局部出力領域モニタから入力されるLPRM信号から規格化セル値を算出する入力信号処理部と、時系列で変化可能な模擬セル値を生成する健全性確認用基本信号発生部と、前記入力信号処理部から前記規格化セル値が入力され、前記健全性確認用基本信号発生部から前記模擬セル値が入力され、前記規格化セル値および前記模擬セル値を判定値と比較して前記判定値を超えたときにスクラムトリップ信号を出力するトリップ判定部とを備えたことを特徴とする振動領域モニタ。前記健全性確認用基本信号発生部は、前記トリップ判定部の設定値の変化と連動した模擬セル値を送信することを特徴とする請求項1記載の振動領域モニタ。前記健全性確認用基本信号発信部は、健全性確認用正弦波を用いて前記模擬セル値を設定することを特徴とする請求項1または2に記載の振動領域モニタ。時系列で変化可能な模擬セル値を生成するための信号を発生させる健全性確認用基本信号発生部と、局部出力領域モニタから入力されるLPRM信号から規格化セル値を算出し、前記健全性確認用基本信号発生部の入力される信号から模擬セル値を算出する入力信号処理部と、前記入力信号処理部から前記規格化セル値および前記模擬セル値が入力され、前記規格化セル値および前記模擬セル値を判定値と比較して前記判定値を超えたときにスクラムトリップ信号を出力するトリップ判定部とを備え、前記健全性確認用基本信号発生部は、固定の模擬LPRM信号を発生させ、前記固定の模擬LPRM信号を前記入力信号処理部に出力することを特徴とする振動領域モニタ。局部出力領域モニタのLPRM信号から規格化セル値を算出する工程と、時系列で変化可能な模擬セル値を生成する工程と、前記規格化セル値および前記模擬セル値を判定値と比較する工程と、前記規格化セル値および前記模擬セル値が前記判定値を超えたときにスクラムトリップ信号を出力する工程とを備えたことを特徴とする振動領域モニタの健全性確認方法。従来のOPRMは、LPRM検出信号と平行して固定の模擬LPRM信号を入力信号処理部に入力して、常時、入力信号処理部の自己診断を行っていた。しかしながら、時系列でのセル値の変化を捉えトリップ判定を行うトリップ判定部は、ある固定の閾値ではトリップ判定の健全性を確認することができなかった。本発明は、トリップ判定部の健全性を確認することができる振動領域モニタおよびその健全性確認方法を提供することを目的とする。上記目的を達成するため、本発明は、局部出力領域モニタから入力されるLPRM信号から規格化セル値を算出する入力信号処理部と、時系列で変化可能な模擬セル値を生成する健全性確認用基本信号発生部と、前記入力信号処理部から前記規格化セル値が入力され、前記健全性確認用基本信号発生部から前記模擬セル値が入力され、前記規格化セル値および前記模擬セル値を判定値と比較して前記判定値を超えたときにスクラムトリップ信号を出力するトリップ判定部とを備えたことを特徴とするものである。本発明によれば、トリップ判定部の健全性を確認することができる。以下、本発明に係る振動領域モニタOPRMおよびその健全性確認方法の実施の形態について、図面を参照して説明する。ここで、同一又は類似の部分には共通の符号を付すことにより、重複説明を省略する。第1の実施の形態図1は、本発明の第1の実施の形態のOPRMの構成を示すブロック図である。OPRM1は、テスト用OPRMセルの規格化セル値がある目標値になるようにテスト用OPRMセルに入力される健全性確認用の固定の模擬LPRM信号を発信する固定の模擬LPRM信号発信部20、原子炉内に配置されたLPRM10のLPRM検出信号および固定の模擬LPRM信号が入力される入力信号処理部12、テスト用OPRMセルの規格化セル値異常判定部19、健全性確認用基本信号発信部11及びトリップ判定部13で構成される。入力信号処理部12は、ノイズ除去フィルタ14、平均化処理部15、時間平均処理部16および規格化セル値演算部17で構成される。OPRM1は、52チャンネルのLPRM検出信号をLPRM10A~Dから受信する。この受信したLPRM検出信号及び固定の模擬LPRM信号はノイズ除去フィルタ14に送信される。