"光ビームを出射する光源と、前記光源から出射された光ビームが被走査体面上を主走査方向に走査するように前記光ビームを偏向する偏向手段と、前記光源と前記偏向手段との間に設けられ、光ビームのスポット径を調整するための第一レンズと、前記偏向手段により偏向された光ビームを前記被走査体面上に結像させる第二レンズと、前記偏向手段により偏向された光ビームが入射する位置に配置され、入射した光ビームのスポット径を検知するビーム検知手段と、前記第二レンズの前記ビーム検知手段に入射する前記光ビームが通過する位置に対応する位置の温度と、前記第二レンズの前記被走査体面上を走査する光ビームが通過する位置に対応する位置の温度との温度差を求め、前記温度差と前記ビーム検知手段による検知結果とに基づいて、前記第一レンズを前記第一レンズの光軸方向に移動させることにより前記被走査体面上の光ビームのスポット径が所定値以下となるよう補正する補正手段と、を備えることを特徴とする光走査装置。前記第二レンズの前記ビーム検知手段に入射する前記光ビームが通過する位置に対応する位置の温度を検知する第一温度検知手段と、前記第二レンズの前記第一温度検知手段とは異なる位置に設けられる第二温度検知手段と、を備え、前記補正手段は、前記第一温度検知手段及び前記第二温度検知手段による検知結果に基づいて、前記温度差を求めることを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。前記偏向手段の駆動時間及び停止時間と、前記第二レンズの前記ビーム検知手段に入射する前記光ビームが通過する位置に対応する位置と前記第二レンズの前記被走査体面上を走査する光ビームが通過する位置に対応する位置との温度差と、を対応付けた情報を予め保持する第一保持手段と、前記偏向手段の駆動時間を算出する算出手段と、前記偏向手段の停止時間を計測する計測手段と、を備え、前記補正手段は、前記算出手段により算出された駆動時間及び前記計測手段により計測された停止時間と、前記第一保持手段に保持された情報と、に基づいて、前記温度差を求めることを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。初期状態の前記第二レンズの前記主走査方向における像面湾曲に関する情報を予め保持する第二保持手段を備え、前記補正手段は、前記温度差、前記ビーム検知手段による検知結果及び前記第二保持手段に保持された前記像面湾曲に関する情報に基づいて前記光ビームのスポット径を補正することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光走査装置。請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光走査装置と、前記光走査装置により出射される光ビームが走査される前記被走査体であって静電潜像が形成される像担持体と、前記像担持体上に形成された静電潜像を現像してトナー像とする現像手段と、前記現像手段により現像されたトナー像を記録媒体上に転写する転写手段と、前記転写手段により記録媒体上に転写されたトナー像を定着する定着手段と、を備えることを特徴とする画像形成装置。しかしながら、例えば特許文献1では、スポット径測定手段で測定している非画像領域像高のスポット径は正しくピント補正されるが、本来最も露光性能が求められる画像領域像高全般にわたり正しくピント補正ができているとは限らない。これは走査レンズの長手方向では、ポリゴンモータの高速回転にともない発生する光走査装置内の気流の影響で、走査レンズ内に温度勾配が生じることに起因する。以降、走査レンズ内に生じた温度勾配を有する昇温を、偏昇温と呼ぶ。走査レンズは昇温が進行するとそれを構成する材質が変化し屈折率が低くなる傾向があるため、走査レンズ内に偏昇温が生じると、画像領域像高の各位置においてスポット径のピント位置が異なる結果となる。つまりスポット径測定手段等で直接レーザ光を用いてピントずれを検出する場合は、その性質上、光走査装置の非画像領域像高で検知せざるを得ない。従って走査レンズの偏昇温による像高間でのピントずれを加味すると、最も露光性能が求められる画像領域像高でスポット径を保証したことにならないという課題がある。本発明は、このような状況のもとでなされたもので、簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現することを目的とする。前述の課題を解決するために、本発明は、以下の構成を備える。1光ビームを出射する光源と、前記光源から出射された光ビームが被走査体面上を主走査方向に走査するように前記光ビームを偏向する偏向手段と、前記光源と前記偏向手段との間に設けられ、光ビームのスポット径を調整するための第一レンズと、前記偏向手段により偏向された光ビームを前記被走査体面上に結像させる第二レンズと、前記偏向手段により偏向された光ビームが入射する位置に配置され、入射した光ビームのスポット径を検知するビーム検知手段と、前記第二レンズの前記ビーム検知手段に入射する前記光ビームが通過する位置に対応する位置の温度と、前記第二レンズの前記被走査体面上を走査する光ビームが通過する位置に対応する位置の温度との温度差を求め、前記温度差と前記ビーム検知手段による検知結果とに基づいて、前記第一レンズを前記第一レンズの光軸方向に移動させることにより前記被走査体面上の光ビームのスポット径が所定値以下となるよう補正する補正手段と、を備えることを特徴とする光走査装置。