"冷凍装置の電子膨張弁に操作量信号を与えることにより冷凍装置の過熱度を制御する電子膨張弁の制御装置であって、入力される過熱度設定値と前記冷凍装置の測定過熱度に応じて前記電子膨張弁に対する操作量信号を出力するPID制御手段と、過熱度設定値と前記PID制御手段が出力する前記操作量信号のフィードバック値を入力して、前記PID制御手段に出力する過熱度設定値を補正し、補正済みの補正過熱度度設定値を前記PID制御手段に出力する設定値補正手段と、を備えたことを特徴とする電子膨張弁の制御装置。前記設定値補正手段は、前記操作量信号のフィードバック値から、前記電子膨張弁の弁開度変化を常時監視して、第1周期毎に、過去の第2周期分における弁開度変化量、弁開度変化幅を算出し、過去の第2周期分における弁開度変化量が第1所定パルス以下で、且つ、過去の第2周期分における弁開度変化幅が第1所定パルス幅以下である場合には、現在の過熱度設定値が高いと判断して前記過熱度設定値を低めに補正し、過去の第2周期分における弁開度変化量が第2所定パルス以上である場合には、現在の過熱度設定値が低いと判断して前記過熱度設定値を高めに補正することを特徴とする請求項1に記載の電子膨張弁の制御装置。前記設定値補正手段は、前記第1周期よりも長い第3周期毎に、過去第3周期間の弁開度変化量を記憶して、その前回分までを保持し、前記第1周期毎に、今回の過去第3周期間の弁開度変化量が、第3所定パルス以上で、第3周期間の弁開度変化量の第3周期間毎の値の3倍以上に増加したか、或いは、今回の過去第3周期間の弁開度変化量が、第3所定パルス例えば21パルス以上で、第3周期間の弁開度変化量の第3周期間毎の値の前回分の4倍以上に増加した場合にも、現在の過熱度設定値が低いと判断して前記過熱度設定値を高めに補正することを特徴とする請求項2に記載の電子膨張弁の制御装置。冷凍装置が運転を開始し、制御装置が起動処理を終了してから、前記第1周期毎に算出した過去の第2周期分の弁開度変化幅が第2所定パルス幅以内になるか、或いは冷凍装置が運転を開始し制御装置が起動処理を終了してからの経過時間が30分以上になるか、のどちらかが成立した時点から前記過熱度設定値の補正を開始するようにしたことを特徴とする請求項2または3に記載の電子膨張弁の制御装置。特許文献1のものでは、調整された過熱度設定値は、調整した時点の条件においては最適な過熱度設定を得られるが、その設定値が、いかなる条件においても最適な値であるとは言えない。よって、小まめに過熱度設定値の調整を行うことが出来ない場合には、季節条件や負荷条件などが変わっても液バック運転を継続することがないように、過熱度設定値を高めにしておく必要があり、常に最適な過熱度で運転できていない点で課題が残されている。言い換えると、常に最適な過熱度で運転する為には、条件が変わる毎に、ユーザーが過熱度設定値を変更する必要があり、わずらわしさの面で課題が残されている。また、特許文献2の技術では、過熱度設定値が低いことを判断して高めに補正するまでの間、振動的な過熱度の変化が制御信号としてコントローラに入力されるので、それに応じて電子膨張弁も振動的な動作をしてしまい、電子膨張弁の信頼性の面では課題が残されている。本発明は、様々な冷凍装置、負荷、蒸発器圧力、凝縮器圧力等の条件においても、最適な過熱度で運転する事を実現しつつ、電子膨張弁の機械寿命を縮めることがない、信頼性の高い電子膨張弁の制御装置を提供することを課題とする。請求項1の電子膨張弁の制御装置は、冷凍装置の電子膨張弁に操作量信号を与えることにより冷凍装置の過熱度を制御する電子膨張弁の制御装置であって、入力される過熱度設定値と前記冷凍装置の測定過熱度に応じて前記電子膨張弁に対する操作量信号を出力するPID制御手段と、過熱度設定値と前記PID制御手段が出力する前記操作量信号のフィードバック値を入力して、前記PID制御手段に出力する過熱度設定値を補正し、補正済みの補正過熱度度設定値を前記PID制御手段に出力する設定値補正手段と、を備えたことを特徴とする。