光ディスクに記録されている信号を読み出すために信号記録層にレーザー光を集光させる対物レンズと、レーザー光が入射されるとともに0次光であるメインビーム、1次光及び-1次光であるサブビームを生成させる回折格子と、信号記録層から反射される戻り光であるサブビームが照射されるとともにトラッキングエラー信号を生成する第1及び第2のサブビーム用受光部と信号記録層から反射される戻り光であるメインビームが照射されるとともに再生信号及びフォーカスエラー信号を生成するメインビーム用受光部とより成る光検出器と、前記回折格子を透過したレーザー光を対物レンズ方向へ導くとともに信号記録層から反射される戻り光を光検出器方向へ導く偏光ビームスプリッタを備えた光ピックアップ装置であり、前記光検出器に入射される戻り光の強度分布が平坦になるようにしたことを特徴とする光ピックアップ装置。強度分布を平坦にする強度平坦化素子をレーザーダイオードと偏光ビームスプリッタとの間に配置したことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。強度分布を平坦にする強度平坦化素子を偏光ビームスプリッタと光検出器との間に配置したことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。平行平板硝子の表面に透過率を調整する透過膜を塗布することによって強度平坦化素子を構成したことを特徴とする請求項2または請求項3に記載の光ピックアップ装置。透過率の異なる透過膜を楕円状に塗布したことを特徴とする請求項4に記載の光ピックアップ装置。強度平坦化素子を回折格子が形成された回折素子にて構成したことを特徴とする請求項2または請求項3に記載の光ピックアップ装置。特許文献1に記載されている技術は、光検出器に組み込まれているメインビーム用受光部の面積に対してサブビーム用受光部の面積を小さくすることによって、またサブビーム用受光部の形状を八角形にすることによって迷光による問題を解決するようにされているが、メインビーム用受光部に対する迷光対策は何ら成されていない。メインビーム用受光部に対する迷光対策を行わなかった理由は、信号の読み取り動作を行っている信号記録層から反射されるメインビームのレベルに対してその他の信号記録層から反射されるメインビームのレベル及びサブビームのレベルが小さいので、迷光による影響を受けることがないことにある。しかしながら、Blu-ray規格にて規定されている4層式の光ディスクDでは、信号記録層と信号記録層との間隔が非常に狭いので、信号の読み出し対象となる信号記録層に隣接する信号記録層から反射されるメインビーム及びサブビームより生成される迷光のレベルが無視できない程度に大きくなっている。前述した迷光による問題について図11、12、13及び14を参照にして説明する。図11は、光検出器10に組み込まれている受光部に照射されるメインビームMの光強度分布、即ちメインビームのレベル変化を示すものであり、MAは信号の読み出し対象となる信号記録層からの戻り光の強度分布を示し、MBは隣接する信号記録層からの戻り光、即ち迷光の強度分布を示すものである。図12は、光検出器10に組み込まれている受光部に照射されるメインビームM、サブビームS1、S2の光強度分布、即ち各ビームのレベル変化を示すものであり、MA、SA1、SA2は信号の読み出し対象となる信号記録層からの各戻り光の強度分布を示すものである。図13は、光検出器10に組み込まれている受光部に照射されるメインビームM、サブビームS1、S2が迷光による影響を受けた状態における光強度分布を示すものであり、MA、SA1、SA2は信号の読み出し対象となる信号記録層からの各戻り光の強度分布を示すものである。斯かる図面より明らかなようにメインビームM、サブビームS1、S2の強度は、迷光による影響を受けてそのレベルが大きく変化していることが分かる。図14は、光検出器10に組み込まれている受光部に照射されるメインビームM、サブビームS1、S2及び迷光の強度分布を模式的に表したものであり、MA、SA1、SA2は信号の読み出し対象となる信号記録層からの戻り光のレベルである強度分布を示し、MBは隣接する信号記録層からの戻り光、即ち迷光のレベルである強度分布を示すものである。斯かる図より明らかなように受光部に照射されるメインビームM、サブビームS1、S2及び迷光の強度分布は、平坦ではなく中心部の強度が最も高くなる。斯かる理由は、周知のようにレーザーダイオードから放射されるレーザー光の光強度がガウシャン特性を有しているからである。