使い捨てのディスク本体の上に、複数の試薬部を備えた一検体用の検査部を、相互に間隔を開けて複数配置して成り、検査用試薬部に検体を点着して検査用試薬部の呈色反応を光学的に測定する分析機で用いられる使い捨て試験プレートであって、前記ディスク本体が、その外周に下方へ延びる外周壁を有し、前記外周壁の下端に外方に向けて伸びるフランジを備え、前記外周壁に、外周壁の高さ方向に沿って外周壁の上端から下端まで伸びる凸状又は凹状の係止部を複数周方向に不当間隔に配置したことを特徴とする使い捨て試験プレート。前記ディスク本体が円形であり、前記検査部が放射状に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の使い捨て試験プレート。前記ディスク本体が、その中心部分に、ドーナツ状の溝を有し、該ドーナツ状の溝の側壁に、径方向内方に突出する突起が複数周方向に不当間隔に設けられていることを特徴とする請求項2に記載の使い捨て試験プレート。外周壁に凸状又は凹状の係止部が複数周方向に不当間隔に設けられた請求項1~3の何れか一項に記載の第一の試験プレートと、外周壁に凸状又は凹状の係止部が、第一の試験プレートとは異なる間隔で、複数周方向に不当間隔に設けられた請求項1~3の何れか一項に記載の第二の試験プレートとを、交互に積み重ねて成ることを特徴とする使い捨て試験プレート集合体。上記した試験プレートEによれば、外周壁E1に設けた前記係止部E6によって複数枚の試験プレートEを、相互に嵌り合うことなく、積み重ねて保管することができる。しかし、上記した従来の試験プレートEは、図8に示すように、その係止部E6を外周壁E1の上部に設けているため、成形時に離型性が悪いという問題があった。発明者等は、離型性の問題を解消するために、前記係止部E6を外周壁E1の高さ方向にのびる溝状に形成することを見出したが、このように構成すると以下のような問題が生じる。ここで、問題点を明確にするために、試験プレートの使用状態について説明をする。上記したように構成された試験プレートは、通常、複数枚の試験プレートを積み重ねた集合体をパッケージ化した状態で販売され、移送される。そして、病院や検査室においても積み重ねた集合体の状態のままで保管され、使用時にも積み重ねた集合体の状態のまま分析機等にセットされる。このように、試験プレートは、実際に分析機において使用される迄の間は、積み重ねられた状態にある。このため、例えば、移送中や分析機にセットする前の保管中等に、試験プレート集合体の上に荷物が載せられる等して、試験プレート集合体に上下方向から力が加えられることがある。一方、前記したように外周壁の高さ方向にのびる溝状に形成された係止部が、先に提案した試験プレートのように外周壁に等間隔で形成されていると、上下の試験プレートの係止部の位置が全て合致してしまうことがある。このように係止部の位置が全て合致している状態で、試験プレート集合体に上下方向から力が加えられると、上側の試験プレートの係止部が、下側の試験プレートの係止部に入り込み、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合ってしまうという問題が生じる。本発明は、上記した従来の問題点を解決し、複数枚積み重ねた状態において上下方向から力が加えられても、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合う可能性を低減させることができる試験プレートを提供することを目的とし、かつ、上下方向から力が加えられても、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合うことがない試験プレート集合体を提供することを目的としている。上記した目的を達成するために、本発明に係る使い捨て試験プレートは、使い捨てのディスク本体の上に、複数の試薬部を備えた一検体用の検査部を、相互に間隔を開けて複数配置して成り、検査用試薬部に検体を点着して検査用試薬部の呈色反応を光学的に測定する分析機で用いられる使い捨て試験プレートであって、前記ディスク本体が、その外周に下方へ延びる外周壁を有し、前記外周壁の下端に外方に向けて伸びるフランジを備え、前記外周壁に、外周壁の高さ方向に沿って外周壁の上端から下端まで伸びる凸状又は凹状の係止部を複数周方向に不当間隔に配置したことを特徴とする。