複数の測定レンジの中の一つの測定レンジで測定対象物のパラメータを測定する測定部と、該測定レンジごとの測定条件を個別に入力設定するための測定条件入力手段と、それぞれの該測定レンジに対応させて該測定条件を記憶するメモリと、測定に用いる該一つの測定レンジを該測定部に設定すると共に、該一つの測定レンジに対応する該測定条件を該メモリから読み込んで、該測定条件で該測定部に測定させる測定制御部とを備えることを特徴とする測定装置。前記測定条件が、測定スピード、測定値の平均回数、及び、測定開始前の期間のうちの少なくとも一つであることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。前記測定条件が前記期間であるときに、該期間が、測定開始トリガから測定用信号の出力を開始するまでの信号遅延期間、該測定用信号の出力の開始から測定を開始するまでの測定遅延期間、及び、該測定開始トリガから測定を開始するまでの総合遅延期間のうちの少なくとも一つであることを特徴とする請求項2に記載の測定装置。例えば、測定装置の一例であるインピーダンス測定装置を用いて、インピーダンスの異なる複数の測定対象物を順に取り換えて測定する検査を、繰り返し行う場合がある。このような検査では、例えば測定値を精度良く安定して測定するために、測定レンジをオートレンジ機能やホールドレンジ機能で設定した後に、測定スピードや平均回数などの測定精度や安定性に関係する測定条件を、手動や制御用のコンピュータで設定してから測定を実行する場合が多い。例えば、測定対象物が10kΩのように比較的大きなインピーダンスの場合、短時間で測定しても比較的精度良く測定できるので、測定スピードを早く設定したり、平均回数を1回又は少ない回数に設定したりして短時間で測定できるように設定する。また、測定対象物が5mΩのように低いインピーダンスの場合、10kΩの測定条件で測定を行うと測定精度がノイズの影響で悪化し測定値の安定性が悪くなるため、測定スピードを遅く設定したり、平均回数を多く設定したりして、測定に時間は掛かるが精度良く安定して測定できる測定条件に設定し直して測定を実行する。このように、測定対象物を取り換えるたびに、測定精度や測定値の安定性に関係する測定条件を設定し直す作業は煩雑であり、設定ミスを生じさせる原因にもなる。また、例えば静電容量の大きなコンデンサやインダクタンスの大きなコイルなどの測定対象物に測定用信号を印加すると、過渡現象などによって測定値が安定するまでに多少時間が掛かる。一方、静電容量の小さなコンデンサやインダクタンスの小さなコイルなどの測定対象物では、過渡現象の時間が短く測定値は比較的早く安定する。そのため、静電容量の大きなコンデンサや静電容量の小さなコンデンサを順に取り換えて測定したり、インダクタンスの大きなコイルやインダクタンスの小さなコイルを順に取り換えて測定したりするときに、測定対象物を交換するたびに、測定用信号の出力を開始してから測定を行うまでの期間測定遅延期間を長くしたり短くしたり設定し直して測定を実行する場合がある。また、測定対象物によっては、例えば測定対象物のインピーダンスの大小によって、測定開始トリガから測定用信号の出力を開始するまでの期間信号遅延期間の長短を、設定し直さなければならない場合がある。このように、測定対象物を取り換えるたびに、測定遅延期間や信号遅延期間のような、測定開始前の期間に関係する測定条件を設定し直す作業は煩雑であり、設定ミスを生じさせる原因にもなる。本発明は前記の課題を解決するためになされたもので、複数の測定レンジのうちの一つの測定レンジで測定対象物のパラメータを測定する測定装置において、測定条件の設定を簡便に行うことのできる測定装置を提供することを目的とする。