レーザ光を光ディスクに照射し、該光ディスクからの反射光を検出する光ピックアップ装置において、レーザ光の光ビームを出射する半導体レーザと、前記半導体レーザから出射した光ビームを第1の光ビームと第2の光ビームに分岐するとともに、該第1の光ビームから得た信号光と該第2の光ビームから得た参照光を合成する偏光ビームスプリッタと、前記第1の光ビームを前記光ディスクに照射して信号光を得る対物レンズと、前記第2の光ビームを前記光ディスクに照射せずに反射して参照光を得る反射素子と、前記偏光ビームスプリッタにて合成された光ビームを複数の光ビームに分離するとともに、それぞれの光ビームに含まれる信号光と参照光に対し異なる位相差を与える位相差形成部と、前記分離された複数の光ビームを受光する複数の受光部を有する共通の光検出器と、を備え、前記位相差形成部は、回折格子と、分割波長板と、偏光回折格子を含んで構成したことを特徴とする光ピックアップ装置。請求項1記載の光ピックアップ装置において、前記回折格子は、入射した光ビームを回折することで2つ以上の光ビームに分離し、前記分割波長板は、入射した光ビームに所定の位相差を与える1/4波長板と1/2波長板を含む2つ以上の領域に分割されており、前記偏光回折格子は、入射した特定の偏光の光ビームを回折することで2つ以上の光ビームに分離するものであって、前記回折格子により分離された2つ以上の光ビームは、前記分割波長板の異なる領域にそれぞれ入射し、前記分割波長板の各領域を通過した光ビームは、それぞれ前記偏光回折格子の異なる領域に入射することを特徴とする光ピックアップ装置。請求項2記載の光ピックアップ装置において、前記回折格子は入射した光ビームを2つに分離し、前記分割波長板は、前記回折格子により分離された2つの光ビームを入射する2つの領域を有し、前記偏光回折格子は、前記分割波長板を通過した2つの光ビームを入射し、それぞれ2つの光ビームに分離することで全部で4つの光ビームに分離し、前記光検出器は、前記偏光回折格子から出射された4つの光ビームを4個の受光部で検出して再生信号生成用の検出信号とすることを特徴とする光ピックアップ装置。請求項2記載の光ピックアップ装置において、前記回折格子は入射した光ビームを3つに分離し、前記分割波長板は、前記回折格子により分離された3つの光ビームを入射する3つの領域を有し、前記偏光回折格子は、前記分割波長板を通過した3つの光ビームを入射し、それぞれ2つの光ビームに分離することで全部で6つの光ビームに分離し、前記光検出器は、前記偏光回折格子から出射された6つの光ビームを6個の受光部で検出して再生信号生成用の検出信号とすることを特徴とする光ピックアップ装置。請求項2記載の光ピックアップ装置において、前記回折格子は入射した光ビームを2つに分離し、前記分割波長板は、前記回折格子により分離された2つの光ビームを入射する2つの領域を有し、前記偏光回折格子は、前記分割波長板を通過した2つの光ビームを入射し、それぞれ3つの光ビームに分離することで全部で6つの光ビームに分離し、前記光検出器は、前記偏光回折格子から出射された6つの光ビームを6個の受光部で検出して再生信号生成用の検出信号とすることを特徴とする光ピックアップ装置。請求項3ないし5のいずれか1項記載の光ピックアップ装置において、前記位相差形成部は、分離した各光ビームの信号光と参照光に対し、4通りの位相差0°、90°、180°、270°を与えることを特徴とする光ピックアップ装置。請求項2記載の光ピックアップ装置において、前記回折格子は入射した光ビームを3つに分離し、前記分割波長板は、前記回折格子により分離された3つの光ビームを入射する3つの領域を有し、前記偏光回折格子は、前記分割波長板を通過した3つの光ビームを入射する第1の領域、第2の領域、及びこれらに挟まれる第3の領域を有し、前記光検出器は、前記偏光回折格子の第1の領域、第2の領域から出射された光ビームを検出して再生信号生成用の検出信号とするとともに、前記偏光回折格子の第3の領域から出射された光ビームを検出してフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号生成用の検出信号とすることを特徴とする光ピックアップ装置。請求項7記載の光ピックアップ装置において、前記偏光回折格子の第3の領域は、領域X、領域Y、領域Zの3つの領域を有し、前記光ディスク上のトラックにより回折されたディスク回折光のうち、0次ディスク回折光は前記領域Xに入射し、0次、±1次ディスク回折光は前記領域Yに入射し、0次ディスク回折光の略中心は前記領域Zに入射することを特徴とする光ピックアップ装置。請求項7または8記載の光ピックアップ装置において、前記偏光回折格子と前記光検出器の間に、中央部がレンズ領域で外周部が平板領域である検出レンズを配置し、前記偏光回折格子の第3の領域から出射された光ビームのうち、前記検出レンズのレンズ領域を通過させて非点収差を与えた光ビームから前記フォーカス誤差信号生成用の検出信号を得、前記検出レンズの平板領域を通過させた光ビームから前記トラッキング誤差信号生成用の検出信号を得ることを特徴とする光ピックアップ装置。請求項1ないし9のいずれか1項記載の光ピックアップ装置において、前記回折格子はホログラム素子であり、入射した光ビームを回折するときデフォーカス収差を与えることを特徴とする光ピックアップ装置。請求項1ないし9のいずれか1項記載の光ピックアップ装置において、前記光検出器のうち再生信号を生成するための受光部は、それぞれ4分割されていることを特徴とする光ピックアップ装置。請求項1ないし11のいずれか1項記載の光ピックアップ装置を搭載した光ディスク装置であって、前記光ピックアップ装置内の前記半導体レーザを駆動するレーザ点灯回路と、前記光ピックアップ装置内の前記光検出器による検出信号を用いて光ディスクに記録された情報の再生信号を生成する情報信号再生回路と、前記光ピックアップ装置内の前記光検出器による検出信号を用いてフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号を生成するサーボ信号生成回路と、を備えたことを特徴とする光ディスク装置。特許文献1の構成によれば、高S/Nの信号を検出できるとともに、2つの光が所定の位相関係とするための光路差の調整が原理的に不要であり、信号増幅効果が高く、光学系の小型化に適した干渉型の検出系となることが述べられている。