"粒子を検出または収集するための装置であって、前記粒子の少なくとも一部を帯電させるチャージャと、前記帯電粒子の少なくとも一部を収集する収集器と、前記帯電粒子の測定電荷に基づいて前記検出/収集された粒子の量を示す情報を得るプロセッサとを備える装置。前記チャージャは、静電気発生器を備える請求項1に記載の装置。前記チャージャは、前記静電気発生器から前記粒子の前記少なくとも一部に電荷をロードする電荷ローダをさらに備える請求項2に記載の装置。前記電荷ローダは、針のアレイを備える請求項3に記載の装置。前記針はそれぞれ、約5mmの高さを有する請求項4に記載の装置。前記アレイは、約2cm×2cmのサイズを有する請求項4に記載の装置。前記針はそれぞれ、電荷ローディング効率を改善するために複数の分枝を備える請求項4に記載の装置。前記電荷ローダは、複数のインタレース式突出部を備える請求項3に記載の装置。前記電荷ローダは、複数の溝を有する金属表面を備え、前記溝は、ブレードで前記金属表面を引っ掻くことによって形成される請求項3に記載の装置。粒子サイズに基づいて粒子を選択するフィルタをさらに備える請求項1に記載の装置。前記フィルタは、閾値サイズより大きい粒子が前記チャージャによって帯電されるのを防止するように構成される請求項10に記載の装置。前記フィルタは、空気流中の前記粒子の密度を減少させるようにさらに構成される請求項11に記載の装置。前記粒子の流れ用のチャネルをさらに備える請求項1に記載の装置。前記流れは、前記粒子を含む空気流である請求項14に記載の装置。前記チャネルは、少なくとも1つの帯電屈曲部を備える請求項14に記載の装置。前記屈曲部は、前記粒子の少なくとも一部を前記チャージャと同じ極性に帯電させるように構成される請求項15に記載の装置。前記チャネルは、蛇行部を備え、前記蛇行部は、帯電され、前記流れの中の未帯電粒子の少なくとも一部を前記チャージャと同じ極性に帯電させるように構成される請求項14に記載の装置。前記チャネルは、前記流れの中の未帯電粒子の少なくとも一部を前記チャージャと同じ極性にさらに帯電させるように構成された少なくとも1つの帯電突出部を備える請求項14に記載の装置。前記突出部は、針または伝導性ネットワークの少なくとも一方を含む請求項18に記載の装置。測定される前記粒子の密度を減少させる希釈器をさらに備える請求項1に記載の装置。前記希釈器は、複数の等級付けチャンバを備える請求項20に記載の装置。前記複数の等級付けチャンバのうちの2つの等級付けチャンバ間に複数のコネクタをさらに備え、前記複数のコネクタはそれぞれ、異なる径を有する請求項21に記載の装置。前記希釈器は、サブチャンバおよび真空弁を備え、前記複数の等級付けチャンバのうちの1つの等級付けチャンバは、前記真空弁を通して排気されるように構成され、前記サブチャンバは、前記複数の等級付けチャンバのうちの1つの等級付けチャンバ内に前記サブチャンバの内容物を解放し、希釈された内容物を有するように構成される請求項20に記載の装置。前記希釈器は、それぞれが異なる径を有する複数の等級付けチャネルを備える請求項20に記載の装置。前記収集器は、前記収集された帯電粒子によってもたらされる電気パルスを測定するように構成され、前記測定される電気パルスは、パルス閾値を超える請求項1に記載の装置。前記収集器は、帯電粒子間のクーロン反発力、磁界内での帯電粒子の運動、電界内での帯電粒子の運動、または前記帯電粒子によるキャパシタンスの変化の少なくとも1つに基づいて電荷を測定するように構成された電気パルス検出器を備える請求項25に記載の装置。前記粒子は、約0.1nm~約1000nmのサイズを有する請求項1に記載の装置。前記収集器は、伝導性湾曲シェルを備え、前記伝導性湾曲シェルは、前記伝導性湾曲シェルの表面に沿って前記帯電粒子を移動させるように構成される請求項1に記載の装置。前記帯電粒子は、クーロン反発力によって前記伝導性湾曲シェルの表面全体にわたって分散されるように構成される請求項28に記載の装置。前記収集器は、前記帯電粒子を収集する伝導性メッシュと、前記帯電粒子の軌道を修正する電界発生器および磁界発生器の少なくとも一方とを備える請求項1に記載の装置。空気中のナノ粒子を検出するように構成される請求項1に記載の装置。前記ナノ粒子の濃度を示すインジケータをさらに備える請求項31に記載の装置。前記有害なナノ粒子の濃度が閾値濃度を超える場合、通知または警報を提供するようにさらに構成される請求項31に記載の装置。前記情報は、粒子計数、濃度情報、または両方を含む請求項1に記載の装置。粒子を検出または収集する方法であって、流れの中の前記粒子の少なくとも一部を帯電させること、前記帯電粒子の少なくとも一部を収集すること、および、前記収集された帯電粒子の電荷に基づいて前記検出/収集された粒子の量を示す情報を得ることを含む方法。前記電荷を測定することをさらに含む請求項35に記載の方法。前記測定することは、前記収集された帯電粒子によってもたらされる電流パルスを検出することを含む請求項36に記載の方法。前記検出することは、帯電粒子間のクーロン反発力、磁界内での帯電粒子の運動、電界内での帯電粒子の運動、または前記帯電粒子によるキャパシタンスの変化の少なくとも1つに基づく請求項37に記載の方法。前記電流パルスの検出閾値を確定することをさらに含む請求項38に記載の方法。複数の場所で電荷を測定すること、および、単一プロセッサを使用して、前記複数の場所からの測定データを処理することをさらに含む請求項36に記載の方法。湾曲した伝導性シェルにわたって前記帯電粒子を分散させることをさらに含む請求項35に記載の方法。前記湾曲した伝導性シェルは、半球表面を有する請求項41に記載の方法。前記分散させることは、クーロン反発力による請求項42に記載の方法。粒子計数または密度情報と電荷との間の相関を確立することをさらに含む請求項35に記載の方法。帯電蛇行状チャネルを通して前記粒子を流すことをさらに含む請求項35に記載の方法。複数の等級付けチャンバを使用して前記流れの中の前記粒子の密度を希釈することをさらに含む請求項35に記載の方法。前記帯電させることの前に前記流れをろ過することをさらに含む請求項35に記載の方法。あるタイプの粒子の濃度が閾値濃度を超える場合、通知または警報を提供することをさらに含む請求項35に記載の方法。電界または磁界の少なくとも一方によって前記帯電粒子の軌道を修正することをさらに含む請求項35に記載の方法。前記流れからサンプルを得ること、前記サンプルを複数の容積に分割すること、前記複数の容積のそれぞれから、前記収集された帯電粒子の電荷に基づいて前記検出/収集された粒子の量を示すデータセットを測定すること、および、前記複数のデータセットの統計解析を実施することをさらに含む請求項35に記載の方法。統計解析を前記実施することは、ニューラルネットワークを使用して実施される請求項50に記載の方法。較正用の基準として前記流れがない状態のデータセットを測定すること、および、前記基準を使用して前記得られた情報を較正することをさらに含む請求項35に記載の方法。