"オブジェクトの材料特性、特に、好ましくは半透明のオブジェクトの光学特性を決定するための方法において、前記材料特性を決定するために、前記オブジェクトの、共焦点の3D測定システムを用いて測定された測定データからの、スペクトル的に分解された測定データを、基準体のスペクトル的に分解されたデータで相殺し、複数の測定点から、複数のスペクトル的に分解された測定データを、前記測定システムと前記オブジェクトとの互いに異なる距離で、決定することを特徴とする方法。共焦点の、色分散型の3D測定システムを用いることを特徴とする請求項1に記載の方法。前記材料特性を決定するために、多焦点の照射パターンの、前記オブジェクト上に結像された複数の焦点から発せられる、直接に反射された第1の放射線の、スペクトル的に分解されたデータのみならず、各々の結像された焦点から距離Δxで乱反射された第2の放射線も測定することを特徴とする請求項1または2に記載の方法。任意の或る焦点に割り当てられた直接に反射された第1の放射線と、乱反射された第2の放射線との間の距離が、5μmと3mmの間に、特に、10μmと200μmとの間にあることを特徴とする請求項1ないし3の少なくとも1項に記載の方法。前記スペクトル的に分解されたデータを決定するために、前記3D測定システムによって、前記オブジェクトに、波長範囲Δλ1にある第1の放射線を当てること、前記オブジェクトに、波長範囲Δλ2にある第2の放射線を当てること、および、前記オブジェクトによって反射された第2の放射線から、前記オブジェクトの2D画像を決定することを特徴とする請求項1ないし4の少なくとも1項に記載の方法。3D画像を、前記オブジェクトの空間的座標に割り当てられる第1のピクセルを有する第1のセンサを用いて、および、前記2D画像を、前記オブジェクトの空間的座標に割り当てられる第2のピクセルを有する第2のセンサを用いて測定すること、および、前記第1のおよび第2のピクセルを互いに割り当てることを特徴とする請求項1ないし5の少なくとも1項に記載の方法。前記第1のセンサによって決定されたスペクトル情報および前記第2のセンサによって決定されたスペクトル情報を用いて、異なった挙動でおよび/または異なった時間で同一の測定点を示す1つのフレームまたは複数のクレームから、材料分類を計算することを特徴とする請求項1ないし6の少なくとも1項に記載の方法。測定されたスペクトルに、基準体の複数のスペクトルから決定される補正因子を加え、該基準体の乱反射を、共焦点の測定条件なしに測定し、あるいは、前記基準体のスペクトルを、コンピュータに保管されたライブラリから読み取ることを特徴とする請求項1ないし7の少なくとも1項に記載の方法。前記複数の測定点を、前記補正因子を用いて、ルックアップテーブルに保管されておりかつ材料特性を表わしているスペクトルと比較することを特徴とする請求項1ないし8の少なくとも1項に記載の方法。任意の或る測定点の、共焦点の条件下で決定された測定スペクトルからのみならず、前記測定点の或る範囲のバックグラウンドスペクトルからも、材料特性を決定することを特徴とする請求項1ないし9の少なくとも1項に記載の方法。本発明によれば、同時に記録される多数の測定点の各々の測定点のデータに基づいて、オブジェクトの、特に半透明なオブジェクトの、例えば、歯の領域または顎の領域の表面形状に関する情報が使用され、同時に、オブジェクトの空間座標を提供するスペクトル的に分解されたデータを評価しつつ、オブジェクトの材料特性が決定される。この場合、特許文献1から読み取れる装置が、利用される。前述のように、該公報の開示内容が明示的に引き合いに出される。図1の測定装置は、特許文献1の測定装置に対応する。測定装置は、この場合、重要な要素として、ハロゲンランプのような光源10を有する。該光源の光は、レンズ12を介して平行にされる。平行光線は、マイクロレンズアレイ14に当たる。該マイクロレンズアレイは、大きな色収差を有する対物レンズ18の焦点面に、照射パターンを結像する。