"クラスタに編成されたピクセルから成るディスプレイパネルの領域において、以前の状態又は予め測定された基準値から逸脱した領域を判別する方法であって、第1基準が満たされるまで、第1クラスタ内の各ピクセルを少なくとも一つ走査し、前記走査において、前記第1クラスタ内のピクセルのうち、一つの対象ピクセルの特性を測定し、測定特性と基準特性とを比較して、前記対象ピクセルの状態を特定し、前記対象ピクセルの前記状態が、その対象ピクセルの以前の測定値から変化した場合に、前記第1基準が満たされたと判断することを含み、更に、前記第1基準が満たされたときに、少なくとも前記走査したピクセルの状態に基づいて、前記ディスプレイパネルの測定特性の逸脱を自動補正して、前記測定特性を基準特性側に変位させること、を含む方法。前記ディスプレイのピクセルは、更に、複数の領域に編成され、前記領域のうちの少なくともいくつかの各領域は、ピクセルのクラスタを複数個有し、前記走査は、各領域内の少なくとも一つのクラスタにおいて実行され、前記第1基準は、各領域内の少なくとも一つのピクセルの状態が、その少なくとも一つのピクセルの以前の測定値から変化したときに満たされ、前記状態は、前記対象ピクセルが経年変化していることを表す経年変化状態にあるかどうかを少なくとも示し、前記自動補正することは、前記第1クラスタ内の少なくとも一つのピクセルの経年変化又は過剰補正を補正するものである、請求項1に記載の方法。前記測定特性は、前記対象ピクセル内の発光素子の駆動に使用される電流であり、前記走査は、前記第1クラスタ内の右上のピクセルから開始して、左下のピクセルで終了する走査順序で実行される、請求項1に記載の方法。前記測定は、前記自動補正を実行する前に、前記第1クラスタ内の一部のピクセルのみに実行される、請求項1に記載の方法。前記第1クラスタ内で測定された各ピクセルの個々の状態の関数として、前記第1クラスタに優先度を設定し、優先度値を生成すること、を更に含む、請求項1に記載の方法。前記状態は、前記対象ピクセルが過剰補正状態にあるのかどうかを更に示し、前記関数は、前記第1クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、前記第1クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含む、請求項5に記載の方法。より高い優先度値が、前記第1クラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す優先度値に基づいて、前記第1クラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定し、前記追加ピクセルそれぞれの特性を測定して、各追加ピクセルの状態を特定すること、を更に含む、請求項5に記載の方法。前記状態は、前記対象ピクセルが過剰補正状態にあるのかどうかを更に示し、前記関数は、前記第1クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、前記第1クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含み、前記追加ピクセルの個数は、前記絶対差が、前記第1クラスタ内で追加ピクセルを測定すべきであることを表す最小閾値に満たないときにゼロである、請求項7に記載の方法。前記優先度値が閾値を越えたときに、測定されたピクセルの近隣ピクセルのうち、前記測定されたピクセルと同じ状態を共有するものに関連付けられた対応する絶対経年変化値を調整することを更に含み、前記絶対経年変化値は、前記測定されたピクセルが経年変化した程度又は過剰補正された程度を示すものである、請求項7に記載の方法。絶対経年変化値が調整された前記近隣ピクセルそれぞれについて、その各近隣ピクセルに関連付けられた平均化フィルタ係数を減じることを更に含む、請求項9に記載の方法。前記調整は、前記測定されたピクセルの状態が経年変化状態であることに反応して、前記絶対経年変化値に1を増分し、前記測定されたピクセルの状態が過剰補正状態であることに反応して、前記絶対経年変化値に1を減分することを含む、請求項9に記載の方法。前記絶対経年変化値は、定数値によって、又は優先度値の関数として調整され、前記関数において、前記絶対経年変化値は、優先度値のより高いものについて、優先度値のより低いものよりも大きく調整される、請求項9に記載の方法。測定されたクラスタのうちの対応するクラスタ内で測定された各ピクセルの個々の状態の関数として、各領域内の少なくとも一つのクラスタに優先度を設定して、各領域に、対応する優先度値を生成すること、を更に含む、請求項2に記載の方法。前記状態は、前記対象ピクセルが過剰補正状態にあるかどうかを示し、前記関数は、各領域内の少なくとも一つのクラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、各領域内の少なくとも一つのクラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含み、前記絶対差は前記優先度値に対応する、請求項13に記載の方法。より高い優先度値が、対応する少なくとも一つのクラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す優先度値に基づいて、対応する少なくとも一つのクラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定すること、を更に含む、請求項14に記載の方法。前記第1クラスタ内の前記対象ピクセルは、前記第1クラスタ内の第1行に位置し、前記走査は、1フレームの中で、第1クラスタ内の第2の対象ピクセルの特性を測定することを更に含み、前記第2の対象ピクセルは、前記第1クラスタ内で前記第1行とは異なる第2行に位置する、請求項1に記載の方法。各追加ピクセルは、第1クラスタ内の連続した、又は連続していない異なる複数の行に存在し、前記各追加ピクセルの特性の測定は、1フレームの中で、異なる行に位置する少なくとも2つの追加ピクセルに実行される、請求項7に記載の方法。前記状態は、前記対象ピクセルが経年変化状態であるのか、又は過剰補正状態であるのかを更に示す、請求項1に記載の方法。前記測定特性は、前記対象ピクセル内の発光素子によって引き込まれる電流であり、前記基準特性は基準電流である、請求項1に記載の方法。前記基準電流は、前記ディスプレイパネル内の基準ピクセルによって引き込まれる電流である、請求項19に記載の方法。ピクセルから成るディスプレイパネルのピクセル領域の特性が、以前に測定された値又は基準値から逸脱している可能性の高い領域に優先度を設定する方法であって、前記ディスプレイパネルのピクセルのうちの少なくとも一部のピクセルの特性を測定し、測定されたピクセルそれぞれについて、測定特性と、対応する基準特性とを比較して、前記測定されたピクセルそれぞれの対応する状態を特定し、各領域内の前記測定されたピクセルの状態の関数として、前記ディスプレイパネルの領域に優先度を設定して優先順序を生成し、前記優先順序に従って、前記領域内の前記測定特性の、前記基準特性からの逸脱を自動補正すること、を含む方法。第1基準が満たされるまで、第1クラスタ内の少なくともいくつかの各ピクセルを走査することを更に含み、前記走査は、前記測定特性と、基準特性とを比較して、前記第1クラスタ内の対象ピクセルの状態であって、対象ピクセルが経年変化していることを表す経年変化状態にあるのかどうかを少なくとも示す状態を特定し、前記対象ピクセルの前記状態が、その対象ピクセルの以前の測定値から変化していた場合に前記第1基準が満たされたと判定すること、を含み、前記自動補正は、前記走査されたピクセルの状態に少なくとも基づいて、前記領域の経年変化又は過剰補正を補正するものである、請求項21に記載の方法。前記ディスプレイの前記ピクセルは、更に、複数の領域に編成され、前記領域のうちの少なくともいくつかの各領域は、ピクセルのクラスタを複数個有し、前記走査は、各領域の少なくとも一つのクラスタにおいて実行され、前記第1基準は、各領域内の少なくとも一つのピクセルの状態が、その少なくとも一つのピクセルの以前の測定値から変化したときに満たされる、請求項22に記載の方法。前記測定特性は、前記対象ピクセル内の発光素子の駆動に使用される電流であり、前記基準特性は基準電流であり、前記走査は、前記第1クラスタ内の右上のピクセルから開始して左下のピクセルで終了する走査順序に従って実行される、請求項22に記載の方法。前記状態は、前記対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを示し、前記関数は、前記第1クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、前記第1クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含む、請求項22に記載の方法。前記優先度の設定は、前記第1クラスタ内で測定された各ピクセルの個々の状態の関数として、前記第1クラスタに優先度を設定して、優先度値を生成することを含み、前記方法は、より高い優先度値が、第1クラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す前記優先度値に基づいて、前記第1クラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定し、各追加ピクセルの特性を測定して、前記追加ピクセルそれぞれの状態を特定することを更に含む、請求項22に記載の方法。