スキャンチェーンを有するプロセッサと、前記プロセッサにアプリケーションを実行させるプロセッサ制御部と、前記プロセッサのスキャンテストを制御するスキャンテスト制御部と、を有し、前記スキャンテスト制御部は、前記プロセッサのスキャンテストを実行している際に、前記プロセッサ制御部からのスキャンテスト中断要求があった場合、当該プロセッサのスキャンテストを中断し、アプリケーションの実行後に、スキャンテストを再開させる半導体集積回路。前記スキャンテスト制御部は、スキャンチェーンに入力される入力値及び当該入力値に応じた出力の期待値の組み合わせをパターンとし、当該パターン毎にパターン番号を付与した、複数のパターンからなるテストデータを記憶したテストデータ記憶部と、前記スキャンチェーンに、前記テストデータ記憶部から読み出した前記入力値を入力し、当該入力値に応じて前記スキャンチェーンから出力された応答値を、前記記憶部から読み出した前記期待値と比較することによりスキャンテストを実行するスキャンテスト実行部と、前記スキャンテスト実行部における、スキャンテストの開始、中断、及び再開を制御するスキャンテスト実行制御部と、スキャンテストが中断された際の前記パターン番号である中断パターン番号を記録するパターン番号記憶部と、を有し、前記スキャンテスト実行部は、スキャンテストを再開する際に、前記パターン番号記憶部が記憶した前記中断パターン番号に基づき、前記テストデータ記憶部から、テストデータを読み出してスキャンテストを再開する請求項1に記載の半導体集積回路。前記半導体集積回路は、複数の前記プロセッサを有するものであって、前記スキャンテスト制御部は、前記プロセッサがスキャンテスト実行中であるか否かの情報及びスキャンテストの結果が正常であったか否かを示す情報のいずれか1以上の情報を有する管理情報を保持する管理情報保持部を更に有し、前記プロセッサ制御部は、複数の前記プロセッサが前記アプリケーションを実行する際に、当該アプリケーションの実行を制御するアプリケーション制御部と、前記管理情報保持部が有する管理情報に基づき、複数の前記プロセッサがスキャンテスト実行中であるか否かを判定する動作判定部と、を有し、スキャンテスト実行中のプロセッサがある場合、前記スキャンテスト実行制御部は、前記動作判定部の判定結果に基づき、スキャンテストの中断を決定する請求項2記載の半導体集積回路。前記アプリケーション制御部は、アプリケーションの実行に必要なプロセッサの数を算出し、前記動作判定部は、前記アプリケーション制御部が算出したプロセッサ数及び前記管理情報に基づき、スキャンテスト実行中のプロセッサのうち、スキャンテストを中断させるプロセッサの数を判定し、前記スキャンテスト実行制御部は、前記管理情報及び前記動作判定部からのプロセッサ数に基づき、所定のプロセッサのスキャンテストを中断する請求項3記載の半導体集積回路。スキャンテストが終了した前記パターン数をカウントする診断進捗情報格納部を更に有し、診断進捗情報格納部は、管理情報として、更に、前記終了パターン数を保持し、前記スキャンテスト実行制御部は、前記終了パターン数に基づき、前記プロセッサにスキャンテストを中断させる請求項4記載の半導体集積回路。前記スキャンテスト実行制御部は、複数の前記プロセッサのうち、前記終了パターン数のより多い前記プロセッサから順に、スキャンテストを中断させる請求項5記載の半導体集積回路。スキャンチェーンを有するプロセッサがスキャンテストを実行している際に、アプリケーション実行のためにスキャンテスト中断要求があった場合、スキャンテストを中断させ、アプリケーション実行後にスキャンテストを再開させる半導体集積回路の制御方法。スキャンチェーンに入力される入力値及び当該入力値に応じた出力の期待値の組み合わせをパターンとし、当該パターン毎にパターン番号を付与した、複数のパターンからなるテストデータをテストデータ記憶部に記憶させ、前記スキャンチェーンに前記テストデータ記憶部から読み出したテストデータを入力し、当該入力値に応じて実際にスキャンチェーンから出力された応答値を、出力の期待値と比較することによりスキャンテストを実行し、スキャンテストが中断された際の前記パターン番号である中断パターン番号をパターン番号記憶部に記録し、スキャンテストを再開する際には、前記パターン番号記憶部が記憶した前記中断パターン番号に基づき前記テストデータ記憶部から前記テストデータを読み出してスキャンテストを再開させる請求項7の半導体集積回路の制御方法。前記プロセッサがアプリケーションを実行しようとする際、複数の前記プロセッサがスキャンテスト実行中であるか否かの情報及びスキャンテストの結果が正常であったか否かを示す情報の少なくともいずれか一方を有する管理情報を保持し、前記管理情報に基づき、複数の前記プロセッサがスキャンテスト実行中であるか否か判定し、前記判定結果に基づき、前記スキャンテストを中断する請求項8記載の半導体集積回路の制御方法。アプリケーションの実行に必要なプロセッサの数を算出し、前記プロセッサを判定する際、必要なプロセッサ数及び前記管理情報に基づき、スキャンテストを中断してアプリケーションを実行させるプロセッサと、スキャンテストを継続させるプロセッサとを判定し、スキャンテストを中断すると判定したプロセッサに対してスキャンテストを中断させる請求項9記載の半導体集積回路の制御方法。しかしながら、引用文献2に記載された技術では、プロセッサの定期診断中にアプリケーション実行要求が発生した場合、故障診断プログラムを途中で中断できない。従って、故障診断終了までアプリケーションの実行が待たされて、アプリケーションの実行効率が低下するという問題がある。