被検レンズの入射側に設けられた照明光学系と、前記被検レンズの射出側に設けられた計測光学系とを備え、前記照明光学系は、開閉自在な開口絞りを有し、前記照明光学系は、前記開口絞りと前記被検レンズの入射瞳面とを光学的共役関係の位置に調整するように、照明光学系の光軸に沿って移動自在であることを特徴とする波面収差測定装置。請求項1記載の波面収差測定装置において、前記照明光学系は、投影レンズを有し、前記投影レンズと他の照明光学系の構成部材とは、照明光学系の光軸に沿って相対的に移動自在であることを特徴とする波面収差測定装置。請求項1又は請求項2記載の波面収差測定装置において、前記計測光学系は、前記被検レンズの光軸に沿って移動自在であることを特徴とする波面収差測定装置。請求項1又は請求項2記載の波面収差測定装置において、前記計測光学系は、前記被検レンズの光軸に沿って移動自在な波面センサを有することを特徴とする波面収差測定装置。請求項1又は請求項2記載の波面収差測定装置において、前記開口絞り及び前記被検レンズの入射瞳面に対し光学的共役関係の位置に設けられた撮像素子を有することを特徴とする波面収差測定装置。請求項5記載の波面収差測定装置において、前記開口絞り及び前記被検レンズの入射瞳面に対し光学的共役関係の位置に設けられたレンズアレイを有することを特徴とする波面収差測定装置。被検レンズの入射側に設けられた照明光学系と、前記被検レンズの射出側に設けられた計測光学系と、を備え、前記照明光学系は、開閉自在な開口絞りを有し、前記計測光学系及び前記被検レンズは、前記開口絞りと前記被検レンズの入射瞳面とを光学的共役関係の位置に調整するように、被検レンズの光軸に沿って移動自在であることを特徴とする波面収差測定装置。請求項7記載の波面収差測定装置において、前記計測光学系は、前記被検レンズの光軸に沿って移動自在な波面センサを有することを特徴とする波面収差測定装置。被検レンズの入射側に設けられた照明光学系と、前記被検レンズの射出側に設けられた計測光学系とを備え、前記照明光学系は、開閉自在な開口絞りを有し、前記計測光学系は、前記開口絞りと前記被検レンズの入射瞳面とを光学的共役関係の位置に調整するように、被検レンズの光軸に沿って移動自在な波面センサを有することを特徴とする波面収差測定装置。請求項9記載の波面収差測定装置において、前記計測光学系は、前記被検レンズの光軸に沿って移動自在であることを特徴とする波面収差測定装置。請求項1乃至2、請求項7乃至10のいずれか一項記載の波面収差測定装置において、前記計測光学系は、前記照明光学系に対し直線状に配設されることを特徴とする波面収差測定装置。請求項1乃至2、請求項7乃至10いずれか一項記載の波面収差測定装置において、前記計測光学系は、前記照明光学系に対し傾斜して配設されることを特徴とする波面収差測定装置。複数のレンズ部品を有するレンズ系の製造方法であって、レンズ鏡筒内に前記複数のレンズ部品を配置して前記レンズ系を組立て、組み立てた前記レンズ系の波面収差を請求項1記載の波面収差測定装置により測定し、測定結果より前記レンズ系の良否を判定するレンズ系の製造方法。しかしながら、開口絞りを最小に絞るために、被検レンズ内の開口絞りを動作させると、開口絞りの駆動により、被検レンズの重心が移動したり、レンズ部分の変形等の影響が発生し、投影される開口の形状と位置の測定結果に誤差が生じる可能性がある。その結果、波面収差の測定結果に誤差が生じる可能性がある。本願発明はこのような事情に鑑みてなされたものであって、測定結果の誤差を抑制することができる波面収差測定装置を提供することを目的とする。本願発明の第一態様は、被検レンズの入射側に設けられた照明光学系と、前記被検レンズの射出側に設けられた計測光学系と、を備え、前記照明光学系は、開閉自在な開口絞りを有し、前記照明光学系は、前記開口絞りと前記被検レンズの入射瞳面とを光学的共役関係の位置に調整するように、照明光学系の光軸に沿って移動自在であることを特徴とする波面収差測定装置を提供する。本願発明の第二態様は、被検レンズの入射側に設けられた照明光学系と、前記被検レンズの射出側に設けられた計測光学系と、を備え、前記照明光学系は、開閉自在な開口絞りを有し、前記計測光学系及び前記被検レンズは、前記開口絞りと前記被検レンズの入射瞳面とを光学的共役関係の位置に調整するように、被検レンズの光軸に沿って移動自在であることを特徴とする波面収差測定装置を提供する。本願発明の第三態様は、複数のレンズ部品を有するレンズ系の製造方法であって、レンズ鏡筒内に前記複数のレンズ部品を配置して前記レンズ系を組立て、組み立てた前記レンズ系の波面収差を本願発明の第一態様に係る波面収差測定装置により測定し、測定結果により前記レンズ系の良否を判定するレンズ系の製造方法を提供する。本願発明によれば、測定結果の誤差を抑制することができる波面収差測定装置を提供することができる。