X線光源であって:カソードと;アノードと;少なくとも一つのX線センサーと;を含み前記カソードは、前記アノードに向かって電子を放出し;前記アノードは、前記電子が衝突して、X線放射を生成するターゲット領域を含み;前記X線放射からX線ビームの放出を形成するための穴を備えたX線バリアを含み;前記X線ビームの放出は、中心軸を伴なうビーム形態を有し;前記ビーム形態の放出は、前記X線光源の構成に対する最大の検査領域であるとして視認され;前記少なくとも一つのX線センサーは、前記ビーム形態の中に配置され;かつ前記少なくとも一つのX線センサーは、前記中心軸に関してX線放出の特定の方向における比較的に小さな角度のセグメントに対する前記X線の輝度を測定する;ことを特徴とするX線光源。前記X線光源は、開口を備えた絞りを備え、前記開口は、実際の検査領域を定め;かつ、前記少なくとも一つのX線センサーは、前記実際の検査領域の外側に配置されている、請求項1に記載のX線光源。前記アノードと前記カソードは、真空チューブの内側に配置され、前記真空チューブは、前記X線バリアにおける前記穴としてのX線窓を含む、請求項1または2に記載のX線光源。前記少なくとも一つのX線センサーは、前記X線窓の外側に配置されている、請求項3に記載のX線光源。前記アノードは、回転アノードであり;かつ前記少なくとも一つのX線センサーは、前記中心軸に関して、前記アノード側に向かって配置されている、請求項1乃至4に記載のX線光源。前記アノードは、回転アノードであり;かつ前記少なくとも一つのX線センサーは、前記中心軸に関して、前記カソード側に向かって配置されている、請求項1乃至5に記載のX線光源。マルチピクセルの放射線量センサーが備えられる、請求項1乃至6に記載のX線光源X線画像システムであって:X線光源と;検出器と;処理装置と;を含み前記X線光源は、少なくとも一つのX線センサーを含む、請求項1乃至7に記載のX線光源として備えられ;前記X線光源は、中心軸を伴なうビーム形態を有するX線ビームを放出するように適合されており;前記少なくとも一つのX線センサーは、前記中心軸に関してX線放出の特定の方向に対するX線の輝度を測定するように適合されており、前記処理装置は、前記測定されたデータを保管されたデータと比較するように;かつ、前記分析に基づいて放射線量劣化の値を判断するように適合されており;かつ、前記検出器は、興味の対象の画像情報を記録するように適合されている、ことを特徴とするX線画像システム。X線チューブのX線放射収率における変化を判断する方法であって:aX線光源を用いてX線ビームを放出するステップであり;前記X線光源は、X線放射を生成するようにアノードに向かって電子を放出するためのカソードを含み;前記X線ビームは中心軸の中にビーム形態を有する;ステップと、b少なくとも一つのX線センサーを用いて前記中心軸に関して特定方向のX線放出に対するX線輝度を測定するステップであり;前記X線センサーは、前記X線ビームのビーム形態の中に配置されている;ステップと、c前記測定されたデータを保管されたデータと比較し、前記測定されたデータを分析するステップと;dステップcに係る前記分析に基づいて、放射線量の劣化を判断するステップと、を含むことを特徴とする方法。前記ステップdの後に、さらなるX線生成のために、前記劣化の値に基づいて前記X線光源の新たな設定を算出するステップe;および、前記X線光源の収率ファクターを更新するステップgを備える、請求項9に記載の方法。前記ステップgの前に、前記X線光源の前記新たな設定を既定の値と比較するステップfを備え;既定の閾値を超える場合には、さらなるサービス測定が実行される、請求項9または10に記載の方法。少なくとも2つのセンサーが使用され;前記ステップbにおいては、少なくとも一つのセンサーは、前記ビームの束における前記放射線量の輝度を測定し、かつ、少なくとも一つのセンサーは、前記ビームの前記ヒール部分における前記放射線量の輝度を測定し;前記ステップcにおいては、前記2つの輝度の差異が比較され、前記分析のためにデータが保管される、請求項9乃至11に記載の方法。少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイが備えられ、前記中心軸に関して少なくとも2つの方向に対する輝度が測定されるように配置され;前記ステップbにおいては、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイは、前記ビームの束における前記放射線量の輝度を測定し、かつ、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイは、前記ビームの前記ヒール部分における前記放射線量の輝度を測定し;前記ステップcにおいては、前記2つの輝度の差異が比較され、前記分析のためにデータが保管される、請求項9乃至12に記載の方法。請求項1乃至8のいずれか一つに記載の装置をコントロールするためのコンピュータープログラムであり、処理装置によって実行される場合に、請求項9乃至13のいずれか一つに記載の方法を実施するように適合されたコンピュータープログラム。請求項14に記載のコンピュータープログラムが保管されたコンピューターで読取り可能な媒体。X線チューブの収率が劣化した場合に、システムの制限により、X線光源から放出されるX線放射線量があまりに低くなってしまうことが知られてきた。さらに、サービス人員によって実行される較正工程が、経済的に不利益であり、長期の計画的な工程が必要とされることが示されている。このように、正しい放射線量のアプリケーションの提供には、X線光源のX線放出収率における変化の判断を提供することが必要である。本発明の目的は、独立請求項に記載の技術事項によって解決される。さらなる実施例は、従属請求項に組み入れられている。以降に記述される本発明の態様は、X線放出収率光源、X線画像システム、方法、プログラム、そしてコンピューターで読取り可能な媒体、にも適用されることに留意すべきである。本発明の典型的な実施例に従えば、カソード、アノード、そして、少なくとも一つのX線センサーを含むX線光源が提供される。カソードは、アノードに向けて電子を放出する。