本発明にかかる半導体集積回路は、スキャンチェーンを有するプロセッサと、プロセッサにアプリケーションを実行させるプロセッサ制御部と、プロセッサのスキャンテストを制御するスキャンテスト制御部と、を有する。そして、スキャンテスト制御部は、前記プロセッサのスキャンテストを実行している際に、プロセッサ制御部からのスキャンテスト中断要求があった場合、当該プロセッサのスキャンテストを中断し、アプリケーションの実行後に、スキャンテストを再開させるものである。本発明にかかる半導体集積回路の制御方法は、スキャンチェーンを有するプロセッサがスキャンテストを実行している際に、アプリケーション実行のためにスキャンテスト中断要求があった場合、スキャンテストを中断させ、アプリケーション実行後にスキャンテストを再開させるものである。本発明により、アプリケーションの実行効率の向上を図った半導体集積回路及びその制御方法を提供することができる。実施の形態1本実施の形態にかかる半導体集積回路としてのマルチプロセッサは、スキャンチェーンを有するプロセッサと、プロセッサにアプリケーションを実行させるプロセッサ制御部と、プロセッサのスキャンテストを制御するスキャンテスト制御部と、を有する。マルチプロセッサは、スキャンテスト制御部がスキャンテストを実行している際に、プロセッサ制御部からのスキャンテスト中断要求があった場合、スキャンテストを中断し、アプリケーションの終了後に、スキャンテストを再開する。これにより、本実施の形態にかかる半導体集積回路は、スキャンテストの実行状態に関わらず、アプリケーションを実行できる。従って、アプリケーションの実行効率をより向上させることができる。以下、本実施の形態にかかるマルチプロセッサについて、詳細に説明する。図1は、本実施の形態にかかるマルチプロセッサ1aを示す図である。本実施の形態におけるマルチプロセッサ1aは、自己診断機能を具備する。図1に示すように、マルチプロセッサ1aは、プロセッサ制御部2と、スキャンテスト制御部3と、スキャンテスト実行部4と、メモリ5と、I/O部6と、プロセッサ11a~11n以下、特に区別する必要がないときは、プロセッサ11というとを有する。プロセッサ制御部2と、メモリ5と、I/O部6と、複数のプロセッサ11とは、システムバス7を介して接続されている。そして、プロセッサ制御部2及びスキャンテスト制御部3、スキャンテスト制御部3及びスキャンテスト実行部4は、相互に接続されている。本実施の形態においては、スキャンテスト実行部4は、スキャンテスト制御部3の外部に設けられているが、スキャンテスト制御部3がスキャンテスト実行部4を有するようにしてもよい。各プロセッサ11は、それぞれ、スキャンテストのためのテストデータを入出力するSCANI/F部111を有している。また、各プロセッサ11は、それぞれBUSI/F部112を介してシステムバス7に接続され、例えばn個のプロセッサを有するマルチプロセッサ1aを構成している。各プロセッサ11は、所望のタイミングで、順次、スキャンテスト実行部4によりスキャンテストが実施される。プロセッサ制御部2は、アプリケーション制御部21と、動作判定部22と、中断要求部23とを有する。アプリケーション制御部21は、システムバス7を介して各プロセッサ11に接続され、各プロセッサ11がアプリケーションを実行する際に、当該アプリケーションの実行を制御する。動作判定部22は、後述する管理情報保持部32が有する、プロセッサ11がスキャンテスト実行中であるか否か、又はスキャンテストの結果が正常であったか否かを示す管理情報に基づき、プロセッサがスキャンテストを実行中の場合、当該スキャンテストを継続するか、それとも中断するかを判定し、後述するスキャンテスト実行制御部31に出力する。動作判定部22は、例えばアプリケーション制御部21がプロセッサ11にアプリケーションを実行させる際に、複数のプロセッサ11のうちいずれかのプロセッサ11がスキャンテスト実行中であった場合、複数のプロセッサ11全てのスキャンテストを中断するようにしてもよい。また後述するように、例えばアプリケーション制御部21のアプリケーション実行に合わせて、複数のプロセッサ11のうち、スキャンテストを中断するプロセッサの数を判定するようにしてもよい。中断要求部23は、動作判定部22の判定に基づき、スキャンテスト実行制御部31に、スキャンテストの中断を要求する。なお、本実施の形態においては、中断要求部23を設けているが、中断要求部を設けず、動作判定部22から直接中断要求をスキャンテスト実行制御部31に出力するようにしてもよい。スキャンテスト制御部3は、スキャンテスト実行制御部31と、管理情報保持部32と、パターン番号記憶部33とを有する。スキャンテスト実行制御部31は、中断要求部23の要求に基づき、スキャンテスト実行部4における、スキャンテストの開始、中断、及び再開を制御する。管理情報保持部32は、プロセッサ11がスキャンテスト実行中であるか否か、又はスキャンテストの結果が正常であったか否かを示す管理情報を保持する。図2は、管理情報保持部32で保持する情報を示す表である。図2には、プロセッサ番号PE:processorelementと、このプロセッサ番号のプロセッサがアプリケーション実行中か否かを示すアプリ実行情報とが、プロセッサの数だけ記載されている。プロセッサ番号とは、各プロセッサを識別するための識別番号であり、例えば、プロセッサ11aはプロセッサ番号1、プロセッサ11bはプロセッサ番号2のように識別番号を付されている。図2ではプロセッサ番号3のプロセッサがアプリケーションを実行していることを示している。図3は、管理情報保持部32が管理する情報を示す表である。