"紫外線光を生成するための装置であって、プラズマ電球と、前記紫外線光を放出する前記プラズマ電球を励起するように、マイクロ波エネルギー場を生成するように動作可能であるマイクロ波発生器と、前記紫外線光の強度を測定するように構成された検出器と、前記プラズマ電球と前記検出器との間に配置された反射器とを備え、前記反射器は、前記プラズマ電球によって生成される前記紫外線光の少なくとも一部分を反射するように動作可能である装置。前記紫外線光の放出を制御するように構成された制御システムを更に備え、前記制御システムは、前記紫外線光についての目標強度を受信し、前記検出器から前記紫外線光の前記測定強度を決定し、前記目標強度が前記測定強度に相当するか否かを評価し、前記紫外線光の強度を調整するために、前記マイクロ波発生器に対する電力を調整するように構成されている請求項1に記載の装置。前記制御システムは、前記紫外線光の前記目標強度が前記紫外線光の前記測定強度より大きいときに前記マイクロ波発生器に対する前記電力を増加させるように更に構成されている請求項2に記載の装置。前記制御システムは、前記紫外線光の前記目標強度が前記紫外線光の前記測定強度より小さいときに前記マイクロ波発生器に対する前記電力を減少させるように更に構成されている請求項2に記載の装置。前記検出器と前記反射器との間に配置されたシャッターを更に備え、前記シャッターは、前記検出器の少なくとも一部分から紫外線光を実質的に遮断するように構成されている請求項2に記載の装置。前記制御システムは、前記紫外線光に対して前記検出器の前記一部分を少なくとも部分的に露出させるように前記シャッターを動作させるように更に構成されている請求項5に記載の装置。前記制御システムは、表示装置を含み、前記制御システムは、前記表示装置上で前記紫外線光の前記測定強度を示すように更に構成されている請求項2に記載の装置。前記制御システムは、表示装置を含み、前記制御システムは、前記プラズマ電球、前記反射器、又は前記マグネトロンのうちの少なくとも1つの変動を決定し、前記表示装置上で前記変動を示すように更に構成されている請求項2に記載の装置。前記検出器は、前記反射器の厚さを通して前記紫外線光の強度を測定する請求項1に記載の装置。前記反射器は、2色性被覆を含み、前記検出器は、前記2色性被覆を透過した前記紫外線光の強度を測定する請求項9に記載の装置。前記反射器は、第1の厚さの第1の部分及び第2の厚さの第2の部分を有する2色性被覆を含み、前記検出器は、前記2色性被覆の前記第2の部分を透過した前記紫外線光の強度を測定する請求項9に記載の装置。前記反射器は、2色性被覆を含み、前記反射器の一部分は、前記2色性被覆がなく、前記検出器は、前記反射器の前記一部分を透過した前記紫外線光の強度を測定する請求項9に記載の装置。前記反射器は、前記反射器の厚さを通して延在する開口を含み、前記検出器は、前記開口を透過した前記紫外線光の強度を測定するように構成されている請求項1に記載の装置。前記検出器と前記反射器との間に配置されたシャッターを更に備え、前記シャッターは、閉鎖されると、前記検出器の少なくとも一部分から前記紫外線光を実質的に遮断するように構成されている請求項1に記載の装置。紫外線光を生成する電灯システムを制御する方法であって、前記紫外線光についての目標強度を受信することと、検出器を使用して前記紫外線光の強度を測定することと、前記目標強度を前記測定強度と比較することと、前記比較に応じて、前記紫外線光の強度を調整するために、前記マイクロ波発生器に対する電力を調整することとを含む方法。前記電力を調整することは、前記紫外線光の前記目標強度が前記紫外線光の前記測定強度より大きい場合、前記マイクロ波発生器に対する前記電力を増加させることを含む請求項15に記載の方法。前記電力を調整することは、前記紫外線光の前記目標強度が前記紫外線光の前記測定強度より小さい場合、前記マイクロ波発生器に対する前記電力を減少させることを含む請求項15に記載の方法。前記検出器を使用して前記紫外線光の強度を測定することは、前記検出器の一部分を少なくとも部分的に露出させるように、前記検出器に関連するシャッターを動作させることと、前記検出器から、前記紫外線光の前記測定強度の表示を取込むこととを含む請求項15に記載の方法。前記検出器を使用して前記紫外線光の強度を測定することは、前記検出器の前記一部分を前記紫外線光に対して露出しないように遮断する前記シャッターを動作させることを含む請求項15に記載の方法。表示装置上で前記紫外線光の前記測定強度を示すことを更に含む請求項15に記載の方法。プラズマ電球、反射器、又はマグネトロンのうちの少なくとも1つの変動を決定することと、表示装置に前記変動を示すこととを更に含む請求項15に記載の方法。前記検出器を使用して前記紫外線光の強度を測定することは、前記紫外線光の供給源と前記検出器との間に配置された反射器の一部分を通して前記紫外線光を透過させることを更に含む請求項15に記載の方法。前記検出器を使用して前記紫外線光の強度を測定することは、前記反射器の前記一部分上の2色性被覆を通して前記紫外線光を透過させることを更に含む請求項23に記載の方法。