請求項2の電子膨張弁の制御装置は、請求項1に記載の制御装置であって、前記設定値補正手段は、前記操作量信号のフィードバック値から、前記電子膨張弁の弁開度変化を常時監視して、第1周期例えば1分毎に、過去の第2周期分例えば10分間分における弁開度変化量、弁開度変化幅を算出し、過去の第2周期分における弁開度変化量が第1所定パルス例えば25パルス以下で、且つ、過去の第2周期分における弁開度変化幅が第1所定パルス幅例えば5パルス以下である場合には、現在の過熱度設定値が高いと判断して前記過熱度設定値を低めに補正し、過去の第2周期分における弁開度変化量が第2所定パルス例えば87パルス以上である場合には、現在の過熱度設定値が低いと判断して前記過熱度設定値を高めに補正するものであり、前記第1所定パルス、及び前記第1所定パルス幅は、それぞれが実験に基づいて得られた値で、電子膨張弁の構造や、前記第2周期の長さによって異なるが、過熱度制御が安定していると判断できる状態で、前記第2周期の間運転した際に得られる上限の値であり、前記第2所定パルスは電子膨張弁の寿命から算出される値で、前記第2周期の間の弁開度変化量が前記第2所定パルス以内であれば、そのままの運転状態で冷凍装置の運転を継続して、電子膨張弁の規定寿命例えば10年間を経過することを想定しても、電子膨張弁の耐久動作回数を越えないように算出された値と、実験に基づいて得られた、過熱度が低く不安定であることを液バックが近づいたことを確実に判断出来る値とを比較して、小さい方の値であることを特徴とする。請求項3の電子膨張弁の制御装置は、請求項2に記載の電子膨張弁の制御装置であって、前記設定値補正手段は、前記第1周期よりも長い第3周期例えば第2周期と同じ10分毎に、過去第3周期間の弁開度変化量を第3周期間の弁開度変化量の第3周期間毎の値として記憶し、その前回分を第3周期間の弁開度変化量の第3周期間毎の値の前回分として保持し、前記第1周期毎に、今回の過去第3周期間の弁開度変化量が、第3所定パルス例えば21パルス以上で、第3周期間の弁開度変化量の第3周期間毎の値の3倍以上に増加したか、或いは、今回の過去第3周期間の弁開度変化量が、第3所定パルス例えば21パルス以上で、第3周期間の弁開度変化量の第3周期間毎の値の前回分の4倍以上に増加した場合にも、現在の過熱度設定値が低いと判断して前記過熱度設定値を高めに補正するものであり、前記第3所定パルスの値は、実験に基づいて得られた値で、過熱度の変化が緩慢なシステムにおいても、過熱度が低く不安定である液バックが近づいていることを判断する最小の値であり、この前記第3所定パルス以上であるという条件を設けることで、例えば第3周期間の弁開度変化量の第3周期間毎の値が1パルスで、前記第1周期毎の過去第3周期間の弁開度変化量が3パルスである場合や、第3周期間の弁開度変化量の第3周期間毎の値の前回分が1パルスで、前記第1周期毎の過去第3周期間の弁開度変化量が4パルスである場合のように、極端に少ない弁開度変化量の場合に、本来ならば制御が安定していると判断すべき所を、誤って過熱度が低く不安定である液バックが近づいていると判断してしまうことを防止できる。また、前記3倍、4倍という倍率も、実験に基づいて得られた値で、過熱度の変化が緩慢なシステムにおいても、過熱度が低く不安定であることを液バックが近づいたことを判断できる倍率であることを特徴とする。請求項4の電子膨張弁の制御装置は、請求項2または請求項3に記載の制御装置であって、冷凍装置が運転を開始し、制御装置が起動処理を終了してから、前記第1周期毎に算出した過去の第2周期分の弁開度変化幅が第2所定パルス幅例えば25パルス以内になるか、或いは冷凍装置が運転を開始し制御装置が起動処理を終了してからの経過時間が30分以上になるか、のどちらかが成立した時点から前記過熱度設定値の補正を開始するようにしたことを特徴とする。