一、定义:
电阻性电流IR与电容性电流Ic的比值称为介质损耗角的正切值,用tanδ表示。
•电介质的损耗:绝缘介质在交流电压的作用下,介质中流过电流,电介质中的部分电能将转变成热能,这部分能量称为电介质损耗。做介质损失测试是对设备绝缘状况的有效判断。
•介质损耗测试的办法:测试介质的损失角,即介质上所做功产生的热量对介质绝缘的影响。
•介质中形成的电流分两部分:一部分是电容的无功电流,另一部分是引起损耗的有功电流。
•有功电流又分为三部分电流,分别产生三种损耗:
•电导损耗:由通过介质的电导电流引起的损耗;
•极化损耗:极化过程中介质的电荷在交变电场下反复排列,作周期运动时克服摩擦所形成的吸收电流引起的损耗;
•游离损耗:气体中的电晕,液体、固体中的局部放电生成的电流引起的损耗。
•西林电桥测量CVT接线
•西林电桥测量CVT中间变压器接线
西林电桥测量串极式PT二次绕组接线
•西林电桥测量串极式PT支架接线
两种接线的适用范围:
正接线适用于被试品整体可以与地隔离;反接线适用于被试品不能与地隔离时。
五、测量tanδ时影响测试结果因素和消除方法:
1、温度和湿度的影响
2、电场干扰影响及消除方法:
测试时排除电场干扰的方法主要有屏蔽、选相、倒相法、移相法和采用反干扰平衡干扰等方法。
3、避免外界磁场干扰
4、试品表面泄露的影响及消除方法:
利用屏蔽环将表面泄露电流直接回流到试验电源,避免表面泄漏电流进入仪器测量系统引起误差。但是试验中一般不加屏蔽环,加了会改变等值电路,除非天气潮湿需加屏蔽环。
六、试验结果的判断及注意事项:
1、被试品容量较大时, tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。
2、注意温度影响
3、试验电压变化对tanδ测试结果的影响。