"a結晶性シリカ非含有タルク、bメタアクリル化エポキシ樹脂及びc光重合開始剤を含有することを特徴とする紫外線硬化型液晶シール剤。タルクaの平均粒径が1μm以下であることを特徴とする請求項1に記載の液晶シール剤。タルクaを液晶シール剤の総量に対して1~40重量、メタアクリル化エポキシ樹脂bを液晶シール剤の総量に対して30~90重量、光重合開始剤cをメタアクリル化エポキシ樹脂b100重量部に対して0.01~20重量部含有する請求項1に記載の液晶シール剤。タルクaが、dシランカップリング剤により表面処理されたタルクである請求項1に記載の液晶シール剤。シランカップリング剤dがエポキシシランカップリング剤である請求項4に記載の液晶シール剤。更に、eエポキシ樹脂及びf熱硬化剤を含有することを特徴とする請求項1に記載の液晶シール剤。液晶シール剤の総量に対して、タルクaを1~40重量、メタアクリル化エポキシ樹脂bを30~90重量及びeエポキシ樹脂を3~50重量を含み、メタアクリル化エポキシ樹脂b100重量部に対して、光重合開始剤cを0.01~20重量部及びエポキシ樹脂e100重量部に対して、熱硬化剤fを10~80重量部の割合で含有する請求項1に記載の液晶シール剤。a結晶性シリカ非含有タルクにおける結晶性シリカ含量がX線回折測定で0.1以下である請求項1に記載の紫外線硬化型液晶シール剤。結晶性シリカ非含有タルクaと共に他の無機充填剤hを含み、無機充填剤の総量がシール剤の総量に対して、10~40重量であり、無機充填剤の総量に対して、結晶性シリカ非含有タルクaの含量が5~90重量であり、他の無機充填剤hの含量が10~95重量である請求項1に記載の紫外線硬化型液晶シール剤。更に、メタアクリレートモノマーgを含む請求項1又は請求項6に記載の紫外線硬化型液晶シール剤。請求項1乃至請求項9の何れか1項に記載の液晶シール剤を硬化して得られる硬化物でシールされた液晶表示セル。本発明者らは、無機充填剤としてタルクを使用したところ、今度は、シール剤の下にあるアルミ配線の断線が発生するという原因不明の問題が生じることを見出し、原因を種々検討したところ、タルク中に極わずか通常0.2~0.3程度しか含有されない結晶性シリカが影響していることを見出した。即ち、一般的にタルクは天然に存在する鉱石を粉砕して得られるため、ドロマイト、マグネサイト、結晶性シリカ等の種々の不純物を含有する。本発明者らの検討によれば、これらの不純物の中で、含量としては極わずかであるが、結晶性シリカは硬度が高く、且つ、結晶構造を有することから、ギャップ形成時や硬化時に、ガラス基板との摩擦で、シール剤の下にあるアルミ配線を断線することを見出し、本発明を完成した。従って、本発明は、タルクを無機充填剤として使用しながら、セル基板に設けられた配線のシール剤での断線を無くし、液晶汚染も少なく、ガラス基板に対する接着性、硬化後の耐湿接着性にも優れる液晶シール剤及びそれを用いた液晶表示セルを提供することを目的とする。本発明者らは、鋭意検討の結果、結晶性シリカ非含有タルクを用いることで前記課題を達するものである事を見出し、本発明を完成させた。即ち本発明は、次の1~11に関するものである。1a結晶性シリカ非含有タルク、bメタアクリル化エポキシ樹脂及びc光重合開始剤を含有することを特徴とする紫外線硬化型液晶シール剤。2タルクaの平均粒径が1μm以下であることを特徴とする上記1に記載の液晶シール剤。3タルクaを液晶シール剤の総量に対して1~40重量、メタアクリル化エポキシ樹脂bを液晶シール剤の総量に対して30~90重量、光重合開始剤cをメタアクリル化エポキシ樹脂b100重量部に対して0.01~20重量部含有する上記1又は2に記載の液晶シール剤。4タルクaが、dシランカップリング剤により表面処理されたタルクである上記1乃至3のいずれか一項に記載の液晶シール剤。5シランカップリング剤dがエポキシシランカップリング剤である上記4に記載の液晶シール剤。6更に、eエポキシ樹脂及びf熱硬化剤を含有することを特徴とする上記1乃至4の何れか一項に記載の液晶シール剤。7液晶シール剤の総量に対して、タルクaを1~40重量、メタアクリル化エポキシ樹脂bを30~90重量及びeエポキシ樹脂を3~50重量を含み、メタアクリル化エポキシ樹脂b100重量部に対して、光重合開始剤cを0.01~20重量部及びエポキシ樹脂e100重量部に対して、熱硬化剤fを10~80重量部の割合で含有する上記1乃至6のいずれか一項に記載の液晶シール剤。