"放射線検出部と、前記放射線検出部に刺激光を光ファイバを介して照射する光源と、光ファイバを介して伝送される前記放射線検出部で発生した光を検出する光検出器と、前記光検出器から出力されるパルスを計数すると共に付帯情報を得る計測装置と、前記計測装置で得られた測定結果の時刻情報、波高情報及び計数値から放射線検出部由来の光量を抽出し、線量及び線量率に換算する解析装置を備えることを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システムにおいて、光検出器部分に波長分析装置を備えることを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システムにおいて、計測装置に入力される各パルスの検出された時刻、パルス波高値を測定する計測装置を備えることを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システムにおいて、バックグラウンドの時刻情報、波高情報及び計数値を用いて、測定結果をネット値として解析する解析装置を備えることを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システム方法において、放射線検出部にOSL素子を備えることを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システムにおいて、光源からの刺激光照射間隔と解析装置の測定結果から線量率を導出することを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システムにおいて、放射線検出部にOSL光を集光し、光ファイバに入力する集光レンズを備えることを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システムにおいて、光源と放射線検出部を接続する光源用光ファイバ及び放射線検出部と光検出器を接続する検出用光ファイバを備えることを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システムにおいて、光カプラを光源、光検出器及び放射線検出部の間に備え、光カプラと放射線検出部の光ファイバを1本とすることを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システムにおいて、光スイッチを光源、光検出器及び放射線検出部の間に備え、光スイッチを介して、複数の放射線検出部と1つの光検出器及び光源を接続し、複数の放射線検出部における線量及び線量率を1台の計測装置及び解析装置で計測することを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システム及びその方法において、計測装置で得られた測定結果の時刻情報、波高情報及び計数値から解析結果を3次元分布として表示することを特徴とする線量率計測システム。請求項1に記載された線量率計測システムにおいて、解析装置における解析方法として、時刻範囲及び波高範囲を指定して線量及び線量率を解析することを特徴とする線量率計測システム。放射線検出部に刺激光を光ファイバを介して照射し、光ファイバを介して伝送される前記放射線検出部で発生した光を検出し、前記検出された光から出力されるパルスを計数値として計数し、前記パルス計数と共に得られた測定結果である時刻情報、波高情報及び前記計数値から放射線検出部由来の光量を抽出し、線量及び線量率に換算する線量率計測方法。ケーブルを長く引き回す必要がある施設において光ファイバを利用した線量モニタを実現するには、光ファイバ長による減衰とバックグラウンドによるSN劣化を低減する計測装置及びその方法が必要である。特許文献1ではOSL素子に対して2本の光ファイバを接続することツインファイバ方式でOSL光およびレーザ光の減衰を抑制する。しかし計測装置、演算装置等にSN劣化を低減する装置構成及びそのアルゴリズムに関する記載は一切ない。特許文献2では蛍光物質の蛍光光量が支配的なる時刻範囲のみ光検出器の増倍率を大きくする手段を備えることで、SN比を改善する。しかし特許文献2の手法は蛍光物質による光の放射が入射するレーザに対して時刻的に非常に長く、かつ蛍光がレーザ入射停止後も十分持続する場合にのみ適用可能な手段であるため、その利用には制限がある。