移動対象物を直線移動させる移動機構であって、送りネジと、前記送りネジを回動させる駆動用モータと、前記駆動用モータに駆動パルスを供給する駆動部と、前記送りネジに噛み合い、前記駆動用モータによる前記送りネジの回動に伴って、前記移動対象物を直線移動させる移動部材と、前記移動対象物が移動していない状態を検出する検出部と、前記検出部によって前記移動対象物が移動していない状態が検出された場合、前記駆動用モータが回転振動する駆動パルスを前記駆動部に出力させる制御部とを備える、移動機構。前記駆動用モータは、ステッピングモータであり、前記制御部は、前記検出部によって前記移動対象物が移動していない状態が検出された場合、前記駆動部に前記ステッピングモータの共振周波数またはその近傍の周波数を有する駆動パルスを出力させる、請求項1に記載の移動機構。前記ステッピングモータの共振周波数は、前記ステッピングモータが有するロータの慣性モーメントと、ロータとコイルとの間の磁気バネとによる共振周波数である、請求項2に記載の移動機構。前記制御部は、前記検出部によって前記移動対象物が移動していない状態が検出された場合、前記ステッピングモータの共振周波数を含む所定の周波数範囲を掃引する駆動パルスを前記駆動部に出力させる、請求項1に記載の移動機構。光ディスク装置であって、球面収差補正用レンズと、前記球面収差補正用レンズを保持するレンズホルダと、送りネジと、前記送りネジを回動させる駆動用モータと、前記駆動用モータに駆動パルスを供給する駆動部と、前記送りネジに噛み合い、前記駆動用モータによる前記送りネジの回動に伴って、移動対象物を直線移動させる移動部材と、前記移動対象物が移動していない状態を検出する検出部と、前記検出部によって前記移動対象物が移動していない状態が検出された場合、前記駆動用モータが回転振動する駆動パルスを前記駆動部に出力させる制御部とを備える、移動機構。しかしながら、特許文献1では、駆動トルクを増大させるために、駆動速度を遅くすると記載されているが、駆動速度を遅くして駆動トルクが増大するのは動作時の特性であり、全く動かない状態で駆動速度を遅くしたときのように駆動パルスを遅く出力したところで、駆動トルクが増大するとは限らない。また、特許文献1では、駆動トルクを増大させるために、印加する電圧または電流を増大させることも記載されているが、印加する電圧または電流を増大させて噛み込み状態から脱出するためには、通常使用時の何倍もの電圧または電流が必要になると考えられる。この場合、通常の何倍もの電圧または電流を発生するドライバや、発生した電圧または電流に耐え得るステッピングモータを予め選定する必要があるが、装置の大型化及びコスト高に繋がる。また、特許文献1では、駆動方向を反転させるようにステッピングモータを制御することから、送りネジの端以外の中間位置における噛み込みのみを対象にしていると考えられ、例えばカメラ等の外へ持ち出して使用する機器に、落下などにより外部から強い衝撃が与えられた際に生じる噛み込みを想定しているものと思われる。例えば、原点出しの押し当て動作時に生じる噛み込みのように送りネジの端における噛み込みに対して、特許文献1のように駆動トルクを増大させ駆動方向を反転させると、噛み込み状態が悪化して、移動機構が破損する可能性も考えられる。それ故に、本発明の目的は、装置の大型化やコスト高を招くことなく、また、移動機構を破損させることなく、送りネジとラックとの噛み込み状態を容易に解消できる移動機構及び光ディスク装置を提供することである。本発明は、移動対象物を直線移動させる移動機構に関する。本発明に係る移動機構は、送りネジと、送りネジを回動させる駆動用モータと、駆動用モータに駆動パルスを供給する駆動部と、送りネジに噛み合い、駆動用モータによる送りネジの回動に伴って、移動対象物を直線移動させる移動部材と、移動対象物が移動していない状態を検出する検出部と、検出部によって移動対象物が移動していない状態が検出された場合、駆動用モータが回転振動する駆動パルスを駆動部に出力させる制御部とを備える。また、本発明は、光ディスク装置に関する。本発明に係る光ディスク装置は、球面収差補正用レンズと、球面収差補正用レンズを保持するレンズホルダと、送りネジと、送りネジを回動させる駆動用モータと、駆動用モータに駆動パルスを供給する駆動部と、送りネジに噛み合い、駆動用モータによる送りネジの回動に伴って、移動対象物を直線移動させる移動部材と、移動対象物が移動していない状態を検出する検出部と、検出部によって移動対象物が移動していない状態が検出された場合、駆動用モータが回転振動する駆動パルスを駆動部に出力させる制御部とを備える。