被試験デバイスを試験するために試験装置上で実行する試験モジュールを生成する試験モジュール生成装置であって、試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成部と、試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶部と、生成すべき前記試験モジュールに応じた前記試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験メソッド選択部と、選択された前記試験メソッドが要求するパラメータに対応する前記条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択部と、選択された前記試験メソッドに応じた試験を選択された前記条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する前記試験モジュールを生成する試験モジュール生成部と、を備える試験モジュール生成装置。前記試験モジュール生成部は、ユーザから選択された前記試験メソッド内にパラメータ入力が指定されている場合、当該ユーザにパラメータを入力させる請求項1に記載の試験モジュール生成装置。前記試験モジュール生成部は、ユーザから選択された前記試験メソッド内にファイル入力が指定されている場合、当該ユーザに前記条件ファイルを指定させる請求項1または2に記載の試験モジュール生成装置。前記試験モジュール生成部は、前記パラメータを入力する入力画面において、詳細ボタンが押されると、対応するハードウェアモジュールに関する他のパラメータを設定する設定画面を表示する請求項2に記載の試験モジュール生成装置。前記試験メソッドは、基本試験プログラムの呼び出し順を指定する請求項1から4のいずれか一項に記載の試験モジュール生成装置。前記試験メソッドは、試験条件の定義を記述した定義部と、前記定義部が定義した試験条件と、当該試験条件を設定すべきハードウェアモジュールとの対応づけを記述する変換部と、当該試験メソッドにおける試験のシーケンスを記述した実行処理部と、を含む請求項5に記載の試験モジュール生成装置。被試験デバイスの試験手順を生成する試験手順生成装置であって、請求項1から6のいずれか一項に記載の試験モジュール生成装置と、前記試験モジュール生成装置が生成した前記試験モジュールを記憶する試験モジュール記憶部と、前記試験手順に含める前記試験モジュールを各行に割り当てる試験フローテーブルを表示するテーブル表示部と、前記試験フローテーブル中において前記試験モジュールを指定する試験指定列に対する操作を受けたことに応じて、前記試験モジュールの名称を前記試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる試験指定部と、を備える試験手順生成装置。前記試験指定部は、複数の前記試験モジュールの中から一の試験モジュールをユーザに選択させ、当該試験モジュールの名称を前記試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる請求項7に記載の試験手順生成装置。前記試験フローテーブルは、分岐条件を満たす場合の分岐先を指定する条件成立時分岐先指定列と、前記分岐条件を満たさない場合の分岐先を指定する条件不成立時分岐先指定列と、を備える請求項7または8に記載の試験手順生成装置。前記試験フローテーブルは、前記分岐条件を指定する分岐条件指定列を更に備える請求項9に記載の試験手順生成装置。前記試験フローテーブルは、対応する前記試験モジュールを実行するか否かを指定する実行指定列を更に備える請求項7から10のいずれか一項に記載の試験手順生成装置。前記試験フローテーブルは、前記試験モジュールの実行後に前記被試験デバイスの電源を遮断するか否かを指定する後処理指定列を備える請求項7から11のいずれか一項に記載の試験手順生成装置。前記試験フローテーブルは、試験に用いる試験条件を指定する前記条件ファイルを表示する試験条件列を備える請求項7から12のいずれか一項に記載の試験手順生成装置。前記試験条件列の各行のセルには、少なくとも1つの前記条件ファイルが列挙される請求項13に記載の試験手順生成装置。前記テーブル表示部は、前記試験フローテーブル中の各行の前記条件ファイルをクリックすると、前記条件ファイルを編集させる編集画面を表示する請求項14に記載の試験手順生成装置。被試験デバイスの試験を実行させる試験プログラムを生成する生成方法であって、試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成段階と、試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶段階と、生成すべき試験モジュールに応じた前記試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験手順選択段階と、選択された前記試験メソッドが要求するパラメータに対応する前記条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択段階と、選択された前記試験メソッドに応じた試験を選択された前記条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する前記試験モジュールを生成する試験モジュール生成段階と、前記試験モジュールを記憶する試験モジュール段階と、試験手順に含める前記試験モジュールを各行に割り当てる試験フローテーブルを表示するテーブル表示段階と、前記試験フローテーブル中において前記試験モジュールを指定する試験指定列に対する操作を受けたことに応じて、前記試験モジュールの名称を前記試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる試験指定段階と、を備える生成方法。