レーザ光を測定対象物に向けて照射する送信光学系と、上記送信光学系から照射されたのち、上記測定対象物により反射された上記レーザ光の反射光を受信する受信光学系と、上記受信光学系による反射光の受信信号をサンプリングし、今回サンプリングの受信信号の信号強度が前回サンプリングの受信信号の信号強度より低ければ、今回サンプリングの受信信号の信号強度と受信時刻を用いて、伝搬経路上の媒質を起因とする上記レーザ光のエネルギーの減衰係数を算出する減衰係数算出手段と、上記減衰係数算出手段により算出された減衰係数を用いて、上記受信光学系による反射光の受信信号の信号強度を補償する信号強度補償手段と、上記信号強度補償手段により信号強度が補償された受信信号の中から、上記測定対象物に係る受信信号を抽出し、その受信信号に対応するレーザ光の送信時刻と上記受信信号の受信時刻との差から、上記測定対象物までの距離を導出する距離導出手段と、上記距離導出手段により導出された距離及び上記受信信号の信号強度から、上記測定対象物を画像化する画像生成手段とを備えたレーザレーダ装置。減衰係数算出手段は、送信光学系からレーザ光が照射される毎に、上記レーザ光のエネルギーの減衰係数を算出して、上記減衰係数を信号強度補償手段に出力することを特徴とする請求項1記載のレーザレーダ装置。距離導出手段は、信号強度補償手段により信号強度が補償された受信信号の中に、測定対象物に係る受信信号の候補が複数存在している場合、複数の受信信号の候補の中から、受信時刻が最も遅い受信信号を抽出することを特徴とする請求項1または請求項2記載のレーザレーダ装置。従来のレーザレーダ装置は以上のように構成されているので、比較的粒径が大きい雑音要因が存在する環境や、後方散乱光が発生する環境では、レーザの走査速度を遅くすることで、ゲート回路を開く周期を長くしても、距離に依存する信号量の損失が改善されない。このため、大きな閾値を設定しても、測定対象物の前方に存在している雑音要因等からの不要信号の誤検出を招き、測定対象物までの距離を正確に導出することができないなどの課題があった。この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、比較的粒径が大きい雑音要因が存在する環境や、後方散乱光が発生する環境でも、測定対象物までの距離を正確に導出することができるレーザレーダ装置を得ることを目的とする。この発明に係るレーザレーダ装置は、レーザ光を測定対象物に向けて照射する送信光学系と、送信光学系から照射されたのち、測定対象物により反射された上記レーザ光の反射光を受信する受信光学系と、受信光学系による反射光の受信信号をサンプリングし、今回サンプリングの受信信号の信号強度が前回サンプリングの受信信号の信号強度より低ければ、今回サンプリングの受信信号の信号強度と受信時刻を用いて、伝搬経路上の媒質を起因とするレーザ光のエネルギーの減衰係数を算出する減衰係数算出手段と、減衰係数算出手段により算出された減衰係数を用いて、受信光学系による反射光の受信信号の信号強度を補償する信号強度補償手段と、信号強度補償手段により信号強度が補償された受信信号の中から、測定対象物に係る受信信号を抽出し、その受信信号に対応するレーザ光の送信時刻と上記受信信号の受信時刻との差から、測定対象物までの距離を導出する距離導出手段とを設け、画像生成手段が、距離導出手段により導出された距離及び上記受信信号の信号強度から、測定対象物を画像化するようにしたものである。この発明によれば、受信光学系による反射光の受信信号をサンプリングし、今回サンプリングの受信信号の信号強度が前回サンプリングの受信信号の信号強度より低ければ、今回サンプリングの受信信号の信号強度と受信時刻を用いて、伝搬経路上の媒質を起因とするレーザ光のエネルギーの減衰係数を算出する減衰係数算出手段と、減衰係数算出手段により算出された減衰係数を用いて、受信光学系による反射光の受信信号の信号強度を補償する信号強度補償手段とを設け、距離導出手段が、信号強度補償手段により信号強度が補償された受信信号の中から、測定対象物に係る受信信号を抽出し、その受信信号に対応するレーザ光の送信時刻と上記受信信号の受信時刻との差から、測定対象物までの距離を導出するように構成したので、比較的粒径が大きい雑音要因が存在する環境や、後方散乱光が発生する環境でも、測定対象物までの距離を正確に導出することができる効果がある。実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1によるレーザレーダ装置を示す構成図である。