"注目構造物の位置が合うように、トモシンセシス撮影により撮影された被検者の複数枚の投影画像の対応する画素を累積加算することにより、該被検者の所定断面における断層画像を再構成する放射線撮影装置であって、1枚の前記投影画像を基準投影画像として、前記断層画像上の同一位置に累積加算される、前記基準投影画像上の画素と各々の前記投影画像上の画素との間の類似度を算出する類似度算出手段と、複数枚の前記投影画像の各画素について、前記類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する重み付け係数算出手段と、前記断層画像上の同一位置に累積加算される、複数枚の前記投影画像の画素の画素値とこれに対応する重み付け係数との乗算値を累積加算することにより、前記断層画像を再構成する逆投影処理手段とを備えることを特徴とする放射線撮影装置。前記類似度算出手段は、前記断層画像上の同一位置に累積加算される、前記基準投影画像上の第1領域と各々の前記投影画像上の第2領域との間の類似度を算出するものである請求項1に記載の放射線撮影装置。前記類似度算出手段は、複数枚の前記投影画像のうち、前記被検者の真正面から撮影された投影画像を前記基準投影画像とするものである請求項1または2に記載の放射線撮影装置。注目構造物の位置が合うように、トモシンセシス撮影により撮影された被検者の複数枚の投影画像の対応する画素を累積加算することにより、該被検者の所定断面における断層画像を再構成する放射線撮影装置であって、複数枚の前記投影画像から前記断層画像を再構成する逆投影処理手段と、前記断層画像上の同一位置に累積加算された複数枚の前記投影画像上の画素間の類似度を算出する類似度算出手段と、前記断層画像の各画素について、前記類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する重み付け係数算出手段と、前記断層画像の各画素の画素値とこれに対応する重み付け係数とを乗算して乗算処理画像を作成する乗算処理手段とを備えることを特徴とする放射線撮影装置。前記類似度算出手段は、前記断層画像上の同一位置に累積加算された複数枚の前記投影画像上の所定の領域間の類似度を算出するものである請求項4に記載の放射線撮影装置。前記類似度算出手段は、正規化相互相関によって前記類似度を算出するものである請求項1~5のいずれかに記載の放射線撮影装置。前記重み付け係数算出手段は、前記類似度を前記重み付け係数として使用するものである請求項1~6のいずいれかに記載の放射線撮影装置。本発明の目的は、再構成後の断層画像に注目構造物以外の構造物の影響によるアーチファクトが発生することを防止することができる放射線撮影装置を提供することにある。上記目的を達成するために、本発明は、注目構造物の位置が合うように、トモシンセシス撮影により撮影された被検者の複数枚の投影画像の対応する画素を累積加算することにより、該被検者の所定断面における断層画像を再構成する放射線撮影装置であって、1枚の前記投影画像を基準投影画像として、前記断層画像上の同一位置に累積加算される、前記基準投影画像上の画素と各々の前記投影画像上の画素との間の類似度を算出する類似度算出手段と、複数枚の前記投影画像の各画素について、前記類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する重み付け係数算出手段と、前記断層画像上の同一位置に累積加算される、複数枚の前記投影画像の画素の画素値とこれに対応する重み付け係数との乗算値を累積加算することにより、前記断層画像を再構成する逆投影処理手段とを備えることを特徴とする放射線撮影装置を提供するものである。ここで、前記類似度算出手段は、前記断層画像上の同一位置に累積加算される、前記基準投影画像上の第1領域と各々の前記投影画像上の第2領域との間の類似度を算出するものであることが好ましい。また、前記類似度算出手段は、複数枚の前記投影画像のうち、前記被検者の真正面から撮影された投影画像を前記基準投影画像とするものであることが好ましい。