焦点検出用の画素列を含む撮像兼焦点検出用撮像素子を有し、該撮像素子が撮影光学系を通して撮像した出力信号であって前記焦点検出用の画素列からの信号を用いて一対の像の位相差情報を演算し、該位相差情報に基づいて前記撮影光学系による焦点調節状態を検出する第1の焦点検出手段と、前記第1の焦点検出手段とは別に設けられており、前記撮影光学系の異なる領域を通過した一対の焦点検出用光束によって得られる一対の像の位相差情報に基づいて、前記撮影光学系による焦点調節状態を検出する第2の焦点検出手段と、を有し、前記第2の焦点検出手段は、撮影画面内の所定領域に対応する一対の焦点検出用光束に基づく位相差情報を取得し、前記第1の焦点検出手段は、前記撮影画面内の前記所定領域とは異なる領域に対応する位置に存在する、前記撮像素子上の前記焦点検出用の画素列からの信号を用いて前記位相差情報を演算することを特徴とする焦点検出装置。請求項1に記載の焦点検出装置において、前記第2の焦点検出手段の検出対象領域である前記所定領域は、前記撮影画面における略中央を含む領域であることを特徴とする焦点検出装置。請求項2に記載の焦点検出装置において、前記第1の焦点検出手段は、前記撮影画面における前記所定領域の外側に対応する前記撮像素子の前記焦点検出用の画素列からの信号を用いて前記位相差情報を演算することを特徴とする焦点検出装置。請求項2に記載の焦点検出装置において、前記第1の焦点検出手段は、前記撮影画面における前記所定領域の内側に対応する前記撮像素子の前記焦点検出用の画素列からの信号を用いて前記位相差情報を演算することを特徴とする焦点検出装置。請求項2に記載の焦点検出装置において、前記第1の焦点検出手段は、前記撮影画面における前記所定領域の内側および外側に対応する前記撮像素子の前記焦点検出用の画素列からの信号を用いて前記位相差情報を演算することを特徴とする焦点検出装置。請求項1~5のいずれか一項に記載の焦点検出装置において、操作部材からの操作信号に応じて、前記第1の焦点検出手段または前記第2の焦点検出手段を選ぶ選択手段をさらに備えることを特徴とする焦点検出装置。請求項6に記載の焦点検出装置において、前記操作部材は、前記第1の焦点検出手段または前記第2の焦点検出手段を択一的に切替えるための操作信号を発し、前記選択手段は、前記操作信号が示す焦点検出手段を選ぶことを特徴とする焦点検出装置。請求項6に記載の焦点検出装置において、前記第2の焦点検出手段は、前記撮影画面において前記位相差情報を取得し得る第2焦点検出エリアを複数有し、前記第1の焦点検出手段は、前記撮像素子の前記焦点検出用の画素列の位置を前記撮影画面に対応させた焦点検出エリアであって、前記位相差情報を取得し得る第1焦点検出エリアを複数有し、前記操作部材は、前記複数の第1焦点検出エリアまたは前記複数の第2焦点検出エリアのうち1つの焦点検出エリアを択一的に切替えるための操作信号を発し、前記選択手段は、選ばれた焦点検出エリアに対応する焦点検出手段を選ぶことを特徴とする焦点検出装置。請求項1~5のいずれか一項に記載の焦点検出装置と、入射された光束を折り曲げる光学部材と、前記撮影光学系を通過した光束の光路上の第1位置と前記光路外の第2位置との間で前記光学部材を移動させる光学部材移動機構と、前記第1の焦点検出手段が焦点調節状態を検出する場合および撮影時は前記光学部材を前記第2位置外へ移動させて前記光束を前記第1の焦点検出手段へ導き、前記第2の焦点検出手段が焦点調節状態を検出する場合は前記光学部材を前記第1位置へ移動させて前記光束を前記第2の焦点検出手段へ導くように前記光学部材移動機構を制御する駆動制御手段と、前記第1の焦点検出手段または前記第2の焦点検出手段によって検出された焦点調節状態に基づいて、前記撮影光学系を合焦させるための光学系駆動信号を発する合焦制御手段と、を備えることを特徴とするカメラ。請求項9に記載のカメラであって、前記駆動制御手段は、前記撮像素子が連続的撮影画像を取得する連続撮影を行う場合には、前記第1位置と前記第2位置との間で前記光学部材を交互に移動せしめ、前記合焦制御手段は、前記第1焦点検出手段と前記第2焦点検出手段とにより交互に検出された焦点調節状態に基づいて前記撮影光学系を合焦制御することを特徴とするカメラ。請求項1~5のいずれか一項に記載の焦点検出装置と、入射された光束を折り曲げるとともに透過させる半透過性の光学部材と、前記撮影光学系を通過した光束の光路上の第1位置と前記光路外の第2位置との間で前記光学部材を移動させる光学部材移動機構と、前記第1の焦点検出手段および前記第2の焦点検出手段の少なくとも一方が焦点調節状態を検出する場合は前記光学部材を前記第1位置へ移動させて前記光束を前記第1の焦点検出手段および前記第2の焦点検出手段の双方へ導き、撮影時は前記光学部材を前記第2位置へ移動させて前記光束を前記第1の焦点検出手段のみへ導くように前記光学部材移動機構を制御する駆動制御手段と、前記第1の焦点検出手段または前記第2の焦点検出手段によって検出された焦点調節状態に基づいて、前記撮影光学系を合焦させるための光学系駆動信号を発する合焦制御手段と、を備えることを特徴とするカメラ。