デジタルのベースバンド信号を生成するBB信号生成部23と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部24と、このレベル制御されたベースバンド信号をD/A変換するとともにRF信号に周波数変換する周波数変換部25と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記RF信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ26とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末2に送出する疑似基地局装置20と、前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行うために、前記疑似基地局装置を制御する全体制御装置10とを有する試験システムであって、前記全体制御装置は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を予め記憶するレベル対応情報記憶部13と、前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択するレベル設定部14とを備え、前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定したのち、前記レベル制御部を制御して前記試験信号のレベルを変化させて、前記試験を行うことを特徴とする試験システム。前記レベル対応情報記憶部は、前記疑似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出されることを特徴とする請求項1の試験システム。前記全体制御装置は、前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶部11と、前記シナリオ記憶部から読み出した前記シナリオに従って、前記疑似基地局装置を制御するシナリオ処理部12とを備え、前記レベル設定部は、前記シナリオ処理部が読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出し、この検出した試験信号レベルの最大値及び最小値に基づいて前記1つの減衰量を選択し、この選択した減衰量における、前記抽出した試験信号のレベルに関する情報に対応して前記レベル制御部を制御するための定数を決定し、この定数と前記選択した減衰量との組合せの情報を前記シナリオ処理部に送出し、前記シナリオ処理部は、前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を前記レベル設定部から受けた前記組合せの情報に置き換えて、前記疑似基地局装置を制御することを特徴とする請求項1乃至2の試験システム。デジタルのベースバンド信号を生成するBB信号生成部23と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部24と、このレベル制御されたベースバンド信号をD/A変換するとともにRF信号に周波数変換する周波数変換部25と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記RF信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ26とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末2に送出する疑似基地局装置20と、前記疑似基地局装置を制御する全体制御装置10とを用いて、前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行う試験方法であって、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を記憶するレベル対応情報記憶段階と、前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択する減衰量選択段階と、前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定した場合に、前記レベル制御部を制御するための定数を決定する定数決定段階と、前記決定された定数及び前記選択された減衰量によってレベルが制御された前記試験信号を前記移動体通信端末に送出して前記試験を行う試験実行段階とを備えたことを特徴とする試験方法。前記レベル対応情報記憶段階は、前記疑似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出されることを特徴とする請求項3の試験方法。前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶段階と、前記記憶したシナリオを読み出すシナリオ読出段階と、前記減衰量選択段階を行うために、前記読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出する検出段階と、前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を、前記決定された定数及び前記選択された減衰量の情報に置き換える置換段階とを備え、前記試験実行段階は、前記置換段階で情報が置き換えられたシナリオに従って前記試験を行うことを特徴とする請求項4乃至5の試験方法。試験項目の1つとして、擬似基地局装置120から移動体通信端末2に入力するRFの試験信号のレベルを、所定のステップ例えば1dBずつ変化させ、移動体通信端末2が正常に受信を継続できるか否かを試験するものがある。図6Aは、このような移動体通信端末2の受信特性試験における試験信号レベルの時間変化をグラフに示したものである。