"レーザー照射によりサンプルをイオン化し、発生したイオンを遅延引き出し法により加速するイオン源と、前記イオン源から飛行して到達したイオンを検出する検出器と、既知物質の質量電荷比の値と、前記イオン源の前記遅延引き出し法に関連する遅延引き出しパラメーターを含む所与の調整パラメーターの値との対応関係を定義する調整テーブルを記憶する記憶部と、前記調整テーブルに基づいて、指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値を算出するパラメーター調整部と、前記パラメーター調整部が算出した前記調整パラメーターの値に基づいて、前記イオン源の前記遅延引き出しパラメーターを設定するパラメーター設定部と、前記遅延引き出しパラメーターが設定された前記イオン源で発生したイオンが前記検出器に到達するまでの飛行時間を計測する飛行時間計測部と、を含む、飛行時間質量分析装置。請求項1において、前記遅延引き出しパラメーターは、前記イオン源のサンプルプレートに印加するサンプルプレート電圧と前記イオン源の加速電極に印加するパルス電圧との比を特定可能なパラメーター及び前記パルス電圧の発生タイミングを特定可能なパラメーターの少なくとも一方を含む、飛行時間質量分析装置。請求項1又は2において、前記パラメーター調整部は、前記指定された質量電荷比の値に応じて、前記調整テーブルに含まれる前記調整パラメーターの値を線形補間することにより、前記指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値を算出する、飛行時間質量分析装置。請求項1又は2において、前記パラメーター調整部は、前記調整テーブルに含まれる前記調整パラメーターの値と前記質量電荷比の値との関係式を多項式で近似し、当該多項式を用いて前記指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値を算出する、飛行時間質量分析装置。請求項1又は2において、前記パラメーター調整部は、前記調整テーブルに含まれる各々の前記調整パラメーターの値が適用される質量電荷比の範囲を互いに重ならないように設定し、前記指定された質量電荷比の値が含まれる前記質量電荷比の範囲に適用される前記調整パラメーターの値を、前記指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値とする、飛行時間質量分析装置。請求項1乃至5のいずれかにおいて、前記調整パラメーターは、前記イオン源に照射するレーザーの強度及び前記検出器の電圧の少なくとも一方を含み、前記パラメーター設定部は、前記パラメーター調整部が算出した前記調整パラメーターの値に基づいて、前記レーザーの強度及び前記検出器の電圧の少なくとも一方を設定する、飛行時間質量分析装置。請求項1乃至6のいずれかにおいて、前記飛行時間計測部が計測した飛行時間を、所定の変換式に基づいて質量電荷比に変換する質量電荷比算出部をさらに含み、前記調整テーブルは、前記調整パラメーターとして、前記既知物質の各々について、当該調整テーブルに含まれる当該既知物質の前記遅延引き出しパラメーターの値を前記イオン源に設定して計測される飛行時間から前記変換式に基づいて変換した質量電荷比の値を前記調整テーブルに含まれる当該既知物質の質量電荷比の値に補正するための補正量を含み、前記質量電荷比算出部は、前記調整テーブルに含まれる前記補正量に基づいて前記変換式の係数を変更する、飛行時間質量分析装置。請求項1乃至7のいずれかにおいて、前記パラメーター調整部は、前記イオン源のサンプルプレート上に配置された測定対象となるスポット毎に、あらかじめ指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値を算出し、前記パラメーター設定部は、前記イオン源の測定対象となるとなるスポット毎に、前記パラメーター調整部が算出した前記調整パラメーターの値に基づいて、前記遅延引き出しパラメーターを設定する、飛行時間質量分析装置。請求項1乃至8のいずれかにおいて、前記パラメーター調整部は、前記検出器の検出信号に基づいて、最も強い強度に対応する質量電荷比の値を算出し、算出した当該質量電荷比の値を指定して前記調整パラメーターの値を算出する、飛行時間質量分析装置。請求項1乃至9のいずれかにおいて、前記イオン源は、MALDI法によりサンプルをイオン化する、飛行時間質量分析装置。既知物質の質量電荷比の値と、レーザー照射によりサンプルをイオン化し、発生したイオンを遅延引き出し法により加速するイオン源の当該遅延引き出し法に関連する遅延引き出しパラメーターを含む所与の調整パラメーターの値との対応関係を定義する調整テーブルに基づいて、指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値を算出するパラメーター調整ステップと、前記パラメーター調整ステップで算出した前記調整パラメーターの値に基づいて、前記イオン源の前記遅延引き出しパラメーターを設定するパラメーター設定ステップと、前記遅延引き出しパラメーターが設定された前記イオン源で発生したイオンが前記検出器に到達するまでの飛行時間を計測する飛行時間計測ステップと、を含む、飛行時間質量分析方法。ところで、TOFMSのイオン源の1つに、マトリックス支援レーザー脱離/イオン化法MALDI法により試料をイオン化するものがある。以下、MALDI法とTOFMSを組み合わせた装置をMALDI-TOFMSと呼ぶ。MALDI法は、使用するレーザー光波長に吸収帯をもつマトリックス液体や結晶性化合物、金属粉などに試料を混合溶解させて固化し、これにレーザー照射して試料を気化あるいはイオン化させる方法である。