製造工程において1100°C以上の温度で10時間以上保持する炭素除去工程を含み、残留炭素濃度が5ppm以下であることを特徴とする、セラミックメタルハライドランプ用ガラスフリット。少なくともDy2O3、Al2O3、SiO2を含むことを特徴とする、請求項1記載のセラミックメタルハライドランプ用ガラスフリット。補強部材により導電性サーメットロッドと外部リードの接合部は強くなったが、細管部端部から外部リードが折れるという現象が発生することがある。これは、シール後のガラスフリットに気泡が発生する場合があり、ガラスフリットの強度が気泡により低下するためである。また、細管部と導電性サーメットロッドとの間に流れ込んだガラスフリットに気泡が発生すると、気密性の低下から発光管リークに至る可能性が高まる。気泡の発生する原因であるが、ガラスフリットの製造工程ではバインダーとしてPVAポリビニルアルコールを使用している。このためガラスフリット中に残留したPVAがガラスフリット中に含まれる酸化物からの酸素と加熱中に反応し、発生した一酸化炭素や二酸化炭素が気泡となり、ガラスフリット中に残ってしまうからである。そこで本発明は、セラミックメタルハライドランプのシール部における気泡の発生を抑制することにより、発光管の細管部とリード線の接合強度を高め、リークの危険性を低減し寿命を伸ばすことが可能なガラスフリットを提供することを技術的課題としている。この課題を解決するために、本発明は、セラミックメタルハライドランプ用のガラスフリットであり、製造工程において1100°C以上の温度で10時間以上保持する炭素除去工程を含み、残留炭素濃度が5ppm以下であることを特徴とする。ここで残留炭素濃度とは、加熱溶融し細管部に流す前の状態での、重量比である。本発明に係るガラスフリットによれば、炭素除去工程を有することにより、残留炭素濃度を5ppm以下にすることで、ガラスフリット中の酸化物からの酸素と反応することが抑制されるので、加熱溶融時の気泡の発生が抑えられる。本発明によれば、ガラスフリットの製造工程に炭素除去工程を設けることにより、ガラスフリット中の残留炭素濃度を5ppm以下にすることで、シール工程での加熱溶融時の気泡の発生を抑制し、気泡による外部リード線の固着強度の低下や、リークの発生する確率を抑えられる。図1は本発明に係るガラスフリットを用いるセラミックメタルハライドランプのシール工程を示す図である。図1aに示すように、細管部1に電極マウント2を挿入し、リング状に固めたガラスフリット3と補強部材4を電極マウント2の外部リード8に挿入する。図1bに示すように、電極マウント2は、導電性サーメットロッド7に溶接されたストッパー9により、細管部の端部にガラスフリット3、補強部材4と共に保持される。この状態でガラスフリット3を加熱し、導電性サーメットロッド7と細管部1の隙間にガラスフリットを流し込む。ガラスフリットは補強部材側にも侵入するので、細管部1に電極マウント2と補強部材4を一体的に固着することができる。また、リング状に固めたガラスフリットを得るための製造工程のフローチャートを図2に示す。ガラスフリットの原材料である、Dy2O3、Al2O3、SiO2を所定の比率に秤量し、混合する。次にバインダーとしてPVAポリビニルアルコールを加えた状態で、更に混合する。混合した材料を乾燥させた後、粉砕し、ふるいにかけ、顆粒状にする。顆粒状にした材料をリング状にプレスし成型する。成型後の材料は、炭素除去工程として、大気中にて1100°Cに加熱され10時間保持された後、焼成工程により焼成される。この炭素除去工程での炭素除去が不十分な場合、ガラスフリット中に炭素が残留し、セラミックメタルハライドランプのシール用に使用した場合、一酸化炭素や二酸化炭素などの気泡が発生し、シール部強度の低下を招く。比較のために、炭素除去工程の条件を変えたガラスフリットの残留炭素濃度と、そのガラスフリットを使用したセラミックメタルハライドランプのシール部強度を測定した結果を表1に示す。上記の表1において、炭素除去工程処理条件とは、大気中で加熱した際の温度と、その温度での保持時間である。比較例としては本発明の実施例よりも低い温度及び短い時間で処理を行ったガラスフリットを示す。尚、ガラスフリットの残留炭素濃度は、焼成工程後の数値である。シール部強度は以下の方法にて測定を行った。実施例と比較例の各ガラスフリットにて、セラミックメタルハライドランプのシールを行い、作製されたセラミックメタルハライドランプの細管部を固定し、外部リード線に力を加え、シール部が破損した応力を測定した。表1の結果から、本実施例の1100°C-10時間の炭素除去工程を施したガラスフリットは、残留炭素濃度が0~5ppmと極端に少なく、このガラスフリットを用いて作製されたセラミックメタルハライドランプのシール部強度は45Nであり、ランプ使用中や輸送中の振動や衝撃に十分耐えられるものであることが分かった。比較例のうち残留炭素濃度の高いガラスフリットのほうが、シール部に多くの気泡が存在し、この気泡によりシール部の強度低下を招いている。十分な強度のシール部を得るためには、ガラスフリットの残留炭素濃度を5ppm以下にする必要があり、このためには1100°C以上の温度で10時間以上保持する炭素除去工程が必要である。さらに、ガラスフリット中の気泡の発生が抑制されるので、気泡が原因となるシール部のリークが発生しないセラミックメタルハライドランプを得ることができた。