"本体121の前面の高さが異なる位置に配設された第1および第2の端子126R,126W,126B,126Nを備えるテストプラグ120に装着するためのテストプラグ用測定治具であって、前記テストプラグの前記第1および第2の端子が、前記本体側の末端側に設けられた第1の接続導体127R,127W,127B,127Nと、前記本体と反対側の先端側に設けられた第2の接続導体128R,128W,128B,128Nとを備え、前記テストプラグ用測定治具が、前記第1の接続導体と電気的に接続される第1の接触端子12R,12W,12B,12Nを備えた第1の測定治具10と、前記第2の接続導体と電気的に接続される第2の接触端子22R,22W,22B,22Nを備えた第2の測定治具20とを具備し、前記第1の測定治具が、前記第1の接触端子と前記第1の接続導体とを電気的に接続した場合に該第1の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための第1の手段14を備え、前記第2の測定治具が、前記第2の接触端子と前記第2の接続導体とを電気的に接続した場合に該第2の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための第2の手段24を備える、ことを特徴とする、テストプラグ用測定治具。前記第1の測定治具が、前記第1の接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の第1の本体11をさらに備え、前記第1の手段が、末端が前記第1の本体の後面に固定されるとともに下面が該第1の本体の下面と同一平面上にある第1の横板と、先端部が下方に向くように該第1の横板の先端に垂設された第1の縦板とからなる第1のツメ14であり、前記第2の測定治具が、前記第2の接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の第2の本体21をさらに備え、前記第2の手段が、末端が前記第2の本体の後面に固定されるとともに下面が該第2の本体の下面と同一平面上にある第2の横板と、先端部が下方に向くように該第2の横板の先端に垂設された第2の縦板とからなる第2のツメ24である、ことを特徴とする、請求項1記載のテストプラグ用測定治具。前記第1のツメの末端から先端まで長さが、前記第2のツメの末端から先端までの長さよりも小さくされていることを特徴とする、請求項2記載のテストプラグ用測定治具。前記第1の測定治具が、前記第1の本体の前面に開口を有するように該第1の本体内に形成された、かつ、前記第1の接触端子と電気的に接続された第1のコネクタ挿入孔13R,13W,13B,13Nをさらに備え、前記第2の測定治具が、前記第2の本体の前面に開口を有するように該第2の本体内に形成された、かつ、前記第2の接触端子と電気的に接続された第2のコネクタ挿入孔23R,23W,23B,23Nをさらに備える、ことを特徴とする、請求項2または3記載のテストプラグ用測定治具。前記第1の本体の前面に、前記第1の測定治具を前記テストプラグに装着した場合に前記第1の接触端子と前記第1の接続導体とが電気的に接続するようにするための第1の延長板が該第1の本体の下方に向けて垂設されており、該第1の延長板内に、前記第1の接触端子と前記第1のコネクタ挿入孔とを電気的に接続する第1の導電板が設けられており、前記第2の本体の前面に、前記第2の測定治具を前記テストプラグに装着した場合に前記第2の接触端子の先端部と前記第2の接続導体とが電気的に接続するようにするための第2の延長板が該第2の本体の下方に向けて垂設されており、該第2の延長板内に、前記第2の接触端子と前記第2のコネクタ挿入孔とを電気的に接続する第2の導電板が設けられている、ことを特徴とする、請求項4記載のテストプラグ用測定治具。前記テストプラグ120が、前記本体121の前面に上下互い違いに配設されたR相、W相、B相およびN相端子126R,126W,126B,126Nを備え、前記テストプラグの前記R相、W相、B相およびN相端子が、前記本体側の末端側に設けられたR相、W相、B相およびN相盤外側接続導体127R,127W,127B,127Nと、前記本体と反対側の先端側に設けられたR相、W相、B相およびN相盤内側接続導体128R,128W,128B,128Nとを備え、前記第1の測定治具が盤外用測定治具10であり、前記第2の測定治具が盤内用測定治具20であり、前記盤外用測定治具が、前記R相、W相、B相およびN相盤外側接続導体とそれぞれ電気的に接続されるR相、W相、B相およびN相盤外側接触端子12R,12W,12B,12Nと