"被写体を撮像する撮像素子と対物光学系を備えた内視鏡システムであって、形状記憶素子を有し、前記対物光学系を移動させるための移動部材を駆動するアクチュエータと、前記アクチュエータを駆動するアクチュエータ駆動部と、前記移動部材の位置を検出するために前記形状記憶素子の抵抗値を検出する抵抗値検出部と、前記対物光学系を移動する指示を入力する指示入力部と、前記指示入力部に入力された指示と、前記抵抗値検出部により検出された抵抗値に対応する前記移動部材の位置に基づいて、前記アクチュエータ駆動部へ駆動信号を出力する制御部とを備え、前記制御部は、前記指示入力部に入力された前記対物光学系の第1の位置から第2の位置への移動指示に基づいて、前記第1の位置から前記第2の位置を超えて第3の位置へ、前記移動部材を移動させる為の電流を前記形状記憶素子へ流すように前記駆動信号を出力し、前記形状記憶素子の抵抗値が前記形状記憶素子の最小抵抗値よりも大きい第1の抵抗値になるまで前記形状記憶素子に第1の定電流を流すように前記駆動信号を出力し、前記形状記憶素子の抵抗値が前記第1の抵抗値になると、前記形状記憶素子に、第1の保持用定電流を流すように前記駆動信号を出力し、前記形状記憶素子に前記第1の保持用定電流を流しているときに、前記形状記憶素子の抵抗値が第2の抵抗値になると、前記形状記憶素子の抵抗値が前記最小抵抗値に到達しない範囲で、前記移動部材を前記第2の位置よりも前記第1の位置から遠い位置に保持する為の電流を、前記形状記憶素子へ流すように前記駆動信号を出力する、ことを特徴とする内視鏡システム。前記制御部は、前記形状記憶素子の抵抗値が前記第1の抵抗値になるまで前記形状記憶素子に第2の定電流を流すことと、前記形状記憶素子の抵抗値が前記第1の抵抗値になると、前記形状記憶素子に流れる電流を、前記第2の定電流の電流値よりも小さい第3の電流値になるまで減少させて第2の保持用定電流を流すことと、を繰り返すことによって、前記移動部材を前記第2の位置よりも前記第1の位置から遠い位置に保持することを特徴とする請求項1に記載の内視鏡システム。前記第2の定電流の電流値は、前記第1の定電流の電流値よりも小さいことを特徴とする請求項2に記載の内視鏡システム。前記制御部は、前記移動部材を前記第2の位置よりも前記第1の位置から遠い位置に保持するときに、前記形状記憶素子の抵抗値が前記第1の抵抗値になると、前記第2の保持用定電流の電流値を第1の所定値だけ増加させることを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載の内視鏡システム。前記制御部は、前記移動部材を前記第2の位置よりも前記第1の位置から遠い位置に保持するときに、前記形状記憶素子に前記第2の保持用定電流を流してから前記形状記憶素子の抵抗値が前記第2の抵抗値になるまでの時間が所定時間以上かかったときは、前記第2の保持用定電流の電流値を第2の所定値だけ減少させることを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載の内視鏡システム。前記形状記憶素子の最小抵抗値を記憶する不揮発性のメモリを有することを特徴する請求項1から3のいずれか1つに記載の内視鏡システム。前記制御部は、前記第1の位置から第3の位置へ前記移動部材を移動させるために前記形状記憶素子へ電流を流す制御を、前記抵抗値検出部により検出された抵抗値と、前記形状記憶素子の前記第3の位置に対応する抵抗値に基づく比例及び微分制御により行うことを特徴とする請求項1から3のいずれか1つに記載の内視鏡システム。形状記憶素子を有し、被写体を撮像する撮像素子のための対物光学系を移動させるための移動部材を駆動するアクチュエータを駆動するアクチュエータ駆動部と、前記移動部材の位置を検出するために前記形状記憶素子の抵抗値を検出する抵抗値検出部と、前記対物光学系を移動する指示を入力する指示入力部と、前記指示入力部に入力された指示と、前記抵抗値検出部により検出された抵抗値に対応する前記移動部材の位置に基づいて、前記アクチュエータ駆動部へ駆動信号を出力する制御部とにより、内視鏡の前記アクチュエータを制御する方法であって、前記制御部は、前記指示入力部に入力された前記対物光学系の第1の位置から第2の位置への移動指示に基づいて、前記第1の位置から前記第2の位置を超えて第3の位置へ、前記移動部材を移動させる為の電流を前記形状記憶素子へ流すように前記アクチュエータ駆動部に前記駆動信号を出力し、前記制御部は、前記形状記憶素子の抵抗値が前記形状記憶素子の最小抵抗値よりも大きい第1の抵抗値になるまで前記形状記憶素子に第1の定電流を流すように前記アクチュエータ駆動部に前記駆動信号を出力し、前記制御部は、前記形状記憶素子の抵抗値が前記第1の抵抗値になると、前記形状記憶素子に、第1の保持用定電流を流すように前記アクチュエータ駆動部に前記駆動信号を出力し、前記制御部は、前記形状記憶素子に前記第1の保持用定電流を流しているときに、前記形状記憶素子の抵抗値が第2の抵抗値になると、前記形状記憶素子の抵抗値が前記最小抵抗値に到達しない範囲で、前記移動部材を前記第2の位置よりも前記第1の位置から遠い位置に保持する為の電流を、前記形状記憶素子へ流すように前記アクチュエータ駆動部に前記駆動信号を出力する、ことを特徴とする内視鏡アクチュエータの制御方法。前記制御部は、前記形状記憶素子の抵抗値が前記第1の抵抗値になるまで前記形状記憶素子に第2の定電流を流すことと、前記形状記憶素子の抵抗値が前記第1の抵抗値になると、前記形状記憶素子に流れる電流を、前記第2の定電流の電流値よりも小さい第3の電流値になるまで減少させて第2の保持用定電流を流すことと、を繰り返すことによって、前記移動部材を前記第2の位置よりも前記第1の位置から遠い位置に保持することを特徴とする請求項8に記載の内視鏡アクチュエータの制御方法。前記第2の定電流の電流値は、前記第1の定電流の電流値よりも小さいことを特徴とする請求項9に記載の内視鏡アクチュエータの制御方法。