以扇区为单元的测试实际上是一种对芯片功能的抽测,因为它并没有进行对各单 元存取数据进行反复打扰, 以验证其地址线间信号改变所带来的影响, 但这种方法分别在各 个扇区对邻近地址线一一做了打扰测试, 由于各个扇区结构根本上是相同的, 因此这种抽测 很有代表性,并且把测试时间减少了一个数量级。 移动变反法测试图形是一种良好的折衷测试方案。 因为它几乎具有各种测试图形的最好 特点,可以用较少的试验步数测试尽可能多的存储单元间打扰的相互影响。