請求項16に記載の生成方法を、コンピュータにより実行させるプログラム。被試験デバイスを試験する試験装置であって、請求項7から15のいずれか一項に記載の試験手順生成装置と、前記試験手順生成装置が生成した前記試験手順を記憶する試験手順記憶部と、前記試験手順に含めた各試験モジュールを順次実行する試験実行部と、を備える試験装置。しかしながら、このような試験プログラムを作成するには、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語の知識およびプログラミング経験等が求められ、試験プログラムを簡単に作成することが困難であった。本発明の第1の態様においては、被試験デバイスの試験モジュールを生成する試験モジュール生成装置であって、試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成部と、試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶部と、生成すべき試験モジュールに応じた試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験手順選択部と、選択された試験メソッドが要求するパラメータに対応する条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択部と、選択された試験メソッドに応じた試験を選択された条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する試験モジュールを生成する試験モジュール生成部と、を備える試験モジュール生成装置、ならびに試験手順生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置を提供する。なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。図1は、本実施形態に係る試験モジュール生成装置100の構成例を示す。試験モジュール生成装置100は、被試験デバイスを試験するために試験装置上で実行する試験モジュール10を生成する。試験モジュール生成装置100は、例えば、被試験デバイスへの条件設定、または測定方法といった定型化されたアルゴリズムである試験メソッド132に、種々の試験条件を組み合わせることで様々な試験モジュール10を生成する。試験モジュール生成装置100は、条件ファイル生成部110と、条件ファイル記憶部120と、試験メソッド記憶部130と、試験メソッド選択部140と、条件ファイル選択部150と、試験モジュール生成部160と、を備える。条件ファイル生成部110は、試験条件を入力し、入力された試験条件を定義する条件ファイル122を生成する。ここで、試験条件は、例えば、電源電圧値、測定対象ピン、電圧測定レンジ、およびスルーレート等といった試験実行に用いられる設定値である。条件ファイル生成部110は、編集部112を用いて、試験条件をユーザに入力させて条件ファイル122を生成する。編集部112は、ユーザからの試験条件の入力に応じて、条件ファイル122を生成するグラフィカルユーザインターフェースGUIツールである。例えば、編集部112は、電源電圧値、電圧測定レンジ、またはスルーレート等の設定項目と入力する値の単位とを、入力コントロールまたは入力コンポーネントと共に表示し、ユーザの数値入力によって試験条件を入力させる。また、編集部112は、ラジオボタン、チェックボックス、スライダー、スピンボタン、リストボックス、ドロップダウンリスト、およびテキストボックス等のGUIを用いてユーザからの試験条件を入力させてよい。また、編集部112は、過去に生成した条件ファイル122をユーザの指定により読み出して、ユーザの入力により試験条件を編集してよい。編集部112は、生成する条件ファイル122に応じて、条件ファイル生成部110に複数備わる。例えば、編集部112aは、被試験デバイスに電源を供給する場合の電圧値、電流値、およびリミット値等の電源供給条件が記述された条件ファイル122aを生成する電源供給条件編集部として動作する。例えば、編集部112bは、被試験デバイスの各信号ピンの接続等のピン条件が記述された条件ファイル122bを生成するピン条件編集部として動作する。例えば、編集部112cは、信号電圧を被試験デバイスに供給するシーケンス等の電源シーケンス条件が記述される条件ファイル122cを生成する電源シーケンス条件編集部として動作する。また、編集部112は、試験に応じて複数の条件ファイル122を生成してよい。例えば、電源供給条件編集部として動作する編集部112aは、電源供給条件が記述された条件ファイル122a、122d、122e等を生成する。条件ファイル記憶部120は、編集部112が生成した条件ファイル122を記憶する。条件ファイル記憶部120は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。試験メソッド記憶部130は、試験メソッド132を記憶する。試験メソッド記憶部130は、予め生成させた複数の試験メソッド132を記憶してよい。