"入力した交流信号の瞬時値を予め決められたサンプリング周期で取得するサンプリング処理を実行するサンプリング部と、前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値に基づいて前記交流信号の波形を表す第1補間式を特定すると共に、測定対象として規定した前記交流信号における一部の区間の時間長を予め決められた数に分割した各分割区間の先端の時点における前記瞬時値を前記第1補間式から算出する補間処理を行う処理部と、前記補間処理によって算出された前記瞬時値を用いて前記交流信号についての測定を行う測定部とを備えた測定装置であって、前記処理部は、前記交流信号のゼロクロスの前後における前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値に基づいて第2補間式を特定すると共に、前記ゼロクロスの時点を前記第2補間式から算出して、当該ゼロクロスの時点によって区分される前記交流信号の周期の1または複数分の区間を前記測定対象として規定する測定装置。前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値の中から前記サンプリング周期よりも長い間引き周期毎に1つの瞬時値を抽出して出力する間引き処理を実行する間引き処理部を備え、前記処理部は、前記間引き処理によって出力された前記瞬時値に基づいて前記第1補間式を特定する請求項1記載の測定装置。前記処理部は、前記間引き処理前の前記瞬時値に基づいて前記第2補間式を特定する請求項2記載の測定装置。前記処理部は、前記交流信号のゼロクロスの直前および直後における前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値に基づいて前記第2補間式としての一次補間式を特定する請求項1から3のいずれかに記載の測定装置。入力した交流信号の瞬時値を予め決められたサンプリング周期で取得するサンプリング処理を実行し、前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値に基づいて前記交流信号の波形を表す第1補間式を特定すると共に、測定対象として規定した前記交流信号における一部の区間の時間長を予め決められた数に分割した各分割区間の先端の時点における前記瞬時値を前記第1補間式から算出する補間処理を行い、前記補間処理によって算出した前記瞬時値を用いて前記交流信号についての測定を行う測定方法であって、前記交流信号のゼロクロスの前後における前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値に基づいて第2補間式を特定すると共に、前記ゼロクロスの時点を前記第2補間式から算出して、当該ゼロクロスの時点によって区分される前記交流信号の周期の1または複数分の区間を前記測定対象として規定する測定方法。ところが、上記した補間処理機能には、改善すべき以下の課題がある。すなわち、上記の補間処理機能では、A/D変換部から出力されるデジタルデータのうちの、交流信号が基準値0の値と交差するゼロクロス例えば、立ち上がりのゼロクロスの時点の前後に出力された2つのデジタルデータのいずれか一方例えば、ゼロクロス直後のデジタルデータの出力時点サンプリング時点を周期の開始時点とし、次の立ち上がりのゼロクロスの時点の前後に出力された2つのデジタルデータのいずれか一方例えば、ゼロクロス直前のデジタルデータの出力時点をその周期の終了時点としている。この場合、このような周期の規定方法では、ゼロクロスの時点と周期の開始時点との間、およびゼロクロスの時点と測定対象の終了時点との間に、合計して最大で1サンプリング周期程度の時間的誤差が生じることがある。つまり、このように規定した周期と、ゼロクロスの時点から次のゼロクロスの時点までの時間長で規定される本来の周期との間に誤差が生じることがある。このような誤差が生じているときには、周期をL個に均等に分割した分割区間の長さと、本来の周期をL個に均等に分割した分割区間の長さとの間にも誤差が生じることとなる。したがって、この補間処理機能には、このような誤差に起因して、補間処理によって補間式からL個の瞬時値を算出する際の算出精度が低下するおそれがあり、この点の改善が望まれている。