時間領域での分析のために第1入力信号を処理する時間領域チャネルと、周波数領域での分析のために第2入力信号を処理する周波数領域チャネルと、上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルに結合され、上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルからのデータを取り込む取込み手段とを具えた試験測定機器。第1信号を周波数シフトし、上記周波数シフトした第1信号をデジタル化し、上記デジタル化した周波数シフト済み第1信号をメモリに蓄積し、第2信号をデジタル化し、上記デジタル化した第2信号をメモリに蓄積する試験測定方法。時間領域での分析のために第1入力信号を処理する時間領域チャネルと、周波数領域での分析のために第2入力信号を処理する周波数領域チャネルと、上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルに結合され、上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルの取込みパラメータが異なるように上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルの取込みパラメータを制御する制御器とを具えた試験測定機器。いくつかの試験測定機器は、複数領域の分析能力を有する。例えば、オシロスコープは、離散フーリエ変換DFT機能により入力信号の周波数スペクトラムを表示できる。しかし、デジタル化された時間領域信号のDFTは、DFTの特性により制限される。すなわち、小さな周波数ステップ、即ち、周波数領域での微細分解能を得るために、時間領域にて長時間のスパンが必要である。同様に、広周波数スパンでデータを取り込むために、高いサンプルレートが必要になる。よって、高周波での変調キャリアの微細分解能には、高サンプルレート及び長時間スパンの両方が必要であり、大容量の取込みメモリが必要となる。これでは、オシロスコープが高価になるか又は利用できなくなる。さらに、時間領域での信号及び周波数領域での信号の時間整合は、サンプルレート及び取込み時間に影響される。例えば、時間領域での高時間精度には、高サンプルレートが必要である。しかし、所定の固定メモリ容量のため、高サンプルレートは、時間スパンと、周波数領域での周波数ステップのサイズとを制限する。すなわち、周波数領域分析精度は、時間領域分析精度により制限される。かかる複数領域機能を有する試験測定機器は、典型的には、互いに関連した複数チャネル用のサンプルレート及び記録長の如き取込みパラメータを有するので、時間領域及び周波数領域の両方での同時の分析が困難であった。すなわち、一方の領域での精度は、他方の領域での精度と相互に排他的になる。そこで、時間領域及び周波数領域の両方での分析をほぼ同時にできる試験測定機器が望まれている。上述の課題を解決する本発明の態様は、次の通りである。1時間領域での分析のために第1入力信号を処理する時間領域チャネルと;周波数領域での分析のために第2入力信号を処理する周波数領域チャネルと;上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルに結合され、上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルからのデータを取り込む取込み手段とを具えた試験測定機器。2上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルに結合され、上記時間領域チャネルからのイベント及び上記周波数領域チャネルからのイベントの少なくとも一方に応答して上記取込み手段の取込みをトリガするトリガ手段を更に具えた態様1の試験測定機器。3上記取込み手段は、上記時間領域チャネルの取込みを上記周波数領域チャネルの取込みに時間的に整合させる態様1の試験測定機器。4上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルに結合され、上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルの取込みパラメータが異なるように、上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルの取込みパラメータを制御する制御器を更に具えた態様1の試験測定機器。