前記検出器を使用して前記紫外線光の強度を測定することは、前記反射器に設けられた開口を通して前記検出器まで前記紫外線光を透過させることを更に含む請求項23に記載の方法。プログラム製品であって、処理装置によって実行されると、前記紫外線光についての目標強度を受信し、検出器を使用して前記紫外線光の強度を測定し、前記目標強度を前記測定強度と比較し、前記比較に応じて、前記紫外線光の強度を調整するために、マイクロ波発生器に対する電力を調整するように構成されたプログラムコードと、前記プログラムコードを担持するコンピューター記録可能媒体とを備えるプログラム製品。本発明の実施の形態は、従来技術に伴うこれらの問題及び他の問題を、紫外線光を生成する装置、紫外線光を生成する電灯システムを制御する方法、及びプログラム製品を提供することによって対処する。本装置は、プラズマ電球と、紫外線光を放出するプラズマ電球を励起するように、マイクロ波エネルギー場を生成するように動作するマイクロ波発生器と、紫外線光の強度を測定するように構成された検出器と、プラズマ電球と検出器との間に配置された反射器とを備える。反射器は、プラズマ電球によって生成される紫外線光の少なくとも一部分を反射するように動作する。代替の実施の形態では、本方法は、紫外線光を生成する電灯システムを制御するためのものである。本方法は、紫外線光についての目標強度を受信することと、検出器を使用して紫外線光の強度を測定することとを含む。本方法は、目標強度を測定強度と比較することと、比較に応じて、紫外線光の強度を調整するために、マイクロ波発生器に対する電力を調整することとを更に含む。更なる代替の実施の形態では、本プログラム製品は、処理装置によって実行されると、紫外線光についての目標強度を受信し、検出器を使用して紫外線光の強度を測定し、目標強度を測定強度と比較し、比較に応じて、紫外線光の強度を調整するために、マイクロ波発生器に対する電力を調整するように構成されたプログラムコードを備える。本プログラム製品は、プログラムコードを担持するコンピューター記録可能媒体を更に備える。これらの利点及び他の利点は以下の図面及び詳細な説明を考慮して明らかになる。本明細書に組み込まれるとともに本明細書の一部を構成する添付の図面は、本発明の実施形態を示し、上記の本発明の概説とともに、以下に示す実施形態の詳細な説明は本発明の原理を説明する役割を果たす。一般に、紫外線UV電灯システムで使用されるマグネトロンの電力出力の変動、UV電灯システムのUV電球又は反射器上で起こる汚染、及びUV電灯システムの構成要素の劣化が存在する。そのため、これらの因子によって、生成されるUV放射又はUV光の変動が存在することが多い。そして、これらの変動は、UV電灯システムからのUV光強度の変動に直接関係する。これは、UV光の強度の変動に敏感である一部の用途、また特に、一貫性があるUV光強度を必要とする傾向がある重要プロセスにとって困難さを生じる。ここで、同様の参照符号が幾つかの図全体を通して同様の部品を示す図面を参照すると、図1は、本発明の実施形態によるマイクロ波励起UV電灯システムすなわち光源10を示す。光源10は、それぞれの導波管16を通して長手方向に延在するマイクロ波室14にそれぞれが結合される、一対のマグネトロン12として示される一対のマイクロ波発生器を含む。各導波管16は、一対のマイクロ波発生器12によって生成されるマイクロ波が、長手方向に離間した関係で室14の両端部の上側に隣接してマイクロ波室14に結合するように、マイクロ波室14の上端部に結合した出口ポート18を有する。密閉され長手方向に延在するプラズマ電球20の形態の無電極プラズマ電灯は、当技術分野でよく知られているように、マイクロ波室14内に搭載され、室14の上端部に隣接して支持される。図示しないが、プラズマ電球20を冷却するために、図2において矢印22で図式的に示される空気を、マイクロ波室14内に送るように動作する加圧空気源を含む、当業者によく知られているキャビネット又はハウジング内に、光源10が搭載されることが認識されるであろう。光源10は、一対のマイクロ波発生器12からマイクロ波室14に結合されたマイクロ波エネルギーによってプラズマ電球20が十分に励起されると、マイクロ波室14の下端部から、図2において矢印24で図式的に示される紫外線光又は光を放出するように設計及び構築される。一対のマグネトロン12が、本明細書で示され述べられるが、光源10が、本発明の実施形態から逸脱しないプラズマ電球20を励起するために単一のマグネトロン12だけを含むことができることが理解される。光源10は、当業者によって理解されるように、スタータバルブ26、及び、一対の変圧器28であって、それぞれが、マグネトロン12のフィラメントに電力供給するためにマグネトロン12のそれぞれの1つに電気結合される、一対の変圧器28を含む。マグネトロン12は、導波管16の入口ポート30に取り付けられ、それにより、マグネトロン12によって生成されるマイクロ波が、導波管16の長手方向に離間した出口ポート18を通して室14内に放出される。