"互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、を備える放射線画像撮影装置と、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、を備え、前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から全ての前記走査線にオフ電圧を印加して前記各スイッチ手段をオフ状態とした状態で、前記読み出し回路に周期的に読み出し動作を行わせて、前記スイッチ手段を介して前記放射線検出素子からリークした前記電荷をリークデータに変換するリークデータの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記リークデータを互いに異なる演算手法で演算して算出した各値のうちのいずれかの値が、前記演算手法ごとに設定された対応する閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出し、放射線の照射が開始されたことを検出した値の算出に用いられた前記演算手法の情報を前記画像処理装置に送信するように構成されており、前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記演算手法の情報に基づいて欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを当該演算手法に対応する修復方法により修復することを特徴とする放射線画像撮影システム。前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記リークデータの読み出し処理と前記各放射線検出素子のリセット処理とを交互に繰り返し行わせるように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の放射線画像撮影システム。互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、を備える放射線画像撮影装置と、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、を備え、前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から前記各走査線にオン電圧を順次印加して照射開始検出用の前記画像データの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記照射開始検出用の画像データを互いに異なる演算手法で演算して算出した各値のうちのいずれかの値が、前記演算手法ごとに設定された対応する閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出し、放射線の照射が開始されたことを検出した値の算出に用いられた前記演算手法の情報を前記画像処理装置に送信するように構成されており、前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記演算手法の情報に基づいて欠損を生じている本画像としての前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを当該演算手法に対応する修復方法により修復することを特徴とする放射線画像撮影システム。前記放射線画像撮影装置に放射線を照射する放射線源を備え、前記画像処理装置は、前記放射線源から前記放射線画像撮影装置に対して実際に放射線の照射が開始されてから前記放射線画像撮影装置で放射線の照射開始が検出されるまでの応答時間が短い前記演算手法で算出された前記値に基づいて放射線の照射が開始されたことが検出された場合には、欠損を生じている前記各画像データを無効とし、欠損を生じている前記各画像データが読み出された前記各放射線検出素子が接続されている前記走査線に隣接する走査線に接続されている各放射線検出素子から読み出された前記画像データの値に基づいて、当該無効とされた各画像データを補間して修復することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。前記放射線画像撮影装置に放射線を照射する放射線源を備え、前記画像処理装置は、前記放射線源から前記放射線画像撮影装置に対して実際に放射線の照射が開始されてから前記放射線画像撮影装置で放射線の照射開始が検出されるまでの応答時間が長い前記演算手法で算出された前記値に基づいて放射線の照射が開始されたことが検出された場合には、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。前記画像処理装置は、前記欠損を生じている前記画像データの範囲に対応する前記放射線画像撮影装置の前記各走査線のうち、前記欠損が生じ始めた最初の前記走査線から修復対象の前記走査線までの本数と、当該修復対象の走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記各画像データに乗算すべき係数との関係の情報を予め有しており、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析し、前記欠損を生じている画像データの範囲を特定して、前記欠損が生じ始めた最初の前記走査線を特定し、前記情報を参照して、特定した前記範囲の前記各画像データに、当該画像データが読み出された前記放射線検出素子が接続されている前記走査線に割り当てられている前記係数をそれぞれ乗算することにより、前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項5に記載の放射線画像撮影システム。前記画像処理装置は、前記画像データのプロファイルの代わりに、前記放射線画像撮影装置の前記走査線の延在方向に並ぶ前記画像データの平均値を前記走査線ごとに算出し、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記平均値のプロファイルを解析して前記欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする請求項6に記載の放射線画像撮影システム。互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、を備え、前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から全ての前記走査線にオフ電圧を印加して前記各スイッチ手段をオフ状態とした状態で、前記読み出し回路に周期的に読み出し動作を行わせて、前記スイッチ手段を介して前記放射線検出素子からリークした前記電荷をリークデータに変換するリークデータの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記リークデータを互いに異なる演算手法で演算して算出した各値のうちのいずれかの値が、前記演算手法ごとに設定された対応する閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されていることを特徴とする放射線画像撮影装置。互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、を備え、前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から前記各走査線にオン電圧を順次印加して照射開始検出用の前記画像データの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記照射開始検出用の画像データを互いに異なる演算手法で演算して算出した各値のうちのいずれかの値が、前記演算手法ごとに設定された対応する閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されていることを特徴とする放射線画像撮影装置。しかしながら、本発明者らの研究で、上記の手法は、バイアス線9が各放射線検出素子7の電極に接続されているため、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線9を介して各放射線検出素子7に伝わり、放射線検出素子7から読み出される画像データDにノイズとして重畳される場合があるなど、必ずしも解決が容易でない問題があることが分かってきた。そして、本発明者らは、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを検出する別の手法について種々研究を重ねた結果、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを的確に検出することが可能ないくつかの手法を見出すことができた。ところで、後述するように、本発明者らが見出した新たな放射線の照射開始の検出方法では、放射線画像撮影前に、走査駆動手段15のゲートドライバ15bから走査線5の各ラインL1~Lxにオン電圧を順次印加して画像データdの読み出し処理を行う。なお、以下では、撮影直後に行われる本画像としての画像データDと区別して、この放射線画像撮影前に放射線の照射開始の検出用に読み出される照射開始検出用の画像データを、画像データdという。そして、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出される画像データdの値が上昇することを利用して、読み出された画像データdの値に基づいて放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が開始されたことを検出するように構成される。また、本発明者らが見出した別の新たな放射線の照射開始の検出方法では、放射線画像撮影前に、走査駆動手段15のゲートドライバ15bから全ての走査線5にオフ電圧を印加して各TFT8をオフ状態とした状態で読み出し回路17に読み出し動作を行わせ、TFT8を介して放射線検出素子7からリークした電荷q後述する図13参照をリークデータdleakに変換するリークデータdleakの読み出し処理を行うように構成される。そして、この場合も、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出されるリークデータdleakの値が上昇するため、それを利用して、読み出されたリークデータdleakの値に基づいて放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が開始されたことを検出するように構成される。その際、前述したように、リークデータdleakの読み出し処理では各TFT8がオフ状態とされるが、各TFT8がオフ状態のままであると、放射線検出素子7自体の熱温度による熱励起等により常時発生している、いわゆる暗電荷が各放射線検出素子7内に蓄積されてしまう。そのため、後述するように、ゲートドライバ15bから走査線5にオン電圧を順次印加して各放射線検出素子7内から暗電荷を除去する各放射線検出素子7のリセット処理を、リークデータdleakの読み出し処理と交互に繰り返し行うように構成される。しかし、上記のように、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出される画像データdの値が上昇するということは、すなわち、放射線の照射により放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の一部が、画像データdの読み出し処理を行うことにより、放射線検出素子7から信号線6に流出してしまうことを意味する。また、放射線画像撮影前にリークデータdleakの読み出し処理を行う場合には、放射線の照射によりTFT8を介して放射線検出素子7からリークする電荷qが増加するとしても、放射線の照射により当該放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の総量に比べれば微々たるものであり、たいした影響はない。しかし、リークデータdleakの読み出し処理と交互に行われる各放射線検出素子7のリセット処理を行うことで、やはり、放射線の照射により放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の一部が当該放射線検出素子7から信号線6に流出してしまう可能性がある。このように、画像データdの読み出し処理や各放射線検出素子7のリセット処理でゲートドライバ15bからオン電圧が印加された走査線5に接続されている各放射線検出素子7からは、放射線の照射により発生した有用な電荷の一部がそれぞれ信号線6に流出してしまう。そのため、後述する図26に示すように、本画像として読み出された画像データD中或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中の当該走査線5に対応する部分に、有用な電荷の一部が欠損した画像データDの線、すなわちいわゆる線欠陥が現れることになる。この線欠陥の発生は、上記の本発明者らが新たに見出した放射線の照射開始の検出方法を採用する限り、必然的に発生するものである。また、放射線画像撮影装置自体で放射線の照射開始を検出する際の検出方法によっては、放射線源から放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が実際に開始されてから放射線画像撮影装置で放射線の照射開始を検出するまでに時間がかかり、その間に、線欠陥が多数発生してしまう場合があり得る。この場合、線欠陥は、後述する図28に示すように、本画像として読み出された画像データD中或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中に連続して現れる状態になる。線欠陥が発生する場合、そのような線欠陥を有する画像データDに基づいて放射線画像を生成すると、放射線画像中に線状の或いは線欠陥が多数連続して発生する場合には帯状の模様が写り込んでしまい、放射線画像が見難くなる。また、例えば、放射線画像撮影装置で撮影された放射線画像を医療における診断用等に用いるような場合、線欠陥の部分に病変部が撮影されていると、それが病変部なのか線欠陥による模様なのかが判別し難くなる場合があり、そのような放射線画像を見た医師等が誤診してしまう可能性がある。