如果无法防止输入端引入RF干扰,　则需要从　外部对器件输入通道进行滤波,　正如图6所示的那　样。　在很多情况下,　简单的单极点滤波器就够用了　:　在更难处理的情况中,　往往需要多极点缺口或者带　阻滤波器。　特别的,　可以并联多个具有不同量值的　电容器,　以提供在很宽频率范围上的低阻抗特性。　不过,　请注意,　这样的滤波方法也可能会具有其他　有害的效应,　如测量响应时间的延长。　Introduction　|　Low　Voltage　Measurements　|　Low　Resistance　Measurements　|　Low-V　Application:　Hall　Effect　Measurements　|　Low-R　Application:　Superconductor　Resistance　Measurements　|　Selector　Guide　|　Glossary　|　contact　us　更多信息Va　VM　Vb　Vemf　HI　LO　a.　Measure　V1　b.　Measure　V2　Vb　VM　Va　Vemf　HI　LO　A　g　r　e　a　t　e　r　m　e　a　s　u　r　e　o　f　c　o　n　f　i　d　e　n　c　e　5　低电压量测　图5　利用屏蔽来衰减RFI/EMI干扰　Measuring　Instrument　HI　LO　Decouple　RFI　to　earth　ground　Metal　Shield　DUT　图6　对连接进行屏蔽,　以降低感应的RFI/EMI　内部失调　纳伏计的输入端无输入电压时也很少能指示　零电压,　这是因为该仪表的输入端不可避免地存　在电压失调。　在输入端短接到一起的情况下,　就对　输出端进行归零操作,　无论是通过前面板的归零　控制器还是通过计算机的控制。　如果短路电路的　热电EMF很小,　则这一方法可以用于确认输入噪声　和零位漂移随时间的变化。　干净、　高纯的铜线往往　是适用的连接线。　然而,　以这种方式建立的零位只　适用于校验应用,　在仪器的最终使用中并无价值。　如果仪器被用来测量流过电阻的电流所引起　的微弱电压降,　则如下的过程将建立一个恰当的零　点。　首先,　仪器应当按规定的时间进行暖机,　往往　长达1~2小时。　在这段时间内,　在待测器件和仪器　间应该建立电连接。　不应当让电流流过待测器件,　以便