回転しない静止部材と、それぞれが予圧を付与された複数の転がり軸受により、この静止部材に対して回転自在に支持された回転部材と、この回転部材の一部に支持固定された、この回転部材と同心の被検出面を有するエンコーダと、検出部をこの被検出面に対向させた状態で前記静止部材に支持されたセンサと、このセンサの出力信号を処理する演算器とを備え、前記エンコーダの被検出面は、それぞれがこの被検出面の円周方向に離隔して設けられた第一特性変化部及び第二特性変化部から成る、複数の特性変化組み合わせ部を、前記被検出面の円周方向に間隔をあけて配置したもので、前記第一、第二両特性変化部に関する、前記被検出面の幅方向に対する正負の方向をも考慮した傾斜角度を、互いに異ならせており、前記センサは、前記各特性変化部が前記被検出面のうちで前記検出部が対向する部分を通過する瞬間に出力信号を変化させるものであり、前記演算器は、前記被検出面の円周方向に隣り合う1対の特性変化組み合わせ部を構成する1対の第一特性変化部に基づいて発生する1対のパルス間の周期である全周期と、これら両第一特性変化部のうちの一方の第一特性変化部及び前記被検出面の円周方向に関してこれら両第一特性変化部同士の間に配置された前記第二特性変化部に基づいて発生する1対のパルス間の周期である部分周期との比である、パルス周期比に基づいて、それぞれが前記被検出面の幅方向に関する、前記回転部材の変位量とこの回転部材に加わる荷重とのうちの少なくとも一方の物理量を算出するものである回転部材用物理量測定装置に於いて、前記被検出面の円周方向に関して前記各第一特性変化部が不等ピッチで配置されており、前記演算器は、前記全周期が経過する毎に、この全周期と予め設定しておいた閾値とを比較して、この全周期がこの閾値を超えている場合にのみ、前記物理量の算出処理を実行する事を特徴とする回転部材用物理量測定装置。前記閾値は、前記全周期が経過してからこの全周期中に取得した情報を利用して前記物理量の算出処理を1回実行し終わるまでの間に要する時間よりも長い時間である、請求項1に記載した回転部材用物理量測定装置。前記被検出面の円周方向に隣り合う1対の特性変化組み合わせ部を構成する1対の第一特性変化部の、この円周方向に関するピッチと、この円周方向に関してこれら両第一特性変化部同士の間に配置された前記第二特性変化部の、前記被検出面の幅方向に対する傾斜角度との比が、前記円周方向に関するピッチの大きさによらず一定になっている、請求項1~2のうちの何れか1項に記載した回転部材用物理量測定装置。前記各第一特性変化部を、前記被検出面の幅方向に形成された非傾斜特性変化部とし、前記各第二特性変化部を、前記被検出面の幅方向に対して所定角度だけ傾斜した方向に形成された傾斜特性変化部とすると共に、前記各第一特性変化部のうちの一部の第一特性変化部を円周方向に関して等ピッチで配置している、請求項1~3のうちの何れか1項に記載した回転部材用物理量測定装置。本発明は、上述の様な事情に鑑み、回転部材が高速回転する状態での物理量の算出処理に異常が発生する事を防止しつつ、この物理量の測定に関する応答性を、前記回転部材の総ての回転速度範囲で十分に確保できる構造を実現すべく発明したものである。本発明の回転部材用物理量測定装置は、静止部材と、回転部材と、エンコーダと、センサと、演算器とを備える。このうちの静止部材は、使用時にも回転しない。又、前記回転部材は、それぞれが予圧を付与された複数の転がり軸受により、前記静止部材に対して回転自在に支持されている。又、前記エンコーダは、前記回転部材の一部に支持固定されており、この回転部材と同心の被検出面を有する。この被検出面は、それぞれがこの被検出面の円周方向に離隔して設けられた第一特性変化部及び第二特性変化部から成る、複数の特性変化組み合わせ部を、前記被検出面の円周方向に間隔をあけて配置したもので、前記第一、第二両特性変化部に関する、前記被検出面の幅方向に対する正負の方向をも考慮した傾斜角度を、互いに異ならせている。又、前記センサは、その検出部を前記被検出面に対向させた状態で、前記静止部材に支持されている。そして、前記各特性変化部が、前記被検出面のうちで前記検出部が対向する部分を通過する瞬間に、出力信号を変化させる。更に、前記演算器は、前記センサの出力信号を処理する。