分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置であって、前記分析用試験片を収容するための試験片収容部と、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記劣化判別手段が判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備える分析装置。前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別する、請求項1に記載の分析装置。前記劣化判別手段は、前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定部と、前記残留状態判定部によって前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出部と、前記期間算出部により算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別部と、を有する請求項1又は2に記載の分析装置。前記期間算出部は、前記残留状態判定部による前記試験片収容部が空になったとの判定が直近になされた時から装置起動時までの経過期間である第1収容期間と、直近における装置稼動停止時から装置起動時までの経過期間である第2収容期間と、をそれぞれ算出し、前記判別部は、前記第1収容期間と前記第2収容期間の少なくとも一方に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する、請求項3に記載の分析装置。前記判別部は、前記第1収容期間が許容曝露期間以内である場合に前記分析用試験片が正常であると判別し、前記第1収容期間および前記第2収容期間のうち第1収容期間のみが該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第1劣化状態であると判別し、前記第1収容期間及び前記第2収容期間の双方が該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第2劣化状態であると判別し、前記第2劣化状態は前記第1劣化状態に比べて劣化度合いが大きいと判別される、請求項4に記載の分析装置。前記試験片収容部に設けられて且つ前記分析用試験片の収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋と、前記開閉蓋の開閉状態を検知する開閉状態検知手段と、を更に備え、前記劣化判別手段は、前記開閉状態検知手段によって検知される前記開閉蓋の開閉状態に基づいた前記分析用試験片の収容状況も判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する、請求項1から5の何れか1項に記載の分析装置。前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の劣化状況を判別する際、前記収容期間における前記開閉蓋の開閉状態に基づいて該分析用試験片の劣化度合いについて重み付けを行う、請求項6に記載の分析装置。前記試験片収容部における湿度及び温度の少なくとも一方を測定する曝露環境測定手段を更に備え、前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別し、前記許容曝露期間は、前記曝露環境測定手段による測定結果に応じて可変設定される、請求項1から7の何れか1項に記載の分析装置。分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置であって、前記分析用試験片を収容するための試験片収容部と、前記試験片収容部に設けられて且つ前記分析用試験片の収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋と、前記開閉蓋の開閉状態を検知する開閉状態検知手段と、前記開閉状態検知手段によって検知される前記開閉蓋の開閉状態に基づいた前記分析用試験片の収容状況を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記劣化判別手段が判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備える分析装置。前記劣化判別手段は、更に、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間も判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する、請求項9に記載の分析装置。分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認装置であって、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記劣化判別手段が判別した分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備える品質確認装置。前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別する、請求項11に記載の品質確認装置。前記劣化判別手段は、前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定部と、前記残留状態判定部によって前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出部と、前記期間算出部により算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別部と、を有する請求項11又は12に記載の品質確認装置。前記期間算出部は、前記残留状態判定部による前記試験片収容部が空になったとの判定が直近になされた時から分析装置起動時までの経過期間である第1収容期間と、直近における分析装置稼動停止時から分析装置起動時までの経過期間である第2収容期間と、をそれぞれ算出し、前記判別部は、前記第1収容期間と前記第2収容期間の少なくとも一方に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する、請求項13に記載の品質確認装置。前記判別部は、前記第1収容期間が許容曝露期間以内である場合に前記分析用試験片が正常であると判別し、前記第1収容期間及び前記第2収容期間のうち第1収容期間のみが該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第1劣化状態であると判別し、前記第1収容期間及び前記第2収容期間の双方が該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第2劣化状態であると判別し、前記第2劣化状態は前記第1劣化状態に比べて劣化度合いが大きいと判別される、請求項14に記載の品質確認装置。分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認方法であって、前記分析装置のコンピュータが、前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定ステップと、前記残留状態判定ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行する品質確認方法。分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムであって、前記分析装置のコンピュータに、前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定ステップと、前記残留状態判定ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行させる品質確認プログラム。分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、前記分析装置のコンピュータに、前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定ステップと、前記残留状態判定ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行させる品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。しかしながら、分析装置の稼動が停止された際、試験片収容部に残留している分析用試験片を実際に密封保管容器に保管するか否かはユーザー任せであるのが通例である。