ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び2つのクリップオン電流計を備えるハードディスク電流のテストシステムにおいて、前記アダプターボードは、第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び1つのバスラインを備え、前記第一コネクター及び前記第二コネクターは、それぞれ1つの第一バット及び1つの第三バットを有し、前記第一ポートは、前記ハードディスクに接続され且つ前記バスラインを介して前記第二ポートに接続され、前記第二ポートは、前記テスト装置に接続され、前記第一コネクターの第一バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第一コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、前記第二コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され且つ前記第一ケーブルを介して前記第一コネクターの第一バットに接続され、前記第二コネクターの第三バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され且つ前記第二ケーブルを介して前記第一コネクターの第三バットに接続され、前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第一コネクターの第一バット、前記第一ケーブル、前記第二コネクターの第一バット及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第一コネクターの第三バット、前記第二ケーブル、前記第二コネクターの第三バット及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行い、その過程において、2つの前記クリップオン電流計のクリップで、それぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定することを特徴とするハードディスク電流のテストシステム。前記第一ポート及び前記第二ポートは、すべてSASポートであることを特徴とする請求項1に記載のハードディスク電流のテストシステム。前記ハードディスクは、2.5インチSATAハードディスク、3.5インチSATAハードディスク、2.5インチSASハードディスク或いは3.5インチSASハードディスクであることを特徴とする請求項2に記載のハードディスク電流のテストシステム。前記アダプターボードは、さらに第三コネクター及び第四コネクターを備え、前記第三コネクター及び前記第四コネクターは、それぞれ1つの第一バット及び1つの第三バットを有し、前記第三コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され、前記第三コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第四コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され、前記第四コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、前記第一コネクターの第一バットと前記第二コネクターの第一バットとが切断され、且つ前記第一コネクターの第三バットと前記第二コネクターの第三バットとが切断された後に、1つのジャンパー部品を介して前記第三コネクターの第一バットと第三バットとを連接し、もう1つのジャンパー部品を介して前記第四コネクターの第一バットと第三バットとを連接して、前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第三コネクター及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第四コネクター及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行うことを特徴とする請求項1に記載のハードディスク電流のテストシステム。前記テスト装置から出力される第一電源は、5V電源であり、前記テスト装置から出力される第二電源は、12V電源であることを特徴とする請求項1から4の何れか一項に記載のハードディスク電流のテストシステム。第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び1つのバスラインを備えるアダプターボードにおいて、前記第一コネクター及び前記第二コネクターは、それぞれ1つの第一バット及び1つの第三バットを備え、前記第一ポートは、前記ハードディスクに接続され且つ前記バスラインを介して前記第二ポートに接続され、前記第二ポートは、前記テスト装置に接続され、前記第一コネクターの第一バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第一コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、前記第二コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され且つ前記第一ケーブルを介して前記第一コネクターの第一バットに接続され、前記第二コネクターの第三バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され且つ前記第二ケーブルを介して前記第一コネクターの第三バットに接続され、前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第一コネクターの第一バット、前記第一ケーブル、前記第二コネクターの第一バット及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第一コネクターの第三バット、前記第二ケーブル、前記第二コネクターの第三バット及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行い、その過程において、2つの前記クリップオン電流計のクリップで、それぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定することを特徴とするアダプターボード。前記第一ポート及び前記第二ポートは、すべてSASポートであることを特徴とする請求項6に記載のアダプターボード。