5上記時間領域チャネルが第1サンプルレートでサンプリングをし;上記周波数領域チャネルが第2サンプルレートでサンプリングし;上記制御器が上記第1サンプルレート及び上記第2サンプルレートを異なるように設定する態様4の試験測定機器。6入力ポートを更に具え;上記入力ポートは、入力信号を受け、上記入力信号を上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルに供給する態様1の試験測定機器。7取込みメモリを更に具え;上記周波数領域チャネルは、上記取込みメモリに結合された同相経路と、上記取込みメモリに結合された直角位相経路とを更に有し;上記時間領域チャネルは、上記取込みメモリに結合される態様1の試験測定機器。8ハウジングを更に具え;上記時間領域チャネル、上記周波数領域チャネル及び上記取込み手段は、上記ハウジング内にほぼ収納される態様1の試験測定機器。9上記時間領域チャネルが第1周波数レンジであり;上記周波数領域チャネルが第2周波数レンジであり;上記第1周波数レンジが上記第2周波数レンジと異なる態様1の試験測定機器。10上記周波数領域チャネル及び上記時間領域チャネルに結合された入力ポートと;上記周波数領域チャネルの出力信号及び上記時間領域チャネルの出力信号を受ける選択器と;上記選択器の出力信号をデジタル化するデジタイザとを更に具えた態様1の試験測定機器。11第1信号を周波数シフトし;上記周波数シフトした第1信号をデジタル化し;上記デジタル化した周波数シフト済み第1信号をメモリに蓄積し;第2信号をデジタル化し;上記デジタル化した第2信号をメモリに蓄積する試験測定方法。12上記第1信号が上記第2信号である態様11の方法。13上記第1信号のデジタル化は、第1サンプルレートで上記第1信号をデジタル化することであり;上記第2信号のデジタル化は、第2サンプルレートで上記第2信号をデジタル化することであり;上記第1サンプルレートが上記第2サンプルレートと異なる態様11の方法。14更に、上記第1信号のイベントを識別し;上記イベントに応答して上記第2信号の取込みをトリガする態様11の方法。15更に、上記第2信号のイベントを識別し;上記イベントに応答して上記第1信号の取込みをトリガする態様11の方法。16更に、上記第1信号の第1イベントを識別し;上記第2信号の第2イベントを識別し;上記第1イベント及び上記第2イベントに応答して上記第1信号及び上記第2信号の少なくとも一方の取込みをトリガする態様11の方法。17時間領域での分析のために第1入力信号を処理する時間領域チャネルと;周波数領域での分析のために第2入力信号を処理する周波数領域チャネルと;上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルに結合され、上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルの取込みパラメータが異なるように上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルの取込みパラメータを制御する制御器とを具えた試験測定機器。18上記時間領域チャネルは、第1サンプルレートでサンプリングし;上記周波数領域チャネルは、第2サンプルレートでサンプリングし;上記制御器は、上記第1サンプルレート及び上記第2サンプルレートを異なるように設定する態様17の試験測定機器。19上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルに結合され、上記時間領域チャネル及び上記周波数領域チャネルからのデータを取り込む取込み手段を更に具え;上記取込み手段は、上記時間領域チャネルからのデータを第1期間にわたって取込むと共に、上記周波数領域チャネルからのデータを第2期間にわたって取込み;上記制御器は、上記第1期間及び上記第2期間を異なるように設定する態様17の試験測定機器。20上記時間領域チャネルが第1帯域幅であり;上記周波数領域チャネルが第2帯域幅であり;上記制御器は、上記第1帯域幅及び上記第2帯域幅を異なるように設定する態様17の試験測定機器。よって、本発明の試験測定機器によれば、時間領域チャネルからのデータを周波数領域チャネルからのデータをほぼ同時に取り込むことができる。本発明の試験測定機器の実施例では、信号を複数の領域で分析できる。