供試開閉装置に対して、電源用コンデンサとギャップとリアクトルとを直列に接続し、前記電源用コンデンサと前記電源用コンデンサにより充電されるコンデンサとにより、供試開閉装置の電極に供試開閉装置の定格電圧波高値に相当する電流を印加する突入電流供給用電源回路と、発電機よりリアクトル負荷またはコンデンサ負荷を通して交流電流を供給する交流電流供給用電源回路と、前記発電機の電圧を変圧器にて昇圧し、抵抗及びコンデンサを通して供試開閉装置の電極に印加する回復電圧供給用電源回路と、を備え、前記3つの回路をそれぞれ補助開閉装置を介して供試開閉装置と接続することを特徴とする開閉装置の試験装置。前記充電したコンデンサは直流電圧を発生させるものであり、開路状態の供試開閉装置の電極に供試開閉装置の定格電圧相当の直流電流を印加するものであることを特徴とする請求項1に記載の開閉装置の試験装置。前記突入電流供給用電源回路は、前記予め充電したコンデンサと並列にリアクトルを備え、前記充電したコンデンサは、前記リアクトルを通して放電することで、コンデンサとリアクトルによって決まる周波数の交流電圧を発生させるものであり、開路状態の供試開閉装置の電極に供試開閉装置の定格電圧相当の交流電流を印加するものであることを特徴とする請求項1に記載の開閉装置の試験装置。前記回復電圧供給用電源回路において、前記変圧器の2次側両端にそれぞれ抵抗及びコンデンサを直列に接続し、供試開閉装置が交流遮断後、供試開閉装置の電極両側に回復電圧を提供するものであることを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の開閉装置の試験装置。あらかじめ充電したコンデンサを電源とし、このコンデンサとは別のコンデンサを充電した突入電流供給用電源回路から、開路状態の供試開閉装置の電極に供試開閉装置の定格電圧波高値相当する電圧を印加し、この状態で供試開閉装置を投入することで、前記あらかじめ充電していたコンデンサとリアクトル及び抵抗からなる振動回路と接続し、高周波突入電流を供試開閉装置に供給し、次に、発電機よりリアクトル負荷またはコンデンサ負荷を通して交流電流供給用電源回路から交流電流を供給し、その後、所定のタイミングで供試開閉装置を開路し、回復電圧供給用電源回路から、前記発電機の電圧を変圧器にて昇圧し抵抗、及びコンデンサを通して供試開閉装置の電極に印加することを特徴とする開閉装置の試験方法。前述したように、開閉装置の試験において、開閉装置に投入される突入電流は、高周波且つ波高値が大きい。さらに、遮断責務における定常時通電電流と同じ電源回路を用いることができない場合は、投入試験と遮断試験を分けて行っていた。つまり、単相試験時のコンデンサバンク開閉試験は、試験回数が120回必要である。投入試験と遮断試験に分けて行う場合には、それぞれの試験を120回ずつ行わなければならないので、試験時間が長くなり、試験費用が高くなるという問題がある。また、投入試験と遮断試験とを分けて試験を行う場合、単独の投入試験を1回行い、次に、配線を切替えて単独の遮断試験を1回行う。その後、再び投入試験用に配線を切替えるが、配線を切替えることが困難な場合も生じる。その場合、やむを得ず、投入試験を120回連続で行い、その後遮断試験を120回連続で行うことになる。ここで問題視されることは、遮断試験時には、供試開閉装置の接点はすでに投入試験を120回行った後の接点損耗状態となっていることである。つまり、遮断試験では、供試開閉装置は既に接点損耗状態での厳しい条件で、遮断試験を120回課せられることである。このことは、遮断試験と投入試験を交互に120回行った場合とは、異なる試験結果を生じることになる。本発明の実施形態は、上記のような従来技術の問題点を解決するために提案されたものであり、その目的は、開閉装置の試験において、投入試験と遮断試験に分けることなく、一連の動作責務による開閉性能検証試験を実施することにより、試験回数を半減させると共に、投入回数に応じた接点の損耗状態で遮断試験を行うことができる開閉装置の試験装置及びその試験方法を提供することである。上記の目的を達成するため本発明の実施形態は、次の構成を有する。1供試開閉装置に対して、電源用コンデンサとギャップとリアクトルとを直列に接続し、前記電源用コンデンサと前記電源用コンデンサにより充電されるコンデンサとにより、供試開閉装置の電極に供試開閉装置の定格電圧波高値に相当する電流を印加する突入電流供給用電源回路と、2発電機よりリアクトル負荷またはコンデンサ負荷を通して交流電流を供給する交流電流供給用電源回路と、3前記発電機の電圧を変圧器にて昇圧し、抵抗及びコンデンサを通して供試開閉装置の電極に印加する回復電圧供給用電源回路と、を備え、これら1~3の回路をそれぞれ補助開閉装置を介して供試開閉装置と接続することを特徴とする。以下、本発明の実施形態における開閉装置の試験装置について、図1~図24を参照にして具体的に説明する。なお、下記の実施形態において、図25~28で説明した開閉装置の試験装置と同一の構成に関しては、同一の符号を付して詳細な説明は省略する。1.第1の実施形態1構成以下、第1の実施形態について、図1~図4を参照して説明する。図1は、投入試験の際の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図2は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図3は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図4は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路a1、交流電流供給用電源回路b1、回復電圧供給用電源回路c1の3つの回路より構成される。