"光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き,参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束が合成された光を受光する干渉光学系と、前記測定光束の光路中に配置され,被検物上でX-Y方向に前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、前記合成された光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、各走査位置に関し,前記スペクトルに含まれる干渉信号を深さプロファイルに変換処理して被検物の断層画像を得る光断層像撮影装置において、被検物上で測定光がX-Y方向に二次元走査されたときの各走査位置に関し,前記スペクトルに含まれる前記干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のX―Y方向に関する二次元画像を得る画像処理手段を備えることを特徴とする光断層像撮影装置。請求項1の光断層像撮影装置において、前記干渉光学系は、測定光束を被検眼の所定部位に導き,参照光束を参照光学系に導いた後、被検眼の所定部位で反射した測定光束と参照光束が合成された光を受光素子に受光させる干渉光学系であることを特徴とする光断層像撮影装置。請求項1~2のいずれかの光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、前記干渉信号の実信号をヒルベルト変換することによって前記干渉信号の実信号と虚信号を合わせた解析信号を取得し、前記解析信号に基づいて干渉光の波長毎の位相を示す位相信号を取得し、該位相信号に基づいてゼロクロス点の数を検出することを特徴とする光断層像撮影装置。請求項1~2のいずれかの光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、前記干渉信号の実信号からゼロクロス点の数を直接検出することを特徴とする光断層像撮影装置。請求項1~4のいずれかの光断層像撮影装置において、前記検出ユニットは、前記合成された光を分光する分光ユニット、又は前記光源から出射される光の波長を変化させる波長可変光源ユニットを有することを特徴とする光断層像撮影装置。請求項1~5のいずれかの光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、検出ユニットからの出力信号に基づいて深さ方向に関する断層像の取得位置を検出し、検出された位置情報に基づいて断層像の取得位置による正面像の輝度変化を補正する光断層像撮影装置。請求項1~5のいずれかの光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号の周波数を変換し、変換された干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のX―Y方向に関する二次元画像を得る光断層像撮影装置。請求項7の光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号に対して周波数が増加する側に前記干渉信号の周波数を変換する光断層像撮影装置。請求項7の光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号の周波数より高周波数側に設定された所定の周波帯域に変換されるように前記干渉信号の周波数を変換する光断層像撮影装置。しかしながら、従来のようにSLO又は赤外線カメラを装置に設ける場合、光学系が増え、コストアップにつながる。また、SLO又は赤外線を装置に設けずに干渉信号のスペクトル強度を積算して正面画像を構築する手法の場合、画質、見え方の点で不十分な点がある。本発明は、上記問題点を鑑み、干渉光のスペクトルを利用して良好な正面画像が取得できる光断層像撮影装置を提供することを技術課題とする。上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。1光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検物に導き,参照光束を参照光学系に導いた後、被検物で反射した測定光束と参照光束が合成された光を受光する干渉光学系と、前記測定光束の光路中に配置され,被検物上でX-Y方向に前記測定光束を走査させるために前記測定光束の進行方向を変える光スキャナと、前記合成された光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、各走査位置に関し,前記スペクトルに含まれる干渉信号を深さプロファイルに変換処理して被検物の断層画像を得る光断層像撮影装置において、被検物上で測定光がX-Y方向に二次元走査されたときの各走査位置に関し,前記スペクトルに含まれる前記干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のX―Y方向に関する二次元画像を得る画像処理手段を備えることを特徴とする光断層像撮影装置。