検査対象に光を照射する光源と、前記検査対象からの反射光を受光する受光部と、前記光源から前記検査対象まで、および、前記検査対象から前記受光部までの光学軸上に配置される光学部材と、前記光学軸に対し前記光学部材および前記検査対象の各位置を調整可能に保持する保持部と、を備え、前記光学部材は、第1偏光子と、偏光ビームスプリッターと、位相差補償板と、第2偏光板とを含み、前記光源からの光を、前記第1偏光子、前記偏光ビームスプリッター、前記位相差補償板を介して前記検査対象に照射し、前記検査対象からの反射光を、前記位相差補償板、前記偏光ビームスプリッター、前記第2偏光子を介して前記受光部で受光し、前記検査対象のコントラストを、前記受光部で受光された反射光に基づいて検査する検査方法であって、前記検査対象のパネルの検査前に、当該パネルの代わりに鏡を保持させるとともに、前記位相差補償板の代わりに1/4波長板を保持させて、前記光学部材の各位置をそれぞれ調整し、前記検査対象のパネルを検査する際には、当該鏡に代えて、当該パネルを保持させるとともに、前記1/4波長板に代えて前記位相差補償板を保持させて、前記パネルの位置を調整するとともに、前記位相差補償板の位置に応じて位相差補償量を調整することを特徴とするコントラストの検査方法。前記保持部による前記第1偏光板、前記偏光ビームスプリッター、前記位相差補償板、前記検査対象および前記第2偏光板の各位置を調整する調整部を有し、前記検査対象のパネルを検査する際に前記調整部は、前記第1偏光板、前記偏光ビームスプリッターおよび前記第2偏光板の各位置の調整を禁止することを特徴とする請求項1に記載のコントラストの検査方法。前記調整部は、前記受光部によって受光された光の明るさが最大となる地点に調整することを特徴とする請求項2に記載のコントラストの検査方法。検査対象に光を照射する光源と、前記検査対象からの反射光を受光する受光部と、前記光源から前記検査対象まで、および、前記検査対象から前記受光部までの光学軸上に配置される光学部材と、前記光学軸に対し前記光学部材および前記検査対象の各位置を調整可能に保持する保持部と、を備え、前記光学部材は、第1偏光子と、偏光ビームスプリッターと、位相差補償板と、第2偏光板とを含み、前記光源からの光を、前記第1偏光子、前記偏光ビームスプリッター、前記位相差補償板を介して前記検査対象に照射し、前記検査対象からの反射光を、前記位相差補償板、前記偏光ビームスプリッター、前記第2偏光子を介して前記受光部で受光し、前記検査対象のコントラストを、前記受光部で受光された反射光に基づいて検査する検査装置であって、前記検査対象のパネルの検査前に、当該パネルの代わりに鏡を保持させるとともに、前記位相差補償板の代わりに1/4波長板を保持させて、前記光学部材の各位置をそれぞれ調整し、前記検査対象のパネルを検査する際には、当該鏡に代えて、当該パネルを保持させるとともに、前記1/4波長板に代えて前記位相差補償板を保持させて、前記パネルの位置を調整するとともに、前記位相差補償板の位置に応じて位相差補償量を調整することを特徴とするコントラストの検査装置。ところで近年、透過型に加えて反射型の液晶パネルも登場している。反射型では、開口率が高められるほか、光漏れが抑えられるので、透過型と比較して高いコントラストの映像表示が可能となっている。このため、検査工程において、画素欠陥とは別に、液晶パネルのコントラストの高低を見極めることが重要になる。従来の検査装置でコントラストを検査する場合、検査に時間を要するので、多数のパネルを検査することができない、という問題があった。そこで本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、その目的の一つは、例えば液晶パネルのコントラスト検査に要する時間の短縮することが可能な技術を提供することにある。