"光を出射する発光素子と、上記発光素子から出射された光を集光して測距対象物に照射する発光レンズと、上記測距対象物からの反射光を集光する受光レンズと、上記受光レンズによって集光された反射光の光スポットを受ける受光素子と、上記受光素子から出力された上記光スポットを表す受光信号から、上記光スポットの光強度分布のプロファイルを算出する光スポットプロファイル算出部と、上記光スポットプロファイル算出部から出力された上記プロファイルに基づいて、上記受光素子上の上記光スポットの位置を求め、この光スポットの位置に基づいて、上記受光素子から上記測距対象物までの距離を算出する距離算出部と、上記光スポットプロファイル算出部から出力された上記プロファイルに基づいて、上記光スポットの形状を数値化し、この数値化された数値と予め定められた閾値とを比較して、この数値が予め定められた条件に従わないと、エラー信号を出力するエラー検出部とを備えることを特徴とする測距装置。請求項1に記載の測距装置において、上記エラー検出部は、上記光スポットプロファイル算出部から出力された上記プロファイルに基づいて、上記光スポットに対応するスポット径を演算するスポット径演算部と、上記スポット径演算部から出力された上記スポット径と予め定められた閾値とを比較して、上記スポット径が上記閾値に対して予め定められた条件に従うか否かを判断する比較判断部と、上記比較判断部によって上記スポット径が上記閾値に対して予め定められた条件に従わないと判断されると、エラー信号を出力するエラー信号出力部とを備えることを特徴とする測距装置。請求項2に記載の測距装置において、上記スポット径演算部は、ここで、αは、1以下の任意の数値であり、Imaxは、プロファイルの最大信号強度であり、Iaveは、受光素子全領域におけるプロファイルの平均信号強度である。によってプロファイルの信号強度Ithを求め、この信号強度Ithのレベルでのスポット径を演算することを特徴とする測距装置。請求項3に記載の測距装置において、上記閾値は、ここで、βは、1以下の任意の数値であり、φmaxは、測距対象物に全発光光束が照射される時の光スポットのスポット径の最大値であり、φminは、測距対象物に全発光光束が照射される時の光スポットのスポット径の最小値である。によって求められる第1の閾値φth1を含むことを特徴とする測距装置。請求項4に記載の測距装置において、上記最大値φmaxおよび上記最小値φminを記憶する書き込み可能なメモリ部を備え、上記スポット径演算部は、上記メモリ部に記憶された上記最大値φmaxおよび上記最小値φminに基づいて、上記信号強度Ithを求めることを特徴とする測距装置。請求項4または5に記載の測距装置において、上記発光素子から出射した光束全体が上記測距対象物に反射するときのスポット径をφ0とするとき、上記閾値は、上記第1の閾値φth1および第2の閾値を含み、上記第2の閾値φth2は、φ0<φth2を満足し、上記比較判断部は、上記スポット径演算部により演算された上記光スポットのスポット径φが、φ<φth1、または、φ>φth2を満足するとき、上記スポット径は上記閾値に対して予め定められた条件に従わないと判断することを特徴とする測距装置。請求項3から6の何れか一つに記載の測距装置において、上記最大信号強度Imaxから上記平均信号強度Iaveを引いた値が、予め定められた信号強度用閾値より小さいと判断したとき、上記エラー信号出力部にエラー信号を出力させる信号強度判断部を備えることを特徴とする測距装置。請求項3に記載の測距装置において、上記発光素子から出射した光束全体が上記測距対象物に反射するときのスポット径をφ0とするとき、上記閾値は、γ×φ0ただし、0<γ<1によって求められることを特徴とする測距装置。請求項1に記載の測距装置において、上記エラー検出部は、上記光スポットプロファイルの微分プロファイルの正のピーク値をPmaxとし、負のピーク値をPminとするとき、PmaxとPminとの比、または、PmaxとPminの差とPmaxとPminの和との比を、上記光スポットの形状の数値化された数値とすることを特徴とする測距装置。請求項1に記載の測距装置において、上記受光素子は、イメージセンサであり、上記距離算出部は、上記イメージセンサの各行について、上記光スポットの形状の数値化された数値と上記予め定められた閾値とを比較して、上記予め定められた条件に従わない上記数値を含むエラー判定の行を求め、このエラー判定の行を除く全ての行の受光信号を加算して、上記光スポットの位置を求めることを特徴とする測距装置。