"それぞれ入射した放射線に応じて蛍光を発する、X方向にN個Nは2以上の整数、Y方向にM個Mは2以上の整数で2次元アレイ状に配列されたN×M個のシンチレータ素子からなるシンチレータアレイと、前記シンチレータアレイが検出面上に配置され、前記シンチレータ素子からの蛍光を検出するとともに、X方向及びY方向の放射線の検出位置X,Yの導出に用いられる複数の検出信号を出力するように構成された位置検出型の光電子増倍管と、前記光電子増倍管における単位時間当たりの検出イベント数を示す計数率を取得する計数率取得手段と、前記光電子増倍管からの前記複数の検出信号に基づいて、前記検出位置X,Yを導出する検出位置導出手段と、前記検出位置導出手段で導出された前記検出位置X,Yについて、nを1以上N以下の整数、mを1以上M以下の整数として、前記シンチレータアレイでの対応するシンチレータ素子を示す検出アドレスn,mに変換する検出アドレス導出手段とを備え、前記検出アドレス導出手段は、前記計数率取得手段で取得された前記計数率に基づいて設定されたアドレス変換テーブルによって、前記検出位置X,Yを前記検出アドレスn,mに変換することを特徴とする放射線検出装置。前記検出アドレス導出手段は、前記計数率に応じた前記アドレス変換テーブルとして、あらかじめ用意された複数のアドレス変換テーブルを有することを特徴とする請求項1記載の放射線検出装置。前記検出アドレス導出手段は、前記計数率に応じて前記アドレス変換テーブルを算出するためにあらかじめ用意されたテーブル算出用データを有することを特徴とする請求項1または2記載の放射線検出装置。前記光電子増倍管は、複数のアノードを有するマルチアノード型に構成され、前記複数のアノードから抵抗分割回路を介して、前記検出位置X,Yの情報を含む4つの検出信号を出力するように構成されていることを特徴とする請求項1~3のいずれか一項記載の放射線検出装置。前記計数率取得手段は、前記光電子増倍管からの前記複数の検出信号を加算した加算検出信号に基づいて、前記計数率を取得することを特徴とする請求項1~4のいずれか一項記載の放射線検出装置。上記した放射線検出装置では、複数のシンチレータ素子を2次元アレイ状に配列して、シンチレータアレイを構成する。そして、シンチレータアレイを、マルチアノード型などの2次元位置検出型の光電子増倍管の検出面上に配置し、入射した放射線に応じてシンチレータ素子で発生した蛍光を光電子増倍管で検出する。このような構成では、光電子増倍管におけるシンチレータアレイからの蛍光の検出位置のデータを取得することで、シンチレータアレイでの放射線の検出位置を特定することができる。位置検出型の光電子増倍管での検出位置X,Yから、シンチレータアレイでの放射線の検出位置を導出する方法として、例えば、取得された検出位置X,Yを対応するシンチレータ素子のアドレスn,mに変換する方法が考えられる。また、この場合、光電子増倍管での検出位置からシンチレータアレイでの検出アドレスシンチレータアドレスへの変換については、それらの対応関係を示すアドレス変換テーブルをルックアップテーブルLUT等として用意しておく構成が考えられる。一方、放射線検出装置では、放射線検出の単位時間当たりのイベント数を示す計数率が高くなった場合、光電子増倍管から出力されて検出位置の導出に用いられる検出信号において、2以上の検出信号が重なるパイルアップが発生する。シンチレータアレイと、位置検出型の光電子増倍管とを組み合わせた構成において、このようなパイルアップが発生すると、光電子増倍管での検出位置と、シンチレータアレイでの検出アドレスとの対応関係が変動する場合がある。このような場合、光電子増倍管で取得された検出位置から、シンチレータアレイで放射線が検出されたシンチレータ素子の検出アドレスを正確に特定することが難しいという問題がある。本発明は、以上の問題点を解決するためになされたものであり、シンチレータアレイと位置検出型の光電子増倍管とを備える構成において、シンチレータアレイでの検出アドレスの特定精度を向上することが可能な放射線検出装置を提供することを目的とする。