"集積回路を含む電子部品に電圧を印加し、該電圧の印加に伴い前記電子部品を流れる電流の電流値を計測する第1の工程と、計測した前記電流値がしきい値に達した後に、前記電子部品の特性の測定を開始する第2の工程と、を備えたことを特徴とする、電子部品の特性測定方法。前記電子部品に電圧を印加した後、制限時間内に、計測した前記電流値が前記しきい値に達しないとき、当該電子部品を不良品と判定することを特徴とする、請求項1に記載の電子部品の特性測定方法。電子部品が動作するための電源電圧を供給する電源部と、集積回路を含む電子部品が搭載され、搭載された前記電子部品に電気的に接続されて前記電子部品の特性を測定する測定部、前記測定部に搭載された前記電子部品に電気的に接続され、当該電子部品に、前記電源部の電源電圧を印加する第1の制御部と、前記測定部に搭載された前記電子部品に前記電源部の電源電圧を印加するときに流れる電流の電流値を測定する電流計と、前記測定部と前記第1の制御部と前記電流計とに、前記測定部と前記第1の制御部と前記電流計との動作を制御する制御信号を出力し、かつ、前記電流計と前記測定部とから、前記電流計で測定した前記電流値のデータ信号と、前記測定部が測定した前記電子部品の特性のデータ信号が入力される第2の制御部と、を備え、前記第2の制御部は、前記第1の制御部を介して、前記測定部に搭載された前記電子部品に前記電源部の電源電圧を印加させた後、前記電流計で測定された前記電流値がしきい値に達した後に、前記測定部に当該電子部品の特性の測定を開始させることを特徴とする、電子部品の特性測定装置。近年、半導体回路の集積化に伴い、製造ばらつきが集積回路ICの特性に与える影響が大きくなっている。このため、集積回路素子ICチップを搭載したモジュール部品において、電圧を印加してから実際にモジュール部品の集積回路ICが動作し出すまでの時間のばらつきも大きくなっている。そのため、待ち時間の設定を短くすると、待ち時間内に起動しないために不良品と判定される電子部品の個数が増え、歩留まりが低下する。一方、待ち時間の設定を長くすると、不良品と判定される個数が減り、歩留まりは向上するが、検査工程の所要時間が長くなり、作業効率が低下する。本発明は、かかる実情に鑑み、歩留まりの向上と作業効率の向上を図ることができる電子部品の特性測定方法及び特性測定装置を提供しようとするものである。本発明は、上記課題を解決するために、以下のように構成した電子部品の特性測定方法を提供する。電子部品の特性測定方法は、a集積回路を含む電子部品に電圧を印加し、該電圧の印加に伴い前記電子部品を流れる電流の電流値を計測する第1の工程と、b計測した前記電流値がしきい値に達した後に、前記電子部品の特性の測定を開始する第2の工程とを備える。上記方法において、集積回路を含む電子部品は、集積回路素子が搭載あるいは内蔵されたモジュール部品や、集積回路素子そのものなどである。上記構成によれば、電流値が予め定めたしきい値に達したら、一定長さの待ち時間の経過を待たずに電子部品の特性の測定を開始するので、測定する電子部品ごとにできるだけ所要時間を短くすることができる。そのため、どの電子部品についても一律に同じ一定長さの待ち時間の経過を待って特性の測定を開始する場合に比べて、作業効率が向上する。また、電流値がしきい値に達するまでの待ち時間が長くても正常に動作する電子部品については、その電子部品についてのみ所要時間を長くするだけで、特性を測定して良否を判定することができる。そのため、他の電子部品の作業効率を犠牲にすることなく、歩留まりの向上を図ることができる。好ましくは、前記電子部品に電圧を印加した後、制限時間内に、計測した前記電流値が前記しきい値に達しないとき、当該電子部品を不良品と判定する。この場合、予め定めた制限時間内に起動しない不良品を選別することができる。また、本発明は、上記課題を解決するために、以下のように構成した電子部品の特性測定装置を提供する。