"同軸ケーブルと、前記同軸ケーブルの先端部に配置される絶縁部材であって、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に沿った互いに逆向きの第1の面及び第2の面を有する絶縁部材と、前記同軸ケーブルのシグナル導体に電気的に接続され、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第1の面に配置されるシグナル端子と、前記同軸ケーブルのグランド導体に電気的に接続され、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第1の面に前記シグナル端子と並んで配置されるグランド端子であって、前記グランド端子の先端部が前記絶縁部材の第2の面側に折れ曲がり、前記絶縁部材の第2の面から突出するグランド端子と、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第2の面と向かい合って配置される補助グランド導体であって、前記補助グランド導体の先端部に前記絶縁部材の側に折れ曲がった弾性変形片を有する補助グランド導体と、を備え、前記補助グランド導体が前記絶縁部材の第2の面と向かい合って配置されるとき、前記弾性変形片が弾性変形した状態で、前記絶縁部材の第2の面から突出する前記グランド端子の先端部と接触する、ことを特徴とするケーブルアッセンブリ。同軸ケーブルの先端部が挿入される挿入穴が形成される筐体と、前記同軸ケーブルの先端部に配置される絶縁部材であって、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に沿った互いに逆向きの第1の面及び第2の面を有する絶縁部材と、前記同軸ケーブルのシグナル導体に電気的に接続され、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第1の面に配置されるシグナル端子と、前記同軸ケーブルのグランド導体に電気的に接続され、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第1の面に前記シグナル端子と並んで配置されるグランド端子であって、前記グランド端子の先端部が前記絶縁部材の第2の面側に折れ曲がり、前記絶縁部材の第2の面から突出するグランド端子と、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第2の面と向かい合って配置される補助グランド導体であって、前記補助グランド導体の先端部に前記絶縁部材の側に折れ曲がった弾性変形片を有する補助グランド導体と、を備え、前記補助グランド導体が前記絶縁部材の第2の面と向かい合って配置されるとき、前記弾性変形片が弾性変形した状態で、前記絶縁部材の第2の面から突出する前記グランド端子の先端部と接触する、ことを特徴とするコネクタ。前記絶縁部材の第2の面は、前記補助グランド導体と接触する主面と、前記主面から窪んだ底面と、を有し、前記グランド端子の先端部は、前記主面を超えないように前記底面から突出する、請求項2に記載のコネクタ。前記絶縁部材には、前記グランド端子の先端部が挿入される挿入穴が形成され、前記グランド端子の先端部は、前記挿入穴を通って前記第2の面から突出する、請求項2または3に記載のコネクタ。前記筐体は、前記挿入穴の内側に凸部を有し、前記凸部と前記絶縁部材との間に、前記補助グランド導体の先端部よりも基端側が位置する、請求項2ないし4の何れかに記載のコネクタ。前記補助グランド導体の先端部は、前記弾性変形片とは逆側に折れ曲がる抜け止め片をさらに有する、請求項5に記載のコネクタ。前記補助グランド導体は、先端部よりも基端側に、前記同軸ケーブルのグランド導体と接触するアームをさらに有する、請求項2ないし6の何れかに記載のコネクタ。請求項1に記載のケーブルアッセンブリを備えることを特徴とするマザーボード。請求項2ないし7の何れかに記載のコネクタを備えることを特徴とするマザーボード。請求項1に記載のケーブルアッセンブリを備えることを特徴とする半導体試験装置。請求項2ないし7の何れかに記載のコネクタを備えることを特徴とする半導体試験装置。ところで、同軸ケーブルの先端部には、シグナル導体及びグランド導体のそれぞれに接続され、相手方端子との接触に供されるシグナル端子とグランド端子とが設けられる。こうした先端部においても、グランド端子がシグナル端子を囲む同軸構造が採用されることが好ましい。しかしながら、端子密度向上の要請により、グランド端子がシグナル端子を囲む同軸構造の採用が困難な場合があり、そのために信号伝送特性が劣化するおそれがある。