"タッチパネルへの物体の重なり位置の座標を求める座標入力装置において、前記タッチパネルに配置された複数のセンサから得られた複数の出力値を用いて、最も大きな出力値を出力したセンサを検出して1stピークセンサを選択するピークセンサ検出部と、前記ピークセンサ検出部で検出した前記1stピークセンサの出力値の情報および前記1stピークセンサの周辺のセンサの出力値の情報を基に補正値を求める補正値算出部と、前記補正値算出部で求めた前記補正値を用いて、前記重なり位置の詳細座標を求める座標算出部とを備え、前記補正値算出部は、前記1stピークセンサの両端のセンサから前記1stピークセンサの出力値に次いで2番目に出力値が大きい2ndピークセンサおよび3番目に出力値が大きい3rdピークセンサを選択し、前記2ndピークセンサの位置に基づいて4番目に出力値が大きい4thピークセンサを選択し、前記1stピークセンサの出力値、前記2ndピークセンサの出力値、前記3rdピークセンサの出力値および前記4thピークセンサの出力値を基に補正値を求めることを特徴とする座標入力装置。前記補正値算出部は、前記1stピークセンサの出力値と前記4thピークセンサの出力値の差、および、前記2ndピークセンサの出力値と前記3rdピークセンサの出力値の差を基に補正値を求めることを特徴とする請求項1記載の座標入力装置。前記補正値算出部は、前記タッチパネルへの物体の重なり領域の形状を四角形と仮定して補正値を求めることを特徴とする請求項1記載の座標入力装置。前記補正値算出部は、前記タッチパネルへの物体の重なり領域の形状を円形と仮定して補正値を求めることを特徴とする請求項1記載の座標入力装置。複数のセンサが配置され、各センサの出力値を出力するタッチパネルと、請求項1記載の座標入力装置とを備えたタッチパネル装置。しかしながら、上記のような従来の座標入力装置では、指20とセンサ7の重なり部分dからオーバーレイ30を介してセンサ6およびセンサ8に影響を及ぼす静電容量の大きさを考慮していないため、オーバーレイが厚くなった場合など、詳細な座標位置を算出する際に誤差が生じ、座標算出性能の直線性が低下するという課題があった。この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、タッチパネルの各センサから得られるセンサ出力値を基に、ピークセンサの出力値およびその周辺のセンサの出力値から入力座標位置補間のための補正値を求める際に、オーバーレイを介して影響を及ぼす静電容量の大きさを詳細に考慮した補正値を求め、これを用いて精度良く詳細な座標位置を求めることが可能な座標入力装置およびタッチパネル装置を得ることを目的とする。上記目的を達成するため、この発明は、タッチパネルへの物体の重なり位置の座標を求める座標入力装置において、前記タッチパネルに配置された複数のセンサから得られた複数の出力値を用いて、最も大きな出力値を出力したセンサを検出して1stピークセンサを選択するピークセンサ検出部と、前記ピークセンサ検出部で検出した前記1stピークセンサの出力値の情報および前記1stピークセンサの周辺のセンサの出力値の情報を基に補正値を求める補正値算出部と、前記補正値算出部で求めた前記補正値を用いて、前記重なり位置の詳細座標を求める座標算出部とを備え、前記補正値算出部は、前記1stピークセンサの両端のセンサから前記1stピークセンサの出力値に次いで2番目に出力値が大きい2ndピークセンサおよび3番目に出力値が大きい3rdピークセンサを選択し、前記2ndピークセンサの位置に基づいて4番目に出力値が大きい4thピークセンサを選択し、前記1stピークセンサの出力値、前記2ndピークセンサの出力値、前記3rdピークセンサの出力値および前記4thピークセンサの出力値を基に補正値を求めることを特徴とする。