"複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出できる機能を具備した導通検出機能付き基板において、前記プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するX方向及びY方向とし、前記複数の基板の積層方向を、前記X方向及び前記Y方向とそれぞれ直交するZ方向としたとき、前記被計測用配線経路は、前記Y方向の成分と前記Z方向の成分とを含む渦巻き状で、前記複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、前記X方向に対し一方側から他方側に延びて形成されていること、前記Y方向の成分と前記Z方向の成分とを含み、前記X方向に対し前記一方側から前記他方側に前記被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で前記被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、前記計測用配線経路が、前記被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を検出可能に形成されていることを特徴とする導通検出機能付き基板。請求項1に記載する導通検出機能付き基板において、前記計測用配線経路は、前記Y方向の成分と前記Z方向の成分とを含む渦巻き状で、前記複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、前記X方向に対し前記一方側から前記他方側に延び、前記被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることを特徴とする導通検出機能付き基板。請求項1または請求項2に記載する導通検出機能付き基板において、前記電気回路の前記入力側と前記出力側との間で、複数の前記被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の前記計測用配線経路が、前記複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されていることを特徴とする導通検出機能付き基板。複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法において、前記プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するX方向及びY方向とし、前記複数の基板の積層方向を、前記X方向及び前記Y方向とそれぞれ直交するZ方向としたとき、前記被計測用配線経路は、前記Y方向の成分と前記Z方向の成分とを含む渦巻き状で、前記複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、前記X方向に対しその一方側から他方側に延びて形成されていること、前記Y方向の成分と前記Z方向の成分とを含み、前記X方向に対し前記一方側から前記他方側に前記被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で前記被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、前記被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を、前記計測用配線経路で検出することにより、前記被計測用配線経路の導通を検出することを特徴とする導通検出方法。請求項4に記載する導通検出方法において、前記計測用配線経路は、前記Y方向の成分と前記Z方向の成分とを含む渦巻き状で、前記複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、前記X方向に対し前記一方側から前記他方側に延び、前記被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることを特徴とする導通検出方法。請求項4または請求項5に記載する導通検出方法において、前記電気回路の前記入力側と前記出力側との間で、複数の前記被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の前記計測用配線経路が、前記複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されていることを特徴とする導通検出方法。しかしながら、特許文献1のような従来技術には、以下のような問題があった。特許文献1は、電流検知デバイス部104により被測定電流を検出する一次導体103被計測用配線経路を、多層のプリント配線基板111プリント配線基板の平面に沿う方向に、複数層内層111b,111cにかけて渦巻き状に延伸させて形成されている。検出対象となる電流の電流値が小さい場合、被計測用配線経路における配線の渦巻き数がより多く、配線長をより長くすると、計測デバイスが、被計測用配線経路より発生した磁界を通じて被計測用配線経路に生じる誘導電流を検出し易くなる。このことから、被計測用配線経路の配線長をより長く確保するには、特許文献1のような被計測用配線経路の場合、プリント配線基板の面積をより大きくすることの他、基板の層数をより多くする必要がある。基板の層数を増やすことは、プリント配線基板の厚みの増加に繋がりコスト高になる上、計測デバイスをプリント配線基板上面に接触させても、計測デバイスによる被計測用配線経路側の磁界の検出に限界があり、積層させる基板の層数をむやみに増やすことはできない。また、プリント配線基板の面積を大きくすることは、近年、製品の小型化のニーズが一般的に高まっている傾向にあり、特に、自動車のECU等では、構成する各部品の配置スペースが非常に限られていることから、プリント配線基板を搭載する製品にとっても問題となる。特に、特許文献1のような被計測用配線経路では、プリント配線基板に被計測用配線経路が配置されている位置に、計測デバイスを接触させて電流の検出を行うため、プリント配線基板上において、計測デバイスを接触させるスペースを確保する必要があり、プリント配線基板全体の面積が必然的に大きくなり、問題であった。本発明は、上記問題点を解決するためになされたものであり、導通の検出対象となる被計測用配線経路において、流れる電流の電流値が小さくても、電流を精度良く検出することができると共に、小型化ができる電流検出機能付き基板を提供することを目的とする。また、小型化された電気配線基板において、導通の検出対象となる被計測用配線経路に対し、流れる電流の電流値が小さくても、電流を精度良く検出することができる導通検出方法を提供することを目的とする。上記の問題点を解決するために、本発明の導通検出機能付き基板、及び導通検出方法は、次の構成を有している。