"放射線を射出する放射線源と、該放射線源から射出された放射線を透過する部分と遮蔽する部分とからなる格子構造が周期的に配置され、前記放射線源から射出された放射線を通過させて周期パターン像を形成する第1の格子と、該第1の格子により形成された周期パターン像を透過する部分と遮蔽する部分とからなる格子構造が周期的に配置され、位相情報パターンを形成することを可能とする第2の格子と、該第2の格子により形成された位相情報パターンを検出する放射線画像検出器とを備え、前記第1および第2の格子の少なくとも一方に該格子の配置ずれを検出するための配置ずれ検出用パターンが形成されていることを特徴とする放射線位相画像撮影装置。前記配置ずれ検出用パターンが、前記少なくとも一方の格子の格子構造の延伸方向または該延伸方向に直交する方向に延設された放射線吸収部材であることを特徴とする請求項1記載の放射線位相画像撮影装置。前記配置ずれ検出用パターンが、前記放射線画像検出器の画素の配列方向に対して傾きを有する辺をもつものであることを特徴とする請求項1記載の放射線位相画像撮影装置。前記配置ずれ検出用パターンが、前記少なくとも一方の格子の格子構造の延伸方向に対して傾きを有する辺をもつものであることを特徴とする請求項1または2記載の放射線位相画像撮影装置。前記配置ずれ検出用パターンが、前記少なくとも一方の格子に対して複数設けられていることを特徴とする請求項1から4いずれか1項記載の放射線位相画像撮影装置。前記放射線画像検出器が、前記配置ずれ検出用パターンによって形成された放射線の像を検出して配置ずれ検出用信号を出力するものであり、該放射線画像検出器から出力された配置ずれ検出用信号に基づいて前記少なくとも一方の格子の配置ずれ量を算出する配置ずれ量算出部を備えたことを特徴とする請求項1から5いずれか1項記載の放射線位相画像撮影装置。前記配置ずれ検出用パターンが、直線からなる辺を有するものであり、前記配置ずれ量算出部が、前記配置ずれ検出用信号に基づいて1次関数を算出し、該1次関数に基づいて前記少なくとも一方の格子の配置ずれ量を算出するものであることを特徴とする請求項6記載の放射線位相画像撮影装置。前記配置ずれ検出用パターンが、曲線からなる辺を有するものであり、前記配置ずれ量算出部が、前記配置ずれ検出用信号に基づいて前記曲線に応じた所定の関数を算出し、該所定の関数に基づいて前記少なくとも一方の格子の配置ずれ量を算出するものであることを特徴とする請求項6記載の放射線位相画像撮影装置。前記配置ずれ量算出部が、前記関数に基づいて前記少なくとも一方の格子の配置ずれ量として回転ずれ量を算出するものであることを特徴とする請求項7または8記載の放射線位相画像撮影装置。前記配置ずれ量算出部により算出された配置ずれ量に基づいて、前記少なくとも一方の格子の配置を変更して前記配置ずれを補正する補正機構を備えたことを特徴とする請求項6から9いずれか1項記載の放射線位相画像撮影装置。前記配置ずれ量算出部により算出された配置ずれ量に基づいて、前記放射線画像検出器から出力された放射線画像信号を補正する画像補正部を備えたことを特徴とする請求項6から9いずれか1項記載の放射線位相画像撮影装置。しかしながら、特許文献2においては、たとえば第1の格子が動いたという事実は検出しているが、第1の格子が第2の格子に対して相対的に位置ずれを生じたかどうかは検出していない。たとえば、システム全体で振動したが相対的な位置ずれは生じなかった場合でも警告をすることになる。また、振動検出後の終状態において格子などに位置ずれが生じているか否かは検出することができない。また、特許文献3には、上述したような位置ずれが生じないような構成を採用することが記載されているが、位置ずれ量を検出することについては一切提案されていない。本発明は、上記の事情に鑑み、第1の格子および第2の格子の配置ずれ量を高精度に検出することができる放射線位相画像撮影装置を提供することを目的とする。本発明の放射線位相画像撮影装置は、放射線を射出する放射線源と、放射線源から射出された放射線を透過する部分と遮蔽する部分とからなる格子構造が周期的に配置され、放射線源から射出された放射線を通過させて周期パターン像を形成する第1の格子と、第1の格子により形成された周期パターン像を透過する部分と遮蔽する部分とからなる格子構造が周期的に配置され、位相情報パターンを形成することを可能とする第2の格子と、第2の格子により形成された位相情報パターンを検出する放射線画像検出器とを備え、第1および第2の格子の少なくとも一方にその格子の配置ずれを検出するための配置ずれ検出用パターンが形成されていることを特徴とする。