"圧延材を圧延する一対のワークロールを備えた圧延機において、ワークロール間のロールギャップ量Sを制御する板厚制御方法において、比例制御及び/又は積分制御を行うPI制御とBISRA-AGCとを併用しつつ、圧延機のロールギャップ量Sの修正量ΔSを求めるに際し、PI制御に関する比例ゲインGpを次式にて求めることを特徴とする圧延機の板厚制御方法。前記PI制御の積分制御に関する積分ゲインGiを、次式にて求めることを特徴とする請求項1に記載の圧延機の板厚制御方法。前記PI制御の積分制御に関する積分ゲインGiを、次式にて求めることを特徴とする請求項1に記載の圧延機の板厚制御方法。前記PI制御の積分制御に関する積分ゲインGiを、次式にて求めることを特徴とする請求項1に記載の圧延機の板厚制御方法。BISRA-AGCと、モニタAGCまたは絶対値AGCとを併用し、前記併用されたモニタAGCまたは絶対値AGCにおいて、PI制御を採用していることを特徴とする請求項1~4のいずれかに記載の圧延機の板厚制御方法。通常、厚鋼板の圧延においても、特許文献1に開示された技術のように、複数のAGCが同時に実行されている。しかしながら、複数のAGCが全て同時に実行されているわけではなく、狙った板厚を実現するため、排他的に実行されるAGCや、選択的に組み合わせて併用されるAGCがある。複数のAGCを併用する場合、併用される各AGCが発揮する能力を適切に決定しなければ、圧延機全体としての安定した制御が困難となる。本願発明者らは、BISRA-AGCと例えばモニタAGCとを併用した場合に板厚の制御を安定させるためには、モニタAGCにて実行されるPI制御に関する比例ゲインGpや積分ゲインGiを適切に決定しなければならないことを、現場の実績を基に知見した。しかし、特許文献1には、複数のAGCを実行した際に制御を安定させるための技術が開示されておらず、当然に、PI制御を採用した際に安定制御を可能にする比例ゲインGpと積分ゲインGiを求める手法も開示されていない。そこで本発明は、上記問題点に鑑み、BISRA-AGCとモニタAGC等におけるPI制御とを併用した板厚制御における、最適な比例ゲインGp及び積分ゲインGiの決定方法を提供すると共に、この決定方法を採用した板厚制御方法を提供することを目的とする。上述の目的を達成するため、本発明においては以下の技術的手段を講じた。本発明の板厚制御方法は、圧延材を圧延する一対のワークロールを備えた圧延機において、ワークロール間のロールギャップ量Sを制御するものであって、比例制御及び/又は積分制御を行うPI制御とBISRA-AGCとを併用しつつ、圧延機のロールギャップ量Sの修正量ΔSを求めるに際し、PI制御に関する比例ゲインGpを次式にて求めることを特徴とする。ここで、前記PI制御の積分制御に関する積分ゲインGiを、次式にて求めてもよい。また、前記PI制御の積分制御に関する積分ゲインGiを、次式にて求めてもよい。さらに、前記PI制御の積分制御に関する積分ゲインGiを、次式にて求めてもよい。ここで、BISRA-AGCと、モニタAGCまたは絶対値AGCとを併用し、前記併用されたモニタAGCまたは絶対値AGCにおいて、PI制御を採用していてもよい。本発明によれば、BISRA-AGCとPI制御を併用した板厚制御における最適な比例ゲインGp及び積分ゲインGiの決定方法を提供することができると共に、この決定方法を採用した板厚制御方法を提供することができる。以下、図面を基に、本発明にかかる圧延機の板厚制御方法を説明する。図1を参照して、厚鋼板等の圧延材を圧延する圧延装置1は、その上流側に圧延材2を加熱する加熱炉3を有し、加熱炉3の下流側には、圧延材2の粗圧延を行う粗圧延機4が備えられている。粗圧延機4の下流側には、仕上げ圧延を行う仕上げ圧延機5が備えられている。加熱炉3で加熱されたスラブは、粗圧延機4や仕上げ圧延機5で複数回複数パス圧延されて、製品の厚鋼板となる。第1実施形態図2には、圧延装置1に備えられている仕上げ圧延機5以下、圧延機5というが示されている。圧延機5は、圧延材2を圧延する一対のワークロール6,6とそれをバックアップする一対のバックアップロール7,7とを有している。