"磁場感知式の2つのセンサに対して相対的に移動可能な要素の絶対的な位置を特定する方法であって、前記要素には磁場源が固定され、その磁気的特性が、第1のセンサ信号101が磁場感知式の第1のセンサにより測定され、かつ、第2のセンサ信号102が磁場感知式の第2のセンサにより測定されることで、磁場感知式の前記センサにより検出され、前記第1のセンサ信号101及び前記第2のセンサ信号102が磁場の成分を表すとともに、これらセンサ信号101,102が0°<φ<180°又は180°<φ<360°の範囲の位相ずれφを有している、前記方法において、-ゲインがあらかじめ設定可能な信号レベル変化を前記各センサ信号101,102の最大値及び最小値で除することによって特定されること、-オフセット値103,104が、前記センサ信号101,102の各ゼロ点付近において前記センサ信号101,102の最小値及び最大値に基づいて特定されること、-前記オフセット値を前記センサ信号101,102から減算し、前記ゲインで規格化することにより、規格化されたセンサ信号が算出され、このとき、最小値及び最大値の特定が、前記両センサ1,2の前記センサ信号101,102の同時の検出時に総移動にわたる前記要素及びこれに固定された前記磁場源の相対移動によってなされること、-規格化された前記センサ信号107,108により合計信号109及び差異信号110が形成されること、-前記合計信号109及び前記差異信号110がここでもゲインの特定後に規格化され113,114、このとき、最小値及び最大値の特定が、同時の前記合計信号109及び前記差異信号110の測定時並びに前記合計信号109及び前記差異信号110の最小値及び最大値の評価時に、総移動にわたる前記要素及びこれに固定された前記磁場源の相対移動によってなされること、及び-規格化された前記合計信号113及び規格化された前記差異信号114により、前記磁場源の絶対的な位置202が算出されることを特徴とする方法。磁場の前記成分が径方向又は垂直方向の成分であることを特徴とする請求項1記載の方法。移動可能な前記要素が、回転可能又は直進運動的に支持されているとともに、これに応じて直進運動的な移動経過における磁場源の絶対的な位置202又は磁場源の回転位置202が算出されることを特徴とする請求項1又は2記載の方法。磁場源の絶対的な回転位置202が、規格化された前記合計信号113と規格化された前記差異信号114の比率のアークタンジェントの形成により算出されることを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の方法。前記磁場源の絶対的な回転位置が、座標変換のアルゴリズム、好ましくはCORDICアルゴリズムによって算出されることを特徴とする請求項1~4のいずれか1項に記載の方法。前記センサ信号1,2がノイズよりも大きいことを特徴とする請求項1~5のいずれか1項に記載の方法。相対的に移動する要素の非接触の検出のための装置であって、前記要素が移動する当該要素4に固定された磁場源を備えている、前記装置において、1つの平面に位置しつつ移動方向へ空間的にずらされた磁場感知式の2つのセンサ1,2が前記磁場源5から離間して配置されており、これらセンサ1,2の間の間隔が、生じるセンサ信号の位相ずれが180°及び360°とならないよう選択されていることを特徴とする装置。磁場感知式の前記センサがホールセンサとして形成されていることを特徴とする請求項7記載の装置。磁場感知式の前記センサが、これらセンサが磁場の径方向成分又は垂直方向成分を検出するよう構成されていることを特徴とする請求項7又は8記載の装置。前記磁場源が多極に磁化されたディスク磁石7又はpp極の対を有するリング磁石9を備え、前記磁場源は、前記極の対の数量により分割された、絶対的に測定可能な360°の回転位置範囲を可能とするものであることを特徴とする請求項7~9のいずれか1項に記載の装置。前記磁場源が、2極の対向して磁化されたディスク磁石5を備えていることを特徴とする請求項7~9のいずれか1項に記載の装置。移動可能な前記要素が、回転可能に支持された要素4又は直進的に移動する要素10として構成されていることを特徴とする請求項7~11のいずれか1項に記載の装置。前記センサ1,2が共通して1つのセンサチップに統合されていることを特徴とする請求項7~12のいずれか1項に記載の装置。前記センサチップがアナログ/デジタル変換器を含んでおり、該アナログ/デジタル変換器が、入力側で前記センサ1,2の出力部に接続され、出力側でデジタルの演算ユニットに接続されていることを特徴とする請求項13記載の装置。