"光源からの光源光信号を試料アームと参照アームとに分割する干渉計スプリッタと、前記光源光信号を試料に送出する第1の試料アーム偏光ビームスプリッタであって、前記光源光信号のうちの前記試料から反射した第1偏光を、第1の光検出器ペアに方向付ける第1の試料アーム偏光ビームスプリッタと、前記光源光信号を前記試料に送出する第2の試料アーム偏光ビームスプリッタであって、前記光源光信号のうちの前記試料から反射した第2偏光を、第2の光検出器ペアに方向付ける第2の試料アーム偏光ビームスプリッタと、前記第1の試料アーム偏光ビームスプリッタと前記第2の試料アーム偏光ビームスプリッタとの間に位置する非相反性の試料偏光方向回転システムとを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項1に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光源光信号を前記参照アーム内に送出する第1の参照アームビームスプリッタであって、前記参照アーム内の前記光源光信号を、前記第1の光検出器ペアに方向付ける第1の参照アームビームスプリッタを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項2に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光源光信号を前記参照アーム内に送出する第2の参照アームビームスプリッタであって、前記参照アーム内の前記光源光信号を、前記第2の光検出器ペアに方向付ける第2の参照アームビームスプリッタを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項1に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光源光信号のうちの前記試料から反射した前記第1偏光と、前記参照アームからの前記光源光信号とから、前記第1の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項5に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光源光信号のうちの前記試料から反射した前記第2偏光と、前記参照アームからの前記光源光信号とから、前記第2の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項1に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記第1の参照アームビームスプリッタと前記第2の参照アームビームスプリッタとの間に位置する、前記参照アームにおける非相反性の参照偏光方向回転システムを備え、2つの前記参照アームビームスプリッタが偏光ビームスプリッタである、光コヒーレンス分析システム。請求項1に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記参照アームにおいて前記光源光信号を受信して複数回反射する反射ブロックを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項1に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光源光信号を生成する掃引光源を備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項8に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記掃引光源への戻り反射を防止する光アイソレータを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項1に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光源光信号をフィルタ処理する分光フィルタと、スペクトルについてフィルタ処理された光源光信号を検出し、前記第1の光検出器ペアの出力および前記第2の光検出器ペアの出力のサンプリングをトリガするkクロック信号を生成するkクロック検出器とを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項1に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記第1の試料アーム偏光ビームスプリッタ、前記第2の試料アーム偏光ビームスプリッタ、前記第1の光検出器ペア、および前記第2の光検出器ペアが一体となって設けられている光学ベンチを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項11に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、前記光学ベンチが密閉された筐体内に装着されている、光コヒーレンス分析システム。光学ベンチと、前記光学ベンチに設けられた第1の光検出器ペアと、前記光学ベンチに設けられた第2の光検出器ペアと、前記光学ベンチに設けられ、光源からの光源光信号を試料アームと参照アームとに分割する干渉計スプリッタと、前記光学ベンチに設けられ、試料から反射した前記光源光信号と、前記参照アームからの前記光源光信号とから、前記第1の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナと、前記光学ベンチに設けられ、前記試料から反射した前記光源光信号と、前記参照アームからの前記光源光信号とから、前記第2の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナとを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項13に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光源光信号を前記試料に送出する第1の試料アームビームスプリッタであって、前記試料から反射した前記光源光信号を、前記第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナに送出する第1の試料アームビームスプリッタと、前記光源光信号を前記試料に送出する第2の試料アームビームスプリッタであって、前記試料から反射した前記光源光信号を、前記第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナに送出する第2の試料アームビームスプリッタとを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項14に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記第1の試料アームビームスプリッタと前記第2の試料アームビームスプリッタとの間に位置する非相反性の試料偏光方向回転システムを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項13に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光源光信号を送出させる第1の参照アームビームスプリッタであって、前記参照アームからの前記光源光信号を、前記第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナに方向付ける第1の参照アームビームスプリッタを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項16に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光源光信号を送出させる第2の参照アームビームスプリッタであって、前記参照アームからの前記光源光信号を、前記第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナに方向付ける第2の参照アームビームスプリッタを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項13に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光学ベンチに設けられ、前記参照アームにおいて前記光源光信号を受信して複数回反射する反射ブロックを備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項13に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光学ベンチに設けられ、前記光源光信号を生成する掃引光源を備えた、光コヒーレンス分析システム。請求項13に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、前記光学ベンチに設けられ、前記光源光信号をフィルタ処理する分光フィルタと、前記光学ベンチに設けられ、スペクトルについてフィルタ処理された光源光信号を検出し、前記第1の光検出器ペアの出力および前記第2の光検出器ペアの出力のサンプリングをトリガするkクロック信号を生成するkクロック検出器とを備えた、光コヒーレンス分析システム。OCTシステムのハードウェア性能を判断するために、2種類の基準が用いられる。まずは光干渉計の機械安定性であり、次に電子信号処理システムの電子帯域幅である。OCTシステム用の干渉計の多くは、複数本の長い光ファイバで構成される。このような干渉計内の光ファイバが機械的運動を生じたり、衝撃を受けたり、応力に曝されたりすると、光ファイバ内の光信号の伝播状態に、例えば、光信号の位相、偏光等に変化が生じ、その干渉計に基づく光学システムの性能に大きな影響を及ぼしかねない。高速、高性能および高解像度のOCTシステムが続々と登場するにつれて、十分に広い電子帯域幅を保証する重要性も増している。例えば、掃引光源の波長チューニング速度が速くなれば、OCT画像の取得速度も速くなるが、これを実現するには、光干渉信号をサンプリングするための電子部品に多大な性能要件を課すことになる。本発明は、光干渉計とその検出器システムとの革新的な統合化集積化に関する。本発明の実施形態では、電子信号増幅器典型的に、トランスインピーダンス増幅器と、干渉計からの光干渉信号を検出する光検出器とが近接して統合一体化される。さらなる実施形態では、干渉計好ましくは、干渉計の検出器も、共通の光学ベンチ上に統合される。これにより、ほとんど光ファイバが存在しないシステムまたは光ファイバが全く存在しないシステムを実現することができる。そのため、光ファイバの運動、歪みおよび衝撃に対して高い堅牢性を示す、極めて安定した干渉計が得られる。また、干渉計の小型化が可能なので、低コストのシステムを構築することができ、かつ、そのような小型化により、OCTの新たな用途も開拓することができる。さらに、この独創的なOCT光干渉計検出器システムは、高い信頼性で偏光ダイバーシティ検出を行うことができる。概して述べると、本発明の一構成は、光源からの光源光信号を試料アームと参照アームとに分割する干渉計スプリッタを備える、統合化された光コヒーレンス分析システムに関する。前記光源光信号を試料に向ける第1の試料アーム偏光ビームスプリッタが、前記光源光信号のうちの試料から反射した第1偏光成分を、第1の光検出器ペアに方向付ける。前記光源光信号を前記試料に伝送する第2の試料アーム偏光ビームスプリッタが、前記光源光信号のうちの試料から反射した第2偏光成分を、第2の光検出器ペアに方向付ける。さらに、前記第1の試料アーム偏光ビームスプリッタと前記第2の試料アーム偏光ビームスプリッタとの間には、非相反性の試料偏光方向回転システムが設けられる。他の実施形態では、さらに、前記光源光信号を前記参照アーム内に伝送する第1の参照アームビームスプリッタが設けられる。この第1の参照アームビームスプリッタは、前記参照アーム内の前記光源光信号を、前記第1の光検出器ペアに方向付ける。好ましくは、さらに、前記光源光信号を前記参照アーム内に伝送する第2の参照アームビームスプリッタが設けられる。