"記録媒体に光書込みを行う発光素子を備えた光書込装置において、前記発光素子の発光を検出する光検出部と、前記光検出部より取り出す前記発光素子の発光量に比例した電気量を平滑化する電気量平滑化手段と、電気量累積値を記憶するメモリと、制御部とを備え、前記制御部は、前記電気量平滑化手段によって平滑化された電気量について前記定期的にサンプリングを行い、当該サンプリングにより取得した電気量と前記メモリに記憶している電気量累積値とを足し算し、新しい電気量累積値を前記メモリに再記録する機能を有する、ことを特徴とする光書込装置。前記発光素子の発光時の温度を検出する発光素子温度センサを更に備え、前記メモリには、前記発光素子の発光時の温度とこの温度に対応した温度補正係数との一覧表であるテーブルが記憶され、前記制御部は、前記テーブルから前記発光素子温度センサが検出した前記発光素子の発光時の温度に対応した温度補正係数を読み出して、この温度補正係数を前記サンプリングした平滑化された電気量に乗算し補正後の電気量と前記メモリに記録している電気量の累積値を読み出して足し算を行い当該電気量累積値を前記メモリに再記録する機能を備えている、ことを特徴とする請求項1に記載の光書込装置。表示手段を更に備え、前記メモリには、前記発光素子の想定寿命到達時の想定寿命対応発光量累積値が記憶され、前記制御部は、前記電気量累積値が前記想定寿命対応発光量累積値を超えるまでの前記発光素子の残り寿命を算出し当該残り寿命を前記表示手段に表示する機能を有する、ことを特徴とする請求項1又は2に記載の光書込装置。前記制御部は、前記新しい電気量累積値を前記メモリに記録するとき、当該電気量累積値と前記想定寿命対応発光量累積値とを比較することにより、前記発光素子の劣化判定を行い、前記発光量累積値が前記想定寿命対応発光量累積値を超えているときには、前記発光素子の劣化到達の報知出力を前記表示手段及び/又は他の報知手段に行う機能を有する、ことを特徴とする請求項3に記載の光書込装置。前記発光素子はレーザダイードを有するレーザ素子であり、前記光検出部は前記レーザ素子に内蔵され前記フォトダイードのチップ背面から出る光を受光するモニタ用フォトダイオードであることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか一項に記載の光書込装置。特許文献1に開示された技術は、劣化判定を行うための点灯履歴の記録対象であるLD光量について、基準光量に対し大小比較しかできず連続的な光量の差異を検出できない、また、常に検出し続けるため、制御が煩雑となるという問題が存在する。特許文献2に開示された技術は、外部にレーザ光を受光する受光素子を設けるため、構成が複雑となる問題が存在する。本発明は、上述した点に鑑み案出されたもので、レーザ光を受光する受光素子を外部に設けることを廃止しうると共に検出頻度を落とすことができる簡単な構成を実現し、かつ検出の都度に高精度の発光量を検出し得て、これにより発光量の累積記録を高精度に行い得る、レーザ素子を用いた光書込装置を提供することを目的としている。上記目的を達成するために、本発明は、記録媒体に光書込みを行う発光素子を備えた光書込装置において、前記発光素子の発光を検出する光検出部と、前記光検出部より取り出す前記発光素子の発光量に比例した電気量を平滑化する電気量平滑化手段と、電気量累積値を記憶するメモリと、制御部とを備え、前記制御部は、前記電気量平滑化手段によって平滑化された電気量について前記定期的にサンプリングを行い、当該サンプリングにより取得した電気量と前記メモリに記憶している電気量累積値とを足し算し、新しい電気量累積値を前記メモリに再記録する機能を有する、ことを特徴とする。上記構成によれば、レーザ素子のPD端子に生じる電圧をLPFで鈍らせた波形を定期的にモニタリングする構成としたので、簡易な構成でありながら、LDの点灯時間と光量の両方が含まれた情報を記録できる。また、鈍らせて擬似的にDC波形としたPD電圧を測定するため、検出頻度を減らすことができる。