"パルス光を出力する光源と、物理量を検知するセンシングファイバ、および前記センシングファイバと伝搬遅延時間τdが等しい遅延補償ファイバを有し、前記光源からのパルス光を干渉させる干渉計と、前記干渉計からの干渉光をサンプリングして前記物理量に対応する測定信号を検出する検出部と、を備え、前記光源は、前記センシングファイバに前記パルス光が入力してから出力されるまでの伝搬遅延時間τdより短い周期で、前記パルス光を出力し、前記検出部は、前記センシングファイバの前記伝搬遅延時間τdより短い周期で、前記干渉光をサンプリングすることを特徴とする干渉型光ファイバセンサシステム。前記センシングファイバは、前記物理量によって前記パルス光を位相変調し、前記検出部は、前記物理量に応じて設定される周期であって、1周期における前記パルス光の位相変化量がπ[rad]以下となるサンプリング周期τcで、前記干渉光をサンプリングすることを特徴とする請求項1記載の干渉型光ファイバセンサシステム。前記干渉計は、前記光源から出力される前記パルス光を分岐して、前記センシングファイバを経たパルス光と、前記遅延補償ファイバを経たパルス光とを干渉させ、前記干渉させた干渉光と、前記センシングファイバと前記遅延補償ファイバとの何れも経ていない前記パルス光、および、前記センシングファイバと前記遅延補償ファイバとの何れも経た前記パルス光、の少なくとも一方のパルス光と、を前記検出部に出力し、前記光源は、前記干渉光のパルス間に、前記センシングファイバと前記遅延補償ファイバとの何れも経ていない前記パルス光、および、前記センシングファイバと前記遅延補償ファイバとの何れも経た前記パルス光、の少なくとも一方が配置されるように、前記パルス光を出力する周期を設定したことを特徴とする請求項1または2記載の干渉型光ファイバセンサシステム。前記光源は、前記干渉光のパルス間に、前記センシングファイバと前記遅延補償ファイバとの何れも経ていない前記パルス光と、前記センシングファイバと前記遅延補償ファイバとの何れも経た前記パルス光とが重畳されるように、前記パルス光を出力する周期を設定したことを特徴とする請求項3記載の干渉型光ファイバセンサシステム。前記光源は、前記干渉光のパルス間に、前記センシングファイバと前記遅延補償ファイバとの何れも経ていない前記パルス光と、前記センシングファイバと前記遅延補償ファイバとの何れも経た前記パルス光とが重畳しないように、前記パルス光を出力する周期を設定したことを特徴とする請求項3記載の干渉型光ファイバセンサシステム。前記検出部は、前記干渉光を検出する時間幅τsが、次式1を満たすように設定し、前記センシングファイバの伝搬遅延時間τdの間に前記干渉光をサンプルする数Niが、次式2aまたは2bを満たすように設定し、前記光源は、出力する前記パルス光のパルス幅が、前記時間幅τs以下であることを特徴とする請求項1~5の何れか1項に記載の干渉型光ファイバセンサシステム。ここで、NTは、2以上の整数である。τcは、前記物理量に応じて設定される周期であって、1周期における前記パルス光の位相変化量がπ[rad]以下となるサンプリング周期である。τdは、前記センシングファイバの伝搬遅延時間である。前記干渉計は、前記センシングファイバを複数備え、前記光源から出力される前記パルス光を、各センシングファイバそれぞれに分岐して、前記各センシングファイバを経たパルス光と、前記遅延補償ファイバを経たパルス光とを干渉させ、それぞれの干渉光を時分割多重して前記検出部に出力し、前記検出部は、前記各センシングファイバの前記伝搬遅延時間τdより短い周期で、前記時分割多重された各干渉光をそれぞれサンプリングすることを特徴とする請求項1または2記載の干渉型光ファイバセンサシステム。前記干渉計は、前記各センシングファイバに分岐された前記パルス光をそれぞれ遅延させる遅延ファイバを備え、前記光源は、前記干渉光のパルス間に、他の前記干渉光が配置されるように、前記パルス光を出力する周期を設定したことを特徴とする請求項7記載の干渉型光ファイバセンサシステム。前記検出部は、前記干渉光を検出する時間幅τsが、次式3を満たすように設定し、前記センシングファイバの伝搬遅延時間τdの間に前記干渉光をサンプルする数Niが、次式4aまたは4bを満たすように設定し、前記光源は、出力する前記パルス光のパルス幅が、前記時間幅τs以下であることを特徴とする請求項1、2、7、8の何れか1項に記載の干渉型光ファイバセンサシステム。ここで、NTは、2以上の整数である。Nmは、時分割多重する干渉光の数である。