"対になった導体に電圧を印加して、前記導体の周波数特性を計測する計測手段と、前記周波数特性から前記導体の共振周波数を特定し、前記共振周波数に基づいて、前記導体の総延長を演算する演算手段と、を備える導体長計測装置。前記計測手段は、前記導体に周波数を変化させながら交流電圧を印加する電圧印加手段を有する請求項1に記載の導体長計測装置。前記計測手段は、前記導体にステップ電圧を印加する電圧印加手段を有する請求項1に記載の導体長計測装置。前記計測手段は、直列に接続された前記導体と抵抗とに電圧が印加されたときの前記抵抗の両端の電位差に応じた電圧信号の周波数特性を計測する請求項1乃至3のいずれか一項に記載の導体長計測装置。前記計測手段は、前記電圧信号に対してFFT処理を実行する請求項4に記載の導体長計測装置。前記演算手段は、前記導体を無損失線路として、前記共振周波数を用いた演算を行うことにより前記導体の総延長を算出する請求項1乃至5のいずれか一項に記載の導体長計測装置。前記導体は、末端が電気的に短絡された所定の冷媒を循環させるための管路である請求項1乃至6のいずれか一項に記載の導体長計測装置。前記導体は、末端に不特定のインピーダンスを有する電気機器が接続された電線である請求項1乃至7のいずれか一項に記載の導体長計測装置。前記導体のインピーダンスと前記電気機器のインピーダンスは、整合していない請求項8に記載の導体長計測装置。前記導体は、断熱材で被覆されている請求項1乃至9のいずれか一項に記載の導体長計測装置。前記交流電圧には、高調波成分が含まれる請求項1乃至10のいずれか一項に記載の導体長計測装置。前記演算手段によって演算された導体の総延長を表示する表示手段を備える請求項1乃至11のいずれか一項に記載の導体長計測装置。直列に接続された抵抗と対になった導体とに、電圧を印加する工程と、前記抵抗の両端の電位差に応じた電圧信号の周波数特性を計測する工程と、前記周波数特性に基づいて、前記導体の共振周波数を特定する工程と、前記共振周波数に基づいて、前記導体の総延長を演算する工程と、を含む導体長計測方法。上述の計測装置を用いて冷媒配管の総延長を計測するためには、冷媒配管が枝分かれする分岐点を予め調査し、分岐先の末端それぞれに、上述の送信器と受信器とを配置する事前準備が必要となる。このため、室内機が天井等に設置されているような場合には、この事前準備が、困難かつ煩雑なものとなることが予想される。本発明は、上述の事情の下になされたもので、分岐点を有する導体の総延長を容易に計測することを目的とする。上記目的を達成するために、本発明の導体長計測装置は、対になった導体に電圧を印加して、前記導体の周波数特性を計測する計測手段と、前記周波数特性から前記導体の共振周波数を特定し、前記共振周波数に基づいて、前記導体の総延長を演算する演算手段と、を備える。本発明によれば、導体に電圧を印加することにより特定した共振周波数に基づいて、導体の総延長の計測を行うことができる。これによれば、導体の分岐先それぞれに、計測に必要な装置の取り付けなどの処理をする必要がなく、導体の総延長を容易に計測することができる。《第1の実施形態》以下、本発明の第1の実施形態を、図面を参照しつつ説明する。図1は、計測対象としての空調システム20に設置された導体長計測装置10のブロック図である。導体長計測装置10は、空調システム20を構成する配管23の総延長を計測するための装置である。図1に示されるように、空調システム20は、例えばオフィスビルの屋上等に設置される室外機21と、このオフィスビルの居住区に設置される2台の室内機22A,22Bとを有している。そして、室外機21と室内機22A,22Bは、室外機21から室内機22A,22Bに向かって冷媒が流れる送り銅管23aと、室内機22A,22Bから室外機21へ向かって冷媒が流れる戻り銅管23bとからなる配管23によって接続されている。配管23を構成する銅管23a,23bそれぞれは、発泡ウレタンなど比誘電率がほぼ1の断熱材で被覆されている。また、空調システム20では、配管23を構成する送り銅管23aと戻り銅管23bは、相互に平行になるように配置されている。本実施形態では、銅管23a及び銅管23bのうちの一方が液管であり、他方が液管よりも径が大きいガス管である。図1に示されるように、導体長計測装置10は、インタフェース11、制御部12、周波数掃引部13、FFTFastFourierTransform処理部14、第1記憶部15、第2記憶部16、演算部17、表示部18、レシーバ19、及び抵抗素子R1を有している。周波数掃引部13は、内部インピーダンスが既知であり、測定対象物に出力電圧Voを印加するための電源を有するデジタル周波数シンセサイザである。この周波数掃引部13は、抵抗素子R1とプローブ13aとを介して送り銅管23aに接続され、プローブ13bを介して戻り銅管23bに接続される。これにより、抵抗素子R1と、配管23は直列に接続された状態となる。プローブ13a,13bの接続は、銅管23a,23bが断熱材から露出している部分に対して行う。例えば、オフィスビル等に用いられる空調システムでは、室外機21の周囲や、機械室内で、銅管23a、23bに対して、導体長計測装置10を接続することが考えられる。