そこで、上記のような放射線画像撮影装置を用いる放射線画像撮影システムに対しては、放射線画像撮影装置による撮影で上記のように線欠陥が不可避的に発生してしまうとしても、それを適切に修復して、線欠陥が写り込んでいない放射線画像を的確に生成することができることが望まれる。本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを検出することが可能であり、しかも、画像データD中に生じている線欠陥を適切に修復して放射線画像を生成することが可能な放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置を提供することを目的とする。前記の問題を解決するために、本発明の放射線画像撮影システムは、互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、を備える放射線画像撮影装置と、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、を備え、前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から全ての前記走査線にオフ電圧を印加して前記各スイッチ手段をオフ状態とした状態で、前記読み出し回路に周期的に読み出し動作を行わせて、前記スイッチ手段を介して前記放射線検出素子からリークした前記電荷をリークデータに変換するリークデータの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記リークデータを互いに異なる演算手法で演算して算出した各値のうちのいずれかの値が、前記演算手法ごとに設定された対応する閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出し、放射線の照射が開始されたことを検出した値の算出に用いられた前記演算手法の情報を前記画像処理装置に送信するように構成されており、前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記演算手法の情報に基づいて欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを当該演算手法に対応する修復方法により修復することを特徴とする。また、本発明の放射線画像撮影システムは、互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、を備える放射線画像撮影装置と、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、を備え、前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から前記各走査線にオン電圧を順次印加して照射開始検出用の前記画像データの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記照射開始検出用の画像データを互いに異なる演算手法で演算して算出した各値のうちのいずれかの値が、前記演算手法ごとに設定された対応する閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出し、放射線の照射が開始されたことを検出した値の算出に用いられた前記演算手法の情報を前記画像処理装置に送信するように構成されており、前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記演算手法の情報に基づいて欠損を生じている本画像としての前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを当該演算手法に対応する修復方法により修復することを特徴とする。本発明のような方式の放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置によれば、放射線画像撮影装置で、放射線画像撮影前にリークデータdleakや照射開始検出用の画像データdの読み出し処理を行い、読み出したリークデータdleakや画像データdの値に基づいて放射線の照射開始を検出する。そのため、前述したように、例えば放射線画像撮影装置にバイアス線9等を流れる電流を検出する電流検出手段を設けなくても、読み出したリークデータdleakや画像データdの値に基づいて放射線画像撮影装置自体で放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。また、電流検出手段を設けないため、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線9を介して各放射線検出素子7に伝わって画像データDにノイズとして重畳される等の問題が生じることを確実に防止することが可能となる。また、放射線画像撮影装置1での放射線の照射開始の検出を上記のようにして行うと、画像データD中に線欠陥が不可避的に発生する。そして、放射線の照射開始の検出に用いる演算手法によっては、線欠陥が連続して多数発生する場合がある。しかし、放射線画像撮影システムによれば、このような状況においても、放射線の照射開始の検出に用いる演算手法に対応する修復方法によって欠損を生じている画像データDを修復する。そのため、それぞれの演算手法に特性に応じて、欠損を生じている画像データDを適切に修復することが可能となる。そして、適切に修復された画像データDに基づいて放射線画像を的確に生成することが可能となる。そのため、放射線画像に線欠陥が写り込んで放射線画像が見難くなったり、医師等が、線欠陥と病変部を見誤ったり線欠陥のために病変部を見落としたりすることを的確に防止することが可能となる。以下、本発明に係る放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置の実施の形態について、図面を参照して説明する。なお、以下では、放射線画像撮影システムで用いられる放射線画像撮影装置として、シンチレータ等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得るいわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレータ等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。[放射線画像撮影装置]まず、本実施形態に係る放射線画像撮影装置について説明する。図1は、放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図であり、図2は、図1のX-X線に沿う断面図である。放射線画像撮影装置1は、図1や図2に示すように、筐体状のハウジング2内にシンチレータ3や基板4等で構成されるセンサパネルSPが収納されている。本実施形態では、筐体2のうち、放射線入射面Rを有する中空の角筒状のハウジング本体部2Aは、放射線を透過するカーボン板やプラスチック等の材料で形成されており、ハウジング本体部2Aの両側の開口部を蓋部材2B、2Cで閉塞することで筐体2が形成されている。また、筐体2の一方側の蓋部材2Bには、電源スイッチ37や切替スイッチ38、コネクタ39、バッテリ状態や放射線画像撮影装置1の稼働状態等を表示するLED等で構成されたインジケータ40等が配置されている。本実施形態では、コネクタ39は、例えば図3に示すように、ケーブルCaの先端に設けられたコネクタCが接続されることにより、例えば後述するコンソール58図11や図12参照等との間でケーブルCaを介して信号等を送受信したり、画像処理装置としてのコンソール58に画像データD等を送信したりする際の有線方式の通信手段として機能するようになっている。なお、コネクタ39の設置位置は蓋部材2Bに限定されず、放射線画像撮影装置1の適宜の位置に設置することが可能である。また、図示を省略するが、例えば筐体2の反対側の蓋部材2C等に、アンテナ装置41後述する図7参照が例えば蓋部材2Cに埋め込む等して設けられており、本実施形態では、このアンテナ装置41が、放射線画像撮影装置1とコンソール58等との間で信号等の無線方式で送受信する場合の通信手段として機能するようになっている。なお、アンテナ装置41の設置位置は蓋部材2Cに限定されず、放射線画像撮影装置1の任意の位置にアンテナ装置41を設置することが可能である。また、設置するアンテナ装置41は1個に限らず、複数設けることも可能である。図2に示すように、筐体2の内部には、基板4の下方側に図示しない鉛の薄板等を介して基台31が配置され、基台31には、電子部品32等が配設されたPCB基板33やバッテリ24等が取り付けられている。また、基板4やシンチレータ3の放射線入射面Rには、それらを保護するためのガラス基板34が配設されている。また、本実施形態では、センサパネルSPと筐体2の側面との間に、それらがぶつかり合うことを防止するための緩衝材35が設けられている。シンチレータ3は、基板4の後述する検出部Pに対向する位置に設けられるようになっている。本実施形態では、シンチレータ3は、例えば、蛍光体を主成分とし、放射線の入射を受けると300~800nmの波長の電磁波、すなわち可視光を中心とした電磁波に変換して出力するものが用いられる。基板4は、本実施形態では、ガラス基板で構成されており、図4に示すように、基板4のシンチレータ3に対向する側の面4a上には、複数の走査線5と複数の信号線6とが互いに交差するように配設されている。基板4の面4a上の複数の走査線5と複数の信号線6により区画された各小領域rには、放射線検出素子7がそれぞれ設けられている。このように、走査線5と信号線6で区画された各小領域rに二次元状に配列された複数の放射線検出素子7が設けられた小領域r全体、すなわち図4に一点鎖線で示される領域が検出部Pとされている。本実施形態では、放射線検出素子7としてフォトダイオードが用いられているが、この他にも例えばフォトトランジスタ等を用いることも可能である。各放射線検出素子7は、図4の拡大図である図5に示すように、スイッチ手段であるTFT8のソース電極8sに接続されている。また、TFT8のドレイン電極8dは信号線6に接続されている。放射線検出素子7は、放射線画像撮影装置1の筐体2の放射線入射面Rから放射線が入射し、シンチレータ3で放射線から変換された可視光等の電磁波が照射されると、その内部で電子正孔対を発生させる。放射線検出素子7は、このようにして、照射された放射線本実施形態ではシンチレータ3で放射線から変換された電磁波を電荷に変換するようになっている。そして、TFT8は、後述する走査駆動手段15から走査線5を介してゲート電極8gにオン電圧が印加されるとオン状態となり、ソース電極8sやドレイン電極8dを介して放射線検出素子7内に蓄積されている電荷を信号線6に放出させるようになっている。また、TFT8は、接続された走査線5を介してゲート電極8gにオフ電圧が印加されるとオフ状態となり、放射線検出素子7から信号線6への電荷の放出を停止して、放射線検出素子7内に電荷を蓄積させるようになっている。本実施形態では、図5に示すように、それぞれ列状に配置された複数の放射線検出素子7に1本のバイアス線9が接続されており、図4に示すように、各バイアス線9はそれぞれ信号線6に平行に配設されている。また、各バイアス線9は、基板4の検出部Pの外側の位置で結線10に結束されている。本実施形態では、図4に示すように、各走査線5や各信号線6、バイアス線9の結線10は、それぞれ基板4の端縁部付近に設けられた入出力端子パッドともいう。11に接続されている。各入出力端子11には、図6に示すように、後述する走査駆動手段15のゲートドライバ15bを構成するゲートIC15c等のチップがフィルム上に組み込まれたフレキシブル回路基板ChipOnFilm等ともいう。12が異方性導電接着フィルムAnisotropicConductiveFilmや異方性導電ペーストAnisotropicConductivePaste等の異方性導電性接着材料13を介して接続されている。そして、フレキシブル回路基板12は、基板4の裏面4b側に引き回され、裏面4b側で前述したPCB基板33に接続されるようになっている。このようにして、放射線画像撮影装置1のセンサパネルSPが形成されている。なお、図6では、電子部品32等の図示が省略されている。ここで、放射線画像撮影装置1の回路構成について説明する。図7は本実施形態に係る放射線画像撮影装置1の等価回路を表すブロック図であり、図8は検出部Pを構成する1画素分についての等価回路を表すブロック図である。前述したように、基板4の検出部Pの各放射線検出素子7は、その第2電極7bにそれぞれバイアス線9が接続されており、各バイアス線9は結線10に結束されてバイアス電源14に接続されている。バイアス電源14は、結線10および各バイアス線9を介して各放射線検出素子7の第2電極7bにそれぞれバイアス電圧を印加するようになっている。また、バイアス電源14は、後述する制御手段22に接続されており、制御手段22により、バイアス電源14から各放射線検出素子7に印加するバイアス電圧が制御されるようになっている。図7や図8に示すように、本実施形態では、バイアス電源14からは、放射線検出素子7の第2電極7bにバイアス線9を介してバイアス電圧として放射線検出素子7の第1電極7a側にかかる電圧以下の電圧すなわちいわゆる逆バイアス電圧が印加されるようになっている。走査駆動手段15は、配線15dを介してゲートドライバ15bにオン電圧とオフ電圧を供給する電源回路15aと、走査線5の各ラインL1~Lxに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧の間で切り替えて各TFT8のオン状態とオフ状態とを切り替えるゲートドライバ15bとを備えている。本実施形態では、ゲートドライバ15bは、複数の前述したゲートIC15c図6参照が並設されて構成されている。図7や図8に示すように、各信号線6は、読み出しIC16内に内蔵された各読み出し回路17にそれぞれ接続されている。読み出し回路17は、増幅回路18と相関二重サンプリング回路19等で構成されている。読み出しIC16内には、さらに、アナログマルチプレクサ21と、A/D変換器20とが設けられている。なお、図7や図8中では、相関二重サンプリング回路19はCDSと表記されている。また、図8中では、アナログマルチプレクサ21は省略されている。本実施形態では、増幅回路18は、オペアンプ18aと、オペアンプ18aにそれぞれ並列にコンデンサ18bおよび電荷リセット用スイッチ18cが接続され、オペアンプ18a等に電力を供給する電源供給部18dを備えたチャージアンプ回路で構成されている。