"第1の筐体の外面上に設けられた複数の外部接続端子、及び前記第1の筐体内において、前記複数の外部接続端子それぞれと電気的に接続されるとともに、前記第1の筐体の下面側まで延在する複数の第1の配線を有する電気検査用治具本体と、第2の筐体内において、その上面側から下面側まで延在する複数の第2の配線、及び前記第2の筐体の前記下面側において、前記複数の第2の配線それぞれと電気的に接続されてなる複数のプローブを有する電気検査用治具ヘッドと、前記電気検査用冶具本体及び前記電気検査用冶具ヘッド間に挟まれてなる第3の筐体内において、その上面側から下面側まで延在するとともに、前記複数の第1の配線における少なくとも一部の配線それぞれと前記複数の第2の配線それぞれとを電気的に接続する複数の第3の配線を有する電気検査用治具接続体と、を備えることを特徴とする、電気検査用治具。前記第2の配線の数と前記第3の配線の数とは互いに同一であって、前記第1の配線の数以下であることを特徴とする、請求項1に記載の電気検査用治具。前記電気検査用治具本体は、前記複数の第1の配線における前記第1の筐体の前記下面側の先端部それぞれにおいて、これら先端部と電気的に接続された付勢手段を含む複数のピン状治具を有し、前記電気検査用治具接続体は、前記複数の第3の配線における前記第3の筐体の前記上面側の先端部それぞれにおいて、これら先端部と電気的に接続された複数の金属部材を有し、前記複数の第1の配線それぞれと前記複数の第3の配線それぞれとは、前記複数のピン状治具と前記複数の金属部材との電気的接続を介することにより、電気的に接続されていることを特徴とする、請求項1又は2に記載の電気検査用治具。前記電気検査用治具ヘッドにおける前記複数の第2の配線それぞれと、前記電気検査用治具接続体における前記複数の第3の配線それぞれとは、前記複数のプローブを前記第2の筐体の前記下面に取り付ける際に生じる内部応力によって押圧され、電気的に接続されていることを特徴とする、請求項1~3のいずれかに記載の電気検査用治具。前記電気検査用冶具本体と前記電気検査用冶具接続体との間において、前記第1の配線及び前記第3の配線と電気的に接続された電極が設けられてなる電気特性検査用冶具を備えることを特徴とする、請求項1~4のいずれかに記載の電気検査用冶具。導体層と樹脂絶縁層とをそれぞれ少なくとも一層有するとともに、前記樹脂絶縁層の開口部から露出した前記導体層と電気的に接続されてなる金属端子を有する配線基板を作製する工程と、前記配線基板の前記金属端子に対して、請求項1~5のいずれかに記載された電気検査用治具の前記複数のプローブを接触させて、前記導体層の電気的な導通検査を実施する工程と、を備えることを特徴とする、配線基板の製造方法。本発明は、配線基板の電気検査を低コストかつ短時間で実施することが可能な電気検査用冶具を提供するとともに、この電気検査用冶具を用いることにより、低コストかつ短時間で配線パターンの電気検査を伴う配線基板の製造方法を提供することを目的とする。上記目的を達成すべく、本発明は、第1の筐体の外面上に設けられた複数の外部接続端子、及び前記第1の筐体内において、前記複数の外部接続端子それぞれと電気的に接続されるとともに、前記第1の筐体の下面側まで延在する複数の第1の配線を有する電気検査用治具本体と、第2の筐体内において、その上面側から下面側まで延在する複数の第2の配線、及び前記第2の筐体の前記下面側において、前記複数の第2の配線それぞれと電気的に接続されてなる複数のプローブを有する電気検査用治具ヘッドと、前記電気検査用冶具及び前記電気検査用冶具ヘッド間に挟まれてなる第3の筐体内において、その上面側から下面側まで延在するとともに、前記複数の第1の配線における少なくとも一部の配線それぞれと前記複数の第2の配線それぞれとを電気的に接続する複数の第3の配線を有する電気検査用治具接続体と、を備えることを特徴とする、電気検査用治具に関する。また、本発明は、導体層と樹脂絶縁層とをそれぞれ少なくとも一層有するとともに、前記樹脂絶縁層の開口部から露出した前記導体層と電気的に接続されてなる金属端子を有する配線基板を作製する工程と、前記配線基板の前記金属端子に対して、請求項1~5のいずれかに記載された電気検査用治具の前記複数のプローブを接触させて、前記導体層の電気的な導通検査を実施する工程と、を備えることを特徴とする、配線基板の製造方法に関する。本発明の電気検査用冶具は、従来の電気検査用冶具本体と電気検査用冶具ヘッドとの間に、これらを接続するとともに、電気検査用冶具本体の配線と電気検査用冶具ヘッドとの配線を接続するための配線を有する電気検査用冶具接続体を有している。したがって、電気検査用冶具本体の外部接続端子及び配線数を固定しておき、電気検査用冶具接続体の配線数、並びに電気検査用冶具ヘッドのプローブ数及び配線数のみを、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて変化させる、すなわち電気検査用冶具接続体及び電気検査用冶具ヘッドのみを交換するようにすることができる。