試験メソッド記憶部130は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。試験メソッド132は、基本試験プログラムの呼び出し順を指定する。また、試験メソッド132は、試験条件の定義を記述した定義部と、定義部が定義した試験条件と当該試験条件を設定すべきハードウェアモジュールとの対応づけを記述する変換部と、当該試験メソッド132における試験のシーケンスを記述した実行処理部と、を含む。試験メソッド132は、条件ファイル122の条件設定とハードウェアモジュールの条件設定との対応付けを記述する。これによって、試験メソッド132は、条件ファイル122に記述されたユーザの実行したい試験条件を、試験装置のハードウェアモジュールの設定に変換することができる。また、試験メソッド132は、基本試験プログラムの呼び出し順である試験のシーケンスと共に、条件ファイル122の条件設定とハードウェアモジュールの条件設定の対応付けを記述する。これによって、ユーザが条件ファイル122と試験メソッド132とを組み合わせることで、当該試験メソッド132の実行処理部に記述されたシーケンスを、ユーザの入力する試験条件で実行することができる。即ち、ユーザは、試験条件とハードウェアモジュールの条件設定との対応付けを意識することなく、当該試験条件を入力することができる。試験メソッド132は、基本試験プログラムを順次呼び出して、被試験デバイスへの条件設定のシーケンス、または被試験デバイスの測定方法等を実行させるシーケンスが記述される。例えば、試験メソッド132aは、被試験デバイスの全ての信号ピンをオープンにして、条件ファイル122aに指定された電源供給条件で電圧測定する処理と、測定結果が条件ファイル122aに設定されたリミット範囲内であればパス、リミット範囲外であればフェイルと判断する処理と、を実行するシーケンスが記述される。また、例えば、試験メソッド132bは、条件ファイル122dに指定された電源供給条件の電源電圧を被試験デバイスに印加する処理と、条件ファイル122bに記述されたピン条件に指定された信号ピンに、条件ファイル122cの電源シーケンス条件に従って信号電圧を印加する処理と、条件ファイル122dの電源供給条件に従って電源ピンの電流測定する処理と、条件ファイル122dに指定されたリミット値で測定結果のパス/フェイル判定する処理と、を実行するシーケンスが記述される。このように、試験メソッド132は、試験条件の設定値は記述されないまま、定型化された試験のシーケンスが記述される。試験メソッド選択部140は、生成すべき試験モジュール10に応じた試験メソッド132の選択指示をユーザから受け取る。試験メソッド選択部140は、試験メソッド記憶部130に記憶された複数の試験メソッド132に付されたファイル名またはラベル等を一覧表示させ、ユーザに試験メソッド132を選択させてよい。条件ファイル選択部150は、選択された試験メソッド132が要求するパラメータに対応する条件ファイル122の選択指示をユーザから受け取る。ここで、条件ファイル選択部150は、試験メソッド132に対応する複数の条件ファイル122に付されたファイル名またはラベル等を一覧表示させ、ユーザに条件ファイル122を選択させてよい。例えば、試験メソッド132aが条件ファイル122として電源供給条件を用いる場合、条件ファイル選択部150は、電源供給条件が記述された条件ファイル122a、122d、122e等を一覧表示してユーザに選択指示させる。また、試験メソッド132bが条件ファイル122として電源供給条件、ピン条件、および電源シーケンス条件を用いる場合、条件ファイル選択部150は、それぞれの試験条件が記述された条件ファイル122を、試験条件毎に一覧表示してユーザに選択指示させてよい。このような場合に、ユーザは、試験メソッド132aに対して条件ファイル122aを、試験メソッド132bに対して条件ファイル122b、122c、および122dを選択指示してよい。試験モジュール生成部160は、選択された試験メソッド132に応じた試験を選択された条件ファイル122により定義されたパラメータで実行する試験モジュール10を生成する。例えば、試験モジュール生成部160は、試験メソッド132aを条件ファイル122aで実行し、次に、試験メソッド132bを条件ファイル122b、122c、および122dで実行する試験モジュール10を生成する。図2は、本実施形態に係る試験モジュール生成装置100の動作フローを示す。まず、条件ファイル生成部110は、実行すべき試験の試験条件をユーザに入力させて試験条件を記述した条件ファイルを生成するS200。ここで、ユーザは、条件ファイルに応じた編集部112のGUIを用いて試験条件を入力する。次に、試験モジュール生成部は、試験メソッド選択部140を用いて実行すべき試験に応じた試験メソッド132をユーザに選択させるS210。ここで、試験モジュール生成部160は、ユーザから選択された試験メソッド132内にパラメータ入力が指定されている場合、当該ユーザにパラメータを入力させる。これによって、試験モジュール生成部160は、条件ファイル122に記述されていない例えば被試験デバイスの測定対象ピン等のパラメータをユーザに入力させることができる。この場合、試験モジュール生成装置100は、測定対象ピン毎に条件ファイル122を生成することなく、被試験デバイスの異なる複数のピンに対して略同一の試験を実行させる試験モジュール10を効率的に生成することができる。