"X線を発生するX線管と、チャンネル方向に沿って配列された複数の検出素子群を有するX線検出器と、前記X線管と前記X線検出器とを回転軸回りに回転可能に支持する回転フレームと、前記X線検出器上でのX線照射範囲の位置を切替えるための照射範囲切替機構と、前記複数の検出素子群の各々がビュー毎に順番にX線照射範囲に含まれるように前記照射範囲切替機構を制御する切替制御部と、前記複数の検出素子群のうちの前記X線照射範囲に含まれる検出素子群を介して投影データをビュー毎に選択的に収集する収集部と、前記収集された投影データに基づいて画像データを再構成する再構成部と、を具備するX線コンピュータ断層撮影装置。前記照射範囲切替機構は、前記X線管の陽極上の焦点位置を電磁的に切替可能な電磁偏向機構を有し、前記切替制御部は、X線の焦点が前記複数の焦点位置の各々にビュー毎に順番に位置するように前記電磁偏向機構を制御する、請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。前記照射範囲切替機構は、前記チャンネル方向に沿うX線照射範囲を制限するためのコリメータと、前記コリメータを前記チャンネル方向に沿って機械的にスライド可能に支持するコリメータ支持機構とを有し、前記切替制御部は、前記チャンネル方向に沿って配列された複数の位置に前記コリメータがビュー毎に順番に配置されるように前記コリメータ支持機構を制御する、請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。前記収集部は、前記複数の検出素子群にそれぞれ含まれる複数の検出素子に選択的に接続され、前記接続された検出素子からの電気信号の積分信号を生成する積分器と、前記複数の検出素子と前記積分器との間の接続を切替える切替器と、前記生成された積分信号から前記投影データに変換するA/D変換器と、を有し、前記切替器は、前記X線照射範囲に含まれる検出素子群内の検出素子と前記積分器とを接続し、前記X線照射範囲に含まれない検出素子群内の検出素子と前記積分器とを切り離す、請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。前記複数の検出素子群と同数の隣り合う複数のビューの投影データを結合し、単一のビューの投影データを生成する結合部をさらに備える、請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。X線を発生するX線管と、チャンネル方向に沿って配列された複数の検出素子群を有するX線検出器と、前記X線管と前記X線検出器とを回転軸回りに回転可能に支持する回転フレームと、前記X線検出器からの電気信号に基づいて投影データを生成するデータ収集部と、前記生成された投影データに基づいて画像データを再構成する再構成部と、を具備するX線コンピュータ断層撮影装置であって、前記データ収集部は、前記複数の検出素子群と同数の複数のDASを有し、前記複数のDASの各々は、前記複数の検出素子群にそれぞれ含まれる複数の検出素子に選択的に接続され、前記接続された検出素子からの電気信号に基づいて前記投影データを生成する、ことを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。目的は、製造コストの削減及びサイズ縮小を可能とするX線コンピュータ断層撮影装置を提供することにある。本実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置は、X線を発生するX線管と、チャンネル方向に沿って配列された複数の検出素子群を有するX線検出器と、前記X線管と前記X線検出器とを回転軸回りに回転可能に支持する回転フレームと、前記X線検出器上でのX線照射範囲の位置を切替えるための照射範囲切替機構と、前記複数の検出素子群の各々がビュー毎に順番にX線照射範囲に含まれるように前記照射範囲切替機構を制御する切替制御部と、前記複数の検出素子群のうちの前記X線照射範囲に含まれる検出素子群を介して投影データをビュー毎に選択的に収集する収集部と、前記収集された投影データに基づいて画像データを再構成する再構成部と、を具備する。以下、図面を参照しながら本実施形態に係わるX線コンピュータ断層撮影装置以下、X線CT装置と呼ぶ。を説明する。第1実施形態図1は、第1実施形態に係るX線CT装置の構成を示す図である。