τcは、前記物理量に応じて設定される周期であって、1周期における前記パルス光の位相変化量がπ[rad]以下となるサンプリング周期である。τdは、前記センシングファイバの伝搬遅延時間である。前記検出部は、前記干渉計からの前記物理量に対応する測定信号を含む干渉光を、電気信号に変換する変換器と、前記電気信号から正弦波成分および余弦波成分を抽出し、前記正弦波成分および前記余弦波成分を用いて逆正接演算を行い、前記逆正接演算結果が不連続となっている場合、不連続点を連結して前記測定信号を検出する復調器と、を備えたことを特徴とする請求項1~7の何れか1項に記載の干渉型光ファイバセンサシステム。センシングファイバ11aの感度が高い場合、センシングファイバ11aに入力する信号φの振幅が大きい場合、またはセンシングファイバ11aに入力する信号φの周波数が高い場合、センシングファイバ11aで変調された光の位相変化が速くなる。復調の際には、O/E変換器33から出力される干渉パルスが繰返し得られる周期でサンプリングして位相復調するため、サンプリング1周期の間の光の位相変化がπ[rad]を超えると復調できなくなる。このように復調が正しくできなくなる一例を図7に示す。図7は正弦波信号が入力した場合の出力波形の例を示す図である。実線は位相φに換算した入力信号、●は離散的に得られる出力である。例1は正常に入力信号を検出している例、例2は入力信号の周波数が高いために復調できなくなった例である。例2の図中に符号Aで示した2つ目の出力は、図中に矢印で示した2つ目の出力のタイミングの入力が1つ目の出力からπ[rad]を超えたため、不連続点の連結が正しく働かなくなり、結果として入力と異なる波形を出力することを示している。従来の技術においては、正常な復調を補償するため、検出できる信号の振幅や周波数に制限を設けるか、位相変化速度が復調できる範囲におさまるようにセンシングファイバの感度を抑えなければならなかった。特に、センシングファイバを長くして感度を高くする場合に、サンプリング周期は長くなり、信号の位相変化は速くなるため、避けがたい問題となった。この発明に係る干渉型光ファイバセンサシステムは、パルス光を出力する光源と、物理量を検知するセンシングファイバ、および前記センシングファイバと伝搬遅延時間τdが等しい遅延補償ファイバを有し、前記光源からのパルス光を干渉させる干渉計と、前記干渉計からの干渉光をサンプリングして前記物理量に対応する測定信号を検出する検出部と、を備え、前記光源は、前記センシングファイバに前記パルス光が入力してから出力されるまでの伝搬遅延時間τdより短い周期で、前記パルス光を出力し、前記検出部は、前記センシングファイバの前記伝搬遅延時間τdより短い周期で、前記干渉光をサンプリングするものである。この発明に係る干渉型光ファイバセンサシステムは、信号の復調を可能とする位相変化速度を向上することができる。実施の形態1.構成図1は実施の形態1に係る干渉型光ファイバセンサシステムの構成とパルス波形を示す図である。本実施の形態1における干渉型光ファイバセンサシステムは、復調方式にPGC方式を用いるものである。以下、上述した従来技術1との相違点を中心に説明する。本実施の形態1における干渉型光ファイバセンサシステムは、従来技術1と同様に、パルス光を発生するパルス光源1と、パルス光源1からのパルス光を干渉させる干渉計5と、PGC信号を発生するPGC信号発生器40と、干渉光を電気信号に変換するO/E変換器33と、物理量に対応する信号φの抽出等を行う復調器70と、を備えている。干渉計5は、光ファイバ1a、光カプラ10、センシングファイバ11a、リファレンスファイバ11b、ミラー12a、12b、光ファイバ10a、遅延補償ファイバ30a、光ファイバ30b、ミラー31a、31b、光カプラ32、圧電子34、および光ファイバ32aにより構成される。センシングファイバ11aは、物理量によってパルス光を位相変調する。遅延補償ファイバ30aは、その伝搬遅延時間が、センシングファイバ11aにパルス光が入力してから出力されるまでの伝搬遅延時間τdと等しく設定されている。干渉計5は、パルス光源1から出力されるパルス光を光カプラ10で分岐して、センシングファイバ11aを経たパルス光経路ABDFGと、遅延補償ファイバ30aを経たパルス光経路ACDEGとを干渉させ、干渉光以下干渉パルスともいうをO/E変換器33に出力する。また、センシングファイバ11aと遅延補償ファイバ30aとの何れも経ていないパルス光経路ABDEG、および、センシングファイバ11aと遅延補償ファイバ30aとの何れも経たパルス光経路ACDFGもO/E変換器33に出力する。