また、試験モジュール生成部160は、パラメータを入力する入力画面において、詳細ボタンが押されると、対応するハードウェアモジュールに関する他のパラメータを設定する設定画面を表示する。このように、試験モジュール生成部160は、ユーザが詳細なパラメータを操作したい場合に、詳細ボタンを押すことで詳細パラメータを設定する画面を表示する。したがって、試験モジュール生成部160は、詳細なパラメータについてはユーザに意識させずに試験モジュール10を生成することができる。この場合、試験モジュール生成部160は、詳細なパラメータを予め定められた値に設定してよい。次に、試験モジュール生成部160は、条件ファイル選択部150を用いてユーザが選択した試験メソッド132に応じた条件ファイル122をユーザに選択させるS220。即ち、試験モジュール生成部160は、ユーザから選択された試験メソッド132内にファイル入力が指定されている場合、当該ユーザに条件ファイル122を指定させる。試験モジュール生成部160は、生成すべき試験モジュール10に含まれる試験メソッド132をユーザが選択し終えるまでステップS210からステップS220を繰り返すS230。試験モジュール生成部160は、ユーザが試験メソッド132の選択と、選択した試験メソッド132に対応する条件ファイル122の指定が終了してから、試験モジュール10を生成するS240。このように、ユーザは、実行したい試験に応じた試験メソッド132を選択し、試験メソッド132の試験条件である条件ファイル122を生成して選択した試験メソッド132と対応づけることで、当該試験メソッド132に記述された試験を試験装置に実行させる試験モジュール10を生成することができる。したがって、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしに、試験モジュール10を生成することができる。試験モジュール生成装置100は、例えば、被試験デバイスの電気的接続を試験するコンタクト試験、待機時の電源電流試験、動作時の電源電流試験、入力電流試験、出力電流試験、ファンクション試験、およびタイミングパラメータ試験等を実行する試験モジュール10を生成することができる。また、試験モジュール生成装置100は、特殊な試験を実行する試験モジュール10を生成してよい。この場合、試験モジュール生成装置100は、ユーザの入力によって、特殊な試験メソッド132を生成してよい。即ち、ユーザは、基本試験プログラムの呼び出し順である試験のシーケンスと共に、条件ファイル122の条件設定とハードウェアモジュールの条件設定の対応付けを記述することで、試験メソッド132を生成することができる。このように、試験モジュール生成装置100は、試験プログラムをプログラミングできるユーザに対しては、試験メソッド132を生成させて特殊な試験を実行する試験モジュール10を生成させることができる。図3は、本実施形態に係る試験手順生成装置200の構成例を示す。試験手順生成装置200は、被試験デバイスの試験手順20を生成する。ここで、試験手順20は、複数の試験モジュール10を1つの試験フローとして管理する。試験手順生成装置200は、図1および図2で説明した試験モジュール生成装置100と、試験モジュール記憶部210と、テーブル表示部220と、試験指定部230とを備える。試験モジュール記憶部210は、試験モジュール生成装置100が生成した試験モジュール10を記憶する。試験モジュール記憶部210は、予め生成させた複数の試験モジュール10を記憶してよい。試験モジュール記憶部210は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。テーブル表示部220は、試験手順20に含める試験モジュール10を各行に割り当てる試験フローテーブルを表示する。テーブル表示部220は、試験モジュール10と共に、試験モジュール10に含まれる試験メソッド132と、当該試験メソッド132と組み合わせる条件ファイル122とを、当該試験モジュール10が割り当てられた試験フローテーブルの行に割り当てて表示してよい。試験指定部230は、試験フローテーブル中において試験モジュール10を指定する試験指定列に対する操作を受けたことに応じて、試験モジュール10の名称を試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる。ここで、試験モジュール10の名称は、試験モジュール10に付されたファイル名であってよく、これに代えて、試験モジュールに付されたラベルであってよい。試験手順生成装置200は、テーブル表示部220および試験指定部230が生成した試験フローテーブルを、試験手順20として出力する。図4は、本実施形態に係る試験フローテーブル300の第1の構成例を示す。試験フローテーブル300は、試験モジュール10を実行順に並べて表形式で表示する。試験フローテーブル300は、動作表示モードと、状態表示モードとを有してよい。本図において、試験フローテーブル300の動作表示モードを説明する。試験フローテーブル300は、表示モード切替部312と、行追加/削除部314と、行操作部316と、実行指定列320と、試験モジュール列330と、後処理指定列342と、分岐条件指定列344と、条件成立時分岐先指定列346と、条件不成立時分岐先指定列348とを備える。表示モード切替部312は、試験フローテーブル300の表示モードを切り替える。表示モード切替部312は、ラベルをActionと付されたボタンと、ラベルをConditionと付されたボタンとを有してよい。