"金属酸化物の担体に微粒子が担持された窒素酸化物浄化触媒であって、前記微粒子がAgおよびNiからなり、且つ前記AgおよびNiが少なくとも一部合金化されている、前記触媒。前記少なくとも一部合金化が、担体に担持された前記微粒子のX線回折ピークを測定したピーク位置がAgのピーク位置から高角度側にシフトいていることが確認されるか、あるいは担体に担持された微粒子のTEM像についてTEM-EDXにより分析して同一の担体上にAgとNiとの両元素の存在が確認されるものである請求項1に記載の触媒。前記微粒子中のAgとNiとの合計中のAgの割合が20~90atである請求項1又は2に記載の触媒。前記金属酸化物の担体が、Al2O3粒子、SiO2粒子、CeO2粒子、ZrO2粒子、TiO2粒子、CeO2-ZrO2複合酸化物粒子、CeO2-Al2O3複合酸化物粒子、CeO2-TiO2複合酸化物粒子、CeO2-SiO2複合酸化物粒子又はCeO2-ZrO2-Al2O3複合酸化物粒子である請求項1~3のいずれか1項に記載の触媒。窒素酸化物浄化触媒の製造方法であって、銀塩、ニッケル塩および保護剤としての高分子を含み、銀塩とニッケル塩との割合がAgとNiとの合計中のAgの割合が10~90atとなる割合である混合液を用意する工程、前記混合液と還元剤とを混合してコロイド懸濁液を用意する工程、該懸濁液と金属酸化物の担体とを混合する工程、得られた混合物から溶媒を除去してコロイド沈殿物を得る工程、および得られたコロイド沈殿物を活性化する工程、を含む、前記方法。前記活性化が、300°C以下の温度での加熱である請求項5に記載の方法。しかし、これら公知の技術によっては、特別なガス組成に調整することなくAu、Pt、PdやRh以外の貴金属を触媒成分の1つとして用いてNOX浄化性能を与える浄化触媒を得ることは困難である。従って、本発明の目的は、Agを触媒成分の1つとして用いて特別な排ガス組成に調整することなくNOX浄化性能を与え得るNOX浄化触媒を提供することである。また、本発明の他の目的は、Agを触媒成分の1つとして用いて特別な排ガス組成に調整することなくNOX浄化性能を与え得るNOX浄化触媒の製造方法を提供することである。本発明者らは、前記目的を達成することを目的として鋭意研究を行った結果、NOXの分解反応はNOXの吸着→N2、O2の脱離であり、これらを促進し得る材料がNOX浄化性能を有し得ることを見出し、さらに検討を行った結果、本発明を完成した。本発明は、金属酸化物の担体に微粒子が担持された窒素酸化物浄化触媒以下、NOX浄化触媒と略記することもある。であって、前記微粒子がAgおよびNiからなり、且つ前記AgおよびNiが少なくとも一部合金化されている、前記触媒に関する。また、本発明は、窒素酸化物浄化触媒の製造方法であって、銀塩、ニッケル塩および保護剤としての高分子を含み、銀塩とニッケル塩との割合がAgとNiとの合計中のAgの割合が10~90atとなる割合である混合液を用意する工程、前記混合液と還元剤とを混合してコロイド懸濁液を用意する工程、該懸濁液と金属酸化物の担体とを混合する工程、得られた混合物から溶媒を除去してコロイド沈殿物を得る工程、および得られたコロイド沈殿物を活性化する工程、を含む、前記方法に関する。本明細書において、AgおよびNiが少なくとも一部合金化とは、触媒試料について後述の実施例の欄に詳述する測定法により、担体に担持された微粒子のX線回折ピークを測定してAgの回折ピークがAgのピーク位置2θ=38degとNiのピーク位置2θ=44.5degとの間のAgのピーク位置よりも高角度側にシフトしたピークが示されるか、あるいは担体粒子に担持された微粒子のTEM像についてTEM-EDXにより分析して同一の担体上にAgとNiとの両元素を含有していることが示されるかのいずれかであることを意味する。前記の合金化を確認するためには、金属酸化物の担体の種類によって前記の2つの確認手段のうち適した方法が選択され、例えばAl2O3の場合は前者を、SiO2の場合は後者を選択し得る。また、本明細書において[特別な排ガス組成に調整することなく]とは、炭素数が多いHCの含有や前記3成分の一部を除去するなどの処理をすることなく、一般的な排ガス中に存在する低炭素数のHC、COおよびNOXを含み得るストイキ条件の排ガス組成であることを意味する。