"回転体の回転角度に同期して周期的に変化するパラメータである回転角度相当量を値として有する出力信号を出力する角度検出装置について、その異常の有無を判断する角度検出装置の異常判断装置において、前記角度検出装置の出力信号を入力とし、前記回転角度相当量を独立変数とする関数の従属変数を平滑化する平滑化手段と、前記平滑化手段の出力に基づき、前記角度検出装置の異常判断パラメータを算出する判断パラメータ算出手段とを備え、前記関数は、所定区間における積分値が正または負となって且つ前記所定区間の少なくとも一部の領域において独立変数の連続的な変化に応じて従属変数を連続的に変化させるものであり、前記所定区間は、前記従属変数のうち前記平滑化手段による平滑化の処理に用いられる値の集合によって定まる区間であることを特徴とする角度検出装置の異常判断装置。前記関数は、前記回転角度相当量の一周期に渡る積分値が正または負となって且つ定義域の少なくとも一部の領域において独立変数の連続的な変化に応じて従属変数を連続的に変化させるものであることを特徴とする請求項1記載の角度検出装置の異常判断装置。前記異常判断パラメータは、前記出力信号を補正するためのものであり、該異常判断パラメータに基づき、前記出力信号を補正する補正手段をさらに備えることを特徴とする請求項2記載の角度検出装置の異常判断装置。前記判断パラメータ算出手段は、前記回転体の回転速度が低速度閾値以上である際の前記平滑化手段の出力を用いて前記異常判断パラメータを算出することを特徴とする請求項2または3記載の角度検出装置の異常判断装置。前記判断パラメータ算出手段は、前記回転体の回転速度が高速度閾値以下である際の前記平滑化手段の出力を用いて前記異常判断パラメータを算出することを特徴とする請求項1~4のいずれか1項に記載の角度検出装置の異常判断装置。前記関数は、偶関数であることを特徴とする請求項1~5のいずれか1項に記載の角度検出装置の異常判断装置。前記偶関数は、前記独立変数の偶数乗の値を従属変数とするものであることを特徴とする請求項6記載の角度検出装置の異常判断装置。前記偶関数は、前記出力信号の絶対値を従属変数とするものであることを特徴とする請求項6記載の角度検出装置の異常判断装置。前記平滑化手段は、ローパスフィルタであることを特徴とする請求項1~8のいずれか1項に記載の角度検出装置の異常判断装置。前記平滑化手段は、前記出力信号を離散的なサンプリングタイミングにおいてサンプリングする手段を備えて且つ、サンプリングされた前記出力信号を独立変数とする前記関数の従属変数の値の積算値を出力するものであることを特徴とする請求項1~9のいずれか1項に記載の角度検出装置の異常判断装置。前記異常判断パラメータは、前記出力信号のゲインであり、該算出されるゲインに基づき前記角度検出装置の出力信号の使用を制限する制限手段をさらに備えることを特徴とする請求項1~10のいずれか1項に記載の角度検出装置の異常判断装置。ところで、現在の回転角度は出力信号によって知られるものであるため、ゲインが正しくない場合、現在の回転角度についての正確な情報をうることができない。このため、上記補正装置では、誤差を有する回転角度を利用してゲインを算出することとなるため、ゲインの算出精度が十分とはいえない。本発明は、上記課題を解決する過程でなされたものであり、その目的は、回転体の回転角度によって搬送波が変調された被変調波を出力信号とする角度検出装置についての新たな異常判断装置を提供することにある。以下、上記課題を解決するための手段、およびその作用効果について記載する。請求項1記載の発明は、回転体の回転角度に同期して周期的に変化するパラメータである回転角度相当量を値として有する出力信号を出力する角度検出装置について、その異常の有無を判断する角度検出装置の異常判断装置において、前記角度検出装置の出力信号を入力とし、前記回転角度相当量を独立変数とする関数の従属変数を平滑化する平滑化手段と、前記平滑化手段の出力に基づき、前記角度検出装置の異常判断パラメータを算出する判断パラメータ算出手段とを備え、前記関数は、前記回転角度相当量の一周期に渡る積分値が正または負となって且つ定義域の少なくとも一部の領域において独立変数の連続的な変化に応じて従属変数を連続的に変化させるものであることを特徴とする。