"画像におけるエッジに対してエッジ補正処理を行う画像処理装置であって、注目画素のデータの濃度を判定する濃度判定手段と、前記注目画素のデータに対して誤差拡散処理を行う誤差拡散処理手段と、前記注目画素のデータに対してディザ処理を行うディザ処理手段と、前記注目画素のデータと前記ディザ処理手段より生成されたデータとに基づきエッジ縁取り処理を行うエッジ縁取り処理手段と、前記注目画素が、前記濃度判定手段により閾値以上の高い値の濃度である高濃度と判定された場合は、前記注目画素に対する前記エッジ補正処理のデータとして、前記エッジ縁取り処理手段により生成されるデータを選択し、前記注目画素が、前記濃度判定手段により閾値よりも小さい値の濃度である低濃度と判定された場合は、前記注目画素に対する前記エッジ補正処理のデータとして、前記誤差拡散処理手段により生成されるデータを選択する選択手段とを有することを特徴とする画像処理装置。前記注目画素がエッジのデータであるか否かを、前記注目画素と前記注目画素の周辺の画素と、の濃度の差分に基づき、判定するエッジ判定手段を有することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。画像におけるエッジに対してエッジ補正処理を行う画像処理装置であって、注目画素のデータの濃度を判定する濃度判定手段と、前記注目画素のデータに対して誤差拡散処理を行う誤差拡散処理手段と、前記注目画素のデータに対してディザ処理を行うディザ処理手段と、前記注目画素のデータと前記ディザ処理手段より生成されたデータからエッジ縁取り処理を行うエッジ縁取り処理手段と、前記エッジ補正処理として、前記エッジ縁取り処理手段より生成されたデータと、前記誤差拡散処理手段より生成されたデータと、に基づきエッジ補正処理後のデータを生成するデータ混合手段とを有し、前記データ混合手段は、前記注目画素の濃度が高いほど前記誤差拡散処理に対する前記エッジ縁取り処理の割合を大きくし、前記注目画素の濃度が低いほど前記エッジ縁取り処理に対する前記誤差拡散処理の割合を大きくすることを特徴とする画像処理装置。画像におけるエッジに対してエッジ補正処理を行う画像処理装置であって、注目画素のデータのエッジ強度であって、前記注目画素の周辺画素との濃度コントラストであるエッジ強度を演算をするエッジ強度演算手段と、前記注目画素のデータに対して誤差拡散処理を行う誤差拡散処理手段と、前記注目画素のデータに対してディザ処理を行うディザ処理手段と、前記注目画素のデータと前記ディザ処理手段より生成されたデータとに基づきエッジ縁取り処理を行うエッジ縁取り処理手段と、前記エッジ強度演算手段により演算された前記注目画素の前記エッジ強度が大きい場合は、前記エッジ縁取り処理手段により生成されたデータを選択し、前記エッジ強度演算手段の結果が小さい場合は前記誤差拡散処理手段により生成されたデータを選択する選択手段とを有することを特徴とする画像処理装置。画像におけるエッジに対してエッジ補正処理を行う画像処理装置における画像処理方法であって、注目画素のデータの濃度を判定する濃度判定工程と、前記注目画素のデータに対して誤差拡散処理を行う誤差拡散処理工程と、前記注目画素のデータに対してディザ処理を行うディザ処理工程と、前記注目画素のデータと前記ディザ処理工程より生成されたデータとに基づきエッジ縁取り処理を行うエッジ縁取り処理工程と、前記注目画素が、前記濃度判定工程により閾値以上の高い値の濃度である高濃度と判定された場合は、前記注目画素に対する前記エッジ補正処理のデータとして、前記エッジ縁取り処理工程により生成されるデータを選択し、前記注目画素が、前記濃度判定工程により閾値よりも小さい値の濃度である低濃度と判定された場合は、前記注目画素に対する前記エッジ補正処理のデータとして、前記誤差拡散処理工程により生成されるデータを選択する選択工程とを有することを特徴とする画像処理方法。前記注目画素がエッジのデータであるか否かを、前記注目画素と前記注目画素の周辺の画素と、の濃度の差分に基づき、判定するエッジ判定工程を有することを特徴とする請求項5に記載の画像処理方法。画像におけるエッジに対してエッジ補正処理を行う画像処理装置における画像処理方法であって、注目画素のデータの濃度を判定する濃度判定工程と、前記注目画素のデータに対して誤差拡散処理を行う誤差拡散処理工程と、前記注目画素のデータに対してディザ処理を行うディザ処理工程と、前記注目画素のデータと前記ディザ処理工程より生成されたデータからエッジ縁取り処理を行うエッジ縁取り処理工程と、前記エッジ補正処理として、前記エッジ縁取り処理工程より生成されたデータと、前記誤差拡散処理工程より生成されたデータと、に基づきエッジ補正処理後のデータを生成するデータ混合工程とを有し、前記混合工程は、前記注目画素の濃度が高いほど前記誤差拡散処理に対する前記エッジ縁取り処理の割合を大きくし、前記注目画素の濃度が低いほど前記エッジ縁取り処理に対する前記誤差拡散処理の割合を大きくすることを特徴とする画像処理方法。画像におけるエッジに対してエッジ補正処理を行う画像処理装置における画像処理方法であって、注目画素のデータのエッジ強度であって、前記注目画素の周辺画素との濃度コントラストであるエッジ強度を演算をするエッジ強度演算工程と、前記注目画素のデータに対して誤差拡散処理を行う誤差拡散処理工程と、前記注目画素のデータに対してディザ処理を行うディザ処理工程と、前記注目画素のデータと前記ディザ処理工程より生成されたデータとに基づきエッジ縁取り処理を行うエッジ縁取り処理工程と、前記エッジ強度演算工程により演算された前記注目画素の前記エッジ強度が大きい場合は、前記エッジ縁取り処理工程により生成されたデータを選択し、前記エッジ強度演算工程の結果が小さい場合は前記誤差拡散処理工程により生成されたデータを選択する選択工程とを有することを特徴とする画像処理方法。請求項1乃至4の何れか1項に記載の各手段として、コンピュータを機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。