前記制御部は、前記移動部材を前記第2の位置よりも前記第1の位置から遠い位置に保持するときに、前記形状記憶素子の抵抗値が前記第1の抵抗値になると、前記第2の保持用定電流の電流値を第1の所定値だけ増加させることを特徴とする請求項8から10のいずれか1つに記載の内視鏡アクチュエータの制御方法。前記制御部は、前記移動部材を前記第2の位置よりも前記第1の位置から遠い位置に保持するときに、前記形状記憶素子に前記第2の保持用定電流を流してから前記形状記憶素子の抵抗値が前記第2の抵抗値になるまでの時間が所定時間以上かかったときは、前記第2の保持用定電流の電流値を第2の所定値だけ減少させることを特徴とする請求項8から10のいずれか1つに記載の内視鏡アクチュエータの制御方法。前記制御部は、前記第1の位置から第3の位置へ前記移動部材を移動させるために前記形状記憶素子へ電流を流す制御を、前記抵抗値検出部により検出された抵抗値と、前記形状記憶素子の前記第3の位置に対応する抵抗値に基づく比例及び微分制御により行うことを特徴とする請求項8から10のいずれか1つに記載の内視鏡アクチュエータの制御方法。本発明の一態様の内視鏡システムは、被写体を撮像する撮像素子と対物光学系を備えた内視鏡システムであって、形状記憶素子を有し、前記対物光学系を移動させるための移動部材を駆動するアクチュエータと、前記アクチュエータを駆動するアクチュエータ駆動部と、前記移動部材の位置を検出するために前記形状記憶素子の抵抗値を検出する抵抗値検出部と、前記対物光学系を移動する指示を入力する指示入力部と、前記指示入力部に入力された指示と、前記抵抗値検出部により検出された抵抗値に対応する前記移動部材の位置に基づいて、前記アクチュエータ駆動部へ駆動信号を出力する制御部とを備える。前記制御部は、前記指示入力部に入力された前記対物光学系の第1の位置から第2の位置への移動指示に基づいて、前記第1の位置から前記第2の位置を超えて第3の位置へ、前記移動部材を移動させる為の電流を前記形状記憶素子へ流すように前記駆動信号を出力し、前記形状記憶素子の抵抗値が前記形状記憶素子の最小抵抗値よりも大きい第1の抵抗値になるまで前記形状記憶素子に第1の定電流を流すように前記駆動信号を出力し、前記形状記憶素子の抵抗値が前記第1の抵抗値になると、前記形状記憶素子に、第1の保持用定電流を流すように前記駆動信号を出力し、前記形状記憶素子に前記第1の保持用定電流を流しているときに、前記形状記憶素子の抵抗値が第2の抵抗値になると、前記形状記憶素子の抵抗値が前記最小抵抗値に到達しない範囲で、前記移動部材を前記第2の位置よりも前記第1の位置から遠い位置に保持する為の電流を、前記形状記憶素子へ流すように前記駆動信号を出力する。本発明の一態様の内視鏡アクチュエータの制御方法は、形状記憶素子を有し、被写体を撮像する撮像素子のための対物光学系を移動させるための移動部材を駆動するアクチュエータを駆動するアクチュエータ駆動部と、前記移動部材の位置を検出するために前記形状記憶素子の抵抗値を検出する抵抗値検出部と、前記対物光学系を移動する指示を入力する指示入力部と、前記指示入力部に入力された指示と、前記抵抗値検出部により検出された抵抗値に対応する前記移動部材の位置に基づいて、前記アクチュエータ駆動部へ駆動信号を出力する制御部とにより、内視鏡の前記アクチュエータを制御する方法であって、前記制御部は、前記指示入力部に入力された前記対物光学系の第1の位置から第2の位置への移動指示に基づいて、前記第1の位置から前記第2の位置を超えて第3の位置へ、前記移動部材を移動させる為の電流を前記形状記憶素子へ流すように前記アクチュエータ駆動部に前記駆動信号を出力し、前記制御部は、前記形状記憶素子の抵抗値が前記形状記憶素子の最小抵抗値よりも大きい第1の抵抗値になるまで前記形状記憶素子に第1の定電流を流すように前記アクチュエータ駆動部に前記駆動信号を出力し、前記制御部は、前記形状記憶素子の抵抗値が前記第1の抵抗値になると、前記形状記憶素子に、第1の保持用定電流を流すように前記アクチュエータ駆動部に前記駆動信号を出力し、前記制御部は、前記形状記憶素子に前記第1の保持用定電流を流しているときに、前記形状記憶素子の抵抗値が第2の抵抗値になると、前記形状記憶素子の抵抗値が前記最小抵抗値に到達しない範囲で、前記移動部材を前記第2の位置よりも前記第1の位置から遠い位置に保持する為の電流を、前記形状記憶素子へ流すように前記アクチュエータ駆動部に前記駆動信号を出力する。以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。全体構成まず図1に基づき、本実施の形態に係わる内視鏡システムの構成を説明する。図1は、本実施の形態に係わる内視鏡システムの構成を示す構成図である。本実施の形態の電子内視鏡システム以下、単に内視鏡システムという1は、電子内視鏡以下、単に内視鏡という2と、光源装置3と、ビデオプロセッサ以下、プロセッサという5と、カラーモニタ以下、モニタという6と、が電気的に接続されて構成されている。内視鏡2は、挿入部7と、この挿入部7が延設された操作部8とを有し、操作部8から延出するユニバーサルコード9が、スコープコネクタ10を介して光源装置3に接続されている。また、スコープコネクタ10には、スコープケーブル4の一端部の電気コネクタが着脱自在に接続されている。そして、このスコープケーブル4の他端部の電気コネクタは、プロセッサ5に接続されている。挿入部7は、先端から順に、先端部12と、湾曲部13と、可撓管部21と、が連設されて構成されている。先端部12の先端面には、先端開口部、観察窓、2つの照明窓、観察窓洗浄口、及び観察物洗浄口が配設されている。挿入部7の先端部12の観察窓の背面側には、先端部12に内蔵される撮像装置が配設されている。撮像装置は、被写体を撮像する撮像素子と、対物光学系とを有する。また、2つの照明窓の背面側には、光源装置3からの照明光を伝送する、先端部12からユニバーサルコード9の内部に挿通する、図示しないライトガイドバンドルが設けられている。操作部8は、下部側の側部に配設される鉗子口11bと、中途部のグリップ部18と、上部側に設けられた2つの湾曲操作部14と、送気送水制御部15と、吸引制御部16と、複数のスイッチ17aから構成された主に撮像機能を操作するスイッチ部17と、から構成されている。