"パルス法核磁気共鳴P-NMR装置を用いるゴム材料の検査方法であって、Carr-Purcell-Meiboom-GillCPMG法によりゴムのスピン-スピン緩和時間T2を測定し、得られたT2緩和曲線自由誘導減衰曲線を、下記式1により緩和時間の短いT2M成分と、緩和時間の長いT2L成分とに分割し、上記T2L成分の緩和時間緩和時間T2Lから破断伸びEbを予測することを特徴とするゴム材料の検査方法。式中、T2Mは緩和時間の短い成分の緩和時間、T2Lは緩和時間の長い成分の緩和時間、A2Mは緩和時間の短い成分のt=0時の強度、A2Lは緩和時間の長い成分のt=0時の強度、tは観測時間である。検査対象のゴム材料と同種のゴム材料を標準試料とし、該標準試料について架橋状態劣化の状態の異なる2以上の条件でP-NMR及び破断伸びEbを測定し、得られた緩和時間T2Lと破断伸びEbとから検量線を作成した後、検査対象のゴム材料についてP-NMRを測定して得た緩和時間T2Lから、上記検量線に基づいて破断伸びEbを予測する請求項1記載のゴム材料の検査方法。パルス法核磁気共鳴P-NMR装置を用いるゴム材料の検査方法であって、Carr-Purcell-Meiboom-GillCPMG法によりゴムのスピン-スピン緩和時間T2を測定し、得られたT2緩和曲線自由誘導減衰曲線を、下記式1により緩和時間の短いT2M成分と、緩和時間の長いT2L成分とに分割し、上記T2M成分の緩和時間緩和時間T2Mから硬度Hdを予測することを特徴とするゴム材料の検査方法。式中、T2Mは緩和時間の短い成分の緩和時間、T2Lは緩和時間の長い成分の緩和時間、A2Mは緩和時間の短い成分のt=0時の強度、A2Lは緩和時間の長い成分のt=0時の強度、tは観測時間である。検査対象のゴム材料と同種のゴム材料を標準試料とし、該標準試料について架橋状態劣化の状態の異なる2以上の条件でP-NMR及び硬度Hdを測定し、得られた緩和時間T2Mと硬度Hdとから検量線を作成した後、検査対象のゴム材料についてP-NMRを測定して得た緩和時間T2Mから、上記検量線に基づいて硬度Hdを予測する請求項3記載のゴム材料の検査方法。本発明は、上記事情に鑑みなされたもので、迅速かつ簡便にゴムの架橋状態劣化の状態を評価することができるゴム材料の検査方法を提供することを目的とする。本発明者は、上記の課題を解決するために鋭意検討した結果、シーケンスとしてCarr-Purcell-Meiboom-GillCPMG法を用いたP-NMR測定によれば、ソリッドエコー法を用いる従来の評価方法に比較して、ゴムの分子構造の状態を良好に反映したデータT2緩和曲線が得られることを知見した。そこで、本発明者は、CPMG法による測定で得た上記T2緩和曲線を緩和時間の長いT2L成分と緩和時間の短いT2M成分とに分割し、得られた緩和時間とゴム材料の物性との関係について更に検討を進めた。その結果、T2L成分の緩和時間以下、緩和時間T2Lと表記することもあるが破断伸びEbに対して極めて高い相関を示すこと、そしてT2M成分の緩和時間以下、緩和時間T2Mと表記することもあるが硬度Hdに対して極めて高い相関を示すことを知見し、更に、これらのパラメータを利用することでゴムの架橋状態、即ち劣化の状態を迅速かつ簡便に予測し得ることを見出し、本発明に到達した。即ち、本発明は下記の[1]~[4]の発明を提供する。[1]パルス法核磁気共鳴P-NMR装置を用いるゴム材料の検査方法であって、Carr-Purcell-Meiboom-GillCPMG法によりゴムのスピン-スピン緩和時間T2を測定し、得られたT2緩和曲線自由誘導減衰曲線を、下記式1により緩和時間の短いT2M成分と、緩和時間の長いT2L成分とに分割し、上記T2L成分の緩和時間緩和時間T2Lから破断伸びEbを予測することを特徴とするゴム材料の検査方法。式中、T2Mは緩和時間の短い成分の緩和時間、T2Lは緩和時間の長い成分の緩和時間、A2Mは緩和時間の短い成分のt=0時の強度、A2Lは緩和時間の長い成分のt=0時の強度、tは観測時間である。[2]検査対象のゴム材料と同種のゴム材料を標準試料とし、該標準試料について架橋状態劣化の状態の異なる2以上の条件でP-NMR及び破断伸びEbを測定し、得られた緩和時間T2Lと破断伸びEbとから検量線を作成した後、検査対象のゴム材料についてP-NMRを測定して得た緩和時間T2Lから、上記検量線に基づいて破断伸びEbを予測する[1]記載のゴム材料の検査方法。[3]パルス法核磁気共鳴P-NMR装置を用いるゴム材料の検査方法であって、Carr-Purcell-Meiboom-GillCPMG法によりゴムのスピン-スピン緩和時間T2を測定し、得られたT2緩和曲線自由誘導減衰曲線を、下記式1により緩和時間の短いT2M成分と、緩和時間の長いT2L成分とに分割し、上記T2M成分の緩和時間緩和時間T2Mから硬度Hdを予測することを特徴とするゴム材料の検査方法。