前記状態は、前記対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを示し、前記関数は、前記第1クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、前記第1クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含み、前記追加ピクセルの個数は、前記絶対差が、前記第1クラスタ内で追加ピクセルを測定すべきであることを表す最小閾値に満たないときにゼロである、請求項26に記載の方法。前記状態は、前記対象ピクセルが経年変化状態であるのか、又は過剰補正状態であるのかを示し、前記方法は、前記優先度値が閾値を越えたときに、前記測定されたピクセルの近隣ピクセルのうち、前記測定ピクセルと同じ状態を共有するものに関連付けられた対応する絶対経年変化値を調整することを更に含み、前記絶対経年変化値は、ピクセルが経年変化している程度又は過剰補正された程度を示す値に対応する、請求項26に記載の方法。絶対経年変化値が調整された前記近隣ピクセルそれぞれについて、その各近隣ピクセルに関連付けられた平均化フィルタ係数を減じることを更に含む、請求項28に記載の方法。前記調整は、前記測定されたピクセルの状態が経年変化状態であることに反応して、前記絶対経年変化値に1を増分し、前記測定されたピクセルの状態が過剰補正状態であることに反応して、前記絶対経年変化値に1を減分することを含む、請求項28に記載の方法。前記絶対経年変化値は、定数値によって、又は前記優先度値の関数として調整され、前記関数において、絶対経年変化値は、優先度値のより高いものについて、優先度値のより低いものよりも大きく調整される、請求項28に記載の方法。ピクセルのクラスタに編成されたディスプレイパネルにおいて、ピクセルの既知の測定値を用いて、前記ディスプレイパネルの近隣ピクセルの推定経年変化を更新する方法であって、前記ディスプレイパネルのクラスタのうちの第1クラスタ内の各ピクセルの特性を測定し、前記クラスタ内の各ピクセルについて、そのピクセルの測定特性と基準特性とを比較し、ピクセルの状態であって、ピクセルが経年変化状態にあるのか、過剰補正状態にあるのか、又はそのいずれでもない状態にあるのかを表す状態を特定し、前記クラスタ内の選択ピクセルの状態が、その選択ピクセルの以前の測定値から不変であり、且つ、その選択ピクセルの状態が、前記クラスタ内の大多数の他のピクセルの状態と同じである場合に、前記選択ピクセルの近隣ピクセルに関連付けられた対応する経年変化値であって、各経年変化値がピクセルの経年変化状態又は緩和状態を表し、且つ、前記ディスプレイパネルに連結されたメモリ内に格納される経年変化値を調整し、前記近隣ピクセルの前記経年変化値に少なくとも部分的に基づいて、前記ディスプレイパネルの経年変化又は緩和を自動補正することを含む、方法。経年変化値が調整された前記近隣ピクセルそれぞれについて、その各近隣ピクセルに関連付けられた平均化フィルタの係数を減じることを更に含む、請求項32に記載の方法。前記近隣ピクセルは前記選択ピクセルに直接隣接している、請求項32に記載の方法。ピクセルを有し、複数のピクセルクラスタに分割されるディスプレイパネルの領域を選択的に走査する方法であって、第1フェーズにおいて、第1基準が満たされるまで、前記クラスタのうちの少なくともいくつかを走査し、前記走査において、ピクセル走査順序に従って走査されているクラスタ内の対象ピクセルの特性を測定し、測定特性と基準特性とを比較して、対象ピクセルの状態であって、前記対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、緩和状態にあるのか、そのいずれでもない状態にあるのかを示す状態を生成し、前記対象ピクセルの状態が、その対象ピクセルの以前の状態と異なる場合に、前記第1基準が満たされたと判定し、前記クラスタ内の所定数の対象ピクセルが走査されたときに、前記第1基準が満たされたと判定することを含み、更に、前記第1基準が満たされたときに、前記クラスタのうちの少なくとも一つを更に走査すること、を含み、前記更に走査することは、走査しているクラスタの経年変化の程度又は緩和の程度の関数として、追加ピクセルを走査する優先度を決定し、走査しているクラスタ内のいくつかの追加の対象ピクセルであって、その追加の対象ピクセルの個数は前記優先度の関数である、追加の対象ピクセルの特性を測定し、前記対象ピクセルの状態が、走査しているクラスタ内の大多数の他のピクセルの状態と同じであるときに、前記対象ピクセルの近隣ピクセルに関連付けられた対応する経年変化値であって、各経年変化値が、ピクセルの経年変化状態又は緩和状態を示し、且つメモリに格納された経年変化値を調整することを含む、方法。例えば、パネルサイズが600×800ピクセル又は1200×1600サブピクセルであるとして、一つの制御回路が210列を制御すると想定した場合、このような制御回路が8つ必要になる。フレームレートが60Hzで、8つの各回路において、10個のサブピクセルが各フレームで同時に測定される場合、パネル全体の走査時間は、1200×210/10/60/60、すなわち7分である。したがって、初期評価からの絶対値差の100を用いて経年変化/緩和領域を補正するには、少なくとも100×7=700分、すなわち11時間以上という、受け入れ難い膨大な長さの時間がかかる。より効率のよい補正方式が求められている。ピクセル内の変動又は急激な変化例えば、経年変化、緩和、色ずれ、温度変化、又は処理の不均一性等の、ピクセルに悪影響を与える現象によって生じる変化を補正するプロセスの効率を向上させるアルゴリズムが開示され、これは、以前の測定値からの変化経年変化/緩和等が生じる可能性経年変化、緩和、色ずれ、温度変化、又は処理の不均一性等に起因、又は基準値から逸脱する可能性駆動電流、VOLED,輝度、色純度等の不整合に起因の高い領域を測定するように適応的に仕向け、このような領域における推定速度を上昇させ、測定されないピクセルに推定される変化例えば、経年変化を、他のピクセルの測定値を用いて更新するプロセスを提供することによってなされる。本開示の一態様によれば、以前の状態から、又は事前に測定された基準値から逸脱した領域を区別する方法が開示される。これらの領域は、ピクセルのクラスタに編成されたピクセルから成るディスプレイパネルの領域である。本方法は、第1基準が満たされるまで、第1クラスタ内の少なくとも一つの各ピクセルを走査することを含む。この走査は、第1クラスタ内のピクセルのうちの一つの対象ピクセルの特性を測定し、測定特性と基準特徴とを比較して、対象ピクセルの状態を特定し、対象ピクセルの状態が、その対象ピクセルの以前の測定値から変化している場合に、第1基準が満たされたと判定することを含む。本方法は、更に、第1基準が満たされたことに反応して、走査したピクセルの状態に少なくとも基づいて、ディスプレイパネルの測定特性の逸脱を自動補正し、測定特性を基準特性側に変位させることを含む。ディスプレイのピクセルは、更に複数の領域に編成することができる。これらの領域のうちの少なくともいくつかの各領域には、ピクセルの複数のクラスタが存在してよい。走査は、各領域内の少なくとも一つのクラスタに実行することができる。第1基準は、各領域内の少なくとも一つのピクセルの状態が、その少なくとも一つのピクセルの以前の測定値から変化したときに満たされてよい。この状態は、対象ピクセルが経年変化したことを表す経年変化状態にあるのかどうかを少なくとも示すことができる。自動補正は、第1クラスタ内の少なくとも一つのピクセルの経年変化又は過剰補正を補正できる。測定特性は、対象ピクセル内の発光素子の駆動に用いられる電流であってよい。走査は、第1クラスタ内の右上のピクセルから開始して左下のピクセルで終了する走査順序で実行されてよい。測定は、自動補正を行う前に、第1クラスタ内の一部のピクセルだけに実行されてよい。本方法は、第1クラスタ内の測定された各ピクセルの個々の状態の関数として、第1クラスタに優先順序を付けて、優先度値を生成することを更に含んでよい。前述の状態は、対象ピクセルが過剰補正状態にあるかどうかを更に示すことができる。関数は、第1クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、第1クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含んでよい。本方法は、更に、より高い優先度値が、第1クラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す優先度値に基づいて、第1クラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定し、追加ピクセルそれぞれの特性を測定して、各追加ピクセルの状態を特定することを含んでよい。状態は、対象ピクセルが過剰補正状態にあるかどうかを更に示すことができる。関数は、第1クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、第1クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含んでよい。