8a結晶性シリカ非含有タルクにおける結晶性シリカ含量がX線回折測定で0.1以下である上記1乃至7のいずれか一項に記載の紫外線硬化型液晶シール剤。9結晶性シリカ非含有タルクaと共に他の無機充填剤hを含み、無機充填剤の総量がシール剤の総量に対して、10~40重量であり、無機充填剤の総量に対して、結晶性シリカ非含有タルクaの含量が5~90重量であり、他の無機充填剤hの含量が10~95重量である上記1乃至8のいずれか一項に記載の紫外線硬化型液晶シール剤。10更に、メタアクリレートモノマーgを含む上記1乃至9のいずれか一項に記載の紫外線硬化型液晶シール剤。11上記1乃至10の何れか一項に記載の液晶シール剤を硬化して得られる硬化物でシールされた液晶表示セル。本発明の液晶シール剤は接着性に優れ、且つ、基板上配線の断線を防止することが可能である。また、該液晶シール剤は液晶汚染性も少なく、接着強度及び耐湿接着強度にも優れている。従って、このシール剤を使用することにより、信頼性に優れた液晶表示パネルを容易に製造することができる。以下、本発明を詳細に説明する。本発明の液晶表示素子用シール剤組成物は結晶性シリカ非含有タルクa、メタアクリル化エポキシ樹脂b、光重合開始剤cを必須成分として含有する。タルクは、水酸化マグネシウムとケイ酸塩からなり、滑石を微粉砕して得られる。そのためタルクは通常、結晶性シリカを不純分として含有する。本発明における結晶性シリカ非含有タルクa以下、単にタルクaとも言うとは、例えば通常のX線回折測定で、結晶性シリカの含有量が検出限界以下具体的には0.1重量以下のタルクを言い、より好ましくは、結晶性シリカの含有量が0.1重量未満のタルクである。このようなタルクは、一般に市場から入手可能である。タルク中の結晶性シリカ含有量は、X線回折測定において、結晶性シリカ由来の回折角26.8°のピークの面積比から求められる±0.2°程度の誤差は許容されるものとする。該X線回折測定の測定条件の具体例は次の通りである。測定機器:X’Pert-PRO-MPDスペクトリス株式会社製ターゲット:Cu走査角度:5°~60°走査速度:2°/分管電圧:40kV管電流:30mA入射側スリット;0.04°ソーラースリット、自動可変型ダイバージェンススリット、AS1°受光側スリット;0.04°なお、この測定条件によるタルク中の結晶性シリカの含有率の検出限界は、0.1である。本発明で使用されるタルクaの平均粒径は1μm以下であることが好ましい。タルクの平均粒径が大きすぎると、液晶セルの製造時において、上下の基板を貼り合わせてギャップを形成する際、支障が出る可能性がある。また、本発明で使用されるタルクaの平均粒径の下限は、通常、0.3μm程度である。好ましいタルクaの平均粒径は、0.3~1μm程度であり、より好ましくは0.4~0.9μm程度である。なお、平均粒子径はレーザー回折式粒度分布測定装置SALD-2000J島津製作所株式会社製によって測定されるメディアン径を意味する。本発明で使用されるタルクaは予めシランカップリング剤で表面処理したものを使用しても良い。表面処理することによりメタアクリル化エポキシ樹脂bとの相溶性が良くなり、耐湿信頼性も向上する。従って、予めシランカップリング剤で表面処理されたタルクaはより好ましい。本発明で用いられるタルクaの市販品としては、NANOACERTMD-600F日本タルク株式会社製が挙げられる。また、予めシランカップリング剤で表面処理されたタルクaの市販品としては、NANOACERTMD-600FC3BM43、NANOACERTMD-600FC3BM63いずれも日本タルク株式会社製等が挙げられる。なお、本明細書において上付きのRTMは、登録商標であることを示す。本発明のタルクaを表面処理するためのシランカップリング剤d以下、単にシランカップリング剤dとも言うは、無機充填剤の表面改質に使用されるシランカップリング剤であれば、本発明の効果を妨げない限りいずれも使用できる。