負荷および電圧源に接続するためのスイッチング回路であって、前記負荷への電力をスイッチオンおよびスイッチオフするための1つまたは複数のスイッチングデバイスと、前記負荷を短絡し、それにより前記負荷を前記電圧源から隔離するためのプルダウンデバイスと、一度に前記複数のスイッチングデバイスのうちの少なくとも1つを起動するために、前記負荷が短絡されている間に動作させることができるコントローラとを備え、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って電流が流れ、前記電流を測定して、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスが適切に動作しているかどうかを試験することができるスイッチング回路。前記プルダウンデバイスが、前記負荷に並列に配置されたスイッチを含み、前記スイッチが閉じると前記負荷が短絡される、請求項1記載のスイッチング回路。前記プルダウンデバイスが、電界効果トランジスタ、バイポーラトランジスタ、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ、トライアックおよび半導体リレーのうちの任意の1つまたは複数を含む、電子スイッチ、電気機械式スイッチおよび/または機械式スイッチを含む、請求項2記載のスイッチング回路。前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスが個々に起動される、請求項1乃至3のいずれか記載のスイッチング回路。前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って流れる電流を制限するための電流制限器をさらに備える、請求項1乃至4のいずれか記載のスイッチング回路。前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスがその中に配置された電流制限器を有する、請求項5記載のスイッチング回路。システムインダクタンスを使用して、前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って流れる電流が制限される、請求項1乃至4のいずれか記載のスイッチング回路。前記プルダウンデバイスのインピーダンスが前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスのインピーダンスより小さい、請求項1乃至7のいずれか記載のスイッチング回路。通常の動作状態における出力電圧と比較すると、試験状態下の前記スイッチング回路の出力電圧を無視することができる、請求項1乃至8のいずれか記載のスイッチング回路。前記回路を交流電圧源または直流電圧源に接続することができる、請求項1乃至9のいずれか記載のスイッチング回路。前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスが半導体スイッチングデバイスを備える、請求項1乃至10のいずれか記載のスイッチング回路。1つまたは複数のスイッチングデバイスを含む、負荷を電圧源に接続するスイッチング回路の試験方法であって、プルダウンデバイスを起動することによって前記負荷を短絡するステップと、前記複数のスイッチングデバイスのうちの1つまたは複数を起動するステップと、起動された前記スイッチングデバイスまたは個々のスイッチングデバイスを通って流れる電流を測定するステップと、測定された電流信号から、起動された1つまたは複数のスイッチングデバイスが適切に動作しているかどうかを決定するステップとを含む方法。前記スイッチングデバイスが逐次連続的に起動される、請求項12記載の方法。前記1つまたは複数のスイッチングデバイスが、前記1つまたは複数のスイッチングデバイスを通って流れる電流が実質的に一定になるのに十分な時間の長さにわたって起動される、請求項12記載の方法。個々のスイッチングデバイスを通って流れる電流を制限するステップをさらに含む、請求項12乃至14のいずれか記載の方法。実質的に、本明細書において添付の図面を参照して説明されているスイッチング回路。実質的に、本明細書において添付の図面を参照して説明されているスイッチング回路の試験方法。図1は、電圧源2に接続されたスイッチング回路1を備えた回路の一例を示したものである。この回路は、負荷15に接続されている出力5を有している。この回路は、エンジン発電機によって電圧源2を提供することができるよう、例えば航空機上に提供することができ、また、負荷15は、着陸ギヤフラップすなわち着陸装置を駆動するためなどの航空機上のコンポーネントであっても、あるいは計装またはフライト中の娯楽などの航空機内のコンポーネントであってもよい。スイッチング回路1は、個別のスイッチングデバイス6または複数のスイッチングデバイス6、7、...、nを備えることができる。スイッチングデバイスは並列に接続されている。スイッチングデバイスは、それぞれ、電界効果トランジスタなどの任意の適切な半導体スイッチングデバイスを備えることができる。スイッチング回路1を使用して電力源2が負荷15に接続される。電圧源2およびその関連するケーブル布線または配線は、固有のインダクタンス11を有することになる。同様に、負荷およびその関連するケーブル布線および配線も、固有のインダクタンス14を有することになる。スイッチング回路には、さらに、対応する個々の制御線8、9、10を介してスイッチングデバイス6、7、...、nの各々に接続されているコントローラ3が含まれている。また、コントローラ3は、プルダウン制御線12を介してプルダウンデバイス4に接続されている。プルダウンデバイス4は、さらに、負荷出力5および電力戻り線13に接続されている。プルダウン4が閉じると、それにより負荷がスイッチング回路から遮断され、したがって電流は迂回してプルダウン4を通って流れる。プルダウン回路または単純にプルダウンとも呼ばれているプルダウンデバイスは、電子スイッチ、電気機械式スイッチおよび機械式スイッチを始めとする任意の適切なスイッチを含むことができる。スイッチング回路1は、接続された1つまたは複数の半導体デバイスを備えることができる半導体電力コントローラSSPCを備えることができる。