酸素イオン伝導性の固体電解質体と、該固体電解質体の一方側の面及び他方側の面にそれぞれ設けられた被測定ガス側電極及び基準ガス側電極と、被測定ガスを透過させる多孔質の拡散抵抗層とを有するガスセンサ素子において、上記拡散抵抗層の外表面には、触媒貴金属であるPt、Pd及びRhを含有してなる触媒層が形成されており、該触媒層全体に対する上記触媒貴金属の各元素の含有率は、Pt:2.5~12質量、Pd:0.4~2質量、Rh:0.06~1.5質量であり、上記触媒貴金属の各貴金属粒子は、少なくともPtを含有するPt-Pd合金、Pt-Rh合金又はPt-Pd-Rh合金であり、上記各貴金属粒子の粒子表面部におけるPtの含有率は、該粒子表面部よりも内側の粒子内部におけるPtの含有率よりも低いことを特徴とするガスセンサ素子。請求項1に記載のガスセンサ素子において、上記触媒層全体に対する上記触媒貴金属の各元素の含有率は、Pt:3~4.5質量、Pd:0.8~1.2質量、Rh:0.2~0.3質量であることを特徴とするガスセンサ素子。請求項1又は2に記載のガスセンサ素子において、上記各貴金属粒子は、Pt-Pd-Rh合金であることを特徴とするガスセンサ素子。請求項1~3のいずれか1項に記載のガスセンサ素子において、上記各貴金属粒子の上記粒子内部におけるPtの含有率は、50質量以上であることを特徴とするガスセンサ素子。請求項4に記載のガスセンサ素子において、上記各貴金属粒子の上記粒子内部におけるPtの含有率は、65質量以上であることを特徴とするガスセンサ素子。請求項1~5のいずれか1項に記載のガスセンサ素子を内蔵してなることを特徴とするガスセンサ。しかしながら、今後、排ガス規制がますます強化されることが考えられ、ガスセンサとしては、さらなる応答性出力精度が要求されることになる。上記特許文献1、2に開示された技術等により、出力ずれを抑制し、出力精度を高めることは十分に可能となっているが、応答性に関しては、今後の排ガス規制の強化に対応することが困難となるおそれがある。すなわち、従来は、上記特許文献1、2のように、排ガスの雰囲気がリーンからリッチに変化した際の応答遅れに対して、その応答遅れを抑制する対策は行われていたものの、リッチからリーンに変化した際の応答遅れに対しては、その応答遅れを抑制するための具体的な対策が十分になされていなかった。本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたもので、応答遅れ、出力ずれを十分に抑制することができる高応答性、高出力精度のガスセンサ素子及びそれを用いたガスセンサを提供しようとするものである。第1の発明は、酸素イオン伝導性の固体電解質体と、該固体電解質体の一方側の面及び他方側の面にそれぞれ設けられた被測定ガス側電極及び基準ガス側電極と、被測定ガスを透過させる多孔質の拡散抵抗層とを有するガスセンサ素子において、上記拡散抵抗層の外表面には、触媒貴金属であるPt、Pd及びRhを含有してなる触媒層が形成されており、該触媒層全体に対する上記触媒貴金属の各元素の含有率は、Pt:2.5~12質量、Pd:0.4~2質量、Rh:0.06~1.5質量であり、上記触媒貴金属の各貴金属粒子は、少なくともPtを含有するPt-Pd合金、Pt-Rh合金又はPt-Pd-Rh合金であり、上記各貴金属粒子の粒子表面部におけるPtの含有率は、該粒子表面部よりも内側の粒子内部におけるPtの含有率よりも低いことを特徴とするガスセンサ素子にある請求項1。第2の発明は、上記第1の発明のガスセンサ素子を内蔵してなることを特徴とするガスセンサにある請求項6。上記第1の発明のガスセンサ素子は、拡散抵抗層の外表面に形成された触媒層を有しており、該触媒層は、触媒貴金属であるPt、Pd及びRhを含有してなる。