"被測定物の近傍電磁波から、水平方向の磁界強度:Hxyi,j,垂直方向の磁界強度:Hzi,j,垂直方向の電界成分:Ezi,jを電磁界センサによって測定し、取得した電磁波成分データに基づいて水平方向の電界成分:Exyi,jを推定演算し、前記推定演算した水平方向の電界成分:Exyi,jの強度分布から電磁波放射源を検出する電磁波放射源検出方法。電磁波発生源の少なくとも一部がシールド筐体で囲まれた被測定物の近傍電磁波から、水平方向の磁界強度:Hxyi,j,垂直方向の磁界強度:Hzi,j,垂直方向の電界成分:Ezi,jを電磁界センサによって測定し、取得した電磁波成分データに基づいて水平方向の電界成分:Exyi,jを推定演算し、前記推定演算した水平方向の電界成分:Exyi,jの強度分布から前記シールド筐体の隙間の位置を検出する電磁波放射源検出方法。測定対象周波数の0.03波長以下の距離における近傍電磁波から水平方向の磁界強度:Hxyi,j,垂直方向の磁界強度:Hzi,j,垂直方向の電界成分:Ezi,jを測定する請求項1または請求項2記載の電磁波放射源検出方法。被測定物の近傍をスキャンして電磁界を検出する電磁界センサと、前記電磁界センサの検出から水平方向の磁界強度:Hxyi,j,垂直方向の磁界強度:Hzi,j,垂直方向の電界成分:Ezi,jに基づいて水平方向の電界成分:Exyi,jを推定演算する演算処理部とを設けた電磁波放射源検出装置。前記電磁界センサが被測定物から測定対象周波数の0.03波長以下の距離の範囲内をスキャンするよう構成した請求項4記載の電磁波放射源検出装置。従来の近傍電磁界測定方法は、被測定物に対して水平な面をXY面、垂直方向をZ軸方向とすると、磁界はXYZ成分を測定できるものの、電界測定においては、電界Z軸成分のみを測定するものであった。これは被測定物をプリント基板に限定した場合、電磁波放射源近傍では電界垂直成分Ezが支配的となることから上記の成分で十分に電磁波放射源が特定可能だと考えられているからである。ここで被測定物として、搭載したプリント基板を筐体でシールドした商品を測定する場合を想定すると、電磁波放射源上で電界の水平成分Ex、Eyが支配的となる場合があり、前記筐体から電磁波が漏洩している隙間を特定するためには、水平方向の電界強度も実測が必要である。被測定物がプリント基板の場合と筐体セットの場合について、現状の電磁界シミュレーションの結果を用いて説明する。まず、被測定物がプリント基板の場合として、マイクロストリップ線路を例に説明する。図8に示すようにXY平面上にマイクロストリップ線路基板1を配置し、電磁波放射源である線路をY軸上に配置した場合のZ軸方向に距離d=25mm離れたXY平面の電界強度分布を測定するものとする。ここで、電磁波放射源である線路Y軸上X=0のポイントを正確に把握することが、電磁波放射源の検出には必要である。Z軸方向に距離d=25mm離れたXY平面上で、Y=0でX軸と平行な直線を観測ライン2とし、観測ライン2上の電界分布をシミュレーションした結果を図9に示す。この結果より、被測定物に対して垂直なEz成分がX=0のポイントで最大値を示しており、Ez成分を測定することで、電磁波放射源である線路、つまりX=0のポイントを正確に検出することが可能となる。また、電磁波放射原が筐体セットの場合として、スロットアンテナを例に説明する。スロットアンテナは金属筐体上の開口部穴を模擬しており、金属筐体からの電磁波放射を考えた場合、開口部からの電磁波放射が問題となることが多い。図10に示すようにXY平面上に金属板3を配置し、電磁波放射源である開口部4を長辺方向がY軸方向となるように配置した場合について、Z軸方向にd=25mm離れたXY平面の電界強度分布を測定するものとする。ここで、マイクロストリップ線路の場合と同様に、電磁波放射源である開口部が配置されているX=0ポイントを正確に把握することが、放射源の検出には必要である。Z軸方向に距離d=25mm離れたXY平面上で、Y=0でX軸と平行な直線を観測ライン2とし、観測ライン2上の電界分布をシミュレーションした結果を図11に示す。この結果より、被測定物に対して水平なEx成分がX=0のポイントで最大値を示している。ただし、今回はY軸方向に前記開口部の長辺を設定したので、Ex成分が支配的となったが、X軸方向に前記開口部の長辺を設定すると、Ey成分が支配的となる。つまり、前記開口部の形状により、Ex、Ey成分の強弱は変わるが、被測定物に対して水平成分が支配的となることに変わりはない。以上のことから、近傍電界測定において、被測定物がプリント基板の場合は被測定物に対して垂直なEz成分、被測定物が金属筐体の場合は被測定物に対して水平成分ExもしくはEy成分が支配的となることが分かる。