"第1光ビーム及び第2光ビームを発光する発光部と、モータと、前記モータによって回転駆動され、前記発光部からの第1光ビーム及び第2光ビームを周期的に偏向し、2本の走査ラインを走査対象物上に同時に形成する回転多面鏡と、前記回転多面鏡によって偏向された第1光ビーム及び第2ビームを検出する光センサと、前記光センサが前記第1光ビームを検出した第1検出タイミング、及び、前記光センサが前記第2ビームを検出した第2検出タイミングに基づき、前記走査対象物上での前記2本の走査ラインの主走査方向における開始位置のずれ量を測定するずれ測定部と、前記ずれ測定部によりずれ量が測定されない測定不実行期間には、前記第2検出タイミングに基づき前記モータを回転制御し、前記ずれ測定部によりずれ量が測定される測定実行期間には、前記ずれ量を測定のために使用する第1検出タイミングを使用せずに前記モータを回転制御するモータ制御部と、を備える光走査装置。請求項1に記載の光走査装置であって、前記ずれ測定部は、前記第1検出タイミングと前記第2検出タイミングとの間の第1時間と、前記第2検出タイミング同士の間の第2時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定実行期間には、前記第1検出タイミング及び前記第2検出タイミングにかかわらず、予め定められた回転周期で前記モータを回転制御する光走査装置。請求項2に記載の光走査装置であって、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間における前記モータの回転周期をメモリに記憶し、前記測定実行期間には、前記メモリに記憶された回転周期を、前記予め定められた回転周期として、前記モータを回転制御する光走査装置。請求項1に記載の光走査装置であって、前記ずれ測定部は、前記モータの一の回転周期内において、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第1光ビームが反射したときの第1検出タイミングと、他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときの第2検出タイミングとの間の第3時間と、前記モータの他の回転周期内において、前記一のミラー面及び前記他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときの第2検出タイミング同士の間の第4時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときの第2検出タイミングに基づき前記モータを回転制御する光走査装置。請求項4に記載の光走査装置であって、前記一のミラー面は1つである光走査装置。請求項1に記載の光走査装置であって、前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第1光ビーム及び前記第2光ビームが反射したときに先に検出した光ビームの検出始期と後に検出した光ビームの検出終期との間の第5時間と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときにおける当該第2光ビームの検出始期と検出終期との間の第6時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第2光ビームの検出始期及び検出終期のうち、第1光ビームの検出期間から遠い方の期に基づき前記モータを回転制御する光走査装置。請求項1に記載の光走査装置であって、前記光センサが前記第1光ビーム、前記第2光ビームの順に検出する構成とされ、前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第1光ビーム及び前記第2光ビームが反射したときにおける当該第1光ビームの検出始期と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときにおける当該第2光ビームの検出始期との間の第7時間と、前記一のミラー面または前記他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときにおける当該第2光ビームの検出始期同士の間の第8時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第2光ビームの検出終期に基づき前記モータを回転制御する光走査装置。請求項1に記載の光走査装置であって、前記光センサが前記第2光ビーム、前記第1光ビームの順に検出する構成とされ、前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第1光ビーム及び前記第2光ビームが反射したときにおける当該第1光ビームの検出終期と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときにおける当該第2光ビームの検出終期との間の第7時間と、前記一のミラー面または前記他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときにおける当該第2光ビームの検出終期同士の間の第8時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第2光ビームの検出始期に基づき前記モータを回転制御する光走査装置。請求項1に記載の光走査装置であって、前記モータは、複数のコイルが配置されたステータ、及び、磁石が配置されたロータを有するブラシレスモータであり、前記各コイルへの通電をオンオフする通電切替部と、前記ロータの回転位置に応じた検出信号を出力する位置検出部と、前記モータ制御部は、前記第2検出タイミングに基づき前記ブラシレスモータを回転制御することと、前記検出信号に基づき前記通電切替部による通電をオンオフさせ、且つ、その通電オン期間に前記通電切替部をチョッピング制御し、当該チョッピング制御におけるデューティ比を変えることで目標値に近づくよう前記ブラシレスモータを回転制御することを行う構成とされ、前記測定不実行期間には、前記検出信号に基づき前記モータを回転制御する光走査装置。請求項2に記載の光走査装置であって、前記ずれ測定部は、前記ずれ量を複数回測定し、その複数回分のずれ量の平均値を、最終的なずれ量とする構成である光走査装置。請求項1から請求項10のいずれか一項に記載の光走査装置であって、前記ずれ測定部が測定したずれ量に基づき、前記2本の走査ラインを形成するときの前記第1光ビームと前記第2ビームの発光タイミングの時間差を変更して、前記ずれ量を減少させる位置補正部を備える抑制する光走査装置。請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の光走査装置と、前記走査対象物としての感光体と、を有し、前記光走査装置により感光体上に形成した静電潜像に基づく画像を被画像形成媒体に形成する画像形成装置。