"予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を、所定の順序で測定部に実行させる測定制御手段と、該測定条件に従って該測定部が測定した測定値を使用して、予め設定された演算式で演算を行う演算手段とを備えることを特徴とする測定装置。前記演算式を入力設定するための演算式設定手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の測定装置。前記予め設定された演算式が、トランスの巻き線比、トランスの相互インダクタンス、及びトランスの一次側と二次側とのインダクタンス差、信号伝送ケーブルの特性インピーダンスの少なくともいずれかを算出するための該演算式であることを特徴とする請求項1又は2に記載の測定装置。前記測定条件を入力設定するための測定条件設定手段を備えることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の測定装置。検査条件を入力設定するための検査条件設定手段と、前記演算手段の演算結果に対し、該検査条件に基づいて検査を行う検査手段とをさらに備えることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の測定装置。前述した従来の測定装置を用いて、例えば、変圧器として用いられるトランスの巻き線比を測定する場合、第1測定処理としてトランスの一次側のインダクタンスを測定し、第2測定処理としてトランスの二次側のインダクタンスを測定するように測定条件を設定しておく。測定者は、測定後に表示部に表示された2つのインダクタンスを用いて、巻き線比を演算して求めることができる。しかしながら、得られた測定値に対して、測定者が演算を行う作業は煩雑である。本発明は前記の課題を解決するためになされたもので、測定値に対する演算処理を実行することのできる測定装置を提供することを目的とする。前記の目的を達成するためになされた、特許請求の範囲の請求項1に記載された測定装置は、予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を、所定の順序で測定部に実行させる測定制御手段と、該測定条件に従って該測定部が測定した測定値を使用して、予め設定された演算式で演算を行う演算手段とを備えることを特徴とする。請求項2に記載された測定装置は、請求項1に記載のもので、前記演算式を入力設定するための演算式設定手段を備えることを特徴とする。請求項3に記載された測定装置は、請求項1又は2に記載のもので、前記予め設定された演算式が、トランスの巻き線比、トランスの相互インダクタンス、及びトランスの一次側と二次側とのインダクタンス差、信号伝送ケーブルの特性インピーダンスの少なくともいずれかを算出するための該演算式であることを特徴とする。請求項4に記載された測定装置は、請求項1から3のいずれかに記載のもので、前記測定条件を入力設定するための測定条件設定手段を備えることを特徴とする。請求項5に記載された測定装置は、請求項1から4のいずれかに記載のもので、検査条件を入力設定するための検査条件設定手段と、前記演算手段の演算結果に対し、該検査条件に基づいて検査を行う検査手段とをさらに備えることを特徴とする。本発明の測定装置によれば、演算手段が複数の測定処理で得られた測定値を使用して、予め設定された演算式で演算が自動的に行われる。このため、測定者が演算する煩雑な作業が不要になり、測定値に対する演算結果を極めて簡便かつ迅速に得ることができる。また、測定装置が演算式を入力設定するための演算式設定手段を備える場合、測定者が任意の演算式を設定することができるので、汎用性の高い測定装置になる。また、予め設定された演算式で、トランスの巻き線比、トランスの相互インダクタンス、及びトランスの一次側と二次側とのインダクタンス差、信号伝送ケーブルの特性インピーダンスの少なくともいずれかを算出できると、便利である。また、測定装置が測定条件を入力設定するための測定条件設定手段を備える場合、汎用性の高い測定装置になる。