静电放电(ESD)及电气过载(EOS)对电子元器件造成损害的主要机理有:热二次击穿;金属镀层熔融;介质击穿;气弧放电;表面击穿;体击穿等。到目前为止,人类能够区分的电能大概分为三类;交流电、直流电和静电。静电,在当前技术条件下还无法得到有效的控制,没有合适的材料将它隔离并传输,很难区分它的正负极所在位置,电压电流的大小无法改变等,采取的手段大多是安装屏蔽罩、或接地线将其释放,达到对其它设备进行防护的目的。静电可以在绝缘材料中活动和储存能量,在物理学的理论中没有合理地解释这种自然现象。