本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、測定に用いる交流信号の瞬時値を補間処理によって算出する際の算出精度を向上し得る測定装置および測定方法を提供することを主目的とする。上記目的を達成すべく請求項1記載の測定装置は、入力した交流信号の瞬時値を予め決められたサンプリング周期で取得するサンプリング処理を実行するサンプリング部と、前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値に基づいて前記交流信号の波形を表す第1補間式を特定すると共に、測定対象として規定した前記交流信号における一部の区間の時間長を予め決められた数に分割した各分割区間の先端の時点における前記瞬時値を前記第1補間式から算出する補間処理を行う処理部と、前記補間処理によって算出された前記瞬時値を用いて前記交流信号についての測定を行う測定部とを備えた測定装置であって、前記処理部は、前記交流信号のゼロクロスの前後における前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値に基づいて第2補間式を特定すると共に、前記ゼロクロスの時点を前記第2補間式から算出して、当該ゼロクロスの時点によって区分される前記交流信号の周期の1または複数分の区間を前記測定対象として規定する。また、請求項2記載の測定装置は、請求項1記載の測定装置において、前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値の中から前記サンプリング周期よりも長い間引き周期毎に1つの瞬時値を抽出して出力する間引き処理を実行する間引き処理部を備え、前記処理部は、前記間引き処理によって出力された前記瞬時値に基づいて前記第1補間式を特定する。また、請求項3記載の測定装置は、請求項2記載の測定装置において、前記処理部は、前記間引き処理前の前記瞬時値に基づいて前記第2補間式を特定する。また、請求項4記載の測定装置は、請求項1から3のいずれかに記載の測定装置において、前記処理部は、前記交流信号のゼロクロスの直前および直後における前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値に基づいて前記第2補間式としての一次補間式を特定する。また、請求項5記載の測定方法は、入力した交流信号の瞬時値を予め決められたサンプリング周期で取得するサンプリング処理を実行し、前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値に基づいて前記交流信号の波形を表す第1補間式を特定すると共に、測定対象として規定した前記交流信号における一部の区間の時間長を予め決められた数に分割した各分割区間の先端の時点における前記瞬時値を前記第1補間式から算出する補間処理を行い、前記補間処理によって算出した前記瞬時値を用いて前記交流信号についての測定を行う測定方法であって、前記交流信号のゼロクロスの前後における前記サンプリング処理によって取得された前記瞬時値に基づいて第2補間式を特定すると共に、前記ゼロクロスの時点を前記第2補間式から算出して、当該ゼロクロスの時点によって区分される前記交流信号の周期の1または複数分の区間を前記測定対象として規定する。請求項1記載の測定装置、および請求項5記載の測定方法では、交流信号のゼロクロスの前後におけるサンプリング処理によって取得された瞬時値に基づいて第2補間式を特定すると共に、交流信号のゼロクロスの時点を第2補間式から算出する。このため、この測定装置および測定方法では、ゼロクロスの時点によって区分される周期を正確に算出して、その周期の1または複数分の区間を測定対象として規定することができる。したがって、この測定装置および測定方法によれば、測定対象として規定した周期の1つ分の区間を分割した各分割区間の先端の時点を正確に算出することができる結果、各時点を第1補間式に代入して算出する瞬時値の精度を十分に向上させることができる。請求項2記載の測定装置では、サンプリング処理によって取得された瞬時値の中からサンプリング周期よりも長い間引き周期毎に1つの瞬時値を抽出して出力する間引き処理を実行し、間引き処理によって出力された瞬時値に基づいて第1補間式を特定する。