"マルチチャネルの測定装置により測定される磁場に含まれる場の成分を調整する方法であって、前記測定装置は、一連の測定センサ及びデータ処理ロジックを含み、前記方法は、SSS法により、第1の算出された信号部分空間が有益な信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表し、第2の算出された信号部分空間が干渉信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表す2つの算出された信号部分空間を生成するステップを含み、前記方法は、さらに、前記有益な信号発生源なしで前記干渉信号のマルチチャネルの磁界を測定するステップと、前記干渉信号の前記磁界からの干渉及び/又は不正確に機能する信号チャネルによる前記干渉信号の最も強い形態を求めるステップと、前記干渉信号の前記最も強い形態を加えることにより、前記第2の算出された信号部分空間を調整するステップと、調整された前記信号部分空間による前記SSS法の使用を継続することにより前記有益な信号を求めるステップと、含むことを特徴とする方法。前記方法は、さらに、前記最も強い形態の干渉信号における前記干渉信号の測定された前記磁界の成分を含めるステップであって、このような成分を表すベクトルに関連する前記信号の強度が所望の閾値を超える、ステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。前記方法は、さらに、前記干渉信号の前記信号部分空間の測定された成分の少なくとも1つを、前記第2の算出された信号部分空間の前記成分に加えるステップと、生成され調整された信号部分空間の成分が一次独立な基底を共に形成するように、補完された第2の信号部分空間の成分を結合するステップと、を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の方法。前記方法は、さらに、検査中の前記信号部分空間の成分に対して特異値分解を算出することにより結合を行うステップを含むことを特徴とする請求項3に記載の方法。前記方法は、さらに、正確に表される信号成分及び他のチャネルから外れた不正確な信号成分を含むように不正確に機能する信号チャネルの信号を分割するステップと、前記信号チャネルから、前記干渉信号の測定された部分空間の不正確な信号成分のみを含めるステップと、を含むことを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。前記方法は、さらに、少なくとも1つの不正確に機能する信号チャネルが、前記干渉信号の前記測定された部分空間に含まれた後に、算出された前記信号部分空間をリスパンするステップを含むことを特徴とする請求項5に記載の方法。前記方法は、さらに、前記第2の算出された信号部分空間に対応する手法で、行われた磁場測定に基づいて生成された前記第1の算出された信号部分空間への調整を求めるステップ含むことを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の方法。磁場を測定し、かつ前記磁場に含まれる場の成分を調整するように構成されるマルチチャネル測定装置であって、一連の測定センサ22と、SSS法により、第1の算出された信号部分空間が有益な信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表し、第2の算出された信号部分空間が干渉信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表す2つの算出された信号部分空間を生成するように構成されるデータ処理ロジックと、を含み、前記マルチチャネル測定装置は、さらに、前記有益な信号発生源なしで前記干渉信号のマルチチャネルの磁界を測定するように構成され、前記データ処理ロジックは、さらに、前記干渉信号の前記磁界からの干渉及び/又は不正確に機能する信号チャネルによる前記干渉信号の最も強い形態を求め、前記干渉信号の前記最も強い形態を加えることにより、前記第2の算出された信号部分空間を調整し、調整された前記信号部分空間による前記SSS法の使用を継続することにより前記有益な信号を求めるように構成されることを特徴とする測定装置。前記測定装置の前記データ処理ロジックは、さらに、前記最も強い形態の干渉信号における前記干渉信号の測定された前記磁界の成分を含めるステップであって、このような成分を表すベクトルに関連する前記信号の強度が所望の閾値を超える、ように構成されることを特徴とする請求項8に記載の測定装置。前記測定装置の前記データ処理ロジックは、さらに、前記干渉信号の前記信号部分空間の測定された成分の少なくとも1つを、前記第2の算出された信号部分空間の前記成分に加え、生成され調整された信号部分空間の成分が一次独立な基底を共に形成するように、補完された第2の信号部分空間の成分を結合するように構成されることを特徴とする請求項8又は9に記載の測定装置。