"原画像中の対象ブロックと、参照画像中の整数画素位置の各参照ブロックとの差分絶対値和演算を行う第1の計算部と、前記参照画像中の整数画素位置の2つの参照ブロック相互間の差分絶対値和演算を行う第2の計算部と、前記第1の計算部によって得られた2つの参照ブロックについての差分絶対値和演算結果を加算する加算計算部と、前記加算計算部の計算結果と前記第2の計算部の差分絶対値和演算結果とに基づいて、前記対象ブロックと前記参照画像中の小数画素位置の各参照ブロックとの差分絶対値和演算結果が最小となる小数画素位置の参照ブロックを推定する制御部とを具備したことを特徴とする動きベクトル探索装置。原画像中の対象ブロックと、参照画像中の整数画素位置の各参照ブロックとの差分絶対値和演算を行う第1の計算部と、前記原画像中の整数画素位置の2つのブロック相互間の差分絶対値和演算を行う第3の計算部と、前記第1の計算部によって得られた2つの参照ブロックについての差分絶対値和演算結果を加算する加算計算部と、前記加算計算部の計算結果と前記第3の計算部の差分絶対値和演算結果とに基づいて、前記対象ブロックと前記参照画像中の小数画素位置の各参照ブロックとの差分絶対値和演算結果が最小となる小数画素位置の参照ブロックを推定する制御部とを具備したことを特徴とする動きベクトル探索装置。前記第1及び第3の計算部は、並列に差分絶対値和演算を行うことを特徴とする請求項2に記載の動きベクトル探索装置。第1の計算部が、原画像中の対象ブロックと、参照画像中の整数画素位置の各参照ブロックとの差分絶対値和演算を順次行い、第2の計算部が、前記差分絶対値和演算が最小となる参照ブロックの周囲の整数画素位置の2つの参照ブロック相互間の差分絶対値和演算を行い、加算計算部が、前記第1の計算部によって得られた2つの参照ブロックについての差分絶対値和演算結果を加算し、制御部が、前記加算計算部の計算結果と前記第2の計算部の差分絶対値和演算結果とに基づいて、前記対象ブロックと前記参照画像中の小数画素位置の各参照ブロックとの差分絶対値和演算結果が最小となる小数画素位置の参照ブロックを推定することを特徴とする動きベクトル探索方法。第1の計算部が、原画像中の対象ブロックと、参照画像中の整数画素位置の各参照ブロックとの差分絶対値和演算を順次行い、第3の計算部が、前記第1の計算部の前記差分絶対値和演算と並列に、前記原画像中の整数画素位置の2つのブロック相互間の差分絶対値和演算を順次行い、加算計算部が、前記第1の計算部によって得られた2つの参照ブロックについての差分絶対値和演算結果を加算し、制御部が、前記加算計算部の計算結果と前記第3の計算部の差分絶対値和演算結果とに基づいて、前記対象ブロックと前記参照画像中の小数画素位置の各参照ブロックとの差分絶対値和演算結果が最小となる小数画素位置の参照ブロックを推定することを特徴とする動きベクトル探索方法。本発明の実施形態は、専用のハードウェアを必要とすることなく、比較的少ない演算量で小数画素精度の動きベクトルを求めることができる動きベクトル探索装置及び方法を提供することを目的とする。実施形態の動きベクトル探索装置は、原画像中の対象ブロックと、参照画像中の整数画素位置の各参照ブロックとの差分絶対値和演算を行う第1の計算部と、前記参照画像中の整数画素位置の2つの参照ブロック相互間の差分絶対値和演算を行う第2の計算部と、前記第1の計算部によって得られた2つの参照ブロックについての差分絶対値和演算結果を加算する加算計算部と、前記加算計算部の計算結果と前記第2の計算部の差分絶対値和演算結果とに基づいて、前記対象ブロックと前記参照画像中の小数画素位置の各参照ブロックとの差分絶対値和演算結果が最小となる小数画素位置の参照ブロックを推定する制御部とを具備したものである。以下、図面を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。第1の実施の形態図1は本発明の第1の実施の形態に係る動きベクトル探索装置を示すブロック図である。先ず、図2の説明図を参照して、本実施の形態における動きベクトルの探索方法を説明する。図2はブロックマッチング演算の対象となるブロックを示している。図2aは原画像中の対象ブロックSを示し、図2bは参照画像中の参照ブロックRを示している。