請求項1の電子膨張弁の制御装置によれば、冷凍装置の電子膨張弁に操作量信号を与えることにより冷凍装置の過熱度を制御する電子膨張弁の制御装置であって、入力される過熱度設定値と前記冷凍装置の測定過熱度に応じて前記電子膨張弁に対する操作量信号を出力するPID制御手段と、過熱度設定値と前記PID制御手段が出力する前記操作量信号のフィードバック値を入力して、前記PID制御手段に出力する過熱度設定値を補正し、補正済みの補正過熱度度設定値を前記PID制御手段に出力する設定値補正手段と、を備えているので、前記操作量信号のフィードバック値により過熱度設定値が高いのか低いのかを判断し、最適な値に補正することができ、冷凍装置のシステムの状態に応じて最適な過熱度設定値で運転することができる。請求項2の電子膨張弁の制御装置は、電子膨張弁の弁開度変化量、変化幅により現在の過熱度設定値が高いのか低いのかを判断し補正し、その過熱度設定値が低いことを判断する電子膨張弁の弁開度変化量は、電子膨張弁の機械寿命を越えないように設定されている為、電子膨張弁が設計寿命以上の動作をする前に過熱度設定値が高めに補正され、過熱度変化および、電子膨張弁の弁開度変化が安定するので、請求項1の効果に加えて、信頼性が著しく向上する。請求項3の電子膨張弁の制御装置によれば、請求項2の効果に加えて、システムの規模が大きい場合など、前記過熱度設定値が低く、過熱度変化が不安定になっていても、その過熱度変化が緩慢であるために、前記第2周期分における電子膨張弁の弁開度変化量が、前記第2所定パルス例えば87パルスに達しない場合にも、過熱度変化が不安定になっていることを判断し、前記過熱度設定値を高めに補正することが出来るので、最適な過熱度設定値で運転することが出来るようになる。請求項4の電子膨張弁の制御装置によれば、冷媒の循環が安定していない運転初期の状態には過熱度設定値の補正を行わないようにすることが出来、冷媒の循環が安定して、請求項1乃至3の構成による過熱度設定値の補正が効果的になる状態から開始するようになるので、請求項1乃至3の効果を効率的に得ることができる。次に、本発明の電子膨張弁の制御装置の実施形態について図面を参照して説明する。図1は本発明の電子膨張弁の制御装置の第1実施形態の要部機能ブロック図、図2は本発明の電子膨張弁の制御装置の第2実施形態の要部機能ブロック図、図3は本発明の電子膨張弁の制御装置の第3実施形態の要部機能ブロック図であり、図1~図3において破線で囲った箇所が本発明に特有の構成である。図4は各実施形態の制御装置を用いた冷凍装置の第1システム例図4及び第2システム例図4を示す図である。図4において、10は圧縮機、20は凝縮器、30は電子膨張弁、40は蒸発器であり、これらは配管で環状に接続することにより冷凍サイクルを構成し、冷媒の圧縮、凝縮液化、減圧膨張、蒸発気化を行う周知のサイクルを形成する。50は電子膨張弁30の弁開度を入力信号に応じて調整するパルスモータなどの弁駆動部である。100はコントローラであり、各実施形態の電子膨張弁の制御装置はコントローラ100に実装されている。コントローラ100は、冷凍サイクルの過熱度と内部に設定した過熱度設定値とを比較して算出した偏差信号に対するPID動作に従った操作量信号を求め、この操作量信号を弁駆動部50に出力し、電子膨張弁30の弁開度を制御する。すなわち操作量信号は弁駆動部50に与えるパルスモータの駆動パルス数に対応している。第1システム例と第2システム例の違いは以下のとおりである。