複数のスイッチ17aの中には、フォーカス機能のための1つあるいは2つのスイッチがあり、対物光学系を移動する指示を入力するための指示入力部を構成する。先端部におけるアクチュエータの構成図2は、挿入部7の先端部12における対物光学系のアクチュエータの構成を説明するための図である。図2に示すアクチュエータ20は、挿入部7の先端側に設けられ、形状記憶素子を有し対物光学系を挿入部7内で移動させるための移動部材を駆動するアクチュエータである。図2に示すように、アクチュエータ20の駆動用の形状記憶素子である形状記憶合金ShapeMemoryAlloys。以下、SMAと略すのワイヤ21は、直径が数十μmマイクロメートルで、可撓性を有するチューブ22内に挿通されている。SMAワイヤ21の基端部は、挿入部7内の固定部材23に固定されている。一方、観察光学系のレンズ群の中の1つの対物光学系であるレンズ24は、レンズ枠25に固定されている。レンズ24は、レンズ枠25の移動に伴い移動する。第1のコイルバネ26が、バネ固定部材27とレンズ枠25の間に配置されており、バネ固定部材27は、挿入部7の先端部12の図示しない先端硬質部材に固定されている。本構造により、レンズ枠25は、弾性部材であるコイルバネ26により、挿入部7の基端側に押圧されている。ワイヤ21の先端部は、カシメ部材28により、ステンレスSUS製のワイヤ29の一端に接続されている。ワイヤ29の他端は、レンズ枠25に向かって進退すなわち移動する移動部材30に接着され固定されている。すなわち、SMAワイヤ21は、ワイヤ29を介して移動部材30に接続されている。SMAワイヤ21を移動部材30に直接接続しないのは、挿入部7の先端部12に設けられている撮像素子図示せずがSMAワイヤ21の発熱の影響を受けないようにするためである。パイプ31の一端は、移動部材30の基端部に接続され固定されている。パイプ31の他端は、パイプ32の先端側内部に挿通されて、パイプ32内に挿通されている第2のコイルバネ33の先端部に接触している。パイプ32は、図示しない先端硬質部材に対して固定されている。パイプ31は、パイプ32内において、軸方向に沿って摺動可能に挿通されている。レンズ枠25に当接する移動部材30は、弾性部材であるコイルバネ33により、先端側へ押圧されている。コイルバネ33のバネ力量は、コイルバネ26のバネ力量よりも大きい。コイルバネ26と33は、共に圧縮された状態で、バネ固定部材27とパイプ32内に設けられる。パイプ34の基端部が、チューブ22の先端部に挿通されて固定されている。パイプ34の先端部が、パイプ32の基端側において、内部に挿通されて固定されている。パイプ34の先端部は、パイプ32内においてコイルバネ33の基端部に当接している。ワイヤ29は、パイプ22,31,32,34及びコイルバネ33の内側空間内に挿通され、カシメ部材28を介して接続されたSMAワイヤ21も、パイプ22内に挿通されている。SMAワイヤ21には、2つの端子部図示せずが設けられ、後述するように、2つの端子部を介して電流が流せるようになっている。また、先端硬質部材内には、レンズストッパー35が固定されて設けられている。レンズストッパー35は、移動部材30が基端側に移動したときにレンズ枠25と突き当たって、レンズ枠25が所定のレンズ位置を超えて動かないようにするための部材である。図2において、状態SS1は、SMAワイヤ21に電流が流れていないときの状態を示す。SMAワイヤ21は、チューブ22内で、いくらかの弛みを持ちながら、伸びた状態にある。パイプ31がコイルバネ33のバネ力量により先端側に押圧されている。コイルバネ33の伸びようとするバネ力量は、コイルバネ26の伸びようとするバネ力量よりも大きいので、パイプ31は、移動部材30を先端側に押圧する。そのとき、移動部材30がレンズ枠25を先端側に押圧するため、レンズ枠25はバネ固定部材27に当接し、先端方向に向かってバネ固定部材27を押圧している状態にある。状態SS1では、移動部材30の先端が、第1の位置P1に位置している。移動部材30の先端が第1の位置P1にあるとき、レンズ枠25に固定されたレンズ24の位置は、対物光学系の遠点フォーカス位置である。状態SS1においてSMAワイヤ21に電流を流すと、SMAワイヤ21は発熱し、収縮を開始する。SMAワイヤ21の収縮につれて、ワイヤ21の弛み分がとれ、ワイヤ29を基端側へ引っ張る力が次第に大きくなり、その引っ張る力とコイルバネ26のバネ力量の和が、コイルバネ33の伸びようとするバネ力量よりも大きくなると、ワイヤ21に連結されたワイヤ29が基端側に移動する。ワイヤ29の移動の途中で、レンズ枠25が、レンズストッパー35に当接すると、図2において状態SS2として示すように、レンズ24の基端側への移動は停止する。状態SS2では、移動部材30の先端が、第2の位置P2に位置している。移動部材30が第2の位置P2にあるとき、レンズ枠25に固定されたレンズ24の位置は、対物光学系の近点フォーカス位置である。レンズ枠25がレンズストッパー35に当接した後も、ワイヤ21に電流を流し続けると、SMAワイヤ21はさらに発熱して収縮する。SMAワイヤ21の収縮により、ワイヤ29が基端側に移動するため、移動部材30も基端側に移動する。移動部材30は、パイプ32の先端部に当接して、停止する状態SS3。状態SS3では、移動部材30の先端が、第3の位置P3に位置している。移動部材30が第2の位置P2から第3の位置P3に移動しても、レンズ枠25の移動は、レンズストッパー35により阻止されているので、レンズ枠25に固定されたレンズ24の位置は、近点フォーカス位置のままである。状態SS3では、レンズ枠25は、コイルバネ26により基端方向に向かってレンズストッパー35に押圧された状態で静止した状態にある。移動部材30がパイプ32の先端部に当接して停止した後、SMAワイヤ21に電流を流し続けても、SMAワイヤ21は、ワイヤ29が伸びないため、収縮することが出来ない状態SS3。よって、SMAワイヤ21への電流を制御することにより、移動部材30の先端は、第1の位置P1から第3の位置P3の差の範囲で移動可能である。