被試験対象物に実施すべき複数の試験項目とその順番を規定した試験リストを保持する試験リスト保持部と、各試験項目の結果値をランク分けし、各ランクと、省略または追加する試験項目とを対応付けたテーブルを保持する対応テーブル保持部と、前記試験リストにしたがい実施された試験項目の試験結果値を取得する試験結果値取得部と、前記対応テーブル保持部を参照して、前記試験結果値取得部により取得された試験結果値をランク分けするランク判定部と、前記ランク判定部により決定されたランクに応じて前記試験リストの内容を適応的に変更する試験リスト管理部と、を備えることを特徴とする試験管理装置。前記ランクは、良品ランクと不良品ランクとに分類され、前記良品ランクは、第1良品ランクおよび第2良品ランクに分類され、前記第1良品ランクは、試験項目の省略を指定可能なランクであり、前記第2良品ランクは、試験項目の追加を指定可能なランクである、ことを特徴とする請求項1に記載の試験管理装置。前記ランクは、良品ランクと不良品ランクとに分類され、前記良品ランクは、第1良品ランク、第2良品ランクおよび第3良品ランクに分類され、前記第1良品ランクは、試験項目の省略を指定可能なランクであり、前記第2良品ランクは、試験項目の変更が不可能なランクであり、前記第3良品ランクは、試験項目の追加を指定可能なランクである、ことを特徴とする請求項1に記載の試験管理装置。前記試験リストに含まれる複数の試験項目には、温度特性試験が含まれ、前記温度特性試験に先行する試験項目の試験結果値が、前記温度特性試験の省略が指定されている第1良品ランクに分類される場合、前記試験リスト管理部は、前記試験リストに含まれる前記温度特性試験を省略することを特徴とする請求項2または3に記載の試験管理装置。しかしながら、全ての製品に対して全ての試験項目を実施するということは、上述したように不必要な試験が実施されることを意味する。これは時間的、コスト的な無駄が生じていることを意味する。本発明はこうした状況に鑑みてなされたものであり、その目的は、試験の信頼性を低下させることなく、試験時間を短縮できる技術を提供することにある。上記課題を解決するために、本発明のある態様の試験管理装置は、被試験対象物に実施すべき複数の試験項目とその順番を規定した試験リストを保持する試験リスト保持部と、各試験項目の結果値をランク分けし、各ランクと、省略または追加する試験項目とを対応付けたテーブルを保持する対応テーブル保持部と、試験リストにしたがい実施された試験項目の試験結果値を取得する試験結果値取得部と、対応テーブル保持部を参照して、試験結果値取得部により取得された試験結果値をランク分けするランク判定部と、ランク判定部により決定されたランクに応じて試験リストの内容を適応的に変更する試験リスト管理部と、を備える。この態様によると、試験結果値に応じて、試験リストの内容を適応的に変更することにより、試験の信頼性を低下させることなく、試験時間を短縮できる。ランクは、良品ランクと不良品ランクとに分類されてもよい。良品ランクは、第1良品ランクおよび第2良品ランクに分類されてもよい。第1良品ランクは、試験項目の省略を指定可能なランクであり、第2良品ランクは、試験項目の追加を指定可能なランクであってもよい。また、良品ランクは、第1良品ランク、第2良品ランクおよび第3良品ランクに分類されてもよい。第1良品ランクは、試験項目の省略を指定可能なランクであり、第2良品ランクは、試験項目の変更が不可能なランクであり、第3良品ランクは、試験項目の追加を指定可能なランクであってもよい。試験リストに含まれる複数の試験項目には、温度特性試験が含まれ、温度特性試験に先行する試験項目の試験結果値が、温度特性試験の省略が指定されている第1良品ランクに分類される場合、試験リスト管理部は、試験リストに含まれる温度特性試験を省略してもよい。温度特性試験を省略できれば、試験時間を大幅に短縮できる。本発明によれば、試験の信頼性を低下させることなく、試験時間を短縮できる。図1は、本発明の実施の形態に係る試験管理装置100の構成を示す図である。試験管理装置100は、たとえば、PC、専用機などにより構築できる。試験管理装置100は、実際に試験を行う試験設備と一体的に構成されていてもよいし、離れた位置に設置されていてもよい。また、試験管理装置100と試験設備とは有線または無線ネットワークにより接続されており、電子的に情報をやりとりする構成であってもよいし、試験実施者以下、ユーザというを介してやりとりする構成であってもよい。後者の場合、ユーザは試験結果値を操作部から入力してもよいし、試験結果値が書き込まれた記録メディアを試験管理装置100に装着することにより、入力してもよい。