しかしながら特許文献1の構成では、4個の光検出器を配設するとともに、光ビームを4個の光検出器に入射させるための光分岐素子が必要とされる。このため、光ピックアップ装置の光学系が複雑になり、小型化のためには改善の余地がある。また、光検出器や光分岐素子など複数の光学部品を用いるために、コストアップの要因となっている。そこで本発明の目的は、再生信号のS/Nが高く小型化に適した簡素な光学系の光ピックアップ装置およびそれを用いた光ディスク装置を提供することである。上記課題を解決するために、本発明の光ピックアップ装置は、レーザ光の光ビームを出射する半導体レーザと、半導体レーザから出射した光ビームを第1の光ビームと第2の光ビームに分岐するとともに、第1の光ビームから得た信号光と第2の光ビームから得た参照光を合成する偏光ビームスプリッタと、第1の光ビームを光ディスクに照射して信号光を得る対物レンズと、第2の光ビームを光ディスクに照射せずに反射して参照光を得る反射素子と、偏光ビームスプリッタにて合成された光ビームを複数の光ビームに分離するとともに、それぞれの光ビームに含まれる信号光と参照光に対し異なる位相差を与える位相差形成部と、分離された複数の光ビームを受光する複数の受光部を有する共通の光検出器とを備える。ここで位相差形成部は、回折格子と、分割波長板と、偏光回折格子を含む構成とし、回折格子は、入射した光ビームを回折することで2つ以上の光ビームに分離し、分割波長板は、入射した光ビームに所定の位相差を与える1/4波長板と1/2波長板を含む2つ以上の領域に分割されており、偏光回折格子は、入射した特定の偏光の光ビームを回折することで2つ以上の光ビームに分離する。本発明によれば、信号光と参照光との干渉により再生信号のS/Nを向上させるとともに、光学系の部品数を削減して小型化に適した光ピックアップ装置および光ディスク装置を提供することができる。以下、本発明をいくつかの実施例に分け、図面を用いて説明する。図1は、本発明の第1の実施例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す図である。本実施例ではBD多層ディスクの再生を対象とするが、それ以外の光ディスクであっても良いし、単層ディスクであっても良い。半導体レーザ50からは、波長略405nmの光ビームが発散光として出射される。出射した光ビームは1/2波長板7を経て、コリメートレンズ51により略平行な光ビームに変換され、偏光ビームスプリッタ52に入射する。偏光ビームスプリッタ52は、S偏光を略100反射し、P偏光を略100透過する機能を有する光分岐素子である。偏光ビームスプッリタ52を反射したS偏光の光ビームは立ち上げミラー55を反射し、1/4波長板56に入射して円偏光に変換される。そして、円偏光の光ビームはアクチュエータ5に搭載された対物レンズ2により、光ディスクBD多層ディスクの所定の記録層に集光される。光ディスクの記録層を反射した円偏光の光ビームは、対物レンズ2を経て1/4波長板56に入射してP偏光に変換され、立ち上げミラー55を経て偏光ビームスプリッタ52に戻る。この光ビームはP偏光であり、偏光ビームスプリッタ52を透過して信号光となる。一方、半導体レーザ50を出射し、偏光ビームスプリッタ52を透過したP偏光の光ビームは、1/4波長板8に入射して円偏光に変換され、反射素子であるコーナーキューブ53に入射する。ここでコーナーキュープ53は、光ビームをどのような入射角で入射させても、光ビームを同一方向に反射させる光学素子である。コーナーキューブ53を反射した円偏光の光ビームは、1/4波長板8に入射してS偏光に変換され、偏光ビームスプリッタ52に戻る。この光ビームはS偏光であり、偏光ビームスプリッタ52で反射されて参照光となる。偏光ビームスプリッタ52では、前記光ディスクから反射した光ビーム信号光とコーナーキューブ53を反射した光ビーム参照光とが合成される。このとき、P偏光である信号光とS偏光である参照光とは、互いに偏光方向が直交した状態で合成される。以下では、信号光と参照光は同じ光ビームとして光路の説明を行う。偏光ビームスプリッタ52で合成された光ビームは、検出レンズ57にて収束され、光分岐素子である偏光ビームスプリッタ58に入射する。偏光ビームスプリッタ58は、S偏光の参照光の反射率が高く設定され、ここではS偏光の参照光を略100反射し、P偏光の信号光の略半分を反射残りを透過するものとする。偏光ビームスプリッタ58を反射した光ビーム信号光と参照光からは再生信号が生成され、偏光ビームスプリッタ58を透過した光ビーム信号光からはサーボ信号が生成される。偏光ビームスプリッタ58を反射した光ビーム信号光と参照光は、位相差形成部20破線で示すに入射する。位相差形成部20は、回折格子無偏光12と分割波長板13と偏光回折格子14を含んで構成され、入射した光ビームを4つの光ビームに分離するとともに、それぞれの光ビームに含まれる信号光と参照光に対し異なる位相差を与える機能を有する。回折格子12は光ビームを2つの光ビームに分離し、分割波長板13は分離された2つの光ビームに位相差を与え、偏光回折格子14はさらに4つの光ビームに分離する。4つの光ビームは、検出器10A上に設けられた4つの受光部でそれぞれ別々に検出され、4つの受光部からの検出信号を演算することで再生信号を生成する。位相差形成部20と検出器10Aの詳細は後述する。一方、偏光ビームスプリッタ58を透過した光ビーム信号光は、複数の領域を有する回折格子11に入射し、各領域からそれぞれ異なる方向に分離されて出射し、光検出器10B上に焦点を結ぶ。光検出器10B上には複数の受光部が形成されており、回折格子11によって分離された各光ビームが照射される。各受光部からは照射された光量に応じて検出信号が出力され、これらの出力を演算してフォーカス誤差信号やトラッキング誤差信号などのサーボ信号が生成される。そして、フォーカス誤差信号により対物レンズ2を搭載したアクチュエータ5を光軸方向に駆動し、フォーカス制御を行う。その際、前記検出器10Aの検出信号から安定した再生信号を生成するために、フォーカス誤差信号を用いてコーナーキューブ53も光軸方向に駆動しても良い。以下、位相差形成部20と検出器10Aの構成と動作を詳細に説明する。図2は、位相差形成部20の構成部品を示す図で、aは回折格子12、bは分割波長板13、cは偏光回折格子14である。