また、配置ずれ検出用パターンを、上記少なくとも一方の格子の格子構造の延伸方向またはその延伸方向に直交する方向に延設された放射線吸収部材とすることができる。また、配置ずれ検出用パターンを、放射線画像検出器の画素の配列方向に対して傾きを有する辺をもつものとできる。また、配置ずれ検出用パターンを、少なくとも一方の格子の格子構造の延伸方向に対して傾きを有する辺をもつものとできる。また、配置ずれ検出用パターンを、少なくとも一方の格子に対して複数設けることができる。また、放射線画像検出器を、配置ずれ検出用パターンによって形成された放射線の像を検出して配置ずれ検出用信号を出力するものとし、その放射線画像検出器から出力された配置ずれ検出用信号に基づいて少なくとも一方の格子の配置ずれ量を算出する配置ずれ量算出部を設けることができる。また、配置ずれ検出用パターンとして直線からなる辺を有するものを用い、配置ずれ量算出部を、配置ずれ検出用信号に基づいて1次関数を算出し、その1次関数に基づいて少なくとも一方の格子の配置ずれ量を算出するものとすることができる。また、配置ずれ検出用パターンとして曲線からなる辺を有するものを用い、配置ずれ量算出部を、配置ずれ検出用信号に基づいて上記曲線に応じた所定の関数を算出し、その所定の関数に基づいて少なくとも一方の格子の配置ずれ量を算出するものとすることができる。また、配置ずれ量算出部を、上記関数に基づいて少なくとも一方の格子の配置ずれ量として回転ずれ量を算出するものとすることができる。また、配置ずれ量算出部により算出された配置ずれ量に基づいて、少なくとも一方の格子の配置を変更して配置ずれを補正する補正機構を設けることができる。また、配置ずれ量算出部により算出された配置ずれ量に基づいて、放射線画像検出器から出力された放射線画像信号を補正する画像補正部を設けることができる。本発明の放射線位相画像撮影装置によれば、第1および第2の格子の少なくとも一方にその格子の配置ずれを検出するための配置ずれ検出用パターンが形成するようにしたので、たとえば、その配置ずれ検出用パターンによって形成された像を放射線画像検出器によって検出し、その検出した信号に基づいて格子の配置ずれ量を算出し、その配置ずれ量に基づいて格子の配置を調整するようにすれば、格子の配置ずれ量を高精度に検出することができ、画質の良好な放射線位相コントラスト画像を取得することができる。以下、図面を参照して本発明の放射線位相画像撮影装置の一実施形態について説明する。図1に本実施形態の放射線位相画像撮影装置の概略構成を示す。図2に図1に示す放射線位相画像撮影装置の上面図X-Z断面図を示す。図2の紙面厚さ方向が図1のY方向である。放射線位相画像撮影装置は、図1に示すように、放射線源1、第1の格子2、第2の格子3、放射線画像検出器4、移動機構5、位相画像取得部6、配置ずれ量算出部7、補正機構8を備えている。放射線源1は、被写体10に向けて放射線を射出するものであり、第1の格子2に被写体10を透過した放射線を照射したとき、タルボ効果を発生させうるだけの空間的干渉性を有するものである。たとえば、放射線の発光点のサイズつまり、放射線源の開口径を30ミクロン程度とし、その放射線源から約5メートル以上の位置での空間的干渉性がそれに相当する。放射線源1としては、マイクロフォーカスX線管やプラズマX線源を利用することができる。また、比較的サイズの大きな通常の放射線源を用いる場合は、放射線が通過するマルチスリットを放射線の射出側に設置して使用することができる。この場合の詳細な構成は、たとえば、FranzPfeifferTimmWeikampOliverBunkChristianDavidNaturePhysics2258261LettersPhaseretrievalanddifferentialphasecontrastimagingwithlowbrillianceXraysourcesに記されているが、そのスリットのピッチP0は以下の式を満たすような大きさとする必要がある。なお、P2は第2の格子3のピッチ、Z1は放射線源1マルチスリットを用いる場合はマルチスリットの位置から第1の格子2までの距離、Z2は第1の格子2から第2の格子3までの距離である図2参照。