図4の第1システム例では、蒸発器40の出口側配管の温度を検出する温度センサ60と蒸発器40の出口側で蒸発圧力を検出する圧力センサ70とを備えており、コントローラ100は、圧力センサ70からの入力信号より蒸発温度を算出して、出口側配管の温度センサ60からの入力信号と、算出した蒸発温度との差をとって温度/圧力式による過熱度を算出する。図4の第2システム例では、蒸発器40の出口側配管の温度を検出する温度センサ60と、蒸発器40の入口側配管の温度を検出する温度センサ80とを備えており、コントローラ100は、温度センサ60,80からのそれぞれの入力信号により蒸発器40の出口側配管の温度と蒸発器40の入口側配管の温度との差をとって温度/温度式による過熱度を算出する。なお、上記算出した過熱度を測定過熱度という。ところで、ここで説明したXとYとの差の意味は、X-Yのことを意味する。図1の第1実施形態において、1は設定値補正手段、2はPID制御手段、3は制御対象、4は測定部である。前記コントローラ100はCPUやメモリを備えたコンピュータを備えており、このコントローラ100のコンピュータが所定の制御プログラムを実行することにより、設定値補正手段1、PID制御手段2及び測定部4の機能が得られる。PID制御手段2は、PID演算部21、目標値フィルタを備えた目標値変更部22、目標値変更部22を制御する目標値変更制御部23とで構成されている。設定値補正手段1には例えばユーザが設定する過熱度設定値SVが入力され、設定値補正手段1はこの過熱度設定値SVを補正した補正過熱度設定値SV′を目標値変更部22と目標値変更制御部23に出力する。また、制御対象3は電子膨張弁30を含む第1システム例または第2システム例の冷凍サイクルであり、測定部4はこの冷凍サイクルにおける蒸発温度や過熱度を演算し、算出した過熱度を測定過熱度PVとしてPID演算部21に出力する。目標値変更部22は、入力される補正過熱度設定値SV′を目標値フィルタの伝達関数により変化させ、この変化させた過熱度の設定値を目標値としてPID演算部21に出力する。この目標値の変化の態様は制御することができるようになされている。補正過熱度設定値SV′は目標値変更制御部23にも入力されており、目標値変更制御部23は、補正過熱度設定値SV′の変化の方向、すなわち、補正過熱度設定値SV′が上がったのか、あるいは、下がったのかを検出し、その変化の方向に応じて、目標値変更部22から出力される目標値の変化の態様を制御する。PID演算部21は、目標値変更部22から出力される過熱度設定値目標値と測定過熱度PVの偏差Eに応じてPID演算を行い、制御対象3に対して操作量信号MVを供給する。このように、実施形態では目標値フィルタを備えており、2自由度のPID制御を行い、目標値変更制御部23により、目標値変更部22を、補正過熱度設定値SV′が上がったときの目標値の変化よりも、下がったときの目標値の変化の方が緩やかになるように制御することにより、その時々の条件で制御対象に対して適正な値であれば補正過熱度設定値SV’が上がった時も下がった時も測定過熱度PVを速やかに収束させることが出来る。特許文献1、2および、本発明の電子膨張弁の制御装置が使用される一般的な冷凍装置においては、過熱度設定値を高めにするほうが過熱度の変化は安定する。逆に過熱度設定値が低い場合には、次のような理由から過熱度の変化が不安定になる。過熱度設定値が適正な値かそれ以上である場合には、配管内の冷媒は蒸発器内で蒸発し終わり、出口配管温度を検出する温度センサの取付け位置においては、完全に気体になり、さらに過熱された過熱蒸気の状態になって通過している。冷媒が蒸発し終わり完全に気体になって過熱されている部分よりも、冷媒が蒸発している部分の方が周囲の熱を吸熱する量がはるかに多いので、冷媒が蒸発している部分の配管の方が低温になる。それにより冷凍装置の低圧側配管には、その前後で温度が急激に変わる部分、つまり、蒸発変化が終わり、過熱される変化に転じる部分が存在する。