複数の記憶ドライブと、前記複数の記憶ドライブを制御する制御部とを備える記憶装置であって、前記複数の記憶ドライブのそれぞれは、ユーザデータを格納するためのユーザ領域と、前記ユーザ領域以外の特定領域とを有しており、前記制御部は、前記複数の記憶ドライブに含まれる第1記憶ドライブに設けられる前記特定領域から読み出されたテストデータを、前記複数の記憶ドライブに含まれる第2記憶ドライブに設けられる前記特定領域に書き込む検査モードを有しており、前記制御部は、前記検査モードの実行結果を結果格納領域に格納し、前記実行結果は、前記第1記憶ドライブを識別する情報と、前記第2記憶ドライブを識別する情報と、前記テストデータの転送特性とを含むことを特徴とする記憶装置。前記制御部は、前記複数の記憶ドライブの制御に必要なデータを一時的に記憶するメモリを有しており、前記特定領域は、前記メモリに一時的に格納されるデータの待避先を構成するスワップ領域であることを特徴とする請求項1に記載の記憶装置。前記制御部は、前記テストデータの読み出しに先だって、前記第1記憶ドライブに設けられる前記特定領域に前記テストデータを書き込むことを特徴とする請求項1に記載の記憶装置。前記制御部は、前記ユーザ領域及び前記特定領域をマウントせずに、前記検査モードを実行することを特徴とする請求項1に記載の記憶装置。前記複数の記憶ドライブに含まれる記憶ドライブの換装が行われた場合に、換装前の記憶ドライブに対応する前記実行結果と、換装後の記憶ドライブに対応する前記実行結果とは、非連続な形式で表示されることを特徴とする請求項1に記載の記憶装置。前記複数の記憶ドライブは、3つ以上の記憶ドライブを含んでおり、前記制御部は、前記実行結果の組合せに基づいて、不具合状況を特定することを特徴とする請求項1に記載の記憶装置。前記結果格納領域は、前記複数の記憶ドライブの少なくとも1つの記憶ドライブ内に設けられ、或いは、前記制御部内に設けられることを特徴とする請求項1に記載の記憶装置。しかしながら、上述した技術では、ユーザ領域が使用された状態において、書き込み速度又は読み出し速度が測定される。言い換えると、各記憶ドライブの負荷が異なる環境下において、書き込み速度又は読み出し速度が測定される。従って、記憶ドライブの劣化を判定する目的としては、上述した技術は適していない。或いは、書き込み又は読み出しの不具合回数をカウントして、不具合回数のカウント値が所定閾値に達した場合に、記憶ドライブが劣化したと判定することも考えられる。しかしながら、所定閾値を適切に設定することが困難である。詳細には、所定閾値が大きすぎると、記憶ドライブの交換前に、記憶ドライブを使用できなくなってしまう。一方で、所定閾値が小さすぎると、記憶ドライブが使用可能であるにもかかわらずに、記憶ドライブを交換すべきであると判定されてしまう。そこで、本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、記憶ドライブの劣化を容易に判定することを可能とする記憶装置を提供することを目的とする。第1の特徴に係る記憶装置は、複数の記憶ドライブと、前記複数の記憶ドライブを制御する制御部とを備える。前記複数の記憶ドライブのそれぞれは、ユーザデータを格納するためのユーザ領域と、前記ユーザ領域以外の特定領域とを有する。前記制御部は、前記複数の記憶ドライブに含まれる第1記憶ドライブに設けられる前記特定領域から読み出されたテストデータを、前記複数の記憶ドライブに含まれる第2記憶ドライブに設けられる前記特定領域に書き込む検査モードを有する。前記制御部は、前記検査モードの実行結果を結果格納領域に格納する。前記実行結果は、前記第1記憶ドライブを識別する情報と、前記第2記憶ドライブを識別する情報と、前記テストデータの転送特性とを含む。第1の特徴において、前記制御部は、前記複数の記憶ドライブの制御に必要なデータを一時的に記憶するメモリを有する。前記特定領域は、前記メモリに一時的に格納されるデータの待避先を構成するスワップ領域である。