また、測定装置が検査条件を入力設定するための検査条件設定手段と、演算手段の演算結果に対し、検査条件に基づいて検査を行う検査手段とを備える場合、演算結果に対して検査を自動的に実行することができるので、測定者が演算結果を見て判断するよりも、迅速に検査することができると共に、検査ミスが防止されるので正しく検査することができる。以下、本発明の実施例を詳細に説明するが、本発明の範囲はこれらの実施例に限定されるものではない。本発明を適用する測定装置の一例として、インピーダンス測定装置1の構成を図1に示す。このインピーダンス測定装置1は、測定部2、CPU中央演算処理装置3、メモリ4、タッチパネル10を筐体内に備えて、一体型の測定装置になっている。このインピーダンス測定装置1は、予めメモリ4に設定された測定条件に基づく複数の測定処理を所定の順序で実行して、DUT測定対象物90のパラメータを測定し、これらの測定処理毎の測定結果をタッチパネル10に表示すると共に、これらの測定値に対してメモリ4に予め記憶された演算式で演算し、その演算結果をタッチパネル10に表示可能に構成されているものである。一体型の測定装置で構成すると、持ち運びが簡便に行えて、設置スペースも少なくてよいにもかかわらず、測定値に対する演算結果を得ることができるので、極めて便利である。測定部2は、CPU3から設定される測定条件で測定処理を実行し、その測定結果である測定値をCPU3に出力可能に構成されている。例えば、測定部2は、図示しないが測定用信号源や電圧検出部、電流検出部、パラメータ測定処理部などを有している。測定部2は、同図に示すように、DUT90の両端に接触させたプローブ2a、プローブ2bを介して、CPU3から設定された測定周波数及び測定レベルで測定用電流をDUT90に流す。また、測定部2は、流れた測定電流を検出すると共に、その測定用電流によって発生したDUT90の両端電圧を検出し、検出した測定用電流及び両端電圧から、DUT90のパラメータを測定処理パラメータを演算し、その測定値をCPU3に出力する。パラメータを演算するパラメータ測定処理部は、CPU3と兼用されていてもよい。測定部2は、同図に示すように、2端子法でDUT90のパラメータを測定するものであってもよいし、4端子法や公知の他の方法でパラメータを測定するものであってもよい。測定部2が測定可能なパラメータとしては、具体的には例えば、抵抗R、静電容量C、インダクタンスL、複素インピーダンスZ、インピーダンスの絶対値Z以下においてインピーダンスZともいう、インピーダンスの位相角θ、リアクタンスX、複素アドミタンスY、アドミタンスの絶対値|Y|以下においてアドミタンスYともいう、アドミタンスの位相角φ、コンダクタンスG、サセプタンスBであったり、抵抗、コンデンサ、及びコイルを直列接続した直列等価回路における直列等価抵抗Rs、直列等価静電容量Cs、直列等価インダクタンスLsであったり、抵抗、コンデンサ、及びコイルを並列接続した並列等価回路における並列等価抵抗Rp、並列等価静電容量Cp、並列等価インダクタンスLpであったり、QQファクタや損失係数DD=1/Q=tanδであったり、直流抵抗Rdcなどの電気的な特性値である。測定部2が一度の測定で測定するパラメータは、タッチパネル10の操作により、任意に複数例えば2つ選択可能になっている。CPU3は、メモリ4に記憶されているプログラムに従って動作して、インピーダンス測定装置1の各部の動作を統括的に制御する。また、CPU3は、本発明における測定制御手段及び演算手段を兼ねている。CPU3は、測定制御手段として、予め設定された測定条件に基づく複数の測定処理を所定の順序で測定部2に実行させる。また、CPU3は、演算手段として、測定部2の測定した測定値に対し、メモリ4に記憶されている演算式で演算を行う。また、CPU3は、タッチパネル10に画像を表示させ、タッチパネル10で操作された内容を判別する。メモリ4は、例えば、プログラムを記憶するROMリードオンリーメモリ、CPU3の作業エリアとなるRAMランダムアクセスメモリ、及び、測定条件、演算式、測定値、及び各種設定値を記憶する例えばフラッシュROMなどの書き換え可能な不揮発性メモリいずれも図示せずで構成されている。