請求項11に記載のカメラであって、前記駆動制御手段は、前記撮影画面内の被写体を連続的に追跡する焦点検出モードが選択されている場合には、前記光学部材を前記第1位置に移動せしめておき、前記合焦制御手段は、前記第1焦点検出手段と前記第2焦点検出手段の両方から得られる焦点調節状態に基づいて前記撮影光学系を合焦制御することを特徴とするカメラ。撮影画面内のより多くの位置で焦点検出を行いたい場合、焦点検出位置を単純に増やすだけでは以下の問題が生じてしまう。すなわち、第1の焦点検出装置において撮影画面内に多数の焦点検出点を設けると、撮影画像を得るための補間処理が増えてしまう。一方、第2の焦点検出装置において撮影画面内に多数の焦点検出点を設けると、装置の大型化を招いてしまう。1本発明による焦点検出装置は、焦点検出用の画素列を含む撮像兼焦点検出用撮像素子を有し、該撮像素子が撮影光学系を通して撮像した出力信号であって焦点検出用の画素列からの信号を用いて一対の像の位相差情報を演算し、該位相差情報に基づいて撮影光学系による焦点調節状態を検出する第1の焦点検出手段と、第1の焦点検出手段とは別に設けられており、撮影光学系の異なる領域を通過した一対の焦点検出用光束によって得られる一対の像の位相差情報に基づいて、撮影光学系による焦点調節状態を検出する第2の焦点検出手段と、を有し、第2の焦点検出手段は、撮影画面内の所定領域に対応する一対の焦点検出用光束に基づく位相差情報を取得し、第1の焦点検出手段は、撮影画面内の所定領域とは異なる領域に対応する位置に存在する、撮像素子上の焦点検出用の画素列からの信号を用いて位相差情報を演算することを特徴とする。2請求項9に記載の発明によるカメラは、請求項1~5のいずれか一項に記載の焦点検出装置と、入射された光束を折り曲げる光学部材と、撮影光学系を通過した光束の光路上の第1位置と光路外の第2位置との間で光学部材を移動させる光学部材移動機構と、第1の焦点検出手段が焦点調節状態を検出する場合および撮影時は光学部材を第2位置外へ移動させて光束を第1の焦点検出手段へ導き、第2の焦点検出手段が焦点調節状態を検出する場合は光学部材を第1位置へ移動させて光束を第2の焦点検出手段へ導くように光学部材移動機構を制御する駆動制御手段と、第1の焦点検出手段または第2の焦点検出手段によって検出された焦点調節状態に基づいて、撮影光学系を合焦させるための光学系駆動信号を発する合焦制御手段と、を備えることを特徴とする。3請求項11に記載の発明によるカメラは、請求項1~5のいずれか一項に記載の焦点検出装置と、入射された光束を折り曲げるとともに透過させる半透過性の光学部材と、撮影光学系を通過した光束の光路上の第1位置と光路外の第2位置との間で光学部材を移動させる光学部材移動機構と、第1の焦点検出手段および第2の焦点検出手段の少なくとも一方が焦点調節状態を検出する場合は光学部材を第1位置へ移動させて光束を第1の焦点検出手段および第2の焦点検出手段の双方へ導き、撮影時は光学部材を第2位置へ移動させて光束を第1の焦点検出手段のみへ導くように光学部材移動機構を制御する駆動制御手段と、第1の焦点検出手段または第2の焦点検出手段によって検出された焦点調節状態に基づいて、撮影光学系を合焦させるための光学系駆動信号を発する合焦制御手段と、を備えることを特徴とする。本発明によれば、位相差方式の焦点検出装置の焦点検出点を適切に増やすことができる。以下、図面を参照して本発明を実施するための形態について説明する。第一の実施形態図1および図2は、本発明の第一の実施形態による焦点検出装置を搭載した一眼レフ電子カメラの要部構成を説明する図である。図1および図2において、カメラ本体201に対して着脱可能に構成される撮影レンズ鏡筒202が装着されている。被写体からの光は、撮影レンズ鏡筒202の撮影光学系210および絞り211を介してカメラ本体201へ入射される。カメラ本体201に入射した被写体光は、レリーズ前は図1に例示したミラーダウン状態にある半透過のクイックリターンミラー以下メインミラーと呼ぶ203で上方のファインダー部へ向けて折り曲げられ、拡散スクリーン206に結像する。また、メインミラー203を透過した被写体光の一部はサブミラー204で下方へ反射され、焦点検出用光束として専用AFオートフォーカス素子207へ入射される。専用AF素子207は、撮影光学系210による焦点調節状態を検出する焦点検出処理公知の瞳分割方式のAF処理において用いられるものである。拡散スクリーン206に結像した被写体光はさらに、ペンタプリズム208へ入射される。ペンタプリズム208は、入射された被写体光を接眼光学系209へ導く。撮影者は、ファインダー接眼窓41図3から接眼光学系209を通してファインダーによる被写体像を観察する。レリーズ後は、図2に例示したミラーアップ位置へメインミラー203が回動し、被写体光はメカニカルシャッター205を介して撮像素子212へ導かれ、その撮像面上に被写体像を結像する。撮像素子212は、画素に対応する複数の光電変換素子を備えたCMOSイメージセンサなどによって構成される。