アノードは、電子がその上に衝突するターゲット領域を含んでおり、それによってX線放射を生成している。X線放射から放出するX線ビームを形成するための穴を備えたX線バリアが備えられる。X線ビームの放出は、中心軸を伴なうビーム形態を有している。ビーム形態の放出は、X線光源の構成に対する最大の検査領域であるとして視認される。少なくとも一つのX線センサーが、ビーム形態の中に配置される。少なくとも一つのX線センサーは、中心軸に関してX線放出の特定の方向における比較的に小さな角度のセグメントに対するX線の輝度を測定する。こうしたX線光源により、X線放出収率における変化を判断することができる。X線センサーは、X線ビームのX線輝度が測定できるように配置されているからである。本発明の別の典型的な実施例に従えば、開口を備えた絞りが提供される。開口は、実際の検査領域を定め、少なくとも一つのX線センサーは、実際の検査領域の外側に配置されている。本発明の別の典型的な実施例に従えば、アノードとカソードは、真空チューブの内側に配置され、真空チューブは、X線バリアにおける穴としてのX線窓を含んでいる。少なくとも一つのX線センサーは、真空チューブの外側に配置されている。例えば、少なくとも一つのX線センサーは、X線窓の外側に配置されている。本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、X線画像システムは、X線光源と、検出器と、処理装置とを含んでいる。X線光源は、少なくとも一つのX線センサーを含む、上述の典型的な実施例の一つに従ったX線光源として備えられる。X線光源は、中心軸を伴なうビーム形態を有するX線ビームを放出するように適合されている。少なくとも一つのX線センサーは、中心軸に関してX線放出の特定の方向に対するX線の輝度を測定するように適合されている。処理装置は、測定されたデータを保管されたデータと比較するように、かつ、分析に基づいて放射線量劣化の値を判断するように適合されている。検出器は、興味の対象の画像情報を記録するように適合されている。さらなる典型的な実施例に従えば、X線チューブのX線放射収率における変化を判断する方法が提供される。方法は、以下のステップを含んでいる。aX線光源を用いてX線ビームを放出するステップであり、X線光源は、X線放射を生成するようにアノードに向かって電子を放出するためのカソードを含み、X線ビームは中心軸の中にビーム形態を有している。b少なくとも一つのX線センサーを用いて中心軸に関して特定方向のX線放出に対するX線輝度を測定するステップであり、X線センサーは、X線ビームのビーム形態の中に配置されている。c測定されたデータを保管されたデータと比較し、測定されたデータを分析するステップである。dステップcに係る分析に基づいて、放射線量の劣化を判断するステップである。例えば、測定されたデータは、保管されたデータとの比較のため、そして測定されたデータの分析のために放射線量率の出力に変換される。例えば、チューブ電圧に平均チューブ電流を掛けることにより算出された電力入力が考慮される。さらなる典型的な実施例に従えば、ステップdの後に、さらなるX線生成のために、劣化の値に基づいてX線光源の新たな設定を算出するステップeが備えられる。さらに、X線光源の収率ファクターを更新するステップgを備える。X線放出収率の変化に関して正確な情報を提供するために、ビーム形態の内側に配置されたセンサーを用いて、特定の放射角度に対するX線の輝度を測定することが、本発明の要旨であると理解することができる。すなわち、例として、放射線量の劣化に関する情報を提供することである。センサーは、実際の視野が影響されないように配置されている。本発明のこのような、そして他の態様は、以降に記述される実施例を参照することで明らかになり、説明される。図1は、X線光源110、検知器112、そして処理装置114を伴なうX線画像システム100を示している。X線光源110と検知器112は、C型アーム116の相対する端に配置されている。C型アーム116は、C型アームサポート118によって回転可能に支持されており、C型アームサポート118は、回転可能なサポートアーム122によって天井120から吊るされている。回転可能なサポートアームは、天井マウント124によって、天井120に対して回転可能に取付けられている。C型アーム116は、参照番号126で示すように、水平方向軸の周りに回転可能である。さらに、C型アームは、C型アームサポート118のスライドサポートデバイス128において、曲線のような方式でスライド可能に移動できる。サポートアーム122は、参照番号130で示すように、鉛直方向軸の周りに回転可能である。このように、検知器112とX線光源110は、検査される対象者138に関して数多くの位置に配置され得る。さらに、テーブル132の形態で対象者サポートデバイスが備えられる。テーブルは、それぞれ調整可能なテーブルスタンド134によって上下方向に上げたり、下げたりすることで鉛直方向に位置決めされる。さらに、テーブル132は、両端矢印136で示すように、水平方向に移動できる。このように、対象者138は、テーブル132の上に位置決めされ、X線光源110と検知器112との間に位置するように配置される。X線光源は、カソード、アノード、そして、少なくとも一つのX線センサーを含んでいる。カソードは、アノードに向けて電子を放出する。アノードは、電子がその上に衝突するターゲット領域を含んでおり、それによってX線放射を生成している以降にさらに記載される。さらに、X線放射から放出するX線ビームを形成するための穴を備えたX線バリアが備えられる。処理装置114は、模式的にのみ示されていることに留意すべきである。もちろん、処理装置はあらゆる好適な場所に配置され得る。例えば、病院の検査研究室の中である。図2などに関して記載されるように、X線光源は、中心軸を持ったビーム形態を有するX線ビームさらに詳しくは示されないがを放射するように適合されている。さらに、X線光源110は、少なくとも一つのX線センサー140さらに詳しくは示されないを含んでおり、X線放射に係る特定の方向と中心軸との間の角度に対するX線輝度を測定するように適合されている。X線センサーは、さらに、ビーム形態の中に配置される。