具体的には、前記被検出面の円周方向に隣り合う1対の特性変化組み合わせ部を構成する1対の第一特性変化部に基づいて発生する1対のパルス間の周期である全周期と、これら両第一特性変化部のうちの一方の第一特性変化部及び前記被検出面の円周方向に関してこれら両第一特性変化部同士の間に配置された前記第二特性変化部に基づいて発生する1対のパルス間の周期である部分周期との比である、パルス周期比に基づいて、それぞれが前記被検出面の幅方向に関する、前記回転部材の変位量とこの回転部材に加わる荷重とのうちの少なくとも一方の物理量を算出する。特に、本発明の回転部材用物理量測定装置に於いては、前記被検出面の円周方向に関して、前記各第一特性変化部を不等ピッチで配置している。そして、前記演算器は、前記全周期が経過する毎に、この全周期と予め設定しておいた閾値とを比較して、この全周期がこの閾値を超えている場合にのみ、前記物理量の算出処理を実行する。本発明を実施する場合に、好ましくは、請求項2に記載した発明の様に、前記閾値を、前記全周期が経過してからこの全周期中に取得した情報を利用して前記物理量の算出処理を1回実行し終わるまでの間に要する時間この時間が、前記回転部材の回転速度や、前記センサの検出部による前記被検出面の走査位置によって変化する場合には、そのうちの最長時間よりも長い時間とする。より好ましくは、この条件に加えて、前記閾値を、前記回転部材が最高回転速度で回転している状態での最長の全周期よりも短い時間とする。又、本発明を実施する場合に、好ましくは、請求項3に記載した発明の様に、前記被検出面の円周方向に隣り合う1対の特性変化組み合わせ部を構成する1対の第一特性変化部の、この円周方向に関するピッチと、この円周方向に関してこれら両第一特性変化部同士の間に配置された前記第二特性変化部の、前記被検出面の幅方向に対する傾斜角度との比を、前記円周方向に関するピッチの大きさによらず一定にする。又、本発明を実施する場合に、好ましくは、請求項4に記載した発明の様に、前記各第一特性変化部を、前記被検出面の幅方向に形成された非傾斜特性変化部とし、前記各第二特性変化部を、前記被検出面の幅方向に対して所定角度だけ傾斜した方向に形成された傾斜特性変化部とする。これと共に、前記各第一特性変化部のうちの一部の第一特性変化部を、円周方向に関して等ピッチで配置する。上述の様に構成する本発明の回転部材用物理量測定装置によれば、回転部材が高速回転する状態での物理量変位量、荷重の算出処理に異常が発生する事を防止しつつ、この物理量の測定に関する応答性単位時間当たりの、この物理量の算出回数を、前記回転部材の総ての回転速度範囲で十分に確保する事が可能となる。即ち、本発明の場合、閾値の大きさを例えば、請求項2に記載した発明の様に調整すれば、前記回転部材が低速回転する状態で、総ての全周期が閾値を超え、同じく高速回転する状態で、一部の全周期のみが閾値を超える様にできる。即ち、前記回転部材が低速回転する状態で、前記物理量の算出処理を、全周期が経過する毎に毎回実行し、前記回転部材が高速回転する状態で、前記物理量の算出処理を、前記全周期が経過する毎に毎回は実行せず、何回かに1回の割合前記物理量の算出処理が重複して実行されない間隔で実行する様にできる。この為、前記被検出面に設ける特性変化組み合わせ部の数を多くする事によって、前記回転部材が低速回転する状態での前記物理量の測定に関する応答性を十分に確保でき、しかも、前記回転部材が高速回転する状態で、前記演算器の処理能力が追い付かなくなる事を防止できる。従って、前記回転部材が高速回転する状態での物理量の算出処理に異常が発生する事を防止しつつ、この物理量の測定に関する応答性を、前記回転部材の総ての回転速度範囲で十分に確保できる。又、請求項3に記載した発明の構成を採用すれば、前記被検出面の円周方向に関して前記各第一特性変化部が不等ピッチで配置されているにも拘らず、前記物理量の変化に対するパルス周期比の変化の割合を、総てのパルス周期比に関してそれぞれ等しくする事ができる。この為、前記回転部材に荷重が作用していない中立状態で総てのパルス周期比が互いに等しくなる様に、前記被検出面の円周方向に関する前記各第二特性変化部の配置箇所を規制すれば、前記各パルス周期比から前記物理量を算出する為の演算式として、それぞれ同じものを使用する事ができる。又、請求項4に記載した発明の構成を採用すれば、回転部材の変位量とこの回転部材に作用する荷重とのうちの少なくとも一方の物理量を測定する為に使用するセンサの出力信号に基づいて、この物理量の変化の影響を受ける事なく、前記回転部材の回転速度を精度良く測定できる。