-リファレンス抵抗性センサ202と、-前記リファレンス抵抗性センサ202にリファレンス電流irefが流れるように、前記リファレンス抵抗性センサに電圧を印加する電圧印加手段204、206と、-リファレンス抵抗218を備え、リファレンス電流irefが流れるように前記リファレンス抵抗性センサ202に接続するリファレンス分岐線216と、-少なくとも1つの抵抗性センサ222とを有する測定システムであって、各測定抵抗性センサ222に対して、-前記測定抵抗性センサ222が実行する測定に左右される測定電流imes1、imes2;imes1が前記測定抵抗性センサを流れるように、前記測定抵抗性センサ222に電圧を印加する電圧印加手段204、226と、-抵抗238、238;238を備え、前記リファレンス電流irefと等しい電流i’refが流れるようになっているミラー構成の測定分岐線236、236;236と、-グリッドおよび前記ミラー構成の測定分岐線236、236;236の一方の端部に接続しているソースを備える測定トランジスタ242、242;242と、-前記測定電流imes1、imes2;imes1と前記ミラー構成の測定分岐線236、236;236を流れる前記電流i’refとの間の電流差を測定する手段246、248、250とを有する測定システムにおいて、前記測定システムは、-抵抗238を有するミラー構成のリファレンス分岐線236と、-グリッド、ドレインおよびミラー構成のリファレンス分岐線236の一方の端部に接続しているソースを備えるリファレンストランジスタ242と、-前記リファレンス分岐線216の一方の端部に接続している正入力、前記リファレンストランジスタ242のソースに接続している負入力、および前記リファレンストランジスタ242のグリッドに接続している出力とを備えるオペアンプ240とを備えていることと、各測定トランジスタ242、242;242の前記グリッドは前記オペアンプ240の前記出力に接続していることとを特徴とする測定システム。前記測定システムはさらに、前記リファレンス分岐線216および前記ミラー構成のリファレンス分岐線236のもう一方の端部に接続する電気アースMを有する、請求項1に記載の測定システム。前記測定システムはさらに、前記ミラー構成の測定分岐線236、236;236のそれぞれに対し、前記ミラー構成の測定分岐線236、236;236のもう一方の端部に接続する電気アースMを有する、請求項1または2に記載の測定システム。-前記ミラー構成のリファレンス分岐線236は前記ミラー構成の測定分岐線236、236の一方であり、-前記リファレンストランジスタ242は、前記ミラー構成のリファレンス分岐線236に接続する前記測定トランジスタである、請求項1から3のいずれか一項に記載の測定システム。-前記ミラー構成のリファレンス分岐線236は前記ミラー構成の測定分岐線236とは異なり、-前記リファレンストランジスタ242は前記測定トランジスタ242とは異なる、請求項1から3のいずれか一項に記載の測定システム。-前記リファレンス抵抗性センサ202への前記電圧印加手段204、206は、前記リファレンス抵抗性センサ202の端子およびドレインに接続するソースを備える第1のトランジスタ206を有し、-前記測定システムはさらに、固定電位Vinを持つ前記第1のトランジスタ206のドレインへのバイアス印加手段210、212を有する、請求項1から5のいずれか一項に記載の測定システム。前記第1のトランジスタ206のドレインへの前記バイアス印加手段210、212は、-グリッド、ドレインおよび前記第1のトランジスタ206のドレインに接続するソースを備える第2のトランジスタ212と、-固定電位Vinを受けるようになっている正入力、前記第2のトランジスタ212のソースに接続している負入力、および前記第2のトランジスタ212のグリッドに接続している出力を備えるオペアンプ210とを有する、請求項6に記載の測定システム。各測定抵抗性センサ222の前記ミラー構成の測定分岐線236、236;236の前記抵抗238、238;238の値は、前記リファレンス抵抗218の値と等しい、請求項1から7のいずれか一項に記載の測定システム。前記ミラー構成のリファレンス分岐線236の前記抵抗238の値は、前記リファレンス抵抗218の値と等しい、請求項1から8のいずれか一項に記載の測定システム。前記抵抗性センサはボロメータである、請求項1から9のいずれか一項に記載の測定システムを有するイメージセンサ。