"電気二重層キャパシタの性能測定方法において、電気二重層キャパシタの電荷をゼロとした後、定電流Iによる定電流充電、定電圧Eによる定電圧充電及び定電流Iによる定電流放電を行い、定電流充電及び定電流放電の端子電圧Vを所定の間隔で計測するとともに充電時間tch及び放電時間tを計測し、計測された端子電圧V、充電時間tch及び放電時間tから、充電時の電荷Qchと放電時の電荷Qとの差ΔQと、放電時に端子から放出される放出エネルギーWと、を算出し、ΔQと、放出エネルギーWと直線的放電特性の放出エネルギーW0との差である乖離エネルギーΔWと、の算定式から内部抵抗Rを解析的に求め、算出された前記内部抵抗Rと前記電荷の差ΔQとから、電気二重層キャパシタの微分容量における電圧に依存する成分αVcの電圧係数αを算出し、算出された前記内部抵抗Rと前記電圧係数αとから、静電容量Cを算出することを特徴とする電気二重層キャパシタの性能測定方法。電気二重層キャパシタの微分容量として規定されるc=c0αVcの特性式より、前記電荷の差ΔQは、ΔQ=Q-Qch=αIRE-IRと表され、前記乖離エネルギーΔWは、ΔW=W-W0=αE-IR3/12と表されることから、前記ΔQに含まれるαを前記ΔWに代入してIRの式とし、このIRの解を求めることによって、内部抵抗Rを算出することを特徴とする請求項1に記載の電気二重層キャパシタの性能測定方法。電気二重層キャパシタの微分容量として規定されるc=c0αVcの特性式より、前記電荷の差ΔQは、ΔQ=Q-Qch=αIRE-IRと表され、前記乖離エネルギーΔWは、ΔW=W-W0=αE-IR3/12と表されることから、前記ΔQに含まれるαを前記ΔWに代入するとともに、X=IRと置いて、X=-b√b24ac/2aただし、a=6Q-ΔQ、b=12W-6QE2ΔQE、c=ΔQE2このXの解を求めることによって、内部抵抗Rを算出することを特徴とする請求項1に記載の電気二重層キャパシタの性能測定方法。電気二重層キャパシタの微分容量として規定されるc=c0αVcの特性式より、前記電荷の差ΔQは、ΔQ=Q-Qch=αIRE-IRと表されることから、前記ΔQと内部抵抗Rとを用いて、微分容量の電圧係数αを、α=ΔQ/IRE-IRによって算出することを特徴とする請求項1に記載の電気二重層キャパシタの性能測定法。電気二重層キャパシタの性能測定方法において、電気二重層キャパシタの電荷をゼロとした後、定電流Iによる定電流充電、定電圧Eによる定電圧充電及び定電流Iによる定電流放電を行い、定電流放電の端子電圧Vを所定の間隔で計測するとともに放電時間tを計測し、計測された端子電圧Vの傾きから、電気二重層キャパシタの微分容量における電圧に依存する成分αVcの電圧係数αを算出し、計測された端子電圧V、放電時間tから、放電時に端子から放出される放出エネルギーWと電荷Qとを算出し、放出エネルギーWと直線的放電特性の放出エネルギーW0との差である乖離エネルギーΔWの算定式から解析的に内部抵抗Rを算出し、算出された前記内部抵抗Rと前記電圧係数αとから、静電容量Cを算出することを特徴とする電気二重層キャパシタの性能測定方法。電気二重層キャパシタの微分容量として規定されるc=c0αVcの特性式より、前記乖離エネルギーΔWは、ΔW=W-W0=αE-IR-V23/12と表されることから、前記ΔWが内部抵抗Rの三次式であることから、内部抵抗に関する三次方程式が得られ、この三次方程式の解を求めることによって、内部抵抗Rを算出することを特徴とする請求項5に記載の電気二重層キャパシタの性能測定方法。電気二重層キャパシタの微分容量として規定されるc=c0αVcの特性式より、前記乖離エネルギーΔWは、ΔW=W-W0=αE-IR-V23/12と表され、放電終止電圧V2の直線的放電特性の放出エネルギーW0は、W0=ItE-IRV2/2と表されることから、内部抵抗Rを、次のXによる三次方程式と置き、aX3bX-W’=0ただし、X=E-IR-V2、a=α/12、b=It/2前記三次方程式を、X=A-b/3aAと置き換えて次のAによる三次方程式と置き、aA3-b3/27a2A3-W’=0x=A3と置き換えて、次のxによる二次方程式と置き、ax2-W’x-b3/27a2=0前記二次方程式の解xの立方根からAを算出し、X=E-IR-V2=A-b/3aAの関係から、内部抵抗Rを算出することを特徴とする請求項5に記載の電気二重層キャパシタの性能測定方法。