"非一定の重みを使用する信号処理回路によって処理するためのアナログ信号を発生させるシステムであって、複数の信号発生素子と、M個の異なる構成の間で前記複数の信号発生素子を切り換えるように、前記複数の信号発生素子に動作可能に結合されたスイッチングネットワークと、2次のダイナミックエレメントマッチングDEMローテーション方式を実現するように前記スイッチネットワークを制御するためのDEM制御システムであって、前記複数の信号発生素子は、第1の順序で前記M個の構成のそれぞれに切り換えられ、次いで第2の順序で前記M個の構成のそれぞれに切り換えられ、前記第2の順序は前記第1の順序の逆である、DEM制御システムとを備える、システム。前記DEM制御システムは、前記複数の信号発生素子が、システムクロックによって設定されたサンプルレートにて前記2次DEMローテーション方式に従って構成から構成へと切り換えられるように、前記スイッチネットワークを制御するように構成されている、請求項1に記載のシステム。前記第1および第2の順序の素子の各構成がサンプルアナログ信号を出力する、請求項2に記載のシステム。前記複数の信号発生素子が、互いに対して所定の比率を有する第1の回路デバイスと第2の回路デバイスとを実装するためのものである、請求項3に記載のシステム。前記複数の異なる構成が、前記第1の回路デバイスと前記第2の回路デバイスとを実装するように前記複数の信号発生素子を割り当てることができるいくつかのやり方に対応する、請求項4に記載のシステム。前記サンプルアナログ信号を受け取り、それらをノイズ伝達関数に従って平均化して最終デジタル出力値を生成するインクリメンタルアナログ-デジタル変換器ADCをさらに備える、請求項3に記載のシステム。前記インクリメンタルADCがn次のインクリメンタルADCであり、nは1より大きい、請求項6に記載のシステム。前記インクリメンタルADCは、デジタル出力値を生成するために第1の数のサンプルを必要とし、前記第1の数は前記第1および第2の順序を合わせた構成の総数以上であり、前記2次DEMローテーション方式の間、各構成は、サンプルアナログ信号を発生させるために、前記第1および第2の順序の両方で所定の回数連続して活動化され、前記所定の数に前記第1および第2の順序内の構成の総数を乗じた数は前記第1の数より大きい、請求項7に記載のシステム。前記インクリメンタルADCは、デジタル出力値を生成するために第1の数のサンプルを必要とし、前記第1の数は前記第1および第2の順序を合わせた構成の総数以上であり、前記第1の順序および前記第2の順序は所定の回数繰り返され、前記所定の数に前記第1および第2の順序内の構成の総数を乗じた数は前記第1の数より大きい、請求項7に記載のシステム。非一定の重みを使用する信号処理回路によって処理するためのサンプルアナログ信号を発生させるようにセンサシステムを動作させる方法であって、前記センサシステムはセンサ組立体を実装するための複数の信号発生素子を含み、前記複数の信号発生素子は前記センサ組立体を実装するための複数の可能な組み合わせの間で切り換えるように動作可能に結合され、前記方法は、前記複数の信号発生素子を、第1の順序で可能な構成のそれぞれに切り換え、前記第1の順序の各構成に対するサンプルアナログ信号を出力するように、前記複数の信号発生素子を活動化するステップと、前記第1の順序の後に前記複数の信号発生素子を、前記第1の順序の逆である第2の順序で可能な構成のそれぞれに切り換え、前記第2の順序の各構成に対するサンプルアナログ信号を出力するように前記複数の信号発生素子を活動化するステップとを含む、方法。前記複数の信号発生素子が、サンプルレートにて前記第1および第2の順序の異なる可能な構成に切り換えられる、請求項10に記載の方法。前記信号処理回路は、デジタル出力値を生成するために第1の数のサンプルを必要とし、前記第1の数は前記第1および第2の順序を合わせた構成の総数以上であり、前記複数の回路素子は、前記第1および第2の順序の各構成に対して連続してs個のサンプルアナログ信号を出力し、sに前記第1および第2の順序内の構成の総数を乗じた数は前記第1の数少なくとも同じ大きさである、請求項11に記載の方法。