部品の電気接点により、三枚以上のブレードのうちの少なくとも二枚の間の電気的な接続の確立を容易にするための、三枚以上のブレードを含むことを特徴とする、電気接点。三枚以上のブレードが長手方向に延在する、請求項1に記載の電気接点。三枚以上のブレードが平行に配置されている、請求項1または2に記載の電気接点。三枚以上のブレードの一部または全部が平面的表面を含む、請求項1~3のいずれか一つに記載の電気接点。平面的表面が、電気接点と協働することができる電気部品の平面に対し平行になるように構成されている、請求項4に記載の電気接点。三枚以上のブレードが、三枚以上のブレード各々を互いに電気的に絶縁するように構成されている二本以上の絶縁チャネルを画定するように配置されている、請求項1~5のいずれか一つに記載の電気接点。三枚以上のブレード各々の幅が、二本以上の絶縁チャネルのうちの二本の幅に一枚のブレードの幅を加えた組合せが電気部品の電気接点の幅よりも小さくなるようなものである、請求項6に記載の電気接点。ブレードの一部または全部が、金、貴金属、BeNiまたはBeCuの少なくとも一つを含んでいてよい、請求項1~7のいずれか一つに記載の電気接点。ブレードの一部または全部がタングステンを含む、請求項1~8のいずれか一つに記載の電気接点。電気接点が、三枚以上のブレードを保持してそれらが互いに対し定位置にあるようにする保持用部材をさらに含む、請求項1~9のいずれか一つに記載の電気接点。試験すべき電気部品を収容するのに好適な試験用プラットフォームにおいて、請求項1~10のいずれか一つに記載の一個以上の電気接点を含む試験用プラットフォーム。一個以上の電気接点の少なくとも一部が同じ向きで配置されている、請求項11に記載の試験用プラットフォーム。請求項1~10のいずれか一つに記載の少なくとも一個の電気接点のいずれか一個を含む保持用部材を含む試験機の部品において、試験機と協働できるように構成されている試験機の部品。試験機が、請求項1~10のいずれか一つに記載の複数の電気接点を含む、請求項13に記載の試験機の部品。試験機と試験機の部品の協働を容易にするように構成されているガイド手段をさらに含む、請求項13または14に記載の試験機の部品。本発明の目的は、上述の欠点の一つ以上を取り除くかまたは軽減することにある。本発明の一態様によると、部品の電気接点による少なくとも二枚のブレード間の電気的な接続の確立を容易にするために、三枚以上のブレードを含む電気接点が提供されている。本発明のさらなる態様によると、試験すべき部品を収容するのに好適な試験用プラットフォームにおいて、部品の電気接点により三枚以上のブレードのうちの少なくとも二枚の間に電気的な接続を確立することを容易にするために、それぞれが三枚以上のブレードを含む一個以上の電気接点を含む試験用プラットフォームが提供されている。電気的な接続はケルビン接続であってよい。電気接点がケルビン接点を形成するためには、部品の電気接点は三枚以上のブレードのうちの少なくとも二枚を電気的に接続しなければならない。部品は、電気部品であってよい。三枚以上のブレードは、部品の電気接点により二枚以上のブレード間に電気的な接続を確立することを容易にし得る。電気接点は、部品の電気端子であってよい。三枚以上のブレードは長手方向に延在していてよい。三枚以上のブレードは平行に配置されていてよい。三枚以上のブレード各々は、Iブレードであってよい。一個以上の電気接点の少なくとも一部は同じ向きで配置されていてよい。好ましくは、一個以上の電気接点の全部が同じ向きで配置されている。三枚以上のブレード各々は、平面的表面を含んでいてよい。平面的表面は、電気部品が試験のために試験用プラットフォーム上に位置づけされた場合に、試験すべき電気部品の平面に対し平行であってよい。使用中、平面的表面は、試験中の電気部品の平面に対して平行である。二本以上のチャネルを画定するために、三枚以上のブレードが配置されていてよい。二本以上のチャネル各々は、絶縁チャネルであってよい。絶縁チャネルは、三枚以上のブレード各々を互いに電気的に絶縁するように構成されていてよい。二本以上のチャネルの一部または全部は、互いに絶縁されていてよい。二本以上のチャネル各々は、0.1μm~50μmの幅を有していてよい。好ましくは、二本以上のチャネル各々は30μm未満の幅を有する。最も好ましくは、二本以上のチャネル各々は、20μm未満の幅を有する。三枚以上のブレード各々の幅は、二本以上の絶縁チャネルのうちの二本の幅に一枚のブレードの幅を加えた組合せが、電気部品の電気接点の幅よりも小さくなるようなものであってよい。好ましくは、三枚以上のブレード各々の幅は、二本以上の絶縁チャネルのうちの二本の幅に一枚のブレードの幅を加えた組合せが、製造公差を考慮に入れた後に電気部品の電気接点の幅よりも小さくなるようなものである。