"Lnとは異なる元素Bでドープされた希土類Lnケイ酸塩を含む材料であって、Bは、Ce、Pr、Tbの中から選択され、前記元素Bは、少なくとも部分的にその4酸化状態にありB4、前記材料中のB4の量は、0.0001質量~0.1質量の間に含まれる、材料。発光材料である、前述の請求項に記載の材料。前記材料は、X線照射中に測定される強度に対して、100ミリ秒後に200ppm未満の残光を有する、前述の請求項に記載の材料。前記材料中のB4の量は、0.0005質量~0.05質量の間に含まれる、前述の請求項のうちの1項に記載の材料。モル比B4/B3B4は、0.05~1の間に含まれる、前述の請求項のうちの1項に記載の材料。前記材料中のBの量は、0.001質量~0.1質量の間に含まれる、前述の請求項のうちの1項に記載の材料。式Ln2-z-x1-x2B3x1B4X2MzM′vSip-vO32pを有し、式中、Lnは、Bとは異なる希土類を表し、Mは、二価のアルカリ土類元素を表し、M′は、Al、Ga、Sc、またはIn等の三価の元素を表し、zvは、0.0001以上かつ0.2以下であり、zは、0以上かつ0.2以下であり、vは、0以上かつ0.2以下であり、x1は、0.00005以上かつ0.1未満であり、x2は、0.00005以上かつ0.1未満であり、x2/x1x2は、0.05以上かつ1未満であり、x1x2は、0.1未満であり、pは、1または2に等しい、前述の請求項のうちの1項に記載の材料。x1は、0.0005以上かつ0.01未満であり、x2は、0.0005以上かつ0.01未満である、前述の請求項に記載の材料。zは、0.1以下である、前述の2つの請求項のうちの1項に記載の材料。x2/x1x2は、0.1以上である、請求項7~9のうちの1項に記載の材料。zは、0.00003以上である、請求項7~10のうちの1項に記載の材料。前記ケイ酸塩は、オルトケイ酸塩である、前述の請求項のうちの1項に記載の材料。前記希土類Lnは、Y、La、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、またはLuの群の1つ以上の元素の中から選択される、前述の請求項のうちの1項に記載の材料。Bは、セリウムである、前述の請求項のうちの1項に記載の材料。Lnは、Y、La、Gd、Er、Ho、またはLuの中から選択される、希土類であり、Mは、Ca、Mg、Sr、またはBaの中から選択される、二価のアルカリ土類元素であり、zは、0.00003以上かつ0.1以下であり、x1は、0.00005以上かつ0.01未満であり、x2は、0.00005以上かつ0.01未満であり、x2/x1x2は、0.1以上かつ1以下である、前述の請求項に記載の材料。Bは、プラセオジムである、請求項1~12のいずれか1項に記載の材料。Lnは、Y、La、Gd、Er、Ho、またはLuの中から選択される、希土類であり、Mは、Ca、Mg、Sr、Baの中から選択される、二価のアルカリ土類元素であり、zは、0.00003以上かつ0.1以下であり、x1は、0.00005以上かつ0.01未満であり、x2は、0.00005以上かつ0.01未満であり、x2/x1x2は、0.1以上かつ1以下である、前述の請求項に記載の材料。357nmの波長での吸光度が、280nmでの吸光度よりも低い、請求項14または15に記載の発光材料。セリウムは、前記材料中に含まれる全ての前記希土類の0.005mol~20molに相当する、前述の請求項に記載の材料。二価のアルカリ土類元素Mまたは三価の金属M′と共に共ドープされる、請求項18~20のうちの1項に記載の材料。前記材料中に含まれる全ての前記希土類の合計の0.0025mol~15molの割合で存在する、二価のアルカリ土類元素Mと共に共ドープされる、前述の請求項に記載の材料。前記材料中の前記共ドーパントの質量の合計は、前記材料中のセリウムの質量よりも少ない、前述の2つの請求項のうちの1項に記載の材料。前記材料に含まれるケイ素および三価の金属共ドーパントのモル合計の0.005mol~25molの割合で、三価の金属M′と共に共ドープされる、前述の3つの請求項のうちの1項に記載の材料。セリウムでドープされた希土類ケイ酸塩を含み、357nmの波長での吸光度が、280nmでの吸光度よりも低いことを特徴とする、発光材料。前記材料は、X線照射中に測定される強度に対して、100ミリ秒後に200ppm未満の残光を有することを特徴とする、前述の請求項に記載の材料。セリウムは、前記材料に含まれる全ての前記希土類の0.005mol~20molに相当することを特徴とする、前述の2つの請求項のうちのいずれかに記載の材料。二価のアルカリ土類元素Mまたは三価の金属M′と共に共ドープされることを特徴とする、請求項24~26のうちの1項に記載の材料。前記材料に含まれる全ての前記希土類の合計の0.0025mol~15molの割合で存在する、二価のアルカリ土類元素Mと共に共ドープされることを特徴とする、前述の請求項に記載の材料。