被測定デバイスの出力信号が第1周波数から第2周波数にステップするときに、上記被測定デバイスの上記出力信号を表す瞬時電圧波形に基いて、上記被測定デバイスの位相過渡応答を測定する方法であって、上記瞬時電圧波形に基いて瞬時位相波形を計算するステップと、上記瞬時電圧波形に基いて瞬時周波数波形を計算するステップと、ユーザの手間なしに、上記瞬時周波数波形に基いて上記第2周波数を自動的に推定するステップと、上記第2周波数の推定値に基いて上記瞬時位相波形をフラット化するステップとを具える位相過渡応答測定方法。上記瞬時位相波形をフラット化するステップが、理想瞬時位相波形を生成するステップと、上記瞬時位相波形と上記理想瞬時位相波形の差分を取ってフラット化瞬時位相波形を生成するステップとを有することを特徴とする請求項1記載の位相過渡応答測定方法。被測定デバイスの出力信号が第1周波数から第2周波数にステップするときに、上記被測定デバイスの上記出力信号を表す瞬時電圧波形に基いて、上記被測定デバイスの位相過渡応答を測定する方法であって、上記瞬時電圧波形に基いて瞬時位相波形を計算するステップと、ユーザの手間なしに、上記瞬時位相波形に基いて理想瞬時位相波形を自動的に生成するステップと、上記理想瞬時位相波形に基いて上記瞬時位相波形をフラット化するステップとを具える位相過渡応答測定方法。どのくらい早く出力信号が第2周波数に落ち着くかを測定する必要性に加えて、ユーザは、更には、どのくらい早く出力信号が安定した位相に落ち着くか位相セトリングタイムとも呼ばれるも測定する必要がある。試験測定装置によっては、PLLの出力信号を処理し、図2に示すような出力信号の瞬時位相instantaneousphase:位相過渡応答とも呼ばれるを表示できるものもある。しかし、こうした位相過渡応答に基づいて位相セトリングタイムを測定するのは難しい。なぜなら、瞬時位相は累積されラップされwrap:-π~πの間で折り畳まれてしまい、位相が沈静化する落ち着く微妙な振る舞いが隠されてしまうからである。位相が沈静化する微妙な振る舞いを明らかにするため、試験測定装置によっては位相過渡応答を処理して、図3に示すようなフラット化したflattened:平らにした位相過渡応答を供給するものもある。しかし、そのようにするためには、これら全ての試験測定装置において、ユーザが何らかの手を加える必要がある。ある試験測定装置では、ユーザがマニュアルで第2周波数値を入力する必要がある。別の試験測定装置では、位相過渡応答が安定した位相に沈静化するとユーザが考える位相過渡応答上の点を、ユーザがマニュアルで特定する必要がある。どちらの場合も、ユーザが介入するために時間がかかり、ユーザにとって不便である。こうしたことから、ユーザの手間介入なしに、被測定システムの位相過渡応答を測定する方法が望まれている。そこで、本発明の実施形態では、ユーザの手間なしにフラット化位相過渡応答を自動で供給する被測定デバイスの位相過渡応答を測定する方法を提示する。本発明は、第1の観念としては、被測定デバイスの出力信号が第1周波数から第2周波数にステップするときに、被測定デバイスの出力信号を表す瞬時電圧波形に基いて、被測定デバイスの位相過渡応答を測定する方法であって、上記瞬時電圧波形に基いて瞬時位相波形を計算するステップと、上記瞬時電圧波形に基いて瞬時周波数波形を計算するステップと、ユーザの手間なしに、上記瞬時周波数波形に基いて上記第2周波数を自動的に推定するステップと、上記第2周波数の推定値に基いて上記瞬時位相波形をフラット化するステップとを具えている。本発明の第2観念としては、上記第1観念における瞬時位相波形を計算するステップが、π/2ラジアンだけ位相がシフトした瞬時電圧波形のレプリカ複製を生成するステップと、上記瞬時電圧波形、位相シフトレプリカ及びアークタンジェント関数に基づいて瞬時位相波形を計算するステップとを有していても良い。本発明の第3観念としては、上記第1観念における瞬時周波数波形を計算するステップが、瞬時位相波形を微分して瞬時周波数波形を生成するステップを有していても良い。本発明の第4観念としては、上記第1観念における自動的に推定するステップが、上記出力信号が上記第2周波数に落ち着いた沈静期間settledperiodに対応する上記瞬時周波数波形の区間の位置を特定するステップと、上記沈静期間内の全ポイントの平均周波数値を計算して第2周波数の推定値を生成するステップとを有していても良い。本発明の第5観念としては、上記第4観念における位置特定ステップが、周波数値が特定の許容範囲内の周波数値に等しい連続するポイントのグループを特定するステップを含むようにしても良い。本発明の第6観念としては、上記第1観念における瞬時位相波形をフラット化するステップが、理想瞬時位相波形を生成するステップと、瞬時位相波形から理想瞬時位相波形を引き算してフラット化瞬時位相波形を生成するステップとを有していても良い。