予め設定された検証用テストパタン情報を保持すると共に当該検証用テストパタン情報に基づく検証処理の結果を出力表示するパタン読み書き装置と、前記検証用テストパタン情報に基づく実行を行うと共にその実行内容の検証処理を行うエミュレータ検証装置とを備えたエミュレータ検証システムであって、前記パタン読み書き装置および前記エミュレータ装置それぞれに対して着脱可能な接続部を有する第1および第2の可搬記憶媒体を備え、前記パタン読み書き装置は、当該パタン読み書き装置に対して前記第1の可搬記憶媒体が接続した場合に前記検証処理用パタン情報のデータ形式を前記第1の可搬記憶媒体における記憶用のデータ形式に変換すると共に前記検証処理用パタン情報の書き出しを行うパタン情報変換書き出し部と、前記第2の可搬記憶媒体が前記パタン読み書き装置に対して接続された場合に、前記第2の可搬記憶媒体から前記検証処理の結果を示す検証結果情報を取得すると共に当該検証結果情報を前記出力表示用のデータ形式に変換する検証結果変換出力部とを備え、前記エミュレータ検証装置は、当該エミュレータ検証装置に前記第1の可搬記憶媒体が接続された場合に当該第1の可搬記憶媒体から前記検証処理用パタン情報を取得すると共に、そのデータ形式を前記検証処理用のデータ形式に変換するデータ読込変換部と、前記エミュレータ検証装置に前記第2の可搬記憶媒体が接続した場合に前記検証処理結果情報のデータ形式を前記第2の可搬記憶媒体におけるデータ読出し用のデータ形式に変換すると共に当該検証処理用パタン情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出す検証結果変換書き出し部とを備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。請求項1に記載のエミュレータ検証システムであって、前記検証結果変換書き出し部は、前記検証処理の状態が前記検証処理用パタン情報内に含まれる検証中断条件に合致した場合に、前記検証処理を中断し検証結果情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出す検証中断書き出し手段を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。請求項1に記載のエミュレータ検証システムであって、前記エミュレータ検証装置は、前記第1および第2の可搬記憶媒体の接続部との接続が可能な単一の接続インタフェース部を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。請求項1に記載のエミュレータ検証システムであって、前記エミュレータ検証装置は、前記第1および第2の可搬記憶媒体の接続部それぞれに対応した第1および第2の接続インタフェース部と、前記第1および第2の接続インタフェース部における接続状況を監視し当該接続状況に応じて前記データ読込変換部および検証結果変換書き出し部における動作を制御するデータ読み書き制御部とを備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。請求項4に記載のエミュレータ検証システムであって、前記第1の可搬記憶媒体は、前記検証処理用パタン情報の種別に対応して予め設定された異なる記憶領域を有し、前記パタン情報変換書き出し部は、前記検証処理用パタン情報を種別ごとに前記記憶領域に書き出す種別対応書き出し機能を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。予め設定された被検証用回路における検証用テスト情報に基づく実行内容の正常性を検証するエミュレータ検証装置と、エミュレータ検証装置に接続し前記検証処理に係る指示情報を入力するサーバ装置とを備えたエミュレータ検証システムであって、前記エミュレータ検証装置に着脱可能に接続すると共に予め設定されたデータ容量より大きい検証処理用テスト情報を前記エミュレータ検証装置に対して入力する第1の可搬記憶媒体と、前記エミュレータ検証装置に対して着脱可能に接続すると共に前記エミュレータ検証装置における検証処理の結果を示す予め設定されたデータ容量より大きい検証結果情報を取得し記憶保持する第2の可搬記憶媒体とを備え、前記エミュレータ検証装置は、予め設定されたデータ容量より小さい検証処理用テスト情報を前記サーバ装置から取得する小容量テスト情報取得機能と、予め設定されたデータ容量より小さい検証結果情報を前記サーバ装置に対して出力する小規模結果情報出力機能とを有し、前記第1の可搬記憶媒体は、前記検証処理用パタン情報を入力するのに先立ち当該検証処理用パタン情報のデータ形式を前記検証処理用に変換する検証用テストデータ形式変換機能を備え、前記第2の可搬記憶媒体は、前記検証結果情報を取得した場合に当該前記検証結果情報のデータ形式を記憶保持用に変換する検証結果データ形式変換機能を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。予め設定された検証用テストパタン情報を保持すると共に当該検証用テストパタン情報に基づく検証処理の結果を出力表示するパタン読み書き装置と、前記検証用テストパタン情報に基づく実行内容の検証処理を行うエミュレータ検証装置と、前記パタン読み書き装置および前記エミュレータ検証装置それぞれに対して着脱可能な接続部を有する第1および第2の可搬記憶媒体とを備えたエミュレータ検証システムにあって、前記検証処理を実行するエミュレータ検証方法であって、前記パタン読み書き装置に対して前記第1の可搬記憶媒体が接続した場合に、前記パタン読み書き装置が前記検証処理用パタン情報のデータ形式を前記第1の可搬記憶媒体における記憶用のデータ形式に変換し、前記検証処理用パタン情報の書き出しを行い、前記エミュレータ検証装置に前記第1の可搬記憶媒体が接続された場合に、当該第1の可搬記憶媒体から前記検証処理用パタン情報を取得すると共に、そのデータ形式を前記検証処理用のデータ形式に変換し、前記エミュレータ検証装置に前記第2の可搬記憶媒体が接続した場合に、前記検証処理結果情報のデータ形式を前記第2の可搬記憶媒体におけるデータ読出し用のデータ形式に変換すると共に当該検証処理用パタン情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出し、前記第2の可搬記憶媒体が前記パタン読み書き装置に対して接続された場合に、前記第2の可搬記憶媒体から前記検証処理の結果を示す検証結果情報を取得し、当該検証結果情報を前記出力表示用のデータ形式に変換することを特徴としたエミュレータ検証方法。