"記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、テストパターンのパターンデータを取得して前記記録媒体にテストパターンを形成する画像形成手段と、前記記録媒体又は前記読み取り手段を等速で移動させる相対移動手段と、前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段とを有する読み取り手段と、テストパターン上を前記光が移動している間、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の強度データを取得する強度データ取得手段と、上限閾値と下限閾値に含まれる変曲点付近の前記強度データにライン位置決定演算を施し前記ラインの位置を検出する位置検出手段と、を有する画像形成装置。予め定められた前記変曲点の前記強度データに所定値を加えた上限閾値及び該変曲点の前記強度データから前記所定値を減じた下限閾値を決定する閾値決定手段を有し、前記位置検出手段は、前記上限閾値と前記下限閾値の間の前記強度データにライン位置決定演算を施して前記ラインの位置を検出する、ことを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。前記変曲点を算出する変曲点算出手段を有する、ことを特徴とする請求項1又は2記載の画像形成装置。前記位置検出手段は、ライン位置決定演算を施すことなく、前記変曲点算出手段が算出した前記変曲点を前記ラインの位置に決定する、ことを特徴とする請求項3記載の画像形成装置。前記変曲点算出手段は、前記強度データの着目値の上下方向にそれぞれ所定数のデータを抽出し、上側及び下側のデータの回帰曲線の切片の差が最も小さくなる前記着目値を変曲点に決定する、ことを特徴とする請求項3又は4記載の画像形成装置。前記変曲点算出手段は、前記強度データの着目値の上下方向にそれぞれ所定数のデータを抽出し、前記着目値を中心に上側又は下側の各データを180度回転させ、前記着目値より上側のデータの回帰曲線と下側のデータの回帰曲線の係数を算出し、両者の係数が最も一致する前記着目値を変曲点に決定する、ことを特徴とする請求項3又は4記載の画像形成装置。前記相対移動手段は、前記記録媒体に対し前記読み取り手段を主走査方向に移動させることで、前記光に複数の前記ラインを横断させる、ことを特徴とする請求項1~6いずれか1項記載の画像形成装置。前記相対移動手段は、前記読み取り手段に対し前記記録媒体を副走査査方向に移動させることで、前記光に複数の前記ラインを横断させる、ことを特徴とする請求項1~6いずれか1項記載の画像形成装置。記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置のパターン位置検出方法であって、発光手段が前記記録媒体に光を照射し、受光手段が前記記録媒体からの反射光を受光するステップと、相対移動手段が、前記記録媒体又は前記発光手段と前記受光手段を等速で移動させるステップと、強度データ取得手段が、テストパターンを前記光が横断している間、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の強度データを取得するステップと、位置検出手段が、上限閾値と下限閾値に含まれる変曲点付近の前記強度データにライン位置決定演算を施し前記ラインの位置を検出するステップと、を有するパターン位置検出方法。記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成システムであって、テストパターンのパターンデータを取得して前記記録媒体にテストパターンを形成する画像形成手段と、前記記録媒体又は前記読み取り手段を等速で移動させる相対移動手段と、テストパターン上を前記光が移動している間、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の強度データを取得する強度データ取得手段と、を備える画像形成装置と、テストパターンのパターンデータを記憶するパターンデータ記憶手段と、上限閾値と下限閾値に含まれる変曲点付近の前記強度データにライン位置決定演算を施し前記ラインの位置を検出する位置検出手段と、を有する画像形成システム。しかしながら、特許文献1に開示された液滴吐出タイミングの補正方法では、上限閾値と下限閾値の決定方法が開示されていないという問題がある。各パターンにおいて同じ上限閾値と下限閾値を用いて交点C1を求めれば、交点C1の求め方は安定するが、交点C1がパターンと撥水性部材の素地とのエッジであるとは限らない。本発明は、上記課題に鑑み、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、パターンのエッジ位置をより精度よく特定できる画像形成装置を提供することを目的とする。上記課題に鑑み、本発明は、記録媒体に液滴を吐出して形成したテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、テストパターンのパターンデータを取得して前記記録媒体にテストパターンを形成する画像形成手段と、前記記録媒体又は前記読み取り手段を等速で移動させる相対移動手段と、前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段とを有する読み取り手段と、テストパターン上を前記光が移動している間、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の強度データを取得する強度データ取得手段と、上限閾値と下限閾値に含まれる変曲点付近の前記強度データにライン位置決定演算を施し前記ラインの位置を検出する位置検出手段と、を有することを特徴とする。