前記測定装置の前記データ処理ロジックは、さらに、検査中の前記信号部分空間の成分に対して特異値分解を算出することにより結合を行うように構成されることを特徴とする請求項10に記載の測定装置。前記測定装置の前記データ処理ロジックは、さらに、正確に表される信号成分及び他のチャネルから外れた不正確な信号成分を含むように不正確に機能する信号チャネルの信号を分割し、前記信号チャネルから、前記干渉信号の測定された部分空間の不正確な信号成分のみを含めるように構成されることを特徴とする請求項8から11のいずれか一項に記載の測定装置。前記測定装置の前記データ処理ロジックは、さらに、少なくとも1つの不正確に機能する信号チャネルが、前記干渉信号の前記測定された部分空間に含まれた後に、算出された前記信号部分空間をリスパンするように構成されることを特徴とする請求項12に記載の測定装置。前記測定装置の前記データ処理ロジックは、さらに、前記第2の算出された信号部分空間に対応する手法で、行われた磁場測定に基づいて生成された前記第1の算出された信号部分空間への調整を求めるように構成されることを特徴とする請求項8から13のいずれか一項に記載の測定装置。マルチチャネル測定装置により測定された磁界に含まれる場の成分を調整するコンピュータプログラムであって、前記マルチチャネル測定装置は、一連の測定センサ及びデータ処理ロジックを含み、前記コンピュータプログラムは、前記データ処理ロジックを実行したときに、SSS法により、第1の算出された信号部分空間が有益な信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表し、第2の算出された信号部分空間が干渉信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表す2つの算出された信号部分空間を生成するステップを実行するように構成されるプログラムコードを含み、前記コンピュータプログラムは、さらに、前記有益な信号発生源なしで前記干渉信号のマルチチャネルの磁界を測定するステップと、前記干渉信号の前記磁界からの干渉及び/又は不正確に機能する信号チャネルによる前記干渉信号の最も強い形態を求めるステップと、前記干渉信号の前記最も強い形態を加えることにより、前記第2の算出された信号部分空間を調整するステップと、調整された前記信号部分空間による前記SSS法の使用を継続することにより前記有益な信号を求めるステップと、を実行するように構成されることを特徴とするコンピュータプログラム。前記コンピュータプログラムは、データ処理ロジック読み取り可能な媒体に記憶されることを特徴とする請求項15に記載のコンピュータプログラム。本発明の目的は、特にMEG及びMRI画像化装置によりなされる測定のようなマルチチャネル測定装置によりなされる測定での外部干渉発生源の影響を効果的に除去するための新たなタイプの方法を開示することである。本発明のさらなる目的は、上述した課題を改善することである。本発明は、マルチチャネル測定装置により測定される磁場に含まれる場の成分を調整する方法を導入し、測定装置は、一連の測定センサ及びデータ処理ロジックを含む。本方法では、2つの算出された信号部分空間は、SSS法により生成され、第1の算出された信号部分空間は、有益な信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表し、第2の算出された信号部分空間は、干渉信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表す。本方法は、さらに、前記干渉信号のマルチチャネルの磁界が、前記有益な信号発生源なしで測定され、前記干渉信号の前記磁界からの干渉及び/又は不正確に機能する信号チャネルによる前記干渉信号の最も強い形態が求められ、前記干渉信号の前記最も強い形態を加えることにより、前記第2の算出された信号部分空間が調整され、調整された前記信号部分空間による前記SSS法の使用を継続することにより前記有益な信号が求められることを特徴とする。本発明の一実施形態では、前記最も強い形態の干渉信号における前記干渉信号の測定された前記磁界の成分を含められ、このような成分を表すベクトルに関連する前記信号の強度が所望の閾値を超える。本発明の一実施形態では、前記干渉信号の前記信号部分空間の測定された成分の少なくとも1つが、前記第2の算出された信号部分空間の前記成分に加えられ、生成され調整された信号部分空間の成分が一次独立な基底を共に形成するように、補完された第2の信号部分空間の成分が結合される。本発明の一実施形態では、検査中の前記信号部分空間の成分に対して特異値分解を算出することにより結合が行われる。本発明の一実施形態では、正確に表される信号成分及び他のチャネルから外れた不正確な信号成分を含むように不正確に機能する信号チャネルの信号が分割され、前記信号チャネルから、前記干渉信号の測定された部分空間の不正確な信号成分のみが含められる。