1複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出できる機能を具備した導通検出機能付き基板において、プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するX方向及びY方向とし、複数の基板の積層方向を、X方向及びY方向とそれぞれ直交するZ方向としたとき、被計測用配線経路は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、X方向に対し一方側から他方側に延びて形成されていること、Y方向の成分とZ方向の成分とを含み、X方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、計測用配線経路が、被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を検出可能に形成されていることを特徴とする。21に記載する導通検出機能付き基板において、計測用配線経路は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、X方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることを特徴とする。31または2に記載する導通検出機能付き基板において、電気回路の入力側と出力側との間で、複数の被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の計測用配線経路が、複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されていることを特徴とする。4複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法において、プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するX方向及びY方向とし、複数の基板の積層方向を、X方向及びY方向とそれぞれ直交するZ方向としたとき、被計測用配線経路は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、X方向に対しその一方側から他方側に延びて形成されていること、Y方向の成分とZ方向の成分とを含み、X方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を、計測用配線経路で検出することにより、被計測用配線経路の導通を検出することを特徴とする。54に記載する導通検出方法において、計測用配線経路は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、X方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることを特徴とする。64または5に記載する導通検出方法において、電気回路の入力側と出力側との間で、複数の被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の計測用配線経路が、複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されていることを特徴とする。上記構成を有する本発明の導通検出機能付き基板、及び導通検出方法の作用効果について説明する。本発明の導通検出機能付き基板では、1複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出できる機能を具備した導通検出機能付き基板において、プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するX方向及びY方向とし、複数の基板の積層方向を、X方向及びY方向とそれぞれ直交するZ方向としたとき、被計測用配線経路は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、X方向に対し一方側から他方側に延びて形成されていること、Y方向の成分とZ方向の成分とを含み、X方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、計測用配線経路が、被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を検出可能に形成されているので、積層させる基板の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板の面積を小さくして、被計測用配線経路の配線長をより長く確保することができている。そのため、本発明の導通検出機能付き基板は、プリント配線基板として小型化できており、ひいては本発明の導通検出機能付き基板を実装する製品を省スペース化することができる。また、本発明の導通検出機能付き基板では、被計測用配線経路の配線長をより長く確保できるため、被計測用配線経路に流れる電流の電流値が小さくても、被計測用配線経路に流れる電流を検出するにあたり、被計測用配線経路により安定した磁界を発生させることができ、誘導電流が計測用配線経路で検出可能となる。特に、例えば、自動車に搭載されるECUや各種電装品のほか、家電製品に内蔵された電装機器等の製品では、上記製品の工場出荷時や修理時において、被計測用配線経路の導通検査を行う場合がある。このような場合、被計測用配線経路に流れる電流の電流値がたとえ小さくても、被計測用配線経路で発生する安定した磁界により、被計測用配線経路で断線していないかの確認に足りる大きさの誘導電流が計測用配線経路で検出できる。そのため、本発明の導通検出機能付き基板では、プリント配線基板上の電気回路に対し、被計測用配線経路の導通検査が、当該導通検出機能付き基板で可能となり、被計測用配線経路に流れる電流の電流値がたとえ小さくても、この導通検査をより確実にかつ簡単に精度良く行うことができる。従って、プリント配線基板を小型化できると共に、被計測用配線経路に流れる電流の電流値が小さくても、計測用配線経路で検出される誘導電流を安定した状態で得られるため、被計測用配線経路の導通を精度良く検出することができる、という優れた効果を奏する。2計測用配線経路は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、X方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路と並列に沿って形成されているので、プリント配線基板上に計測デバイスを接触させて、プリント配線基板内の被計測用配線経路に流れる電流を検出する特許文献1のような従来の電気配線基板と異なり、被計測用配線経路の導通を検出するのに、プリント配線基板に計測デバイスを接触させる必要がない。これにより、計測デバイスの接触スペースが必要ない分、プリント配線基板をより小型化することができる。また、計測用配線経路が、複数の基板においてそれぞれ計測用スルーホールを介して、被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることから、X方向に沿う計測用配線経路の配線長が短くても、誘導電流が計測用配線経路で検出され易く、被計測用配線経路に流れる電流を、確実に検出することができる。