光ディスクに記録再生が可能な複数の光ディスク装置から使用する光ディスク装置を選択する光ディスクライブラリ装置であって、前記複数の光ディスク装置を制御するライブラリ制御部と、前記複数の光ディスク装置の状態を監視し、前記光ディスク装置の使用頻度情報を含む自己監視情報を保存する光ディスク装置監視部と、を有し、光ディスク装置によって光ディスクに対する情報の記録又は再生を実施する前に、前記自己監視情報を前記光ディスク監視部から取得し、前記自己監視情報に含まれる使用頻度情報又は劣化情報に基づいて前記光ディスク装置の使用優先順位を評価し、前記使用優先順位に基づいて情報の記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。請求項1に記載の光ディスクライブラリ装置であって、前記自己監視情報に含まれる前記劣化情報には、レーザ微分係数、シーク失敗回数、再生エラー回数又は交替先記録回数のうち少なくとも1つが含まれることを特徴とする光ディスクライブラリ装置。光ディスクに記録再生が可能な複数の光ディスク装置から使用する光ディスク装置を選択する光ディスク装置選択方法であって、光ディスク装置が光ディスクに記録又は再生を実施する前に、前記複数の光ディスク装置の自己監視情報を取得する自己監視情報取得ステップと、前記自己監視情報に基づいて前記光ディスク装置の使用優先順位を評価する使用優先順位評価ステップと、前記使用優先順位に基づいて使用する光ディスク装置を選択する光ディスク装置選択ステップと、を含むことを特徴とする光ディスク装置選択方法。請求項3に記載の光ディスク装置選択方法であって、前記自己監視情報取得ステップで取得する自己監視情報には、前記光ディスク装置の使用頻度情報を含むことと、前記使用優先順位評価ステップは、前記使用頻度情報に基づき評価することを特徴とする光ディスク装置選択方法。光ディスクに記録再生が可能な複数の光ディスク装置から使用する光ディスク装置を選択する光ディスク装置選択方法であって、光ディスク装置が光ディスクに記録又は再生を実施する前に、前記複数の光ディスク装置の自己監視情報を取得する自己監視情報取得ステップと、前記自己監視情報に基づいて前記光ディスク装置の劣化状態を評価する劣化状態評価ステップと、前記自己監視情報に基づいて前記光ディスク装置の使用優先順位を評価する使用優先順位評価ステップと、前記使用優先順位に基づいて使用する光ディスク装置を選択する光ディスク装置選択ステップと、を含むことを特徴とする光ディスク装置選択方法。請求項5に記載の光ディスク装置選択方法であって、前記自己監視情報取得ステップで取得する自己監視情報には、前記光ディスク装置の使用頻度情報と劣化情報を含み、前記劣化状態評価ステップは、前記劣化情報に基づき評価し、劣化していると評価した光ディスク装置を選択しないよう制御し、前記使用優先順位評価ステップは、前記使用頻度情報に基づき評価することを特徴とする光ディスク装置選択方法。請求項5に記載の光ディスク装置選択方法であって、前記劣化状態評価ステップにおける、前記光ディスク装置の劣化状態を評価する際に用いる前記自己監視情報には、レーザ微分係数、シーク失敗回数、再生エラー回数又は交替先記録回数のうち少なくとも1つが含まれることを特徴とする光ディスク装置選択方法。光ディスクに記録再生が可能な複数の光ディスク装置から使用する光ディスク装置を選択する光ディスクライブラリ装置であって、前記複数の光ディスク装置を制御するライブラリ制御部と、前記複数の光ディスク装置の状態を監視し、前記光ディスク装置の記録使用時間及び再生使用時間に関する情報を含む自己監視情報を保存する光ディスク装置監視部とを有し、光ディスク装置によって光ディスクに対する情報の記録又は再生を実施する前に、前記自己監視情報を前記光ディスク監視部から取得し、前記自己監視情報に含まれる前記記録使用時間及び前記再生使用時間に関する情報に基づいて前記光ディスク装置の使用優先順位を評価し、前記使用優先順位に基づいて情報の記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。