"測定対象ガスの光吸収スペクトルを含む波長のレーザ光を出射する測定用レーザ光源と、前記測定用レーザ光源から出射されたガス測定用レーザ光を測定対象空間を介して受光する測定用受光素子と、前記測定用受光素子の受光信号から測定対象ガスによる光吸収の影響を受けた信号成分を抽出し、この信号成分の変化量から測定対象ガス濃度を演算するガス濃度演算手段と、を有するレーザ式ガス分析計であって、前記測定用レーザ光源の近傍に配置され、前記ガス測定用レーザ光の光軸と平行な光軸上に、前記測定対象ガスによる光吸収を受けない波長の補正用参照光を出射する補正用光源と、前記測定用受光素子の近傍に配置され、前記補正用参照光を前記測定対象空間を介して受光する補正用受光素子と、前記補正用受光素子からの受光信号と予め設定されている初期光量信号とから前記測定対象空間における光の透過率を検出する光透過率検出手段と、前記ガス濃度演算手段により求めた測定対象ガスの濃度測定値を、前記光透過率検出手段から出力された光透過率を用いて補正するガス濃度補正手段と、を備えたことを特徴とするレーザ式ガス分析計。請求項1に記載したレーザ式ガス分析計において、前記光透過率検出手段は、数式1に基づいて光透過率Tを算出し、T=S1/S0数式1但し、S1:ガス濃度測定時に補正用受光素子から出力される受光信号の大きさS0:測定対象空間が清浄状態にある時に補正用受光素子から出力される初期光量信号の大きさ前記ガス濃度補正手段は、測定対象ガスの濃度測定値G0と光透過率Tとを用い、数式2に基づいてダストに起因する光量変化量を補正したガス濃度信号G1を算出する、G1=G0/T数式2ことを特徴とするレーザ式ガス分析計。上述したように、レーザ式ガス分析計は測定対象ガスが存在する空間に直接レーザ光を出射してガス濃度を計測するものであり、測定対象空間が清浄な環境下であれば問題なくガス濃度の検出ができる。しかしながら、レーザ式ガス分析計の多くは、工場やごみ焼却場の排ガスプロセスや煙道などに設置される。その場合には、測定対象空間内に少なからずダスト煤塵が存在し、このダスト量の変動がガス濃度の計測に影響を与えることがある。例えば、測定対象空間内のダストが多い場合には、ダストによってレーザ光源204からの出射光が遮られて受光素子207の受光光量が減少する。このダストに起因する受光光量の減少と、ガスによる光吸収の結果として生じる光量減少との区別は一般的に困難であって、ダストが多く発生し、かつダストの発生量が大きく変動する場合には、ガス濃度の検出誤差が大きくなり、計測精度を保つことができなくなるという問題が生じる。このダスト由来の受光光量変化に伴うガス濃度検出誤差を低減する対策として、特許文献1に記載された従来のレーザ式ガス分析計では、レーザ光源204からの出射光のうち、測定ガスによる吸収を受けない一部の光を利用して、ガス濃度の補正を行うようにしている。具体的には、受光素子207の出力信号から波長走査駆動信号の成分を抽出する抽出手段を付加し、この抽出手段の出力信号と受光光量設定値ダストがない清浄な環境で測定した場合の抽出手段の出力信号レベルとの比である補正係数を用い、ガス吸収波形の振幅を補正している。このようなガス吸収波形の振幅を補正する手段を備えたレーザ式ガス分析計によれば、測定対象ガスが低濃度のHCl塩化水素やNH3アンモニアといったガスであれば、ダストに起因する受光光量変動があっても正確にガス濃度の検出ができる。しかしながら、測定対象ガスの濃度が高い場合、もしくは測定対象ガスがSOx硫黄酸化物、NOx窒素酸化物等の場合には、ガスの吸収スペクトルが中赤外線域において広域に渡って多数存在するために、レーザ光源204からの出射光をガス吸収の影響を受けない波長域に選択することは困難であり、ダストに起因する受光光量の変化であるのか、測定対象ガスによる光吸収で生じた受光光量の変化であるのかを判別できず、補正手段がうまく機能しないという問題がある。つまり、従来装置にあっては、ダストに起因する受光光量変動の影響を測定用のレーザ光源204からの出射光の一部を使ってガス吸収波形を補正することで対応しているものの、高濃度のガスやSO2等のガス濃度を計測する場合には適用できず、この点に関しての改良が望まれる。そこで、本発明の目的は、高濃度ガスやSO2等の測定ガスを計測する際に、ダスト計等の他の計器を必要とせずに、ダストが多く存在する環境下にあっても正確にガス濃度の測定が可能なレーザ式ガス分析計を提供することにある。上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、測定対象ガスの光吸収スペクトルを含む波長のレーザ光を出射する測定用レーザ光源と、前記測定用レーザ光源から出射されたガス測定用レーザ光を測定対象空間を介して受光する測定用受光素子と、前記測定用受光素子の受光信号から測定対象ガスによる光吸収の影響を受けた信号成分を抽出し、この信号成分の変化量から測定対象ガス濃度を演算するガス濃度演算手段と、を有するレーザ式ガス分析計であって、前記測定用レーザ光源の近傍に配置され、前記ガス測定用レーザ光の光軸と平行な光軸上に、前記測定対象ガスによる光吸収を受けない波長の補正用参照光を出射する補正用光源と、前記測定用受光素子の近傍に配置され、前記補正用参照光を前記測定対象空間を介して受光する補正用受光素子と、前記補正用受光素子からの受光信号と予め設定されている初期光量信号とから前記測定対象空間における光の透過率を検出する光透過率検出手段と、前記ガス濃度演算手段により求めた測定対象ガスの濃度測定値を、前記光透過率検出手段から出力された光透過率を用いて補正するガス濃度補正手段と、を備えたことを特徴とする。