そこで、この発明の課題は、簡素な構造で複雑な付加演算を必要とせず、高速応答可能で、かつ、スポット欠けによる誤測距を回避できる測距装置を提供することにある。上記課題を解決するため、この発明の測距装置は、光を出射する発光素子と、上記発光素子から出射された光を集光して測距対象物に照射する発光レンズと、上記測距対象物からの反射光を集光する受光レンズと、上記受光レンズによって集光された反射光の光スポットを受ける受光素子と、上記受光素子から出力された上記光スポットを表す受光信号から、上記光スポットの光強度分布のプロファイルを算出する光スポットプロファイル算出部と、上記光スポットプロファイル算出部から出力された上記プロファイルに基づいて、上記受光素子上の上記光スポットの位置を求め、この光スポットの位置に基づいて、上記受光素子から上記測距対象物までの距離を算出する距離算出部と、上記光スポットプロファイル算出部から出力された上記プロファイルに基づいて、上記光スポットの形状を数値化し、この数値化された数値と予め定められた閾値とを比較して、この数値が予め定められた条件に従わないと、エラー信号を出力するエラー検出部とを備えることを特徴としている。この発明の測距装置によれば、上記距離算出部は、上記光スポットプロファイル算出部から出力された上記プロファイルに基づいて、上記受光素子上の上記光スポットの位置を求め、この光スポットの位置に基づいて、上記受光素子から上記測距対象物までの距離を算出し、上記エラー検出部は、上記光スポットプロファイル算出部から出力された上記プロファイルに基づいて、上記光スポットの形状を数値化し、この数値化された数値と予め定められた閾値とを比較するので、光スポットプロファイル算出部から出力されたプロファイルに基づいて、受光素子から測距対象物までの距離を求めることができ、かつ、反射光のスポット欠け状態を判定することができる。そして、エラー検出部は、光スポットの形状の数値化された数値が予め定められた条件に従わないと、エラー信号を出力するので、反射光のスポット欠けによる誤測距を回避できる。したがって、簡素な構造で複雑な付加演算を必要とせず、高速応答可能で、かつ、スポット欠けによる誤測距を回避できる。また、一実施形態の測距装置では、上記エラー検出部は、上記光スポットプロファイル算出部から出力された上記プロファイルに基づいて、上記光スポットに対応するスポット径を演算するスポット径演算部と、上記スポット径演算部から出力された上記スポット径と予め定められた閾値とを比較して、上記スポット径が上記閾値に対して予め定められた条件に従うか否かを判断する比較判断部と、上記比較判断部によって上記スポット径が上記閾値に対して予め定められた条件に従わないと判断されると、エラー信号を出力するエラー信号出力部とを備える。この実施形態の測距装置によれば、上記エラー検出部は、スポット径演算部と比較判断部とエラー信号出力部とを備えるので、光スポットの形状の数値化を、光スポットのスポット径とできる。また、一実施形態の測距装置では、上記スポット径演算部は、ここで、αは、1以下の任意の数値であり、Imaxは、プロファイルの最大信号強度であり、Iaveは、受光素子全領域におけるプロファイルの平均信号強度である。によってプロファイルの信号強度Ithを求め、この信号強度Ithのレベルでのスポット径を演算する。この実施形態の測距装置によれば、上記反射光のスポット欠けがあった場合にはスポット形状が歪んでスポット径が変化するため、上記スポット径演算部がスポット径を検出することにより、スポット欠けによる誤測距を効果的に回避できる。また、一実施形態の測距装置では、上記閾値は、ここで、βは、1以下の任意の数値であり、φmaxは、測距対象物に全発光光束が照射される時の光スポットのスポット径の最大値であり、φminは、測距対象物に全発光光束が照射される時の光スポットのスポット径の最小値である。によって求められる第1の閾値φth1を含む。この実施形態の測距装置によれば、上記閾値は、上記第1の閾値φth1を含み、例えば、検出された反射光のスポット径φが第1の閾値φth1より小さい場合に、エラー信号を出力することにより、スポット欠けによる誤測距を効果的に回避できる。