"第1の型と第2の型とを用いて成形材料を成形する成形装置において、前記第1の型が設置される第1の型設置体と、前記第2の型が設置され、前記第1の型設置体に対して相対的に移動位置決め自在である第2の型設置体と、前記第1の型設置体に一体的に設けられた被測定体と、前記被測定体の位置を測定するために前記第2の型設置体に一体的に設けられた変位センサとを備えた測定部と、を有することを特徴とする成形材料の成形装置。請求項1に記載の成形材料の成形装置において、前記第1の型設置体には、前記第1の型を前記第1の型設置体の所定の位置に設置するための第1の突き当て部が設けられており、前記第2の型設置体には、前記第2の型を前記第2の型設置体の所定の位置に設置するための第2の突き当て部が設けられていることを特徴とする成形材料の成形装置。請求項1または請求項2に記載の成形材料の成形装置において、前記第1の型設置体は、前記第2の型設置体に対して接近離反する方向で移動位置決め自在であり、前記第2の型設置体は、前記第1の型設置体に対して、前記第1の型設置体の移動方向と直交する面内方向で移動位置決め自在であり、前記測定部は、前記面内方向で、前記第1の型設置体に対する前記第2の型設置体の位置ずれ量を測定するように構成されており、前記第1の型設置体は、フレームに対して移動位置決め自在な移動体に設けられていることで、前記移動位置決めが自在になっており、前記第2の設置体は、前記フレームに設けられている移動位置決め装置に設けられていることで、前記移動位置決めが自在になっていることを特徴とする成形材料の成形装置。請求項3に記載の成形材料の成形装置において、前記第1の型設置体は、ロードセルとクーラ部とヒータ部とを介して前記移動体に設けられており、前記第2の設置体は、クーラ部とヒータ部とを介して前記移動位置決め装置に設けられていることを特徴とする成形材料の成形装置。請求項3または請求項4に記載の成形材料の成形装置において、前記測定部で測定された、前記成形材料を試し成形するときにおける前記第1の型設置体と前記第2の型設置との位置関係をメモリに記憶し、別途測定された、前記試し成形で成形された成形材料における前記第1の型の成形パターンで形成されたパターンと、前記試し成形で成形された成形材料における前記第2の型の成形パターンで形成されたパターンとの位置ずれ量を、入力手段を介して入力し、前記成形材料を成形するときに、前記第1の型設置体に対する前記第2の型設置体の位置ずれを無くすべく、前記メモリに記憶されている位置関係と前記入力された位置ずれ量とを用いて、前記第2の型設置体を前記第1の型設置体に対して、前記面内方向で移動位置決めする制御部を有することを特徴とする成形材料の成形装置。第1の型と第2の型とを用いて成形材料を成形する成形材料の成形方法において、前記第1の型と前記第2の型とが所定の距離だけ離れている状態で、前記第1の型、前記第2の型の少なくともいずれかに、硬化前の成形材料を供給する第1の成形材料供給工程と、前記第1の型と前記第2の型との間の距離が所定の距離になるまで、前記第2の型に対して前記第1の型を相対的に近づける方向に移動して位置決めする第1の型移動工程と、前記第1の型が一体的に設置されている第1の型設置体に一体的に設けられた被測定体と、前記被測定体の位置を測定するために前記第2の型が一体的に設置されている第2の型設置体に一体的に設けられた変位センサとを用いて、前記第2の型に対する前記第1の型の位置を測定する型位置測定工程と、前記第1の成形材料供給工程で供給された成形材料を硬化する第1の成形材料硬化工程と、前記第1の型と前記第2の型とが所定の距離だけ離れるまで、前記第1の型を前記第2の型から相対的に離し、前記硬化した成形材料を前記各型から取り外す第1の離型工程と、前記第1の離型工程で前記各型から取り外された成形材料における、第1の型の成形パターンで形成されたパターンと第2の型の成形パターンで形成されたパターンとの間の位置ずれ量を測定する位置ずれ量測定工程と、前記第1の型と前記第2の型とが所定の距離だけ離れている状態で、前記第1の型、前記第2の型の少なくともいずれかに、硬化前の成形材料を供給する第2の成形材料供給工程と、前記第1の型と前記第2の型との間の距離が所定の距離になるまで、前記第2の型に対して前記第1の型を相対的に近づける方向に移動して位置決めする第2の型移動工程と、前記型位置測定工程で測定した前記第2の型に対する前記第1の型の位置と、前記位置ずれ量測定工程で測定した第1の型の成形パターンで形成されたパターンと第2の型の成形パターンで形成されたパターンとの間の位置ずれ量とを用いて、前記第1の型の成形パターンで形成されたパターンと第2の型の成形パターンで形成されたパターンとの間の位置ずれを無くすべく、前記第2の型を前記第1の型に対して相対的に移動位置決めするパターンずれ量修正工程と、前記第2の成形材料供給工程で供給された成形材料を硬化する第2の成形材料硬化工程と、を有することを特徴とする成形材料の成形方法。ところで、カメラで撮影した画像を画像処理することで、下型設置体に設置された下型に対する上型設置体に設置された上型の位置ずれを測定している従来の成形装置では、構成が煩雑でしかも上記測定に時間がかかるという問題がある。すなわち、カメラを用いて上型と下型とを撮影するためには、上型と下型とが離れている状態で、上型と下型との間にカメラを挿入して、上型たとえば、上型に設けられているアイマークと下型たとえば、下型に設けられているアイマークとを撮影し、この撮影後に、カメラを退避させ、下型に上型と近づける必要がある。このように、カメラを移動する必要があるので、この移動のための装置が必要となり、成形装置の構成が煩雑になる。