追加ピクセルの個数は、絶対差が、第1クラスタ内で追加ピクセルを測定すべきであることを表す最小閾値に満たないときに、ゼロであってよい。本方法は、優先度値が閾値を超えたときに、測定されたピクセルの近隣ピクセルのうち、測定されたピクセルと同じ状態を共有するものに関連付けられた対応する絶対経年変化値を調整することを更に含むことができる。絶対経年変化値は、測定されたピクセルが経年変化した程度、又は過剰補正された程度を示すことができる。本方法は、絶対経年変化値が調整された各近隣ピクセルについて、その各近隣ピクセルに関連付けられた平均化フィルタの係数を減じることを更に含んでよい。この調整は、測定されたピクセルの状態が経年変化状態であることに反応して、絶対経年変化値に1を増分し、測定されたピクセルが過剰補正状態にあることに反応して、絶対経年変化値に1を減分することを含んでよい。絶対経年変化値は、定数値によって、又は優先度の関数として調整することができ、この関数において、絶対経年変化値は、優先度値のより高いものについて、優先度値のより低いものよりも大きく調整される。本方法は、測定されたクラスタのうちの対応するクラスタ内で測定された各ピクセルの個々の状態の関数として、各領域内の少なくとも一つのクラスタに優先順序を付けて、対応する優先度値を各領域に生成することを更に含んでよい。状態は、対象ピクセルが過剰補正状態にあるかどうかを示すことができる。関数は、各領域内の少なくとも一つの各クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、各領域の少なくとも一つの各クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含んでよい。絶対差は、優先度値に対応してよい。本方法は、各領域について、より高い優先度値が、対応する少なくとも一つのクラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す優先度値に基づいて、対応する少なくとも一つのクラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定することを更に含んでよい。第1クラスタ内の対象ピクセルは、その第1クラスタの第1行に位置してよい。走査は、1フレームの中で、第1クラスタ内の第2の対象ピクセルの特性を測定することを更に含んでよい。第2の対象ピクセルは、第1クラスタ内で第1行とは異なる第2行に存在するものであってよい。各追加ピクセルは、第1クラスタ内の連続した、又は連続していない異なる複数の行に存在してよい。各追加ピクセルの特性の測定は、1フレームの中で、異なる行に位置する少なくとも2つの追加ピクセルに実行することができる。状態は、対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを更に示すことができる。測定特性は、対象ピクセル内の発光素子によって引き込まれる電流値であってよく、基準特性は、基準電流であってよい。基準電流は、ディスプレイパネル内の基準ピクセルによって引き込まれる電流である。本開示の他の態様によれば、ピクセルから成るディスプレイパネルのピクセル領域の特性が、以前に測定した値又は基準値から逸脱している可能性の高い領域に優先度を設定する方法は、ディスプレイパネルのピクセルのうちの少なくとも一部のピクセルの特性を測定し、測定されたピクセルそれぞれについて、測定特性と、対応する基準特性とを比較して、測定された各ピクセルの対応する状態を特定し、各領域内の測定されたピクセルの状態の関数として、ディスプレイパネルの領域に優先度を設定して優先順序を生成し、優先順序に従って、領域内の測定特性の、基準特性からの逸脱を自動補正することを含む。本方法は、第1基準が満たされるまで、第1クラスタ内の少なくともいくつかの各ピクセルを走査することを更に含んでよい。走査は、測定特性と基準特性とを比較して、第1クラスタ内の対象ピクセルの状態について、対象ピクセルが経年変化していることを表す経年変化状態にあるのかどうかを少なくとも示す状態を特定し、対象ピクセルの状態がその対象ピクセルの以前の測定値から変化していた場合に、第1基準が満たされたと判定することを更に含んでよい。自動補正は、走査されたピクセルの状態に少なくとも基づいて、領域の経年変化又は過剰補正を補正するものである。ディスプレイのピクセルは、更に、複数の領域に編成することができる。領域のうちの少なくともいくつかの各領域は、ピクセルのクラスタを複数個含んでよい。走査は、各領域の少なくとも一つのクラスタにおいて実行することができる。第1基準は、各領域内の少なくとも一つのピクセルの状態が、その少なくとも一つのピクセルの以前の測定値から変化したときに満たされてよい。測定特性は、対象ピクセル内の発光素子の駆動に使用される電流であってよく、基準特性は、基準電流である。走査は、第1クラスタ内の右上のピクセルから開始して左下のピクセルで終了する走査順序に従って実行されてよい。状態は、対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを示すことができる。関数は、第1クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、第1クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含んでよい。優先度の設定は、第1クラスタ内で測定された各ピクセルの個々の状態の関数として第1クラスタの優先度を設定して、優先度値を生成することを含んでよい。本方法は、より高い優先度値が、第1クラスタ内で測定されるべき追加ピクセルの個数が多いことを示す優先度値に基づいて、第1クラスタ内で測定すべきいくつかの追加ピクセルを決定し、各追加ピクセルの特性を測定して、追加ピクセルそれぞれの状態を特定することを更に含んでよい。状態は、対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを示すことができる。関数は、第1クラスタ内で測定された、過剰補正状態にあるピクセル数と、第1クラスタ内で測定された、経年変化状態にあるピクセル数との絶対差を求めることを含んでよい。追加ピクセルの個数は、絶対差が、第1クラスタ内で追加ピクセルを測定すべきであることを表す最小閾値に満たないときに、ゼロであってよい。状態は、対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、又は過剰補正状態にあるのかを示すことができる。本方法は、優先度値が閾値を越えたときに、測定されたピクセルの近隣ピクセルのうち、測定されたピクセルと同じ状態を共有するものに関連付けられた対応する経年変化絶対値を調整することを更に含むことができ、経年変化絶対値は、ピクセルが経年変化している程度又は過剰補正された程度を示す値に対応する。本方法は、経年変化絶対値が調整された近隣ピクセルそれぞれについて、その各近隣ピクセルに対応付けられた平均化フィルタの係数を小さくすることを更に含んでよい。調整は、測定されたピクセルの状態が経年変化状態にあることに反応して、経年変化絶対値に1を増分し、測定されたピクセルの状態が過剰補正状態にあることに反応して、経年変化絶対値に1を減分することを含んでよい。経年変化絶対値は、定数値によって、又は優先度値の関数として調整することができ、この関数において、絶対経年変化値は、優先度値の高いものについて、優先度値の低いものよりも大きく調整される。本開示の更に他の態様によれば、ピクセルの既知の測定値を用いて、ディスプレイパネルの近隣ピクセルの推定経年変化を更新する方法が開示される。ディスプレイパネルは、ピクセルのクラスタに編成される。本方法は、ディスプレイパネルのクラスタのうちの第1クラスタ内の各ピクセルの特性を測定し、クラスタ内の各ピクセルについて、そのピクセルの測定特性と基準特性とを比較し、ピクセルの状態であって、ピクセルが経年変化状態にあるのか、過剰補正状態にあるのか、又はそのいずれでもない状態にあるのかを表す状態を特定し、クラスタ内の選択ピクセルの状態が、その選択ピクセルの以前の測定値から不変であり、且つ、その選択ピクセルの状態が、クラスタ内の大多数の他のピクセルの状態と同じである場合に、選択ピクセルの近隣ピクセルに関連付けられた対応する経年変化値であって、各経年変化値が、ピクセルの経年変化状態又は緩和状態を表し、且つ、ディスプレイパネルに連結されたメモリに格納される経年変化値を調整し、近隣ピクセルの経年変化値に少なくとも部分的に基づいてディスプレイパネルの経年変化又は緩和を自動補正することを含む。本方法は、経年変化値が調整された近隣ピクセルそれぞれについて、その各近隣ピクセルに関連付けられた平均化フィルタの係数を小さくすることを更に含んでよい。近隣ピクセルは、選択ピクセルのすぐ隣に位置するものであってよい。本開示の更に他の態様によれば、ピクセルを含み、複数のピクセルクラスタに分割されるディスプレイパネルの領域を選択的に走査する方法は、第1フェーズにおいて、第1基準が満たされるまで、クラスタのうちの少なくともいくつかを走査することを含む。