印刷ヘッドの複数のノズルの性能を評価する方法であって、前記方法は、基板の表面上に試験マークを印刷するために前記複数のノズルの各々を反復して操作する工程であって、前記ノズルにより印刷される前記試験マークの各々は異なる時間に印刷される、工程と、前記ノズルの各々を反復して操作する工程の間に少なくとも一度、前記試験マークの少なくとも一部を前記表面から消去する工程と、前記ノズルの性能を示す特徴に関して、前記ノズルにより印刷された前記試験マークを検査する工程と、を含む、方法。前記試験マークを検査する工程は、前記試験マークの各々の画像を獲得する工程、および獲得した前記画像を検査する工程を含む、請求項1に記載の方法。評価した前記性能が所定の基準と一致する場合、印刷適用に使用するように選択される印刷ヘッドのノズルの群に含めるように前記複数のノズルのうちの1つのノズルを受け入れる工程を含む、請求項1に記載の方法。前記試験マークを消去する工程は、前記表面をワイパーで擦る工程を含む、請求項1に記載の方法。前記表面を前記ワイパーで擦っている間、前記ワイパーと前記表面との間にワイパーホイルを挿入する工程を含む、請求項4に記載の方法。前記表面を加熱する工程を含む、請求項1に記載の方法。前記基板の表面はガラスまたはセラミックを含む、請求項1に記載の方法。前記特徴は、前記試験マークの位置または前記試験マークの厚さを含む、請求項1に記載の方法。印刷ヘッドの複数のノズルの安定性を評価する方法であって、前記方法は、試験マークを印刷するために前記複数のノズルの各々を反復して操作する工程であって、前記ノズルにより印刷される前記試験マークの各々は異なる時間に印刷される、工程と、前記ノズルの安定性を決定するために前記ノズルにより印刷された前記試験マークを比較する工程と、を含む、方法。前記試験マークを比較する工程は、前記複数のノズルのうちの1つのノズルにより印刷された前記試験マークの各々の画像を獲得する工程と、前記ノズルの安定性の欠如を示す試験マーク間の相違を検出するために前記画像を比較する工程と、を含む、請求項9に記載の方法。決定した安定性が所定の基準と一致する場合、印刷適用に使用するように選択される印刷ヘッドのノズルの群に含めるように前記複数のノズルのうちの1つのノズルを受け入れる工程を含む、請求項9に記載の方法。前記ノズルの各々を反復して操作する工程の間に少なくとも一度、前記試験マークの少なくとも一部を前記表面から消去する工程を含む、請求項9に記載の方法。前記試験マークを比較する工程は、前記試験マークの位置を比較する工程または前記試験マークの厚さを比較する工程を含む、請求項9に記載の方法。印刷ヘッドの複数のノズルの性能を評価するシステムであって、前記システムは、複数のノズルの各々により基板表面上に印刷された試験マークの画像を獲得するための画像装置と、獲得された前記画像の特徴を検出するように構成されるプロセッサであって、前記特徴は前記ノズルの性能を示す、プロセッサと、前記基板表面から前記試験マークを消去するための消去装置と、を含む、システム。ワイパーが前記基板表面を擦る場合、前記消去装置は、前記試験マークを消去するための前記ワイパーを含む、請求項14に記載のシステム。前記ワイパーが前記基板表面を擦る場合、前記消去装置がワイパーホイルを分配するためのディスペンサーを含み、前記ワイパーホイルが前記ワイパーと前記基板表面との間に挿入される、請求項15に記載のシステム。前記ワイパーホイルは紙を含む、請求項16に記載のシステム。前記ワイパーは、摩耗材料により少なくとも部分的に囲まれる弾性材料を含む、請求項15に記載のシステム。前記摩耗材料は合成樹脂繊維を含む、請求項18に記載のシステム。前記基板表面を前記印刷ヘッド、前記画像装置、および前記消去装置のうちの1つ以上に運搬するための運搬装置を含む、請求項14に記載のシステム。本発明の実施形態の目的は、印刷ヘッドが、一貫して並べられるように印刷適用の一部として材料を堆積することを確実にするように印刷ヘッドのノズルの評価を提供することである。本発明の実施形態のさらなる目的は、再利用可能な基板を用いるノズルの評価を提供することである。本発明の他の目的および利点は、本発明を読み、添付の図面を検討した後、明らかになるだろう。従って、本発明の一部の実施形態によれば、印刷ヘッドの複数のノズルの性能を評価する方法であって、その方法は、基板の表面上に試験マークを印刷するために複数のノズルの各々を反復して操作する工程であって、そのノズルにより印刷される試験マークの各々は異なる時間に印刷される、工程;ノズルの各々を反復して操作する工程の間、少なくとも一度、表面から試験マークの少なくとも一部を消去する工程;およびそのノズルの性能を示す特徴に関して、そのノズルにより印刷された試験マークを検査する工程を含む、方法が提供される。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、試験マークを検査する工程は、試験マークの各々の画像を獲得する工程と、獲得した画像を検査する工程とを含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、その方法は、評価した性能が所定の基準と一致する場合、印刷適用に使用するように選択される印刷ヘッドのノズルの群に含めるように複数のノズルのうちの1つのノズルを受け入れる工程を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、試験マークを消去する工程は、表面をワイパーで擦る工程を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、その方法は、表面をワイパーで擦っている間、ワイパーと表面との間にワイパーホイルを挿入する工程を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、その方法は、表面を加熱する工程を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、基板の表面は、ガラスまたはセラミックを含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、その特徴は、試験マークの位置または試験マークの厚さを含む。