第1光ビーム及び第2光ビームを発光する発光部と、モータと、前記モータによって回転駆動され、前記発光部からの第1光ビーム及び第2光ビームを周期的に偏向し、2本の走査ラインを走査対象物上に同時に形成する回転多面鏡と、前記回転多面鏡によって偏向された第1光ビーム及び第2ビームを検出する光センサと、を備える光走査装置が有するコンピュータに、前記光センサが前記第1光ビームを検出した第1検出タイミング、及び、前記光センサが前記第2ビームを検出した第2検出タイミングに基づき、前記走査対象物上での前記2本の走査ラインの主走査方向における開始位置のずれ量を測定するずれ測定処理と、前記ずれ測定処理によりずれ量が測定されない測定不実行期間には、前記第2検出タイミングに基づき前記モータを回転制御し、前記ずれ測定処理によりずれ量が測定される測定実行期間には、前記ずれ量を測定のために使用する第1検出タイミングを使用せずに前記モータを回転制御するモータ制御処理と、を実行させる制御プログラム。ところで、回転多面鏡を有する光走査装置では、一方の光ビームのセンサにおける検出タイミングが一定周期になるように、モータをセンサからの入力信号に基づいてフィードバック制御することにより、そのモータに連結された回転多面鏡を定速回転させるものが多い。ところが、上記マルチビームレーザ走査装置のように、2つの光ビームを選択的に点灯して上記開始位置のずれ量を測定する光走査装置では、その測定時に回転多面鏡を正常に定速回転させることができなくなるおそれがある。なぜならば、この光走査装置では、ずれ量の測定時において、回転多面鏡の回転制御に使用していた一方の光ビームが一時的に消灯し、当該一方の光ビームとはセンサでの検出タイミングが異なる他方の光ビームが点灯する。このため、回転多面鏡の実際の回転周期と、センサでの光ビームの検出周期とが一時的に相違してしまうからである。本明細書では、2つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、回転多面鏡を正常に定速回転させることができなくなることを抑制する技術を開示する。本明細書によって開示される光走査装置は、第1光ビーム及び第2光ビームを発光する発光部と、モータと、前記モータによって回転駆動され、前記発光部からの第1光ビーム及び第2光ビームを周期的に偏向し、2本の走査ラインを走査対象物上に同時に形成する回転多面鏡と、前記回転多面鏡によって偏向された第1光ビーム及び第2ビームを検出する光センサと、前記光センサが前記第1光ビームを検出した第1検出タイミング、及び、前記光センサが前記第2ビームを検出した第2検出タイミングに基づき、前記走査対象物上での前記2本の走査ラインの主走査方向における開始位置のずれ量を測定するずれ測定部と、前記ずれ測定部によりずれ量が測定されない測定不実行期間には、前記第2検出タイミングに基づき前記モータを回転制御し、前記ずれ測定部によりずれ量が測定される測定実行期間には、前記ずれ量を測定のために使用する第1検出タイミングを使用せずに前記モータを回転制御するモータ制御部と、を備える。上記光走査装置では、前記ずれ測定部は、前記第1検出タイミングと前記第2検出タイミングとの間の第1時間と、前記第2検出タイミング同士の間の第2時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定実行期間には、前記第1検出タイミング及び前記第2検出タイミングにかかわらず、予め定められた回転周期で前記モータを回転制御してもよい。上記光走査装置では、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間における前記モータの回転周期をメモリに記憶し、前記測定実行期間には、前記メモリに記憶された回転周期を、前記予め定められた回転周期として、前記モータを回転制御してもよい。上記光走査装置では、前記ずれ測定部は、前記モータの一の回転周期内において、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第1光ビームが反射したときの第1検出タイミングと、他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときの第2検出タイミングとの間の第3時間と、前記モータの他の回転周期内において、前記一のミラー面及び前記他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときの第2検出タイミング同士の間の第4時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときの第2検出タイミングに基づき前記モータを回転制御してもよい。上記光走査装置では、前記一のミラー面は1つでもよい。上記光走査装置では、前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第1光ビーム及び前記第2光ビームが反射したときに先に検出した光ビームの検出始期と後に検出した光ビームの検出終期との間の第5時間と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときにおける当該第2光ビームの検出始期と検出終期との間の第6時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第2光ビームの検出始期及び検出終期のうち、第1光ビームの検出期間から遠い方の期に基づき前記モータを回転制御してもよい。上記光走査装置では、前記光センサが前記第1光ビーム、前記第2光ビームの順に検出する構成とされ、前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第1光ビーム及び前記第2光ビームが反射したときにおける当該第1光ビームの検出始期と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときにおける当該第2光ビームの検出始期との間の第7時間と、前記一のミラー面または前記他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときにおける当該第2光ビームの検出始期同士の間の第8時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第2光ビームの検出終期に基づき前記モータを回転制御してもよい。上記光走査装置では、前記光センサが前記第2光ビーム、前記第1光ビームの順に検出する構成とされ、前記ずれ測定部は、前記回転多面鏡の一のミラー面で前記第1光ビーム及び前記第2光ビームが反射したときにおける当該第1光ビームの検出終期と、前記一のミラー面または他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときにおける当該第2光ビームの検出終期との間の第7時間と、前記一のミラー面または前記他のミラー面で前記第2光ビームが反射したときにおける当該第2光ビームの検出終期同士の間の第8時間との時間差に基づき前記ずれ量を測定し、前記モータ制御部は、前記測定不実行期間には、前記第2光ビームの検出始期に基づき前記モータを回転制御してもよい。