"外周に紫外線硬化型の樹脂を塗布した光ファイバに紫外線を照射して前記樹脂を硬化させ、前記樹脂硬化後の光ファイバの形状を光学的に検査しながら巻き取る光ファイバの製造方法であって、前記樹脂に紫外線を照射する紫外線照射装置と光ファイバの形状を光学的に検査する光学検査装置との間で、走行する光ファイバへクリーンガスを吹き付けるとともに、吹き付けたクリーンガスを吸引することにより、光ファイバの樹脂硬化時に生じる揮発成分を除去することを特徴とする光ファイバの製造方法。請求項1に記載の光ファイバの製造方法であって、前記紫外線照射装置と前記光学検査装置との間に、前記光ファイバがその内部を通過するボックスを設け、前記ボックス内で通過する光ファイバにクリーンガスを吹き付けるとともに、光ファイバに吹き付けられたクリーンガスを前記ボックス内で吸引することを特徴とする光ファイバの製造方法。請求項1または2に記載の光ファイバの製造方法であって、前記クリーンガスが吹き付けられる前記光ファイバの単位時間及び単位長さ当たりの風量を、0.04m3/secm以上0.19m3/secm以下とすることを特徴とする光ファイバの製造方法。請求項1から3の何れか一項に記載の光ファイバの製造方法であって、前記クリーンガスを吸引する排気圧を、0.3kPa以上0.7kPa以下とすることを特徴とする光ファイバの製造方法。外周に紫外線硬化型の樹脂が塗布された光ファイバに紫外線を照射して前記樹脂を硬化させる紫外線照射装置と、前記樹脂硬化後の光ファイバの形状を光学的に検査する光学検査装置と、前記紫外線照射装置と前記光学検査装置との間で、走行する光ファイバへクリーンガスを吹き付けるとともに、吹き付けたクリーンガスを吸引することにより、光ファイバの樹脂硬化時に生じる揮発成分を除去する揮発成分除去装置と、を備えていることを特徴とする光ファイバの製造装置。線引き工程では、外径測定やコブ検出のための光学検査機器を使用するが、UV樹脂の揮発成分がそれらの機器のレンズ等へ付着すると、曇りによる検査不良などの不具合が生じてしまう。したがって、これらの揮発成分を除去しながら線引きすることが望ましいが、特許文献1に記載の技術では、揮発成分を十分に除去するためには光ファイバの周囲を十分冷却する必要があるため、光ファイバ通過孔径を極力小さくする必要があり、孔径を小さくすると光ファイバが周囲に接触し、光ファイバが損傷してしまうおそれがある。また、特許文献2に記載の技術でも、揮発成分を十分に除去するためには、光ファイバを通すトラップゲートの孔径を極力小さくする必要があり、孔径を小さくすると光ファイバがトラップゲートに接触し、光ファイバが損傷してしまうおそれがある。本発明の目的は、光ファイバに損傷を与えることなく光学検査装置にUV樹脂の揮発成分が付着することを防ぐことにより、高品質な光ファイバを製造することが可能な光ファイバの製造方法及び製造装置を提供することにある。上記課題を解決することのできる本発明の光ファイバの製造方法は、外周に紫外線硬化型の樹脂を塗布した光ファイバに紫外線を照射して前記樹脂を硬化させ、前記樹脂硬化後の光ファイバの形状を光学的に検査しながら巻き取る光ファイバの製造方法であって、前記樹脂に紫外線を照射する紫外線照射装置と光ファイバの形状を光学的に検査する光学検査装置との間で、走行する光ファイバへクリーンガスを吹き付けるとともに、吹き付けたクリーンガスを吸引することにより、光ファイバの樹脂硬化時に生じる揮発成分を除去することを特徴とする。本発明の光ファイバの製造方法において、前記紫外線照射装置と前記光学検査装置との間に、前記光ファイバがその内部を通過するボックスを設け、前記ボックス内で通過する光ファイバにクリーンガスを吹き付けるとともに、光ファイバに吹き付けられたクリーンガスを前記ボックス内で吸引することが好ましい。本発明の光ファイバの製造方法において、前記クリーンガスが吹き付けられる前記光ファイバの単位時間及び単位長さ当たりの風量を、0.04m3/secm以上0.19m3/secm以下とすることが好ましい。