"接地電位部から絶縁した直流電源の電源電圧に応じた電荷量でフライングキャパシタが充電されるときの充電電圧と、前記直流電源の絶縁抵抗を含む前記直流電源の絶縁抵抗測定回路による前記フライングキャパシタの充電電圧とに基づいて、前記直流電源の絶縁状態を検出する絶縁状態検出ユニットであって、前記フライングキャパシタの放電開始時点で該フライングキャパシタの放電回路に選択的に接続され、前記フライングキャパシタの放電電圧のピーク値に相当する電位でホールド用コンデンサを充電して該電位をホールドするピークホールド回路と、前記フライングキャパシタの放電開始後に、前記ピークホールド回路を前記放電回路から電気的に絶縁した状態で、該ピークホールド回路がホールドした電位を測定するホールド値測定手段と、前記ホールド値測定手段の測定値に基づいて、前記フライングキャパシタの充電電圧を検出する充電電圧検出手段と、前記ホールド値測定手段による前記ピークホールド回路のホールド電位がゼロであるときに、前記放電回路から電気的に絶縁した状態で、前記ホールド用コンデンサを所定の電位で充電させる検査用充電手段と、前記検査用充電手段による充電後に、前記ホールド用コンデンサの充電電圧を測定する検査用測定手段と、前記ホールド値測定手段及び前記検査用測定手段の各測定値に基づいて、故障箇所を検出する故障検出手段と、を備えることを特徴とする絶縁状態検出ユニット。前記検査用測定手段は、前記検査用充電手段による充電後に、前記ホールドコンデンサを前記放電回路から電気的に絶縁した状態と接続した状態との双方で、前記ホールド用コンデンサの充電電圧をそれぞれ測定することを特徴とする請求項1記載の絶縁状態検出ユニット。前記故障検出手段は、前記検査用測定手段の測定値と、該測定値の前記検査用測定手段による測定の前後に前記ホールド値測定手段がそれぞれ測定した各測定値とに基づいて、故障箇所を検出することを特徴とする請求項1又は2記載の絶縁状態検出ユニット。ところで、フライングキャパシタの充電電圧は、直流電源から切り離したフライングキャパシタを放電させながら放電電圧として測定している。フライングキャパシタの放電に関しては、次の充電を早く開始するため急速放電が要求される。その一方で、放電電圧の測定に関しては、放電直前のフライングキャパシタの充電電圧に近い電圧値を測定するために、放電開始直後にタイミングよく測定することが要求される。本発明は前記事情に鑑みなされたもので、本発明の目的は、フライングキャパシタを用いて地絡や絶縁状態を検出するのに当たり、直流電源の電源電圧や地絡抵抗に応じた電荷量で充電されたフライングキャパシタの充電電圧を、適切なタイミングで精度よく測定するのに適した絶縁状態検出ユニットを提供することにある。本発明では、直流電源から切り離したフライングキャパシタの急速放電と、フライングキャパシタの放電開始直後の放電電圧測定とを両立させるために、フライングキャパシタの放電開始時の放電電圧値を別回路でホールドすることに着目した。そうすれば、フライングキャパシタの放電をその後も継続しつつ、別回路のホールド値を測定することでフライングキャパシタの放電開始直後の放電電圧値を測定することができる。この場合、別回路のホールド値を測定したら0Vであった場合は、フライングキャパシタの放電開始時の放電電圧値が0Vだということは非現実的なので、別回路やその周辺回路で何らかの故障が生じていると考えるのが妥当である。しかし、測定したホールド値が0Vであるだけでは、0Vをホールドした結果であるのか、ホールド値が経時変化で0Vに下がった結果なのか等、その経緯が分からないので、原因を特定することが困難である。そこで、本発明では、フライングキャパシタの放電開始時の放電電圧値を別回路によりホールドした際のホールド値が明らかに異常な値であった場合に、その原因を特定できるように、以下のような構成を採用した。