該シランカップリング剤dとしては、例えば、3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、2-3,4-エポキシシクロヘキシルエチルトリメトキシシラン等のエポキシ基を有するシランカップリング剤;N-フェニル-3-アミノプロピルトリメトキシシラン、N-2-アミノエチル3-アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N-2-アミノエチル3-アミノプロピルトリメトキシシラン、3-アミノプロピルトリエトキシシラン等のアミノ基を有するシランカップリング剤;3-メルカプトプロピルトリメトキシシラン等のメルカプト基を有するシランカップリング剤;ビニルトリメトキシシラン、N-2-ビニルベンジルアミノエチル3-アミノプロピルトリメトキシシラン塩酸塩等のビニル基を有するシランカップリング剤;3-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン等のメタアクリロキシ基を有するシランカップリング剤;3-クロロプロピルメチルジメトキシシラン、3-クロロプロピルトリメトキシシラン等の等のハロゲン原子を有するシランカップリング剤等が挙げられる。これらシランカップリング剤dは単独で用いても良いし、2種以上を混合して用いても良い。これらのうちアミノ基を有するシランカップリング剤及びエポキシ基を有するシランカップリング剤が好ましい。なかでも3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、2-3,4-エポキシシクロヘキシルエチルトリメトキシシラン等のエポキシ基を有するシランカップリング剤はより好ましい。該シランカップリング剤で処理されたタルクaを用いることにより、本発明のシール剤はより良好な耐湿信頼性を得ることができる。タルクaのシランカップリング剤での表面処理は、タルクaの粉末に、シランカップリング剤を噴霧するなどの方法で、タルクaの表面をシランカップリング剤でコーティングすることにより行われる。上記シランカップリング剤dを使用してタルクaの表面処理を行う場合、シランカップリング剤dの使用量は、タルクa100重量部に対して、通常0.1~10重量部程度であり、好ましくは1~5重量部である。本発明で使用されるタルクaの液晶シール剤中の含有量は、通常1~40重量、好ましくは3~20重量である。タルクaは本発明のシール剤において、無機充填剤として使用される。本発明において、無機充填剤として、該タルクa単独でも、また、他の無機充填剤を併用してもよい。通常、他の無機充填剤を併用するのが好ましい。他の無機充填剤hとしては、液晶シール剤に一般に使用されるタルク以外の無機充填剤であれば何れも使用することが出来る。そのような他の無機充填剤hとしては、例えばシリカ溶融シリカ等、窒化ケイ素、窒化ホウ素、炭酸カルシウム、硫酸バリウム、硫酸カルシウム、マイカ、アルミナ、水酸化アルミニウム、ケイ酸カルシウム及びケイ酸アルミニウム等が挙げられる。これらの中でシリカが好ましく、溶融シリカ等が挙げられる。これらは、単独で用いても良いし、2種以上を併用しても良い。また使用量としては、メタアクリル化エポキシ樹脂b100重量部に対して0.01~20重量部が好ましい。使用量が少なすぎると本発明のシール剤を十分に硬化できないことがある。又、使用量が多すぎると開始剤由来の液晶に対する汚染や硬化後の樹脂特性の低下が問題となる。本発明の液晶シール剤における、前記タルクa、前記メタアクリル化エポキシ樹脂b及び前記光重合開始剤c以外の残部は任意の添加成分であり、その含有量は、液晶シール剤の総量に対して通常0~60重量、好ましくは0~40重量である。任意の添加成分としては、前記他の無機充填剤h、下記のエポキシ樹脂e及び熱硬化剤f、後記するビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂又はビスフェノールS型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂又はビスフェノールFノボラック型エポキシ樹脂等のビスフェノールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂又はトリフェノールメタン骨格を有するフェノールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂、及びその他のエポキシ樹脂、例えば、脂環式エポキシ樹脂、脂肪族鎖状エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、ヒダントイン型エポキシ樹脂、イソシアヌレート型エポキシ樹脂、二官能フェノール類のジグリシジルエーテル化物、及び、二官能アルコール類のジグリシジルエーテル化物、並びに、それらのハロゲン化物及び水素添加物などが挙げられる。