この走査は、ピクセル走査順序に従って走査されているクラスタ内の対象ピクセルの特性を測定し、測定特性と基準特性とを比較して、対象ピクセルの状態であって、その対象ピクセルが経年変化状態にあるのか、緩和状態にあるのか、又はそのいずれでもない状態にあるのかを示す状態を生成し、対象ピクセルの状態がその対象ピクセルの以前の状態と異なる場合に、第1基準が満たされたと判定し、クラスタ内で所定数の対象ピクセルが走査されたときに、第1基準が満たされたと判定することを含む。本方法は、第1基準が満たされたときに、少なくとも一つのクラスタを更に走査する。更に走査することは、走査しているクラスタの経年変化の程度又は緩和の程度の関数として、追加ピクセルを走査する優先度を決定し、走査しているクラスタ内のいくつかの追加の対象ピクセルであって、その追加の対象ピクセルの個数は優先度の関数である、追加の対象ピクセルの特性を測定し、対象ピクセルの状態が、走査しているクラスタ内の大多数の他のピクセルの状態と同じであるときに、対象ピクセルの近隣ピクセルに関連付けられた対応する経年変化値であって、各経年変化値が、ピクセルの経年変化状態又は緩和状態を示し、且つメモリ内に格納された経年変化値を調整することを含む。本開示の前述した態様、他の態様、及び実施形態は、各種の実施形態若しくは態様、又はその両方についての詳細な説明を参照することで当業者に明らかになるであろう。詳細な説明は、下記に簡単な説明を示した図面を参照しながら提供される。本発明の前述した利点及び他の利点は、下記の詳細な説明を読み、且つ図面を参照することで明らかになるであろう。本開示は、各種の変形及び代替の形式を許容するものであるが、特定の実施形態及び実装例が、図面において例として示されると共に、本明細書において詳細に記述される。ただし、本開示は、開示した特定の形式に限定されるものではないことを理解されたい。むしろ、本開示は、付属の請求項に定義された本発明の精神及び範囲に包含される変形物、等価物、及び代替物を全て網羅するものである。本開示は、経年変化若しくは緩和等の現象、温度変化、又は処理の不均一性が引き起こすようなピクセルの特性変化を補正するために、ピクセルアレイの領域を識別するものであることに留意されたい。有害な現象に起因する特性の変化は、適切な測定回路又はアルゴリズムによって測定することができ、ピクセル具体的にはピクセルの駆動トランジスタが経年変化又は緩和していることを示す基準値、又は、ピクセルの輝度性能、ピクセルの色ずれ、若しくは所望の輝度を実現するために必要な予想駆動電流値からの電流の逸脱を示す基準値等の基準値を用いて追跡することができる。これらのピクセル領域が特定された後、その領域をどのように補正するのか経年変化又は緩和の補正方式については、本開示の着目事項ではない。ディスプレイ内のピクセルの経年変化又は緩和を補正する開示の例は既に知られている。これらの例は、2010年11月30日にSystemandMethodsForAgingCompensationinAMOLEDDisplaysAMOLEDディスプレイにおける経年変化補正システム及び方法の名称で出願され、本願と共に譲渡された同時係属中の米国特許出願第12/956,842号明細書、及び2011年2月3日にSystemandMethodsForExtractingCorrelationCurvesForanOrganicLightEmittingDevice有機発光素子の補正曲線を抽出するシステム及び方法の名称で出願され、本願と共に譲渡された同時係属中の米国特許出願第13/020,252号明細書で参照できる。本開示は、ディスプレイ内のピクセル発光素子又は発光素子に電流を送る駆動TFTトランジスタの経年変化現象と緩和現象の両方ただし、ピクセルは、経年変化状態、緩和状態、又は経年変化若しくは緩和のいずれでもない状態、すなわち通常の正常な状態のいずれかにあるため、両方を同時にではない、温度変化、処理のばらつきに起因する不均一性を補正することに関し、これらの用語は、本開示が属する分野の当業者に理解される通りの意味である。概括すると、このような現象に起因するピクセル回路の測定可能な特性における何らかの変化、例えば、ピクセルの発光素子に与えられる駆動電流、発光素子の輝度例えば、輝度出力は、従来から光センサ又は他のセンサ回路で測定可能である、発光素子の色ずれ、ピクセル回路内の電子デバイスに関連付けられた、ピクセル内の発光素子端電圧に相当するVOLED等の電圧等の変化を補正することに関する。本開示において、経年変化/緩和又は経年変化した/緩和した等の組み合わせ表現が用いられる場合もあるが、経年変化に関する説明は、同様に緩和にも当てはまり、またその逆もあり得ると共に、ピクセル又はピクセル回路の測定可能な特性の基準状態からの逸脱の原因となる他の現象にも該当する。緩和の代わりに、回復する、緩和する、又は過剰補正されるという用語も用いられ、これらの用語は、本明細書において交換可能であり、且つ互いに同義に用いられる。本開示全体を通じて経年変化/緩和の不自然な記述を避けるために、本開示では、経年変化又は緩和の一方しか言及しない場合があるが、本明細書に開示する概念及び態様は、両方の現象に同等に適用されることを理解されたい。経年変化する、経年変化した、緩和した、緩和する、又は緩和等、経年変化又は緩和の動詞の各種の文法的変化形は、本明細書において交換可能に用いられる。本明細書の例では、補正される現象が、ピクセルの駆動トランジスタの経年変化又は緩和であると想定されるが、本開示は、経年変化又は緩和のみを高速に補正することに限定されるものではなく、むしろピクセル/ピクセル回路の特性を測定し、測定した特性を以前の測定値又は基準値と比較して、ピクセル/ピクセル回路が、前述の現象例えば、経年変化、過剰補正、色ずれ、温度変化、処理のバラつき、又は駆動電流若しくはVOLEDの基準電流若しくは電圧からの逸脱による悪影響を受けているかどうかを判定することによって、ピクセル又はピクセルに対応するピクセル回路の各種の変動現象を補正することにも同様に適用可能であることを強調しておく。便宜上、変動経年変化や緩和等の領域を特定するシステム及び方法は、単に推定アルゴリズムと記述される。推定アルゴリズムは、図面に関連付けて下記で説明するように、変動例えば、経年変化/緩和が生じている可能性の高い該当領域内のピクセルを測定するように適応的に仕向けるため、補正の推定速度が速くなる。新たに変動例えば、経年変化又は緩和した表示パネルの領域は、全てのピクセルを対象としたフルパネル走査を行う必要なしに、推定アルゴリズムによって迅速に判別することができる。この変動は、ピクセル又は対応するピクセル回路の特性の変化を意味する。上記で説明した特性は、例えば、駆動TFT回路、VOLED、ピクセル輝度、又は色の純度であってよい。これらの変動は、ピクセルの経年変化若しくは過剰補正、環境温度変化を含む一つ以上の現象の結果として、又は基板上のピクセル若しくはピクセルクラスタに性能のばらつきをもたらす、半導体製造工程に固有の材料の不均一性に起因して生じ得る。図1Aは、アクティブマトリクス領域、すなわちアクティブピクセル104a~104dのアレイが行列構造に並べられたピクセルアレイ102を有する電子ディスプレイシステム100である。説明を容易にするため、2つの行及び列のみを図示した。ピクセルアレイ102であるアクティブマトリクス領域の外側は、周辺領域106で、この領域には、ピクセルアレイ102の領域を駆動及び制御する周辺回路が配設される。周辺回路は、ゲート又はアドレス駆動回路108、ソース又はデータ駆動回路110、制御装置112、及び省略可能な電源電圧例えば、Vdd制御部114を含む。制御装置112は、ゲート、ソースの駆動回路108,110、及び電源電圧制御部114を制御する。制御装置112によって制御されるゲート駆動回路108は、ピクセルアレイ102内のピクセル104の各行に一つずつ対応するアドレスライン又は選択ラインSEL[i],SEL[i1]等を動作させる。ピクセル共有構造において、ゲート又はアドレス駆動回路108は、省略可能であるが、2行ずつのピクセル104a~104dというように、ピクセルアレイ102内のピクセル104a~104dの複数のラインに作用するグローバル選択ラインGSEL[j]及び省略可能な/GSEL[j]を動作させてもよい。制御装置112に制御されるソース駆動回路110は、ピクセルアレイ102内のピクセル104a~104dの各列に一つずつ対応する電圧データラインVdata[k],Vdata[k1]等を動作させる。電圧データラインは、ピクセル104内の各発光素子又は各構成要素の輝度を表す電圧プログラム情報を各ピクセル104に送る。各ピクセル104内のキャパシタ等の蓄積要素は、発光又は駆動サイクルにより発光素子がオンになるまで電圧プログラム情報を保存する。制御装置112に制御される、省略可能な電源電圧駆動回路114は、ピクセルアレイ102のピクセル104a~104dの各行に一つずつ対応する電源電圧EL_Vddラインを制御する。ディスプレイシステム100は、電流バイアスラインに所定電流を供給する電流源回路を含んでもよい。一部の構成において、基準電流を電流源回路に供給することができる。この構成では、電流源制御部が、電流バイアスラインにバイアス電流を与えるタイミングを制御する。電流源回路に基準電流が供給されない構成では、電流源アドレス駆動回路が、電流バイアスラインにバイアス電流を与えるタイミングを制御する。既に知られているように、ディスプレイシステム100内の各ピクセル104a~104dには、ピクセル104a~104d内の発光素子の輝度を示す情報がプログラムされなければならない。