このような目的を達成するために、本発明による放射線検出装置は、1それぞれ入射した放射線に応じて蛍光を発する、X方向にN個Nは2以上の整数、Y方向にM個Mは2以上の整数で2次元アレイ状に配列されたN×M個のシンチレータ素子からなるシンチレータアレイと、2シンチレータアレイが検出面上に配置され、シンチレータ素子からの蛍光を検出するとともに、X方向及びY方向の放射線の検出位置X,Yの導出に用いられる複数の検出信号を出力するように構成された位置検出型の光電子増倍管と、3光電子増倍管における単位時間当たりの検出イベント数を示す計数率を取得する計数率取得手段と、4光電子増倍管からの複数の検出信号に基づいて、検出位置X,Yを導出する検出位置導出手段と、5検出位置導出手段で導出された検出位置X,Yについて、nを1以上N以下の整数、mを1以上M以下の整数として、シンチレータアレイでの対応するシンチレータ素子を示す検出アドレスn,mに変換する検出アドレス導出手段とを備え、6検出アドレス導出手段は、計数率取得手段で取得された計数率に基づいて設定されたアドレス変換テーブルによって、検出位置X,Yを検出アドレスn,mに変換することを特徴とする。上記した放射線検出装置では、N×M個のシンチレータ素子を含むシンチレータアレイと、複数の検出信号を出力する位置検出型の光電子増倍管とを用いて、検出装置を構成する。そして、出力された複数の検出信号から光電子増倍管での検出位置X,Yを求めるとともに、求められた検出位置X,Yを、アドレス変換テーブルによって、シンチレータアレイでの対応するシンチレータ素子の検出アドレスn,mに変換する。これにより、シンチレータアレイにおける放射線の検出位置に対応する検出アドレスを好適に特定することができる。さらに、このような構成において、光電子増倍管における計数率を取得する計数率取得手段を設けるとともに、検出アドレスの導出において、検出位置の検出アドレスへの変換に用いられるアドレス変換テーブルを、取得された計数率に基づき、必要に応じて切り換えて設定している。このような構成によれば、放射線検出における検出信号のパイルアップの発生、及びその放射線検出への影響等についての指標となる計数率の変動に応じて、アドレス変換テーブルを設定、変更することができる。これにより、シンチレータアレイでの検出アドレスの特定精度を向上することが可能となる。検出アドレスの導出に用いられる計数率に応じたアドレス変換テーブルは、検出アドレス導出手段においてあらかじめ用意されたデータを用いて設定される。具体的には、例えば、検出アドレス導出手段が、計数率に応じたアドレス変換テーブルとして、あらかじめ用意された複数のアドレス変換テーブルを有する構成を用いることができる。このような構成によれば、計数率の変動に対応したアドレス変換テーブルの設定、変更を好適に実現することができる。あるいは、検出アドレス導出手段は、計数率に応じてアドレス変換テーブルを算出するためにあらかじめ用意されたテーブル算出用データを有する構成を用いることができる。このような構成によっても、複数のアドレス変換テーブルを用意する構成と同様に、計数率の変動に対応したアドレス変換テーブルの設定、変更を好適に実現することができる。上記した放射線検出装置において、光電子増倍管は、複数のアノードを有するマルチアノード型に構成され、複数のアノードから抵抗分割回路を介して、検出位置X,Yの情報を含む4つの検出信号を出力するように構成されていることが好ましい。このような構成によれば、光電子増倍管での放射線の検出位置シンチレータアレイからの蛍光の検出位置を、4つの検出信号のそれぞれの信号強度から確実に求めることができる。また、光電子増倍管における計数率の取得については、計数率取得手段が、光電子増倍管からの複数の検出信号を加算した加算検出信号に基づいて、計数率を取得することが好ましい。このように、光電子増倍管からの加算検出信号を用いて計数率を取得することにより、アドレス変換テーブルの設定、変更において参照される計数率を好適に求めることができる。あるいは、計数率の取得において、加算検出信号以外で、計数率の変動を示す他の信号を用いても良い。本発明の放射線検出装置によれば、N×M個のシンチレータ素子を含むシンチレータアレイと、複数の検出信号を出力する位置検出型の光電子増倍管とによって、検出装置を構成し、複数の検出信号から求められた光電子増倍管での検出位置X,Yを、アドレス変換テーブルによって、対応するシンチレータ素子の検出アドレスn,mに変換するとともに、光電子増倍管での計数率を取得する計数率取得手段を設け、検出アドレスの導出において、検出位置の検出アドレスへの変換に用いられるアドレス変換テーブルを計数率に基づいて設定することにより、シンチレータアレイでの検出アドレスの特定精度を向上することが可能となる。