パルス波形の詳細は後述する。復調器70は、AM復調器51a、AM復調器51b、逆正接演算器53、不連続点補償演算器54を備える。復調器70では、O/E変換器33の出力から、干渉光に含まれる信号φの正弦波成分sinφおよび余弦波成分cosφを抽出し、正弦波成分および余弦波成分を用いて逆正接演算を行い、逆正接演算結果が不連続となっている場合、不連続点を連結して信号φを検出する。なお、信号φは、本発明における測定信号に相当する。なお、O/E変換器33および復調器70は、本発明における検出部を構成する。本実施の形態におけるパルス光源1は、従来技術1と比較して、パルス繰返し周期が速いものを用いる。また、O/E変換器33は、従来技術1と比較して、繰返し周期の速いパルスに対応するため出力周波数帯域が広いものを用いる。また、復調器70は、従来技術1と比較して、干渉パルスを速くサンプリングして処理できるものを用いる。また、PGC信号発生器40、圧電子34、および復調器70は、従来技術1と比較して、高い周波数のPGCが扱えるものを用いる。本実施の形態におけるセンシングファイバ11aおよび遅延補償ファイバ30aには、従来技術1と比較して、長いものを用いることができる。即ち、従来技術1と比較して、感度が高いものを用いることができる。ここで、本実施の形態におけるパルス光源1が出力するパルス光の周期と、センシングファイバ11aの伝搬遅延時間τdとの関係は次のように設定している。パルス光源1は、センシングファイバ11aにパルス光が入力してから出力されるまでの伝搬遅延時間τdより短い周期で、パルス光を出力する。そして、復調器70では、センシングファイバ11aの伝搬遅延時間τdより短い周期で、干渉光をサンプリングする。例えば、復調器70での干渉光のサンプリングは、上記伝搬遅延時間τdより短い周期であって、且つ、1周期におけるパルス光の位相変化量がπ[rad]以下となるサンプリング周期τcとする。このサンプリング周期τcは、物理量に応じて設定される周期である。例えば、測定対象の物理量においての使用環境等で想定される、センシングファイバ11aでの位相変化速度が最高となるときに、1周期におけるパルス光の位相変化量がπ[rad]以下となる周期である。また、復調器70で干渉パルスの一つ一つを検出する時間幅τsを、次式1を満たすように設定する。また、センシングファイバ11aの伝搬遅延時間τdの間に干渉光をサンプルする数Niを、次式2aまたは2bを満たすように設定する。ここで、NTは、2以上の整数である。τcは、物理量に応じて設定される周期であって、1周期におけるパルス光の位相変化量がπ[rad]以下となるサンプリング周期である。τdは、センシングファイバ11aの伝搬遅延時間である。また、パルス光源1から出力するパルス光のパルス幅は通常、時間幅τs以下にする。図1に示したパルス波形は2a式の条件でNT=2、Ni=3とした一例である。次に、図1のパルス波形例により本実施の形態における動作を説明する。動作図1のパルス波形は、各経路を通過したパルス光の波形を示している。Aは、パルス光源1の出力であるAの位置を通過するパルス波形である。パルス光源1から出力される順に1,2,3の番号を付与した。パルス波形ABDEGは、O/E変換器33に入力するパルス波形Gの内、経路ABDEGを伝搬した成分である。到達する順にa1,a2,a3の番号を付与した。パルス波形ABDFG、パルス波形ACDEG、パルス波形ACDFGもそれぞれの経路を伝搬してO/E変換器33に入力するパルスの成分であり、到達する順に番号を付与した。パルス光源1からO/E変換器33までの各構成部の動作は従来技術1と同様に動作する。ただし、本実施の形態においては、パルス光源1から出力の繰返し周期がセンシングファイバ11aおよび遅延補償ファイバ30aの伝搬遅延時間τdより短いため、最初は経路ABDEGを伝搬したパルスaii=1,2,3だけがO/E変換器33から出力される。次にABDFGを伝搬したパルスbii=1,2,3とACDEGを伝搬したパルスcii=1,2,3とが干渉した干渉パルスbicii=1,2,3が出力される。次にACDFGを伝搬したパルスdii=1,2,3がaiに重なり、重畳したパルス光ai7dii=1,2,3が出力される。パルスd1が出力された後は長い空き時間がないパルス列が構成される。