前記の目的を達成するためになされた、特許請求の範囲の請求項1に記載された測定装置は、複数の測定レンジの中の一つの測定レンジで測定対象物のパラメータを測定する測定部と、該測定レンジごとの測定条件を個別に入力設定するための測定条件入力手段と、それぞれの該測定レンジに対応させて該測定条件を記憶するメモリと、測定に用いる該一つの測定レンジを該測定部に設定すると共に、該一つの測定レンジに対応する該測定条件を該メモリから読み込んで、該測定条件で該測定部に測定させる測定制御部とを備えることを特徴とする。請求項2に記載の測定装置は、請求項1に記載のもので、前記測定条件が、測定スピード、測定値の平均回数、及び、測定開始前の期間のうちの少なくとも一つであることを特徴とする。請求項3に記載の測定装置は、請求項2に記載のもので、前記測定条件が前記期間であるときに、該期間が、測定開始トリガから測定用信号の出力を開始するまでの信号遅延期間、該測定用信号の出力の開始から測定を開始するまでの測定遅延期間、及び、該測定開始トリガから測定を開始するまでの総合遅延期間のうちの少なくとも一つであることを特徴とする。本発明の測定装置によれば、測定レンジごとの測定条件を個別に設定できるので、例えばインピーダンスの異なる複数の測定対象物を順に取り換えて測定する検査を、繰り返し行う場合であっても、従来の測定装置のように測定レンジが変更されるたびに測定条件を設定する必要がない。測定を行う前に測定レンジごとに測定条件を1回設定しておくだけでよいので、測定条件の設定を簡便に行うことができる。測定条件が、測定スピード、測定値の平均回数である場合、測定精度、測定値の安定性を測定レンジに対応させて設定することができる。このため、例えば値の小さな測定レンジでは、測定スピードを遅く設定したり、平均回数を多く設定したりしておくことで、多少測定に時間は掛かるがノイズの影響を受けずに精度良く安定して測定を行い、値の大きな測定レンジでは、ノイズの影響を受けにくいので、測定スピードを速く設定したり、平均回数を少なく設定したりしておくことで、短時間で測定を行うようにすることができる。また、測定条件が、測定開始前の期間である場合、例えば測定対象物のパラメータの大小に起因する過渡現象などの影響を受けずに測定することができる。期間が、測定開始トリガから測定用信号の出力を開始するまでの信号遅延期間、測定用信号の出力の開始から測定を開始するまでの測定遅延期間、及び、測定開始トリガから測定を開始するまでの総合遅延期間の少なくとも一つである場合、測定対象物のパラメータの大小に起因する過渡現象などの影響を一層受けずに、測定することができる。以下、本発明の実施例を詳細に説明するが、本発明の範囲はこれらの実施例に限定されるものではない。本発明を適用する測定装置の一例として、インピーダンス測定装置1の構成を図1に示す。このインピーダンス測定装置1は、測定部2、CPU中央演算処理装置3、メモリ4、タッチパネル10を備え、DUT測定対象物90のパラメータを測定可能に構成されている。測定部2は、例えば同図に示すように、DUT90の両端に接触させたプローブ2a、プローブ2bを介して測定周波数の測定用電流をDUT90に流し、流れた測定電流を検出すると共に、その測定用電流によってDUT90の両端に発生した電圧を検出し、検出した測定用電流及び両端電圧からDUT90のパラメータを、2端子法で測定可能に構成されている。測定部2は、4端子法や公知の他の方法でパラメータを測定するものであってもよい。測定部2が測定可能なパラメータとしては、具体的には例えば、抵抗R、静電容量C、インダクタンスL、複素インピーダンスZ、インピーダンスの絶対値Z以下においてインピーダンスZともいう、インピーダンスの位相角θ、リアクタンスX、複素アドミタンスY、アドミタンスの絶対値|Y|以下においてアドミタンスYともいう、アドミタンスの位相角φ、コンダクタンスG、サセプタンスBであったり、抵抗、コンデンサ、及びコイルを直列接続した直列等価回路における直列等価抵抗Rs、直列等価静電容量Cs、直列等価インダクタンスLsであったり、抵抗、コンデンサ、及びコイルを並列接続した並列等価回路における並列等価抵抗Rp、並列等価静電容量Cp、並列等価インダクタンスLpであったり、QQファクタや損失係数DD=1/Q=tanδであったり、直流抵抗Rdcなどの電気的な特性値である。