したがって、前述の問題および制約の少なくとも一部を緩和することができる測定システムを備えることが望まれる。よって本発明は、-リファレンス抵抗性センサと、-リファレンス抵抗性センサにリファレンス電流が流れるように、このリファレンス抵抗性センサへ電圧を印加する電圧印加手段と、-リファレンス抵抗を備え、リファレンス電流が流れるようにリファレンス抵抗性センサに接続するリファレンス分岐線と、-少なくとも1つの測定抵抗性センサとを有する測定システムであって、各測定抵抗性センサに対して、-測定ボロメータが赤外線に曝露される度合いに左右される測定電流が測定抵抗性センサに流れるように、測定抵抗性センサ電圧を印加する電圧印加手段と、-抵抗を備え、リファレンス電流と等しい電流が流れるようになっているミラー構成の測定分岐線と、-グリッドおよびミラー構成の測定分岐線の一方の端部に接続しているソースを備える測定トランジスタと、-測定電流とミラー構成の測定分岐線を流れる電流との間の電流差を測定する手段とを有し、測定システムが、-抵抗を有するミラー構成のリファレンス分岐線と、-グリッド、ドレインおよびミラー構成のリファレンス分岐線の一方の端部に接続しているソースを備えるリファレンストランジスタと、-リファレンス分岐線の一方の端部に接続している正入力、リファレンストランジスタのソースに接続している負入力、およびリファレンストランジスタのグリッドに接続している出力とを備えるオペアンプとを備え、各測定トランジスタのグリッドはオペアンプの出力に接続している、測定システムを目的とする。したがって、本発明により、測定システムはカレントミラー接続したトランジスタを備える必要がないため、リファレンス抵抗性センサにバイアスを印加するトランジスタのドレイン電位による問題、およびミラー構成のトランジスタの充電による問題は発生しなくなる。同じく選択的に、測定システムはさらに、リファレンス分岐線およびミラー構成のリファレンス分岐線のもう一方の端部に接続する電気アースを有する。同じく選択的に、測定システムはさらに、ミラー構成の測定分岐線のそれぞれに対し、ミラー構成の測定分岐線のもう一方の端部に接続する電気アースを有する。同じく選択的に、-ミラー構成のリファレンス分岐線はミラー構成の測定分岐線の一方であり、-リファレンストランジスタは、ミラー構成のリファレンス分岐線に接続する測定トランジスタである。同じく選択的に、-ミラー構成のリファレンス分岐線はミラー構成の測定分岐線とは異なり、-リファレンストランジスタは測定トランジスタとは異なる。同じく選択的に、-リファレンス抵抗性センサへの電圧印加手段は、リファレンス抵抗性センサの端子およびドレインに接続するソースを備える第1のトランジスタを有し、-測定システムはさらに、固定電位を持つ第1のトランジスタのドレインへのバイアス印加手段を有する。同じく選択的に、第1の抵抗性センサのドレインへのバイアス印加手段は、-グリッド、ドレインおよび第1のトランジスタのドレインに接続するソースを備える第2のトランジスタと、-固定電位を受けるようになっている正入力、第2のトランジスタのソースに接続している負入力、および第2のトランジスタのグリッドに接続している出力を備えるオペアンプとを有する。同じく選択的に、各測定抵抗性センサのミラー構成の測定分岐線の抵抗の値は、リファレンス抵抗の値と等しい。同じく選択的に、ミラー構成のリファレンス分岐線の抵抗の値は、リファレンス抵抗の値と等しい。本発明は、抵抗性センサがボロメータである本発明による測定システムを有するイメージセンサも目的とする。本発明は、添付の図を参照しながら例として挙げた以下の説明文を読めばよりよく理解できるであろう。図2では、赤外線イメージセンサ100は、行104iおよび列106jの行列に構成されたボロメータセル102i、jを有する。図3では、各行104iは、リファレンスセル102i、1を有し、これに複数の測定セル102i、2、102i、3が続く。リファレンスセル102i、1はリファレンスボロメータ202を有し、このボロメータは赤外線イメージセンサが受信する赤外線をほとんど感知しないように設計され、いずれにしてもより遠くに挿入される測定ボロメータほど感知しない。リファレンスボロメータ202は、例えば熱化したボロメータまたはスクリーンで覆われたボロメータである。リファレンスセル102i、1はさらに、リファレンスボロメータにリファレンス電流irefが流れるように、このリファレンスボロメータ202へ電圧を印加する電圧印加手段204、206を有する。