透過型電子顕微鏡用の二軸傾斜インサイチュー強度電気特性の総合試験試料ホルダーであって、前記試料ホルダーは、グリップ1、試料ホルダー2、試料ホルダーの先端部3を備え、センサー載台4が前記試料ホルダーの先端部3の両内側にある二つの支持軸5で前記試料ホルダー先端部3上に固定され、導線I6が電子顕微鏡の外部から前記試料ホルダー2を通って入り、前記試料ホルダーの先端3の両側の壁に対称的に分布し、そこにある一列の電極I7と繋がっており、前記導線I6のもう一方の端は前記グリップ1の上の電極継ぎ口8に繋がり、該電極継ぎ口8を通して電子顕微鏡の外部の設備と繋がっており、前記一列の電極I7は支持軸5を中心線として前記試料ホルダーの先端3の両側の壁に対称的に分布しており、前記センサー載台4の回転がその後部にあるY軸の回転ドライブ9で駆動され、前記センサー載台4の上に前記支持軸5を中心線として凹み10が一つ形成されており、前記凹み10は一つのスルーホールであり、センサー11がその下から支持へりで支えられており、前記センサー11には厚みがあるため、前記凹み10に入れると、上の表面がTEM電子ビーム集束の中心と同じ平面の中にあるようになり、前記センサー11を前記センサー載台4の前記凹み10に入れてから、シート15を前記センサー11に乗せると、一列の電極III16の中で、シート15の下の表面にある電極は前記センサー11の上にある一列の電極II14と一対一対応で繋がることが、正確な設計で確保され、前記シート15を前記センサー載台4上に固定すると、一列の電極III16の中の、シート15の上の表面にある電極は試料ホルダーの先端3の両側にある一列の電極I7とが導線で一対一対応で繋がり、前記シート15の上にスルーホールII17があるため、電子ビームはシートを通して前記センサー11の試料12の上に集束し、前記センサー11の上に一列の前記電極II14、応力かけ部品18、応力測定部品19、テスト電極20および研究対象となる試料12があり、前記応力かけ部品18と前記応力測定部品19は前記センサー11の上に並列に並び、一列の前記電極II14と平行し、二列の前記電極II14に挟まれており、前記応力かけ部品18と前記応力測定部品19の間に電子ビームの通り道としての隙間があり、前記応力かけ部品18と前記応力測定部品19の上にテスト電極20が二つ取り付けられており、前記試料12の両端はそれぞれ前記応力かけ部品18と前記応力測定部品19の上にある前記テスト電極20に乗せられ、及び、前記電子ビームの通り道に横たわっており、前記応力かけ部品18、前記応力測定部品19、前記テスト電極20の電気回路のいずれもセンサー11の上にある一列の電極III14と対応して導線で繋がっており、前記応力測定部品19は商業的に成熟しているカンチレバーの技術を用い、カンチレバーの構造は正確に設計されており、さらにカンチレバーの上に精密な応力の信号の測定ができる構造と装置を備えている、ことを特徴とする、試料ホルダー。前記電極導線4はいずれも外部に絶縁層を有する伝導性材料であることを特徴とする、請求項1に記載の試料ホルダー。前記試料ホルダーの先端部3、センサー載台4及びプレート15の表面のいずれにも絶縁体層が分布され、該絶縁体層の材料は二酸化ケイ素、炭化ケイ素、窒化ケイ素または酸化ハフニウムによって構成されていることを特徴とする、請求項1に記載の試料ホルダー。前記電極列I7、電極列II14、電極列III16はRh、Pd、RhAu、TiAu、WPt、CrPt、NiPt、AgまたはCuを含むことを特徴とする、請求項1に記載の試料ホルダー。現存技術の問題を解決するために、本発明は透過型電子顕微鏡用の二軸傾斜のできるインサイチュ強度、電気的特性の総合試験試料ホルダーを提供することを目指す。主なキーワードは自ら設計した透過型電子顕微鏡の中空試料ホルダー以下は試料ホルダーと略称する、強度電気的特性センサー、シート、試料ホルダーの先端、センサー載台がある。