"1離型前のプレス成形品の形状、残留応力分布のデータを算出し、前記離型前のデータに基づいて座標変換により離型前の局所座標系での応力分布aを算出する工程、2前記離型前のデータに基づいてスプリングバック解析を行い、離型後のプレス成形品の残留応力分布を算出し、座標変換により局所座標系でのプレス成形品の残留応力分布bを算出するとともに、離型後のプレス成形品の形状データdを算出する工程、3前記応力分布aとbとの差分a-bを算出し、該差分をスプリングバッグ有効応力SB有効応力として座標変換により全体座標系におけるSB有効応力分布を算出し、このSB有効応力分布のうち解析対象領域のSB有効応力を変更または除去して、プレス成形品のSB有効応力分布を算出し、スプリングバック解析を行い、離型後のプレス成形品の形状データcを算出する工程、4前記形状データcと形状データdとの差分c-dを算出し、解析対象領域の全体形状に対する影響度合を判定する工程、とからなることを特徴とするプレス成形解析方法。1離型前のプレス成形品の形状、残留応力分布のデータを算出し、前記離型前のデータに基づいて座標変換により離型前の局所座標系での応力分布aを算出する工程、2前記離型前のデータに基づいてスプリングバック解析を行い、離型後のプレス成形品の残留応力分布を算出し、座標変換により局所座標系でのプレス成形品の残留応力分布bを算出するとともに、離型後のプレス成形品の形状データdを算出する工程、3前記応力分布aとbとの差分a-bを算出し、該差分をスプリングバッグ有効応力SB有効応力として座標変換により全体座標系におけるSB有効応力分布を算出し、このSB有効応力分布のうち解析対象領域のSB有効応力を除去して、プレス成形品のSB有効応力分布Xを算出する工程、4前記局所座標系での残留応力分布bを離型前のプレス成形品の形状に付与して局所座標系での残留応力相当分を算出し、座標変換により全体座標系でのプレス成形品の残留応力相当分Yを算出する工程、5前記プレス成形品のSB有効応力分布Xに前記プレス成形品の残留応力相当分Yを加算した応力分布を算出してスプリングバック解析を行い、離型後のプレス成形品の形状データcを算出する工程、6前記形状データcと形状データdとの差分c-dを算出し、解析対象領域の全体形状に対する影響度合を判定する工程、とからなることを特徴とするプレス成形解析方法。特許文献1の応力の変更方法は、プレス成形対象物の金型からの離型前の応力のみを考慮して、応力の除去および変更を行い、その状態でスプリングバック解析を行って、応力を変更しないものと比較することで応力変更による影響を検討するものである。しかし、プレス成形対象物以下プレス成形品と呼ぶにはプレス金型からの離型後も、即ちスプリングバック後にも応力は残留している。このため、プレス金型からの離型前の応力のみに注目してその影響を検証しても正確な各領域の応力の影響を評価することが困難な場合がある。そこで、本発明は、上述の問題点を解決するためになされたものであり、プレス成形品がプレス金型から離型後の応力残留応力分布を考慮して、離型前の応力変更により、どの領域における応力がスプリングバックにどう影響しているかを明らかにすることを課題とする。本発明の要旨は以下の通りである。第一の発明は、1離型前のプレス成形品の形状、残留応力分布のデータを算出し、前記離型前のデータに基づいて座標変換により離型前の局所座標系での応力分布aを算出する工程、2前記離型前のデータに基づいてスプリングバック解析を行い、離型後のプレス成形品の残留応力分布を算出し、座標変換により局所座標系でのプレス成形品の残留応力分布bを算出するとともに、離型後のプレス成形品の形状データdを算出する工程、3前記応力分布aとbとの差分a-bを算出し、該差分をスプリングバッグ有効応力SB有効応力として座標変換により全体座標系におけるSB有効応力分布を算出し、このSB有効応力分布のうち解析対象領域のSB有効応力を変更または除去して、プレス成形品のSB有効応力分布を算出し、スプリングバック解析を行い、離型後のプレス成形品の形状データcを算出する工程、4前記形状データcと形状データdとの差分c-dを算出し、解析対象領域の全体形状に対する影響度合を判定する工程、とからなることを特徴とするプレス成形解析方法である。