"蓄積型の受光素子に第1蓄積時間の蓄積をさせた場合に前記受光素子から得られた第1出力値に基づいて、次回蓄積時における前記受光素子からの第2出力値を第1目標値に近づけるように次回用に第2蓄積時間を演算する第1演算部と、前記第1出力値に基づいて、次回蓄積時における前記第2出力値を前記第1目標値より小さい第2目標値に近づけるように次回用に第3蓄積時間を演算する第2演算部と、前記第2蓄積時間が第1所定値より大か否かを判定する第1判定部と、前記第1判定部が否定判定した場合は前記第2蓄積時間を次回蓄積時間とし、前記第1判定部が肯定判定した場合は前記第3蓄積時間を次回蓄積時間とする蓄積時間決定部と、を備えることを特徴とする測光装置。請求項1に記載の測光装置において、前記第2演算部は、前記第1蓄積時間と前記第2蓄積時間との比に基づいて前記第2目標値を定めることを特徴とする測光装置。請求項1または2に記載の測光装置において、前記第2演算部は、前記第3蓄積時間が第2所定値を超える場合に前記次回蓄積時間を該第2所定値に制限することを特徴とする測光装置。請求項1~3のいずれか一項に記載の測光装置において、前記第1出力値が第3所定値より大か否かに基づいて有効か否かを判定する第2判定部と、前記第2判定部が否定判定した場合に前記第1出力値に基づく測光演算することなく前記受光素子に前記次回蓄積時間の蓄積をさせる蓄積制御部と、をさらに備えることを特徴とする測光装置。請求項4に記載の測光装置において、前記第2判定部は、前記第1判定部が肯定判定した場合の前記第3所定値を前記第1判定部が否定判定した場合の値より小さくすることを特徴とする測光装置。請求項4または5に記載の測光装置において、前記蓄積制御部は、前記受光素子の蓄積中であって前記次回蓄積時間に達する前に行われた撮影指示に応じて前記蓄積を途中終了させ、前記第2判定部は、前記途中終了後の出力値が前記第3所定値より大か否かに基づいて有効か否かを判定することを特徴とする測光装置。請求項1~6のいずれか一項に記載の測光装置を備えることを特徴とするカメラ。従来技術では、低輝度時において蓄積時間が長くなってしまい、蓄積時間を短縮し得ないという問題があった。本発明による測光装置は、蓄積型の受光素子に第1蓄積時間の蓄積をさせた場合に受光素子から得られた第1出力値に基づいて、次回蓄積時における受光素子からの第2出力値を第1目標値に近づけるように次回用に第2蓄積時間を演算する第1演算部と、第1出力値に基づいて、次回蓄積時における第2出力値を第1目標値より小さい第2目標値に近づけるように次回用に第3蓄積時間を演算する第2演算部と、第2蓄積時間が第1所定値より大か否かを判定する第1判定部と、第1判定部が否定判定した場合は第2蓄積時間を次回蓄積時間とし、第1判定部が肯定判定した場合は第3蓄積時間を次回蓄積時間とする蓄積時間決定部と、を備えることを特徴とする。本発明による測光装置では、蓄積型の受光素子の蓄積時間を短縮することができる。以下、図面を参照して本発明を実施するための形態について説明する。図1は、本発明の一実施の形態による測光装置を搭載した一眼レフ電子カメラの要部構成を説明する図である。図1において、カメラ本体4に対して着脱可能な撮影レンズ1を構成する鏡筒が装着されている。被写体からの光は、撮影光学系2および絞り3を介してカメラ本体4へ入射される。カメラ本体4に入射した被写体光は、レリーズ前は図1に例示したミラーダウン状態にある半透過のクイックリターンミラー以下メインミラーと呼ぶ5で上方のファインダー部へ向けて折り曲げられ、スクリーン6へ向けて進行する。また、メインミラー5を透過した被写体光は、サブミラー14によって下方へ折り曲げられ、焦点検出センサー15へ導かれる。スクリーン6へ入射された被写体光束は、撮影光学系2によって拡散面6aに結像する。スクリーン6を透過した光束はさらに、ファインダー光学系の光軸22に沿ってペンタプリズム8へ入射される。ペンタプリズム8は、入射された被写体光をファインダーレンズ9へ導く。撮影者は、接眼部10からファインダーレンズ9を通してファインダーによる被写体像を観察する。また、スクリーン6を通過した光束の一部は、ファインダー光学系の光軸22から傾いた測光光学系光軸23の方向へ進み、三角プリズム11の反射面11aで上方へ折り曲げられる。この光束は不図示の測光絞りおよび測光レンズ12を介して測光センサー13の受光面に再結像する。