検出器を通過する少なくとも一部のナノ粒子を帯電させるチャージャと、前記帯電ナノ粒子の少なくとも一部を収集する収集器と、前記収集された帯電ナノ粒子の測定電荷に基づいて前記検出されたナノ粒子の量を示す情報を得るプロセッサとを備えるナノ粒子検出器。前記ナノ粒子の計数または密度情報を示すインジケータをさらに備える請求項53に記載のナノ粒子検出器。前記ナノ粒子の流れ用のチャネルをさらに備える請求項53に記載のナノ粒子検出器。前記流れは、前記ナノ粒子を含む空気流である請求項55に記載のナノ粒子検出器。前記チャネルは、少なくとも1つの帯電屈曲部を備える請求項55に記載のナノ粒子検出器。前記帯電屈曲部は、前記ナノ粒子の少なくとも一部を前記チャージャと同じ極性に帯電させるように構成される請求項57に記載のナノ粒子検出器。前記チャネルは、蛇行部を備え、前記蛇行部は、帯電され、前記流れの中の未帯電粒子の少なくとも一部を帯電させるように構成される請求項55に記載のナノ粒子検出器。前記チャネルは、前記流れの中の未帯電粒子の少なくとも一部をさらに帯電させるように構成された少なくとも1つの帯電突出部を備える請求項55に記載のナノ粒子検出器。前記突出部は、針または伝導性ネットワークの少なくとも一方を含む請求項60に記載のナノ粒子検出器。前記ナノ粒子の計数または密度が閾値を超える場合、警報を提供するデバイスをさらに備える請求項53に記載のナノ粒子検出器。粒子を検出または収集するためのシステムであって、複数の装置を備え、前記複数の装置はそれぞれ、前記粒子の少なくとも一部を帯電させるチャージャと、前記帯電粒子の少なくとも一部を収集する収集器と、前記複数の装置のそれぞれからの前記帯電粒子の測定電荷に基づいて前記検出/収集された粒子の量を示す情報を得るプロセッサとを備えるシステム。以下の詳細な説明では、詳細な説明の一部を形成する添付図面が参照される。図面では、文脈により別段示されない限り、同様のシンボルは、通常、同様のコンポーネントを特定する。詳細な説明、図面、および特許請求の範囲で述べる例示的な実施形態は、限定するものではない。本明細書で提示される主題の趣旨または範囲から逸脱することなく、他の実施形態を使用することができ、また、他の変更を加えることができる。本明細書で一般的に述べられ、かつ、図で示される本開示の態様は、その全てが明示的に企意される広範な異なる構成で、配列され、置換され、組み合わされ、分離され、設計されうることが容易に理解されるであろう。粒子を検出すること、測定すること、および/または収集することに関連する方法、装置、システム、およびデバイスが述べられる。一般に、装置は、粒子の検出および/または収集を実施するために使用することができる。装置は、粒子の少なくとも一部を帯電させる少なくとも1つのチャージャと、粒子の少なくとも一部を収集する少なくとも1つの収集器と、粒子の測定電荷に少なくとも部分的に基づいて粒子の量または濃度を示す情報を得る少なくとも1つのプロセッサとを含むことができる。本明細書で述べるシステムおよび技法は、一般的に任意の適したサイズの粒子を検出するために使用することができる。いくつかの実施形態では、粒子は、たとえば約100nm~約2500nmの範囲の約2500nm以下の最大寸法を有することができる。いくつかの実施形態では、粒子は、たとえば約0.1nm~約1000nmの範囲の約1000nm以下の最大寸法を有することができる。最大寸法の特定の例は、約0.1nm、約1nm、約10nm、約50nm、約100nm、約200nm、約500nm、約1000nm、約1500nm、約2000nm、約2500nmを含み、これらの値のいずれか2つの間の範囲にある。粒子は、一般に、任意のサイズ分布を有することができる。サイズ分布は、規則的または不規則的でありうる。サイズ分布は、モノモーダルまたはマルチモーダルでありうる。装置図1は、装置の考えられる高レベル構成設計を示す。たとえば、図1に示すように、装置100は、粒子の少なくとも一部を帯電させる少なくとも1つのチャージャ122と、帯電粒子の少なくとも一部を収集する少なくとも1つの収集器140と、帯電粒子の測定電荷に基づいて検出/収集された粒子の量または濃度を示す情報を得る少なくとも1つのプロセッサ170とを含むことができる。いくつかの実施形態では、単一プロセッサは、複数の検出ユニットに接続されることができるたとえば、建物内の中央に位置するプロセッサは、建物全体に配置された複数の検出器に接続されることができる。装置100は、一般に、小さな可搬型ユニットから大きな固定設備まで、任意のサイズでありうる。装置100は、試験される粒子を運ぶ空気流が、デバイス本体130の粒子チャネル131を通過することが許可される小型の粒子測定デバイスでありうる。静電気発生器110は、静電荷を提供し、電荷ローダ120は、測定される粒子に電荷をロードする。チャージャ122は、静電気を発生できる少なくとも1つの静電気発生器110および静電気発生器110から粒子の少なくとも一部に電荷をロードする少なくとも1つの電荷ローダ120を含むことができる。たとえば、バンデグラフvandeGraffの静電気発生器を使用することができる。発生器は、種々の電圧で動作することができる。たとえば、電圧は、約10V~約10,000Vでありうる。一実施形態では、電荷ローダ120は、針124のアレイを含むことができる。針は、一般に、任意のサイズおよび寸法を有することができる。一例では、針はそれぞれ、約5mmの高さを有し、アレイは、20×20全部で400の針を含む約2cm×2cmのサイズを有することができる。針は、一般に、任意の高さを有することができる。たとえば、高さは、約0.05mm~約50mmでありうる。いくつかの実施形態では、針はそれぞれ、10mm以下、5mm以下、1mm以下のたとえば、約1mm~約10mmの範囲内の高さを有することができる。種々の実施形態では、アレイは、正方形状、長方形状、または任意の他の適した形状とすることができる。いくつかの実施形態では、アレイの長さ、幅、または長さと幅は、約10cm未満、約5cm未満、約2cm未満、約1cm未満、またはさらに小さいたとえば、約1cm~約10cmの範囲内とすることができる。これらの比較的小さな例示的な寸法によって、電荷ローダ120または全体の装置は、可搬型にされうる。あるいは、非常に大きなアレイサイズが、固定位置設備のために採用されうる。いくつかの実施形態では、アレイは、少なくとも100、少なくとも200、少なくとも400、少なくとも500、少なくとも1000、またはそれ以上の針たとえば、100~1000の範囲の針を含むことができる。針は、一般に、粒子に電荷をロードすることを容易にするのに適した任意のタイプの材料製とすることができる。たとえば、針は、銅、アルミニウム、銀、または高導電率の他の材料製とすることができる。針は、分枝状態または未分枝状態でありうる。一実施形態では、図2を参照して、針224はそれぞれ、電荷ローディング効率を改善するために、木の分枝に似る複数の分枝226を含む。