その中で、強度電気的特性センサーはシートで試料ホルダー先端のセンサー載台に固定され、センサー載台は両側の回転軸で試料ホルダーの先端と繋がり、さらにこの二つの回転軸を中心に試料ホルダーの先端と垂直になっている平面の中で回転するつまりY軸を中心に回転、±30°ことができる。強度電気的特性センサーの上の電極はシートで試料ホルダー先端の両側にある電極に繋がり、中空試料ホルダーの中の導線を通って外部の試験設備に繋がる。それによって、強度電気信号の面内センサーの平面内における増加およびフィードバックのリアルタイムモニタリングを実現する。最終的に研究対象である試料を低指数の晶帯軸に傾斜することを通じて、原子スケールでのインサイチュ観察とともに強度、電気的特性の総合的パラメーターの獲得を実現する。本発明は以下の技術案を通して上述の目的を実現する。透過型電子顕微鏡用二軸傾斜のインサイチュー強度、電気的特性の総合試験試料ホルダーは主にグリップ1、試料ホルダー2、試料ホルダーの先端3からなっている。センサー載台4は試料ホルダーの先端3の両内側にある二つの支持軸5で試料ホルダーの先端3に固定され、支持軸5を中心に試料の先端と垂直となっている平面の中で回転するつまりY軸を中心に回転する、±30°、図5の通り。導線I6は電子顕微鏡の外部から試料ホルダー2を通って入って、試料ホルダーの先端3の両側の壁に対称的に分布し、そこにある一列の電極I7と繋がっている。導線I6のもう一方の端はグリップの上の電極継ぎ口8に繋がっており、電極継ぎ口8を通して電子顕微鏡の外部の設備と繋がっている。一列の電極I7は支持軸5を中心線に試料ホルダーの先端3の両側の壁に対称的に分布している。センサー載台4の回転はその後部にあるY軸の回転ドライブ9で駆動されている。センサー載台4の上に支持軸5を中心線として凹み10が一つ形成されている。凹み10は一つのスルーホールであり、センサー11はその下から支持へりで支えられている。センサー11に厚みがあるため、それを凹み10に入れると、上の表面のがTEM電子ビーム集束の中心と同じ平面の中にあるようになり、TEM電子ビームはセンサー11の上の隙間と凹み10を通って、センサー11の上の表面にある試料12に集束する。そのほか、センサー載台4の上の支持軸5から離れ、Y軸回転ドライブ9に近いところにスルーホールI13があるので、センサー載台4がY軸を中心に傾斜しているとき、または試料ホルダーの全体がX軸を中心に傾斜しているとき、センサー載台4は電子顕微鏡の磁極片との接触がない。センサー11の両側の支持軸5に近いところに、二列のの電極II14が取り付けられている。シート15の上にも同様に二列の電極III16がついている。そのいずれの列の電極III16もシートの上下の両面にある二つの電極であり、導線を通して繋がっている。センサー11をセンサー載台4の凹み10に入れてから、シート15をセンサー11に乗せると、一列の電極III16の中で、シート15の下の表面にある電極はセンサー11の上にある一列の電極III14と一対一対応で繋がることが、正確な設計で確保される。シート15をセンサー載台4の上に固定すると、導線で一列の電極III16の中の、シート15の上の表面にある電極は試料ホルダーの先端3の両側にある一列の電極I7と一対一対応で繋がることになる。また、シート15の上にスルーホールII17があるため、電子ビームはシートを通してセンサー11の試料12の上に集束する。センサー11の上に一列の電極II14、応力かけ部品18、応力測定部品19、テスト電極20および研究対象となる試料12がある。応力かけ部品18と応力測定部品19は並列でセンサー11の上に並び、一列の電極II14と平行して、二列の電極II14に挟まれている。応力かけ部品18と応力測定部品19の間に電子ビームの通り道としての隙間があり、応力かけ部品18と応力測定部品19の上にテスト電極20が二つついている。