第1の格子2は、図3に示すように、放射線を透過する基板21と、基板21上に設けられた複数の部材22とを備えている。複数の部材22は、放射線を遮蔽するものであり、いずれも一方向図3中紙面の厚さ方向に延びる線状形状で形成されている。複数の部材22どうしの間隔つまり、格子の周期P1は、本実施形態では一定とされている。部材22の素材としては、たとえば、金やシリコンを用いることができる。また、部材22としては、照射される放射線に対して約90°または約180°の位相変調を与える、いわゆる位相変調型格子を構成するものであることが望ましい。たとえば、通常の医療診断用のX線エネルギー領域において必要な金の厚さは1μm~数μm程度になる。また、振幅変調型格子を用いることもできる。この場合、部材22は放射線を十分に吸収する厚さが必要である。たとえば、通常の医療診断用のX線エネルギー領域において必要な金の厚さは10μm~数10μm程度になる。第2の格子3は、図4に示すように、第1の格子2と同様に、放射線を透過する基板31と、基板31に設けられた複数の部材32とを備えている。複数の部材32は、放射線を遮蔽するものであり、いずれも一方向図4中紙面の厚さ方向に延びる線状形状で形成されている。複数の部材32どうしの間隔つまり、格子の周期P2は、この実施形態では一定とされている。複数の部材32の素材としては、たとえば、金を用いることができる。第2の格子3については、部材32をより厚くした振幅変調型格子であることが望ましい。このとき、部材32は放射線を十分に吸収する厚さが必要である。たとえば、通常の医療診断用のX線エネルギー領域において必要な金の厚さは10μm~数10μm程度になる。ここで、放射線源1から照射される放射線が、平行ビームではなく、コーンビームである場合には、第1の格子2を通過して形成される第1の格子2の自己像は、放射線源1からの距離に比例して拡大される。そして、本実施形態においては、第2の格子3の格子ピッチP2と間隔d2は、そのスリット部が、第2の格子3の位置における第1の格子2の自己像の明部の周期パターンとほぼ一致するように決定される。すなわち、放射線源1の焦点から第1の格子2までの距離をZ1、第1の格子2から第2の格子3までの距離をZ2とした場合、第2の格子ピッチP2および間隔d2は、次式2および次式3の関係を満たすように決定される。なお、放射線源1から照射される放射線が平行ビームである場合には、P2=P1,d2=d1を満たすように決定される。また、本実施形態の第1の格子2と第2の格子3とには、図1および図5に示すように、それぞれ配置ずれ検出用パターン23,33が形成されている。具体的には、第1の格子2の部材22が設けられ、被写体10を透過した放射線が照射される範囲である関心領域2aよりも外側の周辺領域に複数の配置ずれ検出用パターン23が設けられるとともに、第2の格子3の部材32が設けられ、被写体10を透過した放射線が照射される範囲である関心領域3aよりも外側の周辺領域に複数の配置ずれ検出用パターン33が設けられる。そして、本実施形態においては、配置ずれ検出用パターン2333は、被写体10を透過した放射線が照射される範囲である関心領域2a,3aの各辺に対向してそれぞれ設けられ、第1の格子2および第2の格子3の部材22,32の延伸方向およびその延伸方向に直交する方向に延設されるものである。また、第1の格子2の配置ずれ検出用パターン23によって放射線画像検出器4上に形成される配置ずれ検出用の像と、第2の格子3の配置ずれ検出用パターン33によって放射線画像検出器4上に形成される配置ずれ検出用の像とが放射線画像検出器4上で重ならないように、図5に示すように、第2の格子3の配置ずれ検出用パターン33の方が第1の格子2の配置ずれ検出用パターン23よりも外側に設けられている。なお、本実施形態においては、第1の格子2の配置ずれ検出用パターン23と第2の格子3の配置ずれ検出用パターン33とを上述したような配置としたが、それぞれによって形成される配置ずれ検出用の像が重ならない配置であればその他の配置としてもよい。また、本実施形態においては、各配置ずれ検出用パターン23,33は、放射線画像検出器4の画素の配列方向、すなわちX方向またはY方向に対して傾く辺を有する三角形状で形成されている。なお、本実施形態においては、配置ずれ検出用パターン23,33として上述したような三角形状のものを用いるようにしたが、必ずしも三角形状でなくてもよく、X方向またはY方向に対して傾く辺を有する形状であれば如何なる形状を採用するようにしてもよい。