初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を印加する評価電圧印加手段と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測手段と、評価電圧と評価電流の関係から試料の抵抗を求める演算手段と、該演算手段の結果により求められた初期試料の抵抗と劣化後試料の抵抗とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備えることを特徴とする電子写真用感光体に用いる試料の特性評価装置。初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の振幅が0.2V以上となる交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を印加する評価電圧印加手段と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測手段と、評価電圧と評価電流の関係から試料の静電容量を求める演算手段と、該演算手段の結果により求められた初期試料の静電容量と劣化後試料の静電容量とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備えることを特徴とする電子写真用感光体に用いる試料の特性評価装置。請求項1又は2の電子写真用感光体に用いる試料の特性評価装置において、外部から試料が受けるノイズを遮断するノイズシールド部材を備えることを特徴とする電子写真用感光体に用いる試料の特性評価装置。初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の振幅が0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を試料へ印加する評価電圧印加行程と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測行程と、評価電圧と評価電流の関係から試料の抵抗を求める演算行程と、該演算行程で得られた結果により求められた初期試料の抵抗と劣化後の試料の抵抗とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定行程とを行うことを特徴とする電子写真用感光体に用いる試料の特性評価方法。初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の振幅が0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を試料へ印加する評価電圧印加行程と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測行程と、評価電圧と評価電流の関係から試料の静電容量を求める演算行程と、該演算手段の結果により求められた初期試料の静電容量と劣化後試料の静電容量とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定行程とを行うことを特徴とする電子写真用感光体に用いる試料の特性評価方法。請求項4又は5の電子写真用感光体に用いる試料の特性評価方法において、上記初期試料と劣化後の試料を外部から受けるノイズを遮断するノイズシールド部材内に配置することを特徴とする特性評価方法。請求項4、5又は6の電子写真用感光体に用いる試料の特性評価方法において、上記初期試料と劣化後の試料とに対して、上記評価電圧印加行程と上記評価電流測定行程とを3サイクル以上行うことを特徴とする電子写真用感光体に用いる試料の特性評価方法。しかしながら、特許文献1のような電子写真用感光体の特性測定方法では、比抵抗ρ<109[Ωm]の低抵抗の試料については測定可能であるが、特許文献2に記載されているような比抵抗ρ≧109[Ωm]の高抵抗の試料については、交流電圧を印加した時に試料を流れる電流が微小となる。このため、SN比が低くなり、ノイズの影響が測定結果へと表れ易くなるので、安定した測定を行う事が難しくなる。しかし、特許文献1には、その点に関する記載や示唆はなく、問題として認識されていなかった。本発明は、上記問題点に鑑みなされたものである。その目的は、初期の比抵抗が109[Ωm]以上となるような高抵抗試料についても、抵抗と静電容量との安定した測定を行い、劣化前後の測定結果から試料の劣化の程度を判定可能な試料特性評価装置及び特性評価方法を提供することである。上記課題を解決するため、請求項1の電子写真用感光体に用いる試料の特性評価装置は、初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の振幅が0.2V以上となる交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を印加する評価電圧印加手段と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測手段と、評価電圧と評価電流の関係から試料の抵抗を求める演算手段と、該演算手段の結果により求められた初期試料の抵抗と劣化後試料の抵抗とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備えることを特徴とする。