多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部と、原点からの時間の比例値に基づいて、前記過渡回復電圧波形を変換する波形変換部と、変換された波形において、最大値が同じとなる2点を判定する波高判定部と、前記波高判定部により最大値が同じとなる2点が判定されるまで、前記波形変換部における比例定数を調整する調整部と、前記波高判定部により判定された2点に対応する過渡回復電圧波形の2点を検出する接点検出部と、前記接点検出部により検出された2点を通る第1の接線を生成する第1の接線生成部と、を有することを特徴とする過渡回復電圧測定装置。多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部と、原点からの時間の比例値に基づいて、前記過渡回復電圧波形を変換する波形変換部と、変換された波形において、最大値が同じとなる2点を判定する波高判定部と、前記波高判定部により最大値が同じとなる2点が判定されるまで、前記波形変換部における比例定数を調整する調整部と、前記波高判定部により判定された2点に基づいて、前記過渡回復電圧波形の原点から波高値までに存在する隆起部と、波高値に対応する隆起部との間に第1の接線を生成する第1の接線生成部と、を有することを特徴とする過渡回復電圧測定装置。前記波形変換部による波形の変換は、前記比例値を前記過渡回復電圧波形から減算することにより行うことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の過渡回復電圧測定装置。前記比例定数は正接であり、前記調整部による調整は、前記正接のθを変化させることにより行うことを特徴とする請求項3記載の過渡回復電圧測定装置。前記波形変換部による波形の変換は、過渡回復電圧波形をV1、変換後の波形をV2、時間をt、比例定数をαとした場合に、V2=V1-tαの式により行うことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の過渡回復電圧測定装置。前記波形変換部による波形の変換は、過渡回復電圧波形をV1、変換後の波形をV2、時間をt、比例定数をTanθとした場合に、V2=V1-tTanθの式により行うことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の過渡回復電圧測定装置。前記接点検出部は、前記波高判定部により判定された2点における2つの時刻を判定する時刻判定部と、前記過渡回復電圧波形において、前記時刻判定部により判定された時刻に対応する2点を判定する接点判定部と、を有することを特徴とする請求項1記載の過渡回復電圧測定装置。前記第1の接線生成部は、前記波高判定部により判定された2点を通る接線に基づいて、第1の接線を生成することを特徴とする請求項2記載の過渡回復電圧測定装置。原点から前記過渡回復電圧波形に引いた接線を生成する第2の接線生成部と、前記第2の接線生成部により生成された接線と、前記第1の接線生成部により生成された接線との交点を算出する第1の交点算出部と、前記第1の交点算出部により算出された交点に基づいて、過渡回復電圧の規約値を算出する規約値算出部を有することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の過渡回復電圧測定装置。前記過渡回復電圧波形における波高値において、時間軸と平行な接線を生成する第3の接線生成部と、前記第3の接線生成部により生成された接線と、前記第1の接線生成部により生成された接線との交点を算出する第2の交点算出部と、前記第2の交点算出部により算出された交点に基づいて、過渡回復電圧の規約値を算出する規約値算出部を有することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の過渡回復電圧測定装置。コンピュータまたは電子回路が、多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶処理と、原点からの時間の比例値に基づいて、前記過渡回復電圧波形を変換する波形変換処理と、変換された波形において、最大値が同じとなる2点を判定する波高判定処理と、前記波高判定処理により最大値が同じとなる2点が判定されるまで、前記波形変換処理における比例定数を調整する調整処理と、前記波高判定処理により判定された2つの最大値に対応する過渡回復電圧波形の2点を求める接点検出処理と、前記過渡回復電圧波形の2点を通る第1の接線を生成する第1の接線生成処理と、を実行することを特徴とする過渡回復電圧測定方法。