例えば、イベントが生じた時を判断する制御信号を時間領域で分析できる。これら制御信号は、キャリア周波数の変化の如き周波数イベントをしばしば制御する。実施例において、時間領域分析、周波数領域分析、これら領域の間で時間的に整合された分析のために、2つのイベントを分析するための信号取込みを最適化できる。図1は、本発明の実施例により時間領域チャネル及び周波数領域チャネルを有する試験測定機器のブロック図である。この実施例において、試験測定機器10は、第1入力信号18を受ける時間領域チャネル12と、第2入力信号20を受ける周波数領域チャネル14とを含む。取込みシステム取込み手段16は、時間領域チャネル12及び周波数領域チャネル14に結合され、時間領域チャネル及び周波数領域チャネルからのデータを取り込む。時間領域チャネル12は、時間領域での分析のために、第1入力信号18をサンプリングする。例えば、時間領域チャネル12は、多ビットアナログデジタル変換器、個別レベルを検知する比較器などの如きデジタイザデジタル化回路を含む。時間領域チャネル12は、増幅器、入力保護回路、又はその他の調整回路の如き他の回路も含む。時間領域チャネル12は、メモリ、デシメータなどの如き他のデジタル処理回路も含むことができる。よって、時間領域チャネル12の出力信号26は、時間領域で入力信号18をデジタル化した信号である。実施例において、時間領域チャネル12は、時間領域での分析のために、信号取込みに最適化された回路を含む。例えば、時間領域分析に適する信号は、制御信号、データ信号などである。かかる信号の周波数成分は、直流から、1GHz、26.5GHzなどの最高周波数までである。よって、時間領域チャネル12は、直流から最高周波数までの全帯域幅をカバーする増幅器、減衰器及び他の回路を含む。周波数領域チャネル14は、時間領域チャネル12と異なって、第2入力信号20を処理する。特に、周波数領域チャネル14は、周波数領域での分析のために、第2入力信号20を処理する。例えば、更に詳細に後述するように、第2入力信号20は、異なる周波数レンジに周波数シフトできる。特に、第2入力信号20を低い周波数レンジにダウンコンバージョン低い周波数へシフトする変換できる。すなわち、入力信号20は、周波数シフトされる。実施例において、この周波数シフトされた信号が出力信号28である。この周波数シフトは、時間領域チャネル12及び周波数領域チャネル14による入力信号処理の相違点の例である。更に、実施例において、周波数領域チャネル14は、周波数領域での表現及び分析に必要な信号に最適化された減衰器、フィルタ、増幅器などを含む。例えば、周波数領域チャネル14内の増幅器は、時間領域チャネル12内の増幅器よりも、ノイズ指数が低く、最大入力レベルが低い。他の例では、増幅器の周波数レンジが異なる。すなわち、時間領域チャネル12内の増幅器の周波数レンジは、直流から26.5GHzである。増幅器は、その周波数レンジにわたって信号を増幅するのに最適化される。しかし、周波数領域で高周波信号を分析するとき、特に、周波数領域でダウンコンバージョンされた信号を分析するとき、直流から最大周波数までの全周波数レンジにわたって動作しない成分を用いることもできる。例えば、関心のある信号の周波数レンジが15GHzを中心にする場合、10GHzから20GHzの周波数レンジの増幅器を用いることができる。かかる増幅器は、直流から26.5GHzの広い周波数レンジに及ぶ増幅器よりも、周波数レンジにおいて性能が良い。同様に、周波数領域チャネル14には、時間領域チャネル12で用いるのと異なる帯域幅、入力レンジ、ノイズ指数などの他の要素もある。すなわち、周波数領域チャネル14内の増幅器、ミキサ、局部発振器、減衰器、フィルタ、スイッチなどを選択して、時間領域チャネル14の全帯域幅を下げた及び/又は除去した特性にできる。上述の周波数シフト、上述の異なる要素の影響などにより、周波数領域チャネル14からの出力信号28は、時間領域チャネル12で処理された場合に比較して、周波数領域分析用に適切に処理された信号である。さらに、詳細に後述するように、周波数領域関連の取込みパラメータに応じて入力信号20が処理される。これら取込みパラメータは、関心のある周波数レンジ、分解能帯域幅などに適切であるばかりでなく、時間領域チャネル12の取込みパラメータと異なる。