"セラミックメタルハライドランプの製造方法に於いて、前記セラミックメタルハライドランプの発光管は、所定量の水銀、金属ハロゲン化物及び希ガスと共に、ヨウ化銀AgIが封入されており、AgI/金属ハロゲン化物総量重量比を変化させて、光束の変化を測定して許容できる光束の低下率からAgI/金属ハロゲン化物総量の上限値を規定して、AgIの上限量を決定し、AgI/金属ハロゲン化物総量重量比を変化させて、ランプ電圧の変化を測定して許容できるランプ電圧の低下率からAgI/金属ハロゲン化物総量の下限値を規定して、AgIの下限量を決定し、前記AgIの上限量及び下限量の範囲のAgIの量を、他の封入物質と共に発光管内に封入して、発光管を完成させ、前記発光管を使用して、ランプを製作する、セラミックメタルハライドランプの製造方法。セラミックメタルハライドランプの製造方法に於いて、前記セラミックメタルハライドランプの発光管は、所定量の水銀、金属ハロゲン化物及び希ガスと共に、ヨウ化銀AgIが封入されており、AgI/金属ハロゲン化物総量重量比を変化させて、ランプ電圧の変化を測定して許容できるランプ電圧の低下率からAgI/金属ハロゲン化物総量の下限値を規定して、AgIの下限量を決定し、AgI/金属ハロゲン化物総量重量比を変化させて、光束の変化を測定して許容できる光束の低下率からAgI/金属ハロゲン化物総量の上限値を規定して、AgIの上限量を決定し、前記AgIの上限量及び下限量の範囲のAgIの量を、他の封入物質と共に発光管内に封入して、発光管を完成させ、前記発光管を使用して、ランプを製作する、セラミックメタルハライドランプの製造方法。請求項1又は2に記載の製造方法によって製造されたセラミックメタルハライドランプ。次式によって特定されるヨウ化銀又は臭化銀を封入した発光管を使用したセラミックメタルハライドランプ。請求項1~4のいずれか一項記載のセラミックメタルハライドランプに使用される発光管は、電極マウントと細管部との隙間上下合計が0.1±0.05mmである、セラミックメタルハライドランプ。セラミックメタルハライドランプは、製品完成後の点灯初期において、電気特性が変化し、これに伴い光学特性も変化する傾向がある。特に、最初の10時間は変化が激しく、100時間を経過すると、電気特性及び光学特性は安定する。この電気特性の変化は、ランプ電圧の低下として現れ、光学特性の変化は、色変化として現れる。ランプ電圧の低下を補償する為に、初期ランプ電圧が高くなるような仕様で設計すると、ランプの立ち消え等の問題が生じる。そこで、本発明は、点灯初期における電気特性の変化及び光学特性の変化を減少せしめたセラミックメタルハライドランプを提供することを目的とする。更に、本発明は、点灯初期における電気特性の変化及び光学特性の変化を減少せしめたセラミックメタルハライドランプの製造方法を提供することを目的とする。上記目的に鑑みて、本発明に係るセラミックメタルハライドランプの製造方法は、前記セラミックメタルハライドランプの発光管は、所定量の水銀、金属ハロゲン化物及び希ガスと共に、ヨウ化銀AgIが封入されており、AgI/金属ハロゲン化物総量重量比を変化させて、光束の変化を測定して許容できる光束の低下率からAgI/金属ハロゲン化物総量の上限値を規定して、AgIの上限量を決定し、AgI/金属ハロゲン化物総量重量比を変化させて、ランプ電圧の変化を測定して許容できるランプ電圧の低下率からAgI/金属ハロゲン化物総量の下限値を規定して、AgIの下限量を決定し、前記AgIの上限量及び下限量の範囲のAgIの量を、他の封入物質と共に発光管内に封入して、発光管を完成させ、前記発光管を使用して、ランプを製作する、方法である。更に、本発明に係るセラミックメタルハライドランプの製造方法は、前記セラミックメタルハライドランプの発光管は、所定量の水銀、金属ハロゲン化物及び希ガスと共に、ヨウ化銀AgIが封入されており、AgI/金属ハロゲン化物総量重量比を変化させて、ランプ電圧の変化を測定して許容できるランプ電圧の低下率からAgI/金属ハロゲン化物総量の下限値を規定して、AgIの下限量を決定し、AgI/金属ハロゲン化物総量重量比を変化させて、光束の変化を測定して許容できる光束の低下率からAgI/金属ハロゲン化物総量の上限値を規定して、AgIの上限量を決定し、前記AgIの上限量及び下限量の範囲のAgIの量を、他の封入物質と共に発光管内に封入して、発光管を完成させ、前記発光管を使用して、ランプを製作する、方法である。