"撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる見積手段と、予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する計算手段とを備えたX線CT装置。前記関係は、前記所定の条件下での関係であり、前記計算手段は、前記所定の条件下での前記関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量に対応する被曝線量を特定し、該特定された被曝線量に前記所望のスキャン条件によるファクタを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出する請求項1に記載のX線CT装置。前記計算手段は、前記特定された被曝線量に、前記所望のスキャン条件によるファクタと、所望のゲインとを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出する請求項2に記載のX線CT装置。前記ゲインは、該X線CT装置により計算される被曝線量と、他のX線CT装置により実質的に同一の条件で計算される被曝線量との差分を縮小するように決定される請求項3に記載のX線CT装置。前記特徴量は、画像ノイズのレベルを表す指標である請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のX線CT装置。前記指標は、前記撮影対象の断層画像における画素値の分散または標準偏差である請求項5に記載のX線CT装置。前記データは、前記撮影対象のスカウトスキャンにより得られたデータである請求項5または請求項6に記載のX線CT装置。前記特徴量は、前記撮影対象の断面積を、同一の条件下での被曝線量が等しくなるように、アクリルまたは他の所定の物質で構成される物体の断面積に換算した値を表す指標である請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のX線CT装置。前記指標は、前記撮影対象の断層画像における規格化された画素値の総和である請求項8に記載のX線CT装置。前記データは、前記撮影対象のヘリカルスキャン方式またはアキシャルスキャン方式によるスカウトスキャンにより得られたデータである請求項8または請求項9に記載のX線CT装置。前記データは、前記撮影対象に対して過去に行われたX線CTスキャンにより得られたデータである請求項8または請求項9に記載のX線CT装置。前記関係は、径の大きさが互いに異なる複数の円柱状のファントムに対してX線CTスキャンを実際に行って得られたものである請求項1から請求項11のいずれか一項に記載のX線CT装置。撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる第1のステップと、予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記第1のステップにより見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する第2のステップとを備えた被曝線量計算方法。前記関係は、前記所定の条件下での関係であり、前記第2のステップは、前記所定の条件下での前記関係を参照して、前記第1のステップにより見積もられた特徴量に対応する被曝線量を特定し、該特定された被曝線量に前記所望のスキャン条件によるファクタを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出するステップである請求項13に記載の被曝線量計算方法。前記第2のステップは、前記特定された被曝線量に、前記所望のスキャン条件によるファクタと、所望のゲインとを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出するステップである請求項14に記載の被曝線量計算方法。前記ゲインは、該X線CT装置により計算される被曝線量と、他のX線CT装置により実質的に同一の条件で計算される被曝線量との差分を縮小するように決定される請求項15に記載の被曝線量計算方法。前記特徴量は、画像ノイズのレベルを表す指標である請求項13から請求項16のいずれか一項に記載の被曝線量計算方法。前記特徴量は、前記撮影対象の断面積を、同一の条件下での被曝線量が等しくなるように、アクリルまたは他の所定の物質で構成される物体の断面積に換算した値を表す指標である請求項13から請求項16のいずれか一項に記載の被曝線量計算方法。前記関係は、径の大きさが互いに異なる複数の円柱状のファントムに対してX線CTスキャンを実際に行って得られたものである請求項13から請求項18のいずれか一項に記載の被曝線量計算方法。コンピュータを、撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる見積手段と、予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する計算手段として機能させるためのプログラム。