このように、プリント基板から金属筐体までの広い被測定物を想定した場合には、電界垂直成分だけではなく、水平方向の電界強度も実測が必要である。本発明はプリント基板からシールド筐体まで幅広い被測定物に対して、水平方向の電界強度を実測しなくても電磁波放射源を高精度に検出することできる電磁波放射源検出方法を提供することを目的とする。本発明の電磁波放射源検出方法は、被測定物の近傍電磁波から、水平方向の磁界強度:Hxyi,j,垂直方向の磁界強度:Hzi,j,垂直方向の電界成分:Ezi,jを電磁界センサによって測定し、取得した電磁波成分データに基づいて水平方向の電界成分:Exyi,jを推定演算し、前記推定演算した水平方向の電界成分:Exyi,jの強度分布から電磁波放射源を検出することを特徴とする。また、本発明の電磁波放射源検出方法は、電磁波発生源の少なくとも一部がシールド筐体で囲まれた被測定物の近傍電磁波から、水平方向の磁界強度:Hxyi,j,垂直方向の磁界強度:Hzi,j,垂直方向の電界成分:Ezi,jを電磁界センサによって測定し、取得した電磁波成分データに基づいて水平方向の電界成分:Exyi,jを推定演算し、前記推定演算した水平方向の電界成分:Exyi,jの強度分布から前記シールド筐体の隙間の位置を検出することを特徴とする。本発明の電磁波放射源検出装置は、被測定物の近傍をスキャンして電磁界を検出する電磁界センサと、前記電磁界センサの検出から水平方向の磁界強度:Hxyi,j,垂直方向の磁界強度:Hzi,j,垂直方向の電界成分:Ezi,jに基づいて水平方向の電界成分:Exyi,jを推定演算する演算処理部とを設けたことを特徴とする。本発明によれば、被測定物に対して水平垂直方向の磁界強度と垂直方向の電界強度を測定することで、水平方向の電界強度の情報を取得することができるため、プリント基板から金属筐体で囲まれた対象までの幅広い被測定物に対して、正確に電磁波放射源を検出することが可能となる。以下、本発明の電磁波発生源検出方法を各実施の形態に基づいて具体的に説明する。実施の形態1図1と図2,図3は実施の形態1を示す。図1は本発明の電磁波放射源検出方法に基づく電磁波放射源検出装置と被測定物5を示す。この電磁波放射源検出装置は、電磁波放射源を有する被測定物5に対して電磁界センサ6を移動させながら各測定点7での電磁界強度を測定するものである。電磁界センサ6は被測定物と水平な方向の磁界成分Hxyと垂直な方向の磁界成分Hzと垂直な方向の電界成分Ezを測定するものである。電磁界センサ6が受信した電磁波成分は、広帯域な測定周波数を受信処理する受信部11と、電磁界センサ6と被測定物5とをXYZの各座標軸方向に相対移動させる走査手段としての駆動部12と、広帯域受信部11により受信処理された受信電磁電磁界成分をデータ処理して計測格納する計測制御部13と、計測制御部13により計測格納された電磁波成分データに基づいて水平方向の電界成分Exyi,jを推定演算する演算処理部14と、計測したHxyi,j、Hzi,j、Ezi,jと演算により求めたExyi,jを表示し、その強度分布から電磁波放射源を検出する表示部8とを備えている。なお、電磁界センサ6の具体例としては、磁界測定用のループアンテナ、電界測定用のパッチアンテナ、モノポールアンテナがあるが、これらに限られることはない。図2は図1に示した電磁波放射源検出装置の具体的な処理を示している。ステップS1では、電磁波放射源を有する被測定物5に対して、電磁界センサ6を移動させながら各測定点7i,jでの電磁界強度を測定する。具体的には、被測定物5からの水平方向の磁界強度Hxyi,jと垂直方向の磁界強度Hzi,j、および垂直方向の電界成分Ezi,jを測定する。ステップS2では、ステップS1で測定した水平方向の磁界強度Hxyi,jと垂直方向の電界強度Hzi,jを用いて、下記の第1式に基づき、各測定点における波動インピーダンスηi,jを演算する。ηi,j=Ezi,j/Hxyi,j波動インピーダンスηとは直交する電界と磁界の比を表し、被測定物5から十分に離れた領域では、自由空間の波動インピーダンスとしてη=120πの定数で表されることが知られている。しかしながら、被測定物5の近傍では定数としては求まらず、被測定物5の種類、被測定物との距離に応じて変化するため、理論的に求めることは困難である。本手法は、この波動インピーダンスを近傍領域の各測定点において、実際の測定結果を用いた演算により求める手法である。ステップS3では、ステップS2で求めた波動インピーダンスηi,jと測定した垂直方向の磁界強度Hzi,jから、下記の第1式に基づき、水平方向の電界強度Exyi,jを演算する。