上記発明では、関数として、所定区間に渡る積分値が正または負となるものを選択することで、関数の所定区間の積分値は零以外の値となる。そして、定義域の少なくとも一部において独立変数の連続的な変化に応じて従属変数を連続的に変化させる関数の場合、所定区間に渡る時間積分値は、出力信号のゲインに応じたものとなる。このため、関数の従属変数を平滑化したものは、ゲインに関する情報を有することとなる。特に、平滑化手段の出力値は、ゲインに異常がある場合には、その異常なゲインを定量化したものとなるため、これを異常判断パラメータと定義すれば、ゲインの補正のみならず、ゲイン補正を伴わない異常の有無の判断に利用することもできる。請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記関数は、前記回転角度相当量の一周期に渡る積分値が正または負となって且つ定義域の少なくとも一部の領域において独立変数の連続的な変化に応じて従属変数を連続的に変化させるものであることを特徴とする。回転角度相当量は、周期性を有するものであるため、上記関数の定義域は有限の長さを有する。ここで、関数として、回転角度相当量の1周期に渡る積分値が正または負となるものを選択すると、関数の1周期の積分値は零以外の値となる。そして、定義域の少なくとも一部において独立変数の連続的な変化に応じて従属変数を連続的に変化させる関数の場合、時間積分値は、出力信号のゲインに応じたものとなる。このため、関数の従属変数を平滑化したものは、ゲインに関する情報を有することとなる。特に、上記の場合、平滑化手段による平滑化の処理に用いられる値の集合によって定まる区間を、回転角度相当量の一周期を定義域とする値域程度とすることで、異常判断パラメータを高精度に算出することができる。このため、平滑化の処理に用いられる値の集合によって定まる区間を回転角度情報によって特定する必要も生じない。請求項3記載の発明は、請求項2記載の発明において、前記異常判断パラメータは、前記出力信号を補正するためのものであり、該異常判断パラメータに基づき、前記出力信号を補正する補正手段をさらに備えることを特徴とする。上記異常判断パラメータは、ゲインを直接定量化したものとする以外に、ゲインに異常がある場合にこれを補正する補正値として定量化することもできる。上記発明では、この点に鑑み、異常判断パラメータによって出力信号を補正することで、補正された検出信号を回転角度を検出する上で精度の良い検出信号とすることができる。請求項4記載の発明は、請求項2または3記載の発明において、前記判断パラメータ算出手段は、前記回転体の回転速度が低速度閾値以上である際の前記平滑化手段の出力を用いて前記異常判断パラメータを算出することを特徴とする。回転機の回転速度が小さい場合、その振動成分を除去することが困難となる。上記発明では、この点に鑑み、低速度閾値以上である際の平滑化手段の出力を用いる。請求項5記載の発明は、請求項1~4のいずれか1項に記載の発明において、前記判断パラメータ算出手段は、前記回転体の回転速度が高速度閾値以下である際の前記平滑化手段の出力を用いて前記異常判断パラメータを算出することを特徴とする。たとえば出力信号を離散的なサンプリングタイミングにおいてサンプリングする場合、回転機の回転速度が大きいと、回転角度相当量のサンプリング値が正または負のいずれか一方に偏るおそれがある。そしてこの場合、平滑化手段の出力と従属変数の時間積分値との対応付けが困難となる。上記発明では、この点に鑑み、高速度閾値以下である際の平滑化手段の出力を用いる。請求項6記載の発明は、請求項1~5のいずれか1項に記載の発明において、前記関数は、偶関数であることを特徴とする。上記発明では、関数の従属変数の符号を正または負のいずれか一方に限定することができる。請求項7記載の発明は、請求項6記載の発明において、前記偶関数は、前記独立変数の偶数乗の値を従属変数とするものであることを特徴とする。請求項8記載の発明は、請求項6記載の発明において、前記偶関数は、前記出力信号の絶対値を従属変数とするものであることを特徴とする。