記載した例では、手段204、206はまず、リファレンスボロメータ202の上方端子に接続する給電線204を有する。給電線204は、この上方端子に所定の電位VPでバイアスを印加するように設計され、その値は例えば3.3または5ボルトである。手段204、206はさらに、リファレンスボロメータ202の下方端子へバイアスを印加する手段を有する。記載した例では、バイアス印加手段は、グリッド、ドレインおよびソースを備えるP型MOSトランジスタ206を有し、このソースはリファレンスボロメータ202の下方端子に接続している。バイアス印加手段はさらに、電位がV1のP型MOSトランジスタ206のグリッドへバイアスを印加する手段図示せずを有する。したがって、P型MOSトランジスタ206のソース電位を調節することができ、それによって電位V1をもとにリファレンスボロメータ202の下方端子の電位を調節することができる。しかし、この調節は、P型MOSトランジスタ206のドレイン電位が安定している場合にかぎって可能である。実際、この逆の場合では、ソース電位はドレイン電位に応じて変化する。この現象をアーリー効果と呼ぶことがある。したがって、リファレンスセル102i、1はさらに、P型MOSトランジスタ206のドレインへのバイアス印加手段210、212を有する。これらのバイアス印加手段210、212はまず、出力、正入力および負入力を備えるオペアンプ210を有し、負入力はP型MOSトランジスタ206のドレインに接続する。バイアス印加手段210、212はこのほか、ドレイン、オペアンプ210の出力に接続するグリッド、およびオペアンプ210の負端子に接続するソースを備えるP型MOSトランジスタ212を有する。したがって、負入力とオペアンプ210の出力との間にはフィードバックループが存在し、その結果、作動中はオペアンプ210の負入力電位およびP型MOSトランジスタ212のソース電位は、直ちにオペアンプ210の正端子の電位と等しくなる。さらに、フィードバックループ内にP型MOSトランジスタ212があることにより、P型MOSトランジスタ212のソースとドレインとの間を流れる電流が、オペアンプ210の出力に発生する電流から絶縁される。以下の説明では、この接続によって、トランジスタのソースとドレインとの間を流れる電流を妨害することなくオペアンプの正入力電位がトランジスタのソースにバイアスを印加することができることから、オペアンプとトランジスタとのこのような接続を妨害しないバイアス印加接続montagepolarisateurnonperturbateurと呼ぶことにする。バイアス印加手段210、212はさらに、オペアンプ210の正入力に電位Vinでバイアスを印加するバイアス印加手段図示せずを有し、この電位VinでP型MOS206のドレインにバイアスを印加する。リファレンスセル102i、1はさらに、本発明の範囲内で挙げたベースクリップとは別のベースクリップ形態で用いることができるスイッチ214を有する。記載した例では、このスイッチはN型MOSトランジスタ214で形成されている。リファレンスセル102i、1はさらに、抵抗値が所定値Rであるリファレンス分岐線216を有する。このようにするため、リファレンス分岐線216は値がRの抵抗218を有する。リファレンス分岐線216は、上方端部でスイッチ214に接続し、下方端部で赤外線イメージセンサの電気アースMに接続する。したがって、リファレンス分岐線216にはリファレンスボロメータ202から供給されるリファレンス電流が流れ、その結果、リファレンス分岐線216の上方端部の電圧VRは、両端間のリファレンス電流irefの関数R×irefと等しくなる。測定セル102i、2、102i、3はそれぞれ、測定ボロメータ222および測定ボロメータ222への電圧印加手段204、226を有し、その結果、この測定ボロメータには測定電流imes1、imes2が流れる。記載した例では、手段204、226は手段204、206と同じであるため、両手段は給電線204および測定ボロメータ222の下方端子へのバイアス印加手段226記載した例ではP型MOSトランジスタを有する。したがって、対象となるP型MOSトランジスタのドレインに印加する電位V2、V3をもとに、測定ボロメータ222の下方端子の電位を調節することができる。各測定セル102i、2、102i、3はさらに、以下で説明するように、リファレンス電流irefと等しい電流i’refが流れるようになっているミラー構成の測定分岐線236第1の測定セル102i、2には236と表記を有する。