対象画像中の対象ブロックSについての整数画素精度の動きベクトルは、参照画像中の参照ブロックRを1画素単位でずらしながら、対象ブロックSと各位置の参照ブロックRとのSAD値を求めて、SAD値が最小となる参照ブロックRの位置によって求められる。即ち、対象ブロックSの左上端の画素の座標をsx,syとして対象ブロックSの各画素の画素値をSsxi,syjで表し0≦i,j≦15、参照ブロックRの左上端の画素の座標をrx,ryとして参照ブロックRの各画素の画素値をRrxi,ryjで表すものとし、左上端の画素の座標がrx,ryの参照ブロックRと対象ブロックSとのSAD値をSADrx,ryとすると、SADrx,ryは、下記1式によって求められる。なお、上記1式はi,jで表される対象ブロックS及び参照ブロックRのブロックサイズが16×16画素の例を示している。また、以下に示す各式は、1式と同様の記載方法を採用するものとする。また、各ブロックをその左上端の画素の座標によって特定するものとし、左上端の画素の座標がsx,syの対象ブロックを対象ブロックSBsx,syとし、左上端の画素の座標がrx,ryの参照ブロックを参照ブロックRBrx,ryとする。また、対象ブロックSについての1/2小数画素精度の動きベクトルを求めるためには、整数画素位置のSAD値だけでなく、1/2画素位置におけるSAD値を求める必要がある。例えば、座標rx,ryの画素から水平方向に1/2画素だけずれた位置が左上端となる参照ブロックRと対象ブロックSとのSADrx0.5,ryは、下記2式によって与えられる。1/2小数画素精度や1/4小数画素精度等の高精度探索では、計算量が膨大となる。そこで、特許文献1においては、1/2画素位置のSAD値については、SAD値を直接求めるのではなく、整数画素精度の画素値を用いた下記3式のパラメータPARAM_Aを求め、求めたパラメータPARAM_Aによって最小のSAD値を与える参照ブロックを推測するようになっている。なお、PARAM_Arx0.5,ryは、SADrx0.5,ryに対応した1/2小数画素精度のパラメータを示している。なお、上記3式において、signは、内の符号に対応した値を示し、内の符号が正0を含むの場合には0で、負の場合には1である。特許文献1の技術では、パラメータPARAM_Aが大きいほど、SAD値は小さいと予測することにより、パラメータPARAM_Aにより最小SAD値を与える参照ブロックを求めている。これにより、1/2小数精度の探索処理に要する計算量を削減可能である。しかしながら、特許文献1の技術では、上記3式に従って、i,jを変化させながら符号の累積計算を行うために、各参照ブロック毎に、ブロックサイズに応じたビット数3式では256ビットで符号に応じた値を記憶する必要がある。そして、記憶した値に対して上記3式に対応した排他的論理和演算及び加算処理を行うようになっている。このため、特許文献1の発明では、計算量を削減するためには、このような整数画素位置の画素同士の差分の符号に対する処理を行うための専用のハードウェアが必須である。これに対し、本実施の形態においては、SAD値を求める演算によって求めることができ、SAD値の大小を推測可能な特徴量以下、パラメータPARAM_Bというを採用することで、動きベクトルの小数精度探索において、特別な専用ハードウェアを不要にし、且つ演算量を著しく低減することを可能にする。下記4式は本実施の形態において採用するパラメータPARAM_Bを示している。いま、説明の簡略化のために、上記3式のパラメータPARAM_AのSsxi,syj=Aとし、Rrxi,ryj=Bとし、Rrxi1,ryj=Cとするものとする。signの値は0又は1であり、3式の絶対値内は、0又は1となる。パラメータPARAM_Aは、絶対値内が1となることにより増加し、ブロックサイズが16×16の場合には、取り得る最大値は256となる。パラメータPARAM_Aが増加しない場合、即ち、3式の絶対値内が0の場合には、signA-B=signA-C=0であるか、又は、signA-B=signA-C=1である。従って、A-B≧0で且つA-C≧0であるか、又は、A-B<0で且つA-C<0である。一方、上記4式で示すパラメータPARAM_Bの絶対値内は、B-Cで表され、3式の|signA-B-signA-C|が0の場合には、|B-C|=|A-B|-|A-C|である。