この発明に係る座標入力装置によれば、タッチパネル10に配置された複数のセンサ1~9から得られた複数の出力値を用いて、最も大きな出力値を出力した1stピークセンサの出力値、2番目に出力値が大きい2ndピークセンサの出力値、3番目に出力値が大きい3rdピークセンサの出力値および4番目に出力値が大きい4thピークセンサの出力値を基に補正値を求めて詳細な座標位置を計算するので、ガラス等のオーバーレイが厚くなった場合などであっても、詳細な座標位置を算出する際の誤差を少なくし、指が接触した詳細な座標位置をより精度良く求めることができる。以下、この発明をより詳細に説明するために、この発明を実施するための形態について、添付の図面に従って説明する。実施の形態1.図1は、この発明の実施の形態1に係る座標入力装置の構成を示すブロック図である。座標入力装置は、XY方向に複数のセンサ電極を配置した投射容量型のタッチパネル10の出力値を用いて、複数のセンサのうちからX,Y方向それぞれについて最大の出力値となるセンサ番号を求めるピークセンサ検出部11、ピークセンサの出力値とその周辺センサの出力値から座標位置補間のための補正値を求める補正値算出部12、補正値を基に詳細な座標値を求める座標算出部13、各部を制御する制御部14を備える。図2は、タッチパネル10の構成を示す説明図であり、タッチパネル10に座標指示器等の物体本実施の形態では指20とするを接触させた状態を示す。説明の便宜上、これ以降はタッチパネル10に配置されたセンサのうち、X方向のセンサをX軸原点から順にセンサ1~9と呼ぶ。図2では、指20がセンサ6からわずかにセンサ5寄りに位置する点に接触している状態を例示する。次に、図2に示す状態を例に用いて、本実施例の動作を説明する。図3は、タッチパネル10に指20が接触している領域の面積を示す説明図であり、図2に示す指20を中心としてタッチパネル10に配置された短冊状のセンサ4~7部分を拡大して示す。本実施の形態では、指20がセンサ5とセンサ6の一部にまたがった状態で接触している領域を、説明を簡便化するために四角形状の接触領域重なり領域21として扱う。具体的には、接触領域21が、X方向に配置されたセンサ5とセンサ6の境界位置から長さd座標値に換算した値だけセンサ6の方向にずれた位置にある。なお、図3の23は接触領域21の中心を通る線を示す。また、説明を簡便化するために、各センサ4~7の幅および接触領域21の幅をL座標値に換算した値とする。図4は、図3に示す状態で指20がタッチパネル10に接触した場合の、図3のA-A線の断面を示した図である。本実施例のタッチパネル10は、センサを保護するなどの目的でセンサの上に保護ガラス等の厚みのあるオーバーレイ30が配置されているものとする。図5は、図3に示す状態で指20がタッチパネル10に接触した場合の各センサ1~9の出力値を示すグラフであり、横軸に各センサ1~9のセンサ番号を示し、縦軸に各センサ1~9の出力値の大きさを示す。図5に示すように、指20の接触位置に最も近いセンサ6の出力値が最も大きく、指20が一部接触しているセンサ5の出力値が次に大きい。さらに、センサ6の右隣のセンサ7、およびセンサ5の左隣のセンサ4もオーバーレイ30を介して指20による影響を受けることにより、その他のセンサに比べて出力値が大きくなる。ここで、タッチパネルに指が接触するとセンサ出力値が得られる仕組みについて簡単に説明する。指が接触したことを検出する方法はいくつか考えられるが、本実施の形態では指20とタッチパネル10に配置されたセンサとの間の静電容量を検出する方法を用いて指20の接触を検出する。具体的には、タッチパネル10に配置された各センサ1~9に順次信号検出用の交流電圧を印加する図1等において電圧印加の手段は図示せず。タッチパネル10に指20が接触すると、タッチパネル10のセンサと導体である指20との間に微小な静電容量が生じる。センサに印加した交流電圧によって、この微小な静電容量を通してセンサから指20へ微弱な電流が流れる。このとき、センサからの出力電圧を観測すると、指20が接触している周囲のセンサは上述のように電流が流れるために、観測される出力電圧が低下する。この出力電圧の低下の大きさを各センサ1~9の出力値とする。