被写体像を光電変換する撮像素子を含む撮像ユニットと、前記撮像ユニットを振動させるために設けられた圧電素子と、前記圧電素子に電圧を印加する駆動回路と、前記撮像素子に付着した塵埃を除去するクリーニングモードを設定する設定手段と、を有し、前記駆動回路は、前記クリーニングモードが設定される場合には、前記クリーニングモードが設定されていない場合よりも前記圧電素子に印加する電圧を高くすること特徴とする撮像装置。前記駆動回路は、前記クリーニングモードが設定される場合に、前記クリーニングモードが設定されていない場合よりも、前記圧電素子に印加される電圧が高くなるように、駆動周波数を変更することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記駆動回路は前記圧電素子と直列に接続された誘導性素子を備え、前記クリーニングモードが設定される場合には、前記駆動回路をLC共振による昇圧が発生する回路に切り替え、前記クリーニングモードが設定されていない場合には、前記駆動回路をLC共振による昇圧が発生しない回路に切り替えることを特徴とする請求項2に記載の撮像装置。前記駆動回路は、前記誘導性素子のインダクタンスと前記圧電素子のキャパシタンスとで決定されるQ値を変更することで、前記圧電素子に印加される電圧を切り替えることを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。前記クリーニングモードが設定されていない場合、前記駆動回路が前記圧電素子に電圧を印加することで、前記撮像ユニットは焦点検出のためのウォブリング動作を実行することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。しかしながら、塵埃を除去するための撮像ユニット振動と、焦点検出のためのウォブリング動作を同一の駆動系で行う場合、塵埃を除去するためには大きなパワーで撮像素子を振動させる必要がある。このため、焦点検出時と同じ駆動電圧ではパワーが足りずに上手く塵埃が除去できない可能性がある。塵埃除去には精度は必要ではないが高い電圧が要求され、焦点検出には高い電圧は必要ではないが精度の高い電圧制御が要求される。本発明は、上記課題に鑑みてなされ、その目的は、簡単な回路構成で塵埃除去と焦点検出のそれぞれの目的に合わせて圧電素子を駆動できる撮像装置を実現することである。上記課題を解決し、目的を達成するために、本発明の撮像装置は、被写体像を光電変換する撮像素子を含む撮像ユニットと、前記撮像ユニットを振動させるために設けられた圧電素子と、前記圧電素子に電圧を印加する駆動回路と、前記撮像素子に付着した塵埃を除去するクリーニングモードを設定する設定手段と、を有し、前記駆動回路は、前記クリーニングモードが設定される場合には、前記クリーニングモードが設定されていない場合よりも前記圧電素子に印加する電圧を高くする。本発明によれば、簡単な回路構成で塵埃除去と焦点検出のそれぞれの目的に合わせて圧電素子を駆動できる。以下に、本発明を実施するための形態について詳細に説明する。尚、以下に説明する実施の形態は、本発明を実現するための一例であり、本発明が適用される装置の構成や各種条件によって適宜修正又は変更されるべきものであり、本発明は以下の実施の形態に限定されるものではない。また、後述する各実施形態の一部を適宜組み合わせて構成しても良い。以下に、本発明の撮像装置を、一眼レフデジタルカメラ以下、カメラに適用した実施形態について説明する。[実施形態1]先ず、図1を参照して、本実施形態のカメラの構成について説明する。図1において、カメラ100は、絞り機能を備えるレンズユニット2が着脱可能に搭載されている。レンズユニット2は、ズームレンズやフォーカスレンズ、絞りなどを含む撮影レンズ群3から構成され、レンズ接続端子4がカメラ側のレンズ接続端子5と接続されることでカメラ100と通信可能となる。ハーフミラー6は撮影レンズ群3を通って入射した光をAFセンサ10と撮像ユニット20へ導く。シャッターユニット9は先幕7と後幕8から構成され、撮像ユニット20への露光量を調整する。撮像ユニット20は被写体像を光電変換する、例えばCCDやCMOSなどの撮像素子を含み、撮像素子上に結像された被写体像を光電変換して電気信号として取り込む。