粒径の異なる粒状材が混在した粒状材料Sを複数に分割して各分割粒状材群の撒き出し画像Gjを撮影し、前記画像Gj毎に各粒状材の輪郭から面積e及び粒径dと粒状材全体の投影面積Ejとを検出し、前記画像Gj毎の各粒状材の粒径dから所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出し、前記画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの加積通過率Pjdiの全画像にわたる面積平均値により前記分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを計測してなる粒状材料の分割式粒度計測方法。請求項1の計測方法において、前記各分割粒状材群を一定面密度又は一定厚さに撒き出してなる粒状材料の分割式粒度計測方法。請求項1又は2の計測方法において、前記粒状材料S中の最大粒径を測定し、その最大粒径の1~3倍長さを一辺とする矩形面積で前記各分割粒状材群を撒き出してなる粒状材料の分割式粒度計測方法。請求項1から3の何れかの計測方法において、前記粒状材料Sから所定限界粒径D未満の微小粒状材を分離すると共に分離前後の粒状材料Sの重量及び含水率を測定し、前記分離後の粒状材料Sを複数に分割して各分割粒状材群の撒き出し画像Gjを撮影すると共に前記重量及び含水率の測定値から粒状材料S中の微小粒状材の加積通過率PDを演算し、前記画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの加積通過率Pjdiの全画像にわたる面積平均値と微小粒状材の加積通過率PDとから前記分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを計測してなる粒状材料の分割式粒度計測方法。請求項1から4の何れかの計測方法において、前記画像Gj毎の各粒状材の粒径dから、当該画像Gjの加積通過率Pjdiの算出に代えて、当該画像Gjの粒状材全体の投影面積Ejに対する所定粒径di以上の粒状材の面積割合=Σe/Ejを所定粒径diの粒度インデクスIjdiとして算出し、前記粒状材料Sの標本Tから求めた所定粒径diの粒度インデクスIdiと当該標本T中の所定粒径di以下の粒状材の加積通過率Pdiとの関係式に基づき、前記画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの粒度インデクスIjdiの全画像にわたる面積平均値Idiを前記分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiに変換してなる粒状材料の分割式粒度計測方法。粒径の異なる粒状材が混在した粒状材料Sを複数に分割した各分割粒状材群の撒き出し画像Gjを撮影する撮像装置、前記画像Gj毎に各粒状材の輪郭から面積e及び粒径dと粒状材全体の投影面積Ejとを検出する検出手段、前記画像Gj毎の各粒状材の粒径dから所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出する算出手段、並びに前記画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの加積通過率Pjdiの全画像にわたる面積平均値により前記分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを計測する計測手段を備えてなる粒状材料の分割式粒度計測システム。請求項6の計測システムにおいて、前記粒状材料から所定限界粒径D未満の微小粒状材を分離する分離装置、前記分離前後の粒状材料の重量及び含水率を測定する測定器、並びに前記重量及び含水率の測定値から粒状材料中の微小粒状材の加積通過率PDを求める演算手段を設け、前記計測手段により、前記画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの加積通過率Pjdiの全画像にわたる面積平均値と微小粒状材の加積通過率PDとから前記分割前の粒状材料の所定粒径diの加積通過率Pdiを計測してなる粒状材料の分割式粒度計測システム。請求項6又は7の計測システムにおいて、前記算出手段により、前記画像Gj毎の加積通過率Pjdiの算出に代えて、当該画像Gj毎の粒状材全体の投影面積Ejに対する所定粒径di以上の粒状材の面積割合=Σe/Ejを所定粒径diの粒度インデクスIjdiとして算出し、前記粒状材料の標本Tから求めた所定粒径diの粒度インデクスIdiと当該標本T中の所定粒径di以下の粒状材の加積通過率Pdiとの関係式を記憶する記憶手段を設け、その関係式に基づき前記計測手段により画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの粒度インデクスIjdiの全画像にわたる面積平均値Idiを前記分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiに変換してなる粒状材料の分割式粒度計測システム。しかし図9の粒度計測システムは、微小粒状材を含む粒径分布幅の広い粒状材料Sの粒径加積曲線Pdを画像解析処理により迅速簡単に作成することができ、従来の篩い分け方法に比して粒径加積曲線Pdの作成に要する労力時間を大幅に削減できるものの、上述したCSG工法等の土木工事では数百~数千kgにも及ぶ大量の粒状材料Sの粒度を計測する必要があるので、その撒き出し画像G図10A参照を撮影するための準備作業撒き出し作業又は片付け作業に依然として甚大な労力時間を要する問題点がある。すなわち、図9において粒状材料Sの撒き出し画像Gを撮影するためには、所定粒径D以上の大径粒状材の輪郭が検出できるような所定厚さ例えば、所定粒径D以下の厚さに粒状材料Sを撒き出す必要があるが図5A参照、粒状材料Sの量が多くなると撒き出し面積A×Bも大きくなるのでその撒き出し作業に労力時間がかかると共に、撒き出し面積の全体が写り込むように撮像装置5の設置高さh粒状材料Sの撒き出し面から撮像装置5までの距離h≒A/2/tanθ/2、ただしA≒B、θは撮像装置の画角も大きくする必要があるので撮影装置5の支持枠等も大型化大規模化する必要が生じる。本発明者の実験によれば、例えば1m以上の大粒径の粒状材を含む数百~数千kgの粒状材料Sを対象として図5Aのような撒き出し画像Gを撮影する場合は、5m×5m以上の撒き出し面積が必要であり、撮像装置5の設置高さhも7m以上とする必要がある。