測定したPD電圧情報をメモリに累積して行き、LD仕様規定条件での想定値と比較することで、劣化判定が可能となる。以下、本発明に係る光書込装置を実施するための形態を図面に基づいて説明する。本発明に係る光書込装置は、この実施形態では、例えばカラープリンタ等の画像形成装置のY,M,C,Kの4色の4つの作像プロセス部の内の1色の作像プロセス部を構成する光書込装置への適用例について説明する。すなわち、1つの光書込装置は、当該光書込装置が搭載される図示しない画像形成装置の1つの作像プロセス部を構成し、この作像プロセス部を構成する露光ドラムに書込み光パルス光を照射して潜像を形成する機能を有する。全体の概要図1は、本発明の実施形態の光書込装置に係る概略のブロック図を示す。図1に示すように、光書込装置100は、発光素子11と、発光素子駆動手段12と、制御部13と、ROM14と、RAM15と、外部メモリ16と、を備えてなる。さらに、光書込装置100は、発光素子11が付属して備えている光検出部としてのモニタ用フォトダイオードPhotoDiode:PD11bと、発光素子11が書込発光しているときにPD端子電圧を書込光の発光時間と光量の両方を含む電気量に対応したアナログ電気量を検出して平滑化する電気量平滑化手段17と、電気量平滑化手段17により平滑化したアナログ電気量をデジタル電気量に変換するA/D変換器18と、発光素子11の劣化到達時間寿命に関係する当該発光素子11の発光しているときの温度を検出する温度センサ19と、図3に示すデータテーブル23を表示する表示手段20と、寿命がきたことを報知するブザー等の報知手段図示しないとを備えてなる。モニタ用フォトダイオード11bのPD端子と発光素子駆動手段12とを接続しているパルス電流供給線21の中点と、制御部13のデジタル入力端子と、を接続するPD端子電圧取出線発光量検出線22が設けられ、このPD端子電圧取出線22の回路中に電気量平滑化手段17とA/D変換器18が配設されている。制御部13は、ROM14に格納された第1,2,3のプログラムをリードすることにより自身に、第1のプログラムに基づく光書込機能13aと、第2のプログラムに基づく発光量検出演算記憶機能13bと、第3のプログラムに基づくデータ表示報知機能13cを有する。第1のプログラムは、従来の同一で足りる。第2、第3のプログラムは、本発明特有のものである。光書込装置100は、制御部13が形成する光書込機能13aによって、原画原稿についてスキャナーで読み込んだ画像データを入力してRAM15に一時的に記憶し、この画像データを画像処理して画像書込み用制御信号を生成し発光素子駆動手段12に出力し、発光素子駆動手段12が画像書込み用制御信号に基づいて発光素子駆動信号を生成して発光素子11に出力し、発光素子11が発光素子駆動信号により書込光を記録媒体に照射して画像を記録する。この光書込機能13aは、従来技術と同一であるので、より詳細な説明は行わない。光書込装置100は、制御部13が形成する発光量検出演算記憶機能13bによって、発光素子11の発光時間と光量の両方が含まれた情報を検出し記録記憶し、温度補正及び累積発光量の演算を行い値を外部メモリ16に記録する。この機能は、光検出部11bと、電気量平滑化手段17と、A/D変換器18と、温度センサ19と、表示手段20と、報知手段図示しない及び制御部13が担持している。光書込装置100は、制御部13が形成するデータ表示報知機能13cによって、表示要求の外部信号が入力したときには、表示手段20に、上記の発光量検出演算記憶機能13bによって記録した各種データを掲載した図3に示すデータテーブル23を表示し、かつ、発光量累積値が劣化到達時の想定寿命対応発光量累積値を超えているときには、発光素子11が劣化に到達したことを表示手段20に表示報知すると共に報知出力をブザー等の報知手段図示しないにより報知する。これによって、発光素子11の劣化の度合い-劣化到達寿命-リユースの可否判断が行える。