増幅回路18のオペアンプ18aの入力側の反転入力端子には信号線6が接続されており、増幅回路18の入力側の非反転入力端子には基準電位V0が印加されるようになっている。なお、基準電位V0は適宜の値に設定され、本実施形態では、例えば0[V]が印加されるようになっている。また、増幅回路18の電荷リセット用スイッチ18cは、制御手段22に接続されており、制御手段22によりオン/オフが制御されるようになっている。また、オペアンプ18aと相関二重サンプリング回路19との間には、電荷リセット用スイッチ18cと連動して開閉するスイッチ18eが設けられており、スイッチ18eは、電荷リセット用スイッチ18cがオン/オフ動作と連動してオフ/オン動作するようになっている。放射線画像撮影装置1で、各放射線検出素子7内に残存する電荷を除去するための各放射線検出素子7のリセット処理を行う際には、図9に示すように、電荷リセット用スイッチ18cがオン状態およびスイッチ18eがオフ状態とされた状態で、各TFT8がオン状態とされる。すると、オン状態とされた各TFT8を介して各放射線検出素子7から電荷が信号線6に放出され、増幅回路18の電荷リセット用スイッチ18cを通過して、オペアンプ18aの出力端子側からオペアンプ18a内を通り、非反転入力端子から出てアースされたり、電源供給部18dに流れ出す。このようにして、各放射線検出素子7のリセット処理が行われるようになっている。一方、各放射線検出素子7からの画像データDの読み出し処理の際には、図10に示すように、増幅回路18の電荷リセット用スイッチ18cがオフ状態およびスイッチ18eがオン状態とされた状態で、オン状態とされた各TFT8を介して各放射線検出素子7から電荷が信号線6に放出されると、電荷が増幅回路18のコンデンサ18bに蓄積される。そして、増幅回路18では、コンデンサ18bに蓄積された電荷量に応じた電圧値がオペアンプ18aの出力側から出力されるようになっており、増幅回路18により、各放射線検出素子7から流出した電荷が電荷電圧変換されるようになっている。そして、増幅回路18の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路CDS19は、各放射線検出素子7から電荷が流出する前に制御手段22からパルス信号Sp1図10参照が送信されると、その時点で増幅回路18から出力されている電圧値Vinを保持し、上記のように各放射線検出素子7から流出した電荷が増幅回路18のコンデンサ18bに蓄積された後に制御手段22からパルス信号Sp2が送信されると、その時点で増幅回路18から出力されている電圧値Vfiを保持する。そして、相関二重サンプリング回路19は、2回目のパルス信号Sp2で電圧値Vfiを保持すると、電圧値の差分Vfi-Vinを算出し、算出した差分Vfi-Vinをアナログ値の画像データDとして下流側に出力するようになっている。そして、相関二重サンプリング回路19から出力された各放射線検出素子7の画像データDは、アナログマルチプレクサ21を介して順次A/D変換器20に送信され、A/D変換器20で順次デジタル値の画像データDに変換されて記憶手段23に出力されて順次保存されるようになっている。なお、1回の画像データDの読み出し処理が終了すると、増幅回路18の電荷リセット用スイッチ18cがオン状態とされ図10参照、コンデンサ18bに蓄積された電荷が放電されて、上記と同様に、放電された電荷がオペアンプ18aの出力端子側からオペアンプ18a内を通り、非反転入力端子から出てアースされたり、電源供給部18dに流れ出す等して、増幅回路18がリセットされる。制御手段22は、図示しないCPUCentralProcessingUnitやROMReadOnlyMemory、RAMRandomAccessMemory、入出力インターフェース等がバスに接続されたコンピュータや、FPGAFieldProgrammableGateArray等により構成されている。専用の制御回路で構成されていてもよい。そして、制御手段22は、放射線画像撮影装置1の各部材の動作等を制御するようになっている。また、図7等に示すように、制御手段22には、SRAMStaticRAMやSDRAMSynchronousDRAM等で構成される記憶手段23が接続されている。また、本実施形態では、制御手段22には、前述したアンテナ装置41が接続されており、さらに、検出部Pや走査駆動手段15、読み出し回路17、記憶手段23、バイアス電源14等の各部材に電力を供給するためのバッテリ24が接続されている。また、バッテリ24には、図示しない充電装置からバッテリ24に電力を供給してバッテリ24を充電する際の接続端子25が取り付けられている。前述したように、制御手段22は、バイアス電源14を制御してバイアス電源14から各放射線検出素子7に印加するバイアス電圧を設定したり可変させたりするなど、放射線画像撮影装置1の各機能部の動作を制御するようになっている。なお、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出等については、本実施形態に係る放射線画像撮影システム50について説明した後で説明する。[放射線画像撮影システム]次に、本実施形態に係る放射線画像撮影システムについて説明する。図11や図12は、本実施形態に係る放射線画像撮影システムの構成を示す図である。図11は、病院等の撮影室R1や前室操作室等ともいう。R2等に放射線画像撮影システム50が構築された場合を示す図であり、図12は、放射線画像撮影システム50が病室R3に搬入される回診車71上に構築された場合を示す図である。なお、図12において、Hは被写体である被験者を表し、Bは被験者が横臥するベッドBを表す。以下、図11に示すように、放射線画像撮影システム50が、撮影室R1等に構築された場合について主に説明するが、図12に示した回診車71上に構築された場合についても同様に説明される。図11に示すように、撮影室R1には、ブッキー装置51が設置されており、ブッキー装置51は、そのカセッテ保持部カセッテホルダともいう。51aに上記の放射線画像撮影装置1を装填して用いることができるようになっている。なお、図11では、ブッキー装置51として、立位撮影用のブッキー装置51Aと臥位撮影用のブッキー装置51Bが設置されている場合が示されているが、例えば、立位撮影用のブッキー装置51Aのみ、或いは、臥位撮影用のブッキー装置51Bのみが設けられていてもよい。放射線画像撮影装置1をブッキー装置51に装填する際に、例えば前述した図3に示したように、放射線画像撮影装置1のコネクタ39に、ブッキー装置51から延設されたケーブルCaの先端に設けられたコネクタCを接続した状態で装填するように構成することが可能である。なお、この場合、放射線画像撮影装置1は、コネクタ39やケーブルCaを介してコンソール58との間で有線方式で信号の送受信等を行ったり、画像処理装置としてのコンソール58への画像データDの送信等を行うことが可能となることは前述した通りである。また、図12に示したように、放射線画像撮影システム50を回診車71上に構築した場合、図18に示したように放射線画像撮影装置1にケーブルCaを接続した状態で撮影を行ってもよいが、ケーブルCaが放射線技師等の撮影動作の邪魔になるような場合には、放射線画像撮影装置1にケーブルCaを接続しない状態で撮影が行われる。撮影室R1には、図11に示すように、被写体を介してブッキー装置51に装填された放射線画像撮影装置1に放射線を照射する放射線源52が少なくとも1つ設けられている。本実施形態では、放射線源52の位置を移動させたり、放射線の照射方向を変えることで、1つの放射線源52で、立位撮影用のブッキー装置51Aと臥位撮影用のブッキー装置51Bのいずれにも放射線を照射することができるようになっている。一方、回診車71上に構築された放射線画像撮影システム50では、図12に示すように、放射線画像撮影装置1はブッキー装置51には装填されず、いわば単独の状態で用いられる。そして、例えば、患者Hが病室R3のベッドBから起き上がれず、撮影室R1に行くことができないような場合に、図12に示すように放射線画像撮影装置1をベッドBと患者の身体との間に差し込んだり患者の身体にあてがったりして用いることができるようになっている。また、放射線画像撮影装置1を病室R3等で用いる場合、前述した撮影室R1に据え付けられた放射線発生装置55や放射線源52を病室R3に持ち込むことができないため、図12に示すように、放射線発生装置55が例えば回診車71に搭載される等して病室R3に持ち込まれる。そして、この場合、放射線源52Pは任意の方向に放射線を照射できるように構成される。そして、ベッドBと患者の身体との間に差し込まれたり患者の身体にあてがわれたりした放射線画像撮影装置1に対して、適切な距離や方向から放射線を照射するように調整される。なお、図11に示したように、撮影室R1内においても、放射線画像撮影装置1を、例えば臥位撮影用のブッキー装置51B上に横臥した患者の身体と臥位撮影用のブッキー装置51Bとの間に差し込んだり、臥位撮影用のブッキー装置51B上で患者の身体にあてがったりして用いることも可能である。そして、この場合、放射線源52としては、ポータブルの放射線源を用いることも可能であり、また、撮影室R1に据え付けられた放射線源52を用いることも可能である。図11に示すように、撮影室R1には、撮影室R1内の各装置等や撮影室R1外の各装置等の間の通信等を中継するための中継器基地局等ともいう。54が設けられている。なお、本実施形態では、中継器54には、放射線画像撮影装置1が無線方式で画像データDや信号等の送受信を行うことができるように、無線アンテナアクセスポイント等ともいう。53が設けられている。また、中継器54は、放射線発生装置55やコンソール58と接続されており、中継器54には、放射線画像撮影装置1やコンソール58等から放射線発生装置55に送信するLAN通信用の信号等を放射線発生装置55用の信号等に変換し、また、その逆の変換も行う図示しない変換器が内蔵されている。なお、図12に示した回診車71上に構築された放射線画像撮影システム50では、放射線発生装置55内に、或いは外付けで、LAN通信用の信号等を放射線発生装置55用の信号等に変換し、その逆の変換も行う図示しない変換器が設けられており、この変換器に無線アンテナ53が取り付けられている。前室操作室ともいう。R2には、本実施形態では、放射線発生装置55の操作卓57が設けられており、操作卓57には、放射線技師等が操作して放射線発生装置55に対して放射線の照射開始等を指示するための曝射スイッチ56が設けられている。そして、本実施形態では、放射線技師等が曝射スイッチ56を操作することで放射線源52から放射線が照射されるようになっている。図12に示した回診車71上に構築された放射線画像撮影システム50では、回診車71に搭載された放射線発生装置55が操作卓57の役割も果たしており、放射線発生装置55に、図12では図示を省略した曝射スイッチ56が取り付けられている。放射線発生装置55は、このほか、放射線源52から適切な線量の放射線が照射されるように、放射線源52に所定の管電流や管電圧を供給したり放射線源52からの放射線の照射時間を調整する等して、放射線源52を制御するようになっている。本実施形態では、コンピュータ等で構成されたコンソール58が、図11の場合には前室R2に設けられており、図12の場合には、回診車71に搭載されている。なお、図11の場合に、コンソール58を撮影室R1や前室R2の外側や別室等に設けるように構成することも可能であり、コンソール58の設置場所は適宜決められる。本実施形態では、コンソール58には、CRTCathodeRayTubeやLCDLiquidCrystalDisplay等を備えて構成される表示部58a図12では図示省略が設けられており、また、HDDHardDiskDrive等で構成された記憶手段59図12では図示省略が接続、或いは内蔵されている。コンソール58は、放射線画像撮影装置1から画像データD等が送信されてくると、それに基づいて表示部58a上にプレビュー画像を表示するようになっている。そして、放射線技師等は、表示されたプレビュー画像を見て、画像中に被写体が撮影されているかや画像中での被写体の撮影位置が適切であるか等を確認して、再撮影の要否等を判断するようになっている。また、本実施形態では、コンソール58は、画像処理装置として機能するようにもなっており、放射線技師等により再撮影の必要がないと判断された場合には、画像データDにオフセット補正やゲイン補正、欠陥画素補正、階調処理等の所定の画像処理を行って放射線画像を生成するようになっている。なお、画像処理装置としてのコンソール58における画像処理については、後で説明する。[放射線の照射開始の検出の制御構成について]次に、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出処理の基本的な制御構成について説明する。本実施形態では、放射線画像撮影装置1と放射線発生装置55との間でインターフェースが構築されず、放射線画像撮影装置1自体で放射線源52から放射線が照射されたことを検出するようになっている。以下、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1で行われる放射線の照射開始の検出の仕方について説明する。なお、本実施形態に係る検出方法は、本発明者らの研究により新たに見出された検出方法であり、前述した特許文献4や特許文献5に記載されているように、装置内に電流検出手段を設けて電流検出手段からの出力値に基づいて放射線の照射開始等を検出する手法は採用されていない。本発明者らの研究により新たに見出された検出方法としては、例えば、下記の2つの検出方法のいずれかを採用することが可能である。[検出方法1]例えば、放射線画像撮影において放射線画像撮影装置1に放射線が照射される前に、リークデータdleakの読み出し処理を繰り返し行うように構成することも可能である。ここで、リークデータdleakとは、図13に示すように、各走査線5にオフ電圧を印加した状態で、オフ状態になっている各TFT8を介して各放射線検出素子7からリークする電荷qの信号線6ごとの合計値に相当するデータである。