また、X方向またはY方向に対して傾く辺は必ずしも直線でなくてもよく、2次関数によって表される曲線や、円弧、放物線としてもよい。配置ずれ検出用パターン23,33の材料としては、放射線吸収が十分に大きいものが用いられ、たとえば、金や鉛を用いることができる。放射線画像検出器4は、第1の格子2に入射した放射線が形成する第1の格子2の自己像を第2の格子3によって強度変調された画像信号として検出するものである。このような放射線画像検出器4としては、直接変換型および間接変換型のフラットパネル検出器、イメージングプレート、増感スクリーンとフィルムの組合せなど従来の放射線位相画像撮影装置に使われているものを用いることができる。そして、たとえばフラットパネル検出器を用いた場合には、図1に示すX-Y方向に2次元状に配列された各検出素子画素からそれぞれ画素信号が読み出され、イメージングプレートやフィルムの場合には、所定の読取装置によってX-Y方向に沿って走査されて読み出されることによって、イメージングプレートやフィルム上の各画素に対応する画素信号が取得される。そして、放射線源1、第1の格子2、第2の格子3および放射線画像検出器4によって放射線位相コントラスト画像を取得可能な放射線位相画像撮影装置が構成されるが、本構成をタルボ干渉計として機能させるためには、さらにいくつかの条件をほぼ満たさねばならない。その条件について以下に説明する。まず、第1の格子2と第2の格子3とのグリッド面が、図1に示すX-Y平面に平行であることが必要である。そして、さらに、第1の格子2と第2の格子3との距離Z2は、第1の格子2が90°の位相変調を与える位相変調型格子である場合、次の条件をほぼ満たさなければならない。ただし、λは放射線の波長通常はピーク波長、mは0か正の整数、P1は上述した第1の格子2の格子ピッチ、P2は上述した第2の格子3の格子ピッチである。また、第1の格子2が180°の位相変調を与える位相変調型格子である場合には、次の条件をほぼ満たさなければならない。ただし、λは放射線の波長通常はピーク波長、mは0か正の整数、P1は上述した第1の格子2の格子ピッチ、P2は上述した第2の格子3の格子ピッチである。さらに、第1の格子2が振幅変調型格子である場合には、次の条件をほぼ満たさなければならない。ただし、λは放射線の波長通常はピーク波長、mは正の整数、P1は上述した第1の格子2の格子ピッチ、P2は上述した第2の格子3の格子ピッチである。なお、上式4,5,6は、放射線源1により照射される放射線がコーンビームである場合であり、放射線が平行ビームである場合には、上式4に代えて下式7、上式5に代えて下式8、上式6に代えて下式9となる。移動機構5は、第2の格子3をX方向に移動させるものであるが、たとえば、第2の格子3の格子ピッチP2の1/nnは2以上の整数ずつ動かして、それぞれのnに対する位置で放射線画像の撮影を行なうことにより第2の格子3によって強度変調されたn種類n枚の画像信号を取得することができる。移動機構5は、たとえば公知のアクチュエーターを用いて構成することができる。位相画像取得部6は、放射線画像検出器4により検出されたn種類n枚の画像信号に基づいて放射線位相コントラスト画像を取得するものである。具体的には、n枚の画像信号からは、たとえば、KAStetsonandWRBrohinskyApplOct243631に記載の縞走査法を用いることにより、各画素ごとの位相シフトの微分量、すなわち被写体10によって生じた放射線の屈折角度に応じた量を復元することができ、様々な画像処理とその表現を介して、いわゆる位相コントラスト画像として取得することができる。配置ずれ量算出部7は、上述した第1の格子2に設けられた配置ずれ検出用パターン23と第2の格子3に設けられた配置ずれ検出用パターン33とによって形成された配置ずれ検出用の像に基づいて、放射線画像検出器4によって取得された配置ずれ検出用信号にから第1の格子2と第2の格子3の配置ずれ量を算出するものである。配置ずれ量の算出方法については、後で詳述する。補正機構8は、配置ずれ量算出部7によって算出された配置ずれ量に基づいて、第1の格子2と第2の格子3の配置が、上述した条件を満たすように予め設定された配置となるように第1の格子2と第2の格子3の配置を変更するものである。