好ましくは、2つのマグネトロン12の周波数は、僅かな量だけ分離又はずらされて、光源10の動作中における2つのマグネトロン12間の相互結合が防止される。特定の実施形態では、第1のマグネトロン12は約2.4GHzの信号を生成することができ、一方、第2のマグネトロン12は、第1のマグネトロン12から、最大約約20MHzの差を有する信号を生成する。図1及び図2を参照して最もよく理解されるように、マイクロ波室14は、全体が水平の上部壁32、一対の全体が垂直の両端壁34、及び、両端壁34間で、かつ、プラズマ電球20の両側に長手方向に延在する一対の全体が垂直の両側壁36を含む。マイクロ波室14は、側壁36から上部壁32に向かって上向きでかつ内向きに延在する傾斜壁38を更に含む。一対の開口40が、マイクロ波室14の上端部に設けられ、開口40は、導波管16の出口ポート18に整列し、それに結合する。こうして、一対のマグネトロン12によって生成されるマイクロ波エネルギーは、マイクロ波室14に結合されて、UV光24を放出するのに十分なエネルギーでプラズマ電球20を励起する。もちろん、マイクロ波室14の他の構成が、本発明の実施形態から逸脱することなく可能である。本発明の実施形態によれば、長手方向に延在する反射器42は、プラズマ電球20から放出されるUV光24を、マイクロ波室14の下端部から基材図示せずに向かって反射するために、マイクロ波室14内に搭載される。反射器42は好ましくは、横断面が楕円構成を有するが、本発明の趣旨及び範囲から逸脱することなく、放物線状又は他の断面構成が可能である。網目スクリーン44が、マイクロ波室14の下端部に搭載され、一対のマグネトロン12によって生成されるマイクロ波に不透過のままでありながら、放射されるUV光24に対して透過性がある。幾つかの実施形態では、反射器42は、被覆ガラスで作られる。例えば、反射器42の一方の面42a例えば、プラズマ電球の側は、図4Cに最もよく示されるように、2色性被覆45を含み、一方、反射器42のもう一方の面には、サンドブラストを施して、図4Cで見ることができない尺度の表面粗さを提供することができる。2色性被覆45は、耐火性二酸化物の層からなるものとすることができる。そのため、反射器42は、一対のマグネトロン12によって生成されるマイクロ波エネルギーに対して実質的に透過性があるが、プラズマ電球20によって放出されるUV光24に対して実質的に不透過性であり、また、それを実質的に反射する。しかし、少なくとも一部のUV光24は、反射器42の少なくとも或る部分を貫通することが可能である。例えば、2色性被覆45は、UV光24を完全に遮断しない場合がある、又は、反射器42の少なくとも1つの不連続な領域45b図4Eは、コーティングされないことによって2色性被覆45を省略される場合がある。代替的に、少なくとも1つの開口47図4Bを、反射器42内に構成することができる。いずれにしても、反射器42を通して透過された、反射器42の厚さ方向に貫通して延在する開口47図4Bを通して透過された、反射器42上の2色性被覆45図4Cを通して透過された、反射器42の他の部分に比べて2色性被覆45の薄い部分を有する反射器42の不連続な領域45a図4Dを通して透過された、又は、2色性被覆45が除去された反射器42の不連続な領域45b図4Eを通して透過されたUV光24の強度は、少なくとも1つのUV強度検出器70図2に示す、UV強度検出器70a及び70bによって測定されることができる。シャッター72図2に示す、シャッター72a及び72bは、各UV強度検出器70の検出部の前に配置されて、検出器がUV光24の強度を測定していないとき等、シャッター72が閉鎖されるときに、UV光24に対する露出からUV強度検出器70を完全に遮断するように構成することができる。閉鎖されたシャッター72は、プラズマ電球20から放出されるUV光24に対して検出器70の視野を妨害するように介入する。UV強度検出器70の検出部を選択的に露出させるためにシャッター72を利用することにより、UV強度検出器70の寿命を増加させ、UV強度検出器70のソラリゼーションを減少させる。さらに、反射器42によるプラズマ電球20からのUV光24の減衰もまた、UV強度検出器70の寿命を増加させ、UV強度検出器70のソラリゼーションを減少させると思われる。各UV強度検出器70は、バージニア州スターリング所在のEIT商標,Inc.社によって配給されるUV強度検出器とすることができ、一方、各シャッター72は、回転シャッター又は虹彩シャッターとすることができ、その両方が、当技術分野で知られている。代替の実施形態では、反射器42は、研磨されたアルミニウム等の、適した反射特性、屈折特性、及び/又は熱特性を有する別の材料で作ることができ、同様に、マグネトロン12によって生成されるマイクロ波エネルギーに実質的に透過性があるが、プラズマ電球20によって放出されるUV光24に対して実質的に不透過性であり、また、それを実質的に反射する。これらの実施形態では、少なくとも1つのUV強度検出器70は、反射器42の厚さ方向に貫通して延在する少なくとも1つの各開口47を通して、プラズマ電球20によって放出されるUV光24の強度を測定することができる。