照射パターンは、例えば約1600の焦点を持つ20mm×15mmの大きさ、あるいは、例えば、250μmの間隔で約2000の焦点を持つ5mm×6.5mmの大きさを有することができる。照射パターンは、マイクロレンズアレイ14によって発生される。照射パターン16は、各々約25μmまたは約12μmの焦点20,22の直径が生じるように、構想されていてもよい。照射パターンを改善するために、マイクロレンズアレイ14を、該マイクロレンズアレイに適合されておりかつ対物レンズ18の対物面に位置しているピンホールアレイと、組み合わせることができる。この場合、ピンホールアレイの複数の孔が、複数の焦点によって形成される照射パターンへ、幾何学的にまたは位置的に適合されている。図1に示すように、光源10から来る光は、照射パターン16の後に、ビームスプリッタ24に当たる。ビームスプリッタによって、透過された成分は、大きな色収差を有する対物レンズ18に当たる。ビームスプリッタ24は、図面では、部分反射型の層を有するプレートとして示されている。その代わりに、他のビーム分割要素も可能である。例えば、ビームスプリッタキューブとも呼ばれている。環状のミラー、または該環状のミラーよりも小型のミラーも考えられる。外側のビーム成分または内側のビーム成分が、以下に説明される検出のためにまたは照射のために用いられる。対物レンズ18を貫通する放射線は、偏向ミラーのような偏向手段26を介して、歯のような、測定されるオブジェクト28に結像される。この場合、照射パターン16の面とオブジェクト28との間の距離は、複数の焦点が、偏向手段26による偏向後に、オブジェクト28の表面に結像されるように、選択されている。オブジェクトの表面と対物レンズ18との間の距離に応じて、他の色、すなわち波長が鮮明に結像される。選択された結像基準は、この場合、測定領域の大きさおよび分解能を規定する。オブジェクト28から反射されたビームすなわち光は、部分的に、対物レンズ18に戻り、かつ、ビームスプリッタ24における部分反射後に、第1のホールパターンまたはピンホールアレイ30に当たる。ホールパターンの複数の孔は、これらの孔同士の距離、大きさおよび幾何学的な配列に関して、全体で、照射パターン16のホールパターンに対応する。換言すれば、ピンホールアレイ30の、すなわち該ピンホールアレイの孔の軸方向および横方向の位置は、複数の焦点が、オブジェクト28の表面上で、ピンホールアレイ30の複数の孔に共焦点に結像されるように、選択されている。従って、ピンホールアレイ30の各々の孔によって、オブジェクト28の表面上での、結像された焦点のX座標,Y座標が予め設定される。図2には、ピンホールアレイ30が示されている。該ピンホールアレイでは、空いている円形32の配置および延在は、照射パターン16の複数の焦点のパターンに対応している。対物レンズ18の強い色収差によって、照射パターン16の複数の焦点の位置によって予め設定された各々の測定点では、該測定点と、対物レンズ18との距離に対応して、その時々に、只1つの所定の色が、鮮明に結像され、すなわち、只1つの所定の波長が共焦点条件を満たす。これに応じて、ピンホールアレイ30の各々の孔32を通って伝達された光のスペクトルにおいて、この波長で、強度最大が生じる。測定点の密度の増大につれて、およびオブジェクト28への光放射線が増加するにつれて、ピーク波長のほかに、増加する白色光成分が、孔すなわちピンホールを通って差し込む。このことにも係わらず、焦点に特徴的なピーク波長を、十分な程度におよび必要な精度をもって決定するために、ピンホールアレイ30の後方には、照射パターン16に従ってまたピンホールアレイ30のホールパターンに適合された分光装置が設けられており、該分光装置は、実施の形態では、光学系34,36と、両者の間に設けられておりかつ実施の形態ではプリズム38であるスペクトル分散要素とから構成されていることが意図されている。