測定するパラメータは、タッチパネル10の操作により、任意に複数例えば2つ選択可能になっている。測定部2は、入力レベルを適正な検出レベルに増幅又は減衰するために、入力部の増幅度又は減衰度を多段階で切換え可能に構成した複数の測定レンジを有している。測定部2は、測定制御部によって設定された一つの測定レンジで測定対象物のパラメータを測定する。各測定レンジは、一例として、インピーダンスZで規定されている。また、測定レンジは、一例として、測定可能なインピーダンスZの最大値で表されている。各測定レンジで測定可能なインピーダンスZ測定値の範囲は、一例として、100mΩレンジでは0~100mΩ、1Ωレンジでは80mΩ~1Ω、10Ωレンジでは800mΩ~10Ω、300Ωレンジでは8Ω~300Ω、1kΩレンジでは240Ω~1kΩ、3kΩレンジでは800Ω~3kΩ、10kΩレンジでは2.4kΩ~10kΩ、30kΩレンジでは8kΩ~30kΩ、100kΩレンジでは24kΩ~100kΩ、1MΩレンジでは80kΩ~1MΩ、10MΩレンジでは800kΩ~10MΩ、100MΩレンジでは8MΩ~100MΩの範囲である。なお、測定レンジの値は、測定するパラメータの種類にかかわらず常にインピーダンスZで表してもよいし、例えば静電容量Cを測定するときは、1pF、、1μF、1Fのようにパラメータの種類に対応させた単位で表してもよい。CPU3は、メモリ4に記憶されているプログラムに従って動作して、インピーダンス測定装置1の各部の動作を統括的に制御する。また、CPU3は、本発明における測定制御部を兼ねている。CPU3は、測定制御部として、測定に用いる一つの測定レンジを測定部2に設定すると共に、その一つの測定レンジに対応する測定条件をメモリから読み込んで測定部2に設定する。また、CPU3は、タッチパネル10に画像を表示させ、タッチパネル10で操作された内容を判別する。メモリ4は、例えば、プログラムを記憶するROMリードオンリーメモリ、CPU3の作業エリアとなるRAMランダムアクセスメモリ、及び、測定値、測定条件、及び各種設定値を記憶する例えばフラッシュROMなどの書き換え可能な不揮発性メモリいずれも図示せずで構成されている。メモリ4として、書き換え可能な磁気ディスク記録装置であるハードディスクを用いてもよい。タッチパネル10は、表示部5及び操作部6を兼ねており、液晶パネルやCRTなどの表示装置と、タッチパッドなどの位置入力装置とが組み合わされていて、画像を表示すると共に、指や専用ペン等が画面に触れたときに、その触れた画面上の位置情報をCPU3に出力する。なお、表示部5として液晶パネルなどの表示装置を用い、操作部6としてキーボードなどの入力装置を用いてもよい。次に、インピーダンス測定装置1の動作について説明する。インピーダンス測定装置1を動作させるにあたり、まず、測定を行うパラメータなどの各種測定条件を設定する。図2に、タッチパネル10に測定条件の設定画面が表示されている例を示す。この画面は、測定者がタッチパネル10を操作して設定モードを選択したときにCPU3が表示させる。同画面中に表示されている、レンジリスト設定ボタン11が本発明で新たに設けられた操作用のボタンである。レンジリスト表示ボタン11は、前述した各測定レンジで測定を行うときの測定条件を、測定レンジ毎に個別に設定を行うためのボタンである。このレンジリスト設定ボタン11が測定者によってタッチされる触れられると、CPU3は、図3に示すレンジリスト編集画面をタッチパネル10に表示する。