そして、リークデータdleakの読み出し処理では、図10に示した画像データDの読み出し処理の場合と異なり、図14に示すように、走査線5の各ラインL1~Lxにオフ電圧を印加して各TFT8をオフ状態とした状態で、制御手段22から各読み出し回路17の相関二重サンプリング回路19図7、8のCDS参照にパルス信号Sp1、Sp2を送信するようになっている。相関二重サンプリング回路19は、制御手段22からパルス信号Sp1が送信されると、その時点で増幅回路18から出力されている電圧値Vinを保持する。そして、増幅回路18のコンデンサ18bに各TFT8を介して各放射線検出素子7からリークする電荷qが蓄積されて増幅回路18から出力される電圧値が上昇し、制御手段22からパルス信号Sp2が送信されると、相関二重サンプリング回路19は、その時点で増幅回路18から出力されている電圧値Vfiを保持する。そして、相関二重サンプリング回路19が電圧値の差分Vfi-Vinを算出して出力した値が、リークデータdleakとなる。リークデータdleakが、その後、A/D変換器20でデジタル値に変換されることは、前述した画像データDの読み出し処理の場合と同様である。しかし、リークデータdleakの読み出し処理のみを繰り返し行うように構成すると、各TFT8がオフ状態のままとなってしまい、各放射線検出素子7内で発生した暗電荷が各放射線検出素子7内に蓄積され続ける状態になってしまう。そのため、上記のように、放射線画像撮影前に、リークデータdleakの読み出し処理を繰り返し行うように構成する場合には、図15に示すように、各走査線5にオフ電圧を印加した状態で行うリークデータdleakの読み出し処理と、走査線5の各ラインL1~Lxにオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子7のリセット処理とを交互に繰り返し行うように構成することが望ましい。なお、図15や後述する図16等のTやτについては後で説明する。このように放射線画像撮影前にリークデータdleakの読み出し処理と各放射線検出素子7のリセット処理とを交互に繰り返して行うように構成した場合、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が開始されると、シンチレータ3図2参照で放射線から変換された電磁波が、各TFT8に照射される。そして、それにより、各TFT8を介して各放射線検出素子7からリークする電荷q図13参照がそれぞれ増加することが本発明者らの研究で分かった。そして、例えば図16に示すように、放射線画像撮影前にリークデータdleakの読み出し処理と各放射線検出素子7のリセット処理とを交互に繰り返して行う場合、図17に示すように、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が開始された時点で読み出されたリークデータdleakが、それ以前に読み出されたリークデータdleakよりも格段に大きな値になる。なお、図16および図17では、図16で走査線5のラインL4にオン電圧が印加されてリセット処理が行われた後の4回目の読み出し処理で読み出されたリークデータdleakが、図17の時刻t1におけるリークデータdleakに対応する。また、図16においてRは各放射線検出素子7のリセット処理を表し、Lはリークデータdleakの読み出し処理を表す。なお、図16中のTacについては後で説明する。そこで、放射線画像撮影装置1の制御手段22で、放射線画像撮影前のリークデータdleakの読み出し処理で読み出されたリークデータdleakを監視するように構成し、読み出されたリークデータdleakが、例えば予め設定された所定の閾値dleakth図17参照を越えた時点で、放射線の照射が開始されたことを検出するように構成することができる。そして、この場合、制御手段22は、上記のようにして、放射線の照射が開始されたことを検出すると、図16に示したように、その時点で各走査線5へのオン電圧の印加を停止して、ゲートドライバ15bから走査線5の全てのラインL1~Lxにオフ電圧を印加させ、各TFT8をオフ状態にして、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷を各放射線検出素子7内に蓄積させる電荷蓄積状態に移行させる。そして、例えば放射線の照射開始を検出してから所定時間が経過した後、制御手段22は、放射線画像撮影前のリークデータdleakの読み出し処理で放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された走査線5図16の場合は走査線5のラインL4の次にオン電圧を印加すべき走査線5図16の場合は走査線5のラインL5からオン電圧の印加を開始し、各走査線5にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データDの読み出し処理を行うように構成される。なお、図16では、本画像としての画像データDの読み出し処理を、放射線の照射開始を検出した時点でオン電圧が印加された走査線5のラインLnの次にラインLn1からオン電圧の印加を開始して行う場合を示したが、例えば、走査線5の最初のラインL1等からオン電圧の印加を開始して画像データDの読み出し処理を行うように構成することも可能である。[検出方法2]また、上記の検出方法1のように、放射線画像撮影前にリークデータdleakの読み出し処理を行うように構成する代わりに、放射線画像撮影前に、図18に示すように、走査駆動手段15のゲートドライバ15bから走査線5の各ラインL1~Lxにオン電圧を順次印加して、各放射線検出素子7からの画像データdの読み出し処理を繰り返し行うように構成することも可能である。なお、前述したように、撮影直後に行われる上記の本画像としての画像データDと区別して、以下、この放射線画像撮影前に放射線の照射開始の検出用に読み出される照射開始検出用の画像データを、画像データdという。また、図18中において、1フレームとは、検出部P図4や図7参照上に二次元状に配列された1面分の各放射線検出素子7から画像データdの読み出し処理を行う期間をいう。また、画像データdの読み出し処理における読み出し回路17の増幅回路18の電荷リセット用スイッチ18cのオン/オフや、相関二重サンプリング回路19へのパルス信号Sp1、Sp2の送信等は、図19に示すように、図10に示した画像データDの読み出し処理における処理と同様に行われる。なお、図19等におけるΔTについては後で説明する。上記のように放射線画像撮影前に画像データdの読み出し処理を行うように構成した場合、図20に示すように、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が開始されると、その時点で読み出された画像データd図20では走査線5のラインLnにオン電圧が印加されて読み出された画像データdが、前述した図17に示したリークデータdleakの場合と同様に、それ以前に読み出された画像データdよりも格段に大きな値になる。そこで、放射線画像撮影装置1の制御手段22で、放射線画像撮影前の読み出し処理で読み出された画像データdを監視するように構成し、読み出された画像データdが予め設定された所定の閾値dthを越えた時点で、放射線の照射が開始されたことを検出するように構成することができる。そして、この場合、制御手段22は、上記のようにして、放射線の照射が開始されたことを検出すると、図20に示すように、その時点で各走査線5へのオン電圧の印加を停止して、ゲートドライバ15bから走査線5の全てのラインL1~Lxにオフ電圧を印加させ、各TFT8をオフ状態にして、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷を各放射線検出素子7内に蓄積させる電荷蓄積状態に移行させる。そして、例えば放射線の照射開始を検出してから所定時間が経過した後、制御手段22は、放射線画像撮影前の画像データdの読み出し処理で放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された走査線5図20の場合は走査線5のラインLnの次にオン電圧を印加すべき走査線5図20の場合は走査線5のラインLn1からオン電圧の印加を開始し、各走査線5にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データDの読み出し処理を行うように構成される。なお、図20に示した場合においても、本画像としての画像データDの読み出し処理を、例えば走査線5の最初のラインL1等からオン電圧の印加を開始して行うように構成することが可能である。また、図20中のΔT等については以下で説明する。[改良された放射線の照射開始の検出方法について]また、上記の検出方法1において、放射線画像撮影前の各放射線検出素子7のリセット処理で、ある走査線5に対するオン電圧の印加を開始してから次の走査線5に対するオン電圧の印加を開始するまでの周期τ図15や図16等参照を長くして、制御手段22から送信する2回のパルス信号Sp1、Sp2の送信間隔Tを長くすると、1回のリークデータdleakの読み出し処理で読み出されるリークデータdleakの値が大きくなり、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出感度が向上する。また、上記の検出方法2において、放射線画像撮影前の画像データdの読み出し処理で、各TFT8をオン状態とする時間ΔT図19や図20参照、すなわち走査駆動手段15のゲートドライバ15bから走査線5にオン電圧を印加してからオフ電圧に切り替えるまでの時間ΔTを長くすると、1回の画像データdの読み出し処理で読み出される画像データdの値が大きくなり、やはり放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出感度が向上する。このように、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出方法については、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出感度を向上させること等を目的とした種々の改良が可能である。[放射線の照射終了の検出について]例えば、上記の検出方法1において、図16に示したように、放射線の照射が開始されたことを検出した後、各走査線5にオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子7のリセット処理は停止して電荷蓄積状態に移行する。そして、その際、例えば図21に示すように、電荷蓄積状態で、各走査線5にオフ電圧を印加して行うリークデータdleakの読み出し処理を続行するように構成して、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射の終了を検出するように構成することも可能である。放射線の照射開始検出後、リークデータdleakの読み出し処理を続行するように構成すると、電荷蓄積状態では既に放射線の照射が開始されているため、図22に示すように、読み出されるリークデータdleakは大きな値になっているが、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が終了すると、リークデータdleakは元の小さな値に戻る。そのため、例えば時刻t2でリークデータdleakが閾値dleakth以下の値になったことをもって放射線の照射が終了したことを検出することが可能となる。なお、この場合の閾値dleakthは、上記の検出方法1で放射線の照射開始を検出する際の閾値と同じ値dleakthであってもよく、別の値として設定することも可能である。また、図22では、時刻t2で放射線の照射の終了を検出した後もリークデータdleakの読み出し処理を引き続き行ってリークデータdleakを読み出す場合が示されているが、実際には、下記のように、放射線の照射の終了を検出するとリークデータdleakの読み出し処理は停止される。図22に示したように、リークデータdleakが閾値dleakth以下の値になり、放射線の照射が終了したことが検出された時点図21ではA参照。図22の時刻t2に対応する。で、各走査線5へのオン電圧の順次の印加を開始して本画像としての画像データDの読み出し処理を開始するように構成することが可能となる。このように構成すれば、図21に示したように、放射線の照射の終了を検出した後、すぐに画像データDの読み出し処理を開始することが可能となり、画像データDの読み出し処理以降の処理を早期に行うことが可能となるといった利点がある。なお、この電荷蓄積状態においてリークデータdleakの読み出し処理を行って放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射の終了を検出する手法を、上記の検出方法2で行うように構成することも可能である。[放射線の照射開始を検出するための各演算手法について]ところで、上記のような放射線の照射開始の検出処理の基本的な制御構成、すなわち検出方法1や検出方法2を用いれば、放射線画像撮影装置1自体で放射線の照射が開始されたことを検出することができる。しかし、放射線画像撮影装置1の検出部P図4や図7等参照には、通常、数千本から数万本の信号線6が配線されており、各信号線6にそれぞれ読み出し回路17が設けられている。そのため、上記の検出方法1や検出方法2を採用して放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射開始を検出するように構成する場合、1回の読み出し処理で読み出されるリークデータdleakや画像データdの数は、数千個から数万個の数になる。そして、それらの全てのリークデータdleakや全ての画像データdについて、上記のように閾値を越えたか否かを判断する処理を各読み出し処理ごとに行うように構成すると、処理が重くなり、リアルタイムで放射線の照射開始を検出することができなくなる虞れがある。このように、上記の検出方法1や検出方法2をそのまま用いて放射線の照射開始を検出するように構成すると、種々の不都合が生じ得る。そこで、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1では、読み出したリークデータdleakや画像データdを、互いに異なる演算手法でさらに演算するように構成されている。そして、各演算手法により算出した各値のうちのいずれかの値が閾値を越えた時点で、放射線の照射が開始されたことを検出するようになっている。