"直流電源と、上記直流電源に接続され被検査対象であるコンデンサの両端子に接触可能な一対のプローブと、上記直流電源と上記一方のプローブとの間に接続された電流計とを含み、上記直流電源から上記各プローブを介して上記コンデンサの両端子間に所定の直流電圧を印加し、そのとき上記電流計にて測定される電流値に基づいて上記コンデンサの良否を検査するコンデンサの検査装置において、上記一対のプローブ間に接続された電圧計と、上記コンデンサに印加する上記直流電源の出力電圧をオンオフするスイッチとを備えていることを特徴とするコンデンサの検査装置。上記電圧計は、上記電流計および上記一対のプローブを含む直列回路に対して並列に接続され、上記スイッチは、上記電圧計の一方の電圧検出端子と上記直流電源との間に接続されていることを特徴とする請求項1に記載のコンデンサの検査装置充電ステップと検査ステップとを含み、上記充電ステップで、充電電源により被検査対象であるコンデンサに所定の直流電圧を印加して充電したのち、上記検査ステップで、直流電源より一対のプローブを介して上記コンデンサの両端子間に所定の直流電圧を印加した状態で、上記直流電源と上記一方のプローブとの間に接続されている電流計にて上記コンデンサに流れる電流値を測定して上記コンデンサの良否を検査するコンデンサの検査方法において、上記コンデンサに印加する上記直流電源の出力電圧をオンオフするスイッチと、上記一対のプローブを介して上記コンデンサの両端子間に接続される電圧計と、上記スイッチを制御するとともに、上記電流計および上記電圧計の測定値に基づいて所定の判定を行う制御部とを備え、上記検査ステップで、上記制御部は、上記スイッチをオフとし、そのときの上記電圧計の測定値が0Vである場合には、上記プローブが上記コンデンサの端子に非接触と判定し、上記電圧計の測定値が上記充電ステップで印加された電圧値に達していない場合には、充電不良と判定し、上記電圧計の測定値が上記充電ステップで印加された電圧値にほぼ等しい場合には、上記スイッチをオンとして、上記直流電源より上記一対のプローブを介して上記コンデンサの両端子間に所定の直流電圧を印加し、そのとき上記電流計にて測定される電流値に基づいて上記コンデンサの良否を判定することを特徴とするコンデンサの検査方法。上記のコンタクトチェック回路1によれば、交流信号は被測定試料DUTであるコンデンサ内を流れることから、交流電流計A2で所定の交流電流が測定されれば接触コンタクトOK,所定の交流電流が測定されなければ非接触コンタクトNGと判定することができる。しかしながら、問題点として、上記のコンタクトチェック回路1では、交流電源AC,交流電圧計A2およびその付属回路としての判定回路や交流信号を絶縁抵抗計内に注入するためのスイッチ回路等を必要とするため、その構成が複雑でコスト高でもある。また、検査ステージに先立って行われる充電ステージで、被測定試料DUTに規定された電圧で充電が行われたかどうかも分からない。したがって、本発明の課題は、構成がきわめて簡単でありながら、検査ステージにおいて、コンタクトチェックを確実に行うことができるとともに、先の充電ステージで被測定試料コンデンサに規定された電圧で充電が行われたかどうかも判定できるようにすることにある。上記した課題を解決するため、本発明は、請求項1に記載されているように、直流電源と、上記直流電源に接続され被検査対象であるコンデンサの両端子に接触可能な一対のプローブと、上記直流電源と上記一方のプローブとの間に接続された電流計とを含み、上記直流電源から上記各プローブを介して上記コンデンサの両端子間に所定の直流電圧を印加し、そのとき上記電流計にて測定される電流値に基づいて上記コンデンサの良否を検査するコンデンサの検査装置において、上記一対のプローブ間に接続された電圧計と、上記コンデンサに印加する上記直流電源の出力電圧をオンオフするスイッチとを備えていることを特徴としている。本発明の好ましい態様によると、請求項2に記載されているように、上記電圧計は、上記電流計および上記一対のプローブを含む直列回路に対して並列に接続され、上記スイッチは、上記電圧計の一方の電圧検出端子と上記直流電源との間に接続される。また、本発明には、請求項3に記載されているように、充電ステップと検査ステップとを含み、上記充電ステップで、充電電源により被検査対象であるコンデンサに所定の直流電圧を印加して充電したのち、上記検査ステップで、直流電源より一対のプローブを介して上記コンデンサの両端子間に所定の直流電圧を印加した状態で、上記直流電源と上記一方のプローブとの間に接続されている電流計にて上記コンデンサに流れる電流値を測定して上記コンデンサの良否を検査するコンデンサの検査方法において、上記コンデンサに印加する上記直流電源の出力電圧をオンオフするスイッチと、上記一対のプローブを介して上記コンデンサの両端子間に接続される電圧計と、上記スイッチを制御するとともに、上記電流計および上記電圧計の測定値に基づいて所定の判定を行う制御部とを備え、上記検査ステップで、上記制御部は、上記スイッチをオフとし、そのときの上記電圧計の測定値が0Vである場合には、上記プローブが上記コンデンサの端子に非接触と判定し、上記電圧計の測定値が上記充電ステップで印加された電圧値に達していない場合には、充電不良と判定し、上記電圧計の測定値が上記充電ステップで印加された電圧値にほぼ等しい場合には、上記スイッチをオンとして、上記直流電源より上記一対のプローブを介して上記コンデンサの両端子間に所定の直流電圧を印加し、そのとき上記電流計にて測定される電流値に基づいて上記コンデンサの良否を判定することを特徴とするコンデンサの検査方法も含まれる。