図示されていないが、光源10が、作動可能なシャッター組立体図示せずに結合して、その作動可能なシャッター組立体が閉鎖されると、マイクロ波室14から漏れるUV光24が可能な限り少ないことを保証することができることを当業者は認識するであろう。こうしたシャッター組立体は、MicrowavePoweredLampheadHavingExternalShutterという名称の米国特許第6,933,683号明細書に開示されており、この米国特許の開示内容はこの引用によりその全体が本明細書の一部をなすものとする。本発明の実施形態によれば、図2、図3、及び図4A及び図4Bに示すように、反射器42は、マイクロ波室14内で対向するすなわち鏡が向き合う関係で、かつ、プラズマ電球20に対して離間した関係で搭載される一対の長手方向に延在する反射器パネル46を含む。一対の反射器パネル46は、長手方向に離間した一対の保持器48図2によりマイクロ波室14内に搭載され、各反射器パネル46は、各室側壁36から内向きに延在する、全体が水平の内向きに向けられたフランジ50上で、その下端部を支持されている。本発明の一態様によれば、長手方向に延在する中間部材52は、保持器48に形成された一対の溝穴54図2によって、マイクロ波室14内に搭載される。図2、図3、及び図4A及び図4Bに示すように、中間部材52は、反射器パネル46に対して離間した関係でまた同様にプラズマ電球20に対して離間した関係で搭載される。中間部材52は、PYREX登録商標等のガラスで作ることができ、また、プラズマ電球20によって放出されるUV光24を反射しないように未被覆とすることができる。代替的には、中間部材52は、反射器パネル46を作るのに利用される材料と同様の材料例えば、上記で論じた、被覆ガラス、研磨されたアルミニウム、又は何らかの他の適した材料で作ることができる。図2、図3、及び図4A及び図4Bを更に参照すると、反射器パネル46はそれぞれ、各反射器パネル46の長手方向軸線に全体が平行である長手方向に延在する縁部56を含む。中間部材52は、中間部材52の長手方向軸線に全体がそれぞれ平行である一対の長手方向に延在する両縁部58を含む。反射器パネル縁部56及び中間部材縁部58はそれぞれ、好ましくは、プラズマ電球20の長手方向軸線に全体が平行である垂直面60及び62をそれぞれ有する。一対の反射器パネル46及び中間部材52が、反射器42を形成するようにマイクロ波室14内に組み合わせて搭載されると、一対の離間した長手方向に延在する溝穴64が、反射器パネル46の縁部56と中間部材52の縁部58との間に形成される。本発明の実施形態によれば、一対の離間した長手方向に延在する溝穴64は、加圧空気源図示せずからプラズマ電球20に向かって、図2において矢印22で示す空気を流すように動作可能である。溝穴64は、好ましくは、プラズマ電球20の長手方向軸線に全体が平行に整列され、かつ、それからずれており、それにより、空気22が、プラズマ電球20全体をその外部表面の周りで効果的に取り囲んで、電球20を冷却する。一対の溝穴64は、空気が、プラズマ電球20の長手方向の両側面に沿って流れ、その後、一対の溝穴64から離れている電球20の下の領域で全体が合流するように配向される。図2、図3、及び図4A及び図4Bに示すように、中間部材52は、その長手方向軸線を横断する僅かな湾曲を有するが、図3、図4A、及び図4Bに示すように、長方形の材料ストリップとして全体的に形成され、また、全体的に長方形の横断面を有する。本発明の代替の実施形態によれば、中間部材52及び/又は反射器パネル46は、MicrowaveExcitedUVLampSystemwithImprovedLampCoolingという名称の米国特許第6,696,801号明細書に開示されるような代替の形状を有することができ、この米国特許の開示内容はこの引用によりその全体が本明細書の一部をなすものとする。本発明の更なる代替の実施形態によれば、反射器42は、当業者によって認識されるように、中間部材52を含まない場合があり、代わりに、2つの反射器パネル46を含むだけである場合がある。幾つかの実施形態では、また、図4Aに示すように、少なくとも1つのUV強度検出器70a及びシャッター72aは、UV強度検出器70aの検出部がほぼプラズマ電球20に向かって配向された状態で反射器パネル46のうちの一方の上方に構成される。特に、シャッター72aは、そのそれぞれの反射器パネル46の表面42bに接触状態にあるとすることができる。UV強度検出器70aは、反射器パネル46を通して減衰されるUV光の強度を測定する。測定されたUV光強度は、解析されて、光源10例えば、マグネトロン12、プラズマ電球20、又は反射器42の一部分の汚染及び/又は劣化を判定することができる。少なくとも1つの更なるUV強度検出器70b及びシャッター72bが、UV強度検出器70bの検出部がやはりほぼプラズマ電球20に向かって配向された状態で中間部材52の上方に構成される。やはり、シャッター72bは、そのそれぞれの反射器パネル46の表面に接触状態にあるとすることができる。