即ち、上記目的を達成するため、請求項1に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットは、接地電位部から絶縁した直流電源の電源電圧に応じた電荷量でフライングキャパシタが充電されるときの充電電圧と、前記直流電源の絶縁抵抗を含む前記直流電源の絶縁抵抗測定回路による前記フライングキャパシタの充電電圧とに基づいて、前記直流電源の絶縁状態を検出する絶縁状態検出ユニットであって、前記フライングキャパシタの放電開始時点で該フライングキャパシタの放電回路に選択的に接続され、前記フライングキャパシタの放電電圧のピーク値に相当する電位でホールド用コンデンサを充電して該電位をホールドするピークホールド回路と、前記フライングキャパシタの放電開始後に、前記ピークホールド回路を前記放電回路から電気的に絶縁した状態で、該ピークホールド回路がホールドした電位を測定するホールド値測定手段と、前記ホールド値測定手段の測定値に基づいて、前記フライングキャパシタの充電電圧を検出する充電電圧検出手段と、前記ホールド値測定手段による前記ピークホールド回路のホールド電位がゼロであるときに、前記放電回路から電気的に絶縁した状態で、前記ホールド用コンデンサを所定の電位で充電させる検査用充電手段と、前記検査用充電手段による充電後に、前記ホールド用コンデンサの充電電圧を測定する検査用測定手段と、前記ホールド値測定手段及び前記検査用測定手段の各測定値に基づいて、故障箇所を検出する故障検出手段と、を備えることを特徴とする。請求項1に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットのフライングキャパシタ故障検出装置によれば、ホールド値測定手段の測定値がゼロ電位が0Vである場合は、ホールド用コンデンサがフライングキャパシタの放電時に充電されていないか、あるいは、フライングキャパシタの放電電圧のピーク値が0Vということになる。このような状態は正常な状態では起こり得ないので、絶縁状態検出ユニットに何らかの故障が発生していることが伺われる。そこで、検査用充電手段による充電後に検査用測定手段が測定するホールド用コンデンサの充電電圧が0Vであるか否かによって、ホールド用コンデンサのオープン故障であるのか否かを検出することができる。即ち、ホールド用コンデンサの充電電圧に応じたピークホールド回路のホールド電位が明らかに異常な値0Vであった場合に、その原因がホールド用コンデンサにあるかどうかを特定することができる。また、請求項2に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットは、請求項1に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットにおいて、前記検査用測定手段が、前記検査用充電手段による充電後に、前記ホールドコンデンサを前記放電回路から電気的に絶縁した状態と接続した状態との双方で、前記ホールド用コンデンサの充電電圧をそれぞれ測定することを特徴とする。請求項2に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットによれば、請求項1に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットにおいて、ホールド用コンデンサを放電回路から絶縁した状態で検査用測定手段が測定するホールド用コンデンサの充電電圧が0Vであれば、ホールド用コンデンサのオープン故障であることを検出できる。また、ホールド用コンデンサを放電回路から絶縁した状態で検査用測定手段が測定するホールド用コンデンサの充電電圧が0Vでなく、かつ、ホールド用コンデンサを放電回路に接続した状態で検査用測定手段が測定するホールド用コンデンサの充電電圧が0Vであれば、スイッチ手段よりも放電回路側の故障であることを検出できる。したがって、故障箇所の検出範囲をピークホールド回路の外部の部分に拡げて、絶縁状態検出ユニットの故障箇所を広い範囲で特定することができる。さらに、請求項3に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットは、請求項1又は2に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットにおいて、前記故障検出手段が、前記検査用測定手段の測定値と、該測定値の前記検査用測定手段による測定の前後に前記ホールド値測定手段がそれぞれ測定した各測定値とに基づいて、故障箇所を検出することを特徴とする。