すなわち、周波数領域チャネル14の要素が時間領域チャネル12と異なるばかりでなく、周波数領域チャネル14及び時間領域チャネル12は、例えば、異なるサンプルレート、記録長などのように、異なる動作を行う。よって、周波数領域チャネル14及び時間領域チャネル12の各々は、夫々周波数領域及び時間領域にて、取込み信号の対応分析に対して最適化される。取込みシステム取込み手段16は、種々の回路を含んでいる。例えば、取り込みシステムは、デジタイザ、デシメータ、フィルタ、メモリなどを含む。取り込みシステム16は、時間領域チャネル12及び周波数領域チャネル14に結合され、これら時間領域チャネル12及び周波数領域チャネル14からのデータを取り込む。例えば、時間領域チャネル12は、取り込みシステム16のデジタイザ用の適切なレンジに入るように、出力信号26を濾波し、縮尺し、その他の状態を調整する。同様に、周波数領域チャネル14は、上述のように、時間領域チャネル12と異なるにもかかわらず、取り込みシステム16のデジタイザ用に信号を調整する。図2は、図1の試験測定機器内の周波数領域チャネルの例を示すブロック図である。この例において、周波数領域チャネル14は、減衰器30、フィルタ31、ミキサ32、局部発振器33及び中間周波数IFフィルタ34を含んでいる。減衰器30が入力信号20を受ける。減衰器30は、固定減衰器、可変減衰器、切り換え減衰器などでもよい。減衰済み信号をフィルタ31が濾波する。実施例において、適切な入力周波数レンジに対してフィルタ31を所望に選択できる。例えば、関心のある特定周波数レンジ、発振器33の周波数などに応じて、フィルタ31は、ロウパスフィルタ、バンドパスフィルタ、ハイパスフィルタなどにできる。濾波された信号は、ミキサ32及び局部発振器33を用いて、IFレンジにダウンコンバージョンされてIF信号となる。このIF信号が出力信号24として利用可能になる前に、IFフィルタ34がIF信号を濾波する。この実施例において、出力信号24は、図1の周波数領域チャネル14の出力信号28であり、取り込みシステム16が取り込む。実施例において、出力信号24は、IF周波数レンジにダウンコンバージョンした後の入力信号20を表す。図1に示すように、このIF信号を更に取り込みシステム16にて処理、即ち、取り込む。例えば、更に詳細に後述するように、フーリエ変換などを用いて、IF信号は、同相I信号及び直角位相Q信号に変換される。他の実施例において、周波数領域チャネル14は、デジタル35及びデジタルフィルタ36を含むこともできる。デジタル35は、出力IF信号24をデジタル化する。デジタルフィルタ36は、デジタル化IF信号に対して、アーティファクトを低減し、窓関数を適用したりできる。よって、デジタル化IF信号25は、図1の周波数領域チャネル14の出力信号28として利用可能であり、取り込みシステム16により取り込まれる。更に別の実施例において、周波数領域チャネル14は、メモリ37及びプロセッサ38を含むことができる。プロセッサ38は、高速フーリエ変換FFT、離散フーリエ変換DFT、チャープZ変換などのフーリエ変換を、デジタル化IF信号25のセグメントに対して処理できる。この点について、デジタル化IF信号25の数学的表現形式を時間関数から周波数関数に変換して、変換済み信号27で表す。フーリエ変換用プロセッサ38を例として挙げたが、ラプラス変換、ヒルベルト変換などの他の変換を所望に応じて代用できる。いずれにしても、図1の周波数領域チャネル14の出力信号28として変換済みIF信号27を利用でき、この信号は、取り込みシステム16により取り込まれる。したがって、周波数領域チャネル14の出力信号28は、周波数領域にて入力信号20を分析するのに適する種々の形式にできる。所望に応じて、種々の要素、処理などを周波数領域チャネル14及び取り込みシステム16の間で分担できる。しかし、形式にかかわらず、関心のある周波数レンジに対して選択及び/又は同調された要素により、出力信号28を処理できる。周波数領域チャネル14の出力信号28の形式にかかわらず、時間領域チャネル12及び周波数領域チャネル14からのデータを含む取込みデータ22は、各領域などでの更なる処理、表示、分析に利用できる。実施例において、取り込みシステム16は、出力信号26及び出力信号28を、時間的にほぼ整合した状態で取り込むように構成されている。例えば、これら出力信号26及び28は、取り込みシステム16の取込みメモリに蓄積される。