"等間隔で配置される複数の第1チャックと、少なくとも1組の隣接する前記第1チャックの間に、少なくとも1つ配置される第2チャックと、前記第1チャック及び前記第2チャックが表面上に一列に配置されるテーブルと、前記第1チャック及び前記第2チャックの配列方向に沿って前記テーブルを駆動するテーブル駆動部と、前記テーブルの駆動によって、所定の空間位置である検査位置となった前記第1チャックまたは前記第2チャックに配置されたサンプルに対して所定の検査を行い、検査結果を出力する検査部と、前記テーブルの駆動によって、所定の空間位置である検査対象サンプル供給位置となった前記第1チャックに、サンプルを供給して配置する検査対象サンプル供給部と、前記テーブルの駆動によって、所定の空間位置である検査対象サンプル回収位置となった前記第1チャックに配置されたサンプルを、回収する検査対象サンプル回収部と、を備え、前記テーブル駆動部が、隣接する前記第1チャックの間隔である第1間隔と、隣接する前記第1チャック及び前記第2チャックの間隔である第2間隔と、のそれぞれで前記テーブルを駆動するものであり、ある第1チャックが前記検査位置となるとき、当該ある第1チャックとは異なる他の第1チャックが、前記検査対象サンプル供給位置及び前記検査対象サンプル回収位置となることを特徴とするサンプル検査装置。前記テーブルが、前記表面と垂直な回転軸を有し、前記第1チャック及び前記第2チャックが、前記回転軸を中心とした所定の円の周上に配置され、前記テーブル駆動部が、前記円の周上で隣接する1組の前記第1チャックと前記円の中心とが成す中心角の角度である第1角度で、前記回転軸を回転駆動することで、前記テーブルを前記第1間隔で駆動し、前記円の周上で隣接する前記第1チャック及び前記第2チャックと前記円の中心とが成す中心角の角度である第2角度で、前記回転軸を回転駆動することで、前記テーブルを前記第2間隔で駆動することを特徴とする請求項1に記載のサンプル検査装置。少なくとも1組の隣接する前記第1チャックの中間となる位置に、1つの前記第2チャックが配置されることを特徴とする請求項1または2に記載のサンプル検査装置。第1動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御するとともに、第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第2間隔で駆動した後、前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する制御部を、さらに備えることを特徴とする請求項1~3の何れか1項に記載のサンプル検査装置。前記制御部が、前記第1動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部が前記検査位置の前記第1チャックに配置されたサンプルを順次検査するように制御するとともに、前記検査対象サンプル供給部を制御して前記検査対象サンプル供給位置の前記第1チャックにサンプルを順次配置し、前記検査対象サンプル回収部を制御して前記検査対象サンプル位置の前記第1チャックに配置されたサンプルを順次回収し、前記第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部を制御して前記第2チャックに配置されたサンプルを検査するように制御することを特徴とする請求項4に記載のサンプル検査装置。異常を報知する報知部を、さらに備え、前記制御部が、前記第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部が出力する検査結果が所定の基準を満たしていないことを確認すると、前記報知部を制御して、異常を報知し得ることを特徴とする請求項4または5に記載のサンプル検査装置。前記制御部が、前記第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部が出力する検査結果が、第1基準を満たしていないことを確認すると、前記報知部を制御して、前記第1基準を満たしていない検査結果が得られた前記第2チャックのサンプルの異常を報知することを特徴とする請求項6に記載のサンプル検査装置。前記検査部の異常の有無を検証し、検証結果を出力する異常検証部を、さらに備え、前記制御部が、前記第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部が出力する検査結果が、第2基準を満たしていないことを確認すると、前記異常検証部を動作し、前記異常検証部が出力する検証結果が、前記検査部の異常を示すものであることを確認すると、前記報知部を制御して、前記検査部の異常を報知することを特徴とする請求項6または7に記載のサンプル検査装置。前記異常検証部が、所定の抵抗に所定の電流を流したときに当該抵抗に印加される電圧と、所定の抵抗に所定の電圧を印加したときに当該抵抗に流れる電流と、の少なくとも一方を検証結果として出力する第1異常検証部を含むことを特徴とする請求項8に記載のサンプル検査装置。前記異常検証部が、前記検査部が出力する出力結果と、前記検査部が検査するサンプルの温度特性と、に基づいて、前記検査部が当該サンプルを検査した際の雰囲気温度を推定し検証結果として出力する第2異常検証部を含むことを特徴とする請求項8または9に記載のサンプル検査装置。前記テーブルの駆動によって、所定の空間位置である校正用サンプル取扱位置となった前記第1チャックに、サンプルを供給して配置する校正用サンプル取扱部を、さらに備え、前記制御部が、前記第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部が出力する検査結果が、前記第2基準を満たしていないことを確認するが、前記異常検証部が出力する検証結果が、前記検査部の異常を示すものではないことを確認すると、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御するとともに、前記校正用サンプル取扱部が前記校正用サンプル取扱位置の前記第1チャックにサンプルを供給して配置するように制御する、第3動作モードを実行し、前記第3動作モードで前記検査部から出力される検査結果が、第3基準を満たさないことを確認すると、前記報知部を制御して、前記検査部の異常を報知し、前記第3動作モードで前記検査部から出力される検査結果が、前記第3基準を満たすことを確認すると、当該検査結果に基づいて、これ以降に前記検査部から出力される検査結果に対する前記制御部の解釈方法を校正することを特徴とする請求項8~10の何れか1項に記載のサンプル検査装置。