したがって、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて電気検査用冶具本体を交換する必要がないので、配線基板の電気検査に要するコストを低減することができる。また、電気検査用冶具本体の外部接続端子の数及び配線数を固定することができるので、使用した電気検査用冶具における本体の外部接続端子に取り付けられたケーブルを逐次取り外し、使用する新たな電気検査用冶具における本体の外部雪像端子に逐次取り付けるという操作が不要となる。さらに、電気検査用冶具本体の交換を行う必要がないので、電気検査を行うべき配線基板に対する電気検査用冶具の位置合わせを簡略化することができる。この結果、配線基板の電気検査を行うために要する時間を大幅に短縮することができる。また、このような配線基板の電気検査を行う配線基板の製造方法においても、上述のように配線基板の電気検査に要する時間を短縮化することができるので、当該配線基板の製造に要する時間を短縮化することができる。なお、上記電気検査用冶具本体は、市販されている電気検査用装置に予め設けられたものであってもよい。一般に、市販されている電気検査用装置においても、電気検査用治具本体と電気検査用治具ヘッドとからなる電気検査用冶具が備えられている。しかしながら、この場合においても、検査に供する配線基板の配線パターンは、例えば品番毎に異なるので、配線基板の品番毎に電気検査用冶具を準備する必要があった。したがって、配線基板の品番に合わせて複数の電気検査用冶具を準備しなければならず、電気検査を行うためのコストが必然的に増大してしまうという問題があった。また、複数の電気検査用冶具を保管するために広大なスペースを確保しなければならないという問題があった。一方、充分なスペースを確保できない場合は、既存の電気検査用冶具を廃棄しなければならず、その後、当該冶具に合致した配線基板の電気検査を実施しようとした場合においては、別途廃棄した電気検査用冶具と同じ冶具を製造しなければならず、検査が煩雑になるとともに、さらなるコスト増となる問題もあった。しかしながら、市販の電気検査用装置内には、本発明の電気検査用冶具の内、電気検査用冶具本体のみを予め備えておくようにし、配線基板の品番に応じて上述した電気検査用冶具接続体及び電気検査用冶具ヘッドを別途設け、配線基板の品番に応じて電気検査用冶具接続体及び電気検査用冶具ヘッドのみを交換するようにすることができる。したがって、配線基板の品番に応じて別途電気検査用冶具接続体及び電気検査用冶具ヘッドのみを準備すればよいので、電気検査を行うためのコストを抑えることができ、また電気検査用冶具接続体及び電気検査用冶具ヘッドのみを保管すればよいので、保管に要するスペースを狭小化することができる。すなわち、本発明の電気検査用冶具は、市販の電気検査用装置に対しても適用することができ、コストの削減及び冶具保管の省スペース化を図ることができる。さらに、保管スペース確保のために、既存の電気検査用冶具を廃棄するというようなリスクをも回避することができる。なお、本発明の一例において、電気検査用冶具ヘッドの第2の配線の数と電気検査用冶接続体の第3の配線の数とは互いに同一であって、電気検査用冶具本体の第1の配線の数以下とすることができる。この場合、電気検査用冶具本体の第1の配線数及びコネクタ数を、検査すべき配線基板の品番等を考慮して多めに設定し、電気検査用冶具ヘッドの第2の配線の数及びプローブの数と電気検査用冶接続体の第3の配線の数とを、検査すべき配線基板の品番に応じて減じるように設定すれば足りるので、電気検査用冶具の設計が容易となる。本発明の電気検査用冶具の電気検査用冶具接続体において、複数の第3の配線を、複数の第1の配線における少なくとも一部の配線と複数の第2の配線とをそれぞれ電気的に接続すると規定しているのは、上述のように、電気検査用冶具ヘッドの第2の配線の数と電気検査用冶接続体の第3の配線の数とは互いに同一であって、電気検査用冶具本体の第1の配線の数以下とした場合を考慮したことに起因するものである。さらに、本発明の一例において、電気検査用治具本体は、複数の第1の配線における第1の筐体の下面側の先端部それぞれにおいて、これら先端部と電気的に接続された付勢手段を含む複数のピン状治具を有し、電気検査用治具接続体は、複数の第3の配線における前記第3の筐体の前記上面側の先端部それぞれにおいて、これら先端部と電気的に接続された複数の金属部材を有し、複数の第1の配線それぞれと複数の第3の配線それぞれとは、複数のピン状治具と複数の金属部材との電気的接続を介することにより、電気的に接続することができる。この場合、上述した第1の配線それぞれと第3の配線それぞれとの電気的接続をより確実に行うことができる。