第1の特徴において、前記制御部は、前記テストデータの読み出しに先だって、前記第1記憶ドライブに設けられる前記特定領域に前記テストデータを書き込む。第1の特徴において、前記制御部は、前記ユーザ領域及び前記特定領域をマウントせずに、前記検査モードを実行する。第1の特徴において、前記複数の記憶ドライブに含まれる記憶ドライブの換装が行われた場合に、換装前の記憶ドライブに対応する前記実行結果と、換装後の記憶ドライブに対応する前記実行結果とは、非連続な形式で表示される。第1の特徴において、前記複数の記憶ドライブは、3つ以上の記憶ドライブを含む。前記制御部は、前記実行結果の組合せに基づいて、不具合状況を特定する。第1の特徴において、前記結果格納領域は、前記複数の記憶ドライブの少なくとも1つの記憶ドライブ内に設けられ、或いは、前記制御部内に設けられる。本発明によれば、記憶ドライブの劣化を容易に判定することを可能とする記憶装置を提供することができる。以下において、本発明の実施形態に係る記憶装置について、図面を参照しながら説明する。なお、以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には、同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであり、各寸法の比率などは現実のものとは異なることに留意すべきである。従って、具体的な寸法などは以下の説明を参酌して判断すべきである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。[実施形態の概要]実施形態に係る記憶装置は、複数の記憶ドライブと、前記複数の記憶ドライブを制御する制御部とを備える。前記複数の記憶ドライブのそれぞれは、ユーザデータを格納するためのユーザ領域と、前記ユーザ領域以外の特定領域とを有する。前記制御部は、前記複数の記憶ドライブに含まれる第1記憶ドライブに設けられる前記特定領域から読み出されたテストデータを、前記複数の記憶ドライブに含まれる第2記憶ドライブに設けられる前記特定領域に書き込む検査モードを有する。前記制御部は、前記検査モードの実行結果を結果格納領域に格納する。前記実行結果は、前記第1記憶ドライブを識別する情報と、前記第2記憶ドライブを識別する情報と、前記テストデータの転送特性とを含む。実施形態では、制御部は、テストデータの転送特性を検査するための検査モードを有する。また、制御部は、検査モードにおいて、ユーザ領域以外の特定領域を用いて、テストデータの読み出し及びテストデータの書き込みを行う。従って、各記憶ドライブの負荷が同じ状態において、テストデータの転送特性を検査することができる。また、結果格納領域に格納される検査モードの実行結果に基づいて、記憶ドライブの劣化を容易に判定することができる。[第1実施形態]記憶装置の概要以下において、第1実施形態に係る記憶装置の概要について説明する。図1は、第1実施形態に係る記憶装置100の外観を示す図である。図1に示すように、記憶装置100は、複数の記憶ドライブ10及び複数のドライブベイ20を有する。記憶ドライブ10は、物理的なハードウェアであり、ユーザデータを格納するためのユーザ領域を有する。記憶ドライブ10は、例えば、HDDHardDiskDrive又はSSDSolidStateDriveなどである。第1実施形態では、記憶ドライブ10として、記憶ドライブ10A~記憶ドライブ10Dが設けられる。但し、記憶ドライブ10の数は4つに限定されるものではない。ドライブベイ20は、記憶ドライブ10を収容するベイである。ドライブベイ20は、例えば、記憶ドライブ10に設けられるピン群と接続されるコネクタを有する。第1実施形態では、ドライブベイ20として、ドライブベイ20A~ドライブベイ20Dが設けられる。但し、ドライブベイ20の数は4つに限定されるものではない。記憶ドライブ以下において、第1実施形態に係る記憶ドライブについて説明する。図2は、第1実施形態に係る記憶ドライブ10を示す図である。ここでは、記憶ドライブ10として、HDDを例示する。