本発明の一実施形態では、少なくとも1つの不正確に機能する信号チャネルが、前記干渉信号の前記測定された部分空間に含まれた後に、算出された前記信号部分空間が、リスパンされる。本発明の一実施形態では、前記第2の算出された信号部分空間に対応する手法で、行われた磁場測定に基づいて生成された前記第1の算出された信号部分空間への調整が求められる。本発明の第2の態様によれば、本発明の着想は、磁場を測定し、かつ前記磁場に含まれる場の成分を調整するように構成されるマルチチャネル測定装置を含む。前記測定装置は、一連の測定センサと、SSS法により、第1の算出された信号部分空間が有益な信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表し、第2の算出された信号部分空間が干渉信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表す2つの算出された信号部分空間を生成するように構成されるデータ処理ロジックと、を含む。前記測定装置は、さらに、前記有益な信号発生源なしで前記干渉信号のマルチチャネルの磁界を測定するように構成され、前記データ処理ロジックは、さらに、前記干渉信号の前記磁界からの干渉及び/又は不正確に機能する信号チャネルによる前記干渉信号の最も強い形態を求め、前記干渉信号の前記最も強い形態を加えることにより、前記第2の算出された信号部分空間を調整し、調整された前記信号部分空間による前記SSS法の使用を継続することにより前記有益な信号を求めるように構成されることを特徴とする。本発明の一実施形態では、前記データ処理ロジックは、さらに、前記最も強い形態の干渉信号における前記干渉信号の測定された前記磁界の成分を含めるステップであって、このような成分を表すベクトルに関連する前記信号の強度が所望の閾値を超える、ように構成される。本発明の一実施形態では、前記データ処理ロジックは、さらに、前記干渉信号の前記信号部分空間の測定された成分の少なくとも1つを、前記第2の算出された信号部分空間の前記成分に加え、生成され調整された信号部分空間の成分が一次独立な基底を共に形成するように、補完された第2の信号部分空間の成分を結合するように構成される。本発明の一実施形態では、前記データ処理ロジックは、さらに、検査中の前記信号部分空間の成分に対して特異値分解を算出することにより結合を行うように構成される。本発明の一実施形態では、前記データ処理ロジックは、さらに、正確に表される信号成分及び他のチャネルから外れた不正確な信号成分を含むように不正確に機能する信号チャネルの信号を分割し、前記信号チャネルから、前記干渉信号の測定された部分空間の不正確な信号成分のみを含むように構成される。本発明の一実施形態では、前記データ処理ロジックは、さらに、少なくとも1つの不正確に機能する信号チャネルが、前記干渉信号の前記測定された部分空間に含まれた後に、算出された前記信号部分空間をリスパンするように構成される。本発明の一実施形態では、前記データ処理ロジックは、さらに、前記第2の算出された信号部分空間に対応する手法で、行われた磁場測定に基づいて生成された前記第1の算出された信号部分空間への調整を求めるように構成される。本発明の第3の態様によれば、本発明の着想は、さらに、マルチチャネル測定装置により測定された磁界に含まれる場の成分を調整するコンピュータプログラムであって、前記測定装置は、一連の測定センサ及びデータ処理ロジックを含む。前記コンピュータプログラムは、前記データ処理ロジックを実行したときに、SSS法により、第1の算出された信号部分空間が有益な信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表し、第2の算出された信号部分空間が干渉信号の一次独立な信号基底の信号成分のベクトルを表す2つの算出された信号部分空間を生成するステップを実行するように構成されるプログラムコードを含む。特徴的なフィーチャーとして、前記コンピュータプログラムは、さらに、前記有益な信号発生源なしで前記干渉信号のマルチチャネルの磁界を測定するステップと、前記干渉信号の前記磁界からの干渉及び/又は不正確に機能する信号チャネルによる前記干渉信号の最も強い形態を求めるステップと、前記干渉信号の前記最も強い形態を加えることにより、前記第2の算出された信号部分空間を調整するステップと、調整された前記信号部分空間による前記SSS法の使用を継続することにより前記有益な信号を求めるステップと、を実行するように構成される。本発明の一実施形態では、前記コンピュータプログラムは、データ処理ロジック読み取り可能な媒体に記憶される。本発明の最も重要な利点の1つは、MEG測定で一般的に使用されるSSS法の遮蔽因子が本発明により、通常、最適化されたデフォルトの設定での150から、約1000まで改善されうることである。