近年来, 随着光电系统在星船上的广泛应用 ,航天器对光电器件的需求量巨大, 尤其是对基础光电器件光敏晶体管的需求量更为巨大[1]。 某光敏晶体管由于体积小、 光谱响应敏感度高和寿命长等特点成为航天器上大量应用的一类光敏晶体管。 由于该光敏晶体管产品结构的特殊性, 该器件在生产工艺控制过程、 后续质量保证过程中均无法对器件做内部残余气体成分试验分析。 这就难以排除在生产过程中引 入一些可靠性隐患, 导致该光敏晶体管在使用过程中出现失效。 本文通过一例对该光敏晶体管 CE 极间漏电变大的故障现象进行失效分析,证实了银离子迁移是导致器件失效的主要原因, 同时给出了在质量保证过程中如何避免此类失效现象的措施。