本発明の第7観念としては、上記第1観念において、フラット化瞬時位相波形を最適化するために、第2周波数の推定値を調整するステップを更に具えていても良い。本発明の第8観念は、第1観念に従って被測定デバイスの位相過渡応答を測定する試験測定装置である。本発明の第9の観念は、被測定デバイスの出力信号が第1周波数から第2周波数にステップするときに、被測定デバイスの出力信号を表す瞬時電圧波形に基いて、被測定デバイスの位相過渡応答を測定する方法であって、上記瞬時電圧波形に基いて瞬時位相波形を計算するステップと、ユーザの手間なしに、上記瞬時位相波形に基いて理想瞬時位相波形を自動的に生成するステップと、上記理想瞬時位相波形に基いて上記瞬時位相波形をフラット化するステップとを具えるようにしても良い。本発明の目的、効果、その他の新規な点は、特許請求の範囲及び図面と合わせて以下の詳細な説明を読むことによって、自ずと明らかとなろう。図4を参照すると、被測定デバイスDUT405は、DUT内部の分周回路図示せずをプログラムすることで、例えば、第1周波数F1から第2周波数F2にステップする、つまり、ポンと飛ぶhop:ホップするようにプログラムされる。応答においては、DUT405は、図5に示すような出力信号500を生成し、これは試験測定装置410に入力される。ここで図6を参照すると、試験測定装置410は、この出力信号をアナログデジタル変換回路ADC605を使ってデジタイズし、DUT405の出力信号の瞬時電圧瞬時電圧波形とも呼ぶを表す複数のデジタルサンプルを生成する。プロセッサ610は、瞬時電圧波形を種々のやり方で処理し、処理の結果は、表示デバイス615上に表示したり、記憶デバイス620内に蓄積したりしても良い。本発明の実施形態では、プロセッサ610が、後述のように図7に示すステップを実行することによって、瞬時位相波形を処理する。ステップ1:瞬時電圧波形に基いて、瞬時位相波形を計算する。実施形態によっては、このステップは、次のステップも含んでいる:1図8に示すようにπ/2ラジアンだけ位相シフトしている瞬時電圧波形500のレプリカ複製800を生成する。瞬時電圧波形500は、同相I:InPhase成分を表し、位相シフトのレプリカは直交Q:quadrature成分を表す。2図9に示すように、次の数式1を用いて瞬時位相波形900を計算する。続くステップの説明を、より簡潔に、従って、より理解しやすくするため、瞬時位相波形はアンラップunwrap:位相接続処理され、図10に示すようにアンラップunwrapped瞬時位相波形1000が形成される。ここでは簡単のため、これを測定位相ランプramp:傾斜と呼ぶ。しかし、以下のステップは、このアンラッピング位相接続処理ステップなしで実行しても良い。ステップ2:瞬時電圧波形に基いて、瞬時周波数波形を計算する。実施形態によっては、このステップは、図11に示すような瞬時周波数波形1100を生成するために、測定位相ランプを微分するステップを含む。周波数は、以下の例で説明するように、位相の導関数微分に等しい:測定位相ランプの値が1マイクロ秒の時間インターバルにつき20πラジアンだけ増加すると仮定する。測定位相ランプの導関数は、時間変化で割り算した位相変化に等しい、つまり、20πラジアン/1マイクロ秒=20πメガラジアン/秒である。2πラジアンは1サイクルに等しいので、これは、20π/2πメガサイクル/秒、つまり、10MHzに等しい。瞬時周波数波形は、他の種々の方法で計算して良いことが理解されよう。例えば、瞬時周波数波形は、瞬時電圧波形の各サイクルの周期を測定し、各周期の測定値の逆数を計算し、これら結果を補間することによって実質的に同様な瞬時周波数波形を生成するようにしても良い。ステップ3:ユーザの手間なしに、瞬時周波数波形に基いて第2周波数F2ESTを自動的に推定する。実施形態によっては、このステップが、次のステップを含む:1出力信号が第2周波数に落ち着いた期間に対応する瞬時周波数波形の部分1105沈静期間とも呼ぶの位置を決定する。沈静期間の位置は、ホップした後の瞬時周波数波形のポイントに関し、特定の許容範囲1110内の周波数値と同じものと等しい周波数値の連続する全ポイントのグループを特定することによって定めることができる。例えば、沈静期間は、1GHzプラス/マイナス1MHz内、つまり、10GHzの0.1内の周波数値の連続するポイントのグループから構成しても良い。2沈静期間内の瞬時周波数波形の全てのポイントの平均周波数値を計算し、第2周波数の推定値を生成する。このようなやり方で、ユーザの手間無しに、第2周波数は自動的に推定される。ステップ4:第2周波数の推定値に基いて瞬時位相波形をフラット化する。実施形態によっては、このステップが次のステップを含んでいる。:1図12に示すように、理想アンラップ瞬時位相波形ここでは簡単のため、理想位相ランプとも呼ぶ1200を生成する。理想位相ランプは、2π×F2ESTラジアン/秒の傾斜がある直線である。理想位相ランプのy切片は、任意の値に設定されて良いが、下記で明らかにする理由のために、理想位相ランプの最終値が、測定位相ランプの最終値と等しくなるようなy切片を設定するのが有益である。