"アヌレン構造を有する有機化合物、及び下記一般式1又は2で表わされる部分構造を有する有機化合物を含有することを特徴とする有機電子デバイス用組成物。式1~2中、Xは、酸素原子又は硫黄原子を示し、Zは硫黄原子又はリン原子を示す。nは、1又は2を示し、nが2である場合の2つのXは酸素原子を示す。X及びZがどちらも硫黄原子であることはない。アヌレン構造を有する有機化合物、及びウレア結合、チオウレア結合、ホスフィンオキシド結合、ホスフィンスルフィド結合、スルフォキシド結合又はスルホン結合を有する有機化合物を含有することを特徴とする有機電子デバイス用組成物。アヌレン構造を有する有機化合物、及び下記一般式11乃至16の何れかで表わされる構造の有機化合物を含有することを特徴とする有機電子デバイス用組成物。式11~16中、A1~A18は、各々独立に水素原子、置換基を有してもよい炭素数1~50のアルキル基又は置換基を有してもよい炭素数4~50の芳香環基を表す。前記アヌレン構造を有する有機化合物が、ベンゾポルフィリン化合物又はビシクロベンゾポルフィリン化合物であることを特徴とする、請求項1乃至3の何れか1項に記載の有機電子デバイス用組成物。更に有機溶媒を含む請求項1乃至4の何れか1項に記載の有機電子デバイス用組成物。請求項1乃至5の何れか1項に記載の有機電子デバイス用組成物を湿式成膜することにより有機半導体層を形成させる工程を有することを特徴とする有機電子デバイスの作製方法。請求項6に記載の有機電子デバイスの作製方法であって、前記有機電子デバイス用組成物が前記アヌレン構造を有する有機化合物としてビシクロベンゾポルフィリン化合物を含有し、前記有機半導体層を形成させる工程が、前記ビシクロベンゾポルフィリン化合物を含有する有機電子デバイス用組成物を基板上に塗布した後、前記ビシクロベンゾポルフィリン化合物を逆ディールスアルダー反応によりベンゾポルフィリン化合物に変化させる工程を含むことを特徴とする有機電子デバイスの作製方法。請求項6又は7に記載の有機電子デバイスの作製方法により作製されたことを特徴とする有機電子デバイス。基板上に、アヌレン構造を有する有機化合物、及び下記一般式1又は2で表わされる構造を有する有機化合物を含有する有機半導体層を有することを特徴とする有機電子デバイス。請求項8又は9に記載の有機電子デバイスが、少なくとも有機半導体層、ゲート絶縁体層、ゲート電極、ソース電極及びドレイン電極を有する電界効果トランジスタである電界効果トランジスタ。前記ソース電極と前記ドレイン電極との最短距離が500μm以下であることを特徴とする、請求項10に記載の電界効果トランジスタ。本発明は上記の問題を鑑みてなされたものであり、電荷輸送性や移動度が高く、安定性に優れた有機半導体層、及びOn/Off比が高い有機電子デバイスを提供すること目的とする。また、この有機電子デバイスを低コストに製造する方法を提供することを目的とする。本発明者らは、上記課題に鑑み鋭意検討を行った。この結果、特定構造の有機半導体化合物と特定の有機化合物とを含有する有機電子デバイス用組成物を用いることにより、有機半導体化合物のみを含有する有機電子デバイス用組成物を用いるよりも移動度及びOn/Off比が向上し、上述の課題も解決可能であることを見出し、本発明を完成した。すなわち、本発明の第1の要旨は、アヌレン構造を有する有機化合物、及び下記一般式1又は2で表わされる部分構造を有する有機化合物を含有することを特徴とする有機電子デバイス用組成物に存する。式1~2中、Xは、酸素原子又は硫黄原子を示し、Zは硫黄原子又はリン原子を示す。nは、1又は2を示し、nが2である場合の2つのXは酸素原子を示す。X及びZがどちらも硫黄原子であることはない。に存する。本発明の第2の要旨は、アヌレン構造を有する有機化合物、及びウレア結合、チオウレア結合、ホスフィンオキシド結合、ホスフィンスルフィド結合、スルフォキシド結合又はスルホン結合を有する有機化合物を含有することを特徴とする有機電子デバイス用組成物に存する。本発明の第3の要旨は、アヌレン構造を有する有機化合物、及び下記一般式11乃至16の何れかで表わされる構造の有機化合物を含有することを特徴とする有機電子デバイス用組成物に存する。式11~16中、A1~A18は、各々独立に水素原子、置換基を有してもよい炭素数1~50のアルキル基又は置換基を有してもよい炭素数4~50の芳香環基を表す。本発明の第4の要旨は、前記アヌレン構造を有する有機化合物がベンゾポルフィリン化合物又はビシクロベンゾポルフィリン化合物であることを特徴とする、第1乃至3の何れかの要旨に記載の有機電子デバイス用組成物に存する。本発明の第5の要旨は、更に有機溶媒を含む第1乃至4の何れかの要旨に記載の有機電子デバイス用組成物に存する。本発明の第6の要旨は、第1乃至5の何れか1つの要旨に記載の有機電子デバイス用組成物を湿式成膜することにより有機半導体層を形成させる工程を有することを特徴とする有機電子デバイスの作製方法に存する。本発明の第7の要旨は、第6の要旨に記載の有機電子デバイスの作製方法であって、前記有機電子デバイス用組成物が前記アヌレン構造を有する有機化合物としてビシクロベンゾポルフィリン化合物を含有し、前記有機半導体層を形成させる工程が、前記ビシクロベンゾポルフィリン化合物を含有する有機電子デバイス用組成物を基板上に塗布した後、前記ビシクロベンゾポルフィリン化合物を逆ディールスアルダー反応によりベンゾポルフィリン化合物に変化させる工程を含むことを特徴とする有機電子デバイスの作製方法に存する。本発明の第8の要旨は、第6又は7の要旨に記載の有機電子デバイスの作製方法により作製されたことを特徴とする有機電子デバイスに存する。本発明の第9の要旨は、基板上に、アヌレン構造を有する有機化合物、及び下記一般式1又は2で表わされる構造を有する有機化合物を含有する有機半導体層を有することを特徴とする有機電子デバイスに存する。本発明の第10の要旨は、第8又は9の要旨に記載の有機電子デバイスが、少なくとも有機半導体層、ゲート絶縁体層、ゲート電極、ソース電極及びドレイン電極を有する電界効果トランジスタである電界効果トランジスタに存する。本発明の第11の要旨は、前記ソース電極と前記ドレイン電極との最短距離が500μm以下であることを特徴とする、第10の要旨に記載の電界効果トランジスタに存する。本発明によれば、電荷輸送性や移動度が高く、安定性に優れた有機半導体層、及びOn/Off比が高い有機電子デバイスを得ることが可能となる。また、この有機電子デバイスを低コストに製造することが可能となる。本発明の実施形態を以下に詳細に説明する。但し、以下に記載する構成要件の説明は、本発明の実施形態の一例代表例であり、本発明はその要旨を超えない限り、これらの内容に限定されない。[有機電子デバイス用組成物]本発明の有機電子デバイス用組成物は、アヌレン構造を有する有機化合物及び特定の有機化合物以下、特定有機化合物と記載する場合があるを含有する。