"2枚の楔状をした光学的等方性材料の板を一定厚さになるように重ね合わせた一対の楔板と、前記一対の楔板をそれぞれ保持する楔板保持手段と、を備え、前記楔板保持手段は、前記一対の楔板の厚さ方向に垂直な方向に、前記それぞれの楔板を圧縮する圧縮部を有し、前記一方の楔板の圧縮方向と前記他方の楔板の圧縮方向とは45度で交差していることを特徴とする偏光解消板。請求項1記載の偏光解消板において、前記一方の楔板の前記圧縮方向は、前記楔板の厚さ変化率の最大方向と平行であることを特徴とする偏光解消板。請求項1または2記載の偏光解消板において、前記圧縮部は、固定部材と、前記楔板を挟持する挟持部材とを有し、該挟持部材は、前記固定部材に対して前記圧縮方向に移動可能に設けられていることを特徴とする偏光解消板。請求項1から3のいずれかに記載の偏光解消板において、前記光学的等方性材料は、光学的等方性結晶であることを特徴とする偏光解消板。請求項1から4のいずれかに記載の偏光解消板において、前記楔板は、前記厚さ方向から見た形状が、正八角形であることを特徴とする偏光解消板。光源の光束中の特定の直線偏光のみを透過する偏光子と、前記直線偏光を偏光変調して左右の円偏光を交互に生成する偏光変調子と、前記左右の円偏光の照射を交互に受ける試料部と、該試料部の後段に設けられ、前記試料部からの反射光または透過光の偏光状態を解消する請求項1から5のいずれかに記載の偏光解消板と、前記偏光状態を解消された光束の光強度を検出する検出器と、を備え、前記検出器は、前記光強度の検出値の変化に基づき前記左右の円偏光の吸光度の差を取得することを特徴とする円二色性分光装置。請求項6記載の円二色性分光装置において、前記検出器の前には光束を集光する集光レンズが設けられ、前記偏光解消板は、前記集光レンズの前段に設けられることを特徴とする円二色性分光装置。光源の後段に設けられ、前記光源からの光束の偏光状態を解消する請求項1から5のいずれかに記載の偏光解消板と、前記偏光状態を解消された光束の照射を受ける試料部と、前記試料部からの反射光または透過光の光束を偏光変調する偏光変調子と、偏光変調された前記光束中の特定の偏光面を持つ直線偏光を透過する偏光子と、前記直線偏光の光強度を検出する検出器と、を備え、前記検出器は、前記光強度の検出値の変化に基づき、前記偏光状態を解消された光束に含まれる左右の円偏光の吸光度の差を取得することを特徴とする円二色性分光装置。請求項6から8のいずれかに記載の円二色性分光装置において、測定波数域に応じて前記偏光解消板が切換え可能であることを特徴とする円二色性分光装置。ところで、従来のCD分光装置を構成する光学素子偏光変調子、検出器前のレンズなどは、多少なりとも歪みを持っている。そして、光学素子の歪みに起因する複屈折は、偏光状態を変えてしまう性質があり、円二色性の測定誤差を生じる原因となっている。そのため、従来のCD分光装置の光学配置に、偏光解消板を設けて試料に対して無偏光状態の光を照射することで、光学素子の歪みによる測定誤差を軽減していた特許文献1参照。偏光解消板の具体的な構成として、2枚の複屈折材料異方性結晶の楔状の板を接合したものが知られている。また、4枚の複屈折材料の楔状の板を接合したものも知られている特許文献2参照。このような従来の偏光解消板では、複屈折材料同士を接合した際にその異方性結晶の光学軸の方位が互いに異なるように、それぞれの楔状の板が形成されている。入射光は、その断面形状においてある程度の広がりを持っているので、偏光解消板を透過する光は、各楔状の板の厚みの差に応じて位相差が生じる。従って、透過光は偏光解消板への入射位置ごとに異なる偏光に変換され、光束全体でみれば、いろいろな偏光状態の光が混在することになり、擬似的に無偏光状態といえる光束が得られる。発明者らは、独自に新しい構成の偏光解消板について鋭意研究し、従来のような異方性結晶の複屈折材料を用いない構成で、かつ、シンプルな構成の偏光解消板の創作に努めてきた。すなわち、本発明の目的は、従来のような異方性結晶の複屈折材料を用いないで構成でき、かつ、その構成がシンプルである偏光解消板を提供することにある。また、このような偏光解消板を用いた円二色性分光装置を提供することにある。