通常のMALDI-TOFMSでは、導電性のサンプルプレート上に、複数のスポットが準備され、スポットごとにサンプルとマトリックスの混合物を結晶化させる。このサンプルプレートはマイクロタイタープレート形式であることが多い。ユーザーは、測定前に試料とマトリックスを混合した溶液をこのサンプルプレート上に準備する。最近では、液体クロマトグラフィーなどの分離手段から溶出物を順次マトリックスと混合し、サンプルプレート上に滴下する方法も用いられる。MALDI法に代表されるレーザーによるイオン化では、イオン生成時の初期エネルギー分布が大きく、これを飛行軸方向に収束させるため、遅延引き出し法がほとんどの場合で用いられる。これはレーザー照射より数100nsec程度遅れてパルス電圧を印加する方法である。遅延引き出し法の採用によりMALDI-TOFMSは大幅に性能を向上させた。しかしながら、遅延引き出し法の欠点としてm/z値により収束点の位置がわずかに異なることが挙げられる。それにより、あるm/z値で質量分解能が高くなるように装置条件を設定すると、そのm/z値から離れるほど質量分解能が悪化してしまう。質の良いマススペクトルを取得するためには、測定レンジあるいは注目するm/z値により装置条件を変更する必要があるが、現状では、ユーザーの経験に基づいて最適な装置条件に調整する作業が必要であり、この調整に手間を要していた。本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様によれば、ユーザーの手間を軽減しながら、指定されたイオンの質量電荷比に応じた質の良いマススペクトルを得ることができる飛行時間質量分析装置及び飛行時間質量分析方法を提供することができる。1本発明は、レーザー照射によりサンプルをイオン化し、発生したイオンを遅延引き出し法により加速するイオン源と、前記イオン源から飛行して到達したイオンを検出する検出器と、既知物質の質量電荷比の値と、前記イオン源の前記遅延引き出し法に関連する遅延引き出しパラメーターを含む所与の調整パラメーターの値との対応関係を定義する調整テーブルを記憶する記憶部と、前記調整テーブルに基づいて、指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値を算出するパラメーター調整部と、前記パラメーター調整部が算出した前記調整パラメーターの値に基づいて、前記イオン源の前記遅延引き出しパラメーターを設定するパラメーター設定部と、前記遅延引き出しパラメーターが設定された前記イオン源で発生したイオンが前記検出器に到達するまでの飛行時間を計測する飛行時間計測部と、を含む、飛行時間質量分析装置である。本発明によれば、既知物質の質量電荷比の値と遅延引き出しパラメーターを含む調整パラメーターの値との対応関係が定義された調整テーブルに基づいて、指定された質量電荷比の値に対応付けられる調整パラメーターの値が算出され、遅延引き出しパラメーターが設定される。そのため、例えばユーザーが調整の中心としたい質量電荷比の値を指定すれば、これに応じた適切な遅延引き出しパラメーターが自動的に算出されるので、ユーザーが遅延引き出しパラメーターを自ら調整する必要がない。従って、本発明によれば、ユーザーの手間を軽減しながら、指定されたイオンの質量電荷比に応じた質の良いマススペクトルを得ることができる。2この飛行時間質量分析装置において、前記遅延引き出しパラメーターは、前記イオン源のサンプルプレートに印加するサンプルプレート電圧と前記イオン源の加速電極に印加するパルス電圧との比を特定可能なパラメーター及び前記パルス電圧の発生タイミングを特定可能なパラメーターの少なくとも一方を含むようにしてもよい。3この飛行時間質量分析装置において、前記パラメーター調整部は、前記指定された質量電荷比の値に応じて、前記調整テーブルに含まれる前記調整パラメーターの値を線形補間することにより、前記指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値を算出するようにしてもよい。このようにすれば、指定された質量電荷比の値に対する適切な調整パラメーターの値を自動的に算出することができる。4この飛行時間質量分析装置において、前記パラメーター調整部は、前記調整テーブルに含まれる前記調整パラメーターの値と前記質量電荷比の値との関係式を多項式で近似し、当該多項式を用いて前記指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値を算出するようにしてもよい。このようにしても、指定された質量電荷比の値に対する適切な調整パラメーターの値を自動的に算出することができる。5この飛行時間質量分析装置において、前記パラメーター調整部は、前記調整テーブルに含まれる各々の前記調整パラメーターの値が適用される質量電荷比の範囲を互いに重ならないように設定し、前記指定された質量電荷比の値が含まれる前記質量電荷比の範囲に適用される前記調整パラメーターの値を、前記指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値とするようにしてもよい。このようにすれば、計算負荷を軽減しながら、指定された質量電荷比の値に対して適切な調整パラメーターの値を自動的に選択することができる。6この飛行時間質量分析装置において、前記調整パラメーターは、前記イオン源に照射するレーザーの強度及び前記検出器の電圧の少なくとも一方を含み、前記パラメーター設定部は、前記パラメーター調整部が算出した前記調整パラメーターの値に基づいて、前記レーザーの強度及び前記検出器の電圧の少なくとも一方を設定するようにしてもよい。