前記校正用サンプル取扱部が、サンプルが一列に配置されるカートリッジと、前記カートリッジに配置されるサンプルを、前記校正用サンプル取扱位置となった前記第1チャックに供給して配置するとともに、前記校正用サンプル取扱位置となった前記第1チャックに配置されているサンプルを、前記カートリッジに回収して配置する校正用サンプル供給回収部と、前記カートリッジを、当該カートリッジのサンプルの配列方向に沿って駆動するカートリッジ駆動部と、を備え、前記供給回収部が、前記カートリッジに配置されるサンプルを前記第1チャックに供給すると、前記カートリッジ駆動部は、前記カートリッジを第1方向へ駆動し、前記校正用サンプル供給回収部が、前記第1チャックに配置されるサンプルを前記カートリッジに回収すると、前記カートリッジ駆動部は、前記カートリッジを前記第1方向とは逆方向である第2方向へ駆動することを特徴とする請求項11に記載のサンプル検査装置。前記第2チャックが前記検査位置以外である場合、前記第2チャックのサンプルが配置される空間を遮蔽し、前記テーブルの駆動によって前記第2チャックが前記検査位置となる場合、前記第2チャックに配置されるサンプルが前記検査部によって検査可能となるように、前記第2チャックのサンプルが配置される空間を開放する遮蔽部を、さらに備えることを特徴とする請求項1~12の何れか1項に記載のサンプル検査装置。しかしながら、上記特許文献1のサンプル検査装置では、サンプルにID番号を印字する工程が別途必要になり、工程が煩雑化することが問題となる。さらに、当該サンプル検査装置には、それぞれのサンプルに印字されたID番号を識別するためのCCDカメラ等の装置が必要になり、構成や処理が複雑化するため、問題となる。また、当該サンプル検査装置で検査対象のサンプルが小型になるほど、ID番号の印字が困難になるとともに、ID番号の印字が不可能な商品については検査自体が不可能になるため、問題となる。また、校正用のサンプルが検査対象のサンプルに混ざって頻繁に検査されると、校正用のサンプルの劣化が促進され、校正を精度良く行うことができなくなるため、問題となる。本発明は、上記の問題点に鑑み、検査精度を向上するための作業を簡素化するサンプル検査装置を提供することを目的とする。上記目的を達成するため、本発明は、等間隔で配置される複数の第1チャックと、少なくとも1組の隣接する前記第1チャックの間に、少なくとも1つ配置される第2チャックと、前記第1チャック及び前記第2チャックが表面上に一列に配置されるテーブルと、前記第1チャック及び前記第2チャックの配列方向に沿って前記テーブルを駆動するテーブル駆動部と、前記テーブルの駆動によって、所定の空間位置である検査位置となった前記第1チャックまたは前記第2チャックに配置されたサンプルに対して所定の検査を行い、検査結果を出力する検査部と、前記テーブルの駆動によって、所定の空間位置である検査対象サンプル供給位置となった前記第1チャックに、サンプルを供給して配置する検査対象サンプル供給部と、前記テーブルの駆動によって、所定の空間位置である検査対象サンプル回収位置となった前記第1チャックに配置されたサンプルを、回収する検査対象サンプル回収部と、を備え、前記テーブル駆動部が、隣接する前記第1チャックの間隔である第1間隔と、隣接する前記第1チャック及び前記第2チャックの間隔である第2間隔と、のそれぞれで前記テーブルを駆動するものであり、ある第1チャックが前記検査位置となるとき、当該ある第1チャックとは異なる他の第1チャックが、前記検査対象サンプル供給位置及び前記検査対象サンプル回収位置となることを特徴とするサンプル検査装置を提供する。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、前記テーブルが、前記表面と垂直な回転軸を有し、前記第1チャック及び前記第2チャックが、前記回転軸を中心とした所定の円の周上に配置され、前記テーブル駆動部が、前記円の周上で隣接する1組の前記第1チャックと前記円の中心とが成す中心角の角度である第1角度で、前記回転軸を回転駆動することで、前記テーブルを前記第1間隔で駆動し、前記円の周上で隣接する前記第1チャック及び前記第2チャックと前記円の中心とが成す中心角の角度である第2角度で、前記回転軸を回転駆動することで、前記テーブルを前記第2間隔で駆動すると、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、少なくとも1組の隣接する前記第1チャックの中間となる位置に、1つの前記第2チャックが配置されると、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、第1動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御するとともに、第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第2間隔で駆動した後、前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動し、その後さらに前記テーブルを前記第2間隔で駆動するように制御する制御部を、さらに備えると、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、前記制御部が、前記第1動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部を制御して前記検査位置の前記第1チャックに配置されたサンプルを順次検査させるとともに、前記検査対象サンプル供給部を制御して前記検査対象サンプル供給位置の前記第1チャックにサンプルを順次配置し、前記検査対象サンプル回収部を制御して前記検査対象サンプル位置の前記第1チャックに配置されたサンプルを順次回収し、前記第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部を制御して前記第2チャックに配置されたサンプルを順次検査させると、