[突入電流供給用電源回路a1]この突入電流供給用電源回路a1は、基本的には前記図25の回路と同じ構成を有するものである。すなわち、図1に示すように、電源用コンデンサ2と突入電流用リアクトル3の間にギャップ7が設けられている。それらと並列にコンデンサ4と抵抗8の直列接続が接続されている。突入電流リアクトル3からは減衰抵抗6を通り、補助開閉装置21を介して供試開閉装置1に接続されている。また、リアクトル5は試験配線に含まれるインピーダンスのインダクタンス分を考慮したものである。ギャップ7はシーケンス装置で所定のタイミングでトリガさせる。[交流電流供給用電源回路b1]前記、供試開閉装置1には、前記突入電流供給用電源回路a1と並列に交流電流供給用電源回路b1が接続されている。この交流電流供給用電源回路b1は、発電機12からリアクトル13を通り、変圧器14、補助開閉装置15を介して供試開閉装置1に接続された一連の機器より構成されている。[回復電圧供給用電源回路c1]さらに、前記供試開閉装置1には、発電機12から図中不号B-B、C-Cを通り変圧器16に接続され2次側片端子より抵抗17、コンデンサ18と接続し補助開閉装置22を介して供試開閉装置1に接続する回復電圧供給用電源回路c1が接続されている。2作用[投入試験]このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図1に示すように、供試開閉装置1、補助開閉装置15、補助開閉装置22を開路状態、補助開閉装置21を閉路状態にしておき、あらかじめ電源用コンデンサ2を開閉装置の定格電圧の波高値相当を満足するように充電し、さらに発電機12を所定の回復電圧を供給出来る様に励磁しておく。次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ7をトリガする。ギャップ7がトリガされると、電源用コンデンサ2に蓄えられた電荷は突入電流用リアクトル3を経て放電されコンデンサ4を充電する。このとき、供試開閉装置1は開路状態なので、供試開閉装置1の電極間に図4に示すような直流電圧23が印加される。次に、図1において供試開閉装置1を投入する図1の矢印Aと、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5、供試開閉装置1の直列接続のRLC回路が形成され、図4に示すような高周波突入電流24が供試開閉装置1に供給される。[遮断試験]その後、図2に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置21を遮断し、補助開閉装置15及び補助開閉装置22を投入し、発電機12から供試開閉装置1に所定の電流を供給する。すると、図4に示すように交流電流25が供試開閉装置1に供給される。所定の時間、交流電流25を供試開閉装置1に供給した後、図3に示すように、供試開閉装置1と補助開閉装15とを開路させて、交流電流25を遮断する。すると、コンデンサ18には直流電圧が残り、さらに発電機12から変圧器16を介して交流電圧が印加され、その合成電圧が図4に示すような回復電圧26として供試開閉装置1に印加される。3効果以上のように、本実施形態では、供試開閉装置1に対する開閉性能試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。これにより、試験回数を半減、試験回路の変更作業も必要ないことから試験全体にかかる時間及び費用を大幅に削減することが出来る。また、投入試験と遮断試験を分けて行う方法で、投入試験を規定回数終了後に遮断試験を行う場合は、開閉装置の接点は規定回数投入を行った損耗状態となっており、遮断試験を過酷な条件で行わなければならない。本発明によれば投入回数に応じた接点の損耗状態で遮断試験を行うことができるので、等価性のある性能検証が出来る。2.第2の実施形態1構成以下、第2の実施形態について、図5~図8を参照して説明する。図5は、投入試験の際の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図6は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図7は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図8は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路a2、交流電流供給用電源回路b1、回復電圧供給用電源回路c1の3つの回路より構成される。すなわち、本実施形態は、第1の実施形態の突入電流供給用電源回路a1の構成を変更したものである。以下、前記実施形態で説明した同一の構成に関しては、同一の符号を付して詳細な説明は省略する。[突入電流供給用電源回路a2]本実施形態の突入電流供給用電源回路a2は、図5に示すように、電源用コンデンサ2と突入電流用リアクトル3の間にギャップ7が設けられている。それらと並列にコンデンサ4と抵抗8の直列接続及び交流発生用リアクトル9が接続されている。突入電流リアクトル3からは減衰抵抗6を通り、補助開閉装置21を介して供試開閉装置1に接続されている。2作用[投入試験]このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図5に示すように、供試開閉装置1、補助開閉装置15、補助開閉装置22を開路状態、補助開閉装置21を閉路状態にしておき、あらかじめ電源用コンデンサ2を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電する。さらに発電機12を所定の回復電圧を供給出来る様に励磁しておく。