また、パラメータPARAM_Aが増加する場合、即ち、3式の絶対値内が1の場合には、signA-B=1で且つsignA-C=0であるか、又は、signA-B=0で且つsignA-C=1である。従って、A-B≧0で且つA-C<0であるか、又は、A-B≧0で且つA-C<0である。即ち、3式の|signA-B-signA-C|が1の場合には、|B-C|=|A-B||A-C|である。このように、パラメータPARAM_Aが増加する場合には、パラメータPARAM_Bも増加することになり、パラメータPARAM_AとパラメータPARAM_Bとは、相関関係を有すると共に、広義単調増加の関係を有する。従って、パラメータPARAM_Aが最大となる参照ブロックにおいては、パラメータPARAM_Bも最大となると考えられる。パラメータPARAM_Aの取り得る最大値は上述したように256であるのに対し、パラメータPARAM_Bの取り得る最大値以下、理論最大値というはブロック毎に異なり、下記5式によって与えられる。従って、本実施の形態においては、各参照ブロックについてパラメータPARAM_Bを求め、パラメータPARAM_Bとその理論最大値との差分が最も小さいパラメータPARAM_Bを、最も値が大きいパラメータPARAM_Aに対応したパラメータPARAM_Bであるものと判断して、このパラメータPARAM_Bが得られる参照ブロックを、対象ブロックと参照ブロックとの1/2画素精度のSAD値が最小の参照ブロックと推定するようになっている。上記4式に示す演算は、1画素ずれた参照ブロック同士のSAD値を求める演算である。また、上記5式に示す演算も、対象ブロックと参照ブロックとのSAD値を求める演算である。従って、パラメータPARAM_Bは、SAD値を求める回路ブロックによって算出することができ、本実施の形態においては、パラメータPARAM_Bを求めるために特別な専用のハードウェアは不要である。図1において、動きベクトル探索装置10は、制御部11、ブロック計算部21及び加算計算部31によって構成されている。制御部11には、所定の対象ブロックについての探索開始座標が与えられる。制御部11は、参照画像の各参照ブロックを特定する情報、例えば左上端の座標の情報を格納する領域12を有する。制御部11は、領域12の情報によって特定される各参照ブロック毎に、整数精度のSAD値を格納する領域13、パラメータPARAM_Bを格納する領域14及びパラメータPARAM_Bの理論最大値を格納する領域15を有する。制御部11は、与えられた探索開始座標に基づいてブロック計算部21及び加算計算部31を制御することにより、各対象ブロック毎に領域12~15の情報を求め、求めた結果によって、小数精度のSAD値が最小となる参照ブロックを推定するようになっている。整数精度のSAD値の算出には、原画像及び参照画像が必要であり、制御部11は、画像選択情報によっていずれの画像を選択すべきかをブロック計算部21の画像選択部22に指示する。画像選択部22は、画像選択情報に基づいて原画像及び参照画像を選択的にブロック切り出し部23に与える。探索開始座標は、探索を開始する参照ブロックを特定するものであり、制御部11は、探索開始座標に基づいてブロック位置を指定する情報、例えば、各ブロックの左上端の座標rx,ry,sx,syをブロック切り出し部23に与える。ブロック切り出し部23は、制御部11によって指定されたブロックの各画素の値を読出して、差分計算部24に出力する。差分計算部24は、上記1式及び4式に示す画素値の差分演算を行って差分演算結果を絶対値計算部25に出力する。絶対値計算部25は、上記1式及び4式の絶対値演算を行って、演算結果を累積加算計算部26に出力する。累積加算計算部26は、上記1式及び4式の累積加算演算を行う。この累積加算計算部26の演算結果は、所定の参照ブロックについて求めた整数精度のSAD値とパラメータPARAM_Bである。4式に示すように、パラメータPARAM_Bの演算は、参照画像中の1画素ずれた参照ブロックの各画素同士の差分演算であり、SAD値を求める演算によって求めることができる。従って、本実施の形態においては、特別な専用ハードウェアを必要とすることなく、整数精度のSAD値を求めると共に、パラメータPARAM_Bを求めることができる。制御部11は、所定の参照ブロックについて、領域13の情報を取得すると、参照ブロックを1画素ずらして同様の処理を繰り返す。