試験管理装置100は、保持部10、処理部20およびユーザインタフェース30を備える。保持部10は、試験項目保持部11、試験リスト保持部12、対応テーブル保持部13および試験結果保持部14を含む。処理部20は、試験項目指定部21、試験結果値取得部22、ランク判定部23、試験リスト管理部24および良品判定部25を含む。処理部20の構成は、ソフトウエア的にはメモリにロードされたプログラムなどによって実現されるが、ここではそれらの連携によって実現される機能ブロックを描いている。したがって、これらの機能ブロックがハードウエアのみ、ソフトウエアのみ、またはそれらの組合せによっていろいろな形で実現できることは、当業者には理解されるところである。試験項目保持部11は、試験管理装置100が管理対象としている様々な被試験対象物に対する各種試験項目を保持する。試験リスト保持部12は、被試験対象物に実施すべき複数の試験項目とその順番を規定した試験リストを保持する。この試験リストは、試験項目保持部11に保持される各種試験項目の中から、被試験対象物の種別および試験の種別に応じて、予め設計者またはユーザにより生成されたものである。たとえば、ユーザは、ユーザインタフェース30の操作部を操作することにより、ある被試験対象物に対する出荷試験の試験リストを生成できる。より具体的には、この試験で実施すべき試験項目およびその順番を決定してリスト化できる。対応テーブル保持部13は、各試験項目の結果値をランク分けし、各ランクと、省略または追加する試験項目とを対応付けたテーブル以下、このテーブルに構築されるデータをランク定義データというを保持する。この各試験項目の結果値とランクとの関係は、規格や要求仕様にもとづき、予め決定される。なお、ランクに関する詳細な説明は後述する。試験結果保持部14は、被試験対象物に対して実施された試験の結果値を保存する。試験項目指定部21は、被試験対象物の試験リストにもとづき、つぎに実施すべき試験項目を試験設備またはユーザに指定する。試験結果値取得部22は、当該試験リストにしたがい実施された試験項目の試験結果値を試験設備またはユーザから取得する。ランク判定部23は、対応テーブル保持部13を参照して、試験結果値取得部22により取得された試験結果値をランク分けする。以下、ランクの構成例について説明する。まず、3ランクに分類する第1構成例を説明する。ランクは、大分類として良品ランクと不良品ランクに2分類される。第1構成例では、良品ランクは第1良品ランクおよび第2良品ランクに2分類される。ここで、第1良品ランクは試験項目の省略を指定可能なランクであり、第2良品ランクは試験項目の追加を指定可能なランクである。つぎに、4ランクに分類する第2構成例を説明する。第2構成例では、良品ランクは第1良品ランク、第2良品ランクおよび第3良品ランクに3分類される。ここで、第1良品ランクは、試験項目の省略を指定可能なランクであり、第2良品ランクは試験項目の変更が不可能なランクであり、第3良品ランクは試験項目の追加を指定可能なランクである。試験リスト管理部24は、ランク判定部23により決定されたランクに応じて、試験リストの内容を適応的に変更または試験リスト内の試験項目を適応的に組み換える。より具体的には、試験リスト内の指定された試験項目を削除するか、試験リスト内に指定された試験項目を追加するか、試験リストを変更せずにその内容を維持する。試験項目を追加する場合、ランク判定部23からその追加位置すなわち、実施順番も指定される。良品判定部25は、試験リストに含まれる全ての試験項目をパスした被試験対象物を良品と判定し、いずれかの試験項目をパスできなかった被試験対象物を不良品と判定する。図2は、本発明の実施の形態に係る試験管理装置100の動作を示すフローチャートである。ユーザインタフェース30は、ユーザから被試験対象とすべき製品種別を受け付けるS10。なお、同一製品に対して複数の試験種別がある場合、その種別も受け付ける。試験項目指定部21は、受け付けた製品種別に対応する試験リストを試験リスト保持部12内で特定し、その試験リストに含まれる試験項目を試験項目保持部11から読み出し、初期の試験リストを生成するS11。試験項目指定部21は、つぎに実施すべき試験項目を指定しS12、その試験項目の実施を試験設備またはユーザに指示するS13。なお、試験開始時は当該試験リストで最初に実施すべき試験項目が、つぎに実施すべき試験項目となる。試験結果値取得部22は、指定された試験項目を実施した試験設備またはユーザから、その試験結果値以下、測定値というを取得し、試験結果保持部14に保存するS14。