光源から出射されたレーザ光を複数の鏡面を有する回転多面鏡で反射させ像担持体を走査して前記像担持体に静電潜像を形成し、記録媒体に画像形成を行う電子写真方式の画像形成装置に用いられる光学走査装置において、前記回転多面鏡の鏡面毎の反射光量を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された反射光量が最大である鏡面と最小である鏡面との反射光量の差分値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出された差分値に基づいて、鏡面毎の反射光量の差が小さくなるように、前記レーザ光が入射する鏡面に応じて前記光源から出射されるレーザ光量を制御する制御手段とを有することを特徴とする光学走査装置。前記制御手段は、前記算出された差分値が所定値より小さい場合は、第1のモードにより、前記光源から出射されるレーザ光量を、前記複数の鏡面に対して共通の目標値となるように制御し、一方、前記算出された差分値が前記所定値以上である場合は、第2のモードにより、前記光源から出射されるレーザ光量を、前記各鏡面の反射光量の差が小さくなるように前記鏡面毎に目標値を定めて制御することを特徴とする請求項1記載の光学走査装置。前記制御手段は、前記算出された差分値が前記所定値以上である場合に、前記鏡面毎に定められる目標値のうち制限値を超えるものがあるときは、前記第2のモードによる制御を行うことなく、所定の報知を行うことを特徴とする請求項2記載の光学走査装置。前記制御手段は、前記検出された最大の反射光量と前記鏡面の各々について検出された反射光量との比に応じて、前記光源から出射されるレーザ光量の目標値を前記鏡面毎に定めることを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の光学走査装置。前記検出手段は、前記回転多面鏡の前記各鏡面の主走査方向における走査開始側のレーザ光を検知する位置に配置されることを特徴とする請求項1~4のいずれか1項に記載の光学走査装置。しかしながら特許文献1は、レーザ光源から出射したレーザ光がポリゴンミラーで反射し再度レンズに入射するレーザ光主ビームと、フォトダイオードに直接向かうレーザ光副ビームとを、同一のフォトダイオードで検出する構成である。そのため、光学効率のばらつきにより、光学走査装置によっては同じ光量で照射しても副ビームの出力値が一定であっても、再入射された光のレベルは異なる可能性がある。このため、しきい値電圧kの値を、副ビームのみの出力値特許文献1の図4のi点に対して一定の割合で設定してしまうと、光学走査装置によって汚れの検出レベルが変わってしまうという問題がある。また、単純に汚れを検出して光量を制御するのみでは、画像濃度にむらが生じる。また、特許文献2で提案された方法では、BD検知部を走査する時は画像が形成されないため、BD検知部でのパッチが打てず正確なBD光量がわからないという問題がある。ところで、ポリゴンミラーの反射面の面汚れについては、全ての面が一様に汚れていくとは限らず、ポリゴンミラーの反射面毎に汚れが異なると、反射光量がばらつく傾向があることがわかっている。本発明は上記従来技術の問題を解決するためになされたものであり、その目的は、鏡面毎の汚れを精度良く検知して画像の濃度むらを小さくすることができる光学走査装置を提供することにある。上記目的を達成するために本発明は、光源から出射されたレーザ光を複数の鏡面を有する回転多面鏡で反射させ像担持体を走査して前記像担持体に静電潜像を形成し、記録媒体に画像形成を行う電子写真方式の画像形成装置に用いられる光学走査装置において、前記回転多面鏡の鏡面毎の反射光量を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された反射光量が最大である鏡面と最小である鏡面との反射光量の差分値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出された差分値に基づいて、鏡面毎の反射光量の差が小さくなるように、前記レーザ光が入射する鏡面に応じて前記光源から出射されるレーザ光量を制御する制御手段とを有することを特徴とする。