"光源を有する処理部と、流体に浮かべられる測定部と、前記処理部から前記測定部に達するように配された光ファイバとを有し、前記測定部は、前記流体の流速に応じて変位する変位部を有し、前記光ファイバは、前記変位部の変位に応じて前記流体への浸漬長が変化するように、前記変位部を経由して前記流体に浸漬され、前記処理部は、前記光源から前記光ファイバに光を導入することにより測定される前記光ファイバの長手方向に沿った温度分布に基づいて、前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長を求め、求められた前記浸漬長に基づいて、前記流体の流速を求めることを特徴とする測定装置。請求項1記載の測定装置において、前記測定部は、ケースを更に有し、前記光ファイバのうちの前記流体に浸漬された前記部分の両側の部分が、前記ケース内に位置することを特徴とする測定装置。請求項1又は2記載の測定装置において、前記処理部は、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を異ならせた複数の温度分布モデル関数を生成し、所定の伝達関数を前記温度分布モデル関数に畳み込むことにより得られる演算結果と前記温度分布との相関に基づいて、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を求めることを特徴とする測定装置。請求項1乃至3のいずれか1項に記載の測定装置において、前記測定部を複数有し、前記複数の測定部のうちの第1の測定部の前記変位部が変位する方向である第1の方向と、前記複数の測定部のうちの第2の測定部の前記変位部が変位する方向である第2の方向とが、互いに直交しており、前記処理部は、前記第1の測定部における前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長に基づいて、前記第1の方向における前記流体の流速成分を求め、前記第2の測定部における前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長に基づいて、前記第2の方向における前記流体の流速成分を求め、前記第1の方向における前記流体の流速成分と前記第2の方向における前記流体の流速成分とに基づいて前記流体の流速を求めるを有することを特徴とする測定装置。光源を有する処理部と、流体の流速に応じて変位する変位部を有し、前記流体に浮かべられる測定部と、前記処理部から前記測定部に達するように配され、前記変位部の変位に応じて前記流体への浸漬長が変化するように、前記変位部を経由して前記流体に浸漬された光ファイバとを有する測定装置を用いた測定方法であって、前記光源から光ファイバに光を導入することにより測定される前記光ファイバの長手方向に沿った温度分布に基づいて、前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長を求めるステップと、求められた前記浸漬長に基づいて、前記流体の流速を求めるステップとを有することを特徴とする測定方法。しかしながら、海洋ブイは極めて高価であった。本発明の目的は、低コストで流速等を測定し得る測定装置及び測定方法を提供することにある。実施形態の一観点によれば、光源を有する処理部と、流体に浮かべられる測定部と、前記処理部から前記測定部に達するように配された光ファイバとを有し、前記測定部は、前記流体の流速に応じて変位する変位部を有し、前記光ファイバは、前記変位部の変位に応じて前記流体への浸漬長が変化するように、前記変位部を経由して前記流体に浸漬され、前記処理部は、前記光源から前記光ファイバに光を導入することにより測定される前記光ファイバの長手方向に沿った温度分布に基づいて、前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長を求め、求められた前記浸漬長に基づいて、前記流体の流速を求めることを特徴とする測定装置が提供される。実施形態の他の観点によれば、光源を有する処理部と、流体の流速に応じて変位する変位部を有し、前記流体に浮かべられる測定部と、前記処理部から前記測定部に達するように配され、前記変位部の変位に応じて前記流体への浸漬長が変化するように、前記変位部を経由して前記流体に浸漬された光ファイバとを有する測定装置を用いた測定方法であって、前記光源から光ファイバに光を導入することにより測定される前記光ファイバの長手方向に沿った温度分布に基づいて、前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長を求めるステップと、求められた前記浸漬長に基づいて、前記流体の流速を求めるステップとを有することを特徴とする測定方法が提供される。開示の測定装置及び測定方法によれば、流体の流速に応じて変位する変位部を経由して光ファイバが流体に浸漬されるため、流体の流速に応じて光ファイバの浸漬長を変化させることができる。また、光ファイバに光を導入することにより測定される光ファイバの長手方向に沿った温度分布に基づいて、光ファイバの流体への浸漬長が求め、光ファイバの流体への浸漬長に基づいて、流体の流速を求めることができる。しかも、比較的安価に測定装置を得ることが可能である。従って、低コストで流速等を測定し得る測定装置を提供することができる。[第1実施形態]第1実施形態による測定装置及び測定方法を図1乃至図30を用いて説明する。図1は、本実施形態による測定装置を示すブロック図である。本実施形態による測定装置は、例えば陸2に配される処理部10と、海水等の流体4に浮かべるように配される測定部12と、プローブとして用いられる光ファイバ14とを有している。なお、ここでは、流体4に浮かべられる測定部12の台数が1台の場合を例に説明するが、測定部12の台数は1台に限定されるものではなく、必要に応じて適宜設定し得る。図2は、本実施形態による測定装置の処理部を示す図である。図2に示すように、処理部10は、CPUCentralProcessingUnit16と、ROMReadOnlyMemory18と、RAMRandomAccessMemory20と、HDDHardDiskDrive22と、入力部24と、表示部26と、インターフェース28とを有している。また、処理部10は、レーザ光源30と、レンズ32a,32bと、ビームスプリッタ34と、波長分離部36と、光検出器38とを有している。また、処理部10は、通信回線を介して、LANLocalAreaNetworkやインターネット等のネットワーク40に接続し得る。CPU16は、処理部10の全体の制御を司るものである。ROM18には、ブートプログラム等が記憶されている。RAM20は、CPU16のワークエリアとして用いられる。HDD記憶装置、記憶手段22には、所定の処理を実行するためのコンピュータプログラム等が記憶されている。また、HDD22には、本実施形態による測定装置による測定結果等が記憶される。入力部24としては、例えば、キーボード等が用いられる。表示装置26としては、例えば、液晶ディスプレイ等が用いられる。レーザ光源30からは、所定のパルス幅のレーザ光が出力される。レーザ光は、レンズ32a、ビームスプリッタ34及びレンズ32bを介して、光ファイバ14の光源側の端部から光ファイバ14内に導入される。光ファイバ14は、コア42と、コア42の周囲に形成されたクラッド44とを有している。光ファイバ14内にレーザ光を導入すると、光ファイバ14内に導入されたレーザ光の一部は、光ファイバ14を構成する分子により後方散乱される後方散乱光。図3は、後方散乱光のスペクトルの例を示す図である。図3に示すように、後方散乱光には、レイリーRayleigh散乱光と、ブリルアンBrillouin散乱光と、ラマンRaman散乱光とが含まれる。レイリー散乱光は、入射光と同一の波長の光である。