円板状に形成された接液ブロックと、ドーナツ状のシールリングと、このシールリングの外径よりは小さく内径よりも大きな外径を有し一方の面に金メッキが施されたダイアフラムと、を備えた差圧圧力計において、前記ダイアフラムは金メッキされた側から前記シールリングの一方の面に径の異なる複数箇所で溶接され、前記シールリングは他方の面から前記ダイアフラムの外径より外側で前記接液ブロックに溶接されるとともに、前記径の異なる複数の溶接箇所の間に溝を形成したことを特徴とする差圧圧力計。円板状に形成された接液ブロックと、ドーナツ状のシールリングと、このシールリングの外径よりは小さく内径よりも大きな外径を有し一方の面に金メッキが施されたダイアフラムと、を備えた差圧圧力計において、前記ダイアフラムは金メッキされた側から前記シールリングの一方の面に溶接され、該溶接部分の外側であって前記金メッキが施された部分で覆われるように前記シールリングに所定の径の溝を形成し、該溝に水素を吸着貯蔵できる部材を埋め込み、前記シールリングの他方の面から前記ダイアフラムの外径より外側で前記接液ブロックを溶接したことを特徴とする差圧圧力計。前記水素を吸着貯蔵できる部材はNiまたはNi金属を含むことを特徴とする請求項2に記載の差圧圧力計。しかしながら、上述した従来技術においては被測定対象Bが水素分子を含む場合、図4aに示すように、例えダイアフラムに水素分子の透過を防止する金メッキ又はセラミックスコーティングを施こしても、センサ室2との隔壁であるダイアフラム5の膜を水素分子が透過し、センサ室2内に気体水素が留まることになる。センサ室において低圧での測定の場合には、この透過した水素分子が膨張して最悪の場合には気泡が生じ、ダイアフラム膜を変形させることにより、センサ室2内の圧力変動、測定値に水素分子の透過に基づく誤差が生じてしまうという問題がある。そこで、図4bに示すように第2溶接部8aを溶接し、この溶接部を含むように金メッキ5aを施し、ダイアフラム5から水素が侵入してくる部分を無くした構造とする場合がある。しかし、水素透過が激しい場合等には、このような構造でも図4cに矢印cで示すように溶接部から水素が侵入し、伝送器がすぐに使えなくなる場合がある。従って本発明は、ダイアフラム及び溶接部を透過する水素分子の浸透を遅延させる構造を有する差圧圧力計を提供することを目的としている。上記課題を解決するために、本発明に係る差圧圧力計は請求項1においては、円板状に形成された接液ブロックと、ドーナツ状のシールリングと、このシールリングの外径よりは小さく内径よりも大きな外径を有し一方の面に金メッキが施されたダイアフラムと、を備えた差圧圧力計において、前記ダイアフラムは金メッキされた側から前記シールリングの一方の面に径の異なる複数箇所で溶接され、前記シールリングは他方の面から前記ダイアフラムの外径より外側で前記接液ブロックに溶接されるとともに、前記径の異なる複数の溶接箇所の間に溝を形成したことを特徴とする。請求項2においては、円板状に形成された接液ブロックと、ドーナツ状のシールリングと、このシールリングの外径よりは小さく内径よりも大きな外径を有し一方の面に金メッキが施されたダイアフラムと、を備えた差圧圧力計において、前記ダイアフラムは金メッキされた側から前記シールリングの一方の面に溶接され、該溶接部分の外側であって前記金メッキが施された部分で覆われるように前記シールリングに所定の径の溝を形成し、該溝に水素を吸着貯蔵できる部材を埋め込み、前記シールリングの他方の面から前記ダイアフラムの外径より外側で前記接液ブロックを溶接したことを特徴とする。請求項3においては、請求項2に記載の差圧圧力計において、前記水素を吸着貯蔵できる部材はNiまたはNi金属を含むことを特徴とする。本発明の差圧圧力計の請求項1によれば、ダイアフラムの金メッキされた側からこのダイアフラムをシールリングの一方の面に径の異なる複数箇所で溶接し、シールリングの他方の面からダイアフラムの外径より外側で接液ブロックに溶接し、径の異なる複数の溶接箇所の間に溝を形成したので、シールリングとダイアフラムの内周部分の溶接箇所を透過した水素は、溶接部と溶接部の間の空間を経て、外周部分の溶接箇所を透過して封入液側に侵入して留まる。