カメラと、前記カメラに向かい合う位置に配置されるバックライトと、前記カメラと前記バックライトの間に配置される透明または半透明の円筒形容器と、前記カメラを垂直方向に移動させる昇降装置と、前記カメラと前記昇降装置の動作制御を行う制御装置と、前記制御装置に設定した初期設定位置からの前記カメラの垂直方向変位量を検出して前記制御装置に出力する変位量測定装置と、前記カメラが撮像した前記容器内の粉体層の画像を解析し、解析結果を前記制御装置に出力する画像解析装置と、前記初期設定位置からの前記カメラの垂直方向変位量より粉体層の体積を算出する演算手段とを備えることを特徴とする粉体層体積測定装置。前記円筒形容器はタッピング装置のタッピング台に取り付けられることを特徴とする請求項1に記載の粉体層体積測定装置。前記円筒形容器がメスシリンダーにより構成されることを特徴とする請求項1または2に記載の粉体層体積測定装置。測定用カップとしてメスシリンダーを使用した場合、メスシリンダーに投入した粉体試料の圧縮性に関する評価方法として、固めかさ密度タップ密度ともいうやかさべり度を測定する方法がある。固めかさ密度の測定方法としては、メスシリンダー内に所定量の試料粉体を投入した後、メスシリンダーを所定ストローク量所定振動数単位時間あたりのタッピング回数で所定回数又は所定時間タッピングを行わせて固めかさ密度を求める方法がある。例えば、アメリカ薬局方USPタッピングや米国材料試験協会ASTMタッピングの場合の固めかさ密度は、メスシリンダー内に投入した試料粉体の質量をタッピング後の試料粉体の体積で除して求められる。また、川北式粉体圧縮評価法のかさべり度は、同様の方法によりタッピングを行い、タッピング前の試料粉体の体積をV0、タッピング後の試料粉体の体積をVとしたとき、V0-V/V0で求められる。このように、固めかさ密度やかさべり度は、いずれの測定方法においても、タッピング前および/またはタッピング後のメスシリンダー内の粉体層の体積を測定することによって求められる。この時の体積測定は、粉体層を圧迫しないように、非接触で行われるのが望ましい。いきおい、特許文献1記載の装置のように非接触型センサが用いられるのであるが、試料粉体の種類や粒子径、あるいは粉体面の凹凸具合によっては、超音波センサのような非接触型センサで精度良く体積測定を行うのは困難な場合がある。本発明は上記の点に鑑みなされたものであり、透明または半透明の円筒形容器内の粉体層の体積を精度良く測定することができる粉体層体積測定装置を提供することを目的とする。本発明の粉体層体積測定装置は、カメラと、前記カメラに向かい合う位置に配置されるバックライトと、前記カメラと前記バックライトの間に配置される透明または半透明の円筒形容器と、前記カメラを垂直方向に移動させる昇降装置と、前記カメラと前記昇降装置の動作制御を行う制御装置と、前記制御装置に設定した初期設定位置からの前記カメラの垂直方向変位量を検出して前記制御装置に出力する変位量測定装置と、前記カメラが撮像した前記容器内の粉体層の画像を解析し、解析結果を前記制御装置に出力する画像解析装置と、前記初期設定位置からの前記カメラの垂直方向変位量より粉体層の体積を算出する演算手段とを備えている。本発明の粉体層体積測定装置において、前記円筒形容器はストローク量と振動数が設定されたタッピング装置のタッピング台に取り付けられる。本発明の粉体層体積測定装置において、前記円筒形容器がメスシリンダーにより構成される。本発明によると、円筒形容器内の粉体層の画像を画像解析装置が解析し、初期設定位置からのカメラの垂直方向変位量を検出して、当該垂直方向変位量から粉体層の体積を算出するものであるから、精度良く体積測定を行うことができる。本発明に係る粉体層体積測定装置は、透明または半透明の円筒形容器に投入した試料粉体の固めかさ密度やかさべり度の測定が可能な、粉体物性測定装置1として実現されている。粉体物性測定装置1の外観を構成する二大要素は、本体2と、その前部を覆うカバー3である。本体2は図示しない架台構造の外側を板金製の筐体4で囲んだものであり、高さ調整可能な複数の支持脚5により支持面の上に支持される。