処理装置114は、測定されたデータを解析するために、測定されたデータと保管されたデータとを比較するように適合されている。処理装置114は、さらに、解析に基づいて、放射線量の劣化に係る値を決定するように適合されている。さらに、検出器112は、興味の対象者に係る画像情報を記録するように適合されている。処理装置114は、少なくとも一つのX線センサー140、X線光源110とX線検出器112をコントロールしているX線生成器図示なしに接続されていることに留意すべきである。例えば、有線のケーブル接続または無線接続によるものである。しかしながら、これらの接続について、さらには示されない。X線光源110は、図2に関して以下に説明される。図2において、X線光源10は、カソード12、アノード14、そして少なくとも一つのX線センサー16を含むものとして示されている。カソードは、アノードに向かって電子を放出する。電子は、破線18を使って模式的に示されている。アノードは、電子がその上に衝突するターゲット領域20を含んでおり、数多くのライン22で示されるように、X線放射を生成している。X線放射は、ランダムな方向において放出されており、図2aに示すように、焦点軌道の表面上位に肝臓形の輝度分布35を生じる。分布は、焦点軌道の表面に関して、より大きい角度においては等方性であるが、ヒールheelにおいては、小さい角度で急激に減少する。これは、ヒール効果と呼ばれるものである。さらに、X線バリア24は、28aと28bでアウトラインが模式的に示されているように、放射するX線ビーム28を形成するための穴26を備えている。X線ビーム28は、X線放射22から形成されている。放射するX線ビーム28は、ターゲット領域の中心と穴26の中心を通って延びる中心軸32を伴なうビーム形態30を有している。穴26の構成に応じて、ビーム形態30は、さらに、アノード14の陰によって制限され得る。実際のビームはX線放射が穴26を通過するときに形成されるのだが、ビーム形態は、また、穴26の前面の領域にも到達する。例えば、穴を通過する前の領域である。ビーム形態30は、ターゲット領域26から始まり、穴を通じて到達するX線放射ラインによって定まるからである。本発明に従って、少なくとも一つのX線センサー16が、ビーム形態30の中に配置される。少なくとも一つのセンサー16は、特定のX線放射の方向と中心軸32との間で、参照番号34で示される、角度αに対するX線輝度を測定する。本発明のさらなる実施例に従えば、穴26は、X線ビームの断面を形成するために配置される。例えば、穴26は円形であり、ビーム形態30が、図2における断面図に示されるように、円錐形状であるように構成されている。本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、穴はスロットslotであり、ビーム形態がファンfan形状になるよう配置されているさらに詳しくは示されない。本発明のさらなる態様に従えば、X線バリアは、X線を通さない。さらなる態様に従えば、X線バリアは、X線を吸収する。本発明のさらなる態様に従えば、ビーム形態30は、図示のように構成されたX線光源に対する最大の検査領域である。さらなる態様に従えば、中心軸32は、焦点とも呼ばれるターゲット領域の中心を通って延びている。別の態様に従えば、焦点はターゲット領域上の特定の領域であり、その上に電子が衝突する。さらなる態様に従えば、焦点軌道の表面に関して低い角度における放射と、高い角度における放射との間の輝度における違いは、異なる角度に配置された2つのX線センサー16、または複数のピクセルセンサー図示なしを用いて測定可能である。図3に関して、さらなる典型的な実施例に従えば、開口38を有する絞り36が提供される。開口は、実際の検査領域40を定め、例えば、所望の検知サイズだけをカバーするようにビーム形態を制限する。少なくとも一つのX線センサー16は、実際の検査領域40の外側に配置される。所望の検知サイズの制限の外側に放射することが法的に許されないのは、明らかな理由によるものである。実際の検査領域40は、検出器によって検出された領域によって決定される。実際の検査領域40は、最大の検査領域30と同じ大きさであり得るが、実際には、これよりも小さいものである。さらなる態様に従えば、実際の検査領域40は、X線ビームによってカバーされるように配置されており、少なくとも一つのX線センサーは、実際の検査領域40の外側に配置される。本発明のさらなる態様に従えば、検査領域は、また、視野としても参照される。しかしながら、この領域はユーザーによって実際に見ることはできない。しかし、X線放射でカバーされているだけであり、可視化できる。しかしながら、開口38を通過するX線放射が、検出器によって検出可能な情報を提供し、さらに可視的なX線画像を生成するので、視野という用語も適用される。さらなる態様に従えば、絞り36は、一つまたはそれ以上のシャッターを含んでいる。さらなる態様に従えば、絞り36は、一つまたはそれ以上のくさびを含んでいる。さらなる態様に従えば、開口38は、サブビーム形態を有するX線サブビームを放射する検査領域を形成するために備えられている。さらなる態様に従えば、サブビーム形態は、ビーム形態30の一部であるさらに詳しくは示されない。さらなる態様に従えば、少なくとも一つのX線センサーは、ビーム形態30の中に配置される。例えば、開口38はX線を透過する。さらなる態様に従えば、開口38は、開口端44によって囲まれている。さらなる態様に従えば、少なくとも一つのX線センサー16は、X線窓26と絞り36との間に配置される。さらなる態様に従えば、センサーは、開口端44と隣り合った絞りの上に取付けられる。さらなる態様に従えば、実際の検査領域40は、絞り36によってX線ビームからの照準が正しく合わされているさらなる態様に従えば、少なくとも一つのX線センサー16は、絞りの開口部の外側に配置されている。これは、図3において、参照番号46で、破線の正方形として示されている。さらなる態様に従えば、絞りにおいては、X線ビームの断面が、絞り36の開口38よりも大きくなっている。さらなる態様に従えば、開口部は長方形であり、少なくとも一つのX線センサーが円形のX線ビーム形態の中であって、開口の外側に配置されているさらなる説明は、図8から図11を参照のこと。