撮像ユニット20には、例えば図2に示すように撮像素子22の両脇に圧電素子21a、21bが固着されている。圧電素子21は圧電素子駆動回路11に接続されて、システム制御回路1が圧電素子駆動回路11を介して、印加する電圧を制御することで撮像ユニット20を振動させる。圧電素子駆動回路11は撮像ユニット20を振動させるために圧電素子21に電圧を印加する回路であり、例えば図3に示すH型ブリッジ回路で構成されている。H型ブリッジ回路は、Pチャネル型電界効果トランジスタFET62、63とNチャネル型FET64、65を備えており、各FETはシステム制御回路1からの制御信号を受けて、導通状態および遮断状態の切り替えが行われる。この4つのFETの導通状態および遮断状態の組み合わせによって、H型ブリッジ回路の出力に電源電圧61の2倍の交流電圧が発生する。スイッチ66と67は圧電素子21に印加される電圧を切り替えるスイッチで、動作モードによってどちらか一方のスイッチが導通する。スイッチ66が導通した場合には、圧電素子21と直列に接続された誘導性素子68のインダクタンスと圧電素子21とのキャパシタンスによるLC共振により昇圧された電圧が印加される。スイッチ67が導通した場合にはH型ブリッジ回路の交流電圧そのままが印加される。シャッターユニット9は露光制御回路12に接続されて、システム制御回路1が露光制御回路12を介して、先幕7と後幕8を駆動することで撮像ユニット20への露光量を制御する。AFセンサ10はAF制御回路13に接続され、AF制御回路13がAFセンサ10からの出力を受けて位相差検出方式によりデフォーカス量を算出し、システム制御回路1へ出力する。フォーカス制御回路14は、デフォーカス量に基づいてシステム制御回路1から出力される制御信号をレンズ接続端子4、5を介してレンズユニット2へ送り、フォーカスレンズを制御する。位置検出回路15は撮像ユニット20の位置を検出し、システム制御回路1へ出力する。A/D変換回路31は撮像素子によって電気信号に変換されたアナログ撮像信号をデジタル信号に変換する。画像処理回路32は、A/D変換回路31によってデジタル信号に変換された画像データに対して、フィルタ処理、色変換処理、ガンマー/ニー処理を行い、システム制御回路1へ出力する。レリーズスイッチ41は半押しSW1と全押しSW2からなり、半押しSW1オンで被写体の測光や測距を行い、全押しSW2オンで画像の撮影動作を開始する。操作部42は、ユーザからの操作を受け付ける入力部としてのボタンやダイヤルなどを含み、シャッターレリーズ、モード切り替え、電源オンオフなどの各種操作を受け付ける。システム制御回路1は、カメラ100全体を制御し、ROM、RAM、A/Dコンバータ、D/Aコンバータ、時計機能などを内蔵するマイクロコンピュータである。システム制御回路1は、ROMに記録されたプログラムを、RAMのワークエリアに展開し、実行することで後述するフローチャートの処理を実行する。<動作説明>図4を参照して、本実施形態の圧電素子駆動回路11の切替制御について説明する。図4において、S101では、システム制御回路1は、カメラの設定モードを判定し、撮影モードに設定されている場合にはS102に進み、他のモードに設定されている場合にはS115に進む。S102では、システム制御回路1は、レリーズスイッチ41のSW1オンが検出されるまで処理待ち状態で待機し、SW1オンが検出された場合には、不図示の測光回路の出力信号を取り込み、被写体に対する測光を行う。そして、システム制御回路1は、測光結果に基づいて露光条件を決定し、絞りやシャッタースピードを決定するS103。S104では、システム制御回路1は、AFセンサ10の検出結果を用いてAF制御回路13によりデフォーカス量を算出する。そして、システム制御回路1は、S104で算出されたデフォーカス量に基づいてフォーカス制御回路14を制御してフォーカスレンズを駆動させS105、S107で露光制御回路12によってシャッターユニット9の先幕7を駆動させてシャッターを開く。S108では、システム制御回路1は、圧電素子駆動回路11のスイッチ66を遮断、スイッチ67を導通させ、圧電素子21に印加される電圧をウォブリング用の電圧に切り替える。そして、S109で撮像ユニット20を焦点調節動作のための微小駆動ウォブリングさせるために、システム制御回路1は圧電素子駆動回路11に制御信号を出力し、圧電素子21を駆動する。