本発明の一部の実施形態によれば、印刷ヘッドの複数のノズルの安定性を評価する方法であって、その方法は、試験マークを印刷するために複数のノズルの各々を反復して操作する工程であって、そのノズルにより印刷される試験マークの各々は異なる時間に印刷される、工程;およびそのノズルの安定性を決定するためにそのノズルにより印刷された試験マークを比較する工程を含む、方法がさらに提供される。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、試験マークを比較する工程は、複数のノズルのうちの1つのノズルにより印刷された試験マークの各々の画像を獲得する工程;およびそのノズルの安定性の欠如を示す試験マーク間の相違を検出するために画像を比較する工程を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、その方法は、決定した安定性が所定の基準と一致する場合、印刷適用に使用するように選択される印刷ヘッドのノズルに群に含めるように複数のノズルのうちの1つのノズルを受け入れる工程を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、その方法は、ノズルの各々を反復して操作する工程の間、少なくとも一度、試験マークの少なくとも一部を表面から消去する工程を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、試験マークを比較する工程は、試験マークの位置を比較する工程または試験マークの厚さを比較する工程を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、印刷ヘッドの複数のノズルの性能を評価するシステムが提供され、そのシステムは、複数のノズルの各々により基板表面上に印刷された試験マークの画像を獲得するための画像装置;獲得された画像の特徴を検出するように構成されるプロセッサであって、その特徴はそのノズルの性能を示す、プロセッサ;および基板表面から試験マークを消去するための消去装置を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、ワイパーが基板表面を擦る場合、消去装置は、試験マークを消去するためのワイパーを含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、ワイパーが基板表面を擦る場合、消去装置がワイパーホイルを分配するためのディスペンサーを含み、ワイパーホイルがワイパーと基板表面との間に挿入される。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、ワイパーホイルは紙を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、ワイパーは、摩耗材料により少なくとも部分的に囲まれる弾性材料を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、摩耗材料は合成樹脂繊維を含む。さらに、本発明の一部の実施形態によれば、そのシステムは、基板表面を印刷ヘッド、画像装置、および消去装置のうちの1つ以上に運搬するための運搬装置を含む。本発明をより良く理解し、その実際の適用を認識するために、以下の図面が提供され、本明細書以下で参照される。図面は例のみとして与えられ、本発明の範囲を決して限定するものではないことに留意すべきである。同様の構成要素は同様の参照番号により示される。以下の詳細な説明において、本発明の完全な理解を提供するために複数の特定の詳細が記載される。しかしながら、本発明はこれらの特定の詳細を必要とせずに実施されてもよいことは当業者により理解されるだろう。他の例において、本発明を曖昧にしないように、周知の方法、手順、構成要素、モジュール、装置および/または回路の詳細は記載していない。本発明の実施形態は、例えば命令、例えばコンピュータ実行可能命令をコードし、含み、または記憶する、メモリ、ディスクドライブ、もしくはUSBフラッシュメモリなどのコンピュータもしくはプロセッサ可読媒体、またはコンピュータもしくはプロセッサ記憶媒体などの物品を含んでもよく、プロセッサまたはコントローラにより実行される場合、それらは本明細書に開示される方法を実施する。本発明の実施形態によれば、印刷ヘッドの各ノズルの質が評価される。評価の結果として、ノズルは、印刷適用に使用するために選択されるノズルの群に含まれるように受け入れられてもよい。例えば、ノズルの安定性の評価は、印刷液を基板の表面上に堆積させることによって異なる時点例えば周期的に各ノズルにより反復して印刷される試験マークを比較することからなってもよい。異なる時点において単一ノズルにより印刷された試験マークは、そのノズルで印刷された場合の矛盾し、不規則な、または不安定ないずれかの挙動を検出するために、互いに比較され得る。さらに、ヘッドの異なるノズルにより印刷された試験マークが互いに比較されてもよい。ノズルの1つにより印刷された試験マークが、所定の安定性基準および任意の他の品質基準と一致することが試験マークの分析により示された場合、そのノズルは、選択されるノズルの群に含まれるように受け入れられてもよい。基準との一致は典型的に、単一のノズルにより印刷されたマークが互いに一致することを示し例えばノズルが一貫してかつ安定に印刷することを示す、それらが、他のノズルにより印刷されたマークと一致することを示す例えば印刷液の適切なアラインメントおよび分配の許容可能な速度を示す。