光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とを干渉させた干渉光を出力する撮影光学系と、前記撮影光学系から出力された前記干渉光に基づき、前記被検眼の断層像を生成する生成手段と、前記撮影光学系を構成する部材を駆動するための駆動手段と、前記生成手段によって生成された2つの断層像の画像情報の差分が所定の範囲以内になるように前記駆動手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする光干渉断層撮影装置。前記2つの断層像の画像情報を比較する比較手段と、前記比較手段の比較の結果により前記駆動手段の駆動量を決定する決定手段と、を有することを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層撮影装置。前記撮影光学系を構成する部材には、前記測定光路の光路長に対する前記参照光路の光路長を相対的に変化させるための部材が含まれ、前記制御手段には、前記部材を駆動する駆動手段を制御する光路長制御手段が含まれ、前記決定手段は、前記比較手段により前記2つの断層像の画像情報から得られた前記被検眼の構成部位に関する位置情報の差分に基づいて、前記駆動手段の駆動量を決定し、当該決定の結果を前記光路長制御手段に出力することを特徴とする請求項2に記載の光干渉断層撮影装置。前記撮影光学系を構成する部材には、前記被検眼に対する前記撮影光学系の位置を相対的に変化させるための部材が含まれ、前記制御手段には、前記部材を駆動する駆動手段を制御するヘッド制御手段が含まれ、前記決定手段は、前記比較手段により前記2つの断層像の画像情報から得られた前記被検眼の構成部位の傾き情報の差分に基づいて、前記駆動手段の駆動量を決定し、当該決定の結果を前記ヘッド制御手段に出力することを特徴することを特徴とする請求項2に記載の光干渉断層撮影装置。前記駆動手段によって駆動される部材は、前記測定光の偏向に対する前記参照光の偏向を相対的に変化させるための部材が含まれ、前記制御手段には、前記部材を駆動するための駆動手段の駆動量を制御する偏向制御手段が含まれ、前記決定手段は、前記比較手段により前記2つの断層像の画像情報から得られた前記被検眼の構成部位の輝度情報の差分に基づいて、前記駆動手段の駆動量を決定し、当該決定の結果を前記偏向制御手段に出力することを特徴とする請求項2に記載の光干渉断層撮影装置。前記駆動手段によって駆動される部材には、前記測定光の光量に対する前記参照光の光量を相対的に変化させるための部材が含まれ、前記制御手段には、前記部材を駆動するための駆動手段の駆動量を制御する光量制御手段が含まれ、前記決定手段は、前記比較手段により前記2つの断層像の画像情報から得られた前記被検眼の構成部位の輝度情報の差分に基づいて、前記駆動手段の駆動量を決定し、当該決定の結果を前記光量制御手段に出力することを特徴とする請求項2に記載の光干渉断層撮影装置。前記比較手段により比較される前記2つの断層像は、同一の被検者の断層像であることを特徴とする請求項2乃至6のいずれか1項に記載の光干渉断層撮影装置。光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とを干渉させた干渉光を出力する撮影光学系と、前記撮影光学系から出力された前記干渉光に基づき、前記被検眼の断層像を生成する生成手段と、前記生成手段によって生成された断層像の画像情報と、既に生成されている断層像の画像情報とを比較して、それぞれの画像情報の差分が予め定められた閾値範囲を超えるか否かを判断する比較手段と、前記撮影光学系を構成する部材を駆動するための駆動手段の動作を制御する制御手段と、前記比較手段により前記差分が前記閾値範囲を超えると判断された場合、前記比較の結果に基づき、前記駆動手段の駆動量を決定し、当該決定の結果を前記制御手段に出力する決定手段と、を備え、前記撮影光学系から出力される干渉光は、前記制御手段によって制御された前記駆動手段の駆動により制御され、前記生成手段は、制御された前記干渉光に基づき、前記被検眼の断層像を生成することを特徴とする光干渉断層撮影装置。前記撮影光学系を構成する部材には、前記測定光路の光路長に対する前記参照光路の光路長を相対的に変化させるための部材、前記被検眼に対する前記撮影光学系の位置を相対的に変化させるための部材、前記測定光の偏向に対する前記参照光の偏向を相対的に変化させるための部材、および前記測定光の光量に対する前記参照光の光量を相対的に変化させるための部材が含まれ、前記比較手段により前記差分が前記閾値範囲を超えると判断された場合、前記決定手段は、いずれの部材を駆動させるか決定することを特徴とする請求項8に記載の光干渉断層撮影装置。