即ち、請求項4に記載した発明の場合には、前記各第一特性変化部を、前記被検出面の幅方向に形成された非傾斜特性変化部とすると共に、これら各第一特性変化部のうちの一部の第一特性変化部を、前記被検出面の円周方向に関して等ピッチで配置している。この為、前記センサの出力信号のうち、前記一部の第一特性変化部に基づいて発生したパルスの周波数又は周期は、前記物理量の値前記センサの検出部が走査する、前記被検出面の幅方向位置によらず、前記回転部材の回転速度にのみ対応して変化する。しかも、この回転速度が一定であれば、前記パルスの周波数又は周期は、前記物理量の値が変動している最中であっても、変動する事はない。従って、このパルスの周波数又は周期に基づいて、前記物理量の変化の影響を受ける事なく、前記回転部材の回転速度を精度良く測定する事ができる。[実施の形態の第1例]図1~11により、請求項1~4に対応する、本発明の実施の形態の第1例に就いて説明する。本例は、工作機械を構成する、回転部材である主軸4の軸方向変位量と、この主軸4に加わるアキシアル荷重とのうちの少なくとも一方の物理量を測定する為の構造に、本発明を適用した例である。前記工作機械は、静止部材であるハウジング主軸頭5の内径側に前記主軸4を、多列転がり軸受ユニット6により回転自在に支持すると共に、電動モータ7により、前記主軸4を回転駆動自在としている。前記多列転がり軸受ユニット6を構成する複数個の転がり軸受8a~8dのうち、先端寄りに配置した2個の転がり軸受8a、8bと、基端寄りに配置した2個の転がり軸受8c、8dとには、互いに逆向きの接触角を付与すると共に、これら各転がり軸受8a~8dに、予圧を付与している。これにより、前記主軸4を前記ハウジング5に対して、ラジアル荷重及び両方向のアキシアル荷重を支承する状態で、がたつきなく、回転自在に支持している。前記工作機械の運転時には、前記主軸4の先端部図1の左端部に固定した図示しない工具を、適切な回転速度で回転させつつ被加工物に押し付け、この被加工物に、切削等の加工を施す。この様にして加工を施す際に、前記主軸4には、この被加工物に前記工具を押し付ける事の反作用として、各方向の荷重が加わる。本例の構造では、このうちの主軸4の軸方向に作用するアキシアル荷重に基づく、この主軸4の軸方向の変位量更に必要に応じてこのアキシアル荷重を求められる様にしている。この為に本例の場合も、前述した従来構造の場合と同様、図3~4に示す様なエンコーダ1aと、図5に示す様なセンサユニット9を構成するセンサ10との組み合わせを使用する。このうちのエンコーダ1aは、前記主軸4の中間部先端寄り部分で、前記多列転がり軸受ユニット6を構成する転がり軸受8b、8c同士の間に外嵌固定している。このエンコーダ1aは、内輪間座を兼ねるもので、鋼等の磁性金属により造り、全体を円筒状としている。そして、このエンコーダ1aに、複数の特性変化組み合わせ部3a1、3a2、3a3を、円周方向に間隔をあけて形成している。これら各特性変化組み合わせ部3a1、3a2、3a3はそれぞれ、第一特性変化部である直線状の第一透孔11a1、11a2、11a3と、第二特性変化部である直線状の第二透孔11b1、11b2、11b3とを、円周方向に離隔配置して成る。特に、本例の場合には、前記各第一透孔11a1、11a2、11a3を、前記エンコーダ1aの軸方向図4に於ける上下方向に形成した、非傾斜特性変化部としている。これに対し、前記各第二透孔11b1、11b2、11b3を、前記エンコーダ1aの軸方向に対して傾斜した方向に形成した、傾斜特性変化部としている。又、円周方向に関する前記各第一透孔11a1、11a2、11a3のピッチを、この円周方向にα、β、γα<β<γの順で繰り返し変化させている図示の例では、前記エンコーダ1aの中心軸を中心とする角度表記で、α=20度、β=30度、γ=40度としている。更に、前記エンコーダ1aの軸方向に対する前記各第二透孔11b1、11b2、11b3の傾斜角度を、前記各第一透孔11a1、11a2、11a3のピッチα、β、γに合わせて、円周方向にθ1、θ2、θ3θ1<θ2<θ3の順で繰り返し変化させている。具体的には、円周方向に隣り合う1対の特性変化組み合わせ部3a1、3a2{3a2、3a3、3a3、3a1}を構成する1対の第一透孔11a1、11a2{11a2、11a3、11a3、11a1}のピッチαβ、γと、これら両第一透孔11a1、11a2{11a2、11a3、11a3、11a1}の間に配置された前記第二透孔11b111b2、11b3の傾斜角度θ1θ2、θ3との比θ1/αθ2/β、θ3/γが、前記各ピッチα、β、γの大きさによらず一定θ1/α=θ2/β=θ3/γとなる様に、これら各ピッチα、β、γ及び前記各傾斜角度θ1、θ2、θ3を規制している。