上記目的を達成するために本発明に係るコントラスト検査方法にあっては、検査対象に光を照射する光源と、前記検査対象からの反射光を受光する受光部と、前記光源から前記検査対象まで、および、前記検査対象から前記受光部までの光学軸上に配置される光学部材と、前記光学軸に対し前記光学部材および前記検査対象の各位置を調整可能に保持する保持部と、を備え、前記光学部材は、第1偏光子と、偏光ビームスプリッターと、位相差補償板と、第2偏光板とを含み、前記光源からの光を、前記第1偏光子、前記偏光ビームスプリッター、前記位相差補償板を介して前記検査対象に照射し、前記検査対象からの反射光を、前記位相差補償板、前記偏光ビームスプリッター、前記第2偏光子を介して前記受光部で受光し、前記検査対象のコントラストを、前記受光部で受光された反射光に基づいて検査する検査方法であって、前記検査対象のパネルの検査前に、当該パネルの代わりに鏡を保持させるとともに、前記位相差補償板の代わりに1/4波長板を保持させて、前記光学部材の各位置をそれぞれ調整し、前記検査対象のパネルを検査する際には、当該鏡に代えて、当該パネルを保持させるとともに、前記1/4波長板に代えて前記位相差補償板を保持させて、前記パネルの位置を調整するとともに、前記位相差補償板の位置に応じて位相差補償量を調整することを特徴とする。本発明によれば、鏡の保持によって光学部材の各位置が調整されるので、パネルを検査する際には、パネルの保持位置および位相差補償板による位相差補償量を調整する程度で、当該パネルのコントラストを検査することができる。このため、検査に要する時間の短縮化が図られる。本発明において、前記保持部による前記第1偏光板、前記偏光ビームスプリッター、前記位相差補償板、前記検査対象および前記第2偏光板の各位置を調整する調整部を有し、前記検査対象のパネルを検査する際に前記調整部は、前記第1偏光板、前記偏光ビームスプリッターおよび前記第2偏光板の各位置の調整を禁止する態様が好ましい。この態様によれば、光学部材の各位置が人手によらずに調整されるので、調整に要する時間が短縮されるとともに正確に調整される。この態様において、前記調整部は、前記受光部によって受光された光の明るさが最小となる地点に調整することが好ましい。なお、本発明は、コントラストの検査方法のほか、コントラストの検査装置としても概念することができる。以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。図1は、実施形態に係るコントラスト検査装置において、検査対象となる液晶パネル10の構成を示す斜視図である。この液晶パネル10は、プロジェクターのライトバルブとして用いられる反射型であり、図において上側からの入射光を上側に反射する際に表示部本体12が表示領域で変調像を生成する。なお、表示領域は、平面視で長方形である。表示部本体12は、表示領域が開口したフレーム14にケーシングされている。表示部本体12は、複数の画素毎に個別の画素電極を有する素子基板と、複数の画素にわたって共通のコモン電極を有する対向基板とが一定の間隙を保って、電極形成面が互いに対向するように貼り合わせられるとともに、この間隙に液晶が挟持された構造である。表示部本体12には、FPCFlexiblePrintedCircuits基板20の一端が接続されている。FPC基板20には、ベアチップのドライバーIC22が、COFChipOnFilm技術によって実装されるとともに、表示部本体12に接続された一端と反対側の端子部24において複数の端子26が設けられている。端子部24が、後述する調整部のコネクターに接続されて、当該調整部から端子26を介してそれぞれ各種の制御信号や映像信号が供給されると、ドライバーIC22が表示部本体12を駆動し、これにより表示部本体12が、当該映像信号に応じた変調像を生成する構成となっている。図2は、実施形態に係るコントラスト検査装置1の光学系を示す概略図である。コントラスト検査装置1は、光源110と光学部材と受光部120とを有し、光学部材は、第1偏光子40、偏光ビームスプリッター50、位相差補償板60および第2偏光子70を含む構成となっている。このうち、光源110は、例えばLEDLightEmittingDiodeであり、光を照射する。なお、光源110からは、図において光軸aに沿って上側に向かって光が出射するように構成されている。一方、コントラスト検査装置1において、検査対象となる液晶パネル10は、図示省略された検査治具にセットされる。この検査治具は、液晶パネル10を、図1においてX軸202、Y軸204およびZ軸を中心に回転可能に保持する。ここで、X軸202は、表示領域の対角中心を通過するとともに表示領域の長手に沿った方向の軸である。Y軸204は、表示領域の対角中心を通過するとともに表示領域の短手に沿った方向の軸である。Z軸206は表示領域の対角中心を通過するとともに表示領域に対して法線方向の軸である。