本発明は、上記実情に鑑みて為されたものであり、端子密度の向上を図りつつも、信号伝送特性の劣化を抑制することが可能なケーブルアッセンブリ、コネクタ及び半導体試験装置を提供することを主な目的とする。上記課題を解決するため、本発明のケーブルアッセンブリは、同軸ケーブルと、前記同軸ケーブルの先端部に配置される絶縁部材と、前記同軸ケーブルのシグナル導体に電気的に接続されるシグナル端子と、前記同軸ケーブルのグランド導体に電気的に接続されるグランド端子と、補助グランド導体と、を備える。前記絶縁部材は、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に沿った互いに逆向きの第1の面及び第2の面を有する。前記シグナル端子は、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第1の面に配置される。前記グランド端子は、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第1の面に前記シグナル端子と並んで配置され、前記グランド端子の先端部は、前記絶縁部材の第2の面側に折れ曲がり、前記絶縁部材の第2の面から突出する。前記補助グランド導体は、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第2の面と向かい合って配置され、前記補助グランド導体の先端部に前記絶縁部材の側に折れ曲がった弾性変形片を有する。前記補助グランド導体が前記絶縁部材の第2の面と向かい合って配置されるとき、前記弾性変形片が弾性変形した状態で、前記絶縁部材の第2の面から突出する前記グランド端子の先端部と接触する。また、本発明のコネクタは、同軸ケーブルの先端部が挿入される挿入穴が形成される筐体と、前記同軸ケーブルの先端部に配置される絶縁部材と、前記同軸ケーブルのシグナル導体に電気的に接続されるシグナル端子と、前記同軸ケーブルのグランド導体に電気的に接続されるグランド端子と、補助グランド導体と、を備える。前記絶縁部材は、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に沿った互いに逆向きの第1の面及び第2の面を有する。前記シグナル端子は、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第1の面に配置される。前記グランド端子は、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第1の面に前記シグナル端子と並んで配置され、前記グランド端子の先端部は、前記絶縁部材の第2の面側に折れ曲がり、前記絶縁部材の第2の面から突出する。前記補助グランド導体は、前記同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延び、前記絶縁部材の第2の面と向かい合って配置され、前記補助グランド導体の先端部に前記絶縁部材の側に折れ曲がった弾性変形片を有する。前記補助グランド導体が前記絶縁部材の第2の面と向かい合って配置されるとき、前記弾性変形片が弾性変形した状態で、前記絶縁部材の第2の面から突出する前記グランド端子の先端部と接触する。また、本発明の半導体試験装置は、上記本発明のケーブルアッセンブリ又は上記本発明のコネクタを備える。また、本発明のマザーボードは、上記本発明のケーブルアッセンブリ又は上記本発明のコネクタを備える。本発明によると、同軸ケーブルの先端部の挿入方向に延びるシグナル端子及びグランド端子が絶縁部材の第1の面で並ぶので、端子密度の向上を図ることが可能である。また、絶縁部材の第2の面に補助グランド導体が配置されるので、信号伝送特性の劣化を抑制することが可能である。特に、グランド端子と補助グランド導体とが接触して同電位となるので、信号伝送特性の劣化を抑制する効果が高められる。また、本発明の一態様において、前記絶縁部材の第2の面は、前記補助グランド導体と接触する主面と、前記主面から窪んだ底面と、を有し、前記グランド端子の先端部は、前記主面を超えないように前記底面から突出する。これによると、グランド端子の先端部が補助グランド導体を傷つけることを抑制することが可能である。また、本発明の一態様において、前記絶縁部材には、前記グランド端子の先端部が挿入される挿入穴が形成され、前記グランド端子の先端部は、前記挿入穴を通って前記第2の面から突出する。これによると、補助グランド導体の弾性変形片が接触するときのグランド端子の先端部の位置ずれを抑制することが可能である。