"被測定物上の少なくとも3点における座標値xi,yiを測定する手段と、測定された前記座標値に基づいて、R形状の中心値a,b及び半径Rを、A=-2a、B=-2b、C=a2b2-R2と置換した場合に、該A、B及びCのそれぞれを変数として、円の一般式の残差平方和を示す以下の式:を前記A,B及びCで偏微分してなる連立方程式から取得するR形状算出手段と、を含むことを特徴とするR形状の半径を計測するR形状計測装置。両端に脚部を有する直動案内機構と、該直動案内機構の軸方向に沿って、前記直動案内機構上を移動可能に設置されたセンサ手段と、を備え、前記座標値は、前記センサ手段によって測定されることを特徴とする請求項1に記載のR形状計測装置。必要精度及び工程能力指数の条件を入力する手段と、前記R形状算出手段において算出された前記R形状の前記中心値及び測定された各前記座標値から得られる複数の二点間距離により、標準偏差を算出する手段と、前記標準偏差及び前記必要精度が、前記工程能力指数を満足するかどうかを判定する判定手段と、を含むことを特徴とする請求項1または2に記載のR形状計測装置。前記工程能力指数を満足する最小の測定点数を求める手段を含むことを特徴とする請求項3に記載のR形状計測装置。前記判定手段において、前記工程能力指数を満足すると判定された場合に、前記R形状の半径を計測値として出力する手段と、前記工程能力指数を満足しないと判定された場合に、測定された前記各座標値から前記R形状の中心値までの長さ及び前記R形状の半径の差分の絶対値が前記必要精度を超える測定点を棄却する手段と、を含むことを特徴とする請求項4に記載のR形状計測装置。被測定物上の少なくとも3点における座標値xi,yiを測定する工程と、測定された前記座標値に基づいて、R形状の中心値a,b及び半径Rを、A=-2a、B=-2b、C=a2b2-R2と置換した場合に、該A、B及びCのそれぞれを変数として、円の一般式の残差平方和を示す以下の式:を前記A,B及びCで偏微分してなる連立方程式から取得するR形状算出工程と、を含むことを特徴とするR形状の半径を計測するR形状計測方法。被測定物上の少なくとも3点における座標値xi,yiを測定する処理と、測定された前記座標値に基づいて、R形状の中心値a,b及び半径Rを、A=-2a、B=-2b、C=a2b2-R2と置換した場合に、該A、B及びCのそれぞれを変数として、円の一般式の残差平方和を示す以下の式:を前記A,B及びCで偏微分してなる連立方程式から取得するR形状算出処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とするR形状の半径を計測するR形状計測プログラム。しかしながら、上述の特許文献1に開示された測定方法では、被測定物のR形状が大きくなればなるほど、ダイヤルゲージの触れ量Hが小さくなり、測定誤差の影響が大きくなり、測定精度が悪くなるという問題がある。この測定誤差には、突き当て部の二点間距離Sの製作誤差、突き当て部の加工誤差や被測定物の表面粗さ等も含まれる。突き当て部の加工誤差に関しては、精密加工を施すことによりある程度改善させることができるが、この場合、精密加工を施すためのコストが高くなる。特許文献2に開示された三次元測定機では、上述の測定精度の問題に関しては解決することが可能であるが、装置が非常に高額となる。特に、大型製品の計測を行う場合には、装置構造も非常に大きくなり、特に、航空機等の製造現場において使用することは現実的ではない。本発明は、上記問題を解決するためになされたものであって、R1,000以上、特にR10,000以上の大径を有する被測定物のR形状を高精度に計測することができ、かつ、持ち運びができるようなR形状計測装置並びにR形状計測方法及びR形状計測プログラムを提供する。上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を採用する。本発明の第一の態様は、被測定物上の少なくとも3点における座標値xi,yiを測定する手段と、測定された前記座標値に基づいて、R形状の中心値a,b及び半径Rを、A=-2a、B=-2b、C=a2b2-R2と置換した場合に、該A、B及びCのそれぞれを変数として、円の一般式の残差平方和を示す以下の式:を前記A,B及びCで偏微分してなる連立方程式から取得するR形状算出手段と、を含むことを特徴とするR形状の半径を計測するR形状計測装置である。上記本発明の第一の態様に係るR形状計測装置によれば、計測のために原点を設定する必要がなく、測定された座標値から数学的手法により近似円を算出し、R形状を求めることができる。