"光ファイバに光学的に接続されるレーザ光源と、前記光ファイバ内で後方散乱した光を検出する光検出器と、前記光検出器の出力から得られる測定温度分布に対し伝達関数を用いた補正計算を行う温度分布測定部と、前記光ファイバが敷設された場所の実温度分布を測定する実温度分布測定部とを有し、前記温度分布測定部は、補正後の前記測定温度分布と前記実温度分布との差分を演算して前記伝達関数の適否を判定することを特徴とする温度分布測定システム。前記温度分布測定部は、前記伝達関数が不適と判定したときに、補正前の前記測定温度分布と前記実温度分布とを用いて前記伝達関数を補正することを特徴とする請求項1に記載の温度分布測定システム。前記温度分布測定部は、補正前の前記測定温度分布と前記実温度分布とから補助伝達関数を求め、前記補助伝達関数と前記伝達関数との算術平均を演算して前記伝達関数を補正することを特徴とする請求項2に記載の温度分布測定システム。前記補助伝達関数をH、前記実温度分布測定部による各測定ポイントのデータを行列[X]、前記光ファイバの各測定ポイントの補正前のデータを行列yとしたときに、前記補助伝達関数Hは、H=[X]t[X]1[X]tyにより算出することを特徴とする請求項3に記載の温度分布測定システム。前記実温度分布測定部は、前記光ファイバの一部を巻回してなる実温度測定用巻回部を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の温度分布測定システム。前記光ファイバは、計算機が収納されたラック内に敷設されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の温度分布測定システム。前記光ファイバは、温度が一定に維持される場所に一定長さ以上巻回した基準温度測定用巻回部を有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の温度分布測定システム。光ファイバに光学的に接続されるレーザ光源と、前記光ファイバ内で後方散乱した光を検出する光検出器と、前記光検出器の出力から得られる測定温度分布に対し伝達関数を用いた補正計算を行う温度分布測定部とを有し、前記温度分布測定部は、前記光ファイバが敷設された場所の実温度分布を取得し、補正後の前記測定温度分布と前記実温度分布との差分を演算して前記伝達関数の適否を判定することを特徴とする温度分布測定装置。前記温度分布測定部は、前記伝達関数が不適と判定したときに、補正前の前記測定温度分布と前記実温度分布とを用いて前記伝達関数を補正することを特徴とする請求項8に記載の温度分布測定装置。前記温度分布測定部は、補正前の前記測定温度分布と前記実温度分布とから補助伝達関数を求め、前記補助伝達関数と前記伝達関数との算術平均を演算して前記伝達関数を補正することを特徴とする請求項9に記載の温度分布測定装置。前記補助伝達関数をH、前記実温度分布の各測定ポイントのデータを行列[X]、前記光ファイバの各測定ポイントの補正前のデータを行列yとしたときに、前記補助伝達関数Hは、H=[X]t[X]1[X]tyにより算出することを特徴とする請求項10に記載の温度分布測定装置。光ファイバを用いて取得した測定温度分布を温度分布測定部に入力し、伝達関数を用いて前記測定温度分布を補正する工程と、前記光ファイバが敷設された場所の実温度分布を前記温度分布測定部に入力する工程と、前記温度分布測定部において、補正後の前記測定温度分布と前記実温度分布とを比較して前記伝達関数の適否を判定する工程と、前記伝達関数が不適と判定したときに補正前の前記測定温度分布と前記実温度分布とを用いて前記伝達関数を補正する工程とを有することを特徴とする温度分布測定方法。前記温度分布測定部は、補正前の前記測定温度分布と前記実温度分布とから補助伝達関数を求め、前記補助伝達関数と前記伝達関数との算術平均を演算して前記伝達関数を補正することを特徴とする請求項12に記載の温度分布測定方法。前記補助伝達関数をH、前記実温度分布の各測定ポイントのデータを行列[X]、前記光ファイバの各測定ポイントの補正前のデータを行列yとしたときに、前記補助伝達関数Hは、H=[X]t[X]1[X]tyにより算出することを特徴とする請求項13に記載の温度分布測定方法。