そのため、被測定ガス排ガスが拡散抵抗層を通過することにより、被測定ガス排ガス中の水素ガスを触媒貴金属によって十分に燃焼させることができ、被測定ガス側電極に到達する水素ガスの量を低減することができる。これにより、水素ガスに起因するガスセンサ素子の出力ずれを抑制することができる。また、触媒層全体に対する触媒貴金属の各元素の含有率をPt:2.5~12質量、Pd:0.4~2質量、Rh:0.06~1.5質量としている。すなわち、触媒層全体に対する各元素の含有率を上記特定の範囲とすることにより、被測定ガス排ガスの雰囲気がリーンからリッチに変化した際の応答遅れ及びリッチからリーンに変化した際の応答遅れの両方を抑制することができる。特に、リーンからリッチに変化した際の応答遅れは、Rhと被測定ガス排ガス成分との化学反応によって発生することから、Rhの含有率を上記特定の範囲とすることにより、リーンからリッチに変化した際の応答遅れを抑制することができる。また、リッチからリーンに変化した際の応答遅れは、Pdと被測定ガス排ガス成分との化学反応によって発生することから、Pdの含有率を上記特定の範囲とすることにより、リッチからリーンに変化した際の応答遅れを抑制することができる。また、触媒貴金属の各貴金属粒子は、少なくともPtを含有する合金であり、各貴金属粒子の粒子表面部におけるPtの含有率は、粒子内部におけるPtの含有率よりも低い。すなわち、Ptの含有率は、貴金属粒子の粒子表面部よりも粒子内部のほうが高い。ここで、Ptは、触媒性能に優れているが、酸化物の蒸気圧が大きい。そのため、粒子の表面に存在するPtは、高温雰囲気下において蒸散という現象により飛散してしまい、耐久性を確保することができない。そこで、PdやRhを含有させ、そのPdやRhを貴金属粒子の表面側へ配置し、内部のPtの割合を大きくすることで、粒子の表面からPtが蒸散することを抑制することができる。これにより、触媒貴金属における触媒性能の劣化を抑制し、熱耐久性を高めることができる。その結果、ガスセンサ素子の出力精度を維持することができ、出力ずれを抑制することができる。また、上述のごとく、触媒貴金属の各元素の含有率を触媒層全体に対して非常に低い値としている。すなわち、触媒貴金属の各元素の含有率を低くしても、その含有率を上記特定の範囲とし、貴金属粒子の粒子表面部と粒子内部とでPtの含有率を調整することにより、応答遅れや出力ずれを抑制する効果が十分に得られることを見出したことにも大きな特徴がある。これにより、高価な触媒貴金属の使用量を低減することができ、コストダウンを図ることができる。また、触媒貴金属の各元素の含有率を触媒層全体に対して低くしたことにより、貴金属粒子間の距離を大きくすることができる。これにより、貴金属粒子同士の凝集を抑制することができ、触媒貴金属の安定化を図ると共に触媒性能の劣化を抑制することができる。上記第2の発明のガスセンサは、上記第1の発明のガスセンサ素子を内蔵している。すなわち、応答遅れ、出力ずれを十分に抑制することができる高応答性、高出力精度のガスセンサ素子を内蔵している。そのため、ガスセンサは、非常に優れたセンサ性能を有するものとなる。このように、上記第1及び第2の発明によれば、応答遅れ、出力ずれを十分に抑制することができる高応答性、高出力精度のガスセンサ素子及びそれを用いたガスセンサを提供することができる。上記第1の発明のガスセンサ素子は、例えば、車両用の内燃機関等の排気系に配設され、被測定ガス排ガス中の特定ガス濃度酸素濃度に依存して電極間を流れる限界電流を基に内燃機関に供給される混合気の空燃比A/Fを検出するA/Fセンサ素子、被測定ガス排ガスと基準ガス大気との間の特定ガス濃度酸素濃度比に依存して電極間に生じる起電力を基に空燃比を検出する酸素センサ素子等に適用される。