"記録媒体に対して異なる電流値で印字消去記録再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、が並列に接続され、前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にする又は前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にするためのスイッチング手段と、前記スイッチング手段を制御して前記抵抗体に印加される第1電位と前記基準抵抗に印加される第2電位とを計測し、前記第1電位と前記第2電位との電位差を基に前記抵抗体の抵抗値を測定する制御手段と、を少なくとも備えることを特徴とする抵抗値自動測定回路。前記制御手段は、前記電位差と前記抵抗体の抵抗値との関係を示すデータテーブルを有することを特徴とする請求項1記載の抵抗値自動測定回路。前記第1電位又は前記第2電位の計測分解能を向上する増幅回路及び/又は差分回路を備えることを特徴とする請求項1又は2記載の抵抗値自動測定回路。前記スイッチング手段は、前記抵抗体を通電/不通電状態にする第1スイッチ部と、前記基準抵抗を通電/不通電状態にする第2スイッチ部と、で構成され、互いに並列関係にある前記第1スイッチ部を含む第1回路と前記第2スイッチ部を含む第2回路には、特性の近似する部品がそれぞれ接続されていることを特徴とする請求項1から3のいずれか記載の抵抗値自動測定回路。請求項1から4のいずれか記載の抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置。少なくとも、記録媒体に対して異なる電流値で印字消去記録再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、がスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法であって、前記スイッチング手段により前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にして、前記抵抗体に印加される第1電位を計測する第1計測ステップと、前記スイッチング手段により前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にして、前記基準抵抗に印加される第2電位を計測する第2計測ステップと、前記第1計測ステップで計測された前記第1電位と前記第2計測ステップで計測された前記第2電位との差分から、前記抵抗体の抵抗値を測定する第3ステップと、を有することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。前記基準抵抗として、所定の抵抗公差を有する金属皮膜抵抗を使用することを特徴とする請求項6記載の抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。前記抵抗体の交換時や、前記抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置の初期立ち上げ時又は起動時に、抵抗体の抵抗値を測定することを特徴とする請求項6又は7記載の抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。しかしながら、被抵抗値測定体側に抵抗値出力機能がない場合は、抵抗値を検出することができない。一般的に、印字ヘッドには抵抗値出力機能が備わっていることが多いが、消去ヘッドや記録ヘッド等の他の部品では抵抗値出力機能が備わっていないことが殆どである。また、予め表示されている抵抗値を目視で読み取ることは、自動測定ができず、温度特性等のバラツキを考慮することができないばかりか、読み取った抵抗値を不揮発性メモリに記憶させたり、ディップスイッチやロータリスイッチの切替えなどを行ったりする必要があるため、組立性が悪く組立コストの増加になる。さらに、特許文献1の技術では、単純にヘッド抵抗による電圧降下分だけを読み取ってヘッドの抵抗値を測定していることから、電源電圧、固定抵抗、スイッチングトランジスタの抵抗等といった部品の個々のバラツキ初期値、温度変動等の影響を大きく受けることになり、正確な抵抗値の測定ができない。すなわち、測定精度を上げるためには、全ての部品の精度をアップする必要があるが、個々の部品が高価となりコストの増加になる。本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、その目的は、接続されている個々の部品のバラツキ初期値、温度変動等に影響することなく、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法を提供することにある。以上のような課題を解決するために、本発明は、以下のものを提供する。