本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、図4に示すように、アノードとカソードはチューブ48の内側に配置されており、チューブは、X線バリア24における穴としてのX線窓50を含んでいる。少なくとも一つのX線センサーは、チューブの外側に配置されている。さらなる典型的な実施例に従えば、少なくとも一つのX線センサーは、チューブの内側に配置されているさらに詳しくは示されない。本発明のさらなる態様に従えば、チューブ48は、X線放射を生成するための真空を備える容器、例えば真空管、である。さらなる態様に従えば、X線窓50は、円錐形状のエマージングemergingX線ビームが、チューブ48から外に出るように配置されている。例えば、X線窓50は、円形である。例えば、少なくとも一つのX線センサー16は、円錐形状のエマージングX線ビームの中に配置されている。エマージングX線ビームは、円錐形状の破線の外形52で示されている。さらなる態様に従えば、少なくとも一つのX線センサー16は、単一ピクセルpixelセンサーとして備えられている。図4に示すように、さらなる典型的な実施例に従えば、複数の単一ピクセルセンサーは、X線チューブによって発せられたX線フィールドの中のいくつかの位置に配置されている。本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、少なくとも一つのX線センサーは、X線窓50の外側に配置されるさらに詳しくは示されない。さらなる態様に従えば、少なくとも一つのX線センサー16は、X線窓50の表面に取付けられている。図4にも示されているように、さらなる態様に従えば、アノードは回転アノード54であり、少なくとも一つのX線センサーは、中心軸に関してアノード側に向かって配置されている。図4を見ればわかるように、カソード側とは、中心軸32のカソード12に対面する側である。参照をより易しくするために、カソード側はSCで示され、アノード側はSAで示されている。例えば、アノード側は中心軸32の他方の側であり、例えば、アノード54に対面する側である。本発明のさらなる態様に従えば、少なくとも一つのX線センサー16は、参照番号16aで示されているが、アノード側に向かって配置されており、ヒール効果heel-effectセンサーである。本発明のさらなる態様に従えば、少なくとも一つのX線センサーは、中心軸32に関してカソード側SCに配置されている。例えば、カソード側SCに向かう少なくとも一つのX線センサー16は、参照番号16cで示される一般的な放射線量センサーである。さらなる態様に従えば、中心軸32は、アノードの回転軸に対して垂直であり、回転軸は一点鎖線56で示されている。さらなる態様に従えば、少なくとも2つのセンサーが備えられる、一つは、中心軸のアノード側SAに配置され、他方は、中心軸のカソード側SCに配置されている。さらなる態様に従えば、アノード側のセンサーは、検査領域の側面側に配置されているさらには図8から図11を参照にこと。さらなる態様に従えば、カソード側のセンサーは、検査領域のカソード側に向かって、またはカソード側に配置されているさらには図8から図11を参照にこと。本発明のさらなる態様に従えば、マルチピクセルの放射線量センサー58が備えられており、図9から図11を参照して説明される。以降には、X線放射生成の例が、詳細に説明される。医療用画像において一般的に使用されているX線光源の一つは、回転アノードX線チューブである。X線は、X線ターゲットに衝突するキロボルト単位のエネルギーをもった電子によって生成される。ほとんどの場合、ターゲットは、タングステンとレニウムの合金であるか、モリブデンである。回転アノードを伴なうチューブにおいて、X線ターゲットは、ディスク上の環状のタングステン/レニウムW/Re層か、モリブデンMo層のそれぞれである。画像アプリケーションでは、アノードは、焦点軌道の直径において、典型的には7度から12度の範囲の角度で傾斜している。アノードの回転軸に対して多かれ少なかれ垂直な軸の周りのビームの中に放出されたX線だけが、画像アプリケーションのために使用される。回転に対して多かれ少なかれ垂直な軸は、また、中心軸としても参照される。こうした構成において、電子は、ラインline焦点の焦点軌道の上にガイドされ、これにより熱的負荷を低減している。中心軸から、傾斜したアノードを眺めると、ライン線状焦点は、スポットのような形状に見える。この投影においては、集束電子のラインlineが、幾何学的に約10倍で収縮するからである。X線チューブでは、X線ターゲット自身における本来的なX線のフィルターが生じる。例えば、キロ電子ボルト単位のエネルギーにおいて、電子は、数ミクロンまでターゲットの中に貫通し、全てのエネルギーが熱またはX線フォトンphotonに変換される。結果として、ターゲットの中でX線の断片が生成される。例えば、X線は、チューブの出口窓に到達するまでに焦点軌道のバルクbulkを横切る必要がある。ターゲットの中から生じるこうしたX線は、ターゲットに向かう途中で吸収されてしまうことがある。吸収の確率は、バルク材料中の通路の長さに依存する。X線の移動通路が長いほど、より吸収され易い。傾斜したアノードに係る特定の形状のため、本来的なフィルターは、X線放射の放出方向に依存する。中心視界軸をアノード表面に向かって移動させると、本来的なフィルターは強くなる。効果は幾何学的にもたらされるからである。軸から外れた角度がアノードの傾斜角と等しい場合には、X線収率におけるカットオフcut-offがある。この位置は、回転アノードの陰の中にあるからである。このように、角度依存のX線収率が存在し、画像のようなアプリケーションにおいて説明される必要がある。回転アノード上の焦点軌道は、熱的、機械的なストレスによる劣化の対象となり、アノード荒れanoderougheningと呼ばれる焦点軌道の構造的な変化を引き起こす。一般的な現象は、クラックcrackの形成であり、チューブのX線収率の劣化を生じる。クラック形成によるX線出力の減少は、クラックに入っていく電子は、アノードのバルクのより深くにX線を生成するという事実によるものである。