このように、本実施の形態におけるパルス光源1が出力するパルス光の周期は、干渉光のパルス間に、センシングファイバ11aと遅延補償ファイバ30aとの何れも経ていないパルス光経路ABDEGと、センシングファイバ11aと遅延補償ファイバ30aとの何れも経たパルス光経路ACDFGとが重畳されるように設定している。復調器70は、パルス波形Gで表されるパルス列から、bicii=1,2,3の干渉パルスを抽出して復調する。そして、物理量に対応する信号φを出力する。復調の動作は例えば従来技術1と同様である。なお、PGCの周波数は検出する信号の振幅と周波数に応じて設定する。効果以上のように本実施の形態においては、センシングファイバ11aの伝搬遅延時間τdより短い周期でパルス光源1からパルス光を出力し、センシングファイバ11aの伝搬遅延時間τdより短い周期で、干渉光をサンプリングする。このため、信号φの復調を可能とする位相変化速度を向上することができる。よって、振幅が大きく周波数が高い信号を検出できる。また、センシングファイバ11aの感度を高くすることができる。また、1周期におけるパルス光の位相変化量がπ[rad]以下となるサンプリング周期τcで干渉光をサンプリングするので、信号φの復調を正常に行うことができる。また、干渉光のパルス間に、センシングファイバ11aと遅延補償ファイバ30aとの何れも経ていないパルス光と、センシングファイバ11aと遅延補償ファイバ30aとの何れも経たパルス光とが重畳されるように、パルス光を出力する周期を設定した。このため、信号φの復調に用いる干渉光bici以外のパルス光を重畳させることができ、復調に必要な干渉パルスが得られる周期を最短にできるため、復調できる振幅および周波数を最大にできる。また、干渉光を検出する時間幅τsが、上記式1を満たすように設定し、センシングファイバ11aの伝搬遅延時間τdの間に干渉光をサンプルする数Niが、上記式2aまたは2bを満たすように設定した。また、パルス光源1から出力するパルス光のパルス幅が、時間幅τs以下である。このため、センシングファイバの伝搬遅延時間τdより短い周期でパルス光源1からパルス光を出力して復調器70でサンプリングしても、ABDFGを伝搬したパルス光とACDEGを伝搬したパルス光とが干渉した干渉パルスbiciに、当該パルス光以外の別のパルス光が干渉することがない。よって、雑音が発生したり正常に動作しなくなることを防止でき、振幅が大きく周波数が高い信号を検出できる。また、NT=2とすることで、ABDEGを伝搬したパルスaiとACDFGを伝搬したパルスdii=1,2,3とが重なり、復調に必要な干渉パルスbiciが得られる周期を最短にできるため、復調できる振幅および周波数を向上することができる。また、干渉パルスbicii=1,2,3は光源から出力した同一のパルスが分岐したパルスであるため、レーザの位相雑音が最小になる条件を満たしている。また、干渉パルスbicii=1,2,3のパルス間前後には、パルス光源1から出力した、別のパルスパルスaidiが配置されるため、パルス列においてパルスがない空き時間を短くすることができ、パルス光源1、O/E変換器33などの構成部が応答する出力周波数帯域の範囲内で、効率の良い干渉パルスのサンプリングが成されている。実施の形態2.構成図2は実施の形態2に係る干渉型光ファイバセンサシステムの構成とパルス波形を示す図である。本実施の形態2における干渉型光ファイバセンサシステムは、復調方式にヘテロダイン方式を用いるものである。以下、上述した従来技術2との相違点を中心に説明する。本実施の形態2における干渉型光ファイバセンサシステムは、従来技術2と同様に、パルス光を発生するパルス光源1と、パルス光源1からのパルス光を干渉させる干渉計5と、オシレータ26と、干渉光を電気信号に変換するO/E変換器33と、物理量に対応する信号φの抽出等を行う復調器72と、を備えている。干渉計5は、光ファイバ1a、光カプラ20、遅延補償ファイバ20a、光周波数シフタ22、光カプラ23、光ファイバ23a、光カプラ10、センシングファイバ11a、リファレンスファイバ11b、ミラー12a、12b、および光ファイバ10aにより構成される。センシングファイバ11aは、物理量によってパルス光を位相変調する。遅延補償ファイバ20aは、その伝搬遅延時間が、センシングファイバ11aにパルス光が入力してから出力されるまでの伝搬遅延時間τdと等しく設定されている。干渉計5は、パルス光源1から出力されるパルス光を光カプラ20で分岐して、一方のパルス光を遅延補償ファイバ20aにより遅延させ、もう一方のパルス光の周波数を光周波数シフタ22によりシフトさせてから光カプラ23で結合する。