そのため、分析装置の稼動停止期間中に分析用試験片が試験片収容部内に留置放置されている可能性も否定できない。また、この種の分析装置は通常、試験片収容部内に投入される分析用試験片の投入時期や、その投入数を監視していない。以上のことから、分析装置による分析処理の再開時においては、品質の低下など、いわゆる劣化した状態の分析用試験片が分析処理に使用されてしまう可能性がある。その結果、試料の分析誤差が生じ易くなったり分析結果の信頼性が低下するなどの不具合を招く虞があった。本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、分析用試験片を用いて試料の分析を行う分析装置において、分析処理に使用される分析用試験片の劣化状況をユーザーに適切に認識させることが可能な技術を提供することを目的とする。本発明では、上述した課題を解決するため、以下の手段を採用する。すなわち、本発明は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置であって、前記分析用試験片を収容するための試験片収容部と、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記判別手段が判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備える分析装置である。この構成によれば、分析用試験片の収容期間に応じてその劣化状況を判別し、判別結果をユーザーに報知することができる。よって、分析処理に使用される分析用試験片の劣化状況をユーザーに適切に認識させることができる。例えば、本分析装置における前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別しても良い。この許容曝露期間は、例えば、分析用試験片を分析精度上問題なく使用可能な状態で試験片収容部に維持可能な最長の期間である。この構成では、分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えた場合に分析用試験片が劣化例えば、品質の低下していると判別し、収容期間が該許容曝露期間以内である場合に分析用試験片に劣化は生じていないと判別することができる。また、前記劣化判別手段は、前記試験片収容部に前記分析用試験片が残留しているか否かを判定する残留状態判定部と、前記残留状態判定部によって前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していると判定された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出部と、前記期間算出部により算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別部と、を有しても良い。また、残留状態判定部は、例えば分析装置が起動されるタイミングごとに上記判定を行うようにしても良い。装置起動時に分析用試験片が試験片収容部に残留している場合に、該分析用試験片が長期に亘り曝露環境下に晒され、劣化している可能性が高まるからである。また、前記期間算出部は、前記残留状態判定部による前記試験片収容部が空になったとの判定が直近になされた時から装置起動時までの経過期間である第1収容期間と、直近における装置稼動停止時から装置起動時までの経過期間である第2収容期間と、をそれぞれ算出し、前記判別部は、前記第1収容期間と前記第2収容期間の少なくとも一方に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別するように構成しても良い。例えば、前記判別部は、前記第1収容期間が許容曝露期間以内である場合に前記分析用試験片が正常であると判別しても良い。そして、前記判別部は、前記第1収容期間および前記第2収容期間のうち第1収容期間のみが該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第1劣化状態であると判別し、前記第1収容期間及び前記第2収容期間の双方が該許容曝露期間を超えている場合に該分析用試験片が第2劣化状態であると判別し、前記第2劣化状態は前記第1劣化状態に比べて劣化度合いが大きいと判別されても良い。また、前記試験片収容部に設けられて且つ前記分析用試験片の収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋と、前記開閉蓋の開閉状態を検知する開閉状態検知手段と、を更に備え、前記劣化判別手段は、前記開閉状態検知手段によって検知される前記開閉蓋の開閉状態に基づいた前記分析用試験片の収容状況も判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別しても良い。例えば、前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の劣化状況を判別する際、前記収容期間における前記開閉蓋の開閉状態に基づいて該分析用試験片の劣化度合いについて重み付けを行うようにしても良い。ここで、分析用試験片が試験片収容部内において晒される曝露環境は、該分析用試験片の劣化度合いに大いに影響を及ぼす。すなわち、分析用試験片の収容期間における試験片収容部内の湿度が高いほど分析用試験片が劣化し易く、該収容期間における試験片収容部内の温度が高いほど分析用試験片が劣化し易いと言える。そこで、本発明における分析装置は、前記試験片収容部における湿度及び温度の少なくとも一方を検出する曝露環境検出手段を更に備えていても良い。そして、前記劣化判別手段は、前記分析用試験片の収容期間が許容曝露期間を超えているかどうかに基づいて該分析用試験片の劣化状況を判別し、前記許容曝露期間は、前記曝露環境検出手段による検出結果に応じて可変設定されても良い。例えば、上記構成において、曝露環境検出手段が試験片収容部内の湿度を検出する場合、収容期間において検出された湿度が高いほど、分析用試験片の劣化状況を判別するための基準となる許容曝露期間を、より短い期間として設定しても良い。また、例えば、曝露環境検出手段が試験片収容部内の温度を検出する場合、収容期間において検出された温度が高いほど、許容曝露期間を、より短い期間として設定しても良い。これによれば、分析用試験片が晒される曝露環境の差異に応じて該分析用試験片の劣化状況を的確に判別し、その品質をより精度良く確認することができる。また、本発明は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置であって、前記分析用試験片を収容するための試験片収容部と、前記試験片収容部に設けられて且つ前記分析用試験片の収容空間を外部空間から画定するための開閉蓋と、前記開閉蓋の開閉状態を検知する開閉状態検知手段と、前記開閉状態検知手段によって検知される前記開閉蓋の開閉状態に基づいた前記分析用試験片の収容状況を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記劣化判別手段が判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備えるようにしても良い。また、前記劣化判別手段は、更に、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間も判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別しても良い。また、本発明は、上記分析装置の試験片収容部に収容されている分析用試験片の品質を確認するための品質確認装置であっても良い。また、本発明は、コンピュータその他の装置などが上記何れかの処理を実行する方法であっても良い。また、本発明は、コンピュータその他の装置などに、以上の何れかの機能を実現させるプログラムであっても良い。また、本発明は、そのようなプログラムをコンピュータなどが読み取り可能な記録媒体に記録したものでも良い。すなわち、本発明に係る品質確認装置は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認装置であって、前記試験片収容部における前記分析用試験片の収容期間を判断基準に用いて該分析用試験片の劣化状況を判別する劣化判別手段と、前記劣化判別手段が判別した分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知手段と、を備える品質確認装置である。