しかしながら、特許文献1によるエッジ補正処理は、縁取り処理を安定して行うことができる高濃度のエッジ部においては非常に有効な手法であるが、低濃度のエッジ部に関してはドットの再現性が不安定となり、エッジが適切に補正されない場合がある。また、特許文献2によるエッジ補正処理は、誤差拡散処理による高解像度化また最適な量子化値の設定などにより低濃度部におけるエッジ再現が向上する。しかし、高濃度のエッジ部においては、誤差拡散処理によりランダムにドットを発生させている為スクリーンによって発生するジャギー部分にドットが付加されない場合、ジャギーが低減されないといった課題がある。本願発明における画像処理装置は、画像におけるエッジに対してエッジ補正処理を行う画像処理装置であって、注目画素のデータの濃度を判定する濃度判定手段と、前記注目画素のデータに対して誤差拡散処理を行う誤差拡散処理手段と、前記注目画素のデータに対してディザ処理を行うディザ処理手段と、前記注目画素のデータと前記ディザ処理手段より生成されたデータとに基づきエッジ縁取り処理を行うエッジ縁取り処理手段と、前記注目画素が、前記濃度判定手段により閾値以上の高い値の濃度である高濃度と判定された場合は、前記注目画素に対する前記エッジ補正処理のデータとして、前記エッジ縁取り処理手段により生成されるデータを選択し、前記注目画素が、前記濃度判定手段により閾値よりも小さい値の濃度である低濃度と判定された場合は、前記注目画素に対する前記エッジ補正処理のデータとして、前記誤差拡散処理手段により生成されるデータを選択する選択手段とを有することを特徴とする。或いは、本発明における画像処理装置は、画像におけるエッジに対してエッジ補正処理を行う画像処理装置であって、注目画素のデータの濃度を判定する濃度判定手段と、前記注目画素のデータに対して誤差拡散処理を行う誤差拡散処理手段と、前記注目画素のデータに対してディザ処理を行うディザ処理手段と、前記注目画素のデータと前記ディザ処理手段より生成されたデータからエッジ縁取り処理を行うエッジ縁取り処理手段と、前記エッジ補正処理として、前記エッジ縁取り処理手段より生成されたデータと、前記誤差拡散処理手段より生成されたデータと、に基づきエッジ補正処理後のデータを生成するデータ混合手段とを有し、前記混合手段は、前記注目画素の濃度が高いほど前記誤差拡散処理に対する前記エッジ縁取り処理の割合を大きくし、前記注目画素の濃度が低いほど前記エッジ縁取り処理に対する前記誤差拡散処理の割合を大きくすることを特徴とする。或いは、本発明における画像処理装置は、画像におけるエッジに対してエッジ補正処理を行う画像処理装置であって、注目画素のデータのエッジ強度であって、前記注目画素の周辺画素との濃度コントラストであるエッジ強度を演算をするエッジ強度演算手段と、前記注目画素のデータに対して誤差拡散処理を行う誤差拡散処理手段と、前記注目画素のデータに対してディザ処理を行うディザ処理手段と、前記注目画素のデータと前記ディザ処理手段より生成されたデータとに基づきエッジ縁取り処理を行うエッジ縁取り処理手段と、前記エッジ強度演算手段により演算された前記注目画素の前記エッジ強度が大きい場合は、前記エッジ縁取り処理手段により生成されたデータを選択し、前記エッジ強度演算手段の結果が小さい場合は前記誤差拡散処理手段により生成されたデータを選択する選択手段とを有することを特徴とする。本発明によれば、画像データのエッジに対して、高品位なエッジ補正処理を行うことが出来る。以下に、本発明の実施の形態について添付図面を参照して詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、本発明の実現手段としての一例であり、本発明は、その趣旨を逸脱しない範囲で以下の実施形態を修正又は変形したものに適用可能である。[第1の実施形態]図1は、本発明の第1の実施形態に係る画像処理装置の機能的構成を示すブロック図である。図中では画像処理装置101と、プリンタ11と、が接続されている。以下、画像処理装置101の説明を順次行う。バッファ102は、入力画像データを一旦蓄積するものであり、複数ライン分のデータを記憶する。なお、本実施形態では、各画素を8ビットで表現した画像データを1ページ分記憶する容量を持つものとして説明する。ここで、入力画像データIMAGEは、不図示の外部装置例えば、コンピュータ装置やコントローラ原稿読み取り装置等から受信する画像が入力されたもので、入力画像データIMAGEは、例えば8ビットの階調データである。バッファ102に蓄積された画像データは、ラスタ順に画素単位でディザ処理部103、誤差拡散処理部104、エッジ縁取り補正部105、エッジ強度演算部106、補正処理判定部107にそれぞれ入力される。ここでは、ラスタ順に各画像処理部に入力される画像データを注目画素と表現する。ディザ処理部103は、入力画像データに含まれる注目画素データからディザ処理法に従って階調画素データDITHER以下、DITHERと称するを生成する。ディザ処理部103は、注目画素データに適用する閾値を予め記憶された閾値マトリクスより選択し、選択された閾値と注目画素データを比較し量子化値を出力する処理である。閾値マトリクスは、閾値が画素の位置関係に基づきマトリクスとして保持されたものである。ディザ処理により、注目画素の位置関係基づく閾値が閾値マトリクスより選択され、注目画素値と比較される。このとき、注目画素が閾値を上回っていれば、閾値に対応した量子化値が出力され、注目画素が閾値を下回っていれば、量子化レベルをひとつ下げた量子化値が出力される。量子化幅はプリンタ111の解像度によって異なり、例えば、1画素を複数の階調で表現することのできるパルス幅制御が可能なプリンタに適用する場合には、表現可能な階調数の量子化幅を最大で持つことができる。他方、誤差拡散処理部104は、入力画像データに含まれる注目画素データから誤差拡散法に従って階調画素データEDを生成する。