また、一実施形態の測距装置では、上記最大値φmaxおよび上記最小値φminを記憶する書き込み可能なメモリ部を備え、上記スポット径演算部は、上記メモリ部に記憶された上記最大値φmaxおよび上記最小値φminに基づいて、上記信号強度Ithを求める。この実施形態の測距装置によれば、上記メモリ部を有するので、測距装置毎に最大値φmaxおよび最小値φminをメモリ部に記憶させることができる。そして、上記スポット径演算部は、メモリ部に記憶された最大値φmaxおよび最小値φminに基づいて、信号強度Ithを求めるので、測距装置毎に信号強度Ithを求めることができる。このため、測距装置間のばらつきによるスポット形状のばらつきを除外することができる。また、一実施形態の測距装置では、上記発光素子から出射した光束全体が上記測距対象物に反射するときのスポット径をφ0とするとき、上記閾値は、上記第1の閾値φth1および第2の閾値を含み、上記第2の閾値φth2は、φ0<φth2を満足し、上記比較判断部は、上記スポット径演算部により演算された上記光スポットのスポット径φが、φ<φth1、または、φ>φth2を満足するとき、上記スポット径は上記閾値に対して予め定められた条件に従わないと判断する。この実施形態の測距装置によれば、上記比較判断部は、スポット径演算部により検出されたスポット径φが、φ<φth1、または、φ>φth2を満足するとき、スポット径は閾値に対して予め定められた条件に従わないと判断するので、スポット欠けによる誤測距の回避を一層効果的に行うことができる。また、一実施形態の測距装置では、上記最大信号強度Imaxから上記平均信号強度Iaveを引いた値が、予め定められた信号強度用閾値より小さいと判断したとき、上記エラー信号出力部にエラー信号を出力させる信号強度判断部を備える。この実施形態の測距装置によれば、受光光量が不十分で信号強度の値が所定の値より小さい場合、回路ノイズに埋もれてスポット形状が大きく歪む場合があり、スポット径が大きく変化することがある。このような場合でも、上記信号強度判断部は、Imax-Iave値が予め定められた信号強度用閾値より小さいとき、エラー信号出力部にエラー信号を出力させるので、誤測距の回避を効果的に行うことができる。また、一実施形態の測距装置では、上記発光素子から出射した光束全体が上記測距対象物に反射するときのスポット径をφ0とするとき、上記閾値は、γ×φ0ただし、0<γ<1によって求められる。この実施形態の測距装置によれば、上記閾値は、γ×φ0によって求められるので、メモリ部に、スポット径の最大値φmaxや最小値φminを記憶させる必要がなく、全光束が測距対象物に照射されるときのスポット径φ0のみを記憶すればよいので、より簡単な構成でスポット欠けによる誤測距を回避することができる。また、一実施形態の測距装置では、上記エラー検出部は、上記光スポットプロファイルの微分プロファイルの正のピーク値をPmaxとし、負のピーク値をPminとするとき、PmaxとPminとの比、または、PmaxとPminの差とPmaxとPminの和との比を、上記光スポットの形状の数値化された数値とする。この実施形態の測距装置によれば、上記エラー検出部は、光スポットプロファイルの微分プロファイルのピーク値を用いて、スポット形状の数値化を行うので、詳細にスポット欠け状態を検出することができる。また、一実施形態の測距装置では、上記受光素子は、イメージセンサであり、上記距離算出部は、上記イメージセンサの各行について、上記光スポットの形状の数値化された数値と上記予め定められた閾値とを比較して、上記予め定められた条件に従わない上記数値を含むエラー判定の行を求め、このエラー判定の行を除く全ての行の受光信号を加算して、上記光スポットの位置を求める。この実施形態の測距装置によれば、上記距離算出部は、上記イメージセンサの各行について、上記光スポットの形状の数値化された数値と上記予め定められた閾値とを比較して、上記予め定められた条件に従わない上記数値を含むエラー判定の行を求め、このエラー判定の行を除く全ての行の受光信号を加算して、上記光スポットの位置を求めるので、スポット欠けと判定される行を除いた状態で、光スポットの位置を求める。このため、測距対象物までの距離を精度よく測定できる。