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、異常を報知する報知部を、さらに備え、前記制御部が、前記第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部が出力する検査結果が所定の基準を満たしていないことを確認すると、前記報知部を制御して、異常を報知し得ると、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、前記制御部が、前記第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部が出力する検査結果が、第1基準を満たしていないことを確認すると、前記報知部を制御して、前記第1基準を満たしていない検査結果が得られた前記第2チャックのサンプルの異常を報知すると、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、前記検査部の異常の有無を検証し、検証結果を出力する異常検証部を、さらに備え、前記制御部が、前記第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部が出力する検査結果が、第2基準を満たしていないことを確認すると、前記異常検証部を動作し、前記異常検証部が出力する検証結果が、前記検査部の異常を示すものであることを確認すると、前記報知部を制御して、前記検査部の異常を報知すると、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、前記異常検証部が、所定の抵抗に所定の電流を流したときに当該抵抗に印加される電圧と、所定の抵抗に所定の電圧を印加したときに当該抵抗に流れる電流と、の少なくとも一方を検証結果として出力する第1異常検証部を含むと、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、前記異常検証部が、前記検査部が出力する出力結果と、前記検査部が検査するサンプルの温度特性と、に基づいて、前記検査部が当該サンプルを検査した際の雰囲気温度を推定し検証結果として出力する第2異常検証部を含むと、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、前記テーブルの駆動によって、所定の空間位置である校正用サンプル取扱位置となった前記第1チャックに、サンプルを供給して配置する校正用サンプル取扱部を、さらに備え、前記制御部が、前記第2動作モードにおいて、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御する際、前記検査部が出力する検査結果が、前記第2基準を満たしていないことを確認するが、前記異常検証部が出力する検証結果が、前記検査部の異常を示すものではないことを確認すると、前記テーブル駆動部が前記テーブルを前記第1間隔で順次駆動するように制御するとともに、前記校正用サンプル取扱部が前記校正用サンプル取扱位置の前記第1チャックにサンプルを供給して配置するように制御する、第3動作モードを実行し、前記第3動作モードで前記検査部から出力される検査結果が、第3基準を満たさないことを確認すると、前記報知部を制御して、前記検査部の異常を報知し、前記第3動作モードで前記検査部から出力される検査結果が、前記第3基準を満たすことを確認すると、当該検査結果に基づいて、これ以降に前記検査部から出力される検査結果に対する前記制御部の解釈方法を校正すると、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、前記校正用サンプル取扱部が、サンプルが一列に配置されるカートリッジと、前記カートリッジに配置されるサンプルを、前記校正用サンプル取扱位置となった前記第1チャックに供給して配置するとともに、前記校正用サンプル取扱位置となった前記第1チャックに配置されているサンプルを、前記カートリッジに回収して配置する校正用サンプル供給回収部と、前記カートリッジを、前記カートリッジに配置されるサンプルの配列方向に沿って駆動するカートリッジ駆動部と、を備え、前記供給回収部が、前記カートリッジに配置されるサンプルを前記第1チャックに供給すると、前記カートリッジ駆動部は、前記カートリッジを第1方向へ駆動し、前記校正用サンプル供給回収部が、前記第1チャックに配置されるサンプルを前記カートリッジに回収すると、前記カートリッジ駆動部は、前記カートリッジを前記第1方向とは逆方向である第2方向へ駆動すると、好ましい。さらに、上記特徴のサンプル検査装置は、前記第2チャックが前記検査位置以外である場合、前記第2チャックのサンプルが配置される空間を遮蔽し、前記テーブルの駆動によって前記第2チャックが前記検査位置となる場合、前記第2チャックに配置されるサンプルが前記検査部によって検査可能となるように、前記第2チャックのサンプルが配置される空間を開放する遮蔽部を、さらに備えると、好ましい。上記特徴のサンプル検査装置では、テーブルの駆動方法を変更することで、検査部が検査するサンプルの種類第1チャックに配置されるサンプル及び第2チャックに配置されるサンプルを、変更することができる。そのため、サンプル検査装置の動作内容に応じて作業者がサンプルを付け替えるなどの作業を、不要にすることができる。したがって、例えば点検動作などの検査精度を向上するための作業を、簡素化することが可能になる。以下、本発明の実施形態に係るサンプル検査装置について、図面を参照して説明する。なお、以下に示す本発明の実施形態に係るサンプル検査装置は、本発明のサンプル検査装置の一つの実施形態に過ぎず、本発明のサンプル検査装置は、当該実施形態のサンプル検査装置に対して種々の変更を加えて実現することが可能である。また、以下では説明の具体化のため、LEDを検査するサンプル検査装置について例示するが、本発明のサンプル検査装置は、LED以外の素子等でも検査可能である。ただし、サンプル検査装置が実行するサンプルの検査方法を、検査対象のサンプルの種類に対応したものにすると、好ましい。<<サンプル検査装置の構成例>>最初に、サンプル検査装置の構成例について、図面を参照して説明する。図1は、本発明の実施形態に係るサンプル検査装置の概略構成例を示す模式図である。また、図2は、本発明の実施形態に係るサンプル検査装置の概略構成例を示すブロック図である。