、前記R相、W相、B相およびN相盤外側接触端子と前記R相、W相、B相およびN相盤外側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合に該第1の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための盤外側ツメ14とを備え、前記盤内用測定治具20が、前記R相、W相、B相およびN相盤内側接続導体とそれぞれ電気的に接続されるR相、W相、B相およびN相盤内側接触端子22R,22W,22B,22Nと、前記R相、W相、B相およびN相盤内側接触端子と前記R相、W相、B相およびN相盤内側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合に該第2の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための盤内側ツメ24とを備える、ことを特徴とする、請求項1乃至5いずれかに記載のテストプラグ用測定治具。前記盤外用測定治具が、前記R相、W相、B相およびN相盤外側接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の盤外側本体11をさらに備え、前記盤外側ツメが、末端が前記盤外側本体の後面に固定されるとともに下面が該盤外側本体の下面と同一平面上にある第1の横板と、先端部が下方に向くように該第1の横板の先端に垂設された第1の縦板とからなり、前記盤内側測定治具が、前記R相、W相、B相およびN相盤内側接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の盤内側本体21をさらに備え、前記盤内側ツメが、末端が前記盤内側本体の後面に固定されるとともに下面が該盤内側本体の下面と同一平面上にある第2の横板と、先端部が下方に向くように該第2の横板の先端に垂設された第2の縦板とからなる、ことを特徴とする、請求項6記載のテストプラグ用測定治具。前記盤外側ツメの末端から先端まで長さが、前記盤内側ツメの末端から先端までの長さよりも小さくされていることを特徴とする、請求項7記載のテストプラグ用測定治具。しかしながら、変成器2次回路の絶縁抵抗測定時には絶縁抵抗測定器を使用し、CT用テストプラグまたはPT用テストプラグを用いて作業を行うが、測定する部位盤外側および盤内側を合わせて8個所は密集しているため、作業員が測定部位を誤認して絶縁抵抗測定を行うと、その印加電圧によって機器を破損させる可能性があるという問題があった。本発明の目的は、作業員の測定部位の誤認を防止することができるテストプラグ用測定治具を提供することにある。本発明のテストプラグ用測定治具は、本体121の前面の高さが異なる位置に配設された第1および第2の端子126R,126W,126B,126Nを備えるテストプラグ120に装着するためのテストプラグ用測定治具であって、前記テストプラグの前記第1および第2の端子が、前記本体側の末端側に設けられた第1の接続導体127R,127W,127B,127Nと、前記本体と反対側の先端側に設けられた第2の接続導体128R,128W,128B,128Nとを備え、前記テストプラグ用測定治具が、前記第1の接続導体と電気的に接続される第1の接触端子12R,12W,12B,12Nを備えた第1の測定治具10と、前記第2の接続導体と電気的に接続される第2の接触端子22R,22W,22B,22Nを備えた第2の測定治具20とを具備し、前記第1の測定治具が、前記第1の接触端子と前記第1の接続導体とを電気的に接続した場合に該第1の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための第1の手段14を備え、前記第2の測定治具が、前記第2の接触端子と前記第2の接続導体とを電気的に接続した場合に該第2の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための第2の手段24を備えることを特徴とする。ここで、前記第1の測定治具が、前記第1の接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の第1の本体11をさらに備え、前記第1の手段が、末端が前記第1の本体の後面に固定されるとともに下面が該第1の本体の下面と同一平面上にある第1の横板と、先端部が下方に向くように該第1の横板の先端に垂設された第1の縦板とからなる第1のツメ14であり、前記第2の測定治具が、前記第2の接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の第2の本体21をさらに備え、前記第2の手段が、末端が前記第2の本体の後面に固定されるとともに下面が該第2の本体の下面と同一平面上にある第2の横板と、先端部が下方に向くように該第2の横板の先端に垂設された第2の縦板とからなる第2のツメ24であってもよい。