その結果、封入液中に水素の気泡が発生するまでの時間を遅らせることができる。請求項2、3によれば、ダイアフラムの金メッキされた側がシールリングの一方の面に溶接され、この溶接部分の外側であって前記金メッキが施された部分で覆われるようにシールリングに所定の径の溝を形成し、その溝に水素を吸着貯蔵できる部材を埋め込み、シールリングの他方の面から前記ダイアフラムの外径より外側で接液ブロックに溶接したので、溶接部分を透過した水素は、まず水素を吸着貯蔵できる金属中に溜まっていき、その金属が水素を溜めることが出来なくなってから、封入液中に水素が侵入していくことになる。その結果、封入液中に水素の気泡が発生するまでの時間を遅らせることができる。図1は本発明の差圧圧力計のダイアフラムシール部分の実施形態の一例を示す要部断面図である。図1において、1は円板状の接液ブロックで一方の面の中央部に円状の凹部1cが形成されている。6はドーナツ状のシールリングで一方の面の内周寄りにリング状の溝11が形成されている。5は一方の面に金メッキが施されたダイアフラムで、このダイアフラムの外径はシールリング6の外径より小さく、内径より大きく形成されている。そして、このダイアフラムは前記シールリングに形成されたリング状の溝11を金メッキが施されていない側接液側で覆った状態とされ、前記リング状の溝11の内側第2溶接部8bと外側第3溶接部8cでシールリング6に溶接されている。その結果、リング状の溝11は気密にダイアフラム5の面で閉塞された状態となる。このようにダイアフラム5が溶接されたシールリング6は金メッキが施された非接液側を前記円状に形成された前記接液ブロックの凹部1cの底部に接するように挿入する。挿入された状態で接液ブロック1の一方の面とシールリングの他方の面は面一になる。そして、その状態で前記ダイアフラムの外周より外側の前記シールリングの他方の面から接液ブロックに溶接第1溶接部8aにより固定される。上述の差圧圧力計のダイアフラムシール部分の構造によれば、被測定体に含まれる水素が溝の内周側の溶接部から浸透しても溝11が水素溜まりとして機能し、ここに充満した水素は溝の外周側の溶接部第3溶接部8cを経て封入液側に浸透する。その結果、封入液中に水素の気泡が発生するまでの時間を遅らせることができる。図2は請求項2における実施例を示す要部断面図である。図2において、図1と異なる部分はシールリング6に水素を吸着できる金属例えばNi又はNi合金12を埋め込んだ点である。図2において、1は円板状の接液ブロックで一方の面の中央部に円状の凹部1cが形成されている。6はドーナツ状のシールリングで一方の面に溝11aが形成されこの溝に水素を吸着できるNi又はNi合金がシールリングの一方の面と面一に埋め込まれている。5は一方の面に金メッキが施されたダイアフラムで、このダイアフラムの外径はシールリング6の外径より小さく、内径より大きく形成されている。そして、このダイアフラムは前記シールリング6に形成されたNi又はNi合金を金メッキが施されていない側接液側の一部を覆った状態とされ、溝11aより内側で溶接シールリングに溶接されている第2の溶接部8b。また、Ni又はNi合金を一部覆ったダイアフラム5の外周部分も溶接第3溶接部8cされ、更にNi又はNi合金部分の外周はシールリングに溶接されている第4溶接部8d。そしてこのシールリング6はNi又はNi合金部分が埋め込まれた側を下にして接液ブロックの凹部1cに挿入され他方の面から接液ブロック1に溶接第1溶接部8aされる。上述の差圧圧力計のダイアフラムシール部分の構造によれば、溶接部分を透過した水素は、まず水素を吸着貯蔵できる金属中に溜まっていき、その金属が金属中に充満し水素を溜めることが出来なくなってから、封入液中に水素が侵入していくことになる。その結果、封入液中に水素の気泡が発生するまでの時間を遅らせることができる。なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。従って本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。