システムであって、チャープ周波数信号を生成するように適合される波形生成器、前記チャープ周波数生成器の出力に結合されるマルチプレクサであって、前記チャープ周波数信号を被試験システムに又はキャリブレーション経路に選択的に配路する、前記マルチプレクサ、前記被試験システムからの出力又は前記キャリブレーション経路からの出力を受け取るデジタイザーであって、前記被試験システムから又は前記キャリブレーション経路からデータポイントをつくる、前記デジタイザー、及び前記デジタイザーからの前記データポイントを受け取るように及び前記データポイントに対する前記離散フーリエ変換を計算するように適合される高速フーリエ変換回路、を含む、システム。請求項1に記載のシステムであって、前記波形生成器が、前記チャープ周波数信号をテーパするように適合されるウィンドウ回路を含む、システム。請求項1に記載のシステムであって、前記高速フーリエ変換回路が更に、前記キャリブレーション経路を介して配路された信号から、指定された周波数範囲にわたって捕捉されたキャリブレーションデータポイントをストアするように動作する、システム。請求項3に記載のシステムであって、前記高速フーリエ変換回路が更に、前記被試験システムを介して配路された信号からの前記指定された周波数範囲にわたって捕捉されたデータポイントを、前記キャリブレーションデータポイントで割ることによって正規化されたテスト測定データをつくるように動作する、システム。請求項1に記載のシステムであって、前記被試験システム及び前記キャリブレーション経路を前記デジタイザーに結合する第2のマルチプレクサを更に含む、システム。請求項1に記載のシステムであって、前記高速フーリエ変換回路の出力に結合されるメモリを更に含み、前記メモリが、キャリブレーションデータポイント及び正規化されたテスト測定データをストアする、システム。請求項1に記載のシステムであって、前記高速フーリエ変換回路の出力に結合されるディスプレイを更に含み、前記ディスプレイが、キャリブレーションデータポイント又は正規化されたテスト測定データ又は両方をユーザに提供する、システム。方法であって、波形生成器を用いてチャープ周波数信号を生成すること、前記チャープ周波数信号をキャリブレーション経路に又は被試験システムに選択的に配路すること、キャリブレーションデータをつくるために前記キャリブレーション経路からの出力信号をデジタル化すること、周波数ドメインキャリブレーションデータをつくるために前記キャリブレーションデータのフーリエ変換を生成すること、測定データをつくるために前記被試験システムからの出力信号をデジタル化すること、周波数ドメイン測定データをつくるために前記測定データのフーリエ変換を生成すること、及び前記周波数ドメイン測定データを前記周波数ドメインキャリブレーションデータで割ることによって正規化された測定データをつくること、を含む、方法。請求項8に記載の方法であって、前記キャリブレーション経路又は前記被試験システムの前に窓関数を用いて前記チャープ周波数信号をテーパすることを更に含む、方法。請求項9に記載の方法であって、前記チャープ周波数信号が、立ち上がり縁で又は立ち下がり縁で又はその両方でテーパされる、方法。請求項8に記載の方法であって、前記キャリブレーションデータ及び前記測定データをメモリにストアすることを更に含む、方法。請求項8に記載の方法であって、前記正規化された測定データをメモリにストアすることを更に含む、方法。請求項8に記載の方法であって、前記正規化された測定データをユーザに表示することを更に含む、方法。請求項8に記載の方法であって、前記キャリブレーションデータ及び前記測定データをユーザに表示することを更に含む、方法。請求項8に記載の方法であって、前記チャープ周波数信号が、マルチプレクサを用いてキャリブレーション経路に又は被試験システムに選択的に配路される、方法。請求項8に記載の方法であって、マルチプレクサを用いて前記キャリブレーション経路の出力及び被試験システムの出力を結合することを更に含む、方法。方法であって、第1の周波数及び第2の周波数により定義される帯域幅を有するテーパされるチャープ周波数テスト信号をつくること、第1のマルチプレクサを介して前記テスト信号をキャリブレーション経路に配路すること、第2のマルチプレクサを介して前記キャリブレーション経路の出力をデジタイザーに結合すること、前記キャリブレーション経路の前記出力をデジタル化すること、前記キャリブレーション経路出力のフーリエ変換を生成すること、前記第1のマルチプレクサを介して前記テスト信号をテストシステムに配路すること、前記第2のマルチプレクサを介して前記テストシステムの出力を前記デジタイザーに結合すること、前記テストシステムの前記出力をデジタル化すること、前記テストシステム出力のフーリエ変換を生成すること、及び前記テストシステム出力の前記フーリエ変換を前記キャリブレーション経路出力の前記フーリエ変換で割ることにより、前記帯域幅に対する前記テストシステムの周波数ドメイン表現をつくること、を含む、方法。請求項17に記載の方法であって、Tukey窓関数を用いて前記テーパされるチャープ周波数テスト信号をテーパすることを更に含む、方法。請求項17に記載の方法であって、前記テストシステムの前記周波数ドメイン表現をメモリにストアすることを更に含む、方法。