図1において、レーザ光出力部1はレーザドライバ2及びレーザ発振器3から構成されており、パルス発振トリガ信号cを出力するとともに、そのパルス発振トリガ信号cに同期して、パルス状のレーザ光を発振する処理を実施する。レーザドライバ2は送信光学系4から1パルスのレーザ光を照射させる際、パルス発振トリガ信号cをレーザ発振器3、信号強度補償部8及び画像処理部12に出力する処理を実施する。レーザ発振器3はレーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cを受ける毎に、1パルスのレーザ光を送信光学系4に出力する発振器である。送信光学系4はレーザ発振器3から出力されたパルス状のレーザ光のビーム形状を整形し、内部のビームスキャナによって測定範囲を走査しながら、整形後のレーザ光を測定対象物に向けて照射するとともに、ビームスキャナのスキャン角度を画像処理部12に出力する処理を実施する。レーザ光受信部5は受信光学系6と受光器7から構成されており、受信光学系6は送信光学系4から照射されたのち、測定対象物により反射されたレーザ光の反射光を受信する処理を実施する。受光器7は受信光学系6により受信された反射光を電気信号に変換し、その電気信号である受信信号dを信号強度補償部8に出力する処理を実施する。信号強度補償部8はサンプリング回路9、距離減衰推定回路10及びゲイン回路11から構成されており、伝搬経路上の媒質を起因とする上記レーザ光のエネルギーの減衰係数を算出するとともに、減衰係数を用いて、受光器7から出力された受信信号dの信号強度を補償する処理を実施する。サンプリング回路9は受光器7から出力された受信信号dをA/D変換して、ディジタルの受信信号dであるサンプリングデータfを距離減衰推定回路10に出力する処理を実施する。距離減衰推定回路10はサンプリング回路9から今回出力されたサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度が、前回出力されたサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度より低い場合、今回出力されたサンプリングデータfが示す受信信号dの受信時刻と一緒に、そのサンプリングデータfを内部メモリに保存する処理を実施する。また、距離減衰推定回路10は内部メモリに保存しているサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度と受信時刻を用いて、伝搬経路上の媒質を起因とするレーザ光のエネルギーの減衰係数gを算出する処理を実施する。なお、サンプリング回路9及び距離減衰推定回路10から減衰係数算出手段が構成されている。ゲイン回路11は距離減衰推定回路10により算出された減衰係数gを用いて、受光器7から出力された受信信号dの信号強度を補償し、強度補償後の受信信号eを出力する処理を実施する。なお、ゲイン回路11は信号強度補償手段を構成している。画像処理部12は距離強度検出回路13及び画像処理回路14から構成されており、測定対象物を示す2次元画像及び3次元画像を生成する処理を実施する。距離強度検出回路13はゲイン回路11により信号強度が補償された受信信号eの中から、測定対象物に係る受信信号を抽出し、その受信信号に対応するレーザ光の送信時刻Ttxと、その受信信号の受信時刻Trxとの時刻差ΔTから、測定対象物までの距離Lを導出する処理を実施する。なお、距離強度検出回路13は距離導出手段を構成している。画像処理回路14は距離強度検出回路13により導出された距離Lと、距離強度検出回路13により抽出された測定対象物に係る受信信号の信号強度Sから、送信光学系4におけるビームスキャナのスキャン角度に基づいて測定対象物を画像化して、その測定対象物を示す2次元画像及び3次元画像を生成する処理を実施する。なお、画像処理回路14は画像生成手段を構成している。図1の例では、レーザレーダ装置の構成要素であるレーザ光出力部1、送信光学系4、レーザ光受信部5、信号強度補償部8及び画像処理部12のそれぞれが専用のハードウェア例えば、CPUを実装している半導体集積回路、あるいは、ワンチップマイコンで構成されているものを想定しているが、レーザレーダ装置がコンピュータで構成されていてもよい。レーザレーダ装置がコンピュータで構成されている場合、レーザ光出力部1、送信光学系4、レーザ光受信部5、信号強度補償部8及び画像処理部12の処理内容が記述されているプログラムをコンピュータのメモリに格納し、当該コンピュータのCPUが当該メモリに格納されているプログラムを実行するようにすればよい。