充放電試験器と、電気二重層キャパシタを含むキャパシタユニットと、により構成され、前記充放電試験器は、前記請求項1から7のいずれか一つに記載の電気二重層キャパシタの性能測定方法を実行することを特徴とする電気二重層キャパシタの性能測定システム。前述の特許文献1に記載の方法は、微分容量の電圧依存係数αを図式的に求め、このαに基づいて、内部抵抗Rが収束するように繰り返し計算を行う必要があり、測定方法としては計算が煩雑であった。特に、繰り返し行う計算の収束の時間が予測しづらいため、より簡易な計算方法が求められていた。本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであり、電気二重層キャパシタの性能測定方法において、精度を落とすことなくより簡易な方法で内部抵抗R及び静電容量Cを算出することができる性能測定方法及び性能測定システムを提供することを目的とする。本発明は、電気二重層キャパシタの性能測定方法において、電気二重層キャパシタの電荷をゼロとした後、定電流Iによる定電流充電、定電圧Eによる定電圧充電及び定電流Iによる定電流放電を行い、定電流充電及び定電流放電の端子電圧Vを所定の間隔で計測するとともに充電時間tch及び放電時間tを計測し、計測された端子電圧V、充電時間tch及び放電時間tから、充電時の電荷Qchと放電時の電荷Qとの差ΔQを算出し、ΔQと、放電時に端子から放出される放出エネルギーWと直線的放電特性の放出エネルギーW0との差である乖離エネルギーΔWと、の算定式から解析的に内部抵抗Rを算出し、算出された内部抵抗RとΔQとから、電気二重層キャパシタの微分容量cにおける電圧に依存する成分αVcの電圧係数αを算出し、算出された内部抵抗Rと電圧係数αとから、静電容量Cを算出することを特徴とする。また、本発明は、電気二重層キャパシタの性能測定方法において、電気二重層キャパシタの電荷をゼロとした後、定電流Iによる定電流充電、定電圧Eによる定電圧充電及び定電流Iによる定電流放電を行い、定電流充電及び定電流放電の端子電圧Vを所定の間隔で計測するとともに放電時間tを計測し、計測された端子電圧Vの傾きから、電気二重層キャパシタの微分容量cにおける電圧に依存する成分αVcの電圧係数αを算出し、計測された端子電圧V、放電時間tから、放電時に端子から放出される放出エネルギーWを算出し、放出エネルギーWと直線的放電特性の放出エネルギーW0との差である乖離エネルギーΔWと電圧係数αとの関係から、解析的に内部抵抗Rを算出し、算出された内部抵抗Rと電圧係数αとから、静電容量Cを算出することを特徴とする。本発明によると、計測された充電時間、放電時間、電圧の推移より、充電時の電荷Qchと放電時の電荷Qとの差ΔQと乖離エネルギーΔWの算定式を求め、これらより解析的に内部抵抗R及び静電容量Cを求めるので、従来技術のような値が収束するまで繰り返しの計算を行うことなく、曲線的充放電特性の電気二重層キャパシタの内部抵抗Rと静電容量Cを精度良く計測することが可能になる。以下、図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。<第1実施形態>図1は、本発明の実施形態の電気二重層キャパシタのRC等価回路を示す説明図である。電気二重層キャパシタElectricDoubleLayerCapacitor、以下EDLCと表記する。は、実用的には、図1に示すRC等価回路で表される。図1において、端子電圧V、電流I、素子電圧Vc、静電容量C、内部抵抗Rである。充放電は、EDLCの端子を短絡した後、一定電流Iで充電を開始する。その後、端子電圧Vが規定電圧Eに達すと、端子電圧Vを規定電圧Eに維持しつつ、電流Iが十分小さくなるまで充電定電圧充電し、充電終了後に一定電流Iで放電する。図2は、図1に示す静電容量一定の等価回路における充放電特性を示す説明図である。静電容量一定の等価回路においては、充放電時間に対する電圧特性が直線的となる。この直線的特性において、内部抵抗Rの測定方法は、放電の2時点T1、T2間の電圧V1、V2から、放電開始直後の電圧を推定して電圧降下IRを図式的に求め、これから内部抵抗Rを推定することができる。