こうして、制御部11は、各参照ブロックについて、整数精度のSAD値を取得することができる。また、制御部11は、小数精度探索のために、所定の参照ブロックについて領域14の情報を取得すると、次の参照ブロックについて同様の処理を繰り返す。こうして、制御部11は、小数精度探索の探索範囲内の各参照ブロックについて、パラメータPARAM_Bを取得することができる。なお、制御部11は、動きベクトル探索の探索範囲内の全ての参照ブロックについてパラメータPARAM_Bを求めてもよく、整数精度の探索の結果得られた最小SADを与える参照ブロックの周囲に設定した所定範囲の参照ブロックついて、パラメータPARAM_Bを求めるようにしてもよい。制御部11は、パラメータPARAM_Bの理論最大値を求めるために、領域13からSAD値を読出して加算計算部31に与える。加算計算部31は、制御部11から与えられたSAD値を用いた上記5式の演算によって、パラメータPARAM_Bの理論最大値を求めて制御部11に与える。制御部11は、加算計算部31の計算結果を領域15に記憶させるようになっている。更に、制御部11は、領域14,15の情報を読み出して、パラメータPARAM_Bとその理論最大値の差分を求め、最小の差分を与える参照ブロックを、SAD値が最小の小数精度の参照ブロックであるものと推定する。次に、このように構成された実施の形態の動作について図3乃至図5を参照して説明する。図3は第1の実施の形態を説明するためのフローチャートであり、図4は特徴量の算出に用いる参照ブロックを説明するための説明図であり、図5は特徴量の理論最大値を示す図表である。図3のステップS1~S4は整数精度の探索処理を行うためのステップである。図3に示す整数精度の探索処理においては、先ずステップS1においてブロック指定が行われる。制御部11は、所定の対象ブロックについて、例えば、整数画素精度の探索処理における所定の探索範囲を設定する。制御部11は、ブロック計算部21に対して、探索範囲内の各ブロックを順次指定する。ブロック切り出し部23は、画像選択部22を介して原画像及び参照画像が入力されて、対象ブロック及び参照ブロックを切り出して差分計算部24に出力する。差分計算部24は、ステップS2のSAD演算における差分演算を行う。これにより、1式の絶対値内の差分演算が行われる。差分計算部24の計算結果は絶対値計算部25に与えられて絶対値が求められる。絶対値計算部25は差分演算結果の絶対値を求めて、演算結果を累積加算計算部26に出力する。累積加算計算部26は、ブロック内の全ての画素についての差分計算及び絶対値計算結果を累積する。これにより、1式のSAD値が求められる。制御部11は、領域12に参照ブロックの情報を記録すると共に、探索範囲内の参照ブロックについて求められたSAD値を、領域12に対応する領域13に記録するステップS3。制御部11は、ステップS4において、探索範囲内の全ての参照ブロックについてSAD値の計算が行われたか否かを判定し、整数精度の探索処理が終了していない場合には、処理をステップS1に戻して次の参照ブロックについてSAD値の算出処理及び記録処理を行う。対象ブロックと探索範囲内の全ての参照ブロックとのSAD値が求められると、制御部11は、ステップS5に処理を移行して、整数精度において最もSAD値が小さい参照ブロック以下、整数精度検出ブロックというを決定するステップS5。次に、制御部11は、整数精度探索において最もSAD値が小さい参照ブロック整数精度検出ブロックの周囲に、小数精度高精度探索のための探索範囲を設定する。ステップS6乃至S12は、高精度探索を行うためのステップを示している。制御部11は、探索範囲内の参照ブロックを指定する。いま、例えば、高精度探索における探索範囲として、整数精度検出ブロックの上下左右に0.5画素ずれた4つの参照ブロックを設定する例について説明する。なお、高精度探索の探索範囲は適宜設定可能であり、例えば、上下左右、斜めに0.5画素ずれた8つの参照ブロックを設定するようにしてもよく、更に、広範囲の探索範囲を設定してもよい。例えば、整数精度検出ブロックがRBrx,ryであるものとすると、高精度探索の参照ブロックとしてRBrx-0.5,ry,RBrx0.5,ry,RBrx,ry-0.5,RBrx,ry0.5を設定する。