特定有機化合物は、下記一般式1若しくは2で表わされる構造を有する有機化合物、又は、ウレア結合、チオウレア結合、ホスフィンオキシド結合、ホスフィンスルフィド結合、スルフォキシド結合若しくはスルホン結合を有する有機化合物である。式1~2中、Xは、酸素原子又は硫黄原子を示し、Zは硫黄原子又はリン原子を示す。nは、1又は2を示し、nが2である場合の2つのXは酸素原子を示す。X及びZがどちらも硫黄原子であることはない。有機半導体化合物本発明に係るアヌレン構造を有する有機化合物以下、本発明に係る有機半導体化合物と記載する場合があるは、本発明の有機電子デバイスにおいて、有機半導体となる。本発明に係る有機半導体化合物は、アヌレン構造を有しており、且つ、単結晶又は多結晶の有機半導体を形成する化合物であれば、特に限定は無い。具体的には、ポルフィリン化合物やフタロシアニン化合物等が挙げられる。これらのうち、結晶性が高く、化学的安定性に優れることからポルフィリン化合物が好ましく、ベンゾポルフィリン化合物又はビシクロベンゾポルフィリン化合物が更に好ましい。なお、本発明において、ポルフィリン化合物とは、ポルフィリン骨格を有する化合物のことを言い、フタロシアニン化合物とは、フタロシアニン骨格を有する化合物のことを言う。本発明の有機電子デバイスが有する有機半導体は、前駆体変換型の有機半導体が好ましい。前駆体変換型の有機半導体とは、加熱又は光照射等により化学構造が変化することにより半導体特性を有する半導体である。この前駆体としては、加熱又は光照射等により逆ディールスアルダー反応を起こす熱及び/又は光変換型のビシクロ構造を有するアヌレン化合物が好ましく、加熱により逆ディールスアルダー反応を起こす熱変換型のビシクロ構造を有するアヌレン化合物が特に好ましい。なお、本発明に係る有機半導体化合物は、この変換前の前駆体と変換後の有機半導体の両方を含む。ビシクロ構造を有するアヌレン化合物としては、下記式3及び4の構造の化合物が好ましい。式3及び4中、R5~R16は、各々1価の原子又は1価の原子団を表わし、R9,R10、R11,R12、R13,R14及びR15,R16のうちの少なくとも一つの組は一体となって下記式5で表される基を形成する。また、Mは金属原子又は金属原子団を表わす。式5中、R1~R4は、各々水素原子又は炭素数10以下のアルキル基を表わし、R17~R20は、各々1価の原子又は1価の原子団を表わす。R5~R8は、各々同一でも異なっていても良いが、合成及び精製が容易であることから同一であるのが好ましい。また、R5~R8は、ポルフィリン環が歪むことによる平面性の低下が起こり難く、その原子又は原子団自体がπ共役系の重なりを阻害する原因になり難いことから小さな基であるのが好ましい。R5~R8としては、水素原子、ハロゲン原子又は1価の有機基が好ましい。R5~R8の好ましい具体例を挙げると、水素原子;フッ素原子、塩素原子、臭素原子等のハロゲン原子;メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等のアルキル基、ビニル基、プロパニル基、ヘキセニル基等のアルケニル基などの1価の有機基などが挙げられる。ここで、上述の1価の原子は、アルキル基等の有機基で置換されていてもよい。また、上述の有機基は、フッ素、塩素等のハロゲン原子やアルキル基等の有機基で置換されていてもよい。これらのうち、1価の原子が好ましく、水素原子、フッ素原子又は塩素原子が特に好ましい。また、R9~R16は、各々同一でも異なっていても良いが、合成及び精製が容易であることから同一であるのが好ましい。1価の原子としては、例えば、水素原子及びハロゲン原子等が挙げられる。また、1価の原子団としては、例えば、ヒドロキシル基及びメチル基、エチル基等のアルキル基やカルボキシル基等の1価の有機基等が挙げられる。これらの内、化学的安定性に優れることから、1価の有機基が好ましい。ここで、1価の有機基は、酸素、窒素、硫黄などのヘテロ元素を有していても良い。R9,R10、R11,R12、R13,R14及びR15,R16のうちの少なくとも一つの組は、一体となって式5で表される基式5で表わされるビシクロ構造を有するビシクロ基を形成したものを表わす。ここで、好ましくは2組以上、更に好ましくは4組が、一体となって式5で表される基式5で表わされるビシクロ構造を有するビシクロ基を形成しているのがよい。R9とR10の合計炭素数、R11とR12の合計炭素数、R13とR14の合計炭素数、及びR15とR16の合計炭素数は、溶解性の点では多いのが好ましいが、一方、結晶化するまでに要する時間が短い点では少ないが好ましい。そこで、具体的には、これらの各合計炭素数が6以上であるのが好ましく、8以上であるのが更に好ましく、また、一方、50以下であるのが好ましく、30以下であるのが更に好ましい。R1~R4は、各々同一でも異なっていても良いが、合成及び精製が容易であることから同一であるのが好ましい。また、短時間で結晶化させやすいことから水素原子が好ましい。R1~R4がアルキル基である場合、脱離するエチレン誘導体の分子量が小さくて蒸気圧が高いために脱離して系外に除去し易いことから、R1~R4の炭素数は少ないのが好ましい。従って、該アルキル基の炭素数は、10以下、好ましくは6以下、より好ましくは3以下である。R1~R4がアルキル基である場合、該アルキル基は、直鎖状でも分岐状でも環を形成していてもよい。例を挙げると、メチル基、エチル基、プロピル基、n-ブチル基、i-ブチル基等が挙げられる。なお、これらのアルキル基は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。また、R1~R4がアルキル基である場合、該アルキル基は、置換基を有していてもよい。R1~R4の置換基としては、任意であるが、例えば、フッ素原子や塩素原子等のハロゲン原子などが挙げられる。また、1価のアルキル基は、酸素、窒素、硫黄などのヘテロ元素を有する基で置換されていても良い。なお、これらの置換基は1種を単独で用いてもよく、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。R1,R2及びR3,R4のうちの少なくとも一つの組は、2つのRが両方とも炭素数10以下のアルキル基であるのが好ましい。この際、炭素数10以下のアルキル基は、直鎖状でもよく、分岐状でもよい。また、置換基を有していてもよく、環を形成してもよい。このように、ビシクロ構造中の1つの炭素に炭素数10以下のアルキル基置換基を2個有することにより、多様な有機溶媒に対して、ビシクロポルフィリン化合物の溶解性を高めることが可能となっている。R17~R20となる1価の原子又は1価の原子団は、任意である。R17~R40は、各々同一でも異なっていても良いが、合成及び精製が容易であることから同一であるのが好ましい。