エッジ縁取り補正部105は、注目画素データとディザ処理部103より出力されるDITHERに基づきエッジ縁取り補正に用いるデータENを出力する。エッジ強度演算部106は、入力画像データに含まれる注目画素データとその周辺画素データからエッジ強度を検出して出力信号1061を出力する。そして、エッジ判定部110は入力されたエッジ強度出力信号1061に応じてエッジ判定信号EDGE_DETECTを出力する。補正処理判定部107は、入力画像データに含まれる注目画素データの濃度に基づきエッジ縁取り補正部105から出力されるデータENを用いるか、誤差拡散処理部104から出力される階調画素データEDを用いるかを指定する。具体的には、データENと階調画素データEDのどちらを選択するかの選択信号SELECTをエッジ補正選択部108に出力する。エッジ補正処理選択部108は、指示された選択信号SELECTに基づき、誤差拡散によるエッジ補正処理EDか、縁取り処理によるエッジ補正処理ENかを選択し、そのどちらかをEDGEとして出力する。尚、ここで出力されるEDGEは、EDGE_DETECT信号がエッジを示している場合にのみ、平坦エッジ選択部109により利用される。また、ここでは1画素のデータが順次出力されることとなる。平坦エッジ処理選択部109は、エッジ判定部110より出力された選択信号SELECTに従い、ディザ処理部103より出力されるDITHERと、エッジ補正処理選択部108で出力されたエッジ補正処理画像データEDGEのどちらかを選択する。そしてそれを出力画像データ信号1091として出力する。プリンタ111は、例えば、レーザービームプリンタであり、出力画像データ1091に従って、各画素のレーザー照射時間を決定して画像形成を行う。また、プリンタ111が、LEDアレイを用いたLEDプリンタの場合には、LEDの照射時間を決定して画像形成を行う。また、本実施形態では、1画素を複数の階調で表現することのできるパルス幅制御が可能なプリンタについて記載する。以下、図1における各ブロックの詳細について説明を行っていく。○バッファ102図2はバッファ102の機能を示すブロック図である。バッファ102では、まず入力画像データIMAGEをページメモリ201に格納する。頁メモリの画像データIMAGEは縦n画素×横m画素である。そして、ページメモリ201上に格納されたデータは、セレクタ203により、注目画素Cを中心とした3×3画素202のマトリクスで選択される。マトリクスの1行目の3画素を信号線204a、注目画素を含む2行目の3画素を信号線204b、3行目の3画素を信号線204cを通じてエッジ強度演算部106へと送られる。尚、このとき、行番号、列番号とすると、セレクタ203は、注目画素Cを、2、22、32、n-1と順次選択していく。またセレクタ203は、同様にして、注目画素Cの選択を2行目~n―1行目までについて行う。また、このときに、204a~204cとしてエッジ強度演算部106に送られる画素も順次変更されていく。また、この時、注目画素データCは、ディザ処理部103、誤差拡散処理部104、エッジ縁取り補正部105、補正処理判定部107へも同時に送られる。○エッジ強度演算部106図3は、エッジ強度演算部106の機能構成を示すブロック図である。バッファ102から信号線204a~204cを通して入力されてきた画像データは、バッファ301に蓄積される。バッファ301は、3画素分の画像データを蓄積可能な3つのシフトレジスタ301a~301cを有する。従って、バッファ301は、9画素分の画像データを蓄積可能である。ここで、中央に位置する画素を注目画素308とする。バッファ301に蓄積された9画素分の画像データは、バッファ301aの先頭アドレスから順に信号線302を通じてフィルタ演算部300へ入力される。バッファ301aに蓄積されたデータの伝送がおわると、次はバッファ301bの先頭アドレスから順に伝送を行う。以後、同様にして301aから301cまでのデータを伝送する。フィルタ演算部300は、入力された9画素分の画像データとフィルタ演算処理を行う。このフィルタ演算部300は、注目画素Cがエッジであるか否かを、注目画素Cと、素周辺の画素と、の濃度の差分濃度コントラストに基づき、判定する。以下、その詳細について説明するフィルタ演算処理に使用されるフィルタとしては、図4ではラプラシアンフィルタが用いられている。フィルタ演算部300はバッファ301より順次入力される画像データとフィルタとの乗算処理を行い、すべての画素の乗算処理を行った結果を加算処理を行う。例えば、フィルタに図4のラプラシアンフィルタを用いている場合は、バッファ301aの先頭アドレスの画像データが入力されると同時にフィルタの先頭アドレス400aから値を読み込み、入力データとの乗算処理を行う。バッファ301aのアドレスが変更され次のデータが入力されるとフィルタの読み込みアドレスもシフトし、アドレス400bから読み込んだ値と入力データとの乗算処理を行う。以下同様に入力データとフィルタの乗算処理を順次行い、その結果を加算処理した値をエッジ強度値1061として出力する。この加算処理は、実質的に、注目画素とその周辺の画素との濃度差分を評価する処理に相当する。○エッジ判定部110図5はエッジ判定部110の機能構成を示すブロック図である。エッジ判定決定部502は、エッジ強度検出部106より入力されるエッジ強度値1061からエッジ判定閾値を参照して、注目画素308のエッジ補正処理をするかどうかを決定し、エッジ判定結果EDGE_DETECTとして出力する。図6を用いてエッジ縁取り補正部105の出力画像データの選択方法について説明する。エッジ縁取り補正部105では、ディザ処理部103の出力であるDITHERと、注目画素の画像データCが順次入力されるごとにDITHERかCのどちらかを選択し、出力信号ENとして出力する。まず、ディザ処理部103より出力されるDITHERを参照するS601。