メモリ4として、書き換え可能な磁気ディスク記録装置であるハードディスクを用いてもよい。タッチパネル10は、表示部5及び操作部6を兼ねており、液晶パネルやCRTなどの表示装置と、タッチパッドなどの位置入力装置とが組み合わされていて、画像を表示すると共に、指や専用ペン等が画面に触れたときに、その触れた画面上の位置情報をCPU3に出力する。なお、表示部5として液晶パネルなどの表示装置を用い、操作部6としてキーボードなどの入力装置を用いてもよい。次に、インピーダンス測定装置1の動作について説明する。インピーダンス測定装置1を動作させるにあたり、まず、所定の順序で実行する複数の測定処理の測定条件を設定すると共に、この測定条件で測定処理して得られる複数の測定値を使用して演算を実行するための演算式を設定する。このインピーダンス測定装置1では、処理番号001、002ごとに測定条件又は演算式を設定できるようになっていて、CPU3は、処理番号001、002の順序本発明における所定の順序で、測定処理や演算処理を実行する。図2に、CPU3がタッチパネル10に測定演算結果表示画面を表示させている例を示す。この測定演算結果表示画面は、測定処理して得られた測定値や演算処理して得られた演算結果を各処理番号に対応させて表示させる画面である。また、測定演算結果表示画面は、各処理番号における測定条件や演算式を入力するためにも用いられる。測定処理番号001の測定条件を設定する場合、図2に示すように、測定処理番号001を示す001欄付近を測定者が指100でタッチする触る。CPU3は、この操作を検出して、測定条件を設定するか演算式を設定するか選択するための測定条件設定演算式設定選択窓21をタッチパネル10に表示させる。この測定条件設定演算式設定選択窓21には、一例として、処理番号No.001、測定条件設定ボタン21a、及び演算式設定ボタン21bを表示させる。測定者が測定条件を入力設定するために測定条件設定ボタン21aをタッチすると、CPU3は、図3に示すように、測定条件設定窓22を表示させる。測定条件設定窓22には、各種測定条件を入力設定するために、一例として、パラメータ設定ボタン22a、測定周波数設定ボタン22b、信号レベル設定ボタン22c、レンジ設定ボタン22d、トリガ設定ボタン22e、連続/停止設定ボタン22fを表示させる。測定者によってパラメータ設定ボタン22aがタッチされると、CPU3は、前述した測定部2が複数のパラメータを表示させて、その中から測定を行うパラメータを測定者が選択できるようなパラメータ選択窓図示せずを表示させる。ここでは、パラメータとして、すでにインダクタンスLが選択されている例を示す。測定者によって測定周波数設定ボタン22bや信号レベル設定ボタン22cがタッチされると、CPU3は、測定周波数や信号レベルを設定するための数値キー図示せずを表示させる。測定周波数や信号レベルとして、1ポイントの値だけでなく、下限値及び上限値を設定して、下限値から上限値まで、又は上限値から下限値までスイープさせる設定とすることもできる。測定者によってレンジ設定ボタン22dがタッチされると、CPU3は、入力信号レベルに対応させて適切なレンジに自動的に切り換えるオートレンジ機能、又は、測定レンジを固定するホールドレンジ機能を選択するための選択用ボタンや、ホールドレンジ機能時にどのレンジに固定するか選択するためのレンジ選択用ボタン図示せずなどを表示させる。測定者によってトリガ設定ボタン22eがタッチされると、CPU3は、外部トリガ、内部トリガ、及びトリガレベルを設定するためのボタンや数値キー図示せずなどを表示させる。測定者によって連続/停止設定ボタン22fがタッチされると、連続して次の処理を行う連続設定ボタン、又は、処理を行った後停止して、再開ボタンが操作されたときに、次の処理を行う停止設定ボタン図示せずを表示させる。DUT90の測定端子を繋ぎ直したり、DUT90に付属品を取り付けたりしてから測定を行う必要があるときは、処理が一時停止するように停止設定とする。