請求項3に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットによれば、請求項1又は2に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットにおいて、ホールド値測定手段の測定値がゼロ電位が0Vであり、それに続いて検査用測定手段が測定するホールド用コンデンサの充電電圧が、ホールド用コンデンサを放電回路から絶縁した状態と接続した状態とでいずれも0Vでなく、かつ、その後にホールド値測定手段の測定値がゼロ電位が0Vでなければ、ピークホールド回路内の、例えば、スイッチ手段のオープン故障等であることを検出できる。したがって、ピークホールド回路内の故障箇所の検出対象を増やして、絶縁状態検出ユニットの故障箇所をより詳細に特定することができる。本発明の絶縁状態検出ユニットによれば、フライングキャパシタの放電開始時の放電電圧値をピークホールド回路によりホールドした際のホールド値が明らかに異常な値であった場合に、その原因を特定することができる。以下、本発明の実施形態を、図面を参照しながら説明する。図1は本発明の一実施形態に係る絶縁状態検出ユニットを示す回路図である。本実施形態の絶縁状態検出ユニットは、車両図示せずの車体等の接地電位部から絶縁された直流電源Bの正端子側の主回路配線1pや負端子側の主回路配線1nにおける地絡や絶縁状態を検出するユニットである。図1中引用符号RLpは正端子側の地絡抵抗、RLnは負端子側の地絡抵抗であり、それぞれ、正端子側の主回路配線1pや負端子側の主回路配線1nに地絡が発生した場合の仮想抵抗である。主回路配線1p,1nの地絡や絶縁状態を検出する絶縁状態検出ユニット10は、フライングキャパシタC1を含む地絡検出回路11と、フライングキャパシタC1の充電電圧や放電電圧をサンプルホールドするサンプルホールド回路13と、サンプルホールド回路13のホールド値を検出してフライングキャパシタC1の充電電圧や放電電圧を測定するマイクロコンピュータ以下、マイコンと略記する。15とを有している。フライングキャパシタC1は、本実施形態では、セラミックスコンデンサを用いている。地絡検出回路11は、フライングキャパシタC1の他、フライングキャパシタC1を直流電源Bの正極及び負極にそれぞれ選択的に接続するスイッチS1,S2と、フライングキャパシタC1をマイコン15及び接地電位部に選択的に接続するスイッチS3,S4とを有している。フライングキャパシタC1とスイッチS1,S2との間には、抵抗R1,R2がそれぞれ直列に接続されている。なお、後述するマイコン15によってフライングキャパシタC1の充電電圧や放電電圧を測定する際の直流電源Bに対する絶縁性を確保するために、抵抗R1,R2には、同じ値の高い抵抗値の抵抗が使用される。サンプルホールド回路13は、図2の回路図に示すように、マイコン15の第1A/D変換ポートA/D1に一端が接続されたスイッチSaと、このスイッチSaの一端と接地電位部との間に接続された読込用コンデンサCaと、スイッチSaの他端とスイッチS3との間に直列接続される抵抗Raとを有している。読込用コンデンサCaは、スイッチSaが閉じている間、抵抗R5を介してスイッチSaの一端に現れる電位で充電される。マイコン15は直流電源Bよりも低い低圧系の電源図示せずによって動作するもので、直流電源Bはマイコン15の接地電位からも絶縁されている。地絡検出回路11の各スイッチS1~S4,Saとサンプルホールド回路13のスイッチSaとは、例えば光MOSFETで構成されており、直流電源Bから絶縁してマイコン15によりオンオフ制御できるようになっている。マイコン15の第1A/D変換ポートA/D1はサンプルホールド回路13を介してスイッチS3と接続されている。サンプルホールド回路13とスイッチS3との接続点は、抵抗R4を介して接地されており、スイッチS4と接地電位部との間には、抵抗R5が接続されている。また、フライングキャパシタC1の一端図1中上方の極側のスイッチS1,S3は直列接続されており、両者の接続点とフライングキャパシタC1の一端との間には、電流方向切替回路Xが接続されている。電流方向切替回路Xは並列回路であり、その一つは、スイッチS1からフライングキャパシタC1の一端に向けて順方向となるダイオードD0と抵抗R1の直列回路で構成され、他の一つは、スイッチS3からフライングキャパシタC1の一端に向けて順方向となるダイオードD1で構成され、最後の一つは、フライングキャパシタC1の一端からスイッチS3に向けて順方向となるダイオードD2と抵抗R3の直列回路で構成されている。