"被測定光ファイバの高次モードのカットオフ波長を測定する方法であって、光源から出力される光のパワースペクトルP1[dB]を測定する第1ステップと、長手方向に曲率が変化する形状に前記被測定光ファイバを位置決めして、前記光源から出力される光を前記被測定光ファイバの一端に入射させ、前記被測定光ファイバの他端から出射される光のパワースペクトルP2[dB]を測定する第2ステップと、前記第2ステップで測定したパワースペクトルP2と前記第1ステップで測定したパワースペクトルP1との差を表す差分スペクトルPを求める第3ステップと、前記第3ステップで求めた差分スペクトルPに基づいて前記被測定光ファイバの高次モードのカットオフ波長を求める第4ステップと、を備えることを特徴とするカットオフ波長測定方法。前記第4ステップは、前記差分スペクトルPにおいて最小値となる波長から長波長側にある直線領域を求め、該直線領域において前記差分スペクトルPの直線部分を表す近似式aλb[dB]を求める第1サブステップと、aλb01[dB]なる式で表される直線と前記差分スペクトルPとの交点の波長を前記被測定光ファイバの高次モードのカットオフ波長として求める第2サブステップと、を含むことを特徴とする請求項1に記載のカットオフ波長測定方法。前記第2ステップにおいて、長手方向に曲率が変化する形状として渦巻き形状に前記被測定光ファイバを位置決めする、ことを特徴とする請求項1に記載のカットオフ波長測定方法。前記第2ステップにおいて、パワースペクトルP2を測定する波長範囲で、前記被測定光ファイバが全長に亘って最低曲率で巻かれたときに得られる差分スペクトルPminの振動波形が、前記被測定光ファイバが全長に亘って最大曲率で巻かれたときに得られる差分スペクトルPmaxの振動波形に対して1/2周期以上ずれるように、前記被測定光ファイバを位置決めする、ことを特徴とする請求項1に記載のカットオフ波長測定方法。前記第2ステップにおいて、前記被測定光ファイバを導波するLP11モード光のカットオフ波長における曲げ損失が01dB以下となるように、前記被測定光ファイバを位置決めする、ことを特徴とする請求項1に記載のカットオフ波長測定方法。波長1550nmにおける曲率半径75mmでの曲げ損失が05dB/turn以下である光ファイバを前記被測定光ファイバとする、ことを特徴とする請求項1に記載のカットオフ波長測定方法。従来のカットオフ波長測定方法が以下のような問題点を有していることを本発明者は見出した。非特許文献2に記載されているような低曲げ損失光ファイバBendInsensitiveFiberは、小さい曲率半径で曲げたときでも光が漏洩し難いトレンチ型の屈折率分布を有する構造とされたものであるが、カットオフ波長を正確に測定することが困難である。すなわち、カットオフ波長測定時の曲げによりコアから漏洩した光の一部は、大きな屈折率差のある界面例えば、ガラスとコーティング層との界面や、コーティング層と空気との界面で反射された後に、コアを導波する光と干渉し、この干渉によりウィスパリングギャラリーモードWGMと呼ばれるスペクトルが発生する非特許文献3参照。コーティング層と空気との界面における屈折率差に起因するWGMは、コーティング層の周囲を屈折率整合材で覆うことにより発生が抑制され得る。しかし、ガラスとコーティング層との界面における屈折率差に起因するWGMの発生を抑制することは困難である。光ファイバのカットオフ波長の測定は、高次モードの伝送曲げ損失による減衰量が1937dBとなる波長として定義される非特許文献4参照が、このようなWGMが発生すると、前記高次モードの曲げ損失による減衰量を正確に求めることが困難となり、光ファイバのカットオフ波長を正確に測定することが困難であった。本発明は、本発明者の知見に基づいて、上記問題点を解消する為になされたものであり、光ファイバの高次モードのカットオフ波長を正確に測定することができる方法を提供することを目的とする。本発明のカットオフ波長測定方法は、被測定光ファイバの高次モードのカットオフ波長を測定する方法であって、光源から出力される光のパワースペクトルP1[dB]を測定する第1ステップと、長手方向に曲率が変化する形状に被測定光ファイバを位置決めして、光源から出力される光を被測定光ファイバの一端に入射させ、被測定光ファイバの他端から出射される光のパワースペクトルP2[dB]を測定する第2ステップと、第2ステップで測定したパワースペクトルP2と第1ステップで測定したパワースペクトルP1との差を表す差分スペクトルPを求める第3ステップと、第3ステップで求めた差分スペクトルPに基づいて被測定光ファイバの高次モードのカットオフ波長を求める第4ステップと、を備えることを特徴とする。