レリーズ後は、メインミラー5が上方へ回動し、全ての被写体光は開駆動されたメカニカルシャッター16を介して撮像素子17へ導かれ、その撮像面上に被写体像を結像する。撮像素子17は、撮像面上に結像されている被写体像を撮像し、被写体像の明るさに応じた光電変換信号を出力する。撮像が終了するとメカニカルシャッター16が閉駆動され、メインミラー5がダウン位置へ戻る。上述した電子カメラにおいて、測光センサー13は、画素に対応する複数の光電変換素子を備えたCMOSイメージセンサーなどによって構成される。光電変換素子は、光の強さに応じた信号電荷を蓄積する。測光センサー13による蓄積信号は、測光演算の他にもTTL調光演算の他に、顔検出処理やシーン認識処理などにも用いられる。このため、測光センサー13による蓄積信号に基づいて得られる画像から色情報が得られるように、測光センサー13の受光面には画素位置に対応させてベイヤー配列されたカラーフィルタ13aが設けられている。<測光部の構成>本実施形態は上記電子カメラの測光部に特徴を有するので、以下の説明は測光部を中心に行う。図2は、電子カメラの測光部を説明するブロック図である。測光部は、測光光学系11,12と、測光センサー13と、A/D変換部51と、信号処理部52と、マイクロコンピュータ53とを有する。マイクロコンピュータ53には、レリーズ釦54が押下操作されたことを示すレリーズ操作信号と、測光モード設定部55から測光モードを示す信号とが入力される。測光モードには、たとえば、分割測光モード、中央重点測光モード、スポット測光モードがある。分割測光モードは、撮影画面を複数に分割して複数の輝度値を算出し、これら複数の輝度値に基づいて露出演算を行うモードである。中央重点測光モードは、撮影画面の中央部に重点をおいた輝度値に基づいて露出演算を行うモードである。スポット測光モードは、撮影画面のうち所定の狭い範囲の輝度値に基づいて露出演算を行うモードである。マイクロコンピュータ53は、測光に関する演算と測光センサー13に対する蓄積動作の制御とを行う。蓄積動作の制御は、蓄積時間および増幅ゲインの少なくとも一方を変化させる。増幅ゲインは、測光センサー13に設けられている不図示の増幅アンプのゲインのことをいう。測光光学系11および12を通過した測光用光束は、測光センサー13上に被写体像を結像する。測光センサー13は、カラーフィルタ13a図1を通して受光した光電変換信号を出力する。カラーフィルタ13aは、たとえば、測光センサー13の画素位置に配設されたR,G,B色のフィルタによって構成される。R色のフィルタを通して受光した画素からはR色成分の光に対応する光電変換信号が出力され、G色のフィルタを通して受光した画素からはG色成分の光に対応する光電変換信号が出力され、B色のフィルタを通して受光した画素からはB色成分の光に対応する光電変換信号が出力される。本実施形態では、測光センサー13の受光面上で近接してR,G,B色に対応する信号を出力する1組の画素群を1画素として扱う。測光センサー13は、たとえば、14画素で構成される水平ラインを10本有し、計140画素で構成される。測光センサー13には、マイクロコンピュータ53に含まれる測光センサー制御部531から駆動用クロック信号、蓄積時間を制御する信号、および増幅ゲインを制御するゲイン制御信号がそれぞれ入力される。測光センサー13は、蓄積した電荷信号をA/D変換部51へ出力する。A/D変換部51は、入力された信号をA/D変換アナログ信号→ディジタル信号へ変換することにより、画素ごとに測光デジタル信号を得る。信号処理部52は、測光デジタル信号に対してクランプ処理などを行う。クランプ処理は、測光センサー13にあらかじめ設けられている遮光画素オプティカルブラックと呼ばれるからの出力データがいわゆる黒レベル測光出力データの基準となるようにクランプすることをいう。蓄積時間、ゲイン算出部532は、信号処理部52から出力された測光出力データに基づいて、測光センサー13の次回の蓄積のための蓄積時間および増幅ゲインをそれぞれ算出する。有効性判定部533は、信号処理部52から出力された測光出力データの有効性を判定する。目標レベル、有効性判定レベル算出部534は、信号処理部52から出力された測光出力データに基づいて、次回の蓄積によって得ようとする測光出力データの目標レベル、および次回の蓄積後の測光出力データの有効性判定に用いる判定レベルをそれぞれ算出する。