請求項2の電子写真用感光体に用いる試料の特性評価装置は、初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の振幅が0.2V以上となる交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を試料へ印加する評価電圧印加手段と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測手段と、評価電圧と評価電流の関係から試料の静電容量を求める演算手段と、該演算手段の結果により求められた初期試料の静電容量と劣化後試料の静電容量とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備えることを特徴とする。請求項4の電子写真用感光体に用いる試料の特性評価方法は、初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の振幅が0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を試料へ印加する評価電圧印加行程と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測行程と、評価電圧と評価電流の関係から試料の抵抗を求める演算行程と、該演算行程で得られた結果により求められた初期試料の抵抗と劣化後の試料の抵抗とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定行程とを行うことを特徴とする。請求項5の電子写真用感光体に用いる試料の特性評価方法は、初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の振幅が0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を試料へ印加する評価電圧印加行程と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測行程と、評価電圧と評価電流の関係から試料の静電容量を求める演算行程と、該演算手段の結果により求められた初期試料の静電容量と劣化後試料の静電容量とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定行程とを行うことを特徴とする。本発明は、初期の比抵抗が109[Ωm]以上となるような高抵抗試料についても、抵抗と静電容量との安定した測定を行い、劣化前後の測定結果から試料の劣化の程度を判定可能な試料特性評価装置及び特性評価方法を提供することができるという優れた効果がある。以下、本発明を適用した電子写真用感光体に用いる試料の特性評価装置の実施形態の一例について説明する。ここで、高抵抗試料とは、初期の比抵抗が109[Ωm]以上である試料であり、その材質、大きさ、形状、構造などについては特に制限はない。前記材質としては、例えば、アモルファスシリコン、セレン、CdS、ZnO等の無機感光体;ポリシラン、フタロポリメチン等の有機感光体OPCなどの感光体に用いる材質が挙げられる。前記大きさとしては、後述するノイズシールド部材を使用した測定を行う際には、試料を収容するノイズシールド部材の大きさ、仕様などに応じて適宜選択するとよい。図1は、本実施形態に係る特性評価装置の概略模式図である。なお、概略図は一例であってこれに限定されるものではない。図1に示す特性評価装置は、交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を高抵抗試料1へと印加する評価電圧印加手段と、評価電圧印加時に高抵抗試料1を流れる評価電流を計測する評価電流計測手段と、試料の初期と劣化後それぞれの評価電流と評価電圧との関係から、高抵抗試料1の初期の抵抗と静電容量、及び高抵抗試料1の劣化後の抵抗と静電容量を求める演算手段とを有するインピーダンス測定解析システム4を備えている。また、この特性評価装置は、前記演算手段により求めた試料の初期の抵抗と静電容量、及び試料の劣化後の抵抗と静電容量から、高抵抗試料1の劣化の程度を判定する劣化判定手段5、高抵抗試料1への外部からのノイズを遮断するノイズシールド部材6を備えている。この試料特性評価装置において、インピーダンス測定解析システム4内の評価電圧印加手段のHi端子は高抵抗試料1のAu電極2と接続され、Lo端子は高抵抗試料1のAl電極3と接続されており、評価電圧印加手段からの評価電圧が高抵抗試料1に印加される。上記評価電圧印加手段は、前記試料に複数の周波数で交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を印加する手段である。前記評価電圧印加手段としては、前記試料に周波数可変で振幅が0.2V以上となる交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を印加することができれば、特に制限はなく、公知の電圧印加手段の中から適宜選択することができる。