過熱度設定値が適正な値かそれ以上である場合には、その蒸発変化が終わる部分が、出口配管温度を検出する温度センサの取付け位置よりも十分に上流側に位置するので、その部分が過熱度制御により、僅かに前後移動してもコントローラに入力される出口配管温度は安定したままで、測定過熱度も安定している。しかし過熱度設定値が適正な値よりも低い場合には、前述の蒸発変化が終わる部分が、出口配管温度を検出する温度センサの取付け位置に近づき、その位置が過熱度制御により僅かに前後移動すると、コントローラに入力される出口配管温度にも急激な温度変化を生じさせ、測定過熱度の変化が大きくなり、それに合せて過熱度を制御すると測定過熱度の変化が振動的になるのである。本発明の過熱度設定値の補正処理は、過熱度変化が安定している場合には、過熱度設定値を低めに補正し、逆に、過熱度変化が不安定な場合には、過熱度設定値を高めに補正するものなので、結果として、冷媒が出口配管温度を検出する温度センサの取付け位置の少し上流側の位置で、蒸発し終わることになる。出口配管温度を検出する温度センサは蒸発器の出口に取付けられているので、ほぼ蒸発器全体を使用して蒸発し終わるようになり、効率の良い熱交換を行うことが出来る。ここで、本発明のような電子膨張弁の制御装置では、測定過熱度が過熱度設定値よりも高ければ弁開度が大きくなるように制御し、逆に測定過熱度が過熱度設定値よりも低い時は弁開度が小さくなるように制御し、冷凍サイクルの測定過熱度が過熱度設定値に等しくなるようにするものである。したがって、冷凍サイクルの過熱度の変化が電子膨張弁30の弁開度の変化操作量信号MVの変化にも現れる。そこで、設定値補正手段1に、PID制御手段2PID演算部21から出力される操作量信号MVの出力をフィードバック入力し、この設定値補正手段1は操作量信号MVを監視し、過熱度設定値SVを補正して補正過熱度設定値SV′を出力する。なお、前記特許文献2の場合は設定値補正手段に測定過熱度PVをフィードバックしている。すなわち、冷凍サイクルの設定過熱度が過熱度設定値と等しくならずに過熱度設定値よりも高くなったり低くなったりを繰返して振動的なときは、弁開度の変化も振動的になり、冷凍サイクルの測定過熱度が安定している場合には弁開度の変化も安定している。したがって、特許文献2のように測定過熱度の変化を直接入力しなくても、結果的に設定過熱度を制御している操作量信号MVの出力をフィードバックして入力することで、過熱度変化が安定しているのか不安定なのかを判断することが出来る。このように、操作量信号MVの出力によって判断することによって、同時に電子膨張弁の操作端の機械的寿命にも考慮することが出来るようになる。これは、操作端が動きすぎている場合は動かなくなるように補正するからである。図2の第2実施形態において、図1と同符号を付記した要素は第1実施形態と同様であり、詳細な説明は省略する。この第2実施形態では、測定部4からの蒸発温度がフィードバックされる補正動作開始判定手段5を備えている。この補正動作開始判定手段5は後述の起動時の過熱度設定上乗せ処理が終了したか、及び、補正動作の禁止が解除されたかの判定を行い、設定値補正手段1に過熱度設定値の補正処理を開始させる指示を出力するものである。図3の第3実施形態において、図1と同符号を付記した要素は第1実施形態と同様であり、詳細な説明は省略する。この第3実施形態では、PID演算部21自体がPID制御手段であり、設定値補正手段1は過熱度設定値SVを補正した補正過熱度設定値SV′をPID演算部21に直接出力するよう構成されている。次に、実施形態のさらに具体的な制御について説明する。まず、冷凍装置の起動時に起動時の過熱度設定上乗せ処理を行う。これは以下の理由による。冷凍装置の運転開始から暫くの間は、冷媒配管系統内に冷媒がいきわたるまで蒸発器40内が冷媒不足となり、過熱度が高めになる。