物体10の光学的特性を測定するための装置であって、放射源12と、該放射源12からの放射25が前記物体10を透過するように前記放射を前記物体に向ける手段16、18と、前記物体によって生成される波面収差を検出するために物体からの放射を検出する検出器30、50を有する波面センサーを含み、放射源12と、放射測定アーム25を前記放射源から前記物体に向ける手段18と、前記物体から反射される放射26、58を検出する検出器30、50を有する光干渉断層撮影装置を特徴とする装置。前記波面センサーおよび前記光干渉断層撮影装置は、共通の放射源12を有するものであることを特徴とする請求項1に記載の装置。前記波面センサーの前記放射を物体に向ける手段および前記光干渉断層撮影装置の前記放射測定腕を物体に向ける手段は、少なくとも部分的に同一であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の装置。前記共通の放射源12が光干渉断層撮影に適応された広帯域レーザーまたは広帯域LEDまたはスーパールミネセントダイオードまたはスーパーコンティニューム源であることを特徴とする請求項2または請求項3に記載の装置。前記物体10が目であることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の装置。前記波面センサーがチェルニング収差計であることを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の装置。前記波面センサーがシャックハルトマンセンサーであることを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の装置。前記波面センサーが曲率センサーであることを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の装置。前記波面センサーが特にデジタル波面カメラであるデジタル波面センサーであることを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の装置。前記光干渉断層撮影装置は、トポグラフィー測定または長さ測定に適応されたものであることを特徴とする請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載の装置。前記波面センサーおよび前記光干渉断層撮影装置が部分的に同一の光線束を利用することを特徴とする請求項1ないし請求項10のいずれか1項に記載の装置。本発明の目的は、物体、特に目の光学的特性を、迅速かつ包括的に測定することができる装置を利用可能にすることである。この目的のため、本発明は、波面センサーおよび光干渉断層撮影装置が統合された装置を提供する。本発明における光干渉断層撮影装置とは、光干渉断層撮影のための装置として理解されるものである。波面センサーは現状の技術において知られており、特に、チェルニングの原理、シャックハルトマンの原理、曲率センサーの原理に従って作動するものが知られている。また、光干渉断層撮影OCTのための器械も知られており、異なる複数の方法でOCTを実施することが可能である。特に、タイムドメインOCTと周波数ドメインOCTが区別される。特に本発明の基礎となる発見は、波面センサーおよび光干渉断層撮影装置が非常に有利になるように組み合わせられるということである。これによって、波面測定と光干渉断層撮影の両方のための器械の構成要素を共通して利用することができるだけでなく、同時に、異なる測定システムを患者に突きつけることなく、非常に迅速に、高い精度で、上記したレイトレーシングに必要な複数のパラメーターを決定することができる。OCTを用いれば、特に、目の表面上および目の内部で長さの測定を行うことができる。さらに、本発明の基礎となる発見は、上記の波面測定および光干渉断層撮影の統合によって、測定する物体の、相互に最適に補足し合う複数の光学的パラメーターを、特に前述のレイトレーシングのために得られることである。レイトレーシングのために必要な決定要素の全ては、実質上1回の測定手順によって決定することができる。本発明における測定とは、大きさの定量的測定および相対的測定の両方を含む。本発明は、波面センサーおよび光干渉断層撮影装置の両方のために、一つの共通の放射源を使用することを可能にする。