例えばOSL光による線量測定を実施するにはレーザ等による照射でOSL光を発生させ、消尽させる必要があるが、OSL光放射時間はレーザ照射時間に対して十分短い。したがって特許文献2の手段の適用は困難である。光ファイバ長による減衰とバックグラウンドによるSN劣化を低減できれば、線量モニタの高精度化が実現でき、従来の通電が必要な各種モニタと同等の精度での測定を実現できる。本発明の目的は、上述する課題を解決する光ファイバ長による減衰とバックグラウンドによるSN劣化を低減するための線量率計測システム及び線量率計測方法を提供することにある。上記した目的を達成する請求項1の発明の線量率計測システムは、放射線検出部と、前記放射線検出部に刺激光を光ファイバを介して照射する光源と、前記光ファイバを介して伝送される前記放射線検出部で発生した光を検出する光検出器と、放射線検出部、光源及び光検出器を接続し、前記光検出器から出力されるパルスを計数すると共に付帯情報を得る計測装置と、前記計測装置で得られた測定結果の時刻情報、波高情報及び前記計数値から放射線検出部由来の光量を抽出し、線量及び線量率換算する解析装置を備えることを特徴とするものである。請求項2の発明の線量率計測システムは、光検出器部分に波長分析装置を備えることを特徴とするものである。請求項3の発明の線量率計測システムは、計測装置に入力される各パルスの検出された時刻、パルス波高値を測定する計測装置を備えることを特徴とするものである。請求項4の発明の線量率計測システムは、バックグラウンドの時刻情報、波高情報及び計数値を用いて、測定結果をネット値として解析する解析装置を備えることを特徴とするものである。請求項5の発明の線量率計測システムは、放射線検出部にOSL素子を備えることを特徴とするものである。請求項6の発明の線量率計測システムは、光源の照射間隔と解析装置の測定結果から線量率を導出することを特徴とするものである。請求項7の発明の線量率計測システムは、放射線検出部にOSL光を集光し、光ファイバに入力する集光レンズを備えることを特徴とするものである。請求項8の発明の線量率計測システムは、光源と放射線検出部を接続する光源用光ファイバ及び放射線検出部と光検出器を接続する検出用光ファイバを備えることを特徴とするものである。請求項9の発明の線量率計測システムは、光カプラを光源、光検出器及び放射線検出部の間に備え、光カプラと放射線検出部の光ファイバを1本とすることを特徴とするものである。請求項10の発明の線量率計測システムは、光スイッチを光源、光検出器及び放射線検出部の間に備え、光スイッチを介して、複数の放射線検出部と1つの光検出器及び光源を接続し、複数の放射線検出部における線量及び線量率を1台の計測装置及び解析装置で計測することを特徴とするものである。請求項11の発明の線量率計測システムは、計測装置で得られた測定結果の時刻情報、波高情報及び計数値から解析結果を3次元分布として表示することを特徴とするものである。請求項12の発明の線量率計測システムは、解析装置における解析方法として、時刻範囲及び波高範囲を指定して線量及び線量率を解析することを特徴とするものである。請求項13の発明の線量率計測方法は、放射線検出部に刺激光を光ファイバを介して照射し、光ファイバを介して伝送される前記放射線検出部で発生した光を検出し、前記検出された光から出力されるパルスを計数値として計数し、前記パルス計数と共に得られた測定結果である時刻情報、波高情報及び前記計数値から放射線検出部由来の光量を抽出し、線量及び線量率に換算するものである。請求項1及び13の発明によれば、線量モニタの高精度化が可能となる。より、具体的な例では、パルス計数結果を時刻に基づき解析することで、刺激光照射に相関無く定常的に存在する環境バックグラウンドと、刺激光照射に伴い発生し照射中は定常的に存在する光源バックグラウンドと、刺激光照射に伴い発生し指数関数で減衰するOSL光を、時刻で弁別及び分析でき、さらに波高値においてOSL光による計数がバックグラウンドによる計数と比較して優位な範囲で解析することで、環境及び光源バックグラウンドの頻度が大きい領域を弁別できるため、広範囲に光ファイバを敷設しなければならない各種施設においても、検出部への電源供給が不要で、高精度かつ高感度の線量及び線量率測定を実現できる。