本発明によれば、鏡面毎の汚れを精度良く検知して画像の濃度むらを小さくすることができる。以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施の形態に係る光学走査装置が適用される画像形成装置全体の概略断面図である。この画像形成装置100は、レーザ光を複数の鏡面を有する回転多面鏡で反射させ像担持体である感光体11を走査して静電潜像を形成し、記録媒体に画像形成を行う電子写真方式の画像形成装置である。まず、画像形成装置100の基本的な動作について図1を用いて説明する。原稿給紙装置1上に積載された原稿は、1枚ずつ順次、原稿台ガラス2の面上に搬送される。原稿が原稿台ガラス2の面上に搬送されると、読取りユニット4のランプ部3が点灯し、且つ読取りユニット4が図1中の矢印方向に移動ながら原稿を照射する。原稿からの反射光はミラー5、6、7を介してレンズ8を通過し、その後イメージセンサ部9に入力される。イメージセンサ部9に入力された画像信号は、直接、あるいは、一旦図示しない画像メモリに記憶され、再び読み出された後、露光制御部10に入力される。露光制御部10が発生させる照射光によって感光体11上に作られた静電潜像は、電位センサ30によって、感光体11上の電位が所望の値になっているか監視され、次いで、現像器13によって現像される。上記潜像形成とタイミングを合わせて転写部材積載部14あるいは転写部材積載部15から記録媒体である転写部材が搬送され、転写部16において、上記現像されたトナー像が転写部材上に転写される。転写されたトナー像は定着部17にて転写部材に定着された後、排紙部18より装置外部に排出される。転写後の感光体11の表面はクリーナ25で清掃される。クリーナ25で清掃された感光体11の表面を補助帯電器26で除電して1次帯電器28において良好な帯電を得られるようにした上で、感光体11上の残留電荷を前露光ランプ27で消去する。そして1次帯電器28で感光体11の表面を帯電させ、この工程を繰り返すことで複数枚の画像形成を行う。図2は、露光制御部10の概略構成図である。まず図2において、露光制御部10は、概略的には、光源である半導体レーザ43を有するレーザ駆動装置31、絞り32、回転多面鏡33、f-θレンズ34、コリメータレンズ35、及びBDセンサ36を備える。露光制御部10を制御する制御手段である制御ユニット200は、不図示のCPU、シーケンスコントローラ47、及び汚れ検出部300を備える。次に光路を追って説明する。半導体レーザ43から発せられたレーザ光はコリメータレンズ35及び絞り32によりほぼ平行光となり、所定のビーム径で回転多面鏡33に入射される。回転多面鏡33は反射面である鏡面を複数6つ有する。回転多面鏡33は矢印の方向図2の反時計方向に等角速度の回転を行っており、この回転に伴って、入射した光ビームが連続的に角度を変える偏向ビームとなって反射する。偏向ビームとなった光はf-θレンズ34により集光作用を受ける。一方、f-θレンズ34は同時に走査の時間的な直線性を保証するような歪曲収差の補正を行う為に、光ビームは、像担持体としての感光体11上に図2の上向きの矢印の方向に等速で結合走査される。BDセンサ36は、回転多面鏡33の各鏡面からの反射光を検出する検出手段であり、回転多面鏡33の各鏡面の主走査方向における走査開始側のレーザ光を検知する位置に配置されている。このBDセンサ36の検出信号S36は、回転多面鏡33の回転と画像データの書き込み開始との同期をとるための同期信号として用いられる。そのため、検出信号S36はシーケンスコントローラ47に入力されると同時に、さらに汚れ検出部300にも入力される。汚れ検出部300にはシーケンスコントローラ47から回転多面鏡33の面情報S300も入力される。後述する画像形成処理図8において第1のモードで鏡面毎の光量データS310がシーケンスコントローラ47に出力され、シーケンスコントローラ47は鏡面毎の光量ばらつきを検出する。さらに、シーケンスコントローラ47は、前述した光量ばらつきが所定の範囲を超えると、後述する第2のモードで目標光量目標制御電圧Vrefを鏡面毎に可変にし、光量ばらつきを減らすようレーザ駆動装置31を制御する。