また、上記ガスセンサ素子は、被測定ガス側電極及び基準ガス側電極を設けた固体電解質体以外に、例えば、基準ガスを導入する基準ガス室の酸素濃度を調整するための酸素ポンプ用の固体電解質体等を備えたものであってもよい。また、上記ガスセンサ素子は、例えば、固体電解質体、拡散抵抗層等を積層して構成された積層型のガスセンサ素子であってもよいし、先端が閉塞されると共に基端が開放された固体電解質体を有するコップ型のガスセンサ素子であってもよい。また、上記触媒層は、例えば、触媒貴金属の貴金属粒子、該貴金属粒子を担持させる基材粒子等により構成することができる。また、基材粒子としては、例えば、α-アルミナ、γ-アルミナ、θ-アルミナ等を用いることができる。また、上記触媒層は、触媒貴金属であるPt、Pd及びRhを含有してなる。ここで、上記触媒層全体に対する触媒貴金属の各元素の含有率とは、触媒層全体を100質量とした場合に、該触媒層全体に含まれる触媒貴金属の各元素Pt、Pd、Rhの割合をいう。また、上記触媒層全体に対する上記触媒貴金属の各元素の含有率は、例えば、電子線マイクロ分析機EPMAや透過電子顕微鏡TEMを用いた元素定量分析によって測定することができる。また、上記各貴金属粒子の上記粒子表面部及び上記粒子内部におけるPtの含有率は、例えば、透過電子顕微鏡TEMを用いた定量分析によって測定することができる。また、上記各貴金属粒子の上記粒子表面部におけるPtの含有率は、上記粒子内部におけるPtの含有率よりも低い。ここで、貴金属粒子の粒子表面部とは、貴金属粒子における表面を含む外周部分であって、表面から内側に所定の距離までの範囲をいう。例えば、表面から内側へ半径の1/4の距離までの範囲を貴金属粒子の粒子表面部とすることができる。なお、貴金属粒子の半径は、平均粒子径を用いることができる。平均粒子径は、走査型電子顕微鏡FE-SEM等により、所定の倍率で貴金属粒子を含む視野を観察撮影し、所定の個数10粒子以上の貴金属粒子の粒径を算術平均することにより求めることができる。また、貴金属粒子の粒子内部とは、貴金属粒子の粒子表面部よりも内側の部分をいう。また、上記触媒層全体に対する上記触媒貴金属の各元素の含有率は、Pt:3~4.5質量、Pd:0.8~1.2質量、Rh:0.2~0.3質量であることが好ましい請求項2。この場合には、ガスセンサ素子の応答遅れ、出力ずれを抑制する効果をより一層高めることができる。また、上記各貴金属粒子は、Pt-Pd-Rh合金であることが好ましい請求項3。すなわち、Pdは、酸化雰囲気でも安定した触媒性能を示す。また、Rhは、他の貴金属よりも比較的高融点であり、耐熱性に優れている。また、Ptを含むことによって還元雰囲気で粒子同士の凝集を抑制することができる。そのため、Pt-Pd-Rh合金を用いることにより、酸化雰囲気、還元雰囲気、高温雰囲気等の各雰囲気下において、触媒性能の劣化を抑制することができる。また、上記各貴金属粒子の上記粒子内部におけるPtの含有率は、50質量以上であることが好ましい請求項4。この場合には、触媒貴金属における触媒性能の劣化を抑制する効果をより確実に得ることができる。例えば、上記各貴金属粒子の上記粒子内部におけるPtの含有率が50質量未満の場合には、触媒貴金属における触媒性能の劣化を抑制する効果を十分に得ることができないおそれがある。よって、上記各貴金属粒子の上記粒子内部におけるPtの含有率は、65質量以上であることがより好ましい請求項5。実施例1本発明の実施例にかかるガスセンサ素子及びそれを用いたガスセンサについて、図を用いて説明する。本例のガスセンサ素子1は、図1~図3に示すごとく、酸素イオン伝導性の固体電解質体11と、固体電解質体11の一方側の面及び他方側の面にそれぞれ設けられた被測定ガス側電極12及び基準ガス側電極13と、被測定ガスを透過させる多孔質の拡散抵抗層17とを有する。