周波数掃引部13は、抵抗素子R1と、プローブ13a,13bに接続された測定対象物との間に周波数がfの出力電圧Voを印加する。図2は、出力電圧Voの時間的変化を示す図である。図2に示されるように、出力電圧Voの波形は、周期1/fの正弦波となる。この出力電圧Voは、直列に接続された抵抗素子R1と測定対象物のインピーダンスに比例するように分圧される。レシーバ19は、周波数掃引部13の出力電圧Voと、抵抗素子R1の両端の電位差V1とを検出する。そして、検出した出力電圧Vo、及び電位差V1に対応する電圧信号SVo、SV1を、FFT処理部14へ出力する。FFT処理部14は、入力される電圧信号SVo、SV1に対してFFT処理を実行することにより、電圧信号SVo、SV1について、周波数ごとの電圧強度周波数スペクトルを算出する。図3には、図2に示される波形の出力電圧Voに応じた電圧信号SVoに対して、上述のFFT処理を実行した結果が示されている。図3の棒グラフによって示されるように、例えば、波形が正弦波となる出力電圧Voに対応する電圧信号SVoは、周波数がfの奇数倍となる高調波成分を多く含むことがわかる。FFT処理部14は、電圧信号SVo、SV1に対してFFT処理を行った結果に基づいて、各周波数における電圧レベルを示す周波数スペクトル曲線を算出する。例えば、図3に示される処理結果に基づいて、周波数スペクトル曲線を算出すると、図中の一点鎖線で示される周波数スペクトル曲線S0が得られる。第1記憶部15及び第2記憶部16それぞれは、例えばRAMRandomAccessMemory或いはEPRAMErasableProgrammableReadOnlyMemory等の記憶媒体を有している。これらの第1記憶部15及び第2記憶部16は、FFT処理部14の処理結果を記憶する。演算部17は、第1記憶部15及び第2記憶部16に記憶された処理結果を用いて、配管23の共振周波数を算出する。そして、算出した共振周波数に基づいて、配管23の総延長を測定する。表示部18は、演算部17による演算結果を表示する。制御部12は、CPUCentralProcessingUnit、CPUの作業領域として用いられるRAM等から構成されている。この制御部12は、インタフェース11を介して通知されたユーザからの指令に基づいて、上述した周波数掃引部13、FFT処理部14、演算部17、及び表示部18を統括的に制御する。次に、上述のように構成された導体長計測装置10の使用方法及び計測動作について説明する。導体長計測装置10による計測を行う際には、図4に示されるように、まず、導体長計測装置10のプローブ13a,13bそれぞれを、抵抗値が既知の抵抗素子R2の両端に接続する。そして、インタフェース11を介して、制御部12に計測準備処理指令を入力する。制御部12は、計測準備処理指令を受信すると、周波数掃引部13に対して、周波数fの出力電圧Voの印加を指示する。これにより、図2に示される出力電圧Voが、直列に接続された抵抗素子R1及び抵抗素子R2に印加される。次に、制御部12は、FFT処理部14に、FFT処理の実行を指示する。これにより、FFT処理部14では、周波数fの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1のFFT処理が実行される。次に、制御部12は、周波数掃引部13に対して、周波数fΔfの出力電圧Voの印加を指示する。これにより、FFT処理部14では、周波数fΔfの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1に対するFFT処理が実行される。以降、制御部12は、周波数掃引部13に対して、周波数fnΔfの出力電圧Voの印加を順次指示する。なお、nは2以上の整数である。これにより、FFT処理部14では、周波数fnΔfの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1に対するFFT処理が順次実行される。その結果、図5の棒グラフで示される特性が順次算出される。そして、算出結果は、順次第1記憶部15に記憶される。図5の棒グラフそれぞれは、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に対応する電圧信号SV1の、基本波成分及び高調波成分の電圧を示している。制御部12は、抵抗素子R1の両端の電位差V1に対応する電圧信号SV1それぞれについてのFFT処理の実行が完了すると、演算部17に周波数スペクトル曲線S1の算出を指示する。周波数スペクトル曲線S1は、抵抗素子R2を測定対象物としたときの、電圧信号SV1についての各周波数における電圧レベルを示す曲線である。演算部17は、第1記憶部15に記憶されたFFT処理の結果を用いて周波数スペクトル曲線S1を算出する。上述した処理を行うことにより、周波数スペクトル曲線S1に関する情報の生成が完了したら、導体長計測装置10のプローブ13a,13bを、抵抗素子R2から取り外す。次に、図1に示されるように、プローブ13a,13bを、配管23を構成する送り銅管23aと,戻り銅管23bとにそれぞれ接続する。