"1あるエネルギースペクトル領域におけるシンチレーションパルスの平均ピーク値を取得し、前記ピーク値に基づき少なくとも3つの閾値電圧を設定し、2前記シンチレーションパルスの電圧がそれぞれの前記閾値電圧を超える時の時間を判定するとともに、前記時間と該時間に対応する閾値電圧がサンプリングポイントを形成し、3複数の前記サンプリングポイントを再構成サンプリングポイントとして選び、パルス波形を再構成し、4前記再構成パルス波形を使用することで、オリジナルシンチレーションパルスデータを取得することを特徴とする、シンチレーションパルス情報取得のための方法。ステップ1に示す、前記閾値電圧の設定において、1.1前記閾値電圧のうち最も高いものが前記ピーク値以下、前記ピーク値の0.7倍以上であり、1.2前記閾値電圧のうち最も低いものが前記ピーク値の0.1倍以下、0以上であり、1.3前記ピーク値の0.1倍から前記ピーク値の0.6倍の間の前記閾値電圧が1つ以上ある、請求項1記載のシンチレーションパルス情報取得のための方法。ステップ3に示す、前記再構成サンプリングポイントの選択において、前記パルスによってトリガーされる前記閾値電圧の数が3を超える場合、前記トリガーされる閾値電圧の最も高いものと前記トリガーされる閾値電圧の最も低いものとの間の少なくとも2つの前記閾値電圧によって発生する前記サンプリングポイントが前記再構成サンプリングポイントとして選択され、前記パルスによってトリガーされる前記閾値電圧の数が3以下の場合、前記トリガーされる閾値電圧の全てから発生する前記サンプリングポイントが前記再構成サンプリングポイントとして選択される、請求項1又は2に記載のシンチレーションパルス情報取得のための方法。前記再構成パルス波形は、aシンチレーションパルスモデルに基づき、前記パルスの立ち上がりエッジによって発生する前記再構成サンプリングポイントを使用することによって、前記シンチレーションパルスの立ち上がりエッジを再構成し、b前記シンチレーションパルスモデルに基づき、前記パルスの立ち下がりエッジによって発生する前記再構成サンプリングポイントを使用することによって、前記シンチレーションパルスの立ち下りエッジを再構成することを特徴とする、請求項1から3のうちいずれか1に記載のシンチレーションパルス情報取得のための方法。ステップ4に示す前記シンチレーションパルスデータは、時間情報、エネルギー情報、位置情報及び減衰時間定数を有し、前記時間情報は、前記再構成パルス波形の立ち上がりエッジがゼロレベルと交差する時の時間であり、前記エネルギー情報は、前記再構成パルス波形上でデジタル積分を行うことで取得され、前記位置情報は、4つの角度パルスの再構成波形のそれぞれのエネルギーを取得し比較することで取得され、前記減衰時間定数は、前記再構成パルス波形の立ち下りエッジの減衰指数を計算することで取得されることを特徴とする、請求項1記載のシンチレーションパルス情報取得のための方法。アナログインターフェースとしてのフロントエンド検出器に接続され、あるエネルギースペクトル領域におけるシンチレーションパルスの平均ピーク値に基づき、少なくとも3つの閾値電圧が設定されるように構成される閾値電圧設定モジュール100と、前記シンチレーションパルスの立ち上がりエッジの電圧と前記シンチレーションパルスの立ち下りエッジの電圧がそれぞれの前記閾値電圧に到達した時の時間を取得し、複数のサンプリングポイントを形成するように構成され、それぞれの前記サンプリングポイントは前記時間と該時間に対応する閾値電圧からなる時間サンプリングモジュール200と、前記時間サンプリングモジュール200で形成される前記複数のサンプリングポイントから、いくつかのサンプリングポイントを再構成サンプリングポイントとして選択するように構成され、パルスモデルに基づきシンチレーションパルス波形を再構成するように構成されるパルス再構成モジュール300と、前記再構成シンチレーションパルス波形に基づき、オリジナルシンチレーションパルスのパルスデータを取得するように構成されている情報取得モジュール400とを有することを特徴とする、シンチレーションパルス情報取得のための装置。