"光源からのレーザ光を標本に2次元走査する走査手段と、前記標本からの光を検出し、検出した光の輝度に相当する光強度信号を出力する光検出手段と、前記光検出手段を保護する保護手段と、前記光強度信号を走査位置に対応する画素毎に輝度に変換して、前記標本の画像を生成する画像生成手段と、を備え、前記保護手段が、前記光強度信号が閾値を超えたか否かを判定する閾値判定部と、前記閾値判定部により閾値を超えたと判定された光強度信号が、連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定する領域判定部と、前記領域判定部により、閾値を超えたと判定された光強度信号が連続する複数の画素に亘って出力されたと判定された場合に、前記光検出手段による出力を停止させるように制御する制御部と、を備えた走査型レーザ顕微鏡。前記制御部が、前記光検出手段を駆動する駆動電圧の供給を停止することにより前記光検出手段による出力を停止させる請求項1に記載の走査型レーザ顕微鏡。前記光検出手段の前段に配置され、前記標本からの光を入射又は遮断させるシャッタを備え、前記制御部が、前記シャッタを閉じて前記標本からの光を遮断することにより前記光検出手段による出力を停止させる請求項1に記載の走査型レーザ顕微鏡。前記標本に光刺激を与えるための刺激用レーザ光を照射する刺激用光源と、該刺激用光源により、前記標本に前記刺激用レーザ光を照射している間、前記画像生成手段により生成される前記標本の画像の平均輝度を算出し、該平均輝度が所定の平均輝度閾値を下回った場合に、前記光源による刺激用レーザ光の照射を停止させる輝度監視手段と、を備え、前記保護手段が、前記光検出手段の出力を停止した場合に、前記光検出手段の出力が停止していることを示す停止信号を前記輝度監視手段に対して出力し、前記輝度監視手段が、前記停止信号に基づいて前記刺激用レーザ光の照射を続行する請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の走査型レーザ顕微鏡。しかしながら、上記した従来のPMTでは、一定値以上の出力が所定時間得られた場合にPMTの動作を停止させているが、この所定時間は、通常は瞬間的例えば50nsec程度な時間であり、実質的には、PMTから一定値以上の出力が得られると瞬時にPMTの動作を停止させている。従って、所望の画像を取得することができず、走査型レーザ顕微鏡における観察を妨げる虞がある。すなわち、PMTから瞬間的に一定値以上の出力が得られると、この瞬間的な出力は輝度情報としては1ピクセル分の輝度情報に満たないにもかかわらず、保護回路によってPMTの動作が停止される。従って、外乱光による過大な光だけでなく、例えば、標本の表面に付着した微量の蛍光試薬による蛍光によってもPMTの動作が停止されるため、走査型レーザ顕微鏡において所望の画像を取得できず標本の観察を妨げる虞がある。本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって、過大な入射光による光検出器の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができる走査型レーザ顕微鏡を提供することを目的とする。上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を採用する。本発明は、光源からのレーザ光を標本に2次元走査する走査手段と、前記標本からの光を検出し、検出した光の輝度に相当する光強度信号を出力する光検出手段と、前記光検出手段を保護する保護手段と、前記光強度信号を走査位置に対応する画素毎に輝度に変換して、前記標本の画像を生成する画像生成手段と、を備え、前記保護手段が、前記光強度信号が閾値を超えたか否かを判定する閾値判定部と、前記閾値判定部により閾値を超えたと判定された光強度信号が、連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定する領域判定部と、前記領域判定部により、閾値を超えたと判定された光強度信号が連続する複数の画素に亘って出力されたと判定された場合に、前記光検出手段による出力を停止させるように制御する制御部と、を備えた走査型レーザ顕微鏡を提供する。本発明によれば、走査手段により光源からのレーザ光が標本に2次元走査され、光検出手段により、標本からの光を検出して検出した光の輝度に相当する光強度信号が出力され、画像生成手段により光強度信号を画素毎に輝度に変換して標本の画像が生成される。