そして、インタフェース11を介して、制御部12に、計測処理指令を入力する。制御部12は、計測指令を受信すると、周波数掃引部13に対して、周波数fの出力電圧Voの印加を指示する。これにより、図2に示される出力電圧Voが、直列に接続された抵抗素子R1及び配管23に印加される。次に、制御部12は、FFT処理部14に、FFT処理の実行を指示する。これにより、FFT処理部14では、周波数fの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1のFFT処理が実行される。次に、制御部12は、周波数掃引部13に対して、周波数fΔfの出力電圧Voの印加を指示する。これにより、FFT処理部14では、周波数fΔfの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1に対するFFT処理が実行される。以降、制御部12は、周波数掃引部13に対して、周波数fnΔfの出力電圧Voの印加を順次指示する。これにより、FFT処理部14では、周波数fnΔfの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1に対するFFT処理が順次実行される。そして、FFTの処理結果が、順次第2記憶部16に記憶される。制御部12は、抵抗素子R1の両端の電位差V1に対応する電圧信号SV1それぞれについてのFFT処理の実行が完了すると、演算部17に周波数スペクトル曲線S2の算出を指示する。周波数スペクトル曲線S2は、配管23を測定対象物としたときの、電圧信号SV1についての各周波数における電圧レベルを示す曲線である。演算部17は、第2記憶部16に記憶されたFFT処理の結果を用いて、周波数スペクトル曲線S2を算出する。図6は、周波数スペクトル曲線S2を示す図である。図6に示されるように、導体長計測装置10が配管23に接続された場合には、配管23の形状に応じて、特定の周波数での電圧レベルが低くなる。制御部12は、周波数スペクトル曲線S2の算出が完了すると、演算部17に、配管23の総延長の算出を指示する。演算部17は、制御部12からの算出指示を受けると、配管23の総延長の算出処理を実行する。演算部17は、まず周波数スペクトル曲線S2図6参照によって示される電圧レベルから、周波数スペクトル曲線S1図5参照によって示される電圧レベルを減算することにより、図7に示される特性曲線S3を算出する。この特性曲線S3は、配管23の周波数特性を示す曲線である。次に、演算部17は、特性曲線S3に基づいて、配管23の共振周波数を特定する。配管23に印加された電圧の周波数と、配管23の共振周波数が一致する場合には、抵抗素子R1の両端に現れる電圧レベルが小さくなる。そこで、演算部17は、特性曲線S3の極小点に対応する周波数を特定する。図7に示されるように、ここでは特性曲線S3の極小点に対応する周波数として、周波数f1,f2,f3が特定される。次に、演算部17は、次式1を用いて配管23の総延長を算出する。なお、fnは、特性曲線の極小点に対応する周波数、すなわち配管23の共振周波数である。また、fWは、周波数範囲である。ここで、上記式1について説明する。周波数掃引部13によって、直列に接続された抵抗素子R1と配管23との間に出力電圧Voが印加されたときの抵抗素子R1の両端の電位差V1は、配管23のインピーダンスをZtとし、抵抗素子R1の抵抗をr1とし、抵抗素子R1を流れる電流をIとすると、次式2で示される。このため、配管23のインピーダンスZtは、次式3で示される。V1=R×I=R×Vo/RZt...2Zt=R×Vo-V1/V1...3したがって、出力電圧Voが印加されたときの抵抗素子R1の両端の電位差V1を測定することで、計測対象としての配管23のインピーダンスZtを求めることができる。そこで、本実施形態では、次式4に示される、長さlの配管に対して適用される無損失線路理論式から導かれる演算式を用いて、配管23の総延長を算出する。なお、式4におけるZtは室外機21を基準とするインピーダンスを示す。また、Z0は、配管の特性インピーダンスを示し、Zrは、配管の終端に接続されたインピーダンスを示す。また、lは、配管の長さを示す。また、βは、2πを出力電圧Voの波長λで除したものであるβ=2π/λ。ここでは説明の便宜上、図8に示されるように、分岐点P1で2つに分岐する配管23の総延長を計測する場合について説明する。この配管23の総延長はlであり、分岐点P1から室外機までの長さはl1、分岐点P1から室内機22Aまでの長さはl2、分岐点P1から室内機22Bまでの長さはl3である。図1に示されるように、配管23は、相互に平行するように敷設された送り銅管23a及び戻り銅管23bから構成される配管である。そして、送り銅管23a及び戻り銅管23bは、室外機21,室内機22A,22Bによって短絡されている。このため、上記式4における終端に接続されたインピーダンスZrの値は零となる。したがって、上記式4は次式5のように展開することができる。出力電圧Voの周波数が、配管23の共振周波数と一致する場合は、配管23のインピーダンスZtは発散する。