また、カメラの移動位置決め等に時間を要するので、測定に時間がかかってしまう。本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、上型と下型とを用いて成形材料を成形する成形装置および成形方法において、簡素な構成で上型と下型との位置ずれの測定を従来よりも短時間で行うことができる成形装置および成形方法を提供することを目的とする。請求項1に記載の発明は、第1の型と第2の型とを用いて成形材料を成形する成形装置において、前記第1の型が設置される第1の型設置体と、前記第2の型が設置され、前記第1の型設置体に対して相対的に移動位置決め自在である第2の型設置体と、前記第1の型設置体に一体的に設けられた被測定体と、前記被測定体の位置を測定するために前記第2の型設置体に一体的に設けられた変位センサとを備えた測定部とを有する成形材料の成形装置である。請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の成形材料の成形装置において、前記第1の型設置体には、前記第1の型を前記第1の型設置体の所定の位置に設置するための第1の突き当て部が設けられており、前記第2の型設置体には、前記第2の型を前記第2の型設置体の所定の位置に設置するための第2の突き当て部が設けられている成形材料の成形装置である。請求項3に記載の発明は、請求項1または請求項2に記載の成形材料の成形装置において、前記第1の型設置体は、前記第2の型設置体に対して接近離反する方向で移動位置決め自在であり、前記第2の型設置体は、前記第1の型設置体に対して、前記第1の型設置体の移動方向と直交する面内方向で移動位置決め自在であり、前記測定部は、前記面内方向で、前記第1の型設置体に対する前記第2の型設置体の位置ずれ量を測定するように構成されており、前記第1の型設置体は、フレームに対して移動位置決め自在な移動体に設けられていることで、前記移動位置決めが自在になっており、前記第2の設置体は、前記フレームに設けられている移動位置決め装置に設けられていることで、前記移動位置決めが自在になっている成形材料の成形装置である。請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の成形材料の成形装置において、前記第1の型設置体は、ロードセルとクーラ部とヒータ部とを介して前記移動体に設けられており、前記第2の設置体は、クーラ部とヒータ部とを介して前記移動位置決め装置に設けられている成形材料の成形装置である。請求項5に記載の発明は、請求項3または請求項4に記載の成形材料の成形装置において、前記測定部で測定された、前記成形材料を試し成形するときにおける前記第1の型設置体と前記第2の型設置との位置関係をメモリに記憶し、別途測定された、前記試し成形で成形された成形材料における前記第1の型の成形パターンで形成されたパターンと、前記試し成形で成形された成形材料における前記第2の型の成形パターンで形成されたパターンとの位置ずれ量を、入力手段を介して入力し、前記成形材料を成形するときに、前記第1の型設置体に対する前記第2の型設置体の位置ずれを無くすべく、前記メモリに記憶されている位置関係と前記入力された位置ずれ量とを用いて、前記第2の型設置体を前記第1の型設置体に対して、前記面内方向で移動位置決めする制御部を有する成形材料の成形装置である。請求項6に記載の発明は、第1の型と第2の型とを用いて成形材料を成形する成形材料の成形方法において、前記第1の型と前記第2の型とが所定の距離だけ離れている状態で、前記第1の型、前記第2の型の少なくともいずれかに、硬化前の成形材料を供給する第1の成形材料供給工程と、前記第1の型と前記第2の型との間の距離が所定の距離になるまで、前記第2の型に対して前記第1の型を相対的に近づける方向に移動して位置決めする第1の型移動工程と、前記第1の型が一体的に設置されている第1の型設置体に一体的に設けられた被測定体と、前記被測定体の位置を測定するために前記第2の型が一体的に設置されている第2の型設置体に一体的に設けられた変位センサとを用いて、前記第2の型に対する前記第1の型の位置を測定する型位置測定工程と、前記第1の成形材料供給工程で供給された成形材料を硬化する第1の成形材料硬化工程と、前記第1の型と前記第2の型とが所定の距離だけ離れるまで、前記第1の型を前記第2の型から相対的に離し、前記硬化した成形材料を前記各型から取り外す第1の離型工程と、前記第1の離型工程で前記各型から取り外された成形材料における、第1の型の成形パターンで形成されたパターンと第2の型の成形パターンで形成されたパターンとの間の位置ずれ量を測定する位置ずれ量測定工程と、前記第1の型と前記第2の型とが所定の距離だけ離れている状態で、前記第1の型、前記第2の型の少なくともいずれかに、硬化前の成形材料を供給する第2の成形材料供給工程と、前記第1の型と前記第2の型との間の距離が所定の距離になるまで、前記第2の型に対して前記第1の型を相対的に近づける方向に移動して位置決めする第2の型移動工程と、前記型位置測定工程で測定した前記第2の型に対する前記第1の型の位置と、前記位置ずれ量測定工程で測定した第1の型の成形パターンで形成されたパターンと第2の型の成形パターンで形成されたパターンとの間の位置ずれ量とを用いて、前記第1の型の成形パターンで形成されたパターンと第2の型の成形パターンで形成されたパターンとの間の位置ずれを無くすべく、前記第2の型を前記第1の型に対して相対的に移動位置決めするパターンずれ量修正工程と、前記第2の成形材料供給工程で供給された成形材料を硬化する第2の成形材料硬化工程とを有する成形材料の成形方法である。