更に、本発明に係るセラミックメタルハライドランプは、上記製造方法のいずれかによって製造されている。更に、本発明に係るセラミックメタルハライドランプは、次式によって特定されるヨウ化銀又は臭化銀を封入した発光管を使用している。更に、上記のいずれかのセラミックメタルハライドランプでは、発光管は、電極マウントと細管部との隙間上下合計が0.1±0.05mmであってよい。本発明によれば、点灯初期における電気特性の変化及び光学特性の変化を減少せしめたセラミックメタルハライドランプを提供することが出来る。更に、本発明によれば、点灯初期における電気特性の変化及び光学特性の変化を減少せしめたセラミックメタルハライドランプの製造方法を提供することが出来る。以下、本発明に係るセラミックメタルハライドランプの実施形態に関して、添付の図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中、同じ要素に対しては同じ参照符号を付して、重複した説明を省略する。[セラミックメタルハライドランプ]図1は、セラミックメタルハライドランプの構造を説明する図であり、図1Aはランプの正面図、図1Bはその側面図である。ランプ10は、外球2の内部に、発光部となる発光管4を内封し、発光管の周囲を内管18が取り囲んでいる。外球2の端部には、E形の口金6が接合されている。発光管4は、金属の線材や板を組み合わせた構造物に内管18を取り付けたマウント8により、所定の位置に支持され、給電される。これらの各要素について簡単に説明する。発光管4に関しては、後で、図2に関連して説明する。マウント8は、一対の導入線が気密封着されたステム管14と、一方の導入線に接続された、ニッケルメッキ鉄線等の線材や略長四角形状の枠状に成形した丸棒体から成る支柱16とを主要部品として構成されている。内管18は、発光管4が破裂したときに外球への影響を防止するために発光管4の周囲を夫々囲むように配設され、透明石英ガラス管から成る。内管18には、図示した開放型内管と密封型内管とがある。外球2は、例えば、ホウケイ酸ガラス等の透光性の硬質ガラスからなる。透明型と拡散型不透明がある。外球2は、最大口径の中央部2a、図で見て下部側の閉塞されたトップ部2c、及び上部側のネック部2bを有するBT形をなしている。ネック部2bには、ステム管14のフレア部が封止された封止部が有る。封止後、ステム管14に設けられた排気管図示せず。を通じて外球2内は排気され、アルゴンAr,窒素N2等の不活性ガスが封入され、或いは真空にした気密雰囲気となっている。この封止部を覆ってねじ込み形口金6が耐熱性の接着剤を用いて接合され、或いはモールドにより形成された螺旋状のねじ溝に口金6が螺合されて、取付けられる。図1に示すランプ10は、口金6をソケット図示せず。に装着して、電源から所定の点灯回路装置を介して通電され、主電極間の放電により安定した点灯が持続される。[発明完成までの過程]セラミックメタルハライドランプでは、製品完成後の点灯初期において、ランプ電圧が低下し、これに伴い色変化が生じる傾向がある。発明者は、ランプ電圧が低下した発光管を調査解析した結果、原因の1つとして、発光管4の太管部4a内の封入物質が電極マウントと細管部との隙間に浸透し、その結果、太管部4a内の封入物質が減量することを突きとめた。図2は、発光管の詳細を説明する図であり、図2は、発光管全体を説明する図であり、図2Bは図2Aに□矩形で囲んだ細管部4cの拡大図である。図2に示すように、発光管4は、中央の太管部4a及び両端の細管部キャピラリーともいう。4b,4cの形状をもつ透光性セラミックス製の容器である。