図2に示される放射線遮蔽物。市販の手持ち式X線蛍光発光器具は、その器具のノーズに放射線吸収物質を備える。この吸収物質は、放射性源から直接来るが出口点を通って外に出て研究中のサンプルには当たらない放射線を吸収するように設計される。この吸収物質はまた、一旦散乱した放射線も吸収し、その一旦散乱した放射線が、検出器に入らず、なされる測定を混乱させることもないようにする。しかし、検査器具のノーズ中の吸収物質は、その器具のノーズと交差しない様式の位置および方向で標的から放出されるようには、多重散乱された放射線を防止し得ない。発明の要旨本発明の好ましい実施形態に従って、放射線遮蔽物が提供される。この放射線遮蔽物は、電離放射線を吸収する物質を含む膜からなり、この膜は、物質を検査するために使用されるXRF器具の前面に結合されており、すべての方向でその前面から延びており、検査される壁に対して近位に存在し、この膜は、この膜が検査される壁の表面に適合するに充分に可撓性であり、この膜は、放射線の安全性についての最低限の要件を下回るまで放射線レベルを低減するために充分な厚さである。より具体的には、上記放射線遮蔽物は、器具から放射される透過性放射線により照射される表面から一定距離における周囲放射線レベルを減少し得、この器具は、その照射される表面に当接するため、およびその透過性放射線を上記照射される表面に対して実質的に垂直な伝搬方向で放射するための、遠位端を有する。上記放射線遮蔽物は、透過性放射線の伝搬方向に対して実質的に横方向である面内に配置され、かつ上記照射される表面に対して実質的に近接している、減弱物質製プラテンを有する。本発明のさらなる実施形態に従って、上記減弱物質は、ポリマーマトリックス中に包埋された、原子番号が45よりも大きい金属であり得る。上記減弱物質製プラテンは、固定具によって上記器具に結合され得る。上記減弱物質製プラテンは、上記器具から取り外し可能であり得る。上記プラテンはまた、エラストマーの外層を有し得、上記プラテンは、上記照射された表面と複数回相互作用した電離放射線が、上記周囲環境を通って伝搬する前に上記放射線遮蔽物によって減弱されるような、大きさであり得る。より特定すれば、本願発明は以下の項目に関し得る。項目1器具から放射される透過性放射線によって照射された表面から一定距離における周囲放射線レベルを減少するための方法であって、上記方法は、放射線遮蔽物を提供する工程であって、上記放射線遮蔽物は、上記放射線遮蔽物を通って伝達される電離放射線の強度を減少するためのものである、工程;および上記放射線遮蔽物を、上記照射放射線の伝搬方向に対して実質的に横方向にある面で結合する工程;を包含し、上記器具は、上記照射される表面に当接するため、および上記照射された表面に対して実質的に垂直な伝搬方向に上記透過性放射線を発するための、遠位端によって特徴付けられる、方法。項目2器具から放射される透過性放射線により照射された表面から一定距離における周囲放射線レベルを減少するための放射線遮蔽物であって、上記器具は、上記照射された表面に当接するため、および上記照射された表面に対して実質的に垂直な伝搬方向に上記透過性放射線を発するための、遠位端によって特徴付けられ、上記放射線遮蔽物は、透過性放射線の伝搬方向に対して実質的に横向きである面内に配置され、かつ上記照射される表面に対して実質的に近接している、減弱物質製プラテンを備える、放射線遮蔽物。項目3項目2に記載の放射線遮蔽物であって、上記減弱物質は、ポリマーマトリックス中に包埋された、原子番号が45よりも大きい金属である、放射線遮蔽物。項目4項目2に記載の放射線遮蔽物であって、上記減弱物質製プラテンは、固定具によって上記器具に結合されている、放射線遮蔽物。項目5項目2に記載の放射線遮蔽物であって、上記減弱物質製プラテンは、上記器具から取り外し可能である、放射線遮蔽物。項目6項目2に記載の放射線遮蔽物であって、上記減弱物質製プラテンは、エラストマーの外層を含む、放射線遮蔽物。項目7項目2に記載の放射線遮蔽物であって、減弱物質製プラテンは、上記照射された表面と複数回相互作用した電離放射線が、上記周囲環境を通って伝搬する前に上記放射線遮蔽物によって減弱されるような、大きさである、放射線遮蔽物。