また、A=-2a、B=-2b、C=a2b2-R2と置換することにより、簡単に近似円を計算することができる。さらに、測定された複数の点の座標値に基づいてR形状を算出するため、測定誤差による影響が少なくなり、高精度にR形状を計測することができる。上記本発明の第一の態様にかかるR形状計測装置は、両端に脚部を有する直動案内機構と、該直動案内機構の軸方向に沿って、前記直動案内機構上を移動可能に設置されたセンサ手段と、を備え、前記座標値は、前記センサ手段によって測定される構成であってもよい。この構成によれば、両端に脚部を有する一軸の直動案内機構を被測定物に接触させることで、手軽に、かつ、高精度に計測を行うことができる。また、装置自体を小型化及び軽量化することができる。上記のR形状計測装置は、必要精度及び工程能力指数の条件を入力する手段と、前記R形状算出手段において算出された前記R形状の前記中心値及び測定された各前記座標値から得られる複数の二点間距離により、標準偏差を算出する手段と、前記標準偏差及び前記必要精度が、前記工程能力指数を満足するかどうかを判定する判定手段と、を含む構成であってもよい。この構成によれば、装置から出力されるR形状が、実際に測定された被測定物上の測定点に対して、どの程度の精度で算出できているかを知ることができる。上記のR形状計測装置は、前記工程能力指数を満足する最小の測定点数を求める手段を含む構成であってもよい。この構成によれば、工程能力指数を満足する最小の測定点数を求めることにより、測定時において、センサ手段を移動させるための時間を短くすることができ、測定サイクルタイムを短くすることができる。上記のR形状計測装置は、前記判定手段において、前記工程能力指数を満足すると判定された場合に、前記R形状の半径を計測値として出力する手段と、前記工程能力指数を満足しないと判定された場合に、測定された前記各座標値から前記R形状の中心値までの長さ及び前記R形状の半径の差分の絶対値が前記必要精度を超える測定点を棄却する手段と、を含む構成であってもよい。この構成によれば、計測時に、測定された前記各座標値から前記R形状の中心値までの長さ及び前記R形状の半径の差分の絶対値が前記必要精度を超える測定点を棄却することにより、高精度にR形状を算出することができる。本発明の第二の態様は、被測定物上の少なくとも3点における座標値xi,yiを測定する工程と、測定された前記座標値に基づいて、R形状の中心値a,b及び半径Rを、A=-2a、B=-2b、C=a2b2-R2と置換した場合に、該A、B及びCのそれぞれを変数として、円の一般式の残差平方和を示す以下の式:を前記A,B及びCで偏微分してなる連立方程式から取得するR形状算出工程と、を含むことを特徴とするR形状の半径を計測するR形状計測方法である。本発明の第三の態様は、被測定物上の少なくとも3点における座標値xi,yiを測定する処理と、測定された前記座標値に基づいて、R形状の中心値a,b及び半径Rを、A=-2a、B=-2b、C=a2b2-R2と置換した場合に、該A、B及びCのそれぞれを変数として、円の一般式の残差平方和を示す以下の式:を前記A,B及びCで偏微分してなる連立方程式から取得するR形状算出処理と、をコンピュータに実行させることを特徴とするR形状の半径を計測するR形状計測プログラムである。本発明によれば、大径を有する被測定物のR形状を、簡単に、かつ、高精度に計測することができる。以下に、本発明に係るR形状計測装置の実施形態について、図面を参照して説明する。図1は、本発明の実施形態に係るR形状計測装置の概略構成を示すブロック図である。図1に示されるように、本実施形態に係るR形状計測装置は、CPU中央演算処理装置1、RAMRandomAccessMemoryなどの主記憶装置2、HDDHardDiskDriveなどの補助記憶装置3、キーボードやマウスなどの入力装置4、およびモニタやプリンタなどの出力装置5、外部機器と接続しデータのやり取りを行うための外部インターフェイス外部I/F6などを備えて構成されている。補助記憶装置3には、各種プログラムが格納されており、CPU1が補助記憶装置3からプログラムをRAMなどの主記憶装置2に読み出し、実行することにより、種々の処理を実現させる。また、外部インターフェイス6を介して、被測定物表面に接触して測定を行うセンサユニット7が、接続されており、センサユニット7を動作させるために必要となる各種パラメータや測定結果のデータ等のやりとりが行われる。