"回転テーブルに取り付けられた被測定物の形状を測定する形状測定用測定子の校正方法において、前記回転テーブルの回転軸から所定の軸間距離に配置された校正用の基準円筒を、前記回転テーブルの回転軸周りに旋回可能に設け、前記測定子の径、前記基準円筒の径、前記回転テーブルの回転軸と直交する基準軸から左右両方向への前記基準円筒の旋回角度に基づいて、前記基準軸に対して左右一対となる前記測定子の理論中心位置を設定し、前記理論中心位置に位置決めした前記測定子と、前記旋回角度に旋回させた前記基準円筒とが接触する理論接触位置を求め、前記理論中心位置に位置決めした前記測定子に対して、前記基準円筒を前記旋回角度に旋回させて接触させたときの実接触位置を求め、前記理論接触位置と前記実接触位置との間の旋回角度誤差を求め、前記軸間距離、前記測定子の径、前記基準円筒の径、前記旋回角度誤差に基づいて、前記理論接触位置と前記実接触位置との間の接触位置誤差を求め、前記接触位置誤差に応じて、前記測定子を校正することを特徴とする形状測定用測定子の校正方法。請求項1に記載の形状測定用測定子の校正方法において、前記基準円筒を、複数の異なった旋回角度に旋回させ、その複数の異なった旋回角度ごとに、接触位置誤差を求め、それらの前記接触位置誤差に応じて、前記測定子を校正することを特徴とする形状測定用測定子の校正方法。同様に、歯車測定機能を有する歯車研削盤では、歯車を測定するための測定子を校正することも重要となっている。一般的に、歯車研削盤においては、その直交座標系の原点が、回転テーブルの中心位置回転軸となっているため、測定子の校正は、当該測定子を回転テーブルの中心側に移動させて、測定子の中心と回転テーブルの中心位置とを一致させることにより行われる。しかしながら、大きな歯車を研削する大形歯車研削盤においては、加工対象物となる歯車が大きな分、これを取り付けるための回転テーブルも、大きくしなければならない。そして、このような大形歯車研削盤に、上述した歯車測定機能を採用しようとすると、機械及び測定子と回転テーブルとの間の干渉等の問題によって、測定子の移動範囲に制限が生じるため、測定子の中心が回転テーブルの中心位置に届かないおそれがある。これにより、特に、歯車測定機能を有する大形歯車研削盤においては、測定子の校正が困難となり、結果的に、歯車の加工精度の低下を招くおそれがある。従って、本発明は上記課題を解決するものであって、被測定物を取り付けるための回転テーブルの中心位置に測定子の中心が届かなくても、その被測定物の形状を測定する測定子を、高精度に校正することができる形状測定用測定子の校正方法を提供することを目的とする。上記課題を解決する第1の発明に係る形状測定用測定子の校正方法は、回転テーブルに取り付けられた被測定物の形状を測定する形状測定用測定子の校正方法において、前記回転テーブルの回転軸から所定の軸間距離に配置された校正用の基準円筒を、前記回転テーブルの回転軸周りに旋回可能に設け、前記測定子の径、前記基準円筒の径、前記回転テーブルの回転軸と直交する基準軸から左右両方向への前記基準円筒の旋回角度に基づいて、前記基準軸に対して左右一対となる前記測定子の理論中心位置を設定し、前記理論中心位置に位置決めした前記測定子と、前記旋回角度に旋回させた前記基準円筒とが接触する理論接触位置を求め、前記理論中心位置に位置決めした前記測定子に対して、前記基準円筒を前記旋回角度に旋回させて接触させたときの実接触位置を求め、前記理論接触位置と前記実接触位置との間の旋回角度誤差を求め、前記軸間距離、前記測定子の径、前記基準円筒の径、前記旋回角度誤差に基づいて、前記理論接触位置と前記実接触位置との間の接触位置誤差を求め、前記接触位置誤差に応じて、前記測定子を校正することを特徴とする。上記課題を解決する第2の発明に係る形状測定用測定子の校正方法は、前記基準円筒を、複数の異なった旋回角度に旋回させ、その複数の異なった旋回角度ごとに、接触位置誤差を求め、それらの前記接触位置誤差に応じて、前記測定子を校正することを特徴とする。