入力信号を受け、デジタル信号を発生するアナログデジタル変換器と、上記デジタル信号からのデジタルデータを複数のビットマップに変換し、上記複数のビットマップの1つを基準ビットマップとして上記複数のビットマップの他の1つから減算して、差のビットマップを発生することにより上記デジタルデータを処理するプロセッサとを具えた試験測定機器。入力信号を受け、デジタル信号を発生するアナログデジタル変換器と、上記デジタル信号からのデジタルデータを複数のビットマップに変換し、上記複数のビットマップの1つを基準ビットマップとして上記複数のビットマップの他の1つから減算して、差のビットマップを発生することにより上記デジタルデータを処理し、上記差のビットマップがユーザ定義のトリガ条件を満足したときにトリガ信号を発生するトリガ検出器と、上記トリガ信号に応答して上記デジタル信号からのデジタルデータを蓄積するメモリとを具えた試験測定機器。いくつかの場合において、実時間スペクトラムアナライザのユーザは、高密度信号の存在において超低密度信号を観察したいことがある。例えば、ユーザは、超高密度信号と同じ周波数レンジ、又はその周波数レンジのある部分を占める非常に小さな干渉信号を観察したいことがある。残念なことに、従来のDPXスペクトラム表示を用いたのでは、カラースケール制御の注意深い操作をしても、かかる小さな密度変動を識別することは困難又は不可能である。上述の従来技術の欠点を克服するために、大きな密度値の百分率にて、非常に小さな密度変動を検出できる試験測定機器が必要とされている。本発明の概念は、次の通りである。1入力信号を受け、デジタル信号を発生するアナログデジタル変換器と;上記デジタル信号からのデジタルデータを複数のビットマップに変換し、上記複数のビットマップの1つを基準ビットマップとして上記複数のビットマップの他の1つから減算して、差のビットマップを発生することにより上記デジタルデータを処理するプロセッサとを具えた試験測定機器。2上記プロセッサは、デジタルデータを実時間で処理する概念1の試験測定機器。3上記プロセッサは、トリガ信号に応答してデジタルデータをメモリに蓄積した後に上記デジタルデータを処理する概念1の試験測定機器。4入力信号を受け、デジタル信号を発生するアナログデジタル変換器と;上記デジタル信号からのデジタルデータを複数のビットマップに変換し、上記複数のビットマップの1つを基準ビットマップとして上記複数のビットマップの他の1つから減算して、差のビットマップを発生することにより上記デジタルデータを処理し、上記差のビットマップがユーザ定義のトリガ条件を満足したときにトリガ信号を発生するトリガ検出器と;上記トリガ信号に応答して上記デジタル信号からのデジタルデータを蓄積するメモリとを具えた試験測定機器。5上記プロセッサは、上記デジタルデータを一連のビットマップに実時間で変換し、新たに生成したビットマップの各々から上記基準ビットマップを減算する概念2の試験測定機器。6上記プロセッサは、上記基準ビットマップを更新する概念5の試験測定機器。7上記プロセッサは、ユーザコマンドに応答して上記基準ビットマップを更新する概念6の試験測定機器。8上記プロセッサは、上記試験測定機器に対して内部又は外部で発生した信号に応答して上記基準ビットマップを更新する概念6の試験測定機器。9上記プロセッサは、上記基準ビットマップを周期的に更新する概念6の試験測定機器。10上記プロセッサは、各ビットマップが生成された後に、上記基準ビットマップを更新する概念9の試験測定機器。11上記プロセッサは、N個のビットマップが生成される毎に基準ビットマップを更新し、上記Nが1より大きいユーザ指定の整数である概念9の試験測定機器。12上記異なるビットマップが表示器に表示される概念1の試験測定機器。13上記プロセッサは、異なるビットマップを用いて測定を実行する概念1の試験測定機器。14上記プロセッサは、上記差のビットマップ内に信号が現れた時又は消滅した時を示す概念1の試験測定機器。15上記試験測定機器は、実時間スペクトラムアナライザ、掃引型スペクトラムアナライザ、ベクトル信号アナライザ、ロジックアナライザ及びオシロスコープから選択された試験測定機器である概念1の試験測定機器。16上記トリガ検出器は、上記デジタルデータを一連のビットマップに実時間で変換し、新たに生成したビットマップの各々から上記基準ビットマップを減算する概念4の試験測定機器。17上記トリガ検出器は、上記基準ビットマップを更新する概念16の試験測定機器。18上記トリガ検出器は、ユーザコマンドに応答して上記基準ビットマップを更新する概念17の試験測定機器。