1つまたは複数のレンズから構成されることができる光学系34,36を介して、ピンホールアレイ30は、検出装置40としてのCCD表面センサに結像される。スペクトル分散要素すなわちプリズム38は、強度最大をもって複数の孔に生じる、焦点の光の波長範囲の、その横方向のスペクトル分散を引き起こす。従って、ピンホールアレイ30の各々の孔は、一直線に、CCD表面センサ40、すなわち1つの面に設けられたピクセルに結像される。ライン分光計を差し引いた測定点の距離に対応する。図1および2を参照して略述された測定装置は、図3で全く概略的に示すように、オブジェクトの材料特性を決定するためにも、使用される。この場合、照射パターン16、ビームスプリッタ24、大きな色収差を有する対物レンズ18およびホールパターン30を有する共焦点システムが使用される。図3では、構成要素は、色分散型の共焦点レンズ系100と呼ばれる。放射線は、必要な場合には多点光源TX102によって発生される。対物レンズ18の後方には、必要な場合には、偏向要素104を設けることができる。該偏向要素を介して、放射線は、歯のようなオブジェクト106へ転向される。図1によれば、色分散型の共焦点レンズ系100の後方には、センサ108を有しかつスペクトル分割するための装置、例えばプリズムが設けられる。センサには、オブジェクト106の後方反射されたまたは後方散乱された光のスペクトルが示される。この場合、直接に照射された測定点のスペクトルSP1、ならびに、共焦点系100によっては照射されないスペクトルSP2がセンサ108上に発生される。このような点は、5μmと3μmの間の範囲に、特に、10μmと200μmとの間の範囲にある間隔Δxだけずれている。オブジェクト106の、共焦点系によって照射されない点従ってまたスペクトルSP2は、ピンホールアレイ30に形成されかつバックグラウンドの判定のために使用される孔54を通過する光によって発生される点従ってまたスペクトルである。スペクトルSP1およびSP2は、次に、ルックアップテーブルからのデータで相殺される。ルックアップテーブルのためのデータを生成するために、知られたサンプが、本発明に係わるシステムによって測定される。スペクトル情報SP1、SP2および、必要な場合には、更なるチャネル、例えば、ライブ画像光学系からなる基準チャネルが、記憶され、かつ、データセットとして、ルックアップテーブルに格納される。データが、既にz方向の距離値が補正された形態で、格納されることは好ましい。知られていない材料の測定データは、次に、同様に距離が補正された形態で、ルックアップテーブルのデータセットと、例えば、1つのスペクトル測定点につき距離の二乗の最小誤差を算出するベストフィットのアルゴリズムと、比較される。システムを較正するためには、図6ないし図8を参照して説明するように、極めて広範に拡散する材料、例えば酸化チタンまたはスペクトラロンからなる基準本体の、スペクトル的に分解されたデータが、使用される。このようなスペクトルSP1とSP2の間の相違が、スペクトルSP2におけるフレネル反射の不在、および、半透明のオブジェクトの場合のボリューム情報における、スペクトルSP1より高い割合にある。スペクトルSP2は、スペクトルSP1よりも低い材料範囲に関するより多い情報を含む。しかしながら、スペクトルSP2は、個別には、多数のかような対応の測定点の代りをすることができる。これに対し、スペクトルSP1が情報を提供することは、スペクトルSP1の材料が非常に僅かな浸透深さを有する材料であるときである。何故ならば、直ぐ隣の環境からの乱反射信号が評価されるからである。従って、2つのスペクトルが比較されるときは、評価の関連のある可能性が生じる。例えば、滑らかな金属面が、強烈なスペクトルSP1を発生させるのは、フレネル反射を有する表面の、視線方向に対する位置が垂直であるときである。スペクトルSP2では、強度は、理想的にはゼロである。半透明の材料が、広範に拡散する表面を有する場合には、スペクトルSP1は、主として、材料表面情報を含む。