21の光断層像撮影装置において、前記干渉光学系は、測定光束を被検眼の所定部位に導き,参照光束を参照光学系に導いた後、被検眼の所定部位で反射した測定光束と参照光束が合成された光を受光素子に受光させる干渉光学系であることを特徴とする光断層像撮影装置。31~2のいずれかの光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、前記干渉信号の実信号をヒルベルト変換することによって前記干渉信号の実信号と虚信号を合わせた解析信号を取得し、前記解析信号に基づいて干渉光の波長毎の位相を示す位相信号を取得し、該位相信号に基づいてゼロクロス点の数を検出することを特徴とする光断層像撮影装置。41~2のいずれかの光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、前記干渉信号の実信号からゼロクロス点の数を直接検出することを特徴とする光断層像撮影装置。51~4のいずれかの光断層像撮影装置において、前記検出ユニットは、前記合成された光を分光する分光ユニット、又は前記光源から出射される光の波長を変化させる波長可変光源ユニットを有することを特徴とする光断層像撮影装置。61~5のいずれかの光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、検出ユニットからの出力信号に基づいて深さ方向に関する断層像の取得位置を検出し、検出された位置情報に基づいて断層像の取得位置による正面像の輝度変化を補正する光断層像撮影装置。71~5のいずれかの光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号の周波数を変換し、変換された干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のX―Y方向に関する二次元画像を得る光断層像撮影装置。87の光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号に対して周波数が増加する側に前記干渉信号の周波数を変換する光断層像撮影装置。97の光断層像撮影装置において、前記画像処理手段は、前記スペクトルから抽出された干渉信号の周波数より高周波数側に設定された所定の周波帯域に変換されるように前記干渉信号の周波数を変換する光断層像撮影装置。本発明によれば、干渉光のスペクトルを利用して良好な正面画像が取得できる。本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は、本実施形態に係る光断層像撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。なお、以下の説明においては、眼科撮影装置の一つである眼底撮影装置を例にとって説明する。なお、本実施形態においては、被検眼の奥行き方向をZ方向光軸L1方向、水平方向をX方向、鉛直方向をY方向として説明する。図1において、その光学系は、被検眼眼底の断層画像を光干渉の技術を用いて非侵襲で得るための干渉光学系以下、OCT光学系とする100と、被検眼眼底に固視標を投影する固視標投影光学系以下、投影光学系とする200と、に大別される。なお、干渉光学系100及び投影光学系200は、図示なき筐体に内蔵され、その筐体は、周知のアライメント用移動機構手動又は電動により、被検者眼Eに対して三次元的に移動される。また、ハンディタイプの筐体であってもよい。ダイクロイックミラー40は、干渉光学系100と投影光学系200の光路を分割する光路分割部材として用いられる。そして、ダイクロイックミラー40は、OCT光学系100に用いられる測定光を反射し、投影光学系200に用いられる可視光を透過する特性を有する。また、ダイクロイックミラー40は、OCT光学系100の光軸L1と投影光学系200の光軸L2を同軸にする。ダイクロイックミラー40の反射方向に設けられたOCT光学系100は、光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検眼眼底Efに導き,参照光束を参照光学系に導いた後、眼底Efで反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させるために配置されている。なお、OCT光学系100には、スペクトラルドメイン型のOCT光学系が使用されている。なお、出射する光の波長を変化させる波長可変光源を用いて干渉光のスペクトルを検出するスウィプトソース型SS-OCTを用いるようにしてもよい。27はOCT光学系100の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントな光を発するOCT光源であり、例えばSLD光源等が用いられる。OCT光源27には、例えば、中心波長880nmで50nmの帯域を持つ光源が用いられる。26は光分割部材と光結合部材としての役割を兼用するファイバーカップラーである。OCT光源27から発せられた光は、導光路としての光ファイバ38aを介して、ファイバーカップラー26によって参照光と測定光とに分割される。測定光は光ファイバ38bを介して被検眼Eへと向かい、参照光は光ファイバ38cを介して参照ミラー31へと向かう。