貴金属微粒子がCeO2を含有する複合酸化物担体粒子に担持された排ガス浄化触媒であって、担体上の貴金属微粒子を側面から透過型電子顕微鏡TEMにより測定した写真が平坦な頂部を有する台形状のナノ粒子を示す、前記排ガス浄化触媒。前記排ガス浄化触媒が、半球状の貴金属微粒子がCeO2を含有する複合酸化物担体粒子に担持されている担持触媒を、真空下に加熱処理して得られるものである請求項1に記載の排ガス浄化触媒。前記貴金属が、Pdである請求項1又は2に記載の排ガス浄化触媒。前記加熱処理が、真空下に400°C以上の温度で行われるものである請求項1~3のいずれか1項に記載の排ガス浄化触媒。前記貴金属微粒子が、10nm未満の粒径を有する請求項1~4のいずれか1項に記載の排ガス浄化触媒。前記CeO2を含有する複合酸化物担体粒子が、CeO2-ZrO2複合酸化物担体粒子、CeO2-Al2O3複合酸化物担体粒子、CeO2-TiO2複合酸化物担体粒子、CeO2-SiO2複合酸化物担体粒子又はCeO2-ZrO2-Al2O3複合酸化物担体粒子である請求項1~5いずれか1項に記載の排ガス浄化触媒。前記CeO2を含有する複合酸化物担体粒子が、CeO2-ZrO2複合酸化物担体粒子である請求項1~6のいずれか1項に記載の排ガス浄化触媒。しかし、前記の公知文献に記載の金属微粒子触媒あるいは金属微粒子担持触媒では、自動車などの内燃機関から高温で排出される排ガスを浄化することは困難である。従って、本発明の目的は、従来技術による排ガス浄化触媒と同じ元素組成であって、特殊な化学的又は物理的処理を必要とせず、高い排ガス浄化性能を示す排ガス浄化触媒を提供することである。本発明は、貴金属微粒子がCeO2を含有する複合酸化物粒子に担持された排ガス浄化触媒であって、担体上の貴金属微粒子を側面から透過型電子顕微鏡TEMにより測定した写真が平坦な頂部を有する台形状のナノ粒子を示す、前記排ガス浄化触媒に関する。本発明における担体上の貴金属微粒子の透過型電子顕微鏡TEMによる測定写真および貴金属微粒子の粒径は、後述の実施例の欄に詳述する測定法により得られるものである。本発明によれば、従来技術による排ガス浄化触媒と同じ元素組成であって、特殊な化学的又は物理的処理を必要とせず、高い排ガス浄化性能を示す排ガス浄化触を得ることができる。特に、本発明において、以下の実施態様を挙げることができる。1前記排ガス浄化触媒が、半球状の貴金属微粒子がCeO2を含有する複合酸化物担体粒子に担持されている担持触媒を、真空下に加熱処理して得られるものである前記排ガス浄化触媒。2前記貴金属が、Pdである前記排ガス浄化触媒。3前記加熱処理が、真空下に400°C以上の温度で行われるものである前記排ガス浄化触媒。4前記貴金属微粒子が、10nm未満の粒径を有する前記排ガス浄化触媒。5前記CeO2を含有する複合酸化物担体粒子が、CeO2-ZrO2複合酸化物担体粒子、CeO2-Al2O3複合酸化物担体粒子、CeO2-TiO2複合酸化物担体粒子、CeO2-SiO2複合酸化物担体粒子又はCeO2-ZrO2-Al2O3複合酸化物担体粒子である前記排ガス浄化触媒。6前記CeO2を含有する複合酸化物担体粒子が、CeO2-ZrO2複合酸化物担体粒子である前記排ガス浄化触媒。本発明における排ガス浄化触媒は、貴金属微粒子がCeO2を含有する複合酸化物粒子に担持された排ガス浄化触媒であって、担体上のPd微粒子を側面から透過型電子顕微鏡TEMにより測定した写真が平坦な頂部を有する台形状のナノ粒子を示すものであることが必要である。以下、図1~5を参照して本発明の実施の形態を詳説する。本発明の実施態様の排ガス浄化触媒は、図1、図3の下の写真およびその拡大図である図3の上の2つの写真に示すように、担体上のPd微粒子を側面から透過型電子顕微鏡TEMにより測定した写真が平坦な頂部を有する台形状のナノ粒子を示している。これに対して、従来の排ガス浄化触媒は、図2、図4の下の写真およびその拡大図である図4の上の2つの写真に示すように、担体上のPd微粒子を側面から透過型電子顕微鏡TEMにより測定した写真が一般的に表面エネルギー安定化によると考えられる半球状の微粒子を示している。