当該試験設備または当該ユーザから、試験終了通知を取得するとS15、ランク判定部23および試験リスト管理部24は、当該試験リスト内の試験項目変更確認処理を開始するS16。ランク判定部23および試験リスト管理部24は、対応テーブル保持部13からランク定義データを取得するS17。ランク判定部23は、試験結果値取得部22により取得された測定値をランク分けするS18。試験リスト管理部24は、ランク判定部23により分類された測定値のランクと、当該ランク定義データを参照して、試験項目の追加または削除の有無を判定するS19。試験項目の追加または削除が存在する場合S20のY、試験リスト管理部24は当該試験リストに、その追加または削除を反映させるS21。すなわち、当該試験リストの内容を変更する。ステップS20にて、試験項目の追加または削除が存在しない場合S20のN、ステップS21の処理をスキップする。試験項目指定部21は、当該試験リスト内の全ての試験項目が終了したか否か判定するS22。全ての試験項目が終了していない場合S22のN、ステップS12に遷移し、ステップS13~ステップS21までの処理を実行する。全ての試験項目が終了した場合S22のY、指定された試験を終了する。以下、図3~図5を参照しながら本発明の実施の形態に係る試験管理装置100の処理例を説明する。図3は、測定値のランク分けの一例を示す図である。図3に示すように当該処理例では、測定値を4ランクに分類する。より具体的には、Sランク、Aランク、BランクおよびCランクに分類する。このうち、Sランク、AランクおよびBランクは良品である。Cランクは不良品である。図3に示すように良品範囲のうち、理想値とその近傍にSランクの範囲が設定される。Sランクは、試験リスト内において後続の試験項目の解除を指定できるランクである。Aランクは、良品範囲内のSランクの外側に設定されるが、不良品範囲との間に一定のマージンを持つ範囲に設定される。Aランクは、試験リスト内の試験項目を変更できないランクである。Bランクは、良品範囲内のAランクの外側に設定され、不良品範囲と接する範囲に設定される。Bランクは、試験リスト内に、試験項目の追加を指定できるランクである。Cランクは、良品範囲の外側の不良品範囲に設定される。Cランクは、試験リスト内の試験項目を変更できないランクである。図4は、ランク定義データの一例を示す図である。当該ランク定義データは、試験リスト保持部12に構築される。当該ランク定義データにおけるSランク、AランクおよびBランクは、図3に示すSランク、AランクおよびBランクにそれぞれ対応している。当該ランク定義データでは、試験項目1~8が規定され、各試験項目ごとに各ランクの数値範囲が定義されている。図3に示すように各ランクの数値範囲は重複しないため、各試験項目の測定値は、いずれかのランクに振り分けられる。Sランクは削除項目をさらに含み、Bランクは追加項目をさらに含む。当該ランク定義データでは、試験項目2の測定値がSランクの数値範囲に入ると、試験項目5が削除されるよう定義されている。同様に、試験項目4および6の測定値がSランクの数値範囲にそれぞれ入ると、試験項目7および8がそれぞれ削除されるよう定義されている。反対に、試験項目1の測定値がBランクの数値範囲に入ると、試験項目3が追加されるよう定義されている。図5は、図3および図4を前提とした、試験リスト内の試験項目の変遷例を示す図である。開始前状態の試験リストでは、試験項目1、2、4-8の7項目が指定されている。すなわち、試験項目3は予定項目に含まれていない1行目参照。まず、試験項目1が実行され、その測定値はBランクの数値範囲に含まれる。図4を参照すると、試験項目1の測定値がBランクの場合、試験項目3が追加される2行目参照。つぎに、試験項目2が実行され、その測定値はSランクの数値範囲に含まれる。図4を参照すると、試験項目2の測定値がSランクの場合、試験項目5が削除される3行目参照。つぎに、試験項目3が実行され、その測定値はAランクの数値範囲に含まれる。Aランクの場合、試験項目に変更が発生しない4行目参照。つぎに、試験項目4が実行され、その測定値はSランクの数値範囲に含まれる。図4を参照すると、試験項目4の測定値がSランクの場合、試験項目7が削除される5行目参照。つぎに、試験項目6が実行される。試験項目5は試験項目2の測定値がSランクの数値範囲に含まれるため、既に削除されている。試験項目6の測定値はSランクの数値範囲に含まれる。図4を参照すると、試験項目6の測定値がSランクの場合、試験項目8が削除される6行目参照。試験項目7、8は既に削除されているため、試験項目6で試験全体が終了となる。初期状態として、7項目の試験を予定していたが、実際には5項目の試験で終了となった。