"試料を照明するための照明光学系と、前記試料からの光をピンホールの開口に集光するための集光レンズと、前記ピンホールの開口を介して前記試料からの光を受光する検出手段と、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段と前記照明光学系の少なくとも一つを制御する制御手段とを有する共焦点顕微鏡であって、前記制御手段は、前記照明光学系を用いた前記試料への刺激と前記試料の画像取得のシーケンスを制御し、前記試料への刺激開始時から前記試料の画像取得開始時までの間に前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを制御して、前記検出手段への光の入射を阻害することを特徴とする共焦点顕微鏡。前記試料への刺激開始時から前記試料の画像取得開始時までの時間を刺激時間t1、前記制御手段が、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態から、前記試料への刺激に伴って生じる前記試料からの光が前記検出手段に入射するのを阻害する状態に変化させるのに要する時間を駆動時間t2、前記制御手段が、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態に変化してから、前記検出手段によって前記試料を観察可能な状態になるまでの時間を予備時間t3とし、但し、t1>0、t2>0、t3≧0t1-t3/2≧t2のとき、前記試料への刺激とほぼ同時に、前記制御手段は、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態から前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態に変化させ、前記試料への刺激開始からt1-t2-t3経過したときに、前記制御手段は、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態から前記試料の画像取得時の設定状態に変化させ、t1-t3/2<t2のとき、前記試料の刺激とほぼ同時に、前記制御手段は、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態から前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態へ変化させ、前記試料への刺激開始からt1-t3/2経過したときに、前記制御手段は前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態から前記試料の画像取得時の設定状態に変化させることを特徴とする請求項1に記載の共焦点顕微鏡。請求項1に記載の共焦点顕微鏡は、蛍光顕微鏡であることを特徴とする請求項1又は2に記載の共焦点顕微鏡。前記制御手段は、前記ピンホールの開口径制御によって前記検出手段へ光が入射するのを阻害することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の共焦点顕微鏡。前記検出手段は、複数の検出器と、前記ピンホールと複数の前記検出器との間に配置され、前記試料からの光を任意の前記検出器へ導くための光路切替手段とを有し、前記制御手段は、前記光路切替手段の光路切替位置によって前記検出手段へ光が入射するのを阻害することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の共焦点顕微鏡。前記制御手段は、前記集光レンズの配置位置を変化させることで前記検出手段へ光が入射するのを阻害することを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の共焦点顕微鏡。共焦点顕微鏡であって、照明光学系によって試料を照明し、集光レンズによって前記試料からの光をピンホールの開口に集光し、前記ピンホールの開口を介した前記試料からの光を検出手段によって受光し、前記照明光学系を用いた前記試料への刺激と前記試料の画像取得のシーケンスを前記制御手段によって制御し、前記試料への刺激開始時から前記試料の画像取得開始時までの間に前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを制御して、前記検出手段への光の入射を阻害することを特徴とする方法。