撮像素子212は、撮像面上に結像されている被写体像を撮像し、被写体像の明るさに応じた光電変換信号を出力する。なお、撮像素子212の撮像面側に光学ローパスフィルター213が設けられている。レンズ駆動機構214は、撮影光学系210を構成するフォーカス調節レンズを光軸方向に進退駆動する。フォーカス調節レンズの駆動方向および駆動量は、カメラ本体201側から指示される。なお、図を簡単にするため、撮影光学系210を単レンズとして表している。図1のミラーダウン状態は、撮影者が接眼光学系209を介して被写体像を観察できるようにする撮影準備状態である。この状態で焦点検出を行う場合、電子カメラは専用AF素子207を用いて焦点検出を行う専用素子AFと呼ぶ。図2のミラーアップ状態は、撮影時と同様に被写体光が全て撮像素子212へ導かれる。この状態で焦点検出を行う場合、電子カメラは撮像素子212からの出力信号に基づいて焦点検出を行う撮像素子AFと呼ぶ。図3は、電子カメラの外観を例示する図である。図3において、電子カメラの上面に、メインスイッチSW1と、レリーズボタンSW2と、白黒液晶モニター31とを有する。電子カメラの背面に、左選択スイッチSW6と、右選択スイッチSW7と、上選択スイッチSW8と、下選択スイッチSW9と、確定スイッチSW10と、コマンドダイアル45と、切替レバー51と、カラー液晶モニター61と、ファインダー接眼窓41とを有する。電子カメラは、専用素子AFを行うか、あるいは撮像素子AFを行うかを切替レバー51の設定状態に応じて決定する。たとえば、切替レバー51が左のポジションに切り替えられている場合、専用素子AFをミラーダウン時に行う。撮影者は、光学ファインダーを通して被写体像を観察しながらフレーミングを行う。一方、切替レバー51が右のポジションに切り替えられている場合、電子カメラは、撮像素子AFをミラーアップ時に行う。撮影者は、光学ファインダーではなくカラー液晶モニター61に映し出されるライブビュー画像を観察しながらフレーミングを行う。図4は、上述した電子カメラの構成を説明するブロック図である。電子カメラは、マイクロコンピュータ101によって制御される。メインスイッチSW1は、電子カメラの電源オン/オフをそれぞれ指示する操作信号を出力する。レリーズスイッチSW2は、レリーズボタンSW2の押下操作に連動して撮影開始を指示する信号を出力する。取消しスイッチSW3は、操作取消しを示す操作信号を出力する。モードスイッチSW4は、電子カメラの動作モード、すなわち、撮影モードおよび再生モード等を切替えるための操作信号をそれぞれ出力する。左選択スイッチSW6、右選択スイッチSW7、上選択スイッチSW8、および下選択スイッチSW9は、それぞれ選択方向を示す操作信号を出力する。確定スイッチSW10は、操作確定を示す操作信号を出力する。スイッチSW13およびスイッチSW14は、コマンドダイアル45の回転操作に応じて操作信号を出力する。レンズ鏡筒202はレンズ鏡筒内CPUを含み、マイクロコンピュータ101との間で通信を行う。レンズ鏡筒内CPUは、マイクロコンピュータ101からの指示に応じてレンズ駆動機構214図1、図2を駆動制御し、上記フォーカス調節レンズ210を進退移動させる。撮像処理回路107は、撮像素子212から出力される画像データに対して所定の画像処理を行う。画像処理は、γ変換処理やホワイトバランス調整処理などを含む。撮像素子AF回路108は、撮像素子212の所定画素からの出力信号に基づいて像ズレ検出演算処理相関処理、位相差検出処理を施すことにより、いわゆる瞳分割型位相差検出方式マイクロレンズ方式で一対の像の像ズレ量を検出する。さらに、像ズレ量に所定の変換係数を乗ずることにより、予定焦点面に対する現在の結像面の偏差デフォーカス量を算出する。そして、該デフォーカス量に応じて上記フォーカス調節レンズの移動方向および移動量を演算する。像ズレ検出演算処理の詳細については後述する。専用素子AF回路109は、専用AF素子207からの出力信号に基づいて像ズレ検出演算処理相関処理、位相差検出処理を施すことにより、撮影光学系210の異なる領域を通過した一対の焦点検出用光束によって得られる一対の像の像ズレ量を検出する。さらに、像ズレ量に所定の変換係数を乗ずることにより、予定焦点面に対する現在の結像面の偏差デフォーカス量を算出する。そして、該デフォーカス量に応じて上記フォーカス調節レンズの移動方向および移動量を演算する。像ズレ検出演算処理の詳細については後述する。測光装置102は、撮影光学系210を通過した被写体光を受光して測光演算を行う。ドライバ回路103は、マイクロコンピュータ101からの指令に応じてメカニカルシャッター205を駆動する。ドライバ回路104は、マイクロコンピュータ101からの指令に応じて絞り機構214を駆動する。絞り機構214が不図示の絞り駆動レバーを動かすと、レンズ鏡筒202側の絞り211の口径が変化する。ドライバ回路105は、マイクロコンピュータ101からの指令に応じてミラー機構215を駆動する。ミラー機構215は、メインミラー203およびサブミラー204をアップ駆動またはダウン駆動する。