2前記1に記載の光走査装置と、前記光走査装置により出射される光ビームが走査される前記被走査体であって静電潜像が形成される像担持体と、前記像担持体上に形成された静電潜像を現像してトナー像とする現像手段と、前記現像手段により現像されたトナー像を記録媒体上に転写する転写手段と、前記転写手段により記録媒体上に転写されたトナー像を定着する定着手段と、を備えることを特徴とする画像形成装置。本発明によれば、簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現することができる。以下、本発明を実施するための形態を、実施例により詳しく説明する。実施例1では、入力画像データに基づいて発光されるレーザ光によって被走査面である感光ドラム面に潜像形成が可能な領域を光走査装置の画像領域像高、それ以外を非画像領域像高という。また、実施例2以降についても同様とする。尚、像高とは、光走査装置の回転多面鏡によって偏向された光ビームのスポットが、感光ドラム上を移動する方向である主走査方向の走査位置を意味する。また、画像形成装置内や光走査装置内の温度の昇温により生じる、走査レンズの長手方向に温度勾配を有する昇温を、偏昇温と呼ぶ。[光走査装置]図1aは、本実施例で説明する光走査装置20を用いた、電子写真複写機の感光ドラム周辺部を示す概略断面図である。図1aを用いて画像形成プロセスを説明する。図1a中では図示しない光源から出射されたレーザ光は、偏向手段である回転多面鏡6によって偏向走査され、走査レンズ7、8第二レンズ、防塵ガラス9を通過して感光ドラム19感光体、像担持体に照射される。感光ドラム19は、帯電装置51により一様に帯電された後、入力画像データに基づいて光走査装置20内の光源ユニットの半導体レーザ後述するから出射されるレーザ光によって露光される。感光ドラム19は一定速度で回転し、感光ドラム19の感光面はレーザ光に対して副走査方向回転方向図中矢印、時計周り方向に移動する。このようにして感光ドラム19上像担持体上、被走査体面上に画像データに基づく静電潜像が形成される。この静電潜像は現像器52に保持されている現像剤であるトナーによって現像される。その後、搬送経路上を搬送されてくる転写材54記録媒体に転写手段である転写ローラ53によって電圧を印加する。これにより、転写ローラ53と感光ドラム19とで形成される転写部において感光ドラム19上に担持されたトナー像を転写材54上記録媒体上へ転写する。そして、トナー像を担持した転写材は、図示しない定着器定着手段に搬送され、加熱等により転写材上のトナー像に定着処理が施され、画像が形成された転写材を得る。図1bは本実施例の光走査装置20を説明するための斜視図である。図1bに示すように、光走査装置20は画像データ信号に応じて半導体レーザ1から出射されたレーザ光を、第1コリメータレンズ2と主走査シリンダーレンズ3によって略平行化する。そして、略平行化された光ビームを副走査シリンダーレンズ4によって感光ドラム19の表面の移動方向副走査方向のみ集光し、ポリゴンモータ5により一定の回転速度で反時計周り方向に回転制御される回転多面鏡6によって偏向する。次に、偏向された光ビームを走査レンズとしてのfθレンズ7、8によって像面である感光ドラム19の表面に等速かつ所定のスポット径をもって結像する。ここで防塵ガラス9は光走査装置20の密閉性を高める役割を担っている。感光ドラム19の表面に潜像を形成する際に、走査ライン毎に主走査方向の潜像タイミングを揃える処理は、BDセンサ12による信号を基準に行う。この場合、BDミラー10で光ビームを折り返し、BDレンズ11を用いてBDセンサ12上に光ビームを結像させて信号化している。[オートフォーカスセンサ]光走査装置20内の非画像領域像高に設けられた、ピントずれ検知手段であるオートフォーカスセンサ以下AFセンサ、及びその検知原理について説明する。AFセンサは、レーザ光走査の先端又は後端近傍の非画像領域像高第一所定位置に配置されている。即ち、AFセンサは、回転多面鏡6により偏向された光ビームが感光ドラム19の面上を走査する範囲内の主走査方向におけるいずれか一方の端部に設けられている。そして、公知の瞳分割レンズ13と、ピントずれ検知センサ14ビーム検知手段から構成される。その構成の詳細を図2aに示す。ここで24はレーザ光の外形を表している。走査レンズ8を通過し、瞳分割レンズ13に入射した光ビーム24は、副走査方向のピントずれ検知光学系22と主走査方向のピントずれ検知光学系23により、ピントずれ検知センサ14に設けられたエリアCCDセンサ25上にそれぞれ結像される。このときの副走査ピントずれ光学系22による結像の様子を表した副走査方向の断面図が図3aである。副走査ピントずれ検知光学系22は2眼のレンズを有しているため、図のようにエリアCCDセンサ25上で副走査方向図中、縦方向に2つのスポットとして結像されることになる。尚、図中の破線は、光ビーム24がAFセンサを通らないときの仮想光線図であり、感光ドラム19の表面に結像していることを示している。