中間部材52が2色性被覆45を有しない実施形態では、UV強度検出器70bは、プラズマ電球20からUV光の強度を直接測定する。代替的には、また、図4Bに示すように、少なくとも1つの更なるUV強度検出器70b及びシャッター72bは、UV強度検出器70bの検出部が、やはりほぼプラズマ電球20に向かって配向された状態で溝穴64の上方及び/又は反射器パネル46に設けられた開口47の上方に構成することができる。いずれにしても、反射器42が、サンドブラストを施されている1つの面42bを含む実施形態では、UV強度検出器70及び/又はシャッター72の下方にあるか又はそれと接触状態にある反射器42、反射器パネル46、及び/又は中間部材52の部分を、平滑であるように構成することができる例えば、これらの部分はサンドブラストを施されない。図5は、本発明の実施形態による例示的な電力制御ループを有する光源10のブロック図を示す。電力制御ループ回路要素は、マグネトロン出力電力及びプラズマ電球20から出力されるUV光24の強度に対して良好な相関を一般に有する、少なくとも1つのマグネトロン12への入力電力を制御するように構成されている。光源10の操作者は、プラズマ電球20によって生成されるUV光についての所定の強度に対応する電力設定100を選択し、電力設定は、伝送経路102を通じてマイクロコントローラー104へ送られる。マイクロコントローラー104は、ルックアップテーブルを利用して、少なくとも1つのマグネトロン12についての電力レベルを決定することができ、必要とされる出力電力を達成するために電流レベルを設定する。マイクロコントローラー104は、その後、電流調節ループ108用の回路要素へ設定点電流106を送る。電流調節ループ108は、当技術分野で知られているように、実質的に一定の電流出力を調節し提供する電流フィードバック制御ループを提供するように動作可能である回路要素を含む。電流調節ループ108は、マイクロコントローラー104又は特に電流調節用の別個のマイクロコントローラーを含むことができるマイクロコントローラー又は他の処理装置を利用する。電流調節ループ108は、調節した電流を位相制御回路要素110へ送り、位相制御回路要素110は、可変交流信号112を少なくとも1つの高電圧発生回路114へ送る。少なくとも1つの高電圧発生回路114は、少なくとも1つの可変高電圧直流信号を、伝送経路116を通じて少なくとも1つのマグネトロン12へ送って、所望の出力を生成し、所望の出力は、プラズマ電球20を励起し、そして、UV光を生成する。マイクロコントローラー104は、各信号線118a及び118bを介してシャッター72a及び72bを開放又は閉鎖するように構成される。そして、UV強度検出器70a及び70bは、各シャッター72a及び72bが開放している間に、反射器42を通して透過されるUV光の強度を測定し、こうした測定値に対応する各信号を、120a及び120bにてマイクロコントローラー104へ提供する。こうして、マイクロコントローラー104は、プラズマ電球20からのUV光に対する、UV強度検出器70の検出部の露出を制御する。上記で論じたように、UV強度検出器70の検出部を選択的に露出させるためにシャッター72を利用することは、UV強度検出器70の寿命を増加させ、UV強度検出器70のソラリゼーションを減少させると思われる。特に、各シャッター72は、マイクロコントローラー104が各UV強度検出器70によって測定されるUV光強度を取込むように動作しているときに開放するが、その他の場合には閉鎖することができる。そのため、各UV強度検出器70は、一定のUV光に絶えず露出されるのではなく、摩耗が防止され、各UV強度検出器70のソラリゼーションが減少する。図6は、本発明の実施形態による、マイクロコントローラー104がUV強度検出器70によって測定されるUV光強度を取込むための動作の順序を説明するフローチャート200を示す。特に、マイクロコントローラー104は、プラズマ電球20からのUV光の強度の測定値を取込むか否かを判定するブロック202。いずれにしても、マイクロコントローラー104がUV光強度の測定値を取込まないと判定する判定ブロック202のNo分岐と、動作の順序は、ブロック202に戻る。しかし、マイクロコントローラー104がUV光強度の測定値を取込むと判定する判定ブロック202のYes分岐と、マイクロコントローラーは、シャッター72が設置されている場合はシャッター72を開放しブロック204、UV強度検出器70からUV光強度を取込みブロック206、その後、シャッター72が設置されている場合はシャッター72を閉鎖するブロック208。シャッター72を閉鎖することに応じて、動作の順序は、ブロック202へ戻ってもよい。特定の実施形態では、マイクロコントローラー104は、約1分間、シャッター72を開放し、UV光の測定強度を取込むように構成される。測定されたUV光強度が取込まれた後、シャッター72は、その後、約1分間、閉鎖される。ゆえに、UV強度検出器70についてのデューティーサイクルは、約2分ごとに約1分である。代替的には、測定値を取込むという判定は、光源10が始動し暖まるのに十分な時間が経った後に1回行われる。