複数の試験パターンを用いた処理を試験対象のメモリに対して実行させ、前記試験パターンごとに、当該試験パターンを用いた処理の実行中に前記メモリに流れる電流値の観測結果を記憶部に記録し、前記記憶部に記録された前記試験パターンごとの前記観測結果に基づいて、前記メモリに対する試験の有効性に関して前記複数の試験パターンの優劣を判定する処理をコンピュータが実行するメモリ試験支援方法。前記優劣の判定結果に基づいて、前記メモリの試験に使用する試験パターンを選択し、選択された試験パターンを用いた処理を実行する処理を前記コンピュータが実行する請求項1記載のメモリ試験支援方法。前記判定する処理は、前記試験パターンごとの前記電流値の最大値に基づいて、前記優劣を判定する請求項1又は2記載のメモリ試験支援方法。前記判定する処理は、前記試験パターンごとの前記電流値の所定時間内の変化の大きさに基づいて、前記優劣を判定する請求項1又は2記載のメモリ試験支援方法。前記判定する処理は、前記試験パターンごとの前記電流値が所定の閾値を超えた期間に基づいて、前記優劣を判定する請求項1又は2記載のメモリ試験支援方法。複数の試験パターンを用いた処理を試験対象のメモリに対して実行させる実行部と、前記試験パターンごとに、当該試験パターンを用いた処理の実行中に前記メモリに流れる電流値の観測結果を記憶部に記録する記録部と、前記記憶部に記録された前記試験パターンごとの前記観測結果に基づいて、前記メモリに対する試験の有効性に関して前記複数の試験パターンの優劣を判定する判定部とを有するメモリ試験支援装置。しかしながら、従来、試験パターンの有効性は、試験対象メモリに対して試験パターンを走行させた場合にメモリの故障が検出されるか否かに基づいて判断されていた。このことは、試験対象メモリに対して有効な試験パターンを探し出す前に、故障しているメモリを探し出す必要があり、その上で、各試験パターンによって故障が検出されるか否かが確認される必要があることを意味する。したがって、試験対象メモリに対して有効な試験パターンの選択には、非常に時間がかかるという問題があった。そこで、試験対象のメモリに適した試験パターンの選択を効率化することのできるメモリ試験支援方法及びメモリ試験支援装置の提供を目的とする。そこで上記課題を解決するため、メモリ試験支援方法は、複数の試験パターンを用いた処理を試験対象のメモリに対して実行させ、前記試験パターンごとに、当該試験パターンを用いた処理の実行中に前記メモリに流れる電流値の観測結果を記憶部に記録し、前記記憶部に記録された前記試験パターンごとの前記観測結果に基づいて、前記メモリに対する試験の有効性に関して前記複数の試験パターンの優劣を判定する処理をコンピュータが実行する。試験対象のメモリに適した試験パターンの選択を効率化することができる。以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。図1は、本発明の実施の形態におけるメモリ試験支援装置のシステムボードのハードウェア構成例を示す図である。同図において、メモリ試験支援装置のシステムボードSBは、電源101、ROM102、メモリ103a~d、CPU104、メモリコントローラ105、I/Oコントローラ106、PCIスロット107、LANLocalAreaNetworkカード108、グラフィックボード109、及びDC-DCコンバータ110a~c等を有する。電源101は、システムボードSB上の各部に電流を供給する。ROM102は、本実施の形態で使用されるメモリ試験支援プログラム等を記憶する。なお、当該プログラムは非図示の補助記憶装置が記憶していてもよい。ROM102が記憶するプログラムは、メモリ103a~d以下、それぞれを区別しない場合、メモリ103という。又はCPU104内のキャッシュにロードされる。メモリ103a~dのそれぞれは、例えば、DIMMDualInlineMemoryModule又はSIMMSingleInlineMemoryModule等であり、本実施の形態において試験対象とされる。CPU104は、ロードされたプログラムに従った処理を実行する。メモリコントローラ105は、CPU104と、メモリ103又はROM102との間のデータのやりとりの制御等を行う。I/Oコントローラ106は、PCIスロット107やLANカード108等に関する入出力制御を行う。グラフィックカードは、映像を信号として出力する。DC-DCコンバータ110a~cは、電源101からの電流を、メモリ103、CPU104、又はグラフィックボード109等に供給する。システムボードSB上には、更に、メモリ103に供給される電流値を測定又は計測するための電流値測定器125が接続されている。電流値測定器125によって測定された電流値は、常時CPU104のレジスタ121に記録される。図2は、本発明の実施の形態におけるメモリ試験支援装置の機能構成例を示す図である。