また、静電容量Cの測定方法は、放電の2時点T1、T2間の放出電荷Qを定電流IからQ=IT2-T1として、C=Q/V1-V2によって静電容量Cを推定することができる。図2に示すように、充放電時間電圧特性が、直線的であり、内部抵抗が殆ど無視できるような場合には、内部抵抗R及び静電容量Cを比較的精度よく推定しえる。一方、例えば大容量型のEDLCでは、内部抵抗Rの影響が無視できない。また、微分容量cは電圧により変化する。そのため、充放電時間電圧特性が直線的でないので、図1の等価回路を適用すると、曲線的充放電特性を模擬できず、内部抵抗R及び静電容量Cを精度よく推定しえない。図3は、本実施形態のEDLCにおける充放電特性を示す説明図である。まず、EDLCに対して充放電を行い、充放電時の電圧を測定する。具体的には、EDLCに対して、端子を短絡した後、定電流Iで充電を開始する。その後、端子電圧Vが規定電圧Eに達すと、端子電圧Vを規定電圧Eに維持しつつ、電流Iが十分小さくなるまで充電定電圧充電を行う。充電が終了した後、EDLCの端子電圧Vが終止電圧V2=0となるまで定電流Iで定電流放電を行う。前述のように、EDLCは、内部抵抗Rを持ち、微分容量cが電圧により変化するため、このときの計測値端子電圧Vは、図2に示す直線的特性から乖離した特性を示す。具体的には、定電流充電開始時は、内部抵抗Rによって端子電圧Vは、0ではなくIRとして検出される。また、微分容量cが電圧依存することから、充電中は、端子電圧Vは実線で示すような曲線的特性を示し規定電圧Eまで到達する。このときの素子電圧Vcは、内部抵抗Rによる電圧降下IRにより一点鎖線のような特性を示す。規定電圧Eでの定電圧充電後、定電流放電を開始する。このとき、内部抵抗Rによる電圧降下IRにより、端子電圧V=V1=E-IRとして検出される。また、微分容量cが電圧依存することから、放電中は、端子電圧Vは実線で示すような曲線的特性を示し、終止電圧V2=0まで降下する。このときの素子電圧Vcも、内部抵抗Rによる電圧降下IRにより一点鎖線のような特性を示す。ここで、直線的放電特性の放出エネルギーW0は、斜線で示すように、放電開始時のV1と放電終了時のV2=0を結ぶ直線と電圧および時間軸で囲まれた領域となる。これに対して、実際の放出エネルギーWは、実線に示す曲線的特性で囲まれた領域となる。直線的放電特性の放出エネルギーW0と実際の放出エネルギーとの差である乖離エネルギーΔWは、これらの差分である三日月状の領域となる。また、内部抵抗Rでの損失エネルギーI2Rtを含む素子から放出される素子エネルギーUは、一点鎖線で示す特性で囲まれた領域となる。このように、直線的特性から乖離した曲線的特性を示すEDLCについて、内部抵抗R及び静電容量Cを、精度良く、かつ、簡易な方法で求める手法を以下に説明する。ここで、図3に示すEDLCの定電流充放電特性に関する諸量を次のように定義する。EDLCの端子電圧をV、EDLCの電気二重層間に現れる素子電圧をVcとする。充電開始時の初期電荷ゼロの状態、すなわち、素子電圧Vc1=0から、端子電圧VがEE=Vc2IRとなるまで、定電流Iによる充電を行う。このとき、充電開始から端子電圧VがEに達するまでの定電流充電時間をtchとする。端子電圧V=Eから、端子電圧Vが終止電圧V2=0に達するまで、定電流Iによる放電を行う。このとき、放電開始から放電終了までの定電流放電時間をtとする。また、素子の満充電時の電荷をQchとし、完全放電時の電荷をQとする。このとき、素子の放電エネルギーをU、端子の放電エネルギーをWとする。ここで、素子の電荷Qにより、電圧は、Vc1-Vc2だけ変化する。図3に示すように、放電特性は、直線的特性から乖離した曲線的な放電特性を示し、このときの微分容量は電圧に依存する。微分容量の電圧特性が、素子電圧Vcに無関係な成分c0と、これに並列する比例定数α傾きからなる素子電圧Vcに依存する成分αVcと、から構成されるものとすると、微分容量cは次式1のように表される。c=c0αVc1また、電荷Qch及びQは、図3の素子電圧Vcを用いて、微分容量の電圧積分として表され、次式2及び3のように、規定電圧E、定電流I、内部抵抗Rの式に表される。すなわち、充電時の電荷Qchは、Vc1=0からVc2=E-IRまでの積分値であり、次式2のように表される。