コンピュータまたは電子回路が、多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶処理と、原点からの時間の比例値に基づいて、前記過渡回復電圧波形を変換する波形変換処理と、変換された波形において、最大値が同じとなる2点を判定する波高判定処理と、前記波高判定処理により最大値が同じとなる2点が判定されるまで、前記波形変換処理における比例定数を調整する調整処理と、前記波高判定処理により判定された2点に基づいて、前記過渡回復電圧波形の原点から波高値までに存在する隆起部と、波高値に対応する隆起部との間に第1の接線を生成する第1の接線生成処理と、を実行することを特徴とする過渡回復電圧測定方法。コンピュータにより実行可能なプログラムであって、前記コンピュータに、多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶処理と、原点からの時間の比例値に基づいて、前記過渡回復電圧波形を変換する波形変換処理と、変換された波形において、最大値が同じとなる2点を検出する波高判定処理と、前記波高判定処理により最大値が同じとなる2点が判定されるまで、前記波形変換処理における比例定数を調整する調整処理と、前記波高判定処理により検出された2つの最大値に対応する過渡回復電圧波形の2点を求める接点検出処理と、前記過渡回復電圧波形の2点を通る第1の接線を生成する第1の接線生成処理と、を実行させることを特徴とする過渡回復電圧測定プログラム。コンピュータにより実行可能なプログラムであって、前記コンピュータに、多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶処理と、原点からの時間の比例値に基づいて、前記過渡回復電圧波形を変換する波形変換処理と、変換された波形において、最大値が同じとなる2点を判定する波高判定処理と、前記波高判定処理により最大値が同じとなる2点が判定されるまで、前記波形変換処理における比例定数を調整する調整処理と、前記波高判定処理により判定された2点に基づいて、前記過渡回復電圧波形の原点から波高値までに存在する隆起部と、波高値に対応する隆起部との間に第1の接線を生成する第1の接線生成処理と、を実行させることを特徴とする過渡回復電圧測定プログラム。ところで、ある曲線における接線の傾きは、その曲線の微分値となる。従って、曲線上の2点間の共通接線を引くとき、曲線の微分値が同じになる2点を求めることが必要となる。しかし、微分値が同じになる2点を通る直線には、共通ではないが、互いに平行な2直線も含まれる。このため、微分値が同じになる2点間に引いた直線が、必ずしも共通の接線となるとは限らない。したがって、一般的に、曲線上の2点間に共通接線を引くことは困難であった。特に、コンピュータによって演算を行う場合には、演算量が膨大になる可能性が高かった。本発明が解決しようとする課題は、以上述べた従来技術に鑑みて、多重周波の過渡回復電圧波形から過渡回復電圧規約値を求めるために、原点から波高部までに存在する隆起部と、波高部に対応する隆起部との間に引く共通接線を、容易に生成することができる過渡回復電圧測定装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧測定プログラムを提供することである。上記のような課題を解決するため、実施形態の過渡回復電圧測定装置は、以下の構成を有することを特徴としている。多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部原点からの時間の比例値に基づいて、過渡回復電圧波形を変換する波形変換部変換された波形において、最大値が同じとなる2点を判定する波高判定部波高判定部により最大値が同じとなる2点が判定されるまで、波形変換部における比例定数を調整する調整部波高判定部により判定された2点に対応する過渡回復電圧波形の2点を検出する接点検出部接点検出部により検出された2点を通る第1の接線を生成する第1の接線生成部なお、本発明は、上記の各部の機能をコンピュータ又は電子回路により実現するための方法及びプログラムとして捉えることもできる。