本発明によれば、Agを触媒貴金属成分として用いて特別な排ガス組成に調整することなくNOX浄化性能を奏し得るNOX浄化触媒を得ることができる。また、本発明によれば、Agを触媒貴金属成分として用いて特別な排ガス組成に調整することなくNOX浄化性能を奏し得るNOX浄化触媒を容易に得ることができる。特に、本発明において、以下の実施態様を挙げることができる。1前記少なくとも一部合金化が、担体に担持された前記微粒子のX線回折ピークを測定したピーク位置がAgのピーク位置から高角度側にシフトいていることが確認されるか、あるいは担体に担持された微粒子のTEM像についてTEM-EDXにより分析して同一の担体上にAgとNiとの両元素の存在が確認されるものである前記触媒。2前記微粒子中のAgとNiとの合計中のAgの割合が20~90atである前記触媒。3前記金属酸化物の担体が、Al2O3粒子、SiO2粒子、CeO2粒子、ZrO2粒子、TiO2粒子、CeO2-ZrO2複合酸化物粒子、CeO2-Al2O3複合酸化物粒子、CeO2-TiO2複合酸化物粒子、CeO2-SiO2複合酸化物粒子又はCeO2-ZrO2-Al2O3複合酸化物粒子である前記触媒。4前記活性化が、200°C以上の温度での加熱である前記方法。本発明のNOX浄化触媒によれば、金属酸化物の担体にAgおよびNiからなる微粒子が担持され、前記AgおよびNiの少なくとも一部が互いに合金化されていることによって、特別な排ガス組成に調整することなくNOX浄化性能を奏し得る。以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳説する。図1を参照すると、本発明の実施態様のAg-Ni/Al2O3は、Ag/Al2O3およびNi/Al2O3と比較して顕著にNO反応活性が発現することが確認され、また実排ガスを模擬した三元ガス雰囲気図1中の曲線2においても高いNO浄化活性を示すことが確認される。図2を参照すると、室温でNOを1Langmuir吸着後の一元金属および二元金属の表面濃度とN1sピーク強度から、二元金属表面におけるAg濃度が90atより多いとNOが吸着されない、従ってNOを浄化し得ないことが示される。このことから、本発明における微粒子中のAgとNiとの合計中のAgの割合が90at以下であることが適当であることが理解される。図3を参照すると、本発明の実施態様の触媒を模したAg-Niバイメタルは、約800°C以下の酸素脱離温度を有しており、前述のようにNOXの分解反応はNOXの吸着→N2、O2の脱離であるから、800°C以上の酸素脱離温度を示すRh以上の低温NOX浄化性能を有し得ることを示している。また、図3から、本発明のNOX浄化触媒における微粒子中のAgとNiとの合計中のAgの割合として10at以上、特に20at以上が適していることが理解される。図4を参照すると、本発明の実施態様のNOX浄化触媒であるAg-Ni/Al2O3は、200~500°Cの広い温度範囲において曲線1の二元ガス雰囲気だけでなく曲線2に示す実排ガスを模擬した4元ガス雰囲気においても高いNO反応活性を示すことが理解される。これに対して、本発明の範囲外のAg、Ni同時含浸/Al2O3系NOX浄化触媒は、前記温度範囲において極めて低いNO反応活性しか示さないことが理解される。さらに、図5を参照すると、本発明の実施態様のNOX浄化触媒であるAg-Ni/Al2O3は200~500°Cの広い温度範囲において、ガス組成が、曲線1に示すNO-COストイキ、曲線2に示すNO-CO-O2-C3H6ストイキおよび曲線3に示すNO-C3H6ストイキのいずれであっても高いNO反応活性を示すことが理解される。これに対して、図6を参照すると、本発明の範囲外のNOX浄化触媒であるAu-Ni/Al2O3は200~500°Cの広い温度範囲において、ガス組成が、曲線1に示すNO-COストイキでは高いNO反応活性を示すが、曲線3に示すNO-C3H6ストイキでは300~500°Cの温度範囲において比較的低いNO反応活性を示し、曲線2に示すNO-CO-O2-C3H6ストイキでは極めて低いNO反応活性を示すことが理解される。