DITHER=0の場合、注目画素の画像データCを選択し、出力データENとして出力するS602。また、DITHER≠0の場合、DITHERを出力データENとして出力するS603。○補正処理判定部107図11は補正処理判定部107の処理フローである。まず、補正処理判定部107はエッジ補正処理を選択するために閾値THを読み込むS1101。なお、本実施形態では閾値THは予め記憶されている値を読み込むこととしたが、センサで測定した濃度情報によって決定される値を読み込んでもよいし、各色ごとにTHを変更させてもよい。つまり、閾値THは一義的に決定するのではなく、最適なエッジ補正処理を選択することができるようにしてもよい。閾値THと、補正処理判定部107に入力された画像データC注目画素のデータCを比較するS1102。これは濃度判定に相当する。入力画像データCが閾値TH以上の値ならば高濃度用のエッジ補正処理を選択する信号をSELECT=0として出力するS1103。また、入力画像データCが閾値THより小さい値ならば低濃度用のエッジ補正処理を選択する信号をSELECT=1として出力するS1104。○エッジ補正処理選択部108次に、エッジ補正処理選択部108について説明する。エッジ補正処理選択部108は補正処理判定部107から入力される選択信号SELECTの値を元にエッジ縁取り補正ENか誤差拡散処理EDかを選択する。選択信号SELECTが高濃度用のエッジ補正処理を示している場合、前述しているようにエッジ縁取り補正部105による補正処理が最適である。よって、この場合には、エッジ補正処理選択部108は、エッジ補正処理のデータとして、エッジ縁取り処理部105により生成されたENのデータを選択し、出力値EDGEEDGE=ENとする。一方、選択信号SELECTが低濃度用のエッジ補正処理を選択している場合、エッジ補正処理選択部108は、エッジ補正処理のデータとして、誤差拡散処理部104により生成されたEDのデータを生成し、出力値EDGEEDGE=EDとする。○平坦エッジ処理選択部109平坦エッジ処理選択部109は、エッジ判定部110からのEDGE_DETECT信号によりエッジとみなされた場合にEDGEを、エッジとみなされない場合は平坦部としてDITHERを出力画像データ1091として出力する。平坦エッジ処理選択部109は、結果として、エッジ縁取り補正部105の出力ENを、注目画素Cがエッジ判定部110でエッジと判断され、且つエッジ補正処理選択部108で高濃度と判断された場合にエッジ補正データとして選択する。また平坦エッジ処理選択部109は、結果として、誤差拡散処理部104の出力EDを、注目画素Cがエッジ判定部110でエッジと判断され、且つエッジ補正処理選択部108で低濃度と判断された場合にエッジ補正データとして選択する。以上が図1における各ブロックの詳細説明である。以下、図8、9を用いて、エッジ補正処理として、エッジ縁取り補正部105によるエッジ縁取り補正処理を反映した場合と、誤差拡散処理部104による誤差拡散処理を反映した場合との画像について説明する。まず、平坦エッジ処理選択部109により、エッジ縁取り補正部105の出力ENがエッジ補正処理として選択された場合について、図8を用いて詳細に説明する。図8aは入力画像データの一例を示す図である。図8aの入力画像データに、ディザ処理部103でディザ処理を行ったものが図8bの画像データである。ディザの有する位相成分と近い角度を有するエッジ部においては、702のように量子化誤差が大きくなってしまい、エッジを適切に再現することができずにジャギーが発生してしまう。図8cは、エッジ判定部110によりエッジを判定し、判定結果を画像データとして示した図である。エッジ強度検出部106は、前述したとおりラインバッファ301に格納された9画素の画像データからエッジ強度値を演算する。ここで例えばラインバッファ301に格納される画像データが703であるとする。次に、フィルタ演算部300においてラインバッファ301に格納されたデータとエッジ判定用フィルタとのフィルタ演算を行う。ここで、仮にエッジ判定用のフィルタは図4に示すラプラシアンフィルタであるとする。ラインバッファに格納されたデータ703とラプラシアンフィルタ400とフィルタ演算をすると、エッジ強度値として、384が信号線1061を通じて出力される。エッジ判定部110は信号線1061を介して入力されるエッジ強度値と、エッジ判定閾値501より読み込んだ閾値とを比較する。そして、エッジ判定部110は、エッジ強度値が閾値以上の場合はエッジ検出信号を、閾値より小さい場合はエッジ非検出信号をEDGE_DETECTとして出力する。ここで、501に格納されているエッジ判定の閾値を192とすると、エッジ強度値の方が大きいため、入力画像データ703の中心画素はエッジが検出されたとみなすことができる。以上のエッジ判定処理を、図8aの入力画像データに対して行った結果が図8cである。画像データに対して、エッジ検出部を示す画素を703aのイメージで、エッジ非検出部を示す画素を703bのイメージで示す。図8cに示すとおり画像内のエッジ部だけが検出されていることが確認できる。図8dはエッジ判定結果図8cでエッジ検出部とみなされ且つエッジ補正処理選択部108で高濃度と判断された箇所にのみ、エッジ縁取り補正部105の出力ENを適用した場合の画像データを示している。704a、704bのそれぞれの箇所について、図6のエッジ縁取り処理フローを用いて詳細に説明する。まず、704aの箇所の場合、エッジ縁取り処理105に入力される入力画像値Cは128704aであり、DITHERは255704bである。図6のS601より、DITHERは0ではないため、S603を実行し、出力値ENとして255が出力される704d。同様に705aの箇所の場合、エッジ縁取り処理105に入力される入力画像値Cは128705aであり、DITHERは0705bである。