しかしながら、撮影対象の大きさは様々であるにもかかわらず、基準となるファントムの大きさは上記の2種類だけである。そのため、大きな人も、小さな人も、適用されるファントムと、設定されたスキャン条件、例えば、管電圧、管電流、X線照射時間、ヘリカルスキャンの場合にはヘリカルピッチ等が同じであれば、同じ被曝線量が算出されることになる。つまり、撮影対象の大きさが被曝線量にうまく反映されず、適正な被曝線量が算出されないおそれがある。このような事情により、X線CTスキャンによる被曝線量の計算において、撮影対象の大きさをより反映させることを可能にする技術が望まれている。第1の観点の発明は、撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータdataに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる見積手段と、予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する計算手段とを備えたX線CT装置を提供する。第2の観点の発明は、前記関係が、前記所定の条件下での関係であり、前記計算手段が、前記所定の条件下での前記関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量に対応する被曝線量を特定し、該特定された被曝線量に前記所望のスキャン条件によるファクタを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出する上記第1の観点のX線CT装置を提供する。第3の観点の発明は、前記計算手段が、前記特定された被曝線量に、前記所望のスキャン条件によるファクタと、所望のゲインgainとを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出する上記第2の観点のX線CT装置を提供する。第4の観点の発明は、前記ゲインが、該X線CT装置により計算される被曝線量と、他のX線CT装置により実質的に同一の条件で計算される被曝線量との差分を縮小するように決定される上記第3の観点のX線CT装置を提供する。第5の観点の発明は、前記特徴量が、画像ノイズnoiseのレベルlevelを表す指標である上記第1の観点から第4の観点のいずれか一つの観点のX線CT装置を提供する。第6の観点の発明は、前記指標が、前記撮影対象の断層画像における画素値の分散または標準偏差である上記第5の観点のX線CT装置を提供する。第7の観点の発明は、前記データが、前記撮影対象のスカウトスキャンscoutscanにより得られたデータである上記第5の観点または第6の観点のX線CT装置を提供する。第8の観点の発明は、前記特徴量が、前記撮影対象の断面積を、同一の条件下での被曝線量が等しくなるように、アクリルまたは他の所定の物質で構成される物体の断面積に換算した値を表す指標である上記第1の観点から第4の観点のいずれか一つの観点のX線CT装置を提供する。第9の観点の発明は、前記指標が、前記撮影対象の断層画像における規格化された画素値の総和である上記第8の観点のX線CT装置を提供する。第10の観点の発明は、前記データが、前記撮影対象のヘリカルスキャンhelicalscan方式またはアキシャルスキャンaxialscan方式によるスカウトスキャンにより得られたデータである上記第8の観点または第9の観点のX線CT装置を提供する。第11の観点の発明は、前記データが、前記撮影対象に対して過去に行われたX線CTスキャンにより得られたデータである上記第8の観点または第9の観点のX線CT装置を提供する。第12の観点の発明は、前記関係が、径の大きさが互いに異なる複数の円柱状のファントムに対してX線CTスキャンを実際に行って得られたものである上記第1の観点から第11の観点のいずれか一つの観点のX線CT装置を提供する。第13の観点の発明は、撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる第1のステップstepと、予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記第1のステップにより見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する第2のステップとを備えた被曝線量計算方法を提供する。第14の観点の発明は、前記関係が、前記所定の条件下での関係であり、前記第2のステップが、前記所定の条件下での前記関係を参照して、前記第1のステップにより見積もられた特徴量に対応する被曝線量を特定し、該特定された被曝線量に前記所望のスキャン条件によるファクタを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出するステップである上記第13の観点の被曝線量計算方法を提供する。