为解决FLASH测试中的这些问题,人们提出了应用内建自测试或利用嵌入式软件等测试方法测试相关性能,都取得了比较好的效果,但这些方法大多不适用于利用测试仪进行批量的产品测试。而多数对通用存储器测试很有效的算法,由于受到FLASH器件自身的限制(如不能不能直接从“”写为“”),很难直接适用于FLASH测试。文本在简单介绍FLASH芯片的结构与特点之后,说明了FLASH存储器测试程序原理。在此基础上,分析和改进了几种通用的存储器测试方法,使之能有效地应用于FLASH测试中。这些方法简单高效,故障覆盖率高,并且可以快速预先产生,与其他一些测试算法相比,更适于应用在测试仪中进行工程测试。本文分析了这些方法的主要特点,在此基础之上,介绍了实际FLASH存储器测试中应用的流程。