少なくとも、画素電極を有する第一電極基板と、対向電極を有する第ニ電極基板と、前記第一電極基板と前記第二電極基板とを貼り合わせるシール剤と、前記第一電極基板と前記第二電極基板との隙間に注入される液晶とを有する液晶表示素子であって、前記第一電極基板と前記第二電極基板のうち少なくとも何れか一方の基板の表面に、当該基板の外表面側から視認可能な、傷又は打痕の検査対象エリアを縁取る検査用パターンが形成されていることを特徴とする液晶表示素子。前記検査用パターンは、傷又は打痕の検査規格に応じた長さを有する個片状パターンを備えることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示素子。前記個片状パターンは、互いに長さの異なる少なくとも二種類の個片状パターンを備えることを特徴とする請求項2に記載の液晶表示素子。互いに長さの異なる前記個片状パターンは、前記検査対象エリアの縁に沿って複数個交互に配置されていることを特徴とする請求項3に記載の液晶表示素子。前記画素電極が形成された画素エリアは、実際に画像を表示する有効表示エリアと、当該有効表示エリアの周囲に配置され常時黒表示を行うダミー表示エリアとを備え、前記検査用パターンは、前記ダミー表示エリアと平面的に重なる領域に形成されていることを特徴とする請求項1~4の何れか一つに記載の液晶表示素子。前記検査用パターンは、前記対向電極の一部で形成されていることを特徴とする請求項1~5の何れか一つに記載の液晶表示素子。前記検査用パターンは、前記画素電極の一部で形成されていることを特徴とする請求項1~5の何れか一つに記載の液晶表示素子。前記検査用パターンは、クロムCrで構成されていることを特徴とする請求項1~5の何れか一つに記載の液晶表示素子。図7に示した従来の液晶表示素子のように、検査対象エリアが画素エリアと完全に一致する場合には、画素エリアの縁を基準として検査対象エリアを正確に特定することができるが、例えば、検査対象エリアが画素エリアよりも狭く、検査対象エリアが画素エリアと完全に一致しないような場合には、基板の外表面側から検査対象エリアを正確に特定することが困難であるため、作業のばらつきにより実際に検査を行う範囲に誤差が生じ、検査不足や過剰検査を招くといった問題がある。また、傷や打痕の良否判定は、基板表面にある傷や打痕を限度見本サンプルと見比べることにより行っているため、検査の作業性が悪いといった問題もある。本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであり、液晶表示素子表面の傷や打痕の検査を効率的且つ安定的に行うことが可能な液晶表示素子を提供することを目的とする。少なくとも、画素電極を有する第一電極基板と、対向電極を有する第ニ電極基板と、前記第一電極基板と前記第二電極基板とを貼り合わせるシール剤と、前記第一電極基板と前記第二電極基板との隙間に注入される液晶とを有する液晶表示素子であって、前記第一電極基板と前記第二電極基板のうち少なくとも何れか一方の基板の表面に、当該基板の外表面側から視認可能な、傷又は打痕の検査対象エリアを縁取る検査用パターンが形成されている液晶表示素子とする。前記検査用パターンは、傷又は打痕の検査規格に応じた長さを有する個片状パターンを備える液晶表示素子とする。前記個片状パターンは、互いに長さの異なる少なくとも二種類の個片状パターンを備える液晶表示素子とする。互いに長さの異なる前記個片状パターンは、前記検査対象エリアの縁に沿って複数個交互に配置されている液晶表示素子とする。前記画素電極が形成された画素エリアは、実際に画像を表示する有効表示エリアと、当該有効表示エリアの周囲に配置され常時黒表示を行うダミー表示エリアとを備え、前記検査用パターンは、前記ダミー表示エリアと平面的に重なる領域に形成されている液晶表示素子とする。前記検査用パターンは、前記対向電極の一部で形成されている液晶表示素子とする。前記検査用パターンは、前記画素電極の一部で形成されている液晶表示素子とする。前記検査用パターンは、クロムCrで構成されている液晶表示素子とする。本発明によれば、基板表面に検査範囲を示す検査用パターンを設けることで検査範囲が明確となるため、傷や打痕の検査を効率的且つ安定的に行うことができる。以下、具体的な実施例を挙げて本発明について説明する。図1は、本発明の液晶表示素子の一実施例を示す上面図及び断面図である。ここに示す液晶表示素子においては、シリコンSi等の遮光性材料からなる第一電極基板1と、ガラス等の透光性材料からなる第二電極基板2とが、シール剤3を介して所定の間隔で貼り合わされ、それら第一電極基板1と第二電極基板2との隙間に液晶4が充填されて封口剤5で封止されている。第一電極基板1の液晶4に面する側の表面内表面には、金属からなる複数の画素電極がマトリクス状に配置された画素エリア11が設けられており、画素エリア11は、実際に駆動電圧に応じた画像を表示する有効表示エリア11aと、有効表示エリア11aを取り囲み常時黒表示を行うダミー表示エリア11bとで構成されている。第二電極基板2の液晶4に面する側の表面内表面には、第一電極基板1に設けられた複数の画素電極と電気的な対をなす電極として、ITO等の透明電極材料からなる対向電極12が設けられている。第二電極基板2の外側の表面外表面には、傷や打痕の検査対象エリアを示す検査用パターン13が形成されている。検査用パターン13は、例えば、クロムCr等の遮光性材料で構成され、検査対象エリアを縁取るように形成されている。検査対象エリアは、製品の仕様に応じて変わるため一義的には定まらないが、一般的には有効表示エリア11aよりも僅かに広い領域である。ここで、検査用パターン13は、平面的に見て、第一電極基板1上のダミー表示エリア11bのおよそ中央部に形成されており、これは検査対象エリアがダミー表示エリア11bのおよそ中央部までであること、即ち、検査用パターン13よりも内側の領域が検査対象エリアであることを意味している。