図2に示すように、記憶ドライブ10は、プラッタ11と、スピンドルモータ12と、ヘッド13と、スイングアーム14と、アクチュエータ15と、インタフェースピン16と、電源ピン17と、を有する。プラッタ11は、データが記録される円盤である。プラッタ11の表面には、磁性体が塗布されており、磁性体の表面には、潤滑被膜ライナーが設けられる。データは、プラッタ11の片面に記録されてもよく、プラッタ11の両面に記録されてもよい。プラッタ11の記憶容量プラッタ記憶容量は、データの記録密度などによって定められる。スピンドルモータ12は、プラッタ11を回転するためのモータである。詳細には、スピンドルモータ12は、一定速度例えば、7200rpmrevolutionperminuteでプラッタ11を回転する。ヘッド13は、プラッタ11へのデータの書き込み又はプラッタ11からのデータの読み出しを行うための磁気ヘッダである。スイングアーム14は、回動軸Xを中心として回動可能に構成される。スイングアーム14の先端にはヘッド13が設けられる。スイングアーム14の回動に伴って、プラッタ11の径方向においてヘッド13の位置が調整される。アクチュエータ15は、スイングアーム14を回動するための駆動部である。アクチュエータ15は、例えば、ボイスコイルモータである。インタフェースピン16は、ドライブベイ20に設けられるコネクタに接続される。ヘッド13によってプラッタ11に書き込まれるデータは、記憶装置100から記憶ドライブ10に対してインタフェースピン16を介して出力される。ヘッド13によってプラッタ11から読み出されるデータは、記憶ドライブ10から記憶装置100に対してインタフェースピン16を介して出力される。電源ピン17は、ドライブベイ20に設けられるコネクタに接続される。記憶ドライブ10を駆動するための電力は、記憶装置100から記憶ドライブ10に対して電源ピン17を介して供給される。記憶装置の詳細以下において、第1実施形態に係る記憶装置の詳細について説明する。図3は、第1実施形態に係る記憶装置100を示すブロック図である。図3に示すように、記憶装置100は、複数の記憶ドライブ10と、インタフェースコネクタ30と、制御部40とを有する。なお、図3では、上述したドライブベイ20は省略されている。各記憶ドライブ10は、図4に示すように、システム領域とスワップ領域とユーザ領域とを有する。システム領域は、システムデータを格納するための領域であり、boot領域及びrootfs領域を有する。boot領域は、制御部40に設けられるOSOperatingSystemの起動に必要なデータを格納するための領域である。rootfs領域は、記憶ドライブ10のファイルシステムを格納するための領域である。詳細には、rootfs領域には、ルートディレクトリを含む階層的なディレクトリ構造ルートファイルシステムが格納される。スワップ領域は、後述する揮発性メモリ42に一時的に格納されるデータの待避先を構成する領域である。第1実施形態において、スワップ領域は、記憶ドライブ10を検査する検査モードで用いる特定領域の一例である。ユーザ領域は、ユーザデータを格納するための領域である。すなわち、ユーザ領域には、外部装置例えば、パーソナルコンピュータから書き込まれるユーザデータが格納される。或いは、ユーザ領域には、外部装置例えば、パーソナルコンピュータに読み出されるユーザデータが格納される。インタフェースコネクタ30は、外部装置例えば、パーソナルコンピュータ又はルータに記憶装置100を接続するためのコネクタ例えば、USBコネクタやイーサネット登録商標コネクタである。記憶装置100は、インタフェースコネクタ30を介して外部装置からデータを受信する。記憶装置100は、インタフェースコネクタ30を介して外部装置にデータを送信する。制御部40は、複数の記憶ドライブ10を制御する。具体的には、制御部40は、CPU41と、揮発性メモリ42と、不揮発性メモリ43とを有する。揮発性メモリ42は、DRAMなどの揮発性半導体メモリであり、制御部40の動作に必要なデータを一時的に記憶する。