ベースバンド信号を変調して変調信号を生成する変調信号生成手段14と、入力信号を所定の減衰値で減衰して出力するステップアッテネータ17との間に設けられ、前記変調信号の信号レベルを所定信号レベルに調整して前記ステップアッテネータに出力するレベル調整器20を備えた信号発生装置10において、前記レベル調整器は、入力する制御信号に応じて前記変調信号の信号レベルを変更して前記ステップアッテネータに出力する信号レベル変更手段21と、前記信号レベル変更手段の出力信号レベルに基づいて前記信号レベル変更手段の出力信号を通過させ又は減衰する検波レベル設定手段23と、前記検波レベル設定手段の出力信号を検波する検波手段24と、前記検波手段の出力信号レベルに基づいて、前記信号レベル変更手段の出力信号レベルが前記所定信号レベルになるよう前記制御信号を前記信号レベル変更手段に出力する信号レベル制御手段27と、を備えたことを特徴とする信号発生装置。前記検波レベル設定手段は、前記信号レベル変更手段の出力信号を通過させる通過部23aと、前記信号レベル変更手段の出力信号を所定量減衰する少なくとも1つの減衰部23bと、を備え、前記通過部及び前記減衰部のいずれか1つを選択して前記信号レベル変更手段の出力信号レベルを設定するものであることを特徴とする請求項1に記載の信号発生装置。前記減衰部は、前記信号レベル変更手段の出力信号の信号レベルを、前記検波手段が検波可能な予め定められた信号レベル範囲内に設定するものであることを特徴とする請求項2に記載の信号発生装置。ベースバンド信号を変調して変調信号を生成する変調信号生成手段14と、入力信号を所定の減衰値で減衰して出力するステップアッテネータ17との間に設けられ、前記変調信号の信号レベルを所定信号レベルに調整して前記ステップアッテネータに出力するレベル調整器20を備えた信号発生装置10を用いた信号発生方法において、入力する制御信号に応じて前記変調信号の信号レベルを変更する信号レベル変更ステップS21と、前記信号レベル変更ステップの出力信号レベルに基づいて前記信号レベル変更ステップの出力信号を通過させ又は減衰する検波レベル設定ステップS23と、前記検波レベル設定ステップの出力信号を検波する検波ステップS24と、前記検波ステップの出力信号レベルに基づいて、前記変調信号の出力信号レベルが前記所定信号レベルになるように制御する信号レベル制御ステップS26と、を含むことを特徴とする信号発生方法。しかしながら、従来の信号発生装置では、キロヘルツからギガヘルツまでの広範囲な周波数の試験信号を発生する必要があり、広範囲な周波数において十分な性能を得ることができるステップアッテネータの最大減衰量は120dB程度が限界であり、出力信号レベルのダイナミックレンジをさらに広範囲に可変可能にするために、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加して対応することは、技術的に困難であるという課題があった。また、従来の信号発生装置では、仮に、アッテネータセクション数を増加することができたとしても、ステップアッテネータの部品点数が増加するとともに、ステップアッテネータが大型化するという課題があった。本発明は、前述の事情に鑑みてなされたものであり、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる信号発生装置及び信号発生方法を提供することを目的とする。本発明の請求項1に係る信号発生装置は、ベースバンド信号を変調して変調信号を生成する変調信号生成手段14と、入力信号を所定の減衰値で減衰して出力するステップアッテネータ17との間に設けられ、前記変調信号の信号レベルを所定信号レベルに調整して前記ステップアッテネータに出力するレベル調整器20を備えた信号発生装置10において、前記レベル調整器は、入力する制御信号に応じて前記変調信号の信号レベルを変更して前記ステップアッテネータに出力する信号レベル変更手段21と、前記信号レベル変更手段の出力信号レベルに基づいて前記信号レベル変更手段の出力信号を通過させ又は減衰する検波レベル設定手段23と、前記検波レベル設定手段の出力信号を検波する検波手段24と、前記検波手段の出力信号レベルに基づいて、前記信号レベル変更手段の出力信号レベルが前記所定信号レベルになるよう前記制御信号を前記信号レベル変更手段に出力する信号レベル制御手段27と、を備えた構成を有している。