レーザ光源と、該レーザ光源から出射するレーザ光の光軸に対して直角方向に配置されれた平板状のターレットと、前記ターレットの円周上に複数個配置され前記レーザ光源から出射されたレーザ光を入射する対物レンズと、前記対物レンズの一つに対向して配置された試料と、前記レーザ光源から出射したレーザ光がダイクロイックミラー及び前記対物レンズを介して前記試料に照射され、照射された試料から発する蛍光信号を集光し、結像レンズの結像面に蛍光像を得るように構成したレーザ顕微鏡において、前記対物レンズが配置されたターレットの円周上に光センサを配置し該光センサの出力に基づいて前記レーザ光源から出射するレーザ光の出力を一定に制御するための制御手段を備えたことを特徴とするレーザ顕微鏡。前記光センサは前記光源から出射し前記ダイクロイックミラーを透過した蛍光を得るためのレーザ光の全量を受光するように構成したことを特徴とする請求項1記載のレーザ顕微鏡。前記制御手段はA/D変換器及びPCを含んで構成したことを特徴とする請求項1又は2に記載のレーザ顕微鏡。ところで、上述の従来例においては、校正に使うレーザ光は、ダイクロイックミラー2を透過した漏れ光出射したレーザ光の数以下を用いて全量を推測しているため、正確さに欠けるという問題があった。本発明は、上述の課題を解決するためになされたもので、レーザ光を正確に測定し、その値に基づいて試料への励起のレベルレーザ光の強度が常に一定になるように校正し、取得する共焦点画像の明るさを保証し、画像解析の信頼性を向上させたレーザ顕微鏡を提供することを目的としている。本発明のレーザ顕微鏡は、請求項1においては、レーザ光源と、該レーザ光源から出射するレーザ光の光軸に対して直角方向に配置されれた平板状のターレットと、前記ターレットの円周上に複数個配置され前記レーザ光源から出射されたレーザ光を入射する対物レンズと、前記対物レンズの一つに対向して配置された試料と、前記レーザ光源から出射したレーザ光がダイクロイックミラー及び前記対物レンズを介して前記試料に照射され、照射された試料から発する蛍光信号を集光し、結像レンズの結像面に蛍光像を得るように構成したレーザ顕微鏡において、前記対物レンズが配置されたターレットの円周上に光センサを配置し該光センサの出力に基づいて前記レーザ光源から出射するレーザ光の出力を一定に制御するための制御手段を備えたことを特徴とする。請求項2においては、請求項1記載のレーザ顕微鏡において、前記光センサは前記光源から出射し前記ダイクロイックミラーを透過した蛍光を得るためのレーザ光の全量を受光するように構成したことを特徴とする。請求項3においては、請求項1記載のレーザ顕微鏡において、前記制御手段はA/D変換器及びPCを含んで構成したことを特徴とする。本発明のレーザ顕微鏡によれば、ターレットの円周上に光センサを配置しこの光センサの出力に基づいてレーザ光源から出射するレーザ光の出力を一定に制御するための制御手段を備えたので、蛍光を得るためのレーザ光の全量を受光することが可能となり取得する共焦点画像の明るさを保証し、画像解析の信頼性を向上させることができる。図1は本発明のレーザ顕微鏡の実施形態の一例を示す概略ブロック構成図である。図1において、レーザ光源1から出射したレーザ光イは共焦点スキャナ20を構成するマイクロレンズアレイディスク21、ダイクロイックミラー2a及びピンホールアレイディスク22を透過し、結像レンズ3及びターレット5aの上に配置された複数の対物レンズ4の一つを介して容器6に入れた試料7を照射する。ターレット5a上の複数の対物レンズ4は回転軸Oを中心として電動モータ図示せずによって自動的に回転する。ターレット5a上に配置された対物レンズ4はターレットの回転により選択的に使用される。図1では、ターレット5aの外周付近の円周が6等分され、その一つに光センサ8が配置されている。試料7で生じた蛍光信号ロは入射経路を逆に辿って対物レンズ4、結像レンズ3を透過して共焦点スキャナ20に入射する。焦点スキャナ20に入射した蛍光信号ロはピンホールアレイディスク22の結像面ピンホール22aを透過してダイクロイックミラー2aで反射してリレーレンズ13a→バンドパスフィルタ11→リレーレンズ13bを介してカメラ12で試料の観察が行われる。マイクロレンズアレイディスク21とピンホールアレイディスク22は連結部材23により連結されて回転中心軸Oを中心として回転する。なお、共焦点スキャナの構成や機能の詳細は公知なのでここでの説明は省略する。図2はターレット5aが回転し、光センサ8が結像レンズ3に対向する位置に配置された状態を示している。本発明は、前記レーザ光源の出力強度を調整し、試料へのレーザ光の強度を一定値に制御する装置であり、光センサ8、信号変換手段9、制御手段10から構成されている。本発明は、レーザ光の強度を測定するための光センサ8をレーザ光源の励起光路上に設けることである。図2に示すように、ターレット5a上に本来対物レンズを装着する場所の一つに、光センサ8を取り付ける。そして、レーザ光の強度を測定する際にはターレット5aを回転させ、光センサ8を励起光路上に移動する。この様に配置することにより、励起光として機能するレーザ光の100が直接光センサ8に入射し、レーザ光の強度を正確に測定することができる。次に本発明の動作について説明する。予め、制御手段10において、レーザ光の強度レベルを100に設定した場合、光センサ8で受ける信号レベルの値を記録しておく。即ち、レーザ光の強度を校正するに際しては、ターレット5aを回転して、光センサを8励起光路に移動させる。その後、レーザ光源をONにして、光センサで受ける信号を測定する。測定値が予め記録した値から逸脱した場合、レーザ光源の出射パワーレベルを調整し、光センサ8で受ける信号が予め記録した値になるようにする。この時、光センサで受けた信号を信号変換手段A/D変換器9で変換し、制御手段PC10へ入力する。制御手段10では、信号変換手段9からの信号の大きさを予め設定した値と比較する。そして、実測値と予め設定した値が予め定めた閾値を超えていた場合、制御手段では、レーザ光源の出射レベルを予め設定した値になるように調整する。なお、レーザ光源は、経時的に劣化し、出力は使用頻度に比例して低下する。したがって、上記出力校正は定期的に行う必要がある。上述の構成によれば、レーザ光源から出射する励起光の光路上に直接光センサを設置することによって、レーザ光を100受け、励起光レベルを正確に測定することができ、励起光の校正を正確に行うことができる。また、光センサの設置場所は試料に近く、光源から対物レンズまでの間の光路に存在する光学素子の機械的ずれによる光量低下も検出できる。例えば、図3に示す従来例では、ダイクロイックミラーが機械的に所定角度からずれると、透過光レベルモニタする量は変化しないが、反射光励起光は対物レンズに入射しなくなり、励起光は減少する。従来例では、この減少は検知できない。以上説明したように、本発明のレーザ顕微鏡によれば、ターレットの円周上に光センサを配置しこの光センサの出力に基づいてレーザ光源から出射するレーザ光の出力を一定に制御するための制御手段を備えたので、蛍光を得るためのレーザ光の全量を受光することが可能となり取得する共焦点画像の明るさを保証し、画像解析の信頼性を向上させることができる。なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。本発明では共焦点スキャナ顕微鏡用いた例について説明したが他の顕微鏡であってもよい。従って本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。