このため、この測定装置によれば、第1補間式を特定する際に用いる瞬時値の数を間引き処理によって減らすことができるため、各瞬時値を記憶部に記憶させる際に使用する記憶部内のストレージ領域を節約省容量化させることができる。また、瞬時値の数が減る分、間引き処理部から記憶部への瞬時値の転送時間や、記憶部から処理部への瞬時値の転送時間を短縮することができるため、全体としての処理速度を十分に高速化させることができる。また、例えば、交流信号についての物理量の実効値を測定する際には間引き処理前の瞬時値を用いることで、間引き処理前の瞬時値を用いることによる高精度での実効値の測定と、間引き処理による上記の各効果との両立を実現することができる。また、請求項3記載の測定装置では、間引き処理前の瞬時値に基づいて第2補間式を特定する。このため、この測定装置によれば、簡易な演算で特定が可能な一次補間式を第2補間式として採用したときには、間引き処理後の瞬時値と比較して互いの時間間隔が狭い間引き処理前の瞬時値に基づいて精度の高い第2補間式を特定することができる。また、請求項4記載の測定装置では、交流信号のゼロクロスの直前および直後におけるサンプリング処理によって取得された瞬時値に基づいて第2補間式としての一次補間式直線補間式を特定する。この場合、一次補間式は、二次以上の高次補間式と比較して、その特定を容易に行うことができる。このため、この測定装置によれば、ゼロクロスの時点を算出する処理を高速で行うことができる。以下、測定装置および測定方法の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。最初に、測定装置の一例としての測定装置1の構成について説明する。図1に示す測定装置1は、信号処理部11、サンプリング部12、間引き処理部13、記憶部14、処理部15および測定部16を備え、入力した交流信号S1一例として、図2に示すように、波形が正弦波の交流電圧信号についての物理量例えば、電圧や電力の実効値、並びに交流信号S1に含まれる高調波の次数および振幅などを測定可能に構成されている。また、測定装置1は、入力した交流信号S1の良否を判定可能に構成されている。信号処理部11は、入力した交流信号S1に含まれているノイズ成分を除去する信号処理を実行する。また、信号処理部11は、交流信号S1の周波数測定対象範囲の周波数:例えば、50Hzおよび60Hzにそれぞれ対応付けられて、互いに電気的特性の異なる複数一例として、2つのフィルタ回路図示せずを備えて構成されている。この場合、フィルタ回路は、交流信号S1に含まれている測定対象範囲の周波数よりも高周波の成分および低周波の成分を除去するつまり、測定対象範囲の周波数の成分を抽出するバンドパスフィルタで構成されている。また、信号処理部11は、図外の操作部に対する切り替え操作によってこれら複数のフィルタ回路の中から切り替えられたフィルタ回路によって交流信号S1に対して予め決められた信号処理を実行する。サンプリング部12は、サンプリングクロック生成回路およびサンプリング回路いずれも図示せずを備えて構成されている。サンプリングクロック生成回路は、予め決められたサンプリング周期Ts図3~図5参照のサンプリングクロックを生成する。サンプリング回路は、サンプリングクロックに同期して交流信号S1をサンプリングして交流信号S1の瞬時値Afを取得し、その瞬時値Afを示すデジタルデータサンプリングデータDfを出力するサンプリング処理を実行する。この場合、デジタルデータDfは、測定部16の実効値演算処理回路31によって実行される後述する実効値演算処理において交流信号S1についての物理量例えば、電圧や電力の実効値の測定に用いられる。間引き処理部13は、サンプリング部12が実行するサンプリング処理によって取得された瞬時値Afサンプリング部12から出力されたデジタルデータDfによって示される瞬時値Afの中からサンプリング周期Tsよりも長い一例として、サンプリング周期Tsの5倍の間引き周期Tt毎に1つを抽出して図6参照:以下、抽出した瞬時値Afを瞬時値Asともいう、瞬時値Asを示すデジタルデータDsを出力する間引き処理を実行する。記憶部14は、間引き処理部13から出力されるデジタルデータDsを記憶する。この場合、デジタルデータDsは、処理部15の補間処理回路22によって行われる第1補間式Ffの特定に用いられる。処理部15は、ゼロクロス検出回路21および補間処理回路22を備えて構成されている。