測定温度分布の補正に使用する伝達関数の妥当性を容易に評価できる温度分布測定システム、温度分布測定装置及び温度分布測定方法を提供することを目的とする。開示の技術の一観点によれば、光ファイバに光学的に接続されるレーザ光源と、前記光ファイバ内で後方散乱した光を検出する光検出器と、前記光検出器の出力から得られる測定温度分布に対し伝達関数を用いた補正計算を行う温度分布測定部と、前記光ファイバが敷設された場所の実温度分布を測定する実温度分布測定部とを有し、前記温度分布測定部は、補正後の前記測定温度分布と前記実温度分布との差分を演算して前記伝達関数の適否を判定する温度分布測定システムが提供される。開示の技術の他の一観点によれば、光ファイバに光学的に接続されるレーザ光源と、前記光ファイバ内で後方散乱した光を検出する光検出器と、前記光検出器の出力から得られる測定温度分布に対し伝達関数を用いた補正計算を行う温度分布測定部とを有し、前記温度分布測定部は、前記光ファイバが敷設された場所の実温度分布を取得し、補正後の前記測定温度分布と前記実温度分布との差分を演算して前記伝達関数の適否を判定する温度分布測定装置が提供される。開示の技術の更に他の一観点によれば、光ファイバを用いて取得した測定温度分布を温度分布測定部に入力し、伝達関数を用いて前記測定温度分布を補正する工程と、前記光ファイバが敷設された場所の実温度分布を前記温度分布測定部に入力する工程と、前記温度分布測定部において、補正後の前記測定温度分布と前記実温度分布とを比較して前記伝達関数の適否を判定する工程と、前記伝達関数が不適と判定したときに補正前の前記測定温度分布と前記実温度分布とを用いて前記伝達関数を補正する工程とを有する温度分布測定方法が提供される。上記観点によれば、測定温度分布の補正に使用する伝達関数の妥当性を容易に評価できる。以下、実施形態について説明する前に、実施形態の理解を容易にするための予備的事項について説明する。光ファイバを温度センサとして使用する場合、位置分解能が低いため、温度測定箇所測定ポイントが密に存在する場所では温度分布を精度よく且つ効率的に測定することは困難である。そこで、本願発明者らは、特許文献1特開2009-265077号公報及び特許文献2特開2010-160081号公報等において、温度分布測定装置により取得した光ファイバの長さ方向の温度分布を、伝達関数を用いて補正することを提案した。これにより、密に配置された測定ポイントの温度を精度よく且つ効率的に測定することが可能になる。ところで、伝達関数は、光源からの距離光ファイバの敷設経路に沿った距離や光ファイバの全長により変化するだけでなく、経時的にも変化する。従って、光ファイバの敷設状態が変更されたときだけでなく、例えば1年に1回程度の割合で定期的に伝達関数の妥当性を評価することが好ましい。以下の実施形態では、伝達関数の妥当性を容易に評価できる温度分布測定システム、温度分布測定装置及び温度分布測定方法について説明する。実施形態図1は、実施形態に係る温度分布測定装置の構成を示す模式図である。また、図2は後方散乱光のスペクトルを示す図である。図1のように、本実施形態に係る温度分布測定装置20は、レーザ光源21と、レンズ22a,22bと、ビームスプリッタ23と、波長分離部25と、光検出器26と、温度分布測定部27とを有し、光ファイバ24に接続して使用する。レーザ光源21からは、所定のパルス幅のレーザ光が一定の周期で出力される。このレーザ光は、レンズ22a、ビームスプリッタ23及びレンズ22bを通って光ファイバ24の光源側端部から光ファイバ24内に進入する。なお、図1において、24aは光ファイバ24のクラッドを示し、24bは光ファイバ24のコアを示している。光ファイバ24内に進入した光の一部は、光ファイバ24を構成する分子により後方散乱される。後方散乱光には、図2のように、レイリーRayleigh散乱光と、ブリルアンBrillouin散乱光と、ラマンRaman散乱光とが含まれる。レイリー散乱光は入射光と同一波長の光であり、ブリルアン散乱光及びラマン散乱光は入射波長からシフトした波長の光である。