"レーザ光を出射するレーザ光源と、前記レーザ光を集光して光ディスクの所定の情報記録面に合焦させる対物レンズと、前記レーザ光源から出射されたレーザ光をそれぞれ透過し、前記所定の情報記録面で反射したレーザ光である戻り光をそれぞれ回折して、非点収差が付与された第1の回折光を出射する第1のホログラム領域及び非点収差が付与されていない第2の回折光を出射する第2のホログラム領域を含むホログラム部を有するホログラム素子と、前記第1の回折光を受光する第1の受光部、及び前記第2の回折光を受光する第2の受光部を有する受光素子と、を備え、前記第1の回折光は、前記ホログラム素子と前記受光素子との間に一方の焦線が位置し、かつ前記ホログラム素子に対して前記受光素子よりも離れた位置に他方の焦線が位置し、前記第2の回折光は、前記ホログラム素子と前記受光素子との間に一方の焦線及び他方の焦線が互いに接近して位置することを特徴とする光ピックアップ装置。前記ホログラム部は、光ディスクの径方向に平行な第1の分割線と光ディスクの接線方向に平行な第2の分割線とによって4分割された第1~第4の分割領域を備え、前記第1の分割領域及び前記第3の分割領域は互いに対角の位置関係にあり、かつ前記第1のホログラム領域であり、前記第2の分割領域及び前記第4の分割領域は互いに対角の位置関係にあり、かつ前記第2のホログラム領域であることを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。前記第1のホログラム領域及び前記第2のホログラム領域は、それぞれ短冊形状を有すると共に光ディスクの接線方向に交互に複数配置されていることを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。前記ホログラム部は、光ディスクの径方向に平行な第3の分割線によって2分割された第5の分割領域及び第6の分割領域を備え、前記第5の分割領域及び前記第6の分割領域には、それぞれ短冊形状を有する前記第1のホログラム領域及び前記第2のホログラム領域が光ディスクの接線方向に交互に複数配置されており、かつ前記第5の分割領域と前記第6の分割領域とでさらに互い違いに配置されていることを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。前記ホログラム部は、光ディスクの接線方向に平行な第4の分割線によって2分割された第7の分割領域及び第8の分割領域と、前記第7の分割領域内に配置されて前記第4の分割線に接しない第9の分割領域と、前記第8の分割領域内に配置されて前記第4の分割線に接しない第10の分割領域と、を備え、前記第7の分割領域及び前記第10の分割領域は前記第1のホログラム領域であり、前記第8の分割領域及び前記第9の分割領域は前記第2のホログラム領域であり、前記第9の分割領域と前記第10の分割領域とは、前記第4の分割線に対して線対称に配置されている、又は前記ホログラム部の中心位置に対して点対称に配置されていることを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。一般的に、光ピックアップ装置は環境温度の影響を受ける。詳しくは、光ピックアップ装置におけるレーザ光源が環境温度の影響を受けやすいためであり、レーザ光源自体の温度上昇の度合いに応じて光ピックアップ装置から出射されるレーザ光の中心波長が長波長側にシフトする。しかしながら、特許文献1に開示されているような従来の片側取りタイプの光ピックアップ装置、即ち、2種類のホログラム係数を有するホログラム領域を備え、かつ各ホログラム領域で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与する光ピックアップ装置では、回折光の回折角がレーザ光の中心波長のシフト量に応じて変化する。これにより、回折光の回折角の変化によって受光素子の受光部に照射される回折光の照射位置が変化するため、回折光の光束が受光部の所定の位置からずれたり、受光部から外れたりする。回折光の光束の位置ずれは、例えばFESフォーカスエラー信号のS字波形レベルの低下や、S字波形バランスのずれを生じる原因となる。S字波形レベルの低下は、S字波形レベルの大きさにより光ディスクの種類を判別する際に誤判別する場合があり、S字波形バランスのずれは、後述するスクラッチが形成したディスクを再生する際に、フォーカスサーボが外れ易くなる場合があり、その改善が望まれている。また、ユーザーが光ディスクを繰り返し使用していると、ハンドリングミス等によって光ディスクの表面にスクラッチが形成されてしまう場合がある。スクラッチはFESレベルにずれを生じる原因となり、光ディスクを再生する際に、このスクラッチによって音飛びや再生停止等の不具合が生じる場合があり、その改善が望まれている。そこで、本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、従来よりも温度特性に優れた光ピックアップ装置を提供することを目的とする。また、本発明は、従来よりも光ディスクのスクラッチの影響を受けにくい光ピックアップ装置を提供することを目的とする。上記の課題を解決するために、本発明は次の光ピックアップ装置を提供する。1レーザ光Laを出射するレーザ光源2と、前記レーザ光Laを集光して光ディスクDの所定の情報記録面に合焦させる対物レンズ4と、前記レーザ光源2から出射されたレーザ光Laをそれぞれ透過し、前記所定の情報記録面で反射したレーザ光である戻り光Lbをそれぞれ回折して、非点収差が付与された第1の回折光Lc,Ldを出射する第1のホログラム領域11,13及び非点収差が付与されていない第2の回折光Le,Lfを出射する第2のホログラム領域12,14を有するホログラム素子3と、前記第1の回折光Lc,Ldを受光する第1の受光部20、及び前記第2の回折光Le,Lfを受光する第2の受光部30を有する受光素子5と、を備え、前記第1の回折光Lc,Ldは、前記ホログラム素子3と前記受光素子5との間に一方の焦線L1が位置し、かつ前記ホログラム素子3に対して前記受光素子5よりも離れた位置に他方の焦線L2が位置し、前記第2の回折光Le,Lfは、前記ホログラム素子3と前記受光素子5との間に一方の焦線L3及び他方の焦線L4が互いに接近して位置することを特徴とする光ピックアップ装置1。