例えば、表示モード切替部312は、Actionボタンをユーザが押したことに応じて、表示モードを動作表示モードにし、Conditionボタンを押したことに応じて、表示モードを状態表示モードにする。本図は、表示モードが動作表示モードになった試験フローテーブル300の一例を示す。行追加/削除部314は、表示されている表の行を追加または削除する。行追加/削除部314は、ラベルをAddと付されたボタンと、ラベルをDelと付されたボタンとを有してよい。例えば、行追加/削除部314は、Addボタンをユーザが押したことに応じて表に1行追加し、Delボタンを押したことに応じて表から1行削除する。行操作部316は、ユーザが指定した行と、1つ上の行または1つ下の行と入れ替える。行操作部316は、上方向の矢印のアイコンが付されたボタンと、下方向の矢印のアイコンが付されたボタンとを有してよい。例えば、行操作部316は、ユーザが第3行を指定して選択した後に、上矢印ボタンを押したことに応じて第3行と第2行とを入れ替える。ここで、ユーザは、マウス、トラックボール、ペンタブレット、またはカーソル入力等によって、行を指定して選択してよい。実行指定列320は、対応する試験モジュール10を実行するか否かを指定する。実行指定列320は、行番号を示す列である。実行指定列320は、表の第1行から、番号を1から順に割り当ててよい。本図において、実行指定列320は、第1行から第6行に行番号を割り当てた例を示す。実行指定列320は、チェックボックス322を有し、ユーザが当該チェックボックス322にチェックを入れたことに応じて、チェックを入れた行に入力された試験モジュール10を実行すべき試験モジュール10としてよい。試験モジュール列330は、ユーザが入力した試験手順20に含める試験モジュール10を1行毎に表示する列である。試験モジュール列330は、試験モジュール記憶部210に記憶された試験モジュール10のファイル名またはラベル等の名称を表示するドロップダウンリスト332を有してよい。これによって、試験指定部230は、複数の試験モジュール10の中から一の試験モジュール10をユーザに選択させ、当該試験モジュール10の名称を試験フローテーブル300の捜査対象のセルに表示させることができる。本図において、ユーザが第6行に試験モジュール10を入力する例を示す。例えば、試験モジュール10の名称であるIstb、Leakage、PGMmode、Erasemode、およびReadを表示するドロップダウンリスト332から、ユーザがIstbを選択することに応じて、試験指定部230は、第6行の試験モジュール列330である操作対象セルにIstbを表示させる。後処理指定列342は、試験モジュール10の実行後に被試験デバイスの電源を遮断するか否かを指定する。後処理指定列342は、ユーザの入力に応じて、試験モジュール10が試験実行された後の状態の指定を表示する列である。後処理指定列342は、例えば、試験モジュール10の実行後に、電圧電流設定状態を維持する指定を-と表示し、電圧電流設定状態を予め定められた順に遮断する指定をPWROFFと表示する。本図において、ユーザは、全ての試験モジュール10に対して、試験実行後に電圧電流設定状態を維持することを入力した例を示す。分岐条件指定列344は、分岐条件を指定する。即ち、分岐条件指定列344は、ユーザの入力に応じて、試験モジュール10が試験実行された後の分岐条件を表示する列である。例えば、分岐条件指定列344は、試験モジュール10の試験のパス/フェイル結果に基づいて試験フローを分岐することをユーザに入力されたことに応じて、操作対象セルをP/Fと表示する。本図において、ユーザが、全ての試験モジュール10に対して、試験後はパス/フェイル結果に応じて分岐することを入力した例を示す。条件成立時分岐先指定列346は、分岐条件指定列344の分岐条件を満たす場合の分岐先を指定する。条件不成立時分岐先指定列348は、分岐条件指定列344の分岐条件を満たさない場合の分岐先を指定する。条件成立時分岐先指定列346および条件不成立時分岐先指定列348は、ユーザの入力に応じて、分岐先として次の行を指定してよく、これに代えて、行番号または試験モジュール10の名称等で指定してよい。また、条件成立時分岐先指定列346および条件不成立時分岐先指定列348は、試験フローの停止を指定してよい。例えば、条件成立時分岐先指定列346および条件不成立時分岐先指定列348は、分岐先を次の行にすることをユーザに入力されたことに応じて、操作対象セルをnextと表示する。また、条件成立時分岐先指定列346および条件不成立時分岐先指定列348は、行番号または試験モジュール10の名称等を分岐先としてユーザに入力されたことに応じて、当該行番号または試験モジュール10の名称等を操作対象セルに表示してよい。また、条件成立時分岐先指定列346および条件不成立時分岐先指定列348は、試験フローの停止をユーザに入力されたことに応じて、操作対象セルをstopと表示してよい。本図において、ユーザが、全ての試験モジュール10に対して、分岐条件指定列344の分岐条件を満たす場合および満たさない場合において、分岐先を次の行にすることを入力した例を示す。この場合、試験フローテーブル300は、第1行の試験モジュール10から、第6行の試験モジュール10までを順次実行する試験フローを示す。図5は、本実施形態に係る試験フローテーブル300の第2の構成例を示す。本図において、試験フローテーブル300の状態表示モードを説明する。