同図において、メモリ試験支援装置10は、試験実行部131、記録部132、及び優劣判定部133等を有する。これら各部は、メモリ103にロードされたメモリ試験支援プログラムがCPU104に実行させる処理によって実現される。メモリ試験支援装置10は、また、観測結果記憶部134を有する。観測結果記憶部134は、例えば、レジスタ121又はメモリ103等を用いて実現される。試験実行部131は、複数の試験パターンを用いた処理又は試験パターンが示す処理を順次例えば、シーケンシャルに実行する。試験パターンとは、メモリ103へのアクセスパターンとメモリ103に書き込むデータのパターンとに基づいて、メモリ103への書き込み及び読み込みを実施し、メモリ103の故障を検出するプログラムである。各試験パターンは、アクセスパターン又はデータパターンが相互に相違する。各試験パターンは、試験実行部131に含まれていてもよいしすなわち、試験実行部131の一部を構成してもよいし、試験実行部131に含まれていなくてもよい。各試験パターンが試験実行部131に含まれている場合、メモリ試験支援プログラムは、メモリ試験プログラムとしても機能する。各試験パターンが試験実行部131に含まれていない場合、試験実行部131は、試験パターンを含むメモリ試験プログラムを起動することになる。なお、本実施の形態において、試験実行部131は、一以上のタスク同図における試験タスクTa内において動作する。以下において、試験タスクTaが実行する処理は、試験実行部131が実行する処理であるともいえる。また、本実施の形態において、試験パターンを用いた処理の実行を、単に、試験パターンの実行という。記録部132は、試験パターンの実行中において電流値測定器125によって測定される電流値を一定周期でつまり、定期的に観測し、観測結果を試験パターンごとに観測結果記憶部134に記録する。なお、記録部132は、試験実行部131からの試験パターンの開始通知及び終了通知等に基づいて、試験パターンの切り替わりを検知する。優劣判定部133は、観測結果記憶部134が試験パターン別に記憶する、電流値の観測結果を相互に比較することにより、メモリ103に対する試験の有効性又は適性に関して各試験パターンの優劣を判定する。ここでいう、有効性又は適性とは、故障検出力が高い可能性のあることをいう。優劣判定部133は、また、優劣の判定結果に基づいて、メモリ103の試験に使用する試験パターンを選択する。すなわち、本願発明者は、過去に行った試験において、メモリの故障が検出されたときは、メモリに流れる電流値が大きいという点に着眼した。そこで、本願発明者は、試験対象のメモリにより大きな電流値を流すことができる試験パターンであれば、当該メモリの故障を検出できる可能性が高いであろうと考えた。斯かる考えに基づいて、記録部132は、試験パターの実行中の電流値の観測結果を記録し、優劣判定部133は、観測結果に基づいて試験パターンの優劣を判定する。なお、本実施の形態において、記録部132及び優劣判定部133は、一つのタスク同図における測定タスクTb内において動作する。図3は、試験タスクと測定タスクとの関係を説明するための図である。同図では、試験タスクTaが、試験パターンA、B、及びCを順次実行している例が示されている。試験タスクTaは、各試験パターンの開始を測定タスクTbに通知するNa、Nb、Nc。測定タスクTbは、開始通知に指定されている、試験パターンの識別名以下、試験パターン名という。を観測結果記憶部134に記録するRa、Rb、Rc。但し、試験パターンの順番を示す数値が試験パターン名として用いられてもよい。この場合、開始通知において試験パターン名は指定されなくてもよい。測定タスクTbは、開始通知の回数で、各試験パターンの順番を識別することが可能だからである。測定タスクTbは、また、開始通知後に、電流値測定器125によって測定又は計測され、レジスタ121に記録されている電流値を一定周期で観測又は参照する。測定タスクTbは、該電流値の観測結果を、現在実行中の試験パターンの試験パターン名に関連付けて、観測結果記憶部134に記録するRv。なお、試験タスクTa及び測定タスクTbは、例えば、CPU104がマルチコアであれば別々のCPUコアが実行し、CPU104がシングルコアであれば一つのCPUコアがタスクを切り替えながら実行する。また、複数の試験タスクTaが並列的に実行されてもよい。すなわち、同一の試験パターン例えば、試験パターンAに関して複数の試験タスクTaが実行されてもよい。同図では、試験タスクTaに関して三つの白抜きの矢印が示されているが、これは、三つの試験タスクTaが並列に実行されていることを示す。各試験タスクTaは、別々のCPUコアが実行してもよいし、一つのCPUコアが実行してもよい。なお、試験タスクTaが複数実行される場合、各試験タスクTaは、試験パターン単位で同期がとられる。