従って、本発明に係る形状測定用測定子の校正方法によれば、理論中心位置に位置決めした測定子に対して、校正用の基準円筒を所定の旋回角度に旋回させて接触させることにより、それらの間の接触位置誤差を求めた後、この求めた接触位置誤差に応じて、測定子を校正することにより、回転テーブルの中心位置に測定子の中心が届かなくても、当該測定子を高精度に校正することができる。以下、本発明に係る形状測定用測定子の校正方法について、図面を用いて詳細に説明する。図1及び図2に示すように、歯車研削盤図示省略には、円形の回転テーブル11がテーブル回転軸C周りに回転可能に支持されており、この回転テーブル11の上面には、ワーク被加工歯車、被測定物、被測定歯車Wが着脱可能となっている。そして、歯車研削盤の座標系は、X軸基準軸、Y軸、Z軸の直進軸、及び、それぞれの軸周りの回転軸を有する直交座標系となっており、その直交座標系の原点は、回転テーブル11の中心位置テーブル回転軸C上に設定されている。また、歯車研削盤は、当該歯車研削盤上において、研削後のワークWの精度測定を可能とする歯車測定機能歯車測定装置を有するものであって、歯車測定用座標測定用の測定器21を備えている。この測定器21は、歯車研削盤上において、X軸、Y軸、Z軸方向に移動可能に支持されており、球状の測定子22を有している。従って、測定器21をX軸、Y軸、Z軸方向に移動させることにより、測定子22を、回転テーブル11に取り付けられたワークWの歯面に点接触させることができる。このとき、測定子22の中心位置座標が検出されることにより、ワークWの形状歯形、歯すじ、ピッチ等が測定される。即ち、歯車研削盤においては、ワークWの研削前に、当該ワークWを回転テーブル11に取り付けていない状態で、測定子22を校正すると共に、ワークWの研削後に、当該ワークWを研削加工時の取付位置に取り付けた状態で、そのワークWの形状を測定子22により測定するようになっている。次に、測定子22の校正方法について、図2乃至図5を用いて説明する。先ず、図2に示すように、回転テーブル11上に、校正用治具としての基準円筒30を設置する。このとき、基準円筒30は、その中心と回転テーブル11のテーブル回転軸Cとの間の距離が、所定の軸間距離Lとなるように配置されている。従って、回転テーブル11を回転させることにより、基準円筒30を、テーブル回転軸C周りに旋回させることができる。即ち、回転テーブル11を、回転基準軸としたX軸から左右両回転方向に向けて、所定の回転角度αtに回転させることにより、基準円筒30を、旋回基準軸としたX軸から左右両方向に向けて、旋回角度αtに旋回させることができる。次いで、X軸上に配置した測定子22の中心位置に対して、左側Y軸のマイナス側及び右側Y軸のプラス側に配置される左右一対の理論中心位置OL,ORを設定する。なお、理論中心位置OL,ORは、旋回角度αtに旋回させた基準円筒30と接触した測定子22の理論上の中心位置となるものであって、測定子22の半径r、基準円筒30の半径R及び旋回角度αtに基づいて、設定されている。そして、図3に示すように、測定子22を理論中心位置OLに位置決めした後、この位置決めした測定子22に対して、基準円筒30を旋回角度αtに旋回させて接触させる。ここで、実際に位置決めした測定子22の中心位置が、予め設定された理論中心位置OLと同じ位置となる場合、即ち、実際に位置決めした測定子22の中心位置に誤差がない場合には、測定子22と基準円筒30とは、理論接触位置PLで接触する。なお、理論接触位置PLは、理論中心位置OLに位置決めした測定子22に対して、旋回角度αtに旋回させた基準円筒30が、Y軸方向から接触する理論上の接触位置となるものであって、測定子22の半径r及び理論中心位置OLから求められる。即ち、測定子22の理論中心位置OLと、旋回角度αtに旋回させた基準円筒30の中心位置とを結んだ接触方向は、Y軸方向と平行となる。一方、実際に位置決めした測定子22の中心位置が、予め設定された理論中心位置OLと異なった位置となる場合、即ち、実際に位置決めした測定子22の中心位置に誤差がある場合には、測定子22と基準円筒30とは、実接触位置PL ́で接触する。