図7を参照すると、本発明の実施態様のNOX浄化触媒の特性を検証するために作製したAg-Ni合金薄膜は、O1sスペクトル変化から、1LangmuirのNOを吸着させたAg-Ni合金薄膜を4°C/分で昇温すると一部解離吸着していたNOが約180°Cで完全解離し、更に600°Cを超えると解離吸着していたOピークが消滅したことが確認される。そして、本発明の実施態様のAg-Ni/SiO2は、図8に示すように、触媒試料について後述の実施例の欄に詳述する測定法による担体粒子に担持された金属微粒子のX線回折ピークが、Agのピーク位置2θ=38degとNiのピーク位置2θ=44.5degとの間、好適には38.5~43.7°の範囲、特に39.0~43.0°の範囲に1つのピークを示す。このことから、AgおよびNiの少なくとも一部が互いに合金化していると考えられる。なお、詳細な検討によれば、Agが10~90atの合金状態のものは38.5~43.7°の範囲に回折ピークを持つことが判ってきた。これに対して、本発明の範囲外のAg、Ni同時含浸/SiO2は、Ag111とNi111との2つのピークを示すことが確認される。このことから、Ag、Ni同時含浸/SiO2は、AgおよびNiが合金化していないと考えられる。また、本発明の実施態様のAg-Ni/Al2O3は、図9Aおよび図9Bに示すように、触媒試料について後述の実施例の欄に詳述する測定法による触媒のTEM像についてTEM-EDXにより分析した任意の微粒子7点でいずれも同一の担体上でAgとNiとの両元素を含有していることが示される。このことからも、本発明の実施態様のAg-Ni/Al2O3はAgおよびNiの少なくとも一部が合金化していると考えられる。これに対して、本発明の範囲外のAg、Ni同時含浸/Al2O3は、図10Aおよび図10Bに示すように、触媒試料について後述の実施例の欄に詳述する測定法による触媒のTEM像についてTEM-EDXにより分析した任意の微粒子7点でいずれも同一の担体上でAg又はNiのいずれかの単一元素のみが含有されていることが示される。このことからも、Ag、Ni同時含浸/Al2O3は、AgおよびNiが合金化していないと考えられる。本発明のNOX浄化触媒においてAgおよびNiが担持される金属酸化物の担体としては、Al2O3粒子、SiO2粒子、CeO2粒子、ZrO2粒子、TiO2粒子、CeO2-ZrO2複合酸化物粒子、CeO2-Al2O3複合酸化物粒子、CeO2-TiO2複合酸化物粒子、CeO2-SiO2複合酸化物粒子又はCeO2-ZrO2-Al2O3複合酸化物粒子などが挙げられる。本発明のNOX浄化触媒は、前記金属酸化物の担体にAgおよびNiからなる二元合金微粒子が担持され、且つAgおよびNiの少なくとも一部が合金化されて担持されたものである。本発明のNOX浄化触媒は、例えば、銀塩、ニッケル塩および保護剤としての高分子を含み、銀塩とニッケル塩との割合がAgとNiとの合計中のAgの割合が10~90atとなる割合である混合液を用意する工程、前記混合液と還元剤とを混合してコロイド懸濁液を用意する工程、該懸濁液と金属酸化物の担体とを混合する工程、得られた混合物から溶媒を除去してコロイド沈殿物を得る工程、および得られたコロイド沈殿物を活性化する工程、を含む方法によって、得ることができる。前記の銀塩としては、硝酸銀、硫酸銀、フッ化銀、塩素酸銀、臭素酸銀、テトラフルオロホウ酸銀、ヘキサフルオロリン酸銀、リン酸銀等の無機酸塩、酢酸銀、シュウ酸銀等の有機酸塩などが挙げられる。前記の銀塩は、通常は銀塩の水溶液、アルコール溶液、ポリオール溶液などの有機溶媒溶液として用いられ得る。また、前記ニッケル塩として、硫酸ニッケル、硝酸ニッケル、塩化ニッケル、臭化ニッケル、酢酸ニッケル、水酸化ニッケルなどが挙げられる。ニッケル塩は水和物であり得る。前記のニッケル塩は、通常はニッケル塩の水溶液、アルコール溶液、ポリオール溶液などの有機溶媒溶液として用いられ得る。前記の保護剤としての高分子としては、ポリ-N-ビニルピロリドン、ポリアクリルアミド、N-ビニルピロリドンとアクリル酸とのコポリマー、ポリビニルメチルケトン、ポリ4-ビニルフェノール、オキサゾリンポリマー、ポリアルキレンイミン、ポリビニルピリジンなどの官能基含有ポリマーが挙げられる。前記の保護剤としての高分子の量は、銀塩およびニッケル塩の合計量に対して1~20倍質量比、特に2~10倍質量比程度であり得る。