また、被計測用配線経路に流れる電流の電流値が小さい場合でも、計測用配線経路により確実に検出でき、被計測用配線経路に異常がある場合でも、作業者は、この異常な被計測用配線経路を簡単に特定することができる。3電気回路の入力側と出力側との間で、複数の被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の計測用配線経路が、複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されているので、例えば、自動車に搭載されるECU、ハイブリット車のモータ制御装置等において、複数の被計測用配線経路のそれぞれに対し、例えば、被計測用配線経路に流れる電流の通電をオン/オフするスイッチ等の電気部品が、被計測用配線経路と電気的に直列接続される電気回路では、万が一、複数の上記電気部品のうち、一部の電気部品で導通不良を引き起こす故障があったときにも、計測用配線経路を用いれば、作業者は、計測用配線経路のそれぞれで誘導電流を個々に検出することができ、故障している電気部品を簡単に特定することができる。また、作業者は、並列接続された複数の被被計測用配線経路のうち、どの被被計測用配線経路で断線しているかについても、簡単に特定することができる。また、本発明の導通検出方法では、4複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法において、プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するX方向及びY方向とし、複数の基板の積層方向を、X方向及びY方向とそれぞれ直交するZ方向としたとき、被計測用配線経路は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、X方向に対しその一方側から他方側に延びて形成されていること、Y方向の成分とZ方向の成分とを含み、X方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を、計測用配線経路で検出することにより、被計測用配線経路の導通を検出するので、積層させる基板の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板の面積を小さくして、被計測用配線経路の配線長をより長く確保することができるようになり、プリント配線基板を小型化することができ、ひいてはこのプリント配線基板を実装する製品を省スペース化することができる。また、基板の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板の面積を小さくして、被計測用配線経路の配線長をより長く確保することができるため、被計測用配線経路に流れる電流の電流値が小さくても、被計測用配線経路に流れる電流を検出するにあたり、被計測用配線経路により安定した磁界を発生させることができ、誘導電流が計測用配線経路で検出できるようになる。特に、例えば、自動車に搭載されるECUや各種電装品のほか、家電製品に内蔵された電装機器等の製品では、上記製品の工場出荷時や修理時において、被計測用配線経路の導通検査を行う場合がある。このような場合、被計測用配線経路に流れる電流の電流値がたとえ小さくても、被計測用配線経路で発生する安定した磁界により、被計測用配線経路で断線していないかの確認に足りる大きさの誘導電流が計測用配線経路で検出できる。そのため、被計測用配線経路に流れる電流の電流値がたとえ小さくても、プリント配線基板上の電気回路に対し、被計測用配線経路の導通検査を、より確実にかつ簡単に精度良く行うことができる。従って、プリント配線基板を小型化できると共に、被計測用配線経路に流れる電流の電流値が小さくても、計測用配線経路で検出される誘導電流を安定した状態で得られるため、被計測用配線経路の導通を精度良く検出することができる、という優れた効果を奏する。5計測用配線経路は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、X方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路と並列に沿って形成されているので、プリント配線基板上に計測デバイスを接触させて、プリント配線基板内の被計測用配線経路に流れる電流を検出する特許文献1のような従来の電流検出方法と異なり、被計測用配線経路の導通を検出するのに、プリント配線基板に計測デバイスを接触させる必要がなく、計測デバイスの接触スペースが必要ない分、プリント配線基板をより小型化することができる。また、計測用配線経路が、複数の基板においてそれぞれ計測用スルーホールを介して、被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることから、X方向に沿う計測用配線経路の配線長が短くても、誘導電流が計測用配線経路で検出され易く、被計測用配線経路に流れる電流を、確実に検出することができる。6電気回路の入力側と出力側との間で、複数の被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の計測用配線経路が、複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されているので、複数の被計測用配線経路のそれぞれに対し、例えば、被計測用配線経路に流れる電流の通電をオン/オフするスイッチ等の電気部品が、被計測用配線経路と電気的に直列接続されている電気回路では、万が一、複数の上記電気部品のうち、一部の電気部品で導通不良を引き起こす故障があった場合に、計測用配線経路のそれぞれで誘導電流を個々に検出することにより、作業者は、故障している電気部品を簡単に特定することができる。また、作業者は、並列接続された複数の被計測用配線経路のうち、どの被計測用配線経路で断線しているかについても、簡単に特定することができる。すなわち、複数の計測用配線経路のそれぞれに対し、上記電気部品が被計測用配線経路と電気的に接続されている電気回路において、複数の被計測用配線経路が入力側と出力側とでそれぞれ電気的に並列に分岐する分岐点では、複数の被計測用配線経路に向けて流れる電流は、入力側分岐点と出力側分岐点で、同じ電流値となる。換言すれば、入力側から流れる電流は、導通不良で故障している異常な電気部品と接続している被計測用配線経路を通じて出力側に流れないが、導通不良でない正常な電気部品と接続している他の被計測用配線経路を通じて出力側に流れる。その結果、電流値は、入力側分岐点と出力側分岐点で同じとなり、作業者は、並列接続された複数の被計測用配線経路のうち、どの被計測用配線経路の電気部品で導通不良であるか、入力側分岐点と出力側分岐点で電流値を計測しただけでは判断できない。勿論、作業者は、どの被計測用配線経路で断線しているかについても、入力側分岐点と出力側分岐点で電流値を計測しただけでは判断できない。本発明の導通検出方法では、電気回路の入力側と出力側との間で、複数の被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の計測用配線経路が、複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されている。