2前記ホログラム部10は、光ディスクDの径方向に平行な第1の分割線A10と光ディスクDの接線方向に平行な第2の分割線B10とによって4分割された第1~第4の分割領域11~14を備え、前記第1の分割領域11及び前記第3の分割領域13は互いに対角の位置関係にあり、かつ前記第1のホログラム領域であり、前記第2の分割領域12及び前記第4の分割領域14は互いに対角の位置関係にあり、かつ前記第2のホログラム領域であることを特徴とする1記載の光ピックアップ装置1。3前記第1のホログラム領域42及び前記第2のホログラム領域42は、それぞれ短冊形状を有すると共に光ディスクDの接線方向に交互に複数配置されていることを特徴とする1記載の光ピックアップ装置40。4前記ホログラム部51は、光ディスクの径方向に平行な第3の分割線A51によって2分割された第5の分割領域及び第6の分割領域を備え、前記第5の分割領域及び前記第6の分割領域には、それぞれ短冊形状を有する前記第1のホログラム領域52,54及び前記第2のホログラム領域53,55が光ディスクDの接線方向に交互に複数配置されており、かつ前記第5の分割領域と前記第6の分割領域とでさらに互い違いに配置されていることを特徴とする1記載の光ピックアップ装置50。5前記ホログラム部61,71は、光ディスクDの接線方向に平行な第4の分割線B61,B71によって2分割された第7の分割領域及び第8の分割領域と、前記第7の分割領域内に配置されて前記第4の分割線に接しない第9の分割領域と、前記第8の分割領域内に配置されて前記第4の分割線に接しない第10の分割領域と、を備え、前記第7の分割領域及び前記第10の分割領域は前記第1のホログラム領域であり、前記第8の分割領域及び前記第9の分割領域は前記第2のホログラム領域であり、前記第9の分割領域と前記第10の分割領域とは、前記第4の分割線に対して線対称に配置されている、又は前記ホログラム部の中心位置に対して点対称に配置されていることを特徴とする1記載の光ピックアップ装置60,70。本発明によれば、従来よりも温度特性に優れるという効果を奏する。また、本発明によれば、従来よりも光ディスクのスクラッチの影響を受けにくいという効果を奏する。本発明の実施の形態を、好ましい実施例1~実施例5により図1~図20を用いて説明する。<実施例1>[図1~図12参照]図1に示すように、光ピックアップ装置1は、主として、レーザ光Laを光ディスクDに向けて出射するレーザ光源2と、レーザ光源2から出射されたレーザ光Laを透過し、光ディスクDで反射したレーザ光以下、戻り光と称すLbを回折するホログラム部10を有するホログラム素子3と、ホログラム素子3を透過したレーザ光Laを集光して光ディスクDの所定の情報記録面に合焦させる対物レンズ4と、ホログラム部10で戻り光Lbが第1のホログラム係数に応じて回折された回折光Lc,Ldを受光する受光部20及びホログラム部10で戻り光Lbが第1のホログラム係数とは異なる第2のホログラム係数に応じて回折された回折光Le,Lfを受光する受光部30を有する受光素子5と、を備えている。ここで、実施例1の光ピックアップ装置1における、ホログラム部10と受光部20,30との関係について図2を用いて説明する。図2に示すように、ホログラム部10は略矩形形状を有し、光ディスクD図1参照のラジアル方向径方向に延在する中心線A10と光ディスクDのタンジェンシャル方向接線方向に延在する中心線B10とによって4分割されたホログラム領域11~14を備えている。なお、ホログラム部10の形状は略矩形形状に限定されるものではない。互いに対角の位置関係にあるホログラム領域11及びホログラム領域13は、第1のホログラム係数を有し、ホログラム領域11,13で回折された回折光Lc,Ldにそれぞれ非点収差を付与するホログラム領域である。それに対し、互いに対角の位置関係にあるホログラム領域12及びホログラム領域14は、第1のホログラム係数とは異なる第2のホログラム係数を有し、ホログラム領域12,14で回折された回折光Le,Lfにそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。同じく図2に示すように、受光部20及び受光部30は受光素子5図1参照における同一平面状に形成されている。受光部20は、ホログラム領域11,13で回折された回折光Lc,Ldを受光するように配置されており、光ディスクDのラジアル方向径方向に延在する2本の平行分割線A20,B20によって3分割された受光領域21~23を備えている。受光部30は、ホログラム領域12,14で回折された回折光Le,Lfを受光するように配置されており、光ディスクDのラジアル方向径方向に延在する2本の平行分割線A30,B30によって3分割された受光領域31~33を備えている。そして、ホログラム領域11で回折された回折光Lcの光束Lccは受光部20の受光領域21及び受光領域22に亘って照射される。また、ホログラム領域13で回折された回折光Ldの光束Lddは受光部20の受光領域22及び受光領域23に亘って照射される。また、第1のホログラム係数を有するホログラム領域11,13によって形成される一方の焦線L1は、ホログラム領域11,13ホログラム素子3と受光部20受光素子5との間に位置し、他方の焦線L2は、ホログラム領域11,13ホログラム素子3に対して受光部20受光素子5よりも遠い位置に位置する。ここでは、上記の関係を有するものを非点収差が付与されたと定義する。また、受光部20と一方の焦線L1との距離をH1とし、受光部20と他方の焦線L2との距離をH2とし、一方の焦線L1と他方の焦線L2との距離をH12とすると、H12=H1H2と表すことができる。