"配管の異材溶接継手部の界面における損傷を検査する配管検査方法であって、前記配管の表面の損傷に関わる情報を採取して損傷の発生状態に関する情報を取得する表面観察ステップと、超音波を発信する発信部と超音波を受信可能な受信部とを有するプローブを用いて前記発信部から前記異材溶接継手部の界面に向けて超音波を発信し、前記受信部で反射波を受信することで配管の内部の損傷の発生状態に関する情報を取得する内部観察ステップと、前記表面観察ステップと前記内部観察ステップとで取得した損傷の発生状態に関する情報に基づいて配管の損傷度合いを診断する診断ステップと、を備えていることを特徴とする配管検査方法。請求項1の配管検査方法において、前記表面観察ステップでは、前記配管の表面の損傷に関わる情報として、前記異材溶接継手部と前記配管の母材との界面に析出する析出物およびボイドを検出することを特徴とする配管検査方法。請求項1または請求項2に記載の配管検査方法でき裂発生までの配管の損傷を検査する検査ステップと、予め検査ステップでデータ化される数値とき裂発生までの損傷度合いとを関連付けた寿命評価カーブを用いてき裂発生までの寿命を評価するき裂発生寿命評価ステップと、き裂検出後の配管の寿命を決定する寿命決定ステップと、を備えていることを特徴とする配管寿命決定方法。しかしながら、特許文献1による方法では、主として共材溶接継手の熱影響部が評価対象であり、異材溶接継手部における界面の経年劣化事象には直接利用できなかった。また、特許文献2による方法では、特定の温度履歴によって水蒸気酸化スケールが析出する場合だけしか検出することができず、確実に損傷の発生を検出することはできなかった。さらに、上記の溶接継手内面のUT検査による方法では、発信用探触子2から発信された超音波が溶接部4と配管1の母材との界面5で反射される場合もあり、必ずしも効果的に損傷を検出することができなかった。また、検出できる損傷は配管1の内部の損傷に限られていた。すなわち、配管1に発生するクラック等は、場合によっては配管の中肉厚中には損傷が発生せず、先に配管表面に損傷が発生し始める場合がある。このような場合に、UT検査法だけでは、損傷状態の把握並びに寿命診断を的確に行うことが困難であるという問題が生じていた。特に、低合金鋼と高クロム鋼との材料組合せにおける溶接金属には、高クロム鋼と低合金鋼の中間の線膨張係数を持つインコネル系材料が溶接材料に用いられる場合があり、溶接金属中の超音波透過性が悪いためにこの場合は溶接金属を介しての超音波探傷が困難である。そこで、本発明は、配管の異材溶接継手部における界面に生じる経年劣化による損傷状態を的確に把握することができる配管検査方法を提供することを目的とする。さらに、その損傷具合に応じて配管の異材溶接継手部の寿命を的確に決定することができる配管寿命決定方法を提供することを目的とする。上記課題を解決するため、本発明は、配管の異材溶接継手部の界面における損傷を検査する配管検査方法であって、前記配管の表面の損傷に関わる情報を採取して損傷の発生状態に関する情報を取得する表面観察ステップと、超音波を発信する発信部と超音波を受信可能な受信部とを有するプローブを用いて前記発信部から前記異材溶接継手部の界面に向けて超音波を発信し、前記受信部で反射波を受信することで配管の内部の損傷の発生状態に関する情報を取得する内部観察ステップと、前記表面観察ステップと前記内部観察ステップとで取得した損傷の発生状態に関する情報に基づいて配管の損傷度合いを診断する診断ステップと、を備えていることを特徴とする。本発明の配管検査方法によれば、表面観察ステップで、配管の表面の損傷の発生状態に関する情報が取得される。また、内部観察ステップでは、プローブの受信部での超音波の検出結果に基づいて配管の内部の損傷の発生状態に関する情報が取得される。ここで、プローブとして発信部と受信部とを有するものを用いることで、異材溶接継手部を境にして一方側から超音波を発信し、また異材溶接継手部の界面での反射波を受信し、当該反射波の特性から損傷を検出することとなる。このため、異材溶接継手部が超音波を高い比率で反射させてしまうとしても、その信号の健全部の信号と損傷部との信号比較が可能なため、的確に異材溶接継手部の界面における損傷を検出することができる。図10の検査法の場合は、界面5からの信号は受信することができないため、界面信号と損傷部との識別ができない。そして、診断ステップでは、表面観察ステップと内部観察ステップとで取得した損傷の発生状態に関する情報に基づいて配管の損傷度合いを診断することで、配管の異材溶接継手部の界面における損傷状態を的確に把握することができる。