前記デジタルの演算ユニットが、オフセット103,104及び増幅105,106,111,112を記録するための記憶装置を備えていることを特徴とする請求項14記載の装置。本発明の目的とするところは、信頼性が高く、確実に動作する、移動する要素の絶対的な位置特定のための方法を提供することにある。また、本発明の他の目的は、本発明による方法を実行する装置を提供することでもある。上記目的は、本発明に基づき、方法としての請求項1及び装置としての請求項7の特徴により、達成される。各従属請求項は、特別な実施形態に該当する。本発明は、磁場感知式の2つのセンサに対して相対的に移動可能な要素の絶対的な位置を特定する方法であって、前記要素には磁場源が固定され、その磁気的特性が、第1のセンサ信号が磁場感知式の第1のセンサにより測定され、かつ、第2のセンサ信号が磁場感知式の第2のセンサにより測定されることで、磁場感知式の前記センサにより検出され、前記第1のセンサ信号及び前記第2のセンサ信号が磁場の成分を表すとともに、これらセンサ信号が0°<φ<180°又は180°<φ<360°の範囲の位相ずれφを有している、前記方法に関するものであり、-ゲインがあらかじめ設定可能な信号レベル変化を前記各センサ信号の最大値及び最小値で除することによって特定されること、-オフセット値が、前記センサ信号の各ゼロ点付近において前記センサ信号の最小値及び最大値に基づいて特定されること、-前記オフセット値を前記センサ信号から減算し、前記ゲインで規格化することにより、規格化されたセンサ信号が算出され、このとき、最小値及び最大値の特定が、前記両センサの前記センサ信号の同時の検出時に総移動にわたる前記要素及びこれに固定された前記磁場源の相対移動によってなされること、-規格化された前記センサ信号により合計信号及び差異信号が形成されること、-前記合計信号及び前記差異信号がここでもゲインの特定後に規格化され、このとき、最小値及び最大値の特定が、同時の前記合計信号及び前記差異信号の測定時並びに前記合計信号及び前記差異信号の最小値及び最大値の評価時に、総移動にわたる前記要素及びこれに固定された前記磁場源の相対移動によってなされること、及び-規格化された前記合計信号及び規格化された前記差異信号により、前記磁場源の絶対的な位置が算出されることを行うものである。また、方法の一実施形態においては、磁場の前記成分が径方向又は垂直方向の成分であるものとなっている。また、方法の一実施形態においては、移動可能な前記要素が、回転可能又は直進運動的に支持されている。また、方法の一実施形態においては、磁場源の絶対的な回転位置が、規格化された前記合計信号と規格化された前記差異信号の比率のアークタンジェントの形成により算出されるようになっている。また、方法の一実施形態においては、前記磁場源の絶対的な回転位置が、座標変換のアルゴリズム、好ましくはCORDICアルゴリズムによって算出されるようになっている。また、方法の一実施形態においては、前記センサ信号がノイズよりも大きいものとなっている。本発明は、更に、相対的に移動する要素の非接触の検出のための装置であって、前記要素が移動する当該要素に固定された磁場源を備えている、前記装置に関するものであり、1つの平面に位置しつつ移動方向へ空間的にずらされた磁場感知式の2つのセンサが前記磁場源から離間して配置されており、これらセンサの間の間隔が、生じるセンサ信号の位相ずれが180°及び360°とならないよう選択されている。また、装置の一実施形態においては、前記磁場源が多極に磁化されたディスク磁石又はpp極の対を有するリング磁石を備え、前記磁場源は、前記極の対の数量により分割された、絶対的に測定可能な360°の回転位置範囲を可能とするものとなっている。また、装置の一実施形態においては、前記磁場源が、2極の対向して磁化されたディスク磁石を備えている。また、装置の一実施形態においては、移動可能な前記要素が、回転可能に支持された要素又は直進的に移動する要素として構成されている。また、装置の一実施形態においては、前記センサが共通して1つのセンサチップに統合されている。また、装置の一実施形態においては、前記センサチップがアナログ/デジタル変換器を含んでおり、該アナログ/デジタル変換器が、入力側で前記センサの出力部に接続され、出力側でデジタルの演算ユニットに接続されている。また、装置の一実施形態においては、前記デジタルの演算ユニットが、オフセット及び増幅を記録するための記憶装置を備えている。