互いに異なる演算手法として、例えば、以下のような各演算手法を採用することが可能である。なお、以下では、主に、前述した検出方法1、すなわち放射線画像撮影前にリークデータdleakの読み出し処理を行い、読み出したリークデータdleakに基づいて放射線の照射開始を検出する場合について説明するが、上記の検出方法2についても同様にあてはまる。[演算手法A平均値法]この演算手法Aは、閾値を越えたか否かの判断を行うデータ量を減らすことを目的とする演算手法である。本実施形態では、読み出しIC16図7参照内には、例えば、128個や256個の読み出し回路17が形成されて内蔵されている。すなわち、1個の読み出しIC16には、128本や256本等の信号線6が接続されている。そして、1回のリークデータdleakの読み出し処理で、1個の読み出しIC16から各信号線6ごとに128個や256個のリークデータdleakが読み出される。いま、仮に信号線6が4096本設けられており、1個の読み出しIC16に256個の読み出し回路17が内蔵されているすなわち1個の読み出しIC16に256本の信号線6が接続されているとすると、読み出しIC16の数は、全部で4096÷256=16個になる。そこで、例えば、1回のリークデータdleakの読み出し処理で1つの読み出しIC16から出力されたリークデータdleakの合計値や平均値、中間値、最大値等以下、これらを代表して平均値という。を算出し、各読み出しIC16について算出したリークデータdleakの平均値dleakaveが、それぞれ閾値dthAを越えたか否かを判断するように構成することが可能である。なお、この演算手法Aは、上記のように、読み出しIC16ごとのリークデータdleak等の平均値等を算出する手法であることから、以下、平均値法という場合がある。また、上記の平均値dleakaveの記載中のzは、読み出しIC16の番号であり、上記の例では、読み出しIC16は16個設けられているため、zは1から16までの値をとる。この演算手法A平均値法を採用するように構成すれば、放射線画像撮影装置1の制御手段22は、上記の例で言えば、1回のリークデータdleakの読み出し処理で読み出される4096個のリークデータdleakについて各々閾値dthAを越えたか否かを判断する必要がなくなり、各読み出しIC16から出力されたリークデータdleakの、読み出しIC16ごとの16個の平均値dleakaveについて閾値dthAを越えたか否かを判断するだけで済む。そのため、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射開始の判断処理が軽くなる。なお、この場合、閾値dthAは、前述した閾値dleakth図17参照と同じ値に設定することが可能である。また、各読み出しIC16ごとに閾値dthAの値を設定するように構成することも可能である。[演算手法B差分法]また、さらに判断処理を軽くするために、上記のように1回のリークデータdleakの読み出し処理で1つの読み出しIC16から出力されたリークデータdleakから算出した16個の平均値dleakaveの中から、さらに最大値を抽出し、この最大値が閾値を越えたか否かを判断するように構成することも可能である。しかし、この場合、各読み出しIC16内の各読み出し回路17におけるデータの読み出し効率が問題になる場合がある。すなわち、各読み出し回路17図7等参照のデータの読み出し効率は、通常、各読み出し回路17ごとに異なり、各放射線検出素子7から信号線6にリークする電荷qの合計値図13参照が信号線6ごとに同じであったとしても、他の読み出し回路17よりも常に大きな値のリークデータdleakを読み出す読み出し回路17もあれば、他の読み出し回路17よりも常に小さな値のリークデータdleakを読み出す読み出し回路17もある。このような状況において、例えば図23に示すように、放射線画像撮影装置1に対して放射線が、検出部Pの中央部分に照射野Fが絞られた状態で照射され、他の読み出し回路17よりも常に大きな値のリークデータdleakを読み出す読み出し回路17に接続されている信号線6aが照射野F外に存在する場合を考える。このような場合、図24に示すように、照射野F内に存在する信号線6に接続されている読み出し回路17を含む読み出しIC16から出力されたリークデータdleakの平均値dleakave図中のγ参照が放射線の照射により上昇しても、照射野F外に存在する信号線6aに接続されている読み出し回路17を含む読み出しIC16から出力されたリークデータdleakの平均値dleakave図中のδ参照を越えない場合が生じ得る。そして、このような場合、1回のリークデータdleakの読み出し処理で1つの読み出しIC16から出力されたリークデータdleakから算出した16個の平均値dleakaveの中から最大値を抽出すると、図中δで示されたリークデータdleakの平均値dleakaveが抽出されるが、抽出されたリークデータdleakの平均値dleakaveは放射線の照射によっても変動しないため、結局、閾値を越えなくなり、放射線の照射を検出することができなくなる。そこで、このような問題を回避するために、例えば、各読み出し処理ごとに各読み出しIC16から出力されたリークデータdleakの平均値dleakaveの移動平均を、読み出しIC16ごとに算出するように構成することが可能である。すなわち、1回のリークデータdleakの読み出し処理ごとに読み出しIC16から出力されるリークデータdleakの平均値dleakaveを算出するごとに、当該読み出し処理の直前の読み出し処理を含む所定回数分の過去の各読み出し処理の際に算出された、読み出しIC16ごとのリークデータdleakの平均値dleakaveの平均すなわち移動平均を算出する。そして、読み出しIC16ごとに、今回の読み出し処理で算出したリークデータdleakの平均値dleakaveと、算出した移動平均との差分Δdを算出するように構成する。そして、1回のリークデータdleakの読み出し処理で読み出しIC16から出力されたリークデータdleakから算出した平均値dleakaveと、それぞれに対応する移動平均との差分Δdを、各読み出しIC16ごとにそれぞれ算出し、算出した差分Δd上記の例では16個の差分Δdの中から最大値を抽出し、差分Δdの最大値が閾値dthBを越えたか否かを判断するように構成することが可能である。なお、この演算手法Bは、上記のように、読み出しIC16ごとのリークデータdleak等の平均値から、対応する移動平均を減算した差分Δdを算出する手法であることから、以下、差分法という場合がある。上記のように構成すれば、読み出しIC16内に設けられた読み出し回路17ごとに読み出し効率にばらつきがあったとしても、同じ読み出し効率で読み出されたリークデータdleakの平均値dleakaveと移動平均との差分Δdを算出することで、読み出し効率によるばらつきが相殺される。そのため、上記差分Δdが、読み出しIC16ごとに、純粋にリークデータdleakの平均値dleakaveが過去のデータから増加したか否かのみを反映する値になり、それに基づいて放射線の照射開始を検出するように構成することで、図24に示したような問題が発生することを的確に防止することが可能となる。なお、この場合、放射線画像撮影装置1に放射線が照射されない状態では、読み出されたリークデータdleakと移動平均の値が互いに同程度の大きさになるため、差分Δdはほぼ0になる。一方、放射線画像撮影装置1に放射線が照射されると、読み出されたリークデータdleakの値が移動平均よりも格段に大きな値になる、差分Δdは0とは有意に異なる正の値になる。そこで、閾値dthBは、放射線画像撮影装置1に放射線が照射されない状態でほぼ0の値をとる差分Δdと、放射線画像撮影装置1に放射線が照射された状態で0とは有意に異なる正の値をとる差分Δdとを、明確に切り分けられる値に設定される。[演算手法CMax-Min法]また、上記のように、1回のリークデータdleakの読み出し処理で1つの読み出しIC16から出力されたリークデータdleakから算出した16個の平均値dleakaveと、それぞれに対応する移動平均との差分Δdをそれぞれ算出する。そして、算出した差分Δdの中から最大値だけでなく、最小値も抽出し、差分Δdの最大値と最小値との差δdが、閾値dthCを越えたか否かを判断するように構成することも可能である。なお、この演算手法Cは、上記のように、読み出しIC16ごとのリークデータdleak等の平均値から移動平均を減算した差分Δdの最大値すなわちMaxと最小値すなわちMinとの差δdを算出する手法であることから、以下、Max-Min法という場合がある。また、この場合も、閾値dthCは、放射線画像撮影装置1に放射線が照射されない状態と放射線が照射された状態で0とで変わり得る上記の差δdを、明確に切り分けられる値に設定される。[演算手法D積算法]また、放射線源52から放射線画像撮影装置1に照射される放射線の線量が非常に小さい場合、上記の演算手法A平均値法に従って算出する読み出しIC16ごとのリークデータdleakの平均値dleakaveが小さくなる場合がある。そして、放射線が照射されても平均値dleakaveが閾値dthAを越えない場合があり得る。また、演算手法B差分法や演算手法CMax-Min法を採用する場合も同様に、読み出しIC16ごとのリークデータdleakの平均値dleakaveと移動平均との差分Δd演算手法Bや差分Δdの最大値と最小値との差演算手法Cが小さくなり、放射線が照射されてもそれらの値が閾値dthB、dthCを越えない場合があり得る。このような事態が生じると、放射線源52から放射線画像撮影装置1に放射線が照射されているにもかかわらず、放射線画像撮影装置1は、放射線の照射開始を検出することができなくなる。そこで、例えば、読み出しIC16ごとに、リークデータdleakの平均値dleakaveと移動平均との差分Δd上記の演算手法B差分法参照の時間的な積算値積分値ともいう。ΣΔdを算出し、この積算値ΣΔdが閾値dthDを越えたか否かを判断するように構成することも可能である。なお、この演算手法Dは、このように、読み出しIC16ごとのリークデータdleak等の平均値から移動平均を減算した差分Δdを時間的に積算する手法であることから、以下、積算法という場合がある。このように構成すると、放射線画像撮影装置1に放射線が照射されないうちは、リークデータdleakの平均値dleakaveがゆらいで移動平均よりも大きくなったり小さくなったりする。そのため、それらの差分Δdの積算値ΣΔdは0に近い値で推移する。しかし、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が開始されると、リークデータdleakの平均値dleakaveは移動平均よりも大きな値になるため、それらの差分Δdは、正の値になる場合が多くなる。そのため、上記のように構成すれば、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が開始されないうちは積算値ΣΔdが閾値dthDを越えることはないが、放射線の照射が開始されると、積算値ΣΔdが増加していき、閾値dthDを越えるようになる。そのため、上記のように構成することで、放射線源52から放射線画像撮影装置1に照射される放射線の線量が非常に小さい場合でも、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。なお、この場合、閾値dthDは、上記のように、放射線画像撮影装置1に放射線が照射されない状態で0に近い値で推移する積算値ΣΔdと、放射線の照射が開始された場合に増加していく積算値ΣΔdとを、明確に切り分けられる値に設定される。また、本実施形態では、この演算手法D積算法は、各読み出しIC16ごとに行われ、各読み出しIC16ごとに閾値dthDの値が設定されるようになっている。[本実施形態での制御手段における検出処理について]本実施形態では、放射線画像撮影装置1の制御手段22は、上記のように、放射線画像撮影前に行われる読み出し処理でリークデータdleak検出方法1の場合や画像データd検出方法2の場合が読み出されると、上記の互いに異なる演算手法A~Dで、上記の各値すなわち平均値dleakaveや差分Δd、差δd、積算値ΣΔdを同時並行で演算するようになっている。そして、各演算手法A~Dで演算して算出した各値のうちのいずれかの値が、対応する閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するようになっている。そして、制御手段22は、放射線の照射開始を検出すると、演算手法A~Dによる演算処理をすべて停止し、図16や図20に示したように、その時点でゲートドライバ15bから走査線5の全てのラインL1~Lxにオフ電圧を印加させて、電荷蓄積状態に移行させるようになっている。また、制御手段22は、放射線の照射が開始されたことを検出した値の算出に用いられた演算手法の情報を、画像データD等を画像処理装置としてのコンソール58に送信する際に同時に送信するようになっている。すなわち、例えば、演算手法A平均値法で演算して算出したリークデータdleakの平均値dleakave等が対応する閾値dthAを越えたことに基づいて放射線の照射開始を検出した場合、制御手段22は、演算手法Aに基づくという情報をコンソール58に送信するようになっている。なお、このように、本実施形態では、互いに異なる演算手法として上記の演算手法A~Dがともに採用されるように構成されている。しかし、互いに異なる演算手法として、演算手法A~Dのうちの2つ或いは3つの演算手法を用いたり、或いは上記の演算手法A~D以外の演算手法を用いるように構成することも可能である。また、このことは、下記の説明においても同様である。[オフセットデータの取得について]ここで、放射線画像撮影装置1で行われるオフセットデータOの読み出し処理について説明する。図16や図20に示したように、放射線画像撮影装置1の制御手段22は、上記のようにして放射線の照射開始を検出すると、ゲートドライバ15bから走査線5の全てのラインL1~Lxにオフ電圧を印加させて電荷蓄積状態に移行させる。そして、その後、各走査線5にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データDの読み出し処理を行う。その際、放射線検出素子7内では、放射線検出素子7自体の熱温度による熱励起等により、いわゆる暗電荷が常時発生している。