測定光を被検眼Eへ向けて出射する光路には、測定光を出射する光ファイバ38bの端部39b、コリメートレンズ22、被検眼眼底に対するフォーカス調整のため被検眼の屈折誤差に合わせて光軸方向に移動可能なフォーカシングレンズ24、走査駆動機構51の駆動により眼底上でXY方向に測定光を走査させることが可能な2つのガルバノミラーの組み合せからなる走査部23と、が配置されている。ダイクロイックミラー40及び対物レンズ10は、OCT光学系100からのOCT測定光を被検眼眼底へと導光する導光光学系としての役割を有する。なお、本実施形態の走査部23では、2つのガルバノミラーによって測定光の反射角度を任意に調整することにより、眼底上に走査させる測定光の走査方向を任意に設定できるような構成となっている。よって、被検眼眼底の任意の領域の断層画像を得ることが可能となる。なお、光ファイバ38bの端部39bは、被検眼眼底と共役となるように配置される。また、走査部23の2つのガルバノミラーは、被検眼瞳孔と略共役な位置に配置される。上記ガルバノミラー及び走査駆動機構51は、測定光束の光路中に配置され,被検眼の所定部位上でX-Y方向に測定光束を走査させるために測定光束の進行方向を変える光スキャナ光走査部として用いられる。光スキャナには、ミラーの他、光の進行偏向方向を変化させる音響光学素子AOM等が用いられる。光ファイバ38bの端部39bから出射した測定光は、コリメートレンズ22によってコリメートされた後、フォーカシングレンズ24を介して、走査部23に達し、2つのガルバノミラーの駆動により反射方向が変えられる。そして、走査部23で反射された測定光は、ダイクロイックミラー40で反射された後、対物レンズ10を介して、被検眼眼底に集光される。そして、眼底で反射した測定光は、対物レンズ10を介して、ダイクロイックミラー40で反射し、OCT光学系100に向かい、走査部23の2つのガルバノミラー、フォーカシングレンズ24、及びコリメートレンズ22を介して、光ファイバ38bの端部39bに入射する。端部39bに入射した測定光は、光ファイバ38b、ファイバーカップラー26、光ファイバ38dを介して、光ファイバ38dの端部84aに達する。一方、参照光を参照ミラー31に向けて出射する光路には、参照光を出射する光ファイバ38cの端部39c、コリメータレンズ29、参照ミラー31が配置されている。参照ミラー31は、参照光の光路長を変化させるべく、参照ミラー駆動機構50により光軸方向に移動可能な構成となっている。なお、図1では測定光と参照光の光路差を調整するために参照光の光路中に光路長可変部材が配置されたが、これに限るものではなく、測定光の光路中に光路長可変部材が配置されてもよい。例えば、コリメータレンズ22及び光ファイバー39bの端部が光軸方向に移動される。また、参照光学系は、図1のような反射型の参照光学系であってもよいし、透過型の参照光学系であってもよい。光ファイバー38cの端部39cから出射した参照光は、コリメータレンズ29で平行光束とされ、参照ミラー31で反射された後、コリメータレンズ29により集光されて光ファイバ38cの端部39cに入射する。端部39cに入射した参照光は、光ファイバ38cを介して、ファイバーカップラー26に達する。そして、光源27から発せられた光によって前述のように生成される参照光と被検眼眼底に照射された測定光による眼底反射光は、ファイバーカップラー26にて合成され干渉光とされた後、光ファイバ38dを通じて端部84aから出射される。波長周波数毎の干渉信号を得るために干渉光を各波長周波数成分に分光し、干渉光のスペクトルを検出する分光光学系800スペクトロメータ部は、コリメータレンズ80、グレーティング回折格子81、集光レンズ82、受光素子83にて構成されている。受光素子83は、赤外域に感度を有する一次元素子ラインセンサを用いている。ここで、端部84aから出射された干渉光は、コリメータレンズ80にて平行光とされた後、グレーティング81にて各波長成分に分光される。そして、波長毎に分光された干渉光は、集光レンズ82を介して、受光素子83の受光面に集光する。これにより、受光素子83上で干渉縞のスペクトル情報が記録される。そして、そのスペクトル情報が制御部70へと入力され、フーリエ変換を用いて解析することで、被験者眼の深さ方向における情報Aスキャン信号が計測可能となる。ここで、制御部70は、走査部23により測定光を眼底上で所定の横断方向に走査することにより断層画像を取得できる。なお、取得された断層画像は、制御部70に接続されたメモリ72に記憶される。さらに、測定光をXY方向に2次元的に走査することにより、被検眼眼底の3次元画像を取得することも可能である。ダイクロイックミラー40の透過方向に設けられた投影光学系200は、被検眼を固視させるための光学系であり、固視方向を変更可能な構成であることが好ましい。投影光学系200としては、例えば、点状光源例えば、LED、液晶ディスプレイ、等の構成が考えられる。制御部70は、表示モニタ75に接続され、その表示画像を制御する。また、制御部70には、メモリ記憶部72、各種操作を行うための操作部74、走査駆動機構51、参照ミラー駆動機構50、フォーカシングレンズ24を光軸方向に移動させるための駆動機構24a、等が接続されている。なお、モニタ75は、アライメント観察用と撮影画像観察用で別でもよいし、もちろん一つの共用モニタであってもよい。以上のような構成を備える装置において、その動作の概要について説明する。