請求項2に係る発明は、請求項1に記載したレーザ式ガス分析計において、前記光透過率検出手段は、数式1に基づいて光透過率Tを算出し、T=S1/S0数式1但し、S1:ガス濃度測定時に補正用受光素子から出力される受光信号の大きさS0:測定対象空間が清浄状態にある時に補正用受光素子から出力される初期光量信号の大きさ前記ガス濃度補正手段は、測定対象ガスの濃度測定値G0と光透過率Tとを用い、数式2に基づいてダストに起因する光量変化量を補正したガス濃度信号G1を算出する、G1=G0/T数式2ことを特徴とする。本発明によれば、ダストが多い環境において、SO2等のガス濃度を測定する場合にも、ダスト計等の別の計器を用いることなく、測定対象空間に存在するダストの影響を除去してガス濃度を正確に測定することができる。以下、本発明の実施形態について、添付図面を参照して説明する。図1は、本発明の実施形態に係るレーザ式ガス分析計の構成を示している。図1において、発光部フランジ201a,受光部フランジ201bは、例えば、測定対象ガスが内部を通過する煙道等の煙道壁101a,101bに、溶接等によってそれぞれ固定されている。発光部フランジ201aには、取付座202aを介して有底円筒状の発光部筐体203aが取り付けられている。この発光部筐体203aの内部は、光軸調整機能を有するウェッジ窓210aで仕切られて気密となっており、ガス測定用レーザ光源204、コリメートレンズ205、及びレーザダイオードからなる補正用光源208が配置されている。発光部筐体203aの端部には、発光部回路基板213を収納する発光部ケース214が設けられている。発光部回路基板213には、測定用レーザ光源204と補正用光源208の発光を制御する不図示の制御回路が搭載されている。この制御回路から電気信号が送られて、測定用レーザ光源204、補正用光源208は、それぞれ、ガス測定用レーザ光401、補正用参照光402を出射するように構成されている。図2は測定用レーザ光源204の構成を示している。測定用レーザ光源204は、波長走査駆動信号発生部204aと、高周波変調信号発生部204bと、からなるレーザ駆動信号発生部204sを備えている。波長走査駆動信号発生部204aは、測定対象ガスの吸収波長を走査するようにレーザ素子の発光波長を可変とし、高周波変調信号発生部204bは、測定対象ガスの吸収波長を検出するために、例えば50kHz程度の正弦波で波長を周波数変調する。これらの信号発生部204a,204bの出力信号をレーザ駆動信号発生部204s内で合成することにより、レーザ駆動信号が生成される。レーザ駆動信号発生部204sから出力されたレーザ駆動信号は電流制御部204cにより電流に変換され、半導体レーザからなるレーザ素子204eに供給される。レーザ素子204eに近接して、温度検出素子としてのサーミスタ204fが配置され、サーミスタ204fにはペルチェ素子204gが近接して配置されている。ペルチェ素子204gは、サーミスタ204fの抵抗値が一定値になるように温度制御部204dによってPID比例積分微分制御され、レーザ素子204eの温度を安定化させる。波長走査駆動信号発生部204aの出力信号は、図3に示すように、一定周期で繰り返されるほぼ台形波状の信号である。図3における信号W1は、吸収波長は走査しないがレーザ素子204eは発光させておくオフセット部分であり、レーザ素子204eの発光が安定するスレッショルド電流値以上の値にしておく。図3において、吸収波長を走査する信号W2は、電流制御部204cを介してレーザ素子204eに供給される電流の大きさを直線的に変える部分である。この信号W2によってレーザ素子204eの発光波長を徐々にずらしていき、例えば、測定対象ガスがSO2ガスであれば、0.2nm程度の線幅を走査可能としている。なお、図3では、高周波変調信号の周波数を50kHz、波長走査駆動信号の周波数を0.2kHzとしてあり、λ1はオフセットに相当する波長、λ2,λ3はSO2ガスの吸収波長に相当する走査範囲の上下限値を示している。測定用レーザ光源204から出射されたレーザ光は、コリメートレンズ205を含む光学系によって平行光となり、ガス測定用レーザ光401として、フランジ201aの中心を通って煙道内部1に照射される。このガス測定用レーザ光401は、煙道内部1に存在する測定対象ガスによる光吸収の影響を受ける。また、補正用光源208から出射される補正用参照光402の波長は、測定用レーザ光401の波長と異なるように設定されている。さらに、補正用レーザ光源208から出射される補正用参照光402の光軸402aと測定用レーザ光401の光軸401bとは、近接し、かつ平行になるように位置決め調整されている。