前記第1のツメの末端から先端まで長さが、前記第2のツメの末端から先端までの長さよりも小さくされていてもよい。前記第1の測定治具が、前記第1の本体の前面に開口を有するように該第1の本体内に形成された、かつ、前記第1の接触端子と電気的に接続された第1のコネクタ挿入孔13R,13W,13B,13Nをさらに備え、前記第2の測定治具が、前記第2の本体の前面に開口を有するように該第2の本体内に形成された、かつ、前記第2の接触端子と電気的に接続された第2のコネクタ挿入孔23R,23W,23B,23Nをさらに備えてもよい。前記第1の本体の前面に、前記第1の測定治具を前記テストプラグに装着した場合に前記第1の接触端子と前記第1の接続導体とが電気的に接続するようにするための第1の延長板が該第1の本体の下方に向けて垂設されており、該第1の延長板内に、前記第1の接触端子と前記第1のコネクタ挿入孔とを電気的に接続する第1の導電板が設けられており、前記第2の本体の前面に、前記第2の測定治具を前記テストプラグに装着した場合に前記第2の接触端子の先端部と前記第2の接続導体とが電気的に接続するようにするための第2の延長板が該第2の本体の下方に向けて垂設されており、該第2の延長板内に、前記第2の接触端子と前記第2のコネクタ挿入孔とを電気的に接続する第2の導電板が設けられていてもよい。前記テストプラグ120が、前記本体121の前面に上下互い違いに配設されたR相、W相、B相およびN相端子126R,126W,126B,126Nを備え、前記テストプラグの前記R相、W相、B相およびN相端子が、前記本体側の末端側に設けられたR相、W相、B相およびN相盤外側接続導体127R,127W,127B,127Nと、前記本体と反対側の先端側に設けられたR相、W相、B相およびN相盤内側接続導体128R,128W,128B,128Nとを備え、前記第1の測定治具が盤外用測定治具10であり、前記第2の測定治具が盤内用測定治具20であり、前記盤外用測定治具が、前記R相、W相、B相およびN相盤外側接続導体とそれぞれ電気的に接続されるR相、W相、B相およびN相盤外側接触端子12R,12W,12B,12Nと、前記R相、W相、B相およびN相盤外側接触端子と前記R相、W相、B相およびN相盤外側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合に該第1の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための盤外側ツメ14とを備え、前記盤内用測定治具20が、前記R相、W相、B相およびN相盤内側接続導体とそれぞれ電気的に接続されるR相、W相、B相およびN相盤内側接触端子22R,22W,22B,22Nと、前記R相、W相、B相およびN相盤内側接触端子と前記R相、W相、B相およびN相盤内側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合に該第2の測定治具を前記テストプラグに装着できるようにするための盤内側ツメ24とを備えてもよい。前記盤外用測定治具が、前記R相、W相、B相およびN相盤外側接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の盤外側本体11をさらに備え、前記盤外側ツメが、末端が前記盤外側本体の後面に固定されるとともに下面が該盤外側本体の下面と同一平面上にある第1の横板と、先端部が下方に向くように該第1の横板の先端に垂設された第1の縦板とからなり、前記盤内側測定治具が、前記R相、W相、B相およびN相盤内側接触端子が前面の下方に設けられた直方体形状の盤内側本体21をさらに備え、前記盤内側ツメが、末端が前記盤内側本体の後面に固定されるとともに下面が該盤内側本体の下面と同一平面上にある第2の横板と、先端部が下方に向くように該第2の横板の先端に垂設された第2の縦板とからなってもよい。前記盤外側ツメの末端から先端まで長さが、前記盤内側ツメの末端から先端までの長さよりも小さくされていてもよい。