被試験デバイスの検査のためのプローブシステムであって、a.ストレージラック、b.プローブバーガントリーアセンブリ、c.前記被試験デバイスと電気的に合わさるように構成されたプローブアセンブリ、およびd.前記ストレージラックから前記プローブアセンブリを取出し、前記プローブアセンブリを前記プローブバーガントリーに引渡すように構成され、さらに、前記プローブバーガントリーからプローブアセンブリを取出し、前記プローブアセンブリを前記ストレージラックに引渡すように構成されるロボットシステムを含むプローブシステム。前記プローブアセンブリが、前記プローブアセンブリを前記プローブバーガントリー又は前記ストレージラックに取付けるように構成されたクランプアセンブリを含む、請求項1に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリは、前記プローブアセンブリが前記プローブバーガントリーアセンブリ上に設置されるときに、前記被試験デバイス上の導電性パッドに合わさるように構成されたコンタクトピンのアレイを含む、請求項1に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリは複数のコンタクトを含むコンタクトアセンブリを含み、前記プローブバーガントリーアセンブリはガントリー構造と前記ガントリー構造上に装着された電気バスとを含み、前記電気バスは複数の線状体を含み、前記コンタクトアセンブリの前記複数のコンタクトは、前記プローブアセンブリが前記プローブバーガントリーアセンブリ上に設置されるときに、前記電気バスの前記複数の線状体に電気的に適合するように構成される、請求項1に記載のプローブシステム。前記電気バス上の所定のプローブアセンブリを検出するように構成されたコントローラをさらに含む、請求項4に記載のプローブシステム。前記コントローラが、さらに前記電気バス中に正しいプローブアセンブリが存在することを確認し、プローブアセンブリの誤配置を特定するように構成される、請求項5に記載のプローブシステム。前記被試験デバイスのための電気テストパターンを発生するように構成されたテストパターン発生装置をさらに含み、前記テストパターン発生装置は、前記電気テストパターンが前記電気バスの前記線状体を通して前記コンタクトアセンブリの前記複数のコンタクトの少なくとも1つに印加されるように、前記プローブバーガントリーアセンブリの前記電気バスに電気的に接続される、請求項4に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリは、前記テストパターンを前記電気バスから前記コンタクトアセンブリを通して受信し、前記電気テストパターンをコンタクトピンの前記アレイを通して前記被試験デバイスに印加するように構成される、請求項7に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリが前記プローブバーガントリーアセンブリの長さに沿った任意の場所に設置されるときに、前記プローブアセンブリの前記コンタクトアセンブリの前記複数のコンタクトが前記電気バスの前記複数の線状体と合わさるように、前記電気バスの前記複数の線状体が前記プローブバーガントリーアセンブリの長さに沿って配列される、請求項4に記載のプローブシステム。前記プローブバーガントリーは、前記プローブアセンブリを前記被試験デバイス上の特定の位置に位置決めするための自動作動軸を備えるように構成される、請求項1に記載のプローブシステム。前記ロボットシステムが、前記プローブアセンブリを握持するように動作可能なグリップアセンブリを含む、請求項1に記載のプローブシステム。前記グリップアセンブリは前記グリップ装置に関して回転移動可能なグリップアームを含み、前記ロボットシステムは、前記グリップアセンブリの前記グリップアームを作動させるためのアクチュエータを含む、請求項11に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリが前記グリップアセンブリによって握持されると、前記グリップアセンブリは、前記プローブアセンブリの前記クランプアセンブリを開かせて、前記ストレージラック又は前記プローブバーガントリーアセンブリを解放するように動作可能な、請求項11に記載のプローブシステム。前記ロボットシステムが、プローブアセンブリを識別し位置を特定するように構成された少なくとも1つのセンサを含む、請求項1に記載のプローブシステム。前記センサはRFID読取り装置であり、前記プローブアセンブリは、前記RFID読取り装置によって読取られるように構成されたRFIDタグを含み、前記RFIDタグは、固有のプローブアセンブリ識別子、プローブ種類情報及び較正情報の内の少なくとも1つを保存する、請求項14に記載のプローブシステム。