また、本発明の一態様において、前記筐体は、前記挿入穴の内側に凸部を有し、前記凸部と前記絶縁部材との間に、前記補助グランド導体の先端部よりも基端側が位置する。これによると、補助グランド導体の弾性変形する範囲を凸部よりも先端側の部分に限定して、弾性復帰力のばらつきを抑制することが可能である。また、本発明の一態様において、前記補助グランド導体の先端部は、前記弾性変形片とは逆側に折れ曲がる抜け止め片をさらに有する。これによると、抜け止め片が筐体の凸部に係ることで、補助グランド導体の抜けを抑制することが可能である。また、本発明の一態様において、前記補助グランド導体は、先端部よりも基端側に、前記同軸ケーブルのグランド導体と接触するアームをさらに有する。これによると、補助グランド導体の接点が増加することで、補助グランド導体の電位の更なる安定化を図ることが可能である。特に、補助グランド導体の先端側と基端側とに接点が設けられることで、スタブのような枝分かれ部分を低減することが可能である。本発明のケーブルアッセンブリ、コネクタ及び半導体試験装置の実施形態を、図面を参照しながら説明する。図1は、半導体試験装置100を概略的に表す図である。半導体試験装置100は、テストヘッド105と、テストヘッド105上に配置されるマザーボード104と、マザーボード104上に配置されるパフォーマンスボード103と、パフォーマンスボード103上に配置されるデバイスソケット102と、を備えている。試験対象となる半導体101は、デバイスソケット102に装着される。パフォーマンスボード103の下面には、複数のコネクタ113が設けられている。各コネクタ113は、パフォーマンスボード103及びデバイスソケット102を介して、半導体101に電気的に接続される。マザーボード104の上面には、複数のコネクタ114が設けられており、各コネクタ114には、マザーボード104に収容される同軸ケーブル50の上端が挿入されている。マザーボード104の下面には、複数のコネクタ10が設けられており、各コネクタ10には、マザーボード104に収容される同軸ケーブル50の下端が挿入されている。テストヘッド105の上面には、コネクタ10と嵌合する複数のコネクタ80が設けられている。各コネクタ80は、テストヘッド105の回路基板の端部に取り付けられ、試験モジュール106に接続されている。各試験モジュール106は、試験装置本体107からの指示に応じて試験信号を発生し、半導体101に出力する。図2A、図2B及び図3は、コネクタ10の斜視図である。これらの図では、一部の挿入孔20a及び同軸ケーブル50のみが示されている。図4は、筐体2の断面図である。図5A~図5Dは、同軸ケーブル50の先端部の斜視図である。図6A及び図6Bは、補助グランド導体4の平面図及び側面図である。図7A及び図7Bは、補助グランド導体4が挿入された筐体2を表す断面図である。図8A及び図8Bは、同軸ケーブル50の先端部及び補助グランド導体4が挿入された筐体2を表す断面図である。図9A及び図9Bは、ケーブルアッセンブリ1の斜視図である。これらの図では、同軸ケーブル50の挿入方向を前方向とし、その反対方向を後方向とし、同軸ケーブル50の先端部に対して補助グランド導体4が配置される方向を上方向または下方向とする。図2A及び図2Bに示されるように、コネクタ10は、概略箱状の雄型コネクタとして構成されており、雌型コネクタである相手方のコネクタ80に挿入される。コネクタ10には、複数の同軸ケーブル50が取り付けられる。また、相手方のコネクタ80は、回路基板90の端部に取り付けられる。図3及び図4に示されるように、コネクタ10は、複数の挿入孔20aが形成された概略箱状の筐体2と、挿入孔20aに挿入される同軸ケーブル50の先端部に配置されるグランド端子54、シグナル端子56及び支持絶縁部58図5A~図5Dを参照と、挿入孔20aに挿入される補助グランド導体4と、を有している。筐体2は、前後方向に貫通する複数の挿入穴20aが形成された概略箱状の本体部20と、本体部20の後面の周縁から後方向に延び、本体部20の後面を囲む枠状の延長部21と、延長部21の端部から上下方向に広がるフランジ部23と、を有している。挿入孔20aの内側には、上下方向の各側に位置するストッパ201,203と、前方向の端部に位置する凸部205と、前後方向に延びる溝部207と、その途中に位置するストッパ209と、が設けられている。図5A~図5Dに示されるように、同軸ケーブル50において、ケーブル部52の先端部には、グランド端子54と、シグナル端子56と、支持絶縁部58と、が取り付けられている。