R17~R20が1価の原子である場合の具体例としては、水素原子;フッ素原子、塩素原子、臭素原子等のハロゲン原子などが挙げられる。また、R17~R20が1価の有機基である場合における具体例としては、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n-ブチル基、sec-ブチル基、n-へプチル基等の炭素数1~18の直鎖状又は分岐状のアルキル基;シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基等の炭素数3~18の環状アルキル基;ビニル基、プロペニル基、ヘキセニル基等の炭素数2~18の直鎖状又は分岐状のアルケニル基;シクロペンテニル基、シクロヘキセニル基等の炭素数3~18の環状アルケニル基;プロピニル基、ヘキシニル基等の炭素数2~18の直鎖状又は分岐状のアルキニル基;2-チエニル基、2-ピリジル基、4-ピペリジル基、モルホリノ基等の複素環基;フェニル基、トリル基、キシリル基、メシチル基等の炭素数6~18のアリール基;ベンジル基、フェネチル基等の炭素数7~20のアラルキル基;メトキシ基、エトキシ基、n-プロポキシ基、イソプロポキシ基、n-ブトキシ基、sec-ブトキシ基、tert-ブトキシ基等の炭素数1~18の直鎖状又は分岐状のアルコキシ基;プロペニルオキシ基、ブテニルオキシ基、ペンテニルオキシ基等の炭素数3~18の直鎖状又は分岐状のアルケニルオキシ基及びメチルチオ基、エチルチオ基、n-プロピルチオ基、n-ブチルチオ基、sec-ブチルチオ基、tert-ブチルチオ基等の炭素数1~18の直鎖状又は分岐状のアルキルチオ基などが挙げられる。これらの1価の有機基は、置換されていても良い。また、1価の原子団としては、更に、ニトロ基、ニトロソ基、シアノ基、イソシアノ基、シアナト基、イソシアナト基、チオシアナト基、イソチオシアナト基、メルカプト基、ヒドロキシ基、ヒドロキシアミノ基、ホルミル基、スルホン酸基、カルボキシル基、-COR24で表されるアシル基、-NR25R26で表されるアミノ基、-NHCOR27で表されるアシルアミノ基、-NHCOOR28で表されるカーバメート基、-COOR29で表されるカルボン酸エステル基、-OCOR30で表されるアシルオキシ基、-CONR31R32で表されるカルバモイル基、-SO2R33で表されるスルホニル基、-SO2NR34R35で表されるスルファモイル基、-SO3R36で表されるスルホン酸エステル基、-NHSO2R37で表されるスルホンアミド基及び-SOR38で表されるスルフィニル基等も挙げられる。ここでR24、R27、R28、R29、R30、R33、R36、R37及びR38は、各々置換されていても良い炭化水素基又は置換されていても良い複素環基を表わし、R25、R26、R31、R32、R34及びR35は、各々水素原子、置換されていても良い炭化水素基又は置換されていても良い複素環基を表わす。このR24~R38で表される炭化水素基とは、例えば、直鎖状、分岐状又は環状のアルキル基、直鎖状、分岐状又は環状のアルケニル基、アラルキル基、アリール基などが挙げられる。中でも好ましくは、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n-ブチル基、sec-ブチル基、tert-ブチル基、n-ヘプチル基等の炭素数1~18の直鎖状又は分岐状のアルキル基;シクロプロピル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基等の炭素数3~18の環状アルキル基;ビニル基、プロペニル基、ヘキセニル基等の炭素数2~18の直鎖状又は分岐状のアルケニル基;シクロペンテニル基、シクロヘキセニル基等の炭素数3~18の環状アルケニル基;ベンジル基、フェネチル基等の炭素数7~20のアラルキル基及びフェニル基、トリル基、キシリル基、メシチル基等の炭素数6~18のアリール基等が挙げられる。これらの1価の炭化水素基は、置換されていても良い。また、R24~R38で表される複素環基は、4-ピペリジル基、モルホリノ基、2-モルホリニル基、ピペラジル基等の飽和複素環でも、2-フリル基、2-ピリジル基、2-チアゾリル基、2-キノリル基等の芳香族複素環でも良い。これらは複数のヘテロ原子を含んでいても良い。また、更に置換基を有していても良く、置換基の結合位置も特に制限は無い。複素環として好ましい構造のものは、5~6員環の飽和複素環、5~6員環の単環及びその2縮合環の芳香族複素環等が挙げられる。上述のR17~R20として例示した原子団は、任意の置換基で置換されていても良い。置換基の具体例を挙げると、メトキシ基、エトキシ基、n-プロポキシ基、イソプロポキシ基、n-ブトキシ基、sec-ブトキシ基、tert-ブトキシ基等の炭素数1~10のアルコキシ基;メトキシメトキシ基、エトキシメトキシ基、プロポキシメトキシ基、エトキシエトキシ基、プロポキシエトキシ基、メトキシブトキシ基等の炭素数2~12のアルコキシアルコキシ基;メトキシメトキシメトキシ基、メトキシメトキシエトキシ基、メトキシエトキシメトキシ基、エトキシメトキシメトキシ基、エトキシエトキシメトキシ基等の炭素数3~15のアルコキシアルコキシアルコキシ基;フェニル基、トリル基、キシリル基等の炭素数6~12のアリール基これらは任意の置換基でさらに置換されていても良い。;フェノキシ基、トリルオキシ基、キシリルオキシ基、ナフチルオキシ基等の炭素数6~12のアリールオキシ基及びアリルオキシ基、ビニルオキシ基等の炭素数2~12のアルケニルオキシ基などが挙げられる。また、上述のR17~R20として例示した原子団が有する置換基としては、更に、2-チエニル基、2-ピリジル基、4-ピペリジル基、モルホリノ基等の複素環基;シアノ基;ニトロ基;ヒドロキシル基;アミノ基;N,N-ジメチルアミノ基、N,N-ジエチルアミノ基等の炭素数1~10のアルキルアミノ基;メチルスルホニルアミノ基、エチルスルホニルアミノ基、n-プロピルスルホニルアミノ基等の炭素数1~6のアルキルスルホニルアミノ基;フッ素原子、塩素原子、臭素原子等のハロゲン原子;カルボキシル基、メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基、n-プロポキシカルボニル基、イソプロポキシカルボニル基、n-ブトキシカルボニル等の炭素数2~7のアルコキシカルボニル基;メチルカルボニルオキシ基、エチルカルボニルオキシ基、n-プロピルカルボニルオキシ基、イソプロピルカルボニルオキシ基、n-ブチルカルボニルオキシ基等の炭素数2~7のアルキルカルボニルオキシ基;メトキシカルボニルオキシ基、エトキシカルボニルオキシ基、n-プロポキシカルボニルオキシ基、イソプロポキシカルボニルオキシ基、n-ブトキシカルボニルオキシ基等の炭素数2~7のアルコキシカルボニルオキシ基なども挙げられる。