請求項6に記載の装置において、前記閾値電圧設定モジュール100は、電圧設定モジュール110と弁別器モジュール120とを有し、前記電圧設定モジュール110は、前記あるエネルギースペクトル領域における前記シンチレーションパルスの前記ピーク値に基づき、前記閾値電圧を設定するように構成され、前記弁別器モジュール120は、前記シンチレーションパルスの前記電圧を前記閾値電圧と比較し、前記シンチレーションパルスの前記電圧が前記閾値電圧に到達した時にトリガー信号を発生するように構成される装置。請求項6又は7に記載の装置において、前記パルス再構成モジュール300は、サンプリングポイント選択モジュール310とフィッティング再構成モジュール320とを有し、前記サンプリングポイント選択モジュール310は、前記トリガー信号を発生した閾値電圧の数に基づき、適切なサンプリングポイントを選択し、前記適切なサンプリングポイントを前記フィッティング再構成モジュール320に送信するように構成され、前記フィッティング再構成モジュール320は、前記シンチレーションパルスモデルを再構成するように構成され、該再構成においてa前記シンチレーションパルスモデルに基づき、前記パルスの立ち上がりエッジによって発生する前記再構成サンプリングポイントを使用することで、前記シンチレーションパルスの立ち上がりエッジを再構成し、b前記シンチレーションパルスモデルに基づき、前記パルスの立ち下がりエッジによって発生する前記再構成サンプリングポイントを使用することで、前記シンチレーションパルスの立ち下がりエッジを再構成する装置。前記再構成サンプリングポイントを選択するように構成されている前記サンプリングポイント選択モジュールにおいて、前記パルスによって前記トリガーされる前記閾値電圧の数Nが3を超える場合、前記トリガーされる閾値電圧の最も高いものと最も低いものとの間の少なくとも2つの閾値電圧によって発生する前記サンプリングポイントが、前記再構成サンプリングポイントとして選択され、前記パルスによってトリガーされる前記閾値電圧の数Nが3以下の場合、前記トリガーされる閾値電圧の全てによって発生する前記サンプリングポイントが、前記再構成サンプリングポイントとして選択される、請求項8に記載の装置。前記情報取得モジュール400は、パルス時間情報取得モジュール410と、パルスエネルギー情報取得モジュール420と、パルス位置情報取得モジュール430と、パルス減衰時間定数取得モジュール440とを有し、前記パルス時間情報取得モジュール410は、前記シンチレーションパルス波形を再構成することによって、前記オリジナルシンチレーションパルスの時間情報を取得するように構成され、前記パルスエネルギー情報取得モジュール420は、前記シンチレーションパルス波形を再構成することによって、前記オリジナルシンチレーションパルスのエネルギー情報を取得するように構成され、パルス位置情報取得モジュール430は、前記シンチレーションパルス波形を再構成することによって、前記オリジナルシンチレーションパルスの位置情報を取得するように構成され、前記パルス減衰時間定数取得モジュール440は、前記シンチレーションパルス波形を再構成することによって、前記オリジナルシンチレーションパルスの減衰時間定数を取得するように構成される、請求項6から9のうちいずれか1に記載の装置。従来のシンチレーションパルスデータ取得システムにおいて、情報取得はアナログ回路やアナログ-デジタルの混合回路に基づいている。高速シンチレーションパルス信号は、アナログ増幅analog-amplifying、フィルタリング、統合などの作業によって処理される必要があり、温度や時間の変化によって、アナログ回路にドリフトが起きる可能性があり、そのため、検出装置の性能を最良の状態で維持することは難しい。さらに、アナログ増幅analog-amplifying、フィルタリング及び統合は、検出装置の特性に基づいて行われており、そのため、従来のシンチレーションパルス情報取得方法は、異なる検出装置への適用性が乏しい。