図6のS601より、DITHERは0であるため、S602を実行し、出力値ENとして128が出力される705d。以上のようにエッジが検出された箇所のみエッジ縁取り補正部105の出力ENを適用した結果が図8dとなる。図8dではエッジの縁取り効果によって高解像度な補正をすることになり、量子化誤差が大きい箇所のデータも補うことが可能になるため、ジャギーの抑制を図ることができる。本実施形態ではエッジ縁取り補正処理としてディザスクリーンデータが0の際に入力画像データを付加する構成について記載したが、その他の縁取り処理でもかまわない。たとえば、エッジ部分には入力画像データをそのまま出力する構成や、ディザスクリーンデータと入力画像データを比較して、値の大きい方を出力するようなエッジ補正処理を施してもよい。図9を用いて、平坦エッジ処理選択部109により、エッジ検出箇所に、誤差拡散処理の出力EDを適用した場合について説明する。図9aは図8aで示す入力画像データを誤差拡散処理した画像データを示す図である。図9bは、図8cでエッジ部と判断された箇所に対して、図9aに示す誤差拡散処理した画像データを適用した場合の画像データを示す図である。また、図9bは、非エッジ部と判断された箇所に対して、図8bに示すディザ処理をした画像データを適用した場合の画像データを示す図である。図9aでは誤差拡散処理の一例として3値の誤差拡散処理を施した場合の画像データである。誤差拡散処理を用いた場合、エッジ部の途切れが発生しないためジャギーの発生を抑制することができるが、画像にランダムにドット抜けが生じるため、画像劣化の原因となる縞パターンが生成される。そこで、エッジ部のみ誤差拡散処理を適用することで図9bのように平坦部の粒状性を維持し、ジャギーを抑制することができる。以上説明したように、エッジ縁取り補正部105によるエッジ補正処理と誤差拡散処理部104によるエッジ補正処理はそれぞれジャギーの抑制に効果的である。○縁取り補正処理と誤差拡散処理と濃度との関係図10は、エッジ部の濃度が高い画像データに対して、エッジ縁取り補正部105によるエッジ補正処理と、誤差拡散処理部104によるエッジ補正処理を行った場合の図である。また、図11は、エッジ部の濃度が低い画像データに対して、エッジ縁取り補正部105によるエッジ補正処理と、誤差拡散処理部104によるエッジ補正処理を行った場合の図である。図10、11を用いて、本件の特徴部分である画像濃度に応じてエッジ縁取り補正部105によるエッジ補正処理と、誤差拡散処理部104によるエッジ補正処理を切り替える処理の有効性について説明する。図10において、aはエッジ部の濃度が高い画像データの一例を示す図である。図10bは、図10aで示す入力画像データをディザ処理した画像データを示す図である。図10cは、図10aで示す入力画像データを誤差拡散処理した画像データを示す図である。図10dはエッジ部と判断された箇所に対して、エッジ縁取り処理部105によってエッジ補正処理した画像データを適用し、非エッジ部と判断された場合は図10bで示すディザ処理した画像データを適用した場合を示す図である。図10eはエッジ部と判断された箇所に対して、図10cで示す誤差拡散処理した画像データを適用し、非エッジ部と判断された場合は図10bで示すディザ処理した画像データを適用した場合を示す図である。また、エッジと判断される箇所は図8cと同一箇所であるため記載を割愛する。図10aのような濃度の高い画像情報にディザ処理を行うと図10bに示すように下地に対してスクリーンの占める割合が増えてくるため、ジャギーの発生頻度は減少するものの、901bの部分のように一部にエッジのがたつきが生じてしまう。図10dは図10aの画像データをエッジ縁取り補正部105によってエッジ補正処理した画像データである。図10dに示すとおり、901bでジャギーが生じている部分に対して、スクリーンの間に入力画像である901aのドットが付加されているため、ジャギーが抑制されエッジ部を最適に表現できていることがわかる。また、スクリーンの間にドットを付加することでエッジ部が強調され、輪郭を強調したい文字などにおいては非常に高精細で滑らかにエッジを表現することができる。一方、図10eは図10aの画像データのエッジ部を誤差拡散処理部104によるデータに置き換えることでエッジ補正処理を行った結果の画像データである。図10eに示すとおり、901eのような箇所ではエッジ部のジャギーがとりきれていないことがわかる。これは、エッジ部に誤差拡散処理を用いているため、ランダムにドット抜けが生じてしまい、ジャギーを抑制させたい箇所にドットが発生せず、ジャギーが取りきれないことがあるためである。以上より、図10aのようなエッジ部の濃度が高い画像データの場合には、エッジ縁取り補正部105による補正処理によってエッジを強調する方が、誤差拡散処理部104によるエッジ補正処理よりも最適であることがわかる。また、図11において、aはエッジ部の濃度が低い画像データの一例を示す図である。図11bは図11aで示す入力画像データをディザ処理した画像データを示す図である。図11cは図11aで示す入力画像データを誤差拡散処理した画像データを示す図である。図11dはエッジ部と判断された箇所に対して、エッジ縁取り処理部105によってエッジ補正処理した画像データを適用し、非エッジ部と判断された場合は図11bで示すディザ処理した画像データを適用した場合を示す図である。図11eはエッジ部と判断された箇所に対して、図11cで示す誤差拡散処理した画像データを適用し、非エッジ部と判断された場合は図11bで示すディザ処理した画像データを適用した場合を示す図である。また、エッジと判断される箇所は図8cと同一箇所である。図11aのような濃度の低い画像情報にディザ処理を行うと図11bに示すように下地に対してスクリーンの占める割合が小さいため、1001bの部分のようにエッジのがたつきが生じてしまう。図11dは図11aの画像データをエッジ縁取り補正部105によってエッジ補正処理した画像データである。