請求項8に記載の光ディスクライブラリ装置であって、前記光ディスク装置監視部が保存する前記自己監視情報には、前記光ディスク装置の劣化情報を含み、前記光ディスク装置の使用優先順位を評価する際、前記劣化情報に基づき評価し、劣化していると評価した光ディスク装置を選択しないよう制御することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。請求項9に記載の光ディスクライブラリ装置であって、前記自己監視情報に含まれる前記劣化情報には、レーザ微分係数、シーク失敗回数、再生エラー回数又は交替先記録回数のうち少なくとも1つが含まれることを特徴とする光ディスクライブラリ装置。光ディスク装置は、光ピックアップやスピンドルモータなど多数の部品で構成されており、光ディスクの情報記録又は情報再生などを行うことで、装置内の部品が劣化することで故障、又は動作が不安定になるため、部品の劣化状態を推測し装置寿命を管理する必要がある。特に、複数の光ディスク装置を使用した光ディスクライブラリ装置では、特定の光ディスク装置の使用頻度が高いことにより劣化した場合、劣化した光ディスク装置の信頼性が保障できないため光ディスクライブラリ装置全体の信頼性を損なう可能性がある。そのため、各光ディスク装置の使用状態又は劣化状態を評価、管理することが装置全体の信頼性を確保維持するために重要である。光ディスク装置の寿命を管理する技術としては、上記の特許文献1及び3があり、光ディスク装置の寿命を検知することで使用禁止又は書き込み動作を禁止する処理を行なっているが、寿命に至るまでに情報の記録又は再生に使用する光ディスク装置の選択を制御する点については考慮されていない。ハードディスク装置における使用頻度均等化に関して特許文献3があるが、使用履歴としてハードディスク装置のロード回数等を評価することに留まり、光ディスク装置に応じた項目や劣化状態等を評価することは考慮されいない。上記の課題を解決するため、本発明では一例として特許請求の範囲記載の構成を用いる。本発明によると、データの記録または再生に使用する光ディスク装置を適切に選択することにより、特定の光ディスク装置への使用頻度の偏りを防ぎ、光ディスクライブラリ装置全体の信頼性を確保することができる。以下、本発明を実施するための形態について図を用いて説明する。本発明の第1の実施例としての光ディスクライブラリ装置の構成ならびに動作を、図面を参照しながら記述する。図1は第1実施例における光ディスクライブラリ装置のブロック図である。本実施例の光ディスクライブラリ装置10は、ライブラリ制御部11と、チェンジャー機構12と、光ディスク40を複数収納するラック13と、ホストインターフェース14と、ドライブインターフェース15と光ディスク装置監視部16と、光ディスク監視データベース17と、光ディスク装置監視データベース18と、複数の光ディスクドライブ30とで構成される。光ディスクライブラリ装置10は、ホストインターフェース14を介してホストコンピュータ20と接続され、記録や再生といった各種コマンドと記録するデータを受信し、コマンドの実行結果と再生したデータを送信する。ラック13は複数のスロットを備えており、各スロットには1枚ずつ光ディスク40を収納することができる。ライブラリ制御部11は光ディスクライブラリ装置10の動作全般を制御する機能を備えており、チェンジャー機構12を動作させてラック13から所定の光ディスク40を取り出し、所定の光ディスク装置30まで搬送して挿入する。あるいは逆に、所定の光ディスク装置30から排出された光ディスク40を、ラック13の所定のスロットに搬送して収納する。また、ドライブインターフェース15を介して各光ディスク装置30と接続されており、所定の光ディスク装置30に対して記録や再生といった各種コマンドと記録するデータを送信し、コマンドの実行結果と再生したデータおよび後述する自己監視情報を受信する。また、ライブラリ制御部11にある光ディスク装置選択部17では、光ディスク装置監視部16を介して各光ディスク装置30の使用頻度情報又は劣化情報を評価し、それらに応じた処理を行う。光ディスク装置監視部16は、ライブラリ制御部11から受け取った自己監視情報に基づいて、すべての光ディスク装置30の使用頻度情報、劣化情報を評価し、管理する機能を備えている。また、評価結果をライブラリ制御部11に渡す。