また主走査方向に関しても、同じく2眼のレンズを有する主走査ピントずれ検知光学系23によってエリアCCDセンサ25上で主走査方向横方向に2つのスポットとして結像されることになる図2a参照。[ピントずれの検知原理]図3bにAFセンサ13、14を用いた、副走査方向のピントずれ検知原理を示す。図中の太い実線は、レーザ光が像面である感光ドラム19上に結像しておりピントずれが生じていないときの、エリアCCDセンサ25上の結像の様子である。一方で、図中の太い破線は像面からΔxのピントずれが生じ、仮想面26上に結像しているときの様子である。これをみるとわかる通りΔxのピントずれが生じたときのCCDセンサ25上の2つのスポットの間隔は、ピントずれが生じていないときの間隔に比べて、2Δd大きくなっていることがわかる。尚、図3bは、感光ドラム19より図面右側にΔxのピントずれが生じているが、本実施例では、このピントずれをプラス方向とし、感光ドラム19の内側の方向に生じるピントずれとする。また、発生したプラス方向のピントずれに応じてエリアCCDセンサ25上のスポットの間隔が広がっており、本実施例では、間隔2Δdが広がる方向を正方向とする。この像面からのピントずれ量Δxmmミリメートルと、それに対応するCCDセンサ25上の2つのスポットの間隔2Δdμmマイクロメートルの関係は、図3cに示すような比例関係となる。以上より、副走査方向のピントずれを検知する際は、副走査ピントずれ検知光学系22が配置された像高でレーザを定点発光し、エリアCCDセンサ25上の副走査方向に2つのスポットを結像させる。そしてエリアCCDセンサ25で電気変換された出力信号から2つのスポットの光量ピーク位置を演算し、2点間の距離即ち2Δdに換算し、図3cのテーブルを用いてピントずれ量Δxを算出すればよい。例えば、AFセンサのエリアCCDセンサ25で検知した間隔2Δdが4μmであった場合、図3cの比例関係に基づいて、像面からのピントずれ量Δxは1mmと求めることができ、ピントずれが感光ドラム19の内側の方向に生じていると判断できる。同様に、主走査方向のピントずれを検知する際も、主走査ピントずれ検知光学系23が配置された像高でレーザを定点発光し、エリアCCDセンサ25上の主走査方向に2つのスポットを結像させる。そしてエリアCCDセンサ25で電気変換された出力信号から2つのスポットの光量ピーク位置を演算し、2点間の距離即ち2Δdに換算し、図3cのテーブルを用いてピントずれ量を算出すればよい。[ピントずれの補正]光走査装置20のピントずれ補正を行う、AF機構部補正手段の構成について説明する。図2bにAF機構部21の斜視図を示す。AF機構部21は図のようにユニット化された構成となっており、AFホルダ67が光走査装置20にバネ付勢やビス締結で固定されている。ここでレンズ台68、69にはそれぞれ主走査シリンダーレンズ3第一レンズ、副走査シリンダーレンズ4第一レンズが乗せられ接着固定されている。レンズ台68、69の下部には軸穴が設けられており、AFホルダ67に支持され光軸方向に配置された基準軸64と嵌合している。またレンズ台68は基準軸64と平行して配置されたレンズ送り軸65のネジ部斜線領域と係合しており、同様にレンズ台69はレンズ送り軸66のネジ部斜線領域と係合している。またレンズ台68とレンズ送り軸66、レンズ台69とレンズ送り軸65は、穴径が軸径より大きいため互いに関わりあうことはない。またレンズ送り軸65、66の端部にはそれぞれ電磁クラッチ付きギア62、63が設けられており、両ギアはAFモータ61先端に取り付けられたギアとかみ合っている。ここで仮に主走査シリンダーレンズ3を光軸方向に動かす際は、電磁クラッチ付きギア63を励磁させることでAFモータ61の正逆回転がレンズ送り軸65に伝達され、レンズ台68が基準軸64に嵌合しながら光軸方向にネジ送りされる。この際、励磁していない電磁クラッチ付きギア62はレンズ送り軸66に回転が伝達されないため、副走査シリンダーレンズ4が移動することはない。逆に、副走査シリンダーレンズ4を光軸方向に動かす際は、電磁クラッチ付きギア62を励磁し、63を励磁しなければよい。以上の構成により、1つのAFモータ61で、主走査シリンダーレンズ3及び副走査シリンダーレンズ4を光軸方向に移動することが可能となる。以上、ここまで非画像領域像高に設けられたピントずれ検知手段であるAFセンサ及びその検知原理、スポット径制御手段であるAF機構部の構成について説明してきた。ここで、背景技術で説明した通り、実際には光走査装置20内の気流の影響で、走査レンズ7、8の片方の端部のみ昇温が進行し、走査レンズ長手方向において屈折率の差が発生するため、像高毎にスポット径のピント位置が異なる。よって非画像領域像高に設けられたAFセンサで非画像領域像高のピントずれを検知しAF機構部で補正を行ったとしても、画像領域像高全般にわたって保証したことにならない。本実施例では、更に以下の構成を備えることにより、この課題を解決する。[サーミスタセンサ]本実施例の光走査装置20では、走査レンズ7、8の偏昇温を加味し、画像領域像高全般にわたってスポット径を保証するため、次のような構成を備える。即ち、本実施例の光走査装置20は、走査レンズ7、8のレンズ長手端部の温度を検知するサーミスタセンサ温度検知手段15、16、17、18を、それぞれ走査レンズ7、8の上面第二レンズ上に備えている図1b参照。