ゼロクロス検出回路21は、サンプリング部12から出力されるデジタルデータDfを入力して、各デジタルデータDfによって示される瞬時値Afと予め決められた基準値一例として、0Vの値とを比較することにより、交流信号S1が基準値と交差ゼロクロスしたか否かを検出する。この場合、ゼロクロス検出回路21は、例えば、立ち上がりのゼロクロスを検出したときに、そのゼロクロスの前後2つ本例では、2つのゼロクロスのそれぞれの直前と直後の合計4つの瞬時値Af例えば、図3~図5に示す瞬時値Af1~Af4を示すデジタルデータDfを特定して補間処理回路22に出力する。また、ゼロクロス検出回路21は、立ち上がりのゼロクロスを検出した直後の瞬時値Af図3,4の例では、瞬時値Af2から、次にゼロクロスを検出した直前の瞬時値Af図3,5の例では、瞬時値Af3までの瞬時値Afの数をカウントしてそのカウント値Nを補間処理回路22に出力する。補間処理回路22は、図7に示すように、交流信号S1の一部の区間を測定対象Ujとして規定する。具体的には、補間処理回路22は、図3,4に示すように、ゼロクロス検出回路21から出力されたデジタルデータDfによって示される間引き処理前の瞬時値Af1,Af2に基づいて瞬時値Af1,Af2間の波形を表す第2補間式Fs1を特定すると共に、ゼロクロスの時点図4に示す、ゼロクロス時点Pz1を第2補間式Fs1から算出する。また、補間処理回路22は、図3,5に示すように、ゼロクロス検出回路21から出力されたデジタルデータDfによって示される間引き処理前の瞬時値Af3,Af4に基づいて瞬時値Af3,Af4間の波形を表す第2補間式Fs2を特定すると共に、上記したゼロクロス時点Pz1の次のゼロクロス時点Pz2図5参照を第2補間式Fs2から算出する。また、補間処理回路22は、ゼロクロス時点Pz1,Pz2によって区分される交流信号S1の周期Taを算出して、その周期Taの1つ分1または複数分の一例の区間を測定対象Ujとして規定する。また、補間処理回路22は、間引き処理部13が実行する間引き処理によって出力されるデジタルデータDsによって示される間引き処理後の瞬時値Asに基づき、交流信号S1の波形を表す第1補間式Ffを特定する。また、補間処理回路22は、図8に示すように、測定対象Ujの時間長この例では、周期Taの1つ分の時間長を予め決められた2のべき乗数の数例えば、4096に均等に分割した各分割区間Udの先端開始端の分割時点Tdにおける複数この例では、2のべき乗数としての4096個の瞬時値Atを第1補間式Ffから算出する補間処理を行うと共に、瞬時値Atを示すデジタルデータDtを出力する。この場合、デジタルデータDtは、測定部16によって実行される後述するFFT処理および判定処理において用いられる。なお、発明の理解を容易とするため、図8では、分割区間Udを実際よりも拡大して図示している。また、この測定装置1では、一例として、処理部15のゼロクロス検出回路21がFPGAFieldProgrammableGateArrayで構成され、処理部15の補間処理回路22がCPUで構成されているが、ゼロクロス検出回路21および補間処理回路22を1つのCPUで構成することもできる。測定部16は、実効値演算処理回路31、FFT処理回路32および判定処理回路33を備えて構成されている。実効値演算処理回路31は、サンプリング部12から出力されるデジタルデータDf瞬時値Afを用いて交流信号S1についての物理量例えば、電圧や電力の実効値を測定する実効値演算処理を実行する。FFT処理回路32は、処理部15から出力されるデジタルデータDt補間処理によって算出される瞬時値Atを用いてFFT処理を実行して交流信号S1に含まれている高調波の次数および振幅を測定する。この場合、FFT処理回路32は、測定対象Uj毎この例では、1つの周期Ta毎にFFT処理を実行する。判定処理回路33は、処理部15から出力されるデジタルデータDt補間処理によって算出される瞬時値Atを用いて交流信号S1における測定対象Ujの良否を判定する判定処理を実行する。この判定処理では、判定処理回路33は、測定対象Ujよりも時間的に先一例として、直前に入力した、測定対象Ujと同数の周期分この例では、1つの周期Ta分の交流信号S1を比較対象として規定し、この比較対象における各デジタルデータDtによって示される各瞬時値Atに予め決められた加算値を加算した上限値B、および各瞬時値Atから予め決められた減算値を減算した下限値Cと、測定対象Ujにおける各瞬時値Atとを比較して、その比較結果に基づいて良否を判定する。