本発明の偏光解消板は、2枚の楔状をした光学的等方性材料の板を一定厚さになるように重ね合わせた一対の楔板と、前記一対の楔板をそれぞれ保持する楔板保持手段と、を備え、前記楔板保持手段は、前記一対の楔板の厚さ方向に垂直な方向に、前記それぞれの楔板を圧縮する圧縮部を有し、前記一方の楔板の圧縮方向と前記他方の楔板の圧縮方向とは45度で交差している。また、前記一方の楔板の前記圧縮方向は、前記楔板の厚さ変化率の最大方向と平行であることが好ましい。また、前記圧縮部は、固定部材と、前記楔板を挟持する挟持部材とを有し、該挟持部材は、前記固定部材に対して前記圧縮方向に移動可能に設けられている。また、前記光学的等方性材料は、ZnSe等の光学的等方性結晶である。また、前記楔板は、前記厚さ方向から見た形状が、正八角形である。一方、本発明の円二色性分光装置は、光源の光束中の特定の直線偏光のみを透過する偏光子と、前記直線偏光を偏光変調して左右の円偏光を交互に生成する偏光変調子と、前記左右の円偏光の照射を交互に受ける試料部と、該試料部の後段に設けられ、前記試料部からの反射光または透過光の偏光状態を解消する前記偏光解消板と、前記偏光状態を解消された光束の光強度を検出する検出器と、を備え、前記検出器は、前記光強度の検出値の変化に基づき前記左右の円偏光の吸光度の差を取得することを特徴とする。また、前記検出器の前には光束を集光する集光レンズが設けられ、前記偏光解消板は、前記集光レンズの前段に設けられることが好ましい。また、本発明の円二色性分光装置は、光源の後段に設けられ、前記光源からの光束の偏光状態を解消する前記偏光解消板と、前記偏光状態を解消された光束の照射を受ける試料部と、前記試料部からの反射光または透過光の光束を偏光変調する偏光変調子と、偏光変調された前記光束中の特定の偏光面を持つ直線偏光を透過する偏光子と、前記直線偏光の光強度を検出する検出器と、を備え、前記検出器は、前記光強度の検出値の変化に基づき、前記偏光状態を解消された光束に含まれる左右の円偏光の吸光度の差を取得することを特徴とする。ここで、測定波数域に応じて前記偏光解消板が切換え可能であることが好ましい。偏光解消板本発明に係る偏光解消板の実施形態について図1に基づいて説明する。同図は偏光解消板の一例であり、その斜視図を示す。偏光解消板10は、2枚の楔状をした光学的等方性結晶例えばZnSe等の楔板12,14と、これらの楔板12,14をそれぞれ保持する保持具16図2参照、楔板保持手段に相当するとから構成される。楔板12,14は、Z軸方向から見た形状が正八角形であり、Y軸方向から見ると、Z軸方向の厚さ寸法がX軸方向の位置で変化する楔形状になっている。裏面は、表面に対して傾斜面になっている。楔板の表面12aと裏面12bとの交角は、例えば3°とする。ある幅の光束が楔板を通過する際に、光束は、最も長い光路を通過する光と、最も短い光路を通過する光とを含む。楔板に複屈折特性が生じている場合、光路差によって偏光が解消される程度が異なる。一枚の楔板において、ある程度の光路差が生じなければ、偏光解消が十分でなくなる。詳細は後述するが、偏光解消の程度は、光路差だけでなく、入射光の波長や楔板に生じる複屈折特性にも依存する。例えば、赤外光の偏光解消を目的とする場合、入射光の断面の直径が25mm程度とすると、楔板の正八角形の対辺の有効間隔は25mm程度以上となり、必要な交角は3°以上である。楔板12,14の表面の形状は、特に限定されるものではないが、図1のように正八角形であることが好ましい。正八角形にする理由は、後述するように楔板12,14を圧縮する際の加圧面が得られ加圧が容易になるから、また、必要に応じて楔板12,14を回転させて姿勢を変更できるからである。さらに、2枚の楔板12,14が同一形状になり、かつ、光学的等方性結晶で形成されているため、前段の楔板12と後段の楔板14とを区別する必要がなく、容易に楔板12,14を取り扱うことができる。また、楔板保持手段を共通して使用することができる。保持具16は、2枚の楔板12,14が重なり合うようにして、2枚の楔板の合計の厚さ寸法が一定になるように、これらの楔板12,14を保持する。本実施形態では、2枚の楔板間に隙間を設けているが、これは各楔板の圧縮を適切に実行するためである。