補正機構8は、第1の格子2と第2の格子3の配置を変更可能なように機械的に構成されたものであり、公知のアクチュエーターを用いて構成することができる。次に、本実施形態の放射線位相画像撮影装置の作用について説明する。本実施形態の放射線位相画像撮影装置においては、被写体10の放射線位相コントラスト画像の撮影の前に、第1の格子2と第2の格子3とに設けられた配置ずれ検出用パターン23,33を用いて第1の格子2と第2の格子3の配置ずれ量を検出し、その配置ずれ量に基づいて補正機構8によって第1の格子2と第2の格子3との配置を予め設定された配置となるように調整する。以下、配置ずれ検出用パターン23,33を用いて第1の格子2と第2の格子3の配置ずれ量を検出する方法について具体的に説明する。まず、被写体10を配置していない状態で放射線源1から放射線が射出され、第1の格子2と第2の格子3を透過した放射線が放射線画像検出器4に照射され、放射線画像検出器4によって配置ずれ検出用パターン23,33による配置ずれ検出用の像が検出される。そして、この配置ずれ検出用の像を表す配置ずれ検出用信号が放射線画像検出器4から読み出され、読み出された配置ずれ検出用信号が配置ずれ量算出部7によって取得される。そして、配置ずれ量算出部7において、配置ずれ検出用信号に基づいて第1の格子2と第2の格子3との配置ずれ量がそれぞれ算出される。ここで、配置ずれ検出用信号に基づく配置ずれ量の検出の原理について説明する。説明をわかりやすくするため、まずは、1画素×5画素の放射線画像検出器から読み出された配置ずれ検出用信号に基づいて配置ずれ量を検出する方法について説明する。放射線画像検出器から読み出される信号は受光量に比例し、また配置ずれ検出用パターンが完全に光を遮蔽すると仮定し、さらにわかりやすくするため放射線画像検出器の各画素に対し同じ放射線量が与えられたものとすると、放射線画像検出器から読み出される配置ずれ検出用信号の大きさは、たとえば、図6Aに示すような数値となる。なお、図6Aに示す1つの四角は1画素を表すものとし、四角内の数値が配置ずれ検出用信号の大きさを表しているものとする。そして、配置ずれ検出用信号が最小値の画素に隣接する画素を探索し、その画素の配置ずれ検出用信号の大きさから放射線画像検出器に対する配置ずれ検出用パターン23または配置ずれ検出用パターン33の位置を推測することができ、第1の格子2または第2の格子3の配置ずれ量を検出することができる。具体的には、たとえば、第1の格子2または第2の格子3の配置ずれが生じていない状態で、図6Aに示すような配置ずれ検出用信号が取得されたとすると、配置ずれ検出用信号が最小値ゼロの画素に隣接する画素の値が50であるので、配置ずれ検出用パターン23,33は、最小値の画素の位置から1.5ピクセルの位置に配置されていることがわかる。なお、第1の格子2または第2の格子3の配置ずれが生じていない状態での最初値の画素に隣接する画素の位置と値は、予め設定されているものとする。そして、第1の格子2または第2の格子3の配置ずれが生じている状態で、図6Bに示すような配置ずれ検出用信号が取得されたとすると、配置ずれ検出用信号が最小値ゼロの画素に隣接する画素の値が70であるので、配置ずれ検出用パターン23,33は、最小値の画素の位置から1.3ピクセルの位置に配置されていることがわかる。すなわち、図6A示すような配置ずれ検出用信号の値から図6Bに示すような配置ずれ検出用信号の値となった場合には、配置ずれ検出用パターン23,33が左側に0.2ピクセルだけ移動したことになる。すなわち、第1の格子2または第2の格子3の配置ずれ量は0.2ピクセルとなる。このようにして、実質的に画素サイズよりも小さい配置分解能で第1の格子2、第2の格子3の配置ずれ量を算出することができる。基本的な配置ずれ量の検出原理は、上述したとおりであるが、次に、実際的な問題として生じる誤差について検討する。放射線画像検出器の出力には放射線量の統計誤差や電気的なノイズなどが発生する。上述した図6Aの例では、最小値の画素に隣接する画素の値が50であった。しかしながら、たとえば統計誤差を考慮すると、50を中心として確率的に±7程度の幅で分布することになる。この場合、図7に示すような±0.7ピクセルの配置ずれは検出できないことになる。しかしながら、本実施形態においては、上述したように配置ずれ検出用パターンの形状をX方向またはY方向に対して傾く辺を有する形状としたので、上述したような誤差の発生による精度劣化を抑制することができる。