例えば、図5において、電子が衝突するアノード212の一部が示されており、破線214と216で示されている。さらに、矢印218と220で示されるように、X線フォトンが生成される。しかしながら、電子214は、アノード212におけるクラック形態222に衝突している。従って、X線放射の矢印218は、このように、アノードの表面に到達するまでアノード212の材料領域の中を通過しなければならない。これと反対に、電子216によって生成されたX線フォトン220は、アノード材料の表面近くで生成されている。従って、このフォトンは、表面に到達するまでには、非常に小さな距離を移動するだけで済む。焦点軌道におけるクラックの数量と深さを増加させると、これは回転アノードの典型的な経年変化であるが、チューブの全X線出力は減少し、発するX線スペクトラムの変化を伴なう。第2の効果は、アノード材料の微小なパーティクルがアノード表面から排出され、穴26の内側を含んでチューブの内側にあるパーツを覆い、X線透過性を減じることである。X線チューブが動作している最中、その効率は、アノード荒れと窓の被覆物によって悪化する。チューブ収率の劣化を意味するものである。インターベンショナルラジオグラフィーinterventionalradiograghyコンプライアンスにとっては、FDAに係る入り口放射線量EDL制限を伴う例として、課された放射線量制限より下にとどまるためには、入力パラメーターとしてチューブ収率を利用して、適用される放射線量を見積もることが不可欠である。チューブの収率が低下した場合は、システムは自らを、あまりにも低い放射線量に制限することがある。削減された放射線量は、画像の品質低下を招く。本発明の典型的な実施例に従えば、既に述べたように、X線チューブは、異なる角度位置において放射線量の低下を判断する一つまたはそれ以上のX線センサー16を備えている。このように、X線センサーは、また、ヒール効果に対しても敏感である。例えば、異なる位置において相対的放射線量が測定されるので、従って、絶対的放射線量に対しては感度が低い。相対的放射線量に依存することのさらなる有利な点は、露光時間の独立性である。絶対的放射線量測定においては、特に蛍光透視装置で使用されるようなパルスモードのチューブオペレーションに対して問題を生じ得るものである。結果として、放射線量の低下は、通常オペレーションの最中にモニターすることができ、特定の較正を行うことは不要になった。以降では、図6に関して、上述されたアノードエイジageセンサーの感度について説明する。単純な物理モデルによって、ヒール効果が説明される。図6には、傾斜表面224を伴なうアノード部分212が示されている。電子226は、ターゲット領域228の領域内の傾斜表面224の上に衝突するさらに詳しくは示されない。例えば、クラック形態により、電子は、参照記号dで示されるように、所定の深さに達して、矢印230で示されるように、X線放射が生成される。見てわかるように、X線放射は、アノード212の材料の中と、アノード212の材料の外側に通路を有している。X線のターゲット、例えばアノード212、の中の通路長さは、参照文字sによって参照されるが、それぞれのフォトンが生成され、参照番号232で示される、収差角θ度である位置における浸透深さdの関数として表すことができる。以下の式が適用される。sθ=dcosα/sinθαここで、αは、アノード角である。アノード角αは、参照番号234で示されている。密度pの材料の中を通過する通路長さsに渡る通過におけるX線輝度は、希薄化則によって以下のように表される。I/I0=exp-μsここで、μは、材料の特定質量の減衰係数であり、エネルギーに依存する。ターゲット中の深さdにおいて生じる、X線の本来的なフィルターは、従って、以下の式で表されるターゲットから生じる減衰X線フラックスfluxI/I0を導き、放出角度に依存している。I/I0=exp-μdcosα/sinθα上記の式は、ヒール効果を定性的に記述したものである。本来的な減衰の機能的な依存性は、浸透深さdの変化に対する感度の増大を導く。特に、アノードの表面に向かう収差位置に対するものであり、例えば、ヒール効果が大きくX線収率を減じる角度におけるものである。従って、この収差位置におけるX線フラックスは、クラック形態に対して非常に感度が高い、このようであるため、X線が、サーマルトラックthermaltrackのバルクの中のより深い位置で生成され、本来的な減衰による損失がより大きくなる。図7は、アノード角度が9°で傾斜したアノード中の特定の深さdにおいて生成される30keVのX線フォトンに係るX線減衰についてのシミュレーションを示している実線と点線の曲線である。放出角度θ=αに対するX線収率の減少とカットオフが、ヒール効果の特性である。深さdの変化は、カットオフ位置に対する角度におけるX線収率に最大の影響を与える破線と一点鎖線の曲線。図7では、縦軸は、0から1までの範囲でX線収率を示している。横軸は、例として、-10から-6の範囲で収差角度θ度を示している。右側の縦軸は、0から50の範囲で、相対的な差異が、パーセントで示されている。実線252として示される第1のラインには、以下が適用される。I/I_0d=5μm点線の曲線254として示される第2のラインには、I/I_0d=10μmが適用される。さらに、破線の曲線256として示される第3のラインは、X線収率の絶対的な減少を示している。さらに、一点鎖線の曲線258として示される第3のラインは、X線収率の相対的な減少をパーセントで示している。典型的な実施例に従えば、コスト効果があり簡単なソリューションとして、X線チューブによって放出されるX線フィールドの中のいくつかの位置に、単一のピクセルセンサーが数多く配置される。例えば、ターゲットから放出されるX線にとって十分に透過性がある、丸いチューブの窓により、中心軸の近くから円錐形状のX線が放出される。画像アプリケーションのために使用される長方形の視野は、円錐から焦点が合わせされる。センサーが、画像アプリケーションに影響することなく、X線ビームの中に配置されるようにである。