発明の具体的な実施形態の詳細な説明本発明の実施形態に従い、ここで図1を参照して記載されるように、カラーの形態の遮蔽は、多重散乱X線が、規制限度を超えるのに充分な強度でXRF器具から比較的遠い壁を出るのを防ぐために使用される。本発明が必要とされる理由および本発明が設計されなければならない方法を完全に認識するためには、X線ビームが物質に進入してコンプトン散乱する場合に生じる周囲放射線の起源を理解する必要がある。周囲放射線の物理学以下の考察は、含鉛塗料分析のために使用されるXRF器具に特に言及するが、示される結論および記載される発明は、広範な適用群特に、土壌およびプラスチックのXRF分析に適用可能であることが、認識されるべきである。鉛を蛍光発光させるX線のエネルギーは、代表的には、10.5keVおよび12.6keVにて鉛のLX線がその分析のために使用される場合には、20keV範囲内にあり、72.8keVおよび75keVのKX線がその分析のために使用される場合には、88keVを超える。以下の説明において、本発明者らは、L線を励起するために使用される蛍光エネルギー22.2keV109CdからおよびK線を励起するために使用される122keV57Coからにとどめる。しかし、これらの事項は、例示として提示されるが、限定としては提示されないことが理解されるべきである。図1を参照すると、台形として示される器具2が、壁4に当接する位置に示される。器具2は、透過性放射線8を放射し、X線8を放射するXRF器具2として本明細書中で考察される。X線8は、XRF器具から出て、壁4上の塗装層6に入る。X線10のうちのいくらかは、蛍光発光するかまたは器具2中に戻るように散乱し、XRF器具2の検出器示さずにおいて計数されるか、またはこの器具の壁20により吸収されるかのいずれかである。X線24のうちのいくらかは、この壁から後方へと散乱し、XRF器具から外れる。しかし、多くのX線12および16が、壁物質自体の中へと散乱する。上記壁物質中へと散乱するX線のうちのいくらかは、再度X線22および26を生じるように散乱し、これらのX線は、XRF器具2からかなりの距離にて、塗装された壁を出る。この様式で上記壁を出るX線の相対強度は、コンプトン散乱の角度分布、散乱される放射線のエネルギー、および散乱される放射線が相互作用の間に壁物質中を移動する距離に依存する。下記に本発明者らが記載するように、上記散乱は、約2倍以内で等方性である。散乱されるX線のエネルギーは、入射エネルギーとほぼ同程度に高く、そのX線カスケードが散逸する前に木材の内部を移動する距離は、大きなmanyセンチメートル数であり得る。XRFにおける目的のX線についてのコンプトン散乱の角度分布は、トンプソン古典的散乱の分布に類似する。角度θを通るトンプソン散乱の確率は、1cos2θに比例する。後方散乱の強度は、前方散乱の強度と等しく、側方散乱は、その半分の強さである。22keVのX線の散乱は、2~3以内でトンプソン式に従う。122keVのX線のコンプトン散乱は、より前方にピークがあるが、側方散乱および後方散乱は、非常に可能性が高いままである。特定の角度θを通って散乱した場合のX線のエネルギー変化は、そのX線エネルギーに強く依存する。90°を通って散乱した22keVのX線は、その散乱電子に対して1keVだけ失い、その結果、その散乱したX線は、21keVを有する。90°を通って散乱した122keVのX線は、約24keVを失い、結局98keVになる。上記X線が壁媒体中を移動する距離は、その媒体の組成に強く依存する。平均自由経路MFPにおけるその距離を測定することは、有用である。入射X線についての平均自由経路は、そのX線ビームが、入射X線の強度が2.718分の1まで低下する前にその媒体中を移動する距離である。その入射ビームの強度は、低下し得る。なぜなら、X線は、光電効果により吸収されたからであり、この場合、そのX線は、周囲放射線には寄与しない。その光電効果は、光電励起原子がその基底状態へと緩和した場合に生成される二次X線を生じる。これらの固有X線は、上記周囲放射線に有意に付加するために充分に、特殊な環境中で強いものであり得る。これらの二次X線はまた、本明細書中で記載される放射線遮蔽物によって有利に吸収され得る。