标题：现代原子发射光谱分析
现代原子发射光谱分析
第四卷 第四册  
作者： 江祖成 田笠卿 冯永来 定价： &yen; 38.00 元 
出版社： 科学出版社 出版日期： 1999年10月 
ISBN： 7-03-007283-9/O·1087 开本： 32 开 
类别： 分析化学及仪器 页数： 525 页 
简介
原子发射光谱分析（M）是原子光谱分析中最重要的组成部分，内容丰富，应用性强，在材料科学、环境科学和生命科学中有着广泛的应用．本书重点论述原子发射光谱分析中的最新领域，包括等离子体（ICP，MIP，M）原子发射光谱分析、等离子体质谱分析（ICPMS）、辉光放电（GD）原子光谱/$谱分析、进样技术、联用技术以及各种新技术、新方法的实际应用．此外，对等离子体光谱中的基础理论问题也进行了讨论． 
目录
第一章直流等离子体光谱分析
1.1DCP发展简况
1.2DCP光谱仪器
1.2.1DCP光源的构造和操作参数
1.2.2DCP光谱仪
1.3DCP的激发温度及分布
1.4DCP的电子密度及分布
1.5DCP中谱线强度的分布
1.6DCP体系是否处于局部热力学平衡(LTE)
1.7干扰效应
1.8分析性能
1.9进样技术
1.9.1溶液雾化
1.9.2电热蒸发
1.9.3悬浮体雾化
1.9.4氢化物发生
1.9.5其它进样技术
1.10DCP?AES与ICP?AES的比较
化学分离预富集技术在DCP?AES中的应用
1.12分析应用
参考文献
第二章微波等离子体光谱分析
2.1概述
2.2微波等离子体的形成与稳定
2.3形成微波等离子体的装置
2.3.1谐振腔
2.3.2Surfatron
2.3.3等离子体炬
2.4微波等离子体的基本性质
2.5微波等离子体原子发射光谱法的分析性能及局限性
2.6试样引入技术
2.6.1电热蒸发进样
2.6.2气体发生进样
2.6.3溶液雾化进样
2.6.4其它进样技术
2.7MIP作为气相色谱的检测器
2.7.1一般性评价
2.7.2GC与MIP检测器之间的接口技术
2.7.3GC?MIP?AES的应用
2.8MIP?AES在痕量形态分析中的应用
2.8.1GC?MIP?AES
2.8.2LC?MIP?AES
2.8.3SFC?MIP?AES
参考文献
第三章电感耦合等离子体质谱分析法(ICP?MS)
3.1引言
3.2ICP?MS原理
3.3ICP?MS装置
3.3.1炬管与等离子体
3.3.2进样系统
3.3.3离子提取系统
3.3.4真空系统
3.3.5离子分离与检出系统
3.3.6检出限
3.4四极质谱仪的工作原理
3.5高分辨电感耦合等离子体质谱(HP?ICP?MS)
3.6电感耦合等离子质谱分析的应用
3.6.1水样分析
3.6.2其它类样品分析
参考文献
第四章辉光放电原子发射光谱及质谱分析
4.1概述
4.2辉光放电装置及基本原理
4.3辉光放电过程
4.3.1阴极溅射原子化
4.3.2待测物的激发和电离
4.4辉光放电装置的供能方式
4.4.1直流辉光放电(dc?GD)
4.4.2射频辉光放电
4.4.3脉冲辉光放电
4.5磁场增强和微波增强辉光放电
4.5.1磁场增强GD
4.5.2微波增强GD
4.6辉光放电原子发射光谱(GD?AES)
4.6.1分析性能
4.6.2分析应用
4.7炉原子化非热激发光谱
4.8辉光放电质谱(GD?MS)
4.8.1概述
4.8.2分析仪器
4.8.3定理分析
4.8.4分析应用
4.9辉光放电深度轮廓分析
4.9.1辉光放电深度轮廓分析原理
4.9.2GD?AES深度轮廓分析
4.9.3GD?MS深度轮廓分析
4.9.4辉光放电深度轮廓分析的应用
4.9.5GD深度轮廓分析存在的问题
4.10辉光放电的优点及局限性
4.10.1辉光放电的优点