光ディスク装置監視データベース18は光ディスク装置監視部16が各々の光ディスク装置30の状態を管理するためのデータベースである。データベースは光ディスク装置監視部16によって情報の更新と読み出しが行われる。図2は第1実施例における光ディスク装置30のブロック図である。本実施例の光ディスク装置30はドライブ制御部31と、光ピックアップ32と、ドライブメモリ33と、コントローラインターフェース34と、自己監視情報記録部35と、ディスク回転機構50と、スライダ機構51と、サーボ制御部52と、サーボ信号生成部53と、再生信号生成部54と、再生信号2値化部55と、エンコーダ部56と、デコード部57で構成される。ドライブ制御部31は、光ディスク30の動作全般を制御する。即ち、サーボ制御部52を介して、ディスク回転機構50に装着された光ディスク40の回転制御を行い、スライダ機構51を駆動して光ピックアップ32を光ディスク40の半径方向に変位させるシーク制御及び送り制御を行い、光ピックアップ32の対物レンズを駆動してフォーカス制御及びトラッキング制御を行う。また、ドライブ制御部31は、光ピックアップ32のレーザ発光を制御する。記録時には、コントローラインターフェース34を介してライブラリ制御部11から送られてきた記録データ信号を、エンコード部56で所定の変調規則によるNRZI信号に変換してドライブ制御部31に供給し、ドライブ制御部31はこのNRZI信号に対応した記録ストラテジ発光パルスに変換し、所定の光強度およびパルス列でレーザを発光させる。光ディスク40からの反射光量は光ピックアップ32の光検出器で受光されて電気信号に光電変換され、サーボ信号生成部53と再生信号生成部54に送られる。サーボ信号生成部53は、装着された光ディスク40に好適な検出方法で各種のサーボ信号を選択して生成し、ドライブ制御部31に供給する。サーボ信号には少なくともフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号とが含まれる。ドライブ制御部31は、これらサーボ信号に基づき、前述したようにサーボ制御部52を介して対物レンズを駆動し、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボを動作させる。再生信号生成部54は、波形等化回路とA/Dコンバータとを備えており、光ピックアップ32から供給されたアナログの再生信号に対して、所定の波形等化の後、標本化および量子化を行ってディジタル信号に変換し、再生信号2値化部55に供給する。再生信号2値化部55は、トランスバーサルフィルタと、ビタビ復号回路を備える。再生信号生成部54から供給されたディジタル信号はトランスバーサルで所定のPRクラスに等化され、ビタビ復号回路で最尤復号を行って、この等化波形を所定の変調規則に基づくNRZI信号に変換する。再生信号2値化部55で生成されたNRZI信号は、デコーダ部57によってデータの訂正処理などを行って再生データ信号に変換され、コントローラインターフェース34を介してライブラリ制御部11に送られる。またドライブ制御部31は、自己監視情報記録部35を介して、光ディスク装置30の自己監視情報を、各自己監視情報に関するイベントが発生する毎にドライブメモリ33に記録する。自己監視情報は、光ディスク装置30のパワーオン時間、レーザ発光時間、レーザ微分係数I-L特性の傾き、ディスク回転機構の起動時間、シーク動作回数と距離、光ディスク40の挿入/排出回数、記録時間とブロック数、再生時間とブロック数など、光ディスク装置の使用履歴や状態及び性能に関する各種データである。第1実施例の光ディスクライブラリ装置が使用する光ディスク装置を選択する処理動作について、図3と図4のフローチャートを使用し、詳細に説明する。ライブラリ制御部11はホストコンピュータ20から発行された記録又は再生の命令を受け取るとS100、記録又は再生処理を実行するために、ライブラリ制御部11にある光ディスク装置選択部17により使用する光ディスク装置30を選択するS110。ここでは、複数の光ディスク装置30便宜上、装置A~Dの4台から使用する光ディスク装置30を選択する例で説明する。