なお、これらの置換基は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を任意の組み合わせ及び比率で併用しても良い。R17~R20としては、有機半導体の製造結晶化熱処理の際に脱離するエチレン誘導体エチレン化合物が、常圧200°Cで気体又は液体となるものが好ましく、常温常圧において、気体又は液体となるものが好ましい。また、これらの条件で気体となるものが特に好ましい。また、R17~R20は、ビシクロポルフィリン化合物から有機半導体を製造した場合に得られる有機半導体の特性を発現するためのπ共役系の分子間の重なりを阻害し難いことから、立体障害が小さく、置換基が小さいものが好ましい。従って、具体的には、水素原子;フッ素原子、塩素原子、臭素原子等のハロゲン原子;メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等のアルキル基、ビニル基、プロパニル基、ヘキセニル基等のアルケニル基などの1価の有機基などが好ましく、水素原子、フッ素原子又は塩素原子が更に好ましく、水素原子が特に好ましい。R9~R16のうち、式5で表されるビシクロ基を形成しないものは、1価の原子又は1価の原子団であれば、任意である。ただし、本発明のビシクロポルフィリン化合物から有機半導体を製造した場合に、得られる有機半導体の特性を発現するためのπ共役系の分子間の重なりを阻害する可能性が低いことから、R17~R20と同様に、立体的な障害が小さく、小さな置換基を有するものが好ましい。R9~R16のうち、式5で表されるビシクロ基を形成しないものとしては、上述のR17~R20と同様のものが挙げられる。また、R9~R16のうち式5で表されるビシクロ基を形成しないものは、本発明の効果を著しく損なわない限り任意の置換基で置換されていても良い。その置換基の具体例としては、R17~R20の置換基として例示したものと同様の基が挙げられる。式4において、Mは金属原子又は金属原子団を表わす。この金属原子又は金属原子団の中心金属は、半導体特性が良好となりやすいことから、Cu、Zn、Mg、Ni、Co、Fe、Pt、Pd、Si、Ti、Mn、Mo、Cr、Ir、Ru及びPb等が好ましく、Cu、Zn、Mg、Ni、Co及びFeが更に好ましく、Cu及びZnが特に好ましい。一方、変換反応により有機溶媒に対する溶解性が大幅に向上する点では、Niも特に好ましい。また、Mが金属原子団である場合としては、AlCl、TiO、FeCl、SiCl2等の3価以上の金属と他の元素とが結合して2価になっている原子団及び置換基を有する金属原子等が挙げられる。特に好適なビシクロポルフィリン化合物を次に例示する。なお、以下の例示物では、R1=R2=MeMeはメチル基を表わすで、R3=R4=Hの例を示しているが、メチル基の代わりに他のアルキル基を用いた例も好適である。また、合成上、R1,R2とR3,R4とが入れ替わったものも生じるため、メチル基で置換された位置の異なる異性体あるいはそれらの混合物も合成時には得られるが、それらも好適である。また、以下の例示化合物のうち、移動度及びOn/Off比の点で化合物7が特に好ましい。ここで、熱変換型のビシクロ構造を有するポルフィリンは、通常150°C以上、好ましくは150~250°C程度に加熱されることにより、例えば、次式の様に、エチレン化合物が脱離して、変換され、結晶化することにより、高い移動度を有するアヌレン構造の有機半導体膜となる。式中のMは、前述と同じ金属原子又は金属原子団を表す。ビシクロ構造を有するアヌレン化合物としては、分子間相互作用が大きくなることから、中心に金属原子が無い式3の構造に対し、中心に金属原子又は金属原子団がある式4の構造が好ましく、式4で中心に金属原子がある構造が更に好ましい。また、上記式3及び4のように対称性の良い構造が好ましいが、非対称構造であっても良い。これら以外のビシクロ構造を有する化合物としては、13,6-N-サルフィニルアセトアミドペンタセン、6,13-ジヒドロー6,13-メタノペンタセンー15-オン及び6,13-エタノペンタセンー6,13-ジオン等のペンタセン誘導体等が挙げられる。これらのうち、高品質の多結晶膜が得られ易く、化学的に安定であることから、上記式9に示す構造のビシクロベンゾポルフィリン化合物が最も好ましい。なお、本発明に係るアヌレン構造を有する有機化合物は、1種でも2種以上を任意の組合せと比率で用いてもよい。また、本発明の有機電子デバイス用組成物は、本発明に係るアヌレン構造を有する有機化合物以外の有機半導体化合物を含んでいてもよい。特定有機化合物本発明の有機電子デバイス用組成物は、上述の有機半導体化合物の他に、特定有機化合物を含有する。特定有機化合物は、下記一般式1若しくは2で表わされる部分構造を有する有機化合物、又は、ウレア結合、チオウレア結合、ホスフィンオキシド結合、ホスフィンスルフィド結合、スルフォキシド結合若しくはスルホン結合を有する有機化合物である。式1~2中、Xは、酸素原子又は硫黄原子を示し、Zは硫黄原子又はリン原子を示す。nは、1又は2を示し、nが2である場合の2つのXは酸素原子を示す。X及びZがどちらも硫黄原子であることはない。特定有機化合物は、何れも極性が高い。特定有機化合物が1分子中に有する式1及び2で表わされる構造の数は、化合物中の極性の点では多いことが好ましく、また、一方、溶解度の点では、該構造の相互作用による影響を受け難いことから少ないことが好ましい。そこで、具体的には、両構造の合計で2以上であることが好ましく、また、一方で、5以下であることが好ましい。なお、移動度及びOn/Off比の点では、式1及び2で表わされる構造を両方有していることが好ましい。同様に、特定有機化合物が1分子中に有する、ウレア結合、チオウレア結合、ホスフィンオキシド結合、ホスフィンスルフィド結合、スルフォキシド結合及びスルホン結合の数は、合計で2以上であることが好ましく、また、一方で、5以下であることが好ましい。特定有機化合物が有する、Xは、化合物の取り扱い性及び安定性であることから酸素原子であることが好ましい。化合物の取り扱い性及び安定性の点では、一般式1で表わされる構造を有する有機化合物は、下記一般式11又は12で表わされる構造の有機化合物であることが好ましく、一般式2で表わされる構造を有する有機化合物は、下記一般式13~16の何れかで表わされる構造の有機化合物であることが好ましい。また、ウレア結合を有する有機化合物は、下記一般式11で表わされる構造の有機化合物であることが好ましく、チオウレア結合を有する有機化合物は、下記一般式12で表わされる構造の有機化合物であることが好ましく、ホスフィンオキシド結合を有する有機化合物は、下記一般式13で表わされる構造の有機化合物であることが好ましく、ホスフィンスルフィド結合を有する有機化合物は、下記一般式14で表わされる構造の有機化合物であることが好ましく、スルフォキシド結合を有する有機化合物は、下記一般式15で表わされる構造の有機化合物であることが好ましく、スルホン結合を有する有機化合物は、下記一般式16で表わされる構造の有機化合物であることが好ましい。