本発明のテストプラグ用測定治具は、第1の接触端子と第1の接続導体とを電気的に接続した場合に第1の測定治具をテストプラグに装着できるようにするための第1の手段を第1の測定治具が備えるとともに、第2の接触端子と第2の接続導体とを電気的に接続した場合に第2の測定治具をテストプラグに装着できるようにするための第2の手段を第2の測定治具が備えることにより、作業員が第1の測定治具と第2の測定治具とを誤認した場合には、誤認した第1の測定治具または第2の測定治具をテストプラグに装着することができないため、作業員の測定部位の誤認を防止することができるという効果を奏する。上記の目的を、テストプラグ用測定治具を盤外用測定治具と盤内用測定治具とに分けて、盤外用測定治具にR相、W相、B相およびN相盤外側接触端子とR相、W相、B相およびN相盤外側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合にテストプラグに装着できるようにするための盤外側ツメを設けるとともに、盤内用測定治具にR相、W相、B相およびN相盤内側接触端子とR相、W相、B相およびN相盤内側接続導体とをそれぞれ電気的に接続した場合にテストプラグに装着できるようにするための盤内側ツメを設けることにより実現した。以下、本発明のテストプラグ用測定治具の実施例について図面を参照して説明する。本発明の一実施例によるテストプラグ用測定治具は、図1a,bに示す盤外用測定治具10と、同図c,dに示す盤内用測定治具20とを具備する。ここで、盤外用測定治具10は、図1a,bに示すように、直方体形状の盤外側本体11と、盤外側本体11の前面の下方に設けられたR相、W相、B相およびN相盤外側接触端子12R,12W,12B,12Nと、盤外側本体11の前面に開口を有するように盤外側本体11内に形成された、かつ、内周面に導電膜が形成されたR相、W相、B相およびN相盤外側コネクタ挿入孔13R,13W,13B,13Nと、末端が盤外側本体11の後面に固定された盤外側ツメ14とを具備する。盤外側本体11の長さ盤外側本体11の前面から後面までの長さは、テストプラグ120の本体121の長さテストプラグ120の本体121の前面から後面までの長さよりも小さくされている。盤外側本体11の前面には、図2aに示すように盤外用測定治具10をテストプラグ120の本体121の上面に取り付けた場合にR相、W相、B相およびN相盤外側接触端子12R,12W,12B,12Nとテストプラグ120のR相、W相、B相およびN相端子126R,126W,126B,126NのR相、W相、B相およびN相盤外側接続導体127R,127W,127B,127Nとをそれぞれ電気的に接続するための4本の延長板が盤外側本体11の下方に向けて垂設されている。また、盤外側本体11および4本の延長板内には、R相、W相、B相およびN相盤外側接触端子12R,12W,12B,12NとR相、W相、B相およびN相盤外側コネクタ挿入孔13R,13W,13B,13Nとをそれぞれ電気的に接続するようにするための4本の導電板が設けられている図1aの破線参照。R相、W相、B相およびN相盤外側コネクタ挿入孔13R,13W,13B,13Nは、たとえば変成器2次回路を短絡措置するために使用するセーフティコネクタ31先端に円筒状の導電棒が取り付けられている。を装着するためのものである図4参照。盤外側ツメ14は、下面が盤外側本体11の下面と同一平面上にある横板と先端部が下方に向くように横板の先端に一体的に取り付けられた縦板とからなる横断面形状盤外側本体11の側面から見た形状がL字状のものである。また、盤外側ツメ14の長さ末端から先端までの長さは、図2aに示すようにR相、W相、B相およびN相盤外側接触端子12R,12W,12B,12Nとテストプラグ120のR相、W相、B相およびN相端子126R,126W,126B,126NのR相、W相、B相およびN相盤外側接続導体127R,127W,127B,127Nとがそれぞれ電気的に接続するように盤外用測定治具10をテストプラグ120の本体121の上面に載置した場合に、盤外側ツメ14の縦板の前面盤外側本体11側の面が盤外側本体11の後面と接触する長さとされている。盤内用測定治具20は、図1c,dに示すように、直方体形状の盤内側本体21と、盤内側本体21の前面の下方に設けられたR相、W相、B相およびN相盤内側接触端子22R,22W,22B,22Nと、盤内側本体21の前面に開口を有するように盤内側本体21内に形成された、かつ、内周面に導電膜が形成されたR相、W相、B相およびN相盤内側コネクタ挿入孔23R,23W,23B,23Nと、末端が盤内側本体21の後面に固定された盤内側ツメ24とを具備する。盤内側本体21の長さ盤内側本体21の前面から後面までの長さは、テストプラグ120の本体121の長さよりも小さくされている。