図3に示すレンジリスト編集画面では、各測定レンジに対応させて、測定スピード、平均回数、信号遅延期間、及び測定遅延期間それぞれ測定条件の一例が一覧表形式で表示される。同図では、測定レンジの数が多いため、タッチパネル10に一度に全ての測定レンジを表示しきれないので、スクロールバー26を指で上下に移動させて一覧表を上下にスクロールさせることで、所望の測定レンジを表示できるようになっている。ここで、図4に示す測定タイミングチャートを用いて、測定スピード、平均回数、信号遅延期間、及び測定遅延期間について説明する。同図に示すように、信号遅延期間は、測定開始トリガの入力から測定用信号の出力を開始するまでの期間である。また、測定遅延期間は、測定用信号の出力の開始から1回目の測定を開始するまでの期間である。測定は、1回目の測定が終了すると2回目の測定を開始し、2回目の測定が終了すると3回目の測定を開始するというように、平均回数で設定されたn回nは1以上の整数測定を繰り返す。CPU3は、得られたn個の測定値を平均化して最終的な測定値とする。各回の測定は、測定スピード後述するFAST、MED、SLOW、SLOW2で設定されたサンプリング期間測定期間Tで測定を行う。これらの測定条件のうち、測定スピード、平均回数は、測定精度や測定値の安定性に関係する測定条件である。また、信号遅延期間、測定遅延期間は、測定開始前の期間に関係する測定条件である。図3に戻って説明すると、測定者が一覧表中で設定したい測定条件の個所を指でタッチすることで、CPU3は、その測定条件を変更するための測定条件個別設定画面を表示させる。測定スピードでは、測定を行う際のサンプリング期間Tの長短を設定する。例えば、測定レンジ300Ωの測定スピードを変更設定するときには、測定レンジ300Ωで現在測定スピードとして設定されているSLOW2白抜き文字で表示を指でタッチする。これにより、CPU3は、測定条件個別設定画面の一例として、図5に示す測定スピードの個別設定画面を表示させる。図5に示す測定スピードの個別設定画面では、測定レンジ300Ωの測定スピードを選択するためのFASTボタン31a、MEDボタン31b、SLOWボタン31c、SLOW2ボタン31dが表示されている。ボタン31a~31dのいずれかを選択することで、FAST早い、MED中間、通常、SLOW遅い、SLOW2より遅いの4つの中から測定スピードを選択できる。測定スピードを遅くするほど、測定に時間が掛かるようになるが、測定精度や測定値の安定度が良くなる。同図に示すように、一例としてFASTボタン31a白抜き文字で表示を選択すると、CPU3は、メモリ4に記憶された測定レンジ300Ωの測定スピードをSLOW2からFASTに書き換えると共に、図3や図5の測定レンジ300Ωの測定スピードをFASTと画面表示する。測定スピードに対応するサンプリング期間Tは、具体的には、例えば表1に示す算出式で求める。同表に示すように、サンプリング期間Tは、測定スピードで場合分けされるだけではなく、測定周波数の範囲によって場合分けされて算出するようになっている。これは、測定周波数が高くなるとサンプリングする周期の数を多くしても測定期間があまり長くならないこと、及び、測定精度を確保するために測定周波数が高くなるほどサンプリングする周期の数を多くする必要性が有ることの理由による。表1に対応するテーブルは、CPU3が参照可能にメモリ4に予め記憶されている。表中、Tfs=1/測定周波数である。言い換えるとTfは測定周波数の1周期分の期間である。なお、予め設定されたFAST、MED、SLOW、SLOW2の4つの中から測定スピードを選択して設定する例を説明したが、これに限定されず、例えば5ミリ秒のようにサンプリング期間Tを数値で設定したり、例えば8周期のように測定周波数の周期の数で設定したりするようにしてもよい。