したがって、出力電圧Voの周波数がf1,f2,f3である場合には、上記式5の右辺の分子が無限大となるか、又は分母が零となる。しかしながら、上記式5では、分子が無限大となるときには分子も無限大となるため、分母が零となることが、インピーダンスZtが発散する条件となる。したがって、出力電圧Voの周波数がf1,f2,或いはf3の場合には次式6が成り立つ。更に、上記式6は、以下の式7、式8及び式9のように変形することができる。上記式9に示されるように、三角関数tanの和で表される左辺は、3つの項それぞれが、発散するときのβは以下の式10~12で示される条件を満たす場合である。そして、式10~12から式13~15が導かれる。上記式13~15は、上記式9の各項が発散するときのβの条件を示している。例えば、図9には、l1が7.4mのときのtanβl1の値の遷移が破線で示されている。また、l2が、3.3mのときのtanβl2π/2の値の遷移が2点鎖線で示されている。また、l3が、5.71mのときのtanβl3π/2の値の遷移が一点鎖線で示されている。また、式9の左辺の値の遷移が実線で示されている。図9を参照するとわかるように、式9の左辺が零になるときのβの値は、tanβl1、tanβl2π/2、或いはtanβl3π/2の値が発散するときのβの値の間に存在する。このため、例えばAn,Bn,Cnが小さい順に、0,A1,A2,B1,C1,B2,A3,A4,...と並ぶ場合には、βの解βnは次式で示される。上記式16で示されるβnの総和は次式17で示される。ここで、上記式17におけるN1,N2,N3の範囲を規定する共振周波数の計測範囲について考える。βが零以上でW以下であるとすると0≦β≦W、N1,N2,N3は次式18,19,20でそれぞれ示される。したがって、式18~20と、等差数列の和の公式から式17は、次式21に変形することができる。以上から、配管23の総延長l1l2l3を示す推定式は、上記式21を変形することにより得られる次式22で示される。そして、βとしてのπf/150と、WとしてのπfW/150とを次式22に代入すると、上述した式1が得られる。また、式1の一般式は、次式23で示される。演算部17は、上記式1を用いて配管23の総延長を算出すると、算出結果を表示部18へ出力する。制御部12は、演算部17から算出結果が出力されると、表示部18に算出結果の表示を指示する。これにより、表示部18に、配管23の総延長が表示される。以上説明したように、本実施形態では、配管23に導体長計測装置10のプローブ13a,13bが接続され、このプローブ13a,13bを介して配管23に出力電圧Voが印加される。次に、電圧信号SV1に対してFFT処理が実行されることにより、周波数スペクトル曲線S2が算出される。そして、この周波数スペクトル曲線S2から配管23の共振周波数が特定され、この共振周波数について、上記式1に示される演算が実行されることで、配管23の総延長が算出される。このため、配管23の敷設状態を把握して各分岐の末端に例えば計測に必要な機器等を設置することなく、配管23の総延長を容易に計測することができる。本実施形態では、配管23の共振周波数に基づいて配管23の総延長が計測される。これにより、出力電圧Voに高調波成分が含まれていても、配管23の総延長を精度よく計測することができる。このため、出力電圧Voを出力するための電源として、安価なものを用いることができる。本実施形態に係る導体長計測装置10を用いることで、空調設備の配管の容積を配管の総延長に基づいて推定することができる。これにより、例えば空調設備のメンテナンス等において、必要な追加冷媒の量を容易に推定することが可能となる。本実施形態に係る導体長計測装置10を用いることで、配管23の配置図等によって配管23の敷設状況を把握することなく、配管23の総延長を精度よく計測することができる。このため、例えば空調設備についての図面等が存在しない場合にも、精度よく配管23の総延長を計測することができ、結果的に設備のメンテナンスを容易に行うことが可能となる。本実施形態では、導体長計測装置10の測定対象が配管23である場合について説明した。これに限らず、導体長計測装置10を用いることで、電気配線、通信線等の総延長を計測することもできる。電気配線や、通信線等の末端には、通常何らかの電気機器が接続されている。このため、電気配線や通信線の末端でのインピーダンスZ1の値は、接続された電気機器によってきまる。このインピーダンスZ1が、電気配線の特性インピーダンスZ2と一致している場合には、インピーダンスの不整合に起因する反射が生じないため、共振は起こりえない。この場合には、本実施形態に係る導体長計測装置10を用いて、導体の総延長を計測することができない。しかしながら、電気配線や通信線のインピーダンスと、電気機器のインピーダンスとが整合していることは稀なことである。このため、本実施形態に係る導体長計測装置10を用いることで、電気配線や通信線の総延長を精度よく計測することができると考えられる。電気配線や通信線として用いられるビニル電線を構成する絶縁体の比誘電率は3程度である。また、電気配線等の共振周波数は、波長短縮率の影響を受けることにより、総延長に比較して低い周波数となる。