さらに光カプラ10でパルス光を分岐して、センシングファイバ11aを経たパルス光経路ABDFGと、遅延補償ファイバ20aを経たパルス光経路ACDEGとを干渉させ、干渉光以下干渉パルスともいうをO/E変換器33に出力する。また、センシングファイバ11aと遅延補償ファイバ20aとの何れも経ていないパルス光経路ABDEG、および、センシングファイバ11aと遅延補償ファイバ20aとの何れも経たパルス光経路ACDFGもO/E変換器33に出力する。パルス波形の詳細は後述する。復調器72は、同期検波器56a、同期検波器56b、逆正接演算器53、不連続点補償演算器54を備える。復調器72では、O/E変換器33の出力から、干渉光に含まれる信号φの正弦波成分sinφおよび余弦波成分cosφを抽出し、正弦波成分および余弦波成分を用いて逆正接演算を行い、逆正接演算結果が不連続となっている場合、不連続点を連結して信号φを検出する。なお、O/E変換器33および復調器72は、本発明における検出部を構成する。本実施の形態におけるパルス光源1は、従来技術2と比較して、パルス繰返し周期が速いものを用いる。また、O/E変換器33は、従来技術2と比較して、繰返し周期の速いパルスに対応するため出力周波数帯域が広いものを用いる。また、復調器72は、従来技術2と比較して、干渉パルスを速くサンプリングして処理できるものを用いる。また、光周波数シフタ22、および復調器は、従来技術2と比較して、高い周波数の光ビートが扱えるものを用いる。本実施の形態におけるセンシングファイバ11aおよび遅延補償ファイバ20aには、従来技術2と比較して、長いものを用いることができる。即ち、従来技術1と比較して、感度が高いものを用いることができる。パルス光源1が出力するパルス光の周期の条件は、上記実施の形態1と同様である。復調器72で干渉パルスの一つ一つを検出する時間幅τs、および、センシングファイバ11aの伝搬遅延時間τdの間に干渉光をサンプルする数Niの設定は、上記実施の形態1と同様である。ただし、NTは3以上に設定する。パルス光源1から出力するパルス光のパルス幅は通常、時間幅τs以下にする。図2に示したパルス波形は2a式の条件でNT=3、Ni=3とした一例である。次に、図2のパルス波形例により本実施の形態における動作を説明する。動作図2のパルス波形は、各経路を通過したパルス光の波形を示している。Aは、パルス光源1の出力であるAの位置を通過するパルス波形である。パルス光源1から出力される順に1,2,3の番号を付与した。パルス波形ABDEGは、O/E変換器33に入力するパルス波形Gの内、経路ABDEGを伝搬した成分である。到達する順にa1,a2,a3の番号を付与した。パルス波形ABDFG、パルス波形ACDEG、パルス波形ACDFGもそれぞれの経路を伝搬してO/E変換器33に入力するパルスの成分であり、到達する順に番号を付与した。パルス光源1からO/E変換器33までの各構成部の動作は従来技術2と同様に動作する。ただし、本実施の形態においては、パルス光源1から出力の繰返し周期がセンシングファイバ11aおよび遅延補償ファイバ20aの伝搬遅延時間τdより短いため、最初は経路ABDEGを伝搬したパルスaii=1,2,3だけがO/E変換器33から出力される。次にABDFGを伝搬したパルスbii=1,2,3とACDEGを伝搬したパルスcii=1,2,3とが干渉した干渉パルスbicii=1,2,3が出力される。次にACDFGを伝搬したパルスdii=1,2,3が出力される。上記実施の形態1のパルス列との違いは、経路ABDEGを伝搬したパルスと経路ACDEGを伝搬したパルスとが重ならないことである。このように、本実施の形態におけるパルス光源1が出力するパルス光の周期は、干渉光のパルス間に、センシングファイバ11aと遅延補償ファイバ20aとの何れも経ていないパルス光経路ABDEGと、センシングファイバ11aと遅延補償ファイバ20aとの何れも経たパルス光経路ACDFGとが重畳しないように設定している。復調器72は、パルス波形Gで表されるパルス列から、bicii=1,2,3の干渉パルスを抽出して復調する。そして、物理量に対応する信号φを出力する。復調の動作は例えば従来技術2と同様である。なお、光ビート光周波数シフタ22でシフトする周波数の成分の周波数は検出する信号の振幅と周波数に応じて高い周波数に設定する。効果本実施の形態においても、上記実施の形態1と同様に、信号φの復調を可能とする位相変化速度を向上することができる。よって、振幅が大きく周波数が高い信号を検出できる。また、センシングファイバ11aの感度を高くすることができる。