§2—8等倾干涉和等厚干涉　等倾干涉:厚度一定的薄膜,其光程差只由入射角决　定,即干涉条纹只随入射角的变化而变化。　等厚干涉:对于厚度不均匀的薄膜(如楔形膜等),　平行光入射,两次反射光将在薄膜表面附近相交而　形成干涉条纹,这时的光程差由厚度决定。　薄膜参数h、n、n1、n2及入射光波长λ等保持不变,总光程差　Δl或总相位差δ　仅仅随光束入射角θ(或光束在薄膜内的折射角i)　的不同而变化。　一、等倾干涉　单色点光源照明下的等顷干涉　S　n2　n1　h　n　θ　θ　i　i　反射光总光程差:　⎪　⎩　⎪　⎨　⎧　>　>　　n>n2　Δh=λ/2n　Δx　n　亮纹　α　nn1,　n2　Δh=λ/2n　Δx　n　暗纹　α　以劈尖反射为例,设入射角为θ,n1、n2>n或n1、n2　d　1　n　2　n　透射干涉增强　反射干涉增强　nm　m　m　n　d　6　.　99　)　1　2　(　)　1　2　(　4　2　×　+　=　+　=　λ　①　测量透明薄膜或薄玻璃板的楔角、折射率或照射光的波长　α　λ　n　n1=1　薄膜折射角或折射率测量　对于空气中的楔形薄膜或薄玻璃板,当楔角α很小时,测得　相邻亮(暗)条纹间距Δx,则xnΔ　2　λ　α　=　x　n　Δ　2α　λ　=　x　n　Δ　2　α　λ　=　或或4.　4.　测细丝的直径、微小角度　测细丝的直径、微小角度　已知玻璃板底边长度l,测出相邻亮(暗)条纹间距Δx,则xnldΔ=2λ②测量薄膜厚度或细丝直径　薄膜厚度或细丝直径测量　n=1　l　d　n=1　l　d　i　s　t　n　1　n　2　io　s　n　N　t　2　λ　=　如果看到N个条纹,则SiO2　薄膜厚度为　5.　5.　测量长度微小的变化　测量长度微小的变化　干涉膨胀仪　0　l　l　Δ　移动前C点处对应的空气层厚度　λ　n　m　hm　4　1　−　=　移动后C´点处对应的空气层厚度　λ　n　N　m　h　N　m　4　1　2　2　−　−　=　−　样品伸长长度　λ　n　N　l　2　=　Δ