さらに、圧延機5には、ワークロール6,6の間隙長以下、ロールギャップ量Sと呼ぶを調整する油圧駆動の圧下装置が備えられている。圧下装置は、例えば油圧シリンダ8と、油圧シリンダ8を制御してワークロール6の圧下位置を調整する油圧圧下位置制御部9とを有している。ワークロール6の両端を支持するロールチョック10には、圧延機5のフレーム11に支持された油圧シリンダ8の基端が接続され、この油圧シリンダ8を支持するフレーム11には圧延荷重を計測するロードセル12が設けられている。また、ロールチョック10と圧延機5のフレーム11の間には、油圧シリンダ8に沿ってフレーム11からロールチョック10までの距離を測定するリニアゲージ13が設けられており、このリニアゲージ13で測定した距離から、ロールギャップ量S乃至はロールギャップ量の変化量ΔSが得られる。さらに、圧延機5の出側には、圧延材2の出側板厚出側エッジ厚を計測するための板厚計14が設けられている。板厚計14としては、γ線板厚計などを採用することができる。圧延機5には、ロードセル12が計測した圧延荷重と板厚計14が計測した出側板厚とを受けて、圧延材2の出側板厚が所定のものとなるように油圧圧下位置制御部9を制御する板厚制御部15aが設けられている。この板厚制御部15aはプロコンやPLCから構成されており、内部には、後述するAGC制御系やベンダ制御系などがプログラムの形で組み込まれている。図8に示される如く、本実施形態における板厚制御部15aは、AGC制御系として、比例制御と積分制御を組み合わせたPI制御を採用するモニタAGCと、BISRA-AGCとを実行し、油圧圧下位置制御部を制御している。尚、図8において、絶対値AGCが示されているが、本実施形態においては実行されていないものとする。図8において、FF-AGCも示されているが、本実施形態による板厚制御部15aにおいてFF-AGCは存在しないものとする。モニタAGCは、板厚計14にて出側板厚を実測し、その実測値を積分したものを圧延機5へフィードバックする制御である。また、BISRA-AGCは、ゲージメータAGCの一種であり、圧延機5の弾性や圧延材2の変形抵抗を考慮した上で、圧延機5の出側板厚を求めるものであって、例えば、圧延荷重を基にミル定数などを用いて出側板厚を推定し、その値を基に圧延機5の制御を行うものである。このように、本実施形態による板厚制御部15aは、モニタAGCのPI制御とBISRA-AGCとを併用している。ところが、PI制御とBISRA-AGCとを併用する場合に制御安定性を確保するには、以下に述べるような課題が従来より存在する。例えば、特開昭59-19016号公報に記載の板厚制御方法では、油圧圧下系の油圧シリンダ位置のフィードバック制御に関する最適ゲインKOPTについて、次に示す式1などが与えられている。ここで、αbは、制御全体に対するBISRA-AGCの寄与率であって、BISRA-AGCのチューニング率である。しかしながら、モニタAGCのPI制御のP比例ゲインGp絶対値AGCとモニタAGCのPゲインの和でもよいに関しては、決定するための方法が開示されていない。そこで、式1で得られた最適ゲインKOPTを、PI制御の比例ゲインGpとして用いる場合を考える。この場合、従来の板厚制御方法においては、MやQが変動した場合でも同じ応答及び同じ制御安定性を確保すべく、式2のように、比例ゲインGpをMQ/Mに比例して変更することが一般的に行われている。しかし、図3のグラフに示すように、PI制御とBISRA-AGCを併用した場合、式2に基づき比例ゲインGpを変更しても、応答性や安定性はMやQの変動によって大きく変化する。図3は、式2に基づいて、様々なM,Q対して比例ゲインGpを変更した場合のステップ応答を示すグラフである。但し、BISRA-AGCの寄与率であるαbの値を1としている。図3において、式2のMが大きくなる、あるいはQが小さくなると、グラフは左の方向応答が早くなるにシフトし、Mが小さくなる、あるいはQが大きくなると、グラフは右の方向応答が遅くなるにシフトする。図3によると、式2に基づいた比例ゲインGpの変更では、M,Qの変動によって応答波形が変化してしまうことがわかる。