前記アダプターボードは、さらに第三コネクター及び第四コネクターを備え、前記第三コネクター及び前記第四コネクターは、それぞれ1つの第一バット及び1つの第三バットを有し、前記第三コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され、前記第三コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第四コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され、前記第四コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、前記第一コネクターの第一バットと前記第二コネクターの第一バットとが切断され、且つ前記第一コネクターの第三バットと前記第二コネクターの第三バットとが切断された後に、1つのジャンパー部品を介して前記第三コネクターの第一バットと第三バットとを連接し、もう1つのジャンパー部品を介して前記第四コネクターの第一バットと第三バットとを連接して、前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第三コネクター及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第四コネクター及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電され、前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行うことを特徴とする請求項6に記載のアダプターボード。以上の問題点に鑑みて、本発明は、ハードディスクの電流を容易に測定することができるハードディスク電流のテストシステム及びこの測定を補佐するアダプターボードを提供することを目的とする。上記の目的を達成するために、本発明に係るハードディスク電流のテストシステムは、ハードディスク、アダプターボード、テスト装置、第一ケーブル、第二ケーブル及び2つのクリップオン電流計を備える。前記アダプターボードは、第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び1つのバスラインを備え、前記第一コネクター及び前記第二コネクターは、それぞれ1つの第一バット及び1つの第三バットを有する。前記第一ポートは、前記ハードディスクに接続され且つ前記バスラインを介して前記第二ポートに接続され、前記第二ポートは、前記テスト装置に接続され、前記第一コネクターの第一バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第一コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、前記第二コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され且つ前記第一ケーブルを介して前記第一コネクターの第一バットに接続され、前記第二コネクターの第三バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され且つ前記第二ケーブルを介して前記第一コネクターの第三バットに接続される。前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第一コネクターの第一バット、前記第一ケーブル、前記第二コネクターの第一バット及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電される。前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第一コネクターの第三バット、前記第二ケーブル、前記第二コネクターの第三バット及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電される。前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行い、その過程において、2つの前記クリップオン電流計のクリップでそれぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定する。また、上記の目的を達成するために、本発明に係るアダプターボードは、第一ポート、第二ポート、第一コネクター、第二コネクター及び1つのバスラインを備える。前記第一コネクター及び前記第二コネクターは、それぞれ1つの第一バット及び1つの第三バットを備え、前記第一ポートは、前記ハードディスクに接続され且つ前記バスラインを介して前記第二ポートに接続され、前記第二ポートは、前記テスト装置に接続され、前記第一コネクターの第一バットは、前記第二ポートの第一電源ピンに接続され、前記第一コネクターの第三バットは、前記第二ポートの第二電源ピンに接続され、前記第二コネクターの第一バットは、前記第一ポートの第一電源ピンに接続され且つ前記第一ケーブルを介して前記第一コネクターの第一バットに接続され、前記第二コネクターの第三バットは、前記第一ポートの第二電源ピンに接続され且つ前記第二ケーブルを介して前記第一コネクターの第三バットに接続される。前記テスト装置から出力された第一電源は、前記第二ポートの第一電源ピン、前記第一コネクターの第一バット、前記第一ケーブル、前記第二コネクターの第一バット及び前記第一ポートの第一電源ピンを通して前記ハードディスクに給電される。前記テスト装置から出力された第二電源は、前記第二ポートの第二電源ピン、前記第一コネクターの第三バット、前記第二ケーブル、前記第二コネクターの第三バット及び前記第一ポートの第二電源ピンを通して前記ハードディスクに給電される。前記テスト装置は、前記第二ポート、前記バスライン及び前記第一ポートを介して前記ハードディスクと情報を交換して、前記ハードディスクに対するテストを行い、その過程において、2つの前記クリップオン電流計のクリップでそれぞれ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟み、当該第一ケーブル及び第二ケーブルを流れる電流を測定する。従来の技術と比較して、本発明のハードディスク電流のテストシステムは、第一及び第二コネクターを設けて、前記アダプターボードの第一電源信号及び第二電源信号を導出し、且つ前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを介してこの導出された第一及び第二電源信号の信号経路を形成する。これによって、2つの前記クリップオン電流計は、前記第一ケーブル及び前記第二ケーブルを挟むことで、前記ハードディスクの電流を測定できる。図1に示したように、本発明の実施形態に係るハードディスク電流のテストシステム100は、ハードディスク10、アダプターボード20、テスト装置30、第一ケーブル40、第二ケーブル50及び2つのクリップオン電流計cliponammeter60を備える。