選択されるノズルの群に含むための基準は、印刷された試験マークにより測定可能なノズルの特性の値を含んでもよい。例えば、印刷ヘッドの他のノズルにより印刷された試験マークから横方向にずれて、または試験マークについての所望の横方向の位置から横方向にずれて一貫して試験マークを印刷するノズルは、選択されるノズルの群に含まれることを拒絶され得る。ノズル印刷の安定性の評価は、ノズルの過去の試験の記録した結果ノズル性能の履歴とも称される場合があるとの比較を含んでもよい。評価は、異なる時点で実施された試験に対する様々な重要性または関連性を割り当てる重み付け計数を含んでもよい。例えば、最近実施した試験の結果が、最近実施していない以前の試験の結果より重要であると割り当てられてもよい。典型的に、試験マークの評価は、画像装置例えばカメラ、ビデオカメラ、またはスキャナにより試験マークの画像を獲得し、分析することを含む。安定性の不足は、異なる時点において単一ノズルにより印刷された試験マークの画像間の相違により示されてもよい。本発明の実施形態によれば、ノズルの評価は再利用可能な基板上に試験マークを印刷することを含んでもよい。試験マークは、基板の再利用前に、試験マークの任意の種類の除去を参照して理解するために除去または消去されてもよい。例えば、試験マークは、試験マークの検査または画像化後に消去されてもよい。あるいは、基板の表面が、以前に印刷されたマークで覆われた場合、さらなる印刷を防ぐかまたは困難にし、試験マークを識別可能にする程度まで試験マークは消去されてもよい。あるいは、試験マークは、周期的にまたは所定の基準に従って消去されてもよい。本発明の実施形態に係るノズル評価は、プリンタまたは印刷システムが、印刷ヘッドの複数のノズルの中からノズルの1つ以上の群を選択できるようにし得る。選択は、基板上への反復印刷および試験マークのパターンの自動検査の結果として実施されてもよい。自動検査は、ノズルの1つ以上の群を識別でき、その群の中で、ノズルの群は、互いに並べられ、例えば、各マークを形成するために堆積した印刷液の量に関して互いに類似しているマークを一貫して印刷する。1つ以上の識別されたノズルの群は、印刷操作の間、使用のために選択されてもよい。印刷操作の間、ノズルの選択された群は、基板上に協働して印刷液例えばインクまたは金属導体材料を堆積させるように作動されてもよい。例えば、本発明の一実施形態に係るノズル安定性評価の結果、印刷ヘッド例えば、ノズル間に約70μmの分離距離を有する256個のノズルを含むのノズルの列からノズルの群例えば10個のノズルの選択が得られ得る。選択された群のノズルは、単一の直線に沿って反復可能な量の導体材料を基板上に一貫して堆積できると識別される。このような選択された群の印刷適用は、典型的に、基板上の印刷ヘッドの単一通過の間、導体材料の単一の多層ラインを半導体基板上に堆積させるように選択された群のノズルの操作を含んでもよい。例えば、印刷装置は、例えば印刷ヘッド、基板またはその両方の直線運動により印刷ヘッドと基板との間に直線相対運動を生じてもよい。典型的に、直線運動はノズルの列に平行な方向である。直線相対運動の間、基板の表面上の特定の位置が、選択された群のノズルの各々の反対側に連続して見出され得る。選択された群のノズルの全てまたは一部は、各ノズルが、そのノズルと現在反対側にある基板表面上の位置において導体材料を堆積させるように、同時にまたは連続してまたは異なる時点でその両方で作動されてもよい。従って、選択された群の第1のノズルが基板上の特定の位置に導体材料を堆積させた後、続いて第2のノズルが、第1のノズルにより堆積された導体材料の上部に、より多くの導体材料を堆積させる。従って、導体材料の第2の層が第1の層の上に堆積される。従って、印刷適用の間に作動するノズルの数は、各々の印刷されたライン上に堆積される導体材料の層の数例えば10を超えない。典型的に、各々の堆積された層は、後の層の堆積前に凝固され得るので、ノズルの適切なアラインメントにより、多層ラインの幅が、単一層の幅とほぼ等しくなることが確保され得る。この例において特に、不必要にラインの幅を拡大しないように、ノズルジェットの方向性インクが分配される横方向が特に重要であり得る。この場合、特に、各ノズルは、以前に堆積された層の上部に可能な限り近接してその層を堆積すべきである。印刷ヘッドのノズルの評価は、印刷ヘッドの各ノズル、または印刷ヘッドのノズルのサブセット例えばノズルのアレイの単一の列の各ノズルが、所定の順序で試験基板に印刷するように作動する、印刷操作を実施することを含む。例えば、印刷ヘッドと基板との間の直線相対運動の間、各ノズルは連続して、細長い線部分または破線の形態で試験マークを印刷してもよい。次いで、画像システムが、印刷された試験マークのパターンの画像複数も含むを獲得してもよい。マークの分析は、性能が他のノズルの性能から著しく外れる、それらのノズルを識別できる。このような外れることは、他のノズルにより印刷された試験マークの位置に対して横方向または縦方向にずれた試験マーク例えば、他のノズルから異なって向けられるノズルを示す、あるいは他の試験マークより厚いかまたは薄い試験マーク例えば、他のノズルの分配速度と異なる速度で材料を分配するノズルを示すの印刷を含んでもよい。獲得された画像は、その後の試験結果との後での比較のために保存されてもよい。印刷操作は所定の間隔で反復されてもよい。例えば、試験マークのパターンは、同じ基板表面上、または異なる基板表面上の別の位置において後の時間に印刷されてもよい。別の例として、試験マークは、基板表面から消去されてもよいか、またはそうでなければ除去されてもよい。次いで別のセットの試験マークが試験基板上の同じ位置に印刷されてもよい。次いで後に印刷された試験マークのパターンの画像が獲得され、分析されてもよい。後に獲得された試験画像の分析は、以前に獲得された試験画像の保存された結果と新たに獲得された結果との比較を含んでもよい。