これは、外部干渉の除去における追加の減衰が重要であり、干渉が非常に高い強度での状況で特に強調される。実際には、本発明の効果は、測定及び計算アルゴリズムを強化することにより厚くなるかのようなMEG測定構成を取り囲む遮蔽室を製造することと比較されることができ、振動することが少なくなるように安定化されることもできる。別の利点は、広い周波数帯での本方法により、有益な信号の測定結果における良好な精度が達成されることであり、例えば、0から2kHzの測定帯域が実際に使用され、これに関連して、約1/milの精度であり、高い周波数まで到達しうる。本発明の実践では、例えば、306個のチャネルを較正するような困難は無く、本発明の方法は、簡素かつ効果的な手法で較正誤差の除去を行う。本発明のさらに別の利点は、SSS法の良好な特性が、新規で類を見ない手法で射影方法の有利な特徴と組み合わせられることである。本発明の目的は、マルチチャネル測定装置により行われる測定方法を調整するステップを導入することであり、より詳細には、測定結果に現れる干渉により生じる部分空間を求めることであり、それによって、従来よりも明確に精度の高い、対象の有益な信号を求めることである。本発明の原理の基本は、従来技術で導入され、上記でまとめられた、信号空間分離、すなわち、SSS法である。1つの典型的な例で測定される数量は、磁場であり、すなわち、この場合に使用される用途は、magnetoencephalographic、すなわち、MEG、装置である。SSS法では、中心となる考え方は、マックスウェルの方程式及びセンサアセンブリについての情報を用いることにより、測定された信号の一部が、測定センサの内側から生じる対象の生体磁気信号であり、一部が、センサの外側から生じる外部干渉であることを示す結果を算出することができることである。すなわち、磁気多極モーメント、つまり、信号成分の重みは、有益な信号の一次独立な信号基底において、及び、同様に、干渉信号により形成される信号基底において、結果として算出されうる。リアルタイム方法となるには、SSSは、現在の支配的な干渉状況に適合する、つまり、SSSは、時間内に生じる、測定されたボリュームの内側又は外側の信号発生源の変化に関わらず、実際の支配的な磁場を常に測定する。SSSによりもたらされる結果は、しかし、上述した較正誤差により影響される、つまり、測定センサの感度、配置及び位置の不正確さ想定した配置及び位置情報を実際の配置及び位置情報と比較するが、SSS法によりもたらされる結果に直接影響する。本発明の一実施形態では、測定されたマルチチャネル信号は、先ず、従来から行われているようなSSS法での計算により処理される。この処理は、計算で求められる干渉により形成される信号部分空間である点で行われる。本発明は、ここで、従来技術で可能なものよりも非常に正確に実際の支配的な干渉空間に対応するような手法で、この推定された干渉空間の微調整に携わる。比喩的にいうと、干渉部分空間を示すベクトルは、その方向に対してわずかに変化する。すなわち、新たな干渉成分は、算出された干渉部分空間に加えられ、ここで、合計値として表現される新たな干渉成分は、以前よりも非常に良くなった実際の支配的な干渉場情報に対応することが言える。さらに別の言い方で表現すると、従来技術の方法により得られる干渉モデルは、実際には存在するにもかかわらず、ある形態又は干渉の形態が欠如する点で不完全である。本発明は、この点において、この干渉モデルを改善することを目的とする。以下の実施例では、306個のチャネルの信号セットを有する、つまり、使用されるMEG装置は、306個の測定チャネルを有するものと仮定する。SSS法により動作において、場の成分は、所望の次数までの測定結果から算出される。場の成分は、各成分を生じる磁場の発生源の配置に基づいて分離されうる。発生源は、センサアセンブリの内側脳信号であってもよく、又はアセンブリのかなり外側外部干渉発生源であってもよい。従来技術の一実施形態では、いわゆる上述した体積間での中間領域intermediatespaceの状態にある干渉発生源を分離することがさらに可能であり、ここで、一連の測定センサに非常に近接した状態にある対象とならない発生源は、検査に含まれる。いわゆる中間領域intermediatespaceの実施形態は、フィンランド国特許出願公開FI20050445号に記載されている。SSS法による動作において、測定センサは、磁気発生源を含まない体積volumeに位置づけられる。実際には、最も近接する信号発生源からのセンサの距離は、少なくとも2から4cmの大きさであり、ここで、一連のセンサにより測定される磁場及び所望の次数までのその勾配は、非常に整然と振る舞う、つまり、急激な局所的変化は生じない。すなわち、当該次数は、生体磁場の自由度を示し、かつ、振幅がセンサのノイズレベルを超える次数まで求められうる。以下では、原点は、測定センサにより形成される領域の中心、つまり、脳信号の測定位置における頭部の中心と仮定される。