帯状基材を搬送するローラと、前記帯状基材の長さ方向に塗膜を形成する塗工部とを備えた塗膜形成装置であって、前記帯状基材の幅方向に沿って一直線上に配置された複数の変位センサと、前記複数の変位センサを前記帯状基材の幅方向に走査させることによって、前記帯状基材に形成された塗膜の膜厚分布を測定する膜厚分布測定部と、前記膜厚分布測定部で測定された塗膜の膜厚分布に基づいて、前記塗工部によって帯状基材に形成される塗膜の位置、塗膜の幅および塗膜の厚さをそれぞれ制御する制御部とを備える、塗膜形成装置。前記変位センサを少なくとも2つ備え、一方の変位センサは、前記塗膜の幅方向の一方の端面の位置およびその近傍の厚さを計測するように構成され、他方の変位センサは、前記一方の端面とは反対側の他方の端面の位置およびその近傍の厚さを計測するように構成されている、請求項1に記載の塗膜形成装置。前記2つの変位センサの少なくとも一方は、前記帯状基材の幅方向の端面の位置を計測するように構成されている、請求項2に記載の塗膜形成装置。前記複数の変位センサは、該複数の変位センサを移動可能に支持する同一の走査機構に取り付けられている、請求項1~3の何れか一つに記載の塗膜形成装置。前記変位センサは、レーザ変位計である、請求項1~4の何れか一つに記載の塗膜形成装置。帯状基材の長さ方向に形成された塗膜の該長さ方向と交差する幅方向の膜厚分布を測定する膜厚分布測定装置であって、前記帯状基材の幅方向に沿って一直線上に配置された複数の変位センサを備え、該複数の変位センサを前記帯状基材の幅方向に走査させることによって、前記帯状基材に形成された塗膜の膜厚分布を測定する、膜厚分布測定装置。前記変位センサを少なくとも2つ備え、一方の変位センサは、前記塗膜の幅方向の一方の端面の位置およびその近傍の厚さを計測するように構成され、他方の変位センサは、前記一方の端面とは反対側の他方の端面の位置およびその近傍の厚さを計測するように構成されている、請求項6に記載の膜厚分布測定装置。前記2つの変位センサの少なくとも一方は、前記帯状基材の幅方向の端面の位置を計測するように構成されている、請求項7に記載の膜厚分布測定装置。前記複数の変位センサは、該複数の変位センサを移動可能に支持する同一の走査機構に取り付けられている、請求項6~8の何れか一つに記載の膜厚分布測定装置。前記変位センサは、レーザ変位計である、請求項6~9の何れか一つに記載の膜厚分布測定装置。二次電池用電極の製造方法であって、長尺な帯状の電極集電体の表面に、スラリー状に調製された電極活物質層形成用組成物を塗布すること、および、前記集電体の表面上に形成された前記組成物からなる塗膜を乾燥すること、を包含し、ここで前記電極活物質層形成用組成物の塗布を請求項1~5のうちのいずれか一つに記載の塗膜形成装置を使用して行うことを特徴とする、二次電池用電極の製造方法。請求項11に記載の製造方法によって製造された二次電池用電極を使用することを特徴とする、二次電池の製造方法。ところで、本発明者は、帯状基材に形成された塗膜の位置、塗膜の幅、塗膜の厚さなどを測定し、その測定結果を基に塗膜を形成する塗工装置をフィードバック制御することによって、帯状基材に、塗膜の位置、塗膜の幅、塗膜の厚さなどの精度が良い塗膜を形成することを考えている。また、特に、帯状基材に形成される塗膜は、帯状基材をローラで搬送しつつ、連続して塗工することを考えているが、上記の塗膜の種々の測定についても、塗工工程を止めずに行えることが好ましい。この種の塗膜形成装置の一つとして、図12に示した塗膜形成装置が検討されている。図12の例では、ローラ4で搬送される帯状基材1の幅方向端部にレーザ変位計2を配置し、該レーザ変位計2を帯状基材1の幅方向に走査させることで、帯状基材1に形成された塗膜3の膜厚分布を測定する。そして、その測定結果を塗工部図示せずにフィードバックすることによって、帯状基材1に形成される塗膜3の位置、塗膜の幅および塗膜の厚さをそれぞれ制御する。しかしながら、図12に示した装置では、帯状基材1に形成された塗膜3の膜厚分布を測定する際に、図13に示すように、レーザ変位計2を帯状基材1の全幅に亘って走査させる必要があるため、1回のスキャン時間が長くなってしまう。