シンチレーションパルス取得のための現存するデジタルのシンチレーションパルス情報取得方法のほとんどは、アナログからデジタルへのコンバーターADCに基づいている。シンチレーションパルスの立ち上がり時間は、一般的に1nsから10nsであり、減衰時間定数は、一般的に10nsから300ns検出装置のタイプに起因するであるため、許容可能な時間分解能のためには、ADCのサンプリングスピードを、1GHz以上とすることが要求され、許容可能なエネルギー分解能及び空間分解能のためには、ADCのサンプリングスピードを、200GHz以上とすることが要求される。また、高いADCサンプリングレートは、データ取得システムの構造を複雑にする高い処理速度及び高い伝送帯幅transmissionbandwidthを要求する。現存するデジタルのシンチレーションパルス情報取得システムでは、フィルタリングやシェイピングのための一部のアナログ回路は、サンプリングを低速ADCで行うため、いまだに高速シンチレーションパルスを低速信号に変換する必要がある。従って、シンチレーションパルスサンプリングのためのADCに基づく全デジタルのデータ取得システムall-degitaldataacquisitionsystemは、従来の技術で到達できない。現在、ガンマ光子検出のための方法及び装置が提供されている米国特許第7199370号。当該方法を利用することにより、ADCを使用することなく、エネルギー、ピークタイム及び減衰時間定数を取得することができる。当該方法によると、2つの参考電圧Vi及びVjが、事前にVj<Viとなるように設定され、パルスの立ち下りエッジ電圧がViの時と、パルスの立ち下りエッジ電圧がVjの時との時差tijが測定され、シンチレーションパルスの減衰時間定数Tを、次の式によって計算することができる。また、2つの参考電圧Vk及びVlが事前に設定され、パルス電圧の振幅がVkより大きい期間tkと、パルス電圧の振幅がVlより大きい期間tlとを測定し、シンチレーションパルスのピーク振幅Vpが、次の式によって計算できる。上記式においてs=Vl/VK-1であり、Vpはパルスエネルギーの相対的値を表すことができる。そして、参考電圧Vmが事前に設定され、パルスの立ち上がり電圧がVmの時と、パルスの立ち上がりが電圧Viの時との時差tmiが測定され、シンチレーションパルスのピークタイムtpが、次の式によって計算できる。しかしながら、この方法は次の3つの問題を有している。1当該方法により測定される時間は、パルス上の2つのポイントの期間であり、2つのポイントの絶対的時間でなく、従って、当該方法によって取得されるパルスのピークタイムtpは、パルスが生じる絶対的時間を表すことに代えて、全パルスの相対的時間、言い換えればピークが生じるパルスの期間を表しているだけであり、2シンチレーションパルスの位置情報は、当該方法では取得できず、3パルスエネルギーを取得するために、2つの参考電圧だけしか使用しないので、当該方法では、大きな誤差のパルスエネルギーが取得される。時間サンプリング原理に基づくMVTサンプリング方法という、新たなサンプリング方法が、2005年にQingguoXieetc.によって提唱された。MVTサンプリング法は、既定のサンプリング時間によって電圧をサンプルするADCサンプリング方法とは異なり、サンプリングポイントを取得するため、既定のサンプリング電圧によって時間をサンプルする。MVTサンプリング方法を使用してシンチレーションパルスの立ち上がりエッジをサンプルすることと、取得したサンプリングポイント上に直線当てはめlinearfittingを行うことで、オリジナルパルスの時間情報QingguoXie,Chien-MinKao,XiWang,NingGuo,CaigangZhu,HenryFrisch,WilliamW.Moses及びChin-TuChenPotentialsofDigitallySamplingScintillationPulsesinTimingDeterminationinPET,IEEETrans.Nucl.Sci.,2009年,第56巻,第5号,2607-2613ページ及びあるエネルギー波長領域におけるエネルギー情報H.Kim