外部インタフェース113は、電子カメラ内のデータをパソコンや別の電子カメラなどの外部機器へ出力送信したり、外部機器からのデータを入力受信したりするインターフェース回路である。外部インタフェース113の例として、RS232C、USB、IEEE1394などがある。表示制御部110は、マイクロコンピュータ101からの指令によりカラー液晶モニター61に対する駆動信号を生成する。カラー液晶モニター61は、画像や操作メニューなどを表示する。表示制御部111は、マイクロコンピュータ101からの指令により白黒液晶モニター31に対する駆動信号を生成する。白黒液晶モニター31は、コマ数や撮影条件などの撮影情報を表示する。メモリカード119は、カードコネクター117を介して電子カメラに着脱される記録媒体である。メモリカード119には画像データや音声データが記録される。ドライバ回路106は、マイクロコンピュータ101からの指令に応じて測距エリア照射装置115を駆動制御する。測距エリア照射装置115は、専用素子AF時および撮像素子AF時における必要な場合に、測距補助光を発して被写体を照明する。画像記憶メモリ121は、上述した画像処理、後述する圧縮処理および伸長処理の際に一時的に画像データを格納する。圧縮/伸長回路123は、たとえば、JPEGなど所定の方式で画像データを圧縮処理したり、圧縮された画像データを伸長処理したりする。メモリ125は、マイクロコンピュータ101の作業領域として利用される。タイマー127は、マイクロコンピュータ101によって指定された時間を計時し、タイムアップ信号を出力する。電池129は、電子カメラ内の各部に電力を供給する。<撮像素子AF処理>撮像素子AF回路108で行うAF自動焦点調節処理について詳細に説明する。本実施形態の撮像素子212は、フォーカス検出用の画素焦点検出用画素と呼ぶを有する。この撮像素子212は、特開2007-279312号公報に記載されている撮像素子と同様のものである。撮像素子AF回路108は、焦点検出用画素からの画素出力データを用いて位相差検出演算を行うことにより、焦点検出処理を行う。図5は、撮像素子212の詳細な構成を示す正面図である。撮像素子212には、撮像用画素310が二次元状に配列されている。そして、後述する測距エリアに対応する部分に焦点検出用画素311が配列されている。図5の例では、撮像面の略中央に焦点検出用画素列が水平方向に並ぶ。図6は、撮像用画素のみを拡大した断面図であり、図7は、焦点検出用画素のみを拡大した断面図である。図6において、撮像用画素310は、マイクロレンズ10と撮像用の光電変換部11を備える。マイクロレンズ10は光電変換部11の前方図6において左側に配置され、光電変換部11は撮像素子212内の半導体回路基板不図示上に形成される。図7において、焦点検出用画素311は、マイクロレンズ10と焦点検出用の一対の光電変換部12および光電変換部13を備える。両光電変換部12、13は、それぞれがマイクロレンズ10の中央に対して対称に配置される。マイクロレンズ10は光電変換部12、13の前方図7において左側に配置され、光電変換部12、13は撮像用画素310の光電変換部11と同一の半導体回路基板上に形成される。なお、上記マイクロレンズ10は、撮影光学系210の焦点面近傍に配置される。図8は、撮像素子AFによる瞳分割型位相差検出方法を説明する図であり、焦点検出用画素311の一部マイクロレンズ50、60と二対の光電変換部5253、6263を図示したものである。射出瞳90は、撮影光学系210の焦点面位置に配置されたマイクロレンズ50、60から前方図8において左側の距離d4に投影される射出瞳である。距離d4は、マイクロレンズ1050、60の曲率、屈折率、およびマイクロレンズ1050、60と光電変換部12、13との間の距離などに応じて決まる距離であり、測距瞳距離と呼ぶ。光軸91は、撮影光学系210の光軸である。測距瞳92は、マイクロレンズ50、60および光電変換部52、62に対応する測距瞳であり、測距瞳93は、マイクロレンズ50、60および光電変換部53、63に対応する測距瞳である。一対の測距瞳領域92、93を通過した二対の焦点検出用被写体光束7273、8283は、それぞれマイクロレンズ50、60を介して二対の光電変換部5253、6263に到達する。図8では、光軸91上にある焦点検出用画素311マイクロレンズ50と一対の光電変換部5253と、光軸91外にある焦点検出用画素311マイクロレンズ60と一対の光電変換部6263を模式的に例示しているが、その他の焦点検出用画素311においても一対の測距瞳から各マイクロレンズに到来する焦点検出用光束を一対の光電変換部でそれぞれ受光する。なお、焦点検出用画素311の配列方向図5において水平方向は、一対の測距瞳の分割方向図8において上下方向と一致させる。上述した構成を有することにより、焦点検出用画素は、特開2007-279312号公報に記載されるように、それぞれ瞳分割された光束が入射されることになる。具体的には、光電変換部12、13には、それぞれマイクロレンズ10の片半面を通過した光束のみが受光される。