測定ボリュームは、同心球殻により検査されうる、ここで、その半径は、適切に選択される。分割は、例えば、全ての有益な磁気発生源、つまり、MEG測定の場合、検査中の患者の頭部が最も遠い球殻内に位置づけられるような手法でなされうる。次に、測定装置自体のセンサは、最も遠い球殻の外側の層に配置され、さらに、この層で発見されない磁気発生源を扱う。主に無限遠まで延びると定義されてもよい第3のボリュームに位置づけられるこの層は、外部磁気干渉の全ての発生源である。場に関するポテンシャルは、いわゆる球面関数を適用するラプラスの方程式への解として解かれうる。このポテンシャルは、第1の級数展開が原点で発散し、第2の級数展開が無限大で発散する二つの級数展開の合計値として形成されうる。これは、第1の級数展開が、センサアセンブリ内の生体磁気発生源である磁気発生源に特徴付けられ、第2の級数展開が、最も外側に位置づけられる外部干渉発生源又は第3のボリュームに特徴付けられることを意味する。この後、測定された磁場は、測定された信号全体が二つの一次結合の合計であるような手法で信号ベクトルにより表現され、二つの一次結合の両方は、適切な基底ベクトルで表される。数学的な表現では、これは、行列の形態を与え:上記の表記では、Sinは、生体磁気信号を示す一連の基底ベクトルを示し、Soutは、それぞれ、干渉信号を示す一連の基底ベクトルを示す。表記Xin及びxoutは、場ベクトルΦを提供するために各Sの重み付け係数を事実上意味するいわゆる多極モーメントを示す。SSS基底の次数、つまり、基底ベクトルの数は、以下のように求められうる:例えば、Lin=8及びLout=3ではn=95となる。N>nNはチャネルの数のとき、一次独立なSSS基底が得られ、所望のボリュームの全ての測定可能な磁気信号をカバーする。分離は、有益な信号基底をもたらし、干渉信号基底は、一義的であり、結果として推定された有益な信号となる。ここで、PIは、Sの一般逆行列、すなわち、数学的な表現では、SP1=STS-1STを意味する。xの精度は、Sの条件数及び一連のセンサの較正精度に依存する。これは、SSS法がセンサアセンブリの形状についての直接情報に基づくためである。この後、生体磁気及び干渉発生源に対応する信号は、以下の手法で再構成される。ここで、φin及びφoutは、それぞれ、測定される物体又は外部干渉により生じる場ベクトルであり、各Sは、基底ベクトル又は部分空間を示し、各xは、多極モーメント、つまり、異なる基底ベクトルに対する事実上の重み付け係数である。次に、干渉により形成され、かつSSS法により推定される場の部分φoutは、検査時に取得される。これまでは、この干渉空間は、信号全体から除去されるだけであり、センサアセンブリの較正が完璧だと仮定する、つまり、各センサの配置及び位置についての正確な情報が取得可能である。実際には較正誤差が常に存在するため、現実に好ましく対応する微調整されたφoutの可能性を有する。よって、式10に基づいて算出された干渉部分空間を有する場合、この推定された干渉部分空間は、以下のように本発明の一実施形態で調整されうる。簡略化のために、例えば、15の計算された、306次ベクトルbimを有し、このステップでは、例えば、干渉部分空間への5つの306次ベクトルが加えられることができ、ここで、新たに合計された基底は微調整された干渉部分空間を示す。これら5つのベクトルの各々が、干渉部分空間に加えられた小さな偏移smalldeviationを示すということができる。原理上は、同様の調整もまた、センサアセンブリの内側の基底ベクトルになされうるが、干渉部分空間の調整は、実際には、より重要な肯定である。なぜなら、干渉信号は、通常、有益な信号よりも感度が高いためである。干渉ベクトル、つまり、加えられる小さな偏移は、例えば、射影方法の工程と同様の手法で測定された信号から求められうる。すなわち、較正誤差又はいくつかの他の理由が測定された信号から求められるため、最も強い干渉形態は、SSSにより求められるような、算出された干渉モデルには現れない。この測定は、実際に測定される物体なしでなされる、すなわち、例えば、MEG測定は、患者が磁気遮蔽室に存在しない場合に行われうる。このように、いわゆる空の部屋に含まれる磁気部分空間は、正確に測定されうる。実際には、一連のベクトルが取得され、ゼロのノルムからは非常に大きく異なるものが取り上げられる。このステップは、例えば、既知の数学的処理である特異値分解を求めることにより行われうる。上述した、加えられる干渉ベクトルの別のタイプの例としては、動作不能なチャネルの誤差信号の算出及びその影響の除去が述べられうる。このような誤差信号は、単に306次ベクトルとして干渉基底に加えられ、既知の不十分なチャネルは、1の値を有し、他のチャネルは、0の値を有する。この場合、不十分なチャネル及び他のチャネルから独立なチャネルに特有な誤差信号は、式中の加算されたベクトルによりモデル化され、他のチャネルは、いかなる信号バイアスも有さない。