ここで特徴的な事項として、サーミスタセンサ16、18第一温度検知手段は、AFセンサ13、14が、ピントずれ検知に用いている光ビーム光線を集光する像高付近の温度を検知している。一方、サーミスタセンサ15、17第二温度検知手段は、AFセンサ13、14が設置された側とは異なる側の、長手方向の端部の位置第二所定位置以下、端部像高というの温度を検知している。そしてAF機構部21は、AFセンサ13、14とサーミスタセンサ15~18の検知結果に基づき、次のような補正を行っている。即ち、AF機構部21は、その検知結果に基づき、主走査シリンダーレンズ3又は副走査シリンダーレンズ4を光軸方向に移動させ図3b参照、像面上の画像領域像高全般にわたってレーザ光のスポット径が所定以下となるよう補正を行っている。本実施例では、サーミスタセンサを走査レンズ7、8の両端部に配置する構成としている。しかし、ポリゴンモータ5の回転時の熱風気流により、走査レンズ7、8の長手方向では温度勾配がリニアであるとは限らないため、例えば、走査レンズ7、8の長手方向の中央に、更にサーミスタセンサを配置する構成とすることもできる。このように、サーミスタセンサの走査レンズ7、8上の配置場所や配置個数は本実施例に限定されない。以下の実施例においても同様とする。[本実施例の補正原理]図4aは本実施例の光走査装置20における、横軸を像面位置mm、縦軸をスポット径μmとしたときの、AFセンサ13、14におけるピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高の昇温前の初期状態のデフォーカスカーブの一例である。ここで、ピントずれ検知像高は、例えば図1bでは、レーザ光がAFセンサ13、14を通る像高即ちサーミスタセンサ16、18が設置された像高である。一方、それと反対の端部像高は、サーミスタセンサ15、17が設置された像高である。レーザ光が感光ドラム19に入射する方向において、像面位置0mmが感光ドラム19の表面、プラス方向が感光ドラム19の内側方向を意味している。図4aは、像面位置0.0mmでスポット径が最小値の20μmとなっており、スポット径が感光ドラム面上で最も集光している理想のピント位置状態を表している。またスライスレベルとして表されたスポット径35μmとは、本画像形成装置の電子写真プロセス条件において画像劣化を生じないスポット径の上限値を指しており、この値を下回る像面位置のレンジを以降焦点深度と呼ぶ。例えば、図4aでは、焦点深度は、-0.6mm~0.6mmの1.2mmとなる。また本実施例においては昇温前の初期状態で像高間でのピント位置に差が生じる像面湾曲は想定していないため、ピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高のデフォーカスカーブは完全に一致している。このため、図4aでは、ピントずれ検知像高を示す実線と、それと反対の端部像高を示す一点鎖線とは重なっている。ここで本実施例の光走査装置20を搭載した画像形成装置を稼動させた場合、感光ドラム19周囲の電子写真プロセスに起因する排熱、転写材を加熱してトナー像を定着する定着器の排熱等が原因で、光走査装置20の周囲温度は上昇する。また光走査装置20自身も、後述するレーザポリゴンモータ制御部27図6参照の電子機器からの発熱や、ポリゴンモータ5の回転による発熱があり、光走査装置20のユニット内外部において昇温が生じる。これらの要因によって図4bに示すように、ピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高とも、昇温前の初期状態図4aに対してピント位置がプラス方向、即ち感光ドラム19の内側の方向にずれる、ピントずれが生じる。この主な理由は、昇温によって半導体レーザ1から出射されるレーザ光の波長が長くなったこと、及びレンズが昇温してそれを構成する材質の屈折率が低下したことに起因する。また特筆すべきこととして、前に述べた通り、ポリゴンモータ5の高速回転にともない発生する光走査装置20内の気流の影響で、走査レンズ7、8の片方の端部この場合はピントずれ検知像高の反対端部像高一点鎖線のみ偏昇温が進行する。そのため走査レンズ7、8の中に温度分布即ち屈折率分布が存在し、ピント位置の変化量に差xが生じている。このように、光走査装置20内外の昇温に起因して、ピントずれ量が像高に応じて変化している。ここでピントずれ検知像高のピントずれ量aは、前述のピントずれ検知原理に従って、光走査装置20内に設けられたAFセンサ13、14によって検知することが可能である。一方、それと反対の端部像高のピントずれ量bは、両像高のピント位置変化量の相対差xさえ分かれば、b=ax1として求められる。一般的に走査レンズ7、8に用いられる光学部品の材質は温度上昇に対する屈折率変化が比例関係である。また屈折率変化に対する像高間のピント位置変化量は一意的に光学計算式で求めることができる。このため、像高間の温度差さえ検知すれば相対差xは求めることができる。よってピントずれ量bも1式で求めることができる。