第15の観点の発明は、前記第2のステップが、前記特定された被曝線量に、前記所望のスキャン条件によるファクタと、所望のゲインとを乗算して、前記所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を算出するステップである上記第14の観点の被曝線量計算方法を提供する。第16の観点の発明は、前記ゲインが、該X線CT装置により計算される被曝線量と、他のX線CT装置により実質的に同一の条件で計算される被曝線量との差分を縮小するように決定される上記第15の観点の被曝線量計算方法を提供する。第17の観点の発明は、前記特徴量が、画像ノイズのレベルを表す指標である上記第13の観点から第16の観点のいずれか一つの観点の被曝線量計算方法を提供する。第18の観点の発明は、前記特徴量が、前記撮影対象の断面積を、同一の条件下での被曝線量が等しくなるように、アクリルまたは他の所定の物質で構成される物体の断面積に換算した値を表す指標である上記第13の観点から第16の観点のいずれか一つの観点の被曝線量計算方法を提供する。第19の観点の発明は、前記関係が、径の大きさが互いに異なる複数の円柱状のファントムに対してX線CTスキャンを実際に行って得られたものである上記第13の観点から第18の観点のいずれか一つの観点の被曝線量計算方法を提供する。第20の観点の発明は、コンピュータcomputerを、撮影対象に対して本スキャン前に行われたX線による撮影により得られたデータに基づいて、所定のスキャン条件下で前記撮影対象のX線CTスキャンを行った場合に得られる画像の画質または画素値に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関がある特徴量を見積もる見積手段と、予め求められた前記特徴量と被曝線量との関係を参照して、前記見積手段により見積もられた特徴量と、前記所定のスキャン条件とに基づいて、設定された所望のスキャン条件でX線CTスキャンを行った場合の前記撮影対象の被曝線量を計算する計算手段として機能させるためのプログラムを提供する。ここで、所定のスキャン条件には、例えば、X線管の管電圧、X線管の管電流mA;ミリアンペアとX線照射時間s;秒との積で定義される線量mAsで表すことがあるなどが含まれる。また、ファクタとしては、例えば、X線管の管電流や線量mAsなどを用いて規定される重み係数を考えることができる。また、スカウトスキャンとは、本スキャン前に行われる、本スキャンよりも低線量のX線を用いたスキャンである。スカウトスキャンとしては、例えば、X線源を回転させないで撮影対象に対して相対直線移動させながら、本スキャンよりも低線量のX線を照射する撮影方式や、低線量のX線を用いたヘリカルスキャンまたはアキシャルスキャンによる撮影方式などが考えられる。上記観点の発明によれば、設定されたスキャン条件に応じて、被曝線量と相関関係にある画像の画質または画素値に係る特徴量を特定し、被曝線量とその特徴量との関係を参照して、被曝線量を算出するので、計算の基準になる値を連続的あるいは多段階的に取ることができ、撮影対象の大きさがより反映された被曝線量を計算することができる。以下、発明の実施形態について説明する。第1の実施形態図1は、本実施形態によるX線CT装置の構成を概略的に示す図である。X線CT装置100は、操作コンソールconsole1、撮影テーブルtable10、および走査ガントリgantry20を備えている。操作コンソール1は、操作者からの入力を受け付ける入力装置2と、被検体の撮影を行うための各部の制御や画像を生成するためのデータ処理などを行う中央処理装置3と、走査ガントリ20で取得したデータを収集するデータ収集バッファbuffer5と、画像を表示するモニタmonitor6と、プログラムやデータなどを記憶する記憶装置7とを備えている。撮影テーブル10は、被検体40を載せて走査ガントリ20の開口部に搬送するクレードルcradle12を備えている。クレードル12は、撮影テーブル10に内蔵するモータmotorで昇降および水平直線移動される。なお、ここでは、被検体40の体軸方向すなわちクレードル12の水平直線移動方向をz方向、鉛直方向をy方向、z方向およびy方向に垂直な水平方向をx方向とする。走査ガントリ20は、回転部15と、回転部15を回転可能に支持する本体部20aとを有する。回転部15には、X線管21と、X線管21を制御するX線コントローラcontroller22と、X線管21から発生したX線ビームbeam81をコリメートcollimateするコリメータcollimator23と、被検体40を透過したX線ビーム81を検出するX線検出器24と、X線検出器24の出力を投影データに変換して収集するデータ収集装置DAS;DataAcquisitionSystem25と、X線コントローラ22,コリメータ23,DAS25の制御を行う回転部コントローラ26とが搭載されている。本体部20aは、制御信号などを操作コンソール1や撮影テーブル10と通信する制御コントローラ29を備えている。回転部15と本体部20aとは、スリップリングslipring30を介して電気的に接続されている。図2は、本実施形態によるX線CT装置におけるスキャンの実行に係る部分の機能ブロック図である。