Qch=∫cdVc=c0E-IRαE-IR2/2=Itch2また、放電時の電荷Qは、Vc1=EからVc2=IRまでの積分値であるので、次式3のように表される。Q=∫cdVc=c0E-IRαE2-I2R2/2=It3式2及び3から、充電時の電荷Qchと放電時の電荷Qとの差ΔQは、次式4のように表される。ΔQ=Q-Qch=It-tch=αIRE-IR4また、充電時間tchと放電時間tとの差Δtは、同様に次式5のように表される。Δt=t-tch=αRE-IR5次に、放電時における直線的特性の放出エネルギーW0と、端子からの放出エネルギーWとから、直線的特性から乖離した乖離エネルギーΔWを定義する。直線的特性の放出エネルギーW0は、図3の斜線部分で示す三角形の領域であり、これは次式6のように表される。ここで、Q=Itである。W0=QE-IR/26一方、Vc1-Vc2=V1-V2の関係から、特許文献1に示されているように、ΔW=αE-IR3/12となるので、ΔWは次式7のように表される。ΔW=W-W0=W-QE-IR/2=αE-IR3/127ここで、式4から、α=ΔQ/IRE-IRであるので、X=IRと置くと、式7は次式8のように表される。W-QE-X/2=ΔQE-X2/12X8この式8をXの式として展開すると、次式9のようにXの二次方程式として表される。6Q-ΔQX212W-6QE2ΔQEX-ΔQE2=09ここで、この二次方程式の解を求めると、Xは、次式10のように表される。X=-b√b24ac/2a10ただし、a=6Q-ΔQ、b=12W-6QE2ΔQE、c=ΔQE2とする。X=IRであるから、この式10を用いて、充電時の電荷Qch、放電時の電荷Q、電流I、放電時の端子エネルギーW及び規定電圧Eから、内部抵抗Rを求めることができる。また、微分容量の電圧係数αは、内部抵抗Rから、前述の4式を元に次式11のように求めることができる。α=ΔQ/IRE-IR11ところで、図3の一点鎖線に示すように、素子から放出される素子エネルギーUは、微分容量cによる電荷cVcの電圧積分として、次式12のように表される。U=∫cVcdVc12この素子エネルギーUは、端子放出エネルギーWと内部抵抗による損失分である損失エネルギーI2Rtによって、次式13のように表される。U=WI2Rt=W0I2RtΔW=c0Vc12-Vc22/2αVc13-Vc23/313一方で、電荷法の積分容量C’は、電流Iと放電時間tと放電時の端子電圧E-IRとにより、次式14のように表される。C’=It/E-IR14この積分容量C’と前述の式3とから、微分容量の電圧に無関係な成分c0は、次式15のように表される。c0=C’-αEIR/215従って、これらの式より、静電容量Cは、次式16のように表される。C=2U/Vc12-Vc22=c02αVc13-Vc23/3Vc12-Vc2216この計算式によって、内部抵抗Rから、静電容量Cを求めることができる。次に、本発明の実施形態のEDLCの性能測定システム10について説明する。図4は、本発明の実施形態のEDLCの性能測定システム10を示す説明図である。この性能測定システム10は、充放電試験器100と、キャパシタユニット200とから構成される。充放電試験器100は、キャパシタユニット200に対して充電及び放電を行う。その際に、キャパシタユニット200の端子電圧V及び端子電流Iを測定する。そして、この測定結果に基づいて、前述のアルゴリズムを用いて、キャパシタユニット200の性能を測定する。キャパシタユニット200は、複数のキャパシタ素子EDLCを直列又は並列に接続して構成される。このキャパシタユニット200は、図1に示すように、静電容量Cと内部抵抗Rとの等価回路により示されている。この充放電試験器100によるキャパシタユニット200の性能測定方法を説明する。まず、充放電試験器100は、キャパシタユニット200の端子を短絡した後、一定電流Iにて、キャパシタユニット200の定電流充電を行う。端子電圧Vが規定電圧Eに達した場合は、充放電試験器100は、端子電圧Vを規定電圧Eに維持しつつ、端子電流Iが十分に小さくなるまで充電定電圧充電を行う。端子電流Iが十分小さくなったとき、すなわち、EDLCの電荷が飽和状態となったとき、充放電試験器100は、キャパシタユニット200の端子電圧がゼロになるまで定電流Iでの放電を行う。