詳細に後述するように、出力信号26及び28の取込みは、同じトリガに応答して実行される。よって、時間領域分析用に最適化された時間領域チャネル12の出力信号26が取り込まれ、周波数領域分析用に最適化された周波数領域チャネル14の出力信号28が取り込まれるので、一方の分析領域用の取込みの最適化が他方の分析領域用の取込みを犠牲にすることなく、時間的にほぼ整合された時間領域分析及び周波数領域分析を実行できる。周波数領域チャネル14の要素の選択について示したが、増幅器、スイッチ、デシメータ、リミッタなどの他の要素を用いたり、及び/又は、示した要素の代替にしたりできる。再び図1を参照する。実施例において、時間領域チャネル12、周波数領域チャネル14及び取込みチャネル16をハウジング23内に実質的に収容できる。例えば、試験測定機器10は、ケースを含むことができる。時間領域チャネル12は、BNCコネクタ、マルチチャネルコネクタなどの入力コネクタをフロントパネルに含むことができる。周波数領域チャネル14は、SMA型、N型、2.92mm型、又は他の高機能コネクタの如き高周波数に適するコネクタを含むことができる。すなわち、周波数領域チャネル14は、高周波数性能に最適化されたコネクタを含むことができる。ハウジング23は、共通表示器、キー、ノブ、ダイアル、又は他のユーザインタフェースを含む。ユーザインタフェースの共通概念は、時間領域信号及び周波数領域信号の異なる状態を制御できることであるが、異なる機能をアクセスするために異なるインタフェースを提供できる。例えば、1個のボタンにより、共通ノブが時間基準を制御できる。他のボタンにより、共通ノブが中心周波数を制御してもよい。実施例において、時間領域チャネル12及び周波数領域チャネル14の動作周波数レンジが異なる。時間領域チャネル12は、第1動作周波数レンジである。例えば、時間領域チャネル12は、直流結合されている。さらに、時間領域チャネル12には、比較的低い上限周波数制限がある。例えば、時間領域チャネル12の帯域幅は、1GHzである。よって、時間領域チャネル12の入力周波数レンジは、直流から1GHzである。しかし、周波数領域チャネル14は、異なる入力周波数レンジを有する。例えば、図2の例に示すように、周波数領域チャネル14は、入力信号20を低いIF周波数レンジにダウンコンバージョンする。よって、周波数領域チャネル14の動作入力周波数レンジは、時間領域チャネル12と異なる。例えば、周波数領域チャネル14の入力周波数レンジは、26.5GHzまでである。すなわち、種々のフィルタ31、34、36などが動作入力帯域幅に影響する。さらに、周波数領域チャネル14用に選択された要素を、全入力周波数レンジでなく、関連した周波数レンジに最適化するように選択できる。例えば、特定の周波数レンジ用に最適な感度、ダイナミックレンジ、ノイズレベルなどにこれら要素を選択できる。これとは対照的に、実施例において、時間領域チャネル12は、その全周波数レンジに対して最適化される。すなわち、時間領域チャネル12は、その全帯域幅内のどこかに信号を予期する。しかし、周波数領域チャネル14は、関心のある特定周波数レンジを選択できる。さらに、周波数領域チャネル14は、時間領域チャネルの帯域幅外の信号を取り込める。よって、周波数領域チャネル14は、その周波数レンジに最適化できる。図3は、本発明の実施例により、単一入力に結合された時間領域チャネル及び周波数領域チャネルを有する試験測定機器のブロック図である。この実施例においては、時間領域チャネル12及び周波数領域チャネル14の各々が、同じ入力信号42を受ける。例えば、スプリッタ、スイッチ、選択器などの信号経路選択装置共通入力ポート44を用いて、入力信号42の経路を定める。よって、1つの構成において、時間領域チャネル12のみが入力信号42を受ける。他の構成においては、周波数領域チャネル14のみが入力信号42を受ける。さらに他の構成においては、時間領域チャネル12及び周波数領域チャネル14の両方が入力信号42を受ける。実施例において、時間領域チャネル12及び周波数領域チャネル14の両方が、夫々専用のデジタイザを有する。よって、出力信号26及び28は、時間領域及び周波数領域の夫々での分析に最適化されたチャネルにてデジタル化されたデジタル信号である。他の実施例において、上述の如く、デジタイザは、取込みシステム16の一部である。