図中の点線は光ビームの外形を示し、Radはディスク半径方向を、Tanはディスク接線方向を示す。まず、回折格子無偏光12では入射した光ビームは2つの光ビームに分離される。ここで、回折格子12の0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を、例えば0:1:1とする。ただし回折効率の比はこれに限定されず、1:1:0でも良いし他の比でも良い。なお、光ビームは検出レンズ57により収束光となっているため、2つのビームは回折により分離されると同時に光ビームの有効径も小さくなる。回折格子12を出射した2つの光ビーム1次光、-1次光は、分割波長板13に入射する。分割波長板13は、回折格子12からの2つの光ビームが分離したところに配置している。分割波長板13は領域Aと領域Bに2分割されており、2つの光ビーム、1次光13A、-1次光13Bは、領域A、領域Bにそれぞれ入射する。領域Aは、1/2波長板、領域Bは1/4波長板で構成する。この分割波長板13はフォトニック結晶の波長板であっても良いし、領域分割された液晶の波長板であっても良い。さらに、2つの波長板を貼り付けた波長板であっても良い。領域Aに入射した光ビーム13Aは、1/2波長板によって偏光方向を45度回転させられる。また、領域Bに入射した光ビーム13Bは、1/4波長板によって位相差が与えられる。分割波長板13を透過した2つの光ビームは、偏光回折格子14に入射する。偏光回折格子14には、分割波長板13を通過した2つの光ビーム14A、14Bがそれぞれ異なる領域に入射する。これらの光ビーム14A、14Bには、信号光と参照光とが含まれている。ここで偏光回折格子14は、特定の偏光、例えばS偏光が入射した場合のみ回折作用が起こるとする。そのときの0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を例えば0:1:0とする。このため、偏光回折格子14にP偏光とS偏光が入射すると、透過光としてP偏光が得られ、1次光としてS偏光が得られる。その結果、各光ビーム14A、14Bはそれぞれ直交する2つの直線偏光に分離され、全部で4つの光ビームが出射される。その際、各光ビームにおける信号光と参照光の位相差は、0°、90°、180°、270°の4通りとなる。4つの光ビームは、光検出器10Aに入射する。図3は、光検出器10Aの受光部配置を示す図である。光検出器10Aは、4つの受光部a、b、c、dを有している。偏光回折格子14によって光ビーム14Aから分離された直交する2つの直線偏光10a、10bは、光検出器10Aの受光部a、bに入射する。また、偏光回折格子14によって光ビーム14Bから分離された直交する2つの直線偏光10c、10dは、光検出器10Aの受光部c、dに入射する。その際、偏光回折格子14を透過したP偏光は受光部a、cに入射し、偏光回折格子14の1次回折光であるS偏光は受光部b、dに入射する。ここで、光検出器10A上の光ビーム10aは参照光と信号光の位相差が0°、光ビーム10bは参照光と信号光の位相差が180°で干渉する。また、光検出器10A上の光ビーム10cは参照光と信号光の位相差が90°、光ビーム10dは参照光と信号光の位相差が270°で干渉する。このため、信号光の電界ベクトルをEs、参照光の電界ベクトルをErとすると、光検出器10A上の受光部a、b、c、dで得られる信号A、B、C、Dは以下の式で示せる。ここでθs―θrは、信号光の電界ベクトルEsと参照光の電界ベクトルErの位相差を示している。ここでは簡単のために、信号光と参照光はコヒーレントな光としている。ここで、信号Aと信号B、信号Cと信号Dの差動信号を演算すると以下の式に示される。ここで、1と2の2乗和の平方根を演算することで、本実施例の再生信号RFを生成する。このような演算を行うことで、再生信号RFは信号光と参照光の位相差θs―θrに関係なく安定した信号を検出することが可能となる。そして、通常の方式で検出した場合の信号光は|Es|の2乗で示されることから、本実施例による再生信号の増幅率Amは以下の式で示される。このように本実施例の増幅率Amは、参照光の電界振幅|Er|と信号光の電界振幅|Es|の比のみで決定される。例えば、偏光ビームスプリッタ52で光ディスクへ向かう光とコーナーキューブ53へ向かう光が同量であり、多層ディスクの反射率が1である場合、光検出器10A上では信号光の光強度に対して参照光の光強度が約100倍となる。ここで、光強度は電界振幅の2乗で示されるので、再生信号の増幅率Amは、√100=10倍となる。すなわち本実施例の構成により、再生信号を略10倍に増幅し高S/Nの再生信号を得ることができる。これにより、特に多層光ディスクなどで各記録層の反射率が低い場合や、高速再生で高S/N化が要求される場合などに有効となる。また本実施例の構成では、回折格子12、分割波長板13、偏光回折格子14を組み合わせることで、1つの光検出器10Aで再生信号の振幅を増幅する効果が得られる。これより、従来の方式に対し部品数を削減し、光学系を大幅に小型化することが可能となる。なお、本実施例の構成では、信号光と参照光を含む光ビームをそれらの位相差が異なる4つの光ビームに分離して再生信号を生成したが、分離する光ビームの数はこれに限定されず、位相差の異なる複数の光ビームに分離することで、同様の効果を得ることができる。次に、本実施例におけるサーボ信号フォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号の生成方法について説明する。サーボ信号は、偏光ビームスプリッタ58を透過した光ビーム信号光を回折格子11で複数に分離し、光検出器10Bで受光する。図4は、回折格子11の形状を示す図である。実線は領域の境界線を示し、2点鎖線はレーザ光の光ビームの外形を示し、斜線部は光ディスクのトラックによって回折された0次回折光と±1次回折光との干渉領域プッシュプルパターンを示している。回折格子11は、ディスク上のトラックを回折したディスク回折光の0次回折光のみが入射する領域Ge、Gf、Gg、Ghと、ディスク回折光の0次回折光、±1次光が入射する領域Gab、Gcdと、0次回折光の略中心を含む領域Giで形成されている。ここで回折格子11は、0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を例えば0:1:1とする。