1記録媒体に対して異なる電流値で印字消去記録再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、が並列に接続され、前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にする又は前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にするためのスイッチング手段と、前記スイッチング手段を制御して前記抵抗体に印加される第1電位と前記基準抵抗に印加される第2電位とを計測し、前記第1電位と前記第2電位との電位差を基に前記抵抗体の抵抗値を測定する制御手段と、を少なくとも備えることを特徴とする抵抗値自動測定回路。本発明によれば、抵抗体と基準抵抗とがスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路において、スイッチング手段を制御して計測される第1電位及び第2電位と基準抵抗の抵抗値とが分かれば、第1電位と第2電位の差分及び基準抵抗の抵抗値を基に抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。すなわち、抵抗体を含む回路と基準抵抗を含む回路とが並列に構成されており、このような簡易な回路構成によって抵抗体や基準抵抗以外の部品による影響を抑制することが可能となり、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。2前記制御手段は、前記電位差と前記抵抗体の抵抗値との関係を示すデータテーブルを有することを特徴とする抵抗値自動測定回路。本発明によれば、制御手段は、第1電位と第2電位との電位差と抵抗体の抵抗値との関係を示すデータテーブルを予め有していることから、第1電位と第2電位との電位差を算出するという簡易な計算のみを制御手段が行い、抵抗値の測定はデータテーブルを参照することで、計算式に基づいて抵抗値を算出する方法に比べて、制御手段の負荷を少なくしてより高速に抵抗値を測定することができる。3前記第1電位又は前記第2電位の計測分解能を向上する増幅回路及び/又は差分回路を備えることを特徴とする抵抗値自動測定回路。本発明によれば、第1電位及び第2電位を計測する制御手段の前に増幅回路及び/又は差分回路を備えることにより、制御手段の性能限界の影響を受けることなく、第1電位及び第2電位を精度よく計測することができる。すなわち、第1電位及び第2電位を制御手段のアナログ入力ポートに入力してデジタル計測する場合、制御手段のA/D変換の分解性能によっては、第1電位及び第2電位を計測する時点で非常に大きな誤差を生じかねないが、増幅回路と差分回路によって制御手段のA/D変換の分解性能を相対的に上げることで、第1電位及び第2電位を精度よく計測することができる。4前記スイッチング手段は、前記抵抗体を通電/不通電状態にする第1スイッチ部と、前記基準抵抗を通電/不通電状態にする第2スイッチ部と、で構成され、互いに並列関係にある前記第1スイッチ部を含む第1回路と前記第2スイッチ部を含む第2回路には、特性の近似する部品がそれぞれ接続されていることを特徴とする抵抗値自動測定回路。本発明によれば、互いに並列関係にある第1回路と第2回路には、温度特性など特性の近似する部品がそれぞれ接続されていることから、基準抵抗と比較して抵抗体の抵抗値を求める際には、第1回路と第2回路を構成する各部品の個体差による影響を大きく受けることがないので、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。5上記1から4の抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置。本発明によれば、記録媒体処理装置は、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路を搭載していることから、記録媒体に対して印字消去記録再生等を行う抵抗体に最適な電流を流すことができる。6少なくとも、記録媒体に対して異なる電流値で印字消去記録再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、がスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法であって、前記スイッチング手段により前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にして、前記抵抗体に印加される第1電位を計測する第1計測ステップと、前記スイッチング手段により前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にして、前記基準抵抗に印加される第2電位を計測する第2計測ステップと、前記第1計測ステップで計測された前記第1電位と前記第2計測ステップで計測された前記第2電位との差分から、前記抵抗体の抵抗値を測定する第3ステップと、を有することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。本発明によれば、抵抗体と基準抵抗とがスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法において、スイッチング手段を制御して計測される第1電位及び第2電位と基準抵抗の抵抗値とが分かれば、第1電位と第2電位の差分及び基準抵抗の抵抗値を基に抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。