一般的に、イオンの質量電荷比の値が大きいほど、イオン化効率、イオン透過率、検出感度などが悪化する傾向がある。レーザーの強度を上げることでイオン化効率やイオン透過率を向上させることができる。また、検出器の電圧を上げることで検出感度が向上する。そこで、このように、調整パラメーターにレーザーの強度や検出器の電圧値を含め、指定された質量電荷比の値に応じてレーザーの強度や検出器の電圧を適切に調整することで、イオンの質量電荷比の値によらず均一な質のスペクトルを取得することができる。7この飛行時間質量分析装置は、前記飛行時間計測部が計測した飛行時間を、所定の変換式に基づいて質量電荷比に変換する質量電荷比算出部をさらに含み、前記調整テーブルは、前記調整パラメーターとして、前記既知物質の各々について、当該調整テーブルに含まれる当該既知物質の前記遅延引き出しパラメーターの値を前記イオン源に設定して計測される飛行時間から前記変換式に基づいて変換した質量電荷比の値を前記調整テーブルに含まれる当該既知物質の質量電荷比の値に補正するための補正量を含み、前記質量電荷比算出部は、前記調整テーブルに含まれる前記補正量に基づいて前記変換式の係数を変更するようにしてもよい。遅延引き出しパラメーターを変更するとイオンの飛行時間が変わるので、飛行時間を質量電荷比に変換する変換式の係数を変更しなければ、イオンの見かけ上の質量電荷比の値が真の値からずれることになる。そこで、このように、調整パラメーターに、既知物質に対する質量電荷比の値のずれを補正するための補正量を含め、この補正量に基づいて、指定された質量電荷比の値に応じて変換式の係数を変更することで、真の質量電荷比の値に修正することができる。8この飛行時間質量分析装置において、前記パラメーター調整部は、前記イオン源のサンプルプレート上に配置された測定対象となるスポット毎に、あらかじめ指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値を算出し、前記パラメーター設定部は、前記イオン源の測定対象となるとなるスポット毎に、前記パラメーター調整部が算出した前記調整パラメーターの値に基づいて、前記遅延引き出しパラメーターを設定するようにしてもよい。このように、測定対象となるスポット毎に調整の中心となる質量電荷比の値をあらかじめ指定しておくことで、未知試料の測定結果に応じてユーザーが調整の中心となる質量電荷比の値を指定して再度測定し直す必要がなくなる。従って、スポット毎に測定対象のマスレンジを推測することができるような場合は、複数のスポットに対して連続した自動測定が可能となるとともに、各スポットに対して1回の測定で済む。9この飛行時間質量分析装置において、前記パラメーター調整部は、前記検出器の検出信号に基づいて、最も強い強度に対応する質量電荷比の値を算出し、算出した当該質量電荷比の値を指定して前記調整パラメーターの値を算出するようにしてもよい。このように、測定対象となるスポット毎に1回目の測定を行い、最も強い強度に対応する質量電荷比の値が調整の中心となるような調整パラメーターを算出し、2回目の測定を行うことで、スポット毎に測定対象のマスレンジを推測できないような場合でも複数のスポットに対して連続した自動測定が可能となる。10この飛行時間質量分析装置において、前記イオン源は、MALDI法によりサンプルをイオン化するようにしてもよい。11本発明は、既知物質の質量電荷比の値と、レーザー照射によりサンプルをイオン化し、発生したイオンを遅延引き出し法により加速するイオン源の当該遅延引き出し法に関連する遅延引き出しパラメーターを含む所与の調整パラメーターの値との対応関係を定義する調整テーブルに基づいて、指定された質量電荷比の値に対応付けられる前記調整パラメーターの値を算出するパラメーター調整ステップと、前記パラメーター調整ステップで算出した前記調整パラメーターの値に基づいて、前記イオン源の前記遅延引き出しパラメーターを設定するパラメーター設定ステップと、前記遅延引き出しパラメーターが設定された前記イオン源で発生したイオンが前記検出器に到達するまでの飛行時間を計測する飛行時間計測ステップと、を含む、飛行時間質量分析方法である。以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。1.第1実施形態1飛行時間質量分析装置図1は、本実施形態の飛行時間質量分析装置の構成を示す図である。図1に示すように、本実施形態の飛行時間質量分析装置MALDI-TOFMS1は、イオン源10、分析部20、検出器30、処理部40、記憶部50、表示部60、操作部70を含んで構成されている。なお、本実施形態の飛行時間質量分析装置は、これらの構成要素の一部を省略した構成としてもよい。イオン源10は、所定の方法で試料をイオン化し、一定のパルス電圧を発生させて、生成したイオンを検出器30に向けて加速する。特に本実施形態のイオン源10は、マトリックス支援レーザー脱離イオン化MALDI法を用いて試料をイオン化するイオン源MALDIイオン源であり、遅延引き出し法によりレーザー照射から所定時間遅れてパルス電圧を発生させる。図2は、本実施形態のイオン源MALDIイオン源10の概略構成を示す図である。図2に示すように、サンプルプレート11のスポット上に、マトリックス液体や結晶性化合物、金属粉などに試料を混合溶解させて固化したサンプル2を載せる。レンズ14、ミラー15によりレーザーをサンプル2に照射し、サンプル2を気化あるいはイオン化する。サンプルプレート11からL1、L2だけ離れた位置に加速電極12、13がそれぞれ配置されており、サンプルプレート11のスポット上で生成されたイオンは、加速電極12、13に印加された電圧により加速されて図1の分析部20に導入される。