拡散抵抗層17の外表面171には、触媒貴金属であるPt、Pd及びRhを含有してなる触媒層2が形成されており、触媒層2全体に対する触媒貴金属の各元素の含有率は、Pt:2.5~12質量、Pd:0.4~2質量、Rh:0.06~1.5質量である。触媒貴金属の各貴金属粒子22は、少なくともPtを含有するPt-Pd合金、Pt-Rh合金又はPt-Pd-Rh合金であり、各貴金属粒子22の粒子表面部222におけるPtの含有率は、粒子表面部222よりも内側の粒子内部221におけるPtの含有率よりも低い。以下、これを詳説する。図1に示すごとく、ガスセンサ素子1は、被測定ガス排ガス中の特定ガス濃度酸素濃度に依存して電極間を流れる限界電流を基にエンジンに供給される混合気の空燃比A/Fを検出するA/Fセンサ素子である。ガスセンサ素子1は、素子本体部10を有する。素子本体部10において、ジルコニアからなる酸素イオン伝導性の固体電解質体11の一方の面には、白金からなる被測定ガス側電極12が設けられている。また、固体電解質体11の他方の面には、白金からなる基準ガス側電極13が設けられている。また、固体電解質体11の基準ガス側電極13の側には、電気的絶縁性を有すると共に緻密でガスを透過させないアルミナからなる基準ガス室形成層14が積層されている。基準ガス室形成層14には、溝部141が設けられており、この溝部141によって基準ガス室140が形成されている。基準ガス室140は、基準ガス大気を導入することができるよう構成されている。また、基準ガス室形成層14における固体電解質体11とは反対側の面には、ヒータ基板15が積層されている。ヒータ基板15には、通電により発熱する発熱体ヒータ151が基準ガス室形成層14と対面するよう設けられている。発熱体151は、通電によって発熱させることにより、ガスセンサ素子1を活性温度まで加熱することができるよう構成されている。また、同図に示すごとく、固体電解質体11の被測定ガス側電極12の側には、開口部161を有する絶縁層16が積層されている。絶縁層16は、電気的絶縁性を有すると共に緻密でガスを透過させないアルミナからなる。また、絶縁層16における固体電解質体11とは反対側の面には、ガス透過性のアルミナ多孔体からなる多孔質の拡散抵抗層17が積層されている。また、固体電解質体11と絶縁層16の開口部161と拡散抵抗層17とにより覆われた場所には、被測定ガス室160が形成されている。被測定ガス室160は、被測定ガス排ガスを拡散抵抗層17から導入することができるよう構成されている。また、拡散抵抗層17における絶縁層16とは反対側の面には、電気的絶縁性を有すると共に緻密でガスを透過させないアルミナからなる遮蔽層18が積層されている。また、素子本体部10において被測定ガスの導入口となる拡散抵抗層17の外表面171には、多孔質の触媒層2が形成されている。触媒層2は、触媒貴金属であるPt、Pd及びRhを含有してなり、触媒層2全体に対する触媒貴金属の各元素の含有率は、Pt:2.5~12質量、Pd:0.4~2質量、Rh:0.06~1.5質量である。また、図2に示すごとく、触媒層2は、アルミナ粒子基材粒子21とアルミナ粒子21に担持された貴金属粒子22とガラス粒子とからなる。なお、図2では、ガラス粒子の図示を省略している。各貴金属粒子22は、少なくともPtを含有するPt-Pd合金、Pt-Rh合金又はPt-Pd-Rh合金である。本例では、すべての貴金属粒子22が基本的にPt-Pd-Rh合金である。また、図3に示すごとく、Pt-Pd-Rh合金である各貴金属粒子22の粒子表面部222におけるPtの含有率は、粒子内部221におけるPtの含有率よりも低い。すなわち、各貴金属粒子22において、粒子内部221のほうが粒子表面部222よりもPtが多く含有されている。