"記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段とを有する読み取り手段と、前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させる相対移動手段と、前記テストパターンが形成される前に、前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の第2の検出データを取得する第2の検出データ取得手段と、前記テストパターンが形成された後に、前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら、前記走査位置と略同じ走査位置の前記テストパターン上を前記光が移動する際に前記受光手段が受光した前記反射光の第1の検出データを取得する第1の検出データ取得手段と、前記第1の検出データと前記第2の検出データのそれぞれから前記第1の検出データの極小値と同程度の値を減じる減算処理手段と、減算処理された前記第2の検出データに対する前記第1の検出データの割合を算出して、前記第1の検出データの極大値を略一定に揃える信号補正手段と、を有することを特徴とする画像形成装置。前記信号補正手段は、前記割合に予め定められた電圧値を乗じて、振幅が略一定のテストパターン位置決定用データを生成する、ことを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。前記減算処理手段は、1つの前記第1の検出データの複数の前記極小値のうち最も小さい前記極小値を前記第1の検出データと前記第2の検出データのそれぞれから減じる、ことを特徴とする請求項1又は2記載の画像形成装置。前記テストパターン位置決定用データの上限閾値と下限閾値の間に含まれる、該テストパターン位置決定用データの変化が最も大きくなる点の近傍の前記テストパターン位置決定用データを統計処理して前記テストパターンの位置を検出する位置検出手段、を有することを特徴とする請求項2記載の画像形成装置。前記第1の検出データと前記第2の検出データの位置あわせを行う同期処理手段、を有することを特徴とする請求項1~4いずれか1項記載の画像形成装置。前記第2の検出データ取得手段は、前記第2の検出データを複数回取得して、複数個の前記第2の検出データの端部を揃え、同じ走査位置毎に平均処理することで、1つの前記第2の検出データを取得する、ことを特徴とする請求項1~5いずれか1項記載の画像形成装置。前記第2の検出データ取得手段は、前記第2の検出データが最初に所定値以上となった時を前記第2の検出データのそれぞれの端部とする、ことを特徴とする請求項6いずれか1項記載の画像形成装置。前記第1の検出データ取得手段は、前記第1の検出データを複数回取得して、走査位置を相対的にずらして複数個の前記第1検出データの差を最小にする同期処理を行い、同じ走査位置毎に平均処理することで、1つの前記第1の検出データを取得する、ことを特徴とする請求項1~7いずれか1項記載の画像形成装置。前記記録媒体に対する前記読み取り手段の相対位置を検出する位置検出センサを有し、前記第1の検出データ取得手段又は前記第2の検出データ取得手段は、複数個の前記第1検出データ又は前記第2の検出データの前記相対位置を一致させる、ことを特徴とする請求項6~8いずれか1項記載の画像形成装置。前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段とを有する読み取り手段を有し、記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置のパターン位置検出方法であって、相対移動手段が、前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させるステップと、第2の検出データ取得手段が、前記テストパターンが形成される前に、前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の第2の検出データを取得するステップと、第1の検出データ取得手段が、前記テストパターンが形成された後に、前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら、前記走査位置と略同じ走査位置の前記テストパターン上を前記光が移動する際に前記受光手段が受光した前記反射光の第1の検出データを取得するステップと、減算処理手段が、前記第1の検出データと前記第2の検出データのそれぞれから前記第1の検出データの極小値と同程度の値を減じるステップと、信号補正手段が、減算処理された前記第2の検出データに対する前記第1の検出データの割合を算出して、前記第1の検出データの極大値を略一定に揃えるステップと、を有することを特徴とするパターン位置検出方法。記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成システムであって、前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段とを有する読み取り手段と、前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させる相対移動手段と、前記テストパターンが形成される前に、前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の第2の検出データを取得する第2の検出データ取得手段と、前記テストパターンが形成された後に、前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら、前記走査位置と略同じ走査位置の前記テストパターン上を前記光が移動する際に前記受光手段が受光した前記反射光の第1の検出データを取得する第1の検出データ取得手段と、を備える画像形成装置と、前記第1の検出データと前記第2の検出データのそれぞれから前記第1の検出データの極小値と同程度の値を減じる減算処理手段と、減算処理された前記第2の検出データに対する前記第1の検出データの割合を算出して、前記第1の検出データの極大値を略一定に揃える信号補正手段と、を有することを特徴とする画像形成システム。しかしながら、特許文献1に開示された液滴吐出タイミングの補正方法では、下記するような問題がある。図1aは、テストパターンを読み取る受光素子を模式的に説明する図の一例である。LEDが照射したスポット光がテストパターンを矢印方向に走査すると、スポット光の走査位置の濃度に応じた反射光が受光素子にて検出される。よく知られているように光は黒い物体によく吸収されるので、シート材が白でテストパターンが黒であれば、テストパターンを走査した時のスポット光は反射されにくい。受光素子が受光する反射光を電圧で表せば、図示するように、スポット光がテストパターンと重畳した際の電圧は、テストパターン以外を走査している際の電圧よりも大きく低下する。図1bは電圧の変化を拡大して示す図の一例である。横軸は、例えば時間又はスポット光の走査位置である。細長い円は電圧が急激に変化している領域を示す。テストパターンのエッジはこの領域内にあることが推測され、例えば、電圧値が極大と極小の中央値を示す時にスポット光の重心がテストパターンのエッジを走査していると判定される。したがって、電圧値が例えば電圧の振幅の中央値を示す時、画像形成装置は走査位置にテストパターンのエッジ位置があると判定しテストパターンの位置を特定できる。しかしながら、シート材がトレーシングペーパーのような反射率の低い透過率の高い材質の場合、受光素子の検出電圧が安定しにくいため、テストパターンのエッジ位置を精度よく特定できないという問題ある。すなわち、反射率の低いシート材の場合、電圧値の振幅が小さくなったり、また、シート材の透きムラ透過率変動やセンサ感度を増幅することにより電圧値の変動が大きくなるため不安定になる。受光素子の検出電圧の振幅が小さくなったり不安定になると、テストパターンのエッジ位置の特定精度が低下するため、液滴吐出タイミングの調整精度が低下することになる。本発明は、上記課題に鑑み、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、テストパターンの位置をより精度よく特定できる画像形成装置を提供することを目的とする。上記課題に鑑み、本発明は、記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段とを有する読み取り手段と、前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させる相対移動手段と、前記テストパターンが形成される前に、前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の第2の検出データを取得する第2の検出データ取得手段と、前記テストパターンが形成された後に、前記記録媒体に対し前記読み取り手段が相対移動しながら、前記走査位置と略同じ走査位置の前記テストパターン上を前記光が移動する際に前記受光手段が受光した前記反射光の第1の検出データを取得する第1の検出データ取得手段と、前記第1の検出データと前記第2の検出データのそれぞれから前記第1の検出データの極小値と同程度の値を減じる減算処理手段と、減算処理された前記第2の検出データに対する前記第1の検出データの割合を算出して、前記第1の検出データの極大値を略一定に揃える信号補正手段と、を有することを特徴とする。