上記関数の演算機能を、全波整流回路によって実現してもよい。これにより、デジタル処理手段の演算負荷を低減することができる。請求項9記載の発明は、請求項1~8のいずれか1項に記載の発明において、前記平滑化手段は、ローパスフィルタであることを特徴とする。上記ローパスフィルタをアナログフィルタとするなら、デジタル処理手段の演算負荷を低減することができる。請求項10記載の発明は、請求項1~9のいずれか1項に記載の発明において、前記平滑化手段は、前記出力信号を離散的なサンプリングタイミングにおいてサンプリングする手段を備えて且つ、サンプリングされた前記出力信号を独立変数とする前記関数の従属変数の値の積算値を出力するものであることを特徴とする。上記発明では、積算をする期間によって、ゲインの算出精度を制御することができる。請求項11記載の発明は、請求項1~10のいずれか1項に記載の発明において、前記異常判断パラメータは、前記出力信号のゲインであり、該算出されるゲインに基づき前記角度検出装置の出力信号の使用を制限する制限手段をさらに備えることを特徴とする。上記発明では、角度検出装置によって検出される回転角度の信頼性が低下すると想定される状況下、これがなんら制限無く使用される事態を回避することができる。<第1の実施形態>以下、本発明にかかる角度検出装置の異常判断装置をレゾルバに適用した第1の実施形態について、図面を参照しつつ説明する。図1に、本実施形態にかかるシステム構成図を示す。図示されるモータジェネレータ10は、車載主機であり、駆動輪に機械的に連結されている。インバータIVは、モータジェネレータ10と図示しないバッテリとの間の電力の授受を仲介する。モータジェネレータ10の回転子10aには、レゾルバ20の1次側コイル22が機械的に連結されている。1次側コイル22は、正弦波状の励磁信号Scによって励磁される。励磁信号Scによって1次側コイル22に生じた磁束は、一対の2次側コイル24,26を鎖交する。この際、1次側コイル22と一対の2次側コイル24,26との相対的な配置関係は、回転子10aの電気角回転角度θに応じて周期的に変化する。これにより、2次側コイル24,26を鎖交する磁束数は、周期的に変化する。特に、一対の2次側コイル24,26と1次側コイル22との幾何学的な配置が相違する設定とされ、これにより、2次側コイル24,26のそれぞれに生じる電圧の位相が互いにπ/2だけずれるようになっている。これにより、2次側コイル24,26のそれぞれの出力電圧は、励磁信号Scを、変調波sinθ、cosθのそれぞれによって変調した被変調波となる。すなわち、励磁信号Scをsinωtとすると、被変調波は、それぞれsinθsinωtとcosθsinωtとなる。2次側コイル24の出力電圧は、差動増幅回路30によって電圧変換され、A相被変調波Saとされ、2次側コイル26の出力電圧は、差動増幅回路32によって電圧変換され、B相被変調波Sbとされる。これらA相被変調波SaとB相被変調波Sbとのそれぞれは、アナログデジタル変換器A/D変換器34、36のそれぞれによってデジタルデータに変換される。このデジタルデータが、サンプリング信号SA,SBである。制御装置40は、レゾルバ20による回転角度信号サンプリング信号SA,SBによってモータジェネレータ10の回転角度θを把握することで、これに基づきインバータIVを操作する。これにより、モータジェネレータ10の制御量が制御される。ところで、A相被変調波SaやB相被変調波Sbは、必ずしもその振幅が制御装置40によって想定されるものとはならず、想定されるものからずれる異常が生じることがある。これは、レゾルバ20や差動増幅回路30,32のゲインに個体差や経年変化が生じるためである。このため、A相被変調波SaやB相被変調波Sbは、それぞれ想定される振幅ゲインKを用いて表現されるKsinθsinωtやKcosθsinωtからずれたものとなるおそれがある。そして、この場合には、回転角度θの検出精度が低下する。そこで本実施形態では、以下の態様にてA相被変調波SaやB相被変調波Sbの実際のゲインKを検出することで、そのずれを補償するゲイン補正量を算出し、制御装置40内の不揮発性メモリ42に記憶する。