また、本発明に係る品質確認方法は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認方法であって、前記分析装置のコンピュータが、前記試験片収容部における前記分析用試験片の残存状況を検知する試験片検知ステップと、前記試験片検知ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行する品質確認方法である。また、本発明に係る品質確認プログラムは、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムであって、前記分析装置のコンピュータに、前記試験片収容部における前記分析用試験片の残存状況を検知する試験片検知ステップと、前記試験片検知ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行させるプログラムである。また、本発明に係る記録媒体は、分析用試験片を用いて試料を分析する分析装置の試験片収容部に収容されている該分析用試験片の品質を確認するための品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であって、前記分析装置のコンピュータに、前記試験片収容部における前記分析用試験片の残存状況を検知する試験片検知ステップと、前記試験片検知ステップにおいて前記分析用試験片が前記試験片収容部に残留していることが検知された場合、該分析用試験片の収容期間を算出する期間算出ステップと、前記期間算出ステップにおいて算出された収容期間に基づいて、前記分析用試験片の劣化状況を判別する判別ステップと、前記判別ステップにおいて判別した前記分析用試験片の劣化状況をユーザーに報知する報知ステップと、を実行させる記録媒体である。なお、本発明における課題を解決するための手段は、可能な限り組み合わせることができる。本発明によれば、分析用試験片を用いて試料の分析を行う分析装置において、分析処理に使用される分析用試験片の劣化状況をユーザーに適切に認識させることが可能な技術を提供することができる。以下、図面を参照して発明を実施するための形態について例示的に詳しく説明する。本実施形態では、本発明に係る分析装置の一例として、分析用試験片以下、単に試験片と称するを用いて尿試料中の化学成分を分析して尿定性試験を行うための化学分析装置について説明する。尿定性試験は、試験片の化学反応による色調変化、すなわち呈色反応を光学装置によって測定することにより、尿中に排泄される糖やタンパクの量あるいは潜血の有無などを検査する試験である。但し、本分析装置において分析対象となる試料は尿に限られず、例えば血液やその他の試料の成分を分析しても良い。以下の図面において、既述の図面に記載された部品と同様の部品には同じ番号を付す。また、以下に説明する本発明に係る分析装置の各実施形態の説明は、本発明に係る試験片の品質を確認するための品質確認装置、品質確認装方法、品質確認プログラム、及び該品質確認プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体の各実施形態の説明を兼ねるものである。なお、本実施の形態に記載されている構成要素の寸法、材質、形状、その相対配置等は、特に特定的な記載がない限りは、発明の技術的範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。また、本実施の形態において試料および検体は同義の用語として用いるものとする。<実施例1>図1は、本実施例における析装置1を示す概略斜視図である。図2は、本実施例における分析装置1の構成ブロック図である。図3は、本実施例における分析装置1の装置本体部11の内部構造を示す図である。なお、装置本体部11は、分析装置1を構成する各要素を収容する筐体ハウジングである。これらの図に示すように、分析装置1は、装置本体部11、試験片供給部12、ラック設置部13、試料点着装置14、CentralProcessingUnit以下CPUと称す15、メモリ16、測光装置17などを主として備えている。また、装置本体部11には、表示パネル111、操作スイッチ群112、およびプリンタ113が設けられている。CPU15は、コンピュータプログラムを実行することで分析装置1を制御する中央処理装置である。メモリ16は、CPU15で実行されるコンピュータプログラムやCPU15が処理するデータを記憶する機能を有するものである。メモリ16は、例えば、揮発性のRandomAccessMemoryRAM、不揮発性のReadOnlyMemoryROMである。ROMには、例えば本分析装置1が機能する上で必要なプログラムやパラメータ、各種検量線データなどが格納されている。RAMには、CPU15にワーク領域を提供するとともに、例えばCPU15に実行させるOperatingSystemOSのプログラムやアプリケーションプログラムの一部が一時的に格納される。CPU15は、メモリ16に格納されているプログラムに従って、各種の処理を実行する。図2に示すように、分析装置1は、CPU15と各種の装置とを接続するインターフェース18、ハードディスクドライブ19、記録媒体駆動装置20を有している。インターフェース18は、例えばUniversalSerialBusUSB等のシリアルインターフェースや、PeripheralComponentInterconnectPCI等のパラレルインターフェースなどであっても良い。なお、CPU15と各装置とをインターフェース18で接続しているが、CPU15と各装置との間を異なるインターフェースで接続しても良い。また、複数のインターフェース18をブリッジ接続しても良い。ハードディスクドライブ19は、メモリ16にロードされるプログラムを格納する。また、ハードディスクドライブ19は、CPU15で処理されるデータを記憶する。記録媒体駆動装置20は、例えば、CompactDiscCD、DigitalVersatileDiskDVD、HD-DVD、ブルーレイディスク等の駆動装置である。また、記録媒体駆動装置20は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリを有するカード媒体の入出力装置であっても良い。記録媒体駆動装置20が駆動する媒体は、例えば、ハードディスクドライブ19にインストールされるコンピュータプログラム、入力データ等を格納する。ここで、図4を参照して試験片2について説明する。試験片2は、図4に示される短冊状の基材21上に、試料と反応させるための試薬を含んだ複数の試薬パッド試薬部22が基材21の長手方向に並んで設けられたものである。この試薬パッド22には、試料点着装置14によって、試料である尿の点着添加ということもできるが行われるようになっている。本実施例においてはこの試験片2が本発明における分析用試験片に相当するものである。なお、本図においては便宜上、7つの試薬パッドが基材21上に並んでいるが、その数は適宜増減されていても勿論構わない。また、図2、3に示す測光装置17は、装置本体部1の内部に設置された光学系であり、前述した試験片2の呈色反応を光学的に測定するものである。操作スイッチ群112は、ユーザー使用者が分析装置1を操作するための各種スイッチであり、例えば分析装置1の主電源のオン、オフを切り替える電源スイッチ、試料の分析処理測定処理を開始するための測定開始スイッチ、分析装置1による試料の分析結果をプリンタ113に印字させるための印字スイッチ、などである。表示パネル111は、例えばLCDliquidcrystaldisplayや発光ダイオードなどを備えており、CPU15により制御されて各種の情報を表示する。操作スイッチ群112のうち、例えば測定開始スイッチが例えばユーザーによって押下されると試料における上記各種測定項目の測定がなされ、その測定結果に基づいて得られた分析結果検査結果が表示パネル111に表示されるようになっている。その他、表示パネル111には、CPU15で処理されるデータやメモリに記憶されるデータなどを表示することができる。また、上述の印字スイッチが押下されると、試料の分析結果がプリンタ113によって、例えば記録用紙に印字出力される。ラック設置部13は、図3に示した試料ラック131が設置される。この試料ラック131は、試料図中、符号Uにて表すとしての尿を収容した複数の試料容器132を起立保持するためのラックである。試料点着装置14は、ノズル141、装置本体部11内においてノズル141を上下方向及び水平方向に駆動させるノズル駆動装置142を備える。ノズル駆動装置142は、例えばアクチュエータ、又は循環駆動ベルトなどによって構成することができる。ノズル141による尿の吸引に際しては、CPU15がノズル駆動装置142を制御して、ノズル141を尿が収容された試料容器132の上方位置まで移動させた後、該ノズル141を下降する。