なお、想定寿命対応発光量累積値はレーザ素子の仕様で寿命規定を行っている規定条件の温度、点灯時間、光量での想定累積値を用いる。以下、分説する。発光素子11は、この実施形態においてレーザ素子を用いているが、限定する趣旨ではない。このレーザ素子11は、書込み光パルス光を発光するレーザダイオードLaserDiode:LD11aを有すると共に、チップ背面側にレーザダイオード11aの発光時のバックライト11cを受光しこのときモニタ電流が流れるアノードコモンタイプのモニタ用フォトダイオードPhotoDiode:PD11bを内蔵している。図2に示すように、アノードコモンタイプのレーザ素子11は、レーザダイオード11の発光時間と発光量と、モニタ用フォトダイオードPhotoDiode:PD11bのPD電圧とが比例する関係にある。この実施形態において、このPD電圧をりようするため、モニタ用フォトダイオード11bを光検出器としている。PDを内蔵するレーザ素子11を用いることで、構成が簡素化される。発光素子駆動手段12は、従来の光書込装置に採用されている同一の構成で足りる。発光素子11がレーザ素子であれば、発光素子駆動手段12は、レーザドライバである。RAM15は、制御部13が行う各種の処理作業において、作業エリアとして機能し、電気量等の各種の演算を行い、あるいは数値等を一次記憶する。外部メモリ16は、図3に示すデータテーブル23中の各種数値データが記憶する。表示手段20には、図3に示す、経過時間aと、PD電圧読み取り値bと、温度cと、温度補正係数dと、PD電圧読み取り値bと温度補正係数dとを乗算した補正後PD電圧値eと、補正後PD電圧値eを累積した電気量累積値fとを一覧表にしたデータテーブル23が表示される。経過時間aは、レーザ素子11の発光開始から各発光量検出時までの経過時間であり、ここでは、1時間単位で検出している。PD電圧読み取り値bは、電気量平滑化手段17で検出し平滑化したアナログ電圧をサンプリングしてデジタル値に変換したPD端子電圧であり、レーザ素子11の発光時間と発光量に比例する量である。温度cは、発光素子11が発光しているときに温度センサ19が検出する発光素子11の温度である。温度補正係数dは、発光素子11の発光温度cが影響を発光素子11の劣化到達時間に及ぼすので、PD電圧読み取り値bを発光温度を加味して補正する係数である。すなわち、レーザ素子11の劣化到達時間寿命の長短はレーザ素子11の発光温度にも依存する。発光温度が高い方が劣化が加速される。図3の例では、温度補正係数dについて、25°Cを基準にして値を1.00とし、25°Cよりも高温の時はLDの劣化が促進されるので、温度に対応して1.00よりも大きい値とし、25°Cよりも低温の時はLDの劣化が緩和されるので温度に対応して1.00よりも小さい値として設定されている。発光素子11の発光時の温度cと、各温度cに対応する温度補正係数dとは、図示しない別のテーブルデータとして外部メモリ16に記憶されていて、制御部13が、外部メモリ16に対し検出温度cを指定することで検出温度に対応した温度補正係数dをリードできるようになっている。電気量平滑化手段17は、ローパスフィルタLowPassFilter:LPFを用いることができる。LPF17は、光検出部11bより取り出すPD端子電圧を鈍らせて発光素子11の発光時間及び発光量に比例した電気量を平滑化する役目を果たす。図4は、PD端子電圧が規則的な矩形波である場合のLPF17による電気量の平滑化を示す図である。図5は、PD端子電圧が不規則的な波形である場合のLPF17による電気量の平滑化を示す図である。図4、図5において、それぞれ実線で示す波形はLPF17に通す前のPD端子電圧値を示し、レーザ素子11の発光に対応した波形となる。点線は実線で示す規則的な矩形波をLPF17に通して電圧値を鈍らせた後のPD端子電圧値を示す。このPD端子電圧値は、PD端子に発生した電圧レベルの時間積分値が等しくなるようなDC電圧値となるため、検出頻度を低くすることが可能であり、常に検出し続ける必要が無い。