ブリルアン散乱光、及び、ラマン散乱光は、入射波長からシフトした波長の光である。ラマン散乱光には、入射光よりも長波長側にシフトしたストークス光と、入射光よりも短波長側にシフトした反ストークス光とがある。ストークス光及び反ストークス光のシフト量は、レーザ光の波長や光ファイバを構成する物質等に依存するが、通常50nm程度である。また、ストークス光及び反ストークス光の強度は、いずれも温度により変化するが、ストークス光は温度による変化量が小さく、反ストークス光は温度による変化量が大きい。即ち、ストークス光は温度依存性が小さく、反ストークス光は温度依存性が大きい。これらの後方散乱光は、レーザ光の導入方向とは反対の方向に進行し、光ファイバ14の光源側の端部から出射される。光ファイバ14の光源側の端部から出射される後方散乱光は、レンズ32bを透過し、ビームスプリッタ34により反射されて、波長分離部36に導入される。波長分離部36には、波長に応じて光を透過又は反射するビームスプリッタ46a~46cと、特定の波長の光のみを透過する光学フィルタ48a~48cとが設けられている。また、波長分離部36には、光学フィルタ48a~48cを透過した光をそれぞれ光検出器38の受光部52a~52cに集光する集光レンズ50a~50cが設けられている。波長分離部36に入射した光は、ビームスプリッタ46a~46c及び光学フィルタ48a~48cによりレイリー散乱光、ストークス光及び反ストークス光に分離され、光検出器38の受光部52a~52cにそれぞれ入力される。その結果、受光部52a~52cからはレイリー散乱光、ストークス光及び反ストークス光の強度に応じた信号が出力される。CPU10は、光検出部38により検出された信号に対して所定の信号処理を行い、光ファイバ14の長手方向に沿った温度分布温度分布データを以下のようにして求める。上述したように、ストークス光は温度依存性が小さく、反ストークス光は温度依存性が大きいため、両者の強度の比に基づいて、後方散乱が発生した位置の温度を求めることが可能である。ストークス光の強度IsStokesと反ストークス光の強度IsantiStokesとの比は、以下のような式1により表される。なお、式1において、ωkは光ファイバ中のオプティカルフォノンの角周波数であり、ω0は入射光の角周波数であり、hはプランク定数であり、kはボルツマン定数であり、Tは温度である。Is/Is={ω0ωk/ω0-ωk}4×exp-hωk/2πkT1従って、ストークス光と反ストークス光との強度比が分かれば、後方散乱が発生した位置における温度を式1に基づいて算出することが可能である。ところで、光ファイバ14内で発生した後方散乱光は、光ファイバ14の光源側の端部に向かって進行する過程で減衰する。このため、後方散乱が生じた位置における温度を正しく求めるためには、光の減衰が考慮される。図4は、光ファイバの長手方向における実際の温度分布の例を示す図である。図4の横軸は、距離を示している。図4の縦軸は、温度を示している。光ファイバ14が敷設された経路の一部に高温部と低温部と高温部とが順に存在している。図5は、実際の温度分布が図4のようになっている場合に得られるラマン散乱光の信号強度の時系列分布の例を示す図である。図5の横軸は、時間を示している。図5の縦軸は、光ファイバ14にパルス状のレーザ光レーザパルスを入射した際に光検出器38により検出されるストークス光及び反ストークス光の信号強度を示している。実際の温度分布が図4のようになっている場合、即ち、ファイバ14が敷設された経路の一部に高温部と低温部と高温部とが順に存在する場合には、ストークス光及び反ストークス光の信号強度は、図5に示すような挙動を示す。図5の横軸に示す時間は、光ファイバの光源側の端部から後方散乱が生じた位置までの距離に対応している。また、信号強度の経時的な低下は、後方散乱した光が光ファイバ14の光源側の端部に向かって進行する際における減衰によるものである。なお、図5におけるI1は、ある時間tにおける反ストークス光の強度を示している。また、図5におけるI2は、ある時間tにおけるストークス光の強度を示している。図6は、ラマン散乱光の強度の時系列分布に基づいて求められる光ファイバの長手方向における温度分布を示す図である。図6の横軸は、距離を示している。図6の縦軸は、温度を示している。図6は、図5に示すようなラマン散乱光の信号強度の時系列分布に基づいて、I1/I2比を時間毎に計算し、且つ、図5の横軸時間を距離に換算し、図5の縦軸信号強度を温度に換算することにより得られたものである。このように、反ストークス光とストークス光との強度比I1/I2を計算することにより、光ファイバの長さ方向における温度分布を求めることが可能である。レーザ光源30から出射されるレーザ光のパルス幅ON時間t0を10nsec、真空中の光の速度cを3×108m/sec、光ファイバ14のコア44の屈折率nを1.5とすると、光ファイバ14内におけるレーザ光のパルス幅Wは、以下の式2に示すように約2mとなる。W=t0c/n=10nsec3×108m/sec/1.5≒2m2光ファイバにレーザ光を導入した際に生ずる後方散乱光は、上述したように、光検出器38により信号として検出される。CPU16は、光検出器38により検出されたパルス幅分の信号の積算値に基づいて、各箇所の温度を求める。光検出器38により検出される信号のパルス幅分の積算値に基づいて温度を求めるため、このようにして求められる温度分布以下、測定温度分布というは、高温部と低温部との境界付近においては、比較的なだらかに変化する。図7は、実際の温度分布と測定温度分布との関係の例を示す図その1である。図7aは、実際の温度分布の例を示している。高温部と低温部と高温部とが順に位置している。長さLは、光ファイバ14のうちの低温部に位置している部分の長さを示している。光ファイバ14のうちの低温部に位置している部分の長さLがレーザ光のパルス幅Wに対して十分に長くない場合には、測定温度分布は、図7bに示すような略正規分布状の曲線となる。図8は、実際の温度分布と測定温度分布との関係の例を示す図その2である。図8a及び図8bは、低温部に位置する光ファイバ14の長さLが、レーザ光のパルス幅Wに対して短い場合を示している。このような場合には、測定温度分布の低温部における最低値極値、極小値は、実際の温度より高くなる。図8cは、低温部に位置する光ファイバ14の長さLが、レーザ光のパルス幅Wと同等の場合を示している。このような場合には、測定温度分布の低温部における最低値は、実際の温度と同等となる。図9は、実際の温度分布と測定温度分布との関係の例を示す図その3である。図9における横軸は、距離を示している。図9における縦軸は、温度を示している。図9におけるステップ型の温度分布は、実際の温度分布の例を示している。図9における略正規分布状の温度分布は、測定温度分布を示している。図9において実線で示した温度分布は、低温部に位置する光ファイバ14の長さLが40cmである場合を示している。図9において破線で示した温度分布は、低温部に位置する光ファイバ14の長さLが1mである場合を示している。図9において一点鎖線で示した温度分布は、低温部に位置する光ファイバ14の長さLが1.6mである場合を示している。図9において二点差線で示した温度分布は、低温部に位置する光ファイバ14の長さLが2.2mである場合を示している。なお、図9は、後述するケース内の温度が25.4°Cであり、水温が20°Cである場合に対応している。図9から分かるように、低温部の光ファイバ14の長さが、レーザ光のパルス幅Wである約2mよりも短い場合には、測定温度分布の低温部における最小値は、実際の温度よりも高くなる。一方、低温部の光ファイバ14の長さが、レーザ光のパルス幅W以上の場合には、測定温度分布の低温部における最小値は、実際の温度と同等となる。図10は、本実施形態による測定装置の測定部を示す斜視図である。