そして、CPU15は図示しないポンプを駆動させて、ノズル141に試料容器132内の尿を吸引させる。ここで、図中のポジションP1には、以下に説明する試験片供給部12によって試験片2が一枚ずつ供給されるようになっている。ポジションP1にセットされた試験片2の試薬パッド22には、ノズル141によって所定量の尿が点着される。このような点着動作が試験紙2に設置された試薬パッド22の数だけ繰り返され、点着処理が終了する。試験片2に対する試料の点着処理が終了した後は、洗浄液例えば蒸留水を用いてノズル141の洗浄が行われる。ノズル141を洗浄するための構成についての詳しい説明は省略するが、従来既知のもの例えば、特許文献1、2等に記載のものと同様な構成とすることが可能である。試験片供給部12は試料の分析に用いるための試験片2を収容しておき、この収容しておいた試験片2を一つずつ、前述したポジションP1に移送輸送、供給する。試験片供給部12は、複数の試験片2を収容する試験片収容部121と、この試験片収容部121から試験片2を一枚ずつ取り出すための回転ドラム122とを備える。また、試験片収容部121の上部開口には、開閉蓋1211が設けられている。この開閉蓋1211は、試験片収容部121における試験片2の収容空間S1を外部空間S2に対して画定区画するものである。また、必要に応じて、試験片収容部121内には乾燥剤を設置するための乾燥剤設置部図示省略が設けられている。試験片供給部12を構成する回転ドラム122は、その外周面に試験片2を1枚のみ嵌入可能とする凹部1221を有している。そして、回転ドラム122が回転することによって凹部1221に嵌入した試験片2は試験片収容部121の外部に排出された後、図示しない移送装置によりポジションP1へと移送される。ポジションP1の近傍には、該ポジションP1へと移送された試験片2を検出する試験片検出センサ124が設けられている。この試験片検出センサ124はインターフェース18を介してCPU15と電気的に接続されており、その出力信号がCPU15へと随時入力される。図5は、本実施例における分析装置1の機能ブロック図である。図5に示す各機能部31~38は、CPU15、メモリ16等を含むコンピュータ、及びコンピュータ上で実行されるプログラム等によって実現することができる。図5に示した試験片供給制御部31は、回転ドラム122の回転動作に関する制御、及び試験片2をポジションP1へと移送するための移送装置に関する制御を行う。また、点着装置制御部32は、ノズル141を移送するためのノズル駆動部142、試験片2の試薬パッド22への試料の点着に関する制御等を実行する。図3に示す測光装置17は、試料点着装置14によって試料が点着された試験片2の各試薬パッド22に対して光を照射したときの反射光を受光して、各試薬パッド22の発色の程度呈色反応に応じた情報を得るための装置である。この測光装置17は、発光部171、及び受光部172を有している。発光部171は、例えば特定のピーク波長を有する光を出射可能なものであり、発光ダイオードLightemittingDiode、LEDや、半導体レーザなどであっても良い。一方、受光部172は、試料が点着された各試薬パッド22から反射してきた光を受光するためのものであり、例えばフォトダイオードであっても良い。図5に示す測光装置制御部33は、測光装置17における発光部171からの光の照射及び受光部172による反射光の受光に関する制御を実行する。測定部34は、受光部172における受光結果を取得する。そして測定部34は、測光装置17から取得した受光結果と、メモリ16に記憶されている検量線データとに基づいて、試料としての尿に含まれるヘモグロビン、グルコース、あるいはタンパク質などの特定成分測定項目成分の濃度を演算する。各測定項目成分の測定結果は表示パネル111に表示され、必要に応じてプリンタ113から印字出力される。試験片2は、多湿環境下に長期間にわたって曝露されると、試薬パッド22に塗布されている試薬に変質などが起こり、試験片2の品質低下以下、劣化ともいうを招く虞がある。このように劣化した試験片2を用いて試料の分析処理を行った場合には分析誤差を招きやすく、分析結果の信頼性の低下に繋がる虞がある。分析装置1の試験片収容部121は、その上部開口が開口蓋1211により閉塞され且つその底部開口が回転ドラム122によって閉塞されるなどして、試験片収容部121の内部空間収容空間S1はある程度の密閉性気密性を有する。そのため、収容空間S1は、外部空間に比べれば試験片2が劣化しにくい雰囲気となってはいるものの、分析装置1の稼動が停止されている稼働停止期間が長期に及ぶ場合にはやはり試験片2の劣化が起こる可能性が高まる。そのため、本分析装置1には、図1に示すようにボトルユニット4が併設されている。ボトルユニット4は、試験片2を密封状態で保管可能な密封保管容器である。分析装置1の稼動が停止されている稼働停止期間においては、試験片収容部121に試験片2を放置しておくと前述した試験片2の劣化につながる虞があるため、分析処理終了の時点で余った試験片2は試験片収容部121からボトルユニット4へとユーザーによって移しかえられることになっている。具体的には、一日の分析処理の終了時に試験片2が試験片収容部121に残留している場合、余った試験片2をボトルユニット4に保管する内容の指示が分析装置1の取扱説明書に記載されている。従って、ユーザーが取扱説明書を遵守する限り、分析装置1による分析処理が終了した時点ユーザーによる操作スイッチ群112の操作により電源スイッチが押下されて、分析装置1の主電源がオフに切り替えられた時点で試験片収容部121に残留している試験片2は、ユーザーによってボトルユニット4に保管される。そのため、稼働停止期間がたとえ長期に及ぶ場合においても、試験片収容部121には試験片2が放置されないため劣化することはない。しかし、分析装置1の稼動停止時に余りの試験片2を実際にボトルユニット4へと移すかどうかはユーザー任せであるため、稼動停止期間中において長期に亘り試験片2が試験片収容部121に留置放置されてしまう可能性も否定できない。そこで、本実施例における分析装置1では、試料の分析処理に供される試験片2に劣化が生じているか否か、その品質を確認するための試験片品質確認制御を行う。この試験片品質確認制御は、概略、試験片収容部121における試験片2の収容期間を判断基準に用いて試験片2の劣化状況を判別する。以下、この試験片品質確認制御について詳しく説明する。図5に示すように、分析装置1は、そのCPU15やメモリ16などを含むコンピュータにより実現される機能部として、残留状態判定部35、期間算出部36、判別部37、報知部38を備えている。以下、分析装置1のコンピュータにより実行される試験片品質確認制御における処理内容を、図6に基づいて説明する。図6は、分析装置1のコンピュータにより実行される試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。本制御ルーチンは、例えば分析装置1の起動時、つまりユーザーによる電源スイッチの押下によって分析装置1の電源がオフの状態からオンの状態に切り替えられたことをトリガとして、メモリ16に格納されているプログラム品質確認プログラムと称するがCPU15によって実行されることで、本フローチャートにおける各処理が実現される。すなわち、図5において説明した分析装置1の各機能部は、CPU15がメモリ16に格納された品質確認プログラムと協働することにより実現される。ステップS101において、試験片供給制御部31は、試験片収容部121内に試験片2が残留していればその試験片2がポジションP1に移送されるように、回転ドラム122の回転制御及び移送装置不図示の駆動制御を行う。ここで、試験片収容部121内に試験片2が残留していなければ試験片収容部121の収容空間S1が空であれば、試験片2がポジションP1へと移送されることがない。そして、試験片収容部121内に試験片2が残留していれば、少なくとも回転ドラム122が数回転する間に試験片2が凹部1221に嵌入するため、その試験片2がポジションP1へと移送される。次いで、ステップS102残留状態判定ステップにおいては、残留状態判定部35が、試験片検出センサ124の出力信号検出信号を取得する。そして、この取得した検出信号に基づいて、試験片収容部121内に試験片2が残留残存しているか否かを判定する。具体的には、例えば所定の判定期間例えば、回転ドラム122が数回転するのに要する時間に亘って連続的、断続的に試験片検出センサ124からの検出信号を取得する。