"X線を発生するX線発生装置と、X線を流れ方向に誘導するコリメータであって、コリメータの第1端部がX線発生装置に動作可能に接続される、コリメータと、コリメータのうち、X線発生装置とは反対の側の第2端部に動作可能に接続される小径チューブであって、小径チューブが、コリメータからのX線を流れ方向に沿って、被検査物体に向けて伝送する、小径チューブと、小径チューブのうち、X線発生装置とは反対の側の端部に接続される端部保持具であって、端部保持具がX線を被検査領域に向かって放出する、端部保持具とを備える、X線撮像システム。コリメータは:発生X線をフィルタリングする第1フィルタと、発生X線を収束させる第2フィルタとを含む、請求項1に記載のX線撮像システム。第1フィルタ及び第2フィルタは、鉛材料、タングステン材料、またはアルミニウム材料により形成される、請求項2に記載のX線撮像システム。小径チューブは:X線伝送チューブと、X線伝送チューブを取り囲むクラッド層と、クラッド層を取り囲む金属層と、金属層を取り囲む熱可塑性コーティング層と、熱可塑性コーティング層を取り囲むケーブルジャケット層とを含む、請求項1に記載のX線撮像システム。コリメータは、発生X線をフィルタリングする複数の開口部を有するフィルタを含む、請求項1に記載のX線撮像システム。コリメータは、発生X線を集束させる通路を有し、かつ発生X線を、コリメータの中心線軸に平行な方向に移動させるフィルタを含む、請求項1に記載のX線撮像システム。X線発生装置は、端部保持具から10フィート以上の距離だけ離される、請求項1に記載のX線撮像システム。コリメータは、共通の中心線軸を小径チューブと一緒に共有する、請求項1に記載のX線撮像システム。物体の1つの領域を検査する方法であって、方法は:X線を、X線発生装置を使用して発生させるステップと、X線発生装置からの発生X線を、コリメータを使用してフィルタリングすることにより、位置ずれしたX線ビームを阻止し、そして位置整合したX線ビームがコリメータを通過することができるようにするステップと、位置整合したX線を、小径チューブ内を伝送させるステップと、位置整合したX線を、物体に向かって放出するステップとを含む、方法。コリメータは、共通の中心線軸を小径チューブと一緒に共有する、請求項9に記載の方法。X線発生装置は、X線後方散乱撮像システムの一部である、請求項9に記載の方法。発生X線をフィルタリングするステップは:X線を、複数の開口部を有する第1フィルタ内を通過させて、X線のうち、コリメータの中心線軸と略平行とはならない部分を全てフィルタリングするステップと、X線を、通路を有する第2フィルタ内を通過させて、X線をコリメータの中心線軸に平行な方向に集束させ、そして移動させるステップとを含む、請求項9に記載の方法。第1フィルタ及び第2フィルタは、鉛材料またはタングステン材料の何れかにより形成される、請求項12に記載の方法。更に:小径チューブの臨界屈曲半径を計算するステップと、小径チューブを、小径チューブの全ての屈曲半径が、臨界屈曲半径より大きくなるまで調整するステップとを含む、請求項9に記載の方法。小径チューブは:小径チューブのコアに位置するX線伝送チューブと、X線伝送チューブを取り囲むクラッド層と、クラッド層を取り囲む金属層と、金属層を取り囲む熱可塑性コーティング層と、熱可塑性コーティング層を取り囲むケーブルジャケット層とを含む、請求項9に記載の方法。概要X線撮像は、種々の物体を、異物破片FODの混入について検査するために利用することができるので有利である。FODを検出するX線撮像システムを実現する方法が、本明細書において開示される。幾つかの方法では、X線が、小径チューブ内を伝送することができるようにする。本明細書において説明されるように、小径チューブは、1016ヘルツ以上の周波数を有するX線を伝送する何れのチューブとすることもできる。例えば、小径チューブは、1016~1019ヘルツの範囲のX線を伝送することができる。小径チューブの第1フィルタはまず、X線を、当該X線が複数の開口部を通過するようにすることによりフィルタリングすることができる。小径チューブの第2フィルタは、X線を、通路内を通過させることにより、X線を当該チューブの中心軸に平行な流れ方向に集束させ、そしてX線を移動させることができる。本明細書において説明されるように、これらの方法は、輸送手段、構造物、及び/又は生体有機物のような物体に対して実施することができ、これらの物体として、これらには限定されないが、航空機、海上船舶、宇宙船、原動機付き車両、機械装置、樹木、住宅、外科患者、及びFODの影響を受け易い他の輸送手段、構造物、及び/又は生体有機物を挙げることができる。