液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、テストパターンの位置をより精度よく特定できる画像形成装置を提供することができる。以下、本発明を実施するための形態について図面を参照しながら説明する。本実施形態では、後述する2つの処理パターン非依存分除外処理と振幅補正処理に特徴がある。パターン非依存分除外処理図2は、受光素子の出力電圧に寄与する要因を説明する図の一例である。受光素子が受光する光の多くは発光素子がシート材に対し発光した光の反射光であるが、反射光にはシート材の反射分とシート下の板状部材以下、プラテンというの反射分が含まれる。また、反射光以外に、空中散乱光や背景放射などの光も受光素子に受光される。これらを以下のように定義する。Vsg:受光素子が受光した光の全ての検出電圧Vp:テストパターンが形成された部分でも吸収し切れない光による反射光、空中散乱光、暗出力による検出電圧Vs:検出したい検出電圧ところで、本発明はテストパターンが形成された部分の反射光と、テストパターンが形成されていない部分の反射光からテストパターンの位置を検出することを目的としている。このため、テストパターンの形成によって変動しない反射光の部分を削除することで、目的とするテストパターンによって変動する信号を取り出すことが出来る。テストパターンが形成された部分でも吸収されなかった光や暗出力からなる検出電圧Vpは、テストパターンが形成されているときも形成されていないときも出力される電圧であるため、Vpによる検出電圧は、テストパターンの形成によって変動しない検出電圧であると考える。なお、テストパターンが形成された部分でも吸収されなかった光による反射光にはテストパターンが吸収しなかった光をシートが反射したもの、シートを透過してプラテンが反射したものが含まれるがここでは言及しない。また、実際には後述するように様々な変動要因により変動が発生する。以下に、目的とする信号を取り出す例を説明する。Vsg、Vp、Vsの説明は上述したものと同様であるが、説明のために12等の符号を付与している。まず、図2bのVsg1はテストパターンが形成された場合の検出電圧の波形である。Vsg1において、テストパターンが形成された箇所はテストパターンが光を吸収することにより、反射光が低下している。しかしながら、図2bにおけるVpはテストパターンが形成されている部分においても出力されている。これが、テストパターンの形成によって変動しない検出電圧Vpである。つまり、Vsg1からVpを減ずることにより、テストパターンの形成によって変動する信号である図2cのVs2後述するx ́を取り出すことが出来る。次に図2a、図2cを用いて、用紙の反射率の変動による信号の変動の処理を説明する。図2aはテストパターンなしの場合の検出電圧Vsg1を示す。また、図2cはテストパターンなしの場合の検出電圧Vsg1からVpを減じたVs1後述するy ́を示す。ここで、図2cのy ́に示すようにテストパターンによる吸収がなくても、検出電圧は変動している。この変動は、用紙の反射率に大きく異存しているものであり、この変動が図2dの検出電圧x ́にも含まれている。このことを示すようにx ́の振幅も変動している。このような変動があると、テストパターンの位置の検出精度が低下してしまう。後述するように、画像形成装置は検出電圧の変曲点検出電圧に示された短い横線の周辺の検出電圧データ検出電圧のデジタル値をいうが、検出電圧と検出電圧データは特に区別せず使用するを用いてテストパターンを構成するラインのエッジ位置を決定する。しかし、変曲点の位置が安定していないため、テストパターンのエッジ位置の検出精度が低下してしまう。そこで、本実施形態の画像形成装置は図2dのx ́の変動を抑制する補正を行う。振幅補正処理図3aはx ́Vs1とy ́Vs2を重ねたグラフの一例を示す。後述する同期処理によりx ́とy ́は同じ走査位置の検出電圧データになるので、スポット光が、テストパターンがない場所を走査するとx ́とy ́が等しくなり、テストパターンがある場所を走査するとx ́が略ゼロとなる。なお、前述した非パターン依存分除外処理により、テストパターンがある場所でも生じてしまう反射光による検出電圧は除外されている。つまりこれは、x ́が、ある位置においてy ́を基準最大としてテストパターンによる吸収が行われた残りの反射光によって出力される検出電圧であることを意味する。すなわち、シート材の透過率などがもたらす変動が位置毎に異なっても、変動が検出電圧を大きくする位置y ́が大きい位置ではx ́も大きくなり、変動が検出電圧を小さくする位置y ́が小さい位置ではx ́も小さくなる。そして、パターンが形成される部分では略ゼロになる。このことは、換言すると、x ́に含まれる位置に起因する変動は、x ́/y ́という比例補正により適切に補正可能であることを示す。したがって、振幅として適切な固定値を定めておけば、固定値×x ́/y ́により振幅が一定の検出電圧データを取得することができる。この検出電圧をzとすると、以上から、振幅補正処理後の検出電圧zはz=固定値×x ́/y ́で表すことができる。図3bは、検出電圧zの一例を示す。固定値にx ́とy ́の比が反映され、振幅の安定した検出電圧z後述する演算対象データが得られている。本実施形態の画像形成装置は、以上の2段階の信号補正処理により、シート材の特性から検出電圧データの振幅が不安定になっても、テストパターンのエッジ位置を精度よく特定することを可能にする。ところで、ここまでの説明では、テストパターンが単一色である場合を説明した。しかしながら、テストパターンが単一色でない場合、色毎にVp2が異なってしまうという不都合が生じる。図4aはマゼンタと黒のラインが交互に形成されたテストパターンを、図4bは検出電圧Vsgの一例を示す。発光素子の光の波長は固定なので、テストパターンの色によって吸収の度合いが異なり、一般には黒のラインが最もよく光を吸収する。光が黒のラインを通過中のVsgの極小値をVpK、マゼンタのラインを通過中のVsgの極小値をVpMとすると、VpKとVpMは異なってしまう以下、VpK、VpMを区別しない場合、Vpという。このようなVsgから一定のVpを減じても、図2bのようにVsの最小値は略ゼロに揃わないので、変曲点の位置が安定せず、テストパターンのエッジを精度よく検出することが困難になる。そこで、本実施形態では、テストパターンの色毎にVsgから減ずべき値を変更する。例えば、光の走査位置が黒のラインに相当する範囲では減ずべき値をVpMとし、マゼンタのラインに相当する範囲ではVpMとする。テストパターンのどの位置でVpを切り換えるかは、ライン上でなければよく、図では黒のエッジとマゼンタのエッジの中点極小値同士の中点としている。光が黒のラインを通過中のVsgからVpKを減じ、マゼンタのラインを通過中のVsgからVpMを減じることで、Vsgの極小値は全域で略ゼロに揃う。したがって、以降はテストパターンなしの場合の検出電圧y ́との比を取ることで、図3のように振幅の安定した検出電圧データzが得られる。構成図4は、シリアル方式の画像形成装置100の概略斜視図の一例を示す。画像形成装置100は、本体フレーム70により支持されている。画像形成装置100の長手方向にはガイドロッド1及び幅ガイド2が掛け渡され、ガイドロッド1及び副ガイド2にキャリッジ5が矢印A方向主走査方向に往復移動可能なように保持されている。また、主走査方向には無端ベルト状のタイミングベルト9が、駆動プーリ7と加圧コロ15に張架されており、タイミングベルト9の一部がキャリッジ5に固定されている。また、駆動プーリ7は主走査モータ8により回転駆動され、これによりタイミングベルト9が主走査方向に移動し、連動してキャリッジ5も往復移動する。タイミングベルト9には加圧コロ15によって張力が掛けられており、タイミングベルト9はたるむことなくキャリッジ5を駆動させることができる。また画像形成装置100は、インクを供給するカートリッジ60と記録ヘッドを維持クリーニングする維持機構26を有する。シート材150はキャリッジ5の下側にあるプラテン40上を、不図示のローラにより矢印B方向副走査方向に間欠的に搬送される。シート材50は、紙などの普通紙、光沢紙、フィルム、電子基板など液滴が付着可能な記録媒体であればよい。シート材150の搬送位置毎に、キャリッジ5は主走査方向に移動し、キャリッジ5が搭載している記録ヘッドが液滴を吐出する。吐出が終わるとシート材150が再度、搬送され、キャリッジ5が主走査方向に移動して液滴を吐出する。これを繰り返すとシート材150の全面に画像が形成される。図5は、キャリッジ5の動作をより詳細に説明する図の一例である。上記のガイドロッド1及び副ガイド2は左側板3と右側板4の間に掛け渡され、キャリッジ5は軸受け12と副ガイド受け部11によりガイドロッド1及び副ガイド2を摺動自在に保持され、矢印X1X2方向主走査方向に移動可能となっている。キャリッジ5には黒Kの液滴を吐出する記録ヘッド21,22、シアンC、マゼンタM、イエローYの各色のインク滴を吐出する記録ヘッド2324が搭載されている。記録ヘッド21は黒がよく使用されるために配置したものであり、省略することもできる。なお、記録ヘッド21~24としては、インク流路内圧力発生室のインクを加圧する圧力発生手段アクチュエータ手段として圧電素子を用いてインク流路の壁面を形成する振動板を変形させてインク流路内容積を変化させてインク滴を吐出させるいわゆるピエゾ型のもの、発熱抵抗体を用いてインク流路内でインクを加熱して気泡を発生させることによる圧力でインク滴を吐出させるいわゆるサーマル型のもの、又は、インク流路の壁面を形成する振動板と電極とを対向配置し、振動板と電極との間に発生させる静電力によって振動板を変形させることで、インク流路内容積を変化させてインク滴を吐出させる静電型のもの、などを用いることができる。