光ディスク装置選択部17は、光ディスク装置監視部16を介して光ディスク装置監視データベース18にある各光ディスク装置の自己監視情報を取得するS111。この自己監視情報には、使用頻度情報を利用する。使用頻度情報の例としては、パワーオン時間、レーザ発光時間、ディスク回転機構の起動時間、シーク動作回数と距離、光ディスク40の挿入/排出回数などがある。光ディスク装置30を構成する各々の部品又は動作には仕様があるため、これらの情報を利用し、各光ディスク装置30の使用優先順位を評価し、管理するS112。以下に評価方法の例として、図5に記載のパワーオン時間、レーザ発光時間、ディスク回転機構の起動時間の3項目ついて評価を行う場合について説明する。各項目の仕様値、自己監視情報値は図5を参照し、例えば下記の計算式数1を利用し、比較可能にするための規格化行う。計算式数1は、使用時間が長くなることで自己監視情報値が増加するため、規格値Mは大きな値になる。各光ディスク装置30装置A~Dについて、上記式数1により算出した規格値Ma、Mb、Mc、Mdの比較を行うことで、優先順位の評価を行う。例えば、規格値の関係がMa>Mb>Mc>Mdの場合、光ディスク装置30の優先順位の評価結果は装置D、装置C、装置B、装置Aの順になる。ここで、下記条件数2を適用することも可能である。条件数2を適用した場合、仕様値を超えた光ディスク装置30の使用を防ぐことが可能である。上記では3項目について評価する例を説明したが、例えば1項目の場合は計算式数3、5項目の場合は計算式数4を利用することで算出できる。さらに、上記計算式では加算により規格化を行ったが、計算式数5にように乗算により規格化してもよい。1項目又は複数の項目を使用する場合については、省略する。次に、S112の評価結果を参照し使用する光ディスク装置30を選択する。例えば、前述した規格値の関係がMa>Mb>Mc>Mdの場合、光ディスク装置30の優先順位の評価結果は装置D、装置C、装置B、装置Aの順になる。この場合、最も優先順位の高い光ディスク装置30は装置Dとなり、使用する光ディスク装置30として選択される。ここで、記録又は再生処理を実行している光ディスク装置30がある例について、光ディスク装置30の優先順位の評価結果が装置D、装置C、装置B、装置Aの順になった場合で説明する。例えば、装置Dと装置Cが記録又は再生処理を実行している場合、使用する光ディスク装置30は、装置Bが選択される。さらに、記録又は再生処理を実行している光ディスク装置30がある場合、S111の自己監視情報受信時に除外する方法、S112の優先順位評価時に除外する方法も可能であるが、説明は省略する。使用する光ディスク装置30が選択されると、チェンジャー機構12を動作させてラック13から所定の光ディスク40を取り出し、選択された光ディスク装置30まで搬送して挿入するS120。そして、ホストコンピュータ20から発行された記録又は再生の命令を実行しS130、実行後に自己監視情報の更新を行うS140。自己監視情報の更新においては、光ディスク装置30は自己監視情報を更新してライブラリ制御部11に送信し、ライブラリ制御部11は受け取った自己監視情報を光ディスク装置監視部16に渡し、光ディスク監視データベース18の更新を行う。次回光ディスク装置選択時には、更新された自己監視情報を使用できる。以上に述べたように、本発明の第1実施例によれば、光ディスクライブラリ装置において、各々の光ディスク装置の使用頻度情報を基に使用優先順位を評価することで、光ディスクの使用状態の均等化を図ることが可能である。第1実施例において、各々の光ディスク装置30の使用頻度情報を基に光ディスク装置30の選択を行った。しかし、光ディスク装置30には装置毎の個体差、又は環境による不慮の劣化などがある。この場合、使用頻度情報のみでは劣化状態が把握できないため、自己監視情報として劣化情報を使用して光ディスク装置30の選択を行う。他の構成は、第1実施例と同様であり、説明は省略する。第2実施例の光ディスクライブラリ装置が使用する光ディスク装置を選択する処理動作について、図6のフローチャートを使用し、詳細に説明する。S114において、各光ディスク装置の自己監視情報として使用頻度情報と劣化情報の取得を行う。劣化情報の例としては、レーザ微分係数I-L特性の傾き、シーク失敗回数、再生エラー回数、交替先記録回数などがある。