しかしながら、上記関連技術1、2では、例えば、文字データよりファイルサイズの大きな画像データなどの大容量テストパタンを利用する場合、テストパタンの被検証回路に対する入力処理や、処理結果の出力処理に多大な時間がかかり、更には、テストパタンの入出力時にはエミュレータ検証装置における他の処理が利用できないといった不都合が生じ得る。更には、予め設定された被検証回路における回路変更が生じた場合やエミュレータ検証装置200の電源がOFFオフ状態に設定された場合など、被検証回路201における検証処理の再開やテストパタンを再入力などが必要となった場合には、これらの処理の実行に膨大な手間や処理準備の時間がかかってしまうという不都合が生じ得る。また、上記関連技術1~4を組み合わせた内容では、検証装置における検証処理が再度必要になった場合、この検証処理に対応したテストパタンを新たに設定したり、生成されたテストパタン入力処理や、処理結果の出力処理、およびその準備に、検証処理自体よりも複雑な処理やそのための膨大な処理時間が必要となるといった不都合がある。また、検証用入出力データテストパタンの再利用が困難であることから、例えば、異なる回路について並行して検証を行う場合や、同一テストパタンを使った検証や、同一テストパタンを他の同じ検証装置で行う場合でも対応する検証装置に対してテストパタンを保持する計算機を接続してテストパタンの入力を行うことが必要となり、手間や工数が膨大となってしまい、効率的な検証作業を行うことができないという不都合がある。[発明の目的]本発明は、上記関連技術の有する不都合を改善し、被検証装置の論理回路におけるテストパタンに基づく検証処理を迅速に行うことを可能とするエミュレータ検証システム、およびエミュレータ検証方法を提供することを、その目的とする。上記目的を達成するため、本発明に係る備えた構成を有する。また、本発明に係るエミュレータ検証システムは、予め設定された検証用テストパタン情報を保持すると共に当該検証用テストパタン情報に基づく検証処理の結果を出力表示するパタン読み書き装置と、前記検証用テストパタン情報に基づく実行を行い、その実行内容の検証処理を行うエミュレータ検証装置とを備えたエミュレータ検証システムであって、前記パタン読み書き装置および前記エミュレータ装置それぞれに対して着脱可能な接続部を有する第1および第2の可搬記憶媒体を備え、前記パタン読み書き装置は、当該パタン読み書き装置に対して前記第1の可搬記憶媒体が接続した場合に前記検証処理用パタン情報のデータ形式を前記第1の可搬記憶媒体における記憶用のデータ形式に変換すると共に前記検証処理用パタン情報の書き出しを行うパタン情報変換書き出し部と、前記第2の可搬記憶媒体が前記パタン読み書き装置に対して接続された場合に、前記第2の可搬記憶媒体から前記検証処理の結果を示す検証結果情報を取得すると共に当該検証結果情報を前記出力表示用のデータ形式に変換する検証結果変換出力部とを有し、前記エミュレータ検証装置は、当該エミュレータ検証装置に前記第1の可搬記憶媒体が接続された場合に当該第1の可搬記憶媒体から前記検証処理用パタン情報を取得すると共に、そのデータ形式を前記検証処理用のデータ形式に変換するデータ読込変換部と、前記エミュレータ検証装置に前記第2の可搬記憶媒体が接続した場合に前記検証処理結果情報のデータ形式を前記第2の可搬記憶媒体におけるデータ読出し用のデータ形式に変換すると共に当該検証処理用パタン情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出す検証結果変換書き出し部とを備えたことを特徴としている。また、本発明に係るエミュレータ検証方法は、予め設定された検証用テストパタン情報を保持すると共に当該検証用テストパタン情報に基づく検証処理の結果を出力表示するパタン読み書き装置と、前記検証用テストパタン情報に基づく実行内容の検証処理を行うエミュレータ検証装置と、前記パタン読み書き装置および前記エミュレータ検証装置それぞれに対して着脱可能な接続部を有する第1および第2の可搬記憶媒体とを備えたエミュレータ検証システムにあって、前記パタン読み書き装置に対して前記第1の可搬記憶媒体が接続した場合に、前記パタン読み書き装置が前記検証処理用パタン情報のデータ形式を前記第1の可搬記憶媒体における記憶用のデータ形式に変換し、前記検証処理用パタン情報の書き出しを行い、前記エミュレータ検証装置に前記第1の可搬記憶媒体が接続された場合に、当該第1の可搬記憶媒体から前記検証処理用パタン情報を取得すると共に、そのデータ形式を前記検証処理用のデータ形式に変換し、前記エミュレータ検証装置に前記第2の可搬記憶媒体が接続した場合に、前記検証処理結果情報のデータ形式を前記第2の可搬記憶媒体におけるデータ読出し用のデータ形式に変換すると共に当該検証処理用パタン情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出し、前記第2の可搬記憶媒体が前記パタン読み書き装置に対して接続された場合に、前記第2の可搬記憶媒体から前記検証処理の結果を示す検証結果情報を取得し、当該検証結果情報を前記出力表示用のデータ形式に変換することを特徴としている。本発明は、上述したように、エミュレータ検証装置に対して接続したときに予め記憶した検証用テストパタンを入力する第1の可搬記憶媒体と、エミュレータ検証装置における検証結果を読み出し記憶保持する第2の可搬記憶媒体を備えた構成としたことにより、被検証装置の論理回路におけるテストパタンに基づく検証処理を迅速に行うことを可能とするエミュレータ検証システム、エミュレータ検証方法を提供することができる。[実施形態1]次に、本発明を実施するための実施形態1について図面を参照して説明する。本実施形態1のエミュレータ回路検証システムエミュレータ検証システムは、図1に示すように、検証用のテストパタン検証用テストパタンを保持するパタン読み書き装置1と、検証対象の回路をエミュレートした被検証回路を有し、この被検証回路を利用して検証用テストパタンに基づく検証処理を行うエミュレータ検証装置2と、パタン読み書き装置1およびエミュレータ検証装置2に対して接続可能な記憶メディアとしての移動可能テストパタン格納装置14と、同様にパタン読み書き装置1およびエミュレータ検証装置2に対して接続可能な記憶メディアである移動可能結果パタン格納装置16を備えた構成を有する。移動可能テストパタン格納装置14および移動可能結果パタン格納装置16はそれぞれフラッシュメモリやハードディスクなどに代表される、電源供給が行われない状態であっても記憶したデータが保存される不揮発性の記憶装置記憶媒体であるものとする。