たとえば、光電変換部52、62には、測距瞳92からの光束A成分と呼ぶのみが入射される。一方、光電変換部53、63には、測距瞳93からの光束B成分と呼ぶのみが入射される。この結果、A成分の光束が入射される光電変換部52、62、...から得られる画素出力A成分のデータ列は、撮影光学系210の測距瞳92から入射された光束による像を表し、B成分の光束が入射される光電変換部53、63、...から得られる画素出力B成分のデータ列は、測距瞳93から入射された光束による像を表す。A成分による被写体像、およびB成分による被写体像からなる一対の被写体像は、撮影光学系210が予定焦点面よりも前に被写体の鮮鋭像を結ぶいわゆる前ピン状態では互いに近づき、逆に予定焦点面より後ろに被写体の鮮鋭像を結ぶいわゆる後ピン状態では互いに遠ざかる。予定焦点面において被写体の鮮鋭像を結ぶ合焦状態には、上記一対の像が相対的に一致する。したがって、一対の像の相対位置ズレ量を求めることにより、撮影光学系210のフォーカス調節状態、すなわちデフォーカス量が得られる。撮像素子AF回路108は、A成分のデータ列およびB成分のデータ列の相対的な位置関係をずらしながら、2つのデータ列間の像ズレ量シフト量と呼ぶと、A成分のデータ列とB成分のデータ列との相関度を演算する。相関値が最小となる相関値が小さいほど2つのデータ列の相関度が高いシフト量を求める演算は、公知の位相差検出演算による。撮像素子AF回路108は、相関値を最小にするシフト量に所定係数を掛けることにより、デフォーカス量を求める。なお、デフォーカス量は測距エリアごとに異なる。また、デフォーカス量の検出精度は、像ズレ量の検出ピッチおよびマイクロレンズ10の配列ピッチに依存する。撮像素子AF回路108は、デフォーカス量に基づいてフォーカス調節レンズ210の移動方向および移動量を演算する。<専用素子AF処理>専用素子AF回路109で行うAF自動焦点調節処理について説明する。本実施形態の専用AF素子207は、特開2007-233032号公報に記載されている撮像素子と同様のものである。専用AF素子207は、撮像用画素と焦点検出用画素とが混在する撮像素子212と異なり、焦点検出専用のイメージセンサCCDまたはCMOSセンサを有する。専用AF素子207は、上記イメージセンサ上に結像されている被写体像を撮像し、被写体像の明るさに応じた光電変換信号を専用素子AF回路109へ出力する。専用AF素子207では、たとえば、上記測距瞳92に相当する測距瞳からの光束をA列のセンサ列に導くように公知の絞り開口が設けられるとともに、上記測距瞳93に相当する測距瞳からの光束をB列のセンサ列に導くように公知の絞り開口が設けられる。これにより、上記それぞれの絞り開口を介して撮影光学系210の異なる領域を通して入射された一対のデフォーカス量検出用光束による像が、焦点検出専用のイメージセンサ上の異なる位置で撮像されることとなる。専用素子AF回路109は、A成分の出力信号およびB成分の出力信号の相対的な位置関係をずらしながら、2つの出力信号間の像ズレ量シフト量と呼ぶと、A成分の出力信号とB成分の出力信号との相関度を演算する。相関値が最小となるシフト量を求めるのは、撮像素子AF回路108の場合と同様である。専用素子AF回路109は、相関値を最小にするシフト量に所定係数を掛けることにより、デフォーカス量を求める。デフォーカス量が測距エリアごとに異なる点、デフォーカス量の検出精度が焦点検出専用のイメージセンサによる検出ピッチに依存する点は、撮像素子AFの場合と同様である。専用素子AF回路109は、デフォーカス量に基づいてフォーカス調節レンズ210の移動方向および移動量を演算する。<測距エリアの配置>撮影光学系210の焦点面に設定する測距エリア焦点検出位置について、図9-図11を参照して説明する。図9は、専用AF素子207を用いて焦点検出する際の測距エリア専用AF素子207に含まれるイメージセンサが像をサンプリングする領域を示す図であり、測距エリアに対応する位置を撮影画面100上に表したものである。図9において、15個の測距エリアからなる測距エリア群71が示されている。専用素子AF回路109は、15個の測距エリアのそれぞれについてデフォーカス量を算出し得る。各測距エリアの長さ、幅とサンプリングピッチは、イメージセンサを構成する光電変換部のサイズ配列長配列ピッチ、および不図示の再結像レンズ専用AF素子207内の上記絞り開口を通過した光束をイメージセンサ上に投影する光学系の投影倍率によって決まる。図10は、撮像素子212を用いて焦点検出する際の測距エリア撮像面内で焦点検出用画素311が像をサンプリングする領域を示す図である。図10において、撮像面の中央を挟んで左右に、それぞれ10個の測距エリアからなる測距エリア群81、82が示されている。撮像素子AF回路108は、1010=20個の測距エリアのそれぞれについてデフォーカス量を算出し得る。各測距エリアの長さ幅およびサンプリングピッチは、マイクロレンズ10のサイズ配列長配列ピッチによって決まる。図11は、専用AF素子207による測距エリア群71と、撮像素子212による測距エリア群81、82とを重ね合わせた図である。