液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、パターンのエッジ位置をより精度よく特定できる画像形成装置を提供することができる。以下、本発明を実施するための形態について図面を参照しながら説明する。図2は、本実施形態のエッジ位置の特定の概略を説明する図の一例である。スポット光はテストパターンを構成する複数のライン図では1本を一定速度等速で横切るように移動する以下、テストパターンとテストパターンを構成するラインを厳密には区別せずに説明する。。用紙などのシート材は紙送りによりラインの長手方向に移動しているため、スポット光はラインを斜めに横切るように移動するが、シート材が停止してもエッジ位置の特定方法は同じである。一般的な波長のスポット光とシート材ではテストパターンの重複面積が大きいほど、スポット光の反射光が低下するとしてよい。図2aの数字I~Vは時刻の経過を表す。時刻I:スポット光とテストパターンは重複していない。時刻II:スポット光の半分がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の減少率が最も大きくなる重畳している面積が単位時間に最も大きく正に変化する。時刻III:スポット光の全体がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の強度が最も小さくなる。時刻IV:スポット光の半分がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の増加率が最も大きくなる重畳している面積が単位時間に最も大きく負に変化する。スポット光の重心がテストパターンのラインのエッジ位置と一致するのは、時刻II及びIVである。したがって、スポット光とラインとが時刻II及びIVの関係にあることを反射光から検出できれば、エッジ位置を精度よく特定できる。このため、本実施形態では、受光素子が検出した反射光の検出電圧の変曲点に着目する。図2bのうち、例えば吸収面積スポット光とテストパターンの重畳面積によれば時刻II及びIVにおいて傾きの絶対値が最大になっている。また、図2bのうち、吸収面積の微分値によれば、時刻IIにおいて増加率が増加傾向から減少傾向に変化し、時刻IVにおいて増加率が減少傾向から増加傾向に変化している。このように、平面上の曲線において曲がる方向が変わる点曲線上で曲率の符号プラスマイナスが変化する点は、変曲点である。以上から、変曲点がテストパターンのエッジ位置に一致することがわかる。本実施形態では、この変曲点に着目してエッジ位置も特定することで、液滴の着弾位置ずれを精度よく補正する。構成図3は、シリアル方式の画像形成装置100の概略斜視図の一例を示す。画像形成装置100は、本体フレーム70により支持されている。画像形成装置100の長手方向にはガイドロッド1及び幅ガイド2が掛け渡され、ガイドロッド1及び副ガイド2にキャリッジ5が矢印A方向主走査方向に往復移動可能なように保持されている。また、主走査方向には無端ベルト状のタイミングベルト9が、駆動プーリ7と加圧コロ15に張架されており、タイミングベルト9の一部がキャリッジ5に固定されている。また、駆動プーリ7は主走査モータ8により回転駆動され、これによりタイミングベルト9が主走査方向に移動し、連動してキャリッジ5も往復移動する。タイミングベルト9には加圧コロ15によって張力が掛けられており、タイミングベルト9はたるむことなくキャリッジ5を駆動させることができる。また画像形成装置100は、インクを供給するカートリッジ60と記録ヘッドを維持クリーニングする維持機構26を有する。シート材150はキャリッジ5の下側にあるプラテン40上を、不図示のローラにより矢印B方向副走査方向に間欠的に搬送される。シート材50は、紙などの普通紙、光沢紙、フィルム、電子基板など液滴が付着可能な記録媒体であればよい。シート材150の搬送位置毎に、キャリッジ5は主走査方向に移動し、キャリッジ5が搭載している記録ヘッドが液滴を吐出する。吐出が終わるとシート材150が再度、搬送され、キャリッジ5が主走査方向に移動して液滴を吐出する。これを繰り返すとシート材150の全面に画像が形成される。キャリッジ5、キャリッジ5に搭載された記録ヘッド21~24は画像形成手段の一例である。図4は、キャリッジ5の動作をより詳細に説明する図の一例である。上記のガイドロッド1及び副ガイド2は左側板3と右側板4の間に掛け渡され、キャリッジ5は軸受け12と副ガイド受け部11によりガイドロッド1及び副ガイド2を摺動自在に保持され、矢印X1X2方向主走査方向に移動可能となっている。キャリッジ5には黒Kの液滴を吐出する記録ヘッド21,22、シアンC、マゼンタM、イエローYの各色のインク滴を吐出する記録ヘッド2324が搭載されている。記録ヘッド21は黒がよく使用されるために配置したものであり、省略することもできる。なお、記録ヘッド21~24としては、インク流路内圧力発生室のインクを加圧する圧力発生手段アクチュエータ手段として圧電素子を用いてインク流路の壁面を形成する振動板を変形させてインク流路内容積を変化させてインク滴を吐出させるいわゆるピエゾ型のもの、発熱抵抗体を用いてインク流路内でインクを加熱して気泡を発生させることによる圧力でインク滴を吐出させるいわゆるサーマル型のもの、又は、インク流路の壁面を形成する振動板と電極とを対向配置し、振動板と電極との間に発生させる静電力によって振動板を変形させることで、インク流路内容積を変化させてインク滴を吐出させる静電型のもの、などを用いることができる。