不揮発性メモリ43は、フラッシュなどの不揮発性半導体メモリであり、OSOperatingSystemなどを記憶する。第1実施形態において、制御部40詳細には、CPU41は、記憶ドライブ10を検査する検査モードを有する。第1に、制御部40は、第1記憶ドライブから第2記憶ドライブへのデータの転送特性を検査する場合において、第1記憶ドライブに設けられるスワップ領域から読み出されたテストデータを、第2記憶ドライブに設けられるスワップ領域に書き込む。検査モードの実行結果は、第1記憶ドライブを識別する情報と、第2記憶ドライブを識別する情報と、テストデータの転送特性とを含む。ここで、テストデータの転送特性は、第1記憶ドライブから第2記憶ドライブに対するテストデータの転送速度であってもよく、第1記憶ドライブから第2記憶ドライブに対するテストデータの転送時間であってもよい。なお、テストデータの転送速度は、テストデータのデータ量MB:メガバイトをテストデータの転送時間s:秒で除算した値MB/sであってもよい。第1記憶ドライブから第2記憶ドライブに対するテストデータの転送開始時刻は、転送速度の検査を開始する時刻である。第1記憶ドライブから第2記憶ドライブに対するテストデータの転送終了時刻は、例えば、転送速度の検査を終了する時刻である。なお、第1記憶ドライブに対する読み出しコマンドは、スワップ領域の先頭セクタからスワップ領域の最終セクタまで、所定領域を指定してテストデータの読み出しを指示するコマンドである。第2記憶ドライブに対する書き込みコマンドは、スワップ領域の先頭セクタからスワップ領域の最終セクタまで、所定領域を指定してテストデータの書き込みを指示するコマンドである。第2に、制御部40詳細には、CPU41は、検査モードの実行結果を結果格納領域に格納する。例えば、制御部40は、外部装置パーソナルコンピュータに設けられるディスプレイ上に、結果格納領域に格納された実行結果を表示する。詳細には、記憶装置100にアクセス可能な外部装置パーソナルコンピュータは、専用ソフトウェア又はブラウザなどのソフトウェアを用いて、結果格納領域に格納された実行結果を読み出して、読み出された実行結果をディスプレイ上に表示する。ここで、結果格納領域は、制御部40例えば、不揮発性メモリ43に設けられる。或いは、結果格納領域は、複数の記憶ドライブ10の少なくとも1つの記憶ドライブ10に設けられてもよい。結果格納領域は、全ての記憶ドライブ10に設けられてもよい。このようなケースでは、検査モードの実行結果は、全ての記憶ドライブ10に格納される。第1実施形態において、制御部40は、テストデータの読み出しに先だって、第1記憶ドライブに設けられるスワップ領域にテストデータを書き込むことが好ましい。すなわち、制御部40は、スワップ領域に格納されるテストデータをリフレッシュした上で、検査モードを実行することが好ましい。第1実施形態において、制御部40は、ユーザ領域及びスワップ領域をマウントせずに、検査モードを実行することが好ましい。すなわち、制御部40は、ファイルシステムがOSによって認識されていない状態すなわち、ユーザ領域及びスワップ領域がアンマウントである状態において、検査モードを実行することが好ましい。このようなケースにおいて、スワップ領域の先頭セクタのアドレスは、制御部40にとって既知であることに留意すべきである。検査モード以下において、第1実施形態に係る検査モードについて説明する。図5~図7は、第1実施形態に係る検査モードを示すフロー図である。図5に示すように、ステップ100において、記憶装置100にアクセス可能な外部装置は、専用ソフトウェア又はブラウザなどのソフトウェアを用いて、検査モードのスケジューリングを行う。例えば、外部装置は、記憶装置100のシャットダウン時又は起動時に検査モードを実行するように、検査モードのスケジューリングを行う。ここで、記憶装置100は、検査モードフラグにONをセットする。検査モードフラグは、検査モードを実行するか否かを判断するためのフラグである。