示す例では、針224は、第1のレベルの点放出構造pointdischargestructure227、第2のレベルの点放出構造228、および第3のレベルの点放出構造229を含むことができる。種々の実施形態では、他のレベルの点放出構造を使用することができる。一例では、針224は、約1mm~約100mmの全長を有し、分枝226は、針224の全長の約20~80である分枝長を有することができる。第3のレベルの点放出構造229は、分枝226の分枝長の約20~80である寸法を有することができる。電荷ローダ320は、種々の構造を有することができる。一実施形態では、図3を参照して、電荷ローダ320は、複数のインタレース式指部または板324を含むインタレース式電荷ローディング構造322を有することができる。これらの指部または板は、チャージャの表面積を増加させ、粒子が表面に接触状態になる確率を改善し、それにより、電荷ローディング効率を改善する。指部または板324間のギャップは、たとえば約5mm~約300mmであり、指部または板324の長さは、ギャップの寸法の約1倍~約4倍でありうる。あるいは、いくつかの実施形態では、電荷ローダ420は、金属表面426上に複数の溝424を含む溝付き電荷ローディング構造422を有することができる。図4は、こうした溝付き構造の例を示す。いくつかの実施形態では、溝424は、ローディング構造内に成形されうる。いくつかの実施形態では、溝424は、電荷ローディング効率を改善するために、たとえばそれぞれを使用する前に、たとえばブレード428を使用して金属表面426上に新しく引っ掻かれうる。ブレード428は、モータまたアクチュエータによって駆動されうる。チャネル131は、少なくとも1つの粒子放出ポート131aおよび少なくとも1つの粒子給送ポート132を含むことができる。種々のポートは、一般に、任意のサイズおよび形状でありうる。形状は、通常、正方形の、円形の、または長方形の形状などの規則的な幾何学的形状であるが、他の規則的または不規則的形状を使用することができる。一例では、粒子を含む空気または他のガス媒体が入ることを可能にする粒子給送ポート132は、2×2cmの正方形開口を有するが、任意の他の適した形状および寸法を使用することができる。より小さい開口は、可搬型デバイスに適し、より大きな開口は、固定設備のために使用することができる。チャネルは、セラミック、金属、プラスチック、または任意の他の適した材料製とすることができる。少なくとも1つのフィルタ層133は、粒子サイズに基づいて粒子を選択するために、任意選択で含まれうる。たとえば、測定される必要がない大きな粒子は、チャネル131から締めだされうる。一実施形態では、フィルタは、閾値サイズたとえば、1nm、10nm、100nm、1000nm、たとえば1~1000nmの範囲より大きい粒子がチャージャ122によって帯電されることを防止するように構成される。フィルタ133は、さらに、流れの中の粒子の密度を減少させうる。いくつかの実施形態では、フィルタ133はまた、粒子密度を減少させる希釈器として働くが、フィルタ133は、粒子サイズ分布を変更することができる。フィルタは、たとえば約5~200mmのサイズを有する正方形の形状、または、別の例では直径5~200mmを有する円形形状を有することができる。フィルタは、HEPAまたはULPAフィルタなどの市販品の製品でありうる。フィルタクラスは、所望の粒子タイプおよびサイズをろ過または選択するのに適するように選択されうる。フィルタおよびチャネルは、整合する形状およびサイズを有するように選択されうる。フィルタ層133が使用されない場合、ターゲットサイズより大きい粒子に関連する好ましくないデータは、データ解析を通してなくされうる。たとえば、大きなサイズの粒子は、その大きな表面積のせいで、ロードされる静電気を受取る可能性が高い。静電気間に反発力が存在するため、反発力が平衡に達すると、静電気のローディング量と粒子の表面積との間に正の相関が形成されうる。特定のサイズ範囲の粒子のデータは、その後、相関に基づいて導出されうる。一例では、i1.6×10-18C~1.6×10-13Cの範囲内の電荷などの、収集される電気パルスについての閾値範囲を確定すること、ii電気パルスデータを測定すること、および、iii電気パルスが、iで確定した閾値範囲内にあるかどうかを判定することを含む、方法が提供される。閾値範囲内にある場合、データが収集される。そうでない場合、対応する電気パルスデータは削除される。チャネル131は、たとえば空気流または窒素などのガス流によって運ばれる粒子がチャネル131を通って流れることを可能にする。帯電粒子はまた、電荷ローダ120によって押しやられる。その理由は、これらの粒子が、電荷ローダ120と同じ極性を有し、したがって、クーロン反発力によって電荷ローダ120によって押しやられる、ということである。チャネルは、形状が真っすぐまたは真っすぐでない可能性がある。たとえば、図5に示すように、チャネル531は、粒子の少なくとも一部をチャージャと同じ極性に帯電させるように構成される、少なくとも1つの帯電屈曲または蛇行部electricallychargedbentortorturousportion533を含むことができる。粒子が、電荷ローダ、たとえば類似電荷源like-chargesourceBを通過するにつれて、負電荷Eが、粒子の一部に移送されうる。いくつかの他の実施形態では、正電荷を使用することができる。チャネル531の屈曲または蛇行部は、1つまたは複数の曲折キャビティmeandercavitiesCを形成し、電荷をロードされた粒子A1と電荷をロードされない粒子A2の比を増加させる。具体的には、類似電荷源Bが、電荷Eを粒子に予備的にロードした後、電荷をロードされた粒子A1は、クーロン反発力のせいで曲折キャビティCの壁に降下する可能性が低く、類似電荷源の電界の影響下でまたは空気または他のガスの流れに従って出口に向かってチャネル531に沿って移動することになる。一方、電荷をロードされない粒子A2は、曲折キャビティC内で捕捉される傾向があり、曲折キャビティCの壁と接触状態になって、曲折キャビティCの帯電壁によって電気的にロードされる場合がある。有利には、その構造は、クーロン反発力の助けを借りて、電荷をロードされた粒子の迅速な解放を容易にし、同時に未帯電粒子に電荷を迅速にロードする。種々の実施形態では、蛇行部533は、少なくとも1つ、少なくとも2つ、少なくとも3つ、少なくとも4つ、少なくとも5つ図示する、少なくとも10、または10より多い屈曲を含む。種々の実施形態では、屈曲はそれぞれ、5°、10°、15°、20°、25°、30°、35°、40°、45°、50°、55°、60°、65°、70°、75°、80°、85°、90°、またはそれ以上より大きな角度にあるとすることができる。チャネルは、任意選択で、1つまたは複数の突出部を含むことができる。