図2はこの発明の実施の形態1によるレーザレーダ装置のサンプリング回路9を示す構成図である。図2において、クロック回路21は所定の時間周期のパルス信号aを出力する処理を実施する。A/D変換回路22はクロック回路21から出力されるパルス信号aに同期して、受光器7から出力されたアナログの受信信号dをA/D変換し、ディジタルの受信信号dであるサンプリングデータfを距離減衰推定回路10に出力する処理を実施する。図3はこの発明の実施の形態1によるレーザレーダ装置の距離減衰推定回路10を示す構成図である。図3において、クロック回路31はレーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cを受けると、所定の時間周期のパルス信号を出力する処理を実施する。時間計測回路32はクロック回路31から出力されたパルスの数をカウントすることで、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cが出力された時点≒送信光学系4からレーザ光が放射された時点からの経過時間を計測する処理を実施する。フィルタ回路33はサンプリング回路9から今回出力されたサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度が、前回出力されたサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度より高い場合、今回出力されたサンプリングデータfを破棄し、今回出力されたサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度が、前回出力されたサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度より低い場合、今回出力されたサンプリングデータfに対して、時間計測回路32により計測された経過時間を示す時間情報を付加するとともに、信号入力順の番号を付与して、そのサンプリングデータfを内部メモリ34に保存する処理を実施する。内部メモリ34は付与されている番号が小さい順に、時間情報付のサンプリングデータfを格納する記録媒体である。対数演算回路35は内部メモリ34により格納されているサンプリングデータfの中から、付与されている番号が小さい順にサンプリングデータfを2つずつ取り出し、2つのサンプリングデータfのうち、番号が小さい方のサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度で、番号が大きい方のサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度を除算し、その除算結果の対数を演算する処理を実施する。除算回路36は対数演算回路35により取り出された2つのサンプリングデータfに付加されている時刻情報が示す経過時間の差を求め、対数演算回路35の演算結果を経過時間の差で除算するとともに、定数である光速で除算することにより、2つのサンプリングデータf間の減衰係数αを算出する処理を実施する。平均演算回路37は除算回路36により2つのサンプリングデータf間の減衰係数αが算出される毎に、それらの減衰係数αの平均値を算出する処理を実施する。なお、平均演算回路37により算出される減衰係数αの平均値は、レーザ発振器3から1パルスのレーザ光が出力される時間中の減衰係数αの平均を示す値となる。内部メモリ38は平均演算回路37により算出された減衰係数αの平均値を格納する記録媒体である。移動平均演算回路39は内部メモリ38により格納されている減衰係数αの平均値に対する移動平均処理を実施し、移動平均処理後の減衰係数αを減衰係数gとしてゲイン回路11に出力する処理を実施する。なお、図6はこの発明の実施の形態1によるレーザレーダ装置の距離減衰推定回路10の処理内容を示すフローチャートである。図4はこの発明の実施の形態1によるレーザレーダ装置のゲイン回路11を示す構成図である。図4において、クロック回路41はレーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cを受けると、所定の時間周期のパルス信号を出力する処理を実施する。バイアス演算回路42はクロック回路41から出力されたパルスの数をカウントすることで、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cが出力された時点≒送信光学系4からレーザ光が放射された時点からの経過時間を計測し、その経過時間と距離減衰推定回路10により算出された減衰係数gを用いて、可変利得回路43に与えるバイアスVを算出する処理を実施する。