なお、サンプル2の状態が観察できるように、ミラー16、レンズ17、CCDカメラ18を配置している。図3A及び図3Bは、遅延引き出し法による飛行時間測定を実現するために図2のサンプルプレート11及び加速電極12にそれぞれ印加される電圧波形の一例を示す図である。図3A及び図3Bの横軸は、処理部40がレーザー発振を知らせるレーザーからの信号を受けた時刻からの経過時間を表している。また、本実施形態では、加速電極13の電位を固定し、図3A及び図3Bの縦軸は、加速電極13の電位に対するサンプルプレート11及び加速電極12の相対的な電位をそれぞれ示している。図3Aに示すように、本実施形態では、サンプルプレート11の電位は一定電位Vsに設定される。一方、図3Bに示すように、加速電極12の電位は、時刻0~Tdまではサンプルプレート11の電位Vsと同電位に設定され、時刻Tから所定時間T1はサンプルプレート11の電位Vsと異なる電位V1に設定される。これにより、加速電極12に、時間幅がT1、電圧幅が|Vs-V1|のパルス電圧が発生する。図4Aは、時刻0~Tdにおけるサンプルレート11と加速電極13の間の電位勾配を示す図であり、図4Bは、時刻Td~TdT1におけるサンプルレート11と加速電極13の間の電位勾配を示す図である。図4A及び図4Bの横軸は、サンプルプレート11からの距離を表している。また、図4A及び図4Bの縦軸は、加速電極13の電位に対する相対的な電位をそれぞれ示している。本実施形態では、図4Aに示すように、時刻0~Tdでは、サンプルプレート11と加速電極12は同電位であり、加速電極12から加速電極13への電位勾配が生じている。一方、図4Bに示すように、時刻Td~TdT1では、サンプルプレート11から加速電極12へ電位勾配と加速電極12から加速電極13への電位勾配が生じている。このように、処理部40がレーザー発振を知らせるレーザーからの信号を受けてから所定の遅延時間Td例えば数100nsecの経過後に、加速電極12の電圧をVsからV1に高速で変化させてサンプルプレート11と加速電極12の間に電位勾配を作ることで、イオンを加速させることができる。飛行時間計測の開始時間は、パルス電圧の立ち上がり時間と同期させる。図1に戻り、分析部20は、イオン源10で生成されたイオンを、質量電荷比m/zの値に応じた飛行時間Tの違いに基づいて分離する。具体的には、前記の式3により、飛行時間Tがイオンのm/z値によって異なることを利用してイオンを分離する。なお、分析部20は、リニア型の飛行時間質量分析装置であればイオン源10と検出器30の間の自由空間に相当し、反射型の飛行時間質量分析装置であれば反射場を含むイオン源10と検出器30の間の空間に相当する。分析部20でm/z値に応じて分離されたイオンは検出器30に到達して検出される。具体的には、検出器30は、入射するイオンの量強度に応じた検出信号を出力する。この検出器30の検出信号は処理部40に出力される。処理部40は、検出器30の検出信号に基づいて、イオン源10で発生したイオンの定性分析や定量分析の処理を行う。特に本実施形態では、処理部40は、パラメーター設定部41、飛行時間計測部42、質量電荷比算出部43、マススペクトル生成部44、マスパラメーター調整部45を含んで構成されている。処理部40の各部を専用回路で実現してもよいし、処理部40をマイクロコンピューター等で実現し、不図示の記憶部に記憶されたプログラムを実行することで各部として機能させるようにしてもよい。なお、本実施形態の処理部40は、これらの構成要素の一部を省略したり、新たな構成要素を追加した構成としてもよい。パラメーター設定部41は、イオン源10、分析部20及び検出器30のパラメーター以下、装置パラメーターというを設定する処理を行う。装置パラメーターとしては、イオン源10の遅延引き出し法に関連するパラメーター以下、遅延引き出しパラメーターというやレーザーの強度、検出器30の電圧などが挙げられる。また、本実施形態では、装置パラメーターのうち、操作部70を介してユーザーにより指定されたm/z値に対応付けて設定値を変更する装置パラメーターを調整パラメーターと呼ぶ。特に、本実施形態では、遅延引き出しパラメーターが調整パラメーターに含まれる。遅延引き出しパラメーターは、例えば、サンプルプレートに印加する電圧以下サンプルプレート電圧というと加速電極12に印加するパルス電圧との比を特定可能なパラメーターや当該パルス電圧の発生タイミングを特定可能なパラメーターなどである。サンプルプレート電圧とパルス電圧との比を特定可能なパラメーターは、例えば、サンプルレート電圧Vsとパルス電圧の電圧幅|Vs-V1|との比、あるいは、VsとV1との比などである。パルス電圧の発生タイミングを特定可能なパラメーターは、例えば、遅延時間Tdなどである。飛行時間計測部42は、検出器30の検出信号に基づいて、イオン源10で発生したイオンが検出器30に到達するまでの飛行時間を計測する処理を行う。そして、処理部40は、計測された飛行時間と検出器30の検出強度を対応づけてスペクトル情報52を生成し、記憶部50に保存する。質量電荷比算出部43は、飛行時間計測部が計測した飛行時間Tを、所定の変換式キャリブレーション式に基づいて質量電荷比m/zに変換する処理を行う。飛行時間Tを質量電荷比m/zに変換するキャリブレーション式は、例えば、次式5で表される。式5における3つの係数a,b,cは、キャリブレーション係数と呼ばれ、あらかじめ、m/z値が既知の3種類以上の物質以下、既知物質というの飛行時間を計測することで算出することができ、キャリブレーション情報54として記憶部50に記憶されている。