以下、図面とともに本発明による放射線検出装置の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明においては同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。また、図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致していない。図1は、放射線検出装置の一実施形態の構成を模式的に示す図である。本実施形態による放射線検出装置100は、入射した放射線を検出して検出信号を出力し、出力された検出信号から放射線の検出位置を特定して、その2次元検出像を取得するものであり、シンチレータアレイ10と、光電子増倍管20と、検出位置導出部30と、計数率取得部40と、検出アドレス導出部50とを備えている。ここで、以下の説明においては、図1に示すように、光電子増倍管20の検出面20aを規定して互いに直交する2軸をX軸、Y軸、それらに直交する軸をZ軸とする。また、図1においては、シンチレータアレイ10、及び光電子増倍管20については、その構成を側面図によって示し、検出位置導出部30、計数率取得部40、及び検出アドレス導出部50については、ブロック図によって示している。シンチレータアレイ10は、それぞれ入射した放射線に応じて蛍光を発する複数のシンチレータ素子11によって構成されている。ここで、図2は、シンチレータアレイの構成の一例について示す上面図である。図2に示すように、シンチレータアレイ10は、Nを2以上の整数、Mを2以上の整数として、X方向にN個、Y方向にM個で2次元アレイ状に配列されたN×M個のシンチレータ素子11によって構成されている。これらのシンチレータ素子11のアレイ10内での位置は、X方向にn番目、Y方向にm番目の位置にあることを示すアドレスn,mによって特定される。光電子増倍管20は、シンチレータアレイ10が検出面図中の上面20a上に配置されており、シンチレータアレイ10の各シンチレータ素子11からの蛍光を検出する。図1に示す構成においては、シンチレータアレイ10は、光電子増倍管20の検出面20a上にライトガイド15を介して配置されており、シンチレータアレイ10、ライトガイド15、及び光電子増倍管20がこの順で光学的に接続された構成となっている。光電子増倍管20は、X方向、及びY方向の放射線の検出位置X,Yの導出に用いられる複数の検出信号を出力するように構成された2次元位置検出型の光電子増倍管である。この光電子増倍管20から出力される複数の検出信号は、それぞれシンチレータアレイ10から出力された蛍光の光電子増倍管20での検出位置の情報を含んでおり、この蛍光の検出位置が、シンチレータアレイ10及び位置検出型の光電子増倍管20による放射線の検出位置X,Yとなる。図1に示す構成においては、位置検出型の光電子増倍管20は、光電面、ダイノード、及び位置検出が可能な複数のアノードを有するマルチアノード型に構成され、複数のアノードから抵抗分割回路25を介して、検出位置X,Yの情報を含む4つの検出信号を出力するように構成されている例えば、特許文献3参照。また、抵抗分割回路25からの検出信号は、対応する4つの検出信号出力端子26から外部へと出力される。なお、図1においては、説明のため、これらの4つの出力端子26をX方向にずらして図示してあるが、これらの出力端子26は実際には、例えば、光電子増倍管20の矩形状の検出面20aの四隅に対応する位置に設けられる。光電子増倍管20から出力される複数の検出信号に対して、信号データの処理、解析を行うために、検出位置導出部30、及び検出アドレス導出部50が設けられている。検出位置導出部30は、光電子増倍管20から出力される複数の検出信号、例えば検出信号のそれぞれの信号強度に基づいて、検出位置X,Yを導出する。また、検出アドレス導出部50は、図2に示すように、導出部30で導出された検出位置X,Yについて、nを1以上N以下の整数、mを1以上M以下の整数として、シンチレータアレイ10での対応するシンチレータ素子11を示す検出アドレスn,mに変換する。この導出部50における検出アドレスn,mの導出は、検出位置と検出アドレスとの対応関係の情報を含むアドレス変換テーブルを用いて行われる。