前記材料中の前記共ドーパントの質量合計が、前記材料中、セリウムの質量よりも少なく、セリウムの質量の0.1倍にすら満たないことを特徴とする、前述の2つの請求項のいずれかに記載の材料。前記材料に含まれるケイ素および三価の金属共ドーパントのモル合計の0.005mol~25molの割合で、三価の金属M′を共ドープされることを特徴とする、前述の2つの請求項のいずれかに記載の材料。前記希土類は、次の群、Y、La、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Luの中から選択される1つ以上の元素であることを特徴とする、請求項24~30のうちの1項に記載の材料。式Ln2-z-xCexMzSip-vM′vO32pを有することを特徴とし、式中、Lnは、希土類を表し、Mは、二価のアルカリ土類元素を表し、M′は、三価の金属を表し、zvは、0.0001以上かつ0.2以下であり、zは、0以上かつ0.2以下であり、vは、0以上かつ0.2以下であり、xは、0.0001以上かつ0.1未満であり、pは、1または2に等しい、請求項24~31のうちの1項に記載の材料。式Lu2-yYy-z-xCexMzSi1-vM′vO5を有することを特徴とし、式中、Mは、二価のアルカリ土類元素を表し、M′は、三価の金属を表し、zvは、0.0001以上かつ0.2以下であり、zは、0以上かつ0.2以下であり、vは、0以上かつ0.2以下であり、xは、0.0001以上かつ0.1未満であり、yは、xzから1である、請求項24~31のうちの1項に記載の材料。yは、0.08~0.3の範囲に及ぶことを特徴とする、前述の請求項に記載の材料。両側面を研磨し平行にした厚さ1mmの試料について、Lは、93を上回って、最大で100に等しく、bは、0~0.4の範囲にあり、aは、-0.1~0.1の範囲にあり、L、b、およびaは、透過性測定を使用して得られるCIELAB空間における色座標であることを特徴とする、前述の請求項のうちの1項に記載の材料。前述の請求項のうちの1項に記載の材料を調製するための方法であって、少なくとも10体積の酸素を含有する雰囲気において最大で1100°C~2200°Cの範囲の温度の酸化熱処理と、続いて冷却して前記材料をもたらすことと、を含み、前記熱処理および前記冷却の両方は、前記温度が1200°Cを上回る場合、そして好ましくは、前記温度が1100°Cを上回る場合、少なくとも10体積の酸素を含有する雰囲気において実行される、方法。前記酸化熱処理は、少なくとも20体積の酸素を含有する雰囲気において実行される、前述の請求項に記載の方法。前記原材料を、5体積未満の酸素を含有する雰囲気で溶融することと、続いて冷却して固化をもたらすことと、その後の最大で1100°C~1600°Cの範囲の温度で実行される前記酸化熱処理と、を含む、前述の2つの請求項のうちの1項に記載の方法。前記原材料の前記溶融は、1体積未満の酸素を含有する雰囲気において実行される、前述の請求項に記載の方法。前記固化は、単結晶成長である、前述の2つの請求項のうちの1項に記載の方法。前述の請求項に記載の材料のうちの1つに由来する材料と、受光器とを備える、イオン化粒子検出器。前述の請求項に記載の材料のうちの1つに由来する材料を含む、紫外、可視、および赤外スペクトルにおける、特に単色性の発光放射体。前述の請求項に記載の前記検出器のうちの1つの検出器を備える、医療用画像装置。実施例1~5Lu、Y、Ce、およびSiの酸化物、ならびにMg、Al、もしくはSrの酸化物またはCa炭酸塩等の任意選択的な共ドーパントを、テーブル1に示される割合でイリジウム製の坩堝に入れた。表1中の値は、原材料の総量1キログラムあたりのグラムで示される。全ての化合物は、10のイットリウムおよび0.22のセリウムを含有する。分量を、わずかに酸化であるが酸素含量は1未満である窒素雰囲気において、それらの融点約2050°Cよりも高い温度で加熱した。直径1インチの大きさの単結晶を、チョクラルスキー法を使用して成長させた。これを行うために、次の化合物に相当する原材料の混合物を使用した。比較実施例1共ドーパントなしの参照:Lu1.798Y0.1976Ce0.0044SiO5実施例2:Lu1.798Y0.1956Ca0.002Ce0.0044SiO5実施例3:Lu1.798Y0.1956Mg0.002Ce0.0044SiO5実施例4:Lu1.798Y0.1978Sr0.002Ce0.0022SiO5実施例5:Lu1,798Y0,1976Ce0,0044Si0.999Al0.001O5。ここに示した式は、したがって、導入される原材料に対応する。最終結晶中のCe、Ca、Mg、Sr、およびAlの実際の濃度は、結晶形成中の偏析のため、原材料によって導かれるものよりも低かった。実施例2~5の試料は、Ce3およびCe4の両方を含有する。CaおよびMgのそれぞれの量は、z′およびz′′として参照されるz=z′z′′で。