このため、電気配線等の総延長を正確に計測するためには、導体を被覆する絶縁体の比誘電率を考慮した補正が必要となる。例えば、実効的な比誘電率が3程度の絶縁体によって被覆された導体の総延長は、実際に計測された総延長を比誘電率の平方根=1.7で除することによって補正する必要がある。《第2の実施形態》次に、本発明の第2の実施形態に係る導体長計測装置10について説明する。なお、第1の実施形態と同一又は同等の構成については、同等の符号を用いるとともに、その説明を省略又は簡略する。本実施形態に係る導体長計測装置10では、FFT処理部14が、第1の実施形態に係るFFT処理部14が実行する処理と異なる処理を実行する。図10は、FFT処理部14への入力と、FFT処理部14からの出力とを模式的に示す図である。図10に示されるように、FFT処理部14には、レシーバから出力された電圧信号SVo及び電圧信号SV1が入力されるとともに、制御部12から周波数fnに関する情報が通知される。FFT処理部14は、電圧信号SVo,SV1に対して、制御部12から通知された周波数fnに基づくフィルタリング処理を実行する。これにより、図10に示されるように、周波数fnに対する、電圧信号SVo,SV1の電圧レベルが検出される。次に、本実施形態に係る導体長計測装置10の使用方法及び計測動作について説明する。導体長計測装置10による計測を行う際には、図4に示されるように、まず、導体長計測装置10のプローブ13a,13bそれぞれを、抵抗値が既知の抵抗素子R2の両端に接続する。そして、インタフェース11を介して、制御部12に計測準備処理指令を入力する。制御部12は、計測準備処理指令を受信すると、周波数掃引部13に対して、周波数fの出力電圧Voの印加を指示する。これにより、図2に示される出力電圧Voが、直列に接続された抵抗素子R1及び抵抗素子R2に印加される。次に、制御部12は、FFT処理部14に、周波数fに関する情報を通知する。これにより、FFT処理部14では、周波数fの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1のフィルタリング処理が実行される。このフィルタリング処理は、FFT処理部14、周波数掃引部13、レシーバ19各々の周波数に対する誤差が考慮された周波数の帯域幅で行われる。次に、制御部12は、周波数掃引部13に対して、周波数fΔfの出力電圧Voの印加を指示するとともに、FFT処理部14に、周波数fΔfに関する情報を通知する。これにより、FFT処理部14では、周波数fΔfの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1のフィルタリング処理が実行される。以降、制御部12は、周波数掃引部13に対して、周波数fnΔfの出力電圧Voの印加を順次指示するとともに、FFT処理部14に、周波数fnΔfに関する情報を順次通知する。なお、nは2以上の整数である。これにより、FFT処理部14では、周波数fnΔfの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1のフィルタリング処理が順次実行される。その結果、図11の棒グラフで示される特性が順次算出される。そして、算出結果は、順次第1記憶部15に記憶される。図11の棒グラフそれぞれは、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に対応する電圧信号SV1のフィルタリング処理結果を示している。制御部12は、抵抗素子R1の両端の電位差V1に対応する電圧信号SV1それぞれについてのフィルタリング処理の実行が完了すると、演算部17に周波数スペクトル曲線S1の算出を指示する。演算部17は、第1記憶部15に記憶されたフィルタリング処理結果を用いて周波数スペクトル曲線S1を算出する。上述した処理により、周波数スペクトル曲線S1に関する情報の生成が完了したら、導体長計測装置10のプローブ13a,13bを、抵抗素子R2から取り外す。次に、図1に示されるように、プローブ13a,13bを、配管23を構成する送り銅管23aと,戻り銅管23bとにそれぞれ接続する。そして、インタフェース11を介して、制御部12に、計測処理指令を入力する。制御部12は、計測指令を受信すると、周波数掃引部13に対して、周波数fの出力電圧Voの印加を指示する。これにより、図2に示される出力電圧Voが、直列に接続された抵抗素子R1及び配管23に印加される。次に、制御部12は、FFT処理部14に、周波数fに関する情報を通知する。これにより、FFT処理部14では、周波数fの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1のフィルタリング処理が実行される。次に、制御部12は、周波数掃引部13に対して、周波数fΔfの出力電圧Voの印加を指示するとともに、FFT処理部14に、周波数fΔfに関する情報を通知する。これにより、FFT処理部14では、周波数fΔfの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1のフィルタリング処理が実行される。