例示的なシステム図1は、例示的なX線撮像システム100の模式図である。1つの実施形態では、X線撮像システム100はX線後方散乱システムである。X線後方散乱システムは、X線後方散乱システムが、X線ビームを伝送し、そして当該X線ビームを物体の同じ側から受光することができるすなわち、オペレータは、物体の一方の側に接近して物体を検査するだけで済むのでX線伝送システムよりも有利となり得る。X線後方散乱システムの別の利点は、X線後方散乱システムが通常、X線伝送システムよりも少ない放射線しか放出しないので、X線後方散乱システムは多くの場合、立ち入り禁止区域を狭く設定すればよいということである。図1の例示的なX線撮像システム100では、電源102は、電力をX線発生装置104に供給することができる。X線発生装置104は、X線106を発生するように動作することができる。X線発生装置104は、この技術分野で公知の何れかの方法を用いて、X線106を発生することができる。例えば、X線発生装置104は真空管とすることができ、そして電子を真空管内で放出するカソードを含むことができる。アノードはカソードから放出される電子を収集して、電流がX線発生装置104を流れるようにすることができる。X線を発生するために、電子をカソードから飛ばし、そしてアノードに、高エネルギー電界が印加された状態で衝突させる。衝突電子が、十分大きいエネルギーを有する場合、これらの電子は、ターゲット金属原子の内殻の電子を叩き出すことができる。正確なエネルギーを持つX線光子は、より高い準位にあった電子が低い準位に遷移して、電子が内殻から叩き出されたときに発生する空孔を満たすときに放出される。発生X線106は、X線発生装置104から小径チューブ108に向かって通過することができる。小径チューブ108は、1つ以上の層により構成することができる。小径チューブ108は、当該チューブの端部の近接するコリメータ110を含むことができ、当該コリメータ110は、X線発生装置104に接続される。コリメータ110は、発生X線106を所望の流れ方向にフィルタリングし、そして/または誘導することができる。小径チューブ108は更に、端部保持具112を含むことにより、誘導X線114を被検査物体に向けて放出することができる。誘導X線は、被検査物体の被検査領域に触れることができ、これにより、最終的に、被検査物体の被検査領域のX線画像の生成が可能になる。幾つかの例では、端部保持具112は、特定の撮像用途に適合するように設計することができる。例えば、端部保持具112は、被検査物体のリアルタイムX線画像または略リアルタイムX線画像を、X線撮像システム100が物体を撮像するときに表示する表示装置を含むことができる。このような例では、端部保持具112を調整して、X線撮像システム100を、例えばハンドヘルド検出器として使用することができる。幾つかの実施形態では、X線撮像システム100は、反射X線を受光する検出器116、及び/又は反射X線を保持具112に近接する位置で吸収する放射線シールドを含むことができる。検出器116及び/又は放射線シールドは、着脱可能であるので、検出器及び/又は放射線シールドは、検出器及び/又は放射線シールドを現場で組み付けることができ、そして未使用時に容易に収納することができるように着脱可能とすることができる。小径チューブ108は、オペレータが持ち運んで物体を検査する必要がある重量を軽くするので有利である。例えば、重い電源及び/又はX線発生装置104を端部保持具112から小径チューブ108を介して分離することにより、当該デバイスのユーザは、端部保持具112を所望の検査位置に移動させて、物体を撮像するだけで済むようになる。更に、ユーザは、端部保持具112を被検査物体に向けるだけで済むので、X線撮像システム100を使用して、小領域または接近困難な領域を検査することができる。例えば、X線撮像システム100を使用して自動車を、当該車両の内部から検査することができるが、その理由は、ユーザが端部保持具112、及び小径チューブ108の一部を自動車の内部に移動させるだけで済むからである。幾つかの例では、小径チューブ108は、軽量であるので、ユーザが一人で、端部保持具112を小径チューブの1つ以上の部分と一緒に、機械的支援または別のユーザによる支援を受けることなく移動させることができる。図2は、例示的な小径チューブ部材200の模式図である。