前記信号処理回路は、デジタル出力値を生成するために第1の数のサンプルを必要とし、前記第1の数は前記第1および第2の順序を合わせた構成の総数以上であり、前記第1および第2の順序を含む中心の順序はt回繰り返され、tに前記第1および第2の順序内の構成の総数を乗じた数は前記第1の数少なくとも同じ大きさである、請求項11に記載の方法。前記複数の信号発生素子が、互いに対して所定の比率を有する第1の回路デバイスと第2の回路デバイスとを実装するためのものである、請求項10に記載の方法。複数の信号発生素子と、複数の異なる構成の間で前記複数の信号発生素子を切り換えるためのスイッチングネットワークと、2次のダイナミックエレメントマッチングDEMローテーション方式を実現するように前記スイッチネットワークを制御するためのDEM制御システムであって、前記複数の信号発生素子は、第1の順序で前記複数の構成内の各構成に切り換えられ、次いで第2の順序で各構成に切り換えられ、前記第2の順序は前記第1の順序の逆であり、前記複数の信号発生素子は、各構成にて活動化されてサンプルアナログ信号を出力する、DEM制御システムとを含むセンサシステムと、前記サンプルアナログ信号を受け取るための信号処理回路であって、前記2次DEMローテーション方式の間に受け取ったサンプルアナログ信号をノイズ整形関数に従って組み合わせて離散出力値を生成するように構成され、前記ノイズ整形関数は、前記サンプルアナログ信号のそれぞれに、前記サンプルアナログ信号が前記離散出力値の生成に寄与する非一定の重みを割り当てる、信号処理回路とを備える、信号発生および処理システム。前記信号処理回路がn次のインクリメンタルADCであり、nは1より大きい、請求項15に記載のシステム。前記信号処理回路は2次インクリメンタルADCであり、前記ノイズ整形関数は、前記サンプルアナログ信号のそれぞれに、前記サンプルアナログ信号が前記離散出力値の生成に寄与する線形で非一定の重みを割り当てる、請求項15に記載のシステム。前記信号処理回路は3次インクリメンタルADCであり、前記ノイズ整形関数は、前記サンプルアナログ信号のそれぞれに、前記サンプルアナログ信号が前記離散出力値の生成に寄与する非線形で非一定の重みを割り当てる、請求項15に記載のシステム。0013したがってセンサによって出力されるサンプルアナログ信号が、2次以上のインクリメンタルADCなどの非一定の重みを有するシステムによって処理するのに適した、センサおよび/またはセンサを動作させる方法が必要である。具体的には2次以上のインクリメンタルADCを、サンプル信号を積分し、これまでに知られている方式と比べて低い残留ばらつきを有するデジタル出力に変換するために使用することを可能にするセンサのための、2次のダイナミックエレメントローテーション方式が必要である。0014一実施形態によれば、非一定の重みを使用する信号処理回路によって処理するためのサンプルアナログ信号を発生させるためのセンサシステムであって、複数の信号発生素子と、複数の信号発生素子に動作可能に結合された複数のスイッチを有するスイッチングネットワークとを含む、センサシステムが提供される。スイッチングネットワークは、複数の異なる構成の間で複数の信号発生素子を切り換えるように構成されている。システムは、2次のダイナミックエレメントマッチングDEMローテーション方式を実現するようにスイッチネットワークを制御するためのDEM制御システムを含み、この2次のDEMローテーション方式では、複数の信号発生素子は、第1の順序で複数の構成内の各構成に切り換えられ、次いで第2の順序で複数の構成内の各構成に切り換えられ、第2の順序は第1の順序の逆である。0015他の実施形態によれば、非一定の重みを使用する信号処理回路による処理のためのサンプルアナログ信号を発生させるようにセンサシステムを動作させる方法が提供される。センサシステムはセンサ組立体を実装するための複数の信号発生素子を含み、複数の信号発生素子はセンサ組立体を実装するための複数の可能な組み合わせの間で切り換えるように動作可能に結合される。