制御部70は、受光素子83によって検出されたスペクトルデータを処理し、画像処理により眼底断層像及び正面像を形成させる。断層像と正面像は、同時に取得されてもよいし、交互に取得されてもよいし、順次取得されてもよい。すなわち、スペクトルデータは、断層像及び正面像の少なくともいずれかの取得に用いられる。断層像を得る場合、制御部70は、駆動機構51を用いて測定光を眼底Ef上で横断方向に走査させる。そして、制御部70は、受光素子83から出力されるスペクトルデータを眼底上の各走査位置X、Yに関して検出し、検出されたスペクトルデータに含まれる干渉信号を深さプロファイルに変換処理し、各深さプロファイルを走査方向に並べて眼底断層像を形成させる図2b参照。スペクトルデータは、ノイズ除去処理によって干渉信号が抽出され、干渉信号の周波数波数毎の振幅レベルが解析されることによって深さプロファイルに変換される。周波数解析には、フーリエ変換が代表的である。なお、測定光の走査パターンには、例えば、ライン、クロスライン、ラスター、サークル、ラディアル、などが考えられる。また、測定光が2次元的に走査されることにより、3次元OCT画像が取得される。また、断層像は、所定のフレームレートにて動画像として取得されてもよいし、静止画像として取得されてもよい。正面像を得る場合、制御部70は、駆動機構51を用いて測定光を眼底Ef上でXY方向に二次元走査させる。そして、制御部70は、受光素子83から出力されるスペクトルデータから干渉信号を得る。そして、制御部70は、眼底Ef上で測定光がX-Y方向に二次元走査されたときの各走査位置X、Yに関し,スペクトルに含まれる干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出し、その検出結果に基づいて被検物のX―Y方向に関する二次元画像を得る図3、図4、図5参照。スペクトルデータに基づく干渉信号は、干渉信号におけるゼロクロス点の数が検出され、輝度値に変換される。例えば、干渉信号の実信号がヒルベルト変換されることによって干渉信号の実信号と虚信号を合わせた解析信号が取得される。そして、取得された解析信号に基づいて干渉光の各波長に関する位相の変化を示す位相信号が取得され、位相信号に基づいてゼロクロス点の数が検出される図4参照。なお、この位相信号は、波長の逆数である波数に関する位相の変化を示す信号として取得されてもよい。また、干渉信号の実信号からゼロクロス点の数が直接検出されてもよい図5参照。また、干渉信号のゼロクロス点を検出するための電気回路が用いられてもよい。なお、正面像は、前述3次元OCT画像の取得と並行して取得されてもよいし、単独で取得されてもよい。また、正面像は、所定のフレームレートにて動画像として取得されてもよいし、静止画像として取得されてもよい。また、輝度値への変換に関し、眼底像の場合、ゼロクロスの数が多い場合に輝度が高くなるように設定が画像として観察しやすいが、被検物によっては、ゼロクロスの数が少ない場合に輝度が高くなるような設定もありうる。図3は干渉信号におけるゼロクロス点の数を輝度値に変換することによって眼底正面像が形成されたときの実画像を示す図である。図4はスペクトルデータを得てから輝度値に変換するまでの処理について説明するフローチャートである。まず、眼底正面像が形成されるまでの概要について説明し、その後、詳細な具体的手法について説明する。干渉信号には、眼底上の異なる深さ位置にて散乱された反射光による各干渉信号が含まれている。そして、干渉信号を波としてミクロで捉えると、干渉信号は、波数周波数の異なる波の集合である。ここで、波の波数は眼底上の深さと一定の関係を持っており、波数は眼底の深さ位置毎に変化する。なお、波数は、波が単位長さ進んだときの位相の進み具合を表し、位相の進みが速いほど波数が大きくなり、位相の進みが遅いほど波数が小さくなる。具体的には、最も位相の進みが遅い波形は、測定光と参照光の光路長が一致する光路長一致位置参照ミラー31の配置位置に対応する深度位置から最も近い眼底部位からの反射光による干渉信号によって形成される。そして、この最も近い部位から離れるにしたがって、干渉信号の位相の進みが速くなる。例えば、光路長一致位置が眼底前方に配置されている場合、眼底の浅い位置からの反射光による干渉信号ほど、位相の進みが遅い波形を示し、眼底の深い位置から反射された光による干渉信号ほど、位相の進みが速い波形を示す。このような特性を利用し、干渉信号の周波数波数毎の振幅レベルが算出されることにより、深さ位置毎の測定光の反射強度を示す深さプロファイルAスキャン信号が得られる。一方、干渉信号を波としてマクロで捉えると、干渉信号は、測定光に対する反射率の高い部位からの反射光に支配される。すなわち、反射率の高い部位からの反射光による干渉信号は、大きな振幅を持つ波形となる。これに対し、反射率の低い部位からの反射光による干渉信号は、相対的に小さい振幅を持つ波形となるため、埋没した格好となる。また、反射率の高い部位が深さ方向に複数ある場合、これらの反射光による干渉信号が混合された波形が大きな振幅を持つ。もちろん、前述のようにフーリエ解析等によってミクロ解析されれば、小さい振幅を持つ波形でも抽出される。したがって、干渉信号の位相の進み具合が近似的に算出された場合、小さな振幅を持つ波形はほぼ無視され、大きな振幅を持つ波形の位相の進み具合が得られる。