Public procurement notice: Contract Notice
Published: 2020-07-16
Buyer: Universität Bayreuth
Country: DE
Contract type: Supplies
Procedure: Open procedure
CPV classification: 38580000
Estimated value: 402500 EUR
Submission deadline: 2020-08-14
Award criteria: The most economic tender

Technical requirements: Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller drei Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.
The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.
Das zu beschaffende Gerät soll Nanostrukturbestimmungen an dünnen, meist organischen Filmen mit orientierter Struktur im Labor ermöglichen. Dazu muss Röntgenstreuung im streifenden Einfall (GISAXS und GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) unter großen und kleinen Winkeln, sowie Röntgenreflektometrie (XRR) an derselben gemessenen Probenstelle auf der Zeitskala von wenigen Minuten ermöglicht werden. Beim Wechsel zwischen den Methoden soll das Gerät seine Strahleigenschaften nicht verändern, um dieselbe Probenposition zu untersuchen, um ein Abrastern der Probe zu ermöglichen. Die Strahlgröße soll deshalb variabel einstellbar sein. Die Interaktion mit dem Gerät muss über externe Steuerbefehle möglich sein, um das Gerät in bestehende Messroutinen einzubinden. Messungen aller drei Methoden müssen remote steuerbar und ohne persönlichen Eingriff vor Ort sequentiell durchführbar sein. Proben werden sowohl an Luft und Umgebungsdruck oder in Vakuum zu messen sein. Die Integration größerer, bereits bestehender Probenumgebungen (z. B. Drucker, Atmosphärenkammer) und die Durchführung temperarturkontrollierter Messungen ist essentiell.
The equipment to be procured is intended to enable nanostructure determinations on thin, mostly organic films with oriented structure in the laboratory. For this purpose, x-ray scattering at grazing incidence (GISAXS and GIWAXS = grazing incidence small and wide angle x-ray scattering, GIS = grazing incidence scattering) at large and small angles as well as X-ray reflectometry (XRR) at the identical measured sample location on the time scale of a few minutes shall be possible. When switching between these three methods, the instrument should not change its beam properties to investigate the identical sample position to allow scanning of the sample. The beam size should therefore be adjustable. It must be possible to interact with the instrument via external control commands in order to integrate the instrument into existing measurement routines. Measurements of all three methods must be remotely controllable and possible to be carried out in sequence without personal intervention on site. Samples will be measured in air and ambient pressure or in vacuum. The integration of larger, already existing sample environments (e.g. printer, atmospheric chamber) and the performance of temperature-controlled measurements is essential.
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen: Form und Frist zur Einlegung von Rechtsbehelfen ergeben sich aus §§134, 135, 160 GWB.
(2) Antragsbefugt ist jedes Unternehmen, das ein Interesse an dem öffentlichen Auftrag oder der Konzession hat und eine Verletzung in seinen Rechten nach § 97 Absatz 6 durch Nichtbeachtung von Vergabevorschriften geltend macht. Dabei ist darzulegen, dass dem Unternehmen durch die behauptete Verletzung der Vergabevorschriften ein Schaden entstanden ist oder zu entstehen droht;
1) der Antragsteller den geltend gemachten Verstoß gegen Vergabevorschriften vor Einreichen des Nachprüfungsantrags erkannt und gegenüber dem Auftraggeber nicht innerhalb einer Frist von 10 Kalendertagen gerügt hat; der Ablauf der Frist nach § 134 Absatz 2 bleibt unberührt,
2) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die aufgrund der Bekanntmachung erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der in der Bekanntmachung benannten Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
3) Verstöße gegen Vergabevorschriften, die erst in den Vergabeunterlagen erkennbar sind, nicht spätestens bis zum Ablauf der Frist zur Bewerbung oder zur Angebotsabgabe gegenüber dem Auftraggeber gerügt werden,
4) mehr als 15 Kalendertage nach Eingang der Mitteilung des Auftraggebers, einer Rüge nicht abhelfen zu wollen, vergangen sind.
Satz 1 gilt nicht bei einem Antrag auf Feststellung der Unwirksamkeit des Vertrags nach § 135 Absatz 1 Nummer 2. § 134 Absatz 1 Satz 2 bleibt unberührt.


Award value: 402500