プロセッサ番号と、診断中に1となる診断実施状態情報と、診断時に異常がある場合に1となる異常状態の有無を示す異常状態情報とがそれぞれのプロセッサの数だけ記載されている。ここでは、プロセッサ番号2のプロセッサが故障診断中であり、プロセッサ番号3のプロセッサに異常があったことを示している。パターン番号記憶部33は、スキャンテストが中断された際のパターン番号である中断パターン番号を記録する。ここで、パターン番号について説明する。スキャンテストは、スキャンチェーンへのシフトデータ入力スキャンインとキャプチャ動作とスキャンチェーンからのシフトデータ出力スキャンアウトとを1つの連続動作とし、複数の連続動作をくりかえすことにより、回路の異常を検出する。本実施の形態においては、この連続動作のうち、シフトデータ入力における入力値及びシフトデータ出力における出力値の期待値の組を1つのパターンとし、これに識別番号以下、パターン番号という。を付す。かかるパターン番号は、スキャンテスト実施前に予め、パターン番号記憶部33に格納される。ここで、1つのパターンを構成する入力値及び出力値に含まれる各データの数は、例えばスキャンチェーンの個数とすることができる。なお、このデータ数はスキャンチェーンの個数に限らず、所定の個数であればよい。また。各パターンにおけるデータ数が異なっていてもよい。図4は、パターン番号記憶部33に格納する情報を示す表である。図4に示すように、プロセッサ番号と、スキャンテストが中断された際のパターン番号である中断パターン番号が、それぞれのプロセッサ毎に記憶されている。すなわち、次に診断開始される際のパターン番号が、プロセッサ番号毎に記憶されている。ここでは、プロセッサ番号1のプロセッサでは、中断パターン番号が1512であり、プロセッサ番号2のプロセッサでは、中断パターン番号が12390であり、プロセッサ番号3のプロセッサでは、中断パターン番号が1であり、プロセッサ番号4のプロセッサでは、中断パターン番号が4950であることを示している。メモリ5は、システムバス7を介して各プロセッサ11とアプリケーション制御部21と接続される。I/O部6は、システムバス7を介して各プロセッサ11とアプリケーション制御部21とメモリ5と接続される。スキャンテスト実行部4は、テストデータ記憶部41を有する。ここで、本実施の形態では、スキャンテスト実行部4はテストデータ記憶部41を有し、テストデータをテストデータ記憶部41から読み出しているが、テストデータは外部から入力するようにしてもよい。スキャンテスト実行部4は、各プロセッサ11のSCANI/F部111、121及び131を介して相互に接続され、各プロセッサ11に対してMUXSCANを使った故障診断を実行する。スキャンテスト実行部4は、スキャンチェーンに、テストデータ記憶部41から読み出した入力値であるドライブ値を入力し、当該入力値に応じて実際にスキャンチェーンから出力された応答値を、記憶部から読み出した出力の期待値と比較することによりスキャンテストを実行する。本実施の形態においては、テストデータ記憶部41は、上述したようにスキャンチェーンに入力される入力値及び当該入力値に応じた出力の期待値の組み合わせをパターンとし、当該パターン毎にパターン番号を付与した、複数のパターンからなるテストデータを記憶する。スキャンテスト実行部4は、スキャンテストを再開する際に、パターン番号記憶部33の記憶したパターン番号に基づき、テストデータ記憶部41から、テストデータを読み出してスキャンテストを再開する。これにより、本実施の形態にかかるマルチプロセッサ1aのスキャンテスト実行部4は、MUXSCANテスト技術を使って、プロセッサの故障診断を実行している際に、スキャンテストを中断した場合、パターン番号記憶部33にパターン番号を格納することができる。そして、スキャンを再開する際は、パターン番号記憶部33の有するパターン番号に基づいてテストデータ記憶部41からテストデータを読み出すため、スキャンテストを中断したパターンから再開することができる。さらに、本実施の形態では、スキャンテストの実施中でも、アプリケーション実行の要求がある場合にはスキャンを中断し、アプリケーションを実行することができる。これにより、アプリケーションを停止させることなく、効率よく実行できる。また、従来は、スキャンテストを実行していないプロセッサのみ、アプリケーションに使用することができたが、本実施の形態においては、スキャンテスト中か否かに関わらず、アプリケーションを実行することができる。従って、アプリケーションを実行するプロセッサの数や、アプリケーションを実行するプロセッサを自由に決定することができ、アプリケーションの実行の自由度が増すという効果を奏する。次に、本実施の形態かかるマルチプロセッサ1aの動作について説明する。図5は、各構成要素のブロック間の信号を示す図である。まず、スキャンテストを開始の際の動作を説明する。スキャンテスト実行制御部31は、PE診断開始要求信号C1を動作判定部22に入力する。PE診断開始要求信号C1は、スキャンテスト実行制御部31がスキャンテスト開始を動作判定部22に要求する信号である。次に動作判定部22は、PE診断許可信号C2をスキャンテスト実行制御部31に入力する。PE診断許可信号C2は、動作判定部22がスキャンテストプロセッサ診断をスキャンテスト実行制御部31に許可する信号である。スキャンテスト実行制御部31は、SCAN開始命令信号C3を、スキャンテスト実行部4と管理情報保持部32とに入力する。SCAN開始命令信号C3は、SCAN実行開始を開始する信号である。これにより、スキャンテストが開始され、また、管理情報保持部32の保持する管理情報が更新される。