ノイズ除去フィルタ14で、ノイズが除去される。ノイズが除去された各LPRM検出値は、4チャンネル毎のLRPM検出器集合体から構成される計44個のOPRMセルに割り当てられ、平均化処理部15に送信される。ノイズが除去された固定の模擬LPRM値は、テスト用OPRMセルに割り当てられ、平均化処理部15に送信される。平均化処理部15は、各OPRMセルに割り当てられたLPRM検出値の平均値を計算し、テスト用OPRMセルに割り当てられた固定の模擬LPRM値の平均値を計算する。テスト用OPRMセルに対する平均値を含む45個の平均値は、時間平均処理部16で時間平均値が演算される。この時間平均値は規格化セル値演算部17に送信される。規格化セル値演算部17は、高さ方向平均値及び時間平均値を演算して、各OPRMセルの規格化セル値およびテスト用OPRMセルの規格化セル値を求める。各OPRMセルの規格化セル値は、トリップ判定部13に入力される。テスト用OPRMセルの規格化セル値は、テスト用OPRMセルの規格化セル値異常判定部19に入力される。テスト用OPRMセルの規格化セル値異常判定部19は、演算結果であるテスト用OPRMセルの規格化セル値がその目標値になるか否かを判定することにより、入力信号処理部12の異常判定を行う。健全性確認用基本信号発信部11は、時系列で変化可能な模擬セル値を生成し、任意のタイミング例えば、トリップ点校正モードに切り替える時、一定の周期等でトリップ判定部13に出力する。トリップ判定部13は、OPRMセルの規格化セル値毎に、一定時間内に振幅のピークが判定値を超えたときにスクラムトリップ信号を出力する振幅ベーストリップABAトリップ判定部13a、セル信号が急激に発振することを検知して判定値を超えたときにスクラムトリップ信号を出力する増加率トリップGRAトリップ判定部13bおよび特定の周期で発振することを検知して判定値を超えたときにスクラムトリップ信号を出力するペリオドベーストリップPBDAトリップ判定部13cを備え、この3種類の多様性を持ったアルゴリズムで出力振動の監視を行ない、いずれか判定部で判定値を超えたときにスクラムトリップ信号を出力する。ここで、ABAトリップ判定部13aの判定ステップ及び規格化セル値と判定値の比較状況について、図2のABAトリップ判定の概要を示す図および図3のABAトリップ判定アルゴリズムのフローを示す図を用いて説明する。第一山ピーク検出S31:規格化セル値Stの山ピーク値を判定値S1と比較して、判定値S1を超える第一山ピークP1を検出する。ここで、Stは時間tの関数である。第一谷ピーク検出S32:S31で第一山ピークP1を検出した時には、規格化セル値Stの谷ピーク値を判定値S2と比較して、判定値S2を下回る第一谷ピークを検出する。ピーク間経過時間判定S33:S32で第一谷ピークを検出した時には、第一山ピークP1と第一谷ピークとの間の時間が一定時間T1内かを判定する。一定時間T1を超えていた時にはS31に戻る。第二山ピーク検出S34:S33で第一山ピークP1と第一谷ピークとの間の時間が一定時間T1内である時には、規格化したセル値Stの山ピーク値を判定値Smaxと比較して、判定値Smaxを超える第二山ピークを検出する。ピーク間経過時間判定S35:S34で第二山ピークを検出した時には、第一谷ピークと第二山ピークとの間の時間が一定時間T2内かを判定する。一定時間T2を超えていた時にはS32に戻る。スクラムトリップ信号出力S36:S35で第一谷ピークと第二山ピークとの間の時間が一定時間T2内である時には、スクラムトリップ信号が出力される。次に、GRAトリップ判定部13bの判定ステップ及び規格化セル値と判定値の比較状況について、図4のGRAトリップ判定の概要を示す図および図5のGRAトリップ判定アルゴリズムのフローを示す図を用いて説明する。GRAトリップ判定部13bは、OPRMセルの信号が発振して増加する割合によりトリップを判断するもので、ABAトリップ判定部13aとほぼ同様のアルゴリズムであるが、第二山ピーク検出S54が異なる。