シーケンスコントローラ47は、生成したレーザ制御信号S47でレーザ駆動装置31を制御する。図4は、露光制御部10が備えるレーザ駆動装置31とシーケンスコントローラ47の詳細構成図である。この図で、主にレーザ駆動装置31の概略構成について説明する。レーザ駆動装置31は、論理素子40、バイアス電流源41、パルス電流源42、半導体レーザ43、電流/電圧I/V変換器44、増幅器45、APC回路46、変調部48、スイッチ49を備える。シーケンスコントローラ47は、レーザ制御信号S47後述するBD検出用フル点灯信号FULLとサンプル/ホールド信号S/Hと目標制御電圧Vrefを指す信号を生成する。生成されたレーザ制御信号S47に基づいてレーザ駆動装置31の半導体レーザ43が駆動されると、半導体レーザ43からレーザ光が出射される。半導体レーザ43は、レーザダイオード43A及びPDセンサ43Bから構成されるレーザチップである。レーザ光の一部を検出するPDセンサ43Bの検出信号を用いてレーザダイオード43AのAPC制御自動光量制御が行われる。バイアス電流源41は、レーザダイオード43Aのバイアス電流源である。パルス電流源42は、レーザダイオード43Aのパルス電流源である。不図示の画像メモリ等から入力された画像信号S202は、変調部48において画素変調される。この信号とシーケンスコントローラ47からのBD検出用フル点灯信号FULLとを論理素子40で論理和演算した信号がスイッチ49をON/OFF動作させる。スイッチ49がONの時には1走査毎に制御されるバイアス電流源41による電流と1走査中に複数回可変制御されるパルス電流源42による電流の和でレーザダイオード43Aが発光制御される。スイッチ49がOFFの時にはバイアス電流源41による電流のみでレーザダイオード43Aが発光制御される。BD検出用のフル点灯発光時の光量をモニタした時のPDセンサ43Bの出力信号は、電流/電圧I/V変換器44で電圧信号に変換され、増幅器45で増幅されAPC回路46に入力される。図5は、APC回路46の構成を示す回路図である。APC回路46は、図5に例示する回路を内蔵している。APC回路46においては、増幅されたPDセンサ出力VPDを、アナログスイッチ38を使ってシーケンスコントローラ47からのサンプル/ホールド信号S/Hでサンプルする。そして、抵抗37とコンデンサ39とで決まる時定数でこの電圧値VSHを1走査の間、ホールドする。それと共に、この電圧値VSHと予め設定された目標制御電圧Vrefとを論理素子40で比較することで、その差信号VAPCを出力する。図4に示されるように、この差信号VAPCがバイアス電流源41の電流を制御する。即ち、目標制御電圧Vrefとして設定されている目標のバイアス発光値となるように、各走査毎にバイアス電流源41の電流が制御され、レーザダイオード43Aのバイアス光量が所望の光量にAPC制御される。次に、汚れ検出部300の動作を図3の構成図及び図6、図7のタイムチャートを用いて説明する。図3は、汚れ検出部300の構成を示すブロック図である。汚れ検出部300は、アナログスイッチ301、アナログデジタルA/D変換器308を備えると共に、回転多面鏡33の各鏡面に対応して、6つのピークホールド回路302~307を備える。アナログスイッチ301は、検出信号S36を入力し、シーケンスコントローラ47からの面情報S300に応じて出力先を切り替え、出力先に応じてBD信号S301~S306として出力する。ピークホールド回路302~307は、回転多面鏡33の各鏡面に対応して入力された各BD信号S301~S306のピーク電圧を保持する。例えばピークホールド回路302は、回転多面鏡33の1面目で入力されたBD信号S301をピークホールドする回路、ピークホールド回路303はポリゴンの2面目で入力されたBD信号S302をピークホールドする回路である。以下同様にして、ピークホールド回路304~307は、回転多面鏡33の3面目~6面目でそれぞれ入力されたBD信号S303~S306をピークホールドする回路である。ピークホールド回路302~307はそれぞれ各鏡面に応じたピークホールド信号S301P~S306Pを出力する。