以下、本発明の実施の形態に係る試験管理装置100の適用例について説明する。被試験対象物が光モジュールや半導体モジュールなど温度特性を持つ場合、上記試験リストの試験項目に、温度特性試験が含まれることになる。温度特性試験は、常温、高温、低温の三状態で試験することが一般的であり、測定値を得るまでに時間がかかるという問題点がある。また、大量の被試験対象物を同時に試験するには、恒温槽の数を増やさなければならいという問題点もある。このように、温度特性試験は、試験全体のボトルネックとなっている。したがって、温度特性試験の回数をできるだけ減らすことが試験時間の短縮に有効である。以下、受光側の光モジュール以下、光レシーバというの試験を例に説明する。以下、説明を単純化するため、信号通し試験→BERBitErrorRate試験ノーマル→BER試験OSNR;OpticalSignaltoNoiseRatio→アラーム試験を順次実行する例を考える。実際にはより多くの種類の試験が実行されることが一般的である。信号通し試験は、光レシーバに光ファイバおよび光源を接続し、光レシーバで光信号が受信されているか否かを検査する試験である。BER試験ノーマルは、光レシーバに光パワーを入力した場合のビットエラーレートを検出する試験である。BER試験OSNRは、ノイズが重畳された光信号を入力した場合のビットエラーレートを検出する試験である。アラーム試験は光信号が切断された場合に、アラームがなるか否かを検査する試験である。ここで、BER試験OSNRについて常温、高温、低温の三状態の温度で試験する場合について考える。試験時間を無視すれば、三状態の全てにおいて試験することが望ましいが、以下、無駄な試験を排除することにより、試験時間を短縮する手法を考える。図6は、OSNRとBERとの関係を示す図である。OSNRの理想特性Li実線の周囲にSランク領域Rs実線と点線との間の領域が設定される。そのSランク領域Rsの外側にBランク領域Rb一点鎖線と点線との間の領域が設定される。Bランク領域Rbの外延は、常温において、規格または要求仕様により許容される境界を示している。基本的に、光レシーバのBERは高温になると高くなる。光レシーバ内で使用されている電子部品の多くが正の温度特性を持つためである。仮に、負の温度特性を持つ回路素子を使用していない場合、高温状態でBER試験OSNRを実行し、それが良品であれば、常温状態および低温状態での試験を省略できる。また、最初に常温状態でBER試験OSNRを実行してもよい。この場合、恒温槽を用いずに試験することも可能である。ここで、常温状態でのBER試験OSNRの測定値が、Sランク領域Rsに収まる場合は、高温状態および低温状態でも良品となることが予め保証される関係にある場合について考える。この場合、常温状態でのBER試験OSNRの測定値が、Sランク領域Rsに収まる場合、高温状態および低温状態での試験を省略できる。常温状態でのBER試験OSNRの測定値が、Sランク領域Rsには収まらないが、Bランク領域Rbには収まる場合、高温状態および低温状態での試験を実行する必要がある。なお、高温状態でBER試験OSNRを実行し、それが良品であれば、低温状態での試験を省略してもよい。なお、この手法は光レシーバのBER試験ノーマル、アラーム試験に適用してもよいし、送信側の光モジュールの消光比試験、クロスポイント試験、パルスマスク試験、アラーム試験などに適用してもよい。これらの試験は既知の試験であるため、その詳細な説明は省略する。以上説明したように本実施の形態によれば、試験の最中に、個々の製品の特性を測定および評価して、動的に試験項目を変更することにより、個々の製品の特性に合った最適な試験を実行できる。より具体的には、個々の製品の測定値を評価分類することにより、個々の製品の特性の違いを判断し、試験評価に必要不可欠または必要最小限の最適な試験項目を見いだし、随時、試験項目を自動変更しながら試験を実行する。これにより、試験の信頼性を低下させることなく、試験時間を短縮させることができる。従来、試験中において、試験項目、試験条件、規格を変更するには、ユーザが対話形式で端末装置を操作する手法が一般的であった。これに対して、本実施の形態では試験前にそれらをユーザが設定するだけで足り、試験中は全自動で適応的に変更される。したがって、人的ミスの発生が抑制され、試験時間も短縮される。また、温度特性試験を可及的にスキップするように試験項目を変更するアリゴリズムを採用することにより、試験時間を大幅に短縮できる。以上、本発明を実施の形態をもとに説明した。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。