以降、制御部12は、周波数掃引部13に対して、周波数fnΔfの出力電圧Voの印加を順次指示するとともに、FFT処理部14に、周波数fnΔfに関する情報を順次通知する。なお、nは2以上の整数である。これにより、FFT処理部14では、周波数fnΔfの出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1のフィルタリング処理が順次実行される。そして、FFTの処理結果が、順次第2記憶部16に記憶される。制御部12は、抵抗素子R1の両端の電位差V1に対応する電圧信号SV1それぞれについてのフィルタリング処理の実行が完了すると、演算部17に周波数スペクトル曲線S2の算出を指示する。演算部17は、第2記憶部16に記憶されたフィルタリング処理結果を用いて周波数スペクトル曲線S2を算出する。制御部12は、周波数スペクトル曲線S2の算出が完了すると、演算部17に、配管23の総延長の算出を指示する。演算部17は、制御部12からの算出指示を受けると、配管23の総延長の算出処理を実行する。演算部17は、まず周波数スペクトル曲線S2図6参照によって示される電圧レベルから、周波数スペクトル曲線S1図11参照によって示される電圧レベルを減算することにより、図7に示される特性曲線S3を算出する。この特性曲線S3は、配管23の周波数特性を示す曲線である。次に、演算部17は、特性曲線S3に基づいて、配管23の共振周波数を特定する。なお、ここでは特性曲線S3の極小点に対応する周波数として、周波数f1,f2,f3が特定される。次に、演算部17は、上記式1を用いて配管23の総延長を算出する。演算部17は、上記式1を用いて配管23の総延長を算出すると、算出結果を表示部18へ出力する。制御部12は、演算部17から算出結果が出力されると、表示部18に算出結果の表示を指示する。これにより、表示部18に、配管23の総延長が表示される。以上説明したように、本実施形態では、配管23に導体長計測装置10のプローブ13a,13bが接続され、このプローブ13a,13bを介して配管23に出力電圧Voが印加される。次に、フィルタリング処理が実行されることにより、周波数スペクトル曲線S2が算出される。そして、この周波数スペクトル曲線S2から配管23の共振周波数が特定され、この共振周波数について、上記式1に示される演算が実行されることで、配管23の総延長が算出される。このため、配管23の敷設状態を把握して各分岐の末端に例えば計測に必要な機器等を設置することなく、配管23の総延長を容易に計測することができる。《第3の実施形態》次に、本発明の第3の実施形態に係る導体長計測装置10について説明する。なお、上記実施形態と同一又は同等の構成については、同等の符号を用いるとともに、その説明を省略又は簡略する。図12は、第3の実施形態に係る導体長計測装置10のブロック図である。図12に示されるように、本実施形態に係る導体長計測装置10は、周波数掃引部13に代わるステップ波発生部31を備えている点で、上記実施形態に係る導体長計測装置10と異なっている。ステップ波発生部31は、内部インピーダンスが既知であり、測定対象物に波形が矩形の出力電圧Voを印加するための装置である。このステップ波発生部31は、抵抗素子R1とプローブ13aとを介して送り銅管23aに接続され、プローブ13bを介して戻り銅管23bに接続される。これにより、抵抗素子R1と、配管23は直列に接続された状態となる。図13は、ステップ波発生部31から出力される出力電圧Voの時間的な変化を示す図である。ステップ波発生部31は、抵抗素子R1と、配管23との間に、時刻t1でハイレベルになる出力電圧Voを印加する。この出力電圧Voは、直列に接続された抵抗素子R1と配管23のインピーダンスに比例するように分圧される。図14は、ステップ波発生部31から出力される出力電圧Voの周波数スペクトラムを示す図である。図14の実線で示されるように、出力電圧Voは、直流成分と、各周波数の交流成分を含んでいる。次に、上述のように構成された導体長計測装置10の使用方法及び計測動作について説明する。導体長計測装置10による計測を行う際には、図4に示されるように、まず、導体長計測装置10のプローブ13a,13bそれぞれを、抵抗値が既知の抵抗素子R2の両端に接続する。そして、インタフェース11を介して、制御部12に計測準備処理指令を入力する。制御部12は、計測準備処理指令を受信すると、ステップ波発生部31に対して、出力電圧Voの印加を指示する。これにより、図13に示される出力電圧Voが、直列に接続された抵抗素子R1及び抵抗素子R2に印加される。次に、制御部12は、FFT処理部14に、FFT処理の実行を指示する。これにより、FFT処理部14では、出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1のFFT処理が実行される。FFT処理部14による処理結果は、順次第1記憶部15に記憶される。制御部12は、抵抗素子R1の両端の電位差V1に対応する電圧信号SV1についてのFFT処理の実行が完了すると、演算部17に周波数スペクトル曲線S1の算出を指示する。