その高めの過熱度を検知してそのまま過熱度制御を行うと、電子膨張弁30の弁開度を開きすぎてしまう。そして、冷媒がいきわたり、過熱度が小さく変化してきたときに制御が間に合わず液バック気味になるなどして、安定した制御状態になるのが遅くなる。そこで、以下のように過熱度設定上乗せ処理を実行する。冷凍装置の起動処理終了時点から、下記1または2の条件のどちらかが成立するまでの間、設定値補正手段1が出力する補正過熱度SV′は、予め設定された過熱度設定SHの値ではなく、起動時の過熱度設定SHSの値を目標値として過熱度制御を行う。1起動処理終了から10分経過2起動処理終了からの蒸発温度SLの変化幅が3K/5分以内起動時の過熱度設定SHSと過熱度設定SHの差を上乗せ分として扱い、条件1または2のどちらかが成立した時点で上乗せ分を0とする。すなわち、見かけ上、目標値をSHSからSHに変更したことになる。次に、設定値補正手段1による過熱度設定の補正動作の開始時点を制御する。起動処理終了から、下記の条件3または4のどちらかが成立するまで、過熱度設定の補正動作を禁止する。そして、条件3または4のどちらかが成立すると、定常状態負荷とバルブ能力がバランスした状態と判断し、過熱度設定の補正動作の禁止を解除し、補正動作を開始する。3起動処理終了から30分経過4過去10分間の弁開度変化幅が25パルス以内起動処理とは、冷凍装置が運転を開始し、コントローラに制御開始の指示が入力されてから、この入力信号のことを起動入力と言い、リレー接点等でコントローラに入力される。コントローラが過熱度のPID制御を始めるまでに行う処理のことで、例えば、電子膨張弁の弁開度を、PID制御を開始する弁開度位置これを起動開度と言うにする処理であったり、またはPID制御を開始する前に起動開度を一定時間これを起動時間と言う保持する処理であったりする。設定値補正手段1による過熱度設定の補正動作は以下のように行う。過熱度の目標値が低い状態で運転すると、蒸発器40の出口配管の温度センサ60の取付け位置付近に液冷媒が行き来して、温度センサ60の入力検出温度が不安定になり、測定過熱度の値が不安定になる。そこで、この不安定状態の有無を検出して、過熱度の設定を最適な値に補正し、補正過熱度設定値を生成する。過熱度設定値の補正動作も起動時の過熱度設定上乗せ処理と同様に設定の上乗せ分を増減させて実施する。不安定状態の検出は、電子膨張弁30の弁開度変化、すなわち操作量信号MVの変化によって判断する。図9は設定値補正手段1におけるデータ処理を概念的に示す図である。設定値補正手段1は、過熱度設定値を補正する為に、起動処理終了の時点から、操作量信号MVによる弁開度変化量、最大開度位置、最小開度位置、の1分間分のデータをそれぞれ1分毎に集計し、過去10分間分を保持している。そして1分間毎にそれらのデータから以下のa及びbの値を算出する。過去10分間の弁開度変化量...a過去10分間の弁開度変化幅...bまた、10分毎に、前記の1分毎の処理後、以下のc及びdの値も更新する。過去10分間の弁開度変化量aの10分毎の値...c過去10分間の弁開度変化量aの10分毎の値の前回値...d起動時の過熱度設定上乗せ処理が終了し、補正動作の禁止が解除されると、1分毎に次のからの条件を判定して設定の上乗せ分を増減させて過熱度設定値の補正を行う。安定状態を検出した場合過熱度設定値を下げる補正は、次の5及び6の条件により行う。5過去10分間の弁開度変化量aが25パルス以下6過去10分間の弁開度変化幅bが5パルス以下上記条件5及び6の両方が成立すると設定の上乗せ分を1K減少させて、過熱度設定値を低めに補正する。そして、低めに補正した後の15分間は、上記条件5及び6の両方が成立しているとしても過熱度設定値を低めにする補正は行わない。また、不安定状態から過熱度設定値を上げる補正を行い安定状態になった場合は、過熱度設定値を上げてから30分間は過熱度設定値を下げる補正は行わない。