また、本発明の一例において、電気検査用治具ヘッドにおける複数の第2の配線それぞれと、電気検査用治具接続体における複数の第3の配線それぞれとは、複数のプローブを第2の筐体の下面に取り付ける際に生じる内部応力によって互いの先端部同士を押圧し、電気的に接続するようにすることができる。この場合、上述した第2の配線それぞれと第3の配線それぞれとの電気的接続をより確実に行うことができる。なお、本発明における上面及び下面なる概念は、本発明の電気検査用冶具の構成を画定すべく、電気検査用冶具の通常の使用形態を考慮して便宜上用いたものであり、電気検査用冶具本体が最上部に位置するとともに、電気検査用冶具ヘッドが最下部に位置し、電気検査用冶具接続体が電気検査用冶具本体と電気検査用冶具ヘッドとの間に位置するものとして用いたものである。したがって、本発明の電気検査用冶具を倒置させて、電気検査用冶具ヘッドが最上部に位置し、電気検査用冶具本体が最下部に位置し、電気検査用冶具接続体が電気検査用冶具本体と電気検査用冶具ヘッドとの間に位置する場合は、上述した上面及び下面の概念は逆転することになる。すなわち、本発明における上面及び下面なる概念は、本発明の電気検査用冶具の構成を画定するための相対的な位置関係を規定するための文言であって、絶対的な位置関係を示す文言ではない。さらに、本発明の一例において、前記電気検査用冶具本体と前記電気検査用冶具接続体との間において、前記第1の配線及び前記第3の配線と電気的に接続された電極が設けられてなる電気特性検査用冶具を設けることができる。この場合、電極に対して例えばソケットを装着し、このソケットに取り付けられたリード線を介して、所定の計測機器に接続することにより、本発明の電気検査用冶具を用いることにより、上述した電気検査に加えて、電気特性の測定検査をもほぼ同時に行うことができる。以上説明したように、本発明によれば、配線基板の電気検査を低コストかつ短時間で実施することが可能な電気検査用冶具を提供するとともに、この電気検査用冶具を用いることにより、低コストかつ短時間で配線パターンの電気検査を伴う配線基板の製造方法を提供することができる。以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。第1の実施形態図1~図5は、第1の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。図1は、本実施形態の電気検査用冶具の上側から見た場合の平面図であり、図2は、本実施形態の電気検査用冶具の下側から見た場合の平面図である。図3は、図1及び図2に示す電気検査用冶具をI-I線に沿って切った場合の断面であり、図4は、本実施形態における電気検査用冶具の、電気検査用冶具ヘッドの先端部Aを拡大して部分的に示す図であり、図5は、本実施形態における電気検査用冶具の、電気検査用冶具本体と電気検査用冶具接続体との接続部Bを拡大して部分的に示す図である。なお、図3においては、本実施形態における電気検査用冶具の特徴を明確にすべく、電気検査用冶具における、電気検査用冶具本体、電気検査用冶具ヘッド、及び電気検査用冶具接続体は、互いに離隔するようにして記載している。図1~3に示すように、本実施形態の電気検査用冶具10は、電気検査用冶具本体11と、この下方に位置する電気検査用冶具ヘッド12と、電気検査用冶具本体11及び電気検査用冶具ヘッド12との間に位置する電気検査用冶具接続体13とを有している。電気検査用冶具本体11は、第1の筐体111の外面のうち相対向する一対の側面111A及び111B上に複数のコネクタ112が設けられており、その内部には外部接続端子としての図示しないコネクタピンが配置されている。以下に示すように、本実施形態においては、検査すべき配線基板の品番が代わっても電気検査用冶具本体11は交換することなく使用するものであるため、一般には、検査すべき配線基板の予想される最大の電気的接触点を考慮して、コネクタ112のピンの総数を決定する。一例として、ピン数を4096本とすることができる。また、第1の筐体111内において、コネクタピンのそれぞれと電気的に接続されるとともに、第1の筐体111の下面111D側まで延在する複数の第1の配線113が設けられている。さらに、第1の筐体111の下部には、以下に示すように、電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13を取り外して交換する際のハンドリングを容易にするため、あるいは電気検査用冶具10を用いて実際に配線基板の電気検査を行う際に、検査台への固定を容易にするための鍔114が設けられている。なお、電気検査用冶具10を検査台に固定する場合には、例えば図示しない貫通孔を介してボルトとナットにより締結することができる。電気検査用治具ヘッド12は、第2の筐体121内において、その上面121C側から下面121D側まで延在する複数の第2の配線122を有するとともに、下面121Cにおいて、第2の配線122それぞれと電気的に接続され、検査に供すべき配線基板の金属端子に実際に接触させて、配線基板の配線パターンの電気的導通配線の切断、配線同士の接触等を検査するための複数のプローブ123を有している。