たとえば、図6に示すように、チャネル631は、流れの中の未帯電粒子の少なくとも一部をさらに帯電させるように構成された少なくとも1つの帯電突出部N,Pを含む。突出部は、たとえば、点放出部を通して未帯電粒子A2に電荷を移送することが可能な複数の針P、または、未帯電粒子A2に電荷を伝導させる伝導性ネットワークNを形成する複数の突出部を含むことができる。いくつかの実施形態では、針Pは、約1mm~約5mmの下部直径および下部直径の約1.5倍~約3倍の高さを有する円錐形状を有することができる。いくつかの他の実施形態では、伝導性ネットワークNは、約0.02~0.2mmの直径または幅を有する銅ワイヤ製とすることができる。一例では、0.05mmの直径を有する銅ワイヤは、0.25×0.25mmのサイズを有する開口を有するメッシュを形成する。メッシュは、たとえば、5mm×5mmの総面積を有することができる。装置は、任意選択で、少なくとも1つの希釈器を含むことができる。希釈器は、望ましくは、サンプルが高濃度の粒子を有するときに使用することができる。たとえば、図7に示すように、希釈器700は、チャネル131に含まれるか、または、チャネル131に接続されて、測定される粒子の密度を減少させ、それにより、たとえば電気パルスが過密になるときに電気パルスの密度を減少させることによって測定精度を改善させる。希釈器はまた、粒子凝集の可能性を減少させるように機能することができる。希釈器は、種々の構成を有することができる。図7に示す実施形態では、希釈器700は、第1の等級付けgradingチャンバ702、第2の等級付けチャンバ704、および第3の等級付けチャンバ706を含む。これらの希釈チャンバは、チャンバ間の空気連通を選択的に可能にする制御弁708、710によって接続されうる。種々の実施形態では、任意の他の適した数のチャンバおよび接続を使用することができる。一例では、第1の等級付けチャンバ702、第2の等級付けチャンバ704、および第3の等級付けチャンバ706はそれぞれ、約5cm3の容積を有する。制御弁708、710はそれぞれ、約0.05cm3の容積を有する。弁は、隣り合うチャンバ間の制御弁708、710の両側に配設されうる。動作は、以下の例示的な工程で実現されうる。例示的な工程とは、A第1の等級付けチャンバ702および制御弁708を開口し、検出される空気またはガスの流れを入れること、B第1の等級付けチャンバ702と制御弁708との間の弁を閉鎖すること、C第2の等級付けチャンバ704と制御弁708との間の弁を開口することである。一例では、0.05cm3のガスが、第2の等級付けチャンバ704内で拡張し、5.05cm3、すなわちその元の容積の101倍に達する。そのため、この希釈プロセスを通して、粒子密度は、1/101に希釈される。同様に、制御弁708および第3の等級付けチャンバ706を通して、ガスが、さらに1/101に希釈される。第2の等級付けチャンバ704および第3の等級付けチャンバ706は、ほぼ真空状態まで予備排気されうる。そうでなければ、これらのチャンバ内に残留ガスが存在する場合、これらのチャンバは、測定に関する干渉を低減するために、これらのチャンバ内の残留粒子を減少させるように少なくとも浄化することができる。チャンバを浄化するために、きれいな空気流を送り、チャンバを洗うwashことができる。他の浄化方法もまた使用することができる。図8に示す一実施形態では、希釈器800は、等級付けチャンバ802、804、806間に配設されたコネクタの群808、810を含む。群808、810は、異なる直径を有する複数のコネクタを含む。種々の実施形態では、任意の他の適した数のチャンバおよび接続を使用することができる。希釈器800の動作は、希釈器700の動作と同様である。異なる容積を有する異なるコネクタの配設によって、希釈倍率dilutionfactorがさらに調整されうる。これは、隣接ステージ間の希釈倍率が、チャンバの容積とコネクタの容積の和をコネクタの容積で割った値として確定されうるからである。そのため、異なるコネクタを選択することによって、異なる希釈倍率が選択されうる。図9に示す一実施形態では、希釈器は、少なくとも1つのチャンバ900および少なくとも1つのサブチャンバ902を含む。種々のチャンバは、一般に、任意のサイズおよび形状でありうる。チャンバの形状は、通常、立方体、球、または円筒などの規則的な幾何学的形状になるが、他の規則的または不規則的形状を使用することができる。チャンバ900には、最初に、サブチャンバ902がチャンバ900に連通している状態で、検出される空気またはガスを充填することができる。サブチャンバ902は、その後、チャンバ900から分離され、チャンバ900は、真空弁904によって排気されうる。その後、サブチャンバ902は、その内容物をチャンバ900内に解放させることができ、内容物の希釈、たとえば粒子密度の減少をもたらす。あるいは、サブチャンバ902には、検出される空気またはガスが充填され、チャンバ900には、排気されるかまたは粒子がないガスを充填することができる。その後、サブチャンバ902は、その内容物をチャンバ900内に解放されることができ、内容物の希釈をもたらす。いずれの構成においても、既知の容積のチャンバ900またはサブチャンバ902を、粒子濃度の希釈倍率を計算するために使用することができる。たとえば、チャンバ900とサブチャンバ902を足した容積が、サブチャンバ902の10倍の容積である場合、希釈倍率は10×である。希釈プロセスは他のステージを含むことができる。たとえば、第1の希釈ステージの上記工程後に、サブチャンバ902とチャンバ900との間の弁が再び閉鎖され、チャンバ900が、ほぼ真空状態までさらに排気されうる。次に、サブチャンバ902とチャンバ900との間の弁が再び開口されて、サブチャンバ902とチャンバ900を接続することができる。こうして、粒子密度が、第2の動作ステージにおいて、もう一度1/10にさらに希釈される。各希釈ステージについて、希釈倍率は、サブチャンバ902の容積チャンバ900の容積/サブチャンバ902の容積である。一例では、チャンバ900の容積は1000cm3であり、サブチャンバ902の容積は1cm3である。第1の希釈ステージ後、粒子密度は、1/1001に減少する。第2の希釈ステージ後、密度は、もう一度1/1001に希釈される。すなわち、粒子密度は、その元の値の約百万分の1に減少する。種々のチャンバの容積は、一般に、任意の容積でありうる。容積は、装置の所望の可搬性および測定されるサンプルの予想粒子密度に少なくとも部分的に基づいて選択されうる。種々の実施形態では、任意の他の適した寸法または形状を使用することができる。図10に示す例では、希釈器1000は、任意選択で、それぞれが異なる直径/容積を有する複数の等級付けチャンバ1001、1002、1003、および、最小チャンバ1003に接続されたサブチャンバ1004を含むことができる。内部弁図示せずが、サブチャンバ1004と最小チャンバ1003との間に配設される。外部弁図示せずが、サブチャンバ1004の外側に配設される。