本発明によれば、上型と下型とを用いて成形材料を成形する成形装置および成形方法において、簡素な構成で、上型と下型との位置ずれの測定を従来よりも短時間で行うことができるという効果を奏する。まず、本実施形態に係る成形装置成形材料の成形装置1で成形される成形品W1について説明する。成形品W1として、たとえば、図1に示すレンズの集合体を掲げることができる。レンズ集合体W1は、硬化した熱硬化性樹脂や紫外線硬化樹脂等の透明な樹脂材料等で構成されており、平板状の本体部W2と球冠状の複数の凸部W3,W4とを備えている。本体部W2は、たとえば、円板状に形成されている。各凸部W3,W4型M1,M2で形成されたパターンは、本体部W2の厚さ方向の両面で、所定の間隔をあけて設けられている。レンズ集合体W1本体部W2をこの厚さ方向から見ると、本体部W2の厚さ方向の一方の面図1bでは上面に設けられている各凸部W3それぞれの中心に位置と、本体部W2の厚さ方向の他方の面図1bでは下面に設けられている各凸部W4それぞれの中心の位置とは、お互いに一致している。このように構成されているレンズ集合体W1は、たとえば、一対の凸部W3,W4を備えた本体部W2の厚さの方向の一方の面側の1つの凸部W3と、本体部の厚さの方向の他方の面側の1つの凸部W4とを備えたレンズに分割され、CCDやCMOSセンサ等の撮像素子を設けることで、携帯電話のカメラ部に使用される。なお、図1a等では、凸部W3,W4の数を少なく描いている。しかし、実際には、本体部W2の外径は、6インチから8インチ程度であり、凸部W3,W4は、数百個から数千個設けられている。また、図1に示すレンズ集合体W1では、本体部W2に凸部W3,W4が形成されているが、図8bで示すように、本体部W2の厚さ方向の一方の面に複数の凸部W3を設け、本体部W2の厚さ方向の他方の面に複数の球冠状の凹部W5を設けた構成であってもよいし、本体部W2の厚さ方向の両面に複数の凹部を設けた構成であってもよい。また、図1に示すレンズ集合体W1は、一種類の成形材料のみで構成されているがキャスティングされているが、図8aで示すように、レンズ集合体W1aをハイブリッドで構成してもよい。すなわち、レンズ集合体W1aが、平板状の透明な基板たとえば、ガラス基板W6と、硬化した樹脂部W7,W8とで構成されていてもよい。硬化した樹脂部W7,W8は、基板W6の厚さ方向の両面に設けられている。図8aで示すレンズ集合体W1aの外形は、図1に示すレンズ集合体W1の外形と同様になっている。成形材料として、熱硬化性樹脂の代わりに、紫外線硬化樹脂等の樹脂材料やその他の材料を掲げることができるが、ここでは、熱硬化性樹脂を例に掲げて説明する。図2~図5で示す成形装置1は、第1の型たとえば、上型M1と第2の型たとえば、下型M2とを用いて、液体状もしくは流動体状の熱硬化性樹脂を硬化しレンズ集合体W1を成形する装置であり、第1の型設置体上型設置体3と第2の型設置体下型設置体5と測定部7とを備えて構成されている。以下、説明の便宜のために、水平な一方向をX軸方向とし、水平な他の一方向であってX軸方向に直交する方向をY軸方向とし、X軸方向とY軸方向とに直交する鉛直方向上下方向をZ軸方向とする。上型設置体上面板;上型保持体3には、上型M1が一体的に設置されるようになっている。下型設置体下面板;下型保持体5には、下型M2が一体的に設置されるようになっている。なお、詳細は後述するが、下型設置体5は、上型設置体3に対して相対的に移動位置決め自在になっている。測定部7は、被測定体被検出体;ドッグ9と変位センサ11とを備えて構成されている。被測定体9は、上型設置体3に一体的に設けられており、変位センサ11は、ブラケット10を介して下型設置体5一体的に設けられている。また、変位センサ11として、静電容量型のセンサが採用されている。そして、静電容量型の変位センサ11によって、この静電容量型の変位センサ11と被測定体9との間の距離間隙の値を測定するようになっている。これにより、詳しくは後述するが、上型設置体3に対する下型設置体5の位置や姿勢を測定することができるようになっている。なお、被測定体9を下型設置体5に一体的に設け、静電容量型の変位センサ11を上型設置体3に一体的に設けた構成であってもよいし、静電容量型のセンサに代えて、磁気を使用したセンサ等の非接触式の変位センサやレーザ変位センサを採用してもよいし、接触式の変位センサを採用してもよい。さらに、被測定体9と静電容量型の変位センサ11とを、型設置体3,5に設ける代わりに、上型設置体3に設置された上型設置済み上型M1と下型設置体5に設置された下型設置済み下型M2とに設けた構成であってもよい。上型設置体3には、上型設置体3の所定の位置に上型M1を設置するための第1の突き当て部たとえば、円柱状のロケートピン13が設けられており、下型設置体5には、下型設置体5の所定の位置に下型M2を設置するための第2の突き当て部たとえば、円柱状のロケートピン15が設けられている。ここで、下型設置体5が上型設置体3に対して相対的に移動位置決め自在になっていることや測定部7について、例を掲げて詳しく説明する。上型設置体3は、下型設置体5に対して接近離反する方向Z軸方向で移動位置決め自在になっている。下型設置体5は、上型設置体3に対して、Z軸方向と直交する面内方向で移動位置決め自在になっている。面内方向とは、X軸方向およびZ軸方向およびθ軸まわりのことをいう。θ軸は、下型設置体5のほぼ中心を通ってZ軸方向に延びている。つまり、下型設置体5は、上型設置体3に対して、X軸方向、Z軸方向で移動位置決め自在であるとともに、θ軸まわりで回動位置決め自在になっている。