マススペクトル生成部44は、スペクトル情報52を参照し、質量電荷比算出部43が算出した質量電荷比m/zと検出強度を対応づけてマススペクトル情報を生成する処理を行う。生成されたマススペクトル情報は表示部60に転送され、横軸をm/z値、縦軸を検出強度とするマススペクトルのグラフが表示部60に表示される。パラメーター調整部45は、調整テーブル56に基づいて、ユーザーにより指定されたm/z値に対応付けられる調整パラメーターの値を算出する処理を行う。調整テーブル56は、既知物質のm/z値と調整パラメーターとの対応関係を定義する。本実施形態では、遅延引き出しパラメーターが調整パラメーターに含まれ、イオン源10で所定の既知物質のイオンを発生させて得られるマススペクトルにおいて、ピーク付近の質量分解能が高くなるように調整された遅延引き出しパラメーターを当該既知物質のm/z値と対応付けて調整テーブル56が生成される。図5A及び図5Bは、調整テーブル56の一例を示す図である。図5Aの例では、3つの既知物質A,B,Cに対する各m/z値Ma,Mb,Mcと調整後の遅延引き出しパラメーターPa,Pb,Pcがそれぞれ対応付けられている。一方、図5Bの例では、3つの既知物質A,B,Cに対する各m/z値Ma,Mb,Mcと調整後の遅延引き出しパラメーターの既知物質Aに対する相対値である0,ΔPb,ΔPcがそれぞれ対応付けられている。図5Bの例の場合、既知物質A,B,Cに対する調整後の遅延引き出しパラメーターをそれぞれPa,Pb,Pcとすると、Pb=PaΔPb,Pc=PaΔPcで計算される。例えば、パラメーター調整部45は、指定されたm/z値に応じて、調整テーブル56に含まれる調整パラメーターの値を線形補間することにより、当該指定されたm/z値に対応付けられる調整パラメーターの値を算出するようにしてもよい。図6Aは、このようにして算出される調整パラメーターをグラフ化した図である。図6Aの横軸はm/z値であり、図6Aの縦軸は調整パラメーター値である。図6Aの例では、図5A又は図5Bの調整テーブル56に従い、m/z値がそれぞれMa,Mb,Mcの3点a,b,cがプロットされている。Mb<Ma<Mcであり、指定されたm/z値MがMb<M<Maの場合は、点bと点aの間を線形補完することにより、Mに対する調整パラメーター値が算出される。また、指定されたm/z値MがMa<M<Mcの場合は、点aと点cの間を線形補完することにより、Mに対する調整パラメーター値が算出される。このようにすれば、指定されたm/z値に対する適切な調整パラメーター値を自動的に算出することができる。また、例えば、パラメーター調整部45は、調整テーブル56に含まれる調整パラメーターの値とm/z値との関係式を多項式で近似し、当該多項式を用いて、指定されたm/z値に対応付けられる調整パラメーターの値を算出するようにしてもよい。図6Bは、このようにして算出される調整パラメーターをグラフ化した図である。図6Bの各軸は図6Aと同じである。図6Bの例では、3点a,b,cから調整パラメーターをm/z値の多項式で近似し、指定されたm/z値Mを当該多項式に代入することにより、Mに対する調整パラメーター値が算出される。このようにしても、指定されたm/z値に対する適切な調整パラメーター値を自動的に算出することができる。また、例えば、パラメーター調整部45は、調整テーブル56に含まれる各々の調整パラメーターの値が適用されるm/zの範囲を互いに重ならないように設定し、指定されたm/z値が含まれるm/zの範囲に適用される調整パラメーターの値を、当該指定されたm/z値に対応付けられる調整パラメーターの値としてもよい。図6Cは、このようにして算出される調整パラメーターをグラフ化した図である。図6Cの各軸は図6Aと同じである。図6Cの例では、指定されたm/z値MがMbを含む所定範囲に含まれる場合は、Mに対する調整パラメーター値としてPbが適用される。また、指定されたm/z値MがMaを含む所定範囲に含まれる場合は、Mに対する調整パラメーター値としてPaが適用される。また、指定されたm/z値MがMcを含む所定範囲に含まれる場合は、Mに対する調整パラメーター値としてPcが適用される。このようにすれば、計算負荷を軽減しながら、指定されたm/z値に対して適切な調整パラメーター値を自動的に選択することができる。そして、パラメーター設定部41は、パラメーター調整部44が算出した調整パラメーターの値に基づいて、イオン源10の遅延引き出しパラメーターを再設定する処理を行い、飛行時間計測部42、質量電荷比算出部43、マススペクトル生成部44による上記の各処理により再度マススペクトルが生成される。これにより、ユーザーにより指定されたm/z値付近の質量分解能が高いマススペクトルが得られる。2未知試料の質量分析方法図7は、本実施形態の飛行時間質量装置を用いた未知試料の質量分析方法の一例を示すフローチャート図である。まず、ユーザーは、測定対象となる質量範囲をカバーする複数の既知物質を測定し、マススペクトルを取得するS10。例えば、図8に示すように、それぞれm/z値がMa,Mb,Mcである3つの既知物質A,B,Cを測定することで、Ma,Mb,Mcに3つのピークを持つマススペクトルが得られる。このマススペクトルは、遅延引き出しパラメーターが初期設定のままで取得されたものなので、3つのピーク付近の質量分解能が高くない場合が多い。次に、ユーザーは、それぞれの既知物質に対して質量分解能が高くなるように遅延引き出しパラメーターを調整し、調整テーブル56を作成して記憶部50に記録するS20。例えば、図9Aに示すようなMa付近の質量分解能が高いマススペクトルが得られるように遅延引き出しパラメーターを調整し、調整後の遅延引き出しパラメーターをPaとする。