"被検体からの放射率が波長λ1と波長λ2において等しいか、又は互いの比が既知であり、かつ被検体から撮像装置内の検出手段に至る光路中までの透過率が波長λ1と波長λ2で等しいか、又は互いの比が既知の2つの波長λ1,λ2を選択する波長選択工程と、標準光源から放射され、該検出手段に入射される放射量を種々変化させて該検出手段で検出し、該検出手段に入力する放射量と、該検出手段からの出力値とから入出力特性値を求める入出力特性検出工程と、該入出力特性値の直線領域から該検出手段に入射される放射量に対する出力値との関係に基づく1次関数を求め、該1次関数より、該検出手段に入射される放射量が0のときに該検出手段から出力される出力値を波長λ1と波長λ2について各々オフセット量Qcλ1,Qcλ2を求める算出工程と、被検体の同一領域から放射され、該検出手段に入射される放射量を波長λ1と波長λ2において検出し、該検出手段からの波長λ1と波長λ2での出力値Qλ1,Qλ2より各々波長λ1と波長λ2でのオフセット値Qcλ1,Qcλ2を引き、引いた値Qλ10,Qλ20より該1次関数を用いて波長λ1と波長λ2での放射量Rλ1,Rλ2を求める計測工程と、該計測工程で求めた波長λ1,λ2における放射量Rλ1,Rλ2の比を用いて該被検体の温度情報を求める温度情報計測工程と、を利用して、被検体の温度情報を求めることを特徴とする温度情報計測方法。前記計測工程では、前記検出手段に入射される放射量を前記撮像装置内のシャッター手段により本来の露光時間に対し1/nの露光時間でn回露光し、n回露光したときの出力値より、前記オフセット量をn倍した値を引いて、引いた値より前記1次関数を用いて放射量を求めることを特徴とする請求項1の温度情報計測方法。被検体の温度情報を2色温度法を用いて計測するのには、放射量入力値と検出手段からの出力値との関係を示す入出力特性値の直線性が良い検出手段またはカメラ撮像装置を選択して使用することが重要である。厳密な温度計測を実行する場合は、標準光源を用い、放射量が0から検出手段での検出の飽和値までの全領域において入出力値に関するルックアップテーブルを作成し、計測に際して該当出力値に対する索引補正を行う必要がある。しかしながらこの方法は計測値の補正をするのが大変面倒で、かつ時間もかかるという問題がある。特に放射量が0のとき検出手段から有限の出力値が発生する撮像装置を用いたとき、すなわちオフセット値があるとき、検出手段からの出力値をそのまま用いたのでは検出誤差の原因となり、正しい温度を求めることができない。本発明は、検出手段からの出力値を適切に処理することにより、簡易にしかも迅速に被検体の温度情報を計測することができる温度情報計測方法の提供を目的とする。本発明の温度情報計測方法は、被検体からの放射率が波長λ1と波長λ2において等しいか又は互いの比が既知であり、かつ被検体から撮像装置内の検出手段に至る光路中までの透過率が波長λ1と波長λ2で等しいか又は互いの比が既知の2つの波長λ1,λ2を選択する波長選択工程と、標準光源から放射され、該検出手段に入射される放射量を種々変化させて該検出手段で検出し、該検出手段に入力する放射量と、該検出手段からの出力値とから入出力特性値を求める入出力特性検出工程と、該入出力特性値の直線領域から該検出手段に入射される放射量に対する出力値との関係に基づく1次関数を求め、該1次関数より、該検出手段に入射される放射量が0のときに該検出手段から出力される出力値を波長λ1と波長λ2について各々オフセット量Qcλ1,Qcλ2を求める算出工程と、被検体の同一領域から放射され、該検出手段に入射される放射量を波長λ1と波長λ2において検出し、該検出手段からの波長λ1と波長λ2での出力値Qλ1,Qλ2より各々波長λ1と波長λ2でのオフセット値Qcλ1,Qcλ2を引き、引いた値Qλ10,Qλ20より該1次関数を用いて波長λ1と波長λ2での放射量Rλ1,Rλ2を求める計測工程と、該計測工程で求めた波長λ1,λ2における放射量Rλ1,Rλ2の比を用いて該被検体の温度情報を求める温度情報計測工程と、を利用して、被検体の温度情報を求めることを特徴としている。