本例では、各貴金属粒子22の粒子内部221におけるPtの含有率は、50質量以上である。また、同図に示すごとく、貴金属粒子22の粒子表面部222とは、貴金属粒子22における表面223を含む外周部分であって、表面223から内側に所定の距離までの範囲をいう。本例では、表面223から内側へ中心Aに向かって半径rの1/4の距離までの範囲を貴金属粒子22の粒子表面部222としている。なお、貴金属粒子22の半径rは、平均粒子径を用いており、この平均粒子径は、走査型電子顕微鏡FE-SEM等により、所定の倍率で貴金属粒子を含む視野を観察撮影し、所定の個数10粒子以上の貴金属粒子の粒径を算術平均することにより求めた。また、貴金属粒子22の粒子内部221とは、貴金属粒子22の粒子表面部222よりも内側の部分である。なお、同図では、貴金属粒子22を球状であるとして示している。次に、本例のガスセンサ素子1の製造方法について説明する。本例のガスセンサ素子1を製造するに当たっては、まず、素子本体部10を作製する。具体的には、ヒータ基板15、基準ガス室形成層14、固体電解質体11、絶縁層16、拡散抵抗層17、遮蔽層18を形成する各セラミックシートを順に積層し、素子中間体を作製する。そして、素子中間体を1400~1500°C、1~3時間の条件で焼成し、素子本体部10を作製する。次いで、アルミナ粒子21、Pt-Pd-Rh合金からなる貴金属粒子22、ガラス粒子、有機溶剤としてのターピネオール、有機バインダとしてのエチルセルロース等を混合混練し、ペースト状の触媒層形成用材料を作製する。なお、貴金属粒子22は、Ptイオン、Pdイオン及びRhイオンを含む酸溶液を混合し、還元剤により還元反応させ、Pt-Pd-Rh合金粒子を析出させることによって作製する。このとき、反応速度や析出速度を制御することにより、中心から外側にPd、Pt、Rhの順に析出させるようにする。次いで、ペースト状の触媒層形成用材料を素子本体部10の拡散抵抗層17の外表面171上に塗布する。本例では、ペースト状の触媒層形成用材料をパッド印刷、スクリーン印刷等の方法によって塗布する。次いで、塗布した触媒層形成用材料を100~160°C、1~20分の条件で乾燥させ、800~950°C、1時間の条件で焼成し、触媒層2を形成する。このとき、比重の大きいPtを粒子の内部へ移動させ、粒子表面部222よりも粒子内部221のほうにPtが多く含有されるようにする。以上により、ガスセンサ素子1図1参照を作製する。次に、本例のガスセンサ素子1を内蔵したガスセンサ8について説明する。図4に示すごとく、ガスセンサ8は、ガスセンサ素子1と、ガスセンサ素子1を内側に挿通保持する絶縁碍子81と、絶縁碍子81を内側に挿通保持するハウジング82と、ハウジング82の基端側に配設された大気側カバー83と、ハウジング82の先端側に配設されると共にガスセンサ素子1を保護する素子カバー84とを有する。同図に示すごとく、素子カバー84は、外側カバー841と内側カバー842とからなる二重構造のカバーにより構成されている。この外側カバー841及び内側カバー842の側面部や底面部には、被測定ガスを導通させるための導通孔843が設けられている。次に、本例のガスセンサ素子1及びそれを用いたガスセンサ8の作用効果について説明する。本例のガスセンサ素子1は、拡散抵抗層17の外表面171に形成された触媒層2を有しており、触媒層2は、触媒貴金属であるPt、Pd及びRhを含有してなる。そのため、被測定ガス排ガスが拡散抵抗層17を通過することにより、被測定ガス中の水素ガスを触媒貴金属によって十分に燃焼させることができ、被測定ガス側電極12に到達する水素ガスの量を低減することができる。これにより、水素ガスに起因するガスセンサ素子1の出力ずれを抑制することができる。