,C.Kao,Q.Xie,C.Chen,L.Zhou,F.Tang,H.Frisch,W.Moses,W.Choong,Amulti-thresholdsamplingmethodfortof-petsignalprocessing,NuclearInstrumentsandMethodsinPhysicsResearchSectionA:Accelerators,Spectrometers,DetectorsandAssociatedEquipment,2009年,第602巻,第2号,618-621ページを取得することができる。しかし、公表された当該2つの方法は、閾値電圧の数が少なく、設定方法が簡素であり、サンプリングポイントの全てが計測に用いられており、そのため、特にシンチレーションパルスの振幅が小さいとき、限られた閾値電圧によって、全てのエネルギー波長領域におけるシンチレーションパルスが十分に計測できないという欠点に至る。標準的振幅のシンチレーションパルスを抵抗回路により異なるサイズの4つのシンチレーションパルス角度信号に分割すること、4つのシンチレーションパルスの振幅エネルギーの比率を比較することにより、シンチレーションパルスの位置情報が取得できるが、4つのパルスの全ての振幅は小さいため、上記2つの方法を使用して、シンチレーションパルスの位置情報を取得することはできない。一般的シンチレーションパルス波形が図1に示され、当該波形は急に上昇する立ち上がりエッジとゆっくり降下する立ち下りエッジとを有する。立ち上がりエッジの上昇速度は、シンチレーションクリスタル及び光電子変換機によって決まり、立ち下りエッジの減衰スピードは、シンチレーションクリスタルの特性によって決まる。ノイズに関係なく、単体のシンチレーションパルスモデルは、複数の方法で表現することができる。一般に、単体のシンチレーションパルスは、直線的に上昇する立ち上がりエッジと急激に降下する立ち下りエッジとを有する仮想の信号モデルとして考えられる。当該仮想のシンチレーションパルス波形は図2に示され、当該波形モデルは、次の方程式1で表現される。上記式において、LineKは、立ち上がりエッジの直線の傾斜を示し、LineK>0であり、LineBは、任意の値とすることができる立ち上がりエッジの切片interceptであり、立ち上がりエッジの開始時間と直線的関係をもち、ExpKは、減衰時間定数であり、ExpK<0であり、パラメーターExpBは、任意の値とすることができ、立ち下がりエッジの開始時間と直線的関係をもち、tpは、パルスのピークタイムである。従って、仮想上のシンチレーションパルスは、LineK、LineB、ExpK及びExpBの4つのパラメーターによって表現される。シンチレーションパルス信号の開始時間、ピークタイム、ピーク振幅、エネルギー及び減衰定数等の情報は、それら4つのパラメーターから、次の式によって計算される。aパルスの開始時間t0bピークタイムtp、方程式3を解くことによって近似解が得られる。cピーク振幅VpdエネルギーEe位置PX,Y上記式において、E1、E2、E3及びE4は、それぞれパルスを構成する4つの角度信号のそれぞれのエネルギー値である。f減衰定数τ本発明の対象は、デジタルでシンチレーションパルス情報を取得する方法を提供することである。当該方法によれば、閾値電圧及び高精度タイマーを使用することによってシンチレーションパルスをサンプルし、シンチレーションパルス波形を再構成するために適切なサンプリングポイントが選択され、オリジナルパルスの時間情報、エネルギー情報、位置情報及び減衰時間定数等の情報が取得される。シンチレーションパルスデータ取得システムの安定性及び異なるタイプの検出装置への適応性を改善する当該方法によれば、アナログ回路とは完全に無関係に、デジタルで、シンチレーションパルスデータを取得及び処理できる。当該方法を満たす装置もまた、本発明によって提供される。本発明によって提供されるデジタルでシンチレーションパルス情報を取得する方法は、次のステップを有する。