1対のリード線44-1,44-2が、これら細管部4b,4cを夫々通って太管部4aの領域まで延びて、1対のタングステンW製の主電極を形成している。太管部4aの容器内には、発光及び放電媒体として、所定量の水銀と、金属ハロゲン化物と、希ガスとして所定圧力のアルゴンAr等が封入され、発光効率、演色性,色温度等の特性の向上が図られている。図2Bを参照しながら、太管部4a内の封入物質が電極マウントと細管部との隙間に浸透する現象を説明する。太管部4aに繋がる細管部4cは、多結晶アルミナPCAから成る。細管部4cの先端部から軸線に沿って、リード線44-2が挿入されており、これがサーメット46に繋がっており、更にモリブデンコイル棒45に繋がっており、その先にタングステン電極棒41が形成されている。細管部4cの先端部は、フリットシール材47によって封止されている。細管部4bも細管部4cと同様の構造である。封入物質48の金属ハロゲン化物は、発光管製作時には固体状態粉末,ペレット等で太管部4a内に封入され、点灯中は、液体と気体の混合状態となっている。この金属ハロゲン化物が、僅かではあるが、細管部4cとモリブデンコイル棒45との隙間から細管部先端に向けて浸透すると共に、多結晶アルミナを浸食する。これにより、発光管太管部4a内の封入物質が減量し、ランプ電圧の低下、色変化に表れるものと思われる。細管部4cとモリブデンコイル棒45との隙間は、上下合計して、0.1±0.05mmにある。このようなセラミック製発光管は、フィリップ社が開発したもので、その後、基本的な構造は変わっていない。そこで、本発明者は、封入物質が電極マウントと細管部との隙間に浸透する現象の対策として、当初、次の2つを挙げて検討した。対策1:太管部4aに封入する封入物質を増量することで、例え隙間に浸透して減量しても、太管部4aには必要量が確保できるようにする。対策2:細管部の電極マウントと細管部との隙間を可能な限り狭くする。しかし、現状では、細管部の電極マウントと細管部との隙間を更に狭くすることは、電極マウントを確実に細管部に挿入するために部品の公差を厳しくする必要があるので歩留まりの低下を招き、コストアップとなる。また上記の挿入作業がやりにくくなるため、作業効率の低下を招くことが判明したので、採用していない。[太管部の封入物質の増量]しかし、太管部2aに封入物質48である金属ハロゲン化物を現状と同じ比率で増量すると、細管部4cの多結晶アルミナを浸食する傾向が高まる問題が生じた。特に、封入物質48として、Dy、Ho、Tmなどの希土類金属ハロゲン化物を含む場合には、多結晶アルミナの浸食が顕著となる。そこで、金属ハロゲン化物を増量する代わりに、ヨウ化銀AgIを添加することとした。ヨウ化銀を採用した理由は、基本的に可視光領域に強いピークが無いためランプの光学特性に大きな影響を与えず、更に、細管部を形成する多結晶アルミナとほとんど反応しないので浸食のおそれも無いからである。しかし、実験を通じて、ヨウ化銀を過剰に増量すると、ランプの光束値に微妙な影響が出ることが判明した。そこで、金属ハロゲン化物に対するヨウ化銀の量を決定する実験を行った。第1段階として、光束値に大きな影響が出ない範囲で、ヨウ化銀の量の上限値を規定した。光束値の変化が±5以内であれば、人間の眼に違和感は無く、実用上問題は無い。一方、金属ハロゲン化物に対するヨウ化銀の量が少ないと、隙間への浸透のためランプ電圧の低下を抑制できない。そこで、第2段階として、ランプ電圧が大きく低下しない範囲で、ヨウ化銀の量の下限値を規定した。ランプ電圧値の変化が±5以内であれば、実用上問題は無い。図3Aは、定格出力100Wのセラミックメタルハライドランプのデータであり、点灯初期0~100時間におけるランプ電圧の変化を示すグラフである。パラメータとして、ヨウ化銀と金属ハロゲン化物総量の重量比以下、単にAgI/総量と略す。として、AgI/総量=0.30と0.47をとり、比較例としてAgI/総量=ゼロを示している。図3Aで分かるように、AgI/総量=ゼロの場合、ランプ電圧VLは初期値より平均で-9V低下した。これに対して、AgI/総量=0.10、0.30及び0.47の場合は、ランプ電圧VLの低下はー3.1~3Vの範囲であり、平均値はゼロに近づく。