また、触媒層2全体に対する触媒貴金属の各元素の含有率をPt:2.5~12質量、Pd:0.4~2質量、Rh:0.06~1.5質量としている。すなわち、触媒層2全体に対する各元素の含有率を上記特定の範囲とすることにより、被測定ガス排ガスの雰囲気がリーンからリッチに変化した際の応答遅れ及びリッチからリーンに変化した際の応答遅れの両方を抑制することができる。特に、リーンからリッチに変化した際の応答遅れは、Rhと被測定ガス排ガス成分との化学反応によって発生することから、Rhの含有率を上記特定の範囲とすることにより、リーンからリッチに変化した際の応答遅れを抑制することができる。また、リッチからリーンに変化した際の応答遅れは、Pdと被測定ガス排ガス成分との化学反応によって発生することから、Pdの含有率を上記特定の範囲とすることにより、リッチからリーンに変化した際の応答遅れを抑制することができる。また、触媒貴金属の各貴金属粒子22は、少なくともPtを含有する合金であり、各貴金属粒子22の粒子表面部222におけるPtの含有率は、粒子内部221におけるPtの含有率よりも低い。すなわち、Ptの含有率は、貴金属粒子22の粒子表面部222よりも粒子内部221のほうが高い。ここで、Ptは、触媒性能に優れているが、酸化物の蒸気圧が大きい。そのため、粒子の表面に存在するPtは、高温雰囲気下において蒸散という現象により飛散してしまい、耐久性を確保することができない。そこで、PdやRhを含有させ、そのPdやRhを貴金属粒子22の表面側へ配置し、内部のPtの割合を大きくすることで、粒子の表面からPtが蒸散することを抑制することができる。これにより、触媒貴金属における触媒性能の劣化を抑制し、熱耐久性を高めることができる。その結果、ガスセンサ素子1の出力精度を維持することができ、出力ずれを抑制することができる。また、上述のごとく、触媒貴金属の各元素の含有率を触媒層2全体に対して非常に低い値としている。すなわち、触媒貴金属の各元素の含有率を低くしても、その含有率を上記特定の範囲とし、貴金属粒子22の粒子表面部222と粒子内部221とでPtの含有率を調整することにより、応答遅れや出力ずれを抑制する効果が十分に得られることを見出したことにも特徴がある。これにより、高価な触媒貴金属の使用量を低減することができ、コストダウンを図ることができる。また、触媒貴金属の各元素の含有率を触媒層2全体に対して低くしたことにより、貴金属粒子22間の距離を大きくすることができる。これにより、貴金属粒子22同士の凝集を抑制することができ、触媒貴金属の安定化を図ると共に触媒性能の劣化を抑制することができる。また、本例では、各貴金属粒子22は、Pt-Pd-Rh合金である。すなわち、Pdは、酸化雰囲気でも安定した触媒性能を示す。また、Rhは、他の貴金属よりも比較的高融点であり、耐熱性に優れている。また、Ptを含むことによって還元雰囲気で粒子同士の凝集を抑制することができる。そのため、Pt-Pd-Rh合金を用いることにより、酸化雰囲気、還元雰囲気、高温雰囲気等の各雰囲気下において、触媒性能の劣化を抑制することができる。また、各貴金属粒子22の粒子内部221におけるPtの含有率は、50質量以上である。そのため、触媒貴金属における触媒性能の劣化を抑制する効果をより確実に得ることができる。また、本例のガスセンサ8は、上述したガスセンサ素子1を内蔵している。すなわち、応答遅れ、出力ずれを十分に抑制することができる高応答性、高出力精度のガスセンサ素子1を内蔵している。そのため、ガスセンサ8は、非常に優れたセンサ性能を有するものとなる。このように、本例によれば、応答遅れ、出力ずれを十分に抑制することができる高応答性、高出力精度のガスセンサ素子1及びそれを用いたガスセンサ8を提供することができる。実施例2本例は、ガスセンサ素子の性能について評価したものである。