下治具と、上治具と、該上治具を該下治具に対して上方から下降可能に構成される荷重機構とからなる試験装置を使用し、ガラス基板の変形における破断点荷重を測定する試験方法であり、前記下治具は、下方から前記ガラス基板を同心円状に支持する第1円環構造および該第1円環構造より大径の第2円環構造を有し、前記上治具は、前記ガラス基板において前記下治具の前記第1円環構造と第2円環構造で支持された部分の間に反対側から荷重可能な第3円環構造を有する磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験方法。前記ガラス基板が、孔のあけられた磁気ディスク用ガラス基板である請求項1に記載の磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験方法。下治具と、上治具と、該上治具を該下治具に対して上方から下降可能に構成される荷重機構とからなり、ガラス基板の変形における破断点荷重を測定可能な試験装置であり、前記下治具は、下方から前記ガラス基板を同心円状に支持する第1円環構造および該第1円環構造より大径の第2円環構造を有し、前記上治具は、前記ガラス基板において前記下治具の前記第1円環構造と第2円環構造で支持された部分の間に反対側から荷重可能な第3円環構造を有する磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験装置。前記ガラス基板が、孔のあけられた磁気ディスク用ガラス基板である請求項3に記載の磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験装置。前記下治具には、第1円環構造および第2円環構造と同軸状で、外径が前記ガラス基板にあけられた孔の直径より小さく上方に伸長する支持円柱を備え、該支持円柱の先端と、前記上治具とに、それぞれ嵌合構造を備える請求項4に記載の磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験装置。本発明は、面の部分の抗折強度を直接的かつ容易に評価することが可能な磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験方法および抗折強度試験装置を提供することを課題とする。本発明のガラス基板の抗折強度試験方法は、下治具と、上治具と、該上治具を該下治具に対して上方から下降可能に構成される荷重機構とからなる試験装置を使用し、ガラス基板の変形における破断点荷重を測定する試験方法であり、前記下治具は、下方から前記ガラス基板を同心円状に支持する第1円環構造および該第1円環構造より大径の第2円環構造を有し、前記上治具は、前記ガラス基板において前記下治具の前記第1円環構造と第2円環構造で支持された部分の間に反対側から荷重可能な第3円環構造を有する。本発明の磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験方法および抗折強度試験装置により、中心部が開孔された磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度を直接的かつ容易に評価することができる。本発明の抗折強度試験装置について、図面を参照して説明する。図1に、本発明の抗折強度試験装置を縦断面図で示す。本実施態様に係る磁気ディスク用ガラス基板1は、円板状であり、中心に孔があけられている。本発明の抗折強度試験装置は、下治具10と、上治具20と、上治具20を下治具10に対して上方から下降可能に構成される荷重機構図示せずとからなる。荷重機構には、ガラス基板1の変形における破断点荷重を測定可能な機器を備える。下治具10は、下方からガラス基板1を同心円状に支持する第1円環構造11および該第1円環構造より大径の第2円環構造12を有する。従って、第1円環構造11および第2円環構造12は、中心軸と直交する平面で異なる直径の同軸円筒を切断した形状および位置関係にあり、ガラス基板1において第1円環構造11で支持された部分が円となり、第2円環構造12で支持された部分が円となる。さらに、下治具10には、第1円環構造11および第2円環構造12と同軸状で、上方に伸長する支持円柱13を備える。支持円柱13の外径は、ガラス基板1にあけられた孔の直径よりわずかに小さくする。上治具20は、ガラス基板1において下治具10の第1円環構造11と第2円環構造12で支持された部分の間に反対側から荷重可能な第3円環構造21を有する。従って、第3円環構造21は、中心軸と直交する平面で円筒を切断した形状であり、ガラス基板1と第3円環構造21が接触する部分が円となる。また、支持円柱13の先端にさらに円柱構造を備え、該円柱構造の外径よりわずかに小さい直径の孔を上治具20にあける。それぞれの寸法関係は、支持円柱13の先端の円柱構造と、上治具20の孔とが、挿入容易かつ離脱容易である嵌合構造となるように決定する。以上のような寸法関係とすることにより、容易かつ安全に試験の準備をすることができ、それぞれの位置あわせが不要となる。本発明において、より好ましい抗折強度試験とするために、第1円環構造11、第2円環構造12、および第3円環構造21が、それぞれガラス基板1と接触する円の直径を変更することが考えられる。その場合は、下治具10と上治具20を組み合わせて数組、用意し、適宜、変更するとよい。なお、下治具10および上治具20は、SUS304製でよいが、特に限定されない。このような抗折強度試験装置により、ガラス基板1の変形における破断点荷重を測定する。