しかし、上述したように、レンズ枠25の稼動範囲すなわちレンズ24の稼動範囲は、第1の位置P1と第2の位置P2の間である。内視鏡2の挿入部7の先端側には、湾曲部13がある。よって、チューブ22は、湾曲部13の湾曲動作の影響を受けて湾曲する。SMAワイヤ21とワイヤ29には、上述したように縮もうとするテンションがかかっているため、常に直線状になろうとする。SMAワイヤ21とワイヤ29は、細いため、チューブ22及びパイプ31,32,34内で軸に直交する方向に移動可能である。よって、チューブ22が湾曲したときに、SMAワイヤ21とワイヤ29の湾曲形状は、チューブ22の湾曲形状と同様とならない。そのため、移動部材30の先端が第3の位置P3にあるとき、チューブ22が湾曲すると、そのチューブ22の曲率半径とワイヤ21と29の曲率半径の差以下、曲率半径差というに起因して、移動部材30が先端側に押し出される現象が発生し得る。そのため、移動部材30が湾曲動作に起因して先端側に押し出されるように移動しても、移動部材30がレンズ枠25を動かさないようにするためのクリアランス領域Lcが、予め設けられている。クリアランス領域Lcは、位置P2とP3間である。クリアランス領域Lcは、曲率半径差に起因する移動部材30の移動量以上に設定される。ここで、状態SS3においてSMAワイヤ21へ供給する電流値を下げると、移動部材の先端30は、位置P2に向かって移動する。SMAワイヤ21への供給電流の電流値をさらに下げる、あるいはその供給電流を0にすると、移動部材30の先端は、位置P2を越えて位置P1まで移動して戻る。その結果、レンズ24は、遠点フォーカス位置になる。従って、位置P1と位置P2の範囲は、レンズ稼動範囲すなわちレンズ稼働領域Lmであり、位置P2と位置P3の範囲は、クリアランス範囲すなわちクリアランス領域Lcである。図3は、SMAワイヤ21の伸縮を制御する制御回路の構成を示すブロック図である。制御回路41は、プロセッサ5に含まれる。図3は、プロセッサ5内のSMAワイヤ21の伸縮を制御する制御回路だけを示している。制御回路41は、制御部としての中央処理装置以下、CPUという51と、アクチュエータ駆動部としての出力制御回路52と、抵抗値検出部としての検出回路53と、切替回路54とを含む。切替回路に、SMAワイヤ21が接続されている。出力制御回路52は、アクチュエータ20を駆動するアクチュエータ駆動部を構成する。検出回路53は、移動部材30の位置を検出するためのSMAワイヤ21の抵抗値を検出する抵抗値検出部を構成する。制御部としてのCPU51は、ユーザによる操作部8のスイッチ17aへの操作に応じて、図示しない制御プログラムに基づき、上記アクチュエータ20の駆動制御を実行する。CPU51は、出力制御回路52に駆動信号Drを供給し、出力制御回路52は、切替回路54に電流信号を出力する。また、CPU51は、加熱制御期間と抵抗値検出期間とからなる基本制御期間を繰り返すことにより、SMAワイヤ21への供給電流の制御を行う。すなわち、CPU51は、加熱制御期間T1と抵抗値検出期間T2を繰り返すように、切替回路54に切替信号Swを供給する。よって、切替回路54は、加熱制御期間T1では、出力制御回路52からの電流信号をSMAワイヤ21に出力し、抵抗値検出期間T2では、所定の抵抗検出用電圧をSMAに供給し、SMAワイヤ21の両端で生じる電圧降下値からSMAワイヤ21の抵抗値を検出するように、切り替わる。例えば、基本制御期間は、12ミリ秒であり、そのうち最初の10ミリ秒が加熱制御期間T1であり、続く2ミリ秒が抵抗値検出期間T2である。よって、SMAワイヤ21への電流の供給あるいは停止は、間欠的に、加熱制御期間T1の間だけ行われ、SMAワイヤ21の抵抗値の検出すなわち測定も、間欠的に、抵抗値検出期間T2に行われる。なお、基本制御期間、加熱制御期間T1及び抵抗値検出期間T2は、それぞれ、ここに例示した値に限定されず、例えば、6ミリ秒、5ミリ秒、1ミリ秒の値でもよい。従って、CPU51は、操作部8の所定のスイッチの操作に応じて、レンズ24を近点フォーカス位置に駆動するときは、加熱制御期間T1にSMAワイヤ21に所定の駆動電流を供給し、抵抗値検出期間T2に所定の検出用電流をSMAワイヤ21に供給してSMAワイヤ21の抵抗値を検出する。検出回路53は、検出された抵抗値を、検出信号DsとしてCPU51に供給する。操作部8の所定のスイッチによりレンズ24の遠点フォーカス位置へ移動が指示されると、CPU51は、加熱制御期間T1にSMAワイヤ21に所定の駆動電流を供給せず、抵抗値検出期間T2に所定の抵抗検出用電圧をSMAワイヤ21に供給してSMAワイヤ21の抵抗値を検出する。加熱用の電流が供給されないため、SMAワイヤ21は収縮することが出来ず、レンズ24は、遠点フォーカス位置になる。キャリブレーション処理次に、SMAワイヤ21の最小抵抗値と最大抵抗値の測定と記憶の処理について説明する。本実施形態では、SMAワイヤ21の抵抗値を参照しながら、SMAワイヤ21への電流供給を制御することによって、レンズ24の位置の制御が行われる。非加熱時、アクチュエータの状態は、状態SS1である。状態SS1のとき、非加熱時のSMAワイヤ21の長さは、最大長L1であり、そのときの抵抗値は、最大抵抗値Rmaxである。加熱時でかつアクチュエータの状態が状態SS3のとき、SMAワイヤ21の長さは、最小長L3であり、そのときの抵抗値は、最小抵抗値Rminである。状態SS2のとき、SMAワイヤ21の長さは、L2であり、そのときの抵抗値は、Rminαである。レンズ24は、最大抵抗値Rmaxと抵抗値Rminαの範囲で移動する。最小抵抗値Rminと最大抵抗値Rmaxは、SMAワイヤ21の線径のバラツキ、カット時のワイヤ長のバラツキ、アクチュエータとして組み立て時の組み込み寸法のバラツキ等があるため、アクチュエータ毎に異なるので、アクチュエータ固有の特性値である。その特性値の測定は、キャリブレーション処理として、工場出荷時に行われる。なお、このキャリブレーション処理は、工場出荷後にユーザが使用を開始する前に行うようにしてもよい。