しかしながら、スペクトルSP2は、次に、ゼロではなく、オブジェクトにおいて散乱された光により得られた情報を含む。この光は、光学材料特性への推論を可能にする。従って、スペクトルSP1とSP2の間の差は、材料の吸収特性および散乱特性従ってまた材料の区別への推論を可能にする。滑らかな材料表面例えば、液膜を有する組織の場合、発生するフレネル反射が干渉をする。しかし、フレネル反射は一定の視角でのみ発生するので、反射は、認識され、かつ、別個に処理されることができる。何故ならば、フレネル反射の発生の際には、センサの過負荷を行なうことができるからである。共焦点の条件および色分散光学系によって、狭い波長範囲が、いずれのZ深度においても支配的である。他の波長範囲は抑制される。3D測定のZ深度が知られているときは、共焦点光学系の挙動は知られているので、この効果は算出されることができる。しかしながら、深度の測定にとって極めて重要なこの特性は、材料特性の評価の際には、抑制された波長範囲における信号対雑音比の劣化および使用可能なスペクトル領域の制限をもたらす。しかしながら、このことは、同一の測定点に対し複数のフレーム、しかも種々の距離で撮像されたフレームを、を組み合わせることによって、埋め合わされる。センサ108は、材料Si、Geで強化されたSiまたはInGaAsによるCMOS技術、CCD技術に基づいた表面センサまたはマルチラインセンサであってもよい。図4からは、本発明に係わる測定装置の好ましい実施の形態が見て取れる。かように、図1に記述したライブ画像生成の原理を用いて、材料特性を決定するために、オブジェクト106の更なる測定を実行することができる。オブジェクト106には、複数の光源TXλ1,λ2...λnを介して、検出方向RXとは異なる角度で、光を当てることができ、この光は波長範囲Δλ2にある。この波長範囲が、図3に示した測定すなわち3D測定が実行されてなる波長範囲と、一致しないことは好ましい。この場合、2色性のビームスプリッタ110、または対物レンズ18とビームスプリッタ24との間に設けられたビームスプリッタ112を介して、関連のある波長nが、他のセンサ114または116に向けられる。該センサは、ライブ画像の決定のために用いられる、図1のセンサ62であってもよい。2色性のビームスプリッタ110およびセンサ114からなるユニットが用いられることは好ましい。何故ならば、色分散型の光学系18が必要とされないからである。複数の波長λ1,λ2...λnが順次使用されるとき、モノクロセンサを用いて、離散スペクトルDSp3またはDSp4が記録される。該離散スペクトルは、好ましくは、3D測定のために使用された波長範囲の外側にある、測定用オブジェクト106の光学特性に関する情報を含む。センサ114ないし116のピクセルは、センサ108のピクセルに正確にまたはほぼ正確に割り当てられる。それ故に、図3の構成に従って決定される各々の測定点に対し、拡張された波長範囲における情報が追加される。該情報を、例えば、強度基準として用いることができる。図5からは、材料分類装置118が見て取れる。該材料分類装置に、図3のスペクトルSP1,SP2のスペクトル情報および図4の離散スペクトル線DSp3またはDSp4が供給されるとき、材料分類装置は、異なった態様でおよび異なった時間で同一の測定点を示す1つのフレームまたは複数のクレームから、材料の割り当てを算出する。この場合、分類装置Rでは、或る材料サンプルエナメル質または歯肉または充填材、例えばアマルガムまたは金の、ルックアップテーブルに格納された複数のデータセットのうちの1つに対するベストフィットが算出される。スペクトルSP1,SP2は、次に、ルックアップテーブルからのデータで相殺される。ルックアップテーブル用のデータを生成するためには、知られたサンプが、本発明に係わるシステムによって測定される。スペクトル情報SP1、SP2および、必要な場合には、更なるチャネル、例えば、ライブ画像光学系からなる基準チャネルが記憶され、かつデータセットとして、ルックアップテーブルに格納される。