ラマン散乱光には、入射光よりも長波長側にシフトしたストークス光と、入射光よりも短波長側にシフトした反ストークス光とがある。ストークス光及び反ストークス光のシフト量はレーザ光の波長や光ファイバ24を構成する物質等に依存するが、通常50nm程度である。また、ストークス光及び反ストークス光の強度はいずれも温度により変化するが、ストークス光は温度による変化量が小さく、反ストークス光は温度による変化量が大きい。すなわち、ストークス光は温度依存性が小さく、反ストークス光は温度依存性が大きいということができる。これらの後方散乱光は、図1のように、光ファイバ24を戻って光源側端部から出射する。そして、レンズ22bを透過し、ビームスプリッタ23により反射されて、波長分離部25に進入する。波長分離部25は、ビームスプリッタ31a,31b,31cと、光学フィルタ33a,33b,33cと、集光レンズ34a,34b,34cとを有する。ビームスプリッタ31a,31b,31cは、波長に応じて光を透過又は反射する。光学フィルタ33a,33b,33cは特定の波長の光のみを透過し、集光レンズ34a,34b,34cは光学フィルタ33a,33b,33cを透過した光をそれぞれ光検出器26の受光部26a,26b,26cに集光する。波長分離部25に入射した光は、ビームスプリッタ31a,31b,31c及び光学フィルタ33a,33b,33cによりレイリー散乱光、ストークス光及び反ストークス光に分離され、光検出器26の受光部26a,26b,26cに入力される。その結果、光検出器26からは、レイリー散乱光、ストークス光及び反ストークス光の強度に応じた信号が出力される。温度分布測定部27は、コンピュータを含んで構成される。この温度分布測定部27は、光検出器26から出力される信号に基づいて、光ファイバ24の敷設経路に沿った温度分布を取得する。図3は、横軸に時間をとり、縦軸に光検出器26の受光部26a,26b,26cから出力される信号強度をとって、ラマン散乱光の強度の時系列分布の一例を示す図である。光ファイバ24にレーザパルスを入射した直後から一定の間、光検出器26にはストークス光及び反ストークス光が検出される。光ファイバ24の全長にわたって温度が均一の場合、レーザパルスが光ファイバ24に入射した時点を基準とすると、信号強度は時間の経過とともに減少する。この場合、横軸の時間は光ファイバ24の光源側端部から後方散乱が発生した位置までの距離を示しており、信号強度の経時的な減少は光ファイバ24による光の減衰を示している。光ファイバ24の長さ方向にわたって温度が均一でない場合、例えば長さ方向に沿って高温部及び低温部が存在する場合は、ストークス光及び反ストークス光の信号強度は一様に減衰するのではなく、図3のように信号強度の経時変化を示す曲線に山及び谷が現れる。図3において、ある時間tにおける反ストークス光の強度をI1、ストークス光の強度をI2とする。図4は、図3のラマン散乱光の強度の時系列分布を基にI1/I2比を時間毎に計算し、且つ図3の横軸時間を距離に換算し、縦軸信号強度を温度に換算した結果を示す図である。この図4のように、反ストークス光とストークス光との強度比I1/I2を計算することにより、光ファイバ24の長さ方向における温度分布を測定することができる。なお、後方散乱が発生した位置におけるラマン散乱光ストークス光及び反ストークス光の強度は温度により変化するが、レイリー散乱光の強度は温度に依存しないと考えられる。従って、レイリー散乱光の強度から後方散乱が発生した位置を特定し、その位置に応じて光検出器26で検出したストークス光及び反ストークス光の強度を補正することが好ましい。以下、図5,図6を参照して最小加熱長について説明する。レーザ光源21から出力されるレーザ光のパルス幅t0を10nsec、真空中の光の速度cを3×108m/sec、光ファイバ24のコア24bの屈折率nを1.5とする。この場合、光ファイバ24内におけるレーザ光のパルス幅Wは、次の1式のように約2mとなる。このパルス幅分のレーザ光の後方散乱光は光検出器26に1つの信号として取り込まれ、光検出器26はこのパルス幅分の信号の積算値から温度を検出する。