本発明によれば、被検査対象であるコンデンサの両端子に接触される一対のプローブ間に電圧計が接続され、直流電源にはその出力電圧をオンオフするスイッチが設けられていることにより、まず、スイッチをオフとして、そのときの電圧計の測定値が0Vである場合には、プローブがコンデンサの端子に非接触と判定でき、電圧計の測定値が充電ステップで印加された電圧値に達していない場合には、充電不良と判定でき、また、電圧計の測定値が充電ステップで印加された電圧値にほぼ等しい場合には、スイッチをオンとして、直流電源より一対のプローブを介してコンデンサの両端子間に所定の直流電圧を印加し、そのとき電流計にて測定される電流値に基づいてコンデンサの良否を判定することができる。次に、図1ないし図2により、本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。なお、本発明は、先の図4で説明した充電ステージと検査ステージとを含むコンデンサの検査システムに好ましく適用されるものである。図1に示すように、この実施形態に係るコンデンサの検査装置は、先の図5で説明した従来例と同じく、基本的な構成として、所定の直流電圧を出力する直流電源Eと、直流電源Eに接続され被測定試料DUTコンデンサCの両端子に接触可能な一対のプローブPP1,P2と、直流電源Eと一方のプローブP、この実施形態では高電位側のプローブP1との間に接続された電流計直流電流計11とを備えている。なお、一対のプローブPについて、特に高電位側と低電位側とを区別する必要がない場合には、単にプローブPと言う。また、被測定試料DUTであるコンデンサCの内部構造については、先の図3の等価回路図を参照されたい。本発明のコンデンサの検査装置は、上記した基本的な構成に加えて電圧計直流電圧計12と、直流電源Eから被測定試料DUTに印加される出力直流電圧をオンオフするスイッチ13と、制御部20とを備える。この実施形態において、電圧計12は、電流計11およびプローブP1,P2を含む直列回路に対して並列に接続されているが、別の態様として、プローブP1とプローブP2との間に接続されてもよい。また、この実施形態において、スイッチ13は、直流電源Eの正極側に設けられているが、その配置箇所は、電圧計12の電圧検出回路以外であればよい。なお、スイッチ13としては、リレー、半導体スイッチ、フォトモスリレー等の光半導体スイッチを使用することができる。制御部20は、スイッチ13のオンオフを制御するとともに、電流計11および電圧計12の測定値に基づいて、プローブPのコンタクトチェック、被測定試料DUTに対する充電の適否および被測定試料DUTの絶縁抵抗の良否等の判定を行う。制御部20には、CPU中央演算処理ユニットやマイクロコンピュータ等が用いられてよい。次に、図2a,bを参照して、このコンデンサの検査装置の動作について説明するが、被測定試料DUTは、図4で説明した充電ステージで規定の電圧に充電され、こここでの説明において、その充電電圧は例えば100Vであるとする。また、プローブP1,P2は、図示しない自動機例えば、X-Y-Z方向に移動可能なアーム等により、被測定試料DUTの端子に接触されるものとする。充電ステージで充電処理された被測定試料DUTが検査ステージに運ばれ、所定のワーク載置台にセットされると、制御部20は、図2aに示すように、スイッチ13をオフとして、プローブP1,P2を被測定試料DUTの各端子に接触させ、電圧計12による電圧測定値V被測定試料DUTの電圧値を観察する。制御部20は、その電圧測定値Vが0Vであれば、図2bに示すように、プローブP1,P2のいずれか一方もしくは両方が被測定試料DUTの端子に電気的に接触していないと判定するコンタクトチェック。コンタクト不良の場合には、再度プロービングし直すか、もしくは当該被測定試料DUTを製品ラインから排除する。また、上記電圧測定値Vが例えば70Vで、100Vに達していない場合には、充電不良と判定する充電チェック。コンタクト不良、充電不良の場合には、当該被測定試料DUTを製品ラインから排除するか、もしくは再度のプロービング、再度の充電を行う。これに対して、上記電圧測定値がほぼ100Vである場合には、プローブP1,P2の接触が良好かつ充電も良好であると判定し、スイッチ13をオンとして、電流計11による電流測定値I被測定試料DUTの漏れ電流を観察する絶縁抵抗のチェック。上記電流測定値Iがあらかじめ設定されている基準値より小さい場合には、絶縁抵抗良好と判定し、上記電流測定値Iが基準値よりも大きい場合には、絶縁抵抗不良として、当該被測定試料DUTを製品ラインから排除する。このように、本発明によれば、従来のコンデンサ絶縁抵抗検査回路に、電圧計とスイッチを付加するだけの簡単な回路構成により、コンタクトチェック、充電チェックおよび絶縁抵抗チェックの3機能を同一の検査ステージで一連に実行することができることから、高い信頼性をもってコンデンサの検査を行うことが可能となる。なお、上記実施形態では、充電ステージと検査ステージとを別ステージとしているが、被測定試料DUTの容量によっては、充電ステージと検査ステージとを分けずに、検査ステージ内で、被測定試料DUTに対して充電を行い、その後に、コンタクトチェック、充電チェックおよび絶縁抵抗のチェックを行うことも可能である。"