次に指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ7をトリガする。ギャップ7がトリガされると電源用コンデンサ2に蓄えられた電荷はリアクトル3を経て放電されコンデンサ4を充電し、同時に電源用コンデンサ2と交流発生用リアクトル9で振動回路が形成され、供試開閉装置1は開路状態なので供試開閉装置1の電極間に図8に示すような交流電圧27が印加される。次に、図5において供試開閉装置1を投入する図5の矢印Aと、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5、供試開閉装置1の直列接続のRLC回路が形成される。これにより、高周波突入電流28が供試開閉装置1に供給される。[遮断試験]その後、図6に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置21を遮断し補助開閉装置15及び補助開閉装置22を投入し発電機12から供試開閉装置1に所定の電流を供給する。すると、供試開閉装置1には図8に示すような交流電流29が流れる。所定の時間、交流電流29を供試開閉装置1に供給した後、図7に示すように、供試開閉装置1と補助開閉装置15を開路させ、交流電流29を遮断する。するとコンデンサ18には直流電圧が残り、さらに発電機12から変圧器16を介して交流電圧が印加されその合成電圧が図8に示すような回復電圧30として供試開閉装置1に印加される。3効果以上のように、本実施形態では、前記実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、供試開閉装置1に対する開閉性能試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。3.第3の実施形態1構成以下、第3の実施形態について、図9~図12を参照して説明する。図9は、投入試験の際の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図10は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図11は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図12は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路a2、交流電流供給用電源回路b2、回復電圧供給用電源回路c2の3つの回路より構成される。すなわち、本実施形態は、第2の実施形態の交流電流供給用電源回路b1及び回復電圧供給用電源回路c1の構成を変更したものである。以下、前記実施形態で説明した同一の構成に関しては、同一の符号を付して詳細な説明は省略する。[交流電流供給用電源回路b2]本実施形態の交流電流供給用電源回路b2は、発電機12からリアクトル13を通り、変圧器14、補助開閉装置15を介して供試開閉装置1に接続する。また、変圧器14のもう一方の端子より補助開閉装置34を介して供試開閉装置に接続する回路である。[回復電圧供給用電源回路c2]一方、回復電圧供給用電源回路c2は、発電機12から図中不号B-B、C-Cを通り変圧器16に接続され2次側片端子より抵抗17、コンデンサ18と接続し補助開閉装置22を介して供試開閉装置1に接続する。また、変圧器16のもう一つの端子から、抵抗32、コンデンサ31を通り補助開閉装置33を介して供試開閉装置1へ接続される回路である。2作用[投入試験]このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図9に示すように、供試開閉装置1、補助開閉装置15、補助開閉装置22、補助開閉装置33、補助開閉装置34を開路状態、補助開閉装置21及び補助開閉装置35を閉路状態にしておく。そして、あらかじめ電源用コンデンサ2を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電する。さらに発電機12を所定の回復電圧を供給出来る様に励磁しておく。次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ7をトリガする。ギャップ7がトリガされると、電源用コンデンサ2に蓄えられた電荷はリアクトル3を経て放電されコンデンサ4を充電し、同時に電源用コンデンサ2と交流発生用リアクトル9で振動回路が形成される。この場合、供試開閉装置1は開路状態なので、供試開閉装置1の電極間に図12に示すような交流電圧36が印加される。次に、図9において供試開閉装置1を投入する図9の矢印Aと、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5、供試開閉装置1の直列接続のRLC回路が形成される。その結果、図12に示すような高周波突入電流37が、供試開閉装置1に供給される。[遮断試験]その後、図10に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置21及び補助開閉装置35を遮断し、補助開閉装置15、補助開閉装置34、補助開閉装置22及び補助開閉装置33を投入し発電機12から所定の電流を供給する。すると、供試開閉装置1には図12に示すような交流電流38が流れる。所定の時間、交流電流38を供試開閉装置1に流した後、図11に示すように、供試開閉装置1と補助開閉装15及び補助開閉装置34を開路し、交流電流38を遮断する。すると、コンデンサ18、コンデンサ31には直流電圧が残り、さらに発電機12から変圧器16を介して交流電圧が印加される。その結果両者の合成電圧が図12に示すような回復電圧39として、供試開閉装置1の電極両側に印加される。