"対象となる加工品の表面領域に、前記加工品の軸方向に延び、円周方向に互いに間隔をあけた複数の触針断面が実行され、かつ、前記触針断面によって得られる測定値に基づいて、リード構造の少なくとも1つのパラメータが算出される、少なくとも一部円筒状の加工品の表面粗さにおけるリード構造の算出方法において、第1の触針断面に帰属する測定値に基づいて、前記リード構造の少なくとも1つのパラメータの推定値が算出され、かつ、少なくとも1つの第2の触針断面に帰属する測定値に基づいて、前記推定値が補正されることを特徴とする、方法。新たに触針断面が検出される毎に、1つまたは複数の推定値が補正されることを特徴とする、請求項1記載の方法。前記パラメータの最終結果を算出するために、全触針断面の測定値が考慮されるまで前記推定値の補正が繰り返されることを特徴とする、請求項1または2記載の方法。前記第1触針断面に帰属する測定値に基づいて、リード深さおよび周期長の推定値が算出されることを特徴とする、請求項1~3の一項記載の方法。前記第2触針断面を実行後に、前記リード構造の線条数の推定値が算出されることを特徴とする、請求項4記載の方法。本発明は、請求項1のプリアンブルに挙げられた方式の、少なくとも一部円筒状の加工品の表面粗さにおけるリード構造を算出するための方法を提示するという課題に基づくもので、この方法は、連続製作への投入適性を改善する。この課題は、請求項1に提示された発明によって解決される。さらに本発明は、触針断面方法における触針式測定を出発点としている。この測定は、測定データを検出するために非常に多くの時間を要すると理解されている。0.5mm/secの慣例の送り速度および2mmの測定区間では、4分48秒の、理論的に最小の測定時間が判明する。このことから出発して、本発明は、明白な結果がより迅速に得られるように公知の方法を修正するという概念に基づく。このことから出発して、本発明は、完全な測定データレコードを検出することなく、例えば72の触針断面からリード構造を認識するという更なる概念に基づく。本発明の基本概念は、それぞれ検出した触針断面毎に1つの暫定的なリード構造を当てはめ、これに帰属する、リード構造の対象となるパラメータの暫定的な値を算出することにある。それぞれ更なる触針断面の測定値を考慮することで、パラメータの推定値が実際の最終結果に近づく。したがって、本発明は、リード構造を迅速に認識することが可能な高速試験を提供する。このことから、連続製作の測定過程の範囲における本発明の方法の使用可能性が著しく改善される。上述のように、リード構造に関して初めに記述したことから、第1触針断面の測定値を評価することですでに本発明が明らかになる。有利な発展形態は、それぞれ新たに触針断面が検出される毎に推定値が補正されることになっている。この実施形態では、それぞれ更なる触針断面の測定値を追加することで、プロセス結果の精度が改善され、最終的には全触針断面の測定データの評価に基づく1つの最終結果へ収斂する。このことに関連して、パラメータの最終結果を算出するために、全触針断面の測定値が考慮されるまで推定値の補正を繰り返すことが好ましい。このようにして、一方では、リード構造が存在するか、およびどのような表れ方でリード構造が存在するかに関して迅速に言い表すことができる。他方では、全触針断面の測定値を考慮することによって、高い精度が生じる。1つの触針断面に帰属する測定値を、次の触針断面の実行と同時に評価できるという長所が、公知の方法との比較において生じる。本発明のその他の発展形態では、第1の触針断面に帰属する測定値に基づいて、リード深さおよび周期長の推定値が算出される。その他の発展形態によると、第2の触針断面の実行後に、リード構造の線条数の推定値が算出されることになっている。以下に、本発明を実施例に基づいて詳しく説明する。この場合、記述され、特許請求の範囲で請求された全ての特徴が、特許請求の範囲およびその逆関連づけにおけるその要約ならびにその記述からは独立して、それ自体で、ならびに互いに任意に組み合わせることで本発明の対象となっている。