そのため、入力側から出力側に電流を流すと、異常な電気部品と接続している被計測用配線経路には、電流が全く流れないため、この被計測用配線経路と対となる計測用配線経路で誘導電流が検出されず、作業者は、この計測用配線経路に繋がる電気部品を、異常な電気部品として特定することができる。勿論、電気部品が正常であっても、この電気部品と接続する被計測用配線経路が断線している場合には、入力側から出力側に電流を流すだけで、作業者は、断線した被計測用配線経路を簡単に特定することができる。以下、本発明に係る導通検出機能付き基板、及び導通検出方法について、実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。本実施形態に係る導通検出機能付き基板は、例えば、自動車に搭載されるECUElectronicControlUnit等において実装される種々の電気配線基板のうち、所定の制御、駆動、または作動を行うのに必要な電気回路が配線されたプリント配線基板である。実施例1図1は、実施例1に係る導通検出機能付き基板を模式的に示す斜視図である。図2は、図1に示す導通検出機能付き基板の平面図である。図2中、A-A矢視断面図を図3に、B-B矢視断面図を図4に、C-C矢視断面図を図5に、D-D矢視断面図を図6に、E-E矢視断面図を図7に、それぞれ示す。なお、図1において、左右方向をX方向とし、左下‐右上方向をY方向とし、プリント配線基板1の平面Sに沿う方向を、互いに直交するX方向及びY方向とし、上下方向を、X方向及びY方向とそれぞれ直交するZ方向とする。図2以降の図面の各方向についても、図1に準ずる。また、図1ほか各図は、図を見易くするため、電気回路10において要部以外の図示を省略している。導通検出機能付き基板1は、本実施例では、図1に示すように、第1基板2A、第2基板2B、第3基板2C、第4基板2D、第5基板2E、及び第6基板2Fの6層を積層してなるプリント配線基板である。第1基板2A乃至第6基板2Fは、何れもガラスエポキシ製である。導通検出機能付き基板1には、所定の制御、駆動、または作動を行うのに必要な電気回路10が配線されており、この電気回路10のうち、入力側15と出力側16との間で電流が流れる配線経路として、被計測用配線経路11が配線されている。被計測用配線経路11は、図1及び図2等に示すように、Y方向に沿う成分とZ方向に沿う成分とを含む渦巻き状で、第1基板2A乃至第5基板2Eにそれぞれ形成された被計測用スルーホール3Aを介して、X方向に対し、一方側図1左方の入力側15から他方側図1右方の出力側16に延びて形成されている。具体的には、被計測用配線経路11のうち、X方向及びY方向に沿う配線経路は、図5及び図6に示すように、第1基板2Aと第6基板2Fとに形成されている。Z方向に沿う配線経路は、図3及び図6に示すように、各被計測用スルーホール3Aの内周に形成したはんだ付け部18により、第1基板2Aの配線経路と第6基板2Fの配線経路との間を電気的に接続して形成されている。これにより、被計測用配線経路11は、図1及び図2に示すように、入力側15と出力側16との間を一続きの配線経路で形成でき、電気的に導通するようになっている。また、電気回路10には、計測用配線経路31が、図1及び図2等に示すように、Y方向に沿う成分とZ方向に沿う成分とを含み、X方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路11と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路11と並列配置に配線されている。具体的には、計測用配線経路31のうち、X方向及びY方向に沿う配線経路は、図5及び図7に示すように、第1基板2Aと第6基板2Fとに形成されている。Z方向に沿う配線経路は、図4及び図7に示すように、各計測用スルーホール3Bの内周に形成したはんだ付け部38により、第1基板2Aの配線経路と第6基板2Fの配線経路との間を電気的に接続して形成されている。これにより、計測用配線経路31は、図1及び図2に示すように、第1端子35と第2端子36との間を一続きの配線経路で形成でき、電気的に導通するようになっている。この計測用配線経路31は、被計測用配線経路11に流れる電流による誘導電流を検出可能に形成されている。ここで、電流I0が被計測用配線経路11に流れると、計測用配線経路31で誘導電流I1が検出できることについて、図11を用いて説明する。図11は、計測用配線経路31で誘導電流I1が発生する様子を説明する模式図である。電流I0がコイル状の被計測用配線経路11を入力側から出力側図11中、左側から右側図1では、入力側15から出力側16に相当に向けて流れると、右ねじの法則により、磁力線が被計測用配線経路11の径内を貫通することで、図11に示すように、磁界Mがコイル状の計測用配線経路31に向けて発生する。被計測用配線経路11に流れる電流I0の大きさが変化すると、磁界Mは、この電流I0の大きさに比例して変化する。一方、計測用配線経路31において、磁界Mの大きさが変化すると、ファラデーの電磁誘導の法則により、計測用配線経路31に生じる誘導起電力が、磁界Mの変化の割合に比例して変化する。この関係を式で示すと、V=-NΔΦ/ΔtV:計測用配線経路31の起電力、N:計測用配線経路31の巻き数、ΔΦ:磁界Mの変化の割合、Δt:磁界Mが変化した時間となる。なお、計測用配線経路31で生じる誘導起電力は、レンツの法則により、磁界Mの変化を打ち消す方向に発生するため、符号は-となっている。よって、被計測用配線経路11に流れる電流I0の大きさが変化すると、計測用配線経路31に誘導起電力Vが発生するため、この計測用配線経路31と抵抗等の負荷とを並列接続図8参照すると、計測用配線経路31の誘導電流I1が、オームの法則により、誘導起電力V/抵抗値Rに基づいて検出できる。次に、誘導電流検出ユニット50について、図8を用いて説明する。図8は、本実施例に係る導通検出機能付き基板において、被計測用配線経路の導通検査を行っている様子を示す説明図である。誘導電流検出ユニット50は、導通検出機能付き基板1の被計測用配線経路11に対し、電気的に導通しているかを検査するときに用いる導通検査ユニットである。誘導電流検出ユニット50は、図8に示すように、第1分岐点55からX方向の一方側に延びる配線53の端部に第1接続部材51を、第2分岐点56からX方向の他方側に延びる配線53の端部に第2接続部材52をそれぞれ接続すると共に、第1分岐点55と第2分岐点56との間で所定抵抗値Rの抵抗57と電圧計58とを並列接続して構成されている。第1接続部材51は、計測用配線経路31の第1端子35と、接続及びその解除を自在にできるようになっており、第2接続部材52も、計測用配線経路31の第2端子36と、接続及びその解除を自在にできるようになっている。次に、実施形態のうち、実施例1に係る導通検出方法について、図8を用いて説明する。