第二の発明は、1離型前のプレス成形品の形状、残留応力分布のデータを算出し、前記離型前のデータに基づいて座標変換により離型前の局所座標系での応力分布aを算出する工程、2前記離型前のデータに基づいてスプリングバック解析を行い、離型後のプレス成形品の残留応力分布を算出し、座標変換により局所座標系でのプレス成形品の残留応力分布bを算出するとともに、離型後のプレス成形品の形状データdを算出する工程、3前記応力分布aとbとの差分a-bを算出し、該差分をスプリングバッグ有効応力SB有効応力として座標変換により全体座標系におけるSB有効応力分布を算出し、このSB有効応力分布のうち解析対象領域のSB有効応力を除去して、プレス成形品のSB有効応力分布Xを算出する工程、4前記局所座標系での残留応力分布bを離型前のプレス成形品の形状に付与して局所座標系での残留応力相当分を算出し、座標変換により全体座標系でのプレス成形品の残留応力相当分Yを算出する工程、5前記プレス成形品のSB有効応力分布Xに前記プレス成形品の残留応力相当分Yを加算した応力分布を算出してスプリングバック解析を行い、離型後のプレス成形品の形状データcを算出する工程、6前記形状データcと形状データdとの差分c-dを算出し、解析対象領域の全体形状に対する影響度合を判定する工程、とからなることを特徴とするプレス成形解析方法である。実際にスプリングバッグに寄与している応力よりも過剰または過少に評価することなく適切に対象の領域の応力のスプリングバッグに及ぼす影響を評価することができる。また、局所座標系を設定し、特定の応力成分を除去することにより、その応力の影響のみを評価することができ、スプリングバッグ低減対策を検討する際に役に立つ。第1の実施の形態本発明の第1の実施の形態を図面を参照して説明する。図4は本発明に係るプレス成形解析方法の第1の実施の形態に係るプレス成形解析方法の処理の順序を示すフロー図である。第1の実施の形態は、スプリングバック有効応力にのみ着目して、スプリングバック解析対象領域のスプリングバック有効応力を変更または除去を行った後にスプリングバック解析を行い、離型後のプレス成形品の形状を比較することで、スプリングバック解析対象領域の応力の影響を評価する解析方法である。図4に示すプレス成形解析方法における解析計算は、有限要素法FEM解析システムを用いて行われる。1S1:先ず、ステップS1において離型前のプレス成形品の応力分布を求める。S2:ステップS2において、ステップS1で求められた全体座標系で表わされている応力を、離型前後で変化しない局部座標系を定義し、応力を座標変換し局部座標系での応力分布aを求める。プレス成形品は離型後にスプリングバックにより回転が発生するため、全体座標系で表わされている応力を直接差分すると変形に寄与した応力を正確に求めることができない。そこで、応力分布を与える各有限要素について、一般に有限要素解析内で用いられている手法である離型前後で変化しない局所座標系を定義し応力を座標変換した後に離型前後で応力の差分をおこなう。応力の座標変換は局所座標系の直交する3軸の単位ベクトルをそれぞれl1,m1,n1、l2,m2,n2、l3,m3,n3とすると式1で与えられる。プレス成形シミュレーションでの局所座標系の採り方は一般に節点が4つまたは3つのシェル要素が用いられ板厚方向には節点を持たない。そこで、一般に板厚方向、即ち4つまたは3つの節点で作られる面法線方向を座標系の1つの第3軸に選ぶことが普通である。4節点シェル要素の場合、4点が同一平面上に必ずあるわけではないので、1対角線の外積から求められる方向を板厚方向とする、2近似平面の面法線方向を板厚方向とするなどの方法がある。また第1軸、第2軸は、1シェル要素の第1節点から第2節点への方向を第1軸とする方法、2対角線のベクトルから作る方法などがある。2S3:ステップS1の応力分布に基づきスプリングバック解析を行う。S4:離型後のプレス成形品の残留応力分布を求める。S5:全体座標系から局所座標系への座標変換を行い、離型後の局所座標系でのプレス成形品の残留応力分布bを求める。S6:S3のスプリングバック解析から離型後のプレス成形品の形状データdを求める。3S7:離型前の応力分布aと離型後の残留応力分布bとの差分a-bをスプリングバック有効応力以下SB有効応力と呼ぶと呼び、その分布を求める。S8:局所座標系から全体座標系への座標変換を行い全体座標系でのSB有効応力分布を求める。S9:解析対象領域のSB有効応力を変更または除去する。S10:解析対象領域のSB有効応力の変更または除去後のプレス成形品のSB応力分布を求める。S11:ステップS10で求めた応力分布からスプリングバック解析を行う。S12:離型後のプレス成形品の形状データcを求める。4S13:形状データcと形状データdとの差分c-dを算出し、SB解析対象領域の全体形状への影響度を評価する。第2の実施の形態本発明の第2の実施の形態を図面を参照して説明する。図5は本発明に係るプレス成形解析方法の第2の実施の形態に係るプレス成形解析方法の処理の順序を示すフロー図である。第2の実施の形態は、第1の実施の形態で求めた部分的にスプリングバック有効応力を変更または除去した局所座標系のスプリングバッグ有効応力分布に局所座標系の残留応力を加えた応力分布を全体座標系に変換したのちにスプリングバック解析を行い、離型後のプレス成形品の形状と比較することで、スプリングバック解析対象領域の応力の影響を評価する解析方法である。