図4に示すように、プローブ123は、先端部123A,中心部123B及び基部123Cからなる。先端部123Aは、上述したように、検査に供すべき配線基板の金属端子に実際に接触させて、配線基板の配線パターンの電気的導通配線の切断、配線同士の接触等の検査に供するものである。中心部123Bは絶縁材で被覆されて外部から電気的に絶縁されており、基部123Cは第2の筐体121内に圧入されている。したがって、プローブ123と電気的に接続された第2の配線122には、上述の圧入に伴って第2の筐体121内に発生した内部応力が下面から上面に向けて作用するようになる。電気検査用冶具接続体13は、電気検査用冶具本体11及び前記電気検査用冶具ヘッド12間に挟まれるようにして位置し、第3の筐体131内において、その上面131C側から下面131D側まで延在するとともに、複数の第1の配線113における少なくとも一部の配線と複数の第2の配線122とをそれぞれ電気的に接続する複数の第3の配線132を有している。なお、図5に示すように、電気検査用冶具本体11の第1の筐体111の下面111Dには複数の第1の配線113とそれぞれ電気的に接続された、金属製の複数のピン状部材115が設けられている。ピン状部材115は、先端に位置するピン状の凸部115Aと後方に位置する付勢手段としてのバネ部115Bとを有しており、バネ部115Bの付勢力によって凸部115Aが下方に押し出されるようになっている。また、電気検査用冶具接続体13の第3の筐体131の上面131Cには、複数の第3の配線132の、上面131C側の先端部それぞれにおいて、これら先端部と電気的に接続された複数の金属パッド133が配置されている。金属パッド133には、ピン状部材115の先端に位置するピン状の凸部115Aの形状に対応するように凹部窪み133Aが形成されている。したがって、電気検査用冶具本体11の複数の第1の配線113と電気検査用冶具接続体13の複数の第3の配線132とは、それぞれ複数のピン状治具115の凸部115Aと複数の金属パッド133の凹部133Aとが圧接することにより、電気的に接続されることになる。この場合、複数の第1の配線113と複数の第3の配線132との電気的接続をより確実に行うことができる。また、上述したように、電気検査用冶具ヘッド12において、第2の配線122には、プローブ123の圧入に伴って第2の筐体121内に発生した内部応力が下面から上面に向けて作用している。したがって、その内部応力によって、第2の配線122の、第2の筐体121の上面121C側の先端部が、電気検査用冶具接続体13における第3の筐体131の下面131D側における第3の配線132の先端部にそれぞれ押圧されるようになる。したがって、電気検査用冶具ヘッド12の第2の配線122と電気検査用冶具接続体13の第3の配線132とは互いの先端部同士が押圧されて電気的に接続されるようになるので、これら配線間の電気的接続をより確実に行うことができる。このように、電気検査用冶具本体11の第1の配線113と電気検査用冶具ヘッド12の第2の配線122とは、電気検査用冶具接続体13の第3の配線132を介して互いに電気的に接続されるようになるので、図1~3に示す電気検査用冶具10は、電気検査用冶具本体11から電気検査用冶具ヘッド13までの電気的導通が確保されることになる。なお、特に図示しないものの、電気検査用冶具本体11から電気検査用冶具ヘッド13までは、それぞれの筐体に形成した凹凸状の係合部材等を介して機械的に接続する。これによって、電気検査用冶具10を構成する電気検査用冶具本体11、電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13は互いに電気的及び機械的に接続されるようになるので、電気検査用冶具10は配線基板の配線パターンの電気的導通配線の切断、配線同士の接触等の検査に供することができるようになる。なお、電気的導通は、電気検査用冶具本体11のコネクタ112に対して、図示しないリード線を介して接続したテスタ等によって検知することができる。本実施形態の電気検査冶具10は、電気検査用冶具本体11と電気検査用冶具ヘッド12との間に、これらを電気的及び機械的に接続する電気検査用冶具接続体13を有している。したがって、電気検査用冶具本体11のコネクタピン及び第1の配線113の数を固定しておき、電気検査用冶具接続体13の第3の配線の数、並びに電気検査用冶具ヘッド12のプローブ123の数及び第2の配線122の数のみを、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて変化させる、すなわち電気検査用冶具接続体13及び電気検査用冶具ヘッド12のみを交換するようにすることができる。