電極が外面に設けられたLEDチップから出力された光の光学特性を測定する光学特性測定装置において、前記LEDチップを搬入位置、測定位置、搬出位置へと搬送する搬送手段と、前記測定位置に位置する前記LEDチップに対向配置され且つ当該LEDチップの光を集めて受光手段に入射させる集光器とを具備し、前記集光器は、前記受光手段が覗いており且つ内壁面に拡散反射性を有した略球面状の凹部を備えていることを特徴とする光学特性測定装置。請求項1記載の光学特性測定装置において、前記集光器の凹部内における前記LEDチップと前記受光手段との間の位置し且つ前記LEDチップの光が前記発光手段に直接入射するのを防止するとともに前記凹部の内壁に反射させるために外周面が拡散反射性を有した略球体状の遮蔽物を更に具備していることを特徴とする光学特性測定装置。電極が外面に設けられたLEDチップから出力された光の光学特性を測定する光学特性測定装置において、前記LEDチップを搬入位置、測定位置、搬出位置へと搬送する搬送手段と、前記LEDチップが置かれる部分が少なくとも透明であるプレートと、前記プレートを挟んで前記LEDチップと対向配置され且つ当該LEDチップの光を集めて受光手段に入射させる集光器とを具備し、前記集光器は前記受光手段が覗いており且つ内壁面に拡散反射性を有した略球面状の凹部を備えていることを特徴とする光学特性測定装置。請求項3記載の光学特性測定装置において、前記集光器の凹部内における前記LEDチップと前記受光手段との間の位置し且つ前記LEDチップの光が前記発光手段に直接入射するのを防止するとともに前記凹部の内壁に反射させるために外周面が拡散反射性を有した略球体状の遮蔽物を更に具備していることを特徴とする光学特性測定装置。ところが、前記光学特性測定装置では、LEDチップの正面方向の光のみを受光する構成であることから、各LEDチップの発光の指向性や光の入射角度に応じてLEDチップの光の強度及び/又は波長の測定結果にバラツキが生じる場合がある。本発明は、上記事情に鑑みて創案されたものであって、その目的とするところは、LEDチップの発光の指向性や光の入射角度に関係なく、LEDチップの光の強度及び/又は波長を正確に測定することができる光学特性測定装置を提供することにある。上記課題を解決するために、本発明の光学特性測定装置は、電極が外面に設けられたLEDチップから出力された光の光学特性を測定する装置であって、前記LEDチップを搬入位置、測定位置、搬出位置へと搬送する搬送手段と、前記測定位置に位置する前記LEDチップに対向配置され且つ当該LEDチップの光を集めて受光手段に入射させる集光器とを具備し、前記集光器は前記受光手段が覗いており且つ内壁面に拡散反射性を有した略球面状の凹部を備えている。前記集光器の凹部内における前記LEDチップと前記受光手段との間の位置し且つ前記LEDチップの光が前記発光手段に直接入射するのを防止するとともに前記凹部の内壁に反射させるために外周面が拡散反射性を有した略球体状の遮蔽物を更に具備することが好ましい。本発明の他の光学特性測定装置は、電極が外面に設けられたLEDチップから出力された光の光学特性を測定する装置であって、前記LEDチップを搬入位置、測定位置、搬出位置へと搬送する搬送手段と、前記LEDチップが置かれる部分が少なくとも透明であるプレートと、前記プレートを挟んで前記LEDチップと対向配置され且つ当該LEDチップの光を集めて受光手段に入射させる集光器とを具備し、前記集光器は前記受光手段が覗いており且つ内壁面に拡散反射性を有した略球面状の凹部を備えている。前記集光器の凹部内における前記LEDチップと前記受光手段との間の位置し且つ前記LEDチップの光が前記発光手段に直接入射するのを防止するとともに前記凹部の内壁に反射させるために外周面が拡散反射性を有した略球体状の遮蔽物を更に具備することが好ましい。本発明の請求項1に係る光学特性測定装置による場合、LEDチップから発せられた正面方向の光及び正面方向以外の光は集光器の拡散反射性を有した略球面状の凹部で拡散反射を繰り返し、この反射により集められた光束が受光手段に入射するようになっている。