動作中、内部弁が最初に閉鎖される。等級付けチャンバ1001、1002、および1003は、排気され、等級付けチャンバの1つが、出口チャンバとして選択される。希釈されるガスは、サブチャンバ1004に導入され、外部弁が閉鎖される。内部弁が、その後、開口し、希釈されるガスが、選択された出口チャンバに導入される。こうして、ガスが希釈され、希釈倍率は、図7、8、9に関して上述した式と同様の式を使用して計算されうる。非等級化粒子nongradedparticlesは、清浄な空気または清浄な流体などの流れを使用して洗い流されうる。あるいは、種々のチャンバが、ほぼ真空状態まで排気されうる。排気プロセス中に、非等級化粒子が取除かれうる。一例では、第1の等級付けチャネルは10cm2の断面を有し、第2の等級付けチャネルは0.5cm2の断面を有し、第3の等級付けチャネルは0.5cm2の断面を有することができる。そのため、等級付けチャネル1002を通過した後、粒子密度は、1/1,000に希釈される。等級付けチャネル1002の幾何形状およびサイズは、必要とされる測定精度およびデバイス100のサイズに基づいて設計されうる。種々の実施形態では、任意の他の適した寸法または形状を使用することができる。粒子放出ポート131aを通過した後に、静電荷を運ぶ粒子が帯電粒子受取り器140に到達すると、受取り器140は、たとえば表皮効果電流密度が導体の表面の近くで最大であり、より深いところで減少するように、電流または磁束が導体内でそれ自身を分散させる傾向によって電荷を収集することができる。受取り器140によって収集される電荷の量は、その後、受取り器140によって直接測定されうる。あるいは、放出組立体が、電荷放出および測定を実施する。収集された帯電粒子の量を示すデータは、電荷パルスの測定によって得られ、粒子の特性を示すデータに変換されうる。パルス閾値は、電気パルス雑音を記録することを回避するために、パルス閾値を超える電気パルスだけが有効データとして記録されるように設定されうる。理想的には、個々の電荷は、パルスの測定によって測定される。粒子密度が非常に高い場合、単一パルスが、複数の帯電粒子の結果であり、ナノ粒子の検出精度は、上述したように、粒子密度の希釈によって増加しうる。パルス強度は、粒子に付着した正味の電荷に起因する。これらの正味の電荷は、主に、粒子の表面上に分布する。パルス強度は、測定可能な単位電荷electricalunitchargeの正味の数または測定可能な電荷を示す。一例では、単一パルスは、10~1,000,000の単位電荷または約1.6×10-18C~1.6×10-13Cの電荷に相当する。例として、受取り器140は、粒子放出ポート131aに対応する開口端を有する伝導性の球または楕円のシェルでありうる。受取り器140は、通常、粒子放出ポートより断面が大きい可能性がある。一例では、受取り器および粒子放出ポートは、円などの同じ断面形状を有することができる。一実施形態では尖った端部構造を有するディスチャージャである電荷エクスポータ組立体150は、受取り器140から電荷をエクスポートするために使用することができる。エクスポートされた電荷は、クーロン反発力、磁界内での電荷の移動、電界内での電荷の移動、またはキャパシタンス変化に及ぼす電荷の影響の少なくとも1つに基づいて電荷を測定することができる電荷測定組立体160によって測定することができる。一実施形態では、電荷測定組立体160は、放電器の尖った端部に対して指定距離に維持されることができ、電界による反発力または誘引力が測定に使用される。反発力は、同じ極性の電荷に起因し、誘引力は、反対極性の電荷に起因する。電荷エクスポータ組立体150内の放電器の場合、点放電効果の結果として、尖った端部に隣接する電界が最も強い。たとえば、0.1mm内などの近い範囲では、電位は、約0.1~1000Vの範囲にありうる。一実施形態では、負に帯電したプロービング針が、放電器の尖った端部に隣接して配設されることができ、力を検知する。力と電荷との間の所定の相関に基づいて、パルスからの電荷が測定される。表皮効果は、たとえば、帯電粒子をその表面に沿って移動させる伝導性の半閉囲semienclosedの球シェル141を使用して、電荷を捕捉するために使用することができる。電荷は、球シェル141内で伝導される場合、クーロン反発力によって伝導性シェル141の表面全体にわたって分散される傾向がある。接地デバイスは、任意選択で、受取り器140をグラウンドに結合するために設けられうる。受取り器が大量の電荷を収集すると、測定精度が、時として悪い影響を受けうる。受取り器140の表面上の電荷をグラウンドに解放することによって、測定電荷をゼロ化するzeroedことができ、それにより、測定精度が改善される。図11に示すように、受取り器1140は、任意選択で、帯電粒子を収集する伝導性メッシュ1142を含むことができる。受取り器1140は、さらに、帯電粒子1150の軌道1148を修正するために、電界1144を生成する少なくとも1つの電界発生器および/または磁界1146を生成する少なくとも1つの磁界発生器またはその組合せを含むことができる。帯電粒子1150は、入口1152から収集器1140に入り、電荷受取りユニット1154の少なくとも一部分を通過し、一般的な方向1156に放出される。入口1152は、たとえば入口サイズおよび入口における磁界強度/電界強度の組合せを選択することによって、特定の質量および/または電荷の粒子が入口1152を通過することを可能にするように構成される。伝導性メッシュ1142の受取り器ユニット1154は、各ユニットによって生成される電気パルスを得るためにスキャンされうる。一例では、電荷受取りユニット1154は、独立であり、かつ互いに分離される。電荷受取りユニット1154はそれぞれ、対応する電荷測定ユニットに結合されうる。電荷測定ユニットは、電荷間の反発力または誘引力に基づいて、または、電荷を収集した後に電気キャパシタンスを測定することによって電荷を測定することができる。他の測定方法もまた使用することができる。電荷受取りユニット1154はそれぞれ、所定の位置を有する。そのため、異なる電荷受取りユニットを通して異なる電荷を測定することによって、帯電粒子1150の電界および磁界によって影響を受けた位置変化および電荷が効果的に測定されうる。理論により拘束されるつもりはないが、帯電粒子の数および/または質量は、任意選択で、以下の式に基づいて測定電気パルスから計算されうる。X方向のクーロン力は、F=E0qp1X方向において、FX=mpax2である。式中、axは、X軸における帯電粒子の加速度である。そのため、である。X方向において帯電粒子のゼロ速度を仮定すると、X方向に帯電粒子が移動する距離は、であり、4から、が得られうる。Z方向において、速度は、初期粒子速度と同じである。vz=v06重力の影響を無視すると、である。YZ投影平面において、Rpは、ローレンツ力下の帯電粒子の円運動の半径であり、である。がさらに得られうる。式中、であり、したがって、である。