このように撒き出し面積が大きくなると、単に撒き出し敷き均し作業の負担が大きくなるだけでなく、撮像装置5の高さhの増大に伴って撒き出し画像Gから輪郭を検出できる粒状材の粒径にも限界が生じるので、画像Gからの粒状材の輪郭検出精度が低下し、ひいては粒状材料Sの粒度管理の精度低下を招くおそれもある。このため、大粒径の粒状材を含む大量の粒状材料Sの粒度を短時間で精度よく計測できる技術の開発が望まれている。そこで本発明の目的は、大粒径の粒状材を含む粒状材料の分割式粒度を短時間で精度よく計測する方法及びシステムを提供することにある。図1のブロック図及び図2の流れ図を参照するに、本発明による粒状材料の分割式粒度計測方法は、粒径dの異なる粒状材sが混在した粒状材料Sを複数に分割して各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gj図10A参照を撮影し、その撒き出し画像Gj毎に各粒状材sの輪郭から面積e及び粒径dと粒状材全体の投影面積Ejとを検出し、前記画像Gj毎の各粒状材sの粒径dから所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出し、撒き出し画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの加積通過率Pjdiの全画像にわたる面積平均値=ΣPjdiEj/ΣEjにより分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを計測してなるものである。また、図1のブロック図を参照するに、本発明による粒状材料の分割式粒度計測システムは、粒径dの異なる粒状材sが混在した粒状材料Sを複数に分割した各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gj図10A参照を撮影する撮像装置5、その撒き出し画像Gj毎に各粒状材sの輪郭から面積e及び粒径dと粒状材全体の投影面積Ejとを検出する検出手段17、撒き出し画像Gj毎の各粒状材sの粒径dから所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出する算出手段18、並びに撒き出し画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの加積通過率Pjdiの全画像にわたる面積平均値=ΣPjdiEj/ΣEjにより分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを計測する計測手段19を備えてなるものである。好ましくは、図1に示すように、各分割粒状材群Sjを一定面密度又は一定厚さに撒き出す撒き出し装置4を設ける。撒き出し装置4を設ければ、撒き出し条件の一定化によって撮影条件も一定化することができ、撒き出し条件の変動に起因する計測値の変動要因を除去することができる。また、予め粒状材料S中の最大粒径を測定しておき、その最大粒径の1~3倍長さを一辺とする矩形面積で各分割粒状材群Sjを撒き出すことが望ましい。望ましくは、図1に示すように、粒状材料Sから所定限界粒径D未満の微小粒状材を分離する分離装置6、分離前後の粒状材料Sの重量M及び含水率Zを測定する測定器7、8、並びに重量M及び含水率Zの測定値から粒状材料S中の微小粒状材の加積通過率PDを求める演算手段22を設け、計測手段19において、撒き出し画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの加積通過率Pjdiの全画像にわたる面積平均値=ΣPjdiEj/ΣEjと微小粒状材の加積通過率PDとから分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを計測する。更に好ましくは、算出手段18により、撒き出し画像Gj毎の加積通過率Pjdiの算出に代えて、撒き出し画像Gj毎の粒状材全体の投影面積Ejに対する所定粒径di以上の粒状材の面積割合=Σe/Ejを所定粒径diの粒度インデクスIjdiとして算出し、粒状材料Sの標本Tから求めた所定粒径diの粒度インデクスIdiとその標本T中の所定粒径di以下の粒状材の加積通過率Pdiとの関係式K図6参照を記憶する記憶手段16を設け、その関係式Kに基づき、計測手段19により画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの粒度インデクスIjdiの全画像にわたる面積平均値Idi=ΣIjdiEj/ΣEjを分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiに変換する。本発明による粒状材料の分割式粒度計測方法及びシステムは、粒状材料Sを複数に分割したうえで各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gjを撮影し、その撒き出し画像Gj毎に各粒状材sの輪郭から面積e及び粒径dと粒状材全体の投影面積Ejとを検出して所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出し、撒き出し画像Gj毎の投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの加積通過率Pjdiの全画像にわたる面積平均値により分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを計測するので、次の有利な効果を奏する。イ粒状材料Sを複数に分割したうえで撒き出し画像Gjを撮影するので、撒き出し面積を比較的小さく抑え、粒状材料Sの撒き出し敷き均し作業の短時間化、簡単化を図ることができる。ロまた、撒き出し面積を小さく抑えることにより、その面積全体が写り込む撮像装置5の高さhの比較的低く抑え、撮像装置5の小型化が図れると共に、撮像装置5の高さの増大撒き出し面からの離隔に伴う画像Gj中の粒状材の輪郭検出精度の低下、ひいては粒状材料Sの粒度計測精度の低下を抑えることができる。ハ更に、粒状材料Sを分割したうえで撒き出し画像Gjを撮影するので、各分割粒状材群Sjについて撒き出し画像Gjの撮影を同時並行に進めることにより、粒状材料Sの粒度計測に要する時間を大幅に削減することも可能となる。