光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とを干渉させた干渉光を出力する撮影光学系と、前記撮影光学系を構成する部材を駆動するための駆動手段と、前記駆動手段を制御する制御手段と、を有する光干渉断層撮影装置の制御方法であって、前記光干渉断層撮影装置の生成手段が、前記撮影光学系から出力された前記干渉光に基づき、前記被検眼の断層像を生成する生成工程と、前記光干渉断層撮影装置の制御手段が、前記生成工程で生成された2つの断層像の画像情報の差分が所定の範囲以内になるように前記駆動手段を制御する制御工程と、を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置の制御方法。光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とを干渉させた干渉光を出力する撮影光学系と、前記撮影光学系を構成する部材を駆動するための駆動手段の動作を制御する制御手段と、を有する光干渉断層撮影装置の制御方法であって、前記光干渉断層撮影装置の生成手段が、前記撮影光学系から出力された前記干渉光に基づき、前記被検眼の断層像を生成する生成工程と、前記光干渉断層撮影装置の比較手段が、前記生成工程によって生成された断層像の画像情報と、既に生成されている断層像の画像情報とを比較して、それぞれの画像情報の差分が予め定められた閾値範囲を超えるか否かを判断する比較工程と、前記光干渉断層撮影装置の決定手段が、前記比較工程により前記差分が前記閾値範囲を超えると判断された場合、前記比較の結果に基づき、前記駆動手段の駆動量を決定し、当該決定の結果を前記制御手段に出力する決定工程と、を有し、前記撮影光学系から出力される干渉光は、前記制御手段によって制御された前記駆動手段の駆動により制御され、前記生成工程は、制御された前記干渉光に基づき、前記被検眼の断層像を生成することを特徴とする光干渉断層撮影装置の制御方法。コンピュータを、請求項1乃至9のいずれか1項に記載の光干渉断層撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。被検眼の眼底の所定領域の第1の断層画像を記憶する記憶装置と、走査手段を介して測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて該被検眼の眼底の前記所定領域の第2の断層画像を取得する光干渉断層撮影装置と、を備え、前記光干渉断層撮影装置は、前記光干渉断層撮影装置を構成する部材を駆動する駆動手段と、前記第1の断層画像及び第2の断層画像の画像情報の差分が所定の範囲以内になるように、前記駆動手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする眼科システム。前記制御手段により前記駆動手段の駆動が制御されると、前記光干渉断層撮影装置が前記被検眼の眼底の前記所定領域の第3の断層画像を取得することを特徴とする請求項13に記載の眼科システム。前記制御手段は、前記第1の断層画像及び第2の断層画像の所定の層の位置の差分が所定の範囲以内になるように、前記駆動手段の駆動によりコヒーレンスゲートの位置を変更することを特徴とする請求項13または14に記載の眼科システム。しかしながら、OCT装置において被検眼の経過観察を行うためにXY方向の同一部位を撮影するだけでなく、比較する断層画像におけるコヒーレンスゲート測定光路における参照光路長に対応する位置、傾き、明るさ等も合わせることが重要である。例えば、比較する断層画像の傾きが合っていない場合に層厚を測定すると、通常、断層画像のZ方向に対して層厚を測定するため、同一層に対して異なる距離を求めることになり、測定精度上、好ましくない。また、比較する断層画像の明るさが合っていない場合に層検出すると、例えば、過去の断層画像では検出された層が、今回の断層画像では検出されない、ということがあり得るため、測定精度上、好ましくない。本発明は上記課題に鑑み、経過観察に適した断層画像の撮影を容易に行うことができる光干渉断層撮影技術を提供することを目的とする。