ゆえに、マイクロコントローラー104は、光源が起動されるたびに、プラズマ電球20からのUV光の強度が十分であるか否かを判定することができる。代替の実施形態では、測定値を取込むという判定は、UV強度検出器70がUV光強度を測定するのに十分に長くシャッターを開放したままである、約30秒ごと、約1分ごと、約30分ごと、約1時間ごと、又は代替の時間間隔等の所定の時間間隔後に行われる。動作中、マイクロコントローラー104は、測定されたUV光強度が、予想されるUV光強度例えば、使用者が選択する電力設定100に基づく予想されるUV光強度に対応するか否かを判定し、必要である場合、少なくとも1つのマグネトロン12への電力を調整する。特に、マイクロコントローラー104は、UV強度検出器70a及び70bのうちの1つ又は複数のUV強度検出器から取込まれる信号に関して測定したUV光強度を判定する。図7は、本発明の実施形態による、マイクロコントローラー104が少なくとも1つのマグネトロン12への電力を調整するための動作の順序を説明するフローチャート210を示す。マイクロコントローラー104は、最初に、測定されたUV光強度例えば、1つ又は複数のUV強度検出器70a及び70b、又はそれらの組合せから取込まれるUV光強度が、使用者により選択された電力設定100から予想されるUV光強度に対応するか否かを判定するブロック212。より具体的には、マイクロコントローラー104は、ブロック212において測定されたUV光強度が使用者により選択された電力設定100に関連する予想されるUV光強度に一致するか否か、又は、測定されたUV光強度が使用者により選択された電力設定100に関連する予想されるUV光強度の指定された範囲内にあるか否かを、ルックアップテーブルから判定することができる。測定されたUV光強度が予想されるUV光強度に対応する判定ブロック212のYes分岐とき、動作の順序は、ブロック212へ戻る。測定されたUV光強度が予想されるUV光強度に対応しない判定ブロック212のNo分岐とき、マイクロコントローラーは、測定されたUV光強度が予想されるUV光強度より小さいか否かを判定するブロック214。例えば、限定することを意図するものではないが、測定されたUV光強度が予想されるUV光強度より小さいとき、これは、少なくとも1つのマグネトロン12が劣化を受けたこと、プラズマ電球20が劣化を受けたこと、プラズマ電球20及び/又は反射器42が汚染されたこと、及び/又は、光源10の少なくとも1つの他の構成要素が劣化したか又は汚染されたことを示す場合がある。それに対して、測定されたUV光強度が予想されるUV光強度より大きいとき、これは、少なくとも1つのマグネトロン12が調整又は交換されたこと、プラズマ電球20が交換されたこと、プラズマ電球20及び/又は反射器42が清浄されたこと、及び/又は、光源10の少なくとも1つの他の構成要素が調整又は交換されたことを示す場合がある。ゆえに、測定されたUV光強度が予想されるUV光強度より小さい判定ブロック214のYes分岐とき、マイクロコントローラー104は、ルックアップテーブルを利用して、少なくとも1つのマグネトロン12に対して、予想されるUV光強度をプラズマ電球20に出力させるための電力レベルまでの増加を決定するブロック216。それに対して、測定されたUV光強度が予想されるUV光強度より大きい判定ブロック214のNo分岐とき、マイクロコントローラー104は、ルックアップテーブルを利用して、少なくとも1つのマグネトロン12に対して、予想されるUV光強度をプラズマ電球20に出力させるための電力レベルまでの減少を決定するブロック218。少なくとも1つのマグネトロン12に対してその電力レベルまでの増加又は減少を決定したブロック216又は218後、マイクロコントローラーは、少なくとも1つのマグネトロンに対して決定された電力レベルが、光源10の動作パラメータ内に維持され得るか否かを判定してもよいブロック220。具体的には、決定された電力レベルが、高電圧発生回路114によって生成することが可能な電力レベルより高い場合がある。ゆえに、電力レベルが、光源10の動作パラメータ内に維持されることができない判定ブロック220のNo分岐とき、警告する、及び/又は、光源の動作を停止するブロック222。しかし、電力レベルが、光源10の動作パラメータ内に維持されることができる判定ブロック220のYes分岐とき、少なくとも1つのマグネトロン12への電力は、決定された電力レベルに調整されブロック224、動作の順序は、ブロック212へ戻る。幾つかの実施形態では、光源10によって生成されるUV光の強度についての基準値が、較正中に決定される。較正において、マイクロコントローラー104は、種々の電力レベルが少なくとも1つのマグネトロン12へ提供されるときに各UV強度検出器70によって測定されるUV光強度を決定してもよい。そして、それを、マイクロコントローラー104は、種々の電力レベルにおいてプラズマ電球20が出力するUV光強度を決定するための基礎として利用することができる。