したがって、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて電気検査用冶具本体11を交換する必要がないので、配線基板の電気検査に要するコストを低減することができる。また、電気検査用冶具本体11のコネクタピンの数及び第1の配線113の数を固定することができるので、使用した電気検査用冶具10の本体11のコネクタピンに取り付けられたケーブルを逐次取り外し、使用する新たな電気検査用冶具10の本体11のコネクタピンに逐次取り付けるという操作が不要となる。さらに、電気検査用冶具本体11の交換を行う必要がないので、電気検査を行うべき配線基板に対する電気検査用冶具の位置合わせを簡略化することができる。この結果、配線基板の電気検査を行うために要する時間を大幅に短縮することができる。また、このような配線基板の電気検査を行う配線基板の製造方法においても、上述のように配線基板の電気検査に要する時間を短縮化することができるので、当該配線基板の製造に要する時間を短縮化することができる。さらに、市販されている電気検査用装置においても、電気検査用冶具本体11のみを予め備えておくようにし、配線基板の品番に電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13を別途設け、配線基板の品番に応じて電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13のみを交換するようにすることができる。したがって、配線基板の品番に応じて別途電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13のみを準備すればよいので、電気検査を行うためのコストを抑えることができ、また電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13のみを保管すればよいので、保管に要するスペースを狭小化することができる。さらに、保管スペース確保のために、既存の電気検査用冶具を廃棄するというようなリスクをも回避することができる。なお、本実施形態では、上述した内容から明らかなように、電気検査用冶具本体11の第1の配線113の数と、電気検査用冶具ヘッド12の第2の配線122及び電気検査用冶具接続体13の第3の配線132の数とを同一としている。しかしながら、一般には、電気検査用冶具本体11のコネクタ112のピン数及びこれに伴う第1の配線113の数は、検査すべき配線基板の品番等を考慮して多めに設定してある。したがって、電気検査用冶具ヘッド12の第2の配線122の数及びプローブの数と電気検査用冶接続体13の第3の配線132の数とは、検査すべき配線基板の品番に応じて減じるように設定することになる。この場合、図1~3に示す電気検査用冶具10において、電気検査用冶具本体11の第1の配線113の一部には、電気検査用冶具接続体13の第3の配線132が接続されないことになる。なお、電気検査用冶具本体11のコネクタ112のピン数及びこれに伴う第1の配線113の数は、検査すべき配線基板の品番等を考慮して多めに設定しておくことにより、電気検査用冶具ヘッド12の第2の配線122の数及びプローブ123の数と電気検査用冶接続体13の第3の配線132の数とを、検査すべき配線基板の品番に応じて減じるように設定すれば足りるので、電気検査用冶具10の設計が容易となる。第2の実施形態図6及び図7は、第2の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。図6は、本実施形態の電気検査用冶具の上側から見た場合の平面図であり、図7は、図6に示す電気検査用冶具をII-II線に沿って切った場合の断面である。なお、本実施形態の電気検査用冶具を下側から見た場合の平面図等は、上記第1の実施形態の場合と同様であるので、本実施形態においては、本実施形態における電気検査用冶具の特徴が明確となるような図面のみを掲載している。また、類似及び同一の構成要素に関しては、全図面を通じて同一の参照数字を用いている。図6及び図7から明らかなように、本実施形態における電気検査用冶具20は、電気検査用冶具本体11における第1の筐体111の略中心において、厚さ方向に貫通する貫通孔111Hが形成されており、この貫通孔111H内にはネジ部材117が挿入されている。ネジ部材117は、ヘッド部117A、軸部117B及びネジ部117Cから構成されている。ヘッド部117Aは第1の筐体111の上面111Cから露出し、同じくネジ部117Cも第1の筐体111の下面111Dから露出している。また、貫通孔111Hはカバーシャフト118なる壁面材で画定され、第1の筐体111内に設けられた第1の配線113が貫通孔111H内に挿入されたネジ部材117と接触しないように構成されている。一方、電気冶具用接続体13の第3の筐体131の上面131C側には、他の面よりも肉厚な肉厚部が形成され、その略中心にはネジ部材117のネジ部117Cが螺合するようなネジ孔131Hが形成されている。