これらのうち、化合物の取り扱い性及び安定性の点から、特定有機化合物は、ウレア結合、ホスフィンオキシド結合及びスルホン結合のうち少なくとも何れか1つの結合を有する化合物が好ましく、一般式11、13及び16のうち少なくとも何れかで表わされる構造の化合物が更に好ましく、一般式11及び13の少なくともどちらかで表わされる構造の化合物が特に好ましく、一般式1で表わされる構造の化合物が最も好ましい。式11~16中、A1~A18は、各々独立に水素原子、置換基を有してもよい炭素数1~50のアルキル基又は置換基を有してもよい炭素数4~50の芳香環基を表す。A1~A18は、半導体の結晶性に優れる点では、置換基を有してもよい炭素数1~50のアルキル基又は置換基を有してもよい炭素数4~50の芳香環基が好ましく、炭素数1~10のアルキル基又は置換基を有しても良い炭素数1~10の芳香環基が更に好ましい。A1~A18が置換基を有していてもよい炭素数1~50のアルキル基である場合、アルキル基は、直鎖状のアルキル基でも分岐状のアルキル基でもよい。これらのアルキル基は、OやN等のヘテロ原子を有する置換基を有していても良いが、化学的安定性に優れ、結晶化を阻害しにくい点では、アルキル基は無置換であることが好ましい。置換基としては、本発明に係る特定有機化合物が電極表面に自己組織化短分子膜を形成し難いものが好ましく、電極表面に自己組織化短分子膜を形成しやすいクロロシランや-SH基以外のものが好ましい。また、ドーピングを生じ難いことから酸性が弱いもの又は塩基性が弱いものが好ましく、ドーピングが生じやすい-SO3H基や―NH2基以外の基が好ましい。即ち、好ましい置換基としては、具体的には、例えば、フルオロ基、クロロ基、ブロモ基、ヨード基等のハロゲン基;ヒドロキシ基;カルボキシル基;アミド基;ビニル基;エチニル基;フェニル基及びシアノ基等が挙げられる。A1~A18が置換基を有してもよい炭素数4~50の芳香環基である場合、芳香環基は、芳香族性を有していれば、炭化水素環基でも複素環基でも良い。また、芳香環基は、単環の基でも縮合環の基でも良い。芳香族性を有する炭化水素環基としては、フェニル基、ナフチル基、アントラセニル基、ビフェニル基、ターフェニル基等が挙げられる。また、芳香族性を有する複素環基としては、チエニル基、ピロリル基、ピリジル基及びベンゾチエニル基等が挙げられる。これらのうち、化学的安定性及び経済性に優れることから芳香族性を有する炭化水素環基が好ましく、単環の基が更に好ましく、フェニル基が特に好ましい。これらの芳香環基は、置換基を有していても良いが、化学的安定性に優れ、結晶化を阻害しにくい点では、芳香環基は無置換であることが好ましい。芳香環基が置換基を有する場合の置換基としては、例えば、フルオロ基、クロロ基、ブロモ基、ヨード基等のハロゲン基;アルキル基、アルコキシ基、ヒドロキシ基、カルボキシル基、エステル基、チオール基、アルキルチオール基、アミノ基、アルキルアミノ基、シアノ基及びスルホニル基等が挙げられる。A1~A18が置換基を有してもよい芳香環基である場合の炭素数は、高移動度になりやすい点及び後述のように半導体前駆体の変換温度が1気圧で80度以上が好ましいことから多い方が好ましいが、本発明に係る特定有機化合物の析出等による半導体の結晶化不良が発生し難い点では少ない方が好ましい。そこで、具体的には、A1~A18の炭素数は、置換基を有する場合はこれも含め、4以上であるのが好ましく、5以上であるのがより好ましく、6以上であるのが更に好ましく、7以上であるのが特に好ましく、9以上であるのが最も好ましい。また、一方、50以下であるのが好ましく、30以下であるのが更に好ましい。なお、ここで、炭素数4及び5の場合は、各々ヘテロ原子を2個及び1個有する複素環基である場合を言う。特定有機化合物として、好ましい化合物を以下に例示する。但し、特定有機化合物はこれに限定されるものではない。式中、Meはメチル基を、Etはエチル基を各々表わす。本発明に係る特定有機化合物の沸点は、有機半導体化合物の前駆体を半導体に変換させるときに蒸発して半導体特性に影響を与える可能性が低いことから、半導体前駆体の変換温度以上であるのが好ましい。本発明に係る特定有機化合物の分子量は、高沸点になりやすい点では、大きい方が好ましい。しかしながら、一方で、半導体層の形成時に球状構造になり半導体の結晶化を阻害し難い点では、小さいのが好ましい。そこで、本発明に係る特定有機化合物の分子量は、具体的には、100以上が好ましく、又、一方、1000以下が好ましく、500以下が更に好ましく、300以下が特に好ましい。なお、本発明に係る特定有機化合物は、1種でも2種以上を任意の組合せと比率で用いてもよい。有機溶媒本発明に係る有機半導体層は、湿式法で成膜しても、乾式法で成膜して良いが、高価な設備を用いずに大面積のデバイスを低エネルギーで製造し易いことから湿式法で成膜することが好ましい。湿式法で成膜する場合は、通常、本発明に係る有機電子デバイス用組成物に、上述の有機半導体化合物と特定有機化合物の他に更に有機溶媒を含有させる。有機溶媒については、上述の半導体の前駆体又は有機半導体と特定有機化合物を溶解させられれば特に制限は無い。有機溶媒の選択は、半導体の前駆体又は有機半導体と特定有機化合物に対する溶解度及び湿式塗布法の種類に応じて、その沸点や粘度等の観点から選択される。その他成分本発明の有機電子デバイス用組成物には、本発明の優れた効果を大幅に妨げなければ、有機半導体化合物、特定有機化合物、有機溶媒以外のその他の成分が含まれていても良い。このようなその他成分としては、例えば、ドーパント、界面活性剤、脱酸素剤、脱水剤、高分子、金属粒子及び無機粒子等が挙げられる。組成本発明の有機電子デバイス用組成物に含まれるアヌレン構造を有する有機化合物の含有量は、本発明の優れた効果が得られれば特に制限は無いが、該アヌレン構造を有する有機化合物の結晶性の点から、0.1重量以上であることが好ましく、0.5重量以上であることが更に好ましく、また、一方、10重量以下であることが好ましく、5重量以下であることが更に好ましい。なお、2種以上のアヌレン構造を有する有機化合物を用いる場合の好ましい使用量は、その合計量で考える。また、本発明の有機電子デバイス用組成物に含まれる特定有機化合物の含有量は、本発明の優れた効果が得られれば特に制限は無いが、これが含有される効果が発現し、且つ、有機半導体の結晶化を阻害する可能性が低いことから、アヌレン構造を有する有機化合物に対して、0.01重量部以上であることが好ましく、0.1重量部以上であることが更に好ましく、1重量部以上であることが特に好ましく、また、一方、100重量部以下であることが好ましく、50重量部以下であることが更に好ましく、30重量部以下であることが特に好ましい。