そして、取得した検出信号が、終始、試験片2が検出されないとの内容を示す信号以下、試験片未検出信号ともいうである場合、残留状態判定部35は、試験片収容部121内に試験片2が残留していない試験片収容部121における試験片2が空であると判定し、本ルーチンを一旦終了する。この場合、分析装置1のコンピュータは、品質確認プログラムと同様、メモリ16に格納されている分析用プログラム図示省略をCPU15によって実行する。上記分析用プログラムは、試験片2の呈色反応を測光装置17によって測定し、試料である尿中に含まれる特定成分を分析するためのプログラムである。この分析用プログラムを分析装置1のコンピュータが実行することにより、CPU15が、試験片収容部121に収容されている試験片2をポジションP1へと移送する試験片供給制御部31、点着装置14を制御して試験片2に試料を点着する点着装置制御部32、測光装置17に関する制御を実行する測光装置制御部33、測光装置17の受光部172から受光結果を取得して特定成分の濃度を演算、分析する測定部34として機能し、試料の分析処理が行われる。また、ステップS102において残留状態判定部35が、試験片検出センサ124から試験片2を検出したとの内容を示す出力信号以下、試験片残留信号ともいうを取得した場合、試験片収容部121内に試験片2が残留していると判定し、ステップS103の処理が実行される。ステップS103期間算出ステップでは、期間算出部36が試験片の収容期間以下、試験片収容期間というΔPocを算出する。本実施例では、直近における分析装置1の稼動停止時以下、直近稼動停止日時というから再び装置が起動される時以下、直近起動日時というまでの経過期間を試験片収容期間ΔPocとして算出することとした。なお、本分析装置1において、ユーザーにより電源スチッチが操作された時期日時は例えば分析装置1のハードディスクドライブ19に記録されるようになっている。従って、CPU15は、電源スチッチがオンからオフに切り替えられた直近の時期日時をハードディスクドライブ19から読み出すことで直近稼動停止日時を把握することができる。同様に、電源スチッチがオフからオンに切り替えられた直近の時期日時をハードディスクドライブ19から読み出すことで、直近起動日時を把握することができる。そして、直近稼動停止日時から直近起動日時に至るまでの期間を試験片収容期間ΔPocとして算出することができる。本ステップの処理が終了すると、ステップS104の処理が実行される。ステップS104判別ステップでは、判別部37が、ステップS103期間算出ステップにおいて算出された試験片収容期間ΔPocに基づいて、試験片2の劣化状況を判別する。ここでは、判別部37は、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPocaを超えているかどうかに基づいて試験片2の劣化状況を判別する。この許容曝露期間ΔPocaは、試験片収容部121の収容空間S1内において、試験片2を分析精度上問題なく使用可能な状態で維持可能な最長の期間であり、試験片2に劣化が生じているか否かを判断するための試験片収容期間ΔPocに対して設定される判定基準値である。許容曝露期間ΔPocaとしての適正値例えば、3日~5日間程度であってもよいは、予め実験などの経験則に基づいて求めておくと良い。本ステップにおいて、判別部37は試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPocaを超えているか否かを判定する。そして、判別部37は、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPocaを超えているかどうかに基づいて試験片2の劣化状況を判別する。具体的には、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPocaを超えていると判定された場合、判別部37は、試験片2が劣化している可能性がある或いは、劣化している可能性が高いとと判断し、ステップS105の処理が実行される。一方、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPoca以内であると判定された場合、試験片2が正常であるつまり、品質が低下していないと判断する。この場合、本ルーチンを一旦終了し、前述の分析用プログラムが実行される。図2に示したように、分析装置1は報知器39を備えている。ステップS105報知ステップにおいては、報知部38が報知器39を制御して、試験片2の劣化状況をユーザーに報知する。例えば、報知部38は、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPocaを超えている場合、試験片2の試薬パッド22が変質しており品質が低下していること、この試験片2を用いて試料の分析を行った場合に各特定成分における測定値に誤差が生じ、分析結果の信頼性が低くなる虞があること等の内容を含んだ情報をユーザーに報知する。なお、報知部38は、試験片収容期間ΔPocが許容曝露期間ΔPoca以内である場合、試験片2の品質が低下していないことを積極的に報知しても良いが、このように試験片2が正常な状態である場合にはユーザーへの報知、警告自体を行わず、試験片2が劣化している可能性が高いときにだけ報知を行うようにしても良い。本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、前述の分析用プログラムが実行される。以上のように、本実施例における分析装置1によれば、その起動時に試験片2が試験片収容部121内に残留している場合、試験片収容期間ΔPocに応じて試験片2の劣化状況を判別し、その判別結果がユーザーに報知される。よって、分析処理に使用される試験片2の劣化状況をユーザーに適切に認識させることができる。また、本実施例において、試験片品質確認制御の実行結果は、ハードディスクドライブ19に記憶しておくことができる。これにより、分析装置1による試料の分析処理の結果と、分析処理に供された試験片2の劣化状況とを、いつでも照合することが可能である。本実施例においては残留状態判定部35、期間算出部36、判別部37が本発明における劣化判別手段を構成する。また、報知器39とこの報知器39を制御する報知部38が本発明における報知手段に対応している。また、これまでの、或いは後述する分析装置1の実施形態に関する説明は、該分析装置1の試験片収容部121における試験片2の品質を確認するための品質確認装置、品質確認装方法、品質確認プログラムの各実施例としての説明を兼ねる。また、分析装置1のコンピュータに図6に示した各処理フローを実行させる品質確認プログラムは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録する事ができる。そして、コンピュータに、この記録媒体の品質確認プログラムを読み込ませて実行させることにより、その機能を提供させることができる。ここで、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、データやプログラム等の情報を電気的、磁気的、光学的、機械的、または化学的作用によって蓄積し、コンピュータから読み取ることができる記録媒体をいう。このような記録媒体のうちコンピュータから取り外し可能なものとしては、例えばフレキシブルディスク、光磁気ディスク、CD-ROM、CD-R/W、DVD、DAT、8mmテープ、メモリカード等がある。また、コンピュータに固定された記録媒体としてハードディスクやROM等がある。<実施例2>次に、本実施の形態における第2の実施例について説明する。実施例2に係る分析装置1のハード構成は実施例1と同様である。本実施例では、試験片品質確認制御の内容が実施例1と相違するため、その相違点を中心に説明する。本実施例で説明する試験片品質確認制御において、期間算出部36は、試験片収容部121に収容されている試験片2の収容期間を2種類の異なる期間として算出する。具体的には、第1の試験片収容期間ΔPoc1は、残留状態判定部35による試験片収容部121が空になったとの判定以下、この判定を試験片切れ判定というが直近になされた時期以下、直近試験片切れ日時というから直近起動日時までの経過期間である。第2の試験片収容期間ΔPoc2は、実施例1で説明した試験片収容期間であり、直近稼動停止日時から直近起動日時に至るまでの経過期間である。ここで、第1の試験片収容期間ΔPoc1は、上記の通り直近試験片切れ日時から直近起動日時に至るまでの期間であるところ、本実施例では、その期間の途中には第2の試験片収容期間ΔPoc2の始期に相当する直近稼動停止日時が存在する場合を例として説明する。