"発光制御自在な発光素子を備え、感光体の被走査面に形成する画像に応じて前記発光素子の発光を制御して光ビームを出射する光源部と、前記光源部が出射した光ビームを、前記感光体の被走査面に対して主走査方向に走査する走査部と、前記走査部が前記光ビームを前記感光体の被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときの前記発光素子の発光時間を含む発光パターンを、その1ライン長の走査中に求める演算部と、前記走査部が前記光ビームを前記感光体の被走査面に対して主走査方向に走査したときに、前記感光体の像高に応じて生じる光量偏差を補正するためのシェーディングパターンと、前記発光素子の1ライン長毎の発光パターンに応じた発熱の影響による前記シェーディングパターンの変化を補正するための補正値と、を記憶する記憶部と、前記演算部が求めた前記発光素子の発光パターンに対応する補正値を前記記憶部から読み出し、読み出した補正値に基づいて前記シェーディングパターンを補正し、この補正したシェーディングパターンに応じた光量で光ビームを出射するように、前記発光素子の発光を制御する発光制御を1ライン長毎に行う光源制御部と、を備えた光ビーム走査ユニット。前記演算部は、前記走査部が前記光ビームを前記感光体の被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときの前記発光素子の発光開始タイミングを、その1ライン長の走査前に求め、前記発光パターンは、前記発光素子の発光時間に加えて、前記演算部が求めた前記発光素子の発光開始タイミングを含む、請求項1に記載の光ビーム走査ユニット。前記光源部の発光素子は、光ビーム駆動用の制御電圧によって駆動され、前記光源制御部は、前記光ビーム駆動用の制御電圧を、前記シェーディングパターンの補正値と、周囲温度に応じた値と、により補正する、請求項1または2に記載の光ビーム走査ユニット。前記光源部は、前記光ビーム駆動用の制御電圧に比例した光量の光ビームを出射する、請求項1乃至3のいずれかに記載の光ビーム走査ユニット。前記光源制御部は、前記光ビーム駆動用の制御電圧を、前記周囲温度に応じた値により補正する第1の補正部と、前記第1の補正部が補正した制御電圧をさらに前記シェーディングパターンの補正値により補正する第2の補正部と、を備えた、請求項3または4に記載の光ビーム走査ユニット。前記第2の補正部は、複数の分圧点を有し、前記第1の補正部が補正した制御電圧を分圧するラダー抵抗と、前記記憶部から読み出したシェーディング補正値に応じて、前記ラダー抵抗の各分圧点の電圧をそれぞれ、前記第1の補正部が補正した制御電圧、またはグランド電圧に切り換えるスイッチ群と、を備えた請求項5に記載の光ビーム走査ユニット。請求項1乃至6のいずれかに記載の光ビーム走査ユニットと、前記光ビーム走査ユニットが光ビームを走査して前記感光体の被走査面に形成した静電潜像に、トナーを供給して顕像化し、この顕像化したトナー像を記録材に転写して定着させる画像形成部と、を備えた画像形成装置。請求項1乃至6のいずれかに記載の光ビーム走査ユニットにおけるシェーディングパターンの補正値の記憶方法であって、前記発光素子による発光を複数種類の発光時間毎に順次測定するドループ特性測定工程と、前記走査部が光ビームを1ライン長走査するときに発生する光量偏差を、発光ポイント毎に部分点灯して測定するシェーディング特性の測定工程と、前記シェーディング特性の測定工程において測定した前記発光ポイント毎の光量偏差に基づいて、近似曲線から前記シェーディングパターンの補正値を生成するシェーディングパターンの生成工程と、前記シェーディングパターンの生成工程で生成した補正値を前記記憶部に記憶させるシェーディングパターンの記憶工程と、を備えた光ビーム走査ユニットにおけるシェーディングパターンの補正値の記憶方法。半導体レーザは、レーザビームの出射時間に応じて発熱し、この発熱によりレーザビームの光量が低下するドループ特性を有している。半導体レーザのドループ特性は、一般的に、図2に示すように、画像データに基づいて半導体レーザを発光させるときに、発光開始直後のレーザビームの光量aと、発光停止直前のレーザビームの光量bと、により下記の式1のように表される。ドループ特性=a-b/a×100.........式1ドループ特性は、半導体レーザ毎に異なっており、半導体レーザによってはドループ特性の悪いものがある。特許文献1に記載の画像形成装置では、ドループ特性が悪い半導体レーザが使用された場合、図3Aに示すように、レーザビームを連続点灯して主走査方向に走査すると、その間に光量が徐々に低下するので、感光体の終端付近ではかなり光量が低下する。その結果、例えば図3Bに示すようなシェーディング特性となる。すなわち、像高-50mmで光量が最大となり、感光体の始端よりも終端の方が光量偏差が小さくなる。この場合、像高にかかわらず光量を一定にするためには、図3Cに示すシェーディングパターンによりシェーディング補正を行う必要がある。しかしながら、特許文献1に記載の画像形成装置は、周囲温度の変化に応じたシェーディング特性を補正する機能は備えているが、この機能では、半導体レーザの発熱による温度変化に応じたシェーディング特性を補正することができない。そのため、この画像形成装置では、ドループ特性が悪い半導体レーザが使用されると、図3Cに示すようにシェーディング補正を適正に行うことができないという問題があった。そこで、本発明は、ドループ特性が悪い半導体レーザが使用されたとしても、シェーディング補正を適正に行うことができる光ビーム走査ユニット、画像形成装置、及び光ビーム走査ユニットにおけるシェーディングパターンの補正値の記憶方法を提供することを目的とする。この発明の光ビーム走査ユニットは、光源部と、走査部と、演算部と、記憶部と、光源制御部を備えている。光源部は、発光制御自在な発光素子を備え、感光体の被走査面に形成する画像に応じて発光素子の発光を制御して光ビームを出射する。走査部は、光源部が出射した光ビームを、感光体の被走査面に対して主走査方向に走査する。