検査モードフラグにONがセットされている場合には、検査モードが実行される。一方で、検査モードフラグにOFFがセットされている場合には、検査モードが実行されない。ステップ200において、記憶装置100のシャットダウン又は起動が行われる。ステップ300において、記憶装置100は、検査モードフラグにONがセットされているか否かを判定する。判定結果がYESである場合に、記憶装置100は、ステップ400の処理に移る。一方で、判定結果がNOである場合に、記憶装置100は、ステップ100の処理に戻る。ステップ400において、記憶装置100は、検査モードを実行する。詳細には、図6に示すように、ステップ410において、記憶装置100は、各記憶ドライブ10を起動する。具体的には、記憶装置100は、ユーザ領域及びスワップ領域をマウントせずに、各記憶ドライブ10を起動する。ステップ420において、記憶装置100は、複数の記憶ドライブ10の中から、対象ドライブを選択する。対象ドライブは、テストデータの読み出し元を構成する第1記憶ドライブ及びテストデータの書き込み先を構成する第2記憶ドライブである。ここで、記憶装置100は、転送速度の検査の実行に先立って、第1記憶ドライブに設けられるスワップ領域にテストデータを書き込むことが好ましい。ステップ430において、記憶装置100は、転送速度の検査を実行する。詳細には、図7に示すように、ステップ432において、記憶装置100は、第1記憶ドライブに対して読み出しコマンドを発行する。第1記憶ドライブに対する読み出しコマンドは、スワップ領域の先頭セクタからスワップ領域の最終セクタまで、所定領域を指定してテストデータの読み出しを指示するコマンドである。ステップ433において、記憶装置100は、第1記憶ドライブに設けられるスワップ領域からテストデータを読み出す。ステップ434において、記憶装置100は、第2記憶ドライブに対して書き込みコマンドを発行する。第2記憶ドライブに対する書き込みコマンドは、スワップ領域の先頭セクタからスワップ領域の最終セクタまで、所定領域を指定してテストデータの書き込みを指示するコマンドである。ステップ435において、記憶装置100は、第2記憶ドライブに設けられるスワップ領域にテストデータを書き込む。ステップ436において、記憶装置100は、第1記憶ドライブに設けられるスワップ領域からのテストデータの読み出し、及び、第2記憶ドライブに設けられるスワップ領域へのテストデータの書き込みが完了したか否かを判定する。言い換えると、記憶装置100は、第1記憶ドライブに設けられるスワップ領域から第2記憶ドライブに設けられるスワップ領域へのテストデータの転送が完了したか否かを判定する。図6に戻って、ステップ440において、記憶装置100は、検査モードの実行結果を結果格納領域に格納する。すなわち、記憶装置100は、第1記憶ドライブを識別する情報、第2記憶ドライブを識別する情報、及び、第1記憶ドライブから第2記憶ドライブへのテストデータの転送特性転送終了時刻と転送開始時刻との差分を結果格納領域に格納する。ここで、転送開始時刻は、転送速度の検査ステップ430の開始時点で記録される時刻である。転送終了時刻は、転送速度の検査ステップ430の終了時点で記録される時刻である。ステップ450において、記憶装置100は、全ての記憶ドライブ10の組み合わせを選択したか否かを判定する。判定結果がYESである場合に、記憶装置100は、一連の処理を終了する。一方で、判定結果がNOである場合に、記憶装置100は、ステップ420の処理に戻る。例えば、テストデータの読み出し元を構成する第1記憶ドライブとテストデータの書き込み先を構成する第2記憶ドライブとを入れ替える。作用及び効果第1実施形態では、制御部40は、テストデータの転送特性を検査するための検査モードを有する。また、制御部は、検査モードにおいて、ユーザ領域以外の特定領域を用いて、テストデータの読み出し及びテストデータの書き込みを行う。従って、各記憶ドライブ10の負荷が同じ状態において、テストデータの転送特性を検査することができる。