パタン読み書き装置1は、不揮発性記憶装置データ記憶メディアである移動可能テストパタン格納装置14が接続可能な接続インタフェース1-1と、移動可能結果パタン格納装置16が接続可能な接続インタフェース1-2を有する。また、パタン読み書き装置1は、テストパタンの生成を行うホスト計算処理部11と、ホスト計算処理部11で生成されたテストパタンを取得しテストパタン変換手段13に送信する周辺装置制御部12と、周辺装置制御部12から送り込まれたテストパタンのデータ形式を移動可能テストパタン格納装置14における記憶用データ形式に変換するテストパタン変換手段13と、接続インタフェースに移動可能結果パタン格納装置16が接続された場合に移動可能結果パタン格納装置16から結果パタンを読み込むと共にホスト計算処理部11での読み書き可能なデータ形式に変換する結果パタン変換手段15を備えている。エミュレータ検証装置2は、不揮発性記憶装置データ記憶メディアである移動可能テストパタン格納装置14が接続可能な接続インタフェース2-1と、不揮発性記憶装置データ記憶メディアである移動可能結果パタン格納装置16が接続可能な接続インタフェース2-2を備えている。また、エミュレータ検証装置2は、移動可能テストパタン格納装置14からテストパタンを読み出すと共にこのテストパタンのデータ形式を被検証回路部21にて実行可能なデータ形式に変換するテストパタン形式変換手段22と、変換されたテストパタンを一時的に保持するテストパタン格納端子部23と、予め設定された被検証回路を有し、この被検証回路上でテストパタンに基づく実行処理を行うことにより被検証回路の実行処理に係る検証処理を行う被検証回路部21と、検証結果を示す検証結果情報を取得し一時的に保持する結果パタン格納端子部24と、結果パタン格納端子部24内に格納された結果パタン情報のデータ形式を移動可能結果パタン格納装置16で記憶可能なデータ形式に合わせて変換する結果パタン形式変換手段25を備えた構成を有する。尚、エミュレータ検証装置2内では、上記被検証回路部21、テストパタン形式変換手段22、テストパタン格納端子部23、結果パタン格納端子部24および結果パタン形式変換手段25の動作内容を制御する、演算処理部としての制御部26を備えている。また、この制御部26、被検証回路部21、テストパタン格納端子部23および結果パタン格納端子部24からなる検証処理部20が形成されるものとする。以下、これを詳説する。移動可能テストパタン格納装置14は、図3Aに示すように、パタン読み書き装置1およびエミュレータ検証装置2に対する物理的な接続インタフェースとしてのピン変換手段43と、パタン読み書き装置1またはエミュレータ検証装置2に接続された場合にピン変換手段43を介して行われるテストパタンデータの読み書き処理を制御する入力データ変換制御手段41と、ピン変換手段43がパタン読み書き装置1に接続された場合に取得したテストパタン情報を記憶する不揮発性メモリ40を備えた構成を有する。移動可能結果パタン格納装置16は、図3Bに示すように、パタン読み書き装置1およびエミュレータ検証装置2に対する物理的な接続インタフェースとしてのピン変換手段63と、パタン読み書き装置1またはエミュレータ検証装置2に接続された場合にピン変換手段63を介して行われる結果パタン情報データの読み書き処理を制御する入力データ変換制御手段61と、ピン変換手段63がエミュレータ検証装置2に接続された場合に取得した結果パタン情報を記憶する不揮発性メモリ40を備えた構成を有する。尚、不揮発性メモリ40および60は、それぞれテストパタンや結果パタンを格納するためのメモリ領域であり、フラッシュメモリやハードディスクなど一般的な不揮発性メモリで構成されているものとする。また、不揮発性メモリ40は、SDカードやCDカード、USBメモリ、USBハードディスク、SSDメモリのような汎用計算機用フラッシュメモリで構成されていてもよい。尚、移動可能テストパタン格納装置14に対するテストパタン情報の格納処理が完了した後、移動可能テストパタン格納装置14は物理的に移動され、エミュレータ検証装置2の接続インタフェース2-1に接続されるものとする。本実施形態では、検証用に利用されるテストパタンをパタン読み書き装置1およびエミュレータ検証装置2から独立した機構としての移動可能テストパタン格納装置14を介してエミュレータ検証装置2に入力することができる。また、テストパタンに基づく検証結果である検証結果パタンをパタン読み書き装置1およびエミュレータ検証装置2から独立した機構である移動可能結果パタン格納装置16に出力することができ、更には、検証処理の途中であっても途中結果としての検証結果パタンをエミュレータ検証装置2から取り出すことができる。尚、検証処理途中で取り出された検証結果はパタン読み書き装置1に読み込まれ、出力表示することができるものとする。パタン読み書き装置1のホスト計算処理部11は、被検証回路部21における検証用のテストパタンを生成するテストパタン生成機能を有する。ホスト計算処理部11で生成されたテストパタンは周辺装置制御部12を介してテストパタン変換手段13に送られる。また、ホスト計算処理部11は、予め設定された検証用テストパタンを保持するための記憶領域と、検証用テストパタンをテストパタン変換手段13に対して入力するテストパタン入力機能を備えた構成であってもよい。周辺装置制御部12は、ホスト計算処理部11から送り込まれたテストパタンをテストパタン変換手段13に対して入力する機能を有する。また、また、周辺装置制御部12は、結果パタン変換手段15で変換された結果パタンを予め設定されたディスプレイ装置などに出力表示する制御を行う結果パタン出力機能を有する。テストパタン変換手段13は、移動可能テストパタン格納装置14がパタン読み書き装置1の接続インタフェース1-1に接続された場合に、予め記憶保持したテストパタンを移動可能テストパタン格納装置14に書き込む処理を行うテストパタン書込み機能。また、テストパタン変換手段13は、上記テストパタン書込み機能の実行に先立ち、テストパタンのデータ形式を移動可能テストパタン格納手段における記憶データ形式に適合し、且つエミュレータ検証装置2で読み書き処理可能なデータ形式に変換するデータ形式変換機能を備えている。尚、上記エミュレータ検証装置2で読み書き処理可能なデータ形式は、パタン読み書き装置1内に予め登録設定されているものとする。更に、テストパタン変換手段13は、移動可能テストパタン格納装置14が接続された場合に、移動可能テストパタン格納装置14における記憶データ形式を検知する設定であってもよい。