X軸、Y軸、Z軸の直交3軸の直線送り軸に加えて、少なくとも2つの回転送り軸を有した多軸工作機械の前記直線送り軸の誤差を測定する方法において、前記工作機械のテーブルに少なくとも第1~第3の反射鏡を取り付け、前記工作機械の主軸先端にレーザー測長器を取り付け、前記3軸の直線送り軸を駆動して前記レーザー測長器を所定の測定点へ移動させ、前記測定点の各々で、前記少なくとも2つの回転送り軸を駆動して前記レーザー測長器を前記反射鏡の方向に向け、前記第1~第3の反射鏡と前記レーザー測長器との間の距離を測定することによって、前記測定点の各々の座標を演算し、前記測定点における工作機械の機械座標と、前記演算して得られた前記測定点の各々の座標とを比較することによって、前記工作機械の前記直線送り軸の誤差を求めるようにした誤差を測定する方法。更に、第4の反射鏡を前記工作機械のテーブルに取り付け、前記主軸先端に取り付けられたレーザー測長器は、レーザー干渉計であり、前記第1~第4の反射鏡と前記レーザー干渉計との間の距離の変化を測定することによって、前記測定点の各々の座標を延設する請求項1に記載の方法。前記レーザー測長器は、反射鏡と該レーザー測長器との間の絶対距離を測定する請求項1に記載の方法。前記反射鏡がレトロレフレクタである請求項1~3の何れか1項に記載の方法。ワークを取り付けるテーブルと、工具を把持し回転可能に支持された主軸と、前記テーブルと前記主軸とを相対的にX軸、Y軸、Z軸の直交3軸方向に移動させる直線送り軸と、少なくとも2つの回転送り軸とを具備した工作機械において、前記主軸の先端に取り付けられたレーザー測長器と、前記テーブルに取り付けられた第1~第3の反射鏡とを具備し、前記直線送り軸を駆動して前記レーザー測長器を所定の測定点へ移動させ、前記測定点の各々で、前記少なくとも2つの回転送り軸を駆動して前記レーザー測長器を前記反射鏡の方向に向け、前記第1~第3の反射鏡と前記レーザー測長器との間の距離を測定することによって、前記測定点の各々の座標を演算し、前記測定点における工作機械の機械座標と、前記演算して得られた前記測定点の各々の座標とを比較することによって、前記工作機械の前記直線送り軸の誤差を測定する工作機械。テーブルに取り付けられた第4の反射鏡を更に具備し、前記主軸先端に取り付けられたレーザー測長器はレーザー干渉計である請求項5に記載の工作機械。前記レーザー測長器は、反射鏡と該レーザー測長器との間の絶対距離を測定する請求項5に記載の工作機械。前記反射鏡がレトロレフレクタである請求項5~7の何れか1項に記載の工作機械。特許文献1に記載の発明は、反射体を追尾するために回転支持機構を備えたレーザー追尾装置が4つ必要となり、非常に大型で高価になるという問題がある。そこで、本発明は、従来技術の問題を解決することを技術課題としており、構成が簡単で低コストの直線送り軸の誤差を測定する方法および工作機械を提供することを目的としている。本発明によれば、X軸、Y軸、Z軸の直交3軸の直線送り軸に加えて、少なくとも2つの回転送り軸を有した多軸工作機械の前記直線送り軸の誤差を測定する方法において、前記工作機械のテーブルに少なくとも第1~第3の反射鏡を取り付け、前記工作機械の主軸先端にレーザー測長器を取り付け、前記3軸の直線送り軸を駆動して前記レーザー測長器を所定の測定点へ移動させ、前記測定点の各々で、前記少なくとも2つの回転送り軸を駆動して前記レーザー測長器を前記反射鏡の方向に向け、前記第1~第3の反射鏡と前記レーザー測長器との間の距離を測定することによって、前記測定点の各々の座標を演算し、前記測定点における工作機械の機械座標と、前記演算して得られた前記測定点の各々の座標とを比較することによって、前記工作機械の前記直線送り軸の誤差を求めるようにした誤差を測定する方法が提供される。