A/D変換器18は、電気量平滑化手段17で平滑化された電気量アナログ量を制御部13が入力して取り扱うことができる所定の分解能のデジタル量に変換する。なお、制御部13が、アナログ入力端子を有するCPUあるいはマイクロコンピュータを用いて、このアナログ入力端子にPD端子電圧取出線発光量検出線22を接続する場合には、A/D変換器18は不要である。温度センサ19は、サーミスタ、熱電対、あるいは放射温度計などを用いることができ、レーザ素子11に接触または近接して設けられている。温度センサ19にてレーザ素子11の発光時の温度を測定し、制御部13に入力して温度補正係数dを用いて演算することで、より精度の高い劣化判定が可能となる構成とされている。なお、本願の最も広い発明は、温度補正を行わない場合も含んでいる。制御部13は、レーザ素子11の発光時間及び発光量に対応した電気量を取り出して平滑化したPD電圧読み取り値bを外部メモリ16に記憶すると共に、温度センサ19が検出するレーザ素子11の発光温度のデジタルデータを入力し、この温度データに対応する温度補正係数dを外部メモリ16からリードし、平滑化電気量に対して温度補正係数dを乗じることで、その結果値である補正後PD電圧値eを電気量累積値fとして記録していく。この結果、温度によるLD劣化への影響も加味されたより高い精度での劣化判定が可能となり、予め定めた基準値を累積値が超えるかどうかで、劣化の○×判定が可能となる。累積値を用いて、劣化の進み具合、寿命を超えたかどうか、寿命までの残り時間を演算することができるが、それを表示する機能を持つことで、ユーザーが劣化に気付くこと、寿命に到達する前に予めサービスマンに連絡する等、便利となる。以下、制御部13の動作の詳細を図6に示すフロー図を参照し説明する。図6は、制御部13がROM14に記憶された第2のプログラムをリードして、制御部自身が形成する発光量検出演算記憶機能13bの動作工程を示すフロー図である。このプログラムは、発光素子11の発光時間及び発光量を検出するために、一定時間毎に起動スタートし、以下に説明する一連のステップで示す動作を行って終了エンドする。まず、ステップS1で、発光素子11の最初の発光時点から当該検査時までの一定時間この例では1時間としている。経過毎に当該経過時間をデータテーブル23の記録となるように外部メモリ16に記録する。ステップS2で、PD端子電圧取出線発光量検出線22に配設された電気量平滑化手段17が、発光素子11の発光時間及び発光量に対応するPD端子電圧を入力して平滑化し制御部13のデジタル入力端子に常時入力している電気量をサンプリングしその値をPD電圧読み取り値bとしてデータテーブル23の記録となるように外部メモリ16に記録する。ステップS3で、温度センサ19が発光素子11の発光時の温度を測定しその温度に対応してデジタル信号に変換され制御部13のデジタル入力端子に常時入力しているデジタルな温度値cをサンプリングし、当該サンプリングした温度値cをデータテーブル23の記録となるように外部メモリ16に記憶する。ステップS4で、外部メモリ16の別のデータテーブルから検出温度cに対応した温度補正係数dをリードし、データテーブル23の記録となるように外部メモリ16に記憶する。ステップS5で、PD電圧読み取り値bと温度補正係数dとを乗算し、補正後PD電圧値eを算出しデータテーブル23の記録となるようにデータテーブル23に記録する。ステップS6で、補正後PD電圧値eとそれまでの最新の累積PD電圧値fとを加算し、加算結果値を最新の累積PD電圧値fとしてデータテーブル23に記録する。この場合、最初の記録前の累積PD電圧値eはゼロである。ステップS7で、累積PD電圧値fが劣化到達時の想定寿命対応発光量累積値を超えているか否かを判断する。想定寿命対応発光量累積値は、外部メモリ16に予め記録されており、このステップS7のときにリードする。