7前記基準抵抗として、所定の抵抗公差を有する金属皮膜抵抗を使用することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。本発明によれば、第1電位及び第2電位と基準抵抗の抵抗値とから抵抗体の抵抗値を測定するにあたって、抵抗交差が低く温度特性の良い金属皮膜抵抗を基準抵抗として使用することから、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。また、抵抗体の抵抗値の測定精度に大きな影響を及ぼす基準抵抗に金属皮膜抵抗を使用し、基準抵抗以外は一般的な特性の部品を使用することによって、全体的な部品コストを抑えた上で、高精度の抵抗値測定をすることができる。8前記抵抗体の交換時や、前記抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置の初期立ち上げ時又は起動時に、抵抗体の抵抗値を測定することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。本発明によれば、修理や性能改善等の目的で抵抗体を交換したときや、経時経年、使用頻度使用条件等での抵抗値変化を監視する目的で抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置を立ち上げるとき又は起動したときに、抵抗体の抵抗値を測定することから、記録媒体に対して印字消去記録再生等を行う抵抗体に常に最適な電流を流すことができる。本発明に係る抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法は、簡易な回路構成によって抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができ、記録媒体に対して印字消去記録再生等を行う抵抗体に常に最適な電流を流すことができる。以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置1の回路ブロック図である。図1において、記録媒体処理装置1は、ヘッドの抵抗体R2と、ヘッドの抵抗体R2の抵抗値を測定するための比較基準となる基準抵抗R3と、がスイッチング手段2を介して並列に接続されている。スイッチング手段2のスイッチング制御はCPU等の制御手段3によって行われ、また、制御手段3に入力される電位の計測分解能を向上するための回路4がスイッチング手段2と制御手段3との間に直列に接続されている。なお、ヘッドの抵抗体R2の本来の機能印字消去記録再生等を実行するには、制御手段3からのPWM制御によって駆動回路5を駆動して、抵抗体R2に所定の電流を流す。また、制御手段3が駆動回路5を駆動させる手段は、電圧制御や電流制御であってもよい。このように、本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置1においては、制御手段3によって制御されるスイッチング手段2を介して並列に接続された抵抗体R2を含む第1回路と基準抵抗R3を含む第2回路とで抵抗体R2の抵抗値を測定する抵抗値自動測定回路が主として構成され、抵抗体R2の抵抗値を測定するための直流定電圧源Vc、固定抵抗R1、抵抗体R2からの逆流を防止するダイオードD1R、基準抵抗R3からの逆流を防止するダイオードD1L等の諸部品を抵抗値自動測定回路は有しており、直流定電圧源Vcの電圧から固定抵抗R1の電圧降下分を引いた第1スイッチQ1の前段の電位Vaと、直流定電圧源Vcの電圧から固定抵抗R1の電圧降下分を引いた第2スイッチQ2の前段の電位Vbと、を回路4を介して制御手段3に入力して計測し、第1電位Vaと第2電位Vbとの電位差と基準抵抗の抵抗値を基に抵抗体の抵抗値R2を測定する。ここで、スイッチング手段2は、抵抗体R2を通電/不通電状態にする第1スイッチ部Q1と、基準抵抗R3を通電/不通電状態にする第2スイッチ部Q2と、で構成されており、制御手段3からのON信号の入力によって第1スイッチ部Q1又は第2スイッチ部Q2が駆動する。第1スイッチ部Q1と第2スイッチ部Q2の態様は、トランジスタやリレー等が挙げられる。また、第1スイッチ部Q1を介して接続されているダイオードD1R、抵抗体R2を含む第1回路と、第2スイッチ部Q2を介して接続されているダイオードD1L、基準抵抗R3を含む第2回路とは、Q1≒Q2Q1とQ2のON抵抗の近似、D1R≒D1LD1RとD1Lの順方向電圧の近似、R2≒R3R2とR3の抵抗値の近似というように、互いに特性の近似する部品を使用することが好ましい。なお、Q1とQ2のセット部品、D1RとD1Lのセット部品というように、特性の近似する複数個のトランジスタやダイオードが入ったユニットを使用することも可能である。また、直流定電圧源Vc、固定抵抗R1、スイッチ部Q1,Q2、ダイオードD1R,D1Lは、一般的な公差性能の部品でよく、基準抵抗R3のみは、抵抗公差が低く温度特性の良い金属皮膜抵抗を使用する。