また、図3は、本実施形態によるX線CT装置における被曝線量の計算方法を概念的に示す図である。本実施形態によるX線CT装置は、図2に示すように、スカウトデータscoutdata取得部101、スキャン条件設定部102、画像ノイズ見積部103見積手段、基準被曝線量特定部104計算手段、推定被曝線量算出部105、CTスキャンデータscandata取得部106、画像再構成部107、および画像表示制御部108を備えている。スカウトデータ取得部101は、撮影テーブル10および走査ガントリ20を制御することにより、所定のスカウトスキャン条件SCで被検体40の撮影部位撮影対象に対してスカウトスキャンを行って、スカウトデータPSを取得する。スカウトスキャンとは、本スキャン前に行う予備的なスキャンである。スカウトスキャンとしては、例えば、X線管20のビュー角度を一定にして被検体40または走査ガントリ20をz方向に移動させながら、本スキャンよりも低線量のX線ビームを被検体40に照射して投影データを収集するスキャンが挙げられる。また例えば、本スキャンよりも低い線量のX線ビームによるヘリカルスキャンが挙げられる。スキャン条件設定部102は、操作者の操作に応じて、本スキャンに用いる所望のスキャン条件を設定する。スキャン条件には、スキャン範囲、X線管の管電圧、管電流、ガントリ1回転時間、ヘリカルスキャンの場合にはヘリカルピッチhelicalpitchなどのスキャンパラメータscanparameterが含まれる。なお、これらのスキャンパラメータから、撮影対象をスキャンする際の、設定管電圧KVと、管電流とX線照射時間との積である設定線量realmAsが定まる図3参照。画像ノイズ見積部103は、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが所定の基準線量refmAsである条件下で、撮影部位をスキャンした場合に得られる画像の画像ノイズのレベルを表す指標値NIを見積もる。なお、当該画像は、例えば、設定されたスキャン範囲内の代表的なスライスsliceに対応する断層画像である。また、所定の基準線量refmAsは、例えば100mAsである。設定管電圧KVは、例えば120kVである。ここでは、画像ノイズ見積部103は、設定管電圧KV,スカウトスキャン条件SC、スカウトデータSDを基に、CT自動露出機構CT-AECの機能を利用して、画像ノイズの指標値NIを見積もる図3参照。CT自動露出機構は、設定管電圧KV、スカウトスキャン条件SC、スカウトデータSD、および所望の画像ノイズの指標値に基づいて、所望の画像ノイズの画像を得るためのスキャン条件として、管電圧が設定管電圧KVであるときの管電流、例えば体軸方向や回転軸方向における管電流の変調曲線を求めることができる。したがって、このCT自動露出機構のアルゴリズムalgorithmを利用すれば、設定管電圧KV、スカウトスキャン条件SC、スカウトデータSD、基準線量refmAsから、逆に、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsであるスキャン条件下で撮影部位をスキャンして得られる画像の画像ノイズの指標値NIを求めることができる。なお、画像ノイズの指標値NIとしては、例えば、断層画像における画素値の分散または標準偏差を考えることができる。基準被曝線量特定部104は、画像ノイズの指標値NIに基づいて、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsであるスキャン条件下で撮影部位をスキャンしたときの撮影対象の被曝線量を、指標値NIの関数fNIとして特定する図3参照。一般に、所定のスキャン条件下で撮影対象をスキャンした場合に、得られた画像の画像ノイズのレベルと、撮影対象の被曝線量との間には、相関関係があることが知られている。そこで、予め、管電圧ごとに、線量mAsが基準線量refmAsであるスキャン条件下での、画像ノイズの指標値NIと撮影対象の被曝線量との関係K1を求め、これらの関係K1を基準被曝線量特定部104に記憶させておく。基準被曝線量特定部104は、これらの関係K1のうち、設定管電圧KVに対応する関係K1KVを参照し、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsであるスキャン条件下での画像ノイズの指標値NIに対応する被曝線量を、被曝線量基準値fNIとして特定する。なお、上記関係K1は、例えば、互いに異なる複数のファントムに対して実際にX線CTスキャンを行い、そのときの被曝線量の実測結果を基に求める。これら複数のファントムは、例えば、アクリル製で円柱形状を有しており、一般に、16cm径のファントムと、32cm径のファントムとがある。上記関係K1は、シミュレーションsimulationによって求めてもよい。推定被曝線量算出部105は、被曝線量基準値fNIに、設定線量mAsrealmAsに係るファクタと、ゲインを乗算することにより、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが設定線量realmAsであるスキャン条件下で撮影対象をスキャンした場合における、撮影部位の推定被曝線量CTDIを算出する。