次に、上述した絶縁状態検出ユニット10において、地絡や絶縁状態を検出する際の手順について説明する。まず、マイコン15の制御により、予め決定しておいた予定時間に亘って、スイッチS1,S2をオンさせると共にスイッチS3,S4,Saをオフさせる。ここで、予定時間とは、フライングキャパシタC1が完全に充電されるのに要する時間よりも短い時間である。これにより、直流電源Bの正極から、正端子側の主回路配線1p、スイッチS1、ダイオードD0、抵抗R1、フライングキャパシタC1の一端図1中上方の極、他端同下方の極、抵抗R2、スイッチS2、及び、負端子側の主回路配線1nを経て、直流電源Bの負極に至る充電回路を形成する。以後、この充電回路を第1充電回路と称する。そして、この第1充電回路において、フライングキャパシタC1を直流電源Bの電圧に応じた電荷量で充電する。この充電により、フライングキャパシタC1の一端が正極、他端が負極となる。続いて、マイコン15の制御により、スイッチS1,S2をオフさせると共にスイッチS3,S4をオンさせる。これにより、フライングキャパシタC1の正極が、ダイオードD2、抵抗R3、及び、スイッチS3を介してサンプルホールド回路13に接続され、負極がスイッチS4、及び、抵抗R5を介して接地電位部に接続される。これにより、フライングキャパシタC1を放電させる。また、図3のタイムチャートに示すように、スイッチS3,S4のオンと同時T1の時点に、マイコン15の制御により、サンプルホールド回路13のスイッチSaを短時間T1~T2の期間、例えば、200~300μsオンさせる。これにより、フライングキャパシタC1の充電電圧を抵抗R3,R4で分圧したうちの、抵抗R3の両端電圧の差に相当する電位で、読込用コンデンサCaが充電される。ところで、フライングキャパシタC1の放電開始時には、直流電源Bの電圧に応じた電荷量でフライングキャパシタC1が充電された状態にある。そのため、フライングキャパシタC1の放電開始直後にその放電電圧で充電される読込用コンデンサCaには、直流電源Bの電圧に応じた電荷量のうち、抵抗R4,R5の分圧比に応じた電荷量が蓄積されることになる。そして、マイコン15の制御によりサンプルホールド回路13のスイッチSaをオフさせるとT2の時点、読込用コンデンサCaの充電電圧を分圧した電位が、サンプルホールド回路13を介してマイコン15の第1A/D変換ポートA/D1に入力されて測定される。そこで、この測定値と、抵抗R3,R4の分圧比と、抵抗R4,R5の分圧比とから、直流電源Bの電圧に応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1をマイコン15で測定させる。なお、サンプルホールド回路13のスイッチSaをオフさせた後、フライングキャパシタC1の充電電圧Vc1を測定している間も、スイッチS3,S4はオンされたままであるので、フライングキャパシタC1は引き続き放電状態にある。さらに、フライングキャパシタC1の充電電圧Vc1の測定終了後T3の時点、マイコン15の制御により、サンプルホールド回路13のスイッチSaをオンさせる。これにより、フライングキャパシタC1と読込用コンデンサCaとを放電状態とする。それぞれを完全に放電させた時点でT4の時点、マイコン15の制御により、スイッチS3,S4,Saをオフさせる。そして、フライングキャパシタC1と読込用コンデンサCaとを完全に放電させた後、マイコン15の制御により、上述した予定時間に亘って、スイッチS1,S4をオンさせると共にスイッチS2,S3をオフさせる。これにより、直流電源Bの正極から、正端子側の主回路配線1p、スイッチS1、ダイオードD0、抵抗R1、フライングキャパシタC1の一端、他端、スイッチS4、抵抗R5、接地電位部、負端子側の地絡抵抗RLn、及び、負端子側の主回路配線1nを経て、直流電源Bの負極に至る充電回路を形成する。以後、この充電回路を第2充電回路と称する。そして、この第2充電回路において、フライングキャパシタC1を、負端子側の地絡抵抗RLnに応じた電荷量で充電する。この充電により、フライングキャパシタC1の一端が正極、他端が負極となる。