以下、メモリ試験支援装置10の処理手順について説明する。図4は、メモリ試験支援装置の処理手順の一例を説明するためのフローチャートのである。また、図5は、試験タスクと測定タスクとのタイムチャートの一例を示す図である。図5に記されているステップ番号は、図4のステップ番号に対応する。試験タスクTaは、起動されると、変数nに1を代入するS101。変数nは、実行対象の試験パターンの順番を識別するための変数である。続いて、試験タスクTaは、試験パターンの開始を測定タスクTbに通知するS102。当該通知は、例えば、割り込み、プロセス間通信等を利用して行われればよい。または、測定タスクTbに所定のメモリ領域をポーリングさせ、当該メモリ領域に、試験パターンの開始通知を示す値が記録されてもよい。続いて、試験タスクTaは、n番目の試験パターン試験パターンnを実行させるS103。試験パターンnは、メモリ103の各アドレスに対して、データの書き込み及び読み込み等を実行する。試験パターンnが終了すると、試験タスクTaは、測定タスクTbとの処理を同期させるS104。例えば、試験タスクTaは、試験パターンnが終了したことを測定タスクTbに通知する。また、試験タスクTaは、終了通知に対する応答を待機する。当該同期は、割り込み、プロセス間通信、又はメモリ領域のポーリング等によって行えばよい。以下における、試験タスクTaと測定タスクTbとの同期方法も、同様でよい。一方、測定タスクTbは、試験パターンの開始の通知に応じ、当該試験パターンの試験パターン名を観測結果記憶部134に記録するS201。図6は、観測結果記憶部の構成例を示す図である。本実施の形態において、観測結果記憶部134は、テーブルL1、テーブルL2、テーブルL3、及びテーブルL4等を含む。なお、各テーブルは、便宜上、テーブル形式によって示されたものであって、例えば、レジスタ121又はメモリ103のアドレス同図におけるアドレス0~アドレス18によって、各テーブルの各項目が区別されてもよい。本実施の形態においても、当該アドレスによって、各項目が区別される。テーブルL1には、後述される、閾値連続超過回数を計数カウントするための、電流値に関する閾値電流閾値が予め記録されている。電流閾値は、試験対象のメモリ103に流れる電流の最大値以下であって、当該最大値に近い値が好ましい。例えば、当該最大値に、0.9等の係数を乗じた値が、電流閾値として設定されてもよい。当該最大値は、例えば、ストリームstream等のメモリの性能評価ツールによって測定されてもよい。同図では、電流閾値として、35Aが設定された例が示されている。テーブルL2には、試験パターンごとに、最大電流値が記録される。最大電流値とは、試験パターンの実行中に観測された最大の電流値をいう。テーブルL3には、試験パターンごとに、最大電流変動値が記録される。最大電流変動値とは、一定周期に観測される電流値レジスタ125に記録された電流値に関して、前回の観測値との差分変動が最大である値をいう。具体的には、最大電流変動値とは、一つの試験パターンの実行中において、N回目に観測された電流値とNmm≧1回目に観測された電流値との差分の中の最大値をいう。なお、電流値は一定周期で観測されているため、当該差分は、所定期間における電流値の変化の大きさを示すといえる。還元すれば、一定周期の回数でなく、時間単位で電流値の変動変化の大きさが計測されてもよい。テーブルL4は、試験パターンごとに、閾値連続超過回数が記録される。最大閾値連続超過回数とは、一定周期で観測される電流値が、一つの試験パターンの実行中において、連続して電流閾値を超えた回数の最大値をいう。例えば、或る試験パターンに関して、N回目からN6回目に観測された電流値が電流閾値を超えており、更に、N12回目からN14回目まで観測された電流値が電流閾値を超えている場合、当該試験パターンに関する最大閾値連続超過回数は、N回目からN6回目までの7回となる。なお、電流値は一定周期で観測されているため、閾値連続超過回数は、電流値が閾値を超えた期間を示すといえる。換言すれば、一定周期の回数でなく、電流値が電流閾値を超過している状態が時間単位で計測されてもよい。上記したステップS201において、記録部132は、試験パターンnの試験パターン名を、テーブルL2、テーブルL3、及びテーブルL4の最下位のレコードの試験パターン名の項目に記録する。図6の例では、アドレス5、アドレス11、及びアドレス17に、同一の試験パターン名が記録される。なお、本実施の形態において、各テーブルのレコード数は、当初より決まっていることとする。当該レコード数は、試験タスクTaが実行する試験パターンの総数より少なくてもよい。全ての試験パターンの中から、試験対象のメモリ103Nに適した上位N個の試験パターンを抽出したい場合、各テーブルは、N1個のレコードを有していればよい。