この発明の測距装置によれば、上記距離算出部は、上記光スポットプロファイル算出部から出力された上記プロファイルに基づいて、上記受光素子上の上記光スポットの位置を求め、この光スポットの位置に基づいて、上記受光素子から上記測距対象物までの距離を算出し、上記エラー検出部は、上記光スポットプロファイル算出部から出力された上記プロファイルに基づいて、上記光スポットの形状を数値化し、この数値化された数値と予め定められた閾値とを比較して、この数値が予め定められた条件に従わないと、エラー信号を出力するので、簡素な構造で複雑な付加演算を必要とせず、高速応答可能で、かつ、スポット欠けによる誤測距を回避できる。以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。図1は、この発明の測距装置の一実施形態である簡略構成図を示している。図1に示すように、この測距装置は、発光素子1と、発光レンズ2と、受光レンズ3と、受光素子4と、信号処理回路10とを有する。上記発光素子1は、光を出射し、上記発光レンズ2は、発光素子1から出射された光を集光して、略平行光の発光光束Lを測距対象物5に照射する。上記受光レンズ3は、測距対象物5からの反射光を集光する。上記受光素子4は、受光レンズ3によって集光された反射光の光スポットを受ける。受光素子4としては、例えば、ラインセンサもしくはイメージセンサを用いる。上記信号処理回路10は、光スポットプロファイル算出部11と、距離算出部20と、エラー検出部21とを有する。上記光スポットプロファイル算出部11は、受光素子4から出力された光スポットを表す受光信号から、光スポットの光強度分布のプロファイルを算出する。上記距離算出部20は、光スポットプロファイル算出部11から出力されたプロファイルに基づいて、受光素子4上の光スポットの位置を求め、この光スポットの位置に基づいて、受光素子4から測距対象物5までの距離を算出する。上記エラー検出部21は、光スポットプロファイル算出部11から出力されたプロファイルに基づいて、光スポットの形状を数値化し、この数値化された数値と予め定められた閾値とを比較して、この数値が予め定められた条件に従わないと、エラー信号を出力する。また、エラー検出部21は、この数値が予め定められた条件に従わないと、強制的に、受光素子4から測距対象物5までの距離の演算を停止する。つまり、エラー検出部21は、光スポットの形状の数値が予め定められた条件に従わないと、測距状態を強制的に非検知状態とする。上記距離算出部20は、スポット位置演算部12と、距離値演算部13と、距離値出力部14とを有する。上記スポット位置演算部12は、光スポットプロファイル算出部11から出力されたプロファイルに基づいて、受光素子4上における光スポットの位置を演算する。上記距離値演算部13は、スポット位置演算部12によって求められたスポット位置から、受光素子4から測距対象物5までの距離を演算する。距離値演算部13の演算には、例えば図7にて説明した三角測量等の原理を用いる。上記距離値出力部14は、距離値演算部13によって求められた距離を出力する。上記エラー検出部21は、スポット径演算部15と、スポット径閾値の比較判断部16と、エラー信号出力部17とを有する。上記スポット径演算部15は、光スポットプロファイル算出部11から出力されたプロファイルに基づいて、光スポットに対応するスポット径を演算する。比較判断部16は、スポット径演算部15から出力されたスポット径と予め定められた閾値とを比較して、スポット径が閾値に対して予め定められた条件に従うか否かを判断する。エラー信号出力部17は、比較判断部16によってスポット径が閾値に対して予め定められた条件に従わないと判断されると、エラー信号を出力する。具体的に述べると、上記比較判断部16は、スポット径が閾値よりも大きいと判断したとき、スポット位置演算部12に演算許可の信号を送り、スポット位置演算部12にスポット位置の演算を行わせて、距離を演算させる。一方、比較判断部16は、スポット径が閾値よりも小さいと判断したとき、スポット位置演算部12に演算許可の信号を送らず、エラー信号出力部17にエラー信号を送信すると共に、強制的に距離の演算を停止する。次に、上記構成の測距装置の作用を詳細に説明する。以降の説明を簡単にするために、上記受光素子4として、1次元に画素が配列されたラインセンサを用いて説明する。このラインセンサの画素配列方向は、図1の発光素子1と受光素子4とを結ぶ方向x軸に平行である。上記光スポットプロファイル算出部11から出力されたプロファイルは、上記スポット径演算部15によって、以下の式のレベルでのスポット径が計算される。