図1は、従来の単一トーンテストシステム100を図示する。正弦生成器101が、例えばフィルタであり得る被試験システム102の入力に結合される。被試験システム102の出力は、デジタイザー103により捕捉及びデジタル化され、その後、高速フーリエ変換FFT回路104に送られ、FFT回路104は、捕捉された出力信号の離散フーリエ変換DFTを計算する。システム100において、デジタイザー103は、正弦生成器101からの周波数毎に1つの捕捉をつくり、FFT回路104は、各捕捉された信号に対し1つのDFTデータポイントを生成する。DFTデータポイントの一つのみが全てのFFTデータ内の対象となるものであるため、これは、時間の効率的利用とならない。システム100は、長いテスト時間と低いデータポイントとの間の実際のトレードオフに起因して、帯域通過フィルタ又は帯域阻止フィルタなどの狭帯域フィルタをテストするために用いることが難しい可能性がある。狭帯域フィルタの応答を測定するために必要とされるデータポイントが一層多くなると、テストにかかる時間が一層長くなる。また、正弦生成器101が、3dBポイントなど、対象となるポイントを正確に測定するために分数周波数をつくることは困難であり得る。図2は、一実施例に従ったチャープ周波数テストシステム200を図示するブロック図である。正弦生成器201がマルチプレクサMUX202に結合され、MUX202は、例えばフィルタであり得る被試験システム203を介するか、又はキャリブレーション経路204を介するかの信号経路の選択を可能にする。被試験システム203及びキャリブレーション経路204の出力は、マルチプレクサ205で受け取られ、デジタイザー206による捕捉及びデジタル化のため配路され、その後、FFT回路207に送られ、FFT回路207は、捕捉された出力信号の離散フーリエ変換DFTを計算する。FFT207からのデータポイント出力は、メモリ208にストアされ得、及び/又はディスプレイ209に表示され得る。システム200は、単一の捕捉及び全てのデータポイントのFFTを提供する。システム200の実施例において、システム100においてほんの1つのデータポイントの単一のトーンテスのために必要とされる同じ時間に、4000個のデータポイントが達成され得る。付加的なデータポイントは、全テスト時間に対し最小のインパクトでシステム200に捕捉される。システム200は更に、それがフルスペクトルをテストするため、狭帯域フィルタに対する最適のテストベッドを提供する。キャリブレーション経路204は、テストハードウェア及びソフトウェアによりつくられたロスを識別するために用いられる。これらのロスが識別された後、これらは、被試験システム203の測定値におけるハードウェア及びソフトウェアの影響を補償するために用いることができる。一実施例において、データはまずチャープ生成器201からキャリブレーション経路204を通過する。キャリブレーション経路204の出力はベースラインとして捕捉される。その後、被試験システム203が信号経路へ切り替えられ、チャープ生成器201からの入力信号データが印加される。出力データは、被試験システム203から捕捉され、被試験システム203に対する真のシステム応答を得るためキャリブレーションデータで割られる。一実施例において用いられる入力テスト信号は、数式1で定義されるものなどの、線形掃引信号である。この入力信号は、図3に示す波形300などのチャープ波形であり得、これは、線形周波数変調ソースにより生成され得る。掃引された信号は、低周波数から高周波数までの或る定義された範囲にわたって継続的変化を経る。ここで、st=出力波形、wt=窓関数、f1=初期周波数、f2=最終周波数、及びT=総掃引時間である。0~Tの間の任意の所与の時間の波形300の瞬時周波数は、数式2で得られる。図4は、周波数ドメインにおける信号300を図示する。図4に示すように、掃引された入力テスト信号300は、f1からf2までの全周波数範囲にわたる。図5は、中心周波数fcを有するノッチフィルタなどの被試験システムに対する予期される周波数応答501を図示する。チャープ生成器201により生成される信号などのテスト信号の周波数帯502は、中心周波数fcがテストされた周波数の範囲内に入るように、開始及び終了周波数f1及びf2を調節することにより選択され得る。周波数f1及びf2は、被試験システムに対する対象となる任意の周波数をカバーするように調節され得る。周波数f1及びf2が決まると、被試験システムは、全帯域を掃引する1つの入力信号を用いて分析され得る。図6は、システム200図2などのチャープ周波数テストシステムに対する所望の周波数応答601を図示する。周波数応答601は、周波数f1~f2の間のテスト周波数帯にわたってレベルテスト信号を提供する。しかし、実際のテストシステムは大抵、テスト周波数帯内のレベルにない応答を有する。周波数応答602は、チャープ周波数テストシステムに対し理想とはいえないlessthanideal周波数応答を図示する。テスト信号が、応答602などの非理想の周波数応答を有する場合、被試験システムに対し測定された周波数応答は、テスト信号602における任意の逸脱を含み得る。