ノズルの1つにより印刷された試験マークの出現の画像間の有意な変化は、ノズルが、可変の一貫性のない不安定なまたは不規則な挙動で印刷することを示し得る。典型的には、適用に必要とされるノズルの数例えば上述の例のように10が、ノズルの選択される群に含むように選択されてもよい。選択される群についてのノズルは、試験パターンの画像の分析により示される挙動が所定の基準を満たす、それらのノズルの中から選択されてもよい。その基準は、時間にわたる一貫性ならびにマークの位置および質が規定の制限の範囲内にあることを含んでもよい。所定の基準を満たす受容可能なノズルの数は、必要とされるノズルの数より多くてもよい。受容可能なノズルの数が必要とされるノズルの数より多い場合、群について選択されるノズルは、ノズル試験の間に最適に実施されるそれらのノズルであってもよい。例えば、スコアが各ノズルに割り当てられてもよい。スコアは、そのノズルにより印刷された試験マークの分析に基づいてもよい。スコアは、特定の印刷適用に対するマークの様々な特性の相対的重要性例えば予想される位置に対する位置、印刷されたマークの薄さまたは厚さ、一貫性などの特性に基づいた式に基づいて計算されてもよい。あるいは、群に含まれるノズルは、それらの間隔またはノズル性能試験の間のノズルの性能に関連しない他の基準に基づいた受容可能なノズルの中から選択されてもよい。あるいは、ノズルは、群に含まれる受容可能のノズルの中からランダムに選択されてもよい。あるいは、ノズルは、群に含まれる受容可能なノズルの中から順番で選択されてもよい例えば、1セットのノズルが、1つの印刷ジョブの間の操作のために選択され、第1のセットと部分的に重なってもよい異なるセットが、異なる印刷ジョブのために選択されてもよい。受容可能なノズルの数が、必要とされるノズルの数より少ない場合、印刷ヘッドは、1つまたは複数の適用には不適格であり得る。あるいは、例えば、厳格な要求を必要としない適用に関して、要求は、必要とされる数のノズルを群に含むように緩和されてもよい。図1は、本発明の一実施形態に係る、印刷ヘッドノズル安定性評価のためのシステムの概略図である。印刷ヘッドノズル安定性評価システム10は、印刷ヘッド12と、画像装置16と、制御装置20とを備える。印刷ヘッド12は、印刷液例えばインクまたは導体材料を分配するためのノズル14を備える。分配された印刷液は基板18上に堆積され得る。印刷ヘッド12が基板18上に印刷液を堆積している間、基板18および印刷ヘッド12は互いに対して移動する。典型的には、基板18は印刷ヘッド12を超えて移動されてもよい。印刷ヘッド12のノズル14は基板18上に試験マークを印刷するように印刷液を堆積させる。印刷は、ノズル14の1つにより堆積される印刷液が、別のノズルにより堆積される印刷液と識別できるように構成される。例えば、ノズルの列の各ノズル14は一度に操作されてもよい。基板18が印刷ヘッド12に対して移動すると、各ノズル14は試験マークを基板18上に連続して堆積させる。従って、一連の試験マークが基板18上に印刷され得る。ノズル14が作動する順序が既知である場合、各試験マークを印刷するノズル14は、そのシリーズ内の試験マークの位置により決定されてもよい。例えば、マークは、そのシリーズの1つの終わりにおいて既知の参照試験マークから続けてカウントされてもよい。あるいはまたはさらに、基板18は、1つまたは複数の基準マークまたはラインでマークされてもよい。各試験マークは、基準マークに対する既知の位置名目上、ノズル14の印刷挙動に依存するにおいて基板18上に印刷されてもよい。図2は、本発明の一実施形態に従う、印刷ヘッドノズル安定性評価のための試験マークの堆積を概略的に示す。印刷ヘッド12のノズル14は列15の形態で配置される。列15の各ノズル14は、順に、試験マーク26を基板18上に堆積させる。特定のノズル14により基板18上に印刷された特定のマーク26の例は線17により示される。例えば、基板18は、ガラス、セラミック、または半導体材料の表面を備えてもよい。基板18上の試験マーク26の印刷の間、基板18は、印刷ヘッド12に対して矢印25により示された方向において、単一の方向および一定の速度において直線的に移動される。矢印25により示された方向は、列15の方向と実質的に平行である。直線相対運動は、基板18、印刷ヘッド12、またはその両方の直線運動により実現され得る。相対的直線運動に起因して、各マーク26が、細長いマークの形態例えば破線またはハイフンの形態で基板18上に印刷されてもよい。例えば、列15に配置される256個のノズル14を含む印刷ヘッド12において、256個の試験マーク26が、名目上の線形配置において基板18上に印刷され得る。例えば、基板18が約150mm長である場合、試験マーク26の各々は、ミリメートル長のおよそ半分より長くなくてもよい。基板18は、さらなるセットの試験マーク26で、さらに1回または複数回マークされてもよい。例えば、制御装置20は、2回以上、互いに基板18および印刷ヘッド12を移動させるように構成されてもよい。例えば、基板輸送装置またはシステムは、さらなるセットの試験マーク26を印刷するために基板18を印刷ヘッド12に戻すように構成されてもよい。さらなるセットの試験マーク26は、定期的に所定の間隔例えば1分に1回、ランダムな間隔、または印刷ヘッドノズル安定性評価システム10の人の操作により示されるように自動的に印刷されてもよい。例えば、さらなるセットの試験マーク26を印刷するために、基板18が印刷ヘッド12に戻る時間ごとに、基板18は、横方向に変位されてもよいか、またはそうでなければさらなるセットの試験マーク26が、試験マーク26の以前のセットである基板18の表面の異なる部分に印刷される。従って、試験マーク26の各セットは、以前に印刷されたセットから識別可能であり得る。基板18は、基準線27などの1つ以上の基準マークまたは基準マークのセットでマークされてもよい。