また、測定部16は、実効値演算処理によって測定された物理量の実効値、FFT処理によって測定された交流信号S1に含まれる高調波の次数および振幅、並びに判定処理よって判定された交流信号S1の測定対象Ujについての良否判定の結果を図外の表示部に表示させる。次に、測定装置1を用いた測定方法、およびその際の測定装置1の動作について図面を参照して説明する。この測定装置1では、図外の操作部に対して測定開始を指示する操作が行われたときに、信号処理部11のフィルタ回路例えば、50Hz用のフィルタ回路が、信号ケーブルを介して入力した交流信号S1のノイズ成分を除去する信号処理を開始して、処理後の交流信号S1をサンプリング部12に出力する。また、サンプリング部12のサンプリングクロック生成回路が、予め決められたサンプリング周期Ts図3参照のサンプリングクロックを生成する。また、サンプリング部12のサンプリング回路が、サンプリング処理を実行し、サンプリングクロックに同期して交流信号S1をサンプリングして、交流信号S1の瞬時値Afを取得すると共に、その瞬時値Afを示すデジタルデータDfを出力する。次いで、間引き処理部13が、間引き処理を実行する。この間引き処理では、間引き処理部13は、図6に示すように、デジタルデータDfによって示される瞬時値Afの中からサンプリング周期Tsの5倍の間引き周期Tt毎に1つを抽出して、抽出した瞬時値Asを示すデジタルデータDsを出力する。また、記憶部14が、間引き処理部13から出力されたデジタルデータDsを記憶する。また、処理部15では、ゼロクロス検出回路21が、サンプリング部12から出力されたデジタルデータDfによって示される瞬時値Afと基準値0Vの値とを比較し、交流信号S1が基準値と交差ゼロクロスしたか否かを検出する。この際に、ゼロクロス検出回路21は、立ち上がりのゼロクロスを検出したときに、ゼロクロスの前後2つの瞬時値Af1,Af2および瞬時値Af3,Af4図3参照を示すデジタルデータDfを特定して補間処理回路22に出力する。また、ゼロクロス検出回路21は、立ち上がりのゼロクロスを2回検出する間に入力したデジタルデータDfの回数具体的には、瞬時値Af2から瞬時値Af3までの瞬時値Afの数をカウントしてカウント値Nを補間処理回路22に出力する。また、補間処理回路22が、図4に示すように、ゼロクロス検出回路21から出力されたデジタルデータDfによって示される瞬時値Af1,Af2に基づいて瞬時値Af1,Af2間の波形を表す第2補間式Fs1一例として、一次補間式直線補間式を特定し、続いて、第2補間式Fs1からゼロクロス時点Pz1を算出する。同様にして、補間処理回路22は、図5に示すように、ゼロクロス検出回路21から出力されたデジタルデータDfによって示される瞬時値Af3,Af4に基づいて瞬時値Af3,Af4間の波形を表す第2補間式Fs2一例として、一次補間式を特定し、次いで、第2補間式Fs2からゼロクロス時点Pz2を算出する。続いて、補間処理回路22は、ゼロクロス時点Pz1,Pz2によって区分される交流信号S1の周期Taを算出し、周期Taの1つ分の区間を測定対象Ujとして規定する。この場合、補間処理回路22は、一例として、周期Taを次のように算出する。まず、ゼロクロス検出回路21から出力されたカウント値N-1とサンプリング周期Tsとを乗算して時間Tc1を算出する。この場合、時間Tc1は、ゼロクロス検出回路21によって立ち上がりのゼロクロスが検出された直後の瞬時値Af図3,4に示す瞬時値Af2から、ゼロクロス検出回路21によって次のゼロクロスが検出された直前の瞬時値Af図3,5に示す瞬時値Af3までの時間に相当する。次いで、補間処理回路22は、ゼロクロス時点Pz1から瞬時値Af2までの時間Tc2図4参照、およびゼロクロス時点Pz2から瞬時値Af4までの時間Tc3図5参照を算出し、時間Tc1に対して、時間Tc2を加算すると共に時間Tc3を加算して周期Taを得るつまり、Ta=N-1×TsTc2Tc3の式から周期Taを算出する。このように、この測定装置1では、立ち上がりのゼロクロス時点Pz1から次の立ち上がりのゼロクロス時点Pz2までの時間に相当する本来の周期が周期Taとして正確に算出される。