ニ撒き出し画像Gj毎に所定粒径diの加積通過率Pjdiの算出に代えて粒度インデクスIjdiを算出し、画像Gj毎の粒度インデクスIjdiから分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiに変換することにより、画像Gj毎に加積通過率Pjdiを算出する手間を省き、粒状材料Sの粒度計測の更なる迅速化、簡単化を図ることができる。ヘとくに1m以上の大粒径の粒状材を含む大量の粒状材料Sの粒度を短時間で計測することが可能となり、例えばロックフィルダム建設工事等の粒状材料Sを用いた建設工事に適用した場合に、粒状材料Sの品質管理の容易化を図ると共に粒度管理の頻繁を増やすことで品質管理の高精度化を図ることが期待できる。図1は、本発明の分割式粒度計測システムのブロック図を示す。図示例のシステムは、粒状材料Sを複数の分割粒状材群Sjに小分けして撒き出す撒き出し装置4と、各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gj図10A参照を撮影する撮像装置5と、各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gjを入力して分割前の粒状材料Sの粒度を計測するコンピュータ10とを有する。例えばCSG工法で土木構造物を構築する場合に、構築現場付近の採取場地山や地層1で調達してダンプトラック等の運搬機械3で工事現場へ継続的に供給される地盤材料等の全体又は一部を品質管理用の粒状材料Sとし、その運搬単位毎に粒状材料Sの粒度を計測して品質を管理する。運搬機械3で搬送する材料が均質とみなせる場合は、運搬機械3上の一部を管理対象の粒状材料Sとすれば足りる。なお、本発明の適用対象は地山等から調達される地盤材料等に限らず、例えば原石を所定破砕装置2で破砕して継続的に供給される岩砕材料等の粒状材料Sにも広く適用可能である。図示例の撒き出し装置4は、粒状材料Sを複数の分割粒状材群Sjに分割してそれぞれ所定面積に一定面密度となるように撒き出すものである。例えば最大粒径Dmaxが1m以上の大粒径の粒状材sを含む数百~数千kgの粒状材料Sの全体を図5Aのように撒き出し面積A×Bで撒き出す場合、本発明者の実験によれば、撒き出し面積の一辺A及びBを最大粒径Dmaxの4~10倍程度に設定する必要があり、その撒き出し作業の労力時間が大きくなると共に、その全体が写り込む撮像装置5の高さhも大きくする必要が生じる。これに対し、例えば図5Bのように粒状材料Sを分割して撒き出し面積の一辺aj及びbjを最大粒径Dmaxの1~3倍程度に設定すれば、短時間での撒き出し作業が可能になると共に、撮像装置5の高さの増大撒き出し面からの離隔を防ぐことができる。例えば、分割前の粒状材料S中の最大粒径Dmaxを予め測定しておき、各分割粒状材群Sjをその最大粒径Dmaxの1~3倍の一辺長さの矩形面積に順次撒き出して画像Gjを撮影する。こうすれば、粒状材料Sの全体を撮影する場合に比して画像枚数は増えるが、各画像の撮影準備作業撒き出し作業及び片付け作業の短時間化簡単化を図ると共に、画像からの粒状材輪郭の検出精度ひいては粒状材料Sの粒度計測精度を高めることができる。最大粒径Dmaxは一般に粒状材料S中の全ての粒状材sが通過する篩の最小呼び寸法として定義されるが、例えば同じ採取場で採取された粒状材料Sからそのような最大粒径Dmaxを予め求め、本発明における各分割粒状材群Sjの撒き出しに利用することができる。望ましくは、分割前の粒状材料Sの全重量を測定し、その重量を均等分することで分割後の各分割粒状材群Sjの重量を揃えたうえで、それぞれ一定面積に撒き出す。各分割粒状材群Sjの重量及び撒き出し面積を揃えることで、一定面密度の撒き出し作業の効率化を図ることができる。なお、各分割粒状材群Sjの撒き出し面の形状および各辺の大きさは図示例に限定されず、例えば各辺の長さの比aj/bjを0.5~1.5の範囲内で選択することができ、矩形面に代えて円形面状に撒き出すことも可能である。或いは、各分割粒状材群Sjの重量を測定し、その測定重量に応じて一定面密度例えば10~400kg/m2程度となるように各粒状材群Sjの撒き出し面積aj×bjを設定する。各粒状材群Sjが1m以上の大粒径粒状材を含有しており重量を直接測定することが難しい場合は、粒状材料Sの比重に応じて所定撒き出し面積aj×bjにおける各粒状材群Sjの撒き出し厚さを一定とすることで、面密度を一定にすることも可能である。その撒き出し厚さより大きな粒径の粒状材sはそのまま撒き出さざるを得ないが、その撒き出し厚さより小粒の粒状材sを一定厚さで撒き出すことで、各分割粒状材群Sjの撒き出し面密度の均一化を図ることができる。好ましくは、後述するように撒き出し画像Gjから所定限界粒径D例えば5~10mm以上の粒状材の輪郭を全て検出可能とするため、所定限界粒径D以上の粒状材が埋もれない厚さに各分割粒状材群Sjを撒き出す。図示例の撮像装置5は、図5Aに示すように、撒き出し装置4で撒き出された分割粒状材群Sjの全体が写り込む高さhに下向きに設置されており、各分割粒状材群Sjの全体が写り込む撒き出し画像Gjを撮像する。上述したように本発明では、粒状材料Sを複数に分割して撒き出し面積を小さく抑えることで撮像装置5の大型化撒き出し面からの離隔を防ぐことができるので、例えば小型デジタルカメラ等の撮像装置5を用いて比較的高精細な撒き出し画像Gjを撮影することができる。図示例のコンピュータ10は、キーボード等の入力装置11と、ディスプレイ等の出力装置12と、一次又は二次記憶装置等の記憶手段16とを有する。またコンピュータ10は内蔵プログラムとして、撮像装置5から各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gjを入力する入力手段14と、その撒き出し画像Gj毎に分割粒状材群Sj中の各粒状材sの輪郭から面積e及び粒径dと粒状材全体の投影面積Ejとを検出する検出手段17と、その各粒状材sの粒径dから画像Gj毎に所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出する算出手段18と、その画像Gj毎の所定粒径diの加積通過率Pjdiから分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを計測する計測手段19と、計測した加積通過率Pdi等を出力装置12に出力する出力手段15とを有する。