本発明のカットオフ波長測定方法では、第4ステップは、差分スペクトルPにおいて最小値となる波長から長波長側にある直線領域を求め、該直線領域において差分スペクトルPの直線部分を表す近似式aλb[dB]を求める第1サブステップと、aλb01[dB]なる式で表される直線と差分スペクトルPとの交点の波長を被測定光ファイバの高次モードのカットオフ波長として求める第2サブステップと、を含むのが好適である。本発明のカットオフ波長測定方法では、第2ステップにおいて、長手方向に曲率が変化する形状として渦巻き形状に被測定光ファイバを位置決めするのが好適である。本発明のカットオフ波長測定方法では、第2ステップにおいて、パワースペクトルP2を測定する波長範囲で、被測定光ファイバが全長に亘って最低曲率で巻かれたときに得られる差分スペクトルPminの振動波形が、被測定光ファイバが全長に亘って最大曲率で巻かれたときに得られる差分スペクトルPmaxの振動波形に対して1/2周期以上ずれるように、被測定光ファイバを位置決めするのが好適である。本発明のカットオフ波長測定方法では、第2ステップにおいて、被測定光ファイバを導波するLP11モード光のカットオフ波長における曲げ損失が01dB以下となるように、被測定光ファイバを位置決めするのが好適である。また、本発明のカットオフ波長測定方法は、波長1550nmにおける曲率半径75mmでの曲げ損失が05dB/turn以下である光ファイバを被測定光ファイバとするのが好適である。更に好ましくは008dB/turn以下である光ファイバを被測定光ファイバとするのが好適である。本発明によれば、光ファイバの高次モードのカットオフ波長を正確に測定することができる。以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。また、初めに比較例について説明し、その後に本実施形態について説明する。図1は、比較例のカットオフ波長測定方法による測定で得られた差分スペクトルを示す図である。この比較例の図は、マルチモード参照法により得られた差分スペクトルを示す。すなわち、第1マルチモード光ファイバと第2マルチモード光ファイバとの間に被測定光ファイバを挿入して、波長可変光源から出力された光を第1マルチモード光ファイバに入射させ、第2マルチモード光ファイバから出射される光のパワースペクトルP1を測定した。このとき、被測定光ファイバの長さは2m,8mまたは22mとされ、そのうちの両端それぞれ05m部分を除く部分が直径280mmφのマンドレルの外周に巻かれた。また、第1マルチモード光ファイバと第2マルチモード光ファイバとの間に第3マルチモード光ファイバを挿入して、波長可変光源から出力された光を第1マルチモード光ファイバに入射させ、第2マルチモード光ファイバから出射される光のパワースペクトルP2を測定した。そして、パワースペクトルP2とパワースペクトルP1との差を表す差分スペクトルPを求めた。この差分スペクトルPに基づいて被測定光ファイバの高次モードのカットオフ波長を求めることができる。この比較例で用いた被測定光ファイバは、図2に示される構造および特性を有するものである。この被測定光ファイバは、非特許文献2に記載されているようなトレンチ型の屈折率分布を持つ低曲げ損失光ファイバであり、小さな曲率半径に光ファイバを曲げても光が漏洩し難いように工夫されている。図1に示されるように、トレンチ型の屈折率分布を有する低曲げ損失光ファイバのカットオフ波長を測定しようとする場合、差分スペクトルPに振動成分が現れることがある。特に、高次モードが残留し易い短い光ファイバの差分スペクトルPに顕著に見られる。この差分スペクトルPに見られる振動成分が高次モード光に対するWGMに起因することを本発明者は見出した。多くの場合、カットオフ波長測定の際に被測定光ファイバを巻くマンドレルの径は80mmφ~280mmφであって比較的大きい。このような場合、被測定光ファイバの屈折率の変化点における入射角反射角が90°に近くなるので、フレネルの式から、僅かな屈折率差でも反射成分が大きくなる。このことから、多くの場合、光の反射点は、被測定光ファイバを構成するガラスとコーティング層との界面、または、被測定光ファイバのガラス内の屈折率の不連続点にて発生する。したがって、非特許文献3に記載されているように被測定光ファイバの周囲に屈折率整合材を用いる方法では、反射成分の発生を抑制することができない。そこで、本実施形態のカットオフ波長測定方法は、以下のような第1~第4のステップを備えた上で、被測定光ファイバを用いてパワースペクトルP2を測定する第2ステップにおいては長手方向に曲率が変化する形状に被測定光ファイバを位置決めして測定を行う。第1ステップでは、光源から出力される光のパワースペクトルP1[dB]を測定する。