電子部品の特性測定装置は、a電子部品が動作するための電源電圧を供給する電源部と、b集積回路を含む電子部品が搭載され、搭載された前記電子部品に電気的に接続されて前記電子部品の特性を測定する測定部、c前記測定部に搭載された前記電子部品に電気的に接続され、当該電子部品に、前記電源部の電源電圧を印加する第1の制御部と、d前記測定部に搭載された前記電子部品に前記電源部の電源電圧を印加するときに流れる電流の電流値を測定する電流計と、e前記測定部と前記第1の制御部と前記電流計とに、前記測定部と前記第1の制御部と前記電流計との動作を制御する制御信号を出力し、かつ、前記電流計と前記測定部とから、前記電流計で測定した前記電流値のデータ信号と、前記測定部が測定した前記電子部品の特性のデータ信号が入力される第2の制御部とを備える。前記第2の制御部は、前記第1の制御部を介して、前記測定部に搭載された前記電子部品に前記電源部の電源電圧を印加させた後、前記電流計で測定された前記電流値がしきい値に達した後に、前記測定部に当該電子部品の特性の測定を開始させる。上記構成において、集積回路を含む電子部品は、集積回路素子が搭載あるいは内蔵されたモジュール部品や、集積回路素子そのものなどである。上記構成によれば、電流値が予め定めたしきい値に達したら、一定長さの待ち時間の経過を待たずに電子部品の特性の測定を開始するので、測定する電子部品ごとにできるだけ所要時間を短くすることができる。そのため、どの電子部品についても一律に同じ一定長さの待ち時間の経過を待って特性の測定を開始する場合に比べて、作業効率が向上する。また、電流値がしきい値に達するまでの待ち時間が長くても正常に動作する電子部品については、その電子部品についてのみ所要時間を長くするだけで、特性を測定して良否を判定することができる。そのため、他の電子部品の作業効率を犠牲にすることなく、歩留まりの向上を図ることができる。本発明によれば、歩留まりの向上と作業効率の向上を図ることができる。以下、本発明の実施の形態について、図1~図4を参照しながら説明する。<実施例1>実施例1の電子部品の特性測定装置10について、図1~図4を参照しながら説明する。図1は、特性測定装置10の構成を模式的に示す概略図である。図1に示すように、特性測定装置10は、パソコン20と、制御ボード22と、測定機器24と、電流計26と、電源28と、治具30とを備えている。図2の平面図に模式的に示すように、治具30には、電子部品2が搭載される。治具30には、搭載された電子部品2の端子2aに接触し電気的に接続されるパッド30aが設けられている。各パッド30aは、フラットケーブル36を介して、制御ボード22に電気的に接続されている。電子部品2は、集積回路素子ICチップが搭載あるいは内蔵されたモジュール部品である。電子部品2は、集積回路素子そのものであってもよい。図1に示すように、治具30は、RFケーブル等の信号線40を介して、RFテスター等の測定機器24に接続されている。測定機器24は、信号線40、パッド30aを介して、治具30に搭載された電子部品2の端子2aに電気的に接続され、電子部品2の特性を測定する。パソコン20は、信号線33,44,46を介して、電源28と、測定機器24と、電流計26にそれぞれ電気的に接続されている。信号線33,44,46は、GP-IBGeneralPurposeInterfaceBusケーブル等であり、制御信号やデータ信号を伝送する。パソコン20は、信号線42を介して、制御ボード22に電気的に接続されている。信号線42はシリアルケーブルである。パソコン20は、信号線33,44,46を介して、電源28と、測定機器24と、電流計26に、それぞれの動作を制御する制御信号を出力する。また、測定機器24での測定値のデータ信号と、電流計26での測定値電流値のデータ信号とが、信号線44,46を介して、パソコン20に入力される。パソコン20は、特性測定装置10全体の制御を統括する。パソコン20は、制御ボード22による電圧印加や信号出力を制御し、電圧印加や信号出力と同期して所定のタイミングで、治具30に搭載された電子部品2の特性を測定機器24に測定させる。そして、測定機器24で特性を測定したデータに基づいて、治具30に搭載された電子部品2の良否を判定する。電源28は、電源ライン31,34を介して、電子部品2が動作するための電源電圧を制御ボード22に供給し、さらに、前記電源電圧は制御ボード22によって、フラットケーブル36を介しながら、冶具30に搭載される電子部品に供給される。また、電源ライン31,34間には電流計26が接続されている。