上記の目的を達成する本発明の一つの側面にかかる光干渉断層撮影装置は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とを干渉させた干渉光を出力する撮影光学系と、前記撮影光学系から出力された前記干渉光に基づき、前記被検眼の断層像を生成する生成手段と、前記撮影光学系を構成する部材を駆動するための駆動手段と、前記生成手段によって生成された2つの断層像の画像情報の差分が所定の範囲以内になるように前記駆動手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。本発明によれば、経過観察に適した断層画像の撮影を容易に行うことができる。例えば、比較する断層画像におけるXY方向の位置だけでなく、コヒーレンスゲート測定光路における参照光路長に対応する位置、傾き、明るさ等も合わせることができる。これにより、経過観察に適した断層像の撮影を容易に行うことができる。本実施形態にかかる光干渉断層撮影装置を図1の参照により説明する。光学ベース部100から説明する。光源101は、近赤外光を発光する低コヒーレンス光源である。光源101から発光した光は、光ファイバ102aを伝搬し、光分岐部103で測定光と参照光に分割される。光分岐部103により分岐された測定光は、光ファイバ102bに入射され、光学ヘッド部200に導かれる。一方、光分岐部103により分岐された参照光は、光ファイバ102cに入射され、反射ミラー113へ導かれる。光ファイバ102cに入射した参照光は、参照光の偏向を変化させるためのファイバループ104aを経由し、ファイバ端より射出される。偏向制御部105はファイバループ104a、104bのそれぞれを駆動することが可能な制御部である。偏向制御部105は、例えば、図9に示すように、ファイバループ104を駆動することによって光ファイバ102に捻りを加え、参照光の偏向を制御する。測定光を照射した被検査物被検眼からの戻り光と参照光との偏向とが異なることによって断層画像の画質低下が生じるため、これを解決するために、戻り光の偏向と参照光の偏向とを一致させることが好ましい。これを解決する手段としては、後述のラインセンサ125などの検出部の検出結果に基づいてファイバループ104aをオートで制御することが考えられる。具体的には、ラインセンサ125の出力が大きくなるようにファイバループ104aを制御する。また、オートで制御するタイミングとしては、フォーカスを調整した後が好ましい。これにより、フォーカスの調整だけでなく、偏向の調整も自動的に行うことができる。なお、後述のファイバループ104bに関しても同様の制御を行っても良い。そして、光ファイバ102cのファイバ端から射出された参照光は、NDフィルタ110を透過する。NDフィルタ110は参照光を減光するための回転可能なフィルタである。図10に示すように、NDフィルタ110は回転角度に応じて参照光の透過率が可変となるよう構成されており、光量制御部115によって所望の参照光量が得られるよう回転制御される。ところで、参照光の光量が大きすぎる場合、参照光と戻り光を干渉させた干渉光の強度が後述のラインセンサ125の各画素の飽和レベルを超えてしまうことがある。干渉光の強度は参照光の光量と被検査物被検眼からの戻り光の光量に依存して変化するため、参照光と戻り光のいずれか一方、または双方を減光することでラインセンサの飽和を抑制することができる。しかしながら、被検査物被検眼からの情報を損失することなく干渉光の強度を抑えるためには、戻り光を減光するのではなく、NDフィルタ110を用いて参照光のみを減光させることが好ましい。これを解決する手段としては、ラインセンサ125により所定の強度の干渉光が検出できるようにNDフィルタ110をオートで制御して参照光の光量を減らしても良い。また、NDフィルタ110を制御するタイミングは、上述したファイバループ104aを制御した後でも良いし、フォーカスを調整した後且つファイバループ104aを制御する前でも良い。フォーカスを調整した後にNDフィルタを調整することにより、被検査物被検眼に照射可能な所定の光量を超えないように光量を自動的に調整することができる。NDフィルタ110を透過した参照光は、コリメート光学系111を介して、分散補償光学系112に入射し、反射ミラー113へと導かれる。反射ミラー113で反射した参照光は、逆の光路をたどり再び光ファイバ102cに入射する。分散補償光学系112は、光学ヘッド部200及び被検眼Eにおける光学系の分散を補正するものである。