不安定状態を検出した場合過熱度設定値を上げる補正は、次の7、8及び9の条件により行う。7過去10分間の弁開度変化量aが87パルス以上8過去10分間の弁開度変化量aが21パルス以上で過去10分間の弁開度変化量の10分毎の値cの3倍以上9過去10分間の弁開度変化量aが21パルス以上で過去10分間の弁開度変化量の10分毎の値の前回値dの4倍以上上記条件7、8及び9のいずれか1つが成立すると、設定の上乗せ分を10K増加させて、過熱度設定値を補正する。なお、補正を行った際は、1分毎に集計している過去10分間の弁開度変化量、最大位置、最小位置、の全データを一旦0にクリアする。そして、c、d、の値は10分が経過していなくても補正する直前のデータで更新し、10分カウンタをリスタートする。図5~図8はコントローラ100の設定値補正手段1の制御動作のフローチャートであり、この制御動作はコントローラ100に内蔵のマイクロコンピュータにより実行され、設定値補正手段1の機能を得る。なお、図5~図7の処理は、コントローラ100のメイン処理に対して例えば1秒程度のタイミングの割り込み処理により実行され、図5及び図6の処理は第2実施形態に対応している。図5は起動時の過熱度設定上乗せ処理のフローチャートである。まず、ステップS1で、運転が開始され、起動処理が終了してからの経過時間が10分以上であるかを判定し、判定がYESであれば、ステップS2で、補正過熱度設定値をSHSからSHに変更して、過熱度設定値の上乗せを終了し、元のルーチンに復帰する。ステップS1で判定がNOであれば、ステップS3で、過去5分間の蒸発温度SLの変化幅が3K以下であるかを判定し、判定がYESであれば、ステップS2で過熱度設定値の上乗せを終了して元のルーチンに復帰し、判定がNOであればそのまま元のルーチンに復帰する。以上の処理により、前記条件1及び2に応じた起動時の過熱度設定上乗せ処理が行われる。この起動時の過熱度設定上乗せ処理に応じたシステムの状態は例えば図10のようになる。図6は補正動作禁止の解除判定処理のフローチャートである。まず、ステップS4で、運転が開始され、起動処理が終了してからの経過時間が30分以上であるかを判定し、判定がYESであれば、ステップS5で補正動作の禁止を解除して元のルーチンに復帰する。ステップS4で判定がNOであれば、ステップS6で、過去10分間の弁開度変化幅が25パルス以下であるかを判定し、判定がYESであれば、ステップS5で補正動作の禁止を解除して元のルーチンに復帰し、判定がNOであればそのまま元のルーチンに復帰する。以上の処理により、前記条件3及び4に応じた補正動作の禁止の解除判定の処理が行われる。この補正動作禁止の解除判定処理に応じたシステムの状態は例えば図11のようになる。図7は過熱度設定値の補正処理のフローチャートである。この処理は補正動作の禁止が解除されている場合に実行され、1分タイマと10分タイマを起動し、この1分タイマと10分タイマのタイムアップ及びリスタートを繰り返して処理が進行する。まず、ステップS11で、1分経過しているかを判定し、判定がNOであればそのまま元のルーチンに復帰し、判定がYESであれば、ステップS12で、操作量信号MVによる1分間の弁開度変化量、1分間の最大開度位置、1分間の最小開度位置のデータをそれぞれ集計し、ステップS13に進む。ステップS13では、上記集計したデータから過去10分間の弁開度変化量aと、過去10分間の弁開度変化幅bを算出し、ステップS14に進む。ステップS14では、10分経過しているかを判定し、判定がNOであればステップS16で図8の補正判定サブルーチンの処理を行って元のルーチンに復帰する。ステップS14で判定がYESであれば、ステップS15で、過去10分間の弁開度変化量aの10分毎の値cと過去10分間の弁開度変化量aの10分毎の値の前回値dを更新する。