本発明によれば、装置の大型化やコスト高を招くことなく、また、移動機構を破損させることなく、外部から衝撃を受けた時や原点出しの押し当て動作時に生じる送りネジとラックとの噛み込みから脱出できる移動機構及び光ディスク装置を実現できる。図1は、実施形態に係る光ディスク装置の概略構成を示す機能ブロック図である。図2は、図1に示されるX部分の具体例を示す斜視図であり、図3は、図2のIII-IIIラインから見た図である。光ディスク装置100は、光ピックアップ1と、ステッピングモータ駆動回路9と、制御部10と、検出部13と、ターンテーブル17と、クランパ18と、モータ19とを備える。ターンテーブル17上に載置された光ディスク20は、クランパ18によって保持され、モータ19によって回転する。光ピックアップ1は、光ディスク20に対して情報の記録再生消去の少なくとも1つを行うために、光ディスク20の情報記録面上にスポットを形成する。光ピックアップ1は、光源21と、ビームスプリッタ22と、コリメートレンズ6と、反射ミラー23と、対物レンズ24と、集光レンズ25と、受光素子26とを少なくとも備える。光源21から出射された光束はビームスプリッタ22、コリメートレンズ6、反射ミラー23、対物レンズ24を経て、光ディスク20に集光される。光ディスク20によって反射された光束は、反射ミラー23、コリメートレンズ6、ビームスプリッタ22を経て、集光レンズ25によって受光素子26の受光に面集光される。受光素子26によって受光された光の強度に応じて、トラッキングエラーTE信号やフォーカスエラーFE信号が生成される。コリメートレンズ球面収差補正用レンズ6は、光軸と平行な方向に移動することによって、出射光束の平行度を変化させ、光ディスク20の保護層の厚み誤差に起因する球面収差や、複数の記録層を有する記録媒体において、記録層の深さに応じて保護層の厚みが異なることに起因する球面収差を補正する。そのため、コリメートレンズ6及びこれを保持するコリメートレンズホルダ5は、コリメートレンズ6の光軸と平行な方向への直線運動が可能となるように、一対のシャフト7によってガイドされている。図1~3を併せて参照して、移動機構は、ステッピングモータ2と、ステッピングモータ2によって回動自在の送りネジ5と、送りネジ5に噛み合い、送りネジ5の回転によって直進運動すると共に、コリメートレンズホルダ5に接続されるラック4と、ストッパ8と、ステッピングモータ駆動部9と、制御部10と、検出部13とを備える。ストッパ8は、光ディスク装置100の起動時等にステッピングモータ2の原点出しを行う際に、コリメートレンズホルダ5を押し当てて停止させる物理的な基準である。ステッピングモータ駆動部9は、制御部10からの指示に従って、ステッピングモータ2を駆動するための駆動パルスを生成し、生成した駆動パルスをステッピングモータ2に出力する。検出部13は、受光素子26から出力されるトラッキングエラー信号またはフォーカスエラー信号に基づいて、送りネジ3に対するラック4の噛み込みを検出する。具体的な噛み込みの検出方法は後述する。制御部10は、例えばマイクロプロセッサとメモリとによって構成され、光ディスク装置100の全体を制御する。より具体的には、検出部13によってラック4の噛み込みが検出された場合、制御部10は、ステッピングモータ2の共振周波数またはその近傍周波数の駆動パルスをステッピングモータ駆動部9に出力させ、ステッピングモータ2を共振周波数で回転振動させる。あるいは、制御部10は、所定の周波数範囲を掃引する駆動パルスをステッピングモータ駆動部9に出力させても良い。更に、制御部10は、光ディスク20を回転させるモータ19の駆動も制御する。尚、本実施形態のように、光ピックアップ装置に本発明を適用する場合、制御部10及び検出部13として、汎用の光ピックアップ装置制御用ICを用いても良い。また、図1では、説明を容易にするために、制御部10と検出部13とを別の機能ブロックとして示しているが、検出部13の機能を制御部10によって実現しても良い。ここで、トラッキングエラー信号またはフォーカスエラー信号に基づく噛み込み状態の検出方法を説明する。光ピックアップ1のレーザ光源21を再生パワーで発光させながら、光ディスク装置100のターンテーブル17上にセットされている光ディスク20に対するフォーカスサーボ動作を行うと、光ディスク上に微少な集光スポットが形成される。光ディスク20の情報記録面には、複数の溝が形成されている。