対象物の複数の測定位置中の個別位置または複数の対象物集合体中の個別対象物の高速光学特性を測定する高速光学測定装置において、複数の測定位置を持つ対象物または複数の対象物集合体全体の光の大きさを調節して入射させる対物レンズ部;前記対物レンズ部から入射した光の光経路を変更する光経路部;前記光経路部を制御して光の進行方向を変更する制御信号を出力する制御回路部;入射光を測定する測定センサー;前記光経路部で進行方向を変更した光を前記測定センサーの大きさと位置と一致させる接眼レンズ部;及び前記接眼レンズ部を通じて入射した光が前記測定センサーと一致するように前記測定センサーを固定する測定センサー連結部;を含んでなることを特徴とする、高速光学測定装置。前記光経路部は、前記対物レンズ部から入射した光が着像されるミラー;及び前記ミラーを制御して光の進行方向を変更する駆動部;を含んでなることを特徴とする、請求項1に記載の高速光学測定装置。前記ミラーは、MEMSMicroElectroMechanicalSystemsミラーでなることを特徴とする、請求項2に記載の高速光学測定装置。対象物の複数の測定位置中の個別位置または複数の対象物集合体中の個別対象物の高速光学特性を測定する高速光学測定装置において、複数の測定位置を持つ対象物または複数の対象物集合体全体の光の大きさを調節して入射させる対物レンズ部;前記対物レンズ部から入射した光の光経路を変更する光経路部;前記光経路部を制御して光の進行方向を変更する制御信号を出力する制御回路部;入射光を測定する第1測定センサー;前記対物レンズ部によってMEMSMicroElectroMechanicalSystemsミラー集合体、つまりDMDDigitalMicromirrorDeviceに入射し、前記制御回路部から出力される第1の制御信号に同期するDMDの微細ミラーによる光の進行方向を変更した光を前記第1測定センサーの大きさと位置と一致させる第1の接眼レンズ部;入射光を測定する第2測定センサー;前記DMDの微細ミラーが第2の制御信号に同期して光の進行方向を変更した光を前記第2測定センサーの大きさと位置と一致させる第2の接眼レンズ部;及び前記それぞれの接眼レンズ部を通じて入射した光が前記それぞれの測定センサーと一致するように前記測定センサーを固定する測定センサー連結部;を含んでなり、前記制御回路部はそれぞれの発光素子に相当するミラーを順次制御することを特徴とする、高速光学測定装置。前記複数の第1及び第2測定センサー中の一つ以上は映像を獲得することができるイメージセンサーであり、対象物の大きさ、配列、色相及び個数のいずれか一つ以上の検出条件によって対象物の測定位置または対象物集合体中の個別対象物に相当するミラーを制御することを特徴とする、請求項4に記載の高速光学測定装置。本発明は前記のような問題点を解決するためになされたもので、対象物の光を駆動部に結合されたミラーに反射させ、平面での移動距離Lx、Lyに応じて相対的に極めて小さな中心角fの変位でミラーを制御して光の進行方向を変更することで、対象物の個別測定位置または複数の対象物集合体中の個別対象物を順次選択して高速で光学測定することを目的とする。本発明の他の目的は、対象物または複数の対象物集合体の全体光をMEMSミラー集合体、つまりDMDに反射させ、対象物の測定位置または複数の対象物集合体中の個別対象物の光が到逹する一つ以上のDMDの微細ミラーを選択的に制御することで、対象物の個別測定位置または複数の対象物集合体の個別対象物の数が無数に多いかその間隔が微細な場合にも高速光学測定が可能な装置を提供することを目的とする。このような目的を達成するための本発明の対象物の複数の測定位置中の個別位置または複数の対象物集合体中の個別対象物の高速光学特性を測定する高速光学測定装置は、複数の測定位置を持つ対象物または複数の対象物集合体全体の光の大きさを調節して入射させる対物レンズ部;前記対物レンズ部から入射した光の光経路を変更する光経路部;前記光経路部を制御して光の進行方向を変更する制御信号を出力する制御回路部;入射光を測定する測定センサー;前記光経路部で進行方向を変更した光を前記測定センサーの大きさと位置と一致させる接眼レンズ部;及び前記接眼レンズ部を通じて入射した光が前記測定センサーと一致するように前記測定センサーを固定する測定センサー連結部;を含んでなる。前記光経路部は、前記対物レンズ部から入射した光が着像されるミラー;及び前記ミラーを制御して光の進行方向を変更する駆動部;を含んでなることができる。