例示的な小径チューブ部材200は、構成要素群を、図1の小径チューブ108をA-Aに沿って切断して眺めた断面図で示している。X線伝送チューブX-raytransmissiontube202は、小径チューブ108のコアに配置することができる。X線伝送チューブ202は、X線を伝送するために適する銅これに限定されないがのような何れかの材料により形成することができる。クラッド層204は、X線伝送チューブ202を取り囲むことができる。幾つかの例では、クラッド層204は、X線が小径チューブ108内を伝送する動作をサポートする低屈折率クラッド材料である。金属層206は、クラッド層204を取り囲むことができる。金属層206は、X線を阻止するために適する、鉛、タングステン、銅、またはアルミニウムのような金属により形成することができる。熱可塑性コーティング層208は、金属層206を取り囲むことにより、保護をX線伝送チューブ202に加えることができる。最後に、ポリ塩化ビニールPVCケーブルジャケットのようなケーブルジャケット層210は、熱可塑性コーティング層208を取り囲むことにより、耐久性及び可撓性を小径チューブ108に付与することができる。幾つかの例では、例示的な小径チューブ部材200の層構造は、例示的な小径チューブ部材が、コアに位置するX線伝送チューブ202と、そしてX線が小径チューブ108内を通過するときにX線を閉じ込める金属層206と、を含むことを除いて、電気通信産業において使用される通常の光ファイバケーブルと同様である。図3は、X線を所望の流れ方向に誘導する、そして/またはフィルタリングする例示的なコリメータ部材300の模式図である。例示的なコリメータ部材300は、機能群及び構成要素群を、図1のコリメータ110をB-Bに沿って切断して眺めた断面図で示している。X線発生装置104から発生したX線106は、コリメータ110に第1コネクタナット302を通って入射することができる。図3に示すように、発生X線106は、X線が第1コネクタナット302に入射するときに、X線発生装置104から種々のランダムな方向に飛び出している可能性がある。コリメータ110は、X線をフィルタリングする第1フィルタ304を含むことができる。第1コネクタナット302に入射すると、発生X線106は、第1フィルタ304に達することができる。第1フィルタ304は、複数の開口部306を含むことができる。これらの開口部306と一直線となり、かつコリメータ110の中心線軸308に平行な発生X線106が第1フィルタ304内を通過する。例えば、平行X線310が第1フィルタ304内を通過するが、その理由は、これらの平行X線が、これらの開口部306と一直線となるからである。これらの開口部306と一直線とならない発生X線106は、第1フィルタ304によって阻止され、そして小径チューブ108内を通過することはない。幾つかの例では、コリメータ110は、共通の中心線軸308を小径チューブ108と一緒に共有することができる。コリメータ110は更に、X線を所望の流れ方向に更に誘導する、そして/またはフィルタリングする第2フィルタ312を含むことができる。第1フィルタ304内を通過するX線304例えば、平行X線310は、第2フィルタ312に達することができる。第2フィルタ312は、平行X線310を収束させる通路314を含むことにより、これらの平行X線310がコリメータの中心線軸308に平行な方向に集束し、そして移動するようになる。通路314は、円錐形を有することにより、平行X線310を中心線軸308に平行な方向に集束させ、そして移動させることができる。例えば、収束X線316は、これらのX線が第2フィルタ312を出射するときには、コリメータ110の中心線軸308に平行になり、かつ近接している。第2フィルタ312内を通過すると、収束X線316は、小径チューブ108内を進行することができる。幾つかの例では、収束X線316は、これらのX線がコリメータ110を出射して、小径チューブ108内を進行するときに、第2コネクタナット318内を通過することができる。第1コネクタナット302、第1フィルタ304、第2フィルタ312、及び第2コネクタナット318のようなコリメータ110の種々の構成要素は、鉛、タングステン、またはアルミニウムのような金属材料により形成することができる。例示的なプロセス図4は、物体を検査する例示的なプロセス400のフロー図である。操作が記述されている順番は、限定的に捉えられるべきではなく、任意の数の記述ブロックは、任意の順番で組み合わせる、そして/または並列に組み合わせることにより、当該プロセスを実行することができる。