本発明の光ファイバの製造方法において、前記クリーンガスを吸引する排気圧を、0.3kPa以上0.7kPa以下とすることが好ましい。本発明の光ファイバの製造装置は、外周に紫外線硬化型の樹脂が塗布された光ファイバに紫外線を照射して前記樹脂を硬化させる紫外線照射装置と、前記樹脂硬化後の光ファイバの形状を光学的に検査する光学検査装置と、前記紫外線照射装置と前記光学検査装置との間で、走行する光ファイバへクリーンガスを吹き付けるとともに、吹き付けたクリーンガスを吸引することにより、光ファイバの樹脂硬化時に生じる揮発成分を除去する揮発成分除去装置と、を備えていることを特徴とする。本発明によれば、紫外線硬化型樹脂に紫外線を照射する紫外線照射装置と光ファイバの形状を光学的に検査する光学検査装置との間で、走行する光ファイバの樹脂硬化時に生じる揮発成分を、光ファイバを損傷させることなく簡便な方法で除去することができる。これにより、光学検査装置のレンズ等へ付着する揮発成分量を抑制することができ、レンズ等の曇りによる検査不良などの不具合なく光ファイバの形状を良好に検査することができ、高品質な光ファイバを製造することができる。以下、本発明に係る光ファイバの製造方法及び製造装置の実施の形態の例について説明する。図1に示すように、光ファイバの製造装置1は、その最も上流側に、光ファイバ母材Gを加熱する加熱炉2を備えている。加熱炉2は、内側に光ファイバ母材Gが供給される円筒状の炉心管3と、この炉心管3を囲む発熱体4とを備え、発熱体4の発熱により炉心管3が昇温することで、その内側の空間に光ファイバ母材Gを軟化させる加熱領域が形成される。また、加熱炉2には、加熱領域にパージガスを供給するガス供給部5が設けられている。光ファイバ母材Gは、送り手段6によってその上部が把持されて、炉心管3の内側の加熱領域にその下端部分が位置するように加熱炉2内に送られ、下方に引き伸ばされて細径化され、樹脂被覆前の光ファイバ以下、ガラスファイバというG1が形成される。加熱炉2の下下流側には、ヘリウムガス等の冷却ガスを用いた冷却装置7が設けられており、これにより、ガラスファイバG1は冷却され、例えばレーザ光式の外径測定器8によりその外径が測定される。外径測定器8の下流側には、ガラスファイバG1に紫外線硬化型樹脂を塗布するダイス9及び塗布された紫外線硬化型樹脂を硬化させるための紫外線照射装置10が順に設けられている。このダイス9及び紫外線照射装置10を通過したガラスファイバG1は、その外周に紫外線硬化型樹脂の被覆層が形成され、光ファイバG2とされる。この紫外線照射装置10の下流側には、光学検査装置11が設けられている。そして、この光学検査装置11によって、光ファイバG2の被覆層が監視される。この光学検査装置11は、気泡検出器、外径測定器あるいはコブ凹凸検出器等の検出器であって、光ファイバG2の被覆層における気泡の有無、被覆層の外径あるいは被覆層におけるコブ凹凸の有無を光学的例えばレーザ光式に検出し、不良の発生を監視する光学機器である。この光学検査装置11の通過後、光ファイバG2は、ガイドローラ12,13を介してキャプスタン14により引き取られ、スクリーニング装置15及びダンサローラ16,17を介して巻き取りボビン18に送られて巻き取られる。図2に示すように、紫外線照射装置10と光学検査装置11との間には、揮発成分除去装置21が設けられている。この揮発成分除去装置21は、ボックス22を有している。このボックス22は、その上部が開放された箱体からなるものであり、底板23には、通過孔24が形成されている。そして、光ファイバG2は、ボックス22の上部からボックス22内を通過し、通過孔24へ通されて下流側へ送り出される。なお、この揮発成分除去装置21は、紫外線照射装置10から極力離れた光学検査装置11の直上位置に配置することが好ましい。このボックス22には、その一側部に、ガス噴射管25が接続され、他側部には、ガス吸引管26が接続されている。ボックス22には、ガス噴射管25から清浄空気であるクリーンガスが噴射される。これにより、このボックス22内を通過する光ファイバG2には、ガス噴射管25から噴射されるクリーンガスが吹き付けられる。