測定部7は、前記面内方向で、上型設置体3に対する下型設置体5の位置ずれ量を測定するように構成されている。すなわち、測定部7を構成している被測定体9A,9B,9Cと変位センサ11A,11B,11Cとを用いて図2および図3参照、前記面内方向での、上型設置体3に対する下型設置体5の位置ずれ量を測定するように構成されている。ところで、上型設置体3は、フレーム17に対して移動位置決め自在な移動体19に、ロードセル21とスペーサ23とクーラ部25とヒータ部27とを介して一体的に設けられていることで、下型設置体5に対してZ軸方向で移動位置決め自在になっている。下型設置体5は、フレーム17に設けられている移動位置決め装置XYθステージ29のXYθテーブル31に、φτステージクサビステージ33とクーラ部35とヒータ部37とを介して一体的に設けられていることで、上型設置体3に対して前記面内方向で移動位置決め自在になっている。また、成形装置1には、制御部39と入力部入力手段41とメモリと43を備えて構成されている制御装置45が設けられている。そして、制御部39の制御の下、熱硬化性樹脂を試し成形するときにおける、測定部7で測定された上型設置体3と下型設置体5との位置関係面内方向での位置関係;図3に示すΔx1、Δx2、Δy2をメモリ43に記憶するようになっている。なお、試し成形で得られたレンズ集合体W1は、図7で示すように、凸部W3に対して、凸部W4の位置がずれていることが多い。したがって、製品や半製品として採用されることはほとんど無い。続いて、上記試し成形で得られたレンズ集合体W1における上型M1の成形パターンM3で形成されたパターン凸部W3と、上記試し成形で得られたレンズ集合体W1における下型M2の成形パターンM4で形成されたパターン凸部W4との位置ずれ量図7に示すΔx11、Δy11、Δx12、Δy12が、入力手段キーボード等で構成された入力部41を介して入力されるようになっている。なお、入力部41から入力される位置ずれ量は、別途測定されたものである。すなわち、上記試し成形で得られたレンズ集合体W1が成形装置1から取り外されて、この後、成形装置1とは異なる測定装置図示せずで測定されてものである。また、図7では、上型M1と下型M2とによって形成されたアイマークW9,W10の位置ずれ量を測定することにしているが、アイマークを用いることなく、凸部W3と凸部W4とを用いて、位置ずれ量を測定するようにしてもよい。すなわち、凸部W3の外周の位置から凸部W3の中心位置を求め、凸部W4の外周の位置から凸部W4の中心位置を求め、位置ずれ量を測定するようにしてもよい。続いて、熱硬化性樹脂を成形するときに本成形するときに;製品としてのレンズ集合体W1を得るときに、上型設置体3に対する下型設置体5の位置ずれを無くすべくレンズ集合体W1の各凸部W3のそれぞれとレンズ集合体W1の各凸部W4のそれぞれとの位置ずれを無くすべく、メモリ43に記憶されている位置関係と入力部41から入力された位置ずれ量とを用いて、下型設置体5を上型設置体3に対して、前記面内方向で移動位置決めするようになっている。ここで、成形装置1についてさらに詳しく説明する。成形装置1は、前述したように、フレーム17の下側に設けられたXYθステージ29とφτステージ33とクーラ部35とヒータ部37と下型設置体5とを備えて構成されている。XYθステージ29は、XYθステージ基台47とXYθテーブル31とを備えて構成されている。XYθステージ基台47は、フレーム17に一体的に設けられており、XYθテーブル31は、XYθステージ基台47の上方に設けられており、XYθステージ基台47に対して、上述した面内方向X軸方向、Y軸方向およびθ軸まわりで移動回動位置決め自在になっている。XYθテーブル31の上には、φτステージ33が設けられており、φτステージ33の上には、クーラ部35が設けられており、クーラ部35の上には、ヒータ部37が設けられており、ヒータ部37の上には、下型設置体5が設けられている。ヒータ部37は、下型設置体5下型M2を加熱して熱硬化性樹脂を硬化させるためのものであり、クーラ部35は、下型設置体5下型M2を冷却するとともに、ヒータ部37が発した熱が、φτステージ33側に移動することを防ぐようになっている。これにより、下型設置体5が、フレーム17に対して上述した面内方向で位置決め自在になっているとともに、下型設置体5の温度が変化するようになっている。また、下型M2は、円形な平板状に形成されており、下型設置体5に下型M2が設置された状態では、下型M2の下面は、下型設置体5の上面に面接触しており、下型M2の上面は、水平方向に展開しており、下型M2の上面に成形パターンM4が形成されている。ロケートピン15は、少なくとも2本設けられており、下型設置体5の上面から上方に突出している。また、下型M2の外周には、少なくとも2つの円弧状の切り欠きM6が形成されており、下型設置体5に下型M2が設置された状態では、各ロケートピン15のそれぞれと、各切り欠きM6のそれぞれとがお互いに係合し、下型M2が下型設置体5の所定の位置に位置決めされて一体的に設置される。なお、下型M2の下型設置体5への設置は、図示しないボルト等の締結具もしくは真空吸着によってなされている。また、成形装置1は、前述したように、フレーム17の上側に設けられた移動体19とロードセル21とスペーサ23とクーラ部25とヒータ部27と上型設置体3とを備えて構成されている。移動体19は、図示しないリニアガイドベアリングを介してフレーム17に支持されており、図示しないサーボモータ等のアクチュエータによりZ軸方向で移動位置決め自在になっている。