以上のような形態では、原点からの時間の比例値に基づいた波形変換を利用することにより、原点から波高値までに存在する隆起部と、波高値に対応する隆起部との間に引く接線を、容易に生成することができる。[1.接線を求める原理]図1は、実施形態により接線を求める原理を説明する図である。図中、V1は、多重周波からなる波形である。たとえば、V1は、遮断器電流を遮断した後の過渡回復電圧TRVの波形として考えることができる。電圧波形の場合、たとえば、横軸X軸は時間μs、縦軸Y軸は電圧kVとなる。V2は、波形V1を、以下の式1で変換した波形である。数1V2=V1-tTanθ...式1この式1は、角度θを設定し、その正接に時間を乗算したもの比例値を、V1から引き算する式である。なお、後述するように、Tanθは比例定数と言うことができる。図中、L1は、本実施形態が生成することを主眼とする接線後述する第1の接線である。この接線L1は、波形V1における原点から波高部の間の隆起部A1と、波高部に対応する隆起部A2との間に引かれる。図中、L2は、波形V1を変換した波形V2が、最大値ピーク値が同じとなる2点が存在するに至った場合に、その2点に接する接線である。ここで、波形V1において、上記の接線L1を引くとき、接点となる2点をa点およびb点とする。この2点は、変換された波形V2上では、a’点およびb’点となる。a’点およびb’点は、元のa点およびb点と、横軸の値ta、tbは同じである。つまり、a’点およびb’点の縦軸の値は、それぞれa点からVaを引き算した値、b点からVbを引き算した値となる。このため、図中の角度θを適切に設定すれば、a’点およびb’点の間に引いた接線L2は、横軸と平行となる。そこで、波形V1を、式1を用いて変換した波形V2において、a’点およびb’点の値が同じになるように角度θを調整し、ta、tbを求める。すると、ta、tbは、元の波形V1における接線L1が接するa点およびb点の横軸の値となる。これにより、元の波形V1のa点およびb点の値が分かるため、接線L1を簡単に引くことができる。一方、背景技術で説明したように、原点から波形V1への接線α後述する第2の接線、波高値における横軸と平行となる接線β後述する第3の接線は、容易に引くことができる。したがって、4パラメータ法の全ての接線を引いて、それらの交点から、TRVの初期波高値、初期波高時間、波高値および波高時間の各規約値を算出することができる。[2.実施形態の構成]次に、上記の原理により接線を生成し、各規約値を求めるための一実施形態の構成を説明する。図2に示すように、本実施形態の過渡回復電圧測定装置1は、コンピュータを所定のプログラムで制御することによって、若しくは専用の電子回路によって実現できる。この場合のプログラムは、コンピュータのハードウェアを物理的に活用することで、以下に述べるような各部の処理を実現するものである。なお、各部の処理を実行する方法、プログラム及びプログラムを記録した記録媒体も、実施形態の一態様である。また、ハードウェアで処理する範囲、プログラムを含むソフトウェアで処理する範囲をどのように設定するかは、特定の態様には限定されない。過渡回復電圧測定装置1は、測定処理部10、記憶部20、入力部30及び出力部40等を有している。測定処理部10は、上記のようなプログラムの働きにより機能する波形生成部11、波形変換部12、波高判定部13、接点検出部14、接線生成部15、交点検出部16、パラメータ算出部17等を有している。波形生成部11は、過渡回復電圧の検出値に基づいて、過渡回復電圧波形を生成する処理部である。波形変換部12は、過渡回復電圧波形を変換する処理部である。この波形変換部12は、生成部121と調整部122等を有している。生成部121は、所定の式に基づく演算により、過渡回復電圧波形を変換した波形を生成する処理部である。本実施形態では、たとえば、上記の式1に基づく演算を行う。調整部122は、生成部121が生成する波形が変化するように、所定の式のパラメータを変更する処理部である。本実施形態では、たとえば、式1のθを変化させる処理を行う。波高判定部13は、波形変換部12によって変換された波形において、最大値ピーク値が同じとなる2点が存在するか否かを判定する処理部である。接点検出部14は、波高判定部13が判定した2点に対応する過渡回復電圧波形上の2点を検出する処理部である。