可変利得回路43はバイアス演算回路42により算出されたバイアスVを受光器7から出力された受信信号dに印加することで、その受信信号dの信号強度を補償し、強度補償後の受信信号eを距離強度検出回路13に出力する処理を実施する。図5はこの発明の実施の形態1によるレーザレーダ装置の距離強度検出回路13を示す構成図である。図5において、クロック回路51はレーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cを受けると、所定の時間周期のパルス信号を出力する処理を実施する。ピーク検出回路52はクロック回路51から出力されたパルス信号の入力タイミングで動作を開始して、一定時間後に放電するピークホールド回路であり、ゲイン回路11により信号強度が補償された受信信号eの中のピーク値を検出する処理を実施する。コンパレータ53は測定対象物に係る受信信号と不要信号を仕分けるための閾値が設定されており、ピーク検出回路52により検出されたピーク値と閾値を比較し、そのピーク値が閾値より大きければ、そのピーク値を時間計測回路54により計測された経過時間を示す時間情報と一緒に内部メモリ55に保存する処理を実施する。時間計測回路54はクロック回路51から出力されたパルスの数をカウントすることで、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cが出力された時点≒送信光学系4からレーザ光が放射された時点からの経過時間を計測する処理を実施する。内部メモリ55はピーク検出回路52により検出されたピーク値を時間情報と一緒に格納する記録媒体である。強度検出回路56は内部メモリ55により時間情報と一緒に格納されているピーク値を読み出して、そのピーク値に対応する時刻情報を距離演算回路57に出力するとともに、そのピーク値が示す信号強度Sを画像処理回路14に出力する処理を実施する。距離演算回路57は強度検出回路56から出力された時刻情報が示す経過時間からレーザ光の送信時刻Ttxと、そのピーク値の受信時刻Trxとの時刻差ΔTを把握し、その時刻差ΔTから、測定対象物までの距離Lを導出する処理を実施する。次に動作について説明する。まず、レーザ光出力部1のレーザドライバ2は、送信光学系4から1パルスのレーザ光を照射させる際、パルス発振トリガ信号cをレーザ発振器3、信号強度補償部8及び画像処理部12に出力する。レーザ光出力部1のレーザ発振器3は、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cを受ける毎に、1パルスのレーザ光を送信光学系4に出力する。送信光学系4は、レーザ発振器3からパルス状のレーザ光の受けると、そのレーザ光のビーム形状を整形し、内部のビームスキャナによって測定範囲を走査しながら、整形後のレーザ光略平行光のレーザ光を測定対象物に向けて照射する。また、送信光学系4は、そのビームスキャナのスキャン角度を画像処理部12に出力する。このとき、送信光学系4によるレーザ光の送信方向に測定対象物が存在していれば、送信光学系4が1パルスのレーザ光を送信する毎に、測定対象物による当該レーザ光の反射光が戻ってくる。レーザ光受信部5の受信光学系6は、送信光学系4から送信されたレーザ光が測定対象物に反射されて戻ってくると、そのレーザ光の反射光を受信する。受光器7は、受信光学系6が反射光を受信すると、その反射光を電気信号に変換し、その電気信号である受信信号dをサンプリング回路9及びゲイン回路11に出力する。サンプリング回路9は、受光器7から受信信号dを受けると、その受信信号dをA/D変換して、ディジタルの受信信号dであるサンプリングデータfを距離減衰推定回路10に出力する。即ち、サンプリング回路9のクロック回路21は、所定の時間周期のパルス信号aをA/D変換回路22に出力する。サンプリング回路9のA/D変換回路22は、受光器7から受信信号dを受けると、クロック回路21から出力されるパルス信号aに同期して、その受信信号dアナログの受信信号をA/D変換し、ディジタルの受信信号dであるサンプリングデータfを距離減衰推定回路10に出力する。距離減衰推定回路10は、サンプリング回路9からサンプリングデータfを受けると、そのサンプリングデータfに基づいて、伝搬経路上の媒質を起因とするレーザ光のエネルギーの減衰係数gを算出する。