そして、ステップS16で図8の補正判定サブルーチンの処理を行って元のルーチンに復帰する。図8の補正判定サブルーチンでは、前記条件5、6及び7~9の判定を行う。ステップS21では条件7を判定し、ステップS22,S23では条件8を判定し、ステップS22,S24では条件9を判定する。そして、ステップS21で条件7が成立している場合、ステップS22,S23で条件8が成立している場合、及びステップS22,S24で条件9が成立している場合、それぞれステップS25に進み、過熱度設定値を1K上げて補正過熱度設定値として出力し、ステップS26でマスク時間処理を行って元のルーチンに復帰する。ステップS26のマスク時間処理は、設定値を上げる補正を行って安定状態になった場合に、設定値を上げてから30分間は設定を下げる補正を行わないための処理であり、マスク時間を30分に設定する。以上の条件7~9のいずれも成立しない場合は、ステップS27でマスク時間が経過しているかを判定し、判定がNOであればそのまま元のルーチンに復帰し、判定がYESであれば、ステップS28で条件5を判定し、ステップS29で条件6を判定する。そして、ステップS28,S29で条件5及び6の両方が成立していると、ステップS30で過熱度設定値を1K下げて補正過熱度設定値として出力し、ステップS31でマスク時間処理を行って元のルーチンに復帰する。ステップS31のマスク時間処理は、設定値を低めに補正した後の15分間は、上記条件5及び6の両方が成立しているとしても目標値を低めにする補正は行わないための処理であり、マスク時間を15分に設定する。以上の過熱度設定値の補正処理に応じたシステムの状態は例えば図12のようになる。なお、過熱度が設定値よりも高い状態で、電子膨張弁を弁開方向に動かす制御出力をしているのに上限開度OLPに制限されて動かない場合がる。その状態で過熱度の補正を行うと、弁開度変化が上限開度で安定しているため、設定値を下げる補正を続けてしまうので、上限開度OLPで制限されている場合は、補正に関する変数をリセットして補正処理は行わない。また、圧縮機始動時の液戻り防止、圧縮機モータの過負荷防止を可能とするMOPMaximumOperatingPressureという機能がある。上限開度と同様に、過熱度が設定値よりも高い状態で、電子膨張弁を弁開方向に動かす制御出力をしているのにMOP機能により弁開度を制限されて動かない場合がある。その場合も補正に関する変数をリセットして補正処理を行わない。さらに、ユーザーが過熱度設定SHを変更した際に、設定値を変更したことによる電子膨張弁の挙動を、不安定状態と認識してしまわないように、設定変更時には補正に関する変数を一旦リセットして補正処理を再スタートする。また、SHを変更した際に、設定の上乗せ分がある場合は0にクリアする。操作量信号出力を判定のために入力する制御装置は、他分野にも多く存在するが、単純に操作端を保護する目的であることが多い。本発明の制御装置は、それらとは異なりフィードバック入力した操作量信号出力を制御入力信号として扱い、積極的に過熱度設定値の補正に利用するものである。すなわち、入力された操作量信号出力が操作端を保護する目的のみで使用されるものは、操作量信号出力を制限する形で働くので、狙った制御出力を出力できずに制御性を悪化させる可能性がある。それに対して、本発明の制御装置はフィードバック入力した操作量信号出力を用いて、操作量信号出力が電子膨張弁の信頼性を確保できる範囲内での動作か否かの判定と、過熱度設定値が高いのか低いのかの判定とを同時に行い、制御性を悪化させることなく操作量出力が電子膨張弁の信頼性を確保できる範囲内におさまり、且つ蒸発器を有効利用できるように、過熱度設定値を最適な値に補正することが出来る点で、他のものとは異なり、大変大きな効果が得られる。"