また、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2の終期は共に直近起動日時であり共通する。すなわち、本実施例では、第2の試験片収容期間ΔPoc2が、第1の試験片収容期間ΔPoc1に包含され、該第1の試験片収容期間ΔPoc1よりも短い期間となる場合について説明するが、この態様に限定されるものではない。期間算出部36は、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2をそれぞれ算出する。そして、判別部37は、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2の少なくとも一方に基づいて、試験片2の劣化状況を判別する。以下、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2の双方に基づいて試験片2の劣化状況を判別する制御例について説明する。図7は、分析装置1のコンピュータにより実行される第2の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。本制御ルーチンは、例えば分析装置1の起動をトリガとしてメモリ16に格納されている品質確認プログラムがCPU15によって実行される結果、図7に示す各処理が実現されるようになっている。なお、図6と同様の処理が行われるステップについては共通の符号を付すことで詳しい説明を省略する。ステップS201期間算出ステップでは、期間算出部36が第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2をそれぞれ算出する。それぞれの算出方法については既述の通りである。本ステップの処理が終了すると、ステップS202の処理が実行される。ステップS202とステップS203は、判別部37が実行する判別ステップである。この判別ステップでは、判別部37が、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2のそれぞれと既述した許容曝露期間ΔPocaとを対比し、それぞれの収容期間が許容曝露期間ΔPocaを超えているかどうかを判定する。そして、判別部37は双方の判定結果に基づいて、試験片2の劣化状況を判別する。本実施例において、第2の試験片収容期間ΔPoc2は、第1の試験片収容期間ΔPoc1に包含される期間であり、第1の試験片収容期間ΔPoc1よりも短い。従って、第1の試験片収容期間ΔPoc1が許容曝露期間ΔPoca以内であれば、第2の試験片収容期間ΔPoc2も許容曝露期間ΔPoca以内に収まることになる。そこで、ステップS202においては、判別部37が、第1の試験片収容期間ΔPoc1が許容曝露期間ΔPocaを超えているか否かを判定する。そして、判別部37は、第1の試験片収容期間ΔPoc1が許容曝露期間ΔPocaを超えていると判定した場合にはステップS203の処理を実行する。一方、第1の試験片収容期間ΔPoc1が許容曝露期間ΔPoca以内であると判定した場合、判別部37は、試験片2が正常であると判別する。この場合、そのまま本ルーチンを終了し、実施例1において説明した分析用プログラムが実行されることで試料が分析処理に供される。なお、本ステップで試験片2が正常であると判別された場合、報知部38は報知器39を作動させて、試験片2が正常である旨をユーザーに報知しても良い。次いで、ステップS203において、判別部37は、第2の試験片収容期間ΔPoc2が許容曝露期間ΔPocaを超えているか否かを判定する。まず、第2の試験片収容期間ΔPoc2が許容曝露期間ΔPoca以内であると判定された場合について説明する。この場合、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2のうち、第1の試験片収容期間ΔPoc1のみが許容曝露期間ΔPocaを超えていることを意味する。この場合、判別部37は試験片2が第1劣化状態であると判別し、ステップS204の処理を実行する。なお、この第1劣化状態については後述する。一方、ステップS203において、第2の試験片収容期間ΔPoc2が許容曝露期間ΔPocaを超えていると判定された場合、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2が許容曝露期間ΔPocaを超えていることを意味する。この場合、判別部37は、試験片2が第2劣化状態であると判別し、ステップS205の処理を実行する。第2の試験片収容期間ΔPoc2は、第1の試験片収容期間ΔPoc1に包含される期間であり、第1の試験片収容期間ΔPoc1よりも短い。そこで、本実施例においては、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2の双方が第1の試験片収容期間ΔPoc1のみならず第2の試験片収容期間ΔPoc2も許容曝露期間ΔPocaを超えた場合に判別される第2劣化状態は、第1の試験片収容期間ΔPoc1のみが許容曝露期間ΔPocaを超えた場合に判別される第1劣化状態に比べて、相対的に試験片2の劣化度合いが大きいものと判断する。例えば、第2劣化状態は、試験片2を試料の分析処理に用いた場合に許容できない分析誤差が生じる可能性があると判断される程度の試験片2の劣化状態と捉えることができる。また、第1劣化状態は、この第2劣化状態までは至らない劣化状態として捉えることができる。ここで、ステップS203において判別部37が試験片2を第1劣化状態であると判別した場合、続くステップS204においては報知部38が報知器39を作動させ、試験片2が第1劣化状態である旨をユーザーに報知する。例えば報知部38は、報知器39に分析装置の起動時に試験片収容部に試験片が残留していました等のメッセージを音声、文字等により出力させ、試験片2の残留エラーをユーザーに報知、警告する。本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、前述した分析用プログラムが実行される。また、ステップS203において判別部37が試験片2を第2劣化状態であると判別した場合、続くステップS205において報知部38は報知器39を作動させ、試験片2が第2劣化状態である旨をユーザーに報知する。例えば報知部38は、報知器39に試験片が劣化している可能性があります、ボトルユニットに保管されている試験片と交換して下さい、この試験片を使用すると測定誤差が生じるおそれがあります等のメッセージを音声、文字等により出力させ、試験片2の劣化エラーをユーザーに報知、警告する。本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、前述した分析用プログラムが実行される。以上に説明した試験片品質確認制御によれば、分析装置1の起動時に試験片2が試験片収容部121内に残留している場合、試験片2の劣化状況をユーザーに報知することができる。その際、試験片2の劣化度合いに応じて、報知内容例えば、メッセージ内容を変更する事ができるので、ユーザーに試験片2の劣化状況をより詳細に認識させることができる。もっとも、本実施例では、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2の双方に基づいて試験片2の劣化状況を判別しているが、何れか一方の収容期間に基づいて試験片2の劣化状況を判別しても構わない。ちなみに、第2の試験片収容期間ΔPoc2のみに基づいて劣化状況を判別する例は、実施例1において説明した。そして、第1の試験片収容期間ΔPoc1のみに基づいて劣化状況を判別する場合には、例えば第1の試験片収容期間ΔPoc1が許容曝露期間ΔPocaを超えたと判定されたときに、報知部38が試験片2の残留警告を行うようにしても良い。また、この実施例では、第1の試験片収容期間ΔPoc1及び第2の試験片収容期間ΔPoc2を、共通する許容曝露期間ΔPocaと対比しているが、それぞれ異なる長さの期間として設定される許容曝露期間との対比結果に基づいて試験片2の劣化状況を判別することも可能である。<実施例3>次に、本実施の形態における第3の実施例について説明する。図8は、実施例3における試験片収容部121の概略構成図である。図8に示すように、試験片収容部121には、開閉蓋1211の開閉状態を検知する開閉検知センサ1212が設けられている。この開閉検知センサ1212は、例えば開閉蓋1211側と試験片収容部121側の何れか一方に取り付けられたマグネットと、他方に設置されたリードスイッチと、を含んで構成されている。リードスイッチはいわゆる磁気センサである。