また、本発明は、注目構造物の位置が合うように、トモシンセシス撮影により撮影された被検者の複数枚の投影画像の対応する画素を累積加算することにより、該被検者の所定断面における断層画像を再構成する放射線撮影装置であって、複数枚の前記投影画像から前記断層画像を再構成する逆投影処理手段と、前記断層画像上の同一位置に累積加算された複数枚の前記投影画像上の画素間の類似度を算出する類似度算出手段と、前記断層画像の各画素について、前記類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する重み付け係数算出手段と、前記断層画像の各画素の画素値とこれに対応する重み付け係数とを乗算して乗算処理画像を作成する乗算処理手段とを備えることを特徴とする放射線撮影装置を提供する。ここで、前記類似度算出手段は、前記断層画像上の同一位置に累積加算された複数枚の前記投影画像上の所定の領域間の類似度を算出するものであることが好ましい。また、前記類似度算出手段は、正規化相互相関によって前記類似度を算出するものであることが好ましい。また、前記重み付け係数算出手段は、前記類似度を前記重み付け係数として使用するものであることが好ましい。本発明によれば、投影画像間の類似度に応じて、画素値の重み付けを行うため、再構成後の断層画像において、注目構造物を強調するとともに、注目構造物以外の構造物の影響によるアーチファクトが発生することを防止することができる。以下に、添付の図面に示す好適実施形態に基づいて、本発明の放射線撮影装置を詳細に説明する。図1は、本発明の放射線撮影装置の構成を表す一実施形態のブロック図である。同図に示す放射線撮影装置10は、被検者34をトモシンセシス撮影して、撮影角度の異なる複数枚の投影画像放射線画像を撮影し、撮影した複数枚の投影画像から、被検者34の所定高さの断面における断層画像を再構成するものである。放射線撮影装置10は、撮影装置12と、コンソール14とによって構成されている。撮影装置12は、被検者34をトモシンセシス撮影して、撮影角度の異なる複数枚の投影画像を撮影するものであり、放射線源16と、放射線制御装置18と、撮影台20とを備えている。放射線源16は、放射線制御装置18の制御により、被検者34の投影画像の撮影時に、所定強度の放射線を所定の時間だけ照射する。つまり、所定の照射量線量の放射線を照射する。放射線制御装置18は、後述するコンソール14の制御装置26の制御により、撮影条件に応じて、放射線源16の動作放射線の照射、照射位置および照射角度等を制御する。図示例の撮影台20は、臥位撮影台であって、投影画像の撮影時に、被検者34を位置決めするための台である。なお、撮影台20として、立位撮影台を使用することもできる。撮影台20の下側には、放射線検出器22が配置されている。放射線検出器22は、例えば、フラットパネル型のものFPD:フラットパネルディテクタであって、放射線源16から照射され、被検者34を透過した放射線を検出することによって、被検者34が撮影された投影画像の画像信号画像データを出力する。続いて、コンソール14は、放射線撮影装置10全体の動作を制御するものであって、入力装置24と、制御装置26と、画像処理装置28と、記録装置30と、表示装置32とを備えている。入力装置24は、例えば、撮影指示等の各種の指示や、撮影条件等の各種の情報を入力するためのものであって、キーボード、マウス等を例示することができる。制御装置26は、入力装置24を介して入力される各種の指示や各種の情報に基づいて、放射線制御装置18、画像処理装置28、記録装置30、および、表示装置32の動作を制御する。画像処理装置28は、制御装置26の制御により、放射線検出器22から入力される複数枚の投影画像の画像信号に、画像合成処理やフィルタ補正処理等を含む各種の画像処理を施し、被検者34の所定高さの断面における断層画像の画像信号を再構成して出力する。記録装置30は、制御装置26の制御により、画像処理装置28から出力される断層画像の画像信号等を含む各種の情報を記録するものであって、ハードディスク、CD-R,DVD-R、プリンタ等を例示することができる。表示装置32は、制御装置26の制御により、画像処理装置28から出力される断層画像等を含む各種の情報を表示するものであって、液晶ディスプレイ等を例示することができる。