図3aに示されるように、マルチモード光ファイバ11,13,12を順に光学的に接続して、光源21から出力された光をマルチモード光ファイバ11の入射端に入射させ、マルチモード光ファイバ11,13,12を伝搬してマルチモード光ファイバ12から出射される光をパワーメータ22により測定する。第2ステップでは、同一の光源から出力される光を被測定光ファイバの一端に入射させ、被測定光ファイバの他端から出射される光のパワースペクトルP2[dB]を測定する。図3bに示されるように、マルチモード光ファイバ11,被測定光ファイバ10およびマルチモード光ファイバ12を順に光学的に接続して、光源21から出力された光をマルチモード光ファイバ11の入射端に入射させ、マルチモード光ファイバ12から出射される光をパワーメータ22により測定する。この第2ステップでは、長手方向に曲率が変化する形状に被測定光ファイバ10を位置決めして、パワースペクトルP2の測定を行う。この形状としては渦巻き形状であるのが好適である。被測定光ファイバの曲率を変化させる方法として渦巻き形状を選択することで、確実に被測定光ファイバの曲率を長手方向で変化させることができる。第1ステップおよび第2ステップで用いる光源21は出力波長が可変である。この光源21から出力される光の波長λを走査し、各波長において被測定光ファイバ10から出射される光のパワーをパワーメータ22により測定する。光源21の出力波長可変範囲は、被測定光ファイバ10のカットオフ波長と推定される波長を含む。第1ステップおよび第2ステップのうち何れを先に行ってもよい。第3ステップでは、第2ステップで測定したパワースペクトルP2から第1ステップで測定したパワースペクトルP1を差し引いて、差分スペクトルPを求める。そして、第4ステップでは、第3ステップで求めた差分スペクトルPに基づいて被測定光ファイバの高次モードのカットオフ波長を求める。図4は、本実施形態のカットオフ波長測定方法の第3ステップで求めた差分スペクトルPを示す図である。同図は、マンドレルの外周に被測定光ファイバを一定径で巻いて測定を行う比較例の場合の差分スペクトルPをも示す。ここで用いた被測定光ファイバは、図2に示される構造および特性を有するものである。同図に示されるように、比較例の場合には差分スペクトルにWGMに起因する振動成分が見られるのに対して、本実施形態の場合には差分スペクトルに振動成分が殆ど見られない。本実施形態では、長手方向に曲率が変化する形状に被測定光ファイバを位置決めして測定を行うことにより、長手方向の各位置において振動成分の位相を変化させることができ、それぞれのスペクトルが互いに打消しあうので、振動成分の振幅を減少させることができる。その結果、振動成分の影響を低減して、被測定光ファイバのカットオフ波長を正確に測定することができる。図5は、本実施形態のカットオフ波長測定方法の第4ステップを説明する図である。同図aはパワースペクトルP1,P2を示し、同図bは差分スペクトルPを示す。第4ステップは、以下のような、第1サブステップおよび第2サブステップを含むのが好適である。第1サブステップでは、差分スペクトルPにおいて最小値となる波長から長波長側にある直線領域を求め、該直線領域において差分スペクトルPの直線部分Aを表す近似式aλb[dB]を求める。次に、第2サブステップでは、aλb01[dB]なる式で表される直線Bと差分スペクトルPとの交点の波長を被測定光ファイバの高次モードのカットオフ波長λcとして求める。次に、第2ステップにおける被測定光ファイバの配置について更に詳細に説明する。パワースペクトルP2を測定する波長範囲で、被測定光ファイバが全長に亘って最低曲率で巻かれたときに得られる差分スペクトルPminの振動波形が、被測定光ファイバが全長に亘って最大曲率で巻かれたときに得られる差分スペクトルPmaxの振動波形に対して1/2周期以上ずれるように、被測定光ファイバを位置決めするのが好ましい。このように振動周期が半周期以上変化するように被測定光ファイバの長手方向の曲率分布を調整することで、確実に振動成分の振幅を減少させることができる。振動周期が長手方向でπ以上変化するように被測定光ファイバの配置することが更に望ましい。このことについて更に詳細に説明すると以下のとおりである。図6に示された光路長差Δφは下記2式で表される。ここで、λは波長であり、Lは漏洩光の光路長であり、βはLP11モードの伝搬定数であり、Zはコアを伝搬する光の光路長である。すなわち、振動成分は、LおよびZを定数とした波長λの関数となっている。Δφ=2πL/λ-βZ...ここで、振動成分のピーク波長を決定するΔφは、曲げ径を変化させてLおよびZを変化させることで調整することができる。振動成分を抑制して正確なカットオフ波長を測定するための被測定光ファイバ配置の決定は、以下のステップにより実現できる。