キャリッジ5を移動走査する主走査機構32は、主走査方向の一方側に配置される主走査モータ8と、主走査モータ8によって回転駆動される駆動プーリ7と、主走査方向の他方側に配置された加圧コロ15と、駆動プーリ7と加圧コロ15との間に掛け回されたタイミングベルト9とを備えている。なお、加圧コロ15は、図示しないテンションスプリングによって外方駆動プーリ7に対して離れる方向にテンションが作用させられている。タイミングベルト9は、キャリッジ5の背面側に設けたベルト保持部10に一部分が固定保持されていることで、タイミングベルト9の無端移動に伴い主走査方向にキャリッジ5を牽引する。また、キャリッジ5の主走査方向に沿うようにエンコーダシート41が配置されており、キャリッジ5に設けたエンコーダセンサ42によって当該エンコーダシート42のスリットを読取ることで、キャリッジ5の主走査方向の位置を検知することができる。このキャリッジ5が主走査領域のうち記録領域に存在する場合、シート材150が図示しない紙送り機構によってキャリッジ5の主走査方向と直交する矢示Y1Y2方向副走査方向に間欠的に搬送される。以上説明した、本実施形態に係る画像形成装置100では、キャリッジ5を主走査方向に移動し、シート材150を間欠的に送りながら、記録ヘッド21~24を画像情報に応じて駆動して液滴を吐出させることによってシート材150に所要の画像を形成することができる。キャリッジ5の一側面には、着弾位置のずれを検出テストパターンの読取りするための印字位置ずれセンサ30が搭載されている。印字位置ずれセンサ30は、LEDなどの発光素子及び反射型フォトセンサで構成した受光素子によって、シート材150に形成された着弾位置検出用のテストパターンを読み取る。この印字位置ずれセンサ30は記録ヘッド21用のものなので、記録ヘッド22~24の液滴吐出タイミングを調整するため記録ヘッド22~24と並列に別の印字位置ずれセンサ30を搭載することが好ましい。また、印字位置ずれセンサ30を記録ヘッド22~24と並列になるようにスライドさせる機構がキャリッジ5に搭載されていれば、一台の印字位置ずれセンサ30で記録ヘッド22~24の液滴吐出タイミングを調整できる。または、画像形成装置100がシート材150を逆方向に送っても、一台の印字位置ずれセンサ30で記録ヘッド22~24の液滴吐出タイミングを調整できる。図6は、画像形成装置100の制御部300のブロック図の一例である。制御部300は、主制御部310及び外部I/F311を有する。主制御部310は、CPU301と、ROM302、RAM303、NVRAM304、ASIC305、及び、FPGAFieldProgrammableGateArray306を有する。CPU301はROM302に記憶されたプログラム3021を実行して、画像形成装置100の全体を制御する。ROM302にはこのプログラム3021の他、初期値や制御のためのパラメータなど固定データが格納されている。RAM303は、プログラムや画像データ等を一時的に格納する作業メモリであり、NVRAM304は、装置の電源が遮断されている間も設定条件などのデータを保持するための不揮発性メモリである。ASIC305は画像データに対する各種信号処理、並び替え等を行なったり、各種のエンジンを制御する。FPGA306は、装置全体を制御するための入出力信号を処理する。主制御部310は、この装置全体の制御を司るとともにテストパターンの形成、テストパターンの検出、着弾位置の調整補正などに関わる制御を司る。後述するように、本実施例では主にCPU301がROM302に記憶されたプログラム3021を実行してエッジ位置の検出を行うが、一部又は全てをFPGA306やASIC305など、LSIが行ってもよい。外部I/F311は、ネットワークに接続された他の機器と通信するための通信装置、USB、IEEE1394、と接続するためのバスやブリッジであり、外部からのデータを主制御部310に送出する。また、外部I/F311は主制御部310が生成したデータを外部に出力する。外部I/F311には脱着可能な記憶媒体320が装着可能であり、プログラム3021は記憶媒体320に記憶された状態や、外部からの通信装置を介して配信される。また、制御部300は、ヘッド駆動制御部312、主走査駆動部313、副走査駆動部314、給紙駆動部315、排紙駆動部316、及び、スキャナ制御部317を有する。ヘッド駆動制御部312は、記録ヘッド21~24のそれぞれの吐出有無、吐出する場合の液滴吐出タイミング及び吐出量を制御する。ヘッド駆動制御部312は、記録ヘッド21~24を駆動制御するためのヘッドデータ生成配列変換用ASICを有しヘッドドライバ、印刷データディザ処理などが施されたドットデータに基づき、液滴の有無と液滴の大きさを示す駆動信号を生成して、記録ヘッド21~24に供給する。記録ヘッド21~24はノズル毎にスイッチを有しており、駆動信号に基づきオンオフすることで、記録ヘッド21~23は印刷データにより指定されるシート材150の位置に指定されるサイズの液滴を着弾させる。なお、ヘッド駆動制御部312のヘッドドライバは記録ヘッド21~24側に設けられてもよいし、ヘッド駆動制御部312と記録ヘッド21~24が一体になっていてもよい。図示する構成は一例である。主走査駆動部モータドライバ313は、キャリッジ5を移動走査する主走査モータ8を駆動する。例えば主走査駆動部313は、特許請求の範囲の相対移動手段に相当する。主制御部310には、前述したキャリッジ位置を検出するエンコーダセンサ42が接続されており、主制御部310はこの出力信号に基づいてキャリッジ5の主走査方向の位置を検出する。そして、主走査駆動部313を介して主走査モータ8を駆動制御することでキャリッジ5を主走査方向に往復移動させる。副走査駆動部モータドライバ314は紙送りするための副走査モータ132を駆動する。主制御部310には、副走査方向の移動量を検出するロータリエンコーダセンサ131からの出力信号パルスが入力され、主制御部310はこの出力信号に基づいて紙送り量を検出し、副走査駆動部314を介して副走査モータ132を駆動制御することで図示しない搬送ローラを介してシート材を紙送りする。給紙駆動部315は給紙トレイからシート材を給紙する給紙モータ133を駆動する。排紙駆動部316は、印刷されたシート材150をプラテン上に排紙するローラを駆動する排紙モータ134を駆動する。なお、排紙駆動部316は、副走査駆動部314により代用してもよい。スキャナ制御部317は、画像読取部135を制御する。画像読取部135は、原稿を光学的に読み取り画像データを生成する。また、主制御部310には、テンキー、プリントスタートキーなどの各種キー及び各種表示器を含む操作/表示部136が接続されている。主制御部310は、操作/表示部136を介してユーザが操作したキー入力の受け付け、メニューの表示などを行う。その他図示しないが、維持機構26を駆動する維持回復モータを駆動するための回復系駆動部、各種のソレノイドSOL類を駆動するソレノイド類駆動部ドライバ、電磁クラック類などを駆動するクラッチ駆動部、を有していてもよい。また、主制御部310には、その他の図示しない各種センサの検出信号も入力されるが図示を省略している。主制御部310は、シート材上にテストパターンを形成する処理を行い、形成したテストパターンに対し、キャリッジ5に搭載した印字位置ずれセンサ30の発光素子を発光させる発光駆動制御を行う。そして、受光素子の出力信号を取得しテストパターンの反射光を電気的に読取り、この読取り結果から着弾位置ずれ量を検出し、更に着弾位置ずれ量に基づいて記録ヘッド21~24の液滴吐出タイミングを着弾位置ずれがなくなるように補正する制御を行う。着弾位置ずれの補正図7は、印字位置ずれセンサ30がテストパターンのエッジ位置を検出するための構成を模式的に示す図の一例である。図7は、図5の記録ヘッド21と印字位置ずれセンサ30を右側面板4から見た図になっている。例えば印字位置ずれセンサ30は、特許請求の範囲の読み取り手段に相当する。印字位置ずれセンサ30は、主走査方向と直交する方向に並ぶ、発光素子402と受光素子403を有している。発光素子402と受光素子403の配置は逆でもよい。発光素子401は、後述するスポット光をテストパターン400に投光して、受光素子403はシート材150に反射した光、プラテン40からの反射光、その他の散乱光などを受光する。発光素子402と受光素子403は筐体の内側に固定され、印字位置ずれセンサ30のプラテン40に対向する面は、レンズ405により外部から遮蔽されている。このように、印字位置ずれセンサ30はパッケージ化されており、単体で流通することができる。印字位置ずれセンサ30内において、発光素子402及び受光素子403は、キャリッジ5の走査方向に対して直交する方向に配置している副走査方向に並行に配置されている。これにより、キャリッジ5の移動速度変動による検出結果への影響を低減することができる。発光素子402には例えば、LEDを採用することができるが、可視光を投射可能な光源例えば、レーザ、各種のランプであればよい。可視光とするのは、スポット光がテストパターンにより吸収されることを期待するためである。