以上より、本実施例においては、ピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高の、両者の昇温後の温度をサーミスタセンサ15~18により検知し、その検知結果から両像高間の温度差を求め、求めた温度差から相対差xを求める。これによりピントずれ量bが、AFセンサにより検知したピントずれ量a、及び相対差xから求められる。このように、ピントずれ量a、bが検知可能なため、両像高において満足するピントずれ補正以下、ピント補正ともいうとしては、ab/2に相当する量以下、ピント量ともいうの補正をAF機構部21を用いて行う。そして、図5に示すようなデフォーカスカーブの状態とすればよい。尚、走査レンズ7と走査レンズ8では、昇温時のピントずれに対する影響の仕方が変わってくる。主に、走査レンズ7は主走査方向への結像パワーを有しているのに対し、走査レンズ8は副走査方向への結像パワーを有している。このため、走査レンズ7の偏昇温が影響する主走査方向のピントに対しては、主にサーミスタセンサ15とサーミスタセンサ16の差を用いて主走査ピントの相対差xを算出する。一方、走査レンズ8の偏昇温が影響する副走査方向のピントに対しては、主にサーミスタセンサ17とサーミスタセンサ18の差を用いて副走査ピントの相対差xを算出する。ただし、走査レンズ7もわずかに副走査方向のパワーを有し、走査レンズ8もわずかに主走査方向のパワーを有している。このため、例えば得られた4つの温度検知結果から、走査レンズ7、8のレンズの温度差を算出し、それらに重み付けをして、主走査及び副走査それぞれの相対差xを算出してもよい。更に、複数像高のピント位置を平均化し、その量に相当するピント補正を行うことで、複数像高にわたる像面位置でのスポット径が保証されることになる。ここで、複数、例えばn個のサーミスタセンサを走査レンズ7、8上に配置する場合は、AFセンサが配置された位置における温度とその他の位置における温度の温度差を求め、求めた温度差から各像高のピントずれ量a、b、c、d、n個を算出する。そして、例えばabcd/nに相当するピント量の補正を行う。以下の実施例においても同様とする。尚、本実施例においては、ピントずれ検知像高と、それと同じ側の端部像高においては、走査レンズ7、8の温度差が無視でき、ピント位置に差が生じないことを前提にしている。そのため本構成を用いれば、一般的に光学性能が劣っている両端部像高のスポット径が保証されることとなる。また、温度検知手段であるサーミスタセンサ15~18を配置する像高としては、AFセンサが配置されたピントずれ検知像高の他、光学設計において焦点深度に余裕のない複数の像高にするのが望ましい。また複数像高間におけるピント補正量は、検知した複数像高間のピント位置の平均に限らず、像高間で重み付けをして補正量を決定しても構わない。[光走査装置の制御ブロック図]本実施例におけるピントずれ補正を達成するための光走査装置20の制御ブロック図を図6に示す。図6において、レーザポリゴンモータ制御部27にはCPU28から出力画像に応じた記録画像信号が入力される。またレーザポリゴンモータ制御部27はBDセンサ12から出力されるBD信号に基づき、ポリゴンモータ5の駆動回路を制御してポリゴンモータ5を所定の回転速度で回転させる。レーザポリゴンモータ制御部27はこれらの記録画像信号およびBD信号に基づき、走査ライン毎に主走査方向の潜像タイミングを揃えるようレーザドライバ29へ画像データ信号を出力している。半導体レーザ1はレーザドライバ29からの信号に応じてレーザ1の点灯消灯を行い、感光ドラム19上に潜像を形成している。本実施例の特徴であるピントずれ補正の処理はCPU28による制御で実行される。[ピント補正処理]主走査及び副走査方向のピント補正処理を説明するフローチャートを図7a、図7bに示し、補正処理を説明する。主走査方向のピントずれの補正処理主走査方向のピントずれの補正処理主走査ピント補正について図7aを用いて説明する。ステップ以下、Sとする101で、AFセンサのピントずれ検知センサ14は、上述した検知方法により2つのスポット間の距離2Δdμmを検知し、その検知結果である2Δdμmの情報をピントずれデータ信号としてCPU28に出力する。S102で、サーミスタセンサ15~18は、走査レンズ7、8の各設置場所における温度を検知し、その検知結果を温度データ信号としてCPU28に出力する。CPU28は、入力されたピントずれデータ信号及び温度データ信号に基づいて、上述した方法により複数の測定像高におけるピント位置を検知する。即ち、CPU28は、S101でピントずれ検知センサ14から出力されたピントずれデータ信号から、図3cを参照してピントずれ検知像高におけるピントずれ量ammを求める。また、CPU28は、S102でサーミスタセンサ15~18から出力された温度データ信号に基づき、相対差xを求める。そして、CPU28は、ピントずれ量ammと相対差xから、式1を用いて、AFセンサの像高とは反対側の端部像高におけるピントずれ量bmmを求め、ピントずれ量a,b夫々を主走査方向ピントずれとする。S103でCPU28は、それらの像高におけるピントずれ量例えばa,bが、任意に定められた規格値以下か否かを判断する。S103でCPU28は、測定像高のピントずれ量が、いずれも規格値以下であると判断した場合は、主走査ピント補正処理を終了する。