処理番号001では、一例として、停止設定とする。一時停止する必要がない場合には、連続設定とする。測定条件設定窓22や各ボタン22a~22f、及び各ボタン22a~22fを選択したときに表示される選択用の窓や数値キーや選択用のボタン等が、本発明における測定条件設定手段に相当する。なお、測定条件を設定することは従来から行われているので、詳細な説明は省略する。また、測定条件はこれらに限定されず、例えば、測定値を複数測定して平均化する平均化回数や、測定のサンプリング時間など、他の測定条件を設定できるようにしてもよい。CPU3は、上記で設定された測定条件を処理番号001に対応づけてメモリ4に記憶させる。処理番号002に測定条件を設定する場合も、処理番号001と同様に設定を行う。処理番号002では、一例として、連続/停止設定ボタン22fで連続設定とする。処理番号003に演算式を設定する場合、図4に示すように、測定処理番号002の下の位置、つまり003欄が追加される位置を測定者が指100でタッチする触る。CPU3は、この操作を検出して、測定条件を設定するか演算式を設定するか選択するための測定条件設定演算式設定選択窓21をタッチパネル10に表示させる。この測定条件設定演算式設定選択窓21には、一例として、処理番号No003、測定条件設定ボタン21a、及び演算式設定ボタン21bを表示させる。測定者が演算式を入力設定するために演算式設定ボタン21bをタッチすると、CPU3は、図5に示すように、演算式入力設定窓23をタッチパネル10に表示させる。演算式入力設定窓23には、演算式を入力するため入力操作領域23a、及び入力された演算式を表示する演算式表示領域23bを表示させる。入力操作領域23aには、一例として、数値入力用の0~9、Eなどの数値キー;、-、、/などの四則演算用の演算子;絶対値を求める関数ABS、指数関数EXP、対数関数LOG、平方根を求める関数SRQ、移動平均演算用の関数MOV、平均値演算用の関数SLI、差分演算用の関数DIF、小数点以下を切り捨てて整数化する関数INT、微分演算用の関数DIF2、積分演算用の関数INT2などの演算子;SIN、COS、TAN、ACOS、ATANなどの三角関数に関連する演算子を表示させる。表示させる演算子はこれに限られず、他の関数用の演算子を表示するようにしてもよい。この演算式入力設定窓23が、本発明における演算式設定手段に相当する。同図では、処理番号003に、処理番号002の測定値と処理番号001の測定値との差分を演算する演算式である、No003=No002-No001が設定されている例を示している。CPU3は、設定された演算式を処理番号003に対応づけてメモリ4に記憶させる。測定を行う場合、測定者は、DUT90をセットしてから、タッチパネル10に表示された開始/再開ボタン20をタッチする。例えば、図6に示されたトランスをDUT90として、その一次側のインダクタンスL1と二次側のインダクタンスL2とを測定し、その差分のインダクタンスLdを演算する場合について説明する。測定者は、先ず、トランスの一次側端子a1,a2に、プローブ2a、プローブ2b図1参照を接触させて、図7に示すタッチパネル10の開始/再開ボタン20をタッチする。この操作により、CPU3測定制御手段は、メモリ4に記憶されている処理番号001の測定条件で、インダクタンスL1の測定処理を実行し、その測定値を、図7の測定演算結果表示画面に示すように、タッチパネル10の処理番号001の欄に表示すると共に、メモリ4に記憶させる。また、CPU3測定制御手段は、停止設定に設定されていることから、測定を一時停止する。続いて、測定者は、トランスの二次側端子b1,b2に、プローブ2a、プローブ2b図1参照を接触させて、タッチパネル10の開始/再開ボタン20をタッチする。この操作により、CPU3測定制御手段は、処理番号002の測定条件で、インダクタンスL2の測定処理を実行し、その測定値を、図7に示すように、タッチパネル10の処理番号002の欄に表示すると共に、メモリ4に記憶させる。