この第2の参照アームビームスプリッタは、前記参照アーム内の前記光源光信号を、前記第2の光検出器ペアに方向付ける。また、好ましくは、前記光源光信号のうちの前記試料から反射した前記第1偏光成分と前記参照アームからの前記光源光信号とで構成され前記第1の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナが設けられる。第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナが、前記光源光信号のうちの前記試料から反射した前記第2偏光成分と前記参照アームからの前記光源光信号とで構成され前記第2の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する。ある実施形態では、前記第1の参照アームビームスプリッタと前記第2の参照アームビームスプリッタとの間に、前記参照アームにおける非相反性の参照偏光方向回転システムが位置し、かつ、2つの前記参照アームビームスプリッタが偏光ビームスプリッタとされる。また、前記参照アームにおいて前記光源光信号を受信して当該光源光信号を何回も反射する反射ブロックが使用されてもよい。さらに、以下の構成品が、システム場合によっては、共通の光学ベンチに統合され得る:前記光源光信号を生成する掃引光源;前記掃引光源への戻り反射を防止する光アイソレータ;前記光源光信号をフィルタ処理する分光フィルタ;および/または前記光源光信号のうち、スペクトルに応じてフィルタを通過したものを検出し、前記第1の光検出器ペアの出力および前記第2の光検出器ペアの出力のサンプリングをトリガするkクロック信号を生成するkクロック検出器。概して述べると、本発明の他の構成は、光学ベンチと、前記光学ベンチに設けられた第1の光検出器ペアと、前記光学ベンチに設けられた第2の光検出器ペアと、前記光学ベンチに設けられ、光源からの光源光信号を試料アームと参照アームとに分割する干渉計スプリッタと、前記光源光信号のうちの試料から反射したものと前記参照アームからの前記光源光信号とで構成され前記第1の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナと、前記光源光信号のうちの前記試料から反射したものと前記参照アームからの前記光源光信号とで構成され前記第2の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナと、を備える光コヒーレンス分析システムに関する。一部の実施形態において、前記光コヒーレンス分析システムは、さらに、前記光源光信号を前記試料に伝送する第1の試料アームビームスプリッタであって、前記光源光信号のうちの前記試料から反射したものを、前記第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナに伝送する第1の試料アームビームスプリッタと、前記光源光信号を前記試料に伝送する第2の試料アームビームスプリッタであって、前記光源光信号のうちの前記試料から反射したものを、前記第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナに伝送する第2の試料アームビームスプリッタと、を備える。また、前記光源光信号を伝送する第1の参照アームビームスプリッタであって、前記参照アームからの前記光源光信号を、前記第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナに伝送する第1の参照アームビームスプリッタが設けられてもよい。また、第2の参照アームビームスプリッタが、前記参照アームからの前記光源光信号を、前記第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナに伝送してもよい。以下では、構成品/構成要素の構造および組合せに関する新規的な各種詳細も含め、本発明の前述した特徴、その他の特徴およびその他の利点を、添付の図面を参照しながら詳細に説明し、さらに、添付の特許請求の範囲に規定する。なお、本発明の実施形態として示す装置および方法は、あくまでも例示に過ぎず、本発明を限定するものではない。さらに、本発明の原理および特徴は、本発明の範囲を逸脱しない範疇の様々な実施形態に適用することができる。添付の図面では、異なる図をとおして、同じ参照符号は同じ構成品/構成要素を指すものとする。なお、図面は必ずしも縮尺どおりではなく、むしろ、本発明の原理を示すことに重点を置いている。図1に、本発明の原理に基づいて統合化された検出器システム10を備える光コヒーレンス分析システム300を示す。掃引光源システム100は、波長可変な光信号を生成する。この光信号は、光ファイバ320を介して干渉計50に伝送される。好ましい実施形態において、前記波長可変な光信号は、狭い帯域幅の出射でスペクトル走査帯域にわたって走査する。一実施形態において、掃引光源100は波長可変レーザである。この波長可変レーザは、例えば、前述の特許文献1に記載されたものであってもよい。なお、特許文献1の全教示内容は、参照をもって本明細書に取り入れたものとする。他の実施形態において、掃引光源100は、Flandersらを発明者とする2009年9月3日付出願の米国特許出願第12553295号米国特許出願公開公報第20110051148号FilteredASESweptSourceforOCTMedicalImagingの明細書に記載されたASEフィルタ掃引光源、またはFlandersらを発明者とする2010年5月8日付出願の米国特許出願第12776373号米国特許出願公開公報第20110051143号ASESweptSourcewithSelfTrackingFilterforOCTMedicalImagingの明細書に記載されたASEフィルタ掃引光源である。これら米国特許出願の全教示内容は、参照をもって本明細書に取り入れたものとする。好ましくは、掃引光源システム100はkクロックモジュール250を含む。