つまり、スポット径演算部15は、ここで、αは、1以下の任意の数値であり、Imaxは、プロファイルの最大信号強度であり、Iaveは、受光素子全領域におけるプロファイルの平均信号強度である。によってプロファイルの信号強度Ithを求め、この信号強度Ithのレベルでのスポット径を演算する。ここで、ImaxとIaveについて簡単に説明する。図2は、ラインセンサ受光素子4で検出されたスポットプロファイルの一例を示す図である。図中、2つのスポットプロファイルが示されているが、Ithの説明には、位置Aで示されるプロファイルを用いる。図2の位置Bのプロファイルは、図1に示すように発光光軸を中心として受光素子4から見て外側の略半分が照射された測距対象物5の状態から得られるスポットプロファイルを示しており、図2の位置Aのプロファイルは、全発光光束が測距対象物5に照射された状態から得られるスポットプロファイルを示している。図2では、簡単のため信号強度が規格化されているが、説明上変わりはない。図中、Imaxは、ラインセンサの各画素の信号強度の中でもっとも大きいレベルを示す値であり、Iaveは、全画素の信号強度の平均値であり、ラインセンサの画素がN個とすると以下の式で表される。上記測距対象物5までの距離や測距対象物5の反射率は様々であるので、受光信号の受光量は様々である。また、測定環境も様々であるため、受光信号のオフセットレベルも様々である。上式により、それぞれ信号強度とオフセットIaveを検出して、プロファイルに対して一定レベル値でのスポット径を求めることができる。このようにして求められたスポット径φは、予め設定された閾値φth1と比較される。そして、検出されたスポット径φが閾値φth1より大きいときは、光スポットプロファイルからスポット位置を演算し、測距対象物5までの距離値を求めて出力する。一方、スポット径φが閾値φth1より小さいときは、スポットが不完全と判定し、エラー信号を出力する。図2から分かるように、位置Aのスポット位置は、位置Bのスポット位置に比べて、発光素子1から離れる側にシフトしている。また、位置Bのスポット径は、位置Aのスポット径より小さいことが確認できる。次に、スポット径とスポット位置の測距対象物の位置依存を説明する。図3Aは、スポット位置より演算された距離値の測距対象物の位置依存を説明し、図3Bは、スポット径によりエラー判定された場合の距離値の測距対象物の位置依存を説明し、図3Cは、スポット径の測距対象物の位置依存を説明している。図3Aに示すように、測距対象物5がx軸図1のx軸の正の方向に移動するに従い、発光光束Lの照射される割合が増すため、演算により求められる距離値は、測距対象物5が置かれた距離dに近づき、距離dで飽和する。このときのスポット径は、図3Cに示すように、測距対象物5がx軸の正の方向に移動するに従い大きくなって、全光束Lが測距対象物5に照射されると飽和する。このときのスポット径を最大値φmaxとする。一方、測距対象物5をx軸の負の方向に移動させると、スポット径は、ある位置で最小値となってから増大する。この現象の詳細については後述する。このスポット径の最小値をφminとする。この最大値φmaxと最小値φminを用いて、閾値を以下のように設定する。つまり、閾値は、ここで、βは、1以下の任意の数値であり、φmaxは、測距対象物に全発光光束が照射される時の光スポットのスポット径の最大値であり、φminは、測距対象物に全発光光束が照射される時の光スポットのスポット径の最小値である。によって求められる第1の閾値φth1を含む。そして、上記信号処理回路10は、この信号処理回路10により検出された反射光のスポット径φが、第1の閾値φth1よりも小さいとき、図3Bに示すようにエラー信号を出力する。上記信号処理回路10に、上記最大値φmaxおよび上記最小値φminを記憶する書き込み可能な仮想線にて示すメモリ部18を設けてもよく、信号処理回路10のスポット径演算部15は、このメモリ部18に記憶された最大値φmaxおよび最小値φminに基づいて、上記信号強度Ithを求める。このように、メモリ部18に、個々の測距装置に対して個別のφmaxとφminを書き込むことができる。ここで、スポット径の値は、発光素子1、受光素子4、発光レンズ2、受光レンズ3の位置関係により決まるが、製造上ばらつきをなくすことは不可能であり、スポット径の値も製品個々によって異なる。