開閉蓋1211の開閉動作に伴い、リードスイッチに対してマグネットが離間、又は接近することにより、リードスイッチのオン、オフの切り替え動作が行われる。本実施例においては開閉検知センサ1212が本発明における開閉状態検知手段に対応する。本実施例の分析装置1では、ユーザーが電源スイッチをオフにした場合においても、図示しないバッテリに蓄えられている電力によって開閉検知センサ1212への電力供給を継続して行うことが可能である。その他の構成については、実施例1において説明した分析装置1と同等である。本実施例における試験片品質確認制御では、試験片収容部121に収容されている試験片2の収容期間すなわち、試験片収容期間ΔPocの他、収容期間における開閉蓋1211の開閉状態に基づく試験片2の収容状況を判断基準に用いて、該試験片2の劣化状況を判別する。開閉蓋1211が開放されていると、閉鎖されている場合に比して、試験片収容部121の収容空間S1における気密性が低下する。従って、試験片収容期間ΔPocにおいて開閉蓋1211が開放されていた場合、該開閉蓋1211が閉鎖、遮蔽されていた場合に比べて、試験片2はより劣化し易く、その劣化度合いも大きいものとなることが想定される。そこで、この実施例では、判別部37が試験片2の劣化状況を判別する際、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉状態に基づいて試験片2の劣化度合いについて重み付けを行う。図9は、分析装置1のコンピュータにより実行される第3の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。本制御ルーチンも、分析装置1の起動時に、メモリ16に格納されている品質確認プログラムがCPU15によって実行されることで実現される。本フローチャート図において、図6と同様の処理が行われるステップについては共通の符号を付すことで詳しい説明を省略する。ステップS103の処理が終了すると、ステップS301の処理が実行される。ステップS301では、判別部37が開閉検知センサ1212の出力信号に基づいて開閉蓋1211の開閉状態を取得し、開閉蓋1211が開放状態であるか否かを判定する。本ステップにおいて開閉蓋1211が開放状態であると判定された場合にはステップS302に進み、そうでない場合には、ステップS303に進む。ステップS302において、判別部37は、試験片収容期間ΔPocが開放時許容曝露期間ΔPoca1を超えているか否かを判定する。試験片収容期間ΔPocが開放時許容曝露期間ΔPoca1を超えていると判定された場合、ステップS304に進み、図6のステップS105と同様、報知部38が報知器39を制御することにより、試験片2が劣化していることをユーザーに報知する。一方、試験片収容期間ΔPocが開放時許容曝露期間ΔPoca1以内である場合、本ステップの処理が終了すると本ルーチンを一旦終了し、分析用プログラムの実行に移行する。一方、ステップS303では、判別部37は、試験片収容期間ΔPocが閉鎖時許容曝露期間ΔPoca2を超えているか否かを判定する。試験片収容期間ΔPocが閉鎖時許容曝露期間ΔPoca2を超えていると判定された場合、ステップS304に進み、そうでない場合には本ルーチンを一旦終了し、分析用プログラムが実行される。ここで、開放時許容曝露期間ΔPoca1及び閉鎖時許容曝露期間ΔPoca2は共に、許容曝露期間ΔPocaと同様、試験片2に劣化が生じているか否かを判断するための試験片収容期間ΔPocに対して設定される判定基準値である。開放時許容曝露期間ΔPoca1は閉鎖時許容曝露期間ΔPoca2に比べて、相対的に短い期間に設定されている。従って、ステップS302においては、ステップS303に比べて肯定判定され易くなる。これは、試験片2の劣化状況の判別に際して、試験片2の劣化度合いについて開閉蓋1211の開閉状態に基づいて重み付けを行っていることに他ならない。そして、本制御においては、分析装置1の起動時つまり、直近起動日時において開閉蓋1211が開放されていた場合には、閉鎖されていた場合に比べて劣化度合いがより大きくなるように試験片2の劣化状況を判別するようにした。これにより、試験片収容部121の密閉度に応じて、より精度良く試験片2の劣化度合いを把握することが可能となる。なお、ステップS304の処理が行われ、或いはステップS302やS304において否定判定がなされたことで本ルーチンを抜ける際に、分析装置1の起動時に開閉蓋1211が開いていた事実をユーザーに報知するようにしても良い。例えば、報知部38は、報知器39に起動時に開閉蓋が開いていました等のメッセージを音声、文字等により出力させても良い。変形例1次に、本実施例における第1の変形例について説明する。図10は、分析装置1のコンピュータにより実行される第4の試験片品質確認制御ルーチンを示すフローチャート図である。ここでは、図9と相違するステップの処理内容を中心に説明する。この変形例では、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉状態を考慮して試験片2の劣化状況を判別する点で上記した実施例3に係る制御と同様であるが、更には開閉蓋1211が開放されている期間も考慮して試験片2の劣化状況を判別する。本ルーチンにおいて、ステップS103の処理が終了すると、ステップS401の処理が実行される。ステップS401では、判別部37は、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉状態の履歴以下、開閉履歴と称するを取得する。なお、本変形例では、開閉検知センサ1212が一定時間ごとに検知した開閉蓋1211の開閉状態は、ハードディスクドライブ19又はメモリ16に逐次、記録されるようにしている。判別部37は、このように記録されているデータを読み出す事で、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉履歴を取得、入手する事ができる。ここで、試験片収容期間ΔPoc全体のうち、開閉蓋1211が開放状態にあるトータル期間以下、トータル開放収容期間と称するの割合を開放収容比率Rtoと定義する。ステップS402では、判別部37は、試験片収容期間ΔPocと、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉履歴に基づいて、開放収容比率Rtoを算出する。ステップS403では、判別部37は、開放収容比率Rtoに基づいて可変許容曝露期間ΔPoca3を設定する。可変許容曝露期間ΔPoca3は、許容曝露期間ΔPocaと同様、試験片2に劣化が生じているか否かを判断するための試験片収容期間ΔPocに対して設定される判定基準値である。可変許容曝露期間ΔPoca3は開放収容比率Rtoに応じて可変設定される。例えば、開放収容比率Rtoが高いほど可変許容曝露期間ΔPoca3が短い期間として設定される。これは、開放収容比率Rtoが高いほど試験片2の劣化度合いが大きくなるからである。ステップS404では、判別部37によって、試験片収容期間ΔPocが可変許容曝露期間ΔPoca3を超えているか否かが判定される。ここで、試験片収容期間ΔPocが可変許容曝露期間ΔPoca3を超えていると判定された場合、ステップS405に進む。一方、ステップS404において、試験片収容期間ΔPocが可変許容曝露期間ΔPoca3以内であると判定された場合には本ルーチンを一旦終了し、前述の分析用プログラムが実行される。ステップS405においては、報知部38によって報知器39が制御され、試験片2が劣化していることがユーザーに報知される。その後、本ルーチンを一旦終了し、同じく分析用プログラムが実行される。以上のように本変形例に係る制御によれば、試験片収容期間ΔPocにおいて開閉蓋1211が開放状態にあたる期間の長さを判断基準として、試験片2の劣化状況を判別することができる。なお、開放収容比率Rtoに代えて、トータル開放収容期間の長さに応じて試験片2の劣化状況を判別しても良い。また、上記の例では、試験片収容期間ΔPoc及び開閉蓋1211の開閉状態の2つのファクターに基づいて試験片2の劣化状況を判別しているが、分析装置1の起動時に試験片収容部121における試験片2の残留が検出された場合、開閉蓋1211の開閉状態のみに基づいて試験片2が劣化しているか否かの判別を行っても構わない。例えば、分析装置1の起動時に試験片2が試験片収容部121に残留していることを検出した場合、判別部37は試験片収容期間ΔPocの長短に関わらず、開放収容比率Rtoが規定比率を超えた場合に試験片2が劣化していると判別しても良く、更に、報知部38がその旨をユーザーに報知しても良い。