盤内側本体21の前面には、図2bに示すように盤内用測定治具20をテストプラグ120の本体121の上面に取り付けた場合にR相、W相、B相およびN相盤内側接触端子22R,22W,22B,22Nとテストプラグ120のR相、W相、B相およびN相端子126R,126W,126B,126NのR相、W相、B相およびN相盤内側接続導体128R,128W,128B,128Nとがそれぞれ電気的に接続するようにするための4本の延長板が盤内側本体21の下方に向けて垂設されている。また、盤内側本体21および4本の延長板内には、R相、W相、B相およびN相盤内側接触端子22R,22W,22B,22NとR相、W相、B相およびN相盤内側コネクタ挿入孔23R,23W,23B,23Nとを電気的に接続する4本の導電板が設けられている図1cの破線参照。R相、W相、B相およびN相盤内側コネクタ挿入孔23R,23W,23B,23Nは、上述したR相、W相、B相およびN相盤外側コネクタ挿入孔13R,13W,13B,13Nと同様に、セーフティコネクタ31のように先端に円筒状の導電棒が取り付けられた測定用コネクタなどを装着するためのものである。盤内側ツメ24は、下面が盤内側本体21の下面と同一平面上にある横板と先端部が下方に向くように横板の先端に一体的に取り付けられ縦板とからなる横断面形状盤内側本体21の側面から見た形状がL字状のものである。また、盤内側ツメ24の長さ末端から先端までの長さは、図2bに示すようにR相、W相、B相およびN相盤内側接触端子22R,22W,22B,22Nとテストプラグ120のR相、W相、B相およびN相端子126R,126W,126B,126NのR相、W相、B相およびN相盤内側接続導体128R,128W,128B,128Nとがそれぞれ電気的に接続するように盤内用測定治具20をテストプラグ120の本体121の上面に載置した場合に、盤内側ツメ24の縦板の前面盤内側本体21側の面が盤内側本体21の後面と接触する長さとされている。以上のように構成されたテストプラグ用測定治具では、盤外用測定治具10の盤外側ツメ14の長さは、盤内用測定治具20の盤内側ツメ24の長さよりも小さくされているので、作業員が絶縁抵抗測定を行う際に盤内用測定治具20を盤外用測定治具10であると誤認して、図3aに示すようにR相、W相、B相およびN相盤内側接触端子22R,22W,22B,22Nとテストプラグ120のR相、W相、B相およびN相端子126R,126W,126B,126Nの末端部のR相、W相、B相およびN相盤外側接続導体127R,127W,127B,127Nとがそれぞれ電気的に接続するように盤内用測定治具20をテストプラグ120の本体121の上面に載置した場合には、テストプラグ120を配電盤1内のテストターミナル110に挿入しようとしても盤内側ツメ24の縦板が配電盤1の前面に当たって挿入することができないため、作業員は盤内用測定治具20を盤外用測定治具10であると誤認したことを容易に気付くことができる。また、作業員が絶縁抵抗測定を行う際に盤外用測定治具10を盤内用測定治具20であると誤認して、図3bに示すようにR相、W相、B相およびN相盤外側接触端子12R,12W,12B,12Nとテストプラグ120の先端部のR相、W相、B相およびN相端子126R,126W,126B,126NのR相、W相、B相およびN相盤内側接続導体128R,128W,128B,128Nとがそれぞれ電気的に接続するように盤外用測定治具10をテストプラグ120の本体121の上面に載置した場合には、盤外側ツメ14の縦板の先端が盤外側本体11の上面に当たって盤外用測定治具10をテストプラグ120の上面に載置することができないため、作業員は盤外用測定治具10を盤内用測定治具20であると誤認したことを容易に気付くことができる。その結果、本実施例によるテストプラグ用測定治具を使用することにより、作業員の測定部位の誤認を防止することができる。以上の説明では、テストプラグ120は、本体121の前面に上下互い違いに配設された4つの端子R相、W相、B相およびN相端子126R,126W,126B,126Nを備えたが、本体121の前面の高さが異なる位置に配設された少なくとも2つの端子を備えるものであればよい。この場合には、盤外用測定治具10および盤内用測定治具20には、テストプラグ120の端子の数と同じ数の盤外側接触端子および盤内側接触端子を設けるようにする。また、盤外用測定治具10と盤内用測定治具20とを区別するために、盤外側本体114本の延長板を含む。および盤外側ツメ14を同一色で塗るとともに、盤内側本体214本の延長板を含む。および盤内側ツメ24を盤外側本体114本の延長板を含む。および盤外側ツメ14と異なる同一色で塗ってもよい。"