なお、本発明に係る特定有機化合物は、1種でも2種以上を任意の組合せと比率で用いてもよい。2種以上の特定有機化合物を用いる場合の好ましい使用量は、その合計量で考える。固形分濃度本発明の有機電子デバイス用組成物に含まれる有機半導体化合物と特定有機化合物の合計濃度は、特に限定はない。具体的には、発明に係る有機電子デバイス用組成物に含まれる有機半導体化合物と特定有機化合物の合計濃度は、0.01重量以上であることが好ましく、0.1重量以上であるのが更に好ましく、また、一方、50重量以下であることが好ましく、30重量以下であるのが更に好ましい。有機電子デバイス用組成物の作製方法本発明の有機電子デバイス用組成物は、上述の発明に係る有機電子デバイス用組成物の各構成成分を混合することにより得ることができる。混合方法は、本発明の有機電子デバイス用組成物の各構成成分を混合できれば特に制限は無いが、本発明に係る有機半導体層を湿式法で成膜する場合は、通常、有機溶媒に本発明に係る有機電子デバイス用組成物の他の構成成分を溶解させる。また、本発明に係る有機半導体層を乾式法で成膜する場合は、本発明に係る有機電子デバイス用組成物のうち、有機溶媒以外の各構成成分のターゲットからなるターゲットを作製すればよい。[有機半導体層]成膜方法本発明に係る有機半導体層は、本発明の有機電子デバイス用組成物を基板上に成膜することにより得ることができる。本発明に係る有機半導体層の成膜方法は、湿式法でも乾式法でも良い。湿式法としては、塗布法などが挙げられる。また、乾式法としては、真空蒸着法などが挙げられる。これらのうち、大面積のデバイスを低コストで低エネルギーに製造することができることから湿式法が好ましい。また、湿式法で半導体層を成膜すると、真空蒸着法で成膜した場合に比べ、半導体の結晶化に対する下地の影響が小さくなり絶縁膜上とソース電極及びドレイン電極上における結晶成長の違いが小さくなり、特に、ソース電極及びドレイン電極をテーパー形状とした場合に、ソース電極及びドレイン電極とゲート絶縁膜間に跨った結晶成長が促進され、電極の先端部と有機半導体層との間に空隙が生じ難く点でも好ましい。塗布法としては、スピンコート法、インクジェット法、ディップコート法、エアロゾルジェット印刷法、マイクロコンタクトプリント法、ディップペン法、スクリーン印刷法、凸版印刷法、凹版印刷法、グラビアオフセット印刷法等の方法が挙げられる。具体的には、a有機半導体を含有する液を塗布した後、乾燥させ有機半導体層とする方法と、b有機半導体の前駆体を含有する液を塗布した後、半導体に変換して有機半導体層とする方法に大別される。aの方法においては、溶媒の乾燥と共に結晶化が生じるため、有機溶媒の乾燥条件等により結晶成長が変化しやすい。これに対し、bの方法は、前駆体の状態で塗布してから半導体に変換させると共に結晶化させるため、一定の結晶化条件で結晶化させやすく、均一な結晶膜を得やすい点で好ましい。変換反応前駆体の状態で塗布する場合、前駆体の化学構造を加熱又は光照射等により変化させることにより、半導体に変換させる。加熱により変換させる場合は、通常1気圧で80°C以上に加熱する。また、光照射により変換させる場合は、例えば、半導体材料又はその下地材料に吸収がある波長のレーザーを照射してもよい。本発明の有機電子デバイスの作製方法としては、特に、有機電子デバイス用組成物が前記アヌレン構造を有する有機化合物としてビシクロベンゾポルフィリン化合物を含有し、有機半導体層を形成させる工程が、該ビシクロベンゾポルフィリン化合物を含有する有機電子デバイス用組成物を基板上に塗布した後、該ビシクロベンゾポルフィリン化合物を逆ディールスアルダー反応によりベンゾポルフィリン化合物に変化させる工程を含む作製方法が好ましい。有機半導体層本発明に係る有機半導体層は、上述のように、本発明の有機電子デバイス用組成物を用いて湿式成膜することにより形成させることができる。また、特に、ビシクロベンゾポルフィリン化合物を含有する有機電子デバイス用組成物を基板上に塗布した後、該ビシクロベンゾポルフィリン化合物を逆ディールスアルダー反応によりベンゾポルフィリン化合物に変化させることにより作製した膜が好ましい。即ち、本発明に係る有機半導体層は、アヌレン構造を有する有機化合物として、ビシクロベンゾポルフィリン化合物又はベンゾポルフィリン化合物を含有する有機電子デバイス用組成物を用いて湿式成膜することにより形成されるベンゾポルフィリン化合物を含有する層が好ましく、アヌレン構造を有する有機化合物として、ビシクロベンゾポルフィリン化合物を含有する有機電子デバイス用組成物を用いて湿式成膜することにより形成されるベンゾポルフィリン化合物を含有する層が特に好ましい。本発明に係る有機半導体層は、通常、低分子であり、多結晶及び単結晶の半導体膜を形成するものであれば特に限定は無く、p型、n型のいずれでもよい。有機半導体層の膜厚は、特に限定されないが、1nm以上であるのが好ましく、10nm以上であるのが更に好ましく、また、一方、500nm以下であるのが好ましく、100nm以下であるのが更に好ましい。有機半導体層の物性本発明の有機電子デバイス用組成物を用いると、電荷輸送性や移動度が高く、安定性に優れた有機半導体層を得ることが可能となり、これを用いることにより、On/Off比が高い有機電子デバイスを得ることができると考えられる。本発明に係る特定構造の有機半導体化合物と特定有機化合物とを含有する有機電子デバイス用組成物を用いることにより、このような優れた効果が得られる理由については、以下のように推定される。すなわち、これらの効果は、本発明に係る特定構造の有機半導体化合物と特定有機化合物とを含有することにより、本発明に係る特定構造の有機半導体化合物の結晶化が促進されたことによるものと思われる。有機化合物の結晶成長において、不純物が存在すると、これが結晶核発生の起点となり得ることが知られている。そこで、本発明に係る特定有機化合物が、本発明に係る特定構造の有機半導体化合物の結晶核発生を促進することにより、有機半導体層の結晶化が進み、アモルファス状態の領域が減少して、電荷移動が促進されたと考えられる。また、本発明に係る特定有機化合物が結晶粒界に作用し、トラップや不純物イオンの稼動を抑制することで、Vth、ΔVth、ヒステリシスが抑制されることも期待される。特に、本発明に係る特定有機化合物は、何れも極性が高い。従来、有機半導体層に有機半導体化合物以外の物質が含有されていると、移動度やOn/Off比が大幅に低下すると考えられていたにも係わらず、本発明の有機電子デバイスが優れた物性を示し得るのは、有機電子デバイス用組成物に、本発明に係る有機半導体化合物と本発明に係る特定有機化合物が含まれている場合、該特定有機化合物の極性が大きいため、アヌレン構造を有する有機化合物有機化合物との相互作用により、結晶化に好影響が及ぼされたものと推定される。