電子部品を載置するもので該電子部品の厚さに対応して高さが調整可能な調整台と、前記電子部品に光を照射するための光源と、前記調整台上の前記電子部品に前記光源からの光を照射して該電子部品を撮像する部品認識カメラとを備え、前記部品認識カメラにより撮像された画像を認識処理装置が認識処理して、電子部品の特徴を表す部品ライブラリデータを構成する前記電子部品の厚さに係るデータを作成する部品ライブラリデータの作成方法において、前記光源の明るさを変えて前記調整台上の前記電子部品を前記部品認識カメラが複数回撮像し、この各撮像画像の評価エリアを設定して、各撮像画像の前記評価エリア内の各画素の輝度の平均値、標準偏差σ、最大値を算出し、全ての前記撮像画像において、適切な高さ画像を得るための明るさに関する判定式を満足するかを判定し、満足しないと判定した場合に、前記評価エリア全体が輝度の飽和状態又は飽和に近い状態の明るさに設定して、この明るさの第1の所定の割合の明るさで第1の画像を取得し、飽和に達した直前の明るさの第2の所定割合の明るさで第2の画像を取得し、前記第1の画像及び前記第2の画像を合成した画像を取得し、この合成画像を前記認識処理装置が認識処理して、前記電子部品の厚さに係るデータを作成することを特徴とする部品ライブラリデータの作成方法。そのため、電子部品を撮像するに際し、作業管理者が目視により電子部品毎に明るさを設定していた。また、同一の電子部品であっても、暗すぎる箇所や画素の輝度が飽和レベルにある箇所が点在すると、コントラストの低下を招き、電子部品の高さ測定ができないという問題が発生する可能性がある。そこで本発明は、電子部品の特徴を表す部品ライブラリデータを構成する前記電子部品の厚さに係るデータを作成すべく電子部品を撮像するに際し、作業管理者が目視することにより明るさを設定することなく、自動的に明るさを設定するようにして、明るさ設定作業効率の向上を図ることを目的とする。このため本発明は、電子部品を載置するもので該電子部品の厚さに対応して高さが調整可能な調整台と、前記電子部品に光を照射するための光源と、前記調整台上の前記電子部品に前記光源からの光を照射して該電子部品を撮像する部品認識カメラとを備え、前記部品認識カメラにより撮像された画像を認識処理装置が認識処理して、電子部品の特徴を表す部品ライブラリデータを構成する前記電子部品の厚さに係るデータを作成する部品ライブラリデータの作成方法において、前記光源の明るさを変えて前記調整台上の前記電子部品を前記部品認識カメラが複数回撮像し、この各撮像画像の評価エリアを設定して、各撮像画像の前記評価エリア内の各画素の輝度の平均値、標準偏差σ、最大値を算出し、全ての前記撮像画像において、適切な高さ画像を得るための明るさに関する判定式を満足するかを判定し、満足しないと判定した場合に、前記評価エリア全体が輝度の飽和状態又は飽和に近い状態の明るさに設定して、この明るさの第1の所定の割合の明るさで第1の画像を取得し、飽和に達した直前の明るさの第2の所定割合の明るさで第2の画像を取得し、前記第1の画像及び前記第2の画像を合成した画像を取得し、この合成画像を前記認識処理装置が認識処理して、前記電子部品の厚さに係るデータを作成することを特徴とする。本発明は、電子部品の特徴を表す部品ライブラリデータを構成する前記電子部品の厚さに係るデータを作成すべく電子部品を撮像するに際し、作業管理者が目視することにより明るさを設定することなく、自動的に明るさを設定するようにして、明るさ設定作業効率の向上を図ることができる。以下、図面に基づき本発明の実施形態につき説明する。図1は電子部品装着装置の電子部品の装着運転中でもオフラインで部品ライブラリデータを作成できる簡略化した部品ライブラリデータ作成装置1を示し、2はステッピングモータ10により上下動可能な高さ調整台であるZ軸テーブルで、このZ軸テーブル2の試料台2A上に部品ライブラリデータを作成するための電子部品Dが位置決め固定された状態で載置される。3は前記試料台2A上の前記電子部品Dを撮像するための部品認識カメラ、4は複数個のリング状の反射照明灯を備えたリング照明装置、5は2D用の同軸照明装置、6は投影パターン6Aを備えるパターン投影部、7はハーフミラー7Aを備える光学系、8は3D用の同軸照明装置である。