19上記プロセッサは、上記試験測定機器の内部又は外部で発生した信号に応答して上記基準ビットマップを更新する概念17の試験測定機器。20上記トリガ検出器は、上記基準ビットマップを周期的に更新する概念17の試験測定機器。21上記トリガ検出器は、各ビットマップが生成された後に、上記基準ビットマップを更新する概念20の試験測定機器。22上記トリガ検出器は、N個のビットマップが生成される毎に、上記基準ビットマップを更新し、上記Nが1より大きいユーザ指定の整数である概念20の試験測定機器。23上記差のビットマップは、表示器に表示される概念4の試験測定機器。24上記トリガ検出器は、上記差のビットマップを用いて、測定を行う概念4の試験測定機器。25上記トリガ検出器は、上記差のビットマップ内に信号が現れた時又は消滅した時を指示する概念4の試験測定機器。26上記試験測定機器は、実時間スペクトラムアナライザ、掃引型スペクトラムアナライザ、ベクトル信号アナライザ、ロジックアナライザ及びオシロスコープから選択された試験測定機器である概念4の試験測定機器。27上記差のビットマップ内の密度差がユーザ指定密度しきい値を超えたときに、上記差のビットマップが上記ユーザ指定トリガ条件を満足する概念4の試験測定機器。よって、本発明の実施例が提供する試験測定機器は、入力信号を表すデジタルデータを複数のビットマップに変換し、複数のビットマップの1つから複数のビットマップの他の1つを減算して差のビットマップを発生する。差のビットマップは、2つのビットマップの間の密度差のみを含む代わりに、これら2つのビットマップに共通の密度値を含んでいないので、大きな密度値の存在にて非常に小さな密度変動を表す。いくつかの実施例において、差のビットマップが表示器に表示される。他の実施例において、差のビットマップを用いてトリガ信号を発生する。本発明の目的、利点及び新規な特徴は、添付図を参照した以下の詳細説明から更に理解できよう。図1は、実時間スペクトラムアナライザ100のブロック図である。この実時間スペクトラムアナライザ100は、無線周波数RF入力信号を受け、オプションとして、ミキサ105、局部発振器LO110及びフィルタ115を用いてダウンコンバージョンして、中間周波数IF信号を発生する。アナログデジタル変換器ADC120は、IF信号をデジタル化して、IF信号を表すデジタルデータの連続ストリームを発生する。デジタルデータは、2つのパスで処理される。第1パスでは、デジタルデータがプロセッサ125に入力して、プロセッサ125がデジタルデータを実時間で分析する。第2パスでは、デジタルデータがメモリ135いくつかの実施例では、循環バッファで構成されるに入力すると共に、トリガ検出器140にも入力する。トリガ検出器140は、デジタルデータを実時間で処理し、処理済みデータをユーザ指定のトリガ条件と比較する。処理済みデジタルデータがトリガ条件を満足すると、トリガ検出器140は、トリガ信号を発生する。このトリガ信号により、メモリ135がデジタルデータのブロックを蓄積する。プロセッサ125は、蓄積デジタルデータを分析する。プロセッサ125が処理した後、デジタルデータを表示器130に表示するか、蓄積装置図示せずに蓄積する。図2は、図1に示すプロセッサの詳細な機能図である。DPX処理を行うため、プロセッサ125は、高速フーリエ変換FFT、チャープZ変換などの周波数変換手段205を用いて、デジタルデータの連続ストリームを一連の周波数スペクトラム210に実時間で変換する。次に、ビットマップデータベース220と呼ばれるデータ構造、時には、密度ビットマップ又は代わりにビットマップと呼ばれるデータ構造にて、スペクトラム210を累積する。スペクトラム210は、種々の方法で累積できる。一実施例において、各スペクトラム210をラスタ化して、ラスタ化スペクトラム215を発生する。ラスタ化スペクトラムは、一連の行及び列で配列されたセルの配列から構成され、各行が特定の振幅値を表し、各行が特定の周波数値を表す。各セルの値は、1又は0ブランクのセルで表すである。1は、ヒットとも言い、測定期間中に、振幅対周波数空間における特定の場所に入力信号が存在することを示す。0は、入力信号が存在しないことを表す。ラスタ化スペクトラム215の対応セルの値を互いに加算して、ビットマップデータベース220を形成する。ビットマップデータベース220の各セルの値をラスタ化スペクトラム215の総数で除算する。これは、測定期間中のヒットの総数をラスタ化スペクトラム215の総数で除算することを表す。