"複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の変調度を測定する光情報媒体測定方法であって、測定光学系により前記光情報媒体の各層の変調度を測定する第1のステップと、前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第2のステップと、前記光情報媒体の各層の反射率を求める第3のステップと、前記第1のステップで測定した各層の変調度を、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算する第4のステップと、を含むことを特徴とする光情報媒体測定方法。近年、光ディスクの記録容量を更に増加させるために、記録層が2層より多い、3層や4層の光ディスクの実用化が検討されている。記録層を3層や4層有する光ディスクでは、各層間の厚さを2層ディスクの場合に比べて、狭くする必要が生じる。ところが、各層間の厚さが狭くなると、受光部に入る迷光の光量は2層ディスクの場合に比べて増加してしまうため、変調度mの値や反射率差の値は、受光部の面積や検出系の倍率等の光学系に大きく依存してしまう。したがって、従来のように様々な測定光学系で変調度mの値、又は反射率差の値を規定すると、装置間の互換性を確保できない場合がある。対策として、変調度mや反射率差を測定する光学系の条件を規定し、一定の条件下で変調度mや反射率差を測定することが考えられるが、現在全世界に既に存在する測定機の光学系をすべて置き換えることになり、現実的ではない。本発明の目的は、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に変調度や反射率差の比較を可能とする光情報媒体測定方法を提供することである。本発明の一局面に係る光情報媒体測定方法は、複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の変調度を測定する光情報媒体測定方法であって、測定光学系により前記光情報媒体の各層の変調度を測定する第1のステップと、前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第2のステップと、前記光情報媒体の各層の反射率を求める第3のステップと、前記第1のステップで測定した各層の変調度を、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算する第4のステップとを含んでいる。これにより、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に変調度の比較が可能となる。本発明によれば、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に変調度の比較が可能となる。以下に、本発明の実施の例を、図面を参照して説明する。実施の形態1本発明の実施の形態1として、任意の測定光学系光情報媒体評価装置にて測定した多層光ディスク光情報媒体の各層の変調度を、基準光学系での各層の変調度に換算する方法を図6に示す。変調度の換算はS201、S202、S203、S204の4つのステップからなる。以下、各ステップについて説明する。ここでは、3層構造の光ディスクを例示して説明する。S201:各層の変調度を測定するステップこのS201では、測定光学系により光ディスクの各層の変調度を測定する。すなわち、光ディスクの各層第1層~第3層に記録されている情報を再生して得られる再生信号に基づいて、測定光学系により各層の変調度を測定する。ここで、測定光学系における再生信号の例を図4に示す。変調度は、再生信号のAC成分の振幅Ippと信号最大値Itopとの比Ipp/Itopとして求められる。なお、測定対象の層を再生して得られる再生信号の中には、その他の層で反射された迷光の成分が含まれている。よって、測定光学系による各層の変調度の測定値には、当該測定光学系で発生する固有の他層迷光が含まれたものとなっている。このように他層迷光の影響を受けた変調度の測定値のことを、以下、見かけの変調度と称する。測定光学系で測定された、第1層の見かけの変調度をmd1、第2層の見かけの変調度をmd2、第3層の見かけの変調度をmd3とする。S202:各層間の厚さを求めるステップこのS202では、光ディスクの各層間の厚さを求める。光ディスクの各層間の厚さは、測定対象の光ディスクを用いて測定機で実際に測定しても良い。また、層間厚さの値として、設計値光ディスク作製時のねらい値、光ディスク量産時のばらつきの平均値光情報媒体を複数作製した場合の平均値を用いても良い。或いは、層間厚さの値として、光ディスク規格等で規定された標準値を用いても良い。S203:各層の反射率を求めるステップこのS203では、光ディスクの各層の反射率を求める。ここで、本ステップS203を説明するために、図1Aに、測定光学系の概略構成を示している。測定光学系は、光源101、対物レンズ102、検出レンズ104および光検出器105等を具備する。同図を参照しながら、他層からの迷光がある場合における、測定光学系の受光部と他層迷光との関係を以下に説明する。光源101から出射された光ビームは対物レンズ102で集光され、光情報媒体としての光ディスク103上の特定の情報層測定対象の層に焦点が合わせられる。光ディスク103で反射した光は、再び対物レンズ102を通り、検出レンズ104により集光されて、光検出器105に入射し、光量に応じた電気信号に変換される。図1Bに示すように、光検出器105は受光部105aを有する。また、測定光学系における検出系の倍率Mは、通常、検出レンズ104と対物レンズ102の焦点距離の比で与えられる。なお、図1Aおよび図1Bにおいて、測定対象の層とは異なる他の層で反射した迷光を、便宜上、破線で示している。受光部105a上における他層迷光の広がりの面積と受光部の面積との面積比は、測定光学系の検出倍率M、受光部の面積Spd、測定対象の層から他層までの層間d、情報層同士の間に形成された中間層の屈折率n、測定光学系のNAにより決まる。他層で反射した迷光の、焦点を合わせている自層上での半径Rdiscは、近似的には、下式1-1で表される。Rdisc≒NA2d/n1-1より正確には、θをsinθ=NA/nを満たすθ0<θ<π/2として、Rdiscは、Rdisc=2dtanθ1-2と表される。この迷光は、受光部105a上では検出系の倍率Mがかかる。よって、受光部105a上における迷光の半径Rpdは、Rpd=MRdisc1-3と表される。したがって、受光部105a上における迷光の広がりの面積Sstは、Sst=πRpd21-4と表される。迷光の広がりの面積Sstと受光部の面積Spdとの比が、迷光のもれこみ率Spd/Sstとなる。迷光のもれこみ率Spd/Sstは、上式1-1を用いて、Spd/Sst≒Spd/{πMNA2d/n2}1-5もしくは、上式1-2式を用いて、Spd/Sst=Spd/{πM2dtanθ2}1-6と表される。