なお、発光素子402の波長は固定であるが、波長が異なる発光素子402を搭載した複数の印字位置ずれセンサ30を搭載することも可能である。また、発光素子402が形成するスポット径は、高精度のレンズを使用せずに安価なレンズを使用するためにmmオーダーとなっている。このスポット径は、テストパターンのエッジの検出精度と関係するが、mmオーダーでも本実施形態のエッジ位置の求め方であれば十分に高精度にエッジ位置を検出できる。ただし、スポット径をより小さくすることも可能である。CPU301は、所定のタイミングになると着弾位置ずれ補正を開始する。このタイミングは、例えば、ユーザが操作/表示部136から着弾位置ずれ補正を指示したタイミング、CPU301がインク吐出前に発光素子402が発光しその時の反射光の強度が所定値以下であることから特定のシート材150であると判定したタイミング、最後に着弾位置ずれ補正を行った際の温度と湿度を記憶しておき温度又は湿度のいずれかが閾値以上ずれたと判定したタイミング、定期的毎日、毎週、毎月等なタイミング、等がある。本実施形態の着弾位置ずれ補正は、テストパターンを形成する前と形成した後の2段階の処理を有する。しかしながら、主な違いはテストパターンを形成するか否かであるので、ここではテストパターンを形成する場合を説明する。CPU301は主走査制御部313にキャリッジ5の往復移動と、ヘッド駆動制御部312に予め定められたテストパターンを印刷データとして液滴の吐出を指示する。主走査制御部313は、シート材150に対して、キャリッジ5を主走査方向に往復移動させるとともに、ヘッド駆動制御部312は記録ヘッド21から液滴を吐出させて、少なくとも2本以上の独立したラインを含むテストパターンを形成する。また、CPU301は、シート材150に形成したテストパターンを印字位置ずれセンサ30にて読取るための制御を行う。具体的には、CPU301によって発光制御手段511に印字位置ずれセンサ30の発光素子402を駆動するためのPWM値が設定され、この発光制御手段511の出力が平滑回路512で平滑化されて駆動回路513に与えられる。駆動回路513は発光素子402を発光駆動して、シート材150のテストパターンに対して発光素子402からスポット光が照射される。なお、発光制御手段511、平滑回路512、駆動回路513、光電変換回路521、ローパスフィルタ522、A/D変換回路523、及び、補正処理実行部526は主制御部310又は制御部300に搭載されている。共有メモリ525は例えばRAM303である。シート材上のテストパターンに発光素子402からのスポット光が照射されることで、テストパターンから反射される反射光が受光素子403に入射する。受光素子403は反射光の強度信号を光電変換回路521に出力する。具体的には、光電変換回路521は、強度信号を光電変換して、この光電変換信号をローパスフィルタ回路522に出力する。ローパスフィルタ回路522は高周波のノイズ分を除去した後、A/D変換回路523に光電変換信号を出力する。A/D変換回路523は、光電変換信号をA/D変換し、信号処理回路FPGA306に出力する。信号処理回路FPGA306は、A/D変換された検出電圧のデジタル値である検出電圧データを共有メモリ525に格納する。補正処理実行部526は共有メモリ525に記憶された検出電圧データを読み出し、着弾位置ずれ補正を行い、ヘッド駆動制御部312に設定する。すなわち、補正処理実行部526は、テストパターンのエッジ位置を検出して、2本のライン間の適正距離と比較することで、着弾位置ずれ量を算出する。補正処理実行部526は着弾位置ずれがなくなるように記録ヘッド21を駆動するときの液滴吐出タイミングの補正値を算出して、この算出した液滴吐出タイミングの補正値をヘッド駆動制御部312に設定する。これにより、ヘッド駆動制御部312は、記録ヘッド21を駆動する際に、補正値に基づいて液滴吐出タイミングを補正した上で記録ヘッド21を駆動するので、液滴の着弾位置ずれを低減することができる。図8は、補正処理実行部526の機能ブロック図の一例である。補正処理実行部526は、印字前前処理部611、印字後前処理部612、同期処理部613、パターン非依存分除外処理部614、振幅補正処理部615及び吐出タイミング補正部616を有する。印字前前処理部611は、テストパターンが形成される前の検出電圧データに前処理を施し、印字後前処理部612は、テストパターンが形成された後の検出電圧データに前処理を施す。例えば、印字前前処理部611は、特許請求の範囲の第2の検出データ取得手段に相当する。例えば、印字後前処理部612は、特許請求の範囲の第1の検出データ取得手段に相当する。同期処理部613は、テストパターンの形成前と形成後の検出電圧データを同期させる位置を合わせる。パターン非依存分除外処理部614は、検出電圧データからVp2を減算する。例えば、パターン非依存分除外処理部614は、特許請求の範囲の減算処理手段に相当する。振幅補正処理部615は、振幅補正処理を行うことでエッジ位置を演算するための演算対象データzを生成する。例えば、振幅補正処理部615は、特許請求の範囲の信号補正手段に相当する。吐出タイミング補正部616は、テストパターンのエッジ位置から求めた着弾位置ずれ量に基づき液滴吐出タイミングを補正する。なおこれらの処理の詳細は後述する。例えば、吐出タイミング補正部616は特許請求の範囲の位置検出手段に相当する。スポット光の位置とエッジ位置続いて、図9、10を用いてスポット光とエッジ位置の関係について説明する。図9は、スポット光とテストパターンの一例を示す図である。スポット光はテストパターンを構成する複数のライン図では1本を一定速度等速で横切るように移動する以下、テストパターンとラインを厳密には区別せずに説明する。。横切る際の速度は可変でもよいが、横断中は等速である。用紙などのシート材は紙送りによりラインの長手方向に移動しているため、スポット光はラインを斜めに横切るように移動するが、シート材が停止してもエッジ位置の特定方法は同じである。一般的な波長のスポット光とシート材ではテストパターンの重複面積が大きいほど、スポット光の反射光が低下するとしてよい。なお、図9、10ではスポット径dテストパターンのライン幅Lとする。実際にはスポット光は若干の楕円になるが、テストパターンに並行に長軸を持つのでスポット光の形状はエッジ位置の精度にほとんど影響しない。図10は、本実施形態のエッジ位置の特定の概略を説明する図の一例である。図10aの数字I~Vは時刻の経過を表し、下のスポット光ほど時間経過が長い。時刻I:スポット光とテストパターンは重複していない。時刻II:スポット光の半分がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の減少率が最も大きくなる重畳している面積が単位時間に最も大きく正に変化する。時刻III:スポット光の全体がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の強度が最も小さくなる。時刻IV:スポット光の半分がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の増加率が最も大きくなる重畳している面積が単位時間に最も大きく負に変化する。スポット光の重心がテストパターンのラインのエッジ位置と一致するのは、時刻II及びIVである。したがって、スポット光とラインとが時刻II及びIVの関係にあることを反射光から検出できれば、エッジ位置を精度よく特定できる。図10bは受光素子の検出電圧の一例を、図10cは吸収面積スポット光とテストパターンの重畳面積の一例を、図10dは図10cの吸収面積を微分した吸収面積の増加率の一例を、それぞれ示す。なお、図10dは、図10bの出力波形を微分しても同等の情報が得られる。また、吸収面積は例えば検出電圧から算出されるが、絶対値である必要はないので、図10cの吸収面積は所定値から図10bの検出電圧を減算することで吸収面積と同様の波形が得られる。上述したように、時刻IIにおいて反射光の減少率が最も大きくなり重畳している面積が単位時間に最も大きく正に変化する、時刻IVにおいて反射光の増加率が最も大きくなる重畳している面積が単位時間に最も大きく負に変化する。そして、図10dに示すように、増加率が増加傾向から減少傾向に変化する点は、時刻IIと一致しており、増加率が減少傾向から増加傾向に変化する点は、時刻IVと一致している。増加傾向から減少傾向又はその逆に変化する点は、平面上の曲線において曲がる方向が変わる点、すなわち変曲点である。以上から、出力信号が変曲点を示せば、スポット光がテストパターンのエッジ位置と一致していることになる。したがって、変曲点が精度よく検出されれば、エッジ位置も精度よく特定できる。エッジ位置の特定図11は、エッジ位置の特定方法を説明する図の一例である。図11aは、検出電圧の概略図を、図11bは検出電圧の拡大図をそれぞれ示す。変曲点のおよその値は、吐出タイミング補正処理実行部526又は開発者が実験的に求めることができる。上述したように、例えば、検出電圧や吸収面積を微分して傾きがゼロに最も近い位置が変曲点となる。この変曲点が含まれるように、検出電圧の上限閾値Vruと下限閾値Vrdが予め定められている。後述するように、CPU301はテストパターンのない領域に対し検出電圧がほぼ同じ一定値後述する4Vになるように発光素子402の出力と受光素子403の感度をキャリブレーションする。振幅補正処理により、検出電圧の極大値はほぼ同じ一定値にすることができるので、検出電圧が不安定でも上限閾値Vruと下限閾値Vrdの間に変曲点が含まれている。