"被加工物にレーザビームを照射してアブレーション加工を施すアブレーション加工方法であって、少なくともアブレーション加工すべき被加工物の領域にレーザビームの波長に対して吸収性を有する粉末を混入した液状樹脂を塗布して該粉末入り保護膜を形成する保護膜形成工程と、該保護膜形成工程を実施した後、該保護膜が形成された被加工物の領域にレーザビームを照射してアブレーション加工を施すレーザ加工工程と、を具備したことを特徴とするアブレーション加工方法。前記粉末の平均粒径はレーザビームのスポット径より小さいことを特徴とする請求項1記載のアブレーション加工方法。前記レーザビームの波長は355nm以下であり、前記粉末は、Fe2O3、ZnO、TiO2、CeO2、CuO及びCu2Oからなる群から選択された金属酸化物を含み、前記液状樹脂はポリビニルアルコールを含むことを特徴とする請求項1又は2の何れかに記載のアブレーション加工方法。保護膜を塗布することによりデブリがデバイス表面に付着する問題を解決できるが、保護膜によってレーザビームのエネルギーが拡散して加工効率が悪化するという問題がある。また、分割予定ラインにTEGTestElementGroupと称する金属の膜が被覆されている場合は、レーザビームがTEGで反射されアブレーション加工が不十分になるという問題がある。本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、エネルギーの拡散及びレーザビームの反射を抑制可能なアブレーション加工方法を提供することである。本発明によると、被加工物にレーザビームを照射してアブレーション加工を施すアブレーション加工方法であって、少なくともアブレーション加工すべき被加工物の領域にレーザビームの波長に対して吸収性を有する粉末を混入した液状樹脂を塗布して該粉末入り保護膜を形成する保護膜形成工程と、該保護膜形成工程を実施した後、該保護膜が形成された被加工物の領域にレーザビームを照射してアブレーション加工を施すレーザ加工工程と、を具備したことを特徴とするアブレーション加工方法が提供される。好ましくは、粉末の平均粒径はレーザビームのスポット径より小さい。好ましくは、レーザビームの波長は355nm以下であり、粉末は、Fe2O3、ZnO、TiO2、CeO2、CuO及びCu2Oからなる群から選択された金属酸化物を含み、液状樹脂はポリビニルアルコールを含む。本発明のアブレーション加工方法は、少なくともアブレーション加工をすべき被加工物の領域にレーザビームの波長に対して吸収性を有する粉末を混入した液状樹脂を塗布して保護膜を形成するので、レーザビームのエネルギーが保護膜中の粉末に吸収されて被加工物に伝達され、エネルギーの拡散及びレーザビームの反射が抑制されてアブレーション加工が効率的に円滑に遂行される。以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発明のアブレーション加工方法を実施するのに適したレーザ加工装置の概略構成図を示している。レーザ加工装置2は、静止基台4上にX軸方向に移動可能に搭載された第1スライドブロック6を含んでいる。第1スライドブロック6は、ボールねじ8及びパルスモータ10から構成される加工送り手段12により一対のガイドレール14に沿って加工送り方向、すなわちX軸方向に移動される。第1スライドブロック6上には第2スライドブロック16がY軸方向に移動可能に搭載されている。すなわち、第2スライドブロック16はボールねじ18及びパルスモータ20から構成される割り出し送り手段22により一対のガイドレール24に沿って割り出し方向、すなわちY軸方向に移動される。第2スライドブロック16上には円筒支持部材26を介してチャックテーブル28が搭載されており、チャックテーブル28は加工送り手段12及び割り出し送り手段22によりX軸方向及びY軸方向に移動可能である。チャックテーブル28には、チャックテーブル28に吸引保持された半導体ウエーハをクランプするクランプ30が設けられている。静止基台4にはコラム32が立設されており、このコラム32にはレーザビーム照射ユニット34を収容するケーシング35が取り付けられている。レーザビーム照射ユニット34は、図2に示すように、YAGレーザ又はYVO4レーザを発振するレーザ発振器62と、繰り返し周波数設定手段64と、パルス幅調整手段66と、パワー調整手段68とを含んでいる。