本例では、表1に示すごとく、触媒層全体に対する触媒貴金属の各元素Pt、Pd、Rhの含有率及び貴金属粒子の粒子内部におけるPtの含有率が異なる複数のガスセンサ素子試料A1~A21を準備し、それぞれについて応答性及びストイキ精度の評価を行った。なお、準備したガスセンサ素子試料A1~A21の基本的な構成は、実施例1の図1、図2に示したガスセンサ素子と同様である。また、触媒層全体に対する触媒貴金属の各元素Pt、Pd、Rhの含有率は、表1に示すとおりである。本例では、電子線マイクロ分析機EPMAによる元素定量分析法によって測定した。また、貴金属粒子の粒子内部におけるPtの含有率は、表1に示すとおりである。本例では、透過電子顕微鏡TEMを用いた定量分析によって測定した。このとき、TEMを用いた定量分析の前に、集束イオンビームFIB加工装置を用いて、各試料の表面を加工した。また、貴金属粒子の粒子表面部におけるPtの含有率についても測定を行い、貴金属粒子の粒子内部におけるPtの含有率が粒子表面部におけるPtの含有率よりも大きいことを確認した。次に、応答性及びストイキ精度の評価方法について説明する。なお、いずれの評価の場合も、ガスセンサの評価温度は700~800°Cとした。応答性については、ガスセンサ素子を内蔵したガスセンサをガス発生装置に接続し、H2、CO、O2等を含む試験ガスに曝す。次いで、試験ガスに含まれるH2、CO、O2等の濃度を徐々に変化させることにより、試験ガスの雰囲気をリーンからリッチまたはリッチからリーンに変化させ、試験ガスの雰囲気の変化に伴うセンサ出力値の変化を調べる。そして、試験ガスの濃度変化が生じた時点からこの濃度変化に応じたセンサ出力値の変化が生じるまでの時間応答時間を求める。なお、上記の測定は、ガスセンサをリッチ雰囲気ガスA/F値=13に30秒曝した直後に行う。試験ガスの雰囲気をリーンからリッチに変化させた場合の応答性の評価は、応答時間が10m秒以下の場合には◎、10m秒超え25m秒以下の場合には○、25m秒を超える場合には×とした。また、試験ガスの雰囲気をリッチからリーンに変化させた場合の応答性の評価は、応答時間が30m秒以下の場合には◎、30m秒超え50m秒以下の場合には○、50m秒を超える場合には×とした。ストイキ精度については、ガスセンサにおけるガスセンサ素子の触媒層を900°Cの大気雰囲気中に200時間放置する耐久試験を行う。次いで、H2、CO、O2等を混合し、H2が0.5重量であるストイキ雰囲気A/F値=14.5の混合ガスを準備する。次いで、耐久試験後のガスセンサを準備した混合ガスに曝し、センサ出力値を測定する。そして、測定したセンサ出力値と理論値ストイキ雰囲気でのセンサ出力値との差から、ストイキずれ△A/F値を求める。ストイキ精度の評価は、耐久試験後のストイキずれ△A/F値が0.22以下の場合には◎、0.22超え0.28以下の場合には○、0.28を超える場合には×とした。また、本例では、リーンからリッチに変化させた場合の応答性、リッチからリーンに変化させた場合の応答性、ストイキ精度の3つの評価を総合的に評価した。この総合評価については、3つの評価のうち、すべての評価が◎の場合には◎、×の評価が1つもないが、○の評価が1つでもある場合には○、×の評価が1つでもある場合には×とした。次に、評価結果について説明する。表1に示すごとく、触媒層全体に対する触媒貴金属の各元素の含有率がPt:2.5~12質量、Pd:0.4~2質量、Rh:0.06~1.5質量の範囲内であり、貴金属粒子の粒子内部におけるPtの含有率が50質量以上である試料A2~A5、A7~A9、A11~A14、A16~A19は、リーンからリッチに変化させた場合の応答性、リッチからリーンに変化させた場合の応答性、ストイキ精度のすべての評価において×がなく、総合判定の評価が○か◎であった。