kクロックモジュール250は、掃引光源100の波長可変な光信号の周波数がチューニングによって前記走査帯域内で等間隔ずつ増減されるのに合わせて、クロック信号を生成する。好ましくは、遅延器252例えば、電子遅延器等が、A/Dクロックのトリガ遅延を干渉計50の光信号の遅延と一致させるために設けられている。干渉計50が、試料340からの光信号を分析するのに用いられる。掃引光源モジュール100の波長可変な光信号が、光ファイバ320を介して光カプラ322例えば、90/10カプラ等に伝送される。この伝送された前記波長可変な光信号は、カプラ322によって干渉計50の参照アーム326と試料アーム324とに分割される。参照アーム326には、反射光を異なる方向に向ける参照アームサーキュレータ342が設けられている。参照アーム326の光ファイバは、ファイバ端面328で終端する。この参照アーム326のファイバ端面328から出射した光は、レンズ330によってコリメート平行化された後、ミラー332で反射されて戻る。一例において、この外部のミラー332は、調節可能な光ファイバを有し、ミラーまでの距離を調節可能にする。この距離により、深さ方向の撮像範囲が決まり、言い換えれば、参照アーム326と試料アーム324との光路長差がゼロとなる試料340内の位置が決定する。なお、この距離は、試料に対して使用するプローブおよび/または撮像する試料に応じて調節される。参照波ミラー332で反射した光は、参照アームサーキュレータ342に戻り、50/50ファイバカプラ346に方向付けられる。試料アーム324には、試料から反射した反射光を異なる方向に向ける試料アームサーキュレータ341が設けられている。試料アーム324の光ファイバは、プローブ336で終端する。このプローブ336からは、光が試料340において収束するように出射される。試料340から反射した光は、試料アームサーキュレータ341に戻り、50/50ファイバカプラ346に方向付けられる。ファイバカプラ346では、参照アーム326からの光信号と試料アーム324からの光信号とが結合し、光干渉信号を生成する。この光干渉信号を、統合化された検出器システム10が受信する。詳細には、この光干渉信号は、バランスド受信器平衡受信器によって検出される。このバランスド受信器は、ファイバカプラ346の各出力にそれぞれ対応する、2つの検出器すなわちフォトダイオード348を含む。バランスド受信器348から出力される電気形態の干渉信号は、増幅器例えば、トランスインピーダンス増幅器等350によって増幅される。2つの検出器348は、トランスインピーダンス増幅器350と共に、共通の光学ベンチ110上に集積化されている。この光学ベンチ110は、光電子部品用のパッケージ200内に配設されている。検出器348を、トランスインピーダンス増幅器350と共に、共通の光電子部品用のパッケージ200内で一体化すること、好ましくは、共通の光学ベンチ110上で一体化することにより、システム全体の電気的性能を向上させることができる。また、バランスド受信器検出器348とトランスインピーダンス増幅器350とを接続する導体つまり導線の長さを、比較的短くすることができる。これにより、電気抵抗および静電容量を減少させることができる。また、熱電冷却器TE111を設ければ、この熱電冷却器111により、トランスインピーダンス増幅器350の温度およびバランスド受信器348の温度を安定化させることができる。一実施形態において、熱電冷却器111は、光学ベンチ110と光電子部品用のパッケージ200との間に設置される。この構成によれば、熱電冷却器111により、光学ベンチ110で生じた熱をパッケージ200から取り除くことができる。なお、熱電冷却器111は、他の実施形態では任意の構成である。アナログ-デジタル変換器システムA/Dボード315が、増幅器350からの干渉信号出力をサンプリングするのに用いられる。アナログ-デジタル変換器システム315は、kクロックモジュール250から得られる周波数クロック信号、および掃引光源モジュール100に由来する掃引トリガ信号を用いて、システムのデータ取得を掃引光源システム100の光波周波数チューニングに同期させる。掃引光源をチューニングしながら光ビームを試料340に対して走査させることにより、試料340からのデータセットを収集する。通常、このデータセットの収集は、掃引光源100の周波数をチューニングしながら、プローブ336からの集束したビームを試料340に対して空間的にラスタ走査典型的には、直交x-y方式または円柱θ-z方式で適用されるを行い、各ポイントでのスペクトル応答を生成することによって実施される。収集されたデータに対し、計算エンジン例えば、浮動小数点演算可能ゲートアレイ、デジタルシグナルプロセッサ等380がフーリエ変換を実行することにより、試料340の2Dまたは3Dの断層画像を再構成することができる。デジタルシグナルプロセッサ380によって生成されたこの情報は、映像モニタに表示するようにしてもよい。ある用途では、プローブ336を血管内に挿入することにより、動脈の内壁および静脈の内壁を走査する。別の例では、プローブ336に、他の分析治療手段、例えば、血管内超音波法IVUS、前方視IVUSFLIVUS、高密度焦点式超音波療法HIFU、感圧式ワイヤ、画像誘導治療装置等を設けてもよい。別の医療用途として、プローブ336を眼用プローブとし、前眼部または後眼部例えば、網膜等に対して走査を行い、当該部位のOCT画像を生成するようにしてもよい。このようにプローブ336によって画像診断を行い、これを画像誘導治療に利用したり、治療手段と組み合せることでレーザ手術等を実施したりすることも可能である。図2に、本発明の第2の実施形態に基づいた、光コヒーレンス分析システム300を示す。この第2の実施形態における統合化された光検出器システム10は、光干渉信号を、異なる偏光成分に分離することができる。詳細には、第1の偏光ビームスプリッタ362および第2の偏光ビームスプリッタ364が、カプラ346によって生成される光干渉信号を、互いに直交する偏光成分に分離する。