さらに、放射線遮蔽物18はまた、1回散乱されるX線例えば、数字24により示されるX線を有利にブロックし得る。入射ビームの強度が散乱により低下する場合、入射X線は、単により低エネルギーのX線へと変換されて、新しい方向で移動し、そのX線は、依然として、周囲放射線に寄与し得る。表1は、22keVのX線の平均自由経路および122keVのX線の平均自由経路、ならびに90°散乱した後の21keVのX線のエネルギーおよび98keVのX線のエネルギーを与える。これらの物質は、空気、木材、プラスター、アルミニウム、および鉄である。表1.平均自由経路cm22keVの放射線についての平均自由経路は、空気中では、大きなmanym数であり、木材中では数cmであり、一般的な壁を構成する重い物質中では数mm以下である。鉛のK線を励起するために使用される122keV放射線は、鋼を除くすべての一般的な壁物質中で数cm~大きなcm数、進行する。表2は、X線が、吸収される前に上記物質を横断する際に少なくとも1回散乱される確率を与える。この表2は、生じていることに関するさらなる洞察を提供する。表2.X線が少なくとも1回散乱される確率表1から、上記塗装を通過して木材に至るあらゆる22keVのX線が、相互作用する前に数cm移動することが明らかである。22keVのX線が相互作用する場合、そのX線が散乱して吸収はされない確率40が存在する。さらに、その散乱は、側方への散乱である高い確率が存在する。側方散乱したそれらのX線は、入射エネルギーとほぼ同じエネルギーを有し、それら自体は、相互作用する前に数cm移動する。再び、散乱の確率は、高い。かなりの量の放射線が、XRF器具の側面の木材から散逸し得ることを理解することは、容易である。木材よりも原子番号が高く密度が大きい物質は、非常に少ない問題しか提示しない。なぜなら、表1および表2が示すように、そのX線は、これらの物質中で遠くまで移動せず、素早く吸収されるからである。表1および表2はまた、K線を研究することにより鉛濃度を測定するK殻XRF分析器が、周囲放射線を制御するかなり困難な時間を有する理由を示す。散乱は、鋼壁以外は過剰吸収を完全に支配し、散乱した放射線は、相互作用する前に木材中で10cm移動し得る。数字18により示される太線により図1に模式的に示されるような放射線遮蔽物の一実施形態が、図2において斜視図に示される。放射線遮蔽物18は、固定具26ネジ、リベット、クリップ、または他の任意の固定具を包含し得るによりXRF器具2に結合される。放射線遮蔽物18は、容易に取り外し可能または交換可能であり得る。本発明の好ましい実施形態において、放射線遮蔽物18は、図23において断面で示される遮蔽物質のプラテン28を備える。このプラテンは、本明細書中で膜と呼ばれ得る。好ましい実施形態において、プラテン28は、円形であり、約20cmの直径を有する。他の形状および大きさは、本発明の範囲内にある。図3は、ポリマーマトリックス中に包埋された遮蔽物質例えば、高い代表的には、Z=45よりも大きい原子番号の金属製の含有層32を備える2層のエラストマー例えば、ゴムから形成された積層物を示す。そのような金属としては、スズ、タングステン、または鉛が挙げられ得る。好ましい材料は、タングステン充填ポリ塩化ビニルPVCである。上記プラテンは、好ましくは、当接した表面の輪郭にそのプラテンが適合すること例えば、角に可能な限り密接して測定するため、または壁の中の隙間例えば、窓のためのスライド凹部を調べるためを可能にするために可撓性である。本発明の他の実施形態によると、ここで図4を参照すると、放射線遮蔽物18の部分40は、その放射線遮蔽物が、例えば、壁の内角にて使用されるのを可能にするために、プラテン28の大部分以外の面に存在し得る。非同一平面部分40が、当該分野ですべて周知であるように、固定角度にて、またはヒンジによって、プラテン28の残りに結合され得る。本発明の記載された実施形態は、単に例示に過ぎないことが意図される。多数の変化および改変が、当業者にとって明らかである。すべてのこのような変化および改変は、添付の特許請求の範囲において定義されるような本発明の範囲内にあることが意図される。