本実施形態においては、たとえば、波高判定部13が、時刻判定部、接点判定部としての機能を有している。時刻判定部は、波高判定部13が判定した2点の時刻を判定する処理部である。接点判定部は、時刻判定部が判定した時刻に対応する過渡回復電圧波形の2点を判定する処理部である。接線生成部15は、4パラメータ法に必要となる接線を生成する処理部である。この接線生成部15は、第1の接線、第2の接線及び第3の接線を生成する。このため、接線生成部15は、第1の接線生成部、第2の接線生成部、第3の接線生成部としての機能を有している。第1の接線は、接点判定部14によって求めた2点を通る接線上記の接線L1である。第2の接線は、原点から過渡回復電圧波形への接線である上記の接線α。第3の接線は、過渡回復電圧波形の最大値ピーク値を接点とする時間軸と平行な接線上記の接線βである。なお、第2の接線及び第3の接線の生成は、周知技術であるため、説明を省略する。交点検出部16は、第1の接線、第2の接線及び第3の接線の交点を検出する処理部である。この交点検出部16は、第1の交点及び第2の交点を検出する。このため、交点検出部16は、第1の交点検出部、第2の交点検出部としての機能を有する。第1の交点は、第1の接線と第2の接線との交点である。第2の交点は、第1の接線と第3の接線との交点である。パラメータ算出部17は、4パラメータ法の4つのパラメータ規約値を算出する処理部である。このため、パラメータ算出部17は、初期波高値算出部、初期波高時間あるいは初期上昇率算出部、波高値算出部、波高時間算出部としての機能を有している。初期波高値及び初期波高時間は、第1の交点から求めることができる。波高値及び波高時間は、第2の交点から求めることができる。これらの手法は、周知技術であるため、説明を省略する。記憶部20は、測定処理部10の処理に必要なデータ、検出値、演算結果、生成されたデータ等各種の情報を記憶する構成部である。なお、過渡回復電圧波形については、波形生成部11により生成されたものを記憶しても、あらかじめ外部において生成されて入力されたものを記憶してもよい。つまり、本実施形態では、測定処理部10が処理可能な状態となるように、過渡回復電圧波形が記憶されていればよい。このような過渡回復電圧波形を記憶した領域が、波形記憶部を構成する。また、記憶部20には、測定処理部10の処理に必要な各種の設定を記憶した設定記憶部も構成されている。この設定には、たとえば、演算式、演算式に用いるパラメータの初期値、その変化量等の各種の処理の基準が含まれている。記憶部20に記憶される情報は、たとえば、入力部30を介して、外部から入力された情報とすることができる。このような記憶部20は、典型的には、内蔵された若しくは外部接続された各種メモリ、ハードディスク、光ディスク等により構成できるが、現在又は将来において利用可能なあらゆる記憶媒体を利用可能である。演算に用いるレジスタ等も、記憶部20として捉えることができる。既に情報が記憶された記憶媒体を、読み取り装置に装着することにより、測定処理部10において利用可能となる態様でもよい。入力部30は、過渡回復電圧測定装置1に必要な情報の入力、処理の選択や指示を入力する構成部である。この入力部30としては、たとえば、キーボード、マウス、タッチパネル表示装置に構成されたものを含む等が考えられる。但し、現在又は将来において利用可能なあらゆる入力装置を含む。また、入力部30には、通常の監視用の配線や通信ネットワークからの入力を受け付けるインタフェース等も含まれる。出力部40は、各種データ、過渡回復電圧波形、変換された波形、接線、交点、演算されたパラメータ値等を、管理者、操作者等も含むユーザが認識可能となるように出力する構成部である。この出力部40としては、たとえば、表示装置、プリンタ等が考えられる。但し、現在又は将来において利用可能なあらゆる出力装置を含む。[3.実施形態の作用]次に、本実施形態の処理を、図3のフローチャートに沿って説明する。まず、波形生成部11が、あらかじめ記憶部20に記憶され若しくは外部から入力された過渡回復電圧検出値に基づいて、過渡回復電圧波形を生成するステップ01。なお、あらかじめ生成され記憶部20に記憶された過渡回復電圧波形を用いてもよい。波形変換部12の調整部122は、生成部121の式1のθに初期値を代入するステップ02。生成部121は、式1により、過渡回復電圧波形を変換するステップ03。