上記評価電流計測手段は、複数の周波数の評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する手段である。前記評価電流計測手段としては、前記試料を流れる評価電流を計測することができるものであれば、特に制限はなく、公知の電流計測手段の中から適宜選択することができる。上記演算手段は、前記評価電圧と前記評価電流の関係から、各周波数のインピーダンスを算出する。複数の周波数でそれぞれ算出したインピーダンスから、高抵抗試料1の抵抗と静電容量を推定して求める。この一連の工程を、高抵抗試料1の初期と劣化後にそれぞれ行い、高抵抗試料1の初期の抵抗と静電容量、及び高抵抗試料1の劣化後の抵抗と静電容量を求める。前記演算手段としては、特に制限はなく、公知の演算手段の中から適宜選択することができる。上記劣化判定手段は、前記演算手段により求めた高抵抗試料1の初期の抵抗、及び高抵抗試料1の劣化後の抵抗から、|劣化後の抵抗-初期の抵抗|/初期の抵抗×100を算出した結果が所定値以上の場合に、試料の劣化判定をNGと判定する。もしくは、上記劣化判定手段は、前記演算手段により求めた高抵抗試料1の初期の静電容量、及び高抵抗試料1の劣化後の静電容量から、|劣化後の静電容量-初期の静電容量|/初期の静電容量×100を算出した結果が所定値以上の場合に、試料の劣化判定をNGと判定する。試料の劣化を判断する前記所定値は、抵抗と静電容量のそれぞれについて設定することが可能である。また、前記所定値は使用する試料の処方によって異なるため、適宜選択することができる。前記劣化判定手段としては、特に制限はなく、公知の劣化判定手段の中から適宜選択することができる。上記ノイズシールド部材6は、試料を収容し、外部から高抵抗試料1が受けるノイズを遮断する。前記ノイズシールド部材としては、試料を収容し、外部から試料が受けるノイズを遮断することができれば、特に制限はなく、公知のノイズシールド部材の中から適宜選択することができる。以下、実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に何ら限定されるものではない。以下に示す比較例及び実施例では、図1のような試料特性評価装置を用いて試料の特性評価を行った。前記試料特性評価装置において、評価電圧印加手段と評価電流計測手段と演算手段を有するsolartron社製のインピーダンス測定解析システムを、劣化判定手段として内製品の劣化評価ソフトを、ノイズシールド部材として東陽テクニカ製のシールドボックスを使用した。また、使用した高抵抗試料は、下記組成の電荷輸送層用塗工液をAl板上に塗布し、乾燥させて作製した膜厚26.7μmの電荷輸送層シートであり、シート表面にAu電極を有する。電荷輸送層シートの大きさは約400mm2であるが、Au電極面積を50.3mm2として、電荷輸送層シート中で電流を流す範囲を制限した。[電荷輸送層用塗工液]ビスフェノールZポリカーボネート:10部パンライトTS-2050、帝人化成製下記化1式で表される低分子電荷輸送物質:10部テトラヒドロフラン:100部1シリコーンオイルのテトラヒドロフラン溶液:0.2部KF50-100CS、信越化学工業製試料を測定する際には、ノイズシールドボックスのHi端子を試料のAu電極と、Lo端子を試料のAl板Al電極と接続した。試料である電荷輸送層シートを劣化させる手段として、フルーク社製の直流標準高電圧発生器を使用した。試料の劣化させる際には、直流標準高電圧発生器のHi端子を試料のAu電極と、Lo端子を試料のAl電極と接続した。感光体の劣化とは、電子写真プロセスにおいて、帯電、露光、現像、転写、クリーニング、除電の反復過程から生じる機械的劣化や各層構成材料の化学的劣化を指し、各種特性からその劣化状態を評価する。ここでは、感光体の電荷輸送層に着目し、電荷輸送層シートの抵抗と静電容量の特性変動率から劣化を評価している。抵抗変動率と静電容量変動率は、以下の式から算出される。抵抗変動率=|劣化後の抵抗-初期の抵抗|/初期の抵抗×100静電容量変動率=|劣化後の静電容量-初期の静電容量|/初期の静電容量×100以下の比較例及び実施例1~3では、評価電圧のAC電圧、測定サイクル数、シールドボックスの使用状況については、それぞれの例で条件が異なる。ただし、評価電圧の直流DC電圧、交流AC電圧の周波数範囲については、全ての例で共通の条件評価電圧のDC電圧=5V、AC電圧の周波数範囲=40mHz~1MHzにして、インピーダンス測定を実施した。<比較例>評価電圧のAC電圧=0.1V、測定サイクル数1回、シールドボックス未使用の場合のインピーダンス測定結果を図2に示す。図2の結果から、インピーダンス測定結果にノイズが多く、測定安定性に欠けており、抵抗と静電容量の推定が困難である事がわかる。煩雑になるのを避けるため、詳細な測定結果を図示しないが、表1にAC電圧が0.2V未満の場合のインピーダンス測定結果を示す。以下、表中、測定結果にノイズが多く、抵抗と静電容量の推定が難しい場合には×を、ノイズは存在するが少なく、抵抗と容量の推定が可能な場合には○、ノイズがなく、抵抗と容量の推定が可能な場合には◎を記載している。