最終的に得られた、式Lu2-yYy-z′-z′′-v-x1-x2Ce3x1Ce4x2Caz′Mgz′′SrvSi1-uAluO5の単結晶は、ブールbouleの先端に次の組成を有し、ブールbouleの底部には次の組成を有した。実施例6~9Lu、Y、Ce、およびSiの酸化物およびCa炭酸塩を次の割合で混合し、Lu2O3:97.393gY2O3:6.1415gCeO2:0.1029gSiO2:16.3585gCaCO3:0.0062gこれにより、結果として120gの合計質量となった。この原材料の混合物は、次の式Lu1.798Y0.1995Ce0.0022Ca0.0003SiO5に相当する。この粉末混合物を、700kg/cm2の均等な圧力下で、直径3mm、長さ100mmの4つの円筒棒に成形した。これらの棒を、次いで、空気中1500°Cで13時間焼結し、もう一度粉砕して粉末にし、その後、棒に再形成し、空気中1500°Cで20時間焼結した。これらの連続した2つのステップにより、調製される棒の均質性を最適化することができた。このようにして多結晶LYSOの棒を得た。これらの棒を、次いで、同じ組成であるが共ドーパントなしのLYSO単結晶種子を使用して、単結晶が得られるように、制御雰囲気中のミラー炉に入れた。制御雰囲気は、状況に応じて、アルゴン中100O2もしくは21O2、アルゴン中1.4O2、または100アルゴンであった値は体積。使用した技術ミラー炉のため、得られた結晶の組成は、実質的に、導入した原材料に対応するものと同一であった。このようにして、4つの無色透明な単結晶を得た。それらを切断し、研磨した。得られた結晶は、両側面を研磨し平行にした厚さ1mmの試料についてのそれらのL座標が、93を上回り、両側面を研磨し平行にした厚さ1mmの試料についてのそれらのb座標が、0~0.4の範囲であり、両側面を研磨し平行にした厚さ1mmの試料についてのそれらのa座標が、-0.1~0.1の範囲であるようなものであった。実施例1~9において得られた結晶は、全て無色透明であり、両側面を研磨し平行にした厚さ1mmの試料についてのそれらのL座標が、93を上回って、最大で100に等しく、両側面を研磨し平行にした厚さ1mmの試料についてのそれらのb座標が、0~0.4の範囲であり、両側面を研磨し平行にした厚さ1mmの試料についてのそれらのa座標が、-0.1~0.1の範囲であるようなものであった。この段階では、結晶は酸素空孔を含んでいた。室温に戻した後、結晶を、10×10×1mmのウエハーに切断した。これらの結晶は、空気中酸化雰囲気1500°Cで48時間アニールしたか、または5水素を含有するアルゴン中1200°Cで12時間還元アニールしたか、または特に処理が実行されなかったかのいずれかであった。次いで、試料に大きな平行する側面を研磨した。ブールbouleの底部からの試料における測定結果を、テーブル4に示す。残光値は、X線照射中に測定された強度に対するppmで表す。A357/A280<1である実施例2~9の化合物は、100ミリ秒後に200ppm未満の弱い残光を特徴とすることが見られる。上述のように、熱発光を使用して残光の特性を示すことができる。図2は、空気アニール後の実施例2図中に2として参照されるの場合の化合物の熱発光強度と、従来技術を代表する実施例1図中に1として参照されるアニールされていない参照試料とを比較する。これらの測定は、同じ幾何学形状および表面処理研磨ならびに同じ照射時間の化合物に、20K/分の加熱速度を使用して行った。実施例2の場合に、減少した残光の特徴である非常に著しい熱発光の低下が、特に300K付近に認められる。さらに、相当量のCe4を含有する結晶は、実質的にCe4を含有しない結晶よりも、良好な光収率を有する。光収率におけるこの増加は、自己吸収現象における減少と関連する可能性がある。この改善の相対光収率すなわち、実施例の試料の光収率の、アニールされていない参照試料の光収率に対する比特性を、いくつかについてテーブル5に示す。他の測定は、同じ結晶のγ線励起を使用して行った。これらの測定は、波高法を使用して行い、その原理は次の通りである。結晶を、光電子倍増管に光学的に接続し、複数のPTFETeflon層でコーティングする。次に、結晶を、137Cs662keV源からのγ線放射を使用して励起する。発光体によって生成された光子を、比例した反応を送出する光電子倍増管によって検出する。このイベントは、検出装置のチャネルにおいてイベントとしてカウントされる。チャネルの数は、強度に依存し、したがって、生成した光電子の数に依存する。高い強度は、高いチャネル値に相当する。結果をテーブル6に示す。テーブル7は、同一の幾何および表面処理研磨ならびに幾何学形状について、参照である空気中でアニールした結晶参照実施例1に対して測定された減衰時間における改善率すなわち、減少した減衰時間を示す。例えば、8の改善は、減衰時間が8減少したことを意味する。テーブル4に示される結果は、空気中でアニールしたブールbouleの底部から得た結晶についてのものを示す。"