フレームによって定義される期間は、ディスプレイシステム100内の全ての各ピクセルが、輝度を表すプログラム電圧でプログラムされる期間であるプログラムサイクル又はフェーズと、各ピクセル内の各発光素子がオンになって、蓄積要素に保存されたプログラム電圧に対応する輝度で発光する期間である駆動若しくは発光サイクル又はフェーズとを含む。したがって、フレームは、ディスプレイシステム100に表示される完全な動画像を構成する多数の静止画像のうちの一つである。ピクセルをプログラムして駆動する方式として、行単位方式及びフレーム単位方式の少なくとも2つが存在する。行単位プログラムでは、1行のピクセルがプログラムされて駆動され、その後で次の行のピクセルがプログラムされて駆動される。フレーム単位プログラムでは、最初にディスプレイシステム100内の全ての行のピクセルがプログラムされてから、全てのフレームが行単位で駆動される。いずれの方式においても、ピクセルのプログラムも駆動も行われない期間である短い垂直帰線消去時間を各フレームの最初又は最後に採用できる。ピクセルアレイ102の外部に設けられる構成要素は、ピクセルアレイ102が配置されている同じ物理基板上で、ピクセルアレイ102の周りの周辺領域106に配置されてよい。これらの構成要素としては、ゲート駆動回路108、ソース駆動回路110、及び省略可能な電源電圧制御部114がある。代替の構成として、周辺領域の一部の構成要素をピクセルアレイ102と同じ基板上に配置し、他の構成要素を別の基板に配置しても、又は外周領域の全ての構成要素が、ピクセルアレイ102が配置された基板とは異なる基板に配置されてもよい。ゲート駆動回路108、ソース駆動回路110、及び電源電圧制御部114が共にディスプレイ駆動回路を構成する。一部の構成において、ディスプレイ駆動回路は、ゲート駆動回路108及びソース駆動回路110を含むが、電源電圧制御部114は含まなくてもよい。ディスプレイシステム100は、ピクセルアレイ102内のピクセル104a,104cの列にそれぞれ一つのデータ出力ラインVD[k],VD[k1]等から出力データを読み出す電流供給読み出し回路120を更に含む。1セットの列基準ピクセル130が、ピクセル104a及び104cの列等の各列の終端において、ピクセルアレイ102の端部に作製される。また、列基準ピクセル130は、制御装置112から入力信号を受け取り、対応する電流信号又は電圧信号を電流供給読み出し回路120に出力することもできる。列基準ピクセル130は、基準駆動トランジスタ、及びOLED等の基準発光素子をそれぞれ含むが、これらの基準ピクセルは、画像を表示するピクセルアレイ102の一部ではない。列基準ピクセル130は、画像を表示するピクセルアレイ102の一部ではないため、ほとんどのプログラムサイクルでは駆動されず、ピクセル104a及び104cとは異なり、プログラム電圧の一定の付与による経年変化を受けない。図1には、一つずつの列基準ピクセル130のみが図示されているが、任意の数の列基準ピクセルが存在できることは理解されよう。ただし、本例において、各ピクセル列には、このような基準ピクセルをそれぞれ2つから5つ用いることができる。これに対応して、アレイ102の各ピクセル行も、ピクセル104a及び104b等のピクセルの各行の最後に行基準ピクセル132を含む。行基準ピクセル132は、基準駆動トランジスタ及び基準発光素子を含むが、ピクセルアレイ102の画像を表示する部分を構成するものではない。行基準ピクセル132は、製造時に決定された、ピクセルの輝度曲線に対する基準照合値を提供する。ディスプレイパネル100のピクセルアレイ102は、列kkwにおいて、図1Bに示すような列領域又は列ブロックに分割され、各ブロックは、制御装置112に接続された拡張集積回路EIC140a,b,cによってそれぞれ制御される。各EIC140a,b,cは、ピクセルアレイ102の各ピクセル領域170a,b,cを制御する。1フレーム期間中に、図1Bの行i及び行j等のいくつかの行通常は、基準ピクセル用の2行とパネルピクセル用の数行が、各EIC140a,b,cにおいて規定の列kkwに選択され、その選択されたピクセルに測定が実行される。各ピクセル104の発光素子の駆動に使用される駆動電流Ip等のピクセル特性が測定されて、基準電流Ir等の基準特性又は基準値と比較される。基準電流は、基準ピクセル130,132から、又は所定の電流源から取得できる。この比較により、各ピクセル104が過剰補正されているのかこの場合、Ip>Ir、又は経年変化しているのかこの場合、Ip<Irが判明する。図1Cに示した、各ピクセルの状態機械が、結果的に得られる各ピクセルの比較結果を追跡し続けて、比較がノイズに起因するのか、又は実際の経年変化/回復に起因するのかを判定する。メモリは、各クラスタ化方式すなわち、絶対経年変化[i,j,色,cs]内の全サブピクセルの絶対経年変化推定値を記録する。ピクセルが状態1にあり、且つIp<Irである場合、そのピクセルに対応するメモリ内容に1が増分される。メモリ内の該当ピクセルに対応付けられた絶対経年変化値から1が減分されるのは、該当ピクセルが状態2にあり、且つIp>Irである場合である。メモリは、従来通りに、制御装置112内に組み込まれても、又は制御装置112に接続されてもよい。絶対経年変化値は基準値の例であり、この基準値を利用して、対象とする特性例えば、駆動電流、VOLED、輝度、色強度についての以前の測定値からピクセルが変化したかどうかを追跡し、ピクセルの性能、効率、又は寿命に影響を与える現象例えば、駆動TFT又は発光素子の経年変化/緩和、色ずれ、温度変動、処理のばらつきを補正することができる。図1Dを参照すると、一つの領域170aが図示されている。各領域は、ピクセルの複数のクラスタ160a,b,cを含む単なる例として3つを図示。クラスタ160a,b,cは、ピクセルの集合であり、一般に矩形であり得るが、いずれか他の形状であってもよい。各クラスタ160aは、複数のピクセル104a,b,cで構成される単なる例として3つのピクセルを図示。各ピクセル104aは、RGB,RGBW,RGB1B2等、一つ以上の有色サブピクセル150a,b,cで構成することができる。サブピクセル150a,b,cは、ディスプレイパネル100上の物理電子回路であり、光を生成することができる。本明細書で用いるピクセルの用語は、サブピクセルをピクセルと称すると便利であることから、サブピクセルすなわち、単一の発光素子を有する離散ピクセル回路を指す場合もある。最後に、本明細書において、クラスタ化方式は、ディスプレイパネル100をクラスタ160a,b,cに分割する方式である。例えば、デカルト格子を用いて、パネル100を矩形クラスタ160a,b,cに分割できる。デカルト格子方式の変形例として、空間変位を代わりに用いてもよい。補正処理全体の中で各種異なるクラスタ化方式を利用しても、又は、補正処理全体を通し単一のクラスタ化方式を用いてもよい。前述の背景技術の段落に記載した例は、ピクセルの経年変化/緩和を補正する手法として、極めて効率の悪い総当り的手法を示したものである。各EIC領域の従来の全パネル走査は、極めて低速の処理である。好都合なことに、ピクセルの経年変化/緩和は、純粋にランダムなものではない。パネル102に表示される映像内容の空間的相関性によって、経年変化/緩和に空間的相関性が生じる傾向が強い。すなわち、ピクセル104が経年変化/緩和して、そのピクセル104の輝度が失われた場合、又は色、駆動電流、若しくはVOLEDが変化した場合、そのピクセルに近接している他のピクセル104すなわち、近隣ピクセルにも同じ現象が作用して、近隣ピクセルを変化させている可能性が高い。本開示に係る推定アルゴリズムは、この傾向を利用して、より高速の推定速度を達成し、特性変化が最も深刻な領域に補正を集中させる。本明細書に開示した推定アルゴリズムは、連続的に変化している領域の走査により高い優先順位を与える、局部優先度基準の走査方式である。ある領域が、補正例えば、経年変化又は緩和に対する補正を必要とする領域として識別され得るならば、その領域内の単一ピクセルから得られる単一の測定データを一つの候補として用いて、残りの領域が更なる補正を必要とするかどうかを判定することも妥当である。この知見は、推定アルゴリズムが、新たに変化した領域を迅速に検出する一方で、十分な注意を必要とする領域に予め測定を集中させるという方式に統合されて設計される。経年変化分布の局部性を活用するために、各EICの領域170aは、8×8のピクセル104例えば、16×16のサブピクセル150のクラスタ160a,b,cに分割される。推定アルゴリズムは、結果的に各クラスタ160a,b,cで実行される2つのフェーズフェーズI及びフェーズIIで構成される。フェーズIの主な役割は、クラスタ160a,b,cが、フェーズIIにおいて十分な注意を必要とするかどうかを可能な限り速やかに判定することである。フェーズIにおいて、64個のピクセル104から成るクラスタ160a,b,cの所定の色例えば、赤、緑、青、又は白が走査されるが、この走査は、クラスタ106a,b,cが重要でないことを確認する十分な程度で、又はクラスタ160a,b,cが一度、完全に走査されるまで実行される。この高速走査によって確実に、新たに現れた変化例えば、経年変化/緩和領域が迅速に検出される。