まず、カットオフ波長と推定される波長以下推定カットオフ波長という。においてΔφと曲げ径との関係を計算する。次に、推定カットオフ波長におけるΔφを被測定光ファイバの入射端から出射端までの少なくとも一部においてπ以上変化するように、被測定光ファイバの配置を決定する。好適な被測定光ファイバの配置の一例として、被測定光ファイバを渦巻き状に配置すると良い。図2に示される構造および特性を有する被測定光ファイバを、図3bに示されるように渦巻き形状に位置決めした場合、その被測定光ファイバの長手方向の各位置xyは下記1式で表すことができる。x=acosθmm...y=asinθmm...図6は、曲率を有する被測定光ファイバにおいてコアを導波するLP11モードおよびガラス/コーティングで反射したWGMそれぞれの光路を説明する図である。式2a、2bにおいてθ0=2π、a=1となるように渦巻状に被測定光ファイバを配置した場合、コアを導波するLP11モードの光路長Zとガラス/コーティングで反射したWGMとの光路長Lを図6より幾何的に計算し、式1代入することでΔΦを求めた結果、被測定ファイバの長手方向でΔΦは約π変化した。このとき振動成分の強度を従来の測定方法に比べ1/5以下と十分に抑制することができた。この様に、渦巻き形状を選択することでΔΦの長手方向の変化を予測することが可能となり、適切な配置を決定することができる。また、上記でΔΦが約πになる様に決定したθ0=2π、a=1の値は被測定光ファイバの径や屈折率構造により変化するので、被測定光ファイバの状態により渦巻きの形状を適宜変更することが好ましい。但し、必ずしも正確な渦巻き状に配置する必要はなく、ΔΦが長手方向で12周期変化する様にできる配置であれば何れでも構わない。また、推定カットオフ波長において上記Δφをπ以上変化させる際に、同時に振動成分のピーク波長の波長間隔が変化する。この場合も、推定カットオフ波長においてΔφをπ以上変化させることで、振動成分を抑制することができる。より簡単には、推定カットオフ波長における振幅が一度以上正負に反転するように被測定光ファイバの渦巻き形状を決定すれば良い。ここで、推定カットオフ波長は、±50nm程度までであれば実測値と異なっていてもかまわない。また、第2ステップにおいて、被測定光ファイバを導波するLP11モード光のカットオフ波長における曲げ損失が01dB以下となるように、被測定光ファイバを位置決めするのが望ましい。カットオフ波長の定義は、LP11モードの損失が193dBとなる波長とされる。第2ステップで与えた曲率によって被測定光ファイバのLP11モードのカットオフ波長における曲げ損失が01dB以上となると、そのLP11モードの損失が本来のLP11モードの損失に上乗せされるので、カットオフ波長測定誤差の原因となる。このことから、被測定光ファイバを導波するLP11モード光のカットオフ波長における曲げ損失が01dB以下とされるのが好ましい。図7は、被測定光ファイバの曲げ損失の波長依存性を示すグラフである。ここでは、図2に示される構造および特性を有する被測定光ファイバを、図3bに示されるように渦巻き形状に位置決めし、そのときの上記1式中のパラメータについてはθ0=2π、a=1とした。このように、Δφを長手方向に十分に変化させつつ、長手方向の曲率の変化による余剰な曲げ損失を発生させない配置とすることで、正確なカットオフ波長を測定することができる。また、第2ステップにおいて、被測定光ファイバで発生する高次モード光の曲げ損失が01dB以下となるように、被測定光ファイバを位置決めするのが望ましい。これにより、高次モード光が減衰を開始する波長に変化を与えることなくカットオフ波長を測定することができる。非特許文献4に記載されているような曲げ損失を小さく保つ工夫をした低曲げ損失光ファイバでは、高次モードの損失の波長依存性が小さくなる場合がある。このような場合、特に高次モードの干渉が大きくなり振動成分が大きくなることがあるので、本実施形態のカットオフ波長測定方法によりカットオフ波長を測定するのが好適である。特にトレンチ型の屈折率分布を有し波長1550nmにおける曲率半径75mmでの曲げ損失が05dB/turn以下となるように設計された光ファイバでは、高次モードがカットオフ波長付近で漏洩モードとなり、高次モードの損失の波長依存性が小さくなり易いので、本実施形態のカットオフ波長測定方法を特に好適に用いることができる。更に波長1550nmにおける曲率半径75mmでの曲げ損失が008dB/turn以下となるように設計された光ファイバでは、高次モードがカットオフ波長付近で漏洩モードとなり、高次モードの損失の波長依存性がより小さくなり易いので、本実施形態のカットオフ波長測定方法を特に好適に用いることができる。"