また、出力信号26及び28は、各領域での取込み及び分析に最適化されるように処理されたアナログ信号でもよい。図4は、図3の試験測定機器の例のブロック図である。この実施例において、試験測定機器50は、入力信号42を受ける共通入力ポート44、ダウンコンバータ57、選択器53及びデジタイザ55を含む。ダウンコンバータ57は、ミキサ51及び局部発振器52を含む。図を明瞭にするため、フィルタ、増幅器、減衰器などの他の要素を示さない。ダウンコンバータ57は、入力信号42をダウンコンバージョンした信号58を出力する。入力信号42及びダウンコンバージョンした信号58の両方が選択器53で利用可能である。よって、単一共通入力ポート44にて、ダウンコンバータ57及び/又は他の関連増幅器、フィルタなど如く周波数領域での分析用に最適化された回路を単一チャネルに追加できる。しかし、時間領域分析及び周波数領域分析で用いる入力信号42及びダウンコンバージョン信号ダウンコンバージョン済み信号58の両方に対して、デジタイザの如き共通回路を用いることができる。例えば、デジタイザ55は、1GS/sのサンプルレートでデジタル化する。よって、時間領域経路チャネル43は、500MHzの如き対応最大入力周波数を有する。対照的に、周波数領域経路チャネル45は、充分に高い最大周波数レンジ用の要素を含む。例えば、ダウンコンバータ57は、26.5GHzまでの周波数の信号をダウンコンバージョンできる。しかし、ダウンコンバージョン信号58のIF帯域幅は、500MHzとなる。よって、同じデジタイザ55及び他の共通回路を用いて、ベースバンドデジタル信号及びダウンコンバージョン信号の両方をデジタル化できる。詳細に後述するように、時間領域分析を行うときと周波数領域分析を行うときでは、デジタイザ55は、異なるサンプルレートで動作する。例えば、選択信号54に応答して、デジタイザ55は、入力信号に適するサンプルレートを選択できる。すなわち、実施例において、時間領域分析用に信号を取り込むために、高いサンプルレートを用いる。しかし、周波数領域分析用の信号を取り込むために、ダウンコンバージョン信号58に適する低いサンプルレートを用いることができる。よって、同じ入力回路が、時間領域分析に最適化された信号26及び周波数領域分析用に最適化された信号28の両方を提供できる。図3に示すように、時間領域及び周波数領域にてほぼ同時に同じ入力信号を取込み且つ分析できる。しかし、図4の実施例に示すように、時間領域分析用に最適化した信号経路と、周波数領域分析用に最適化した信号経路から、取込み信号の信号経路を選択できる。図5は、本発明の実施例により多チャネルに対して異なる取込みパラメータを用いる試験測定機器のブロック図である。この実施例において、試験測定機器60は、時間領域チャネル63及び周波数領域チャネル67を含み、各々が図1で上述したのと同様な取り込みシステム70に結合している。制御器69は、時間領域チャネル63及び周波数領域チャネル67に結合している。制御器69は、種々の回路で構成される。例えば、制御器69は、アナログ回路及びデジタル回路を含む。制御器69は、汎用プロセッサ、デジタル信号プロセッサ、用途限定集積回路、プログラマブルゲートアレイなどを含む。また、制御器69は、時間領域チャネル63、周波数領域チャネル67及び取り込みシステム取込み手段70をインタフェースする適切な回路も含む。制御器69は、時間領域チャネル63及び周波数領域チャネル67の取込みパラメータを制御する。特に、制御器69は、取込みパラメータが異なるように取込みパラメータを制御できる。この例において、制御器69は、時間領域チャネル63内のデジタイザ62用のサンプルレート回路64及び周波数領域チャネル67内のデジタイザ66用のサンプルレート回路68を制御する。サンプルレート回路64のサンプルレートがサンプルレート回路68のサンプルレートと異なるように、これらサンプルレート回路を構成できる。よって、デジタル化された時間領域データ71とデジタル化された周波数領域データ73とは、異なる長さである。サンプリングクロックを独立させることにより、時間領域パラメータ及び周波数領域パラメータを別々に制御できる。例えば、時間領域信号を取り込むために、時間領域信号での関心のある最高周波数成分の2倍を超えるようにサンプルレートを選択できる。時間領域信号が1GHzの周波数成分を有するならば、2GS/s以上のサンプルレートを用いる。