表1のように、AC電圧が0.1V以外でも、AC電圧が0.2V未満の場合は、インピーダンス測定結果にノイズが多く、抵抗と静電容量の推定が困難であった。また、AC電圧が小さくなる程、ノイズが多くなる傾向を示していた。<試験例>前記記載の電荷輸送層を有する感光体の初期と劣化後の抵抗と静電容量を測定し、抵抗変動率及び静電容量変動率と出力結果との関係を調査した。Φ100mmのAlドラム上に、下記組成の、電荷発生層用塗工液、前記記載の電荷輸送層用塗工液を順次、塗布、乾燥することにより、0.2μmの電荷発生層、26.7μmの電荷輸送層を形成した感光体1~6を使用した。[電荷発生層用塗工液]下記化2式のチタニルフタロシアニン顔料:1.5部ポリビニルブチラールXYHL、UCC製:1.0部メチルエチルケトン:80部感光体1~6の抵抗と静電容量の測定には、帯電機能、露光手段、電位計測手段、電流計測手段を有しており、特許文献3に記載されているような公知の方法で抵抗及び静電容量を測定する事が可能な内製の感光体特性評価装置を使用した。感光体1~6の劣化には、帯電機能、露光手段、電位計測手段、電流計測手段を有しており、特許文献4に記載されているような公知の方法で、帯電、露光のサイクルを繰り返して感光体を劣化させる事が可能な内製の感光体劣化装置を使用して、帯電電位―800V、通荷電流108μAで、感光体1~5では、30分間、感光体6では120分間劣化させた後、劣化後の抵抗及び静電容量を測定した。調査結果を表2に示す。表2の結果からわかるように、今回使用した感光体では、抵抗変動率が40以上低下すると、電荷の拡散により、潜像の乱れが生じ、異常画像が発生する。また、静電容量変動率についても10以上あると、帯電時の電位変動が大きく、その感光体を使用して出力した画像が異常画像として現れる。今回使用した感光体は、電荷輸送層の膜厚が電荷発生層に比べて非常に大きいため、感光体の抵抗変化≒電荷輸送層の抵抗変化、感光体の静電容量変化≒電荷輸送層の静電容量変化と近似できる。したがって、以下に記載する実施例の中では、抵抗変動率が40以上の場合、もしくは静電容量変動率が10以上の場合に、試料が劣化していると判定を行った。<実施例1>AC電圧=0.2V、測定サイクル数1回、シールドボックス未使用の場合のインピーダンス測定結果を図3に◆プロットで示す。図3に示すように、実施例1では、ノイズは比較例に比べて極めて少なく、ノイズが存在するが、半円が描かれていることを確認でき、抵抗と静電容量の推定は可能であることがわかる。表3にAC電圧が0.2V以上の場合のインピーダンス測定結果初期を示す。表3のように、AC電圧が0.2V以上の場合は、インピーダンス測定結果にノイズが少なく、抵抗と静電容量の推定が可能であった。推定した抵抗と静電容量を合わせて表3に示す。なお、インピーダンスの測定結果に対して等価回路RC並列回路によるフィティングを行う事により抵抗と静電容量を推定している。また、AC電圧が0.2Vの推定抵抗49.2×109[Ω]から、この高抵抗試料の比抵抗を計算すると、49.2×109[Ω]×50.3×10-6[m2]÷26.7×10-6[m]=9.3×1010[Ωm]となる。次に、直流標準高電圧発生器により、500Vの電圧を3分間試料へと印加させた後、初期と同様の条件AC電圧=0.2V、測定サイクル数1回、シールドボックス未使用で、試料のインピーダンス測定を実施した。インピーダンス測定結果を図3に△プロットで示す。3分間印加後でも、ノイズは少なく、抵抗と静電容量の推定は可能であることがわかる。表4にAC電圧が0.2V以上の場合のインピーダンス測定結果3分間印加後を示す。表4のように、AC電圧が0.2V以上の場合は、インピーダンス測定結果にノイズが少なく、抵抗と静電容量の推定が可能であった。推定した抵抗と静電容量を合わせて表4に示す。試料の初期と劣化後での抵抗と静電容量の変動率演算結果を表5に示す。試験例の結果から、抵抗変動率が40以上または静電容量変動率が10以上の場合に、劣化判定がNG、抵抗変動率が40未満かつ静電容量変動率が10未満の場合のみ、劣化判定がOKと判定されるようにした。表5に示すように、3分間印加後では、AC電圧に関わらず、抵抗変動率が40未満かつ静電容量変動率が10未満である。このため、劣化判定はOKとなり、この電荷輸送層を有する感光体を使用して画像出力した際に異常画像が現れる程には劣化していないと言える。さらに、直流標準高電圧発生器により、500Vの電圧を27分間初期から数えると、327=30分間試料へと印加させた後、初期と同様の条件AC電圧=0.2V、測定サイクル数1回、シールドボックス未使用で、試料のインピーダンス測定を実施した。インピーダンス測定結果を図3に×プロットで示す。27分間追加印加後でも、ノイズは少なく、抵抗と静電容量の推定は可能であることがわかる。表6にAC電圧が0.2V以上の場合のインピーダンス測定結果27分間追加印加後を示す。表6のように、AC電圧が0.2V以上の場合は、インピーダンス測定結果にノイズが少なく、抵抗と静電容量の推定が可能であった。推定した抵抗と静電容量を合わせて表6に示す。