3効果以上のように、本実施形態では、前記実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、供試開閉装置1に対する開閉性能試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。4.第4の実施形態1構成以下、第4の実施形態について、図13~図16を参照して説明する。図13は、投入試験の際の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図14は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図15は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図16は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路a1、交流電流供給用電源回路b3、回復電圧供給用電源回路c1の3つの回路より構成される。すなわち、本実施形態は、第1の実施形態の交流電流供給用電源回路b1の構成を変更したものである。以下、前記実施形態で説明した同一の構成に関しては、同一の符号を付して詳細な説明は省略する。[交流電流供給用電源回路b3]本実施形態における交流電流供給用電源回路b3は、発電機12から変圧器14を介して、抵抗41、コンデンサ40を通り、補助開閉装置15を介して供試開閉装置1に接続する。2作用[投入試験]このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図13に示すように、供試開閉装置1、補助開閉装置15及び補助開閉装置22を開路状態、補助開閉装置21を閉路状態にしておく。また、あらかじめ電源用コンデンサ2を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電する。さらに発電機12を所定の回復電圧を供給出来る様に励磁しておく。次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ7をトリガする。ギャップ7がトリガされると、電源用コンデンサ2に蓄えられた電荷はリアクトル3を経て放電されコンデンサ4を充電する。供試開閉装置1は開路状態なので供試開閉装置1の電極間に図16に示すような直流電圧42が印加される。次に、図13において供試開閉装置1を投入する図13の矢印Aと、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5、供試開閉装置1の直列接続のRLC回路が形成され、図16に示すような高周波突入電流43が供試開閉装置1に供給される。[遮断試験]その後、図14に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置21を遮断し、補助開閉装置15及び補助開閉装置22を投入し、発電機12から所定の電流を供給する。すると、供試開閉装置1には図16に示すような交流電流44が流れる。所定の時間、交流電流44を供試開閉装置1に流した後、図15に示すように、供試開閉装置1と補助開閉装15を開路し、交流電流44を遮断する。するとコンデンサ18には直流電圧が残り、さらに発電機12から変圧器16を介して交流電圧が印加される。その結果両者の合成電圧が図16に示すように回復電圧45として供試開閉装置1に印加される。3効果以上のように、本実施形態では、前記実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、供試開閉装置1に対する開閉性能試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。5.第5の実施形態1構成以下、第5の実施形態について図17~図20を参照して説明する。図17は、投入試験の際の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図18は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図19は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図20は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路a2、交流電流供給用電源回路b3、回復電圧供給用電源回路c1の3つの回路より構成される。すなわち、本実施形態は、第4の実施形態の交流電流供給用電源回路a1の構成を変更したものである。突入電流供給用電源回路a2、交流電流供給用電源回路b3、回復電圧供給用電源回路c1については、すでに詳細な説明を行っているので、構成についての説明は省略する。2作用[投入試験]このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図17に示すように、供試開閉装置1、補助開閉装置15及び補助開閉装置22を開路状態、補助開閉装置21を閉路状態にしておく、そして、あらかじめ電源用コンデンサ2を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電し、さらに発電機12を所定の回復電圧が供給出来る様に励磁しておく。次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ7をトリガする。ギャップ7がトリガされると、電源用コンデンサ2に蓄えられた電荷はリアクトル3を経て放電されコンデンサ4を充電する。