図5に示すプレス成形解析方法における解析計算は、有限要素法FEM解析システムを用いて行われる。1S21:先ず、ステップS21において離型前のプレス成形品の応力分布を求める。S22:ステップS22において、ステップS21で求められた全体座標系で表わされている応力を、離型前後で変化しない局所座標系を定義し、応力を座標変換し局所座標系での応力分布aを求める。局所座標系の求め方は第1の実施の形態に同じであるので本項では省略する。2S23:ステップS21の応力分布に基づきスプリングバック解析を行う。S24:離型後のプレス成形品の残留応力分布を求める。S25:全体座標系から局所座標系への座標変換を行い、離型後の局所座標系でのプレス成形品の残留応力分布bを求める。S26:ステップS23のスプリングバック解析から離型後のプレス成形品の形状データdを求める。3S27:離型前の応力分布aと離型後の残留応力分布bとの差分a-bをスプリングバック有効応力以下SB有効応力と呼ぶと呼び、その分布を求める。S28:局所座標系から全体座標系への座標変換を行い全体座標系でのSB有効応力分布を求める。S29:解析対象領域のSB有効応力を変更または除去する。S30:解析対象領域のSB有効応力の変更または除去後のプレス成形品のSB有効応力分布Xを求める。4S31:離型前のプレス成形品の形状に応力bを付与する。S32:局所座標系での残留応力相当分を求める。S33:局所座標系を全体座標系に変換し全体座標系でのプレス成形品の残留応力相当分Yを求める。5S34:SB有効応力分布Xに残留応力相当分Yを加算した応力分布を求める。S35:スプリングバック解析を行う。S36:離型後のプレス成形品の形状データcを求める。6S37:形状データcと形状データdとの差分c-dを算出し、SB解析対象領域の全体形状への影響度を評価する。本発明に係るプレス成形解析方法の実施例として、フロントピラーインナー部品のプレス成形加工について述べる。本部品の概観形状を図1に示す。板厚1.6mmの980MPa級高張力冷延鋼板を用いて金型によりプレス成形及びトリム加工を行い、ベンド加工を経てフロントピラーインナー部品に仕上げた。ベンド加工は、図1に示すベンドラインに沿って折り曲げ加工がなされている。プレス成形解析は、図1に示すフロントピラーインナー部品を成形する場合において、図2に示す解析対象領域1から6までの応力が、それぞれ、どの程度影響しているかを解析した。解析は、市販の有限要素法FEM解析システムを用いて、図4及び図5に示すステップに沿って行った。具体的には、ベンド加工後において図2に示す各領域1から6の応力を除去して、点A、点BでのZ方向変位に及ぼす影響を調査した。なお、通常各領域での応力除去を行っていないもののスプリングバック解析後の点AのZ方向変位は、-16.5mm、点Bは-9.7mmである。従来例特許文献1は、解析対象領域1から6の何れか1箇所に関して全ての応力を除去してスプリングバック計算を行ったものである。発明例1は、本発明のSB有効応力のみを取り出し図4のS8、更に解析対象領域1から6の何れか1箇所のみSB有効応力を除去図4のS9してスプリングバック計算図4のS11を行ったものである。発明例2は解析対象領域1から6の何れか1箇所のSB有効応力のみを除去図5のS29してスプリングバック計算図5のS35を行ったものである。上記の結果を図3に示す。横軸は解析対象領域の番号を、縦軸は点AのZ方向変位mmを表したものである。従来例では解析対象領域6の影響がもっとも大きいが、発明例1及び2では、解析対象領域2の影響が最も大きい。次に、要因分析結果を具体的に検証するために、解析対象領域2と解析対象領域6のそれぞれのフランジに△形状の切り込みを入れた場合について比較を行った。切り込みを入れることにより、その周囲の変形が他の部分に影響しなくなり、その結果、応力を除去した結果と同様の効果を実現できる為である。その結果、解析対象領域6に切り込みを入れた場合はA点が1.2mm上昇し、解析対象領域2の場合では、4.3mm上昇が見られ、解析対象領域2の影響が大きいことがわかった。このことから、発明例の要因分析が従来例に比べて優れていることがわかる。従来例において解析対象領域6の影響が大きくなったのは、解析対象領域6が比較的形状が複雑でスプリングバッグ後の残留応力が大きいため、その分を除去した影響が出ていると考えられる。また、ベンド工程では、解析対象領域4~解析対象領域6は塑性変形を加えるベンドラインよりも遠いことからも、従来例では解析対象領域6の影響を過剰に評価しているものと考えられる。"