続いて、マイコン15の制御により、スイッチS1,S2をオフさせると共にスイッチS3,S4をオンさせ図3のT1の時点、かつ、サンプルホールド回路13のスイッチSaを短時間図3のT1~T2の期間、例えば、200~300μsオンさせる。その後、マイコン15の制御によりサンプルホールド回路13のスイッチSaを再びオンさせるまでの間図3のT2~T3の期間、直流電源Bの電圧に応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1の測定の際と同様にして、負端子側の地絡抵抗RLnに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1-をマイコン15で測定させる。そして、フライングキャパシタC1と読込用コンデンサCaとを完全に放電させた後、マイコン15の制御により、上述した予定時間に亘って、スイッチS2,S3をオンさせると共にスイッチS1,S4をオフさせる。これにより、直流電源Bの正極から、正端子側の主回路配線1p、正端子側の地絡抵抗RLp、接地電位部、抵抗R4、スイッチS3、ダイオードD1、フライングキャパシタC1の一端、他端、抵抗R2、スイッチS2、及び、負端子側の主回路配線1nを経て、直流電源Bの負極に至る充電回路を形成する。以後、この充電回路を第3充電回路と称する。そして、この第3充電回路において、フライングキャパシタC1を、正端子側の地絡抵抗RLpに応じた電荷量で充電する。この充電により、フライングキャパシタC1の一端が正極、他端が負極となる。続いて、マイコン15の制御により、スイッチS1,S2,S5をオフさせると共にスイッチS3,S4をオンさせ図3のT1の時点、かつ、サンプルホールド回路13のスイッチSaを短時間図3のT1~T2の期間、例えば、200~300μsオンさせる。その後、マイコン15の制御によりサンプルホールド回路13のスイッチSaを再びオンさせるまでの間図3のT2~T3の期間、直流電源Bの電圧に応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1の測定の際や、負端子側の地絡抵抗RLnに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1-の測定の際と同様にして、正端子側の地絡抵抗RLpに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1をマイコン15で測定させる。そして、フライングキャパシタC1と読込用コンデンサCaとを完全に放電させる。ところで、直流電源Bの電圧に応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1、負端子側の地絡抵抗RLnに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1-、及び、正端子側の地絡抵抗RLpに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1と、正端子側の地絡抵抗RLpと負端子側の地絡抵抗RLnとの並列合成抵抗値R=RLpRLn/RLp×RLnとの間には、下記関係式RLpRLn/RLp×RLn={Vc1Vc1-}/Vc1なる関係がある。そこで、マイコン15は、上記の関係式を用いて正端子側と負端子側の地絡抵抗RLp,RLnの並列合成抵抗値を算出し、直流電源Bの地絡や絶縁状態を検出することができる。なお、本実施形態の地絡検出回路11でフライングキャパシタC1として用いているセラミックスコンデンサは、DCバイアスによって静電容量が大きく変わる。また、絶縁状態検出ユニット10の環境温度やフライングキャパシタC1として用いているセラミックスコンデンサの特性の個体差等によっても、静電容量が大きく変わる。そこで、これらの静電容量変化の影響を排除するために、マイコン15による各充電電圧Vc1,Vc1-,Vc1の測定手順を変更してもよい。以下、その測定手順について説明する。フライングキャパシタC1の静電容量が正常時よりも下がると、フライングキャパシタC1を一定時間充電した場合の充電量が正常時よりも高くなり、フライングキャパシタC1の放電量が、放電開始からしばらくの間は高くなる。