ここで、dおよびnは光ディスク103に依存するパラメータであり、NAは測定光学系の集光系に関連するパラメータである。残りのSpd/M2は測定光学系の検出系により決まるパラメータとなる。このSpd/M2は、受光部105aの面積Spdを検出系の倍率Mの2乗で除するものであり、受光部サイズをディスク上の尺度に換算することを意味し、これを規格化受光部サイズと呼ぶ。次に、多層ディスクの各層の反射率の求め方を示す。反射率とは、光ディスク光情報媒体のある特定層に対物レンズからの光ビームの焦点を合わせたときに、光情報媒体に入射する光量に対する、特定層のみで反射して光情報媒体を出てくる光量の比である。ここでは、図2を用いて、3層を例として説明する。光ディスクにおいて、第1層の反射率をR1、第2層の反射率をR2、第3層の反射率をR3とする。第1層と第2層との層間をd12、第1層と第3層の層間をd13、第2層と第3層の層間をd23とし、中間層の屈折率をnとし、測定光学系の開口数をNAとし、sinθ=NA/nとする。更に、測定光学系における検出系の規格化受光部サイズをSdとする。測定光学系により光ディスクの第i層を再生した際に測定できる再生信号迷光を含むの光量を入射光量で規格化した量である見かけの反射率をSiとする。第1層の見かけの反射率S1は、自層の反射率R1と、第2層からの迷光の反射率換算値および第3層からの迷光の反射率換算値との和として表される。第2層からの迷光の光量St2は、入射光の光量をIとすると、式1-6を利用して、St2=I×R2×Spd/{πM2d12tanθ2}1-7となる。測定光学系における検出系の規格化受光部サイズSpd/M2はSdと書けることを利用すると、上式1-7は、St2=I×R2×Sd/{π2d12tanθ2}1-8となる。第2層からの迷光の反射率換算値としてはSt2/Iを求めれば良いので、St2/I=Sd×R2/{π2d12tanθ2}1-9と表される。第3層からの迷光の反射率換算値としては、同様に、St3/Iを求めれば良いので、St3/I=Sd×R3/{π2d13tanθ2}1-10となる。式1-9と式1-10より、第1層の見かけの反射率S1は、S1=R1Sd[R2/{π2d12tanθ2}R3/{π2d13tanθ2}]1-11となる。同様に、第2層の見かけの反射率S2、第3層の見かけの反射率S3は、S2=R2Sd[R1/{π2d12tanθ2}R3/{π2d23tanθ2}]1-12S3=R3Sd[R1/{π2d13tanθ2}R2/{π2d23tanθ2}]1-13と表される。一般的には、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクを考えると、第i層の見かけの反射率Siは、Si=RiSd[ΣRj/{π2dijtanθ2}]1-14Σはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算1≦i≦N,iは整数1≦j≦N,i≠j,jは整数と表される。ここで、S1~S3は測定光学系において実際に測定される量である。また、NA、Sdは測定光学系で決まる既知の量である。また、d12、d13、d23、およびnは光ディスクのパラメータとして、別に求めることができる量である。したがって、未知の量はR1~R3のみであり、この3つの方程式式1-11~1-13を、R1~R3について解くことで、迷光の影響を含まない各層の反射率R1~R3を求めることができる。方程式が3個で未知数が3個であるのでこの方程式は解くことができる。光ディスクの各層間の厚さには、前述のS202:各層間の厚さを求めるステップにて求めた値を用いる。S202としては、図13のS202a、図14のS202b、図15のS202c等を選択できる。図13のS202aは、光ディスクの各層間の厚さを実際に測定することにより、各層間の厚さを求めるステップである。また、図14のS202bは、光ディスクの各層間の厚さとして設計値ディスク作成時のねらい値または規格等で規定された標準値を用いることにより、各層間の厚さを求めるステップである。また、図15のS202cは、光ディスクの各層間の厚さとして量産時のばらつきの平均値を用いることにより、各層間の厚さを求めるステップである。光ディスクの各層間d12等の値として実際に測定した測定値を用いればS202a、各層の反射率R1~R3について厳密な値を求めることができる。また、層間の値として設計値ディスク作成時のねらい値を用いるS202b又は量産時のばらつきの平均値を用いればS202c、各層の反射率R1~R3について誤差を含んだ値となるが、ディスクの層間の測定の手間が省けるので、簡単に値を得ることができる。また、この層間の値として、規格等で規定された標準値を用いても良いS202b。更に、具体的な数値の例を示す。NA=0.85、屈折率n=1.60、d12=25μm、d23=15μmの例を考える図9。検出器のサイズを120μm×120μmの正方形とし、検出系の倍率Mを20倍と仮定すると、測定光学系の規格化受光部サイズSdは36μm2となる。このとき、sinθ=NA/n=0.531、θ=32.09度、tanθ=0.627となる。したがって、式1-11~1-13の3つの方程式は、S1=R10.01166R20.00455R3S2=0.01166R1R20.03238R3S3=0.00455R10.03238R2R31-15となる。これを、Riについて解くと、R1=1.00015S1-0.01152S2-0.00418S3R2=-0.01152S11.00118S2-0.03237S3R3=-0.00418S1-0.03237S21.00107S31-16となる。この式1-16を使えば、測定光学系で測定した第i層の見かけの反射率Siから、第i層の実際の反射率Riを求めることができる。層間厚として規格の標準値を用いる場合、規格化受光部サイズが同じであれば、上で求めた式1-16の係数は変わらない。したがって、同じ測定系を使う限り、同じ変換式で、測定値見かけの反射率Siから反射率Riを計算することができる。また、ここでは3層の例を示したが、これが3層以上の何層であろうと図3に4層の場合を図示、方程式の数と未知数の数は同じであり、当該方程式を解くことができるので各層の反射率を求めることができる。すなわち、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクを考えると、第i層1≦i≦N,iは整数の見かけの反射率Siは、式1-14として一般化でき、反射率Riを未知数とするN個の連立方程式をたてることができる。よって、S203:各層の反射率を求めるステップは、図13~図16に示すように、光ディスクにおける各層の反射信号を測定光学系で測定するステップS203aと、各層の反射率Riについて連立方程式1-14を立てるステップS203bと、当該連立方程式1-14を解いて各層の反射率Riを求めるステップS203cとして実現することができる。更に、S203:各層の反射率を求めるステップについての別の方法として、上記の連立方程式について、隣接層のみの影響として近似式を立てても良い。