これにより、レゾルバ20の出力信号に基づき回転角度θを算出するに際して、A相被変調波SaおよびB相被変調波Sbのゲインがそれぞれ補正され、回転角度θの算出精度を向上させる。なお、不揮発性メモリとは、給電の有無にかかわらずデータを記憶保持するメモリであり、たとえば電気的書き換え可能な読み出し専用メモリ等のことである。ここで、ゲインKの検出原理について、A相被変調波Saを例にとって説明する。A相被変調波Saは、ゼロを振幅中心として振動するものであり、周期性を有する。このため、A相被変調波Saの平均値一周期に渡る積分値自体は、略ゼロとなる。ただし、これを独立変数とする偶関数の従属変数については、独立変数A相被変調波Saの1周期に渡る積分値が正となる。しかも、従属変数は、独立変数の連続的な変化に応じて連続的に変化するものであるため、偶関数の時間積分値は、ゲインKの関数となる。ここでは、偶関数として、1次の項およびゼロ次の項がゼロの2次関数を考えると、この従属変数は、以下の式c1にて表現される。上記の式c1は、ゲインKの関数である。しかも、その第1項以外は、周期性を有するため、そのN周期N:整数に渡る時間積分値は、ゼロとなる。このため、従属変数のN周期に渡る時間積分値を算出するなら、ゲインKを高精度に検出することができることとなる。もっとも、N周期に限らず、N周期とN1周期との間の期間にわたる時間積分値をN周期に渡る時間積分値とみなしてゲインKを算出しても、その誤差は、Nを大きくするほど小さくなる。このため、時間積分の期間を長くすることによってもゲインKの検出精度を向上させることができる。図2に、本実施形態にかかるゲイン検出処理の手順を示す。この処理は、制御装置40によるデジタル処理として、ゲイン検出処理の完了する以前において、たとえば所定周期で繰り返し実行される。なお、以下では、A相被変調波Sa側のゲインKの検出処理を示すが、B相被変調波Sb側のゲインKの検出処理についても同様に行うことができる。ちなみに、A相被変調波Sa側のゲインKとB相被変調波Sb側のゲインKとは、想定値としては同一であるものの想定値からずれる場合には互いに相違しうるものであるため、双方について各別に検出する。この一連の処理では、まずステップS10において、モータジェネレータ10の回転速度Vmが低速度閾値VthL以上であって且つ高速度閾値VthH以下であるか否かを判断する。この処理は、ゲインKの検出処理を精度良く行うことができるか否かを判断するためのものである。すなわち、回転速度Vmが過度に小さい場合、A相被変調波Saの1周期以上にわたるサンプリング信号SAのサンプリングが困難となる。そしてこの場合には、サンプリング信号SAの2乗を積算演算上記時間積分値に対応をしたものの回転角度θや励磁信号Scへの依存性が大きくなり、ゲインKを高精度に検出することができない。このため、低速度閾値VthLを、後述するサンプリング期間Tthにおける積算演算値の回転角度θや励磁信号Scへの依存性が十分に小さくなる速度の下限値に設定する。ここで、依存性の度合いについては、ゲインKの検出に要求される精度に応じて定めるものとする。一方、回転速度Vmが過度に大きくなることで、その半周期がサンプリング周期程度となる場合、上記の式c1において回転角度θに依存した項の符号が、各サンプリング信号SAにおいて同一となったり、また正となるものの数と負となるものの数との間に大きなずれが生じるおそれがある。そしてこの場合、回転角度θに依存した項の積算値をゼロとすることが困難となる。このため、高速度閾値VthHを、上記の式c1のうちの回転角度θに依存する項の符号が正となるものの数と負となるものの数との差が規定値以下となる上限値に設定する。ここで、規定値は、ゲインKの検出に要求される精度に応じて定めるものとする。なお、上記の式c1において励磁信号Scの角速度の2倍にのみ依存する項の積算値をゼロとする観点からは、励磁信号Scの半周期とサンプリング周期とを近似させないことが必要である。このため、サンプリング周期は、励磁信号Scの角速度の2倍にのみ依存する項の符号が正となるものの数と負となるものの数との差が規定値以下となるように設定することが望ましい。