上記光走査装置では、前記モータは、複数のコイルが配置されたステータ、及び、磁石が配置されたロータを有するブラシレスモータであり、前記各コイルへの通電をオンオフする通電切替部と、前記ロータの回転位置に応じた検出信号を出力する位置検出部と、前記モータ制御部は、前記第2検出タイミングに基づき前記ブラシレスモータを回転制御することと、前記検出信号に基づき前記通電切替部による通電をオンオフさせ、且つ、その通電オン期間に前記通電切替部をチョッピング制御し、当該チョッピング制御におけるデューティ比を変えることで目標値に近づくよう前記ブラシレスモータを回転制御することを行う構成とされ、前記測定不実行期間には、前記検出信号に基づき前記モータを回転制御してもよい。上記光走査装置では、前記ずれ測定部は、前記ずれ量を複数回測定し、その複数回分のずれ量の平均値を、最終的なずれ量とする構成でもよい。なお、この発明は、光走査装置、制御方法、画像形成装置、これらの方法または装置の機能を実現するためのコンピュータプログラム、そのコンピュータプログラムを記録した記録媒体等の種々の態様で実現することができる。本発明によれば、2つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、回転多面鏡を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。<実施形態1>実施形態1について図1から図7を参照しつつ説明する。1.レーザプリンタの構成図1は、レーザプリンタ1画像形成装置の一例の要部側断面図である。以下、同図の紙面右方を、レーザプリンタ1の前方として説明する。このレーザプリンタ1では、2つのレーザ光により2本の走査ラインを感光体上に同時に形成する、いわゆるマルチビーム方式が採用されている。なお、レーザプリンタ1は、単色プリンタだけでなく、2色以上のカラープリンタでもよい。また、画像形成印刷機能を有していれば、例えば、ファクシミリ機能、コピー機能、読み取り機能スキャナ機能等を備えた複合機でもよい。レーザプリンタ1は、本体フレーム2内に、用紙等のシート3を給紙するためのフィーダ部4や、給紙されたシート3に画像を形成するための画像形成部5などを備えている。フィーダ部4は、トレイ6、押圧板7、ピックアップローラ8、一対のレジストレーションローラ9,9を有する。押圧板7は、その後端部を中心に回転可能とされており、押圧板7上の最上位にあるシート3がピックアップローラ8に向かって押圧されている。そして、シート3は、ピックアップローラ8の回転によって1枚毎に取り出される。取り出されたシート3は、レジストレーションローラ9,9によってレジストされた後に転写位置に送られる。転写位置は、シート3に感光体10上のトナー像を転写する位置であって、感光体10と転写ローラ11との接触位置である。画像形成部5は、例えば、スキャナ部12光走査装置の一例、プロセスカートリッジ13および定着部14を備えている。スキャナ部12は、ツインレーザ15発光部の一例図3参照、及び、ポリゴンミラー16回転多面鏡の一例等を備えている。ツインレーザ15から発光された第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2光ビームの一例は、ポリゴンミラー16によって周期的に偏向されつつ感光体10の表面上に照射される。スキャナ部12の詳細については後述する。また、プロセスカートリッジ13は、感光体10走査対象物の一例、スコロトロン型の帯電器17、現像ローラ18を備えている。なお、感光体10は、ドラムタイプに限らずベルトタイプでもよい。帯電器17は、感光体10の表面を一様に正極性に帯電させる。帯電された感光体10の表面は、スキャナ部12からのレーザ光L1、L2により露光され、静電潜像が形成される。次いで、現像ローラ18の表面上に担持されるトナーが、感光体10上に形成された静電潜像に供給され現像化されトナー像が形成される。トナー像が形成されたシート3は、そのトナー像が定着器14によって熱定着され、排紙パス19を介して排紙トレイ20上に排紙される。2.レーザプリンタの電気的構成図2は、レーザプリンタ1の電気的構成を例示するブロック図である。レーザプリンタ1は、CPU21、ROM22、RAM23、EEPROM24、フィーダ部4、画像形成部5、各種ランプや液晶パネルなどからなる表示部25、入力パネルなどの操作部26、メインモータ28などを備えている。これら以外にも、外部機器と接続するための図示しないネットワークインタフェースなどが設けられている。EEPROM24には、後述する印刷前処理を実行するための制御プログラムが記憶されている。メインモータ28は、前述したフィーダ部4の各種の搬送ローラ8,9等、感光体10、転写ローラ11を回転駆動するためのモータであり、後述するスキャナ部12に備えられたブラシレスモータ33とは独立に回転駆動する。3.スキャナ部の構成図3は、スキャナ部12の構成を示す模式図である。スキャナ部12は、ツインレーザ15、第1レンズ部30、ポリゴンミラー16、第2レンズ部31、受光センサ32光センサの一例、ブラシレスモータ33モータの一例、制御基板34等を備える。ツインレーザ15は、2つのレーザ光源を有し、第1レーザ光L1と第2レーザ光L2とを互いにオフセットした位置から発光することができる。なお、レーザ光源の一例としては半導体レーザが挙げられる。また、ツインレーザ15は、2つのレーザ光源が1つのチップとして一体化されたものでもよいし、別体とされたものでもよい。第1レンズ部30は、コリメータレンズやシリンドリカルレンズなどで構成されており、ツインレーザ15から発光されたレーザ光L1、L2を透過してポリゴンミラー16に照射させる。第2レンズ部31は、fθレンズやシリンドリカルレンズなどで構成されており、ポリゴンミラー16にて偏向反射されたレーザ光L1、L2を透過して感光体10上に照射させる。ポリゴンミラー16は、6つのミラー面で構成されており、ブラシレスモータ33によって高速で回転駆動される。なお、ミラー面の数は6つに限らず、例えば4つや8つなどでもよい。ツインレーザ15から発光された第1レーザ光L1と第2レーザ光L2は、ポリゴンミラー16の各ミラー面に対し、ポリゴンミラー16の回転軸方向においてずれた位置で反射するよう構成されている。このため、ポリゴンミラー16は、高速回転されることで、ツインレーザ15から発光されたレーザ光L1,L2を周期的に偏向し、第2レンズ部31を介して、2本の走査ラインM1、M2を感光体10上に同時に形成することが可能である図3参照。