また、1周期におけるパルス光の位相変化量がπ[rad]以下となるサンプリング周期τcで干渉光をサンプリングするので、信号φの復調を正常に行うことができる。また、センシングファイバの伝搬遅延時間τdより短い周期でパルス光源1からパルス光を出力して復調器72でサンプリングしても、ABDFGを伝搬したパルス光とACDEGを伝搬したパルス光とが干渉した干渉パルスbiciに、当該パルス光以外の別のパルス光が干渉することがない。よって、雑音が発生したり正常に動作しなくなることを防止でき、振幅が大きく周波数が高い信号を検出できる。また、干渉パルスbicii=1,2,3は光源から出力した同一のパルスが分岐したパルスであるため、レーザの位相雑音が最小になる条件を満たしている。また、干渉パルスbicii=1,2,3のパルス間前後には、パルス光源1から出力した、別のパルスパルスai、diが配置されるため、パルス列においてパルスがない空き時間を短くすることができ、パルス光源1、O/E変換器33などの構成部が応答する出力周波数帯域の範囲内で、効率の良い干渉パルスのサンプリングが成されている。また本実施の形態においては、NTを3以上に設定することで、ABDEGを伝搬したパルスaiとACDFGを伝搬したパルスdii=1,2,3とが重畳しない。このため、復調器72での抽出対象ではないパルスパルスai、diが干渉して光ビートを発生することがなく、O/E変換器33の群遅延で抽出対象ではないパルスが抽出対象のパルスに漏れることによる復調出力の雑音を低減することができる。実施の形態3.本実施の形態3では、上記実施の形態1におけるセンシングファイバを複数備え、時分割多重を用いた例を説明する。構成図3は実施の形態3に係る干渉型光ファイバセンサシステムの構成を示す図である。本実施の形態3における干渉計5は、パルス光源1から出力されるパルス光を、センシングファイバ111a、112aのそれぞれに分岐し、各センシングファイバを経たパルス光のそれぞれと、遅延補償ファイバ30aを経たパルス光とを干渉させ、それぞれの干渉光を時分割多重してO/E変換器33に出力する。そして、時分割多重化された干渉光は、復調器73によって、順次復調される。パルス光源1から出力されるパルス光は、光ファイバ1aを介して光カプラ141に入り、二つに分割される。分割された一方のパルス光は、光ファイバ141aを経由し、光カプラ101に入る。光カプラ101に入った光は、二つに分割され、一方はセンシングファイバ111aを通りセンシング光となり、もう一方は光ファイバ111bを通りリファレンス光となる。センシング光はセンシングファイバ111aを通過するときに、センシングファイバ111aに加わる信号φ1で位相変調される。この信号φ1は、前述のように、音響信号、磁気信号および加速度等がある。そして、センシング光はミラー121aで反射し、リファレンス光はミラー121bで反射する。反射したセンシング光とリファレンス光は、光カプラ101を経由して、光カプラ151に伝送される。ここで、センシング光はセンシングファイバ111aによる伝搬遅延のため、リファレンス光より遅延している。一方、光カプラ141で分割されたもう一方の光は、遅延ファイバ161により遅延し、光カプラ102に入った光は、二つに分割される。一方はセンシングファイバ112aを通りセンシング光となり、もう一方は光ファイバ112bを通りリファレンス光となる。ここで、光カプラ102から送られたセンシング光とリファレンス光は、遅延ファイバ161を通過しているため、光カプラ101から送られたセンシング光とリファレンス光より遅延している。これにより、各センシングファイバの信号を含み、時分割多重により分割された光が生成される。なお、本実施の形態3では、センシングファイバが2つの例で説明したが、センシングファイバが3つ以上ある場合も同様であり、多重化の数が増えるだけである。光カプラ32、遅延補償ファイバ30a、圧電子34、ミラー31a、31b、PGC信号発生器40、O/E変換器33の構成は、上記実施の形態1と同様である。復調器73は、AM復調器51a、AM復調器51b、逆正接演算器53、不連続点補償演算器54を備える。本実施の形態3の復調器73は、各センシングファイバ111a、112aの伝搬遅延時間τdより短い周期で、時分割多重された各干渉光をそれぞれサンプリングする。そして、時分割多重された各信号をそれぞれ復調する。復調動作は上記実施の形態1と同様である。なお、信号φ1、信号φ2は、本発明における測定信号に相当する。