図1に示す構成では、これらの導出部30、50に加えて、計数率取得部40が設けられている。計数率取得部40は、光電子増倍管20における単位時間当たりの検出イベント数を示す計数率を取得する。この取得部40における計数率の取得は、例えば、図1に示すように、光電子増倍管20からの複数の検出信号に基づいて行われる。また、このような構成において、検出アドレス導出部50は、取得部40で取得された計数率に基づいてアドレス変換テーブルを設定し、この設定されたアドレス変換テーブルによって、検出位置X,Yを検出アドレスn,mに変換することで、シンチレータアレイ10で放射線が検出されたシンチレータアドレスクリスタルアドレスを導出する。本実施形態による放射線検出装置100、及びそれを用いた放射線検出による効果について説明する。図1、図2に示した放射線検出装置100では、N×M個のシンチレータ素子11を含むシンチレータアレイ10と、位置検出型の光電子増倍管20とを用いて検出装置100を構成する。そして、検出位置導出部30において、出力端子26を介して出力された複数の検出信号から光電子増倍管20での検出位置X,Yを求める。また、検出アドレス導出部50において、検出位置X,Yを、アドレス変換テーブルによって、シンチレータアレイ10での対応するシンチレータ素子11の検出アドレスn,mに変換する。これにより、シンチレータアレイ10における放射線の検出位置に対応する検出アドレスを好適に特定することができる。さらに、このような構成において、光電子増倍管20での計数率を取得する計数率取得部40を設けるとともに、導出部50での検出アドレスの導出において、検出位置の検出アドレスへの変換に用いられるアドレス変換テーブルを、取得部40で取得された計数率に基づき、必要に応じて切り換えて設定している。このような構成によれば、放射線検出における検出信号のパイルアップの発生、及びその放射線検出への影響等についての指標となる計数率の変動に応じて、アドレス変換テーブルを最適なテーブルに設定、変更することができる。これにより、シンチレータアレイ10での検出アドレスの特定精度を向上することが可能となる。ここで、図1に示した放射線検出装置100における検出アドレスの特定精度の向上について、図3~図5を用いて説明する。図3~図5は、それぞれ、光電子増倍管20での検出位置と、シンチレータアレイ10での検出アドレスとの対応関係について示す図である。また、図3~図5において、実線丸は、光電子増倍管20での検出位置PX,Yによる2次元のポジションマップを示している。また、破線四角は、N×M個のシンチレータ素子11を含むシンチレータアレイ10での検出アドレスSn,mによるアドレスマップを示している。シンチレータアレイ10及び位置検出型の光電子増倍管20を用いた構成では、図3に示すように、光電子増倍管20での検出位置Pとシンチレータアレイ10での検出アドレスSとが対応付けられ、この対応関係を記述したアドレス変換テーブルが、例えばルックアップテーブルLUTとして用意される。検出アドレス導出部50における検出アドレスn,mの導出は、このようなアドレス変換テーブルを用いて行われる。放射線検出の計数率が低く、検出信号のパイルアップが起こらないか、もしくは、パイルアップの発生頻度が充分に低い場合には、上記した単一のアドレス変換テーブルを用いて、検出位置の演算を正確に行うことが可能である。一方、このような構成において、放射線検出の計数率が高くなった場合、光電子増倍管20からの出力において、2以上の検出信号の一部が時間的に重なり合うパイルアップが発生する。このようなパイルアップが発生すると、図4aに示すように、光電子増倍管20での検出位置PX,Yによるポジションマップがパイルアップの影響によって変化し、その結果、検出位置Pと検出アドレスSとの対応関係が変動する。図4aに示した例では、光電子増倍管20からの複数の検出信号に基づいて導出される検出位置Pが、周縁部から中央部に向かってずれることで、ポジションマップの歪みが発生している。このようなポジションマップの歪みは、検出装置が大面積になればなるほど問題となる。計数率が高い条件下でのこのようなポジションマップの歪みは、例えば、図4bに示すような現象を考えれば、理解することができる。ここでは、検出位置P1の検出イベントによって出力される検出信号に対し、その前の検出位置P2の検出イベントによる検出信号が時間的に充分に減衰しておらず、それらの検出信号のパイルアップが発生する場合を考える。