請求項2の発明によれば、OSL光の波長領域に計測範囲を指定することで、光源波長によるバックグラウンドを効果的に低減可能であり、高精度かつ高感度の線量及び線量率測定を実現できる。請求項3の発明によれば、各パルスの時刻及び波高情報を用いることで、解析装置における時間分析及び波高分析範囲を任意に変更可能となり、種々の測定環境において最適な精度で線量及び線量率分析が可能となる。請求項4の発明によれば、OSL光出力の計測時に存在する環境バックグラウンド及び光源散乱線から成るバックグラウンドを時刻、波高、計数値に基づいて測定データから差し引き、ネット値として計測することで、高精度かつ高感度の線量及び線量率測定を実現できる。請求項5の発明によれば、放射線検出部にOSL素子を用いれば、放射線量を積算可能で、光源による刺激光に基づきシンチレーション光を放射させることで任意のタイミングで線量及び線量率を測定可能である。さらにOSL素子に線量を十分積算させることで、SN比が高い計測が可能となる。請求項6の発明によれば、光源の照射間隔が放射線検出部に線量を積算させる時間となるので、照射間隔時刻と測定された線量を用いることで線量率を計測可能となる。請求項7の発明によれば、OSL素子に光ファイバ先端で集光するレンズを備えることで、4π方向に放射するOSL光を効率よく集光可能であり、SN比が高い線量及び線量率計測が実現できる。請求項8の発明によれば、光源と放射線検出部、及び放射線検出部と光検出器間をそれぞれの光ファイバで接続することで、光路上の減衰を最小限にすることができ、SN比が高い線量及び線量率計測が実現できる。請求項9の発明によれば、光カプラを備えることで、放射線検出部に引き回す光ファイバを1本にすることができ、各種施設への施工が容易になる。請求項10の発明によれば、光スイッチを備えることで、容易に放射線検出部の多チャンネル化が実現でき、1台の計測装置及び解析装置で複数部分の線量及び線量率計測を実現できる。請求項11の発明によれば、取得した時刻情報、波高情報及び計数値をX、Y、Z軸のいずれかとする3次元分布とし、測定結果を表示することで、OSL光出力レベルが高い範囲、もしくはバッググラウンドの範囲を容易に確認できるので、SN比が高い時刻及び波高範囲の指定が可能となり、最適な精度で線量及び線量率分析が可能となる。請求項12の発明によれば、時刻範囲及び波高範囲を指定することで、バックグラウンドが支配的な範囲を除去できるので、SN比が高い線量及び線量率計測が実現できる。本発明は、発明者らが光ファイバを利用した線量モニタにおいて光ファイバ長による減衰とバックグラウンドによるSN劣化を低減する計測装置及びその方法について、種々検討して得た新たな知見に基づいてなされたものである。この知見では、光検出器出力のパルス計数結果を時刻に基づき解析することで、刺激光照射に相関無く定常的に存在する環境バックグラウンドと、刺激光照射に伴い発生し照射中は定常的に存在する光源バックグラウンドと、刺激光照射に伴い発生し指数関数で減衰するOSL光を、時刻で弁別及び分析でき、さらに波高値においてOSL光による計数がバックグラウンドによる計数と比較して優位な範囲で解析することで、環境及び光源バックグラウンドの頻度が大きい領域を弁別できるため、広範囲に光ファイバを敷設しなければならない各種施設においても、検出部への電源供給が不要で、高精度かつ高感度の線量及び線量率測定を実現できる、というものである。以下、本発明に係る線量率計測システム及びその方法の好適な実施例を、図面を参照して、新たな知見の内容を具体的に説明する。本発明の好適な一実施例である実施例1の線量率計測システム及びその方法を、図1から図5を用いて説明する。実施例1の線量率計測装置は放射線検出部1、光カプラ2、光源3、光源制御装置4、光ファイバ5、光検出器6、計測装置7、解析装置8、表示装置9から構成され、制御計測部11は光カプラ2、光源3、光源制御装置4、光ファイバ5、光検出器6、計測装置7、解析装置8、表示装置9から構成される。放射線検出部1は光ファイバ5を介して光カプラ2に接続される。光カプラ2から2本の光ファイバ5を介して光源3および光検出器6に接続される。光源3は光源制御装置4と接続される。光検出器6は計測装置7に接続される。