それに対して、ホログラム領域12で回折された回折光Leの光束Leeは受光部30の受光領域31及び受光領域32に亘って照射される。また、ホログラム領域14で回折された回折光Lfの光束Lffは受光部30の受光領域32及び受光領域33に亘って照射される。また、第2のホログラム係数を有するホログラム領域12,14によって形成される一方の焦線L3及び他方の焦線L4は、ホログラム領域12,14ホログラム素子3と受光部30受光素子5との間に互いに接近して位置する。ここでは、上記の関係を有するものを非点収差が付与されていないと定義する。また、受光部30と一方の焦線L3との距離をH3とし、受光部30と他方の焦線L4との距離をH4とし、一方の焦線L3と他方の焦線L4との距離をH34とすると、H34=|H3-H4|と表すことができる。また、H12とH34とは、H12>H34の関係を有する。なお、一般的に非点収差が付与されていない状態とはH34=0、即ち一方の焦線L3と他方の焦線L4との位置が一致した状態をいう。本発明においても、H34=0が最も望ましいが、製造過程のばらつき等によってH34≠0となった場合においても、一方の焦線L3と他方の焦線L4とが互いに接近した状態であれば、本発明の効果を奏する。そこで、ここでは一方の焦線L3と他方の焦線L4とが互いに接近した状態を、広義的に非点収差が付与されていない状態と定義する。また、後述する実施例2~実施例5においても、非点収差が付与されていない状態を実施例1と同様に広義的に定義する。受光領域21~23,31~33に回折光Lc~Lf光束Lcc~Lffが照射されたときの各受光量をそれぞれA1~A3,B1~B3とすると、フォーカスエラー信号FESは、1式で表される。FES=|B1A2B3-A1B2A3|...1式ここで、光ディスクD以下、図1及び図2参照と対物レンズ4との相対距離と、受光部20,30に照射された回折光Lc~Lfの光束Lcc~Lffの形状と、の関係を図3に示す。図3bは、光ディスクDと対物レンズ4との相対距離が、ホログラム素子3を透過したレーザ光Laが対物レンズ4によって集光し、光ディスクDの所定の情報記録面に合焦しているときの、受光部20,30に照射された回折光Lc~Lfの光束Lcc~Lffを示す。図3aは、光ディスクDと対物レンズ4の相対距離が、光ディスクDの所定の情報記録面に合焦しているときの距離よりも短いときの状態、即ち対物レンズ4が合焦位置よりも光ディスクDに接近した状態のときの、受光部20,30に照射された回折光Lc~Lfの光束Lcc~Lffを示す。図3cは、光ディスクDと対物レンズ4の相対距離が、光ディスクDの所定の情報記録面に合焦しているときの距離よりも長い状態、即ち対物レンズ4が合焦位置よりも光ディスクDから離間した状態のときの、受光部20,30に照射された回折光Lc~Lfの光束Lcc~Lffを示す。従って、ホログラム部10で回折された回折光Lc~Lfが受光部20,30に照射されたときの光束Lcc~Lffは、光ディスクDと対物レンズ4との相対距離に応じて、図3a,b,cのように変化するので、各受光領域21~23,31~33の受光量A1~A3,B1~B3も上記の相対距離に応じてそれぞれ変化する。次に、上述した実施例1の光ピックアップ装置1の特徴をよりわかりやすくするための比較例として、図4及び図5を用いて従来の光ピックアップ装置100について説明する。図4及び図5は前述の図2及び図3にそれぞれ対応するものである。図4に示すように、比較例の光ピックアップ装置100におけるホログラム部110は略矩形形状を有し、光ディスクD図1参照のラジアル方向径方向に延在する中心線A110と光ディスクDのタンジェンシャル方向接線方向に延在する中心線B110によって4分割されたホログラム領域111~114を備えている。互いに対角の位置関係にあるホログラム領域111及びホログラム領域113は第3のホログラム係数を有し、ホログラム領域111,113で回折された回折光Lg,Lhにそれぞれ非点収差を付与するホログラム領域である。また、互いに対角の位置関係にあるホログラム領域112及びホログラム領域114は第3のホログラム係数とは異なる第4のホログラム係数を有し、ホログラム領域112,114で回折された回折光Li,Ljにそれぞれ非点収差を付与するホログラム領域である。従来の光ピックアップ装置100の受光部20,30は実施例1の光ピックアップ装置1の受光部20,30と同じ構成であるため、詳細な説明については省略する。そして、ホログラム領域111で回折された回折光Lgの光束Lggは受光部20の受光領域21及び受光領域22に亘って照射される。ホログラム領域113で回折された回折光Lhの光束Lhhは受光部20の受光領域22及び受光領域23に亘って照射される。また、第3のホログラム係数を有するホログラム領域111,113によって形成される一方の焦線L11は、ホログラム領域111,113と受光部20との間に位置し、他方の焦線L12は、ホログラム領域111,113に対して受光部20受光素子5よりも遠い位置に位置する。一方、ホログラム領域112で回折された回折光Liの光束Liiは受光部30の受光領域31及び受光領域32に亘って照射される。ホログラム領域114で回折された回折光Ljの光束Ljjは受光部30の受光領域32及び受光領域33に亘って照射される。また、第4のホログラム係数を有するホログラム領域112,114によって形成される一方の焦線L13は、ホログラム領域112,114と受光部30との間に位置し、他方の焦線L14は、ホログラム領域112,114に対して受光部30受光素子5よりも遠い位置に位置する。受光部20と一方の焦線L11との距離をH11とし、受光部20と他方の焦線L12との距離をH22とし、一方の焦線L11と他方の焦線L12との距離をH112とすると、H112=H11H12と表すことができる。