X線管アーク放電事象の間に生成された投影データを識別するステップと、前記識別された投影データのデータ点に対してX線管電圧を決定するステップと、前記データ点に対する前記決定されたX線管電圧に基づいて前記識別されたデータ点を補正するステップと、非X線管アーク放電事象の間に生成された投影データ及び前記補正された投影データを含む投影データを再構成するステップと、を有する方法。データ点に対する前記決定されたX線管電圧を所定の補正閾値電圧と比較するステップと、前記決定されたX線管電圧が前記所定の補正閾値電圧を満たすかどうかを決定するステップと、前記所定の補正閾値電圧を満たす前記管電圧に応じて前記データ点を補正するステップと、を有する、請求項1に記載の方法。前記所定の補正閾値電圧を満たす前記管電圧に応じて前記データ点を算出されたデータ点で置き換えるステップ、を有する、請求項2に記載の方法。前記所定の補正閾値電圧が、約60kV又はスキャン放射電圧の公称電圧の60である、請求項2ないし3のいずれか一項に記載の方法。a第1の検出器を用いて妨げられない放射線を検出するステップと、b第2の検出器を用いて妨げられない放射線を同時に検出するステップであって、前記第2の検出器が、既知の厚さ及びスペクトル特性を持つフィルタ材料を含む、ステップと、c前記第2の検出器に対する前記第1の検出器からの出力データの比を決定するステップと、複数の既知の管電圧に対してa-cを実行するステップと、前記管電圧の関数として前記比と管電圧との間のマッピングを生成するステップと、を有し、前記データ点に対して前記X線管電圧を決定するステップが、前記マッピングに基づいて前記X線管電圧を決定するステップを含む、請求項1ないし4のいずれか一項に記載の方法。前記データ点に対する比を決定するステップと、前記決定された比及び前記マッピングに基づいて前記データ点に対する前記X線管電圧を決定するステップと、を有する、請求項5に記載の方法。前記マッピングが、ルックアップテーブルに記憶される、請求項5ないし6のいずれか一項に記載の方法。前記マッピングが、多項式として表される、請求項5ないし6のいずれか一項に記載の方法。前記データ点が、前記決定された管電圧及び前記フィルタ材料の厚さの関数として補正される、請求項5ないし8のいずれか一項に記載の方法。前記データ点が、変換ucorrected=a/kV-b05cに基づいて補正され、ここでkVが前記決定されたX線管電圧であり、a、b及びcが未知の定数である、請求項5ないし9のいずれか一項に記載の方法。X線管アーク放電事象の間に取得されたデータに対応する投影データを補正する投影データプロセッサ、を有するシステム。前記投影データプロセッサが、前記X線管アーク放電事象の間に取得されたデータに対応する前記投影データの1つ又は複数のグループを識別する管アーク放電識別器、を有する、請求項11に記載のシステム。前記投影データプロセッサが、前記1つ又は複数の識別されたグループのデータ点に対してX線管電圧をそれぞれ決定する管電圧決定器、を有する、請求項12に記載のシステム。前記投影データプロセッサが、対応する前記決定されたX線管電圧に基づいて前記データ点の少なくともサブセットを補正する投影データ補正部、を有する、請求項13に記載のシステム。補正されないデータ点が、補間データ点で置き換えられる、請求項14に記載のシステム。前記投影データ補正部が、前記データ点の最後のものから前記データ点の最初のものへの方向に時間において逆向きに前記データ点を補正する、請求項14に記載のシステム。前記投影データ補正部が、取得時間に基づいて順次的に前記データ点を補正する、請求項14に記載のシステム。前記データ点が、変換ucorrected=a/kV-b05cに基づいて補正され、ここでkVが前記決定されたX線管電圧であり、a、b及びcがucorrectedに対して異なる既知の値を使用する連立方程式により解かれる未知の定数である、請求項14ないし17のいずれか一項に記載のシステム。非X線管アーク放電事象の間に生成された投影データ及び前記補正された投影データを含む投影データのセットが、体積画像データを生成するように再構成される、請求項11ないし18のいずれか一項に記載のシステム。X線管アーク放電事象の間に収集されたデータを補正する方法において、前記管アーク放電を識別するステップと、X線減衰値とX線管電圧との間の関係を確立するステップと、前記管アーク放電の間の異なる時間期間において1つ又は複数のX線管電圧を決定するステップと、前記X線管アーク放電の間のX線減衰値に対する補正値を決定するのに前記関係を使用するステップと、を有する方法。本出願の態様は、上記の及び他の問題に対処する。