第二山ピーク検出S54:S53で第一山ピークと第一谷ピークとの間の時間が一定時間T1内である時には、前サイクルの第一山ピーク値P1と許容される最大の増倍率DR3から判定値S3が計算され、この判定値S3と規格化したセル値Stの山ピーク値とを比較して、判定値S3を超える第二山ピークを検出する。次に、PBDAトリップ判定部13cの判定ステップ及び規格化セル値と判定値の比較状況について図6のPBDAトリップ判定の概要を示す図および図7のPBDAトリップ判定アルゴリズムのフローを示す図を用いて説明する。PBDAトリップ判定部13cは、特定周波数の振動継続数Nとその規格化したセル値Stを検知するものであるが、時系列でセル値の変化を捉えるところはABA/GRAトリップ判定部と同様である。第一山ピーク検出S71:規格化セル値Stの第一山ピークを検出する。第一谷ピーク検出S72:S71で第一山ピークを検出した時には、規格化セル値Stの第一谷ピークを検出する。第二山ピーク検出S73:S72で第一谷ピークを検出した時には、規格化セル値Stの第二山ピークを検出する。発振周波数判定S74:S73で第二山ピークを検出した時には、第一山ピーク、第一谷ピークおよび第二山ピークから発振周波数を判定する。振動継続数判定S75:S74で発振周波数を判定した時には、ある範囲の特定周期T0~T16の連続した振動継続数Nと判定値Npとを比較して、振動継続数Nが判定値Npを超えるかを判定する。振幅トリップ判定S76:S75で振動継続数Nが判定値Npを超えた時には、規格化セル値Stの振幅と振幅トリップ判定値Spとを比較して、規格化セル値Stの振幅が振幅トリップ判定値Spを超えるかを判定する。スクラムトリップ信号出力S77:S76で規格化セル値Stの振幅が振幅トリップ判定値Spを超えた時には、スクラムトリップ信号を出力する。健全性確認用基本信号発信部11から模擬セル値がトリップ判定部13に入力され、トリップ判定部13の出力が模擬セル値に対する正常時の出力と異なる場合、例えば、判定値を超える模擬セル値が入力されたのにスクラムトリップ信号が出力されない、または判定値を超えない模擬セル値が入力されたのにスクラムトリップ信号が出力される等の場合、OPRMの前面パネル等にトリップ判定部13が異常であることを表示する。健全性確認用基本信号発信部11、入力信号処理部12及びトリップ判定部13を処理の高速化及び容量の大規模化が進んだFPGAFieldProgrammableGateArrayによって構成する。本実施の形態によれば、トリップ判定部13に時系列で変化可能な模擬セル値を入力し、ABAトリップ判定部、GRAトリップ判定部及びPBDAトリップ判定部の健全性を確認することでOPRMの検証性を向上させることができる。また、健全性確認用基本信号発信部11、入力信号処理部12及びトリップ判定部13をFPGAで構成することにより、処理を高速化することができる。第2の実施の形態第2の実施の形態について、図面を参照して説明する。OPRMの構成は図1と同じであるが、健全性確認用基本信号発信部11は、異常箇所特定信号を出力する。トリップ判定部13に異常箇所特定信号が入力され、トリップ判定部13の各箇所の異常箇所特定信号に対する判定を抽出して、異常箇所特定信号に対する正常時の出力と比較することにより異常箇所を特定することができる。図8にABA/GRAトリップ判定部13a、bの異常箇所特定信号の一例を示す。この異常箇所特定信号は、ABA/GRAトリップ判定アルゴリズムの第一山ピーク検出S31/S51の条件を満たすが、第一谷ピーク検出S32/S52および第二山ピーク検出S34/S54の条件は満たさない信号である。この異常箇所特定信号に対する第一山ピーク検出S31/S51、第一谷ピーク検出S32/S52および第二山ピーク検出S34/S54における判定を抽出して、異常箇所特定信号に対する正常時の出力と比較することにより異常箇所を特定することができる。図9にPBDAトリップ判定部13cの異常箇所特定信号の一例を示す。この異常箇所特定信号は、PBDAトリップ判定アルゴリズムの特定周波数であるT1~T4と特定周波数ではないT5~T9から形成される。