なお、図1は、停止中のサンプル検査装置1の上面視の外観を、模式的に示したものである。図1及び図2に示すように、サンプル検査装置1は、回転軸11aを有するテーブル11と、テーブル11の表面に配置された第1チャック12と、テーブル11の表面に配置された第2チャック13と、所定の空間位置である検査位置P1の第1チャック12または第2チャック13に配置されるサンプルを検査する検査部14と、所定の空間位置である検査対象サンプル供給位置P2の第1チャック12に検査対象サンプルS1を供給して配置する検査対象サンプル供給部15と、所定の空間位置である検査対象サンプル回収位置P3の第1チャック12に配置された検査対象サンプルS1を回収する検査対象サンプル回収部16と、所定の空間位置である校正用サンプル取扱位置P4の第1チャック12に校正用サンプルS3を供給して配置する校正用サンプル取扱部17と、検査部14の異常を検証する異常検証部18と、テーブル11の回転軸11aを駆動するテーブル駆動部19と、作業者に報知を行う報知部20と、サンプル検査装置1の動作に必要なデータを記録する記録部21と、作業者の操作を受け付ける操作部22と、操作部22を介して入力される作業者の指示に基づいてサンプル検査装置1全体の動作を制御する制御部23と、を備える。図1に示す構成例では、テーブル例えば、インデックステーブル11は円形であり、その中心には、テーブル駆動部19によって回転駆動される回転軸11aが備えられる。テーブル駆動部19は、制御部23によりその動作が制御される。また、第1チャック12及び第2チャック13は、テーブル11の表面上で、回転軸11aを中心とした所定の円の周上に一列に配置される。第1チャック12は、当該円の周上に等間隔で配置され、第2チャック13は、隣接する第1チャック12の中間となる位置に1つずつ配置されている。この場合、隣接する第1チャック12と当該円の中心とが成す中心角の角度A1は、隣接する第1チャック12及び第2チャック13と当該円の中心とが成す中心角の角度A2の2倍となる。また、隣接する第2チャック13と当該円の中心とが成す中心角の角度は、角度A1となる。上記の配置例は一例に過ぎず、他の配置例を採用しても良い。例えば、第2チャック13を配置する数が、第1チャック12を配置する数より少なくても良い例えば、第2チャック13が3個、第1チャック12が8個。この場合、第2チャック13が間に配置されない隣接する第1チャック12が、少なくとも1組含まれることになる。また、この場合、隣接する第2チャック13と上記円の中心とが成す角度は、角度A1の倍数となる。図1に示す例のように、上記円の周上に第1チャック12及び第2チャック13をそれぞれ8個ずつ配置する場合、角度A1が45度、角度A2が22.5度となる。なお、詳細については後述するが、制御部23は、テーブル11が角度A1及び角度A2のそれぞれで回転駆動するように、テーブル駆動部19を制御する。また、第1チャック12及び第2チャック13は、配置されたサンプルを固定する機構例えば、ツメや凹部、摩擦抵抗の高い領域などがあっても良いし、当該機構を備えなくてもサンプルが載せられるだけでも良い。図1に示す状態停止状態では、第1チャック12にサンプルは配置されていないが、第2チャック13には点検用サンプルS2が配置されている例えば、常設されている。第2チャック13は、配置された点検用サンプルS2が配置された空間を遮蔽する遮蔽部13a斜線で図示した部分を有しており、点検用サンプルS2が塵や埃などで汚染されないように保護する。そのため、点検用サンプルS2の劣化が抑制される。この遮蔽部13aは、点検モード詳細は後述において、第2チャック13が検査位置P1になるときに、点検用サンプルS2が配置される空間を開放する後述の図5参照。これにより、検査部14が、第2チャック13に配置された点検用サンプルS2を検査可能になる。検査部14は、検査位置P1の第1チャック12または第2チャック13に配置されるサンプルに対して電気的及び光学的に接続し、当該サンプルの検査を行うとともに検査結果を制御部23に出力する。制御部23は、当該検査結果を必要に応じて記録部21に記録したり、当該検査結果に応じてサンプル検査装置1の動作を制御したりする。検査部14は、サンプルであるLEDと電気的に接続するものとして、LEDに所定の電圧または電流を供給して駆動発光させる電力供給装置例えば、コンタクトプローブなどや、LEDに印加される電圧やLEDを流れる電流などを検出する電気特性評価装置を備える。また、検査部14は、サンプルであるLEDと光学的に接続するものとして、LEDが出射する光を評価する光学特性評価装置例えば、フォトダイオードや分光光度計などや、LEDが出射する光を光学特性評価装置の評価に適したものに変換、集積、伝達等を行う光学部品例えば、視感度フィルタ、NDフィルタ、拡散板、光学レンズ、積分球、光ファイバーなどを備える。なお、これらは一例に過ぎず、上述のようにサンプル検査装置1が検査対象とするサンプルの種類や検査方法に応じて、検査部14は適宜必要な装置や部品を備える。検査対象サンプル供給部15は、検査対象サンプル供給位置P2の第1チャック12に、検査対象サンプルS1を供給して配置する。例えば、検査対象サンプル供給部15は、通常検査モード詳細は後述において、テーブル11の回転駆動により順次検査対象サンプル供給位置P2に来る第1チャック12に対して、検査対象サンプルS1を順次供給及び配置可能なローダ具体的に例えば、リニアフィーダなどを備える。なお、検査対象サンプル供給部15は、どのような方法例えば、シュートやピックアップなどで、第1チャック12に検査対象サンプルS1を供給及び配置しても良い。例えば、検査対象サンプル供給部15が、粘着シートなどに貼り付けられた検査対象サンプルS1をピックアップして、第1チャック12に供給及び配置するものであっても良い。また、検査対象サンプル供給部15の動作は、制御部23によって制御される。検査対象サンプル回収部16は、検査対象サンプル回収位置P3の第1チャック12に配置された検査対象サンプルS1を、回収する。例えば、検査対象サンプル回収部16は、通常検査モード詳細は後述において、テーブル11の回転駆動により順次検査対象サンプル回収位置P3に来る第1チャック12に配置された検査対象サンプルS1を、順次回収可能なアンローダを備える。