又、本例の場合、前記各第二透孔11b1、11b2、11b3は、それぞれ円周方向に関して自身の両側に存在する1対の第一透孔11a1、11a2、11a2、11a3、11a3、11a1同士の間の丁度中央位置に配置している。又、前記センサユニット9は、合成樹脂製のホルダ12の先端部に、前記センサ10を包埋して成る。このセンサ10は、前記エンコーダ1aに形成した、前記第一、第二各透孔11a、11bの存在に基づいて出力信号が変化するものであり、検出部を構成するホールIC、ホール素子、MR素子、GMR素子等の磁気検知素子と、永久磁石とから成る。この様なセンサユニット9は、前記センサ10の検出部を、被検出面である、前記エンコーダ1aの外周面に近接対向させた状態で、前記ハウジング5に支持固定している。上述の様な構成を有する本例の回転部材用物理量測定装置の場合も、前述した従来構造の場合と同様、前記主軸4と共に前記エンコーダ1aが回転すると、前記センサ10の検出部が、被検出面である、このエンコーダ1aの外周面を走査する。このエンコーダ1aの外周面の磁気特性は、前記各第一透孔11a1、11a2、11a3、及び、前記各第二透孔11b1、11b2、11b3の存在により、円周方向に変化している。この為、前記エンコーダ1aの回転に伴って、前記センサ10の出力信号が変化する。例えば、このセンサ10の検出部がこのエンコーダ1aの外周面のうち、図6のaの鎖線イ位置を走査すると、このセンサ10の出力信号が、この図6のbに示す様に変化する。この図6のbで、円周方向に隣り合う1対の特性変化組み合わせ部3a1、3a2{3a2、3a3、3a3、3a1}を構成する1対の第一透孔11a1、11a2{11a2、11a3、11a3、11a1}に基づいて発生する1対のパルス間の周期を全周期Lα1Lβ1、Lγ1とする。又、同じ特性変化組み合わせ部3a13a2、3a3を構成する1対の透孔11a1、11b1{11a2、11b2、11a3、11b3}に基づいて発生する1対のパルス間の周期を部分周期δα1δβ1、δγ1とする。前記センサ10の検出部が前記鎖線イ位置を走査する場合には、この部分周期δα1δβ1、δγ1と前記全周期Lα1Lβ1、Lγ1との比であるパルス周期比δα1/Lα1δβ1/Lβ1、δγ1/Lγ1は、比較的小さな値となる。これに対して、前記センサ10の検出部が図6のaの鎖線ロ位置を走査すると、このセンサ10の出力信号が、この図6のcに示す様に変化する。そして、部分周期δα2δβ2、δγ2と全周期Lα2Lβ2、Lγ2との比であるパルス周期比δα2/Lα2δβ2/Lβ2、δγ2/Lγ2は、比較的大きな値となる。尚、本発明を実施する場合には、パルス周期比を求める際の部分周期δとして、円周方向に隣り合う1対の特性変化組み合わせ部3a1、3a2{3a2、3a3、3a3、3a1}の、円周方向に隣り合う1対の透孔11b2、11a3{11b3、11a1、11b1、11a2}に関するパルス間の周期を採用する事もできる。この場合には、前記パルス周期比の大小が変化する方向が、上述した場合とは逆になる。何れにしても、前記センサ10の出力信号に関するパルス周期比δα/Lαδβ/Lβ、δγ/Lγは、このセンサ10の検出部が走査する、前記エンコーダ1aの外周面の軸方向位置被検出面の幅方向位置により変化する。このパルス周期比δα/Lαδβ/Lβ、δγ/Lγにより、前記エンコーダ1aを固定した前記主軸4に関する物理量軸方向に関する変位量とアキシアル荷重との一方又は双方を求める原理に就いては、前述の図13~14で説明した通りである。即ち、前記センサ10の出力信号を、図示しない演算器に送ると、この演算器が、予めインストールされたソフトウェア中の演算式により、前記パルス周期比δα/Lαδβ/Lβ、δγ/Lγに基づいて、前記主軸4の軸方向に関する変位量を求める。更に、必要に応じて、この主軸4に加わるアキシアル荷重を求める。尚、本例の場合には、前述した様に、前記各第一透孔11a1、11a2、11a3のピッチα、β、γと、前記各第二透孔11b1、11b2、11b3の傾斜角度θ1、θ2、θ3との間に、θ1/α=θ2/β=θ3/γなる関係が成立する様に、これら各傾斜角度θ1、θ2、θ3を互いに異ならせている。