測光センサー制御部531は、蓄積時間、ゲイン算出部532による算出結果、有効性判定部533による判定結果、および目標レベル、有効性判定レベル算出部534による算出結果に基づいて、上述した制御信号駆動用クロック信号、蓄積時間制御信号、およびゲイン制御信号を測光センサー13へ送出する。上記構成により、測光センサー制御部531は、次回の電荷蓄積後の測光出力データの最大値を目標値Vagcたとえば、センサ最大出力レベルより低い所定レベルに近づけるように、測光センサー13の蓄積時間および増幅ゲインを決定し、決定した蓄積時間および増幅ゲインで次回蓄積を行うように測光センサー13をフィードバック制御する。上述した蓄積制御によって得られた測光出力データは測光演算のために使用される。Bv値算出、露出演算部535は、有効性判定部533によって有効と判定された測光出力データに基づいてBv値を算出し、このBv値に応じて所定の露出演算を行う。測光中断処理部536は、蓄積制御中に上記レリーズ操作信号が入力された場合に、測光演算部の各部へ蓄積停止信号を出して蓄積制御を途中で止めさせる。蓄積停止信号を出力した測光中断処理部536は、レリーズ操作信号に応じて撮影処理が行われ、メインミラー5がダウン位置へ戻るまで蓄積停止信号の出力を継続する。測光領域設定部537は、測光モード設定部55からの測光モードを示す信号に応じて、測光演算に用いる領域を設定する。この測光領域は、上記Bv値算出、露出演算部535が撮影画面の中で輝度値を算出する範囲に相当する。つまり、Bv値算出、露出演算部535は、測光領域設定部537で設定された領域に対応する画素からの測光出力データを用いて上記演算を行う。絞り制御部561およびシャッター制御部562は露出制御部56を構成する。絞り制御部561は、Bv値算出、露出演算部535による露出演算結果に基づいて撮影時に絞り3を制御する。シャッター制御部562は、Bv値算出、露出演算部535による露出演算結果に基づいて撮影時にメカニカルシャッター16を制御する。<撮影処理>図3は、電子カメラの撮影制御回路不図示が行う撮影処理の流れを説明するフローチャートである。上記測光部は、撮影処理の中で測光処理S12を行う。図3のステップS11において、撮影制御回路は、レリーズ釦54が半押し操作されたか否かを判定する。撮影制御回路は、半押し操作された場合にはステップS11を肯定判定してステップS12へ進み、半押し操作されない場合にはステップS11を否定判定してステップS21へ進む。ステップS12において、撮影制御回路はマイクロコンピュータ53へ指示を送り、測光処理を行わせてステップS13へ進む。測光処理の詳細については後述する。ステップS13において、撮影制御回路は、焦点検出センサー15による検出信号を用いて公知のAF処理を行い、ステップS14へ進む。ステップS14において、撮影制御回路は、レリーズ釦54が全押し操作されたか否かを判定する。撮影制御回路は、全押し操作された場合にはステップS14を肯定判定してステップS15へ進み、全押し操作されない場合にはステップS14を否定判定してステップS11へ戻る。ステップS15において、撮影制御回路は不図示のシーケンス制御装置へ指示を送り、メインミラー5のアップ駆動を開始させてステップS16へ進む。ステップS16において、撮影制御回路は、撮像素子17の初期化を行ってステップS17へ進む。ステップS17において、撮影制御回路は撮像素子17に撮影用の電荷蓄積を所定時間行わせる。なお、測光処理結果を用いた露出演算で算出された制御露出とするように、絞り3の駆動およびメカニカルシャッター16の駆動がシーケンス制御装置不図示を構成する露出制御部56によって行われる。撮影制御回路は、撮像素子17から蓄積信号の読出しを指示してステップS18へ進む。ステップS18において、撮影制御回路はシーケンス制御装置不図示へ指示を送り、メインミラー5のダウン駆動を開始させてステップS19へ進む。ステップS19において、撮影制御回路は、画像を構成する光電変換信号に対する所定の画像処理を行ってステップS20へ進む。ステップS20において、撮影制御回路は、画像処理後のデータを記録媒体不図示に記録して図3による撮影処理を終了する。ステップS11を否定判定して進むステップS21において、撮影制御回路はタイマー切れか否かを判定する。撮影制御回路は、無操作状態で所定時間が経過するとステップS21を肯定判定し、図3による処理を終了する。一方、撮影制御回路は、所定時間が経過していない場合にはステップS21を否定判定し、ステップS11へ戻る。