前記試料への刺激開始時から前記試料の画像取得開始時までの時間を刺激時間t1、前記制御手段が、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態から、前記試料への刺激に伴って生じる前記試料からの光が前記検出手段に入射するのを阻害する状態に変化させるのに要する時間を駆動時間t2、前記制御手段が、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態に変化してから、前記検出手段によって前記試料を観察可能な状態になるまでの予備時間を予備時間t3とし、但し、t1>0、t2>0、t3≧0t1-t3/2≧t2のとき、前記試料への刺激とほぼ同時に、前記制御手段は、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前期試料の画像取得時の設定状態から前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態に変化させ、前記試料への刺激開始からt1-t2-t3経過したときに、前記制御手段は、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態から前記試料の画像取得時の設定状態に変化させ、t1-t3/2<t2のとき、前記試料の刺激とほぼ同時に、前記制御手段は、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態から前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態へ変化させ、前記試料への刺激開始からt1-t3/2経過したときに、前記制御手段は前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態から前記試料の画像取得時の設定状態に変化させることを特徴とする請求項7に記載の方法。共焦点蛍光顕微鏡を用いることを特徴とする請求項7又は8に記載の方法。前記制御手段は、ピンホールの開口径制御によって前記検出手段へ光が入射するのを阻害することを特徴とする請求項7乃至9の何れか一項に記載の方法。前記制御手段は、前記標本からの光の光路中に配置された検出光路切替手段の制御によって前記検出手段へ光が入射するのを阻害することを特徴とする請求項7乃至10の何れか一項に記載の方法。前記制御手段は、前記集光光学系に含まれる集光レンズの配置位置を変化させることで前記検出手段へ光が入射するのを阻害することを特徴とする請求項7乃至11の何れか一項に記載の方法。しかしながら、特許文献1に記載のオーバーロード状態にすることによるPMTの保護の方法の場合、刺激直後の画像取得においてPMTから好適なデータが得られないことがあった。また、光電面に強い光が当たることを避けられなかった。特許文献2に記載の方法の場合、PMTに入射する光を抑えるためにはフィルターやシャッターなどの光量制御手段を新たに設置しなければならなかった。本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり検出手段を保護して光量オーバーによるオーバーロードを防ぎ、好適なデータを取得できる共焦点顕微鏡を目的とする。試料を照明するための照明光学系と、前記試料からの光をピンホールの開口に集光するための集光レンズと、前記ピンホールの開口を介して前記試料からの光を受光する検出手段と、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段と前記照明光学系の少なくとも一つを制御する制御手段とを有する共焦点顕微鏡であって、前記制御手段は、前記照明光学系を用いた前記試料への刺激と前記試料の画像取得のシーケンスを制御し、前記試料への刺激開始時から前記試料の画像取得開始時までの間に前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを制御して、前記検出手段への光の入射を阻害することが好ましい。