擬似基地局装置120から出力される試験信号は、グラフに実線で示すように、最大値Aから最小値Bまで、レベルを所定ステップずつ下げていくようになっている。あるいは逆に、グラフに点線で示すように、最小値Bから最大値Aまで、レベルを所定ステップずつ上げていくようになっている。しかしながら、このようにレベルを変化させている途中で、擬似基地局装置120のATT26の減衰量の切替が発生すると、図6Bに示すように、ATT26の切替時間の分だけ、試験時間が余分にかかってしまう。これは、前述のように、レベル制御部24によるレベル制御が高速であるのに対し、ATT26の減衰量の切替は時間がかかるためである。本発明は、以上のような課題に対し、移動体通信端末の試験を短時間で行うために、時間のかかるステップアッテネータの減衰量の切替をすることなく、レベルが変化するRFの試験信号を試験対象の移動体通信端末に入力する試験を行うようにした試験システム及び試験方法を提供することを目的とする。上述の目的を達成するために、本発明の試験システムは、デジタルのベースバンド信号を生成するBB信号生成部23と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部24と、このレベル制御されたベースバンド信号をD/A変換するとともにRF信号に周波数変換する周波数変換部25と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記RF信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ26とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末2に送出する疑似基地局装置20と、前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行うために、前記疑似基地局装置を制御する全体制御装置10とを有する試験システムであって、前記全体制御装置は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を予め記憶するレベル対応情報記憶部13と、前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択するレベル設定部14とを備え、前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定したのち、前記レベル制御部を制御して前記試験信号のレベルを変化させて、前記試験を行うことを特徴とする。また、本発明の試験システムは、前記レベル対応情報記憶部は、前記疑似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出される構成であってもよい。また、本発明の試験システムは、前記全体制御装置は、前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶部11と、前記シナリオ記憶部から読み出した前記シナリオに従って、前記疑似基地局装置を制御するシナリオ処理部12とを備え、前記レベル設定部は、前記シナリオ処理部が読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出し、この検出した試験信号レベルの最大値及び最小値に基づいて前記1つの減衰量を選択し、この選択した減衰量における、前記抽出した試験信号のレベルに関する情報に対応して前記レベル制御部を制御するための定数を決定し、この定数と前記選択した減衰量との組合せの情報を前記シナリオ処理部に送出し、前記シナリオ処理部は、前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を前記レベル設定部から受けた前記組合せの情報に置き換えて、前記疑似基地局装置を制御する構成であってもよい。また、本発明の試験方法は、デジタルのベースバンド信号を生成するBB信号生成部23と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部24と、このレベル制御されたベースバンド信号をD/A変換するとともにRF信号に周波数変換する周波数変換部25と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記RF信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ26とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末2に送出する疑似基地局装置20と、前記疑似基地局装置を制御する全体制御装置10とを用いて、前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行う試験方法であって、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を記憶するレベル対応情報記憶段階と、前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択する減衰量選択段階と、前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定した場合に、前記レベル制御部を制御するための定数を決定する定数決定段階と、前記決定された定数及び前記選択された減衰量によってレベルが制御された前記試験信号を前記移動体通信端末に送出して前記試験を行う試験実行段階とを備えたことを特徴とする。また、本発明の試験方法は、前記レベル対応情報記憶段階は、前記疑似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出されるようになっていてもよい。