図6は、タッチパネル10に指20が接触するとセンサ出力値が得られる仕組みを模式的に表した説明図であり、図6aは図3に示すA-A線に沿って指20とタッチパネル10とを切断した断面図、図6bは図5のグラフからセンサ4~7の出力値を抜粋した図である。図6aにおいて、タッチパネル10のセンサ上に設置された保護ガラス等のオーバーレイ30は、一般にセンサを保護する等の目的でセンサ上に設置されるものである。指20とセンサ6とは長さL/2dの重なり部分で接触しており、指20とセンサ5との重なり部分の長さはL/2-dとなる。ここで、指20とセンサ6の間に生じる静電容量について考える。図6aに示すように、指20とセンサ6との重なり部分L/2dに起因して生じる静電容量の大きさをC1とする。また、指20とセンサ6の重なり部分L/2d以外、すなわちL/2-dの部分からオーバーレイ30を介してセンサ6に生じる静電容量の大きさをC4とする。このように、指20とセンサ6との間に生じる静電容量全体を、指20との重なり部分L/2dに起因する静電容量C1と、オーバーレイ30を介して、重なり部分L/2d以外、すなわちL/2-dの影響による静電容量C4とに分けて考える。同様に、指20とセンサ5の間の静電容量について考える。指20とセンサ5の重なり部分L/2-dに起因して生じる静電容量の大きさをC2とし、重なり部分L/2-d以外、すなわちL/2dの部分からオーバーレイ30を介して生じる静電容量の大きさをC3とする。この他に、本実施例のように厚みのあるオーバーレイ30を配置した場合には、指20との重なり部分があるセンサ5、センサ6だけではなく、それに隣接するセンサ4、センサ7にもオーバーレイ30を介して静電容量が生じる。具体的には、指20とセンサ6との重なり部分L/2dからオーバーレイ30を介してセンサ7に生じる静電容量の大きさをC5とする。同様に、指20とセンサ5の重なり部分L/2-dからオーバーレイ30を介してセンサ4に生じる静電容量の大きさをC6とする。次に、図2に示す状態を例に用いて、座標入力装置の動作を説明する。図7は、実施の形態1に係る座標入力装置の動作を示すフローチャートである。まず、指20が図2に示すようにタッチパネル10に接触すると、前述したようにタッチパネル10の各センサ1~9から指20の接触状態に応じて出力値が得られる。ステップST1において、ピークセンサ検出部11は、タッチパネル10から得られる各センサ1~9の出力値のデータを基に、最も出力値の大きいピークセンサ1stピークセンサを求める。具体的には、ピークセンサ検出部11が、X方向に配置されたセンサの出力値の大きさを順次比較し、最も大きい出力値となるセンサをX方向のピークセンサ1stピークセンサとする。図5のグラフによればセンサ6が1stピークセンサである。ピークセンサ検出部11は同様にY方向に配置された各センサの出力値からY方向のピークセンサ1stピークセンサも求める。ここで、制御部14は、ピークセンサ検出部11が求めたピークセンサ1stピークセンサの情報をバッファ図示せずに格納しておく。この1stピークセンサの座標値が、後述する詳細な座標位置を求める際の基準座標位置となる。ステップST2において、制御部14は、ステップST1で求めた1stピークセンサの出力値が予め定められた閾値以上であるか否か判定する。具体的には、例えば制御部14は、X方向のピークセンサ出力値とY方向のピークセンサ出力値が共に閾値以上の場合に、出力値が閾値以上と判定するステップST2Yes。この閾値は、指20がわずかにタッチパネル10に接触した際のピークセンサの出力値とするなど、事前に求めておくものとする。1stピークセンサの出力値が閾値以上の場合、続くステップST3において、補正値算出部12が1stピークセンサの両隣のセンサの出力値から2ndピーク値および3rdピーク値を求める。