推定被曝線量算出部105は、例えば、数式1に従って、推定被曝線量CTDIを算出する。この数式1において、realmAs/refmAsは、上記ファクタであり、gainは、上記ゲインである。ゲインは、被曝線量の計算値を必要に応じて調整するために用いられる。例えば、従前の計算方法や他の計算方法により算出される被曝線量との整合性をある程度持たせるために、ゲインを調整して、被曝線量の計算値を調整する。つまり、本実施形態のX線CT装置により計算される被曝線量と、他のX線CT装置により実質的に同一の条件で計算される被曝線量との差分を縮小するように決定される図3参照。CTスキャンデータ取得部106は、撮影テーブル10および走査ガントリ20を制御することにより、設定されたスキャン条件でCTスキャンを本スキャンとして行い、CTスキャンデータPCを取得する。なお、CTスキャンデータは、投影データともいう。画像再構成部107は、CTスキャンデータPCに基づいて、フィルタfilter逆投影処理等の画像再構成処理を行って、断層画像を再構成する。画像表示制御部108は、モニタ6を制御して、スカウトデータPSに基づく画像や、再構成画像、その他の情報をモニタ6の画面に表示する。これより、本実施形態によるX線CT装置における動作について説明する。図4は、本実施形態によるX線CT装置における動作の流れを示すフローチャートである。ステップS1では、スカウトデータ取得部101が、撮影テーブル10および走査ガントリ20を制御することにより、所定のスカウトスキャン条件SCに従って被検体40のスカウトスキャンを行う。これにより、撮影対部位のX線吸収特性が担持されたスカウトデータPSを取得する。画像表示制御部108は、取得されたスカウトデータPSに基づいて、被検体40のスカウト像をモニタ6の画面に表示する。ステップS2では、操作者が、そのスカウト像を参照しながらスキャン条件を入力する。スキャン条件設定部102は、入力されたスキャン条件を、本スキャンのスキャン条件として設定する。設定されるスキャン条件には、スキャン範囲、設定管電圧KV、設定線量mAsrealmAsなどが含まれる。ステップS3では、画像ノイズ見積部103が、CT自動露出機構の機能を利用して、設定管電圧KV、スカウトスキャン条件SC、スカウトデータSDに基づき、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsである条件下での画像ノイズの指標値NIを見積もる。ステップS4では、基準被曝線量特定部104が、画像ノイズと被曝線量との関係K1KVを参照し、見積もられた画像ノイズの指標値NIに対応する被曝線量基準値fNIを特定する。ステップS5では、推定被曝線量算出部105が、上記数式1に従って、設定管電圧KV、設定線量mAsrealmAsによるスキャン条件下での撮影部位の推定被曝線量CTDIを算出する。ステップS6では、画像表示制御部108が、算出された推定被曝線量CTDIをモニタ6に表示する。ステップS7では、スキャン条件設定部102が、操作者の操作に応じて、スキャン条件を確定させるか否かを判定する。確定させずに見直す場合には、ステップS2に戻る。確定させる場合には、ステップS8に進む。ステップS8では、CTスキャンデータ取得部106が、撮影テーブル10および走査ガントリ20を制御することにより、確定されたスキャン条件に従ってX線CTスキャンを行い、CTスキャンデータPCを取得する。なお、ここではX線CTスキャンとしてアキシャルスキャンaxialscanを想定するが、ヘリカルスキャンであってもよい。X線CTスキャンをヘリカルスキャンとする場合には、基準被曝線量を特定する際に、ヘリカルピッチをさらに考慮する必要がある。ステップS9では、画像再構成部107が、取得されたCTスキャンデータPCに基づいて、フィルタ逆投影処理等の画像再構成処理を行い、断層画像を再構成する。ステップS10では、画像表示制御部108が、再構成された断層画像をモニタ6の画面に表示する。このような第1の実施形態によれば、設定されたスキャン条件に応じて、被曝線量と相関関係にある画像ノイズの指標値を特定し、被曝線量と画像ノイズとの関係を参照して、被曝線量を算出するので、計算の基準になる値を連続的あるいは多段階的に取るとこができ、被検体40の撮影部位の大きさがより反映された被曝線量を計算することができる。第2の実施形態図5は、本実施形態によるX線CT装置におけるスキャンの実行に係る部分の機能ブロック図である。また、図6は、本実施形態によるX線CT装置における被曝線量の計算方法を概念的に示す図である。本実施形態によるX線CT装置は、図5に示すように、第1の実施形態をベースbaseに、画像ノイズ見積部103に代えて、アクリル換算断面積見積部110を備えている。ここでは、スカウトデータ取得部101は、本スキャンより低い線量のX線ビームによる被検体40の撮影部位に対して低線量ヘリカルスキャンを行って、その撮影部位のスカウト断層画像imgを取得する。