試料の初期と30分間印加後での抵抗と静電容量の変動量演算結果を表7に示す。AC電圧に関わらず、抵抗変動率が40以上であり、抵抗が大きく変動している。また、静電容量変動率も10以上であり、静電容量の変動も大きい。したがって、劣化判定はNGとなり、この電荷輸送層を有する感光体を使用して画像出力した際に異常画像が現れる程、27分間追加印加後の試料の劣化は著しいと言える。以上のように、AC電圧が0.2V以上の評価電圧を試料へと印加する事で、インピーダンス測定結果にノイズが少なく、抵抗と静電容量の推定が可能となる。また、初期と劣化後それぞれに、AC電圧が0.2V以上の評価電圧でインピーダンス測定を行う事で、初期と劣化後の抵抗と静電容量の変動率から試料の劣化判定を行う事で、試料の劣化を容易に評価することができる。<実施例2>AC電圧=0.2V、測定サイクル数1回、シールドボックス使用の場合のインピーダンス測定結果を図4に示す。図4に示すように、実施例2では、ノイズのない綺麗な半円が描かれており、実施例1と比べて、抵抗と静電容量の推定がより容易に可能であることがわかる。表8にAC電圧が0.2V以上、シールドボックス使用の場合のインピーダンス測定結果を示す。表8のように、AC電圧が0.2V以上、シールドボックス使用の場合は、インピーダンス測定結果にノイズがなく、抵抗と静電容量の推定が可能であった。実施例1同様にして試料を劣化させた後、初期と同様の条件AC電圧=0.2V、測定サイクル数1回、シールドボックス使用で試料のインピーダンス測定を実施した。煩雑を避けるため測定結果の詳細は記載しないが、劣化後も初期と同様に、ノイズのない綺麗な半円が描かれており、抵抗と静電容量の推定が可能であった。また、実施例1と同様、初期と劣化後での抵抗と静電容量の測定結果から算出した抵抗と静電容量の変動率から、試料の劣化判定を行う事が確認できた。以上のように、試料をシールドボックス内に収容して、AC電圧が0.2V以上の評価電圧を試料へと印加する事で、インピーダンス測定結果にノイズがなく、精度の高い抵抗と静電容量の推定が可能となる。また、初期と劣化後の測定結果から求められる抵抗変動率と静電容量変動率から試料の劣化判定を行うことで、高精度な試料の劣化評価が可能となる。<実施例3>AC電圧=0.2V、測定サイクル数3回、シールドボックス未使用の場合のインピーダンス測定結果を図5に示す。図5に示すように、実施例3では、実施例2と同様にノイズのない綺麗な半円が描かれており、実施例1と比べて、抵抗と静電容量の推定がより容易に可能であることがわかる。表9にAC電圧が0.2V以上、測定サイクル3回または5回の場合のインピーダンス測定結果を示す。表9のように、AC電圧が0.2V以上、測定サイクル3回以上の場合は、インピーダンス測定結果にノイズがなく、抵抗と静電容量の推定が可能であった。実施例1、2と同様にして試料を劣化させた後、初期と同様の条件AC電圧=0.2V、測定サイクル数3回または5回、シールドボックス未使用で試料のインピーダンス測定を実施した。煩雑を避けるため詳細は記載しないが、劣化後も初期と同様にノイズのない綺麗な半円が描かれており、抵抗と静電容量の推定が可能であった。また、実施例1、2と同様、初期と劣化後での抵抗と静電容量の測定結果から算出した抵抗と静電容量の変動率から、試料の劣化判定を行う事が確認できた。以上のように、測定サイクル3回以上として積算平均化処理を行いながら、AC電圧が0.2V以上の評価電圧を試料へと印加する事で、インピーダンス測定結果にノイズがなく、精度の高い抵抗と静電容量の推定が可能となる。また、初期と劣化後の測定結果から求められる抵抗変動率と静電容量変動率から試料の劣化判定を行う事で、より高精度な試料の劣化評価が可能となる。以上に説明したものは一例であり、本発明は、次のような特有の効果を奏する。態様A初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を試料へ印加する評価電圧印加手段と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測手段と、評価電圧と評価電流の関係から試料の抵抗を求める演算手段と、該演算手段の結果により求められた初期試料の抵抗と劣化後試料の抵抗とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備える特性評価装置である。これによれば、初期の比抵抗が109[Ωm]以上となる高抵抗試料であっても、周波数可変の0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を印加することで、ノイズの少ない状態で試料のインピーダンスの測定結果が得られる。この測定結果から試料の抵抗を推定することが可能であり、この試料の抵抗値は、劣化の程度に対応した値となっている。よって、初期試料の抵抗に対する劣化後試料の抵抗の変動率から試料の劣化の程度を判定することが可能である。交流電圧が0.2V未満となる場合には、インピーダンス測定結果にノイズが多くなり、正確な抵抗値が得られず好ましくない。