<測光処理>図4は、マイクロコンピュータ53が行う測光処理の流れを説明するフローチャートである。図4による測光処理は、図3のステップS12に対応する。図4のステップS101において、マイクロコンピュータ53は、測光センサー13に蓄積動作をさせてステップS102へ進む。通常、蓄積条件は前回の蓄積条件およびその測光出力データに基づいて決定するが、初回の蓄積の場合は、たとえば、蓄積時間int=400msec、増幅ゲイン=4倍で行うものとする。なお、本実施形態の測光装置は、EV0において蓄積時間int=100msec、増幅ゲイン=4倍で蓄積した場合に、測光出力データが25LSBただし、LSBは最下位ビットとなるように構成されているものとする。本実施形態では、測光出力データを10ビットA/D変換している。ステップS102において、マイクロコンピュータ53は、蓄積動作を中断するか否かを判定する。マイクロコンピュータ53は、蓄積制御中に上記レリーズ操作信号が入力された場合にステップS102を肯定判定してステップS111へ進む。マイクロコンピュータ53は、蓄積制御中に上記レリーズ操作信号が入力されない場合にはステップS102を否定判定し、ステップS103へ進む。ステップS111において、マイクロコンピュータ53の測光中断処理部536は、蓄積中断処理を行ってステップS103へ進む。蓄積中断処理の詳細については後述する。ステップS103において、マイクロコンピュータ53は、測光センサー13から読出した測光出力データを信号処理部52を介して入力してステップS104へ進む。ステップS104において、マイクロコンピュータ53は、次回蓄積時間intと、次回増幅ゲインとを算出してステップS105へ進む。次回の蓄積時間intは、蓄積時間、ゲイン算出部532が次式1によって算出する。なお、次回増幅ゲインは、最初の蓄積時と同じ4倍とする。int=int×Vagc/Vomax1ただし、Vagcは、次回の電荷蓄積後の測光出力データの最大値の目標値である。本例では測光モードによって異なる目標値を定める。たとえば、分割測光モードの場合のVagcを720LSBとし、中央重点測光モードの場合のVagcを640LSBとし、スポット測光モードの場合のVagcを=800LSBとする。Vomaxは、ステップS101の蓄積によって得た測光出力データの最大値である。たとえば、分割測光モードの場合であって、測光出力データの最大値Vomaxが100LSBであった場合を例にすると、int=400×720/100=2880msecである。ステップS105において、マイクロコンピュータ53は、次回蓄積時間intが所定時間たとえば、100msec以上か否かを判定する。マイクロコンピュータ53は、int≧100msecが成立する場合にステップS105を肯定判定してステップS112へ進む。マイクロコンピュータ53は、int≧100msecが成立しない場合にはステップS105を否定判定し、ステップS106へ進む。ステップS106へ進む場合は、次回蓄積時間intが上記所定時間に収まる程度に撮影環境が明るい場合である。この場合のマイクロコンピュータ53の有効性判定部533は、ステップS106において、ステップS101の蓄積で得られた測光出力データの有効性判定処理を行ってステップS107へ進む。有効性判定処理の詳細については後述する。ステップS107において、マイクロコンピュータ53は測光出力データが有効か否かを判定する。マイクロコンピュータ53は、ステップS106において有効と判断している場合にステップS107を肯定判定してステップS109へ進む。マイクロコンピュータ53は、ステップS106において有効と判断しなかった場合には、ステップS107を否定判定してステップS101へ戻る。ステップS101へ戻る場合は、ステップS101の蓄積で得られた測光出力データをBv値算出S109に用いることなしに蓄積動作をやり直す。ステップS109において、マイクロコンピュータ53のBv値算出、露出演算部535は、上記有効と判断した測光出力データに基づいてBv値を算出し、ステップS110へ進む。ステップS110において、マイクロコンピュータ53のBv値算出、露出演算部535は、上記Bv値に応じて所定の露出演算を行って図4による処理を終了する。上述したステップS105を肯定判定する場合は、次回蓄積時間intが所定時間に収まらない程に撮影環境が暗い場合である。この場合のマイクロコンピュータ53は、ステップS112において、分割測光モードまたは中央重点測光モードであるか否かを判定する。