一方、フライングキャパシタC1の静電容量が正常時よりも上がると、フライングキャパシタC1を一定時間充電した場合の充電量が正常時よりも低くなり、フライングキャパシタC1の放電量が、放電開始からしばらくの間は低くなる。放電開始からしばらく経過すると、フライングキャパシタC1の放電が飽和に近づくので、フライングキャパシタC1の静電容量が正常時より上下していても、それ以降のフライングキャパシタC1の放電量には大きな差は生じない。即ち、フライングキャパシタC1の静電容量特性のばらつきによる充電量の変動は大きいが、フライングキャパシタC1の放電開始からしばらくの間経過した時点における放電電圧のばらつきは小さくなる。具体的には、フライングキャパシタC1を一定時間t1充電した後に放電した場合の放電開始時点における放電電圧VD1と、フライングキャパシタC1の放電開始から時間t2が経過した時点における放電電圧VD2とは、下式VD1=V0×1-exp-{t1/C1×a×RC}VD2=V0×exp-{t2/C1×a×RD}但し、V0:充電電圧C1:フライングキャパシタC1の静電容量RC:充電抵抗値RD:放電抵抗値a:フライングキャパシタC1の静電容量のばらつき係数正常時の静電容量に対する比によって表される。上式から明らかなように、フライングキャパシタC1の静電容量が下がる方向にばらつきが生じた場合、放電開始時点の放電電圧VD1は高くなる。また、放電開始から時間t2が経過した時点の放電電圧VD2も高くなる。反対に、フライングキャパシタC1の静電容量が上がる方向にばらつきが生じた場合、放電開始時点の放電電圧VD1は低くなる。また、放電開始から時間t2が経過した時点の放電電圧VD2も低くなる。このように、フライングキャパシタC1の静電容量が正常時に対して上下したときに、フライングキャパシタの充電量が正常時に対して高低した分は、フライングキャパシタC1の放電量が放電開始からしばらくの間高低することで打ち消されるものと考えられる。したがって、フライングキャパシタC1の放電電圧からフライングキャパシタC1を一定時間充電した際の充電電圧を求める場合、放電電圧VD2を用いた下式V0=VD2/{t2とC1×RDとによる放電割合×t1とC1×RCとによる充電割合}式1但し、放電割合:放電後の電荷残存率充電割合:充電後の電荷残存率によって充電電圧V0を求める方が、放電電圧VD1を用いた下式V0=VD1/t1とC1×RCとによる充電割合式2によって充電電圧V0を求めるよりも、精度が高くなる。そこで、フライングキャパシタC1の放電開始からしばらくの間経過した後に、マイコン15の制御により、スイッチS1,S2をオフさせると共にスイッチS3,S4,Saをオンさせる図3のT1の時点。そして、短時間後にマイコン15の制御によりスイッチSaをオフさせるまでの間図3のT1~T2の期間に充電された読込用コンデンサCaの充電電圧を分圧した電位を、マイコン15の第1A/D変換ポートA/D1の入力から測定し、これに基づいて、フライングキャパシタC1の充電電圧をマイコン15で測定する。このようにして、フライングキャパシタC1の各充電電圧Vc1,Vc1-,Vc1を、フライングキャパシタC1の放電開始からしばらくの間経過した後に測定した放電電圧VD2から求めるようにしてもよい。また、直流電源Bの電源電圧に応じた電荷量で充電されたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1を、上述した放電電圧VD2から求め、負端子側の地絡抵抗RLnに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1-や、正端子側の地絡抵抗RLpに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1を、放電開始時点における放電電圧VD1から求めるようにしてもよい。なお、フライングキャパシタC1の放電が飽和に近づくペースは、フライングキャパシタC1の静電容量によって異なる。したがって、静電容量が正常ではないフライングキャパシタC1の放電量が正常な静電容量のフライングキャパシタC1の放電量と大きく変わらなくなる時点放電開始からしばらくの間経過した時点は、静電容量が正常であるときよりも上か下かによって異なる。