また、前記の保護剤としての高分子は、通常は前記高分子の有機溶媒溶液、例えばメタノール、エタノールなどのアルコール溶液として用いられ得る。前記の工程において銀塩、ニッケル塩および保護剤としての高分子の混合液は、通常は銀塩を含む溶液とニッケル塩を含む溶液と保護剤としての高分子を含む溶液とを混合することによって用意し得る。また、前記混合液は、各溶液を必要であれば加熱あるいは冷却した後、容器中で攪拌下に混合することによって用意し得る。前記の方法において、前記の銀塩と前記ニッケル塩との割合は、AgとNiとの合計中のAgの割合が10~90at、特に20~80at、その中でも20~60atとなる割合が適している。銀塩とニッケル塩との割合が前記の範囲外であると、得られるNOX浄化触媒のNOX浄化性能が低下し得る。前記の方法においては、前記の工程で得られた混合液と還元剤とを混合してコロイド懸濁液を用意する。前記の還元剤としては、アルコール、ポリオール、例えばエチレングリコール、ジエチレングリコール、トリエチレングリコール、テトラエチレングリコール、1,2-プロパンジオール、ジプロピレングリコール、1,2-ブタンジオール、1,3-ブタンジオール、1,4-ブタンジオール、2,3-ブタンジオール、1,5-ペンタンジオール、ポリエチレングリコールなどや、ヒドラジンや、ジメチルアミノホウ素、ジエチルアミノホウ素、水素化ホウ素ナトリウム、水素化ホウ素、アンモニアボランなどのホウ素化合物が挙げられる。前記の還元剤の量は、用いる還元剤の種類によって異なるが一般には銀塩およびニッケル塩の合計量に対して0.1~10倍質量比、特に0.2~2倍質量比程度であり得る。前記の方法においては、前記のようにして得られたコロイド懸濁液と金属酸化物の担体とを混合する工程、得られた混合物から溶媒を除去してコロイド沈殿物を得る工程、および得られたコロイド沈殿物を活性化する工程によってNOX浄化触媒を得る。前記の工程においてコロイド懸濁液と金属酸化物の担体との割合は、金属酸化物の担体に対するAgおよびNiの合計担持量が0.05~10質量、特に0.5~5質量となる割合とし得る。前記の工程において、コロイド懸濁液と金属酸化物の担体との混合物から溶媒を除去する方法としては、例えば減圧下に溶媒を除去する方法が挙げられる。前記の工程においては、前記のようにして混合物から溶媒を除去して得られたコロイド沈殿物を活性化することが必要である。前記の活性化は、コロイド沈殿物中に残存し得る保護剤である高分子を除くために行い得て、加熱や遠心分離、超音波法や抽出法など、あるいはこれらの組合せ、好適には加熱法が用いられ得る。前記の保護剤を除くために、加熱の前に、必要であれば大過剰量例えば前記混合物に対して2容量倍以上、例えば2~20容量倍の有機溶媒、例えばアセトン、メチルエチルケトン、メチルブチルケトンなどのケトンや、THFなどのエーテル、好適にはケトンで処理してもよい。前記の加熱法としては、例えば減圧下、200°C以上の温度、例えば200~300°C又は200~500°Cで加熱する方法が挙げられる。前記の加熱は、通常は真空下に0.1~2時間程度行い得る。前記の各工程によって得られる本発明のNOX浄化触媒は、必要であれば圧縮成形してペレットとして用い得る。前記の方法によって得られるNOX浄化触媒は、金属酸化物の担体にAgおよびNiからなりAgおよびNiの少なくとも一部が合金化されたAg-Ni微粒子の平均粒径が0.2~100nm程度のものであり得る。本発明のNOX浄化触媒は、Ag又はNiの単一金属ではなし得なかった優れたNOX浄化性能をシナジー効果として有し、他の合金およびRhなどの単一貴金属と比較しても特に優れた触媒活性を有している。以下、本発明の実施例を示す。以下の各例では下記の担体を用いた。Al2O3:シーアイカセイ社製γ-Al2O3SiO2:シーアイカセイ社製商品名:NanoTek以下の各例において、得られた試料の評価は以下に示す測定法によって行った。なお、測定法は以下の方法に限定されず、当業者が同等と考える任意の方法で実施し得る。1.NO解離吸着温度、N2脱離温度の測定測定方法:加熱温度を変えてXPSX線光電子分光法スペクトル測定1LangmuirのNOを吸着させたAg-Ni合金薄膜を4°C/分で昇温すると一部解離吸着していたNOが完全解離する温度をNO解離吸着温度とし、更に温度を上げていくと解離吸着していたOピークが消滅する温度をN2脱離温度とする。