4.10.2分析辉光放电的局限性
4.11GD技术的发展趋势和前景
参考文献
第五章电感耦合等离子体光谱法中的几个问题
5.1分析信号与分析物质浓度的关系
5.2分析物质激发电离机理
5.3溶液气溶胶传输机制
5.4ICP?AES干扰机理和干扰函数
5.5ICP?AES检出限方程
5.6ICP?AES的精密度
参考文献
第六章电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的干扰效应校正
6.1经验系数和干扰因子校正法
6.2光谱干扰系数校正法(K系数法)
6.3次因子重叠设计分析法
6.4光谱干扰的模拟和预测
参考文献
第七章氢化物原子光谱
7.1氢化物的发生
7.1.1概述
7.1.2氢化物的释放
7.1.3氢化物的传输
7.1.4氢化物发生法
7.1.5连续流动法和流动注射法氢化物发生系统的实验装置
7.1.6间歇批量式氢化物发生系统
7.1.7氢化物发生法之间灵敏度的比较
7.2氢化物原子化或离子化
7.2.1原子吸收原子化器中氢化物的原子化
7.2.2等离子体中氢化物的原子化及离子化
7.3氢化物光谱法中的干扰
7.3.1干扰类型
7.3.2液相中的干扰
7.3.3气相中的干扰
7.3.4干扰机理
7.3.5干扰除去
7.4氢化物法在各个氢化物元素测定中的应用
7.4.1锑
7.4.2砷
7.4.3铋
7.4.4锗
7.4.5铅
7.4.6硒
7.4.7碲
7.4.8锡
参考文献
第八章气体发生进样技术
8.1概述
8.2氢化物发生(HG)进样
8.2.1氢化物发生装置
8.2.2影响氢化物形成的因素
8.2.3干扰影响的消除方法
8.2.4干扰机理
8.2.5几种不同的氢化物发生/原子光谱检测技术的分析性能比较
8.2.6流动注射进样技术在HG/ICP?AES中的应用
8.2.7氢化物发生与分离富集技术联用
8.2.8氢化物发生(HG)进样技术的新近发展
8.3形成金属烷基化合物进样
8.3.1概述
8.3.2仪器装置
8.3.3影响因素
8.3.4烷基化合物形成的产率
8.3.5有机介质的影响
8.3.6干扰效应
8.3.7分析应用
8.4形成易挥发单质进样
8.4.1汞的测定
8.4.2碘的测定
8.5形成挥发性金属螯合物进样
8.6形成其它易挥发物质进样
参考文献
第九章流动注射进样技术
9.1流动注射分析的原理和特点
9.2FI仪器装置
9.3FI在线稀释技术
9.3.1改变管的尺寸
9.3.2改变注入体积
9.3.3合并带法
9.3.4区域采样法
9.3.5串级注射法
9.4FI体系中的标准加入法
9.4.1合并带标准加入法
9.4.2反相流动注射标准加入法
9.5FI体系中有机溶剂的应用
9.6在线沉淀?溶解技术
9.7在线共沉淀?溶解分离预富集技术
9.8在线液/液萃取
9.9在线微柱分离/预富集技术
9.9.1概述
9.9.2柱填充材料
9.9.3在线柱预富集流路
9.9.4评价指标
9.9.5影响柱效率的因素
9.9.6分析应用
9.9.7流动注射(FI)/吸附萃取
9.10在线电解
9.11在线蒸气发生
9.12其它在线技术
9.12.1在线气体扩散和渗析
9.12.2在线消化制样
9.13FI/原子光谱间接分析法
9.14FI/形态分析
参考文献
第十章电热蒸发进样技术
10.1概述
10.2电热蒸发的工作原理和一般操作
10.3电热蒸发装置的设计
10.3.1概述
10.3.2改进的电热蒸发装置
10.3.3特殊的电热蒸发装置
10.4ETV操作参数的优化
10.4.1载气流速
10.4.2升温条件
10.5化学改进剂的作用
10.6与分离富集技术结合
10.7直接固体进样
10.8电热蒸发电感耦合等离子体原子发射光谱分析(ETV?ICP?AES)
10.8.1分析性能