φmaxとφminを個々の製品に対して記憶して、上式でスポット欠けの有無を判定することで、誤測距のエラー信号を精度よく出力することができる。次に、上述の、測距対象物5をx軸の負の方向に移動させたときにスポット径が最小値となってから増大するという現象について、説明する。図4は、測距対象物5が発光光束Lのごく一部のみを反射するとき位置Cと、全光束Lが反射されるとき位置Aのスポットプロファイルの一例を示す。図4に示すように、位置Cではスポットプロファイルが大きく歪み、スポット径が位置Aに対して大きくなっている。図5Aは、図3Cを-x軸方向に延長した図であり、スポット径が急激に大きくなっている。図5Aに示すように、位置Aよりx軸の正の位置での全発光光束Lが反射されるときのスポット径をφ0φmaxとするとき、φ0より若干大きいレベルのφth2に閾値を追加し、このφth2よりスポット径が大きくなった場合もエラー信号を出力することにより、スポット欠け状態をより正確に検出し誤測距を防止することができる。つまり、上記発光素子1から出射した光束L全体が測距対象物5に反射するときのスポット径をφ0とするとき、閾値は、上記第1の閾値φth1および第2の閾値を含み、この第2の閾値φth2は、φth1<φ0<φth2を満足する。そして、上記比較判断部16は、このスポット径演算部15により演算された光スポットのスポット径φが、φ<φth1、または、φ>φth2を満足するとき、スポット径は閾値に対して予め定められた条件に従わないと判断する。また、図4に示すように、位置Cでの信号強度Imax-Iaveは、反射光量が小さいため、位置Bの信号強度Imax-Iaveより非常に小さい。図5Bに、Imax-Iaveの測距対象物の位置依存を示し、図5Bに示すように、測距対象物5がx軸方向に移動し発光光束Lを反射する割合が増えるに従って、信号強度Imax-Iaveは増大し、発光光束L全体が反射する位置A以降、信号強度Imax-Iaveは飽和する。そして、上記信号強度Imax-Iaveに予め定められた信号強度用閾値Ieを設け、信号処理回路10に、図1の仮想線に示す信号強度判断部19を設け、この信号強度判断部19により、信号強度Imax-Iaveの値が、信号強度用閾値Ieより小さいと判断したとき、エラー信号を出力するようにしてもよい。これにより、図5Aに示すように、2つの閾値φth1φth2を用いても生じていた誤測距エリア網掛け部分での誤測距値の出力を防止できる。なお、上記発光素子1から出射した光束L全体が測距対象物5に反射するときのスポット径をφ0とするとき、上記閾値を、γ×φ0ただし、0<γ<1によって求めるようにしてもよい。上述のφmaxとφminを用いる場合に比べて、φmax,φminをメモリ部に記憶させる必要がなく、スポット径の変化を検出する精度が落ちるが、メモリ部を削減できる。また、メモリ部に書き込むためのφminを測定するには、測距対象物5をスポット欠け状態に移動させて測定する必要があるが、φ0のみを測定すればよい。この結果、測距対象物5が全光束を反射するように対向させればよいので、測定系を簡便なものとすることができる。さらに、スポットプロファイルを数値化する方法として、上述ではスポット径を用いて説明してきたが、微分プロファイルの正負ピーク値の比やその差と和の比とすることも可能である。つまり、信号処理回路10のエラー検出部21は、光スポットのプロファイルの微分プロファイルの正のピーク値をPmaxとし、負のピーク値をPminとするとき、PmaxとPminとの比、または、PmaxとPminの差とPmaxとPminの和との比を、光スポットの形状の数値化された数値とする。具体的に述べると、図2に示すように、全光束Lが反射される状態位置Aでは、ピーク位置を中心に略左右対称の形状をしているのに対し、スポット欠け状態位置Bでは、発光素子側の肩が急激に落ちており、微分係数が大きいことがわかる。よって、スポット欠けのある状態では、スポット欠けのない状態に比べ、微分係数が大きくなるので、ピーク位置微分係数=0を中心として、その両隣に形成される正と負の微分係数の極値を測定してエラー判定をすることができる。次に、上記受光素子としてイメージセンサを用いた場合の応用例を説明する。図6Aに示すように、測距対象物5Aの一部が欠けており、これにより、測距対象物5Aに照射される発光光束の光スポットSeの一部が欠けている場合、図6Bに示すように、受光素子4Aイメージセンサ上での反射光のスポットSrの像も同様に欠ける。