図11dに示すとおり、1001bでジャギーが生じている部分に対して、スクリーンの間に入力画像である1001aのドットが付加されていることがわかる。しかし、一般的に低濃度のドットはエンジンの耐久状況や、使用環境等の影響を受けやすく、ドットの再現性が不安定であるという課題がある。また、エッジ部においてスクリーンとスクリーンの間の距離が長くなる箇所がある例えば1002~1003間。つまり、濃度が低い画像データに対してエッジ縁取り補正部105によるエッジ補正処理を行うと、再現性が不安定なドットを使用して長い距離のエッジを補正することになってしまう例えば1004の部分。例えば1001dのドットが出力したい濃度よりも低く再現されてしまう場合は、エッジ縁取り処理の効果が薄く、ジャギーの改善がなされないことになる。また、1001dのドットが出力したい濃度よりも高く再現されてしまう場合は、エッジ縁取り処理が必要以上にかかってしまい、エッジ内部の平坦部と比べて不自然に縁取られた画像になってしまう。一方、図11eは図11aの画像データのエッジ部を誤差拡散処理部104のデータに置き換えることでエッジ補正処理を行った結果の画像データである。誤差拡散処理によるエッジ補正処理は、ランダムにドット抜けを発生させるためジャギーを完全に抑制させることはできないものの、スクリーンの周期よりも高い周期でエッジ部を表現することができる。また、誤差拡散の量子化値をあまり増やさずに、出力値を安定な高濃度部を使用することでドットの再現性を向上させることが可能となる。つまり、濃度が低い画像データに対して誤差拡散処理部によるエッジ補正処理を行うことで、再現性の安定したドットを使用して高解像度にエッジ部を表現することができる。このように図11aのようなエッジ部の濃度が低い画像データの場合には、誤差拡散処理部104によるエッジ補正処理によって、安定して高解像度にエッジを表現する方がエッジ縁取り補正部105による補正処理によりも最適であることがわかる。以上の処理によって、注目画素の濃度情報を元にエッジ縁取り処理と誤差拡散処理を切り替えてエッジ補正処理を行うことによって高濃度から低濃度のエッジまでジャギーを抑制し滑らかにエッジを表現することができる。尚、上の図1の説明においては、平坦エッジ処理選択部109にディザ処理部103からの出力DITHERを直接入力し、非エッジ部についてそのDITHERを割り当てるよう説明した。しかし、非エッジ部の画像処理についてこの形態に限定されるものではない。例えば、誤差拡散処理部104からの出力EDを代わりに入力し、そのEDを非エッジ部に割り当てるようにしても良い。或いは、ディザ処理部109の出力DITHERと、誤差拡散処理部104の出力EDと、の双方を入力し、非エッジ部の画像の画像内容によって、何れかを選択的に用いるようにしても良い。[第2の実施形態]上述の第1の実施形態では、注目画素の濃度情報を元にエッジ縁取り処理と誤差拡散処理を切り替える構成について説明した。しかしこのような画像処理では、グラデーションのような画像の場合にはエッジ縁取り処理と誤差拡散処理によるエッジ補正処理との切り替わりが見えてしまう場合がある。このため、本実施形態では、エッジ縁取り処理と誤差拡散によるエッジ補正処理を段々と切り替えることによって切り替わりを目立たなくする構成について説明する。図12は、第2の実施形態に係る画像処理装置の機能的構成を示すブロック図である。図1との差異を中心に説明を行うと、1201は入力画像データに応じてエッジ縁取り処理と誤差拡散処理の混合する割合を選択する混合比率選択部である。混合比率選択部1201は入力画像の濃度に応じて、エッジ縁取り処理データと誤差拡散処理データを混合する割合を選択する信号をSELECT信号として出力する。また、1202はSELECT信号に応じて、混合比率テーブルより混合比率を読み込み、読み込んだ混合比率でエッジ縁取り処理データENと誤差拡散処理データEDの濃度を混合して出力する混合部である。この混合部1202データ混合部により、エッジ補正処理として、エッジ縁取り補正部1202エッジ縁取り処理部に対応より生成されたデータと、前記誤差拡散処理手段より生成されたデータと、に基づき、エッジ補正処理後のデータを生成する。そして、ここで生成されたエッジ補正用のデータにより、エッジ縁取り処理と誤差拡散処理によるエッジ補正処理との切り替わりを目立たなくすることが出来る。尚、他の構成は、第1の実施形態と同様であるため、同一の符合を付して説明を省略する。図13は、混合比率選択部1201の処理フロー図である。混合比率選択部1201は、まずステップS1301で、混合比率を選択するために閾値TH1~TH3を不図示のメモリから読み込む。尚、TH1>TH2>TH3となっている。また、本実施形態ではでは閾値は3つ読み込むこととしたが、その数は1つでも2つでも混合する割合の数の分だけ増やすことでも処理は可能である。次に、ステップS1302において、混合比率選択部1201は、閾値TH1と入力された画像データCとを比較する。そして、入力画像データCが閾値TH1以上の値ならば、混合比率選択部1201は、高濃度用のエッジ補正処理100と低濃度エッジ補正処理0を混合する混合比率を選択する信号をSELECT=0として出力するS1303。一方、入力画像データCが閾値TH1より小さい値ならば、混合比率選択部1201は処理をステップS1304へ移行させる。ステップS1304において、混合比率選択部1201は、閾値TH2と、補正処理判定部1201に入力された画像データCを比較する。そして、混合比率選択部1201は、入力画像データCが閾値TH2以上の値ならば高濃度用のエッジ補正処理75と低濃度エッジ補正処理25を混合する混合比率を選択する信号をSELECT=1として出力するS1305。一方、入力画像データCが閾値TH2より小さい値ならば、混合比率選択部1201は処理をステップS1306へ移行させる。