9は前記投影パターン6AをON/OFFするソレノイド、11はインターロック、12は前記ステッピングモータ10、前記ソレノイド9及び前記インターロック11の駆動を制御する駆動系コントローラ、14は前記リング照明装置4、2D用の同軸照明装置5、3D用の同軸照明装置8の明るさを制御する照明系コントローラである。16はAC電源用コネクタ、17はパーソナルコンピュータ以下、パソコンという。である。18はカメラ―PC通信ケーブル、19はコントローラ-PC通信ケーブル、20は駆動-照明通信ケーブル、21は同軸照明用ケーブル、22はリング照明用ケーブル、23はインターロック用ケーブル、24はソレノイド用ケーブル、25は上下移動軸用ケーブル、26は電源ケーブル、27は同軸照明用ケーブルである。次に、図2の本ライブラリデータ作成装置1の制御ブロック図に基づいて説明するが、図1で説明した各ケーブル18から27の代わりに、インターフェース30を介してライブラリデータ作成装置1内の各構成要素間で相互に送受信するようにしている。前記パソコン17内には、制御手段、判定手段、命令手段等としてのCPUセントラルプロセッシングユニット31、各種データを格納する記憶手段としてのRAMランダムアクセスメモリ32、プログラムを格納するROMリ-ドオンリーメモリ33、タッチパネルスイッチが設けられた表示手段としてのモニタ35、入力手段としてのキーボード36、指示手段としてのマウス37などを備えている。そして、CPU30は前記RAM31に記憶されたデータに基づき、前記ROM32に格納されたプログラムに従い、本ライブラリデータ作成装置1を統括制御する。即ち、CPU31は、前記インターフェース30及び照明系コントローラ14を介して前記リング照明装置4、2D用の同軸照明装置5、3D用の同軸照明装置8を制御し、また前記インターフェース30及び駆動系コントローラ12を介して前記ステッピングモータ10を制御する。更に、CPU31は前記インターフェース30及び駆動系コントローラ12を介してその他の前記ソレノイド9や前記インターロック11の駆動も制御する。34は認識処理装置で、前記インターフェース30を介して前記CPU31に接続され、部品認識カメラ3により撮像された画像を認識処理し、CPU31に処理結果を出力する。次に、図3に基づいて、電子部品Dの高さ画像取得に係るフローチャートに基づいて説明する。先ず、作業管理者が前記キーボード36やマウス37を操作して、前記モニタ35に高さ測定のための画面を表示させる共にこの高さ測定をするように指示するステップS01。すると、前記CPU31は前記部品認識カメラ3のピントを合わせるように指示するステップS02。即ち、前記電子部品Dと背景とのコントラストとの差が最大となるように、前記駆動系コントローラ12を介して前記ステッピングモータ10により前記Z軸テーブル2を駆動させて、前記試料台2Aを上下動させて電子部品Dの高さレベルを調整して、電子部品Dが前記部品認識カメラ3のピントが合う被写界深度内に収まるように指示する。次に、CPU31は異なる、例えば4種類の明るさA、B、C、Dで前記3D用の同軸照明装置8を点灯させるように前記照明系コントローラ14を介して制御して、前記部品認識カメラ3が電子部品Dを撮像するステップS03。この撮像は、前記3D用の同軸照明装置8を点灯させた光を投影パターン6Aに照射して投影し、ハーフミラー7Aを介して試料台2A上の電子部品Dに照射する。そして、電子部品Dからの反射光が前記ハーフミラー7Aを介して前記部品認識カメラ3に入射されることにより行われる。そして、前記モニタ35に前記部品認識カメラ3により撮像された電子部品Dの画像が表示されるので、この表示画像を見て、作業管理者はマウス37を使用して、画像における評価エリアを設定して切出すステップS04。この場合、可能な限り、電子部品Dを最少面積で囲むように切出すこととなる。そして、切出された4つの画像に基づいて、前記認識処理装置34が認識処理して、その認識結果を受けたCPU31が明るさが異なって撮像された各画像における各画素の階調値輝度の平均値、標準偏差σ、最大値、最小値を算出するステップS05。この算出した場合の明るさA、B、C、Dにおける各階調値の平均値3σ、最大値、最小値を図4に示す。この場合、階調値が255で、受光量の増加に対して出力電流値が比例せずに、輝度がピークに達した飽和状態である。