なお、検査治具において液晶パネル10をX軸202に対して回転させるのが図2に示されるアクチュエーター32である。同様にY軸204およびZ軸206に対して回転させるのが、それぞれアクチュエーター34および36である。また、小文字のxは、X軸202回りの回転角である。同様に、yおよびθは、それぞれY軸204およびZ軸206回りの回転角である。第1偏光子40は、光軸aに直交するように配置されるとともに、光軸aに対して透過軸が回転可能となっている。ここで、第1偏光子40の透過軸を回転させるのがアクチュエーター46である。なお、第1偏光子40についてのθは、光軸a回りの回転角である。偏光ビームスプリッター50は、例えば板状のワイヤーグリッド偏光子であり、ある一方向であるP方向成分の光を透過し、P方向に直交するS方向成分の光を反射する。偏光ビームスプリッター50は、図2に示されるように光軸aに対し反時計回りで45度傾いてセットされて、光軸aに沿って12時上側の方向から入射した光のうちS方向成分の光を、3時右側の方向の光軸bに沿って反射させる。なお、偏光ビームスプリッター50の板面は、法線cに対して回転し、透過軸方向反射軸方向が調整可能となっている。偏光ビームスプリッター50を回転させるのがアクチュエーター56である。偏光ビームスプリッター50についてのθは、法線c回りの回転角である。位相差補償板60は、液晶パネル10の検査時に図示省略した保持部にセットされて、液晶パネル10の位相差を、光軸aを中心にした回転角度に応じて補償する。なお、この保持部には、液晶パネル10の検査前にあっては1/4波長板がセットされる。図3は、保持部にセットされた位相差補償板60の各軸および回転を示す図である。この図に示されるように、位相差補償板60は、X軸262、Y軸264およびZ軸266を中心に回転可能に保持される。ここで、X軸262およびY軸264は、位相差補償板60の板面を二次元で規定し、Z軸266は、光軸aに一致する。なお、この保持部に、1/4波長板がセットされたときについても、同様に当該1/4波長板は、X軸262、Y軸264およびZ軸266を中心に回転可能に保持される。また、位相差補償板60または1/4波長板についてのxは、X軸262回りの回転角である。同様に、yおよびθは、それぞれY軸264およびZ軸266回りの回転角である。第2偏光子70は、光軸bに直交するように配置されるとともに、光軸bに対して透過軸が回転可能となっている。ここで、第2偏光子70の透過軸を回転させるのがアクチュエーター76である。なお、第2偏光子70についてのθは、光軸b回りの回転角である。受光部120はセンサー122を有する。当該センサー122は、第2偏光子70を光軸bに沿って透過した光を受光して、当該光の例えば照度単位面積当たりの光束の量を検出し、その照度情報を出力する。図4は、コントラスト検査装置1の電気的な構成を示す図である。この図に示されるように、調整部80は、コネクター82を含む。このコネクター82には、検査対象となる液晶パネル10の端子部24が接続される。また、調整部80は、アクチュエーター32、34、36、46、56、62、64、66、76の回転を制御するほか、受光部120の照度情報を入力し、コネクター82に接続された液晶パネル10のコントラスト比を当該照度情報に基づいて出力する。当該コントラストが良品の範囲内であるのか否かを判別するのは、このコントラスト検査装置1ではなく、別の装置である。次に、コントラスト検査装置1の動作について図5を参照して説明する。まず、液晶パネル10の検査に先立って、各部の位置調整が実行される。詳細には、ステップSa1において、検査治具の保持部に、液晶パネル10の代わりにミラー鏡をケーシングしたダミーのパネルがセットされるとともに、位相差補償板60の代わりに1/4波長板がセットされる。なお、このセットは、検査者が手動で行っても良いが、検査装置が自動的に行う構成が望ましい。ステップSa2において、調整部80は、アクチュエーター32、34、46、56、66、76の回転を制御して、各部の位置を調整する。例えば、調整部80は、いずれかのアクチュエーターを1つ選択するとともに、選択したアクチュエーターだけを回転させて、受光部120の照度情報が最大値または最小値となる地点を探索する。