金属帯を連続的に処理する酸洗槽から酸洗液のサンプリングを連続又は所定周期で行ない、サンプリングした液について、近赤外領域での吸光度の連続スペクトル、又は、複数の所定波数もしくは波長における吸光度を測定し、得られた吸光度に対して多変量解析を行なって検量線を作成し、該検量線を用いて、サンプリングした液中の酸濃度及び溶存金属イオン濃度を算出し、算出結果に応じて酸及び溶存金属イオン濃度を所定濃度範囲に常時制御することを特徴とする酸洗液の管理方法。前記サンプリングに際して、液中の浮遊固形分除去のためにフィルタを用いることを特徴とする請求項1に記載の酸洗液の管理方法。前記フィルタの孔径が20μm以上30μm以下であることを特徴とする請求項2に記載の酸洗液の管理方法。前記サンプリングされた酸洗液が、吸光度測定時のみ前記フィルタを通過するようにしたことを特徴とする請求項2又は3に記載の酸洗液の管理方法。前記酸洗槽が前記金属帯の通過方向に複数設けられていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の酸洗液の管理方法。金属帯を連続的に処理する酸洗槽から酸洗液のサンプリングを連続又は所定周期で行なうサンプリング手段と、サンプリングした液について、近赤外領域での吸光度の連続スペクトル、又は、複数の所定波数もしくは波長における吸光度を測定する吸光度測定手段と、得られた吸光度に対して多変量解析を行なって検量線を作成する解析手段と、該検量線を用いて、サンプリングした液中の酸濃度及び溶存金属イオン濃度を算出する濃度算出手段と、算出結果に応じて酸及び溶存金属イオン濃度を所定濃度範囲に常時制御する制御手段と、を備えたことを特徴とする酸洗液の管理装置。前記サンプリング手段が、フィルタを含むことを特徴とする請求項6に記載の酸洗液の管理装置。前記フィルタの孔径が20μm以上30μm以下であることを特徴とする請求項7に記載の酸洗液の管理装置。前記サンプリングされた酸洗液が、吸光度測定時のみ前記フィルタを通過するようにされていることを特徴とする請求項7又は8に記載の酸洗液の管理装置。前記酸洗槽が前記金属帯の通過方向に複数設けられていることを特徴とする請求項6乃至9のいずれかに記載の酸洗液の管理装置。しかしながら、特許文献1や2に記載された従来技術では、大量のステンレス鋼帯の酸洗処理を連続的に行なう場合等、硝酸や弗酸の消費が大きい場合には、硝酸及び弗酸の濃度測定に時間がかかり、そのため、迅速且つ適切に酸洗液の調整を行なうことができず、各酸濃度が管理範囲の下限を外れ、酸洗不良を起こすという問題があった。又、酸洗能力が管理範囲の下限以下にならないように過剰に酸を加えることがあるため、逆に過剰な酸洗になる場合もあり、コスト高の原因にもなっていた。更に、鉄鋼生産分野における工程分析では、酸濃度の正確な値は必ずしも必要でない場合もあり、分析値と酸濃度との一定の相関が明確であれば十分であるが、特許文献2等に記載されたイオン電極法では、混合酸中の含有金属の量により相関関係がずれる可能性が大きい。又、特許文献2に記載の技術では、弗酸濃度の分析はイオン電極法を用いているため迅速であるが、硝酸濃度の分析には中和滴定法を用いているため、結果として硝酸濃度及び弗酸濃度の両者の値を得るのに時間がかかり、迅速性に劣るという問題があった。更に、イオン電極法は中和滴定法や鉄アセチルアセトン錯体退色吸光度法に比較して迅速性には優れるが、例えば鉄鋼の酸洗ラインでは、酸洗液中に大量に存在するFeやCr等の金属イオンの影響により、分析精度が悪くなるという問題もあった。また、酸洗槽は、通常、鋼帯の通板方向に沿って、例えば硫酸、硫酸、混酸の3槽設けられており、1槽の長さが20m程度、3槽全体で70~80mの長さがあるため、分析室を例えば中央の第2槽の近くに設けたとしても、両側の第1槽、第3槽からは数十m離れた位置にある。従って、酸洗槽から離れた分析室まで分析液をサンプリング用配管で搬送する必要があるため、液温の低下による析出物の生成により配管詰まりが発生し、金属帯を連続的に処理する際に、しばしばライン停止が発生していた。一方、特許文献3乃至5に記載された、吸光度の近赤外領域のスペクトルを測定し、そのスペクトルに対し多変量解析を行なうことは、鉄鋼分野での酸洗液には行なわれていなかった。これは、液自体が固形浮遊分を含んでおり、吸光度に影響が多くあることや、色々な共存元素の存在の影響が不明であったためである。本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたもので、金属帯を連続的に処理する酸洗液中の各種酸濃度及び溶存金属イオン濃度を光学的手段によりオンラインで迅速に分析し、分析結果に応じて酸及び溶存金属イオン濃度を迅速に最適濃度範囲に常時制御できるようにすることを課題とする。本発明者等は、従来行なわれている湿式分析法やイオン電極法を用いた酸濃度の分析では、分析時間の大幅な短縮が非常に困難であることから、このような問題を解決するために鋭意研究した結果、本発明をするに至った。