そして、前述した画像データDの読み出し処理で読み出された画像データDにも、この暗電荷に起因するオフセット分が重畳されている。そこで、画像処理装置としてのコンソール58での画像データDに基づく放射線画像の生成処理では、画像データDからこの暗電荷に起因するオフセット分を差し引いて、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷のみに基づく真の画像データ以下、真の画像データDという。を算出し、この真の画像データDに基づいて放射線画像が生成される。そして、この画像データDに重畳される暗電荷に起因するオフセット分をオフセットデータOとして取得する処理が、通常、放射線画像撮影装置1で、放射線画像撮影の前や後に行われる。本実施形態では、制御手段22は、画像データDの読み出し処理図16等参照までの一連の処理シーケンスを繰り返して、オフセットデータOの読み出し処理を行うようになっている。すなわち、例えば上記の検出方法1を採用する場合、制御手段22は、図25に示すように、画像データDの読み出し処理後、図16に示した放射線画像撮影前のリークデータdleakの読み出し処理と各放射線検出素子7のリセット処理の繰り返しから電荷蓄積状態への移行、画像データDの読み出し処理までの一連の処理シーケンスを繰り返して、オフセットデータOの読み出し処理を行うようになっている。なお、オフセットデータOの読み出し処理における電荷蓄積状態では、暗電荷のみを各放射線検出素子7内に蓄積させるために、放射線画像撮影装置1に対して放射線は照射されない。そのため、画像データDの読み出し処理の後、オフセットデータOにおける電荷蓄積状態への移行前に、図25に示したように、リークデータdleakの読み出し処理を各放射線検出素子7のリセット処理と交互に行う必要はなく、リークデータdleakの読み出し処理を行わずに、各放射線検出素子7のリセット処理のみを行うように構成することも可能である。また、図25では、画像データDの読み出し処理後に、各放射線検出素子7のリセット処理を1回すなわち走査線5のラインLn1~Lx、L1~Lnにオン電圧を順次印加して行うリセット処理を行う場合を示したが、各放射線検出素子7のリセット処理を複数回行うように構成することも可能である。各放射線検出素子7内に蓄積される暗電荷の量は、当該放射線検出素子7に接続されているTFT8がオフ状態とされていた時間すなわち図16における時間Tacなお、以下、この時間Tacを実効蓄積時間Tacという。に比例して増大する。そして、蓄積された暗電荷はオフセットデータOとして読み出されるが、オフセットデータOの大きさも、TFT8がオフ状態とされていた時間すなわち図25における実効蓄積時間Tacに依存して変化する。その際、上記のように、本画像としての画像データDの読み出し処理までの処理シーケンスと、オフセットデータOの読み出し処理までの処理シーケンスを同じ処理シーケンスとすれば、オフセットデータOの読み出し処理の際にTFT8がオフ状態とされていた実効蓄積時間Tac図25参照が、本画像としての画像データDの読み出し処理の際の実行蓄積時間Tac図16参照と同じ時間になる。そのため、画像データDに重畳されている暗電荷に起因するオフセット分と、オフセットデータOの読み出し処理で読み出されるオフセットデータOとが同じ値になるため、画像データDからオフセットデータOを差し引くことで、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷のみに基づく真の画像データDを算出することが可能となるのである。放射線画像撮影装置1の制御手段22は、上記のようにして本画像としての画像データDを読み出すと、読み出した画像データDをコンソール58に送信し、また、上記のようにしてオフセットデータOの読み出し処理を行うと、読み出したオフセットデータOをコンソール58に送信するようになっている。[画像処理装置における線欠陥の修復処理について]次に、画像処理装置としてのコンソール58で、画像データD等に基づいて放射線画像の生成処理を行う前に行われる線欠陥の修復処理について説明する。また、本実施形態に係る放射線画像撮影システム50の作用についてもあわせて説明する。なお、本実施形態では、コンソール58は、線欠陥の修復処理を行った後、修復後の画像データすなわち後述する真の画像データに対してゲイン補正や欠陥画素補正、階調処理等の所定の画像処理を行って放射線画像を生成するようになっているが、この所定の画像処理は公知の技術であり、説明を省略する。また、本実施形態では、上記のように、コンソール58が画像処理装置として機能するようになっているが、コンソール58とは別体として画像処理装置を設けてもよい。ここで、画像データD中に発生する線欠陥の発生メカニズム等について簡単に説明する。例えば、検出方法2では、上記のように、読み出した画像データdが増加することに基づいて放射線の照射開始を検出するが、読み出した画像データdが増加するということは、結局、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の一部、すなわち本画像としての画像データDとして読み出されるべき電荷の一部が、放射線画像撮影前に画像データdとして各放射線検出素子7内から失われてしまうことを意味する。すなわち、図20に示した例で言えば、走査線5のラインLnにオン電圧を印加した時点で放射線の照射開始が検出されているが、これは、走査線5のラインLnに接続されている各放射線検出素子7からは、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の一部が失われたことを意味する。そのため、後の本画像としての画像データDの読み出し処理で、走査線5のラインLnに接続されている各放射線検出素子7から読み出された各画像データDには、有用な電荷の一部の欠損が生じていることになる。すなわち、当該各画像データDは、本来の値よりも若干小さな値になっている。そして、例えば図26に示すように、画像データD中或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中の走査線5のラインLnに対応する部分に、欠損を生じている画像データDの線、すなわち線欠陥が現れることになる。また、図27に示すように、放射線源52から放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が実際に開始されてから、放射線画像撮影装置1で放射線の照射開始を検出するまでに時間がかかると、その間に、複数回の画像データdの読み出し処理が行われてしまう場合がある。そして、例えば図27に示したように、放射線画像撮影前の画像データdの読み出し処理で、走査線5のラインLnにオン電圧を印加して画像データdの読み出し処理が行われた時点で放射線源52からの放射線の照射が開始され、走査線5のラインLn2にオン電圧を印加して行われた画像データdの読み出し処理で放射線の照射開始が検出された場合には、図28に示すように、走査線5のラインLn~Ln2に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDに欠損が生じる。このように、放射線源52から放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が実際に開始されてから放射線画像撮影装置1で放射線の照射開始を検出するまでに時間がかかると、線欠陥が連続して発生する状態になる。一方、上記の線欠陥が現れる現象は、上記の検出方法1を採用した場合でも同様に生じ得る。すなわち、例えば図16に示したタイミングで放射線の照射開始が検出された場合、4回目のリークデータdleakの読み出し処理の直前に各放射線検出素子7のリセット処理が行われた走査線5のラインL4では、リセット処理により、この走査線5に接続されている各放射線検出素子7内から放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の一部が失われてしまっている可能性がある。そのため、放射線の照射開始が検出されたリークデータdleakの読み出し処理の直前にオン電圧が印加されてリセット処理が行われた走査線5では、当該走査線5に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDに、有用な電荷の一部に欠損を生じている可能性がある。そのため、上記の検出方法1を採用した場合でも、放射線の照射開始を検出したリークデータdleakの読み出し処理の直前にリセット処理でオン電圧が印加された走査線5に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDについて、やはり図26に示したような線欠陥が生じ得る。また、放射線源52から放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が実際に開始されてから、放射線画像撮影装置1で放射線の照射が開始されたことを検出するまでに時間がかかると、その間に、リークデータdleakの読み出し処理と交互に行う各放射線検出素子7のリセット処理が複数回行われてしまう場合がある。そして、この場合には、やはり複数の走査線5に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDに欠損が生じるため、図28に示すように、線欠陥が連続して発生する状態になる。そこで、検出方法1や検出方法2を採用する場合には、いずれの場合でも、図26や図28に示したように画像データD中に発生する線欠陥を、画像処理装置としてのコンソール58で修復することが必要になる。しかし、その際、放射線画像撮影装置1自体では、実際に放射線源52からどのタイミングで放射線画像撮影装置1に対して放射線の照射が開始されたかを認識することができない。すなわち、例えば図27の例で言えば、放射線画像撮影前の画像データdの読み出し処理で、走査線5のラインLnにオン電圧を印加して画像データdの読み出し処理が行われた時点で放射線源52からの放射線の照射が開始されたことを、放射線画像撮影装置1は認識することができない。放射線画像撮影装置1自体では、ただ、走査線5のラインLn2にオン電圧を印加して行われた画像データdの読み出し処理で読み出された画像データdに基づいて、放射線の照射開始が検出されるだけである。これは、検出方法1を採用した場合も同様である。そこで、本実施形態では、画像処理装置としてのコンソール58は、上記のような本画像としての画像データD中の線欠陥の発生メカニズムを踏まえて、以下のようにして、前述したように放射線画像撮影装置1から送信されてきた演算手法の情報に基づいて欠損を生じている画像データDの範囲を特定し、特定した範囲の画像データDを、当該演算手法に対応する修復方法に基づいて修復するようになっている。ここで、前述した演算手法A~Dにおいて、算出される値すなわち平均値dleakaveや差分Δd、差δd、積算値ΣΔdが、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射開始前後でどのように変化するかについて説明する。なお、以下の図29~図32では、時刻T1に放射線源52からの放射線の照射が開始され、時刻T2に放射線源52からの放射線の照射が終了した場合が示されている。例えば、演算手法A平均値法により読み出しIC16ごとのリークデータdleakの平均値dleakaveを算出する場合、リークデータdleakの平均値dleakaveは、例えば図29に示すように、放射線源52からの放射線の照射が開始された時刻T1に急峻に立ち上がる。そして、演算手法Aについて設定された閾値dthAを越える。また、例えば、演算手法B差分法により読み出しIC16ごとのリークデータdleakの平均値dleakaveと移動平均との差分Δdを算出する場合、各差分Δdの中から抽出された最大値Δdmaxは、例えば図30に示すように、やはり放射線源52からの放射線の照射が開始された時刻T1に急峻に立ち上がる。そして、演算手法Bについて設定された閾値dthBを越える。さらに、例えば、演算手法CMax-Min法により上記のようにして読み出しIC16ごとに算出した差分Δdの中から最大値と最小値も抽出して差δdを算出する場合、算出された差δdは、例えば図31に示すように、やはり放射線源52からの放射線の照射が開始された時刻T1に急峻に立ち上がる。そして、演算手法Cについて設定された閾値dthCを越える。そのため、これらの演算手法A~Cの場合は、図16や図20に示した例のように、放射線源52からの放射線の照射が開始されたタイミングと、放射線画像撮影装置1が放射線の照射開始を検出するタイミングがほぼ同時になる。そのため、発生する線欠陥は、図26に示すように1本か、多くても2本程度になる。それに対し、例えば、演算手法D積算法により上記のようにして読み出しIC16ごとに算出した差分Δdの時間的な積算値ΣΔdを算出する場合、算出された積算値ΣΔdは、例えば図32に示すように、放射線源52からの放射線の照射が開始された時刻T1から増加し始める。そして、時刻t1になって初めて演算手法Dについて設定された閾値dthDを越える。そのため、この演算手法Dの場合は、図27に示した例のように、放射線源52からの放射線の照射が開始されたタイミングよりも放射線画像撮影装置1が放射線の照射開始を検出するタイミングが遅れる。そのため、図28に示すように、線欠陥が連続して複数発生する状態になる。そこで、本実施形態では、画像処理装置としてのコンソール58は、放射線画像撮影装置1から送信されてきた演算手法の情報が、放射線の照射開始を検出した場合に用いられた演算手法が演算手法A~Cのいずれかである場合と、演算手法Dである場合とで、画像データDの修復方法を変えるようになっている。なお、本実施形態では、演算手法A~Cのいずれかを用いた場合と演算手法Dを用いた場合とで同時に放射線の照射開始を検出した場合には、線欠陥が連続して複数発生している可能性があるため、後述する演算手法Dで検出された場合の修復方法により画像データDを修復するようになっている。[放射線の照射開始検出に用いられた演算手法が演算手法A~Cである場合]放射線の照射開始検出に用いられた演算手法が演算手法A~Cである場合には、上記のように、放射線源52から放射線画像撮影装置1に対して実際に放射線の照射が開始されてから放射線画像撮影装置1で放射線の照射開始が検出されるまでの応答時間が非常に短い。