1シンチレーションパルスの特性に基づき複数の閾値電圧を設定し、2シンチレーションパルスの電圧がそれぞれの閾値電圧に上昇及び降下する時の時間を収集し、各時間及び各時間に対応する閾値電圧は、サンプリングポイントを形成し、3トリガーされる閾値電圧の数に基づき、適切なサンプリングポイントを選び、当該サンプリングポイントを使用することによって、シンチレーションパルス波形を再構成し、4再構成されたシンチレーションパルス波形から、オリジナルシンチレーションパルスの時間情報、エネルギー情報、位置情報及び減衰時間定数等の情報を取得する。デジタルでシンチレーションパルス情報を取得する本発明によって提供される装置は、閾値電圧設定モジュール、時間サンプリングモジュール、パルス再構成モジュール及び情報取得モジュールを有する。閾値電圧設定モジュールは、アナログインターフェースとしてのフロントエンド検出器に接続され、検出器によって生じるパルスの特徴に基づき、振幅をそれぞれの閾値電圧に設定することができる。時間サンプリングモジュールは、シンチレーションパルス電圧がそれぞれの閾値電圧に上昇する時の時間とシンチレーションパルス電圧がそれぞれの閾値電圧に降下する時の時間とを取得し、当該時間と該時間に対応する閾値電圧からなるサンプリングポイントを、パルス再構成モジュールに送信する。パルス再構成モジュールは、パルスモデルに基づき、サンプリングポイントを使用し、オリジナルのパルス波形を再構成し、情報取得モジュールは、再構成されたパルス波形を使用し、オリジナルパルスの時間情報、エネルギー情報、位置情報及び減衰時間定数等の情報を取得する。本発明に係る、デジタルでシンチレーションパルス情報を取得する方法において、検出されたシンチレーションパルスの特性に基づき複数の閾値電圧が初めに設定され、シンチレーションパルス電圧がそれぞれの閾値電圧に上昇又は降下する時の時間が正確に測定されるとともに、計測された時間及び計測された時間に対応する閾値電圧がサンプリングポイントを形成し、シンチレーションパルスによってトリガーされる閾値電圧の数とに基づき、適切なサンプリングポイントが選択され、シンチレーションパルスモデルに基づき、当該サンプリングポイントを使用することによって、オリジナルシンチレーションパルスが再構成され、そして、再構成されたシンチレーションパルス波形からオリジナルパルスの時間情報、エネルギー情報、位置情報及び減衰時間定数の情報が取得される。当該方法に基づき、シンチレーションパルスデータ取得システムの安定性及び異なるタイプの検出装置への適応性を改善する全デジタルのシンチレーションパルスデータ取得及び処理システムが達成される。当該方法を実行する装置もまた、本発明により提供される。本発明の技術的解決法を、添付図面と実施様態とを併せて、以下に詳述する。図3に示す様に、本発明に係る方法は、次のステップ1から4を有する。1次のステップ1.1から1.2を有し、シンチレーションパルスの特性に基づき、少なくとも3つの閾値電圧の設定を行う。1.1シンチレーションパルスの特性の取得、つまり、あるエネルギースペクトル領域における、シンチレーションパルスのピークの平均振幅ピークを取得する。当該エネルギースペクトル領域は、経験に基づき、ターゲットシンチレーションパルスのエネルギーに準じて設定され、通常は目的とするターゲットシンチレーションパルスエネルギーの-40から40を超えない。1.2シンチレーションパルスのピークの平均振幅ピークに準じて、少なくとも3つの閾値電圧の振幅を設定する。通常、もっとも高い閾値電圧はピーク以下、0.7ピーク以上に設定され、通常、最も低い閾値電圧は、0.1ピーク以下、0以上に設定される。0.1ピークから0.6ピークの間の閾値電圧の数は、1つ以上である。閾値電圧の数は、3以上であり、通常、閾値電圧の数に上限はない。他の閾値電圧は、閾値電圧の最も低いものと最も高いものとの間のどこにでも設定できる。2パルスの立ち上がりエッジが閾値電圧のそれぞれに上昇する時の時間と、パルスの立ち下りエッジがそれぞれの閾値電圧に降下する時の時間とを記録し、それぞれの時間と該時間に対応する閾値電圧がサンプリングポイントを形成する。