例えば3層の場合、第1層再生時における第3層からの影響は、第2層に比べて層間距離が長くなるため無視できると考える。迷光の影響は距離の2乗で小さくなるので、第3層からの影響は第2層からの影響に比べて通常1/4程度は小さくなると考えられる。このため隣接層の影響だけを考えても、反射率を近似的に求めることができる。その場合、次のような3つの連立方程式が立てられる。S1=R1SdR2/{π2d12tanθ2}1-17S2=R2Sd[R1/{π2d12tanθ2}R3/{π2d23tanθ2}]1-18S3=R3SdR2/{π2d23tanθ2}1-19一般的には、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクを考えると、第i層の隣接層を第j層および第k層としたとき、第i層の見かけの反射率Siは、Si=RiSd[Rj/{π2dijtanθ2}Rk/{π2diktanθ2}]1-201≦i≦N,iは整数j=i-1,k=i1但し、i=1のとき、Rj/{π2dijtanθ2}=0i=Nのとき、Rk/{π2diktanθ2}=0と表される。N層の場合では上記連立方程式1-20における項の数をN2から3N-2に減らすことができるので、3層の場合は顕著ではないが、4層やそれ以上の更に多層になった場合には、計算量を大幅に削減でき、簡単に各層の反射率Riを求めることができる。この場合も、先ほどの具体例と同様に、NA=0.85、屈折率n=1.60、d12=25μm、d23=15μm、検出器のサイズを120μm×120μmの正方形とし、検出系の倍率Mを20倍と仮定する。このとき、規格化受光部サイズは36μm2となり、sinθ=NA/n=0.531、θ=32.09度、tanθ=0.627となる。よって、この場合の式1-17~1-19の3つの方程式は、S1=R10.01166R2S2=0.01166R1R20.03238R3S3=0.03238R2R31-21となる。これをRiについて解くと、R1=1.00014S1-0.01167S2-0.00378S3R2=-0.01167S11.00118S2-0.03242S3R3=-0.00378S1-0.03242S21.00105S31-22となる。このように、S203:各層の反射率を求めるステップは、図17に示すように、光ディスクにおける各層の反射信号を測定光学系で測定するステップS203aと、各層の反射率Riについて連立方程式当該連立方程式は1-14または1-20の何れであってもよいを立てるステップS203dと、当該連立方程式を解いて各層の反射率Riを求めるステップS203eとして実現することができる。S204:基準光学系の変調度に換算するステップこのS204では、測定光学系で測定された見かけの変調度を、基準光学系の変調度に換算する。ここでは、3層の場合を例に挙げて、当該変調度の換算について説明する。前述の201:各層の変調度を測定するステップにて、ある測定光学系で測定された第1層の見かけの変調度をmd1、第2層の見かけの変調度をmd2、第3層の見かけの変調度をmd3とする。図4に、測定光学系で測定された第1層の再生信号の例を示す。前述のように、測定光学系で測定された第i層の見かけの変調度mdiは、当該測定光学系での固有の他層迷光が含まれた測定値となっている。中間層の屈折率をn、測定光学系の開口数をNAとする。更に測定光学系における検出系の規格化受光部サイズをSdとする。それぞれの他層迷光の自層光に対する比は、上に求めた迷光の面積比式1-6とそれぞれの層の反射率比との積により求めることができる。したがって、第1層での、他層迷光量SS1は自層からの光量による信号を1として、SS1=Sd[R2/{π2d12tanθ2}R3/{π2d23tanθ2}]/R11-23と表される。第2層における他層迷光量SS2、第3層における他層迷光量SS3も同様に、SS2=Sd[R1/{π2d12tanθ2}R3/{π2d23tanθ2}]/R21-24SS3=Sd[R1/{π2d13tanθ2}R2/{π2d23tanθ2}]/R31-25と表される。一般的には、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクを考えると、測定光学系における第i層での他層迷光量SSiは、SSi=Sd[ΣRj/{π2dijtanθ2}]/Ri1-26Σはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算1≦i≦N,iは整数1≦j≦N,i≠j,jは整数と表される。また、基準光学系の変調度他層迷光の影響を含む見かけの変調度を考えた場合にも、やはり他層迷光を考慮する必要がある。そこで、基準光学系における受光部の面積をSnpdとし、前記基準光学系における検出系の倍率をMnとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをSdnSdn=Snpd/Mn2とすると、基準光学系における第1層での他層迷光量SSn1は、自層からの信号を1として、SSn1=Sdn[R2/{π2d12tanθ2}R3/{π2d13tanθ2}]/R11-27と表される。基準光学系における第2層での他層迷光量SSn2、基準光学系における第3層での他層迷光量SSn3も同様に、SSn2=Sdn[R1/{π2d12tanθ2}R3/{π2d23tanθ2}]/R21-28SSn3=Sdn[R1/{π2d13tanθ2}R2/{π2d23tanθ2}]/R31-29と表される。一般的には、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクを考えると、基準光学系における第i層での他層迷光量SSniは、SSni=Sdn[ΣRj/{π2dijtanθ2}]/Ri1-30Σはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算1≦i≦N,iは整数1≦j≦N,i≠j,jは整数と表される。図5に、このときの基準光学系として得られる第1層の再生信号の例を示す。これらの式を用いて測定光学系で測定された見かけの変調度md1~md3を基準光学系での変調度mn1~mn3に換算するためには、例えば測定光学系での第1層の変調度md1を図4のIpp/Itopとし、基準光学系での第1層の変調度mn1を図5のIpp/Itop’とすると、mn1=Ipp/Itop’=Ipp/ItopItop/Itop’=md1Itop/Itop’1-31となる。Itopは式1-23のSS1を使って、Itop∝1SS11-32と表され、Itop’は式1-27のSSn1を使って、Itop’∝1SSn11-33と表されることから、式1-31は、mn1=md11SS1/1SSn11-34と変形できる。同様に、基準光学系での第2層の変調度mn2および第3層の変調度mn3についても、mn2=md21SS2/1SSn21-35mn3=md31SS3/1SSn31-36となる。