計測装置7および光源制御装置4と接続される光発生タイミング用ケーブル10は解析装置8に接続される。解析装置8は表示装置9と接続される。放射線検出部1は放射線12を検知する機能を有する。図2に放射線検出部1の構造を示す。放射線検出部1の内部には放射線量を積算する光刺激ルミネセンスOSL素子13が設置される。ここでOSL素子の一例を挙げる。代表的なOSL素子はイメージングプレートで使用されるBaFBr:Eu、個人線量計として使用されているAl2O3:Cがある。他のOSL素子としてBaFl:Eu、NaCl:Cu、KCl:Eu、KBr:Eu、RbBr:Tl、SrS:Eu,Sm、CsS:Eu,Sm、CaS:Ce,Sm、MgS:Eu,Sm、MgS:Ce,Sm、MgO:Fe、Zn2SiO4:Mn、Ba63O:Eu、25Na2O、75B2O3:Eu等が存在する。光ファイバ5を介して光源3から発生した刺激光がOSL素子に照射されることで、OSL素子からOSL光14が発生する。OSL光14は光ファイバ5の先端に入射することで、光カプラ2を介して光検出器6に伝送される。光源3はOSL光14を発生させる領域の波長を発生するものを適用する。光源3は光源制御装置4を用いて光の発生を制御する。OSL光を刺激する光は連続およびパルスいずれでも適用可能である。光源制御装置4には光発生と同等のタイミングで外部に出力する機能を備え、その出力は光発生タイミング用ケーブル10を介して解析装置8に伝送される。光検出器6は光カプラ2を介して伝送されるOSL光14、光源3由来の光源バックグラウンドおよび環境バックグラウンドを検出する。光検出器6の代表例は光電子増倍管、半導体検出器がある。計測装置7は光検出器出力の時刻及び波高を計測する機能を有する。図3に光検出器出力の一例を示す。光検出器6に光が入射すると、光検出器出力であるパルス出力15が光検出器6から出力されて計測装置7で計測される。パルス出力15の波高値18はベースラインを基準とした電圧レベルであり、パルス毎に波高値18が計測される。パルス出力15の検出タイミング取得方法の一例として、波高弁別レベル16を超えたタイミングを検出タイミング17とすることができる。他の方法としてはパルス出力15の頂点を検出タイミングとする方法、コンスタントフラクションタイミング方式によって得られたゼロクロス点を検出タイミングとする方法がある。いずれの手法で取得された検出タイミング17はパルス毎に計測装置7で計測される。解析装置8は計測装置7で計測された各パルスの時刻及び波高情報からOSL光14に基づく信号成分を抽出するものである。図4に解析装置8で分析した分析データの一例である。ここではOSL光測定データ25を実線、バックグラウンド26を点線で示す。刺激光照射タイミング21は光発生タイミング用ケーブル10から伝送された出力に基づいて決定する。OSL光測定データ25について、時刻軸における刺激光照射タイミング21以前に計測される測定データは環境バックグラウンド19によるものである。刺激光照射タイミング21以降に計測される測定データはOSL光、光源及び環境バックグラウンド20を含むものである。OSL光14による光出力が十分低下し、任意の時間で光源3からの刺激光発生を停止した後に計測されるデータは環境バックグラウンド19によるものである。波高軸においても刺激光照射タイミング21以降に波高分布の変化を観測される。バックグラウンド26はOSL光14による信号成分がない環境での測定データを示している。刺激光照射タイミング21以降に光源3によるバックグラウンドが計測される。OSL光測定データ25と比較して、刺激光照射タイミング21以降にその出力変化が現れる。OSL光測定データ25を用いたOSL光14による光量を分析するために、時刻指定範囲22及び波高指定範囲23を選定し、いずれの指定範囲を満たす時刻及び波高指定範囲24にある計数値を測定値とする。また、OSL光測定データ25に対してバックグラウンド26の影響が大きく、測定精度に影響する場合には、バックグラウンド26を差し引き、ネット値として測定値を導出することも可能である。図5に測定値と線量の関係を示す。OSL光測定データ25で取得した測定値は、測定前に準備された関係式27から線量として導出される。測定値と線量の関係式27について、OSL素子による光量と積算線量はほぼ比例関係にあるので、一次関数もしくは二次関数を適用する。