図示例のコンピュータ10の内蔵プログラムには、分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiから粒径加積曲線Pdを作成する作成手段20、及びその粒状材料Sの粒径加積曲線Pdと最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsの粒径加積曲線Prd、Psdとを比較して粒度品質を判定する判定手段21も含まれる。好ましくは、図示例のように、分割前の粒状材料Sから所定限界粒径D例えば5~10mm未満の微小粒状材シルト粘土等を分離する分離装置6を設け、分離装置6により粒状材料Sから微小粒状材を分離したうえで撒き出し装置4により複数に分割し、微小粒状材を分離した各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gjをコンピュータ10に入力する。例えば、画像Gjから輪郭を検出することが困難な限界粒径D未満の微小粒状材が分割粒状材群Sj中に多量に含まれていると、限界粒径D以上の粒状材が微小粒状材に埋もれてしまい、検出手段17において画像Gjから必要な粒状材の輪郭を検出することが難しくなる。また、微小粒状材が団子状に固まり又は大径の粒子にこびり付くことによって、検出手段17が各粒状材の粒径を誤認識し、検出した面積e及び粒径dに誤差を生じるおそれがある。予め分離装置6によって粒状材料Sから微小粒状材を分離しておくことにより、検出手段17における各粒状材の輪郭検出精度を高めることができる。使用する分離装置6は粒状材料S中の微小粒状材の状態に応じて異なりうるが、例えば微小粒状材が乾燥している場合は篩い分け装置とし、微小粒状材が湿潤して他の粒状材にこびり付いている場合は水洗い装置等とすることができる。ただし、分離装置6は本発明のシステムに必須のものではなく、例えば粒状材料S中に含まれる微小粒状材が少なく、検出手段17において粒状材の粒径を誤認識するおそれが小さいときは、分離装置6は省略可能である。図2は、図1のシステムを用いた本発明による粒状材料Sの分割式粒度計測方法の流れ図を示す。以下、図2の流れ図を参照して図1のシステムを説明する。先ず図2のステップS101は、上述した撒き出し装置4により粒状材料Sを複数に分割して撒き出し、撮像装置5により各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gj図10A参照を撮像してコンピュータ10に入力する処理を示す。次いでステップS102~S104において、入力した撒き出し画像Gj毎に、そこに写り込んだ分割粒状材群Sjについて所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出する。ステップS102では、入力した撒き出し画像Gjをコンピュータ10の検出手段17に入力し、先ず図10Cに示すように画像G中の個々の粒状材の輪郭を検出する。例えば画像Gを画素の明暗に基づいて二値化処理し、その二値化画像からラベリングやパターンマッチング等の手法を用いて各粒子の輪郭を抽出する図10B参照。望ましくは、上述したように画像Gjから所定限界粒径D例えば5~10mm以上の粒状材の輪郭を全て検出する。またステップS102において、検出した各粒状材の輪郭から各粒状材の面積e及び粒径dを求め、面積情報二次元情報を体積情報三次元情報へ変換すると共に、粒状材全体の投影面積Ej=Σeを求める。例えば図5Cのように粒状材が球体とみなせる場合は、その粒状材の面積等価径を粒径dとし、その球体の断面積を面積eとする。或いは図5Dに示すように、各粒状材の輪郭に楕円形を例えば最小二乗近似によりフィッティングさせて長径b短径aを求め、その短径aを粒状材の粒径d篩い径とし、近似した楕円形の面積を粒状材の面積eとする。楕円近似に代えて各粒状材の輪郭に外接する最小矩形を求め、その最小矩形の短径aを粒径dとし、その最小矩形の面積を粒状材の面積eとしてもよい。或いは各粒状材の輪郭内部の画素数を面積に換算して各粒状材の面積eを算出することも可能である。次いでステップS103において、検出手段17で検出された各粒状材sの粒径dをコンピュータ10の算出手段18に入力し、撒き出し画像Gj毎の所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出する。例えば、算出手段18により各粒状材sの粒径dから各粒状材を等価径の単純立体球又は立方体にモデル化して体積vを算出し、各粒状材の体積vを粒径dの降順に並べると共に全体積Vj=Σvを算出し、その全体積Vjに対する所定粒径diより小径の粒状材の割合として所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出する。各粒状材sの体積vから加積通過率Pjdiを算出する方法に代えて、粒状材料Sの各粒状材sの土粒子密度又は単位体積重量を予め求めておき、それらを用いて所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出することも可能である。好ましくは、複数の所定粒径di例えば10mm、20mm、30mm、40mm等について、それぞれ全体積Vjに対する所定粒径diより小径の粒状材の割合pを求めることにより、撒き出し画像G毎に複数の所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出する。ステップS104は、全ての撒き出し画像GjについてステップS102~S103を繰り返すことを示す。ステップS102~S104において全ての撒き出し画像Gjについて所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出したのち、その算出結果をステップS107においてコンピュータ10の計測手段19に入力し、分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを計測する。図5Bに示すように、粒状材料Sを分割した各分割粒状材群Sjの所定粒径diの加積通過率Pjdiを、各分割粒状材群Sjの撒き出し面積aj×bjで重み付けしたうえで総計し、その総計を撒き出し面積の総計=Σaj×Σbj=A×Bで除して平均値を求めることにより、分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiが得られる。