このため、LEDチップの発光の指向性や光の入射角度に関係なく、LEDチップの光の強度及び/又は波長を正確に測定することができる。その結果、使用時に近いLEDチップの光の光学特性を測定することが可能になる。本発明の請求項2に係る光学特性測定装置による場合、LEDチップの正面方向の光が受光手段に直接入射することにより生じる測定結果への影響をなくすために、集光器の凹部内のLEDチップと受光手段との間の位置に遮蔽物が設けられている。この遮蔽物は、その外周面が拡散反射性を有しているので、LEDチップの正面方向の光を完全に遮蔽することなく、集光器の凹部に向けて反射するようになっている。即ち、正面方向の光は、遮蔽物で集光器の凹部に向けて拡散反射し、当該凹部で正面方向以外の光と共に拡散反射を繰り返し、この反射により集められ光束が受光手段に入射する。よって、LEDチップの正面方向の光が受光手段に直接入射することにより生じる測定結果への影響を防止しつつ、LEDチップの発光の指向性や光の入射角度に関係なく、LEDチップの光の強度及び/又は波長を正確に測定することができる。特に遮蔽物が略球体であるので、LEDチップの正面方向の光が当該遮蔽物の外周面により集光器の凹部以外に向けて反射するのを低減することができる。即ち、集光効率が上がるので、測定の精度を上げることができる。本発明の請求項3に係る光学特性測定装置による場合、プレートの透明部分にLEDチップが載置され、このプレートを介して集光器が対向配置されるようになっていることから、下面発光タイプのLEDチップの測定を容易に行うことが可能になる。本発明の請求項4に係る光学特性測定装置による場合、LEDチップの正面方向の光が受光手段に直接入射することにより生じる測定結果への影響をなくすために、集光器の凹部内のLEDチップと受光手段との間の位置に遮蔽物が設けられている。この遮蔽物は、その外周面が拡散反射性を有しているので、LEDチップの正面方向の光を完全に遮蔽することなく、集光器の凹部に向けて反射するようになっている。即ち、正面方向の光は、遮蔽物で集光器の凹部に向けて拡散反射し、当該凹部で正面方向以外の光と共に拡散反射を繰り返し、この反射により集められ光束が受光手段に入射する。よって、LEDチップの正面方向の光が受光手段に直接入射することにより生じる測定結果への影響を防止しつつ、LEDチップの発光の指向性や光の入射角度に関係なく、LEDチップの光の強度及び/又は波長を正確に測定することができる。特に遮蔽物が略球体であるので、LEDチップの正面方向の光が当該遮蔽物の外周面により集光器の凹部以外に向けて反射するのを低減することができる。即ち、集光効率が上がるので、測定の精度を上げることができる。以下、本発明の実施の形態に係るLEDチップの光学特性測定装置を説明する。まず、本発明の第1の実施の形態に係る光学特性測定装置について図面を参照しながら説明する。図1は本発明の第1の実施の形態に係る光学特性測定装置のブロック図、図2は同装置を示す図であって、が側面図、がA-A断面図である。図1及び図2に示す光学特性測定装置は、上面に発光面及び電極が設けられたLEDチップ10から発せられた光の光学特性を測定するための装置であって、LEDチップ10を搬入位置、測定位置α、搬出位置へと間欠的に搬送する搬送手段100と、測定位置αに位置したLEDチップ10の電極に接触可能な一対のプローブピン200、200と、プローブピン200、200の接触によりLEDチップ10から発せられた光を受光する受光手段300と、受光手段300の出力結果に応じてLEDチップの光の光学特性を測定する測定部400と、LEDチップ10の発光面に対向しており且つLEDチップ10の各方向の光を受光手段300に集めるための集光器500と、受光手段300にLEDチップ10の光が直接入射することにより生じる測定結果への影響をなくすためにLEDチップ10と受光手段300との間に位置し、LEDチップ10の光が受光手段300に直接入射するのを遮蔽する遮蔽物600とを備えている。以下、各部を詳しく説明する。搬送手段100は、所定のピッチ間隔毎にLEDチップ10が載置される回転テーブル110と、この回転テーブル110を回転させる駆動手段120とを有する構成となっている。