次に、4つの各画像において、全ての画像について、階調値の平均値3σがしきい値最大値×0.8より小さいか明るさに関する判定式をCPU31がそれぞれ判定するステップS06。この場合、全ての画像が小さいと判定すると、平均値3σが最大となる明るさを最適値とするステップS07。即ち、図4に示すように、平均値3σが最大となる明るさは、明るさDであり、最適値であるこの明るさDの電子部品Dの高さ画像を取得するステップS08。即ち、平均値3σが最大となる明るさは、明るさDであるので、4つの画像のうち、明るさDで撮像した画像が最も鮮明な画像であると判断して、平均値3σが最大となる明るさDを最適値とする。そして、この最適値の明るさで、前記駆動系コントローラ12を介して前記ステッピングモータ10により前記Z軸テーブル2を駆動させ、前記試料台2Aを上下動させて電子部品Dの高さレベルを調整して、複数の高さレベルにおいて、電子部品Dを前記部品認識カメラ3が撮像し、CPU31がこの複数の撮像画像を合成して1枚の高さ画像を取得する。以上のように、最適値の明るさDで撮像して電子部品Dの高さ画像を取得したこの高さ画像を、前記認識処理装置34が認識処理し、この認識結果に基づいて、CPU31は、この電子部品Dの厚さを算出し、RAM22に格納し、この算出結果をこの電子部品Dの部品ライブラリデータを構成する厚さデータとする。また、前述したステップS06において、4つの各画像において、全ての画像における画素の輝度の平均値3σがしきい値最大値×0.8より小さいかをCPU31がそれぞれ判定して、全てが小さいわけではないと判定した場合には、即ち1画像でも平均値3σが前記しきい値以上である場合図5参照には、次にCPU31は評価エリア全体が飽和状態若しくは、飽和に近い状態の明るさXに設定しステップS09、この明るさXをRAM32に格納する。なお、この設定された飽和状態若しくは、飽和に近い状態の明るさXで電子部品Dを撮像した場合には、輝度が飽和状態の画素真っ白や、飽和に近い画素薄い灰色が点在することとなって、適切な高さ情報が得られない。従って、飽和状態の明るさでも、若しくは飽和に近い状態の明るさでも、電子部品Dの適切な高さ情報が得られず、CPU31はこの電子部品Dの高さを計測することができない。次に、CPU31は、前記明るさXの80の明るさYで電子部品Dを撮像するステップS10。この明るさXの80の明るさYで撮像した場合には、輝度が飽和に近い画素薄い灰色や飽和していない画素灰色が点在することとなって、飽和していない画素灰色では電子部品Dの適切な高さ画像を得ることができ、適切な高さ情報が得られるが、飽和に近い画素薄い灰色では電子部品Dの適切な高さ画像を得ることができなく、適切な高さ情報が得られないので、電子部品D全体の高さ情報としては不十分である。次に、CPU31は、飽和に達した直前の明るさの80の明るさZ明るさYの80で電子部品Dを撮像するステップS11。この明るさZで撮像した場合には、前回において明るさXで撮像したとき輝度が飽和状態や、飽和に近い画素であったが、今回の撮像では輝度が飽和していない画素灰色や黒色の画素が点在することとなって、飽和していない画素灰色では電子部品Dの適切な高さ情報が得られるが、黒色の画素では高さ情報が得られないので、全体としては不十分である。そして、次にCPU31はステップS10で取得した高さ画像と、ステップS11で取得した高さ画像とを合成し、電子部品D全体の高さ画像を取得するステップS12。この場合には、取得した全体の高さ画像から適切な高さ情報を取得できる。以上のように、ステップS12で取得した電子部品の高さ画像を、前記認識処理装置34が認識処理し、この認識結果に基づいて、CPU31は、この電子部品Dの厚さを算出し、RAM22に格納し、この算出結果をこの電子部品Dの部品ライブラリデータを構成する厚さデータとする。従って、電子部品の特徴を表す部品ライブラリデータを構成する前記電子部品の厚さに係るデータを作成すべく電子部品を撮像するに際し、作業管理者が目視することにより明るさを設定することなく、自動的に明るさを設定するようにして、明るさ設定作業効率の向上を図ることができる。以上のように本発明の実施態様について説明したが、上述の説明に基づいて当業者にとって種々の代替例、修正又は変形が可能であり、本発明はその趣旨を逸脱しない範囲で前述の種々の代替例、修正又は変形を包含するものである。