このとき、理論中心位置OLに対する実際に位置決めした測定子22の中心位置誤差として、実際の軸間距離が予め設定された軸間距離Lよりも長くなるような、誤差となる場合には、実接触位置PL ́が、理論接触位置PLよりも、X軸のプラス方向にずれることになる。また、理論中心位置OLに対する実際の位置決めした測定子22の中心位置誤差として、実際の軸間距離が予め設定された軸間距離Lよりも短くなるような、誤差となる場合には、実接触位置PL ́が、理論接触位置PLよりも、X軸のマイナス方向にずれることになる。更に、上述したように、実際に位置決めした測定子22の中心位置が、予め設定された理論中心位置OLと異なった位置になると、基準円筒30の旋回角度αtにも、誤差が生じることになる。そこで、図4に示すように、旋回角度αtに生じた旋回角度誤差ΔαtLを求めた後、軸間距離L、測定子22の半径r、基準円筒30の半径R及び旋回角度誤差ΔαtLに基づいて、理論接触位置PLに対する実接触位置PL ́のX軸方向の接触位置誤差ΔXL及びY軸方向の接触位置誤差ΔYLを求めるようにする。接触位置誤差ΔXL,ΔYLの具体的な演算方法としては、測定子22の中心位置周りにおける理論接触位置PLから実接触位置PL ́までの角度を、接触角度誤差βLとすると、下記の式1に示すような関係式が得られる。これにより、式1から下記の式2を得られるため、接触角度誤差βLが求められる。rRsin=Lsin1βL=2sin1Lsin2次いで、上記の式2から求められた接触角度誤差βLを用いれば、下記の式3,4から、接触位置誤差ΔXL,ΔYLが求められる。ΔXL=rsinβL3ΔYL=r1-cosβL4また、測定子22と基準円筒30との接触は、測定子22が理論中心位置OL,ORに位置決めされたときの左右両側で行われるため、上述した演算方法と同じようにして、旋回角度誤差ΔαtR及び接触角度誤差βRを用いて、理論接触位置PRに対する実接触位置PR ́のX軸方向の接触位置誤差ΔXR及びY軸方向の接触位置誤差ΔYRを求めるようにする。そして、最終的な測定子22のX軸方向の位置誤差ΔX及びY軸方向の位置誤差ΔYは、左側の接触位置誤差ΔXL,ΔYLと、右側の接触位置誤差ΔXR,ΔYRとを用いることにより求められ、これら位置誤差ΔX,ΔYが、XY平面内における測定子22の校正値となる。即ち、下記の式5,6に示すように、位置誤差ΔXは、左右両側の接触位置誤差ΔXL,ΔXRの平均値となると共に、位置誤差ΔYは、左右両側の接触位置誤差ΔYL,ΔYRの差分値となる。ΔX=ΔXLΔXR/25ΔY=ΔYL-ΔYR6従って、位置誤差ΔX,ΔYに応じて、測定子22を校正することにより、ワークWを測定子22によって高精度に測定することができる。更に、上述したように、校正値となる位置誤差ΔX,ΔYは、基準円筒30の旋回角度誤差ΔαtL,ΔαtRを用いて求められるものであるため、基準円筒30の旋回精度、即ち、回転テーブル11の割り出し精度位置決め精度が、そのまま、校正精度に影響を与えることになる。つまり、回転テーブル11の割り出し精度を向上させることにより、位置誤差ΔX,ΔYの演算精度を向上させることができるが、回転テーブル11の割り出し精度の向上にも限界がある。そこで、左右一対の接触による校正値演算を、旋回角度αtを段階的に変更しながら、複数回に亘って行い、各旋回角度αtごとに位置誤差ΔX,ΔYを求めた後、それらを平均化しても構わない。例えば、図5に示すように、3つの旋回角度αt1,αt2,αt3を設定した後、これら各旋回角度αt1,αt2,αt3ごとに、位置誤差ΔX1,ΔX2,ΔX3及び位置誤差ΔY1,ΔY2,ΔY3を求める。更に、位置誤差ΔX1,ΔX2,ΔX3及び位置誤差ΔY1,ΔY2,ΔY3を、それぞれ平均化して、最終的な位置誤差ΔX,ΔYを求めるようにする。