三枚以上のブレード各々の幅は、二本以上の絶縁チャネルのうちの一本の幅に三枚以上のブレードのうちの二枚の幅を加えた組合せが、電気部品の電気接点の幅よりも小さくなるようなものであってよい。好ましくは、三枚以上のブレード各々の幅は、二本以上の絶縁チャネルのうちの一本の幅に三枚以上のブレードのうちの二枚の幅を加えた組合せが、製造公差を考慮に入れた後に電気部品の電気接点の幅よりも小さくなるようなものであってよい。三枚以上のブレード各々は、200μm以下の幅を有していてよい。好ましくは、三枚以上のブレード各々は、150μm以下の幅を有する。より好ましくは、三枚以上のブレード各々は100μm以下の幅を有する。ブレードの一部または全部は導電性の金属を含んでいてよい。好ましくは、ブレードの一部または全部は金属でコーティングされている。金属は、貴金属であってよい。ブレードの一部または全部は、金、BeCuおよび/またはBeNiを含んでいてよい。ブレードの一部または全部は、金でコーティングされていてよい。ブレードの一部または全部は、BeCu材料またはBeNi材料、あるいは、バネ効果、導電性および耐摩耗性を示す他の任意の材料でコーティングされていてよい。ブレードの一部または全部は、硬化された先端部を含んでいてよい。好ましくは、ブレードの一部または全部は、タングステンを含む。最も好ましくは、一部または全部のブレードの先端部はタングステンを含む。三枚以上のブレードは、互いに対し定位置にあるようにしっかりと固定されていてよい。好ましくは、三枚以上のブレードは、互いに対し定位置にあるように、製造段階中しっかり固定される。三枚以上のブレードは、鋳造されるか貼り合わせられていてよい。電気接点はさらに、互いに対し定位置にあるように三枚以上のブレードを保持する保持用部材を含んでいてよい。本発明のさらなる態様によると、上述の電気接点のいずれか一個を含む保持用部材を含む試験機の部品において、試験機と協働できるように構成されている試験機の部品が提供されている。試験機の部品は複数の電気接点を含んでいてよい。試験機の部品はさらに、試験機と試験機の部品の協働を容易にするガイド手段を含んでいてよい。例えば、ガイド手段は、試験機上の孔と協働するのに好適なピンであってよく、あるいはガイド手段は、試験機上のピンと協働するのに好適な孔であってよい。本発明のさらなる態様によると、上述の電気接点のいずれか一個に係る電気接点を含む試験機が提供されている。本発明の一実施形態について、ここで、以下で添付図面を参照しながら一例として説明する。図3は、本発明に係る試験用プラットフォーム100の平面図を提供している。チップ29の形をした試験すべき電気部品が、試験用プラットフォーム100のステージ25上に位置づけされている。試験用プラットフォーム100は、それぞれがステージ25上に支持されている、本発明に係る六個の電気接点51a~fを含む。六個の電気接点51a~fは全て、ステージ25上で同じ向きで配置されている。試験用プラットフォーム100は、六個の電気接点を有するように限定されているわけではないということが理解される。試験用プラットフォーム100は、さらに多くのまたはさらに少ない数の電気接点を有していてよい。例えば、試験用プラットフォーム100は、10個の電気接点または4個の電気接点を含んでいてよい。各電気接点51a~fは三枚のブレード71a~cを含む。三枚のブレード71a~cは、ステージ25の幅gの一部分を横断して長手方向に延在し、各電気接点51a~fの三枚のブレード71a~cは平行に配列されている。三枚のブレード71a~cは、ブレード71a~cが互いに対し定位置を維持するように、製造段階中ステージ25にしっかり固定されていてよい。各電気接点51a~fの三枚のブレード71a~cは二本の絶縁チャネル15a、15bを画定する。絶縁チャネル15a、15bは、三枚のブレード71a~c各々を互いに電気的に絶縁するように構成される。この特定の実施例において、絶縁チャネル15a、15bは各々10μmの幅cを有する。ただし、絶縁チャネル15a、15bが他の任意の好適な寸法を有していてよいということが理解される。各電気接点51a~fの三枚のブレード71a~cは各々、平面的表面13を含む。各ブレード71a~cの平面的表面13は、チップ29が試験のために試験用プラットフォーム100上に位置づけされた場合、チップ29の平面17に対し平行である。この特定の実施例において、三枚のブレード71a~c各々は、幅wを有する。各ブレード71a~cの幅wは、絶縁チャネル15a、15bの幅cに三枚以上のブレードのうちの二枚の幅wを加えた組合せが、製造公差を考慮に入れた後に電気部品29のピン11a~fの幅eより小さくなるようなものであるすなわち2wc<e。