特に、各元素の含有率がPt:3~4.5質量、Pd:0.8~1.2質量、Rh:0.2~0.3質量の範囲内であり、貴金属粒子の粒子内部におけるPtの含有率が65質量以上である試料A11~A13、A16は、すべての評価において◎であり、総合判定の評価が◎であった。一方、触媒層全体に対する触媒貴金属の各元素の含有率がPt:2.5~12質量、Pd:0.4~2質量、Rh:0.06~1.5質量の範囲内にない少なくともいずれかの元素の含有率について上記の範囲内にない試料A1、A6、A10、A15は、リーンからリッチに変化させた場合の応答性、リッチからリーンに変化させた場合の応答性、ストイキ精度のいずれかの評価において×があり、総合判定の評価が×であった。また、貴金属粒子の粒子内部におけるPtの含有率が50質量未満である試料A20、A21は、ストイキ精度の評価が×であり、総合判定の評価が×であった。以上の結果により、触媒層全体に対する触媒貴金属の各元素の含有率をPt:2.5~12質量、Pd:0.4~2質量、Rh:0.06~1.5質量の範囲内とすることにより、応答遅れ、出力ずれを十分に抑制することができる高応答性、高出力精度のガスセンサ素子が得られることがわかった。さらに、各元素の含有率をPt:3~4.5質量、Pd:0.8~1.2質量、Rh:0.2~0.3質量の範囲内とすることにより、ガスセンサ素子の応答遅れ、出力ずれを抑制する効果をより一層高めることができることがわかった。また、貴金属粒子の粒子内部におけるPtの含有率を50質量以上とすることにより、触媒貴金属における触媒性能の劣化を抑制する効果を確実に得られることがわかった。さらに、粒子内部におけるPtの含有率を65質量以上とすることにより、上記の効果をより確実に得られることがわかった。実施例3本例は、図5に示すごとく、ガスセンサ素子1の構成を変更した例である。本例では、図5に示すごとく、素子本体部10の拡散抵抗層17の外表面171上に形成された触媒層2を覆うように、被覆層3が素子本体部10の外周面100上に全周にわたって形成されている。被覆層3は、アルミナを主成分とするセラミック粒子からなり、気孔率が約60の緻密な層である。被覆層3は、その外表面301が被水による素子本体部10の割れを防止することができるよう構成されている。その他は、実施例1と同様の構成であり、同様の作用効果を有する。実施例4本例は、図6に示すごとく、ガスセンサ素子1の構成を変更した例である。同図に示すごとく、ガスセンサ素子1は、実施例1と同様に、固体電解質体11、被測定ガス側電極12及び基準ガス側電極13を有する。被測定ガス側電極12は、被測定ガス室160に面して配設されている。また、固体電解質体11の被測定ガス電極12側には、開口部172を有する多孔質の拡散抵抗層17が積層されている。また、固体電解質体11の基準ガス側電極13側には、絶縁層191及びヒータ基板15が積層されている。また、ヒータ基板15には、発熱体151が設けられている。そして、ガスセンサ素子1は、被測定ガス室160内の酸素濃度を調整するポンプセル4を有する。ポンプセル4は、酸素イオン伝導性のポンプ用固体電解質体41と、ポンプ用固体電解質体41の一方の面と他方の面とにそれぞれ設けた一対のポンプ用電極42、43とを有する。一方のポンプ用電極42は、被測定ガス室160に面して配設されている。また、拡散抵抗層17における固体電解質体11とは反対側の面には、ポンプ用固体電解質体41が積層されている。また、一方のポンプ用電極42は、多孔質層44により覆われている。また、多孔質層44の両側には、絶縁層192が配設されている。また、触媒層2は、拡散抵抗層17の外表面171を含む素子本体部10の外周面100上に全周にわたって形成されている。その他は、実施例1と同様の構成であり、同様の作用効果を有する。