本実施形態では、専用AF素子207による測距エリア群71を撮影画面中央寄りに配置し、撮像素子212による測距エリア群81、82を撮影画面中央から離して配置することにより、測距エリア群71と測距エリア群81、82とが重複しない。専用AF素子207による測距エリア群71を撮影画面中央寄りにする撮影光学系210の光軸に近づけることは、専用AF素子207や、該専用AF素子207へ被写体光束を導くサブミラー204を小型化する上で好適である。また、撮像素子212の撮像面の中央を挟んで左右にそれぞれ測距エリア群81、82を設けたので、専用AF素子207による焦点検出では困難な撮影画面の周辺においてデフォーカス量が得られる。以上説明した第一の実施形態によれば、次の作用効果が得られる。1電子カメラの焦点検出装置は、焦点検出用の画素列を含む撮像兼焦点検出用撮像素子212を有し、該撮像素子212が撮影光学系210を通して撮像した出力信号であって焦点検出用の画素列からの信号を用いて一対の像の位相差情報を演算し、該位相差情報に基づいて撮影光学系210による焦点調節状態を検出する撮像素子AF回路108と、撮像素子AF回路108とは別に設けられており、撮影光学系210の異なる領域を通過した一対の焦点検出用光束によって得られる一対の像の位相差情報に基づいて、撮影光学系210による焦点調節状態を検出する専用素子AF回路109と、を有し、専用素子AF回路109は、撮影画面内の所定領域に対応する一対の焦点検出用光束に基づく位相差情報を取得し、撮像素子AF回路108は、撮影画面内の所定領域とは異なる領域に対応する位置に存在する、撮像素子212上の焦点検出用の画素列からの信号を用いて位相差情報を演算するようにした。これにより、位相差方式の焦点検出装置の焦点検出点を適切に増やすことができる。また、焦点検出点の全てについて専用素子AF回路109で検出する場合に比べて小型化に有利である。一方で、焦点検出点の全てについて撮像素子AF回路108で検出する場合に比べて補間処理を軽減することができる。ここで、補間処理とは、撮像素子212上の焦点検出用の画素311の位置では撮像用画素310による画像情報が得られないので、焦点検出用の画素311の周囲の撮像用画素310からの出力信号を用いて当該画素位置における画像情報を算出するための補間処理である。2専用素子AF回路109の検出対象領域である所定領域は、撮影画面における略中央を含む領域としたので、撮影画面における周辺部の領域を検出対象にする場合に比べて、サブミラー204や専用AF素子207などの小型化に有利である。3上記2の場合の撮像素子AF回路108は、撮影画面における所定領域の外側に対応する撮像素子212の焦点検出用の画素列からの信号を用いて位相差情報を演算するようにしたので、専用素子AF回路109が検出対象としない周辺部について位相差情報が得られる。具体的には、撮影画面の略中央を挟んで左右にそれぞれ測距エリア群81、82を設けたので、専用素子AF回路209による焦点検出では困難な撮影画面の周辺から位相差情報が得られるようになる。4マイクロコンピュータ-101は、切替レバー51からの操作信号に応じて、撮像素子AF回路108または専用素子AF回路109を選ぶようにしたので、ユーザーが意図する領域で位相差情報を得ることができる。変形例1上述した説明では、マイクロコンピュータ101が切替レバー51の設定状態に応じて専用素子AFを行うか、あるいは撮像素子AFを行うかを決定するようにした。専用素子AFを行う場合は、測距エリア群71に含まれる15個の測距エリアの少なくとも1つを用いて焦点検出を行う。撮像素子AFを行う場合は、測距エリア群81および82に含まれる20個の測距エリアの少なくとも1つを用いて焦点検出を行う。この代わりに、指示された測距エリアに応じて専用素子AFを行うか、あるいは撮像素子AFを行うかを決定する構成にしてもよい。変形例1のマイクロコンピュータ101は、たとえば、拡散スクリーン206に重ねて配設されている不図示の透過型液晶表示装置により、専用AF素子207の測距エリア15箇所と、撮像素子212による測距エリア20箇所とをそれぞれ表示させる。撮影者は、ミラーダウン状態図1においてファインダー接眼窓41を覗くと、被写体像に重ねて図11と同様に35箇所の測距エリアの位置を確認できる。撮影者が上下左右スイッチSW6~SW9を操作すると、マイクロコンピュータ101は、入力された操作信号に応じた測距エリアを1つ選んで強調表示するように表示制御部110へ指示を送る。マイクロコンピュータ101は、強調表示した測距エリアを撮影者により選択された測距エリアとする。マイクロコンピュータ101は、選択した測距エリアが上記専用AF素子207による測距エリア群71に含まれる場合、ミラーダウン状態を維持して専用素子AF回路109にAF処理を行わせる。一方、選択した測距エリアが上記撮像素子212による測距エリア群81または82に含まれる場合、自動的にミラーアップさせた上で撮像素子AF回路108にAF処理を行わせる。