図11は、本実施形態による測定装置の測定部を示す側面図である。図12は、本実施形態による測定装置の測定部を示す平面図その1である。図13は、本実施形態による測定装置の測定部を示す平面図その2である。図10に示すように、測定部12の基体基部54の四隅には、浮体ブイ56a~56dが配されている。浮体56a~56dは、測定部12の基体54に浮力を付与し、測定部12を流体に浮かべるためのものである。図10における紙面手前側が測定部12の前側であり、図10における紙面奥側が測定部12の後ろ側である。基体54の後ろ側の2つの浮体56c、56dは、フレーム部材継ぎ手58aにより互いに接続されている。フレーム部材58aの両端は、図12に示すように、浮体56c,56dの側部にそれぞれ固定されている。また、基体54の後ろ側の2つの浮体56c、56dは、フレーム部材継ぎ手58bにより互いに接続されている。フレーム部材58bの両端は、浮体56c、56dの上部にそれぞれ固定されている。フレーム部材58bは、後ろ側の2つの浮体56c,56dを互いに接続するのみならず、後述する帯状の部材90a,90bが引っ掛けられるものである。右前側の浮体56aと右後ろ側の浮体56cとは、フレーム部材継ぎ手58cにより互いに接続されている。フレーム部材58cの両端は、浮体56a,56cの側部にそれぞれ固定されている。左前側の浮体56bと左後ろ側の浮体56dとは、フレーム部材継ぎ手58dにより互いに接続されている。フレーム部材58dの両端は、浮体56b,56dの側部にそれぞれ固定されている。フレーム部材58a~58dとしては、例えば円筒状の部材が用いられている。フレーム部材58a~58dの材料としては、例えば繊維強化プラスチックFiberReinforcedPlastics、FRPが用いられている。フレーム部材58a~58dの直径は、例えば60mm程度とする。フレーム部材58a~58dの肉厚は、例えば2mm程度とする。フレーム部材58a~58dの長さは、例えば1200mm程度とする。浮体56a~56dは、例えば中空体により形成されている。浮体56a~56dの外形は、例えば略円柱状とする。浮体56a~56dの直径は、例えば300mm程度とする。前側の浮体56a,56bの高さは、例えば200mm程度とする。後ろ側の浮体56c,56dの高さは、例えば160mm程度とする。浮体56a~56dの肉厚は、例えば2mm程度とする。浮体56a~56dには、浮力を調整するための錘図示せずが内蔵されていてもよい。浮体56a~56dは、鎖60等を用いて海底図示せず等に固定される。浮体56a~56dの材料としては、例えばポリエチレン等を用いることができる。なお、浮体56a~56dを海底等に固定するために用いられる手段は、鎖60に限定されるものではない。例えば、ロープ等を用いて浮体56a~56dを海底に固定してもよい。浮体56a~56dとフレーム部材58a~58dとは、例えば、図示しないボルト等の固定部材固定要素を用いて固定される。浮体56a~56dの上部には、それぞれ柱状部材スペーサ62a~62dが取り付けられている。柱状部材62a~62dは、中空体により形成されている。前側の2つの浮体56a,56b上に取り付けられた柱状部材62a,62bの高さは、後ろ側の2つの浮体56c、56d上に取り付けられた柱状部材62c,62dの高さより高く設定されている。柱状部材62a~62dは、例えば、図示しないボルト等の固定部材固定要素を用いて浮体56a~56dに固定されている。柱状部材62a~62dの直径は、例えば100mm程度とする。前側の柱状部材62a,62bの高さは、例えば100mm程度とする。後ろ側の柱状部材62c,62dの高さは、例えば20mm程度とする。柱状部材62a~62dの肉厚は、例えば2mm程度とする。柱状部材62a,62bがそれぞれ取り付けられた前側の2つの浮体56a,56b上には、フレーム部材台座64aが配されている。フレーム部材64aの両端は、柱状部材62a,62bを介して、浮体56a,56bにそれぞれ接続されている。また、柱状部材62c、62dが取り付けられた後ろ側の2つの浮体56c、56d上には、フレーム部材台座64bが配されている。フレーム部材64bの両端は、柱状部材62c、62dを介して、浮体56c,56dにそれぞれ接続されている。フレーム部材64a,64bの材料としては、例えばステンレス等が用いられている。フレーム部材64a,64bの外形寸法は、例えば100mm×1.2m×2mm程度とする。フレーム部材64a,64bと柱状部材62a~62dとは、例えば、図示しないボルト等の固定部材固定要素を用いて固定されている。こうして、フレーム部材58a~58d、64a、64b及び浮体56a~56d等を適宜組み合わせることにより、測定部12の基体54が形成されている。測定部12の基体54には、ケース保温ケース66が取り付けられている。図14は、ケースを示す斜視図である。図15は、ケースのスリットの部分と光ファイバとの関係を部分的に示す斜視図である。ケース66は、外気を遮断し、流体4の温度に対して温度が大きく異なった箇所を形成するためのものである。ケース66の側部には、光ファイバ14を通すためのスリット図示せずが形成されている。また、ケース66の底面底部には、光ファイバ14を通すための2つのスリット68a,68bが並行するように形成されている。スリット68a,68bは、ケース66の密閉性保温性を確保しつつ、光ファイバ14をケース66の外側から内側に導入し、又は、光ファイバ14をケース66の内側から外側に引き出すためのものである。ケース66の底面に形成されたスリット68a,68bの長手方向は、例えば、ケース66の長手方向と一致している。ケース66の外形寸法は、例えば、2000mm×500mm×120mm程度とする。ケース66の底面に形成されたスリット68a,68bの長さは、例えば190mm程度とする。ケース66の材料としては、例えばポリエチレン等が用いられている。ケース66の肉厚は、例えば2mm程度とする。スリット68a、68bが形成される部分の部材70a、70bの材料としては、例えば、ウレタンやゴム等が用いられている。ケース66の後ろ側の底部は、フレーム部材64b上に固定されている。ケース66は、例えば、図示しないボルト等の固定部材固定要素を用いて固定されている。ケース66のうちのフレーム部材64aの下方に位置する部分は、フレーム部材64aの下面側に固定されている。これにより、ケース66は、フレーム部材64aから吊り下げられるように支持されている。ケース66とフレーム部材64aとは、例えば、図示しないボルト等の固定部材固定要素を用いて固定されている。ケース66の底部の両側部には、ケース66の長手方向に沿うように、ガイド部浮きボビンガイド、ガイド機構72a,72bが設けられている。ガイド部72a,72bは、ボビン状の浮体76を、ケース66の長手方向に沿うように変位させるためのものである。ガイド部72a,72bの材料としては、例えばポリエチレン等が用いられている。ガイド部72a,72bとケース66とは、例えば一体成形されている。ガイド部72a,72bの直径は、例えば60mm程度とする。ガイド部72a,72bの長さは、例えば2000mm程度とする。図16は、ガイド部、ボビン状の浮体、及び、流体流受け部を示す部分的な斜視図である。図16に示すように、ガイド部72a,72bには、ガイド部72a,72bの長手方向に沿うように溝74a,74bが形成されている。溝74a,74bは、ボビン状の浮体76を、ケース66の長手方向に沿うように変位させるためのものである。溝74a,74bの幅は、例えば15mm程度とする。溝74a,74bの深さは、例えば20mm程度とする。ケース66の下方には、ボビン状の浮体浮きボビン76が配される。図17は、ボビン状の浮体を示す平面図及び側面図である。