本発明によれば、簡易にしかも迅速に被検体の温度情報を計測することができる温度情報計測方法が得られる。まず本発明において被検体の温度温度情報の計測に先立って、撮像装置カメラ内の検出手段で得られる出力値計測値よりオフセット量を求める方法について説明する。ここでオフセット量とは被検体から検出手段に入射される放射量が0のときに検出手段から出力される出力値をいう。図1は被検体の温度計測に先立って、予め撮像装置を用いて、被検体を計測するときの計測波長λ1、λ2におけるリニアリティー直線性を計測しておく検出装置の要部概略図である。図1において11は放射量が可変な光量可変型の標準光源である。12は干渉フィルター等バンドパスフィルターであり、中心波長λ1と中心波長λ2の狭帯域の光を通過させるフィルターを有している。13はCCDカメラ撮像装置であり、内部に検出手段を有している。標準光源11からの放射量をバンドパスフィルター12を介しCCDカメラ13内の検出手段で検出し、その出力値放射量をパソコン14でキャプチャーする。標準光源11からの出力はフォトダイオード等で監視されており、その出力はパソコン12にキャプチャーされる。本実施例の作業手順は以下の通りである。A1:標準光源11から放射される光量放射量を、標準光源11からの光量を変えて又は通過する光束を制限するスリットのスリット幅を変えて又はCCDカメラ13のシャッター速度を変えて検出手段で検出される光量を0から飽和点まで次第に増加させる。A2:標準光源11から放射される放射量とそれに対応するCCDカメラ13内の検出手段からの出力値を、セットでパソコン14に記録する。A3:標準光源11から放射される検出手段に入射する放射量をx1、それに対応するCCDカメラ13の検出手段からの出力値をy1、それより大きい放射量をx2、それに対応する検出手段からの出力値をy2とする。さらに大きい放射量をx3、それに対応する出力値をy3とする。A4:以下の条件が成立する光量と出力の範囲を探索することにより放射量と出力値に関する1次関数の勾配aを得る。ここで勾配aは、a=y2-y1/x2-x1=y3-y2/x3-x2である。これはa=y2-y1/x2-x1=y3-y1/x3-x1等としてもよい。A5:以下の式により、検出手段の勾配aと1次関数とオフセット値を算出する。勾配=y2―y1/x2―x1=a1次関数はy=ax-x1y1となる。放射量が0のとき、すなわちx=0のときのyの値がオフセット値yとなる。オフセット値y0={x2×y1-x1×y2}/x2-x1A6:各放射量Rに対する1次関数の算出の出力と実測の出力値Qの差を算出し、リファレンス値のルックアップテーブルとしてパソコンのHDD等に記憶させる。本実施例において被検体の温度計測時の処理について説明する。本発明は、被検体物体の温度情報を計測するのに被検体から放射される放射量として二つの波長λ1,λ2における放射量Rλ1,Rλ2を捕捉し、その比から被検体の温度情報を計測する二色温度計測方法を用いる。具体的には、図8に示す工程を用いている。被検体からの放射率が波長λ1と波長λ2において等しいか±5以内、又は互いの比が既知であり、かつ被検体から撮像装置内の検出手段に至る光路中までの透過率が波長λ1と波長λ2で等しいか±5以内、また互いの比が既知である2つの波長λ1,λ2を選択する波長選択工程と、標準光源から放射され、検出手段に入射される放射量を種々変化させて検出手段で検出し、検出手段に入力する放射量と、検出手段からの出力値とから入出力特性値を求める入出力特性検出工程と、入出力特性値の直線領域から検出手段に入射される放射量に対する出力値との関係に基づく1次関数を求め、この1次関数より、検出手段に入射される放射量が0のときに検出手段から出力される出力値を波長λ1と波長λ2について各々オフセット量Qcλ1,Qcλ2を求める算出工程と、被検体の同一領域から放射され、検出手段に入射される放射量を波長λ1と波長λ2において検出し、検出手段からの波長λ1と波長λ2での出力値Qλ1,Qλ2より各々波長λ1と波長λ2でのオフセット値Qcλ1,Qcλ2を引き、引いた値Qλ10,Qλ20より該1次関数を用いて波長λ1と波長λ2での放射量Rλ1,Rλ2を求める計測工程と、計測工程で求めた波長λ1,λ2における放射量Rλ1,Rλ2の比を用いて該被検体の温度情報を求める温度情報計測工程と、を利用して、被検体の温度情報を求めている。次に、本実施例において被検体の温度情報を計測するときに利用する2色温度法比温度計測法の計測原理について説明する。高温度の被検体の計測では、被検体から放射される放射量の強さを測定することによって、被検体の温度を算出することができる。具体的な計測では、Planckの方程式や、Wienの近似式を拠り所にした放射温度計や輝度温度計単波長放射温度計を用いるのが一般的である。しかしながら、被検体の放射率が未知な場合や被検体と撮像装置との間に介在する透過率の影響を避けたい場合は、二色温度法RatioTemperatureによる計測が有効である。二色温度法は、被検体から放射される放射量のうち二つの波長λ1,λ2における放射量の強さの比から温度を知るものである。波長λにおける放射量Mλは、Wineの近似式からの展開では以下のようになる。c1:第一放射定数=3.741844X10-16[Wm2]λ:波長μmc2:第二放射定数=1.438769X10-2[mK]T:絶対温度Kelvinτ:透過率ε:放射率波長λ1およびλ2における放射エネルギー放射量をM1、M2とすると2つの波長λ1、λ2における放射量M1、M2の強さの比Rはとなる。ここで、放射率ε1、ε2がほぼ等しくε1/ε2=1となり、透過率τ1、τ2がτ1/τ2=1となる場合、この条件を3式に適応すると、となり、2波長の放射量Rλ1,Rλ2の比Rは、温度Tと関数関係にある。また被検体の放射率と、介在物の透過率に影響されないことになる。2色温度法では、このときの2波長における放射量Rλ1,Rλ2の比Rを求めることによって、被検体の温度情報Tを計測する方法である。次に二色温度法の計測に要求される要件について説明する。図2は、例として波長550nmと波長650nmにおける黒体の温度変化による輝度放射量放射の強さの変化を示したものである。放射量の強さは、温度が高くなるにつれて急激に増加する。温度は両波長の放射量の強さを得ることにより算出することができる。このため、放射量の強さを測定するセンサー検出手段には、入射光に対する高い感度分解能と再現性が求められる。また、センサーの入射光に対する出力特性が線形でない一次関数の関係にない場合は、センサーからの出力から入射光を知るためには複雑な計算が必要となる。このため、センサーの入出力特性には高度な直線性が求められる。尚、被検体の温度分布を求める場合は、センサー検出手段を機械的にスキャンすれば良い。この他、高速性が要求される場合はセンサーアレイを使用すれば良い。可視光域でのセンサーアレイとしては、シリコンやInGaAs半導体などによるフォトダイオードアレイであるCCDまたはC-MOSセンサーが一般的である。これらのセンサーを使用する場合は、そのセンサーの持つ特性を掌握しておくことが必要である。CCD/C-MOSセンサーを用いた撮像装置を被検体の温度計測に使用する場合には、次の問題点がある。シリコン半導体Siやインヂュームガリューム砒素InGaAs半導体を使用したフォトダイオードは、光量放射量を電気信号に変換するためのセンサーとして使用される。フォトダイオード単体の入射光量放射量に対する出力特性は、優れた直線性を示し温度計測センサーとし好適である。