保持具16の構造および楔板12,14の圧縮に支障が無ければ、楔板間の隙間を設けなくてもよい。保持具16は、前段の楔板12をC1の方向に圧縮し、後段の楔板14をC2の方向に圧縮するように構成されている。なお、前段の楔板12の表面12aと、後段の楔板の背面14bとは平行であり、一方の面に垂直に偏光解消対象の光束が入射する。同図では入射光の光軸をPで示す。前述の圧縮方向C1,C2はいずれも、入射光の光軸Pに対して垂直になっている。本実施形態では、前段の楔板12に対する圧縮方向C1が、前段の楔板12の最大傾斜方向と一致する。また、Z軸方向から見た場合、この圧縮方向C1と後段の楔板14に対する圧縮方向C2との交角が45度になっている。楔板12,14の最大傾斜方向とは、入射光の光軸Pに垂直な方向のうちで、楔板の傾斜面12b,14aの勾配が最大になる方向を示す。図1の場合、いずれの最大傾斜方向もX軸方向と一致する。この最大傾斜方向を、楔板の厚さ変化率の最大方向とも呼ぶ。2つの圧縮方向C1,C2は、図1の組み合わせに限られるものではない。本発明では、2つの圧縮方向は、入射光の光軸Pにそれぞれ垂直で、かつ、互いに45度で交差するという条件を少なくとも満たしていればよい。入射光の光軸方向Pは、一対の楔板12,14における表面12aと背面14bの厚さ方向とも言える。次に、保持具16の具体的な構成を、図2A,Bに基づいて説明する。図2Aに、保持具16AをZ軸方向から見た正面図とY軸方向から見た平面図を示す。図2Aの保持具16Aは、前段の楔板用であり、八角形の窓18を有する基台20と、この窓18を挟むように配置された固定板固定部材22と、ネジ支持板24と、ネジ支持板24に螺合された押しネジ26と、押しネジ26の先端に取り付けられた押え板挟持部材28とから構成されている。固定板22は、楔板12と窓18とが重なるように楔板12を位置決めする。押え板28は、押しネジ26の回転により、固定板22に対して進退自在になっている。そして、押えネジ26をねじ込むことによって、楔板12が固定板22と押え板28との間で挟持されるようになっている。この押えネジ26のトルクを調整して、楔板12に所定の圧縮応力を付与することができる。固定板22と押え板28とは本発明の圧縮部に相当する。楔板12,14は、もともと光学的異方性を持たないセレン化亜鉛ZnSeの結晶を用いて形成されている。楔板12,14は、Z軸方向から見ると正八角形であるので、正八角形の外周には合計4組の平行面が存在する。いずれか一組の平行面を加圧面にして、押え板28と固定板22により加圧面に対して垂直に機械的な圧力を加えると、その圧縮方向とこれに垂直な方向とに光学的異方性が生起し、楔板12,14が位相子として機能するようになる。楔板12,14の光学的異方性は、機械的圧力の大きさによって調整できるので、実測しながら位相差δを加圧方向に対して45度傾いた直線偏光が偏光解消される状態にするとよい。入射光には空間的に位相差の異なる光が分布しているので、具体的な位相差δを定めることは困難であるが、例えば、入射光の波長分程度の位相差δとなるように圧力を調整するとよい。このような保持具16Aを用いることにより、前段の楔板12の最大傾斜方向方向C1に、前段の楔板12を圧縮することができる。一方、図2Bの保持具16Bは、後段の楔板14用であり、同図Aの保持具16Aと同じ部材により構成されている。ただし、基台20の窓18に対する固定板22および押え板28の配置が異なる。同図Aの保持具16Aでは、水平方向から楔板12を挟持するように、固定板22および押え板28が配置されているのに対して、同図Bの保持具16Bでは、水平方向とは45度で交差する方向から楔板14を挟持するように、固定板22および押え板28が配置されている。このような保持具16Bを用いることにより、後段の楔板14の最大傾斜方向との交角が45度になる方向C2に、後段の楔板14を圧縮することができる。なお、図2A、Bに示す保持具16A,16Bは一例であり、一対の楔板12,14をそれぞれ上述の方向C1,C2から加圧できる機能を備えたものであれば、他の形態の保持具を適用できる。例えば、2つの楔板12,14を両方とも加圧できる保持具であってもよい。偏光解消板10は以上のように構成され、図1に基づいて入射光を無偏光状態にする作用について説明する。