磁気力顕微鏡により同一視野について同時に結晶粒界と磁区とを観察し、粒界が磁区を遮断する割合である磁区遮断率に基づき、結晶粒単位で低保磁力部位の有無を判断することを特徴とする永久磁石の検査方法。請求項1において、磁気力顕微鏡によるAFM像で粒界を確認し、MFM像で磁区を確認し、磁区を遮断する粒界の長さAと、遮断しない長さBとを測定し、測定したA、Bの値から、下記の式:磁区遮断率=A/AB×100により磁区遮断率を求めることを特徴とする永久磁石の検査方法。請求項1または2において、アスペクト比の大きい線状の磁区を対象として磁区遮断率を求めることを特徴とする永久磁石の検査方法。請求項1~3のいずれか1項に記載した方法により、検査対象とする製造ロットについて予め保磁力と磁区遮断率との関係を求めておき、複数個の観察領域全てについて所定の保磁力が得られる磁区遮断率の下限値以上であれば良品とし、下限値未満であれば不良品とする良否判定の工程を含むことを特徴とする永久磁石の製造方法。請求項4において、前記複数個は5~10個であることを特徴とする永久磁石の製造方法。本発明は、結晶粒単位で低保磁力部位の有無を検出できる永久磁石の検査方法を提供することを目的とする。上記の目的を達成するために、本発明によれば、磁気力顕微鏡により同一視野について同時に結晶粒界と磁区とを観察し、粒界が磁区を遮断する割合に基づき、結晶粒単位で低保磁力部位の有無を判断することを特徴とする永久磁石の検査方法が提供される。本発明によれば、磁気力顕微鏡により同一視野について同時に結晶粒界と磁区とを観察し、粒界が磁区を遮断する割合に基づき、結晶粒単位で低保磁力部位の有無を判断するので、結晶粒単位で長期の使用中に磁化変化を生じるか否かを検査できる。本発明は、磁気力顕微鏡MFMにより、原子間力顕微鏡像AFM像と磁気力顕微鏡像MFM像とが同時観察できることを利用している。図1を参照して説明する。磁気力顕微鏡MFMを用いることで、同一観察視野について、図11に示すAFM像と図12に示すMFM像とを同時に観察できる。AFM像とMFM像との重ね合わせから、図13に示すように結晶粒界が磁区を遮断する領域が求まる。複数個N個:N=5~10程度の観察領域について下式で粒界磁区遮断率あるいは磁区遮断率を算出する。磁区遮断率=磁区遮断する粒界長さA/全粒界長さAB×100実施例で詳述するように、検査対象とする製造ロットについて予め保磁力と磁区遮断率との関係を求めておき、複数個の観察領域全てについて所定の保磁力が得られる磁区遮断率の下限値以上であれば良品とし、下限値未満であれば不良品とする。Nd-Fe-Bベース組成にDy4.5を添加し、拡散処理した希土類磁石結晶粒径:2~10μmについて、下記の手順および条件で保磁力および磁区遮断率を測定した。同一ロットで種々の保磁力および磁区遮断率を得るために、磁化後に250°Cにて1000Hまでの耐久処理を行なった。<保磁力測定>種々の時間に亘り耐久処理した試料について、VSMにて保磁力測定した。<磁気力顕微鏡MFM観察>保磁力測定後に、試料の観察対象表面について、機械研磨および必要に応じてナイタルエッチングにより、結晶粒界を現出させた後、磁気力顕微鏡MFM観察を行なった。観察視野は10μm角であった。AFM像で粒界を確認し、MFM像で磁区を確認しながら磁区を遮断する粒界の長さAと、遮断しない粒界の長さBを測定する。対象とした磁区は、アスペクト比の大きい線状の磁区とした。粒界長さの測定は、撮影画像写真上で手作業で行なった。ただし、機械的に画像解析することもできる。測定したA、Bの値から、磁区遮断率A/AB×100を算出した。結果を図2および表1に示す。各耐久時間についてそれぞれ2試料を測定した。耐久時間ゼロ耐久処理なしの初期状態から耐久時間1000Hまでの範囲で、保磁力26.0kOeから23.0kOe、磁区遮断率97および98から81および84までの範囲の変化が得られた。図2に示すように、保磁力と磁区遮断率との間には明瞭な相関関係が認められる。図3に、1初期状態磁区遮断率:97、2耐久250°C×214H後磁区遮断率:82、3耐久250°C×1000H後磁区遮断率:81のAFM-MAM像を示す。各図において、粒界が磁区を遮断している領域を○で囲んで示した。本発明の方法によれば、図2の相関関係を利用して、例えば磁区遮断率の合格ラインを95と設定して管理すれば、26.9kOe以上の保磁力が確保できると推定できる。なお、Nd-Fe-B系のDy拡散磁石について実施例を説明したが、本発明の適用対象はこれに限定する必要はない。磁気力顕微鏡MFMにより結晶粒界と磁区が観察可能な磁石材料であれば本発明を適用することができる。