ロードセル21は、移動体19の下側で移動体19に一体的に設けられており、スペーサ23は、ロードセル21の下側でロードセル21に一体的に設けられており、クーラ部25は、スペーサ23の下側でスペーサ23に一体的に設けられており、ヒータ部27は、クーラ部25の下側でクーラ部25に一体的に設けられており、上型設置体3は、ヒータ部27の下側でヒータ部27に一体的に設けられている。ヒータ部27は、上型設置体3上型M1を加熱して熱硬化性樹脂を硬化させるためのものであり、クーラ部25は、上型設置体3上型M1を冷却するとともに、ヒータ部27が発した熱が、ロードセル21側に移動することを防ぐようになっている。これにより、上型設置体3が、フレーム17に対してZ軸方向で位置決め自在になっているとともに、上型設置体3の温度が変化するようになっている。また、上型M1は、円形な平板状に形成されており、上型設置体3に上型M1が設置された状態では、上型M1の下面は、上型設置体3の下面に面接触しており、上型M1の下面は、水平方向に展開しており、上型M1の下面に成形パターンM3が形成されている。なお、ロードセル21は、図5で示すように、設置済み下型M2と設置済み上型M1とで熱硬化性樹脂を挟み込んで硬化させて成形するときに、上型M1の押圧力を測定するものである。ロケートピン13は、少なくとも2本設けられており、上型設置体3の下面から下方に突出している。また、下型M2の外周には、少なくとも2つの円弧状の切り欠きM5が形成されており、上型設置体3に上型M1が設置された状態では、各ロケートピン13のそれぞれと、各切り欠きM5のそれぞれとがお互いに係合し、上型M1が上型設置体3の所定の位置に位置決めされて一体的に設置される。なお、上型M1の上型設置体3への設置は、図示しないボルト等の締結具もしくは真空吸着によってなされている。また、すでに理解されるように、上型設置体3に設置された上型設置済み上型M1と、下型設置体5に設置された下型設置済み下型M2とは、お互いが対向している。また、設置済み上型M1の成形パターンM3が形成されている面下面と、設置済み下型M2の成形パターンM4が形成されている面上面とは、お互いが対向している。成形パターンM3,M4は、図1等で示すレンズ集合体W1の凸部W3,W4を形成するためのパターンである。また、成形装置1には、硬化前の液体状もしくは流動体状の熱硬化樹脂を供給する熱硬化性樹脂供給部成形材料供給部49が設けられている。熱硬化性樹脂供給部49は、図示しない移送装置に支持されていることにより、下型M2に硬化前の熱硬化性樹脂を供給する供給位置P1と、退避位置P2との間を移動するようになっている。そして、熱硬化性樹脂供給部49が供給位置P1に位置しているときに、下型M2に熱硬化性樹脂を供給するようになっている。なお、下型M2のみに熱硬化性樹脂を供給することに代えてもしくは加えて、上型M1に熱硬化性樹脂を供給する構成であってもよい。ところで、上述したように、上型M1をロケートピン13に突き当てて上型設置体3の所定の位置に設置し、下型M2をロケートピン15に突き当てて下型設置体5の所定の位置に設置した状態で、レンズ集合体W1を成形すると、レンズ集合体W1の厚さ方向から見た場合、図7で示すように、レンズ集合体W1の厚さ方向の一方の面に設けられている各凸部W3それぞれの中心の位置と、レンズ集合体W1の厚さ方向の他方の面に設けられている各凸部W4それぞれの中心の位置とが、ほとんどの場合僅かにずれている。成形装置1の構成部品の加工誤差、組立誤差、各型M1,M2の加工誤差、型設置体3,5への設置誤差等の誤差や熱による変形等が無ければ、各凸部W3それぞれの中心の位置と、各凸部W4それぞれの中心の位置とはお互いに一致している。したがって、各凸部W3それぞれの中心の位置と、各凸部W4それぞれの中心の位置とがお互いに一致している場合もごく稀に存在する。しかし、ほとんどの場合、各凸部W3それぞれの中心の位置と、各凸部W4それぞれの中心の位置とは僅かにずれている。そこで、測定部7等が必要になってくる。ここで、XYθステージ29、φτステージ33についてさらに詳しく説明する。XYθステージ29は、前述したようにXYθステージ基台47と、XYθテーブル31とを備えて構成されている。図2等で示すXYθステージ29は、簡素化して表示してあるので、XYθステージ基台47とXYθテーブル31とで構成されている。しかしながら、実際のXYθステージ29は、たとえば、XYθステージ基台47とX軸テーブルと図示せず、Y軸テーブル図示せずと、θ軸テーブルXYθテーブル31とを備えて構成されている。X軸テーブルは、フレーム17に一体的に設けられているXYθステージ基台47の上側でリニアガイドベアリングを介してXYθステージ基台47に支持されており、サーボモータやステップモータ等のアクチュエータで、XYθステージ基台47に対してX軸方向で移動位置決め自在になっている。Y軸テーブルは、X軸テーブルのたとえば上側でリニアガイドベアリングを介してX軸テーブルに支持されており、サーボモータやステップモータ等のアクチュエータで、X軸テーブルに対してY軸方向で移動位置決め自在になっている。θ軸テーブルXYθテーブル31は、Y軸テーブルのたとえば上側でベアリングを介してY軸テーブルに支持されており、サーボモータやステップモータ等のアクチュエータで、Y軸テーブルに対して、θ軸を中心にして回動位置決め自在になっている。φτステージ33は、図示しないφτステージ基台と図示しないφτテーブルとを備えて構成されている。