図17aは平面図であり、図17bは側面図である。ボビン状の浮体76は、中空体により形成されており、円筒状の部分78と、円筒状の部分78の両端部に形成された板状の部分80a,80bとを有している。円筒状の部分78と板状の部分80a,80bとは、例えば一体形成されている。円筒状の部分78には、円筒状の部分78の外周に沿うように2つの凹部溝82a,82bが形成されている。かかる凹部82a,82bは、ケース66から引き出された光ファイバ14を導くためのものであり、円筒状の部分78の長手方向に光ファイバ14が移動してしまうのを防止するためのものである。板状の部分80a,80bは、ガイド部72a,72bの溝74,74bにそれぞれ係合するものであり、ケース66の長手方向、即ち、スリット68a,68bの長手方向に沿うようにボビン状の浮体76を変位させるためのものである。ボビン状の浮体76は、スリット68a,68bの長手方向に沿って変位する際に、回転しないことが好ましい。このため、板状の部分80a,80bの平面形状を略長方形としている。ボビン状の浮体76の内部には、浮力を調整するための錘が内蔵されていてもよい。円筒状の部分78の直径は、例えば80mm程度とする。円筒状の部分78の長さは、例えば300mm程度とする。板状の部分80a,80bの寸法は、200mm×120mm×10mm程度とする。板状の部分80a,80bの角部には、フィレット加工が施されている。フィレット半径は、例えば30mm程度とする。なお、板状の部分80a,80bの平面形状は、略長方形に限定されるものではない。例えば、板状の部分80a,80bの平面形状を、略楕円形としてもよい。ボビン状の浮体76には、流体流受け部海流受け部、水流受け部84が取り付けられている。流体流受け部84は、流速に応じた力を流体から受け、ボビン状の浮体76を流体の流速に応じて変位させるためのものである。流体流受け部84は、流速に応じた力を受けるための流体流受け部材海流受け部材、水流受け部材86と、流体流受け部材86を支持するための支持部材88とを有している。支持部材88の形状は、例えばΠ字型となっている。流体流受け部材86の側部は、支持部材88に固定されている。流体流受け部材86は、例えば、複数の孔89が形成されたシート等により形成されている。かかるシートの材料としては、例えばナイロン等が用いられる。流体流受け部材86の寸法は、例えば以下のような2つの具体例が考えられる。第1の具体例では、流体流受け部材86の寸法を、例えば450mm×400mm×0.3mm程度とする。第2の具体例では、流体流受け部材86の寸法を、例えば1000mm×1000mm×0.3mm程度とする。支持部材88は、流体流受け部材86よりも剛性の高い材料により形成されている。支持部材88の材料としては、例えばステンレス等が用いられる。ボビン状の浮体76と流体流受け部84とは、例えば、図示しないボルト等の固定部材固定要素を用いて固定されている。なお、流体流受け部材86は、孔89が形成された部材に限定されるものではない。例えば、流体流受け部材86として、網状の部材を用いてもよい。ボビン状の浮体76には、帯状の部材90a,90bが取り付けられている図13参照。これら帯状の部材90a,90bは、ケース66のスリット68a,68bの長手方向に沿って、互いに並行するように配される。シート状90a,90bの部材は、フレーム部材56bに引っ掛けられている図11参照。帯状の部材90a,90bの前側の端部は、ボビン状の浮体76のうちの円筒状の部分78に取り付けられている。帯状の部材の後ろ側の端部には、錘バランサ92が取り付けられている。錘92は、円柱状に形成されている。右側の帯状の部材90aの前側の端部は、ボビン状の浮体76の円筒状の部分78の右側に固定されている。左側の帯状の部材90bの前側の端部は、ボビン状の浮体76の円筒状の部分78の左側に固定されている。右側の帯状の部材90aの後ろ側の端部は、錘92の右側の部分に取り付けられている。左側の帯状の部材90bの後ろ側の端部は、錘92の左側の部分に取り付けられている。ボビン状の浮体76の両端部は、それぞれ弾性体94a、94bを介して、基体54に支持されている。より具体的には、ボビン状の浮体76の両端部は、それぞれ弾性体94a、94bを介して、前側の浮体56a,56bに支持されている。かかる弾性体94a,94bとしては、例えばゴム等を用いることができる。かかるゴムとしては、例えば、シリコーンゴムや、カーボンが添加された天然ゴム等を用いることができる。なお、弾性体94a,94bは、ゴムに限定されるものではない。弾性体94a,94bとして、例えば、ばね等を用いてもよい。光ファイバ光ファイバケーブル14は、処理部10から測定部12に達するように敷設される図1参照。測定部12に達した光ファイバ14は、測定部12の所定の箇所に配された巻き付け部材96に巻き付けられ、更に巻き付け部材98に巻き付けられ、ケース66の側部のスリット図示せずを介してケース66内に導入される。ケース66内に導入された光ファイバ14は、ケース66内に配された巻き付け部材100に巻き付けられる。光ファイバ14のうちのケース66内の巻き付け部材100に巻き付けられた部分は、ケース66内の温度を測定するための部分として用いられる。光ファイバ14のうちの巻き付け部材100に巻き付けられる部分の長さは、ケース66内の温度を確実に測定すべく、レーザ光のパルス幅Wよりも十分に長く設定することが好ましい。ここでは、光ファイバ14のうちの巻き付け部材100に巻き付けられる部分の長さを、例えば4m程度とする。光ファイバ14は、上記のように巻き付け部材100に巻き付けられた後、ケース66の側部に形成されたスリット図示せずを介してケース66外に引き出され、測定部12の所定の箇所に配された巻き付け部材102に巻き付けられる。光ファイバ14のうちの巻き付け部材102に巻き付けられた部分は、ケース66の外側の空気大気の温度を測定するための部分として用いられる。光ファイバ14のうちの巻き付け部材102に巻き付けられる部分の長さは、ケース66の外側の空気の温度を確実に測定すべく、レーザ光のパルス幅Wよりも十分に長く設定することが好ましい。ここでは、光ファイバ14のうちの巻き付け部材102に巻き付けられる部分の長さを、例えば、巻き付け部材100と同様に、4m程度とする。光ファイバ14は、上記のように巻き付け部材102に巻き付けられた後、ケース66の側部に形成されたスリット図示せずを介してケース66内に導入され、ケース66内に配された巻き付け部材104に巻き付けられる。光ファイバ14のうちの巻き付け部材104に巻き付けられる部分の長さは、図6及び図7を用いて上述した高温部の温度を測定する部分に該当する。従って、光ファイバ14のうちの巻き付け部材104に巻き付けられる部分の長さは、レーザ光のパルス幅Wよりも十分に長く設定することが好ましい。ここでは、光ファイバ14のうちの巻き付け部材104に巻き付けられる部分の長さを、例えば4m程度とする。光ファイバ14は、上記のように巻き付け部材104に再度巻き付けられた後、ケース66に形成されたスリット68aを介して、ケース66の外部に引き出される。スリット68aを介してケース66の外側に引き出された光ファイバ14は、図示しない錘先端錘が取り付けられた巻き付け部材ターゲット106に巻き付けられ、ケース66に形成されたスリット68bを介して、ケース66の内部に導入される。ケース66の内部に導入された光ファイバ14は、ケース66内に配された巻き付け部材108に巻き付けられる。光ファイバ14のうちの巻き付け部材106に巻き付けられる部分の長さは、図6及び図7を用いて上述した低温部の温度を測定する部分に該当する。従って、光ファイバ14のうちの巻き付け部材106に巻き付けられる部分の長さは、レーザ光のパルス幅Wよりも十分に長く設定することが好ましい。