方法は、複数の信号発生素子を、第1の順序で可能な構成のそれぞれに切り換え、第1の順序の各構成に対するサンプルアナログ信号を出力するように、複数の回路素子を活動化するステップを含む。第1の順序の後に、複数の信号発生素子は、第2の順序で可能な構成のそれぞれに切り換えられ、第2の順序の各構成に対するサンプルアナログ信号を出力するように活動化され、第2の順序は第1の順序の逆である。0016他の実施形態によれば、信号発生および処理システムが提供される。システムは、複数の信号発生素子と、複数の信号発生素子に動作可能に結合された複数のスイッチを有するスイッチングネットワークとを備える。スイッチングネットワークは、複数の異なる構成の間で、複数の信号発生素子を切り換えるように構成されている。システムは、2次のダイナミックエレメントマッチングDEMローテーション方式を実現するようにスイッチネットワークを制御するためのDEM制御システムを含み、この2次のDEMローテーション方式では、複数の信号発生素子は、第1の順序で複数の構成内の各構成に切り換えられ、次いで第2の順序で複数の構成内の各構成に切り換えられ、第2の順序は第1の順序の逆である。信号発生素子は、第1および第2の順序の各構成にて活動化されてサンプルアナログ信号を出力する。システムは、サンプルアナログ信号を受け取るための信号処理回路を含む。信号処理回路は、2次DEMローテーション方式の間に受け取ったサンプルアナログ信号をノイズ整形関数に従って組み合わせて、離散出力値を生成させるように構成されている。ノイズ整形関数は、サンプルアナログ信号のそれぞれに、サンプルアナログ信号が離散出力値の生成に寄与する非一定の重みを割り当てる。0023次に本発明の原理の理解を深めるために、図面に示され、本明細書で以下に述べられる実施形態を参照する。それによって本発明の範囲に対して限定がなされるものではないことを理解されたい。さらに本発明は、図示の実施形態へのいかなる変形形態および変更形態を含み、本発明が関係する当業者なら普通に思い付くであろう、本発明の原理の他の応用例を含むことを理解されたい。0024図3は、アナログ信号発生および処理システム300のブロック図を示し、システム300はダイナミックエレメントマッチングDEMセンサ304と、アナログ信号処理回路すなわちインクリメンタルADC308と、システムクロック310とを含む。一実施形態では、DEMセンサ304、インクリメンタルADC308、およびクロック310は、すべて同じ半導体基板に配置される。代替実施形態では構成要素の様々な組み合わせは、異なる半導体デバイスに配置される。以下で説明するようにDEMセンサ304は、2次DEMローテーション方式に従って選択的にサンプルアナログ信号をインクリメンタルADC308に出力するように構成される。システムクロック310は、サンプルアナログ信号がインクリメンタルADC308に出力されるサンプルレートを設定する。0025インクリメンタルADC308は、2次DEMローテーション方式に従って発生したサンプルアナログ信号を累算し、それらを積分して、サンプルアナログ信号の加重平均に対応する離散値を有する出力を発生するように構成されている。アナログサンプルを累算し、それらをデジタル出力に積分するプロセスを、本明細書では変換サイクルと呼ぶ。インクリメンタルADC308は、積分のために、変換サイクル当たり所定の数S個のサンプルを累算するように構成されている。本明細書で用いられる加重平均とは、各サンプルに、各サンプルがデジタル出力値に寄与する重みすなわち係数が割り当てられたサンプルアナログ信号の値の平均を指す。加重平均を発生するために一定の重みを用いるシステムとは異なり、図3のインクリメンタルADC308は、加重平均の計算においてサンプルに非一定の重みを割り当てるように構成されている以下でより詳細に説明する。0026DEMセンサ304、アナログ信号処理回路308、およびシステムクロック301は、それぞれコントローラ314に動作可能に接続することができる。