Public procurement notice: Prior Information Notice Without Call For Competition
Published: 2019-03-05
Buyer: Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e. V. (DLR)
Country: DE
Contract type: Works
CPV classification: 45210000: Building construction work
Estimated value: 6900000 EUR

Technical requirements: Für das beim DLR am Standort Köln Porz angesiedelte Institut für Werkstoffforschung soll ein analytisches Transmissionselektronenmikroskop (ATEM) angeschafft werden.
Die Beschaffung erfolgt im Rahmen eines wettbewerblichen Dialogs. Beauftragt werden Totalunternehmerleistungen incl. aller erforderlichen Bauleistungen für die Baukonstruktion, der technischen Ausrüstung und der erforderlichen Außenanlagen, einschließlich der erforderlichen Generalplanung ab der Leistungsphase 2 (Vorplanung) und erforderliche Sachverständigenleistungen.
Die Wartung von Gerät und Gebäude sind ebenfalls Bestandteil der Ausschreibung. Die Beauftragung erfolgt in Form eines Stufenauftrages.
Es ist vorgesehen, dass für die Phase des Teilnahmewettbewerbes der Hersteller des Gerätes sich in mehr als einem Bieterkonsortium bzw. bei mehr als einem Bieter als Nachunternehmer auftreten darf. Im Falle der Präqualifikation ist ab Beginn der Dialogphase für den Hersteller des Gerätes jedoch lediglich noch die Beteiligung an einem Bieterkonsortium als Mitglied der Bietergemeineschaft oder als Nachunternehmer zulässig.
Für Transmissionselektronenmikroskope gelten in Bezug auf den Baukörper und die Infrastruktur besondere Bedingungen. Daher geben Anschluss- und Aufstellungsbedingungen des Gerätes die Grundlagen für die Objektplanung, die Konstruktion, die Technische Ausrüstung und ggf. erforderliche schwingungstechnische Minderungsmaßnahmen vor.
Mindestanforderung ist ein Gerät mit Feldemissionskathode zum Betrieb im TEM- und STEM-Modus, mit dem neben hochauflösenden Abbildungen auch klassische Beugungskontrastuntersuchungen (z. b. an Versetzungen und Stapelfehlern) und Elektronenbeugungsuntersuchungen (SAED oder Riecke-Beugung oder äquivalente
Die Punktauflösung im Abbildungsmodus (TEM-Modus) muss besser 0,19 nm sein, im Rastertransmissionsmodus nicht schlechter als 0,16 nm. Die maximal nutzbare Beschleunigungsspannung darf nicht weniger als 200 kV und nicht mehr als 300 kV betragen.
Das Gerät muss mit einer leistungsfähigen modernen Kamera für die digitale Bildaufnahme ausgestattet sein, welche auch einen schnellen Bildeinzug bei in-situ Experimenten erlaubt.
Für den STEM-Modus müssen mindestens Detektoren für die Hellfeld-, die Dunkelfeld, die HAADF-Abbildung vorhanden sein.
Das Gerät muss über eine Mehrdetektoren-EDX-system verfügen, welches die qualitative Analyse wie auch die quantitative Analyse ermöglicht.
Das Gerät muss für Aufnahme die Aufnahme von Tomographieserien TEM- und im STEM-Modus sowie für die EDX-Tomographie ausgerüstet sein.
Es muss über einen Filter für die EEL-Spektroskopie verfügen, welches abbildende Spektroskopie im STEMModus erlaubt (EELS-Spectrum Imaging). Ein System zur automatischen Phasenidentifikation und zur Bestimmung von Orientierungsbeziehungen (Nanomegas AStar oder äquivalente Lösung) muss installiert sein.
Die notwendigen Probenhalter (Analytischer Doppelkipphalter, Einfachkipphalter, Tomographiehalter) sind Bestandteile des zuliefernden Paketes.
Ein abbildender Energiefilter sowie Kühlhalter und Doppelkipp-Heizhalter sind als Option vorzusehen. Über die Option einer beleuchtungsseitigen Cs-Korrektur wird ebenfalls im Rahmen des Vergabeverfahrens entschieden werden.


Award value: 6900000