実施例1に係る導通検出方法は、導通検出機能付き基板1の被計測用配線経路11に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法であり、被計測用配線経路11に流れる電流I0による誘導電流I1を、計測用配線経路31で検出することにより、被計測用配線経路11の導通を検出し確認する。具体的に説明する。まず、被計測用配線経路11の導通検査を行うときには、誘導電流検出ユニット50の第1接続部材51を計測用配線経路31の第1端子35に、第2接続部材52を計測用配線経路31の第2端子36に、それぞれ電気的に接続させる。次に、図示しない電源より、導通検出機能付き基板1の被計測用配線経路11に電流I0を流す操作を行う。このとき、所定の時間内において、流す電流を、例えば、徐々に大きくする等、大きさを変化させて、被計測用配線経路11への通電操作を行う。被計測用配線経路11が断線しておらず、電気的に導通していれば、電流I0が被計測用配線経路11に流れることで、計測用配線経路31において第1端子35と第2端子36との間、すなわち誘導電流検出ユニット50において第1接続部材51と第2接続部材52との間に誘導起電力Vが生じる。誘導電流検出ユニット50では、抵抗57と電圧計58とが、第1分岐点55と第2分岐点56との間で並列接続されているため、抵抗57にかかる電圧が、第1分岐点55と第2分岐点56との電位差である誘導起電力Vとなる。よって、この抵抗57を流れる電流、すなわち誘導電流I1は、誘導起電力V/所定抵抗値Rによって得られ、この誘導電流I1が、誘導電流検出ユニット50と電気的に接続する計測用配線経路31に検出されれば、被計測用配線経路11は断線しておらず、電気的に導通した状態であると判断することができる。一方、被計測用配線経路11が、断線、接触不良等により電気的に導通していないと、電流I0を被計測用配線経路11に流す操作を行っても、計測用配線経路31において第1端子35と第2端子36との間、すなわち誘導電流検出ユニット50において第1接続部材51と第2接続部材52との間に誘導起電力Vが生じない。よって、誘導起電力Vが計測用配線経路31に生じず、誘導電流I1が、誘導電流検出ユニット50と電気的に接続する計測用配線経路31に検出できなければ、被計測用配線経路11が、断線や接触不良等に起因して電気的に導通していないと判断することができる。実施例2次に、実施例2に係る導通検出機能付き基板について、図9を用いて説明する。図9は、実施例2に係る導通検出機能付き基板を模式的に示す斜視図であり、被計測用配線経路の導通検査を行っている様子を示す説明図である。本実施例に係る導通検出機能付き基板1Aは、実施例1に係る導通検出機能付き基板1と、計測用配線経路31の配置位置が異なるが、それ以外の部分は、実施例1と同じである。従って、計測用配線経路31については、実施例1と同じ符号を用い、実施例1とは異なる部分を中心に説明し、その他について説明を簡略または省略する。導通検出機能付き基板1Aでは、計測用配線経路31は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、第1基板2A乃至第5基板2Eにそれぞれ形成された計測用スルーホール3Bを介して、X方向に対し一方側の第1端子35から他方側の第2端子36に延び、被計測用配線経路11と並列に沿って形成されている。具体的には、計測用配線経路31は、Y方向に対し、被計測用配線経路11と重なっておらず、被計測用配線経路31のうち、X方向及びY方向に沿う配線経路は、参照する図5及び図7に示すように、第1基板2Aと第6基板2Fとに形成されている。Z方向に沿う配線経路は、参照する図4及び図7に示すように、各計測用スルーホール3Bの内周に形成したはんだ付け部38により、第1基板2Aの配線経路と第6基板2Fの配線経路との間を電気的に接続して形成されている。次に、実施例2に係る導通検出方法については、実施例1に係る導通検出方法と実質的に同じである。すなわち、実施例2に係る導通検出方法は、導通検出機能付き基板1Aの被計測用配線経路11に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法であり、被計測用配線経路11に流れる電流I0による誘導電流I1を、計測用配線経路31で検出することにより、被計測用配線経路11の導通を検出し確認する。本実施例に係る導通検出方法では、誘導起電力Vが計測用配線経路31に生じて、誘導電流I1が、誘導電流検出ユニット50と電気的に接続する計測用配線経路31に検出されれば、被計測用配線経路11は断線しておらず、電気的に導通した状態であると判断することができる。一方、誘導起電力Vが計測用配線経路31に生じず、誘導電流I1が、誘導電流検出ユニット50と電気的に接続する計測用配線経路31に検出できなければ、被計測用配線経路11が、断線や接触不良等に起因して電気的に導通していないと判断することができる。実施例3次に、実施例3に係る導通検出機能付き基板について、図10を用いて説明する。図10は、実施例3に係る導通検出機能付き基板を模式的に示す平面図であり、被計測用配線経路の導通検査を行っている様子を示す説明図である。本実施例に係る導通検出機能付き基板1Bは、電気回路10の入力側15と出力側16との間で、2つの第1被計測用配線経路11A、第2被計測用配線経路11Bが電気的に並列接続されていると共に、2つの第1計測用配線経路31A、第2計測用配線経路31Bが、この第1,第2被計測用配線経路11A,11Bに対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されている。具体的には、導通検出機能付き基板1Bは、実施例1に係る導通検出機能付き基板1と同様、6層の第1基板2A乃至第6基板2Fを積層してなるプリント配線基板である。被計測用配線経路11は、図10に示すように、電気回路10の入力側15と出力側16との間に配線され、入力側分岐点15Pと出力側分岐点16Pとの間で、2つに並列分岐した配線経路となっている。なお、図10には図示されていないが、被計測用配線経路11のうち、第1,第2被計測用配線経路11A,11Bを除いた部分は、参照する図1の第1基板2Aに相当する基板に配線されている。第1,第2被計測用配線経路11A,11Bは、参照する図1等に示す被計測用配線経路11と実質的に同じ構造である。すなわち、第1,第2被計測用配線経路11A,11Bのうち、X方向及びY方向に沿う配線経路は、参照する図5及び図6に示すように、第1基板2Aと第6基板2Fとに形成されている。また、Z方向に沿う配線経路は、参照する図3及び図6に示すように、各被計測用スルーホール3Aの内周に形成したはんだ付け部18により、第1基板2Aの配線経路と第6基板2Fの配線経路との間を電気的に接続して形成されている。入力側分岐点15Pと出力側分岐点16Pとの間では、第1スイッチ20Aと第1被計測用配線経路11Aとが直列接続されていると共に、第2スイッチ20Bと第2被計測用配線経路11Aとが直列接続されている。本実施例では、第1スイッチ20A、第2スイッチ20Bは、何れもMOSMetalOxideSemiconductorで形成されたスイッチである。