エポキシ樹脂eは、必ずしもこれらに限定されるものではない。該エポキシ樹脂eとしては、上記~のものが好ましく、ビスフェノール型エポキシ樹脂およびノボラック型エポキシ樹脂がより好ましく、ビスフェノール型エポキシ樹脂が更に好ましく、ビスフェノールA型エポキシ樹脂が特に好ましい。本発明の液晶シール剤にエポキシ樹脂eを使用する場合の含有量は、液晶シール剤総量に対して通常1重量以上、好ましくは3重量以上であって、通常50重量以下、好ましくは25重量以下である。更に好ましくは、液晶シール剤総量に対して、3~15重量である。該エポキシ樹脂eの使用量が少なすぎると接着強度向上の効果が現れないことがある。又、使用量が多すぎるとエポキシ樹脂e由来の液晶に対する汚染が問題となる。熱硬化剤fは、エポキシ樹脂eと反応して硬化物を形成するものであれば特に限定されるものではないが、加熱した時に液晶シール剤が液晶を汚染することなく均一に且つ速やかに反応を開始すること、及び、使用時には室温下における経時的な粘度変化が少ないことが重要である。熱硬化剤fの熱硬化条件としては、液晶滴下方式の場合、封入される液晶の特性低下を最小限に留める為、一般に120°C、1時間程度での低温硬化能が求められている。以上の点を鑑みて、本発明の液晶シール剤における熱硬化剤fとしては、多官能ヒドラジド類又は多価アミン類が好ましい。本発明の液晶シール剤に熱硬化剤fを使用する場合の含有量は、エポキシ樹脂e100重量部に対して10~80重量部程度が好ましく、より好ましくは15~60重量部程度である。また、エポキシ樹脂eの有するエポキシ基1当量に対して、熱硬化剤fにおけるエポキシ基に対する反応基が0.1~1.5当量となる量の熱硬化剤fを使用するのも好ましい。エポキシ樹脂eに対する熱硬化剤fの使用量が少なすぎるとエポキシ樹脂を十分に硬化できないことがある。又、該使用量が多すぎるとシール剤の耐湿性能が問題となる。上記多官能ヒドラジド類とは、この場合、分子中に2個以上のヒドラジド基を有する化合物を指す。多官能ヒドラジド類の具体例としては、例えば、カルボヒドラジド、シュウ酸ジヒドラジド、マロン酸ジヒドラジド、コハク酸ジヒドラジド、アジピン酸ジヒドラジド、ピメリン酸ジヒドラジド、スベリン酸ジヒドラジド、アゼライン酸ジヒドラジド、セバシン酸ジヒドラジド、ドデカンジオジヒドラジド、ヘキサデカンジオヒドラジド、マレイン酸ジヒドラジド、フマル酸ジヒドラジド、ジグリコール酸ジヒドラジド、酒石酸ジヒドラジド、リンゴ酸ジヒドラジド、イソフタル酸ジヒドラジド、テレフタル酸ジヒドラジド、2,6-ナフトエ酸ジヒドラジド、4,4-ビスベンゼンジヒドラジド、1,4-ナフトエ酸ジヒドラジド、2,6-ピリジンジヒドラジド、1,2,4-ベンゼントリヒドラジド、ピロメリット酸テトラヒドラジド、1,4,5,8-ナフトエ酸テトラヒドラジド、及び、1,3-ビスヒドラジノカルボノエチル-5-イソプロピルヒダントイン等のバリンヒダントイン骨格を有するジヒドラジド類が挙げられるが、これらに限定されるものではない。多官能ヒドラジド類を熱硬化剤fとして使用する場合には、潜在性硬化剤とするために、粒径を小さくして均一に分散することが好ましい。このときの平均粒径は0.3~3μm程度であるのが好ましい。熱硬化剤fとしては多官能ヒドラジド類が好ましく、多官能ヒドラジド類のうち、好ましいのはジヒドラジドである。液晶汚染性の観点から、熱硬化剤fとしてはセバシン酸ジヒドラジド、アジピン酸ジヒドラジド、イソフタル酸ジヒドラジド及びバリンヒダントイン骨格を有するジヒドラジド類がより好ましく、セバシン酸ジヒドラジドが特に好ましい。更に、反応性及び粘度の制御のためにメタアクリル酸エステルのモノマー又はオリゴマーであってもよいg以下、/スリット間隔=5μm/15μm、膜厚0.1μmを備えたガラス基板と、スリットパターンを有さないガラス基板を用意した。ディスペンサーを使用して、該基板の外周においてシール剤とスリットとが垂直に交差するように、直線状に、シール剤を塗布した。