その際、開放収容比率Rtoが高い場合ほど、試験片2の劣化度合いが高いと判別されても良い。変形例2次に、第2の変形例について説明する。ここで実施例1に説明した試験片収容期間ΔPoc実施例2においては第2の試験片収容期間ΔPoc2に対応するは、直近稼動停止日時~直近起動日時に至るまでの経過期間として定義されている。直近稼動停止日時において試験片2が試験片収容部121内に残留していた場合、ユーザーがその試験片2をボトルユニット4に移し換えるのであれば、試験片2を試験片収容部121から取り出すために試験片収容期間ΔPocに一度は開閉蓋1211が開放されることが想定される。そして、直近起動日時に試験片2が試験片収容部121に残留している場合、次の二つのパターンが想定できる。すなわち、第一のパターンは、直近稼動停止日時において余っていた試験片2が、次回の起動時まで試験片収容部121にそのままの状態で放置されるパターンである。第二のパターンは、直近稼動停止日時において余った試験片2が試験片収容期間ΔPocの何れかのタイミングで回収され、それと同時又はその後にボトルユニット4に保管されていた新たな試験片が試験片収容部121に投入された場合である。第二のパターンでは、分析装置1試験片2の直近稼動停止日時~直近起動日時までの経過期間が許容曝露期間ΔPocaを超えたとしても、試験片2の実際の収容期間が許容曝露期間ΔPocaを超えていない可能性もある。そこで、本変形例では、直近起動日時に試験片収容部121における試験片2の残留が検出された場合、図10のステップS103、S401と同様の処理を行う事で、判別部37は、試験片収容期間ΔPocにおける開閉蓋1211の開閉履歴を取得する。そして、判別部37は、この開閉蓋1211の開閉履歴に基づいて、上述した第一パターンと第二パターンとの区別を行い、試験片2の劣化状況を判別するようにした。具体的には、試験片収容期間ΔPocのうち、開閉蓋1211が一旦開放されてから、再び閉鎖されるまでの期間以下、個別開放収容期間と称すΔIvが算出される。ここで、試験片収容期間ΔPocにおいて個別開放収容期間ΔIvが存在しない場合に第一パターンであると判断し、個別開放収容期間ΔIvが存在する場合に第二パターンであると判断しても良い。そして、本変形例では、第二パターンである場合には、第一パターンである場合に比べて、試験片2の劣化度合いが小さくなるように重み付けを行い、該試験片2の劣化状況を判別しても良い。例えば、第一パターンの場合には図9のステップS302の処理を行い、第二パターンの場合には図9のステップS303の処理を行っても良い。また、更なる変形例としては、試験片収容期間ΔPocに個別開放収容期間ΔIvが存在する場合、その個別開放収容期間ΔIvが所定の閾値ΔIvs以下であるかどうかを判定しても良い。ここで、分析装置1の稼動が停止された時点で余った試験片2をユーザーが試験片収容部121から回収し、新たな試験片を投入するのに要する時間すなわち試験片の入れ替えに要する時間として見なす事のできる最長の期間として閾値ΔIvsを設定しておく。そして、個別開放収容期間ΔIvが閾値ΔIvs以内である場合にのみ第二パターンであると判断しても良い。因みに、個別開放収容期間ΔIvが閾値ΔIvsを超える場合には、試験片2の入れ替えが行われたという確度が低いため、試験片2の劣化度合いに関する重み付けを禁止しても良く、或いは、上記した第一パターンと同様に取り扱うようにしても良い。<実施例4>次に、本実施の形態における第4の実施例について説明する。図11は、実施例4における試験片収容部121の概略構成図である。試験片収容部121には、その収容空間S1の湿度および温度以下、これらをあわせて温湿度と総称するを測定する温湿度検出センサ1213が設置されている。温湿度検出センサ1213は温度センサ1213A、湿度センサ1213Bを有する。温度センサ1213Aは、例えば白金測温抵抗体によって構成することができる。この白金測温抵抗体は周知のため詳しい説明を省略するが、金属の電気抵抗が温度変化に対して変化する性質を利用した測温抵抗体の1種であり、温度特性が良好で経時変化が少ない白金Ptを測温素子に用いたセンサである。但し、温度センサ1213Aはこれに限定されるものではなく、例えば熱電対式やその他の方式を採用した温度センサであっても良い。また、湿度センサ1213Bとしては、例えば静電容量式のものを利用しても良い。本実施例においては温湿度検出センサ1213が、本発明における曝露環境検出手段に対応する。なお、この実施例では、ユーザーが電源スイッチをオフにした後においても、図示しないバッテリに蓄えられている電力によって温湿度検出センサ1213への電力供給を継続して行うことができる。そして、この電力供給を受けて、温湿度検出センサ1213は試験片収容期間ΔPocにおいても一定時間ごとに収容空間S1の温湿度の測定を行う。その他のハード構成については、実施例1において説明した分析装置と同様である。ここで、試験片収容期間ΔPocに試験片収容部121内の試験片2が晒される曝露環境は、試験片2の劣化度合いに影響を及ぼす。そこで、本実施例では、温湿度検出センサ1213による検出結果に応じて許容曝露期間を可変設定する。なお、温湿度検出センサ1213の測定結果は、温度履歴データ及び湿度履歴データとしてハードディスクドライブ19に逐次、記憶されるようになっている。図6に示した制御フローを参照して説明すると、同図のステップS103において、試験片収容期間ΔPocが算出されることに加え、上記の各履歴データに基づいて許容曝露期間ΔPocaが設定される。すなわち、判別部37は、ハードディスクドライブ19から直近稼動停止日時~直近起動日時試験片収容期間ΔPocに対応する温度履歴データ及び湿度履歴データを読み出し、当該期間における試験片収容部121の平均温度、平均湿度を算出する。試験片2は高温、多湿な環境下に晒されるほどその劣化度合いが顕著となる。そこで、試験片収容部121の湿度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔPocにおける平均温度が高いほど許容曝露期間ΔPocaがより短い期間として設定される。また、試験片収容部121の温度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔPocにおける平均湿度が高いほど許容曝露期間ΔPocaの設定値がより短い期間として設定される。このようにすれば、試験片2の晒される曝露環境の差異に応じて試験片2の劣化状況を的確に判別し、その品質をより精度良く確認することができる。なお、本実施例における分析装置1は、温度センサ1213A及び湿度センサ1213Bを備えているが、温度センサ1213A及び湿度センサ1213Bの何れか一方のみを備えるようにしても良い。例えば、温度センサ1213Aのみを備える場合、試験片収容期間ΔPocにおける試験片収容部121の平均温度が高いほど許容曝露期間ΔPocaをより短い期間として設定しても良い。また、分析装置1が湿度センサ1213Bのみを備える場合、試験片収容期間ΔPocにおける試験片収容部121の平均湿度が高いほど、許容曝露期間ΔPocaをより短い期間として設定しても良い。また、試験片収容期間ΔPocに試験片2が晒される曝露環境に応じて許容曝露期間ΔPocaを可変設定する代わりに、或いは併用して、判別部37は、試験片2の劣化度合いの重み付けを、上記曝露環境に応じて実施しても良い。例えば、判別部37は、試験片収容部121の湿度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔPocにおける平均温度が高いほど、試験片2の劣化度合いをより高く判断しても良い。同様に、判別部37は、試験片収容部121の温度環境が同等であれば、試験片収容期間ΔPocにおける平均湿度が高いほど、試験片2の劣化度合いをより高く判断しても良い。これによっても、試験片2が晒される曝露環境に応じて試験片2の劣化状況を的確に判別し、その品質をより精度良く確認することができる。なお、本実施例では、試験片2が晒される曝露環境を反映する代表値として試験片収容部121の温度湿度の平均値を用いているが、これに限られるものではなく、例えば温度湿度の最大値や中央値などを採用しても良い。以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明に係る分析装置、品質確認装置、品質確認装方法、品質確認プログラム等はこれらに限らず、可能な限りこれらの組合せを含むことができる。また、以上述べた実施の形態は本発明を説明するための一例であって、本発明の本旨を逸脱しない範囲内において上記の実施形態には種々の変更を加え得る。