さらに、前記試料への刺激開始時から前記試料の画像取得開始時までの時間を刺激時間t1、前記制御手段が、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態から、前記試料への刺激に伴って生じる前記試料からの光が前記検出手段に入射するのを阻害する状態に変化させるのに要する時間を駆動時間t2、前記制御手段が、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態に変化してから、前記検出手段によって前記試料を観察可能な状態になるまでの時間を予備時間t3とし、但し、t1>0、t2>0、t3≧0t1-t3/2≧t2のとき、前記試料への刺激とほぼ同時に、前記制御手段は、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態から前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態に変化させ、前記試料への刺激開始からt1-t2-t3経過したときに、前記制御手段は、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態から前記試料の画像取得時の設定状態に変化させ、t1-t3/2<t2のとき、前記試料の刺激とほぼ同時に、前記制御手段は、前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記試料の画像取得時の設定状態から前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態へ変化させ、前記試料への刺激開始からt1-t3/2経過したときに、前記制御手段は前記ピンホールと前記集光レンズと前記検出手段の少なくとも一つを前記検出手段へ光が入射するのを阻害する状態から前記試料の画像取得時の設定状態に変化させることが好ましい。さらに、共焦点蛍光顕微鏡であることが好ましい。さらに、前記制御手段は、前記ピンホールの開口径制御によって前記検出手段へ光が入射するのを阻害することが好ましい。さらに、前記検出手段は、複数の検出器と、前記ピンホールと複数の前記検出器との間に配置され、前記試料からの光を任意の前記検出器へ導くための光路切替手段とを有し、前記制御手段は、前記光路切替手段の光路切替位置によって前記検出手段へ光が入射するのを阻害することが好ましい。さらに、前記制御手段は、前記集光レンズの配置位置を変化させることで前記検出手段へ光が入射するのを阻害することが好ましい。本発明によれば、検出手段を保護し、光量オーバーによるオーバーロードを防ぐことで好適なデータを取得できる共焦点顕微鏡を実現し得る。以下、図を用いて本発明の実施形態を説明する。図1は、実施形態に係る共焦点顕微鏡の構成を示す。簡単のため、複雑な光学系は図示していない。実施形態に係る共焦点顕微鏡は、照明光学系と、集光光学系と、検出部9とからなる。照明光学系は、単一又は複数のレーザ光源を備えたレーザ光源部1と、ダイクロイックミラー2と、スキャナ3と、スキャナ3からの光を試料上に集光する対物レンズ4とを有する。ダイクロイックミラー2は、レーザ光源部1からのレーザ光を反射して試料5からの蛍光を透過する。また、スキャナ3は、レーザ光を試料上で走査するための2枚の走査用ミラーX,Y方向を備えている。集光光学系は対物レンズ4と、スキャナ3と、ダイクロイックミラー2と、ダイクロイックミラー2を透過した蛍光を集光する集光レンズ6と、略集光位置に配置されるピンホール7とを有し、光学ユニット内に配置されている。ピンホール7と対物レンズ4による試料上の集光位置とは共役関係にある。検出部9は、主に2つの検出方式の検出機構が配置される。1つは、フィルターで選択した特定の波長の光を検出するためのPMTを単一又は複数備えた機構である。もう1つは、分散させた光を複数配列したPMTで、波長帯域ごとに検出する機構である。また、検出部9が1つのPMTであってもよい。レーザ光源部1から射出されたレーザ光はダイクロイックミラー2で反射し、スキャナ3を介して対物レンズ4によって試料5に集光される。試料5から発生した蛍光は、対物レンズ4で受光され、スキャナ3でデスキャンされる。その後、ダイクロイックミラー2を透過し、集光レンズ6でピンホール7の略開口位置に集光される。ピンホール7の開口を通過した蛍光は光路切替手段8を介して検出部9で検出される。また、コンピュータ15に内蔵のソフトウェア16は、コントローラ10内のCPU11へ指示信号を送り、CPU11はソフトウェア16へ出力信号を送る。