カバー3は透明な合成樹脂により主要部が形成されており、左右一対のアーム6で本体2の左右両側面に取り付けられる。アーム6の先端は本体2に連結する支点部7となり、カバー3は支点部7を中心として垂直面内で回動する。カバー3を下ろすと図2の実線状態となる。この時カバー3で囲い込まれる空間が図3に示す測定室10となる。前述の通りカバー3は主要部が透明であるため、カバー3を下ろした状態でも測定室10の内部を見通すことができ、作業者は試料の状況等を目視で確認しながら、粉塵の影響を受けることなく測定作業を行うことができる。カバー3の正面には手掛け部3aが形成されており、そこに手を掛けて、カバー3を図2の仮想線の位置まで引き上げることができる。図2の仮想線の位置まで引き上げたときは、カバー3は手を離してもその位置に留まっている。このように測定室10を開放状態にした上で、作業者は測定済みの試料や測定に供した用具の片付け、新たな測定作業のセッティング、保守点検作業などを行う。測定室10を開放状態にしておく必要がなくなったときはカバー3を下ろす。支点部7でカバー3を支える軸にはダンパーが組み合わせられており、下ろす途中で手を離せばカバー3はゆっくりと降下し、衝撃を与えることなく静かに閉じる。本体2の外側、正面から見て左側の位置に撮像装置20が配置される。測定室10の内部にはバックライト30が配置される。バックライト30は、測定室10の奥の内壁から突き出すブラケット31に取り付けられている。撮像装置20とバックライト30の間には透明または半透明の円筒形容器104が配置されるが、これについては後で詳しく説明する。撮像装置20は、C-MOSやCCDといった固体撮像素子を備えたカメラ21と、カメラ21を支持するコラム22を備える。コラム22は本体2の前記図示しない架台構造から突き出すブラケット2aの上面に立ち上がっている。撮像装置20には、コラム22に沿ってカメラ21を垂直方向に移動させる昇降装置23が付属する。昇降装置23は、コラム22の側面に固定された垂直なリニアガイド24と、リニアガイド24に沿って昇降可能なスライダ25と、スライダ25に連結し、自身の回転でスライダ25を昇降させる垂直なボールネジ26と、ボールネジ26を回転させる減速装置付きステッピングモータ27により構成される。カメラ21はスライダ25に保持されて昇降する。バックライト30の光源となるのは発光ダイオード以下LEDと称するである。LEDはLEDライト32図4参照として構成されている。LEDライト32は、透明または半透明のカバーレンズ33aを備えた細長いケース33と、ケース33の内部に一列に配置された複数個のLED34を備える。LED34は一般に使用されているタイプのものであり、白色LEDが好適に使用できる。LEDライト32は長手方向を垂直にし、光の出射方向を撮像装置20の方に向けて配置される。このLEDライト32を角筒状のランプシェード35が取り囲む。ランプシェード35は乳白色のアクリル樹脂で形成されており、複数のLED34が個々に放つ光を均一な面状光に変える。なお、ランプシェード35の材質はアクリル樹脂に限定されない。カメラ21は制御装置40図6参照に信号を出力する。制御装置40は一種のコンピュータと位置づけられるものであって、カメラ21、昇降装置23、及びバックライト30に対して制御信号を出力する。カメラ21は画像解析装置41図6参照を備えており、画像解析装置41が撮像画像を解析し、その解析結果が信号として制御装置40に出力される。カメラ21としては、例えば株式会社キーエンス製CV-3000SO605シリーズ、オムロン株式会社製FQ-S10100F、パナソニック電工株式会社製ANM832CE、COGNEX社製CheckerセンサG47などが使用可能である。昇降装置23は、制御装置40に設定した初期設定位置からのカメラ21の垂直方向変位量を測定して制御装置40に出力する変位量測定装置42図6参照を備えている。変位量測定装置42は、カメラ21と共に昇降する部材、本実施形態の構成で言えばスライダ25に、あるいはカメラ21そのものに連結したリニアエンコーダによって実現される。