一対の電極を有する電子素子を複数含むアレイ型電子部品を有し、その複数の電子素子のうち少なくとも一つが所定の機能を実現する機能回路に組込まれた電子回路において、前記アレイ型電子部品において前記複数の電子素子のうち前記機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドを備え、前記アレイ型電子部品の検査を行う検査装置における一対の検査電極を前記一対の検査用ランドに接続させて、前記機能回路に対して未使用となっている前記アレイ型電子部品の電子素子の検査を実施させることにより、前記アレイ型電子部品の検査の代わりとすることを特徴とする電子回路。前記アレイ型電子部品の前記複数の電子素子と電気的特性を異にする複数の電子素子が一体となり、全ての前記複数の電子素子が前記機能回路に対して使用されている異型アレイ型電子部品を有する場合、前記異型アレイ型電子部品と同型であり、かつ電気的特性が同程度の検査用アレイ型電子部品、及び前記検査用アレイ型電子部品の電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドを有する検査用回路を備え、前記検査用回路の前記一対の検査用ランドに前記検査装置における前記一対の検査電極を接続させて、前記異型アレイ型電子部品の電子素子の検査を実施させることにより、前記異型アレイ型電子部品の検査の代わりとすることを特徴とする請求項1に記載の電子回路。前記機能回路を検査するためのグランドに接続されたグランド検査用ランドを備え、前記グランド検査用ランドは、前記アレイ型電子部品において前記機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドの一方を兼ねていることを特徴とする請求項1又は2に記載の電子回路。前記アレイ型電子部品における電子素子は、抵抗器を含んでいることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の電子回路。上述した特許文献1、2の検査方法とは異なり、電子回路に設けられた所定の機能を実現する機能回路に複数のアレイ型電子部品を接続させた上で、当該電子部品の電極に検査装置の検査電極を接続することで当該電子部品の検査を実施する方法が知られている。このような検査をインサーキット検査と呼んでいる。しかし、アレイ型電子部品の小型化に伴い、当該電子部品の電極の間隔が狭くなるため、検査電極を目標とする電極に接続することが困難となる。そこで、本出願人が考案したインサーキット検査では、機能回路に組込まれたアレイ型電子部品と同型であり、かつ同程度の電気的特性例えば抵抗値を有する検査用アレイ型電子部品、及び検査用ランドとを有し、機能回路とは独立した検査用回路を設け、当該検査用ランドに検査電極を接続して、検査用アレイ型電子部品の検査を実施することで、機能回路のアレイ型電子部品の検査の代わりとしている。しかし、このような方法によるインサーキット検査では、機能回路に組込まれたアレイ型電子部品とは別に検査用アレイ型電子部品を必要とする。このため、電子回路が大型化し、電子回路のコストが上昇してしまうおそれがある。本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものであって、その目的は、電子回路を小型にすることができるとともに、電子回路のコストを低減させることができる電子回路を提供することである。上記目的を達成するために請求項1の発明は、一対の電極を有する電子素子を複数含むアレイ型電子部品を有し、その複数の電子素子のうち少なくとも一つが所定の機能を実現する機能回路に組込まれた電子回路において、アレイ型電子部品において複数の電子素子のうち機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドを備え、アレイ型電子部品の検査を行う検査装置における一対の検査電極を一対の検査用ランドに接続させて、機能回路に対して未使用となっているアレイ型電子部品の電子素子の検査を実施させることにより、アレイ型電子部品の検査の代わりとすることを特徴としている。請求項1の発明よれば、少なくとも一つの電子素子が機能回路に組込まれるアレイ型電子部品が、検査装置によって検査されるので、当該アレイ型電子部品と同型であり、かつ電気的特性が同程度の検査用アレイ型電子部品を別に用意する必要がなくなる。これによれば、検査用アレイ型電子部品の個数を極力減らすことができる。その結果、電子回路を小型にすることができるとともに、電子回路のコストを低減させることができる。