キャリッジ5を移動走査する主走査機構32は、主走査方向の一方側に配置される主走査モータ8と、主走査モータ8によって回転駆動される駆動プーリ7と、主走査方向の他方側に配置された加圧コロ15と、駆動プーリ7と加圧コロ15との間に掛け回されたタイミングベルト9とを備えている。なお、加圧コロ15は、図示しないテンションスプリングによって外方駆動プーリ7に対して離れる方向にテンションが作用させられている。タイミングベルト9は、キャリッジ5の背面側に設けたベルト保持部10に一部分が固定保持されていることで、タイミングベルト9の無端移動に伴い主走査方向にキャリッジ5を牽引する。また、キャリッジ5の主走査方向に沿うようにエンコーダシート41が配置されており、キャリッジ5に設けたエンコーダセンサ42によって当該エンコーダシート42のスリットを読取ることで、キャリッジ5の主走査方向の位置を検知することができる。このキャリッジ5が主走査領域のうち記録領域に存在する場合、シート材150が図示しない紙送り機構によってキャリッジ5の主走査方向と直交する矢示Y1Y2方向副走査方向に間欠的に搬送される。以上説明した、本実施形態に係る画像形成装置100では、キャリッジ5を主走査方向に移動し、シート材150を間欠的に送りながら、記録ヘッド21~24を画像情報に応じて駆動して液滴を吐出させることによってシート材150に所要の画像を形成することができる。キャリッジ5の一側面には、着弾位置のずれを検出テストパターンの読取りするための印字位置ずれセンサ30が搭載されている。印字位置ずれセンサ30は、LEDなどの発光素子及び反射型フォトセンサで構成した受光素子によって、シート材150に形成された着弾位置検出用のテストパターンを読み取る。この印字位置ずれセンサ30は記録ヘッド21用のものなので、記録ヘッド22~24の液滴吐出タイミングを調整するため記録ヘッド22~24と並列に別の印字位置ずれセンサ30を搭載することが好ましい。また、印字位置ずれセンサ30を記録ヘッド22~24と並列になるようにスライドさせる機構がキャリッジ5に搭載されていれば、一台の印字位置ずれセンサ30で記録ヘッド22~24の液滴吐出タイミングを調整できる。または、画像形成装置100がシート材150を逆方向に送っても、一台の印字位置ずれセンサ30で記録ヘッド22~24の液滴吐出タイミングを調整できる。図5は、画像形成装置100の制御部300のブロック図の一例である。制御部300は、外部I/F311と接続された主制御部310を有する。主制御部310は、CPU301と、ROM302、RAM303、NVRAM304、ASIC305、及び、FPGAFieldProgrammableGateArray306を有する。CPU301はROM302に記憶されたプログラム3021を実行して、画像形成装置100の全体を制御する。ROM302にはこのプログラム3021の他、初期値や制御のためのパラメータなど固定データが格納されている。RAM303は、プログラムや画像データ等を一時的に格納する作業メモリであり、NVRAM304は、装置の電源が遮断されている間も設定条件などのデータを保持するための不揮発性メモリである。ASIC305は画像データに対する各種信号処理、並び替え等を行なったり、各種のエンジンを制御する。FPGA306は、装置全体を制御するための入出力信号を処理する。主制御部310は、この装置全体の制御を司るとともにテストパターンの形成、テストパターンの検出、着弾位置の調整補正などに関わる制御を司る。後述するように、本実施例では主にCPU301がROM302に記憶されたプログラム3021を実行してエッジ位置の検出を行うが、一部又は全てをFPGA306やASIC305など、LSIが行ってもよい。外部I/F311は、ネットワークに接続された他の機器と通信するための通信装置、USB、IEEE1394、と接続するためのバスやブリッジであり、外部からのデータを主制御部310に送出する。また、外部I/F311は主制御部310が生成したデータを外部に出力する。外部I/F311には脱着可能な記憶媒体320が装着可能であり、プログラム3021は記憶媒体320に記憶された状態や、外部からの通信装置を介して配信される。また、制御部300は、ヘッド駆動制御部312、主走査駆動部313、副走査駆動部314、給紙駆動部315、排紙駆動部316、及び、スキャナ制御部317を有する。ヘッド駆動制御部312は、記録ヘッド21~24のそれぞれの吐出有無、吐出する場合の液滴吐出タイミング及び吐出量を制御する。ヘッド駆動制御部312は、記録ヘッド21~24を駆動制御するためのヘッドデータ生成配列変換用ASICを有しヘッドドライバ、印刷データディザ処理などが施されたドットデータに基づき、液滴の有無と液滴の大きさを示す駆動信号を生成して、記録ヘッド21~24に供給する。記録ヘッド21~24はノズル毎にスイッチを有しており、駆動信号に基づきオンオフすることで、記録ヘッド21~23は印刷データにより指定されるシート材150の位置に指定されるサイズの液滴を着弾させる。なお、ヘッド駆動制御部312のヘッドドライバは記録ヘッド21~24側に設けられてもよいし、ヘッド駆動制御部312と記録ヘッド21~24が一体になっていてもよい。図示する構成は一例である。主走査駆動部モータドライバ313は、キャリッジ5を移動走査する主走査モータ8を駆動する例えば主走査駆動部313は、特許請求の範囲の相対移動手段に相当する。主制御部310には、前述したキャリッジ位置を検出するエンコーダセンサ42が接続されており、主制御部310はこの出力信号に基づいてキャリッジ5の主走査方向の位置を検出する。そして、主走査駆動部313を介して主走査モータ8を駆動制御することでキャリッジ5を主走査方向に往復移動させる。