キャリブレーション処理により測定された最小抵抗値Rminと最大抵抗値Rmaxは、内視鏡2に内蔵された不揮発性のメモリ2aに記憶される。図1では、不揮発性のメモリ2aは、操作部7内に配置されている。図4は、そのキャリブレーション処理の流れを示すフローチャートである。この処理は、内視鏡2とプロセッサ5を接続した状態でプロセッサ5を起動したときに、工場出荷前に実行されるか、あるいは工場出荷後にユーザがプロセッサ5を起動したときに、実行される。まず、プロセッサ5は、電源スイッチ図示せずがオンされると、CPU51は、プロセッサ5の起動処理を実行するS1。その起動処理後、CPU51は、内視鏡2のメモリ2a内に、メモリワイヤ21の最小抵抗値Rminと最大抵抗値Rmaxの情報が記憶されているか否かを判定するS2。この判定は、CPU51が、メモリ2aの所定の記憶領域のデータを読み出すことによって行われる。最小抵抗値Rminと最大抵抗値Rmaxの情報がメモリ2aに記憶されているときS2:YES、処理は、何もせず終了する。最小抵抗値Rminと最大抵抗値Rmaxの情報がメモリ2aに記憶されていないときS2:NO、CPU51は、モニタ6に所定のメッセージ画面を表示するS3。図5は、キャリブレーション処理において、モニタ6に表示される画面の遷移を示す図である。図5の画面G1は、S3の処理により表示される画面の例である。画面G1には、キャリブレーションによる最小抵抗値Rminと最大抵抗値Rmaxが未設定であることを告知するメッセージが表示されると共に、キャリブレーションの実行コマンドを出力するための実行ボタンが表示される。出荷検査者あるいはユーザは、画面上のカーソルを移動させて、実行ボタンを選択すると、キャリブレーションの実行をCPU51に対して指示することができる。S3の後、その実行が指示されたか否かが判定されS4、指示されないとS4NO、処理は、S3に戻る。その実行が指示されるとS4YES、CPU51は、キャリブレーション処理を実行するS5。キャリブレーション処理のとき、挿入部7を真っ直ぐに伸ばした状態で、ワイヤー21に電流を流す前のSMAワイヤ21の抵抗値を測定して、最大抵抗値Rmaxのデータを取得する。その後、SMAワイヤ21に電流を流し、移動部材30が位置P3にあるときに、SMAワイヤ21の抵抗値を測定して、最小抵抗値Rminのデータを取得する。S5の処理を実行中、CPU51は、図5の画面G2をモニタ6に表示する。画面G2には、現在キャリブレーション処理が実行中であるため、しばらく待つことをユーザ等に告知するメッセージが表示される。S5の処理が終了すると、CPU51は、キャリブレーション完了のメッセージ画面をモニタ6に表示するS6。図5の画面G3は、そのキャリブレーション完了のメッセージ画面の例である。画面G3には、キャリブレーションが完了したことのメッセージが含まれる。以上のようにして、最小抵抗値Rminと最大抵抗値Rmaxのデータを取得して、メモリ2aに記憶するキャリブレーション処理が実行される。メモリ2aに記憶された最小抵抗値Rminと最大抵抗値Rmaxのデータは、内視鏡システムの使用時に、CPU51がメモリ2aから読み出して、後述するフォーカス制御時に用いられる。なお、最小抵抗値Rminと最大抵抗値Rmaxは、内視鏡2に内挿されたアクチュエータ20の固有値であるため、内視鏡2内部に具備されたメモリ2aに記憶される。メモリ2aには、後述するフォーカス制御において用いられる各目標抵抗値設定用のパラメータ、上限電流値、各定電流の電流値、及び各定電流変更用のパラメータ等も、併せて記憶するようにしてもよい。フォーカス切替制御内視鏡2のフォーカス制御は、2つの位置、すなわち近点フォーカス位置と遠点フォーカス位置の制御である。ユーザは、内視鏡2のモニタ6に表示される被写体像を見ながら、操作部8の複数の操作スイッチ17aの中の所定のスイッチを操作することによって、被写体像のフォーカス位置を、近点フォーカス位置と遠点フォーカス位置のいずれかに設定することができる。遠点フォーカス位置が選択されているときは、SMAワイヤ21に電流が流れておらず、SMAワイヤ21は伸びた状態にある。近点フォーカス位置が選択されると、SMAワイヤ21に電流が流されて、SMAワイヤ21は縮んだ状態にある。CPU51は、指示入力部である複数のスイッチ17aのスイッチに入力された指示と、検出回路53により検出された抵抗値に対応する移動部材30の位置に基づいて、出力制御回路52へ駆動信号Drを出力する制御部を構成する。近点フォーカス位置の制御図6は、近点フォーカス位置への切替制御の流れを示すフローチャートである。図7は、最小抵抗値Rmin、最大抵抗値Rmax及び各目標抵抗値と、各処理との内容を対応付けて説明するための図である。図8は、SMAワイヤ21への供給電流の時系列変化を示す図である。近点フォーカス位置の制御は、主として、近点フォーカス切替初期制御SC1と、近点フォーカス保持制御SC2に分けられる。近点フォーカスの指示があると、メイン制御ステータスは、まず、近点フォーカス切替初期制御SC1になり、その後近点フォーカス保持制御SC2に移行する。近点フォーカス切替初期制御SC1CPU51は、ユーザが近点フォーカスの指示を行ったか否かを判定するS11。近点フォーカスの指示がなければS11NO、処理は何もしない。近点フォーカスの指示があるとS11YES、制御部であるCPU51は、抵抗値情報からSMAワイヤ21に供給する電流値を算出して、その電流値を供給するための駆動信号Drを出力するS12。具体的には、CPU51は、検出回路53により検出されたワイヤ21の抵抗値と、所定の目標抵抗値1との情報からSMAワイヤ21に流す電流の電流値を算出して、算出された電流を上述した加熱制御期間T1内に出力するように出力制御回路52に駆動信号Drを供給する。目標抵抗値1は、図7に示すように、最小抵抗値Rminに所定のパラメータParam1を加算した抵抗値である。SMAワイヤ21の抵抗値と長さは、所定の関係を有する。さらに、SMAワイヤ21は、印加電流と抵抗値の間に所定の関係を有する。