センサユニット7と外部インターフェイス6との間の通信には、ノイズがのりにくい方式が採用されることが望ましく、本実施形態においてはシリアル通信が採用されている。したがって、本実施形態において、外部インターフェイス6は、シリアルポートとされている。センサユニット7は、図2に示されるような構成とされている。センサユニット7は、直動ガイド直動案内機構8、ダイヤルゲージセンサ手段9及びアクチュエータサーボモータ10を備えている。直動ガイド8の両端には脚部11が設けられており、この脚部11によって、センサユニット7が被測定物に対して支持される。脚部11にはレベリングボルト図示略が備えられており、脚部11の高さを調整可能な構成とされている。また、脚部11の先端の突き当て部11aは、球形状とされており、防振ゴムを介して、被測定物と接触するようになっている。ダイヤルゲージ9は、直動ガイド8によって支持されるとともに、アクチュエータ10によって、X軸方向に直動ガイド8に沿って移動可能な構成とされている。このダイヤルゲージ9は、測定子9a及びスピンドル9bが上下方向図2のy軸方向に動作した量を測定するものである。また、測定子9aの先端は、被測定物上に接触したまま連続的に動作することが可能であるように、円筒形状ころとされている。このように、センサユニット7は、被測定物上の複数の点を測定することができる多点式Rゲージである。なお、本実施形態において、このセンサユニット7は、測定面の計測誤差を加味し、公差解析を実施することによって、各構成要素の精度を必要最低限のものとした。これによって、比較的安価なセンサユニット7を実現している。具体的には、ダイヤルゲージ7のストロークの計測精度が2μm、アクチュエータ10の位置決め精度が20μm、アクチュエータ10の軸と直交する方向のアクチュエータ10のぶれが30μm、ローラの回転軸に対する外周の触れが10μmのものを採用している。また、本実施形態で使用される直動ガイド8の軸長さは400mmのものを採用している。直動ガイド8の移動軸x軸と、ダイヤルゲージ9のストローク軸とは直交している必要があるため、予め芯出し作業を行い、それらが直交するように校正をしておく。また、直動ガイド8は、x軸方向に±20から30μm程度の大きな揺らぎを直動ガイド毎に固有に有している。このため、予め定盤上で揺らぎの程度の値を校正値として測定し、補助記憶装置3内に格納しておき、被測定物を実際に計測する際には、測定された値をこの校正値により補正することが必要である。まず、上述のような構成を備えたR形状計測装置における被測定物のR形状の導出方法について説明する。R形状の半径をR、中心座標をOa,bとした場合、円の一般式は次式で表わすことができる。被測定物を測定して得られる座標点をPixi,yiただし、1≦i≦nとする。nは測定点数である。とし、1式の左辺に代入した場合に、左辺と右辺、すなわち、理論上の半径Rの二乗との残差平方和Sは、で表わすことができる。ここで、2式を次のように置き換える。ここで、とする。3式において、A,B,Cのそれぞれが変数であるとすれば、3式は二次関数とみなすことができる。したがって、残差平方和Sの最小値は、3式をそれぞれの変数A,B,Cで偏微分して、それらの値がゼロになるときの変数A,B,Cにおいて、残差平方和は最小値をとる。すなわち、3式をA,B,Cにより偏微分をすると以下の式が得られる。5式、6式及び7式をA,B,Cに関する連立一次方程式として解くと、次の式を得る。8式より得られたA,B,Cを4式に代入することにより、R形状の中心座標Oa,b及び半径Rを求めることができる。なお、R形状を求めるには、少なくとも3点の異なる測定点が必要である。次に、上述のR形状計測装置におけるR形状計測処理R形状計測方法について、図面を参照して説明する。なお、以下に示す処理は、例えば、CPU1に、補助記憶装置3に格納されているR形状計測プログラムをRAMなどの主記憶装置2に読みだして実行することにより実現されるものである。本実施形態において、R形状計測処理は、測定点数を決定する測定点数決定処理と、計測処理とに大別される。測定点数決定処理では、要求される精度を満足する最小となる測定点数を決定する。測定点数を多くすればするほど、計測精度は良くなるが、センサユニット7を動作させる時間が長くなる。この測定点数決定処理により、要求される精度を満足するとともに、計測サイクルタイムを短くすることが可能となる。上記測定点数決定処理後、計測処理において、特定の場合を除き、決定された最小となる測定点数に基づいて計測が行われる。以下に、各処理について詳細に説明する。