このとき、上記信号処理回路の距離算出部は、イメージセンサ4Aの各行について、光スポットの形状の数値化された数値と予め定められた閾値とを比較して、予め定められた条件に従わない数値を含むエラー判定の行を求め、このエラー判定の行を除く全ての行の受光信号を加算して、反射光のスポット位置を求める。具体的に述べると、イメージセンサ4Aにおいて反射光のスポットSr全体の像が検出されるとき、信号量を増大させるために、イメージセンサ4Aの各行の信号を加算することで、スポットプロファイルのSN比を上げて、スポット位置を精度よく検出できる。しかし、図6Bに示す場合、イメージセンサ4Aの1行目からk行目まではスポット欠けが生じており、全ての行のデータを加算すると、スポット径が歪んで誤測距となってしまう。そこで、イメージセンサ4Aの各行に対して、上述の方法によりエラー判定を行い、スポット欠けと判定された場合、そのエラー判定の行を加算しない処理を実行する。つまり、イメージセンサ4Aの1行目からk行目までの受光信号を、加算しない非検出行とし、イメージセンサ4Aのk行目からn行目までの受光信号を、加算する検出行とする。これにより、複雑な形状をした測距対象物5Aにおいても正確に測距することができる。上記構成の測距装置によれば、距離算出部20は、光スポットプロファイル算出部11から出力されたプロファイルに基づいて、受光素子4上の光スポットの位置を求め、この光スポットの位置に基づいて、受光素子4から測距対象物5までの距離を算出し、エラー検出部21は、光スポットプロファイル算出部11から出力されたプロファイルに基づいて、光スポットの形状を数値化し、この数値化された数値と予め定められた閾値とを比較するので、光スポットプロファイル算出部11から出力されたプロファイルに基づいて、受光素子4から測距対象物5までの距離を求めることができ、かつ、反射光のスポット欠け状態を判定することができる。そして、エラー検出部21は、光スポットの形状の数値化された数値が予め定められた条件に従わないと、エラー信号を出力するので、反射光のスポット欠けによる誤測距を回避できる。したがって、簡素な構造で複雑な付加演算を必要とせず、高速応答可能で、かつ、スポット欠けによる誤測距を回避できる。また、上記反射光のスポット欠けがあった場合にはスポット形状が歪んでスポット径が変化するため、スポット径演算部15がスポット径を検出することにより、スポット欠けによる誤測距を効果的に回避できる。また、上記閾値は、上記第1の閾値φth1を含み、例えば、検出された反射光のスポット径φが第1の閾値φth1より小さい場合に、エラー信号を出力することにより、スポット欠けによる誤測距を効果的に回避できる。また、上記信号処理回路10は、メモリ部18を有するので、測距装置毎に最大値φmaxおよび最小値φminをメモリ部18に記憶させることができる。そして、スポット径演算部15は、メモリ部18に記憶された最大値φmaxおよび最小値φminに基づいて、信号強度Ithを求めるので、測距装置毎に信号強度Ithを求めることができる。このため、測距装置間のばらつきによるスポット形状のばらつきを除外することができる。また、上記比較判断部16は、スポット径演算部15により検出されたスポット径φが、φ<φth1、または、φ>φth2を満足するとき、スポット径は閾値に対して予め定められた条件に従わないと判断するので、スポット欠けによる誤測距の回避を一層効果的に行うことができる。また、受光光量が不十分で信号強度の値が所定の値より小さい場合、回路ノイズに埋もれてスポット形状が大きく歪む場合があり、スポット径が大きく変化することがある。このような場合でも、上記信号強度判断部19は、Imax-Iave値が予め定められた信号強度用閾値より小さいとき、エラー信号出力部にエラー信号を出力させるので、誤測距の回避を効果的に行うことができる。なお、この発明は上述の実施形態に限定されない。例えば、上記実施形態では、測距対象物が発光素子側に位置してスポット欠け状態となる場合において説明したが、測距対象物が受光素子側に位置してスポット欠けとなる場合においても同様に扱うことができる。また、光スポットの形状の数値化された数値として、光スポットのスポット径以外に、光スポットの周長さや面積などであってもよく、また、光スポットの等価面積円から求めた径であってもよい。"