演算部17は、第1記憶部15に記憶されたFFT処理の結果を用いて、電圧信号SV1についての各周波数における電圧レベルを示す周波数スペクトル曲線S1を算出する。図15は周波数スペクトル曲線S1の一例を示す図である。この周波数スペクトル曲線S1は、導体長計測装置10の測定系の出力特性を示している。この出力特性から求められる測定系の固有のインピーダンス特性を勘案して、導体長の計測を正確に行うことができる。上述した処理が完了したら、導体長計測装置10のプローブ13a,13bを、抵抗素子R2から取り外す。次に、図12に示されるように、プローブ13a,13bを、配管23を構成する送り銅管23aと,戻り銅管23bとにそれぞれ接続する。そして、インタフェース11を介して、制御部12に、計測処理指令を入力する。制御部12は、計測指令を受信すると、周波数掃引部13に対して、出力電圧Voの印加を指示する。これにより、図13に示される出力電圧Voが、直列に接続された抵抗素子R1及び配管23に印加される。次に、制御部12は、FFT処理部14に、FFT処理の実行を指示する。これにより、FFT処理部14では、出力電圧Voが印加されたときに、抵抗素子R1の両端に現れる電位差V1に応じて、レシーバ19から出力される電圧信号SV1のFFT処理が実行される。FFT処理部14による処理結果は、順次第2記憶部16に記憶される。抵抗素子R1の両端の電位差V1に対応する電圧信号SV1についてのFFT処理の実行が完了すると、制御部12は、演算部17に周波数スペクトル曲線S2の算出を指示する。演算部17は、第2記憶部16に記憶されたFFT処理の結果を用いて、電圧信号SV1についての各周波数における電圧レベルを示す周波数スペクトル曲線S2を算出する。この周波数スペクトル曲線S2は、例えば図6に示される。制御部12は、周波数スペクトル曲線S2の算出が完了すると、演算部17に、配管23の総延長の算出を指示する。演算部17は、制御部12からの算出指示を受けると、配管23の総延長の算出処理を実行する。演算部17は、まず周波数スペクトル曲線S2図6参照によって示される電圧レベルから、周波数スペクトル曲線S1図15参照によって示される電圧レベルを減算することにより、図7に示される特性曲線S3を算出する。この特性曲線S3は、配管23の周波数特性を示す曲線である。次に、演算部17は、特性曲線S3に基づいて、配管23の共振周波数を特定する。なお、ここでは特性曲線S3の極小点に対応する周波数として、周波数f1,f2,f3が特定される。次に、演算部17は、上記式1を用いて配管23の総延長を算出する。演算部17は、上記式1を用いて配管23の総延長を算出すると、算出結果を表示部18へ出力する。制御部12は、演算部17から算出結果が出力されると、表示部18に算出結果の表示を指示する。これにより、表示部18に、配管23の総延長が表示される。以上説明したように、本実施形態では、配管23に導体長計測装置10のプローブ13a,13bが接続され、このプローブ13a,13bを介して配管23に出力電圧Voが印加される。次に、FFT処理が実行されることにより、周波数スペクトル曲線S2が算出される。そして、この周波数スペクトル曲線S2から配管23の共振周波数が特定され、この共振周波数について、上記式1に示される演算が実行されることで、配管23の総延長が算出される。このため、配管23の敷設状態を把握して各分岐の末端に例えば計測に必要な機器等を設置することなく、配管23の総延長を容易に計測することができる。本実施形態に係る導体長計測装置10には、周波数掃引部13に代わるステップ波発生部31が用いられる。このため、周波数を掃引する処理を行うことなく、配管23の導体長を計測することができる。したがって、短時間に配管23の導体長を計測することが可能となる。また、導体長の計測を短時間に行うことができるため、例えば電気的なノイズの影響を受けやすい電気室内や電気機器の近傍で、複数回の計測を容易に行うことができる。したがって、計測結果の平均値に基づいて、導体長を算出することが容易となり、精度の高い計測が可能となる。本実施形態では、ステップ波発生部31からの出力電圧Voがt1でハイレベルになる波形である場合について説明した。これに限らず、ステップ波発生部31から出力される出力電圧Voは、周期的に値が変化する矩形波であってもよい。この場合、矩形波の波長が、測定対象物の電気的な長さλの1/4以下になるように、矩形波の基本周波数を決定すればよい。以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態によって限定されるものではない。例えば、上記実施形態では、図8に示されるように、配管23が点P1で分岐している場合について説明した。これに限らず、上記実施形態に係る導体長計測装置10は、例えば図16に示されるように、点P1と点P2の2カ所で分岐している配管23の導体長を計測することもできる。この場合、配管23の導体長は、次式24で示される。なお、pは分岐数を表し、ここでは2である。以下、上記式24について説明する。配管23のインピーダンスZtは、次式25で示される。なお、式25のA,Bそれぞれは、次式26,27によって示される。