ピークホールド信号S301P~S306Pはアナログデジタル変換器308に入力され、目標制御電圧Vrefに対してアナログ値からデジタル値に変換される。そして、アナログデジタル変換器308から、面情報S300に応じてピーク検出値である光量データS310が時系列にシーケンスコントローラ47に出力される。次に図6、図7のタイムチャート及び図8のフローチャートを用いて、制御ユニット200における主として汚れ検出部300及びシーケンスコントローラ47の動作を説明する。図6、図7は、それぞれ、第1のモード時、第2のモード時の動作のタイムチャートである。図8は、画像形成処理のフローチャートである。第1のモードは、レーザ駆動装置31を回転多面鏡33の各鏡面に共通の目標光量目標制御電圧Vrefで制御すると共に、鏡面間の反射光量のばらつきを検出するモードである。第2のモードは、鏡面間の反射光量のばらつきが大きい場合に、一定の制約の範囲で目標光量目標制御電圧Vrefnを鏡面毎に定めて反射光量のばらつきをなくすよう制御するモードである。まず、図8のステップS101で、制御ユニット200は、第1のモードにより、制御電圧が目標制御電圧Vrefになるようにレーザ駆動装置31を制御する。すなわち、レーザ駆動装置31から出射されるレーザ光量が、各鏡面に対して共通の目標値目標光量となるように、制御ユニット200においてシーケンスコントローラ47がレーザ駆動装置31を制御してレーザを点灯させる。ところで、回転多面鏡33の鏡面が汚れ始めると、図6の検出信号S36に示すように、鏡面毎に検出されるBDセンサ36の出力電圧にばらつきが生じてくる。面情報S300はBDセンサ36からの信号が回転多面鏡33のどの鏡面に対するものかを示す面情報であり、シーケンスコントローラ47から出力される。図6に示す例では、6面ポリゴンの1面目での反射光の検出電圧検出信号S36が目標制御電圧Vrefの95にまで下がっており、2面目での反射光の検出電圧は目標制御電圧Vrefの85にまで下がっている。同様に3面目は70、4面目は85、5面目は80、6面目は90に下がっており、次の1面目は再度95になっている。この検出信号S36が、図3に示す汚れ検出部300においてアナログスイッチ301に入力され、面情報S300で切り替えられて出力された信号がBD信号S301~S306である。それぞれのBD信号はピークホールド回路302~307でピークホールドされてS301P~S306Pで示す電圧レベルが保持される。この保持された電圧レベルがアナログデジタル変換器308に面情報S300に応じて時系列に入力され、目標制御電圧Vrefに対してデジタル信号に変換される。アナログデジタル変換器308は、本実施の形態では8ビットで処理し、入力された電圧が目標制御電圧Vrefと等しい場合に、16進数でFFHを出力し、0Vであれば00Hを出力するものとする。従って、1面目に入力された電圧レベルが目標制御電圧Vrefの95であるため、1面目に対応して出力されるデジタル値はFFH×95=F2Hとなる図6、図7ではF2hと記載。同様に2面目はFFH×85=D8H、3面目はFFH×70=B2H、4面目はFFH×85=D8H、5面目はFFH×80=CCH、6面目はFFH×90=E5Hとなる。このように、面情報S300に応じて時系列に出力されるデジタル値である光量データS310が、鏡面毎の反射光量データとして次段のシーケンスコントローラ47に入力される。このようにして、図8のステップS102では、制御ユニット200においてシーケンスコントローラ47が汚れ検出部300から鏡面毎の光量データS310を取得する。次に、制御ユニット200においてシーケンスコントローラ47は、入力された光量データS310の最大値と最小値を検出しステップS103、算出手段として機能して最大値と最小値との差分値を演算算出するステップS104。図6の例では、最大値は1面目の光量データF2Hであり、最小値は3面目の光量データB2Hであるため、差分値はF2H-B2H=40Hになる。次に、ステップS105では、制御ユニット200は、上記演算された差分値と所定値である判定値αとを比較し、差分値≧αが成立するか否かを判別する。