請求項2の発明は、アレイ型電子部品の複数の電子素子と電気的特性を異にする複数の電子素子が一体となり、全ての複数の電子素子が機能回路に対して使用されている異型アレイ型電子部品を有する場合、異型アレイ型電子部品と同型であり、かつ電気的特性が同程度の検査用アレイ型電子部品、及び検査用アレイ型電子部品の電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドを有する検査用回路を備え、検査用回路の一対の検査用ランドに検査装置における一対の検査電極を接続させて、異型アレイ型電子部品の電子素子の検査を実施させることにより、異型アレイ型電子部品の検査の代わりとすることを特徴としている。請求項2の発明によれば、検査用回路における検査用アレイ型電子部品によって、機能回路の異型アイレ型電子部品の検査が行えるので、電子素子の一つが機能回路に対して未使用となっているアレイ型電子部品とは異なり、アレイ型電子部品の電子素子が機能回路に対して全て使用されているものが機能回路に組込まれている電子回路であっても、複数種類のアレイ型電子部品の検査を実施することが可能となる。請求項3の発明は、機能回路を検査するためのグランドに接続されたグランド検査用ランドを備え、グランド検査用ランドは、アレイ型電子部品において機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドの一方を兼ねていることを特徴としている。通常、電子回路は、機能回路を検査するためのグランド検査用ランドを備えている。請求項3の発明によれば、グランド検査用ランドは、アレイ型電子部品において機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドの一方を兼ねているので、電子回路を簡素化することができ、さらに電子回路の小型化及びコスト低減効果を向上させることができる。請求項4の発明は、アレイ型電子部品における電子素子は、抵抗器を含んでいることを特徴としている。請求項4の発明によれば、検査する対象となるアレイ型電子部品として、複数の抵抗器を一体化してアレイ型とした電子部品に適用することができる。以下、本発明の第1実施形態による燃料供給システムについて、図面に基づいて説明する。なお、各実施形態において対応する構成要素には同一の符号を付すことにより、重複する説明を省略する。第1実施形態電子回路100は、基板16、配線18、20、複数の第1ネットワーク抵抗22、複数の第2ネットワーク抵抗24、二つのチェックランド24b、一つの第1検査用抵抗26、二つのチェックランド26b等から構成されている。基板16には、配線18、第1ネットワーク抵抗22、第2ネットワーク抵抗24、チェックランド24b等からなる機能回路12と、配線20、第1検査用抵抗26、チェックランド26b等からなる検査用回路14とが形成される。ここで、第1、第2ネットワーク抵抗22、24及び第1検査用抵抗26について説明する。第1、第2ネットワーク抵抗22、24及び第1検査用抵抗26は、それぞれ複数の抵抗器を一体化したアレイ型電子部品である。第1ネットワーク抵抗22は、第1の抵抗値を有する4つの抵抗器21を一体化したアレイ型電子部品であり、抵抗器21に対応した一対の電極22aを4組備える。第2ネットワーク抵抗24は、第1の抵抗値とは異なる第2の抵抗値を有する4つの抵抗器23を一体化したアレイ型電子部品であり、抵抗器23に対応する一対の電極24a、24cを4組備える。また、第1検査用抵抗26は、それぞれ第1の抵抗値を有する4つの抵抗器25を一体化したアレイ型電子部品であり、抵抗器25に対応する一対の電極26aを4組備える。第1検査用抵抗26は、第1ネットワーク抵抗22と同型であり、かつ同程度の抵抗値電気的特性を有する。基板16の表面、裏面、又は内部には機能回路12及び検査用回路14の一部を構成する配線18、20が配索されている。機能回路12が形成される領域には、複数の第1ネットワーク抵抗22、及び複数の第2ネットワーク抵抗24が設置され、第1ネットワーク抵抗22の電極22a及び第2ネットワーク抵抗24の電極24aに、配線18が接続されている。チェックランド24b、24bは、第2ネットワーク抵抗24において機能回路12に対して未使用となっている抵抗器23に対応する一対の電極24cに接続されている。また、検査用回路14が形成される領域には、第1検査用抵抗26が設置され、第1検査用抵抗26の電極26aに、配線20が接続されている。また、配線20には、チェックランド26b、26bが接続されている。図1に示すように、第1ネットワーク抵抗22において、それぞれの抵抗22の電極22aは全て配線18に接続されている。一方、複数の第2ネットワーク抵抗24のうち一つの抵抗24における一つの抵抗器23は機能回路12に対して使用されておらず、当該抵抗器23に対応する一対の電極24cは配線18に接続されていない。他の抵抗24における抵抗器23は機能回路12に対して使用されており、他の抵抗24の電極24aは全て配線18に接続されている。