また、本発明の他の実施例による、対象物の複数の測定位置中の個別位置または複数の対象物集合体中の個別対象物の高速光学特性を測定する高速光学測定装置は、複数の測定位置を持つ対象物または複数の対象物集合体全体の光の大きさを調節して入射させる対物レンズ部;前記対物レンズ部から入射した光の光経路を変更する光経路部;前記光経路部を制御して光の進行方向を変更する制御信号を出力する制御回路部;入射光を測定する第1測定センサー;前記対物レンズ部によってMEMSMicroElectroMechanicalSystemsミラー集合体、つまりDMDDigitalMicromirrorDeviceに入射し、前記制御回路部から出力される第1の制御信号に同期するDMDの微細ミラーによる光の進行方向を変更した光を前記第1測定センサーの大きさと位置と一致させる第1の接眼レンズ部;入射光を測定する第2測定センサー;前記DMDの微細ミラーが第2の制御信号に同期して光の進行方向を変更した光を前記第2測定センサーの大きさと位置と一致させる第2の接眼レンズ部;及び前記それぞれの接眼レンズ部を通じて入射した光が前記それぞれの測定センサーと一致するように前記測定センサーを固定する測定センサー連結部;を含んでなり、前記制御回路部はそれぞれの発光素子に相当するミラーを順次制御する。前記複数の第1及び第2測定センサー中の一つ以上は映像を獲得することができるイメージセンサーであり、対象物の大きさ、配列、色相及び個数のいずれか一つ以上の検出条件によって対象物の測定位置または対象物集合体中の個別対象物に相当するミラーを制御することができる。前述したように、本発明は駆動部に結合されたミラーまたはMEMSミラー集合体、つまりDMDの速い動作速度、固定位置の対象物、光学測定センサーを用いて光学測定時間を短縮することにより、ディスプレイ装置の大面積化、複数の対象物集合体化による製品検査コストの上昇を最小化する高速光学測定装置を提供することができる。本明細書及び特許請求の範囲に使用する用語や単語は通常的または辞書的意味に限定されて解釈されなく、発明者は自分の発明を最良の方法で説明するために用語の概念を適切に定義することができるという原則に従って本発明の技術的思想に合う意味と概念に解釈されなければならない。明細書の全般にわたり、ある部分がある構成要素を含むというとき、これは特に反対の記載がない限り、他の構成要素を除くものではなくて他の構成要素をさらに含むことができることを意味する。また、明細書に記載された部、器、モジュールなどの用語は少なくとも一つの機能または動作を処理する単位を意味し、これはハードウェア、ソフトウェアまたはハードウェア及びソフトウェアの結合で具現可能である。以下、図面を参照して本発明の一実施例について詳細に説明する。図2は本発明による高速光学測定装置の構成を示す図、図3は本発明による高速光学測定方法を示す図である。同図に示すように、本発明の高速光学測定装置100は、対物レンズ部140、接眼レンズ部130、測定センサー120、制御回路部110、及び光経路部150を含んでなる。対物レンズ部140は複数の測定位置を持つ対象物または複数の対象物集合体全体の光の大きさを調節して入射させるように構成される。制御回路部110は、対物レンズ部140を通じて入射した対象物の平面上の測定位置P1、P2、、PNをそれぞれのミラー154の回転角fに変換して制御信号を出力する。回転角fは測定対象物XのX、Y中心からの水平角Fと垂直角θに換算することができる。具体的に、平面での移動距離Lx、Lyに応じて、相対的に極めて小さな中心角fの変位でミラーを制御して光の進行方向を変更することで、対象物の個別測定位置または複数の対象物集合体中の個別対象物を順次選択して高速で光学測定を行うものである。光経路部150は、対物レンズ部140から入射した光を制御して光の進行方向を変更するように構成される。このために、光経路部150は、光が着像されるミラー154と、ミラー154を制御して光の進行方向を変更する駆動部152とからなる。すなわち、制御回路部110から出力される制御信号に同期化して駆動される駆動部152と、駆動部152に結合されて回転角fで回転するミラー154とからなる。駆動回路部152は、測定対象物の平面での移動距離Lx、Lyに応じて、相対的に極めて小さな中心角fの変位でミラー154を制御して光の進行方向を変更するように制御する。