即ち、補正値算出部12は1stピークセンサ両隣のセンサの出力値を比較し、その出力値が大きい方を2ndピークセンサとして決定し、その出力値を2ndピーク値とし、小さい方を3rdピークセンサとして決定し、その出力値を3rdピーク値とする。図5のグラフによればセンサ5の出力値が2ndピーク値、センサ7の出力値が3rdピーク値である。続くステップST4において、補正値算出部12は2ndピークセンサ、3rdピークセンサの情報から4thピーク値を求める。具体的には、2ndピークセンサの両隣のセンサのうち、1stピークセンサではないセンサ、即ち図5の例ではセンサ4を4thピークセンサとして決定し、その出力値を4thピーク値とする。続くステップST5において、補正値算出部12は1stピークセンサの出力値、2ndピーク値、3rdピーク値および4thピーク値を用いて、基準座標位置を補間して詳細な座標位置を得るための補正値を求める。ここで、補正値を求める方法を、図6を用いて説明する。図6bでは、図6aに示す指20と各センサ4~7との間に生じる静電容量C1,C2,C3,C4,C5,C6と、各センサ4~7の出力値V4,V2,V1,V3との関係を示す。各センサの出力値は静電容量の大きさに比例するため、静電容量C1と静電容量C4が生じたセンサ6の出力値が最も大きい値となり、1stピークセンサ出力値V1となる。センサ5の出力値は、C2とC3に比例した値V2となる。また、センサ7の出力値はC5に比例した値V3となり、センサ4の出力値はC6に比例した値V4となる。上記から、1stピークセンサ出力値V1、2ndピーク値V2、3rdピーク値V3、4thピーク値V4は以下の式1~4で表すことができる。V1=fC1fC41V2=fC2fC32V3=fC53V4=fC64ただし、fは静電容量値とセンサの出力値との関係を規定する関数である。ここで、補正値算出部12は、以下のようにして指20の、センサ5とセンサ6の境界からのセンサ6側へのずれ量dを求める。一般に、2つの導体間に生じる静電容量の大きさは、導体間の距離に反比例し、面積に比例する。このため、指20とセンサ6の間に生じる静電容量C1は、指20とセンサ6との重なり部分L/2dの面積に比例すると考える。同様に、指20とセンサ5の間に生じる静電容量C2は、指20とセンサ5との重なり部分L/2-dの面積に比例すると考える。本実施の形態では図3に示すように、指20の接触領域21を四角形状と仮定するため、センサ6、センサ5と指20との重なり部分の面積の比はL/2d:L/2-dとなる。静電容量C1,C2は接触面積に比例することから、以下の式5が成り立つ。fC1:fC2=L/2d:L/2-d5式5からずれ量dを求めると下記式6のようになる。d={fC1-fC2/fC1fC2}×L/26ここで、C3とC5は、指20とセンサ6の重なり部分L/2dからオーバーレイ30を介して生じるそれぞれセンサ5とセンサ7に影響を及ぼす静電容量の大きさを表している。そこで、C3とC5の大きさは等しいと考える。同様にC4とC6は、指20とセンサ5の重なり部分L/2-dからオーバーレイ30を介して生じるそれぞれセンサ6とセンサ4に影響を及ぼす静電容量の大きさを表している。そこで、C4とC6の大きさは等しいと考える。上記からfC3=fC5、およびfC4=fC6として式1~式4を変形することにより、以下の式7、式8が得られる。V1-V4=fC17V2-V3=fC28ここで、式6,7,8により、ずれ量dはセンサ4~センサ7の出力値V4,V2,V1,V3を用いて以下の式9で求めることができる。d={V1-V2V3-V4/V1V2-V3-V4}×L/29以上のように、補正値算出部12はステップST5において、1stピークセンサの出力値V1、2ndピーク値V2、3rdピーク値V3、および4thピーク値V4を基に、式9に従ってずれ量dを求め、これを補正値dとする。最後に、ステップST6において、座標算出部13は、ステップST5で求めた補正値dを基にして詳細な座標位置を求める。