なお、本実施形態では、ピン状部材115は、電気検査用冶具本体11の第1の筐体111の下面111Dに取り付けられる代わりに、貫通孔111Hの開口部まで延在した鍔114を貫通するようにして設けられている。また、電気検査用冶具接続体13の金属パッド133の代わりに、第3の筐体131の上面131Cの肉厚部を貫通するような金属ピン135が設けられている。第1の実施形態同様に、各ピン状部材115には、複数の第1の配線113がそれぞれ接続されるとともに、各金属ピン135には、第3の筐体131内に配置された複数の第3の配線132がそれぞれ接続されている。第1の配線113と第3の配線132との電気的接続は、図5に示す場合と同様に、ピン状治具115の凸部115Aと金属ピン135の凹部135Aとが圧接することにより、電気的に接続されることになる。なお、電気検査用冶具ヘッド12における第2の配線122と第3の配線132との電気的接続は、第1の実施形態と同様にして電気的に接続される。したがって、第1の配線113及び第2の配線122間の電気的接続は、第3の配線132を介して行われることになる。なお、特に図示しないものの、電気検査用冶具本体11から電気検査用冶具ヘッド13までは、それぞれの筐体に形成した凹凸状の係合部材等を介して機械的に接続する。第1の実施形態のように、電気検査用冶具本体11のピン状部材115と電気検査用冶具接続体13の金属パッド133とを直接押圧して接触させると、これらの接触部には数十キログラムの負荷が加わるようになる。したがって、ピン状部材115の破損や金属パッド133の摩耗を促進させてしまう結果となる。しかしながら、本実施形態では、ピン状部材115と金属ピン115とを接触させるとともに、ネジ部材117を電気検査用冶具接続体13の第3の筐体131のネジ孔131Hに螺合させるようにしている。したがって、ピン状部材115と金属ピン115とを接触圧を低減することができ、ピン状部材115の破損や金属ピン115の摩耗を抑制することができる。本実施形態の電気検査冶具20も、電気検査用冶具本体11と電気検査用冶具ヘッド12との間に、これらを電気的及び機械的に接続する電気検査用冶具接続体13を有している。したがって、電気検査用冶具本体11のコネクタピン及び第1の配線113の数を固定しておき、電気検査用冶具ヘッド12の第2の配線122の数およびプローブ123の数、並びに電気検査用冶具接続体13の金属ピン135の数及び第3の配線132の数のみを、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて変化させる、すなわち電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13のみを交換するようにすることができる。したがって、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて電気検査用冶具本体11を交換する必要がないので、配線基板の電気検査に要するコストを低減することができる。また、電気検査用冶具本体11のコネクタピンの数及び第1の配線113の数を固定することができるので、使用した電気検査用冶具20の本体11のコネクタピンに取り付けられたケーブルを逐次取り外し、使用する新たな電気検査用冶具20の本体11のコネクタピンに逐次取り付けるという操作が不要となる。さらに、電気検査用冶具本体11の交換を行う必要がないので、電気検査を行うべき配線基板に対する電気検査用冶具の位置合わせを簡略化することができる。この結果、配線基板の電気検査を行うために要する時間を大幅に短縮することができる。また、このような配線基板の電気検査を行う配線基板、具体的には、導体層と樹脂絶縁層とをそれぞれ少なくとも一層有するとともに、前記樹脂絶縁層の開口部から露出した前記導体層と電気的に接続されてなる金属端子を有する配線基板の製造方法においても、上述のように配線基板の電気検査に要する時間を短縮化することができるので、当該配線基板の製造に要する時間を短縮化することができる。さらに、市販されている電気検査用装置においても、電気検査用冶具本体11のみを予め備えておくようにし、配線基板の品番に電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13を別途設け、配線基板の品番に応じて電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13のみを交換するようにすることができる。したがって、配線基板の品番に応じて別途電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13のみを準備すればよいので、電気検査を行うためのコストを抑えることができ、また電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13のみを保管すればよいので、保管に要するスペースを狭小化することができる。