本構成例の試験フローテーブル300において、図4に示された本実施形態に係る試験フローテーブル300の動作と略同一のものには同一の符号を付け、説明を省略する。試験フローテーブル300は、試験メソッド列350と、試験条件列360とを備える。試験メソッド列350は、試験モジュール10が使用する試験メソッド132を表示する。試験メソッド列350の各行のセルは、試験モジュール10が使用する試験メソッド132を列挙してよい。例えば、5番目に実行されるRead試験モジュール10は、Functionという名称の試験メソッド132を実行する。ここで、テーブル表示部220は、ユーザが試験フローテーブル300中の各行の試験メソッド132をクリックされたことに応じて、当該試験メソッド132を編集させる編集画面を表示させてよい。これによって、ユーザは、実行すべき試験の試験フローを確認させつつ、試験メソッド132を編集することができる。試験条件列360は、試験に用いる試験条件を指定する条件ファイル122を表示する。試験条件列360の各行のセルには、同一の行に表示された試験メソッド132に対応する少なくとも1つの条件ファイル122が列挙されてよい。例えば、3番目に実行されるPGMmode試験モジュール10が用いるFunction試験メソッド132は、Function、PatternEditor、およびSampleという名称の条件ファイル122に記述された試験条件で試験を実行する。テーブル表示部220は、試験フローテーブル300中の各行の条件ファイル122をクリックすると、条件ファイル122を編集させる編集画面を表示する。ここで、テーブル表示部220は、試験モジュール生成装置100に通知して、条件ファイル生成部110内の条件ファイル122に対応する編集部112に当該条件ファイル122を編集させてよい。これによって、ユーザは、実行すべき試験の試験フローを確認しつつ、条件ファイル122を編集することができる。以上の本実施例の試験手順生成装置200によれば、ユーザの入力によって、試験で実行させる試験モジュール10と、当該試験モジュール10を実行させる順序と、当該試験モジュール10の試験実行後の被試験デバイスの電源状態と、試験のパス/フェイル結果に応じた分岐処理とを指定する試験手順を生成することができる。また、試験手順生成装置200は、ユーザに試験装置のハードウェア仕様およびプログラム言語を意識することなく、実行すべき試験の試験手順を生成することができる。図6は、本実施形態に係る試験装置500の構成例を被試験デバイス30と共に示す。本実施形態の試験装置500において、図3に示された本実施形態に係る試験手順生成装置200の動作と略同一のものには同一の符号を付け、説明を省略する。試験装置500は、被試験デバイス30を試験する。試験装置500は、図3から5で説明した試験手順生成装置200と、試験手順記憶部510と、試験プログラム生成部520と、試験プログラム記憶部530と、試験実行部540とを備える。試験手順記憶部510は、試験手順生成装置200が生成した試験手順20を記憶する。試験手順記憶部510は、予め生成させた複数の試験手順20を記憶してよい。試験手順記憶部510は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。試験プログラム生成部520は、試験手順生成装置200が生成した試験手順20に基づき、試験プログラムを生成する。試験プログラム生成部520は、実行形式の試験プログラムを生成してよい。試験手順20には、ハードウェアモジュールのアルゴリズム等を記述した試験メソッド132、試験メソッド132が用いる試験条件が記述された条件ファイル122、および試験モジュール10の試験フローおよび分岐処理の情報を有するので、試験プログラム生成部520は、これらの情報に応じた試験プログラムを自動で生成することができる。試験プログラム記憶部530は、試験プログラム生成部520が生成した試験プログラムを記憶する。試験プログラム記憶部530は、予め生成させた複数の試験プログラムを記憶してよい。試験プログラム記憶部530は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。試験実行部540は、試験プログラム記憶部530に記憶された試験プログラムを実行して被試験デバイス30を試験する。試験実行部540は、アナログ回路、デジタル回路、アナログ/デジタル混載回路、メモリ、およびシステムオンチップSOC等の少なくとも1つの被試験デバイス30を試験してよい。試験実行部540は、被試験デバイス30を試験するための試験プログラムに基づく試験信号を被試験デバイス30に入力して、試験信号に応じて被試験デバイス30が出力する出力信号に基づいて被試験デバイス30の良否を判定する。また、試験実行部540は、試験手順記憶部510に記憶された試験手順20を直接受け取って、試験手順20に応じた試験を実行してよい。即ち、試験実行部540は、試験手順20に含めた各試験モジュール10を順次実行して被試験デバイス30を試験する。例えば、試験実行部540は、試験フローテーブル300において、ユーザが試験手順20の実行を入力したことに応じて、当該試験手順20を実行する。また、試験実行部540は、試験モジュール記憶部210に記憶された試験モジュール10を直接受け取って、試験モジュール10に応じた試験を実行してよい。