この場合において、保護手段の閾値判定部が、光強度信号が閾値を超えたか否かを判定することにより、光検出手段に入射した光が過大であるか否かを判定する。更に、領域判定部が、閾値を超えたと判定された光強度信号が連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定することにより、標本上の所定の領域に亘って過大な光が検出されたかを判定することができる。そして、制御部が、連続する複数の画素に亘って閾値を超える光強度信号が出力されたと判定された場合に、光検出手段による出力を停止するように制御する。すなわち、光検出手段に外乱光のような過大な光が入射した場合には、画像を生成する際に連続する複数の画素に亘って閾値を超える光強度信号が得られるため、光検出手段を保護すべくその出力を停止するように制御する。一方、標本上の微小な薬剤やゴミ等によって瞬間的に閾値を超える光強度信号が出力されても、瞬間的な光強度信号は連続する複数の画素に亘らないため、光検出手段の出力が停止されない。従って、過大な入射光による光検出手段の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができる。上記した本発明において、前記制御部が、前記光検出手段を駆動する駆動電圧の供給を停止することにより前記光検出手段による出力を停止させることが好ましい。このようにすることで、簡便且つ確実に光検出手段の出力を停止させて光検出手段の損傷を防止することができる。上記した本発明において、前記光検出手段の前段に配置され、前記標本からの光を入射又は遮断させるシャッタを備え、前記制御部が、前記シャッタを閉じて前記標本からの光を遮断することにより前記光検出手段による出力を停止させることが好ましい。このようにすることで、光検出手段に対する光の入射が遮断されるので、簡便且つ確実に光検出手段の出力を停止させて光検出手段の損傷を防止することができる。上記した本発明において、前記標本に光刺激を与えるための刺激用レーザ光を照射する刺激用光源と、該刺激用光源により、前記標本に前記刺激用レーザ光を照射している間、前記画像生成手段により生成される前記標本の画像の平均輝度を算出し、該平均輝度が所定の平均輝度閾値を下回った場合に、前記光源による刺激用レーザ光の照射を停止させる輝度監視手段と、を備え、前記制御部が、前記光検出手段の出力を停止した場合に、前記光検出手段の出力が停止していることを示す停止信号を前記輝度監視手段に対して出力し、前記輝度監視手段が、前記停止信号に基づいて前記刺激用レーザ光の照射を続行することが好ましい。本発明によれば、標本の挙動を観察するために、刺激用光源から標本に対して刺激用レーザ光を照射することにより光刺激を与えるが、この光刺激を継続すると次第に標本が褪色して得られる画像の輝度が低下するので、輝度監視手段により標本の画像の平均輝度を適宜算出し、平均輝度閾値と比較することにより輝度を監視している。この場合において、光検出手段の出力が停止すると画像生成手段により生成される画像の輝度が得られないため、輝度監視手段が、標本の褪色として誤って刺激用レーザ光の照射を停止する虞がある。このため、保護手段の制御部が、光検出手段の出力が停止していることを示す停止信号を輝度監視手段に対して出力することで、結果的に平均輝度が平均輝度閾値を下回った場合にも、輝度監視手段により刺激用レーザ光の照射を続行する。従って、過大な入射光による光検出手段の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができる。本発明によれば、過大な入射光による光検出器の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができるという効果を奏する。[実施形態]本発明の一実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100について、図面を参照して説明する。図1に示すように、本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100は、光刺激用光学系1、観察用光学系2、光検出部3、コントローラ4、ステージ5、対物レンズ6、及び光検出部3の前段に設けられたダイクロイックミラー8を備えている。図中、符号7はミラーである。