次に、スキャンテストの実行中に、アプリケーション実行を開始する場合について説明する。中断要求部23は、診断中断命令信号C4をスキャンテスト実行制御部31に入力する。診断中断命令信号C4は、中断要求部23がスキャンテストの中断をスキャンテスト実行制御部31に要求する信号である。スキャンテスト実行制御部31は、SCAN停止命令信号C5をスキャンテスト実行部4と管理情報保持部32とに入力する。SCAN停止命令信号C5は、スキャンテスト実行制御部31が、スキャンテスト実行部4にスキャンテスト実行を停止させる信号である。これにより、各プロセッサのスキャンテストが停止され、管理情報保持部32の保持する管理情報が更新される。管理情報が更新されると、管理情報保持部32は、PE診断状態情報信号C6を、動作判定部22に入力する。PE診断状態情報信号C6は、各プロセッサ11が診断中か否かを示す信号である。スキャンテストが終了すると、スキャンテスト実行部4は、SCAN実行結果信号C11を管理情報保持部32とスキャンテスト実行制御部31とに入力する。SCAN実行結果信号C11は、各プロセッサ11のSCAN実行結果が正常であるか又は異常であるかPASS/FAILを示す信号である。管理情報保持部32は、スキャンテスト実行部4からSCAN実行結果信号C11を受け取ると、PE正常異常情報信号C12を動作判定部22に入力する。SCAN実行結果信号C11は、各プロセッサ11が正常か異常かの状態を示す情報を有する信号である。外部からのアプリケーション開始の指示に基づき、アプリケーション制御部21は、アプリケーション実行に必要なプロセッサ数を算出し、アプリ必要PE数情報信号C9を動作判定部22に入力する。アプリ必要PE数情報信号C9は、アプリケーションを実行するために必要なプロセッサの数を指定する信号である。動作判定部22は、管理情報保持部32から受け取った管理情報に基づき、アプリ使用許可PE番号情報信号C10をアプリケーション制御部21に入力する。アプリ使用許可PE番号情報信号C10は、アプリケーションを実行可能なプロセッサの識別番号情報を有する信号である。中断要求部23は、アプリケーション制御部21の判断に基づき、診断中断命令信号C4をスキャンテスト実行制御部31に入力する。診断中断命令信号C4は、中断要求部23がスキャンテストの中断をスキャンテスト実行制御部31に要求する信号である。次に、スキャンテストが再開される場合について説明する。スキャンテストが中断される際、スキャンテスト実行部4は、SCAN実行中パターン番号信号C8をパターン番号記憶部33に入力する。SCAN実行中パターン番号信号C8は、SCAN実行中のパターン番号を示す信号である。そして、スキャンテストが再開される際は、パターン番号記憶部33から、SCAN実行開始パターン番号信号C7がスキャンテスト実行部4に入力される。SCAN実行開始パターン番号信号C7は、SCAN実行開始時のパターン番号を示す信号である。これにより、中断時のスキャンパターンに基づいて、スキャンテストを再開することができる。次に、スキャンテストの開始、中断、及び再開について更に説明する。図6は、スキャンテスト開始、中断及び再開の動作を示すタイミングチャートである。まず、タイミングT0において、スキャンテスト実行制御部31はPE診断開始要求信号C1により動作判定部22にプロセッサ診断開始要求を発行する。次に、タイミングT1において、動作判定部22は、PE診断許可信号C2によりスキャンテスト実行制御部31に診断許可を発行する。次に、タイミングT2において、SCAN開始命令信号C3によりスキャンテスト実行制御部31からスキャンテスト実行部4と管理情報保持部32へSCAN実行開始命令を発行する。次に、タイミングT3において、スキャンテスト実行制御部31からのSCAN開始命令信号C3により、スキャンテスト実行部4がSCANテスト実行を開始する。同時に、SCAN開始命令信号C3により管理情報保持部32の有する管理情報が更新され、管理情報保持部32は、PE診断状態情報信号C6を診断中にする。スキャンテスト実行部4は、SCAN実行開始パターン番号信号C7が示すパターン番号2082よりMUXSCANテスト実行を開始する。次に、タイミングT4において、アプリケーション実行要求が発生し、中断要求部23から診断中断命令信号C4が、スキャンテスト実行制御部31に出力される。次に、タイミングT5において、スキャンテスト実行制御部31から、スキャンテスト実行部4と管理情報保持部32とに、SCAN停止命令信号C5が出力される。これとほぼ同時に、スキャンテスト実行制御部31から動作判定部22へ、診断開始要求であるPE診断開始要求信号C1が発行される。タイミングT6において、SCAN実行を中断し、PE診断状態情報信号C6を通常動作中にする。スキャンテスト実行部4は、パターン番号信号C8としてパターン番号2083を、パターン番号記憶部33へ格納する。アプリケーション実行が終了したタイミングT7において、アプリケーションの実行が終了したプロセッサに対し、動作判定部22からPE診断許可信号C2によりスキャンテスト実行制御部31へ診断許可が発行される。次に、タイミングT8サイクルにおいて、SCAN開始命令信号C3によりスキャンテスト実行制御部31からスキャンテスト実行部4と管理情報保持部32へSCAN実行開始命令を発行する。タイミングT9において、スキャンテスト実行を再開する。その際、管理情報保持部32はPE診断状態情報信号C6を診断中にする。スキャンテスト実行部4は、SCANテスト実行再開時には、パターン番号記憶部33からのSCAN実行開始パターン番号信号C7が示すパターン番号2083からSCANテスト実行を再開する。