一態様によると、方法は、X線管アーク放電事象の間に生成された投影データを識別するステップと、前記識別された投影データのデータ点に対するX線管電圧を決定するステップと、前記データ点に対する前記決定されたX線管電圧に基づいて前記識別されたデータ点を補正するステップと、非X線管アーク放電事象の間に生成された投影データ及び前記補正された投影データを含む投影データを再構成するステップとを含む。他の態様によると、システムは、X線管アーク放電事象の間に取得されたデータに対応する投影データを補正する投影データプロセッサを含む。他の態様によると、X線管アーク放電中に収集されたデータを補正する方法は、管アーク放電を識別するステップと、X線減衰値とX線管電圧との間の関係を確立するステップと、前記管アーク放電中の異なる時間期間において1つ又は複数のX線管電圧を決定するステップと、前記X線管アーク放電中のX線減衰値に対する補正値を決定するのに前記関係を使用するステップとを含む。本発明は、様々な構成要素及び構成要素の組み合わせ、並びに様々なステップ及びステップの組み合わせの形を取りうる。図面は、好適な実施例を説明するも公的のみであり、本発明を限定するように解釈されるべきではない。図1は、コンピュータ断層撮影CTスキャナのような撮像システム100を示す。撮像システム100は、静止ガントリ102と、静止ガントリ102により回転可能に支持される回転ガントリ104とを含む。回転ガントリ104は、長手又はz軸について検査領域106の周りを回転する。カウチのような支持物108は、検査領域106において対象を支持し、スキャンの前、間及び/又は後にx、y及び/又はz軸に対して前記対象を配置するのに使用されることができる。X線管のような放射線源110は、回転ガントリ104により支持され、検査領域106の周りで回転ガントリ104とともに回転し、検査領域106を横断する放射線を放射する。1又は2次元放射線感知検出器アレイ112は、検査領域106を越えて、放射線源110の反対側に配置され、検査領域106を横断する放射線を検出する。検出器アレイ112は、前記検出された放射線を示す信号又は投影データを生成する。図示された実施例において、検出器アレイ112は、検査領域106においてスキャンされる物体又は対象により妨げられない前記線源からの放射線を受ける少なくとも2つの検出器を含む。これらの検出器の少なくとも1つは、既知のスペクトル特性及び既知の厚さを持つフィルタ例えば、銅を含み、前記検出器の少なくとも1つは、前記フィルタを含まない。より詳細に以下に説明されるように、これら2つの検出器により生成された投影データは、対応する取得間隔に対する管電圧を決定するのに使用されることができる。管アーク放電センサ114は、X線管アーク放電事象を感知し、それを示す管アーク放電信号を生成する。一例において、前記管アーク放電信号は、アーク放電が起こる場合にセットされ、高電圧が所定のレベル例えば90まで回復した、前記アーク放電からの所定の時間期間の後にリセットされるビットである。前記管アーク放電信号は、検出器アレイ112からの前記投影データと一緒に及び/又は一部として伝達されることができる。投影データプロセッサ116は、前記投影データを処理する。より詳細に以下に説明されるように、一例において、投影データプロセッサ116は、X線管アーク放電事象の間に取得されたデータを用いて生成された前記投影データの少なくともサブセットを補正する。これは、消去しない場合に、X線管アーク放電事象に関連して補間により放棄及び作成されるデータの量を減少することを可能にし、これは、向上された画質を生じうる。再構成器118は、前記処理された投影データを再構成し、検査領域106を示す体積画像データを生成する。前記体積画像データは、1つ又は複数の画像を生成するように画像プロセッサ等により処理されることができる。汎用コンピュータシステムは、オペレータコンソール120として機能し、ディスプレイのような出力装置並びにキーボード及び/又はマウス等のような入力装置を含む。コンソール120内にあるソフトウェアは、オペレータがシステム100の動作を制御することを可能にし、例えば、前記オペレータが管アーク放電データ補正を起動する、スキャンを開始する等のことを可能にする。投影データプロセッサ116が、コンソール120、再構成器118、及び/又は1つ又は複数のコンピュータのような他のコンピュータシステムの一部でありうると理解されるべきである。適切なコンピュータシステムは、ローカル、ポータブル、又は遠隔物理メモリのようなコンピュータ読み取り可能記憶媒体において符号化又は具体化される1つ又は複数のコンピュータ読み取り可能命令を実行する1つ又は複数のプロセッサを含む。加えて又は代わりに、前記1つ又は複数の命令は、信号又は波動のようなキャリアにより運ばれうる。前記1つ又は複数のプロセッサは、前記命令の1つ又は複数を実行する場合に、前記1つ又は複数のプロセッサに投影データプロセッサ116の機能及び/又は他の機能を実行させる。