副走査駆動部モータドライバ314は紙送りするための副走査モータ132を駆動する。主制御部310には、副走査方向の移動量を検出するロータリエンコーダセンサ131からの出力信号パルスが入力され、主制御部310はこの出力信号に基づいて紙送り量を検出し、副走査駆動部314を介して副走査モータ132を駆動制御することで図示しない搬送ローラを介してシート材を紙送りする。給紙駆動部315は給紙トレイからシート材を給紙する給紙モータ133を駆動する。排紙駆動部316は、印刷されたシート材150をプラテン上に排紙するローラを駆動する排紙モータ134を駆動する。なお、排紙駆動部316は、副走査駆動部314により代用してもよい。スキャナ制御部317は、画像読取部135を制御する。画像読取部135は、原稿を光学的に読み取り画像データを生成する。また、主制御部310には、テンキー、プリントスタートキーなどの各種キー及び各種表示器を含む操作/表示部136が接続されている。主制御部310は、操作/表示部136を介してユーザが操作したキー入力の受け付け、メニューの表示などを行う。その他図示しないが、維持機構26を駆動する維持回復モータを駆動するための回復系駆動部、各種のソレノイドSOL類を駆動するソレノイド類駆動部ドライバ、電磁クラック類などを駆動するクラッチ駆動部、を有していてもよい。また、主制御部310には、その他の図示しない各種センサの検出信号も入力されるが図示を省略している。主制御部310は、シート材上にテストパターンを形成する処理を行い、形成したテストパターンに対し、キャリッジ5に搭載した印字位置ずれセンサ30の発光素子を発光させる発光駆動制御を行う。そして、受光素子の出力信号を取得しテストパターンの反射光を電気的に読取り、この読取り結果から着弾位置ずれ量を検出し、更に着弾位置ずれ量に基づいて記録ヘッド21~24の液滴吐出タイミングを着弾位置ずれがなくなるように補正する制御を行う。着弾位置ずれの補正図6は、印字位置ずれセンサ30がテストパターンのエッジ位置を検出するための構成を模式的に示す図の一例である。図6は、図4の記録ヘッド21と印字位置ずれセンサ30を右側面板4から見た図になっている。例えば印字位置ずれセンサ30は、特許請求の範囲の読み取り手段に相当する。印字位置ずれセンサ30は、主走査方向と直交する方向に並ぶ、発光素子402と受光素子403を有している。発光素子402と受光素子403の配置は逆でもよい。発光素子402は、後述するスポット光をテストパターンに投光して、受光素子403はシート材150に反射した光、プラテン40からの反射光、その他の散乱光などを受光する。発光素子402と受光素子403は筐体の内側に固定され、印字位置ずれセンサ30のプラテン40に対向する面は、レンズ405により外部から遮蔽されている。このように、印字位置ずれセンサ30はパッケージ化されており、単体で流通することができる。印字位置ずれセンサ30内において、発光素子402及び受光素子403は、キャリッジ5の走査方向に対して直交する方向に配置されている副走査方向に並行に配置されている。これにより、キャリッジ5の移動速度変動による検出結果への影響を低減することができる。発光素子402には例えば、LEDを採用することができるが、可視光を投射可能な光源例えば、レーザ、各種のランプであればよい。可視光とするのは、スポット光がテストパターンにより吸収されることを期待するためである。なお、発光素子402の波長は固定であるが、波長が異なる発光素子402を搭載した複数の印字位置ずれセンサ30を搭載することも可能である。また、発光素子402が形成するスポット径は、高精度のレンズを使用せずに安価なレンズを使用するためにmmオーダーとなっている。このスポット径は、テストパターンのエッジの検出精度と関係するが、mmオーダーでも本実施形態のエッジ位置の求め方であれば十分に高精度にエッジ位置を検出できる。ただし、スポット径をより小さくすることも可能である。CPU301は、所定のタイミングになると着弾位置ずれ補正を開始する。このタイミングは、例えば、ユーザが操作/表示部136から着弾位置ずれ補正を指示したタイミング、CPU301がインク吐出前に発光素子402が発光しその時の反射光の強度が所定値以下であることから特定のシート材150であると判定したタイミング、最後に着弾位置ずれ補正を行った際の温度と湿度を記憶しておき温度又は湿度のいずれかが閾値以上ずれたと判定したタイミング、定期的毎時、毎日、毎週等なタイミング、等がある。テストパターンの形成について説明する。CPU301は主走査制御部313にキャリッジ5の往復移動と、ヘッド駆動制御部312に予め定められたテストパターンを印刷データとして液滴の吐出を指示する。主走査制御部313は、シート材150に対して、キャリッジ5を主走査方向に往復移動させるとともに、ヘッド駆動制御部312は記録ヘッド21から液滴を吐出させて、少なくとも2本以上の独立したラインを含むテストパターンを形成する。また、CPU301は、シート材150に形成したテストパターンを印字位置ずれセンサ30にて読取るための制御を行う。具体的には、CPU301によって発光制御手段511に印字位置ずれセンサ30の発光素子402を駆動するためのPWM値が設定され、この発光制御手段511の出力が平滑回路512で平滑化されて駆動回路513に与えられる。駆動回路513は発光素子402を発光駆動して、シート材150のテストパターンに対して発光素子402からスポット光が照射される。なお、発光制御手段511、平滑回路512、駆動回路513、光電変換回路521、ローパスフィルタ522、A/D変換回路523、及び、補正処理実行部526は主制御部310に搭載されている。共有メモリ525は例えばRAM303である。