ここでも、規定値は、ゲインKの検出に要求される精度に応じて定めるものとする。上記ステップS10において肯定判断される場合、ステップS12において、サンプリング信号SAの2乗の積算値InAnを算出する。続くステップS14では、積算値InAの算出に用いるサンプリング信号SAのサンプリングされている時間を計時するカウンタをインクリメントする。そしてステップS16においては、カウンタがサンプリング期間Tth以上であるか否かを判断する。ここで、サンプリング期間Tthは、回転速度Vmに応じた回転周期よりも十分に長い期間とする。ここで、サンプリング期間Tthは、ゲインKの検出に要求される精度に応じて定めるものとする。上記ステップS16において肯定判断される場合、ステップS18において、ゲインKを算出する。ここでは、上記の式c1に鑑み、ゲインKを、積算値InAの平方根の2倍の値を、サンプリング数Nで除算した値に設定する。これにより、ゲインKと想定される値との差に基づきゲイン補正量を算出し、不揮発性メモリ42に記憶することができる。なお、ゲインKと想定される値との間に差がない場合、ゲイン補正量はゼロとなる。これは、ゲインに関して異常が生じていないことに対応し、この場合、それ以降、ゲイン補正量による補正がなされない。一方、上記ステップS10において否定判断される場合、ステップS20においてカウンタをリセットする。なお、上記ステップS18,S20の処理が完了する場合や、ステップS16において否定判断される場合には、この一連の処理を一旦終了する。ちなみに、ゲインが一旦検出され、ゲイン補正量が不揮発性メモリ42に記憶された後には、ゲインの検出処理を行なわなくてもよい。もっともレゾルバ20等の経年変化に鑑み、走行距離が規定距離となる毎等、定期的にゲインを検出しゲイン補正量を更新することが望ましい。以上詳述した本実施形態によれば、以下の効果が得られるようになる。1サンプリング信号SA,SBの2乗値の積算値に基づき、ゲインK異常判断パラメータを算出した。これにより、ゲインKを精度良く算出することができる。2回転速度Vmが低速度閾値VthL以上である際の積算値InAを用いてゲインKを算出した。これにより、積算値InAの回転角度θや励磁信号Scの位相への依存性を好適に抑制することができる。3回転速度Vmが高速度閾値VthH以下である際の積算値InAを用いてゲインKを算出した。これにより、積算値InAの回転角度θや励磁信号Scの位相への依存性を好適に抑制することができる。<第2の実施形態>以下、第2の実施形態について、先の第1の実施形態との相違点を中心に図面を参照しつつ説明する。本実施形態では、A相被変調波SaやB相被変調波Sbの絶対値関数をローパスフィルタ処理した値に基づき、A相被変調波SaやB相被変調波Sbのゲインを算出する。図3に、本実施形態にかかるシステム構成を示す。なお、図3において、先の図1に示した処理に対応する処理については、便宜上同一の符号を付している。図示されるように、A相被変調波Saは、全波整流回路50に入力され、ここで全波整流される。全波整流回路50の出力は、ローパスフィルタ52によって平滑化される。そして、ローパスフィルタ52の出力信号は、A相被変調波Saのゲインの算出に際して、A/D変換器34に取り込まれる。一方、B相被変調波Sbは、全波整流回路54に入力され、ここで全波整流される。全波整流回路54の出力は、ローパスフィルタ56によって平滑化される。そして、ローパスフィルタ56の出力信号は、B相被変調波Sbのゲインの算出に際して、A/D変換器36に取り込まれる。ここで、ローパスフィルタ52,56の出力値はそれぞれ、A相被変調波SaのゲインやB相被変調波Sbのゲインに応じて定まる。これは、A相被変調波SaやB相被変調波Sbの絶対値関数の1周期に渡る時間積分値がゲインに応じて一義的に定まることと対応している。このため、本実施形態によってもゲインを算出することができる。しかも、本実施形態では、A相被変調波SaやB相被変調波Sbを入力とする偶関数の従属変数の算出処理や、従属変数の平滑化処理をいずれもアナログ回路を用いて行なったために、制御装置40の演算負荷を低減することもできる。