この為、円周方向の何れの位置で取得したパルス周期比δα/Lα、δβ/Lβ、δγ/Lγに基づいて前記物理量を算出する場合でも、同じ演算式を使用する事ができる。この点に就いて、以下に詳しく説明する。先ず、前記各第一透孔11a1、11a2、11a3のピッチα、β、γによらず、前記各第二透孔11b1、11b2、11b3の傾斜角度θ1、θ2、θ3を一定θ1=θ2=θ3とした場合に就いて考える。ここでも、前記ピッチがα、β、γの場所での部分周期をそれぞれδα、δβ、δγとし、同じく全周期をそれぞれLα、Lβ、Lγとする。今、前記主軸4にアキシアル荷重が加わる事により、前記エンコーダ1aが軸方向変位して、部分周期がΔδだけ変化したとする。この部分周期の変化量Δδは、前記各第二透孔11b1、11b2、11b3の傾斜角度θ1、θ2、θ3に依存する。但し、これら各傾斜角度θ1、θ2、θ3はそれぞれ等しいθ1=θ2=θ3為、前記ピッチがα、β、γの場所での部分周期の変化量Δδも、それぞれ等しくなる。従って、前記ピッチがα、β、γの場所でのパルス周期比は、前記ピッチがαの場所でδαΔδ/Lα=δα/LαΔδ/Lα---前記ピッチがβの場所でδβΔδ/Lβ=δβ/LβΔδ/Lβ---前記ピッチがγの場所でδγΔδ/Lγ=δγ/LγΔδ/Lγ---となる。ここで、これら~式の右辺第二項Δδ/Lα、Δδ/Lβ、Δδ/Lγは、アキシアル荷重に対するパルス周期比の変化量を表しているが、それぞれの分母が異なるLα≠Lβ≠Lγ為、それぞれの値が異なっているΔδ/Lα≠Δδ/Lβ≠Δδ/Lγ。即ち、前記ピッチがα、β、γの各場所毎に、アキシアル荷重に対するゲインが異なっている事になる。従って、この場合には、パルス周期比から物理量軸方向変位、アキシアル荷重を算出する際に使用する演算式を、前記ピッチがα、β、γの各場所毎に変える必要がある。これに対して、本例の様に、前記各ピッチα、β、γと前記各傾斜角度θ1、θ2、θ3との間に、θ1/α=θ2/β=θ3/γなる関係が成立する様に、これら各傾斜角度θ1、θ2、θ3を互いに異ならせれば、前記~式の右辺第二項Δδ/Lα、Δδ/Lβ、Δδ/Lγに相当する変化量、即ち、アキシアル荷重に対するゲインが、それぞれ等しくなる。更に、本例の場合には、前記各第二透孔11b1、11b2、11b3を、それぞれ円周方向に関して自身の両側に存在する1対の第一透孔11a1、11a2、11a2、11a3、11a3、11a1同士の間の丁度中央位置に配置している。この為、前記主軸4にアキシアル荷重が作用していない中立状態でのパルス周期比である、前記~式の右辺第一項δα/Lα、δβ/Lβ、δβ/Lβに相当する量も、それぞれ等しくなる。即ち、本例の場合には、前記主軸4に加わるアキシアル荷重この主軸4の軸方向変位量が一定であれば、前記ピッチがα、β、γの各場所でのパルス周期比が互いに等しくなる。この為、このパルス周期比から物理量を算出する際に使用する演算式を、前記ピッチがα、β、γの各場所毎に変える必要がなくなる。つまり、円周方向の何れの位置で取得したパルス周期比δα/Lα、δβ/Lβ、δγ/Lγに基づいて前記物理量を算出する場合でも、同じ演算式を使用する事ができる。又、本例の場合、前記各第一透孔11a1、11a2、11a3は、このエンコーダ1aの軸方向この被検出面の幅方向に形成されている。更に、これら各第一透孔11a1、11a2、11a3のうちで、円周方向に2つ置きに配置された各第一透孔11a1、11a1{11a2、11a2、11a3、11a3}は、円周方向に関して等ピッチで配置されている。この為、前記センサ10の出力信号のうち、これら円周方向に2つ置きに配置された各第一透孔11a1、11a1{11a2、11a2、11a3、11a3}に基づいて発生したパルスの周波数又は周期は、前記物理量の値前記センサ10の検出部が走査する、前記被検出面の幅方向位置によらず、前記主軸4の回転速度にのみ対応して変化する。しかも、この回転速度が一定であれば、前記パルスの周波数又は周期は、前記物理量の値が変動している最中であっても、変動する事はない。従って、このパルスの周波数又は周期に基づいて、前記物理量の変化の影響を受ける事なく、前記主軸4の回転速度を精度良く測定する事ができる。又、本例の場合、前記演算器は、基本的には、前記各全周期Lα、Lβ、Lγが経過する毎に、前記物理量の算出処理を実行する。