図1に示すように、X線CT装置1は、架台3とコンソール5とを備える。架台3は、円環又は円板状の回転フレーム11を搭載する。回転フレーム11は、X線管13とX線検出器15とを被検体P回りに回転可能に支持している。X線検出器15は、撮影領域を挟んでX線管13に対向する。回転フレーム11は、回転駆動部17に電気的に接続されている。回転駆動部17は、コンソール5内のスキャン制御部32による制御に従って回転フレーム11を回転軸Z軸回りに回転し、X線管13とX線検出器15とをZ軸回りに回転する。架台3には、ボアと呼ばれる開口が設けられている。ボアには、被検体Pが載置される天板がZ軸に沿って移動される。ボアの直径あるいは半径は、口径と呼ばれている。典型的には、ボア内の略円筒型の空間領域がFOVに設定される。ボアの中心軸とZ軸とは一致する。回転フレーム11には、回転角検出部19が取り付けられている。回転角検出部19は、回転フレーム11の回転角を磁気的に検出する磁気センサ又は光学的に検出する光センサにより実現される。ここで、X線管13が回転フレーム11上最も高い位置にある場合、回転角が0°、反対にX線管13が回転フレーム11上最も低い位置にある場合、回転角が180°であると規定する。回転角のデータは、コンソール5の入力部31を介してコンソール5内に供給される。X線管13は、高電圧発生部21に接続されている。X線管13は、高電圧発生部21から高電圧の印加を受けてX線を発生する。高電圧発生部21は、スキャン制御部による制御に従ってX線管13に高電圧を印加する。X線管13から発生されるX線は、円錐形に成形されたコーンビームX線であるとする。より詳細には、X線管13は、陰極と陽極とを有している。陰極は、フィラメントからなる。陰極は、高電圧発生部21からフィラメント電流の供給を受けて発熱し電子を発生する。陽極は、陽極の回転軸回りに高速に回転する。陰極と陽極との間は、高電圧発生部21により高電圧が印加されている。この高電圧により、陰極で発生された電子は、ビーム状に集束しながら加速され、回転中の陽極に衝突する。ビーム状の電子は、電子ビームと呼ばれている。電子ビームの陽極への衝突により、X線が発生する。電子ビームが衝突する陽極上の領域は、焦点と呼ばれている。X線管13には、電子ビーム偏向機構23が内蔵されている。電子ビーム偏向機構23は、陰極から陽極への電子ビームを電磁的に偏向させるための偏向コイルからなる。偏向コイルは、電子ビーム偏向制御部25からの電流供給を受けて電子ビームを電磁的に偏向させる。電子ビームの偏向により、焦点位置が陽極上でチャンネル方向に沿って変位される。偏向コイルは、焦点をチャンネル方向に沿って複数位置に順番に切替可能である。これら複数位置間で焦点が切替られることにより、X線検出器15の検出面上のX線照射範囲の位置がチャンネル方向に沿って切替えられる。このように、焦点位置を電磁偏向により切替える技術は、フライングフォーカスと呼ばれている。電子ビーム偏向制御部25は、X線の焦点が複数位置の各々にビュー毎に順番に位置するように電子ビーム偏向機構23を制御する。X線検出器15は、X線管13から発生され被検体Pを透過したX線を検出する。そしてX線検出器15は、検出されたX線の強度に応じた電荷量を有するアナログの電気信号フォトダイオードからの出力電流を発生する。X線検出器13には、データ収集部27が接続されている。図2は、X線検出器15の構造を示す図である。図2に示すように、X線検出器15は、2次元状に配列された複数の検出素子151を搭載する。例えば、複数の検出素子151は、Z軸を中心とした円弧に沿って配列される。この円弧に沿う検出素子151の配列方向はチャンネル方向と呼ばれる。チャンネルCh方向に沿って配列された複数の検出素子151は、検出素子列と呼ばれる。複数の検出素子列は、Z軸で示す列row方向に沿って配列される。また、X線のチャンネル方向の広がり方向はファン角γ方向と呼ばれ、X線の列方向Z軸方向の広がり角はコーン角α方向と呼ばれている。複数の検出素子151は、チャンネル方向に沿って配列された複数の検出素子群152のいずれかに区分されている。換言すれば、X線検出器15は、チャンネル方向に沿って配列された複数の検出素子群152を有している。各検出素子群152は、複数の検出素子151を有している。検出素子群152の数は、焦点位置数と同数に設定される。