そのため、アプリケーションを停止させることなく、かつ高故障検出率の自己診断を効率よく実行できる。次に、スキャン開始から終了までの動作について説明する。図7は、スキャンテスト制御部3の自己診断開始から終了までの動作を示す制御フローチャートである。まず、スキャンテスト実行制御部31は、動作判定部22へ診断対象のプロセッサの診断要求を、PE診断開始要求信号C1により発行するステップS101。次に、動作判定部22は、図2に示すアプリ実行情報より各プロセッサがアプリケーション実行中か否かを判断ステップS102し、プロセッサがアプリケーション実行中で診断可能でない場合はステップS102を繰り返して診断可能になるまで待つ。プロセッサがアプリ未実行の場合は診断許可をPE診断許可信号C2によりスキャンテスト実行制御部31へ返すステップS103。次に、スキャンテスト実行制御部31は、SCAN開始命令信号C3により管理情報保持部32とスキャンテスト実行部4へSCAN実行開始命令を発行するステップS104。次に、管理情報保持部32は、図3に示す診断実施情報を、診断中を示す1に変更するステップS105。スキャンテスト実行部4は、パターン番号記憶部33に格納されたパターン番号からMUXSCANテスト実行をスタートして診断を開始し、プロセッサに対してMUXSCANテストを実行している最中は、BUSI/F部のシステムバスへの出力をインアクティブに固定するステップS106。次に、スキャンテスト実行部4は、診断対象プロセッサのSCANテストを実行ステップS107して、テスト結果の判定ステップS108し、テスト結果が異常ありFAILであればステップS112に進み、テスト結果が異常なしPASSであればステップS109に進む。ステップS108においてテスト結果が異常なしPASSであった場合、前記診断対象プロセッサのSCANテストが最終パターンかを判断しステップS109、最終パターンであればステップS110に進み、最終パターンでなければステップS107に戻り、テストを繰り返す。ステップS109において、最終パターンまでPASSすると、SCAN実行結果信号C11により、スキャンテスト実行制御部31と管理情報保持部32へプロセッサの診断がPASS終了したことを伝達するステップS110。管理情報保持部32は、図3に示すプロセッサの診断実施情報を通常動作中を示す0へ変更し、プロセッサ故障診断を終了するステップS111。ステップS108においてテスト結果が異常ありFAILであった場合、スキャンテスト実行部4は、スキャンテストを終了して、管理情報保持部32とスキャンテスト実行制御部31へSCAN実行結果信号C11によりFAILしたことを伝達するステップS112。FAILであった場合、管理情報保持部32は、図3に示すプロセッサの異常状態情報を、異常を示す1に変更してプロセッサ故障診断を終了するステップS113。次に、スキャンテストを診断する場合について説明する。図8は、スキャンテストを中断する際の制御フローチャートである。中断要求部23は、診断中断命令信号C4によりスキャンテスト実行制御部31へ診断中断命令を発行するステップS201。スキャンテスト実行制御部31は、SCAN停止命令信号C5によりスキャンテスト実行部4と管理情報保持部32に診断停止の命令を発行し、SCAN実行を中断するステップS202。管理情報保持部32は、図3に示すプロセッサ状態情報の診断実施中情報を通常動作中を示す0へ変更するステップS203。パターン番号記憶部33は、診断中断時のSCAN実行中パターン番号信号C8が示すパターン番号を図4に示す診断開始パターン番号情報に格納するステップS204。スキャンテスト実行制御部31は、PE診断開始要求信号C1により動作判定部22へ診断開始要求を発行するステップS205。スキャンテスト実行制御部31は、アプリケーション実行が終了して診断対象のプロセッサが診断可能かを判断ステップS206し、診断対象のプロセッサのアプリケーションが終了したらステップS207に進み、診断対象のプロセッサが空いていない場合はステップS206を繰り返し実行して診断可能かを判断し、アプリケーションが終了するまで診断を中断して待つ。スキャンテスト実行制御部31は、PE診断許可信号C2によりプロセッサの診断が許可された後に、SCAN開始命令信号C3により管理情報保持部32とスキャンテスト実行部4へSCAN実行開始命令を発行し診断を再開するステップS207。管理情報保持部32は、図3に示すプロセッサ状態情報の診断実施中情報を、診断中を示す1へ変更する。スキャンテスト実行部4は、パターン番号記憶部33に格納されたパターン番号よりパターン実行を開始する。次に、アプリケーション実行中に、アプリケーションを実行するプロセッサが不足した場合について説明する。図9は、プロセッサ制御部2のアプリケーション開始する際の制御フローチャートである。この場合、アプリケーション制御部21は、アプリ必要PE数情報信号C9により動作判定部22へアプリケーション実行に必要なプロセッサ数情報を伝達するステップS501。動作判定部22は、PE診断状態情報信号C6とPE正常異常情報信号C12により、正常かつ診断中ではないプロセッサを把握しアプリケーション実行に必要なプロセッサ数が足りているか判定ステップS502する。アプリケーション実行に必要なプロセッサ数が足りている場合はステップS505に進み、アプリケーション実行に必要なプロセッサ数が足りない場合は、ステップS503に進む。動作判定部22は、アプリケーション実行に必要なプロセッサ数が不足している場合は、診断中断命令信号C4によりスキャンテスト実行制御部31へ診断中断命令を発行するステップS503。