そのため、光ファイバのうちパルス幅Wに相当する長さに均一に熱を加えないと正確な温度計測ができない。以下、正確な温度計測に必要な最小加熱長をLminという。図5aに示す実温度分布で光ファイバ24を加熱した場合、すなわち光ファイバ24のうち長さLの部分のみを均一に加熱した場合、測定温度分布は図5bのようにガウシアン正規分布的な曲線を描く。以下、図5aのような温度分布を、ステップ型温度分布という。図6は、横軸に光ファイバの長さ方向の位置をとり、縦軸に温度をとって、温度が25°Cの環境に光ファイバを配置し、光源から5mの位置を中心に80°Cの熱をステップ型温度分布となるように印加した場合の測定温度分布を示す図である。ここで、加熱部の長さはそれぞれ40cm、1m、1.6m、2.2mとしている。この図6からわかるように、加熱部の長さが2m最小加熱長Lminよりも短い場合は測定温度分布のピークは実温度よりも低く観測され、加熱部の長さが2m以上の場合は測定温度分布のピークと実温度とがほぼ一致する。図7は、横軸に加熱中心からの距離をとり、縦軸に相対強度をとって、図6の温度分布における伝達関数温度計測系の伝達関数を示す図である。図7の伝達関数を図6のステップ型温度分布に対し畳み込みコンボリューションすることで、図6の測定温度分布となる。逆に、測定温度分布に対し伝達関数の逆関数逆補正関数を用いて補正デコンボリューションを行うと、実温度分布に近似の温度分布補正後の測定温度分布が得られる。なお、伝達関数は、温度計測系温度分布測定装置光ファイバのインパルス応答特性にほぼ等しいものとなる。温度計測系の伝達関数は、光ファイバ24が群遅延特性を有しているため、距離に応じて変化する。そのため、光ファイバ24の全長にわたって伝達関数を一義的に定義することはできない。しかし、短い距離範囲であれば、光信号の損失や遅延は一様であるとみなして伝達関数を定義することができる。例えば、実験に基づいて1000m毎に伝達関数を定義しておき、光源からの距離に応じて補正に使用する伝達関数を選択すればよい。伝達関数は、前述したようにステップ型温度分布となるように光ファイバを加熱し、そのときに得られる測定温度分布から求めることができる。一方、温度測定ポイント以下、単に測定ポイントというは最小加熱長と関係なく、測定装置のサンプリング周波数等を考慮して決定することができる。測定装置において平均化に要する時間等の実用的な計測時間を考慮すると、測定ポイントの間隔は10cm~50cm程度にすることが可能である。図8は、データセンターの計算機ルームを示す模式図である。この図8のように、計算機ルームの室内は、機器設置エリア10aと、フリーアクセスフロア10bとに分離されている。機器設置エリア10aには複数のラックサーバラック11が配置されており、各ラック11にはそれぞれ複数の計算機ブレードサーバ等が収納されている。また、機器設置エリア10aには、管理者が通行するための通路や計算機の管理に必要な管理スペースが設けられている。フリーアクセスフロア10bは、機器設置エリア10aの床下に設けられている。このフリーアクセスフロア10bには、各ラック11に接続される電力ケーブルや通信ケーブル等が配置されている。フリーアクセスフロア10bの温度は、空調機19から供給される冷風により一定に維持される。機器設置エリア10aの床には通風口グリル12が設けられており、この通風口12を介してフリーアクセスフロア10bからラック11の前面側吸気面側に冷風を送り、ラック11内の計算機を冷却する。図9は、光ファイバ24の敷設例を示す図である。この例では、各ラック11毎に、光ファイバ24を最小加熱長Lmin又はそれ以上の長さで巻回した巻回部24x,24yを設け、それらの巻回部24x,24yをフリーアクセスフロア10bに配置している。そして、巻回部24x,24y間の光ファイバ24を、ラック11内を下から上に往復するように敷設している。このように各ラック11間のフリーアクセスフロア10bに最小加熱長Lminの2倍以上の長さの光ファイバ24を配置した場合、温度分布測定装置20は、ラック11内の温度の影響を受けることなく、フリーアクセスフロア11の実温度を測定することができる。