従って、荷重機構には、例えば圧縮試験装置島津製作所製、型式オートグラフAGSJが好ましいが、これに制限されない。磁気ディスク用ガラス基板1には種々の直径があり、下治具10および上治具20の寸法について、例えば直径63.5mm2.5インチ、内径20mmのガラス基板1の抗折強度試験を行う装置では、下治具10の第1円環構造11がガラス基板1と接触する部分の円の直径を21~25mmとすることが好ましく、より好ましくは21~22mmとする。また、第2円環構造12がガラス基板1と接触する部分の円の直径を30~45mmとすることが好ましく、より好ましくは34~38mmとする。また、上治具20の第3円環構造21がガラス基板1と接触する部分の円の直径を22~34mmとすることが好ましく、より好ましくは26~30mmとする。以下に、本発明の抗折強度試験方法の好ましい一実施態様について、図面を参照して説明する。まず、下治具10の支持柱13をガラス基板1の孔に通すようにして、ガラス基板1を第1円環構造11および第2円環構造12の上に載せる。次に、下治具10の支持柱13の先端を上治具20の孔に通すようにして、上治具20をガラス基板1の上に載せる。以上のみにより、それぞれを最適な位置関係とすることができる。次に、荷重機構を始動し、上治具20を下治具10に対して上方から下降させて、ガラス基板1の変形における破断点荷重を測定し、試験を終了する。次に本発明を実施例に基づきさらに詳細に説明するが、これは本発明を制限するものではない。[実施例1]図1に縦断面図を示した本実施例の抗折強度試験装置を使用して、直径63.5mm2.5インチ、厚さ0.8mmの円板状であり、中心に直径20mmの孔があけられているガラス基板1の抗折強度試験を行った。なお、ガラス基板1は、アルミノシリケート系からなる母材ガラス板を加熱炉内で加熱して軟化させ、ゴムローラーで幅方向全体にわたり押圧して作製されたガラス条を用いた。下治具10の第1円環構造11は、ガラス基板1と接触する部分が直径21mmの円であり、先端にはR形状を取ってあり、第2円環構造12は、ガラス基板1と接触する部分が直径36mmの円であり、先端にはR形状を取った。下治具10は、SUS304製とした。上治具20の第3円環構造21は、ガラス基板1と接触する部分が直径28mmの円であり、先端にはR形状を取った。上治具20は、SUS304製とした。荷重機構図示せずには、ガラス基板の変形における破断点荷重を測定可能な圧縮試験装置島津製作所製、型式オートグラフAGS-Jを使用した。第1円環構造と第2円環構造の上に載せられた上記ガラス基板の上に、第3円環構造を第1円環構造と第2円環構造の間に設置し、3部品が同心状に配置するようにした。その後、荷重機構にて荷重を掛けてガラス基板が破断するまで変形させた。負荷速度は任意であるが1mm/min程度が良い。実施例1のガラス基板は、25枚計測したがすべて4800Nまで割れなかった。なお、試験機の荷重が大きければ破断するまで荷重を掛け、一般的なワイブルプロットにて評価するのが良い。[実施例2]ガラス基板1に対して、意図的にガラス同士を接触させる処理をしたこと以外は、実施例1と同様にして、本実施例の抗折強度試験を行った。その結果、得られた抗折最低強度の平均値は、936Nであった。25枚のガラス基板の抗折最低強度は、936±285Nで、少ないばらつきで抗折最低強度を評価することができた。[実施例3]ガラス基板1に対して、2MPaの接触圧を持つフッ素系ゴムで被覆したローラーにて挟み込む処理をしたこと以外は、実施例1と同様にして、本実施例の抗折強度試験を行った。その結果、得られた最低抗折強度の平均値は、1977Nであった。25枚のガラス基板の抗折最低強度は、1977±230Nで、少ないばらつきで抗折最低強度を評価することができた。[実施例4]ガラス基板1に対して、2MPaの接触圧を持つフッ素系ゴムで被覆したローラーにて挟み込んだ後、フッ酸0.5に10分浸漬する処理をしたこと以外は、実施例1と同様にして、本実施例の抗折強度試験を行った。その結果、得られた最低抗折強度の平均値は、4191Nであった。25枚のガラス基板の抗折最低強度は、1977±260Nで、少ないばらつきで抗折最低強度を評価することができた。以上のように、円孔が形成されたガラス基板に発生したグリフィスクラックの形成頻度を評価することが可能になる。従って、本発明の磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度試験方法および抗折強度試験装置により、中心部が開孔された磁気ディスク用ガラス基板の抗折強度を直接的かつ容易に評価できることが分かる。[比較例1]実施例1と同じ直径63.5mm2.5インチ、厚さ0.8mmの円板状であり、中心に直径20mmの孔があけられている磁気ディスク用ガラス基板を、直径36mmである円環状の支持リングに支持させ、ガラス基板1の上に直径28mmの円環状の負荷リングを載せて、支持リングに対して負荷リングを上方から下降させることにより、ガラス基板の変形における破断点荷重を測定した。比較例1では破面観察を行ったところ、内周端面から割れが発生しており、表面強度を見るには適切ではなかった。本発明を説明するために記載した実施例においては、直径63.5mm2.5インチ、内径20mmの磁気ディスク用ガラス基板を対象とし、抗折強度試験装置の寸法を決定したが、本発明はこれに限定されず、直径および厚さが異なる磁気ディスク用ガラス基板についても適用可能である。また、本発明は、第1円環構造、第2円環構造および第3円環構造において、実施例に記載された寸法および形状に限らない。