動作判定部22は、PE診断状態情報信号C6により診断が中断されてアプリケーション実行に必要なプロセッサ数が足りる状態になったか否か判定をしステップS504し、プロセッサ数が足りた時点でステップS505へ進み、実行に必要なプロセッサ数が足りない場合はステップS504を繰り返し実行する。動作判定部22は、アプリケーション実行に必要なプロセッサ数が足りている場合は、アプリ使用許可PE番号情報信号C10によりアプリケーション制御部21へアプリケーション実行に使用可能なプロセッサの識別番号を伝達するステップS505。アプリケーション制御部21は、アプリケーション実行を開始するステップS506。アプリケーション制御部21は、アプリケーション実行が終了した後にアプリ必要PE数情報信号C9のプロセッサ必要数情報を変更して、アプリケーション実行に不要となった分のプロセッサ数をアプリ必要PE数情報信号C9から差し引くステップS507。動作判定部22は、アプリ必要PE数情報信号C9によりアプリケーション実行が終了したことを判断し、PE診断開始要求信号C1により診断開始が要求されているプロセッサの診断許可を、PE診断許可信号C2によりスキャンテスト実行制御部31へ返すステップS508。本実施の形態においては、アプリケーションの実行に合わせてスキャンテストの中断及び再開をすることができるため、より効率よくアプリケーションを実行することができる。実施の形態2次に、本発明の本実施の形態2にかかるマルチプロセッサについて説明する。実施の形態1と同一の構成である場合には、同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。図10は、実施の形態2にかかるマルチプロセッサ1bを示す図である。実施の形態1と異なる点は、本実施の形態においては、中断要求部23から、スキャンテスト制御部3に、さらに中断要求PE数情報信号C13を入力する点である。中断要求PE数情報信号C13は、中断要求部23からスキャンテスト実行制御部31へ診断中断が必要なプロセッサ数を知らせるための情報である。本実施の形態においては、動作判定部22は、スキャンテストを中断するか否かを判定するのみでなく、アプリケーション制御部21が算出したアプリケーションに必要なプロセッサ11の数と、管理情報とに基づき、スキャンテストを中断してアプリケーションを実行させるプロセッサの数を判定する。中断要求部23は、動作判定部22の判定結果に基づき、スキャンテスト実行制御部31に、スキャンテストの中断をするプロセッサの数を出力する。スキャンテスト実行制御部31は、中断要求部23から受け取った、スキャンテストを中断するプロセッサ数に基づいて、スキャンテストを中断させる。これにより、アプリケーションとスキャンテストとが同時に行われることになり、プロセッサをより効率よく動作させることができる。なお、本実施の形態では動作判定部22がスキャンテストを中断するプロセッサの数を判定しているが、例えばアプリケーション制御部21からの情報と、管理情報とに基づいて、中断要求部23がスキャンテストを中断させるプロセッサ数を判断し、スキャンテスト実行制御部31に出力するようにしてもよい。また、本実施の形態においては、中断要求部23を設けているが、中断要求部を設けず、動作判定部22から直接中断要求をスキャンテスト実行制御部31に出力するようにしてもよい。次に、本実施の形態にかかるマルチプロセッサ1bの動作の流れを説明する。図11は、本実施の形態を示すフローチャートである。図11に示すマルチプロセッサ1bの動作において、図8に示す実施の形態1におけるプロセッサの動作とは、中断が必要なプロセッサ11を伝達するステップS301と、選択されたプロセッサの診断を中断するステップS302を有する点が異なる。他のステップは図8に示す実施の形態1と同じであるためその詳細な説明を省略する。中断要求部23は、診断中断命令信号C4によりスキャンテスト実行制御部31へ診断中断命令を発行するステップS201。中断要求部23は、中断要求時に中断要求PE数情報信号C13によりスキャンテスト実行制御部31へ中断が必要なプロセッサ数の情報を伝達するステップS301。スキャンテスト実行制御部31は、中断要求PE数情報信号C13により要求された数のプロセッサの診断を中断するステップS302。本実施の形態においては、中断要求PE数情報信号C13により、診断中断が必要な数のプロセッサのみ診断を中断することができるため、故障診断をより効率的に実行できる。また、本実施の形態においては、一部のプロセッサにおいてスキャンテストを実行中に、残りのプロセッサにおいてアプリケーションを実行する。これにより、アプリケーション実行のためのプロセッサが不足した場合には、スキャンテストを実行しているプロセッサのスキャンテストを中断して、アプリケーションを実行させることができる。実施の形態3次に、本実施の形態3にかかるマルチプロセッサについて説明する。なお、実施の形態1および実施の形態2と同一の構成である場合には、同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。本実施の形態にかかるマルチプロセッサ1cは、図5に示す実施の形態1および図10に示す実施の形態2にかかるマルチプロセッサ1とは異なり、スキャンテストが終了したパターン数をカウントする診断進捗情報格納部8を更に有する。本実施の形態にかかるマルチプロセッサ1cについて更に説明する。図12は、本実施の形態を示す図である。