なお、O/E変換器33および復調器73は、本発明における検出部を構成する。本実施の形態におけるパルス光源1は、従来技術1と比較して、パルス繰返し周期が速いものを用いる。また、O/E変換器33は、従来技術1と比較して、繰返し周期の速いパルスに対応するため出力周波数帯域が広いものを用いる。また、復調器73は、従来技術1と比較して、干渉パルスを速くサンプリングして処理できるものを用いる。また、PGC信号発生器40、圧電子34、および復調器73は、従来技術1と比較して、高い周波数のPGCが扱えるものを用いる。本実施の形態におけるセンシングファイバ111a、112aおよび遅延補償ファイバ30aには、従来技術1と比較して、長いものを用いることができる。即ち、従来技術1と比較して、感度が高いものを用いることができる。ここで、本実施の形態におけるパルス光源1が出力するパルス光の周期と、センシングファイバ111a、112aの伝搬遅延時間τdと、遅延ファイバ161の伝搬遅延時間の関係は次のように設定している。パルス光源1は、上記実施の形態1と同様に、センシングファイバ111a、112aの伝搬遅延時間τdより短い周期で、パルス光を出力する。また、パルス光源1は、一方の干渉光のパルス間に、他方の干渉光が配置されるように、パルス光を出力する周期を設定する。また、復調器73では、センシングファイバ111a、112aの伝搬遅延時間τdより短い周期で、各干渉光のそれぞれをサンプリングする。例えば、復調器73での干渉光のサンプリングは、上記伝搬遅延時間τdより短い周期であって、且つ、1周期におけるパルス光の位相変化量がπ[rad]以下となるサンプリング周期τcとする。なお、遅延ファイバ161の伝搬遅延時間は、通常、センシングファイバ111a、112aよりも短く設定する。また、復調器73で干渉パルスの一つ一つを検出する時間幅τsを、次式3を満たすように設定する。ここで、Nmは、時分割多重する数である。また、センシングファイバ111a、112aの伝搬遅延時間τdの間に干渉光をサンプルする数Niを、次式4aまたは4bを満たすように設定する。ここで、NTは、2以上の整数である。τcは、物理量に応じて設定される周期であって、1周期におけるパルス光の位相変化量がπ[rad]以下となるサンプリング周期である。τdは、センシングファイバ111a、112aの伝搬遅延時間である。また、パルス光源1から出力するパルス光のパルス幅は通常、時間幅τs以下にする。次に、図4のパルス波形例により本実施の形態における動作を説明する。動作図4は実施の形態3に係る干渉型光ファイバセンサシステムのパルス波形を示す図である。図4に示したパルス波形は4a式の条件でNm=2、NT=2、Ni=3とした一例である。図4のパルス波形は、各経路を通過したパルス光の波形を示している。Aは、パルス光源1の出力であるAの位置を通過するパルス波形である。パルス光源1から出力される順に1,2,3の番号を付与した。パルス波形AB1DEGは、O/E変換器33に入力するパルス波形Gの内、経路AB1DEGを伝搬した成分である。到達する順に1a1,1a2,1a3の番号を付与した。パルス波形AB1DFG、パルス波形AC1DEG、パルス波形AC1DFG、パルス波形AB2DEG、パルス波形AB2DFG、パルス波形AC2DEG、パルス波形AC2DFGもそれぞれの経路を伝搬してO/E変換器33に入力するパルスの成分であり、到達する順に番号を付与した。本実施の形態3においても、パルス光源1から出力の繰返し周期がセンシングファイバ111a、112aおよび遅延補償ファイバ30aの伝搬遅延時間τdより短いため、最初は経路AB1DEGを伝搬したパルス1aii=1,2,3と、経路AB2DEGを伝搬したパルス2aii=1,2,3とがO/E変換器33から出力される。ただし、パルス2aiは、遅延ファイバ161により、パルス1aiより遅延している。次にAB1DFGを伝搬したパルス1bii=1,2,3とAC1DEGを伝搬したパルス1cii=1,2,3とが干渉した干渉パルス1bi1cii=1,2,3が出力される。次に遅延ファイバ161の遅延時間だけ遅れて、AB2DFGを伝搬したパルス2bii=1,2,3とAC2DEGを伝搬したパルス2cii=1,2,3とが干渉した干渉パルス2bi2cii=1,2,3が出力される。次にAB1DEGを伝搬したパルス1aii=1,2,3とAC2DFGを伝搬したパルス2dii=1,2,3とが重なり、重畳したパルス光i5dii=1,2,3が出力される。パルス2d1が出力された後は長い空き時間がないパルス列が構成される。