具体的には、各画像Gjの投影面積Ejで重み付けされた所定粒径diの加積通過率Pjdiの総計=ΣPjdiEjを求め、その加積通過率Pjdiの総計を全画像Gjの投影面積Ejの総計=ΣEjによって除して面積平均値=ΣPjdiEj/ΣEjを算出することにより分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを求める。或いは、各画像Gjの投影面積Ejで重み付けするのではなく、上述した各画像Gjに写り込んだ粒状材の全体積Vj=Σvで所定粒径diの加積通過率Pjdiを重み付けし、それを全画面Gjの総計全体積V=ΣVjにより除して体積平均値を算出することにより、分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを求めることも可能である。図2のステップS108は、分割前の粒状材料Sについて算出した所定粒径diの加積通過率Pdiをコンピュータ10の作成手段20に入力し、粒状材料Sの粒径加積曲線Pdを作成する処理を示す。図7は、上述した分離装置6により所定限界粒径D未満の微小粒状材を分離した後の粒状材料Sについて、作成手段20で作成した所定限界粒径D以上の粒径加積曲線Pd≧Dの一例を示す。図示例の粒径加積曲線Pは、算出手段18において各撒き出し画像Gjの複数の所定粒径di図示例では10mm、20mm、40mmについてそれぞれ加積通過率Pjdiを算出し、計測手段19において分割前の粒状材料Sの複数の所定粒径diにおける各加積通過率Pdiに変換したものである。ステップS109~S110は、ステップS108で作成した粒状材料Sの粒径加積曲線Pdをコンピュータ10の判定手段21に入力し、判定手段21において、粒状材料Sの粒径加積曲線Pdを最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsの粒径加積曲線Prd、Psdと比較して粒度品質を判定する処理を示す。このような最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsは、上述したように粒状材料Sの数多くの粒度試験によって予め選定し、その粒度試験で求めた粒径加積曲線Prd、Psdを例えばステップS101において記憶手段16に登録しておくことができる。或いは、図7に示すように所定限界粒径D未満の微小粒状材を分離した粒状材料Sの粒径加積曲線Pd≧Dと対比する場合は、最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsから微小粒状材を分離した所定限界粒径D以上の粒径加積曲線Prd≧D、Psd≧Dを作成して記憶手段16に登録しておくことができる図12も参照。例えば、判定手段21により粒状材料の粒径加積曲線Pd≧Dが粒径加積曲線Prd≧D、Psd≧Dの間の規定範囲内にあるか否か正常か否か、何れの粒径加積曲線Pr、Psの側に変動しているか変動の傾向等を確認することにより、粒状材料Sの粒度品質を判定する。図2のステップS111は、ステップS109~S110において粒状材料Sの粒度品質が規定範囲外であると判定された場合に、必要に応じて粒状材料Sの粒度を調整する処理を示す。粒度の調整方法は、例えば図7において粒状材料Sの粒径加積曲線Pd≧Dが最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsの何れの側に外れているかによって相違するが、粒径加積曲線Pの判定結果を総合的に考慮して粒状材料Sの粒度を調整することができる。粒度調整後にステップS101へ戻り、上述したステップS101~S110の処理をやり直す。ただし、ステップS111の粒度調整は本発明に必須の処理ではなく、ステップS111において図13のひし形の規定範囲内となるように粒状材料Sに混合する単位水量を調整することも可能であり、規定範囲外であると判定された粒状材料Sを土木工事に使用しない場合はステップS111を省略できる。ステップS109~S110で粒状材料Sの粒度品質が規定範囲内であると判定された場合はステップS112へ進み、例えば図7の今回供給された粒状材料Stの所定粒径diの加積通過率Ptdi及び粒径加積曲線Ptd≧Dを記憶手段16に累積記憶したのち、ステップS113において粒状材料Sの粒度計測を継続するか否かを判断する。継続する場合はステップS101へ戻り、次回供給される粒状材料St1について上述したステップS101~S118を繰り返し、所定粒径diの加積通過率Pt1diを計測して粒径加積曲線Pt1を作成する。ステップS112において粒状材料Sの加積通過率Pdi及び粒径加積曲線Pを記憶手段16に累積記憶しておくことにより、次回以降のステップS109~S110の判定処理において、判定手段21により今回供給材料Stの加積通過率Ptdi又は粒径加積曲線Ptdと前回供給材料St-1の加積通過率Pt-1di又は粒径加積曲線Pdt-1とを比較して粒状材料Sの粒度の経時的変化粒度変動を判定し、粒状材料Sの粒度品質の変化を迅速に把握することが可能となる。本発明は、粒状材料Sを複数に分割したうえで撒き出し画像Gjを撮影し、複数の撒き出し画像Gjから分割前の加積通過率Pdiを計測し、さらに粒径加積曲線Pdを作成するので、撒き出し面積を比較的小さく抑え、粒状材料Sの撒き出し敷き均し作業の短時間化、簡単化を図ることができる。また、撒き出し面積全体が写り込む撮像装置5の高さhの比較的低く抑え、撮像装置5の高さの増大に伴う計測精度の低下、ひいては粒状材料Sの粒度計測精度の低下を抑えることができる。更に、各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gjの撮影を同時並行に進めることにより、粒状材料Sの粒度計測に要する時間を大幅に削減することも期待できる。こうして本発明の目的である大粒径の粒状材を含む粒状材料の分割式粒度を短時間で精度よく計測する方法及びシステムの提供を達成できる。図4は、本発明による粒状材料Sの分割式粒度計測方法の他の流れ図を示す。