次に、トモシンセシス撮影時の放射線撮影装置10の動作を説明する。放射線撮影装置10において、トモシンセシス撮影を行う場合、被検者34が、撮影台20の撮影面上に位置決めされる。その後、入力装置24から撮影開始の指示が与えられると、制御装置26の制御によりトモシンセシス撮影が開始される。撮影が開始されると、撮影装置12では、放射線制御装置18の制御により、放射線源16を一方向に移動しながら、被検者34の方向に放射線源16の照射角度を変えて、異なる照射角度で放射線が被検者34に照射され、1回の撮影操作で撮影角度の異なる複数枚の投影画像が順次撮影される。そして、被検者34の投影画像の撮影が行われる度に、放射線検出器22から、撮影された投影画像の画像信号が出力される。この時、コンソール14では、制御装置26の制御により、撮影装置12から入力される複数枚の投影画像の画像信号が記録装置30に順次記憶される。撮影が終了すると、制御装置26の制御により、記録装置30に記憶された撮影角度の異なる複数枚の投影画像の画像信号から、複数枚の投影画像を位置合わせして重ね合わせる画像合成処理やフィルタ補正処理等を含む各種の画像処理が施され、被検者34の所定断面における断層画像が再構成される。そして、再構成された断層画像は、表示装置32上に表示され、必要に応じてその画像信号が記録装置30に記録される。以下、断層画像再構成時の動作を説明する。断層画像の再構成方法としては代表的にシフト加算法が利用される。シフト加算法は、それぞれの投影画像の撮影時における放射線源16の位置に基づいて、注目構造物の位置が合うように、撮影した複数枚の投影画像の位置を順次シフトして対応する画素を加算するものである。図2AおよびBは、トモシンセシス撮影による断層画像の再構成時の様子を表す一例の概念図である。同図Aに示すように、トモシンセシス撮影時に、放射線源16が位置S1からスタートしてS3まで移動し、S1、S2、S3の各線源位置において被検者34に放射線が照射され、それぞれ、被検者34の放射線画像P1,P2,P3が得られるものとする。ここで、同図Aに示すように、被検者34の高さの異なる2つの位置に構造物A,Bが存在するとする。各撮影位置撮影時の放射線源16の位置S1,S2,S3において、放射線源16から照射された放射線は、被検者34を透過して放射線検出器22に入射される。その結果、各撮影位置S1,S2,S3に対応する投影画像P1,P2,P3において、2つの構造物A,Bは、それぞれ異なる位置関係で投影される。例えば、投影画像P1の場合、放射線源16の位置S1が、放射線源16の移動方向に対して、構造物A,Bよりも左側に位置するため、構造物A,Bは、それぞれ、構造物A,Bよりも右側にずれたP1A,P1Bの位置に投影される。同様に、投影画像P2の場合には、ほぼ直下のP2A,P2Bの位置に、投影画像P3の場合には、左側にずれたP3A,P3Bの位置に投影される。構造物Aが存在する高さの断面における断層画像を再構成する場合、放射線源16の位置に基づいて、注目構造物Aの投影位置P1A,P2A,P3Aが一致するように、例えば、同図Bに示すように、投影画像P1を左へ、投影画像P3を右にシフトさせて対応する画素を合成する。これにより、注目構造物Aが存在する高さの断層画像が再構成される。同様にして、任意高さの断面における断層画像を再構成することができる。次に、画像処理装置28における断層画像再構成時の画像処理について説明する。図3は、画像処理装置の構成を表す第1実施形態のブロック図である。同図に示す画像処理装置28Aは、類似度算出部36と、重み付け係数算出部38と、逆投影処理部40とを備えている。類似度算出部36は、トモシンセシス撮影により撮影された複数枚の投影画像のうちの1枚の投影画像、例えば、被検者の真正面から撮影された投影画像を基準投影画像として、断層画像上の同一位置に累積加算される、基準投影画像上の画素の近傍の所定領域注目画素を含むその周辺のM×Nの画素領域と各々の投影画像上の対応する画素の近傍の所定領域との間の類似度もしくは、分散度を正規化相互関数によって算出する。重み付け係数算出部38は、複数枚の投影画像の各画素について、類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する。