これにより、テストパタン変換手段13では、予め記憶したテストパタンを移動可能テストパタン格納装置14における記憶データ形式に適合させた変換を行うことが可能となる。テストパタン形式変換手段15は、移動可能結果パタン格納装置16がエミュレータ検証装置2の接続インタフェース1-2に接続された場合に、移動可能パタン格納装置14内に記憶されたテストパタンを読出しテストパタン読出し機能、このテストパタンのデータ形式を被検証回路部21における検証処理用に変換するテストパタン検証用変換機能を有する。また、テストパタン形式変換手段15は、テストパタン検証用変換機能の実行に先立ち、移動可能結果パタン格納装置16が接続インタフェース1-2に接続されたことを検知する接続検知機能を備えている。エミュレータ検証装置2のテストパタン形式変換手段22は、エミュレータ検証装置2に移動可能テストパタン格納装置14が接続された場合に、移動可能テストパタン格納装置14におけるデータ記憶形式を検知するデータ形式検知機能と、移動可能テストパタン格納装置14が接続インタフェース2-1に接続された場合に、移動可能テストパタン格納装置14内に記憶されたテストパタンを取得するテストパタン読出し機能を備えている。また、テストパタン形式変換手段22は、移動可能テストパタン格納装置14から読み出したテストパタンのデータ形式を、被検証回路部21における処理可能データ形式に適合させて変換する検証装置側検証データ形式変換機能を有する。これにより、テストパタン変換手段13では、移動可能結果パタン格納装置14内に記憶されたテストパタンの記憶データ形式が被検証回路部21での検証処理に利用可能なデータ形式と異なる場合に、このテストパタンのデータ形式アドレスやデータ幅の情報を含むを被検証回路部21での読み書き可能なデータ形式へと変換することができる。また、テストパタン形式変換手段22は、データ形式を変換したテストパタンをテストパタン格納端子部23に入力するテストパタン入力機能。テストパタン格納端子部23は、テストパタン形式変換手段22により変換されたテストパタン情報を一時的に記憶保持するデータ記憶領域を備えているテストパタン保持機能。これにより、テストパタンは、被検証回路部21からアクセス可能な状態でテストパタン格納端子部23に格納される。また、検証用のテストパタンとして、検証中途再開用のテストパタンがテストパタン格納端子部23に格納されることにより、被検証回路部21において検証処理の途中から再開させることができる。被検証回路部21は、テストパタン格納端子部23からテストパタンを取得すると共に被検証回路に入力し、被検証回路上でこのテストパタンに基づく実行処理を行うテストパタン実行処理機能。被検証回路部21は、上記実行処理結果として、予め設定された期待値との照合用データを出力する。また、被検証回路部21は、検証用に予め設定された期待値と上記照合用データとの照合を行い照合した結果を検証結果検証結果パタンとして出力する。尚、この検証結果は、被検証回路が、テストパタンが入力された場合に、このテストパタンに基づく実行処理が正常に行われる否か、または、この実行処理内容を示すものとする。これにより、被検証回路部21は、期待値と比較した結果を波形図表示用に出力したり、検証、照合、確認作業といった一般的検証処理、検証作業の実行を行うものとする。また、上記期待値は、テストパタンと共にまたはテストパタンの一部として被検証回路部21に入力される設定であってもよい。これにより、被検証回路それぞれに合わせた期待値を照合用に設定することができる。更に、被検証回路部21は、検証結果パタンを結果パタン格納端子部24に格納する検証結果書き出し機能。このとき、被検証回路部21は、上記テストパタン実行処理機能の実行途中であっても、検証結果パタンを順次、結果パタン格納端子部24に対して格納するものとする。また、被検証回路部21は、上記検証結果パタンのうち保存の必要性のあるデータ、参照の必要性のあるデータを抽出してメモリに書き込むためのデータを書き出し、結果パタン格納端子部24に格納する設定であってもよい。尚、被検証回路部21では、上記テストパタンの読み出し、検証実行、および結果パタン書き出しが予め設定されたテストシナリオに基づき、連続的に実行される設定であってもよい。結果パタン納端子部24は、被検証回路部21により出力された結果パタンを一時的に記憶保持するデータ記憶領域を備えている結果パタン保持機能。結果パタン形式変換手段25は、結果パタン格納端子部24から読み出した結果パタンのデータ形式を、移動可能結果パタン格納装置16における保存データ形式に適合させて変換する保存用データ形式変換機能を有する。尚、結果パタン形式変換手段25は、移動可能結果パタン格納装置16が装置2の接続インタフェース2-2に接続された場合に、これを検知し、データ形式を変換した結果パタンを移動可能結果パタン格納装置16に書き込む処理を行う結果パタン書込み機能。また、結果パタン形式変換手段25は、上記結果パタン書込み機能の実行に先立ち、結果パタンのデータ形式を移動可能結果パタン格納手段16における記憶データ形式に適合し、且つパタン読書き装置1で読み書き処理可能なデータ形式に変換する結果データ形式変換機能を備えている。尚、上記パタン読み書き装置1で読み書き処理可能なデータ形式は、エミュレータ検証装置2内に予め登録設定されているものとする。尚、結果パタン形式変換手段25は、移動可能結果パタン格納装置16が接続された場合に、移動可能結果パタン格納装置16における記憶データ形式を検知する設定であってもよい。これにより、結果パタン形式変換手段25は、予め記憶したテストパタンを移動可能結果パタン格納装置16における記憶データ形式に適合させた変換を行うことが可能となる。制御部26は、プログラムに基づき動作する演算装置からなり、テストパタン形式変換手段22、テストパタン格納端子部23、被検証回路部21、結果パタン格納端子部24、および結果パタン形式変換手段25それぞれの動作機能を制御する検証装置制御機能を有する。[実施形態1の動作説明]次に、上記の実施形態1の全体的な動作について説明する。ここで、パタン読み書き装置1に対して移動可能テストパタン格納装置14が接続した場合に、テストパタン変換手段13が、検証処理用のテストパタンにおけるデータ形式をテストパタン変換手段13における記憶用のデータ形式に変換し、移動可能テストパタン格納装置14に対して書き出しを行う。次に、エミュレータ検証装置2に移動可能テストパタン格納装置14が接続した場合に、テストパタン形式変換手段22が、移動可能テストパタン格納装置14からテストパタンを取得し、そのデータ形式を検証処理用にデータ形式に変換する。