レーザビーム照射ユニット34のパワー調整手段68により所定パワーに調整されたパルスレーザビームは、ケーシング35の先端に取り付けられた集光器36のミラー70で反射され、更に集光用対物レンズ72によって集光されてチャックテーブル28に保持されている半導体ウエーハWに照射される。ケーシング35の先端部には、集光器36とX軸方向に整列してレーザ加工すべき加工領域を検出する撮像ユニット38が配設されている。撮像ユニット38は、可視光によって半導体ウエーハの加工領域を撮像する通常のCCD等の撮像素子を含んでいる。撮像ユニット38は更に、半導体ウエーハに赤外線を照射する赤外線照射器と、赤外線照射器によって照射された赤外線を捕らえる光学系と、この光学系によって捕らえられた赤外線に対応した電気信号を出力する赤外線CCD等の赤外線撮像素子から構成される赤外線撮像ユニットを含んでおり、撮像した画像信号はコントローラ制御手段40に送信される。コントローラ40はコンピュータによって構成されており、制御プログラムに従って演算処理する中央処理装置CPU42と、制御プログラム等を格納するリードオンリーメモリROM44と、演算結果等を格納する読み書き可能なランダムアクセスメモリRAM46と、カウンタ48と、入力インターフェイス50と、出力インターフェイス52とを備えている。56は案内レール14に沿って配設されたリニアスケール54と、第1スライドブロック6に配設された図示しない読み取りヘッドとから構成される加工送り量検出手段であり、加工送り量検出手段56の検出信号はコントローラ40の入力エンターフェイス50に入力される。60はガイドレール24に沿って配設されたリニアスケール58と第2スライドブロック16に配設された図示しない読み取りヘッドとから構成される割り出し送り量検出手段であり、割り出し送り量検出手段60の検出信号はコントローラ40の入力インターフェイス50に入力される。撮像ユニット38で撮像した画像信号もコントローラ40の入力インターフェイス50に入力される。一方、コントローラ40の出力インターフェイス52からはパルスモータ10、パルスモータ20、レーザビーム照射ユニット34等に制御信号が出力される。図3に示すように、レーザ加工装置2の加工対象である半導体ウエーハWの表面においては、第1のストリートS1と第2のストリートS2とが直交して形成されており、第1のストリートS1と第2のストリートS2とによって区画された領域に多数のデバイスDが形成されている。ウエーハWは粘着テープであるダイシングテープTに貼着され、ダイシングテープTの外周部は環状フレームFに貼着されている。これにより、ウエーハWはダイシングテープTを介して環状フレームFに支持された状態となり、図1に示すクランプ30により環状フレームFをクランプすることによりチャックテーブル28上に支持固定される。本発明のアブレーション加工方法では、まず、ウエーハWのアブレーション加工すべき領域にレーザビームの波長に対して吸収性を有する粉末を混入した液状樹脂を塗布する液状樹脂塗布工程を実施する。例えば、図4に示すように、液状樹脂供給源76にはレーザビームの波長例えば355nmに対して吸収性を有する粉末例えばTiO2を混入したPVAポリビニルアルコール等の液状樹脂80が貯蔵されている。ポンプ78を駆動することにより、液状樹脂供給源76に貯蔵されている液状樹脂80を供給ノズル74からウエーハWの表面に供給し、液状樹脂80をウエーハWの表面に塗布する。そして、この液状樹脂80を硬化させてレーザビームの波長に対して吸収性を有する粉末が混入された保護膜82を形成する。ウエーハWの表面上への液状樹脂80の塗布方法は、例えばウエーハWを回転させながら塗布するスピンコート法を採用可能である。PVAポリビニルアルコール、PEGポリエチレングリコール等の液状樹脂中に混入される粉末として、本実施形態ではTiO2を採用した。図4に示す実施形態では粉末を含有する液状樹脂80をウエーハWの全面に塗布して保護膜82を形成しているが、液状樹脂80をアブレーション加工すべき領域、即ち第1のストリートS1及び第2のストリートS2のみに塗布して保護膜を形成するようにしてもよい。本実施形態では、半導体ウエーハWはシリコンウエーハから形成されている。