本実施の形態においては、これらの4つの参照ブロックについてSADに対応した特徴量であるパラメータPARAM_Bを求め、パラメータPARAM_Bの理論最大値との差が最も小さいパラメータPARAM_Bを与える参照ブロックを、SADが最も小さい参照ブロックであると推定する。そして、本実施の形態においては、これらの0.5画素ずれた参照ブロックのパラメータPARAM_Bの演算には、整数位置のブロックRBrx-1,ry,RBrx1,ry,RBrx,ry-1,RBrx,ry1を用いる。即ち、パラメータPARAM_Brx-0.5,ryの算出のために、図4aに示す参照ブロックRBrx,ry,RBrx-1,ryを用いる。同様に、ブロック計算部21は、パラメータPARAM_Brx0.5,ryの算出のために、図4bに示す参照ブロックRBrx,ry,RBrx1,ryを用い、パラメータPARAM_Brx,ry-0.5の算出のために、図4cに示す参照ブロックRBrx,ry,RBrx,ry-1を用い、パラメータPARAM_Brx,ry0.5の算出のために、図4dに示す参照ブロックRBrx,ry,RBrx,ry1を用いる。これらのパラメータのうち4式で示したパラメータPARAM_Brx0.5,ryの算出について説明する。なお、他のパラメータの算出も同様の手順により算出できることは明らかである。画像選択部22及びブロック切り出し部23は、制御部11に制御されて、図4bに示す参照ブロックRBrx,ry,RBrx1,ryを切り出す。差分計算部24はこれらの参照ブロック同士の差分を求め、絶対値計算部25は差分結果の絶対値を求める。ブロック内の全ての画素についての差分計算及び絶対値計算結果が累積加算計算部26に与えられて累積加算される。こうして、式4のパラメータPARAM_Brx0.5,ryが求められるステップS7。また、制御部11は、パラメータPARAM_Brx0.5,ryの理論最大値を求めるステップS8。特徴量の理論最大値の演算には、5式に示すように、対象ブロックと整数画素位置の参照ブロックとのSAD値を用いる。このSAD値は、ステップS2,S3において算出され記録されている。制御部11は、パラメータPARAM_Brx0.5,ryの理論最大値を求めるために、対象ブロックSBsx,syと参照ブロックRBrx,ryとのSAD値であるSADrx,ryと、対象ブロックSBsx,syと参照ブロックRBrx1,ryとのSAD値であるSADrx1,ryとを領域13から読出して加算計算部31に出力する。加算計算部31は、2入力の加算によって、パラメータPARAM_Bの理論最大値を求めて、制御部14に出力する。パラメータPARAM_Brx0.5,ryの理論最大値は、図5に示すように、SADrx,rySADrx1,ryで与えられる。なお、5式は、このパラメータPARAM_Brx0.5,ryの理論最大値を求めるためのものであるが、図5に示すように、他のパラメータの理論最大値も同様の手順により算出できることは明らかである。制御部11は、算出されたパラメータPARAM_B及びその理論最大値を対応させて領域14,15に記録するステップS9。制御部11は、ステップS10において、高精度探索に設定した探索範囲の全ての参照ブロックについてパラメータPARAM_B及びその理論最大値を算出したか否かを判定し、算出していない場合には、処理をステップS6に戻して、次の参照ブロックについて処理を繰り返す。高精度探索の探索範囲内の全ての参照ブロックについてパラメータPARAM_B及びその理論最大値が求められると、制御部11は、各参照ブロックについてパラメータPARAM_Bとその理論最大値との差分を求めるステップS11。制御部11は、求めた差分が最も小さいパラメータPARAM_Bを与える参照ブロックを、高精度探索においてSAD値が最小となる参照ブロック以下、高精度検出ブロックというと推定するステップS12。上述したように、パラメータPARAM_BはパラメータPARAM_Aと相関が高く、パラメータPARAM_Bと理論最大値との差が最も小さい参照ブロックは、パラメータPARAM_Aについても最大値が得られると考えられ、SAD値が最も小さいブロックであると判定することができる。なお、最終的には、整数精度検出ブロックと高精度検出ブロックとについて対象ブロックとの間で求めたSAD値を比較することで、SAD値が最も小さい参照ブロックを特定する。