そのため、発生する線欠陥は1、2本程度になる。すなわち、この場合は、欠損を生じている画像データDの範囲は、放射線画像撮影装置1の制御手段22が放射線の照射開始を検出した時点で、画像データdの読み出し処理検出手段2の場合や、リークデータdleakの読み出し処理と交互に行われる各放射線検出素子7のリセット処理検出手段1の場合でオン電圧が印加された走査線5を含む1、2本程度の走査線5の範囲ということになる。そして、このような場合には、本実施形態では、画像処理装置としてのコンソール58は、欠損を生じている各画像データDすなわち線欠陥の画像データDを無効とするようになっている。そして、欠損を生じている各画像データDが読み出された放射線画像撮影装置1の各放射線検出素子7が接続されている走査線5例えば図26の例では走査線5のラインLnに隣接する走査線5例えば図26の例では走査線5のラインLn1、Ln1に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDの値に基づいて、当該無効とされた各画像データDを補間して修復するようになっている。すなわち、図26の例で言えば、走査線5のラインLnの画像データDについて、それぞれ図中の上側および下側に隣接する走査線5のラインLn1、Ln1の各画像データDを用いて例えば線形補間等の手法を用いて補間する。このようにして、無効とされた走査線5のラインLnの画像データDを、走査線5のラインLn1、Ln1の各画像データDを用いて修復するようになっている。なお、上記の説明では、例えば走査線5のラインLn1、Ln1の各画像データDで補間して、無効とされた走査線5のラインLnの画像データDを修復するように説明したが、下記のように、画像データDの代わりに真の画像データDを算出し、例えば走査線5のラインLn1、Ln1の真の各画像データDで補間して、無効とされた走査線5のラインLnの真の画像データDを修復するように構成することも可能である。[放射線の照射開始検出に用いられた演算手法が演算手法Dである場合]一方、放射線の照射開始検出に用いられた演算手法が演算手法D積算法である場合には、上記のように、放射線源52から放射線画像撮影装置1に対して実際に放射線の照射が開始されてから放射線画像撮影装置1で放射線の照射開始が検出されるまでの応答時間が長くなる。そのため、線欠陥が連続して複数発生する状態になる。場合によっては、線欠陥が数十本或いはそれ以上連続して発生する状態になり得る。このような場合に、上記の同様に欠損を生じている各画像データDを無効とし、それらに隣接する画像データDで補間して修復するように構成すると、以下のような問題が生じ得る。すなわち、例えば、生成した放射線画像を医療における診断用に用いるような場合、連続して複数発生している線欠陥の部分に病変部が撮影されていると、欠損を生じている画像データDが無効にされることにより、病変部の情報を担持している画像データDが無効とされて破棄されてしまう。そして、それに隣接する、病変部の情報を担持していない画像データDで補間して、無効とされた画像データDを修復すると、線欠陥の部分に撮影されていたはずの病変部の情報が、復元された画像データD中やそれに基づいて生成された放射線画像中から消えてしまうことになる。そこで、本実施形態では、以下のようにして、画像処理装置としてのコンソール58で、線欠陥の部分の画像データDを無効とせず、それらの画像データD本実施形態では後述するように真の画像データD。以下同じ自体の値に基づいて、欠損を生じている画像データDを修復するようになっている。そして、この場合、本実施形態では、以下のようにして、画像処理装置としてのコンソール58が画像データD本実施形態では真の画像データD。以下同じのプロファイルを解析して、欠損を生じている画像データDの範囲を特定するようになっている。そして、コンソール58は、欠損を生じているとして特定した範囲の画像データDを修復するようになっている。以下、前述した演算手法D積算法を用いる場合のように、上記の応答時間が長くなる場合、すなわち線欠陥が連続して多数発生し得る場合における画像データDの線欠陥の修復処理について説明する。本実施形態では、本画像としての画像データDそのものに対して処理を行う代わりに、画像データDとそれに対応するオフセットデータOとから真の画像データDを算出し、算出した真の画像データDのプロファイルを解析して、欠損を生じている画像データDの範囲を特定するようになっている。上記のように、画像データDには暗電荷に起因するオフセット分が含まれているため、各画像データDの値にばらつきが生じている場合が多い。そして、このようにばらつきがある画像データDに基づいて上記の範囲を特定しようとすると、範囲が適切に特定できなくなる虞れがあるためである。画像処理装置としてのコンソール58は、放射線画像撮影装置1から送信されてきた放射線画像撮影後の画像データDとオフセット補正値Oに基づいて、下記1式に従って、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷のみに相当し暗電荷分を含まない真の画像データDを各放射線検出素子7ごとに算出するようになっている。D=D-O...1なお、画像データD自体にさほどばらつきがないような場合には、オフセットデータOを減算していない画像データD自体を対象として修復処理を行うように構成することも可能である。コンソール58は、続いて、算出した真の画像データDを、真の各画像データDに対応する放射線画像撮影装置1の信号線6図4や図7等参照の延在方向に並べてプロットした場合に形成される真の画像データDのプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定するようになっている。ここで、各放射線検出素子7を、当該放射線検出素子7が接続されている信号線6のライン番号mと走査線5のライン番号nとを用いてm,nで表し、各放射線検出素子m,nから読み出された画像データDから算出された真の画像データDをDm,nと表す。上記のようにして算出した真の画像データDm,nの中から、ある信号線6この信号線6のライン番号をMとする。に接続されている各放射線検出素子M,nから読み出された画像データD等に基づいて算出された真の画像データDM,nを抽出する。そして、抽出した真の画像データDM,nを走査線5のライン番号nの順にプロットすると真の画像データDM,nのプロファイルが得られる。これが、放射線画像撮影装置1のライン番号Mの信号線6に関する、信号線6の延在方向における真の画像データDM,nのプロファイルになる。コンソール58は、このようにして形成される真の画像データDのプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲を特定することが可能である。しかし、上記のようにして算出した真の画像データDにもばらつきが生じている場合がある。そのため、抽出した真の画像データDM,nを走査線5のライン番号nの順にプロットすると、プロファイルにもばらつきが生じてしまい、プロファイルに基づいて上記の範囲を特定しようとしても、範囲が適切に特定できなくなる場合があり得る。そこで、本実施形態では、上記のようにして算出した真の画像データDm,nについて、放射線画像撮影装置1の走査線5の延在方向に並ぶ真の画像データDm,nの平均値Dave、すなわち同じ走査線5のライン番号nの真の画像データDm,nの平均値Daveを走査線5ごとに算出する。そして、この平均値Daveを、上記と同様にして、図33に示すように放射線画像撮影装置1の信号線6の延在方向に並べてプロットした場合に形成される平均値Daveのプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定するようになっている。なお、真の画像データDではなく画像データD自体を対象としてプロファイルを解析する場合も、同様にして、同じ走査線5のライン番号nの画像データDm,nの平均値Daveを走査線5ごとに算出してプロファイルを形成することが望ましい。このように真の画像データDm,n或いは画像データDm,n。以下同じ。の走査線5ごとの平均値Daveを算出すると、真の各画像データDm,nに含まれるばらつきが相殺される。そのため、図33に示すようにばらつきの少ないプロファイルが得られるため、欠損を生じている真の画像データDの範囲を的確に特定することが可能となる。なお、図33の右側のグラフでは、欠損を生じている真の画像データDの範囲の近傍の部分の平均値Daveのプロファイルのみが拡大されて示されている。また、平均値Daveのプロファイルを解析して欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定する場合には、以下の点に注意することが望ましい。放射線が被写体を介さずに放射線画像撮影装置1に直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDは、真の画像データDがとり得る値の上限値に近い値になる。それに対し、被写体が撮影されている部分の真の画像データDは、通常、それより小さな値になる。また、本実施形態では、読み出し回路17図7や図8参照で読み出し得る最大の電荷量よりも多くの電荷量を、放射線検出素子7内に蓄積できるように構成されている。そして、上記のように、放射線画像撮影前のリセット処理検出方法1の場合や画像データdの読み出し処理検出方法2の場合で放射線検出素子7から電荷の一部が流出したとしても、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子7では、その後、大きな電荷量が放射線検出素子7内で発生して、読み出し回路17で読み出し得る最大の電荷量以上の電荷量が放射線検出素子7内に蓄積される状態になり得る。そのため、放射線が直接到達した部分の放射線検出素子7では、放射線画像撮影前のリセット処理等で放射線検出素子7から電荷の一部が流出したとしても、結局、読み出される画像データDは、読み出し回路17が出力し得る上限値或いはそれに近い値になる場合がある。すなわち、放射線が直接到達した部分の放射線検出素子7では、放射線画像撮影前のリセット処理等で放射線検出素子7から電荷の一部が流出したとしても、読み出される画像データDを見る限り、欠損を生じていない大きな値の画像データDが読み出される場合がある。そのため、このような画像データDから算出される真の画像データDも、真の画像データDがとり得る値の上限値に近い値になり、しかも、その真の画像データDは欠損を生じていない大きな値のデータになる場合がある。そして、このような欠損が生じていない大きな値の真の画像データDm,nを、上記のように真の画像データDm,nの走査線5ごとの平均値Daveの算出の対象に含めてしまうと、欠損が生じていない大きな値の真の画像データDm,nの影響が大きくなる。そして、走査線5ごとの平均値Daveのプロファイルが、例えば図34に示すように、欠損を生じている真の画像データDの範囲が分かりづらいプロファイルになり、プロファイルを解析しても、欠損を生じている真の画像データDの範囲を的確に特定することが困難になる場合がある。そこで、本実施形態では、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDを特定して、当該放射線検出素子7に対応する真の画像データDを、上記の平均値Daveの算出の対象から除外するようになっている。放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDの特定は、例えば以下のようにして行われる。上記のように、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDが、真の画像データDがとり得る上限値やそれに近い値であることを利用して、例えば予め真の画像データDがとり得る上限値やそれに近い値を閾値として定め、閾値以上の真の画像データDについては一律に上記の平均値Daveの算出の対象から除外するように構成することが可能である。例えば、真の画像データDが0~65535=216-1の値をとり得る場合、閾値を例えば64000に設定すれば、64000以上の値の真の画像データDは、一律に上記の平均値Daveの算出の対象から除外される。また、もう1つの方法として、例えば、画像処理装置としてのコンソール58で放射線画像を生成するために行われる、被写体が撮影されている領域の認識処理以下、被写体領域認識処理という。の結果を用いるように構成することも可能である。被写体領域認識処理では、例えば図35Aに示すように、真の各画像データDm,nの中から、例えばライン番号Nの走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Nに対応する真の画像データDm,Nを抽出する。そして、抽出した真の画像データDm,Nを信号線6のライン番号mの順にプロットする。すると、図35Bに示すように、放射線が被写体を介さずに放射線画像撮影装置1に直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDは、真の画像データDがとり得る値の上限値或いはそれに近い値になるが、被写体が撮影されている部分の真の画像データDはそれより小さな値になる。そこで、このプロファイルを解析することで、ライン番号Nの走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Nに対応する真の各画像データDm,Nについて、図35Bに示すように、被写体が撮影されている領域Roが決まる。そして、この処理を、各走査線5ごとに行うことで、図35Cに示すように、全ての真の画像データDにおける被写体が撮影されている領域Roを決定して認識することができる。被写体領域認識処理では、このようにして、全ての真の画像データDにおいて被写体が撮影されている領域Roが認識されるようになっている。そこで、この被写体領域認識処理の結果を用い、被写体が撮影されている領域Ro以外の領域に属する真の画像データDm,nを、上記の平均値Daveの算出の対象から除外するように構成することが可能である。画像処理装置としてのコンソール58は、上記のようにして真の画像データDm,nの走査線5ごとの平均値Daveを算出すると図33参照、続いて、平均値Daveのプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲を特定するようになっている。