また、本発明の試験方法は、前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶段階と、前記記憶したシナリオを読み出すシナリオ読出段階と、前記減衰量選択段階を行うために、前記読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出する検出段階と、前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を、前記決定された定数及び前記選択された減衰量の情報に置き換える置換段階とを備え、前記試験実行段階は、前記置換段階で情報が置き換えられたシナリオに従って前記試験を行うようになっていてもよい。本発明の試験システム及び試験方法は、試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含むレベル可変範囲に対応した減衰量のみをステップアッテネータの減衰量として設定し、レベル制御部を制御して試験信号のレベルを変化させて、試験を行う構成としている。このため、レベルが変化するRFの試験信号を移動体通信端末に入力する試験を行う際に、時間のかかるステップアッテネータの減衰量の切替をすることがなくなり、移動体通信端末の試験を短時間で行うことができる。図1は、本発明の試験システム1の構成を示している。試験システム1は、全体制御装置10、擬似基地局装置20、信号解析装置40、信号発生装置50、結合器60、分配器70を含んで構成されている。なお、図5に示した従来の試験システム100と同一の構成のものには同一の付番を付し、適宜、説明を省略する。全体制御装置10は、試験システム1内の各装置とGP-IBまたはイーサネット登録商標により接続されており、これらの装置をリモート制御し、各装置に対して、試験に必要な設定を行い、動作の開始や終了を指示する。また、信号や通信データの解析結果を各装置から収集して表示する。全体制御装置10は、シナリオ記憶部11、シナリオ処理部12、レベル対応情報記憶部13、レベル設定部14を含んで構成されている。シナリオ記憶部11は、試験項目毎に異なるシナリオを記憶している。試験項目は、移動体通信端末が採用する通信方式の試験規格として定められていたり、移動体通信端末のメーカが独自に定めていたりするものである。シナリオとは、試験システム1が、対応する試験項目を実施する際、必要な設定や動作のシーケンスを記述したものである。図2に、所定の試験項目におけるシナリオの一例を示す。図2において、シナリオには、試験項目名、各装置の設定、各装置の制御及び通信のシーケンスの情報が記述されている。試験項目名は、試験項目を識別するための情報である。各装置の設定は、この試験項目に対応した試験システム1内の各装置及び各部への設定情報であり、全体制御装置10は、この設定情報に従ってリモート制御先の装置を設定する。例えば、全体制御装置10は、この設定情報に従って、擬似基地局装置20に、通信方式W-CDMAまたはLTEやRF信号の中心周波数周波数変換部25に用いるを指示し、信号解析装置40に測定項目、測定周波数範囲を指示し、信号発生装置50に発生する信号の種別、レベル、周波数を指示し、RF信号経路80の切替スイッチ不図示を切り替える。各装置の制御及び通信のシーケンスは、この試験項目の試験を実行する際の、各装置の制御の情報と、移動体通信端末2と通信するための擬似基地局装置20の送信メッセージとが、時系列に記述されている。全体制御装置10は、これに従い、擬似基地局装置20に移動体通信端末2と通信させ、信号解析装置40に測定を行わせ、信号発生装置50に信号を出力させ、各装置から解析結果を収集する。シナリオ処理部12は、試験者が指定した試験項目に対応するシナリオを、シナリオ記憶部11から読み出す。そして、読み出したシナリオに記述された設定やシーケンスを順次実行する。また、シナリオ処理部12は、レベル設定部14からレベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報を受けて、シナリオの元の試験信号レベルの制御情報と置き換える。この置き換えられたレベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報は、シナリオに記述されたシーケンスに従ったタイミングで、全体制御装置10から擬似基地局装置20に送出される。レベル対応情報記憶部13には、レベル対応情報が試験項目別にテーブル形式で記憶されている。図3に、所定の試験項目におけるレベル対応情報の一例を示す。レベル対応情報とは、擬似基地局装置20内のレベル制御部24のレベル制御範囲の最大値と最小値、擬似基地局装置20内のATT26の各ステップの減衰量、RF信号経路80及び同軸ケーブル90により生じるRF信号の損失を表わす経路ロス、これらの値から導出される試験信号レベル可変範囲の最大値と最小値、各対応情報を追番で識別するための設定番号Nの各項目が対応付けられた情報である。レベル制御部24のレベル制御範囲は、擬似基地局装置20の性能として予め決まっており、-10dBmから-40dBmまでの30dBの制御範囲を有している。ATT26の減衰量は、擬似基地局装置20の性能として予め決まっており、0dBから100dBまで5dBステップでの設定範囲を有し、レベル対応情報には、このステップ毎の減衰量が記憶されている。経路ロスは、試験項目毎に値が異なる。これについて説明すると、結合器60、分配器70、前述のフィルタ不図示にはそれぞれ損失があり、前述の切替スイッチ不図示によって、これらがRF信号経路80に含まれるか否かが変わる。この切替は、所定の試験項目に適した構成となるように、全体制御装置からの指示により行われる。