この構成により、本発明の請求項1に係る信号発生装置は、検波レベル設定手段が、信号レベル変更手段の出力信号レベルに基づいて信号レベル変更手段の出力信号を通過させ又は減衰することにより、レベル調整器の出力信号レベルのダイナミックレンジをより広範囲にすることができる。したがって、本発明の請求項1に係る信号発生装置は、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる。本発明の請求項2に係る信号発生装置は、前記検波レベル設定手段は、前記信号レベル変更手段の出力信号を通過させる通過部23aと、前記信号レベル変更手段の出力信号を所定量減衰する少なくとも1つの減衰部23bと、を備え、前記通過部及び前記減衰部のいずれか1つを選択して前記信号レベル変更手段の出力信号レベルを設定するものである構成を有している。この構成により、本発明の請求項2に係る信号発生装置は、通過部及び減衰部のいずれか1つを選択して信号レベル変更手段の出力信号を通過させ又は減衰し、レベル調整器の出力信号レベルのダイナミックレンジをより広範囲にすることにより、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる。本発明の請求項3に係る信号発生装置は、前記減衰部は、前記信号レベル変更手段の出力信号の信号レベルを、前記検波手段が検波可能な予め定められた信号レベル範囲内に設定するものである構成を有している。この構成により、本発明の請求項3に係る信号発生装置は、信号レベル変更手段の出力信号の信号レベルを検波手段が検波可能な予め定められた信号レベル範囲内に設定し、レベル調整器の出力信号レベルのダイナミックレンジをより広範囲にすることにより、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる。本発明の請求項4に係る信号発生方法は、ベースバンド信号を変調して変調信号を生成する変調信号生成手段14と、入力信号を所定の減衰値で減衰して出力するステップアッテネータ17との間に設けられ、前記変調信号の信号レベルを所定信号レベルに調整して前記ステップアッテネータに出力するレベル調整器20を備えた信号発生装置10を用いた信号発生方法において、入力する制御信号に応じて前記変調信号の信号レベルを変更する信号レベル変更ステップS21と、前記信号レベル変更ステップの出力信号レベルに基づいて前記信号レベル変更ステップの出力信号を通過させ又は減衰する検波レベル設定ステップS23と、前記検波レベル設定ステップの出力信号を検波する検波ステップS24と、前記検波ステップの出力信号レベルに基づいて、前記変調信号の出力信号レベルが前記所定信号レベルになるように制御する信号レベル制御ステップS26と、を含む構成を有している。この構成により、本発明の請求項4に係る信号発生方法は、信号レベル減衰ステップにおいて、信号レベル変更手段の出力信号レベルに基づいて信号レベル変更手段の出力信号を通過させ又は減衰することにより、レベル調整器の出力信号レベルのダイナミックレンジをより広範囲にすることができる。したがって、本発明の請求項1に係る信号発生装置は、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる。本発明は、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができるという効果を有する信号発生装置及び信号発生方法を提供することができるものである。以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。まず、本発明に係る信号発生装置の一実施形態における構成について説明する。図1に示すように、本実施形態における信号発生装置10は、波形データ記憶部11、デジタルアナログコンバータDAC12及び13、直交変調器14、局部発振器15、ステップアッテネータステップATT17、操作部18、設定部19、レベル調整器20を備えている。波形データ記憶部11は、被試験装置を試験するための複数の試験信号データとして、デジタル値のベースバンドの波形データを記憶している。試験者は、操作部18を操作し、設定部19を介して、波形データ記憶部11に記憶された試験信号データを選択して出力できるようになっている。試験信号データは、I相成分同相成分及びQ相成分直交成分のベースバンドの波形データを含む。波形データは、例えば、図示しないDSPDigitalSignalProcessorによって生成される。DAC12及び13は、それぞれ、波形データ記憶部11が出力するI相成分及びQ相成分のデジタル値のベースバンド信号波形データをアナログ値に変換して直交変調器14に出力するようになっている。