CPU11が受信した指示信号は、ピンホール7、光路切替手段8、検出部9、キャプチャ制御部12、スキャン制御部13、レーザ制御部14に振り分けて送信され、各部は信号に従って動作する。キャプチャ制御部12には、検出部9から出力される受光強度に応じた値の電気信号が供給され、所定のタイミングで電気信号をサンプリングする。さらに、サンプリングした電気信号から画像を構築し、不図示のモニターに出力する。また、スキャナ制御部13は、スキャナ3を構成する2枚の走査用ミラーを夫々回転させるための駆動信号駆動電圧を、ユーザーが指定した走査位置や走査範囲から作成し、スキャナ3へ供給する。さらに、レーザ制御部14は、ユーザーが指定した波長、光量などからレーザ駆動信号を作成してレーザ制御部1へ供給する。実施例1は、共焦点顕微鏡の一部であるピンホール7の開口径を調整することによりPMTへ入射する蛍光の光量を低減している。本来、ピンホール7は開口径を絞ることで共焦点性を高めてオプティカルセクショニング効果を得る作用を担っている。共焦点顕微鏡の一部であるピンホール7を光量制御手段に用いることで、新たな機構を設置する必要がない。そのため、コストを軽減することができる。図2はピンホール7の構成を示す。図2aはピンホール7を構成する開口板7aで、開口板7aの一部に五角形の開口部7bが備えられている。開口板7aは五角形の開口部7bのみで光を通し、開口部以外の斜線部分で光を遮光する。一点破線は開口板7aの対称軸7cを示す。図2bはピンホール7の開口径を観察に最適な開口径x0にした状態を示す。ピンホール7は図2aに示した開口板7aを三枚使用し、各開口板7aの対称軸上7cの交点図2bの黒点を中心点として、三枚の開口板7aが夫々120°異なるように回転させた配置である。ピンホール7の開口部7dは、図2bの中央に位置する六角形の部分となる。開口径x0は、開口部7dの六角形の向かい合う辺の間の距離とする。各開口板7aは夫々の対称軸7cに沿って移動可能に構成され、図中の矢印の方向に夫々移動させることで開口径の大きさを変化させる。開口径を大きく変化させる場合は、開口板7aを夫々図中の方向へ移動させる。開口径を小さく変化させる場合は、開口板7aを夫々図中の-方向へ移動させる。図2cは、ピンホール7の開口径を最小の開口径x1にした状態を示す。ここで、試料5への刺激と試料5の画像取得とを交互に繰り返す場合を想定し、試料5の刺激開始直前観察終了時のピンホール7の開口径は観察に最適な開口径x0に設定される。刺激時に検出部9に入射する光量を最少にするためのピンホール7の開口径は、最小の開口径x1に設定される。例えば、ピンホール7の開口径の可動範囲が最小50μmから最大1000μmの場合、開口径x1は50μmとなる。刺激開始から蛍光画像取得開始までの時間、つまり試料5に刺激光を照射して刺激を開始してから励起光を試料5に照射して蛍光画像の取得を開始するまでの時間をt1、ピンホール7が開口径x0の状態から開口径x1の状態になるまでに要する時間を駆動時間t2とする。さらに、ピンホール7が開口径x0の状態になり、検出部9から電気信号の取得が可能となるまでの予備時間をt3とする。予備時間t3を考慮する必要がない場合は、予備時間t3=0としてもよい。観察に最適なピンホール7の開口径x0や駆動時間t2は、顕微鏡の光学系や蛍光波長などを考慮してソフトウェア16によって算出される。また、レーザ光の波長や刺激位置や刺激時間t1などの指定は、ユーザーが事前に設定を行ってもよいし、適宜指定を行ってもよい。試料5への刺激と試料5の画像取得とのシーケンスを図3に示した制御シーケンス及び図4、図5を用いて説明する。特に問題がなければ、制御シーケンスの処理や判断の追加や削除や順序の変更を行ってもよい。図4は、t1-t3/2≧t2の場合の経過時間tとピンホール7の開口径xの関係を示す。横軸が経過時間tで、縦軸がピンホール7の開口径xである。試料5への刺激開始時、ピンホール7は開口径x0の状態である。刺激シーケンスの指令を受けたCPU11は、指示信号をスキャナ制御部13に送信し、走査用ミラーの回転駆動の開始信号をスキャナ3へ供給する処理1。また処理1とほぼ同時に、CPU11は指示信号をレーザ制御部14に送信し、刺激光の照射の開始信号をレーザ光源部1へ供給する処理2。