即ち、回転テーブル110が回転することにより、LEDチップ10が搬入位置から測定位置α、測定位置αから搬出位置へと間欠的に回転移動するようになっている。プローブピン200、200は図外の電源装置に接続されている。このプローブピン200、200が集光器500のスリット530、530から挿入され、測定位置αのLEDチップ10の電極に接触する。集光器500は、図2に示すように、下面開口の略球面状の凹部510と、凹部510の頂部と連通しており且つ受光手段300の光ファイバ310が挿入される挿入孔520と、凹部510の両端部と連通しておりプローブピン200、200が入れられる一対のスリット530、530とを有している。この集光器500は凹部510の中心と測定位置αに位置したLEDチップ10の中心とを通る鉛直線上に位置するように配置される。凹部510の内壁面には、つや消しの白色塗料が塗布されている。このような白色塗料を用いることによりLEDチップ10の発光色への影響を低くしている。この凹部510の内壁面によりLEDチップ10の各方向の光が拡散反射を繰り返し、受光手段300の光ファイバ310に導かれる。即ち、積分球と同様の機能を有している。挿入口520は、その中心線が凹部510の中心と一致するように設けられている。受光手段300は、一端部が挿入孔520に挿入され、これにより凹部510の頂部から覗く光ファイバ310と、この光ファイバ310の他端部に接続された受光素子320とを有している。光ファイバ310は、挿入口520に挿入されることによりに一端部の中心がLEDチップ10の中心に対向する。受光素子320は、光ファイバ310により導かれた光を受光し、出力信号を測定部400に出力する。遮蔽物600は、図2に示すように、凹部510の内部に当該凹部510の中心と一致するように配置される球状の遮蔽物本体610と、凹部510に渡されており且つ遮蔽物本体610を支持する支持棒620とを有する。遮蔽物本体610の外周面は、集光器500の凹部510と同様に、つや消しの白色薄膜が塗布されている。これにより、LEDチップ10の正面方向の光を集光器500の凹部510に向けて拡散反射する。また、遮蔽物本体610を球体とすることによりLEDチップ10の光が集光器500の凹部510以外に向けて反射するのを低減することができる。測定部400は受光素子320の出力信号に基いてLEDチップの光の強度及び波長を測定するコンピュータであり、CPU410の入力ポートには受光手段300の受光素子320が、出力ポートには駆動手段120及びプローブピン200、200の図示しない駆動手段が接続されている。また、測定部400のメモリ部420には、測定用プログラムが記録されている。CPU410が前記測定用プログラムを処理することにより受光素子320の出力信号に基いてLEDチップ10の光の強度及び波長が測定されるようになっている。なお、この測定結果は、LEDチップ10の発光強度のランク分け及び発光周波数による選別に利用される。以下、この光学特性測定装置の使用方法及び各部の動作について説明する。まず、電源がONにされると、メモリ部420上の前記測定プログラムを処理する。すると、駆動装置120を動作させ、回転テーブル110を回転させる。これにより、LEDチップ10が搬入位置、測定位置α、搬出位置に間欠的に順次搬送される。これと共に、プローブピン200、200の駆動手段を動作させ、測定位置αに位置したLEDチップ10の電極にプローブピン200、200を接触させる。すると、LEDチップ10の発光面が発光し、これによりLEDチップ10の光が正面方向及び図示斜め上方向に発せられる。正面方向の光は、遮蔽物本体610の外周面に拡散反射し、集光器500の凹部510の内壁面で拡散反射を繰り返す一方、斜め上方向の光は、集光器500の凹部510の内壁面で拡散反射を繰り返し、この反射により集められた光束が受光手段300の光ファイバ310に入射する。光ファイバ310に入射した光は、受光素子320により受光される。すると、受光素子320は出力信号を出力する。測定部400は、受光素子320は出力信号に基いてLEDチップ10の光の強度及び波長を各々測定する。