10.8.2基本效应
10.8.3多元素同时检测
10.8.4分析应用
10.9电热蒸发电感耦合等离子体质谱(ETV?ICP?MS)
10.9.1分析性能
10.9.2基本效应
10.9.3同位素比测量
10.9.4多元素同时测定
10.9.5ETV?ICP?MS的分析应用
10.10电热蒸发微波诱导等离子体原子发射光谱(ETV?MIP?AES)
10.10.1分析性能
10.10.2非金属元素的测定
10.10.3干扰效应
10.10.4分析应用
10.11其它等离子体光谱分析中的电热蒸发进样技术
10.11.1直流等离子体光谱分析(DCP?AES)
10.11.2炉原子化等离子体发射光谱分析(FAPES)
10.11.3亚稳态氮余辉放电
10.12展望
参考文献
第十一章激光烧蚀进样技术
11.1ICP?AES中固体进样方法
11.1.1概述
11.1.2固体进样方法
11.2激光气体进样
11.2.1概述
11.2.2激光气化原理
11.2.3调Q技术
11.3激光烧蚀固体进样方法的进展
11.4声光调Q激光烧蚀气体进样
11.4.1脉冲激光的提出
11.4.2声光调Q激光烧蚀
11.5激光烧蚀进样的应用前景
参考文献
第十二章等离子体原子发射光谱和质谱形态分析
12.1引言
12.2毛细管电泳(CE)等离子体质谱(ICP?MS)和原子光谱(ICP?AES)的元素形态分析
12.2.1毛细管电泳的原理
12.2.2毛细管电泳等离子体质谱和原子光谱法的接口
12.2.3毛细管电泳等离子体质谱或光谱法在元素形态分析中的应用
12.3高效液相色谱(HPLC)、离子色谱(IC)和离子交换色谱(IEC)等离子体质谱和光谱形态分
析
12.4氢化物发生(HG)等离子体制谱和光谱形态分析法
12.4.1引言
12.4.2氢化物法形态分析原理
12.4.3氢化物发生等离子体质谱和光谱法在形态分析的应用
参考文献
第十三章HPLC?ICP?AES联用技术在元素化学形态分析中的应用
13.1引言
13.2HPLC?ICP?AES联用接口
13.2.1接口的作用和要求
13.2.2HPLC?ICP?AES联用的主要几种接口
13.3HPLC?ICP?AES在元素化学形态分析中的应用
13.3.1砷的形态分析
13.3.2锡的形态分析
13.3.3HPLC?ICP?AES在形态分析中的应用
参考文献
第十四章色谱/电感耦合等离子体质谱联用技术及形态分析
14.1概述
14.2高效液相色谱(HPLC)?ICP?MS
14.2.1HPLC?HCP?MS联用的接口技术
14.2.2用于HPLC?ICP?MS形态分析的液相色谱类型
14.3气相色谱(GC)?ICP?MS
14.3.1引言
14.3.2GC?ICP?MS的接口技术
14.3.3GC?ICP?MS形态分析的试样预处理
14.3.4GC?ICP?MS形态分析应用
14.4超临界流色谱(SFC)?ICP?MS
14.5毛细管电泳(CE)?ICP?MS
14.6色谱/ICP?MS联用技术形态分析的发展趋势
参考文献
第十五章电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP?AES)在高纯稀土分析中的应用
15.1引言
15.2ICP?AES直接分析法
15.3化学分离预富集ICP?AES
15.4基体效应及其补偿
15.5有机溶剂增敏效应
15.6HPLC?ICP?AES在高纯稀土分析中的应用
参考文献
第十六章电感耦合等离子体质谱(ICP?MS)在痕量稀土分析中的应用
16.1概述
16.2ICP?MS直接分析法
16.2.1高纯稀土分析
16.2.2地质试样分析
16.2.3生物/环境试样分析
16.3质谱干扰
16.4基体效应
16.5化学分离/预富集技术的应用