ここで、非検証回路部21が、テストパタンに基づく検証処理を行い、エミュレータ検証装置2に対して、移動可能結果パタン格納装置16が接続した場合に、検証処理結果のデータ形式を移動可能結果パタン格納装置16における保存用のデータ形式に変換すると共に移動可能結果パタン格納装置16に書き出す。次いで、移動可能結果パタン格納装置16がパタン読み書き装置1に対して接続された場合に、結果パタン変換手段15が、移動可能結果パタン格納装置16から検証処理結果結果パタンを取得し、出力表示用のデータ形式に変換する。次に、本実施形態1の動作について図2のシーケンスチャートに基づき説明する。まず、パタン読み書き装置1のホスト計算処理部11が、被検証回路部における検証処理に必要なテストパタンを生成するステップA1。ここで、上記テストパタンは、ホスト計算処理部101が予め設定されたプログラムに基づき実行処理を行うことにより生成するパタンデータであり、例えば、テキストデータ、画像データ、または動画データなどを含むパタンデータであるものとする。次いで、テストパタン変換手段103が、生成されたテストパタンを取得すると共に、当該テストパタンのデータ形式テキストデータあるいはバイナリデータを、エミュレータ検証装置2で読み込み可能なデータ形式で、且つ移動可能テストパタン格納手段104で読み込み格納可能なデータ形式に変換するステップA2:テストパタン変換機能。ここで、テストパタン格納装置104がパタン読み書き装置1に接続されている場合に、テストパタン変換手段103は、データ形式を変換したテストパタンを移動可能テストパタン格納装置14に対して書き込む処理を行うステップA3:テストパタン書込み処理機能。尚、テストパタン変換手段103における上記テストパタン変換機能およびテストパタン書込み処理機能の実行処理はホスト計算処理部101により制御されるものとする。次いで、移動可能テストパタン格納装置14は、テストパタンの書き込みが完了した後、パタン読み書き装置1に対する接続状態が解除され、エミュレータ検証装置2に対して接続装着されるものとするステップB4:移動。次いで、移動可能テストパタン格納装置14のエミュレータ検証2に対する接続装着が検知された場合に、テストパタン形式変換手段22は、テストパタンを読み込み、このテストパタンのデータ形式を移動可能テストパタン格納手段104の保存形式から被検証回路201におけるがアクセス可能なデータ形式へと変換するステップC5:F2Eテストパタン変換工程これにより、被検証回路201から見てアクセス可能なメモリやフリップフロップや回路のように、テストパタン格納端子部23からテストパタンデータへのアクセス参照が可能な状態となる。次いで、テストパタン格納端子部23が、テストパタン形式変換手段22からテストパタンを読み出して被検証回路部21に渡すステップC6。次に、被検証回路部21は、テストパタンに基づく検証処理を行うステップC7:検証実行。次いで、結果パタン格納端子部24は、被検証回路部21により書き出された検証結果パタンを取得し、一時的に保持するステップC8。このとき、結果パタン格納端子部24は、検証結果として得られた結果パタンから、予め設定された条件に基づき、保存しておく必要性、あるいは参照の必要性があるデータを抽出する設定であってもよい。ここで、被検証回路部21では、テストパタンの一部として予め設定されたテストシナリオに基づき、上記ステップC6~8が連続的に繰り返し実行される設定であってもよい。次いで、結果パタン形式変換手段25が、結果パタン格納端子204が保持する結果パタンを、移動可能結果パタン格納装置16で保存可能で、かつ、ホスト計算処理部101で処理可能なデータ形式に変換するステップC9。このとき、結果パタン形式変換手段25は、検証処理が中途状態にあるか否かをチェックしながら、変換した結果パタンを移動可能結果パタン格納手段106に対して書き込むステップC10。ここで、結果パタン形式変換手段25は、取得した結果パタンから検証状態が終了したか否かを判定し、検証処理が終了したと判定されない場合、つまり、検証処理が中断した状態にあると判定された場合には結果パタンが、結果パタン格納端子部204から結果パタンを取得する。結果パタン形式変換手段25による上記処理はステップC7の検証実行が完了する、または、準備された中断の条件に合致した場合に終了する。これは制御部26が予め設定された条件プログラムに基づき判断するものとする。中断状態の場合は検証処理が中断されたことを示す中断フラグ情報を出力するものとする。これにより、被検証回路部21は、中断した段階から迅速に再開することができる。次に、移動可能結果パタン格納装置16に対する書き込みが完了した後、結果パタン格納装置106が、パタン読み書き装置1に接続されるものとするステップB11:移動。ここで、移動可能結果パタン格納装置16のパタン読み書き装置1に対する接続が検知された場合に、結果パタン変換手段105は、移動可能結果パタン格納手段106内に記憶された結果パタン情報を読み込みステップA12、結果パタン情報のデータ形式を、ホスト計算処理部101で処理可能なデータ形式に変換し、周辺装置制御部12に渡す。ステップA13:結果パタンデータ変換。次いで、ホスト計算処理部11は、周辺装置制御部12に渡された結果パタンに対して出力用に処理を行い、周辺装置制御部102を介してテストパタンの検証結果結果パタンを出力表示するステップA14:結果テストパタン生成。尚、上記実施形態1では、移動可能テストパタン格納装置14および34の不揮発性メモリ領域と、移動可能結果パタン格納手段16の不揮発性メモリはそれぞれ異なる別メモリとする構成を示したが、これを同一のメモリとして構成してもよい。以上のように、本実施形態1では、移動可能テストパタン格納装置の不揮発性メモリの内容を別の不揮発性メモリにコピーすることによって、複数の異なるエミュレータ検証装置に対してテストパタンの入力の手間を省いて、テストパタンを実行および検証を行うことが可能となる。また、エミュレータ検証装置の電源が切れた場合、あるいは被検証回路が書き換わった場合でも、不揮発性メモリの不揮発性の特性を利用することにより、入出力のデータ保存領域のリセットをおこなうことなく、そのままテストパタンを利用でき、テストパタンの格納手段自体の複製を生成することによって、多数のエミュレータ検証装置に対して、同一のテストパタンの入力が可能となる。また、結果パタンの格納手段に記憶することによって、エミュレータ装置の電源がオフ状態に設定された後、再度電源を立ち上げられれば、即時検証処理を再開することが可能となる。[実施形態2]次に、本実施形態2のエミュレータ回路検証システムについて、図5に基づき説明する。