荷重を検出する荷重検出部と試料が載置される試料皿とを有する天秤本体部と、加熱体が取り付けられた天秤蓋部と、入力装置と、前記加熱体、前記荷重検出部及び前記入力装置を制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記入力装置によって乾燥温度が設定された温度制御シーケンスを記憶部に記憶させて実行する水分計であって、前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行することを特徴とする水分計。前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行するともに、実際に実行した温度制御シーケンスを記憶部に記憶させることを特徴とする請求項1に記載の水分計。しかしながら、電子水分計101では、温度制御シーケンス実行部181bが時間停止モードを実行してしまえば、試料の水分量が予想より低く、試料が焦げそうな場合でも、乾燥温度を途中で下げることができなかった。また、試料の水分量が予想より高く、試料を速く乾燥させたい場合でも、乾燥温度を途中で上げることができなかった。つまり、温度制御シーケンス実行部181bは、予め乾燥温度と測定時間とを設定した時間停止モードに従うため、状況に応じた温度制御ができないという問題点があった。そこで、本発明は、予め乾燥温度を設定した温度制御シーケンスを実行している最中に、乾燥温度を変更することができる水分計を提供することを目的とする。上記課題を解決するためになされた本発明の水分計は、荷重を検出する荷重検出部と試料が載置される試料皿とを有する天秤本体部と、加熱体が取り付けられた天秤蓋部と、入力装置と、前記加熱体、前記荷重検出部及び前記入力装置を制御する制御部とを備え、前記制御部は、前記入力装置によって乾燥温度が設定された温度制御シーケンスを記憶部に記憶させて実行する水分計であって、前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行するようにしている。以上のように、本発明の水分計によれば、予め乾燥温度を設定した温度制御シーケンスを実行している最中に、試料が焦げそうな場合や試料を速く乾燥させたい場合に、乾燥温度を変更することができる。他の課題を解決するための手段および効果また、本発明の水分計は、前記制御部は、前記温度制御シーケンスを実行している最中に、前記入力装置によって前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、前記温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行するともに、実際に実行した温度制御シーケンスを記憶部に記憶させるようにしてもよい。以上のように、本発明の水分計によれば、実際に実行した温度制御シーケンスを記憶部に記憶させるので、同じ種類の試料を改めて測定する際に、状況に応じて作成した温度制御シーケンスで測定することができる。以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれる。図1は、本発明に係る電子水分計の構成を示す斜視図である。なお、図1は、蓋を開けた状態の電子水分計である。また、図2は、図1に示す電子水分計の構成の一例を示すブロック図である。電子水分計1は、荷重を検出する荷重検出センサ荷重検出部10が収容されるケース本体筐体20と制御部80とを有する天秤本体部50と、荷重検出センサ10に取り付けられ試料が載置される試料皿40と、直管型のハロゲンヒータ加熱体60とケース蓋筐体70とを有する天秤蓋部90とを備える。制御部80は、CPU81とメモリ記憶部82とを備え、さらに入力装置25と表示装置24とが連結されている。CPU81が処理する機能をブロック化して説明すると、温度制御シーケンスを設定する温度制御シーケンス設定部81aと、ハロゲンヒータ60を制御する温度制御シーケンス実行部81bと、変位センサからの検出信号に基づいて持出部材の先端部の変位が0となるようにサーボ機構を制御する測定部81cと、表示装置24に水分率等を表示する表示制御部81dと、温度制御シーケンスを変更する温度制御シーケンス変更部81eとを有する。また、メモリ82は、作成された温度制御シーケンスを記憶する温度制御シーケンス記憶領域82aと、変更された温度制御シーケンスを記憶する新温度制御シーケンス記憶領域82bとを有する。温度制御シーケンス変更部81eは、温度制御シーケンスを実行している最中に、入力装置25によって温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、温度制御シーケンスに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して新温度制御シーケンス記憶領域82bに記憶させる制御を行う。温度制御シーケンス実行部81bは、温度制御シーケンス記憶領域82aに記憶された温度制御シーケンスに基づいてハロゲンヒータ60を制御する。そして、温度制御シーケンス実行部81bは、温度制御シーケンスを実行している最中に、新温度制御シーケンス記憶領域82bに温度制御シーケンスが記憶されれば、新温度制御シーケンス記憶領域82bに記憶された温度制御シーケンスに基づいてハロゲンヒータ60を制御する。ここで、電子水分計1で時間停止モードを選択して設定して、設定した時間停止モードを実行する使用方法の一例について説明する。まず、測定者は、入力装置25を用いて時間停止モードを選択する。これにより、温度制御シーケンス設定部81aは、選択された時間停止モードを温度制御シーケンス記憶領域82aに記憶させる。