局部発振器15は、設定部19からの設定信号に基づいた局部発振周波数の局部発振信号を生成し、直交変調器14に出力するようになっている。直交変調器14は、乗算器14a及び14b、90度移相器14c、加算器14dを備え、DAC12からのI相成分及びDAC13からのQ相成分と、局部発振器15から入力した局部発振信号とを乗算することにより直交変調及び周波数変換を行って無線周波数の信号RF信号を生成してレベル調整器20に出力するようになっている。この直交変調器14は、本発明に係る変調信号生成手段を構成する。レベル調整器20は、直交変調器14の出力信号の電力レベルを所定の電力レベルに調整してステップATT17に出力するものであって、可変アッテネータ21、増幅器22、検波器入力レベル設定器23、検波器24、基準値出力部26、比較器27を備えている。可変アッテネータ21は、減衰量を設定するための制御信号を比較器27から入力し、この制御信号に従って、直交変調器14の出力信号の電力を減衰するための減衰量が設定されるようになっている。可変アッテネータ21は、例えば連続した微細な減衰量を設定できるものである。ここで、可変アッテネータ21は、本発明に係る信号レベル変更手段を構成する。なお、本実施形態では、本発明に係る信号レベル変更手段として、直交変調器14の出力信号を減衰する可変アッテネータ21を例に挙げているが、本発明はこれに限定されず、直交変調器14の出力信号の信号レベルを変更するものであればよく、例えば増幅率を可変できる増幅器であってもよい。増幅器22は、可変アッテネータ21の出力信号を増幅するようになっている。この増幅器22の出力側には、レベル調整器20におけるレベル調整のための基準点が設けられている。この基準点において所定の電力レベルに設定された信号は、検波器入力レベル設定器23及びステップATT17に出力される。検波器入力レベル設定器23は、入力信号をそのまま通過させる通過部23a、入力信号を所定減衰量で減衰する減衰部23b、通過部23a及び減衰部23bのいずれか一方を選択する切替スイッチ23c及び23dを有する。切替スイッチ23c及び23dは、設定部19からの設定信号によって動作するようになっている。図示の例は、切替スイッチ23c及び23dが減衰部23bを選択している状態である。なお、検波器入力レベル設定器23は、本発明に係る検波レベル設定手段を構成する。通過部23aは、例えば基板上に設けられた導体配線で形成される。減衰部23bは、抵抗器その他の減衰素子や、例えばπ型減衰器のような減衰回路で構成され、入力側及び出力側のインピーダンスと整合されている。なお、図示の例では、減衰部23bの個数を1つとしているが、検波器入力レベル設定器23が互いに異なる減衰量を有する複数の減衰部23bを備える構成としてもよい。検波器24は、検波器入力レベル設定器23の出力信号を検波し、比較器27に出力するようになっている。この検波器24は、本発明に係る検波手段を構成する。基準値出力部26は、設定部19からの設定信号によって設定された基準レベルの信号を生成し、基準レベルの信号を比較器27に出力するようになっている。比較器27は、検波器24の出力信号レベルと、基準値出力部26からの基準レベルの信号とを比較して、基準点Rの電力レベル以下基準点レベルという。が例えば-10dBmとなるよう、減衰量設定の制御信号を可変アッテネータ21に出力するようになっている。この比較器27は、本発明に係る信号レベル制御手段を構成する。ステップATT17は、前述の可変アッテネータ21よりも大きいステップ例えば5dBステップで減衰量が設定されるATTである。すなわち、ステップATT17は比較的大きな減衰量が設定され、前述の可変アッテネータ21は微細な減衰量が設定される。このステップATT17は、各々の減衰量が予め定められた複数のアッテネータセクションを備え、各アッテネータセクションの減衰量の組み合わせにより、減衰量をステップ可変できるようになっている。ステップATT17は、設定部19からの設定信号によって設定された減衰量で入力信号を減衰し、試験者が所望する電力レベルのRF試験信号を出力するようになっている。操作部18は、試験者が試験条件及び試験手順に関する設定等を行うために操作するものであり、例えば、キーボード、ダイヤル又はマウスのような入力デバイス、これらを制御する制御回路等で構成される。