φτステージ基台は、XYθテーブル31に一体的に設けられており、φτテーブルは、φτステージ基台のたとえば上方でφτステージ基台に係合しており、φ軸まわりおよびτ軸まわりで、φτステージ基台に対して回動位置決め自在になっている。なお、φ軸は、φτテーブルの中心を通ってX軸方向に延びている軸であり、τ軸は、φτテーブルの中心を通ってY軸方向に延びている軸である。これにより、設置済み下型M2の姿勢を調整し、設置済み下型M2の上面と設置済み上型M1の上面との平行度を正確なものにすることができる。φτテーブルの回動位置の調整は、オペレータが手動でするように構成されているが、サーボモータ等のアクチュエータを用いて、自動調整するようにしてもよい。また、φτステージ33においても、XYθステージ29の場合と同様のことが言える。すなわち、φτステージ33も、φτステージ基台と、φテーブルと、φテーブルとは別個のτテーブルとを備えて構成されている。次に、成形装置1の動作について図11、図12を参照しつつ説明する。まず、初期状態として、図1で示すように、上型設置体3が上昇しており、上型設置体3に上型M1が設置されており、下型設置体5に下型M2が設置されているものとするS1。続いて、制御部39の制御の下、上型M1と下型M2とが所定の距離だけ離れている状態で、熱硬化性樹脂供給部49により、下型M2に硬化前の熱硬化性樹脂を供給する熱硬化性樹脂供給工程;S3。なお、この熱硬化性樹脂の供給をオペレータが手動で行ってもよい。続いて、上型M1と下型M2との間の距離が所定の距離成形品を成形するための距離;図5で示す距離Z1になるまで、上型M1を下降位置決めする型移動工程;S5。なお、この状態では、変位センサ11は、Z軸方向で、設置済み下型M2の上面よりも僅かに下方に位置しているが、変位センサ11A~11Cが、Z軸方向で、設置済み下型M2の上面と設置済み上型M1の下面との間に位置していてもよいし、Z軸方向で、設置済み上型M1の下面よりも僅かに上方に位置していてもよい。また、図3と図5とで示す状態では、X軸方向で、θ軸の位置と、変位センサ11Aと被測定体9Aとの間の間隙の位置とが、お互いにほぼ一致しており、Y軸方向で、変位センサ11Aと被測定体9Aとの間の間隙が、下型設置体5よりも僅かに外側に位置している。なお、図3で示す状態において、Y軸方向で、変位センサ11Aと被測定体9Aとを僅かに上方にずらして、変位センサ11Aと被測定体9Aとの間の間隙が、下型設置体5の内側であって、設置済み下型M2の外側に位置するようにしてもよい。また、変位センサ11Bと被測定体9Bとは、θ軸を含みX軸方向とZ軸方向とに展開している平面に対して対称に設けられており、変位センサ11Cと被測定体9Cとは、θ軸を回転中心として、変位センサ11Bと被測定体9Bとを一定の方向たとえば時計まわりに90°回動させたところに位置している。続いて、図5に示す状態で、上型設置体3に一体的に設けられた被測定体9A,9B,9Cと変位センサ11A,11B,11Cとを用いて、上型M1に対する下型M2の位置を測定し、この測定値を、メモリ43に記憶する型位置測定工程;S7。なお、説明の便宜のために、ここでは、図3のX軸方向での位置ずれ量Δx1として1.000mmが測定され、図3のX軸方向での位置ずれ量Δx2として1.000mmが測定され、図3のY軸方向での位置ずれ量Δy1として1.000mmが測定されたものとする。続いて、成形材料供給工程で供給された熱硬化性樹脂を硬化する成形材料硬化工程;S9。この硬化後に熱硬化性樹脂等を冷却する。この成形材料硬化工程で硬化して得られたものは、試し成形品である。この試し成形品は、前述したように、また、図7で示すように、レンズ集合体W1の本体部W2の厚さ方向の一方の面に形成さてれている凸部W3と、他方の面に形成さてれている凸部W4との位置が、ほとんどの場合僅かにずれているので、製品や半製品として使用することはできない。もっとも、凸部W3と凸部W4との間の位置ずれ量が許容範囲内のごく僅かな量である場合には、製品や半製品として採用してもよい。続いて、上型M1と下型M2とが図1で示すように所定の距離だけ離れるまで、上型M1を上昇して下型M2から離し、硬化し成形された試し成形品を各型M1,M2から取り外す離型工程;S11。続いて、各型M1,M2から取り外されたレンズ集合体試し成形品W1における凸部W3と凸部W4との間の位置ずれ量を、成形装置1とは異なる装置や器具を使って測定し位置ずれ量測定工程、この測定結果を、入力部41を介して制御装置45に入力するS13。なお、説明の便宜のために、ここでは、図7のX軸方向での位置ずれ量Δx11として0.005mmが測定され、図7のX軸方向での位置ずれ量Δx12として0.005mmが測定され、図7のY軸方向での位置ずれ量Δy11として0.007mmが測定され、図7のΔy12として0.007mmが測定されたものとする。続いて、上型M1と下型M2とが所定の距離だけ離れている状態で、上型M1に硬化前の熱硬化性樹脂を供給する成形材料供給工程;S15。続いて、上型M1と下型M2との間の距離が所定の距離成形品を成形するための距離;図5に示す距離Z1になるまで、上型M1を下降位置決めする型移動工程;S17。続いて、レンズ集合体W1の各凸部W3と各凸部W4との間の位置ずれを無くすべく図7でのΔx11、Δx12、Δy11、Δy12の値を0にすべく、ステップS7でメモリ43に記憶した値と、ステップS13で入力した位置ずれ量とを用いて、下型M2を上型M1に対して移動位置決めするパターンずれ量修正工程;S19。XYθステージ29を稼動して、図7で示すΔx11、Δx12、Δy11、Δy12の値を0にするために、図3のΔx1とΔx2との値を0.095mm1.000mm-0.005mmにし、図3のΔy1の値を0.093mm1.000mm-0.007mmにする。