周波数領域チャネルが同じサンプルレートにロックされているならば、DFTを用いたとき、周波数領域データ73の関連分解能帯域幅又は周波数ステップサイズは、サンプルの数又は時間スパンに直接的に影響する。その結果、分解能帯域幅は、利用可能な取込みメモリの容量により制限される。代わりに、周波数領域チャネル67での狭い分解能帯域幅を実現するために、時間領域チャネル63のサンプルレートが制限される。対照的に、サンプルレートが異なると、周波数領域データ73の所望状況に適するサンプルレートを選択できる。例えば、後述するように入力信号20がダウンコンバージョンされると、所望周波数スパンに対応する低いサンプルレートを用いる。すなわち、キャリアが1GHzで変調が20MHzを占めるならば、ダウンコンバージョン信号は、20MHzプラスと、濾波、サンプリングなどの追加の余裕を占める。かかるサンプルレートを50MS/sと仮定すると、同じ時間スパン、よって同じ周波数ステップサイズに対して、取込みメモリの40分の1が必要となる。上述は、異なるサンプルレートを使用できることを示す単なる例示である。特定のアプリケーションに関係なく、異なるサンプルレートにより、関心のある所定のチャネル、入力信号及び領域に特定される選択が可能となる。時間領域チャネル63及び周波数領域チャネル67用に上述したサンプルレートが異なっているが、必然的に独立ではない。例えば、異なるサンプルレートは、共通の低い周波数に位相ロック拘束される。しかし、ここでの独立性は、別々に制御可能であることを意味する。さらに、別々のサンプルレート回路64及び68を説明したが、関連した発振器、クロックなどは、試験測定機器60用の共通回路に実質的に同期できる。さらに、時間領域チャネル63及び周波数領域チャネル67の間で異なる取込みパラメータの例としてサンプルレートを用いたが、制御器69は、他の取込みパラメータを違えてもよい。例えば、時間領域チャネル63及び周波数領域チャネル67に関連した取込み期間、記録長などが異なるように、制御器69が取り込みシステム70を制御できる。他の例において、制御器69は、フィルタ帯域幅、フィルタ中心周波数、減衰器設定などの如き対応チャネル内の要素を調整できる。その結果、関連した入力信号の取り込みようのチャネルを最適化して、時間領域チャネル63及び周波数領域チャネル67用の取込みパラメータの各々を制御できるので、異なる領域での分析用に関連入力信号を最適化する。図6は、本発明の実施例による時間領域チャネル及び/又は周波数領域チャネルからの取込みをトリガできるトリガシステムトリガ手段を有する試験測定機器のブロック図である。この実施例において、試験測定機器90は、取込みシステム取込み手段92を含む。取込みシステム92は、トリガシステム94を含む。このトリガシステムは、時間領域チャネル12及び周波数領域チャネル14に結合される。取り込みシステム92の取込みは、時間領域信号、周波数領域信号、これら信号の組合せなどに応答してトリガされる。同じイベント又はイベントの組合せを用いて周波数領域及び時間領域の両方での取込みをトリガできるので、これら領域での取込み信号は、高い精度で時間的に整合している。例えば、取り込まれたデータは、オシロスコープの2個の入力チャネルで時間的に整合され、即ち、サンプル単位でほぼ整合される。よって、一方の領域でイベントを試験するとき、他方の領域で対応するほぼ同時の信号を分析できる。ここで用いたように、ほぼ同時及び/又は時間的整合の時間精度は、時間的に整合されたチャネルの低いサンプルレートにより制限される。さらに、共通トリガの結果、領域を超えたトリガとなる。例えば、取込みシステム92は、時間領域信号18内のイベントを識別する。これに応答して、周波数領域信号20の取込みをトリガできる。この例において、時間領域信号18を取り込む必要がない。例えば、送信器を同調させる信号、即ち、時間領域制御信号を用いて、送信信号の取込みを分析できる。送信信号は、周波数領域で分析できる。同様に、周波数領域イベントを用いて、時間領域取込みをトリガできる。例えば、周波数ホッピング信号に関連したレンジの1つの如き特定周波数レンジに周波数レンジが変化するまで、受信したRF信号をモニタできる。関心のある周波数レンジ内のRF信号が現れるのに応答して、受信器内の復調データの取込みを分析用に取り込むことができる。