図2は、前記アーク放電事象の間の前記X線管電圧に基づいて前記投影データを補正する投影データプロセッサ116の例を示す。図示された実施例において、投影データプロセッサ116は、前記投影データ及び補正された投影データを記憶する記憶部202を含む。他の実施例において、記憶部202は、データプロセッサ116の外部でありうる。管アーク放電識別器204は、前記投影データの管アーク放電ビットを評価する。前記管アーク放電ビットが、特定の投影データに対してセットされない場合、当該投影データは、前記投影データプロセッサにより処理されない。しかしながら、前記管アーク放電ビットが、他の投影データに対してセットされる場合、この投影データは、管アーク放電補正処理に対して転送される。管電圧決定器206は、対応する投影データに基づいて処理されるべき投影データに対する管電圧を決定する。図示された実施例において、管電圧決定器206は、所定の減衰比対電圧マッピングに基づいて前記管電圧を決定する。図3は、y軸302が減衰比を表し、X軸304がkVを表す。図示されたマッピングは、60kVないし140kVの管電圧に対するものであり、5つの異なる検出器フィルタの差例えば、1mmのインクリメントにおける1ないし5mmの厚さに対する5つのマッピング306、308、310、312及び314を示す。他の実施例において、より低い及び/又はより高いkVを含む異なる電圧範囲、及び/又は異なる厚さが、使用されうる。以下は、前記マッピングを生成する例を提供する。較正手順中に、前記フィルタを持たない検出器からの投影に対する前記フィルタを持つ検出器からの投影データの比が、決定される。この比は、異なるフィルタの厚さに対する異なる電圧において収集される。減衰比と電圧との間の関係が、決定され、図3のグラフに追加するように使用される。スキャナとともに使用される前記フィルタは、図3からのこれらの厚さの1つの厚さを持ち、アーク放電中の前記投影データの比は、前記フィルタの厚さに基づいて前記電圧に対する前記比のマッピングにより決定されることができる。異なるフィルタの厚さが使用される場合、図3の曲線は、内挿又は外挿により前記電圧を得るのに使用されることができる。図3は、管電圧決定器206により使用するためにルックアップテーブルLUT等のように記憶されることができる。加えて又は代わりに、管電圧決定器206は、前記投影データ比を管電圧に変換するのに多項式を使用することができる。前記厚さの1つに対する図3から算出される多項式の例は、電圧=1.7443μ2-24.755μ3132.3188μ2327.8174μ396.9295であり、ここでμは、前記投影データ比を表す。上記アプローチは、説明目的で提供され、限定的ではなく、他のアプローチも、ここで考えられる。例えば、他の例において、kV立ち上がり時間は、特定の技術のkV及びmAの関数として特徴づけられることができる。取得間隔又は統合期間は、前記セットされた状態から非アクティブ状態へのアーク放電ビット遷移の前後の統合期間において高電圧を推定するのに立ち上がり時間プロファイルと併せて使用されることができる。投影データ補正器208は、投影データを補正する。上で簡潔に論じられたように、投影データ補正器208は、対応するデータ取得の管電圧に基づいて投影データを補正する。この例において、投影データ補正器208は、式1の変換の関数として前記データを補正する。式1:ucorrected=a/kV-b05cこの例において、a、b及びcは、3つの既知の電圧において3つのスキャンを実行し、3つの連立方程式を解くことにより、フィルタ材料の厚さtに関して、決定される。この例に対して、a、b及びcは、水シミュレーションから算出される。しかしながら、a、b及びcは、追加的に又は代替的に、骨、脂肪、軟組織、造影剤及び/又は他の構造から算出されることができる。図4は、X線管アーク放電事象の間に取得された投影データを補正する方法を示す。動作の順序が限定的ではないと理解されるべきである。したがって、他の実施例において、動作の順序は、異なってもよい。加えて、1つ又は複数の前記動作は省略されることができ、及び/又は1つ又は複数の他の動作が追加されることができる。402において、スキャンが実行される。404において、前記スキャン中に管アーク放電事象が存在したかどうかが決定される。ここで論じられるように、前記管アーク放電ビットの状態は、前記スキャン中に管アーク放電事象が存在したかどうかを決定するのに使用されることができる。そうではない場合、406において、前記投影データが再構成される。そうである場合、408において、1つ又は複数のX線管アーク放電事象の間にそれぞれ取得された投影データの1つ又は複数のグループが識別される。410において、前記グループの1つが、評価に対して選択される。