さらに、保管スペース確保のために、既存の電気検査用冶具を廃棄するというようなリスクをも回避することができる。なお、本実施形態でも、上述した内容から明らかなように、電気検査用冶具本体11の第1の配線113の数と、電気検査用冶具ヘッド12の第2の配線122及び電気検査用冶具接続体13の第3の配線132の数とを同一としている。しかしながら、一般には、電気検査用冶具本体11のコネクタ112のピン数及びこれに伴う第1の配線113の数は、検査すべき配線基板の品番等を考慮して多めに設定してある。したがって、電気検査用冶具ヘッド12の第2の配線122の数及びプローブの数と電気検査用冶接続体13の第3の配線132の数とは、検査すべき配線基板の品番に応じて減じるように設定することになる。この場合、図6及び図7に示す電気検査用冶具20において、電気検査用冶具本体11の第1の配線113の一部には、電気検査用冶具接続体13の第3の配線132が接続されないことになる。なお、電気検査用冶具本体11のコネクタ112のピン数及びこれに伴う第1の配線113の数は、検査すべき配線基板の品番等を考慮して多めに設定しておくことにより、電気検査用冶具ヘッド12の第2の配線122の数及びプローブ123の数と電気検査用冶接続体13の第3の配線132の数及び金属ピン135の数とを、検査すべき配線基板の品番に応じて減じるように設定すれば足りるので、電気検査用冶具20の設計が容易となる。第3の実施形態図8は、第3の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。なお、図8は、第1の実施形態における図3に相当する、電気検査用冶具の断面図である。また、類似及び同一の構成要素に関しては、全図面を通じて同一の参照数字を用いている。なお、図8においては、本実施形態における電気検査用冶具の特徴を明確にすべく、電気検査用冶具における、電気検査用冶具本体、電気検査用冶具ヘッド、電気検査用冶具接続体、及び電気特性検査用冶具は、互いに離隔するようにして記載している。但し、実際の使用に関しては、第1の実施形態等で説明したように、これらの要素は互いに電気的及び機械的に接続されて使用されるものである。図8に示すように、本実施形態の電気検査用冶具30は、電気検査用冶具本体11と、この下方に位置する電気検査用冶具ヘッド12と、電気検査用冶具本体11及び電気検査用冶具ヘッド12との間に位置する電気検査用冶具接続体13とを有している。また、電気検査用冶具本体11と電気検査用冶具接続体13との間には、板状の電気特性検査用冶具31が設けられている。第1の実施形態同様に、電気検査用冶具本体11は、第1の筐体111の外面のうち相対向する一対の側面111A及び111B上に複数のコネクタ112が設けられており、その内部には外部接続端子としての図示しないコネクタピンが配置されている。以下に示すように、本実施形態においては、検査すべき配線基板の品番が代わっても電気検査用冶具本体11は交換することなく使用するものであるため、一般には、検査すべき配線基板の予想される最大の電気的接触点を考慮して、コネクタ112のピンの総数を決定する。一例として、ピン数を4096本とすることができる。また、第1の筐体111内において、コネクタピンのそれぞれと電気的に接続されるとともに、第1の筐体111の下面111D側まで延在する複数の第1の配線113が設けられている。さらに、第1の筐体111の下部には、以下に示すように、電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13を取り外して交換する際のハンドリングを容易にするため、あるいは電気検査用冶具30を用いて実際に配線基板の電気検査を行う際に、検査台への固定を容易にするための鍔114が設けられている。なお、電気検査用冶具30を検査台に固定する場合には、例えば図示しない貫通孔を介してボルトとナットにより締結することができる。電気検査用治具ヘッド12は、第2の筐体121内において、その上面121C側から下面121D側まで延在する複数の第2の配線122を有するとともに、下面121Cにおいて、第2の配線122それぞれと電気的に接続され、検査に供すべき配線基板の金属端子に実際に接触させて、配線基板の配線パターンの電気的導通配線の切断、配線同士の接触等を検査するための複数のプローブ123を有している。電気特性検査用冶具31は、電気検査用冶具本体11及び以下に説明する電気検査用冶具接続体13間に挟まれるようにして位置している。また、電気特性検査用冶具31は、厚さ方向に貫通するとともに、端部が上面31Cから露出するようにして設けられた複数の電極311を有している。複数の電極311の数は、例えば電気検査用冶具本体11の第1の配線113、すなわちコネクタ112のピン数と同じに設定することができる。