但し、この基本を徹底すると、前記主軸4の回転速度が高くなる事に伴って、何れかの全周期が過度に短くなった場合に、前記演算器の処理能力が追い付かなくなり、先に開始した物理量の算出処理が完了する前に、次の物理量の算出処理が開始され、この物理量の算出処理が重複して実行される可能性がある。この結果、1回毎の物理量の算出処理時間が長くなったり、著しい場合には、この物理量の算出処理が全く行えなくなったりする可能性がある。そこで、この様な異常が発生する事を回避すべく、本例の場合、前記演算器は、前記各全周期Lα、Lβ、Lγが経過する毎に、前記物理量の算出処理を実行するか否かを選択可能な機能を備えている。この点に就いて、以下、図7~9を参照しつつ、具体的に説明する。尚、以下の説明で使用する図面では、必要に応じて、前記被検出面の特性変化パターンを、例えば図7に示す様に、複数の太線で簡略化して示す。これら各太線は、それぞれが前記被検出面の特性境界位置である、前記各透孔11a1、11b1、11a2、11b2、11a3、11b3の円周方向両側縁のうちの一方の側縁本例の場合には、パルスの立ち上がりエッジを発生させる側縁を示している。本例の場合、前記演算器は、前記物理量を求める際の演算処理を、タスクAとタスクBとに分けて実行する。このうちのタスクAでは、図7に示す様に、前記各透孔11a1、11b1、11a2、11b2、11a3、11b3に基づいて発生するパルスを検出し、円周方向に隣り合う1対のパルス間の周期TiT1、T2、T3、T4、T5、T6を求める。これと共に、この周期Tiをバッファに格納する。更に、前記各第一透孔11a1、11a2、11a3に基づいて発生するパルスを検出する毎に、これら各パルス間の周期である全周期L{LαT1T2、LβT3T4、LγT5T6}を求める。そして、この全周期LLα、Lβ、Lγをレジスタに記憶させると共に、この全周期LLα、Lβ、Lγと、予め設定しておいた閾値Tthとを比較し、これらの大小関係を確認する。一方、前記演算器は、上述したタスクAでの比較の結果、前記全周期LLα、Lβ、Lγが前記閾値Tthを超えているL>Tth場合にのみ、前記タスクBの処理を開始する。このタスクBでは、このタスクBの開始時を基準として、前記タスクAで求めた周期Tiのうち、最後に求めた周期Tnと、その1つ前に求めた周期Tn1とを利用して、パルス周期比δ/L部分周期δ=Tn1、全周期L=Tn1Tnを求める。例えば、全周期Lαの径過後に開始するタスクBでは、周期T2と周期T1とを利用して、パルス周期比δ/L部分周期δ=T1、全周期L=T1T2を求める。そして、このパルス周期比δ/Lに基づいて、前記物理量を算出する。尚、前記閾値Tthは、前記主軸4の総ての回転速度範囲で前記タスクBが重複して実行されない様に設定した時間である。この様な閾値Tthは、前記全周期LLα、Lβ、Lγが経過してから、前記タスクBを1回実行するのに要する時間よりも長い時間に設定している。この様な閾値Tthの設定の仕方に就いては、後でより詳しく説明する。上述した様な演算器は、具体的には、次の様に動作する。先ず、前記主軸4が低速回転する状態を、図8に示す。この状態では、総てのピッチα、β、γ部分での全周期Lα、Lβ、Lγが、前記閾値Tthを超えているLα>Tth、Lβ>Tth、Lγ>Tth。この為、前記演算器は、これら各全周期Lα、Lβ、Lγが経過する毎に、毎回、前記タスクBを実行する。尚、図8及び次述する図9中の出力α、出力β、出力γは、それぞれ前記各ピッチα、β、γ部分での全周期Lα、Lβ、Lγ中に取得された情報に基づいて算出された物理量を表している。次に、前記主軸4の回転速度が増した状態を、図9に示す。この主軸4の回転速度が増すと、その分だけ、前記各ピッチα、β、γ部分での全周期Lα、Lβ、Lγが短くなる。この為、前記主軸4の回転速度が増すと、図示の様に、前記各全周期Lα、Lβ、Lγに対する前記閾値Tthの比が増すこの閾値Tth自体が増している訳ではない。この図9に示した状態では、前記各ピッチα、β、γ部分での全周期Lα、Lβ、Lγのうちで、最も短いピッチα部分での全周期Lαのみが、前記閾値Tthよりも小さくなっておりLα<Tth、残りの各ピッチβ、γ部分での全周期Lβ、Lγは、前記閾値Tthを超えているLβ>Tth、Lγ>Tth。この為、前記演算器は、最も短いピッチα部分での全周期Lαが経過したタイミングでは、前記タスクBの実行をせずスキップし、残りの各ピッチβ、γ部分での全周期Lβ、Lγが経過する毎に、前記タスクBを実行する。