変形例1によれば、指示された測距エリアに応じて適切に専用素子AFと撮像素子AFとの自動切替を行うことができる。変形例2<連写時の追尾動作>撮影動作を連続して繰返す連写撮影においては、被写体の動き光軸方向の動き、および左右上下方向の動きを含むに連動して焦点調節対象を追跡し、AF処理を連続して行う、公知の追尾制御をする。追尾制御する場合のマイクロコンピュータ101は、連写中のミラーダウン時は専用素子AF回路109にAF処理を行わせ、連写中のミラーアップ時は撮像素子AF回路108にAF処理を行わせる。変形例2によれば、連写時のミラーダウン状態で専用AF素子207で得た測距情報が得られ、連写時のミラーアップ状態では撮像素子212で得た測距情報が得られるので、両者を複合して追尾制御することで、ミラーアップ/ダウンの状態にかかわらず切れ目なく測距情報が得られる。これにより、移動する被写体に対し適切にピント合わせを行える。第二の実施形態図12は、本発明の第二の実施形態による焦点検出装置を搭載した一眼レフ電子カメラの要部構成を説明する図である。第一の実施形態とは、専用AF素子207Aを有する点と、サブミラー204Aが半透過ミラーによって構成される点と、撮像素子212Aに形成される焦点検出用画素の位置すなわち撮像素子212Aによる測距エリアとが異なる。図12において、カメラ本体201に入射した被写体光のうち、レリーズ前にミラーダウン状態にある半透過のメインミラー203およびサブミラー204Aをそれぞれ透過した成分がメカニカルシャッター205を介して撮像素子212Aへ導かれる。また、メインミラー203を透過してサブミラー204Aで反射された成分が専用AF素子207Aへ導かれる。これにより、ミラーダウン状態において、撮像素子AFおよび専用素子AFの双方を行うことができる。<測距エリアの配置>第二の実施形態において設定する測距エリアについて、図13-図15を参照して説明する。図13は、専用AF素子207Aを用いて焦点検出する際の測距エリア専用AF素子207Aに含まれるイメージセンサが像をサンプリングする領域を示す図であり、測距エリアに対応する位置を撮影画面100A上に表したものである。図13において、13個の測距エリアからなる測距エリア群71Aが示されている。専用素子AF回路109は、13個の測距エリアのそれぞれについてデフォーカス量を算出し得る。図14は、撮像素子212Aを用いて焦点検出する際の測距エリア撮像面内で焦点検出用画素311が像をサンプリングする領域を示す図である。図14において、撮像面の中央寄りに、8個の測距エリアからなる測距エリア群81Aが示されている。撮像素子AF回路108は、8個の測距エリアのそれぞれについてデフォーカス量を算出し得る。図15は、専用AF素子207Aによる測距エリア群71Aと、撮像素子212Aによる測距エリア群81Aとを重ね合わせた図である。本実施形態では、専用AF素子207Aによる測距エリア群71Aと、撮像素子212Aによる測距エリア群81Aとがそれぞれ撮影画面中央寄りに、かつ測距エリア群71Aおよび81Aが重複しないように、高密度で配設される。ミラーダウン状態で行う撮像素子AFによる測距エリア群81Aを撮影画面中央寄りにする撮影光学系210の光軸に近づけることは、撮像素子212Aへ被写体光束を半透過させるメインミラー203やサブミラー204Aを小型化する上で好適である。ミラーダウン状態で撮像素子AFを行う場合、メインミラー203とサブミラー104Aを半透過した光束を撮像素子212Aで捉える。これに対し、実際の撮影はミラーアップ状態で行うため、撮像素子212Aには両ミラーを透過しない光束が入射する。このため、測距時と撮影時とでは撮像素子212Aまでの光路長に差が生じる。本実施形態では、上記光路差に起因する誤差を抑えるため、各ミラー203、204Aの厚さと屈折率とを用いてあらかじめ算出した光路差に基づいてオフセット情報を用意しておき、撮像素子AF回路108がデフォーカス量を演算する際に上記オフセット情報を用いて補正を行う。第二の実施形態では、第一の実施形態と同様に、切替レバー51の設定状態に応じて専用素子AFを行うか、あるいは撮像素子AFを行うかを決定する。また、変形例1のように、指示された測距エリアに応じて専用素子AFを行うか、あるいは撮像素子AFを行うかを決定してもよい。以上説明した第二の実施形態によれば、次の作用効果が得られる。1焦点検出装置の撮像素子AF回路108は、撮影画面における所定領域の内側に対応する撮像素子212の焦点検出用の画素列からの信号を用いて位相差情報を演算するようにしたので、専用素子AF回路109が検出対象とする領域のさらに内側について位相差情報が得られる。具体的には、専用AF素子207Aによる測距エリア群71Aと、撮像素子212Aによる測距エリア群81Aとがそれぞれ撮影画面中央寄りに、かつ測距エリア群71Aおよび81Aが重複しないように、高密度で配設したことで、多点において適切に位相差情報が得られるようになる。