即ち、レーザーダイオードから放射されるレーザー光の断面は、図3に示すように楕円形状であり、光ディスクDに記録されている信号の読み出し動作等には、図3に示す円形の部分のレーザー光が使用されている。そして、斯かるレーザー光において、その中心部の光強度が最も強く、中心部から外側に向かって次第に光強度が弱くなるという特性がある。斯かる特性があるので、光検出器10に組み込まれている受光部に照射される全ての戻り光の強度も図14に示すように平坦ではなく中心部が最も高くなる。その結果、対物レンズ8のトラッキング方向への変位時に先行サブビーム及び後行サブビームに対する迷光の影響度のバランスがずれることになるので、差動プッシュプル方式におけるトラッキング制御動作を正確に行うことが出来ないという問題がある。本発明は、斯かる問題を解決することが出来る光ピックアップ装置を提供しようとするものである。本発明は、光ディスクに記録されている信号を読み出すために信号記録層にレーザー光を集光させる対物レンズと、レーザー光が入射されるとともに0次光であるメインビーム、1次光及び-1次光であるサブビームを生成させる回折格子と、信号記録層から反射される戻り光であるサブビームが照射されるとともにトラッキングエラー信号を生成する第1及び第2のサブビーム用受光部と信号記録層から反射される戻り光であるメインビームが照射されるとともに再生信号及びフォーカスエラー信号を生成するメインビーム用受光部とより成る光検出器と、前記回折格子を透過したレーザー光を対物レンズ方向へ導くとともに信号記録層から反射される戻り光を光検出器方向へ導く偏光ビームスプリッタを備え、前記光検出器に入射される戻り光の強度分布が平坦になるようにしたことを特徴とするものである。また、本発明は、強度分布を平坦にする強度平坦化素子をレーザーダイオードと偏光ビームスプリッタとの間に配置したことを特徴とするものである。そして、本発明は、強度分布を平坦にする強度平坦化素子を偏光ビームスプリッタと光検出器との間に配置したことを特徴とするものである。更に、本発明は、平行平板硝子の表面に透過率を調整する透過膜を塗布することによって強度平坦化素子を構成したことを特徴とするものである。また、本発明は、透過率の異なる透過膜を楕円状に塗布したことを特徴とするものである。そして、本発明は、強度平坦化素子を回折格子が形成された回折素子にて構成したことを特徴とするものである。本発明の光ピックアップ装置は、光ディスクに設けられている信号記録層から反射されて光検出器に照射される戻り光の強度分布が平坦になるようにしたので、レンズシフト時、即ち対物レンズのトラッキング方向への変位時先行サブビーム及び後行サブビームに対する迷光の影響度を均一にすることが出来る。即ち、本発明によれば、対物レンズがトラッキング方向へ変位しても先行サブビーム及び後行サブビームに対する戻り光の影響度を同一にすることが出来るので、先行サブビームを受光する受光部から得られる信号と後行サブビームを受光する受光部から得られる信号とから得られるプッシュプル信号の直流変動を抑えることが出来、その結果差動プッシュプル方式のトラッキング制御動作を正確に行うことが出来る。従って、本発明は、信号記録層の間隔が狭い光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うように構成された光ピックアップ装置に実施した場合に非常に大きな効果を奏するものである。光ディスクに設けられている複数の信号記録層にレーザー光を集光させてレーザースポットを生成するように構成された光ピックアップ装置において、信号の読み出し動作を行っている信号記録層ではなく、他の信号記録層から反射されるレーザー光、即ち迷光によるトラッキング制御動作に対する悪影響を抑えることが出来る光ピックアップ装置を提供する。図1は本発明の実施例を示すものであり、図9に示した光ピックアップ装置と同一の部材には同一の符号を付している。本発明は、光ディスクDに設けられている信号記録層L0、L1、L2、L3から反射されるとともに光検出器10に入射される戻り光の強度分布を平坦にするための強度平坦化素子11をレーザーダイオード1と偏光ビームスプリッタであるハーフミラー3との間に設けたことを特徴とするものである。図2は斯かる強度平坦化素子11の一実施例であり、透明な平行平板硝子11Aにレーザー光の透過率が異なる楕円状の透過膜11Bを塗布したものである。即ち、前記透過膜11Bは中心部の透過率が最も小さく、外周に向かって透過率が高くなるように構成されている。前記平行平板硝子11Aに塗布される透過膜11Bの透過率は、レーザー光である戻り光の強度分布を均一にするべく、即ちレーザー光の強度分布が平坦になるように設定されている。