すなわち、従来より用いられる式2では、M,Qの変動に対して同じ応答性、同じ安定性を確保できないということである。そこで、本実施形態による板厚制御部15aは、モニタAGCのPI制御における比例ゲインGpを、式3によって決定する。ここでは、積分ゲインGiを0として、比例ゲインGpだけを変更する場合について説明する。比例ゲインGpを、式2ではなく式3によって決定することにより、M,Qが変動しても、αbの値が一定であれば、常に同じ応答及び安定性を確保することができることを本願出願人は知見している。但し、ただし、abαb≦0の場合、Gpαb≦0となり、BISRA-AGC及びPI制御で構成される板厚制御部15aは板厚を悪化させる方向に作用するため、abαb>0の範囲でa,b,αbを与える方が好ましい。ここで、図4に、式3においてabαb=1.2とし、比例ゲインGpを変更した際の応答及び安定性についての結果を示す。図4aはステップ応答を示すグラフであり、図4bは安定性を示すナイキスト線図である。図3のステップ応答と対比するため、αb=1の場合について考える。図4aを参照すると、比例ゲインGpの変更を式3に基づいて行えば、M,Qが変動しても応答波形が変化せず、同じ応答が得られることがわかる。また、図4bを参照すると、ナイキスト線図も変化していないので、M,Qが変動しても同じ安定性を保つことができる。ここで、式3に基づいた比例ゲインGpの変更において、ステップ応答時の時定数Tdは、式4で与えられる。なお、一次遅れ系の時定数であるTyは一次遅れ分とむだ時間の和≒TsLsと考えることもでき、上述のようにαb=1の場合、Tdは、式5で与えられる。式5からわかるように、式3によって比例ゲインGpを変更する場合、αbが同じであれば、常に同じ応答と安定性を与えることができる。ここで、定数a,bの与え方による応答及び安定性の違いについて述べる。図4aに示すように、例えばb=0とした場合、αbが変化しても、ステップ応答時に常に同じ立ち上がり速度を得ることができ、式4から時定数Tdは式6で与えられる。また、b=1とした場合、同様に式4から時定数Tdは式7で与えられる。これは、αbが変化してもステップ応答の時定数は変化しないことを示しており、また、ナイキスト線図においても、αbに関係なく一定で同じ安定性を得ることができる。以上から、αbの変更時に保ちたい特性に応じて定数bを適切に与えればよい。例えば、上述したように、立ち上がり速度を一定に保ちたいときはb=0、時定数や安定性を一定に保ちたいときはb=1とすればよい。以上、比例ゲインGpの変更方法について説明した。続いて、モニタAGCのPI制御における積分ゲインGiの変更方法について、説明する。従来、モニタAGCのPI制御のI積分ゲインGi絶対値AGCとモニタAGCのIゲインの和でもよいに関しては、積分時間を比例制御と同じくする観点から、式8のように比例ゲインGpに比例して変更していた。図5に、式8によって積分ゲインGiを変更した際の応答及び安定性についての結果を示す。図5aはステップ応答を示すグラフであり、図5bは安定性を示すナイキスト線図である。但し、αb=0.9としている。図5a及びbに示すように、M,Qの変動に伴って応答ステップ応答や安定性ナイキスト線図は変化してしまう。図5abにおいて、Mが小さくなる、あるいはQが大きくなると、グラフはハンチング気味になる。図5aに示すように、式8を用いた従来技術ではαbを考慮していないため、M,Qの変動によって、板厚制御では最も敬遠されるオーバーシュートが発生するなど、安定性や応答が変動してしまう。操業条件M,Q,αbによって安定性や応答が様々に変動するため、全ての操業条件においてオーバーシュートをしないように、あるいは不安定にならないように制御するには、積分ゲインGiを下げるしか方法がなかった。通常、積分ゲインGiを大きく与えすぎるとオーバーシュートが発生する。そこで、本実施形態による板厚制御部15aは、モニタAGCのPI制御における積分ゲインGiの上限を、Gpαbと1-αbを考慮した式9によって変更する。この式9によって積分ゲインGiの上限を与え、その上限を超えないように積分ゲインGiを修正する。