シンチレーションパルスの電圧が閾値電圧Vを超える言い換えれば、閾値電圧Vをトリガーする時の時間tを記録する。tはすべての検出処理で、一次元データである。tのカウント精度は1ns以下であり、その誤差は500ps未満である。立ち上がりエッジのサンプリングポイントと立ち下りエッジのサンプリングポイントそれぞれに対応する、閾値Viに係るパルスの2つの時間サンプリングポイントSi1Vi,ti1とSi2Vi,ti2とが取得されるように、閾値Viに関し、シンチレーションパルスの電圧がViに上昇する時の時間ti1とシンチレーションパルスの電圧Viに降下する時の時間ti2とを記録する。3次のステップ3.1から3.4を有することで、再構成サンプリングポイントとして適切なサンプリングポイントを選択し、シンチレーションパルスモデルに基づきシンチレーションパルス波形を再構成する。3.1パルスによってトリガーされる閾値電圧の数Nが3を超える場合、トリガーされる閾値電圧のもっとも小さいものと大きいものとの間の少なくとも2つの閾値電圧によって発生するサンプリングポイントを再構成サンプリングポイントとして選択し、その際は、再構成サンプリングポイントとしてより多くのサンプリングポイントが選択されることが望ましく、パルスによってトリガーされる閾値電圧の数Nが3以下である場合、トリガーされる閾値電圧すべてによって発生するサンプリングポイントを再構成サンプリングポイントとして選択する3.2立ち上がりエッジ再構成パラメーターLineK及びLineBを得るため、次の方程式に基づき、シンチレーションパルスの立ち上がりエッジから生じる再構成サンプリングポイント上に、直線当てはめlinearfittingを行う。上記式において、LineKは立ち下りエッジの直線の傾斜であり、LineK>0であり、LineBは立ち上がりエッジの切片であり、任意の値とすることができ、xは時間サンプリングによって取得された時間であり、yxは時間xに対応する閾値電圧である。当該方法によると、パルスの立ち上がりエッジは他のシンチレーションパルスに基づき再構成される。3.3再構成のための立ち下りエッジ再構成パラメーターExpK及びExpBを得るため、次の方程式に基づき、シンチレーションパルスの立ち下りエッジから発生する再構成サンプリングポイント上に指数関数当てはめexponetfittingを行う。上記式において、ExpKは減衰時間定数であり、ExpK<0であり、パラメーターExpBは任意の値とすることができ、xは時間サンプリングにより取得された時間であり、yxは、時間xに対応する閾値電圧である。当該方法によれば、パルスの立ち下りエッジもまた他のシンチレーションパルスモデルに基づき再構成される。3.4パルス波形再構成のための4つのパラメーターLineK、LineB、ExpK及びExpBを取得する。4次のステップ4.1から4.4を有することで、再構成シンチレーションパルス波からオリジナルパルスの時間情報、エネルギー情報、位置情報及び減衰時間定数等の情報を取得する。4.1パルス時間t0を取得4.2パルスエネルギーEを取得4.3パルス位置PX,Yを取得上記式において、E1、E2、E3及びE4は、それぞれパルスを形成する4つの角度信号のエネルギー値である。4.4パルスの減衰時間定数τを取得図5は、本発明によって提供される方法を使用した、シンチレーションパルスの時間情報を取得することによって得られる時間分解能に準拠する結果のダイアグラムである。図6は、本発明によって提供される方法を使用した、シンチレーションパルスのエネルギー情報を取得することによって得られるガンマ光子エネルギー分解能の結果のダイアグラムである。図7は、本発明によって提供される方法を使用した、シンチレーションパルスの位置情報を取得することによって得られるPET検出器位置スペクトルの結果のダイアグラムである。図8は、本発明によって提供される方法を使用した、シンチレーションパルスの減衰時間定数を取得することによって得られる減衰時間定数分布の結果のダイアグラムである。本発明に係る、シンチレーションパルス情報を取得する装置のシステム構成ダイアグラムは図4に示される。