2測定位相ランプから理想位相ランプを引き算し又は両者の差分を取る、図13に示すようにアンラップフラット化瞬時位相波形ここでは簡単のため、フラット化位相ランプとも呼ぶ1300を生成する。オプションで、フラット化位相ランプをラップwrap:-π~πの間に折り畳むし、図14に示すように、フラット化瞬時位相波形1400を生成しても良い。フラット化瞬時位相波形は、理想位相ランプの最終値が測定位相ランプの最終値と等しいので、0ゼロラジアンに落ち着く。フラット化瞬時位相波形は、沈静期間に対応する区間において平坦フラットであるつまり、フラット化される。これは、その期間では、理想位相ランプの位相累積レートと、測定位相ランプの位相累積レートとが等しいからである。しかし、フラット化瞬時位相波形は、他の区間では測定位相ランプの位相累積レートが異なるので、平坦フラットではない。実施形態によっては、オプションでステップ5が設けられ、これにおいて、フラット化位相過渡応答を最適化するために、ユーザ又は試験測定装置615が第2周波数の推定値を微調整する。つまり、ユーザ又は試験測定装置は、フラット化瞬時位相波形の沈静期間が可能な限り平坦フラットで期間の長さが最大になるまで推定第2周波数をわずかに増減させても良い。この補足的なステップは、瞬時周波数波形にノイズが多いか、沈静期間が非常に短い場合に、正確な周波数測定を提供するのに特に有用である。実施形態によっては、試験測定装置410が位相過渡応答の位相セトリングタイムを測定しても良い。図15を参照すると、位相セトリングタイムは、時間基準ポイント1510と沈静期間1515の開始との間の時間期間1505に等しい。時間基準ポイント1510は、試験測定装置で検出されるトリガイベントか、又は、ユーザが選択するポイントとしても良い。沈静期間の位置は、ホップした後のフラット化瞬時位相波形のポイントに関し、その位相値が特定の許容範囲1520内の位相値と同じものに等しい連続近接する全ポイントを特定することによって決定される。例えば、沈静期間は、位相値がゼロラジアンのプラス/マイナス1ミリラジアン内にある連続するポイントのグループから構成しても良い。上述の実施形態は、図示したような1つの周波数ホップがある信号での動作に限定されるものではなく、複数の周波数ホップがある信号についても適用可能である。例えば、複数の周波数ホップがある信号を表す瞬時電圧波形があるとすると、試験測定装置は:ステップ1瞬時電圧波形に基いて瞬時位相波形を計算する。ステップ2瞬時電圧波形に基いて瞬時周波数波形を計算する。ステップ3瞬時周波数波形に基き、ホップ後の、つまり、複数の到達する周波数それぞれの推定値を、次の1及び2によって計算する:1出力信号が落ち着いて到達する複数の周波数それぞれの沈静期間に対応する瞬時周波数波形の複数の区間それぞれの位置を特定し、2各沈静期間内の全ポイントの平均周波数値を計算し、到達周波数それぞれの推定値を生成する。ステップ4複数の到達周波数の推定値に基づき、瞬時位相波形の沈静期間をそれぞれフラット化する。上述の実施形態では、理想位相ランプは、瞬時周波数波形から定めた第2周波数の推定値に基づいて生成されている。これに代わる実施形態としては、理想位相ランプを測定位相ランプから直接生成するもので、これによれば、瞬時周波数波形を計算する必要がない。この実施形態では、線形最小2乗法のような曲線に合わせるアルゴリズムが、測定位相ランプの沈静期間に直線を合わせるのに用いられ、そして、その直線は沈静期間以外については外挿extrapolate:既知の部分ここでは沈静期間から未知の部分を推定されて理想位相ランプを生成する。沈静期間の位置は、測定位相ランプのポイントの値が、特定許容範囲内の直線の値と等しい測定位相ランプの連続する全ポイントのグループを特定することによって定められる。本願で記述した方法は、PLLの位相過渡応答を測定するのに役立つだけでなく、電圧制御発信器、ミキサなどのような周波数がホップする出力信号を生成する他のデバイス又はシステムの位相過渡応答を測定するのにも役立つことが理解されよう。種々の実施形態では、プロセッサ610は、ハードウェア、ソフトウェア又はこれらの2つの組合せで実現しても良く、更に、これには、汎用のマイクロプロセッサ、デジタルシグナルプロセッサDSP、特定用途向け集積回路ASIC、フィールドプログラマブルゲートアレイFPGAなどを含んでも良い。更に、上述の方法は、試験測定装置のプロセッサによって実行されると記載したが、別の実施形態としては、瞬時電圧波形のデータを別のコンピュータ図示せずに移し、そのコンピュータのプロセッサで上述の方法を実行するようにしても良い。上述の説明から、本願発明は、位相過渡応答の測定において、大きな進歩があることが理解されよう。説明のため、本発明の特定の実施形態を図示し、記述してきたが、本発明の主旨を離れることなく種々の変更が可能であることが理解されよう。