吐出タイミング補正部616は、検出電圧の立下り部分について、矢示Q1方向に探索して、検出電圧が下限閾値Vrd以下になる点を点P2として記憶する。次に、点P2より矢示Q2方向に探索して、検出電圧が上限閾値Vruを超える点を点P1として記憶する。そして、点P1と点P2の間の複数の検出電圧データを用いて回帰直線L1を算出し、回帰直線L1と上下閾値の中間値Vcとの交点を算出し交点C1とする。同様にして、吐出タイミング補正部616は、検出電圧の立上がり部分について、矢示Q3方向に探索して、検出電圧が下限閾値Vru以上になる点を点P4として記憶する。次に、点P4より矢示Q4方向に探索して、検出電圧が上限閾値Vrd以下になる点を点P3として記憶する。そして、点P3と点P4の間の複数の検出電圧データを用いて回帰直線L2を算出し、回帰直線L2と上下閾値の中間値Vcとの交点を算出し交点C2とする。吐出タイミング補正部616は交点C1と交点C2を二本のラインのエッジ位置に特定する。上下閾値の決定プロセスによれば、この交点C1とC2はほぼ変曲点と一致するとしてよい。この後、吐出タイミング補正部616は、テストパターンの2本のライン間の理想的な距離と、交点C1とC2の距離との差分を算出する。この差分は、理想的なラインの位置に対する実際のラインの位置の着弾位置ずれ量である。吐出タイミング補正部616は、算出した着弾位置ずれ量に基づいて、記録ヘッド21から液滴を吐出させるタイミング液滴吐出タイミングを補正する補正値を算出し、補正値をヘッド駆動制御部312に設定する。これにより、ヘッド駆動制御部312は補正された液滴吐出タイミングで記録ヘッド21を駆動するので、着弾位置ずれが低減することになる。精度低下要因このように、上限閾値と下限閾値の間の検出電圧データを用いてエッジを検出する場合、上限閾値と下限閾値の間に少なくとも変曲点が含まれていなければ、エッジを検出できない。上限閾値と下限閾値2つのスレッシュホールドが形成する幅を、以下、スレッシュ領域という。スレッシュ領域は検出電圧を単位とするが、検出電圧に対応する吸収面積でも定義できる。図12は、吸収面積と吸収面積の増加率の一例をそれぞれ示す図である。図12のAのスレッシュ領域に変曲点があれば、図9で説明したように、吐出タイミング補正部616はエッジ位置を精度よく検出することができる。これに対し、図12のBのスレッシュ領域に変曲点がある場合、Aのスレッシュ領域から回帰直線を求めても、吐出タイミング補正部616は正確なエッジ位置を検出することはできない。また、変曲点がBのスレッシュ領域にあることが分かっていれば、スレッシュ領域をAからBの位置に移動して吐出タイミング補正部616が回帰直線を求めることもできるが、変曲点の位置が大きくずれることは、検出電圧や吸収面積のカーブが変形している可能性がある。例えば、カーブの傾きが大きくなったスレッシュ領域から、吐出タイミング補正部616が回帰直線を求めると、交点C1、C2も大きくずれる可能性がある。このことは、図12の下図で、Aのスレッシュ領域では頂点付近を含む位置の幅を十分に狭い範囲で推定できるに対し、Bのスレッシュ領域では変曲点図12ではスレッシュ領域B内にはないが付近を含む位置の幅を狭い範囲で推定しにくいことによって示されている。したがって、検出電圧の振幅が、変曲点がスレッシュ領域Aに入らないほどに変動した場合、スレッシュ領域Aからエッジ位置を特定したり、変曲点そのものを求めてスレッシュ領域を移動してエッジ位置を決定することは好適ではないことがわかる。そこで、本実施形態の補正処理実行部526は、検出電圧の振幅を略一定に補正することで、変曲点がスレッシュ領域に入るようして、エッジ位置を精度よく検出する。図13aは振幅が不安定な検出電圧の一例を、図13bは振幅の補正後の検出電圧の一例をそれぞれ示す。図13aのような検出電圧は一般には得られないが、印字位置ずれセンサ30がトレーシングパーパーのように透過率の高いシート材150に形成されたテストパターンを読み取ると、振幅がバラつくことが知られている。図示するように振幅が不安定になることで、変曲点がスレッシュ領域から外れてしまう。元のスレッシュ領域のまま、補正処理実行部526が交点C1,C2を求めると、変曲点が含まれない検出電圧から交点C1,C2を求めることになるので、エッジ位置は正確でないことになる。スレッシュ領域が変曲点を含むようにスレッシュ領域を移動させると、移動する前の交点C1,C2の求め方でエッジ位置を精度よく決定できるという保証がない。これに対し、図13bに示すように、振幅の極大値を揃えることで、変曲点をスレッシュ領域に含ませること、及び、スレッシュ領域の中心付近に集中させることが可能になる。これにより、図12のAのスレッシュ領域と同様、吐出タイミング補正部616は回帰直線を求めるという簡単な近似で、精度よくエッジ位置を検出することができる。なお、本実施形態ではトレーシングパーパーを例に説明するが、透過率の高いシート材150であれば同様の課題が生じる。例えば、トレーシングパーパー以外の普通紙でも十分に紙が薄い場合には本実施形態のエッジ位置の検出方法が有効である。したがって、本実施形態の液滴吐出タイミングの補正処理は特定の材質や種類、厚みを有するシート材150に限定されない。また、厚みが十分にある普通紙に適用することもできる。スポット光の径とテストパターンの線幅図9ではスポット径dテストパターンのライン幅Lとしたが、スポット径d>テストパターンのライン幅L又は、スポット径d<テストパターンのライン幅Lでも、エッジ位置は検出可能である。図14aは、スポット径d>テストパターンのライン幅Lの関係にあるスポット光とテストパターンの一例を示す。ここではd/2<L<dであるとする。図14bは受光素子の検出電圧の一例を、図14cは吸収面積の一例を、図14dは図14cの吸収面積を微分した吸収面積の増加率の一例を、それぞれ示す。スポット径d>テストパターンのライン幅Lであることは、スポット光とテストパターンが完全には重畳しないことを意味するので、図14dの吸収面積の増加率から明らかなように、スポット光の右端がテストパターンを乗り越えた時点で吸収面積が減少に転じ、増加率が急激に減少する。しかしながら、本実施形態では変曲点の近傍の検出電圧データが得られていれば、交点C1、C2を求めることができるので、スポット光dはd/2<Lであればよい。すなわち、スポット径dがテストパターンのライン幅Lに比べて極端に大きくなければよい。図15aは、スポット径d<テストパターンのライン幅Lの関係にあるスポット光とテストパターンの一例を示す。図15bは受光素子の検出電圧の一例を、図14cは吸収面積の一例を、図15dは図15cの吸収面積を微分した吸収面積の増加率の一例を、それぞれ示す。スポット径d<テストパターンのライン幅Lであることは、スポット光とテストパターンが完全に重畳した状態が継続することを意味するので、図15bcに示すように検出電圧や吸収面積が一定の領域が生じる。また、図15dに示すように、吸収面積の増加率がゼロとなる領域が生じる。その後、スポット光の右端がテストパターンを乗り越えた時点で吸収面積が減少に転じ、増加率が緩やかに減少する減少率が増加。このような場合、図9と同様に、変曲点近傍の検出電圧データが十分に得られるので、吐出タイミング補正部616は十分に交点C1、C2を求めることができる。ライン方式の画像形成装置の場合本実施形態では、図4,5のシリアル方式の画像形成装置100を例にして説明したが、ライン方式の画像形成装置100においても同様の方法で着弾位置ずれ量を補正できる。ライン方式の画像形成装置100について簡単に説明する。図16は、ライン方式の画像形成装置100のヘッドの配置とテストパターンを模式的に説明する図の一例である。ヘッド固定ブラケット160はシート材搬送方向と直交する主走査方向の端から端まで掛け渡されるように固定されている。ヘッド固定ブラケット160には、上流側からKCMYのインクの記録ヘッド180がそれぞれ主走査方向の全域に配置されている。各色の記録ヘッド180は端部が重複するように千鳥状に配置されている。こうすることで、記録ヘッド180の端部でも十分な解像度が得られる液滴が吐出されるので、主走査方向の全域に1つの記録ヘッド180を配置する必要がなくコスト増を抑制できる。なお、各色毎に主走査方向の全域に1つの記録ヘッド180を配置してもよいし、各色の記録ヘッド180の主走査方向の重複領域をより長くしてもよい。ヘッド固定ブラケット160よりも下流にはセンサ固定ブラケット170が、シート材搬送方向と直交する主走査方向の端から端まで掛け渡されるように固定されている。センサ固定ブラケット170には、印字位置ずれセンサ30がヘッドの数だけ配置されている。すなわち、1つの印字位置ずれセンサ30は、1つの記録ヘッド180と、主走査方向に少なくとも一部が重複するように配置されている。また、1つの印字位置ずれセンサ30は、1対の発光素子402と受光素子403を有する。発光素子402と受光素子403は、主走査方向にほぼ並行に並列配置されている。このような形態の画像形成装置100は、テストパターンを構成する各ラインを、ラインの長手方向が主走査方向と並行になるように形成する。Kを基準に他の色の液滴の着弾位置ずれを補正する場合、画像形成装置100は、KのラインとMのライン、KのラインとCのライン、KのラインとYのラインを形成する。そして、シリアル方式の画像形成装置100と同様に、CMYKのテストパターンのエッジ位置を検出し、その位置ずれ量から液滴吐出タイミングを補正する。