また、受光部30と一方の焦線L13との距離をH13とし、受光部30と他方の焦線L14との距離をH14とし、一方の焦線L13と他方の焦線L14との距離をH134とすると、H123=H13H14と表すことができる。受光領域21~23,31~33に回折光Lg~Lj光束Lgg~Ljjが照射されたときの各受光量をそれぞれA1~A3,B1~B3とすると、フォーカスエラー信号FESは、上述の1式で表される。ここで、光ディスクD以下、図1及び図4参照と対物レンズ4との相対距離と、受光部20,30に照射された回折光Lg~Ljの光束Lgg~Ljjの形状と、の関係を図5に示す。図5bは、光ディスクDと対物レンズ4との相対距離が、ホログラム素子3を透過したレーザ光Laが対物レンズ4によって集光し、光ディスクDの所定の情報記録面に合焦しているときの、受光部20,30に照射された回折光Lg~Ljの光束Lgg~Ljjを示す。図5aは、光ディスクDと対物レンズ4の相対距離が、光ディスクDの所定の情報記録面に合焦しているときの距離よりも短いときの状態、即ち対物レンズ4が合焦位置よりも光ディスクDに接近した状態のときの、受光部20,30に照射された回折光Lg~Ljの光束Lgg~Ljjを示す。図5cは、光ディスクDと対物レンズ4の相対距離が、光ディスクDの所定の情報記録面に合焦しているときの距離よりも長い状態、即ち対物レンズ4が合焦位置よりも光ディスクDから離間した状態のときの、受光部20,30に照射された回折光Lg~Ljの光束Lgg~Ljjを示す。従って、ホログラム部110で回折された回折光Lg~Ljが受光部20,30に照射されたときの光束Lgg~Ljjは、光ディスクDと対物レンズ4との相対距離に応じて、図5a,b,cのように変化するので、各受光領域21~23,31~33の受光量A1~A3,B1~B3も上記の相対距離に応じてそれぞれ変化する。即ち、比較例の光ピックアップ装置100では一方の回折光Lg,Lh及び他方の回折光Li,Ljの両方に非点収差を付与するのに対し、実施例1の光ピックアップ装置1では一方の回折光La,lbに非点収差を付与し、他方の回折光Lc,ldに非点収差を付与しない点で相違する。次に、上述した実施例1の光ピックアップ装置1及び比較例の光ピックアップ装置100の温度特性について、図6~図12を用いて説明する。図6は図2に示す実施例1の光ピックアップ装置1において、ホログラム部10によって回折された回折光Lc~Lfが受光部20,30に照射された光束Lcc~Lffの形状を示すものである。図7は図4に示す比較例の光ピックアップ装置100において、ホログラム部110によって回折された回折光Lg~Ljが受光部20,30に照射された光束Lgg~Ljjを示す。図6及び図7において、a,b,c,d,e,f,g,h,i,j,k,l,m,n,o,p,q,r,s,t及びuはdefocus値がそれぞれ、-20μm,-18μm,-16μm,-14μm,-12μm,-10μm,-8μm,-6μm,-4μm,-2μm,0μm,2μm,4μm,6μm,8μm,10μm,12μm,14μm,16μm,18μm及び20μmのときを示す。また、図6及び図7は、特に各k{defocus=0μm}に示すように回折光Lc~Lf及びLg~Ljの光束Lcc~Lff及びLgg~Ljjが受光部20,30に対して紙面右側にずれており{a~j及びl~uも同様}、これは実施例1及び比較例の光ピックアップ装置レーザ光源1,100の温度がそれぞれ上昇した状態を示すものである。図6と図7とを比較すると、特に各f{defocus=-10μm}~h{defocus=-6μm}同士で比較すると、図6実施例1では光束が受光部30の内部に位置しているのに対し、図7比較例では光束の一部が受光部30から外れた位置に位置している。そのため、比較例では受光部30の受光量が減少し、フォーカスエラー信号の強度が低下する。図8~図12は、実施例1及び比較例の光ピックアップ装置1,100から出射されるレーザ光の中心波長が環境温度の影響によってシフトしたときの、defocus値とフォーカスエラー信号FESの相対的な信号強度との関係を示すものである。図8~図12において、横軸はそれぞれdefocus値単位:μmを示し、縦軸はそれぞれフォーカスエラー信号FESの相対的な信号強度を示す。前述したように、光ピックアップ装置及びそのレーザ光源は、環境温度の影響を受けるため、レーザ光源自体の温度上昇の度合いに応じて光ピックアップ装置から出射されるレーザ光の中心波長が長波長側にシフトする。図8は光ピックアップ装置1,100のレーザ光源から出射されたレーザ光の波長が790nmのときの特性を示す。図9は光ピックアップ装置レーザ光源1及び100の温度上昇に応じて出射されるレーザ光の中心波長が810nmにシフトしたときの特性を示す。図10は光ピックアップ装置レーザ光源1及び100の温度上昇に応じて出射されるレーザ光の中心波長が820nmにシフトしたときの特性を示す。図11は光ピックアップ装置レーザ光源1及び100の温度上昇に応じて出射されるレーザ光の中心波長が830nmにシフトしたときの特性を示す。図12は光ピックアップ装置レーザ光源1及び100の温度上昇に応じて出射されるレーザ光の中心波長が840nmにシフトしたときの特性を示す。即ち、図8→図9→図10→図11→図12の順に実施例1及び比較例の光ピックアップ装置レーザ光源1及び100の温度がそれぞれ上昇していく状態を示すものである。実施例1の光ピックアップ装置1の特性と比較例の光ピックアップ装置100の特性とを図8~図12で比較すると、特に図10~図12における、defocus値がマイナス側-5μm~-10μmのFESのピークに違いが見られる。比較例の光ピックアップ装置100では、defocus値がマイナス側のFESのピークは図8と図9とではほとんど変化していないが、図10→図11→図12の順にピークの高さが徐々に低くなっている。これはFESのS字波形バランスのずれが大きくなっていることを示している。