最大値または最小値を迎えたら、調整部80は、選択したアクチュエーターを最大値または最小値となった地点にセットするとともに、今度は別のアクチュエーターを1つ選択して、同様に選択したアクチュエーターだけを回転させて、照度情報が最大値または最小値となる地点を探索する。このようにアクチュエーターのすべてを選択して、それぞれにおいて照度情報が最大値を示す地点にセットされると、そのセット位置は、光源110から出力された光を受光部120が最も効率良く受光する位置関係、すなわち図2に示した配置となっている。光源110から照射された光のうち、第1偏光子40および偏光ビームスプリッター50を透過したP方向の直線偏光は、1/4波長板によって一方向例えば時計回りの円偏光に変換されて、ミラーで反射する。この反射のときに逆方向反時計回りの円偏光になるので、1/4波長板を再度通過するときには、S方向の直線偏光に変換される。このため、光源110から出力された光を受光部120が最も効率良く受光する位置関係となっているとき、偏光ビームスプリッター50の透過軸であるP方向は第1偏光子40の透過軸に一致し、また、第2偏光子70の透過軸は、偏光ビームスプリッター50の反射軸であるS方向に一致している。なお、この状態は、受光部120による照度情報が最も明るい状態である。ダミーパネルのミラーは液晶パネル10とは異なり、変調機能を有しない。このため、調整部80は、例えば第1偏光子40または第2偏光子70のいずれかを、現時点の状態からZ軸回りに回転させて、偏光子同士による黒状態を作り出す。これにより、受光部120は最も暗い照度情報を出力するので、調整部80は、明るさの最高値と最低値との比、すなわち、ミラーのコントラストを出力する。このコントラストは、液晶パネル10で測定するコントラストの基準になる。光源110からの光を最も効率良く受光する位置関係となったとき、ステップSa3において、調整部80は、アクチュエーター46、56、76に対して以降の回転を禁止する。これによって、第1偏光子PL40、偏光ビームスプリッターPBF50および第2偏光子PL60は、以降、位置が調整されることなく、それぞれ固定されることになる。次に、ステップSa4において、1/4波長板に代えて、位相差補償板60がセットされる。続いて、ステップSa5において、ダミーパネルに代えて、検査対象となる液晶パネル10が検査治具の保持部にセットされる。なお、ステップSa4およびSa5におけるセットについても、検査者が手動で行っても良いが、検査装置が自動的に行う構成が望ましい。ステップSa6において、調整部80は、第1に、コネクター82に端子部24が接続された液晶パネル10に対し、例えば画素のすべてを白画素にする白画像を表示させる映像信号および制御信号を供給する。調整部80は、第2に、アクチュエーター32、34、36の回転を制御して、すなわち、液晶パネル10をx回転、y回転、θ回転させて、光源110から出力された光を受光部120が出力する照度情報が最も高くなる地点に調整する。これによって、液晶パネル10は、光軸aに対して表示領域が対角中心に垂直となる位置に調整される。調整部80は、第3に、液晶パネル10に対し、白画像と黒画像とを交互に表示させる映像信号および制御信号を供給する。調整部80は、第4に、受光部120センサー122から、白画像が表示されているときの照度情報と黒画像が表示されているときの照度情報とから、表示された黒画像に対する白画像の明るさの比を求める。調整部80は、第5に、アクチュエーター66を操作して、位相差補償板60を所定方向例えば光源110からみて時計回りに微小角度例えば0.2度だけ回転させる。以降、調整部80は、第3から第5までの動作を上記比が最大値を迎えるまで繰り返す。この動作が繰り返し実行されると、位相差補償板60が微小角度ずつ回転しながら、液晶パネル10において黒画像に対する白画像の明るさの比が求められる。そして、上記比が最大値を迎えたとき、位相差補償板60が液晶パネル10の位相差を最適に補償する地点に調整されたとみなすことができる。このため、調整部80は、当該比の最大値を当該液晶パネル10のコントラスト比として出力する。なお、液晶パネル10の位相差は個体毎に異なるが、ある範囲におおよそ限られているので、位相差補償板60を360度全周にわかって回転させる必要はない。このため、検査に要する時間は短くて済む。