2つのバランスド検出器348-1,348-2が、光干渉信号の2種類の偏光成分のうちの、それぞれに対応する偏光成分を検出する。2つのバランスド検出器348-1,348-2の出力は、それぞれ対応するトランスインピーダンス増幅器350-1,350-2によって増幅される。この第2の実施形態でも、2つのバランスド検出器348-1,348-2が、トランスインピーダンス増幅器350-1,350-2、および他の光学部品例えば、第1の偏光ビームスプリッタ362、第2の偏光ビームスプリッタ364等と共に、共通の光学ベンチ110上に集積化されている。この光学ベンチ110は、光電子部品用のパッケージ200内に配設されている。2つのバランスド検出器348-1,348-2を、トランスインピーダンス増幅器350-1,350-2と共に、共通の光学ベンチ110上に集積化することにより、検出器と増幅器との間の電気抵抗および静電容量を減少させることができるので、システム全体の電気的性能を向上させることができる。また、熱電冷却器111を設ければ、この熱電冷却器111により、トランスインピーダンス増幅器350-1,350-2の温度、バランスド検出器348-1,348-2の温度、および他の光学部品の温度を安定化させることができる。さらに、光電子部品用のパッケージ200により、静電遮蔽が形成されるので、電磁干渉EMIに起因する受信器の望ましくないピックアップを抑えることができる。図3に、本発明の第3の実施形態に基づいた、光コヒーレンス分析システム300を示す。この第3の実施形態は、試料340に対して分光学的解析のような光学的解析を行うことを可能にする。詳細には、この好ましい実施形態では、プローブ336に2つの光ファイバが備えられる。光ファイバ350は、第1の掃引光源100-1によって生成された第1の波長可変な光信号と第2の掃引光源100-2によって生成された第2の波長可変な光信号との光結合信号を、プローブ336に伝送する。このプローブ336は、その光結合信号を試料340に向けて出射する。試料340から反射した光のうち、光コヒーレンス分析に使用されるものは、光ファイバ350を介してサーキュレータ341に戻る。この反射光は、前述した実施形態と同じように処理され、試料340の光コヒーレンス分析結果が得られる。一方、試料340のスペクトル解析に使用される反射光は、プローブ336を介して光ファイバ352に光結合される。このスペクトル解析用光は、付帯的な検出器すなわち、スペクトル解析用検出器356によって検出される。一具体例では、フィルタコリメータ素子355が、そのスペクトル解析用光を、スペクトル解析用検出器356に向ける。必要に応じて、このフィルタコリメータ素子355は、さらに、試料340の光コヒーレンス分析に関係するスペクトル成分を除去する。一具体例において、第1の掃引光源100-1は、光コヒーレンス分析用の掃引光源である。第2の掃引光源100-2は、試料340のスペクトル解析用の掃引光源である。通常、これら2種類の掃引光源は、互いに異なるスペクトル走査帯域で動作する。この具体例では、フィルタコリメータ素子355は、第2の掃引光源100-2の走査帯域のみを通過させるWDMフィルタである。他の具体例では、試料340のスペクトル解析が、光コヒーレンス分析と同じスペクトル領域で実行される。この場合、フィルタコリメータ素子355は、第1の掃引光源100-1および第2の掃引光源100-2の両方のスペクトル成分を通過させる。そして、検出器356が、試料340のスペクトル応答を時間多重方式で検出する。あるいは、第1の掃引光源100-1および第2の掃引光源100-2が互いに異なるスペクトル走査帯域で動作する場合であって、かつ、それらを時間分割できない場合には、フィルタコリメータ素子355が、それら2種類の走査帯域の光のうちの一方のみを、検出器356に到達させる。この第3の実施形態でも、統合化された検出器システム10は、光電子の検出器348,356を共通の光学ベンチ110上に集積化し、かつ、この光学ベンチ110を光電子部品用のパッケージ200内に配設したものとされる。好ましくは、バランスド検出器348に接続された増幅器350-1および付帯的な検出器356に接続された増幅器350-2も、共通の光学ベンチ110に設けられる。図4に、統合化された検出器システム10のさらなる他の実施形態を示す。この実施形態では、光ファイバ351が、試料アームサーキュレータ341からの光信号を、ファイバフィードスルー260を介して光電子部品用のパッケージ200内に導波する。同様に、光ファイバ352が、参照アームサーキュレータ342からの光信号を、ファイバフィードスルー262を介して光電子部品用のパッケージ200内に導波する。この実施形態では、光干渉信号をファイバカプラによって生成するわけではない。むしろ、試料アーム324からの光信号および参照アーム326の光信号を、検出器システム201に直接供給する。前述したものと同様に、この検出器システム201は、トランスインピーダンス増幅器システム350と共に、光学ベンチ110に設けられている。さらに、いずれの構成品201,350も、光電子部品用のパッケージ200内に配設されている。この実施形態は、光干渉信号をファイバカプラによって生成せずに済む点が有利である。むしろ、光干渉信号は、共通の光学ベンチ110に設けられた検出器システム201内で、例えばビームスプリッタ/コンバイナ等によって生成される。この構成により、光ファイバ構成品への衝撃や応力に対して堅牢なシステムを提供することができる。さらに、熱電冷却器111を設けることにより、熱的安定性が得られる。図5に、図4のOCTシステムに適用可能な、統合化された光検出器システムの一実施形態を示す。詳細には、試料アームからの光信号が、光ファイバ351により、ファイバフィードスルー260を通って光電子部品用のパッケージ200内に伝送される。光電子部品用のパッケージ200は、光学ベンチ110を収容している。この光学ベンチ110には、電熱冷却器111が装着されている。光ファイバ351の端部ファセットは、取付構造282によって光学ベンチ110に固定されている。