Task: Translation
Input (Czech): Účelem vynálezu je zapojení pro měření  šumu zejména u vnitřních přechodů polovodičových  prvků. Uvedeného účelu se dosáhne  tím, že vývodu zdroje šumu se dotýká  kladný měřici hrot, který je jednak spojen  s generátorem měrného proudu, jenž je  připojen na zdroj napětí, který je dále spojen  s uzemněním, jednak je připojen přes  vazební kondenzátor na výstup útlumového  článku a na bázi tranzistoru, jehož emitor  je spojen s .uzemněním a kolektor je připojen  jak přes kolektorový rezistor na zdroj  napětí, tak na vstup zesilovače, který je spojen  se zdrojem napětí a uzemněním a jehož  výstup je přiveden na vstup útlumového  článku, který je spojen s uzemněním a  na oddělovací kondenzátor, který je připojen  k indikačnímu obvodu, jehož druhý vývod  je připojen k uzemnění, jež je dále spojeno  se záporným měřicím hrotem, který se  dotýká druhého vývodu zdroje šumu.  Další možností použití diagnostické sondy  měřící šum je spektrální analýza, kterou  lze zjistit složité dynamické chyby polovodičových  prvků, které lze těžko zjistit  jiným přístrojem.
Output (English): The purpose of the invention is to provide a measurement connection  noise especially at internal semiconductor transitions  elements. This purpose is achieved  by touching the source of the noise source  a positive measuring tip that is both connected  with a current generator that is  connected to a voltage source which is further connected  grounded, and connected via  coupling capacitor to the attenuator output  an article and a transistor based emitter  it is connected to the earthing and the collector is connected  both through collector resistor to source  voltage, and to the input of the amplifier that is connected  with a voltage source and ground and whose  the output is applied to the attenuator input  the cell that is connected to ground and  to a decoupling capacitor that is connected  to an indicating circuit having a second terminal  it is connected to ground which is further connected  with a negative measuring tip  touches the second source of noise.  Another possibility of using a diagnostic probe  measuring noise is a spectral analysis that  complex dynamic semiconductor errors can be detected  elements that are difficult to detect  another device.