膜厚測定結果を的確にフィードバックするためには、スキャン時間を考慮して、帯状基材1を搬送させる必要がある。そのため、搬送速度はスキャン時間に依存することとなり、帯状電極を効率よく生産性よく製造することができないという問題があった。本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、その主な目的は、生産性を低下させることなく、帯状基材に塗膜を精度よく形成することができる塗膜形成装置を提供することである。また、他の目的は、そのような塗膜形成装置に好適に用いられる膜厚分布測定装置を提供することである。本発明に係る塗膜形成装置は、帯状基材を搬送するローラと、上記帯状基材の長さ方向に塗膜を形成する塗工部とを備えている。また、塗膜形成装置は、上記帯状基材の幅方向に沿って一直線上に配置された複数の変位センサと、当該複数の変位センサを上記帯状基材の幅方向に走査させることによって、上記帯状基材に形成された塗膜の膜厚分布を測定する膜厚分布測定部と、を備えている。さらに、塗膜形成装置は、上記膜厚分布測定部で測定された塗膜の膜厚分布に基づいて、上記塗工部によって帯状基材に形成される塗膜の位置、塗膜の幅および塗膜の厚さをそれぞれ制御する制御部を備えている。好ましい一態様では、上記変位センサは、レーザ変位計である。かかる塗膜形成装置によると、複数の変位センサを帯状基材の幅方向に走査させることによって、帯状基材に形成された塗膜の膜厚分布を測定するので、変位センサを帯状基材の全幅に亘って走査させる必要がなく、帯状基材に形成された塗膜の膜厚分布を短時間で測定することができる。そのため、膜厚測定結果を高速でフィードバックすることができ、外乱によって位置ずれ等の塗工不良が発生したとしても、大量の不良品が発生するのを回避することができる。また、かかる塗膜形成装置によると、変位センサを帯状基材の全幅に亘って走査させる必要がなく、変位センサのスキャン時間を大幅に短縮できる。そのため、スキャン時間に依存する帯状基材の搬送速度を従来よりも上げることができ、帯状基材への塗膜の形成を連続して効率よく行うことができる。ここで開示される塗膜形成装置の好適な一態様では、上記変位センサを少なくとも2つ備えている。一方の変位センサは、上記塗膜の幅方向の一方の端面の位置およびその近傍の厚さを計測するように構成され、他方の変位センサは、上記一方の端面とは反対側の他方の端面の位置およびその近傍の厚さを計測するように構成されている。かかる構成によると、帯状基材に形成された塗膜の幅および厚さを高速かつ簡便に算出できるとともに、変位センサのスキャン時間をさらに短縮できる。なお、ここでいう塗膜の端面の近傍の厚みとは、塗膜の端面の周辺において膜厚が一定になる平坦部分の厚みをいう。ここで開示される塗膜形成装置の好適な一態様では、上記2つの変位センサの少なくとも一方は、上記帯状基材の幅方向の端面の位置を計測するように構成されている。かかる構成によると、帯状基材に形成された塗膜の位置を高速かつ簡便に算出できるとともに、変位センサのスキャン時間をさらに短縮できる。ここで開示される塗膜形成装置の好適な一態様では、上記複数の変位センサは、該複数の変位センサを移動可能に支持する同一の走査機構に取り付けられている。かかる構成によれば、複数の変位センサを幅方向に走査させる動きが同期するので、幅方向の膜厚分布をより高精度に測定することができる。さらに、走査機構の数を低減できるので、装置構成を簡単にできる。また、本発明は、上記塗膜形成装置に好適に用いられる膜厚分布測定装置を提供する。すなわち、この膜厚分布測定装置は、帯状基材の長さ方向に形成された塗膜の該長さ方向と交差する幅方向の膜厚分布を測定する膜厚分布測定装置である。この装置は、上記帯状基材の幅方向に沿って一直線上に配置された複数の変位センサを備え、該複数の変位センサを上記帯状基材の幅方向に走査させることによって、上記帯状基材に形成された塗膜の膜厚分布を測定する。好ましい一態様では、上記変位センサは、レーザ変位計である。かかる膜厚分布測定装置によれば、複数の変位センサを帯状基材の幅方向に走査させることによって、帯状基材に形成された塗膜の膜厚分布を測定するので、帯状基材に形成された塗膜の膜厚分布を短時間で測定できる。