図5の測定スピードの個別設定画面中のEXITボタン32が指でタッチされると、CPU3は、この画面表示を終了し、設定された測定スピードを反映させて図3に示すレンジリスト編集画面を再度表示する。図3のレンジリスト編集画面に示す平均回数では、測定値の平均化処理を行う回数を設定する。図3の一覧表中の平均回数の数値が指でタッチされると、CPU3は、その測定レンジの平均回数を設定するための平均回数の個別設定画面図示せずをタッチパネル10に表示させる。平均回数の個別設定画面では、平均回数を1~256回のように設定可能な例えば数値キーを表示する。なお、平均回数が1回に設定されたときには、1回だけ測定を行い、平均化処理は行わない。また、図3の一覧表中で信号遅延期間や測定遅延期間の数値が指でタッチされると、CPU3は、その測定レンジの信号遅延期間や測定遅延期間を設定するために数値キーを表示した信号遅延期間の個別設定画面図示せずや測定遅延期間の個別設定画面図示せずをタッチパネル10に表示させる。このように、測定レンジ毎に個別に、測定スピード、平均回数、信号遅延期間、測定遅延期間を設定することができる。設定されたこれら測定条件は、CPU3が、それぞれの測定レンジに対応させて、例えば図3の一覧表のようなテーブル形式で、メモリ4に記憶する。これらの値を個別に入力設定するために表示した図2のレンジリスト設定ボタン11、図3のレンジリスト編集画面、図5の測定スピードの個別設定画面や、平均回数の個別設定画面不図示、信号遅延期間の個別設定画面不図示、測定遅延期間の個別設定画面不図示などの測定条件個別設定画面、画面を表示させたCPU3、及びタッチパネル10が、本発明における測定条件入力手段に相当する。なお、測定スピード、平均回数、信号遅延期間、測定遅延期間を設定する例について説明したが、これらを全て設定できるようにしてもよいし、これらの中のいずれか一つ又は複数を設定できるようにしてもよい。また、測定を開始するまでの時間に関係する測定条件として、測定開始トリガから直ちに又は所定の時間経過後に測定用信号の出力を開始するようにしておき、測定開始トリガから測定を開始するまでの期間総合遅延期間を各測定レンジで個別に設定できるようにしてもよい。図3のEXITボタン27が指でタッチされると、CPU3は、レンジリスト編集画面の表示を終了し、図2の測定条件の設定画面を表示する。図2の測定条件の設定画面に表示されている、パラメータ設定ボタン12a、周波数設定ボタン12b、信号レベル設定ボタン12c、レンジ設定ボタン12d、トリガ設定ボタン12e、リミット設定ボタン12f、EXITボタン13は、従来のインピーダンス測定装置でも表示される操作用のボタンである。パラメータ設定ボタン12aは、インピーダンス測定装置1測定部2によって測定が行われるパラメータを設定するためのボタンである。パラメータ設定ボタン12aが指でタッチされると、CPU3は、測定可能なパラメータを選択可能に表示したパラメータ選択画面図示せずを表示する。ここでは、すでにパラメータ選択画面で、インピーダンスZ、及びインダクタンスLの2種のパラメータが選択されている例として、それを示すZの測定パラメータ表示14、及びLの測定パラメータ表示16が表示されている。周波数設定ボタン12bは、測定周波数を設定するためのボタンである。周波数設定ボタン12bが測定者によりタッチされると、CPU3は、数値キーなどを表示した周波数設定画面図示せずを表示し、測定者によって周波数が設定される。信号レベル設定ボタン12cは、測定用信号のレベルを設定するためのボタンである。信号レベル設定ボタン12cが測定者によりタッチされると、CPU3は、数値キーなどを表示した信号レベル設定画面図示せずを表示し、測定者によって電圧値などで信号用信号のレベルが設定される。レンジ設定ボタン12dは、オートレンジ機能で測定を行うか、ホールドレンジ機能で測定を行うかを設定するためのボタンである。