本発明の別の例では、装置の光学的構成要素が波面センサーの放射束と光干渉断層撮影装置の放射束の両方に対して使用される。これによって器械の複雑さが低減されるだけでなく、配置が容易になり、測定の精度とともに、双方のシステムで得られた測定結果の互換性が高められる。共通の放射源として、光干渉断層撮影に適した広帯域レーザー、広帯域LEDまたはスーパールミネセントダイオードが使用されることが好ましい。以下では、本発明の実施態様が、図を基にしてより詳細に説明される。チェルニングの原理による波面センサーは、当業者によく知られている。図1のように、そのような波面センサーを用いて、目10によって構成される光学システム全体の光学的特性を測定することができる。これについては、通常、レーザー12’によって生成された放射14’がアパーチャマスク16を通じて複数の部分ビームに分割され、これが目10に平行に当たり、目の網膜20に、部分ビームに対応する個別の複数の点の形で像24を生成する。この工程中で、放射はビームスプリッター18’を通過する。このビームスプリッターの表面で反射され、その先使用されることのない放射はビームトラップ22に到達する。網膜20上に複数の点からなる模様の形で生成された像は、目10から来る放射25に含まれており、ビームスプリッター18を介して図1の放射26’、また結像光学素子28を通ってカメラ30’に投影される。個別の点の、設定された位置からの偏向を用いて、既知の方法によって目の光学的結像誤差を測定することができる。図2は、本発明に従って、図1の波面センサーに光干渉断層撮影装置を統合したものを示す。OCTを実施することが可能なように設計された、広帯域スペクトルのレーザー源が放射源の役割を果たす。ビームスプリッター18によって、OCTに必要な参照ビームが部分ビーム図2では上向きに偏向されているの形で生成される。部分ビームは、目から出てくるビームの直径まで拡大される。OCTがタイムドメイン法によって実施される場合、参照ビームの光路長は変更されなければならない。これは、例えば、逆反射装置32の制御された機械的動作によって、または例えば回転するプリズムや鏡などの経路長変更装置を用いて行うことができる。目10から来る放射25は、ビームスプリッター18を介して、図2では下向き、すなわち矢印26の向きに偏向され、また光学素子28を通って検出器30に到達する。逆反射装置32から来るビームもビームスプリッター18を通り、参照ビームとして検出器30に到達する。検出システム30の内部で参照ビームと目から来る測定ビームが重畳される。参照ビームはバックグラウンドを生成し、目から来る反射ビームはこのバックグラウンド上に重畳される。参照ビームおよび反射ビームが非干渉性であれば、検出器30内で生成された像は従来の方法で評価可能である。参照ビームと反射ビームの光路長の差がごく小さい場合、重畳ビームは可干渉性であり、検出器内で干渉現象が発生し、これはOCTのための既知の方法によって評価される。同様に、本発明のこの実施態様においては、上記の目10から来る複数の点からなる模様を検出器30によって記録することができ、また、目によって構成される光学システムによって生成される波面収差を測定するために、チェルニングの原理に従って、既知の方法で評価することができる。検出器30としては、この用途のための既知のカメラを使用することができるが、測定時間を短くするためには、複数の高速カメラ、それぞれ前置増幅器を割り当てられた複数の光ダイオード、または他の複数の検出器配列など複数の高速検出器を設けるべきである。OCTが、いわゆるフーリエ領域法に従って実施される場合、このための複数の検出器配列は分散的構成要素プリズム、回折格子と組み合わせて使用することができる。図3は検出器30に加えて高速検出器40を使用する、図2の装置の変更例を示す。ビームスプリッター36は、目から来る放射25から1つの部分ビームにカプラ接続し、この部分ビームは光学素子38を通ってOCTを実施するために高速検出器40に到達する。ビームスプリッターの代わりに折りたたみ式の鏡を設けてもよい。一つは波面収差の決定のための、もう一つはOCTのための異なる検出器を用いることで、2次元の高い局所分解能を得ることができ、標的を定めて波面収差の測定ができる。また、光干渉断層撮影のためには、この目的に適する検出器を用いて信号の迅速な評価を行うことが可能となる。図4はシャックハルトマンの原理によって作動する波面センサーを概略的に示す。