続いて、ステップS15の成形材料供給工程で供給された熱硬化性樹脂を硬化する成形材料硬化工程;S21。この硬化後に熱硬化性樹脂等を冷却する。この成形材料硬化工程で硬化して得られたものが本成形品製品もしくは半製品として使用されるレンズ集合体W1になる。なお、上記説明では、試し成形品を1回のみしか成形していないが、試し成形品を複数回成形してもよい。そして、試し成形を重ねるごとに、上型M1凸部W3に対する下型M2凸部W4の位置ずれを次第に少なくするようにしてもよい。続いて、上型M1と下型M2とが図1に示すように所定の距離だけ離れるまで、上型M1を上昇させて下型M2から離し、レンズ集合体W1を各型M1,M2から取り外す離型工程;S23。成形装置1によれば、上型設置体3に一体的に設けられた被測定体9と、被測定体9の位置を測定するために下型設置体5に一体的に設けられた変位センサ11とを備えた測定部7で、設置済み上型M1と、設置済み下型M2との位置関係を測定するように構成されているので、従来のようにカメラを用いた場合に比べて、カメラを移動させる等の装置が不要になり、簡素な構成で上型M1と下型M2との位置ずれの測定を従来よりも短時間で行うことができる。また、従来のようにカメラを用いて上型M1と下型M2との位置ずれを測定する場合には、上型M1と下型M2とが離れているときに、カメラで上型M1と下型M2とを撮影するので、下型M2と上型M1との位置ずれを正確に測定することができないおそれがある。すなわち、実際に必要なものは、熱硬化性樹脂の成形のために上型M1が下型M2に接近したときにおける下型M2と上型M1との位置ずれ量であるにもかかわらず、従来の成形装置では、上型M1が下型M2から離れているときにおける位置ずれ量を測定する構成になっている。したがって、従来の成形装置では、熱硬化性樹脂を成形するために上型M1が下型M2に接近したときに、下型M2と上型M1との位置ずれ量が変化してしまうおそれがある。しかしながら、この実施形態に係る成形装置1では、設置済み上型M1と設置済み下型M2とを熱硬化性樹脂の成形のために所定の距離図5で示す距離Z1まで近づけたときに、上型設置体3に対する下型設置体5の位置を測定部7で測定しており、しかも、上型設置体3に上型M1が直接接触して設置されており、下型設置体5に下型M2が直接接触して設置されているので、下型M2と上型M1との位置ずれを正確に測定することができる。なお、従来の成形装置において、上型設置体の内側に空間を設け、この空間内にカメラを設け、上型を石英ガラス等の透明体で構成し、熱硬化性樹脂の成形のために上型と下型とが所定の距離まで近づけたときに、カメラで上型のアイマークと下型のアイマークと撮影し特に下型のアイマークは上型を通して撮影し、下型と上型との位置ずれ量を測定する方式も考えられる。しかし、この方式では、上型を高価な石英ガラスで作成しなければならない等、コストが上昇してしまう。これに対して、この実施形態に係る成形装置1では、上型M1と下型M2とを光を通さない金属等の材料で構成することができるので、コストの上昇を抑えることがきる。また、成形装置1によれば、ロケートピン13,15が設けられているので、設置済み上型M1と設置済み下型M2との位置ずれ量を小さくすることができる。そして、変位センサ11として、測定距離が短い代わりに分解能と精度の高いものを採用することができ、上型M1と下型M2との位置ずれ量を正確に測定することができる。また、成形装置1によれば、型設置体3,5の近くにヒータ部27,37とクーラ部25,35とが設けられているので、熱硬化性樹脂を効率良く硬化することができるとともに、型M1,M2や型設置体3,5を効率よく冷却することができる。また、成形装置1では、下型設置体5がXYθステージ29からZ軸方向で離れており、これにより、XYθテーブル31の位置と下型設置体5の位置との位置X軸方向とY軸方向とθ軸まわりにおける位置がごく僅かではあるがずれてしまうかもしれないし、同様にして、移動体19に対する上型設置体3の位置も僅かではあるがずれてしまうかもしれない。しかし、上型設置体3に一体的に設けられた被測定体9と、被測定体9の位置を測定するために下型設置体5に一体的に設けられた変位センサ11とを備えた測定部7で、設置済み上型M1と、設置済み下型M2との位置関係を測定するように構成されているので、設置済み下型M2に対する設置済み上型M1のごく僅かな位置ずれを正確に測定し、この測定結果に基づいて位置ずれを無くす補正をすることができる。そして、レンズ集合体W1の凸部W3に対する凸部W4の位置ずれを無くすことができる。また、成形装置1によれば、実際に試し成形をしたレンズ集合体W1での凸部W3に対する凸部W4の位置ずれ量を測定し、この測定結果を用いて上型設置体3に対する下型設置体5の位置ずれを補正しているので、正確な形状のレンズ集合体W1を得ることができる。ところで、上述した成形装置1において、1つのレンズ集合体W1を生成する場合、熱硬化性樹脂が硬化し始める前に、上型M1に対する下型M2の位置ずれを、測定部7を用いて複数回測定し、これらの測定値を得る毎に、設置済み上型M1に対する設置済み下型M2の位置ずれの修正補正を行ってもよい。すなわち、ステップS19では、制御部39が、上型M1の下降位置決め後、下型設置体5を上型設置体3に対して前記面内方向で1回だけ移動位置決めしているが、この1回の移動位置決めに加えて、この1回の移動位置決め直後から熱硬化性樹脂が硬化し始めるまでの間に、測定部7によって、上型設置体3に対する下型設置体5の位置ずれ量を所定の時間間隔をあけて複数回測定し、これらの測定をする毎に、上型設置体3に対する下型設置体5の位置ずれを無くすべく、下型設置体5を上型設置体3に対して、前記面内方向で移動位置決めするように構成されていてもよい。