コントローラ314は、様々なデバイスパラメータがシステム内に設定またはプログラムされることを可能にする。コントローラ314は、ソフトウェア、ハードウェア、またはその両方で実施することができ、操作者がシステムに対するパラメータを指定することを可能にするアプリケーションプログラミングインターフェースAPIを提供する。このようなパラメータの例には、変換当たりに必要なサンプル数、サンプルレート、クロック周波数、デジタル出力に対する分解能のビット数などが含まれる。さらに制御システムコントローラ314は、変換サイクルを開始し、各変換サイクルの始まりにて積分器およびカウント値をリセットするのにシステムにとって適切な信号たとえばリセットを発生させることができる。0027上述のようにインクリメンタルADC308は、加重平均の計算においてサンプルに非一定の重みを割り当てる。図4には、DEMセンサ304によって発生したサンプルアナログ信号を非一定の重みを使用して処理するインクリメンタルADC308の一実施形態が示される。図4のインクリメンタルADCは、2次インクリメンタルADC400を備える。2次インクリメンタルADC400の動作は、1次インクリメンタルADCの動作と似ている。しかし、第2のアナログ積分器を追加することにより、サンプルアナログ信号を2n/2個のサンプルを用いてnビットに分解することが可能になる。したがって2次インクリメンタルADCの場合の変換時間は、1次インクリメンタルADCの場合の変換時間のほぼ平方根となる。0028図4に示されるように2次インクリメンタルADC400は、2つのアナログ積分器404、408と、デジタルフィルタを形成する2つのデジタル積分器424、428とを含む。サンプルアナログ入力信号はアナログ積分器404、406によって積分され、次いでADC410に供給され、ADC410は積分されたサンプル信号を量子化する。DAC414はADC410の量子化された出力を、アナログ信号に変換して、加算ノード418および420を通じて積分器404、408の両方に帰還する。ADC410の量子化された出力は2つのデジタル積分器424、428に供給され、デジタル積分器424、428はサンプル信号を積分して、サンプル信号の加重平均である離散値を有するデジタル出力を端子430に発生させる。0029デジタル積分器424、428によって実施されたデジタルフィルタは、2次伝達関数に従って複数のサンプルを積分してデジタル出力値を生成するように構成される。本明細書で用いられる2次伝達関数すなわち重み付け関数は、線形の非一定重み付け関数である。重み付け関数の線形および非線形という側面は、サンプル位置による重みの変化を指す。線形の非一定重み付け関数では、連続するサンプルに割り当てられる重みの差は、連続するサンプルごとに同じである。S個のサンプルに割り当てられた重みのプロットは、1/S/S1、すなわち1/SS1の傾きを有する直線である。たとえば図5は、ADC400内に実装された線形の非一定重み付け関数の一実施形態による、S=20個のサンプルに割り当てられた重みのグラフを示す。0030変換サイクル内では、所定の数のサンプルがADC400に供給されてデジタル出力値を生成する。変換当たりに用いられるサンプル数は、コントローラ314図3を通じてADCに設定される。2次DEMローテーション方式によって発生した信号を処理するためには、変換サイクル当たりのサンプル数は、2次DEMローテーション方式に従ってDEMセンサ304によって発生するサンプルの総数Sの倍数に設定される。DEMセンサ304からのアナログサンプル信号は、システムクロック310によって設定されるサンプルレートにて、ADC308に供給される。0031図3を再度参照するとDEMセンサ304は、2次DEMローテーション方式に従ってアナログサンプル信号を発生させるための複数のアナログ信号発生素子324を含む。一実施形態ではDEMセンサ304の信号発生素子324は、温度、圧力、流量など、物体または環境の物理的特性またはパラメータを検出または測定するためのセンサ組立体を実装するように構成されている。