ただし、フェーズIIにおいて、以前の測定に基づいて数量化されたクラスタ内の優先度の知見を利用して、クラスタ160a,b,c内のより多くのピクセルに測定処理を拡張すると共に、経年変化/緩和の絶対値、又は対象としている他の基準値の変更を高速化し、ノイズフィルタリングを高速化し、更に、測定したピクセルの近隣ピクセルの残りを同様に検査する。図2は、推定アルゴリズム200に関連のある構成要素又はモジュールの機能ブロック図である。各EIC140a,b,cは、検査中のピクセル104に対応する測定電流Ipixelを出力する。この測定電流は、例えば、発光サイクル又は駆動サイクルにおいてピクセル内の発光素子によって引き込まれる電流の量を表す。基準電流Irefは、測定更新ブロックフェーズI204に提供されるか、又は測定更新ブロックフェーズI204によって既知になり、測定されたピクセルは、基準電流と比較されて、そのピクセルが経年変化状態にあるのか、又は緩和状態にあるのかが判定される。ピクセルの状態図1Cを参照は、その状態が以前の測定値から変化した場合に更新される。対象とする特性が、これ以外で経年変化又は緩和現象に関わる駆動TFT電流、VOLED、ピクセル輝度、色等である場合、EICは、その特性の測定値を表す測定信号を出力し、測定値と、その特性に対応付けられた基準値と比較して、対象とする特性が前回の測定値から変化しているかどうかを判定する。ここで、主なブロックについて説明する。これらの各ブロックの詳細内容は、下記においてフローチャートに関連付けて説明する。測定更新ブロック204は、一つ以上のピクセルの状態がフリップより一般的には、基準値がピクセル特性の以前の測定から変化したかどうかを、全てのEIC140a,b,cの同一位置例えば、EIC1140aの位置i,kのピクセルA、EIC2140bの位置i,kのピクセルB、及びEIC3140cの位置i,kのピクセルCにおいて判定し、フリップしていた場合に、追加ピクセル走査ブロックフェーズII208に推定アルゴリズムの制御を渡す。フェーズIIにおいて、追加ピクセル走査ブロック208が、追加のピクセルを測定する必要があると判定した場合、測定更新ブロック204は、追加のピクセルを測定し、以前の測定値から状態が変化している測定ピクセルに対応する状態機械論理を更新する。追加ピクセル走査ブロック208は、優先度参照テーブルLUT212に問い合わせを行い、経年変化状態又は緩和状態にあるクラスタ内のピクセルの個数から決定された優先度値に基づいて、走査すべきいくつかの追加ピクセルを決定できる。したがって、所定のクラスタ内の経年変化/緩和したピクセルが多くなるにつれて、そのクラスタにより高い優先度値を割り当てることができ、その結果、より多くのピクセルに、更なる測定対象としてのフラグが付けられる。省略可能であるが、測定更新ブロック204は、測定したピクセルを更新した方式と同様の方式で、近隣のピクセルを省略可能な近隣更新ブロック206を用いて更新することができる。したがって、測定したピクセルの状態が、近隣の大多数のものと同じ状態である場合、これらの近隣ピクセルの絶対経年変化/緩和値は、各ピクセルの絶対経年変化/緩和値を格納する絶対経年変化テーブル210内で、図1Cにおいて特定された状態の関数として調整及び更新することができる。絶対経年変化テーブル210は、補正ブロック202に提供されるか、又は補正ブロック202によってアクセスされる。この補正ブロック202は、既に説明したように、経年変化/緩和状態にあるピクセルを補正する、例えば、VOLED変動すなわち、ピクセル104内の発光素子端電圧の変動、TFT経年変化すなわち、ピクセル104内の発光素子を駆動する駆動トランジスタの閾電圧VTの変動、OLEDの効率損失すなわち、VOLED変動以外の現象に起因するもの、又はOLEDの色ずれを補正する各種の適切な方法、回路、又はアルゴリズムであってよい。補正ブロック202は、ピクセルアレイ102に送り返されて、例えば、プログラム電圧、バイアス電流、電源電圧、及びタイミングの少なくともいずれかを調整して経年変化/緩和を補正する信号を出力する。これまで図2を参照しながら主なブロックについて説明してきたが、次に、推定アルゴリズムについてのより高度な説明を提供する。ステップという用語は、動作、機能、ブロック、又はモジュールの用語と同義に用いられる。各ステップの番号は、必ずしも時間を限定したシーケンスの順序を表すことを意図したものではなく、単に一つのステップを別のステップと区別するためのものである。ステップ0:第1/次のクラスタ化方式を選択する。上記に定義したように、クラスタ化方式は、ディスプレイパネル100をクラスタに分割する方式を定義するものである。本例では、矩形クラスタ化方式が想定される。ステップ1:第1/次の色を選択する。既に説明したように、各ピクセル104は、赤、緑、又は青等の異なる色をそれぞれ発光する複数のサブピクセル150で構成することができる。ステップ2:第1/次のクラスタを選択する例えば、クラスタ160aから開始する。走査は、任意の所望の順序で実行されてよい。例えば、各クラスタは、右上から左下に向かう走査順序で走査されてよい。ステップ3フェーズIの開始:現在のクラスタ例えば、クラスタ160a内で、測定すべき次のピクセルを選択する。ピクセル104aに測定更新ブロック204を実行し、比較器において、ピクセル104aの測定電流を基準電流と比較し、更に、比較器の出力を用いて、図1Cに従ってピクセルの状態を特定することによって、ピクセル104aの状態が経年変化しているのか、緩和しているのか、又はそのいずれでもないのかを判定する。走査したピクセル104aの座標は、推定アルゴリズムに記録することができ、これにより、今回中断した場所から次回の走査を行うことができる。ステップ4:全てのEIC140a,b,cについて比較結果0又は1が少なくとも一度はフリップするまで、ステップ3に戻る。ただし、このループステップ3からステップ4が16回繰り返されたら中断してステップ5に進む。したがって、一つのEIC領域170a内のクラスタが既に経年変化/緩和している場合、比較器の出力は、16回の測定全て全クラスタ走査で同一>又は<のいずれかのまま維持されるはずであり、そうでない場合は、比較器のフリップがフェーズIの続行を阻止する。ステップ5フェーズIIの開始:走査されている現在のクラスタの最高優先度PMAXを求める。最高優先度は、全てのEICの対応するクラスタ省略可能であるが近隣ピクセルを含むの最高優先度に等しい。EIC内のクラスタの優先度値は、状態2図1Cを参照にあるピクセル数と状態1にあるピクセル数の絶対差である。したがって、クラスタが既に経年変化又は緩和している場合、そのクラスタのピクセルのほとんどは状態1又は状態2である。フェーズIでは、クラスタが近時に経年変化/緩和した場合にも、フェーズIの測定サイクルが十分に長く、そのクラスタの状態機械に更新値が確実に存在することに留意されたい。ステップ6:ステップ5で決定された最高優先度PMAXに基づき、このクラスタNEx内で走査する必要のある追加ピクセル数が、LUT212に従って設定される。LUT212の一例を上記の表1に示した。ステップ7:クラスタ通常は、全てのEIC140a,b,cのクラスタ内のNEx個の追加対象ピクセルが、フェーズIにおいて最後に測定されたピクセルの座標から始めて走査される。走査中、各EICのクラスタの優先度値に基づいて、下記のタスクが実行される。ステップ7.1近隣の更新:現在のフレームで測定された各ピクセル104について、そのピクセルのクラスタの優先度値PがP>Thr例えば、Thr=24又はThr=30であり、ピクセル104の状態が測定後においても不変のままであると同時に、その状態がクラスタ内のほとんどのピクセルの状態と同じであれば、測定したピクセルに隣接し、且つ測定したピクセルと同一の色及び同一の状態機械値を有する8つのピクセルの絶対経年変化に1を増分又は減分する絶対経年変化値テーブル210内。測定したピクセルの状態が1であれば1を加え、測定したピクセルの状態が2であれば1を減じる。省略可能であるが、この場合、測定したピクセルに隣接し、測定したピクセルと同一の色及び同一の状態機械値を有する8つのピクセルの指数移動平均フィルタの係数を2で除算する。これにより、優先度の高いクラスタについての平均化雑音除去が、より短い待ち時間で確実に実行される。平均化フィルタ係数には、それ以上は除算できなくなる限界がある。ステップ8:ステップ1に戻る。推定アルゴリズムの高度な動作について説明してきたが、この後、番号付けした下記の段落で追加の考慮事項について説明する。1.本開示の態様の例示的実施例において、推定経年変化の絶対値に、定数値例えば、1又は2が可算/減算される。代替例として、絶対値の変更は、優先度の高いクラスタ内にあるピクセルの絶対経年変化値が、優先度の高いクラスタ内に存在しないピクセルの絶対経年変化値よりも大きく変化するように、加速してもよい。2.走査すべきピクセルのリストは、測定待ち行列MeasurementQueue,MQに保存することができる。ピクセルの測定時間を短縮するため、制御装置112は、フレーム毎に複数行の測定を行うように構成することができる。したがって、前述したステップ3及び7において、対象ピクセルと共に追加の行を測定することができる。これらの追加の行は、各行が異なるクラスタに位置し、この追加の行に対応するクラスタがEICでの最大累積優先度を有するように選択される。これらの局部座標行及び列は、対象ピクセルと同一である。