次に、本願発明の実施の形態を示す図面に基づき、波面収差測定装置をさらに詳しく説明する。なお、便宜上、機械的電気的な駆動部分の図示を省略した。また同一の機能を奏する部分には同一の符号を付して重複した説明を省略する。図1A、1Bは、波面収差測定装置1の一実施の形態を示す。波面収差測定装置1は、照明光学系10と計測光学系20とからなる。照明光学系10と計測光学系20の間に検査対象の被検レンズ3が配置され、被検レンズ3の波面収差を測定する。上記照明光学系10は、ファイバ11により導かれた光源12と、レンズ13と、フィルタ14と、開口絞り15と、レンズ16と、絞り17と、投影レンズ18とからなり、被検レンズ3の入射側に直線状に配設される。上記照明光学系10は光軸Aに沿って移動自在である。また、上記投影レンズ18は光軸Aに沿って移動自在である。上記開口絞り15は光軸Aに対し垂設され、開閉自在である。上記開口絞り15の開口は任意の直径に設定可能である。上記絞り17は、投影レンズ18の前側焦点に配置される。投影レンズ18の後側焦点は被検レンズ3の入射瞳に合致される。また、上記開口絞り15は上記レンズ16の前側焦点に配置される。上記絞り17は上記レンズ16の後側焦点に配置される。さらに上記開口絞り15は上記レンズ13の後側焦点に配置される。これにより、上記開口絞り15と上記被検レンズ3の入射瞳とは光学的共役関係となり、被検レンズ3で上記絞り17の像虚像が後述する像面絞り21の位置に形成される。なお、上記被検レンズ3の入射瞳は、被検レンズ3の開口絞り35を光学的に投影した位置になっている。また被検レンズ3の開口絞り35は開放されたままになっている。上記計測光学系20は、像面絞り21と、対物レンズ22と、第1リレーレンズ23と、フィルタ絞り24と、第2リレーレンズ25と、シャックハルトマン型の波面センサ26と、切り替えミラー27と、撮像素子28とからなり、被検レンズ3の射出側に上記各部が直線状に配設される。上記波面センサ26は、マルチレンズアレイ26a及び撮像素子26bとからなる。上記マルチレンズアレイ26aは、レンズエレメント図示省略を二次元状に多数隣接して配列してなる。上記各レンズエレメントの各微小開口図示省略は光軸Aに対し直交に設けられる。上記各レンズエレメントの微小開口は、夫々、正の屈折力を有し、例えば外周辺が4個の四角形状体に形成される。上記レンズエレメントは、例えば光軸方向に平行する面の断面形状が入射面のみ上記微小開口の全部にわたって凸弧状に盛り上げられて形成され、外周辺がいずれも曲線からなる。そして対向する外周辺が夫々外側に向かう凸弧状及びこれに対応する内側に向かう凹弧状に形成され、他の対向する外周辺が夫々外側に向かう凸弧状及びこれに対応する内側に向かう凹弧状に形成される。上記マルチレンズアレイ26aはこのように素子の形状が同一のレンズエレメントを二次元状に多数隣接して配列してなるため、各レンズエレメント間は隙間無く接している。撮像素子26bは電荷結合素子CCDからなり、上記のようなマルチレンズアレイ26aの焦点に設けられる。上記マルチレンズアレイ26aと上記撮像素子28とは、上記切替えミラー27により光路が直角に切り替えられるため、光学的共役関係の位置にある。上記フィルタ絞り24は光束の周波数を適宜に制限する。被検レンズ3は、図4に詳しく示すように、多数のレンズ31、32、33、34の群からなり、固有の開口絞り35を備える。図4において、Aは入射光の主光線、Bは上記レンズ群31~34の光軸、3aは被検レンズ3の入射瞳の中心、3bは被検レンズ3の射出瞳の中心、35aは開口絞りの中心を示す。照明光学系10において、光束の光波Laは、レンズ13にてコリメートされ、開口絞り15にて開口の調節をされ、レンズ16にて集光された後、絞り17に照明される。絞り17に照明された光波Laは、投影レンズ18を経て被検レンズ3に入射し、絞り17の像を像面絞り21の位置に形成する。計測光学系20に入射された光波Lbは、対物レンズ22により平行光束にコリメートされ、第1リレーレンズ23及び第2リレーレンズ25により拡大されて波面センサ26に投影される。第1リレーレンズ23と第2リレーレンズ25との間には中間像面が形成されるが、フィルタ絞り24により光束の周波数が適宜に制限される。波面センサ26では、マルチレンズアレイ26aにて分割集光される。この分割集光された光波Lbは、波面収差に応じた位置で結像され、撮像素子26bにてマルチレンズアレイ26aそれぞれの結像位置Mが計測される。この計測データはデータ記憶装置図示省略で記録され、さらに分析装置図示省略で解析されて表示装置図示省略に表示される。ところで、図1Aに示す開口絞り15は、被検レンズ3の開口絞り35に対し光学的共役関係の位置にない状態である。このため、光波Laは被検レンズ3を通過後、投影レンズ18及び被検レンズ3の収差を含んだ波面が上記計測光学系20に入射する。