具体的には複数の信号発生素子324は、検知されたパラメータの変化に比例して変化する電圧または電流レベルなどの特性を有するアナログ出力信号を発生させるためのトランジスタ、抵抗器、キャパシタなどの1つまたは複数の回路デバイスを実装する。信号発生素子324はそれぞれ、製造プロセス時に導入され得るランダムばらつきを除いてはほぼ同じ単位サイズおよび形状、または単位サイズの倍数を有するように設計することができる。0032信号発生素子324は、センサ組立体の回路デバイスを実装するために、M個の構成で構成することができる。信号発生素子324のM個の構成は、信号発生素子324の数、および実装されるデバイスの数およびタイプに依存する。さらにセンサ設計の一部として信号発生素子324は、互いに対して所定の比率を有する回路デバイスを実装することが必要になり得る。図3の例示的実施形態では複数の信号発生素子324は、たとえば互いに対して2/3の比率を有する2つのデバイスを実装するために、5つの信号発生素子A、B、C、D、およびEを備える。デバイス比率は、5つのうちの3つの信号発生素子を第1のデバイスに、5つのうちの2つの信号発生素子を第2のデバイスに割り振るまたは割り当てることによって実現することができる。2つのデバイスを実装するために5つの信号発生素子A、B、C、D、およびEは、2/3の比率を有する10通りの異なる組み合わせにて第1および第2のデバイスに割り振ることができ、組み合わせは構成とも呼ばれ、たとえば、M1={1ABC,2DE}、M2={1ABD,2CE}、M3={1ABE,2CD}、M4={1ACD,2BE}、M5={1ACE,2BD}、M6={1ADE,2BC}、M7={1BCD,2AE}、M8={1BCE,2AD}、M9={1BDE,2AC}、およびM10={1CDE,2AB}である。0033複数の信号発生素子324はスイッチングネットワーク320によって相互接続され、スイッチングネットワーク320は、インクリメンタルADC308にサンプルアナログ信号を出力するために、アナログ信号発生素子324が、可能な構成すなわち組み合わせのそれぞれに選択的に切り換えられるようにする。複数の組み合わせすなわち構成の間で回路素子を切り換えるためのスイッチネットワークは知られており、信号素子の数、素子が実装する回路デバイスの数、およびセンサのタイプに対して回路デバイスがどのように接続されるかに依存する。スイッチネットワーク320はさらにDEMロジック318によって制御される。DEMロジック318は、ローテーション方式に従って素子の様々な組み合わせの間で複数の信号発生素子324を切り換えるように、知られているやり方でスイッチネットワーク320を制御するように構成されている。0034上述のように信号発生素子の特性のランダムばらつきにより、信号発生素子324の各組み合わせによって出力されるサンプル信号は異なる値をもち得る。1次DEMローテーション方式では信号発生素子は、ある順序の素子の各可能な組み合わせにわたって循環される。たとえば上述の信号発生素子324の10通りの組み合わせの場合は、このような順序はi∈{M1,M2,M3,...,M10}と表すことができる。順序iは、変換サイクルに対して、必要な数のサンプルがADCによって累算されるまで繰り返され、その時点でサンプルは積分され、出力値が生成される。加重平均を計算するために変換サイクル内の各サンプルに、1次インクリメンタルADCの場合のように同じ重みすなわち1/S、ただしSはサンプルの総数が割り当てられた場合は、サンプルを発生させるために用いられた素子の各組み合わせのランダムばらつきは互いに平均化され、それによりそれらは互いに有効に打ち消し合う。しかし、平均を計算するために、組み合わせ順序i∈{M1,M2,M3,...,M10}によって発生したサンプルに非一定の重みが割り当てられた場合は、各組み合わせのランダムばらつきは出力に対して等しく寄与しない。したがってランダムばらつきは互いに平均化されず、結果として1次インクリメンタルADCなどの一定の重みを用いたシステムと比べて、より大きな残留ばらつきを有する出力を生じる。