ここで判定値αは、制御モードを、第1のモードから、鏡面毎に光量補正をする第2のモードに遷移するどうかを決めるための閾値であり、例えば30Hとする。判定値αは、画像劣化が目立つ前に光量補正を行うようにするべく、感光体11上におけるレーザ光量のばらつきが許容される最大値として設定される。その判別の結果、差分値<αであれば、鏡面毎の反射光量のばらつきが小さいと判断できるので、制御ユニット200は、第2のモードに遷移させることなく第1のモードのまま、画像形成を開始するよう制御するステップS200。しかし、差分値≧αが成立する場合は、鏡面毎の反射光量のばらつきが大きく汚れが多いと判断できるので、制御ユニット200は、制御モードを第1のモードから第2のモードに遷移させ、処理をステップS106に進める。図6の例では、差分値40H≧α30Hであるので、ステップS106に進むことになる。第2のモードに遷移した場合、ステップS106で、制御ユニット200の不図示のCPUが補正係数Vapc比を演算する。補正係数Vapc比は、図7に示すように、入力された光量データS310の最大値/鏡面毎の光量データにより算出される。図7に示す例では、光量データS310の最大値=F2Hであるため、補正係数Vapc比は、それぞれ1面目がF2H/F2H=1で、2面目がF2H/D8H=1.12となる。同様にして3面目が1.36、4面目が1.12、5面目が1.19、6面目が1.06となる。次に、ステップS107では、制御ユニット200は、面毎目標光量である鏡面毎の目標制御電圧Vrefnnはポリゴン鏡面の面番号を表し、本例ではn=1~6であるを演算する。鏡面毎の目標制御電圧Vrefnは、1面目から順に、Vref1=Vref、Vref2=1.12Vref、Vref3=1.36Vrefとなる。また、Vref4=1.12Vref、Vref5=1.19Vref、Vref6=1.06Vrefとなる。次に、第2のモードによる制御をすると、目標制御電圧が、共通目標光量である目標制御電圧Vrefよりも高い値となるため、レーザダイオード43Aにダメージを与えないようにするべくリミットをかける必要がある。そこで、ステップS108では、制御ユニット200は、制限値であるリミット電圧値βと全Vrefn値のうちの最大のものである最大値Vrefnmaxとを比較し、Vrefnmax≧βが成立するか否かを判別する。例えば、リミット電圧値β=2×Vrefに設定されているとする。図7の例では、Vrefnmax=1.36Vrefn=3の時であり、Vrefnmax<βであるから、レーザダイオード43Aにダメージを与える心配がない。そこで制御ユニット200は、ステップS109に処理を進める。この場合、制御ユニット200は、第2のモードにより、鏡面毎に、制御電圧が面毎目標光量鏡面毎の目標制御電圧Vref1~Vref6になるようにレーザ駆動装置31を制御する。すなわち、レーザ駆動装置31から出射されるレーザ光量が、各鏡面に対して各々設定される目標値目標光量となるように、制御ユニット200においてシーケンスコントローラ47がレーザ駆動装置31を制御してレーザを点灯させる。ステップS109の処理後は、制御ユニット200は、処理をステップS200に進める。従って、第2のモードとされた状態で画像形成を開始するよう制御するステップS200。このようにすることで、図7の検出信号S36-2点線は補正前のBD検出信号、実線は補正後のBD検出信号に示すように、各鏡面での反射光量が最大光量の面ここでは1面目の光量と同じになるよう制御される。そのため、全鏡面において感光体11上では同一光量になる。一方、前記ステップS108の判別の結果、Vrefnmax≧βが成立する場合は、制御ユニット200は、ステップS110に処理を進め、警告等の報知処理を行う。例えば、リミット電圧値βが低い値に設定されていた場合例えばβ=1.3Vref、Vrefnmax=1.36Vrefn=3の時≧βとなるため、報知処理を行うことになる。この報知処理としては例えば、不図示の操作部等に光学走査装置の交換を促すような警告を表示したり、警告音を発生したりする。