上述した図2の流れ図のステップS102~103では、撒き出し画像Gj毎に各粒状材sの輪郭及び粒径dから体積vを算出すると共に全粒状材sの体積Vj=Σvを算出し、その全体積Vjに対する所定粒径diより小径の粒状材の割合として所定粒径diの加積通過率Pjdiを算出している。ただし、例えば図10Aに示すような撒き出し画像Gから所定粒径di例えば10mm以下の全ての粒状材sの輪郭及び粒径dを検出することが画像解析上困難であることも多い。このような所定粒径di以下の粒状材sの検出に比して、その所定粒径di例えば10mm以上の粒状材の検出は画像解析上比較的容易であり、例えば撒き出し画像G中の粒状材全体の投影面積Ejに対する所定粒径di以上の粒状材sの面積eの総和Σeの面積割合Σe/E以下、所定粒径diの粒度インデクスIdiというは比較的容易に精度よく求めることができる。図6は、同じ地山から採取された複数の粒状材料Sについて、それぞれ篩分け作業等の従来方法により粒径di=10mm、20mm、30mm、40mm以下の粒状材の加積通過率Pdiを求めると共に、その撒き出し画像Gから各粒径di=10mm、20mm、30mm、40mm以上の粒状材の粒度インデクスIdiを算出し、それらの結果を二次平面加積通過率Pdを縦軸とし面積割合Σe/Eを横軸とした平面上にプロットしたものである。図6のグラフは、粒状材料Sの異なる粒径diにおける加積通過率Pdiがそれぞれ、粒度インデクスIdiの多次元回帰モデルy=Σanxnで表わせることを示している。図6のような関係式例えば多次元回帰モデルを利用すれば、撒き出し画像Gから検出した所定粒径diの粒度インデクスIdiに基づき、その所定粒径diの加積通過率Pdを推定することができる。図4の流れ図は、図2ステップS103のように撒き出し画像Gj毎に加積通過率Pjdiを算出することに代えて、撒き出し画像Gj毎の粒度インデクスIdiを用いて粒状材料Sの粒度を計測する方法である。図4のステップS301~S303は、コンピュータ10の関係式設定手段23図1参照により、粒状材料Sの所定粒径diの粒度インデクスIdiとその粒径di以下の粒状材の加積通過率Pdiとの関係式Kを設定する初期処理を示す。先ずステップS301において、粒状材料Sの標本Tを用い、例えば図1の分離装置6によって標本Tから所定限界粒径D例えば5~10mm未満の微小粒状材を分離したうえで、撮像装置5により標本Tの撒き出し画像Gを撮像してコンピュータ10に入力する。また、その微小粒状材分離後の標本Tについて、標本T中の所定粒径di例えば図6に示す10mm、20mm、30mm、40mm等以下の粒状材の加積通過率Pdiを篩い分けその他の従来方法により求め、求めた各粒径diの加積通過率Pdiを入力装置11からコンピュータ10に入力する。ステップS302において、撒き出し画像Gをコンピュータ10の検出手段17に入力し、図10Cに示すように画像G中の各粒状材の輪郭を検出し、更にその輪郭から各粒状材の面積e及び粒径dを求めると共に、粒状材全体の投影面積E=Σeを求める。画像G中の全ての粒状材の輪郭及び粒径dを検出することが難しい場合でも、輪郭が検出できる限界粒径D例えば5~10mm以上の粒状材の輪郭を全て検出することが望ましく、少なくともステップS301において加積通過率Pdiを求めた最小の粒径di例えば10mm以上の粒状材の輪郭及び粒径dを全て検出する。またステップS302において、検出手段17で検出した撒き出し画像G中の各粒状材の粒径dをコンピュータ10の粒度インデクス算出手段18aに入力し、例えば撒き出し画像G中の複数の所定粒径di例えば10mm、20mm、30mm、40mm等について、それぞれ各粒径di以上の粒状材の面積の総和Σeを求め、撒き出し画像G中の粒状材全体の投影面積Eに対する粒径di以上の粒状材の面積割合=Σe/Eを各粒径diの粒度インデクスIdiとして算出する。次いで、ステップS303において、算出手段18aで求めた複数の所定粒径diの粒度インデクスIdiを関係式設定手段23に入力し、関係式設定手段23においてステップS301で入力した各所定粒径diの加積通過率Pdiと算出手段18aで求めた粒度インデクスIdiとの関係式Kを設定する。例えば図6に示すように、複数の所定粒径diの加積通過率Pdi及び粒度インデクスIdiをそれぞれ二次平面上にプロットし、加積通過率Pdiを目的変数従属変数とし粒度インデクスIdiを説明変数独立変数とする適切な回帰モデル例えば粒度インデックスの多項式多次元回帰モデル、対数関数、べき関数、指数関数等を設定して関係式Kとし、設定した関係式Kを記憶手段16に記憶する。好ましくは、ステップS301において複数の標本Tの撒き出し画像Gを撮像すると共にその複数の標本Tからそれぞれ加積通過率Pdiを求め、ステップS303において複数の標本Tから求めた加積通過率Pdi及び粒度インデクスIdiに基づき関係式Kを設定する。図6から分かるように、同じ採取場で採取した粒状材料Sの標本Tから求めた各粒径diの加積通過率Pdi及び粒度インデクスIdiは概ね近似しているが、標本T毎に多少の変動がみられるので、複数の標本Tに基づき相関係数rのできるだけ大きい関係式Kを設定することにより、後述する粒度インデクスIdiから加積通過率Pdiを推定する精度を高めることができる。本発明者の実験によれば、例えば粒状材料Sの5~10程度の標本Tを用いることにより、例えば相関係数rが0.995程度の関係式Kを設定することが可能である。なお、ステップS301~S303の関係式Kの設定は、必ずしも工事現場で行う必要はなく、例えば実験室等において粒状材料Sの複数の標本Tを用いて予め関係式Kを設定し、その関係式Kを現場のコンピュータ10に入力して記憶手段16に記憶することも可能である。この場合は、ステップS301~S303に代えて関係式Kをコンピュータ10に入力するステップを設ければ足り、粒状材料Sの標本Tから関係式Kを求めるコンピュータ10の関係式設定手段23図1参照は省略可能である。図4のステップS304~S309は、記憶手段16に記憶された関係式Kに基づき、採取場1又は破砕装置2から継続的に供給される粒状材料Sの分割式粒度計測方法の流れを示す。先ずステップS304において、上述した図2のステップS101と同様に、撒き出し装置4により粒状材料Sを複数に分割して撒き出し、撮像装置5により各分割粒状材群Sjの撒き出し画像Gj図10A参照を撮像してコンピュータ10に入力する。