なお、X線管13の陽極上の焦点位置は、複数の検出素子群152のいずれかを含むように設定される。全ての焦点位置からのX線照射範囲が全検出素子群152を含むように、各焦点位置が設定される。データ収集部27は、スキャン制御部32による制御に従って、複数の検出素子群のうちのX線照射範囲に含まれる検出素子群を介して投影データをビュー毎に選択的に収集する。投影データは、コンソール5の前処理部33に供給される。なお、データ収集部27は、詳細は後述するが、複数のDASdataacquisitionsystemを有している。コンソール5は、入力部31、スキャン制御部32、前処理部33、投影データ結合部34、再構成部35、記憶部36、表示部37、操作部38、及びシステム制御部39を備える。スキャン制御部32は、本実施形態に特有のスキャンを実行するために、回転駆動部17、高電圧発生部21、電子ビーム偏向制御部25、及びデータ収集部27を制御する。例えば、スキャン制御部32は、CTスキャン中にX線管13からX線が発生されるように、高電圧発生部21を制御する。この際、スキャン制御部23は、複数の検出素子群の各々がビュー毎に順番にX線照射範囲に含まれるように電子ビーム偏向制御部25を制御する。また、スキャン制御部32は、X線照射範囲に含まれる検出素子群を介して投影データをビュー毎に収集するようにデータ収集部27を制御する。なお本実施形態におけるスキャン方式としては、投影データ収集のために回転フレーム11を1回転だけさせる方式にも、複数回転させる方式にも適用可能である。また、天板を移動させずに同一撮影領域を連続的にスキャンを繰り返すコンベンショナルスキャンにも、天板を移動させながら連続的にスキャンを繰り返すヘリカルスキャンにも適用可能である。前処理部33は、データ収集部27から供給された投影データに対数変換や感度補正等の前処理を施す。投影データ結合部34は、検出素子群数と同数の複数の隣り合うビューの投影データを結合し、単一のビューの投影データを生成する。再構成部35は、投影データに基づいて被検体に関する画像データを再構成する。記憶部36は、投影データや画像データを記憶する。また、記憶部36は、X線CT装置の制御プログラムを記憶している。表示部37は、再構成部35により発生された画像データをディスプレイに表示する。操作部38は、入力機器による操作者からの各種指令や情報入力を受け付ける。システム制御部39は、記憶部36に記憶されている制御プログラムを読み出してメモリ上に展開し、展開された制御プログラムに従って各部を制御する。以下、第1実施形態に係るX線CT装置1の動作例について説明する。なお、以下の説明を具体的に行うため、検出素子群数は、2つであるとする。この場合、X線検出器15は、チャンネル方向に沿って配列された2つの検出素子群、すなわち、第1検出素子群と第2検出素子群とを有している。第1検出素子群はX線検出器15からX線管13を見た場合、検出面の左半分の領域を占め、第2検出素子群はX線検出器15からX線管13を見た場合、検出面の右半分の領域を占める。検出素子群数が2つの場合、焦点位置数は、第1位置と第2位置との2つに設定される。フライングフォーカスにより焦点は第1位置と第2位置との間で電磁的に振動され、これに伴いコーンビームX線はチャンネル方向に振られる。図3は、従来例と本実施形態とにおける焦点位置、X線照射範囲、及び検出素子の出力値Iを示す図である。図3のaに示すように、従来の場合、コーンビームX線はX線検出面の全面に照射される。つまり、aの場合、X線照射範囲はX線検出器の全面をカバーする。図3のbに示すように、焦点が第1位置にある場合、コーンビームX線は、検出面の左領域に照射される。つまり、bの場合、X線照射範囲は第1検出素子群左領域をカバーし、第2検出素子群右領域をカバーしない。図3のcに示すように、焦点が第2位置にある場合、コーンビームX線は、X線検出面の右領域に照射される。つまり、cの場合、X線照射範囲は第2検出素子群右領域をカバーし、第1検出素子群左領域をカバーしない。第1位置と第2位置とは、被検体の被曝線量低減のため、両焦点位置からのX線照射範囲がオーバラップしないように設定される。なお、図3に示すように、コーンビームX線をチャンネル方向に沿って振っても、出力値Iの分布は変化しないため、本実施形態のためのキャリブレーションは必要ない。次にスキャン制御部32により行われるスキャンについて説明する。