一般的には、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクを考えると、基準光学系における第i層1≦i≦N,iは整数の変調度mniは、mni=mdi1SSi/1SSni1-37と表される。以上のように、S204:基準光学系の変調度に換算するステップは、図13~図16に示すように、測定光学系における第i層での他層迷光量SSiを式1-26にて計算すると共に、基準光学系における第i層での他層迷光量SSniを式1-30にて計算するステップS204aと、基準光学系の変調度を式1-37にて変換するステップS204bとして実現することができる。更に、S204を実現する別の方法として、測定光学系における第i層での他層迷光量SSiおよび基準光学系における第i層での他層迷光量SSniについて、隣接層のみを考慮した近似式を立てても良い。すなわち、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクを考えると、第i層1≦i≦N,iは整数の隣接層を第j層j=i-1および第k層k=i1としたとき、測定光学系における第i層での他層迷光量SSiは、SSi=Sd[Rj/{π2dijtanθ2}Rk/{π2diktanθ2}]/Ri1-26-2但し、i=1のとき、Rj/{π2dijtanθ2}=0i=Nのとき、Rk/{π2diktanθ2}=0と表すことができる。また、基準光学系における第i層での他層迷光量SSniは、SSni=Sdn[Rj/{π2dijtanθ2}Rk/{π2diktanθ2}]/Ri1-30-2但し、i=1のとき、Rj/{π2dijtanθ2}=0i=Nのとき、Rk/{π2diktanθ2}=0と表すことができる。そして、上記の式1-26-2および式1-30-2を用いてSSiおよびSSniを計算し、基準光学系の変調度を式1-37にて変換することができる。この場合には、計算量を大幅に削減でき、簡単に基準光学系の変調度を求めることができる。このように、S204:基準光学系の変調度に換算するステップは、図17に示すように、測定光学系における迷光量SSiおよび基準光学系における迷光量SSniを計算する用いる計算式は1-26、1-30または1-26-2、1-30-2の何れであってもよいステップS204cと、基準光学系の変調度を式1-37にて変換するステップS204bとして実現することができる。なお、変調度の換算に各層の反射率R1~R3等を使用しているが、迷光を含む測定値S1~S3を使用して近似することもできる。これは、変調度の換算には各層の反射率の比のみがあらわれるため、迷光の影響は限定的であるからである。この場合、隣接層との層間厚の狭い層の反射率を大きめに見積もることになる。以上が、本発明の実施の形態1である、測定光学系にて測定した各層の変調度を、基準光学系での各層の変調度に換算する方法である。このように、異なった如何なる測定光学系で変調度を測定した場合でも、本実施の形態で述べたような方法により、基準光学系で変調度を測定したときと同じ統一的な変調度を得ることができる。これにより各光ディスク光情報媒体の特性を決まった光学系で測定したのと同じ結果が得られるので、光ディスクの特性値の測定装置間ばらつきを減らすことができ、光ディスクドライブ間の互換性が向上する。実施の形態2本発明の実施の形態2として、測定光学系にて測定した多層ディスクの層間の反射率差を、基準光学系での反射率差に換算する方法を図7に示す。ここで、反射率差は再生信号の最大レベルItopの層間の違いから計算され、第1層の再生信号の最大レベルをItop1、第2層の再生信号の最大レベルをItop2として、α=Itop1-Itop2/Itop1Itop22-1で求めることができる。しかしながら、実施の形態1と同様に、Itopには他層からの迷光の成分が含まれるため、測定する光学系が異なると、αの値も異なる。このため、測定光学系の値を基準光学系の値に換算する必要がある。反射率差の換算はS301、S202、S203、S302の4つのステップからなる。以下、各ステップについて説明する。S301:各層の再生信号と入射光量の比を測定するステップこのS301では、光ディスクの各層の再生信号と入射光量との比を測定する。ここでは、実施の形態1と同様に、3層ディスクの例で説明する。測定光学系において、第i層を再生した際に測定できる信号光量と入射光量との比である見かけの反射率をSiとすると、実施の形態1と同様の考え方で、S1=R1Sd[R2/{π2d12tanθ2}R3/{π2d13tanθ2}]2-2S2=R2Sd[R1/{π2d12tanθ2}R3/{π2d23tanθ2}]2-3S3=R3Sd[R1/{π2d13tanθ2}R2/{π2d23tanθ2}]2-4となる。各層の信号光量と入射光量の比S1からS3は、測定光学系にて測定することができる。S202:各層間の厚さを求めるステップ実施の形態1と同様に、光ディスクの各層間の厚さは実際に測定しても良い図18のS202a。また、層間厚さの値として設計値光ディスク作製時のねらい値、量産時のばらつきの平均値光情報媒体を複数作成した場合の平均値を用いても良い。また層間厚さの値として、規格等で規定された標準値を用いても良い。S203:各層の反射率を求めるステップ前述の3つの方程式式2-2から2-4を、R1~R3について解くことで各層の反射率R1~R3を求めることができる。なお、S1~S3は前述のS301:各層の再生信号と入射光量の比を測定するステップにて求めた値を用いる。NA、Sdは測定光学系で決まる既知の量である。nは光ディスクのパラメータとして、別に求めることができる。θはsinθ=NA/nを満たす。ディスクの各層間d12等は、前述のS202:各層間の厚さを求めるステップにて求めた値を用いる。また、S203は、図18に示すように、各層の反射率Riについて連立方程式1-20を立てるステップS203fと、当該連立方程式を解いて各層の反射率Riを求めるステップS203gとして実現することができる。さらに、S203は、図19に示すように、前述のS203dおよびS203eとしてもよい。S302:基準光学系の反射率差を計算するステップ前述の203:各層の反射率を求めるステップにて求めた反射率R1~R3を用いて、基準光学系で第i層を再生した際に測定できる信号光量と入射光量との比である見かけの反射率Sniを、下式2-5~2-7にて計算する。Sn1=R1Sdn[R2/{π2d12tanθ2}R3/{π2d13tanθ2}]2-5Sn2=R2Sdn[R1/{π2d12tanθ2}R3/{π2d23tanθ2}]2-6Sn3=R3Sdn[R1/{π2d13tanθ2}R2/{π2d23tanθ2}]2-7より、一般的には、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクを考えると、Sni=RiSdn[ΣRj/{π2dijtanθ2}]2-8Σはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算1≦i≦N,iは整数1≦j≦N,i≠j,jは整数と表される。