また、図9Bに示すようなMb付近の質量分解能が高いマススペクトルが得られるように遅延引き出しパラメーターを調整し、調整後の遅延引き出しパラメーターをPbとする。さらに、図9Cに示すようなMc付近の質量分解能が高いマススペクトルが得られるように遅延引き出しパラメーターを調整し、調整後の遅延引き出しパラメーターをPcとする。そして、MaとPa、MbとPb、McとPcをそれぞれ対応付けて図5Aあるいは図5Bに示したような調整テーブル56を作成し、記憶部50に記録する。次に、ユーザーは、未知試料を測定し、マススペクトルを取得するS30。例えば、未知試料を測定することで、図10Aに示すような、m/z値がMの付近にピークを持つマススペクトルが得られる。このマススペクトルは、イオン源10に所定の遅延引き出しパラメーター例えば遅延引き出しパラメーターPaなどを設定して取得されたものであり、ピーク付近の質量分解能が高くない場合が多い。次に、ユーザーは、マススペクトルを確認し、調整の中心としたいm/z値を指定し、再度、マススペクトルを取得するS40。本実施形態の飛行時間質量分析装置1は、ユーザーにより指定されたm/z値から、このm/z値に対応付けられる調整パラメーターの値を算出し、イオン源10の遅延引き出しパラメーターを再設定する。さらに、飛行時間質量分析装置1は、未知試料の測定を開始し、前述した各部の処理により、再度、マススペクトルを生成する。例えば、ステップS30で図10Aのようなマススペクトが取得された場合、ステップS40においてm/z値としてMを指定すれば、図10Bに示すような、ピーク付近の質量分解能が高いマススペクトルが得られる。以上に説明した第1実施形態の飛行時間質量分析装置によれば、既知物質のm/z値と遅延引き出しパラメーターの値との対応関係が定義された調整テーブル56に基づいて、ユーザーにより指定されたm/z値に対応付けられる調整パラメーターの値が算出され、遅延引き出しパラメーターが再設定され、再度マススペクトルが生成される。例えば、ユーザーが調整の中心としたいm/z値を指定すれば、これに応じた適切な遅延引き出しパラメーターが自動的に算出されるので、ユーザーが遅延引き出しパラメーターを自ら調整する必要がない。従って、第1実施形態の飛行時間質量分析装置によれば、ユーザーの手間を軽減しながら、指定されたm/z値に応じた質の良いマススペクトルを得ることができる。2.第2実施形態一般的に、イオンのm/z値が大きいほど、イオン化効率、イオン透過率、検出感度が悪化する。そこで、第2実施形態の飛行時間質量分析装置では、イオンのm/z値によらず均一な質のスペクトルを取得するために、調整テーブル56の調整パラメーターとして検出器30の電圧やイオン源10のレーザー強度を追加する。第2実施形態の飛行時間質量分析装置の構成は図1と同様であり、以下では、第1実施形態との相違点についてのみ説明する。図11A及び図11Bは、第2実施形態における調整テーブル56の一例を示す図である。図11Aの例では、図5Aの調整テーブル56に、m/z値Ma,Mb,Mcとそれぞれ対応づけて検出器30に設定する電圧値Va,Vb,Vcが追加されている。一方、図11Bの例では、図5Bの調整テーブル56に、m/z値Ma,Mb,Mcとそれぞれ対応づけて検出器30に設定する電圧値の既知物質Aに対する相対値である0,ΔVb,ΔVcが追加されている。図11Bの例の場合、既知物質A,B,Cに対してそれぞれ検出器30に設定する電圧値をVa,Vb,Vcとすると、Vb=VaΔVb,Vc=VaΔVcで計算される。パラメーター調整部45は、調整テーブル56に基づいて、指定されたm/z値に対応付けられる調整パラメーター遅延引き出しパラメーター、検出器電圧、レーザー強度などの値を算出する。また、パラメーター設定部41は、パラメーター調整部45が算出した調整パラメーター値に基づいて、イオン源10に遅延引き出しパラメーターやレーザー強度を再設定し、検出器30に電圧を再設定する。そして、未知試料の測定が開始され、前述した各部の処理により、再度、マススペクトルが生成される。このように、第2実施形態の飛行時間質量分析装置によれば、調整パラメーターにレーザーの強度や検出器30の電圧値を含め、指定されたm/z値に応じてレーザーの強度や検出器30の電圧を適切に調整することで、m/z値によらず均一な質のスペクトルを取得することができる。3.第3実施形態調整パラメーターを再設定してイオン源10などの装置条件を変更すると、イオンの飛行時間が変化するため、マススペクトルにおいて観測されるm/z値がわずかに変化して真の値からずれる。そのため、それに合わせてキャリブレーションも変更する必要がある。そこで、第3実施形態の飛行時間質量分析装置では、このm/z値のずれを補正するようなm/z補正量を、あらかじめ調整テーブル56の調整パラメーターに含めておく。第3実施形態の飛行時間質量分析装置の構成は図1と同様であり、以下では、第1実施形態との相違点についてのみ説明する。調整テーブル56を作成するためには、例えば、まず、既知物質Aのm/z値Ma付近の質量分解能が高くなるように調整した遅延引き出しパラメーターPaをイオン源10に設定し、既知物質A,B,Cを測定する。これにより得られる既知物質A,B,Cの各飛行時間Ta,Tb,Tcとm/z値Ma,Mb,Mcの関係からキャリブレーション式5の係数a,b,cを決定する。次に既知物質Bに対するピーク付近の質量分解能が高くなるように調整したマススペクトルにおいて当該ピークのm/z値のMbからのずれm/z補正量ΔMbを調整テーブル56に追加する。