また、補間処理回路22は、記憶部14に記憶されているデジタルデータDsを読み出して、デジタルデータDsによって示される間引き処理後の瞬時値Asに基づき、交流信号S1の波形を表す第1補間式Ffを特定する。この場合、補間処理回路22は、時間をxとし、瞬時値Asをyとして、yとxとの関係をxの高次多項式で表したラグランジュ補間式二次以上の高次補間式の一例を第1補間式Ffとして特定する。なお、上記した直線補間式やラグランジュ補間式自体は公知のため、詳細な説明を省略する。続いて、補間処理回路22は、補間処理を行う。この補間処理では、補間処理回路22は、図8に示すように、測定対象Ujの時間長この例では、周期Taの1つ分の時間長を予め決められた2のべき乗数の数例えば、4096に均等に分割した各分割区間Udの分割時点Tdを算出する。次いで、補間処理回路22は、算出した各分割時点Tdをxの値として第1補間式Ffに代入して、各分割時点Tdにおける複数この例では、2のべき乗数としての4096個の瞬時値Atを算出する。この場合、この測定装置1では、上記したように周期Taが正確に算出されているため、測定対象Ujとして規定した周期Taの1つ分の区間を均等に分割した各分割区間Udの先端の分割時点Tdも正確に算出される。このため、この測定装置1では、各分割時点Tdを第1補間式Ffに代入して算出した瞬時値Atが正確な値となっている。続いて、補間処理回路22は、算出した瞬時値Atを示すデジタルデータDtを出力する。一方、測定部16では、実効値演算処理回路31が実効値演算処理を実行する。この実効値演算処理では、実効値演算処理回路31は、サンプリング部12から出力されるデジタルデータDf瞬時値Afを用いて交流信号S1についての物理量例えば、電圧や電力の実効値を測定する。また、FFT処理回路32が、処理部15から出力されるデジタルデータDt瞬時値Atを用いて測定対象Uj毎にFFT処理を実行し交流信号S1に含まれる高調波の次数および振幅を測定する。この測定装置1では、測定対象Ujにおいて2のべき乗数の瞬時値Atが算出されるため、FFT処理を効率的に行うことが可能となっている。また、この測定装置1では、上記したように各瞬時値Atが正確に算出されるため、交流信号S1に含まれる高調波の次数および振幅をFFT処理によって正確に測定される。また、判定処理回路33が、判定処理を実行する。この判定処理では、判定処理回路33は、処理部15から出力されるデジタルデータDt補間処理によって算出される瞬時値Atを用いて交流信号S1における測定対象Ujの良否を判定する。具体的には、判定処理回路33は、測定対象Ujの直前に入力した、測定対象Ujと同数の周期Ta分この例では、1つの周期Ta分の交流信号S1を比較対象として規定し、この比較対象における各デジタルデータDtについて設定した上限値Bおよび下限値Cと、測定対象Ujにおける各瞬時値Atとを比較し、その比較結果に基づいて良否を判定する。この場合、判定処理回路33は、測定対象Ujにおける瞬時値Atの全てが下限値Cから上限値Bまでの間に含まれているときには、その測定対象Ujを良好と判定し、測定対象Ujにおいて下限値Cから上限値Bまでの間に含まれていない瞬時値Atが1つでも存在するときには、その測定対象Ujを不良と判定する。この測定装置1では、補間処理を行うことにより、測定対象Ujとして規定した1つの周期Ta分の交流信号S1において算出した瞬時値Atの数と、比較対象として規定した1つの周期Ta分の交流信号S1において算出した瞬時値Atの数が同数となる。このため、この測定装置1では、交流信号S1の周波数が変動している場合であっても、測定対象Ujにおける全ての瞬時値Atと、各瞬時値Atにそれぞれ対応する比較対象における各瞬時値Atについて設定された上限値Bおよび下限値Cとを比較することができる。この結果、この測定装置1では、瞬時値Atと上限値Bおよび下限値Cとの比較結果に基づいて測定対象Ujの良否を判定する際の判定精度を十分に高めることが可能となっている。以後、処理部15は、上記した補間処理を繰り返して実行して、瞬時値Atを示すデジタルデータDtを出力し、測定部16は、上記した実効値演算処理、FFT処理および判定処理を繰り返して実行する。また、測定部16は、測定された物理量の実効値および交流信号S1に含まれる高調波の次数および振幅、並びに測定対象Ujについての良否判定の結果を図外の表示部に表示させる。