以上のように、ライン方式の画像形成装置100においても、適切に印字位置ずれセンサ30を配置することで着弾位置ずれを補正できる。信号補正以下、本実施形態の検出電圧の信号補正について説明する。図17aは、補正前の受光素子の検出電圧の一例を、図17bは振幅補正された検出電圧の一例をそれぞれ示す。図17aはトレーシングパーパーのような透過率の高いシート材150に印字されたテストパターンを受光素子が読み取った場合の検出電圧の波形である。用紙自体の反射光の強度が変動するため、図17aのように波形の極大値地肌読み取り部分及び極小値パターン読み取り部分が不揃いで変動が大きい。図17bは、パターン非依存分除外処理及び振幅補正処理後の検出電圧の波形の一例である。本実施形態の信号補正により、テストパターンに依存しない受光分の電圧が排除され、また、極大値及び極小値のバラツキが低減された、安定した出力データが得られる。このため、以降の着弾位置ずれ量を高精度に算出し、着弾位置ずれを高精度に補正することができる。本実施形態の信号補正は、パターン非依存分除外処理振幅補正処理の2つの補正を有している。また、信号補正するために、前処理が必要とされる。よって、処理手順は以下のようになる。1前処理2信号補正21パターン非依存分除外処理、22振幅補正処理<前処理>以下、前処理について説明する。前処理は前処理Aと前処理Bに分けることができる。前処理Aは、テストパターン形成前の白紙状態バックグラウンドの検出電圧データに対する以下の処理により構成される。前処理An回スキャン同期処理平均化フィルタ処理前処理Bは、テストパターン形成後の検出電圧データに対する以下の処理により構成される。前処理Bn回スキャン同期処理平均化<前処理A>前処理A-図18は、Aのn回スキャンの測定結果の一例を示す図である。n回スキャンに先立ち、n回スキャン部はシート材ex、普通紙、トレーシングペーパに対するセンサキャリブレーションを行う。n回スキャン部は、受光素子が検出し最終的にA/D変換回路523が変換した反射光の検出電圧が、ある一定値になるようにCPU301に要求する。CPU301は、検出電圧がある範囲に入るようにフィードバック制御する。例えば、検出電圧が4.4Vより大きければ発光制御手段511の発光量を低減し、検出電圧が4.0V未満であれば発光制御手段511の発光量を増大する。図18abに示すように、センサキャリブレーションにより、検出電圧は4.0~4.4Vの範囲に入るようになる。なお、目標値を4.0~4.4Vに設定したPI制御やPID制御によりセンサキャリブレーションしてもよい。この検出電圧は、上記のVsg2テストパターンが形成されていない領域の検出電圧である。n回スキャン部は図18abのような検出電圧データをn個取得する。前処理A図19はAの同期処理を説明する図の一例である。平均化部はn回スキャン部が取得したn個の検出電圧データの平均を算出する。検出電圧データはスポット光がシート材150以外を走査しても検出されるが、必要なのはシート材150上を走査したときに得られた検出電圧のみである。このため、同期化部は、n個の検出電圧データの始まりをシート材150の紙端に揃える。n回の検出電圧データを紙端から始めるため、同期化部は検出電圧データが閾値を最初に越えたところを、シート材150の紙端として検出する。平均化されるための検出電圧データは、閾値を超えた以降のデータである閾値を超えた検出電圧データを先頭1個目のデータとして扱う。閾値はセンサキャリブレーションの目標値を4.0Vとした場合、それよりもやや小さい3.5~3.9V程度である。このような同期方法の他、エンコーダセンサ42が検出した主走査方向の位置情報に検出電圧データを対応づけて記憶しておき、位置情報を一致させてn個の検出電圧データの同期を取ってもよい。前処理A-次に、n個の検出電圧データはシート材150の紙端を走査方向の基準位置位置がゼロとして、位置毎にn個の検出電圧データを有する。この位置は、エンコーダセンサが検出するキャリッジ5の位置であるが、スポット光の重心位置と1対1に対応するので、以下、スポット光の重心位置として説明する。すなわち、平均化部は重心位置毎にn個の検出電圧データの平均を算出する。前処理A図20は、フィルタ処理を説明する図の一例である。フィルタ処理部は、平均化部が平均した重心位置毎の検出電圧データの平均値をフィルタ処理する。具体的には、着目している検出電圧データの前後m個着目しているデータを含めm個とするのデータを抽出して、平均を算出する。これにより、測定ノイズが低減され、同期処理で同期しきれなかった検出電圧データのズレを低減することができる。図20では、実線の波形がフィルタ処理前の検出電圧データであり、点線の波形がフィルタ処理後の検出電圧データである。フィルタ処理前の検出電圧データはA/D変換回路523の分解能の影響を受け階段状の変動を示すが、フィルタ処理によりなだらかになることがわかる。<前処理B>前処理B図21は、Bのn回スキャンを説明する図の一例である。図21aでは、Aのn回スキャンが行われたシート材150に色の異なるラインを含むテストパターンが形成されている。色の数は2色以上であればよいが、一般の画像形成装置ではCMYKの4色、又は、インク種類が多い画像形成装置では6~9色のインクを有する。テストパターンの色の数は何色でもよい。図21bはテストパターンが形成されたシート材150からの反射光を受光素子が受光した際の検出電圧データの波形を示す。n回スキャン部はこのようなデータをn回取得する。前処理B図22は同期処理を説明する図の一例である。上段は同期前の検出電圧データを、下段は同期後の検出電圧データをそれぞれ模式的に示す。テストデータの形成前と異なりテストデータの形成後は、n回の検出電圧データの極大値同士、及び、極小値同士を一致させることで、エッジ位置を揃えることができる。図21のような波形データの極大値同士、及び、極小値同士を一致させる完全に一致させることは困難であるがには、いくつか方法がある。比較的簡単な方法は、A-と同様に、n個の検出電圧データの始まりをシート材150の紙端に揃えることである。テストパターンが紙端に対し同じ位置に形成されていれば、複数の検出電圧データの極大値及び極小値も同じ位置に揃えることができる。またA-と同様に、エンコーダセンサ42が検出した主走査方向の位置情報に検出電圧データを対応づけて記憶しておき、位置情報を一致させてn個の検出電圧データの同期を取ってもよい。また、同期化部は、n個の検出電圧データの位置をずらしながら、n個の検出電圧データのズレが最小になるようにn個の検出電圧データの位置を決定することもできる。図22bはこの手順を模式的に示す。まず、同期化部は、n個の検出電圧データの始まりをシート材150の紙端に揃えて初期値とする。同期化部は、重心の位置毎に、n個のデータから全ての組合せに従って2つずつ取り出し、差の二乗和を算出する。そして、位置毎の差の二乗和の合計を算出する。次に、n個の検出電圧データのn1個を固定して、残りの1個のn番目の検出電圧データの重心位置を1単位ずらす。ずらす量の1単位は、エンコーダセンサの1パルス分であることが好ましいが、計算時間を考慮して数パルス~数十パルスを1単位にすることもできる。n番目の検出電圧データの重心位置を1単位ずらした状態で、差の二乗和を算出し、各重心位置の差の二乗和の合計を算出する。また、同期化部は、n番目の検出電圧データの重心位置を、1単位ずつ、所定のサーチ範囲まで例えば、線幅の半分程度ずらし、差の二乗和を算出すると共に、各重心位置の差の二乗和の合計を算出する。次に、同期化部は、n個の検出電圧データのn2個を固定して、n1番目の検出電圧データの重心位置を1単位ずらし、差の二乗和を算出すると共に、各重心位置の差の二乗和の合計を算出する。また、同期化部は、n1番目の検出電圧データの重心位置を1単位ずらした状態で、n番目の検出電圧データの重心位置を、1単位ずつ、サーチ範囲までずらし、差の二乗和を算出すると共に、各重心位置の差の二乗和の合計を算出する。同期化部は、n1番目の検出電圧データの重心位置をさらに1単位ずらした状態で合計2単位、n番目の検出電圧データの重心位置を、1単位ずつ、サーチ範囲までずらし、差の二乗和を算出すると共に、各重心位置の差の二乗和の合計を算出する。同期化部は、n1番目の検出電圧データの重心位置を、1単位ずつ、サーチ範囲までずらしながら、同様の処理n番目の検出電圧データの重心位置を、1単位ずつ、サーチ範囲までずらし、差の二乗和を算出すると共に、各重心位置の差の二乗和の合計を算出するを繰り返す。次に、同期化部は、n個の検出電圧データのn3個を固定して、n2番目の検出電圧データの重心位置を1単位ずらし、差の二乗和を算出すると共に、各重心位置の差の二乗和の合計を算出する。また、同期化部は、n2番目の検出電圧データの重心位置を1単位ずらした状態で、n番目の検出電圧データの重心位置を、1単位ずつ、サーチ範囲までずらし、差の二乗和を算出すると共に、各重心位置の差の二乗和の合計を算出する。また、同期化部は、n2番目の検出電圧データの重心位置を1単位ずらした状態で、n1番目の検出電圧データの重心位置を1単位ずらし、その状態で、n番目の検出電圧データの重心位置を、1単位ずつ、サーチ範囲までずらし、差の二乗和を算出すると共に、各重心位置の差の二乗和の合計を算出する。また、同期化部は、n2番目の検出電圧データの重心位置を1単位ずらした状態で、n1番目の検出電圧データの重心位置をさらに1単位ずらし合計2単位、その状態で、n番目の検出電圧データの重心位置を、1単位ずつ、サーチ範囲までずらし、差の二乗和を算出すると共に、各重心位置の差の二乗和の合計を算出する。