具体的には、座標算出部13は、1stピークセンサと2ndピークセンサの境界位置座標位置を基準座標位置Xpとすれば、以下の式10に従って基準座標位置Xpを補正値dにより補間して詳細な座標位置Xを求める。X=Xpk×d10ただし、1stピークセンサに対して2ndピークセンサが、X軸原点から遠い方に位置する場合はk=1、X軸原点から近い方に位置する場合はk=-1とする。なお、基準座標位置Xpは、例えばセンサ数をN、センサ番号を1~N、X軸座標値の最大値をH、1stピークセンサのセンサ番号をNpとした場合、以下の式11で求めることができる。Xp=H/N×Np-j11ただし、センサ1の左端位置をX軸原点、センサNの右端位置を最大の座標値とする座標系の場合とし、1stピークセンサに対して2ndピークセンサがX軸原点から遠い方に位置する場合はj=0、X軸原点から近い方に位置する場合はj=1とする。座標入力装置は、以上のように、各センサの出力値を用いて指20が接触した位置の詳細な座標位置を求める。なお、ステップST1~ST6の各処理をX方向およびY方向についてそれぞれ実施することでX,Yの詳細な座標位置を求めることができる。次に、ステップST1~ST6の処理によって詳細な座標位置を求めた場合の効果を、従来方法によって詳細な座標位置を求めた場合と比較しながら説明する。図8は、タッチパネル10上で、指20の接触位置をX方向に少しずつ移動させた場合の各センサ1~9の出力値を実測したグラフである。グラフにおいて、横軸に指20のX方向の入力位置即ち接触した位置を示し、縦軸にセンサ出力値の大きさを示し、センサ1~9の出力値を出力値実測線1a~9aとしてプロットした。例えば、センサ6の出力値実測線6aは、指20の入力位置が大きくなるに従って徐々に出力値も大きくなり、入力位置がセンサ6の中心位置のとき出力値が最大となり、中心位置を越えた後では入力位置が大きくなるに従って出力値が小さくなる様子を示している。指20がセンサ5とセンサ6の境界位置にある場合、すなわち、センサ5の出力値実測線5aとセンサ6の出力値実測線6aがほぼ等しい入力位置において、センサ5,6の隣のセンサ4,7の出力値実測線4a,7aの値をみると、他のセンサに比べて出力値が大きくなっていることが分かる領域B。これは、指20からオーバーレイ30を介して生じた静電容量C5,C6の影響によるものである。図9はそれぞれ、図8の指20の入力位置に対する各センサ出力値のデータを基に補正値を求めて座標を補間した結果を示すグラフであり、横軸はX方向の入力位置を示し、縦軸は補間後の詳細座標位置を示す。図9aは従来特許文献1の方法により補正値を求めて詳細座標位置を算出した結果を示す。図9bは、本実施の形態に係る座標入力装置によって補正値dを求めて詳細座標位置を算出した結果を示す。図9aではオーバーレイ30を介して生じる静電容量C4とC6の影響を考慮していない。しかしながら、実際には厚みのあるオーバーレイ30があるため、指20がX軸原点から遠ざかる移動に対して、センサ6の出力値はC4の影響により線形に増加することにはならない。また、同様にセンサ4の出力値はC6の影響により線形に減少することにはならない。このため、従来の詳細座標位置計算結果では直線性の低下が生じる。他方、図9bは本実施の形態1による処理方法によってオーバーレイ30を介して影響を及ぼすC4,C6を考慮して詳細座標位置を求めているため、従来に比べて、詳細座標位置を求めた結果の直線性が向上しており、詳細座標位置の精度を向上させることができる。以上のように、この実施の形態1によれば、タッチパネル10に配置された複数のセンサ1~9から得られた複数の出力値を用いて、最も大きな出力値を出力した1stピークセンサの出力値、2番目に出力値が大きい2ndピークセンサの出力値、3番目に出力値が大きい3rdピークセンサの出力値および4番目に出力値が大きい4thピークセンサの出力値を基に補正値を求めて詳細な座標位置を計算するので、ガラス等のオーバーレイが厚くなった場合などであっても、詳細な座標位置を算出する際の誤差を少なくし、指が接触した詳細な座標位置をより精度良く求めることができる。