反射ミラー113は、光路長制御部114によって光軸方向に駆動可能なように構成されており、参照光の光路長を、測定光の光路長に対して相対的に変化させることができる。一方、光ファイバ102bに入射した測定光は、測定光の偏向を変化させるためのファイバループ104bを経由し、ファイバ端より射出される。偏向制御部105はファイバループ104a、104bのそれぞれを駆動することが可能な制御部であり、ファイバループ104bを駆動することによって光ファイバ102bに捻りを加え、測定光の偏向を制御する。次に、光学ヘッド部200について説明する。光学ヘッド部200は被検眼Eに対して相対的に移動可能なように構成された光学ブロックである。光学ヘッド制御部205は、被検眼Eの眼軸に対して上下左右方向に光学ヘッド部200を駆動可能なように構成されている。光ファイバ102bのファイバ端より射出した光は、光学系202により略平行化され、走査部203へ入射する。走査部203は、ミラー面を回転可能なガルバノミラーであり、入射した光を偏光する。走査部203は、ガルバノミラーを2つ有する2次元走査部であり、紙面内の主走査方向と紙面に対して垂直方向の副走査方向との2方向に走査することができる。走査部203により走査された光は、光学系204を経由して被検眼Eの網膜Er上に、照明スポットを形成する。走査部203により面内偏向をうけると各照明スポットは網膜Er上を移動する。この照明スポット位置における反射光が逆光路をたどり光ファイバ102bに入射して、光分岐部103まで戻ることになる。以上の様に、反射ミラー113で反射された参照光、及び被検眼の網膜Erから反射された測定光は、光分岐部103に戻され光干渉を発生させる。相互に干渉した光は光ファイバ102dを通過し、光学系122に射出された干渉光は、光学系122により略平行化され、回折格子123に入射する。回折格子123には周期構造があり、回折格子123に入射された干渉光は分光される。分光された光は、合焦状態を変更可能な結像レンズ124によりラインセンサ125に結像される。ラインセンサ125は情報処理装置300に接続されている。図2に示すように、光干渉断層撮影装置が有する情報処理装置300は、断層像生成部302を備えており、ラインセンサ125の出力データをフーリエ変換することで網膜の断層像を生成する。断層像生成部302は、データベース310及びモニタ320表示装置に接続されており、生成された断層像の記録と表示が可能なように構成されている。また、情報処理装置300は断層像選択部301を備えており、操作者の指示によりデータベース310に記録された任意の断層像を読み出すことが可能である。断層像選択部301によって読み出された断層像、及び断層像生成部302によって生成された断層像は、共に断層像比較部303へと出力される。断層像比較部303は入力された2つの断層像を比較し、その比較結果を駆動量算出部304へ出力する。駆動量算出部304は、光路長制御部114、光量制御部115、偏向制御部105、及び光学ヘッド制御部205の各部へと接続されている。そして、駆動量算出部304は、断層像比較部303の比較結果に基づいた駆動量を算出し、光路長制御部114、光量制御部115、偏向制御部105、及び光学ヘッド制御部205の何れかに算出した駆動量を出力可能なように構成される。断層像比較部303の比較結果に基づいて、駆動量算出部304は、撮影光学系を構成するいずれの部材を駆動させるか決定する。駆動量算出部304は、決定した部材を駆動するための駆動部の動作を制御する制御部に、算出した駆動量を出力する。ここで、撮影光学系を構成する部材には、測定光路の光路長に対する参照光路の光路長を相対的に変化させるための部材、被検眼に対する撮影光学系の位置を相対的に変化させるための部材が含まれる。更に、撮影光学系を構成する部材には、測定光の偏向に対する前記参照光の偏向を相対的に変化させるための部材、および測定光の光量に対する参照光の光量を相対的に変化させるための部材が含まれる。光路長の調整本実施形態で説明する装置は、いわゆるフーリエドメイン方式を用いた光干渉断層撮影装置OCT装置である。以下、本実施形態のOCT装置において、過去の断層像とほぼ同等の断層像を得るための制御方法について詳細に述べる。過去に本実施形態のOCT装置により断層像の撮影を行ったことがある患者被検者が再来院した場合、検者は同一の被検者の眼疾病の経過を観察するために、過去の断層像と同じ条件で再び断層像の撮影を行う。