図4は、スキャン制御部32により行われるスキャンの概要を示す図である。スキャン中、X線管13はX線を発生しながら、一定の角速度でZ軸回りに回転する。電子ビーム偏向制御部25の制御のもと電子ビーム偏向機構23により、ビューvn毎に焦点位置が第1位置と第2位置とで交互に切替えられる。これにより、ビューvn毎にX線照射範囲が第1検出素子群左領域と第2検出素子群右領域とに交互に切替られる。スキャンにおいては、まず第1検出素子群にX線が照射されるとする。ここで、ビューvの添え字nは、ビューの番号を示す。nは整数である。例えば、ビューvk、vk1、vk2、vk3、の順番に投影データが収集される。なおM1はX線照射範囲が第1検出素子群にあることを示し、M2はX線照射範囲が第2検出素子群にあることを示している。各ビューvnにおいて収集される投影データは、片側の検出素子群のみのデータであり、再構成に利用する投影データとしては不完全である。そのため、投影データ結合部34により、隣り合うビューvnとビューvn1とが結合される。ここで、ビューvnとビューvn1との組合せを結合ビューcvnと呼ぶことにする。例えば、投影データ結合部34は、再構成に利用可能な投影データを生成するために、ビューvkの投影データとビューvk1の投影データとを結合し、結合ビューcvlの投影データを生成する。ビューvnは実測のビューであるが、結合ビューcvnは計算上のビューであると言える。良く知られているように、ビューは、架台回転時における投影データのサンプリング点に対応する。隣り合うビューの角度間隔は投影データのサンプリングピッチPSと呼ばれ、隣り合うビューの時間間隔はビューレートV[view/sec]と呼ばれる。ビューレートVは、従来のスキャン方式におけるビューレートの2倍に設定される。なお従来のスキャン方式とは、図3のaのように1つのビューにおいてX線を全検出面に照射し、チャンネル方向に関して投影データを一括して収集する方式である。また、隣り合う結合ビューの角度間隔は結合ビューの投影データのサンプリングピッチPCに対応し、隣り合う結合ビューの時間間隔は結合ビューレートに対応する。結合ビューレートは、従来のスキャン方式におけるビューレートに設定される。なおビューレートVの従来方式からの減少量は、検出素子群数に依存する。すなわち、本実施形態のように検出素子群数が2の場合、ビューレートVは従来に比して1/2に減少するが、検出素子群数がNの場合、ビューレートVは従来に比して1/Nに減少する。換言すれば、検出素子群数がNの場合、ビュー数は、結合ビュー数のN倍に設定される。例えば、検出素子群数が2であり、画像再構成に必要な数の結合ビュー数が1000の場合、ビュー数は2000に設定される。なお、図3や図4に示すように、1つの結合ビューcvnを構成するビューvn,vn1においてX線管13の位置が異なっている。すなわち、ビューvnにおける投影データとビューvn1における投影データとには、収集時刻に1ビュー分の時間差が生じている。ここで架台回転速度をR[rot/sec]、ビューレートをV[view/sec]とすると、1ビュー分の時間差における回転角度差Δθ[度/view]は、Δθ=360R/Vで表される。この回転角度差Δθは、ビューレートVを上昇させることにより、又は、回転速度Rを遅くすることにより、減少させることができる。上述のように本実施形態に係るX線CT装置1は、ファン角方向にX線を振ることにより、チャンネル方向の投影データ逐次収集を実現している。チャンネル方向の投影データ逐次収集により、X線CT装置1は、データ収集部27内のDAS数の削減を実現している。次に、データ収集部27の構造について説明する。データ収集部27は、各検出素子群に含まれる検出素子の数と同数のDASを含んでいる。なお各検出素子群の検出素子数は、同一であるとする。各DASは、第1検出素子群に含まれる検出素子と第2検出素子群に含まれる検出素子とに接続されている。DASに接続されるペアの検出素子は、X線パス長を同一にするため、例えば、同一の列に含まれるとよい。より詳細には、ペアの検出素子は、チャンネル中心線に関して線対称であるとよい。なおチャンネル中心線とは、X線検出器の各列におけるチャンネル中心を結ぶ線に規定される。なお、ペアの検出素子は、必ずしも、同一の列に含まれなくともよい。また、ペアの検出素子は、チャンネル中心線に関して線対称である必要は無い。