そして、干渉信号の近似的な位相の進み具合は、干渉信号におけるゼロクロス点の数を検出することによって求めることができる。この場合、位相の進みが速いほどゼロクロス点の数が多く、位相の進みが遅いほどゼロクロス点の数が少なくなる。そして、ゼロクロス点の数が輝度値Lとして変換されると、反射率の高い部位の深さ位置が輝度で表現される。ここで、輝度の大小が反射率の高い部位の深さ位置の違いとして表される。そして、各走査位置X、Yでの輝度値Lが各画素に対応して配列され画像データとして表現されると、反射率の高い部位の深さ位置情報の二次元な分布情報が得られる図3参照。図3は光路長一致位置が眼底前方にある場合の画像である。この場合、ゼロクロス点の数と反射率の高い部分との関係において、ゼロクロス点の数が少ないほど、反射率の高い部位が眼底の浅い位置にあり、ゼロクロス点の数が多いほど、反射率の高い部位が眼底の深い位置にあることになる。したがって、ゼロクロス点の数が輝度値に変換されることによって、反射率の高い部位の深さ情報が得られる。図3において、眼底血管が走行していない部分は高い輝度で表示されている。血管が走行していない部分については、網膜色素上皮層と神経線維層での反射率が相対的に高い。このため、その中間位置に対応する深さが輝度値として表現されていると思われる。これは、反射率の高い部位が網膜の浅い位置と深い位置の両方に存在することを示している。一方、眼底血管が走行している部分は低い輝度で表示されている。血管が走行している部分については、測定光が血管によって遮断されて網膜色素上皮層に到達しない。このため、神経線維層での反射率が相対的に高くなるので、神経線維層に対応する深さが輝度値として表現されていると思われる。これは、反射率の高い部位が眼底の浅い位置にあることを示している。これらの関係は、各走査位置での干渉信号のゼロクロス点の数の大小が輝度値として表現されることによって、眼底上における眼底血管の走行状態が画像化できることを示している。さらに、眼底の乳頭部については、他の部分よりも明るい輝度で表示されている。乳頭部については、眼底上で陥没した位置にあり、反射率の高い部位が他の部分に対して深い位置にあるので、乳頭の陥没状態が輝度値として表現されていると思われる。これは、反射率の高い部位が他の位置より深い位置にあることを示している。すなわち、各走査位置での干渉信号のゼロクロス点の数の大小が輝度値として表現されることによって、眼底の乳頭部位陥凹部においても、その形態的特徴が確認できる。また、ゼロクロス点の数は、眼底からの戻り光の光量が少ない場合でもほぼ変化せず、画像への影響が少ない。なお、干渉信号の強度振幅を積算して輝度値に変換する手法の場合、結果的に、眼底の乳頭部位での積算値が相対的に低いため、乳頭部での形態の確認が比較的難しい。これは、OCT測定光の場合、眼底上のスポット径が小さく、陥没部での反射光が戻りにくいため、結果的に積算値が少なくなることが原因と思われる。すなわち、上記手法によれば、正面画像の形成に不向きなスペクトルデータから良好な画像が得られる。そして、このような眼底画像は、断層像を取得する際の位置決め、取得された断層画像の眼底上での位置確認、3次元断層像を取得した際の撮影エラーの確認、などに用いることができる。したがって、SLO光学系のような専用の光学系を持たない装置として、大きなコストダウンが可能となる。もちろん専用のSLO光学系を持つ装置においても、3次元断層像のエラー確認等において利用できる。なお、上記設定において、光路長一致位置が眼底後方奥にある場合、正面画像は反転される。したがって、正面画像の輝度の大小が反転されることで、実像虚像の判定が可能である。以下に、スペクトルデータを処理して正面像を取得する手法の具体例について説明する。制御部70は、駆動機構51の駆動を制御し、眼底Ef上の矩形領域上で測定光を2次元走査させる。そして、各走査位置X、Yについて、受光素子83によって干渉光のスペクトルパワーが検出され、受光素子83からスペクトルデータSoutkが出力される。Soutkが数式表現されると、となる。kは波数、ERkは参照光の電場、ESkは測定光の電場、zRは参照光の光路長、znは測定光の光路長である。なお、波数kは、スペクトルが分光されたときの各波長の逆数であり、スペクトルを検出するラインセンサの各画素に対応する。したがって、ラインセンサによって得られた干渉信号の位相の進み具合を示す波数とは異なる。ここで、スペクトルデータに含まれる信号の内、干渉成分に関連しない信号成分数式1の右辺の第1項、第3項がノイズ除去され、参照光と測定光による干渉信号数式1の右辺の第2項が抽出される。ノイズ除去手法としては、例えば、各走査位置におけるスペクトルデータの平均が算出され、スペクトルデータSoutkからノイズに相当する平均スペクトルが差し引かれるいわゆるDCサブトラクション、図4、図5参照。抽出された干渉信号は、ヒルベルト変換を経て、インターフェログラムの実数部Srealkと虚数部Simagkが求められる。ヒルベルト変換とは、実信号の全周波数成分を90°移相した信号を虚信号とし、実信号から解析信号実信号と虚信号を合わせたものを得るための手法であり、得られた解析信号から干渉信号の実数部Srealkと虚信号Simagkが導出される。