当該装置は閾値電圧設定モジュール100、時間サンプリングモジュール200、パルス再構成モジュール300及び情報取得モジュール400を有する。閾値電圧設定モジュール100は、シンチレーションパルスの特徴に基づき、それぞれ区別された少なくとも3つの個別の閾値電圧を設定し、シンチレーションパルスの電圧がそれぞれの閾値電圧に上昇した時及びシンチレーションパルスの電圧がそれぞれの閾値電圧に降下した時にトリガー信号を発生し、トリガー信号を時間サンプリングモジュール200に送信するように構成されている。閾値電圧設定モジュール100は、電圧設定モジュール110と弁別器モジュール120の2つのサブモジュールを有する。電圧設定モジュール110は、シンチレーションパルスの特性に基づき、少なくとも3つの閾値電圧を自動または手動で設定するように構成されている。弁別器モジュール120は、シンチレーションパルスの立ち上がりエッジがそれぞれの閾値電圧に上昇した時及びシンチレーションパルスの立ち下がりエッジがそれぞれの閾値電圧に降下した時に、直ちにトリガー信号を発生し、トリガー信号を時間サンプリングモジュール200に送信するように設定されている。上記電圧設定モジュール110において、閾値電圧の数は少なくとも3である。閾値電圧の数は多い方が好ましいが、コストや技術開発の困難性等の要因によって制限される。閾値電圧の値は、シンチレーションパルスのピークの平均振幅の経験に基づき設定される。通常、最も高い閾値電圧は、ピーク以下、0.7ピーク以上に設定され、通常、最も低い閾値電圧は、0.1ピーク以下、0以上に設定され、0.1ピークから0.6ピークの間の閾値電圧の数は、1以上であり、他の閾値電圧は、最も高い閾値電圧と最も低い閾値電圧との間に設定することができる。時間サンプリングモジュール200は、閾値電圧設定モジュール100がトリガー信号を発生させた時の時間を計測するよう構成されるとともに、計測時間及び計測時間に対応する閾値電圧がサンプリングポイントを形成し、取得したサンプリングポイントをパルス再構成モジュール300に送信するように構成されている。パルス再構成モジュール300は、時間サンプリングモジュール200から取得したサンプリングポイントから、再構成サンプリングポイントを選択し、パルスモデルに基づき、シンチレーションパルス波形を再構成し、パラメーターとしてのシンチレーションパルス波形を情報取得モジュール400に送信する。パルス再構成モジュール300は、サンプリングポイント選択モジュール310とフィッティング再構成モジュール320を有する。サンプリングポイント選択モジュール310は、トリガー信号を発生した閾値電圧の数に基づき、適切なサンプリングポイントを選択するように構成され、適切なサンプリングポイントをフィッティング再構成モジュール320に送信するように構成されている。上記サンプリングポイント選択モジュール310は、トリガー信号を発生した閾値電圧の数に基づき適切なサンプリングポイントを選択する。当該選択において、パルスによってトリガーされる閾値電圧の数Nが3を超える場合、トリガーされる閾値電圧の最も高いものと最も低いものとの間の少なくとも2つの閾値電圧から発生するサンプリングポイントを再構成サンプリングポイントとして選択し、パルスによってトリガーされる閾値電圧の数Nが3以下の場合、トリガーされる閾値電圧のすべてから発生するサンプリングポイントを再構成サンプリングポイントとして選択する。フィッティング再構成モジュール320は次のステップaからcを行うように構成されている。a立ち上りエッジ再構成パラメーターLineK及びLineBを得るため、次の方程式に基づき、シンチレーションパルスの立ち上がりエッジによって発生する再構成サンプリングポイント上に直線当てはめlinearfittingを行う。上記式において、LineKは立ち上がりエッジの直線の傾斜であり、LineK>0であり、LineBは立ち上がりエッジの切片interceptであり、任意の値とすることができ、xは時間サンプリングによって取得された時間であり、yxは時間xに対応する閾値電圧である。