光刺激用光学系1は、光刺激用レーザ光を出射する光刺激用光源10と、光刺激用光源10から出射された光刺激用レーザ光のスポットの位置を2次元的に移動させるスキャナ11とを備えている。観察用光学系2は、観察用レーザ光を出射する観察用光源20と、観察用光源20から出射された観察用レーザ光を2次元走査するスキャナ21と、標本Aからスキャナ21を介して戻る蛍光を観察用レーザ光の光路から分岐するダイクロイックミラー22とを備えている。光刺激用光学系1,観察用光学系2及び光検出部3におけるレンズについては図示を省略している。光検出部3は、ダイクロイックミラー22により分岐された光を検出し、検出した光の輝度に相当する光強度信号としての電流信号を出力するPMTPhotomultiplierTube32、及びPMT32を制御し、所定の条件に従って保護するPMTコントローラ保護手段33を備えている。また、光検出部3のPMT32の前段には、対物レンズ6の焦点位置と光学的に共役な位置に配置される共焦点ピンホール30が配置されている。PMTコントローラ33は、閾値判定部34、領域判定部35及びPMT制御部36を備えている。閾値判定部34は、PMT32の電流信号が閾値を超えたか否かを判定する。すなわち、閾値判定部34は、予めPMT32からの電流信号に対する閾値を記憶しており、PMT32から電流信号が得られると、得られた電流信号と閾値とを比較し電流信号が閾値を超えたか否かを判定する。なお、この閾値としては、適用するPMTの定格電流を超える値とすることが好ましい。領域判定部35は、閾値判定部34により閾値を超えたと判定された電流信号が、連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定するようになっている。すなわち、画像を形成する各画素に対する電流信号が閾値を超えた場合であって、且つ、その画素が相互に連続している場合に、当該閾値を超えた電流信号に対応する画素をカウントする。カウントした画素数が、予め定め画素閾値を超えた場合に閾値を超えたと判定された電流信号が、連続する複数の画素に亘って出力されたと判定する。PMT制御部36は、領域判定部34により、閾値を超えたと判定された光強度信号としての電流信号が連続する複数の画素に亘って出力されたと判定された場合に、PMT32の出力を停止させるように制御する。また、PMT制御部36は、PMT32の出力が停止される時間を計時するタイマ図示せずを備えており、PMT制御部36は、タイマの計時時間が所定時間を経過した後に、PMTの出力を再開させるように制御する。なお、PMTの出力を停止させるには、例えば、PMT32を駆動する高圧電源図示せずからの駆動電圧HVの供給を停止することができる。また、PMT32の前段に、標本から戻る蛍光を入射又は遮断させるシャッタを設け、このシャッタを閉じて標本Aからの蛍光を遮断してPMT32に蛍光が入射しないようにすることでPMT32からの出力を停止させることができる。コントローラ4は、光刺激用光学系1、観察用光学系2及び光検出部3を制御すると共に、光検出部3から得られた電流信号を輝度に変換し、スキャナ21の走査位置に対応する画素毎に並べて、標本の画像を生成する。ステージ5は標本Aを載置する。対物レンズ6は、ステージ5に対向して配置され、ステージ5に標本Aが載置されたときに、ダイクロイックミラー8により合波された光刺激用レーザ光及び観察用レーザ光を標本Aに照射すると共に、標本Aから戻る蛍光を集光する。このように構成された走査型レーザ顕微鏡100においては、以下のように標本Aの観察が行われる。観察用光源20を作動させて観察用レーザ光を出射させ、スキャナ21を作動させて、観察用レーザ光を標本A上において走査させる。すなわち、観察用光源20から出射された観察用レーザ光はダイクロイックミラー22により反射され、スキャナ21により2次元的に走査され、ダイクロイックミラー8及びミラー7により反射された後に、対物レンズ6により標本A上に集光される。一方、光刺激用光源10から出射された光刺激用レーザ光は、スキャナ11により2次元的な位置を調節された後に、ダイクロイックミラー8を透過し、ミラー7により反射され、対物レンズ6により標本A上に集光される。これにより、対物レンズ6の焦点位置に光刺激用レーザ光を照射して、標本Aに光刺激を与えることができる。対物レンズ6の焦点面においては、観察用レーザ光により標本A内の蛍光物質が励起され、蛍光が発生する。