以下、図6を参照しながら、距離減衰推定回路10の処理内容を具体的に説明する。まず、距離減衰推定回路10のクロック回路31は、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cを受信すると、その受信タイミングを起点として、所定の時間周期のパルス信号を時間計測回路32に出力する。時間計測回路32は、クロック回路31から出力されたパルスの数をカウントすることで、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cが出力された時点≒送信光学系4からレーザ光が放射された時点からの経過時間を計測する。フィルタ回路33は、サンプリング回路9からサンプリングデータfが出力される毎に、そのサンプリングデータfを取り込み図6のステップST1、今回取り込んだサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度と、前回取り込んだサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度とを比較するステップST2。フィルタ回路33は、今回取り込んだサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度が、前回取り込んだサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度より高い場合、今回取り込んだサンプリングデータfを破棄するステップST3。このようにサンプリングデータfを破棄することで、減衰係数の推定に影響を及ぼす異常な信号強度を有する受信信号を排除することが可能になる。フィルタ回路33は、今回取り込んだサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度が、前回取り込んだサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度より低い場合、今回取り込んだサンプリングデータfに対して、時間計測回路32により計測された経過時間を示す時間情報を付加するステップST4。そして、フィルタ回路33は、信号入力順の番号を時間情報付のサンプリングデータfに付与して内部メモリ34に保存するステップST5。ここで、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cが出力された時点からt秒後の時間における受信信号dの信号強度がItであるとするとき、減衰係数がα、光速がcであれば、t1秒後の信号強度It1とt2秒後の信号強度It2の関係は、ランバートベールの法則より、下記の式1で表される。It2/It1=exp-α×c×t2-t11距離減衰推定回路10では、下記に示すように、式1を利用して、減衰係数αを算出する。対数演算回路35は、内部メモリ34により格納されているサンプリングデータfの中で既に取り出し済みのサンプリングデータfを除く、付与されている番号が1番小さいサンプリングデータfと、2番目に小さいサンプリングデータfとを取り出して、以下に示すような除算処理と対数処理を行う。ここでは、説明の便宜上、1番小さいサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度をIt1、2番目に小さいサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度をIt2とする。対数演算回路35は、1番小さいサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度It1で、2番目に小さいサンプリングデータfが示す受信信号dの信号強度It2を除算する除算処理を実施する。D=It2/It1また、対数演算回路35は、その除算結果Dの対数を演算する。E=logDここで、対数演算回路35の演算結果Eは、式1より、下記のように表される。E=logIt2/It1=-α×c×t2-t1除算回路36は、1番小さいサンプリングデータfに付加されている時刻情報が示す経過時間t1と、2番目に小さいサンプリングデータfに付加されている時刻情報が示す経過時間t2との時刻差Δt=t2-t1を求め、対数演算回路35の演算結果Eを時刻差Δtで除算するとともに、定数である光速cで除算することにより、2つのサンプリングデータf間の減衰係数αを算出する。α=-E/c×t2-t1平均演算回路37は、除算回路36が2つのサンプリングデータf間の減衰係数αを算出する毎に、これまでに除算回路36により算出された減衰係数αの平均値を算出するステップST6。