米国特許第6625372号明細書に、このような取付構造および他の取付構造の例が記載されている。試料アームからの光信号は、レンズ光学部品272によってコリメートされる。このレンズ光学部品272は、取付構造および基材レンズを備えている。このコリメートされた光信号を、干渉ビームスプリッタ/コンバイナ224が受信する。同様に、参照アームからの光信号が、光ファイバ352により、ファイバフィードスルー262を通って伝送される。光ファイバ352の端部ファセットは、取付構造284によって光学ベンチ110に固定されている。参照アームからの光信号は、第2のレンズ光学部品270によってコリメートされる。このコリメートされた光信号は、折り返しミラー274に方向付けられ、干渉ビームスプリッタ/コンバイナ224で受信される。干渉ビームスプリッタ/コンバイナ224は、試料アーム324からの光信号と参照アーム326からの光信号との光干渉により、光干渉信号を生成する。この光干渉信号は、第1の光検出器226と第2の光検出器232によって検出される。光検出器226,232が、バランスド検出器システムまたはバランスド受信器システムを形成する。第1の検出器226および第2の検出器232は、それぞれ電気導体すなわちワイヤボンド276,278により、いずれもトランスインピーダンス増幅器350に電気的に接続されている。このトランスインピーダンス増幅器350は、光学ベンチ110の上面に固定されている。好ましい実施形態において、トランスインピーダンス増幅器350は、光学ベンチ110に直接接着されたベアシリコンチップbaresiliconchipである。トランスインピーダンス増幅器350は、電気導体またはワイヤボンド280により、光電子部品用のパッケージ200のワイヤボンドパッド8,9に接続されている。このようにして、上記の実施形態では、光学ベンチ110上で光干渉信号を直接生成することができる。また、光学ベンチ110にトランスインピーダンス増幅器350のダイチップを設置することにより、この増幅器350と第1および第2の検出器226,232とを接続する電気接続部分276,278を短くすることができる。これにより、これら構成要素間の電気抵抗を抑えるとともに、静電容量を減少させることができるので、高速かつ高帯域での動作が可能となる。図6に、図4のOCTシステムに適用可能な、統合化された光検出器システム10の他の実施形態を示す。この実施形態では、前述した実施形態と同じように、干渉ビームスプリッタ/コンバイナ224に、参照アーム326からの光信号および試料アーム324からの光信号を供給する。ただし、干渉ビームスプリッタ/コンバイナ224で生成された光干渉信号は、第1の偏光ビームスプリッタ286と第2の偏光ビームスプリッタ288とで受信される。これら偏光ビームスプリッタ286,288は、第1偏光成分を透過させて第1偏光に直交する第2偏光成分を反射する。第1のバランスド受信器は、第1および第2の検出器226,232で構成される第1の検出器ペアを備える。第2のバランスド受信器は、第1および第2の検出器236,238で構成される第2の検出器ペアを備える。詳細には、偏光ビームスプリッタ286,288が透過する第1偏光成分に対して、第1のバランスド受信器が、第1および第2の検出器226,232で構成される第1の検出器ペアを備える。また、偏光ビームスプリッタ286,288が反射する第2偏光成分に対して、第2のバランスド受信器が、第1および第2の検出器236,238を備える。2つのトランスインピーダンス増幅器350-1,350-2のうち、トランスインピーダンス増幅器350-1が第1のバランスド受信器からの信号を受信し、トランスインピーダンス増幅器350-2が第2のバランスド受信器からの信号を受信する。詳細には、トランスインピーダンス増幅器350-1が、検出器226および検出器232の出力を増幅し、トランスインピーダンス増幅器350-2が、検出器236および検出器238の出力を増幅する。トランスインピーダンス増幅器350-1は、ワイヤボンド276により、検出器226,232に接続されており、トランスインピーダンス増幅器350-2は、ワイヤボンド276により、検出器236,238に接続されている。トランスインピーダンス増幅器350-1,350-2の電気出力は、ワイヤボンド280により、光電子部品用のパッケージ200のボンドパッドに接続されている。光電子部品用のパッケージ200のリード線502により、トランスインピーダンス増幅器350-1,350-2の増幅出力が送出されると共に、これら増幅器350-1,350-2に対する電力が外部から入力される。この実施形態でも、トランスインピーダンス増幅器350-1,350-2を、光検出器226,232,236,238と共に、共通の光学ベンチ110に設けることにより、高帯域での動作が可能となる。また、前述したものと同じく、干渉ビームスプリッタ/コンバイナ224により光学ベンチ110上で直接光干渉信号を生成することができる。これにより、機械的衝撃や熱的不安定に対する堅牢性を向上させることができる。図7に、統合化されたOCTシステム300を示す。この実施形態では、OCTシステム全体が、単一の密閉されたパッケージ200内において共通の光学ベンチ110上に集積化されている。この構成によれば、全ての光学路を共通の光学ベンチ110上に位置させることができるので、システムの機械安定性を最大限に高めることができる。また、共通の密閉されたパッケージ200内に配設するので、極めてコンパクトで小型化されたシステムを提供することができる。例えば、一実施形態において、光学ベンチ110は、長さが150ミリメートル未満で幅が150ミリメートル未満である。好ましくは、光学ベンチ110は、長さが100ミリメートル未満で幅が100ミリメートル未満である。詳細には、掃引光源100は、波長可変な光信号を生成する。この光信号は、干渉計50に伝送される。一実施形態において、掃引光源100は波長可変レーザである。この波長可変レーザは、例えば、前述の特許文献1に記載されたものであってもよい。