したがって、図11に示す収集器1140を通して測定された電荷qpを使用して、帯電粒子の質量mpが得られうる。重力の影響が考慮されるとき、上記式は、重力によって影響を受けるときのZ方向の粒子の加速度を含むことによって修正されうる。粒子解析組立体170は、任意選択で、電荷測定組立体160によって測定されるデータを解析する少なくとも1つのプロセッサを含むことができる。一実施形態では、粒子解析組立体170は、電荷の量の受取り状態に対応する粒子状態を示すための直接粒子解析モジュール、および、帯電粒子の一部分を通して粒子の全体の状態を導出するための間接粒子応答モジュールを含む。プロセッサは、収集器140と局在的に同じ場所に位置しても、遠隔に位置してもよい。電荷パルスと測定される粒子との間の既知の対応に基づいて、粒子のタイプもまた確定されうる。たとえば、粒子のタイプは、粒子が運ぶ電荷および粒子の質量から導出されうる。同じ状況下で、電荷は、粒子表面積に比例しうる。粒子表面積に基づいて、粒子容積が導出されうる。粒子容積および質量から、粒子密度が得られうる。そのため、粒子の数に加えて、本明細書で開示される実施形態はまた、粒子サイズおよび質量に関する情報を提供することができる。有利には、本明細書で開示される種々の構成は、チャージャ122およびチャネル131の屈曲または蛇行部533のいずれかまたは両方を使用することによって、効率的に電荷を粒子にロードできる。さらに、帯電粒子とチャージャが同じ極性を持つため、チャージャ122はまた、クーロン反発力によってチャネル131に沿って帯電粒子を押しやる。チャネル131の屈曲または蛇行部533によって形成される曲折キャビティは、チャージャおよび既に帯電した粒子と同じ極性に帯電される壁を有する。そのため、帯電粒子は、クーロン反発力の結果としてチャネル131の側壁と接触状態になる傾向がなく、一方、未帯電粒子は、チャネルの側壁によって効果的に帯電されることになる。未帯電粒子は、帯電される前に、曲折キャビティ内に捕捉される傾向がある。方法粒子を検出するかつ/または測定する種々の方法が述べられる。粒子は、試験されるサンプルで提供されることができる。サンプルは、一般に、粒子を含むかまたは粒子を含む疑いがある任意のサンプルでありうる。サンプルの例は、空気サンプル、自動車排出ガス、工業排出ガス、半導体製造排出ガス、道路近傍排出ガスなどを含む。さらに、サンプルは、工業製造製品からのものとすることができ、工業製造製品から、粒子特性が測定されて、製品内の粒子が、粒状化に関する要件の仕様内にあるかどうかが判定されうる。粒子を検出する例示的な方法1200は、図12のフローチャートに示されるが、種々の付加的なまたは代用工程を使用することができる。動作1202にて、流れの中の粒子の少なくとも一部または全てが帯電される。動作1204にて、帯電粒子の少なくとも一部または全てが収集される。動作1206にて、帯電粒子に起因する電気パルスが、記録され測定される。動作1208にて、検出された/収集された粒子の量を示す情報が、収集された帯電粒子の測定電荷に基づいて導出される。動作1210にて、粒子計数および/または粒子計数の変化レートなどの得られる情報が、閾値と比較される。粒子計数は、動作1214にて、記憶されうる、かつ/または、ユーザに表示されうる。粒子計数またはレートが閾値を超える場合、工程1212にて、通知または警報が送出される。通知または警報は、記憶または表示工程の代わり、または、それに付加するものとすることができる。種々の実施形態では、任意の他の適した表示、制御信号、アラーム信号などが、検出された粒子計数情報に基づいて生成されることができる。粒子計数は、任意の適した情報たとえば、粒子密度を提供するために処理されることができる。たとえば、粒子密度は、粒子計数および関連する粒子容積に基づいて導出されることができる。一例では、1回の測定が約10ミリ秒かかる場合、各1秒中に、検出される最大粒子数が100,000のオーダになるように、100,000の測定動作が実施されうる。検出される電荷は、たとえば約1.6×10-18C~1.6×10-13Cの範囲にありうる。この範囲の下端lowendは、わずか数個の素電荷elementarycharge素電荷は約1.6×10-19Cであるの検出に相当する。この範囲の上端は、約100,000の電荷の検出、すなわち、1秒期間中の全てのまたはほぼ全ての測定について電荷を測定することに相当する。他の実施形態では、他の測定速度を使用することができる。収集される帯電粒子によって生じる電流パルスの検出は、帯電粒子間のクーロン反発力、磁界内での帯電粒子の運動、電界内での帯電粒子の運動、または帯電粒子によるキャパシタンスの変化に基づきうる。方法は、さらに、電流パルスの検出閾値を確定することを含むことができる。粒子計数または密度情報と電荷との間の相関を、たとえば上述した式に基づいて予め決定することができる。同じタイプの粒子が同じ状態にある、たとえば検出または測定される粒子が、同じタイプの粒子であるかまたは同様な特性およびサイズを有する場合、測定される電荷は、粒子計数または密度に比例する。空気またはガス内容物が、異なるサイズまたはタイプの粒子を含む場合、相関は、線形比例より複雑であるとすることができる。一例では、ユーザは、約50nmのほぼ均一なサイズを有する二酸化ケイ素粒子を検出する必要がある。測定される電荷が、2×10-13C/秒である場合、対応する粒子密度は、約5×107/m3である。測定される電荷が、6×10-13C/秒に達する場合、対応する粒子密度は、約1.5×108/m3である、すなわち、先の値の3倍である。方法は、任意選択で、工場または研究所内の異なる場所に複数のサンプリングオリフィスをセットアップし、単一プロセッサを使用して複数の場所からの測定データを処理することなどによって、複数の場所の電荷を測定することを含むことができる。別の例では、粒子を検出または収集するためのシステムが提供される。システムは、複数の装置を含み、複数の装置はそれぞれ、粒子の少なくとも一部を帯電させる少なくとも1つのチャージャと、帯電粒子の少なくとも一部を収集する少なくとも1つの収集器とを含む。システムのプロセッサは、複数の装置のそれぞれからの帯電粒子の測定電荷に基づいて検出/収集された粒子の量を示す情報を中心的に得ることができる。これは、場合によってはプロセッサおよび解析ソフトウェアがシステムのコストのかなりの部分でありうるため、コストを低減しうる。いくつかの他の実施形態では、サンプルは、粒子の流れから得られ、複数の容積に分割される。複数の容積のそれぞれからの収集された帯電粒子の電荷に基づいた検出/収集された粒子の量を示すデータセットが測定され、複数のデータセットの統計解析が、測定精度を改善するために実施されうる。一実施形態では、ニューラルネットワークが、たとえば異なるデータセットをインテリジェントに相関させることによって、データを解析するために使用される。