シート材上のテストパターンに発光素子402からのスポット光が照射されることで、テストパターンから反射される反射光が受光素子403に入射する。受光素子403は反射光の強度信号を光電変換回路521に出力する。具体的には、光電変換回路521は、強度信号を光電変換して、この光電変換信号をローパスフィルタ回路522に出力する。ローパスフィルタ回路522は高周波のノイズ分を除去した後、A/D変換回路523に光電変換信号を出力する。A/D変換回路523は、光電変換信号をA/D変換し、信号処理回路FPGA306に出力する。信号処理回路FPGA306は、A/D変換された検出電圧のデジタル値である検出電圧データ検出電圧と検出電圧データは特に区別せず使用するを共有メモリ525に格納する。例えば、検出電圧又は検出電圧データは特許請求の範囲の強度データに相当する。また、光電変換信号521~共有メモリ525は、特許請求の範囲の強度データ取得手段に相当する。補正処理実行部526は共有メモリ525に記憶された検出電圧データを読み出し、着弾位置ずれ補正を行い、ヘッド駆動制御部312に設定する。すなわち、補正処理実行部526は、テストパターンのエッジ位置を検出して、2本のライン間の適正距離と比較することで、着弾位置ずれ量を算出する。補正処理実行部526は着弾位置ずれがなくなるように記録ヘッド21を駆動するときの液滴吐出タイミングの補正値を算出して、この算出した液滴吐出タイミング補正値をヘッド駆動制御部312に設定する。これにより、ヘッド駆動制御部312は、記録ヘッド21を駆動する際に、補正値に基づいて液滴吐出タイミングを補正した上で記録ヘッド21を駆動するので、液滴の着弾位置ずれを低減することができる。図7は、補正処理実行部526の機能ブロック図の一例である。補正処理実行部526は、閾値決定部601、変曲点決定部602、及び、吐出タイミング補正部603を有する。閾値決定部601は、テストパターンのエッジ位置を算出するための上限閾値Vruと下限閾値Vrdを決定する。例えば、閾値決定部601は、特許請求の範囲の閾値決定手段に相当する。変曲点決定部602は検出電圧の変曲点を決定する。例えば、変曲点決定部602は、特許請求の範囲の変曲点算出手段に相当する。吐出タイミング補正部603は、テストパターンのエッジ位置から求めた着弾位置ずれ量に基づき液滴吐出タイミングを補正する。例えば、吐出タイミング補正部603は、特許請求の範囲の位置検出手段に相当する。スポット光の位置とエッジ位置続いて、図8、9を用いてスポット光とテストパターンのエッジ位置の関係について説明する。図8は、スポット光とテストパターンの一例を示す図である。スポット光はテストパターンを構成する複数のライン上図では1本をキャリッジ5の移動方向と同一方向に一定速度等速で横切るように移動する。移動する際の速度は可変でもよいが、移動中は等速である。用紙などのシート材150は紙送りによりラインの長手方向に移動しているため、スポット光はライン上をラインのエッジに対して斜めに移動するが、シート材150が停止してもエッジ位置の特定方法は同じである。一般的な波長のスポット光とシート材150ではテストパターンの重複面積が大きいほど、スポット光の反射光が低下するとしてよい。なお、図8,9ではスポット径dテストパターンのライン幅Lとするが、スポット径dとラインLの関係については後述する。図9の数字I~Vは時間の経過を示し、図9aでは下のスポット光ほど時間経過が長い。図9bは受光素子の検出電圧の一例を、図9cは吸収面積スポット光とテストパターンの重畳面積の一例を、図9dは図9cの吸収面積を微分した吸収面積の増加率の一例を、それぞれ示す。なお、図9dは、図9bの出力波形を微分しても同等の情報が得られる。また、吸収面積は例えば検出電圧から算出されるが、絶対値である必要はないので、図9cの吸収面積は所定値から図9bの検出電圧を減算することで吸収面積と同様の波形が得られる。上述したように、時刻IIにおいて反射光の減少率が最も大きくなり重畳している面積が単位時間に最も大きく正に変化する、時刻IVにおいて反射光の増加率が最も大きくなる重畳している面積が単位時間に最も大きく負に変化する。そして、図9dに示すように、増加率が増加傾向から減少傾向に変化する点は、時刻IIと一致しており、増加率が減少傾向から増加傾向に変化する点は、時刻IVと一致している。増加傾向から減少傾向又はその逆に変化する点は、平面上の曲線において曲がる方向が変わる点、すなわち変曲点である。以上から、出力信号が変曲点を示せば、スポット光がテストパターンのエッジ位置と一致していることになる。したがって、変曲点が精度よく検出されれば、エッジ位置も精度よく特定できる。エッジ位置の特定図10は、エッジ位置の特定方法を説明する図の一例である。図10aは、検出電圧の概略図を、図10bは検出電圧の拡大図をそれぞれ示す。本実施形態では、検出電圧の上限閾値Vruと下限閾値Vrdの間に検出電圧の変曲点が含まれるように上限閾値Vruと上限閾値Vrdを定める。後述するように、CPU301はインクが吐出されていない領域に対し検出電圧がほぼ同じ一定値後述する4Vになるように発光素子402の出力と受光素子403の感度をキャリブレーションする。検出電圧はキャリブレーション時の一定電圧V0以下になる。変曲点のおよその値は、吐出タイミング補正処理実行部526又は開発者が実験的に求めることができる。上述したように、例えば、検出電圧や吸収面積を微分して傾きがゼロに最も近い位置が変曲点となる。閾値決定部601は、算出された変曲点又は実験的に求められた変曲点に対し等距離の2点を下限閾値Vrdと上限閾値Vruに決定する。より具体的には、変曲点の検出電圧±0.5~1.5V程度である。