保持具16A,16Bを用いて楔板12,14をそれぞれ圧縮した状態では、各楔板12,14は光学的異方性の位相子になっている。そして、2枚の楔板12,14の異方性光学軸の方位は互いに45度で交差している。図1のように入射光の光軸PがZ軸方向、前段の楔板12の異方性光学軸がX軸方向となるように直交X-Y-Z座標系を設定すると、後段の楔板14の異方性光学軸は、Y=-Xで表わされる方向になる。まず、前段の楔板12への入射光を、X方向の振動成分ExとY方向の振動成分Eyとに分解して説明する。前段の楔板12では、これらの振動成分ExとEyの屈折率が異なるので、楔板12の厚みに応じた位相のずれが生じる。例えば、前段の楔板12への入射光が、Y=Xで表わされる偏光面振動面の直線偏光の場合、入射位置における楔板12の厚みが大きいほど、振動成分ExとEyの位相差δが大きくなって、その位相差δに応じた偏光状態に変換される。Y=Xの直線偏光の場合、振動成分の位相差δが大きくなるにつれて、その偏光状態がY=Xの直線偏光から、右回りの円偏光、Y=-Xの直線偏光、左回りの円偏光の順に変化する。つまり、前段の楔板12の厚みはX方向に連続的に異なっているので、このX方向の位置に応じて与えられる位相差δも連続的に異なる。従って、単一の偏光状態の光が入射しても光束が僅かでもX方向に広がっていれさえすれば、偏光解消板10の透過後、光はX方向の位置ごとに異なる偏光状態の光に変換され、光束全径でみれば様々な偏光状態の光が混在した無偏光と言える偏光状態に変換される。さらに、前段の楔板12の異方性光学軸と後段の楔板14の異方性光学軸とが45度で交差しているので、入射光が直線偏光であってその偏光面がどの方向を向いているとしても、その偏光状態を解消することができる。例えば、入射直線偏光の偏光方向が前段の楔板12の異方性光学軸X方向と一致する場合、前段の楔板12では偏光解消されずに入射光が素通りする。しかし、入射直線偏光の偏光方向は、後段の楔板14の異方性光学軸とは45°の角をなすので、後段の楔板14において最も解消効果が高くなる。このように、本発明の偏光解消板10では入射光の偏光方向によって解消効果に多少のふれはあっても全く解消しないという方向はない。[第1実施形態]次に、本発明の第1実施形態に係る円二色性分光装置CD分光装置100について図3に基づいて説明する。図3はCD分光装置100の全体構成図である。測定光学系は、フーリエ変換赤外分光計FTIR20、光学フィルタ30、偏光子40、偏光変調子PEM50、試料部60、偏光解消板10、集光レンズ70、検出器80から構成され、この順番で測定光の光軸上に配置されている。FTIR20は、可動鏡を有するマイケルソン型干渉計を基本構成とする一般的な赤外分光計であり、インターフェログラムを描く干渉光を出射する。FTIR20の干渉計は、赤外光を2つの光束に分割するビームスプリッタを有する。分割された一方の光束ビームスプリッタの反射光は固定鏡を反射してビームスプリッタへ戻り、他方の光束ビームスプリッタの透過光は可動鏡を反射して同様にビームスプリッタへ戻る。2つの光束はビームスプリッタで合成され干渉光となって出射される。干渉光は、可動鏡の移動位置に応じた強度、すなわち、2つの光束の光路差Dに応じた強度を有する干渉光インターフェログラムとして出射される。光学フィルタ30は、FTIR20からの干渉光のうち測定に必要な波長範囲の光を透過する。偏光子40は、光フィルタ30の透過光からY=Xで表わされる偏光面を有する直線偏光を取り出すように配置されている。PEM50はその主軸をY方向に合わせた状態で配置されている。なお、偏光子40の光学的な光軸方向と、PEM50の主軸方向とは、上記の組合せに限られず、少なくともZ軸方向から見た場合に45度で交わる関係になっていればよい。直線偏光はPEM50により位相差δを変調される。具体的には、直線偏光の互いに直交する2つの偏光成分間図3ではX方向成分とY方向成分の位相差δがPEM50により変調される。位相差δの変調は、通常、サインカーブで行なわれる。この位相差δの変調に従って、直線偏光の偏光状態も変調される。結果として、交互に形成される左右の楕円偏光がPEM50より出射する。