ハードディスク上の欠陥領域をサーマルアスペリティTAまたは媒体欠陥MDのどちらかと関連するものとして分類する機械実施型の方法であって、ai前記欠陥領域に対応する信号値例えば、x[n]もしくはy[n]およびそれに対応する期待信号値例えば、x^[n]もしくはy^[n]の一方または両方の大きさと、ii前記信号値および前記期待信号値の一方または両方の符号とに基づいて、第1の基準を機械が生成することと、b前記信号値または前記期待信号値どちらかの符号ではなく、前記信号値および前記期待信号値の一方または両方の大きさに基づいて、第2の基準を前記機械が生成することと、c前記第1および第2の基準を前記機械が比較することと、dステップcの前記比較に基づいて、前記欠陥領域がTAまたはMDと関連するかを前記機械が判断することとを含む、方法。前記信号値が、iアナログデジタル変換器ADC出力値例えば、x[n]、ii等化器入力値例えば、x[n]、またはiii等化器出力値例えば、y[n]である、請求項1に記載の方法。i前記第1の基準が前記第2の基準の指定された整数分の一指定された整数分の一は1未満よりも小さいかを判断するか、またはii前記第1の基準と前記第2の基準の比を規定の閾値と比較することによって、前記機械が前記第1および第2の基準を比較する、請求項1に記載の方法。前記期待信号値が前記信号値の平均値であり、前記平均値が、前記信号値および1つまたは複数の隣接した信号値と関連するビットパターンの関数である、請求項1に記載の方法。前記期待信号値が前記信号値に対応する硬判定値から再構築される、請求項1に記載の方法。前記期待信号値が目標多項式を用いて前記硬判定値を畳み込むことによって再構築される、請求項5に記載の方法。I前記第1の基準例えば、α1が、i信号値とそれに対応する期待信号値との積の期待値例えば、E[y[n]y^[n]]と、ii前記対応する期待信号値の平方の期待値例えば、E[y^[n]y^[n]]との比に基づくか、II前記第1の基準例えば、α1が、i信号値とそれに対応する期待信号値の符号との積の期待値例えば、E[y[n]signy^[n]]と、ii前記対応する期待信号値の大きさの期待値例えば、E[|y^[n]|]との比に基づくか、III前記第2の基準例えば、α2が、i前記信号値の大きさの期待値例えば、E[|y[n]|]と、iiそれに対応する期待信号値の大きさの期待値例えば、E[|y^[n]|]との比に基づくか、IVa前記第1の基準が、i信号値とそれに対応する期待信号値との積の期待値例えば、E[y[n]y^[n]]と、ii前記対応する期待信号値の大きさの期待値例えば、E[|y^[n]|]との積であり、かつ、b前記第2の基準が、i前記対応する期待信号値の平方の期待値例えば、E[y^[n]y^[n]]と、ii前記信号値の大きさの期待値例えば、E[|y[n]|]との積であるか、あるいは、Va前記第1の基準が、信号値とそれに対応する期待信号値の符号との積の期待値例えば、E[y[n]signy^[n]]であり、かつ、b前記第2の基準が、前記信号値の絶対値例えば、E[|y[n]|]である、請求項1に記載の方法。前記第1の基準および前記第2の基準の一方を規定の閾値と比較することによって、前記欠陥領域の場所を検出することをさらに含む、請求項1に記載の方法。ハードディスク上の欠陥領域をサーマルアスペリティTAまたは媒体欠陥MDのどちらかと関連するものとして分類する機械であって、ai前記欠陥領域に対応する信号値例えば、x[n]もしくはy[n]およびそれに対応する期待信号値例えば、x^[n]もしくはy^[n]の一方または両方の大きさと、ii前記信号値および前記期待信号値の一方または両方の符号とに基づいて、第1の基準を生成する手段と、b前記信号値または前記期待信号値どちらかの符号ではなく、前記信号値および前記期待信号値の一方または両方の大きさに基づいて、第2の基準を生成する手段と、c前記第1および第2の基準を比較する手段と、d手段cの前記比較に基づいて、前記欠陥領域がTAまたはMDと関連するかを判断する手段とを備える、機械。前記機械がiデジタル信号プロセッサ、またはiiハードディスクドライブである、請求項9に記載の機械。より新しいハードディスクドライブはTMRトンネルMR読取りヘッドを用いている。