図8を見てわかるように、少なくとも一つのX線センサー16は、窓のセグメント276a、276b、276c、または276dに配置されている。例えば、図7において円260で示されるビーム形態30の領域であり、現状、長方形262で示される検査領域の外側にあるセグメントである。画像目的のビームの実際に使用される部分の最大のサイズを示している。例えば、単一のピクセルセンサーにより、センサー読み出しの簡単な実施ができる。このことは、図8に関して説明される。円260は、X線窓の開口を模式的に示している。さらに、円260の内側にある長方形262は検査領域を示している。例えば、開口に最大のサイズは、検知器フォーマットの縦300、横380ミリメートルの長方形に応じたものである。さらに、図8では、アノード側がSAで示されている。すなわち、円の上側である。カソード側はSCで示されており、すなわち、円の下側である。センサーがとり得る位置が、小さな正方形264、266、268、そして270、同様に272、で示されている。例えば、アノード側に向かう位置264と266は、ヒール効果の放射線量センサーとしてとり得る位置である。位置268、270、同様に272は、通常の放射線量センサーとしてとり得る位置である。より良い理解のために、中心軸の投射が、点線274で示されている。もちろん、センサーを、円260の内側で長方形262の上にあるセグメント276aの中に置くこともできる。しかしながら、ヒール効果とアノードの陰のために、穴26の位置に依存するが、この位置では、実際に、非常に低い放射線量だけを測定する。アノード側に近いセンサー、例えば、中心軸に関して負の角度であるセンサーは、ヒール効果のために、0よりも大きい角度でカソードに近いセンサーよりも少ないX線を記録する。測定されたX線輝度におけるこの違いは、焦点軌道の摩滅により影響されるものであり、従って、ヒール効果を取り扱う画像処理工程を順応させるために利用できる情報を提供する。さらに、センサーのデータは、焦点軌道の摩滅についての洞察を与える。アノードに向かうセンサーによって記録されたX線放射線量は、焦点軌道の摩滅のために、より少ないX線しか受け取らないからである。センサーは、X線フィールドの相対的な角度依存性を測定するので、この方法は、X線出力についてチューブの絶対的な変化によって乱されることはない。従って、アノードの摩滅は、X線窓の汚れまたはフィラメントの経年劣化というような、X線フィールドに影響する他の経年変化から独立して検知される。さらなる典型的な実施例に従えば、このようにX線光源の一般的な放射線量出力に関する情報を与える単一のセンサーを提供することもできる。ヒール効果とX線窓の汚れは既に考慮されているものである。さらなる典型的な実施例に従えば、マルチピクセルのセンサーを、収差位置、すなわち、中心軸に関する、負の角度に配置することも可能である。そこでは、ヒール効果によってチューブのX線フィールドが最も強く影響される。これは、図9に表されており、マルチピクセルのセンサーは参照番号58で示されている。アノード角度-θ≒αに近づいていく、より大きな角度では、本来的なフィルターがX線収率を著しく減少させる。そうした角度では、X線効率は、X線ターゲットの表面形態における変化に関して特に感度が高い。特に、焦点軌道におけるクラックに対してである。X線フィールドの角度依存性は、マルチピクセルによってサンプルされ、それぞれのピクセルの信号を収集するコントローラーさらに詳しくは示されないによって読み出される。その結果は、定性的には図7における曲線のように振る舞い、アノードの摩滅の程度の指標として役に立つ。マルチピクセルのセンサーでX線放射線量を細かくサンプルすることで精度が上がり、従って、寿命予測の信用レベルが増加する。さらなる実施例に従えば、一つまたはそれ以上のマルチピクセルの放射線量センサー58は、図10と図11に示されるように、アノードSAに向かって、視野の側面側に配置される。センサーは、画像アプリケーションにとって必要な視野と干渉しないことに留意しなければならない。視野の外側の収差位置に配置されているためである。コリメーターcollimatorまたは絞りは、ビームを円錐形状からピラミッド形に典型的に制限して自由に使えるセグメントを提供しているので、こうしたことが可能である。例えば、X線センサーにおける数多くの幾何的な制限があるために、粗い見積もりに基づけば、センサーは、角度範囲θ=α-2°、αをカバーする必要がある。そこでは、本来的なフィルターが非常に顕著であり、センサーは、検査領域の視野の外側にある。例えば、中心が焦点軌道から5cmの距離の位置に置かれ、2°の角度範囲が約1.8mm幅の検出器によってカバーされると仮定する。以降では、図12を参照して、X線光源のX線放出収率における変化を判断するための方法に係る典型的な実施例について説明する。方法500は、以下のステップを含んでいる。最初に、放出ステップ512において、X線ビーム514がX線光源から放出される。X線光源は、X線放射を生成するようにアノードに向かって電子を放出するためのカソードを含んでおり、X線ビームは、中心軸を伴うビーム形態を有している。次に、測定ステップ516において、少なくとも一つのX線センサーを用いて、X線放射の特定の方向と中心軸との間の角度に対してX線輝度518が測定される。X線センサーは、X線ビームのビーム形態の中に配置されている。次に、比較ステップ520において、測定されたデータは、保管されたデータと比較され分析される。そして、判断ステップ524において、比較と分析のステップ520、522の解析に基づいて、放射線量の劣化値526が決定される。放出ステップ512はステップaとして、測定ステップ516は、ステップbとして、比較ステップは、分析ステップ522と一緒にステップcとして、そして、判断ステップ524は、ステップdとしても参照されることに留意すべきである。さらなる態様に従えば、ステップbで、異なる位置において相対的な放射線量が測定される。さらなる態様に従えば、ステップcで、相対的な放射線量は、同じ位置において時間経過とともに測定される。さらなる態様に従えば、ステップdにおいて、検査領域の中のヒール効果の変化が判断され、さらなる画像処理ステップにおいて、修正フィルターが適用される。