当該モジュールもまた、他のシンチレーションパルスモデルに基づき、パルスの立ち上がりエッジを再構成することができる。b再構成のための立ち下りエッジ再構成パラメーターExpK及びExpBを得るため、次の方程式に基づき、シンチレーションパルスの立ち下りエッジから発生する再構成サンプリングポイント上に指数関数当てはめexponetfittingを行う。上記式において、ExpKは減衰時間定数であり、ExpK<0であり、ExpBは任意の値とすることができ、xは時間サンプリングにより取得された時間であり、yxは、時間xに対応する閾値電圧である。当該モジュールもまた、他のシンチレーションパルスに基づき、パルスの立ち下りエッジを再構成することができる。c4つのパラメーターLineK、LineB、ExpK及びExpBを情報取得モジュール400に送信する。情報取得モジュール400は、パルス再構成モジュール300から取得した4つのパルス波形再構成パラメーターLineK、LineB、ExpK及びExpBを使用することで、オリジナルパルスの時間情報、エネルギー情報、位置情報及び減衰時間定数等の情報を取得するように構成されている。情報取得モジュール400は、パルス時間情報取得モジュール410、パルスエネルギー情報取得モジュール420、パルス位置情報取得モジュール430及びパルス減衰定数取得モジュール440の4つのサブモジュールを有する。パルス時間情報取得モジュール410は、再構成された波形からオリジナルパルスの時間情報を取得するように構成されている。パルスエネルギー情報取得モジュール420は、再構成された波形からオリジナルパルスのエネルギー情報を取得するように構成されている。パルス位置情報取得モジュール430は、再構成された波形からオリジナルパルスの位置情報を取得するように構成されている。パルス減衰定数取得モジュール440は、再構成された波形からオリジナルパルスの減衰時間定数を取得するように構成されている。パルス時間情報取得モジュール410は、パルス時間t0で表されるパルス時間を取得する。パルスエネルギー情報取得モジュール420は、エネルギーEで表されるパルスエネルギーを取得する。パルス位置情報取得モジュール430は、パルス位置PX,Yで表されるパルス位置を取得する。上記式において、E1、E2、E3及びE4は、それぞれパルスを形成する4つの角度信号のエネルギー値である。パルス減衰定数取得モジュール440は、減衰定数τで表されるパルス減衰時間定数を取得する。本発明の方法及び装置は、陽電子放出断層撮影PETシステム、単光子放出コンピューター断層撮影SPECTシステム及びコンピューター断層撮影CTシステム等の様々な高エネルギー分子検出システム及び大型核医学画像装置に適用することができる。本発明は上記実施形態に限られない。当業者は、本開示内容に基づき、他の実施形態を使用することで、本発明を実施できる。従って、本発明の設計構成とコンセプトに基づき、単純な変更や修正をしたどんな設計も、本発明の保護範囲に含まれる。本発明によって提供される、シンチレーションパルス情報取得のための方法及び装置は、いくつかのパラメーターが関与する。優れた性能に到達するため、それらパラメーターは、特定の処理データに応じて調整される必要がある。ここでは、本実施形態の処理データのパラメーターが記載されている。ステップ1.1において、入力デジタルパルスは、10×10LYSOarraycrystal及びHamamatsuR8900PMTを使用することで取得したシンチレーションパルスであり、典型的な波形が図1に示され、サンプリングレートは10GSpsであり、4つの角度信号が収集され、500KeVから550KeVターゲットシンチレーションパルスのエネルギーは511KeVであるのエネルギースペクトル領域の高エネルギー光子は、平均ピーク約300mV、平均立ち上がりエッジ時間約5ns、検出器減衰時間定数47nsであるパルスを発生する。ステップ1.2において、4つの閾値電圧が設定され、閾値電圧の振幅はそれぞれ23mV、63mV、135mV及び239mVである。ステップ2.1において、カウント確度は160psであり、誤差は160psである。"