図12に示す本実施の形態におけるマルチプロセッサ1cは、上述したように診断進捗情報格納部8を更に有し、中断要求部23からスキャンテスト制御部3に中断要求PE数情報信号C13を入力し、診断進捗情報格納部8からスキャンテスト制御部3に実行済みパターン数情報信号C14を入力する。中断要求PE数情報信号C13は、スキャンテストを中断するプロセッサ数を示す信号である。パターン数情報信号C14は、スキャンテストが終了したパターン数を示す信号である。本実施の形態においては、スキャンテスト実行制御部31は、中断要求PE数情報信号C13と、終了パターン数情報信号C14とに基づき、終了パターン数のより多いプロセッサから順に、中断要求されたプロセッサの数分の、プロセッサ11のスキャンテストを中断させる。診断進捗情報格納部8は、診断中の実行済みパターン数情報信号C14に基づき、スキャンテスト実行制御部31へ診断中のパターンの実行済みパターン数を入力する。診断開始時には、スキャンテスト実行制御部31は、SCAN開始命令信号C3により診断進捗情報格納部8へ診断開始を入力する。SCAN停止時には、スキャンテスト実行制御部31は、SCAN停止命令信号C5により診断進捗情報格納部8へ診断停止を入力する。診断進捗情報格納部8は、実行済みのパターン数を格納している。図13は診断時の実行済みパターン数情報を示す図である。診断進捗情報格納部8は、SCAN実行中パターン番号信号C8の値のカウントアップにより、実行済みパターン数をカウントする。図13は、実施の形態3を構成するPE診断進捗情報格納部で保持する情報を示す表であり、プロセッサ番号と、診断時の実行済みパターン数情報が、プロセッサ毎に記載されたものである。ここでは、プロセッサ11bは、終了済みのスキャンパターン数が200であり、プロセッサ11nは、終了済みスキャンパターン数が1000であることを示している。次に、本実施の形態にかかるマルチプロセッサ1cの動作についてさらに詳細に説明する。図14は、マルチプロセッサ1cの動作を示すフローチャートである。図11に示す実施の形態2におけるマルチプロセッサ1bの動作と異なる点は、本実施の形態におけるプロセッサ1cは、スキャンテスト実行制御部31がスキャンテストを中断するプロセッサを選択するステップS401を有する点である。他のステップの動作は図11に示す実施の形態2と同じであるためステップS401以外の詳細な説明は省略する。中断要求部23は、診断中断命令信号C4によりスキャンテスト実行制御部31へ診断中断命令を発行するステップS201。中断要求部23は、中断要求時に中断要求PE数情報信号C13によりスキャンテスト実行制御部31へ中断が必要なプロセッサ数の情報を伝達するステップS301。スキャンテスト実行制御部31は、診断中の実行済みパターン数情報信号C14の値が多いプロセッサから順に診断を中断するプロセッサとして選択するステップS401。スキャンテスト実行制御部31は、中断要求PE数情報信号C13により要求された数のプロセッサの診断を中断するステップS302。本実施の形態においては、マルチプロセッサ1cは、故障診断において故障診断の実行済みパターン数が多いプロセッサと少ないプロセッサがあった場合に、故障診断の実行パターン数が少ないプロセッサを中断する場合があり、特定のプロセッサに診断の偏りが発生した場合に、故障診断の実行パターン数が多いプロセッサより診断を中断することにより、各プロセッサの故障診断を平均化することができるという効果を奏する。なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上述の実施の形態では、ハードウェアの構成として説明したが、これに限定されるものではなく、上述したように、スキャンテストを中断させ、アプリケーション実行後にスキャンテストを再開させる処理を、CPUCentralProcessingUnitにコンピュータプログラムを実行させることにより実現することも可能である。この場合、コンピュータプログラムは、様々なタイプの非一時的なコンピュータ可読媒体nontransitorycomputerreadablemediumを用いて格納され、コンピュータに供給することができる。非一時的なコンピュータ可読媒体は、様々なタイプの実体のある記録媒体tangiblestoragemediumを含む。非一時的なコンピュータ可読媒体の例は、磁気記録媒体例えばフレキシブルディスク、磁気テープ、ハードディスクドライブ、光磁気記録媒体例えば光磁気ディスク、CD-ROMReadOnlyMemory、CD-R、CD-R/W、半導体メモリ例えば、マスクROM、PROMProgrammableROM、EPROMErasablePROM、フラッシュROM、RAMrandomaccessmemoryを含む。また、プログラムは、様々なタイプの一時的なコンピュータ可読媒体transitorycomputerreadablemediumによってコンピュータに供給されてもよい。一時的なコンピュータ可読媒体の例は、電気信号、光信号、及び電磁波を含む。一時的なコンピュータ可読媒体は、電線及び光ファイバ等の有線通信路、又は無線通信路を介して、プログラムをコンピュータに供給できる。付記1スキャンチェーンを有するプロセッサと、前記プロセッサにアプリケーションを実行させるプロセッサ制御部と、前記プロセッサのスキャンテストを制御するスキャンテスト制御部と、を有し、前記スキャンテスト制御部は、前記プロセッサのスキャンテストを実行している際に、前記プロセッサ制御部からのスキャンテスト中断要求があった場合、当該プロセッサのスキャンテストを中断し、アプリケーションの実行後に、スキャンテストを再開させる半導体集積回路。