アンテナを有する無線モジュールの試験を行なう無線モジュール試験装置において、無線モジュールを所定の位置に設置することのできる試験基板と、前記試験基板に設けられた試験用アンテナと、を有し、前記試験用アンテナには試験機が接続されており、前記無線モジュールのアンテナより発せられた電波を前記試験用アンテナにより受信し、前記無線モジュールの試験を行なうことを特徴とする無線モジュール試験装置。前記試験用アンテナの偏波方向と前記無線モジュールの偏波方向とは略直交するものであることを特徴とする請求項1に記載の無線モジュール試験装置。前記試験基板はプリント基板により形成されており、前記試験用アンテナは、前記プリント基板上に形成された導体パターンにより形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の無線モジュール試験装置。前記試験用アンテナと前記無線モジュールとの間の距離Lは、使用する波長をλとした場合、L<λ/2πであることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の無線モジュール試験装置。前記試験基板は、第1の試験基板と第2の試験基板とを有しており、前記第1の試験基板には、前記試験用アンテナが設けられており、前記第2の試験基板には、前記無線モジュールが設置されるものであることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の無線モジュール試験装置。前記試験基板には、回路部が搭載されていることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の無線モジュール試験装置。前記試験用アンテナは、ダイポールアンテナ、T字アンテナ、逆L字アンテナ、逆F字アンテナのいずれかであることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の無線モジュール試験装置。前記試験用アンテナには、共振周波数を調整するためのインダクタが接続されていることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載の無線モジュール試験装置。前記試験用アンテナと前記試験機との間にはバランが接続されていることを特徴とする請求項1から8のいずれかに記載の無線モジュール試験装置。前記試験基板に設置される前記無線モジュールは、前記試験基板と電気的に接続されているものであって、前記接続は、前記試験基板に設けられたバンプと前記無線モジュールに設けられた接続端子とを異方性導電フィルムを介し加圧することにより行なわれるものであること、または、前記試験基板に設けられたコネクタと前記試験基板に設けられたコネクタとを接続することにより行なわれるものであること、を特徴とする請求項1から9のいずれかに記載の無線モジュール試験装置。前記無線モジュールは、2.4GHzから2.5GHzの周波数帯域に用いられるものであることを特徴とする請求項1から10のいずれかに記載の無線モジュール試験装置。前記無線モジュールは、無線LAN、BT用の通信に用いられるものであることを特徴とする請求項1から10のいずれかに記載の無線モジュール試験装置。ところで、このような無線モジュール試験装置においては、受信するアンテナの位置が僅かに変わると、試験対象となる無線モジュールの特性が変化し、試験結果にばらつきが生じてしまう。このため、同一の条件における試験が困難となり、正確な試験を行なうことができない。本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、アンテナが搭載された無線モジュールにおいて、同一条件における試験を容易に行なうことができ、また、正確な試験を行なうことのできる無線モジュール試験装置を提供することを目的とするものである。本発明は、アンテナを有する無線モジュールの試験を行なう無線モジュール試験装置において、無線モジュールを所定の位置に設置することのできる試験基板と、前記試験基板に設けられた試験用アンテナと、を有し、前記試験用アンテナには試験機が接続されており、前記無線モジュールのアンテナより発せられた電波を前記試験用アンテナにより受信し、前記無線モジュールの試験を行なうことを特徴とする。また、本発明は、前記試験用アンテナの偏波方向と前記無線モジュールの偏波方向とは略直交するものであることを特徴とする。また、本発明は、前記試験基板はプリント基板により形成されており、前記試験用アンテナは、前記プリント基板上に形成された導体パターンにより形成されていることを特徴とする。また、本発明は、前記試験用アンテナと前記無線モジュールとの間の距離Lは、使用する波長をλとした場合、L<λ/2πであることを特徴とする。また、本発明は、前記試験基板は、第1の試験基板と第2の試験基板とを有しており、前記第1の試験基板には、前記試験用アンテナが設けられており、前記第2の試験基板には、前記無線モジュールが設置されるものであることを特徴とする。また、本発明は、前記試験基板には、回路部が搭載されていることを特徴とする。また、本発明は、前記試験用アンテナは、ダイポールアンテナ、T字アンテナ、逆L字アンテナ、逆F字アンテナのいずれかであることを特徴とする。また、本発明は、前記試験用アンテナには、共振周波数を調整するためのインダクタが接続されていることを特徴とする。また、本発明は、前記試験用アンテナと前記試験機との間にはバランが接続されていることを特徴とする。