このように本実施の形態においては、SADに対応する特徴量としてパラメータPARAM_Bを採用し、パラメータPARAM_Bとその理論最大値との差分が最も小さいパラメータPARAM_Bを与える小数画素位置の参照ブロックをSAD値が最小のブロックと推定する。整数画素位置の参照ブロックを用いて、小数精度のパラメータPARAM_Bの算出を行うことができ、探索に必要な演算量を著しく低減することができる。しかも、SAD演算のみによってパラメータPARAM_Bの算出を行うことができ、特別なハードウェアを必要とすることなく、演算量の削減が可能である。なお、上述した実施の形態においては、整数精度探索によって最小SADの参照ブロックを特定し、当該参照ブロックの周囲に高精度探索の探索範囲を設定する例を説明したが、高精度探索の探索範囲の決定方法は種々考えられる。例えば、画面全体を高精度探索の探索範囲に設定してもよい。第2の実施の形態図6は本発明の第2の実施の形態を示すブロック図である。図6において図1と同一の構成要素には同一符号を付して説明を省略する。本実施の形態のハードウェア構成は第1の実施の形態と同様であり、制御部11が領域14,15に第1の実施の形態と異なるパラメータを記憶させると共に、制御部11によるブロック計算部21及び加算計算部31の制御が第1の実施の形態と異なる。本実施の形態においては、パラメータPARAM_Bに代えてパラメータPARAM_Dを採用する。パラメータPARAM_Dを説明するために、パラメータPARAM_Aに近似した値を有するパラメータPARAM_Cを考える。下記6式は、パラメータPARAM_Cを示している。図7はパラメータPARAM_Cを説明するための説明図である。上記3式及び6式に示すパラメータPARAM_A,PARAM_Cの絶対値内の第1項は、図7a,bの実線に示すブロックSBsx,sy、ブロックRBrx,ry間のSAD値を示している。パラメータPARAM_Aの絶対値内の第2項は、ブロックSBsx,sy図7a実線とブロックRBrx1,ry図7b破線とのSAD値を示している。一方、6式のパラメータPARAM_Cの絶対値内は、ブロックSBsx-1,sy図7a破線とブロックRBrx,ry図7b実線とのSAD値を示している。ブロックSBsx,sy,RBrx1,ry間のSAD演算と、ブロックSBsx-1,sy,RBrx,ry間のSAD演算とでは、図7a,bの斜線部分において、共通の加算処理が行われている。即ち、これらのSAD演算により得られるSAD値は、近似した値になることが予想される。即ち、パラメータPARAM_AとパラメータCとは近似した値になるものと考えられる。そこで、本実施の形態においては、パラメータPARAM_Cについて、上記パラメータPARAM_A,PARAM_Bの関係と同様の関係を有するパラメータPARAM_Dを規定する。即ち、パラメータPARAM_Dは下記7式によって与えられ、パラメータPARAM_Dの取り得る最大値理論最大値は下記8式によって与えられる。パラメータPARAM_C,PARAM_Dの関係は、パラメータPARAM_A,PARAM_Bの関係と同様であるので、パラメータPARAM_Dとその最大値との差分が最も小さいパラメータPARAM_Dを与える参照ブロックについては、パラメータPARAM_Cも最大値をとり、パラメータPARAM_Aも最大値をとるものと考えられる。そこで、本実施の形態においては、パラメータPARAM_Dとその最大値との差分が最も小さいパラメータPARAM_Dを与える参照ブロックを対象ブロックとのSAD値が最も小さいブロックであるものと推定して、高精度探索の探索結果を得るようになっている。パラメータPARAM_D及びその最大値は、SAD演算のみによって算出することができ、本実施の形態においても、特別な専用のハードウェアを必要とすることなく、演算量を削減することができる。次に、このように構成された実施の形態の動作について図8のフローチャートを参照して説明する。図8において図3と同一の手順には同一符号を付して説明を省略する。図8においてステップS1~S5は整数精度探索のためのステップであり、ステップS6~S12は小数精度高精度探索のためのステップである。本実施の形態においては、高精度探索において求めるパラメータPARAM_Dが、原画像内のブロックを用いた演算であることから、整数精度探索処理と高精度探索処理とを並列に実行することが可能である。