ハードドライブ上の欠陥領域を検出するための機械実装方法であって、a前記機械が、信号値例えば、x[n]またはy[n]と、前記信号値に対応するソフト決定値例えば、L[n]とに基づいて、第1の測度例えば、β1kを生成することと、b前記機械が、前記信号値と前記ソフト決定値とに基づいて、第2の測度例えば、β2kを生成することと、c前記機械が、前記第1の測度と前記第2の測度を比較することと、d前記機械が、ステップcの前記比較に基づいて、前記欠陥領域を検出することとを備える方法。前記機械が、前記信号値と、前記信号値に対応する期待値と、前記ソフト決定値とに基づいて、前記第1の測度を生成し、前記機械が、前記期待値と、前記ハードドライブの欠陥のない領域だけに対応する欠陥のないソフト決定値とに基づいて、前記第2の測度を生成する請求項1に記載の方法。前記第1の測度が、i前記信号値、ii前記期待信号値、およびiii前記ソフト決定値の大きさの積の移動平均に基づき、前記第2の測度が、i前記期待信号値の二乗、およびii前記欠陥のないソフト決定値の前記大きさの期待値の積の移動平均に基づく、請求項2に記載の方法。前記第1の測度β1kがによって提示され、前記第2の測度β2kがによって提示され、y[k-i]が、第k-i番目の信号値であり、が、前記第k-i番目の信号値の前記期待値であり、L[k-i]が、前記第k-i番目の信号値に関する前記ソフト決定値であり、EabsLが、前記欠陥のないソフト決定値の絶対値に適用される期待関数を表し、Mが、指定された正の整数である請求項3に記載の方法。前記欠陥領域がサーマルアスペリティTAまたは媒体欠陥MDと関連付けられ、前記信号値が、iアナログデジタル変換装置ADC出力値例えば、x[n]、もしくはii等化器入力値例えば、x[n]、またはiii等化器出力値例えば、y[n]である請求項1に記載の方法。i前記比較が、前記第1の測度が、1未満の、前記第2の測度の指定された比率例えば、C未満であるかどうかを決定するか、またはii前記比較が、前記第1の測度および前記第2の測度の比率を指定されたしきい値例えば、Cと比較する、請求項1に記載の方法。前記期待信号値が、前記信号値の平均値であり、前記平均値が、前記信号値および1つまたは複数の隣接信号値に関連するビットパターンの関数である、請求項1に記載の方法。前記期待信号値が、前記信号値に対応するハード決定値から再構成され、前記期待信号値が、ターゲット多項式を用いて前記ハード決定値を畳み込むことによって再構成される、請求項1に記載の方法。ハードドライブ上の欠陥領域を検出するための装置であって、a信号値例えば、x[n]またはy[n]と、前記信号値に対応するソフト決定値例えば、L[n]とに基づいて、第1の測度例えば、β1kを生成するための手段と、b前記信号値と前記ソフト決定値とに基づいて、第2の測度例えば、β2kを生成するための手段とc前記第1の測度と前記第2の測度を比較するための手段と、d手段cの前記比較に基づいて、前記欠陥領域を検出するための手段とを備える装置。前記装置が、iデジタル信号プロセッサであるか、またはiiハードディスクドライブである、請求項9に記載の装置。一実施形態では、本発明は、ハードディスクドライブ上の欠陥領域を検出するための機械実装方法である。この機械は、第1の測度と第2の測度とを生成して、信号値と、それらの信号値に対応するソフト決定値とに基づいて、これらの測度を比較して、その比較に基づいて、欠陥領域を検出する。本発明のその他の態様、特徴、および利点は、以下の詳細な説明、添付の特許請求の範囲、ならびに類似の参照番号が類似の要素または同一要素を識別する添付の図面からより十分に明らかになるであろう。図1は、本発明の一実施形態による、トンネリング磁気抵抗TMR読取ヘッドを用いるハードディスクドライブに関する読取チャネル100のハイレベルブロック図を示す。読取チャネル100の通常の主信号処理経路は、アナログ読取ヘッド出力信号105をTMR読取ヘッド図示せずから受信して、バイナリハード決定出力データ信号145を出力する。図1に示すように、読取チャネル100は、前置増幅器110と、アナログフロントエンドAFE120と、アナログデジタル変換装置ADC130と、デジタルバックエンドDBE140とを含む。