このような光学特性測定装置による場合、LEDチップ10の正面方向の光及び斜め上方向の光が集光器500の凹部510で拡散反射を繰り返して集められ、受光手段300の光ファイバ310に入射するようになっているので、LEDチップ10の発光の指向性や光の入射角度に関係なく、LEDチップ10の光の強度及び波長を正確に測定することができる。その結果、使用時に近いLEDチップ10の強度及び波長を測定することが可能になる。しかも、LEDチップ10の正面方向の光が光ファイバ310に直接入射するのを防止するために、集光器500の凹部510内に外周面に拡散反射性を有した遮蔽物本体610が配置されているので、正面方向の光は、当該遮蔽物本体610の外周面に拡散反射し、集光器500の凹部510でLEDチップ10の斜め上方向の光と共に拡散反射を繰り返して受光手段300の光ファイバ310に入射する。即ち、LEDチップ10の正面方向の光が光ファイバ310に直接入射することにより生じる測定結果への影響を防止しつつ、LEDチップ10の発光の指向性や光の入射角度に関係なく、LEDチップ10の光の強度及び波長を正確に測定することができる。次に、本発明の第2の実施の形態に係る光学特性測定装置について図面を参照しながら説明する。図3は本発明の第2の実施の形態に係る光学特性測定装置のブロック図、図4は同装置を示す図であって、が正面図、がB-B断面図、図5は同装置の設計変更例を示す図であって、が正面図、がC-C断面図である。図3及び図4に示す光学特性測定装置は、上面に電極、下面に発光面が設けられたLEDチップ10から発せられた光の光学特性を測定するための装置であって、LEDチップ10を搬入位置、測定位置α、搬出位置へと間欠的に搬送する搬送手段100と、測定位置αに位置したLEDチップ10の電極に接触可能な一対のプローブピン200、200と、プローブピン200、200の接触によりLEDチップ10から発せられた光を受光する受光手段300と、受光手段300の出力結果に応じてLEDチップの光の光学特性を測定する測定部400と、LEDチップ10の発光面に対向しており且つLEDチップ10の各方向の光を受光手段300に集めるための集光器500と、LEDチップ10を挟んで集光器500と対向しており且つLEDチップ10の光を集光器500の凹部510に向けて反射する反射部材700とを備えている。以下、各部を詳しく説明する。集光器500は、図4に示すように、搬送手段100の回転テーブル110の凹部111参照に嵌合する本体501と、この本体501内部に設けられた上面開口の略球面状の凹部510と、凹部510の前記開口と連通した円柱状の第1の導光孔520と、凹部510の図4の図示右側に連通する円柱状の第2の導光孔530と、第1の導光孔520の図示上側の開口を閉塞する第1のプレート540と、第2の導光孔530の前記図示右側の開口を閉塞する第2のプレート550と、凹部510と搬送手段100の回転テーブル110の通気孔112参照とを連結するための通気路560参照とを有した構成となっている。第1のプレート540は、サファイアガラス等からなる透明部541を有し、この透明部541上にLEDチップ10が置かれるようになっている。即ち、第1のプレート540を挟んで集光器500の本体501がLEDチップ10の発光面に対向する。この透明部541の中心は凹部510の中心と鉛直線上に位置するようになっている。また、透明部541の中心部には第1の導光孔520と連通する図示しない孔が設けられている。この孔は、詳しくは後述するが、LEDチップ10を透明部541の中心部に吸着するためのものである。即ち、LEDチップ10は凹部510と中心が鉛直線上に位置するように載置されるのである。なお、第2のプレート550もサファイアガラス等からなる透明部551を有する。凹部510の内壁面には、つや消しの白色塗料が塗布されている。このような白色塗料を用いることによりLEDチップ10の発光色への影響を低くしている。この凹部510の内壁面によりLEDチップ10の各方向の光が拡散反射を繰り返し、受光手段300の光ファイバ310に導かれる。即ち、積分球と同様の機能を有している。第1の導光孔520及び第2の導光孔530は、その中心線が凹部510の中心と一致するように設けられている。