また、回路4は、電位の測定分解能を上げるために非反転アンプを用いたり、測定分解能を非反転アンプよりも更に上げるために前列に差分器を後列に非反転アンプを接続して、差分器で電位Va及びVbを一律に下げてから非反転アンプで増幅することができるものである。これは、第1電位Vaと第2電位Vbの変化量を大きくして測定分解能を上げるためのものであり、デジタル制御している制御手段3の性能に応じて簡易的に適宜組み込むことができる。例えば、制御手段3としてのCPUの電源デジタル、アナログ用電源共が3.3V、CPUのA/D変換が1024段階=210の場合は、3.3/1024=0.0032V単位での電圧測定しかできないことから、回路4を組み込むことによって、より細かい単位での電圧測定が可能となる。なお、回路4とは別に、直流定電圧源Vcの電圧を上げることで、第1電位Vaと第2電位Vbを上げることも可能である。この場合は、回路上の部品に印加される電圧や電流が増加することから、使用部品の耐定格値が高いものを使用することが必要となり、部品の実装面積やパターン幅、部品コストが増加することもある。従って、一般的には、直流定電圧源Vcの電圧を上げることよりも、回路4を設けて測定の分解能を上げる方が好ましい。図2は、第1電位Vaと第2電位Vbとの電位差を基に抵抗体R2の抵抗値を測定するためのデータテーブルの一例である。本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置1においては、制御手段3のメモリ部に図2に示すようなデータテーブルが記憶されており、制御手段3に入力される第1電位Vaと第2電位Vb実際には、Va及びVbは回路4で増幅されるとの差分を算出してデータテーブルと比較することにより、抵抗体R2の抵抗値を測定することができる。図3は、本発明の実施の形態に係る抵抗値自動測定方法を説明するためのフロー図である。本発明の実施の形態に係る抵抗値自動測定方法は、抵抗体R2の交換時や、記録媒体処理装置の初期立ち上げ時又は起動時に、制御手段3の自動認識又はオペレータによる操作を契機として実行される。直流定電圧源VcがON状態にあるときに、まず、制御手段3は、第1スイッチ部Q1をHHigh、第2スイッチ部Q2をLLowにセットすることで、第1スイッチ部Q1をON、第2スイッチ部Q2をOFFにして、抵抗体R2を通電状態にするステップS1。この状態で、制御手段3に第1電位Va回路4で増幅された第1電位が入力されて、第1電位Vaを計測するステップS2。次いで、制御手段3は、第1スイッチ部Q1をLLow、第2スイッチ部Q2をHHighにセットすることで、第1スイッチ部Q1をOFF、第2スイッチ部Q2をONにして、基準抵抗R3を通電状態にするステップS3。この状態で、制御手段3に第2電位Vb回路4で増幅された第2電位が入力されて、第2電位Vbを計測するステップS4。次いで、制御手段3は、計測した第1電位Vaと第2電位Vbとの差分を算出した後ステップS5、データテーブルを参照してステップS6、抵抗体R2の抵抗値を決定しステップS7、本サブルーチンを終了する。図1に示す回路ブロック図において、第1電位Vaのみから抵抗体R2の抵抗値を求めると、次式に示す関係式となる。また、図1に示す回路ブロック図において、第1電位Va及び第2電位Vbから抵抗体R2の抵抗値を求めると、次式に示す関係式となる。両式を比較すると、第1電位Vaのみから抵抗体R2の抵抗値を求める方式例えば、前述した特許文献1の記載では、R2は、R1、Ron、Vc、Vfに影響することから、VaのみからR2を算出すると誤差が大きくなる。一方で、第1電位Va及び第2電位Vbから抵抗体R2の抵抗値を求める方式本願発明では、Vfに影響せず、Va-Vbは非常に小さくVc-Vaは大きいため、Va-Vb/Vc-Va≒0と近似でき、R1とRonにも影響しないことから、結果的に、R2は、R3、Va、Vb、Vcに影響することとなる。さらに、Vcに比べてVaとVbは小さいことから、Vc-Vb/Vc-Va≒1と近似でき、結果的に、R2は、R3、Va、Vb、に影響することとなる。従って、R3として、抵抗公差が低く温度特性の良い金属皮膜抵抗を使用し、Va及びVbを精度よく測定することで、従来よりも高精度でR2を算出することができる。例えば、R3の抵抗公差の仕様としては、±1、±0.5等が好適である。[本実施の形態の主な効果]本発明は、抵抗体R2の抵抗値は、比較抵抗R3、第1電位Va、第2電位Vbに大きく影響し、他の部品の影響は少ないことから、比較抵抗R3を高性能の部品として、Va及びVbを精度よく測定することで、高精度で抵抗体R2の抵抗値を算出することができる。従って、抵抗体R2の抵抗値を手動で測定して記録媒体処理装置に手動で設定する等の必要がなく、組立性が良く組立費用の削減となる。また、比較抵抗R3として、±1程度の抵抗公差の金属皮膜抵抗を使用したり、増幅回路や増幅回路及び差分回路を用いることで、比較抵抗R3、第1電位Va、第2電位Vbの計測精度を高めることで、高精度で抵抗体R2の抵抗値を算出することができる。"