演算部は、走査部が光ビームを感光体の被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときの発光素子の発光時間を含む発光パターンを、その1ライン長の走査中に求める。記憶部は、走査部が光ビームを感光体の被走査面に対して主走査方向に走査したときに、感光体の像高に応じて生じる光量偏差を補正するためのシェーディングパターンと、発光素子の1ライン長毎の発光時間に応じた発熱の影響によるシェーディングパターンの変化を補正するための補正値と、を記憶する。光源制御部は、演算部が求めた発光素子の発光時間に対応する補正値を記憶部から読み出し、読み出した補正値に基づいてシェーディングパターンを補正し、この補正したシェーディングパターンに応じた光量で光ビームを出射するように、発光素子の発光を制御する発光制御を1ライン長毎に行う。発光素子の発光時間としては、累積発光時間と累積非発光時間のいずれかを用いるとよい。光ビーム走査ユニットでは、発光素子が光ビームを出射する時間に応じた自己発熱により、光ビームの光量が低下するドループ特性を有しており、ドループ特性が悪い場合、光ビームの出射時間に応じてシェーディングパターンが変化する。この発明では、発光素子の1ライン長の走査中に累積発光時間または累積非発光時間を求めて、この時間に応じてシェーディングパターンを補正する。これにより、ドループ特性の悪い発光素子が使用されたとしても、シェーディングパターンを適正に補正することができる。上記発明において、演算部は、走査部が光ビームを感光体の被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときの発光素子の発光開始タイミングを、その1ライン長の走査前に求める。また、発光素子の1ライン長毎の発光パターンは、発光素子の発光時間に加えて、演算部が求めた発光素子の発光開始タイミングを含む。この発明では、光ビームを1ライン長走査するときの発光素子の発光時間と発光開始タイミングに応じて光ビームのシェーディングパターンを補正する。発光素子は、発光時間だけでなく、発光開始タイミングが変化しても、シェーディングパターンが異なるので、上記のように補正することで、シェーディング補正をより適正に行うことができる。上記発明において、光源部の発光素子は、光ビーム駆動用の制御電圧によって駆動され、光源制御部は、光ビーム駆動用の制御電圧を、シェーディングパターンの補正値と、周囲温度に応じた値と、により補正される。発光素子は、周囲温度によっても光量が変化するので、光ビーム走査ユニットでは、周囲温度に応じたシェーディングパターンの補正が必要である。この発明では、発光素子の発光時間や発光開始タイミングだけでなく、周囲温度に応じて発光素子の発光量を補正する。したがって、シェーディングパターンの補正をさらに適正に行うことができる。上記発明において、光源部は、光ビーム駆動用の制御電圧に比例した光量の光ビームを出射する。この構成では、光ビームの光量が光ビーム駆動用の制御電圧に比例するので、この制御電圧を変更することで、光ビームの光量を正確かつ容易に制御できる。上記発明において、光源制御部は、第1の補正部と、第2の補正部を備えている。第1の補正部は、光ビーム駆動用の制御電圧を、周囲温度に応じた値により補正する。第2の補正部は、第1の補正部が補正した制御電圧をさらにシェーディングパターンの補正値により補正する。光ビーム走査ユニットでは、発光素子の発光時間や発光開始タイミングが変化した場合と、発光素子の周囲温度が変化した場合と、ではシェーディングパターンの補正方法が異なる。この発明では、発光素子の発光時間や発光開始タイミングの変化に応じた補正と、発光素子の周囲温度の変化に応じた補正と、を別々に行うので、シェーディングパターンをより正確に補正できる。上記発明において、第2の補正部は、ラダー抵抗と、スイッチ群と、を備えている。ラダー抵抗は、複数の分圧点を有し、第1の補正部が補正した制御電圧を分圧する。スイッチ群は、記憶部から読み出したシェーディングパターンの補正値に応じて、ラダー抵抗の各分圧点の電圧をそれぞれ、第1の補正部が補正した制御電圧、またはグランド電圧に切り換える。この構成では、ラダー抵抗とスイッチ群により、D/A変換器を構成でき、最大電圧を等分した任意の電圧を出力できる。これにより、シェーディングパターンの補正値をデジタルデータとして記憶部に記憶させることができる。また、光ビーム駆動用の制御電圧を、シェーディングパターンの補正値に応じた電圧に、容易に変換できる。また、スイッチ群として高速切り換えができるアナログスイッチを使用することで、光ビーム駆動用の制御電圧を高速に切り換えることができる。これにより、光ビームを高速に走査して画像を形成する場合でも、シェーディング補正を問題なく行うことができ、光量偏差の発生を防止できる。この発明の画像形成装置は、上記の光ビーム走査ユニットと、画像形成部を備えている。画像形成部は、光ビーム走査ユニットが光ビームを走査して感光体の被走査面に形成した静電潜像に、トナーを供給して顕像化し、この顕像化したトナー像を記録材に転写して定着させる。この構成では、感光体の被走査面に対して光ビームを走査しても光量偏差が生じないので、所望の画像を記録材に形成できる。上記発明の光ビーム走査ユニットにおけるシェーディングパターンの補正値の記憶方法は、ドループ特性測定工程と、シェーディング特性の測定工程と、シェーディングパターンの生成工程と、シェーディングパターンの記憶工程と、を備えている。ドループ特性測定工程では、発光素子による発光を複数種類の発光時間毎に順次測定する。シェーディング特性の測定工程では、走査部が1ライン長走査するときに発生する光量偏差を、発光ポイント毎に部分点灯して測定する。シェーディングパターンの生成工程では、シェーディング特性の測定工程において測定した発光ポイント毎の光量偏差に基づいて、近似曲線からシェーディングパターンの補正値を生成する。シェーディングパターンの記憶工程では、シェーディングパターンの生成工程で生成した補正値を記憶部に記憶させる。この発明では、発光素子のドループ特性の実測値に基づいて、シェーディングパターンの補正値を生成して記憶する。