来自微信群:EDA365-射频技术交流群
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(红色楼主,蓝色群友)9 `. L" A" S8 @# L- e" a9 U8 [
Captain Z:' ~- g- H& {$ l- _* G
请教一下老师关于功放芯片损坏的问题,现象是栅极短路,此时是在进行整机测试时出现的问题,外围结构件安装完好,该屏蔽的地方进行屏蔽,灌封使用的是聚氨酯发泡胶,换一个功放芯片又可能变好了,该现象不可复现,这种情况下一般是由于什么因素导致的损坏呢?
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Hai wang:
没有输出驻波保护,ESD隐患,过热,输入尖脉冲;这些是可能性。@captain Z还需要了解下你的产品
输出加了隔离器,5 K8 U J# U/ n& K0 p& W5 U
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Captain Z:
一共做了好几台,有两台的功放芯片损坏
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为啥要灌发泡胶?' }- h2 c0 c8 r% \% l
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Captain Z:; H, H; B! U) J) O- S" _* O
装入整机以后还会有ESD隐患吗4 i o. q$ l0 x' i, m
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Captain Z:
三防保护@EDA365-焦老师/ w' L$ g8 ~; ]4 J8 B0 ~2 j
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Hai wang:0 Q5 d; D5 u n0 z+ f9 g
Esd隐患是安装时发生的。整机后没有。3 V4 Q9 V: h" x7 {5 g" `6 b
Captain Z:: m q0 v. Z( T, Y+ E
就是装整机以后测了一下高低温,都没问题,在做振动实验时就坏了,中途没有拆过。# p i5 r1 d" e4 `
振动时,一般没有输入信号的,有时还定义没有电源。你怎么观察到是振动时损坏?
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Captain Z:
就是做了这个振动实验后再进行测试。就发现了异常,功放损坏
重点排查装配过程esd和电路有没可能产生高脉冲* O6 k) l/ S2 B' |3 v8 n/ Q) I7 p
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Hai wang:0 D& Z* }6 {# a [" A
@Captain Z多大功率,功放本体尺寸是多少?3 U" E1 L2 Q8 \* o. G
Captain Z:J3 k7 J5 D3 k1 J. [
10W功放
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Captain Z:
加上管脚,7×5) _1 v# y9 n- o0 K
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Hai wang:6 C4 m" G! [: p+ O3 T
直接报型号呀. }0 K; }# o, I( V7 F
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Captain Z:
英诺迅的) s2 p+ S* D7 p, {) A
灌封后是不是会影响散热?( O, {; m1 ~, F- p+ K1 I
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Captain Z:
还有腔体效应。2 V" O) o; w7 {) u1 ~2 O8 _9 M
热传导性能比空气差,就会影响散热* d ` v4 `3 w# }2 O2 W
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Hai wang:4 a* u# T9 [; L! g; x
英诺迅官网上没有找到这个器件资料。看这个厂家的功放,都是塑封,大面积接地的。
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Hai wang:, Y/ X _% T/ _' n( E4 v$ [6 k
YP163840,的Esd是C等级,这个ESD性能应该OK的。
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Hai wang:
若是已经完成高低温实验,查证产品没有问题的话。建议再检查:1、因振动导致的接口松动,因此产生的毛刺。2、除功放的输入、输出,还需要检查电源支路。电源的毛刺电压也会损伤器件: [; Z- h ]8 q# v! o
Captain Z:7 [2 }+ |4 ~# F0 v+ r5 m( S# \
这个功放是几秒钟发一次,脉宽是几百ms,不知道用的聚氨酯发泡胶是不是会影响散热,从而导致的性能恶化。' U+ J( h( p: t; z
Hai wang:, L" U+ q$ d$ j: e# e f9 ]
@Captain Z检验是否影响散热,可以通过高低温实验来验证,不是通过振动试验
另外功放的输入功率太大导致的烧功放,对于功放是表现出什么样的特性呢?比如栅极或者漏级短路?8 I" z7 @0 a, O
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Hai wang:
@Captain Z输入功率过大导致的烧毁,和输出驻波过大导致的烧毁,表现出来的都是一样的。其基本原理都是一样的
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Captain Z:
这种方式烧的功放会导致功放栅极短路吗?
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Hai wang:
产生大量的热量,导致最后一级的最热的地方烧毁
这种过热导致的烧毁是栅极漏极阻抗都不正确了。; R9 Q( x1 D L, u3 C
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Captain Z:+ h& D3 r! f, V `
还是阻抗虽然正常,但就是不出功率了?3 A, I7 K' o/ |2 C) M+ Y
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Hai wang:8 p5 N1 T1 R2 K
烧毁后,器件的输出阻抗不正常了) ]: o5 Q* o& I9 `8 S9 D3 I0 p9 w
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