この場合、実数部Srealkと虚数部Simagkは、干渉信号をフーリエ変換し、変換後の信号の虚像成分を0シンメトリックなデータを0とした信号を逆フーリエ変換することによって得られる解析信号から算出可能である。なお、このような処理は、ヒルベルト変換と実質的に同一の処理である。次に、求められた実数部Srealkと虚数部Simagkの比のArcTangent24象限表現で求めた逆正接がアンラッピングされ、位相信号Pkが求められる。ここで、ArcTangent処理によって干渉信号の実数部と虚数部の比の逆正接が算出され、位相がある周期で飛んだデータ負から正に転じたゼロクロス点毎のデータが得られる。アンラップは、その不連続になっている位相の飛びを接続する処理である。位相信号Pkは、干渉光の各波数kに関する位相の変化を示し、ゼロクロス点の数を求めるための信号として用いることができる。例えば、位相信号Pkの最大値maxPが小さいほど、Kmin~Kmaxの間でのゼロクロス点の数が少ないことを示している。一方、最大値maxPが大きいほど、Kmin~Kmaxの間でのゼロクロス点の数が多いことを示している。そして、その位相信号の最大値maxPは、眼底信号Fとして輝度値Lに変換される。この場合、最大値maxPと輝度値Lとが対応付けされた計算式、テーブル等が用いられる。例えば、最大値maxPが大きいほど高い輝度値に変換され、最大値maxPが小さいほど低い輝度値に変換される。そして、各走査位置X、Yでの輝度値Lは、各走査位置X、Yでの輝度レベルとして各画素に対応して配列され、正面画像として形成される。図3は前述の手法によって形成された正面画像の具体例を示す画像である。得られた正面画像は、干渉信号のゼロクロス点の数を基に形成された画像であり、各走査位置での輝度値Lは、反射率が高い部位の深さ位置を示している。本画像においては、眼底血管の走行状態、乳頭部の形態的特徴、等が確認できる。なお、位相信号Pkを輝度値Lに変換する場合、最大波数Kmaxでの位相信号PKmaxに限定されず、ある波数K1における位相信号PK1が変換されてもよい。また、位相信号Pkからゼロクロス点の数の大小が求められればよく、位相信号Pkの積分値が輝度値Lに変換されてもよい。例えば、Kmin~Kmaxでの積分値であってもよいし、ある波数領域における積分値であってもよい。また、アンラッピングを行う前の不連続なデータからゼロクロス点の数が求められてもよい。また、取得された正面画像が出力される場合、生画像が出力されてもよいし、画像処理を経て出力されてもよい。画像処理を行う場合、例えば、輝度値Lが複数の段階例えば、7つに分けられ、各段階に応じたカラー表示が行われるようにしてもよい。また、あるフィルタリングを介して得られた画像が出力されてもよい。図5は本発明に係る第2の実施形態について示すフローチャートである。第2の実施形態では、干渉信号の実数部及び虚数部を求めず、干渉信号のゼロクロス点の数を直接求める手法である。ノイズ除去によって抽出された干渉信号部Srealkは、信号の正負を基準に二値化される。例えば、信号が閾値0より小さい領域については0に変換され、信号が閾値0以上の領域については1に変換される。そして、バイナリゼーション処理された干渉信号は、微分処理される。そして、微分処理された干渉信号は、さらに信号の正負を基準に二値化される。例えば、信号が閾値0より小さい領域については0に変換され、信号が閾値0以上の領域については1に変換される。上記にように微分処理を経て二値化処理された干渉信号において、信号1の部分は、それぞれ位相が360°進んだ地点を示している。そこで、信号1の部分の数がカウントされることにより、Kmin~Kmaxの間でのゼロクロス点の数がわかる。そして、この積分値は、眼底信号Fとして輝度値Lに変換される。この場合、眼底信号Fと輝度値Lとが対応付けされた計算式、テーブル等が用いられる。例えば、ゼロクロス点の数が大きいほど高い輝度値に変換され、ゼロクロス点の数が小さいほど低い輝度値に変換される。そして、各走査位置X、Yでの輝度値Lは、各走査位置X、Yでの輝度レベルとして各画素に対応して配列され、正面画像として形成される。なお、本手法によっても、図3と同様の画像が得られる。なお、ゼロクロス点の数を直接求める場合、上記手法に限定されるものではなく、干渉信号において基準線と交わるゼロクロス点が検出さればよい。例えば、波数kに関する干渉信号において0の値を持った部分の数をカウントしてもよい。なお、以上説明において、ゼロクロス点の数を検出する場合、ゼロクロス点を予め検出し、検出されたゼロクロス点間のピークの数を検出してもよい。また、干渉信号が負から正に転じるときのゼロクロス点のみ、干渉信号が正から負に転じるときのゼロクロス点のみを検出してもよい。もちろん両方のゼロクロス点を検出し、その点の数を求めてもよい。また、ノイズ除去を行う前のスペクトルからゼロクロス点の数を検出しても良い。例えば、スペクトルデータの生データと、各走査位置におけるスペクトルデータの平均とを照合させ、これらが交わる点の数が検出されるようにしてもよい。また、検出されたゼロクロス点間の長さの平均を求めても良い。なぜなら、ゼロクロス点の数が多いことは、ゼロクロス点で区切られる各波形の平均周期は短くなる傾向にあり、ゼロクロス点の数が少ないことは、ゼロクロス点で区切られる各波形の平均周期が長くなる傾向となるからである。