次に、時間停止モードを記憶させた場合には、さらに測定者は入力装置25を用いて乾燥温度と測定時間とを設定する。これにより、温度制御シーケンス設定部81aは、乾燥温度と測定時間とを温度制御シーケンス記憶領域82aに記憶させる。例えば、80°C、100分を記憶させる。図3aは、80°C、100分の時間停止モードにおける時間と温度との関係を示すグラフである。そして、温度制御シーケンス実行部81bは、温度制御シーケンス記憶領域82aに記憶された時間停止モードに基づいてハロゲンヒータ60を制御する。例えば、80°Cになるまで温度上昇するようにハロゲンヒータ60を制御し、80°Cを100分間維持するようにハロゲンヒータ60を制御する。ところで、本発明では、上述したような時間停止モードを実行している最中に、入力装置25によって時間停止モードに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、時間停止モードに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行することができる。例えば、80°Cを10分間維持している際に試料が焦げそうな場合には、測定者は、入力装置25を用いて乾燥温度80°Cを変更するための温度70°Cを入力する。これにより、温度制御シーケンス変更部81eは、時間停止モードに設定された乾燥温度80°Cを入力された温度70°Cに変更して新温度制御シーケンス記憶領域82bに記憶させる。図3bは、80°C、10分→70°C、90分の時間停止モードにおける時間と温度との関係を示すグラフである。そして、温度制御シーケンス実行部81bは、新温度制御シーケンス記憶領域82bに記憶された時間停止モードに基づいてハロゲンヒータ60を制御する。よって、温度制御シーケンス実行部81bは、70°Cになるようにハロゲンヒータ60を制御し、70°Cを90分間維持するようにハロゲンヒータ60を制御する。このとき、新温度制御シーケンス記憶領域82bには、実際に実行した80°C、10分→70°C、90分が記憶されることになる。よって、同じ種類の試料を改めて測定する際に、80°C、10分→70°C、90分の温度制御シーケンスを選択して設定することもできる。ここで、電子水分計1でステップ乾燥モードを選択して設定して、設定したステップ乾燥モードを実行する使用方法の一例について説明する。まず、測定者は、入力装置25を用いてステップ乾燥モードを選択する。これにより、温度制御シーケンス設定部81aは、選択されたステップ乾燥モードを温度制御シーケンス記憶領域82aに記憶させる。次に、ステップ乾燥モードを記憶させた場合には、さらに測定者は入力装置25を用いて各ステップ毎に乾燥温度と測定時間とを設定する。これにより、温度制御シーケンス設定部81aは乾燥温度と測定時間とを温度制御シーケンス記憶領域82aに記憶させる。例えば、80°C、10分のステップ1→100°C、5分のステップ2→105°C、15分のステップ3を記憶させる。図4aは、80°C、10分のステップ1→100°C、5分のステップ2→105°C、15分のステップ3のステップ乾燥モードにおける時間と温度との関係を示すグラフである。そして、温度制御シーケンス実行部81bは、温度制御シーケンス記憶領域82aに記憶されたステップ乾燥モードに基づいてハロゲンヒータ60を制御する。よって、温度制御シーケンス実行部81bは、80°C、10分のステップ1→100°C、5分のステップ2→105°C、15分のステップ3とハロゲンヒータ60を制御する。ところで、本発明では、上述したようなステップ乾燥モードを実行している最中に、入力装置25によってステップ乾燥モードに設定された乾燥温度を変更するための温度が入力されると、ステップ乾燥モードに設定された乾燥温度を入力された温度に変更して実行することができる。例えば、ステップ2の100°Cを2分間維持している際に試料を速く乾燥させたい場合には、測定者は、入力装置25を用いて乾燥温度100°Cを変更するための温度105°Cを入力する。これにより、温度制御シーケンス変更部81eは、ステップ乾燥モードに設定された乾燥温度100°Cを入力された温度105°Cに変更して新温度制御シーケンス記憶領域82bに記憶させる。図4bは、80°C、10分のステップ1→100°C、2分のステップ2→105°C、3分のステップ2’→105°C、15分のステップ3のステップ乾燥モードにおける時間と温度との関係を示すグラフである。そして、温度制御シーケンス実行部81bは、新温度制御シーケンス記憶領域82bに記憶されたステップ乾燥モードに基づいてハロゲンヒータ60を制御する。よって、温度制御シーケンス実行部81bは、105°Cになるまで温度上昇するようにハロゲンヒータ60を制御し、105°Cを3分間維持するようにハロゲンヒータ60を制御する。このとき、新温度制御シーケンス記憶領域82bには、実際に実行した80°C、10分のステップ1→100°C、2分のステップ2→105°C、3分のステップ2’→105°C、15分のステップ3が記憶されることになる。よって、同じ種類の試料を改めて測定する際に、80°C、10分のステップ1→100°C、2分のステップ2→105°C、3分のステップ2’→105°C、15分のステップ3の温度制御シーケンスを選択して設定することもできる。以上のように、本発明の電子水分計1によれば、予め乾燥温度を設定した温度制御シーケンスを実行している最中に、試料が焦げそうな場合や試料を速く乾燥させたい場合に、乾燥温度を変更することができる。また、実際に実行した温度制御シーケンスをメモリ82に記憶させるので、同じ種類の試料を改めて測定する際に、状況に応じて作成した温度制御シーケンスで測定することができる。