図3は、測定点数決定処理のフローチャートを示している。まず、R形状計測装置に、必要とされる精度±ΔR及び工程能力指数Cpが入力されるステップSA1。工程能力指数Cpとは、品質基準を満足する製品を生産できる能力のことをいい、具体的には、必要とされる精度ΔRを3σσは標準偏差で割った値のことである。次に、測定点数nが設定されるステップSA2。初期値としては、nに10を設定している。これは、発明者らが、航空機の一般的な精度誤差を模擬して公差解析を実施した結果に基づいて得られた値である。次に、設定されたn点の測定点において測定が行われるステップSA3。本実施形態では、図2に示されるように、R形状計測装置のダイヤルゲージ9が、被測定物上の測定点P1x1、y1からPnxn,ynまでを等間隔に順次移動することにより測定が行われる。測定点数nが10点の場合の測定結果を図5に示している。続いて、n点の測定結果に基づいて、上述した8式及び4式を用いて、中心座標Oa,b及び半径Rを求めるステップSA4。少なくとも3点の異なる測定点があれば、8式を適用することができるので、何点の計測結果に基づく総和をとるかにより、n-2個の中心座標Ojaj,bj及び半径Rjここで、jは、3≦j≦nを満たす自然数を求めることができる。すなわち、jが3からnまでのそれぞれに対して、を算出する。nが10の場合は、図6に示されるような結果が得られる。なお、測定されたn点のうち、どのj個の測定点における測定結果を採用するかについては、様々な方法を採用することができ、上述の方法に限られない。次に、これらの算出された中心座標Ojaj,bj及び半径Rjに基づいて、標準偏差σRjを算出する。簡単のために、j=3の場合、すなわち、3個の測定点から算出された中心座標O3a3,b3及び半径R3の場合について、図7を参照して説明する。図7において、実際に測定された3つの点が、P1x1,y1、P2x2,y2及びP3x3,y3である。これらの3つの点に基づいて、R形状の中心座標O3a3,b3及び半径R3が算出される。算出されたR形状は近似円であるため、上記3つの点は、R形状の円弧上にあるとは限らず、実際に測定された3つの点P1,P2,P3と算出されたR形状との間には誤差ΔR13、ΔR23、ΔR33が存在する。中心座標O3から実際に測定された3つの点P1,P2,P3までの距離をそれぞれR13、R23、R33とすれば、誤差ΔR13、ΔR23、ΔR33は次式で表わすことができる。ここで、そして、図8に示されるように、算出された誤差ΔR13、ΔR23、ΔR33に基づいて、標準偏差σR3を算出するステップSA5。算出された標準偏差σR3は、ステップSA1で入力された必要精度ΔR及び工程能力指数Cpを用いて、次の関係式:を満たすかどうかを判定しステップSA6、13式を満たしている場合には、この時のjの値を測定点数として決定しステップSA7、測定点数決定処理を終了する。13式を満たしていない場合には、jの値をインクリメントし、再度ステップSA5において、標準偏差σR4を算出する。同様にして、13式を満たさない場合は、13式を満たすまで、jをnまでインクリメントする。途中で13式を満たした場合は、その時のjの値を測定点数として決定しステップSA7、測定点数決定処理を終了する。jをステップSA2で設定されたnにしても13式を満たさない場合は、再度ステップSA2に戻り、測定点数nを増やした上で、ステップSA2からステップSA6までを繰り返す。具体的には、測定点数nの初期値は10に設定しておき、再度ステップSA2からステップSA6までの処理が実行される場合には、その都度、例えば、20、50、100、200というようにnの値を増やしていく。以下に、計測処理について、図4を参照して詳細に説明する。測定点数nには、測定点数決定処理において決定された、要求される精度を満足するとともに、最小の測定点数が設定されている。まず、設定されたn点の測定点において測定が行われるステップSB1。測定点数決定処理におけるステップSA2と同じように、R形状計測装置のダイヤルゲージ部が、被測定物上の測定点P1x1、y1からPnxn,ynまでを等間隔に順次移動することにより測定が行われる。n点の測定が終わると、n点全てを用いて、R形状を算出処理ステップSB2を行い、R形状の中心座標Onan,bn及び半径Rnを算出する。すなわち、上述した9式及び10式において、jをnとして計算を行う。続いて、R形状の中心座標On及び半径Rnと、測定点P1からPnとに基づいて、標準偏差σRnが算出される。