Siの含有量が28~40である方向性珪素鋼板の電磁性能の測定方法であって、金属組織学的エッチピット法により試料における各結晶粒のオイラー角を測定し、当該結晶粒の結晶方位差θi度を算出し、当該結晶粒の面積Simm2及びSi元素の修正係数XX=01~10T度と組み合わせ、これらパラメータθi、Si、Xを利用して、単結晶材料の磁気的性質B0飽和磁気誘導Tに基づき、下式1のように修正を行ない、この推算により当該方向性珪素鋼板の電磁性能B8を取得する、方向性珪素鋼板の電磁性能の測定方法。本発明による方向性珪素鋼板の電磁性能の測定方法において、金属組織学的エッチピット法により完成品試料における各結晶粒のオイラー角を測定し、オイラー角により各結晶粒の110方位と試料の圧延面及び圧延方向との総合方位差θiを算出し、また各結晶粒に対応の面積Siを統計する。エプスタイン試験枠によりSi含有量が28成分の電磁性能を測定し、そして平均方位差がSi含有量28である場合の平均方位差θと同じで、Si含有量がそれぞれ30、32、34、36、40である試料の電磁性能を測定し、Si含有量が28成分の電磁性能修正係数を1と決め、他のSi含有量の性能は指定成分の磁性に比例することにより、それぞれのSi含有量に対応する化学成分修正係数Xを取得する。最後に整合を行い、全ての成分修正係数Xを推算する。下式により試料の電磁性能B8を算出するそのうち、B0は単結晶材料の磁気誘導性能である。1厚さh030mmの方向性珪素鋼板Siを28含有を選択する。電磁性能磁性B8TのSSTsinglesheettesting測定を行なう。2電磁性能B8を測定してから、試料表面の絶縁コーティングとベース層を除去し、そして、各結晶粒ともはっきりしたエッチピットが得られるように、サンプル鋼板に対して特別なエッチピット工程によりエッチングし典型的なエッチピットの写真は図3を参照、各結晶粒のエッチピットのパラメータ形状、圧延方向の方位差、エッチピットの両辺の比例などで当該結晶粒のオイラー角を推算する。3オイラー角により当該結晶粒のMiller指数HKLを推算する計算式は式3と式4を参照。HKLsinβcosγ:sinβsinγ:cosβ3UVWsinβcosα4Miller指数により001との方位差θiを推算する計算式は式5を参照。4サンプル鋼板における各結晶粒の方位差θiと対応面積Si表1を参照により、サンプル鋼板の平均方位差を算出し、そして式1と図1によりサンプル鋼板の磁気的性質B8を推算し、実測値と比べる具体的には表2を参照。図4と表2を参照し、図は実施例1のサンプル鋼板の具体的状況と結果サンプル結晶粒上の表示された数値は当該結晶粒の方位差θiであるを示すものである。表2から、本発明で測定された磁気的性質データはSST測定の磁気的性質データのバラツキが05であり、高精度の測定要求を完全に満たすことができる。1厚さh027mmの方向性珪素鋼板Siを28含有を選択する。電磁性能磁性B8TのSSTsinglesheettesting測定を行なう。2電磁性能B8を測定してから、試料表面の絶縁コーティングとベース層を除去し、そして、各結晶粒ともはっきりしたエッチピットが得られるように、サンプル鋼板に対して特別なエッチピット工程によりエッチングし典型的なエッチピットの写真は図3を参照、各決勝粒のエッチピットのパラメータ形状、圧延方向の方位差、エッチピットの両辺の比例などで当該結晶粒のオイラー角を推算する。3オイラー角により当該結晶粒のMiller指数HKLを推算する計算式は式3と式4を参照。HKLsinβcosγ:sinβsinγ:cosβ3UVWsinβcosα4Miller指数により001との方位差θiを推算する計算式は式5を参照。4サンプル鋼板における各結晶粒の方位差θiと対応面積Si表3を参照により、サンプル鋼板の平均方位差を算出し、そして式1と図1によりサンプル鋼板の時期的性質B8を推算し、実測値と比べる具体的には表3を参照。図5と表4を参照し、図は実施例2のサンプル鋼板の具体的状況と結果サンプル結晶粒上の表示された数値は当該結晶粒の方位差θiであるを示すものである。表4から、本発明で測定された磁気的性質データはSST測定の磁気的性質データのバラツキが04であり、高精度の測定要求を完全に満たすことができる。