シリコンの吸収端波長は1100nmであるため、波長が355nm以下のレーザビームを用いるとアブレーション加工を円滑に遂行することができる。液状樹脂に混入する粉末の平均粒径はレーザビームのスポット径より小さいのが好ましく、例えば10μmより小さいのが好ましい。図5を参照すると、ZnO、TiO2、CeO2、Fe2O3の分光透過率が示されている。このグラフから、アブレーション加工に使用するレーザビームの波長を、355nm以下に設定すると、レーザビームがこれらの金属酸化物の粉末に殆ど吸収されることが理解される。図5に示した金属酸化物以外にも、CuO及びCu2Oも同様な傾向の分光透過率を有しているため、液状樹脂に混入する粉末として採用することができる。よって、液状樹脂に混入する粉末としては、TiO2、Fe2O3、ZnO、CeO2、CuO、Cu2Oの何れかを採用することができる。表1にこれらの金属酸化物の消光係数消衰係数k及び融点を示す。ちなみに、消光係数kと吸収係数αとの間にはα=4πk/λの関係がある。ここで、λは使用する光の波長である。液状樹脂塗布工程を実施してウエーハWの表面に保護膜82を形成後、アブレーション加工によるレーザ加工工程を実施する。このレーザ加工工程では、図6に示すように、半導体ウエーハW及び保護膜82中の粉末に対して吸収性を有する波長例えば355nmのパルスレーザビーム37を集光器36で集光して半導体ウエーハWの表面に照射しつつ、チャックテーブル28を図6で矢印X1方向に所定の加工送り速度で移動して、第1のストリートS1に沿ってアブレーション加工によりレーザ加工溝84を形成する。ウエーハWを保持したチャックテーブル28をY軸方向に割り出し送りしながら、全ての第1のストリートに沿ってアブレーション加工により同様なレーザ加工溝84を形成する。次いで、チャックテーブル28を90度回転してから、第1のストリートS1と直交する方向に伸長する全ての第2のストリートS2に沿ってアブレーション加工により同様なレーザ加工溝84を形成する。本実施形態では、半導体ウエーハWとしてシリコンウエーハを採用し、液状樹脂としてのPVA中に平均粒径100nmのTiO2粉末を混入し、PVAをウエーハWの表面に塗布してTiO2粉末入り保護膜82をウエーハWの表面に形成し、以下のレーザ加工条件でレーザ加工を行った。尚、TiO2の吸収端波長は400nmである。光源:YAGパルスレーザ波長:355nmYAGレーザの第3高調波平均出力:0.5W繰り返し周波数:200kHzスポット径:φ10μm送り速度:100mm/秒本実施形態のアブレーション加工方法によると、レーザビームの波長に対して吸収性を有する粉末を混入した液状樹脂80をウエーハWの表面に塗布して保護膜82を形成してから、アブレーション加工を実施するので、レーザビームのエネルギーが粉末に吸収されてウエーハWに伝達され、エネルギーの拡散及びレーザビームの反射が抑制されてアブレーション加工が効率的に円滑に遂行される。液状樹脂中に混入される粉末は、加工促進剤としての作用を成すことになる。全てのストリートS1,S2に沿ってレーザ加工溝84を形成後、良く知られたブレーキング装置を使用して、ダイシングテープTを半径方向に拡張してウエーハWに外力を付与し、この外力によりウエーハWをレーザ加工溝84に沿って個々のデバイスDに分割する。図7Aを参照すると、酸化チタンを含有したPVA保護膜を被覆してから、アブレーション加工を行った結果を示す写真が示されている。比較のために、保護膜なしの状態を図7Bに示し、粉末を含有しないPVA保護膜を形成した場合のアブレーション加工結果を図7Cに示す。これらの写真を比較すると明らかなように、図7Aに示す本実施形態では、何らデラミネーションを発生せずに綺麗なレーザ加工溝が形成されている。図8Aを参照すると、本発明のアブレーション加工方法によりTEGと称するデバイスの特性をテストするストリート上に形成された電極を加工したときの加工結果を示す写真が示されている。比較のために、図8BにPVA保護膜を形成しないときの加工結果を、図8Cに粉末を含有しないPVA保護膜を形成したときの加工結果をそれぞれ示す。図8Aに示す写真から明らかなように、本発明のアブレーション加工方法ではTEGに綺麗なレーザ加工溝が形成されているが、図8Bに示す従来方法ではTEGのアブレーション加工が不可能であり、図8Cに示す従来方法では、TEGのアブレーション加工がほぼ不可能であった。"