この基準光学系における見かけの反射率Sniを使い、例えば第1層と第2層の反射率差は、式2-1と同様に、αn12=Sn1-Sn2/Sn1Sn22-9と与えられる。より一般的には、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクについて、第i層と第j層の反射率差αnijは、αnij=Sni-Snj/SniSnj2-101≦i≦N,iは整数1≦j≦N,i≠j,jは整数として、基準光学系での任意の層間の反射率差を得ることができる。以上のように、S302:基準光学系の反射率差を計算するステップは、図18に示すように、基準光学系の見かけの反射率Sniを式2-8にて計算するステップS302aと、基準光学系の反射率差αnijを式2-10にて計算するステップS302bとして実現することができる。ここでは、各層の反射率Riを求めるのにすべての層からの迷光を考慮したが、実施の形態1と同様に、隣接層のみを考慮しても良い。その場合、誤差は増えるが、演算すべき項の数が減り、より簡単に値を求めることができる。また、基準光学系で第i層を再生した際に測定できる信号光量と入射光量との比Sniを求めるのにすべての層からの迷光を考慮したが、この際にも隣接層のみを考慮しても良い。即ち、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクの一般式は、第i層1≦i≦N,iは整数の隣接層を第j層j=i-1および第k層k=i1としたとき、Sni=RiSdn[Rj/{π2dijtanθ2}Rk/{π2diktanθ2}]2-11但し、i=1のとき、Rj/{π2dijtanθ2}=0i=Nのとき、Rk/{π2diktanθ2}=0と表される。この場合も誤差は増えるが、演算すべき項の数を減らすことができ、より簡単に値を求めることができる。また、更に別の近似として、測定光学系により光ディスクの第i層を再生した際に測定できる再生信号迷光を含むの光量を入射光量で規格化した量である見かけの反射率Siを、反射率Riの代わりに用いる例を示す。この場合、基準光学系でのSniは、一般式で、Sni=SiSdn[ΣSj/{π2dijtanθ2}]2-12Σはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算と表される。この場合、測定値である反射率Siを各層の反射率としてセットするため図20のS203h、反射率Riについて方程式を解く必要が無くなり、計算は非常に簡単に行うことができる。また、反射率Riの代わりに上記Siを用いる場合に、隣接層のみを考慮してSniを計算しても良い。この場合、N層2≦N,Nは整数の多層ディスクの一般式は、第i層1≦i≦N,iは整数の隣接層を第j層j=i-1および第k層k=i1としたとき、Sni=SiSdn[Sj/{π2dijtanθ2}Sk/{π2diktanθ2}]2-13但し、i=1のとき、Rj/{π2dijtanθ2}=0i=Nのとき、Rk/{π2diktanθ2}=0と表せる。この場合、更に演算すべき項の数を減らすことができる。以上のように、S302:基準光学系の反射率差を計算するステップは、図19~図21に示すように、基準光学系の見かけの反射率Sniを上記のような何れかの計算式にて計算するステップS302cと、当該Sniを用いて基準光学系の反射率差αnijを計算するステップS302dとして実現することができる。以上が、本発明の実施の形態2である、測定光学系にて測定した各層間の反射率差を、基準光学系での各層間の反射率差に換算する方法である。このように、異なる光学系で反射率差を測定した場合でも、本実施の形態で述べたような方法により、基準光学系で反射率差を測定したときと同じ値を得ることができる。これにより各光ディスク光情報媒体の特性を決まった光学系で測定したのと同じ結果が得られるので、光ディスクの特性値の測定装置間ばらつきを減らすことができ、光ディスクドライブ間の互換性が向上する。実施の形態3本発明の実施の形態3として、前述の実施の形態1、実施の形態2におけるS203:各層の反射率を求めるステップの別の方法を示す。迷光を含む各層の反射率の測定値をS1~S3とする。本実施の形態では、各層の反射率比が1のときに各層の測定値に含まれる迷光含有量を計算して換算係数を求め、実際に測定した反射率を、この換算係数で除した値を各層の反射率として近似する。この場合、実際の迷光含有量は反射率比により影響を受ける点を無視しているが、標準的な迷光量を近似してその影響を除くことができる。ここでは、3層ディスクを例として説明する。第1層の反射率をR1、第2層の反射率をR2、第3層の反射率をR3とする。第1層と第2層の層間をd12、第1層と第3層の層間をd13、第2層と第3層の層間をd23とし、中間層の屈折率をn、光学系の開口数をNAとし、sinθ=NA/nとする。更に測定光学系における検出系の規格化受光部サイズをSdとする。第i層を再生した際に測定できる信号を入射光量で規格化した量をSiとし、各層の反射率が同じ、すなわち、R1=R2=R3=R3-1とすると、各層の換算係数aiは、下式3-2~3-4で表される。a1=S1/R=1Sd[1/{π2d12tanθ2}1/{π2d13tanθ2}]3-2a2=S2/R=1Sd[1/{π2d12tanθ2}1/{π2d23tanθ2}]3-3a3=S3/R=1Sd[1/{π2d13tanθ2}1/{π2d23tanθ2}]3-4一般的にはN層2≦N,Nは整数の多層ディスクを考えると、第i層の換算係数aiは、ai=Si/R=1Sd[Σ1/{π2dijtanθ2}]3-5Σはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算1≦i≦N,iは整数1≦j≦N,i≠j,jは整数と表される。この換算係数aiを用いて、各層の反射率Riを、Ri=Si/ai3-6として求める。以上のように、S203:各層の反射率を求めるステップは、図21に示すように、光ディスクの各層の換算係数aiを式3-5により求めるステップS203iと、各層の反射率Riを式3-6により求めるステップS203jとして実現することができる。具体例として、NA=0.85、屈折率n=1.60、3層ディスクを想定し、その第1層と第2層の間隔d12=25μm、第2層と第3層の間隔d23=15μmとする。検出器の受光部のサイズを120μm×120μmの正方形とし、検出系の倍率Mを20倍と仮定する。この場合、測定光学系の規格化受光部サイズSdは36μm2となり、sinθ=NA/n=0.531、θ=32.09度、tanθ=0.627となる。よって、各層の換算係数αiは、a1=S1/R=1.0162a2=S2/R=1.0440a3=S3/R=1.03693-7となる。この数値を使い、R1=S1/1.0162R2=S2/1.044R3=S3/1.03693-8としてRiを求めることができる。