この補正用参照光402は、フランジ201aの中心を通って煙道内部1に照射されるが、測定対象ガスによる光吸収の影響を受けない。一方、受光部フランジ201bには、取付座202bを介して有底円筒状の受光部筐体203bが取り付けられている。この受光部筐体203bの内部は、光軸調整機能を有するウェッジ窓210bで仕切られて気密となっており、集光レンズ206、測定用受光素子207、及び補正用受光素子209が配置されている。そして、受光部筐体203bの端部には、受光部回路基板211を収納する受光部ケース212が設けられている。煙道内部1を通過したガス測定用レーザ光401は、受光部筐体203b内の集光レンズ206で集光されて測定用受光素子207により受光される。ガス測定用受光素子207は例えばフォトダイオードによって構成されており、レーザ素子204eの発光波長に感度を持つ受光素子が使用される。測定用受光素子207によって検出された光信号は、電流信号に変換され、受光部回路基板211に設けられている信号処理回路に入力される。図4は、受光部回路基板211上の信号処理回路の構成を示している。なお、この信号処理回路は、後述するとおり、請求項におけるガス濃度演算手段光透過率検出段及びガス濃度補正手段として機能するものである。まず、ガス測定用受光素子207の出力電流は、I/V変換器211aにより電圧に変換される。I/V変換器211aの出力信号は、発振器211cからの2f信号2倍波信号が加えられる同期検波回路211bに入力され、出射光の変調信号の2倍周波数成分の振幅のみが抽出される。同期検波回路211bの出力信号は、ノイズ除去用のフィルタ211dを介してCPU等の演算部211eに送られる。また、煙道内部1を通過した補正用参照光402は、測定用受光素子207により受光される。補正用受光素子209もフォトダイオードによって構成されており、補正用光源208の発光波長に感度を持つ受光素子が使用される。この補正用受光素子209の出力電流は、I/V変換器211aにより電圧に変換された後、演算部211eに送られる。次いで、本実施形態に係るレーザ式ガス分析計の測定動作について述べる。まず、図4の受光部回路基板211上の信号処理回路において、測定対象ガスによる測定用レーザ光401の吸収がない場合には、同期検波回路211bによって2倍波信号が検出されないので、同期検波回路211bの出力はほぼ直線となる。一方、測定対象ガスによる測定用レーザ光401の吸収がある場合は、同期検波回路211bによって2倍波信号が検出され、その出力波形は図3に示すようになる。この波形におけるAが測定対象ガスによる吸収を受けた部分ガス吸収波形であり、この吸収波形Aの最大値または最小値が測定対象ガスの濃度に相当する。従って、演算部211eでは、ガス吸収波形Aの最大値または最小値を測定するか、あるいはガス吸収波形Aの一部または全部を積分し、その積分値からガス濃度信号G0を得るようにしている。ここで問題になるのが、測定空間内に存在するダスト由来の受光光量変化であるが、本実施形態では、補正用光源208から出射され、煙道内部1を透過してきた補正用参照光402を用い、測定時のダスト濃度に応じてガス濃度の測定値ガス濃度信号G0を補正するようにしている。この補正処理は、受光部回路基板211に搭載された演算部211e等により実行される。以下。この補正処理の内容について詳述する。ガス測定用レーザ光401と異なる波長の補正用参照光402を受光した補正用受光素子209からの出力電流は、I/V変換器211fにより電圧に変換された後、受光信号S1として演算部211eに送られる。演算部211eでは、この受光信号S1と、不図示の記憶手段に予め設定しておいた煙道内部1が清浄状態にある時の受光信号S0初期値とを用い、煙道内部1を透過する光の透過率Tを数式1に基づいて算出する。T=S1/S0数式1この光透過率Tは、ダストの発生量に応じて変化する。例えばダストが多い場合には透過率Tは小さくなる。このとき、上述のガス濃度信号G0もダストの影響を受けて小さくなってしまう。この影響を除去するために、演算部211eでは、ダストに起因する光量変化量を補正した補正後ガス濃度信号G1を、ガス濃度信号G0と、光透過率Tとを用い、数式2に基づいて算出するようにしている。G1=G0/T数式2この補正されたガス濃度信号G1は、受光部回路基板211から外部の表示ユニットへ出力され、煙道内部1のガス濃度として表示される。上述の説明から明らかなように、この実施形態によれば、煙道内部等の測定対象空間にダストが多く発生している状況下において、SO2等のガス濃度を測定する場合であっても、光透過率を用いてガス濃度の測定値を補正するようにしているので、ダストの影響を除去してガス濃度を高精度に測定することができる。なお、この実施形態では、補正用参照光402の光源としてレーザダイオードを用いているがLEDなどの光源であってもよい。この光源の種類以外に関しても、本発明は上述の実施形態に限定されず、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更を含むものである。"