したがって、光ファイバG2の表面近傍に存在している揮発成分がクリーンガスによって吹き飛ばされる。そして、光ファイバG2に吹き付けられて揮発成分を吹き飛ばしたクリーンガスは、ガス吸引管26によって揮発成分とともに吸引されて排気される。ガス噴射管25及びガス吸引管26の断面形状は、円形、矩形を問わない。なお、ここではボックス22を設ける形態を例に説明したが、必ずしもボックス22を設ける必要はなく、走行する光ファイバG2にクリーンガスを吹き付け、吹き付けられたクリーンガスを吸引するだけでもよい。ガス噴射管25から光ファイバG2に吹き付けられるクリーンガスは、光ファイバG2の単位時間及び単位長さ当たりの風量を、0.04m3/secm以上0.19m3/secm以下とすることが好ましい。また、クリーンガスを吸引するガス吸引管26での排気圧は、0.3kPa以上0.7kPa以下とすることが好ましい。次に、上記の光ファイバの製造装置1を用いて光ファイバG2を製造する方法について説明する。まず、加熱炉2に光ファイバ母材Gを投入し、発熱体4によって加熱して下方に引き延ばし、細径化されたガラスファイバG1を、線速1600m/min程度で線引きする。線引きしたガラスファイバG1の外周に、ダイス9によって紫外線硬化型樹脂を塗布し、さらに、紫外線照射装置10によって紫外線硬化型樹脂に紫外線を照射して硬化させ、樹脂が被覆された光ファイバG2とする。このとき、光ファイバG2では、紫外線が照射されて硬化する際に、硬化時の発熱などにより樹脂中の成分が揮発し、その揮発成分が表面側へ浮き出して光ファイバG2の表面に存在した状態となる。その後、樹脂が被覆された光ファイバG2は、揮発成分除去装置21のボックス22を通過する際に、ガス噴射管25から噴射されるクリーンガスによって、表面に存在している揮発成分が吹き飛ばされ、吸引されることにより除去される。さらに、光ファイバG2は、光学検査装置11を通過することにより、この光学検査装置11で被覆層における気泡の有無、被覆層の外径あるいは被覆層におけるコブの有無等の形状が光学的に検査される。このとき、光ファイバG2は、揮発成分除去装置21で揮発成分が除去されている。したがって、光学検査装置11の光学レンズへの揮発成分の付着が抑制され、よって、この光学検査装置11での形状検査が良好に行われる。形状検査が行われた光ファイバG2は、ガイドローラ12,13に巻回された後、キャプスタン14によって引き取られて所定の張力が加えられ、スクリーニング装置15及びダンサローラ16,17を介して巻き取りボビン18に送られて巻き取られる。このように、上記実施形態によれば、紫外線硬化型樹脂に紫外線を照射する紫外線照射装置10と光ファイバG2の形状を光学的に検査する光学検査装置11との間で、走行する光ファイバG2の樹脂硬化時に生じる揮発成分を、光ファイバG2を損傷させることなく簡便な方法で除去することができる。これにより、光学検査装置11のレンズ等へ付着する揮発成分量を抑制することができ、レンズ等の曇りによる誤検査などの検査不良なく、光ファイバG2の形状を良好に検査することができ、高品質な光ファイバG2を製造することができる。また、ボックス22を設置することにより、ボックス22内を通過する光ファイバG2にクリーンガスを吹き付けるとともに、ボックス22内で光ファイバG2に吹き付けられたクリーンガスを吸引するので、外気の影響を受けず、また外部への悪影響を抑えつつ、光ファイバG2へ確実にクリーンガスを吹き付けてボックス22内に封じ込めた揮発成分を除去することができる。また、光ファイバG2に吹き付けるクリーンガスの風量を、光ファイバG2の単位長さ当たり0.04m3/secm以上0.19m3/secm以下とすれば、風量不足により揮発成分の除去効果が不十分となることがなく、また、過剰な風量による光ファイバG2の振れを抑えながら、揮発成分を除去することができる。さらに、クリーンガスを吸引する排気圧を、0.3kPa以上0.7kPa以下とすれば、吸引不足により揮発成分の除去効果が不十分となることがなく、また、過剰な吸引による光ファイバG2の振れを抑えながら、揮発成分を除去することができる。