したがって、発光素子毎の発光量のばらつきにかかわらず、シェーディング補正を適正に行うことができる。この発明によれば、光ビームの出射時間に応じてシェーディング特性を補正するので、ドループ特性が悪い発光素子が使用されたとしても、シェーディング補正を適正に行うことができる。以下、本発明の光ビーム検出回路及び光ビーム走査ユニットを備えた画像形成装置として、カラープリンタを例に挙げて説明する。図4に示すように、カラープリンタ以下、単にプリンタと称する。100は、光ビーム走査ユニット1、感光体ドラム101A~101D、現像ユニット102A~102D、帯電ローラ103A~103D、クリーニングユニット104A~104D、中間転写ベルト11、一次転写ローラ13A~13D、二次転写ローラ14、定着ユニット15、給紙カセット16、手差し給紙トレイ17、及び排紙トレイ18等を備えている。プリンタ100は、スキャナ不図示を備えた構成でもよい。プリンタ100は、スキャナで読み取った原稿の画像データや、他の装置がネットワークを介して送信した画像データを不図示の通信部で受信すると、この画像データに基づいて、以下に説明するように用紙に画像を形成する。プリンタ100は、ブラックK、シアンC、マゼンタM、及びイエローYの4色の各色相に対応した画像データを用いて画像形成ユニットPA~PDにおいて画像形成を行う。画像形成ユニットPA~PDは、それぞれ同様の構成である。例えば、ブラックの画像形成ユニットPAは、感光体ドラム101A、現像ユニット102A、帯電ローラ103A、転写ローラ13A、及びクリーニングユニット104Aを備えている。画像形成ユニットPA~PDは、中間転写ベルト11の移動方向に一列に配置されている。図4には表示していないが、後述の図6に示すように、感光体ドラム101Aブラックは、感光体ドラム101B~101Dに比較して大径のものを使用している。モノクロブラック画像形成は、使用頻度が高く、長寿命化が必要だからである。帯電ローラ103Aは、感光体ドラム101Aの表面を所定の電位に均一に帯電させる接触方式の帯電器である。帯電ローラ103B~103Dのそれぞれは、帯電ローラ103Aと同様に構成されている。光ビーム走査ユニット1は、不図示の半導体レーザ、ポリゴンミラー6、第1fθレンズ7、第2fθレンズ8、光ビームであるレーザビームを反射する複数のミラーを備えている。光ビーム走査ユニット1は、各色相の画像データによって変調された各レーザビーム光ビームに相当を感光体ドラム101A~101Dにそれぞれ照射する。感光体ドラム101A~101Dは、それぞれ、各色相の画像データによる静電潜像が形成される。光ビーム走査ユニット1の詳細については後述する。現像ユニット102A~102Dは、それぞれ、前記4色の各色相のトナーを収納しており、感光体ドラム101A~101Dのそれぞれに形成された各色相の静電潜像にトナーを供給して、トナー像に顕像化する。感光体ドラム101A~101Dに形成された各色相のトナー像は、中間転写ベルト11の外周面に順次重ねて転写され、中間転写ベルト11の外周面にフルカラーのトナー像が形成される。クリーニングユニット104A~104Dは、それぞれ、現像画像転写後における感光体ドラム101A~101Dの表面に残留したトナーを除去回収する。中間転写ベルト11の外周面に転写されたトナー像は、中間転写ベルト11の回転によって、二次転写ローラ14との対向位置である二次転写位置に搬送される。給紙カセット16または手差し給紙トレイ17から給紙された用紙記録材が二次転写ローラ14と中間転写ベルト11との間を通過する際に、中間転写ベルト11の外周面から用紙の表面にトナー像が転写される。トナー像が転写された用紙は、定着ユニット15により加熱及び加圧されて、トナー像が、用紙の表面に堅牢に定着する。トナー像が定着した用紙は、排紙ローラ18Aによって排紙トレイ18上に排出される。なお、画像形成ユニットPA~PD、中間転写ベルト11、二次転写ローラ14、及び定着ユニット15は、画像形成部に相当する。図5と図6に示すように、光ビーム走査ユニット1は、レーザユニット40A~40D、ミラー3B~3D、第1シリンドリカルレンズ4、ミラー5、ポリゴンミラー6、第1fθレンズ7、第2fθレンズ8、第2シリンドリカルレンズ9A~9D、ミラー21,22A~22C,23A,23B,24A~24C、同期レンズ10A及びBDセンサ10等の光学部品、並びに、これらの光学部品を支持、収納する筐体60を備えている。また、光ビーム走査ユニット1は、シェーディング補正回路2、及び後述のレーザドライバを備えている。筐体60の底面には、プリント基板が取り付けられている。このプリント基板には、シェーディング補正回路2などが設けられている。レーザユニット40Aは、発光制御自在な発光素子である半導体レーザ41Aと、コリメータレンズ42Aを備えている。レーザユニット40B~40Dは、同様に、それぞれ、半導体レーザ41B~41Dと、コリメータレンズ42B~42Dを備えている。図5に示すように、感光体ドラム101Aの回転軸に平行な方向で、かつレーザビームL1~L4の走査方向である矢印X-X方向が、主走査方向である。図5に示すように、光源である各半導体レーザ41A~41Dは、それぞれ、前記4色の色相の画像データに基づいて変調されたレーザビームL1~L4を出射する。レーザビームL1~L4は、それぞれ、コリメータレンズ42A~42Dによって広がり角を変更されて平行光となり、ミラー3B~3D、第1シリンドリカルレンズ4及びミラー5を経てポリゴンミラー6の反射面61に、互いに異なる入射角で入射する。ポリゴンミラー6は、矢印Aの方向に回転して各反射面61においてレーザビームL1~L4を矢印B方向に等角速度で偏向する。第1fθレンズ7及び第2fθレンズ8は、ポリゴンミラー6によって等角速度で偏向されたレーザビームL1~L4を、感光体ドラム101A~101Dのそれぞれの表面に、主走査方向における矢印C方向に等速度で偏向する。これにより、感光体ドラム101Aの表面が、半導体レーザ41Aから出射されたレーザビームL1により矢印C方向に走査される。