付記2前記スキャンテスト制御部は、スキャンチェーンに入力される入力値及び当該入力値に応じた出力の期待値の組み合わせをパターンとし、当該パターン毎にパターン番号を付与した、複数のパターンからなるテストデータを記憶したテストデータ記憶部と、前記スキャンチェーンに、前記テストデータ記憶部から読み出した前記入力値を入力し、当該入力値に応じて前記スキャンチェーンから出力された応答値を、前記記憶部から読み出した前記期待値と比較することによりスキャンテストを実行するスキャンテスト実行部と、前記スキャンテスト実行部における、スキャンテストの開始、中断、及び再開を制御するスキャンテスト実行制御部と、スキャンテストが中断された際の前記パターン番号である中断パターン番号を記録するパターン番号記憶部と、を有し、前記スキャンテスト実行部は、スキャンテストを再開する際に、前記パターン番号記憶部の記憶した前記中断パターン番号に基づき、前記テストデータ記憶部から、テストデータを読み出してスキャンテストを再開する付記1に記載の半導体集積回路。付記3前記半導体集積回路は、複数の前記プロセッサを有するものであって、前記スキャンテスト制御部は、前記プロセッサがスキャンテスト実行中であるか否かの情報及びスキャンテストの結果が正常であったか否かを示す管理情報を保持する管理情報保持部を更に有し、前記プロセッサ制御部は、複数の前記プロセッサが前記アプリケーションを実行する際に、当該アプリケーションの実行を制御するアプリケーション制御部と、前記管理情報保持部が有する管理情報に基づき、複数の前記プロセッサがスキャンテストの実行中であるか否か判定する動作判定部と、を有し、前記スキャンテスト実行制御部は、前記動作判定部の判定結果に基づき、スキャンテストの中断を決定する付記2記載の半導体集積回路。付記4前記アプリケーション制御部は、アプリケーションの実行に必要なプロセッサの数を算出し、前記動作判定部は、前記アプリケーション制御部が算出したプロセッサ数及び前記管理情報に基づき、スキャンテスト実行中のプロセッサのうち、スキャンテストを中断させるプロセッサの数を判定し、前記スキャンテスト実行制御部は、前記管理情報及び前記動作判定部からのプロセッサ数に基づき、所定のプロセッサのスキャンテストを中断する付記3記載の半導体集積回路。付記5スキャンテストが終了した前記パターン数をカウントする診断進捗情報格納部を更に有し、診断進捗情報格納部は、管理情報として、更に、前記終了パターン数を保持し、前記スキャンテスト実行制御部は、前記終了パターン数に基づき、前記プロセッサにスキャンテストを中断させる付記4記載の半導体集積回路。付記6前記スキャンテスト実行制御部は、複数の前記プロセッサのうち、前記終了パターン数のより多い前記プロセッサから順に、スキャンテストを中断させる付記5記載の半導体集積回路。付記7スキャンチェーンを有するプロセッサがスキャンテストを実行している際に、アプリケーション実行のためにスキャンテスト中断要求があった場合、スキャンテストを中断させ、アプリケーション実行後にスキャンテストを再開させる半導体集積回路の制御方法。付記8スキャンチェーンに入力される入力値及び当該入力値に応じた出力の期待値の組み合わせをパターンとし、当該パターン毎にパターン番号を付与した、複数のパターンからなるテストデータをテストデータ記憶部に記憶させ、前記スキャンチェーンに前記テストデータ記憶部から読み出したテストデータを入力し、当該入力値に応じてスキャンチェーンから出力された応答値を、前記期待値と比較することによりスキャンテストを実行し、スキャンテストが中断された際の前記パターン番号である中断パターン番号をパターン番号記憶部に記録し、スキャンテストを再開する際には、前記パターン番号記憶部が記憶した前記中断パターン番号に基づき前記テストデータ記憶部から前記テストデータを読み出してスキャンテストを再開させる付記7の半導体集積回路の制御方法。付記9前記プロセッサがアプリケーションを実行しようとする際、複数の前記プロセッサがスキャンテスト実行中であるか否か、又はスキャンテストの結果が正常であったか否かを示す管理情報を保持し、前記管理情報に基づき、複数の前記プロセッサがスキャンテスト実行中であるか否か判定し、前記判定結果に基づき、スキャンテストを中断する付記8記載の半導体集積回路の制御方法。付記10アプリケーションの実行に必要なプロセッサの数を算出し、前記プロセッサを判定する際、前記アプリケーションに必要なプロセッサ数及び前記管理情報に基づき、スキャンテストを中断してアプリケーションを実行させるプロセッサの数を判定し、前記管理情報と、スキャンテストを中断させるプロセッサの数とに基づき、前記プロセッサに対してスキャンテストを中断させる付記9記載の半導体集積回路の制御方法。付記11スキャンテストが終了した前記パターン数をカウントし、前記管理情報として、更に、前記終了パターン数を保持し、前記管理情報及び前記スキャンテストを中断させるプロセッサ数に基づき、前記プロセッサにスキャンテストを中断させる付記10記載の半導体集積回路の制御方法。付記12前記スキャンテストを中断させるプロセッサを決定する際、複数の前記プロセッサのうち、前記終了パターン数のより多い前記プロセッサから順に、スキャンテストを中断させる付記11記載の半導体集積回路の制御方法。付記13スキャンチェーンを有するプロセッサがスキャンテストを実行している際に、アプリケーション実行のためにスキャンテスト中断要求があった場合、スキャンテストを中断させ、アプリケーション実行後にスキャンテストを再開させる処理をコンピュータに実行させるためのプログラム。