尚、サーミスタセンサをn個n≧2設ける構成とする場合は、n箇所測定している像高の全ての像高において規格値以下所定値以下であると判断した場合に、主走査ピント補正処理を終了する。S103でCPU28は、主走査ピントずれa,bが1つでも、規格値より大きいと判断した場合は、S104の処理に進む。尚、サーミスタセンサをn個設ける構成とする場合は、n箇所測定している像高のうちのある1つの像高において、即ち1箇所でも規格値より大きいと判断した場合は、S104の処理に進む。S104でCPU28は、前述の通り、複数の測定像高のピントずれ量を平均化し、ピント補正量を決定する。即ち、CPU28は、ピントずれ量a,bからab/2を求める。CPU28は、前述の通り、求めたピントずれ量に基づいて、ピント補正量に対する主走査シリンダーレンズ3の光軸方向の移動量が一意的に光学計算式で求めることができるため、移動量を算出する。S105でCPU28は、S104で算出した主走査シリンダーレンズ3の移動量に応じた駆動信号をAF機構部21に出力する。これにより、CPU28は、AF機構部21を介して主走査シリンダーレンズ3をS104で決定した移動量分移動させる。以降、CPU28は、S101からの処理を繰り返すことにより、正しくピント補正が成されていればS103で主走査ピントずれが規格値を下回るので、ピント補正を終了する。副走査方向のピントずれの補正処理図7bの副走査方向のピントずれの補正処理S201~S205は、図7aのS101~S105の処理と同様であるため、説明を省略する。ただし、図7aでの主走査との文言を、図7bでは副走査と読み替える。尚、CPU28がS103,S203の判断に用いる任意に定める規格値は、多くとも焦点深度の約半分の値としておけば、それ以上のピントずれ量が生じた場合にピント補正がかかることとなる。これにより、スライスレベルを越えるスポット径の肥大化を防ぐことが可能となる。例えば本実施例の場合、焦点深度に余裕のない端部像高の深度幅は約1.2mmであるため図4a参照-0.6mm~0.6mm、この場合、規格値は0.6mm以下とすればよい。[ピント補正を行うタイミング]ピント補正を行うタイミングは、例えば、画像形成中に測定像高のピントずれ量を常に検知しつつ、ピントずれ量が規格値を超えた場合に画像形成を中断し、ピントずれ補正の調整モードに入ればよい。そして図7a、図7bのフローチャートに従ってピント補正が終了した後、画像形成を再開すればよい。主走査ピント補正と副走査ピント補正は、ピントずれ補正の調整モード時に順番に行っても良いし、ピントずれ量が規格値を超えた方向の補正のみ行っても良い。以上、本実施例では、AFセンサピントずれ検知手段だけでなく、走査レンズ7、8の偏昇温をサーミスタセンサ温度検知手段で検知する構成である。これにより、画像領域像高全般にわたるピントずれの把握が可能となっており、従来に比べて高精度でスポット径を補正保証できる効果がある。この構成を用いない場合、例えば、走査レンズ偏昇温によるピントずれの影響が最も顕著な両端像高でピントずれを検出し、偏昇温の影響を加味して補正する構成も考えられる。しかしピントずれ検知手段を両端像高に配置するため、感光ドラム面への走査可能領域が減少するという課題が生じるため、本実施例の構成の方が優位性がある。尚、ピントずれ検知手段を全く設けず、光走査装置20内に設けた複数の温度検知手段のみでピントずれ検知を行う構成も考えられる。しかしピントずれ現象は温度変化の検知で予測できる因子だけでなく、昇温によって光学部品の姿勢や、位置決め等が変動する要素も影響し、その量は光走査装置20の固体によりばらつきが生じる。よってスポット小径化によって高精度なピント位置保証が求められる場合は、温度検知手段のみのピントずれ検知では信頼性が低下するおそれがある。このため、本実施例のようにピントずれ検知手段と温度検知手段とを設けた構成に優位性がある。このように、非画像領域像高に配置されたピントずれ検知手段だけでなく、画像領域像高でも自由に配置可能な温度検知手段を用い走査レンズの温度差を検知することで、画像領域像高全般にわたるピント補正が可能となる。以上、本実施例によれば、簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現することができる。実施例1は、昇温前の初期状態において像高間でのピント位置に差が生じる像面湾曲は想定せず、ピント位置の補正時もそれを考慮していない構成である。実際の光走査装置においては、光走査装置を構成する部品の公差ばらつきや光学部品の収差が原因で、昇温前の初期状態から少なからず像面湾曲の成分を保持している。その一例を図8aに示す。横軸は感光ドラム19の長手方向である主走査像高mm、縦軸はピント位置mmを示している。図中、黒丸はスポット径が最も小径化している実ピント位置を表し、黒四角と白四角はスポット径のプラス方向及びマイナス方向のスライスレベルのピント位置を表している。即ち黒四角と白四角のレンジが焦点深度を表している図4a等参照。これをみると、像面湾曲の影響で実ピント位置黒丸が一定とはならず、像高間でうねりを持ち異なっていることがわかる。また一般的に端部像高の方が光学性能が劣化するため、焦点深度幅も中央像高0mmに比べて端部像高例えば、±160mmの方が狭く、重点的にスポット径を保証する必要があることがわかる。