これにより、回転テーブル11の割り出しにおいては、割り出し角度が変わると、その割り出し精度内で、割り出し角度誤差が発生し、更に、この割り出し角度誤差にもばらつきが生じるため、複数の割り出し角度旋回角度を設定することにより、回転テーブル11の割り出し角度誤差を容易に抽出することができる。そして、位置誤差ΔX1,ΔX2,ΔX3及び位置誤差ΔY1,ΔY2,ΔY3を、それぞれ平均化することにより、回転テーブル11の各割り出し角度誤差も平均化されるため、最終的な位置誤差ΔX,ΔYに対して、回転テーブル11の割り出し角度誤差の影響を極力小さくすることができる。この結果、位置誤差ΔX,ΔYの演算精度、即ち、測定子22の校正精度を向上させることができる。次に、測定子22の校正方法の手順について、図6を用いて説明する。先ず、ステップS1で、軸間距離L、測定子22の半径r、基準円筒30の半径R及び旋回角度αt、測定回数Nを入力する。次いで、ステップS2で、測定子22の半径r、基準円筒30の半径R及び旋回角度αtに基づいて、測定子22の理論中心位置OL,ORを設定した後、これを用いて、理論接触位置PL,PRを求める。そして、ステップS3で、回転テーブル11を回転させ、基準円筒30を、その中心位置がX軸上に配置されるように、位置決めする。次いで、ステップS4で、基準円筒30を左右両方向に向けて旋回角度αtに旋回させて、予め理論中心位置OL,ORに位置決めしておいた測定子22に接触させる。これにより、基準円筒30が、左右両側の測定子22に均等に接触するか否かが判定される。ここで、可であれば、基準円筒30がX軸上に位置決めされていると判定され、次のステップS5に進む。また、否であれば、基準円筒30がX軸上に位置決めされていないと判定され、前のステップS3に戻る。そして、ステップS5で、位置誤差測定動作を開始する。次いで、ステップS6で、カウント数Iを1とし、総カウント数を2とする。そして、ステップS7で、測定子22を左側の理論中心位置OLに位置決めする。次いで、ステップS8で、基準円筒30を旋回角度αtに旋回させる。そして、ステップS9で、基準円筒30が測定子22に接触したら、実接触位置PL ́を求めた後、更に、旋回角度誤差ΔαtLを求める。次いで、ステップS10で、測定子22を右側の理論中心位置ORに位置決めする。そして、ステップS11で、基準円筒30を旋回角度αtに旋回させる。次いで、ステップS12で、基準円筒30が測定子22に接触したら、実接触位置PR ́を求めた後、更に、旋回角度誤差ΔαtRを求める。そして、ステップS13で、測定回数Nが総カウント数I未満であるか否かが判定される。ここで、可であれば、現在の測定回数が予め設定した測定回数Nに達したと判定され、次のステップS14に進む。また、否であれば、現在の測定回数が予め設定した測定回数Nに達していないと判定され、前のステップS5に戻る。次いで、ステップS14で、軸間距離L、測定子22の半径r、基準円筒30の半径R及び旋回角度誤差ΔαtL,ΔαtRに基づいて、接触角度誤差βL,βRを求めた後、この接触角度誤差βL,βRを用いて、左側の接触位置誤差ΔXL,ΔYLと、右側の接触位置誤差ΔXR,ΔYRとを求める。これにより、最終的な、測定子22の位置誤差ΔX,ΔYがもとめられる。そして、ステップS15で、位置誤差ΔX,ΔYに応じて、測定子22を校正する。従って、本発明に係る形状測定用測定子の校正方法によれば、理論中心位置OL,ORに位置決めした測定子22に対して、校正用の基準円筒30を旋回角度αtに旋回させて接触させることにより、測定子22の位置誤差ΔX,ΔYを容易に求めることができる。そして、その位置誤差ΔX,ΔYに応じて、測定22子を校正することにより、回転テーブル11の中心位置テーブル回転軸Cに測定子22に中心が届かなくても、当該測定子22を高精度に校正することができる。また、旋回角度αtを、複数の異なった旋回角度で段階的に設定することにより、位置誤差ΔX,ΔYに対して、回転テーブル11の割り出し角度誤差の影響を十分に小さくすることができる。これにより、測定子22を更に高精度に校正することができる。"