すなわち、従来のように1つの変位センサを用いて膜厚分布を測定する場合には、該センサを帯状基材の全幅にわたって移動させる必要があるため、1回のスキャン時間が長くなるが、本発明によると、複数の変位センサを用いることで、異なる箇所の膜厚を同時に測定でき、該センサを帯状基材の全幅にわたって移動させる必要がない。そのため、測定に要する時間が極めて短く、幅方向の膜厚分布を高速で測定することができる。上述した塗膜形成装置は、電池用電極の製造を行うために好ましく用いることができる。即ち、本発明は、電池用電極の構成成分例えば、活物質、バインダ等を含むスラリーを帯状基材集電体に塗工してスラリーの塗膜を形成する塗膜形成装置を含む電池用電極の製造装置、ならびに該塗膜形成装置を使用することを特徴とする二次電池二次電池用電極の製造方法を提供する。上述した塗膜形成装置を用いることにより帯状基材集電体に形成されるスラリーの塗膜を効率よく且つ高精度に形成することができる。したがって、品質の良い電池用電極ならびに該電極を備える電池典型的にはリチウムイオン電池等の二次電池を生産性よく製造することができる。以下、図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態を説明する。なお、本明細書において特に言及している事項以外の事柄であって本発明の実施に必要な事柄は、当該分野における従来技術に基づく当業者の設計事項として把握され得る。本発明は、本明細書に開示されている内容と当該分野における技術常識とに基づいて実施することができる。また、以下の図面においては、同じ作用を奏する部材部位には同じ符号を付して説明している。なお、下記の実施形態は本発明の実施の一形態を例示するに過ぎず、本発明は下記の実施形態には限定されない。本実施形態に係る膜厚分布測定装置100は、図1に示すように、帯状基材10の長さ方向に形成された塗膜12の該長さ方向と交差する幅方向の膜厚分布を測定する装置である。この膜厚分布測定装置100は、帯状基材10の幅方向に沿って一直線上に配置された2つの変位センサ20A、20Bを備えている。この実施形態では、2つの変位センサ20A、20Bは、それぞれ、帯状基材10の幅方向の両側に分離して配置されている。また、変位センサ20A、20Bは、それぞれ、帯状基材10を搬送しているローラ70の上方箇所に設けられ、ローラ70の表面と一定の距離をあけて配置されている。変位センサ20A、20Bは、かかるローラ70の上方箇所において、帯状基材10の長さ方向と交差する幅方向に沿って一直線上に配置されている。変位センサ20A、20Bには、例えば、市販されるような一般的なレーザ変位計例えば株式会社キーエンス製品が用いられる。レーザ変位計20A、20Bは、例えば、対象面にレーザ光を照射し、対象面からの反射光を受光することによって、対象面までの距離を計測するように構成されている。この実施形態では、変位センサ20A、20Bとローラ70との間に基準板22A、22Bが設けられている。変位センサ20A、20Bは、基準板22A、22Bの位置を基準点原点として、対象面までの距離を計測するようになっている。また、変位センサ20A、20Bは、帯状基材10の幅方向に平行に配設された走査機構30に取り付けられている。そして、走査機構30を駆動させて、帯状基材10の幅方向に移動しながら、帯状基材10の幅方向の表面形状を測定する。これにより、帯状基材10に形成された塗膜12の膜厚の分布、すなわち、帯状基材10に対する塗膜12の位置、塗膜12の幅、塗膜12の厚さについて、帯状基材10の幅方向に測定することができる。この実施形態では、走査機構30は、モータ32とレール34とを備えている。変位センサ20A、20Bは、モータ32の駆動により、レール34上を図1の実線で示す位置から、仮想線で示す位置まで走査される。図2の矢印24A、24Bは、上述した変位センサ20A、20Bが帯状基材10上を通過した軌跡を表している。変位センサ20A、20Bは、帯状基材10の幅方向に移動するのみであるが、帯状基材10がローラ70により矢印90の方向に搬送されるため、変位センサ20A、20Bの軌跡は、図2に示すようにジグザグになる。