それに対して、実施例1の光ピックアップ装置1では、defocus値がマイナス側のFESのピークは図8~図12のいずれもほとんど変化していない。図8~図12における実施例1の光ピックアップ装置1と比較例の光ピックアップ装置100との比較結果は、前述した図6実施例1と図7比較例との比較結果に沿うものである。以上の結果から、実施例1の光ピックアップ装置1は比較例の光ピックアップ装置100よりも良好な温度特性が得られることがわかる。<実施例2>[図1及び図13~図17参照]実施例2の光ピックアップ装置40図1参照は、実施例1の光ピックアップ装置1に対してホログラム素子3のホログラム部41の構成が相違し、それ以外の構成については実施例1の光ピックアップ装置1と同じである。そこで、以下に実施例2の光ピックアップ装置40におけるホログラム素子3のホログラム部41について図13を用いて詳細に説明する。図13aに前述の実施例1の光ピックアップ装置1のホログラム部10を示し、図13bに実施例2の光ピックアップ装置40のホログラム部41を示す。図13aに示すように、前述の実施例1の光ピックアップ装置1のホログラム部10は、光ディスクD図1参照のラジアル方向径方向に延在する中心線A10と光ディスクDのタンジェンシャル方向接線方向に延在する中心線B10とによって4分割されたホログラム領域11~14を備えている。また、互いに対角の位置関係にあるホログラム領域11及びホログラム領域13は第1のホログラム係数を有し、ホログラム領域11,13で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与するホログラム領域である。それに対して、互いに対角の位置関係にあるホログラム領域12及びホログラム領域14は第1のホログラム係数とは異なる第2のホログラム係数を有し、ホログラム領域12,14で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。一方、図13bに示すように、実施例2の光ピックアップ装置40のホログラム部41は、それぞれ短冊形状を有するホログラム領域42とホログラム領域43とが光ディスクDのラジアル方向径方向に交互に配置された構成を有している。各ホログラム領域42は上記の第1のホログラム係数をそれぞれ有し、各ホログラム領域42で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与する。それに対して、各ホログラム領域43は上記の第2のホログラム係数をそれぞれ有し、各ホログラム領域43で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。即ち、実施例2のホログラム領域42は実施例1のホログラム領域11,13に対応し、実施例2のホログラム領域43は実施例1のホログラム領域12,14に対応する。ここで、光ディスクDにスクラッチが形成されてしまった場合について図14及び図15を用いて説明する。まず、実施例1の光ピックアップ装置1に対し、光ディスクD図1参照にスクラッチが形成されてしまった場合について図14を用いて説明する。図14は実施例1のホログラム部10で回折された回折光が受光部20,30に照射されたときの各光束を示すものである。また、図14aは光ディスクにスクラッチが生じていない場合を示し、図14bは光ディスクにスクラッチが形成されてしまった場合を示している。なお、図14a及びbにおいて、黒色で示す領域が回折光が照射されている領域である。光ディスクDにそのタンジェンシャル方向に対して約45°の角度をなして延在するスクラッチが形成されてしまった場合、受光部20,30に照射される光束にはスクラッチによる遮光領域{図14bに斜めに白色で示す領域}が生じる。受光領域21,22,23,31,32及び33に光束が照射されたときの各受光領域における受光量A1,A2,A3,B1,B2,B3は前述の1式で表される。受光領域21はスクラッチの影響を受けていない。受光領域22はスクラッチの影響を受けて2箇所の遮光領域が生じている。受光領域23はスクラッチの影響を受けていない。受光領域31はスクラッチの影響を受けて1箇所の遮光領域が生じている。受光領域32はスクラッチの影響を受けて2箇所の遮光領域が生じている。受光領域33はスクラッチの影響を受けて1箇所の遮光領域が生じている。ここで、1箇所あたりの遮光領域による減光量をCとして1式に当てはめると、光ディスクにスクラッチが形成されたときのフォーカスエラー信号FESaは2式で表される。FESa=|{}-{A1A3}|=|B1A2B3-A1B2A3-2C|...2式従って、実施例1の光ピックアップ装置1ではフォーカスエラー信号に2箇所の遮光領域による減光量2C分の誤差を生じるため、レーザ光が光ディスクに合焦してもdefocus状態として認識されてしまい、その結果、制御信号にノイズとして現れ、光ディスクの再生時に音飛びや再生停止等の不具合を生じさせる要因となる。次に、実施例2の光ピックアップ装置40に対し、光ディスクD図1参照にスクラッチが形成されてしまった場合について図15を用いて説明する。図15は実施例2のホログラム部41で回折された回折光が受光部20,30に照射されたときの各光束を示す模式的平面図である。また、図15aは光ディスクにスクラッチが生じていない場合を示し、図15bは光ディスクにスクラッチが形成されてしまった場合を示している。なお、図15a及びbにおいて、黒色で示す領域が回折光が照射されている領域光束である。光ディスクDにそのタンジェンシャル方向に対して約45°の角度をなして延在するスクラッチが形成されてしまった場合、受光部20,30に照射される光束にはスクラッチによる遮光領域{図15bに斜めに白色で示す領域}が生じる。いずれの受光領域21~23及び31~33もスクラッチの影響を受けている。