光ディスク装置30を構成する各々の部品が劣化傾向にあるとき、これらの情報から劣化状態を評価するS115。以下に評価方法の例として、図7に記載のレーザ微分係数、シーク失敗回数、再生エラー回数、交替先記録回数の4項目ついて評価を行う場合について説明する。レーザ微分係数は、式数6のように初期値からの変化率に対して閾値を設定することで、レーザの劣化状態を察知することが可能である。シーク失敗回数、再生エラー回数、交替先記録回数では、初期値からの増加回数に対して閾値を設定することで、光ディスク装置30全体の劣化状態を察知することができる。上記記載の4項目に対して閾値を超えた項目がある場合、劣化状態にある光ディスク装置30を評価し、選択しない制御を行う。そして、すべての項目で閾値範囲内の光ディスク装置30に対して優先順位の評価を行う。優先順位の評価S116と光ディスク装置30の選択は第1実施例と同様であり、省略する。以上に述べたように、本発明の第2実施例によれば、光ディスクライブラリ装置において、各々の光ディスク装置の劣化情報を評価することで、不慮の劣化を察知することが可能になる。本実施例においては、各光ディスク装置の自己監視情報として使用時間を用いて優先順位の評価を行う例について説明をする。装置構成自体は実施例1と同様であるため説明を省略する。光ディスク装置がレーザ発光を行う場合、その使用時間に従って、レーザダイオードの劣化が生じる。さらに、当該劣化はレーザパワーに応じて劣化が進むため、光ディスク使用時間のみを把握しても、適切な評価を行うことはできない。そこで、本実施例では、光ディスク装置において記録用レーザパワーと再生用レーザパワーとが異なる点を考慮して、使用する光ディスクの優先順位を評価する。第3実施例の光ディスクライブラリ装置が使用する光ディスク装置を選択する処理動作について、図8のフローチャートに基づき、詳細に説明する。S118において、各光ディスク装置の自己監視情報としてデータ記録に使用された時間以下、記録使用時間と称する。に関する情報及びデータ再生に使用された時間以下、再生使用時間と称する。に関する情報の取得を行う。S119において、取得した各光ディスク装置の記録使用時間及び再生使用時間に関する当該情報から、優先順位の評価を行う。より具体的には、例えば、光ディスク装置においてデータ記録時のレーザパワーの方が、データ再生時のレーザパワーよりも大きいことに着目し、記録使用時間には所定の係数Aを乗じて、再生使用時間には所定の係数Bを乗じ、且つA>Bの関係とし、両者の和を評価することで、実質的な合計使用時間以下、実質使用時間評価値と称する。の評価を行う。すなわち、レーザパワーの高い記録時にはレーザダイオードの劣化度合いが大きくなる点を考慮し、光ディスク使用時間を評価する際、記録使用時間と再生使用時間とで、記録使用時間への重み付けを大きくして評価を行う。これにより、単に光ディスク装置の使用時間を評価する場合に比べ、より適切にレーザダイオードへの負荷を分散させることができ、各光ディスク装置の寿命を均等化することができる。S11Aでは、上記S119で評価した使用時間に基づき、記録使用時間への重み付けを考慮した上記実質使用時間評価値の低いすなわち、実質的な使用時間が少ない光ディスク装置を優先して選択する。なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。例えば、上述した第3の実施例において、第2の実施例の構成を加え、図9に示す処理を行ってもよい。図9では、S11Cにおいて、実施例2で述べた光ディスク装置の劣化状態の評価を行う。さらに、S11Dにおいて、各光ディスク装置の記録使用時間及び再生使用時間に関する当該情報から、優先順位の評価を行う。上記S11Cにおいて、実施例2において説明した劣化状態を示す項目で閾値を超えた項目がある場合、S11Eでは劣化状態にある光ディスク装置を選択しない制御を行った上で、残りの各光ディスク装置から上記実質使用時間評価値の低いすなわち、実質的な使用時間が少ない光ディスク装置を優先して選択するようにしてもよい。このように、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。