但し、上限閾値Vruが一定値V0を超えないように決定する。このように、十分マージンを設ければ下限閾値Vrdと上限閾値Vruの間に必ず変曲点が含まれるとすることができる。吐出タイミング補正部603は、検出電圧の立下り部分について、矢示Q1方向に探索して、検出電圧が下限閾値Vrd以下になる点を点P2として記憶する。次に、点P2より矢示Q2方向に探索して、検出電圧が上限閾値Vruを超える点を点P1として記憶する。そして、点P1と点P2の間の複数の検出電圧データを用いて回帰直線L1を算出し、回帰直線L1と上下閾値の中間値Vcとの交点を算出し交点C1とする。同様にして、吐出タイミング補正部603は、検出電圧の立上がり部分について、矢示Q3方向に探索して、検出電圧が下限閾値Vru以上になる点を点P4として記憶する。次に、点P4より矢示Q4方向に探索して、検出電圧が上限閾値Vrd以下になる点を点P3として記憶する。そして、点P3と点P4の間の複数の検出電圧データを用いて回帰直線L2を算出し、回帰直線L2と上下閾値の中間値Vcとの交点を算出し交点C2とする。吐出タイミング補正部603は交点C1と交点C2を二本のラインのエッジ位置に特定する。上下閾値の決定プロセスによれば、この交点C1とC2はほぼ変曲点と一致するとしてよい。この後、吐出タイミング補正部603は、テストパターンの2本のライン間の理想的な距離と、交点C1とC2の距離との差分を算出する。この差分は、理想的なラインの位置に対する実際のラインの位置の着弾位置ずれ量である。吐出タイミング補正部603は、算出した着弾位置ずれ量に基づいて、記録ヘッド21から液滴を吐出させるタイミング液滴吐出タイミングを補正する補正値を算出し、補正値をヘッド駆動制御部312に設定する。これにより、ヘッド駆動制御部312は補正された液滴吐出タイミングで記録ヘッド21を駆動するので、着弾位置ずれが低減することになる。変曲点の決定また、下限閾値Vrdと上限閾値Vruを決定することなく、変曲点決定部602が直接変曲点を決定してもよい。変曲点の性質により、検出電圧の波形は変曲点を中心に点対称になることが分かるので、これを利用して変曲点を決定する。図11aは変曲点の検出手順を示すフローチャート図の一例であり、図11bは変曲点の検出を模式的に説明する図の一例である。変曲点決定部602は、検出電圧の適当な初期値好ましくは変曲点付近に着目し、中心検出値とするS10。次に、変曲点決定部602は中心検出値から検出電圧の上下方向に所定数のデータを抽出するS20。変曲点決定部602は上側又は下側のいずれか一方のデータを中心検出値を中心に180度回転させるS30。変曲点決定部602は上側又は下側の各グループのデータの一致度を算出するS40。一致度は、2つの所定数のデータの回帰直線又は回帰曲線を求めた場合の係数などである。変曲点決定部602は中心検出値と一致度を対応づけてRAM303等に記憶する。変曲点決定部602は、所定数の一致度を算出したか否かを判定するS50。所定数十分な数の一致度を算出した場合S50のYes、その中に変曲点が含まれているとしてよいので、変曲点決定部602は最も一致度が大きい中心検出値を変曲点に決定するS60。所定数の一致度を算出していない場合S50のNo、変曲点決定部602は次の中心検出値を決定し、ステップS20からの処理を繰り返す。中心検出値は、変曲点付近を網羅するように一定間隔で増大又は減少させて求めてもよいし、一致度が増大傾向になった場合に増大分又は減少分を小さくして変曲点を高分解能に求めてもよい。このような求め方であれば、検出電圧や吸収面積がばらついて検出電圧や吸収面積の微分値がゼロになる点が複数存在するような場合と比べ、比較的安定して変曲点を決定することができる。なお、180度回転させる必要はなく次のような方法でも変曲点を決定できる。図12aは変曲点の検出手順を示すフローチャート図の一例であり、図12bは変曲点の検出を模式的に説明する図の一例である。ステップS20までの処理は図11と同様である。変曲点決定部602は中心検出値より上側のデータの回帰直線の切片を算出するS32。変曲点決定部602は中心検出値より下側のデータの回帰直線の切片を算出するS42。変曲点決定部602は2つの切片の差を算出するS52。変曲点決定部602は中心検出値と差を対応づけてRAM303等に記憶するS62。変曲点決定部602は、十分な数の差を算出したか否かを判定するS72。十分な数の一致度を算出した場合S72のYes、記憶した複数の差の中で最も小さい差に対応する中心検出値を変曲点に決定するS82。このような求め方であれば、演算を容易にして信頼性の高い変曲点を求めることができる。なお、変曲点決定部602が変曲点を決定したら、吐出タイミング補正部603は変曲点をエッジ位置として、記録ヘッド21から液滴を吐出させるタイミング液滴吐出タイミングを補正する補正値を算出できる。スポット光の径とテストパターンの線幅図9ではスポット径dテストパターンのライン幅Lとしたが、スポット径d>テストパターンのライン幅L又は、スポット径d<テストパターンのライン幅Lでも、エッジ位置は検出可能である。図13aは、スポット径d>テストパターンのライン幅Lの関係にあるスポット光とテストパターンの一例を示す。ここではd/2<L<dであるとする。図13bは受光素子の検出電圧の一例を、図13cは吸収面積の一例を、図13dは図13cの吸収面積を微分した吸収面積の増加率の一例を、それぞれ示す。スポット径d>テストパターンのライン幅Lであることは、スポット光とテストパターンが完全には重畳しないことを意味するので、図13dの吸収面積の増加率から明らかなように、スポット光の右端がテストパターンを乗り越えた時点で吸収面積が減少に転じ、増加率が急激に減少する。