ミラー構成の測定分岐線236、236は、所定の抵抗Rと同じ抵抗238、238を備えている。各ミラー構成の測定分岐線236、236にリファレンス電流irefを流すため、赤外線イメージセンサは、各ミラー構成の測定分岐線236、236にリファレンス電圧を印加する手段240、236、238、242、242、Mを有する。記載した例では、リファレンス電圧印加手段240、236、238、242、242、Mは、オペアンプ240の正入力をリファレンス分岐線216の上方端子に接続し、N型MOSトランジスタ242のドレインを第1の測定セル102i、2のP型MOSトランジスタ226のドレインに接続し、N型MOSトランジスタ242のソースをミラー構成の測定分岐線236の上方端子に接続して妨害しないバイアス印加の状態に接続したオペアンプ240およびN型MOSトランジスタ242を有する。したがって、ミラー構成の測定分岐線236の上方端子は、リファレンス分岐線216の上方端子の電位でバイアスを印加される。リファレンス電圧印加手段240、236、238、242、242、Mはさらに、フィードバックを実行することができるミラー構成のリファレンス分岐線の役割も果たすミラー構成の測定分岐線236を有する。このほか、リファレンス電圧印加手段240、236、238、242、242、Mは、ミラー構成の測定分岐線236の下方端子に接続し、この端子をリファレンス分岐線216の下方端子の電位と同じ電位に維持することができる電気アースMも有する。したがって、ミラー構成の測定分岐線236はリファレンス分岐線216と同じ抵抗Rを備えているため、両者には同じ値の電流が流れる。したがって、irefは第1の測定セル102i、2のミラー構成の測定分岐線236にも流れる。記載した例では、リファレンス電圧印加手段240、236、238、242、242、Mはさらに、第1の測定セルに続く各測定セル102i、3に対して、オペアンプ240の出力に接続するグリッド、ミラー構成の測定分岐線236の上方端子に接続するソース、およびP型MOSトランジスタ226のドレインに接続するドレインを備えるN型MOSトランジスタ242を有する。このまたはこれらのN型MOSトランジスタ242は、N型MOSトランジスタ242と同じである。したがって、両トランジスタには同じグリッド電位が印加され、さらに、後述するアンプ246が課す同じドレイン電位Vrefを持つため、ミラー構成の測定分岐線236の上方端子は同じソース電位になる。さらに、ミラー構成の測定分岐線236の下方端子は電気アースMに接続しているため、リファレンス電圧はミラー構成の測定分岐線236の端子間に印加される。最後に、ミラー構成の測定分岐線236はリファレンス抵抗を備えているため、この分岐線にはリファレンス電流irefと等しい電流i’refが流れる。各測定セル102i、2、102i、3はさらに、ミラー構成の測定分岐線236の高方端部に接続して測定電流imes1、imes2とミラー構成の測定分岐線236を流れるリファレンス電流irefとの間の差を測定するように設計されている、測定手段246、248、250を有する。記載した例では、測定手段246、248、250は、積分器に取り付けられたオペアンプ246を有する。さらに正確には、オペアンプ246は、例えば値がVP/2である所定の電位Vrefに接続する正入力、対象となる測定セルに続くP型MOS226のドレインおよびN型MOS242または242のドレインにそれぞれ接続する負入力を備えている。測定手段246、248、250はさらに、オペアンプ246の出力および負入力に接続するキャパシタ248を有し、このキャパシタは容量性のフィードバックループを形成するため、オペアンプ246の出力電位は、作動状態ではキャパシタ248を通過する電流の積分に比例する電位であり、つまりこれは、測定電流imes1、imes2とリファレンス電流irefとの間の差である。測定手段246、248、250はさらに、キャパシタ248と並列に取り付けられるスイッチ250を有し、このスイッチは閉じた際に測定値をゼロに戻すことができる。このほか、負入力の電位は、オペアンプの特性により正入力の電位、つまりVrefと等しくなる傾向にあることに気づく。したがって、P型MOSトランジスタ226のドレイン電位は電位Vrefで安定し、グリッド電位V2、V3をもとにP型MOSトランジスタ226のソース電位を調節することができる。各測定セル102i、2、102i、3はさらに、測定手段246の出力に接続し、供給された測定値をサンプリングするように設計されているサンプラ252を有する。