また、ラック11内の温度はフリーアクセスフロア10bの温度よりも低くなることはない。このような条件下では、フリーアクセスフロア10bの測定温度を基準とし、ラック11内の各測定ポイントの測定温度を補正することで、ラック11内の温度分布を精度よく取得することができる特許文献1,2参照。図10に、実温度分布、仮の測定温度分布及び補正後の測定温度分布を示す。ここで、実温度分布は各測定ポイントにおける実温度であり、仮の測定温度分布はストークス光及び反ストークス光の比から得られる温度分布補正前の温度分布である。また、補正後の測定温度分布は、伝達関数を用いて仮の測定温度分布に対し補正計算を行った後の温度分布である。この図10から、補正後の測定温度分布は、実温度分布とほぼ一致していることがわかる。なお、図10において、縦軸の温度は、基準となるフリーアクセスフロア10bの温度との差である。ところで、前述したように、伝達関数は光源からの距離や光ファイバの全長により変化するだけでなく、経時的にも変化する。そこで、本実施形態では、以下に説明する方法により伝達関数が適正か否かを適宜評価し、否の場合は伝達関数を補正する。図11は、本実施形態に係る温度分布測定方法における光ファイバの敷設例を表した図である。なお、以下の説明では、温度分布測定装置20図1参照により、光ファイバの敷設経路に沿って10cm毎に測定ポイントが設定されるものとする。本実施形態では、例えば50台~100台のラック11毎に、又は光ファイバの敷設経路に沿って1000m~2000m毎に、図11のように光ファイバを敷設したラックを配置する。以下、図11のように光ファイバを敷設するラックを、伝達関数評価用ラック11aという。伝達関数評価用ラック11aにも、他のラック11と同様にジョブを実行する複数の計算機が収納される。伝達関数評価用ラック11aの下方のフリーアクセスフロア10bには、光ファイバ24を最小加熱長Lmin以上の長さで巻回した巻回部24x,24y,42x,42yを配置する。そして、他のラック11と同様に図9参照、巻回部24x,24y間の光ファイバ24は、伝達関数評価用ラック11a内を下から上に往復するように敷設する。ここでは、伝達関数評価用ラック11a内に引き出された巻回部24x,24y間の光ファイバを、温度分布測定用光ファイバ41という。巻回部24x,24yは、基準温度測定用巻回部の一例である。巻回部42x,42y間の光ファイバ24も、伝達関数評価用ラック11a内を下から上に往復するように敷設する。以下、伝達関数評価用ラック11a内に引き出された巻回部42x,42y間の光ファイバを、伝達関数評価用光ファイバ43と呼ぶ。伝達関数評価用光ファイバ43には、光ファイバを最小加熱長Lmin以上の長さに巻回した巻回部44を複数設け、それらの巻回部44を伝達関数評価用ラック11aの高さ方向に沿って配置する。本実施形態では、巻回部44を、伝達関数評価用ラック11aの高さ方向に沿って10cm毎に配置するものとする。巻回部44は、実温度測定用巻回部の一例である。図11のように伝達関数評価用ラック11a内の複数箇所に光ファイバを最小加熱長Lmin以上の長さで巻回した巻回部44を配置することにより、伝達関数評価用ラック11内の温度分布を、伝達関数を用いることなくほぼ正確に知ることができる。図12aは、巻回部44により得られたラック内の温度分布の一例を表した図である。ここでは、巻回部44により得られたラック内の温度分布を、実温度分布という。一方、温度分布測定用光ファイバ41から得られる温度分布仮の測定温度分布から実温度分布を知るためには、伝達関数を使用して測定値を補正することが必要になる。図12bは、補正後の測定温度分布の一例を表した図である。補正後の測定温度分布と実温度分布とがほぼ一致すれば、補正に使用した伝達関数が適正であるということができる。しかし、補正後の測定温度分布と実温度分布との差がある程度以上大きい場合は、補正に用いた伝達関数が不適であるということになる。この場合は、伝達関数を補正することが必要になる。以下、図13のフローチャートを参照して、伝達関数の評価方法及び伝達関数の補正方法を説明する。なお、温度分布測定部27内には、予め各伝達関数評価用ラック11aの位置毎の伝達関数が記憶されているものとする。