フィルタ回路33、対数演算回路35、除算回路36及び平均演算回路37の処理は、1パルスのレーザ光が出力されている間、繰り返し実施される。これにより、平均演算回路37により算出される減衰係数αの平均値は、レーザ発振器3から1パルスのレーザ光が出力される時間中の減衰係数αの平均を示す値となる。対数演算回路35は、減衰係数αの平均値を内部メモリ38に格納するステップST7。移動平均演算回路39は、平均演算回路37が1パルス当りの減衰係数αの平均値を内部メモリ38に格納すると、その減衰係数αの平均値に対する移動平均処理を実施しステップST8、移動平均処理後の減衰係数αを減衰係数gとしてゲイン回路11に出力するステップST9。これにより、環境が時間的に変化しても常に最新の減衰係数を取り込むことができるため、環境の変化に追従することが可能になる。また、移動平均演算回路39が移動平均処理後の減衰係数gをゲイン回路11に出力しているので、減衰係数αが大きく変化しても、ゲイン回路11に与える減衰係数gの変化を緩和して、急激な制御の変動を防止することができる。ゲイン回路11は、距離減衰推定回路10から減衰係数gを受けると、その減衰係数gを用いて、受光器7から出力された受信信号dの信号強度を補償し、強度補償後の受信信号eを距離強度検出回路13に出力する。即ち、ゲイン回路11のクロック回路41は、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cを受信すると、その受信タイミングを起点として、所定の時間周期のパルス信号をバイアス演算回路42に出力する。バイアス演算回路42は、クロック回路41から出力されたパルスの数をカウントすることで、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cが出力された時点≒送信光学系4からレーザ光が放射された時点からの経過時間tを計測する。そして、バイアス演算回路42は、下記の式2に示すように、その経過時間tと距離減衰推定回路10により算出された減衰係数gを用いて、可変利得回路43に与えるバイアスVを算出する。V=g×c×t/β2ただし、cは光速、βは可変利得回路43のバイアス当りの利得変化量である。可変利得回路43は、バイアス演算回路42からバイアスVを受けると、そのバイアスVを受光器7から出力された受信信号dに印加することで、その受信信号dの信号強度を補償し、強度補償後の受信信号eを距離強度検出回路13に出力する。なお、ゲイン回路11では、レーザ発振器3から1パルスのレーザ光が送信されるタイミング毎に、距離減衰推定回路10により新たに算出された減衰係数gを用いて、受光器7から出力された受信信号dの信号強度を補償している。ここで、図7は伝搬損失分の強度補償前後の受信信号を示す説明図である。図7からも明らかなように、レーザの伝搬距離に依存している強度損失が補償されるため、反射光の信号強度を、送信したレーザ光を反射する物質の反射率のみに依存している信号強度に変換することが可能になる。距離強度検出回路13は、ゲイン回路11から強度補償後の受信信号eを受けると、強度補償後の受信信号eの中から、測定対象物に係る受信信号を抽出し、その受信信号に対応するレーザ光の送信時刻Ttxと、その受信信号の受信時刻Trxとの時刻差ΔTから、測定対象物までの距離Lを導出する。以下、距離強度検出回路13の処理内容を具体的に説明する。距離強度検出回路13のクロック回路51は、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cを受信すると、その受信タイミングを起点として、所定の時間周期のパルス信号をピーク検出回路52及び時間計測回路54に出力する。時間計測回路54は、クロック回路51から出力されたパルスの数をカウントすることで、レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cが出力された時点≒送信光学系4からレーザ光が放射された時点からの経過時間tを計測する。ピーク検出回路52は、クロック回路51から出力されたパルス信号の入力タイミングで動作を開始して、一定時間後に放電するピークホールド回路であり、ゲイン回路11により信号強度が補償された受信信号eの中のピーク値を検出する。コンパレータ53は、図7bに示すように、測定対象物に係る受信信号と不要信号を仕分けるための閾値が設定されており、ピーク検出回路52により検出されたピーク値と閾値を比較する。