本発明は、金属帯を連続的に処理する酸洗槽から酸洗液のサンプリングを連続又は所定周期で行ない、サンプリングした液について、近赤外領域での吸光度の連続スペクトル、又は、複数の所定波数もしくは波長における吸光度を測定し、得られた吸光度に対して多変量解析を行なって検量線を作成し、該検量線を用いて、サンプリングした液中の酸濃度及び溶存金属イオン濃度を算出し、算出結果に応じて酸及び溶存金属イオン濃度を所定濃度範囲に常時制御することを特徴とする酸洗液の管理方法により、前記課題を解決したものである。ここで波数とは波長の逆数のことを意味する。本発明は、又、金属帯を連続的に処理する酸洗槽から酸洗液のサンプリングを連続又は所定周期で行なうサンプリング手段と、サンプリングした液について、近赤外領域での吸光度の連続スペクトル、又は、複数の所定波数もしくは波長における吸光度を測定する吸光度測定手段と、得られた吸光度に対して多変量解析を行なって検量線を作成する解析手段と、該検量線を用いて、サンプリングした液中の酸濃度及び溶存金属イオン濃度を算出する濃度算出手段と、算出結果に応じて酸及び溶存金属イオン濃度を所定濃度範囲に常時制御する制御手段と、を備えたことを特徴とする酸洗液の管理装置を提供するものである。ここで、前記サンプリングに際して、液中の浮遊固形分除去のためにフィルタを用いることができる。更に、前記フィルタの孔径を20μm以上30μm以下とすることができる。又、前記サンプリングされた酸洗液が、吸光度測定時のみ前記フィルタを通過するようにすることができる。又、前記酸洗槽を前記金属帯の通過方向に複数設けることができる。本発明によれば、近赤外領域での吸光度の連続スペクトル、又は、複数の所定波数もしくは波長における吸光度を測定し、多変量解析を行うことにより、金属帯を連続的に処理する酸洗液中の酸濃度及び金属イオン濃度の分析をオンラインで迅速に行なうことができるようになったため、酸洗液の調整を迅速且つ適切に行なうことが可能となり、酸濃度の管理範囲外れによる酸洗不良を大幅に低減し、安定したスケール除去が可能となる。従って、酸洗後の鋼板表面にスケール残りがないステンレス鋼板の製造が可能となる。以下図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。図1に、本発明の第1実施形態が採用されたステンレス鋼板の製造工程を示す。図において、熱延板は、酸洗槽である第1槽11、第2槽12、第3槽13の順に通板される。第1槽11、第2槽12、第3槽13の下方には、それぞれ各槽のほぼ2倍の容積の循環タンク21、22、23が設けられており、それぞれ循環用配管31、32、33、ポンプP41、42、43、熱交換器51、52、53を介して酸洗液が所定温度例えば第1槽11と第2槽12は80°C、第3槽13は60°Cを維持しつつ循環している。そして、各槽11、12、13に異常が発生した時には、ポンプ41、42、43の運転を停止することによって、各槽11、12、13内の酸洗液が重力で自然に循環タンク21、22、23に収容されるようになっている。前記循環タンク21、22、23には、それぞれサンプリング用配管61、62、63が設けられ、例えば中央の第2槽12循環タンク22の近傍に設けた近赤外線分析装置70に集中配置された、例えば石英製の分析セル石英セルとも称する71、72、73と、それぞれ接続されている。前記サンプリング用配管61、62、63の分析セル71、72、73の入側には、フィルタ81、82、83がそれぞれ設けられている。前記酸洗槽11、12、13には、例えば硫酸槽11、12と混酸槽硝酸弗酸13があり、全酸は、硫酸槽11、12では硫酸濃度、混酸槽13では硝酸濃度と弗酸濃度の和を示している。前記フィルタ81、82、83としては、例えば図2に示す如く、円筒状のフィルタエレメント81aの周囲から液を注入し、中心部からろ過液を取り出す構成のものを用いることができる。図において、81bはフィルタケースである。前記フィルタエレメント81aは、例えばポリプロピレン製とすることができる。ここで、前記サンプリング用配管61、62、63の途中にバイパス用配管65、66、67を設けて、フィルタ81、82、83には、分析時のみ酸洗液を流すようにして、フィルタ81、82、83の詰まりを起こりにくくすることができる。又、前記分析セル71、72、73としては、例えば図3に示す如く、円筒状測定セル71aに下方から導入され、上方から排出される試料酸洗液の側面に光をあてる構成のものを用いることができる。前記測定セル71aは、例えばフッ素樹脂製とされ、接液材質には、PFAテトラフルオロエチレンパーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体、サファイア、カルレッツ等を用いることができる。又、前記近赤外線分析装置70としては、例えば図4に分析セル71を含む一系統のみ示す如く、近赤外線発生用光源74、干渉計76、及び、近赤外領域の光を測定できる光検出器78を備えたものを用いることができる。