なお、検査対象サンプル回収部16は、どのような方法例えば、シュートやピックアップなどで、第1チャック12に配置された検査対象サンプルS1を回収しても良い。また、検査対象サンプル回収部16の動作は、制御部23によって制御される。また、検査対象サンプル回収部16は、第1チャック12に配置された検査対象サンプルS1を回収する際、当該検査対象サンプルS1の分類を行うと、好ましい。この場合、検査部14が出力する検査結果を確認した制御部23が、検査対象サンプルS1の回収及び分類が同時に行われるように、検査対象サンプル回収部16の動作を制御する。具体的に例えば、検査対象サンプル回収部16が、良品及び不良品の分類や、良品における所定のランク例えば、LEDが出射する光の色度や強度などの分類に応じて、異なる収納ビン16aに回収した検査対象サンプルS1を分類して収納する。このとき、制御部23は、記録部21に記録されている分類方法に従った分類が行われるように、検査対象サンプル回収部16を制御する。当該分類方法は、例えば予め作業者等が操作部22を操作することで入力され、記録部21に記録される。校正用サンプル取扱部17は、校正用サンプルS3が直線上に一列に配置されて収容されるカートリッジ17aと、当該カートリッジ17aを校正用サンプルS3の配列方向に沿って駆動するカートリッジ駆動部17bと、カートリッジ17aに配置される校正用サンプルS3を校正用サンプル取扱位置P4の第1チャック12に供給して配置するとともに、校正用サンプル取扱位置P4の第1チャック12に配置される校正用サンプルS3を回収してカートリッジ17aに配置する校正用サンプル供給回収部17cと、を備える。校正用サンプル供給回収部17cは、校正モード詳細は後述において、テーブル11の回転駆動により順次校正用サンプル取扱位置P4に来る第1チャック12に対して、カートリッジ17aに配置された校正用サンプルS3を、順次供給及び配置可能なローダを備えるとともに、テーブル11の回転駆動により順次校正用サンプル取扱位置P4に来る第1チャック12に配置された校正用サンプルS3を、順次回収してカートリッジ17aに配置可能なアンローダを備える。校正用サンプル供給回収部17cは、どのような方法例えば、シュートやピックアップなどで校正用サンプルS3を供給及び回収しても良い。また、カートリッジ駆動部17b及び校正用サンプル供給回収部17cの動作は、制御部23によって制御される。カートリッジ17aは、サンプル検査装置1から着脱自在であるため、例えば湿度や温度を一定に保持可能なデシケータ内に移動させることができる。したがって、校正用サンプルS3の劣化を、容易かつ効果的に抑制することが可能である。なお、校正用サンプルS3の劣化が問題にならない場合は、カートリッジ17aをサンプル検査装置1に常時接続させても良い。異常検証部18は、検査部14の回路例えば、検査結果を出力するための回路であり、電気特性や光学特性を評価する装置の一部。以下同じ。の異常の有無を検証したり、検査部14の検査状態の異常を検証したりする。具体的に例えば、異常検証部18は、検査部14内の回路の基準抵抗に所定の電流を流したときに当該基準抵抗に印加される電圧と、検査部14内の回路の基準抵抗上記の基準抵抗と同じものでも異なるものでも良い。以下同じ。に所定の電圧を印加したときに当該基準抵抗に流れる電流と、の少なくとも一方を検証結果として出力する第1異常検証部18aと、検査部14が検査するサンプルの温度特性例えば、順方向電圧の温度特性を参照して、検査部14が出力した検査結果から、検査部14が当該サンプルを検査した際の雰囲気温度を推定して出力する第2異常検証部18bと、を備える。なお、図2では、異常検証部18を、検査部14及び制御部23のそれぞれとは異なるもののように図示しているが、異常検証部18の一部または全部が、検査部14に含まれても良いし、制御部23に含まれても良い。第1異常検証部18aに関して、基準抵抗に印加される電圧や基準抵抗に流れる電流の、正常時検査部14内の回路に異常が無いと見なせる場合の範囲を示すデータは、予め記録部21に記録されている。また、第2異常検証部18bに関して、サンプルの温度特性や、検査部14の正常時の温度範囲検査部14が精度良く検査を行い得る温度範囲を示すデータは、予め記録部21に記録されている。テーブル駆動部19は、第1チャック12及び第2チャック13の配列方向に沿って、テーブル11を駆動する。図1に示す例では、テーブル11の回転軸11aを中心とした所定の円の周上に、第1チャック12及び第2チャック13が配列している。そのため、テーブル駆動部19は、当該円の円周に沿ってテーブル11を駆動すべく、回転軸11aを回転駆動する。さらに、図1に示す例では、テーブル11が一方向図中の時計回り方向。具体的に例えば、検査対象サンプル供給位置P2で第1検査対象サンプルS1が配置された第1チャック12が、検査位置P1、検査対象サンプル回収位置P3の順に移動する方向。に回転する。報知部20は、例えば画像表示装置やランプ、スピーカなどからなり、作業者の視覚や聴覚を通じて報知を行う。報知部20は、検査部14が出力する検査結果を確認した制御部23によって制御され、当該検査結果に応じた内容例えば、サンプル検査装置1の異常や、検査部14が出力する検査結果などを報知する。記録部21は、検査部14が出力する検査結果や、検査部14が出力する検査結果を制御部23が解釈する際に適用する補正係数、制御部23が実行するサンプル検査装置1の動作制御プログラムなど、サンプル検査装置1の動作に必要な各種データを記録する。操作部22は、作業者の操作が入力されるボタンやタッチパネル等から成る。作業者は、操作部22の操作により制御部23に対して指示を入力し、サンプル検査装置1を所望の動作モードで動作させたり、所定の動作を所望の実行状態例えば、開始、終了、停止、再開などに移行させたりする。制御部23は、例えばCPUなどの演算装置を備え、上述のようにサンプル検査装置1の各部の動作を制御する。特に、制御部23は、例えば操作部22を介して入力される作業者の指示や検査部14が出力する検査結果に応じて、適切な動作が行われるようにサンプル検査装置1の各部を制御する。また、制御部23は、所定の動作モード例えば、通常検査モードや点検モードでサンプル検査装置1を動作させるとき、検査部14が出力する検査結果に対し、記録部21に記録されている補正係数を適用例えば、乗算して、当該検査結果を解釈する。