試験者が設定する試験条件としては、例えば、波形データ記憶部11に記憶された波形データ、ステップATT17が出力するRF試験信号の出力レベル及び無線周波数等がある。設定部19は、例えばマイクロコンピュータによって構成されており、装置全体の制御を行うようになっている。また、設定部19は、試験者が操作部18を操作して設定した各試験条件に基づき、各試験条件を設定する設定信号を波形データ記憶部11、局部発振器15、ステップATT17、検波器入力レベル設定器23、基準値出力部26にそれぞれ出力し、各試験条件を設定するようになっている。ここで、基準値出力部26に対する設定としては、設定部19は、例えば、図2に示すような基準値設定テーブルに基づいて、次に示すように動作するようになっている。基準値設定テーブルは、ユーザが設定する信号発生装置10の出力レベルに対して、ステップATT17の減衰量、基準点Rの目標値、検波器入力レベル設定器23の設定、基準値出力部26の出力値を対応させたものである。図2に示すように、ステップATT17の減衰量は、出力レベルに対して予め定められている。基準点Rの目標値は、出力レベルにステップATT17の減衰量を加算した値であり、この項目は基準値設定テーブルから除いてもよい。検波器入力レベル設定器23の設定は、出力レベルに対して減衰-20dBか通過0dBかを予め定めたものであって、図示の例では、出力レベルが-9.9dB以上では減衰、出力レベルが-10.0以下では通過が設定されるようになっている。基準値出力部26の出力値は、基準点Rの目標値に検波器入力レベル設定器23での設定による減衰値を加算した値を表している。例えば、ユーザが信号発生装置10の出力レベルを10.0dBmに設定した場合、設定部19は、基準値設定テーブルに基づき、ステップATT17の減衰量を0dBに設定し、検波器入力レベル設定器23を減衰部23bの選択に設定し、基準値出力部26に対し、基準点レベルを10.0dBmに設定するための制御信号を出力する。この場合、減衰部23bの減衰量に応じて検波器24の出力レベルが低下するので、基準値出力部26に対する制御信号は、それに応じたものになる。また、例えば、ユーザが信号発生装置10の出力レベルを-10.0dBmに設定した場合、設定部19は、基準値設定テーブルに基づき、ステップATT17の減衰量を20dBに設定し、検波器入力レベル設定器23を通過部23aの選択に設定し、基準値出力部26に対し、基準点レベルを10.0dBmに設定するための制御信号を出力する。なお、設定部19は、基準値出力部26に設定する基準レベルを補正することにより、アナログ回路の周波数特性を補正することもできる。例えば、設定部19は、増幅器22、減衰部23b及び検波器24の周波数特性を予め求めておき、これらの周波数特性をフラットに補正し、かつ、基準点レベルが所望値となるよう、基準値出力部26の基準レベルを設定することもできる。次に、検波器入力レベル設定器23の機能について説明する。一般に、信号発生装置のレベル調整器は検波器を備えている。検波器が良好に検波できる電力レベルの範囲、すなわち検波器のダイナミックレンジは、レベル調整器の他の構成要素のダイナミックレンジよりも狭く、検波器のダイナミックレンジがレベル調整器のダイナミックレンジを決定づけている。本実施形態においては、図3に示すように、検波器24が良好に検波できる電力レベルの範囲を-50dBm~-10dBmとする。この場合、検波器24のダイナミックレンジは40dBであり、これはレベル調整器20のダイナミックレンジでもある。また、検波器入力レベル設定器23の通過部23aの減衰量を0dB、減衰部23bの減衰量を20dBとする。この場合、検波器入力レベル設定器23が通過部23aを選択している状態では、検波器24は、基準点レベルが-50dBm~-10dBmのRF信号を検波することができる。一方、検波器入力レベル設定器23が減衰部23bを選択している状態では、検波器24は、基準点レベルが-30dBm~10dBmのRF信号を検波することができる。したがって、設定部19は、例えば、基準点レベルを-50dBm~-10dBm-50dBm以上-10dBm未満に設定する場合はRF信号を通過部23aに通し、-10dBm~10dBm-10dBm以上10dBm以下に設定する場合はRF信号を減衰部23bに通すようにする。その結果、レベル調整器20のダイナミックレンジは、当初より20dB拡大されて60dBとなる。ここで、ステップATT17の最大減衰量を120dBとすると、これにレベル調整器20のダイナミックレンジ20dBを加えて最大減衰量140dBが得られる。