式中、T2Mは緩和時間の短い成分の緩和時間、T2Lは緩和時間の長い成分の緩和時間、A2Mは緩和時間の短い成分のt=0時の強度、A2Lは緩和時間の長い成分のt=0時の強度、tは観測時間である。[4]検査対象のゴム材料と同種のゴム材料を標準試料とし、該標準試料について架橋状態劣化の状態の異なる2以上の条件でP-NMR及び硬度Hdを測定し、得られた緩和時間T2Mと硬度Hdとから検量線を作成した後、検査対象のゴム材料についてP-NMRを測定して得た緩和時間T2Mから、上記検量線に基づいて硬度Hdを予測する[3]記載のゴム材料の検査方法。本発明の検査方法は、あらゆるゴム材料について、検査対象の形状に影響されることなく迅速かつ簡便に劣化の状態を評価することができるものである。本発明の検査方法を採用することにより、特にタイヤ、ゴムクローラ、コンベアベルト、防振ゴム等のゴム製品が使用される装置等の効率的かつ適切なメンテナンスを行うための一助となり、運用面における経済性及び安全性の向上に貢献することができる。本発明はパルスNMRP-NMR法により測定される緩和時間T2と物性値との間の相関関係に基づいてゴム材料の状態を検査する方法である。以下、実施例に沿ってその詳細を具体的に説明する。P-NMR装置は、ゴムや樹脂等のポリマー分子の運動性をポリマー鎖中の水素原子の運動性緩和時間から評価するための装置である。本発明では、そのシーケンスとして、従来、ゴムの架橋状態の分析に多く採用されていたソリッドエコー法ではなく、Carr-Purcell-Meiboom-GillCPMG法を用いる。なお、本発明で用いるP-NMR装置は、シーケンスとしてCPMG法を使用するものであれば特に制限されない。本発明の検査方法では、好適な検査対象として、上記の通り、タイヤ、ゴムクローラ、コンベアベルト、防振ゴムといった使用中のゴム製品が挙げられるが、ここでは検査対象を防振ゴムとした場合を例に挙げて、該防振ゴムと同種のゴム材料を標準試料としてP-NMR、破断伸びEb及び硬度Hdを測定し、得られた測定結果から検量線を作成する過程について説明する。なお、本発明において同種のゴム材料とは、少なくともゴム成分の種類及び配合比率、並びに架橋系加硫系の配合が同じであることを意味し、更に好ましくは充填材の配合量も同じであることを意味する。防振ゴム用ゴム組成物の配合を表1に示す。該ゴム組成物は、常法に従って混練りした後、通常の条件で加硫成形して長さ100mm×幅100mm×厚さ2mmのスラブシートとした。次いで、このスラブシートを表2に示す条件で加熱処理したものを標準試料とし、該シートから各々の物性試験に応じた試験片を作製した。なお、表1に示した配合は、本発明の検査方法を説明するための一例として示したものであるが、本発明はこれに制限されるものではない。また、表2に示した加熱条件も、本発明の検査方法を説明するための一例として示したものであり、これに限定されるものではなく、検査対象の種類や使用環境等に応じて適宜設定し得るものである。上記表1に記載した各成分の詳細は以下の通りである。NR:RSS1カーボンブラック:FEF級カーボンブラックステアリン酸:新日本理化社製ステアリン酸50S亜鉛華:東邦亜鉛社製銀嶺SRワックス:RheinChemie社製Antilux654老化防止剤RD:2,2,4-トリメチル-1,2-ジヒドロキノリン重合体、大内新興化学工業株製ノクラック224老化防止剤6PPD:N-1,3-ジメチルブチル-N’-フェニル-p-フェニレンジアミン、大内新興化学工業株製ノクラック6Cオイル:パラフィン系プロセスオイル硫黄:鶴見化学工業株製粉末硫黄加硫促進剤TBT:大内新興化学工業株製ノクセラーTBT加硫促進剤NS:大内新興化学工業株製ノクセラーNS上記で作製した各条件表2参照の標準試料についてP-NMRを測定する。ここでは、上記の各スラブシートを約5mm角にカットしたものを測定用サンプルとし、下記のP-NMR装置に供した。測定で使用した具体的な装置及び測定条件は以下の通りである。なお、測定装置や測定条件は、検査対象や測定環境等に応じて適宜選定されるものであり、特に限定されるものではない。装置:据置型P-NMR装置、Burkerminispecシーケンス:CPMGScans:64RecycleDelay:0.5Gain:75dB90-180PulseSeparation:0.04msecDatapoint:500測定温度:40°C図1に測定結果の一例として、加熱前加熱時間0時間のサンプルについて得られたT2緩和曲線を示す。ここで図1に示されたT2緩和曲線は下記式1で表される。