また、同様に、感光体ドラム101B~101Dのそれぞれの表面が、半導体レーザ41B~41Dから出射されたレーザビームL2~L4のいずれかにより矢印C方向に走査される。図6に示すミラー21,22A~22C,23A,23B,24A~24Cは、各レーザビームL1~L4を分離して反射し、感光体ドラム101A~101Dのそれぞれの表面に各レーザビームL1~L4を配光する。図5に示すBDセンサ10は、レーザビームL1~L4のいずれかを、主走査方向における有効露光領域外で検出する。すなわち、ポリゴンミラー6の反射面61で反射されたレーザビームL1~L4のいずれかは、主走査方向における感光体ドラム101Aの表面に達しない範囲で同期レンズ10Aを介してBDセンサ10の受光面に結像する。BDセンサ10は、レーザビームL1~L4のいずれかを受光した際に、半導体レーザ41A~41Dにおける各レーザビームL1~L4の画像データによる変調開始タイミングを決定するための信号を出力する。ポリゴンミラー6は、同一の反射面61で全てのレーザビームL1~L4がほぼ重なるようにレーザビームL1~L4を反射させている。そのため、BDセンサ10で1つのレーザビームを受光するだけで全てのレーザビームL1~L4の変調開始タイミングを制御することが可能になっている。そして、走査ラインの湾曲歪が最も小さいブラックの画像を形成するレーザビームL1を用いてBDセンサ10により検出を行っているので、精度の高い検出ができる。[第1実施形態]次に、本発明の特徴について説明する。光ビーム走査ユニット1において、ドループ特性の良い半導体レーザが使用されたときには、半導体レーザの発光時間にかかわらず、レーザビームの光量はほとんど低下しない。この場合には、図7Aに示すようなシェーディングパターンレーザビームの光量偏差の補正パターンに基づいて、レーザビームの光量を補正すればよい。一方、光ビーム走査ユニット1において、ドループ特性の悪い半導体レーザが使用されたときには、半導体レーザの発光時間に応じた発熱の影響によりレーザビームの光量が低下する。例えば、レーザビームを連続点灯して感光体ドラムの主走査方向に1ライン長走査すると、感光体ドラムの終端付近ではかなり光量が低下する。この場合には、図7Bに示すようなシェーディングパターンに基づいて、レーザビームの光量を補正する必要がある。また、光ビーム走査ユニット1において、ドループ特性の悪い半導体レーザが使用されていても、レーザビームをほとんど点灯させずに感光体ドラムの主走査方向に1ライン長走査すると、感光体ドラムの終端付近でも光量はほとんど低下しない。この場合には、図7Cに示すようなシェーディングパターンに基づいて、レーザビームの光量を補正する必要がある。このように、光ビーム走査ユニット1では、半導体レーザのドループ特性が悪いと、半導体レーザの光量が低下し、また、半導体レーザの発光時間に応じて、レーザビームの光量の低下量が異なる。そこで、本発明では、光ビーム走査ユニット1において、走査部がレーザビームを感光体ドラムの被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときの半導体レーザの累積発光時間を、その1ライン長の走査中に求める。そして、この発光時間に応じてシェーディングパターンを補正変更する。上記の処理を実現するために、本発明では、プリンタ100と光ビーム走査ユニット1を図8に示すように構成する。以下の説明では、画像形成ユニットPAを例に挙げる。図8に示すように、本発明の実施形態に係るプリンタ100は、光ビーム走査ユニット1、CPU71、フラッシュROM72、ICUImageControlUnit73、操作部81、読取り部82、通信部83、及び温度センサ84を備えている。光ビーム走査ユニット1は、シェーディング補正回路2、BDセンサ10、走査部31、及び光源部32を備えている。また、光ビーム走査ユニット1は、光ビーム走査ユニット制御用ASIC図にはLSUASICと記載、以下、単にASICと称する。51、このASIC51にシステムクロック信号を供給するシステムクロック回路52、及び画像形成用の画像クロック信号を供給する画像クロック発生回路53を備えている。なお、ASIC51、システムクロック回路52、及び画像クロック発生回路53は、光ビーム走査ユニット1に設けずに、CPU71などとともに、プリンタ100の装置本体に設けてもよい。シェーディング補正回路2は、演算部86、カウンタ91、記憶部であるメモリ92、及び光源制御部94を備えている。光源制御部94は、第1の補正部95と第2の補正部96を備えている。光源部32は、レーザドライバ32A、及び半導体レーザ41Aを備えている。光ビーム走査ユニット1は、プリンタ100から取り外して交換できる構成である。CPU71は、操作部81においてユーザによるコピーの開始操作を受け付けたときには、その操作に従って、原稿画像を読取り部82に読み取らせる。CPU71は、操作部81で受け付けた印刷設定の情報と、原稿の画像データと、を含む印刷データをICU73に送信する。印刷設定の情報は、用紙に形成する画像の濃度の情報や、用紙サイズの情報、印刷倍率の情報など、プリンタ100が印刷画像形成を行うのに必要な情報を含んでいる。CPU71は、通信部83により印刷データを受信したときには、この印刷データをICU73に送信する。印刷データは、印刷設定の情報と、用紙に印刷する画像データと、を含んでいる。また、CPU71は、温度センサ84により、光ビーム走査ユニット本体の周囲温度を測定している。ICU73は、画像を処理するユニットであり、CPU71から送信された画像データについて、1つの原稿画像としてページ単位での階調補正、変倍処理などの各種の画像処理を行う。そして、ICU73は、処理した画像情報をASIC51に出力する。ASIC51は、システムクロック回路52が出力するクロック信号に基づいて動作している。ASIC51は、画像クロック発生回路53が出力する画像クロック信号に基づいて、走査部31を制御する。ASIC51は、シェーディングクロック信号をシェーディング補正回路2のカウンタ91に出力している。