プロセス400の他に、本開示全体を通じて記載される他のプロセスは、それに応じて解釈されるものとする。プロセス400は、図1のX線撮像システム100によって行なうことができる。操作402では、X線発生装置104はX線を発生する。一般的に、X線は、高速電子をターゲットに衝突させて、高エネルギー光子すなわち、高い周波数の不可視光を生成することにより発生する。発生X線は、X線発生装置104からコリメータ110に向かって通過し、このコリメータ110では、これらのX線は、操作404において、誘導され、そして/またはフィルタリングされる。コリメータ110は、1つ以上のフィルタ例えば、第1フィルタ304及び/又は第2フィルタ312を用いることにより、操作404において、X線を誘導する、そして/またはフィルタリングすることができる。幾つかの例では、複数の開口部を有する円形フィルタ例えば、第1フィルタ304は、コリメータ110の中心線軸に平行な方向に移動し、かつこれらの開口部と一直線となるX線だけが、フィルタ群内を通過することができるようにすることにより、X線をフィルタリングする。別の例では、通路を有する円形フィルタ例えば、第2フィルタ312は、X線がコリメータ110の中心線軸の近傍に集束するようにX線を収束させる。操作406では、X線が小径チューブ108内を伝送するようにする。幾つかの例では、小径チューブは、ユーザが当該チューブを被検査物体に位置決めし、そして/または被検査物体に向けて撮像することができるようにするために十分に長い。小径チューブの最小長さは、撮像環境によって異なるが、2~20フィートの範囲で変えることができる。例えば、小径チューブの長さは、航空機を撮像するために使用される場合には、10フィート以上とすることができる。幾つかの実施形態では、小径チューブの長さは、3フィート以上とすることができる。幾つかの実施形態では、小径チューブ108は、可撓性材料とすることにより、ユーザが当該チューブを1つ以上の箇所で曲げることができるようにする。例えば、ユーザは、当該チューブを曲げることにより、当該チューブを被検査物体に位置決めし、そして/または被検査物体に向けて撮像することができる。更に、ユーザは当該チューブを、撮像中に曲げて、被撮像物体の複数部分をX線撮像システムの電源を落とすことなく、またはX線撮像システムを移転することなく撮像することができる。操作408では、X線を小径チューブ108から被検査物体に向けて放出する。放出X線を使用して、被検査物体のX線画像を生成することができる。例えば、小径チューブ108から放出されるX線は、被検査物体によって反射され、そして検出ユニットが受光して、被検査物体のX線画像を生成する。例示的な操作幾つかの例では、小径チューブ108を曲げることができるので、X線撮像システム100のユーザは、小径チューブ108を所望の撮像位置に移動させることができる。小径チューブ108がほぼ真っ直ぐである状況では、小径チューブ108内を進行するX線はほぼ、小径チューブの中心線軸に沿って移動することになる。しかしながら、小径チューブ108に屈曲部がある場合、X線は、中心線軸から外れる可能性がある。図5は、例示的な屈曲小径チューブ500を示しており、X線が小径チューブ108の屈曲部502内を伝送するときのX線を示している。幾つかの実施形態では、小径チューブ108は、屈曲部502の他に、第1直線部分504及び第2直線部分506を含む。小径チューブ108は、屈曲部502に追従する中心線軸508を有する。X線は普通、可視光と同じ電磁波類に属するので、小径チューブ108内を進行するX線は、全内部反射TotalInternalReflectionの原理のような可視光について確立されている原理に従う。一般的に、光ファイバの全内部反射の原理によれば、光入射角が臨界値を超えると、光は、ガラスファイバから漏洩することができず、跳ね返されて戻される。図5の例示的な屈曲小径チューブ500に適用される場合、全内部反射の原理によれば、小径チューブ108の屈曲部502が臨界屈曲角を超える場合に、X線の少なくとも一部が、小径チューブ108内を進行するのではなく、金属層206によって不所望に吸収される、または阻止されることになる。図5では、屈曲角Θgは、小径チューブ108の屈曲部502の屈曲半径Rで定義される。屈曲角Θgが大きくなると、屈曲部の曲率が緩やかになる;同様に、屈曲角Θgが小さくなると、屈曲部の曲率が急峻になる。