試料部60はこの左右の楕円偏光の照射を交互に受ける。なお、干渉光を偏光子40で直線偏光のインターフェログラムとした後、PEM50で位相変調を加え、試料部60に入射させることは、従来の振動CD測定装置と基本的に同じである。ただし、本発明では、試料部60の後段に新たに偏光解消板10を配置している。この偏光解消板10は、試料部60の透過光の偏光状態を解消するために設けられている。図2の保持具16A,16Bを用いれば、前段の楔板12の圧縮方向がX方向に一致し、後段の楔板14の圧縮方向がY=-Xで表わされる方向に一致するように、偏光解消板10を設置することができる。偏光解消板10を透過した光は、集光レンズ70で検出器80に集光され、検出器80において光強度が検出される。図3では図示を省略するが、CD分光装置のデータ処理系は、プリアンプ、ロックインアンプ、DCアンプ、PEMドライバ、A/Dコンバータおよびデータ処理装置から構成されている。検出器80で検出された光強度信号は、プリアンプで増幅された後、その直流成分と交流成分とが別々に増幅される。ロックインアンプは、PEM50の駆動周波数と同期する信号をPEMドライバから受けて、駆動周波数と同じ周波数成分である交流成分信号ACを光強度信号から抽出する。DCアンプは、光強度信号から直流成分信号DCを抽出する。直流成分信号と交流成分信号は、適当なA/Dコンバータで数値化されて、データ処理装置に取り込まれる。データ処理装置は、交流成分および直流成分の比AC/DCの値を演算する。この演算結果はCD値=ΔAに関係する信号列ではあるが、CD値そのものではなく、インターフェログラムである。従って、これをデータ処理用のコントロールPCに送り、そこでフーリエ変換が施されて波長波数νに対するスペクトルとなる。このスペクトルに、波数νのパラメータを有する変調振幅δ0を掛けて、式1によりCDスペクトルを得ることができる。式中のF[]はフーリエ変換を表す。このように構成されたCD分光装置100を用いて試料のCD値を測定する際に得られる効果を説明する。従来のCD分光装置では、検出器が、試料を通った光束をその偏光状態のまま受光していた。つまり、試料を通った光束の偏光状態は、直線偏光状態を中心に左右の円偏光状態に交互に変化している。検出器が、特定の偏光状態例えば、直線偏光や、直線偏光と円偏光の中間状態である楕円偏光などの光束を受光する際、集光レンズの歪みなどによってその偏光状態が変化してしまうことがあった。直線偏光や楕円偏光など特定方向に強く偏った光が入射した際に、同じエネルギーの光でもその振動方向によって異なる出力を示すようになるからである。そのため、左右の円偏光の吸光度の差を正確に検知できなくなり、測定結果の正確さに支障を来たしていた。これに対して、本発明では、検出器80は、試料60を通った光束を偏光解除板10により偏光状態を解除させてから、その光束を受光する。偏光状態が解除されても、光束の光強度は維持されるため、光束には左右の円偏光の吸光度の差の情報が保持され続ける。従って、検出器80が偏光状態を解除された光束を検出して、その検出信号を信号処理部が処理することにより、光強度信号の変化に基づいて左右の円偏光の吸光度の差CD値を算出することができる。このため、検出器80では、偏光解消板10によって無偏光状態に変換された光束が入射するので、従来のような誤差が生じることなく、CD値の正確な測定結果が得られる。[第2実施形態]次に、本発明の第2実施形態に係るCD分光装置200について、図4に基づいて説明する。なお、基本的な構成は、第1実施形態のCD分光装置100に共通する。適宜同じ符号を用いて説明する。図4はCD分光装置200の全体構成図である。測定光学系は、FTIR20、光学フィルタ30、偏光解消板10、試料部60、PEM50、偏光子90、集光レンズ70、検出器80から構成され、この順番で測定光の光軸上に配置されている。本発明では、光学フィルタ30の後段に偏光解消板10を配置している点に特徴がある。この偏光解消板10は、試料部60への照射光の偏光状態を解消するために設けられている。図2の保持具16A,16Bを用いれば、前段の楔板12の圧縮方向がX方向に一致し、後段の楔板14の圧縮方向がY=-Xで表わされる方向に一致するように、偏光解消板10を設置することができる。