さらに処理1及び2とほぼ同時に、t1-t3/2≧t2か否かを判断する判断1。t1-t3/2≧t2の場合判断1の結果Y、試料5への刺激開始と略同時に、ピンホール7の開口径を開口径x0の状態から開口径x1の状態へ変化させる処理3。次に、刺激開始時からの経過時間tを判断する判断2。刺激時間t1の残り時間が駆動時間t2と予備時間t3との和となる、経過時間t=t1-t2-t3となると判断2の結果Y、ピンホール7を開口径x1の状態から開口径x0の状態へ変化させる処理4。図5は、t1-t3/2<t2の場合の経過時間tとピンホール7の開口径xの関係を示す。横軸が経過時間tで、縦軸がピンホール7の開口径xである。t1-t3/2<t2の場合判断1の結果N、試料5への刺激開始と略同時に、ピンホール7を開口径x0の状態からピンホール7の三枚の開口板7aを夫々図2bの-方向へ移動させ、開口径を小さくしていく処理3。次に、刺激開始時からの経過時間tを判断する判断2。刺激時間t1の残り時間が刺激時間t1-t3の半分となる、経過時間t=t1-t3/2=t2となると判断2の結果Y、ピンホール7の三枚の開口板7aを夫々図2bの方向へ移動させ、ピンホール7を開口径x0の状態へ変化させる処理4。処理4の後に、経過時間がt=t1か否か、つまり試料5への刺激が終了したか否かを判断する判断3。試料5への刺激が終了すると判断3の結果Y、CPU11は指示信号をレーザ制御部14に送信し、刺激光の照射の停止信号をレーザ光源部1へ供給する処理5。また処理5とほぼ同時に、CPU11は指示信号をレーザ制御部14に送信し、励起光の照射の開始信号をレーザ光源部1へ供給する処理6。さらに処理5及び6とほぼ同時に、CPU11は指示動作をキャプチャ制御部13に送信し、検出部9から電気信号の取得及び蛍光画像の構築を開始し処理7、試料5の観察を開始する。次に、試料5の観察を終了するか否か判断する判断4。試料5の観察が終了すると判断4の結果Y、CPU11は指示信号をレーザ制御部14に送信し、励起光の照射の停止信号をレーザ光源部1へ供給する処理8。また処理8とほぼ同時に、CPU11は指示動作をキャプチャ制御部13に送信し、検出部9から電気信号の取得及び蛍光画像の構築を停止する処理9。最後に、刺激シーケンスを終了するか否かを判断する判断5。刺激シーケンスを終了する場合は判断5の結果Y、そのまま刺激シーケンスを終了させる。刺激シーケンスを続ける場合は判断5の結果N、処理1に戻る。また、試料5に刺激光を照射しても検出部9が光量オーバーとならない場合は、ピンホール7の開口径の調節を行わなくてもよい。実施例2は、検出部9を構成する第1の検出器9a、第2の検出器9bの何れか一方に試料5からの光を導くために光路を切り替える光路切替手段8の光路切替位置の調整によりPMTへ入射する蛍光の光量を低減している。多くの共焦点顕微鏡には異なる検出方式を持つ検出器が設置され、取得したいデータに応じて第1の検出器9a及び第2の検出器9bの何れか一方を選択している。光路切替手段8は、試料5からの光が所望の検出器9a又は9bに入射するように、試料5からの光を第1の検出器9a及び第2の検出器9bの何れか一方に向かうための光路に切替るための部材である。図6は光路切替手段の構成を示す。検出光路切替手段8は、ターレット状板に複数の光学素子図中のa、b等が設置された構成である。第1の検出器9aに試料5からの光を入射させる場合、ターレット状板を図中の中心点を中心に回転させ、集光光学系の光軸上に第1の光学素子aを配置させる。第1の検出器9aは第1の光ファイバー17aの一端と不図示の第1の接続部で接続され、第1の光ファイバー17aの他端は、光学ユニット18と不図示の第2の接続部で接続されている。また、第2の検出器9bは第2の光ファイバー17bの一端と不図示の第3の接続部で接続され、第2の光ファイバー17bの他端は、光学ユニット18と不図示の第4の接続部で接続されている。さらに、光路切替手段8と第1の接続部との間には、第1の光学素子aが光軸上に配置されたときに、第1の光学素子aで反射した光を第2の接続部へ導くための不図示の第1の光学系が配置されている。また、第2の光学素子bが光軸上に配置されたときに、第2の光学素子bで反射した光を第4の接続部へ導くための不図示の第2の光学系が配置されている。ここで、光路切替手段8のターレット状板上には、第1の光学素子aの隣に、第2の光学素子bが配置されている。