標準偏差σRnを計算する途中式において、実際に測定されたn個の点P1からPnと算出されたR形状との間のn個の誤差ΔRinただし、iは、1≦i≦nの整数が次式のように計算されており、この誤差ΔRinは、後述するステップSB5においても比較のために使用される。ここで、算出された標準偏差σRnは、測定点数決定処理におけるステップSA1で予め入力された必要精度ΔR及び工程能力指数Cpを用いて、次の関係式:を満たすかどうかを判定しステップSB4、16式を満たしている場合には、当該中心座標Onan,bn及び半径Rnを補助記憶装置3に格納するとともに、モニタ等の出力装置5に出力するステップSB11。続くステップSB12において、計測終了が選択されれば、計測処理は終了する。計測を終了しない場合には、センサユニット7を被測定物上の異なる位置に移動して、再度ステップSB1からの処理を繰り返して行う。ステップSB4において、16式を満たさない場合には、続くステップSB5において、測定点数決定処理のステップSA1で予め入力されたΔRと、計測処理のステップSB3の標準偏差を計算する過程において求められたn個の誤差ΔRinとがそれぞれ比較されるステップSB5。ここで、誤差ΔRinが必要精度ΔRを超えていた場合には、ステップSB6において当該測定点Piを棄却し、R形状を算出するための点から取り除く。そして、測定点Piを除いた残りのn-1個の測定点を用いて、R形状算出処理ステップSB7を行い、R形状の中心座標On-1an-1,bn-1及び半径Rn-1を求める。すなわち、上述したステップSB5からステップSB7までの処理は、実際に測定された測定点Pixi,yiが、算出されたR形状から大きくずれていた場合必要精度ΔRを超えていた場合には、当該測定点を棄却した上で、再度R形状を計算し直すというものである。続いて、R形状の中心座標On-1及び半径Rn-1と、棄却された測定点Piを除いたn-1個の測定点P1からPnとに基づいて、標準偏差σRn-1が算出されるステップSB8。算出された標準偏差σRn-1は、測定点数決定処理におけるステップSA1で予め入力された必要精度ΔR及び工程能力指数Cpを用いて、次の関係式:を満たすかどうかを判定しステップSB9、17式を満たしている場合には、当該中心座標On-1an-1,bn-1及び半径Rn-1を補助記憶装置3に格納するとともに、モニタ等の出力装置5に出力するステップSB11。続くステップSB12において、計測終了が選択されれば、計測処理は終了する。計測を終了しない場合には、センサユニットを被測定物上の異なる位置に移動して、再度ステップSB1からの処理を繰り返して行う。ステップSB9において17式を満たさない場合、及びステップSB5において、n個の測定点のうち、誤差ΔRinが必要精度ΔRを超えるような存在しなかった場合には、ステップSB10に進み、測定点数決定処理を行う。これは、上述した図3に示された測定点数決定処理と同一のものである。すなわち、測定点のうち、算出されたR形状から大きく外れた1つの測定点を棄却しても必要精度が得られない場合、または、算出されたR形状からどの測定点も大きく外れていないにもかかわらず、必要精度が得られない場合は、測定点数が足りていないものとみなし、再度測定点数決定処理を行う。ステップSB10により、新たに測定点数nを決定した後、再度ステップSB1に戻り、処理を繰り返すこととなる。以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。上記の実施形態において、R形状計測装置のダイヤルゲージ部が、被測定物上の測定点P1x1、y1からPnxn,ynまでを等間隔に順次移動することにより測定が行われるとしたが、等間隔に順次移動しなくてもよく、例えば、被測定物上において、誤差が発生しやすいところには、測定点数を密にとることも可能であり、また、ダイヤルゲージ部がx軸の正方向及び負方向に自由に動くことによって測定が行われてもよい。また、上記の実施形態における計測処理では、ステップSB1においてn点計測した後に、バッチ処理により、続くステップを処理しているが、計測のサイクルタイムを向上させるために、逐次処理により、続くステップを処理することとしてもよい。また、上記の実施形態における計測処理において、一回の計測毎に、測定点数が適切に設定されているかを評価するステップを加えることとしてもよい。本実施形態におけるセンサ手段として、接触型のダイヤルゲージを使用しているが、非接触のレーザ変位計に置換することも可能である。"