例えば、ペアの検出素子の各々は、各検出素子群においてチャンネル方向に沿って同一位置にあってもよい。この場合、ペアの検出素子の両方は、各検出素子群の例えば左端に設けられることが可能である。図5は、1つのDAS41と2つの検出素子151A,151Bとの接続を示す図である。図5に示すように、DAS41は、1つの積分器42と1つのA/D変換器43とを有している。積分器32は、第1検出素子群152Aに含まれる1つの検出素子151Aと第2検出素子群152Bに含まれる1つの検出素子151Aとに接続されている。検出素子151Aと積分器42との間には第1切替器44Aが、検出素子151Bと積分器42との間には第2切替器44Bが設けられている。また、積分器42は、A/D変換器43に接続されている。積分器42とA/D変換器43との間には第3切替器44Cが設けられている。第1切替器44A及び第2切替器44Bは、X線照射範囲に含まれる検出素子群152内の検出素子151と積分器42とを接続し、X線照射範囲に含まれない検出素子群152内の検出素子151と積分器42とを切り離す。積分器42は、検出素子151A又は151Bからのアナログの電気信号を既定の積分期間だけ積分する。積分期間だけ積分されたアナログの電気信号を積分信号と呼ぶことにする。積分信号は、A/D変換器43に供給される。A/D変換器43は、積分信号をアナログからデジタルに変換する。デジタルの積分信号は投影データと呼ばれている。このように、本実施形態においては、1つの積分器42について2つの検出素子151A,151Bが接続されている。従ってX線CT装置1全体において必要な積分器42の数は、1/2×チャンネル数検出素子数×列数である。一方、1つの検出素子について2つの積分器が必要であった従来の場合、必要な積分器の数は、2×チャンネル数×列数である。従って、本実施形態においては、積分器42の数を従来にして1/4に減少させることができる。なお、積分器42の減少数は、検出素子群数チャンネル方向に沿う検出面の分割数に依存する。すなわち、本実施形態のように検出素子群数が2の場合、積分器42の数は従来に比して1/4に減少するが、検出素子群数がNの場合、積分器42の数は従来に比して1/2×Nに減少する。次に、図6を参照しながら、スキャン制御部32の制御のもとに行われるチャンネル方向の投影データ逐次収集のスキャンシーケンスについて説明する。なお、データ収集部27は、列方向の投影データ逐次収集検出素子から電気信号を読み出す際、列方向に沿って電気信号の読み出し時間をずらすデータ収集方式を行なわないものとする。すなわち、データ収集部27は、同一の検出素子群に含まれる全検出素子からの電気信号を同時に読み出すものとする。図6に示すように、まず時刻tsにおいてスキャン制御部32は、スキャンを開始する。スキャン中においてスキャン制御部32は、高電圧発生部21を制御し、X線管13からのX線発生を開始させる。ビューは、ビュートリガのオン/オフにより規定される。ビュートリガのオンとオフとは、一定時間間隔例えば、ビューレートの半分毎に切替られる。例えば、ビュートリガのオンからオフへの切替時にビューが切替られる。ビューが切替えられる毎にビュー番号がカウントアップされる。ビュートリガのオフからオンへの切替時においてスキャン制御部32は、電子ビーム偏向制御部25を制御し、電子ビーム偏向機構23により焦点位置を切替させる。焦点位置の切替により、X線が第1検出素子群又は第2検出素子群に選択的に照射される。ビュートリガのオンへの切替時からオフへの切替時までの期間Cは、一方の検出素子群からの電気信号の積分期間に設定される。Cの添え字は、結合ビューの番号を意味する。積分期間Cの次に、積分信号のA/D変換のためのA/D変換期間Rが設けられる。Rの添え字は、A/D変換している積分信号が属するビュー番号を意味する。A/D変換期間Rの次に、他の検出素子群からの電気信号の積分期間Cが設けられる。積分期間CからA/D変換期間Rへの間と、A/D変換期間Rから積分期間Cへの間とには、切替器の切替が行われる接続切替期間Iが設けられる。接続切替期間Iにおいてデータ収集部27は、スキャン制御部32による制御に従ってDAS内の各切替器の切替を行う。図7に示すように、X線照射範囲が第1検出素子群152Aにある場合、積分期間Cnにおいて第1検出素子群152Aの検出素子151Aからの電気信号が積分器42に供給される。