具体的に、l×hの大きさのミラーに対象物の全体大きさL×Hが入射し、センサーがミラーの中心からdの距離にあるとき、平面距離Lx、Lyと水平角Φ及び垂直角θの関係は下記の数式1のように表現される。このようなミラーはMEMSミラーで構成することができる。MEMSは微細技術で機械部品、センサー、アクチュエータ、及び電子回路を一つのシリコン基板上に集積化した装置であって、アクチュエータによって動作されるもので、一般的な技術なのでその詳細な説明は省略する。接眼レンズ部130は光経路部150において進行方向を変更した光を測定センサー120のサイズと位置と一致させるように構成される。すなわち、接眼レンズ部130は、駆動部152に結合されたミラー154で進行方向が変更された対象物の光を測定センサー120で要求する適切なサイズに変換して測定センサー120の位置に入射させるように構成される。このために、接眼レンズ部130を通過した対象物の光が正確に測定センサー120の位置に到逹するように測定センサー120を固定する測定センサー連結部122でなる。測定センサー120は、品質を測定及び管理するために対象物の複数の測定位置または複数の対象物集合体のそれぞれの対象物の光学特性を測定するように構成される。このような対物レンズ部140と接眼レンズ部130は、対象物の正確な光学測定を保証するために、光の波長別に反射、吸収及び透過が均一である必要がある。また、対物レンズ部140は一部波長帯域の光のみを選択的に透過できるフィルターを装着することができる構造を持つこともできる。図4は本発明による対象物の複数位置または複数の対象物集合体の高速光学特性測定装置の実施例を示す図である。同図に示すように、N個の発光素子がLの間隔でM行に配置され、Dの距離にある発光素子全体の光は対物レンズ部140によって個別対象物のそれぞれの光が接眼レンズ部130を通じて測定センサーに到達可能な大きさに変換されてミラー154に入射し、入射したN個の発光素子の光は制御回路部110から出力される制御信号に同期して駆動されるミラー154が回転角fで回転することにより、N個の発光素子の中で特定の発光素子の光だけが接眼レンズ部130を通じて測定センサー120の位置に到逹することになる。以下、添付図面を参照して本発明の他の実施例について説明する。図5の本発明による対象物複数位置または複数の対象物集合体の高速光学特性測定装置に二つ以上の測定センサーを使う実施例を参照すれば、駆動部152に結合されたミラーまたはMEMSミラー集合体、つまりDMDの制御可能な複数の光進行位置に複数の接眼レンズと測定センサーをさらに備えて高速光学測定ができるように構成したものである。具体的に、N個の発光素子がLの間隔でM行に配置され、Dの距離にある対象物の光は対物レンズ部140によってMEMSミラー集合体、つまりDMDに入射し、制御回路部110から出力される第1の制御信号に同期するDMDミラー154による光の進行方向に位置する第1の接眼レンズ部132、第1の接眼レンズ部132から入射した光の特性を測定する第1の測定センサー122、DMDミラー154上のN×M個の各発光素子の位置を検出し、検出された位置の特定発光素子の光が到逹する一つ以上のDMDの微細ミラーが制御回路部110から出力される第2の制御信号に同期して変更した光の進行方向に位置する第2の接眼レンズ部134、及び第2の接眼レンズ部134から入射した光の特性を測定する第2の測定センサー124でなり、それぞれの発光素子に相当するミラーを順次制御して高速光学測定が行えるように構成されたものである。このような複数の第1及び第2測定センサー122、124の一つ以上がイメージセンサーで構成されることができ、このような測定センサーは、対象物の大きさ、配列、色相及び個数のいずれか一つ以上の検出条件によって対象物の測定位置または対象物集合体中の個別対象物に相当するミラーを制御する。前述したように、本発明によれば、MEMSミラー集合体、つまりDMDの速い動作速度、固定位置の対象物、光学測定センサーを用いて光学測定時間を短縮することで、ディスプレイ装置の大面積化、複数の対象物集合体化による製品検査コストの上昇を最小化することができるものである。以上、本発明は前述した具体例に基づいて詳細に説明したが、本発明の技術思想の範囲内で多様な変形及び修正が可能であるのは当業者に明らかなものであり、このような変形及び修正が添付の特許請求範囲に属するものであるのはいうまでもない。