この後、変調度を求める方法や、反射率差を求める方法は、実施の形態1、2で示した方法と共通である。本実施の形態の方法によれば、迷光の影響を受けない反射率をより簡単に計算することができる。このように、異なる光学系で反射率を測定した場合でも、本実施の形態で述べたような方法により、迷光の影響を受けない媒体の反射率を計算することができる。これにより各光ディスク光情報媒体の特性を決まった光学系で測定したのと同じ結果が得られるので、光ディスクの特性値の測定装置間ばらつきを減らすことができ、光ディスクドライブ間の互換性が向上する。ここで、上記実施の形態1ないし3に記載の光情報媒体測定方法により測定される光情報媒体について、以下に説明する。図10は、情報層を4層備えた多層ディスク1001光情報媒体の概略構成図である。この多層ディスク1001は、ディスク基板1002と、当該ディスク基板1002上に形成された情報層1003とを備える。情報層1003は、再生用または記録用の光ビームが照射される側から遠い順につまり基板1002側から順に形成された、記録層L0、記録層L1、記録層L2および記録層L3を含む。次に、多層ディスク1001の製造方法について、以下に簡単に説明する。まず、表面にアドレス信号やコントロールデータに応じた、情報信号を記録するためのトラックが設けられたディスク基板1002を形成する。次に、ディスク基板1002上に情報層1003を形成する。すなわち、ディスク基板1002上に、記録層L0、記録層L1、記録層L2および記録層L3をこの順に形成する。なお、記録層同士の間には、中間層などを含んでも良い。また、情報層1003を形成した後、その上にカバー層を形成してもよい。なお、上記では4層構造の情報層を備えた多層ディスク1001について説明したが、これに限定されるものではなく、複数の情報層を有する光情報媒体であればよい。次に、図11に、上記の光情報媒体に情報を記録する情報記録装置1101記録装置の概略構成を示す。情報記録装置1101は、記録信号処理回路1102、光ヘッド1103および対物レンズ1104などを備える。記録信号処理回路1102は、記録データに応じた記録信号を生成する。光ヘッド1103は、記録信号に応じて、多層ディスク1001の記録面に光ビームを照射して情報を書き込む。光ビームは、対物レンズ1104により、多層ディスク1001における情報層1003の特定の記録層に集光される。次に、図12に、上記の光情報媒体から情報を再生する情報再生装置1201再生装置の概略構成を示す。情報再生装置1201は、再生信号処理回路1202、光ヘッド1103、対物レンズ1104を備える。光ヘッド1103は、多層ディスク1001の記録面に光ビームを照射して、ディスク1001の記録面からの反射光を検出して情報を読み込む。光ビームは、対物レンズ1104により、多層ディスク1001における情報層1003の特定の記録層に集光される。再生信号処理回路1202は、多層ディスク1001の記録面からの反射光を電気的に検出した再生信号を受け取り、多層ディスク1001に記録された信号成分を分離して復調し、必要な情報を再生する。本発明の一局面に係る光情報媒体測定方法は、複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の変調度を測定する光情報媒体測定方法であって、測定光学系により前記光情報媒体の各層の変調度を測定する第1のステップと、前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第2のステップと、前記光情報媒体の各層の反射率を求める第3のステップと、前記第1のステップで測定した各層の変調度を、前記第2のステップで求めた各層間の厚さと、前記第3のステップで求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算する第4のステップと、を含んでいる。これにより、基準光学系とは異なる如何なる測定光学系を用いて光情報媒体の変調度を測定しても、統一的な基準光学系での変調度に変換できる。このため、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に変調度の比較ができる。そして、基準光学系での変調度に変換された測定値で光情報媒体を評価することにより、光情報媒体の装置間の互換性を確保することができるという効果を奏する。前記光情報媒体はN層2≦N,Nは整数の多層ディスクであり、前記第1のステップで測定された第i層1≦i≦N,iは整数の変調度をmdiとし、前記測定光学系での第i層の他層迷光量をSSiとし、前記基準光学系での第i層の他層迷光量をSSniとしたとき、前記第4のステップは、前記基準光学系での第i層の変調度mniを、mni=mdi1SSi/1SSniとして換算することが好ましい。これにより、測定光学系における他層迷光量SSiと基準光学系における他層迷光量SSniとに基づいて、容易かつ正確に基準光学系における変調度mniに換算することができる。前記測定光学系における受光部の面積をSpdとし、前記測定光学系における検出系の倍率をMとし、前記測定光学系における規格化受光部サイズをSdSd=Spd/M2とし、前記測定光学系における開口数をNAとし、前記第2のステップで得られる第i層と第j層1≦j≦N,i≠j,jは整数の層間の厚さをdijとし、当該層間の屈折率をnとし、前記第3のステップで得られる第i層の反射率をRiとし、θを、sinθ=NA/nの条件を満たす0からπ/2の間の値としたとき、前記測定光学系での第i層の他層迷光量SSiは、SSi=Sd[ΣRj/{π2dijtanθ2}]/RiΣはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算であることが好ましい。このように上記の計算式を適用することにより、測定光学系における他層迷光量SSiを、容易かつ正確に求めることができる。前記基準光学系における受光部の面積をSnpdとし、前記基準光学系における検出系の倍率をMnとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをSdnSdn=Snpd/Mn2とし、前記測定光学系における開口数をNAとし、前記第2のステップで得られる第i層と第j層1≦j≦N,i≠j,jは整数の層間の厚さをdijとし、当該層間の屈折率をnとし、前記第3のステップで得られる第i層の反射率をRiとし、θを、sinθ=NA/nの条件を満たす0からπ/2の間の値としたとき、前記基準光学系での第i層の他層迷光量SSniは、SSni=Sdn[ΣRj/{π2dijtanθ2}]/RiΣはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算であることが好ましい。このように上記の計算式を適用することにより、基準光学系における他層迷光量SSniを、容易かつ正確に求めることができる。