<第3の実施形態>以下、第3の実施形態について、先の第1の実施形態との相違点を中心に図面を参照しつつ説明する。本実施形態では、検出されたゲイン異常判断パラメータに基づき差動増幅回路30,32やレゾルバ等の故障A相被変調波Sa,B相被変調波Sbを以降において使用することなくユーザに通知するレベルの異常の有無を判断する処理を併せ行う。図4に、本実施形態にかかるゲイン検出処理の手順を示す。この処理は、制御装置40によるデジタル処理として、ゲイン検出処理の完了する以前のみならず、検出処理の完了後においても、たとえば所定周期で繰り返し実行される。なお、図4において、先の図2に示した処理に対応する処理については、便宜上同一の符号を付している。この一連の処理では、ステップS18においてゲインKを算出する処理が完了する場合、ステップS22において、ゲインKが下限側閾値KthL以下であるか否かを判断する。ここで、下限側閾値KthLは、ゲインKを補正してサンプリング信号SAによる回転角度θの検出処理を継続することが適切でない異常が生じたと考えられる上限値に設定される。そしてステップS22において肯定判断される場合、ステップS24において、差動増幅回路30のゲインが過度に小さくなる異常であるか断線が生じるかする異常である旨判断し、外部にその旨通知する。これに対し、ステップS22において否定判断される場合、ステップS26において、ゲインKが上限側閾値KthH以上であるか否かを判断する。ここで、上限側閾値KthHは、ゲインKを補正してサンプリング信号SAによる回転角度θの検出処理を継続することが適切でない異常が生じたと考えられる下限値に設定される。そしてステップS26において肯定判断される場合、ステップS28において差動増幅回路30のゲインが過度に大きくなる異常である旨判断し、外部にその旨通知する。なお、ステップS26において否定判断される場合には、ステップS30において、ゲインKの補正量を算出し、上記不揮発性メモリ42に記憶させる。<第4の実施形態>以下、第4の実施形態について、先の第1の実施形態との相違点を中心に図面を参照しつつ説明する。先の第1の実施形態では、ゲインKを算出すると、算出されたゲインKと想定される値正常値との差に基づきゲイン補正量を算出した。すなわち、ゲインKと想定される値との差がゼロでないことに基づきゲインに異常が生じているとしてゲイン補正量を用いてゲイン補正を行なうものの、異常度合いを評価することで、ゲイン補正量の算出を行なうか行わないかを決定する処理はしていなかった。これに対し、本実施形態では、算出されたゲインKと想定される値との差に基づき、異常度合いを評価することで、ゲイン補正量を算出するか否かを判断する。図5に、本実施形態にかかるゲイン検出処理の手順を示す。この処理は、制御装置40によるデジタル処理として、ゲイン検出処理の完了する以前において、たとえば所定周期で繰り返し実行される。なお、図5において、先の図2に示した処理に対応する処理については、便宜上同一の符号を付している。この一連の処理では、先の図2同様、ステップS10において肯定判断される場合、ステップS12aに移行する。ここでは、サンプリング信号SAに関する積算値InAと、サンプリング信号SBに関する積算値InBとを算出する。この積算処理は、サンプリング期間Tthに渡って行われるステップS14,S16。そして、サンプリング期間Tthが経過すると、ステップS18aにおいて、A相被変調波Sa側のゲインKAとB相被変調波側のゲインKBとのそれぞれを算出する。続くステップS40~S46では、ゲインKA,KBのそれぞれについて、先の図4のステップS22~S28の処理を行なう。そして、ゲインKA,KBのいずれもが下限側閾値KthLを下回ったり上限側閾値KthHを上回ったりしない場合、ステップS48に移行する。ステップS48ではゲインKAとゲインKBとの差の絶対値が第1閾値KthAB1以上であって且つ第2閾値KthAB2以下であるか否かを判断する。この処理は、ゲイン補正量を算出するか否かを判断するためのものである。ここで、第1閾値KthAB1は、回転角度θの算出精度の低下を回避する観点からゲイン補正量による補正を行なうことが望まれる下限値に設定される。