波高判定部13は、変換された波形において、最大値ピーク値を判定し、この最大値に一致する値を示す点があるか否かを、比較判定するステップ04。波高判定部13が一致する値がないと判定した場合ステップ05のNO、調整部122は、所定の基準に従って、θの値を変更することにより、式1のTanθを調整するステップ06。そして、ステップ03~06の処理を繰り返す。ステップ05において、波高判定部13が、同じ値の最大値が存在すると判定した場合にはステップ05のYES、接点検出部14が、2つの最大値に対応する過渡回復電圧波形における2点接点を検出するステップ07。この2点の判定は、たとえば、上記のように接点検出部14に設定された時刻判定部、接点判定部によって行うことができる。すなわち、時刻判定部が、最大値の2点の時刻を求める。そして、接点判定部が、その時刻における過渡回復電圧波形の2点を判定する。次に、接線生成部15が、接点検出部14が検出した2つの接点を通る直線を、第1の接線図1のL1、図5のγ参照として生成するステップ08。また、接線生成部15は、原点から過渡回復電圧波形への接線を、第2の接線図5のα参照として生成するステップ09。そして、交点検出部16が、第1の接線と第2の接線との交点を、第1の交点図5のC1参照として検出するステップ10。パラメータ算出部17は、第1の交点に基づいて、初期波高値及び初期波高時間あるいは初期上昇率を算出するステップ11。さらに、接線生成部15は、波高値における時間軸と平行となる接線を、第3の接線図5のβ参照として生成するステップ12。そして、交点検出部16が、第1の接線と第3の接線との交点を、第2の交点図5のC2参照として検出するステップ13。パラメータ算出部17は、第2の交点に基づいて、波高値既に判定済及び波高時間を算出するステップ14。なお、算出された各パラメータは、過渡回復電圧波形とともに、記憶部20に記憶される。これらのパラメータは、入力部30による操作に応じて、出力部40に出力される等により、利用可能となる。[4.実施形態の効果]以上のような本実施形態によれば、多重周波となる過渡回復電圧において、波高部と原点との間に存在する隆起部と、波高部に対応する隆起部との間に引く共通接線を、簡易な処理により高速に生成することができる。このため、4パラメータ法における規約値を、高速に求めることができる。特に、調整するパラメータがθの1つであり、簡単な数式を用いるため、コンピュータの演算処理の負担が軽く、高速に算出することができる。このように、角度を調整要素とすると、たとえば、図1に示すように、接線L1と接線L2との角度を示すことにより、変化量を視覚的、直感的に把握しやすい。[5.他の実施形態]本発明は、上記のような実施形態には限定されるものではない。たとえば、式1においては、最終的にθが決定された場合、Tanθは定数であるといえる。したがって、式1は、以下の式2に変形することができる。数2V2=V1-tα...式2ここでαは定数比例定数である。つまり、たとえば、過渡回復電圧から時間の定数倍比例値を引き算しても、図1の波形V2を得て、接線L1を生成することができる。たとえば、上記の実施形態においては、波形変換部12の調整部122がαに初期値を代入しステップ02、これに基づいて、生成部121が式2によって過渡回復電圧波形を変換した波形を生成するステップ03。波高判定部13は、変換された波形において、最大値ピーク値に一致する値を示す点があるか否かを、比較判定するステップ04。波高判定部13が一致する値がないと判定した場合ステップ05のNO、調整部122は、所定の基準に従って、αの値を変更することにより調整するステップ06。このように、調整要素を、時間に対する比例値の単なる比例定数とすることにより、演算をより簡素化させて、処理の高速化を図ることが可能となる。また、上記の処理手順は、図3のフローチャートで示した例には限定されない。たとえば、上記の実施形態においては、第1の接線を生成した後に、第2の接線、第3の接線を生成していた。しかし、過渡回復電圧波形に対する第2の接線、第3の接線は、どの段階で求めてもよい。少なくとも過渡回復電圧波形が存在すれば、第2の接線及び第3の接線のいずれか1方若しくは双方は、第1の接線の生成前にあらかじめ生成しておくことも可能である。たとえば、図3におけるステップ01の処理の後に、ステップ09の処理を行い、その後、ステップ02以降の処理を行うようにしてもよい。