図5は、光検出器10Bの受光部配置を示す図である。光検出器10Bは、ab1、ab2等で示す複数の受光部を配置しており、図中の黒点は、信号光を示している。回折格子11の領域と光検出器10Bの各受光部との関係は次のとおりである。回折格子11の領域Gab、Gcdを回折した1次光はそれぞれ、光検出器10Bの受光部ab1、cd1に入射し、領域Ge、Gf、Gg、Ghを回折した1次光はフォーカス誤差信号検出用の受光部re、se、tg、ug、tf、uf、rh、shに入射する。また、領域Gab、Gcd、Ge、Gf、Gg、Ghを回折した-1次光はそれぞれ、受光部ab2、cd2、e2、f2、g2、h2に入射する。受光部ab1、cd1、re、se、tf、uf、tg、ug、rh、sh、ab2、cd2、e2、f2、g2、h2から得られた信号をAB1、CD1、RE、SE、TF、UF、TG、UG、RH、SH、AB2、CD2、E2、F2、G2、H2とすると、以下の演算によりフォーカス誤差信号FES、トラッキング誤差信号TESを生成する。ここでktは、対物レンズが変位した際にトラッキング誤差信号にDC成分を発生させないようにする係数である。ここで、フォーカス誤差検出方式はナイフエッジ方式であり、本方式は公知であるため説明は省略する。また、式中で信号AB1、CD1は信号AB2、CD2と同様の成分であることから演算上省略しても良いし、回折格子11の領域Dab、Dcdの0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を、例えば0:1:0として、片側の受光部受光部ab1、cd1で検出しても良い。以上のように、本実施例の光ピックアップ装置の光学系は、収束光中に回折格子12、分割波長板13、偏光回折格子14からなる位相差形成部20を配置することで、1つの光検出器10Aで再生信号の増幅効果を得ることが可能となり、従来の方式と比較して部品数を削減し、大幅に小型化することが可能となる。これに用いる無偏光の回折格子、分割波長板、偏光回折格子は汎用部品であり、光検出器などの電子部品よりも安価なためコスト面でも非常に有利となる。上記実施例において、以下のような変形が可能である。図6は、図1における光学系の変形例を示す図である。この例では、図1の検出レンズ57を、偏光ビームスプリッタ58より光検出器10A、10B側に移し、それぞれ検出レンズ15、60として配置している。また、検出レンズ15を回折格子12の後に配置した構成でも良い。その際、検出レンズ15、回折格子12、分割波長板13、偏光回折格子14をモジュール化しても良い。さらに、光検出器10Aを組み合わせたモジュールとしても良い。また図7は、図3における光検出器10Aの変形例を示す図である。この例では、光検出器10Aの受光部a、b、c、dをそれぞれ4分割し、同じ信号成分である受光部a1、b1、c1、d1の信号、受光部a2、b2、c2、d2の信号、受光部a3、b3、c3、d3の信号、受光部a4、b4、c4、d4の信号の組み合わせで上記演算と同じ演算を行い、再生信号を増幅することができる。この方式では、得られた4つの信号の位相差からトラッキング誤差信号プッシュプル信号やDPD信号を生成することができる。図1では、参照光の反射素子としてコーナーキューブ53を用いたが、これに代えてミラーを用いても良い。また、コーナーキューブ53はアクチュエータ5により駆動しなくとも、本実施例の効果は得られる。図2に示した回折格子12と偏光回折格子14の溝方向はこれに限定されず、回折した光ビームが分割波長板13、光検出器10A上で重なり合わなければどの方向でも良い。また、偏光回折格子14の代わりにウォラストンプリズムなどの偏光分岐素子を用いても同様の効果が得られる。また、回折格子12、分割波長板13、偏光回折格子14を個別に配置せずにモジュール化しても良い。さらに、光検出器10Aを組み合わせたモジュールとしても良い。また、分割波長板13と偏光回折格子14を一体となるように張り合わせても良いし、同機能を有する1つの光学素子として配置しても良い。信号出力の観点から信号の飽和を防ぐために、光ディスクに応じて1/2波長板を光軸方向に回転して増幅率Amを変化させても良い。また、それは高倍速記録を実現するためであっても同様である。そのための構成は、例えば液晶による動的な偏光変換素子を用いても良いし、動的に波長板を挿入する構成でも良い。本実施例において、フォーカス誤差信号およびトラッキング誤差信号の検出方式は限定しない。例えば、検出精度を改善するため、特開2004-281026号公報トラック溝作成時の誤差に伴うトラッキング誤差信号振幅変動の低減、特開2008-135155号公報異なる種類の光ディスクに対して好適にトラッキング誤差信号を検出、特開2010-61751号公報多層光ディスクにおいて他層からの迷光の影響を受けず安定したサーボ信号を得るなどに記載の技術を採用しても良い。実施例1の光学系では、信号光と参照光を含む光ビームを4つの光ビームに分離して再生信号を生成したが、実施例2では、6つの光ビームに分離して再生信号を生成する構成としている。そのために、実施例1とは、位相差形成部20回折格子12、分割波長板13、偏光回折格子14の光学特性および光検出器10Aの受光部配置が異なっている。本実施例では、偏光ビームスプリッタ58を反射した光ビームは、回折格子12により3つの光ビームに分離される。3つの光ビームは、分割波長板13の3つの領域を透過し、偏光回折格子14により6つの光ビームに分離される。6つの光ビームは、検出器10A上に設けられた6つの受光部でそれぞれ別々に検出され、この6つの受光部の検出信号を基に再生信号を生成する。図8は、本実施例における位相差形成部20の構成部品を示す図で、aは回折格子12、bは分割波長板13、cは偏光回折格子14である。図中の点線は光ビームの外形を示す。まず、回折格子12に入射した光ビームは3つの光ビームに分離される。そのために、回折格子12の0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を、例えば1:2:1とする。ただし回折効率の比はこれに限定されず、1:1:1でも良いし他の比でも良い。回折格子12を出射した3つの光ビーム0次光、1次光、-1次光は、分割波長板13に入射する。