そこで本実施例では、昇温前の初期状態の像面湾曲による像高間のピント位置の差を加味し、ピント補正を行う。その補正原理を以下に述べる。[初期状態に像面湾曲がある場合のピントずれ補正処理]図8bは光走査装置に像面湾曲がある場合の、AFセンサ13、14が配置されたピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高の昇温前の初期状態のデフォーカスカーブの一例である。ピントずれ検知像高実線においてはスポット径が感光ドラム面上像面位置0mmで最も集光している理想のピント位置状態となっているが、それと反対の端部像高一点鎖線においては像面湾曲によってピントずれxが生じ、ピントずれ量がaとなっている。ここで画像形成装置を稼動させた場合、画像形成装置及び光走査装置20の昇温によって、ピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高とも、昇温前の初期状態に対してピント位置がプラス方向、即ち感光ドラム19の内側の方向にピントずれが生じる。その結果、図9aに示すように、ピントずれ検知像高ではピントずれ量がbとなり、それと反対の端部像高ではピントずれ量がcとなって、画像形成装置の稼働後の両像高のピント位置の差はyとなる。この理由は前述の通りであるが、両像高のピント位置の差がxからyへと変化したのは、走査レンズ7、8の偏昇温により温度分布、即ち屈折率分布が存在したため、ピント位置の変化量に差が生じるからである。つまり偏昇温によるピント位置変化量をk実施例1での相対差xに相当とすると、y=xk2として求めることができる。ここで光走査装置20が昇温前の初期状態の像面湾曲によるピント位置の差xを、工場出荷時の初期情報として保持していれば、像高間の温度差からkは一意的に光学計算式で求められるので、yは2式で求めることができる。即ち、光走査装置20の初期状態の像面湾曲によるピント位置の差xは、予め不図示のメモリ等第二保持手段に記憶しておく。即ち、初期状態の走査レンズ7、8の主走査方向における像面湾曲に関する情報を予め保持しておく。一方、CPU28は、サーミスタセンサ15~18によりそれぞれの設置位置における温度を検知した結果、出力される温度データ信号に基づいて、ピント位置変化量kを求める図6参照。またピントずれ検知像高のピントずれ量bは、前述のピントずれ検知原理に従って、光走査装置20内に設けられたAFセンサ13、14によって検知することが可能である。即ち、CPU28は、ピントずれ検知センサ14により検知された結果出力されるピントずれデータ信号に基づいて、ピントずれ検知像高のピントずれ量bを求める図6参照。一方、それと反対の端部像高のピントずれ量cは、c=by3として求めることができる。以上より、ピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高の、両者の昇温後のピント位置b、cが検知可能である。このため、両像高を満足するピント補正としては、bc/2に相当するピント量の補正をAF機構部21が行い、図9bのデフォーカスカーブの状態とすればよい。即ち複数像高のピント位置を平均化し、その量に相当するピント補正を行うことで、複数像高にわたる像面位置でのスポット径が保証されることになる。尚、本実施例では、像面湾曲によるピント位置の差xを加味してピントずれ量を算出し、主走査シリンダーレンズ3又は副走査シリンダーレンズ4の移動量を決定するもので、実施例1で説明した図6、図7は援用可能であるため、説明を省略する。以上、本実施例によれば、簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現することができる。実施例1、2では、サーミスタセンサ温度検知手段を走査レンズ上に複数個備え、かつ1つのサーミスタセンサはAFセンサピントずれ検知手段が配置された像高に設ける構成である。それに対し本実施例では、光走査装置内にサーミスタセンサ温度検知手段を設けず、ポリゴンモータ偏向走査装置の駆動時間及び停止時間から走査レンズの偏昇温のプロファイルを予測していることに特徴がある。そして非画像領域像高に配置されたAFセンサの検知結果と偏昇温のプロファイル予測に基づいて、ピント補正を行う構成である。尚、ポリゴンモータを駆動する基板上にはホール素子が設けられており、1回転するとFG信号がある決まった回数、レーザポリゴンモータ制御部27に出力される。レーザポリゴンモータ制御部27算出手段は、入力されたFG信号の入力回数を積算しておくことにより、概略のポリゴンモータの駆動時間を算出することが可能である。CPU28は、レーザポリゴンモータ制御部27からポリゴンモータの駆動時間に関する情報を入力される。また、CPU28は、不図示のタイマ計測手段によりポリゴンモータの停止時間を計測する。[偏昇温のプロファイル予測]図10に本実施例における光走査装置20の内部構成を示す。本実施例では、サーミスタセンサは光走査装置内に配置されておらず、瞳分割レンズ13と、ピントずれ検知センサ14から成るAFセンサが非画像領域像高に配置されている。その他、実施例1、2と同じ構成には同じ符号を付し、説明は省略する。