そこで、静電容量が正常ではないフライングキャパシタC1の放電量が正常な静電容量のフライングキャパシタC1の放電量と大きく変わらなくなる時点の、静電容量が正常であるときよりも上である場合と下である場合との平均を求めて、その平均した時点を、放電電圧VD2を測定する時点とするようにしてもよい。次に、本実施形態の絶縁状態検出ユニット10が故障検出動作を行うタイミングについて、図4のタイムチャートを参照して説明する。まず、絶縁状態検出ユニット10においては、直流電源Bの電圧を測定するために、まず、スイッチS1,S2のオンにより、第1充電回路においてフライングキャパシタC1を直流電源Bの電圧に応じた電荷量で充電する。続いて、スイッチS3,S4のオンによりフライングキャパシタC1を放電させ、その少し後にスイッチSaをオンして、フライングキャパシタC1の放電開始直後の放電電圧により読込用コンデンサCaを充電する。その後短時間のうちにスイッチSaのみをオフさせ、この状態で、読込用コンデンサCaの充電電圧に応じた電位を、直流電源Bの電圧に応じた電位としてマイコン15により測定する通常計測。さらにその後、スイッチSaを再びオンさせて、スイッチS3,S4と共にオフさせるまでの間、読込用コンデンサCaを放電させる。ところで、通常計測においてマイコン15により測定した、読込用コンデンサCaの充電電圧に応じた電位は、絶縁状態検出ユニット10が正常な状態であれば0Vよりも大きい値であるはずである。したがって、通常計測の結果が0Vであるとすると、絶縁状態検出ユニット10のどこかで故障が生じているものと考えられる。そこで、本実施形態の絶縁状態検出ユニット10では、図5の回路図に示すように、サンプルホールド回路13の読込用コンデンサCaを必要に応じて充電する電荷供給回路17を設けている。この電荷供給回路17は、例えばFETFieldEffectTransistor電界効果トランジスタ等で構成される半導体スイッチSbとプルアップ抵抗Rpとを介して、読込用コンデンサCaとマイコン15の第1A/D変換ポートA/D1との接続点の電位を、必要に応じて所定の電位にプルアップする。そして、通常計測の結果が0Vである場合にマイコン15は、上述した電荷供給回路17を地絡検出回路11及びサンプルホールド回路13と共に制御して、絶縁状態検出ユニット10の故障検出動作を行う。次に、マイコン15がROM図示せずに記憶された故障検出処理プログラムにしたがい絶縁状態検出ユニット10の故障検出処理を実行する際の手順を、図6のフローチャートを参照して説明する。まず、マイコン15は、通常計測を行ったか否かを確認するステップS1。行ったことを確認したならばステップS1でYES、計測結果が0Vであるか否かを確認しステップS3、0Vでない場合はステップS3でNO、一連の処理を終了する。一方、0Vである場合はステップS3でYES、スイッチ故障判定地絡判定とフライングキャパシタC1の放電処理とが終了したか否かを確認するステップS5。ここで、スイッチ故障判定処理は、図4のタイムチャートで破線の枠で囲んだタイミングにおいて実行する。このスイッチ故障判定処理では、先に説明したような手順で、第2充電回路や第3充電回路において、フライングキャパシタC1を負端子側の地絡抵抗RLnや正端子側の地絡抵抗RLpに応じた電荷量で充電する。そして、フライングキャパシタC1の放電により読込用コンデンサCaを充電し、読込用コンデンサCaの充電電圧に応じた電位を、負端子側の地絡抵抗RLnや正端子側の地絡抵抗RLpに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1-,Vc1としてマイコン15により測定する。そして、マイコン15は、測定した充電電圧Vc1-,Vc1を用い、上述した関係式を用いる等して、正端子側と負端子側の地絡抵抗RLp,RLnの並列合成抵抗値を算出し、直流電源Bの地絡や絶縁状態を検出する。したがって、本実施形態では、請求項中の充電電圧検出手段と充電電圧検出手段とが、マイコン15によって構成されている。スイッチ故障判定地絡判定とフライングキャパシタC1の放電処理とが終了したならばステップS5でYES、マイコン15は、半導体スイッチSbを短時間オンさせて、電荷供給回路17により読込用コンデンサCaを充電するステップS7。