そして、本発明の排ガス浄化触媒によれば、図5に示すように、従来の排ガス浄化触媒に比べて排ガス浄化性能が高い結果が得られている。本発明の排ガス浄化触媒がこのような高い排ガス浄化性能を示す理論的考察は未だ十分にはなされてはいないが、CeO2を含有する複合酸化物担体粒子に担持されている貴金属ナノ粒子が平坦な頂部を有する台形状であることから、高い触媒反応性を示す100面あるいは111が部分的に形成されていて、CeO2を含有する複合酸化物担体粒子との相互作用により高い触媒活性を示すと考えられる。本発明の排ガス浄化触媒は、例えば、半球状の貴金属微粒子、例えばPd、Pt、Rhなどの貴金属微粒子、好適にはPdナノ粒子がCeO2を含有する複合酸化物担体粒子に担持されている担持触媒を、真空下に加熱処理することによって得ることができる。前記の加熱処理は、真空下に行うことが必要であり、大気圧下では担体粒子に担持された貴金属微粒子の形状を前記のように変化させることは困難である。前記の真空の条件としては、10-1~10-4Pa程度での圧力の真空であり得る。また、前記加熱処理の際の加熱温度は、貴金属の種類によって異なり、半球状の貴金属微粒子形状が平坦な頂部を有する台形状になるまで、一般的には400°C以上、好適には400~800°C、特に450~550°Cの範囲の温度で、好適には0.2~10時間程度行い得る。温度が高すぎると、却って排ガス浄化触媒の排ガス浄化性能が低下する。前記の半球形状の貴金属微粒子がCeO2を含有する複合酸化物担体粒子に担持されている担持触媒は、例えば、次のようにして得ることができる。先ず、貴金属塩の希釈水溶液を、高分子化合物である有機保護剤の水溶液中に加える。得られた水溶液に還元剤を加えて、加熱還流し、貴金属イオン、好適にはPdイオンを還元して貴金属微粒子含有溶液を得る。次いで、得られた貴金属微粒子含有溶液を、CeO2を含有する複合酸化物担体粒子の水分散液に加え、攪拌した後、水を蒸発させる。次いで、得られた固形物を焼成、必要であれば粉砕することによって、半球状の貴金属微粒子がCeO2を含有する複合酸化物担体粒子に担持されている担持触媒が得られる。前記貴金属粒子の粒子径は、前記高分子化合物である有機保護剤を用いるコロイド法によって、合成工程において使用する触媒貴金属を与える貴金属原料の種類と量、高分子化合物の分子量、還元剤の種類、還元温度、還元時間を選択することによって制御することが可能であり得る。前記の高分子化合物としては、貴金属と配位し得る分子内にH、OH、COOH又はNH2を有する高分子化合物、例えばPVPポリビニルピロリドン、ポリビニルアルコール、ポリアミン等が挙げられる。前記の貴金属原料としては、前記貴金属の塩化物、硝酸塩、硫酸塩、スルホン酸塩、リン酸塩、アンミン錯体塩、好適には塩化物、硝酸塩、アンミン塩を用い得るが、貴金属粒子の粒子径はおおよそ大塩化物>硝酸塩>アンミン塩小の順となる。従って、求める貴金属粒子の粒径に対して適した塩を選択する必要がある。前記の貴金属原料として、例えばPd、Pt、Rhなどの貴金属の塩、好適には塩化Pdが挙げられる。また、前記担体触媒としては、貴金属を0.1~1質量の割合でCeO2を含有する複合酸化物担体粒子に担持させたものが好適である。前記の還元剤としては、触媒活性の観点からはアルコールCnH2n1OH、例えばメタノール、エタノール、イソプロパノール、n-プロパノール、t-ブタノール、n-ブタノールなどを用い得るが、この場合前記式におけるnが大きくなるとアルコールの沸点が高くなるため、高温で還流還元することが可能となる。つまり、前記のnを大きくすると、還元時の還流温度を高くすることが可能となり、還元力が強くなり粒径の小さい貴金属微粒子を得ることができる。逆にnを小さくすることによって粒径の大きい貴金属微粒子を得ることができる。また、還元時間を長くすると、粒成長が進むため粒径の大きい貴金属微粒子となる。