また、以下の処理は、各伝達関数評価用ラック11a毎に行うものとする。まず、ステップS11において、温度分布測定部27は、予め記憶されている伝達関数のうち対象とする伝達関数評価用ラック11aの位置の伝達関数を読み出し、それを仮の伝達関数H’LXpとする。図14は、伝達関数H’LXpの一例を表した図である。ここで、添え字L,Xは、全長がLの光ファイバのXの位置光源側端部からXmの位置の伝達関数であることを示している。また、pは、伝達関数を構成する各成分図14中の各点を示している。次に、ステップS12において、温度分布測定部27は、温度分布測定用光ファイバ41で測定した温度分布仮の測定温度分布に対し、仮の伝達関数H’LXpを用いて温度分布を補正する。次に、ステップS13に移行し、温度分布測定部27は、補正後の測定温度分布と、各巻回部44から得られる実温度分布との差分を演算する。そして、ステップS14において、温度分布の差分が、予め設定された範囲内か否かを判定する。本実施形態では、温度分布の差分として各測定ポイントの温度差を2乗したものの積算値2乗誤差の総和を計算するものとするが、各測定ポイントの温度差の最大値を差分としてもよく、温度分布のピーク値の差を差分としてもよい。ステップS14においてYESと判定したとき、すなわち補正後の測定温度分布と各巻回部44から得られる温度分布との差分が設定された範囲内であると判定したときは、ステップS17に移行する。そして、仮の伝達関数H’Lxpを、測定温度分布の補正に使用する伝達関数として、温度分布測定部27内に記憶する。一方、ステップS14でNOと判定したときは、ステップS15に移行する。そして、温度分布測定用光ファイバ41及び伝達関数評価用光ファイバ43から得た各測定ポイントの測定値を用いて、次の2式により補助伝達関数Hを計算する。ここで、[X]は伝達関数評価用光ファイバ43の各測定ポイントのデータであり、yは温度分布測定用光ファイバ41の各測定ポイントの補正前のデータである。また、[X]tは[X]の転置行列である。補助伝達関数Hは、後述するように、真の伝達関数に近似の関数である。この補助伝達関数Hを、計測温度分布の補正に使用する伝達関数として温度分布測定部27に記憶させることも考えられる。しかし、真の伝達関数は、図5のようにステップ型温度分布となるように光ファイバを加熱して測定したものである。これに対し、補助伝達関数Hは温度分布測定用光ファイバ41及び伝達関数評価用光ファイバ43から得た各測定ポイントの測定値から得たものであり、真の伝達関数から乖離していることが考えられる。そこで、真の伝達関数に近づけるために、本実施形態ではステップS16において、仮の伝達関数H’LXpと補助伝達関数Hとの算術平均を求め、それを新たに仮の伝達関数H’LXpとする。その後、ステップS12に戻り、処理を継続する。上述の一連の処理は、ステップS14でYESとなるまで繰り返す。以下、仮の伝達関数仮の伝達関数H’LXpについて説明する。一般的に、伝達関数hは次の式3のように表わすことができる。ここで、hjは伝達関数hのj番目の成分を表している。一方、測定温度分布仮の測定温度分布は、次の式4のように表わすことができる。ここで、成分ykにおける添え字kは、光ファイバの敷設経路に沿ったk番目の測定ポイントを表す。また、成分ykは、k番目の測定ポイントにおける温度測定値から基準となるフリーアクセスフロアの温度を減算した値である。また、実温度分布は、次の式5のように表わすことができる。式4と同様に、成分xiにおける添え字iはi番目の測定ポイントを表し、成分xiはi番目の測定ポイントiの実温度から基準となるフリーアクセスフロアの温度を減算した値である。このとき、測定温度分布yは、実温度分布xと伝達関数hとのコンボリューション畳み込みとして、次の式6のように表わすことができる。但し、iの範囲は、添え字であるk-iが0以上であることを満たす範囲である。式6を、成分毎に次の式7のように記述することができる。式7によれば、伝達関数hの各成分hjは、式7をhjについての連立方程式とし、最小二乗法等を用いて算出することができる。