ここでは、光ファイバ14のうちの巻き付け部材106に巻き付けられる部分の長さを、例えば4m程度とする。光ファイバ14のうちの巻き付け部材108に巻き付けられる部分の長さは、図6及び図7を用いて上述した高温部の温度を測定する部分に該当する。従って、光ファイバ14のうちの巻き付け部材108に巻き付けられる部分の長さは、レーザ光のパルス幅Wよりも十分に長く設定することが好ましい。ここでは、光ファイバ14のうちの巻き付け部材108に巻き付けられる部分の長さを、例えば、巻き付け部材104と同様に、4m程度とする。光ファイバ14は、上記のように巻き付け部材108に巻き付けられた後、ケース66の側部に形成されたスリット図示せずを介してケース66の外側に引き出される。ケース66の外側に引き出された光ファイバ14は、巻き付け部材98に巻き付けられ、更に巻き付け部材96に巻き付けられ、必要に応じて、他の測定部に達するように敷設される。なお、他の測定部を設けない場合には、光ファイバ14の終端は測定部12上に位置していてよい。錘が付された巻き付け部材106は、光ファイバ14とともに、流体4中に浸漬される。この際、光ファイバ14は、ボビン状の浮体76を経由するように配される。より具体的には、光ファイバ14は、ボビン状の浮体76の凹部82a、82bに係合するように配される。帯状の部材90a,90bの後端部に取り付けられた錘92の質量とは、流体の流れが生じていない際に、釣り合いがとれるように設定されている。図18は、測定部の動作の例を示す側面図及び平面図その1である。図18aは側面図であり、図18bは平面図である。図18は、流体の流れが生じていない場合を示すものである。図18に示すように、流体の流れが生じていない場合には、ボビン状の浮体変位部76は、基準位置に位置する。即ち、流体の流れが生じていない場合には、ボビン状の流体76の変位はゼロとなる。図19は、測定部の動作の例を示す側面図及び平面図その2である。図19aは側面図であり、図19bは平面図である。図19は、測定部12の前側から後ろ側に向かうような流体の流れが生じている場合を示すものである。図19に示すように、測定部12の前側から後ろ側に向かうような流体の流れが生じている際には、ボビン状の浮体76は、流体の流速に応じて、測定部12の後ろ側に変位する。図20は、測定部の動作の例を示す側面図及び平面図その3である。図20aは側面図であり、図20bは平面図である。図20は、測定部12の後ろ側から前側に向かうような流体の流れが生じている場合を示すものである。図20に示すように、測定部12の後ろ側から前側に向かうような流体の流れが生じている際には、ボビン状の浮体76は、流体の流速に応じて、測定部12の前側に変位する。このように、ボビン状の浮体変位部76は、流体の流速に応じて変位する。図21は、ボビン状の浮体の変位と流体の流速との関係を示すグラフである。図21aは、流体流受け部材86の寸法が第1の具体例の場合、即ち、例えば450mm×400mm×0.3mm程度の場合に対応している。図21bは、流体流受け部材86の寸法が第2の具体例の場合、即ち、例えば1000mm×1000mm×0.3mm程度の場合に対応している。図21a及び図21bに示すように、ボビン状の浮体76は、流体の流速に応じて変位する。また、流体流受け部材86の面積に応じて、ボビン状の浮体76の変位が大きくなる。ボビン状の浮体76の変位と流体の流速との関係は、実測を行うことにより取得してもよいし、シミュレーション等により算出してもよい。また、後述するように、ボビン状の浮体変位部76の変位と流体の流速との関係を計算により求めることも可能である。ボビン状の浮体76は、上記のように流体の流速に応じて変位する。そして、ボビン状の浮体76が変位すると、流体に浸漬されている光ファイバ14の浸漬長が変化する。従って、光ファイバ14の浸漬長は、流体の流速に応じて変化する。ボビン状の浮体76の変位に応じて光ファイバ14の浸漬長が変化するため、ボビン状の浮体76の変位と流体の流速との関係を予め求めておけば、光ファイバ14の浸漬長に基づいて流体の流速を求めることが可能である。本実施形態による測定装置は、光ファイバ14の浸漬長に基づいて流体の流速を求めることができる。光ファイバ14の流体への浸漬長がレーザ光のパルス幅Wと同等の場合には、測定温度分布は、例えば、図8cに示すような分布となる。即ち、測定温度分布における最小値は、流体の温度と同等となるが、低温部の長さL、即ち、光ファイバ14が流体に浸漬されている部分の長さ浸漬長Lを、図8cに示すような測定温度分布から一義的に求めることは困難である。図22は、実際の温度分布と測定温度分布との関係の例を示す図その4である。光ファイバ14の流体への浸漬長をレーザ光のパルス幅Wに対して十分に長く設定すれば、図22に示すような測定温度分布となるが、このような測定温度分布からも、低温部の長さL、即ち、光ファイバ14の浸漬長Lを、一義的に求めることは困難である。そこで、本実施形態では、伝達関数を予め求めておき、後述するような処理を行うことにより、光ファイバ14の浸漬長を求める。図23は、伝達関数を示すグラフである。このような伝達関数は、以下のようにして求めることができる。図24は、光ファイバのうちの一部を所定の温度の水に浸漬した状態を示す斜視図である。図24に示すように、容器110内に所定の温度の水112を入れる。そして、光ファイバ14のうちの一部を水112に浸漬する。光ファイバ14の長手方向に沿った実際の温度分布は、光ファイバ14が浸漬された水112の温度と、空気中の温度とから求めることができる。そして、本実施形態による測定装置の処理部10に光ファイバ14を接続し、光ファイバ14にパルス状のレーザ光を導入し、上記のようにして、光ファイバ14の長手方向に沿った温度分布測定温度分布を求める。図25は、測定温度分布の例を示すグラフである。図25における横軸は距離を示しており、図25における縦軸は温度を示している。図25は、光ファイバ14を図24のように設定した状態で得られた測定温度分布である。実際の温度分布に伝達関数を畳み込むことにより得られる温度分布は、理論的には、測定温度分布と同様の温度分布となる。従って、実際の温度分布と測定温度分布とに基づいて、伝達関数を求めることが可能である。次に、本実施形態による測定方法について説明する。図26は、本実施形態による測定方法を示すフローチャートである。まず、CPU16からの命令により、レーザ光源30からパルス状にレーザ光が出射される。レーザ光源30から出射されたレーザ光は、レンズ32a,32bやビームスプリッタ34等を介して、光ファイバ14に導入される。光ファイバ14内にレーザ光が導入されると、光ファイバ14中の分子によりレーザ光が後方散乱される。後方散乱光は、光ファイバ14の光源側の端部に向かって進行し、光ファイバ14の光源側の端部から出射される。そして、ビームスプリッタ34により反射され、波長フィルタ36を介して光検出器38に入射される。CPU16は、光検出器38により検出された後方散乱光に基づいて、上記のようにして、光ファイバ14の長手方向に沿った温度分布測定温度分布を求めるステップS1。図27は、光ファイバの長手方向に沿った温度分布の例を示す図である。図27における横軸は距離位置を示しており、図27における縦軸は温度を示している。図27における実線は、実際の温度分布の例を示しており、図27における破線は、測定温度分布の例を示している。また、図27における符号96,98,100,102,104,106,108は、各巻き付け部材を示している。次に、CPU16は、測定温度分布に基づいて、ケース66の内側の空気の温度ケース内温度、ケース66の外側の空気の温度空気温度、及び、流体海水の温度流体温度を求めるステップS2。巻き付け部材100が位置する箇所の温度が、ケース内温度として用いられるケース内基準温度。