続いて、測定タスクTbの記録部132は、電流値測定器125によって測定され、レジスタ121に記録される電流値を一定周期で観測し、観測結果を観測結果記憶部134に記録するS202。具体的には、最大電流値、最大電流変動値、及び最大閾値連続超過回数が、テーブルL2、テーブルL3、又はテーブルL4のそれぞれの最下位のレコードに記録される。図6の例において、最大電流値、最大電流変動値、及び最大閾値連続超過回数は、アドレス6、アドレス12、又はアドレス18に記録される。なお、最大電流値としては、まず、最初に観測された電流値が記録される。その後、最大電流値よりも大きな電流値が観測されると、最大電流値は当該電流値によって更新される。また、最大電流変動値としては、まず、最初に観測された電流値と2番目に観測された電流値との差分が記録される。その後、N番目の観測値とN1番目の観測値との差分が、そのときの最大電流変動値を超える場合、当該観測値によって、最大電流変動値は更新される。また、最大閾値連続超過回数としては、まず、電流閾値を超えた電流値が初めて観測されたときに1が記録される。当該観測時から連続して観測値が電流閾値を超えるたびに最大閾値連続超過回数に1が加算される。その後、観測値が電流閾値以下となり、再度観測値が電流閾値を超えると、レジスタ121又はメモリ103内においてアドレス18とは別のアドレス例えば、非図示のアドレス19に1が記録される。当該観測時から連続して観測値が電流閾値を超えるたびにアドレス19に1が加算される。その後、観測値が電流閾値以下となったときに、アドレス19の値の方が、そのときの最大閾値連続超過回数より大きければ、最大閾値連続超過回数は、アドレス19に記録されている値によって更新される。以上の処理が、試験パターンの実行中、継続的に行われる。続いて、測定タスクTbの優劣判定部133は、試験パターンnの終了が試験タスクTaから通知されると、テーブル2、テーブル3、及びテーブル4ごとに、レコードを観測結果の降順にソートするS203。すなわち、観測結果の優劣が判定される。ここで、観測結果とは、最大電流値、最大電流変動値、又は最大閾値連続超過回数をいう。したがって、最初の試験パターンに関してステップS203が実行される場合、図6において、アドレス5、アドレス11、及びアドレス17の試験パターン名は、アドレス1に、アドレス7、又はアドレス13に転記される。また、アドレス6、アドレス12、アドレス18の値は、アドレス2、アドレス8、又はアドレス14に転記される。なお、図6において、各テーブルにおける順位は、ソート結果の順位を示す。優劣判定部133は、ソートが終了すると、試験パターンの終了通知に対する応答を試験タスクTaに対して行う。試験タスクTaは、当該応答に応じ、次の順番の試験パターンに関してステップS102~S104を実行するS105でNo、S106。一方、測定タスクTbは、当該次の順番の試験パターンに関してステップS201~S203を実行する。斯かる処理が、全ての試験パターンの実行が終了するまで繰り返されるS105。なお、各試験パターンの試験パターン名及び観測結果は、当初は各試験パターンに関するステップS201及びS202においては、観測結果記憶部134の各テーブルの最下位のレコードに記録される。すなわち、観測結果記憶部134の各テーブルの最下位のレコードは、試験パターンごとに常に上書きされる。その後、ステップS203のソートによって、当該試験パターンの観測結果の方が上位のレコードのいずれかより大きければ、最下位のレコードの内容は、上位のレコードの内容と入れ替えられる。その結果、各テーブルのレコード数がそれぞれNであるとすると、全ての試験パターンの終了時において、各テーブルには、最下位以外のレコード以外において、全ての試験パターンの観測結果の上位N-1番目までの試験パターンに関する観測結果が記録された状態となる。なお、ソート結果は、テーブルごとに異なりうる。なお、観測結果記憶部134が記録されるレジスタ121又はメモリ103が、全ての試験パターンに関する観測結果を記憶可能な容量を有していれば、試験パターンごとに観測結果がソートされなくてもよい。例えば、各テーブルの上位のレコードから順に、各試験パターンの観測結果が記録され、全ての試験パターンの終了後に、テーブルごとにソートが行われればよい。全ての試験パターンが終了するとS105でYes、試験タスクTaは、全試験パターンの実行の終了を測定タスクTbに通知するS107。当該通知に応じ、測定タスクTbの優劣判定部133は、観測結果記憶部134のテーブル2、テーブル3、及びテーブル4に基づいて、メモリ103の試験に使用する試験パターンを自動的に選択するS204。例えば、優劣判定部133は、テーブル2、テーブル3、及びテーブル4のそれぞれより、最上位又は上位M番目までのレコードに記録されている試験パターン名を取得する。