第1,第2計測用配線経路31A,31Bは、参照する図1等に示す計測用配線経路31と実質的に同じ構造であり、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、X方向に対し一方側の第1端子35から他方側の第2端子36向けて延びている。第1計測用配線経路31Aは、第1被計測用配線経路11Aと並列に沿って配置され、第2計測用配線経路31Bは、第2被計測用配線経路11Bと並列に沿って配置されている。第1,第2計測用配線経路31A,31Bのうち、X方向及びY方向に沿う配線経路は、参照する図5及び図7に示すように、第1基板2Aと第6基板2Fとに形成されている。Z方向に沿う配線経路は、参照する図4及び図7に示すように、各計測用スルーホール3Bの内周に形成したはんだ付け部38により、第1基板2Aの配線経路と第6基板2Fの配線経路との間を電気的に接続して形成されている。ところで、本実施例に係る導通検出機能付き基板1Bでは、図10に示すように、電気回路10において、入力側分岐点15Pと出力側分岐点16Pとの間で、第1スイッチ20Aと第1被計測用配線経路11Aとが直列接続されていると共に、第2スイッチ20Bと第2被計測用配線経路11Bとが直列接続されている。本実施例のように、プリント配線基板である導通検出機能付き基板1Bにおいて、入力側分岐点15Pと出力側分岐点16Pとの間に設けるスイッチが、MOSのスイッチである場合、被計測用配線経路11に流れる電流I0が大きいと、スイッチが1つでは、スイッチの耐久性に問題が生じることがある。本実施例では、入力側分岐点15Pと出力側分岐点16Pとの間を2系統の並列回路で構成することで、電流I0が被計測用配線経路11に流れても、第1スイッチ20Aと第2スイッチ20Bには、それぞれ電流I0/2に分けて流れるようになり、スイッチの耐久性に問題を回避することができている。勿論、被計測用配線経路11において、電流I0の通電をオン/オフする操作は、第1スイッチ20A、第2スイッチ20Bとも同時に行う必要がある。ところが、第1スイッチ20A及び第2スイッチ20Bのうち、いずれか片方のスイッチに、損傷、断線、接触不良等の導通不良が生じていることに起因して、スイッチをオン状態にしても、このスイッチと接続する被計測用配線経路に電流I0/2が流れない場合が考えられる。例えば、第1スイッチ20Aに導通不良が生じていると、電流I0/2は第1被計測用配線経路11Aに流れず、被計測用配線経路11の入力側15から流れる電流I0は、入力側分岐点15P、第2スイッチ20B、第2被計測用配線経路11B、及び出力側分岐点16Pを介して、出力側16に流れることになる。工場出荷時や修理時に、このような導通検出機能付き基板1B上の電気回路10に対し、断線していないかを検査するときに、入力側分岐点15Pと出力側分岐点16Pと間の電圧値や電流値を計測しても、第1スイッチ20Aに導通不良の有無に拘わらず、電圧値や電流値は、所定値のままである。よって、作業者は、第1スイッチ20Aの導通不良を検出できない。次に、実施例3に係る導通検出方法は、実施例1,2に係る導通検出方法と基本的に同じである。しかしながら、本実施例に係る導通検出方法は、2つの誘導電流検出ユニット50第1誘導電流検出ユニット50A、第2誘導電流検出ユニット50Bを、第1,第2計測用配線経路31A,31Bのそれぞれに接続させる点で、実施例1,2に係る導通検出方法と異なる。なお、1つの誘導電流検出ユニット50で導通検査を行う場合には、第1,第2被計測用配線経路11A,11Bに対し、片方ずつ誘導電流検出ユニット50を接続するようにしても良い。本実施例に係る導通検出方法では、導通検出機能付き基板1Bにおいて、第1被計測用配線経路11Aの導通確認は、第1誘導電流検出ユニット50Aと電気的に接続された第1計測用配線経路31Aにより検出する。すなわち、第1被計測用配線経路11Aに流れる電流I0による誘導電流I1を、第1計測用配線経路31Aで検出することにより、第1被計測用配線経路11Aの導通を検出し確認する。誘導起電力Vが第1計測用配線経路31Aに生じて、誘導電流I1が、第1誘導電流検出ユニット50Aと電気的に接続する第1計測用配線経路31Aに検出されれば、第1被計測用配線経路11Aや第1スイッチ20Aは、電気的に導通した状態であると判断することができる。一方、誘導起電力Vが第1計測用配線経路31Aに生じず、誘導電流I1が、第1誘導電流検出ユニット50Aと電気的に接続する第1計測用配線経路31Aに検出できなければ、第1被計測用配線経路11Aや第1スイッチ20Aが、断線や接触不良等に起因して電気的に導通していないと判断することができる。さらに、第1被計測用配線経路11Aに断線がなければ、第1スイッチ20Aが正常に機能できない状態にあると、特定することができる。また、第2被計測用配線経路11Bの導通確認は、第2誘導電流検出ユニット50Bと電気的に接続された第2計測用配線経路31Bにより検出する。すなわち、第2被計測用配線経路11Aに流れる電流I0による誘導電流I1を、第2計測用配線経路31Bで検出することにより、第2被計測用配線経路11Bの導通を検出し確認する。誘導起電力Vが第2計測用配線経路31Bに生じて、誘導電流I1が、第2誘導電流検出ユニット50Bと電気的に接続する第2計測用配線経路31Bに検出されれば、第2被計測用配線経路11Bや第2スイッチ20Bは、電気的に導通した状態であると判断することができる。一方、誘導起電力Vが第2計測用配線経路31Bに生じず、誘導電流I1が、第2誘導電流検出ユニット50Bと電気的に接続する第2計測用配線経路31Bに検出できなければ、第2被計測用配線経路11Bや第2スイッチ20Bが、断線や接触不良等に起因して電気的に導通していないと判断することができる。さらに、第2被計測用配線経路11Bに断線がなければ、第2スイッチ20Bが正常に機能できない状態にあると、特定することができる。前述した構成を有する本実施形態に係る導通検出機能付き基板、導通検出方法の作用効果について説明する。本実施形態に係る導通検出機能付き基板1,1A,1Bでは、6層の第1基板2A乃至第6基板2Fを積層してなるプリント配線基板1,1A,1Bを有し、該プリント配線基板1,1A,1Bに配線された電気回路10のうち、入力側15と出力側16との間で電流I0が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路11に対し、電気的に導通しているかを検出できる機能を具備した導通検出機能付き基板1,1A,1Bにおいて、第1基板2Aの平面Sに沿う方向を、互いに直交するX方向及びY方向とし、6層の第1基板2A乃至第6基板2Fの積層方向を、X方向及びY方向とそれぞれ直交するZ方向としたとき、被計測用配線経路11は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、第1基板2A乃至第5基板2Eにそれぞれ形成された被計測用スルーホール3Aを介して、X方向に対し一方側から他方側に延びて形成されていること、Y方向の成分とZ方向の成分とを含み、X方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路11と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路11と並列配置に配線された計測用配線経路31を有し、計測用配線経路31が、被計測用配線経路11に流れる電流I0による誘導電流I1を検出可能に形成されているので、積層させる第1基板2A等の基板の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板1,1A,1Bの面積を小さくして、被計測用配線経路11の配線長をより長く確保することができている。