式中、T2Mは緩和時間の短い成分の緩和時間、T2Lは緩和時間の長い成分の緩和時間、A2Mは緩和時間の短い成分のt=0時の強度、A2Lは緩和時間の長い成分のt=0時の強度、tは観測時間である。上記式1について更に詳述すると、緩和時間の長い成分であるT2L成分は、を指し、一方、緩和時間の短い成分であるT2M成分は、を指す。即ち、図1のT2緩和曲線は、上記式1でフィッティングすることにより緩和時間の長いT2L成分及び緩和時間の短いT2M成分の2成分に分割することができる。なお、本発明では、上記式1によるフィッティングの際に両成分の緩和時間T2L及び緩和時間T2Mは任意の値とすることができ、特に制限されるものではないが、T2M成分では緩和時間T2Mを0.1~5msとし、T2L成分では緩和時間T2Lを2ms以上とし、かつ上記T2Mより長い時間とすることが推奨される。上記式1に基づいてフィッティングを行い、図1中のT2緩和曲線をT2L成分とT2M成分とに分割した結果をそれぞれ図1に示した。また、得られた上記両成分の緩和時間を表3に示した加熱時間0時間の欄を参照。更に、上記の加熱処理を施した各サンプルのT2緩和曲線についても、上記の方法に従ってT2L成分及びT2M成分に分割した。得られた緩和時間を表3に示した。表3の結果から、緩和時間T2Lは、時間の経過に伴って減少することが確認された。一方、緩和時間T2Mは、加熱を開始してから一度減少した後、時間の経過に伴って増加する傾向が確認された。なお、上記の緩和時間T2L及び緩和時間T2Mの変化の傾向は、通常、ゴム材料を構成するポリマー種により異なるものであり、ここでは特にT2M成分において、標準試料に含まれるNRに特有の変化が確認された。また、上記の加熱処理を施した各サンプルについて破断伸びEb及び硬度Hdを測定し、その結果を表4に示した。ここで、破断伸びEbの測定は、JISK6251に準拠し、ダンベル状3号型試験片を作製して行ったものであり、硬度Hdは、JISK6253に準拠し、タイプAデュロメータを用いて測定した値である。表4の結果から、破断伸びEbは、時間の経過に伴って減少することが確認された。一方、硬度Hdは、加熱を開始してから一度減少した後、時間の経過に伴って増加する傾向が確認された。なお、上記の破断伸びEb及び硬度Hdの経時変化は、表3の緩和時間T2L及び緩和時間T2Mの変化と同様に、通常はゴム材料を構成するポリマー種により異なるものである。ここで表3及び表4に示した物性値及び緩和時間の変化の傾向を見ると、緩和時間T2Lと破断伸びEb、そして緩和時間T2Mと硬度Hdとの間に相関関係があることが確認できる。そして、上記で得た物性値を緩和時間に対してプロットすることにより、両者の関係を示す検量線を作成することができる。図2に破断伸びEbを緩和時間T2Lに対してプロットしたグラフを、図3に硬度Hdを緩和時間T2Mに対してプロットしたグラフをそれぞれ示した。その結果、いずれも良好な直線関係を示しており、緩和時間T2Lの値が破断伸びEbに対して極めて高い相関を示すこと、そして緩和時間T2Mの値が硬度Hdに対して極めて高い相関を示すことが確認された。このように、検査対象のゴム材料と同種の材料標準試料について、P-NMR測定から得られる緩和時間と破断伸びEb及び硬度Hdとの関係を検量線で把握しておくことにより、検査対象についてP-NMRを測定するだけで、これらの物性値を迅速かつ簡便に予測することができる。即ち、本発明の検査方法を採用することにより、ゴム製品の劣化の状態をより容易に把握することができる。なお、本発明では、破断伸びEb及び緩和時間T2L、硬度Hd及び緩和時間T2Mのいずれの組み合わせからでもゴム製品の劣化の状態を把握できるが、必ずしも単独で行う必要はなく、両者から得られる結果を組み合わせることでより詳細に把握することができる。以上のように、シーケンスとしてCPMG法を用いたP-NMR装置による測定から得られたT2緩和曲線を解析して、緩和時間の短いT2M成分と緩和時間の長いT2L成分とに分割し、得られた緩和時間T2Lを破断伸びEbに、そして緩和時間T2Mを硬度Hdに相関させることによりゴムの劣化状態を迅速かつ簡便に評価することが可能になる。そして、本発明の検査方法は、あらゆるゴム製品に対して適用することができるものであり、特にタイヤ、ゴムクローラ、コンベアベルト、防振ゴム等の劣化の状態を評価する場合に好適に採用し得、これらのゴム製品が使用される製品装置等の効率的かつ適切なメンテナンスを行うための一助となり、運用面における経済性及び安全性の向上に貢献することができる。また、本発明の検査方法は、検査対象の形状に影響されず、劣化の状態がひどく、物性試験用の試験片が作製できないほどぼろぼろであっても実施できるため、汎用性が非常に高いものである。"