分割波長板13は領域A、領域B1、領域B2に3分割されており、3つの光ビーム、0次光13A、1次光13B1、-1次光13B2は、それぞれ領域A、領域B1、領域B2に入射する。領域Aは、1/2波長板、領域B1とB2は1/4波長板である。領域Aに入射した光ビーム13Aは、1/2波長板によって偏光方向を45度回転させられる。領域B1に入射した光ビーム13B1は、1/4波長板によって位相差が与えられる。同様に、領域B2に入射した光ビーム13B2は、1/4波長板によって位相差が与えられる。分割波長板13を透過した3つの光ビームは、偏光回折格子14に入射する。偏光回折格子14には、分割波長板13からの3つの光ビーム14A、14B1、14B2が入射する。これらの光ビーム14A、14B1、14B2には、信号光と参照光とが含まれている。ここで偏光回折格子14は、例えばS偏光が入射した場合のみ回折作用が起こるとする。そのときの0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を例えば0:1:0とする。このため、偏光回折格子14にP偏光とS偏光が入射すると、透過光としてP偏光が得られ、1次光としてS偏光が得られる。その結果、各光ビーム14A、14B1、14B2はそれぞれ直交する2つの直線偏光に分離し、全部で6つの光ビームが出射される。その際、各光ビームにおける信号光と参照光の位相差は、0°、90°、180°、270°の4通りとなる。6つの光ビームは、光検出器10Aに入射する。図9は、本実施例における光検出器10Aの構成を示す図である。光検出器10Aは、6つの受光部a、b、ca、da、cb、dbを有している。偏光回折格子14によって光ビーム14Aから分離された直交する2つの直線偏光10a、10bは、光検出器10Aの受光部a、bに入射する。また、偏光回折格子14によって光ビーム14B1から分離された直交する2つの直線偏光10ca、10daは、光検出器10Aの受光部ca、daに入射する。また、偏光回折格子14によって光ビーム14B2から分離された直交する2つの直線偏光10cb、10dbは、光検出器10Aの受光部cb、dbに入射する。その際、偏光回折格子14を透過したP偏光は受光部a、ca、cbに入射し、偏光回折格子14の1次回折光であるS偏光は受光部b、da、dbに入射する。ここで、光検出器10A上の光ビーム10aは参照光と信号光の位相差が0°、光ビーム10bは参照光と信号光の位相差が180°で干渉する。また、光検出器10A上の光ビーム10ca、10cbは参照光と信号光の位相差が90°、光ビーム10da、10dbは参照光と信号光の位相差が270°で干渉する。このため、信号光の電界ベクトルをEs、参照光の電界ベクトルをErとすると、光検出器10A上の受光部a、b、ca、cb、da、dbで得られる信号A、B、CA、CB、DA、DBは以下の式で示せる。ここでθs―θrは、信号光の電界ベクトルEsと参照光の電界ベクトルErの位相差を示している。ここで、信号Aと信号B、信号CACBと信号DADBの差動信号を演算すると以下の式に示される。ここで、3と4の2乗和の平方根を演算することで、本実施例の再生信号RFを生成する。このように再生信号RFは実施例1の数式3と同様となり、再生信号の増幅率Amも数式4と同様に与えられる。なお、実施例2の回折格子12は単純な矩形の回折格子構造であるため、実施例1の回折格子に比べ作り易い特徴がある。実施例2においても、回折格子12、分割波長板13、偏光回折格子14を組み合わせることで、1つの光検出器10Aで再生信号の振幅を増幅する効果が得られる。これより、従来の方式に対し部品数を削減し、光学系を大幅に小型化することが可能となる。実施例3の光学系では、信号光と参照光を含む光ビームを6つの光ビームに分離して再生信号を生成するが、実施例2とは、位相差形成部20回折格子12、分割波長板13、偏光回折格子14の光学特性および光検出器10Aの受光部配置が異なっている。本実施例では、偏光ビームスプリッタ58を反射した光ビームは、回折格子12により2つの光ビームに分離される。2つの光ビームは、分割波長板13の2つの領域を透過し、偏光回折格子14により6つの光ビームに分離される。6つの光ビームは、検出器10A上に設けられた6つの受光部でそれぞれ別々に検出され、この6つの受光部の検出信号を基に再生信号を生成する。図10は、本実施例における位相差形成部20の構成部品を示す図で、aは回折格子12、bは分割波長板13、cは偏光回折格子14である。図中の点線は光ビームの外形を示す。まず、回折格子12に入射した光ビームは2つの光ビームに分離される。そのために、回折格子12の0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を、例えば0:1:1とする。ただし回折効率の比はこれに限定されず、1:1:0でも良いし他の比でも良い。回折格子12を出射した2つの光ビーム1次光、-1次光は、分割波長板13に入射する。分割波長板13は領域Aと領域Bに2分割されており、2つの光ビーム、1次光13A、-1次光13Bは、領域A、領域Bにそれぞれ入射する。領域Aは、1/2波長板、領域Bは1/4波長板である。領域Aに入射した光ビーム13Aは、1/2波長板によって偏光方向を45度回転させられる。また、領域Bに入射した光ビーム13Bは、1/4波長板によって位相差が与えられる。分割波長板13を透過した2つの光ビームは、偏光回折格子14に入射する。偏光回折格子14には、分割波長板13からの2つの光ビーム14A、14Bが入射する。ここで偏光回折格子14は、例えばS偏光が入射した場合のみ回折作用が起こるとする。そのときの0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を例えば0:1:1とする。このため、偏光回折格子14にP偏光とS偏光が入射すると、透過光としてP偏光が得られ、1次光及び-1次光としてS偏光が得られる。その結果、各光ビーム14A、14Bはそれぞれ直交する3つの直線偏光に分離し、全部で6つの光ビームが出射される。その際、各光ビームにおける信号光と参照光の位相差は、0°、90°、180°、270°の4通りとなる。6つの光ビームは、光検出器10Aに入射する。図11は、本実施例における光検出器10Aの構成を示す図である。光検出器10Aは、6つの受光部a、ba、bb、c、da、dbを有している。