この処理は、また、不十分なチャネルにより提供される取り得る正確な信号の部分を損なわないという利点を有する。さらに、干渉ベクトルの合計された基底が、冗長なベクトル、つまり、例えば、互いに一次従属な二つの同じベクトル又は二つの干渉成分ベクトルを有していないことが重要である。一次従属なベクトルが含まれる場合、さらに計算が不安定になる、つまり、解が一義的でない、又は全く無い。このステップでは、算出された干渉基底及び測定された干渉基底の結合は、合計された干渉ベクトルのセットが一次従属基底を形成するような手法でさらに処理される。同時に、干渉ベクトルの数は、通常、SSS干渉基底のベクトルの数と射影法により延長された干渉基底のベクトルの数との間の数を有するように低減されうる。ベクトルの数を特定するために、例えば、10個の306次干渉ベクトルがSSS演算により生成されうる。この後、例えば、実質的にゼロから外れる5個の干渉ベクトルが射影法により求められる。その後、これらの二つのベクトルは、SSS基底の二つの干渉ベクトルにより冗長であることが観察される。最終的に、30613の大きさを有する干渉ベクトル行例が得られ、従来の方法により求めることができたものよりも実際の支配的な干渉空間に対応して著しく良くなる。図1aは、簡略化したフローチャートとしての本発明に係る方法のステップの一例を示す。使用される磁場のための測定装置は、例えば、磁気遮蔽室の内部に配置されるMEG測定装置であり、大きな一連の測定センサ、つまり、MEG測定装置に接続される測定チャネルを有する。先ず、ステップ11では、一連の測定センサの形状配置及び位置及び自然法則電磁気のマックスウェルの方程式に基づく計算上の分析がなされ、これは、上記で説明した従来の信号空間分離法SSS法に対応する。このステップの結果、算出された基底ベクトルは、一連のセンサの内側の信号発生源及び一連のセンサの外側に対して得られる。すなわち、後に測定される磁場を示す場の成分は、二つの部分、つまり、一方が一連のセンサの内側のボリュームの発生源から展開される磁場のみを含み、他方が一連のセンサの外側から生じる干渉場の成分を含む級数展開に分離されうる。これらの場の成分は、算出された有益な信号基底及び算出された干渉信号基底によって現されうる。この後、ステップ12では、マルチチャネル磁場測定は、いわゆる空の部屋により含まれる磁場を求めるために、患者、つまり、測定される物体無しで行われる。このように、一般の干渉空間、つまり、患者の脳信号を除く他の全ての信号発生源は、一連の測定センサの領域における磁場を測定することにより求められる。ステップ13では、測定によって、外部干渉に対応する信号基底は、測定結果から生成される。この後、A11においてSSS法により得られたNの長さの干渉ベクトル及びB12において空の部屋の測定により得られたNの長さの干渉ベクトルは、検査のために分離されうる。先ず、ベクトルのノルム幾何学的な長さ、つまり、拡張された意味における信号成分の振幅は、B干渉ベクトルから検査され、それらの干渉ベクトルのみが、ノルムが所望の閾値を超える場合に、さらなる処理のために選択される。このように、実質的にゼロから外れる、つまり、干渉部分空間の成分が測定に非常に大きな影響を与えるそれらの成分のみが選択される。このスクリーニングの後、干渉基底Bの本質的な成分は、干渉基底Aのベクトル14と比較される。これは、ベクトル対の間での線形従属を検査することによりなされ、発見された場合、このようなベクトルは、共に合算され、冗長なベクトルは、干渉基底から除去される。上記の手法で処理することにより、干渉ベクトルの数は、低減されうるが、一連の干渉ベクトルにより含まれる情報内容は、低減されない。上述した比較から、Bの数を元来含む、測定された干渉基底の部分空間、つまり、C干渉部分空間の線形従属な成分が結果として得られ、これは、15において、Aの数を含む算出された干渉ベクトルのセットへの補完として加えられうる。このように、上述した表記により、現実に対してより明確に対応する干渉空間、つまり、大きさN,ACを有する行列が得られる。この後、16において、磁場測定の分析は、望み通りに継続されうる。これは、例えば、最終的な結果として生体磁場が得られることを示す正確な信号情報のような従来技術としてSSS法の使用を継続することによりなされうる。これは、各場成分が展開される脳のそれらの位置についての正確な情報を得るためとして、このような手法で発生源モデリングを行うようにさらに継続されうる。最終的に、患者の状態に関する診断は、専門家による脳信号の位置及び強度情報から最善の状態で決定されうる。図1bは、次に、本発明の第2の実施例をフローチャートの形態で示す。この例では、第1のステップ11は、図1aの例と同一である。この後、本発明の着想が用いられ、しかし、上記ではない他のタイプ、すなわち、どういうわけか、他のチャネルの干渉信号独立を含む、又はそうでなければ正常に機能しない、個々のチャネルを求めるために用いられる。