前記測定光学系における受光部の面積をSpdとし、前記測定光学系における検出系の倍率をMとし、前記測定光学系における規格化受光部サイズをSdSd=Spd/M2とし、前記測定光学系における開口数をNAとし、第i層1≦i≦N,iは整数の隣接層を第j層j=i-1および第k層k=i1とし、前記第2のステップで得られる第i層と第j層との層間の厚さをdijとし、第i層と第k層との層間の厚さをdikとし、当該層間の屈折率をnとし、前記第3のステップで得られる第i層の反射率をRiとし、θを、sinθ=NA/nの条件を満たす0からπ/2の間の値としたとき、前記測定光学系での第i層の他層迷光量SSiは、SSi=Sd[Rj/{π2dijtanθ2}Rk/{π2diktanθ2}]/Ri但し、i=1のとき、Rj/{π2dijtanθ2}=0、i=Nのとき、Rk/{π2diktanθ2}=0であることが好ましい。このように、他層迷光の影響を隣接層のみに限定した上記の計算式を適用することにより、計算量を大幅に削減でき、測定光学系における他層迷光量SSiを、より簡単に求めることができる。前記基準光学系における受光部の面積をSnpdとし、前記基準光学系における検出系の倍率をMnとし、前記基準光学系における規格化受光部サイズをSdnSdn=Snpd/Mn2とし、前記測定光学系における開口数をNAとし、第i層1≦i≦N,iは整数の隣接層を第j層j=i-1および第k層k=i1とし、前記第2のステップで得られる第i層と第j層との層間の厚さをdijとし、第i層と第k層との層間の厚さをdikとし、当該層間の屈折率をnとし、前記第3のステップで得られる第i層の反射率をRiとし、θを、sinθ=NA/nの条件を満たす0からπ/2の間の値としたとき、前記基準光学系での第i層の他層迷光量SSniは、SSni=Sdn[Rj/{π2dijtanθ2}Rk/{π2diktanθ2}]/Ri但し、i=1のとき、Rj/{π2dijtanθ2}=0、i=Nのとき、Rk/{π2diktanθ2}=0であることが好ましい。このように、他層迷光の影響を隣接層のみに限定した上記の計算式を適用することにより、計算量を大幅に削減でき、基準光学系における他層迷光量SSniを、より簡単に求めることができる。前記第2のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、測定機で測定してもよい。このように、第2のステップで、実際に測定した層間の厚さを用いれば、第3のステップで各層の反射率について厳密な値を求めることができる。よって、より正確に基準光学系の変調度mniへ換算することができる。前記第2のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を作製する際の設計値とすることが好ましい。これにより、光情報媒体の層間を測定する手間が省け、層間の厚さの値を簡単に得ることができる。前記第2のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を複数作製した際の平均値とすることが好ましい。これにより、層間の厚さの値を簡単に得ることができる。前記光情報媒体はN層2≦N,Nは整数の多層ディスクであり、第i層1≦i≦N,iは整数の反射率をRiとし、前記第2のステップで得られる第i層と第j層1≦j≦N,i≠j,jは整数の層間の厚さをdijとし、当該層間の屈折率をnとし、前記測定光学系における開口数をNAとし、前記測定光学系で第i層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をSiとし、θを、sinθ=NA/nの条件を満たす0からπ/2の間の値としたとき、前記第3のステップでは、Si=RiSd[ΣRj/{π2dijtanθ2}]Σはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算となるN個の方程式を立て、前記SiについてのN個の方程式をRiについて解くことにより、反射率Riを求めることが好ましい。このように上記N個の連立方程式を適用することにより、反射率Riを、容易かつ正確に求めることができる。前記光情報媒体はN層2≦N,Nは整数の多層ディスクであり、第i層1≦i≦N,iは整数の反射率をRiとし、第i層1≦i≦N,iは整数の隣接層を第j層j=i-1および第k層k=i1とし、前記第2のステップで得られる第i層と第j層との層間の厚さをdijとし、第i層と第k層との層間の厚さをdikとし、当該層間の屈折率をnとし、前記測定光学系における開口数をNAとし、前記測定光学系で第i層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をSiとし、θを、sinθ=NA/nの条件を満たす0からπ/2の間の値としたとき、前記第3のステップでは、Si=RiSd[Rj/{π2dijtanθ2}Rk/{π2diktanθ2}]但し、i=1のとき、Rj/{π2dijtanθ2}=0、i=Nのとき、Rk/{π2diktanθ2}=0となるN個の式を立て、前記SiについてのN個の方程式をRiについて解くことにより反射率Riを求めることが好ましい。このように、他層迷光の影響を隣接層のみに限定した上記N個の連立方程式を適用することにより、計算量を大幅に削減でき、反射率Riを、より簡単に求めることができる。前記光情報媒体はN層2≦N,Nは整数の多層ディスクであり、第i層1≦i≦N,iは整数の反射率をRiとし、前記測定光学系で第i層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をSiとしたとき、前記第3のステップでは、Ri=Siと近似することが好ましい。このように、測定光学系にて測定して得られるSiをRiとして近似することにより、計算量を大幅に削減でき、反射率Riを、より簡単に求めることができる。本発明の他の局面に係る光情報媒体測定方法は、複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体の反射率差を測定する光情報媒体測定方法であって、測定光学系により前記光情報媒体の各層を再生した際に得られる信号光量と入射光量の比である見かけの反射率を求める第5のステップと、前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第2のステップと、前記光情報媒体の各層の反射率を求める第3のステップと、前記第5のステップで測定した見かけの反射率と、前記第2のステップで求めた各層間の厚さと、前記第3のステップで求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における反射率差を換算する第6のステップと、を含んでいる。これにより、基準光学系とは異なる如何なる測定光学系を用いて光情報媒体の反射率差を測定しても、統一的な基準光学系での反射率差に変換できる。このため、特別な測定光学系を用意することなく、如何なる測定光学系で光情報媒体の測定をしようとも、正確に反射率差の比較ができる。