TMR読取りヘッドの場合、MD領域およびTA領域両方に対応する読取りヘッド出力信号の振幅は正常領域の信号振幅よりも大幅に小さいので、TA領域がMD領域と誤認される可能性がある。そのため、MR/GMR読取りヘッドを用いるハードディスクドライブのMDおよびTA領域を検出し分類するのに使用される従来の信号処理技術を使用して、TMR読取りヘッドを用いるハードディスクドライブのMDおよびTA領域を検出し分類することはできない。一実施形態では、本発明は、ハードディスク上の欠陥領域をサーマルアスペリティTAまたは媒体欠陥MDのどちらかと関連するものとして分類する機械実施型のmachineimplemented方法である。機械は、i欠陥領域に対応する信号値およびそれに対応する期待信号値expectedsignalvaluesの一方または両方の大きさと、ii信号値および期待信号値の一方または両方の符号とに基づいて、第1の基準を生成する。機械は、信号値または期待信号値どちらかの符号ではなく、信号値および期待信号値の一方または両方の大きさに基づいて第2の基準を生成する。機械は、第1および第2の基準を比較し、その比較に基づいて欠陥領域がTAまたはMDと関連しているかを判断する。本発明の他の態様、特徴、および利点は、以下の詳細な説明、添付の特許請求の範囲、および添付図面により、さらに十分に明白になるであろう。図面中、類似の参照番号は同様または同一の要素を特定する。図1は、本発明の一実施形態による、トンネル磁気抵抗TMR読取りヘッドを用いるハードディスクドライブの読取りチャネル100のハイレベルブロック図を示す。読取りチャネル100の従来の主信号処理経路は、TMR読取りヘッド図示なしからアナログ読取りヘッド出力信号105を受け取り、二値硬判定出力データ信号145を出力する。図1に示されるように、読取りチャネル100は、前置増幅器110、アナログフロントエンドAFE120、アナログデジタル変換器ADC130、およびデジタルバックエンドDBE140を含む。前置増幅器110は、読取りヘッド出力信号105を増幅し調整して、信号の振幅および周波数成分がAFE120によって処理される指定範囲内にあることを確保し、前置増幅器110からの前置増幅された信号preamplifiedsignal115をさらに増幅し調整する。ADC130は、AFE出力信号129をデジタル化して、二値出力データ信号145を生成するDBE140によるデジタル信号処理のため、マルチビットデジタル信号XADC出力サンプルx[n]から成るを作り出す。図1に示されるように、AFE120は、高域フィルタ122、可変利得増幅器124、磁気抵抗非対称magnetoresistiveasymmetryMRA補償モジュール126、および連続時間低域フィルタcontinuoustimelowpassfilter128を含み、DBE140は、パーシャルレスポンスPR等化器142、および軟判定例えば、ビタビ検出器144を含む。本発明にとって特に興味深いことに、PR等化器142は、デジタル化されたADC出力信号XをADC130から受け取り、マルチビット等化信号Y等化器出力サンプルy[n]から成るを生成し、それを軟判定検出器144が処理して、二値出力データ信号145を生成する。PR等化器142は、デジタル有限インパルス応答DFIRフィルタとして実装することができるが、必ずしもそうでなくてもよい。それに加えて、TMR読取りチャネル100は、媒体欠陥MD/サーマルアスペリティTA検出および分類サブシステム150を含み、これは、信号147をDBE140から受け取って処理して、ハードディスク上の欠陥領域の場所を検出し、検出された欠陥領域それぞれがMD領域またはTA領域のどちらであるかを分類し、その情報は信号155の形で表される。一実現例では、信号147はADC130によって生成されるADC出力信号Xを含む。別の実現例では、信号147はPR等化器142によって生成される等化信号Yを含む。図2は、本発明の1つの可能な実現例による、図1のMD/TAの検出および分類DCサブシステム150のハイレベルブロック図を示す。この特定の実現例では、DCサブシステム150は、図1の信号Yの等化器出力サンプルy[n]を処理して、ハードディスク上の欠陥領域を検出し分類する。