光源10の複数の部分が劣化する及び/又は汚染される際、マイクロコントローラー104は、使用者が選択したUV光強度レベルを維持するために、少なくとも1つのマグネトロン12への実際の電力レベルを基準値に基づいて適合させるように構成される。マイクロコントローラー104は、また、UV光強度に関する履歴情報を記憶し、その情報を、ネットワーク、USB、又は他のデジタルデータ接続等の入/出力接続を介して出力してもよい。マイクロコントローラー104は、また、プリンタと通信し、履歴情報をプリンタに出力するように構成してもよい。幾つかの実施形態では、マイクロコントローラー104は、また、使用者が選択したUV光の強度及び/又はプラズマ電球20からのUV光の測定強度を表示装置105上で示すように構成される。表示装置105は、セグメントLED表示装置、LCD表示装置、又は当技術分野で知られている他の表示装置を含むことができる。マイクロコントローラー104は、使用者が選択した強度又は測定強度を、パーセンテージ例えば、90として、又は、棒グラフ形態例えば、棒グラフ用の利用可能空間の90が覆われていることを示す棒グラフで表示することができる。使用者が選択したUV光の強度又は測定強度を表示することに加えて、マイクロコントローラー104は、プラズマ電球20及び/又は反射器42に関する汚染の表示を決定し表示するように構成することができる。上記で論じたように、1つのUV強度検出器70aは、反射器42を通して透過されるUV光を測定するように構成することができ、一方、別のUV強度検出器70bは、プラズマ電球20から直接例えば、2色性被覆がない中間部材52又は反射器42を通して、溝穴64を通して、又は、反射器42に設けられた開口47を通して、UV光を測定するように構成してもよい。これらの2つの測定値を比較することによって、マイクコントローラー104は、プラズマ電球20の汚染及び/又は反射器42の汚染によって生じる差を決定し、その後、その差を表示装置上に示すことができる。ゆえに、本発明の実施形態は、光源内のマイクロ波電力供給式UV電球の瞬時強度フィードバックを提供して、光源例えば、とりわけ、UV電球、反射器、及び/又はUV電球へマイクロ波電力を提供するマグネトロンの一部分の劣化並びにUV電球又は反射器の汚染を補償する閉ループ制御を可能にする。これは、構成要素の寿命を犠牲にすることなく、ある期間にわたって一貫性のあるUV出力を提供する。さらに、UV電球とUV強度検出器との間に配置されるシャッターの開放及び閉鎖のオン/オフデューティーサイクルは、光学的保護の増加を提供するとともに、より長い構成要素の寿命のために、UV強度検出器の露出を制限する。本発明の実施形態は、また、予防的保守及び統計的プロセス制御のためにUV電球の実際の出力の一目でわかる表示を提供する。そして、これは、UV電球又は反射器を視覚的に検査する稼働停止時間を最小にする、又は更にはなくすことができ、したがって、システムのより多くの動作可能時間をもたらす。マイクロコントローラー104は、1つ又は複数のユーザー入力に基づいて1つ又は複数の変数を制御するように構成された電気制御装置を備えてもよい。これらのユーザー入力は、例えばキーボード、マウス及びディスプレイ表示装置、又はタッチスクリーンなどのユーザーインタフェースから使用者によって提供され得る。マイクロコントローラー104は、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラー、マイクロコンピューター、デジタル信号プロセッサ、中央処理装置、フィールドプログラマブルゲートアレイ、プログラム可能論理回路、状態機械、論理回路、アナログ回路、デジタル回路、及び/又は、メモリに記憶される動作命令に基づいて信号アナログ及び/又はデジタルを操作するその他のデバイスから選択される少なくとも1つの処理装置を使用して実装することができる。メモリは、限定はしないが、ランダムアクセスメモリRAM、揮発性メモリ、不揮発性メモリ、スタティックランダムアクセスメモリSRAM、ダイナミックランダムアクセスメモリDRAM、フラッシュメモリ、キャッシュメモリ、及び/又はデジタル情報を記憶することが可能なその他のデバイスを含む単一のメモリデバイス又は複数のメモリデバイスであってもよい。マイクロコントローラー104は、とりわけ、1つ又は複数のハードディスクドライブ、フロッピー登録商標又は他の取外し可能なディスクドライブ、ダイレクトアクセス記憶装置DASD、光ドライブ例えば、CDドライブ、DVDドライブ等、及び/又はテープドライブを含むことができる。マイクロコントローラー104の処理装置は、オペレーティングシステムの制御下で動作し、種々のコンピューターソフトウェアアプリケーション、コンポーネント、プログラム、オブジェクト、モジュール、データ構造等で具現化されるコンピュータープログラムコードを実行するか又はそれに依存する。メモリ内に存在し、また、大容量記憶装置に記憶されるコンピュータープログラムコードは、また、マイクロコントローラー104の処理装置上で実行されると、図6及び図7に示す処理工程を実施する制御プログラムコードを含む。