同期化部は、n1番目の検出電圧データの重心位置を1単位ずつ、サーチ範囲までずらして同様の処理を行う。同期化部はn2番目の検出電圧データの重心位置をさらに1単位ずらして合計2単位、n1番目の検出電圧データとn番目の検出電圧データに対し、同様の処理を繰り返す。以上のような処理を、n個の検出電圧データのうち移動していない検出電圧データが1つになるまで繰り返すことで、各検出電圧データの重心位置の全ての組合せでずらしたことになる。同期化部は、重心位置毎の差の二乗和の合計が最小になった時のn個の検出電圧データの相対的な重心位置を、同期処理後の重心位置に決定する。前処理B-平均化部は同期化したn個の検出電圧データの平均を算出する。n個の検出電圧データは、位置毎にn個の検出電圧データが存在するので、平均化部は重心位置毎にn個の検出電圧データの平均を算出する。<信号補正処理>信号補正の前に同期処理部613が同期処理を行う。同期処理部613は、A~の前処理が施されたテストパターン印字前の検出電圧データと、B~の前処理が施されたテストパターン印字後の検出電圧データの紙端を揃える。揃え方はAと同様に、閾値を最初に越えた検出電圧データを先頭1個目のデータとすることで行う。以下、説明のため、テストパターン印字前の検出電圧データを白紙測定データVsg2、テストパターン印字後の検出電圧データをパターン測定データVsg1という。以下、信号補正処理について説明する。21パターン非依存分除外処理パターン非依存分除外処理は、Vsg=VsVpからテストパターンに依存しない検出電圧分を低減する処理を行う。具体的には、Vsgから上記のVp2=Vp1なので以下Vpとするを減じる。これにより、パターン以外に起因する検出電圧を排除することができる。図23は、VsgとVpを説明する図の一例である。上記のようにテストパターンの有無に関係なくVpはほぼ一定であるが、厳密にVpを求めることは困難なので、スポット光がテストパターンを走査した際の検出電圧Vsgの極小値をVpとする。このため、パターン非依存分除外処理部614は、パターン測定データを順番に検索して極小値を全て取り出す。具体的には、例えば、紙端内でパターン測定データがある閾値未満になると、より小さいデータが検出される毎に置き換えていき、最後のデータを所定値以上上回るデータが得られたら、最後に記憶したデータをVpとする。これを図の極小値毎に繰り返す。なお、必ずしも最も小さい極小値としなくてもよく、例えば、全ての極小値の平均、中央値、最も大きい極小値をVpとすることもできる。パターン非依存分除外処理部614は、以下を算出する。白紙測定データVsg2-Vpパターン測定データVsg1-Vp図24aはパターン測定データの出力波形の一例を、図24bはパターン測定データからVpを減じた出力波形の一例を、それぞれ示す。図24aとbを比較すると分かるように、パターン非依存分除外処理により約1Vほど全体的にパターン測定データが小さくなっていることが分かる。図24cは白紙測定データの出力波形の一例を、図24dは白紙測定データからVpを減じた出力波形の一例を、それぞれ示す。図24cとdを比較すると分かるように、パターン非依存分除外処理により約1Vほど全体的に白紙測定データが小さくなっていることが分かる。なお、ここでは単一色のテストパターンの場合を例を挙げて説明したが、複数の色のテストパターンの場合にも本処理は適用できる。その場合、最も多くスポット光を吸収する色のテストパターンでの極小値がVpとなる。この場合、他の色のテストパターンの部分では除外しきれない電圧が残るが、若干残った場合にも位置の検出精度は向上する。続いて、説明のため、以下のように置き換える。白紙測定データx ́=白紙測定データVsg1-Vpパターン測定データy ́=パターン測定データVsg2-Vp22振幅補正処理まず、演算対象データzを求める際の考え方について説明する。シート材150に画像が何も形成されていない状態でも、シート材150の反射光や反射率は、透過性や結晶性といったシート材150の特性で変動する。また、シート材150の指向性の高さにより程度に差はあるが、シート材150の凹凸やシート材150を支えるプラテン等の傾きが一定でないといった要因で、光軸がずれることによる反射率の変動もある。さらに、受光素子とシート材150の距離が一定でなかったり、プラテン40の保持機構や、様々な事象を要因とする振動、電源変動や制御的な相性等、シート材150を走査するスポット光の位置に関係する反射率の変動要因は枚挙にいとまがない。しかし、変動要因は様々であるが、どのような要因であっても区別することなく、反射率の変動を位置または時間の関数として表現できる。この反射率の変化をバックグラウンド変動と呼ぶことにする。以下、説明を容易にするため、以下のイメージしやすい例を用いて説明する。位置または時間の関数を、時間の関数とするバックグラウンド変動を時間の関数Kbgとする非印字媒体を白紙の紙とする受光素子で検知したい変化を、紙に吐出されたインクの位置とする有効数字確保や演算上、適当な係数を最大電位Vmaxとするセンサで測定する値を電圧値Vとするまず、インクの色素が光を吸収するメカニズムを考える。インクに入射してくる光子は、色素固有のエネルギー状態を下回った時に吸収される光のエネルギーは振動数に比例し可視光であれば振動数により色が変わることから理解される。色素のエネルギー状態は外界からエネルギーを加えることで変化させることもできるが、工業的には、特に意図的な制御を行わない限り、一定とみなせることが多い。ここでは一定とみなしうる場合を考え、色素のエネルギー状態を色素が光を取り込まない確率と考え、この一定値をKi<1とする。入射光を1とすると反射光として帰還するのを妨げる確率はとなる。例えば、Kiを0.3とすれば、0.7の光は反射光として帰還できない。本実施形態の受光素子が検出したいのは、位置毎に量の異なる反射光率の変化である。よって、反射光率を定量化するためには、位置の関数と、測定電圧が比例関係にあることが望ましい。つまり、測定電圧をVとしたとき、V∝と仮定すれば、測定電圧Vは反射光率に比例する。しかし、実際にはバックグラウンド変動があるため、V∝Kbg×となる。ここで改めて、処理したい変動をZとおくと、V∝Kbg×Z⇔Z∝×Vとなる。Vmaxを適当に定めることで、これはZ=×V...1となる。この式1は、時間関数KbgとVが同じ時間の関数であれば、バックグラウンド変動が含まれる測定電圧を、あたかもバックグラウンド変動が無いかのように扱えるよう補正できることを示している。しかし、現実的にはKbgの性質上、KbgとVを同時に測定することができないので、KbgとVをそれぞれ測定し、時間軸を合わせることで、同じ位置のKbgとVを測定できたことになる。この処理は、信号補正処理の同期処理が相当する。式1の各変数を、本実施形態で説明したデータで表すと、以下のように対応する。Kbg=y ́V=x ́Z=Vsg=zVmax=Vsgの最大値例えば4V=Vmax-Vp実際にはZは、最終的な演算対象のデータとなるので、実測されているVsgと一致するわけではないが、Vsgの代わりに得られるデータがZであるので、Z=Vsgとし、さらにZ=zとする。また、Vmaxは適宜定めることができるので、zが演算対象データであることからVsgの最大値、すなわちVsgの理想的な振幅とする。なお、VmaxにはVpが含まれているので、Vmax=Vmax-Vpと置き直している。以上から式1を書き直すと次式のようになる。z=Vmax×x ́y ́...2図25は、x ́とy ́から得られる演算対象データzを模式的に説明する図の一例である。図25aではx ́とy ́を1つに重ねて表示しており、図25bでは演算対象データzとVmaxを表示している。式2によれば、x ́y ́により、両者に含まれるバックグラウンド変動を消去することができる。また、スポット光が、テストパターンがない場所を照射するとx ́とy ́が等しくなり、テストパターンがある場所を照射するとx ́が略ゼロとなる。このことは、x ́y ́が、ある位置の変動を含んだx ́がy ́を基準にした場合にどのくらいの比率で含まれるかを表すこと、すなわち、バックグラウンド変動を除去した際の白紙測定データとパターン測定データの比を表すと考えらえる。したがって、この比にVmaxを乗じれば、バックグラウンド変動が除去され、テストパターン部で極小に無地部で極大になる振幅が一定の演算対象データzが得られることが分かる。以上の考え方に基づき、振幅補正処理部615は、式2の演算を行う。x ́とy ́はすでに求められており、Vmaxは予め定められた固定値Vmax例えば4VからVpを減じることで求められる。したがって、振幅補正処理部615は図25bのような振幅が一定の演算対象データzを得ることができる。この後、吐出タイミング補正部616は上述したように交点C1、C2をエッジ位置に決定することができる。なお、固定値Vmaxは固定されている必要はなく、極大値と相関するVsg2の平均値や中央値などでもよい。印字前前処理部611がテストパターン形成前に行ったn回スキャンのVsg2はテストパターン形成後の検出電圧の最大値となるので、固定値Vmaxとみなすことができる。動作手順図26は、補正処理実行部526が信号補正する手順の一例を示すフローチャート図である。まず、CPU301が、着弾位置ずれ補正を開始するよう主制御部310に指示する。