标题：膜厚测试仪
磁感应测量原理
采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的OU3100膜厚测试仪(2张)大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。 
磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。
电涡流测量原理
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。 
采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适
X射线衍射装置（XRD）
简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。
萤光X射线装置（XRF）
  X射线产生原理　　X射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出：  膜厚测试仪原理　　膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪，因响应全球环保工艺准则，故目前市场上最普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。
  膜厚测试仪　　在此技术方面广大业界一致认同日本精工膜厚测量仪比较领先，因其为全世界第一台膜厚测量仪的生产商。
具体介绍为：进口日本精工（SFT9100M）X-RAY荧光无损金属薄膜电镀层厚度测量仪 
SFT9100M是精工膜厚仪系列中经济实用又功能齐全的机型
用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费
技术参数：
可测元素：Ti～U 
X射线管：管电压45KV，管电流1mA 
检测器：比例计数管 
样品观察：CCD摄像机 
对焦方式：激光自动对焦 
测定软件：薄膜FP法、检量线法 
准直器：2个（0.1mm，0.025*0.3mm） 
安全机能：测量室门自锁功能 
Z轴防冲撞功能 
仪器自诊断功能
主要特点
★ 自动对焦功能 。配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。
★ 具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量
★ 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防
止在对焦时造成的损坏。
★ 选用Mo靶材X射线管，测量贵金属更灵敏。 
★ 支持多种语言的软件系统。简体中文、繁体中文、英语、日语、韩语
★ 搭载样品尺寸的兼容性
可适用于各种样品，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品，从较厚
的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等
★ 卤素灯照明
★ 即时生成测量报告的便捷性 。运用搭载的Microsoft Word? Excel? 可以简单轻松得到制作报告
★ 多种修正功能。基材修正、已知样品修正、人工输入修正
★ 搭载了电动X－Y移动平台
进口日本精工（SFT9200）X-RAY荧光无损金属薄膜电镀层厚度测量仪
SFT9200是精工膜厚仪系列中普及型
用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费
「SFT9200系列」继承了拥有了20多年历史及光辉业绩的「SFT系列」(操作性与可靠性共存)的优点，并不断地发展，成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。
产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪
产品型号：SFT9200、SFT9250、SFT9255
技术参数：
仪器的特长：广泛应用型
可测元素：Ti～U
X射线管：小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)管电压：45kV 管电流：1mA Be窗
滤波器：
一次滤波器：A1-自动切换
二次滤波器：Co-自动切换
检测器：比例计数管
样品观察：CCD摄像机
对焦方式：激光自动对焦
测定软件：薄膜FP法、检量线法
5个准直器可自动切换
型(Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm)
型(0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm)
安全机能：测量室门自锁功能
Z轴防冲撞功能
仪器自诊断功能
仪器介绍：
SFT系列中标准型仪器
滤波器
另有SFT9250、SFT9255两种机型
标准配备有Windows2000中文操作界面
采用检量线法和FP法，测量数据与Word和Excel链接
自动生成报告和数据处理
5个准直器可自动切换
工作台3维电动，可编程进行自动测量
采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器
可防止在对焦时造成仪器的损坏。
产品特点：
能够测量无铅焊锡
配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份
搭载中心搜索软件
通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。
拥有防冲功能
搭载激光对焦系统
搭载测试报告自动生成软件
拥有自动测量软件以及中心搜索软件
搭载了薄膜FP法软件
X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m （1μm）左右,X射线比其短为0.000000000001 m至0.00000001 m (0.01- 100 Å)左右。
对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。
（1） 萤光X射线
（2） 散乱X射线
（3） 透过X射线
SII的产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。
简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。