前記センサが前記プローブアセンブリのエッジを検出するように構成されたエッジ検出センサである、請求項14に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリの配置又は移動の間に、前記プローブバーガントリーアセンブリの表面の歪みを補償するために必要な補正量を決定するように構成されたコントローラをさらに含む、請求項16に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリが、前記被試験デバイス上の導電性パッドと合わさるように構成されたコンタクトピンのアレイと、複数のコンタクトを含むコンタクトアセンブリと、プローブアセンブリコントローラとを含み、前記プローブアセンブリコントローラは、前記複数のコンタクトの内の1つ又は複数から、1つ又は複数のコンタクトピンに、1つ又は複数の信号を経路づけるように構成される、請求項1に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリコントローラは前記コンタクトアセンブリと結合したシリアルプロトコルインターフェースを含み、前記コンタクトアセンブリは前記プローブバーガントリーアセンブリの電気バスに電気的に合わさるように構成され、これにより前記シリアルプロトコルインターフェースがシリアルプロトコルを使用して前記プローブバーガントリーアセンブリの前記電気バスを通して制御可能となる、請求項18に記載のプローブシステム。シリアルプロトコル命令を前記プローブアセンブリの前記シリアルプロトコルインターフェースに前記電気バスを通して送信実行可能なプローブアセンブリコントローラサーバをさらに含む、請求項19に記載のプローブシステム。前記被試験デバイスのための複数グループの電気テストパターン信号を発生させるように構成された複数のテストパターン発生装置をさらに含み、前記コンタクトアセンブリは前記プローブバーガントリーアセンブリの電気バスと電気的に合わさるように構成され、前記複数グループの電気テストパターン信号が前記電気バスに印加され、前記プローブアセンブリコントローラが前記複数グループの電気テストパターン信号の内の1つを前記複数のコンタクトピンに経路づけるように構成される、請求項18に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリコントローラが、前記被試験デバイスから検知された1つ又は複数の信号を、1つ又は複数のコンタクトピンから、前記コンタクトアセンブリの前記複数のコンタクトの内の1つ又は複数に経路づけるように構成される、請求項18に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリの前記プローブアセンブリコントローラが、前記プローブアセンブリの固有の識別子を記憶するメモリ装置を含み、前記プローブアセンブリの前記固有の識別子が、命令を前記プローブアセンブリコントローラに送信するために使用される、請求項18に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリコントローラは、前記複数のコンタクトの内の任意の1つから、前記複数のコンタクトピンの内の任意の1つに、信号を経路づけるように構成される、請求項18に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリの前記コンタクトピンが、所定の被試験デバイスの構成に従って予め位置決めされる、請求項18に記載のプローブシステム。前記プローブアセンブリが、光学プローブ装置、電気プローブ装置、熱的プローブ装置、及び整列プローブ装置の内の少なくとも1つを含む、請求項1に記載のプローブシステム。前記プローブバーガントリーアセンブリが、前記被試験デバイス上の任意の場所に前記プローブアセンブリを位置決めするように動作可能な、請求項1に記載のプローブシステム。被試験デバイスの検査のためのプローブシステムであって、前記プローブシステムは、a.第1のレールを含むストレージラック、b.第2のレールを含むガントリー構造と、前記ガントリー構造に取り付けられ複数の線状体を有する電気バスとを含むプローブバーガントリーアセンブリ、c.前記被試験デバイス上のコンタクトパッドと電気的に合わさるように構成された複数のピンと、前記プローブアセンブリが前記プローブバーガントリーアセンブリ上で位置決めされると前記電気バスの前記線状体に合わさるように構成された複数のコンタクトと、前記第1のレールと第2のレールに係合するように構成されたクランプアセンブリとを含むプローブアセンブリ、およびd.前記ストレージラックから前記プローブアセンブリを取出し、前記プローブアセンブリを前記プローブバーガントリーに引渡すように構成され、さらに、前記プローブバーガントリーから前記プローブアセンブリを取出し、前記プローブアセンブリを前記ストレージラックに引渡すように構成されるロボットシステムを含む、プローブシステム。a.ストレージラック、b.第1のガントリーアセンブリ、c.第2のガントリーアセンブリ、d.前記第1のガントリーアセンブリにアクセス可能なアクセスエリア、e.第1のロボットシステム、並びにf.前記ストレージラック、前記第1のガントリーアセンブリ及び前記第2のガントリーアセンブリのいずれかの中の前記搭載物を再位置決めするように構成され、前記搭載物の少なくとも1つのエッジを検出することによって、前記搭載物を識別し、位置を特定するように構成された少なくとも1つのエッジ検出センサを含む第2のロボットシステムを含む、システム。