本明細書において、対象ピクセル又は選択されたピクセルは、近隣ピクセル又は次のピクセルとは異なる、測定中又は検討中の特定のピクセルを意味し、近隣ピクセル又は次のピクセルは、検討中の対象ピクセル又は選択されたピクセルに隣接するピクセルを意味する。3.絶対経年変化値絶対経年変化テーブル210に保存が、近隣作用により、その値に1が可算又は減算されて変化したときに、平均経年変化値及びデルタ経年変化値を格納するテーブル等の、関連する他の参照テーブルも更新されてよい。4.一例として、推定アルゴリズムの初期化時に、全てのクラスタ優先度をゼロにし、ピクセルの状態機械を全てゼロにリセットし、且つ、クラスタ内で最後に測定されたピクセルの位置をランダムに設定するか又はクラスタの右上部のピクセルに初期化することができる。5.クラスタ内でピクセルを測定する順序は、所望の順序に設定できる。一例として、下記の表2に、64ピクセルのクラスタについての右上から左下への順序を示した。クラスタ内で測定された最後のピクセルの座標は保存されるため、推定アルゴリズムがそのクラスタを次に参照するときには、最後に測定されたピクセルの次のピクセルから測定を開始できる。ピクセル64の後に測定される次のピクセルはピクセル1である。6.クラスタの優先度値は、状態1のピクセル数と状態2のピクセル数の絶対差と等しい図1Cを参照。クラスタは、そのクラスタ内の大多数のピクセルが、一方の状態、すなわち、状態1経年変化又は状態2過剰補正にある場合に高い優先度値を有する。疑似コードの例を下記に示す。1-初期化2-Whiletrue//主ループ3-クラスタを4ピクセル右及び下に移動、又は既に移動している場合は戻る4-For全色//赤、緑、及び青5-For全クラスタ行//上から下6-For全クラスタ列//右から左7-フェーズIに移行8-現在のクラスタ内で上から下、次に右から左の順で次の対象ピクセルを選択。最後に測定したピクセルの次から開始。既にクラスタの最後である場合、クラスタ内で右上のピクセルから開始。9-全EICでのクラスタの累積優先度値に基づいて、現在のクラスタの最上部及び最下部にクラスタの優先度値を分類。最も高い優先度のクラスタを追加の行ピクセル測定用に選択。10-フリップ遷移の確認のために後で利用できるように、全EICの対象クラスタにおける、最後の電流比較結果を記録。11-対象ピクセルの測定電流と、基準電流とを比較して、そのピクセルの状態を特定図1Cに従って特定することによって、全EICの全ての選択行に測定を実行。12-For全て、ステップ9で選択されたクラスタ行13-Ifクラスタの優先度値>30ならば、14-絶対ステップサイズに2を乗算、最大で815-平均化フィルタ係数を2で除算、最小で416-Else17-絶対ステップサイズを2で除算、最小で118-平均化フィルタ係数に2を乗算、最大で6419-EndIf20-EndFor21-絶対値、平均値、及び差分の参照テーブルを更新22-優先度を算出して更新23-IfフェーズIならば、現在のクラスタに16回未満の測定を実行し、異なるEIC内の対象クラスタの一部が既にフリップしていた場合は8に移動。24-フェーズIIに移行25-For測定された全てのピクセル26-Ifピクセルの状態機械が変化せず、状態が、クラスタ内の大多数のピクセルの状態と同じならば、27-Ifクラスタの優先度値>24ならば、28-測定されたピクセルを取り囲む3×3個の同一色ピクセルに1を可算/減算。ただし、状態例えば、0、1、又は2が測定ピクセルと同じ場合。29-近隣の平均化フィルタ係数を2で除算、最小で4。30-EndIf31-EndIf32-EndFor33-If対象ピクセルの状態機械が変化せず、状態が、クラスタ内の大多数のピクセルの状態と同じならば、このクラスタ内で1回のみ34-EndIf35-EndFor36-EndFor37-EndFor38-EndWhile図3~図6のフローチャートは、上記の疑似コードをモデル化できる推定アルゴリズム300の例示的態様を実施するものである。第1又は次のクラスタ化方式が、前述したように選択される302。例えば、クラスタ化方式は、所定数の行及び列を有するピクセル群が各クラスタに定義される四角形であってよい。第1又は次の色が、赤、次に、緑、そして青というように選択される304。初期化時に、第1の色例えば、赤が選択される。前述したように、各ピクセル104は、それぞれ異なる色の光を発光する複数のサブピクセル150で構成することができる。クラスタ変数cが、第1クラスタアルゴリズム全体を通じて初回である場合、又は次のクラスタ以前のクラスタが既に走査されている場合に割り当てられる306。フリップレジスタFlip_regが、フェーズIにおいてゼロに初期化される308。次のピクセル変数sが、クラスタc内で測定される予定の第1ピクセル又は次のピクセルに割り当てられる310。このピクセルsは、測定更新ブロック204に渡される312。これについて、図4A及び図4Bと関連付けて下記に説明する。推定アルゴリズム300は、フェーズI又はフェーズIIのいずれにあるのかを判定する314。このフェーズがフェーズIである場合、フリップレジスタflip_regは、測定したピクセルsの状態が以前の測定値から変化したかどうかを反映するように更新される316。推定アルゴリズム300は、現在走査しているEICのピクセルsと同じ座標位置にある、他の各EICのピクセルの状態がフリップしたかどうか例えば、ピクセルの状態が経年変化状態から緩和状態に変化したかどうかを判定する。変化していない場合、推定アルゴリズム300は、クラスタ内の最後のピクセルが測定されたかどうかを判定する320。測定されていない場合、推定アルゴリズム300は、そのピクセルの電流引き込み量を測定して絶対経年変化テーブル210を更新する処理を、全てのEICの同一座標位置のピクセルの状態がフリップする318、又は現在のクラスタ内の全てのピクセルが走査される320まで続行する。クラスタ内の全てのピクセルが走査された場合、推定アルゴリズム300は、追加のクラスタを走査する必要があるかどうかを判断する322。走査すべき追加のクラスタが残っている場合は、クラスタ変数cを、次のクラスタ例えば、ちょうど走査が完了したクラスタのすぐ隣のクラスタに割り当て306、割り当てられた次のクラスタのピクセルを走査して、個々の状態を特定し、その特定された状態が以前の測定値から変化したかどうかを判定する。全てのクラスタが走査されたら、推定アルゴリズム300は、最後の色が走査されたかどうか例えば、最初に赤が選択された場合は、走査対象として青及び緑が残るを判定する324。走査すべき色がまだ残っている場合は、次の色を選択し304、選択した次の色に対応するクラスタを走査する308、310、312、314、316、318、320、322。全ての色例えば、赤、青、及び緑が走査されたら、推定アルゴリズム300は、最後のクラスタ化方式が選択されたかどうかを判定する326。選択されていない場合、推定アルゴリズム300は、次のクラスタ化方式302を選択し、選択した次のクラスタ化方式に従って、全ての色及びクラスタに対する走査を繰り返す。選択されていた場合、アルゴリズム300は、最初から処理を繰り返す。ブロック318に戻り、全てのEICで同一座標位置にあるピクセルの状態が変化例えば、経年変化状態から緩和状態にフリップしたら、アルゴリズム300は、フェーズIIに移行し336、図2に示した追加ピクセル走査ブロック208に対応するFind_NExという名称のモジュール又は関数を呼び出す334。このFind_NExアルゴリズム334について、下記において図5と関連付けてより詳しく説明する。フェーズIIの第1回目のループの開始時に、追加カウント変数CntExがゼロに初期化され332、そのループを通る毎に増分される330。Find_NExアルゴリズム334は、例えば、上記の表1に基づいて、走査する必要のある追加のピクセル数に対応する値NExを返す。一時カウンタCntP2は、フェーズIIのループを通った回数を追跡し続ける。アルゴリズム300は、追加ピクセル数NExに対応する全ての追加ピクセルが測定更新ブロック203によって走査されるまで、フェーズIIのループ320,310,312,314,330,328を反復し312、フェーズIIのループを通過する毎に変数CntEx及びCntP2を増分する。測定更新ブロック204312は、図4A及び図4Bにフローチャート図として示されている。走査予定の対象ピクセルは、推定アルゴリズム300によって測定更新アルゴリズム312に入力されたピクセルsである。走査予定のピクセルの順序及び座標位置を指定する測定待ち行列MeasurementQue,MQが選択される402。測定待ち行列内の各ピクセルには、本アルゴリズム312において変数qが割り当てられるため、これらのピクセルは、メインの推定アルゴリズム300全体で繰り返されるピクセルsと区別される。省略可能であるが、クラスタの優先度値によっては、上記の疑似コードのステップ12~18に記載したように、ステップサイズ及び平均化フィルタ係数を更新できる404。測定ブロック406は、対象ピクセルsによって引き込まれる電流を測定し、比較器内で基準電流と比較する。測定待ち行列内のピクセルq毎に、測定更新アルゴリズム312が比較器の出力を判定する408。出力がフリップしなかった場合、アルゴリズム312は、図1Cに従ってピクセルの状態を判定する。