前置増幅器110は、信号振幅成分および周波数成分がAFE120による処理に関して指定された範囲内にあることを確実にするために、読取ヘッド出力信号105を増幅して、調整し、AFE120は、前置増幅器110からの前置増幅された信号115をさらに増幅して、調整する。ADC130は、バイナリ出力データ信号145を生成するDBE140によるデジタル信号処理のためのマルチビットデジタル信号Xを生み出すために、AFE出力信号129をデジタル化する。デジタル信号Xは、本明細書で等化器入力サンプルx[n]とも呼ばれるADC出力サンプルx[n]からなる。図1に表すように、AFE120は、高域通過フィルタ122と、可変利得増幅器124と、磁気抵抗非対称性MRA補償モジュール126と、連続時間低域通過フィルタ128とを含み、一方、DBE140は、部分応答PR等化器142と、ソフト例えば、ビタビ検出器144とを含む。本発明にとって特に重要なことに、PR等化器142は、デジタル化されたADC出力信号XをADC130から受信して、1ビットのバイナリすなわち、ハード決定出力データ信号145を生成するためにソフト検出器144が処理する等化器出力サンプルy[n]からなるマルチビット等化信号Yを生成する。ハード決定データ145を生成することに加えて、ソフト検出器144は、その処理の一環として、対数尤度比LLRデータなど、マルチビットソフト決定データも生成する。PR等化器142は、デジタル有限インパルス応答DFIRフィルタとして実装され得るが、そうでなくてもよい。加えて、TMR読取チャネル100は、DBE140から信号147を受信して、その情報が信号155内で表される、ハードディスク上の欠陥領域の位置を検出するために信号147を処理する欠陥検出器150を含む。一実装形態では、信号147は、ADC130によって生成されたADC出力信号X、ならびにソフト検出器144によって生成されたソフト決定データを含む。もう1つの実装形態では、信号147は、PR等化器142によって生成された等化信号Y、ならびにソフト検出器144によって生成されたソフト決定データを含む。理論上、ハードディスク上の欠陥領域は、以下のように、方程式1ならびに2に従って画定された2つの統計的測度α1kおよびα2kを生成して、これらの測度を比較することによって検出され得る。式中、y[k-i]は、第k-i番目の等化器出力サンプルであり、は、その第k-i番目の等化器出力サンプルの対応する期待値である。1つの可能な実装形態によれば、式中、Cが1未満の指定された比率例えば、0.5~0.7である、α1k<Cα2kの場合、その第k番目のサンプルは欠陥領域に対応すると考えられる。本発明の一実施形態では、欠陥検出器150は、下記のように、方程式3ならびに4に従って画定された2つの統計的測度β1kおよびβ2kを生成して、これらの測度を比較することによって、ハードディスク上の欠陥領域を検出する。式中、y[k-i]は、図1の等化器142によって生成された第k-i番目の等化器出力サンプルであり、は、その第k-i番目の等化出力サンプルの対応する期待値であり、L[k-i]は、そのk-i番目の等化出力サンプルに関して、図1のソフト検出器144によって生成された、対応するマルチビットソフト決定値であり、EabsLは、期待関数Eを、欠陥のない領域に対応するソフト決定値L[n]の絶対値に適用した結果であり、その結果は、最小平均二乗LMSまたはその他の適切なアルゴリズムを使用して取得され得る。に関するLMS推定量は、以下のように取得され得る:式中、μの値は、LMS推定量に関する適応利得値であり、この値は、通常小さい。Mの典型的な値は32であり、これは第1の統計的測度β1kと第2の統計的測度β2kが両方とも移動平均であることを意味する。特定の実装形態に応じて、期待サンプル値は、いくつかの異なる様式で生成され得る。1つの様式は、適切なターゲット多項式を用いて、ソフト検出器144によって生成された出力信号145の1および-1によって表されるハード決定ビットを畳み込むことによってを構築することである。もう1つの様式は、様々な短期ビットパターンに関して等化器出力サンプルy[n]の長期平均値を生成することである。例えば、ハードディスクに書き込まれたテストデータが、2Tシーケンスすなわち、11001100...に従った場合、様々なローカルビットパターンの中央のビット値に関して、様々な長期平均値が生成され得る。