Task: Translation
Input (Czech): Zpusob merení tlouštky nestacionárních tenkých transparentních i netransparentních vrstev (7, 13) spocívá v tom, že se na merenou vrstvu (7, 13) i najejí svetelný difuzor (6), na nemž je zkoumaná vrstva (7, 13) nanesena, promítá úzký svetelný svazek (2) pod úhlem dopadu (.alfa.) a vytvorené alespon dve svetelné linie (8, 9) vzdálené o vzdálenost (L) se registrují optickým mikroskopem (10) a/neboCCD kamerou (12). Z namerené vzdálenosti (L) se výpoctem nebo odectením na kalibrované stupnici okuláru (11) optického mikroskopu (10) stanoví tlouštka transparentní i netransparentní zkoumané vrstvy(7, 13). Optický tlouštkomer pro merení nestacionárních transparentních a netransparentních tenkýchvrstev (7, 13) sestává z optického projekcního systému (16) tvoreného svetelným zdrojem emitujícíhomonochromatické a/nebo bílé svetlo a dále kondenzorem (3) a kolimátorem (4) a mikrometricky stavitelnou šterbinou (5), a z optického mikroskopu (10).Optická osa (17) kolimátoru (4) svírá s normálou vrstvy vzorku (7, 13) úhel dopadu (.alfa.), pricemž optický mikroskop (10) je umísten v ose normály vrstvy vzorku (7, 13), umísteným na optickém difuzoru (6), a je opatren okulárem (11) s nitkovým krížem (15) a/nebo snímací CCD kamerou (12).
Output (English): The method of measuring the thickness of the non-stationary thin transparent and non-transparent layers (7, 13) is that a light diffuser (6) is applied to the measured layer (7, 13) and the narrow layer (7, 13) is projected onto it. the light beam (2) at an incidence angle (.alpha.) and at least two light lines (8, 9) distant from the distance (L) are registered with an optical microscope (10) and / or a CCD camera (12). From the measured distance (L), the thickness of the transparent and non-transparent layer (7, 13) to be examined is determined by calculating or subtracting the calibrated scale of the optical microscope eyepiece (10). An optical thickness gauge for measuring non-stationary transparent and non-transparent thin layers (7, 13) consists of an optical projection system (16) consisting of a light source emitting a monochromatic and / or white light, and a condenser (3) and a collimator (4) and a micrometer-adjustable slot (5), and from the optical microscope (10), the optical axis (17) of the collimator (4) forms an incidence angle (.alpha.) with the normal of the sample layer (7, 13), wherein the optical microscope (10) is located in the axis of the sample layer (7, 13), located on the optical diffuser (6), and is provided with an eyepiece (11) with a crosshair (15) and / or a scanning CCD camera (12).