2019/5/29　物质成分的光谱分析　X-射线荧光光谱分析　2019/5/29　X射线学　X射线透视学　X射线衍射学　X射线光谱学　X射线荧光光谱分析　2019/5/29　•　1929　年施赖伯(Schreiber)　首次应用X射线荧光光　谱分析　•　1948　年制造了第一台用X光管的商品型X射线荧　光谱仪　目前X射线荧光光谱分析已经成为高效率的现　代化元素分析技术;被定为国标标准(ISO)分析方　法之一　2019/5/29　2019/5/29　4　X射线荧光光谱分析法的特点　1)　优点:　①　由于仪器稳定,分析速度快,自动化程度高。用　单道X射线荧光光谱仪测定样品中的一个元素只需要5~　20秒。用多道光谱仪,能在20至100秒内测定完样品中全　部的待测元素(能同时分析多达48种元素)。　②　X射线荧光光谱分析与元素的化学结合状态无　关。晶体或非晶体的块状固体、粉末及封闭在容器内的　液体或气体均可直接测定。-　2019/5/29　2019/5/29　5　③　X射线荧光光谱分析是一种物理分析方法。　分析元素种类为元素周期表中5B~92U,分析的浓　度范围为10-6~100%;　一般检出限达1µg.g-1　,　全反射X射线荧光光　(TXRF)谱的监测限可达　10-3　~　10-6　µg.g-1　。　④　非破坏分析、测量的重现性好。　⑤　分析精度高。分析精度0.04%　~2%。　2019/5/29　2019/5/29　6　⑥　X射线光谱比其他发射光谱简单,易于解析,尤　其是定性分析。　⑦　制样简单,试样形式多样化,块状、粉末、糊状、液体都可以,气体密封在容器内也可分析。　⑧　X射线荧光分析也能表面分析,测定部位是0.1mm　深以上的表面层,可以用于表面层状态、镀层、薄膜成　分或膜厚的测定。　能有效地用于测定膜的厚度(10层)和组成(几十种　元素)。　⑨　能在250μm或3mm范围内进行定位分析,面扫描　成像分析;具有在低倍率定性、定量分析(带标样)物　质成分。　2019/5/29　2019/5/29　7　2)缺点:　①　由于X射线荧光光谱分析是一种相对的比　较分析,定量分析需要标样对比,而且标样的组　分与被测样的组分要差不多。　②　原子序数低的元素,其检出限及测定误差　一般都比原子序数高的元素差;对于超轻元素　(H、Li　、Be),目前还不能直接进行分析。　③　检测限不