その関係は、SMAワイヤ21が伸びた状態から電流が印加されて収縮していく状態になる場合と、SMAワイヤ21が収縮した状態から電流の印加量が減少して伸びていく状態になる場合とで、電流値と抵抗値の関係が異なる、所謂ヒステリシス特性を有する。なお、目標抵抗値1は、パラメータParam1の変更により変更可能となっている。S12における目標抵抗値1は、このヒステリシス特性を考慮して予め設定されている。さらに、目標抵抗値1は、移動部材30がクリアランス領域Lc内の所定の位置に対応する抵抗値である。具体的には、目標抵抗値1は、図7に示すように、対物レンズ24の稼働範囲である位置P1とP2間のレンズ稼働領域Lmを超えて、クリアランス領域Lc内において、曲率半径差に起因する移動部材30の移動量以上の位置に対応する抵抗値に設定される。ここでは、SMAワイヤ21に印加する電流の電流値は、検出回路53により検出されたワイヤ21の抵抗値と、所定の目標抵抗値1とに基づくPD比例及び微分制御の演算により決定される。具体的には、CPU51は、位置P1から目標抵抗値1の位置へ移動部材30を移動させるためにSMAワイヤ21へ電流を流して加熱するために制御を、検出回路53により検出された抵抗値と、SMAワイヤ21の目標抵抗値1の位置に対応する抵抗値に基づいてPD制御により行う。なお、PD制御時、所定の電流値以上の電流が流れないようにするために、上限電流値が予め設定されており、SMAワイヤ21への供給電流の電流値が、その上限電流値を越えないように、供給電流が制限される。そして、検出回路53により検出されたワイヤ21の現在の抵抗値が、目標抵抗値1に到達したか否かが判定されるS13。現在の抵抗値が目標抵抗値1に到達していないときは、処理は、S12に戻る。S11からS13の処理が、初期抵抗制御Aを構成する。初期抵抗制御Aでは、CPU51は、指示入力部である操作部8に入力されたレンズ24の遠点の位置P1から近点の位置P2への移動指示に基づいて、遠点の位置P1から近点の位置P2を超えて目標抵抗値1に対応する位置へ、移動部材30を移動させるための電流をSMAワイヤ21に流して加熱するように駆動信号Drを出力する。以上のように、レンズ24を近点フォーカス位置に駆動するときは、図7の初期抵抗制御Aにより、電流の供給による加熱と抵抗値検出の期間が交互に切り替わりながら、SMAワイヤ21への電流の供給は行われる。検出回路53により検出されたワイヤ21の現在の抵抗値が、目標抵抗値1に到達すると、CPU51は、第1の定電流によりSMAワイヤ21を予備加熱するS14。具体的にはCPU51が、第1の定電流値の定電流をSMAワイヤ21に供給する定電流制御のための駆動信号Drを出力する。そして、検出回路53により検出されたワイヤ21の現在の抵抗値が、目標抵抗値2に到達したか否かが判定されるS15。現在の抵抗値が目標抵抗値2に到達していないときは、処理は、S14に戻る。目標抵抗値2は、最小抵抗値Rminに所定のパラメータParam2を加算した値である。パラメータParam2の値は、パラメータParam1の値よりも小さい。S14とS15の処理が、予備加熱制御Bを構成する。予備加熱制御Bでは、CPU51は、SMAワイヤ21の抵抗値がSMAワイヤ21の最小抵抗値Rminよりも大きい目標抵抗値2になるまでSMAワイヤ21に第1の定電流を流してSMAワイヤ21を加熱するように駆動信号Drを出力する。なお、目標抵抗値2は、パラメータParam2の変更により変更可能となっている。以上のように、図7の初期抵抗制御Aの後も、第1の定電流の供給による加熱と抵抗値検出の期間が交互に切り替わりながら、現在の抵抗値が目標抵抗値2になるまで、SMAワイヤ21の予備加熱を行う予備加熱制御Bが行われる。ここで、SMAワイヤ21を目標抵抗値2まで、PD制御だけで行わないのは、SMAワイヤ21の応答性により、発振が発生して、発振の影響がレンズ稼働範囲Lmまで及ぶのを防ぐためである。さらに、ここで、予備加熱制御Bにおいて目標抵抗値2を最小抵抗値Rminにしないのは、ワイヤ21を最小抵抗値Rminまで収縮させると、SMAワイヤ21の耐久性を劣化させてしまうからである。よって、目標抵抗値2は、最小抵抗値Rminには設定されない。検出回路53により検出されたワイヤ21の現在の抵抗値が、目標抵抗値2に到達すると、CPU51は、保持用電流初期値までSMAワイヤ21への供給電流を低下させ、その保持用電流値を維持するように駆動信号Drを出力するS16。S16の処理が、保持用定電流移行制御Cを構成する。CPU51は、SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値2になると、保持用定電流移行制御Cに移行し、SMAワイヤ21に流れる電流の電流値を、第1の定電流の電流値よりも小さい第2の電流値まで減少させるように駆動信号Drを出力する。この保持用定電流移行制御Cにおいても、定電流値の供給による加熱と抵抗値検出の期間が交互に切り替わりながら、定電流が、保持用電流初期値になるまで供給される。上述した初期抵抗制御A、予備加熱制御B及び保持用定電流移行制御Cは、近点フォーカス切替初期制御SC1を構成する。すなわち、メイン制御の1つである近点フォーカス切替初期制御SC1は、初期抵抗制御A、予備加熱制御B及び保持用定電流移行制御Cの3つのサブ制御からなる。ここまでのSMAワイヤ21への供給電流の電流値の変化の例を説明する。図8に示すように、近点フォーカスへの切替指示があると、PD制御下で算出された電流値により初期抵抗制御Aが実行される。なお、図8において、電流波形中、○印の付けられた直線部分は、SMAワイヤ21が積極的に加熱されている期間を示し、○印の付けられていない直線部分は、SMAワイヤ21の加熱量が低減あるいは調整されている期間を示す。抵抗値が目標抵抗値1に到達すると、第1の定電流値による定電流制御の予備加熱制御Bが実行される。抵抗値が目標抵抗値2に到達すると、供給電流を保持用電流値まで低下させた後に、保持用の定電流制御を行う初期値による保持用定電流移行制御Cが実行される。