例えば、補正係数は、検査部14が備える光学特性評価装置例えば、フォトダイオードが出力するデータ例えば、電流値を、所定の指標値例えば、光量を示す値に変換するための係数である。これにより、制御部23は、検査部14に検査されるサンプルの状態を、精度良く解釈することが可能になる。なお、報知部20及び記録部21が、補正係数を適用していない検査結果を報知または記録しても良いし、補正係数を適用した検査結果を報知または記録しても良いし、これらの両方を報知または記録しても良い。なお、検査対象サンプルS1は、例えば出荷しようとする商品の一部または全部であり、特性が未知のサンプルである。また、点検用サンプルS2は、サンプル検査装置1が正常な検査を行い得るか否かを判断するために検査されるサンプルであり、特性が既知のサンプルである。また、校正用サンプルS3は、サンプル検査装置1が正常な検査を行い得る状態にする校正するために検査されるサンプルであり、特性が既知のサンプルである。また、既知である点検用サンプルS2及び校正用サンプルS3の特性は、記録部21に記録される。<<サンプル検査装置の動作例>>次に、サンプル検査装置の動作例について、図面を参照して説明する。なお、本発明の実施形態に係るサンプル検査装置1は、通常検査モード第1動作モードに対応、点検モード第2動作モードに対応及び校正モード第3動作モードに対応の3つの動作モードで動作し得る。以下、これらの動作モードについて、それぞれ説明する。<通常検査モード>通常検査モードは、サンプル検査装置1が、検査対象サンプルS1を順次検査する動作モードである。例えば、作業者が操作部22を操作して、通常検査モードを実行する旨の指示を制御部23に入力することで、通常検査モードが実行される。図3は、図1のサンプル検査装置の通常検査モードにおける状態を示す模式図である。図3に示すように、通常検査モードでは、制御部23が、テーブル駆動部19がテーブル11の回転軸11aを角度A1で順次回転駆動するように、制御する。さらに、制御部23は、検査対象サンプル供給部15が、テーブル11の回転駆動により順次検査対象サンプル供給位置P2に来る第1チャック12に対して、検査対象サンプルS1を順次供給及び配置するように、制御する。また、制御部23は、検査部14が出力する検査結果と、記録部21に記録された当該検査結果に適用する補正係数と、記録部21に記録された検査対象サンプルS1の分類方法と、をそれぞれ確認して、検査対象サンプル回収部16が、テーブル11の回転駆動により順次検査対象サンプル回収位置P3に来る第1チャック12に配置される検査対象サンプルS1を順次回収し、回収した検査対象サンプルS1を収納ビン16aに分類して収納するように、制御する。サンプル検査装置1は、通常検査モードで動作して検査対象サンプルS1の検査を行うことで、例えば出荷しようとする商品の状態良品か否か、どのような特性を有しているかを、検査することができる。<点検モード>点検モードは、サンプル検査装置1が、点検サンプルS2を順次検査する動作モードである。例えば、作業者が操作部22を操作して、点検モードを実行する旨の指示を制御部23に入力することで、点検モードが実行される。図4は、本発明の実施形態に係るサンプル検査装置の点検モード及び校正モードの動作を示すフローチャートである。図4に示すように、点検モードが開始されると、制御部23が、テーブル駆動部19がテーブル11の回転軸11aを角度A2で回転駆動するように、制御するステップ1。このときのサンプル検査装置1の状態を、図5に示す。図5は、図1のサンプル検査装置の点検モードにおける状態を示す模式図である。上述の通常検査モードなど、通常の動作では、テーブル11の回転軸11aが角度A1で回転駆動されるため、第1チャック12は検査位置P1になり得るが、第1チャック12と角度A2だけずれている第2チャック13は、検査位置P1にはならない。しかし、上述のようにテーブル11の回転軸11aを角度A2だけ回転駆動すると、図5に示すように、第2チャック13が検査位置P1になり得る状態となる。第2チャック13が検査位置P1になると、点検用サンプルS2が検査部14によって検査可能となるように、遮蔽部13aが、第2チャック13の点検用サンプルS2が配置された空間を開放する。そのため、検査部14は、劣化が抑制された点検用サンプルS2を検査した検査結果を、出力することが可能になる。なお、図5では、検査位置P1の第2チャック13の遮蔽部13aが二つに分かれることで、点検用サンプルS2が配置された空間が開放されるように図示しているが、これは一例に過ぎず、遮蔽部13aは当該空間をどのように開放しても良い。また、遮蔽部13aの開閉機構は、制御部23によって開閉が制御されるものであっても良いし、検査位置P1に位置するか否かで自発的に機械的に開閉するものであっても良い。制御部23は、テーブル駆動部19がテーブル11の回転軸11aを角度A1で順次回転駆動するとともに、検査部14がテーブル11の回転駆動により順次検査位置P1に来る第2チャック13に配置された点検用サンプルS2を順次検査するように、それぞれ制御するステップ2。さらに、制御部23は、テーブル駆動部19がテーブル11の回転軸11aを角度A2で回転駆動するように、制御するステップ3。これにより、第1チャック12が検査位置P1になり得る状態に戻る。制御部23は、検査部14が出力する検査結果と、記録部21に記録された当該検査結果に適用する補正係数と、記録部21に記録された点検用サンプルS2の既知の特性と、をそれぞれ確認して、所定の基準を満たす検査結果が得られたか補正係数を適用した検査結果が予期した通りであるか否かを判断するステップ4。即ち、サンプル検査装置1が、精度良くサンプルを検査することができるか否かを判断する。具体的に例えば、制御部23が、検査部14が検査した全ての点検用サンプルS2について、補正係数を適用した検査結果が、それぞれの点検用サンプルS2に対して設定されている上限値以下及び下限値以上であることを確認すると、サンプル検査装置1が精度良くサンプルを検査することができると判断するステップ4、YES。この場合、制御部23は、点検モードを終了する。なお、制御部23が、この点検モードが終了した後、それに続いて上述した通常検査モードが実行されるように、サンプル検査装置1の動作を制御しても良い。