基準線27は、試験マーク26を堆積または評価するための空間的基準を提供してもよい。図1を再び参照すると、試験マークで印刷した後に、基板18は、基板輸送装置13により画像装置16まで輸送または運搬されてもよい。両方向矢印により概略的に示されている、基板輸送装置13は、当該技術分野において公知の1つ以上の基板運搬装置、またはそのような装置の組み合わせもしくはシリーズを表し得る。そのような運搬装置としては、例えば、コンベヤベルト、ロボットアーム、流体液体または気体ベースの流れ基板運搬シスステム、または移動プラットフォームが挙げられ得る。画像装置16は、1つ以上のビデオまたはさらにカメラ、スキャナ、または基板18上の試験マーク26の画像を獲得できる任意の他の装置を備えてもよい。画像装置16のコンポーネント装置は、異なるスペクトル領域に敏感な画像装置を備えてもよい。基板18が画像装置16に運搬される場合、画像装置16は、基板18上の試験マークの1つ以上の画像を獲得するように操作されてもよい。画像装置16の解像度は、互いから個々の試験マーク26を識別し、その関連したノズル14の選択に関係し得る試験マーク26の任意の特徴を分解するのに十分であり得る。複数のセットの試験マークが基板18上に印刷される事象において、各セットの試験マークの印刷後、および別のセットの印刷前に、基板18は画像装置16に輸送されてもよい。あるいは、2つ以上のセットの試験マークが基板18に印刷された後にのみ、基板18は画像装置に輸送されてもよい。制御装置20はプロセッサ22およびデータ記憶装置24を含む。制御装置20は2つ以上の別の装置を表してもよい。別の装置は、関連または重複する機能を実施してもよいか、あるいは互いに独立してもよい。制御装置20は、印刷ヘッドノズル安定性評価システム10に関連または一体化されている印刷ヘッド12、画像装置16、および任意の他の装置もしくはシステム例えばコンベヤまたは輸送装置からのデータまたは信号と通信してもよく、それらの操作を制御してもよい。プロセッサ22は1つ以上の処理装置を表してもよい。処理装置は、印刷ヘッドノズル安定性評価システム10、印刷ヘッド12またはプロセッサがコンポーネントであるプリンタもしくは印刷装置、または画像装置16と通信するコンピュータと関連付けられてもよい。プロセッサ22は、印刷ヘッド12および画像装置16の操作を制御するための命令を作成してもよい。プロセッサ22は、画像装置16により獲得される画像データを分析するように構成されてもよい。例えば、プロセッサ22は、異なる時点で印刷された試験マーク26の画像を比較するように構成されてもよい。データ記憶装置24は、集合的に、1つ以上の揮発性または不揮発性、固定または除去可能なデータ記憶またはメモリ装置を表してもよい。データ記憶装置は、印刷ヘッド12および画像装置16の操作を制御するため、画像装置16により獲得される画像または他のデータを分析するためのプログラム命令を記憶するように構成されてもよい。データ記憶装置は、画像装置16により獲得される画像データを記憶するように構成されてもよい。画像装置1により獲得される画像データは、制御装置20のプロセッサ22により分析されてもよい。分析の結果として、ノズル14の一部が、選択されるノズルの群に含めるように選択されてもよい。例えば、分析は、獲得された画像の残りから印刷された試験マークの画像を識別すること、各試験マークを少なくとも部分的に特徴付ける特性値例えば、位置、方向、長さ、幅または厚さ、均一性を計算することを含んでもよい。複数のセットの試験マークが単一のウェハに印刷される事象において、分析はまた、試験マークのセットを互いから識別することを含んでもよい。試験マークの各画像は、時間にわたる特性値の一貫性または安定性を決定するために、以前にまたは後に印刷される試験マークの画像と比較されてもよい。選択されるノズルの群の選択後、制御装置20または別の印刷制御装置が、基板上のパターンを堆積または印刷するために印刷ヘッド12を操作してもよい。制御装置は、所望のパターンを堆積させるように印刷液を分配するためにノズル14の操作を制御する。選択の結果として、制御装置は、印刷液を分配することを、選択されるノズルの群に含んだそれらのノズルに制限してもよい。図3は、本発明の一実施形態に係る、印刷ヘッドノズル安定性評価基準を概略的に示す。試験マーク26は、印刷ヘッドと基板との間の直線運動の間に、印刷ヘッドのノズルにより印刷されたマークの画像を表す。試験マーク26’は、同じ印刷ヘッドの同じノズルにより、同じようにではあるが、別の時間に印刷されたマークの画像を表す。例えば、試験マーク26は基板上の1つの位置で印刷されてもよく、一方、試験マーク26’は、例えば図3に示すように、同じ基板上の横方向に変位した位置で印刷された。あるいは、試験マーク26および26’は、図3に示すように、別々に印刷された2セットのマークの例示目的のために並列で表してもよい。例えば、試験マーク26’は、直線的にまたはそうでなければ試験マーク26が印刷された同じ基板上、または試験マーク26が基板から消去されるかまたはそうでなければ除去された後、別の基板上もしくは同じ基板上の移動させた位置に印刷されてもよい。試験マーク26および26’は分析されてもよい。分析により、特定の試験マーク26を印刷したノズルおよびその対応する試験マーク26’が選択されたノズルの群に含まれるか否かが示され得る。試験マーク26および26’の分析は典型的に、試験マーク26および26’の相対位置の分析を含む。ライン28は、試験マーク26の名目上の位置および方向を表す代表的な仮想ラインである。例えば、ライン28は、試験マーク26に対する直線の線形フィット例えば少なくとも正方形または他のフィットを表してもよい。同様に、ライン28’は、試験マーク26’の名目上の位置および方向を表す。あるいは、ライン28および28’は、基板表面上に提供例えばエッチングされる基準線または基準線に対する位置を表してもよい。