詳細には、ローカル3ビットパターン110の中央のビットに関してある長期平均値が、100に関して別の長期平均値が、001に関して別の長期平均値が、さらに011に関して別の長期平均値が生成され得る。例えば、ルックアップテーブル内に格納された適切な長期平均は、次いで、方程式1内および2内の期待サンプル値に関して使用され得る。期待サンプル値は、正常な領域すなわち、MDまたはTAに関連しない領域内に格納されたデータに関して生成される点に留意されたい。当業者は、期待サンプル値を生成するためのその他の様式が存在し得る点を理解されよう。図2は、2つの比率をグラフで表す。すなわち、任意のソフト決定すなわち、LLR値に依存しない、方程式1および2の統計的測度を使用して生成された第1の比率α1k/α2k、ならびにソフト決定値に依存する、方程式3および4の統計的測度を使用して生成された第2の比率β1k/β2kである。図2では、欠陥領域は、その欠陥領域の前に正常なすなわち、欠陥のない領域が存在し、その欠陥領域の後に別の正常な領域が存在する状態で、サンプル番号1100あたりからサンプル番号1200あたりに及ぶ。図2で明らかなように、2つの正常な領域に関して、第1の比率と第2の比率は両方とも、相対的に1.0に近い値を有し、一方、欠陥領域に関して、第1の比率と第2の比率は両方とも、1.0よりもかなり小さな値を有する。やはり図2で明らかなように、第2の比率は、第1の比率よりも、欠陥領域内の変動がかなり少ない点に留意されたい。この特性は、欠陥領域を検出するためにソフト決定ベースの統計的測度β1kおよびβ2kを使用することは、ソフト決定値と無関係な統計的測度α1kおよびα2kを使用するよりもより確実であり得ることを示す。詳細には、ソフト決定ベースの統計的測度β1kおよびβ2kを使用することは、結果として、欠陥領域のより少ない偽陰性検出をもたらす可能性がある。偽検出の可能性と間違い検出の可能性の両方を最小限に抑えるために、良好なしきい値が選ばれる。本発明の一実装形態によれば、第k番目のサンプルが欠陥領域に対応するか否かを決定するために、統計的測度β1kは統計的測度β2kの指定された陽性率すなわち、Cと比較される。詳細には、以下の式6の不等式が満たされる場合、β1k<Cβ2k、6第k番目のサンプルは、欠陥領域に対応すると考えられる。Cの典型的な値は約0.5~0.7である。β1kおよびβ2kの比較を実装するためのもう1つの様式は、β2kに対するβ1kの比率を、例えば、同じ指定された比率Cに等しいしきい値と比較することである。その比率がそのしきい値よりも低い場合、第k番目のサンプルは欠陥領域に対応する。通常、マルチビットLLRソフト決定値の大きさは、ソフト検出器144の検出処理の信頼性を示す。したがって、正常な領域において、これらのソフト決定値の大きさは、通常、欠陥領域内のソフト決定値よりもより大きい。これは、統計的測度β1kおよびβ2kの第2の比率の変動が、なぜ統計的測度α1kおよびα2kの第1の比率よりも少ないかを説明するのに役立つ。欠陥領域の検出を示す方程式6の不等式が満たされたとき、第2の統計的測度β2kは正常な領域に関するソフト決定値に基づき、一方、第1の統計的測度β1kの大きさは、通常、正常な領域に関するソフト決定値よりもより小さく、その検出された欠陥領域に関するソフト決定値に基づくことに留意されたい。結果として、第2の比率における変動は、第1の統計的測度β1k内のソフト決定値のそのより小さな大きさだけ減じられる。方程式3ならびに4は、M個のサンプルのウィンドウの全域で統計的測度β1kおよびβ2kを生成するため、不等式β1k<Cβ2kが満たされるとき、その欠陥領域は、第k番目のサンプル前の指定されたサンプル数例えば、M/2のところで開始するという決定が下され得る点に留意されたい。さらに、欠陥領域の偽陽性検出を回避するために、この不等式は、欠陥領域が検出されているという決定の前に、指定された数の連続サンプルまたは、所与の連続的サンプルセット内の指定された数のサンプル例えば、最後の10個のサンプルのうちの7個に関して満たされることが必要とされる場合がある。本発明は、それぞれ、方程式3ならびに4の2つの統計的測度β1kおよびβ2kの関連で説明されているが、本発明は、あるいは、ソフト決定値に基づくその他の適切な統計的測度を使用して実装されることが可能である。