前記のCeO2を含有する複合酸化物担体粒子としては、CeO2-ZrO2複合酸化物担体粒子、CeO2-Al2O3複合酸化物担体粒子、CeO2-TiO2複合酸化物担体粒子、CeO2-SiO2複合酸化物担体粒子又はCeO2-ZrO2-Al2O3複合酸化物担体粒子、好適にはCeO2-ZrO2複合酸化物担体粒子が挙げられる。本発明の排ガス浄化触媒は、従来技術における排ガス浄化触媒と同じ元素組成であって、半球状の貴金属微粒子、好適にはPdナノ粒子がCeO2を含有する複合酸化物担体粒子に担持されているコロイド法による担持触媒を用いて、真空下に加熱処理するという特殊な化学的又は物理的処理を必要としない方法によって得ることができ、改良された排ガス浄化性能を示し得る。以下に、実施例を用いて本発明を説明する。これらの実施例は単に説明のためのものであり、本発明を如何様にも限定するものではない。以下の各例において、貴金属微粒子の形状および粒子径の測定は以下の方法により、また排ガス浄化触媒の評価試験は、図6に模式図を示す装置を用いて以下の方法によって行った。しかし、これらの測定法は以下に示す方法に限定されず、当業界で同等と考えられる測定法によっても同様に行い得る。1.貴金属微粒子形状の透過型電子顕微鏡TEMによる測定任意の1つ又は2つのPd微粒子担持触媒について、担体上のPd微粒子を側面から写真測定を行った。2.Pd微粒子の粒子径の測定前記の透過型電子顕微鏡TEMにより測定した写真における粒子の最大部分の長さを示す。3.排ガス浄化触媒のCO吸着量評価排ガス浄化触媒ペレット0.2gを400°Cで20分間酸化した後、還元処理し、0°CでCO吸着させて測定した。4.触媒の浄化性能評価下記の浄化性能評価ガス条件で測定した。浄化性能評価ガス条件ガス総流量:15L/分ガス組成:C3H61000ppm、CO6500ppm、NO1500ppmO27000ppm、CO210、H2O無し/N2残部温度条件:600°C→100°C、20°C/分サンプル:CO吸着量評価試験と同じペレット触媒3.0g実施例1Pd総量が4.50x10-3molの塩化Pd溶液にイオン交換水を加えて攪拌し、総量300gのPd塩希釈水溶液を用意した。モノマーユニット換算で2.25x10-2mol、Pd総量の5倍となるPVPポリビニルピロリドン2.52gにイオン交換水300gを加え、攪拌して完全に溶解させてPVP溶液を得た。調製したPVP溶液にPd塩希釈水溶液をゆっくり滴下し、混合して、室温で1時間程度攪拌した後、イオン交換水とアルコールとの混合比率が80:20質量比となるように1-プロパノールを加えて、30分間程度攪拌した。さらに、水溶液を加熱還流してPdイオンを還元して、5.0nm程度のPdナノ粒子溶液を得た。合成したPdgノ粒子溶液を、質量にして6倍の蒸留水に分散させた30gのCeO2を含有する複合酸化物CeO2-ZrO2複合酸化物担体粒子に、Pdが粉末にして0.5質量となるように添加し、1時間攪拌した。さらに、120°Cで水分を蒸発させ、450°Cで2時間焼成した後、乳鉢で粉砕し、得られた粉末をペレット化して、Pd/CeO2-ZrO2複合酸化物担体粒子の担持触媒を得た。次いで、得られたPd/CeO2-ZrO2複合酸化物担体粒子の担持触媒の一部を、500°Cで1時間真空真空度:10-4Pa加熱処理して、排ガス浄化触媒を得た。得られた排ガス浄化触媒について評価を行った。結果を比較例1の結果とまとめて図5および図7に示す。比較例1真空加熱処理を行わなかった他は実施例1と同様にして、排ガス浄化触媒を得た。得られた排ガス浄化触媒について評価を行った。結果を実施例1の結果とまとめて図5および図7に示す。図7のCO吸着量評価結果から、実施例1の排ガス浄化触媒と比較例1の排ガス浄化触媒とで活性点の数に大きな差がないことが認められる。図5の排ガス浄化活性評価結果から、実施例1の排ガス浄化触媒は比較例1の排ガス浄化触媒に比べて排ガス浄化性能が改善されていることが認められる。このことは、担持されたPdナノ粒子が半球状から平坦な頂部を有する台形状に変形して、100面や11面が形成された効果が発現されたことによると考えられる。