まず、検者は断層像選択部301を操作し、該患者の過去の断層像の中から、経過観察の比較元画像として使用したい断層像を選択する。断層像選択部301は、選択された断層像をデータベース310から読み出し、断層像比較部303へ出力する。そして、検者はOCT装置を操作して、該患者の現在の断層像撮影を開始する。ラインセンサ125から出力される光干渉情報は情報処理装置300の断層像生成部302へと入力され、該患者の現在の断層像として画像化される。生成された該患者の現在の断層像は断層像比較部303へと出力される。次に、選択された過去の断層像の網膜位置と、現在の断層像の網膜位置とを合わせる手順について、図4に基づいて説明する。断層像比較部303は、入力された過去の断層像について、図3aのdで表わされる断層像上での内境界膜ILMの縦方向の位置を検出するS101。同様に、断層像比較部303は、入力された現在の断層像について、図3bのd’で表わされる断層像上での内境界膜ILMの縦方向の位置を検出するS102。内境界膜ILMとは網膜の最上部に位置する、硝子体と網膜の境界である。一般に、網膜の光反射率は硝子体よりも高いため、OCT装置における網膜の光干渉信号強度は硝子体のそれよりも大きな値を示す。そのため、OCT装置で撮影された断層像は、硝子体と網膜の境界である内境界膜ILMにおいて、大きく輝度が変化する。断層像比較部303は、この輝度情報の変化を検出することで内境界膜ILMの位置を特定することが可能である。本実施形態では、断層像における被検眼の構成部位として内境界膜ILMを検出することで網膜の位置位置情報を認識しているが、断層像の画像情報に基づく他の方法を用いて、網膜の位置を認識しても良い。例えば、内境界膜ILMの代わりに高い輝度情報を持つRPE層を検出し、網膜の位置を特定することも可能である。このように特定された内境界膜ILMの位置に基づき、断層像比較部303は、過去の断層像上での内境界膜ILMの位置と、現在の断層像上での内境界膜ILMの位置との差分を求める。そして、断層像比較部303は、その差分が予め定められた閾値範囲以内にあるかどうか判断する。ILM位置の差分が予め定められた閾値範囲を超えると判断された場合、断層像比較部303は、ILM位置の差分を駆動量算出部304へ出力するS103。駆動量算出部304は、入力されたILM位置の差分に基づいて、反射ミラー113の駆動量を算出し、光路長制御部114に対して算出した駆動量を出力するS104。光路長制御部114は、入力された駆動量に基づき、反射ミラー113を駆動させるS105。反射ミラー113を駆動させることにより、光分岐部103から反射ミラー113に至る参照光路の光路長は変化する。そして、光分岐部103から被検眼網膜Erに至る測定光路の光路長との相対的な光路長に変化が生じ、ラインセンサ125から出力される光干渉情報も変化する。新たにラインセンサ125から出力された光干渉情報は、再び情報処理装置300の断層像生成部302へと入力され、新たな現在の断層像として画像化される。そして、新たに画像化されて生成された現在の断層像は、再び断層像比較部303へと出力され、内境界膜ILMの検出が行われるS102。そして、再びステップS103において、内境界膜ILMの位置の比較が行われる。内境界膜ILMの位置の差分が依然として定められた範囲を超えると判断された場合S103-Yes、ステップS104からステップS105に至る一連の手順を繰り返す。ステップS103において、ILM位置の差が定められた範囲以内にあると判断された場合S103-No、過去の断層像と現在の断層像の網膜の縦方向の位置は概ね一致したと判断し、参照光路の光路長の制御を終了する。以上述べたように、本実施形態のOCT装置では検者が操作を行うことなく、過去の断層像と網膜位置が概ね一致する断層像を得ることが可能である。また、本実施形態では参照光の反射ミラー113を駆動せしめることにより、断層像上での網膜の縦方向の位置を変化させているが、測定光路と参照光路の光路長を相対的に変化させる他の方法を用いても良い。例えば、光学ヘッド部200や被検眼の移動により測定光路の光路長を変化させる方法や、プリズム等の光学部材を駆動することで参照光路または測定光路の光路長を変化させる方法も使用できる。傾きの調整次に、選択された過去の断層像と現在の断層像の網膜の傾きを合わせる手順について、図6に基づいて説明する。断層像比較部303は、入力された過去の断層像について、図5aのrで表わされる断層像上での網膜色素上皮RPEの角度を検出するS201。