発生した蛍光は、対物レンズ6により集光され、ミラー7及びダイクロイックミラー8により反射され、スキャナ21を介して戻り、ダイクロイックミラー22を透過して、ミラー31により反射された後、共焦点ピンホール30を通過したもののみが、PMT32により光強度信号電流信号として検出される。検出された電流信号は、PMTコントローラ33を介してコントローラ4に出力され、スキャナ21による観察用レーザ光の走査位置と対応づけて記憶される。コントローラ4では、電流信号がスキャナ21の走査位置に対応する画素毎に積算され、標本の2次元的な画像を構築する。ここで、PMT32はPMTコントローラ33により駆動又は制御されており、光強度信号の検出の際に、検出された電流信号に基づいてPMT32を保護すべきか否かPMTコントローラ33により判断される。以下、PMT32及びPMTコントローラ33の作用について、図2のフローチャートを参照して説明する。PMT32による電流信号の検出を開始または再開するに際し、領域判定部35における画素数のカウント値をリセットするステップS11。続いて、PMT32において入射した蛍光を検出し、これを光強度信号としての電流信号としてPMTコントローラ33に出力する。PMTコントローラ33の閾値判定部34では、入力された電流信号の電流値を測定しステップS12、測定された電流値と予め定めた閾値とを比較し、電流値が閾値を超えるか否かを判定するステップS13。判定の結果、電流値が閾値を超えない場合には、ステップS11に戻り領域判定部35により再度画素数のカウント値がリセットされる。一方、判定の結果、電流値が閾値を超えている場合には、閾値判定部34から当該電流信号の電流値が閾値を超えたことを領域判定部35に通知する。領域判定部35では、閾値判定部34からの通知を受けて、画素数のカウント値をアップするステップS14。続いて、領域判定部35では、カウント値がアップされた画素数と所定の画素閾値とを比較し、当該画素数が画素閾値を超えたか否かを判定するステップS15。判定の結果、画素数が画素閾値を超えていない場合には、ステップS12に戻り、PMT32からの電流信号の電流値の測定を続行する。一方、判定の結果、画素数が画素閾値を超えている場合には、次のステップS16に進み、PMT制御部36が、PMT32の駆動電圧HVの供給を停止HV=0する。駆動電圧の供給を停止したことによりPMT32の出力が停止すると、PMT制御部36のタイマが作動し、PMT32の出力が停止する時間を計時するステップS17。次のステップS18において、タイマの計時時間が所定時間を経過したか否かを判定する。この判定は、タイマの計時時間が所定時間を経過するまで継続され、所定時間が経過したと判定されたときに、PMT制御部36が、PMT32の駆動電圧の供給を再開する。PMT32は、駆動電圧の供給が再開されたことによりその動作を復帰させ、光強度信号の検出を再度行うステップS19。以上のように、本実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100によれば、閾値判定部34が、電流信号の電流値が閾値を超えたか否かを判定することにより、PMT32に入射した光が過大であるか否かを判定する。更に、領域判定部35が、閾値を超えたと判定された電流信号が連続する複数の画素に亘って出力されたかを判定することにより、標本A上の所定の領域に亘って過大な光が検出されたかを判定することができる。そして、連続する複数の画素に亘って閾値を超える電流信号が出力されたと判定された場合に、PMT制御部36が、PMT32による出力を停止する。すなわち、PMT32に外乱光のような過大な光が入射した場合には、画像を生成する際に連続する複数の画素に亘って閾値を超える電流信号が得られるため、PMT32を保護すべくその出力を停止するように制御する。一方、標本A上の微小な薬剤やゴミ等によって瞬間的に閾値を超える電流信号が出力されても、瞬間的な電流信号は連続する複数の画素に亘らないため、PMT32の出力が停止されない。従って、過大な入射光によるPMT32の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができる。また、スキャナの走査速度、画像の解像度、観察範囲等により1画素あたりの信号電流の検出時間サンプリング時間が変化する場合でも、所定の複数の画素に対して過大光が検出された場合にのみPMT32の出力を停止させるので、簡便且つ確実にPMTを保護することができる。