この指示により、主制御部310は副走査駆動部314を介して副走査モータ132を駆動しシート材150を記録ヘッド21の真下まで搬送させるS1。次に、主制御部310は主走査駆動部313を介して主走査モータ27を駆動して、キャリッジ5をシート材150上に移動し、シート材150上の特定の箇所にて発光素子と受光素子のキャリブレーションを実施するS2。図27aはS2の処理を説明するフローチャート図の一例である。キャリブレーションは、発光素子の検出電圧が所望の範囲内具体的には4V±04Vの範囲内に調整している。になるように発光素子の光量を調整する処理である。CPU301によって発光制御手段511に印字位置ずれセンサ30の発光素子402を駆動するためのPWM値が設定され、平滑回路512で平滑化された後、駆動回路513に与えられることで、駆動回路513が発光素子402を発光駆動するS21。印字位置ずれセンサ30の受光素子403が検出した強度信号は共有メモリ525に記憶され、CPU301が所望の電圧値になっているかチェックするS22。所望の電圧値になっていればS22のOK、図27aの処理は終了する。所望の電圧値になっていなければS22のNo、CPU301はPWM値を変更することでS23、光量の再調整を行う。次に、印字前前処理部611のn回スキャン部は、キャリッジ5をホームポジションまで移動し、テストパターン形成前のn回スキャンを行い、n個の検出電圧データを共有メモリ525に記憶するS3a。図27bはS3の処理を説明するフローチャート図の一例である。まず、CPU301がセンサ光源を点灯させるS31。次に、光電変換回路521等が検出電圧データの取り込みを開始するS32。取り込みを開始したら、主走査駆動部313は主走査駆動モータ27によりキャリッジ5を移動させていくS33。つまり、キャリッジ5が移動ながら、光電変換回路521等が検出電圧データを取り込む。データのサンプリングは例えばは20kHz50μs間隔である。キャリッジ5が画像形成装置の端部に到達すると、光電変換回路521等は検出電圧データの取り込みを終了するS34。主制御部310は一連の検出電圧データを共有メモリ525に蓄積する。主制御部310はキャリッジ5をホームポジションで停止させるS35。CPU301は所定の回数、検出電圧データの読み取りをn回完了したか否か確認し、完了している場合は次のS5処理に進み、完了していない場合はS3の検出電圧データの読み取り処理を再度行うS4。次に、印字前前処理部611は共有メモリ525に蓄積された所定の回数読み取ったテストパターン形成前の検出電圧データを読み出して前処理を実行し、そのデータをRAM303に保存するS5。S5の前処理の内容は図27cに示されるがすでに説明したので省略する。次に、主制御部310は、シート材150の副走査位置はそのままで紙送りせずに、主走査制御部313が主走査駆動モータ27を介してキャリッジ5を移動させると共に、ヘッド駆動制御部312が記録ヘッド21~24を駆動して着弾位置ずれ調整用のテストパターンを形成するS6。次に、印字後前処理部612のn回スキャン部は、キャリッジ5をホームポジションまで移動し、テストパターン形成後のn回スキャンを行い、n個の検出電圧データを共有メモリ525に記憶するS3b。処理内容は図27bと同様である。CPU301は所定の回数、検出電圧データの読み取りをn回完了したか否か確認し、完了している場合は次のS8の処理に進み、完了していない場合はS3のパターンデータ読み取り処理を再度行うS7。次に、印字後前処理部612は共有メモリ525に蓄積された所定の回数読み取った検出電圧データを読み出して前処理を実施し、そのデータをRAM303に保存するS8。S8の前処理の内容は図27dに示されるがすでに説明したので省略する。次に、同期処理部613は前処理が施された白紙測定データとパターン測定データをRAM303より読み出して、同期化処理によって位置あわせを行うS9。次に、パターン非依存分除外処理部614は、パターン測定データの極小値からVpを求め、白紙測定データとパターン測定データからそれぞれVpを減算するS10。次に、振幅補正処理部615は、式2を用いて振幅補正処理を行い演算対象データzを生成するS11。これにより、変曲点がスレッシュ領域内に揃った検出電圧データが得られた。吐出タイミング補正部616は、演算対象データzによりエッジ位置を検出し、液滴の着弾位置ずれを補正するS12。すなわち、吐出タイミング補正部616は下限閾値Vrdと上限閾値Vruから交点C1,C2を求める。交点C1とC2の中点がテストパターンを構成するラインの位置である。吐出タイミング補正部616は各ラインの距離を適正距離と比較して着弾位置ずれ量を算出し、着弾位置ずれがなくなるように記録ヘッド21を駆動するときの液滴吐出タイミングの補正値を算出する。以上説明したように、本実施形態の画像形成装置100は、プラテンなどからの反射光を排除し、さらに検出電圧の振幅がほぼ一定になるように補正することで、変曲点の位置をスレッシュ領域内に揃えることができるので、エッジ位置を精度よく求めることができ、液滴の着弾位置ずれを精度よく補正することができる。本実施例では、非シート反射除外処理と振幅補正処理を画像形成装置でなく、サーバが行う画像形成システムについて説明する。図28は、画像形成装置100とサーバ200を有する画像形成システム500を模式的に説明する図の一例である。図28において図4と同一部には同一の符号を付しその説明は省略する。画像形成装置とサーバ200がネットワーク201を介して接続されている。ネットワーク201は、社内のLAN、LAN同士を接続したWAN,若しくは、インターネット、又は、これらを組み合わせたものである。図28のような画像形成システム500では、画像形成装置100がテストパターンの形成及び印字位置ずれセンサによるテストパターンの走査を行い、サーバ200が液滴吐出タイミングの補正値を算出する。したがって、画像形成装置100の処理負荷を低減でき、サーバ200に液滴吐出タイミングの補正値の算出機能を集約できる。図29は、サーバ200と画像形成装置100のハードウェア構成図の一例を示す図である。サーバ200は、それぞれバスで相互に接続されているCPU51、ROM52、RAM53、記憶媒体装着部54、通信装置55、入力装置56、及び、記憶装置57を有する。CPU51は、OSOperatingSystem、及び、プログラム570を記憶装置57から読み出して、RAM53を作業メモリにして実行する。このプログラム570は、液滴吐出タイミングの補正値を算出する処理を行う。RAM53は必要なデータを一時保管する作業メモリ主記憶メモリになり、ROM52にはBIOSや初期設定されたデータ、ブートストラップローダ等が記憶されている。記憶媒体装着部54は、可搬型の記憶媒体320を装着するインタフェースである。通信装置55は、LANカードやイーサネット登録商標カードと呼ばれ、ネットワーク201に接続して、画像形成装置100の外部I/F311と通信する。なお、画像形成装置100には、少なくともサーバ200のIPアドレス又はドメイン名が登録されている。入力装置56は、キーボード、マウスなど、ユーザの様々な操作指示を受け付けるユーザインターフェイスである。タッチパネルや音声入力装置を入力装置とすることもできる。記憶装置57は、HDDHardDiskDriveやフラッシュメモリなどの不揮発メモリを実体とし、OS、プログラム等を記憶している。プログラム570は、記憶媒体320に記録された状態又は不図示のサーバ200からダウンロードされる態様で配布される。図30は、画像形成システム500の機能ブロック図の一例である。画像形成装置100の補正処理実行部は印字前後のn回スキャン部のみ有し、残りの機能はサーバ側が有する。サーバ側の機能を補正処理演算部620と称する。補正処理演算部620は印字前の同期化部、平均化部、フィルタ処理部、印字後の同期化部、平均化部、同期処理部613、パターン非存分除外処理部614、振幅補正処理部615、及び、吐出タイミング補正部616を有する。各ブロックの機能は実施例1と同様なので説明は省略する。画像形成システム500では、画像形成装置側のn回スキャン部が印字前と印字後のn個のデータをサーバ200に送信する。サーバ側の補正処理演算部620は、パターン非存分除外処理や振幅補正処理を行って、液滴吐出タイミングの補正値を算出する。サーバ200は液滴吐出タイミングの補正値を画像形成装置100に送信するので、ヘッド駆動制御部312は吐出タイミングを変更することができる。図31は、画像形成システム500の動作手順を示すフローチャート図の一例である。図示するように図26のS5,S8~S12をサーバ200が行い、これら以外の印字前後のn回のスキャンに必要な処理を画像形成装置100が行う。また、画像形成装置100とサーバ200が通信するため、画像形成装置100は、ステップS41において印字前のn個のスキャン結果を送信する処理、S71において印字後のn個のスキャン結果を送信する処理、を新たに行う。また、画像形成装置100は、S72において液滴吐出タイミングの補正値を受信する処理を新たに行う。これに対し、サーバ200は、S12において振幅補正処理を行い、S12の後、S13において、液滴吐出タイミングの補正値を画像形成装置100に送信する処理を新たに行う。このように、処理が行われる場所が変わるだけで、画像形成システム500は、実施例1と同様に、シート材の特性から受ける影響を抑制して、液滴吐出タイミングを高精度に補正することができる。"