偏光回折格子14によって光ビーム14Aから分離された直交する3つの直線偏光10a、10ba、10bbは、光検出器10Aの受光部a、ba、bbに入射する。また、偏光回折格子14によって光ビーム14Bから分離された直交する3つの直線偏光10c、10da、10dbは、光検出器10Aの受光部c、da、dbに入射する。その際、偏光回折格子14を透過したP偏光は受光部a、cに入射し、偏光回折格子14の1次回折光であるS偏光は受光部ba、daに入射し、偏光回折格子14の-1次回折光であるS偏光は受光部bb、dbに入射する。ここで、光検出器10A上の光ビーム10aは参照光と信号光の位相差が0°、光ビーム10ba、10bbは参照光と信号光の位相差が180°で干渉する。また、光検出器10A上の光ビーム10cは参照光と信号光の位相差が90°、光ビーム10da、10dbは参照光と信号光の位相差が270°で干渉する。このため、信号光の電界ベクトルをEs、参照光の電界ベクトルをErとすると、光検出器10A上の受光部a、ba、bb、c、da、dbで得られる信号A、BA、BB、C、DA、DBは以下の式で示せる。ここでθs―θrは、信号光の電界ベクトルEsと参照光の電界ベクトルErの位相差を示している。ここで、信号AとBABB、信号CとDADBの差動信号を演算すると以下の式に示される。ここで、5と6の2乗和の平方根を演算することで、本実施例の再生信号RFを生成する。このように再生信号RFは実施例1の数式3と同様となり、再生信号の増幅率Amも数式4と同様に与えられる。なお、実施例3の偏光回折格子14は単純な矩形の回折格子構造であるため、実施例1の偏光回折格子に比べ作り易い特徴がある。実施例3においても、回折格子12、分割波長板13、偏光回折格子14を組み合わせることで、1つの光検出器10Aで再生信号の振幅を増幅する効果が得られる。これより、従来の方式に対し部品数を削減し、光学系を大幅に小型化することが可能となる。実施例1では、再生信号とサーボ信号フォーカス誤差信号/トラッキング誤差信号を別々の光検出器の検出信号から生成したが、実施例4ではそれらを共通の1つの検出器の検出信号から生成する構成としている。図12は、本発明の第4の実施例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す図である。実施例1図1とは、偏光ビームスプリッタ52から光検出器10までの構成が異なっている。偏光ビームスプリッタ52を出射した光ビームは検出レンズ57を経て位相差形成部20へ入射する。位相差形成部20では、回折格子22により3つの光ビームに分離される。そして3つに分離された光ビームは、分割波長板23の3つの領域を透過し、偏光回折格子24により複数の光ビームに分離される。複数の光ビームは、検出器10上に設けられた複数の受光部でそれぞれ別々に検出される。これらの受光部の検出信号を基に、再生信号及びサーボ信号フォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号を生成する。フォーカス誤差信号により対物レンズ2を搭載したアクチュエータ5を光軸方向に駆動し、フォーカス制御を行う。その際、前記検出器10の検出信号から安定した再生信号を生成するために、フォーカス誤差信号を用いてコーナーキューブ53も光軸方向に駆動しても良い。以下、位相差形成部20と検出器10の構成と動作を詳細に説明する。図13は、位相差形成部20の構成部品を示す図で、aは回折格子22、bは分割波長板23、cは偏光回折格子24である。また図中の点線は光ビームの外形を示す。まず、回折格子22に入射した光ビームは3つの光ビームに分離される。そのために、回折格子22の0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を、例えば1:1:1とする。ただし回折効率の比はこれに限定されず、他の比でも良い。また、回折格子22はホログラム素子となっており、回折される±1次光にはそれぞれ反対方向のデフォーカス収差が与えられる。回折格子22を出射した3つの光ビーム0次光、1次光、-1次光は、分割波長板23に入射する。分割波長板23は領域A、領域B、領域Cに分割されており、3つの光ビーム、1次光23A、-1次光23B、0次光23Cは、それぞれ領域A、領域B、領域Cに入射する。領域Aは1/2波長板、領域Bは1/4波長板、領域Cは1/2波長板となっている。領域Aに入射した光ビーム23Aは、1/2波長板によって偏光方向を45度回転させられる。領域Bに入射した光ビーム23Bは、1/4波長板によって位相差が与えられる。領域Cに入射した光ビーム23Cは、1/2波長板によって偏光方向を90度回転させられ、信号光がS偏光、参照光がP偏光となる。分割波長板23を透過した3つの光ビームは、偏光回折格子24に入射する。偏光回折格子24は、回折格子領域GA、GB、GCに分割されている。このうち領域GCは、ディスク上のトラックを回折したディスク回折光の0次回折光のみが入射する領域De、Df、Dg、Dh領域Xと、ディスク回折光の0次回折光、±1次光が入射する領域Dab、Dcd領域Yと、0次回折光の略中心を含む領域Di領域Zで形成されている。各領域GA、GB、GCには、それぞれ分割波長板23の領域A、B、Cから出射された光ビーム24A、24B、24Cが入射する。偏光回折格子24は、例えばS偏光が入射した場合のみ回折作用が起こるとする。そのとき、領域GA、GBの0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を0:1:0とし、領域GCの0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を0:1:1とする。このため、領域GA、GBではP偏光とS偏光が入射すると、透過光としてP偏光が得られ、1次光としてS偏光が得られるため、直交する2つの直線偏光に分離する。領域GCの各領域では、直交する直線偏光に分離される。偏光回折格子24で分離された各光ビームは、光検出器10に入射する。図14は、本実施例における光検出器10の受光部配置を示す図である。図中の黒点および斜線領域は、信号光を示している。再生信号検出用の受光部a、b、c、dには、偏光回折格子24の領域GA、GBから出射された光ビーム10a、10b、10c、10dが入射する。