図13に示される、さらなる典型的な実施例に従えば、ステップdに続いて、ステップeが備えられる。さらなるX線生成のための劣化値に基づいたX線光源の新たな設定530の算出528を含んでいる。さらに、ステップgが備えられ、X線光源の収率ファクター534の更新532を含んでいる。例えば、新たな設定を自動的に算出することが提供される。さらなる態様に従えば、X線光源のパラメーターは、光源の全体的なX線収率の劣化を修正するために、自動的に調整される。例えば、X線光源は、X線窓を含んでおり、X線光源の設定は、アノード荒れとX線窓の汚れまたはシミを修正するために自動的に調整される。さらなる態様に従えば、X線収率の相対的な角度依存性が測定され、アノード摩滅が検知される。図13にも示されるように、本発明のさらなる態様に従えば、更新された収率ファクター534は、続いて、さらなるX線放射放出ステップのために使用される。すなわち、参照番号536を伴なって、ボックス532から出てボックス512に入る破線の矢印で示されるように、更新された収率ファクターが、ループのような方法で提供される。本発明のさらなる態様に従えば、図14に示されるように、ステップgの前に、ステップfが備えられる。X線光源の新たな設定と規定値540との比較538を含んでいる。規定の閾値を越えると、さらなるサービス測定542が行われる544。例えば、手動でチューブの放射線量の再較正が行われる。さらなる実施例に従えば、チューブの取替えが行われる。図15に示す、本発明の典型的な実施例に従えば、以下の方法が提供される。X線エクスポージャーexposureに続いて、ボックス614で示される、一般的な放射線量センサーによるデータ獲得がされ、おそらく並行に、ボックス616で示されるようにヒ-ル効果センサーによるデータ獲得がなされる。一つの値または両方の値が、次に、データベース620の中に保管される618。次に、例えば累和法といった、統計的な分析622がされる。次に、チューブの放射線量の劣化が検知されたかどうかが判断される624。もし、そうでない場合は、X線エクスポージャーが再び開始される。結果はノーnoであり、参照番号626を伴なって、ボックス624から出てボックス612に入る矢印で示されるループのような実行が続く。もし、放射線量の劣化が検知された場合には、すなわち、答えがイエスyesの場合であるが、ボックス624から下側に向かう矢印について参照番号628で示される次のステップが実行される。新たなチューブ収率テーブルが算出され630、もしくは、チューブの電力入力とチューブの放射線量収率出力との間の関係を定める他のパラメーターが算出される。以降、新たな設定ポイントが、放射線量規則に応じるように算出される。例えば、FDA放射線量規則によるものであり、X線光源が、こうした新たな設定に従うかを判断する。判断するステップは、参照番号632で示されている。答えがイエスyesの場合、参照番号634を伴ない右に向かう矢印で示されるように、X線光源の設定の更新636へ進む。判断するステップ632の結果がノーnoの場合は、矢印638で示されるように、さらなるステップ640において、手動でのチューブ放射線量の再較正、またはチューブ交換のサービスコールが発行される。もちろん、判断するステップ632をスキップして、算出632の終了後直ちに自動的に更新636/644を実行することも可能である。そのショートカットは、ボックス630からボックス636/ライン644への破線の矢印642で示されている。ステップ636において、一旦自動的な更新が実行されれば、ループのような矢印644で示されるように、X線エクスポージャーが再び実施される。図15に関して説明したように、X線放射線量センサーは、X線チューブのそれぞれの通常動作において放射線量を記録する。測定されたデータは、チューブ電圧とX線チューブの平均放出電流とを考慮に入れたヒール効果のモデルに従っておそらく生成されたモデルデータと比較される。測定されたデータは、統計的な方法を用いて分析され、避けることのできない変動に関してより強健であるように、測定されたデータの顕著な変化を検知する。こうした分析から、アノードの劣化パラメーターが抽出される。劣化パラメーターが、特定の既定された制限を超える場合には、減少したX線収率と輝度分布における変化を補償するように、チューブの放射線量、及び/又は画像処理においてヒール効果を説明する画像フィルターが調整される。例えば、アノードの劣化パラメーターに対して警告限界が導入され得る。警告限界に達した場合に、ユーザーには、近い将来でのチューブ交換を推奨することが知らされる。自動的な更新を実行するために可能なシナリオは、図15に示されている。本発明は、医療用画像システムにおいて使用される全てのX線光源に適用することができることに言及しなければならない。特に、画像システムの利用可能性と信頼性が重要な、インターベンショナルinterventional手術のためのC型アームシステム、CT、緊急手術室にある一般的なX線、等といったものに適用される。さらに、チューブの収率、ヒール効果のような放出特性、そしてチューブのスペクトラムに関する細分化についての情報は、3Dデータの獲得のために重要性が増している。例えば、CTスキャナーまたはC型アームのいずれかにおいて、そして、例えば、血流の定量化、還流perfusion、等の関係で使用される定量的な画像プロトコルにおいて重要である。本方法のさらなる態様に従えば、典型的な実施例に従えば、少なくとも2つのセンサーが使用される。ステップbにおいては、少なくとも一つのセンサーは、ビームの束における放射線量の輝度を測定し、かつ、少なくとも一つのセンサーは、ビームのヒール部分における放射線量の輝度を測定する。ステップcにおいては、チューブの輝度の差異が比較され、分析のためにデータが保管される。さらなる典型的な実施例に従えば、以下の方法が提供される。少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイが備えられ、中心軸に関して少なくとも2つの方向に対する輝度が測定されるように配置される。