412において、前記グループのデータ点の1つが、評価に対して選択される。一例において、前記選択されたデータ点は、前記グループの最後のデータ点である。この例において、アルゴリズムは、前記グループ内の全てのデータ点を補正する又は管電圧閾値、技術公称閾値からの管電圧の減少の百分率等のような所定の閾値まで前記グループ内のデータ点を補正するように時間において逆方向に機能する。他の例において、前記選択されたデータ点は、前記グループの最初のデータ点であり、アルゴリズムは、時間において順次的に適用され、例えば、管電圧閾値、技術公称閾値からの管電圧の減少の百分率等のような所定の閾値を満たす電圧を持つデータ点が到達されるまで連続して前記グループ内の全てのデータ点を補正する又は順方向に移動する。他の例において、前記選択されたデータ点は、最初のデータと最後のデータとの間にあり、前記補正は、時間において前向きに又は両方の方向において実行される。他のアプローチも、ここで考えられる。414において、前記データ点に対する管電圧が決定される。ここに記載されるように、前記管電圧は、放射線を直接的に受けるすなわち、スキャンされるべき物体又は対象が前記ソースと前記検出器との間にない検出器既知のスペクトル特性を持つフィルタを持つ少なくとも1つ及びこのようなフィルタを持たない少なくとも1つによる測定値に基づいて生成されるルックアップテーブル又は多項式等から決定されることができる。416において、前記データ点に対する前記管電圧が所定の補正閾値電圧を満たすかどうかが決定される。例えば、一例において、前記補正は、前記データに対する前記管電圧が60kVのような所定の電圧より上である場合、前記管電圧が前記公称技術電圧の60以上である場合、及び/又は他の基準でのみ使用される。他の例において、この動作は省略され、データは、前記管電圧にかかわらず前記アーク放電事象の間に補正される。そうである場合、4l8において、前記データ点が補正される。ここに記載されるように、前記データは、対応する管電圧に基づいて補正されることができる。そうではない場合、420において、前記データ点は置換される。ここに記載されるように、前記データは、放棄され、補間データで置換されることができる。動作416が省略される場合、動作420も省略されることができる。422において、評価に対する前記グループ内に他のデータ点が存在するかどうかが決定される。そうである場合、動作414が、前記グループの他のデータ点に対して繰り返される。そうではない場合、424において、評価すべき他のグループが存在するかどうかが決定される。そうである場合、412が、次のグループに対して繰り返される。そうではない場合、406において、元の投影データ及び補正された投影データを含む投影データが、再構成される。上記の動作は、コンピュータプロセッサにより実行される場合に、前記プロセッサにここに記載される動作を実行させるコンピュータ読み取り可能命令を用いて実施されうる。このような場合に、前記命令は、関連するコンピュータと関連付けられた及び/又は他の形でアクセス可能であるメモリのようなコンピュータ読み取り可能記憶媒体に記憶される。図5は、管アーク放電事象の間に取得されたデータから生成された投影データのサブセットを補正するグラフィックな例を示す。図5において、y軸502は、管電圧を表し、x軸504は、取得間隔を表す。領域506の間、前記管電圧は、およそ撮像技術の公称管電圧508である。510において、アーク放電が起こる。領域512の間、前記管電圧は、降下し、前記管の立ち上がり時間に基づいて回復している。514において、前記管電圧は、所定の電圧閾値516まで回復し、518において、前記管電圧は、前記撮像技術の公称管電圧508まで回復している。この例において、前記システムは、所定の電圧閾値516より大きい管電圧に対応するデータ点に対してアーク放電事象に対応する投影データを補正する。したがって、閾値516から公称管電圧508までの範囲520内のデータ点は、補正され、アーク放電510から前記閾値までのデータ点は、補間される。前記システムが、投影データプロセッサ116を使用しない場合、510から508までの全体的な範囲が補間される。したがって、ここに記載されるように前記投影データを補正することは、少なくとも、放棄され、補間データで置き換えられるアーク放電事象に対応するデータ点の量を減少させる。図6は、閾値516が省略され、データ点512の全体的な範囲が補正され、データは放棄されないことを除いて、図5と同様である。本発明は、好適な実施例を参照して説明されている。修正例及び変更例は、先行する詳細な説明を読み、理解すると他者が思いつきうる。本発明は、添付の請求項又は同等物の範囲に入る限り、全てのこのような修正例及び変更例を含むと解釈されることを意図される。