コンパレータ53は、ピーク検出回路52により検出されたピーク値が閾値より大きければ、そのピーク値は測定対象物に係る受信信号であると判断し、そのピーク値を時間計測回路54により計測された経過時間tを示す時間情報と一緒に内部メモリ55に保存する。強度検出回路56は、内部メモリ55により時間情報と一緒に格納されているピーク値を読み出して、そのピーク値に対応する時刻情報を距離演算回路57に出力するとともに、そのピーク値が示す信号強度Sを画像処理回路14に出力する。距離演算回路57は、強度検出回路56からピーク値に対応する時刻情報を受けると、その時刻情報が示す経過時間tからレーザ光の送信時刻Ttxと、そのピーク値の受信時刻Trxとの時刻差ΔTを把握する。即ち、距離演算回路57は、時間計測回路54により計測される経過時間が0の時刻レーザドライバ2からパルス発振トリガ信号cが出力された時刻をレーザ光の送信時刻Ttxと認識し、その送信時刻Ttxから経過時間tを加えた時刻Ttxtをピーク値の受信時刻Trxと認識して、レーザ光の送信時刻Ttxとピーク値の受信時刻Trxとの時刻差ΔTを把握する。距離演算回路57は、その時刻差ΔTと光速cから、測定対象物までの距離Lを導出し、その距離Lを画像処理回路14に出力する。L=c×ΔT画像処理回路14は、距離強度検出回路13から測定対象物に係る受信信号の信号強度Sと測定対象物までの距離Lを受けると、その信号強度Sと距離Lから、送信光学系7から出力されるビームスキャナのスキャン角度に基づいて測定対象物を画像化し、その測定対象物を示す2次元画像及び3次元画像を生成する。信号強度Sと距離Lから測定対象物を画像化する技術自体は公知の技術であるため詳細な説明を省略する。以上で明らかなように、この実施の形態1によれば、受光器7により変換された電気信号である受信信号dをサンプリングするサンプリング回路9と、今回サンプリングの受信信号dの信号強度が前回サンプリングの受信信号dの信号強度より低ければ、今回サンプリングの受信信号dの信号強度と受信時刻を用いて、伝搬経路上の媒質を起因とするレーザ光のエネルギーの減衰係数gを算出する距離減衰推定回路10と、距離減衰推定回路10により算出された減衰係数gを用いて、受光器7により変換された電気信号である受信信号dの信号強度を補償するゲイン回路11とを設け、距離強度検出回路13が、ゲイン回路11により信号強度が補償された受信信号eの中から、測定対象物に係る受信信号を抽出し、その受信信号に対応するレーザ光の送信時刻と上記受信信号の受信時刻との差から、測定対象物までの距離Lを導出するように構成したので、比較的粒径が大きい雑音要因が存在する環境や、後方散乱光が発生する環境でも、測定対象物までの距離Lを正確に導出することができる効果を奏する。即ち、この実施の形態1によれば、レーザ発振器3がパルス状のレーザ光を送信光学系4に出力するタイミングで、距離減衰推定回路10が、伝搬経路上の媒質を起因とする減衰係数gを推定し、その減衰係数gを用いて、ゲイン回路11が伝搬損失分の強度補償を実施しているので、受光器7により変換された電気信号である受信信号dから伝搬損失の影響を取り除くことができ、測定対象物の反射率に依存する信号強度に置換される。これにより、閾値を可変にしても取り除くことができなかった雑音要因からの反射信号を排除することができるようになり、安定した測定対象物からの信号検出及び測距を行うことが可能になる。また、この実施の形態1によれば、1パルスのレーザ光を送信する毎に、伝搬経路上の媒質を起因とする減衰係数gを推定し、過去に推定している減衰係数gと合わせ移動平均を取っていることから、周辺環境が変化して、伝搬経路上の減衰係数gが徐々に変化している場合でも、最新の減衰係数を取り込んで周辺環境に追従している安定した距離測定が可能になる。なお、この実施の形態1では、距離強度検出回路13のコンパレータ53が、ピーク検出回路52により検出されたピーク値と閾値を比較し、そのピーク値が閾値より大きければ、そのピーク値は測定対象物に係る受信信号であると判断するものを示したが、伝搬経路上の雑音要因からの反射率が高い場合、伝搬損失分の強度補償を実施しても、測定対象物からの信号強度と比べて、雑音要因からの信号強度が同等あるいは高い場合があり得る。この場合、コンパレータ53が使用する閾値を調整しても、複数のピーク値が閾値より大きくなることがある。しかし、測定対象物は、雑音要因よりも必ず後方に存在しているため、1回のパルスレーザ光の送信で、最後に得られたピーク値が測定対象物に係る受信信号となる。