ステップbにおいては、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイは、ビームの束における放射線量の輝度を測定し、かつ、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイは、ビームのヒール部分における前記放射線量の輝度を測定し、または、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイは、ヒール部分からビームの束の中へ延びている。ステップcにおいては、ピクセルの輝度の差異が比較され、分析のためにデータが保管される。図9から図11を見てわかるように、例えば、マルチピクセルの放射線量センサー58は、線型のピクセル構成として提供される。さらなる態様に従えば、マルチピクセルの放射線量センサーは、アノード側とカソード側との間の方向に向けられる。さらなる態様に従えば、マルチピクセルの放射線量センサー58は、中心軸のアノード側に配置される。さらなる態様に従えば、図11に示すように、マルチピクセルの放射線量センサー58は、アノード側に向いているが、検査領域の側面側に配置されている。さらなる態様に従えば、図10にも示すように、少なくとも2つのマルチピクセルの放射線量センサー58が備えられる。示されていないが、さらなる典型的な実施例に従えば、マルチピクセルの放射線量センサーは、検査領域の両方の側面側に配置されている。示されていないが、さらなる典型的な実施例に従えば、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイがアノード側に向かって備えられ、少なくとも一つのマルチピクセルのセンサーアレイがカソード側に向かって備えられる。さらなる態様に従えば、少なくとも一つのセンサーがヒール効果の測定のために備えられ、少なくとも一つのセンサーが放射線量の測定のために備えられる。さらなる態様に従えば図示なし、少なくとも一つのセンサーは透過性であり、少なくとも一つのセンサーは検査領域の中に配置されている。本発明の別の典型的な実施例に従えば、好適なシステム上で、上述の実施例のうちの一つに従った方法のステップを実行するように適合されていることで特徴付けられるコンピュータープログラムが提供される。コンピュータープログラムは、従って、コンピューターユニットに保管されるもので、本発明の実施例の一部でもあり得る。このコンピューターユニットは、上述の方法に係るステップを実行するように適合されている。さらに、上述の装置に係るコンポーネントを動作するように適合されている。コンピューターユニットは、自動的に動作し、及び/又はユーザーの命令を実行するように適合され得る。コンピュータープログラムは、データプロセッサのワーキングメモリーの中にロードされる。データプロセッサは、従って、本発明に係る方法を実行するように備えられている。本発明に係るこの典型的な実施例は、最初から本発明を使用するコンピュータープログラムと、更新手段として既存のプログラムを、本発明を使用するプログラムへと変換するコンピュータープログラム、の両方をカバーする。さらには、コンピュータープログラムは、上述した方法の典型的な実施例に係る工程を満足するために必要な全てのステップを提供することができる。コンピュータープログラムは、好適な媒体に保管し、及び/又は、配布することができる。ハードウェアと一緒に、または、その一部として提供される、磁気的もしくは光学的ストレージ媒体、または半導体媒体といったものである。しかし、インターネット、または他の有線もしくは無線の電子通信システムを介するといった、他の形態においても配布することができる。しかしながら、コンピュータープログラムは、ワールドワイドウェブWorldWideWebのようなネットワーク上でも提供され、そうしたネットワークからデータプロセッサのワーキングメモリーの中にダウンロードすることもできる。本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、コンピュータープログラムをダウンロードできるようにする媒体が提供される。コンピュータープログラムは、以前に説明した本発明の実施例の一つに従った方法を実行するように構成されている。本発明のさらなる典型的な実施例に従えば、CD-ROMといった、コンピューターで読取り可能な媒体が提供される。コンピューターで読取り可能な媒体には、コンピュータープログラムが保管されている。コンピュータープログラムは、前出の説明されたものである。本発明の典型的な実施例は、異なる技術的事項に関して記述されていることに留意すべきである。特に、いくつかの典型的な実施例は、装置タイプのクレームに関して記述されているが、一方、他の典型的な実施例は、方法タイプのクレームに関して記述されている。しかしながら、当業者であれば、上述の、そして後続の記載から以下のことがわかるだろう。つまり、一つのタイプの技術的事項に属する特徴のあらゆる組み合わせに加えて、そうではないとの記載がなければ、異なる技術的事項に関する特徴のあらゆる組み合わせについて、特に装置タイプのクレームの特徴と方法タイプのクレームの特徴との組み合わせが、このアプリケーションにおいて開示されているものと考えられる。本発明は、図および前出の記載において詳細に説明され、記述されてきたが、こうした説明および記述は、説明目的のもの、または典型例であって、本発明を限定するものではないと考えられるべきである。本発明は、記載された実施例に限定されるものではない。図面、開示、そして従属請求項を研究することで、当業者によって、クレームされている本発明の実施における、開示された実施例に対する他の変形が理解され、もたらされるだろう。請求項において、用語含むcomprisingは、他のエレメントまたはステップを除外するものではなく、不定冠詞一つのaまたはanは、複数を除外するものではない。単一のプロセッサまたは他のユニットは、請求項において数回に渡り列挙される機能を満足することができる。特定の手段が、お互いに異なる独立請求項において説明されているという事実だけでは、これらの手段の組み合わせが有利なように使用できないということを意味するものではない。いかなる参照記号も、本発明の範囲を限定するものと理解されるべきではない。