论文　基本流程为:将随意抽取每张外延片的九点做简单的光电测试,比如测量开启电　压、光致发光等。如果电压偏差过大,或者波长偏差过大说明该样品为非良品,　需在早期分拣出来;然后对其它良品的外延片进行蒸镀　P　极或　N　极,接下来再　用激光切割外延片,根据不同的电压、波长、亮度进行全自动化分检,也就是形　成LED　晶片;最后还要进行目测,把有一点缺陷或者电极有磨损的分捡出来。　而在科研使用中,对样品的电学光学测试手段更为精密复杂,仅在光学方面就有　电致发光、光致发光、阴极荧光测量等技术,其他测量方法诸如原子力显微镜　(AFM)、隧道扫描电镜、透射电镜、X　射线衍射等测试技术更是举不胜数。　LabVIEW　做为搭建测试系统的能手早已涉足光电材料测试领域。不用讨论每年　数以万计的仪器本身配套有基于　LabVIEW　的软件平台。在科研领域每年就有诸　多研究人员采用其自主开发系统,测试技术方面,仅AFM　就分别开发出远程控　制AFM[14]　、　高速　AFM[15]　等多种测量功能;　更为进一步在光学测试方面,　Jan　Bok[16]　等人也利用　LabVIEW　开发出一套测量阴极荧光测试系统;　在材料研究方面,　Patel　等人利用该软件搭建了一套在　273-373　K　温度下测量　LED　结温特性测量系统[17]　。　而国内光电材料领域对　LabVIEW　的研究似乎更为热情,从06　年开始,每年都　会有上千篇关于　LabVIEW　研究的论文出版。