また、結果格納領域に格納される検査モードの実行結果に基づいて、記憶ドライブの劣化を容易に判定することができる。変更例1以下において、第1実施形態の変更例1について説明する。以下においては、第1実施形態に対する相違点について主として説明する。変更例1では、検査モードの実行結果の表示例について説明する。詳細には、記憶ドライブ10の換装時において、検査モードの実行結果の表示例について主として説明する。第1に、記憶ドライブ10の換装時における検査モードについて説明する。図8に示すように、ステップ500において、所定ドライブベイにおいて、記憶ドライブ10の換装が行われる。ステップ510において、記憶装置100にアクセス可能な外部装置は、専用ソフトウェア又はブラウザなどのソフトウェアを用いて、初回検査フラグをONにセットする。初回検査フラグは、記憶ドライブ10の換装が行われたか否かを示すフラグである。記憶ドライブ10の換装が行われた場合に、初回検査フラグにONがセットされる。一方で、記憶ドライブ10の換装が行われていない場合に、初回検査フラグにOFFがセットされる。ステップ520において、記憶装置100のシャットダウン又は起動が行われる。ステップ530において、記憶装置100は、所定ドライブベイにおいて換装前の記憶ドライブ10に対応する検査モードの実行結果を、所定ドライブベイにおいて換装後の記憶ドライブ10に対応する検査モードの実行結果として引き継ぐ。ステップ400において、記憶装置100は、検査モードを実行する。なお、ステップ400の処理は、第1実施形態と同様である。このようなケースにおいて、記憶装置100にアクセス可能な外部装置パーソナルコンピュータは、図9に示すように、換装前の記憶ドライブ10に対応する検査モードの実行結果と換装後の記憶ドライブ10に対応する検査モードの実行結果とを非連続な形式でディスプレイ上に表示する。すなわち、外部装置は、記憶ドライブ10の換装が行われたことが明確になるように、検査モードの実行結果をディスプレイ上に表示する。なお、検査モードの実行結果は、図9に示すように、折れ線グラフの形式で表示されることが好ましい。変更例2以下において、第1実施形態の変更例2について説明する。以下においては、第1実施形態に対する相違点について主として説明する。変更例2では、記憶装置100制御部40は、検査モードの実行結果の組合せに基づいて、記憶ドライブ10の不具合状況を特定する。ここで、例えば、不具合状況とは、不具合が生じているか否かを示す情報である。或いは、不具合状況とは、不具合が生じている場合に、不具合要因を示す情報である。或いは、不具合状況とは、不具合が生じている場合に、不具合要因を有する記憶ドライブを示す情報である。なお、不具合は、主として、データの読み出し元からデータの書き込み先へのデータの転送で生じる書き込み不具合や読み出し不具合である。変更例2では、記憶ドライブ10として、4つのHDDHDD1~HDD4が設けられるケースについて、図10を参照しながら説明する。なお、図10では、説明を簡略化するために、様々な現象が1つの表に纏められていることに留意すべきである。すなわち、図10に記載された様々な現象が同時に生じる訳ではないことに留意すべきである。また、図10において、○は、転送特性が正常であることを意味しており、×は、転送特性が劣化していることを意味する。なお、図10において、最も左の縦列は、データの読み出し元を構成する記憶ドライブ10を示しており、最も上の横列は、データの書き込み先を構成する記憶ドライブ10を示している。また、変更例2は、記憶ドライブ10が3つであるケースにも適用可能であり、記憶ドライブ10が5つ以上であるケースにも適用可能である。具体的には、図10に示すように、読み出し元がHDD1であるケースにおいて、書き込み先がHDD2及びHDD3である場合には、転送特性が正常であり、書き込み先がHDD4である場合にのみ、転送特性の劣化が検出されたケースについて考える。このようなケースでは、記憶装置100は、HDD4の書き込み不具合が不具合要因であると判定する判定結果A。