この充電及び放電を行うとき、充放電試験器100は、キャパシタユニット200の端子電圧を、所定間隔例えば0.01~0.1秒間隔で測定し、これを記憶しておく。これを、キャパシタユニット200の端子電圧がゼロになるまで継続する。この測定値は、図3の実線で示すような線を描く。また、充放電試験器100は、記憶されたデータに基づいて、前述のような計算式を用いて、キャパシタユニット200の性能、すなわち、キャパシタユニット200の静電容量C及び内部抵抗Rを算出する。次に、実際のEDLCについて実験結果により求めた計測結果を、説明する。まず、前提条件として、放電電流I=10[A]、規定電圧E=2.7[V]として、前述のように、EDLCの電荷をゼロとした後、定電流充電、定電圧充電、定電流放電を行い、充電時間tch、放電時間t、端子電流I、端子電圧Vを測定する。実験結果では、充電時間tch=375.38[s]、放電時間t=382.07[s]、放電エネルギーW=5518.82[J]を計測した。この計測値を用いて、前述の式4より、ΔQ=It―tch=66.9[C]が求まる。また、前述の式5より、Δt=t-tch=6.69[s]が求まる。これらの結果から、a、b、cを求めると、a=6Q-ΔQ=22,857.3b=12W-6QE2ΔQE=4,691.76c=ΔQE2=487.701が求まる。これらa、b、cを用いて、前述の式10より、X=-b√b24ac/2a=0.07589となり、内部抵抗Rは、R=X/I=0.007589[Ω]が求まる。また、微分容量の電圧係数αは、前述の4式より、α=ΔQ/IRE-IR=335.94[F/V]が求まる。また、電荷法による積分容量は、前述の式14により、C’=It/E-IR=1456.00[F]が求まる。そして、微分容量の電圧に依存しない成分c0は、前述の式15により、c0=C’-αEIR/2=989.73[F]従って、静電容量Cは、前述の式16より、C=c02αVc13-Vc23/3/Vc12-Vc22=989.73605.16=1594.89[F]が求まる。以上のように、充電時間tch、放電時間t、放出エネルギーWから、内部抵抗R、微分容量の電圧係数α及び静電容量Cを求めることができる。特に、第1の実施形態では、EDLCの残留電荷がゼロの状態から充電電荷Qchを測定し、放電電荷Qとの差ΔQを算出し、ΔQ及び乖離エネルギーΔWの算定式から内部抵抗Rを解析的に求め、このRとΔQとから微分容量の電圧係数αを求めることによって、静電容量Cを求めることができる。このような計算方法によって、煩雑な繰り返し計算を必要とすることなく、内部抵抗Rと静電容量Cとを精度良く求めることができる。<第2実施形態>次に、本発明の第2の実施形態を説明する。第1の実施形態と同様に、端子放出エネルギーWと直線的放電特性の放出エネルギーW0との関係は、ΔW=W-W0であり、W0=ItV1V2/2と算出できる。ここで、EDLCの放電開始電圧V1及び放電終止電圧V2は、V1=Vc1―IR、V2=Vc2-IRであり、素子電圧はVc1=E、Vc2=V2IRとすると、W0=ItE-IRV2/2となるので、乖離エネルギーΔWは、次式17のように表される。ΔW=W-ItE-IRV2/2=αV1-V23/12=αE-IR-V23/1217ここで、ItE-IRV2/2=ItE-IR-V2/2ItV2と変形し、かつ、W’をW’=W-ItV2と定義すると、乖離エネルギーΔWは、次式18のように表される。ΔW=W’-ItE-IR-V2/2=αE-IR-V23/1218この式18から、次式19を得る。aX3bX-W’=019ただし、X=E-IR-V2、a=α/12、b=It/2この式19の3次方程式の解として、Rを求めることができる。まず、式19を、次式20のように変形する。aX3bX-W’=aX3b/aX-W’=020ここで、X=A-β/Aと置くと、式20は次式21のように展開できる。X3=A-β/A3=A3-3βX-β/A3であるから、X33βX=A3-β/A321この式21に対して、さらに、β=b/3aとすると、次式22のように表される。X3b/aX=A3-b/3a/A322式20に、式22を代入すると、次式23のように表される。aA3-b3/27a2A3-W’=023この式23を、A=Xb/3aA、x=A3として整理すると、次式24のように表される。