代替的には、三枚以上のブレード各々の幅wは、絶縁チャネル15a、15bの二本の幅cに一枚のブレード71a~cの幅wを加えた組合せが、製造公差を考慮に入れた後に電気部品29のピン11a~fの幅eよりも小さくなるようなものであることが理解されるすなわち2cw<e。この特定の実施例において、三枚のブレード71a~c各々は、100μmの幅wを有し、したがって、各ブレードの平面的表面13は100μmの幅を有することになる。しかしながら、ブレード71a~cひいては平面的表面13が他の任意の好適な寸法を有し得ることが理解される。この特定の実施例において、試験中の電気部品29の各電気接点11a~fの幅eは300μmである。この特定の実施例において、三枚のブレード71a~c各々は、金でコーティングされ、各ブレード71a~cの先端部19にタングステンが具備されている。タングステンは、各ブレード71a~cの先端部19を硬化する。ブレード71a~cを任意の別の好適な金属でコーティングするか、または全くコーティングしないことも可能であり、例えばブレード71a~cを任意の貴金属でコーティングすることもできる、ということが理解される。ブレード71a~cは、BeNi材料またはBeCu材料、あるいは他の任意の導電性バネ材料を含み得る。試験すべきチップ29は、ピン11a~fの形をした六個の電気接点を含む。ただし、チップ29は任意の数のピンを含むことができ、したがってチップ29は六個より多いまたは少ないピンを有することができる、ということが理解される。図3では、チップ29は、試験のために理想的な位置に示されている。試験のために理想的な位置において、チップ29は、プラットフォーム100のステージ25上で完全に方形であり、ピン11a~f各々は、対応する電気接点51a~fに対して対称的に位置づけされている。六個のピン11a~f各々は、ステージ25上で対応する電気接点51a~fと協働して、各電気接点51a~fの三枚のブレードのうちの任意の二枚または三枚のブレード71a~c全ての間に電気的な接続を提供する。チップ29の試験のためには、各電気接点51a~fについて、チップ29のピン11a~fが絶縁チャネル15a、15bの少なくとも一本を橋渡しして三枚のブレード71a~cのうちの少なくとも二枚の間に電気的な接続を提供するようにチップ29をステージ25上に位置づけすることが必要である。チップ29の試験中、ピン11a~fにより電気的に接続されている二枚のブレード71a~cのうちの一枚は、試験中、信号供給端子として作用し、一方、二枚のブレード71a~cのうちのもう一枚は信号検出端子として作用するか、また、その逆の場合もあり得る。チップ29の試験中、電流は、一つまたは複数の信号供給端子を提供するブレード71a~cからピン11a~fを流れ、電圧は、一つまたは複数の信号検出端子を形成するブレード71a~cにより検出され、測定される。六個のピン11a~f各々におけるチップ29の性能を監視することができ、こうして、チップ29の全体的な性能を判定することができる。図3に示されているように、チップ29が試験のための理想的な位置に位置づけされている場合、ピン11a~11fは、各ピン11a~11fが三枚のブレード71a~cに接触し、こうして三枚のブレード71a~c各々を電気的に接続するように、絶縁チャネル15a、15bの両方を橋渡しすることが分かる。したがって、チップ29が試験のための理想的な位置に位置づけされた特殊な場合においては、チップ29の試験中の信号供給端子を提供するために、三枚のブレード71a~cのうちのいずれか一枚または二枚を選択することができ、チップ29の試験中の信号検出端子を提供するために、他のブレード71a~cのいずれかを選択することができる。図4a~fに示されているように、図3に示された電気接点51a~fの構成は、チップ29の試験のために必要とされる電気的な接続の確立を容易にする。図4aは、図3に関して前述したように理想的な試験位置におけるチップ29を示している。図2a~fに描かれている先行技術の試験用プラットフォーム10の電気接点30a~fと同様に、図4a~図4fに描かれている試験用プラットフォーム100の電気接点51a~fは、チップ29がX軸に沿ってずれている場合図4dおよび図4e参照またはステージ25に対して回転している場合図4f参照でさえ、各電気接点51a~fの三枚のブレード71a~cのうちの二枚の間にチップ29のピン11a~fが電気的な接続を正しく確立するのを容易にする。より具体的には、各ブレード71a~cを長手方向になるように構成すること;同じ電気接点51a~fのブレード71a~cを平行になるように構成すること;そして平面的表面13を含むように各ブレード71a~cを構成することが、それぞれ、チップ29のピン11a~fが、必要とされる電気的な接続を確立するのを容易にする。