また、本発明に係る使い捨て試験プレート集合体は、外周壁に凸状又は凹状の係止部が複数周方向に不当間隔に設けられた第一の試験プレートと、外周壁に凸状又は凹状の係止部が、第一の試験プレートとは異なる間隔で、複数周方向に不当間隔に設けられた第二の試験プレートとを、交互に積み重ねて成ることを特徴とする。本発明に係る使い捨て試験プレートは、使い捨てのディスク本体の上に、複数の試薬部を備えた一検体用の検査部を、相互に間隔を開けて複数配置して成り、検査用試薬部に検体を点着して検査用試薬部の呈色反応を光学的に測定する分析機で用いられる使い捨て試験プレートであって、前記ディスク本体が、その外周に下方へ延びる外周壁を有し、前記外周壁の下端に外方に向けて伸びるフランジを備え、前記外周壁に、外周壁の高さ方向に沿って外周壁の上端から下端まで伸びる凸状又は凹状の係止部を複数不当間隔に配置しているので、成形時の離型性が良好であり、かつ、複数枚積み重ねた時に上下の試験プレートの係止部が全て合致してしまう可能性は極めて低くなり、その結果、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合う可能性を著しく低減されることができるという効果を奏する。また、本発明に係る使い捨て試験プレート集合体は、外周壁に凸状又は凹状の係止部を複数不当間隔に設けられた第一の試験プレートと、外周壁に凸状又は凹状の係止部が、第一の試験プレートとは異なる間隔で、複数不当間隔に設けられた第二の試験プレートとを、交互に積み重ねて成るので、複数枚積み重ねた時に上下の試験プレートの係止部が全て合致してしまう可能性は完全になくなり、移送時又は保管時に該集合体に上下方向から力が加えられても、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合うことがない。分析機に、試験プレートを補充する場合には、前の集合体の残りの上に、新しい集合体を乗せることになり、このような場合、前の集合体の一番上にある試験プレートが第一の試験プレートであり、補充する集合体の一番下にある試験プレートも第一の試験プレートである場合がある。しかし、このような場合であっても、第一試験プレート及び第二試験プレートの係止部が、それぞれ不当間隔に設けられているので、上下の試験プレートの係止部が全て合致してしまう可能性は極めて低く、上下の試験プレートが相互に完全に嵌り合う可能性は著しく低い。以下、添付図面に示した一実施例を参照しながら本発明に係る使い捨て試験プレートの実施の形態について説明していく。図1は、試験プレートの一実施例の上面図であり、図2aは図1におけるA-A断面図、図2bは図1におけるB-B断面図である。また、図3aは図1におけるC-C断面図、図3bは図1におけるD-D端面図、図3cは図1におけるE-E断面図を夫々示している。これらの図面に示すように、試験プレートAは、周囲に下方に延びる外周壁A1が形成された円盤状のディスク本体A2を有する。また、外周壁A1の下端には径方向外方に伸びるフランジA3が形成されている。試験プレートAの中心には、自動分析機のターンテーブル図示せずに係止する係止部A4が形成され、この係止部A4を囲むようにドーナツ状の溝A5が形成されており、このドーナツ状の溝A5の周囲にはドーナツ状の突起A6が形成されている。尚、図示していないが前記ターンテーブルは、一枚の試験プレートAを搭載して、該試験プレートAを保管位置から点着及び分析位置まで移送したり、点着及び分析位置において試験プレートを回転させたりするように構成されているものである。試験プレートAのディスク本体A2の上面には、放射方向に伸びる細長い凹部から成る検査部A9が相互に間隔をあけて複数形成されている本実施例では22個。各検査部A9を形成する凹部の側壁には、内部に試験紙を収容して保持するように複数の突起A10が形成されている。