なお、干渉信号が正弦波に近い波形であれば、波数kに関して略正弦波上に変化する干渉信号の周期が検出されてもよい。なお、以上の説明においては、深さプロファイルを得る前の干渉信号から反射率の高い部位の深さ情報を得るものとしたが、干渉信号から得られる深さプロファイルを用いて深さ情報を得るようにしてもよい。例えば、断層画像の取得後、Aスキャン信号毎に最大輝度を示す点を検出し、その深さ位置を輝度値として出力する。例えば、最大輝度を示す位置が浅いほど低い輝度とし、最大輝度を示す位置が深いほど高い輝度にて表現される。なお、眼底像のように高い輝度を示す部分が深さ方向に2つあるような場合神経線維層と色素上皮層は、以下のようにしてもよい。ある画素において最大輝度を示す深さ位置を検出するとき、その画素に対応するAスキャン信号及びこれに隣接するAスキャン信号例えば、5ピクセルにおける各最大輝度点の中で、最も浅い位置又は最も深い位置にあるものの深さ位置が検出されるようにしてもよい図6参照。なお、被検眼からの測定光と,参照光とが合成された干渉光を受ける干渉光学系を有し被検眼の所定部位の断層像例えば、前眼部断層像を撮影する眼科撮影装置であれば、本発明の適用は可能である。なお、上記手法によれば、ゼロクロス点の数に基づいて画像が形成されるため、スペクトルの振幅レベルの過飽和による影響を大きく受けない。例えば、前眼部の正面像を取得する場合において、強いノイズ反射光が角膜頂点部分にて検出されても、この影響を受けることなく、前眼部の形態的特徴が得られる。なお、スペクトル強度の積算値から前眼部正面像を得る場合、角膜頂点にてスペクトルが過飽和となり、画像全体のコントラストが得られない。また、眼科撮影装置への適用に限るものではなく、眼以外の生体例えば、皮膚、血管、もしくは生体以外の試料、等の断層像を撮影する光断層像撮影装置においても、本発明の適用が可能である。もちろん被検物は、生体に限定されるものではない。<干渉信号への微分処理>なお、正面像を得る場合、干渉信号に対して微分処理ハイパスフィルタを加えた上でゼロクロス点を計測することにより、ノイズ成分を除去するようにしてもよい。<干渉信号の周波数変換>なお、干渉信号の周波数を変換し、変換された干渉信号のゼロクロス点の数に基づいて正面像を取得することによって、正面像の画質が向上される。概して、周波数変換を行う場合、eikzは干渉信号、ΔZを周波数シフト量とすると、eikzとeiΔzを掛け合わせることにより干渉信号の周波数をシフトする。図7は変換処理を経て正面像を取得する場合の一例を示すフローチャートである。例えば、抽出された干渉信号に対してヒルベルト変換が施され、干渉信号の正周波数成分と負周波数成分が導出され、ΔZに相当する周波数シフトが施される。例えば、正周波数成分SrealkiSimagkにeiΔzが掛けられ、負周波数成分Srealk-iSimagkにeiΔzが掛けられ、となる。この場合、ヒルベルト変換前に、干渉信号内の周波数が変化されてもよい。その後、正周波数成分と負周波数成分は合成され、位相信号Pkが求められる。そして、位相信号の最大値maxPが眼底信号Fとして輝度値Lに変換される。そして、各XY位置での輝度として配列され、正面画像として形成される。例えば、各XY位置で取得されたmaxPの中で、maxPの最小値が輝度0、maxPの最大値が輝度255にて表現される。変換処理を用いた制御の一例を示す。眼底断層像を得る場合、呼吸による眼底の微動、眼全体の移動等によって、光路長一致位置S参照光の光路長に対応する位置に対して眼底位置が変化する図8参照。このため、各点で取得されるゼロクロス点の数が変化され、同一眼における同位置での像であっても、正面像の画質例えば、コントラスト、明るさが異なってしまう可能性がある。そこで、制御部70は、深さ方向に関する断層像の取得位置を検出し、検出された位置情報に基づいて干渉信号の周波数をシフトさせることにより、正面像の画質を安定させる。制御部70は、取得される断層像に基づいて深さ方向での断層像の位置ずれを検出し、その検出結果に基づいて,眼底の所定部位例えば、RPEretinalpigmentepithelium:網膜色素上皮層からの干渉信号の周波数が、所定の周波数に変換されるように、干渉信号eikzに対してeiΔzを掛け合わせる。所定の周波数としては、例えば、一致位置Sに対する基準位置Bにて所定部位の画像が取得されたときの干渉信号の周波数が設定される。概して、制御部70は、仮に、周波数シフトされた干渉信号に基づいて断層像を得た場合において、断層像における所定部位が基準位置Bにて形成されるように干渉信号の周波数をシフトさせる。例えば、制御部70は、深さ方向での断層像の輝度分布中心部Cでの輝度分布を取得し、輝度分布に基づいてピーク位置RPEに対応Pと基準位置Bとのずれ量ΔDを検出する。そして、制御部70は、検出されたずれ量ΔDに対応する周波数シフト量Δzを取得し、干渉信号eikzの周波数をシフトさせる。この場合、シミュレーション、実験等によって、各ずれ量ΔDに対して必要な周波数シフト量Δzが予め求められ、補正情報例えば、補正テーブル、補正演算式、などとしてメモリ75に記憶される。この場合、ずれ方向に応じてシフト量の正負が異なる。