なお、重み付け係数算出部38は、類似度そのものを重み付け係数として使用してもよい。そして、逆投影処理部40は、断層画像上の同一位置に累積加算される、複数枚の投影画像上の画素の画素値とこれに対応する重み付け係数との乗算値を累積加算することにより、断層画像を再構成する。画像処理装置28Aは、断層画像の再構成時に、断層画像上の同一位置に累積加算される、基準投影画像上の画素の近傍の所定領域と各々の投影画像上の対応する画素の近傍の所定領域との間の類似度相関に応じて、各々の投影画像の対応する画素の画素値を重み付けして加算することにより、焦点断面内の注目構造物を選択的に強調焦点断面以外の構造物を抑制する。ここで、図4に示すように、トモシンセシス撮影により、注目構造物として、星状構造物および円状構造物を含む、被検者の複数枚図4の例では3枚の投影画像が撮影されたとする。図6に示すように、被検者34の所定断面における注目構造物の座標をx、y、z、各々の投影画像の撮影時の放射線源の位置をsxi、syi、szi、i番目iは、-I~Iまでの整数、被検者34の真正面から撮影された投影画像をP0とするの投影画像Pi上における注目構造物の投影位置をti、si、0、投影画像Piの各画素の画素値をPiti、siとすると、従来方法による再構成後の断層画像Tzの各画素の画素値Tzx、yは、下記式で表される。上記演算の結果、空間上の点x、y、zを透過した各々の投影画像Pi上の画素情報が、断層画像Tz上の対応する画素の画素値Tzx,yに累積加算されることになるため、点x、y、zの構造が強調された断層画像Tzを得ることができる。例えば、点x、y、zが図5に示す星状構造物上の1点であるとすれば、各々の投影画像Piの対応する画素の投影情報が重ね合わされるように作用するため、結果として、星状構造物が強調された断層画像Tzを得ることができる。これに対し、画像処理装置28Aでは、各々の投影画像Piの各画素ti、siに対する重み付け係数をwiti、siとすると、逆投影処理部40により再構成される断層画像Tzの各画素の画素値Tzx、yは、下記式で表される。ここで、画像処理装置28Aにおいて、重み付け係数witi、siは、以下のようにして算出される。まず、類似度算出部36により、複数枚の投影画像Piのうち、被検者34の真正面から撮影された投影画像P0を基準投影画像P0として、断層画像Tz上の同一位置に累積加算される、基準投影画像P0上の画素の投影位置P0t0、s0の近傍矩形領域と、各々の投影画像Pi上の対応する画素の投影位置Piti、siの近傍矩形領域との間の類似度が正規化相互相関によって算出される。そして、重み付け係数算出部38により、複数枚の投影画像の各画素について、類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数witi、siが算出される。なお、基準投影画像P0の重み付け係数w0t0、s0は、正規化自己相関となるため、1となる。この重み付け係数wiによる重み付けは、断層画像Tzの各画素の画素値Tzx、yに累積加算される投影画像Piの対応する矩形領域間の類似度に応じて、画素値Tzx、yへの寄与を変動させるように作用する。そのため、再構成後の断層画像Tzにおいて、注目構造物を強調するとともに、注目構造物以外の構造物の影響によるアーチファクトが発生することを防止することができる。なお、類似度算出部36は、所定領域ではなく、断層画像Tz上の同一位置に累積加算される、基準投影画像P0上の投影位置P0t0、s0の画素と、各々の投影画像Pi上の投影位置Piti、siの画素との類似度を算出するようにしてもよい。また、被検者の真正面から撮影された投影画像を基準投影画像とすることは必須ではなく、複数枚の投影画像Piのうちの1枚の投影画像を基準投影画像としてもよい。また、類似度算出部36は、正規化相互相関によって2つの投影画像の所定領域間ないし画素間の類似度を求めることも必須ではなく、各種のテンプレートマッチングパターンマッチングにより両者の類似度を算出することができる。