ここで、前述した実施形態1と同一の部分については、同一の符号を付するものとする。実施形態2のエミュレータ回路検証システムは、FPGAなどの書き換え可能LSIから成る被検証回路を有し、この被検証回路における実行内容に基づき検証処理を行うエミュレータ検証装置201と、このエミュレータ検証装置201に接続した状態で設置されエミュレータ検証装置201に対して検証用のテストパタンの入力を行うサーバ計算機303と、エミュレータ検証装置201に対してテストパタンの入力用に接続可能な記憶メディアとしての移動可能テストパタン格納装置14と、エミュレータ検証装置201に対して接続して結果パタンの読み出を行う記憶メディアとしての移動可能結果パタン格納装置16を備えた構成を有する。エミュレータ検証装置201は、サーバ計算機303からテストパタンの入力を受け付けるデータ入力手段304と、エミュレータ検証装置201内で生成された検証結果パタンの一部をサーバ計算機303に出力するデータ出力手段305と、移動可能テストパタン格納装置14からテストパタンを読み出すと共にこのテストパタンのデータ形式を被検証回路部21にて実行可能なデータ形式に変換するテストパタン形式変換手段22と、予め設定された被検証回路を有し、この被検証回路上でテストパタンに基づく実行処理を行うことにより被検証回路の実行処理に係る検証処理を行う被検証処理部20と、被検証処理部20で生成された結果パタン情報のデータ形式を移動可能結果パタン格納装置16で記憶可能なデータ形式に合わせて変換する結果パタン形式変換手段25を備えた構成を有する。エミュレータ検証装置201の被検証処理部20は、FPGAなどの書き換え可能なLSIなどにより構成された被検証回路を有し、予め設定された容量以下の検証処理に用いられる検証用データの一部をサーバ計算機303から取得すると共に、予め設定された容量を上回る、検証処理に用いられる検証用データテストパタンを含むを移動可能テストパタン格納装置14から取得し、この検証用データに基づく被検証回路における実行内容の正常性の検証処理を行う。また、被検証処理部20は、上記検証処理結果を示す結果データのうち、予め設定された容量以下の検証処理に用いられる検証用データの一部を、データ出力手段305を介してサーバ計算機303に通知すると共に、予め設定された容量を上回る、検証結果結果パタンを含むを移動可能結果パタン格納装置16に対して出力する。以上のように、本実施形態2では、予め設定された、一定値より容量の大きな検証用テストパタンを移動可能テストパタン格納装置14から迅速に入力することができ、一定の容量より小さい検証用データをサーバ計算機303から直接エミュレータ検証装置201に対して入力することができ、このため、被検証処理部20に対する検証用パタンを含む検証用テストデータを迅速に入力することができる。また、本実施形態2では、予め設定された、一定値より容量の大きな検証用結果パタンを外部メディアである移動可能結果パタン格納装置16に対して迅速に出力することができ、一定の容量より小さい検証用データをサーバ計算機303から直接エミュレータ検証装置201に対して入力することができる。このため、被検証処理部20における検証結果を迅速に出力することが可能となり、移動可能結果パタン格納装置16を接続することにより、外部出力装置に対して検証結果の出力を行うことが可能となる。また、一定の容量より小さい検証用データとしてサーバ計算機303から被検証処理部20に対して、被検証回路における実行内容の比較対象である期待値や検証処理のテストシナリオの変更内容などを入力することができるため、被検証処理部20における検証処理内容を柔軟に変更可能に設定することができる。[実施形態3]次に、本実施形態3のエミュレータ回路検証システムについて、図6のブロック図に基づき説明する。ここで、前述した実施形態1および2と同一の部分については、同一の符号を付するものとする。実施形態3のエミュレータ回路検証システムは、FPGAなどの書き換え可能LSIから成る被検証回路を有し、この被検証回路における処理実行内容に基づき回路の正常性を検証するエミュレータ検証装置202と、このエミュレータ検証装置202に対して直接接続した状態で設置され、エミュレータ検証装置201に対して検証用のテストパタンの入力を行うサーバ計算機303と、エミュレータ検証装置202に接続可能な可搬記憶メディアとしての移動可能テストパタン格納装置34と、エミュレータ検証装置202に接続し検証結果を示す結果パタン検証結果パタンの読み出しを行う可搬記憶メディアとしての移動可能結果パタン格納装置36を備えた構成を有する。エミュレータ検証装置202は、サーバ計算機303からテストパタンの入力を受け付けるデータ入力手段304と、エミュレータ検証装置201内で生成された検証結果パタンの一部をサーバ計算機303に出力するデータ出力手段305と、予め設定された被検証回路を有し、移動可能テストパタン格納装置34から読み出したテストパタンに基づく実行処理を行い、被検証回路における実行処理についての正常性を検証する処理を行う被検証処理部20を備えた構成を有する。また、被検証処理部20は、生成した結果パタンをエミュレータ検証装置202に着脱可能に接続された移動可能結果パタン格納装置16に対して出力する。ここで、被検証処理部20は、FPGAなどの書き換え可能なLSIなどにより構成された被検証回路を有し、予め設定された容量以下の検証処理に用いられる検証用データの一部をサーバ計算機303から取得すると共に、予め設定された容量を上回る、検証処理に用いられる検証用データテストパタンを含むを移動可能テストパタン格納装置34から取得し、この検証用データに基づく被検証回路における実行内容の正常性の検証処理を行う。また、被検証処理部20は、上記検証処理結果を示す結果データのうち、予め設定された容量以下の検証処理に用いられる検証用データの一部を、データ出力手段305を介してサーバ計算機303に通知すると共に、予め設定された容量を上回る、検証結果結果パタンを含むを移動可能結果パタン格納装置36に対して出力する。移動可能テストパタン格納装置34は、図7に示すように、異なる記憶領域から成る不揮発性メモリ400と、不揮発性メモリ400から記憶されたテストパタンを読み出すと共にこのテストパタンのデータ形式を被検証処理部20にて実行可能なデータ形式に変換するデータ変換制御手段401と、エミュレータ検証装置202と接続可能な接続インタフェースを有し、データ形式が変換されたテストパタンを、接続インタフェースを介して被検証処理部20に入力するピン変換手段402を備えた構成を有する。