そのため、本実施形態の導通検出機能付き基板1,1A,1Bは、プリント配線基板として小型化できており、ひいては本実施形態の導通検出機能付き基板1,1A,1Bを実装する製品を省スペース化することができる。また、本実施形態の導通検出機能付き基板1,1A,1Bでは、被計測用配線経路11の配線長をより長く確保できるため、被計測用配線経路11に流れる電流I0の電流値が小さくても、被計測用配線経路31に流れる電流I1を検出するにあたり、被計測用配線経路11により安定した磁界を発生させることができ、誘導電流I1が計測用配線経路31で検出可能となる。特に、例えば、自動車に搭載されるECUや各種電装品のほか、家電製品に内蔵された電装機器等の製品では、上記製品の工場出荷時や修理時において、被計測用配線経路11の導通検査を行う場合がある。このような場合、被計測用配線経路11に流れる電流I0の電流値がたとえ小さくても、被計測用配線経路11で発生する安定した磁界Mにより、被計測用配線経路31で断線していないかの確認に足りる大きさの誘導電流I1が計測用配線経路31で検出できる。そのため、本実施形態の導通検出機能付き基板1,1A,1Bでは、プリント配線基板上の電気回路10に対し、被計測用配線経路11の導通検査が、当該導通検出機能付き基板1,1A,1Bで可能となり、被計測用配線経路11に流れる電流I0の電流値がたとえ小さくても、この導通検査をより確実にかつ簡単に精度良く行うことができる。従って、プリント配線基板導通検出機能付き基板1,1A,1Bを小型化できると共に、被計測用配線経路11に流れる電流I0の電流値が小さくても、計測用配線経路31で検出される誘導電流I1を安定した状態で得られるため、被計測用配線経路11の導通を精度良く検出することができる、という優れた効果を奏する。また、本実施形態に係る導通検出機能付き基板1,1A,1Bでは、計測用配線経路31第1計測用配線経路31A、第2計測用配線経路31Bは、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、第1基板2A乃至第5基板2Eにそれぞれ形成された計測用スルーホール3Bを介して、X方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路11第1被計測用配線経路11A、第2被計測用配線経路11Bと並列に沿って形成されているので、プリント配線基板上に計測デバイスを接触させて、プリント配線基板内の被計測用配線経路に流れる電流を検出する特許文献1のような従来の電気配線基板と異なり、被計測用配線経路11等の導通を検出するのに、プリント配線基板に計測デバイスを接触させる必要がない。これにより、計測デバイスの接触スペースが必要ない分、プリント配線基板導通検出機能付き基板1,1A,1Bをより小型化することができる。また、計測用配線経路31が、6層の第1基板2A乃至第6基板2Fにおいてそれぞれ計測用スルーホール3Bを介して、被計測用配線経路31と並列に沿って形成されていることから、X方向に沿う計測用配線経路31の配線長が短くても、誘導電流I1が計測用配線経路31で検出され易く、被計測用配線経路11に流れる電流I0を、確実に検出することができる。また、被計測用配線経路11に流れる電流I0の電流値が小さい場合でも、計測用配線経路31により確実に検出でき、被計測用配線経路11に異常がある場合でも、作業者は、この異常な被計測用配線経路11を簡単に特定することができる。また、本実施形態に係る導通検出機能付き基板1Bでは、電気回路10の入力側15と出力側16との間で、2つの第1被計測用配線経路11A、第2被計測用配線経路11Bが電気的に並列接続されていると共に、2つの第1計測用配線経路31A、第2計測用配線経路31Bが、第1,第2被計測用配線経路11A,11Bに対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されているので、例えば、自動車に搭載されるECU、ハイブリット車のモータ制御装置等において、第1,第2被計測用配線経路11A,11Bのそれぞれに対し、例えば、被計測用配線経路11に流れる電流I0の通電をオン/オフする第1スイッチ20A、第2スイッチ20B等の電気部品が、それぞれ第1,第2被計測用配線経路11A,11Bと電気的に直列接続される電気回路では、万が一、第1,第2スイッチ20A,20B等の電気部品のうち、片方の電気部品で導通不良を引き起こす故障があったときにも、第1,第2計測用配線経路31A,31Bを用いれば、作業者は、第1,第2計測用配線経路31A,31Bのそれぞれで誘導電流I1を個々に検出することができ、故障している電気部品を簡単に特定することができる。また、作業者は、並列接続された2つの第1被計測用配線経路11A、第2被計測用配線経路11Bのうち、どの被計測用配線経路で断線しているかについても、簡単に特定することができる。また、本実施形態に係る導通検出方法では、6層の第1基板2A乃至第6基板2Fを積層してなるプリント配線基板1,1A,1Bを有し、該プリント配線基板1,1A,1Bに配線された電気回路10のうち、入力側15と出力側16との間で電流I0が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路11に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法において、第1基板2Aの平面Sに沿う方向を、互いに直交するX方向及びY方向とし、6層の第1基板2A乃至第6基板2Fの積層方向を、X方向及びY方向とそれぞれ直交するZ方向としたとき、被計測用配線経路11は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、第1基板2A乃至第5基板2Eにそれぞれ形成された被計測用スルーホール3Aを介して、X方向に対しその一方側から他方側に延びて形成されていること、Y方向の成分とZ方向の成分とを含み、X方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路11と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路11と並列配置に配線された計測用配線経路31を有し、被計測用配線経路11に流れる電流I0による誘導電流I1を、計測用配線経路31で検出することにより、被計測用配線経路11の導通を検出するので、積層させる第1基板2A等の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板1,1A,1Bの面積を小さくして、被計測用配線経路11の配線長をより長く確保することができるようになり、プリント配線基板1,1A,1Bを小型化することができ、ひいてはこのプリント配線基板1,1A,1Bを実装する製品を省スペース化することができる。