次いでステップS305~S306において、コンピュータ10の検出手段17において撒き出し画像Gj毎に各粒状材の輪郭から面積e及び粒径dを求めると共に粒状材全体の投影面積Ej=Σeを求め、更に上述したステップS302と同様に、粒度インデクス算出手段18aにおいて撒き出し画像G毎に所定粒径diの粒度インデクスIjdiを算出する。ステップS309において、撒き出し画像G毎の所定粒径diの粒度インデクスIjdiをコンピュータ10の計測手段19の粒度インデクス変換手段19aに入力し、分割前の粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを計測する。粒度インデクス変換手段19aは、先ず上述した図2のステップS107と同様に、各画像Gjの投影面積Ejで重み付けした所定粒径diの粒度インデクスIjdiの総計=ΣIjdiEjを求め、その粒度インデクスIjdiの総計を全画像Gjの投影面積Ejの総計=ΣEjによって除して面積平均値=ΣIjdiEj/ΣEjを算出することにより分割前の粒状材料Sの所定粒径diの粒度インデクスIdiを求める。次いで、関係式Kにより、算出した粒状材料Sの所定粒径diの粒度インデクスIdiを加積通過率Pdiに変換する。或いは、各画像Gjの投影面積Ejによる重み付けに代えて、上述したステップS108の場合と同様に、各画像Gjの全体積Vj=Σvで重み付けを行うことも可能である。図4のステップS310は、図2のステップS108と同様に、コンピュータ10の作成手段20により、粒状材料Sの加積通過率Pdiから粒径加積曲線Pdを作成する処理を示す図7参照。またステップS311は、図2のステップS109と同様に、コンピュータ10の判定手段21により、粒状材料Sの粒径加積曲線Pdを最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsの粒径加積曲線Prd、Psdと比較して粒度品質を判定する処理を示す。図3の流れ図のように、粒状材料Sの撒き出し画像Gから比較的容易に検出できる所定粒径diの粒度インデクスIdiとその粒径diの加積通過率Pdとの関係式Kを用いることにより、撒き出し画像Gj毎に加積通過率Pjdiを算出する手間を省き、粒状材料Sの粒度計測の更なる迅速化、簡単化を図ることができる。上述した図2及び図4の流れ図では、図7に示すように微小粒状材分離後の粒状材料Sから所定限界粒径D例えば5~10mm以上の粒径加積曲線Pd≧Dを作成し、その粒径加積曲線Pd≧Dを最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsの所定限界粒径D以上の粒径加積曲線Prd≧D、Psd≧Dと対比して粒度品質を判定している。しかし、図7の粒径加積曲線Pd≧Dには所定限界粒径D未満の微小粒状材の含有率が反映されておらず、とくに粒状材料S中に所定限界粒径D未満の微小粒状材が多量に含まれている場合は、所定限界粒径Dの近傍において粒状材料Sの粒径加積曲線Pd≧Dと最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsとを対比し、その何れの側に変動しているか変動の傾向等を確認することが難しくなる。最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsとの対比を簡単化するためには、所定限界粒径D未満の微小粒状材の含有率を考慮した粒径加積曲線Pd≧Dを作成することが有用である。図1の実施例では、粒径計測システムに微小粒状材を分離する分離装置6を含めると共に、微小粒状材を分離する前後の粒状材料Sの重量M及び含水率Zを計測する測定器7、8を含め、その重量M及び含水率Zの計測値から粒状材料S中の微小粒状材の加積通過率PDを求める演算手段22をコンピュータ10に設けている。図2のステップS105及び図4のステップS307は、コンピュータ10の演算手段22において、微小粒状材を分離する前後の粒状材料Sの重量M及び含水率Zの計測値から粒状材料S中の微小粒状材の含有率すなわち加積通過率PDを求める処理を示す。図2のステップS107及び図4のステップ309において演算手段22で求めた微小粒状材の加積通過率PDを算出手段19へ入力し図1も参照、算出手段19で算出した粒状材料Sの所定粒径diの加積通過率Pdiを微小粒状材の加積通過率PDに基づき調整している。図3は、演算手段22による処理図2のステップS105及び図4のステップS307の詳細な流れ図を示す。先ず、ステップS201~S202において分離装置6で所定限界粒径D例えば5~10mm未満の微小粒状材を分離する前の粒状材料Sの重量Mb及び含水率Zbを重量測定器7b及び含水率測定器8bにより計測し、ステップS203において微小粒状材分離前の粒状材料Sの乾燥重量Mdbを算出する。次いで、ステップS204~S205において分離装置6で微小粒状材を分離した後の粒状材料Sの重量Ma及び含水率Zaを重量測定器7a及び含水率測定器8aにより計測し、ステップS206において微小粒状材分離後の粒状材料Sの乾燥重量Mdaを算出する。重量測定器7b、7aの一例は、天秤、ロードセル等の粒状材料Sの質量測定で従来使用される装置であり、含水率測定器8b、8aの一例は近赤外線水分計やRI水分計である。ステップS207において、微小粒状材分離前後の粒状材料Sの乾燥重量Mdb、Mdaから、粒状材料S中の所定限界粒径D未満の微小粒状材の質量百分率すなわち加積通過率PDを算出する。図2のステップS107及び図4のステップS309において、微小粒状材の加積通過率PDに基づき加積通過率Pdiを用いることにより、コンピュータ10の作成手段20において、ステップS108及びステップS310において、図8に示すような微小粒状材の加積通過率PDを考慮した粒径加積曲線Pd≧Dを作成することができる。具体的には、ステップS107及びステップS309において、演算手段22で求めた微小粒状材の加積通過率PDから所定限界粒径D以上の質量割合を求め100-PD、その質量割合と計測手段19で計測した所定粒径diの加積通過率Pdiとを乗算することで所定粒径diの加積通過率P ́di=PD100-PD×Pdiを再計算する。再計算後の所定粒径diの加積通過率P ́diと微小粒状材の加積通過率PDとを粒径di別にプロットして連結することにより、図8のような粒径加積曲線Pd≧Dを作成する。