復調器73は、パルス波形Gで表されるパルス列から、1bi1cii=1,2,3の干渉パルスを抽出して信号φ1を復調する。また、復調器73は、パルス波形Gで表されるパルス列から、2bi2cii=1,2,3の干渉パルスを抽出して信号φ2を復調する。そして、各物理量に対応する信号φ1、信号φ2を出力する。復調の動作は実施の形態1と同様である。なお、PGCの周波数は検出する信号の振幅と周波数に応じて設定する。効果以上のように本実施の形態においては、各センシングファイバの伝搬遅延時間τdより短い周期で、時分割多重された各干渉光をそれぞれサンプリングする。このため、複数の干渉光を時分割多重で伝送する構成において、各信号の復調を可能とする位相変化速度を向上することができる。よって、振幅が大きく周波数が高い信号を検出できる。また、各センシングファイバの感度を高くすることができる。また、1周期におけるパルス光の位相変化量がπ[rad]以下となるサンプリング周期τcで、時分割多重された各干渉光をそれぞれサンプリングするので、信号φの復調を正常に行うことができる。また、干渉光を検出する時間幅τsが、上記式3を満たすように設定し、センシングファイバ111a、112aの伝搬遅延時間τdの間に干渉光をサンプルする数Niが、上記式4aまたは4bを満たすように設定した。また、パルス光源1から出力するパルス光のパルス幅が、時間幅τs以下である。このため、時分割多重で伝送される構成において、センシングファイバの伝搬遅延時間τdより短い周期でパルス光源1からパルス光を出力して復調器73でサンプリングしても、各干渉パルス1bi1ciおよび2bi2ciに、当該パルス光以外の別のパルス光が干渉することがない。よって、雑音が発生したり正常に動作しなくなることを防止でき、振幅が大きく周波数が高い信号を検出できる。また、干渉パルス1bi1cii=1,2,3、干渉パルス2bi2cii=1,2,3、は光源から出力した同一のパルスが分岐したパルスであるため、レーザの位相雑音が最小になる条件を満たしている。また、干渉パルス1bi1cii=1,2,3、干渉パルス2bi2cii=1,2,3の前後には、パルス光源1から出力した、別のパルスパルス1ai、1di、2ai、2diが配置されるため、パルス列においてパルスがない空き時間を短くすることができ、パルス光源1、O/E変換器33などの構成部が応答する出力周波数帯域の範囲内で、効率の良い干渉パルスのサンプリングおよび時分割多重が成されている。また、干渉光のパルス間に、他の干渉光が配置されるように、パルス光を出力する周期を設定した。このため、信号φの復調に用いる干渉光bici以外のパルス光を重畳させることができ、復調に必要な干渉パルスが得られる周期を最短にできるため、復調できる振幅および周波数を最大にできる。以上に実施の形態1~3までを説明したが、本発明における干渉型光ファイバセンサシステムは、以上に説明した構成に限られるものではない。次に、実施の形態1~3の変形例について説明する。実施の形態1、3では圧電子によるPGC復調方式、実施の形態2では周波数シフタを用いるヘテロダイン方式で信号を復調する例を示した。本発明はこれに限るものではなく、他の変調方法でも、1式と2a式、1式と2b式、3式と4a式、または3式と4b式を満たすように構成することで同じ効果を得ることができる。また、実施の形態2では、1つの光周波数シフタ22を用いる例を説明したが、本発明はこれに限るものではない。例えば、非特許文献2に示されたように2つの光周波数シフタAOMを用いても良い。また、全ての実施の形態において、センシングファイバに光カプラとミラーを取り付けてマイケルソン干渉計を構成する例で説明したが、本発明はこれに限るものではなく、マッハツェンダ干渉計など他の干渉計を用いることもできる。また、実施の形態1、3において、遅延補償ファイバに光カプラとミラーを取り付けてマイケルソン干渉計を構成する例を示し、実施の形態2では光カプラを2つ取り付けてマッハツェンダ干渉計を構成する例を示したが、他の干渉計を用いることもできる。また、実施の形態3では、実施の形態1のPGC方式を時分割多重構成にした例を示したが、実施の形態2のヘテロダイン方式でも同様に構成することができる。また、実施の形態1では、PGC方式において変調を行うために圧電子34を用いる例で説明したが、電磁アクチュエータで遅延補償ファイバ30aを歪ませて光の周波数を変調しても良いし、非特許文献1と同様に、レーザ光源パルス光源1の周波数を変調するなど、他の手段で光の位相を変化させても良い。"