屈曲部502の手前のX線が屈曲部502に達すると、X線510の一部が、小径チューブの金属層206によって吸収/阻止される可能性がある。同様に、X線の一部は、金属層206によって反射され、そして図5に屈曲部の後ろのX線512として表わされているように、小径チューブ108内を進行し続けることができる。屈曲角Θgが臨界屈曲角Θg,critに達する、または臨界屈曲角Θg,critを超える場合、X線のうち、金属層206によって吸収/阻止される部分は、X線のうち、金属層によって反射される部分を上回ってしまい、そしてX線撮像システムにより生成される画像の品質を不所望に低下させてしまう。従って、小径チューブの屈曲角Θgが臨界屈曲角Θg,critを下回る状態が撮像中に保持されることが重要である。臨界屈曲角Θg,critは方程式1で定義することができる。方程式1では、ωpは、方程式2で定義されるX線伝送チューブ202の目標プラズマ周波数を指し;そしてωは、方程式3で定義されるように、X線伝送チューブ202内を進行する従って、小径チューブ108内を進行するX線のX線周波数を指している。方程式2では、Zは、X線伝送チューブ202を構成する元素の原子数を指し、ρは、X線伝送チューブの質量密度を指し、そしてAは、X線伝送チューブを構成する元素の原子量を指している。方程式3では、Cは光の速度を指し、そしてλは、小径チューブ108内を進行するX線のX線波長を指している。方程式1~3を用いて、臨界屈曲角Θg,critを種々のX線伝送チューブについて計算することができる。例えば、表1は、アルミニウム、タングステン、及び銅について、X線伝送チューブの表面仕上げ状態を考慮することなく計算された臨界屈曲角Θg,critをまとめたものである。従って、表1は、アルミニウム、タングステン、及び銅が全て、X線伝送チューブ202の有望な材料候補に見えることを示している。X線伝送チューブ202の許容屈曲半径Rは、方程式4で定義することができる。方程式4では、dは、X線伝送チューブ202の直径を指している。方程式1~4を用いて、許容屈曲半径Rを種々のX線伝送チューブについて計算することができる。幾つかの例では、X線伝送チューブ202によって、小径チューブ108の許容屈曲半径が、方程式1~4を用いて決定される。表2は、種々のチューブ径に対応するアルミニウム、タングステン、及び銅に関する許容屈曲半径Rをまとめたものである。表2は、チューブ径を大きくするためには、屈曲半径を大きくする必要があることを示しているすなわち、屈曲部の曲率を緩やかにする必要がある。X線伝送チューブの直径は、表2では、0.005インチ~0.05インチの範囲であるが、当該チューブは、6.0インチ未満の直径であれば何れの直径でもよい。幾つかの例では、チューブの直径は2.0インチ未満とすることができる。別の例では、チューブの直径は、1.0インチ未満とすることができる。別の構成として、表2に示すように、0.5インチ未満とすることができる。X線伝送チューブ202の種々の材料に関しては、表2は、タングステンは銅よりも、何れのチューブ径についても、きびしい曲げに耐えることができることを示している。図6は、X線撮像システムを構築して撮像する例示的なプロセス600のフロー図である。プロセス600は、図1のX線撮像システム100によって実施することができる。プロセス600の操作群の順番は、限定的に捉えられてはならない。操作602では、X線撮像システム100を構築する。幾つかの例では、X線撮像システム100を構築する際、小径チューブ108をX線発生装置104に接続し、そして小径チューブ108を被検査物体に向ける。他の例では、X線撮像システム100を操作602で構築する際に更に、X線発生装置104を電源102に接続することができる。操作604では、小径チューブ108に屈曲部があるかどうかについての判断を行なう。小径チューブに屈曲部がない場合すなわち、操作604からNo分岐に進む場合、操作618において、撮像を開始する。小径チューブに屈曲部がある場合すなわち、操作604からYes分岐に進む場合、操作606において、臨界屈曲角Θg,critを計算する。幾つかの例では、方程式1~3を用いて、臨界屈曲角Θg,critを操作606において、X線伝送チューブ202の目標プラズマ周波数、及び小径チューブ内を進行するX線のX線周波数に基づいて計算することができる。操作608では、許容屈曲半径Rを計算する。方程式4を用いて許容屈曲半径Rを、X線伝送チューブ202の臨界屈曲角Θg,crit及び直径に基づいて計算することができる。