あるいは、スライダ25を昇降させるボールネジ26や、ボールネジ26を回転させる減速装置やステッピングモータ27などに連結したロータリーエンコーダやレゾルバなどによって実現される。カメラ21が撮像する画像は図5に示すようなものとなる。画像は多数の画素の集合からなる。図5には透明な円筒形容器の内部に筒状の粉体層が存在する状況が示されている。粉体物性測定装置1は、固めかさ密度やかさべり度の測定装置の機能を備えている。固めかさ密度やかさべり度の測定のために必要なのがタッピング装置である。図3に示す通り、測定室10の床面部にタッピング装置50が配置される。タッピング装置50は、タッピング台51と、タッピング台51を支持するタッピング軸52を備える。図6に示すタッピングモータ53が、図示しないリフトバーでタッピング軸52を持ち上げ、タッピング動作を行わせる。タッピングモータ53はステッピングモータであり、モータドライバ54で駆動される。モータドライバ54に対し制御装置40が制御信号を送ると、制御信号に応じた駆動パルスがモータドライバ54から出力され、タッピングモータ35は駆動パルス数に応じた角度だけ回転する。タッピングモータ53がステッピングモータであることから、リフトバーに与える回動の角度と回動速度を比較的自由に設定することができる。このため、試料の物性や測定の目的に合わせてタッピングのストローク量と振動数を設定することが容易になり、タッピング装置50の使い勝手が向上する。粉体物性測定装置1には、試料粉体を振動篩にかける篩振動装置が設けられている。篩振動装置の本体部分は筐体4内に存在し、その本体部分が備える振動レバー60図7参照の一部分のみが測定室10に突き出している。振動レバー60にはリング状の篩取付枠61が固定されている。振動レバー60には、図6に示す電磁石62により上下方向の振動が与えられる。制御装置40には、図6に示す通り、これまでに掲げた撮像装置20、昇降装置23、バックライト30、変位量測定装置42、タッピングモータ53、モータドライバ54、電磁石62といった構成要素の他に、表示装置70が接続される。表示装置70は外付けのモニター装置などにより構成され、測定データや計算結果などの表示を行う。続いて、図3および図7に基づき、粉体物性測定装置1がどのように用いられるかについて説明する。図7に示すのはUSPタッピングやASTMタッピングで固めかさ密度測定をする場合、あるいは川北式粉体圧縮評価法でかさべり度を測定する場合のセッティングである。篩取付枠61にシュート102、篩100、篩押さえ101の順で重ね、これらを締結具103で篩取付枠61に固定している。タッピング台51には透明または半透明の円筒形容器104が取り付けられている。ここで、円筒形容器104はメスシリンダーである。メスシリンダー内の粉体層の体積を測定する場合には、まず、カメラ21と制御装置40によって初期設定位置からメスシリンダーの第一の目盛線までの高さ[mm]を測定し、制御装置40が備える記憶手段に記憶させる。高さ[mm]は、カメラ21が初期設定位置から目盛線の高さまで移動した際のパルス数前出のリニアエンコーダ、ロータリーエンコーダ、レゾルバなどが出力するパルス数をカウントし、それを制御装置40で変換することにより求められる。制御装置40は演算手段を備えており、以下に説明する粉体層の体積の算出もその演算手段によって行われる。以後の説明における記憶する算出するなどの表現は制御装置40の記憶手段や演算手段でその動作が行われることを意味する。次に、初期設定位置からメスシリンダーの第二の目盛線までの高さ[mm]を記憶する。第一、第二目盛線間の容積差と高さ[mm]の差から、1mmあたりのメスシリンダーの容積が決定される。1mmあたりのメスシリンダー容積と、すでに記憶してある第一目盛または第二目盛の位置とから、基準点0mlの位置の高さを算出することができる。例えば、初期設定位置から50mlの第一目盛線までの高さが30.00mm、次に初期設定位置から250mlの第二目盛線までの高さが130.00mmであったとする。この場合、容積差200mlで第一目盛線と第二目盛線との高さの差が100.00mmとなるから、1mmあたりのメスシリンダー容積は、2[ml/mm]となる。