レーザー光は、前述したようにガウシャン特性を有しているので、中心部の光強度が最も大きく外側に向かって光強度が小さくなるという特性がある。従って、本発明では、前記平行平板硝子11Aに塗布される透過膜11Bの透過率をレーザー光の強度分布と逆の関係になるように設定されている。前述したように構成された強度平坦化素子11をレーザーダイオード1と偏光ビームスプリッタであるハーフミラー3との間に配置させた光ピックアップ装置について図5、6、7及び8を参照にして説明する。図5は、光検出器10に組み込まれている受光部に照射されるメインビームMの光強度分布、即ちメインビームのレベル変化を示すものであり、MAは信号の読み出し対象となる信号記録層からの戻り光の強度分布を示し、MBは隣接する信号記録層からの戻り光、即ち迷光の強度分布を示すものである。図6は、光検出器10に組み込まれている受光部に照射されるメインビームM、サブビームS1、S2の光強度分布、即ち各ビームのレベル変化を示すものであり、MA、SA1、SA2は信号の読み出し対象となる信号記録層からの各戻り光の強度分布を示すものである。図7は、光検出器10に組み込まれている受光部に照射されるメインビームM、サブビームS1、S2が迷光による影響を受けた状態における光強度分布を示すものであり、MA、SA1、SA2は信号の読み出し対象となる信号記録層からの各戻り光の強度分布を示すものである。斯かる図面より明らかなようにメインビームM、サブビームS1、S2の強度は、迷光による影響を受けてそのレベルが大きく変化していることが分かる。図8は、光検出器10に組み込まれている受光部に照射されるメインビームM、サブビームS1、S2及び迷光の強度分布を模式的に表したものであり、MA、SA1、SA2は信号の読み出し対象となる信号記録層からの戻り光のレベルである強度分布を示し、MBは隣接する信号記録層からの戻り光、即ち迷光のレベルである強度分布を示すものである。前述した図5、6、7及び8より明らかなように受光部に照射されるメインビームM、サブビームS1、S2及び迷光の全てのレーザー光の強度分布は、強度平坦化素子11の働きによって平坦にされている。従って、迷光によって受ける第1サブビーム用受光部SD1及び第2サブビーム用受光部SD2に対する影響度は対物レンズ8がトラッキング方向へ変位しても同一になる。また、サブビームS1、S2の強度分布も平坦化されているので、対物レンズ8がトラッキング方向へ変位しても先行サブビームを受光する受光部から得られる信号と後行サブビームを受光する受光部から得られる信号とから得られるプッシュプル信号の直流変動を抑えることが出来、その結果差動プッシュプル方式のトラッキング制御動作を正確に行うことが出来る。実施例1では、強度平坦化素子11として図2に示すような平行平板硝子11Aに透過率が異なる楕円状の透過膜11Bを塗布した部材を使用したが透過率を調整する手段として回折格子が形成されている回折素子を利用することも出来る。図4は強度平坦化素子11として回折素子を利用したものであり、同図において11Cは透明な平行平板硝子であり、その表面に回折格子11D、11Eが形成されている。斯かる回折格子11D、11Eは、楕円状のレーザー光の長径方向に合致するように配置されており、該回折格子11D、11Eとして作用するべく形成される溝の深さを長径方向に階段状に変化させることによって透過するレーザー光の強度を調整することが出来る。斯かる回折素子を強度平坦化素子11として使用することによって光検出器10に組み込まれている受光部に照射される各レーザー光の強度分布を平坦にすることが出来るので、実施例1と同様に差動プッシュプル方式のトラッキング制御動作を正確に行うことが出来る。前述した実施例1及び実施例2では、強度平坦化素子11をレーザーダイオード1と偏光ビームスプリッタとして作用するハーフミラー3との間に設けたが、該ハーフミラー3と光検出器10との間に配置させることも出来る。実施例1及び実施例2のように強度平坦化素子11をレーザーダイオード1とハーフミラー3との間に設ける場合には、該強度平坦化素子11によるレーザー光の平坦化が光ディスクDの信号記録層L0、L1、L2、L3に照射されるレーザー光に対しても作用するので、各記録層に生成されるレーザースポットの形状を良好なものにすることが出来るという利点がある。斯かる実施例1、2に対して、実施例3のように強度平坦化素子11をハーフミラー3と光検出器10との間に配置させた場合には、光検出器10に組み込まれている受光部に適した平坦化のための光学設計を他の光学特性に関係なく行うことが出来るので、トラッキング制御特性を向上させることが出来る。