本発明によれば、信頼性が高く、確実に動作する、移動する要素の絶対的な位置特定のための方法及び該方法を実行する装置を提供することが可能である。以下に本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。図9及び図10にはブロック100におけるアナログの信号処理経過が示されており、ブロック200にはデジタルの信号処理経過が示されている。図9に示すような実施例においては、ホールセンサ1,2の測定信号が30°の位相合わせを有しており、すでに増幅され、かつ、位置決め精度並びにオフセット電圧及び異なる信号レベルを有するプロセス技術的な許容差に基づいて影響されるものと理解される。第1のステップにおいては、センサ信号101,102のオフセット電圧が減算され、信号レベルが規格化された信号レベル変動例えば2Vssに適合される。規格化された信号レベルは信号107,108として利用でき、これが図10に示されている。オフセット1、オフセット2、ゲイン1及びゲイン2についての必要なトリム値を算出するためには、センサ信号101,102の最小値及び最大値の検出で十分である。このことは、センサ信号101,102の最小値及び最大値の検出と同時に磁場源を単純に回転させることでなされる。そして、これら最小値及び最大値から、トリムに必要な値が以下のように算出され得る:ここで、H1max,min=センサ信号1101の最大値あるいは最小値であり、H2max,min=センサ信号2102の最大値あるいは最小値である。次のステップにおいて、これら規格化された信号から合計109及び差異110が形成される。図11には、これらの信号が示されている。差異信号に対する合計信号の信号レベル変動の割合は、入力信号101,102の位相合わせφに依存する。しかし、この差異信号に対する合計信号の位相合わせφは、常に90°となっている。1つの例外は位相合わせφ=360°=0°及びφ=180°の特殊な場合を形成し、これにおいては、φ=180°で合計信号が0となり、φ=360°=0°で差異信号が0となるため、回転位置の決定が不可能である。図13には、この関係が具象的に示されている。x軸は入力信号101,102の位相比率を示しているとともに、y軸は差異信号に対する合計信号のピーク値の増幅比率を示している。合計信号のピーク値の数学的関係は、位相合わせに対するによって、0°<φ<180°に対して180°<φ<360°に対してから算出される。更なるステップにおいて、合計信号109及び差異信号110がここでも例えば2VSSであるあらかじめ設定された値へ規格化される。ゲイン3及びゲイン4に対する必要なトリム値を算出するためには、合計信号及び差異信号の最小値及び最大値の検出で十分である。このことは、合計信号及び差異信号の最小値及び最大値の検出と同時に磁場源5を全周期にわたって単純に回転させることでなされる。そして、これら最小値及び最大値から、トリムに必要な値が以下のように算出され得る:純粋なサインカーブに対応する規格化されたセンサ信号107,108を有し、もはやオフセット電圧がないものと仮定すれば、合計及び差異の形成によって、同様に追加的なオフセットが生じない。このことは、合計信号及び差異信号の最小値及び最大値によってチェックされ、かつ、場合によっては補正もなされる:したがって、合計信号113及び差異信号114の規格化された信号は、正確に90°位相がずれつつ同様の信号レベル変動を有する2つの信号を生じさせる。そして、これら信号は、回転位置の算出に直接利用される。以下では、規格化された合計信号113がVsinで、規格化された差異信号114がVcosで記載される。Vsin=ゲイン3[ゲイン1H1-オフセット1ゲイン2H2-オフセット2]Vcos=ゲイン4[ゲイン1H1-オフセット1ゲイン2H2-オフセット2]ここで、H1=ホールセンサ1101のセンサ信号H2=ホールセンサ2102のセンサ信号オフセット1=ホールセンサ1103のオフセット信号オフセット2=ホールセンサ2104のオフセット信号ゲイン1=センサ信号H1105の増幅ゲイン2=センサ信号H2106の増幅ゲイン3=合計信号111の増幅ゲイン4=差異信号112の増幅である。入力信号Vsin113及びVcos114に基づいて、磁場源の絶対的な回転位置W202を、アークタンジェント関数又は例えばデジタルのCORDICアルゴリズムのような座標変換の他の適当な座標変換手段を用いて検出することが可能である。座標変換の値B203は、全ての回転位置に対して一定となり、となる。図12には、規格化された合計信号113=Vsin及び規格化された差異信号114=Vcosが示されている。