すべての図において、相互に対応する、または機能的に類似している構成要素は同じ符号を用いて示されている。シャックハルトマンの原理の場合、目10の網膜20は、レーザー12’からの点状のレーザービーム14’によって照明される。網膜20上で散乱された光は、明らかにより幅広い放射束の形で目10から出てくる。この放射束42は、ビームスプリッター18によって図4で下向き矢印44に偏向され、その後レンズ配列46を通して複数の部分ビームに分けられ、それらの部分ビームはCCD検出器50上に集められる。像は複数の点からなる模様となる。収差のない波面の場合、設定された複数の点からなる模様が検出器上に現れる。実際の目が測定された場合、概して像の複数の点は、設定された複数の点からなる模様と厳密に同じ位置にあるわけではない。結像された複数の点の、設定された複数の点からの偏向を用いて、既知の方法によって波面の曲率が決定され、これによって目の光学的特性が推定される。図5は、図4の波面センサーと光干渉断層撮影装置を結合させたものを示す。この目的で、広帯域スペクトルのレーザー放射源12が、波面センサーおよび光干渉断層撮影装置のための共通の放射源として利用される。OCTのために必要な参照ビームはビームスプリッター18によって生成される図5の符号54。逆反射装置32は、反射する参照ビームの幅を広げる。下記でより詳細に説明される鏡の配列、または変形可能な鏡56が参照ビームのビーム路に設置される。図2および図3の実施態様の場合、例えば経路長変更装置34または逆反射装置32の機械的動作タイムドメインの場合によって経路長の変更を行うことができる。レンズ配列46は、目から来る放射58を分割し、検出器50中に複数の個別の点を生成する。OCTに必要な参照ビームは平面波面から発生するため、検出器の他の点にぶつかり、ビーム同士で干渉は起こらない。干渉を可能にするために、前述の鏡の配列または変形可能な鏡56が設けられる。例えば、個別にアドレス指定可能な個別の鏡からなる配列の形に組み立てられた鏡MEMS、または放射を制御することができる変形可能な鏡が知られている。鏡の配列または変形可能な鏡56は、干渉に必要な測定ビームおよび参照ビームの重畳が検出器50で行われるように制御されている。上記の図3の実施態様に対応して、図5の装置の場合でも、ビームスプリッター36によって部分ビームを第2の検出システム50’に向けることができる。ここで、検出システムとしては前述の複数の検出器も考慮に入れられる。図6は、波面センサーとして既知の曲率センサーの原理が用いられた変更例を示す。ここでは上記の実施態様と同様にLEDまたはSLDスーパールミネセントダイオードを放射源として用いることができる。平行光のビーム14が生成され、網膜に導かれる。網膜で逆散乱された光は、より幅広い放射束の形で目から出る。示された曲率センサーの実施態様では、放射束は集束光学素子28を通過した後にビームスプリッター60に当たる。ビームスプリッター60を透過する光はカメラの検出装置に直接当たる。ビームスプリッター60で反射された光は、鏡62上でさらに偏向され、したがってより長い光路を通り、時間的にずれてカメラの検出器に向けられる。ビームスプリッター60を透過する放射の光路は、集束光学素子の背面焦点距離よりも短いことが好ましい。鏡62を介して偏向される、放射の反射される部分は光路長が背面焦点距離よりも長いことが好ましいため、図6にもそのように概略的に示されている。波面は、記録された2つの強度の2点間コントラストから既知の方法で決定することができる。さらに、図6は、すでに上記で説明した、逆反射装置32および参照ビーム参照アームとも呼ばれるの経路長変更装置34からなる構成要素を用いた光干渉断層撮影装置を示す。この実施態様では、広帯域レーザー12がOCTのための放射源の役割を果たす。ビームスプリッター64が目10から来る放射から部分放射68をカプラ接続し、これらの部分放射は光学素子72を通してOCTのために高速検出器70に投影される。上記の例と同様に、この実施態様においてもOCTにはタイムドメイン法が利用され、他の実施態様について上記で説明した変更は、本実施態様においても同様に行うことができる。記載した装置を用いて行うことができる、物体の光学的特性の測定は、目の屈折力手術だけのために行われるものではなく、眼内レンズのための計算、白内障の診断、眼底検査および屈折率測定器の構築のために行うことができる。