よって撮像素子26bにて計測される結像位置は理想波面M0に対しずれるので波面収差M ́となって表われるが、このずれ量は被検レンズ3の波面収差を正確に表していない。そこで、上記ずれを補正すべく、投影される絞り17の位置を投影レンズ18の射出瞳の中心に合致させる必要がある。図2は、この調整を詳しく示す図であり、図2Aで示すように、まず投影レンズ18を光軸A方向に移動させて投影位置を決定後、照明光学系10の全体を光軸A方向に移動させ、図2Bに示すように被検レンズ3の入射瞳位置35に投影レンズ18の射出瞳Eがくるように調整する。このとき、必要に応じて、照明光学系10の全体を光軸Aと垂直な方向に移動させて調整する。これにより、開口絞り15を被検レンズ3に対し光学的共役関係の位置に調整することができる。かかる状態を示すのが図1B、図2Bである。この場合、被検レンズ3を通過した光波Lbの結像位置Mは理想波面M0に一致する。これにより、光軸Aに沿って入射する光波Laによって被検レンズ3で生じる波面収差を測定することができる。なお、図1Bにおいて、Cは開口絞り15にて制限されて入射した最外周の光束を表わす。光波Lbの光束の中心Mを正確に知るために開口絞り15を絞り込む。そして、開口絞り15の像を撮像素子28で撮像し、その形状と位置を正確に把握する。これにより、被検レンズ3の絞り35を絞ることなく光束の中心Mを正確に捕らえることができる。したがって、測定結果の誤差を抑制しつつ波面収差を測定することができる。図3A、3Bは、波面収差測定装置1の他の実施形態を示し、被検レンズ3の光軸Bに対して傾斜した方向に入射する光束の波面収差を測定する場合である。この場合、計測光学系20は光軸Aに対して傾斜して設置されるので、図4に示すように、照明光学系10の光軸Aと被検レンズ3の光軸Bの交点である被検レンズ3の入射瞳の中心3aと、被検レンズ3の射出瞳の中心3bとが被検レンズ3の光軸B方向にずれている。その他は図1の実施の形態の場合と同様であるので説明を省略する。なお、図3Aにおいて、Dは被検レンズ3の入射瞳に向かうべき光束の中心を表わす。波面収差測定装置は上記した実施の形態に制限されることはない。例えば、移動自在とする構成部分は照明光学系10ではなく、計測光学系20とすることができる。この場合、照明光学系10は固定であり、開口絞り15のみ開閉自在とされる。そして計測光学系20を光軸Bに沿って移動自在とし、開閉自在の開口絞り15と相まって、開口絞り15と被検レンズ3の入射瞳とを光学的共役関係の位置に調整する。この場合、さらに波面センサ26を光軸Bに沿って移動自在とし、開口絞り15と被検レンズ3の入射瞳とを光学的共役関係の位置に調整することができる。また固定の照明光学系10に対し、計測光学系20の波面センサ26を光軸Bに沿って移動自在とし、開閉自在の開口絞り15と相まって、開口絞り15と被検レンズ3の入射瞳とを光学的共役関係の位置に調整することが考えられる。この場合においても、さらに照明光学系10を光軸Aに沿って移動自在とし、開口絞り15と被検レンズ3の入射瞳とを光学的共役関係の位置に調整してもよい。さらに照明光学系10の全部又は一部具体的には投影レンズ18と、計測光学系20の全部又は一部具体的には波面センサ26とをいずれも移動自在とし、開口絞り15と被検レンズ3入射瞳とを光学的共役関係の位置に合致させることもできる。この場合は被検レンズの射出瞳の形状と位置をさらに正確に計測することができる。このように本実施の形態によれば、被検レンズの開口絞りを駆動させずに、被検レンズの射出瞳の正確な形状と位置を計測することができる。また、近年の電化されたカメラ用レンズなどでは、開口絞りを開閉するために電気的な動作を行なわせる必要があるが、駆動用の電気回路や外部接点を省略することができる。また、照明光学系の絞りの開閉と、照明光学系の全部又は一部あるいは計測光学系の全部又は一部を光軸に沿って移動することより、被検レンズの射出瞳の形状と位置を計測することができる。また、被検レンズの開口絞りを開閉させる必要がないので、誤差要因の少ない測定方法となるから、より精密な測定となる。よって被検レンズの射出瞳の正確な形状と位置を計測することができる。マルチレンズアレイ26aを構成するレンズエレメントの形状は任意である。また、撮像素子としては、CCDの外に、撮像管、相補型金属酸化膜半導体CMOSが考えられる。以下に、図5を参照して複数のレンズ部品を有するレンズ系の製造方法の概略を説明する。まず、レンズ鏡筒内に複数のレンズ部品を配置して、レンズ系を組み立てる。組み立てたレンズ系の波面収差を図1A、1Bに示す波面収差測定装置を用いて測定する。測定結果により組み立てたレンズ系の良否を判定する。本願発明による波面収差測定装置は、例えば望遠鏡、カメラ、顕微鏡の対物レンズ等の光学機器一般に利用することができる。