マイクロコンピュータ53は、測光モード設定部55から入力した測光モードを示す信号が、分割測光モードまたは中央重点測光モードを示す場合にステップS112を肯定判定してステップS113へ進む。マイクロコンピュータ53は、測光モード設定部55から入力した測光モードを示す信号が、分割測光モードでも中央重点測光モードでもないことを示す場合たとえば、スポット測光モードである場合にステップS112を否定判定してステップS106へ進む。ステップS113において、マイクロコンピュータ53の目標レベル、有効性判定レベル算出部534は、次回の電荷蓄積後の測光出力データの最大値の目標値VagcNを算出し直す。マイクロコンピュータ53の目標レベル、有効性判定レベル算出部534はさらに、有効性判定レベルVokNを算出し直す。また、マイクロコンピュータ53の蓄積時間、ゲイン算出部532は、次回蓄積時間intNを算出し直して、ステップS114へ進む。これら目標レベルVagcN、有効性判定レベルVokN、および次回蓄積時間intNの算出処理の詳細については後述する。ステップS114において、マイクロコンピュータ53の有効性判定部533は、ステップS101の蓄積で得られた測光出力データの有効性判定処理を行ってステップS115へ進む。有効性判定処理の詳細については後述する。ステップS115において、マイクロコンピュータ53は測光出力データが有効か否かを判定する。マイクロコンピュータ53は、ステップS114において有効と判断している場合にステップS115を肯定判定してステップS109へ進む。マイクロコンピュータ53は、ステップS114において有効と判断しなかった場合には、ステップS115を否定判定してステップS101へ戻る。ステップS101へ戻る場合は、ステップS101の蓄積で得られた測光出力データをBv値算出に用いることなしに蓄積処理をやり直す。<蓄積中断処理>図5は、マイクロコンピュータ53の測光中断処理部536が行う蓄積中断処理の流れを説明するフローチャートである。ステップS1111において、測光中断処理部536は、蓄積中か否かを判定する。測光中断処理部536は、測光センサー制御部531が測光センサー13を蓄積制御中の場合にステップS1111を肯定判定してステップS1112へ進む。測光中断処理部536は、測光センサー制御部531が測光センサー13を蓄積制御中でない場合には、ステップS1111を否定判定して図5による処理を終了する。ステップS1112において、測光中断処理部536は、測光演算部の各部へ蓄積停止信号を出力することによって蓄積処理を途中で強制終了させて図5による処理を終了する。具体的には、蓄積処理を開始後の蓄積時間が上記蓄積時間intまたは蓄積時間intNに達しなくても蓄積処理を止める。この場合の蓄積信号は、ステップS106またはS114において有効性判定の対象に用いられる。<算出処理>図6は、マイクロコンピュータ53が行う各算出処理の流れを説明するフローチャートである。ステップS1131において、目標レベル、有効性判定レベル算出部534は、上記目標値VagcNを次式2により算出し直す。VagcN=Vagc×/kagcoffset2ただし、kは所定の定数であり、本例ではk=4とする。agcoffsetも所定の定数であり、本例ではagcoffset=50とする。上述した分割測光モードの場合であって、ステップS101の蓄積によって測光出力データの最大値Vomaxが100LSBであった場合を例にすると、上述したようにint=2880msecであるので、VagcN=720×/450=75LSBである。ステップS1132において、目標レベル、有効性判定レベル算出部534は、上記有効性判定レベルVokNを次式3により算出し直す。VokN=VagcN/Vagc×Vok3ただし、Vokは、ステップS106において行う有効性判定に用いる判定閾値であり、本例では分割測光モードの場合のVokを240LSBとし、中央重点測光モードの場合のVokを160LSBとし、スポット測光モードの場合のVokを=50LSBとする。上述した分割測光モードの場合であって、ステップS101の蓄積によって測光出力データの最大値Vomaxが100LSBであった場合を例にすると、VokN=75/720×240=25LSBである。ステップS1133において、蓄積時間、ゲイン算出部532は、上記次回蓄積時間intNを次式4により算出し直す。