Task: Translation
Input (Czech): Adaptér řeší problém přizpůsobení  obecného charakteru testovací jednotky  testovanému obvodu DRAM a přizpůsobení  vyhodnocování testu potřebám testovací  jednotky. Slouží rovněž k realizaci speciálních  funkcí nutných pro testování obvodů  RAM, pokud tyto funkce nejsou zajištěny  tegtovací jednotkou. Zapojení automaticky  zajištuje provpzní podmínky pro testované  dynamické pamětové obvody. Periodicky obnovuje  obsah těchto pamětových obvodů,  a to i při přerušení testu, umožňuje je- '  jich testováni maximální frekvencí a řídí  režimy stránkování a modifikovaného čtení -  gápisu. Všechny dynamické parametry umožňují  testovat s přesnosti odpovídající  přesnosti časovači jednotky testovaného  systému. Adaptér múze nalézt uplatnění  v oboru elektrotechniky a výpočetní a měřící  techniky, zejména v aplikacích pro  testování dynamických pamětových obvodů.
Output (English): The adapter addresses the customization problem  the general nature of the test unit  the tested DRAM circuit and adaptation  test evaluation to test needs  units. It also serves to implement specials  functions needed for circuit testing  RAM if these functions are not secured  tegtovací jednotka. Connections automatically  ensures the provisory conditions for the tested  dynamic memory circuits. Periodically refreshes  the contents of these memory circuits  even when the test is interrupted, it allows  their maximum frequency and control  paging and modified reading modes -  gápisu. All dynamic parameters allow  Test with accuracy matching  the accuracy of the timer unit being tested  system. The adapter can be used  in electrical engineering and computing  techniques, especially in applications  testing dynamic memory circuits.