ここで、受光領域21,23,31及び33の遮光領域による減光量をDとすると、受光領域22及び32の遮光領域による減光量は、遮光領域が2箇所で、且つそれぞれの長さが受光領域21,23,31及び33の遮光領域の3倍であることから6Dとなる。そこで、各受光領域21~23及び31~33の減光量を1式に当てはめると、光ディスクにスクラッチが形成されたときのフォーカスエラー信号FESbは3式で表される。FESb=|{}-{}|=|B1A2B3-A1B2A3|...3式従って、実施例2の光ピックアップ装置40ではFESb=FESとなり、スクラッチの影響を相殺することができる。上述したように、実施例2の光ピックアップ装置40では、第1のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与するホログラム領域42と、第2のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与しないホログラム領域43とが、交互に配置された構成を有している。そこで、実施例2の光ピックアップ装置40、及び、比較例として各ホログラム領域42,43が回折光にそれぞれ非点収差を付与する構成の光ピックアップ装置の温度特性について図16及び図17を用いて説明する。図16は図13bに示すホログラム部41によって回折された回折光が受光部20,30に照射された光束を示す。図17は上述したその比較例である。図16及び図17において、a,b,c,d,e,f,g,h,i,j,k,l,m,n,o,p,q,r,s,t及びuはdefocus値がそれぞれ、-20μm,-18μm,-16μm,-14μm,-12μm,-10μm,-8μm,-6μm,-4μm,-2μm,0μm,2μm,4μm,6μm,8μm,10μm,12μm,14μm,16μm,18μm及び20μmのときを示す。また、図16及び図17は、特に各k{defocus=0μm}に示すように回折光の光束が受光部20,30に対して紙面右側にずれており{a~j及びl~uも同様}、これは実施例2及び比較例の光ピックアップ装置レーザ光源の温度がそれぞれ上昇した状態を示すものである。図16と図17とを比較すると、特に各f{defocus=-10μm}~h{defocus=-6μm}同士で比較すると、図16実施例2では光束が受光部30の内部に位置しているのに対し、図17比較例では光束の一部が受光部30から外れた位置に位置している。そのため、比較例では受光部30の受光量が減少し、フォーカスエラー信号のS字波形レベルの低下やS字波形バランスのズレが生じる。この結果は、実施例1で図8~図12を用いて説明した前述の結果に沿うものである。従って、実施例2の光ピックアップ装置40によれば、実施例1の光ピックアップ装置1と同様に従来の光ピックアップ装置よりも温度特性が向上し、さらに実施例1の光ピックアップ装置1よりも光ディスクのスクラッチの影響を受けにくくなるという効果を奏する。<実施例3>[図1及び図18参照]実施例3の光ピックアップ装置50図1参照は、実施例1の光ピックアップ装置1及び実施例2の光ピックアップ装置40と比較してホログラム素子3のホログラム部51の構成が相違し、それ以外の構成については実施例1の光ピックアップ装置1及び実施例2の光ピックアップ装置40と同じである。そこで、以下に実施例3の光ピックアップ装置50におけるホログラム素子3のホログラム部51について図18を用いて詳細に説明する。図18aは実施例3の光ピックアップ装置50のホログラム部51を説明するための模式的平面図である。図18b及びcはホログラム部51で回折された回折光が受光部20,30に照射されたときの各光束をそれぞれ示す模式的平面図である。また、図18bは光ディスクにスクラッチが生じていない場合を示し、図18cは光ディスクにスクラッチが形成されてしまった場合を示している。なお、図18b,cにおいて、黒色で示す領域が回折光が照射されている領域光束である。図18aに示すように、実施例3の光ピックアップ装置50のホログラム部51は、光ディスクD図1参照のラジアル方向径方向に延在する中心線A51によって紙面上下方向{光ディスクDのタンジェンシャル方向接線方向}に2分割されている。一方の分割領域は、それぞれ短冊形状を有するホログラム領域52とホログラム領域53とが光ディスクDのラジアル方向に交互に配置された構成を有している。他方の分割領域も同様に、それぞれ短冊形状を有するホログラム領域54とホログラム領域55とが光ディスクDのラジアル方向に交互に配置された構成を有している。ホログラム領域52,54は上記の第1のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域52,54で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与する。それに対して、ホログラム領域53,55は上記の第2のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域53,55で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。また、ホログラム領域52とホログラム領域54とは互い違いに配置されており、ホログラム領域53とホログラム領域55とは互い違いに配置されている。即ち、実施例3のホログラム領域52,54は実施例1のホログラム領域11,13及び実施例2のホログラム領域42にそれぞれ対応し、実施例3のホログラム領域53,55は実施例1のホログラム領域12,14及び実施例2のホログラム領域43にそれぞれ対応する。光ディスクD図1参照にそのタンジェンシャル方向に対して約45°の角度をなして延在するスクラッチが形成されてしまった場合、受光部20,30に照射される光束にはスクラッチによる遮光領域{図18cに斜めに白色で示す領域}が生じる。いずれの受光領域21~23及び31~33もスクラッチの影響を受けている。