また、上記の配管検査方法において、前記表面観察ステップでは、前記配管の表面の損傷に関わる情報として、前記異材溶接継手部と前記配管の母材との界面に析出する析出物およびボイドを検出することを特徴とする。さらに、本発明の配管寿命決定方法は、上記の配管検査方法でき裂発生までの配管の損傷を検査する検査ステップと、予め検査ステップでデータ化される数値とき裂発生までの損傷度合いとを関連付けた寿命評価カーブを用いてき裂発生までの寿命を評価するき裂発生寿命評価ステップと、き裂検出後の配管の寿命を決定する寿命決定ステップと、を備えていることを特徴とする。本発明の配管寿命決定方法によれば、配管の異材溶接継手における界面の損傷具合に応じて配管の寿命を的確に決定することができる。本発明では、配管の異材溶接継手における界面に生じる経年劣化による損傷状態を的確に把握することができる。次に、本発明の一実施形態に係る配管検査方法及び配管寿命決定方法について、図面を参照して説明する。尚、以下に示す実施例は本発明の配管検査方法及び配管寿命決定方法における好適な具体例であり、技術的に好ましい種々の限定を付している場合もあるが、本発明の技術範囲は、特に本発明を限定する記載がない限り、これらの態様に限定されるものではない。また、以下に示す実施形態における構成要素は適宜、既存の構成要素等との置き換えが可能であり、かつ、他の既存の構成要素との組合せを含む様々なバリエーションが可能である。したがって、以下に示す実施形態の記載をもって、特許請求の範囲に記載された発明の内容を限定するものではない。図1は本発明の一実施形態に関わる配管検査方法及び配管寿命決定方法に採用される検査方法の一例の説明図、図2は本発明の一実施形態に関わる配管検査方法から配管寿命決定方法に至るルーチンのフロー図である。尚、本発明の配管検査方法及び配管寿命決定方法には、後述するステップで取得したデータが入力されると共に、その入力データに基づいて損傷有無位置損傷の度合い、寿命決定を判定するためのプログラムを格納した電子計算機パーソナルコンピュータ等を用いるが、ここではその図示や詳細な説明は省略する。図1において、10は一方の配管母材、11は他方の配管母材、12は異材溶接継手部を形成する溶接金属、13はボイドの結合、14はボイドである。尚、本実施の形態においては、配管10は高クロム鋼、配管11は低合金鋼、溶接金属12はニッケル基合金である。ところで、一般的な経年劣化の損傷パターンとしては、ボイド発生→ボイド成長及び増加→ボイドの結合→き裂の生成→巨視的なき裂の進展、であるが、図1においては、説明の便宜上、配管10と溶接金属12との表面寄りの界面付近にボイドの結合13が発生し、配管内部界面付近に多数のボイド14が発生している状態で区別して図示している。したがって、以下の説明では、ボイド14の固有の場合を除き、ボイドの結合13にはボイド14が含まれるものとして説明する。このようなボイドの結合13は、その表面での発生状況はレプリカフィルム15によって、その内部での発生状況はリニアフェーズドアレイプローブ16によって検出される。リニアフェーズドアレイプローブ16は、図2に示すように、複数の発信子21~26を直線状に配置した発信部20と、この発信子21~26と同数で1対1で対応した複数の受信子31~36を配置した受信部30とを一体に備え、各発信子21~26から発信された超音波を受信子31~36で受信する。この送受信走査は電子スキャンにより高速に行われる。リニアフェーズドアレイプローブ16は、図3に示すように、配管1011の周方向全周にずらすことによって配管1011の全周を検査することができる。損傷信号を受信した場合は、図4に示すように、タンデムニリア探傷画像として取得することができる。尚、図4に示した例では、三箇所にき裂画像13A,13B,13Cが表示され、配管10の周方向の三箇所にボイドの結合13が発生していることを示す。また、肉厚方向図4要変更と周方向の幅でボイドの結合13の肉厚方向の大きさと周方向の長さを認識することができる。次に、図2に基づいて、本発明の一実施形態に関わる配管検査方法から配管寿命決定方法に至るルーチンを説明する。表面観察ステップまず、表面観察ステップとして、配管の異材溶接継手における界面の表面の損傷に関わる情報を採取して損傷の発生状態に関する情報を取得するステップS1~ステップS4。ステップS1ステップS1では、レプリカフィルム15を用いて配管10と溶接金属12との界面付近のレプリカ採取が行われてステップS2へと移行する。図6Aに示すように、配管10と溶接金属12との界面付近の表面に経年劣化に伴って界面特有の析出物17が発生する。そこで、表面を研磨およびエッチングして、その析出物17をレプリカフィルム15に転移させて採取する。