また、不揮発性メモリ部400は、図7に示すように、記憶部位1、2、3Nからなる記憶領域であり、大容量のテストパタンを分割して記憶する分割記憶手段406と、データ変換制御手段401に接続して設けられテストパタンを読み出す記憶部位を選択するセレクタ手段405と、セレクタ手段405に対して読み出し元である記憶部位の切り替え指定を行う切り替え手段404を有する。ここで、例えば、切り替え手段404が1番を指定した場合、記憶部位1番がセレクタ手段405によって読み出し元として設定される。また、切り替え手段404が2番を指定した場合、記憶部位2番がセレクタ手段405によって切り替えられることにより、データ変換制御手段401に接続される。これにより、移動可能テストパタン格納手段401に多種類のテストベンチが格納された場合であっても、切り替え手段404による指定制御により読み出し元の記憶部位を指定切り替えすることができ、このため、異なる被検証回路に応じてテストパタンの格納場所を迅速且つ正確に指定設定することができる。尚、切り替え手段404は、物理的スイッチやソフトウエアで制御されるスイッチ部であってもよい。また、不揮発性メモリ部400には、一定の容量を上回るテストパタンが格納される設定であってもよい。データ変換制御手段401は、セレクタ手段405により読み出されたテストパタンを取得すると共に、このテストパタンのデータ形式を被検証処理部20にて実行可能なデータ形式に変換するテストパタン形式変換機能を有する。移動可能結果パタン格納装置36は、図8に示すように、異なる記憶領域から成る不揮発性メモリ600と、エミュレータ検証装置202から取得した一定容量以上のサイズの結果パタンのデータ形式を不揮発性メモリ600における記憶用データ形式に変換するデータ変換制御手段601と、エミュレータ検証装置202と接続可能な接続インタフェースを有し、被検証処理部20から生成された結果パタンを接続インタフェースを介して取得するピン変換手段602を備えた構成を有する。移動可能結果パタン格納装置36は、一定の容量より大きなテストパタンを記憶する不揮発性メモリ部600を備えている。不揮発性メモリ部600は、図8に示すように、記憶部位1、2、3Nからなる記憶領域であり、大容量のテストパタンを分割して記憶する分割記憶手段606を有し、また、取得した結果パタンを書き込む記憶部位を選択するセレクタ手段605と、セレクタ手段605に対してデータ書き込み先である記憶部位の切り替え指定を行う切り替え手段604を有する。ここで、例えば、切り替え手段604が1番を指定した場合、記憶部位1番がセレクタ手段605によって書き込み先として設定される。また、切り替え手段604が2番を指定した場合、記憶部位2番がセレクタ手段605によって切り替えられる。これにより、エミュレータ検証装置202から移動可能結果パタン格納装置36に対して、多種類のテストベンチが格納された場合であっても、切り替え手段604による指定制御により書き出し先の記憶部位を指定切り替えすることができ、このため、エミュレータ検証装置202から出力される結果パタンを迅速に格納保存することができる。尚、切り替え手段604は、物理的スイッチやソフトウエアで制御されるスイッチ部であってもよい。データ変換制御手段601は、ピン変換手段602を介して取得した被検証処理部20の結果パタンのデータ形式を、不揮発性メモリ部600における記憶用データに変換するテストパタン形式変換機能を有する。以上のように、本実施形態3では、予め設定された、一定値より容量の大きな検証用テストパタンを移動可能テストパタン格納装置34から迅速に入力することができ、一定の容量より小さい検証用データをサーバ計算機303から直接エミュレータ検証装置201に対して入力することができる。このため、被検証処理部20に対する検証用パタンを含む検証用テストデータを迅速に入力することができる。また、本実施形態3では、予め設定された、一定値より容量の大きな検証用結果パタンを外部メディアである移動可能結果パタン格納装置36に対して迅速に出力することができ、一定の容量より小さい検証用データをサーバ計算機303から直接エミュレータ検証装置201に対して入力することができる。このため、被検証処理部20における検証結果を迅速に出力することが可能となり、移動可能結果パタン格納装置36を接続することにより、外部出力装置に対して検証結果の出力を行うことが可能となる。また、一定の容量より小さい検証用データとしてサーバ計算機303から被検証処理部20に対して、被検証回路における実行内容の比較対象である期待値や検証処理のテストシナリオの変更内容などを入力することができるため、被検証処理部20における検証処理内容を柔軟に変更可能に設定することができる。更に、上記実施形態3では、音声や動画像の変換のような大規模なデータを検証用のテストパタンとして移動可能テストパタン格納装置に格納し、大規模な検証結果データを移動可能結果パタン格納装置に格納する構成としている。また、リアルタイムに必要となる制御情報などのテストデータをデータ入力手段を介して直接エミュレータ検証装置に入力する構成とし、検証処理における異常発生などを示す検証結果情報を直接サーバ計算機に通知する構成としたことにより、検証に即時必要なデータについては、移動可能テストパタン格納装置や移動可能結果パタン格納装置への入出力の手間を省いて、エミュレータ検証装置およびサーバ計算機間で送受信して、評価することができ、また、音声や動画像などの大規模データは、移動可能テストパタン104や移動可能結果パタン106を経由して、後で評価するといったことが可能となる。また、上記実施形態1~3では、移動可能テストパタン格納装置の不揮発性メモリの内容を別の不揮発性メモリにコピーすることによって、複数の異なるエミュレータ検証装置に対してテストパタンの入力の手間を省いて、テストパタンを実行および検証を行うことが可能となる。また、不揮発性メモリの不揮発性の特性を利用することにより、エミュレータ検証装置の電源が切れた場合、あるいは被検証回路が書き換わった場合でも、移動可能テストパタン格納装置に格納されたパタンは不変であることから、再度のテストパタンの再度読み込みが不要となり、検証処理の途中結果の保存、および中断状態の検証処理の再開を、同様の手順で迅速に実行することができる。上述した実施形態については、その新規な技術的内容の要点をまとめると、以下のようになる。尚、上記の実施形態の一部又は全部は、新規な技術として以下のようにまとめられるが、本発明は必ずしもこれに限定されるものではない。