そして、電荷供給回路17による充電後に、マイコン15は、第1充電回路においてフライングキャパシタC1を直流電源Bの電圧に応じた電荷量で充電するステップS9。さらに、第1充電回路による充電後に、マイコン15は、故障計測1図4参照を実行するステップS11。この故障計測1では、マイコン15は、スイッチS1~S4,Saのオフ状態で、読込用コンデンサCaの充電電圧に応じた電位を測定する。そして、計測結果が0Vであるか否かを確認するステップS13。計測結果が0Vである場合はステップS13でYES、マイコン15は、電荷供給回路17により充電した読込用コンデンサCaが、スイッチSaがオフであるにもかかわらず放電したものとして、マイコン15の第1A/D変換ポートA/D1の入力部の故障例えば、読込用コンデンサCaのオープン故障、故障1と判定するステップS15。そして、一連の処理を終了する。一方、計測結果が0Vでない場合はステップS13でNO、マイコン15は、フライングキャパシタC1の放電を開始するステップS17。そして、少し遅れて、読込用コンデンサCaの充電を開始しステップS19、故障計測2図4参照を実行するステップS21。この故障計測2では、マイコン15は、スイッチS3,S4,Saのオン状態で、読込用コンデンサCaの充電電圧に応じた電位を測定する。そして、計測結果が0Vであるか否かを確認するステップS23。計測結果が0Vである場合はステップS23でYES、マイコン15は、フライングキャパシタC1の放電電圧充電電圧により充電した読込用コンデンサCaが、オン状態のスイッチSaを介して放電したものとして、地絡検出回路11側例えば、主回路配線1p,1nの断線、故障2と判定するステップS25。そして、一連の処理を終了する。一方、計測結果が0Vでない場合はステップS23でNO、マイコン15は、読込用コンデンサCaの充電を終了しステップS27、通常計測を行ったか否かを確認するステップS29。通常計測を行ったことを確認したならばステップS29でYES、計測結果が0Vであるか否かを確認するステップS31。計測結果が0Vである場合はステップS31でYES、一連の処理を終了する。一方、0Vでない場合はステップS31でNO、マイコン15は、読込用コンデンサCaの放電が一切行われていないものとして、ピークホールド回路13内のオープン故障例えば、スイッチSaのオープン故障、故障3と判定するステップS33。そして、一連の処理を終了する。以上の説明からも明らかなように、本実施形態では、図6のフローチャートにおけるステップS1及びステップS29で共にYESの場合の処理と、通常計測を実行するのに関与する地絡検出回路11やサンプルホールド回路13の各構成要素とによって、請求項中のホールド値測定手段が構成されている。また、本実施形態では、図6中のステップS7の処理が、請求項中の検査用充電手段に対応する処理となっている。さらに、本実施形態では、図6中のステップS11及びステップS21の処理が、請求項中の検査用測定手段に対応する処理となっている。また、本実施形態では、図6中のステップS15、ステップS25、及び、ステップS33が、請求項中の故障検出手段に対応する処理となっている。このように構成された本実施形態の絶縁状態検出ユニット10によれば、フライングキャパシタC1の放電開始直後の放電電圧をピーク値としてピークホールド回路13の読込用コンデンサCaに充電し、その充電電圧をマイコン15で測定する構成とする上で、次のような構成を採用した。即ち、マイコン15で測定した読込用コンデンサCaの充電電圧がゼロ0Vであった場合に、読込用コンデンサCaを放電させた後に電荷供給回路17により読込用コンデンサCaを所定の電位に充電したときと、その後に読込用コンデンサCaをフライングキャパシタC1の放電回路から絶縁したときと、その後にフライングキャパシタC1の放電開始直後の放電電圧により読込用コンデンサCaを充電したときに、それぞれ読込用コンデンサCaの充電電圧をマイコン15で測定するようにした。そして、各時点における読込用コンデンサCaの充電電圧の測定値のパターンによって、絶縁状態検出ユニット10の故障箇所を特定するようにした。このため、ピークホールド回路13を用いた絶縁状態検出を行うのに当たり、絶縁状態検出ユニット10の故障箇所の有無を特定して、説エッ状態検出の精度を高めることができる。"