intN=int×4上述した分割測光モードの場合であって、ステップS101の蓄積によって測光出力データの最大値Vomaxが100LSBであった場合を例にすると、intN=400×75/100=300msecである。ステップS1133において、蓄積時間、ゲイン算出部532は、ステップS1133で算出した次回蓄積時間intNが所定の制限値intmax本例では、たとえば400msecとするより大か否かを判定する。蓄積時間、ゲイン算出部532は、intN≧intmaxが成立する場合にステップS1134を肯定判定してステップS1135へ進む。蓄積時間、ゲイン算出部532は、intN≧intmaxが成立しない場合にはステップS1134を否定判定し、図6による処理を終了する。ステップS1135において、蓄積時間、ゲイン算出部532は、次回蓄積時間intNにintmaxを代入して図6による処理を終了する。これにより、本例の場合の次回蓄積時間intNは、最長で400msecに制限される。<有効性判定処理>図7は、マイクロコンピュータ53の有効性判定部533が行う有効性判定処理の流れを説明するフローチャートである。図4におけるステップS106として有効性判定処理を行う有効性判定部533は、ステップS1141において、ステップS101の蓄積で得た測光出力データの最大値Vomaxおよび最小値Vominをそれぞれ算出してステップS1142へ進む。なお、最大値Vomaxは、上記ステップS104において使用した値と同じである。ステップS1142において、有効性判定部533は、最大値Vomaxが有効性判定レベルVovより小か否かを判定する。有効性判定部533は、Vomax<Vovが成立する場合にステップS1142を肯定判定してステップS1143へ進む。ステップS1143へ進む場合は、測光センサー13の出力データがオーバーフローしていない場合である。有効性判定部533は、Vomax<Vovが成立しない場合には、ステップS1142を否定判定して図7による処理を終了する。ステップS1143において、有効性判定部533は、最小値Vominが有効性判定レベルVunより小か否かを判定する。有効性判定部533は、Vomin<Vunが成立する場合にステップS1143を肯定判定してステップS1145へ進む。有効性判定部533は、Vomin<Vunが成立しない場合には、ステップS1143を否定判定してステップS1144へ進む。ステップS1143を否定判定する場合は、測光センサー13の出力データがアンダーフローしていない場合である。ステップS1145において、有効性判定部533は、最大値Vomaxが有効性判定閾値Vokより大か否かを判定する。Vokの値は、上述した通り分割測光モード、中央重点測光モード、スポット測光モードの場合に分けてそれぞれ値が定められている。有効性判定部533は、Vomax>Vokが成立する場合にステップS1145を肯定判定してステップS1144へ進む。ステップS1145を肯定判定する場合は、測光センサー13の出力データにアンダーフローデータが含まれるものの、有効性判定閾値Vokより大のデータが存在する場合である。有効性判定部533は、Vomax>Vokが成立しない場合には、ステップS1145を否定判定して図7による処理を終了する。なお、図4におけるステップS114として有効性判定処理を行う有効性判定部533は、ステップS1145において、最大値Vomaxが有効性判定レベルVokNより大か否かを判定する。有効性判定レベルVokNの値は、上式3によって算出された有効性判定閾値Vokより小さな値である。有効性判定部533は、Vomax>VokNが成立する場合にステップS1145を肯定判定してステップS1144へ進む。ステップS1145を肯定判定する場合は、測光センサー13の出力データにアンダーフローデータが含まれるものの、有効性判定レベルVokNより大のデータが存在する場合である。有効性判定部533は、Vomax>VokNが成立しない場合には、ステップS1145を否定判定して図7による処理を終了する。以上説明した実施形態によれば、次の作用効果が得られる。