ステップS1306において、混合比率選択部1201は、閾値TH3と、補正処理判定部1201に入力された画像データCを比較する。そして、入力画像データCが閾値TH3以上の値ならば、混合比率選択部1201は、高濃度用のエッジ補正処理50と低濃度エッジ補正処理50を混合する混合比率を選択する信号をSELECT=2として出力するS1307。一方、入力画像データCが閾値TH3より小さい値ならば、混合広津選択部1201は、ステップS1308で、高濃度用のエッジ補正処理0と低濃度エッジ補正処理100を混合する混合比率を選択する信号をSELECT=3として出力する。この図13のフローチャートにより、混合比率選択部1201が、適切な混合比率を選択し、混合部1202にSELECT信号として通知する。従って、混合部1202は、注目画素の濃度が高いほど誤差拡散処理に対するエッジ縁取り処理の割合を大きくし、注目画素Cの濃度が低いほどエッジ縁取り処理に対する誤差拡散処理の割合を大きくすることが出来る。これにより、エッジ縁取り処理と誤差拡散処理によるエッジ補正処理との切り替わりを目立たなくすることが出来る。図14は混合部1202の機能的構成を示すブロック図である。1401はSELECT信号の値によって、エッジ縁取り処理と誤差拡散処理の濃度を混合する比率が格納された混合比率テーブルである。不図示のメモリに格納されている。混合演算処理部1402は、混合比率テーブルより読み込まれた比率を元にエッジ縁取り処理と誤差拡散処理の濃度を混合演算処理する。図15に混合比率テーブル1401の一例を示す。選択信号SELECTの値に応じて高濃度エッジ補正処理の割合xと低濃度エッジ補正処理の割合yが格納されている。混合演算処理部1402は入力された混合比率選択信号SELECTの値に応じて、混合比率テーブル1401より高濃度エッジ補正処理の割合xと低濃度エッジ補正処理の割合yを取得する。取得した割合に応じて以下の式で演算を行い、EDGEを出力値として出力する。尚、EDGEの出力は画素単位とする。EDGE=x×ENy×ED式1図16において、aは入力画像データの一例を示す図である。図16bは、図16aで示す入力画像データをディザ処理した画像データを示す図である。図16cは、図16aで示す入力画像データと、図16bで示すディザ画像データからエッジ縁取り補正部105でエッジ縁取り補正処理をした画像データを示す図である。図16dは、図16aで示す入力画像データを誤差拡散処理した画像データを示す図である。図16eは、図16aで示す入力画像データをエッジ判定部110でエッジ判定を行い、エッジ判定結果を画像データとして示した図である。図16fは、図16aで示す入力画像データを混合比率選択部1201で判定し、判定結果である混合比率選択信号を画像データとして示した図である。図16gは、混合比率に応じて図16cに示すエッジ縁取り補正処理データと図16dに示す誤差拡散処理データとを混合し、該混合後のデータを図16eで示すエッジ部と判定された箇所のみに適用した図である。ここでの混合比率は、混合比率選択部1201により、図16fで示す混合比率選択信号の値に基づいて、混合比率テーブル1401から読み込んだものである。また、図16a、b、c、d、gは8bit画像データを示しており、画像データの各画素に対して、濃度値255の画素を黒画素として1601aに示す画素イメージで表し、濃度値0の画素を白画素とし、1601gに示す画素イメージで表す。それ以外の中間調の濃度値については、濃度値1~63の画素は1601fに示す画素イメージで表し、濃度値64~95の画素は1601eに示す画素イメージで表し、濃度値96~127の画素は1601dに示す画素イメージで表し、濃度値128~191の画素は1601cに示す画素イメージで表し、濃度値192~254の画素は1601bに示す画素イメージで表す。図16aは入力画素群1604a~1604dはそれぞれ同一濃度を示しており1604a内は濃度が146、1604b内は濃度が109、1604c内は濃度が73、1604d内は濃度が36であるとする。図16を用いて混合比率選択部1201、混合部1202の動作について説明する。図16aに示す入力画像が混合比率選択部1201に入力されると、図13に示す処理フローに従って混合比率選択信号SELECTを出力する。補正処理判定部1201の閾値が例えば、TH1=128、TH2=112、TH3=96であるとすると、画素位置1605aの濃度値は146であるので、TH1以上となり、SELECT=0を出力する。また、画素位置1606aの濃度値は114であるので、TH1より小でTH2以上となり、SELECT=1を出力する。図16aの入力画像に対して混合比率選択部1201の混合比率選択を行い、出力された混合比率選択信号SELECTを示したものが図16fである。なお、SELECT=0の画素を1603aの画像イメージで表し、SELECT=1の画素を1603bの画像イメージで表し、SELECT=3の画素を1603cの画素イメージで表す。前述したとおり、混合部1202は混合比率選択信号SELECTが入力されると混合比率テーブル1401を参照し高濃度エッジ補正処理の割合x、低濃度エッジ補正処理の割合yを読み込む。例えば混合比率テーブルとして図15のテーブルが格納されているとする。画素位置1605fはSELECT=0であるのでx=1.0,y=0となる。読み込まれた割合を元に、入力データであるエッジ縁取り処理データEN、誤差拡散処理データEDからエッジ補正値EDGEを演算する。画素位置1605cよりエッジ縁取り処理データEN=146、画素位置1605dより誤差拡散処理データED=192である。混合部1202の出力EDGEは、EDGE=x×ENy×ED=1.0×1460×192=146となる。また、エッジ判定部110より画素位置1605eはエッジ部と検出されているため平坦エッジ処理選択部109はEDGE=146を出力画像データ1605gとして111へ出力する。