付記1予め設定された検証用テストパタン情報を保持すると共に当該検証用テストパタン情報に基づく検証処理の結果を出力表示するパタン読み書き装置と、前記検証用テストパタン情報に基づく実行を行うと共にその実行内容の検証処理を行うエミュレータ検証装置とを備えたエミュレータ検証システムであって、前記パタン読み書き装置および前記エミュレータ装置それぞれに対して着脱可能な接続部を有する第1および第2の可搬記憶媒体を備え、前記パタン読み書き装置は、当該パタン読み書き装置に対して前記第1の可搬記憶媒体が接続した場合に前記検証処理用パタン情報のデータ形式を前記第1の可搬記憶媒体における記憶用のデータ形式に変換すると共に前記検証処理用パタン情報の書き出しを行うパタン情報変換書き出し部と、前記第2の可搬記憶媒体が前記パタン読み書き装置に対して接続された場合に、前記第2の可搬記憶媒体から前記検証処理の結果を示す検証結果情報を取得すると共に当該検証結果情報を前記出力表示用のデータ形式に変換する検証結果変換出力部とを備え、前記エミュレータ検証装置は、当該エミュレータ検証装置に前記第1の可搬記憶媒体が接続された場合に当該第1の可搬記憶媒体から前記検証処理用パタン情報を取得すると共に、そのデータ形式を前記検証処理用のデータ形式に変換するデータ読込変換部と、前記エミュレータ検証装置に前記第2の可搬記憶媒体が接続した場合に前記検証処理結果情報のデータ形式を前記第2の可搬記憶媒体におけるデータ読出し用のデータ形式に変換すると共に当該検証処理用パタン情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出す検証結果変換書き出し部とを備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。付記2付記1に記載のエミュレータ検証システムであって、前記検証結果変換書き出し部は、前記検証処理の状態が前記検証処理用パタン情報内に含まれる検証中断条件に合致した場合に、前記検証処理を中断し検証結果情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出す検証中断書き出し手段を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。付記3付記1に記載のエミュレータ検証システムであって、前記エミュレータ検証装置は、前記第1および第2の可搬記憶媒体の接続部との接続が可能な単一の接続インタフェース部を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。付記4付記1に記載のエミュレータ検証システムであって、前記エミュレータ検証装置は、前記第1および第2の可搬記憶媒体の接続部それぞれに対応した第1および第2の接続インタフェース部と、前記第1および第2の接続インタフェース部における接続状況を監視し当該接続状況に応じて前記データ読込変換部および検証結果変換書き出し部における動作を制御するデータ読み書き制御部とを備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。付記5付記4に記載のエミュレータ検証システムであって、前記第1の可搬記憶媒体は、前記検証処理用パタン情報の種別に対応して予め設定された異なる記憶領域を有し、前記パタン情報変換書き出し部は、前記検証処理用パタン情報を種別ごとに前記記憶領域に書き出す種別対応書き出し機能を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。付記6予め設定された被検証用回路における検証用テスト情報に基づく実行内容の正常性を検証するエミュレータ検証装置と、エミュレータ検証装置に接続し前記検証処理に係る指示情報を入力するサーバ装置とを備えたエミュレータ検証システムであって、前記エミュレータ検証装置に着脱可能に接続すると共に予め設定されたデータ容量より大きい検証処理用テスト情報を前記エミュレータ検証装置に対して入力する第1の可搬記憶媒体と、前記エミュレータ検証装置に対して着脱可能に接続すると共に前記エミュレータ検証装置における検証処理の結果を示す予め設定されたデータ容量より大きい検証結果情報を取得し記憶保持する第2の可搬記憶媒体とを備え、前記エミュレータ検証装置は、予め設定されたデータ容量より小さい検証処理用テスト情報を前記サーバ装置から取得する小容量テスト情報取得機能と、予め設定されたデータ容量より小さい検証結果情報を前記サーバ装置に対して出力する小規模結果情報出力機能とを有し、前記第1の可搬記憶媒体は、前記検証処理用パタン情報を入力するのに先立ち当該検証処理用パタン情報のデータ形式を前記検証処理用に変換する検証用テストデータ形式変換機能を備え、前記第2の可搬記憶媒体は、前記検証結果情報を取得した場合に当該前記検証結果情報のデータ形式を記憶保持用に変換する検証結果データ形式変換機能を備えたことを特徴とするエミュレータ検証システム。付記7予め設定された検証用テストパタン情報を保持すると共に当該検証用テストパタン情報に基づく検証処理の結果を出力表示するパタン読み書き装置と、前記検証用テストパタン情報に基づく実行内容の検証処理を行うエミュレータ検証装置と、前記パタン読み書き装置および前記エミュレータ検証装置それぞれに対して着脱可能な接続部を有する第1および第2の可搬記憶媒体とを備えたエミュレータ検証システムにあって、前記検証処理を実行するエミュレータ検証方法であって、前記パタン読み書き装置に対して前記第1の可搬記憶媒体が接続した場合に、前記パタン読み書き装置が前記検証処理用パタン情報のデータ形式を前記第1の可搬記憶媒体における記憶用のデータ形式に変換し、前記検証処理用パタン情報の書き出しを行い、前記エミュレータ検証装置に前記第1の可搬記憶媒体が接続された場合に、当該第1の可搬記憶媒体から前記検証処理用パタン情報を取得すると共に、そのデータ形式を前記検証処理用のデータ形式に変換し、前記エミュレータ検証装置に前記第2の可搬記憶媒体が接続した場合に、前記検証処理結果情報のデータ形式を前記第2の可搬記憶媒体におけるデータ読出し用のデータ形式に変換すると共に当該検証処理用パタン情報を前記第2の可搬記憶媒体に書き出し、前記第2の可搬記憶媒体が前記パタン読み書き装置に対して接続された場合に、前記第2の可搬記憶媒体から前記検証処理の結果を示す検証結果情報を取得し、当該検証結果情報を前記出力表示用のデータ形式に変換することを特徴としたエミュレータ検証方法。この出願は2010年7月13日に出願された日本出願特願2010-158991を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。