同時に、電源用コンデンサ2と交流発生用リアクトル9で振動回路が形成され、供試開閉装置1は開路状態なので、供試開閉装置1の電極間に図20に示すような交流電圧46が印加される。次に、図17において供試開閉装置1を投入する図17の矢印Aと、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5及び供試開閉装置1による直列接続のRLC回路が形成され、高周波突入電流47が供試開閉装置1に供給される。[遮断試験]その後、図18に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置21を遮断し、補助開閉装置15及び補助開閉装置22を投入し。発電機12から所定の電流を供給する。すると、供試開閉装置1には図8に示すような交流電流48が流れる。所定の時間、交流電流48を供試開閉装置1に供給した後、図19に示すように、供試開閉装置1と補助開閉装置15を開路し、交流電流48を遮断する。すると、コンデンサ18には直流電圧が残り、さらに発電機12から変圧器16を介して交流電圧が印加される。このとき、その合成電圧が図20に示すような回復電圧49として供試開閉装置1に印加される。3効果以上のように、本実施形態では、前記実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、供試開閉装置1に対する開閉性能試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。6.第6の実施形態1構成以下、第6の実施形態について図21~図24を参照して説明する。図21は、投入試験の際の各開閉装置の開閉を示す回路図、図22は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図23は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図24は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路a2、交流電流供給用電源回路b4、回復電圧供給用電源回路c2の3つの回路より構成される。すなわち、本実施形態は、第3の実施形態の交流電流供給用電源回路b2の構成を変更したものである。以下、前記実施形態で説明した同一の構成に関しては、同一の符号を付して詳細な説明は省略する。[交流電流供給用電源回路b4]本実施形態の回路を交流電流供給用電源回路b4は、発電機12から変圧器14を介して、抵抗41、コンデンサ40を通り補助開閉装置15を介して供試開閉装置1に接続する。また、変圧器14のもう一方の端子より補助開閉装置34を通り供試開閉装置1に接続する。2作用[投入試験]このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図21に示すように、供試開閉装置1、補助開閉装置15、補助開閉装置34、補助開閉装置22及び補助開閉装置33を開路状態、補助開閉装置21、補助開閉装置35を閉路状態にしておく。そして、あらかじめ電源用コンデンサ2を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電し、さらに発電機12を所定の回復電圧を供給出来る様に励磁しておく。次に指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ7をトリガする。ギャップ7がトリガされると、電源用コンデンサ2に蓄えられた電荷はリアクトル3を経て放電されコンデンサ4を充電し、同時に電源用コンデンサ2と交流発生用リアクトル9で振動回路が形成される。供試開閉装置1は開路状態なので供試開閉装置1の電極間に図24に示すような交流電圧50が印加される。次に、図21において供試開閉装置1を投入する図21の矢印Aと、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5及び供試開閉装置1の直列接続のRLC回路が形成され、図24に示すような高周波突入電流51が供試開閉装置1に供給される。[遮断試験]その後、図22に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置21、補助開閉装置35を遮断し、補助開閉装置16、補助開閉装置22、補助開閉装置33及び補助開閉装置34を投入し発電機12から所定の電流を供給する。その結果、供試開閉装置1には図24に示すような交流電流52が流れる。所定の時間、交流電流52を供試開閉装置1に供給した後、供試開閉装置1、補助開閉装置16及び補助開閉装置34を開路し、交流電流52遮断する。すると、コンデンサ18、コンデンサ31には直流電圧が残り、さらに発電機12から変圧器16を介して交流電圧が印加される。その両者の合成電圧が図24に示すような回復電圧52として供試開閉装置1の電極両側に印加される。3効果以上のように、本実施形態では、前記実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、供試開閉装置1に対する開閉試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。他の実施形態なお、本明細書においては、本発明に係る複数の実施形態を説明したが、これらの実施形態は例として提示したものであって、発明の範囲を限定することを意図していない。また、本実施形態は、様々な形態で実施されることが可能であり、発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略や置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。