前記アダプターボード20は、第一ポート22、第二ポート26、1つのバスライン28及び2つのコネクターJ1、J2を備える。前記コネクターJ1、J2は、三つのジャンパーjumper部品或いはケーブルを介して互いに接続されるバット1~3を備える。前記第一ポート22は、前記ハードディスク10のポートに接続され、前記第二ポート26は、前記テスト装置30のポートに接続される。前記コネクターJ1のバット1は、前記第二ポート26の5V電源ピンに接続され、前記コネクターJ1のバット2は、接地され、前記コネクターJ1のバット3は、前記第二ポート26の12V電源ピンに接続される。前記コネクターJ2のバット1は、前記第一ポート22の5V電源ピンに接続され、前記コネクターJ2のバット2は、接地され、前記コネクターJ2のバット3は、前記第一ポート22の12V電源ピンに接続される。前記第一ポート22の信号ピンは、前記バスライン28を介して前記第二ポート26の信号ピンに接続される。本発明の実施形態において、前記ハードディスク10は、2.5インチのSATASerialAdvancedTechnologyAttachmentディスク、3.5インチSATAディスク、2.5インチSASSerialAttachedSCSIディスク或いは3.5インチSASディスクである。前記第一ポート22及び前記第二ポート26は、すべてSASポートである。しかし、SASポートはSATAポートと兼用でき且つSATAハードディスクもSASの運行環境で使用できるため、前記第一ポート22をSATAハードディスクにも接続することができる。前記テスト装置30は、ハードディスクテストソフトウェアが内蔵されたコンピューター或いはサーバーである。前記テスト装置30は、前記ハードディスク10に5V電源及び12V電源のみを供給するため、前記ハードディスク10が正常に動作するために必要な各種電圧例えば、1.8V、2.5V、3.3V及び8V等は、すべて相応する電気回路により転換された後に得ることができる。つまり、上記した5V及び12Vの電源経路を流れる電流を測定すれば、前記ハードディスク10の電流を知ることができる。前記ハードディスク10がテスト過程における電流を測定する際には、前記ハードディスク10のポートを前記アダプターボード20の第一ポート22に接続し、前記テスト装置30のポートを前記アダプターボード20の第二ポート26に接続し、前記コネクターJ1のバット1を前記第一ケーブル40にて前記コネクターJ2のバット1に接続し、前記コネクターJ1のバット3を前記第二ケーブル50にて前記コネクターJ2のバット3に接続する。前記テスト装置30から出力された5V電源は、前記第二ポート26の5V電源ピン、前記コネクターJ1のバット1、前記第一ケーブル40、前記コネクターJ2のバット1及び前記第一ポート22の5V電源ピンを通して、前記ハードディスク10に給電される。前記テスト装置30から出力された12V電源は、前記第二ポート26の12V電源ピン、前記コネクターJ1のバット3、前記第二ケーブル50、前記コネクターJ2のバット3及び前記第一ポート22の12V電源ピンを通して、前記ハードディスク10に給電される。前記ハードディスク10が通電された後、前記テスト装置30は前記第二ポート26、前記バスライン28及び前記第一ポート22を介して前記ハードディスク10と情報を交換して、前記ハードディスク10に対するテストを行う。このテスト過程において、2つの前記クリップオン電流計60のクリップでそれぞれ前記第一ケーブル40及び前記第二ケーブル50を挟むことによって、前記ハードディスク10の5V電源経路及び12V電源経路を流れる電流を測定することができる。前記アダプターボード20は、2つのコネクターJ3、J4をさらに備える。前記コネクターJ3、J4は、それぞれ三つのジャンパー部品或いはケーブルを介して互いに接続されるバット1~3を備える。前記コネクターJ3のバット1は、前記第一ポート22の5V電源ピンに接続され、前記コネクターJ3のバット2は、いずれにも接続されず、前記コネクターJ3のバット3は、前記第二ポート26の5V電源ピンに接続されている。前記コネクターJ4のバット1は、前記第一ポート22の12V電源ピンに接続され、前記コネクターJ4のバット2は、いずれにも接続されず、前記コネクターJ4のバット3は、前記第二ポート26の12V電源ピンに接続される。前記ハードディスク10のみをテストして、前記ハードディスク10の電流を測定しない場合、前記コネクターJ1のバット1と前記コネクターJ2のバット1との接続、及び前記コネクターJ1のバット3と前記コネクターJ2のバット3との接続をそれぞれ断ってから、2つのジャンパー部品図示せずを介して前記コネクターJ3のバット1及びバット3、及び前記コネクターJ4のバット1及びバット3をそれぞれ連接すればよい。前記テスト装置30から出力された5V電源は、前記第二ポート26の5V電源ピン、前記コネクターJ3及び前記第一ポート22の5V電源ピンを通して、前記ハードディスク10に給電される。前記テスト装置30から出力された12V電源は、前記第二ポート26の12V電源ピン、前記コネクターJ4及び前記第一ポート22の12V電源ピンを通して、前記ハードディスク10に給電される。前記ハードディスク10が通電された後、前記テスト装置30は、前記第二ポート26、前記バスライン28及び前記第一ポート22を介して前記ハードディスク10と情報を交換して、前記ハードディスク10に対するテストを行う。なお、変形例として、前記コネクターJ3、J4は省略してもよい。本発明の実施形態において、前記ハードディスク電流のテストシステム100は、前記アダプターボード20にそれぞれSASポートである第一ポート22及び第二ポート26を設けることによって、2.5インチSATAハードディスク、3.5インチSATAハードディスク、2.5インチSASハードディスク或いは3.5インチSASハードディスクに対するテストが実現できる。さらに、コネクターJ1、J2を設けて、前記アダプターボード20上の5V及び12V電源信号を導出して、且つ前記第一ケーブル40及び第二ケーブル50を介してこの導出された5V及び12V電源信号の信号経路を形成する。これによって、2つの前記クリップオン電流計60は、前記第一ケーブル40及び前記第二ケーブル50を挟むことで、前記ハードディスク10の電流を測定できる。さらに、本発明は、コネクターJ3、J4を設けることによって、前記第一ケーブル40及び第二ケーブル50を使用しない時の、前記ハードディスク10に対するテストを実現する。以上、本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形又は修正が可能であり、該変形又は修正も又、本発明の特許請求の範囲内に含まれるものであることは、いうまでもない。