他の実施形態において、掃引光源100は、Flandersらを発明者とする2009年9月3日付出願の米国特許出願第12553295号米国特許出願公開公報第20110051148号FilteredASESweptSourceforOCTMedicalImagingの明細書に記載されたASEフィルタ掃引光源、またはFlandersらを発明者とする2010年5月8日付出願の米国特許出願第12776373号米国特許出願公開公報第20110051143号ASESweptSourcewithSelfTrackingFilterforOCTMedicalImagingの明細書に記載されたASEフィルタ掃引光源である。掃引光源100は、極めてコンパクトな設計構造体内に設けられる。一例として、掃引光源100は、パッケージ200内において光学ベンチ110に設けられる。他の実施形態では、光源からの光が、光ファイバを介して光学ベンチ110に光結合されるか、またはパッケージ200のウィンドウ光学窓を介して光学ベンチ110に光結合される。光アイソレータ204により、干渉計50からの戻り反射backreflectionが光源100の動作を妨害しないようにされる。干渉計ビームスプリッタ212が、掃引光源からの波長可変な光信号を受信する。干渉計ビームスプリッタ212は、さらに、この波長可変な光信号を、干渉計50の試料アーム324と参照アーム326とに分割する。典型的な実施形態において、干渉計ビームスプリッタは50/50スプリッタではない。むしろ、光源からの光信号の大半は、試料340からの反射による信号損失の大きい試料アーム324に向けられる。試料アーム324では、波長可変な光信号が、まず、第1の偏光ビームスプリッタ222を透過する。これを透過した波長可変な光信号は、さらに、非相反性の偏光素子を通過する。この非相反性の偏光素子は、ファラデー回転子228および1/2波長板230で構成される。これら構成品228,230の組合せにより、掃引光源100からの波長可変な光信号の偏光方向の回転は、正味でゼロとなる。そして、この波長可変な光信号は、第2の偏光ビームスプリッタ234を透過して試料340に到達する。第2の偏光ビームスプリッタ234が、試料340から反射した反射光をまず受信する。この第2の偏光ビームスプリッタ234は、試料から反射した反射光のうち、掃引光源100の偏光方向と直交する偏光成分を、第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナ258に向けて反射する。これに対し、第2の偏光ビームスプリッタ234は、試料340から反射した反射光のうち、掃引光源100の偏光方向と平行な偏光成分については透過させる。ファラデー回転子228および1/2波長板230で構成される前記非相反性の偏光素子は、試料340から反射した反射光の偏光方向を、掃引光源100の偏光方向と直交する方向に回転させる。これは、通過する光の伝播方向に従うファラデー回転子228の非相反的な動作に起因する。試料から反射した反射光のうち、第1の偏光ビームスピリッタ222が受信したものは、第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナ224に向けて反射される。参照アーム326では、掃引光源100からの光信号が、まず、第1の偏光ビームスプリッタ214を透過する。好ましい実施形態において、掃引光源100によって生成された光が、まず、第1の参照アーム偏光ビームスプリッタ214を透過する。掃引光源100からの光信号は、さらに、参照アーム326における非相反性の偏光方向回転素子を通過する。この非相反性の偏光方向回転素子は、ファラデー回転子216および1/2波長板218で構成される。なお、この際の偏光方向の回転はゼロである。これにより、波長可変な光信号は、参照アーム326における第2の偏光ビームスプリッタ220も透過することができる。参照アーム326内を進んだ光は、リフレクタ332に到達する。このリフレクタ332は、光を、第2の参照アーム偏光ビームスプリッタ220に向けて反射する。リフレクタ332、または参照アーム326の伝波路に沿って配置された他の素子は、リフレクタ332から第2の偏光ビームスプリッタ220に向けて反射された反射光が両方2種類の偏光成分を有するように、光の偏光方向を例えば、45°回転させる。第2の参照アーム偏光ビームスプリッタ220は、その反射光のうち、掃引光源100の偏光方向と直交する偏光成分を、第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナ258に向けて反射する。前記反射光のうち、第2の参照アーム偏光ビームスプリッタ220を透過したものは、1/2波長板218およびファラデー回転子216を通過する。これら構成品218,216の組合せは、非相反的に偏光方向を回転させるように設定されているので、前記反射光のうちの第2の参照アーム偏光ビームスプリッタ220を透過したものを、掃引光源100からの波長可変な光信号の偏光方向と直交する偏光方向に回転させる。これにより、前記反射光のうちの第2の参照アーム偏光ビームスプリッタ220を透過したものが、第1の参照アーム偏光ビームスプリッタ214により、第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナ224に向けて反射される。第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナ224および第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナ258は、それぞれが受信した偏光成分について、光干渉信号を生成する。バランスド検出器226,232を有する第1の検出器ペアは、掃引光源100の偏光と平行な光干渉信号を検出する。バランスド検出器236,238を有する第2の検出器ペアは、掃引光源100の偏光と直交する光干渉信号を検出する。一実施形態において、kクロックシステム250は、密閉されたパッケージ200内において光学ベンチ110に設けられる。