このとき、検出位置P1の検出イベントに対して、その前の検出位置P2のイベントが影響を及ぼし、これによって、検出位置P1が中央寄りの検出位置P3にずれて検出されてしまうこととなる。このような検出位置のずれが、各検出イベントについて起こることにより、図4aに示すように、光電子増倍管20での検出位置PX,Yのポジションマップに歪みが発生する。この場合、図3に示した計数率が低い条件下でのアドレス変換テーブルを適用して、検出位置PX,Yから検出アドレスSn,mを導出すると、検出アドレスの特定精度が低下してしまう。また、パイルアップを阻止、または補償することにより、パイルアップの影響の低減を図る構成が考えられる特許文献1、2参照。しかしながら、パイルアップを取り除く補償回路では、パイルアップが生じた場合に検出イベントが捨てられるため、そのような場合にカウントの欠損が発生する。また、複雑な補償回路をASIC化する必要があり、技術的に困難な点がある。これに対して、上記した放射線検出装置100では、図5に、図4aに示した条件下でアドレスマップのセグメントを切り直した状態を示すように、計数率取得部40で取得された計数率に応じて、検出位置Pと検出アドレスSとの対応関係を記述したアドレス変換テーブルを切り換える。このような構成によれば、計数率の変動にかかわらず、検出アドレスの特定精度を向上することができ、計数率によるポジションマップの変化に追従して、ダイナミックレンジが広い放射線検出装置を実現することが可能となる。放射線検出装置100において、位置検出型の光電子増倍管20については、上記したように、複数のアノードを有するマルチアノード型であって、複数のアノードから抵抗分割回路25を介して、検出位置の情報を含む4つの検出信号を出力するように構成されていることが好ましい。このような構成によれば、光電子増倍管20での放射線の検出位置X,Yシンチレータアレイからの蛍光の検出位置を、4つの検出信号のそれぞれの信号強度から確実に求めることができる。検出アドレス導出部50において検出アドレスの導出に用いられる計数率に応じたアドレス変換テーブルは、導出部50にあらかじめ用意されたデータを用いて設定される。具体的には、例えば、検出アドレス導出部50が、計数率に応じたアドレス変換テーブルとして、あらかじめ用意された複数のアドレス変換テーブルを有する構成を用いることができる。このような構成によれば、計数率の変動に対応したアドレス変換テーブルの設定、変更を好適に実現することができる。あるいは、検出アドレス導出部50が、計数率に応じてアドレス変換テーブルを算出するためにあらかじめ用意されたテーブル算出用データを有する構成を用いても良い。このような構成によっても、複数のアドレス変換テーブルを用意する構成と同様に、計数率の変動に対応したアドレス変換テーブルの設定、変更を好適に実現することができる。また、光電子増倍管20における計数率の取得については、計数率取得部40が、光電子増倍管20からの複数の検出信号を加算した加算検出信号に基づいて、計数率を取得することが好ましい。このように、光電子増倍管20からの加算検出信号を用いて計数率を取得することにより、アドレス変換テーブルの設定、変更において参照される計数率を好適に求めることができる。あるいは、計数率の取得において、加算検出信号以外で、計数率の変動を示す他の信号を用いても良い。なお、シンチレータアレイ10、及び位置検出型の光電子増倍管20を用いた検出装置の構成については、具体的には、図1に示した構成に限らず、様々な構成を用いることが可能である。そのような放射線検出装置の一例を図6に示す。図6は、放射線検出装置の構成の他の例について示す側面図である。図6に示す構成では、それぞれ図1と同様の構成を有する3つの検出装置101、102、103を並べて連結することで、全体の放射線検出装置を構成している。また、ここでは、シンチレータアレイ10、及びライトガイド15については、3つの検出装置101~103の全体で一体の構成とし、ライトガイド15のシンチレータアレイ10とは反対側に、3つの光電子増倍管20を位置をずらして接続する構成としている。このような構成においても、図1に示した検出位置導出部30、計数率取得部40、及び検出アドレス導出部50による構成を適用することが可能である。