚和扫描测厚两种测厚工作模式；
可预先设置厚度值上、下限，超出范围自动报警；
具有耦合状态提示功能；
有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；
有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；
带有RS232接口，与PC机通信，能够实现测量报告的有线打印和无线打印。
可选择配备微机软件，具有传输测量结果、测值存储管理、测值统计分析、打印测值报告等丰富功能；
适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰；
仪器特点内置无线模块，支持无线打印
语音播报测量结果
具有超强的抗震动、抗电磁干扰能力
独特的省电模式
性能指标测量范围：0.75-300mm（钢）.
显示精度：0.001mm
测量误差：1 mm～10 mm ：±0.05mm 10mm～200mm ：（±0.5%H+0.1）mm
测量周期：2次/ 秒
测量频率：5MHz
声速范围：1000-9999m/s
单位：公制和英制
显示：FSTN LCD显示，带冷光源照明显示
零位调整：探头放在测厚仪试块上按键自动调零
线性校正：微处理器程序自动线性校正（即V Path 自动补偿）
报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警
工作电压：3.7V
自动关机：连续2分钟无动作自动关闭，有开关按钮
显示内容：厚度值、耦合状态、电量状态，可显示CAL标定状态、声速
外形尺寸：132 X 76.2 mm
整机重量：323g
探头类型探头型号特性测量范围（钢）直径频率接触温度5P￠10通用探头1.2—225mm10mm5MHz-10—+605P￠10/90通用探头1.2—225mm10mm5MHz-10—+607P￠6小管径0.75—60mm6mm7MHz-10—+60TSTU32高穿透5.0—40mm（铸铁）22mm2MHz-10—+60SZ2.5P高穿透3.0—300mm（钢）12mm2.5MHZ​ZW5P高温4.0—80mm12mm5MHz-10-+300
X射线测厚仪
适用范围适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中， x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
技术指标1、测量精度、测量厚度的±0.1%
2、测量范围：0.01mm—8.0mm （根据测量材料范围有所不同）
3、静态精度：±0.1%或者±0.1微米。
⒋ 漂移 ：一小时测量厚度的±0.1%、八小时测量厚度的±0.2%漂
⒌ 重复性：±0.1%
涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料（如钢铁、镍）表面上的非导磁覆盖层厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等）。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。
涂层测厚仪
  涂层测厚仪显示器：4位10㎜液晶。
测试范围：0-1250um基它测量范围需要另外订购。
分辨率：0．1um/1um。
测量精度：±1-3%或±2．5um。
测量模式：单次测量和连续测量。
具有公英制单位转换功能，实现um/㏕转换。
带有标准的RS232C窗口。
电源：3节7号电池。
操作条件：温度0-40℃，湿度﹤80%。
尺寸：126×65×27㎜。
重量：81㎏（不包括电池）。
（膜片的实际厚度已标在了膜片上）可选附件：RS232C通讯电缆和软件
激光测厚仪
板材（钢坯）激光厚度检测系统具有无辐射、成本低、便于维护等特点，激光测厚仪是通过采用自主激光检测技术及可靠的防护措施研制而成的，完全满足热轧板坯厚度检测的需求。
测量原理激光测厚仪是基于三角测距原理，使用集成式的三角测距传感  激光测厚仪原理器测量出从安装支架到物体表面的距离，进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。
激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化，进而可计算出被测物体的实际移动距离。
设备特点* 精度高、无辐射、安全性能好。* 测量范围大（0—750mm）。
* 响应快速、不受被测目标材质影响。
* 实时厚度曲线显示、绘制，历史厚度曲线储存。
* 全数字系统，使用方便，易操作，维护简单。
* 炉号、钢号、坯号、班号、检测时间与MIS系统连接自动生成日报、班报。
* 高强度C型架设计，自带高温防护措施，既保证了强度又保证了使用寿命。
技术参数* 检测范围 0--600mm  LPM30C测厚仪软件界面* 钢板温度 0--1200°C
* 钢板速度 0--25m/s
* 采样时间 优于1ms
* 测量精度 动态优于±0.03%
* 安装方式 根据要求定制
纸张薄膜测厚仪
纸张薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。  纸张薄膜测厚仪
技术特征严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输
支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告 
执行标准ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
技术特征测试范围：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选） 
分辨率：0.1μm 
测量速度：10 次/min （可调） 
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） 
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 
进样步距：0～1000 mm 
进样速度：0.1～99.9 mm/s 
电源：AC 220V 50Hz 
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) 
净重：32kg 
仪器配置标准配置：主机、标准量块一件
选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码
非接触式纸张测厚仪
英国真尚有公司研发的测厚仪使用了新的非接触式测量方法​​，可以实现对纸张的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。测量精度达到微米级，是目前精度最高的测厚仪，并且可以在线测量。实现生产自动化的闭环控制。
非接触式测厚仪的测量原理
使用两个纸张厚度传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标被测物体的厚度值。非接触式纸张测厚仪同样可以测量其他薄膜类、片材类物体的厚度。
涂镀层测厚仪分类
涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型：
1.磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。
2.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法：适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。
4.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。
5.放射测厚法：此处仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。
国内目前使用最为普遍的是第1/2两种方法。
磁性测厚仪磁性测厚仪一体式仪器结构，可以单手操作。它采用电磁感应原理，适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，可以测量钢铁上的各种电镀（镀镍除外）、涂层、珐琅、塑料等覆盖层厚度，还可用于测量各种金属箔（如铜箔、铝箔、金箔等）和非金属薄膜（如纸张、塑料等）的厚度。本仪器可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。符合国家标准。
涡流测厚仪涡流测厚仪是一种小型仪器，采用涡电流测量原理，可以方便无损地测量有色金属基体上的油漆、塑料、橡胶等涂层，或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。
涡流测量原理高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。
如何选购
1、塑料上的铜、铬层：建议用库仑法测厚仪（会破坏镀层）或X射线测厚仪（无损测量），如铜层在10m~200m可考虑电涡流法测厚仪（无损测量）。
2、金属件上镀锌层：如在钢铁基体上应使用经济的磁感应法测厚仪（无损测量）。其它金属基体用库仑法测厚仪（会破坏镀层）或X射线测厚仪（无损测量）。
3、铁基体上的电泳漆，油漆应使用经济的磁感应法测厚仪（无损测量）。其它金属基体上的电泳漆，油漆应使用经济的电涡流法测厚仪（无损测量）。
4、干膜是指己固化了的油漆涂层。
5、镀铬层参考2项、1项。
6、车内外饰件喷漆只有用切锲法（PIG，会破坏涂层），超声波法（无损测量）可测10微米以上涂层，但有时测不到。
7、价格：磁感应法、电涡流法0.6~3万；库仑法0.8~6万；超声波法5.5~6万；X射线测厚仪25~40万。
注意事项
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：
⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。
⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
技术标准
HG/T 3240-1987 搪瓷测厚仪技术条件
HG/T 3240-2007 电脑膜层测厚仪
HG/T 3241-1989 内孔涂层测厚仪技术条件​​​
HG/T 3241-2007 电脑内孔膜层测厚仪
JJF 1126-2004 超声波测厚仪校准规范
JJG （轻工） 87-1992 便携式地毯测厚仪检定规程
JJG 403-1986 超声波测厚仪
JJG 480-1987 X射线测厚仪检定规程​​​​
JJG 818-1993 电涡流式测厚仪（试行） 
JJG 889-1995 磁阻法测厚仪
NJ 372-1985 轮辋用测厚仪
ZB N 13003-1987 搪瓷测厚仪技术条件
ZB N 77001-1989 超声测厚仪通用技术条件