また、本発明は、前記試験基板に設置される前記無線モジュールは、前記試験基板と電気的に接続されているものであって、前記接続は、前記試験基板に設けられたバンプと前記無線モジュールに設けられた接続端子とを異方性導電フィルムを介し加圧することにより行なわれるものであること、または、前記試験基板に設けられたコネクタと前記試験基板に設けられたコネクタとを接続することにより行なわれるものであること、を特徴とする。また、本発明は、前記無線モジュールは、2.4GHzから2.5GHzの周波数帯域に用いられるものであることを特徴とする。また、本発明は、前記無線モジュールは、無線LAN、BT用の通信に用いられるものであることを特徴とする。本発明によれば、アンテナが搭載された無線モジュールにおいて、同一条件における試験を容易に行なうことができ、また、正確な試験を行なうことのできる無線モジュール試験装置を提供することができる。本発明を実施するための形態について、以下に説明する。尚、同じ部材等については、同一の符号を付して説明を省略する。第1の実施の形態無線モジュール試験装置の構造第1の実施の携帯における無線モジュール試験装置について、図1に基づき説明する。本実施の形態における無線モジュール試験装置は、試験の対象となる無線モジュール10を搭載することが可能なプリント基板等の試験基板20と、試験基板20に形成された試験用アンテナ21とを有しており、試験基板20の所定の位置に無線モジュール10を設置して無線モジュールの試験を行なうものである。試験基板20としてプリント基板を用いる場合には、試験用アンテナ21は、プリント基板上の導体パターン、具体的には、銅によるパターンにより形成されている。尚、無線モジュール10は、アンテナ11と回路部12を有している。試験用アンテナ21は、無線モジュール10からの電波を受信等するためのものであり、試験基板20の端部に設けられた試験コネクタ30と接続されている。また、試験コネクタ30は、更に、試験機40と接続されている。図2に示すように、試験回路部50等に設けられた不図示の信号発生部より、無線モジュール10の試験を行なうための信号を発生させ、発生した信号を無線モジュール10に入力する。これにより、無線モジュール10のアンテナ11からは、入力した信号に応じた電波が発生し、発生した電波は試験用アンテナ21により受信される。試験用アンテナ21より受信した電波は、試験コネクタ30を介し、試験機40に入力され、試験機40において、無線モジュール10の特性の試験を行なう。本実施の形態では、試験用アンテナ21は、ダイポールアンテナが用いられており、試験用アンテナ21と無線モジュール10との距離Lは、約5mmとなるように形成されている。図2に示すように、試験用アンテナ21と無線モジュール10との距離Lは、λ/2π以下であることが好ましく、周波数が2.45GHzの場合において、約5mmは、0.04λとなる。尚、図2に示すように、試験基板20には、モジュールコントローラや電源等を有する試験回路部50に接続されているが、試験回路部50の一部を試験基板20に搭載してもよく、また、試験機40が試験回路部50の一部または全部を含むものであってもよい。試験用アンテナ21の位置図3に示されるように、本実施の形態における無線モジュール試験装置では、試験用アンテナ21の偏波方向Aと、試験の対象となる無線モジュール10のアンテナ11の偏波方向Bとが略直交するように配置されている。このように、試験用アンテナ21の偏波方向Aと無線モジュール10のアンテナ11の偏波方向Bとが略直交するように配置することにより、アンテナ11と試験用アンテナ21との間におけるロスを低くすることができる。具体的には、図3に示すように、試験用アンテナ21の偏波方向Aと無線モジュール10のアンテナ11の偏波方向Bとが略直交する場合無線モジュール試験装置αと、図4に示すように、試験用アンテナ221の偏波方向Cと無線モジュール10のアンテナ11の偏波方向Bとが略平行となる場合無線モジュール試験装置βとにおける周波数と伝搬ロスS21との関係を図5に示す。尚、図3における試験用アンテナ21は、ダイポールアンテナであり、アンテナ11の偏波方向と試験用アンテナ21の偏波方向とが略直交するように設置されており、図4における試験用アンテナ221は、逆Fアンテナであり、アンテナ11の偏波方向と試験用アンテナ221の偏波方向とが略平行となるように設置されている。図5に示されるように、無線モジュール試験装置βに比べ、無線モジュール試験装置αは、伝搬ロスS21が少なく、無線モジュール試験装置αは、無線モジュール試験装置βよりも約13dB程度高い。このように、無線モジュール10のアンテナ11の偏波方向と試験用アンテナ21の偏波方向とが、略直交するように設置することにより伝搬ロスを低くすることができる。無線モジュールの設置方法次に、本実施の形態における無線モジュール試験装置に、無線モジュール10を設置し接続する方法について説明する。図6及び図7に示される本実施の形態における無線モジュール試験装置は、試験基板20の表面に金属メッキ等により突起状に形成されたバンプ22を有しており、異方性導電シート23を介し、無線モジュール10に設けられた不図示の電極端子とバンプ22とを接続する。具体的には、無線モジュール10に設けられた不図示の電極端子とバンプ22との位置合せを行なった後、無線モジュール10に設けられた不図示の電極端子とバンプ22との間に異方性導電シート23を挟み込み、無線モジュール10より加圧する。