測定装置:φESCA16002.微粒子のX線回折ピークの測定測定法:X線回折XRD測定測定装置:RIGAKURINT20003.合金ナノ粒子の粒子形状と粒度分布の測定HRTEM測定装置:HITACHIHD20004.合金ナノ粒子の元素分析の測定測定方法:TEM-EDSEDS:エネルギー分散型X線分光法による組成比測定TEM-EDS測定装置:HITACHIHD20005.NO解離吸着性の評価測定方法:N1sXPSスペクトルにより結合エネルギーを測定装置:φESCA16006.触媒活性の測定触媒ペレットをガラスの反応管につめ、ガラスウールで固定する。各組成のガスとN2で流量をバランスし、あらかじめ混合したガスを、ガラスの反応管に流す。ガス温度は20°C/minの昇温速度で100°Cから500°Cまで上昇させる。NO濃度は排ガス分析計HORIBAMEXA7100H若しくはMS質量分析で測定する。参考例1Ag-Ni合金の効果を検証するために、Ag:Niが40:60at比であるAg-Ni合金薄膜をAgイオンスパッタリングとNi-PLDパルスレーザー堆積とで作製した。NO素反応をin-situXPSで解析するために、前記Ag-Ni薄膜にNOを1Langmuir吸着させた。Ag-Ni薄膜にNOを1Langmuir吸着させた後、4°C/分で昇温した過程のO1sスペクトル変化を測定した。得られた結果を図7に示す。図7に示すように、一部解離吸着していたNOは約180°Cで完全解離し、さらに600°Cを超えると解離吸着していたOピークが消滅する。これらをNO解離吸着温度、N2脱離温度とし、同様にO1sスペクトルからO2脱離温度を求めた。得られた結果を他の結果とまとめて図2および図3に示す。参考例2~4Ag:Niを40:60at比から20:80、60:40、又は80:20いずれもat比に変えた他は参考例1と同様にしてAg-Ni薄膜を作製し、評価を行った。得られた結果を他の結果とまとめて図2および図3に示す。比較参考例1~2Ag:Niが40:60のAg-Ni合金に代えてAg単独又はNi単独の金属薄膜を作製し、同様に評価を行った。得られた結果を他の結果とまとめて図2および図3に示す。実施例1下記のステップで触媒を調製した。1二首丸底フラスコ内で、200mLの無水エタノールに1.0511gのポリビニルピリジンを加えて溶液溶液1を得た。2小瓶内で、0.1865gのNiOAc24H2Oを2mLの蒸留水に溶解して溶液溶液2を得た。3小瓶内で、0.0427gのAgNO3を2mLの蒸留水に溶解して溶液溶液3を得た。4オイルバスを用いて溶液1を50°Cに加熱し、前記ポリマーが完全に溶解するまで混合した。5氷浴を用いて溶液1を0°Cまで冷却して。6溶液1中に、均一化を確かにするために撹拌しながら溶液2を注いだ。7溶液1と溶液2との混合液中に、均一化を確かにするために撹拌しながら溶液3を注いだ。8得られた混合液を、オイルバスを用いて50°Cに加熱し、撹拌しながら、この温度を2時間維持した。9フラスコ内に存在する全ての種の還元を確かにするために、水素化ホウ素ナトリウム0.0697gを加え、溶液をさらに10分間混合した。10その後、オイルバスを取り除き、コロイド懸濁液を室温まで冷却させた。11次いで、懸濁液を静止しておいた。12望ましい量のナノ粒子を含有する一定分量を大過剰のアセトン1:12v/vで処理することによって調製されたナノ粒子を精製した。これで保護ポリマーを除くためにアセトン相に抽出させ、空気中で焼成する。13デカンテーション又は遠心分離が精製ナノ粒子をもたらした。14アセトン層を除いた後、緩やかな撹拌、あるいは超音波浴を用いることによって精製コロイドを無エタノール水中に再分散させた。15シュレンク管を5.1127gの支持体γ-Al2O3で詰めた。16系を空にし、N2を用いて管を洗い流して空気を完全に除いた。17予め調製したコロイド懸濁液120mL、計算した濃度c=0.5925mg/mLを、注射器を用いてシュレンク管に加えた。加えたコロイドの量は4.9x10-5molAg/g支持体を得るように計算したものである。18得られた混合物を室温にて一夜混合し、その後、溶媒を真空で除いた。