特に、DCサブシステム150は、等化器出力サンプルy[n]を処理して欠陥領域の場所および持続時間を検出する欠陥検出器202と、欠陥検出器202によって生成された統計を処理して、検出された欠陥領域それぞれがMD領域またはTA領域のどちらであるかを分類する欠陥分類器defectclassifier204とを含む。DCサブシステム150は、次の式1および2それぞれにしたがって等化器出力サンプルy[n]を特性付ける2つの統計的基準α1およびα2を生成する。式中、以下、y^[n]と表記。他の変数も同様はマルチビット等化器出力サンプルy[n]の期待値であり、関数E[]は予想関数を表し、関数signはオペランドの符号を戻す。特定の実現例に応じて、期待サンプル値y^[n]は多くの異なるやり方で生成することができる。1つのやり方は、適切な目標多項式targetpolynomialを用いて、軟判定検出器144によって生成された出力信号145の硬判定ビット1および-1によって表されるを畳み込むことによって、y^[n]を構築するというものである。別のやり方は、異なる短期ビットパターンに対して等化器出力サンプルy[n]の長期平均値を生成するというものである。例えば、ハードディスクに書き込まれたテストデータが2T配列即ち、11001100...と続く場合、異なるローカルビットパターンの中心にあるビット値に対して異なる長期平均値を生成することができる。特に、ローカルな3ビットのパターン110の中心のビットに対して1つの長期平均値を生成し、100に対して別の平均値、001に対して別の平均値、011に対してさらに別の平均値を生成することができる。その結果、例えばルックアップテーブルに格納される適切な長期平均を、式1および2の期待サンプル値y^[n]に使用することができる。期待サンプル値y^[n]は、正常領域即ち、MDまたはTAと関連しない領域に格納されたデータに対して生成されることに留意されたい。当業者であれば、期待サンプル値y^[n]を生成する他のやり方があってもよいことを理解するであろう。正常な即ち、欠陥のない領域の場合、また期待という用語によって示唆されるように、等化器出力サンプルy[n]は期待サンプル値y^[n]とほぼ等価符号および大きさの両方においてである。しかし、上述したように、欠陥領域MDかTAのどちらかと関連するでは、等化器出力サンプルy[n]の大きさは期待サンプル値y^[n]の大きさよりも大幅に小さい。さらに、実質的には読取りヘッド出力信号105が欠陥のない領域の場合に考えられる信号が減衰されたものであるMD欠陥領域の場合、等化器出力サンプルy[n]の符号は、一般的に期待サンプル値y^[n]の符号と一致する。しかし、読取りヘッド出力信号105が非常に多くのノイズを含むTA欠陥領域の場合、等化器出力サンプルy[n]の符号は実質的に不規則であり、期待サンプル値y^[n]の符号とは良好に相関しない。欠陥領域と欠陥のない領域との間、およびMD欠陥領域とTA欠陥領域との間のこれらの異なる特性を、統計的基準α1およびα2を生成する式を設計するにあたって利用した。具体的には、式1の統計的基準α1は、等化器出力サンプルy[n]および期待サンプル値y^[n]両方の符号と大きさ両方の関数であり、式2の統計的基準α2は、それら2つの値の大きさの関数であるが、符号の関数ではない。等化器出力サンプルy[n]および期待サンプル値y^[n]の符号が良好に相関していない場合、統計的基準α1の大きさは統計的基準α2の大きさよりも小さくなる。図2の欠陥検出器202は、統計的基準α1を、1よりも小さく、好ましくは0に近い規定の閾値Tと比較することによって、欠陥領域を検出することができる。α1<Tの場合、欠陥検出器202は欠陥領域が検出されていると判断し、そうでなければ欠陥領域は検出されない。代替実現例では、同じ閾値Tまたは別の閾値とともに、統計的基準α1の代わりに統計的基準α2を使用することができる。欠陥検出器202が欠陥領域を検出すると、欠陥分類器204は、2つの統計的基準α1およびα2を互いに比較して、欠陥領域がMD領域またはTA領域のどちらであるかを分類する。具体的には、α1<<α2の場合、検出された欠陥領域はTA領域であると判断される。そうでなければ、であり、検出された欠陥領域はMD領域であると判断される。α1およびα2の比較を実現する1つのやり方は、α1をα2の指定された整数分の一1よりも小さい適切な値と比較するというものである。α1がα2のその指定された整数分の一よりも小さい場合、検出された欠陥領域はTA領域であり、そうでなければMD領域である。