測定セルの同列のサンプラ252はいずれも1つまたは複数の列マルチプレクサ図示していないが、点線で表示に接続し、サンプリングした測定信号の処理および/または利用を継続する。次に、図1の赤外線イメージセンサの動作を説明する。スイッチ214は最初、ベースクリップを実行できるように閉じている。電位Vrefはオペアンプ246に印加し、電位Vinはオペアンプ210の負入力に印加し、P型MOSトランジスタ206のドレインにも印加する。正常作動では、電位Vinは電位Vrefと等しくなるように設定する。ただし、試験段階では、電位Vinを電位Vrefとは異なるように設定することが有利と思われる。リファレンスボロメータおよび測定ボロメータに、電位V1、V2およびV3を印加して電圧をかける。理想的な回路では、電位V1、V2およびV3を等しく設定する必要がある。しかし、実際には、それぞれの値を別々の異なる値に設定できることが有意と思われる。測定セルの行を読み取るため、この行のスイッチ250を閉位置から開位置へと切り替えて電流の測定を開始する。リファレンス電流irefはリファレンス分岐線216を流れ、この分岐線の上方端部に電位VR=R×irefでバイアスを印加する。フィードバックループによって、オペアンプ240は、正入力と負入力とが同じ電位になるまで出力電位を修正する。各測定セル102i、2、102i、3のトランジスタ242、242のグリッドは、オペアンプ240の出力に接続しているため、電位VR=R×irefを各ミラー構成の測定分岐線236、236の上方端子に印加する。各ミラー構成の測定分岐線236、236はリファレンス分岐線216と同じ抵抗Rを備えているため、それぞれの分岐線には電流irefが発生し、これによって読み取り最中にある列のセルの測定電流にベースクリップを行うことができる。すなわち測定手段246、248、250はリファレンス電流よりも低い測定電流を受ける。この電流の差はキャパシタ248に蓄積され、その後サンプラ252がこれを読み取る。冒頭で説明したように、測定トランジスタ242、242のグリッドと基板との間に累積された容量は、きわめて高くなる可能性がある。そのため、それに応じてオペアンプ240の寸法を決定する必要がある。さらに、第1のボロメータセル102i、2の測定値は、読み取り始めに、正入力と負入力とを同じ電位にすることができるオペアンプ240が出力電位を供給する以前にかなりの時間が経過するという事態により、妨害される可能性があることがわかった。この時間に、オペアンプ240の負入力にゼロではない充電用電流が流れるため、ミラー構成の測定分岐線236に流れる電流i’refが妨害される。よって、測定を実行するのにこの分岐線236を使用するのは望ましくないと思われる。したがって、図4のように、リファレンスセルにミラー構成の測定分岐線236を搭載すると、この分岐線は、今度はリファレンス電位を複製するためのミラー構成のリファレンス分岐線となる。この実施形態では、トランジスタ242のドレインは電位Vrefに直接接続し、電流測定素子246、248、250、252は撤去されている。前述したセンサのうちの1つのような赤外線イメージセンサには、カレントミラー接続したトランジスタを使用しないことは明らかである。このほか、本発明は前述した実施形態に限定されるものではないことがわかるであろう。実際、ここに開示した教示に照らし合わせて、上に記載した実施形態にさまざまな修正を加えてもよいことは当業者には明らかであろう。特に、トランジスタのN型またはP型は、記載したどのトランジスタも逆であってもよい。さらに、本発明を実装する例として赤外線イメージセンサを挙げたが、本発明は赤外線イメージセンサに限定されるものではなく、例えばテラヘルツ波に近似の周波など、他分野の周波のイメージセンサも範囲内であり、さらに一般には、NTC負の温度係数センサやLDR英語のLightDependentResistor、光依存性抵抗センサなど、抵抗性センサを用いるこれ以外のあらゆるタイプの測定システムも本発明の範囲内である。さらに一般には、以下の請求項では、使用した用語が請求項を本明細書で明らかにした実施形態に限定するものと解釈してはならず、本文の記載およびそこから予見される内容は、ここに開示した教示の実装に一般知識を応用することによって当業者が到達しうる範囲内であることから、請求項が範囲に含めると想定するあらゆる同等のものも含まれると解釈すべきである。