制御ボード22は、PC20からの制御信号を受けて動作し、治具30に搭載された電子部品2と接続され、電子部品2のVdd端子に電源28からの電源電圧を印加したり、電子部品2の他の端子に、制御ボード22で生成した信号を送出したりする。この際、電源28と電子部品2のVdd端子間の経路に流れる電流量は電流計26によって測定される。本実施例では、制御ボード22の電源は電源28から供給されるが、外部電源から制御ボードの電源を取るようにしてもよい。図1において破線で示すように、電源28は電源部50を構成する。パソコン20と制御ボード22は、制御部52を構成する。パソコン20は、第2の制御部として機能し、制御ボード22は第1の制御部として機能する。治具30及び測定機器24は、測定部54を構成する。次に、特性測定装置10を用いて、電子部品2の特性を測定するときの手順について、図3及び図4を参照しながら説明する。図3は、治具30に搭載された電子部品のVdd端子に電圧の印加を開始してからの経過時間と、電流計26で測定した電流値iとの関係を示すグラフである。図3に模式的に示すように、電流計26で測定した電流値iは、電圧印加開始後、しばらく経過してから増加した後、飽和する。電子部品2に電圧を印加した後、電流値iがある程度大きくなれば、電流値iが飽和しなくても、電子部品2が起動したかどうかを判定することできる。そこで、しきい値I1を予め設定しておき、電流値iがしきい値I1に達したら、測定機器24による電子部品2の特性の測定を開始する。あるいは、電流値iがしきい値I1に達してから所定時間が経した後に、測定機器24による電子部品2の特性の測定を開始する。しきい値I1は、電子部品2の特性を安定して計測できるように設定すればよい。例えば、しきい値I1は、電流値iが飽和したときの飽和電流値I2の仕様値の80に設定する。電流値iが予め設定したしきい値I1に達するまでの待ち時間Tは、電子部品2ごとにばらつき、待ち時間Tの最大と最小値の差が10倍以上になる場合もある。しかしながら、あまりに待ち時間Tが長い電子部品2は、不良品とすべきである。そこで、予め設定した制限時間T0までに、電流値iがしきい値I1に達しない場合には、不良品と判定する。具体的には、図4のフローチャートに示す手順で、電子部品2の特性の測定を行う。図4に示すように、まず、治具30に搭載された電子部品2に電圧の印加を開始しS10、タイマによる経過時間のカウントを開始するS12。電圧印加開始から制限時間T0に達するまで、すなわち、カウンタが所定のカウント値に達するまではS14でN、電流計26で測定した電流値iがしきい値I1に達するのを待つS16で<。電流計26で測定した電流値iがしきい値I1に達したらS16で≧、測定機器24により、電子部品2の特性を測定しS18、その測定データに基づいて電子部品2の良否を判定しS20、終了する。電圧供給開始後、制限時間T0に達したら、すなわち、カウンタが所定のカウント値に達してもS14でY、電流値iがしきい値に達しない場合は、その電子部品2は不良品と判定しS22、特性の測定は行わずに終了する。以上の手順により、特性を測定する電子部品ごとに、電流値iがしきい値I1に達したら特性の測定を開始するので、特性を測定する電子部品ごとに所要時間をできるだけ短くすることができる。そのため、一律に一定長さの待ち時間の経過を待って電子部品の特性の測定を開始する場合に比べ、作業効率が向上する。また、電流値iがしきい値I1に達する時間が長くても正常に動作する電子部品については、その電子部品についてのみ所要時間を長くするだけで、特性を測定して良否を判定することができる。そのため、他の電子部品の作業効率を犠牲にすることなく、歩留まりの向上を図ることができる。さらに、電子部品に電圧を印加した後、予め定めた制限時間内に、電流値iがしきい値I1に達しないとき、その電子部品を不良品と判定することで、制限時間内に起動しない不良品を選別することができる。<まとめ>以上に説明したように、電圧印加後に流れる電流の電流値がしきい値に達したら、電子部品の特性の測定を開始することにより、歩留まりの向上と作業効率の向上を図ることができる。なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、種々変更を加えて実施することが可能である。"