データは、既にz方向の距離値が補正された形態で、格納されることは好ましい。知られていない材料の測定データは、次に、同様に距離が補正された形態で、ルックアップテーブルのデータセットと、例えば、1つのスペクトル測定点につき距離の二乗の最小誤差を算出するベストフィットのアルゴリズムと、比較される。システムを較正するためには、極めて広範に拡散する材料、例えば酸化チタンまたはスペクトラロンからなる基準本体の、スペクトル的に分解されたデータが、使用される。基準チャネルが使用されるとき、該基準チャネルは、追加的に使用されることができるRef1...Refn。例えば、3D測定中のライブ画像の実現化のための、1つまたは複数の追加的な、非共焦点の基準チャネルが存在するときは、該基準チャネルを、光学特性から材料を決定するために、共に使用することができる。図6から見て取れるスペクトルを基にして、スペクトルを距離補正の形態で如何に較正するかを説明する。次に、該スペクトルを、ルックアップテーブルに保管されておりかつ材料特性への推論を可能にするスペクトルと比較することができる。図6を参照して、システム較正を原理的に説明する。かくして、図6aのスペクトルは、バックグラウンドスペクトル左図および測定スペクトル右図を全く概略的に表わす。両者は、測定される点から一定の距離Zをあけて撮像される。ピンホールアレイ30を有する、本発明に係わる装置が使用される。該ピンホールアレイは、複数の焦点が結像されてなる複数の孔32、および照射パターン14と一致しない複数の孔54を有する。バックグラウンドスペクトルは、複数の孔54の少なくとも1つnを通過する放射線によって、測定される。測定スペクトルは、複数の孔32のうちの1つを通過する放射線によって測定される。該1つの孔は、1つのまたは複数の孔に隣り合っている。これらの孔によって、バックグラウンド放射線が決定される。この場合、試験体が測定される。図6aの右図には、所定の波長のピークが認められる。該ピークは、距離に依存Z依存している。しかしながら、実際には、本発明に係わる共焦点測定装置なしの、すなわち、波長λに基づく純粋の乱反射測定の際の、試験体の測定スペクトルは、図6bに従ったコース、すなわち右図を有するだろう。この場合、試験体として、例えばスペクトロンが使用される。該スペクトロンは、測定信号の中で、滑らかな真っ直ぐのコースを有する。何故ならば、スペクトロンは、可視のスペクトル範囲内のすべての波長において、ほぼ均等に反射するからである。従って、基準体図6aの右図の実際に測定されたスペクトルには、補正因子が備えられねばならない。その目的は、図6bの右図のコースに対応するコースを達成するためである。補正因子c=b:aは、図6cの右図に示されている。かようにして、補正因子を用いて、実際の測定スペクトル図6aの右図は、スペクトル6bの右図に移行される。従って、共焦点測定システムの影響を補償する補正データセットが得られる。対応のプロセスが、図6a,bおよびcの左のスペクトルによって表わされるバックグラウンドの測定結果に該当する。対応のスペクトルは、多数の間隔Zに対して測定され、但し、Zは、Z=0と、Z=ZMAXとの間にある。それ故に、全セットのスペクトルが、種々の深度間隔Zで記憶され、かつ、補正因子Cは、λを用いて、計算および記憶される。これらの補正因子を、次に、任意の物体オブジェクト、例えば歯、充填材、組織等のスペクトルに適用することができる。それ故に、材料に対する乱反射のスペクトルが得られ、次に、該スペクトルは、格納されたルックアップテーブル試験スペクトルと比較される。その目的は、材料の分類を実行するためである。比較の際に、例えば、距離の二乗の最小誤差は、試験スペクトルおよび測定されたスペクトルに対し使用される。1つの測定点につき種々の距離のための多数の測定を有するこのようなデータセットが、かなりの冗長を含むのであるから、低い信号対雑音比を有する、スペクトルの複数の部分が、破棄され、かつ、信号ピークに近い範囲のみが使用される。