そこで、コンパレータ53は、複数のピーク値が閾値より大きくなる場合、それらのピーク値の受信時刻を参照して、受信時刻が最も遅いピーク値を測定対象物に係る受信信号であると判断して、そのピーク値を内部メモリ55に保存するようにする。これにより、伝搬経路上の雑音要因からの反射率が高いために、複数のピーク値が閾値より大きくなる場合でも、測定対象物までの距離Lを正確に導出することができる効果を奏する。実施の形態2.上記実施の形態1では、サンプリング回路9がクロック回路21とA/D変換回路22から構成されているものを示したが、サンプリング回路9は他の構成であってもよい。図8はこの発明の実施の形態2によるレーザレーダ装置のサンプリング回路9を示す構成図であり、図において、図2と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。ゲート回路61はクロック回路21からパルス信号を受ける毎に、受光器7により変換された電気信号である受信信号dを与えるマルチチャンネルA/D回路62のセルを順次切り替える処理を実施する。マルチチャンネルA/D変換回路62は複数のセル各セルは、A/D変換機能を備えているを有しており、ゲート回路61から受信信号dを与えられたセルがA/D変換処理を実施して、ディジタルの受信信号であるサンプリングデータfを出力する処理を実施する。上記実施の形態1では、サンプリング回路9のA/D変換回路22が、マルチチャンネルの構成ではないため、クロック回路21のパルス周期に追従可能な高速なA/D変換回路を搭載する必要がある。この実施の形態2では、マルチチャンネルA/D変換回路62が複数のセルを有し、ゲート回路61がクロック回路21から出力されるパルス信号を複数のセルに分散するため、個々のセルについては、低速でA/D変換処理を行っても、上記実施の形態1のサンプリング回路9と同様の処理を実現することができる。例えば、マルチチャンネルA/D変換回路62が、N個のセルを有している場合、個々のセルの処理周期は、クロック回路21のパルス周期の1/N倍まで低減することが可能になる。実施の形態3.上記実施の形態1では、距離減衰推定回路10が除算回路36と平均演算回路37を実装している構成を示したが、距離減衰推定回路10は他の構成であってもよい。図9はこの発明の実施の形態3によるレーザレーダ装置の距離減衰推定回路10を示す構成図であり、図において、図3と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。最小二乗法演算回路70は対数演算回路35の演算結果に対して、一次式の最小二乗法処理を行うことで、減衰係数αの平均値を算出する処理を実施する。次に動作について説明する。ただし、距離減衰推定回路10が、除算回路36及び平均演算回路37の代わりに、最小二乗法演算回路70を実装している点以外は、上記実施の形態1と同様であるため、最小二乗法演算回路70の処理内容だけを説明する。最小二乗法演算回路70は、対数演算回路35から演算結果を受けると、その演算結果に対して、一次式の最小二乗法処理を行う。推定する減衰係数αは、式1からも分かる通り、信号強度を対数で表すと、時間に対する一次方程式の傾きであることが分かる。このことから、内部メモリ34に保存されているサンプリングデータfに対して、一次方程式の最小二乗法を適用することで得られる近似式の傾きを減衰係数αとして算出する。具体的には、内部メモリ34に保存されているサンプリングデータfの個数がN、n番目に対数処理された信号強度がAn、サンプリングデータfに係る受信信号の受信時刻がtnであるとすると、減衰係数αは、下記の式3のように表される。最小二乗法演算回路70は、式3を演算することで減衰係数αを求め、その減衰係数αを内部メモリ38に格納する。この演算処理は、1パルスのレーザ光が送信される毎に行われる。上記実施の形態1では、減衰係数αを算出する際、N個のサンプリングデータfが内部メモリ34に格納されている場合、対数演算回路35でN-1回の除算処理が行われ、さらに除算回路36でN-1回の除算処理が行われるため、一回の減衰係数αの算出で2N-1回の除算処理を行う必要がある。この実施の形態3では、最小二乗法演算回路70が式3の除算処理を1回行えばよく、計算処理の速度を大幅に向上させることが可能になる。なお、本願発明はその発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施の形態において任意の構成要素の省略が可能である。