こうすることで、M,Qが変化してもオーバーシュートしない適切な積分ゲインGiを与えることができる。また、M,Qによらず一定の応答を確保したい場合は、積分ゲインの寄与率に相当するαiを導入した式10によって、積分ゲインGiを与えればよい。式9を守りつつ、αi及びαbが一定であれば、常に同じ応答波形及び安定性を確保することができる。更に、積分ゲインGiをできるだけ大きく与え、且つ外乱の影響を抑制するロバスト性を高めたい場合、αi=1として、式11を与える。式11によって、オーバーシュートしない範囲で常に積分ゲインGiを最大に保つことができる。式11で積分ゲインGiを与えた場合、定数Tdは式12で与えられる。更に、この式12に対して式3で得られた比例ゲインGpを与えた場合、時定数Tdは、式13で与えられる。積分ゲインGiを0とし式3にて比例ゲインGpを与えた場合の式4とは異なり、式11で積分ゲインGiを与えた場合、b=0とすればαbに関係なく常に一定の時定数を得ることができる。図6に、式3及び式11によって比例ゲインGp及び積分ゲインGiを与えた場合の応答及び安定性の結果を示す。図6aはステップ応答を示すグラフであり、図6bは安定性を示すナイキスト線図である。但し、図5と同様に、αb=0.9としている。図6を参照すると、式3及び式11によって比例ゲインGp及び積分ゲインGiを与えると、応答波形やナイキスト線図はM,Qの変動によっては変化せず、同じ応答波形及び安定性を実現することができることがわかる。図5に結果を示したような従来技術と比較すると、安定余裕も大きくなっていることがわかる。上述のように、式3によって与えられる比例ゲインGpと式11によって与えられる積分ゲインGiとを用いてPI制御を実行することで、板厚制御部15aは、PI制御モニタAGCとBISRA-AGCを併用した場合でも、M,Qの変動の影響を受けない応答及び安定性を実現することができる。例えば、板厚制御部15aにおいて、式3によって与えられる比例ゲインGpと式11によって与えられる積分ゲインGiとを用いることで、PI制御によるロールギャップ修正量ΔSpiを算出し、併せて、BISRA-AGCよるロールギャップ修正量ΔSbを算出して、式14により、圧延機に適用するロールギャップ修正量ΔSを求めるようにする。斯かるロールギャップ修正量ΔSを用いることで、PI制御モニタAGCとBISRA-AGCを併用した場合でも、M,Qの変動の影響を受けない応答及び安定性を実現することができる。第2実施形態以下、本発明に係る圧延機の板厚制御方法の第2実施形態について説明する。前述した第1実施形態による板厚制御部15aは、モニタAGCとBISRA-AGCとを併用していたが、第2実施形態による板厚制御部15bは、絶対値AGCのPI制御とBISRA-AGCとを併用している。すなわち、第2実施形態による板厚制御部15bの絶対値AGCも、モニタAGCと同様にPI制御を採用しているので、本実施形態においても、第1実施形態と同様の方法で比例ゲインGpと積分ゲインGiを決定することができる。尚、推定板厚推定部16は、ロードセル12とリニアゲージ13から取得した値を基にゲージメータ板厚を推定するものであり、板厚制御部15bの絶対値AGCは、推定されたゲージメータ板厚を用いて油圧圧下位置制御部9をフィードバック制御する。このような本実施形態による板厚制御部15bは、第1実施形態において説明した式3によって与えられる比例ゲインGpと式11によって与えられる積分ゲインGiとを用いてPI制御を実行することで、絶対値AGCとBISRA-AGCを併用した場合でも、M,Qの変動の影響を受けない応答及び安定性を実現することができる。なお、今回開示された実施形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。特に、今回開示された実施形態において、明示的に開示されていない事項、例えば、運転条件や操業条件、各種パラメータ、構成物の寸法、重量、体積などは、当業者が通常実施する範囲を逸脱するものではなく、通常の当業者であれば、容易に想定することが可能な値を採用している。"