詳細には、参照アーム326内の反射光が、干渉計ビームスプリッタ212を透過してkクロックアイソレータ210に伝送される。kクロックアイソレータ210を通過した光は、反復透過機能を有する分光フィルタ208に向けて伝送される。一実施形態において、分光フィルタ208は、自由スペクトル領域内で特定のスペクトル成分を反復透過させる透過エタロンまたは反射エタロンである。この分光フィルタ208を通過した光が、kクロック検出器206で検出される。既述の実施形態と同じように、kクロックシステム250は、波長可変な光信号の周波数がその波長走査帯域内で等間隔ずつ増減されるのに合わせて、アナログ-デジタル変換器システムによる前述したバランスド検出器の各ペアにおける出力のサンプリングをクロックする。既述の実施形態と同じように、この好ましい実施形態においても、2つのトランスインピーダンス増幅器350-1,350-2が、光学ベンチ110に設けられる。第1のトランスインピーダンス増幅器350-1は、前述したバランスド検出器226,232のペアの出力を増幅する。第2のトランスインピーダンス増幅器350-2は、前述したバランスド検出器236,238のペアの出力を増幅する。これにより、主な高速電子部品を他の光学部品と共に光学ベンチに設けた、極めてコンパクトなシステムを提供することができる。図8に、統合化されたOCTシステム300の他の実施形態を示す。この実施形態は、参照アーム326内で複屈折を行う構成を設けずに済む点が、図7の統合化されたOCTシステムと異なる。さらに、この実施形態では、偏光ビームスプリッタの数を減らすことができる。詳細には、図7を参照しながら説明したものと同様に、波長可変な光信号が試料アーム324内を透過しながら進む。第2の試料アーム偏光ビームスプリッタ234が、試料340から反射した反射光のうち、掃引光源100からの波長可変な光信号と直交するものを反射する。第2の偏光ビームスプリッタ234によって反射された光は、非相反性の回転素子を通過する際に、偏光方向が90°回転される。なお、この非相反性の回転素子は、ファラデー回転子254および1/2波長板256で構成される。これら構成品254,256は、光遅延を一致させる目的で設けられる。前述したものと同様に、その非相反性の回転素子を通過した光は、第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナ258によって受信される。一変形例として、前記構成品254,256の組合せによる機能を、相反性の90°偏光方向回転素子例えば、1/2波長板等を設けることで実現するようにしてもよい。試料340から反射した反射光のうち、掃引光源100からの波長可変な光信号と平行な偏光成分については、試料アーム324における非相反性の偏光方向回転素子を通過することができる。なお、この非相反性の偏光方向回転素子は、ファラデー回転子228および1/2波長板230で構成される。この非相反性の偏光方向回転素子を通過した光は、第1の試料アーム偏光ビームスプリッタ222によって反射されて第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナ224に方向付けられる。干渉計ビームスプリッタ212によって反射されて参照アーム326に伝送される前記波長可変な光信号は、第1の参照アームビームスプリッタ214および第2の参照アームビームスプリッタ220を透過する。この実施形態では、参照アーム326に偏光ダイバーシティ機能が設けられていない。よって、両方の参照アームビームスプリッタ214,220は、前記波長可変な光信号の一部をシステム外に反射して損失させるので、参照アーム326における損失を引き起こす。その後、参照アーム326内の光は、反射ブロック248に進入する。反射ブロック248の側壁は、前記波長可変な光信号が反射されるようにコーティングが施されている。なお、前記側壁には、2つの透光ポートが設けられている。前記波長可変な光信号は、入射透光ポート290から進入し、反射ブロック248内で複数回例えば、10~20回または20回以上等反射した後、出射ポート292からリフレクタ332に向けて出射される。反射ブロック248は、参照アーム326の光路長を増加させる役割を果たす。反射ブロック248のサイズ、および反射ブロック248内での前記波長可変な光信号の反射回数を制御することにより、参照アーム326の光路長を、試料アーム324の光路長と一致するように変更することができる。リフレクタ332および反射ブロック248から反射した反射光の一部は、第2の参照アームビームスプリッタ220によって反射されて第2の検出器干渉スプリッタ/コンバイナ258に向けられる。第2の参照アームビームスプリッタ220を透過した光は、第1の参照アームビームスプリッタ214によって反射されて第1の検出器干渉スプリッタ/コンバイナ224に向けられる。既述の実施形態と同じように、kクロックシステム250が、密閉されたパッケージ200内において光学ベンチ110に設けられる。kクロックシステム250は、kクロックアイソレータ210、分光フィルタ208、およびkクロック検出器206を含む。kクロックシステム250は、波長可変な光信号の周波数がその走査帯域内で等間隔ずつ増減されるのに合わせて、前述したバランスド検出器の各ペアの出力のサンプリングをクロックする。既述の実施形態と同じように、この好ましい実施形態においても、2つのトランスインピーダンス増幅器350-1,350-2が、光学ベンチ110に設けられる。第1のトランスインピーダンス増幅器350-1は、前述したバランスド検出器226,232のペアの出力を増幅する。第2のトランスインピーダンス増幅器350-2は、前述したバランスド検出器236,238のペアの出力を増幅する。これにより、主な高速電子部品を他の光学部品と共に光学ベンチに設けた、極めてコンパクトなシステムを提供することができる。本発明を、詳細に図示した好適な実施形態を参照しながら詳細に説明したが、当業者であれば、本発明の範囲から逸脱することなく構成および細部に様々な変更を施すことができ、そのような変更も添付の特許請求の範囲に包含される。"