レンジ設定ボタン12dが測定者によりタッチされると、CPU3は、オートレンジ機能とホールドレンジ機能とを選択可能なボタン、及びホールドレンジ機能のときに何れのレンジで測定を行うか測定レンジを選択可能なボタンを表示したレンジ設定画面図示せずを表示する。トリガ設定ボタン12eは、測定を開始するトリガを外部トリガとするか、内部トリガとするかを選択可能なトリガ設定画面図示せずを表示する。リミット設定ボタン12fは、DUT90に流す測定用電流の最大値リミット値やDUT90に印加する電圧の最大値リミット値を設定するためのボタンである。リミット値を設定しておくことで、DUT90の破損を防止することができる。CPU3は、各ボタン12a~12fで設定されたパラメータや値などをメモリ4に記憶させる。以上で、測定条件の設定が終了する。設定が終了したときに、測定者は、図2に示されるEXITボタン13を指でタッチする。図2のEXITボタン13がタッチされると、CPU3は、測定条件の設定画面の表示を終了し、例えば図6に示す測定画面を表示する。図6の測定画面は、DUT90のパラメータの測定を実行するための画面である。CPU3は、メモリ4から読み込んだ測定条件で測定を行う。ホールドレンジ機能が設定されているときには、CPU3は、測定制御部として、測定に用いる一つの測定レンジを測定部2に設定すると共に、この一つの測定レンジに対応する測定条件測定スピード、平均回数、信号遅延期間、測定遅延期間をメモリ4から読み込んで、読み込んだ測定条件で測定部2に測定させる。続いて、CPU3は、得られたn個の測定値を平均化処理して、最終的な測定値を算出し、例えば同図に示すように、インピーダンスZの測定値表示15やインダクタンスLの測定値表示17のように、タッチパネル10に表示させる。また、CPU3は、DUT90に流れた測定用電流や発生した両端電圧を、電流電圧表示18として表示させてもよい。また、CPU3は、設定された各種測定条件を、測定条件表示41としてタッチパネル10に表示してもよい。ホールドレンジ機能で、他の一つの測定レンジが設定されたときには、CPU3は、他の一つの測定レンジで測定部2に測定させると共に、他の一つの測定レンジに対応する測定条件測定スピード、平均回数、信号遅延期間、測定遅延期間をメモリ4から読み込んで、読み込んだ測定条件で測定部2に測定させる。したがって、従来の測定装置のように、測定レンジを切換えるたびに、測定条件を手動で設定する必要がない。また、オートレンジ機能が設定されているときには、CPU3は、測定制御部として、例えばインピーダンスZが最大の測定レンジから徐々に小さな測定レンジに切り換えつつ測定部2に測定させるなどして、入力レベル測定したインピーダンスZの測定に最も適した一つの測定レンジを選択する。測定制御部は、選択した一つの測定レンジで測定部2に測定値を測定させる。このとき、測定制御部は、選択した一つの測定レンジに対応する測定条件測定スピード、平均回数、信号遅延期間、測定遅延期間をメモリ4から読み込んで、読み込んだ測定条件で測定部2に測定させる。したがって、従来の測定装置のように、オートレンジ機能で測定レンジが決定されるたびに、測定条件を手動で設定する必要がない。なお、各測定レンジに対応する測定条件を手動で設定する例について説明したが、インピーダンス測定装置1に制御用のコンピュータを有線又は無線で接続し、このコンピュータから測定条件をデータで送信することでインピーダンス測定装置1に設定するようにしてもよい。また、測定装置の例として、インピーダンス測定装置1について説明したが、複数の測定レンジを有して、一つの測定レンジで測定を行う測定装置であれば、これに限定されず、例えば、デジタルマルチメータ、電流測定装置、電圧測定装置、電力測定装置、LCRメータ、抵抗測定装置、静電容量測定装置、Qメータ、絶縁抵抗測定装置などに本発明を適用してもよい。