また、画素位置1606fはSELECT=1であるのでx=0.75、y=0.25となる。読み込まれた割合を元に、入力データであるエッジ縁取り処理データEN、誤差拡散処理データEDからエッジ補正値EDGEを演算する。画素位置1606cよりエッジ縁取り処理データEN=255、画素位置1605dより誤差拡散処理データED=192である。混合部1202の出力EDGEは、EDGE=x×ENy×ED=0.75×2550.25×192=239となる。また、エッジ判定部110より画素位置1606eはエッジ部と検出されているため平坦エッジ処理選択部109はEDGE=146を出力画像データ1606gとして111へ出力する。以上述べた通り、本実施形態によればグラデーションのような画像の場合にでもエッジ縁取り処理と誤差拡散処理によるエッジ補正処理との切り替わり部が目立つことなく高品位なエッジ補正処理が可能となる。[第3の実施形態]上述の第1の実施形態では、注目画素の濃度情報を元にエッジ縁取り処理と誤差拡散処理を切り替える構成について説明した。しかし、エッジ部でかつ背景がある程度高濃度である場合は、エッジ縁取り補正が輪郭を強調させすぎてしまい、輪郭として不自然となる場合がある。本実施例ではエッジ縁取りのし過ぎを防止するためにエッジの強度値を元にエッジ縁取り処理と誤差拡散処理を切り替える構成について説明する。図17は、第3の実施形態に係る画像処理装置の機能的構成を示すブロック図である。補正処理判定部1702は、エッジ強度演算部106で演算されたエッジエッジ強度値1061に基づき、エッジ縁取り補正部105によるエッジ補正処理と、誤差拡散処理部104によるエッジ補正処理の切り替えを行う。尚、この補正処理判定部1702動作については、以下で詳細に説明する。また、他の構成は、第1の実施形態と同様であるため、同一の符合を付して説明を省略する。補正処理判定部1702では、エッジ強度検出部の出力1061が閾値Eth以上の値ならば高濃度用のエッジ補正処理エッジ縁取り処理を選択する信号出力する。また、エッジ検出部の出力1061が閾値Ethより小さい値ならば低濃度用のエッジ補正処理誤差拡散処理を選択する信号を出力する。そして、補正処理判定部1702による信号の出力により、エッジ補正処理選択部108は、適切なエッジ補正処理のデータを選択することができる。より具体的には、エッジ補正処理選択部108は、注目画素Cに対して演算されたエッジ強度が大きい場合は、エッジ縁取り補正部105により生成されたデータENを選択する。また、エッジ補正処理選択部108は、注目画素Cに対して演算されたエッジ強度が小さい場合は誤差拡散処理部104により生成されたデータEDを選択する。これにより、画像データのエッジに対して、高品位なエッジ補正処理を行うことが出来る。補正処理判定部1702はエッジ強度値を元にエッジ補正処理を選択するため、例えばエッジの濃度がある程度濃い場合でも誤差拡散処理によるエッジ補正処理が施されるためエッジ部の濃度が保存され、過度な縁取り処理を抑制することができる。尚、図17における説明においては、補正処理判定部1702の判定のみに従い、エッジ縁取り補正部105によるエッジ補正処理と、誤差拡散処理部104によるエッジ補正処理の切り替えを行うよう説明した。しかしこれに限定されない。例えば、図17のブロック図中に、図1で説明した補正処理判定部107を設けるようにしても良い。その場合には、まず、補正処理判定部107の出力判定結果と、エッジ強度演算部106の出力もエッジ補正処理選択部108のブロックに入力する。そして、双方の出力が高濃度エッジ補正の選択を指示する場合に限って、高濃度用のエッジ補正処理エッジ縁取り処理を選択するようにすればよい。こうすることで、より高精度なエッジ補正処理を実現することができる。[他の実施形態]上述までの実施形態ではエッジ強度演算部106のフィルタ演算部300に400のような3×3のラプラシアンフィルタを用いてエッジの強度を演算しているが、エッジの強度を演算可能であればこれに限らない。例えば5×5のラプラシアンフィルタやその他のフィルタ、3×3マトリクス内の最大最小の差分値からエッジ強度を演算しても本発明の目的を達成できることは言うまでもない。コンピュータに前述した実施形態の機能を実現するコンピュータプログラムを読み込ませ実行させることで、コンピュータを前述の画像処理装置として機能させても構わない。更に、このコンピュータプログラムを格納したコンピュータ可読記憶媒体に本発明を適用することも可能である。即ち、前述した実施形態の機能を実現するソフトウエアのコンピュータプログラムのプログラムコードを記録したコンピュータ可読記憶媒体を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ又はCPU又はMPUが記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成される。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することとなり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、CD-ROM、CD-R、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROM、DVDなどを用いることができる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているOperatingSystemOSなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書きこまれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるCPUなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。"