ところで、式6において温度変化の存在する領域に注目して考えると、その前後の領域は温度変化のないフリーアクセスフロア内の領域であり、それらの各成分xiykの値は0である。従って、式6において計算に必要のない意味のないものとなる。そこで、式5の各成分から、温度変化の存在する注目領域前後の0である成分全てを除いたもののみを集めた列ベクトルを次の式8のように表す。また、測定温度分布についても同様に、温度変化のない領域の各成分の値は0であり、計算に必要ない意味のないものなので、式4の各成分から温度変化の存在する注目領域前後の0である成分全てを除いたもののみを集めた列ベクトルを次の式9のように表す。式8及び式9の列ベクトルの成分の個数はそれぞれm1、n1であるが、m1の方がn1よりも大きくなる。これは、測定温度分布は実温度分布よりも横方向に広がる図6参照ため、0でない成分の個数は測定温度分布のほうが多くなるためである。式8及び式9のように実温度分布xと測定温度分布yとを有限次元の列ベクトルとし、式7を式10の形式で表した場合、[X]は実温度分布xを基に構成されm1×j1個の有限個の成分をもつ。但し、式10の列ベクトルy,hの次元は、式8,式3のように有限次元である。式10において、yの各成分yiは温度測定により得られたm1個の値であり、[X]は連立方程式のm1×j1の計数行列とみなすことができる。一般的にmとjとは一致しないため、この連立方程式をhについて一意に解くことはできない。そこで、本実施形態では次の式11のような二乗誤差の総和eを考える。なお、式11の列ベクトルHは次の式12のような成分をもつj1次元のベクトルである。式11のeを小さくする分布Hは、近似的に式10も満たす。そして、式11のeが小さくなるほど近似の精度が上がり、分布Hが真の伝達関数hに近づくことになる。本実施形態では、真の伝達関数hに対し、分布Hのことを補正伝達関数と呼んでいる。これによれば、式11は、補正伝達関数Hを実温度分布xに対し畳み込みして得た温度分布と、測定温度分布yとの二乗誤差eを算出する式ということができる。その二乗誤差eがなるべく小さくなるような補正伝達関数Hを求めるべく、式11から二乗誤差eの勾配ベクトル∂e∂Hを次の式13により算出する。この勾配ベクトル∂e∂Hが0になるように補助伝達関数Hの各成分Hjを決定するのが最小二乗法にあたる。式13の右辺を0としてHについて整理すると、前述の式2が得られる。なお、測定時のノイズを考慮して式2中の[X]t[X]の対角成分を微増させれば、ノイズの高周波成分の増幅を抑えマージン耐性を高められる。本実施形態では、上述したように、伝達関数評価用ラック11aを配置し、伝達関数評価用ラック11a内に温度分布測定用光ファイバ41と伝達関数評価用光ファイバ43とを敷設する。そして、伝達関数を使用して補正した測定温度分布と伝達関数評価用光ファイバ43から得られる実温度分布とを比較して伝達関数の適否を判定し、不適と判定したときには伝達関数を補正する。これにより、長期間にわたって温度分布を精度よく測定することができる。本実施形態では、例えば50台~100台のラック11毎に1台の伝達関数評価用ラック11aを配置すればよく、伝達関数評価用光ファイバ43を付加することによる光ファイバ使用量の増加が少なくてすむ。また、本実施形態では、1本の光ファイバにより温度分布測定用光ファイバ41と伝達関数評価用光ファイバ43とを形成するので、光ファイバの敷設やメンテナンスに要する費用の増加が抑制できる。なお、上述の伝達関数の適否の評価及び伝達関数の補正は、作業者の指示により温度分布測定部27が処理を開始してもよく、予め設定されたスケジュールで温度分布測定部27が自動的に処理を開始するようにしてもよい。また、上述の実施形態では、巻回部44を有する伝達関数評価用光ファイバ43を用いてラック11a内の実温度分布を測定する場合について説明したが、熱電対やIC温度センサ等を使用してラック11a内の実温度分布を測定するようにしてもよい。更に、上述の実施形態ではデータセンターの計算機ルームの温度分布測定について説明したが、開示の技術はオフィスビルや工場等の施設の温度分布測定に適用することもできる。"