ケーブル部52は、シグナル導体52aと、シグナル導体52aを囲む筒状のグランド導体52bと、シグナル導体52aとグランド導体52bの間に介在する誘電体部52cと、グランド導体52bを覆う外皮部52dと、を有している。ケーブル部52の先端部では、前方向に向かうに従ってグランド導体52b、誘電体部52c及びシグナル導体52aがこの順に露出している。支持絶縁部58は、絶縁性の樹脂材料からなり、前後方向に延びて上面及び下面を有する概略板状に成型され、ケーブル部52の誘電体部52cに取り付けられる。支持絶縁部58の後部には、周面状に窪んだ谷部581と、上方向に突出する一対の挟持部583と、が設けられている。ケーブル部52の誘電体部52cは谷部581に接着され、ケーブル部52のシグナル導体52aは一対の挟持部583に挟まれる。支持絶縁部58の前方向の端部には、上下方向に貫通する2つの挿入穴58a,58bが左右方向に並んで形成されている。支持絶縁部58の前方向の端部のうち下面の右半分には、凹部58cが形成されている。すなわち、支持絶縁部58の下面は、主面588と、主面588から窪んだ凹部58cの底面589と、を含んでいる。凹部58cは、上下方向に貫通する挿入穴58bと連続しており、底面589に挿入穴58bの開口が形成されている。凹部58cは、下方向のみならず、前方向に向けても開放されている。シグナル端子56は、導電性の金属材料からなり、前後方向に延びる概略板状に成形され、支持絶縁部58の上面に配置される。シグナル端子56は、ケーブル部52のシグナル導体52aに半田付けされる後部56bと、後部56bに対して左方向にずれた前部56aと、を有している。シグナル端子56の前方向の端部569は、下方に向けて折れ曲がっており、支持絶縁部58の挿入穴58aに挿入される。なお、シグナル端子56と支持絶縁部58とは、オーバーモールド工法によって一体的に成形してもよいし、別々に成形してから組み付けてもよい。グランド端子54は、導電性の金属材料からなり、支持絶縁部58に取り付けられると共に、ケーブル部52のグランド導体52bに半田付けされる。グランド端子54は、軸心が前後方向を向いた半筒状部54bと、半筒状部54bの右側部から前方向に延びる延伸部54aと、を有している。半筒状部54bには、抜け止め用の切り起こし片54cが設けられている。なお、図5Aは、半筒状部54bが半八角筒状に形成された例を表し、図5Bは、半筒状部54bが半円筒状に形成された例を表している。半筒状部54bの内側には支持絶縁部58が嵌め込まれ、半筒状部54bと支持絶縁部58とで筒状を為す。半筒状部54bと支持絶縁部58とで形成される空間の内側には、ケーブル部52の先端部が配置される。ケーブル部52のグランド導体52bは、半筒状部54bに半田付けされる。半筒状部54bは、ケーブル部52のシグナル導体52a及びシグナル端子56の後部56bの周囲の少なくとも半周分を覆う。延伸部54aは、前後方向に延びる概略板状に成形されており、一部が断面L字状に折り曲げられている。延伸部54aは、支持絶縁部58の上面に、シグナル端子56の前部56aと左右方向に並んで配置される。延伸部54aの前方向の端部549は、下方に向けて折れ曲がっており、支持絶縁部58の挿入穴58bに挿入される。延伸部54aの前方向の端部549は、挿入穴58bを通って、支持絶縁部58の底面589から主面588を超えない範囲で突出する。すなわち、この端部549は、底面589よりも下方向かつ主面588よりも上方向の範囲に収まるように底面589から下方向に向けて突出しており、主面588よりも下方向には突出していない。図6A及び図6Bに示されるように、補助グランド導体4は、導電性の金属材料からなり、打ち抜かれた金属板が折り曲げられることによって成型される。補助グランド導体4は、上記グランド端子54と同程度の長さで前後方向に延びている。補助グランド導体4は、後部41と、後部41に対して上方向にずれた前部42と、後部41と前部42の間に設けられた段差部43と、を有している。後部41には、上方向に曲げ起こされた、下方向に弾性変形可能な概略L字状のアーム46が設けられている。前部42の前方向の端部には、上方向に折れ曲がった、下方向に弾性変形可能な弾性変形片45と、下方向に折り返された掛爪部44と、が左右方向に並んで設けられている。以下、コネクタ10の組み立てについて説明する。図7A及び図7Bは、筐体2の挿入孔20aに補助グランド導体4が挿入された状態を表す断面図である。図8A及び図8Bは、筐体2の挿入孔20aにさらに同軸ケーブル50の先端部が挿入された状態を表す断面図である。