また、本発明の他の特徴によれば、ワークを取り付けるテーブルと、工具を把持し回転可能に支持された主軸と、前記テーブルと前記主軸とを相対的にX軸、Y軸、Z軸の直交3軸方向に移動させる直線送り軸と、少なくとも2つの回転送り軸とを具備した工作機械において、前記主軸の先端に取り付けられたレーザー測長器と、前記テーブルに取り付けられた第1~第3の反射鏡とを具備し、前記直線送り軸を駆動して前記レーザー測長器を所定の測定点へ移動させ、前記測定点の各々で、前記少なくとも2つの回転送り軸を駆動して前記レーザー測長器を前記反射鏡の方向に向け、前記第1~第3の反射鏡と前記レーザー測長器との間の距離を測定することによって、前記測定点の各々の座標を演算し、前記測定点における工作機械の機械座標と、前記演算して得られた前記測定点の各々の座標とを比較することによって、前記工作機械の前記直線送り軸の誤差を測定する工作機械が提供される。本発明によれば、工作機械の直交3軸の直線送り軸と、少なくともA軸とC軸の2つの回転送り軸とを備えた工作機械の主軸先端にレーザー測長器を取り付け、テーブルに反射鏡を取り付けて、工作機械の送り軸を利用して、レーザー測長器を反射鏡に常に向けることが可能となり、簡単な構成で高精度の誤差測定が可能となる。以下、添付図面を参照して、本発明の好ましい実施の形態を説明する。本発明に係る数値制御工作機械は、機械を加工プログラムに従って動作させる数値制御装置を備えている。図1、2を参照すると、主軸側に2つの回転送り軸であるA軸及びC軸を有した5軸の横形工作機械10が示されている。工作機械10は、フロア上に設置されている後部ベッド12、後部ベッド12の上面に水平方向であるX軸方向に直動可能に立設されたコラム14、コラム14に鉛直方向であるY軸方向および水平方向であるZ軸方向に直動可能に取り付けられた主軸台16、主軸台16の前面にZ軸周りのC軸に回転可能に取り付けられたブラケット18、ブラケット18にX軸周りのA軸に回転可能に取り付けられ主軸22を回転可能に支持する主軸頭20、後部ベッド12に対してZ軸方向に並置された前部ベッド24、前部ベッド24上に主軸22に対面するように設けられたテーブル26を具備している。なお、Z軸は、X軸、Y軸の双方に垂直な水平方向である。更に、工作機械10は測定装置52を具備している。図3を参照すると、工作機械10の送り軸の位置を制御する数値制御装置30は、加工プログラム32を読取り、解釈して各送り軸の指令速度及び指令位置を演算する読取解釈部34、各送り軸における送りを直線補間したり円弧補間したりするために指令位置や指令速度等に基づいて指令パルスを演算する補間部36、指令パルスを取得して各送り軸への位置指令を認識する位置指令認識手段38、測定装置52で測定された測定データと、工作機械10のX軸、Y軸、Z軸の各直線送り軸のデジタルスケール等の読みである機械座標とに基づいて誤差を演算し、得られた誤差を記憶する誤差演算記憶手段48と、位置指令と誤差演算記憶手段48に記憶された誤差データとから位置指令を補正するための補正データを演算する補正データ演算手段40と、補正データに基づいて位置指令を補正する補正パルスを求める補正パルス演算手段42と、各軸の送りモータ50を制御するサーボ部46、指令パルスと補正パルスとを加えたパルスをサーボ部46に出力する加算手段44とを備えている。次に、測定装置52をより詳細に説明する。本実施の形態において、測定装置52は、主軸22の工具装着孔図示せずに装着されたレーザー測長器54と、テーブル26に取り付けられた複数の反射鏡56とを具備している。本実施の形態では、レーザー測長器54はレーザー干渉計を用いている。