図4の光学配置において、PEM50の主軸方向に対し、偏光解消板10の圧縮方向C1,C2を任意に設定することができる。すなわち、PEMの主軸方向に関わらず、圧縮方向C1、C2の交角が45度になってさえいればよいのである。偏光解消板10を設けても、光学系の偏光方向に制約が生じないので、光学配置上の自由度は維持される。偏光状態を解除されて無偏光状態になった光束は、試料部60を照射する。試料は、無偏光状態の光束に含まれる左右の円偏光をそれぞれ異なる吸光度で吸収する。この試料部60の透過光は、PEM50により偏光状態を変調される。さらに、偏光子90により特定の直線偏光が抽出され、その直線偏光が検出器80で検出される。このように構成されたCD分光装置200を用いて試料のCD値を測定する際に得られる効果を説明する。本実施形態では、試料部60への照射光は、無偏光状態であるが、この状態は、様々な振動方向の偏光が混在した状態と言える。効果の説明を容易にするため、ここでは単純な偏光成分からなる無偏光モデルを用いて説明する。図5に、無偏光モデルを用いてCD測定をした場合の、偏光状態の変化を示す。無偏光モデルの偏光成分は、X軸方向の直線偏光X直線偏光と、Y軸方向の直線偏光Y直線偏光と、左回りの円偏光左円偏光と、右回りの円偏光右円偏光として、各偏光成分の強度比率がすべて等しく、各偏光成分の光強度を25の数値で表わすことにする。そして、偏光解消板10を透過して偏光解消された光束が、この無偏光モデルに等しいとする。また、試料部60では左円偏光の吸光度よりも右円偏光の吸光度が高く、試料部60からの光束中の右円偏光の光強度は20になり、他の偏光成分X直線偏光、Y直線偏光、左円偏光の光強度は23になるとする。このような無偏光状態の光をPEM50により偏光変調すると、各偏光成分はその光強度を維持したまま、偏光状態だけが変化する。例えば、X直線偏光は、図5に示すように、X直線偏光→右円偏光→X直線偏光→左円偏光→X直線偏光の順で偏光状態が周期的に変化する。Y直線偏光については、Y直線偏光→左円偏光→Y直線偏光→右円偏光→Y直線偏光の順で偏光状態が周期的に変化する。左円偏光は、左円偏光→X直線偏光→左円偏光→Y直線偏光→左円偏光の順で変化し、右円偏光についても、右円偏光→Y直線偏光→右円偏光→X直線偏光→右円偏光の順で変化する。さらに、偏光状態が変調する無偏光状態の光から、例えばX直線偏光のみを偏光子90で抽出すると、光強度がPEM50の変調周期に応じて変化する直線偏光を得ることができる。この直線偏光の光強度を検出器80で検出する。測定光を試料に照射しなければ、検出される直線偏光の光強度は、一定値25になる。これに対して、測定光が試料を照射して右円偏光成分を多く吸収された場合には、検出される直線偏光の光強度は、23のレベルと20のレベルとが、交互に生じるようになる。つまり、検出器80の検出信号は、左右の円偏光の吸光度の差CD値の情報を含んだものになる。従って、第1実施形態のCD分光装置100のデータ処理系と同じデータ処理系を用いて、本実施形態のCD分光装置200で得られる検出信号の交流成分および直流成分の比AC/DCの値を演算し、コントロールPCにてフーリエ変換を施すことによって、試料のCDスペクトルを得ることができる。本実施形態のCD分光装置200によれば、試料部60の前段に偏光解消板10を設けることによって、FTIR20からの干渉光が僅かでも偏光状態である場合に、無偏光状態の光束に変換してから試料部60を照射することになる。そのため、PEM50、集光レンズ70などの各光学素子の歪みに起因して、特定の偏光成分に偏光状態の変化が生じても、光束全体の偏光状態に与える影響は微小となり、ほとんど無視することができる。PEM50や集光レンズ70に特定の偏光状態だけからなる光束が入射する場合に比べて、左右の円偏光の吸光度の差を正確に検知することができ、測定結果の正確さを改善することができる。以上の各実施形態のCD分光装置100,200において、測定波数域に応じて、偏光解消板10を切り換えるようにしてもよい。例えば、測定波数域が複数通り設定されている場合に、測定波数域ごとに最適な位相差δを与えることができる偏光解消板を複数準備しておくとよい。"