なお、走査ラインM1は第1レーザ光L1により形成され、走査ラインM2は第2レーザ光L2により形成される。また、走査ラインM1、M2は、画像データの各ラインデータに応じたドット状の露光ラインであり、各ラインデータが画像の空白部分に対応する場合には走査ラインは形成されない。ブラシレスモータ33は、例えば3相のブラシレスDCモータであり、U相、V相、W相の各コイルが配置された固定子であるステータ35、及び、10極の界磁用永久磁石が配置された回転子であるロータ36を有する。なお、界磁用永久磁石の数は10極以外でもよい。また、ブラシレスモータ33は、各コイルがスター結線で配置されている。そして、ポリゴンミラー16は、ロータ36と共に一体的に回転する。制御基板34には、ブラシレスモータ33を回転駆動する駆動回路37、及び、制御回路38ずれ測定部、モータ制御部、位置補正部の一例等が実装されている。駆動回路37は、例えばインバータ37A通電切替部の一例を有し、各コイルへの通電をオンオフ入り切りする。制御回路38は、例えばASICApplicationSpecificIntegratedCircuitで構成されており、上記CPU21からの指示に基づきツインレーザ15の発光制御、ブラシレスモータ33ポリゴンミラー16の回転制御などを行う。受光センサ32は、ポリゴンミラー16で偏向されたレーザ光L1、L2が感光体10に達する前に当該レーザ光L1、L2を受光する位置に配置されている。受光センサ32は、レーザ光L1、L2による各走査ラインの書き出しタイミングを決定するためのものであって、ツインレーザ15から発光されたレーザ光L1、L2を受光して、検出信号としてBDBeamDetect信号を制御回路38に出力する。なお、受光センサ32は、レーザ光L1、L2が感光体10を通過した後に当該レーザ光L1、L2を受光する位置に配置してもよい。4.ロータの位置検出のための構成制御回路38は、ホール素子等の位置検出素子を利用せずにロータ36の位置を検出することが可能である。即ち、ステータ35に対するロータ36の回転に伴って各コイルに発生する誘起電圧に基づきロータ36の位置を検出する。ロータ36の回転により、各コイルには、S極の磁石とN極の磁石とが交互に接近、換言すれば着磁し、これに伴ってコイル中の磁束が変化して各コイルに誘起電圧が発生する。また、各コイルのインピーダンスは、その接近する磁石がS極かN極かによって異なる。従って、誘起電圧は、S極が接近したときとN極が接近したときとで異なるレベルに周期的に変化した波形例えば正弦波を示す。従って、この誘起電圧を検出することにより、各コイルにどの極性の磁石が接近しているか、即ち、ロータ36の位置を検出することが可能になる。誘起電圧を検出するための構成は次の通りである。図3に示すように、駆動回路37は、各コイルに対応する3つの電圧検出回路39,39,39位置検出部の一例を備える。各電圧検出回路39は、対応するコイルの端点Pとスター結線の中位点Oとの間の電圧差に応じた検出信号を出力する。なお、端点Pは、駆動回路37と接続される側のコイルの端部であり、上記電圧差には誘起電圧が含まれる。駆動回路37は、各検出信号を、例えば図示しないコンパレータを介して、誘起電圧の変化、換言すれば、各コイルに接近する磁石の極性の入れ替わりに応じてレベル反転するハイロー信号に変換して制御回路38に与える。以下、このハイロー信号を、FG信号という。図4は、FG信号及び通電オンオフ信号の波形を示すタイムチャートである。同図に示すように、各相に対応するFG信号は、互いに略120度ずつ位相がずれた波形として制御回路38に与えられる。そして、制御回路38は、各FG信号に応じた通電オンオフ信号を駆動回路37に与えて各コイルへの通電の入りきりを制御チョッピング制御し、これにより、ブラシレスモータ33を回転駆動することができる。各相のコイルに対してチョッピング制御を実行して積極的に通電をしている通電オン期間チョッピングオン期間は、図4に示す山形のオンオフ波形のうち、PWM信号の振幅が一定になっている期間である。なお、各相における上記オンオフ波形のうち、PWM信号の振幅が徐々に増加/減少している期間は、当該相の通電オフ期間であり、他の相のコイルへの通電により生じた信号レベルが現れているに過ぎない。そして、誘起電圧は、通電オン期間のうち、通電オンオフ信号が例えばゼロ[V]であるローレベルの期間に検出される。なお、以下、通電オン期間のうち、通電オンオフ信号がローレベルの期間をデューティオフ期間といい、通電オンオフ信号がハイレベルの期間をデューティオン期間という。また、制御回路38は、例えばパルス幅変調によって通電オン期間内の通電量を調整することにより、ブラシレスモータ33及びポリゴンミラー16の回転速度を変更することができる。具体的には、図4に示すように、制御回路38は通電オン期間にPWM信号に基づきインバータ37Aをチョッピング制御しつつ、このPWM値、換言すればデューティオン期間とデューティオフ期間との比率を変更することによりブラシレスモータ33の回転速度を変更する。なお、図3に示すように、制御基板34は、ブラシレスモータ33ポリゴンミラー16の設置場所から離間した位置に配置されており、制御基板34とブラシレスモータ33とは、3つのコイルの端点P及び中位点0とそれぞれ接続された4本の信号線のみによって接続されている。5.印刷前処理について図5は印刷前処理を示すフローチャートであり、図6はずれ測定処理を示すフローチャートであり、図7は、ポリゴンミラーの回転数、BD信号及び回転制御の関係を示すタイムチャートである。図7では、ミラー面のタイムチャートに付された1から6の数字は、ポリゴンミラー16について一のミラー面を先頭の1としたとき、レーザ光Lが照射されるミラー面の順番を意味する。また、BD信号のタイムチャートに付された数字の1は、第1レーザ光L1がミラー面に反射したときに出力されたBD信号を意味し、数字の2は、第2レーザ光L2がミラー面に反射したときに出力されたBD信号を意味する。以下、前者を第1BD信号といい、後者を第2BD信号という。例えば、ユーザが操作部26にて印刷要求印刷ジョブのための入力操作をしたり、図示しない外部機器例えばパーソナルコンピュータがレーザプリンタ1に印刷要求印刷データを含んでもよいを送信したりすると、CPU21は、その印刷要求に基づき、制御回路38にポリゴンミラー16の回転開始指令を送信する。制御回路38は、その回転開始指令を受けたときに、図5に示す印刷前処理を実行する。この印刷前処理では、起動処理、安定化処理、図6に示すずれ測定処理を順次実行する。5-1起動処理制御回路38は、起動処理において、まず、ロータ36の初期位置、換言すれば起動前の停止位置を検出するS1。具体的には、駆動回路37を制御して、各コイルにパルス電流を流すことにより、コイル中の磁束がロータ36の位置に応じて変化し、コイルのインダクタンスの変化に伴って変化するコイル電圧を検出することにより、ロータ36の初期位置を検出することができる。