さらに、第1の光学素子aと第2の光学素子bとの間には、試料5からの光を第1の検出器9a及び第2の検出器9bへ導かない領域c図中斜線部分上がある。例えば領域cは、試料5からの光を遮光する領域であってもよく、試料5からの光が検出部9に入射しない方向へ導く領域であってもよい。刺激開始から蛍光画像取得開始までの時間、つまり試料5に刺激光を照射して刺激を開始してから励起光を試料5に照射して蛍光画像の取得を開始するまでの時間をt1、試料5からの光が光路切替手段8の第1の光学素子aで反射する状態から領域cに入射する状態になるまでの所要時間を駆動時間t2とする。さらに、試料5からの光が光路切替手段8の第1の光学素子aで反射する状態になり、第1の検出器9aから電気信号の取得が可能となるまでの予備時間をt3とする。予備時間t3を考慮する必要がない場合は、予備時間t3=0としてもよい。実施例1と同様に、上記の刺激時間t1、駆動時間t2、予備時間t3を用いて刺激シーケンスを実行する。また、試料5に刺激光を照射しても第1の検出器9aが光量オーバーとならない場合は、光路切替手段8の光路切替位置の調節を行わなくてもよい。実施例3は、試料5からの光をピンホール7の開口部7dに集光するための集光レンズ6の配置位置を調整することによりPMTへ入射する蛍光の光量を低減している。図1では簡単のため、集光レンズ6を1枚のレンズで表している。観察に最適な状態では、集光レンズ6の後側焦点位置がピンホール7の開口部7dに、一致するように配置され、試料5からの光は集光レンズ6によりピンホール7の開口部7dに集光され、検出部9で受光される。この観察に最適な状態の光路を形成する集光レンズ6の光軸の位置を位置x0集光光学系の光軸と一致とする。また、集光レンズ6の光軸の位置を光軸z軸に直行するxy平面内のx方向任意の方向にのみ移動することで、試料5からの光がピンホール7によって遮光され、検出部9に入射させない状態に偏向することができる。この試料5からの光が検出部9に入射しない状態の光路を形成する集光レンズ6の光軸の位置を位置x1とする。刺激開始から蛍光画像取得開始までの時間、つまり試料5に刺激光を照射して刺激を開始してから励起光を試料5に照射して蛍光画像の取得を開始するまでの時間をt1、集光レンズ6の光軸の位置x0から集光レンズ6の光軸の位置x1に移動するまでの所要時間を駆動時間t2とする。さらに、集光レンズ6の光軸の位置x1から集光レンズ6の光軸の位置x0になり、検出部9から電気信号の取得が可能となるまでの予備時間をt3とする。予備時間t3を考慮する必要がない場合は、予備時間t3=0としてもよい。実施例1と同様に、上記の刺激時間t1、駆動時間t2、予備時間t3を用いて刺激シーケンスを実行する。また、試料5に刺激光を照射しても検出部9が光量オーバーとならない場合は、集光レンズ6の配置位置の調節を行わなくてもよい。実施例4は、検出部9の印加電圧値の制御を制御シーケンスで行うことで、PMTへ入射する蛍光の光量を低減している。観察に最適な検出部9の印加電圧値を電圧x0とし、検出部9の感度を低下して検出部9を保護するための印加電圧値を電圧x1x1=0Vとする。刺激開始から蛍光画像取得開始までの時間、つまり試料5に刺激光を照射して刺激を開始してから励起光を試料5に照射して蛍光画像の取得を開始するまでの時間をt1、検出部9の印加電圧値を電圧x0から電圧x1に変化させるのまでの所要時間を駆動t2とする。さらに、試料5からの光を検出部9で最適に観察する電圧x0になり、検出部9から電気信号の取得が可能となるまでの予備時間をt3とする。予備時間t3を考慮する必要がない場合は、予備時間t3=0としてもよい。実施例1と同様に、上記の刺激時間t1、駆動時間t2、予備時間t3を用いて刺激シーケンスを実行する。また、試料5に刺激光を照射しても検出部9が光量オーバーとならない場合は、検出部9の印加電圧値の制御を行わなくてもよい。実施例1~4は、単独で実施されてもよく、他の光量制御手段と並列または連動して実施されてもよい。また、顕微鏡内に検出部9へ入射する光を阻害可能な部材が備えられている場合、その部材を光量制御手段として利用しても良い。以上のように、本発明を分かりやすくするため実施形態の構成要件を付して説明したが、本発明がこれに限定されるものではないことは言うまでもない。"