すなわち、全ての試験パターンの中で、最大電流値が最大若しくは上位M番目までの試験パターン名、最大電流変動値が最大若しくは上位M番目までの試験パターン名、又は最大閾値連続超過回数が最大若しくは上位M番目までの試験パターン名が取得される。なお、各テーブルから取得される試験パターン名は、一致するとは限らない。各テーブルのソート結果は、異なりうるからである。したがって、選択される試験パターンは、必ずしも一つではない。続いて、優劣判定部133は、取得された試験パターン名を試験タスクTaに通知するS205。当該通知に応じ、試験タスクTaは、通知された試験パターン名に係る試験パターンを所定時間例えば、2時間等実行するS108。該当する試験パターンが複数有る場合、各試験パターンが任意の順番で実行されればよい。図5では、電流値を示す曲線より明らかなように、試験パターンA~Eの中で、最大電流値、最大電流変動値、及び最大閾値連続超過回数のいずれもが最大である試験パターンEが、実行された例が示されている。但し、自動的に試験は実行されずに、選択された試験パターン名が、ユーザに認識可能な形態で出力例えば、表示、印刷、又はネットワーク送信等されてもよい。なお、実行対象とする試験パターンを所定数例えば、一つに限定したい場合であって、ステップS204において選択された試験パターンが所定数より多かった場合、多数決によって試験パターンが選択されてもよい。すなわち、三つのテーブルより取得された試験パターン名のうち、二つのテーブルより取得された試験パターン名が一致する場合、当該試験パターン名に係る試験パターンが選択されてもよい。また、ユーザが実行したい試験に応じて、選択対象を変換させてもよい。すなわち、メモリ103に対する瞬間的な負荷を重視した試験を行いたい場合は、最大電流値が最大である試験パターンが選択されればよい。また、メモリ103に対する負荷の変化を重視した試験を行いたい場合は、最大電流変動値が最大である試験パターンが選択されればよい。また、メモリ103に対する継続的な負荷を重視した試験を行いたい場合は、最大閾値連続超過回数が最大である試験パターンが選択されればよい。ユーザがいずれを重視した試験を行いたいかについては、予め設定情報としてROM102又は非図時の補助記憶装置等に記録されていてもよいし、GUIGraphicalUserInterfaceを表示させて、対話的にユーザに入力させてもよい。また、試験パターンは自動的に選択されなくてもよい。例えば、ユーザは、観測結果記憶部134の各テーブルに記録された内容を参照することで、各試験パターンの優劣を判断することができる。換言すれば、観測結果記憶部134の各テーブルが記録されることで、試験パターンの選択に関して有効な判断材料をユーザに提供することができる。その結果、試験パターンの選択を効率化することができる。観測結果記憶部134の各テーブルに記録された内容の参照を容易にするため、例えば、優劣判定部133は、当該内容をユーザに認識可能な形態で出力してもよい。上述したように、本実施の形態によれば、試験対象のメモリ103の故障を検出し易い試験パターンの選択を効率化することができる。すなわち、従来のように、故障が検出されるまで試験パターンを実行し続けなくても、試験対象のメモリ103に適した試験パターンを選択することができる。その結果、メモリ試験全体の工数を削減することもできる。また、選択された試験パターンが自動的に実行されるため、メモリ試験の作業負担を軽減することができる。また、最大電流値、最大電流変動値、又は最大閾値連続超過回数等のパラメータごとに、試験パターンを選択することができるため、ユーザが重視したい観点に合わせた試験パターンを選択することもできる。なお、最大電流値、最大電流変動値、又は最大閾値連続超過回数以外の他のパラメータを記録することにより、当該他のパラメータに基づいて、試験パターンの優劣が判定されてもよい。例えば、観測された電流値が、電流閾値を超えた合計回数の最大値が試験パターンごとに記録されてもよい。また、最小の電流値と最大の電流値との差分が試験パターンごとに記録されてもよい。また、電流値の平均値が試験パターンごとに算出及び記録されてもよい。また、観測された電流値が、電流閾値を超えていた時間が記録されてもよい。または、該時間の試験パターン実行時間に対する割合が算出及び記録されてもよい。更に、試験パターンが分割された単位ごとに、観測結果が記録されてもよい。当該単位ごとに、優劣が判定されてもよい。換言すれば、本実施の形態において、試験パターンの単位は、任意に定められてよい。以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は斯かる特定の実施形態に限定されるものではなく、請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形変更が可能である。