領域GAから出射された光ビームのうち、透過成分P偏光10aは受光部aに、1次回折光S偏光10bは受光部bに入射する。領域GBから出射された光ビームのうち、透過成分P偏光10cは受光部cに、1次回折光S偏光10dは受光部dに入射する。これらの光ビーム10a、10b、10c、10dは、回折格子22で与えられたデフォーカス収差の影響で受光面上でぼけている。その他のサーボ信号検出用の受光部には、偏光回折格子24の領域GCから出射された光ビームが入射する。フォーカス誤差信号検出用の受光部re、se、tf、uf、tg、ug、rh、shには、偏光回折格子24の領域De、Df、Dg、Dhを回折した1次光が入射する。トラッキング誤差信号検出用の受光部ab1、cd1には、偏光回折格子24の領域Dab、Dcdを回折した1次光が入射し、トラッキング誤差信号検出用の受光部ab2、cd2には、領域Dab、Dcdを回折した-1次光が入射する。トラッキング誤差信号検出用の受光部e2、f2、g2、h2には、領域De、Df、Dg、Dhを回折した-1次光が入射する。各受光部a、b、c、d、ab1、cd1、re、se、tf、uf、tg、ug、rh、sh、ab2、cd2、e2、f2、g2、h2から得られた信号をA、B、C、D、AB1、CD1、RE、SE、TF、UF、TG、UG、RH、SH、AB2、CD2、E2、F2、G2、H2とすると、以下の演算によりフォーカス誤差信号FES、トラッキング誤差信号TES、再生信号RFを生成する。ここでktは、対物レンズが変位した際にトラッキング誤差信号にDC成分を発生させないようにする係数である。ここで、フォーカス誤差検出方式はナイフエッジ方式であり、本方式は公知であるため説明は省略する。また、式中で信号AB1、CD1は信号AB2、CD2と同様の成分であることから演算上省略しても良いし、偏光回折格子24の領域Dab、Dcdの0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を、例えば0:0:1として、片側の受光部受光部ab2、cd2で検出しても良い。ここで、本実施例で得られる再生信号RFは、実施例1の数式3と等しく、同じ信号増幅効果が得られる。また、サーボ信号FES、TESについても実施例1の数式5と同じ結果が得られる。本実施例では、収束光中に回折格子22、分割波長板23、偏光回折格子24を配置し、分割波長板23、偏光回折格子24を3分割することで、1つの光検出器の検出信号から再生信号とサーボ信号の両方を得ることが可能となり、従来の方式に対し、大幅に小型化することが可能となる。なお、本実施例は回折格子22により3つの光ビームに分離し、回折格子22から回折した2つの光ビームを再生信号用とし、回折格子22から回折した1つの光ビームをサーボ信号用としたことが特徴となっている。このため、本実施例に1つの光ビームを用いたトラッキング誤差信号検出方式を組み合わせても同じ効果が得られる。また、往路に回折格子を配置し、3ビームでのDPP方式を使っても同様の効果が得られる。本実施例では、受光部a、b、c、d上で信号光と参照光の位置ずれに強くする目的で、回折格子22によりデフォーカス収差を与えた。これは、調整ずれによって信号光と参照光の光軸ずれが発生してしまうと収束位置が一致しないため、受光部上でぼかした方がより干渉領域を増やすことができるからである。このため、ディスク上でぼかす方法はデフォーカス収差だけには限定されず、他の収差を与えても良いし、物理的にデフォーカスを加えても良い。さらに、デフォーカス収差を偏光回折格子24で与える構成でも良い。本実施例では再生信号を4つの受光部にて検出したが、これには限定されず、例えば偏光回折格子24の領域GA、GBの0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を0:1:1として、それに対応した受光部を配置して再生信号を検出しても良い。また、偏光回折格子24の領域GCを参照光が透過する構成で説明を行ったが、不要な光ビームが入射しないよう、偏光回折格子24から光検出器10の間に分割偏光子を配置し、領域GCの参照光成分を遮光しても良い。なお、分割偏光子にはフォトニック結晶などを用いることができる。実施例4では、再生信号とサーボ信号フォーカス誤差信号/トラッキング誤差信号を共通の1つの検出器の検出信号から生成する構成としたが、実施例5では、さらに位相差形成部20の光学特性の一部を変更するとともに、非点収差を与える検出レンズを追加する構成とした。図15は、本発明の第5の実施例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す図である。実施例4図12とは、位相差形成部20から光検出器10までの構成が異なっている。偏光ビームスプリッタ52を出射した光ビームは検出レンズ57を経て位相差形成部20へ入射する。位相差形成部20では、回折格子22により3つの光ビームに分離され、3つの光ビームは分割波長板23の3つの領域を透過し、偏光回折格子24により複数の光ビームに分離される。その後、追加した検出レンズ61により所定のビームにのみ非点収差が与えられ、光検出器10上に設けられた複数の受光部でそれぞれ別々に検出される。これらの受光部の検出信号を基に、再生信号及びサーボ信号フォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号を生成する。ここで、位相差形成部20回折格子22、分割波長板23、偏光回折格子24は、実施例4図13と同様の形状であるが、光学特性が一部異なっている。まず、回折格子22に入射した光ビームは3つの光ビームに分割される。ここで回折格子22の0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を、例えば1:1:1とする。回折格子22を回折した3つの光ビームは、分割波長板23に入射する。分割波長板23は領域A、領域B、領域Cに分割されており、領域Aは1/2波長板、領域Bは1/4波長板、領域Cは1/2波長板となっている。領域Aに入射した光ビーム23Aは、1/2波長板によって偏光方向を45度回転させられる。領域Bに入射した光ビーム23Bは、1/4波長板によって位相差が与えられる。領域Cに入射した光ビーム23Cは、1/2波長板によって、偏光方向を所定角度回転させられる。