各検査部A9には、検体中の被検出物質と反応して発色する試薬を担持した複数の検査用試薬部A11をストリップ上に設けて成る試験紙A12が取り付けられており、各検査部A1が一検体用の検査部として機能する。尚、図3においては試験紙A12は省略されているが、基本的には、全ての検査部A9に試験紙A12を装着して用いられる。さらに試験プレートAのディスク本体A2には、電子コード化した個別識別子をバーコードの形態等で印字したラベルA13が貼り付けられている。また、前記ラベルA13には、光学測定用の内部標準となる色見本も印刷され得る。前記個別識別子には、個々の使い捨て試験プレートAを識別可能な識別情報に加えて、色見本が印刷されている場合には、色見本光学測定用の内部標準となる色見本に関する色情報が含まれ得る。色見本の色情報は、具体的には、例えば、RGB値及び明暗値であり得る。尚、この実施例では、個別識別子及び色見本を印字したラベルA13をディスク本体A2に貼り付けているが、個別識別子及び色見本は、ディスク本体A2に直接印字してもよく、また、個体識別子はタグ等で構成してもよい。試験プレートAは、その中央部分と、その外周部分とのそれぞれ係止部を有する。試験プレートAの中央部分に設けられたドーナツ状の溝A5の側壁には、径方向内方に突起する内側係止部A7が不当間隔で4箇所に形成されている図1及び図2参照。これらの内側係止部A7は図2に示すように、溝A5の側壁の高さ方向中間位置から下端まで、側壁の高さ方向に沿って略垂直にのびるように形成されている。また、試験プレートAの外周壁A1には、径方向内方に凹む溝状の外側係止部A8が不当間隔で12箇所に形成されている。これらの外側係止部A8は、外周壁A1の高さ方向に沿って外周壁A1の上端から下端までのびるように形成されている図1及び図3参照。これら外側係止部A8は、前記したように隣接する外側係止部A8間の間隔が不等間隔である。具体的には、例えば、図示実施例では、係止部A8-1と係止部A8-2との間の間隔は27°であり、係止部A8-2と係止部A8-3との間の間隔は30°であり、係止部A8-3と係止部A8-4との間の間隔は23°であり、係止部A8-4と係止部A8-5との間の間隔は26°であり、係止部A8-5と係止部A8-6との間の間隔は30°であり、係止部A8-6と係止部A8-7との間の間隔は29°であり、係止部A8-7と係止部A8-8との間の間隔は35°であり、係止部A8-8と係止部A8-9との間の間隔は25°であり、係止部A8-9と係止部A8-10との間の間隔は21°であり、係止部A8-10と係止部A8-11との間の間隔は34°であり、係止部A8-11と係止部A8-12との間の間隔は28°である。上記したように、係止部A7及びA8を設けることにより、試験プレートAを積み重ねた時に、上側の試験プレートAの溝A5の底面が下側の試験プレートAの内側係止部A7の上に載り、上側の試験プレートAの外側係止部A8が下側の試験プレートAのディスク本体A2の上に載り、上下の試験プレートAが完全に嵌り合うことがない図4参照。また、係止部A7及びA8を不等間隔に設けているので、試験プレートAを積み重ねた時に、上側の試験プレートAの係止部A8の位置と、下側の試験プレートAの係止部A8の位置が全て合致してしまう可能性は極めて低くなり、よって、試験プレートを複数枚重ねた試験プレート集合体に上方又は下方から力が加えられても、上下の試験プレートが相互に嵌り合う可能性は極めて低くなる。さらに、全ての内側係止部A7が溝A5の側壁の高さ方向中間位置から下端まで、側壁の高さ方向に沿って略垂直にのびるように形成され、外側係止部A8が外周壁A1の高さ方向に沿って上端から下端までのびるように形成されているため、成形時に係止部が型に引っかかることがなくなるため離型性が良好になり、大量生産が可能になる。次に、図5~図7を参照しながら、本発明に係る試験プレート集合体の実施の形態について説明していく。