従って、試験項目毎にRF信号経路80の構成及び損失が異なり、そのため、試験項目毎に経路ロスの値が異なる。従って、レベル対応情報記憶部13は、試験項目毎にレベル対応情報を記憶している。なお、経路ロスには、同軸ケーブル90の損失も含まれている。経路ロスは、試験システムの設計段階で算出された設計値、もしくは試験システムの製造検査時に実測された実測値が記憶される。試験信号レベル可変範囲は、ATT26の各減衰量毎に、試験対象の移動体通信端末2の入力端において供給可能な試験信号レベルの最大値と最小値を示している。例えば、図2の設定番号N=2において、レベル制御部24の出力レベルの最大値は-10dBm、それがATT26により5dB減衰され、経路ロスによりさらに10dB減衰されて、移動体通信端末2の入力端における試験信号レベルは-25dBmとなる。つまり、移動体通信端末2の入力端における試験信号レベル=レベル制御部24の出力レベル-ATT26の減衰量-経路ロスの式によって算出される。これに従い、各設定番号Nそれぞれについて、移動体通信端末2の入力端において供給可能な試験信号レベルの最大値と最小値が決定されて記憶されている。。レベル設定部14は、シナリオ処理部12がシナリオ記憶部11から読み出したシナリオから、試験信号レベルに関する情報を抽出し、その抽出した試験信号レベルの最大値及び最小値を検出し、レベル対応情報記憶部13を参照して、この試験信号レベルの最大値に対応したATT26の減衰量を決定する。また、レベル設定部14は、シナリオから抽出した試験信号レベルのそれぞれについて、その試験信号レベルに対応したレベル制御部24の定数及びATT26の減衰量を決定して、シナリオ処理部12に送出する。レベル設定部14の動作について、図2及び図3を元に、具体的に説明する。シナリオ処理部12がシナリオ記憶部11から読み出した図2のシナリオには、試験信号レベルの設定を示す3つのシーケンス、試験信号レベル=-27dBm、試験信号レベル=-32dBm、試験信号レベル=-47dBmが記述されている図2は途中のシーケンスを省略しているので、実際にはもっと多くのシーケンスがある。レベル設定部14は、これらの情報を抽出し、この中で、試験信号のレベルの最大値=-27dBmと、最小値=-47dBmを検出する。レベル設定部14は、レベル対応情報記憶部13を参照して、この試験項目に対応した図3のレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲を確認する。このシナリオの試験信号レベルの最大値=-27dBmをレベル可変範囲に含む設定は、設定番号N=1及び2である。N=3の場合は、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値=-30dBmであるから、シナリオの試験信号レベルの最大値よりも小さいので、適合しない。ここで、試験信号のSN比を考慮すると、レベル制御部24から大きなレベルで出力して、ATT26で減衰させるようにするのが好ましい。従って、設定番号N=1及び2のうち、設定番号N=2を選択する。そして、図3のレベル対応情報では、N=2におけるATT減衰量=5dBであるから、ATT26の第1の減衰量=5dBと決定する。また、レベル設定部14は、N=2におけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値を確認する。この場合、シナリオの試験信号のレベルの最小値=-47dBmは、N=2におけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値=-55dBmよりも大きい。従って、ATT26の第1の減衰量=5dBと決定することで、このシナリオにおける試験信号のレベル制御は、ATT26の減衰量を切り替えずに、レベル制御部24の制御のみで行えることになる。なお、シナリオの試験信号のレベルの最小値が、その設定番号Nにおけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値よりも小さい場合は、ATT26の減衰量の切替が必要となる。このため、シナリオから検出した試験信号の最大値から最小値までのレベルを、第1の減衰量における試験信号レベル可変範囲との組合せでカバーするように、異なる設定番号Nを決定し、この設定番号NにおけるATT減衰量をレベル対応情報から読み取り、このATT減衰量をATT26に設定する第2の減衰量として決定する。つまり、シナリオから検出した試験信号の最大値から最小値までのレベルのうち、レベルの大きい範囲は、ATT26を第1の減衰量に設定してレベル制御部24でレベルを可変させ、レベルの小さい範囲は、ATT26を第2の減衰量に設定してレベル制御部24でレベルを可変させる。なお、シナリオから検出した試験信号のレベルを、2つのATT減衰量を用いてもカバーできない場合は、3つ以上のATT減衰量を用いてカバーする。また、レベル設定部14は、シナリオから抽出した試験信号レベルのそれぞれについて、その試験信号レベルに対応したレベル制御部24の定数を決定する。すなわち、[レベル制御部24の出力レベル]=[シナリオに記述された試験信号レベル][経路ロス][決定したATT減衰量]の演算式により、レベル制御部24が制御して出力すべきレベルを求め、それに対応した定数を決定する。そして、レベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報を、シナリオ処理部12に送出する。擬似基地局装置20の疑似基地局制御部21は、全体制御装置10からの指示に基づき、擬似基地局装置20内の各部を制御するとともに、移動体通信端末2との通信結果を通信データ処理部29から受けて、全体制御装置10に送出する。