これらの溝は、集光スポットが正確にトレースするためのトラッキングサーボ動作を制御するためのトラッキングエラー信号が出力されるように構成されている。トラッキングエラー信号は、溝の中心からの集光スポット位置のずれにほぼ比例した値を持つ信号であり、この集光スポットの位置ずれが大きくなると、通常は、ある一定の値で飽和する。複数の溝は1μm程度のピッチで形成されているので、集光スポットが複数の溝を次々に横切る場合、トラッキングエラー信号は、集光スポットがある溝の中心から離れるにつれて大きくなって飽和し、集光スポットが隣の溝の中心に向かうにつれて小さくなる。したがって、トラッキングエラー信号は、集光スポットが次々と溝を横切るのに伴って、振幅が変化する正弦波状の信号となる。トラッキングエラー信号の振幅は光ディスク上の集光スポットの収差に影響されるため、コリメートレンズ6の光軸方向の移動によりトラッキングエラー信号の振幅が変化する。この特性を利用し、コリメートレンズ6の位置を例えば3回程度移動させて、トラッキングエラー信号の振幅の変化を測定することにより、ラック4の噛み込みの有無を検出することができる。この場合、トラッキングエラー信号の振幅の変化がなければ、ラック4の噛み込みが発生したことがわかる。図4は、コリメートレンズ位置とトラッキングエラー信号の振幅との関係を示す図である。光ディスク20の規格によっては、コリメートレンズの最適な位置を検出することを目的として、図4のようにレンズ位置とトラッキングエラー信号の振幅との関係を予め光ディスク毎に測定する動作を行う場合がある。この測定動作を行う場合は、予め求めた図4の関係に基づいて、ラック4の噛み込みを検出することもできる。尚、コリメートレンズの移動によってフォーカスエラー信号の振幅も変化するので、トラッキングエラー信号に代えてフォーカスエラー信号を噛み込みの検出に利用しても良い。図5は、ロータイナーシャと磁気バネとによる共振の原理を示す概念図である。ステッピングモータは、ロータとコイルとの間に働く電磁力が一種の磁気バネのように作用し、この磁気バネとロータの慣性モーメントとによって、ある特定の周波数において共振が発生する。この共振は、通常駆動時においては、ある特定の回転数でステッピングモータを駆動したときに不要な振動を発生させたり、更に発生した不要な振動によって脱調を引き起こしたりするなどの不都合を生じさせる。ただし、ステッピングモータを回転振動するように駆動する場合は、共振周波数で駆動することによって大きな振動振幅を得ることができる。図6は、ステッピングモータに与える回転駆動パルスの周波数と、ステッピングモータに発生する振動振幅との関係を示す図である。図6に示すように、ロータイナーシャと磁気バネとによる共振周波数f0と等しい周波数の回転駆動パルスをステッピングモータに与えたときに、振動振幅が最大となる。この特性を利用して、ステッピングモータの原点出しのためにコリメートレンズホルダ5をストッパ8に押し当てたときに生じ得る噛み込み状態や、外部から衝撃が加わったときに生じ得るラック4と送りネジ5との噛み込み状態を解消する。具体的には、図1に戻って、上述した検出部13によって噛み込み状態が検知された場合には、制御部10は、ステッピングモータ駆動部9から、共振周波数f0またはその近傍の駆動パルスが出力されるようにステッピングモータ駆動部9に信号を出力する。この結果、ステッピングモータ2の振動振幅が大きくなり、ラック4と送りネジ5との噛み込み状態から脱出できる。共振周波数f0またはその近傍の周波数の駆動パルスをステッピングモータ2に与えることに代えて、制御部10は、共振周波数を含む所定の周波数範囲例えば、図6のf1~f2を掃引することが好ましい。この場合、予め共振周波数f0がわかっていない場合や、ステッピングモータ2の個体差による共振周波数f0の誤差や、品種毎の共振周波数f0の差がある場合でも、掃引によってステッピングモータ2を共振周波数f0で回転駆動できるので、ラック4の噛み込みを確実に解消できる。更に、制御部10は、所定の周波数範囲を複数回繰り返して掃引することがより好ましい。この場合、ステッピングモータ2が共振周波数f0で複数回、回転駆動されるため、強固にラック4が噛み込んでいる場合でも、確実に噛み込みを解消することができる。尚、上記の実施形態では、送りネジ5に噛み合い、移動対象物であるコリメートレンズホルダ5を移動させる移動部材としてラック4を用いたが、ラック4に代えて送りネジ5に噛み合う雌ネジを用いても良い。