移動度測定発明における有機半導体層の移動度は、測定対象の有機電子デバイスの出力特性をAgilent4155c半導体パラメータアナライザーを用いて測定することによって求めることができる。具体的には、測定対象の有機電子デバイスの出力特性をAgilent4155c半導体パラメータアナライザーを用いて測定する。測定時の雰囲気は、乾燥窒素とし、ドレイン電圧は-30V、ゲート電圧は、10V~-30Vとする。そして、得られた伝達特性から、以下の式を用いて、とVgの直線の傾きから移動度を求める。式中、Idsatはドレイン電流、Wはチャンネル幅、Ciはゲート絶縁膜の電気容量、Lはチャンネル長、μsatは移動度、Vgはゲート電圧、Vthは閾値電圧を表す。そして、本発明の有機電子デバイスでは、通常1.5cm2/Vs以上、好ましくは2.0cm2/Vs以上、更に好ましくは2.5cm2/Vs以上の移動度とすることが可能である。特に、本発明の有機電子デバイスは、移動度を1cm2/Vs以上にできることから、有機ELディスプレイの薄膜トランジスタに適用するのが好ましい。なお、移動度は、高ければ高いほど好ましい。なお、本発明において、チャンネル長とは、ソース電極とドレイン電極との間の最短距離を言う。On/Off比測定本発明において、On/Off比は、Vg=-30VおよびVg=10Vにおけるドレイン電流の比とする。[有機電子デバイス]本発明の有機電子デバイスは、上述の本発明の有機電子デバイスの作製方法により得ることができる有機電子デバイスである。本発明の有機電子デバイスは、通常、基板上に、アヌレン構造を有する有機化合物及び上述の特定有機化合物を含有する有機半導体層を有する。そして、本発明の有機電子デバイスにおける有機半導体層は、通常、上述の本発明の有機電子デバイス用組成物を湿式成膜させることにより形成される。また、特に、この有機半導体層を形成させる工程が、ビシクロベンゾポルフィリン化合物を有機半導体の前駆体として含有する有機電子デバイス用組成物を基板上に塗布した後、該ビシクロベンゾポルフィリン化合物を逆ディールスアルダー反応によりベンゾポルフィリン化合物に変化させることにより形成するのが好ましい。本発明の有機電子デバイスは、半導体デバイスである。このうち、本発明の有機電子デバイスは、塗布法による形成が可能であり、大面積のデバイスを安価に製造可能であることから電界効果トランジスタが好ましい。[電界効果トランジスタ]本発明の電界効果トランジスタは、本発明に係る有機半導体層、ソース電極及びドレイン電極を有する。また、通常、更に基板を有する。本発明の電界効果トランジスタは、少なくとも有機半導体層、ゲート絶縁体層、ゲート電極、ソース電極及びドレイン電極を有するものが好ましい。本発明の電界効果トランジスタは、ボトムコンタクト型でもトップコンタクト型でも良いが、安価で簡便に製造可能であることからボトムコンタクト型が好ましい。また、ゲート電極はボトムゲート型でもトップゲート型でも良く、ソース電極及びドレイン電極の上下にゲート電極を有するデュアルゲート型電界効果トランジスタであっても良いが、半導体とゲート絶縁膜との界面の平坦性を確保し易いことからボトムゲート型が好ましい。図1に、A~Dとして、電界効果トランジスタ素子のいくつかの構造例を示す。Aがボトムコンタクトボトムゲート型、Bがトップコンタクトボトムゲート型、Cがボトムコンタクトトップゲート型、Dがトップコンタクトトップゲート型であり、その他にも、ソースドレイン電極の上下にゲート電極を有するデュアルゲート型もある。各図中、1が有機半導体層、2がゲート絶縁体層、3及び4がソース電極及びドレイン電極、5がゲート電極、6が基板である。尚、各層や電極の配置は、素子の用途により適宜選択できる。基板と並行方向に電流が流れるので、横型FETと呼ばれる。本発明の電界効果トランジスタにおいては、ソース電極と前記ドレイン電極との最短距離は、高精細なTFTパターンを形成しやすいことから短いことが好ましく、具体的には、500μm以下であることが好ましく、300μm以下であることが更に好ましく、100μm以下であることが特に好ましい。また、一方、ソース電極等と半導体界面との接触抵抗や電荷の注入効率などに係る電極界面の影響を低減しやすい点では、ソース電極と前記ドレイン電極との最短距離は、長いことが好ましいため、具体的には、0.5μm以上であることが好ましい。以下に、ボトムコンタクトボトムゲート電界効果トランジスタと、その製造方法の一例を、図面を用いて説明する。図2の通り、ゲート電極1上にゲート絶縁膜2を形成し、該ゲート絶縁膜2上にソース電極3とドレイン電極4を形成する。なお、ゲート電極1を基板上に形成してもよく、導電性n型シリコンウェハー等の基板をゲート電極としてもよい。次いで、図2の通り、アヌレン構造の有機半導体層6を形成する。なお、本発明のボトムコンタクト型電界効果トランジスタは、ソース及び/又はドレイン電極上に有機半導体層が形成されていればよく、ソース電極とドレイン電極のどちらか一方のみが半導体層上に形成されているトップボトムコンタクト型等の電界効果トランジスタであってもよい。基板基板としては、ガラス、石英等の無機材料;ポリイミド膜、ポリエステル膜、ポリエチレン膜、ポリフェニレンスルフィド膜、ポリパラキシレン膜等の絶縁性プラスチック及び無機材料、金属合金板、絶縁性プラスチックを組み合わせたハイブリッド材料等の基板が使用可能である。また、導電性n型シリコンウェハー等よりなる基板をゲート電極としてもよい。ゲート電極ゲート電極としては、導電性n型Siウェハーのほか、Au、Ta、Al、Cu、Cr、Mo、W、Ti、Ag、Pd等の金属膜、これらの金属の合金膜、これらの金属又は合金の積層膜、これらの金属又は合金のナノパーティクルを含有するペーストなどが挙げられるが、これに限定されない。また、ポリアニリン、ポリピロール、PEDOT及びPSSのような導電性高分子であっても良い。ゲート電極を薄膜にて構成する場合、その膜厚は、1nm以上が好ましく、50nm以上が更に好ましく、また、一方、1000nm以下が好ましく、500nm以下が更に好ましい。ゲート絶縁膜ゲート電極で生じた電圧のリークを防ぐことについては、ゲート絶縁膜を設けるのが好ましい。ゲート絶縁膜を設ける場合、具体的には、アクリル、ポリイミド、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール、ポリシスセスキオキサン、ポリシラザン、パーヒドロポリシラザン、エポキシ、ポリカーボネート等の絶縁ポリマーを塗布及び焼成して形成した膜のほか、CVDやスパッター法によって形成したSiO2やSiNx、SiOxNy、酸化アルミニウム、酸化タンタル、パリレンの膜等が挙げられる。また、ゲート電極にタンタルやアルミニウム等を用いている場合は、ゲート電極にUV処理、オゾン処理、陽極酸化処理等の処理を施すことにより、ゲート電極表面に形成される酸化タンタルや酸化アルミニウム等の膜をゲート絶縁膜としてもよい。