ここで、受光領域21,23,31及び33の遮光領域による減光量をEとすると、受光領域22及び32の遮光領域による減光量は、遮光領域が2箇所で、且つそれぞれの長さが受光領域21,23,31及び33の遮光領域の3倍であることから6Eとなる。そこで、各受光領域21~23及び31~33の減光量を前述の1式に当てはめると、光ディスクにスクラッチが形成されたときのフォーカスエラー信号FEScは4式で表される。FESc=|{}-{}|=|B1A2B3-A1B2A3|...4式従って、実施例3の光ピックアップ装置50も実施例2の光ピックアップ装置40と同様にFESc=FESとなり、スクラッチの影響を相殺することができる。また、実施例3の光ピックアップ装置50によれば、第1のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与するホログラム領域52,54と、第2のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与しないホログラム領域53,55とを備えているので、実施例1の光ピックアップ装置1及び実施例2の光ピックアップ装置40と同様に従来の光ピックアップ装置よりも温度特性を向上させることができる。<実施例4>[図1及び図19参照]実施例4の光ピックアップ装置60図1参照は、実施例1~実施例3の光ピックアップ装置1,40,50と比較してホログラム素子3のホログラム部61の構成が相違し、それ以外の構成については実施例1~実施例3の光ピックアップ装置1,40,50と同じである。そこで、以下に実施例4の光ピックアップ装置60におけるホログラム素子3のホログラム部61について図19を用いて詳細に説明する。図19aは実施例4の光ピックアップ装置60のホログラム部61を説明するための模式的平面図である。図19b及びcはホログラム部61で回折された回折光が受光部20,30に照射されたときの各光束を示す模式的平面図である。また、図19bは光ディスクにスクラッチが生じていない場合を示し、図19cは光ディスクにスクラッチが形成されてしまった場合を示している。なお、図19b,cにおいて、黒色で示す領域が回折光が照射されている領域光束である。図19aに示すように、実施例4の光ピックアップ装置60のホログラム部61は、光ディスクD図1参照のタンジェンシャル方向接線方向に延在する中心線B61によって紙面左右方向{光ディスクDのラジアル方向径方向}に2分割されている。一方の分割領域にはホログラム領域62と、中心線B61に接しないホログラム領域63と、が配置されており、他方の分割領域にはホログラム領域65と、中心線B61に接しないホログラム領域64が配置されている。ホログラム領域63とホログラム領域64とはホログラム部61の中心O61に対して点対称に配置されている。ホログラム領域62,63,64,65の面積をそれぞれS62,S63,S64,S65とすると、S62S64=S63S65の関係を満たす。また、図19aに示すように、光ディスクD図1参照の再生時において、対物レンズ4のレンズ中心がホログラム部61の中心位置にあるときの、光ディスクDの所定の情報記録面で反射したレーザ光である戻り光Lbがホログラム部61に入射する光束を円A66で表し、対物レンズ4がラジアル方向径方向の一方の方向に最大距離、移動したときの、ホログラム部61に入射する光束を円B66で表し、対物レンズ4がラジアル方向径方向のもう一方の方向に最大距離、移動したときの、ホログラム部61に入射する光束を円C66で表すと、ホログラム領域63及びホログラム領域64は、少なくともその一部分が3つの円A66、B66、C66の内側の領域にそれぞれ含まれるように設計されている。ホログラム領域62,64は上記の第1のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域62,64で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与する。それに対して、ホログラム領域63,65は上記の第2のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域63,65で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。即ち、実施例4のホログラム領域62,64は実施例1のホログラム領域11,13、実施例2のホログラム領域42、及び実施例3のホログラム領域52,54にそれぞれ対応し、実施例4のホログラム領域63,65は実施例1のホログラム領域12,14、実施例2のホログラム領域43、及び実施例3のホログラム領域53,55にそれぞれ対応する。光ディスクD図1参照にそのタンジェンシャル方向に対して約45°の角度をなして延在するスクラッチが形成されてしまった場合、受光部20,30に照射される光束にはスクラッチによる遮光領域{図19cに斜めに白色で示す領域}が生じる。受光領域21及び31はスクラッチの影響を受けていない。他の受光領域22,23,32,33はスクラッチの影響を受けている。ここで、受光領域23及び33の遮光領域による減光量をFとすると、受光領域22及び32の遮光領域による減光量は、遮光領域の長さ面積が受光領域23及び33の遮光領域の1.5倍であることから1.5Fとなる。そこで、各受光領域21~23及び31~33の減光量を前述の1式に当てはめると、光ディスクにスクラッチが形成されたときのフォーカスエラー信号FESdは5式で表される。FESd=|{B1}-{A1}|=|B1A2B3-A1B2A3|...5式従って、実施例4の光ピックアップ装置60も実施例2の光ピックアップ装置40及び実施例3の光ピックアップ装置50と同様にFESd=FESとなり、スクラッチの影響を相殺することができる。