次に、制御回路38は強制通電を実行するS2。具体的には、制御回路38は、上記初期位置の検出結果を踏まえて、駆動回路37により各コイルへの通電を順次オンオフして強制的に通電を行う。そして、FG信号に基づきロータ36が回転し始めると、各コイルに生じる誘起電圧がFG信号に反映されるから、このFG信号に基づきロータ36の位置及びロータ36の回転速度を検出することが可能になる。次に、制御回路38は、上記通電オン期間におけるデューティオフ期間にFG信号を読み出し、PWM信号を駆動回路37に与えて各コイルへの通電のオンオフを制御し、FG信号に基づく回転速度制御を実行することで、ブラシレスモータ33の本格的な起動を試みる。なお、FG信号は、誘起電圧より検出した信号の一部から生成される。相の切替タイミングは、誘起電圧U,V,Wに基づいて決定され、ブラシレスモータ33ロータ36の回転速度制御は、例えば誘起電圧Uから生成されたFG信号によって行われる。誘起電圧が検出できる回転数に到達すると、制御回路38はFG信号に基づく回転速度制御によりブラシレスモータ33の回転速度が安定しているか否かを判断するS3。具体的には上記3つのFG信号のうち少なくとも1つの信号本実施形態では1つのFG信号のオンオフ周期に基づきブラシレスモータ33の回転周期、換言すれば回転速度を検出し、その検出した回転周期が所定の目標範囲内になっているか否かを判断する。検出した回転周期が目標範囲外であれば、回転速度が不安定であるとするS3:NO。例えば上記S3でロータ36の初期位置の誤検出が生じていた場合、S5の強制通電後、ブラシレスモータ33が正常に回転駆動されず、回転速度が不安定になり、起動に失敗することがある。この場合、ブラシレスモータ33を停止させる。この際に例えば逆電流を流す、或いは、ブラシレスモータ33の両端子同士をショートしてブラシレスモータ33にブレーキショートブレーキをかけ、誘起電圧が検出されない状態になったらブレーキを解除することが好ましい。これにより、素早くブラシレスモータ33を停止させ、リトライに備えることができる。続いて、起動パラメータ通電オンオフ信号の周波数、モータ進角やPWM値モータ電流値の一部または全部を変更しS4、S1に戻り、ブラシレスモータ33の再起動を試みる。例えば通電オンオフ信号の周波数やモータ進角を大きく予測通電のタイミングを早くしたり、PWM値を増大させて起動電流を大きくしたりしてブラシレスモータ33をより起動し易くする。検出した回転周期が目標範囲内であれば、回転速度が安定しているとしS3:YES、安定化処理に進む。5-2安定化処理制御回路38は、安定化処理において、まずツインレーザ15に第2レーザ光L2の発光のみ開始させるS5。但し、ポリゴンミラー16の各ミラー面が、第2レーザ光L2を感光体10上に照射させる方向に向いている期間は第2レーザ光L2の発光を停止する。これにより、受光センサ32は、ポリゴンミラー16にて偏向されたレーザ光L1、L2を周期的に受光し、その受光タイミングに応じて第2BD信号を出力するようになる。このように、ブラシレスモータ33の回転速度が安定したことを条件にS3:YES、ツインレーザ15を発光させる。従って、回転制御エラーが発生しているにもかかわらず、ツインレーザ15からのレーザ光L1、L2が感光体10に照射されて感光体10を傷めることを抑制することができる。次に、制御回路38は、上記起動処理で実行したFG信号に基づく回転制御から、第2BD信号に基づく回転制御に切り替えるS6。第2BD信号に基づく回転制御は、制御回路38が、受光センサ32からの第2BD信号をフィードバックして、その第2BD信号の出力周期、換言すれば第2レーザ光L2の検出周期が、上記目標範囲内になるようにPWM信号のPWM値を調整するフィードバック制御である。具体的には、図7に示すポリゴンミラー回転数がK回、K1回のときのように、制御回路38は、第2BD信号のパルス波の立下りエッジ第2検出タイミングの一例に同期して回転制御用パルスを生成し、この回転制御用パルスの発生周期Tが上記目標範囲内になるようにPWM信号のPWM値を調整する。なお、本実施形態では、図7に示すように、制御回路38は、ポリゴンミラー16の6面のうち、1回転ごとに同一のミラー面で反射した第2レーザ光L2に対応する第2BD信号のみに基づき回転制御を行う。同図では、この同一のミラー面は、第2のミラー面とされている。互いに異なる面で反射した第2レーザ光L2に対応するBD信号を利用してもよいが、本実施形態の構成であれば、面同士の配置バラツキなどによる影響を抑制して、ポリゴンミラー16の回転周期の検出精度を高くすることができる。また、制御回路38は、同一のミラー面に対応する第2BD信号であるかどうかは、第2BD信号の発生数をカウントすることにより判断することができる。続いて、制御回路38は、ブラシレスモータ33の回転速度が安定しているか否かを判断するS7。具体的には回転制御用パルスの:発生周期Tが上記目標範囲内であるかどうかを判断する。発生周期Tが目標範囲外であれば回転速度が不安定であるとしてS7:NO、S4に戻る。一方、発生周期Tが目標範囲内であれば回転速度が安定しているとしS7:YES、ずれ測定処理S8に進む。ブラシレスモータ33の回転速度が安定しているか否かの判断は、発生周期Tが所定周期連続で目標範囲内であるか否かを判断することにより行ってもよい。なお、安定化処理の実行時期は、測定不実行期間の一例である。5-3ずれ測定処理まず、2本の走査ラインM1、M2の主走査方向における開始位置のずれについて説明する。図3に示すように、ツインレーザ15から発光された第1レーザ光L1と第2レーザ光L2は、ポリゴンミラー16の各ミラー面に対し、同図の白抜き矢印で示すポリゴンミラー16の回転方向にもずれた位置で反射することがある。これは、2つのレーザ光源の物理的な位置の相違や、第1レンズ部30などの光学系のずれなどに起因する。このため、第2レーザ光L2は、第1レーザ光L1よりも遅れて受光センサ32にて検出され、また、第1レーザ光L1よりも遅れて感光体10上に照射される。ここで、印刷前処理後に実行される印刷処理では、感光体10への走査前の期間では、第2レーザ光L2のみを発光させ、受光センサ32からの第2BD信号の検出タイミングのみから、走査時での第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2による2本の走査ラインの書き出しタイミングを決定する。このため、第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2の書き出しタイミングを、第2BD信号の検出タイミングから同一時間経過後に設定すると、図3に示すように、感光体10上において2本の走査ラインの開始位置が、主走査方向においてずれ量Dだけずれてしまい、印刷された画像の品質が低下してしまうおそれがある。そこで、制御回路38は、図6に示すずれ測定処理を実行する。