同様に、既知物質Cに対するピーク付近の質量分解能が高くなるように調整したマススペクトルにおいて当該ピークのm/z値のMcからのずれm/z補正量ΔMcを調整テーブル56に追加する。図12は、第3実施形態における調整テーブル56の一例を示す図である。図12の例では、図11Bの調整テーブル56に、m/z値Ma,Mb,Mcとそれぞれに対応づけてm/z値の補正量0,ΔMb,ΔMcが追加されている。未知試料を測定する際は、まず、イオン源10に、遅延引き出しパラメーターPaを設定してマススペクトルを取得する。これにより、図10Aに示したような、未知試料のm/z値であるM付近にピークを持つマススペクトルが取得される。このマススペクトルは、イオン源10に遅延引き出しパラメーターPaを設定して取得されたものであり、ピーク付近の質量分解能が高くない場合が多い。ユーザーがこのマススペクトルを確認し、調整の中心としたいm/z値としてMを指定すると、パラメーター調整部45により遅延引き出しパラメーターが調整され、パラメーター設定部41によりこの調整された遅延引き出しパラメーターがイオン源に再設定され、飛行時間計測部42により未知試料の飛行時間が再度計測される。この飛行時間をTmとしてキャリブレーション式5に代入すると、次式6に示すように、未知試料の真のm/z値であるMからΔMだけずれたMΔMに変換される。そこで、本実施形態では、飛行時間Tmがm/z値Mに変換されるように、質量電荷比算出部43により、キャリブレーション式5のいずれかの係数が変更される。例えば、キャリブレーション係数bをb’に変更することで新たなキャリブレーション式として次式7が得られる。式6と式7より、次式8が導かれる。式8において、bとTmは既知であり、Mもユーザーが指定するm/z値であるので既知である。従って、m/z補正量ΔMを算出すれば、式8より、b’を算出することができる。本実施形態では、質量電荷比算出部43は、調整テーブル56を参照し、m/z値Ma,Mb,Mcに対するm/z補正量0,ΔMb,ΔMcからMに対するm/z補正量ΔMを算出する。つまり、調整テーブル56から、遅延引き出しパラメーターPaを設定して取得されたマススペクトルにおいて、既知物質Aに対するピークのm/z値=Maが指定された場合のm/z補正量が0、既知物質Bに対するピークのm/z値=Mbが指定された場合のm/z補正量がΔMb、既知物質Cに対するピークのm/z値=Mcが指定された場合のm/z補正量がΔMcであるから、未知物質に対するピークのm/z値=Mが指定された場合のm/z補正量ΔMを推測して算出することができる。例えば、質量電荷比算出部43は、ユーザーにより調整の中心として指定されたm/z値に応じて、調整テーブル56に含まれるm/z補正量の値を線形補間することにより、当該指定されたm/z値に対応付けられるm/z補正量の値を算出するようにしてもよい。図13Aは、このようにして算出されるm/z補正量をグラフ化した図である。図13Aの横軸は調整の中心として指定されるm/z値であり、図13Aの縦軸はm/z補正量である。図13Aの例では、図12の調整テーブル56に従い、m/z値がMaでm/z補正量が0の点a、m/z値がMbでm/z補正量がΔMbの点b、m/z値がMcでm/z補正量がΔMcの点cの3点がプロットされている。Mb<Ma<Mcであり、指定されたm/z値MがMb<M<Maの場合は、点bと点aの間を線形補完することにより、m/z補正量ΔMが算出される。また、指定されたm/z値MがMa<M<Mcの場合は、点aと点cの間を線形補完することにより、m/z補正量ΔMが算出される。このようにすれば、指定されたm/z値に対する適切なm/z補正量を自動的に算出することができる。また、例えば、質量電荷比算出部43は、調整テーブル56に含まれるm/z補正量の値とm/z値との関係式を多項式で近似し、当該多項式を用いて、ユーザーにより指定されたm/z値に対応付けられるm/z補正量の値を算出するようにしてもよい。図13Bは、このようにして算出されるm/z補正量をグラフ化した図である。図13Bの各軸は図13Aと同じである。図13Bの例では、3点a,b,cからm/z補正量をm/z値の多項式で近似し、指定されたm/z値Mを当該多項式に代入することにより、m/z補正量ΔMが算出される。このようにしても、指定されたm/z値に対する適切なm/z補正量を自動的に算出することができる。また、例えば、質量電荷比算出部43は、調整テーブル56に含まれる各々のm/z補正量の値が適用されるm/zの範囲を互いに重ならないように設定し、ユーザーにより指定されたm/z値が含まれるm/zの範囲に適用されるm/z補正量の値を、当該指定されたm/z値に対応付けられるm/z補正量の値としてもよい。図13Cは、このようにして算出されるm/z補正量をグラフ化した図である。図13Cの各軸は図13Aと同じである。図13Cの例では、指定されたm/z値MがMbを含む所定範囲に含まれる場合は、m/z補正量ΔMとしてΔMbが適用される。また、指定されたm/z値MがMaを含む所定範囲に含まれる場合は、m/z補正量ΔMとして0が適用される。また、指定されたm/z値MがMcを含む所定範囲に含まれる場合は、m/z補正量ΔMとしてΔMcが適用される。このようにすれば、計算負荷を軽減しながら、指定されたm/z値に対する適切なm/z補正量を自動的に選択することができる。そして、m/z補正量ΔMを用いて式8より新たな係数b’を算出し、新たなキャリブレーション式7を用いることで、図10Bに示したような、未知試料の真のm/z値であるM付近の質量分解能が高いマススペクトルが得られる。このように、第3実施形態の飛行時間質量分析装置によれば、調整テーブル56に調整パラメーターとして既知物質に対するm/z補正量を含め、このm/z補正量に基づいて、指定されたm/z値に応じてキャリブレーション係数を変更することで、真のm/z値に修正することができる。