また、巻き付け部材102が位置する箇所の温度が、空気温度として用いられる空気基準温度。また、巻き付け部材106が位置する箇所の温度が流体温度として用いられる流体基準温度。次に、CPU16は、後述する温度分布モデル温度分布モデル関数における浸漬長Lの値を、最大浸漬長Lmaxに設定するステップS3。最大浸漬長Lmaxとは、錘が付された巻き付け部材106を用いて浸漬された光ファイバ14が、最大限の長さで浸漬された場合の浸漬長である。設定された浸漬長Lの値は、RAM20内に設けられた浸漬長メモリ図28参照に記憶される。図28は、本実施形態による測定装置の処理部のRAMのメモリ構成の一部を示す図である。次に、CPU16は、ケース内温度、流体温度、及び、設定された浸漬長Lに基づいて、温度分布モデル温度分布モデル関数を作成するステップS4。図29は、温度分布モデルの例を示す図である。次に、作成した温度分布モデルに伝達関数を畳み込むことにより、演算結果を得るステップS5。なお、かかる伝達関数は、図23乃至図25を用いて上述したようにして、予め求めておく。次に、温度分布モデルに伝達関数を畳み込むことにより得られた演算結果と、後方散乱光に基づいて求められた温度分布測定温度分布との相関関数自己相関関数を求めるステップS6。次に、求められた相関関数のピーク値が、過去最大か否かを判断するステップS7。なお、ここで、過去最大とは、今回行う流速の測定処理において最大であることを意味し、以前行った流速の測定処理を含むものではない。図30は、相関関数自己相関関数を示す図である。図30における横軸は光ファイバの長さ方向の位置を示しており、図30における縦軸は相関関数の大きさ、即ち、どの程度の一致を参照波形と見せているかを示している。図30における実線は、作成された温度分布モデルが実際の温度分布と近似している場合を示している。一方、図30における破線は、作成された温度分布モデルが実際の温度分布とは大きく異なっている場合を示している。図30に示すように、作成された温度分布モデルと実際の温度分布とが近似しているほど、相関関数のピーク値が大きくなる。換言すれば、相関関数のピーク値が高いほど、温度分布モデルと実際の温度分布とが近似している。求められた相関関数のピーク値が過去最大である場合には、当該ピーク値と、当該温度分布モデルにおける浸漬長Lとを、例えば、RAM20内に設けられた相関関数ピーク値メモリ図28参照に記憶するステップS8。次に、ループ処理を行った回数が所定のループ回数以上か否かを判断するステップS9。ループ処理を行った回数が所定のループ回数以下の場合には、浸漬長メモリ図28参照に記憶された浸漬長Lから所定の長さΔLを減算するステップS10。この後、所定のループ回数が完了するまで、ステップS4からステップS10までのループ処理が繰り返し行われる。即ち、浸漬長Lの値を変更した温度分布モデル温度分布モデル関数が順次作成されて、上記のような処理が順次行われる。相関関数ピーク値メモリ図28参照に記憶された浸漬長Lは、相関関数が過去最大となったときの温度分布モデルにおける浸漬長Lである。相関関数が過去最大となっときの温度分布モデルが実際の温度分布に最も近いものであるため、相関関数が過去最大となっときの温度分布モデルにおける浸漬長を実際の浸漬長と推認するステップS11。次に、以下のようにして、浸漬長に基づいて流速を求めるステップS12。即ち、まず、上記のようにして求められた浸漬長Lに基づいて、変位部76の変位を求める。変位部76の位置が基準位置のときの光ファイバ14の浸漬長をL0とし、変位部76の変位をXとすると、変位部76の変位Xは、以下のような式3により表される。X=L-L0/23次に、予め求められた変位部76の変位と流体の流速との関係図21参照と、上記のようにして得られた変位部76の変位とに基づいて、流体の流速を求める。なお、変位部76の変位と流体の流速との関係を示すテーブル等は、例えばRAM20内に設けられたテーブル図示せずに記憶されている。こうして、光ファイバ14の浸漬長に基づいて流体の流速を求めることができる。なお、変位部76の変位と流体の流速との関係を予め取得しておかなくても、以下のようにして、変位部76の変位に基づいて流体の流速を求めることが可能である。流体の流量をQm3/secとし、流量係数をAとし、流体流受け部材86の面積をSとし、流速をv1とすると、以下のような式4が成立する。Q=A×S×v1流体による流体流受け部材86への圧力をPとし、流体密度をσN/m2とすると、以下のような式5が成立する。P=0.5×σ×v125流体の流れにより発生する力をF1Nとすると、以下のような式6が成立する。F1=P×S6弾性体94a、94bが伸びたときに受けている力をF2Nとし、弾性体94a、94bのばね定数をKN/mとし、変位部76の変位をδmとし、弾性体94,94bの長さをLenmとすると、以下のような式7が成立する。F2=2×K×{δ2Len2}0.5-Len}×δ÷{δ2Len2}0.57F1とF2とが釣り合うため、以下のような式8が成立する。F1=F28式6と式8とにより、以下のような式9が成立する。P×S=F29式5と式9とにより、以下のような式10が成立する。0.5×σ×v12×S=F210式10を変形すると、以下のような式11が得られる。v1={F2÷0.5×σ×S}0.511F2の値は、式7により求めることが可能であるため、v1を求めることが可能である。なお、流体流受け部材86の寸法が第1の具体例の場合、即ち、例えば450mm×400mm×0.3mm程度の場合には、上記のパラメータの値は、例えば以下のようになる。例えば、流体流受け部材86の面積Sは、例えば0.18m2となる。また、流体密度σは、海水の場合には、例えば1.03kg/m3となる。また、弾性体94a、94bのばね定数Kは、例えば3.5N/mとなる。また、弾性体94a、94bの長さLenは、例えば0.4mとなる。また、流量係数Aは、例えば1となる。流体流受け部材86の寸法が第2の具体例の場合、即ち、例えば1000mm×1000mm×0.3mm程度の場合には、上記のパラメータの値は、例えば以下のようになる。例えば、流体流受け部材86の面積Sは、例えば1m2となる。なお、流体密度σ、弾性体94a、94bのばね定数K、弾性体94a、94bの長さLen、流量係数Aは、具体例1の場合と同様である。このように、変位部76の変位に基づいて流体の流速を計算により求めることが可能である。このように本実施形態によれば、流体の流速に応じて変位する変位部76を経由して光ファイバ14が流体に浸漬されるため、流体の流速に応じて光ファイバ14の浸漬長を変化させることができる。また、本実施形態によれば、光ファイバ14に光を導入することにより測定される光ファイバ14の長手方向に沿った温度分布に基づいて、光ファイバ14の流体への浸漬長を求め、光ファイバ14の流体への浸漬長に基づいて、流体の流速を求めることができる。しかも、本実施形態によれば、比較的安価に測定装置を得ることが可能である。従って、本実施形態によれば、低コストで流速等を測定し得る測定装置を提供することができる。また、本実施形態によれば、流体に浸漬された光ファイバ14の両側の部分がケース66内に位置しており、ケース66内の温度は流体の温度とは異なった温度となる。例えば、太陽光の照射により、ケース内66の温度は流体の温度に対して十分に高くなる。このため、本実施形態によれば、光ファイバ14の流体への浸漬長をより確実に求めることができ、ひいては、より確実に流体の流速を求めることができる。また、本実施形態によれば、光ファイバ14をプローブとし、光ファイバ14に光を導入した際に生じる後方散乱光に基づいて、光ファイバ14の長手方向における温度分布を測定する。このため、本実施形態によれば、流体に浮かべられた測定部12に電力を供給することなく、流速等を測定することができる。