図1に示した構成の放射線検出装置100において、位置検出型の光電子増倍管20としては、例えば8×8=64ch、または16×16=256chで、2次元アレイ状に配列された複数のアノードを有するマルチアノード型の光電子増倍管を用いることができる。光電子増倍管20での検出面積は、様々に設定可能であるが、例えば44.7mm×44.7mmである。また、図6に示したように3つの光電子増倍管を連結して用いる場合には、その全体での検出面積は、例えば44.7mm×151.1mmである。また、光電子増倍管における位置分解能は、典型的には例えば、視野中心部分において2.5mm以下である。また、光電子増倍管20の検出面20a上に配置されるシンチレータアレイ10を構成するシンチレータ素子11については、様々な結晶種類、サイズのシンチレータを用いて良いが、例えば、X方向に幅1.275mm、Y方向に幅2.675mm、Z方向に高さ7mmのLYSO結晶を用いることができる。また、この場合、シンチレータアレイ10を構成するシンチレータ素子11の個数は、上記の光電子増倍管20に対して、X方向にN=35個、Y方向にM=17個で、全体でN×M=595個である。このような構成において、検出信号のパイルアップによるポジションマップの歪みなどの影響は、例えば計数率が140kcps以上になると顕著になる。また、上記したようにアドレス変換テーブルを計数率によって切り換える構成は、マルチアノード型の光電子増倍管でのアノードのサイズに比べて、シンチレータ素子の結晶サイズが小さい場合に、特に有効である。図1に示した放射線検出装置100の具体的な構成について、さらに説明する。図7及び図8は、図1に示した放射線検出装置の具体的な構成の一例を示す図である。本構成例では、光電子増倍管20として、8×8=64chのマルチアノード型で4つの出力端子を有する光電子増倍管を想定している。なお、図7、図8では、シンチレータアレイ10等については図示を省略している。図7に示すように、光電子増倍管20においてX方向、Y方向に8×8で2次元アレイ状に配列されたアノードからの信号は、アノード出力21を介してそれぞれ出力される。8×8のアノード出力21からの信号は、複数の抵抗22を所定の配列によって接続した抵抗分割回路25を介して、図中の右上の出力端子26aからの検出信号A、左上の出力端子26bからの検出信号B、右下の出力端子26cからの検出信号C、及び左下の出力端子26dからの検出信号Dの4つの検出信号として出力される。光電子増倍管20の出力端子26a、26b、26c、26dからの検出信号A、B、C、Dは、図7、図8に示すように、それぞれ対応する増幅器28a、28b、28c、28dを介して検出位置導出部30へと入力され、導出部30において、光電子増倍管20での検出位置X,Yの導出に用いられる。図7に示した構成では、検出位置のX座標、及びY座標は、それぞれ下記の式X=AC/ABCDY=AB/ABCDによって求められる。検出位置導出部30は、AC演算部31、AB演算部32、ABCD演算部33、X位置演算部36、及びY位置演算部37を有している。AC演算部31には、検出信号A、Cが入力されており、加算検出信号ACを生成して、X位置演算部36へと出力する。AB演算部32には、検出信号A、Bが入力されており、加算検出信号ABを生成して、Y位置演算部37へと出力する。ABCD演算部33には、検出信号A、B、C、Dが入力されており、加算検出信号ABCDを生成して、X位置演算部36及びY位置演算部37の双方へと出力する。X位置演算部36は、演算部31からの加算検出信号AC、及び演算部33からの加算検出信号ABCDを用い、上記の式によって、検出位置のX座標を導出する。Y位置演算部37は、演算部32からの加算検出信号AB、及び演算部33からの加算検出信号ABCDを用い、上記の式によって、検出位置のY座標を導出する。また、X位置演算部36及びY位置演算部37は、例えばA-D変換器によって構成される。演算部36、37で導出された検出位置のX座標、Y座標は、検出アドレス導出部50へと入力され、導出部50において、検出アドレスn,mの導出に用いられる。また、演算部33で生成された加算検出信号ABCDは、計数率取得部40にも入力されている。計数率取得部40は、光電子増倍管20からの4つの検出信号の全てを加算した加算検出信号ABCDによって検出イベントをカウントすることで、光電子増倍管20での単位時間当たりの検出イベント数を示すシングル計数率を取得する。