S110では、システム制御回路1は、圧電素子21をウォブリングさせることで撮像ユニット20を微小駆動させ、撮像信号により山登りコントラストAFのAF評価信号を検出することで、現在合焦しているか判定する。そして、非合焦と判定された場合には、さらに焦点が前にずれているのか後ろにずれているのかを判定する。S110で合焦状態であると判定された場合、システム制御回路1は、撮像ユニット20の位置を位置検出回路15により検出して、圧電素子駆動回路11による圧電素子21の駆動を停止させてS120に進む。一方、S110で合焦状態でないと判定された場合には、システム制御回路1は、焦点が前にずれているのか後ろにずれているのかの判定結果に基づいて、フォーカス制御回路14によってフォーカスレンズを制御し、判定方向に駆動させるS111。S112では、システム制御回路1は、S111によってフォーカスレンズを判定方向に駆動させた結果、合焦点、すなわちAF評価信号の頂点を超えたか否かを判定する。判定の結果、AF評価信号の頂点を超えていない場合には、S111に戻り、再度山登り動作の制御を継続して行う。S112での判定の結果、AF評価信号が頂点を超えた場合には、システム制御回路1は、その頂点にAF評価信号が戻るようにフォーカス制御回路14によりフォーカスレンズを制御するS113。そして、S114でAF評価信号が頂点に到達したか否かを判定し、頂点に到達していなければS113の処理を継続して行う。一方、AF評価信号が頂点に到達していたならば、S108に戻る。これは、AF評価信号を頂点に戻す動作中に、被写体位置が変化する場合もあるため、AF評価信号が頂点に到達したならば、現在のAF評価信号が確実に頂点に到達しているのか、つまり現在のフォーカスレンズ位置が合焦点であるのかを判定するためである。なお、S110で合焦状態であると判定された場合には、システム制御回路1は、合焦時のAF評価信号の信号レベルを記憶するS120。次に、現在のAF評価信号の信号レベルを取得し、取得した現在のAF評価信号の信号レベルがS120で記憶したAF評価信号の信号レベルに比べ、変動したか否かを判定する。ここで、記憶した信号レベルに対しての変動率が所定値以上の場合には、被写体の変化があったものと判定し、山登りコントラストAF動作の再起動を行いS121、S108に戻る。また、変動率が所定値未満の場合には、被写体の変化はないと判定し、再起動処理を行わずにS122に進む。S122では、システム制御回路1は、レリーズスイッチ41によりSW2オンが検出された場合に露光制御に移行して、本処理が終了する。ここではレリーズスイッチ41によりSW2オンが検出されるまでS121の再起動判定を繰り返すことにより、常に合焦状態が維持される。また、S101において、カメラが他のモードに設定されている場合には、S115に進み、システム制御回路1は、クリーニングモードに設定されているか判定し、クリーニングモードであればS116へ、他のモードであればS119に進む。S116では、システム制御回路1は、操作部42のクリーニング開始設定がなされたか判定し、クリーニング開始設定がなされた場合にはS117に進む。そして、S117で圧電素子駆動回路11のスイッチ66を導通、スイッチ67を遮断させ、圧電素子21に印加される電圧をクリーニング用の電圧に切り替える。そして、S118で撮像ユニット20を振動させて撮像素子表面に付着した塵埃除去を行うために、システム制御回路1は圧電素子駆動回路11に制御信号を出力し、圧電素子21を駆動する。なお、S115において、カメラが他のモードに設定されている場合には、システム制御回路1は選択されたモードに応じた処理を行うS119。本実施形態によれば、圧電素子駆動回路11を動作モードによって切り替え、焦点検出時には焦点検出用の駆動電圧を、塵埃除去時には塵埃除去用の駆動電圧を圧電素子に印加し、撮像ユニット20を駆動させる。この動作によって、焦点検出時には精度の高い駆動によって正確な焦点検出を行うことができ、塵埃除去時にはパワーが高い駆動によって塵埃が確実に除去できる。このように最小限の回路構成で塵埃除去と焦点検出のそれぞれの目的に合った圧電素子駆動を行うことが可能となる。[実施形態2]次に、図5~7を参照して、実施形態2について説明する。