次に、ステップSa7において、検査治具の保持部にセットされた液晶パネル10が取り外される。なお、この取り外しは、検査者が手動で行っても良いが、検査装置が自動的に行う構成が望ましい。そして、処理手順がステップSa5に戻り、別の液晶パネル10がセットされる。以後、液晶パネル毎にステップSa5~Sa7が繰り返し実行されて、その都度、コントラストが求められることになる。本実施形態においては、液晶パネル10の検査に先立って、鏡を有するダミーパネルが検査治具の保持部にセットされて、各軸の角度、すなわち液晶パネル10の回転角x、yと、第1偏光子40の回転角θと、偏光ビームスプリッター50の回転角θと、位相差補償板60の代わりに1/4波長板の回転角θと、第2偏光子70の回転角θとの計6つの回転角が予め最適位置に調整される。そして、液晶パネル10を検査する際には、液晶パネル10のZ軸θと、第1偏光子40、偏光ビームスプリッター50、第2偏光子70の各回転軸θと、位相差補償板60のX軸、Y軸との計6つ回転軸が固定される。このため、液晶パネル10の検査時においては、図6において実線で示されるように、液晶パネル10の検査において実際に調整されるのは、液晶パネル10のX軸、Y軸および位相差補償板60のZ軸θの3つの回転軸のみであり、他については、すでに最適位置に調整されている。尚、位相差補償板60のX軸、Y軸は、本実施形態においては、調整が不要のため、最適位置にあるものとしている。ここで、1角1軸の調整に例えば20秒を要する場合尚、第1偏光子40の回転角θと、偏光ビームスプリッター50の回転角θ、さらには第2偏光子70の回転角θの調整は20秒より長く要する。すなわち、これらの調整は、回転角θを数周にわたって調整をしなければ最適位置が定まらないため、この3軸の調整には300秒以上かかってしまう、コントラストを検査するためには、液晶パネル10毎に6つの角度を調整する必要がある。これは、1つの軸でもずれていると、例えば図8に示されるように、液晶パネル10のY軸回りの角度がずれていると、受光部120に至るまでに損失光が発生して、正しくコントラストを検査することができないためである。これに対し、本実施形態では、最初に鏡をセットしたとき、6軸のすべてを位置調整するために360秒20秒×3300秒の時間を要することになるが、以降については、液晶パネル10のX軸、Y軸および位相差補償板60のZ軸θの3軸のみの調整であるから、検査精度を保ったまま、液晶パネル10の1枚につき60秒20秒×3で済む。したがって、本実施形態によれば、検査効率の大幅に向上させることが可能となる。また、本実施形態において液晶パネル10をセットしたときに、回転角θについては、特に意識して角度を調整しなくても良い。これは、液晶パネル10の位相差方向が個体毎に異なっていても、液晶パネル10の検査時において位相差補償板60をZ軸で回転させる回転角θの調整によって補正されるからである。本発明は、上述した実施形態に限られず、次のように種々の応用変形が可能である。上述した位相差補償板60は、光軸aに一致するZ軸回りの回転角θに応じて位相差補償量が変化するタイプであったが、これ以外のタイプの位相差補償板60にも適用も可能である。例えば図7に示されるように、X、Y平面における光学軸268の回転角ψに応じて位相差補償量が変化する位相差補償板61にも適用可能である。なお、光学軸268は、X軸262およびY軸264のなす角の2等分線、すなわち位相差補償板61の板面においてY軸X軸から45度だけ傾けた軸である。このため、位相差補償板61の軸進相軸、遅相軸、光学軸が保持部の回転軸に一致するように保持されれば良い。このとき調整部80はアクチュエーター66からアクチュエーター6462に信号を送るように自動的に切り替わることが好ましい。なお、位相差補償板61を用いる場合でも、液晶パネル10の検査前に1/4波長板に代える必要があるので、位相差補償板61または1/4波長板の保持部の回転軸は計4軸となる。また、液晶パネル10のコントラストを検査するときには、回転角ψによって位相差補償量を調整することになる。また、本発明において、検査対象としては、反射型の液晶パネルであれば良く、例えば高温シリコンプロセスや低温シリコンプロセスを用いた液晶パネルでも良いし、素子基板にシリコン基板を用いたいわゆるLCOSLiquidCrystalonSilicon型の液晶パネルでも良い。