しかしながら、本実施形態では変曲点の近傍の検出電圧データが得られていれば、交点C1、C2を求めることができるので、スポット光dはd/2<Lであればよい。すなわち、スポット径dがテストパターンのライン幅Lに比べて極端に大きくなければよい。図14aは、スポット径d<テストパターンのライン幅Lの関係にあるスポット光とテストパターンの一例を示す。図14bは受光素子の検出電圧の一例を、図14cは吸収面積の一例を、図14dは図14cの吸収面積を微分した吸収面積の増加率の一例を、それぞれ示す。スポット径d<テストパターンのライン幅Lであることは、スポット光とテストパターンが完全に重畳した状態が継続することを意味するので、図14bcに示すように検出電圧や吸収面積が一定の領域が生じる。また、図14dに示すように、吸収面積の増加率がゼロとなる領域が生じる。その後、スポット光の右端がテストパターンを乗り越えた時点で吸収面積が減少に転じ、増加率が緩やかに減少する減少率が増加。このような場合、図9と同様に、変曲点近傍の検出電圧データが十分に得られるので、吐出タイミング補正部603は十分に交点C1、C2を求めることができる。ライン方式の画像形成装置の場合本実施形態では、図3,4のシリアル方式の画像形成装置100を例にして説明したが、ライン方式の画像形成装置100においても同様の方法で着弾位置ずれ量を補正できる。ライン方式の画像形成装置100について簡単に説明する。図15は、ライン方式の画像形成装置100のヘッドの配置とテストパターンを模式的に説明する図の一例である。ヘッド固定ブラケット160はシート材搬送方向と直交する主走査方向の端から端まで掛け渡されるように固定されている。ヘッド固定ブラケット160には、上流側からKCMYのインクの記録ヘッド180がそれぞれ主走査方向の全域に配置されている。各色の記録ヘッド180は端部が重複するように千鳥状に配置されている。こうすることで、記録ヘッド180の端部でも十分な解像度が得られる液滴が吐出されるので、主走査方向の全域に1つの記録ヘッド180を配置する必要がなくコスト増を抑制できる。なお、各色毎に主走査方向の全域に1つの記録ヘッド180を配置してもよいし、各色の記録ヘッド180の主走査方向の重複領域をより長くしてもよい。ヘッド固定ブラケット160よりも下流にはセンサ固定ブラケット170が、シート材搬送方向と直交する主走査方向の端から端まで掛け渡されるように固定されている。センサ固定ブラケット170には、印字位置ずれセンサ30がヘッドの数だけ配置されている。すなわち、1つの印字位置ずれセンサ30は、1つの記録ヘッド180と、主走査方向に少なくとも一部が重複するように配置されている。また、1つの印字位置ずれセンサ30は、1対の発光素子402と受光素子403を有する。発光素子402と受光素子403は、主走査方向にほぼ並行に並列配置されている。図15の場合、液滴位置ずれセンサ30は移動しないので、例えば副走査駆動部314が特許請求の範囲の相対移動手段に相当する。このような形態の画像形成装置100は、テストパターンを構成する各ラインを、ラインの長手方向が主走査方向と並行になるように形成する。Kを基準に他の色の液滴の着弾位置ずれを補正する場合、画像形成装置100は、KのラインとMのライン、KのラインとCのライン、KのラインとYのラインを形成する。そして、シリアル方式の画像形成装置100と同様に、CMYKのテストパターンのエッジ位置を検出し、その位置ずれ量から液滴吐出タイミングを補正する。以上のように、ライン方式の画像形成装置100においても、適切に印字位置ずれセンサ30を配置することで着弾位置ずれを補正できる。動作手順図16は、補正処理実行部526が信号補正する手順の一例を示すフローチャート図である。まず、CPU301が、着弾位置ずれ補正を開始するよう主制御部310に指示する。この指示により、主制御部310は副走査駆動部314を介して副走査モータ132を駆動しシート材150を記録ヘッド21の真下まで搬送させるS1。次に、主制御部310は主走査駆動部313を介して主走査モータ27を駆動して、キャリッジ5をシート材150上に移動し、シート材150上の特定の箇所にて発光素子と受光素子のキャリブレーションを実施するS2。図17aはS2の処理を説明するフローチャート図の一例である。キャリブレーションは、発光素子の検出電圧が所望の範囲内具体的には4V±02Vの範囲内に調整している。になるように発光素子の光量を調整する処理である。CPU301によって発光制御手段511に印字位置ずれセンサ30の発光素子402を駆動するためのPWM値が設定され、平滑回路512で平滑化された後、駆動回路513に与えられることで、駆動回路513が発光素子402を発光駆動するS21。印字位置ずれセンサ30の受光素子403が検出した強度信号は共有メモリ525に記憶され、CPU301が所望の出力値電圧値になっているか判定するS22。所望の電圧値になっていればS22のOK、図17aの処理や終了する。所望の電圧値になっていなければS22のNo、CPU301はPWM値を変更しS23、再調整を行う。次に、主走査制御部313が主走査駆動モータ27を介してキャリッジ5を移動させると共に、ヘッド駆動制御部312が記録ヘッド21~24を駆動して着弾位置ずれ調整用のテストパターンを印刷するS3。次に、主走査制御部313が主走査駆動モータ27を介してキャリッジ5を移動させることで、印字位置ずれセンサ30はテストパターンを読み取り検出電圧データを共有メモリ525に記憶するS4。図17bはS4の処理を説明するフローチャート図の一例である。まず、CPU301が発光素子402を点灯させるS41。次に、光電変換回路521等が検出電圧データの取り込みを開始するS42。