このとき、制御回路38は、ずれ測定部およびモータ制御部として機能する。制御回路38は、まずRAM23またはEEPROM24メモリの一例に予め記憶された固定周期T0予め定められた回転周期の一例を読み出して、この固定周期T0で疑似信号を生成するS21。なお、制御回路38は、例えば上記安定化処理において、実際の発生周期Tを、固定周期T0として予めRAM23等に記憶する。従って、ずれ測定処理中でも、直近に取得した実際の発生周期Tを反映した回転制御を行うことができる。次に、制御回路38は、上記BD信号に基づく回転制御を停止し、疑似信号に基づきポリゴンミラー16の回転制御に切り替えるS22。具体的には、制御回路38は、上記回転制御用パルスの代わりに、固定周期T0の疑似信号を、制御回路38内の図示しないモータ制御回路に与える。これにより、ポリゴンミラー16は、BD信号の影響を受けずに、固定周期T0で回転制御される。制御回路38は、第1レーザ光L1を一時的に発光させるS23。なお、図7では、ポリゴンミラー回転数がK2の第2のミラー面に対してのみ第1レーザ光L1を発光して、第1BD信号が出力された例が示されている。しかし、第1、第3のミラー面など、第2以外のミラー面に対しても第1レーザ光L1を発光してもよい。また、第1レーザ光L1を発光するとき、第2レーザ光L2を消灯させることが好ましい。第1BD信号と第2BD信号とが区別できなくなることを抑制するためである。そして、制御回路38は、例えば、K2回転目における第2のミラー面に対する第1BD信号の立ち上りエッジ第1検出タイミングの一例と、K3回転目における第2のミラー面に対する第2BD信号の立ち上りエッジとの間の第1時間T1を算出する。また、K3回転目とK4回転目における第2のミラー面に対する第2BD信号の立ち上りエッジの間の第2時間T2を算出する。第1時間T1と第2時間T2との時間差ΔT=T1-T2は、2本の走査ラインM1、M2の主走査方向における開始位置のずれ量に対応する。なお、上記第2時間T2は、K2回転目よりも前の回転目、例えば安定化処理時の第2BD信号に基づき算出したものでもよい。制御回路38は、上記時間差ΔTを、ずれ量として例えばRAM23またはEEPROM24に記憶しS24、上記疑似信号の生成を中止し、図7のK5回転目に示すように、上記BD信号に基づく回転制御に再び切り替えてS25、本ずれ測定処理を終了し、図5のS9に戻る。なお、ずれ測定処理においてK2回転目からK4回転目までの時期は、測定実行期間の一例である。その後、制御回路38は、S7と同様に、ブラシレスモータ33の回転速度が安定しているか否かを判断し、安定すればS9:YES、本印刷前処理を終了し、印刷処理に進む。なお、このずれ測定処理の後の期間は、測定不実行期間の一例である。この印刷処理では、制御回路38は、上記時間差ΔTを相殺するように、第1レーザ光L1の書き出しタイミングと第2レーザ光L2の書き出しタイミングとの時間差を変更する。このとき、制御回路38は、位置補正部として機能する。具体的には、第2レーザ光L2の書き出しタイミングを、第2BD信号の検出タイミングから所定時間だけ経過した時とすると、第1レーザ光L1の書き出しタイミングを、第2BD信号の検出タイミングから、上記所定時間に加えて更に上記時間差ΔTだけ経過した時とするのである。これにより、第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2による2本の走査ラインM1、M2について、主走査方向の開始位置を略一致させることができる。6.本実施形態の効果本実施形態によれば、感光体10上における2本の走査ラインM1、M2の開始位置のずれ量を測定しない測定不実行期間には、第2検出タイミング、換言すれば第2BD信号の発生タイミングに基づきブラシレスモータ33を回転制御し、上記ずれ量を測定する測定実行期間には、そのずれ量測定のために使用する第1検出タイミング、換言すれば第1BD信号を使用せずにブラシレスモータ33を回転制御する。従って、ずれ量を測定する際、その測定のために使用する第1検出タイミングに影響を受けずに、ブラシレスモータ33が回転制御される。具体的には、測定不実行期間には、第2検出タイミングに基づきブラシレスモータ33を回転制御し、測定実行期間には、前記第1検出タイミング及び前記第2検出タイミングにかかわらず、換言すれば、BD信号が発生しようと無かろうと、予め定められた回転周期でブラシレスモータ33を回転制御する。従って、ずれ量を測定する際、その測定のために使用する第1検出タイミングに影響を受けずに、ブラシレスモータ33が回転制御される。このため、2つの光走査ラインM1、M2の開始位置のずれ量を測定する際に、ポリゴンミラー16を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。また、測定不実行期間におけるブラシレスモータ33の回転周期をRAM23等に記憶し、測定実行期間には、RAM23等に記憶された回転周期を、予め定められた回転周期として、ブラシレスモータ33を回転制御する。従って、測定実行期間における回転周期を、測定不実行期間での回転周期とは無関係に決定する構成に比べて、測定実行期間において、回転周期の実測値に即したモータの回転制御を行うことができる。<実施形態2>図8及び図9は実施形態2を示す。実施形態1との相違は、ずれ測定処理にあり、その他の点は実施形態1と同様である。従って、実施形態1と同一符号を付して重複する説明を省略し、異なるところのみを次に説明する。1.ずれ測定処理本実施形態では、制御回路38は、安定化処理の次に図8に示すずれ測定処理を実行する。このとき、制御回路38は、ずれ測定部およびモータ制御部として機能する。制御回路38は、図9に示すように、安定化処理と同様に、第2のミラー面に対応する第2BD信号に基づきブラシレスモータ33の回転制御を続行する。そして、制御回路38は、K2回転目一の回転周期の一例において第1のミラー面一のミラー面の一例に対してのみ第1レーザ光L1を一時的に発光させるS101。なお、第1レーザ光L1を発光するとき、第2レーザ光L2を消灯させることが好ましい。第1BD信号と第2BD信号とが区別できなくなることを抑制するためである。そして、制御回路38は、例えば、K2回転目における第1のミラー面に対する第1BD信号の立下りエッジと、K2回転目における第2のミラー面他のミラー面の一例に対する第2BD信号の立下りエッジとの間の第3時間T3を算出する。また、K3回転目他の回転周期の一例における第1及び第2のミラー面に対する第2BD信号の立下りエッジ同士の間の第4時間T4を算出する。第3時間T3と第4時間T4との時間差ΔT=T3-T4は、2本の走査ラインM1、M2の主走査方向における開始位置のずれ量に対応する。なお、上記第4時間T4は、K2回転目よりも前の回転目、例えば安定化処理時の第2BD信号に基づき算出したものでもよい。