なお、上記の実施形態では、本発明を線引きしたガラスファイバに紫外線硬化型樹脂を塗布して被覆する場合に適用したが、本発明は樹脂が被覆された光ファイバに、着色用の紫外線硬化型樹脂を塗布して被覆する場合にも適用可能である。上記実施形態に係る製造装置によって、定常時の線速1600m/minで1000kmの光ファイバを線引きした後でのレーザ式のコブ検出器における電圧保持率Vrを測定した。なお、電圧保持率Vrは、線引き開始前における受光電圧Vsに対する1000kmの線引き終了時の受光電圧Veの割合Vr=Ve/Vs×100とした。ここで、コブ検出器等の光学機器では、受光電圧の保持率が低下するほど検出精度が低下する。したがって、この電圧保持率Vrに基づいて、検出精度を評価することができる。電圧保持率Vrは、90以上であれば、1本の光ファイバ母材Gからの光ファイバG2の線引き中における良好な検出精度を確保することができる。単位時間及び単位長さ当たりの風量変化時の電圧保持率直径6mmの円形断面を有するガス噴射管から、クリーンガス清浄空気を走行する光ファイバに吹き付け長6mmで吹き付け、排気圧を一定の排気圧0.1kPaとし、単位時間及び単位長さ当たりの風量を変化させた。なお、ボックスは設けず、光ファイバに対してクリーンガスの吹き付け及び排気を直接行った。測定結果を表1及び図3に示す。表1及び図3に示すように、単位時間及び単位長さ当たりの風量が0.014m3/secm以下では、コブ検出器での電圧保持率Vrが90に達せず、また、単位時間及び単位長さ当たりの風量が0.194m3/secmでは、光ファイバに振れが生じて安定した線引きが困難となった。そして、単位時間及び単位長さ当たりの風量が0.028m3/secm~0.167m3/secmのとき、コブ検出器における電圧保持率Vrが90以上であった。また、風量を一定の0.00067m3/secとし、排気圧を一定の排気圧0.1kPaとし、ガス噴射管を構成する円形断面の内径を変化させることにより、ガスの吹き付け長を変化させて単位時間及び単位長さ当たりの風量を変化させた。なお、ボックスは設けず、光ファイバに対してクリーンガスの吹き付け及び排気を直接行った。測定結果を表2及び図4に示す。表2及び図4に示すように、単位時間及び単位長さ当たりの風量が0.028m3/secm以下では、コブ検出器での電圧保持率Vrが90に達せず、また、単位時間及び単位長さ当たりの風量が0.222m3/secmでは、光ファイバに振れが生じて安定した線引きが困難となった。そして、単位時間及び単位長さ当たりの風量が0.037m3/secm~0.167m3/secmのとき、コブ検出器における電圧保持率Vrが90以上であった。図3及び図4のグラフから、単位時間及び単位長さ当たりの風量の最適範囲を求めると、0.04m3/secm以上0.19m3/secm以下が好ましいことがわかる。排気圧変化時の電圧保持率直径6mmの円形断面を有するガス噴射管からクリーンガス清浄空気を、吹き付け長6mmで吹き付け、単位時間及び単位長さ当たりの風量を一定の風量0.111m3/secmとし、排気圧を変化させた。なお、ボックスを設けない場合とボックスを設けた場合でそれぞれ測定した。測定結果を表3及び図5に示す。表3及び図5に示すように、排気圧を0.1kPa~0.8kPaの間で、0.1kPa毎に変化させた結果、ボックスを設けない場合及びボックスを設けた場合の何れの場合も、排気圧0.8kPaでは、光ファイバに振れが生じて安定した線引きが困難となった。そして、排気圧を0.1kPa~0.7kPaとすれば、ボックスを設けない場合及びボックスを設けた場合の何れの場合も、コブ検出器における電圧保持率Vrが90以上であった。特に、ボックスを設けた場合は、コブ検出器における電圧保持率Vrをさらに高めることができ、排気圧0.3kPa~0.7kPaでは、次回の光ファイバの線引き時にコブ検出器の清掃を不要とすることも可能な97となった。"