図7から例えば見て取れるスペクトルは、測定されるオブジェクトから、所定の距離Zで記録された。その目的は、次に、補正されたスペクトルを、格納されたスペクトルルックアップテーブルと比較し、かつ、材料特性に関する推論を引き出すことができるためである。例えば、図7aの右図には、オブジェクトとしての歯に関する測定スペクトルが示されている。図7aの左図は、同一の距離Zにおけるバックグラウンドスペクトルを表わす。図6に関する説明によれば、測定されたスペクトル7aは、スペクトル7bに対応する、図6cの補正因子によって補正される。その目的は、次に、図7cの歯の補正されたスペクトルを得るためである。対応のスペクトルは、次に、予め保管されたスペクトルと比較される。かような測定は、本発明に関する教示に従って、本発明に係わる測定装置の種々の間隔で、同一の測定点に関してなされることができる。図8は、以下のことを全く原理的に示す。すなわち、測定スペクトルおよびバックグラウンドスペクトルが、距離に応じて変化することである。何故ならば、共焦点条件が、各々の測定点からの距離に応じて、所定の波長に対して満たされ、従って、波長に従ってピークが発生するからである。このことを、図8aを参照して、説明する。例えば、第1の測定曲線を、距離Z1で記録し、かつ、第2の測定曲線を、距離Z2で記録した。ピークは、異なった波長λ1およびλ2で生じる。図8bには、バックグラウンドの測定左図および測定スペクトル右図は、距離Z1に関して補正されている。補正因子は、図6に関する説明に従って、使用された。図8cには、距離Z2に関する、補正された測定スペクトル右図すなわち補正されたバックグラウンドスペクトルが示されている。隣接した波長λ1およびλ2に関して、ビニングBinningが実行されるとき、図8dに示すように、雑音抑圧がなされる。測定スペクトル右図からのみならず、バックグラウンドスペクトル図面における左図からも、保管された基準スペクトルルックアップテーブルとの比較の際に、材料特性への推論を引き出すことができる。測定スペクトルの測定されたピークからは、例えば、オブジェクトの表面の滑らかさに関する情報を導き出し、バックグラウンドスペクトルからは、特に、オブジェクトの深度情報を導き出すことができる。測定装置の異なった距離におけるオブジェクトの点の測定に基づき、材料特性が、波長に従って決定される。特には、測定スペクトルからは、表面粗さまたは滑らかさに関する材料特性、屈折率および吸収特性を導き出し、バックグラウンドスペクトルからは、材料特性、例えば、散乱および吸収を導き出すことができる。FPGAFieldProgrammableGateArrayの中で、リアルタイムまたはほぼリアルタイムで計算がなされることは好ましい。その目的は、ホストコンピュータのCPUに負荷をかけないためである。リアルタイムの分類が可能であるのは、必要な情報が只1つのフレームに含まれている場合である。しかしながら、例えば稀にしか発生しないフレネル反射を含むことができる追加のフレームを待たねばならないとき、この情報の到着後に、最終的な評価がなされる。時間的な間隔が小さい、例えば30FPSFramesPerSecondであるとき、情報は、通常は、数秒の範囲で利用可能である。材料に関する情報を、次に、例えば測定点の異なった着色によって、GUIGraphicalUserInterfaceで、3D情報の上に重ねて表示し、および/または、材料に対応して、スキャンされたオブジェクトの選択的処理のために使用することができる。歯科用の適用の場合には、例えば、歯の硬組織から、軟組織、コットンロールまたは圧排糸への移行を明瞭に決定することができる。軟組織の幾何学的に異なった部分を、個々のフレームの登録前に削除することができる。実際また、充填材または虫歯を、健康な硬組織と、区別することができる。更に、光学特性μa,μsおよびgの決定を含む3D歯色決定を実行することができる。"