このフォトダイオードを2次元アレイ状に配置したCCDやC-MOS素子は、ディジカメやムービーカメラの撮像素子として多用されている。これらセンサーを用いた撮像装置は、被検体の光量分布温度分布とその時間的変化を計測記録する測定装置としても使用できる。しかし、CCD、C-MOSセンサーを使用した撮像装置を光量の計測に使用する場合は、フォトダイオード単体に比べて、多くの場合、入射光量に対する出力値の直線性が悪く、そのままでは高精度に温度測定をするのが難しい。フォトダイオードおよびCCD、C-MOS等の検出手段は、入射光に対する出力特性が、図3のように入射光が無い入力=0場合は、出力が無出力出力=0とならなければならない。しかし、現実にはセンサー内または外付け増幅器等に起因し、入射光が0のときでも図4,図5のように、ある程度の出力値、すなわちオフセットOffset値が出力される。これを補正する方法として、黒レベルの設定またはダークレベルの設定等として、無入射光E=0時の出力値オフセット値を記憶しておき、出力値からオフセット値を差し引くことが必要となってくる。しかし多くの現実的な撮像装置の検出手段における入出力特性は、図6の非直線現実1または、現実2のような特性を示す。一般的には、黒レベルを設定しても入出力特性は1次関数とならず、非直線的な関係となる。このときの入出力特性は複雑な多次元関数となり簡易な方程式で表現することは容易ではない。この非直線を設定したオフセットをベースに1次関数として表現することはできない。また、現象濃度の仔細な変化を計測する場合、対象からの放射を波長の異なる二つの信号としてキャプチャーして、その比から変化を抽出する場合が多くある。例えばレシオ二色温度計測法では、二つの光センサーまたは撮像装置を使用して、波長の異なる対象からの2つの放射量の強さ、または画像を取得し、両放射の強さの比を一つまたは画素毎に算出することにより温度を得ている。このような放射量の強さの比を算出するシステムにおいて、図6の現実1または現実2のような特性を持つトランスデューサーや撮像装置からの出力の比を算出しても、正しい温度を得ることができない。本発明では、センサー入出力特性の直線部分の延長線が出力軸と交わる値をオフセット値として、検出手段で得られた出力値から差し引くことにより、1次関数として比計算を実行し、入出力の直線性が確保できる部分において容易に正確な計算値を得ることを特徴としている。次にオフセット値の求め方について説明する。図7は放射量Rと検出手段からの出力値Qとの関係を示す説明図である。図7に示すように現実的なフォトダイオードやCCD画像センサーのような光トランスデューサー検出手段の現実的な入出力特性は、理想の入出力特性とは異なり、放射量Rが小入力部分と飽和入力部分で非線形の特性を示す。しかしほとんどのトランスデューサーは中間部では良好な線形特性を示す。この線形が確保されていると考えられる部分2点の放射量Rの入力をRmin、Rmaxとし、この部分における出力値を各々Qmin、Qmaxとするとこの部分の勾配aは次式で表現できる。a=/1この直線の延長線と出力軸の交点をオフセット値としQcで表わすと、任意の放射量Rに対する出力値Qは次式で表現できる。Q=aRQcこれよりオフセット値Qcは次式で得られる。Qc=Q-aR=Qmin-aRmin=Qmin-{Qmax-Qmin/}Rmin3Rmin、Rmaxが既知の場合、それに対応する出力値Qmin、Qmaxが得られれば、オフセット値を容易に算出できる。比演算の場合、波長λ1、λ2での両出力値についてそれぞれオフセットQcλ1、Qcλ2をそれぞれ算出して、それを各波長の出力値Qλ1、Qλ2から差引くことにより、直線部分の比計算が正確にできる。物体の放射率εが1でない場合でも、波長λ1、λ2における放射率ελ1、ελ2が等しいか、その比率が既知の領域においては、F=ε1/ε2とした場合は、R=Rλ1ε1λ1/Rλ2Fε2λ2より物体の温度を式4より求めることができる。