また、実施例4の光ピックアップ装置60によれば、第1のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与するホログラム領域62,64と、第2のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与しないホログラム領域63,65とを備えているので、実施例1~3の光ピックアップ装置1,40,50と同様に従来の光ピックアップ装置よりも温度特性を向上させることができる。<実施例5>[図1及び図20参照]実施例5の光ピックアップ装置70図1参照は、実施例1~実施例4の光ピックアップ装置1,40,50,60と比較してホログラム素子3のホログラム部71の構成が相違し、それ以外の構成については実施例1~実施例4の光ピックアップ装置1,40,50,60と同じである。そこで、以下に実施例5の光ピックアップ装置70におけるホログラム素子3のホログラム部71について図20を用いて詳細に説明する。図20aは実施例5の光ピックアップ装置70のホログラム部71を説明するための模式的平面図である。図20b及びcはホログラム部71で回折された回折光が受光部20,30に照射されたときの各光束を示す模式的平面図である。また、図20bは光ディスクにスクラッチが生じていない場合を示し、図20cは光ディスクにスクラッチが形成されてしまった場合を示している。なお、図20b,cにおいて、黒色で示す領域が回折光が照射されている領域光束である。図20aに示すように、実施例5の光ピックアップ装置70のホログラム部71は、光ディスクD図1参照のタンジェンシャル方向接線方向に延在する中心線B71によって紙面左右方向{光ディスクDのラジアル方向径方向}に2分割されている。一方の分割領域にはホログラム領域73と、中心線B71に接しないホログラム領域72とが配置されており、他方の分割領域にはホログラム領域74と、中心線B71に接しないホログラム領域75とが配置されている。ホログラム領域72とホログラム領域75とはホログラム部71の中心線B71に対して線対称に配置されている。ホログラム領域72,73,74,75の面積をそれぞれS72,S73,S74,S75とすると、S72S74=S73S75の関係を満たす。また、図20aに示すように、光ディスクD図1参照の再生時において、対物レンズ4のレンズ中心がホログラム部71の中心位置にあるときの、光ディスクDの所定の情報記録面で反射したレーザ光である戻り光Lbがホログラム部71に入射する光束を円A76で表し、対物レンズ4がラジアル方向径方向の一方の方向に最大距離、移動したときの、ホログラム部61に入射する光束を円B76で表し、対物レンズ4がラジアル方向径方向のもう一方の方向に最大距離、移動したときの、ホログラム部61に入射する光束を円C76で表すと、ホログラム領域72及びホログラム領域75は、少なくともその一部分が3つの円A76、B76、C76の内側の領域にそれぞれ含まれるように設計されている。ホログラム領域72,74は上記の第1のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域72,74で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与する。それに対して、ホログラム領域73,75は上記の第2のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域73,75で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。即ち、実施例5のホログラム領域72,74は実施例1のホログラム領域11,13、実施例2のホログラム領域42、実施例3のホログラム領域52,54、及び実施例4のホログラム領域62,64にそれぞれ対応し、実施例5のホログラム領域73,75は実施例1のホログラム領域12,14、実施例2のホログラム領域43、実施例3のホログラム領域53,55、及び実施例4のホログラム領域63,65にそれぞれ対応する。光ディスクD図1参照にそのタンジェンシャル方向に対して約45°の角度をなして延在するスクラッチが形成された場合、受光部20,30に照射される光束にはスクラッチによる遮光領域{図20cに斜めに白色で示す領域}が生じる。受光領域23はスクラッチの影響を受けていない。他の受光領域22,23,31,32,33はスクラッチの影響を受けている。ここで、受光領域21の遮光領域による減光量をGとすると、受光領域21の遮光領域に対する各受光領域における遮光領域の面積長さの比率から、受光領域22の遮光領域による減光量は2Gとなり、受光領域31の遮光領域による減光量はGとなり、受光領域32の遮光領域による減光量は3Gとなり、受光領域33の遮光領域による減光量はGとなる。そこで、各受光領域21~23及び31~33の減光量を前述の1式に当てはめると、光ディスクにスクラッチが形成されたときのフォーカスエラー信号FESeは6式で表される。FESe=|{}-{A3}|=|B1A2B3-A1B2A3|...6式従って、実施例5の光ピックアップ装置70も実施例2~実施例4の光ピックアップ装置40,50,60と同様にFESe=FESとなり、スクラッチの影響を相殺することができる。また、実施例5の光ピックアップ装置70によれば、第1のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与するホログラム領域72,74と、第2のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与しないホログラム領域73,75とを備えているので、実施例1~4の光ピックアップ装置1,40,50,60と同様に従来の光ピックアップ装置よりも温度特性を向上させることができる。本発明の実施例は、上述した構成及び手順に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において変形例としてもよいのは言うまでもない。"