Exyi,j=ηi,jHzx,yステップS4では、ステップS3で演算して求めた水平方向の電界強度Exyi,jとステップS1で実測した水平方向の磁界強度Hxyi,j、垂直方向の磁界強度Hzi,jと垂直方向の電界強度Ezi,jから、最も電磁界強度が強い点、領域を探索することで電磁波放射源を検出することが可能となる。ここで、被測定物5として図8に示すマイクロストリップ線路を対象とし、本手法により、距離d=25mm離れたX軸上電界強度ExをHxy,Hz,Ezから推定演算した結果を図3に示す。これを、図9に示したマイクロストリップ線路から距離d=25mm離れたX軸上電界強度Exのシミュレーション結果とを比較すると、シミュレーション結果と推定演算結果が良く一致していることが確認できた。ここでは電磁界強度として、X軸成分とY軸成分の合成電磁界Hxy、Exyを用いて説明したが、それぞれの電磁界強度Hx、ExあるいはHy、Eyについても同様の方法で推定演算が可能である。例えば、Exを推定演算する場合、第1式と第2式は下記の第3式,第4式と置き換えることができる。ηi,j=Ezi,j/Hxi,jExi,j=ηi,jHzx,yまた、Eyを推定演算する場合は、下記の第5式,第6式と置き換えることができる。ηi,j=Ezi,j/Hyi,jEyi,j=ηi,jHzx,yこれらの演算により、水平方向の電界強度ExあるいはEyを分離して推定演算することができる。実施の形態2図4と図5は実施の形態2の電磁波放射源検出方法を示す。実施の形態2は、実施の形態1における被測定物5として、一部もしくは全てがシールド筐体としての金属筐体8で囲まれた対象に対して測定した水平垂直方向の磁界強度と垂直方向の電界強度から水平方向の電界強度を推定演算する。図4は、測定対象の全てが金属筐体8に囲まれている。電磁波発生源であるプリント基板からの電磁波の外部への放射を抑制するために、金属筐体8で全体あるいは一部を囲うことで電磁波放射を抑制することが一般的に行われる。金属筐体8を一体型の金属材料で構成することは困難で、いくつかの金属材料をつなぎ合わせて構成することになる。この際、金属材料間のつなぎ目に隙間9が生じることがあり、その箇所からの電磁波放射が問題となる。ここでは、隙間9からの電磁波放射を模擬したスロットアンテナモデルについて、シミュレーションを用いて、水平電界強度推定について説明する。水平電界の推定演算方法は実施の形態1で示したものと同様のステップS1~ステップS4を実行するものとする。本手法により、距離d=25mm離れたX軸上電界強度ExをHxy,Hz,Ezから推定演算した結果を図4に示す。図10のようなスロットアンテナモデルを被測定物とし、距離d=25mm離れたX軸上の電界強度Exについて、シミュレーションにより求めた図11の結果と比較すると、シミュレーション結果と推定演算結果が良く一致していることが確認できる。また、金属材料間のつなぎ目の隙間9が存在するX=0のポイントで、水平電界強度Exが最大値を示していることから、この最大値を探索することで、図5に示すように隙間9の位置10を容易に検出できる。実施の形態3図7は実施の形態3の推定演算を実施した結果を示す。本実施の形態3の電磁波発生源検出方法は実施の形態1で示す電磁は測定方法において、電磁波測定および推定演算する被測定物からの距離を、測定対象周波数の0.03波長以下で行うことを特徴とする電磁波放射源検出方法である。一般的に近傍領域は波長/2π以下の距離として知られているが、さらに近接した0.03波長以下の距離で測定演算することで、精度良く水平電界強度が演算でき、電磁波放射源を精度良く検出することができる。この理由を次に説明する。図10に示したスロットアンテナモデルに対して、Z軸上X=0,Y=0における水平磁界強度Hxと垂直電界強度Ezからは波動インピーダンスをシミュレーションにより計算すると図6のようになる。横軸は電磁波放射源からの距離を波長で規格化した値で縦軸は波動インピーダンスEz/HxdBである。この結果より、電磁波放射源からの距離が波長に対して十分離れると定数に収束することが分かる。この領域を一般的には遠方界と呼ぶ。一方、近傍領域では、距離によって値が大きく変化していることがわかる。この近傍界と遠方界の境目は図6に示した1/2π[波長]であることが一般的に知られている。次に、ここで求めた波動インピーダンスと垂直磁界強度Hzを用いて、水平電界強度Exを推定演算した結果を図7に示す。この結果より、近傍領域の中でも特に0.03波長以下の領域においては精度良く推定できているが、距離が波長/2π付近では精度が低下していることが分かる。これは、図6に示した波動インピーダンスが波長/2π付近で乱れるオーバーシュートすることが原因である。以上より、0.03波長以下の近傍領域において、測定および推定演算を行うことで、精度良く電磁波放射源を検出することが可能であることが言える。"