その理由を以下に説明する。上記説明では、1画素×5画素の放射線画像検出器の場合を説明したが、今度は、4画素×5画素の放射線画像検出器の場合を考える。たとえば、上述したような統計誤差がなければ図8Aに示すような配置ずれ検出用信号が取得されたとすると、実際には統計誤差が含まれるので図8Bに示すような配置ずれ検出用信号が取得されることになる。そして、図8Bに示すような各画素の配置ずれ検出用信号を、プロットすると図9に示すような分布となる。ここで、上述した1画素×5画素の放射線画像検出器の場合と大きく違うのは、このプロットした分布が直線をとるべきものであることがわかっている点にある。したがって、図9に示す分布に基づいて、たとえば最小二乗法を用いることによって最も確からしい一次関数を求めることができる。そして、このようにして求めた直線を用いて推定される第1の格子2または第2の格子3の配置ずれ量の配置分解能は、当然に個々の画素の値のみを用いて推定される配置分解能よりも向上することになる。なお、上記説明では、配置ずれ検出用パターン23,33が、X方向またはY方向に対して傾く直線を有するものであるので、配置ずれ検出用信号に基づいて一次関数を求めるようにしたが、直線ではなく、たとえば、図10Aに示すような2次関数で表される曲線の場合には、図10Bに示すような各画素の配置ずれ検出用信号がプロットされることになるので、このプロットされた点に基づいて2次関数の近似曲線を求めて配置ずれ量を算出するようにすればよい。また、図11Aに示すような円弧の場合には、図11Bに示すような各画素の配置ずれ検出用信号がプロットされることになるので、このプロットされた点に基づいて円の方程式に基づいた近似曲線を求めて配置ずれ量を算出するようにすればよい。また、放物線である場合には、上記と同様にその放物線に近似する近似曲線を求めて配置ずれ量を算出するようにすればよい。以上が、本実施形態の放射線位相画像撮影装置における配置ずれ量の検出原理の説明である。上述したような検出原理により、配置ずれ量算出部7は、各配置ずれ検出用パターン23,33に対応する放射線画像検出器4の各画素の配置ずれ検出用信号に基づいて、配置ずれ検出用の直線を求め、その直線の配置ずれ量によって第1の格子2および第2の格子3の配置ずれ量を算出する。配置ずれ量算出部7において算出される配置ずれ量としては、X方向の配置ずれ量およびY方向の配置ずれ量があるが、Z方向の配置ずれ量も算出することができる。具体的には、Z方向について第1の格子2または第2の格子3が配置ずれしている場合には、配置ずれ検出用パターン23,33の像の拡大率が変わるため、X方向とY方向との両方に配置ずれを生じている場合と同じような影響をもたらす。そして、本実施形態においては、X方向およびY方向の並進による配置ずれ量とZ方向の配置ずれ量とを区別するために、各格子について複数の配置ずれ検出用パターン23,33を対向させて設けるようにしている。このように設けることによって、たとえば上下に対向する配置ずれ検出用パターン23,33に対応する直線の配置ずれの方向が同じ方向である場合には、それはY方向の並進による配置ずれ量と判定することができ、左右に対向する配置ずれ検出用パターン23,33に対応する直線の配置ずれの方向が同じ方向である場合には、それはX方向の並進による配置ずれ量と判定することができ、配置ずれの方向が上下の組、左右の組ともに互い逆方向である場合には、それはZ方向の配置ずれ量と判定することができる。さらに、第1の格子2の部材22の延伸方向と配置ずれ検出用パターン23の斜めの辺とがなす角度と、第2の格子3の部材32の延伸方向と配置ずれ検出用パターン33の斜めの辺とがなす角度とをそれぞれ予め設定しておくようにしてもよい。そして、たとえば、配置ずれ量算出部7において算出された直線の傾きとこの直線に対応する配置ずれ検出用パターン23の斜めの辺がなす角度とに基づいて第1の格子2の回転ずれを検出し、また、配置ずれ量算出部7において算出された直線の傾きとこの直線に対応する配置ずれ検出用パターン33の斜めの辺がなす角度とに基づいて第2の格子3の回転ずれを検出するようにしてもよい。また、第1の格子2の回転ずれと第2の格子3の回転ずれについては、上述したようにして図12Aに示すようなZ方向を回転軸とする回転ずれθzを検出することができるが、これだけでなく、図12Bに示すようなX方向を回転軸とする回転ずれθxや、図12Cに示すようなY方向を回転軸とする回転ずれθyも検出することができる。