搬送手段100は、集光器500が嵌まり込む凹部111参照が所定のピッチ間隔毎に設けられた回転テーブル110と、この回転テーブル110を回転させる駆動手段120とを有する構成となっている。即ち、回転テーブル110が回転することにより、集光器500の第1のプレート540上に載置されたLEDチップ10が集光器500と共に搬入位置から測定位置α、測定位置αから搬出位置へと間欠的に回転移動するようになっている。また、回転テーブル110の内部には、図外のバキュームが接続された通気孔112参照が設けられている。この通気孔112は、凹部111と連通しており、この凹部111に嵌合した集光器500の通気路560と連通する。即ち、前記バキュームにより、通気孔112、通気路560、凹部510、第1の導光孔520、第1のプレート540の透明部541の孔を介して空気が吸引され、これによりLEDチップ10が集光器500の第1のプレート540に吸着される。受光手段300は、一端部が測定位置αに位置した集光器500の第2のプレート550の透明部551に対向配置される光ファイバ310と、この光ファイバ310の他端部に接続された受光素子320とを有している。光ファイバ310は、第2のプレート550を介して凹部510内を覗いており、一端部の中心が凹部510の中心を通る線上に位置するように配置される。受光素子320は、光ファイバ310により導かれた光を受光し、出力信号を測定部400に出力する。反射部材700は、図4に示すように、下面開口の略半球面状の凹部710と、凹部710の両端部と連通しておりプローブピン200、200が入れられる一対のスリット720、720とを有している。この反射部材700は、凹部710の中心と測定位置αに位置したLEDチップ10の中心とが鉛直線上に位置するように配置される。凹部710は、凹部510と同様に、つや消しの白色塗料が塗布されている。これにより拡散反射性を有し、LEDチップ10の光を集光器500の凹部510に向けて拡散反射するようになっている。プローブピン200、200は図外の電源装置に接続されている。このプローブピン200、200が反射部材700のスリット720、720から挿入され、測定位置αのLEDチップ10の電極に接触する。測定部400は受光素子320の出力信号に基いてLEDチップ10の光の強度及び波長を測定するコンピュータであり、CPU410の入力ポートには受光手段300の受光素子320が、出力ポートには駆動手段120、プローブピン200、200の図示しない駆動手段及び前記バキュームが接続されている。また、測定部400のメモリ部420には、測定用プログラムが記録されている。CPU410が前記測定用プログラムを処理することにより受光素子320の出力信号に基いてLEDチップ10の光の強度及び波長が測定されるようになっている。なお、この測定結果は、LEDチップ10の発光強度のランク分け及び発光周波数による選別に利用される。以下、この光学特性測定装置の使用方法及び各部の動作について説明する。まず、電源がONにされると、メモリ部420上の前記測定プログラムを処理する。すると、駆動装置120を動作させ、回転テーブル110を回転させる。これにより、LEDチップ10が集光器500と共に搬入位置、測定位置α、搬出位置に間欠的に順次搬送される。このとき、前記バキュームを駆動させ、LEDチップ10を集光器500の第1のプレート540の透明部541に吸着させる。これと共に、プローブピン200、200の駆動手段を動作させ、測定位置αに位置したLEDチップ10の電極にプローブピン200、200を接触させる。すると、LEDチップ10の発光面が発光し、これによりLEDチップ10の光が正面方向及び図示斜め下方向に発せられる。正面方向の光及び斜め下方向の光は、集光器500の第1のプレート540の透明部541を透過し、集光器500の凹部510の内壁面で拡散反射を繰り返し、この反射により集められた光束が第2のプレート550の透明部551を透過して受光手段300の光ファイバ310に入射する。