検出アドレス導出部50は、アドレス変換部51、変換データ記憶部52、エネルギー算出部53、及びエネルギー選択部54を有している。アドレス変換部51には、検出位置導出部30で求められた検出位置のX座標及びY座標が入力されており、この検出位置X,Yに基づき、検出位置に対応するシンチレータアレイ10でのシンチレータ素子11を示す検出アドレスn,mを導出する。この変換部51で求められた検出アドレスは、放射線の検出結果として、外部例えば後段の回路へと出力される。特に、本構成例では、アドレス変換部51は、計数率取得部40で取得された計数率に基づいてアドレス変換テーブルを設定または変更し、設定されたアドレス変換テーブルを用いて、検出位置X,Yを検出アドレスn,mに変換する。これにより、放射線の検出イベントの計数率に応じて、最適なアドレス変換テーブルによって検出アドレスを正確に特定することができる。また、図8に示した構成では、アドレス変換部51に対して変換データ記憶部52が設けられており、アドレス変換テーブルの設定、変更に必要なデータは、記憶部52にあらかじめ用意されている。検出アドレスの導出において、計数率に応じたアドレス変換テーブルとしてあらかじめ用意された複数のアドレス変換テーブルを用いる場合には、変換データ記憶部52には、それらの複数のアドレス変換テーブルがルックアップテーブルとして格納される。アドレス変換部51は、計数率取得部40で取得された計数率を参照し、変換データ記憶部52に用意された複数のアドレス変換テーブルから、最適なテーブルを選択する。また、検出アドレスの導出において、計数率に応じてアドレス変換テーブルを算出するためのテーブル算出用データを用いる場合には、変換データ記憶部52には、そのテーブル算出用データが格納される。アドレス変換部51は、計数率取得部40で取得された計数率を参照し、変換データ記憶部52に用意されたテーブル算出用データにより、最適なアドレス変換テーブルを算出する。この場合のテーブル算出用データとして、具体的には、例えば、計数率によってパラメータ化、一般化したアドレス変換テーブルを用意しておく構成を用いることができる。あるいは、テーブル算出用データとして、低計数率側と高計数率側とで2個、あるいは3個以上で所定個数のアドレス変換テーブルを用意しておき、それらのテーブルを用いた補間演算等によって中間のアドレス変換テーブルを作成する構成を用いても良い。なお、複数のアドレス変換テーブルを用いる構成、及びテーブル算出用データを用いる構成のいずれにおいても、それらのデータは、計数率に応じてあらかじめ実測によって取得して、変換データ記憶部52に保持しておくことが好ましい。また、本構成例では、検出アドレス導出部50において、さらに、エネルギー算出部53、及びエネルギー選択部54が設けられている。ここで、光電子増倍管20から出力される検出信号の波高値は、検出された放射線のエネルギーに応じて変化するが、この波高値も、検出位置X,Yに依存して異なる値となる場合がある。エネルギー算出部53は、あらかじめ用意された補正式、あるいはルックアップテーブル等を用いて、検出位置に応じたエネルギー値または波高値の補正を行う。なお、このようなエネルギー値の補正については、不要であれば行わない構成としても良い。また、エネルギー値の補正についても、計数率に応じてテーブル等を切り換える構成としても良い。また、エネルギー選択部54は、エネルギー算出部53で補正、算出されたエネルギー値に対して、許容されるエネルギー値の範囲を示すエネルギーウィンドウを適用する。そして、その検出イベントでのエネルギー値が設定されたウィンドウ内であれば、それを示す信号を外部例えば後段の回路へと出力する。本発明による放射線検出装置は、上記した実施形態、及び構成例に限られるものではなく、様々な変形が可能である。例えば、シンチレータアレイ、位置検出型の光電子増倍管を含む放射線検出の構成については、図1、図6に示した構成以外にも、具体的には様々な構成を用いて良い。また、シンチレータアレイと光電子増倍管との間のライトガイドについては、不要であれば設けない構成としても良い。また、計数率取得部、検出位置導出部、検出アドレス導出部の構成についても、図7、図8に示した構成はその一例を示すものであり、具体的には上記構成以外にも様々な構成を用いることが可能である。"