例えば、試験実行部540は、試験フローテーブル300の操作または試験モジュール生成装置100の試験モジュール10生成の操作において、ユーザが試験モジュール10の実行を入力したことに応じて、当該試験モジュール10を実行する。このように、試験実行部540は、試験モジュール生成装置100でユーザが生成させた試験モジュール10、または試験手順生成装置200でユーザが生成させた試験手順20を実行することができる。以上の本実施例において、試験実行部540は、試験手順生成装置200と共に試験装置500に備わることを説明した。これに代えて、試験実行部540は、試験手順生成装置200の外部に設置される試験装置であってよい。この場合、例えば、試験手順生成装置200、試験手順記憶部510、試験プログラム生成部520、および試験プログラム記憶部530は、試験プログラム生成装置であり、当該試験プログラム生成装置と試験装置とは電気的に接続される。ここで、試験プログラム生成装置と試験装置とは、有線および/または無線通信によるネットワークで接続されてよい。これによって、試験プログラム生成装置は、パーソナルコンピュータまたはワークステーション等の計算機装置で構築することができ、試験装置とは異なる場所で試験プログラムを生成することができる。また、計算機装置内で試験プログラムを生成できるので、当該試験プログラムをデバッグするアプリケーションを当該計算機装置内で実行することで、効率的に試験プログラムを生成することができる。また、計算機装置は、試験結果の評価解析アプリケーションを実行することで、試験装置が試験を実行中に、ユーザは試験結果の評価および解析作業をすることができる。図7は、コンピュータ1900のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ1900は、ホストコントローラ2082により相互に接続されるCPU2000、RAM2020、グラフィックコントローラ2075、および表示装置2080を有するCPU周辺部と、入出力コントローラ2084によりホストコントローラ2082に接続される通信インターフェイス2030、ハードディスクドライブ2040、およびDVDドライブ2060を有する入出力部と、入出力コントローラ2084に接続されるROM2010、フレキシブルディスクドライブ2050、および入出力チップ2070を有するレガシー入出力部と、を備える。ホストコントローラ2082は、RAM2020と、高い転送レートでRAM2020をアクセスするCPU2000およびグラフィックコントローラ2075とを接続する。CPU2000は、ROM2010およびRAM2020に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィックコントローラ2075は、CPU2000等がRAM2020内に設けたフレームバッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置2080上に表示させる。これに代えて、グラフィックコントローラ2075は、CPU2000等が生成する画像データを格納するフレームバッファを、内部に含んでもよい。入出力コントローラ2084は、ホストコントローラ2082と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス2030、ハードディスクドライブ2040、DVDドライブ2060を接続する。通信インターフェイス2030は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ2040は、コンピュータ1900内のCPU2000が使用するプログラムおよびデータを格納する。DVDドライブ2060は、DVD-ROM2095からプログラムまたはデータを読み取り、RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供する。また、入出力コントローラ2084には、ROM2010と、フレキシブルディスクドライブ2050、および入出力チップ2070の比較的低速な入出力装置とが接続される。ROM2010は、コンピュータ1900が起動時に実行するブートプログラム、および/または、コンピュータ1900のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスクドライブ2050は、フレキシブルディスク2090からプログラムまたはデータを読み取り、RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供する。入出力チップ2070は、フレキシブルディスクドライブ2050を入出力コントローラ2084へと接続すると共に、例えばパラレルポート、シリアルポート、キーボードポート、マウスポート等を介して各種の入出力装置を入出力コントローラ2084へと接続する。RAM2020を介してハードディスクドライブ2040に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク2090、DVD-ROM2095、またはICカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、RAM2020を介してコンピュータ1900内のハードディスクドライブ2040にインストールされ、CPU2000において実行される。プログラムは、コンピュータ1900にインストールされ、コンピュータ1900を試験モジュール生成装置100、試験手順生成装置200、または試験プログラム生成装置として機能させる。