また、指20とタッチパネル10との接触形状を四角形と仮定して補正値dを計算することにより、補正値算出のコストが大幅に低減可能となる。実施の形態2.上記実施の形態1では、図3に示すように、座標指示器としての指20の接触領域21の形状を四角形と仮定したが、本実施の形態では座標指示器としての指20を実際の接触形状により近づけて円形と仮定した場合について説明する。図10は、実施の形態2に係る座標入力装置において、タッチパネルに指20が接触している円形の領域の面積接触領域22を示す説明図であり、図3と同一または相当の部分については同一の符号を付し説明を省略する。図10に示すように、円形の接触領域22は、指20がセンサ5とセンサ6の一部にまたがって接触している状態であり、この接触領域22の直径をL座標値に換算した値とし、指20のセンサ5とセンサ6の境界からのセンサ6側へのずれ量をd座標値に換算した値とする。また、接触領域22の中心をOとし、接触領域22とセンサ5,6の境界との交点をE,Gとし、弦EGの中点でセンサ5,6の境界上の点をFとする。また、角EOFをθとする。指20の接触領域を四角形に代えて円形と仮定する場合には、接触領域22のうち、センサ6との重なり部分をM1とし、センサ5との重なり部分の面積をM2として、上記式5を下記式5’に変更すればよい。fC1:fC2=M1:M25’ここで、重なり部分の面積M1,M2は、例えば次のようにして求めることができる。OE=L/2、OF=dであるから、cosθ=OF/OEによりθを求めることができ、さらに、扇形OEGの中心角2θから扇形OEGの面積を求めることができる。次に、EF=OE×sinθであるから、三角形OEGの面積はOF×OE×sinθで求めることができる。扇形OEGの面積と三角形OEGの面積の差を求め、これをM2とする。また、接触領域22の面積とM2の差をM1とする。以上により、重なり部分の面積M1,M2を求めることができる。なお、その他、適宜近似式により円形の接触領域22の面積比を求め、式5’を変更してもよい。このように、補正値算出部12が上記式5’を用いて補正値dを求め、座標算出部13がこの補正値dを基に詳細な座標位置を計算する。以上のように、実施の形態2によれば、指20とタッチパネル10との接触形状を円形と仮定して補正値dを求めることにより、指が接触した詳細な座標位置の計算精度をさらに向上することが可能となる。なお、上記実施の形態1,2では、X方向およびY方向にそれぞれセンサ電極を配置してなるタッチパネルを用いてX,Y方向の詳細な座標位置を求める構成としたが、X,Y方向のいずれか一方にセンサ電極を配置したタッチパネルを用いて1次元方向の詳細な座標位置を求める構成としてもよい。また、上記実施の形態1,2では、指とセンサとの間に生じる静電容量を検出する静電容量検出方式によって指の接触検知を行うタッチパネルに対して座標入力装置を適用する構成であったが、これに限定されるものではなく、例えば座標指示器としての電子ペンとアンテナコイルにより誘導起電圧を検出する電磁誘導式等のように、接触位置に応じて連続的にセンサの出力値が変化するような信号を検出する方式であれば実施の形態1の座標入力装置を適用することができる。また、上記実施の形態1,2では、指がタッチパネルに接触した状態を例に用いて詳細な座標位置を求める方法を説明したが、タッチパネルの感度が十分高く、指が接触する前の近接状態においてもタッチパネルのセンサから出力値が得られる場合には、指がタッチパネルに接触した状態だけでなく近接した状態で詳細な座標位置を求めることも可能である。即ち、上記実施の形態1,2で例示した、指がタッチパネルに接触した状態で重なった接触領域を、指がタッチパネルに近接した状態で重なった領域に置き換えればよい。なお、本願発明はその発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施の形態において任意の構成要素の省略が可能である。"