図12Bに示すようなX方向を回転軸とする回転ずれを検出する場合には、たとえば、Y方向上下方向について対向して配置された2つの配置ずれ検出用パターンに対応する直線の配置ずれが互いに逆方向であるとともに、これらの直線間の距離が短くなることを検出するようにすればよい。また、図12Cに示すようなY方向を回転軸とする回転ずれを検出する場合には、たとえば、X方向左右方向について対向して配置された2つの配置ずれ検出用パターンに対応する直線の配置ずれが互いに逆方向であるとともに、これらの直線間の距離が短くなることを検出するようにすればよい。そして、配置ずれ量算出部7において算出された配置ずれ量は、補正機構8に出力され、補正機構8は、入力されたX方向、Y方向およびZ方向の並進による配置ずれ量と回転ずれ量とに基づいて第1の格子2および第2の格子3との配置をそれぞれ変更して、予め設定された適切な配置に調整する。そして、上述したような第1の格子2と第2の格子3との配置調整の後、実際の放射線位相コントラスト画像の撮影が行われる。具体的には、まず、図1に示すように、放射線源1と第1の格子2との間に、被写体10が配置される。次に、放射線源1から放射線が射出され、その放射線は被写体10を透過した後、第1の格子2に照射される。照射された放射線は、第1の格子2で回折されることにより、第1の格子2から放射線の光軸方向において所定の距離において、タルボ干渉像を形成する。これをタルボ効果と呼び、光波が格子を通過したとき、格子から所定の距離において、格子の自己像を形成する。たとえば、第1の格子2が、90°の位相変調を与える位相変調型格子の場合、上式4または上式7180°の位相変調型格子の場合は上式5または上式8、強度変調型格子の場合は上式6または上式9で与えられる距離において第1の格子2の自己像を形成する一方、被写体10によって、第1の格子2に入射する放射線の波面は歪むため、第1の格子2の自己像はそれに従って変形している。続いて、放射線は、第2の格子3を通過する。その結果、上記の変形した第1の格子2の自己像は第2の格子3との重ね合わせにより、強度変調を受け、上記波面の歪みを反映した画像信号として放射線画像検出器4により検出される。続いて順次、移動機構5により第2の格子3がX方向について第2の部材のピッチP2の1/nnは2以上の整数ずつ動かされ、放射線画像検出器4により、それぞれのnに対する波面の歪みを反映した画像信号が検出される。n種の波面の歪みを反映した画像信号は位相画像取得部6に入力され、位相画像取得部6は、n種の波面の歪みを反映した画像を解析することにより、放射線位相コントラスト画像を生成する。波面の歪みは、被写体10による屈折効果によって放射線が曲げられた角度に比例している。したがって、放射線画像検出器4により検出されたn種類の波面の歪みを反映した画像から各画素での位相変調量を解析することにより、被写体10の内部の屈折率分布に依存した量を検出することができる。なお、上記実施形態においては、配置ずれ量算出部7において算出された配置ずれ量に基づいて、補正機構8によって第1の格子2または第2の格子3の配置を変更するようにしたが、これに限らず、たとえば、位相画像取得部6において、配置ずれ量算出部7において算出された配置ずれ量に基づいて画像補正を行うようにしてもよい。具体的には、以下のような画像補正を行うことができる。上述した被写体の放射線位相コントラスト画像を得る際には、被写体を設置しているときに得られる位相画像情報から被写体が設置されていないときに得られる初期位相画像情報を差し引くことになる。したがって、被写体を設置している場合と被写体を設置していない場合とで、少なくとも2度の撮影が必要となるが、この2度の撮影の間で第2の格子3の位置は移動機構5の位置精度に依存してずれている。そこで、たとえば、被写体を設置していない状態での撮影における第2の格子3の配置と被写体を設置した状態での撮影における第2の格子3の配置との配置ずれ量を算出し、被写体を設置していない状態で撮影した初期位相画像情報に対して、上記配置ずれ量に基づいて平行移動や回転移動などを行って画像補正を施すことによって補正済初期位相画像情報を取得し、この補正済初期位相画像情報を、被写体を設置した状態で取得した位相画像情報から差し引くようにすればよい。