例えば、試験マーク26および26’は基板の細長い領域内に印刷されてもよい。細長い領域は、平行線例えば図2における基準線27により基板表面上に画定されてもよい。試験マーク26および26’は、名目上、画定しているラインの間の真ん中にある仮想中心線に沿って印刷される中心ラインは典型的に、試験マーク26または26’の検出および分析を邪魔しないように実際には目に見えない。この場合、ライン28および28’は、細長い領域の仮想中心線を表してもよい。試験マーク26とライン28の1つの間の横方向距離が所定の横方向距離を超える場合、または試験マーク26’とライン28’の1つの間の横方向距離が所定の横方向距離を超える場合、マークを印刷したノズルが、他の列のノズルのように同じ相対的横方向において印刷液を一貫して分配しないことが示され得る。次いで関連したノズルが、選択されるノズルの群内に含まれる選択から排除されてもよい。例えば、範囲外の試験マーク26aは、それぞれ試験マーク26および試験マーク26’の他のものより線28および線28’からのより長い横方向の距離として示される。試験マーク26および26’の分析は、試験マーク26および26’のサイズまたは視認性の分析を含んでもよい。試験マーク26または26’の出現例えば幅または厚さ、あるいは画像バックグラウンドに対するマークの画像の相対的色または階調レベルにより特徴付けられる光学的重みは他の試験マーク26または26’の出現とは異なってもよい。例えば、ノズル選択システムに関連する画像装置が、試験マーク26または26’の幅を分解するために十分な解像度を有する場合、幅例えば幅の平均または他の特性値が、試験マーク26または26’の出現を特徴付けるために使用されてもよい。あるいはまたはさらに、試験マーク26または26’の出現は、試験マーク26または26’の光学的重みにより特徴付けられてもよい。このような出現の相違により、異なって出現するマークを有するノズルは、列の他のノズルと同じ速度でインクを一貫して分配しないことが示され得る。従って、その関連したノズルは、選択されるノズルの群に含まれることから除外されてもよい。例えば、目に見えない試験マーク26bは完全に消失して示される。これにより、対応するノズルが印刷液を全く分配しないまたは非常に弱く分配することが示され得る。濃い試験マーク26cは試験マーク26および26’の他のものより厚く示される。これにより、対応するノズルが、列の他のノズルより速い速度で印刷液を分配することが示され得る。薄い試験マーク26dは、試験マーク26および26’の他のものより薄く示される。これにより、対応するノズルが、列の他のノズル低い速度で印刷液を分配することが示され得る。従って、目に見えない試験マーク26b、濃い試験マーク26c、または薄い試験マーク26dのいずれかに対応するノズルは、選択されるノズルの群に含めることから除外されてもよい。試験マーク26および26’の分析は、同じノズルにより印刷された試験マーク26と試験マーク26’との間の位置または出現の変化の分析を含んでもよい。試験マーク26の出現例えば厚さまたは重みまたは位置が、その対応する試験マーク26’のものと異なる場合、関連するノズルが、安定または一貫した方式で作動することが示され得る。例えば、ノズルが、不安定または可変速度で印刷液を分配すること、あるいはノズルが、不安定または可変の方向において印刷液を分配することが示され得る。従って、関連するノズルは、選択されるノズルの群に含めることから除外されてもよい。例えば、第1の試験マーク26eの出現は、対応する第2の試験マーク26e’の出現とは異なる重みがある濃い。これにより、第1の試験マーク26eおよび第2の試験マーク26e’を印刷したノズルが、印刷の間に堆積される印刷液の質または堆積速度に関して不安定であることが示され得る。従って、そのノズルは、選択されるノズルの群に含めることから除外されてもよい。別の例として、ライン28に対する第1の試験マーク26fの横方向の位置は、ライン28’に対する対応する試験マーク26f’の横方向の位置とは異なる反対かつ大きい。相対的な横方向の位置のこの相違により、第1の試験マーク26fおよび第2の試験マーク26f’を印刷したノズルは、印刷の間に印刷液が分配される横方向に関して不安定であることが示され得る。従って、そのノズルは、選択されるノズルの群に含めることから除外されてもよい。試験マーク26および26’が印刷される表面上の試験基板は、試験マーク26および26’の印刷および分析を容易にするように選択されてもよい。従って、試験基板は、例えば、ダミー例えば回路を含まないシリコンウェハ、ガラスまたはセラミックウェハまたはスライド、あるいは紙またはボール紙の適切に成形された部分を含んでもよい。さらなる考慮により、試験基板の選択にさらに影響を与えることができる。例えば、使い捨ての様式例えば、表面を印刷した試験マークで満たした後にダミーシリコンウェハを捨てるでダミーシリコンウェハを用いることは、他の代替法より高価になり得る。しかしながら、印刷システムが設計される基板例えばシリコンウェハと、その特性例えば密度、厚さまたは質量が異なる安価な使い捨て試験基板例えば紙またはボール紙の使用は、配置または操作に関する問題を引き起こす場合がある。本発明の一実施形態に係る1つの解決策は、関連特性例えば寸法および質量が、システムが設計される基板例えばシリコンウェハのものと同様である再利用可能な試験基板例えばガラスまたはセラミック表面を有するを提供することである。本発明の一実施形態に係るノズル選択は、再利用可能な基板上に印刷液を堆積させることを含んでもよい。ノズル選択設定またはシステムは、再利用前に基板から堆積された印刷液を消去またはそうでなければ除去するための装置を含んでもよい。図4Aは、本発明の一実施形態に係る、再利用可能な基板を使用する印刷ヘッドノズル安定性評価を概略的に示す。