前記光源74から出た光が、分析セル71まで導かれて、分析セル71内の酸洗液を照射し、これを透過した光が、光検出器78まで導かれる。このとき、吸光度のスペクトル測定においては、波数に対応した吸光度を測定することが一般的であるが、波長に対応した吸光度を測定し適用することも可能である。測定条件に応じて、適宜選択すればよい。前記近赤外線分析装置70においては、例えば特許文献3乃至5に記載されたと同様の手法を用いて、近赤外領域での吸光度の連続スペクトル、又は、複数例えば2点~10点の所定波数もしくは波長における吸光度を用いて多変量解析を行い、同時に、酸及び金属イオン濃度の分析を行なう。この近赤外領域のスペクトル測定と多変量解析は数分で終了することが可能なため、大幅な分析時間の短縮が可能となり、その結果、酸濃度の迅速な調整が可能となり、酸濃度の管理外れによる酸洗不良を大幅に低減して、安定したスケール除去が可能となる。前記フィルタ81、82、83の孔径について近赤外線を用いて実験した結果を表1に示す。実際に稼働している硫酸槽の酸洗液をサンプリングし、液温80°C、分析セル中での近赤外線の液中透過距離が1mmの測定条件で、4800~11500cm1の波数領域のスペクトル測定を実施し、最適フィルタ径を検討した。このときに、変量解析に用いない波数11000cm1での吸光度が0.50以下であれば、液中の固形浮遊分は多変量解析に用いる波数領域の吸光度に対して影響を及ぼさないため測定が可能であると、判断した。また、フィルタ詰まりは目視にて確認し、詰まりにより液が流れない状態であれば×、詰まりはあるが液が流れていれば○、詰まりがない状態は◎とした。表1から明らかなように、フィルタ孔径は20μm以上30μm以下であれば、フィルタ詰まりを発生させることなく、吸光度を分析可能であることがわかった。図1に示すような構成を有するステンレス鋼板の製造設備において、ステンレス鋼板の酸洗液の分析を行ない、本発明法及び従来法によるトレンドの評価を実施した。このとき、全酸の管理範囲は5~8[au]で、Feは6[au]以下である。又、フィルタ81、82、83は、前記実験結果に基づき、孔径が20~30μmのものを用いて、サンプリング液中の固形浮遊分を除去した。近赤外領域のスペクトル測定は、約1分間行った。本発明法による全酸及びFe濃度のトレンドグラフを、それぞれ図5、図6に示す。本発明法による実施例では、分析間隔を10分で測定した。この結果、酸及びFe濃度の調整を迅速に行なうことができ、全酸、Fe濃度共に管理範囲内に常時制御することが可能となった。一方、湿式分析法を用いた従来法による全酸及びFe濃度のトレンドグラフを、それぞれ図7、図8に示す。従来法では分析時間が最短でも1時間必要なため、比較例での分析間隔は1時間である。その結果、酸及びFe濃度の変化に追従した両者の調整が困難になり、全酸、Fe濃度共に管理範囲を外れる場合が発生している。以上のように、本発明により、金属帯を連続的に酸洗する際の分析の迅速化が図れ、酸及びFe濃度を管理範囲に容易に保持することができ、酸洗液の管理濃度外れに起因する鋼帯の酸洗不良の発生を防止できた。なお、第1実施形態においては、サンプリング用配管61、62、63が循環タンク21、22、23に接続されていたが、酸洗槽11、12、13に直接接続することも可能である。次に、図9を参照して、本発明の第2実施形態を説明する。本実施形態は、フィルタ81、82、83及び分析セル71、72、73を、それぞれ酸洗槽11、12、13の近傍に設け、光ファイバ91、92、93を用いて分析セル71、72、73の出力光を分析室100内に設けた近赤外線分析装置70に導くようにしたものである。本実施形態の分析セルを図10に示す。図4に例示したような光源74から出た光が、一対の光ファイバの一方91aにより分析セル71まで導かれて、分析セル71内の酸洗液を照射し、これを透過した光が、光ファイバの他方91bにより光検出器78まで導かれる。本実施形態においては、各酸洗槽11、12、13の近傍において、酸洗液をフィルタ81、82、83で濾過することにより分析試料をサンプリングし、各酸洗槽11、12、13の近傍に設置された分析セル71、72、73において、通過光を検出する。このときの検出光は、光ファイバ91、92、93により、酸洗槽11、12、13から例えば数mから数百m離れた分析室100中に置かれた近赤外線分析装置70に導かれ、近赤外領域での吸光度の連続スペクトル、又は、複数の所定波数もしくは波長例えば2点~10点における吸光度が測定される。他の点については、第1実施形態と同じであるので、説明は省略する。本実施形態によれば、少ない数の近赤外線分析装置70で迅速に分析を行なうことができる。なお、各分析セル毎に近赤外線分析装置を設けることも可能である。又、複数の所定波数もしくは波長の点数も2点~10点に限定されない。前記実施形態においては、本発明がステンレス鋼板の製造工程に適用されていたが、本発明の適用対象は、これに限定されない。