さらに、第2の縦軸においては、Vsin及びVcosから算出された、/-180°の目盛りにおける絶対的な回転位置202が示されている。多くの応用において、算出された回転位置を回転可能な要素4の所定の機械的な位置、例えば回転式アクチュエータのゼロ位置と合致させるのが好ましい。このことを容易にするために、任意の回転位置をゼロ-基準値204の減算によってゼロに設定することができる。さらに、示された回転位置の達成された精度は、線形化回路によって任意に高められ得る。線形化の通常の形態は、算出された回転位置を使用者によって定義された基準点に適合させるよう試みる、表又は数学的な補正関数である。以下においては、算出され、かつ、線形化された回転位置W_Lを、アナログの信号形態波形207又はデジタルの信号形態波形208に変換することにより使用することが可能である。1つの好ましい実施形態においては、図8に示すように、信号処理がデジタルパスにおいてなされる。ホールセンサ1,2から発出される信号101,102はアナログ-デジタル変換器201/1によって直接デジタルの信号形態波形に変換され、図7においてブロック100で記載された信号処理ステップは、デジタルの演算ユニットにおいて実行される。このために必要な、増幅、オフセット、ゼロ点及び線形化のためのパラメータをデジタルの記憶装置にメモリすることが可能である。磁場源の垂直方向の構成要素が評価されるべき場合には、ホールセンサは、磁場源の下方に配置される。本発明によれば、回転可能な物体の絶対的な角度位置を検出することができ、このとき、両ホールセンサは、共通の基板に統合されているとともに、回転可能な物体に取り付け可能な磁場源の径方向又は垂直方向の磁場をその周囲において測定し、評価する。ホールセンサの信号は、離れた領域における任意の位相ずれ及び信号レベル変動を有し得る。2極の磁場源を用いる場合には、絶対的な角度位置を360°の全回転にわたって直接的に測定可能である。また、多極の磁場源を用いる場合には、極の対の内部において絶対的な角度位置を直接的に測定可能である。それゆえ、絶対的な位置特定を360°の全回転にわたって直接的に測定可能である。また、この構造によれば、取付精度不良によって生じる両ホールセンサの位相ずれ、オフセット及び信号レベル変動に関する信号変化基準動作によって検出されて補正されるため、センサの磁場源に関する調整に対する広い許容差範囲が得られる。さらに、磁場源が測定すべき角度範囲にわたって移動し、このとき、最大値及び最小値のような重要な信号点が測定される。この信号点により、増幅ずれ、オフセットずれ及び位相ずれに影響される両センサ信号に基づいて、同様の信号レベルを有しつつオフセットを有さない正確に90°位相のずれた2つの信号を算出することができる補正パラメータが算出される。つづいて、これら両信号はデジタルの信号形態に変換され、デジタルパスにおいて回転可能な物体の絶対的な回転位置が算出される。合計及び差異の形成による信号の評価の手法により、特に極の範囲で、90°あるいは270°の角度位置の領域において外部磁場に対する明確な耐干渉性が得られる。本発明の利点は、とりわけ自動車産業のセンサにおいて動作する物体の絶対的な回転角度位置の非接触による特定、産業オートメーション、医用技術の装置及び消費財産業におけるその頑強性及び長寿命に基づくその適用性にある。本発明によれば、センサ及び評価回路を1つの基板に統合することができるとともに、半導体産業の標準プロセス手法により安価、すなわちできる限り少ない面において製造することが可能である。本発明の好ましい実施形態においては2つのホールセンサによって径方向の磁場のみすなわち1つの軸における磁場のみが検出されて評価されるため、この構造は、外部の干渉磁場からの影響をより受けにくい。干渉抑制の他の改良は、両センサ信号の微分評価により達成される。これにより、極の範囲、90°あるいは270°の角度位置の領域において、外部磁場に対する明確な耐干渉性が達成される。さらに、本発明の利点は、0°<φ<180°又は180°<φ<360°の範囲において位相ずれの補正が可能であることである。本発明の利点は、更に、2つのホールセンサを1つのケーシングに統合可能であることにもある。本発明を複数の例及び図に基づいて詳細に説明したが、この説明は、本発明を限定するものではない。当業者にとって、本発明の特許請求の範囲を逸脱しない限り変更及び変化させることが可能である。特に、本発明は、ここに示す異なる実施形態の特徴の各組合せを有する複数の実施形態を含むものである。"