一方、第2閾値KthAB2は、A相被変調波SaやB相被変調波Sbを利用した回転角度θの算出を継続使用することなくユーザに通知することが望まれると想定される下限値に設定される。そして、ステップS48において肯定判断される場合、ステップS50において、A相被変調波Sa側とB相被変調波Sb側とのゲインの差を低減するように望ましくはそれらゲインが互いに等しくなるようにゲイン補正量を算出する。ここでは、例えばA相被変調波Sa側のみゲイン補正量を算出することで、A相被変調波Sa側のゲインをゲインKBに近づけて望ましくは一致させてもよい。また、例えばB相被変調波Sb側のみゲイン補正量を算出することで、B相被変調波Sb側のゲインをゲインKAに近づけて望ましくは一致させてもよい。また、A相被変調波Sa側とB相被変調波Sb側とのそれぞれのゲインを正常時において想定される値に近づける望ましくは一致させるように、ゲイン補正量を算出してもよい。さらに、例えば、A相被変調波Sa側とB相被変調波Sb側とのそれぞれのゲインをゲインKA,KBの加重平均値に近づける望ましくは一致させるように、ゲイン補正量を算出してもよい。なお、ここで加重平均値は、重み係数が互いに等しい加重平均値単純平均値とすることが便宜である。もっともこれに代えて、正常時の想定値との乖離度合いが小さい方の重み係数を大きくした加重平均値としてもよい。これに対し、ステップS48において否定判断される場合、ステップS52において、ゲインKAとゲインKBとの差の絶対値が第2閾値KthAB2よりも大きいか否かを判断する。この処理は、A相被変調波SaやB相被変調波Sbを利用した回転角度θの算出を継続使用することなくユーザに通知することが望まれる異常時であるか否かを判断するためのものである。そして、ステップS52において肯定判断される場合、ステップS54において、上記異常時であると判断し、その旨をユーザに通知する。<その他の実施形態>なお、上記各実施形態は、以下のように変更して実施してもよい。平滑化手段についてデジタル処理を行う平滑化手段としては、積算値に限らない。たとえばデジタルフィルタによって構成されたローパスフィルタであってもよい。上記第1の実施形態において、ローパスフィルタを用いたり、上記第2の実施形態において積算値を用いたりしてもよい。被変調波を独立変数とする関数について上記第2の実施形態において、絶対値関数をデジタル処理によって算出してもよい。すなわち、デジタル処理によって被変調波の絶対値を算出してもよい。偶関数としては、独立変数の絶対値や、独立変数の2乗を従属変数とするものに限らない。たとえば4乗等、2NN≧2を従属変数とするものであってもよい。また、偶関数にも限らず、被変調波の一周期の積分値が正または負となるものであればよい。すなわち、この一周期の積分値In1を用いると、N周期の積分値は、N×In1となり、また、N周期とN1周期との期間にわたる積分値とN周期の積分値との差は、Nが大きいほど小さくなる。このため、N周期の積分値や、Nを大きくした任意の期間の積分値等から一周期の積分値In1についての精度のよい値を算出することができる。そして、1周期の積分値In1はゲインKによって表現される値であるため、1周期の積分値In1からゲインKを算出することができる。こうした関数としては、たとえば図6aに例示するように、被変調波独立変数が正である場合には被変調波の値自体を従属変数とし、被変調波が負である場合には従属変数の値をゼロとするものがある。もっとも、被変調波を独立変数とする関数は、定義域の一部に、独立変数の変化に応じて従属変数を連続的に変化させる領域を有することが必須である。なぜなら、たとえば図6bに例示するように、従属変数が正のときに1、ゼロ以下のときに0となる関数の場合、その時間積分値にゲイン情報が含まれないからである。なお、被変調波の一周期の積分値が正または負となって且つ、定義域の一部に、独立変数の変化に応じて従属変数を連続的に変化させる領域を有するものとしては、他にもたとえば図6cに示すものがある。もっとも、被変調波の一周期の積分値が正または負となって且つ、定義域の一部に、独立変数の変化に応じて従属変数を連続的に変化させる領域を有するものにも限らない。たとえばA相被変調波Sa自体について、その符号が正となる領域所定区間のみについての積分値もゲインの関数となる。このため、先の図1のステップS12の処理において、サンプリング信号SAの符号が正となる領域に限ったサンプリング信号SAの積算値を算出するなら、これに基づきゲインKの関数異常判断パラメータを算出可能である。これは、図6aに示した関数を用いることによっても可能であるが、ここでの相違点は、関数を恒等変換関数として且つ、サンプリング信号SAの符号が正となる領域を、励磁信号Scの位相と回転角度θとによって特定し、特定された区間に限って積算値を算出する点である。この場合、積算値によって定量化される異常度合いに応じて算出精度が変動する回転角度θを、積算値の算出に利用することとなるため、図6aに示した関数を用いる場合と比較して精度が低下する懸念がある。しかし、積算値に基づき算出されたゲイン補正量を用いて回転角度を算出し、これに基づき再度積算値を算出するといった処理を繰り返すことで、精度の低下を抑制できるとも考えられる。回転角度検出装置について回転体の回転角度によって搬送波が振幅変調された被変調波を出力信号とするものに限らない。たとえば、ACサーボシステムの理論と設計の実際:杉本ら著、総合電子出版社に記載されているように、搬送波の位相を回転角度によって変調するものであってもよい。この場合であっても、被変調波の振幅が想定値からずれる場合には、被変調波の位相の算出精度が低下するおそれがあることから、上記実施形態の要領でゲインを算出することは有効である。もっとも、角度検出装置としては、回転体の回転角度によって搬送波が変調された被変調波を出力信号とするものにも限らない。たとえば渦電流式センサのように搬送波を有しないものであってもよい。このセンサを回転角度検出装置として用いる場合であっても、その出力信号は、回転角度に同期して周期的に変化するパラメータである回転角度相当量を値として有するものとなるため、出力信号のゲインを補正する本発明の適用は有効である。制限手段について制限手段としては、ゲインKが下限側閾値KthL以下であったり上限側閾値KthH以上であったりした場合に、サンプリング信号SA,SBに基づく回転角度θの検出処理を禁止するものに限らない。たとえば、上記場合には、周知技術による角度推定器によって検出される回転角度との乖離が規定以下となることを条件に回転角度θの検出処理を許可するものであってもよい。判断パラメータ算出手段についてたとえば上記第1の実施形態において、積算値InAの平方根と、想定するゲインN/2との差を算出し、この差に2/Nを乗算することでゲイン補正量を算出するなどするなら、ゲインKについては直接これを算出する手段を備えない構成も可能である。判断パラメータ算出手段としては、ゲイン補正量を算出することを目的として含むものに限らず、上記制限手段の入力パラメータを算出することのみが目的であってもよい。上記第4の実施形態において、ステップS40~S46の処理を削除してもよい。さらに、ステップS52,S54の処理についてもこれを削除してもよい。これは、上記第1の実施形態のように、算出される異常判断パラメータをゲイン補正量の算出にのみ用いて且つ、この際、ゲイン補正量を算出するか否かをステップS48に示した条件の成立の有無に基づき判断するものである。なお、この場合、上記第4の実施形態において診断対象とされる残りの異常については、別の手法を採用することが望ましい。ちなみに、A相被変調波Sa側とB相被変調波Sb側とのそれぞれのゲイン同士の乖離度合いを定量化する手法としては、上記ステップS48において例示したものに限らず、例えばゲインKA,KBの比であってもよい。そのほか上記第3の実施形態図4におけるステップS24,S28の処理がなされる場合や、上記第4の実施形態図5におけるステップS42,S46の処理がなされる場合であっても、算出されたゲインKA,KBに基づきゲイン補正量を算出し、これを用いて回転角度θを算出してもよい。これにより、異常である旨ユーザに通知した後のリンプホーム処理時において、回転角度θの算出精度の低下を極力抑制することができるとも考えられる。"