再利用可能な基板を用いるノズル選択のシステムは、マーク消去装置30を有する印刷ヘッドノズル安定性評価システム10を含んでもよい。再利用可能な基板19例えば平坦なガラスまたはセラミックプレートは印刷ヘッド12に輸送または運搬されてもよい。印刷ヘッド12は再利用可能な基板19上に試験マーク26のセットを堆積させてもよい。試験マーク26のさらなるセットが、後の時間に再利用可能な基板19上に印刷されてもよい。試験マーク26の1つ以上のセットが再利用可能な基板19上に印刷された後、再利用可能な基板19は画像装置16に輸送されてもよい。画像装置は試験マーク26の1つ以上の画像を獲得してもよい。試験マーク26の獲得した画像または特徴は試験マーク26の分析のために保存されてもよい。再利用可能な基板19は定期的に再利用されてもよい。再利用前に、再利用可能な基板19はマーク消去装置30に運搬されてもよい。マーク消去装置30は、印刷された試験マーク26の全てまたは合計を再利用可能な基板19の表面から除去するように操作されてもよい。例えば、印刷ヘッド12もしくは画像装置16を制御する制御装置、または別の制御装置が、マーク消去装置30の操作を制御してもよい。試験マークの各セットが画像装置16により画像化された後、マーク消去装置30は、試験マーク26を再利用可能な基板19から除去するように操作されてもよい。あるいは、再利用可能な基板19の表面が試験マーク26で満たされた場合、マーク消去装置30は、試験マーク26を再利用可能な基板19から除去するように操作されてもよい。あるいはまたはさらに、マーク消去装置30は、人の操作者により示されるか、または他の所定の基準に従って、所定の間隔で試験マーク26を再利用可能な基板19から除去するように操作されてもよい。マーク消去装置30は、機械的摩耗、摩擦、または剥離を再利用可能な基板19に適用することによって、試験マーク26を再利用可能な基板19から除去するように構成されてもよい。再利用可能な基板19の表面が、直接擦られないか、または摩耗により損傷されないように十分に硬い表面を有する材料から再利用可能な基板19は構成されてもよい。例えば、再利用可能な基板19はガラスまたはセラミック表面を含んでもよい。再利用可能な基板19の1つ以上の表面は、マーク消去装置30により容易に消去されないラインまたは他のマーキング例えば基準線またはマーキングを含んでもよい。例えば、消去されないマーキングは、エッチングまたはスクラッチングプロセスにより形成されてもよいか、再利用可能な基板19内または内部に導入されてもよいか、または消去されないもしくは恒久的なインク、色素もしくは塗料の適用により形成されてもよい。試験マーク26を形成するために再利用可能な基板19の表面に堆積される印刷液が凝固されることを確保するために1つ以上の技術が適用されてもよい。このような凝固は、試験マーク26を形成するために再利用可能な基板19上に堆積されるインクが、例えば試験マーク26の拡散、不鮮明化、または滲みを防ぐように凝固するまで所定の位置にあることを確保し得る。凝固はまた、消去装置30による試験マーク26の消去を容易にできる。加熱装置31により概略的に表されるそのような凝固技術には、例えば、基板を加熱すること、または電磁放射を堆積された印刷液に適用することが含まれ得る。例えば、再利用可能な基板19は、印刷ヘッド12による再利用可能な基板19上での印刷前に、例えば約150°C~230°Cの温度に予熱されてもよい。例えば、再利用可能な基板19は、真空を適用することにより加熱された金属面またはチャックにより保持されてもよい。摩耗の代替としてまたは摩耗に加えて、マーク消去装置は、再利用可能な基板19の表面から試験マーク26を遊離または除去するための1つ以上の他の技術を適用できる。そのような技術には、例えば、音波または超音波、機械的動作例えば振動または振盪、流体液体または気体動作、放射線例えばレーザ光、熱、または化学的因子の適用が含まれ得る。マーク消去装置30はワイパー32を含む。ワイパー32は、再利用可能な基板19の表面を擦るように操作されてもよい。例えば、ワイパー32は、ワイパー32と再利用可能な基板19との間の相対運動の間、再利用可能な基板19に対して押されてもよい。例えば、ワイパー32は、円形断面図4に示すを有してもよく、再利用可能な基板19の表面と接触する間に回転されてもよい。別の例として、再利用可能な基板19がワイパー32を通して運搬される場合、ワイパー32は再利用可能な基板19に対して押されてもよい。別の例として、ワイパー32は、直線運動により、再利用可能な基板19に対して擦られるかまたは押されてもよい。再利用可能な基板19を擦る場合、ワイパー32には、再利用可能な基板19からの印刷された試験マーク26の除去のためまたは除去を促進するように設計される外面が提供されてもよい。例えば、ワイパー32の外面は摩耗性であってもよい。そのような摩耗性は、ワイパー32が再利用可能な基板19を擦る場合、再利用可能な基板19から試験マーク26を擦り取ることを容易にできる。典型的に、ワイパー32の外面の少なくとも一部は材料が提供されてもよい。例えば、試験マーク26が消去された後、試験マーク26の粒子を収集するような被覆材であってもよい。このように、被覆材は、清浄度を保存でき、ワイパー32の有用な寿命を増加できる。例えば、被覆材は、材料の除去可能なシートまたはホイルである、ワイパーホイル34を含んでもよい。例えば、ワイパーホイル34は、ワイパー32の摩耗外面をワイパーホイル34により接触できるように十分に薄い、薄い紙例えばティシューまたは濾紙などの材料を含んでもよい。マーク消去装置30は、ワイパー32の外面を覆うかまたは包むためにワイパーホイル34を継続して提供するように構成されてもよい。例えば、マーク消去装置30は、新たなまたはきれいなワイパーホイル34を提供するためにホイルディスペンサー36を含んでもよい。