よって、信号発生装置10は、出力信号のダイナミックレンジを従来よりも20dB広範囲化することができる。次に、本実施形態における信号発生装置10の動作について図1に示したブロック構成図及び図4に示すフローチャートを用いて説明する。試験者が操作部18を操作することにより、試験者が所望する試験条件が入力され、設定部19によって試験条件が各部に設定されるステップS11。具体的には、設定部19は、波形データ記憶部11に波形データを指定する信号を、局部発振器15に局部発振周波数を指定する信号を、ステップATT17に減衰量を指定する信号を、基準値出力部26に基準値を示す信号をそれぞれ出力する。設定部19は、基準点レベルの設定値が、-10dBm~10dBmか、-50dBm~-10dBmかを判断するステップS12。ステップS12において、基準点レベルの設定値が-50dBm~-10dBmの場合は、設定部19は、検波器入力レベル設定器23の切替スイッチ23c及び23dに通過部23aを選択させるステップS13。一方、基準点レベルの設定値が-10dBm~10dBmの場合は、設定部19は、検波器入力レベル設定器23の切替スイッチ23c及び23dに減衰部23bを選択させるステップS14。波形データ記憶部11は、試験者が指定した、I相成分及びQ相成分のベースバンドの波形データを、それぞれ、DAC12及び13に出力するステップS15。DAC12及び13は、それぞれ、I相成分及びQ相成分のベースバンドの波形データをアナログの波形データに変換しステップS16、直交変調器14に出力する。直交変調器14は、DAC12及び13からベースバンド信号、局部発振器15から局部発振信号を入力し、ベースバンド信号と局部発振信号とを乗算することにより、直交変調及び周波数変換を行ってRF信号を生成しステップS17、生成したRF信号をレベル調整器20に出力する。レベル調整器20は、入力したRF信号のレベルを、例えば0dBmに設定するレベル制御を行ってステップS20、ステップATT17に出力する。ステップATT17は、設定部19が設定した減衰量でRF信号を減衰しステップS18、RF試験信号として出力するステップS19。出力先の試験対象は、例えば、移動体通信の端末や基地局、あるいはそれらに用いられるデバイスなどである。次に、ステップS20におけるレベル調整器20の動作について、図1に示したブロック構成図及び図5に示したフローチャートに基づき説明する。ここで、レベル調整器20が基準点レベルを0dBmに調整する例を挙げる。この場合、検波器入力レベル設定器23において切替スイッチ23c及び23dが減衰部23b側を選択している。可変アッテネータ21は、直交変調器14が出力するRF信号を、比較器27からの減衰量設定の制御信号に基づいて所定値に減衰しステップS21、増幅器22に出力する。増幅器22は、可変アッテネータ21が出力するRF信号を所定の増幅率で増幅しステップS22、ステップATT17及び検波器入力レベル設定器23に出力する。検波器入力レベル設定器23は、入力したRF信号を減衰部23bによって20dB減衰しステップS23、検波器24に出力する。検波器24は、入力したRF信号を検波しステップS24、検波信号を比較器27に出力する。比較器27は、検波器24が出力する信号レベルと、基準値出力部26からの基準信号レベルとを比較してステップS25、基準点レベルが0dBmとなるよう減衰量設定の制御信号を可変アッテネータ21に出力するステップS26。ここで、基準信号レベルは、20dB減衰されて検波された検波信号のレベルに対応したものになっている。前述のステップS21~S26の説明では、基準点レベルを0dBmとし、基準点レベルの設定値が-10dBm~10dBmの場合の一例を挙げたものである。準点点レベルの設定値が-50dBm~-10dBmの場合は、検波器入力レベル設定器23において切替スイッチ23c及び23dが通過部23a側を選択し、ステップS23においてRF信号を減衰させないで通過させることとなる。以上のように、本実施形態における信号発生装置10は、検波器入力レベル設定器23が、レベル調整器20の出力信号レベルに基づいてレベル調整器20の出力信号を通過させ又は減衰することにより、レベル調整器20の出力信号レベルのダイナミックレンジをより広範囲にすることができる。したがって、本実施形態における信号発生装置10は、ステップATT17のアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる。