"受容された光をスペクトル分散するように構成されたスペクトル分散光学素子と、前記スペクトル分散された光を調節可能に偏向するための、レバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタと、前記スペクトル分散され且つ調節可能に偏向された光を受容するための検出器アレイとを含む、分光計。前記受容された光が、戻り画像ビーム及び参照ビームから組み合わされた干渉ビームを含む、請求項1に記載の分光計。前記スペクトル分散光学素子は、プリズム、グレーティング、波長依存性の屈折率を有する光学素子、波長依存性の透過特性を有する光学素子、及び波長依存性の偏向特性を有する光学素子のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載の分光計。前記検出器アレイは、線形センサアレイ、二次元センサアレイ、及び検出器カメラのうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載の分光計。前記レバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタは、調節可能な透過特性及び調節可能な反射特性のうちの少なくとも一方を有する光学素子を含み、且つ、機械的調節をより小さな光学的調節に光学的にレバレッジすることによって調節可能である、請求項1に記載の分光計。前記光学的調節の角度に対する前記機械的調節の角度の比が10を超える、請求項5に記載の分光計。前記光学的調節の角度に対する前記機械的調節の角度の比が100を超える、請求項6に記載の分光計。前記光学的調節の角度に対する前記機械的調節の角度の比が5よりも大きく且つ100よりも小さい、請求項1に記載の分光計。前記調節可能なデフレクタが少なくとも1つの回転可能な楔形光学板を含む、請求項1に記載の分光計。前記受容された光を平行光に変換するコリメータと、前記スペクトル分散された光を前記検出器アレイ上に集束して画像化する集束レンズとを含む画像化分光計である、請求項1に記載の分光計。前記デフレクタの偏向調節範囲と関連付けられた第1検出器ビーム位置範囲が、当該分光計の構成部品の累積的な位置許容範囲と関連付けられた第2検出器ビーム位置範囲を超える、請求項1に記載の分光計。前記デフレクタの偏向調節範囲と関連付けられた第1検出器ビーム位置範囲が、前記分光計の作動検出器ビーム位置範囲を超える、請求項1に記載の分光計。前記レバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタに起因する作動ビームミスアライメントが、前記検出器のミスアライメントの許容差よりも小さい、請求項1に記載の分光計。前記調節可能なデフレクタは、前記検出器のアスペクト比よりも大きい角度方向のミスアライメントを導入することなく、前記スペクトル分散された光の横方向のミスアライメントを補償するように構成される、請求項1に記載の分光計。既知の波長の光を使用して当該分光計のセンサを再較正することによって、長手方向のミスアライメントの補償を可能にするように構成される、請求項1に記載の分光計。干渉光を受容して、該干渉光のスペクトル成分を横方向に分離することによって干渉光のシートを生成するように構成されたスペクトル分解器と、種々のセンサによって前記干渉光のシートの種々のスペクトル成分を検出するためのセンサアレイと、前記光のシートと前記センサアレイとのアライメントを制御するための、レバレッジ型の調節可能なアライメントコントローラとを含む、スペクトル領域光コヒーレンストモグラフィSD-OCT装置。前記アライメントコントローラは回転可能な楔形プリズムを含む、請求項16に記載のSD-OCT装置。分光計であって、画像光のスペクトル成分を横方向に分散するためのスペクトル分散器と、前記画像光のスペクトル成分を検知するためのセンサアレイと、当該分光計の素子の位置変化による累積的なビーム位置ミスアライメントを補償することができる光学的レバレッジ型のアライメントコントローラとを含む、分光計。SD-OCT装置の分光計は、典型的には、単一モードの光ファイバから画像光又は干渉光を受容する。分光計はこの干渉光をそのスペクトル成分にスペクトル分解又はスペクトル分散して、これら成分をその検出器の個々のセンサへ伝送する。検出された画像光成分をフーリエ変換して分析することによって、ターゲットの画像を構成する。上述のように、線形センサアレイを備えた検出器は、効率的に且つ高速で画像化を行う潜在能力を有している。これら線形アレイ検出器の潜在能力を実現するために、分光計のスペクトル分解素子は、分解されたスペクトルを、10~20ミクロン幅の画素線上に投影する。この仕様は、分光計の光学素子を十分に高い精度でアライメントすることによって達成されることができる。指定される角度方向のアライメント精度はミリラジアン又はmradのオーダーである。これは、光学ステージ又は光学素子を機械的に調節して回転させることによって達成されることができる。一方、横方向のアライメントの精度は1桁分高い精度を必要とすることがある。なぜならば、スペクトル分解素子と検出器との間の光路の長さによって、横方向のミスアライメントが悪化するからである。これら高精度なアライメントを達成するために、分光計は、横方向のアライメントの所要精度を達成するために、組み立て中に微調整されることのできる調節可能又は移動可能な光学素子を利用することができる。また、これら調節可能な素子を有する分光計は、定期的に計画されたメンテナンス中の修正調節の可能性を提供する。しかしながら、調節可能な素子は、一旦分光計が作動中になると、ミスアライメントして最適なアライメントからより容易にドリフトするおそれがあり、ひいてはテスト及びリセットのための技術的支援をしばしば必要とすることになる。医療用途におけるような、高度技術環境から離れて使用される分光計の重要な事例では、斯かるシステムの過剰な休止時間及び不便は言うまでもなく、分光計のアライメントを短い時間間隔又は不定期の時間間隔で試験し且つリセットするための技術支援が直ぐには利用できないことがしばしばある。一方、固定された調節不能のステージを使用してこれら難題に対して先手を打とうと試みる分光計の設計は、より詳細に下述されるような横方向のアライメントの許容不能な低い精度の問題に直面する。これら相反する要件は、分光計の設計を最適化する際に難題をもたらす。本特許文献に記載された分光計の種々の実施態様は、これら設計上の難題に対する解決手段を提供できる態様で、センサアレイとの改善されたアライメントをもたらすので有利である。具体的には、分光計の種々の実施態様は、画像光及び他のタイプの光の調節可能な偏向を可能にし、このことはセンサアレイとのアライメントを改善することができる。いくつかの実施態様の場合、分光計が、受容された光をスペクトル分散するように構成されたスペクトル分散光学素子と、スペクトル分散された光を調節可能に偏向するための、レバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタと、スペクトル分散され且つ調節可能に偏向された光を受容するための検出器アレイとを含むことができる。受容された光は、戻り画像ビーム及び参照ビームから組み合わされた干渉ビームを含む。いくつかの実施形では、スペクトル分散光学素子は、プリズム、グレーティング、波長依存性の屈折率を有する光学素子、波長依存性の透過特性を有する光学素子、又は波長依存性の偏向特性を有する光学素子を含むことができる。いくつかの実施形では、検出器アレイは、線形センサアレイ、二次元センサアレイ、又は検出器カメラのうちの少なくとも1つを含むことができる。いくつかの実施形では、レバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタは、調節可能な透過特性又は調節可能な反射特性を有する光学素子を含み、且つ、機械的調節をより小さな光学的調節に光学的にレバレッジすることによって調節可能である。いくつかの実施形では、光学的調節の角度に対する機械的調節の角度の比は、10を超え、他の実施形では100を超えることができる。いくつかの実施形では、光学的調節の角度に対する機械的調節の角度の比は5よりも大きく且つ100よりも小さい。調節可能なデフレクタは少なくとも1つの回転可能な楔形光学板を含むことができる。いくつかの実施形では、分光計は、受容された光を平行光に変換するコリメータと、スペクトル分散された光を検出器アレイ上に集束して画像化する集束レンズとを含む画像化分光計である。いくつかの実施形では、デフレクタの偏向調節範囲と関連付けられた第1検出器ビーム位置範囲が、分光計の構成部品の累積的な位置許容範囲と関連付けられた第2検出器ビーム位置範囲を超える。いくつかの実施形では、デフレクタの偏向調節範囲と関連付けられた第1検出器ビーム位置範囲が、分光計の作動検出器ビーム位置範囲を超える。いくつかの実施形では、レバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタに起因する作動ビームミスアライメントが、検出器のミスアライメントの許容差よりも小さい。いくつかの実施形では、調節可能なデフレクタは、検出器のアスペクト比よりも大きい角度方向のミスアライメントを導入することなく、スペクトル分散された光の横方向のミスアライメントを補償するように構成される。いくつかの実施形では、分光計は、既知の波長の光を使用して分光計のセンサを再較正することによって、長手方向のミスアライメントの補償を可能にするように構成される。いくつかの実施形では、スペクトル領域光コヒーレンストモグラフィSD-OCT装置が、干渉光を受容して、干渉光のスペクトル成分を横方向に分離することによって、干渉光のシートを生成するように構成されたスペクトル分解器と、種々のセンサによって干渉光のシートの種々のスペクトル成分を検出するためのセンサアレイと、光のシートとセンサアレイとのアライメントを制御するための、レバレッジ型の調節可能なアライメントコントローラとを含むことができる。アライメントコントローラは回転可能な楔形プリズムを含むことができる。いくつかの実施形では、分光計が、画像光のスペクトル成分を横方向に分散するためのスペクトル分散器と、画像光のスペクトル成分を検知するためのセンサアレイと、分光計の素子の位置変化による累積的なビーム位置ミスアライメントを補償することができる光学的レバレッジ型のアライメントコントローラとを含むことができる。本特許文献における実施形及び実施態様は、分光計の高精度なアライメント及び長期安定性という上記競合的な要件に対する改善手段を提供する。上述のように、調節可能な光学素子をアライメントステージ内に取り付けることによって、分光計において高精度なアライメントに達することができる。しかしながら、これら素子が分光計の通常作業過程中でさえ調節可能である以上、これら調節可能な素子は、元の位置及び設定から離れる方向にドリフトし、回転し、且つ変形し始め、ミスアライメントを導入するおそれがある。これらミスアライメントは分光計の精度にとって有害であり且つ分光計の長期安定性を徐々に損なう。分光計の安定性は、光学素子を固定マウント内に結合又は機械的にクランプすることによって増大させることができる。一方、分光計組み立て中の固定マウントの取り付けは、光学素子のアライメント精度を制限する。代表例において、光学素子を分光計内へ、少なくとも部分的に手作業で取り付ける場合には、その位置は百ミクロンの規模の精度で制御され得る。分光計がいくつかの光学素子を含むのに伴って、ビーム位置の累積のミスアライメント又は許容誤差は数百ミクロン、場合によっては最大1,000ミクロンに達し得る。検出器アレイ内の個々のセンサの物理的な大きさは約10~20ミクロンであるため、結合された光学素子の組み立て誤差に起因する数百ミクロンのミスアライメントは、分光計の効率を実質的に低下させ、場合によっては、分光計自体の機能を脅かしさえする。従って、結合された分光計の高い長期安定性は、分光計の組み立て中に生じるミスアライメントの増大された問題の代償として成り立つ。図1は、典型的な分光計10の例に基づく上記問題点を示している。分光計10は、画像光又は干渉光11を受容して、画像光又は干渉光11をコリメータ又はコリメーティングレンズ13を通して透過させることができる。コリメータ又はコリメーティングレンズ13は、受容された光を平行な光線に変換する。コリメートされた光線はスペクトル分散素子15に達することができる。この素子15は、光線のスペクトル成分を横方向に拡散し、これらを集束レンズ17に再指向する。集束レンズはこれらを検出器19上に画像化又は集束する。分光計は画像化カテゴリと非画像化カテゴリとに分類されることができる。画像化分光計は、典型的には、点様光源からの光を受容し、これをその検出器上の点に画像化する。このような点様光源は光ファイバの先端であり得る。非画像化分光計は、典型的には、スリットの形態の光を受容し、これを線としてその検出器に移動させる。用語の上で、画像化のターゲットに関する画像情報を担持することを表すために光が画像光と呼ばれるのに伴って、上記画像光は、画像化分光計又は非画像化分光計によって受容された光を意味し得る。ここに記載された設計原理は、画像化分光計及び非画像化分光計の双方において実施されることができる。図2A~Bは、スペクトル分散された光線が光のシートを形成することができ、そこで光のスペクトル成分が横方向に拡散する形で伝搬することを示している。横方向拡散スペクトルは、光源の帯域幅に相応してλminからλmaxまでの波長を有する光線を含有する。この光のシートはセンサアレイ上に投影されることができる。図示の例では、アレイは線形センサアレイ19である。この線形センサアレイは、xyターゲット位置と事実上同時にz深さ範囲の画像データを収集し、ひいては良好な処理及び読み出し速度を提供する。光のシート又は横方向拡散スペクトルは、回折限界幅を有するラインSで線形センサアレイの平面と交差する。図2Aは、良好にアライメントされた分光計10を示している。ここでは、横方向拡散スペクトルSアライメントは、線形センサアレイ19にアライメントされている。線形センサアレイ19はs1からsNまでのN個のセンサを含むことができる。典型的な分光計において、Nは約1000以上であってよい。光のスペクトル成分は、M<Nの小さな波長間隔に分解されることになる。その幅Δλは特に、個々のセンサの空間的な幅によって決定される。上記量は、近似的関係MΔλ~[λmax-λmin]を介して関係づけられることができる。図2Bは、典型的なミスアライメントされた分光計を示している。ここでは横方向拡散スペクトルは、傾斜又は回転したラインSにおいて線形センサアレイ19の平面と交差しているミスアライメント。このミスアライメントされた分光計では、センサの一部は、入射した横方向拡散スペクトルを検知できるが、拡散スペクトルのかなりの部分は線形センサアレイの的から全体的に外れる。ミスアライメントの主な原因のうちのいくつかは、組み立てプロセスの制限された精度を含む。しばしば光学素子の取り付けは手作業による工程及び操作を伴う。手作業による取り付け工程の不正確さ又は許容誤差に起因するセンサアレイにおけるビーム位置のミスアライメントは、100ミクロンのオーダーであり得る。分光計の個々の光学素子に起因する誤差は1,000ミクロンのオーダーの累積誤差まで蓄積し得る。別の潜在的なミスアライメント源は、分光計の変化する作動条件である。温度変化は光学素子位置のドリフトを引き起こすおそれがある。画像化装置全体のハウジングの機械応力、剪断及びねじれが、光学素子の相対的な誤配置又は回転を引き起こすこともある。図3A~Cは、少なくとも3つのタイプのミスアライメントがあることを示している。図2Bの包括的なミスアライメントは、典型的には、これら3つのミスアライメントの重ね合わせに分解されることができる。図3Aは、拡散スペクトルSと線形センサアレイのラインとの間のミスアライメント角度αによって特徴づけられる角度方向のミスアライメント又は回転方向のミスアライメントを示している。このような角度方向のミスアライメントは、拡散スペクトルSが線形センサアレイとアライメントして、最も外側の波長λmin及びλmaxさえもアレイのセンサ上に位置するようにすると最小化又は排除されることができる。約1,000の個々のセンサ又は画素を有するセンサアレイの場合、これは、約1500未満、又は2ミリラジアンmrad未満のαに換算される。分光計が手作業で組み立てられ且つ操作される場合でも、光学素子の角度方向のアライメント精度1~2mradを達成することができる。図3Bは、長手方向のミスアライメントを示している。これは、拡散スペクトルSが線形センサアレイとの良好な角度方向のアライメント状態を有してはいるが、スペクトル成分の波長が、線形センサアレイ19に沿った検出器ビーム位置Δの距離だけシフトされていることを特徴としている。この場合、検出器ビーム位置は、検出器におけるビームの位置の略語である。このような長手方向のミスアライメントは、例えば光学素子を、僅かにシフトされた位置にうっかり取り付けたことに起因し得る。このシフトに起因して、特定のスペクトル成分又は波長成分λが、この特定波長成分λを検知するように名目上意図されたセンサから線形アレイに沿ってΔの距離だけ離れたところでセンサに導かれることになり得る。このような長手方向のミスアライメントも、例えば下記ステップによって最小化又は排除されることができる。a既知の特定波長λを有する光を分光計上に投影することができ;b既知の特定波長λの検知を報告するセンサsのインデックスラベル位置を記録することができ;c特定波長λを実際に検知するセンサsspecsensingと、この特定波長λを検知するように名目上設計されたセンサsとの間の距離Δを割り出すことができ;そしてd個々のセンサsiのラベル位置と、これらのセンサによって検知されたスペクトル成分の波長との間の対応関係又はルックアップテーブルを、センサアレイ19全体に沿ったこの測定Δに従って再較正することができる。いくつかの事例ではこれを目的として、水銀、ナトリウム、又は不活性ガスランプを含む、スペクトルランプ又は既知の原子スペクトルを有する他の光源を使用することができる。図3Cは、横方向のミスアライメントを有する拡散スペクトルSを示している。ここで拡散スペクトルS又は光のシートは、センサアレイ19から距離Δを置いて、線状センサアレイ19の平面と交差している。線形アレイの横方向の広がりが10ミクロンのオーダーであり、そしてスペクトル分散素子15と検出器19とを分離する典型的な距離が0.1メートル=100,000ミクロンのオーダーであるので、スペクトル分散素子15が10ミクロン100,000ミクロン=0.1mradの角度方向の精度でアライメントされると、横方向のミスアライメントΔは最小化又は排除されることができる。この0.1mradという精度は、前述の角度方向のミスアライメントを排除できる1mrad精度よりも厳密な指標である。このような0.1mradという精度は、組み立てが手作業の操作を伴う分光計について、典型的には到達不可能である。図4A~Bは、センサアレイとの改善されたアライメントを有利に提供することができる分光計のいくつかの実施態様を示している。図4Aは、スペクトル分散光学素子120と、レバレッジ型光学部leveragedopticsの調節可能なデフレクタ140と、検出器又はセンサアレイ160とを含む分光計100の実施態様を示している。スペクトル分散光学素子120は、コリメートされた画像光を受容して、この受容された画像光をスペクトル分散するように構成されることができる。戻り画像ビーム及び参照ビームから組み合わされた画像光又は干渉ビームは、スペクトル領域光コヒーレンストモグラフィSD-OCT装置のビームスプリッタから受容されることができる。SD-OCT装置との関連における用途について本特許文献ではより詳細に説明するが、分光計100は他の光学システムにおける幅広い利用分野を有することもできる。また、分光計は画像化タイプ又は非画像化タイプであってもよい。スペクトル分散光学素子120は、プリズム、グレーティング、波長依存性の屈折率を有する光学素子、波長依存性の透過特性を有する光学素子、又は波長依存性の偏向特性を有する光学素子を含むことができる。検出器又はセンサアレイ160は、スペクトル分散されて調節可能に偏向された光を受容するように構成されることができる。センサアレイ160は、画素、電荷結合検出器CCD、又は検出された光に基づいて電気信号を生成する任意の他のタイプのセンサから成るアレイを含むことができる。検出器160は、二次元センサアレイ及び検出器カメラを含むこともできる。センサアレイ160を含む分光計100の全ての光学素子は、永久的に移動不可能なステージ内に結合され又はロックされることができる。このような結合設計は、分光計の良好な長期安定性及びその性能を保証する。とはいうものの上述のように、結合された素子を有する分光計の場合、スペクトルSを線形センサアレイ160上に案内し、そしてスペクトルSを線形センサアレイ160とアライメントすることは難しい場合がある。なぜならば、組み立てプロセスの不正確さによって導入される、マウント、結合部、及びロッククランプ処置の機械的変動は、線形センサアレイ160の画素の高さ又は幅を超えて、検出器におけるビーム位置を動かし得るからである。上記のように、実際にはビームが画素幅の数倍だけ動かされ又はオフセットされることがあり、組み立て及び較正に著しい難題をもたらす。個々の光学素子の変動から蓄積する累積誤差及び結果として生じる横方向のミスアライメントΔは、合計すると数百ミクロンになることがあり、一方、個々の画素の幅は典型的には10~20ミクロンに過ぎず、ここでもまた、分光計100の横方向のアライメントの難しさが強調される。図4Aに示すように、分光計100においてこの設計上の難題は、レバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタ140を含むことによって対処することができる。デフレクタ140は、スペクトル分散された光を調節可能に偏向するように構成されることができる。レバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタ140の特徴は、a機械的調節がレバレッジされることと、bレバレッジングleveragingが機械的ではなく光学的であることと、を含む。a本文脈では、レバレッジングは、デフレクタ140が、機械的調節を、ビームの偏向角の著しく小さな調節に変換又はダウンステップすることを意味する。例えばデフレクタ140のマウント上の機械的調節ねじの360度の回転は、中間機械ステージの小さな機械的運動、例えば高いギヤ比又は他の手段を介した低速回転式プラットフォームの数度の回転に変換又はダウンステップされることができる。この中間機械ステージは次いで、ダウンステップされた機械的運動を、例えば同じ数度でミラーを回転させることにより同等の光学的運動に変換することによって、偏向ビームの偏向角度を相応に変化させることができる。これらシステムは、調節を機械的にレバレッジ又はダウンステップし、アジャスタステージのより大きな機械的運動を、中間機械ステージのより小さな機械的運動に変換し、次いで、中間機械ステージのこの小さな機械的運動を同等に小さな光学的調節に変換する。しかしながら、中間機械ステージを使用する機械的ダウンステッピングシステムは、長期安定性の難題に直面し得る。なぜならば、ダウンステップ用のねじ、歯車、又はレバーアームは、ドリフト及びミスアライメントに十分に抵抗することができず、新しい又は更なるタイプのミスアライメントの源となり得るからである。b分光計100の、レバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタ140は、ダウンステップレバレッジ用中間機械ステージを使用することなく、大きな機械的調節を小さな光学的調節に変換することができる。このような中間機械レバレッジ用ステージの使用を回避することにより、ドリフト及びミスアライメントの問題に対して先手を打って、分光計に長期作業安定性及び強固なアライメントを与えることができる。いくつかの実施態様の場合、光学的にもたらされるビーム偏向角度変化に対する機械的調節角度の比は10以上であり得る。他の実施態様では、100以上、そしてさらに他の実施態様では1,000以上であってもよい。いくつかの実施形の場合、光学的調節に対する機械的調節の比を、1,000を超えないように、他の実施形では100、そしてさらに他の実施形では10を超えないように限定することによって、長期安定性を最適化することができる。レバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタ140は、調節可能な透過特性を有する光学素子と、調節可能な反射特性を有する光学素子とを含むことができる。図4Bは分光計200の別の実施形を示している。分光計200はスペクトル分散器220を含むことができる。スペクトル分散器220は、スペクトル分解素子230と、レバレッジ型光学部のアライメントコントローラ240とを含む。スペクトル分散器220は、分散されたスペクトルを検出器又はセンサアレイ260上に案内することができる。スペクトル分解素子230は、スペクトル分散素子120と同様であることが可能であり、アライメントコントローラ240は、調節可能なデフレクタ140と同様であることが可能であり、検出器センサアレイ260はセンサアレイ160と同様であることが可能である。図4Bが示すように、スペクトル分解素子230及びアライメントコントローラ240は一緒に、一体型スペクトル分散器220を形成することができる。例えば、いくつかの実施形において、アライメントコントローラ240はスペクトル分散器220の光学素子間で実施されることができる。図5Aは、図4A~Bの分光計の特定の実施態様を示している。図5Aの分光計は、画像光をコリメート光に変換するコリメータ13と、スペクトル分散された光を検出器センサアレイ160上に集束して画像化する集束レンズ17とを含む画像化分光計であり得る。この実施形におけるレバレッジ型光学部の調節可能なデフレクタ140は、回転可能な楔wedge又はプリズム142を含むことができる。回転可能な楔プリズム142は、線形センサアレイ160に対するスペクトルSの位置を変化させ又は調節し、且つ、光学素子の取り付けの許容誤差又は変動、又は光学素子の変化する作動条件によって発生した横方向のミスアライメントΔlatを補償又は制御することができる。回転可能な楔、又は小さな傾斜楔角度を有する楔プリズムは、中間ダウンステップ機械ステージを使用せず、大きな機械的調節を直接に小さな光学調節に変換するレバレッジ又はダウンステップ機構の一例である。例えば回転可能な楔プリズム142の大きな機械的な360度の回転は、中間機械ダウンレバレッジステージを採用することなく、楔角度に応じて1度以下だけ透過光を偏向させることができる。図5Bが示すように、いくつかの実施形において、回転可能な楔又は楔プリズムを種々の光路セグメント内に挿入することができ、例えばコリメータ13とスペクトル分散素子120との間に楔142-1として、スペクトル分散素子120と集束レンズ17との間に楔142-2として、又は集束レンズ17と検出器160との間に楔142-3として挿入することができる。他の実施形において、任意の2つの又は3つ全ての回転可能な楔142-1,142-2,及び142-3を挿入することができる。回転可能な楔がスペクトル分散器220の素子間に位置決めされているこれら実施態様は、図4Bの分光計200の実施形と見なされることができる。光路の種々異なるセグメントに回転可能な楔142を自由に位置決めできることは、所望の程度のスペクトルの線形並進lineartranslationを満たすべく設計の最適化を可能にする。図6は、楔プリズム142の回転が、横方向拡散スペクトルSの円形動作をもたらし得ることを示している。光学部opticsの分析は、最小波長λmin及び最大波長λmaxに対応するスペクトルSの近似端点が、符号Cmin及びCmaxが付けられた円の周りで動くことを示している。スペクトルS1及びS2の横方向の2つの極値位置、及び対応する円Cmin及びCmaxは、線形センサアレイ160に対して非対称的であってもよい。第1検出器ビーム位置範囲Δは、回転可能な楔プリズム142によって、一般的には調節可能なコントローラ140又は240によって引き起こされ且つ制御される横方向のミスアライメントの最大の大きさ又は最大範囲を意味する。いくつかの典型的な実施形において、第1検出器ビーム位置範囲Δは、第2検出器ビーム位置範囲Δ、すなわち分光計100又は200の構成部品の累積的な位置許容範囲と関連付けられた検出器160の平面内のビーム位置によって掃引される横方向範囲を超えることがあり得る。前述のように、Δは少なくとも2つの原因を有し得る。原因のうちの1つは、手作業の操作を含む組み立てプロセス中に生じる個々の分光計素子の位置の変化又は許容誤差であり得る。別の原因は、変化する作動パラメータ、例えば分光計の作動温度、又は機械的変形、並びに摩耗及び分裂tearであり得る。図面から明らかなように、ΔがΔよりも大きいならば、図5Aの回転可能な楔142を回転させることによって、又は一般的には、図4A~Bの調節可能なデフレクタ140を調節することによって、光学素子の組み立て中に生じる変動又は許容誤差に起因する累積的なミスアライメントを補償し、そしてスペクトルSを線形センサアレイ160上へ戻るように並進させることができる。同じ思想において、ΔがΔよりも大きいならばここでΔは作動検出器ビーム位置範囲、すなわち、分光計100~200の変化する作動パラメータによって動かされる横方向のミスアライメントの範囲を表す、調節可能なデフレクタ140の調節が、これら変化する作動パラメータによって発生したミスアライメントを補償することができる。このような変化する作動パラメータの例は、変化する作動温度、大規模な使用に伴う分光計の通常の損耗に起因するドリフトする光学素子位置、及び例えば分光計の再位置決め、移動、又は再取り付け過程中の作動環境の変化を含む。光学的レバレッジ型の調節可能なデフレクタ140を採用する別の利点は、分光計100~200が長期間にわたって所定の位置に信頼性高くアライメントされたままであることである。なぜならば、小さな楔角度を有する薄い楔プリズム142の光学的アライメントは、楔142の並進又は傾斜に対して鋭敏ではないからである。楔プリズム142が光ビーム伝搬に対してほぼ垂直にビーム路内に配置されると、光軸の周りの楔142の回転方向の又は角度方向のアライメントだけが、線形センサアレイ142に対するスペクトルSの位置に影響を与える。調節可能なデフレクタ140のパラメータは、0.1mrad範囲の角度方向のアライメント制御を可能にするように選択されることができる。このような設計によって、調節可能なデフレクタ140は、横方向拡散スペクトルSを線形センサアレイ160上に案内できると同時に、デフレクタ140の角度方向のミスアライメントがより大きくても、このことが角度方向のアライメントに不都合な影響を及ぼすことはない。なぜならば、角度方向のアライメントの許容差は1mradのオーダーであるからである。こうして、一旦横方向のアライメントが最適化されると、可変ステージ、例えば回転フレーム内に楔プリズムを取り付け、そしてこれを締め付けることによって、分光計100~200の正確な調節が可能になる一方、分光計100~200の長期安定性を損ない又は犠牲にすることはない。分光計100及び200のいくつかの実施形において、設計の光学的な歪みは、小さな楔角度及び小さな厚さを有する楔プリズム142を適用することによって最小化することもできる。分光計100及び200のいくつかの実施形において、調節可能なデフレクタ140によって引き起こされる作動ビームミスアライメントは、検出器160のミスアライメントの許容差よりも小さい。分光計100及び200のいくつかの実施形において、調節可能なデフレクタは、検出器のアスペクト比よりも大きな角度方向のミスアライメントを導入することなく、スペクトル分散された光の横方向のミスアライメントを補償するように構成されることができる。本明細書は多くの詳細を含むが、これらは、発明の範囲及び特許請求の範囲を限定するものと解釈されるべきではなく、むしろ、具体的な実施態様に対して特定の特徴を記述したものと解釈されるべきである。別個の実施態様の関連において本明細書中に記載されている特徴は、単独の実施態様内で組み合わせで実施されることもできる。反対に、単独の実施態様の関連において記述された種々の特徴は、複数の実施態様内で別々に、又は任意の好適な副次的組み合わせにおいて実施されることができる。さらに、特定の組み合わせを成して作用するものとして特徴を上述し、そしてそのようなものとして最初に主張することさえあるが、主張された組み合わせに由来する1つ又は2つの特徴は、いくつかの事例において、この組み合わせから切り取られることができ、また、主張された組み合わせを副次的組み合わせ又は副次的組み合わせの変更形に導かれることができる。"