例えば、ホイルディスペンサー36は、ワイパーホイル34を分配するために回転可能なホイルのロールの形態であってもよい。あるいは、ホイルディスペンサー36は、折り畳まれたスタックまたは同様の構造からワイパーホイル34を分配してもよい。消去の間、ワイパーホイル34がワイパー32と再利用可能な基板19との間に位置するように、ワイパーホイル34はワイパー32周囲を少なくとも部分的に覆う。従って、ワイパー32の動きにより、試験マーク26を除去するように、再利用可能な基板19に対してワイパーホイル34を擦ることができる。使用後、ワイパーホイル34の使用された部分は、周囲でワイパーホイル34の使用された部分が包まれ得るローラーの形態のホイル受け取り部foiltake-up38により受け取られてもよい。ホイル受け取り部38により受け取られたホイルは、所望の場合、捨てられてもよい。ホイルディスペンサー36およびホイル受け取り部38は、マーク消去装置30の操作の間、連続してワイパーホイル34を進展させてもよい。あるいは、ホイルディスペンサー36およびホイル受け取り部38は、例えば、ワイパー32を覆うワイパーホイル34の部分が、汚れ、すり切れた場合または交換する必要がある場合ワイパーホイル34を周期的にまたは必要に応じて進展させてもよい。あるいは、ワイパー32の一部または全てを覆うためのホイルまたは他の表面は、交換するまで、ワイパー32周囲または別の拭き取り面を覆ってもよい。例えば、拭き取りホイルは、必要に応じて手動で、または自動操作されるディスペンサーもしくはラッピング機構により交換されてもよい。印刷ヘッドノズル安定性評価システム10は、両方向矢印により概略的に表される、基板輸送装置13を備えてもよい。基板輸送装置13は、例えば、印刷ヘッド12から画像装置16まで、画像装置16からマーク消去装置30まで、およびマーク消去装置30から戻って印刷ヘッド12まで再利用可能な基板19を運搬するように構成されてもよい。輸送装置13によるこの一連の運搬は、異なる時点における試験マーク26の複数のセットの反復した印刷および画像化を可能にするように周期的に反復されてもよい。ワイパーは、消去可能な基板から試験マークの除去を容易にするように構成されてもよい。図4Bは、本発明の一実施形態に従ったワイパーの構造を概略的に示す。ワイパー32’は、マーク消去装置30図4Aなどのマーク消去装置のワイピング拭き取り要素を表す。ワイパー32’の構造は平坦な面例えば、直線状の摩擦動作の使用に好適なようにを有して示されているが、ワイパー32図4Aなどの円筒形または円形のワイパーの構造は、同心状に配置される同様のコンポーネントを含んでもよい。ワイパー32’はコア35を含んでもよい。例えば、コア35は、金属または他の硬質材料を含んでもよい。コア35は弾性要素37により部分的にまたは完全に囲まれてもよい。例えば、弾性要素37はゴムまたは弾性高分子材料を含んでもよい。弾性要素37は、摩耗要素39により部分的または完全に囲まれてもよい。摩耗要素39は、粗い、エンボス加工されたまたは隆起した外面を示してもよい。例えば、摩耗要素39は、例えば、合成樹脂繊維の洗浄パッドに見られる材料と同様の粗いまたは繊維状の材料を含んでもよい。摩耗要素39は、ワイパーホイル34などの交換可能なワイパー材料により部分的または完全に囲まれてもよい。図5は、本発明の一実施形態に係る印刷ヘッドノズル安定性評価方法のフローチャートである。ノズル選択方法40は、基板の表面上に試験マークのセットを堆積させるかまたは印刷することを含む工程42。例えば、基板は再利用可能な基板であってもよいか、または単一の使用を意図されてもよい。試験マークの印刷されたセットの画像が獲得されてもよい工程44。画像は獲得されるとまたは1つ以上の画像処理技術の適用後、保存または記憶されてもよい。あるいは、画像は、パラメータまたはその画像において試験マークを特徴付ける特性値を抽出するために分析されてもよい。この場合、特性値は記憶されてもよい。試験マークのセットの以前の画像が獲得されなかった場合工程48、または以前に画像化されたセットの数が分析に不十分である場合、試験マークのより多くのセットが印刷されてもよく、それらの画像が獲得されてもよい工程42に戻る。基板が再利用される場合、以前に印刷された試験マークは、より多くの試験マークを堆積させる前に基板から除去されてもよい工程47。そうでなければ、さらなる試験マークが、異なる基板上または同じ基板の別の部分上に印刷されてもよい工程47は実施されない。試験マークの十分な数のセットが以前に印刷され、画像化されるおよび分析される場合、試験マークの画像またはそれらの特性値が比較されてもよい工程48。例えば、各マークを特徴付ける特性値が、セットの各々における対応する試験マークについての特性値の平均または他の典型的な値と比較されてもよい。あるいはまたはさらに、時間にわたって対応する試験マークの出現の変化の典型的な値例えばセットの全てにおける試験マークの特性値の標準偏差または分散が計算されてもよい。試験マークの分析が、例えば所定の基準に従って1つ以上のマークについての他の試験マークからまたは標準から許容可能でない程度の偏差または変化を示す場合工程50、それらのマークを印刷したノズルは、選択されるノズルの群に含まれることから拒絶される工程52。例えば、ノズルは、変化により証明されると、安定性の欠如に起因して拒絶されてもよい。ノズルは、他の試験マークの分析から決定される標準から、または独立した標準もしくは条件から一貫してまたは時折逸れるノズルにより印刷された試験マークを拒絶されてもよい。例えば、試験マークは、所定の基準と一致しない位置または出現中心ラインから極端に遠くに外れて印刷されたまたは基準ラインから離れすぎてもしくは近すぎて印刷された、非常に多くまたは非常に少なく印刷されたを有してもよい。1つ以上のマークについての変化の計算された程度が許容可能である場合、対応するノズルは、選択されるノズルの群に含めるのに適し得る工程54。