この異常箇所特定信号は、PBDAトリップ判定アルゴリズムの第一山ピーク検出S71、第一谷ピーク検出S72および第二山ピーク検出S73以下、S71~S73をPBDAトリップ判定ピーク検出という。の条件を満たすが、発振周波数判定S74の条件を満たさない信号である。この異常箇所特定信号に対するPBDAトリップ判定ピーク検出および発振周波数判定S74における判定を抽出して、異常箇所特定信号に対する正常時の出力と比較することにより異常箇所を特定することができる。本実施の形態によれば、健全性確認用基本信号発信部11において、トリップ判定部13の異常箇所を特定する異常箇所特定信号が生成されることにより、すなわち、各条件判定部に対応する異常箇所特定信号を模擬セル値と共に併せ持つことにより、トリップ判定部13の異常箇所の特定もすることができる。第3の実施の形態第3の実施の形態について、図面を参照して説明する。OPRMの構成は図1と同じであるが、健全性確認用基本信号発信部11は、OPRMのトリップ判定条件の変更と連動した模擬セル値を生成する。OPRMのトリップ判定は、規格化セル値の波形の振幅及び振動間隔によって判定される。すなわち、判定振幅設定値、振動間隔最小判定値又は振動間隔最大判定値で判定される。OPRMのトリップ判定条件が変化して判定振幅設定値、振動間隔最小判定値又は振動間隔最大判定値が運転員によって変更された時に、健全性確認用基本信号発信部11がトリップ判定条件の変化に伴う設定変更と連動した模擬セル値を生成することにより、トリップ判定部13の健全性を確認することができる。図10は、判定値の設定変更に対応したABAトリップ判定部13aの模擬セル値を示す図である。ABAトリップ判定部13aの模擬セル値を以下の1式が示す健全性確認用正弦波を用いて設定する。St=Smax-1.00sintaba1.001ここで、Smax:ABAトリップ判定振幅設定値、T:周期、TL振動間隔最小判定値<T<TH振動間隔最大判定値、taba=π/Ttである。本実施の形態によれば、模擬セル値を健全性確認用正弦波を用いて設定することにより、判定値の設定変更と連動した模擬セル値が発生するために、トリップ判定条件が変化しても健全性の確認を行うことができる。なお、健全性確認用正弦波に対する位相を設定するときは、振動間隔最小判定値から振動間隔最大判定値の範囲の値を用いる。第4の実施の形態図11は、本発明の第4の実施の形態のOPRMの構成を示すブロック図であり、図1と同一又は類似の部分には共通の符号を付すことにより、重複説明を省略する。第4の実施の形態のOPRM2は、健全性確認用基本信号発生部18を固定の模擬LPRM信号発信部の代わりに備えている。健全性確認用基本信号発信部18は、入力信号処理部12の出力がトリップ判定部13の健全性を確認するための時系列で変化可能な模擬セル値となるような信号およびテスト用OPRMセルに入力される健全性確認用の固定の模擬LPRM信号を発信する。健全性確認用基本信号発信部18の出力は、入力信号処理部12に入力される。入力信号処理部12は、トリップ判定部13の健全性を確認するための模擬セル値をトリップ判定部13に出力し、固定の模擬LPRM信号をテスト用OPRMセルの規格化セル値異常判定部19に出力する。本実施の形態によれば、トリップ判定部13の健全性確認用基本信号発信部18の配置を入力信号処理部12の上流側に変更して、健全性確認用基本信号発信部18がトリップ判定部13の健全性を確認するための信号だけでなく健全性確認用の固定の模擬LPRM信号も発信することにより、トリップ判定部13の健全性を確認することができるうえに、固定の模擬LPRM信号発信部20が不要となり、システム構成を簡略化させることができる。以上本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は、上述したような各実施の形態に何ら限定されるものではなく、各実施の形態の構成を組み合わせて、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。