検査者は、検査用パターン13を見るだけで検査対象エリアを容易に特定することができる。また、検査用パターン13は、傷や打痕の検査規格を明示する機能を備えており、例えば、傷の検査規格である60μmの長さを有する個片状の傷検査用パターン13aと、打痕の検査規格である40μmの長さを有する個片状の打痕検査用パターン13bとが、互いに一定の間隔を空けて複数個交互に配置された点線状のパターンとされている。検査者は、第二電極基板2の表面にある傷の長さを傷検査用パターン13aの長さと見比べ、仮に傷の長さが傷検査用パターン13aの長さ60μmよりも小さければ、その傷は規格内であると判断し、同様に、第二電極基板2の表面にある打痕の長さを打痕検査用パターン13bの長さと見比べ、仮に打痕の長さが打痕検査用パターン13aの長さ40μmよりも小さければ、その傷は規格内であると判断する。このようにして検査者は、第二電極基板2の表面にある傷と打痕が規格内であるか否かを容易に判定することができる。尚、傷検査用パターン13aと打痕検査用パターン13bの長さは、以上の長さに限らず、検査規格に応じて適宜設定すればよく、また、長さの組み合わせも二種類の長さの組み合わせに限らず、検査規格の数に応じて一種類のみ又は三種類以上の長さの組み合わせとすることも可能である。図2は、本発明の液晶表示素子の他の実施例を示す上面図及び断面図である。単に検査対象エリアを明確にするだけであれば、検査用パターン13は、実施例1のような点線状のパターンでなくともよく、図2に示すように、検査対象エリアを縁取る連続的な細線状のパターンであってもよい。図3は、本発明の液晶表示素子の他の実施例を示す上面図及び断面図である。上述の実施例2の変形例として、検査用パターン13は、図3に示すように、検査対象エリアの縁から第二電極基板2の端面に至る領域全体に形成されていてもよい。尚、ここでは、検査用パターン13の縁を鋸歯状に切り欠くことで、傷検査用パターン13aと打痕検査用パターン13bが形成されているが、単に検査対象エリアを明確にするだけであれば、それらは省略してもよい。以上の実施例1~3において、検査用パターン13は、有効表示エリア11aの外側に配置されているため、観察者側からは視認されないが、有効表示エリア11aの周囲には、常時黒表示となるダミー表示領域11bが設けられているため、暗色のクロムCrで構成された検査用パターン13は、ダミー表示領域11bの黒表示に色が溶け込んで、より一層視認され難い。また、以上の実施例1~3において、検査用パターン13は、第二電極基板2の外側の表面外表面に形成されているが、第二電極基板2の液晶4に面する側の表面内表面に形成されていてもよい。この場合、検査用パターン13は、第二電極基板2と対向電極12との間、対向電極12とその上に設けられる配向膜不図示との間、配向膜の表面等の任意の階層に形成され得る。図4は、本発明の液晶表示素子の他の実施例を示す上面図及び断面図である。検査用パターン13を第二電極基板2の液晶4に面する側の表面内表面に形成する場合には、検査用パターン13を第二電極基板2に設けられた対向電極12の一部を使って形成することが可能であり、例えば、図4に示すように、第二電極基板2に設けられた対向電極12を、形成しようとする検査用パターン13の形状ここでは実施例1と同様に合わせて部分的に除去し、それにより形成された開口部を検査用パターン13とする。この実施例では、検査用パターン13が透光性材料対向電極12で構成されているため、クロムCr等の遮光性材料で構成された検査用パターン13よりは視認性に劣るが、検査用パターン13を形成するために新たに成膜等を行う必要がないため、工数削減の観点からは利点がある。図5は、本発明の液晶表示素子の他の実施例を示す上面図及び断面図である。検査用パターン13を第二電極基板2に設けられた対向電極12の一部を使って形成する場合、検査用パターン13は、図5に示すように、連続的な開口部で形成されていてもよい。更に、この場合、検査用パターン13を対向電極12の外部導通領域14を区画するように第二電極基板2の端面にまで延在させておけば、第二電極基板2の端面に臨む対向電極12の外周部分が電気的に隔絶された状態となるため、対向電極12が第二電極基板2の端面において半導体材料である第一電極基板1や他の電極等と短絡するのを防止することができる。図6は、本発明の液晶表示素子の他の実施例を示す上面図及び断面図である。検査用パターン13を第二電極基板2に設けられた対向電極12の一部を使って形成する場合、検査用パターン13は、図6に示すように、第二電極基板2の端面に臨む対向電極12の外周部分外部導通領域14除くを検査対象エリアを縁取るように除去することで形成されていてもよい。尚、ここでは、検査用パターン13の縁を鋸歯状に切り欠くことで、個片状の傷検査用パターン13aと打痕検査用パターン13bが形成されているが、単に検査対象エリアを明確にするだけであれば、それらは省略してもよい。また、本実施例では、第二電極基板2の端面に臨む対向電極12の外周部分が除去されているため、実施例5と同様に、対向電極12が第二電極基板2の端面において半導体材料である第一電極基板1や他の電極等と短絡するのを防止することができる。尚、以上全ての実施例において、検査用パターン13は、第二電極基板2にのみ形成されているが、第一電極基板1が検査対象となる場合には、第一電極基板1にのみ、第一電極基板1と第二電極基板2の両方が検査対象となる場合には、第一電極基板1と第二電極基板2の両方に形成され得る。また、検査用パターン13を第一電極基板1に形成する場合には、第一電極基板1に設けられた画素電極を使って検査用パターン13を形成してもよい。また、以上の実施例は、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、互いに組み合わせて実施することが可能である。