19次いで、得られたコロイド沈殿物を保護剤のどんな痕跡も除く目的で、真空下、200°Cで加熱した。20必要であれば、触媒粉末を粒径2mm未満のペレット与える目的で、触媒粉末を圧縮した。得られたペレット状の触媒[Ag:Ni=1:1at比、担持量Ag:0.52wt,Ni:0.29wt]について評価を行った。なお、触媒について、分析前に空気雰囲気中、300°Cで焼成し、水素還元雰囲気1、残部:N2中、700~1000°Cで処理を行った。得られた触媒についてのTEM像を図9Aに、TEM像における担体上の任意の7点の微粒子について行ったTEM-EDX分析の結果を図9Bに示す。図9Aから、得られた触媒は、Al2O3粒子にAgおよびNiからなる微粒子平均粒径:3.2nmが、AgおよびNiが互いに合金化されて担持されているものであることが確認された。また、得られた触媒について下記の共通条件下、下記のガス組成で性能評価を行った。共通条件:SV1000000.6g、1L/min1NO:1500ppm、CO:1500ppm、N2:残部2NO:1500ppm、CO:6500ppm、C3H6:1000ppm、O2:7000ppm,N2:残部3NO:1500ppm、C3H6:167ppm、N2:残部得られた結果を、他の結果とまとめて図1、図4~5に示す。比較例1実施例1と同じ種類の銀塩を100mLの水に溶解した。別の容器にて攪拌しながら200mLの水に担体Al2O3に入れた懸濁液に、銀塩水溶液又はニッケル塩水溶液を流し入れ、得られた混合液を2時間放置した。その後、水分を70~90°Cで蒸発させ、サンプルを120°Cで15時間乾燥し、500°Cで2時間焼成した。得られた触媒粉末に圧力を加えて約2mmの触媒ペレットを得た。得られた触媒Ag担持量:0.52wtについて実施例1と同様にして性能評価を行った。得られた結果を他の結果とまとめて図1に示す。比較例2比較例1において銀塩に代えて実施例1と同じ種類のニッケル塩を用いた他は比較例1と同様にして約2mmの触媒ペレットを得た。得られた触媒Ni担持量:0.29wtについて実施例1と同様にして性能評価を行った。得られた結果を他の結果とまとめて図1に示す。比較例3実施例1と同じ量および同じ種類の銀塩およびニッケル塩を別々に各々100mLの水に溶解した。別の容器にて攪拌しながら200mLの水に担体Al2O3を入れた懸濁液に、銀塩水溶液とニッケル塩水溶液とを流し入れ、2時間放置した。その後、水分を70~90°Cで蒸発させ、サンプルを120°Cで15時間乾燥し、500°Cで2時間焼成した。得られた触媒粉末に圧力を加えて約2mmの触媒ペレットを得た。得られたAg、Ni同時含浸/Al2O3触媒[Ag:Ni=1:1at比、担持量Ag:0.52wt,Ni:0.29wt]についてのTEM像を図10Aに、TEM像における担体上の任意の微粒子7点について行ったTEM-EDX分析の結果を図10Bに示す。また、実施例1と同様にして性能評価を行った。得られた結果を、他の結果とまとめて図4に示す。実施例2担体としてAl2O3に代えてSiO2を用いた他は実施例1と同様にして触媒を得た。得られた触媒[Ag:Ni=1:1at比、各担持量Ag:0.52wt,Ni:0.29wt]について、X線回折測定を行った。得られた結果を他の結果とまとめて図8に示す。図8から、得られた触媒は、SiO2粒子にAgおよびNiからなる微粒子がAgおよびNiが合金化されて担持されているものであることが確認された。比較例4担体としてAl2O3に代えてSiO2を用いた他は比較例3と同様にして同時含浸触媒を得た。得られたAg、Ni同時含浸/SiO2触媒[Ag:Ni=1:1at比、担持量Ag:0/52wt,Ni:0.29wt]触媒についてについて、X線回折測定を行った。得られた結果を他の結果とまとめて図8に示す。図8から、得られた触媒は、SiO2粒子にAgおよびNiからなる微粒子がAgとNiとが合金化されないで担持されているものであることが確認された。比較例5銀塩に代えて塩化金酸を用いた他は実施例1と同様にして触媒を得た。得られたAu-Ni/Al2O3触媒[Au:Ni=1:1at比、担持量Au:0.52wt,Ni:0.29wt]触媒について、実施例1と同様に性能評価を行った。得られた結果をまとめて図6に示す。"