実施形態2は、圧電素子駆動回路の構成と周波数切替制御が実施形態1と異なっている。図5は実施形態2の圧電素子駆動回路の構成を示している。H型ブリッジ回路部分は実施形態1と同様で、Pチャネル型電界効果トランジスタFET72、73とNチャネル型FET74、75を備えており、各FETはシステム制御回路1からの制御信号を受けて、導通状態および遮断状態の切り替えが行われる。この4つのFETの導通状態および遮断状態の組み合わせによって、H型ブリッジ回路の出力に電源電圧71の2倍の交流電圧が発生する。圧電素子21にはH型ブリッジ回路の交流電圧が誘導性素子78のインダクタンスと圧電素子21とのキャパシタンスによるLC共振により昇圧された電圧が印加されるが、その昇圧比はH型ブリッジ回路の駆動周波数によって異なる。H型ブリッジ回路の駆動周波数は、システム制御回路1による4つのFETの導通状態および遮断状態の切り替え周期によって制御される。図6はH型ブリッジ回路の駆動周波数と圧電素子に印加される電圧の振幅との関係を示している。f0は誘導性素子78のインダクタンスと圧電素子21のキャパシタンスによって決定される共振周波数であり、このとき振幅が最大となる。この共振周波数f0付近の周波数f1<周波数<f1’ではLC共振により昇圧された電圧が得られる。周波数が共振周波数f0から離れていくに従って、振幅は低くなっていき、周波数がf2より低いもしくはf2’より高い領域では、ほとんど共振による昇圧は発生せず、H型ブリッジ回路の交流電圧がそのまま圧電素子21に印加される。<動作説明>次に、図7を参照して、実施形態2の圧電素子駆動回路の周波数切替制御について説明する。なお、本実施形態が、実施形態1と異なるのは、図7のS208とS217での圧電素子駆動周波数設定であり、その他の処理は実施形態1と同様であるので説明を省略する。図7において、S208では、システム制御回路1は、圧電素子駆動回路の駆動周波数をウォブリング用の周波数に設定する。設定する周波数は、LC共振による昇圧が発生せず、H型ブリッジ回路の交流電圧がそのまま圧電素子21に印加されるような周波数で、例えば図6におけるf2より低いもしくはf2’より高い周波数である。そして、S209で撮像ユニット20を焦点調節動作のための微小駆動ウォブリング動作させるために、システム制御回路1は圧電素子駆動回路11に制御信号を出力し、圧電素子21を駆動する。また、S217では、システム制御回路1は、圧電素子駆動回路11の駆動周波数をクリーニング用の周波数に設定する。設定する周波数は、LC共振が発生し昇圧された電圧が圧電素子21に印加されるような共振周波数f0付近の周波数で、例えば図6におけるf1からf1’の間の周波数である。本実施形態によれば、圧電素子駆動回路の駆動周波数を動作モードによって切り替え、焦点検出時には焦点検出用の周波数で駆動し、塵埃除去時には塵埃除去用の周波数で駆動する。この動作によって、焦点検出時には精度の高い電圧が圧電素子に印加されるので、正確な焦点検出を行うことができ、塵埃除去時にはパワーが高い電圧が圧電素子に印加されるので、塵埃が確実に除去できる。本実施形態では、焦点検出用の回路と塵埃除去用の回路をそれぞれ独立して構成する必要はなく、1つの回路の駆動周波数を変えることによって、塵埃除去と焦点検出のそれぞれの目的に合った圧電素子駆動を行うことが可能となる。なお、本実施形態では誘導性素子78のインダクタンスと圧電素子21のキャパシタンスに合わせて、塵埃除去時と焦点検出時とで圧電素子駆動回路の駆動周波数をそれぞれ適切な周波数に設定した。反対に塵埃除去時と焦点検出時の駆動周波数に合わせて、誘導性素子78のインダクタンスと圧電素子21のキャパシタンスとで決定される共振の鋭さをあらわすQ値を設定する構成にしてもよい。[他の実施形態]本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアプログラムをネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ又はCPUやMPU等がプログラムコードを読み出して実行する処理である。この場合、そのプログラム、及び該プログラムを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。