これは、等価的に、入力信号が振幅対周波数空間での特定場所を占める測定期間中の時間の百分率であり、DPX_Density商標又は密度ともいう。ラスタ化スペクトラム215及びビットマップデータベース220を簡単のために10行11列として示すが、実際の実施例においては、ラスタ化スペクトラム215及びビットマップデータベース220が数百の行及び列を含んでもよいことが理解できよう。ビットマップデータベース220は、基本的には、3次元ヒストグラムであり、x軸が周波数であり、y軸が振幅であり、z軸が密度である。ビットマップデータベース220を表示器145で表示し、色で等級を付けたピクセルカラーグレードピクセルにより、各セルの密度を表す。代わりに、ビットマップデータベース220を蓄積装置図示せずに蓄積してもよい。いくつかの場合、一連の周波数スペクトラム210を、フレームと呼ばれる1つ以上の周波数スペクトラム210の組に構成し、各フレームをビットマップデータベース220に変換することにより、一連の周波数スペクトラム210を複数のビットマップデータベース220に変換する。図3は、本発明の実施例による方法を説明する流れ図300である。本発明のいくつかの実施例において、プロセッサ125は、次のステップによりデジタルデータを処理する。すなわち、ステップ1で、デジタルデータを複数のビットマップに変換する。また、ステップ2で、基準ビットマップと呼ぶ複数のビットマップの1つを、被試験ビットマップと呼ぶ複数のビットマップの他の1つから減算して、差のビットマップを発生する。差のビットマップは、これら2つのビットマップに共通の密度値を含んでいないが、その代わりに、これら2つのビットマップの間の密度差を含んでいる。大きな密度値の百分率での非常に小さな密度変化を差のビットマップがどの様に示すかの例を以下に説明する。図4に示すビットマップ400と図5に示すビットマップ500を考察する。これらビットマップ400及び500の両方は、異なる時点でのデジタルデータの同じストリームから生成したものである。実際のビットマップをより現実的に示すために、ビットマップ400及び500が数百の行列を有するとして示し、それらのグリッドラインを示めさないが、それらのカラーグレードは、信号がよりしばしば存在することを示すグレイのより黒っぽい影として示す。ビットマップ400及び500の両方は、4相位相変調QPSK:QuadraturePhaseShiftKeyingを示している。最も暗い密度値は、測定期間中のかなりの部分で、パワー又は振幅対周波数空間の場所にQPSK信号が存在することを示す。ビットマップ400は、実質的にビットマップ500と同じように現れる点に留意されたい。ビットマップ500からビットマップ400を減算して、図6に示すような差のビットマップ600を作成する。ここで、カラースケールを拡大して、正及び負の密度差の両方を含む密度差値の小さな範囲を示す。差のビットマップ600は、QPSK信号よりも20dB低い干渉信号605を示す。干渉信号605は、ビットマップ500に存在するが、ビットマップ400には存在しない。時間的にかなりの部分を占めるQPSK信号に対比して、干渉信号605は、そのピクセル密度値がわずか0.00002即ち、20ピコパーセントであるが、容易に観察できる点に留意されたい。いくつかの実施例において、プロセッサ125は、デジタルデータの連続ストリームを一連のビットマップに実時間で変換し、新たに生成されたビットマップの各々から基準ビットマップを減算して、非常に小さな密度変動について入力信号を実時間でモニタする。この場合、振幅ドリフト、周波数ワンダーなどの入力信号の低周波数変動を除去するために、基準ビットマップを時々更新するという利点がある。この方法にて、試験測定機器は、入力信号での遅い変化をトラックアウト追跡するので、基準ビットマップの更新よりもより迅速に生じる変化を検出できる。例えば、基準ビットマップが50ミリ秒ごとに更新されると、第1順位で、差のビットマップは、50ミリ秒内に生じる信号の変化を単に示す。差のビットマップは、種々の方法で更新できる。いくつかの実施例において、基準ビットマップは、ユーザコマンドに応答して更新される。他の実施例において、実時間スペクトラムアナライザ100の内部又は外部で発生した信号に応答して、基準ビットマップが更新される。いくつかの実施例において、プロセッサ125は、基準ビットマップを周期的に更新する。この基準ビットマップは、種々の方法で周期的に更新できる。