0035図4の2次インクリメンタルADC400などの、非一定の重みを有するシステムの場合に、サンプルの加重平均におけるランダムばらつきすなわち残留ばらつきを低減または除去するためには、DEMセンサ304は、インクリメンタルADC308のためのサンプルアナログ信号を発生させるために2次DEMローテーション方式を使用するように構成される。2次DEMローテーション方式ではDEM制御システムは、図4に示される2次インクリメンタルADCなどで使用される、線形の非一定重み付け関数に従って信号が処理される場合でも、1次インクリメンタルADCなど、可能な組み合わせのそれぞれにおけるランダムばらつきが互いに平均化されることを可能にする所定の順序のM通りの可能な組み合わせの間で、信号発生素子を切り換えるようにスイッチネットワークを制御する。0036一実施形態では、図4の2次インクリメンタルADC400などの線形で非一定の重みを用いるシステムと共に用いるための2次DEMローテーション方式は、信号発生素子324を第1の順序で素子の可能な組み合わせのそれぞれに切り換え、次いで素子を第1の順序とは反対の第2の順序で可能な構成のそれぞれに切り換えることを含む。たとえば、所望のセンサを実装するために5つの素子324を10通りの組み合わせMにて構成することができる図3のDEMセンサ304の場合の2次DEMローテーション方式は、順序j1、ただしj1∈{M1,M2,M3,...,M10}で10個の可能な構成のそれぞれに素子324を切り換え、次いで第1の順序と反対の第2の順序j2、ただしj2∈{M10,M9,M8,...,M1}で可能な構成のそれぞれに素子を切り換えることを含む。したがって一実施形態では2次DEMローテーション方式は、順序j、ただしj∈{M1,M2,M3,...,M10,M10,M9,M8,...,M1}と表すことができる。0037信号発生素子324は、2次DEMローテーション方式によって指示される順序jで各組み合わせに対して活動化されて、サンプルアナログ信号をADC308に出力する。したがって2次DEMローテーション方式の間では、素子のM通りの可能な組み合わせのそれぞれが、2つのサンプル信号を発生し、合計で2×M個のサンプルを発生する。信号発生素子324が、2次DEMローテーション方式に従って異なる組み合わせにわたって循環され、2×M個のサンプルがADCに出力された後に、ADC308は、出力値を生成するために上述のように2次のノイズ整形関数に従ってサンプルを積分する。たとえばサンプル重みは各サンプルに、DEMセンサ304からサンプルを受け取った順に基づいて割り当てられる。図5に示されるように1番目のサンプルと20番目のサンプルはそれぞれ組み合わせM1によって発生し、2番目のサンプルと19番目のサンプルはそれぞれ組み合わせM2によって発生し、3番目のサンプルと18番目のサンプルはそれぞれ組み合わせM3によって発生し、以下同様である。したがって最も高い重みと最も低い重みは組み合わせM1によって発生した2つのサンプルに割り当てられ、2番目に高い重みと2番目に低い重みは組み合わせM2によって発生した2つのサンプルに割り当てられ、以下同様である。その結果として各組み合わせM1からM10に割り当てられるサンプル重みの平均はほぼ同じとなる。0038したがって2次DEMローテーション方式を用いることにより、各組み合わせM1からM10は、出力値のための加重平均の計算に、同じ係数すなわち重みで寄与する。各組み合わせM1からM10は等しく寄与するので、各組み合わせM1からM10のランダムばらつきは互いに平均化され、それにより互いに有効に打ち消し合う。より具体的には、図5のサンプル重みを有する2次インクリメンタルADCなどの、非一定であるが線形の重みを有するシステムの場合は、2次DEMローテーション方式を用いることにより次式のランダムばらつきを有する最終結果となる。したがって1次のADCと同様に、素子の組み合わせの順序が、これらの単位素子のすべての可能な組み合わせからなる場合は、この平均化によりランダムばらつきは互いに有効に打ち消し合うことになり、それにより最終結果はランダムばらつきをもたなくなる。