そして、制御部70は、各XY位置にて取得される干渉信号の周波数を順次変換し、変換された干渉信号に基づいて正面像を得る。これにより、深さ方向に関して断層像の取得位置が変化しても、安定した正面像を取得できる。なお、上記処理は、眼軸長に応じた光路長調整時においても有用である。また、上記処理は、EDIEnhanceddepthimaging撮影と、通常撮影とをそれぞれ行う装置においても、有用である。この場合、例えば、制御部70は、一致位置Sの前方と後方に眼底が配置されたときの断層像の位置ずれ量ΔDを検出する。そして、制御部70は、検出されたずれ量ΔD分に対応する周波数シフト量Δzを取得し、干渉信号eikzの周波数をシフトさせる。これにより、輝度の反転を回避できる。なお、以上の説明においては、干渉信号の周波数をシフトさせたが、これに限定されない。概して、制御部70は、スペクトル検出ユニットからの出力信号に基づいて深さ方向に関する断層像の取得位置を検出し、検出された位置情報に基づいて断層像の取得位置による正面像の輝度変化を補正する。例えば、ずれ量ΔDに基づいて位相信号の最大値maxP又は輝度値Lを補正するようにしてもよい。基準位置に対してずれた位置で像が取得されるときの計測値例えば、最大値maxP、輝度値Lの変化量と、ずれ量ΔDとの関係が補正情報として利用される。なお、干渉信号と、断層像の取得位置は、一定の関係にある。したがって、断層像の取得位置の変化を、干渉信号を用いて間接的に取得し、取得結果を利用して補正してもよい。例えば、干渉信号のゼロクロス点の数が許容範囲を下回るような場合、制御部70は、計測されたゼロクロス点の数に対して、基準位置からのゼロクロス点の変化量に対応する補正を行う。<高周波側へのシフト>上記変換処理において、断層像のS/N比を高めるため、深さ方向における断層像の取得位置は、一致位置Sの近傍に設定されるのが好ましい図9a参照。一方、正面像のS/N比を高めるため、正面像の取得における深さ方向の基準位置Bは、一致位置Sから遠い位置であることが好ましい図9b参照。そこで、制御部70は、一致位置Sの近傍にて断層像が取得されるように、駆動機構50の駆動を制御する図9a参照ここで、一致位置Sの近傍に眼底が配置された光路長通常の断層像取得位置での干渉信号は、低周波数となる。そこで、制御部70は、干渉信号の周波数を高周波数に変換し、変換された干渉信号のゼロクロス点を用いて正面像を得る。例えば、制御部70は、眼底の所定部位例えば、RPEからの干渉信号の周波数が、スペクトルから抽出されたときの周波数より高周波帯に設定された所定の周波数に変換されるように、干渉信号eikzに対してeiΔzを掛け合わせる。なお、所定の周波数としては、例えば、通常、前述のような自動OPLOPTICALPASSLENGTH調整完了後に取得される干渉信号の周波数より高い周波数となるように設定される。好ましくは、所定の周波数として、深さ方向における撮像可能範囲の限界位置前方又は後方近傍で断層像が取得される図9a参照ときの干渉信号の周波数に設定される。このようにして、制御部70は、周波数が増加する側に位相の進みが速くなる側干渉信号の周波数を変換する。図10は周波数シフト前の干渉信号を簡略的に示す図であり、図11は周波数をシフトさせた後の干渉信号を簡略的に示す図である。横軸0~256は、ラインセンサの一部で受ける信号を表し、縦軸は、振幅を表す。図10a及び図11aにおいて、波形f0が高周波ノイズ干渉信号に残存するノイズ成分、波形f1がNFLNFL:nervefiverlayer神経線維層からの光、波形f2がRPE網膜色素上皮層からの光、に対応する波形である。図10b及び図11bの波形は、波形f0、波形f1、波形f2が重ね合わされた合成波形を示す。一般に、RPEでの反射率は、NFLの反射率より大きく、干渉信号合成波形参照をマクロ的に見た場合、血管の走行が無ければ、RPEでの反射が最も強く、NFLでの反射が2番目に大きい。<周波数シフト前>図10aにおいて、波形f1及び波形f2は、位相の進みが遅い。そして、図10bに示すように、合成波形は、傾きが小さい緩やか。このため、合成波形は、高周波ノイズの影響を大きく受けるため、ゼロクロス点の位置は、波形f2に対して大きく変化し、波形自体の形状も大きく歪んでしまう。このような場合、形成される正面像にノイズが発生しやすい。また、XY方向に関するRPEの深さ位置の二次元分布を正面像として取得しようとする場合、結果的には、NFLとRPEの中間での深さ位置に関する2次元分布が取得される。<周波数シフト後>図11aにおいて、高周波にシフトされた波形f1及び波形f2は、位相の進みが速い。そして、図11bに示すように、合成波形は、傾きが大きい険しい。このため、合成波形は、高周波ノイズの影響をあまり受けず、ゼロクロス点の位置は、波形f2に対して大きく変化せず、波形自体の形状もあまり変わらない。このような場合、ノイズの影響が少ない安定した正面像が得られる。また、周波数シフト前の画像と比較した場合、結果的には、XY方向に関するRPE近傍の深さ位置の二次元分布が正面像として取得される。その他、被検物によるが、反射が強い部位の深さ位置に関する正面像が精度よく得られる。なお、上記変換処置において、逆に、干渉信号の周波数が減るように周波数をシフトさせ、シフトされた干渉信号に基づいて正面像を取得してもよい。"