図5で導出された線量は積算時間を用いることで線量率に変換可能である。積算時間は例えば刺激光照射タイミング21の照射間隔時間を適用する。以上の本実施例で備える放射線検出部1、光カプラ2、光源3、光源制御装置4、光ファイバ5、光検出器6、計測装置7、解析装置8、表示装置9を適用することで、線量率計測システム及びその方法が実現でき、光ファイバ長による減衰とバックグラウンドによるSN劣化を低減することができ、検出部への電源供給が不要で、高精度及び高感度の線量及び線量率計測を実現可能となる。本発明の他の実施例である実施例2の線量率計測システム及びその方法について説明する。実施例2では波長分析装置を加えることでSN比を効果的に上げるものである。図6に線量率計測装置を示す。波長分析装置28は光ファイバ5を介して光カプラ2と接続され、後段の光検出器6に接続されること以外は実施例1の構成と同等である。図7にOSL光及び光源波長分布を示す。波長分析装置28ではOSL光波長30と光源波長31を測定する。OSL光波長30と光源波長31を効果的に弁別できる波長分析範囲32を指定し、その範囲のみを後段の光検出器6、計測装置7及び解析装置8を計測することで、高いSN比での計測が可能となる。したがって、本実施例を適用することで、高精度及び高感度の線量及び線量率計測を実現可能となる。本発明の他の実施例である実施例3の線量率計測システム及びその方法について説明する。実施例3では放射線検出部に集光レンズを加えることでSN比を効果的に上げるものである。図8に集光レンズ付き放射線検出部を示す。集光レンズ33は光ファイバ5とOSL素子13の間に備える。集光レンズ33の焦点はOSL光の波長に合わせるものとし、焦点位置を光ファイバ5の先端とする。集光レンズ33、OSL素子13及び光ファイバ5の先端は放射線検出部34の内部に備える。光ファイバ5から後段の制御計測部11は実施例1と同等である。本実施例を適用することで、集光によって効果的にOSL光を光ファイバに集光可能となることから、SN比が高い線量及び線量率計測が実現できる。本発明の他の実施例である実施例4の線量率計測システム及びその方法について説明する。実施例4では光源と放射線検出部、及び放射線検出部と光検出器間をそれぞれの光ファイバで接続することで、光路上の減衰を最小限にするものである。図9に線量率計測装置を示す。光源3と放射線検出部1、及び光検出器6と放射線検出部1を接続する2本の光ファイバ35及び光ファイバ41を備えること以外は実施例1と同等の構成である。光源3と放射線検出部1に接続される光ファイバ35は、光源3から発生する刺激光を放射線検出部1に備えるOSL素子13に照射するため接続される。光検出器6と放射線検出部1に接続される光ファイバ41は、OSL光14を光検出器6に伝送するために接続される。光ファイバ41は直接光源3から発生する刺激光を伝送しないために光源バックグラウンドレベルが低減できる。さらに光ファイバ41を直接放射線検出部1と光検出器6を接続し、光カプラ2等の光量を減衰させる構成を除外しているため、効率よくOSL光14による信号成分を検出できる。したがって、本実施例を適用することで、SN比が高い線量及び線量率計測が実現できる。本発明の他の実施例である実施例5の線量率計測システム及びその方法について説明する。実施例5では光スイッチを備えることで、容易に放射線検出部の多チャンネル化が実現するものである。図10に線量率計測装置を示す。制御計測部39に光スイッチ37を備え、光スイッチ37のチャンネル数に応じた放射線検出部40を備えること以外は実施例1の構成と同等である。光スイッチ37は光カプラ2と複数の放射線検出部40と接続される。光スイッチ37は任意に接続されている放射線検出部40を選択でき、光検出器6以降の装置によって各放射線検出部40における線量及び線量率計測が実現できる。本実施例を適用することで、1台の光源3、光源制御装置4、光検出器6、計測装置7、解析装置8、表示装置9で複数の放射線検出部40を容易に、かつ低コストに計測可能である。本発明の他の実施例である実施例6の線量率計測システム及びその方法について、上記した実施例1から実施例5を適切に組合せることで、広範囲に光ファイバを敷設しなければならない各種施設においても、高精度かつ高感度の線量及び線量率測定を実現できる。"