制御回路38は、上記時間差ΔTを、ずれ量として例えばRAM23またはEEPROM24に記憶しS102、本ずれ測定処理を終了し、図5のS9に戻る。なお、ずれ測定処理において少なくともK2回転目からK3回転目までの時期は、測定実行期間の一例である。2.本実施形態の効果本実施形態によれば、上記第3時間T3と上記第4時間T4との時間差ΔTに基づき前記ずれ量を測定する。また、測定実行期間だけでなく、測定不実行期間でも、第2のミラー面に対応する第2検出タイミング、換言すれば第2BD信号の発生タイミングに基づきブラシレスモータ33を回転制御する。即ち、ずれ量の測定では、第1及び第2のミラー面を使用するが、ブラシレスモータ33の回転制御では、第1レーザ光L1が照射される第1のミラー面は使用せずに、第2レーザ光L2が照射される第2のミラー面しか使用しない。従って、ずれ量を測定する際、その測定のために使用する第1BD信号の影響を受けずに、ブラシレスモータ33が回転制御される。このため、2つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、ポリゴンミラー16を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。また、例えば第1、第3、第5のミラー面にだけ第1レーザ光L1を照射し、第2、第4、第6のミラー面にだけ第2レーザ光L2を照射して、これらに基づき上記第3時間及び第4時間の平均値などを求めてもよい。但し、本実施形態のように、1つのミラー面にだけ第1レーザ光L1を照射すれば、ポリゴンミラー16のミラー面間の位置ずれなどにより、ずれ量の測定精度が低下することを抑制することができる。また、1つのミラー面に対応する第2BD信号だけに基づきポリゴンミラー16を回転制御すれば、ミラー面間の位置ずれなどにより、回転制御の精度が低下することを抑制することができる。<実施形態3>図10及び図11は実施形態3を示す。実施形態1との相違は、ずれ測定処理にあり、その他の点は実施形態1と同様である。従って、実施形態1と同一符号を付して重複する説明を省略し、異なるところのみを次に説明する。1.ずれ測定処理本実施形態では、制御回路38は、安定化処理の次に図10に示すずれ測定処理を実行する。このとき、制御回路38は、ずれ測定部およびモータ制御部として機能する。制御回路38は、図11に示すように、安定化処理と同様に、第2のミラー面に対応する第2BD信号の立下りエッジ第1光ビームの検出期間から遠い方の期の一例に基づきブラシレスモータ33の回転制御を続行する。そして、制御回路38は、K2回転目において第2のミラー面一のミラー面の一例のみに対して第1レーザ光L1を一時的に発光させるS201。従って、第1のミラー面には、第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2が照射されることになる。そして、制御回路38は、例えば、K2回転目における第2のミラー面に対する第1BD信号の立ち上りエッジ先に検出した光ビームの検出始期の一例と、第2BD信号の立下りエッジ後に検出した光ビームの検出終期の一例との間の第5時間T5を算出する。また、K3回転面における第2のミラー面に対する第2BD信号の立ち上りエッジと立下りエッジ第2光ビームの検出始期と検出終期の一例の間の第6時間T6を算出する。第5時間T5と第6時間T6との時間差ΔT=T5-T6は、2本の走査ラインM1、M2の主走査方向における開始位置のずれ量に対応する。なお、上記第6時間T6は、K2回転目よりも前の回転目、例えば安定化処理時の第2BD信号に基づき算出したものでもよい。制御回路38は、上記時間差ΔTを、ずれ量として例えばRAM23またはEEPROM24に記憶しS202、本ずれ測定処理を終了し、図5のS9に戻る。なお、ずれ測定処理において少なくともK2回転目からK3回転目までの時期は、測定実行期間の一例である。2.本実施形態の効果本実施形態によれば、上記第5時間T5と上記第6時間T6との時間差ΔTに基づきずれ量を測定する。また、測定不実行期間には、第2レーザ光L2の検出始期及び検出終期のうち、第1レーザ光L1の検出期間から遠い方の期、図11では、第1レーザ光L1の検出期とは異なる期に基づきブラシレスモータ33を回転制御する。即ち、ずれ量の測定では、第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2の検出タイミングを使用するが、ブラシレスモータ33の回転制御では、第2レーザ光L2の検出タイミングしか使用しない。従って、ずれ量を測定する際、その測定のために使用する第1レーザ光L1の検出タイミングの影響を受けずに、ブラシレスモータ33が回転制御される。このため、2つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、ポリゴンミラー16を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。<実施形態4>図12及び図13は実施形態4を示す。実施形態1との相違は、安定化処理の一部及びずれ測定処理にあり、その他の点は実施形態1と同様である。従って、実施形態1と同一符号を付して重複する説明を省略し、異なるところのみを次に説明する。1.安定化処理及びずれ測定処理本実施形態では、制御回路38は、安定化処理において、図5のS6は実行しない。即ち、図13に示すように、FG信号に基づく回転制御を続行したまま、ずれ測定処理に進む。次に、制御回路38は、図12に示すずれ測定処理を実行する。このとき、制御回路38は、ずれ測定部およびモータ制御部として機能する。制御回路38は、図6のS23,S24と同様、第1レーザ光を一時的に発光しS301、時間差ΔTを算出し、RAM23等に記憶するS302。そして、制御回路38は、この時間差ΔTを基準回数例えば5回繰り返し算出するとS303:YES、その基準回数分の時間差ΔTの平均値を算出してRAM23等に記憶するS304。次に、制御回路38は、FG信号に基づく回転制御からBD信号に基づく回転制御に切り替えてS305図13参照、本ずれ測定処理を終了し、図5のS9に戻る。2.本実施形態の効果本実施形態によれば、測定不実行期間には、第2検出タイミングではなく、FG信号に基づきブラシレスモータ33を回転制御する。即ち、ずれ量の測定では、BD信号を使用するが、ブラシレスモータ33の回転制御では、FG信号しか使用しない。従って、ずれ量を測定する際、BD信号の影響を受けずに、ブラシレスモータ33が回転制御される。このため、2つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、ポリゴンミラー16を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。また、FG信号に基づく回転制御は、BD信号に基づく回転制御に比べて制御の精度が低いことがある。