微小粒状材の加積通過率PDを考慮して作成した粒状材料Sの粒径加積曲線Pd≧Dは、図2のステップS109~S110及び図4のステップS311において、図8に示すように最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsの粒径加積曲線Prd、Psdと直接比較して粒度品質を判定することができる。例えば、図8において粒状材料Sの粒径加積曲線Pd≧Dは、粒径加積曲線Pr、Psの規定範囲内にあるが、所定限界粒径Dの近傍において最粗粒標本Tr側よりも最細粒標本Ts側に近接しており、平均粒径よりも若干細かい粒径分布であると判定できる。また、図8のような粒径加積曲線Pd≧Dを累積記憶しておけば、今回と前回の粒径加積曲線Pとを比較することにより、粒状材料Sの粒度の正確な経時的変化粒度変動を迅速に把握することができる。なお、図3のステップS208~S211は、本発明の粒径計測システムに粒状材料Sの粒径di毎の吸水率q及び表乾密度ρを計測する測定器図示せずを含め、コンピュータ10の演算手段22により、その吸水率q及び表乾密度ρの計測値から粒状材料Sの表面水量Wを算出する処理を示す。図13を参照して上述したように、CSG工法では粒状材料Sの粒度と共にCSGの単位水量を管理する必要があり図13のひし形斜線部分の規定範囲を参照、粒状材料Sの表面水量Wが求まればCSGの単位水量の管理に利用できる。図3の流れ図ではステップS208~209において粒状材料Sの吸水率qを測定器から入力し、ステップS202で計測した含水率Zbに基づき粒状材料Sの表面水率ωを算出する。そして、ステップS210において粒状材料Sの表乾密度ρを測定器から入力し、ステップS211において粒状材料Sの表面水率ωと表乾密度ρとから表面水量Wを算出する。例えば図2のステップS111において、図3のステップS211で求めた表面水量Wに基づき、粒状材料Sに混合する水量を図13のひし形の規定範囲内となるように調整管理する。また、図2のステップS112において、今回供給材料Stの各粒径diの粒度インデクスIt及び粒径加積曲線Ptdと共に図3のステップS211で求めた表面水量Wtを記憶手段16に累積記憶しておけば、次回以降のステップS109~110の判定処理において、判定手段21により今回及び前回の粒度インデクスItと粒径加積曲線Pdtと表面水量Wtとを比較して粒度及び表面水量の変動を迅速に判定することができる。粒状材料Sの粒度及び表面水量の変動を迅速に把握することにより、CSG工法等の粒状材料Sを用いた建設工事における詳細な品質管理が可能となり、管理精度の更なる向上が期待できる。図1の実施例においても、上述した特許文献1と同様に、コンピュータ10の記憶手段16に、粒状材料Sの標本Tから求めた所定限界粒径D未満の微小粒状材の粒径加積曲線Pd≦Dをその標本T中の微小粒状材の加積通過率PDの関数U、Rとして記憶しておけば、上述した演算手段22で求めた粒状材料S中の微小粒状材の加積通過率PDから関数U、Rにより微小粒状材の粒径加積曲線Pd≦Dを推定することができる図1の推定手段24参照。更に、コンピュータ10の作成手段20図2のステップS108及び図4のステップS310において、例えば図8に示すような微小粒状材分離後の粒状材料Sの粒径加積曲線Pd≧Dと、推定手段24で推定した粒状材料Sの微小粒状材の粒径加積曲線Pd≦Dとを合成することにより、例えば図11に示すように全粒径範囲にわたる粒径加積曲線Pdを作成することができる。粒状材料Sの所定限界粒径D未満の粒径加積曲線Pd≦Dは、例えば微小粒状材の所定限界粒径Dに対する粒径比=d/Dの所定指数関数U{d/Dn}として近似することができる。そのような指数関数Pの一例は、Talbot関数P/PD=d/Dn、Gaudin-Meloy関数P/PD=1-1-d/Dn、又はRosin-Rammler関数P/PD=1-exp-d/Dnである。図2及び図4の流れ図においても、予め粒状材料Sの標本Tから所定限界粒径D未満の微小粒状材の粒径加積曲線Pd≦Dの近似関数Uを求めておけば、ステップS108又はステップS310において、作成手段20によって所定限界粒径D以上の粒径加積曲線Pd≧Dと微小粒状材の粒径加積曲線Pd≦Dの近似関数Uとを合成することにより、粒状材料Sの全粒径範囲にわたる粒径加積曲線Pdを作成することができる。図2のステップS106及び図4のステップS308は、コンピュータ10の推定手段24により、粒状材料S中の微小粒状材の加積通過率PDから関数Uにより微小粒状材の粒径加積曲線Pd≦Dを推定する処理を示す。例えば、上述した所定指数関数U{d/Dn}の指数nが微小粒状材の加積通過率PDに拘わらず一定であれば、演算手段22で求めた微小粒状材の加積通過率PDを指定関数U{d/Dn}へ代入することにより、微小粒状材の粒径加積曲線Pd≦Dを推定することができる。図2のステップS108又は図4のステップS310において、推定手段24で推定した微小粒状材の粒径加積曲線Pd≦Dを作成手段20に入力し、その粒径加積曲線Pd≦Dと所定限界粒径D以上の粒径加積曲線Pd≧Dとを連結することにより、図11に示すような全粒径範囲にわたる粒径加積曲線Pdを作成することができる。また、特許文献1が開示するように、微小粒状材の粒径加積曲線Pd≦Dを所定指数関数U{d/Dn}で近似した場合に、その指数関数U{d/Dn}の指数nが粒状材料S中の微小粒状材の加積通過率PDに依存して変化する場合がある。その場合は、粒状材料Sの複数の標本Tから指数関数U{d/Dn}を求めると共に、その指数nと粒状材料S中の微小粒状材の加積通過率PDとの関係式Rを検出し、その関係式Rをコンピュータ10の記憶手段16に記憶しておく。図2のステップS106又は図4のステップS308において、先ず演算手段22で求めた微小粒状材の加積通過率PDから指数nを求めて指数関数U{d/Dn}を定めたうえで、その指数関数U{d/Dn}に微小粒状材の加積通過率PDを代入することにより、微小粒状材の粒径加積曲線Pd≦Dを推定する。例えば図2のステップS108において、図11のような全粒径範囲にわたる粒径加積曲線Pdを作成しておけば、ステップS109~110の判定処理において最粗粒標本Tr及び最細粒標本Tsの粒径加積曲線Prd、Psdと全粒径範囲にわたり比較することができ、粒状材料Sの粒度品質を高精度で判定することが可能となる。