積分期間Cnにおいては、検出素子151Aからの電気信号が積分器42に蓄えられるように、第1切替器44Aが閉鎖され、第2切替器44Bが開放され、第3切替器44Cが開放される。この接続状態において積分器42は、積分信号を生成するために、積分期間Cにおいて繰り返し供給される電気信号を積分する。積分期間Cn後、接続切替期間Iを経て、A/D変換期間Rに移行する。接続切替期間Iにおいては、全切替器44A,44B,44Cが開放される。なお、接続切替期間Iは、各検出素子151A,151Bから電気信号を漏れなく積分器42へ供給するために、焦点位置の切替期間中に行われると良い。A/D変換期間Rnにおいて、両検出素子151A,151Bから積分器42への電気信号の供給が遮断され、且つ積分器42からA/D変換器43に積分信号が供給されるように、第1切替器44Aが開放され、第2切替器44Bが開放され、第3切替器44Cが閉鎖される。この接続状態においてA/D変換器43は、アナログの積分信号をA/D変換し、対応するビュー番号の投影データを生成する。A/D変換期間Rn後、接続切替期間Iを経て、第2検出素子群152Bについての積分期間Cnに移行する。X線照射範囲が第2検出素子群152Bにある場合における積分やA/D変換も、X線照射範囲が第1検出素子群152Aにある場合と同様に行われる。すなわち、図8に示すように、積分期間Cnにおいては、第2検出素子151Bからの電気信号が積分器42に蓄えられるように、第1切替器44Aが開放され、第2切替器44Bが閉鎖され、第3切替器44Cが開放される。A/D変換期間Rnにおいて、両検出素子151A,151Bから積分器42への電気信号の供給が遮断され、且つ積分器42からA/D変換器43に積分信号が供給されるように、第1切替器44Aが開放され、第2切替器44Bが開放され、第3切替器44Cが閉鎖される。このようにして、隣り合うビューの投影データが収集されると、投影データ結合部34による投影データの結合処理が行われる。図9は、投影データ結合部34による投影データの結合処理を説明するための図である。図9に示すように、ビューvnにおいて第1検出素子群152Aからの投影データが収集され、次のビューvn1において第2検出素子群152Bからの投影データが収集されたとする。ビューvnにおける第2検出素子群152Bとビューvn1における第1検出素子群152Aとには、X線照射がなされず、また、電気信号の読み出しもなされない。従って、ビューvnにおける第2検出素子群152Bからの投影データとビューvn1における第1検出素子群152Aからの投影データとは、収集されない。つまり、ビューvnの投影データとビューvn1の投影データとは、画像再構成に利用する投影データとしては不完全である。投影データ結合部34は、ビューvnの投影データとビューvn1の投影データとをチャンネル番号が連続するように結合する。これにより、単一の結合ビューcvnの投影データが生成される。例えば、X線検出器15が0チャンネルから1000チャンネルまである場合、ビューvnの投影データは0チャンネルから499チャンネルまでのデータを含み、ビューvn1の投影データは500チャンネルから1000チャンネルまでのデータを含み、結合ビューの投影データは0チャンネルから1000までのデータを含む。このようにして投影データ結合部34は、画像再構成に必要な複数の結合ビューcvnの投影データを生成する。再構成部35は、画像再構成に必要な複数の結合ビューcvnの投影データに基づいて画像データを再構成する。上記のように、第1実施形態によれば、X線検出器15の複数の検出素子151が、チャンネル方向に沿って配列された複数の検出素子群152に区分されている。スキャン制御部32は、フライングフォーカスにより、X線照射範囲が複数の検出素子群152に順番に含まれるように、陽極上の焦点位置をビュー毎に順番に切替えている。データ収集部27は、X線照射範囲に含まれる検出素子群152を介してビュー毎に投影データを収集している。これにより、X線CT装置1は、チャンネル方向の投影データ逐次収集を実現している。チャンネル方向の投影データ逐次収集を実現するため、データ収集部27は、検出素子群数と同数のDAS41を有している。各DAS41は、1つの積分器42を有している。各DAS41は、複数の検出素子群152にそれぞれ含まれる複数の検出素子151に選択的に接続されている。