スイッチング回路1が並列に接続された複数の半導体デバイスを備えている場合、個々のデバイスを逐次スイッチオンおよびスイッチオフすることができるため、これらの複数のデバイスの各々を個別に試験することができる。一度に複数のスイッチングデバイスを起動するシーケンスなどの他の試験シーケンスを想定することも可能である。複数のスイッチングデバイスを個々に起動することにより、個々のスイッチ毎に故障を分離することができる。試験シーケンスは、フライトとフライトの間などの都合のいい任意の時間に実施することができる。また、試験シーケンスは、フライト中に、負荷15を必要としない時間の間に実施することも可能である。複数のスイッチングデバイス6、7、...、nの各々には、対応する個々の電流制限器61、71、...、n1が含まれている。電流制限器は、スイッチングデバイスの損傷を回避するために、スイッチングデバイスを通って流れる電流を通常の最大動作電流の5倍ないし10倍程度に制限する。別法としては、すべてのスイッチングデバイスに対して単一の電流制限器を提供することも可能である。他の代替では、ハード電流トリップを提供して、トリップ限界を超えるとスイッチングデバイスをターンオフすることも可能である。プルダウン回路は、BIT試験ルーチンのために複数のスイッチングデバイスのうちのいずれかが起動されると、いつでも起動される。個々のスイッチングデバイスおよびその駆動回路は、一度に1つのデバイスを起動するため、コントローラ3を使用することによって完全に試験することができ、それと同時に、起動されたデバイスを通って流れ、かつ、プルダウンデバイスを通って流れる電流が適切な限界内であることをチェックする。図1には電流測定回路は示されていない。特定の一実施形態では、個々のスイッチングデバイスが起動される最短時間は、電流がほぼ一定になり、BITシステムによって要求される精度に対するこの電流の無矛盾測定を可能にするために必要な時間の長さに少なくともなるように選択される。個々のスイッチングデバイスが起動される時間の長さは、通常、入力電力源ケーブルの最大総インダクタンス11で決まる。しかしながら、必要に応じてもっと短い時間スケールでシステムを動作させることも可能である。プルダウンデバイスは、BIT試験の間、プルダウンデバイスが単一の主スイッチングデバイスから電流を吸い込む際に、負荷に対する出力5に展開する電圧が、システムがオンの場合の通常の出力電圧と比較して無視することができるように設計される。このように設計することにより、システムがオフになった場合に負荷が重大な電圧に遭遇しないことが保証される。これは、個々のスイッチングデバイスより小さいインピーダンス、好ましくははるかに小さいインピーダンスを有するプルダウンデバイス4を使用することによって達成される。実際には、電流制限器61、71、...、n1が動作している間は、スイッチングデバイス6、7、...、nは、プルダウンデバイス4より大きい実効インピーダンスを有している。通常のシステム動作の間、スイッチングデバイス6、7、...、nを起動するコントローラ3には、通常、すべてのスイッチングデバイスを同時にターンオンおよびターンオフすることが期待される。本発明の実施形態は、直流システムだけでなく、交流システムにも適用される。交流システムに適用される場合、電圧源2は交流電圧である。スイッチングデバイスは交流スイッチであり適宜交流電流制限器を備えている、また、プルダウン回路は交流電流を吸い込むことができる。直流実施形態の場合、プルダウンデバイスは、例えば電界効果トランジスタFETまたはバイポーラトランジスタあるいは絶縁ゲートバイポーラトランジスタを備えている。他のタイプのスイッチングデバイスを使用することができる。交流実施形態の場合、プルダウンデバイスは、例えばトライアックまたは半導体リレーを備えることができる。図2は、試験手順が実施される際にスイッチングデバイスを通って流れる出力電流を示したものである。1つのピークしか示されていないが、一例示的実施形態では8個のスイッチングデバイスが提供されており、したがって試験の結果は、電圧源2からの総入力電流になり、図2に示されているような単一のパルスが8個連続して示されることになる。個々のスイッチングデバイス6、7、...、nの適切な動作は、個々の個別電流パルスの振幅が適切な限界内であることをチェックすることによって決定することができる。試験手順は、プルダウンデバイス4を起動することによって負荷を短絡することによって開始される。プルダウンデバイスは、通常、BIT試験が継続している間、オンを維持する。図に示されている例では約250μsで第1のスイッチングデバイス6が閉になり、このスイッチングデバイス6を通って流れる電流が、電圧源2によって提供される電流、例えばこの例では約100アンペアまで速やかに上昇する。次に、第1のスイッチングデバイス6が開き、短い時間の後に第2のスイッチングデバイス7が閉になり、この第2のスイッチングデバイス7を通って流れる電流が測定される。すべてのスイッチングデバイスが試験されるまでこの手順が連続的に繰り返される。図2に示されている電流プロファイルとは異なる電流プロファイルは、対応するスイッチングデバイスの故障を示すことができる。有利には、本発明の実施形態によれば、スイッチングデバイスの動作を個々に評価することができる。半導体電力コントローラの総合的な動作をチェックするだけの単純なBIT試験では、通常、開路状態のまま動けなくなった故障したデバイスを検出することはできない。本発明の技術的な利点は、単一のデバイス故障を検出するだけでなく、個々のデバイスの電流制限性能を個別にチェックすることができることである。したがって本発明は、インサービス動作中に完全なBIT適用範囲を提供することができる。一代替実施形態では、スイッチングデバイスは電流制限制御を有していない。この場合、電力源2のインダクタンスおよびケーブルインダクタンス11を高速電流トリップ回路と組み合わせて利用し、それにより試験パルス中に電流が危険なレベルまで上昇するのを防止することができる。言い換えると、この実施形態のコントローラ3は、電流過負荷を回避するだけの十分な速さでスイッチングデバイスを開閉するシーケンスを起動するように動作する。