試料12の両端はそれぞれ応力かけ部品18と応力測定部品19の上にあるテスト電極20に乗せられ、そして、上述した電子ビームの通り道を横たわっている。応力かけ部品18、応力測定部品19、テスト電極20の電気回路のいずれも導線でセンサー11の上にある一列の電極II14と対応して繋がっている。応力かけ部品18はバイメタル、圧電セラミック、記憶合金で作られている。それらの記憶合金は外部から加熱されると、または電界の作用をうけると変形する材料であるため、応力かけ部品18自身が応力測定部品19から離れたり近づいたりすることによって、両端がそれぞれ応力かけ部品18と応力測定部品19の上の試料12に張力または圧縮力をかけ、試料12の面に応力を加える。応力測定部品19は商業的に成熟しているカンチレバーの技術を使っており、カンチレバーの構造は正確に設計されており、さらにカンチレバーの上に精密な応力の信号の測定ができる構造と装置をつけられている。応力かけ部品18が試料12に応力作用を加えると、電子顕微鏡の外部にある試験設備はカンチレバー形の変化に引き起こされる応力の変化の信号を電気信号に変えて外部の試験設備に送出し、応力の信号に対するリアルタイムモニタリングを実現する。上述のセンサー11がセンサー載台4につけられた後、センサー載台4および試料ホルダー2とともにY軸とX軸の二軸を中心に傾斜し、これにより原子スケールでのインサイチュ観察と同時に、試料の内で試料に応力を加えることを実現し、外部の信号の受信送信設備によってリアルタイムモニタリング強度、電気的信号などの信号の変化のリアルタイムモニタリングを実現する。更に、上述の電極リード線4は全部外部に絶縁層がついている導電性材料である。更に、上述の試料ホルダーの先端3、センサー載台4、およびシート15は全部表面に誘電体層がついており、当該絶縁誘電体層材料はシリカ、炭化ケイ素、窒化ケイ素、酸化ハフニウムといった絶縁材料でありうる。更に、上述の一列の電極I7、一列の電極II14、一列の電極III16のいずれも導電特性の優れた材料で作られ、Rh、Pd、RhAu、TiAu、WPt、CrPt、NiPt、AgまたはCuでありうる。本発明は以下のような長所をもっている。1.本発明は精密な機械の加工、半導体加工技術によって透過型電子顕微鏡用の二軸傾斜インサイチュー力学電気学特性の総合試験試料ホルダーを作り出し、透過型電子顕微鏡の中で材料に対しインサイチュー力学電気学の総合特性試験を実現する。2.本発明の構造は設計に設計されており、当該試料ホルダーはX、Yの二つ大きな方向へ広角に傾斜できる。それによって、最適な晶帯軸で高分解能のイメージングと、原子スケールで直接ナノ材料が面内の応力作用を受けるときの力学的相応メカニズムおよび電子学的相応メカニズムを究明することを実現する。3.本発明はナノワイヤー、ナノベルト、ナノチューブのような一次元ナノ構造だけではなく、二次元薄膜材料および体材料で作られた透過型電子顕微鏡の試料にも適用できる。材料の変形メカニズムに強力なインサイチュー研究の手段を提供する。4.本発明は精密な構造の設計により、現存する技術上、電極のリード線を直接試料と繋げることがもたらす欠陥を解決し、シートを間接的に繋げることにより、大試料と外部の設備を繋げる導線の長さを大幅に短縮し、電極リード線が多数ある状況の中で、Y軸の傾斜が影響されないことを実現した。5.本発明は必要に応じて、自分でセンサーを設計し、達したい特性実験の目的を実現することもできる。センサーが異なっても、本設計を利用することでインサイチュー原子スケール分解能の相応な特性実験を行うことができる。続いて図面を参照して更に詳細な説明をする。図1、2が示しているように、透過型電子顕微鏡用二軸傾斜のインサイチュー強度、電気的特性の総合試験試料ホルダーは主にグリップ1、試料ホルダー2、試料ホルダーの先端3からなっている。センサー載台4は試料ホルダーの先端3の内の両側にある二つの支持軸5での先端3に固定され、支持軸5を中心に試料の先端と垂直となっている平面の中で回転するつまりY軸を中心に回転、±30°。