Task: Translation
Input (Czech): Obor, kterého se vynález týká, je způsob  přímého bezdotykového měření teploty  monokrystalů dielektrik a/nebo optické  jakosti opticky dvojlomných monokrystalů  dielektrik.  Technický problém, který vynález řeSí,  je způsob bezdotykového měření teploty  a jakosti monokrystalu, kterým je možno  měřit teplotu a/nebo optickou jakost monokrystalů,  aniž by doSlo k poruše jeho homogenity  nebo ke zmeněení celkového objemu.  Podstatou vynálezu je způsob stanovení  teploty a/nebo optické jakosti monokrystalu  v průběhu jeho růstu nebo temperování,  při kterém se zkoumaným monokrystalem vede  polychromatické světlo, naíež intenzita  světla propuštěného monokrystalem se změří  ve dvou navzájem kolmých polarizačních rovinách  anebo ve dvou selektivních vlnových  délkách odpovídajících absorpčnímu spektru  daného monokrystalu.
Output (English): The field to which the invention pertains is a method  direct contactless temperature measurement  dielectric and / or optical single crystals  quality of optically birefringent single crystals  dielectric.  The technical problem that the invention solves  is a non-contact temperature measurement method  and the single crystal quality that is possible  measure the temperature and / or optical quality of single crystals,  without breaking its homogeneity  or to reduce the total volume.  The subject of the invention is a method of determination  single-crystal temperature and / or optical quality  during its growth or tempering,  in which the monocrystalline is conducted  polychromatic light, whose intensity  the light transmitted by the single crystal is measured  in two mutually perpendicular polarization planes  or in two selective waveforms  lengths corresponding to the absorption spectrum  of a single crystal.