ステップS7で、累積PD電圧値fが劣化到達時の想定寿命対応発光量累積値を超えているYESと判断する場合、ステップS8に進んで、表示手段20に、劣化到達を表示しかつデータテーブル23を表示すると共に、ブザーや振動子などの報知手段図示しないにより音声や振動によって劣化到達を報知して、エンドに進む。このように、劣化を検知すると装置が自らその情報を報知するので、使用者が注意していなくてもLDの劣化に気付くことができる。定期的に累積値を確認する必要がなく、また寿命が来たらいきなり知らせるのではなく、残り寿命を常に表示することでユーザー、サービスが早めの対応が可能となる。さらに、劣化情報を通信でサービスマンが遠方にて確認する手段があれば、タイムリーなサービスが可能となるメリットも備えることになる。ステップS7で、累積PD電圧値fが劣化到達時の想定寿命対応発光量累積値を超えていないNOと判断する場合、エンドに進む。続いて、制御部13がROM14に記憶された第3のプログラムをリードして、制御部自身が形成する表示報知機能13cの動作について説明する。この表示報知機能13cについては、特にフロー図を示していない。この表示報知機能13cは、入力装置図示しないを介してデータテーブル23の表示を要求する外部命令が制御部13に入力したときにスタートし、表示手段20に図1に示すデータテーブル23を表示する。データテーブル23の表示の消去を要求する外部命令が制御部13に入力したときにエンドとなる。従って、いつでも何回でも表示手段20に図1に示すデータテーブル23を表示して、経過時間累積使用時間及び累積PD電圧値eと想定寿命対応発光量累積値fの割合を見ることによって、レーザ素子11の劣化の度合い、寿命までの残り時間が分かり、カラープリンタ等の画像形成装置の回収時にリユースが可能であるか否かを判断することができる。すなわち、マシン回収時の累積PD電圧値eの想定寿命対応発光量累積値fとの差分が、装置を市場でもう1サイクル使用しても問題無い程度に大きければリユース可能である、といったリユース可否判断の基準にも利用できる。要するに、上記構成の光書込装置によれば、レーザのPD端子に生じる電圧をLowPassFilterで鈍らせ、その波形を定期的にモニタリングすることで、LDの点灯時間と光量の両方が含まれた情報を簡易的な構成で記録でき、尚且つ読み取った値をメモリに累積して行き、LD仕様規定条件での想定値と比較することにより、劣化判定を行うことが特徴になっている。そして、LPF後のPD電圧を定期的に読み取った値を、メモリに累積して行く。この累積値はLDの点灯時間と発光量両方の情報を持つトータルの発光エネルギーと相関があり、この累積値が大きければ大きいほどレーザの劣化が進んでいると判断できる。この累積値累積PD電圧値eを予め定めた基準値想定寿命対応発光量累積値fと比較することで、レーザが寿命を迎えたかどうかを判定可能である。予め定める基準値はレーザ素子の仕様で寿命規定を行っている規定条件の温度、点灯時間、光量での想定累積値を用いる。累積値がこの基準値を超えればLDは寿命を迎えたと考えられる。また、マシン回収時の累積値の基準値との差分が、装置を市場でもう1サイクル使用しても問題無い程度に大きければリユース可能である、といったリユース可否判断の基準にもできる。<その他の実施形態>本発明は、上記の実施形態に限定されるものでなく、特許請求の範囲の技術的範囲には、発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々、設計変更した形態が含まれる。上記実施形態では、発光素子としてアノードコモンタイプのレーザ素子を用いた構成について説明した。カソードコモンのレーザ素子では光量が高くなると、PD電圧が下がる。しかし、本発明の思想は、カソードコモンのレーザ素子でも適用可能である。上記実施形態では、温度センサを備えて発光素子の発光時の温度を検出し検出温度に対応した温度補正係数を用いて発光量を補正し補正した発光量を累積した値を用いて劣化の度合いを判断しているが、本発明は、温度センサを備えていない簡素な構成とした場合も含む。