00392次DEMローテーション方式はまた、3次以上のインクリメンタルADCのためのサンプル信号を発生させるのに使用することができる。3次インクリメンタルADCは、サンプルの積分のために3次のノイズ整形関数を使用して、出力を発生させるシステムである。図6には、3次のノイズ整形関数に従って20個のサンプルに割り振られるサンプル重みの例が示される。図6に示されるように3次のノイズ整形関数は、非線形の非一定重み付け関数である。したがって2次DEMローテーション方式を使用して20個のサンプルを発生させ、それらが図6に従って重み付けされた場合は、各組み合わせに割り当てられたサンプル重みの平均は等しくならない。たとえば1番目と20番目のサンプルに割り当てられた重みの平均は、2番目と19番目のサンプルに割り当てられたサンプル重みの平均と等しくなく、以下同様である。したがって各組み合わせは出力に対して同じ重みの合計で寄与しない。しかし、2次DEMローテーション方式は、組み合わせがほぼ互いに平均化されることを可能にし、これは最新技術のダイナミックエレメントマッチングと比べて依然として改善となる。0040前述のようにインクリメンタルADCは、2次DEMローテーション方式ではM通りの素子の組み合わせがあるのに対して、デジタル出力値を生成するのにより多くのサンプル、すなわち2×M個が必要となり得る。オーバーサンプリングを適応させるためには、出力値を生成するためにADCによって使用されるサンプルの数は、ADCのために必要なサンプル数より多い、2×Mの任意の倍数に設定することができる。オーバーサンプリングのために用いることができるオーバーサンプリングローテーション方式の一実施形態は、順序{M1,M1...,M2,M2...,...,MM-1,MM-1...,MM,MM...,MM,MM...,MM-1,MM-1...,M2,M2...,...,M1,M1...}で与えられ、ただし組み合わせM1からMMまでのそれぞれは、サンプルの総数を適応させるために、その順序の次の組み合わせに移る前に等しい回数連続して繰り返される。オーバーサンプリングに必要なサンプルの総数がたとえば3220個で、構成の総数が10の場合は、その順序の各組み合わせは、各組み合わせが合計で14個のサンプルを発生するように連続して7回繰り返される。順序のために発生するサンプルの総数は140となり、これは必要な数3048より多い。さらに対称性は維持され、すなわち各組み合わせは出力に対して等しい回数寄与し、各組み合わせによって発生するサンプルに割り当てられる重みの合計は同じとなる。0041他の実施形態では中心の順序{M1,M2...,MM-1,MM,MM,MM-1...,M2,M1}は、必要なサンプルの総数が発生するまで繰り返される。上記と同様にオーバーサンプリングに必要なサンプルの総数がたとえば3048であり、構成の総数が10である場合は中心の順序{M1,M2...,MM-1,MM,MM,MM-1...,M2,M1}は、各組み合わせが順序の間に合計で140サンプルに対して、合計で14サンプルを発生させるように、7回連続して繰り返すことができる。各組み合わせは依然として出力に対して等しい回数寄与し、各組み合わせによって発生するサンプルに割り当てられる重みの合計は同じとなる。0042上記の両方のオーバーサンプリング循環順序は、2次インクリメンタルADCなどの非一定であるが線形の重みを有するシステムに対して等しく正しく動作する。第2のオーバーサンプリング循環順序は、3次インクリメンタルADCなどの非一定で非線形の重みを有するシステムに対して、より正確な近似をもたらすことができる。0043本発明について図面に示し上記の説明で詳しく述べてきたが、これらは例示であって、限定する性質のものではないと見なされるべきである。好ましい実施形態のみが示され、本発明の趣旨に含まれるすべての変更形態、変形形態、および他の応用例は、保護されることが望ましいことを理解されたい。"