また、第1基板2A等の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板1,1A,1Bの面積を小さくして、被計測用配線経路11の配線長をより長く確保することができるため、被計測用配線経路11に流れる電流I0の電流値が小さくても、被計測用配線経路11に流れる電流I0を検出するにあたり、被計測用配線経路11により安定した磁界Mを発生させることができ、誘導電流I1が計測用配線経路31で検出可能となる。特に、例えば、自動車に搭載されるECUや各種電装品のほか、家電製品に内蔵された電装機器等の製品では、上記製品の工場出荷時や修理時において、被計測用配線経路11の導通検査を行う場合がある。このような場合、被計測用配線経路11に流れる電流I0の電流値がたとえ小さくても、被計測用配線経路11で発生する安定した磁界Mにより、被計測用配線経路11で断線していないかの確認に足りる大きさの誘導電流I1が計測用配線経路31で検出できる。そのため、被計測用配線経路11に流れる電流I0の電流値がたとえ小さくても、プリント配線基板1,1A,1B上の電気回路10に対し、被計測用配線経路11の導通検査を、より確実にかつ簡単に精度良く行うことができる。従って、プリント配線基板1,1A,1Bを小型化できると共に、被計測用配線経路11に流れる電流I0の電流値が小さくても、計測用配線経路31で検出される誘導電流I1を安定した状態で得られるため、被計測用配線経路11の導通を精度良く検出することができる、という優れた効果を奏する。また、本実施形態に係る導通検出方法では、計測用配線経路31は、Y方向の成分とZ方向の成分とを含む渦巻き状で、第1基板2A乃至第5基板2Eにそれぞれ形成された計測用スルーホール3Bを介して、X方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路11と並列に沿って形成されているので、プリント配線基板上に計測デバイスを接触させて、プリント配線基板内の被計測用配線経路に流れる電流を検出する特許文献1のような従来の電流検出方法と異なり、被計測用配線経路11の導通を検出するのに、プリント配線基板1,1A,1Bに計測デバイスを接触させる必要がなく、計測デバイスの接触スペースが必要ない分、プリント配線基板1,1A,1Bをより小型化することができる。また、計測用配線経路31が、第1基板2A乃至第6基板2Fにおいてそれぞれ計測用スルーホール3Bを介して、被計測用配線経路11と並列に沿って形成されていることから、X方向に沿う計測用配線経路31の配線長が短くても、誘導電流I1が計測用配線経路31で検出され易く、被計測用配線経路11に流れる電流I0を、確実に検出することができる。また、本実施形態に係る導通検出方法では、電気回路10の入力側15と出力側16との間で、2つの第1被計測用配線経路11A、第2被計測用配線経路11Bが電気的に並列接続されていると共に、2つの第1計測用配線経路31A、第2計測用配線経路31Bが、第1,第2被計測用配線経路11A,11Bに対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されているので、第1,第2被計測用配線経路11A,11Bのそれぞれに対し、例えば、被計測用配線経路11に流れる電流I0の通電をオン/オフする第1スイッチ20A、第2スイッチ20B等の電気部品が、第1,第2被計測用配線経路11A,11Bと電気的に直列接続されている電気回路では、万が一、第1,第2スイッチ20A,20B等の電気部品のうち、片方の電気部品で導通不良を引き起こす故障があった場合に、第1,第2計測用配線経路31A,31Bのそれぞれで誘導電流I1を個々に検出することにより、作業者は、故障している電気部品を簡単に特定することができる。また、作業者は、並列接続された2つの第1被計測用配線経路11A、第2被計測用配線経路11Bのうち、どの被計測用配線経路で断線しているかについても、簡単に特定することができる。すなわち、第1スイッチ20A、第2スイッチ20Bが、第1,第2被計測用配線経路11A,11Bに対し、それぞれ電気的に接続されている電気回路において、2つの第1,第2被計測用配線経路11A,11Bが入力側15と出力側16とでそれぞれ電気的に並列に分岐する第1分岐点55、第2分岐点56では、電流I0の電流値は、第1分岐点55と第2分岐点56とも同じなる。換言すれば、入力側15から流れる電流I0は、導通不良で故障している異常な電気部品例えば、第1スイッチ20Aと接続している被計測用配線経路例えば、第1被計測用配線経路11Aを通じて出力側16に流れないが、導通不良でない正常な電気部品例えば、第2スイッチ20Bと接続している他の被計測用配線経路例えば、第2被計測用配線経路11Bを通じて出力側16に流れる。その結果、電流値は、第1分岐点55と第2分岐点56で同じとなり、作業者は、並列接続された2つの第1,第2被計測用配線経路11A,11Bのうち、どの被計測用配線経路の電気部品で導通不良であるか、第1分岐点55と第2分岐点56で電流値を計測しただけでは判断できない。勿論、作業者は、どの被計測用配線経路で断線しているかについても、第1分岐点55と第2分岐点56で電流値を計測しただけでは判断できない。本実施形態に係る導通検出方法では、電気回路10の入力側15と出力側16との間で、2つの第1,第2被計測用配線経路11A,11Bが電気的に並列接続されていると共に、2つの第1,第2計測用配線経路31A,31Bが、第1,第2被計測用配線経路11A,11Bに対し、それぞれ1対1の配置関係で配線されている。そのため、入力側15から出力側16に電流I0を流すと、異常な電気部品と接続している被計測用配線経路には、電流が全く流れないため、この被計測用配線経路と対となる計測用配線経路で誘導電流が検出されず、作業者は、この計測用配線経路に繋がる電気部品を、異常な電気部品として特定することができる。勿論、電気部品が正常であっても、この電気部品と接続する被計測用配線経路が断線している場合には、入力側15から出力側16に電流を流すだけで、作業者は、断線した被計測用配線経路を簡単に特定することができる。以上において、本発明を実施形態に即して説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、適宜変更して適用できる。1例えば、実施形態では、被計測用配線経路に流れる電流I0について、直流、交流について触れていないが、被計測用配線経路に流れる電流は、直流、交流どちらでも良い。2また、実施形態では、導通検出機能付き基板1,1A,1Bは、自動車に搭載されるECUに実装されるプリント配線基板としたが、導通検出機能付き基板は、実施形態に限定せず、例えば、家電製品に内蔵された電装機器等に実装されるプリント配線基板等でも適宜適用可能である。"