尚、この実施例に示す試験プレートは、内側係止部及び外側係止部の数及び位置が図1に示した実施例の試験プレートと異なるだけで、それ以外の構成は全て図1に示した試験プレートと同一であるため、以下の説明では重複する構成の説明については省略する。また、図5及び図6においては、図面を簡単化するために、検査部は省略する。図5aは第一の試験プレートBの概略上面図であり、図5bは第二の試験プレートCの概略上面図である。図5aに示すように、第一の試験プレートBは、その中心部分にあるドーナツ状の溝B1の側壁に、径方向内方に突起する内側係止部B2が4つ形成されており、かつ、その外周壁B3に、径方向内方に凹む溝状の係止部B4が4つ形成されている。4つの内側係止部B2は不当間隔に設けられており、具体的には、係止部B2-1と係止部B2-2との間の間隔は100°であり、係止部B2-2と係止部B2-3との間の間隔は80°であり、係止部B2-3と係止部B2-4との間の間隔は110°であり、係止部B2-4と係止部B2-1との間の間隔は70°である。また、4つの外側係止部B4も不当間隔に設けられており、具体的には、係止部B4-1と係止部B4-2との間の間隔は80°であり、係止部B4-2と係止部B4-3との間の間隔は100°であり、係止部B4-3と係止部B4-4との間の間隔は70°であり、係止部B4-4と係止部B4-1との間の間隔は110°である。図5bに示すように、第二の試験プレートCは、その中心部分にあるドーナツ状の溝C1の側壁に、径方向内方に突起する内側係止部C2が5つ形成されており、かつ、その外周壁C3に、径方向内方に凹む溝状の係止部C4が5つ形成されている。5つの内側係止部C2は不当間隔に設けられており、具体的には、係止部C2-1と係止部C2-2との間の間隔は65°であり、係止部C2-2と係止部C2-3との間の間隔は85°であり、係止部C2-3と係止部C2-4との間の間隔は80°であり、係止部C2-4と係止部C2-5との間の間隔は70°であり、係止部C2-5と係止部C2-1との間の間隔は60°である。また、5つの外側係止部C4も不当間隔に設けられており、具体的には、係止部C4-1と係止部C4-2との間の間隔は80°であり、係止部C4-2と係止部C4-3との間の間隔は60°であり、係止部C4-3と係止部C4-4との間の間隔は85°であり、係止部C4-4と係止部C4-5との間の間隔は65°であり、係止部C4-5と係止部C4-1との間の間隔は70°である。上記したように、第一試験プレートBと第二試験プレートCとは、それぞれ係止部B2及びB4並びにC2及びC4が不当間隔で設けられている。そして、第一試験プレートBと第二試験プレートCとは、相互に、係止部B2及びB4並びにC2及びC4の数及び位置が異なる。従って、図6に示すように、第一試験プレートBと第二試験プレートCとを上下に重ね合わせた時に、第一試験プレートBの係止部B2及びB4と、第二試験プレートCの係止部C2及びC4との位置が全て合致することはない。試験プレート組立体は、第一試験プレートB及び第二試験プレートCを交互に積み重ねることによって構成され図7参照、その状態で移送及び保管が行われ、さらに、積み重ねられたままの状態で分析機にセットされ得る。試験プレート組立体は、分析機にセットされた後、一枚づつターンテーブル上に取り出され、点着及び分析に供される。ディスク本体上に検査部が放射状に配置された試験プレートは、適当な測定装置の下方で回転させられ、点着後の各検査部の試薬部の呈色反応が光学的に検出される。上記した実施例では、外側係止部が全て径方向内方に凹む溝状に形成されているが、外側係止部の構成は本実施例に限定されることなく、例えば、径方向外方に突出するように形成してもよい。また、内側係止部及び外側係止部の数は本実施例に限定されることなく、任意の数でよい。さらにまた、内側係止部及び外側係止部の数は、本実施例に限定されることなく、不当間隔であれば任意の間隔でよい。さらにまた、上記した実施例では、ディスク本体が円形であり、検査部が放射状に配置されているが、ディスク本体の形状及び検査部の配置は本実施例に限定されるものではない。例えば、ディスク本体の形状は矩形であってもよい。また、検査部は並行に配置してもよい。