近点フォーカス切替初期制御SC1の後、CPU51は、SMAワイヤ21に第2の電流値の第1の保持電流を流しているときに、SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値3になると、SMAワイヤ21の抵抗値が最小抵抗値Rminに到達しない範囲で、移動部材30を近点の位置P2よりも遠点の位置P1から遠い位置に保持するための電流をSMAワイヤ21に流して再加熱する駆動信号Drを出力する再加熱処理を行う。近点フォーカス保持制御SC2図6に戻り、現在の抵抗値が目標抵抗値3に到達したか否かが判定されるS17。現在の抵抗値が目標抵抗値3に到達していないときはS17NO、処理は、S21に移行する。目標抵抗値3は、目標抵抗値2に所定のパラメータParam3を加算した値である。目標抵抗値3は、図7に示すように、目標抵抗値1よりもやや大きな値であるが、位置P2に対応する抵抗値Rminαよりは、十分に大きな値である。なお、目標抵抗値3は、パラメータParam3の変更により変更可能となっている。検出回路53により検出されたSMAワイヤ21の現在の抵抗値が、目標抵抗値3に到達するとS17YES、CPU51は、第2の定電流にてSMAワイヤ21を再加熱するS18。具体的にはCPU51が、第2の定電流値の定電流をSMAワイヤ21に供給する定電流制御のための駆動信号Drを出力する。ここでは、第2の定電流の電流値は、第1の定電流の電流値よりも小さい。再加熱により、SMAワイヤ21は、再び収縮して抵抗値が低下し始める。そして、検出回路53により検出されたワイヤ21の現在の抵抗値が、目標抵抗値2に到達したか否かが判定されるS19。現在の抵抗値が目標抵抗値2に到達していないときは、処理は、S18に戻る。S17とS18の処理が、保持中の再加熱制御D1を構成する検出回路53により検出されたワイヤ21の現在の抵抗値が、目標抵抗値2に到達するとS19YES、CPU51は、保持用電流までSMAワイヤ21への供給電流を低下させるが、その供給電流の電流値を前回のあるいは初期値の保持用電流値よりも、第1の所定値だけ高いすなわち第1の所定値分だけ増加させた保持用電流値まで低下させて、その保持用電流値の保持用定電流を出力するように駆動信号Drを出力するS20。これは、例えば、周囲温度が低いような場合に、再加熱Dの発生回数を少なくするためである。その後、処理は、S17に移行する。なお、S20において出力された保持用定電流の電流値は、一旦出力されると、図示しないRAMに記憶される。その後、近点フォーカス保持制御SC2が実行されているときに、再度S20が実行されるとき、あるいは後述するS22が実行されるとき、CPU51は、そのRAMに記憶されている前回の保持用定電流の電流値を参照することができる。S17で現在の抵抗値が目標抵抗値3に到達したか否かが判定され、現在の抵抗値が目標抵抗値3に到達していないときS17NO、所定の時間が経過したか否かが判定されるS21。その所定の時間は、保持用定電流の出力が開始されてからの経過時間であり、予め設定される。S21で所定の時間が経過していなければS21:NO、処理は、S17へ戻る。S21で所定の時間が経過するとS21YES、保持用電流の電流値を、第2の所定値だけ低下させてその低下した保持用電流を維持するS22。すなわち、CPU51は、再加熱時に、SMAワイヤ21に上記の保持用定電流を流してからSMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値3になるまでの時間が所定時間以上かかったときは、その保持用定電流の電流値を第2の所定値だけ減少させる。S22の後は、処理は、S17へ戻る。これは、周囲温度が高いような場合に、保持用定電流の値を少なくするためである。S19からS22までの処理は、保持電流変更制御D2を構成する。このS18における再加熱制御においても、定電流値の供給による加熱と抵抗値検出の期間が交互に切り替わりながら、定電流が供給される。上述した保持中の再加熱制御D1及び保持電流変更制御D2は、近点フォーカス保持制御SC2を構成する。すなわち、メイン制御の1つである近点フォーカス保持制御SC2は、保持中の再加熱制御D1及び保持電流変更制御D2の2つのサブ制御からなる。ここまでのSMAワイヤ21への供給電流の電流値の変化の例を説明する。図8に示すように、再加熱制御D1により、SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値3から目標抵抗値2まで低下すると、SMAワイヤ21への供給電流は、保持電流変更制御D2により、前回の保持電流値よりも第1の所定値だけ高い保持用電流値まで低下し、その後は、その前回の保持電流値よりも第1の所定値だけ高い保持用電流値に維持される。その後、所定時間が経過するとS21YES、SMAワイヤ21への供給電流は、第2の所定値だけ低下しS22、図8では、その後、所定時間が経過する前に、現在の抵抗値が目標抵抗値3に到達している。さらにその後に、再加熱制御D1が実行されて、SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値3から目標抵抗値2まで低下すると、SMAワイヤ21への供給電流は、前回の保持電流値まで低下し、その後は、その前回の保持電流値に維持される。その後は、SMAワイヤ21への供給電流は、保持電流変更制御D2により、変更される。従って、保持電流変更制御D2において、S19とS20の処理により、周囲温度が低いときに、速めにアクチュエータ20の温度を上げ、SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値3まで下がる時間を長くして、再加熱の発生回数を少なくすることができる。また、保持電流変更制御D2において、S21とS22の処理により、周囲温度が高いときには、可能な限り保持電流の電流値を下げるようにして、省電力を図っている。