BDセンサ10は、信号を検出すると、カウンタ91にリセット信号を出力する。光ビーム走査ユニット1では、レーザビームを走査して感光体の被走査面に静電潜像を形成するために、感光体ドラムの被走査面に対して予めアドレスを割り当てている。FlashROM72は、操作部81で受け付けた画像濃度基準情報、及びCPU71で測定された周囲温度情報などの外部要因に応じた制御電圧の補正値を不図示のテーブルにおいて記憶している。ASIC51は、ICU73から入力された画像情報と、周囲温度などの外部要因と、に応じた制御電圧の補正値を上記不図示のテーブルから読み出して第1の補正部95に出力する。第1の補正部95は、ASIC51から入力された制御電圧の補正値により制御電圧を補正する。この制御電圧の補正値は、周囲温度などの外部要因に応じた値である。第1の補正部95は、補正した制御電圧を第2の補正部96に出力する。カウンタ91は、画像クロック発生回路53がASIC51を介して出力したシェーディングクロック信号をカウントしており、カウント値をメモリ92に出力する。カウンタ91がカウントする値は、走査部31が走査するレーザビームの走査位置アドレスに対応した値である。カウンタ91は、BD信号が入力されると、カウントをリセットする。演算部86は、走査部31がレーザビームを感光体ドラム101Aの被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときの半導体レーザの累積発光時間を、その1ライン長の走査中に求める。そして、演算部86は、求めた累積発光時間をメモリ92に出力する。メモリ92は、カウンタ91から入力されたカウント値と、演算部86から入力された発光時間と、に応じたシェーディングパターンの補正値を第2の補正部96に出力する。シェーディングパターンの補正値は、被走査面の像高に応じて生じる光量偏差シェーディングパターンを半導体レーザの発光時間に応じて補正したものである。第2の補正部96は、第1の補正部95により入力された制御電圧に、メモリ92が出力したシェーディングパターンの補正値を乗じた制御電圧を光源部32のレーザドライバ32Aに出力する。レーザドライバ32Aは、第2の補正部96から入力された、レーザビーム駆動用の制御電圧に比例した光量のレーザビームを出射するように半導体レーザ41Aを制御する。レーザビームの光量が制御電圧に比例するので、制御電圧を変更することで光ビームの光量を正確かつ容易に制御できる。半導体レーザ41Aは、レーザドライバ32Aにより制御された光量のレーザビームを出射する。なお、ASIC51は、画像データに対してシェーディング補正のずれが生じないように、第1の補正部95に出力する制御電圧補正値の出力タイミングを、BDセンサ10の出力信号により調整している。図8に示したシェーディング補正回路2は、図9に示すように構成するとよい。図9に示すように、カウンタ91は、8ビットのデジタルカウンタである。カウンタ91は、クロック端子にASIC51を介して画像クロック発生回路53が接続されている。また、クリア端子にBDセンサ10が接続されている。演算部86は、カウンタ87とアンドゲート88を備えている。カウンタ87は、2ビットのデジタルカウンタである。このアンドゲート88には、画像クロック発生回路53が出力するクロック信号と、ICU73がASIC51を介して出力する半導体レーザ41A用の画像信号と、が入力される。アンドゲート88の出力端子は、カウンタ87に接続されている。カウンタ87は、レーザビームを1ライン長走査するときの半導体レーザ41Aの発光時間に応じた信号を出力する。詳細は後述する。また、カウンタ87は、BDセンサ10からBD信号が入力されると、リセットされる。メモリ92は、10ビットのパラレルEEPROMである。メモリ92のA0端子~A7端子には、カウンタ91が接続され、A8端子とA9端子にはカウンタ87が接続されている。また、後述の第2実施形態で説明するように演算器89を用いる場合には、EEPROMとして12ビットのものを使用し、A10端子とA11端子に演算器89を接続する。メモリ92は、カウンタ91と第2の補正部96を構成するアナログスイッチ96に接続されている。また、メモリ92は、調整治具93に接続されている。第1の補正部95は、D/Aコンバータ55と、ボルテージフォロワ56を備えている。D/Aコンバータ55は、ASIC51のD/Aインタフェースと、ボルテージフォロワ56に接続されている。第2の補正部96は、8ビットのアナログスイッチ96Aと、R-2Rのラダー抵抗回路96Bを備えている。アナログスイッチ96Aは、ボルテージフォロワ56とメモリ92とラダー抵抗回路96に接続されている。ラダー抵抗回路96Bは、レーザドライバ32Aに接続されている。画像クロック発生回路53は、BDセンサの周期の1/128~1/256程度のシェーディングクロック信号を発生させている。カウンタ91は、このクロック信号をカウントして、カウント値を随時、メモリ92のアドレス入力端子に出力する。アドレス値は、1つずつインクリメントされるように設定されている。カウンタ91は、BDセンサ10からBD信号が入力されると、リセットされる。メモリ92には、製造時などに予め調整治具93により、アドレス値に応じたシェーディングパターンの補正値が書き込まれている。メモリ92は、アドレス入力端子に入力された値に応じたシェーディングパターンの補正値を第2の補正部96に出力する。光源制御部94の第1の補正部95は、D/Aコンバータ55とボルテージフォロワ56により構成される。D/Aコンバータ55は、ASIC51によって、出力するレーザビーム駆動用の制御電圧Vrefが補正される。ボルテージフォロワ56は、D/Aコンバータ55の後段の回路に流す電流を増加させる。光源制御部94の第2の補正部96は、アナログスイッチ96Aと、ラダー抵抗回路96Bを備えている。アナログスイッチ96Aは、8個のアナログスイッチ群である。アナログスイッチ96Aには、メモリ92の出力信号がゲート信号として入力される。