ステップ12’では、このようなチャネル及びそれによって表される正確でない干渉成分は、ここで、求められる。この後、いわゆる空の部屋の測定は、また、図1aのステップ12において、上記で説明したようになされうる。13’では、測定チャネルで実際に現れる誤差信号と測定された外部干渉信号とが合計されたとき、合計干渉基底が生成されうる。このステップの後、18において、SSS信号部分空間の基底ベクトルをリスパンrespanすることが好ましい。その後、図1aと同様に、ステップ14から16を続けることが可能である。この処理では、不十分な個々の測定チャネルにより含まれる誤差は、外部干渉の場合のように検査から除去されうる。図1cは、次に、一連のセンサの内側の調整と共に、干渉基底の調整を含む本発明の第3の実施例を示す。この例では、第1のステップ11は、前述した実施形態と同一、つまり、二つの異なる信号基底は、先ず、SSS法により生成される。この後、12’’では、測定装置の一連のセンサが患者の頭部を囲むときに、実際の測定が行われうる。ここで、磁場についての情報は、実際の臨床測定に基づいて得られ、磁場の一部分は、外部干渉であり、それらの一部分は、脳から生じる生体磁気信号であり、その振幅amplitudeは、干渉よりも小さな数十の次数であってもよい。ステップ13’’では、測定された信号は、有益な信号を含む信号基底、及び残り、つまり、外部干渉を含む信号基底に分けられうる。この後、図1bによる追加が、測定された干渉空間になされうる、つまり、不十分なチャネルの情報、又は不正確に動作するチャネルにより含まれる干渉成分は、17において、含まれうるこのステップは基本的に図1bのステップ12’と同様である。このステップの後、図1bの例のように、18において、SSS信号基底のベクトルを再度張るrespanすることが好ましい。ここで、13’’において、内部及び外部基底の測定された成分と共に、ステップ11において、内部及び外部基底の算出された成分を有する。ステップ14から15の前述した例の工程に対応して、ここで、ステップ19aにおける有益な信号基底の調整、及びステップ19bにおける外部干渉基底の調整の両方又は一方がなされる。このように、一連のセンサの内部及び外部基底は、必要な場合に、現実により好ましく対応するようなこのような手法で両方が調整されうる。最後に、16において、信号の分析は、上述したように続けられうる。図2aは、次に、患者の頭部23から生じる生体磁気信号が通常測定される状況におけるMEG測定のための構成を示す。実際のMEG装置21は、測定チャネルとして機能するセンサ22が遮蔽室20の内側のヘルメット形状のセンサアセンブリ22’として配置され、センサ22から測定装置21への接続が遮蔽室の壁を通じて伝えられるように、磁気遮蔽室の外側に配置されうる。本発明の一実施形態では、306個のセンサ、つまり、測定チャネルが存在する。当然ながら、他の個数の測定チャネルもまた使用することができる。測定は、上記で示したように行われ、支配的な信号を示す信号24が結果として得られる。この状況では、センサ22は、患者の頭部、患者の頭部又は例えば、心臓のような他の部位の可能な干渉発生源、及び他の外部干渉発生源から生じる対象となる信号を観測する。その結果、24において、全ての測定された有益な信号成分及び全ての測定された内部及び外部干渉成分が得られる。図2bは、次に、いわゆる空の部屋の場合、つまり、測定される離れた物体又は患者なしに対応する測定状況を示す。空部屋の測定は、実際の患者の測定の前又は後で行われることができ、測定構成に関連する他の変数がこれらの測定の間にできるだけ同じであることを維持することにできる限り注意を払う。装置は、図2aと同様であり、磁気遮蔽室20に配置されるセンサアセンブリ22’と、遮蔽室の外側でデータ処理を行うMEG装置21と、を含む。測定チャネルを通じて、MEG装置は、ここで、遮蔽室検査時の患者以外の外側の発生源、遮蔽室自体又は遮蔽室の外側から生じる外部干渉発生源により生じうる全ての干渉信号についての情報を生成する。上記の得られた信号情報は、ベクトルのセット、つまり、行列形態として表現されうる。図2cは、次に、得られたベクトルのセット、つまり、行列のさらなる処理の一つの好ましい原理を示す。ステップ11では、NAの大きさを有する、算出された干渉信号行列が求められ、ステップ24又は25では、NBの大きさを有する測定ベースの干渉信号行列が求められる。次に、A算出されたベクトルは、B測定されたベクトルと比較される。26aでは、B測定されたベクトルから、これらの重要な成分、つまり、ほとんどゼロから外れ、これは、Aベクトルが選ばれることにより既に求められた干渉部分空間を調整する。非常に新規な干渉成分のサーチであるステップ26aは、また、新規な干渉成分がベクトルセットAに一次従属であることを含む。必要な場合には、一次従属ベクトルは、合計基底が生成されるときに、合計される。