制御部11は、ステップS1において整数精度探索用の参照ブロックを指定し、ステップS6において小数精度探索用の参照ブロックを指定する。ブロック計算部21は、ステップS2において整数精度のSAD演算を行い、ステップS7において特徴量算出のためのSAD演算を行う。ステップS7の処理によって、上記7式のパラメータPARAM_Dが求められる。整数精度探索で得たSAD値及びパラメータPARAM_Dは、制御部11によって夫々領域13,14に記録されるステップS3,S9。パラメータPARAM_C,PARAM_Dの関係は、パラメータPARAM_A,PARAM_Bの関係と同様であるので、パラメータPARAM_BとパラメータPARAM_Dとは略近似した値となる。例えば、以下の式が成立する。PARAM_Brx0.5,ry=PARAM_Drx-0.5,ryPARAM_Brx,ry0.5=PARAM_Drx,ry-0.5PARAM_Brx0.5,ry0.5=PARAM_Drx-0.5,ry-0.5PARAM_Brx-0.5,ry0.5=PARAM_Drx0.5,ry-0.5制御部11は、整数精度探索に設定した探索範囲内の全参照ブロックについての探索処理が終了すると、処理をステップS4からステップS5に移行して、整数精度検出ブロックを決定する。また、制御部11は、小数精度探索に設定した探索範囲内の全参照ブロックについての探索処理が終了すると、処理をステップS10からステップS8’に移行して、理論最大値を算出する。式8に示すように、パラメータPARAM_Dの理論最大値は、対象ブロックと参照ブロックとのSAD値の和であり、制御部11は、領域13に記憶させたSAD値を読出して加算計算部31に出力する。なお、制御部11は、当該対象ブロックについて求めたSAD値だけでなく、理論最大値の演算に用いる対象ブロックについて求めたSAD値も保持しているものとする。加算計算部31は、加算処理によって8式の理論最大値を求めて、制御部11に出力する。制御部11は、各参照ブロックについて理論最大値とパラメータPARAM_Dの差分を求め、差分が最も小さいパラメータPARAM_Dを与える参照ブロックを、高精度検出ブロックとして決定するステップS12。このように本実施の形態においても、第1の実施の形態と同様の効果を得ることができる。更に、本実施の形態においては、特徴量であるパラメータPARAM_Dは、原画像のデータのみを用いたSAD演算によって取得することができ、整数精度探索と小数精度探索とを並列に実行することができ、演算時間を短縮することができるという利点がある。次に、上記各実施の形態における演算量について説明する。例えば、整数画素精度探索の後、上下左右斜めの8方向のうち、いずれの方向に高精度探索の結果が存在するかを予測する場合の計算量を示す。特許文献1の技術を採用してパラメータPARAM_Aを求めると、1画素につき、除算、正負判定、除算、正負判定、除算、絶対値計算及び累積加算の7回の演算が必要である。よって、8方向探索すると、7演算回数/画素×16画素数×16画素数×8探索方向数=14336回の演算が必要である。これに対し、第1の実施の形態において採用したパラメータPARAM_Bの計算では、1画素につき除算、絶対値計算及び累積加算の3回の演算を行えばよい。また、1度計算したパラメータPARAM_Bを2方向の探索に適用できるので、3演算回数/画素×16画素数×16画素数×4索探方向数の半分=3072回の演算ですむ。また、パラメータPARAM_Eを用いた第2の実施の形態における演算回数は、パラメータPARAM_Bを用いた場合と同じである。また、パラメータPARAM_Eは、参照画像の座標に依存しない。従って、パラメータPARAM_Eを用いた場合には、整数画素精度探索と高精度探索とを並列演算することが可能になる。図9は上記各実施の形態をエンコーダに適用した例を示すブロック図である。エンコーダ40には、第1又は第2の実施の形態の動きベクトル探索装置を含む動き検出部43が設けられている。制御部41はエンコーダ全体を制御する。動き検出部43は、バッファメモリ42及びバス47を介して映像信号が与えられて、動画圧縮処理時に動きベクトルを求める。動き補償部46は、動きベクトルが与えられて、参照画像と原画像との間の動き補償演算を行う。DCT量子化部44は、圧縮処理時に、離散コサイン変換及び量子化処理を行う。"