具体的には、4096本とすることができる。電気検査用冶具接続体13は、電気特性検査用冶具31及び電気検査用冶具ヘッド12間に挟まれるようにして位置し、第3の筐体131内において、その上面131C側から下面131D側まで延在するとともに、電気特性検査用治具31の複数の電極311における少なくとも一部と複数の第2の配線122とをそれぞれ電気的に接続する複数の第3の配線132を有している。本実施形態の電気検査用治具30は、電気検査用治具本体11、電気検査用治具ヘッド12及び電気検査用治具接続体13に加えて、電気特性検査用治具31を有している。したがって、図8に示すように、電気特性検査用治具31の電極311に対して一対のソケット312を設け、この一対のソケット312から導出しているリード線に対して所定の電気特性計測機器を接続させることにより、電気検査用治具30を配線基板に接触させて配線基板の配線パターンの電気的導通配線の切断、配線同士の接触等の検査を行う際に、電気特性検査用治具31の、一対のソケット312が取り付けられた電極311が接触する配線パターン間の電気特性を測定することができる。なお、上記電気特性としては、電気容量又は電気抵抗などを挙げることができる。また、電気検査用治具本体11、電気検査用治具ヘッド12及び電気検査用治具接続体13のその他の特徴は、第1の実施形態と同様であるので説明を省略する。本実施形態の電気検査用冶具30は、電気特性測定用治具31に設けられた電極311の数を電気検査用治具本体11の第1の配線113、すなわちコネクタ112のピン数と同じに設定することができるので、電気検査用治具本体11及び電気特性測定用治具31とを一体として固定しておき、電気検査用冶具接続体13の第3の配線132の数、並びに電気検査用冶具ヘッド12のプローブ123の数及び第2の配線122の数のみを、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて変化させる、すなわち電気検査用冶具接続体13及び電気検査用冶具ヘッド12のみを交換するようにすることができる。したがって、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて電気検査用冶具本体11を交換する必要がないので、配線基板の電気検査に要するコストを低減することができる。また、電気検査用冶具本体11のコネクタピンの数及び第1の配線113の数、並びに電気特性測定用治具31の電極311の数を固定することができるので、使用した電気検査用冶具30の本体11のコネクタピンに取り付けられたケーブルを逐次取り外し、使用する新たな電気検査用冶具30の本体11のコネクタピンに逐次取り付けるという操作が不要となる。さらに、電気検査用冶具本体11の交換を行う必要がないので、電気検査を行うべき配線基板に対する電気検査用冶具の位置合わせを簡略化することができる。この結果、配線基板の電気検査を行うために要する時間を大幅に短縮することができる。また、このような配線基板の電気検査を行う配線基板の製造方法においても、上述のように配線基板の電気検査に要する時間を短縮化することができるので、当該配線基板の製造に要する時間を短縮化することができる。さらに、電気特性測定用治具31も配線基板の品番等に応じて交換する必要がなく、品番毎に測定すべき電極311が変わったとしても、電気特性計測機器と接続されるソケット等の接続部材を所定の電極311に付け替えるだけで良いので、配線基板の品番等に応じて複数の冶具31を準備する必要がない。したがって、上記電気検査に加えて電気特性の測定を行う際においても、当該測定に対するコストを低減することができる。また、市販されている電気検査用装置においても、電気検査用冶具本体11及び電気特性検査用冶具31のみを予め備えておくようにし、配線基板の品番に電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13を別途設け、配線基板の品番に応じて電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13のみを交換するようにすることができる。したがって、配線基板の品番に応じて別途電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13のみを準備すればよいので、電気検査を行うためのコストを抑えることができ、また電気検査用冶具ヘッド12及び電気検査用冶具接続体13のみを保管すればよいので、保管に要するスペースを狭小化することができる。さらに、保管スペース確保のために、既存の電気検査用冶具を廃棄するというようなリスクをも回避することができる。以上、本発明を具体例を挙げながら詳細に説明してきたが、本発明は上記内容に限定されるものではなく、本発明の範疇を逸脱しない限りにおいてあらゆる変形や変更が可能である。"