このように画像補正を行うことによって、被写体を設置していない状態での撮影における第2の格子3の配置と被写体を設置した状態での撮影における第2の格子3の配置との配置ずれの影響を減殺することができる。なお、上記説明では、第2の格子3の配置ずれが生じている場合の画像補正方法について説明したが、第1の格子2のみに配置ずれが生じている場合にも、上記と同様にして配置ずれ量に基づいて画像補正を行うようにすればよい。また、第1の格子2と第2の格子3との両方の配置ずれが生じている場合には、第1の格子2に対する第2の格子3の相対的な配置ずれ量を算出し、その配置ずれ量に基づいて、上記と同様に画像補正を行うようにすればよい。また、上記実施形態の説明においては、放射線画像検出器4に対する第1の格子2の配置ずれ量と第2の格子3の配置ずれ量とをそれぞれ検出するようにしたが、配置決めで重要なのは第1の格子2と第2の格子3との相対配置であって、放射線画像検出器4のみ並進ずれしていても何ら問題はない。したがって、放射線画像検出器4に対する第1の格子2の配置ずれ量と第2の格子3の配置ずれ量とをそれぞれ検出する代わりに、第1の格子2の配置ずれ量と第2の格子3の配置ずれ量との相対的配置ずれ量を検出するようにしてもよい。そして、その相対的配置ずれ量に基づいて、補正機構8によって第1の格子2および第2の格子3のいずれか一方、もしくは双方の配置を変更するようにしてもよい。また、上記実施形態の放射線位相画像撮影装置は、第1の格子2から第2の格子3までの距離Z2がタルボ干渉距離となるようにしたが、これに限らず、第1の格子2が入射放射線を回折せずに投影させる構成とするようにしてもよい。このように構成すれば第1の格子2を通過して射影される投影像が、第1の格子2の後方の全ての位置で相似的に得られるため、第1の格子2から第2の格子3までの距離Z2を、タルボ干渉距離を無関係に設定することができる。具体的には、第1の格子2と第2の格子3とを、ともに吸収型振幅変調型格子として構成するとともに、タルボ干渉効果の有無に関わらず、スリット部を通過した放射線を幾何学的に投影するように構成する。より詳細には、第1の格子2の間隔d1と第2の格子3の間隔d2とを、放射線源1から照射される放射線のピーク波長より十分大きな値とすることで、照射放射線に含まれる大部分をスリット部で回折せずに、直進性を保ったまま通過するように構成することができる。たとえば、放射線源のターゲットとしてタングステンを用い、管電圧を50kVとした場合には、放射線のピーク波長は約0.4Åである。この場合には、第1の格子2の間隔d1と第2の格子3の間隔d2を、1μm~10μm程度とすればスリット部で大部分の放射線が回折されずに幾何学的に投影される。なお、第1の格子2の格子ピッチP1と第2の格子3の格子ピッチP2との関係と、第1の格子2の間隔d1と第2の格子3の間隔d2との関係とについては、上記第1の実施形態と同様である。そして、上記のような構成の放射線位相画像撮影装置においては、第1の格子2と第2の格子3との距離Z2を、上式6においてm=1とした場合の最小のタルボ干渉距離より短い値に設定することができる。すなわち、上記距離Z2が、次式10を満たす範囲の値に設定する。なお、第1の格子2の部材22と第2の格子3の部材32とは、コントラストの高い周期パターン像を生成するためには、放射線を完全に遮蔽吸収することが好ましいが、上述した放射線吸収に優れる材料金、白金等を用いたとしても、吸収されずに透過する放射線が少なからず存在する。このため、放射線の遮蔽性を高めるためには、部材22,32のそれぞれの厚みを、可能な限り厚くすることが好ましい。部材22,32による遮蔽は、照射放射線の90以上であることが好ましく、たとえば、放射線源1の管電圧が50kVの場合には、厚みは、金Au換算で30μm以上であることが好ましい。上記のような構成の放射線位相画像撮影装置によれば、第1の格子2と第2の格子3との距離Z2をタルボ干渉距離よりも短くすることができるので、一定のタルボ干渉距離を確保しなければならない上記実施形態の放射線位相画像撮影装置と比較すると、撮影装置をより薄型化することができる。また、上記実施形態の放射線位相画像撮影装置においては、X-Y平面上での第1の格子2の部材22の傾きと第2の格子3の部材32の傾きとを一致させるようにしたが、これに限らず、第1の格子2の部材22の延伸方向と第2の格子3の部材32の延伸方向とを相対的に傾けて設置するようにしてもよい。"