また、画像処理装置28Aは、各々の投影画像の各画素を重み付けしてから断層画像を再構成しているが、これに限定されず、再構成後の断層画像の各画素を重み付けすることによっても同様の効果を得ることができる。以下、この場合について説明する。図7は、画像処理装置の構成を表す第2実施形態のブロック図である。同図に示す画像処理装置28Bは、逆投影処理部42と、類似度算出部44と、重み付け係数算出部46と、乗算処理部48とを備えている。逆投影処理部42は、複数枚の投影画像から断層画像を再構成する。類似度算出部44は、断層画像上の同一位置に累積加算された、複数枚の投影画像上の画素の近傍の所定領域注目画素を含むその周辺のM×Nの画素領域間の類似度を正規化相互相関によって算出する。重み付け係数算出部46は、断層画像の各画素について、類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数を算出する。そして、乗算処理部48は、断層画像の各画素の画素値とこれに対応する重み付け係数とを乗算することにより、乗算処理後の乗算処理画像を作成する。この乗算処理画像が、表示装置32上に表示される。画像処理装置28Bは、断層画像の再構成後に、断層画像上の同一位置に累積加算された、複数枚の投影画像上の画素の近傍の所定領域間の類似度に応じて、断層画像の対応する画素の画素値を重み付けすることにより、焦点断面内の注目構造物を選択的に強調焦点断面以外の構造物を抑制する。画像処理装置28Bでは、再構成後の断層画像Tzの各画素Tzx、yに対する重み付け係数をwix、yとすると、再構成後の断層画像Tzの各画素の画素値Tzx、yは、下記式で表される。画像処理装置28Bにおいて、重み付け係数wix、yは、以下のようにして算出される。まず、類似度算出部44により、断層画像Tz上の同一位置に累積加算された、複数枚の投影画像Pi上の画素の投影位置Piti、siの近傍矩形領域間の類似度が、複数枚のうちの2画像間における正規化相互相関の平均値によって算出される。そして、重み付け係数算出部46により、断層画像Tzの各画素について、類似度が高くなるほど大きくなるように重み付け係数wix、yが算出される。この重み付け係数wiによる重み付けは、断層画像Tzの各画素の画素値Tzx、yに累積加算される投影画像Piの対応する矩形領域間の類似度に応じて、画素値Tzx、yの値を変動させるように作用する。そのため、より少ない計算量で、再構成後の断層画像Tzにおいて、注目構造物を強調するとともに、注目構造物以外の構造物の影響によるアーチファクトが発生することを防止することができる。同様に、類似度算出部44は、断層画像Tz上の同一位置に累積加算される、複数枚の投影画像Pi上の投影位置Piti、siの画素間の類似度を算出するようにしてもよい。また、類似度算出部44は、正規化相互相関に限らず、各種のテンプレートマッチングパターンマッチングにより、2つの投影画像の所定領域ないし画素間の類似度を算出することができる。上記実施形態の放射線撮影装置は、トモシンセシス撮影により、放射線源を直線状の軌道で移動して被検者の投影画像を撮影するものであるが、本発明はこれに限定されず、例えば、放射線源を、被検者を中心とする円弧状の軌道で移動して被検者の投影画像を撮影するものなど、放射線源を直線軌道以外の軌道で移動してトモシンセシス撮影を行う放射線撮影装置にも適用可能である。この場合、対応する画素を求める計算式を撮影の幾何学系に応じて変えれば本発明を適用することができる。また、上記実施形態の放射線撮影装置は、シフト加算法により、被検者の所定断面における断層画像の再構成を行うものであるが、本発明はこれに限定されず、例えば、フィルタ逆投影法により対応する画素を累積加算して断層画像の再構成を行うものなど、シフト加算法以外の再構成法により断層画像の再構成を行う放射線撮影装置にも適用可能である。例えば、フィルタ逆投影法により断層画像の再構成を行う放射線撮影装置の場合、フィルタ処理後の投影画像を使って本発明を適用することができる。本発明は、基本的に以上のようなものである。以上、本発明について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。"