かかる膜厚分布測定において、一方の変位センサ20Aは、帯状基材10の幅方向の一方の端面16Aから塗膜12の幅方向の一方の端面14A付近を幅方向に走査され、帯状基材10の幅方向の一方の端面16Aの位置と、塗膜12の一方の端面14Aの位置およびその近傍の厚さを計測するように構成されている。また、他方の変位センサ20Bは、帯状基材10の幅方向の他方の端面16Bから塗膜12の幅方向の他方の端面すなわち、一方の端面14Aとは反対側の他方の端面14B付近を幅方向に走査され、該他方の端面14Bの位置およびその近傍の厚さを計測するように構成されている。なお、ここでいう塗膜の端面14A、14Bの近傍の厚みとは、塗膜の端面の周辺において膜厚が一定になる平坦部分の厚みをいう。変位センサ20A、20Bで測定した実測値のデータを図3に示す。横軸は、帯状基材の幅方向における位置を示し、縦軸は帯状基材の高さ方向における位置を示している。H0は、帯状基材10の無いローラ70の表面高さを示している。ここで、基準板22Aと基準板22Bとの幅方向の間隔をL0とし、基準板22Aと塗膜12の一方の端面14Aとの幅方向の間隔をL1とし、基準板22Bと塗膜12の他方の端面14Bとの幅方向の間隔をL2とすると、帯状基材10に形成された塗膜12の塗工幅はL0-L1-L2となる。また、基準板22Aと帯状基材10の一方の端面16Aとの幅方向の間隔をL3とすると、帯状基材10に対する塗膜12の塗工位置はL1-L3となる。さらに、基準板22Aと帯状基材10との高さ方向の間隔をH1とし、基準板22Aと塗膜12の一方の端面14Aの近傍端面14Aの周辺において膜厚が一定になる平坦部分との高さ方向の間隔をH2とし、基準板22Bと塗膜12の他方の端面14Bの近傍端面14Bの周辺において膜厚が一定になる平坦部分との高さ方向の間隔をH3とすると、帯状基材10に形成された塗膜12の厚さはH1-H2となり、その傾き両端の厚み差はH2-H3となる。すなわち、基準板22A、22Bの位置を幅方向および高さ方向に関する基準点原点として、その基準点からの各間隔L1、L2、L3、H1、H2、H3等を変位センサ20A、20Bで計測することにより、帯状基材10に形成された塗膜の位置、塗膜の幅および塗膜の厚さ膜厚分布を算出することができる。この実施形態では、膜厚分布測定装置100は、変位センサ20A、20Bによって計測された計測値から、帯状基材10に形成された塗膜12の位置、塗膜12の幅および塗膜12の厚さ膜厚分布を演算する演算部62を備えている。演算部62には、変位センサ20A、20Bで計測された計測値が、変位センサ20A、20Bから送られる。演算部62は、変位センサ20A、20Bから送られてきた計測値に基づいて演算処理を行い、帯状基材10に形成された塗膜12の位置、塗膜12の幅および塗膜12の厚さ膜厚分布を算出する。なお、演算部62は、図示しない記憶部に電気的に接続されている。演算部62は、記憶部に格納されたプログラムに従い、上述した演算処理を実行する。このようにして、帯状基材10の幅方向に沿って2つの変位センサ20A、20Bを配置し、該2つの変位センサ20A、20Bを帯状基材10の幅方向に走査させることによって、帯状基材10に形成された塗膜12の位置、塗膜12の幅および塗膜12の厚さ膜厚分布を測定することができる。かかる膜厚分布測定装置100によれば、2つの変位センサ20A、20Bを帯状基材10の幅方向に走査させることによって、帯状基材10に形成された塗膜12の膜厚分布を測定するので、帯状基材10に形成された塗膜12の膜厚分布を短時間で測定できる。すなわち、従来のように1つの変位センサを用いて膜厚分布を測定する場合には、該センサを帯状基材の全幅にわたって移動させる必要があるため、1回のスキャン時間が長くなるが、本構成によると、2つの変位センサ20A、20Bを用いることで、帯状基材10の幅方向の両サイドから塗膜12の膜厚分布を独立して同時に測定でき、該センサ20A、20Bを帯状基材10の全幅にわたって移動させる必要がない。そのため、測定に要する時間が極めて短く、幅方向の膜厚分布を高速で測定することができる。また、この実施形態では、複数の変位センサ20A、20Bは、該複数の変位センサを移動可能に支持する同一の走査機構30に取り付けられている。かかる構成によれば、複数の変位センサ20A、20Bを幅方向に走査させる動きが同期するので、幅方向の膜厚分布を精度よく測定することができる。