以上のように、近点フォーカス保持制御SC2では、CPU51は、SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値2になるまでSMAワイヤ21に第2の定電流を流して加熱することと、SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値2になると、SMAワイヤ21に流れる電流を、第2の定電流の電流値よりも小さい電流値の保持電流値になるまで減少させることと、を繰り返すことによって、移動部材30を近点の位置P2よりも遠点の位置P1から遠い位置に保持するように、SMAワイヤ21の再加熱を行う。図9は、上述した各制御について、開始条件、終了条件、制御方式及び駆動電流を纏めた表TBLである。表TBLに示すように、近点フォーカス切替初期制御SC1において、初期抵抗制御Aは、開始条件が近点切替指示であり、終了条件が目標抵抗値1の到達であり、制御方式がPD比例及び微分制御であり、駆動電流は、PD制御において算出された電流値である。予備加熱制御Bは、開始条件が目標抵抗値1への到達であり、終了条件が目標抵抗値2の到達であり、制御方式が定電流制御であり、駆動電流は、第1の定電流である。保持用定電流移行制御Cは、開始条件が目標抵抗値2の到達であり、終了条件が目標抵抗値3の到達であり、制御方式が定電流制御であり、駆動電流は、保持用定電流初期値である。近点フォーカス保持制御SC2において、再加熱制御保持中D1は、開始条件が目標抵抗値3の到達であり、終了条件が目標抵抗値2の到達であり、制御方式が定電流制御であり、駆動電流は、第2の定電流である。保持電流変更制御D2は、開始条件が目標抵抗値2の到達であり、終了条件が目標抵抗値3の到達であり、制御方式が定電流制御可変であり、駆動電流は、前回の保持電流から所定値だけ変化した電流値の定電流である。図10は、内視鏡システムのモニタの表示例を示す図である。フォーカス位置が近点フォーカス位置に切り替えられたとき、モニタ6の表示画面61には、モニタ6上の内視鏡画像62が近点フォーカス状態の画像であること示す表示近点NearFocusを含む近点状態表示部63が、モニタ6の表示画面61上に表示される。近点フォーカス状態と遠点フォーカス状態では、画像の被写界深度が異なるので、観察者が、近点フォーカス時に、内視鏡画像62の被写界深度が浅いことを知るあるいは確認することができる。以上のように、上述した実施の形態の制御によれば、遠点フォーカス位置から近点フォーカスへの切替が指示されると、CPU51は、初期抵抗制御Aにより、最小抵抗値Rminよりも大きな抵抗値である目標抵抗値1まで、PD制御により加熱して収縮させる。移動部材30は、初期抵抗制御Aにより目標抵抗値2に対応する位置まで速やかに移動し、その途中で、対物レンズであるレンズ24も、近点フォーカスの位置まで速やかに移動する。SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値1になると、制御は、初期抵抗制御Aから予備加熱制御Bに変更される。SMAワイヤ21のSMAワイヤ21は、予備加熱制御Bにおける第1の定電流値の定電流制御により、さらに加熱され収縮する。SMAワイヤ21の抵抗値が、目標抵抗値2になると、制御は、予備加熱制御Bから保持用定電流移行制御Cに変更される。この目標抵抗値2は、最小抵抗値Rminよりも大きな抵抗値であるので、予備加熱制御Bにおいて、SMAワイヤ21の抵抗値が最小抵抗値Rminになるまで収縮されない。よって、SMAワイヤ21の耐久性を劣化させない。保持用定電流移行制御Cにおいて、SMAワイヤ21への供給電流は、保持用定電流値になるまで徐々に低下し、供給電流の電流値が保持用定電流値になると、その保持用定電流値を維持する。その後、SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値3に到達すると、制御は、メイン制御ステータスが、近点フォーカス保持制御SC2に移行する。近点フォーカス保持制御SC2では、近点フォーカスから遠点フォーカスへの切替が指示されたときに、速やかにレンズ24を遠点フォーカス位置に移動できるように、移動部材30を、湾曲時の曲率半径差に起因する移動部材30の移動量を加味した位置の近辺にあるように、制御が行われる。近点フォーカス保持制御SC2では、まず、制御は、再加熱制御D1を実施する。再加熱制御D1においては、第2の定電流値の定電流制御により、さらにSMAワイヤ21のSMAワイヤ21は加熱され収縮する。SMAワイヤ21の抵抗値が、目標抵抗値2になると、制御は、再加熱制御D1から保持電流変更制御D2に移行する。保持電流変更制御D2においては、SMAワイヤ21への供給電流は、前回の保持電流値よりも、第1の所定値だけ高い電流値まで低下させる。さらに、SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値3までに到達する時間が、所定時間以上かかる場合は、保持用電流値を、第2の所定値まで低下させる。以上のように、近点フォーカス保持制御SC2では、SMAワイヤ21の抵抗値が目標抵抗値3まで上昇した際には再加熱を行い、再加熱が行われる毎に、保持電流の電流値を第1の所定値分だけ高くする。これにより、挿入部7の先端部12の周囲温度が低い場合を考慮して、なるべくSMAワイヤ21の抵抗値が速く安定状態となるように制御される。また、SMAワイヤ21の抵抗値が所定の時間以上経過しても目標抵抗値3に到達しないときは、保持電流の電流値を第2の所定値だけ低下させる。これにより、挿入部7の先端部12内の温度のバランスが保たれているときは、なるべく再加熱の回数が少なくなるように制御される。再加熱の回数が減少すると、SMAワイヤ21の耐久性の低下をより防ぐことができる。以上のように、上述した実施の形態の内視鏡システムによれば、レンズ移動の応答性、レンズ駆動制御における省電力性、及び形状記憶素子の耐久性の向上を図ることができる。本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を変えない範囲において、種々の変更、改変等が可能である。本出願は、2010年7月8日に日本国に出願された特願2010-156156号を優先権主張の基礎として出願するものであり、上記の開示内容は、本願明細書、請求の範囲に引用されるものとする。"