レーザー干渉計54は、例えば周波数安定化ヘリウム-ネオンレーザーを照射するレーザー光源と、該レーザー光源からのレーザービームを2つに分割するビームスプリッター、該ビームスプリッターで分割された2つのレーザービームの一方と反射鏡56で反射して戻ってきた他方のレーザービームとの干渉によって作られる干渉縞の数を計数する例えばフォトダイオードアレイから成るカウンターを含み、干渉縞の数の変化から反射鏡56に対する光路長の変化を測定することができる。反射鏡56は、該反射鏡56へのレーザービームの入射角が変化しても、元の方向にレーザービームを反射する所謂レトロレフレクターを具備している。本実施の形態では、反射鏡56はテーブル26に着脱可能に取り付けられたパレット28の四隅に固定された第1~第4の反射鏡56a~56dを具備している。次に、本実施の形態による測定装置52の測定原理を説明する。上述したように、本実施の形態において、レーザー測長器54はレーザー干渉計であって、干渉縞の変化に基づいて、第1~第4の反射鏡56a~56dのうち1つの反射鏡と1つの測定点との間の距離光路長と、同じ反射鏡と現在の測定点との間の距離光路長との差が以下の式によって測定される。ΔLLここでΔL:光路長差Pi:i番目の測定点P0:基準となる最初の測定点Hj:j番目の反射鏡L:最初の測定点とj番目の反射鏡との間の距離光路長L:i番目の測定点とj番目の反射鏡との間の距離光路長である。i番目の測定点とj番目の反射鏡との間の距離は、一般的に以下の式にて表される。L22212...1ここで、Xi:i番目の測定点PiのX座標Xhj:j番目の反射鏡HjのX座標Yi:i番目の測定点PiのY座標Yhj:j番目の反射鏡HjのY座標Zi:i番目の測定点PiのZ座標Zhj:j番目の反射鏡HjのZ座標である。ここで、測定点の数をm、つまりi=1~mとすると、反射鏡56が本実施の形態のように4個の反射鏡を具備する場合、未知数は、123×m個4個の反射鏡の座標が12個と、測定点の座標が3×m個となり、mが12の場合に連立方程式によって式1を解くことが可能となる。mが12よりも大きくなると、未知数よりも連立方程式の数が多くなり解に冗長性が生じる式の組合せによって異なる解の組合せができるが、例えば最小二乗法等により平均化処理する。測定された誤差は、X軸、Y軸、Z軸の直交3軸方向の加工空間内で誤差マップとして誤差演算記憶手段48に格納するようにできる。以下、図4~図8を参照して本実施の形態による誤差測定方法を説明する。誤差測定プロセスが開始されると、パラメータI、Jを0にリセットステップS10した後に、Jに1が加算されるステップS12。パラメータIは測定点を示している。パラメータJは第1~第4反射鏡56a~56dに関連したパラメータであって、J=1は第1反射鏡56aを、J=2は第2反射鏡56bを、J=3は第3反射鏡56cを、そしてJ=4は第4反射鏡56dを夫々表している。次に、図4に示すように、工作機械10のX軸、Y軸、Z軸の直交3軸の直線送り軸およびA軸、C軸の回転送り軸を駆動して、レーザー測長器54、特にその干渉縞を計数するカウンターの測定部を予めプログラムした所定の測定基準点P0へ移動し、反射鏡J1つまり第1反射鏡56aへ向けてレーザービームを照射し、測定基準点P0における干渉縞の数を計数するステップS14。次いで、パラメータIに1を加算してステップS16、図5に示すように、レーザービームを第1反射鏡56aへ常時向けながら、X軸、Y軸、Z軸の各送り軸を駆動してレーザー測長器54を所定経路58沿いに測定点P1へ移動させるステップS18。測定点P1において干渉縞を計数し、反射鏡J及び測定点P1と関連付けて記憶するステップS20。