なお、PMT32の復帰、すなわち出力の再開は、例えば、走査型レーザ顕微鏡100を操作するためのGUI等の操作用インターフェースをユーザが操作することにより実現してもよい[変形例]以下に、上述した実施形態に係る走査型レーザ顕微鏡100の変形例として、コントローラ4が標本Aの輝度を監視することにより光刺激用光学系1を制御する場合について説明する。走査型レーザ顕微鏡100による標本Aの観察時において、標本の挙動を観察するために、刺激用光源10から標本Aに対して刺激用レーザ光を照射することにより光刺激を与えるが、この光刺激を継続すると次第に標本Aが褪色して得られる画像の輝度が低下する。そこで、コントローラ4は、標本Aに刺激用レーザ光を照射している間、生成される標本Aの画像の平均輝度を算出し、この平均輝度が所定の平均輝度閾値を下回った場合に、光源による刺激用レーザ光の照射を停止させるように制御することで標本Aの画像の輝度を監視している輝度監視機能。ここで、何らかの理由によりPMT32の出力が停止すると、標本Aの輝度に係る光強度信号が得られないため、PMT32の出力が停止した後のスキャナ21による走査位置に対応する画素には輝度情報が存在せず、生成される標本Aの画像の平均輝度が著しく低下する。コントローラ4では、標本Aの画像の平均輝度の低下が、PMT32の出力の停止に起因するのか、標本Aの褪色に起因するのかを特定することが困難であり、標本の褪色として誤って刺激用レーザ光の照射を停止する虞がある。このため、PMT制御部36は、PMT32の出力を停止した場合に、PMT32の出力が停止していることを示す停止信号をコントローラ4に対して出力する。同様にPMT制御部36は、PMT32が出力を再開する場合には、再開することを示す再開信号をコントローラ4に対して出力する。従って、コントローラ4では、標本Aの画像の平均輝度が平均輝度閾値を下回った場合であっても、PMT制御部36から停止信号が入力されている場合においては、この停止信号に基づいて、輝度監視機能を制止させて光刺激用光学系1を制御して刺激用レーザ光の照射を続行する。また、PMT制御部36から再開信号が入力された場合には、輝度監視機能を動作させて、生成される標本Aの画像の輝度を再度監視する。以下、本変形例にかかる走査型レーザ顕微鏡における標本A観察中のコントローラ4の作用について、図3のフローチャートを参照して説明する。光刺激用光源10から光刺激用レーザ光の照射を開始するとステップS21、コントローラ4において輝度監視機能が動作を開始するステップS22。すなわち、コントローラ4は、標本Aに刺激用レーザ光を照射している間、生成される標本Aの画像の平均輝度を算出し、この平均輝度が所定の平均輝度閾値を超えるか否かを例えば所定の周期で判定する。コントローラ4が輝度監視機能を動作させて標本Aの画像の輝度を監視している間、これと併行して、コントローラ4では、PMT制御部36から停止信号が入力されたか否かを判定しステップS23、停止信号が入力された場合には輝度監視機能を停止するステップS24。輝度監視機能が停止されると、コントローラ4では、標本Aの画像の平均輝度の演算を停止するとともに、PMT制御部36からPMT32の出力が再開されたことを示す再開信号が入力されたか否かを判定するステップS25。判定の結果、PMT制御部36から再開信号が入力された場合には、輝度監視機能の動作を再開させるステップS26。このようにすることで、コントローラ4が、標本の褪色として誤って刺激用レーザ光の照射を停止することを防止し、過大な入射光による光検出手段の損傷を防止しながら、所望の画像を取得して良好に標本の観察を行うことができる。なお、上記した変形例では、停止信号はPMT32の出力を停止した場合に出力され、再開信号はPMT32の出力が再開された場合に出力されることとして説明したが、これらの停止信号及び再開信号出力のタイミングは、適用される機器の応答速度に応じて適宜決定することができ、例えば、PMT32の停止や再開に先立って出力する構成とすることもできる。また、本実施形態においては、レーザ走査型共焦点顕微鏡を例示して説明したが、観察用光源として極短パルスレーザ光源を使用し、ミラー7をダイクロイックミラーに置き換えて、該ダイクロイックミラーにより分岐された蛍光を検出するPMTを配置することにより、多光子励起型のレーザ走査型顕微鏡に適用してもよい。以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。"