アナログスイッチ96Aの入力端子に入力される信号がhighの場合、アナログスイッチはNC側制御電圧側に接続される。これにより、対応するCOM端子、すなわちラダー抵抗回路96Bの分圧点は制御電圧に切り換えられる。一方、アナログスイッチ96Aの入力端子に入力される信号がlowの場合、アナログスイッチはNO側グランド電圧側に接続される。これにより、対応するCOM端子、すなわちラダー抵抗回路96Bの分圧点はグランド電圧に切り換えられる。ラダー抵抗回路96Bは、R-2R形であり、複数の分圧点を有し、各分圧点は、2R抵抗を介してアナログスイッチ96AのCOM端子出力端子に接続されている。ラダー抵抗回路96Bは、第1の補正部95が補正した制御電圧を分圧する。上記のように、アナログスイッチ96Aが、メモリ92から出力されたシェーディング補正値に応じて切り換えられる。また、アナログスイッチ96Aには、第1の補正部95から、外部要因に応じて補正された制御電圧が入力される。したがって、半導体レーザ41Aは、外部要因に応じて補正され、さらにシェーディング補正が行われたレーザビームを出射する。シェーディング補正回路2は、上記のようにアナログスイッチ96Aとラダー抵抗回路96Bを備えているので、各アナログスイッチを高速に切り換えて、入力アドレスに応じたレーザビーム駆動用の制御電圧をレーザドライバ32Aに入力することができる。例えば、μ秒単位で切り換えが可能なアナログスイッチの使用が可能である。これにより、感光体ドラムに対してレーザビームを高速に走査しても、被走査面の照射位置アドレスに応じた光量でレーザビームを照射できる。次に、本発明では、製造時に、半導体レーザ毎のドループ特性と光ビーム走査ユニット毎のシェーディング特性を測定し、測定結果に応じたシェーディングパターンの補正値をメモリ92に記憶させる。これは、半導体レーザのドループ特性が、素子毎に異なっていることと、シェーディング特性が光ビーム走査ユニット毎に異なっていることによるものである。具体的には、図10に示すように、光ビーム走査ユニットにおけるシェーディングパターンの補正値の記憶方法を行う。まず、半導体レーザの発光時間毎のドループ特性を測定するS1。この工程では、半導体レーザを所定時間連続点灯させたときの光量の変化を測定し、測定結果に基づいてドループ特性を算出する。半導体レーザを連続点灯させる所定時間としては、例えば、後述のように、レーザビームを感光体ドラムの被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査して16000ドットの画像を形成するときの時間に設定する。続いて、光ビーム走査ユニット1の組み立て工程S2と、光ビーム走査ユニット1の動作確認工程S3を行う。そして、シェーディング特性の測定工程S4を行う。すなわち、ステップS4において、走査部31がレーザビームを感光体ドラムの被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときに発光する光量偏差を、発光ポイント毎に部分点灯して、シェーディング特性を測定する。具体的には、感光体ドラムの被走査面に対して主走査方向に、所定の間隔で光量計を配置する。そして、半導体レーザ41Aを光量計の位置に応じて部分点灯させる。これは、感光体ドラムの被走査面での光量偏差を測定する場合、ドループ特性の影響を受けないようにする必要があるからである。プリンタ100が、感光体ドラムの被走査面に対して主走査方向に、最大で16000ドット分の画像を形成する仕様の場合には、図11に示すように、発光時間を4段階に切り換えて、シェーディング特性を測定できるように光量計を配置する。すなわち、レーザビームを感光体ドラムの被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査して形成する画像が14000ドット未満、24000ドット以上8000ドット未満、38000ドット以上12000ドット未満、412000ドット以上16000ドット以下の4つの場合について、シェーディング特性光量偏差を測定する。続いて、シェーディングパターンの補正値の生成工程では、シェーディング特性の測定工程において測定した発光ポイント毎の光量偏差に基づいて、近似曲線からシェーディングパターンの補正値を生成する。生成されたシェーディングパターンの補正値に対し、半導体レーザのドループ特性の測定工程において測定した発光時間毎のドループ特性の影響を加味することによって、図7A~図7Cに示したようなシェーディングパターンの補正値を生成するS5。なお、シェーディング特性の測定工程と、シェーディングパターンの補正値の生成工程を、同時に行うようにしてもよい。次に、シェーディングパターンの補正値の記憶工程において、ステップS4において生成したシェーディングパターンの補正値を、記憶部であるメモリパラレルEEPROM92に記憶させるS6。メモリ92には、調整治具93により、アドレス値に応じたシェーディングパターンの補正値データが書き込まれる。補正値としては、図11に示すような値が書き込まれる。シェーディングパターンの補正値の書き込みが終了すると、光ビーム走査ユニットの最終検査を行うS7。この工程で良品判定されたものが、プリンタ100に組み込まれる。本発明のプリンタ100は、画像形成時には、上記のようにして製造した光ビーム走査ユニット1を制御して、感光体ドラムに静電潜像を形成する。なお、光ビーム走査ユニット1に上記のようにシェーディングパターンの補正値を記憶させる工程は、光ビーム走査ユニット1をプリンタ100に組み込む前に治具を用いて行うようにしてもよいし、光ビーム走査ユニット1をプリンタ100に組み込み後に行ってもよい。次に、画像形成時には、以下のようにしてシェーディングパターンを補正する。図12に示すように、プリンタ100では、画像形成時に、ICU73からASIC51を介して演算部86に画像情報が入力されるS11。このとき、演算部86は、走査部31がレーザビームを感光体ドラム101Aの被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときの半導体レーザ41Aの累積発光時間を、その1ライン長の走査中に求めるS12。