従って、本実施形態のように、時間差ΔTを複数回算出し、その複数回分の時間差ΔTの平均値を、ずれ量としてRAM23等に記憶することが好ましい。<他の実施形態>本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような種々の態様も本発明の技術的範囲に含まれる。1上記実施形態では、スキャナ部12は、レーザプリンタ1が有する感光体10を露光するために使用した。しかし、スキャナ部と同様の構成を、例えばレーザ加工装置に設けて、加工対象物走査対象物の一例のレーザ加工に使用してもよい。要するに、2本の走査ラインを走査対象物上に同時に形成する光走査装置であればよい。また、ずれ量を抑制するための位置補正部の構成を有さずに、単に、ずれ量の測定値、その測定値が所定値を超えたことによるエラー情報など、測定値に基づく情報を外部に通知する構成でもよい。2上記実施形態では、ポリゴンミラーを回転駆動するためのモータとしてセンサレスタイプのブラシレスモータ33を例に挙げた。しかし、ホール素子を有するセンサ有りのブラシレスモータや、ブラシ有りモータでもよい。但し、センサレスタイプのブラシレスモータ33は、特に回転位置の検出精度が高くないため、本発明を適用することは特に有用である。また、上記実施形態のブラシレスモータは、3相、アウターロータ型、且つ、スター結線を採用したものであったが、本発明はこれに限られない。2相、或いは、4相以上であってもよい。また、インナーロータ型であってもよく、デルタ結線であってもよい。なお、デルタ結線の場合、例えば各コイルの端子間電圧に基づき、誘起電圧に応じた検出信号を得ることができる。3上記実施形態では、印刷前処理を、レーザプリンタ1が印刷要求を受けたときに実行した。しかし、印刷前処理と同じ制御処理を、印刷の後や、印刷要求の待機時などに実行してもよく、要するに印刷を実行しない非印刷期間であればよい。4上記実施形態では、固定周期T0を、制御回路38が内蔵するメモリに記憶してもよいし、レーザプリンタ1の外部に設けられるメモリに記憶してもよい。5上記実施形態では、BD信号の立ち上りエッジまたは立下りエッジを、レーザ光の検出タイミングとした。しかし、BD信号の立ち上りエッジ、立下りエッジ、及び、両エッジの間のタイミングを、検出タイミングとしてもよい。但し、第1BD信号と第2BD信号が近接する場合には、他方のBD信号とは反対側のエッジを検出タイミングとすることが好ましい。6上記実施形態2では、第1のミラー面と第2のミラー面を使用した。しかし、それら以外の2つのミラー面を使用してもよい。7上記実施形態3では、第2のミラー面に対して第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2を照射させた。しかし、第2のミラー面以外の面に対して第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2を照射させてもよい。また、一回転周期内において、複数のミラーに対して第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2を照射させてもよい。但し、上記実施形態3のように一回転周期内において1つの面だけに対して第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2を照射させる構成ではあれば、ポリゴンミラー16のミラー面間の位置ずれなどにより、ずれ量の測定精度が低下することを抑制することができる。また、第5時間T5を算出するために使用するミラー面と、第6時間T6を算出するために使用するミラー面とが異なる構成でもよい。但し、同じミラー面を使用する上記実施形態3の構成ではあれば、ポリゴンミラー16のミラー面間の位置ずれなどにより、ずれ量の測定精度が低下することを抑制することができる。8上記実施形態3では、受光センサ32から第1BD信号、第2BD信号の順に出力される構成を説明した。しかし、受光センサ32から第2BD信号、第1BD信号の順に出力される構成でもよい。この場合、第2BD信号の立ち上りエッジと第1BD信号の立下りエッジとの間の時間を第5時間として算出し、第2BD信号の立ち上りエッジに基づきブラシレスモータ33の回転制御をすることが好ましい。9上記実施形態3において、ずれ量の測定及びブラシレスモータ33の回転制御は次のようにしてもよい。即ち、制御回路38は、図11に示すように、K2回転目の第2のミラー面に対応する第1BD信号の立ち上りエッジ第1光ビームの検出始期の一例と、K3回転目の第2のミラー面に対応する第2BD信号の立ち上りエッジ第2光ビームの検出始期の一例との間の第7時間T7を算出する。また、制御回路38は、K3回転目の第2のミラー面に対応する第2BD信号の立ち上りエッジとK4回転目の第2のミラー面に対応する第2BD信号の立ち上りエッジとの間の第8時間T8との時間差ΔTに基づきずれ量を測定する。一方、制御回路38は、ずれ測定処理中には、第2のミラー面に対応する第2BD信号の立下りエッジ第2光ビームの検出終期の一例に基づきブラシレスモータ33を回転制御する。即ち、ずれ量の測定では、第1レーザ光L1及び第2レーザ光L2の検出タイミングを使用するが、ブラシレスモータ33の回転制御では、第2レーザ光L2の検出タイミングしか使用しない。従って、ずれ量を測定する際、その測定のために使用する第1レーザ光L1の検出タイミングに影響を受けずに、ブラシレスモータ33が回転制御される。このため、2つの光走査ラインの開始位置のずれ量を測定する際に、回転多面鏡を正常に定速回転させることができなくなることを抑制することができる。なお、受光センサ32が、第2レーザ光L2、第1レーザ光L1の順に検出する構成では次のようになる。即ち、制御回路38は、K2回転目の第2のミラー面に対応する第1BD信号の立下りエッジ第1光ビームの検出終期の一例と、K3回転目の第2のミラー面に対応する第2BD信号の立下りエッジ第2光ビームの検出終期の一例との間の第7時間T7を算出する。また、制御回路38は、K3回転目の第2のミラー面に対応する第2BD信号の立下りエッジとK4回転目の第2のミラー面に対応する第2BD信号の立下りエッジとの間の第8時間T8との時間差ΔTに基づきずれ量を測定する。一方、制御回路38は、ずれ測定処理中には、第2のミラー面に対応する第2BD信号の立ち上りエッジ第2光ビームの検出始期の一例に基づきブラシレスモータ33を回転制御する。このような構成でも上記構成と同様の効果を得ることができる。10上記実施形態では、印刷前処理を全て、制御回路38が実行する例を説明したが、本発明はこれに限れない。各処理、或いは、各処理中の各ステップを、互いに異なる制御回路にて実行する構成でもよい。なお、制御回路は、ASICに限らず、汎用のハード回路から構成したものでもよく、また、演算素子CPU及び記憶素子から構成されたものでもよい。"