そして、基準光学系での反射率差に変換された測定値で光情報媒体を評価することにより、光情報媒体の装置間の互換性を確保することができるという効果を奏する。前記光情報媒体はN層2≦N,Nは整数の多層ディスクであり、前記基準光学系での第i層1≦i≦N,iは整数に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をSniとし、前記第6のステップでは、第i層と第j層1≦j≦N,i≠j,jは整数との反射率差αnijを、αnij=Sni-Snj/SniSnjとして換算することが好ましい。これにより、Sniに基づいて、容易かつ正確に基準光学系における反射率差αnijに換算することができる。前記第2のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、測定機で測定してもよい。このように、第2のステップで、実際に測定した層間の厚さを用いれば、第3のステップで各層の反射率について厳密な値を求めることができる。よって、より正確に基準光学系の変調度mniへ換算することができる。前記第2のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を作製する際の設計値とすることが好ましい。これにより、光情報媒体の層間を測定する手間が省け、層間の厚さの値を簡単に得ることができる。前記第2のステップで、前記光情報媒体の層間の厚さを、前記光情報媒体を複数作製した際の平均値とすることが好ましい。これにより、層間の厚さの値を簡単に得ることができる。前記光情報媒体はN層2≦N,Nは整数の多層ディスクであり、第i層1≦i≦N,iは整数の反射率をRiとし、前記第2のステップで得られる第i層と第j層1≦j≦N,i≠j,jは整数の層間の厚さをdijとし、当該層間の屈折率をnとし、前記測定光学系における開口数をNAとし、前記測定光学系で第i層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をSiとし、θを、sinθ=NA/nの条件を満たす0からπ/2の間の値としたとき、前記第3のステップでは、Si=RiSd[ΣRj/{π2dijtanθ2}]Σはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算となるN個の方程式を立て、前記SiについてのN個の方程式をRiについて解くことにより、反射率Riを求めることが好ましい。このように上記N個の連立方程式を適用することにより、反射率Riを、容易かつ正確に求めることができる。前記光情報媒体はN層2≦N,Nは整数の多層ディスクであり、第i層1≦i≦N,iは整数の反射率をRiとし、第i層1≦i≦N,iは整数の隣接層を第j層j=i-1および第k層k=i1とし、前記第2のステップで得られる第i層と第j層との層間の厚さをdijとし、第i層と第k層との層間の厚さをdikとし、当該層間の屈折率をnとし、前記測定光学系における開口数をNAとし、前記測定光学系で第i層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をSiとし、θを、sinθ=NA/nの条件を満たす0からπ/2の間の値としたとき、前記第3のステップでは、Si=RiSd[Rj/{π2dijtanθ2}Rk/{π2diktanθ2}]但し、i=1のとき、Rj/{π2dijtanθ2}=0、i=Nのとき、Rk/{π2diktanθ2}=0となるN個の式を立て、前記SiについてのN個の方程式をRiについて解くことにより反射率Riを求めることが好ましい。このように、他層迷光の影響を隣接層のみに限定した上記N個の連立方程式を適用することにより、計算量を大幅に削減でき、反射率Riを、より簡単に求めることができる。前記光情報媒体はN層2≦N,Nは整数の多層ディスクであり、第i層1≦i≦N,iは整数の反射率をRiとし、前記測定光学系で第i層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をSiとしたとき、前記第3のステップでは、Ri=Siと近似することが好ましい。このように、測定光学系にて測定して得られるSiをRiとして近似することにより、計算量を大幅に削減でき、反射率Riを、より簡単に求めることができる。前記光情報媒体はN層2≦N,Nは整数の多層ディスクであり、第i層1≦i≦N,iは整数の反射率をRiとし、前記第2のステップで得られる第i層と第j層1≦j≦N,i≠j,jは整数の層間の厚さをdijとし、当該層間の屈折率をnとし、前記測定光学系における開口数をNAとし、前記測定光学系で第i層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をSiとし、θを、sinθ=NA/nの条件を満たす0からπ/2の間の値としたとき、前記第3のステップでは、換算係数aiを、ai=1Sd[Σ1/{π2dijtanθ2}]Σはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算として、Ri=Si/aiと近似することが好ましい。これにより、迷光の影響を受けない反射率Riをより簡単に計算することができる。前記光情報媒体はN層2≦N,Nは整数の多層ディスクであり、第i層1≦i≦N,iは整数の反射率をRiとし、前記第2のステップで得られる第i層と第j層1≦j≦N,i≠j,jは整数の層間の厚さをdijとし、当該層間の屈折率をnとし、前記測定光学系における開口数をNAとし、前記測定光学系で第i層に焦点を合わせたときの入射光量に対する反射光量の比率である見かけの反射率をSiとし、θを、sinθ=NA/nの条件を満たす0からπ/2の間の値としたとき、前記第3のステップでは、換算係数aiを、ai=1Sd[Σ1/{π2dijtanθ2}]Σはjについて、j≠iの1~Nまでの整数の加算として、Ri=Si/aiと近似することが好ましい。これにより、迷光の影響を受けない反射率Riをより簡単に計算することができる。本発明の一局面に係る光情報媒体は、複数の情報層を有する多層構造の光情報媒体であって、測定光学系により前記光情報媒体の各層の変調度を測定する第1のステップと、前記光情報媒体の各層間の厚さを求める第2のステップと、前記光情報媒体の各層の反射率を求める第3のステップと、前記第1のステップで測定した各層の変調度を、前記第2のステップで求めた各層間の厚さと、前記第3のステップで求めた各層の反射率の値とを用いて、前記測定光学系とは異なる基準光学系における変調度に換算する第4のステップとを含む光情報媒体測定方法により測定されることを特徴とする。本発明の他の局面に係る記録装置は、上記光情報媒体に情報を記録する記録装置であって、前記光情報媒体に光ビームを照射することにより情報を記録することを特徴としている。本発明の他の局面に係る再生装置は、上記光情報媒体から情報を再生する再生装置であって、前記光情報媒体に光ビームを照射することにより情報を再生することを特徴としている。"