このように、記憶装置100は、転送特性の劣化が検出された書き込み先のHDDが一つである場合に、当該書き込み先のHDDの書き込み不具合が生じていると判定する。読み出し元がHDD2であるケースにおいて、書き込み先がHDD1、HDD3及びHDD4のいずれである場合にも、転送特性の劣化が検出されたケースについて考える。このようなケースでは、記憶装置100は、HDD2の読み出し不具合が不具合要因であると判定する判定結果B。このように、記憶装置100は、転送特性の劣化が全ての書き込み先のHDDで生じている場合には、当該読み出し元のHDDの読み出し不具合が生じていると判定する。読み出し元がHDD3であるケースにおいて、書き込み先がHDD1、HDD2及びHDD4のいずれである場合にも、転送特性の劣化が検出されなかったケースについて考える。このようなケースの転送特性としては、記憶装置100は、少なくともHDD3からの読み出しにおいて、不具合が生じていないと判定する判定結果C。このように、記憶装置100は、転送特性の劣化が全ての書き込み先のHDDで生じていない場合には、不具合が生じていないと判定する。読み出し元がHDD4であるケースにおいて、書き込み先がHDD1及びHDD2である場合に、転送特性の劣化が検出され、書き込み先がHDD3である場合に、転送特性の劣化が検出されなかったケースについて考える。このようなケースでは、記憶装置100は、記憶装置100の設置環境などのように、書き込みや読み出し以外の他の不具合が生じていると判定する判定結果D。このように、記憶装置100は、転送特性の劣化が複数の書き込み先のHDDで生じているにもかかわらず、転送特性の劣化が生じていない書き込み先のHDDが存在する場合には、書き込み不具合及び読み出し不具合以外の他の不具合が生じていると判定する。なお、変更例2において、記憶装置100は、前回の検査モードの転送特性と今回の検査モードの転送特性との差分が所定閾値以上である場合に、転送特性が劣化していると判定する。或いは、記憶装置100は、今回の検査モードの転送特性が所定閾値以下である場合に、転送特性が劣化していると判定してもよい。[その他の実施形態]本発明は上述した実施形態によって説明したが、この開示の一部をなす論述及び図面は、この発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。実施形態では、特定領域は、スワップ領域である。しかしながら、実施形態は、これに限定されるものではない。特定領域は、ユーザ領域以外の領域であればよい。実施形態では、テストデータの転送特性は、第1記憶ドライブから第2記憶ドライブに対するテストデータの転送に係る特性である。しかしながら、テストデータの転送特性は、第1記憶ドライブからのテストデータの読み出し特性であってもよい。このようなケースにおいて、テストデータの読み出し完了時刻は、第1記憶ドライブスワップ領域から揮発性メモリ42へのテストデータの読み出しが完了した時刻である。或いは、テストデータの転送特性は、第2記憶ドライブへのテストデータの書き込み特性であってもよい。このようなケースにおいて、テストデータの書き込み完了時刻は、揮発性メモリ42から第2記憶ドライブスワップ領域へのテストデータの書き込みが完了した時刻であってもよい。実施形態では、テストデータの転送時間は、転送速度の検査ステップ430の開始時点で記録される時刻転送開始時刻から、転送速度の検査ステップ430の終了時点で記録される時刻転送終了時刻までの時間である。しかしながら、実施形態は、これに限定されるものではない。転送開始時刻は、第1記憶ドライブに対して最初の読み出しコマンドを発行した時刻読み出し開始時刻であってもよい。或いは、転送終了時刻は、第2記憶ドライブに対して最後の書き込みコマンドを発行した時刻書き込み終了時刻であってもよい。実施形態では特に触れていないが、結果格納領域が不揮発性メモリ43に設けられている場合において、制御部40は、検査モードにおいて、結果格納領域をマウントすることが好ましい。