"顕微鏡を用いてマイクロ操作ツールをサンプル担体に対して無衝突で位置決めする方法であって、a第1の開口数NA1を有する顕微鏡対物レンズの焦点を前記サンプル担体の表面の少なくとも1つの点Pに合わせることによって、当該少なくとも1つの点の焦点位置ZPを求めるステップと、b前記マイクロ操作ツールを前記顕微鏡の光軸上に位置決めするステップと、c前記顕微鏡対物レンズの焦点を又は前記第1の開口数NA1よりも小さな第2の開口数NA2を有する第2の顕微鏡対物レンズの焦点を前記マイクロ操作ツールの先端に合わせることによって、前記マイクロ操作ツールの焦点位置ZMを求めるステップと、d所定の許容差プロファイルΔZを考慮して、降下距離ZAPを次の式ZAP=ZM-ZP-ΔZによって計算するステップであって、ΔZ=ΔZMΔZPであり、ΔZMは前記操作ツールの位置を求めるときの所定の許容差であり、ΔZPは前記サンプル担体の位置を求めるときの所定の許容差である、ステップと、e前記マイクロ操作ツールを前記降下距離ZAPだけ降下させることによって前記点Pに位置決めするステップを有することを特徴とする方法。前記ステップeの前に、i番目の顕微鏡対物レンズi>1又はi>2のそれぞれに対し、前記顕微鏡対物レンズの開口数を増大させながらNAi>NAi1前記ステップc及びdを繰り返す、請求項1に記載の方法。前記操作ツールの許容差ΔZM及び/又は前記サンプル担体の許容差ΔZPは、下記の式に従い、位置測定に使用する各i番目の対物レンズの被写界深度dtiefiによって与えられ、ここで、λは観察光の波長であり、nは顕微鏡対物レンズとサンプル担体の間の媒質の屈折率であり、Miはi番目の対物レンズの倍率であり、eは観察に使用されるビデオカメラの解像度である、請求項1又は2に記載の方法。前記ステップeの前に、前記サンプル担体の表面における所定の複数の点Pjj=1,2,...に対して前記ステップa~dを実行し、各点Pjについて降下距離ZAPjをデータベースに格納し、格納された降下距離ZAPjを考慮しながら、各点Pjに対して前記ステップeを実行する、請求項1、2又は3に記載の方法。前記ステップeの前に、前記サンプル担体の表面の直線上に並んでいない3つの点P1、P2、P3に対して前記ステップa~cを実行し、求められた焦点位置ZP1、ZP2、ZP3から平面の方程式EPを計算し、前記ステップdにおいて、前記サンプル担体の表面の任意の点Pjについて降下距離ZAPjをZAPj=ZM-EPj-ΔZにより計算する、請求項1から4のいずれか1項に記載の方法。前記ステップcにおいて、前記焦点位置ZMとして前記操作ツールの先端の位置を求める、請求項1から5のいずれか1項に記載の方法。前記ステップcにおいて、以下のステップ、すなわち、c1前記操作ツールの先端における第1の点Q1に焦点を合わせることによって、前記第1の点Q1の焦点位置ZQ1を求めるステップと、c2前記点Q1の焦点位置ZQ1と前記操作ツールの先端における第2の点Q2の焦点位置ZQ2とが等しくなるまで、前記操作ツールを前記操作ツールの軸を中心として回転させ、前記Q1に焦点を合わせるために改めて顕微鏡対物レンズを調節するステップと、c3前記操作ツールの先端における第3の点Q3に焦点を合わせることによって、前記第3の点Q3の焦点位置ZQ3を求めるステップと、c4前記焦点位置ZQ1、ZQ2及びZQ3が等しくなるまで、前記サンプル担体の平面に平行な軸回りに前記操作ツールを傾斜させ、前記点Q3に焦点を合わせるために改めて前記顕微鏡対物レンズを調節するステップと、c5前記操作ツールの焦点位置をZA=ZQ1に定めるステップを実行することによって前記操作ツールの捩れ角及び傾斜角を補償する、請求項6に記載の方法。前記ステップaにおいてさらに、第1の顕微鏡対物レンズの焦点を載置容器の表面の点Rに合わせることによって前記点Rの焦点位置Zcapを求める、請求項1から7のいずれか1項に記載の方法。前記サンプル担体の表面の点及び/又は前記載置容器の表面の点を、位置決めテーブルを用いて前記サンプル担体及び/又は前記載置容器をシフトさせることによって動かす、請求項1から8のいずれか1項に記載の方法。前記焦点位置の測定を光学式距離測定システムによって行う、請求項1から9のいずれか1項に記載の方法。"