詳しく説明する。図9で示す時刻t0がステップS17で設置済み上型M1の下降位置決めが終わった時とする。この後の時刻t1で熱硬化性樹脂の加熱が始まり、時刻t3まで各型M1,M2の温度が上昇し、時刻t3から時刻t4の間では、各型M1,M2の温度が一定値になっており、時刻t4で各型M1,M2熱硬化性樹脂の冷却が始まり、時刻t5で熱硬化性樹脂の冷却が終わり、時刻t6で上型M1が上昇する。さらに、時刻t7で次のレンズ集合体W1の成形のために、ステップS17での設置済み上型M1の下降位置決めを終えている。また、時刻t1と時刻t2との間に存在している時刻t2で熱硬化性樹脂の硬化が始まる。図10の線図L1は、時刻t0から時刻t2の間における、測定部7で測定した上型設置体3に対する下型設置体5の位置ずれ量の例を示している。図10の線図L2は、位置ずれ量が0の場合を示している。なお、図10では、X軸方向の位置ずれ量のみを示しているが、Y軸方向、θ軸まわりの位置ずれ量も同様に表すことができる。そして、制御部39は、時刻t0と時刻t2との間に存在する複数の時刻t01,t02,t0n、t11,t12,t1n,において、測定部7によって上型設置体3に対する下型設置体5の位置ずれ量を測定し、下型設置体5を上型設置体3に対して、前記面内方向で移動位置決めするようにしてもよい。なお、時刻t1~時刻t2の間でのみ、位置ずれ量を複数回測定し、下型設置体5を上型設置体3に対して、前記面内方向で移動位置決めするようにしてもよい。さらに、前記面内方向での設置済み上型M1と設置済み下型M2との位置ずれ量の測定や設置済み下型M2の移動位置決め位置ずれを無くすための移動位置決めを、時刻t2もしくは時刻t2の直前の時刻でのみ、行うようにしてもよい。さらに、上述した成形装置1において、フィードフォワード制御によって、下型設置体5を上型設置体3に対して、前記面内方向で移動位置決めするようにしてもよい。すなわち、制御部39が、測定部7で複数回測定された、成形材料を成形するときにおける上型設置体3に対する下型設置体5の位置ずれ量をメモリ43に記憶し図10の線図L1を記憶し、別途成形材料を成形するときに上型設置体3に対する下型設置体5の位置ずれを無くすべく、メモリ43に記憶されている各位置ずれ量線図L1を用いて、下型設置体5を上型設置体3に対して、前記面内方向で移動位置決めするようにしてもよい。さらに、上記フィードフォワード制御に加えて、フィードバック制御を行ってもよい。すなわち、制御部39が、別途成形材料を成形するときに、メモリ43に記憶されている各位置ずれ量線図L1と測定部7で測定した位置ずれ量時刻t01,t11等における位置すれ量とを用いて、下型設置体5を上型設置体3に対して、前記面内方向で移動位置決めするようにしてもよい。なお、図3で示す各値Δx1、Δx2、Δy1と、図7で示す各値Δx11、Δx12、Δy11、Δy11との関係が既知である場合には、制御部39の制御の下、成形装置1が、次の動作をするようにしてもよい。まず、上型M1と下型M2とが所定の距離だけ離れている状態で、上型M1に硬化前の熱硬化性樹脂を供給する。続いて、上型M1と下型M2との間の距離が所定の距離成形品を成形するための距離になるまで、上型M1を下降位置決めする。続いて、被測定体9A,9B,9Cと、変位センサ11A,11B,11Cとを用いて、下型M2に対する上型M1の位置ずれ量を測定する。続いて、下型M2を上型M1に対して上記面内方向で移動位置決めすることで、上記測定した位置ずれ量を修正する位置ずれ量が0になるように修正する。続いて、熱硬化性樹脂を硬化する。続いて、上型M1を上昇し、成形されたレンズ集合体W1を各型M1,M2から取り外す。これにより、製品もしくは半製品たるレンズ集合体W1を得る。なお、成形装置1において、上型設置体3のZ軸方向の位置の測定を、図4で示す被測定体9Dと変位センサ11Dとを用いて行ってもよいΔz1の測定。また、図11に示すステップS5での上型設置体3の下降位置決め後における、下型設置体5に対する上型設置体3の位置を、被測定体9Dと変位センサ11Dとで求め、ステップS7でこの値をメモリ43に記憶してもよい。また、ステップS13で、レンズ集合体W1の本体部W2の厚さの誤差を別途測定し、この測定した誤差を入力し、ステップS19で、凸部W3と凸部W4との位置ずれを修正する場合と同様にして、レンズ集合体W1の本体部W2の厚さを修正してもよい。さらに、図6で示すように、被測定体9Dと変位センサ11Dとに加えて、被測定体9Eと変位センサ11Eおよび被測定体9Fと変位センサ11Fとを設け、φ軸およびτ軸まわりでの、上型設置体3に対する下型設置体5の姿勢を測定するようにしてもよい。そして、φτステージ33で上型設置体3に対する下型設置体5の姿勢を自動もしくは手動で修正するようにしてもよい。ところで、熱硬化性樹脂に代えて紫外線硬化樹脂を成形材料とする場合には、ヒータ部27,37、クーラ部25,35を削除してもよい。代わりに、たとえば、上型M1を石英ガラス等の紫外線が透過する材料で構成し、上型設置体3とスペーサ23との内側に設けた空洞部と上型M1を通して、紫外線硬化樹脂に紫外線を照射するようにすればよい。また、図8aで示すバイブリッドのレンズ集合体W1aでは、下型M2に硬化前の成形材料を供給した後、手動もしくは自動で基板W6を設置し、基板W6の設置後に、基板W6の上に、硬化前の成形材料を供給すればよい。"