このとき、塗布断面積が3800~4200μm2となるようにシール剤を塗布した。真空中で、スリットパターンを有さないガラス基板をシール剤を塗布したガラス基板に重ね合わせ、ギャップ形成を行った。ギャップ形成後、紫外線照射機によりシール部に積算光量3000mJ/cm2の紫外線を照射して、シール剤を光硬化させた。得られたセルを顕微鏡にて観察し、アルミのスリットが削られているスリットパターンの本数を確認した。実施例1のものは断線数0本、実施例2のものは断線数1本、実施例3のものは断線数0本、比較例1のものは断線数7本、比較例2のものは断線数12本、比較例3のものは断線数13本であった。下記の基準によりアルミ配線の断線について比較例のものと共に判定し、その結果を表1に示した。○1本以下△2本~4本×5本以上2比抵抗測定サンプル瓶に前記実施例1~3及び比較例1~3で得られたシール剤0.1gを入れ、積算光量3000mJ/cm2の紫外線を照射し、シール剤を硬化した。その後、そこに液晶メルク社製、MLC-6866-1001mlを加え、サンプル瓶を120°Cのオーブンに1時間置いた。その後、0.5時間、室温にてサンプル瓶を放置した。上記の処理が終わったサンプル瓶から液晶のみを取り出し、液体電極LE21安藤電気株式会社製に液晶を入れて、株式会社アドバンテスト製エレクトロメーターR-8340により、測定電圧10Vの電流を流してから4分後の液晶の比抵抗を測定した。実施例1のものの比抵抗値:3.21×1012、実施例2のものの比抵抗値:2.12×1012、実施例3のものの比抵抗値:2.85×1012、比較例1のものの比抵抗値2.92×1012、比較例2のものの比抵抗値1.23×1012、比較例3のものの比抵抗値2.05×1012、であった。比抵抗の測定値から、下記基準により液晶の汚染の程度を比較例のものと共に判定し、その結果を表1に示した。○1.00×1012以上△5.00×1011~9.99×1011×4.99×1011以下3接着強度前記実施例1~3及び比較例1~3で得られたシール剤1gに、スペーサーとして平均粒径5μmのグラスファイバー0.01gを添加して、それらを混合撹拌した。この液晶シール剤を50mm×50mmのガラス基板上に塗布し、その液晶シール剤の塗布膜上に1.5mm×1.5mmのガラス片を貼り合わせた。UV照射機により、積算光量3000mJ/cm2の紫外線をガラス基板のシール部に照射した後、ガラス基板を120°Cのオーブンに1時置いて、液晶シール剤を硬化させた。そのガラス片のせん断接着強度をボンドテスターSS-30WDセイシン企業株式会社製により10mm/secで測定した。実施例1のもののせん断接着強度:75MPa、実施例2のもののせん断接着強度:78MPa、実施例3のもののせん断接着強度:68MPa、比較例1のもののせん断接着強度:68MPa、比較例2のもののせん断接着強度:43MPa、比較例3のもののせん断接着強度:62MPaであった。測定値から、各液晶シール剤の接着強度を下記基準により判定し、比較例のものと共に判定し、その結果を表1に示した。○60MPa以上△59MPa~40MPa×39MPa以下4耐湿接着強度上記の3接着試験と同様にして作製した接着試験片について、121°C、2気圧、湿度100、24時間の条件で、プレッシャークッカーテストを行い、そのガラス片のせん断接着強度をボンドテスターSS-30WDセイシン企業株式会社製により10mm/secで測定した。実施例1のもののせん断接着強度:55MPa、実施例2のもののせん断接着強度:41MPa、実施例3のもののせん断接着強度:46MPa、比較例1のもののせん断接着強度:39MPa、比較例2のもののせん断接着強度:32MPa、比較例3のもののせん断接着強度:40MPaであった。測定値から、各液晶シール剤の接着強度を下記基準により判定し、比較例のものと共に判定し、その結果を表1に示した。○50MPa以上△49MPa~30MPa×29MPa以下以上のように、本発明のシール剤はガラス基板に対する接着強度に優れ、基板配線の断線を解消するものであることが確認された。また、液晶汚染性、接着剤及び耐湿接着強度にも優れており、液晶シール剤としての特性は優れたものであった。さらに、タルクaとして、エポキシ基を有するシランカップリング剤で表面処理を行ったタルクを使用した実施例1の液晶シール剤は、耐湿接着強度に特に優れていた。"