これにより、異方性導電シート23を介し、無線モジュール10に設けられた不図示の電極端子とバンプ22とを電気的に接続する。このようにして、本実施の形態における無線モジュール試験装置に、試験の対象となる無線モジュール10を設置し接続することができる。尚、図7に示されるように本実施の形態における無線モジュール試験装置の試験基板20は、コネクタ61を介し不図示の信号発生機等と接続されている制御基板60と接続されており、制御基板60を介し制御等がされる。尚、制御基板60は、試験回路部50を有するものであってもよい。本実施の形態における無線モジュール試験装置では、無線モジュール10は試験基板20の所定の位置に設置されるため、即ち、バンプ22により位置合せがなされて設置されるため、無線モジュール10が設置される位置は、複数の無線モジュール10を取り替える場合であっても、同じ位置に設置することが可能である。このため、無線モジュールの試験においてバラツキが生じることはなく、均一な条件で正確な試験を行なうことができる。また、図8及び図9に示される本実施の形態における無線モジュール試験装置では、試験基板20の表面にコネクタ24を設け、無線モジュール10にもコネクタ25を設けたものである。無線モジュール試験装置に無線モジュールを設置する際には、コネクタ24とコネクタ25を接続することにより、無線モジュール試験装置に無線モジュール10を設置し接続することができる。この場合も同様に、コネクタ24及び25により、無線モジュール10を所定の位置に設置することができるため、複数の無線モジュール10を取り替えて設置する場合であっても、同じ位置に設置することができる。このため、無線モジュールの試験においてバラツキが生じることはなく、均一な条件で正確な試験を行なうことができる。無線モジュール試験装置の他の構成上記において説明した無線モジュール試験装置では、試験用アンテナ21と試験機40との関係は、図10に示されるものであるが、図11に示されるように、試験用アンテナ21と試験機40との間にバラン70を設けてもよい。バラン70は、平衡と不平衡の状態にある電気信号を変換するための素子であり、平衡-不平衡変換器という。また、本実施の形態における無線モジュール試験装置においては、試験用アンテナ21に、不図示のインダクタを接続し、周波数の調整を行ってもよい。また、本実施の形態における無線モジュール試験装置は、図12に示されるように、試験基板20を第1の試験基板20aと第2の試験基板20bとに2つに分けてもよい。第1の試験基板20aには、試験用アンテナ21及び、試験コネクタ30が設けられており、第2の試験基板20bには、無線モジュール10が設置されている。無線モジュール10を接続したり、取り外したりする動作を繰り返すことにより、無線モジュール10と接続される基板側の端子部分は傷み、接触不良等が生じやすくなる。このため、図12に示す場合では、無線モジュール10の搭載される第2の試験基板20bを第1の試験基板20aと分離することにより、第2の試験基板20bにおいて端子部分が傷んだ場合には、第2の試験基板20bのみを交換することができる。これにより、端子部分が傷んだ場合であっても、無線モジュール試験装置全体を交換することなく、第2の試験基板20bのみを交換すればよいため、無線モジュールの試験コストを低くすることができる。本実施の形態では、第1の試験基板20a及び第2の試験基板20bは、各々不図示のコネクタにより制御基板62と接続されており、第2の試験基板20bの交換は、制御基板62に設けられた不図示のコネクタ等から第2の試験基板20bを取り外した後、新しい第2の試験基板20bを制御基板62に設けられた不図示のコネクタ等に接続することにより行なうことができる。この際、第2の試験基板20bは不図示のコネクタ等に接続するものであるため、所定の位置に容易に設置することができる。尚、制御基板62には、制御基板60と同様の回路、例えば、試験回路部50等が配置されている。第2の実施の形態次に、第2の実施の形態について説明する。本実施の形態は、試験用アンテナの形状が第1の実施の形態とは異なる無線モジュール試験装置である。図13に基づき、本実施の形態における無線モジュール試験装置について説明する。本実施の形態における無線モジュール試験装置は、試験用アンテナ121にT字アンテナを用いたものである。この際、無線モジュール10のアンテナ11の偏波方向Eと、試験用アンテナ121の偏波方向Dとが略直交するように、無線モジュール試験装置の試験基板20に無線モジュール10が設置されている。この場合においても、アンテナ11の偏波方向Eと試験用アンテナ121の偏波方向Dとは直交しているため、第1の実施の携帯と同様に、伝搬ロスを少なくすることができる。また、図14に示すように、逆L字アンテナの試験用アンテナ121aを用いてもよく、この場合も、試験用アンテナ121aの偏波方向Dと無線モジュール10の偏波方向Eとが略垂直となるように、無線モジュール10が設置される。更に、図15に示すように、逆F字アンテナの試験アンテナ121bを用いてもよい。この場合も、試験用アンテナ121bの偏波方向Dと無線モジュール10の偏波方向Eとが略垂直となるように、無線モジュール10が設置される。また、本実施の形態における無線モジュール試験装置では、試験用アンテナ121、121a、121bに、不図示のインダクタを接続し、周波数の調整を行ってもよい。尚、上記以外の内容については、第1の実施の形態と同様である。以上、本発明の実施に係る形態について説明したが、上記内容は、発明の内容を限定するものではない。