アクリル換算断面積見積部110は、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsである条件下で、撮影部位をスキャンした場合に得られる画像のアクリル換算断面積を表す指標値Sを見積もる。アクリル換算断面積とは、撮影対象の断面積を、同一の条件下での被曝線量が等しくなるように、アクリルで構成される物体の断面積に換算した値である。ここでは、アクリル換算断面積見積部110は、まず、設定管電圧KV,ヘリカルスカウトスキャン条件HSC、スカウト断層画像imgを基に、数式2に従って、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsであるスキャン条件下での、撮影部位のアクリル換算断面積を表す指標値Sを求める。この数式2において、imgijは、スカウト断層画像imgにおける各画素のCT値画素値であり、aは、スカウトスキャン条件SCに含まれるスカウト管電圧SVおよび設定管電圧KVによって変化する、CT値調整用のパラメータである。例えば、設定管電圧KVが120kVであり、スカウト管電圧SVが120kVである場合には、パラメータa=1100となる。つまり、アクリル換算断面積を表す指標値Sは、撮影部位の断層画像において、管電圧によって変化しないように規格化されたCT値の総和である。ただし、ここでは、画素サイズスケールは常に一定であるものとする。基準被曝線量特定部104は、アクリル換算断面積の指標値Sに基づいて、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsであるスキャン条件下で撮影部位をスキャンしたときの撮影部位の被曝線量を、指標値Sの関数gSとして特定する図6参照。一般に、所定のスキャン条件下で撮影対象をスキャンした場合に、得られた画像のアクリル換算断面積と、撮影対象の被曝線量との間には、相関関係があることが知られている。そこで、予め、管電圧ごとに、線量mAsが基準線量refmAsであるスキャン条件下での、アクリル換算断面積の指標値Sと撮影対象の被曝線量との関係K2を求め、これらの関係K2を基準被曝線量特定部104に記憶させておく。基準被曝線量特定部104は、これらの関係K2のうち、設定管電圧KVに対応する関係K2KVを参照し、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsであるスキャン条件下でのアクリル換算断面積の指標値Sに対応する被曝線量を、被曝線量基準値gSとして特定する。なお、上記関係K2は、例えば、上記関係K1の場合と同様に、16cm径のCTDIファントムおよび32cm径のCTDIファントムに対して実際にX線CTスキャンを行い、そのときの被曝線量の実測結果を基に求める。あるいは、シミュレーションによって求めてもよい。推定被曝線量算出部105は、被曝線量基準値gSに、設定線量realmAsに係るファクタと、ゲインを乗算することにより、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが設定線量mAsrealmAsであるスキャン条件下で撮影部位をスキャンした場合における、撮影部位の推定被曝線量CTDIを算出する。推定被曝線量算出部105は、例えば、数式3に従って、推定被曝線量CTDIを算出する。この数式3において、realmAs/refmAsは、上記ファクタであり、gainは、上記ゲインである。ゲインは、数式1の場合と同様、被曝線量の計算値を必要に応じて調整するために用いられる図6参照。これより、本実施形態によるX線CT装置における動作について説明する。図7は、本実施形態によるX線CT装置における動作の流れを示すフローチャートである。ステップstepS11では、スカウトデータ取得部101が、撮影テーブル10および走査ガントリ20を制御することにより、所定のヘリカルスカウトスキャン条件HSCに従って、被検体40の撮影部位に対して低線量ヘリカルスカウトスキャンを行う。そして、低線量ヘリカルスカウトスキャンにより得られたデータに対して画像再構成処理を行って、スカウト断層画像imgを生成する。画像表示制御部108は、生成されたスカウト断層画像imgをz方向に重ねて3次元画像を生成し、これを所定の方向に再投影した像を、スカウト像としてモニタ6の画面に表示する。ステップS12では、操作者が、そのスカウト像を参照しながらスキャン条件を入力する。スキャン条件設定部102は、入力されたスキャン条件を、本スキャンのスキャン条件として設定する。設定されるスキャン条件には、スキャン範囲、設定管電圧KV、設定線量mAsrealmAsなどが含まれる。ステップS13では、アクリル換算断面積見積部110が、上記数式2に従って、設定管電圧KV、ヘリカルスカウトスキャン条件HSC、スカウト断層画像imgに基づき、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsである条件下でのアクリル換算断面積の指標値Sを見積もる。