幾つかの例では、X線伝送チューブによって、小径チューブ108の臨界屈曲角及び許容屈曲半径が決定される。操作610では、小径チューブ108の屈曲部の測定を行なう。操作610において、屈曲部の測定を行なう際、小径チューブ108の屈曲部群の全ての屈曲半径を測定することができる。操作612では、小径チューブの測定屈曲半径を、操作608において計算される許容屈曲半径Rと比較する。計算許容屈曲半径Rが、測定屈曲半径より大きくない場合すなわち、操作612からNo分岐に進む場合、操作618において、撮像を開始する。計算許容屈曲半径Rが、測定屈曲半径より大きい場合すなわち、操作612からYes分岐に進む場合、操作614において、小径チューブを調整する。操作614において、小径チューブを調整する際、小径チューブのうち、許容屈曲半径より小さい屈曲部を真っ直ぐにすることができる。操作614において、小径チューブ108のこれらの屈曲部の再測定を行なう。操作616では、小径チューブ108の再測定屈曲半径を、操作608において計算される許容屈曲半径Rと比較する。再測定屈曲半径が計算許容屈曲半径Rより大きい場合すなわち、操作616からNo分岐に進む場合、操作618において、撮像を開始する。再測定屈曲半径が計算許容屈曲半径Rより小さい場合すなわち、操作616からYes分岐に進む場合、操作614において、小径チューブを再度調整する。プロセス600では、再測定屈曲半径が、操作618において撮像を開始するときの基準となる計算許容屈曲半径Rより大きくなるまで、小径チューブを操作614において継続的に調整する。幾つかの実施形態では、ユーザはX線撮像システムを、チューブが被検査物体に向き、そして被検査物体に位置決めされて被検査物体を撮像するように小径チューブの配置を決めることにより構築することができる。一旦、当該チューブを据え付けると、ユーザは、チューブの長さ分を歩いて、当該チューブの屈曲部を目視検査することができる。例えば、電源及び/又はX線発生装置が被撮像物体から離れた角隅部の近傍に在る場合、小径チューブは、少なくとも1つの屈曲部を含むことにより、撮像システムを被検査物体に、電源及び発生装置を移動させる必要を伴なうことなく誘導することができる。当該チューブの各屈曲半径に関して、ユーザは当該チューブを操作614において、当該チューブのこれらの屈曲半径が、許容屈曲半径より大きくなるまで調整する必要がある。幾つかの実施形態では、X線伝送チューブ202によって、小径チューブ108は当該チューブの形状を、ユーザが当該チューブを操作614において調整するときに保持することができる。別の構成として、1つ以上のチューブクリップを使用して、チューブが当該チューブの形状を、操作614における再調整中に保持することができる。図7は、例示的な航空機700の側部立面図であり、この航空機700が本明細書において開示される方法を用いて検査を受けることができる。航空機700は、特に航空機が歴代に渡って使用されてきた場合に、例えば大規模戦争に供されるために組み立てられた例えば、1945年頃など航空機のような場合に、種々の既知の部品群及び未知の部品群を含んでいる可能性があることを理解する必要がある。従って、X線撮像システムは、本明細書において開示されるように、航空機700をFOD異物破片について検査する必要がある。この実施形態では、航空機700は、翼アセンブリ群704と、尾翼アセンブリ706と、そして着陸アセンブリ708と、を含む胴体702を含む。航空機700は更に、1つ以上の推進ユニット710と、制御システム712と、そして航空機700の正常運行を可能にする他のシステム群及びサブシステム群のホストと、を含む。航空機に含まれる多くの部品は、本明細書において開示されるX線撮像システム技術を用いて撮像することができることを理解されたい。図7に示す航空機700は、民間旅客航空機の概要を示しているが;本開示による示唆は、FOD異物破片の影響を受け易く、かつ戦闘機、貨物輸送航空機、ロータリー航空機、他の種類の有人または無人航空機、地上車両、船舶、機械装置、樹木、住宅、外科患者などを含む他の輸送手段、構造物、及び/又は生体有機物の検査に適用することができる。結論本開示の種々の実施形態を、上に述べたように例示し、そして説明してきたが、多くの変更を、本開示の思想及び範囲から逸脱しない範囲で加えることができる。従って、本開示の範囲は、これらの実施形態の開示内容によって限定されない。限定されるのではなく、本開示は、以下の請求項を参照することにより完全に規定されるべきである。"