ここで、ポリゴンモータ5が駆動と停止を繰り返した際に、走査レンズ7、8の両端部第一所定位置、第二所定位置における温度の時間変化を示した一例が図11aである。図11aは横軸が時間分min、縦軸が温度°Cであり、サーミスタセンサ15~18を実施例1、2と同様の位置に設置し、ポリゴンモータ5の駆動と停止を繰り返して、予め得たデータである。ここで、図11a中、実線は外気の温度変化を示し、点線はサーミスタセンサ15図中、単にサーミスタ15と記す、以下同様の温度変化、一点鎖線はサーミスタセンサ16の温度変化を示す。また、破線はサーミスタセンサ17の温度変化、二点鎖線はサーミスタセンサ18の温度変化を示す。このグラフから、ポリゴンモータ5の駆動の開始から停止までの時間である駆動時間、及び、ポリゴンモータ5の駆動の停止から開始までの時間である停止時間に応じて、走査レンズ両端部の温度差も変化することがわかる。サーミスタセンサ17、18及びサーミスタセンサ15、16の温度勾配は、ポリゴンモータ5の回転方向やモータ回転による気流の影響により、機種毎に異なる。このようなポリゴンモータ5の駆動条件による走査レンズ7、8の温度変化データを様々な条件で予め計測しておけば、ポリゴンモータ5の駆動時間及び停止時間からある程度の走査レンズ7、8の偏昇温のプロファイル予測が可能となる。即ち、ある条件におけるポリゴンモータ5の駆動時間及び停止時間に基づいて、走査レンズ7、8の温度を推定し両端部の温度差、即ち両端部像高における温度差を推定することが可能となる。そしてこの予測変換データを予めCPU28の不図示のメモリ等第一保持手段に保持しておく。即ち、ポリゴンモータ5の駆動時間及び停止時間と、走査レンズ7、8の両端部の温度差と、を対応付けた情報をメモリ等に保持しておく。これにより、図10のように、光走査装置内にサーミスタセンサを設けない構成で、後述する方法を用いてピント補正を行うことが可能となる。尚、本実施例の偏昇温のプロファイル予測に関するデータの計測は、予め、例えば光走査装置の設計時や組み立て時に行う。[ピントずれ補正処理]本実施例のピントずれ補正を達成するための光走査装置20の制御ブロック図を図11bに、主走査及び副走査方向のピント補正フローチャートを図12a、図12bに示し、その補正処理を説明する。尚、図11bのブロック図において、実施例1、2で説明した図6のブロック図と異なる点は、図6のサーミスタセンサ15~18を備えていない点である。また、CPU28の不図示のメモリには、走査レンズの偏昇温のプロファイル予測の予測変換データが保持されている点である。また、レーザポリゴンモータ制御部27が算出したポリゴンモータ5の駆動時間に関する情報はCPU28に出力され、CPU28は例えば不図示のメモリ等にポリゴンモータ5の駆動時間に関する情報を記憶する。また、CPU28はポリゴンモータ5の停止時間に関する情報を不図示のタイマ等を参照し、不図示のメモリ等に記憶する。ここでの処理はCPU28による制御で実行される。その他、実施例1、2と同じ構成には同じ符号を付し、説明は省略する。主走査方向のピントずれの補正処理図12aのフローチャートにおいて、S301、S303~S305の処理は、実施例1で説明した図7aの処理と同様であるため、説明を省略する。S302でCPU28は、ポリゴンモータ5の駆動時間及び停止時間を不図示のメモリ等から読み出し、上述した予測変換データを用いて任意像高の走査レンズの偏昇温のプロファイルを予測する、即ち、任意像高の走査レンズの温度を推定する。そしてCPU28は予測した偏昇温のプロファイルから走査レンズ7、8の両端の温度差を求め、求めた温度差から相対差xを求める。CPU28は、これらのデータに基づいて、任意の測定像高におけるピント位置を、実施例1に記載の方法に従って検知する。そしてCPU28は、それらの像高におけるピントずれ量を求める。実施例1で説明したように、ピントずれ検知センサ14の検知の結果出力されたピントずれデータ信号により、ピントずれ検知像高におけるピントずれ量aが得られる。一方、ポリゴンモータ5の駆動時間及び停止時間から予測変換データを用いて走査レンズの任意像高例えば両端部像高の温度差がわかるので、相対差xを求めることができる。そして、式1よりピント位置ずれbを求めることができる。副走査方向のピントずれの補正処理図12bの副走査方向のピントずれの補正処理S401~S405は、図12aのS301~S305の処理と同様であるため、説明を省略する。ただし、図12aでの主走査との文言を、図12bでは副走査と読み替える。本実施例の構成では、実施例1、2のサーミスタセンサを用いた場合と比較して、複数像高におけるピントずれ量の検知精度は低下するおそれがある。しかしながら、ポリゴンモータの駆動条件による走査レンズの温度変化データのばらつきが少なければ、実施例1、2と同様の効果を得ることができる。またサーミスタセンサがない構成であるため、コストを削減できる。尚、サーミスタセンサを設けず、偏昇温のプロファイル予測からピントずれ量を求める構成は、初期状態から像面湾曲がある場合の実施例2についても適用可能であり、同様の効果を奏する。以上、本実施例によれば、簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現することができる。"