また、本実施形態によれば、光ファイバ14の長手方向における温度分布に基づいて、流体の流速のみならず、流体の温度や、空気の温度等も求めることができる。[第2実施形態]第2実施形態による測定装置及び測定方法を図31乃至図33を用いて説明する。図1乃至図30に示す第1実施形態による測定装置及び測定方法と同一の構成要素には、同一の符号を付して説明を省略または簡潔にする。本実施形態による測定装置及び測定方法は、光ファイバ14の浸漬長が変化する箇所とは異なる箇所において流体の温度を測定するものである。まず、本実施形態による測定装置について説明する。図31は、本実施形態による測定装置の測定部を示す斜視図である。図31に示すように、本実施形態による測定装置の測定部では、ケース66から引き出され、巻き付け部材102に巻き付けられた光ファイバ14は、錘図示せずが付された巻き付け部材114に巻き付けられている。そして、光ファイバ14は、更に巻き付け部材102に巻き付けられ、ケース66内に導入されている。かかる巻き付け部材114は、光ファイバ14とともに流体に浸漬される。光ファイバ14を巻き付け部材114に巻き付けて流体に浸漬するのは、巻き付け部材114に巻き付けられた部分の光ファイバ14により流体の温度を測定するためである。流体の温度を確実に測定すべく、巻き付け部材114に巻き付ける部分の光ファイバ14の長さは、レーザ光のパルス長Wに対して十分に長く設定される。本実施形態では、巻き付け部材114が位置する箇所の温度が流体温度として用いられる流体基準温度。本実施形態では、巻き付け部材106に巻き付けられて流体に浸漬される光ファイバ14の長さを、レーザ光のパルス長Wよりも短く設定する。即ち、変位部76を介して流体に浸漬される光ファイバ14の長さを、レーザ光のパルス長Wよりも短く設定する。本実施形態において、変位部76を介して流体に浸漬される光ファイバ14の長さをレーザ光のパルス長Wよりも短く設定するのは、後述するような測定方法により浸漬長を求めるためである。ここでは、光ファイバ14のうちの巻き付け部材106に巻き付けられる部分の長さを、例えば1m程度とする。次に、本実施形態による測定方法について説明する。図32は、本実施形態による測定方法を示すフローチャートである。まず、第1実施形態による測定方法におけるステップS1と同様にして、光ファイバ14の長手方向に沿った温度分布測定温度分布を求めるステップS21。図33は、光ファイバの長手方向に沿った温度分布の例を示す図である。図33における横軸は距離位置を示しており、図33における縦軸は温度を示している。図33における実線は、実際の温度分布の例を示しており、図33における破線は、測定温度分布の例を示している。また、図33における符号96,98,100,102,114,104,106,108は、各巻き付け部材を示している。次に、CPU16は、測定温度分布に基づいて、ケース66の内側の空気の温度ケース内温度、ケース66の外側の空気の温度空気温度、及び、流体海水の温度流体温度を求めるステップS22。巻き付け部材100が位置する箇所の温度が、ケース内温度として用いられるケース内基準温度。また、巻き付け部材102が位置する箇所の温度が、空気温度として用いられる空気基準温度。また、巻き付け部材114が位置する箇所の温度が流体温度として用いられる流体基準温度。次に、CPU16は、後述する温度分布モデル温度分布モデル関数における浸漬長Lの値を、最大浸漬長Lmaxに設定するステップS23。最大浸漬長Lmaxとは、錘が付された巻き付け部材106を用いて浸漬された光ファイバ14が、最大限の長さで浸漬された場合の浸漬長である。設定された浸漬長Lの値は、RAM20内に設けられた浸漬長メモリ図28参照に記憶される。次に、CPU16は、ケース内温度、流体温度、及び、設定された浸漬長Lに基づいて、温度分布モデル温度分布モデル関数を作成するステップS24。次に、作成した温度分布モデルに伝達関数を畳み込むことにより、演算結果を得るステップS25。なお、かかる伝達関数は、図23乃至図25を用いて上述したようにして、予め求めておく。次に、演算結果における流体温度と測定温度分布における流体温度とが一致するか否かを判断するステップS26。具体的には、演算結果における巻き付け部材106が位置する箇所の流体温度と、測定温度分布における巻き付け部材106が位置する箇所の流体温度とが同等か否かを判断する。演算結果における流体温度と測定温度分布における流体温度と近似している場合には、当該温度分布モデルは、実際の温度分布と近似していると判断し得る。演算結果における流体温度と測定温度分布における流体温度とが同等でない場合には、浸漬長メモリ図28参照に記憶された浸漬長Lから所定の長さΔLを減算しステップS27、演算結果における流体温度と測定温度分布における流体温度とが同等となるまで、ステップS24からステップS27のループ処理が繰り返し行われる。即ち、浸漬長Lの値を変更した温度分布モデル温度分布モデル関数が順次作成されて、上記のような処理が順次行われる。演算結果における流体温度と測定温度分布における流体温度とが同等となったときの温度分布モデルは、実際の温度分布と近似した温度分布モデルである。従って、当該温度分布モデルにおける浸漬長を、実際の浸漬長と推認するステップS28。次に、第1実施形態による測定装置のステップS12と同様にして、浸漬長に基づいて流速を求めるステップS29。このように、本実施形態においても、流体の流速等を確実に求めることができる。[第3実施形態]第3実施形態による測定装置及び測定方法について図34を用いて説明する。図34は、本実施形態による測定装置を示すブロック図である。図1乃至図33に示す第1又は第2実施形態による測定装置及び測定方法と同一の構成要素には、同一の符号を付して説明を省略または簡潔にする。本実施形態による測定装置は、複数の異なる方向に向かうように測定部をそれぞれ配し、複数の方向における流体の流速成分に基づいて、流体の流速を求めるものである。図34に示すように、処理部10から第1の測定部121に達するように光ファイバ14が敷設されており、更に、光ファイバ14が第2の測定部122に達するように敷設されている。第1の測定部121及び第2の測定部122としては、上述した第1又は第2実施形態による測定装置の測定部12、12aのいずれかが用いられる。第1の測定部121の前後方向は、第1の方向に設定されている。従って、第1の測定部121の変位部76は、第1の方向における流体の流速成分に応じて、第1の方向に変位する。第2の測定部122の前後方向は、第2の方向に設定されている。従って、第2の測定部122の変位部76は、第2の方向における流体の流速成分に応じて、第2の方向に変位する。処理部10は、第1の測定部121を用いて取得される浸漬長に基づいて第1の方向における流体の流速成分を求め、第2の測定部122を用いて取得される浸漬長に基づいて第2の方向における流体の流速成分を求める。そして、第1の方向における流体の流速成分と第2の方向における流体の流速成分とに基づいて、流体の流速を求める。このように、本実施形態によれば、複数の異なる方向に向かうように測定部121、122をそれぞれ配し、複数の方向における流体の流速成分に基づいて、流体の流速を求める。従って、本実施形態によれば、より正確に流体の流速を求めることができる。[変形実施形態]上記実施形態に限らず種々の変形が可能である。例えば、第1又は第2実施形態では、測定部12,12aを1台配置する場合を例に説明したが、測定部12,12aの台数は1台に限定されるものではない。測定部12,12aを複数配置し、各箇所における流体の流速を測定するようにしてもよい。また、第3実施形態では、一対の測定部121,122を設ける場合を例に説明したが、複数対の測定部121,122を設けるようにしてもよい。