態様B初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の振幅が0.2V以上となる交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を試料へ印加する評価電圧印加手段と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測手段と、評価電圧と評価電流の関係から試料の静電容量を求める演算手段と、該演算手段の結果により求められた初期試料の静電容量と劣化後試料の静電容量とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備える特性評価装置である。これによれば、初期の比抵抗が109[Ωm]以上となる高抵抗試料であっても、周波数可変の0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を印加することで、ノイズの少ない状態で試料のインピーダンスの測定結果が得られる。この測定結果から試料の静電容量を推定することが可能であり、この試料の静電容量値は、劣化の程度に対応した値となっている。よって、初期試料の静電容量に対する劣化後試料の静電容量の変動率から試料の劣化の程度を判定することが可能である。交流電圧が0.2V未満となる場合には、インピーダンス測定結果にノイズが多くなり、正確な静電容量値が得られず好ましくない。態様C態様A又は態様Bの特性評価装置において、外部から試料が受けるノイズを遮断するノイズシールド部材を備える。これによれば、よりノイズの少ない状態でインピーダンス測定結果が得られ、より正確な試料の抵抗や静電容量を得ることができる。態様D初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の振幅が0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を試料へ印加する評価電圧印加行程と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測行程と、評価電圧と評価電流の関係から試料の抵抗を求める演算行程と、該演算行程で得られた結果により求められた初期試料の抵抗と劣化後の試料の抵抗とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定行程とを行う特性評価方法である。これによれば、初期の比抵抗が109[Ωm]以上となる高抵抗試料であっても、周波数可変の0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を印加することで、ノイズの少ない状態で試料のインピーダンスの測定結果が得られる。この測定結果から試料の抵抗を推定することが可能であり、この試料の抵抗値は、劣化の程度に対応した値となっている。よって、初期試料の抵抗に対する劣化後試料の抵抗の変動率から試料の劣化の程度を判定することが可能である。交流電圧が0.2V未満となる場合には、インピーダンス測定結果にノイズが多くなり、正確な抵抗値が得られず好ましくない。態様E初期の比抵抗が109[Ωm]以上である初期試料と劣化後の試料とに対して周波数可変の振幅が0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を試料へ印加する評価電圧印加行程と、評価電圧印加時に試料を流れる評価電流を計測する評価電流計測行程と、評価電圧と評価電流の関係から試料の静電容量を求める演算行程と、該演算手段の結果により求められた初期試料の静電容量と劣化後試料の静電容量とから試料の劣化の程度を判定する劣化判定行程とを行う特性評価方法である。これによれば、初期の比抵抗が109[Ωm]以上となる高抵抗試料であっても、周波数可変の0.2V以上の交流電圧を直流電圧に重畳した評価電圧を印加することで、ノイズの少ない状態で試料のインピーダンスの測定結果が得られる。この測定結果から試料の静電容量を推定することが可能であり、この試料の静電容量値は、劣化の程度に対応した値となっている。よって、初期試料の静電容量に対する劣化後試料の静電容量の変動率から試料の劣化の程度を判定することが可能である。交流電圧が0.2V未満となる場合には、インピーダンス測定結果にノイズが多くなり、正確な静電容量値が得られず好ましくない。態様F態様D又は態様Eの電子写真用感光体に用いる試料の特性評価方法において、上記初期試料と劣化後の試料を外部から受けるノイズを遮断するノイズシールド部材内に配置する。これによれば、よりノイズの少ない状態でインピーダンス測定結果が得られ、より正確な試料の抵抗や静電容量を得ることができる。態様G態様D、態様E又は態様Fの特性評価方法において、上記初期試料と劣化後の試料とに対して、上記評価電圧印加行程と上記評価電流測定行程とを3サイクル以上行う。これによれば、初期の比抵抗が109[Ωm]以上となる高抵抗試料であっても、よりノイズが少ない状態でインピーダンスの測定結果が得られ、より正確な試料の抵抗や静電容量を得ることができる。このため、より高い精度で試料の劣化の程度を判定することが可能である。