プログラムに記述された情報処理は、コンピュータ1900に読込まれることにより、ソフトウェアと上述した各種のハードウェア資源とが協働した具体的手段である試験モジュール生成装置100、試験手順生成装置200、または試験プログラム生成装置として機能する。そして、この具体的手段によって、本実施形態におけるコンピュータ1900の使用目的に応じた情報の演算または加工を実現することにより、使用目的に応じた特有の条件ファイル生成部110、条件ファイル記憶部120、試験メソッド記憶部130、試験メソッド選択部140、条件ファイル選択部150、試験モジュール生成部160、試験モジュール記憶部210、テーブル表示部220、試験指定部230等が構築される。一例として、コンピュータ1900と外部の装置等との間で通信を行う場合には、CPU2000は、RAM2020上にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理内容に基づいて、通信インターフェイス2030に対して通信処理を指示する。通信インターフェイス2030は、CPU2000の制御を受けて、RAM2020、ハードディスクドライブ2040、フレキシブルディスク2090、またはDVD-ROM2095等の記憶装置上に設けた送信バッファ領域等に記憶された送信データを読み出してネットワークへと送信し、もしくは、ネットワークから受信した受信データを記憶装置上に設けた受信バッファ領域等へと書き込む。このように、通信インターフェイス2030は、DMAダイレクトメモリアクセス方式により記憶装置との間で送受信データを転送してもよく、これに代えて、CPU2000が転送元の記憶装置または通信インターフェイス2030からデータを読み出し、転送先の通信インターフェイス2030または記憶装置へとデータを書き込むことにより送受信データを転送してもよい。また、CPU2000は、ハードディスクドライブ2040、DVDドライブ2060DVD-ROM2095、フレキシブルディスクドライブ2050フレキシブルディスク2090等の外部記憶装置に格納されたファイルまたはデータベース等の中から、全部または必要な部分をDMA転送等によりRAM2020へと読み込ませ、RAM2020上のデータに対して各種の処理を行う。そして、CPU2000は、処理を終えたデータを、DMA転送等により外部記憶装置へと書き戻す。このような処理において、RAM2020は、外部記憶装置の内容を一時的に保持するものとみなせるから、本実施形態においてはRAM2020および外部記憶装置等をメモリ、記憶部、または記憶装置等と総称する。本実施形態における各種のプログラム、データ、テーブル、データベース等の各種の情報は、このような記憶装置上に格納されて、情報処理の対象となる。なお、CPU2000は、RAM2020の一部をキャッシュメモリに保持し、キャッシュメモリ上で読み書きを行うこともできる。このような形態においても、キャッシュメモリはRAM2020の機能の一部を担うから、本実施形態においては、区別して示す場合を除き、キャッシュメモリもRAM2020、メモリ、および/または記憶装置に含まれるものとする。また、CPU2000は、RAM2020から読み出したデータに対して、プログラムの命令列により指定された、本実施形態中に記載した各種の演算、情報の加工、条件判断、情報の検索置換等を含む各種の処理を行い、RAM2020へと書き戻す。例えば、CPU2000は、条件判断を行う場合においては、本実施形態において示した各種の変数が、他の変数または定数と比較して、大きい、小さい、以上、以下、等しい等の条件を満たすかどうかを判断し、条件が成立した場合または不成立であった場合に、異なる命令列へと分岐し、またはサブルーチンを呼び出す。また、CPU2000は、記憶装置内のファイルまたはデータベース等に格納された情報を検索することができる。例えば、第1属性の属性値に対し第2属性の属性値がそれぞれ対応付けられた複数のエントリが記憶装置に格納されている場合において、CPU2000は、記憶装置に格納されている複数のエントリの中から第1属性の属性値が指定された条件と一致するエントリを検索し、そのエントリに格納されている第2属性の属性値を読み出すことにより、所定の条件を満たす第1属性に対応付けられた第2属性の属性値を得ることができる。以上に示したプログラムまたはモジュールは、外部の記録媒体に格納されてもよい。記録媒体としては、フレキシブルディスク2090、DVD-ROM2095の他に、DVDまたはCD等の光学記録媒体、MO等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ICカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークまたはインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスクまたはRAM等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ1900に提供してもよい。以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段より前に、先立って等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上まず、、次に、等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。