具体的には、ASIC51は、画像情報として半導体レーザ41A用の画像信号が入力されると、この画像信号と、画像クロック発生回路53が出力するクロック信号と、の論理積を、アンドゲートによりカウンタ87に出力する。そして、演算部86が求めた半導体レーザ41Aの累積発光時間に対応する補正値を記憶部から読み出すS13。まず、EEPROM92の0~255のアドレスにアクセスする。アクセスするアドレスは、順に1ずつ上がっていく。また、メモリ92は、カウンタ87からの出力信号がA8端子とA9端子に入力されると、信号に応じたシェーディング特性の補正値補正パターンが読み出されるように設定する。カウンタ87は、累積発光時間がA0ドット以上4000ドット未満のときには、A8端子とA9端子に対して、A8端子,A9端子=0,0の信号を出力する。カウンタ87は、累積発光時間がB4000ドット以上になった地点で、A8端子,A9端子=1,0の信号を出力する。これにより、アクセスするアドレスが256される。このとき、0~255のアドレスのアドレスに入ったデータに比べて、ドループ特性分アップされたデータにアクセスされる。カウンタ87は、累積発光時間がC8000ドット以上になった地点で、A8端子,A9端子=0,1の信号を出力する。これにより、アクセスするアドレスが256される。このとき、256~511のアドレスのアドレスに入ったデータに比べて、ドループ特性分アップされたデータにアクセスされる。カウンタ87は、累積発光時間がD12000ドット以上になった地点で、A8端子,A9端子=1,1の信号を出力する。これにより、アクセスするアドレスが256される。このとき、512~767のアドレスのアドレスに入ったデータに比べて、ドループ特性分ダウンされたデータにアクセスされる。メモリ92は、カウンタ87からの出力信号がA8端子とA9端子に入力されると、信号に応じたシェーディング特性の補正値補正パターンが読み出されるように設定する。例えば、あるタイミングにおいて、1ライン長における半導体レーザ41Aの累積発光時間が12000ドット以上16000ドット以下の場合、図11に示すように、カウンタ87はA8端子に1、A9端子に1を出力する。このとき、シェーディングパターンの補正値として、メモリ92から補正値Cが読み出されるように設定される。また、1ライン長における半導体レーザ41Aの累積発光時間が0ドット以上4000ドット未満の場合、図11に示すように、カウンタ87はA8端子に0、A9端子に0を出力する。このときには、シェーディングパターンの補正は不要であるため、シェーディングパターンの補正値は読み出されず、メモリ92からはシェーディングパターンの基準値1が読み出されるように設定される。なお、ドループ特性の悪い半導体レーザの場合、半導体レーザ41Aの発光時間が0ドット以上4000ドット未満の場合でも、シェーディングパターンの補正値読み出すように設定される場合もある。光源制御部94は、読み出したシェーディングパターンの補正値に応じた光量で光ビームを出射するように、半導体レーザ41Aの発光光量を制御するS14。すなわち、光源制御部94では、第1の補正部95が、外部要因周囲温度に応じて補正された制御電圧を第2の補正部96に出力する。第2の補正部96は、第1の補正部95により入力された制御電圧に、メモリ92が出力したシェーディングパターンの補正値を乗じた制御電圧を光源部32のレーザドライバ32Aに出力する。プリンタ100では、ASIC51は、ICU73から画像情報が引き続き入力され、画像形成が終了でなければS15:N、ステップS11以降の処理を繰り返し、1ライン長毎に半導体レーザの発光を制御する。プリンタ100では、ASIC51は、ICU73から画像情報が入力されるのが終了すればS15:Y、処理を終了する。[第2実施形態]次に、図9において、さらに、同図に点線で示す演算器89を演算部86に設けて、半導体レーザ41Aの発光開始タイミングを発光パターンとして求めるようにすることも可能である。演算器89は、走査部がレーザビームを感光体ドラムの被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときの半導体レーザの発光時間を、その1ライン長の走査前に求めるためのものである。演算器89には、画像クロック発生回路53が出力するクロック信号と、ICU73がASIC51を介して出力する半導体レーザ41A用の画像信号と、が入力される。図11に示したように発光時間を4段階に分けた場合、図13に示すように発光開始タイミングも4段階に分けることができる。すなわち、発光開始タイミングは、10ドット以上4000ドット未満、24000ドット以上8000ドット未満、38000ドット以上12000ドット未満、及び412000ドット以上16000ドット以下のとき、の4段階に分けられる。発光時間と発光開始タイミングをあわせて考えると、図13に示すように、10通りのパターンが考えられる。すなわち、発光時間がA0ドット以上4000ドット未満のときには、発光開始タイミングは上記の1~4のいずれの場合も有り得る。発光時間がB4000ドット以上8000ドット未満のときには、発光開始タイミングは上記の1~3の場合が有り得る。発光時間がC8000ドット以上12000ドット未満のときには、発光開始タイミングは上記の1~2の場合が有り得る。発光時間がD12000ドット以上16000ドット以下のときには、発光開始タイミングは上記の1の場合だけである。カウンタ87は、図10の場合と同様に、A8端子とA9端子に対して信号を出力する。また、演算器89は、画像クロック発生回路53と、ICU73の半導体レーザ41A用の画像信号が入力される。演算器89は、発光開始タイミングが、10ドット以上4000ドット未満のときには、A10端子とA11端子に対して、A10端子,A11端子=0,0の信号を出力する。発光開始タイミングが、24000ドット以上8000ドット未満のときには、A10端子,A11端子=1,0の信号を出力する。