また、シリコン基板の表面を酸素雰囲気下で加熱することによって熱酸化膜を形成したものを用いてもよいし、ゲート絶縁膜の表面を、HMDSヘキサメチルジシラザンやOTSオクチルトリクロロシラン、ODTSオクタデシルトリクロロシラン等のシランカップリング剤によって表面処理したものを用いてもよい。ソース電極、ドレイン電極ソース電極及びドレイン電極は、Mg、Ti、V、Cr、Mg、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、Se、Nb、Mo、Ag、In、Sn、Sb、Ta、W、Au、Pt等の金属およびこれらの金属の合金や酸化物などを用いることができる。カーボン電極を用いても良いし、また、ITO、IZO、IWZO、IGZOなどの透明電極を用いても良い。ソース電極及びドレイン電極として、金属酸化物を用いる場合は、金属に、空気中や酸素雰囲気下において、加熱処理、UVオゾン処理又はO2プラズマ処理等を施すことにより、その表面に酸化物層を形成させることにより作製しても良い。また、ソース電極及びドレイン電極には、ソース電極及びドレイン電極とは別の材質の接着層を隣接させてもよい。接着層としては、特に限定はないが、上記の電極材料の内、基板との接着性に優れているものを使用することが出来る。具体的にはCr、Ti、Mo、W、MoOx、NiOx等が挙げられる。また、電極表面をAu等でメッキしても良い。ソース電極及びドレイン電極の膜厚は、断線が起こり難く、配線抵抗が低い点では厚い方が好ましいが、生産速度やコストの点では薄い方が好ましい。具体的には、1nm以上であるのが好ましく、50nm以上であるのが更に好ましく、また、一方、1000nm以下であるのが好ましく、500nm以下であるのが更に好ましい。ソース電極とドレイン電極の組成及び膜厚は、同一であっても異なっていても構わないが、形成の容易さの点では、同一とするのが好ましい。用途本発明の電界効果トランジスタは、フラットパネルディスプレイ、フレキシブルディスプレイ、電子タグ、光圧力センサー等に利用可能である。また、本発明の有機電子デバイスは、有機エレクトロニクスデバイスおよび有機光電変換デバイス等にも応用可能である。具体的には、例えば、有機EL素子における発光層および電荷輸送層に対して適用することが出来る。また、有機薄膜太陽電池のp層、i層、n層及び電荷輸送層等にも適用することができる。以下、本発明を実施例に基づきさらに詳細に説明する。なお、本発明はその趣旨に反しない限り実施例に限定されるものではない。[実施例1]基板とゲート電極を兼ねた導電性n型シリコンウェハーの表面に、ゲート絶縁膜として膜厚300nmの熱酸化シリコン膜を形成した。次に、この熱酸化シリコン膜上にポリメチルグルタルイミドPMGIのレジスト化薬マイクロケム社製SF-9を0.5μmの厚さにスピンコートし、180°Cで5分間加熱した。このレジスト膜上に、ネガ型のフォトレジスト日本ゼオン社製ZPN-1150を厚さ4μmにスピンコートし、80°Cで180秒間加熱した後、露光し、110°Cで120秒加熱し、その後、有機アルカリ現像液ナガセケムテックス社製NPD-18によって現像することにより、ソース電極及びドレイン電極の形状にレジストのパターンを形成した。得られたレジストのパターン上に、Moを厚さ100nmとなるようにスパッターした。その後、リフトオフ法により上記2層レジストパターンごと、不要なMoを除去することによって、ソース及びドレイン電極を作製した。最後に、下記式17の左側に示す、加熱により逆ディールスアルダー反応を起こす熱変換型のビシクロ構造を有するポルフィリン誘導体S.Ito,N.Ochi,T.Murashima,H.Uno,N.Ono,Heterocycles52巻、3992000に記載の方法で合成した0.7重量とN,N‘-ジメチル-N,N’-ジフェニルウレア東京応化工業株式会社製0.046重量のクロロホルム溶液をスピンコートした。これを210°Cで30分間加熱することにより、下記式17の右側に示すポルフィリン誘導体に変換させると共に、結晶化させ、有機半導体層を形成することにより、チャンネル長が5μmでチャンネル幅が500μmの電界効果トランジスタを作製した。式中、MはCu原子を表す。[実施例2]実施例1において、上記式17の左側に示すビシクロ構造を有するポルフィリン誘導体0.7重量とN,N‘-ジメチル-N,N’-ジフェニルウレア0.046重量のクロロホルム溶液の代わりに、上記式17の左側に示すビシクロ構造を有するポルフィリン誘導体0.7重量とトリフェニルホスフィンオキシド0.011重量のクロロホルム溶液をスピンコートし、チャンネル長を98.6μmにした以外は、実施例1と同様にして、電界効果トランジスタを作製した。[比較例1]実施例1において、上記式17の左側に示すビシクロ構造を有するポルフィリン誘導体0.7重量とN,N‘-ジメチル-N,N’-ジフェニルウレア0.046重量のクロロホルム溶液の代わりに、上記式17の左側に示すビシクロ構造を有するポルフィリン誘導体0.7重量のみのクロロホルム溶液をスピンコートした以外は、実施例1と同様にして、電界効果トランジスタを作製した。[比較例2]実施例1において、上記式17の左側に示すビシクロ構造を有するポルフィリン誘導体0.7重量とN,N‘-ジメチル-N,N’-ジフェニルウレア0.046重量のクロロホルム溶液の代わりに、上記式17の左側に示すビシクロ構造を有するポルフィリン誘導体0.7重量とジフェニルエーテル0.030重量のクロロホルム溶液をスピンコートした以外は、実施例1と同様にして、電界効果トランジスタを作製した。移動度とOn/Off比実施例1、2及び比較例1、2で得られた電界効果トランジスタの移動度とOn/Off比をAgilent4155c半導体パラメータアナライザーを用いて、上述の方法により各々3回ずつ測定した。この結果、実施例1については、移動度の平均値で、実施例1が比較例1の1.6倍高かった。また、実施例1のOn/Off比の平均値は、Vg=-30VおよびVg=10Vにおけるドレイン電流の比で、8.8×106であった。実施例2についても、移動度の平均値は、実施例2が比較例1の1.4倍高かった。また、実施例2のOn/Off比の平均値は、Vg=-30VおよびVg=10Vにおけるドレイン電流の比で、1.5×106であった。これに対し、比較例2については、移動度の平均値は、比較例2が比較例1の1.08倍しか無かった。また、比較例2のOn/Off比の平均値は、Vg=-30VおよびVg=10Vにおけるドレイン電流の比で、1.7×106であった。以上の結果から、本発明の有機電子デバイス用組成物を用いることにより、移動度の高い有機半導体層を得ることができることができることがわかった。また、更にON/Off比にも優れることから、有機ELディスプレイの薄膜トランジスタに要求される性能を満たすことが期待される。"