一方、制御部23が、検査部14が検査した少なくとも1つの点検用サンプルS2について、補正係数を適用した検査結果が、当該点検用サンプルS2に対して設定されている上限値よりも大きいまたは下限値よりも小さいことを確認すると、サンプル検査装置1が精度良くサンプルを検査することができないと判断するステップ4、NO。このとき、制御部23は、点検用サンプルS2に異常があるのか否かを判断するステップ5。具体的に例えば、検査部14が検査した点検用サンプルS2の全てについて、上記の基準が同様に満たされていなければ補正係数を適用した検査結果が、全て上限値よりも大きいまたは全て下限値よりも小さければ、制御部23は、点検用サンプルS2以外の異常と判断するステップ5、NO。上記以外の場合、制御部23は、点検用サンプルS2の異常と判断しステップ5、YES、報知部20を制御して、異常のある点検用サンプルS2補正係数を適用した検査結果が、上限値よりも大きいまたは下限値よりも小さくなったものを作業者に対して報知するステップ6。作業者は、報知部20の報知内容を確認することで、異常のある点検用サンプルS2を容易につきとめ、交換することができる。そして、制御部23は、操作部22を介して作業者が異常を解消した旨の指示を入力するまでステップ7、NO動作を停止させるが、当該指示が入力されればステップ7、YES、再度点検用サンプルS2の検査が行われるように制御するステップ1~4。制御部23が、点検用サンプルS2以外の異常と判断する場合ステップ5、NO、異常検証部18を動作させて検査部14の異常の有無を確認する。例えば、制御部23は、第1異常検証部18aが出力する検証結果と、記録部21に記録している検査部14の正常時における検証結果の範囲を示すデータと、を比較することで、検査部14の回路に異常があるか否かを判断するステップ8。制御部23が、検査部14の回路に異常があると判断するとステップ8、YES、報知部20を制御して、その旨を作業者に対して報知するステップ9。作業者は、報知部20の報知内容を確認することで、容易に検査部14の異常をつきとめ、検査部14を修理することができる。そして、制御部23は、操作部22を介して作業者が異常を解消した旨の指示を入力するまでステップ7、NO動作を停止させるが、当該指示が入力されればステップ7、YES、再度点検用サンプルS2の検査が行われるように制御するステップ1~4。一方、制御部23が、検査部14の回路に異常がないと判断するとステップ8、NO、第2異常検証部18bが出力する検証結果と、記録部21に記録している検査部14の正常時の温度範囲を示すデータと、を比較することで、検査部14の検査時の雰囲気温度が異常であったか否かを判断するステップ10。制御部23が、検査部14の検査時の雰囲気温度が異常であったと判断するとステップ10、YES、報知部20を制御して、その旨を作業者に対して報知するステップ11。作業者は、報知部20の報知内容を確認することで、容易に検査部14の検査時の雰囲気温度が異常であることをつきとめ、当該雰囲気温度を正常に戻すことができる。そして、制御部23は、操作部22を介して作業者が異常を解消した旨の指示を入力するまでステップ7、NO動作を停止させるが、当該指示が入力されればステップ7、YES、再度点検用サンプルS2の検査が行われるように制御するステップ1~4。一方、制御部23は、検査部14の検査時の雰囲気温度が異常ではなかったと判断するとステップ10、NO、補正係数が異常な値になっていると推定し、以下の校正モードでサンプル検査装置1を動作させる。<校正モード>まず、制御部23は、校正用サンプルS3が検査可能である例えば、カートリッジ17aがサンプル検査装置1に取り付けられていることを確認するまでステップ12、NO、待機する。そして、制御部23が、校正用サンプルS3が検査可能であることを確認するとステップ12、YES、テーブル駆動部19がテーブル11の回転軸11aを角度A1で順次回転駆動するとともに、校正用サンプル取扱部17がテーブル11の回転駆動により順次校正用サンプル取扱位置P4に来る第1チャック12に対して校正用サンプルS3を順次供給した後に順次回収し、検査部14が検査位置P1の第1チャック12に配置された校正用サンプルS3を順次検査するように、それぞれ制御するステップ13。ステップ13における校正用サンプル取扱部17の動作について、図面を参照して説明する。図6及び図7は、図1のサンプル検査装置の校正モードにおける状態を示す模式図である。なお、図6は、校正用サンプル取扱部17が、校正用サンプルS3を校正用サンプル取扱位置P4の第1チャック12に供給及び配置する際の状態を示したものである。一方、図7は、校正用サンプル取扱部17が、校正用サンプル取扱位置P4の第1チャック12に配置された校正用サンプルS3を、回収する際の状態を示したものである。まず、図6に示すように、校正用サンプル供給回収部17cが校正用サンプルS3を校正用サンプル取扱位置P4の第1チャック12に供給及び配置する毎に、カートリッジ駆動部17bが、カートリッジ17aにおける校正用サンプルS3の配列方向図中の左右方向に沿って、カートリッジ17aを駆動する。図6では、カートリッジ17aが図中の右方向に駆動する場合を、例示している。そして、校正用サンプル供給回収部17cは、所定の数の校正用サンプルS3をカートリッジ17aから第1チャック12に順次供給して配置すると、次に図7に示すように、校正用サンプル取扱位置P4の第1チャック12に配置された校正用サンプルS3を順次回収して、カートリッジ17aに順次配置する。このとき、校正用サンプル供給回収部17cが校正用サンプル取扱位置P4の第1チャック12に配置された校正用サンプルS3を回収してカートリッジ17aに配置する毎に、カートリッジ駆動部17bが、カートリッジ17aにおける校正用サンプルS3の配列方向図中の左右方向に沿って、カートリッジ17aを駆動する。ただし、このときのカートリッジ17aの駆動方向は、図6に示した駆動方向の逆となる。図7では、カートリッジ17aが図中の左方向に駆動する場合を、例示している。上述のように、校正用サンプルS3の劣化を抑制する必要がある場合、カートリッジ17aから第1チャック12に供給した校正用サンプルS3を、当該第1チャック12からカートリッジ17aに回収し、当該カートリッジ17aをデシケータ等に保管すると、取扱が容易になるため、好ましい。