同様に、断層像比較部303は、入力された現在の断層像について、図5bのr’で表わされる断層像上での網膜色素上皮RPEの角度を検出するS202。網膜色素上皮RPEとは、目の網膜と脈絡膜の境界に位置する上皮細胞の層であり、OCT装置で撮影して断層像においては、最も高輝度な値を示す層として知られている。断層像比較部303は、この高輝度な画像情報に基づいてRPE層を検出し、検出されたRPE層を直線近似することで、網膜色素上皮RPEの角度を検出する。本実施形態では、断層像における被検眼の構成部位として網膜色素上皮RPEの角度を検出することで網膜の角度傾き情報を認識しているが、断層像の画像情報に基づく他の方法を用いて、網膜の角度を認識しても良い。例えば、網膜色素上皮RPEの代わりに内境界膜ILMを検出し、網膜の角度を特定することも可能である。このように特定された網膜色素上皮RPEの角度網膜の角度に基づき、断層像比較部303は、過去の断層像上での網膜の角度と、現在の断層像上での網膜の角度の差分を求め、その差分が予め定められた閾値範囲以内にあるかどうか判断する。RPE角度の差分が予め定められた閾値範囲を超えると判断された場合S203-Yes、断層像比較部303は、RPE角度の差分を駆動量算出部304へ出力するS203。駆動量算出部304は、入力されたRPE角度の差分に基づいて、光学ヘッド部200の駆動量を算出し、光学ヘッド制御部205に対して算出した駆動量を出力するS204。光学ヘッド制御部205は、入力された駆動量に基づき、光学ヘッド部200を駆動させるS205。光学ヘッド部200を駆動させることにより、被検眼Eと光学ヘッド部200の相対的な位置関係に変化が生じ、ラインセンサ125から出力される光干渉情報も変化する。新たにラインセンサ125から出力された光干渉情報は、再び情報処理装置300の断層像生成部302へと入力され、新たな現在の断層像として画像化される。そして、新たに画像化され、生成された現在の断層像は、再び断層像比較部303へと出力され、RPE角度の検出が行われるS202。そして、再びステップS203において、網膜色素上皮RPEの角度網膜の角度の比較が行われる。網膜色素上皮RPEの角度の差分が依然として定められた範囲を超えると判断された場合S203-Yes、ステップS204からステップS205に至る一連の手順を繰り返す。ステップS203において、網膜色素上皮RPEの角度の差分が定められた範囲以内にあると判断された場合S203-No、過去の断層像と現在の断層像の網膜の角度は概ね一致したと判断し、光学ヘッド部200の駆動制御を終了する。以上述べたように、本実施形態のOCT装置では検者が操作を行うことなく、過去の断層像と網膜の角度が概ね一致する断層像を得ることが可能である。輝度の調整次に、選択された過去の断層像と現在の断層像の網膜の明るさを合わせる手順について、図8に基づいて説明する。断層像比較部303は、入力された過去の断層像について、図7aで示される断層像上での網膜色素上皮RPEの輝度を検出するS301。同様に、断層像比較部303は、入力された現在の断層像について、図7bで示される断層像上での網膜色素上皮RPEの輝度を検出するS302。RPE層はOCT装置の断層像において高輝度な値を示す層であるが、測定光又は参照光の偏向が適切でない場合に明瞭なコントラストが得られない場合がある。また、参照光の光量が適切でない場合にも断層像におけるRPE層の輝度が減少する場合がある。本実施形態では、断層像における被検眼の構成部位として網膜色素上皮RPEの輝度を検出することで網膜の輝度輝度情報を認識しているが、断層像の画像情報に基づく他の方法を用いて、網膜の輝度を認識しても良い。例えば、網膜色素上皮RPEの代わりに内境界膜ILMを検出し、網膜の輝度を特定することも可能である。このように特定された網膜色素上皮RPEの輝度網膜の輝度に基づき、断層像比較部303は、過去の断層像上での網膜の輝度と、現在の断層像上での網膜の輝度の差分を求め、その差分が予め定められた閾値範囲以内にあるかどうか判断する。RPE輝度の差分が予め定められた閾値範囲を超えると判断された場合S303-Yes、断層像比較部303は、RPE輝度の差分を駆動量算出部304へ出力するS303。駆動量算出部304は、入力されたRPE輝度の差分に基づいて、ファイバループ104a、104bのうち少なくともいずれか一方の駆動量を算出し、偏向制御部105に対して算出した駆動量を出力するS304。