続いて、CPU3演算手段は、処理条件003に設定された演算式で演算処理を行い、その演算結果をタッチパネル10に表示させる。具体的には、メモリ4に記憶されている処理条件002で測定された測定値から処理条件001で測定された測定値を減算して、その演算結果を、図7に示すように、タッチパネル10の処理番号003の欄に表示する。このように、二次側のインダクタンスL2とトランスの一次側のインダクタンスL1との差分を、測定者が演算することなく、自動的に得ることができる。なお、図6に示したトランスの巻き線比Nを演算する場合には、処理条件001,002はそのままで、処理条件003に、N=√L1/L2を演算する演算式を設定する。具体的には、演算式入力設定窓23を操作して、演算式としてNo003=SRQNo001/No002を設定する。処理番号001~003を実行すると、タッチパネル10の003欄に、巻き線比Nの演算結果が表示される。また、トランスの相互インダクタンスMを求める場合には、処理条件001では、図8aに示す同相直列接続となるように接続してから、端子a2,b2間のインダクタンスLaを測定し、処理条件002では、図8bに示す逆相直列接続で端子a2、b1間のインダクタンスLbを測定する。処理条件003には、M=La-Lb/4を演算する演算式を設定する。具体的には、演算式入力設定窓23を操作して、演算式としてNo003=No001-No002/4を設定する。処理番号001~003を実行すると、タッチパネル10の001欄にインダクタンスLaの測定結果が表示され、002欄にインダクタンスLbの測定結果が表示され、003欄に相互インダクタンスMの演算結果が表示される。また、信号伝送ケーブルの特性インピーダンスZcを、10kHz~1MHzの周波数の範囲で求める場合には、処理条件001に、測定条件として、測定周波数を10kHz~1MHzの範囲でスイープさせ、その範囲のインピーダンスZZoを測定するように設定する。処理条件002に、測定条件として、測定周波数を10kHz~1MHzの範囲でスイープさせ、その範囲のインピーダンスZZsを測定するように設定する。処理条件003に、特性インピーダンスZc=√Zo×Zsを演算する演算式を設定する。具体的には、演算式入力設定窓23を操作して、演算式としてNo003=SRQNo001No002を設定する。測定を行うときに、測定処理001では、信号伝送ケーブルの片側をオープンにしてインピーダンスZoを測定し、測定処理002では、信号伝送ケーブルの片側をショートにしてインピーダンスZsを測定する。処理番号001~003を実行すると、10kHz~1MHzの範囲の特性インピーダンスZcが得られる。得られた特性インピーダンスZcの周波数特性を、タッチパネル10に、数値で表示させてもよいし、グラフで表示させてもよい。なお、演算結果をタッチパネル10に表示する例について説明したが、表示させることなく、又は表示と共に、インピーダンス測定装置1に接続したコンピュータやプリンタなどの機器に外部出力するようにしてもよい。また、測定者が演算式入力設定窓23を操作して、演算式を手動で設定する例について説明したが、トランスの一次側のインダクタンスL1と二次側のインダクタンスL2との差分、トランスの巻き線比N、トランスの相互インダクタンスM、信号伝送ケーブルの特性インピーダンスZsを求める演算式などのように、一般的に使用される可能性の高い1つ又は複数の所定の演算式を、例えばインピーダンス測定装置1の製造当初からメモリ4に記憶させておき、その中から任意の演算式を、タッチパネル10の操作で選択できるようにしてもよい。このように測定装置の製造当初に所定の演算式をメモリ4に記憶させておく場合、演算式設定手段を設けてもよいし、必要性に応じて演算式設定手段を設けなくてもよい。さらに、このように演算式を選択できるようにする場合、各演算式に対応させて測定条件もメモリ4に記憶させておき、演算式を選択すると、対応する測定条件も合わせて設定させるようにすることが好ましい。