図7A及び図7Bに示されるように、筐体2の挿入孔20aには、始めに補助グランド導体4が挿入される。補助グランド導体4は、筐体2の挿入孔20aのうち、上下方向の内側図では下側に配置される。補助グランド導体4は、後部41がストッパ203よりも後方向に位置し、前部42がストッパ203よりも前方向に位置するように配置される。補助グランド導体4の前方向への移動は、段差部43がストッパ203に当接することによって規制される。また、前部43の前方向の端部に設けられた弾性変形片45及び掛爪部44は、凸部205よりも前方向に位置する。補助グランド導体4の後方向への移動は、掛爪部44が凸部205に引っ掛かることによって規制される。また、弾性変形片45は、支持絶縁部58の主面588図5Dを参照が配置される位置Dよりも上下方向の外側図では上側に位置する。なお、補助グランド導体4の挿入は、複数の補助グランド導体4が後方向の端部に設けられた共通化部49によって繋がった状態で行われる図6Aを参照。この共通化部49は、補助グランド導体4の挿入後に折り取られる。なお、複数の補助グランド導体4の電位を共通化するために、共通化部49が折り取られなくともよい。図8A及び図8Bに示されるように、筐体2の挿入孔20aには、補助グランド導体4が挿入された後に同軸ケーブル50の先端部が挿入される。同軸ケーブル50の先端部は、支持絶縁部58が補助グランド導体4と向かい合うように、挿入孔20aの内側に配置される。同軸ケーブル50の先端部の前方向への移動は、グランド端子54の半筒状部54bの前端がストッパ201に突き当たることによって規制される。グランド端子54の半筒状部54bに設けられた切り起こし片54cは、挿入孔20aの内側に形成された溝部207に挿入され、ストッパ209よりも前方向に配置される。同軸ケーブル50の先端部の後方向への移動は、切り起こし片54cがストッパ209に引っ掛かることによって規制される。同軸ケーブル50の先端部が筐体2の挿入孔20aに挿入されると、補助グランド導体4の後部41に設けられたアーム46が下方向に弾性変形して、接触圧を生じる。具体的には、アーム46は、ケーブル部52のグランド導体52b図5B及び図5Cを参照と接触する。これによって、ケーブル部52のグランド導体52bと、グランド端子54と、補助グランド導体4とが電気的に接続され、互いに同電位となる。また、同軸ケーブル50の先端部が筐体2の挿入孔20aに挿入されるとき、支持絶縁部58の主面588図5C及び図5Dを参照が補助グランド導体4の前部42と摺接する。そして、同軸ケーブル50の先端部が挿入孔20aの奥に到達するとき、補助グランド導体4の前部42に設けられた弾性変形片45は、支持絶縁部58の凹部58cの底面589や、この底面589から突出するグランド端子54の延伸部54aの端部549によって押下げられて、下方向に弾性変形する。このように弾性変形片45が弾性変形した状態で延伸部54aの端部549と接触することで、両者の間に接触圧が生じる。これによっても、ケーブル部52のグランド導体52bと、グランド端子54と、補助グランド導体4とが電気的に接続され、互いに同電位となる。また、補助グランド導体4の前部42のうち、弾性変形片45よりも後方向の部分は、支持絶縁部58と凸部205とによって挟まれる。なお、筐体2の挿入孔20aに挿入された同軸ケーブル50の先端部と補助グランド導体4とは、図9A及び図9Bに示されるような態様で挿入孔20aの内側に配置されている。同軸ケーブル50の先端部と補助グランド導体4とは、ケーブルアッセンブリ1を構成する。以上に説明した本実施形態によると、補助グランド導体がグランド端子54及びグランド導体52bと同電位となるので、信号伝送特性の劣化を抑制する効果を高めることが可能である。特に、補助グランド導体4の弾性変形片45とアーム46とがグランド端子54やグランド導体52bに接触することで、電位の安定化を図ることが可能であると共に、スタブのような枝分かれ部分を低減することが可能である。以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形実施が当業者にとって可能であるのはもちろんである。図5A~図9Bでは、筐体2の上側に設けられた挿入孔20aに挿入される同軸ケーブル50の先端部及び補助グランド導体4を対象としたため、同軸ケーブル50の先端部の下方向に補助グランド導体4が配置されていたが、筐体2の下側に設けられた挿入孔20aに挿入される場合には、これらの図と上下方向が逆転する。"