また、別のレプリカフィルム15を用いて、ボイドやき裂の凹凸を転移させて採取する。ステップS2ステップS2では、その析出物の有無や特定析出物の量といった析出物解析を行う。この析出物解析では、特定元素の析出物の発生量を測定することで寿命前半~中期の巨視的なき裂発生以前の損傷を判定することができる。尚、ここでの特定元素の析出物とは、配管10や溶接金属12の材料によって異なる。異材溶接継手界面の特定析出物としては、例えば溶接金属12がニッケル基合金である場合は、図6に示すように、Si,Mo,Cr,Ni等が検出される析出物17が界面近傍の領域のみに析出する。したがって、公知の材料分析器等を用いて析出物を解析し、その解析結果をデータ化してパーソナルコンピュータに入力し、例えば、界面近傍の単位面積当たりの特定析出物の面積率の計測値を入力することにより、表面損傷状態をデータ化することができる。ステップS3ステップS3では、寿命中期以降の経年劣化が進んだ状態においては、表面にボイドや複数のボイドが連結して微視き裂状に成長した機械的損傷が出現するため、その凹凸を転写してボイド評価を行う。このボイド評価では、ボイドやボイドの結合13の状態をレプリカフィルム15に転写することで行う。ボイドやボイドの結合13が存在すると界面付近の表面に凹凸基本的に凹が形成されることから、その凹凸の存在や大きさを、走査型電子顕微鏡を用いて観察し、画像処理等により数値化する。そして、例えば、単位面積当たりのボイドやボイドの結合13の占有面積を算出することにより、表面損傷状態をデータ化することができる。ステップS4ステップS4では、ステップS2およびステップS3でデータ化された数値情報を基に、寿命前半~中期のき裂発生以前の表面損傷を判定する。即ち、図7の曲線Pに示すように、ボイドの結合13の発生以前の寿命前半においては、寿命比寿命に対する現在の消費した寿命の割合が大きく残寿命が短くなると、特定析出物の面積率が増加していく。また、特定析出物の析出量の増加率は、初期において高く、次第に減少していく傾向がある。尚、図7のグラフ中、単位t/trとは、実時間tに対する設定破断時間Trを示す。また、図7の曲線Cに示すように、表面におけるボイドは、寿命初期においては発生せず、寿命中期に発生し、末期において急激に増大してき裂状に成長していく。これら特定析出物量と凹凸量とから表面のき裂発生までの寿命を評価するが、ステップS3の観察において、既にき裂の発生およびき裂長さが同定できた場合は、ステップS7へと移行する。内部観察ステップ次に、内部観察ステップとして、超音波を発信する発信部20と超音波を受信可能な受信部30とを有するプローブ16を用いて発信部20から溶接金属12に向けて超音波を発信し、受信部30で反射波を受信することで配管10の内部の損傷の発生状態に関する情報を取得するステップS5~ステップS6ステップS5ステップS5では、異材溶接継手内部の界面にUT検出限界以上の長さのき裂ボイド13が連結してき裂状に成長したものが発生しているか否かを評価し、ステップS6にてき裂長さが同定できた場合には、ステップS7へと移行する。ここでは、図1に示したリニアフェーズドアレイプローブ16又は、図9に示した一対の発信子2と受信子3でも良いを用いる。この際、検出作業は配管10の全周に対して行う。診断ステップそして、診断ステップとして、表面観察ステップと内部観察ステップとで取得したき裂発生状態に関する情報に基づいて配管10の残寿命を診断するステップS7~ステップS8。ステップS7ステップS7では、表面で損傷が発生している場合、内部で損傷が発生している場合いずれにおいても、き裂が成長していくことになるため、き裂の大きさにより寿命を評価することができる。上述した表面観察評価結果と内部観察評価結果とから、検出された長さのき裂の今後のき裂進展挙動を計算し、ステップS8へと移行する。ステップS8ステップS8では、ステップS7での計算結果から配管の残寿命を決定する。この際、パーソナルコンピュータは、図8に示すように、配管1011の肉厚方向のき裂長さと貫通時間との相対関係をテーブル化したデータを表面損傷の場合と内部損傷の場合とで持っており、それぞれ検出したき裂長さを当てはめることで、貫通までの時間を求め、これにより残寿命を計算する。そして、表面損傷から求められた残寿命と、内部損傷から求められた残寿命を比較して、より寿命が短い方を、当該配管の残寿命として選択する。ところで、上記実施の形態においては、配管の大きさや肉厚、材料溶金含むに関して特に限定されるものでもない。この際、上述したテーブルは、その材質や肉厚強度及び使用環境を考慮して決定される。"