このように、この測定装置1および測定方法では、瞬時値Afに基づいて第2補間式Fs1,Fs2を特定すると共に、交流信号S1のゼロクロスの時点を第2補間式Fs1,Fs2から算出する。このため、この測定装置1および測定方法では、ゼロクロスの時点によって区分される周期Taを正確に算出して、その周期Taの1または複数分の区間を測定対象Ujとして規定することができる。したがって、この測定装置1および測定方法によれば、測定対象Ujとして規定した周期Taの1つ分の区間を分割した各分割区間Udの先端の分割時点Tdを正確に算出することができる結果、各分割時点Tdを第1補間式Ffに代入して算出する瞬時値Atの精度を十分に向上させることができる。また、この測定装置1および測定方法では、サンプリング処理によって取得された瞬時値Afの中からサンプリング周期Tsよりも長い間引き周期Tt毎に1つの瞬時値Asを抽出して出力する間引き処理を実行し、間引き処理によって出力された瞬時値Asに基づいて第1補間式Ffを特定する。このため、この測定装置1および測定方法によれば、第1補間式を特定する際に用いる瞬時値Asの数を間引き処理によって減らすことができるため、各瞬時値Asを記憶部14に記憶させる際に使用する記憶部内14のストレージ領域を節約省容量化させることができる。また、瞬時値Asの数が減る分、間引き処理部13から記憶部14への瞬時値の転送時間や、記憶部14から処理部15への瞬時値の転送時間を短縮することができるため、全体としての処理速度を十分に高速化させることができる。また、例えば、交流信号S1についての物理量の実効値を測定する際には間引き処理前の瞬時値Afを用いることで、瞬時値Afを用いることによる高精度での実効値の測定と、間引き処理による上記の各効果との両立を実現することができる。また、この測定装置1および測定方法では、間引き処理前の瞬時値Afに基づいて第2補間式Fs1,Fs2を特定する。このため、この測定装置1および測定方法によれば、簡易な演算で特定が可能な一次補間式を第2補間式Fs1,Fs2として採用したときには、間引き処理後の瞬時値Asと比較して互いの時間間隔が狭い間引き処理前の瞬時値Afに基づいて精度の高い第2補間式Fs1,Fs2を特定することができる。また、この測定装置1および測定方法では、交流信号S1のゼロクロスの直前および直後におけるサンプリング処理によって取得された瞬時値Afに基づいて第2補間式Fs1,Fs2としての一次補間式直線補間式を特定する。この場合、一次補間式は、二次以上の高次補間式と比較して、その特定を容易に行うことができる。このため、この測定装置1および測定方法によれば、ゼロクロス時点Pz1,Pz2を算出する処理を高速で行うことができる。なお、測定装置および測定方法は、上記の構成および方法に限定されない。例えば、ゼロクロスの直前および直後の瞬時値Afに基づいて第2補間式Fs1,Fs2を特定する構成および方法について上記したが、ゼロクロス直前の瞬時値Afよりも前の瞬時値Afやゼロクロス直後の瞬時値Afよりも後の瞬時値Afに基づいて第2補間式Fs1,Fs2を特定する構成および方法を採用することもできる。また、ゼロクロスの前後2つの瞬時値Afに基づいて第2補間式Fs1,Fs2を特定する構成および方法について上記したが、ゼロクロスの前後における3つ以上の瞬時値Afに基づいて第2補間式Fs1,Fs2を特定する構成および方法を採用することもできる。また、第2補間式Fs1,Fs2として一次補間式直線補間式を特定する構成および方法について上記したが、3つ以上の瞬時値Afに基づいて第2補間式Fs1,Fs2としての二次以上の高次補間式を特定する構成および方法を採用することもできる。この場合、二次以上の高次補間式は、一般的に、一次補間式直線補間式と比較して、交流信号S1が時間的に急激に変化した場合においても正確な補間を行うことができる。このため、この構成および方法によれば、交流信号S1がゼロクロス付近において時間的に急激に変化した場合においても、ゼロクロス時点Pz1,Pz2を正確に算出することができる。また、交流信号S1の周期Taの1つ分の区間を測定対象Ujとして規定する構成および方法について上記したが、周期Taの複数分の区間を交流信号S1を測定対象Ujとして規定する構成および方法を採用することもできる。"