出力電圧Voの周波数が、配管23の共振周波数と一致する場合は、配管23のインピーダンスZtは発散する。この場合、上記式25の右辺の分子が無限大となるか、又は分母が零となる。しかしながら、上記式25では、分子が無限大とならないため、分母が零B=0となることが、インピーダンスZtが発散する条件となる。式27は、正接tanの2次の項tanβl×tanβlから、正接tanの4次の項tanβl×tanβl×tanβl×tanβlの項を減算する形になっている。このため、正接tanの3次の項での除算することによる解法が期待される。しかしながら、式27は、5つの異なるtan項を含むため、実施形態1で説明したように、式25を、tan項の和で示される式へ変換することができない。したがって、式27の解を解析的に導出するのは困難である。そこで、図16に示される配管23を、室外機21から点P1までの第1部分Pr1と、点P1から室内機22Bまでの第2部分Pr2と、点P1から室内機22Aまでの部分と、点P2から室内機22Bまでを合わせた第3部分Pr3に分けて考える。第3部分Pr3は、分岐点を含み構成が複雑であるが、式27のBにおける第3部分Pr3に対応する項は、周期が複雑化したtan項と考えることができる。なお、周期が複雑であるという意味は、tanβlNが-∞から∞までの間で繰り返し単調増加するものの、繰り返しパターンが不規則であるという意味である。以上から、第3部分Pr3に対応する項に、実施形態1で説明した点P1でのみ分岐する場合の計算式を適用した次式28が推察できる。式28から、配管23に、分岐点PNがp箇所ある場合には、次式29が成立する。そして、式30が導かれる。ここでは、配管23の共振周波数に基づいて配管23の導体長を算出するので、βとfとの関係は次式31で示される。したがって、上記式30,31から上記式24で示される推定式が導かれる。式24を用いることで、配管23が複数の箇所で分岐している場合であっても、本実施形態に係る導体長計測装置10を用いることで、配管23の導体長を精度よく計測することができる。また、上記実施形態では、導体長計測装置10を抵抗素子R2に接続して、導体長計測装置10の周波数特性を示す周波数スペクトル曲線S1を算出した。これに限らず、導体長計測措置10のプローブ13a,13bを開放した状態、導体長計測措置10のプローブ13a,13bを短絡した状態で、導体長計測装置10の周波数特性を示すスペクトル曲線S1を算出してもよい。プローブ13a,13bを抵抗素子R2に接続した状態、開放した状態、短絡した状態で、導体長計測装置10の周波数特性に基づいて、測定系固有のインピーダンスを特定し、当該インピーダンスを勘案した補正を行うことで、測定対象物のインピーダンスを正確に測定することが可能となる。上記実施形態では、周波数掃引部13がデジタル周波数シンセサイザであるものとした。これに限らず、例えば電圧信号により掃引周波数を掃引するVFOVariableFrequencyOscillatorなどに代表されるように、周波数掃引部13は、任意の周波数を所定のステップで掃引することが可能な装置であってもよい。また、レシーバ19としては、例えばデジタルオシロスコープなどを用いることができるが、直接周波数に対する電圧特性を計測できる装置を用いてもよい。上記実施形態では、空調装置の配管23を引用した説明を行った。これに限らず、本発明に係る導体長計測装置は、1対の導体からなる電気配線、通信線などのように、伝送理論が成立する物理的な構造をもつ導体の総延長を計測することができる。上記実施形態に係る導体長計測装置10は、導体への接続箇所を選ばず、例えば図17に示されるように、導体の分岐点P1に接続することもできる。一般に、導体の分岐点や末端部は、外部に露出していることが多い。このため、本発明の導体長計測装置を用いることで、配管23を被覆する断熱シート等にダメージを与えることなく、導体の総延長の計測を行うことができる。上記実施形態では、FFT処理部による処理結果が、第1記憶部15及び第2記憶部16に記憶される場合について説明した。これに限らず、例えば図18に示されるように、レシーバ19とFFT処理部14の間に記憶部30を配置し、レシーバ19から出力される情報を、記憶部30に蓄積してもよい。この場合には、FFT処理部14によって、記憶部30に蓄積された情報がFFT処理される。この場合、演算部17は、FFT処理部14から出力される情報に基づいて、導体長を算出する。本発明は、本発明の広義の精神と範囲を逸脱することなく、様々な実施形態及び変形が可能とされるものである。また、上述した実施形態は、本発明を説明するためのものであり、本発明の範囲を限定するものではない。つまり、本発明の範囲は、実施形態ではなく、特許請求の範囲によって示される。そして、特許請求の範囲内及びそれと同等の発明の意義の範囲内で施される様々な変形が、本発明の範囲内とみなされる。本出願は、2010年8月23日に出願された、日本国特許出願2010-186644号に基づく。本明細書中に日本国特許出願2010-186644号の明細書、特許請求の範囲、図面全体を参照して取り込むものとする。"