ステップ01の処理の後に、ステップ12の処理を行い、その後、ステップ02以降の処理を行うようにしてもよい。さらに、ステップ01の処理の後に、ステップ09及びステップ12の処理を行い、その後、ステップ02以降の処理を行うようにしてもよい。なお、交点の検出も、2接線の生成毎ではなく、全ての接線が生成された後、まとめて行ってもよい。また、上記の隆起部とは、波形が上昇と下降を示す部分を広く含む意であり、凸部、突出部等とも言い換えることもできる。また、極性が逆の場合に、波形が窪んでいて、窪み部、凹部、凹み部等とも言えるような部分についても、上記の隆起部と実質的には同じである。また、表示画面上で反転させれば、隆起も窪みも同じである。また、調整部による調整の対象となる値θ、α、比例定数等について、初期値や変化量インクリメント、デクリメント、増分、差分等をどのように設定するかは、自由である。たとえば、変化量を大きくして処理速度を速くしてもよいし、変化量を小さくして精度を高めてもよい。さらに、処理の開始時は、変化量を大きく設定し、処理が進行するに従って所定の時間経過後、所定の回数変化後、所定の変化量だけ変化した後、等々、変化量を小さくすることにより、処理速度と精度を最適化してもよい。また、たとえば、波形の極性が逆となる場合等に、減算が加算になるような場合、変化させる定数の値が増加でなく減少となる場合等があっても、実質的には同じ処理である。また、上記の実施形態においては、接点検出部14における時刻判定部が、波高判定部13が判定した2点の時刻を求め、波高判定部が、その時刻に対応する過渡回復電圧波形の2点を判定している。ここで、時間、時刻は、2次元座標の横軸X軸を意味する。このため、時刻判定部による判定処理は、2点に対応する横軸の値を判定する判定処理と同じである。つまり、接点検出部による接点の検出は、2点の直上の横軸の値を同じくする2点を検出できればよい。したがって、接点検出部14は、最大値の2点と横軸の値が一致する過渡回復電圧波形の2点を求める処理を行えばよい。また、上記の実施形態においては、最大値が同じとなる2点を判定した後、これに対応する過渡回復電圧波形の2点を求めて、これを通る接線を生成していた。しかし、最大値が同じとなる2点を通る接線図1のL2から、第1の接線を求めてもよい。たとえば、上記の接線生成部15に、接線L2を生成する第4の接線生成部を設定する。この第4の接線生成部は、波高判定部13が最大値が同じとなる2点を判定した後、この2点を通る第4の接線上記のL2を生成する。そして、第1の接線生成部が、この接線L2をθだけ回転させることにより、第1の接線とする。このように、回転を用いる場合、上記のTanθによる演算は便宜である。また、上記の実施形態における測定装置、測定処理における測定とは、波形を表現するための情報を得ることを含む広い意味である。たとえば、各種情報の収集、検出、生成、算出、判定、特定等を含む。したがって、接線の生成、規約値の算出等も測定に含まれる。このため、上記の実施形態における過渡回復電圧測定装置及び測定処理は、第1の接線を生成するための構成及び処理について着目すると、過渡回復電圧波形の接線生成装置、接線生成方法、接線生成プログラムとしても表現できる。これに対応する上記の実施形態の構成は、たとえば、波形生成部11若しくはあらかじめ生成された波形の記憶部、波形変換部12、波高判定部13、接点検出部14、接線生成部15等が挙げられる。また、上記の実施形態における過渡回復電圧測定装置及び測定処理は、4パラメータ法の規約値を算出するための構成及び処理について着目すると、過渡回復電圧の規約値パラメータ算出装置、算出方法、算出プログラムとしても表現できる。これに対応する上記の実施形態の構成としては、たとえば、上記の接線生成装置の構成に、交点検出部16、パラメータ算出部17を加えたものが挙げられる。さらに、上記の実施形態において対象となる波形は、過渡回復電圧の波形に限定されず、波形一般に適用することもできる。つまり、波形の接線生成装置、接線生成方法及び接線生成プログラムとしても把握できる。これに対応する上記の実施形態の構成は、たとえば、上記の接線生成装置において、波形生成部11により生成される波形若しくはあらかじめ生成され、波形記憶部に記憶された波形を、一般の波形多重周波を含むとしたものが考えられる。本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。