このような構成により、各DAS41は、検出素子151からの電気信号の読み出し漏れを防止しつつ、投影データを収集することができる。従って第1実施形態に係るX線CT装置1は、架台3の口径が増大しても、積分器42数やDAS41の数の増加度合いを従来に比して低減させることができる。かくして第1実施形態に係るX線CT装置1によれば、製造コストの削減及びサイズ縮小が実現される。なお、上述の説明においてデータ収集部34は、列方向の投影データ逐次収集を実行しないとした。しかしながら、データ収集部34は、図10に示すスキャンシーケンスのように、チャンネル方向の投影データ逐次収集とともに、列方向の投影データ逐次収集を実行してもよい。この場合、図10に示すように、検出素子151から電気信号を読み出す際、列方向に沿って電気信号の読み出し開始時間がずらされる。これにより、列方向に沿う電気信号の読み出し開始時間をずらすことにより、列数増加に伴う列間の読み出し時間の遅延幅を減少させることができる。第2実施形態第1実施形態においては、フライングフォーカスによりX線照射範囲を切替えるとした。第2実施形態においては、アクティブコリメーションによりX線照射範囲を切替える。以下、第2実施形態に係るX線CT装置について説明する。なお以下の説明において、第1実施形態と略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。図11は、第2実施形態に係るX線CT装置の構成を示す図である。図11に示すように、架台3は、コリメータ51を有している。コリメータ51は、チャンネル方向に沿うX線照射範囲を制限する。コリメータ51により、X線検出器15上のX線照射範囲のチャンネル方向の幅は、1つの検出素子群のチャンネル方向に沿う幅に等しい。コリメータ51は、コリメータ支持機構53を介してX線管13に取り付けられている。コリメータ支持機構53は、チャンネル方向に沿って機械的にスライド可能にコリメータ51を支持している。支持機構制御部55は、チャンネル方向に沿って配列された複数の位置にコリメータ51がビュー毎に順番に配置されるように、スキャン制御部32による制御に従ってコリメータ支持機構53を制御する。これにより、機械的にチャンネル方向に沿ってX線照射範囲が切替られる。図12は、コリメータ51とX線照射範囲との位置関係を示す図である。なお説明を具体的に行うため、X線検出器15の検出素子群は3つに設定されているとする。X線検出器15からX線管13を見た場合に左側に配置される検出素子群を左側検出素子群、右側に配置される検出素子群を右側検出素子群、中央に配置される検出素子群を左側検出素子群と呼ぶことにする。この場合、コリメータ51の配置位置は、チャンネル方向に沿って3つ設定される。図12のaに示すように、チャンネル方向に沿って左側の位置にコリメータ51が配置される場合、X線管13から発生されたコーンビームX線は、左側検出素子群に照射される。図12のbに示すように、チャンネル方向に沿って中央の位置にコリメータ51が配置される場合、X線管13から発生されたコーンビームX線は、中央検出素子群に照射される。図12のcに示すように、チャンネル方向に沿って右側の位置にコリメータ51が配置される場合、X線管13から発生されたコーンビームX線は、右側検出素子群に照射される。スキャン制御部32の制御のもと支持機構制御部55は、X線照射範囲がビュー毎に左側検出素子群、中央検出素子群、右側検出素子群に順番に含まれるように、3つの位置に順番にコリメータ51を配置する。上記のように、第2実施形態によれば、スキャン制御部32は、アクティブコリメーションにより、X線照射範囲が複数の検出素子群152に順番に含まれるように、コリメータ51の配置位置をビュー毎に順番に切替えている。データ収集部27は、X線照射範囲に含まれる検出素子群152を介してビュー毎に投影データを収集している。これにより、X線CT装置1は、チャンネル方向の投影データ逐次収集を実現している。従って第2実施形態に係るX線CT装置1は、架台3の口径が増大しても、積分器数やDAS数の増加度合いを従来に比して低減させることができる。かくして第2実施形態に係るX線CT装置1によれば、製造コストの削減及びサイズ縮小が実現される。本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。"