ここでは、信号光のS偏光と参照光のP偏光が1:1となっているとする。分割波長板23を透過した3つの光ビームは、偏光回折格子24に入射する。偏光回折格子24は、回折格子領域GA、GB、GCに分割されている。領域GCは、入射するディスク回折光の種類0次光、±1次光により領域がさらに分割されている。偏光回折格子24は、例えばS偏光が入射した場合のみ回折作用が起こるとし、そのときの各領域GA、GB、GCの0次回折光、1次回折光、-1次回折光の回折効率を0:1:0とする。このため、各領域GA、GB、GCにP偏光とS偏光が入射すると、透過光としてP偏光が得られ、1次光としてS偏光が得られるため、直交する2つの直線偏光に分離する。偏光回折格子24で分離された各光ビームは、検出レンズ61に入射する。検出レンズ61はその中央部がレンズ領域となっており、透過した光ビームに非点収差を与える。また、検出レンズ61の外周部は平行平板領域となっている。図16は、本実施例における光検出器10の受光部配置を示す図である。図中の黒点および斜線領域は、信号光を示している。再生信号検出用の受光部a、b、c、dには、偏光回折格子24の領域GA、GBから出射された光ビーム10a、10b、10c、10dが、検出レンズ61の平行平板領域を透過し入射する。領域GAから出射された光ビームのうち、透過成分P偏光10aは受光部aに、1次回折光S偏光10bは受光部bに入射する。領域GBから出射された光ビームのうち、透過成分P偏光10cは受光部cに、1次回折光S偏光10dは受光部dに入射する。これらの光ビーム10a、10b、10c、10dは、回折格子22で与えられたデフォーカス収差の影響で受光面上でぼけている。その他のサーボ信号検出用の受光部には、偏光回折格子24の領域GC内の各領域から出射された光ビームが、検出レンズ61を介して入射する。その際、P偏光成分は検出レンズ61のレンズ領域にて非点収差が与えられ、フォーカス誤差信号検出用の受光部ia~idに入射する。また、S偏光成分は検出レンズ61の平行平板領域を透過し、トラッキング誤差信号検出用の受光部ab1、cd1、e1、f1、g1、h1に入射する。そのうち、領域GC内の領域Dab、Dcdを回折した1次光は、受光部ab1、cd1に入射し、領域De、Df、Dg、Dhを回折した1次光は、受光部e1、f1、g1、h1に入射する。各受光部a、b、c、d、ia、ib、ic、id、ab1、cd1、e1、f1、g1、h1から得られた信号をA、B、C、D、IA、IB、IC、ID、AB1、CD1、E1、F1、G1、H1とすると、以下の演算によりフォーカス誤差信号FES、トラッキング誤差信号TES、再生信号RFを生成する。ここでktは、対物レンズが変位した際にトラッキング誤差信号にDC成分を発生させないようにする係数である。ここで、フォーカス誤差検出方式は非点収差方式としているが、本方式は公知であるため説明は省略する。ここで、本実施例で得られる再生信号RFは、実施例1の数式3と等しく、同じ信号増幅効果が得られる。本実施例においても、収束光中に回折格子22、分割波長板23、偏光回折格子24を配置し、分割波長板23、偏光回折格子24を3分割することで、1つの光検出器の検出信号から再生信号とサーボ信号の両方を得ることが可能となり、従来の方式に対し、大幅に小型化することが可能となる。なお、本実施例では回折格子領域GAの回折光、GBの回折光、領域GCの1次回折光は平行平板を透過したがこれには限定されず、例えば回折格子がホログラム素子となっており、検出レンズ61で発生する非点収差を抑制するようにホログラム素子により非点収差を発生させても良い。実施例6では、前記した各実施例1~実施例5による光ピックアップ装置170を搭載した光ディスク装置について説明する。図17は、第6の実施例に係る光ディスク装置の概略構成を示す図である。光ピックアップ装置170は、前記の各実施例1~5のいずれかの構成を有する。光ピックアップ装置170には、光ディスク100のRad方向に沿って駆動できる機構が設けられており、アクセス制御回路172からのアクセス制御信号に応じて位置制御される。レーザ点灯回路177は、光ピックアップ装置170内の半導体レーザに所定のレーザ駆動電流を供給し、半導体レーザからは記録または再生に応じて所定の光量でレーザ光が出射される。なお、レーザ点灯回路177は光ピックアップ装置170内に組み込むこともできる。情報再生時には、光ピックアップ装置170内の光検出器10から出力された信号は、サーボ信号生成回路174および情報信号再生回路175に送られる。サーボ信号生成回路174では、光検出器10からの検出信号に基づいてフォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号ならびにチルト制御信号などのサーボ信号を生成し、これを基にアクチュエータ駆動回路173を経て光ピックアップ装置170内のアクチュエータを駆動して、対物レンズの位置制御を行う。情報信号再生回路175では、光検出器10からの検出信号に基づいて、光ディスク100に記録されている情報の再生信号を生成する。情報記録時には、情報信号記録回路178はコントロール回路176から受けた情報に基づき記録制御信号を生成し、レーザ点灯回路177を制御して、光ディスク100へ所望の情報を書き込む。前記サーボ信号生成回路174および情報信号再生回路175で得られた信号の一部は、コントロール回路176に送られる。コントロール回路176にはスピンドルモータ駆動回路171、アクセス制御回路172、サーボ信号生成回路174、レーザ点灯回路177などが接続され、光ディスク100を回転させるスピンドルモータ180の回転制御、アクセス方向およびアクセス位置の制御、対物レンズのサーボ制御、光ピックアップ装置170内の半導体レーザ発光光量の制御などが行われる。なお、上記構成において情報信号記録回路178を削除すれば、情報再生機能のみを有する光ディスク装置とすることができる。本実施例の光ディスク装置では、前記した各実施例1~5による光ピックアップ装置を搭載しているので、再生信号のS/Nを向上させるとともに、光ピックアップ装置および光ディスク装置の小型化を図ることができる。以上、本発明による様々な実施例を説明したが、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加削除置換をすることが可能である。