2電子カメラは、入射された光束を折り曲げるとともに透過させる半透過性のミラー203、204Aと、撮影光学系210を通過した光束の光路上の第1位置ミラーダウン状態と光路外の第2位置ミラーアップ状態との間でミラー203、204Aを移動させるミラー機構215と、撮像素子AF回路108、撮像素子212および専用素子AF回路209、専用AF素子207の少なくとも一方が焦点調節状態を検出する場合はミラー203、204Aを第1位置へ移動させて光束を撮像素子AF回路108、撮像素子212および専用素子AF回路209、専用AF素子207の双方へ導き、撮影時はミラー203、204Aを第2位置へ移動させて光束を撮像素子AF回路108、撮像素子212のみへ導くようにミラー機構215を制御するマイクロコンピュータ-101と、撮像素子AF回路108、撮像素子212または専用素子AF回路209、専用AF素子207によって検出された焦点調節状態に基づいて、撮影光学系210を合焦させるための光学系駆動信号を発するマイクロコンピュータ-101と、を備えるようにした。これにより、ミラー203、204Aが第1位置の状態において、撮像素子AFおよび専用素子AFの双方を行うことができるから、撮影待機状態で多くの検出点において測距が行える。また、全ての検出点について専用素子AF回路209、専用AF素子207で行う場合に比べて、検出点を高密度で配設できるようになる。変形例3撮影準備状態、すなわちミラーダウン状態において撮像素子AFおよび専用素子AFの双方を行うことは、いわゆるダイナミックAF制御にも好適である。ダイナミックAF制御は、撮影者によって指示された測距エリアについて算出されたデフォーカス量に基づいてフォーカス調節を行い、注目被写体がその測距エリアから外れたと判断した場合には、注目被写体の移動先の新たな測距エリアについて算出されたデフォーカス量に基づいてフォーカス調節を行うAF制御手法である。この場合のマイクロコンピュータ101は、撮像素子AF回路108または専用素子AF回路109においてデフォーカス量の変化から注目被写体がその測距エリアから外れたと判断された場合、もとの測距エリアの周辺に位置する複数の他の測距エリアについてデフォーカス量を算出させる。この場合、図15に示される専用AF素子207Aによる測距エリア群71Aと、撮像素子212Aによる測距エリア群81Aとをそれぞれ使い、複数の測距エリアについて算出した各デフォーカス量に基づいて、これら複数の測距エリアの中から注目被写体が移動したと推測される測距エリアを決定し、そこでの測距制御に切替る。つまり、専用AF素子207Aによる測距エリアに決定した場合は専用素子AF回路109にAF処理を行わせ、撮像素子212Aによる測距エリアに決定した場合は撮像素子AF回路108にAF処理を行わせる。変形例3によれば、撮像素子AFおよび専用素子AFを複合してダイナミックAF制御することで、移動する被写体に対し適切にピント合わせを行える。変形例4ミラーアップ時におけるデフォーカス量の検出に用いる測距エリア数を増やしてもよい。図16-図18は、変形例4における測距エリアを説明する図である。図16は、専用AF素子207Aを用いて焦点検出する際の測距エリア専用AF素子207Aに含まれるイメージセンサが像をサンプリングする領域を示す図であり、測距エリアに対応する位置を撮影画面100A上に表したものである。図16において、13個の測距エリアからなる測距エリア群71Aが示されている。専用素子AF回路109は、13個の測距エリアのそれぞれについてデフォーカス量を算出し得る。図17は、撮像素子212Bを用いて焦点検出する際の測距エリア撮像面内で焦点検出用画素311が像をサンプリングする領域を示す図である。図17において、撮像面の中央寄りに、8個の測距エリアからなる測距エリア群81Aが示されている。また、測距エリア群81Aを挟んで左右に、それぞれ10個の測距エリアからなる測距エリア群81、82が示されている。撮像素子AF回路108は、81010=28個の測距エリアのそれぞれについてデフォーカス量を算出し得る。各測距エリアの長さ幅およびサンプリングピッチは、マイクロレンズ10のサイズ配列長配列ピッチによって決まる。図18は、専用AF素子207Aによる測距エリア群71Aと、撮像素子212Bによる測距エリア群81A、81および82とを重ね合わせた図である。変形例4では、専用AF素子207Aによる測距エリア群71Aと、撮像素子212Bによる測距エリア群81A、81および82とが重複しないように、高密度で配設される。ミラーダウン状態で行う撮像素子AFによる測距エリア群81Aを撮影画面中央寄りにする撮影光学系210の光軸に近づけることは、撮像素子212Aへ被写体光束を透過させるメインミラー203やサブミラー204Aを小型化する上で好適である。一方、撮像素子212による測距エリアとして、撮像面の中央を挟んで左右にそれぞれ測距エリア群81、82を設けたので、専用AF素子207による焦点検出では困難な撮影画面の周辺からもデフォーカス量が得られる。このため、撮影画面の周辺に位置する被写体を対象に合焦させることができる。以上の説明はあくまで一例であり、上記の実施形態の構成に何ら限定されるものではない。