1電子カメラの測光装置は、蓄積型の測光センサー13に時間intの蓄積をさせた場合に測光センサー13から得た測光出力データの最大値Vomaxに基づいて、次回蓄積時における測光センサー13からの測光出力データをVagcに近づけるように次回用に次回蓄積時間intを演算する蓄積時間、ゲイン算出部532と、最大値Vomaxに基づいて、次回蓄積時における測光センサー13からの測光出力データをVagcより小さいVagcNに近づけるように次回用に次回蓄積時間intNを演算する蓄積時間、ゲイン算出部532と、次回蓄積時間intが所定時間より大か否かを判定するマイクロコンピュータ53と、マイクロコンピュータ53が否定判定した場合は次回蓄積時間intを次回の蓄積時間とし、マイクロコンピュータ53が肯定判定した場合は次回蓄積時間intNを次回の蓄積時間とするマイクロコンピュータ53とを備えるようにした。これにより、蓄積型の受光素子である測光センサー13の蓄積時間を短縮することができる。とくに、暗い撮影環境で輝度が低い場合には、蓄積時間の短縮化が見込める。一般に、測光センサー13の蓄積時間が長いと測光処理時間が長くなる。測光処理時間が長くなると、レリーズ釦54が押下操作された場合にレリーズシーケンス処理を起動させるまでのタイムラグが長くなりやすい。蓄積時間を短縮することで、このようなタイムラグを抑えられる。すなわち、演算を含む測光自体の時間が短くなり、レリーズタイムラグが大きくなることが避けられる。また、測光サイクル全体も早くなり、連写の応答性能AEも向上する。各モードにおいて、各目標レベルVagcに測光センサーの出力値をAGC方式で近づけるが、低輝度時は蓄積時間が延ばされることによって、蓄積時間が制限値までいってしまう場合がある。測光センサーの出力が線形性を保っているレベルであれば、無駄に蓄積時間を延ばす必要はない低輝度はもともとDレンジが小さい為。また、中断が入った場合、蓄積を途中で打ち切り有効性判定を行うが、適正範囲に収まっているデータにもかかわらず、有効性を判定することなくデータを捨ててしまうケースがある。改めて蓄積をやり直すとその分時間の無駄であり、これも、レリーズタイムラグが大きくなる要因となる。2上記1の測光装置において、蓄積時間、ゲイン算出部532は、時間intと次回蓄積時間intとの比に基づいてVagcNを定めるようにしたので、Vagcより小さい目標値であるVagcNを適切に定めることができる。3上記1または2の測光装置において、蓄積時間、ゲイン算出部532は、次回蓄積時間intNが所定の制限値intmaxを超える場合に次回蓄積時間intNをintmaxに制限するようにしたので、暗い撮影環境で輝度が低い場合において、次回蓄積時間intNに制限を加えない場合に比べて蓄積時間を短縮化できる。4上記1~3のいずれかの測光装置において、時間intの蓄積をさせた場合に測光センサー13から得た測光出力データの最大値Vomaxが有効性判定閾値Vokまたは有効性判定レベルVokNより大か否かに基づいて有効か否かを判定する有効性判定部533と、有効性判定部533が否定判定した場合に蓄積をさせた場合に測光センサー13から得た測光出力データに基づく測光演算することなく測光センサー13に次回蓄積時間intまたは次回蓄積時間intNの蓄積をさせるマイクロコンピュータ53測光センサー制御部531と、をさらに備えるようにしたので、適切な測光データを得られる可能性が高めることができる。5上記4の測光装置において、有効性判定部533は、マイクロコンピュータ53が肯定判定した場合の有効性判定レベルVokNをマイクロコンピュータ53が否定判定した場合の有効性判定閾値Vokより小さくするようにしたので、蓄積時間を短くした場合の低レベルの測光出力データを無駄にするおそれを低減できるから、適切な測光データを得られる可能性が高まる。6上記4または5の測光装置において、マイクロコンピュータ53測光中断処理部536は、測光センサー13の蓄積中であって次回蓄積時間intまたは次回蓄積時間intNに達する前に行われたレリーズ釦54の全押し操作に応じて蓄積を途中終了させ、有効性判定部533は、途中終了後の測光出力データの最大値Vomaxが有効性判定閾値Vokまたは有効性判定レベルVokNより大か否かに基づいて有効か否かを判定するようにした。これにより、途中終了によって蓄積時間が短くなってしまった場合の低レベルの測光出力データを無駄にするおそれを低減できるから、適切な測光データを得られる可能性が高まる。以上の説明はあくまで一例であり、たとえば、上述した測光装置を備えるカメラであれば電子カメラでもフィルムカメラでもよく、一眼レフタイプと異なるカメラに適用しても構わない。以上の説明はあくまで一例であり、上記の実施形態の構成に何ら限定されるものではない。"