このプロファイル中で、欠損を生じている真の画像データDの平均値Daveは、欠損を生じていない真の画像データDの平均値Daveの全体的な推移のトレンドから外れる状態になる。そこで、本実施形態では、例えば以下のようにして欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定するようになっている。放射線画像撮影装置1では、放射線の照射開始を検出した画像データdの読み出し処理の際検出方法2の場合、或いは放射線の照射開始を検出したリークデータdleakの読み出し処理の直前の各放射線検出素子7のリセット処理の際検出方法1の場合に、ゲートドライバ15bからオン電圧を印加した走査線5のライン番号nを認識することができる。以下、この走査線5のライン番号をNaとする。例えば図27に示した例では、このライン番号Naの走査線5は、放射線の照射開始が検出された画像データdの読み出し処理でオン電圧が印加された走査線5のラインLn2すなわちこの場合、ライン番号Naはn2に相当する。また、放射線画像撮影装置1は、コンソール58に画像データD等を送信する際、この走査線5のライン番号Naも同時に送信するように構成される。画像処理装置としてのコンソール58は、図36に示すように、真の画像データDの平均値Daveのプロファイルにおいて、この放射線の照射開始が検出された際にオン電圧が印加されていたライン番号Naの走査線5から順に、それ以前にオン電圧が印加されたライン番号Na-1、Na-2、...の各ライン番号に対応する平均値Daveを見ていく。そして、まず、DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値を算出し、差分ΔDaveの絶対値が、予め0に近い小さな値に設定された閾値未満であるか否かを判断する。図36の例では、DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値は閾値以上であるから、続いて、DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値を算出し、差分ΔDaveの絶対値が閾値未満であるか否かを判断する。この処理を繰り返していくと、図36の例では、DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値も、DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値も、ともに閾値以上になるが、閾値以上DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値が初めて閾値未満になる。そして、この場合は、ライン番号Na-3の走査線5にオン電圧が印加されて行われた各放射線検出素子7のリセット処理検出方法1の場合や画像データdの読み出し処理検出方法2の場合と、ライン番号Na-2の走査線5にオン電圧が印加されて行われた各放射線検出素子7のリセット処理や画像データdの読み出し処理との間のタイミングで、放射線源52図11、図12参照から実際に放射線画像撮影装置1に放射線が照射されたと判断することができる。そこで、コンソール58は、この場合は、ライン番号Na-2の走査線5を、画像データDに欠損が生じ始めた最初の走査線5として認識するようになっている。そして、この場合、欠損を生じている真の画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲は、ライン番号Na-2、Na-1、Naの3本の走査線5に接続されている各放射線検出素子7に対応する真の画像データDとして特定される。すなわち、真の各画像データDm,nのうち、真の画像データDm,Na-2、Dm,Na-1、Dm,Naが欠損を生じている真の画像データDの範囲として特定される。なお、図37に矢印Aで示すように、欠損を生じている真の画像データDの範囲図中の2本の一点鎖線の間の範囲の中でも、平均値Daveの差分ΔDaveの絶対値が閾値未満になることがあり得る。そのため、上記のように、走査線5のライン番号nを繰り下げながら上記の差分ΔDaveを算出していき、平均値Dave同士の差分ΔDaveの絶対値が閾値未満になっても差分ΔDaveの算出や差分ΔDaveの絶対値と閾値との比較を続行するように構成する。そして、絶対値が閾値未満になる差分ΔDaveが連続して現れる状態になったことが確認された時点で、欠損を生じている真の画像データDの範囲から外れたと判断して、欠損を生じている真の画像データDの範囲の検索処理を終了するように構成することも可能である。また、上記の手法の他にも、例えば、より厳密な画像処理等を行って、欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定するように構成することも可能である。画像処理装置としてのコンソール58は、上記のようにして、欠損を生じている真の画像データDの範囲上記の例ではライン番号Na-2~Naの3本の走査線5の範囲を特定すると、続いて、特定した範囲の真の画像データDを修復するようになっている。欠損を生じている真の画像データDを修復する手法としては、例えば下記のような手法を採用することができる。例えば、図36に示した例で言えば、欠損を生じている真の画像データDの範囲として特定した平均値Dave~Daveより図中で左側の平均値Daveや平均値Dave或いは図中でさらに左側の各平均値Daveを含む範囲の各平均値Daveを、例えば図38に示すように直線Lapで直線近似する。すなわち、Dap=a×nb...2の形に直線近似する。そして、平均値Dave、Dave、Daveは、欠損を生じていなければ、本来的には、Na-2、Na-1、Naをそれぞれ上記2式に代入して得られるa×Na-2b、a×Na-1b、a×Nabであるはずであると考える。そして、ライン番号Na-2の走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Na-2に対応する真の各画像データDm,Na-2に対して、{a×Na-2b}/Daveを乗算し、すなわち、Dm,Na-2×{a×Na-2b}/Dave...3の演算を行って、ライン番号Na-2の走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Na-2に対応する真の各画像データを修復する。ライン番号Na-1、Naの各走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Na-1、m,Naに対応する真の各画像データDm,Na-1、Dm,Naについても同様に、Dm,Na-1×{a×Na-1b}/Dave...4Dm,Na×{a×Nab}/Dave...5の演算を行って、ライン番号Na-1、Naの各走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Na-1、m,Naに対応する真の各画像データを修復する。このようにして、欠損を生じている真の画像データDの範囲として特定した範囲の真の画像データDを、直線近似等の方法を用いてそれぞれ的確に修復することが可能となる。また、もう1つの修復方法として、例えば、画像処理装置としてのコンソール58が、予め、欠損を生じている真の画像データDの範囲に対応する放射線画像撮影装置1の各走査線5すなわち上記の例ではライン番号Na-2~Naの各走査線5のうち、欠損が生じ始めた最初の走査線5すなわち上記の例ではライン番号Na-2の走査線5から修復対象の走査線5までの本数と、当該修復対象の走査線5に接続されている各放射線検出素子7に対応する真の画像データDに乗算すべき係数との関係の情報を有しておくように構成する。すなわち、例えば、欠損が生じ始めた最初の走査線5から1本目の走査線5すなわち上記の例ではライン番号Na-2の走査線5では、当該走査線5に接続されている各放射線検出素子7に対応する真の画像データDに乗算すべき係数を例えば1.1とする。また、欠損が生じ始めた最初の走査線5から2本目の走査線5すなわち上記の例ではライン番号Na-1の走査線5では、当該走査線5に接続されている各放射線検出素子7に対応する真の画像データDに乗算すべき係数を例えば1.2とする。さらに、欠損が生じ始めた最初の走査線5から3本目の走査線5すなわち上記の例ではライン番号Naの走査線5では、当該走査線5に接続されている各放射線検出素子7に対応する真の画像データDに乗算すべき係数を例えば1.3とする。このような関係の情報を、コンソール58が予め有しておくように構成する。なお、この関係は、予め実験を行う等して求めておく。また、この関係は、上記のように欠損が生じ始めた最初の走査線5から何本目の走査線5までの情報を有しておくかは、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出感度等に応じて適宜決められる。そして、コンソール58は、上記のようにして真の画像データDや平均値Daveのプロファイルを解析して、欠損が生じ始めた最初の走査線5や欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定すると、上記の情報を参照して、特定した範囲の真の各画像データDに対して、当該真の画像データDに対応する放射線検出素子7が接続されている走査線5に割り当てられている上記の係数をそれぞれ乗算する。このようにして、欠損を生じている真の画像データDの範囲として特定した範囲の真の画像データDを、上記の走査線5と係数の関係の情報を用いてそれぞれ的確に修復することが可能となる。また、上記の手法の他にも、例えば、より厳密な画像処理を行う等して、欠損を生じている真の画像データDを修復するように構成することも可能である。以上のように、本実施形態に係る放射線画像撮影システム50によれば、放射線画像撮影装置1で、放射線画像撮影前に、リークデータdleakの読み出し処理や画像データdの読み出し処理を行い、読み出したリークデータdleakや画像データdの値に基づいて放射線の照射開始を検出するように構成した。そのため、前述した特許文献4や特許文献5に記載された発明のように、例えば放射線画像撮影装置1にバイアス線9等を流れる電流を検出する電流検出手段を設けなくても、読み出したリークデータdleakや画像データdの値に基づいて放射線画像撮影装置1自体で放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。また、電流検出手段を設けないため、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線9を介して各放射線検出素子7に伝わって画像データDにノイズとして重畳される等の問題が生じることを確実に防止することが可能となる。また、放射線画像撮影装置1での放射線の照射開始の検出を上記のようにして行うと、画像データD中に線欠陥が不可避的に発生する。そして、放射線の照射開始の検出に用いる演算手法によっては、線欠陥が連続して多数発生する場合がある。本実施形態に係る放射線画像撮影システム50によれば、このような状況において、放射線の照射開始の検出に用いる演算手法に応じて、欠損を生じている画像データDの範囲を特定する。そして、特定した範囲の画像データDを、当該演算手法に対応する修復方法によって修復する。そのため、例えば演算手法A~Cの場合のように線欠陥が1、2本程度の場合図26参照には隣接する画像データDで補間し、例えば演算手法Dの場合のように線欠陥が連続して多数発生する場合には、画像データD或いは真の画像データD或いはそれらの平均値のプロファイルを解析して図38等参照、それぞれ演算手法に特性に応じて、欠損を生じている画像データDを適切に修復することが可能となる。そして、適切に修復された画像データDに基づいて放射線画像を的確に生成することが可能となる。そのため、放射線画像に線欠陥が写り込んで放射線画像が見難くなったり、医師等が、線欠陥と病変部を見誤ったり線欠陥のために病変部を見落としたりすることを的確に防止することが可能となる。なお、上記の実施形態では、放射線画像撮影装置1において放射線の照射開始を検出するために用いられる演算手法として、演算手法A平均値法や演算手法B差分法、演算手法CMax-Min法、演算手法D積算法を挙げた。しかし、本発明は、これらの4つの演算手法を用いる場合に限定されず、放射線画像撮影前に読み出したリークデータdleakや画像データdを互いに異なる複数の演算手法で演算して算出した各値に基づいて放射線の照射開始の検出を行うものであれば、演算手法は特定の手法に限定されない。また、欠損を生じている画像データDの修復方法も、上記の実施形態で示した例に限定されない。例えば、検出方法2を採用して放射線画像撮影前に画像データdの読み出し処理を行う場合、例えば読み出した画像データdを保存しておき、放射線画像撮影装置1から画像処理装置に本画像としての画像データD等を送信する際に画像データdも同時に送信する。そして、画像処理装置で、欠損を生じている画像データDに画像データdを加算することで画像データDを修復するように構成することも可能である。さらに、放射線画像撮影装置1の検出部P図4や図7参照が複数の領域に分割されている場合がある。そして、各領域で、読み出されたリークデータdleakや画像データdを互いに異なる複数の演算手法で演算して算出した各値に基づいてそれぞれ放射線の照射開始の検出を行うように構成される場合がある。この場合、いずれかの領域で放射線の照射開始が検出されれば、各領域で同時に検出処理を停止して電荷蓄積状態に移行するように構成されると考えられる。また、その際、検出部Pの各領域のうち、複数の領域で同時に放射線の照射開始が検出され、しかも、検出の際に用いられた演算手法が領域ごとに異なる場合があり得る。その場合、各領域ごとに、放射線の照射開始の検出に用いられた演算手法に基づいてそれぞれ修復処理を行うように構成することも可能である。また、各領域で放射線の照射開始の検出に用いられた演算手法のうち、放射線源52から放射線画像撮影装置1に対して実際に放射線の照射が開始されてから放射線画像撮影装置1で放射線の照射開始が検出されるまでの応答時間が最も長い演算手法を選び、それに対応した修復方法により、各領域の欠損を生じている可能性がある画像データDを修復するように構成することも可能である。なお、その他、本発明が上記の各実施形態に限定されず、適宜変更可能であることは言うまでもない。"