"測定プローブを構成する支持部に一端が固定され先端までの高さが所定の高さL1を有して形成された円筒状のスリーブと、このスリーブの中の底部に一端が固定され前記先端よりも低い高さL2に形成されたプラグを有する測定プローブにおいて、前記プラグの先端を外径側から中心に向かって凹状に形成したことを特徴とする測定プローブ。前記プラグの凹部は円錐、円柱,半球状のいずれかに形成されたことを特徴とする請求項1に記載の測定プローブ。ところで、図3に示す従来例においては、スリーブ内径を小さくする場合、測定プローブの外形の規制からアプリケーションによってはテストフィンガの接触を避けるに至らないことがある。その場合、安全規格に適合しないプラグ長を短くした場合、図4aに示すように、本体側のジャック7との接触長さPが減少する、また場合によっては接触できなくなる等の問題が発生する。また、樹脂製キャップを取り付ける場合、図4bに示すように、絶縁キャップ6を取り付けるための部品数の増加及び絶縁キャップ6を取り付けのための追加加工ねじ加工等によるコスト増が発生する。という課題があった。従って本発明は、プラグ先端形状をテストフィンガと接触させない様にプラグ先端中央部を凹ませる形状とする事でプラグ長の短縮量を最小に抑え、また部品を追加せずにプラグの導電部分に触れることのないプラグを実現することを目的としている。本発明は上記課題を解決するためになされたもので、請求項1の測定プローブにおいては、測定プローブを構成する支持部に一端が固定され先端までの高さが所定の高さL1を有して形成された円筒状のスリーブと、このスリーブの中の底部に一端が固定され前記先端よりも低い高さL2に形成されたプラグを有する測定プローブにおいて、前記プラグの先端を外径側から中心に向かって凹状に形成したことを特徴とする。請求項2においては、請求項1に記載の測定プローブにおいて、前記プラグの凹部は円錐、円柱,半球状のいずれかに形成されたことを特徴とする。以上説明したことから明らかなように本発明の請求項1、2によれば、プラグ先端中央部を凹ませて円錐、円柱,半球状に形成したので、絶縁部品を追加せずテストフィンガの接触を防ぐ事ができ、テストフィンガとの接触を防ぎかつ、本体側ジャックとの接触長さの減少を抑える事ができる。図1は本発明の実施形態の一例を示すもので、図3a、bに示す従来例とはプラグ4の先端形状のみが異なっている。即ち本発明においては、図1aに示すように、プラグ4の先端が外径側から中心に向かって凹状とされて凹部4aが形成されている。このような凹部4aを形成にすることにより、図1aに示すg部のようにプラグの長さL2を短くすることなくテストフィンガとの接触を回避することができる。そのため図1bに示すようにプラグ4を本体側ジャック7に挿入した場合に接触長L3を確保することができる。図1c及びはプラグの先端形状によるテストフィンガ5との間隔の詳細を示すもので、図1cに示す従来のプラグ3では台形状部3aの始まり部分hで示す部分を、この実施例では図1dに示すようにプラグ4の先端を外径側から中心に向かって凹部4aの始まりとしているスリーブ2の先端から距離L4で示す部分。従来は図1のeに示すようにテストフィンガ5の先端とプラグ3の先端が接触状態にあったが、図1dのe1に示すように凹状に形成することによりテストフィンガ5の先端とはL5で示す距離を離すことができ接触を防止することができる。図2a~cはプラグ先端の凹部の形状を示すもので、図aは円錐形、図bは円柱形、図cは球形に形成した場合を示している。なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。従って本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。"