少なくとも一部円筒状の加工品の表面粗さにおけるリード構造を算出するための本発明の方法の実施例は、以下のように行われる。リード構造を算出するために、まず対象となる加工品の表面領域に、この加工品の軸方向に延び、円周方向に互いに間隔をあけた複数の触針断面が実行され、この場合、第1の大まかな測定パターンは、円周上にある、5°の角度幅と少なくとも2mmの測定長を有する72の触針断面から構成される。この大まかな測定パターンは、15の最大線条数を備えた、リード構造を描写できるようにする。それより多い線条数は、第2のパターンを用いて検出され、これは、0.5°の角度幅と、同じく2mmの測定長を有する72の触針断面から構成される。その評価に基づいて、測定データレコードから優位なリード構造が再現される。このために、加法により重ねられた、8つの自由パラメータΘ=[Θ1、...、Θ8]Tを含む3つの調和関係コサイン関数から構成される関数wmΔθ,nΔx,Θが、最小偏差二乗の合計による離散的測定データzmΔθ,nΔxへ当てはめられる。補正関数wmΔθ、nΔx、Θは、によって決められ、ここでは、Δx:軸方向の触針間隔mmΔΦ:円周方向の触針間隔°ならびに、パラメータは、λ:軸方向の周期成分の波長mmDG:整数の線条数単位無しΑk:コサイン関数の振幅μmφk:コサイン関数の角変位ラジアンとなる。評価の詳細ならびに測定データの検出は、文献箇所J.Seewig、T.Hercke:第2世代のリード測定法2ndGenerationLeadMeasurement非特許文献1、XIX国際計測連合基礎および応用計測国際会議XIXIMECOWorldCongressFundamentalandAppliedMetrology、2009年、1957~1961ページ、ISBN978-963-88410-01、リスボン、ポルトガルから公知であり、そのため、ここでは詳しい説明は行わない。本発明の方法に基づいて、上記の方程式1の最適化問題が適切に評価される。文献箇所J.Seewig、T.Hercke:第2世代のリード測定法2ndGenerationLeadMeasurement非特許文献1、XIX国際計測連合基礎および応用計測国際会議XIXIMECOWorldCongressFundamentalandAppliedMetrology、2009年、1957~1961ページ、ISBN978-963-88410-01、リスボン、ポルトガルによると、基本アルゴリズムは、軸方向および円周方向の、2つの独立して行われる離散的フーリエ変換から構成される。この場合、まず軸方向の変換が行われ、続いて円周方向の変換が行われる。円周方向の離散的フーリエ変換は、円周上には整数の周期のみ現れるために、数字で有効に表すことができる。補正関数w0Δθ、nΔx、Θ0を用いて、リード深さの第1の推定値Dt0および周期長の第1の推定値DP0が算出される。線条数は、第1の触針断面後にはまだ決められていないので、DG0=0が設定される。続いてリード測定規則にしたがって更なる触針断面が検出される。新たに触針断面が検出される毎に、その前に算出されたパラメータが補正される。この場合、予め行われた軸方向の全離散的フーリエ変換はメモリに保持され、その時々の触針断面の変換によってのみ補充する必要がある。このことは、数字で有効に表すことができるアルゴリズムに対して同様に行われる。第2の触針断面の測定後に、初めて線条数の予測が可能となる。パラメータは、それぞれ補正することで、標準化されたリード測定の実際の最終結果に近づく。72の触針断面およびその結果を評価した後に、最終結果が正確になる。本発明の方法によって、リード構造の算出において高速試験が使用できるようになる。本発明の方法は、リード構造が存在するか、およびどのような表れ方でリード構造が存在するかに関する疑問の第1の判断を、第1触針断面に帰属する測定値の評価後にすでに行えるようにする。すでにこの段階で、リード深さおよび周期長の推定値を算出できる。それぞれ更なる触針断面の測定値を考慮することで精度が向上し、この場合、第2触針断面に帰属する測定値の評価後に初めて線条数の推定値が得られる。"