待ち行列内のピクセルqの以前の状態が1経年変化である場合、アルゴリズム312は、絶対経年変化テーブル210内の該当ピクセルの絶対経年変化値から1を減分することによって、その絶対経年変化値を更新し410、省略可能であるが、該当ピクセルqのステップサイズも更新する。ピクセルqの以前の状態が0である場合は、ピクセルqの状態を状態1に変化させる416。ピクセルqの以前の状態が2過剰補正である場合は、ピクセルqの状態を状態0に変化させる418。比較器の出力がフリップして408、1を示す場合、ピクセルqの状態は次のように更新される412。ピクセルqの以前の状態が2過剰補正であった場合は、そのピクセルqの絶対経年変化値が、絶対経年変化テーブル210において1で増分され、省略可能であるが、そのピクセルのステップサイズも更新される420。ピクセルqの以前の状態が0であった場合、そのピクセルの状態は、状態2に変更される422。ピクセルqの以前の状態が1であった場合、そのピクセルqの状態は、状態0に変更される424。アルゴリズム312は、図4Bに引き継がれ、そこで比較器の出力が読み込まれる426。比較器の出力が変化していない場合426、ピクセルqに関連付けられた優先度値は、状態0又は状態2である434,436ピクセルqの状態において減分される426。そうでなく、ピクセルqの状態が状態1経年変化である場合、優先度値は変更されない432。比較器の出力がフリップしていた場合426、ピクセルqに関連付けられた優先度値は、ピクセルqの状態が状態0又は状態1である場合に、増分される440,442。そうでなく、ピクセルqの状態が状態2過剰補正である場合、優先度値は変更されない438。省略可能であるが、測定待ち行列内の各ピクセルqについて、そのピクセルqに関連付けられている平均経年変化値を更新することができる444。省略可能であるが、測定待ち行列内の各ピクセルqについて、その近隣ピクセルが、後述するように、図6に示した近隣更新アルゴリズム446において更新されてもよい。この後、制御は、推定アルゴリズム300に戻される。図5は、走査すべきいくつかの追加ピクセルを求める、上記の図3に記載した推定アルゴリズム300内のFind-NEx334という名称のアルゴリズムのフローチャート図である。このアルゴリズム334において、優先度値がクラスタに割り当てられ、この優先度値に基づいて、走査すべきいくつかの追加ピクセルが、図2に記載した優先度参照テーブル212等の参照テーブルに従って決定される。Find-NExアルゴリズム334は、図2に示した追加ピクセル走査ブロック208に組み込むことができる。このアルゴリズム334は、ピクセルsから開始され、クラスタcは、ピクセルsが配置されたクラスタである。アルゴリズム334は、現在のクラスタcのEICから初めて、全てのEICで繰り返される504。アルゴリズム334は、状態2のピクセル数と状態1のピクセル数の絶対差を計算することによって、対象EIC内の現在のクラスタ又は対象クラスタの優先度値を決定し、優先度値が最大優先度PMAX図5では、図を簡単にするためPMと短縮されているを超えているかどうかを上記で定義したように判定する506。最大優先度PMが、対象EIC内の対象クラスタについて算出された優先度値と等しい場合、アルゴリズム334は、次クラスタ変数cnが次の近隣クラスタ例えば、対象クラスタのすぐ隣のクラスタに関連付けられるように定義する510。アルゴリズム334は、次クラスタcnの優先度値が最大優先度PMを超えているかどうかを判定する512。超えている場合、アルゴリズム334は、最大優先度PMが、次クラスタcnについて算出された優先度値と等しいかどうかを判定する514。等しい場合、アルゴリズムは、優先度参照テーブル212から最大優先度PMに対応するNExを検索し516、そのNEx値をアルゴリズム300に渡す。ブロック506に戻り、対象EIC内の対象クラスタcについて算出された優先度値が最大優先度PMを超えていない場合、アルゴリズム334は、追加のEICを走査する必要があるかどうかを判定する518。ブロック508に戻り、最大優先度PMが、対象EIC内の対象クラスタについて算出された優先度値と等しくない場合508に、アルゴリズム334は、追加のEICを走査する必要があるかどうかを判定する518。全てのEICが走査されて、そのEICのクラスタの優先度が評価されている場合、アルゴリズム334は、対象EIC内の最後の近隣クラスタが走査されたかどうかを判定する520。走査されていない場合、次の近隣クラスタ例えば、対象クラスタcのすぐ隣のクラスタを走査し、そのクラスタに対応付けられた優先度値を求める510,512,514。ブロック512及び514に戻り、近隣クラスタcnの優先度値が最大優先度PMを超えていない場合512、又は最大優先度PMが、近隣クラスタcnに算出された優先度値と等しくない場合514に、アルゴリズム334は、更に他の近隣クラスタを走査する必要があるかどうかを判定する520。対象EIC内の全てのクラスタが走査されたら520、NEx値が、優先度参照テーブル212から取り出されて、アルゴリズム300に戻される。図4Bにおいて、省略可能な構成である近隣更新ブロック206446を参照したが、このアルゴリズムは図6にフローチャートで示されている。アルゴリズム446は、対象クラスタc対象ピクセルが配置されたクラスタ内の対象ピクセルsから開始する。このクラスタに関連付けられた優先度値が最低閾値優先度値P_Thrを超えている場合602、アルゴリズム446は、対象ピクセルsの状態が測定後に変化しないままであるかどうかすなわち、測定が実行されて、該当ピクセルのピクセル電流と基準電流とが比較される前後において状態1であったかどうかを判定する604。不変である場合、次近隣変数nbrが定義される606。例えば、対象ピクセルsを直接取り巻くピクセルの3×3アレイを近隣として選択することができる。アルゴリズム446は、近隣ピクセルの状態が、対象ピクセルsの状態と同一であるかどうかを判定する608。同一でない場合、アルゴリズム446は、最後の近隣例えば、3×3アレイ内の最後が分析されたかどうかを判定し618、分析されていない場合、クラスタc内の次近隣ピクセルnbrが分析される606。分析されていた場合618、アルゴリズム446は、推定アルゴリズム300に制御を戻す。ブロック608に戻り、近隣ピクセルnbrの状態が対象ピクセルsの状態と同一である場合、アルゴリズム446は、ピクセルsの状態を判定する610。ピクセルsの状態が状態1経年変化である場合、近隣ピクセルnbrの絶対経年変化値が1だけ減分されて、近隣ピクセルnbrの平均化フィルタ係数が、ステップ7.1で上記に説明したように更新される616。ピクセルsの状態が状態2過剰補正である場合、近隣ピクセルnbrの絶対経年変化値が1だけ増分されて、nbrの平均化フィルタ係数が更新される612。アルゴリズム446は、分析すべき更なる近隣ピクセルが存在するかどうかを判定し618、存在しない場合は、アルゴリズム300に制御を戻す。絶対経年変化値及び平均化フィルタ係数は、端縁検出ブロックに基づいて調整することができる614。本明細書において説明した方法はいずれも、aプロセッサ、b制御装置112等の制御装置、及びc各種の他の適切な処理装置のうちの少なくともいずれかによって実行される機械可読命令又はコンピュータ可読命令を含むことができる。本明細書で開示した、図3~図6に提示したような各種のアルゴリズム、ソフトウェア、又は方法は、例えば、フラッシュメモリ、CD-ROM、フロッピディスク、ハードドライブ、デジタル多用途ディスクDVD、又は他のメモリデバイス等、一つ以上の持続性の複数又は単一の有形媒体を有するコンピュータプログラム製品として具現できるが、当業者であれば容易に理解されるように、アルゴリズムの全て及びその一部の少なくともいずれかは、制御装置以外の装置によって代わりに実行されても、ファームウェア若しくは専用ハードウェアに周知の方式で埋め込まれても、又はその両方であってもよい例えば、特定用途向け集積回路ApplicationSpecificIntegratedCircuit,ASICS、プログラマブル論理回路ProgrammableLogicDevice,PLD、フィールドプログラマブル論理回路FieldprogrammableLogicDevice,FPLD、個別論理等によって実装されてよい。また、アルゴリズムについて、特定の機能を実行して互いに作用し合う各種のモジュール又はブロックを有するものとして本明細書において図示及び説明した。これらのモジュールは、単に説明のためにその機能に基づいて分離されたものであり、これらのモジュールは、コンピュータハードウェア、若しくは適切な演算ハードウェア上で実行されるコンピュータ可読媒体に格納される実行可能ソフトウェアコード、又はその両方を表すものであることは理解されよう。異なるモジュール及びユニットの各種の機能は、ハードウェアとして、若しくは前述したような持続性のコンピュータ可読媒体に格納されたソフトウェアとして、又はその両方として、任意の方式で組み合わされても、又は分離されてもよく、独立して又は組み合わせて利用することができる。本開示の特定の実施例及び態様について図示及び説明したが、本開示は、本明細書に開示した正確な構造及び構成要素に限定されないこと、各種の修正、変更、及び変形が、付属の請求項に定義される本発明の精神及び範囲から外れることなく、上記の記載から明らかであることを理解されたい。"