コンピュータープログラムコードは、通常、1つ又は複数の命令を含み、1つ又は複数の命令は、メモリ内に種々の時間に存在し、また、処理装置によって読み出され実行されると、本発明の種々の実施形態及び態様を具現化する工程又は要素を実行するのに必要な工程をマイクロコントローラー104に実施させる。本明細書で述べる種々のプログラムコードは、そのコードが、本発明の特定の実施形態においてその中で実装されるアプリケーションに基づいて識別されることができる。しかし、以下の特定のプログラムの名称は、単に便宜上のために使用されることが認識されるべきであり、したがって、本発明は、こうした名称によって識別及び/又は示唆される特定の用途にだけ使用することに限定されるべきでない。さらに、コンピュータープログラムを、ルーチン、プロシージャ、方法、モジュール、オブジェクト、及び同様なものになるように編成することができる通常無数の数の方法、並びに、プログラム機能を、通常のコンピューター例えば、オペレーティングシステム、ライブラリ、API、アプリケーション、アプレット等内に存在する種々のソフトウェア層の間で割当てることができる種々の方法があるとすれば、本発明は、本明細書で述べるプログラム機能の特定の編成及び割当てに限定されないことが認識されるべきである。図1~図5に示す環境が、本発明の実施形態の範囲を制限することを意図されないことを当業者は認識するであろう。特に、光源は、本発明の代替の実施形態による、より少ない又は更なる構成要素を含むことができる。実際には、他の代替のハードウェア及び/又はソフトウェア環境を、本発明の範囲から逸脱することなく使用することができることを当業者は認識するであろう。例えば、光源は、より多くの又はより少ないUV強度検出器及び/又はシャッター並びに異なるように形作られた反射器を含むことができる。さらに、本発明の実施形態を実装するために実行されるルーチンは、1つ又は複数の制御システム又はマイクロコントローラーによって実行されるオペレーティングシステム又は特定のアプリケーション、コンポーネント、プログラム、オブジェクト、モジュール又は命令の順序の一部として実装されても、動作の順序、プログラム製品、又はより簡潔にプログラムコードとして本明細書で参照された。プログラムコードは、通常、1つ又は複数の命令を含み、1つ又は複数の命令は、光源内の種々のメモリ及び記憶装置内に種々の時間に存在し、また、1つ又は複数の制御システム又はマイクロコントローラーによって読み出され実行されると、本発明の種々の態様を具現化する工程、構成要素、及び/又はブロックを実行するのに必要な工程を光源10に実施させる。本発明の実施形態が、完全に機能する光源に関して述べられたが、本発明の種々の実施形態が、種々の形態のプログラム製品として配給されることが可能であること、また、その配給を実際に実施するために使用される特定のタイプのコンピューター記録可能信号担持媒体にかかわらず本発明が同様に適用されることを当業者は認識するであろう。コンピューター記録可能信号担持媒体の例は、とりわけ、揮発性メモリデバイス及び不揮発性メモリデバイス、フロッピー登録商標及び他の取外し可能ディスク、ハードディスクドライブ、フラッシュメモリドライブ、及び光ディスク例えば、CD-ROM、DVD、ブルーレイディスク等を含むが、それに限定されない。さらに、種々のプログラムコードは、そのコードが、本発明の特定の実施形態においてその中で実装されるアプリケーション又はソフトウェアコンポーネントに基づいて識別されることができる。しかし、特定のプログラムの名称は、単に便宜上のために使用されることが認識されるべきであり、したがって、本発明の実施形態は、こうした名称によって識別及び/又は示唆される特定のアプリケーションだけにおける使用に限定されるべきでない。さらに、コンピュータープログラムを、ルーチン、プロシージャ、方法、モジュール、オブジェクト、及び同様なものになるように編成することができる通常無数の数の方法、並びに、プログラム機能を、通常のコンピューター例えば、オペレーティングシステム、ライブラリ、API、アプリケーション、アプレット等内に存在する種々のソフトウェア層の間で割当てることができる種々の方法があるとすれば、本発明は、プログラムの特定の編成及び割当てに限定されないことが認識されるべきである。さらに、本発明の実施形態が種々の実施形態及び例の説明によって示され、また、これらの実施形態がかなり詳細に述べられたが、添付の特許請求の範囲の範囲をこうした詳細に制約すること又はいかなる形でも限定することは本出願人の意図ではない。更なる利点及び変更が、当業者に容易に明らかになるであろう。したがって、本発明は、その広い態様において、示され述べられた特定の詳細、装置、及び/又は方法に限定されない。特に、上記フローチャートのブロックの任意のブロックを、本発明の実施形態の原理に従って、削除される、拡張される、別のブロックと同時に起こるように作られる、組合される、又は別様に変更することができることを当業者は認識するであろう。したがって、出願人の包括的な本発明の概念の趣旨又は範囲から逸脱することなく、こうした詳細からの逸脱を行うことができる。"