一方の領域のイベントを、他方の領域での分析用の取込みのトリガに用いることを説明したが、同じイベントを用いて、任意の領域又は全ての領域生きでの分析の取込みをトリガできる。さらに、異なる領域のイベントを互いに組み合わせることもできる。例えば、周波数領域のグリッチ又は他のスプリアス信号を制御信号と組合せて、グリッチを有する周波数スパン内に関心信号があることを示すこともできる。すなわち、関連周波数レンジ内に信号が期待できることを示すために、受信器内の制御信号及び周波数領域異常の両方に応答して、受信器に関連する信号を取り込むことができる。信号の特定例、信号の特性、イベントの組合せなどについて上述したが、任意の信号からの任意のイベントを用いるか、及び/又は所望に組合せて、取込みを制御できる。図7は、本発明の他の実施例により時間領域チャネル及び周波数領域チャネルを有する試験測定機器のブロック図である。この実施例において、試験測定機器110は、時間領域チャネル129及び周波数領域チャネル127を有する。時間領域チャネル129及び周波数領域チャネル127の各々は、デジタイザ112及び114を有する。周波数領域チャネル127は、入力信号20を受けるアナログダウンコンバータ125を有する。デジタイザ114は、アナログダウンコンバータ127からのダウンコンバージョン信号をデジタル化する。実施例において、デジタイザ112及び114からのデジタル信号は、メモリ116に蓄積される。後述の如く、その後の処理は、メモリ116に蓄積されたデジタル信号にて所望に実行される。デジタル信号をメモリ116に蓄積するか否かにかかわらず、更なる処理を実行できる。例えば、デジタル信号118を時間領域処理回路122で更に処理できる。例えば、信号調整、濾波、デシメーションなどを時間領域信号118に適用できる。その結果の処理済み時間領域信号126をメモリ134に蓄積する。周波数領域チャネル127もデジタルダウンコンバータ124を含む。デジタルダウンコンバータ124は、デジタルダウンコンバージョン信号120を同相I表現成分I信号及び直角位相Q表現成分Q信号に変換する。これは、追加のダウンコンバージョン処理により実行できる。よって、ダウンコンバージョン信号128は、入力信号20の同相表現成分及び直角位相表現成分を含む。他の実施例において、I/Q信号は、振幅、位相、周波数などを表す他の信号に変換される。さらに、I/Q信号を復調して、そのシンボル、ビット又は他のデータを捕捉する。他の実施例において、FFTなどの変換を適用できる。かかる処理を実行して、これらの内の任意の信号又は他の信号を発生して、メモリ134に蓄積できる。図8は、図7の試験測定機器内のデジタルダウンコンバータの例のブロック図である。この実施例において、デジタル信号120を同相経路148及び直角位相経路150の両方に入力する。各経路が局部発振器142からの信号を受けるが、直角位相経路150は、90度位相シフト回路143により、同相経路148が受ける信号と90度の位相差がある信号を受ける。経路148及び150の各々は、局部発振器142からの対応信号と入力信号120とを混合する。よって、同相信号144及び直角位相信号146が発生する。追加の濾波及び/又はデシメーションを所望により信号144及び146に適用できる。図7を参照して上述した如く、これら信号は、メモリ134に蓄積されて、更なる処理などが行われる。特に、信号144及び146は、デジタル信号120の複素数表現である。例えば、同相信号144は、デジタル信号120の実数部分を表し、直角位相信号146は、デジタル信号120の虚数部分を表す。かかる複素数表現を用いて、デジタル信号120の他の種々の表現、例えば、位相、周波数、エンコード信号などを計算できる。周波数領域処理に関連してDFTについて上述したが、任意のフーリエ変換又は他の変換関数を所望に応じて使用できる。周波数でのダウンコンバージョンのように種々の信号について説明したが、かかる信号は、所望に応じて、適切なIFレンジへのアップコンバージョン高い周波数へシフトする変換でもよい。例えば、IF周波数レンジよりも下の周波数をIF周波数レンジにアップコンバージョンできる。これらアップコンバージョン及びダウンコンバージョンは、総称的に周波数シフトと呼ぶ。本発明の特定実施例について上述したが、本発明はこれら実施例に制限されないことが理解できよう。本発明の要旨を逸脱することなく種々の変形変更が可能である。