図3Bは、図3Aを書き換えたグラフである。所定の電圧例えば、定格電圧は垂直点灯の場合、通常130Vだが、最大145Vになるランプがある。このランプを水平方向に設置して、安価な銅鉄安定器で点灯すると、更にランプ電圧が上昇し、160Vになる。AgI/総量=ゼロのときは7~11Vのランプ電圧の低下が見込まれるため、出荷当初のランプ電圧を171Vに設定することが必要となる。このランプの場合、設置場所の電源電圧が上昇すると、それに伴ってランプ電圧も上昇する。点灯中のランプ電圧が180Vになると、ランプの立ち消え等が発生するおそれがある。一方、AgI/総量=0.10、0.30及び0.47の場合は、ほぼランプ電圧の低下を考慮する必要が無いので、出荷当初の水平点灯時のランプ電圧を160Vに設定できる。以上の実験により、AgIの添加が有効であることが判明したので、次に、AgI/総量の範囲を決定することとした。第1段階として、許容できる光束の低下率から、AgI/総量の上限値を規定した。これにより、そのランプの総量即ち、金属ハロゲン化物の総量は明かであるので、AgIの上限量を決定することが出来る。図4は、AgI/総量をゼロ~0.5迄変化させたときの点灯初期経過後即ち、100時間経過後の光束の変化率を示すデータである。AgI/総量を高めることで光束は低下する。光束の低下が5以内であれば、ランプの実用上問題は無い。そこで、図4から、AgI/総量の上限値を0.35と規定した。これにより、AgIの上限量を決定することが出来る。第2段階として、許容できるランプ電圧の低下から、ヨウ化銀の量の下限値を規定した。これにより、そのランプの総量即ち、金属ハロゲン化物の総量は明かであるので、そのランプのAgIの下限量を決定することが出来る。図5は、AgI/総量をゼロ~0.5迄変化させたときの点灯初期経過後即ち、100時間経過後のランプ電圧の変化を示すデータである。AgI/総量を高めることでランプ電圧は低下する。ランプ電圧の低下が5以内であれば、実用上問題は無い。そこで、図5から、AgI/総量の上限値を0.1と規定した。AgI/総量=0.1であれば、バラツキの範囲を考慮しても、低下率は5以下となる。これにより、AgIの下限量を決定することが出来る。以上により、AgI/総量の範囲は、0.1≦AgI/総量≦0.35と規定した。図6は、ランプ製造のフローであり、AgI/総量の範囲を規定する手順を示すものである。ステップS1で、AgI/総量の上限値を決定する。具体的には、図4に示すように、AgI/総量を変化させて、光束の変化を測定する。許容できる光束の低下率から、AgI/総量の上限値を規定し、AgIの上限量を決定する。ステップS2で、AgI/総量の下限値を決定する。具体的には、図5に示すように、AgI/総量を変化させて、ランプ電圧の変化を測定する。許容できるランプ電圧の低下から、AgI/総量の下限値を規定し、AgIの下限量を決定する。なお、ステップS1とS2の順序は逆でもよい。ステップS3で、上記下限値~上限値の範囲内でAgI/総量を規定し、その発光管に封入すべきAgIの絶対量を決定し、他の封入物質と共に発光管内に封入し、発光管を完成させる。ステップS4で、この発光管を使用して、ランプを製作する。代替例上記実施形態では、ヨウ化銀AgIを使用している。しかし、他のハロゲン化銀、特に臭化銀AgBrも同様の特性を有している。そこで、ヨウ化銀AgIに代えて、臭化銀AgBrを使用することもできる。更に、他のヨウ化金属ヨウ化銅及びヨウ化金も、ヨウ化銀及び臭化銀AgBrとほぼ同様の特性を有している。そこで、これらに代えて、これらのヨウ化金属を使用することも期待できる。[まとめ]以上、本実施形態に係る外球保護構造を備えたセラミックメタルハライドランプについて説明したが、これらは例示であって、本発明の範囲を制限するものではない。当業者が、本実施形態に対して容易になしえる追加削除変更改良等は、本発明の範囲内である。本発明の技術的範囲は、添付の特許請求の範囲の記載によって定められる。"