ここで、疑似基地局制御部21は、レベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報を全体制御装置10から受けると、それに従ってレベル制御部24とATT26とを設定する。次に、本発明の試験システム1の動作について、図4のフローチャートにより説明する。試験者が全体制御装置10に所望の試験項目を指定すると、シナリオ処理部12は、シナリオ記憶部11から指定された試験項目に対応するシナリオを読み出すS1。レベル設定部14は、シナリオ処理部12が読み出したシナリオから、試験信号レベルに関する情報を抽出し、その抽出した試験信号レベルの最大値及び最小値を検出するS2。レベル設定部14は、レベル対応情報記憶部13を参照して、所望の試験項目に対応したレベル対応情報の、設定番号N=1における試験信号レベル可変範囲の最大値を確認するS3。そして、レベル設定部14は、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値と、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値とを比較するS4。比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値よりも小さい場合は、設定番号Nの値を1増加させてS5、その増加させた設定番号Nにおけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値を用いて、再度比較を行う。比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値よりも大きい場合は、このときの設定番号Nよりも1だけ小さい設定番号NaにおけるATT減衰量をレベル対応情報から読み取り、このATT減衰量をATT26に設定する第1の減衰量として決定するS6。つまり、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値と、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値との比較を、設定番号N=1から順次行い、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値を超過したら、直前の設定番号NにおけるATT減衰量を用いるようにしている。また、レベル設定部14は、シナリオから検出した試験信号レベルの最小値と、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値とを比較するS7。この比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最小値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値よりも大きい場合は、ATT26の切替が不要となる。また、比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最小値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値よりも小さい場合は、ATT26の切替が必要となる。この場合、レベル設定部14は、シナリオから検出した試験信号の最大値から最小値までのレベルを、設定番号Naにおける試験信号レベル可変範囲との組合せでカバーするような設定番号Nbを決定し、この設定番号NbにおけるATT減衰量をレベル対応情報から読み取り、このATT減衰量をATT26に設定する第2の減衰量として決定するS8。このようにして、ATT26に設定する減衰量を決定したら、レベル設定部14は、レベル制御部24に設定する定数を決定するS9。レベル設定部14は、決定したレベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報をシナリオ処理部12に送出する。シナリオ処理部12は、読み込んだシナリオの試験信号レベルに関する情報を、この組合せの情報に置き換えるS10。そして、シナリオ処理部12は、シナリオのシーケンスを実行するS11。ここで、例えば図2のシーケンスにおける試験信号レベル=-27dBmの試験信号レベルに関する情報は、レベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報に置き換わっているので、全体制御装置10から擬似基地局装置20には、レベル制御部24の定数とATT26の減衰量との組合せの情報が送られる。この情報を受けた擬似基地局装置20の疑似基地局制御部21は、ATT26にこの減衰量を設定してレベル制御部24にこの定数を設定し、試験信号を出力する。擬似基地局装置20から出力された試験信号は、RF信号経路80及び同軸ケーブル90を通過して、移動体通信端末2に入力される。この際、RF信号経路80及び同軸ケーブル90により、レベル対応情報の経路ロス分、試験信号は減衰される。図2のシーケンスにおける、試験信号レベル=-32dBm、試験信号レベル=-47dBmについても、それぞれ対応する減衰量と定数との組合せの情報に置き換えられており、それらの情報が擬似基地局装置20に送られて設定される。なお、ATT26に減衰量を設定する際、直前の減衰量と同じ設定であれば、ATT26の減衰量の切替は行われない。このように、試験信号のレベルについて、シナリオに試験対象の移動体通信端末2に入力すべきレベルを記述しておけば、全体制御装置10が、そのレベルに対応し且つATT26の切替が極力発生しないようなレベル設定を決定する。このため、移動体通信端末2の試験を短時間で行うことができる。それとともに、シナリオ作成者は、経路ロスを考慮して疑似基地局装置20の信号出力レベルを決定してシナリオに記載する必要がなくなり、シナリオの作成が容易になる。