よって、基準点位置の高さは初期設定位置から5.00mmの位置と算出できる。そして、初期設定位置から粉体層の粉体面位置までの高さが80.00mmであった場合には、メスシリンダー内の粉体層の体積は、2[ml/mm]に75.00mm粉体層の粉体面高さ-基準点位置の高さを掛けることで150mlという値が得られる。篩押さえ101及び篩100に試料粉体を投入し、振動レバー60を介して篩取付枠61を振動させると、篩100を通過した粉体試料がシュート102を通じて落下し、円筒形容器104に入る。所定量の試料粉体が円筒形容器104に投入されたところで、振動レバー60の振動を停止させる。そして後述する方法で粉体層の粉体面位置を検出し、その時の高さより求めた容量[ml]を記憶させる。その後、タッピングを行う。所定回数タッピングを行うと、粉体層は圧縮され、粉体層の粉体面はタッピング前の粉体層の粉体面よりも下がる。次に、粉体層の粉体面の検出方法について説明する。タッピング後、カメラ21はメスシリンダーの最下部から粉体層に沿ってゆっくりと上昇していく。メスシリンダー内の粉体層部分は、バックライト30からの光が透過しないため暗くなり、粉体層がない部分は、バックライト30からの光が透過するため、明るい色と認識される。制御装置40にあらかじめ明るい色を登録しておくことで、それ以外の色は暗い色と認識される。カメラ21が上昇中に、カメラ21の撮像画面中の色面積検出エリア内で検出される明るい色の色面積が、あらかじめ制御装置40に設定しておいた明るい色の色面積の閾値を越えたところで、カメラ21を自動停止させる。そして、基準点から粉体層の粉体面までの高さより求めた容積[ml]を記憶する。なお、色面積の他にも、明るい色と暗い色とを二値化処理することでも、粉体層の粉体面を検出することが可能である。また、測定時間を短くするため、カメラ21が上昇する時間の短縮を図ることができる。すなわち、粉体層の粉体面まで高速でカメラ21を上昇させた後、一旦粉体層の粉体面の下方位置まで下降させ、次に再度ゆっくりとカメラ21を上昇させて粉体層の粉体面を検出させるようにすることができる。上記の例に示したように、基準点位置から粉体層の粉体面位置までの高さと、1mmあたりのメスシリンダー容積から、メスシリンダー内の粉体層の体積を求めることができる。粉体層の粉体面の検出にカメラを使用するメリットは次の通りである。例えば、レーザーセンサでは、メスシリンダーの壁面に試料粉体が付着している場合、その付着部分に穴が開いている部分があってもレーザー光が透過しないか、透過したとしてもその透過したレーザー光の強度が弱く、粉体層の粉体面を検出することができない。レーザー光の強度が強いものを用いた場合には、誤差が大きくなる。また、超音波センサでは、精度が低くさらには多孔性の試料粉体では粉体層の粉体面を検出することができないといった問題がある。これに対して、カメラ21を用いて画像判定を行うこととすれば、判定範囲が広く、メスシリンダー壁面に試料粉体が付着していても、その中にわずかでも試料粉体が付着していない箇所があれば、そこを通して粉体層の粉体面を認識することができるので、精度よく測定できる。固めかさ密度の測定方法にはUSPタッピング、ASTMタッピングなどがあり、かさべり度の測定方法には川北式タッピングなどの方法がある。どの方法で測定を実施するかにより、それに合わせた円筒形容器メスシリンダー104とタッピング台51、及びシュート102が用いられる。例えばUSPタッピングの場合は、容積250mlまたは100mlのガラスメスシリンダーが用いられる。また、ASTMタッピングの場合は、容積100mlまたは25mlのガラスメスシリンダーが用いられる。上記実施形態ではカメラ21が画像解析装置41を備えているが、カメラ21でなく制御装置40が画像解析装置41を備える構成も可能である。以上、本発明の実施形態につき説明したが、本発明の範囲はこれに限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実施することができる。