例えば、平面的表面13はブレード71a~cとの電気的な接触を確立するために使用可能な接触範囲を増大させることから、平面的表面13を提供することで、チップ29のピン11a~fが、必要とされる電気的な接続を確立することが容易になる。同様にして、各ブレード71a~cの長手方向の構成は、X軸に沿ってブレード71a~cの寸法を増大させ、したがってチップ29のピン11a~fは、チップ29がX軸に沿って変位させられた場合でも、ブレード71a~cとなおも接触することができる。ブレード71a~cの平行な構成は、チップ29がX軸に沿って変位させられた場合でも、必要とされる電気的な接続の確立を可能にすることから、有利である。こうして、チップ29は、それがX軸に沿って理想的な試験位置からずれたかまたはステージ25に対して回転してもはや理想的な試験位置にない場合でさえ、なおも試験することが可能である。有利には、図4b~cに示されているように、電気接点51a~fの構成は、チップ29がY軸に沿ってずれている場合に、各電気接点51a~fの三枚のブレード71a~cのうちの二枚の間にチップ29のピン11a~fが電気的な接続を確立することをさらに容易にする。より具体的には、第三のブレードを含むように電気接点51a~fを構成することで、チップ29がY軸に沿ってずれている場合に、各電気接点51a~fの三枚のブレード71a~cのうちの二枚の間に、チップ29のピン11a~fが電気的な接続を確立することが容易になる。図4bに示されているように、試験すべきチップ29は、Y軸に沿って第一の方向右方向にずれている。第三のブレード71a~cを提供することで、チップ29がY軸に沿って右にずれている場合に、チップ29のピン11a~fがなおも各電気接点5a~fのブレード71bと71cの間に電気的な接続を確実に確立することができる。したがって、ブレード71bは、チップ29の試験中、信号供給端子を提供するために使用され得、ブレード71cは、チップ29の試験中、信号検出端子を提供するために使用され得、また逆の場合もあり得る。こうして、チップ29がY軸に沿って理想的な試験位置からずれているにも関わらず、チップ29を正しく試験することができる。図4cに示されているように、試験すべきチップ29は、Y軸に沿って第二の方向左方向にずれている。第三のブレード71a~cを提供することで、試験すべきチップ29がY軸に沿って左にずれている場合に、チップ29のピン11a~fが各電気接点51a~cのブレード71aと71bの間に電気的な接続を確実に確立することができ、こうして、ブレード71aは、チップ29の試験中、信号供給端子を提供するために使用され得、ブレード71bは、チップ29の試験中、信号検出端子を提供することができ、また逆の場合もあり得る。こうして、チップ29がその理想的な試験位置からY軸に沿って左にずれている場合でさえ、チップ29を正しく試験することができる。したがって、三枚以上のブレードを含むように電気接点51a~cを構成することで、Y軸、X軸に沿ってずれたかまたはステージ25またはプラットフォーム100に対して回転した場合でさえ、チップ29をなおも確実に試験することができる。図5aは、本発明に係る試験機の部品110の平面図を提供している。試験機の部品110は、三個の電気接点103a~cを互いに対し定位置に保持する保持用部材101を含む。図5bは、電気接点103a~cの拡大図を提供する。三個の電気接点103a~c各々は、ルート部材109a~iにより保持用部材101に接続されている。任意には、三個の電気接点103a~cは保持用部材101と一体化されていてよい。ルート部材109a~i各々は、保持用部材101からしだいに細くなりブレード107a~cを形成する。三個の電気接点103a~c各々は三枚のブレード107a~cを含む。各ブレード107a~cは、長手方向にIの形状を有し、三枚のブレード107a~c各々は平行である。さらには、三枚のブレード107a~c各々は平面的表面8を含む。試験機の部品110の一つ以上は、図3に描かれたプラットフォーム100に類似するプラットフォームを試験機上に画定するために、試験機図示せずに接続することができる。保持用部材101はさらに、孔105a~dの形をしたガイド手段を含む。孔105a~dは、ユーザーが容易に試験機の部品110を試験機に調整できるようにする。例えば、試験機の部品110を試験機に接続する場合、各孔105a~dは、試験機上にあるピンまたはネジを収容して、保持用部材101を試験機上の正しい位置に向かって誘導し、しっかりと固定し得る。当業者には、添付の特許請求の範囲で定義された本発明の範囲から逸脱することなく、本発明の記述された実施形態に対するさまざまな修正および変更が明らかである。本発明は、具体的な好ましい実施形態に関連して記述されているが、請求された発明がこのような具体的な実施形態に不当に限定されるべきではないということが理解されるべきである。