ax2-W’x-b3/27a2=024この式24の二次方程式を解くと、xは、次式25のように表される。x=W’√W’24b3/27a/2a25前述のようにx=A3なので、xの立方根からAが求まる。このAを用いて、X=A-β/Aが求まるので、X=E-IR-V2の関係から、内部抵抗Rは、次式26のように求めることができる。R=E-V2-X/I=E-V2-A-β/A/I26以上のように、放出電荷Q=It、微分容量の電圧係数α、放電終止電圧V2及び端子放出エネルギーWの値を用いて、内部抵抗Rを求めることができる。次に、実際のEDLCについて実験結果により求めた計測結果を、説明する。まず、前提条件として、放電電流I=10[A]、規定電圧E=2.7[V]、放電開始電圧V1=E-IR[V]、放電終止電圧V2=0[V]として、前述のように、放電後、定電流充電、緩和充電後の放電を行い、放電時間t、端子電流I、端子電圧V、端子放出エネルギーWを測定する。実験結果では、放電時間t=382.07[s]、端子放出エネルギーW=5518.82[J]を計測した。まず、これらの計測結果から、微分容量の電圧係数αを図式的に求める。図5は、微分容量cの電圧依存性を示す説明図である。微分容量cは図5に示すような電圧依存性を示すことから、微分容量特性を定義する電圧係数αは、図5に示すようなグラフを参照して、図式的に求めることができる。すなわち、前述のように、EDLCの微分容量cは、電圧に依存しない容量c0と、傾きαで電圧に依存する成分αVcとの和により表される。この傾きαは定量的であり、予め実験等により求めておいた値を図5として保持しておき、計測時にこの値を読み出すことによってαを求めることができる。ここでは、前述の計測値に基づいて図式的に電圧係数αを求めた結果、α=337.5となる。まず、W’=W-ItV2であるから、W’=5518.82、W’2=30,457,374.19が求まる。また、a、b、βは、それぞれ、a=α/12=28.125b=It/2=1,910.35、b3=6,971,702,206.96β=b/3a=22.641185が求まる。これらの値を式25に代入してxを求めると、x=W’√W’24b3/27a/2a=5518.828,196.386/2a=243.82588が求まる。このxの立方根、すなわちAは、A=3√x=6.24731が求まる。このAからXを求める。すなわち、X=A-β/A=6.24731-22.641185/6.24731=2.62316が求まる。このXの値を前述の式26に代入することによって、内部抵抗Rは、R=E-X/I=2.7-2.62316/10=0.007684[Ω]が求まる。これから、静電容量Cは、前述の式14、15、16より、C=c02αVc13-Vc23/3/Vc12-Vc22=987.94607.978=1595.92[F]が求まる。以上のように、放電時間t、端子放出エネルギーW、微分容量の電圧係数αから、解析的に内部抵抗Rを求め、静電容量Cを求めることができる。特に、第2の実施形態では、EDLCを、定電圧Eでの定電圧充電後、放電電荷Qと端子放出エネルギーWを計測し、微分容量の電圧係数αを求め、乖離エネルギーΔWの定義式を用いて解析的に内部抵抗Rを求めることができる。この内部抵抗Rに基づいて静電容量Cを求めることができる。このような計算方法によって、煩雑な繰り返し計算を必要とすることなく、内部抵抗Rと静電容量Cとを精度良く求めることができる。なお、第2の実施形態では、電圧係数αを図5のように実験値から図式的に求めるので、前述の第1実施形態の算出方法と比べて電圧係数αの値が若干異なる。しかし、電圧センサ等の計測値の誤差を考慮すると、実用的な精度は前述の第1実施形態と同様である。以上説明したように、本発明の第1及び第2の実施形態では、EDLCの性能計測において、定電流充電、定電圧充電及び定電流放電を行ったときの定電流I、規定電圧E、端子電圧V、充電時間tch、放電時間t等の計測値から、一度の計算によって内部抵抗R及び電圧係数αを求め、静電容量Cを求めることができる。従って、従来のような、直線的放電特性を想定した誤差が大きな計測方法や、値が収束するまで繰り返し行う煩雑な計算を実行することなく、より簡易な方法で、電気二重層キャパシタEDLCの性能を計測することができる。"