特に、スポットごとに観測される質量が大幅に異なる場合に、それぞれのスポットから取得されるマススペクトルの質を向上させることができる。例えば、サンプルプレートに、前述液体クロマトグラフィーの一種であるサイズ排除クロマトグラフィーからの溶出物を複数のスポットに分けて測定する場合に有効である。サイズ排除クロマトグラフィーからは、一般的に分子量が大きい順で溶出するので、分注されたスポット内はある程度の分子量範囲に収まるが、スポット間の分子量分布は広い。そのため、スポット間で遅延引き出しパラメーター等の調整パラメーターの変更が必要となる。4.第4実施形態第1実施形態~第3実施形態の飛行時間質量分析装置は、一度マススペクトルを生成し、ユーザーがこのマススペクトルを確認して調整の中心としたいm/z値を指定した後、再度、マススペクトルを生成している。これに対して、第4実施形態の飛行時間質量分析装置は、あらかじめ調整の中心としたいm/z値を指定しておき、一度だけマススペクトルを生成する。第4実施形態の飛行時間質量分析装置の構成は図1と同様であり、以下では、第1実施形態との相違点についてのみ説明する。図14は、第4実施形態の飛行時間質量装置を用いた未知試料の質量分析方法の一例を示すフローチャート図である。まず、ユーザーは、測定対象のスポット毎に、調整の中心としたいm/z値をあらかじめ指定するS110。パラメーター調整部45は、測定対象の各スポットと指定されたm/z値を対応付けて記憶部50に記憶する。次に、測定対象の1つのスポットを選択し、選択したスポットに対して、未知試料を測定し、マススペクトルを取得するS120。パラメーター調整部45は、記憶部50を参照し、ステップS110でこのスポットに対応付けて記憶したm/z値を指定して調整パラメーターを算出する。そして、パラメーター設定部41は、パラメーター調整部45により算出された調整パラメーターを設定し、未知試料の測定が開始される。この1回の測定により、測定対象のスポットに対してあらかじめ指定されたm/z値の質量分解能が高いマススペクトルが得られる。未測定の測定対象スポットがまだあればS130のY、新たな測定対象スポットを1つ選択し、ステップS120の処理を行い、未測定の測定対象スポットが無くなればS130のN、処理を終了する。なお、測定対象のすべてのスポットに対する測定を自動で行ってもよいし、ユーザーの指示を待ってスポット毎に測定を行ってもよい。このように、第4実施形態の飛行時間質量分析装置によれば、測定対象となるスポット毎に調整の中心となるm/z値をあらかじめ指定しておくことで、未知試料の測定結果に応じてユーザーが調整の中心となるm/z値を指定して再度測定し直す必要がなくなる。従って、複数のスポットに対して連続した自動測定が可能となるとともに、各スポットに対して1回の測定で済む。例えば、スポット毎に測定対象のマスレンジを推測することができるような場合は、あらかじめスポット毎に調整の中心としたいm/z値を指定しておくことで、自動測定が可能である。例えば、イオン源10のサンプルプレートに、液体クロマトグラフィーの一種であるサイズ排除クロマトグラフィーからの溶出物を複数のスポットに分注し、スポット毎に測定するような場合、サイズ排除クロマトグラフィーからは、一般的に分子量が大きい順で溶出するので、スポット毎に測定対象のマスレンジを推測することができる。このような場合、あらかじめスポット毎に調整の中心としたいm/z値を指定しておくことが可能である。5.第5実施形態第5実施形態の飛行時間質量装置は、測定対象のすべてのスポットに対して全自動で質量分析処理を行う。第5実施形態の飛行時間質量分析装置の構成は図1と同様であり、以下では、第1実施形態との相違点についてのみ説明する。図15は、第5実施形態の飛行時間質量装置における処理部40による処理の一例を示すフローチャート図である。まず、処理部40は、測定対象の1つのスポットを選択し、選択したスポットに対して、未知試料を測定するS210。次に、処理部40は、ステップS210で観測される最も強い強度のm/z値を算出し、記憶部50に記憶するS220。具体的には、パラメーター調整部45が、検出器30の検出信号に基づいて、最も強い強度に対応するm/z値を算出する。未測定の測定対象スポットがまだあればS230のY、処理部40は、新たな測定対象スポットを1つ選択し、ステップS210とS220の処理を行う。未測定の測定対象スポットが無くなればS130のN、処理部40は、測定対象の1つのスポットを選択し、選択したスポットに対応付けてステップS220で記憶したm/z値を指定し、調整パラメーターを算出するS240。次に、処理部40は、ステップS240で算出した調整パラメーターをイオン源10や検出器30に再設定し、選択したスポットに対して未知試料を測定し、マススペクトルを生成するS250。未測定の測定対象スポットがまだあればS260のY、未測定の測定対象スポットが無くなるまでS260のN、処理部40は、新たな測定対象スポットを1つ選択し、ステップS240とS250の処理を行う。このように、第5実施形態の飛行時間質量装置によれば、測定対象となるスポット毎に1回目の測定を行い、最も強い強度に対応するm/z値が調整の中心となるような調整パラメーターを算出し、2回目の測定を行うことで、スポット毎に測定対象のマスレンジを推測できないような場合でも複数のスポットに対して連続した自動測定が可能となる。なお、本発明は本実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。"