この場合には、制御部13は、温度補正を行わないで発光量を累積し、想定値と比較して劣化に到達しているか否かを判断する。さらに本発明は、累積発光量が想定値を超えたときに劣化に到達したことを報知する報知手段を備えていない一層簡素な構成とした場合も含む。この場合には、制御部13は、累積発光量が想定値を超えたか否かの演算を行わない。本発明は、以下の形態を含んでいる。<付記1>請求項1対応:電気量累積値を記録する機能記録媒体に光書込みを行う発光素子を備えた光書込装置において、前記発光素子の発光を検出する光検出部と、前記光検出部より取り出す前記発光素子の発光量に比例した電気量を平滑化する電気量平滑化手段と、電気量累積値を記憶するメモリと、制御部とを備え、前記制御部は、前記電気量平滑化手段によって平滑化された電気量について前記定期的にサンプリングを行い、当該サンプリングにより取得した電気量と前記メモリに記憶している電気量累積値とを足し算し、新しい電気量累積値を前記メモリに再記録する機能を有する、ことを特徴とする。この構成によれば、LD素子の内蔵PD電圧をLPFで鈍らせた電圧値を定期的に読み取り、累積するので、簡易的な構成、制御にて精度良く積み上げられた劣化情報を知り得るから、簡単な構成精度良くレーザの劣化判定が可能となる。<付記2>請求項2対応:発光素子の発光温度を加味し補正した電気量累積値を記録する機能付記1に記載の光書込装置について、前記発光素子の発光時の温度を検出する発光素子温度センサを更に備え、前記メモリには、前記発光素子の発光時の温度とこの温度に対応した温度補正係数との一覧表であるテーブルが記憶され、前記制御部は、前記テーブルから前記発光素子温度センサが検出した前記発光素子の発光時の温度に対応した温度補正係数を読み出して、この温度補正係数を前記サンプリングした平滑化された電気量に乗算し補正後の電気量と前記メモリに記録している電気量の累積値を読み出して足し算を行い当該電気量累積値を前記メモリに再記録する機能を備えている、ことを特徴とする。この構成によれば、温度係数にて補正したPD電圧を累積する事で、より精度の高い劣化判定が可能となる。<付記3>請求項1又は2対応:発光素子の残り寿命の表示付記1又は2の光書込装置について、表示手段を更に備え、前記メモリには、前記発光素子の想定寿命到達時の想定寿命対応発光量累積値が記憶され、前記制御部は、前記電気量累積値が前記想定寿命対応発光量累積値を超えるまでの前記発光素子の残り寿命を算出し当該残り寿命を前記表示手段に表示する機能を有する、ことを特徴とする。この構成によれば、事前に定めた基準値を累積値が超えるかどうかで、劣化の○×判定が可能となち、寿命が来たらいきなり知らせるのではなく、残り寿命を常に表示する事でユーザー、サービスが早めの対応が可能となる。<付記4>請求項3対応:劣化到達の報知付記3の光書込装置について、前記制御部は、前記新しい電気量累積値を前記メモリに記録するとき、当該電気量累積値と前記想定寿命対応発光量累積値とを比較することにより、前記発光素子の劣化判定を行い、前記発光量累積値が前記想定寿命対応発光量累積値を超えているときには、前記発光素子の劣化到達の報知出力を前記表示手段及び/又は他の報知手段に行う機能を有する、ことを特徴とする。この構成によれば、劣化を検知すると装置が自らその情報を発信するので、使用者が注意していなくてもLDの劣化に気付く事ができる。定期的に累積値を確認する必要もない。<付記5>請求項1ないし4対応:発光素子と光検出部の構成付記1ないし4の光書込装置について、前記発光素子はレーザダイードを有するレーザ素子であり、前記光検出部は前記レーザ素子に内蔵され前記フォトダイードのチップ背面から出る光を受光するモニタ用フォトダイオードであることを特徴とする。この構成によれば、簡易的な構成でレーザ点灯時間と発光量の両方を踏まえた点灯履歴を見積もり、精度良くLD劣化判定をすることができる。"