さらに、これらの統計的測度のうちの1つだけがソフト決定値に依存する実施形態が存在し得る。欠陥検出器150の1つの可能な実装形態では、1つの欠陥領域の終わりと次の欠陥領域の始まりの間のギャップが指定された隔離距離未満であるとき、それらの2つの欠陥領域と介在する正常な領域とは、融合されて1つの組み合わされた欠陥領域になり、この場合、この組み合わされた欠陥領域は、第1の欠陥領域の始まりから第2の欠陥領域の終わりまで及ぶ。本発明は、TMRトンネリング磁気抵抗読取ヘッドに関する読取チャネルの関連で説明されているが、当業者は、本発明が、MR磁気抵抗読取ヘッドまたはGMR巨大MR読取ヘッドを含むが、これらに限定されないその他のタイプの読取ヘッドの関連で実装されることも可能である点を理解されよう。本発明は、ASIC、もしくはFPGAなど単一の集積回路、マルチチップモジュール、シングルカード、またはマルチカード回路パックなど、可能な実装形態を含めてアナログ、デジタル、またはアナログとデジタルの混成回路ベースのプロセスとして実装され得る。当業者にとって明らかであるように、回路要素の様々な機能は、ソフトウェアプログラム内の処理ブロックとして実装されることも可能である。かかるソフトウェアは、例えば、デジタル信号プロセッサ内、マイクロコントローラ内、または汎用コンピュータ内で用いられることが可能である。本発明は、方法、およびそれらの方法を実施するための装置の形で実装され得る。本発明は、磁気記録媒体、光記録媒体、固体メモリ、フロッピーディスケット、CD-ROM、ハードドライブ、または任意のその他の機械可読記憶媒体など、有形媒体内で実装されるプログラムコードの形で実装されることも可能であり、そのプログラムコードがコンピュータなどの機械内にロードされて、その機械によって実行されるとき、その機械は本発明を実施するための装置になる。本発明は、例えば、記憶媒体内に格納されるか、または機械内にロードされ、かつ/もしくは機械によって実行されるかにかかわらず、プログラムコードの形で実施されることも可能であり、そのプログラムコードがコンピュータなどの機械内にロードされて、その機械によって実行されるとき、その機械は、本発明を実施するための装置になる。汎用プロセッサ上で実装されたとき、そのプログラムコード区分はプロセッサと結合して、特定の論理回路と同じように動作する独自のデバイスを提供する。明示的にその他の指定がない限り、それぞれの数値および範囲は、約またはおよそという語がその値または範囲に優先した場合と同様に、概算であるとして解釈されるべきである。本発明の性質を説明する目的で説明され、例示されている部分の詳細、材料、および構成における様々な変更は、以下の特許請求の範囲で表現される本発明の範囲から逸脱せずに、当業者によって行われ得る点をさらに理解されよう。請求項における図面番号および/または図面参照ラベルの使用は、請求項の解釈を促す目的で、特許請求される範囲の主題の1つまたは複数の可能な実施形態を識別するためである。かかる使用は、それらの請求項の範囲を対応する図面内で示される実施形態に必ずしも限定すると解釈されるべきでない。本明細書に記載された例示的な方法のステップは、説明された順序で実行されることが必ずしも必要とされず、かかる方法のステップの順序は、単に例示的であると理解されるべきである点を理解されたい。同様に、かかる方法に追加のステップが含まれてよく、いくつかのステップが省略されてよく、またはいくつかのステップが本発明の様々な実施形態と一致した方法内で組み合わされてもよい。以下の方法クレームの要素は、あるとしても、対応するラベル付けを用いた特定の順序で列挙されるが、それらの請求項の列挙が、それとも、それらの要素のいくつかまたはすべてを実装するための特定の順序を意味する場合を除いて、それらの要素は、その特定の順序で実装されることに必ずしも限定されない。本明細書における一実施形態またはある実施形態の参照は、実施形態に関して説明された特定の特徴、構造、もしくは特性が本発明の少なくとも1つの実施形態内に含まれ得ることを意味する。明細書内の様々な箇所における一実施形態においてという語句の出現は、すべて同じ実施形態を指すとは限らず、または個別の実施形態もしくは代替の実施形態は、その他の実施形態と相互排他的であるとは限らない。同じことが実装形態という語にも当てはまる。