一対の電極24cには、二つのチェックランド24b、24bがそれぞれ接続されている。チェックランド24b、24bは、第2ネットワーク抵抗24を検査するための検査装置の検査電極が接続される部位であり、これらチェックランド24b、24bに検査電極が接続されることにより、検査装置による第2ネットワーク抵抗24の検査が実施可能となる。第1検査用抵抗26において、少なくとも一つの抵抗器25に対応する一対の電極26aには、配線20を介して二つのチェックランド26b、26bがそれぞれ接続されている。これらチェックランド26b、26bに検査電極が接続されることにより、検査装置による第1検査用抵抗26の検査が実施可能となる。以上、本実施形態による電子回路100の回路構成を説明した。次に、本実施形態の効果を説明するために、比較例となる電子回路300の回路構成を説明する。比較例による電子回路300において、本実施形態の電子回路100の回路構成と同じ部材等については、本実施形態を同じ符号で表すとともに、同じ符号の部材についての説明は省略する。ここでは、本実施形態の電子回路100と異なる部分のみを説明する。図3に示すように、比較例による電子回路300は、検査用回路14に第2検査用抵抗28がさらに組込まれている点が、本実施形態の電子回路100と異なる。第2検査用抵抗28は、それぞれ第2の抵抗値を有する4つの抵抗器27を一体化したアレイ型電子部品であり、抵抗器27に対応する一対の電極28aを4組備える。第2検査用抵抗28は、第2ネットワーク抵抗24と同型であり、かつ同程度の抵抗値電気的特性を有する。第2検査用抵抗28において、少なくとも一つの抵抗器27に対応する一対の電極28aには、配線20を介して、二つのチェックランド28b、28bがそれぞれ接続されている。なお、この比較例の電子回路300において、一方のチェックランド28bは、第1検査用抵抗26のチェックランド26bと共通となっている。以上、比較例による電子回路300の回路構成について説明した。次に、本実施形態による電子回路100と比較例による電子回路300の作用効果について説明する。まず、比較例による電子回路300を用いてネットワーク抵抗の検査について説明する。第1、第2ネットワーク抵抗22、24は、インサーキット検査によって検査される。しかし、電子回路300には、第1、第2ネットワーク抵抗22、24がそれぞれ複数個、機能回路12に接続されているので、当該抵抗22、24の全てを検査することは現実的でない。ここで、ネットワーク抵抗は、複数の抵抗器を一体としたものであるので、ネットワーク抵抗の複数の抵抗器は同じ工程で製造される。また、ネットワーク抵抗は、同型であり、かつ同程度の抵抗値を有するネットワーク抵抗毎にロット管理されるのが一般的である。そこで、本願出願人が考案したインサーキット検査では、ネットワーク抵抗の抵抗器が同一行程で製造されること、ネットワーク抵抗が型毎にロット管理されていることに着目し、一つのネットワーク抵抗において、一つの抵抗器を検査することで、ネットワーク抵抗の検査の実施に代え、さらに一つのネットワーク抵抗を検査することで、機能回路に設けられたネットワーク抵抗の検査の実施に代えている。しかし、第1、第2ネットワーク抵抗22、24のそれぞれの電極22a、24aの間隔は、抵抗22、24の小型化に伴い狭くなるので、検査装置の検査電極を目標とする電極22a、24aに接続することが困難となる。そこで、比較例による電子回路300では、機能回路12とは別に、第1、第2ネットワーク抵抗22、24のそれぞれと同型であり、かつ同程度の抵抗値を有する第1、第2検査用抵抗26、28、配線20、及びチェックランド26b、28bからなる検査用回路14を設けている。そして、チェックランド26b、28bに検査装置の一対の検査電極を接続し、第1、第2検査用抵抗26、28の検査を実施する。具体的には、チェックランド26b、26bに一対の検査電極を接続して、抵抗器25の検査を実施することにより、第1検査用抵抗26の検査を行う。そして、チェクランド28b、28bに一対の検査電極を接続して、抵抗器27の検査を実施することにより、第2検査用抵抗28の検査を行う。これらの検査の実施によって、機能回路12の第1、第2ネットワーク抵抗22、24の検査の実施の代わりとしている。このように機能回路12とは別の検査用回路14に第1、第2検査用抵抗26、28及びチェックランド26b、28bを組込むことによれば、一対の検査電極の接続を確実とすることができ、ネットワーク抵抗の確実な実施を達成できる。しかし、この比較例による電子回路300では、第1、第2ネットワーク抵抗22、24に対して、それぞれ第1、第2検査用抵抗26、28が必要となり、検査用回路14が大型化する。