实用文档 文案大全 基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理 内容列表 AEC-Q101 基于离散半导体元件应力测试认证的失效机理 附录1: 认证家族的定义 附录2: Q101 设计、构架及认证的证明 附录3: 认证计划 附录4: 数据表示格式 附录5: 最小参数测试要求 附录6: 邦线测试的塑封开启 附录7: AEC-Q101与健壮性验证关系指南 附件 AEC-Q101-001: 人体模式静电放电测试 AEC-Q101-002: 人体模式静电放电测试 (废止) AEC-Q101-003: 邦线切应力测试 AEC-Q101-004: 同步性测试方法 AEC-Q101-005: 静电放电试验–带电器件模型 AEC-Q101-006: 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 感谢 任何涉及到复杂的技术文件都来自于各个方面的经验和技能。为此汽车电子委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重大贡献的人: 固定会员: Rick Forster Continental Corporation Mark A. Kelly Delphi Corporation Drew Hoffman Gentex Corporation Steve Sibrel Harman Gary Fisher Johnson Controls Eric Honosowetz Lear Corporation 技术成员: James Molyneaux Analog Devices Joe Fazio Fairchild Semiconductor Nick Lycoudes Freescale Werner Kanert Infineon Scott Daniels International Rectifier Mike Buzinski Microchip Bob Knoell NXP Semiconductors Zhongning Liang NXP Semiconductors Mark Gabrielle ON Semiconductor Tom Siegel Renesas Technology Tony Walsh Renesas Technology Bassel Atallah STMicroelectronics Arthur Chiang Vishay Ted Krueger [Q10