取り込みを開始したら、主走査駆動部313は主走査駆動モータ27によりキャリッジ5を移動させていくS43。つまり、キャリッジ5が移動ながら、光電変換回路521等が検出電圧データを取り込む。データのサンプリングは例えば20kHz50μs間隔である。キャリッジ5が画像形成装置100の端部に到達すると、光電変換回路521等は検出電圧データの取り込みを終了するS44。FPGA306は一連の検出電圧データを共有メモリ525に蓄積する。CPU301はキャリッジ5をホームポジションで停止させるS45。図16に戻り、補正処理実行部526は、検出電圧を用いて液滴吐出タイミングを補正するS5。すなわち、閾値決定部601が変曲点から下限閾値Vrdと上限閾値Vruを決定して、吐出タイミング補正部603が下限閾値Vrdと上限閾値Vruから交点C1,C2を求める。交点C1とC2の中点がテストパターンを構成するラインの位置である。吐出タイミング補正部603は各ラインの距離を適正距離と比較して着弾位置ずれ量を算出し、着弾位置ずれがなくなるように記録ヘッド21を駆動するときの液滴吐出タイミングの補正値を算出する。以上説明したように、本実施形態の画像形成装置100は、変曲点を含むように決定された下限閾値Vrdと上限閾値Vruによりエッジ位置も特定するので、液滴の着弾位置ずれを精度よく補正することができる。本実施例では、液滴吐出タイミングの補正値の算出を画像形成装置でなく、サーバが行う画像形成システムについて説明する。図18は、画像形成装置100とサーバ200を有する画像形成システム500を模式的に説明する図の一例である。図18において図3と同一部には同一の符号を付しその説明は省略する。画像形成装置100とサーバ200がネットワーク201を介して接続されている。ネットワーク201は、社内のLAN、LAN同士を接続したWAN,若しくは、インターネット、又は、これらを組み合わせたものである。図18のような画像形成システム500では、画像形成装置100がテストパターンの形成及び印字位置ずれセンサによるテストパターンの走査を行い、サーバ200が液滴吐出タイミングの補正値を算出する。したがって、画像形成装置100の処理負荷を低減でき、サーバ200に液滴吐出タイミングの補正値の算出機能を集約できる。図19は、サーバ200と画像形成装置100のハードウェア構成図の一例を示す図である。サーバ200は、それぞれバスで相互に接続されているCPU51、ROM52、RAM53、記憶媒体装着部54、通信装置55、入力装置56、及び、記憶装置57を有する。CPU51は、OSOperatingSystem、及び、プログラム570を記憶装置57から読み出して、RAM53を作業メモリにして実行する。このプログラム570は、液滴吐出タイミングの補正値を算出する処理を行う。RAM53は必要なデータを一時保管する作業メモリ主記憶メモリになり、ROM52にはBIOSや初期設定されたデータ、ブートストラップロータ等が記憶されている。記憶媒体装着部54は、可搬型の記憶媒体320を装着するインタフェースである。通信装置55は、LANカードやイーサネット登録商標カードと呼ばれ、ネットワーク201に接続して、画像形成装置100の外部I/F311と通信する。なお、画像形成装置100には、少なくともサーバ200のIPアドレス又はドメイン名が登録されている。入力装置56は、キーボード、マウスなど、ユーザの様々な操作指示を受け付けるユーザインターフェイスである。タッチパネルや音声入力装置を入力装置とすることもできる。記憶装置57は、HDDHardDiskDriveやフラッシュメモリなどの不揮発メモリを実体とし、OS、プログラム等を記憶している。プログラム570は、記憶媒体320に記録された状態又は不図示のサーバ200からダウンロードされる態様で配布される。図20は、画像形成システム500の機能ブロック図の一例である。図20において図7と同一構成部の説明は省略する。本実施例の画像形成装置100は補正処理実行部526を有さず、サーバ側が補正処理実行部526を有する。このため、画像形成装置100は共有メモリ525とヘッド駆動部312を有する構成になる。補正処理実行部526は、閾値決定部601,変曲点決定部602及び吐出タイミング補正部603を有するが、これらの機能は実施例1と同様である。画像形成システム500は、サーバが液滴吐出タイミングの補正値を算出するので、画像形成装置は共有メモリ525に記憶された検出電圧データをサーバ200に送信する。図では、同じ検出電圧データが2回、送信されるように見えるが、送信は1回でよい。サーバ側の補正処理実行部526は閾値の決定と変曲点の決定を行って、液滴吐出タイミングの補正値を算出する。サーバ200は液滴吐出タイミングの補正値を画像形成装置100に送信するので、画像形成装置100のヘッド駆動制御部312は吐出タイミングを変更することができる。図21は、画像形成システム500の動作手順を示すフローチャート図の一例である。図示するように図16のS5のみをサーバ200が行い、これら以外の処理S1~S4を画像形成装置100が行う。また、画像形成装置100とサーバ200が通信するため、画像形成装置100は、ステップS41において検出電圧データを送信する処理、S42において液滴吐出タイミングの補正値を受信する処理を新たに行う。これに対し、サーバ200は、S43において検出電圧データを受信する処理、及び、S51において液滴吐出タイミングの補正値を画像形成装置100に送信する処理を新たに行う。このように、処理が行われる場所が変わるだけで、画像形成システム500は、実施例1と同様に、シート材の特性から受ける影響を抑制して、液滴吐出タイミングを高精度に補正することができる。"