又、図示は省略するが、前記主軸4の回転速度が更に増すと、前記各ピッチα、β、γ部分での全周期Lα、Lβ、Lγのうちで、最も長いピッチγ部分での全周期Lγのみが、前記閾値Tthを超えLγ>Tth、残りの各ピッチα、β部分での全周期Lα、Lβは、前記閾値Tthよりも小さいLα<Tth、Lβ<Tth状態となる。この状態で、前記演算器は、最も長いピッチγ部分での全周期Lαが経過する毎に、前記タスクBを実行し、残りの各ピッチα、β部分での全周期Lα、Lβが経過するタイミングでは、前記タスクBの実行をしないスキップする。次に、前記閾値Tthの設定の仕方に就いて説明する。前述した様に、この閾値Tthは、前記主軸4の総ての回転速度範囲で前記タスクBが重複して実行されない様に設定した時間である。本例の場合、前記演算器は、シングルプロセッサを搭載しているマルチプロセッサ、或は、マルチコアプロセッサを搭載していない。この為、前記タスクBの実行中に、前記タスクAの実行が開始されると、このタスクBの実行は、一時的に中断される。そして、このタスクAの実行が完了した時点で、前記タスクBの実行が再開される。又、前記タスクAを実行する時間間隔前記パルス間の周期Tiは、前記主軸4の最高回転速度で最短になる。この為、前記タスクBの実行中に前記タスクAが実行される回数は、前記主軸4の最高回転速度で最も多くなる。従って、前記全周期LLα、Lβ、Lγが経過してから、この全周期LLα、Lβ、Lγ中に取得した情報を利用して前記物理量の算出処理前記タスクAの処理を優先させながらの前記タスクBの処理を1回実行し終わるまでの間に要する時間は、前記主軸4の最高回転速度で最長になる。この最長の時間は、具体的には、前記主軸4が最高回転速度で回転している状態で、前記全周期LLα、Lβ、Lγが経過してから、前記タスクBの処理を1回実行し終わるまでの間に実行される、前記タスクAの最大実行回数MにこのタスクA単体の処理時間TAを乗じて得た時間MTAと、前記タスクB単体の処理時間TBとの和MTATBである。この最長の時間MTATBよりも長い時間間隔で、前記タスクBの実行を開始する様にすれば、前記演算器がこのタスクBを重複して実行する事がなくなる。そこで、本例の場合には、前記閾値Tthを、この最長の時間MTATBよりも長い時間Tth>MTATBに設定している。この点に就いて、図10に具体例を挙げて説明する。タスクBは、第一透孔11a1、11a2、11a3のタスクAの終了時から実行が開始される。図10に示した例の場合、第一回目の処理では、タスクB終了までにタスクAが2回割り込みで実行されている。従って、トータルで要する処理時間は、2TATBとなる。同じく第二回目の処理では、タスクAの割り込みが1回である為、トータルで要する処理時間は、1TATBとなる。一方、シングルプロセッサを搭載した演算器では、タスクBの実行中に割り込まれるタスクAの回数は最大でM前記主軸4の最高回転速度時となる。この為、最長の処理時間はMTATBとなる。従って、前記閾値Tthが満たすべき条件は、Tth>MTATBとなる。尚、前記演算器がマルチプロセッサ、或いは、マルチコアプロセッサを搭載している場合には、前記タスクAと前記タスクBとを互いに独立して並列に実行する事が可能となる。従って、この場合には、前記閾値Tthを、Tth>TBに設定すれば良い。この点に就いて、図11に具体例を挙げて説明する。タスクAとタスクBが完全に並列で実行される場合には、例えば図11に示す様になる。タスクBが開始できるかの条件判定処理は、タスクA内の所定のタイミングで実行される。ここでは、分かり易くする為に、タスクA終了と同時にタスクBの実行が開始されるとする。第一透孔11a1、11a2、11a3のタスクAの開始タイミングの間隔は、全周期LLα、Lβ、Lγなので、同じく終了タイミングの間隔も、全周期LLα、Lβ、Lγとなる。この為、タスクA内の所定のタイミング同士の間隔、即ち、タスクBの開始タイミングの最短間隔も、全周期LLα、Lβ、Lγとなる。従って、この全周期LLα、Lβ、LγがタスクBの実行時間Tbよりも長ければ、タスクBは重複して実行される事がなくなる。つまり、この場合には、前記閾値Tthを、Tth>TBに設定すれば良い。