さらに、走査機構30の数を低減できるので、装置構成を簡単にできる。以上、本発明の一実施形態に係る膜厚分布測定装置を説明したが、本発明に係る膜厚分布測定装置は上述した実施形態に限定されない。例えば、変位センサについては、レーザ光を用いたレーザ変位計を例示したが、これに限定されず、帯状基材の塗膜の表面形状を測定できるセンサであれば、種々のセンサが適用できる。例えば、レーザ変位計以外の光学式センサを使用してもよい。あるいは、超音波式センサ等の非接触式センサを用いることもできる。ただし、上述した実施形態の如く、レーザ変位計を用いる方が、膜厚分布を正確かつ簡便に測定できる観点から好ましい。次に、本発明の一実施形態に係る塗膜形成装置を説明する。この塗膜形成装置200は、図4に示すように、ローラ70と、塗工部40と、基材走行位置調整部50と、変位センサ20A、20Bと、膜厚分布測定部100と、制御部60とを備えている。ローラ70は、図4に示すように、帯状基材10を搬送する装置である。この実施形態では、帯状基材10は複数のローラ70に順に架け渡され、帯状基材10に一定のテンションが掛けられている。一部のローラ70には、ローラ70を転動させる駆動装置図示せずが取り付けられている。塗膜形成装置200は、ローラ70を転動させることにより、帯状基材10を搬送方向90に搬送している。塗工部40は、図5に示すように、帯状基材10の長さ方向に塗膜12を形成する。この実施形態では、塗工部40は、塗膜12を形成する材料をペースト状にした塗液を吐出する吐出孔を有するダイ42と、ダイ42に塗液を所定の圧力で供給する塗液供給部48とを備えている。また、この実施形態では、塗膜12の形成は、帯状基材10を搬送しながら行なっている。塗工部40は、帯状基材10に塗液を吐出するダイ42を備える。ダイ42と帯状基材10との間には塗液が溜まったビード46が形成される。この塗工部40では、ダイ42の塗液の吐出孔と帯状基材10の距離dを調整することによって、ビード46の形状を調整でき、塗膜12の厚さ、および、塗膜12の幅を調整することができる。さらに、帯状基材10に対するダイ42の傾きを調整することにより、塗膜12の厚さ塗膜の高さが幅方向に一定な塗膜12を形成することができる。この実施形態では、帯状基材10に対して当該塗工部40を動かすアクチュエータ44A、44Bを備えている。アクチュエータ44A、44Bは、制御部60に電気的に接続され、そこからの指令に基づいて、ダイ42の位置や姿勢をそれぞれ制御する。この実施形態では、アクチュエータ44A、44Bはモータである。基材走行位置調整部50は、図4に示すように、ダイ42よりも基材搬送方向90の上流側に配置され、帯状基材10の幅方向の走行位置搬送位置を調整するものである。この実施形態では、基材走行位置調整部50は、図6に示すよう、帯状基材10を周面へ纏わせた一対の調整用リール52A、52Bを有し、該リール52A、52Bの軸角度を変えることによって、帯状基材10の幅方向の走行位置を調整し得るように構成されている。このように帯状基材10の幅方向の走行位置を調整することにより、ダイ42に対する帯状基材10の幅方向の走行位置、ひいては帯状基材10に対する塗膜12の形成位置を調整することができる。この実施形態では、一対のリール52A、52Bの軸角度を動かすアクチュエータ54を備えている。アクチュエータ54は、制御部60に電気的に接続され、そこからの指令に基づいて、一対のリール52A、52Bの軸角度を制御する。この実施形態では、アクチュエータ54はモータである。変位センサ20A、20Bは、帯状基材10の幅方向に沿って一列に配置されている。膜厚分布測定部100は、2つの変位センサ20A、20Bを帯状基材10の幅方向に走査させることによって、帯状基材10に形成された塗膜の膜厚分布位置、幅および厚さを測定する。当該センサ20A、20Bおよび膜厚分布測定部100は、上述した膜厚分布測定装置100の実施形態と同じ構成を備えている。この実施形態では、膜厚分布測定部100は、図4に示すように、変位センサ20A、20Bで計測した計測値から、帯状基材10に形成された塗膜12の膜厚分布を演算する演算部62を備えている。