ステップ27aの最終的な結果のように、調整された干渉空間を示す新たな行列が得られ、大きさはNCであり、ここで、A≦C≦ABとなる。このように、ステップ27aにおける実際の干渉を非常に正確に示す一連の干渉信号が得られ、ここで、信号処理は、ステップ28において、希望通りに続けられうる。図2cは、本発明の取り得る第2の実施形態を破線で示し、ここで、示された着想は、また、有益な信号基底、つまり、内部基底の調整に適用される。この場合、SSS法により生成された有益な信号の生成された部分空間及び測定から得られた有益な信号の部分空間は、検査時に取り込まれる。算出された内部基底が性格に現実と対応していないため、算出された基底に存在しない成分は、26bにおいて、測定された内部基底から検索される。この後、SSSから得られた算出された基底は、新たな成分で補完されうる。同時に、支配的な成分は、合計された基底のベクトルが、結合の後に互いに一次独立であるように、結合される。現実により対応させるための干渉基底の上述した調整は、実際にはより大きくなるが、この原理による内部基底の調整もまた問題になりうる。外部及び/又は内部基底に対する調整がステップ27a-bでなされたとき、信号処理及び分析は、ステップ28において、例えば、SSS法から既知の手段により、正常に続けられうる。図3a及び3bは、3次元のxyz座標で示されるような例によるMEG測定結果での本発明の効果を示す。測定された信号を示すベクトルは、実際にはN次元NはMEG装置のチャネルの数であるが、この例でのベクトルは、3次元座標に切り捨てられており、ベクトル点は、明確さの向上のために二次元平面に投影されている。測定された信号が上述した手法で処理されるとき、有益な脳信号を示す信号ベクトルが求められ、Φ_brain_signalのように図で示される。それに応じて、干渉発生源により生じ、かつSSS法により分離された、算出された場の部分は、Φ_interf_SSS_calcとして示される。上述した二つの信号点の相互の振幅mutualamplitude比は、示唆的なだけであり、これは、実際の測定状況での干渉信号が有益な信号よりも数十程度大きいためである。図の下部の点は、xy面に射影されたときの信号部分空間の射影点を示す。信号部分空間での本発明の効果は、ベクトルΦ_interf_realにより簡素な手法で示されうることである。この新たなベクトルは、ステップ26a及び27aによって図2cで示される。このベクトルは、本発明により調整された部分空間を示し、干渉ベクトルΦ_interf_SSS_calcよりも実際の状況に近い状態を示す。本発明の効果は、よって、調整、つまり、追加の成分が、例えば、空の部屋の測定又は不十分に機能するチャネルを求めることによる干渉に対して算出又は求められ、そのベクトルは、代数的に表され:この追加の成分は、元の算出された干渉部分空間ベクトルに合算され、それにより、調整された干渉部分空間を得る。最後に、所望のさらなる計算は、特に、干渉場ベクトルとしてΦ_interf_realを用いて行われる。追加した成分の方向は、基本的には任意であり、つまり、従来の射影方法との実質的な違いは、任意の特定の実質的な干渉の方向であること、又は最も大きな干渉成分は、測定された信号全体から除去されないが、全体の干渉空間の振幅及び方向は、実際の測定、つまり、例えば、空の部屋の測定に基づいて変更される。図3bは、次に、ベクトルにより示される、図2cの破線で示される実施形態の分岐に対応する実装を示す。ここで、検査の物体は、内部基底、つまり、有益な信号により形成される信号部分空間である。内部基底の一部がSSS処理の後に分離されてからの測定結果は、ベクトルΦ_brain_signal_calcにより図3bに表される。この後、図2cの上述した実施形態のステップ26bから26bは、振幅及び方向について変更した有益な信号部分空間により示されることができ、簡素化されたベクトルΦ_brain_signal_realにより表される。図3bの状況は、検査時での個別の期間を示すのみであり、これは、実際の状況が動的に連続的に変化するためである。最終的な結果として、この実施形態での調整された信号ベクトルが得られ、その数式は以下のように示される:変更された有益な信号及び/又は干渉信号基底のためのさらなる処理は、この所望の手法、例えば、さらなるSSS法による処理の後になされうる。本発明のために提示される方法のステップは、MEG装置のデータ処理ロジック、つまり、通常、装置のプロセッサで実行されうるコンピュータプログラムとして適用可能な部分で実行されうる。この装置は、メモリ又は他の記憶媒体を含んでもよく、コンピュータプログラム、データ入力及び方法により要求される他のパラメータ及び測定から得られる結果は、記憶されうる。本発明は、上記に示した例示的な実施形態にだけ限定されず、特許請求の範囲により規定される発明の着想の範囲内で多くの変更が可能である。"