更に、本例の場合には、前記主軸4が最高回転速度で回転している状態で、前記各ピッチα、β、γ部分での全周期Lα、Lβ、Lγが何れも前記閾値Tth以下になる事、即ち、前記タスクBが全く実行されなくなる事を防止する為に、前記閾値Tthの設定範囲を更に制限している。具体的には、上述の様な条件を満たす閾値Tthを、前記主軸4が最高回転速度で回転している状態での最長の全周期である、前記ピッチγ部分での全周期Lγよりも短い時間であって、且つ、同じ状態で次に長い全周期である、前記ピッチβ部分での全周期Lβよりも長い時間に設定している。言い換えれば、本例の場合には、前記主軸4が最高回転速度で回転している状態で、前記ピッチγ部分での全周期Lγのみが前記閾値Tthを超える様に、前記被検出面に設ける特性変化パターンの寸法を規制している。上述の様に、本例の回転部材用物理量測定装置の場合には、前記主軸4の回転速度が比較的低く、前記各ピッチα、β、γ部分での全周期Lα、Lβ、Lγが総て前記閾値Tthを超えている状態では、前記物理量の算出処理前記タスクBを、これら各全周期Lα、Lβ、Lγが経過する毎に毎回実行する。これに対し、前記主軸4の回転速度が高くなる事に伴い、前記各全周期Lα、Lβ、Lγのうちの一部の全周期Lα、又は、Lα及びLβが前記閾値Tth以下になった状態では、前記物理量の算出処理を、前記各全周期Lα、Lβ、Lγが経過する毎に毎回は実行せず、3回に2回、又は、3回に1回の割合前記物理量の算出処理が重複して実行されない間隔で実行する。この為、前記被検出面に設ける特性変化組み合わせ部3a1、3a2、3a3の数を多くする事によって、前記主軸4が低速回転する状態での前記物理量の測定に関する応答性を十分に確保でき、しかも、前記主軸4が高速回転する状態で、前記演算器の処理能力が追い付かなくなる事を防止できる。従って、前記主軸4が高速回転する状態での物理量の算出処理に異常が発生する事を防止しつつ、この物理量の測定に関する応答性を、前記主軸4の総ての回転速度範囲で十分に確保できる。尚、本発明を構成する演算器に搭載するプロセッサは、比較的安価なシングルプロセッサに限らず、比較的高価なマルチプロセッサやマルチコアプロセッサとする事もできる。但し、何れのプロセッサを搭載する場合でも、上述した効果を得られる為、比較的安価なシングルプロセッサを搭載する事によって、コストパフォーマンスの高い構造を実現できる。[実施の形態の第2例]図12は、請求項1~3に対応する、本発明の実施の形態の第2例を示している。本例の場合には、エンコーダ1bの被検出面に設けた複数の特性変化組み合わせ部3b1、3b2、3b3を構成する第一透孔11a、11aの形成方向のみが、上述した実施の形態の第1例の場合と異なる。即ち、本例の場合には、前記各第一透孔11a、11aの形成方向を、前記エンコーダ1bの軸方向前記被検出面の幅方向とせず、この軸方向に対して、前記各特性変化組み合わせ部3b1、3b2、3b3を構成する第二透孔11b1、11b2、11b3と反対方向に所定角度θだけ傾斜した方向としている。この様な構成を有する本例の場合には、前記各第一透孔11a、11aを、前記各第二透孔11b1、11b2、11b3と反対方向に所定角度θだけ傾斜させた分、上述した実施の形態の第1例の場合に比べて、物理量軸方向変位量、アキシアル荷重の変化に対するパルス周期比の変化の割合ゲインを大きくできる。その他の構成及び作用は、上述した実施の形態の第1例の場合と同様である。尚、本発明を実施する場合には、総ての第二特性変化部の傾斜角度を等しくする事もできる。但し、この様な構成を採用する場合には、前述した様に、円周方向に関する第一特性変化部のピッチが異なる場所毎に、回転部材に作用する荷重に対するゲインが異なる様になる。この為、やはり前述した様に、パルス周期比から物理量を算出する際に使用する演算式を、前記ピッチが異なる場所毎に変える必要がある。又、本発明を実施する場合、磁性材製のエンコーダの被検出面に設ける第一、第二両特性変化部は、透孔ではなく、例えば凹溝や凸部とする事もできる。又、本発明を実施する場合には、エンコーダの軸方向側面に円輪状の被検出面を設けると共に、この被検出面にセンサの検出部を軸方向に対向させる構成を採用して、回転部材に作用するラジアル荷重と、この回転部材の径方向の変位量とのうちの少なくとも一方の物理量を測定可能とする事もできる。又、本発明は、工作機械の主軸に関する物理量を測定する構造に限らず、例えば、自動車の車輪支持用転がり軸受ユニットを構成する回転側軌道輪部材に関する物理量を測定する構造に適用する事もできる。