比較を実現する別のやり方は、α1とα2の比を、例えば同じ指定された整数分の一に等しい閾値と比較するというものである。比が閾値よりも小さい場合、検出された欠陥領域はTA領域であり、そうでなければMD領域である。一実現例では、式1および2を操作することによって、次の式3を使用して欠陥分類器204の比較を行うことができる。別の実現例では、欠陥分類器204の比較は、次の式4を使用して単純な手法で行うことができる。図3aは、ハードディスクの等化器出力サンプルy[n]の例示的な配列を表すグラフであり、X軸はサンプル指数を表し、Y軸はサンプル振幅を表す。この例では、ハードディスクは、iサンプル番号200とサンプル番号300との間に発生しているTA欠陥領域と、iiサンプル番号500とサンプル番号600との間に発生しているMD欠陥領域とを有する。図3bは、Y軸において、図3aの対応するサンプルに関する、式1の統計的基準α1と式2の統計的基準α2との比を表すグラフである。図3aで分かるように、TA欠陥領域およびMD欠陥領域両方の等化器出力サンプルy[n]の振幅は低減されている。そのため、サンプル振幅を特性付けることによって、TA/MD欠陥領域の存在を検出するための容認可能なスキームが得られるかも知れないが、検出された欠陥領域がTA欠陥領域またはMD欠陥領域のどちらであるかを分類するための十分に正確なスキームは得られないことがある。しかし、図3bで分かるように、統計的基準の比はTA欠陥領域とMD欠陥領域との間で大きく異なる。このことは、統計的基準の比に基づくスキームまたは、式3および4によって表されるものなど、それらの統計的基準の特性に基づいて導き出される代替のスキームを有効に使用して、検出された欠陥領域がTA欠陥領域またはMD欠陥領域のどちらであるかを分類することができることを示唆している。一般に、検出された欠陥領域は、それらの信号に対する信号値例えば、x[n]もしくはy[n]および期待値例えば、x^[n]もしくはy^[n]を使用して、TAまたはMD欠陥領域のどちらであるかを分類することができる。例えば、式1および2のスキーム、式3のスキーム、および式4のスキームと同様に、信号値は等化器出力信号値y[n]であることができ、期待信号値は期待される等化器出力信号値y^[n]であることができる。他の例示的実施形態では、信号値は等化器入力信号値例えば、ADC出力信号値x[n]であることができ、期待信号値は、期待される等化器入力信号値例えば、期待されるADC出力信号値x^[n]であることができる。いずれの場合も、大きさおよび符号に依存する第1の基準と、符号ではなく大きさのみに依存する第2の基準という、少なくとも2つの統計的基準が生成される。次に、2つの統計的基準を比較して、検出された欠陥領域がTAまたはMDに対応するかが判断される。式1および2に基づく例示的なスキームでは、式1の基準α1は、信号値y[n]および期待信号値y^[n]両方の大きさと符号両方に依存し、式2の基準α2は、信号値y[n]および期待信号値y^[n]の大きさに依存し、符号には依存しない。式3に基づく例示的なスキームでは、式3の左辺は、信号値y[n]および期待信号値y^[n]両方の大きさと符号両方に依存する基準であり、式3の右辺は、信号値y[n]および期待信号値y^[n]両方の大きさに依存し、どちらの符号にも依存しない基準である。式4に基づく例示的なスキームでは、式4の左辺は、信号値y[n]の大きさと符号両方に依存し、期待信号値y^[n]については符号のみに依存する基準であり、式4の右辺は、信号値y[n]のみの大きさのみに依存する基準である。特定のスキームの場合、2つの基準はそれぞれ、必ずしも信号値とそれら信号値の期待値の両方に基づいていなくてもよいことに留意されたい。例えば、式4のスキームでは、右辺は期待信号値y^[n]ではなく信号値y[n]に基づいている。さらに、式4の左辺は、信号値y[n]の符号および大きさに基づいているが、期待信号値y^[n]については符号のみに基づいている。これらの異なる例示的なスキームから一般化すると、第1の基準は、i信号値および期待信号値の一方または両方の大きさと、ii信号値および期待信号値の一方または両方の符号とに基づいており、第2の基準は、信号値および期待信号値の一方または両方の大きさに基づいているが、どちらの符号にも基づいていない。