上記実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。付記1光源を有する処理部と、流体に浮かべられる測定部と、前記処理部から前記測定部に達するように配された光ファイバとを有し、前記測定部は、前記流体の流速に応じて変位する変位部を有し、前記光ファイバは、前記変位部の変位に応じて前記流体への浸漬長が変化するように、前記変位部を経由して前記流体に浸漬され、前記処理部は、前記光源から前記光ファイバに光を導入することにより測定される前記光ファイバの長手方向に沿った温度分布に基づいて、前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長を求め、求められた前記浸漬長に基づいて、前記流体の流速を求めることを特徴とする測定装置。付記2付記1記載の測定装置において、前記処理部は、前記光源から前記光ファイバに光を導入した際に前記光ファイバ内で後方散乱される光に基づいて、前記光ファイバの長手方向に沿った前記温度分布を測定することを特徴とする測定装置。付記3付記1又は2記載の測定装置において、前記処理部は、前記温度分布に基づいて、前記流体の温度をも求めることを特徴とする測定装置。付記4付記1乃至3のいずれかに記載の測定装置において、前記測定部は、ケースを更に有し、前記光ファイバのうちの前記流体に浸漬された前記部分の両側の部分が、前記ケース内に位置することを特徴とする測定装置。付記5付記4記載の測定装置において、前記ケースには、前記変位部が変位する方向に沿うようにスリットが形成されており、前記光ファイバは、前記スリットを通るように配されることを特徴とする測定装置。付記6付記1乃至5のいずれかに記載の測定装置において、前記処理部は、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を異ならせた複数の温度分布モデル関数を生成し、所定の伝達関数を前記温度分布モデル関数に畳み込むことにより得られる演算結果と前記温度分布との相関に基づいて、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を求めることを特徴とする測定装置。付記7付記1乃至5のいずれかに記載の測定装置において、前記処理部は、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を異ならせた複数の温度分布モデル関数を生成し、所定の伝達関数を前記温度分布モデル関数に畳み込むことにより得られる演算結果における所定箇所の前記流体の温度と前記温度分布における前記所定箇所の前記流体の温度との一致に基づいて、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を求めることを特徴とする測定装置。付記8付記1乃至7のいずれかに記載の測定装置において、前記測定部を複数有し、前記複数の測定部のうちの第1の測定部の前記変位部が変位する方向である第1の方向と、前記複数の測定部のうちの第2の測定部の前記変位部が変位する方向である第2の方向とが、互いに直交しており、前記処理部は、前記第1の測定部における前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長に基づいて、前記第1の方向における前記流体の流速成分を求め、前記第2の測定部における前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長に基づいて、前記第2の方向における前記流体の流速成分を求め、前記第1の方向における前記流体の流速成分と前記第2の方向における前記流体の流速成分とに基づいて前記流体の流速を求めるを有することを特徴とする測定装置。付記9付記1乃至8のいずれかに記載の測定装置において、前記測定部は、浮体が配された基体を更に有し、前記変位部は、弾性体を介して前記基体に支持されていることを特徴とする測定装置。付記10光源を有する処理部と、流体の流速に応じて変位する変位部を有し、前記流体に浮かべられる測定部と、前記処理部から前記測定部に達するように配され、前記変位部の変位に応じて前記流体への浸漬長が変化するように、前記変位部を経由して前記流体に浸漬された光ファイバとを有する測定装置を用いた測定方法であって、前記光源から光ファイバに光を導入することにより測定される前記光ファイバの長手方向に沿った温度分布に基づいて、前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長を求めるステップと、求められた前記浸漬長に基づいて、前記流体の流速を求めるステップとを有することを特徴とする測定方法。付記11付記10記載の測定方法において、前記浸漬長を求めるステップでは、前記光源から前記光ファイバに光を導入した際に前記光ファイバ内で後方散乱される光に基づいて、前記光ファイバの長手方向に沿った前記温度分布を測定することを特徴とする測定方法。付記12付記10又は11記載の測定方法において、前記温度分布に基づいて、前記流体の温度を求めるステップを更に有することを特徴とする測定方法。付記13付記10乃至12のいずれかに記載の測定方法において、前記測定部は、ケースを更に有し、前記光ファイバのうちの前記流体に浸漬された前記部分の両側の部分が、前記ケース内に位置することを特徴とする測定方法。付記14付記13記載の測定方法において、前記ケースには、前記変位部が変位する方向に沿うようにスリットが形成されており、前記光ファイバは、前記スリットを通るように配されることを特徴とする測定方法。付記15付記10乃至14のいずれかに記載の測定方法において、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を異ならせた複数の温度分布モデル関数を生成するステップを更に有し、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を求めるステップでは、所定の伝達関数を前記温度分布モデル関数に畳み込むことにより得られる演算結果と前記温度分布との相関に基づいて、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を求めることを特徴とする測定方法。付記16付記10乃至14のいずれかに記載の測定方法において、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を異ならせた複数の温度分布モデル関数を生成するステップを更に有し、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を求めるステップでは、所定の伝達関数を前記温度分布モデル関数に畳み込むことにより得られる演算結果における所定箇所の前記流体の温度と前記温度分布における前記所定箇所の前記流体の温度との一致に基づいて、前記光ファイバの前記流体への浸漬長を求めることを特徴とする測定方法。付記17付記10乃至14のいずれかに記載の測定方法において、前記測定装置は、前記測定部を複数有し、前記複数の測定部のうちの第1の測定部の前記変位部が変位する方向である第1の方向と、前記複数の測定部のうちの第2の測定部の前記変位部が変位する方向である第2の方向とが、互いに直交しており、前記流体の流速を求めるステップでは、前記第1の測定部における前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長に基づいて、前記第1の方向における前記流体の流速成分を求め、前記第2の測定部における前記光ファイバの前記流体への前記浸漬長に基づいて、前記第2の方向における前記流体の流速成分を求め、前記第1の方向における前記流体の流速成分と前記第2の方向における前記流体の流速成分とに基づいて前記流体の流速を求めることを特徴とする測定方法。"