その後、制御ユニット200は、レーザを消灯してステップS111、本処理を終了させる。なお、ステップS110の処理後、第1のモードに戻して画像形成ステップS200を行うように制御してもよい。図8の処理によれば、まず第1のモードにおいて、一定の目標光量で回転多面鏡33の各鏡面を照射し、反射光をBDセンサ36で検出することで、回転多面鏡33の各鏡面の汚れの度合いを検出電圧のばらつきで判定できる。光学効率によって汚れの判定レベルが変わるようなことがなく、回転多面鏡33の鏡面の汚れを精度良く把握することができる。一方、汚れが進行してきて鏡面毎の反射光量にばらつきが出始めると第2のモードにおいて、ばらつきを減らすよう鏡面毎の目標光量を可変にするため、汚れが進行しても安定した光量制御が可能になる。さらに、補正できなくなるほど汚れが進行したとしても、それに応じて鏡面毎の目標光量を可変にする前にその旨を報知警告するため、レーザにダメージを与える前にサービスパーツ交換を促すことができる。ところで、ステップS108において、リミット電圧値βを複数用意しておき、Vrefnmaxが超えたリミット電圧値βに応じて報知や警告の内容を変えるように制御してもよい。例えばβ1<β2<β3の関係にあるリミット電圧値βを3つ設ける。Vrefnmaxがβ1値を超えた場合には軽微な汚れが発生していることを報知し、さらにβ2値を超えた場合には中度の汚れが発生していることを報知する。その際、β3値を超えない場合は操作部での報知を行わず、サービスマンが定期メンテナンス時に見ることが可能なようにしておき、β3値を超えた場合には不図示の操作部に表示させてサービスマンコールを出すようにしてもよい。複数レベルを用意したリミット電圧値βを用いて報知警告する内容を変えれば、汚れの進行度も把握できる。そのため、サービスマンはサービスパーツを常に確保しておく必要はなく、必要となりそうなタイミングを予測して準備でき、無駄なコストアップを防ぐことができる。また、サービスマンコールで出動するときには、光学走査装置を交換することが事前にわかっているため、迅速に行動でき、サービス性も格段に向上する。本実施の形態によれば、反射光量が最大である鏡面と最小である鏡面との反射光量の差分値に基づいて、出射されるレーザ光量を制御するので、鏡面毎の汚れを精度良く検知して画像の濃度むらを小さくすることができる。特に、差分値<αの場合は、第1のモードにより、レーザ光量を、複数の鏡面に対して共通の目標値Vrefとなるように制御する。一方、差分値が所定値以上差分値≧αとなると、第2のモードにより、レーザ光量を、各鏡面の反射光量の差がなくなるように鏡面毎に目標値Vrefnを定めて制御する。これにより、鏡面毎に汚れが異なっていても、BD光量や感光体11上の光量を一定に近づけることができる。従って、主走査同期が安定し、濃度むらのない画像を形成することができる。また、鏡面毎に定められる目標値Vrefnのうちリミット電圧値βを超えるものがあるときは、第2のモードによる制御を行うことなく報知を行うので、レーザにダメージを与える前にその旨を知らせることができる。なお、図8の処理において、ステップS101~S111の処理は、画像形成ステップS200に際し定期的に実行してもよく、例えば、回転多面鏡33が複数回回転する度に1回実行するようにしてもよい。また、各鏡面の光量データS310の値を、回転多面鏡33の連続する複数回の回転分保持し、各鏡面の平均値を用いて差分値等の算出を行うようにしてもよい。なお、本実施の形態では、補正係数Vapc比は、光量データS310の最大値に各鏡面の光量データを合わせ、理想的には各鏡面での反射光量を一致させることを狙うものであった。しかしこれに限るものではなく、各鏡面での反射光量の差が小さくなるような補正係数であればよい。また、各鏡面での反射光量の差を縮める手法として、補正係数Vapc比を用いることは例示であり、予め定めた補正量で複数段階に補正してもよく、テーブルを用いた補正であってもよい。以上、本発明をその好適な実施形態に基づいて詳述してきたが、本発明はこれら特定の実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本発明に含まれる。