異なるデータセットの間の相関に基づいて、データ内のエラーまたは雑音が、より容易に除去されうる。方法は、さらに、較正用の基準として粒子の流れがない状態のデータセットを測定することを含むことができる。方法は、さらに、装置、および、基準を使用して、粒子の流れから得られた情報を較正することを含むことができる。これは、ネガティブコントロールnegativecontrolとして効果的に働く。ネガティブコントロールは、実質的に粒子がないことが分かっている真空またはガスサンプルでありうる。方法は、さらに、ポジティブコントロールpositivecontrolとして既知のまたは所定の濃度の粒子を含むサンプルを使用してデータセットを測定することを含むことができる。方法は、さらに、ポジティブコントロールを使用して得られたデータを使用して装置を較正することを含むことができる。図13は、装置100と共に使用するための例示的なコンピュータプログラム製品1300を示し、上述した方法を実装するブロック図である。コンピュータプログラム製品1300は、信号担持媒体1302を含むことができ、信号担持媒体1302は、限定はしないが、ハードディスクドライブ、コンパクトディスクCD、デジタルビデオディスクDVD、デジタルテープ、メモリなどのような非一時的なコンピュータ可読媒体1306を含むことができる。コンピュータプログラム製品1300はまた、限定はしないが、メモリ、リード/ライトR/WCD、R/WDVDなどのような記録可能媒体1308を含むことができる。いくつかの実装態様では、信号担持媒体1302は、限定はしないが、デジタルおよび/またはアナログ通信媒体たとえば、光ファイバケーブル、導波路、有線通信リンク、無線通信リンクなどなどの通信媒体1310を包含することができる。そのため、たとえば、コンピュータプログラム製品300は、無線周波数RF信号担持媒体1302であって、無線通信媒体1310たとえば、IEEE802.11規格に適合する無線通信媒体によって伝達される、無線周波数RF信号担持媒体1302によって装置100の1つまたは複数のモジュールに伝達されることができる。上述したデータ解析方法を実施する命令1304は、信号担持媒体1302に記憶される。実施例1:可搬型試験デバイス可搬型空気試験デバイスを準備する。デバイスは、空気中のナノ粒子の数値濃度を示すディスプレイパネル、ならびに、ナノ粒子濃度が所定の閾値を超えるときのための閃光灯および可聴アラームインジケータを含む。デバイスは、時間および検出されたナノ粒子の濃度を記憶するメモリを含む。測定中、時間Tにおいて、1リットルのサンプルが得られる。サンプルは、たとえば酸素、窒素、二酸化炭素、水蒸気、種々の不活性ガス、塵などを含むことがある。この容積内に、それぞれ0.1リットルの10個の小キャビティが含まれる。10個の小キャビティ内の組成は、サンプルが十分に混合された後に完全に同じになることができ、その後、10個の小キャビティが分離される。データは、各キャビティから得られる。この構成は、機器が安定した運転状態にあるかどうかを検出するために使用することができる。さらに、測定結果を処理することができる。たとえば、10個の独立した小キャビティが、同じガスサンプルを得ることができる。機器が安定である場合、粒子測定は、同じまたは同様であるべきであり、機器が不安定である場合、測定は異なることになる。測定結果の比較に基づいて、機器が安定状態で働いているかどうかが判定されうる。一方、この構成を使用して、サンプルを複数回測定することによって、測定誤差を低減するために平均値をとることなどの統計解析が、測定値に関して実施されうる。種々の実施形態では、10個より多いかまたは少ないキャビティを使用することができる。キャビティは、任意の適したサイズとすることができる。各キャビティ内へのガス移送は、ピストン構造によって駆動されうる。データ源が、毎回一貫性があるため、毎回の測定結果は、理想的には一貫性があることになる。実際には、種々の誤差が、データの差を引起すことになる。これらのデータは、誤差を低減するための上述した方法に従って処理される。粒子に電荷をロードするプロセス中に、重要な因子は、電荷ローダの電圧、形状、サイズ、周囲温度、湿気、圧力、流量などを含むことができる。帯電ナノ粒子を電気パルスに変換することによって、単一帯電ナノ粒子が、電荷測定組立体すなわち、図1の160に入るように、帯電粒子受取り器すなわち、図1の140から取除かれうる。ナノ粒子の表面上の電荷とその質量/サイズとの間の関係は、容易に得られうる。一例では、パルスは、ミリ秒当たり1000個の有効電荷を運び、成功裏に測定される粒子と総粒子との比は、1:10である。2×2cmの正方形開口を有する粒子給送ポートの場合、1000×10=10,000粒子/ミリ秒または10,000,000粒子/秒が測定されうる。測定中、1ミリ秒当たり1000個の電荷パルスが得られる場合、閾値を上回るか下回るパルスピーク値が無効と考えられるように、閾値が電荷について設定される。一例では、40の電荷パルス測定データは、無効としてふるい落とされ、60の残りのデータが、有効と考えられる。閾値範囲内で、成功裏に測定される粒子の比が、同じ、たとえば10のままでありうる。そのため、2×2cmの正方形開口を有する粒子給送ポート132は、測定される粒子を、600×10=6,000/ミリ秒または6,000,000/秒のレートで受取りうる。電気パルスが集まり過ぎる場合、たとえば粒子が過剰であるとき、粒子密度が、測定の前に希釈されうる。たとえば、等級付けチャンバは、電気弁を通して設定されることができ、各等級付けチャンバは、前の等級のチャンバの容積の1/10ほどの大きさの容積を有することになり、こうして、1つの等級は粒子を1/10に希釈するのを助けることになり、2つの等級は粒子を1/100に希釈するのを助けることになり、3つの等級は粒子を1/1000に希釈するのを助けることになるなどである。実施例2:炭素ナノチューブ検出器/収集器一例では、炭素ナノチューブ検出器が提供される。炭素ナノチューブ検出器は、上述した構成と同様の構成を有し、同様の原理で動作することができる。実施例3:金属ナノ粒子検出器/収集器一例では、銀ナノ粒子検出器が提供される。銀ナノ粒子検出器は、上述した構成と同様の構成を有し、同様の原理で動作することができる。実施例4:半導体ナノ粒子検出器/収集器一例では、半導体ナノ粒子検出器が提供される。半導体ナノ粒子検出器は、上述した構成と同様の構成を有し、同様の原理で動作することができる。実施例5:複数のサンプリングステーションを有するシステムシステムは、中央に位置する単一プロセッサを含む半導体処理工場内に設置されうる。プロセッサは、無線データネットワークを介して12個の別個の空気サンプリング装置ステーションのアレイに接続される。ステーションはそれぞれ、工場内の異なる場所に、工場内の種々の排気システム内に、また工場の建物の外に位置する。プロセッサは、ステーションのそれぞれにおいて、検出された粒子の量を監視し、ステーションのそれぞれについて変化レートを確定する。