よって、電子回路300では、検査用抵抗の設置個数及び検査用回路14の大型化について改善の余地がある。これに対し、本実施形態による電子回路100は、第2ネットワーク抵抗24において機能回路12に対して未使用となっている抵抗器23に対応する一対の電極24cに接続する二つのチェックランド24b、24bを備えている。そして、検査用回路14には、第1検査用抵抗26、さらに当該抵抗26に接続されるチェックランド26b、26bが設けられる。本実施形態による電子回路100では、検査用回路14のチェックランド26b、26bに検査装置の一対の検査電極を接続して、抵抗器25の検査を実施することにより、第1検査用抵抗26の検査を実施する。その後、第2ネットワーク抵抗24の一対の電極24aに接続されたチェックランド24b、24bに一対の検査電極を接続して、抵抗器23の検査を実施することにより、第2ネットワーク抵抗24の検査を実施する。本実施形態では、これらの検査の実施によって、第1、第2ネットワーク抵抗22、24の検査の代わりとしている。本実施形態の電子回路100では、先にも述べたが、第2ネットワーク抵抗24に対応するチェックランド24b、24bによって第2ネットワーク抵抗24の検査を実施している。このことによれば、比較例による電子回路300と異なり、検査用回路14に第2検査用抵抗28図3参照が不要となり、検査用回路14を小型化することができる。その結果、電子回路100を小型化することができるとともに、電子回路100のコストを低減することができる。なお、本実施形態において、抵抗器23が請求項に記載の電子素子に相当し、第2ネットワーク抵抗24が請求項に記載のアレイ型電子部品に相当し、第1ネットワーク抵抗22が請求項に記載の異型アレイ型電子部品に相当する。また、一対の電極24cが請求項に記載のアレイ型電子部品において複数の電子素子のうち機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に相当し、その一対の電極24cに接続されるチェックランド24b、24bが請求項に記載の一対の検査用ランドに相当する。また、第1検査用抵抗26が請求項に記載の第1検査用アレイ型電子部品に相当する。第2実施形態第1実施形態において電子回路100は、第2ネットワーク抵抗24の未使用となっている一対の電極24cにチェックランド24b、24bをそれぞれ接続するとともに、検査用回路14において第1検査用抵抗26の一対の電極26aにチェックランド26b、26bをそれぞれ接続する回路構成となっていた。これに対し、第2実施形態による電子回路200は、機能回路12の電気的導通等を検査するためのグランド検査用ランド30を備えている。そして、このグランド検査用ランド30は、第2ネットワーク抵抗24の一対の電極24cのうちの一方の電極24cに接続されるとともに、第1検査用抵抗26のうちの一対の電極26aのうちの一方の電極26aに接続されている。即ち、グランド検査用ランド30は、二つのチェックランド24b、24bのうちの一方を兼ねている。このように電子回路200を構成することによれば、グランド検査用ランド30を、第1検査用抵抗26に対するチェックランド26b、26bの一方のチェックランド26bとするとともに、第2ネットワーク抵抗24に対するチェックランド24b、24bの一方のチェックランド24bとすることができる。よって、それぞれのネットワーク抵抗24、26に対応するチェックランド24b、26bの数を減らすことが可能となり、電子回路200をより簡素化することができる。その結果、電子回路200の小型化及びコスト低減効果を向上させることができる。その他の実施形態以上、本発明による第1、2実施形態について説明したが、本発明は、上記先の実施形態に限定して解釈されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の実施形態及び組み合わせに適用することができる。先の第1、第2実施形態では、検査対象となる電子部品がネットワーク抵抗であったが、アレイ型電子部品であれば、先の実施形態を活用することができる。例えば、複数のコンデンサを一体化させアレイ型電子部品とした集合コンデンサにも活用することができる。先の第1、第2実施形態では、第1ネットワーク抵抗22の全ての電極22aには、配線18が接続され、未使用となる抵抗器21がなかったが、第1ネットワーク抵抗22に未使用となる抵抗器22があれば、第2ネットワーク抵抗24と同様に、その未使用となっている抵抗器22に対応する一対の電極に第1ネットワーク抵抗用のチェックランドを接続するようにしても良い。このようにすれば、図1及び図2に示す第1検査用抵抗26も不要となり、電子回路100、200をさらに小型化でき、かつコストを低減させることができる。