試料ホルダーの先端3の両側の壁に電子顕微鏡の外部から試料ホルダー2を通って入った導線I6が対称的に分布しており、試料ホルダーの先端3の両側の壁にある一列の電極I7と繋がっている。導線I6のもう一方の端はグリップの上の電極継ぎ口8に繋がっており、電極継ぎ口8を通して電子顕微鏡の外部の設備と繋がっている。一列の電極I7は支持軸5を中心線に試料ホルダーの先端3の両側の壁に対称的に分布している。センサー載台4の回転はその後部にあるY軸の回転ドライブ9で駆動されている。センサー載台4の上に支持軸5を中心線として凹み10が一つ形成されている。凹み10は一つのスルーホールであり、センサー11はその下から支持へりでを支えられている。そのほか、センサー載台4の上の支持軸5から離れ、Y軸回転ドライブ9に近いところにスルーホールI13があるので、センサー載台4がY軸を中心に傾斜しているとき、または試料ホルダーの全体がX軸を中心に傾斜しているとき、センサー載台4は電子顕微鏡の磁極片との接触がない。それによって、電子顕微鏡へのダメージを避ける。センサー11は購入した商業用のセンサーを使い、応力かけ部品18は一つのバイメタルの上に、バイメタルの上に電熱抵抗と熱電対コンポーネントを取り付けて作成する。応力測定部品19は一つのSiカンチレバーの上に、その側面に精確なたわみ変位を測定し、外部の試験設備によって応力の信号に変えるホイートストンブリッジシステムを取り付けて作成する。試料12をセンサー11の上のテスト電極20に固定し、具体的な組立図は図3の通りである。センサー11をセンサー載台4の凹み10に入れてから、シート15でセンサー11をセンサー載台4に固定すると、シート15の上の一列の電極III16の中、シート15の下の表面にある電極はセンサー11の上にある一列の電極II14と一対一対応で繋がる。センサー11の厚みと凹み10の深みとTEM電子ビーム集束の中心とは同じ平面の中にあるため、TEM電子ビームはセンサー11の上の隙間と凹み10を通って、センサー11の上の表面にある試料12に集束する。リード線で一列の電極III16の中の、シート15の上の表面にある電極を試料ホルダーの先端3の両側にある一列の電極I7と一対一対応で繋げると、電子ビームはシート15の上につけられたスルーホールII17を通って試料12の上に集束する。図4のように組み立てた試料ホルダーを透過型電子顕微鏡の中に入れ、導線で試料ホルダーの上の電極継ぎ口8を外部の試験設備と対応して繋げる。透過型電子顕微鏡の電子ビームをつけ、ファインダーの中で研究対象である試料を見つける。単結晶試料の場合、試料を観察したい低指数の晶帯軸に傾斜し、外部の試験設備を使って、センサー11の上の応力かけ部品18に駆動の信号を加え、試料12に力作用を加え応力測定部品19が外部の試験設備上にフィードバックする信号を通じて応力の歪みを試験測定し、同時にテスト電極20を使って試料に電気信号を加え、透過型電子顕微鏡画像収集システムの下で試料12が応力作用を受けるときの力学的相応メカニズムおよび電子学的相応メカニズムを観測する。図7が示しているように、図7aは多結晶Al薄膜の透過型電子顕微鏡写真であり、挿絵は選択した領域の電子線回折図であり、図7bは当該試験試料ホルダーを使って獲得した多結晶Al薄膜の引張変形するプロセスの中での応力の歪み曲線である。そのほか、上述のセンサー11は我々の以前の特許によって作った搭載ネットおよびセンサーで試料特性を測定することもできる。以前の特許は以下の通りである。バイメタル駆動の透過型電子顕微鏡載りネット、特許番号:ZL200610144031X。透過型電子顕微鏡用のナノ材料応力試験載りネット、特許番号:ZL2008100568368。定量的強度電気的特性と微細構造的センサーの測定および製作方法、制作方法、特許出願番号:2009202699072。