例えば、周波数応答603は、周波数応答602を有する入力信号を用いて測定される被試験システムに対する測定された周波数応答を表す。理想的には、被試験システム測定値は応答501図5に類似すべきであるが、入力信号602の周波数応答は、測定された応答603を実際の応答501から逸らせる。この誤差は、キャリブレーション経路204を用いて対処され得る。チャープ周波数テストシステムの周波数応答602は、まずキャリブレーション経路を介して測定され得る。その後、被試験システムの周波数応答603が測定される。周波数応答603をキャリブレーション周波数応答602で割ることにより、被試験システムの実際の周波数応答501が決定され得る。高速フーリエ変換回路207図2によって実行されるFFTオペレーションは、時間ドメインにおけるリンギング及び不連続を低減する窓関数を用いて改善され得る。窓関数wtは上記数式1の構成要素であり、これはチャープ周波数入力信号stを定義する。テスト信号のフロント又はテールをテーパするために、Tukey窓関数などの窓関数を用いることができる。Tukey窓関数を数式3に示す。他の窓関数を用いることもできる。ここで、Tw=窓テーパサイズ、0≦p≦1であり、殆どの場合p=0である。チャープ生成器201図2は、チャープ周波数信号をテーパする窓関数回路210を含み得る。代替として、チャープ信号周波数は、テーパリングを含むような方式で生成器201によってつくられ得る。図7は、テール702でテーパされているテスト信号701を図示する。図8は、種々のテーパサイズに対する周波数応答に対し、時間ドメインにおいてテーパリングが有する効果を図示する。周波数曲線801~804は、入力信号の累進的なprogressive更なるテーパリングを図示する。曲線801はテーパリングを有さず、掃引された入力信号における非連続性により生じるリンギング805を示す。テーパサイズが増大されると、リンギング805は低減され得る曲線802及び803か、又はなくなる曲線804。テーパリングの副次的作用は、曲線801~804に図示するようにテスト信号周波数範囲が狭くなることである。図9A、図9B、図10A及び図10Bは、低域フィルタLPFを被試験システムとして用いた、本発明の例示の一実施例において捕捉された波形を図示する。図9Aは、キャリブレーション経路を通過した後の時間ドメインにおけるテスト波形901を図示する。テスト波形901は、フロント及びテール端でテーパされる。図9Bは、キャリブレーション測定901から得られるFFTデータ902を図示する。キャリブレーション周波数応答902は、テストシステムの周波数応答に起因する一層高い周波数でのロスを図示する。図10Aは、被試験システムを通過した後の時間ドメインにおけるテスト波形1001を図示する。図10Bは、測定データ1001から得られる正規化されたFFTデータ1002を図示する。FFTデータ1002は、キャリブレーションデータ902で割ることによって正規化されている図9B。本発明の実施例は、継続的周波数応答データ1002の捕捉を提供し、これは、3dBポイント1003など、対象となるポイントの正確な識別を提供し、これは被試験LPFのための通過帯域幅の端部を示す。上述の例に示すように、本発明は、フィルタ、増幅器、又は他の被試験システムのための、高速であり汎用性のある帯域幅テスト方法を提供する。本発明は、ソフトウェアにおいて実装され得、テストハードウェアへの変更を必要とすることなく殆どの既存のテスト基板に適している。本明細書に開示するシステムは更に、テスト時間を低減すること及び測定されたシステム応答の精度を改善することにより、コスト削減を提供する。窓関数は調整され得、開始/終了周波数f1、f2は、テストシステムからの最良の結果を提供するため掃引信号を最適化するように選択され得る。図11は、本明細書に開示するチャープ周波数テストシステムを実装するための例示の方法を図示する。ステップ1101において、第1の周波数及び第2の周波数により定義されるテスト帯域幅を有する、テーパされるチャープ周波数テスト信号がつくられる。ステップ1102において、テスト信号は、第1のマルチプレクサを介してキャリブレーション経路に配路される。ステップ1103において、キャリブレーション経路の出力が、第2のマルチプレクサを介してデジタイザーに結合される。ステップ1104において、キャリブレーション経路の出力がデジタル化され、その後、ステップ1105において、キャリブレーション経路出力のフーリエ変換が生成される。ステップ1106において、テスト信号はその後、第1のマルチプレクサを介してテストシステムに配路される。ステップ1107において、テストシステムの出力が、第2のマルチプレクサを介してデジタイザーに結合される。ステップ1108において、テストシステムの出力がデジタル化され、ステップ1109において、テストシステム出力のフーリエ変換が生成される。ステップ1110において、キャリブレーション経路出力のフーリエ変換でテストシステム出力のフーリエ変換を割ることにより、テスト帯域幅に対する被試験システムの周波数ドメイン表現がつくられる。本発明に関連する技術に習熟した者であれば、説明した例示の実施例に変形が成され得ること、及び本発明の特許請求の範囲内で他の実施例を実装し得ることが分かるであろう。