量およびレートは共に、報告書を保管し生成するためのデータモジュールに記憶される。プロセッサは、工場の環境の健全性および安全性EHSオフィサーが、工場における粒子生成の量およびレートを視覚的評価することを可能にするディスプレイモニタを含む。プロセッサは、量、レート、または両方が予めプログラムされた閾値を超える場合、可聴アラームを発するように構成される。プロセッサはまた、1日の任意の時間にあるいは週末または休日に閾値が超えられる場合に電子メールまたは移動体電話テキストメッセージによってEHSオフィサーに通知を発するように構成される。本開示は、種々の態様の例示として意図される本出願で述べる特定の実施形態によって制限されない。多くの変更および変形が、当業者に明らかになるように、本開示の趣旨および範囲から逸脱することなく行われうる。本明細書で挙げたものに加えて、本開示の範囲内の機能的に等価な方法および装置は、先の説明から当業者に明らかになる。こうした変更および変形は、添付特許請求の範囲内に入ることを意図される。本開示は、特許請求の範囲が権利を与えられる均等物の全範囲と共に、特許請求の範囲によってだけ制限される。本開示は、もちろん変動する可能性がある特定の方法、試薬、化合物、組成物、または生物学的システムに限定されないことが理解される。本明細書で使用される用語は、特定の実施形態だけを述べるためのものであり、限定するものではないこともまた理解される。本明細書における実質的に全ての複数形および/または単数形の用語の使用に対して、当業者は、状況および/または用途に適切なように、複数形から単数形に、および/または単数形から複数形に変換することができる。さまざまな単数形/複数形の置き換えは、理解しやすいように、本明細書で明確に説明することができる。通常、本明細書において、特に添付の特許請求の範囲たとえば、添付の特許請求の範囲の本体部において使用される用語は、全体を通じてオープンなopen用語として意図されていることが、当業者には理解されようたとえば、用語含むincludingは、含むがそれに限定されないincludingbutnotlimitedtoと解釈されるべきであり、用語有するhavingは、少なくとも有するhavingatleastと解釈されるべきであり、用語含むincludesは、含むがそれに限定されないincludesbutisnotlimitedtoと解釈されるべきである、など。導入される請求項で具体的な数の記載が意図される場合、そのような意図は、当該請求項において明示的に記載されることになり、そのような記載がない場合、そのような意図は存在しないことが、当業者にはさらに理解されよう。たとえば、理解の一助として、添付の特許請求の範囲は、導入句少なくとも1つのatleastoneおよび1つまたは複数のoneormoreを使用して請求項の記載を導くことを含む場合がある。しかし、そのような句の使用は、同一の請求項が、導入句1つまたは複数のまたは少なくとも1つのおよびaまたはanなどの不定冠詞を含む場合であっても、不定冠詞aまたはanによる請求項の記載の導入が、そのように導入される請求項の記載を含む任意の特定の請求項を、単に1つのそのような記載を含む実施形態に限定する、ということを示唆していると解釈されるべきではないたとえば、aおよび/またはanは、少なくとも1つのまたは1つまたは複数のを意味すると解釈されるべきである。同じことが、請求項の記載を導入するのに使用される定冠詞の使用にも当てはまる。また、導入される請求項の記載で具体的な数が明示的に記載されている場合でも、そのような記載は、少なくとも記載された数を意味すると解釈されるべきであることが、当業者には理解されようたとえば、他の修飾語なしでの2つの記載tworecitationsの単なる記載は、少なくとも2つの記載、または2つ以上の記載を意味する。さらに、A、BおよびC、などの少なくとも1つに類似の慣例表現が使用されている事例では、通常、そのような構文は、当業者がその慣例表現を理解するであろう意味で意図されているたとえば、A、B、およびCの少なくとも1つを有するシステムは、Aのみ、Bのみ、Cのみ、AおよびBを共に、AおよびCを共に、BおよびCを共に、ならびに/またはA、B、およびCを共に、などを有するシステムを含むが、それに限定されない。A、B、またはC、などの少なくとも1つに類似の慣例表現が使用されている事例では、通常、そのような構文は、当業者がその慣例表現を理解するであろう意味で意図されているたとえば、A、B、またはCの少なくとも1つを有するシステムは、Aのみ、Bのみ、Cのみ、AおよびBを共に、AおよびCを共に、BおよびCを共に、ならびに/またはA、B、およびCを共に、などを有するシステムを含むが、それに限定されない。2つ以上の代替用語を提示する事実上いかなる離接する語および/または句も、明細書、特許請求の範囲、または図面のどこにあっても、当該用語の一方oneoftheterms、当該用語のいずれかeitheroftheterms、または両方の用語bothtermsを含む可能性を企図すると理解されるべきであることが、当業者にはさらに理解されよう。たとえば、句AまたはBは、AまたはBあるいはAおよびBの可能性を含むことが理解されよう。さらに、本開示の特徴または態様が、マーカッシュグループによって述べられる場合、本開示はまた、マーカッシュグループの任意の個々のメンバーまたはメンバーのサブグループによって述べられることを当業者は認識するであろう。当業者によって理解されるように、文言による記述を提供することなどによる、任意のまた全ての目的のために、本明細書で開示される全ての範囲はまた、その範囲の任意のまた全ての考えられる部分範囲および部分範囲の組合せを包含する。挙げられる任意の範囲は、少なくとも等しい1/2、1/3、1/4、1/5、1/10などに分解されている同じ範囲を十分に記述し使用可能にするものとして容易に認識されうる。非制限的な例として、本明細書で論じる各範囲は、下側の1/3、中間の1/3、および上側の1/3などに容易に分割されうる。当業者によって同様に理解されるように、までupto、少なくともatleast、より大きいgreaterthan、より小さいlessthan、および同様なものなどの全ての言語は、述べられる数を含み、先に論じたように、その後、部分範囲に分解されうる範囲を指す。最後に、当業者によって理解されるように、ある範囲は、それぞれの個々のメンバーを含む。したがって、たとえば、1~3のセルを有するグループは、1個、2個、または3個のセルを有するグループを指す。同様に、1~5のセルを有するグループは、1個、2個、3個、4個、または5個のセルを有するグループを指すなどである。種々の態様および実施形態が本明細書で開示されたが、他の態様および実施形態が、当業者に明らかである。本明細書で開示される種々の態様および実施形態は、例示のためのものであり、制限的であることを意図されず、真の範囲および趣旨は、添付特許請求の範囲によって示される。"