偏向制御部105は、入力された駆動量に基づき、例えば、図9で示されるように、ファイバループ104ファイバループ104a、104bのうち少なくともいずれか一方を駆動させるS305。ファイバループ104a、104bのうち少なくともいずれか一方を駆動させることにより、測定光路の偏向と参照光路の偏向は相対的に変化し、ラインセンサ125から出力される光干渉情報も変化する。新たにラインセンサ125から出力された光干渉情報は、再び情報処理装置300の断層像生成部302へと入力され、新たな現在の断層像として画像化される。そして、新たに画像化され、生成された現在の断層像は、再び断層像比較部303へと出力され、RPE輝度の検出が行われるS302。そして、再びステップS303で示される網膜色素上皮RPEの輝度網膜の輝度の比較が行われる。網膜色素上皮RPEの輝度の差分が依然として定められた範囲を超えると判断された場合S303-Yes、ステップS304からステップS305に至る一連の手順を繰り返す。ステップS303において、網膜色素上皮RPEの輝度の差分が定められた範囲以内にあると判断された場合S303-No、過去の断層像と現在の断層像の網膜の角度は概ね一致したと判断し、ファイバループ104の駆動制御を終了する。以上述べたように、本実施形態のOCT装置では検者が操作を行うことなく、過去の断層像と網膜輝度が概ね一致する断層像を得ることが可能である。光量の調整また、本実施形態ではファイバループ104a、104bのうち少なくともいずれか一方を駆動せしめることにより、断層像上での網膜の輝度を変化させているが、別の形態としては参照光の光量を変化させることで網膜の輝度を変化させる構成も可能である。例えば、図10に示されるような濃度勾配を持つ回転可能なNDフィルタ110を参照光路に配置し、駆動量算出部304は入力されたRPE輝度の差に基づいてNDフィルタ110の回転角度を算出するS304。算出された回転角度は、光量制御部115へ出力され、光量制御部115は、NDフィルタ110を駆動するS305。以上の手順により、過去の断層像と網膜輝度が概ね一致する断層像を得ることも可能である。本実施形態によれば、経過観察に適した断層画像の撮影を容易に行うことができる。例えば、比較する断層画像におけるXY方向の位置だけでなく、コヒーレンスゲート測定光路における参照光路長に対応する位置、傾き、明るさ等も合わせることができる。これにより、経過観察に適した断層像の撮影を容易に行うことができる。本発明の実施形態にかかる眼科システムは、上記の光干渉断層撮影装置と、記憶装置を有する。記憶装置は、被検眼の眼底の所定領域の第1の断層画像を記憶することが可能である。光干渉断層撮影装置は、走査部を介して測定光を照射した被検眼からの戻り光と、測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて被検眼の眼底の所定領域の第2の断層画像を取得することが可能である。光干渉断層撮影装置は、光干渉断層撮影装置を構成する部材を駆動する駆動部と、第1及び第2の断層画像の画像情報の差分が所定の範囲以内になるように、駆動部を制御する制御部と、を有する。制御部は、第1の断層画像及び第2の断層画像の所定の層の位置の差分が所定の範囲以内になるように、駆動部の駆動によりコヒーレンスゲートの位置を変更する。制御部により駆動部の駆動が制御されると、光干渉断層撮影装置が被検眼の眼底の所定領域の第3の断層画像を取得する。光干渉断層撮影装置は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、参照光を参照光路に導き、参照光と前記被検眼からの戻り光とを干渉させた干渉光を出力する撮影光学系を有する。ここで、撮影光学系を構成する部材には、例えば、測定光路の光路長に対する参照光路の光路長を相対的に変化させるための部材、被検眼に対する撮影光学系の位置を相対的に変化させるための部材が含まれる。あるいは、撮影光学系を構成する部材には、測定光の偏向に対する参照光の偏向を相対的に変化させるための部材、測定光の光量に対する参照光の光量を相対的に変化させるための部材が含まれる。その他の実施例また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアプログラムを、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータまたはCPUやMPU等がプログラムを読み出して実行する処理である。