ステップS14では、基準被曝線量特定部104が、アクリル換算断面積と被曝線量との関係K2KVを参照し、見積もられたアクリル換算断面積の指標値Sに対応する被曝線量基準値gSを特定する。ステップS15では、推定被曝線量算出部105が、上記数式3に従って、設定管電圧KV、設定線量realmAsによるスキャン条件下での撮影部位の推定被曝線量CTDIを算出する。ステップS16以降は、第1の実施形態におけるステップS6以降と実質的に同じ内容なので、ここでは説明を省略する。このような第2の実施形態によれば、設定されたスキャン条件に応じて、被曝線量と相関関係にあるアクリル換算断面積の指標値を特定し、被曝線量とアクリル換算断面積との関係を参照して、被曝線量を算出するので、第1の実施形態と同様、計算の基準になる値を連続的あるいは多段階的に取るとこができ、被検体の大きさがより反映された被曝線量を計算することができる。また、自動露出機構の機能を利用しないで被曝線量を計算するので、自動露出機構を備えていないX線CT装置にも適用することができる。第3の実施形態図8は、本実施形態によるX線CT装置におけるスキャンの実行に係る部分の機能ブロック図である。また、図9は、本実施形態によるX線CT装置における被曝線量の計算方法を概念的に示す図である。本実施形態によるX線CT装置は、図8に示すように、第2の実施形態をベースに、過去画像読出部111をさらに備えている。過去画像読出部111は、同じ被検体における実質的に同じ撮影部位をスキャンして得られた過去の断層画像imgpを、画像データベース等から読み出す。この際、過去の断層画像とともに、そのときのスキャンに用いた、過去のスキャン条件PCも読み出す。ここでは、アクリル換算断面積見積部110は、設定管電圧KV,過去のスキャン条件PC、過去の断層画像imgpを基に、数式4に従って、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsであるスキャン条件下での、撮影部位のアクリル換算断面積を表す指標値Sを求める。この数式4において、imgpijは、過去の断層画像imgpにおける各画素のCT値画素値であり、aは、スカウトスキャン条件SCに含まれるスカウト管電圧SVおよび設定管電圧KVによって変化する、CT値調整用のパラメータである。例えばパラメータa=1200となる。これより、本実施形態によるX線CT装置における動作について説明する。図10は、本実施形態によるX線CT装置における動作の流れを示すフローチャートである。ステップS31では、過去画像読取部111が、同じ被検体および撮影部位の過去の断層画像imgpを、そのときの過去のスキャン条件PCとともに、画像データベース等から読み出す。ステップS32では、スカウトデータ取得部101が、撮影テーブル10および走査ガントリ20を制御することにより、所定のスカウトスキャン条件SCに従って被検体40のスカウトスキャンを行う。これにより、撮影部位のX線吸収特性が担持されたスカウトデータPSを取得する。画像表示制御部108は、取得されたスカウトデータPSに基づいて、被検体40のスカウト像をモニタ6の画面に表示する。ステップS33では、操作者が、そのスカウト像を参照しながらスキャン条件を入力する。スキャン条件設定部102は、入力されたスキャン条件を、本スキャンのスキャン条件として設定する。設定されるスキャン条件には、スキャン範囲、設定管電圧KV、設定線量mAsrealmAsなどが含まれる。ステップS34では、アクリル換算断面積見積部110が、上記数式4に従って、設定管電圧KV、過去のスキャン条件PC、過去の断層画像imgpに基づき、管電圧が設定管電圧KVであり、線量mAsが基準線量refmAsである条件下でのアクリル換算断面積の指標値Sを見積もる。ステップS35以降は、第2の実施形態におけるステップS14以降と実質的に同じ内容なので、ここでは説明を省略する。このような第3の実施形態によれば、第1の実施形態と同様、被検体の大きさがより反映された被曝線量を計算することができる。また、過去の断層画像を利用して被曝線量を計算するので、スカウトスキャンを行う前であっても推定被曝線量を算出することができる。なお、発明の実施形態は、上記の実施形態に限定されず、発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では、基準被曝線量を特定するために、画像ノイズやアクリル換算断面積を表す指標値を用いているが、スキャンによって得られる画像に係る特徴量であって、被曝線量との間に相関関係を有している特徴量であれば、いかなるものを用いてもよい。また、アクリル換算断面積は、ファントムがアクリル製である場合に都合のよい特徴量であるが、ファントムが他の材質により構成されている場合には、当該他の材質による換算断面積とするとよい。また例えば、上記実施形態では、推定被曝線量は、単位長さ当たりの被曝線量として、CTDI値を算出表示することを想定しているが、他の規定による値、例えばDLP値を算出表示するようにしてもよい。"