次に具体的に受光手段からの出力値Qより被検体の放射量Rの求め方について説明する。受光手段に入射する放射量Rと受光手段から出力される出力値Qの直線領域リニアー領域1次関数式を求める。受光手段に入射する放射量の変化はカメラのシャッター速度を変えたりして行う。いま、放射光量がR1のとき受光手段からの出力値をQ1とする。放射光量がR2のとき受光手段からの出力値をQ2とする。これより放射量がRのとき受光手段からの出力値Qが比例する1次関数式は、Q=aR-R1Q11aR=R11/aQ-Q12aここでaは勾配であり、a=Q2-Q1/R2-R1ここで放射光量Rと出力値Qが直線関係リニアー領域となるときの放射光量Rの最小値と最大値を各々Rmin、Rmaxとする。そのときの出力値QをQmin、Qmaxとする。リニアー領域を延長した1次関数式1aよりR=0のときの出力値Qcオフセット値を求める。R=0のときの出力値Qcオフセット値を求める。Q=aR-R1Q11aよりR=0のときオフセット値:Qc=Q1-aR1となる。放射量Rと出力値Qとの関係は、Q=aRQ=Q2-Q1/R2-R1R3aR=R2-R1/Q2-Q1Q4a3式に入る出力値は実際のカメラ等で得られる出力値をQxとするとき、Q=Qx-Qcこのときの放射光量Rは4式より、R=R2-R1/Q2-Q1Qx-Qc5aQx=aRQc6aとなる。以上のことを波長λ1、波長λ2の光を用いて各々求める。いま、撮像装置で得られる出力値Qより被写体の温度Tを求める。波長λ1での出力値をQλ1とするとき、放射光量Rλ1は、Rλ1=1/aQλ1-Qcλ1波長λ2での出力値をQλ2とするとき、放射光量Rλ2は、Rλ2=1/aQλ2-Qcλ2このときの放射光量の比R、R=Rλ1/Rλ2は黒体温度で一定の値をとる。これを4式に導入すれば被写体の温度Tが求められる。次にカメラで得られる出力値Qが直線領域以外のときの被写体の温度Tの求め方について説明する。出力値Qが、Qb<Q<Qminのとき、各出力値に対してルックアップテーブルを作成する。出力値Qより1次関数5a式より放射光量Rを求めるとき、補正量を引いて出力値Qxを求める。放射量Rを0よりシャッター速度を変えて放射量Rを種々変えたときの出力値Qを求める。例えば表-1の関係が求められる。これより非直線領域でのQ-Rのグラフが求められる。R=1/aQx-Qc5a補正した出力値Qxを5a式に入れれば放射量Qが求められる。波長λ1のとき出力値Qλ1→Rλ1=1/aQλ1-Qcλ1波長λ2のとき出力値Qλ2→Rλ2=1/aQλ2-Qcλ2R=Rλ1/Rλ2このときの放射量の比Rを4式に代入すれば被写体の温度Tを求めることができる。2波長λ1、λ2について、それぞれ正確な放射量の強弱2値が得られる場合は上の計算で、オフセット値を算出することができる。しかしながら、そのような標準光が得られない場合でCCD/CMOSを用いた撮像装置の場合は、露光時間シャッター速度の2値で、標準光の2値に替えることができる。例えば同一輝度の被検体を、3mSECで撮影した場合の出力が140、5mSECで撮影した場合の出力が220であったとする。この場合のオフセットQcは次のように計算される。Qc=Qmax-{Qmax-Qmin/Rmax-Rmin}×Rmax=220-{220-140/5-3}×5=20比計算の場合、波長λ1の検出手段のオフセット値を算出して、そのオフセット値を波長λ1の全出力値から差し引いた値と、波長λ2の検出手段のオフセット値を算出して、そのオフセット値を波長λ2の全出力値から差し引いた値で比計算を実行することにより、直線部分での正確な比が得られる。撮像装置のランダムノイズを除去する目的で本来の露光時間の1/nの時間で検出した検出値をn個加算した出力値から比計算する場合は、加算された出力値からオフセット値にn倍した値を差し引いた後比計算をすることにより、より正確な比計算が可能となる。"