MD/TADCサブシステム150の1つの可能な実現例では、1つの欠陥領域の終了と次の欠陥領域の開始との間のギャップが指定距離未満のとき、それら2つの欠陥領域およびその間にある正常領域は、分類処理のために結合されて、第1の欠陥領域の開始から第2の欠陥領域の終了までに及ぶ1つの組み合わされた欠陥領域となる。高データレート動作を支援するため、比を、例えば4ビット単位で一旦計算することができ、その結果、各ビットに対して基準が生成される上述の通常レートでの実施に比べて4分の1レートでの実施となる。TMRトンネル磁気抵抗読取りヘッドの読取りチャネルに関連して本発明を記載してきたが、当業者であれば、MR磁気抵抗読取りヘッドまたはGMR巨大MR読取りヘッドを含むがそれらに限定されない他のタイプの読取りヘッドに関連して、本発明を実現できることを理解するであろう。本発明は、単一集積回路ASICもしくはFPGAなど、マルチチップモジュール、単一カード、またはマルチカード回路パックとしての可能な実現例を含む、アナログ、デジタル、もしくはアナログとデジタル両方の混成回路ベースのプロセスとして実現されてもよい。当業者には明白であるように、回路要素の様々な機能はまた、ソフトウェアプログラムにおける処理ブロックとして実現されてもよい。そのようなソフトウェアは、例えば、デジタル信号プロセッサ、マイクロコントローラ、または汎用コンピュータで用いられてもよい。本発明は、方法およびそれらの方法を実施する装置の形態で具体化することができる。本発明はまた、磁気記録媒体、光記録媒体、固体記憶装置、フロッピーディスケット、CD-ROM、ハードドライブ、または他のあらゆる機械可読記憶媒体など、有形の媒体において具体化されるプログラムコードの形態で具体化することができ、その場合、プログラムコードがコンピュータなどの機械にロードされ、それによって実行されると、その機械が本発明を実施する装置となる。本発明はまた、例えば、記憶媒体に格納されるか、あるいは機械にロードされ、かつ/またはそれによって実行されるプログラムコードの形態で実現することができ、その場合、プログラムコードがコンピュータなどの機械にロードされ、それによって実行されると、その機械が本発明を実施する装置となる。汎用プロセッサに実装すると、プログラムコードセグメントはプロセッサと結合して、特定の論理回路と似た動作をする独自のデバイスとなる。特段の明示がない限り、数値および範囲はそれぞれ、約またはおよそという語句がその数値または範囲の値に優先するものとして、近似的であると解釈されるものとする。本発明の本質について説明するために記載し図示してきた部品の詳細、材質、および配列は、以下の特許請求の範囲に表されるような本発明の範囲から逸脱することなく、当業者によって様々に変更されてもよいことがさらに理解されるであろう。クレームにおける図番および/または図面の参照符号の使用は、クレームの解釈を容易にするため、請求される主題の1つまたは複数の可能な実施形態を特定することを意図する。そのような使用は、それらクレームの範囲を、対応する図面に示される実施形態に必然的に限定するものとして解釈すべきではない。本明細書に記載される例示的な方法のステップは、必ずしも記載順に実行することを必要としないことを理解すべきであり、かかる方法のステップの順序は例示に過ぎないことを理解すべきである。同様に、かかる方法に追加のステップが含まれてもよく、本発明の様々な実施形態と一致する方法において、特定のステップが省略または結合されてもよい。以下の方法クレームに要素が含まれる場合、クレームの列挙がそれら要素の一部またはすべてを実現する特定の順序を別の形で示唆しない限り、それらは対応する符号と併せて特定の順序で列挙されるが、それら要素がその特定の順序で実現されることに限定されることを必ずしも意図しない。本明細書において、一実施形態または実施形態への言及は、その実施形態に関連して記載される特定の特徴、構造、または特性が本発明の少なくとも1つの実施形態に含まれ得ることを意味する。一実施形態ではという語句が明細書の様々な場所に出現するが、必ずしもすべてが同じ実施形態を指しているのではなく、別個の実施形態または代替実施形態が他の実施形態と必ずしも相互に排他的であるのでもない。同じことが実現例という用語にも該当する。