このとき、カートリッジ17aを図6及び図7に示すように駆動すると、校正用サンプルS3を順次供給及び順次回収するために校正用サンプル供給回収部17cが駆動する範囲を、小さくすることが可能になる。より好適には、校正用サンプル供給回収部17cが、校正用サンプルS3を順次供給する時も順次回収する時も、同じ空間位置で校正用サンプルS3を取り扱うことが可能になる。したがって、校正用サンプル供給回収部17cの構成を、簡素化することが可能になる。制御部23は、検査部14による校正用サンプルS3の検査が終了すると、検査部14が出力する検査結果に基づいて、補正係数を算出するステップ14。このとき、制御部23は、得られたそれぞれの検査結果例えば、フォトダイオードの電流値と、記録部21に記録されている校正用サンプルS3から得られるべき指標値例えば、光量を示す値と、の関係に基づいて、補正係数を算出する。具体的に例えば、制御部23は、検査結果と対応する指標値との関係を最小二乗法により求めることで、補正係数を算出する。そして、制御部23は、ステップ14で算出した補正係数が、直前または最初に適用されていた補正係数に対して、所定の大きさである許容範囲を逸脱するほど変動したものであるとステップ15、NO、補正係数の変化が大きすぎるため検査部14の異常例えば、積分球などの光学部品の異常があり得ると判断して、報知部20を制御し、その旨を作業者に対して報知するステップ16。作業者は、報知部20の報知内容を確認することで、容易に検査部14が異常であることをつきとめ、検査部14を修理することができる。そして、制御部23は、操作部22を介して作業者が異常を解消した旨の指示を入力するまでステップ7、NO動作を停止させるが、当該指示が入力されればステップ7、YES、再度点検用サンプルS2の検査が行われるように制御するステップ1~4。一方、制御部23は、ステップ14で算出した補正係数が、直前または最初に設定されていた補正係数に対して、上記の許容範囲内で変動したものであるとステップ15、YES、これ以降、当該補正係数を検査部14の検査結果に適用するべく、記録部21に当該補正係数を記録するステップ17。そして、制御部23は、再度点検用サンプルS2の検査が行われるように制御するステップ1~4。以上のように、サンプル検査装置1は、テーブル11の駆動方法を変更することで、検査部14が検査するサンプルの種類例えば、第1チャック12に配置される検査対象サンプルS1及び第2チャック13に配置される点検用サンプルS2を、変更することができる。そのため、サンプル検査装置の動作内容に応じて作業者がサンプルを付け替えるなどの作業を、無くすことができる。したがって、例えば点検などの検査精度を向上するための作業を、簡素化することが可能になる。<<変形例>>[1]第1チャック12及び第2チャック13が、テーブル11の表面上で所定の円の周上に一列に配置され、テーブル11が回転駆動する場合について例示したが、テーブル11の表面上で第1チャック12及び第2チャック13が所定の方向に沿って一列に配置され、テーブル11が当該方向に沿って駆動する限り、他の配列方法及び駆動方法であっても良い。例えば、第1チャック12及び第2チャック13が、テーブル11の表面上で直線上に一列に配置されるとともに、テーブル11を当該直線方向に沿って駆動させても良い。この場合、テーブル11は、隣接する第1チャック12の間隔第1間隔、上述の角度A1に相当と、隣接する第1チャック12及び第2チャック13の間隔第2間隔、上述の角度A2に相当と、で直線方向に駆動される。ただし、上述の実施形態のように、第1チャック12及び第2チャック13が、テーブル11の表面上で所定の円の周上に一列に配置され、テーブル11を回転駆動させる構成にすると、テーブル11が空間内を移動しないようにするその場で回転駆動させることが可能になり、各位置P1~P4の空間位置を固定することが可能になる。さらに、テーブル駆動部19の構成を、簡素化することが可能になる。したがって、サンプル検査装置1の構成を、簡素化することが可能にある。[2]第1チャック12及び第2チャック13がともに8個である場合について例示したが、第1チャック12が等間隔で配置されるとともに、少なくとも1組の隣接する第1チャック12の間に少なくとも1つの第2チャックが配置される構成であれば、第1チャック12及び第2チャック13をそれぞれ何個ずつ備えても良い。どのような構成としても、第1間隔角度A1及び第2間隔角度A2でテーブル11を駆動することで、第1チャック12及び第2チャック13を検査位置P1にすることができる。ただし、少なくとも1組の隣接する第1チャック12の中間に、1つの第2チャック13を備える構成であると、各位置P1~P4に位置し得るチャック12,13の種類を、簡易に切り替えることが可能になる。具体的には、第2間隔角度A2でテーブル11を駆動する毎に、各位置P1~P4に位置し得るチャック12,13の種類を、切り替えることが可能になる。[3]上述の実施形態では、テーブル11がある方向例えば、図1中で時計回り方向に回転するものとしたが、逆方向の回転を許容しても良い。例えば、テーブル11が角度A2で回転する場合例えば、図4中ステップ1及び3の少なくとも1つが、当該ある方向とは逆方向であっても良い。また、校正モードで動作する場合において、校正用サンプルS3を第1チャック12へ供給する時図6参照と回収する時図7参照とで、回転方向を逆方向としても良い。[4]上述の実施形態における校正用サンプル取扱部17のカートリッジ17aは、校正用サンプルS3が直線上に配列するものであるが、他の線上例えば、円周上や円弧上に配列するものであっても良いし、他の方向例えば、図1等で図示した方向と垂直な方向の直線上に配列するものであっても良い。[5]第1チャック12及び第2チャック13は、同じ構造や材質で構成されると、検査部14の検査精度をより向上させることができるため、好ましい。ただし、検査対象のサンプルがLEDなどの発光素子であると、サンプルと光学特性評価装置及び光学部品との位置関係が、第1チャック12及び第2チャック13の構造や材質よりも検査結果に大きく影響する。そのため、当該位置関係を再現性良く実現できれば、第1チャック12及び第2チャック13の構造や材質を、必ずしも同じにさせなくても良い。"