発光開始タイミングが、38000ドット以上12000ドット未満のときには、A10端子,A11端子=0,1の信号を出力する。発光開始タイミングが、412000ドット以上16000ドット以下のときには、A10端子,A11端子=1,1の信号を出力する。したがって、例えば、発光時間がB4000ドット以上8000ドット未満で、発光開始タイミングが24000ドット以上8000ドット未満のときには、A8端子,A9端子,A10端子,A11端子=1,0,1,0の信号を出力する。このときには、シェーディングパターンの補正値6が選択される。このように構成することで、さらに精度良くシェーディング補正を行うことができる。なお、発光時間と発光開始タイミングに応じたシェーディングパターンの補正値図13に示す補正値1~補正値10は、図10に基づいて説明したように、製造時に発光時間と発光開始タイミングを変更して測定し、メモリ92に記憶させるとよい。[第3実施形態]第1実施形態においては、半導体レーザの累積発光時間に応じてシェーディング補正を行う方式を説明したが、本実施形態では、半導体レーザの累積非発光時間に応じてシェーディング補正を行う。本実施形態では、まず、第1実施形態と同様に、図10に示したステップS1~S3の工程を行う。続いて、シェーディング特性の測定工程S4では、走査部31がレーザビームを感光体ドラムの被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときに発光する光量偏差を、連続点灯させながらシェーディング特性を測定する。これは、感光体ドラムの被走査面での光量偏差を測定する場合、ドループ特性の影響を受けるようにする必要があるからである。プリンタ100が、感光体ドラムの被走査面に対して主走査方向に、最大で16000ドット分の画像を形成する仕様の場合には、第1実施形態と同様に、発光時間を4段階に切り換えて、シェーディング特性を測定する。累積非発光時間は、感光体ドラムの被走査面に対して主走査方向に形成する画像の最大値16000ドットから累積発光時間を減じた値である。そこで、A累積非発光時間4000ドット未満のシェーディング特性として、前記4累積発光時間12000ドット以上16000ドット以下のシェーディング特性を用いる。B累積非発光時間4000ドット以上8000ドット未満のシェーディング特性として、前記3累積発光時間8000ドット以上12000ドット未満のシェーディング特性を用いる。C累積非発光時間8000ドット以上12000ドット未満のシェーディング特性として、前記2累積発光時間4000ドット以上8000ドット未満のシェーディンD累積非発光時間12000ドット以上16000ドット以下のシェーディング特性として、前記1累積発光時間が4000ドット未満のシェーディング特性を用いる。続いて、第1実施形態と同様に、ステップS5~S7を行う。さらに、画像形成時には、図14に示すようにしてシェーディングパターンを補正する。なお、図14に示すフローチャートは、図12に示すフローチャートとはステップS12’及びステップS13の処理が異なり、その他のステップは同様の処理を行う。まず、第1実施形態と同様にステップS11を行う。このとき、演算部86は、走査部31がレーザビームを感光体ドラム101Aの被走査面に対して主走査方向に1ライン長走査するときの半導体レーザ41Aの累積非発光時間を、その1ライン長の走査中に求めるS12’。具体的には、ASIC51は、画像情報として半導体レーザ41A用の画像信号が入力されると、この画像信号と、画像クロック発生回路53が出力するクロック信号と、の論理積を、アンドゲートによりカウンタ87に出力する。そして、演算部86が求めた半導体レーザ41Aの累積非発光時間に対応する補正値を記憶部から読み出すS13’。まず、EEPROM92の0~255のアドレスにアクセスする。アクセスするアドレスは、順に1ずつ上がっていく。また、メモリ92は、カウンタ87からの出力信号がA8端子とA9端子に入力されると、信号に応じたシェーディング特性の補正値補正パターンが読み出されるように設定する。カウンタ87は、累積非発光時間がA4000ドット未満のときには、A8端子とA9端子に対して、A8端子,A9端子=0,0の信号を出力する。カウンタ87は、累積発光時間がB4000ドット以上になった地点で、A8端子,A9端子=1,0の信号を出力する。これにより、アクセスするアドレスが256される。このとき、0~255のアドレスのアドレスに入ったデータに比べて、ドループ特性分ダウンされたデータにアクセスされる。カウンタ87は、累積非発光時間がC8000ドット以上になった地点で、A8端子,A9端子=0,1の信号を出力する。これにより、アクセスするアドレスが256される。このとき、256~511のアドレスのアドレスに入ったデータに比べて、ドループ特性分ダウンされたデータにアクセスされる。カウンタ87は、累積非発光時間がD12000ドット以上になった地点で、A8端子,A9端子=1,1の信号を出力する。これにより、アクセスするアドレスが256される。このとき、512~767のアドレスのアドレスに入ったデータに比べて、ドループ特性分ダウンされたデータにアクセスされる。そして、第1実施形態と同様に、ステップS14とステップS15の工程を行う。このように、累積非発光時間を用いても、シェーディング補正を適正に行うことができる。以上のように、本発明では、レーザビームの出射時間に応じてシェーディングパターンを補正するので、ドループ特性が悪い半導体レーザが使用されたとしても、シェーディング補正を適正に行うことができる。これにより、画像形成装置では、濃度差やムラの無い画像を形成できる。なお、発光時間と発光開始タイミングを4段階に分けた場合について説明したが、これに限るものではなく、光ビーム走査ユニットに使用される半導体レーザのドループ特性に応じて設定すればよい。すなわち、ドループ特性が悪い半導体レーザを使用する場合には、発光時間と発光開始タイミングの分割数をさらに増やしてもよい。また、ドループ特性のよい半導体レーザを使用する場合には、発光時間と発光開始タイミングの分割数を減らしてもよい。"