例えば、トランスの相互インピーダンスMを測定するための項目ボタンをタッチパネル10で選択すると、CPU3は、メモリ4に記憶されている測定条件や演算式を読み込んで、処理番号001,002に測定条件前述した測定条件を設定すると共に、処理番号003に演算式前述した演算式を設定する。周波数などの測定条件は、メモリ4に記憶させておいたデフォルト値又は前回設定値を設定するようにしておき、変更が必要な場合に、測定条件設定手段を操作して測定者が手動で変更する。変更する必要性がない場合には、測定条件設定手段を設けなくてもよい。このようにしておくと、測定演算項目を選択するだけで、簡便かつ迅速に、測定条件や演算式を設定することができる。なお、製造当初から測定条件や演算式がメモリ4に記憶されていても、さらに測定者が測定条件設定手段や演算式設定手段を操作して、任意の測定条件や任意の演算式を入力設定できるようにすることが好ましい。また、測定者が任意の測定条件や演算式を予め入力設定してメモリ4に記憶させておき、後でタッチパネル10の操作で選択できるようにしてもよい。また、インピーダンス測定装置1は、検査条件を入力設定するための検査条件設定手段と、演算手段の演算結果に対し、検査条件に基づいて検査を行う検査手段とをさらに備えていてもよい。具体的に説明すると、図7に示す処理番号003欄の検査領域18が測定者にタッチされると、CPU3は、図9に示すように、検査機能設定窓41をタッチパネル10に表示させる。この検査機能設定窓41が、本発明における検査条件設定手段に相当する。この検査機能設定窓41は、処理番号003で演算処理した演算結果の検査条件として、検査用上限値43a及び検査用下限値43bを設定するための窓である。検査用上限値43a及び検査用下限値43bのいずれか一方だけ設定してもよい。検査用上限値43aを設定するときには、HIボタン42aをタッチしてから、数値設定キー44で値を設定する。検査用下限値43bを設定するときには、LOボタン42bをタッチしてから、数値設定キー44で値を設定する。検査用上限値43a又は検査用下限値43bを設定しないときにはOFFに設定する。このように検査用上限値43aや検査用下限値43bを測定前に予め設定しておくと、CPU3検査手段は、処理番号003の演算結果が、検査用上限値43aや検査用下限値43bの範囲内に入るか否かを判定検査して、その検査結果を、図7の検査領域18に表示させる。例えば、CPU3検査手段は、演算結果が検査用上限値43a及び検査用下限値43bの範囲内であれば、検査領域18にINの文字を表示させ、演算結果が検査用上限値43aよりも大きいときにはHIの文字を表示させ、演算結果が検査用下限値43bよりも小さいときにはLOの文字を表示させる。このように、演算結果に対する検査機能を有することで、演算結果を簡便に検査することができる。なお、処理番号001、002で一つのパラメータインダクタンスについて測定する例について説明したが、処理番号001、002でそれぞれ複数例えば2つのパラメータ例えばインダクタンス及びQファクタについて測定し、処理番号003でそれぞれのパラメータの測定値を使用して演算を行うように演算式を設定してもよい。また測定処理を処理番号001、002の2つに設定した例について説明したが、この数は例えば5つのように任意に複数設定することができる。また、演算式を処理番号003に1つ設定した例について説明したが、例えば、処理番号003にインダクタンスL2、L1の差分を演算する演算式を設定し、処理番号004にトランスの巻き線比Nを演算する演算式を設定するというように、複数の処理番号に演算式を設定してもよい。また、演算式を設定した後の処理番号に、測定条件を設定してもよいし、さらにその後の処理番号に演算式を設定してもよい。また、処理番号001に測定条件を設定し、処理番号002に演算式を設定してもよい。また、測定装置の例として、インピーダンス測定装置1について説明したが、測定装置であればこれに限定されず、例えば、デジタルマルチメータ、電流測定装置、電圧測定装置、電力測定装置、LCRメータ、抵抗測定装置、静電容量測定装置、Qメータ、絶縁抵抗測定装置などに本発明を適用してもよい。"