LEDチップ10から正面方向と反対側に漏れた光は、反射部材700の凹部710の内壁面で拡散反射し、集光器500の第1のプレート540の透明部541を透過して凹部510の内壁面で拡散反射し、この反射により集められた光束が正面方向の光及び斜め下方向の光の光束と共に第2のプレート550の透明部551を透過して受光手段300の光ファイバ310に入射する。光ファイバ310に入射した光は、受光素子320により受光される。すると、受光素子320は出力信号を出力する。測定部400は、受光素子320は出力信号に基いてLEDチップ10の光の強度及び波長を各々測定する。このような光学特性測定装置による場合、LEDチップ10の正面方向の光及び斜め下方向の光が集光器500の凹部510で拡散反射を繰り返し、この反射により集められた光束が受光手段300の光ファイバ310に入射するようになっているので、LEDチップ10の発光の指向性や光の入射角度に関係なく、LEDチップ10の光の強度及び波長を正確に測定することができる。その結果、使用時に近いLEDチップ10の光の強度及び波長を測定することができる。しかも、LEDチップ10の背面側に漏れた光が反射部材700により集光器500の凹部510に向けて拡散反射されるようになっているので、集光効率が上昇し、測定の精度を上げることができる。なお、上述した光学特性測定装置は、LEDチップ10の光を受光手段で受光し、この受光手段の出力結果に基いてLEDチップ10の光の光学特性を測定する光学特性測定装置であって、LEDチップ10の発光面に対向しており且つLEDチップ10の光を受光手段に集めるための集光器を備えており、この集光器は、受光手段が覗いており且つLEDチップ10の光を反射して当該受光手段に入射させるために拡散反射性を有した略球面状の凹部が設けられている限りどのように設計変更してもかまわない。搬送手段100については、回転テーブル110と、その駆動手段120とであるとしたが、LEDチップを搬入位置、測定位置α、搬出位置へと間欠的に移動させることができるものである限りどのようなものを用いても良い。例えば、ベルトコンベア等にLEDチップ10を載置して搬送するようにしても良いし、LEDチップ10をチャックで把持して搬送するようにしても良い。プローブピン200については、LEDチップ10に電力を供給できる電力供給手段を用いることができる。例えば、LEDチップ10が載置される部分に配線パターンを形成してLEDチップ10の電極に接触させるようにしても良い。受光手段300については、受光素子320さえ有していれば良い。この場合、受光素子320をLEDチップ10の発光面に直接対向するように配置する。集光器500については、拡散反射性を有した凹部510を有している限りどのようなものを用いても良い。凹部510については、拡散反射性を有したつや消しの白色塗料が塗布されているとしたが、つや有りの白色塗料を塗布することもできる。また、凹部510は、略球面状であるとしたが、これに近似する多面状とすることも一応可能である。即ち、積分球としての機能を果たす限りどのような形状のものを用いてもかまわない。遮蔽物600は、実施例2の光学特性測定装置の如く、LEDチップ10の光が受光手段300に直接入射しない場合には設けなくても良い。勿論、図5に示すように、LEDチップ10の光が光ファイバ310に直接入射する場合、実施例2の光学特性測定装置にも遮蔽物600を設けることが可能である。遮蔽物本体610は、球体であるとしたが、その他の形状であっても良い。反射部材700については、設けるか否か任意である。また、反射部材700はLEDチップ10の光を反射するための略半球面状の凹部710を有するものだけに限定されない。例えば、LEDチップ10の背後側に漏れた光を集光器600の凹部510に向けて反射する板状のミラー等であっても良い。なお、この反射部材700は、実施例1にも設けることが可能であることは言う迄もない。なお、上記実施例では、LEDチップ10の光の強度及び波長を測定するとしたが、強度又は波長のいずれか一方でも良いし、その他の光学特性を測定するようにしても良いことは言う迄もない。また、LEDチップ10の光学特性の測定結果は、LEDチップ10の発光強度のランク分け及び発光周波数による選別以外にも利用可能である。