いくつかの実施例において、各ビットマップを生成した後に、基準ビットマップを更新する。これを実行するには、新たなビットマップが生成されると、これら新たなビットマップをファーストインファーストアウトFIFOメモリ構成に蓄積するが、基準ビットマップは、FIFOのユーザ指定スロットに蓄積されたビットマップである。図7は、13個のビットマップをFIFOに蓄積する本実施例の例を視覚化したものである。ユーザ指定のスロットは、10番目のスロットであるので、基準ビットマップ710は、10番目のスロットに蓄積されるビットマップとなる。この方法にて、基準ビットマップ710は、常に、新たに生成されたビットマップ700の10個のビットマップの前である。よって、基準ビットマップは、新たなビットマップが生成されるのと同じレートで時間と伴にロールする進む。他の実施例において、N個のビットマップが生成された後毎に、基準ビットマップが更新される。なお、Nは、1よりも大きいユーザ指定の整数である。例えば、10個のビットマップが生成された後毎に、より新しく生成したビットマップにより基準ビットマップを更新する。この場合、基準ビットマップを更新した後、この基準ビットマップを次の10個のビットマップから減算して、10個の差ビットマップを発生し、その後、基準ビットマップを再度更新する。基準ビットマップを更新するこの方法は、FIFOの観点から視覚化できる。例えば、図8は、2つの異なる時点での同じFIFOの2つの状態を示す。これら状態の一方では、基準ビットマップ805は、新たに生成されたビットマップ800の5個のビットマップ前であり、他方では、基準ビットマップ810は、新たに生成されたビットマップ800の10個のビットマップ前である。FIFOの他のスロットは空である。基準ビットマップを更新するこの方法は、前の段落で説明した方法に比較して、ビットマップを蓄積するのに要するメモリ容量を大幅に減らせることが理解できよう。差のビットマップを表示器130に表示する場合、密度差を容易に観察できるようにするため、スムージングを適用し、濾波し、ユーザ指定値より上の密度差をエンファシスし、ユーザ指定値よりも下の密度差をディエンファシスするなどして、差のビットマップを処理できる。特に、非常に小さな密度変動に対して入力信号を実時間でモニタする場合、パーシステンスを適用して、ユーザが観察するのに十分に長い期間にわたって、短い遷移の信号を観察可能に表示器130に表示維持できるという利点がある。いくつかの実施例において、差のビットマップを用いて、測定を実行する。通常は従来のビットマップで動作する実時間スペクトラムアナライザで利用可能な多くの測定を、差のビットマップを用いて実行できることが理解できよう。なお、これら測定結果の意味は、大きく異なる。いくつかの実施例において、プロセッサ125は、複数の連続的なビットマップを収集し、複数の連続的なビットマップを単一の基準ビットマップから減算して複数の差測定のインターバルに相当する複数の差のビットマップを発生し、各差のビットマップの密度差を測定して複数の密度差測定値を発生し、これら密度差測定値を密度差対測定インターバルの表示形式で提供する。この方法にて、プロセッサ125は、入力信号に存在する間欠的な干渉信号をユーザが識別することを援助する。任意の1つのピクセル位置にて、正密度差は、被試験ビットマップが基準ビットマップよりもその位置でより多くのヒットがあることを示す。これは、入力信号が特定の振幅にて長い時間を費やし、それよりも高い又は低い振幅にて短い時間を費やすことを意味する。1つの周波数列のみを考察すると、負の密度差よりも上に配置された正の密度差は、基準ビットマップ内に存在しない信号を被試験ビットマップが表すことを示す。すなわち、その信号が現れたことを示す。逆に、負密度差よりも下に配置された正の密度差は、被試験ビットマップ内に存在しない信号を基準ビットマップが表すことを示す。すなわち、その信号が消滅したことを示す。これは、任意の種類の通過信号が周波数バンドに導入されたときに、その周波数バンドにて総合パワーレベルを増加させるためである。逆に、信号を周波数バンドから除去するとき、その周波数バンドにて総合パワーレベルを減少させる。次の例について考察する。図9に示す列910は、基準ビットマップの1つの列を表し、各ピクセル内に示す数字は、そのピクセルにヒットした数を表す。列910内のヒットのパターンは、ノイズの通常分布を示す。9個のヒットを含むピクセルが表すノイズ分布の中間は、列910の上部から9番目のピクセルに配置されている。次に、被試験ビットマップの1つの列を表す列905について考察する。ここで、追加の信号を周波数バンドに導入して、追加信号のパワーにより周波数バンド内の総合パワーを増加させる。または、これは、2ピクセルだけノイズ分布を垂直にシフトする。よって、ノイズ分布の中間は、列905の上から7番目のピクセルに配置されている。列915は、差のビットマップの1つの列を表し、基準ビットマップの列910を被試験ビットマップの列905から減算して形成される。列915の上から7番目のピクセルにて、密度差は、9-7=2に等しい。ここから2ピクセルだけ下で、列915の上から9番目のピクセルで、密度差は、4-9=-5に等しい。よって、上述の如く、負の密度差-5の上に配置された正の密度差2は、追加の信号が現れたことを示す。追加の信号が基準ビットマップに存在するが被試験ビットマップに存在しないとき、パターンが反転し、高い振幅で低い振幅及び負の密度差及にて、正の密度差が生じる。いくつかの実施例において、プロセッサ125は、差のビットマップ内で信号が現れる又は消滅する時を示す。他の実施例において、プロセッサ125は、差のビットマップのユーザ指定部分内で信号が現れる時又は消滅する時を示す。本発明のいくつかの実施例において、トリガ検出器140は、次のステップを実行してデジタルデータを処理する。すなわち、1デジタルデータを複数のビットマップに変換し、2基準ビットマップと呼ぶ複数ビットマップの1つを、被試験ビットマップと呼ぶ複数ビットマップの他の1つから減算して、差のビットマップを発生する。差のビットマップがユーザ指定トリガ条件を満足すると、トリガ検出器140は、トリガ信号を発生する。上述の如く、トリガ信号により、メモリ135は、デジタルデータのブロックを蓄積し、このデジタルデータのブロックをプロセッサ125で分析し、その結果を表示器130に表示するか蓄積装置図示せずに蓄積する。ユーザ指定トリガ条件は、多くの形式が可能である。例えば、いくつかの実施例において、差のビットマップ内のピーク密度差がユーザ指定密度しきい値を超えると、トリガ検出器140がトリガ信号を発生する。他の実施例において、差のビットマップのユーザ指定部分内のピーク密度差がユーザ指定密度しきい値を超えると、トリガ検出器140がトリガ信号を発生する。種々の他の実施例において、従来のビットマップに基づいてトリガする種々のトリガ技術の任意の1つにて、その従来のビットマップの位置にて差のビットマップを用い、これらトリガ技術によりユーザ指定トリガ条件を定義する。かかるトリガ技術の例としては、2009年9月28日に出願した米国特許出願第12/568141号カラー、密度及び相関に基づいたトリガを用いる周波数領域ビットマップトリガ特許公開2010-217180号公報に対応や、2010年5月13日に出願の米国特許出願第12/779732号コンピュータビジョン技術を用いた信号認識及びトリガがある。種々の実施例において、プロセッサ125及びトリガ検出器140は、ハードウェア、ソフトウェア又はこれら2つの組合せで実現でき、汎用マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサDSP、用途特定集積回路ASIC、フィールドプログラマブルゲートアレイFPGAなどで構成又は実行できる。上述は、基準ビットマップを被試験ビットマップから減算することにより計算する差のビットマップについて説明したが、被試験ビットマップを基準ビットマップから減算しても、実質的に同等な差のビットマップを計算できることが理解できよう。この第2の計算法により、負であるが他は同じ結果が得られる。上述の実施例は、実時間スペクトラムアナライザについて説明したが、本発明の原理は、掃引型スペクトラムアナライザ、ベクトル信号分析器、ロジックアナライザ、オシロスコープなどのように入力信号の複数の取込みを累積できる任意の試験測定機器に等しく適用できることが明らかである。例えば、本発明のいくつかの実施例において、オシロスコープは、入力信号を表すデジタルデータを複数のアイダイアグラムに変換し、複数のアイダイアグラムの1つをアイダイアグラムの他の1つから減算して、入力信号に存在する非常に小さな間欠信号を表す差のアイダイアグラムを発生する。この場合、ビットマップは、上述の如き周波数領域ビットマップではなく、時間領域でのサンプル電圧値の累積を表す。本発明が試験測定機器の分野で非常な進歩を表すことが上述から明らかであろう。本発明の特定実施例について図示し説明したが、本発明の要旨を逸脱することなく種々の変形変更が可能であることが理解できよう。