次に、Iを所定の整数IIと比較して、現在測定している測定点Piが最後の測定点であるかどうかを判定するステップS22。ここで、第1~第4反射鏡56a~56dの各々について、例えば図6、8に示すように5つの測定点で測定するようにプログラムする場合には、II=4となる。未だ全ての測定点で測定が完了していない場合ステップS22でNoは、フローチャートはステップS16に戻って、Iに1を加えて、ステップS18、S20を再び実行する。全ての測定点で測定が完了するとステップS22でYes、Jを所定の整数JJと比較して、現在測定している反射鏡Jが最後の反射鏡であるかどうかを判定するステップS24。未だ全ての反射鏡について測定が完了していない場合ステップS24でNoは、フローチャートはステップS12に戻り、Jに1を加えて次の反射鏡、例えば、図7に示すように、第2反射鏡56bに対してステップS14~ステップS22の測定プロセスを実行する図8。全ての反射鏡について測定が完了するとステップS24でYes、測定プロセスは完了する。こうして式1についての連立方程式を解くことによって得られたPiの各座標と、工作機械10のX軸、Y軸、Z軸の各送り軸のデジタルスケール等の読みである機械座標とを、誤差演算記憶手段48で比較することによって、X軸、Y軸、Z軸の各送り軸の誤差が求められる。本実施の形態によれば、レーザー測長器54は主軸22の先端部の工具装着孔に取り付けられているので、特段の追尾装置を設けることなく、工作機械10のX軸、Y軸、Z軸の直交3軸の直線送り軸およびA軸、C軸の回転送り軸を利用して、レーザー測長器54を常に第1~第4の反射鏡56a~56dに向けることが可能となり、簡単な構成で低コストの誤差測定装置が提供される。また、工作機械10に付設されている工具交換装置を用いてレーザー測長器54の装着を自動化することが可能となる。既述の実施の形態では、反射鏡はパレット28を介してテーブル26に取り付けられているが、反射鏡をテーブルに直接取り付けてもよい。また、本実施の形態のように、反射鏡56を取り付けたパレット28を予め準備しておき、工作機械10に付設されているパレット交換装置図示せずによって、上述したレーザー測長器54の自動装置と組み合わせて、誤差測定を自動化することが可能となる。これによって、日常的な誤差測定や季節ごとの誤差測定をプログラム化し、自動化することが可能となる。更に、既述の実施の形態では、レーザー干渉計から成るレーザー測長器54を用いたが、本発明はこれに限定されず、反射鏡56とレーザー測長器54との間の絶対距離を測定可能なレーザー測長器を用いてもよい。この場合には、反射鏡56は4つではなく、3つの反射鏡で反射鏡の位置が既知であれば誤差測定が可能となる。また、回転送り軸A、C軸に割り出し誤差や回転軸線の位置誤差等の誤差がある場合、その誤差が測定結果に影響してしまう。そこで、工作機械の組立て時に、基準となる領域における誤差が無くなるように測定しながら組み立て、機械完成後、その基準となる領域で回転送り軸A、C軸の誤差を測定し記憶しておき、直線送り軸X、Y、Z軸の測定時に補正する。具体的には、回転送り軸A、C軸の角度毎に位置誤差及び姿勢誤差を記憶しておき、位置誤差に応じて直線送り軸X、Y、Z軸の補正を行い、姿勢誤差に応じて回転送り軸の補正を行う。回転送り軸A、C軸の姿勢誤差が小さい場合は、回転送り軸A、C軸の角度毎にレーザー測長器の基準点のずれを記憶しておき、レーザー測長器の基準点の座標が所望の位置になるように直線送り軸X、Y、Z軸のみを補正することができる。このように直線送り軸X、Y、Z軸の測定時に、回転送り軸A、C軸の回転位置に応じて、記憶した回転送り軸A、C軸の誤差を補正することにより、更に精度よく直線送り軸X、Y、Z軸の誤差を測定することができる。