膜厚分布測定部100の演算部62は、かかる演算結果を制御部60に出力する。制御部60は、膜厚分布測定部100で測定された塗膜12の膜厚分布に基づいて、塗工部40が帯状基材10に形成する塗膜12の位置、塗膜12の幅および塗膜12の厚さをそれぞれ制御する。この実施形態では、膜厚分布測定部100で測定された塗膜12の膜厚分布に関するデータは、膜厚分布測定部の演算部62から制御部60に送られる。制御部60は、当該塗膜12の膜厚分布に関するデータに基づいて、上述した塗工部40のアクチュエータ44A、44B、および基材走行位置調整部50のアクチュエータ54を適切に操作して、帯状基材10に形成される塗膜12が、塗膜12の位置、塗膜12の幅および塗膜12の厚さについて、精度良く形成されるように、ダイ42の位置や姿勢、およびリール52A、52Bの軸角度をそれぞれ制御する。本実施形態の塗膜形成装置200による制御の一例について、図7のブロック線図を参照して説明する。図7中、二点鎖線で囲んで示してあるのは、変位センサ20A、20Bの計測値を使用して、帯状基材10に形成された塗膜12の位置、塗膜12の幅および塗膜12の厚さの傾きを求めるための演算部62である。演算部62は、変位センサ20A、20Bの計測値を使用して、帯状基材10に形成された塗膜12の塗膜の位置L1-L3、塗膜の幅L0-L1-L2および塗膜の厚さの傾きH2-H3を演算する図3参照。このようにして求めた塗膜12の位置、塗膜12の幅および塗膜12の厚さの傾きに基づいて、塗工部40によって帯状基材10に塗工される塗膜12の位置、塗膜12の幅、および塗膜12の厚さをフィードバック制御する。そのために、図7に示すように、演算部62で求めた帯状基材10に対する塗膜12の位置L1-L3と、予め設定された塗膜の位置目標値とを制御部例えばPIDコントローラを含むものであり得る。60に入力する。制御部60は、上記演算部62で求めた帯状基材10に対する塗膜12の位置L1-L3と、予め設定された塗膜の位置目標値との差分が0となるように、所定の伝達関数等に基づいて操作量を演算し、基材走行位置調整部50のアクチュエータ54に出力する。そして、制御部60は、上記操作量に基づいて、基材走行位置調整部50のアクチュエータ54を駆動させ、帯状基材10に対する塗膜12の位置が、目標値所定の塗工位置となるように、リール52A、52Bの軸角度を制御する。また、図7に示すように、演算部62で求めた塗膜12の幅L0-L1-L2と、予め設定された塗膜の幅目標値とを制御部60に入力する。制御部60は、上記演算部62で求めた塗膜12の幅L0-L1-L2と、予め設定された塗膜の幅目標値との差分が0となるように、所定の伝達関数等に基づいて操作量を演算し、塗工部40のアクチュエータ44Aに出力する。その際、演算部62で求めた塗膜12の厚さの傾きH2-H3の1/2を減じた値を制御部60に入力する。また、制御部60は、上記演算部62で求めた塗膜12の幅L0-L1-L2と、予め設定された塗膜の幅目標値との差分が0となるように、所定の伝達関数等に基づいて操作量を演算し、塗工部40のアクチュエータ44Bに出力する。その際、演算部62で求めた塗膜12の厚さの傾きH2-H3の1/2を加えた値を制御部60に入力する。そして、制御部60は、上述した各操作量に基づいて、塗工部40の各アクチュエータ44A、44Bをそれぞれ駆動させ、帯状基材10に形成される塗膜12の幅および厚さが、目標値所定の塗工幅および厚さとなるように、ダイ42の位置や姿勢をそれぞれ制御する。なお、制御部60は、図示しない記憶部に電気的に接続されている。制御部60は、記憶部に格納されたプログラムに従い、上述した制御処理を実行する。このようにすることにより、帯状基材10に形成される塗膜12が、塗膜12の位置、塗膜12の幅および塗膜12の厚さについて、精度良く形成されるように、ダイ42の位置や姿勢、調整用リール52A、52Bの軸角度をそれぞれ制御することができる。以上のように、この塗膜形成装置200は、帯状基材10の幅方向に沿って一直線上に配置された2つの変位センサ20A、20Bと、該2つの変位センサ20A、20Bを帯状基材10の幅方向に走査させることによって、帯状基材10に形成された塗膜12の膜厚分布を測定する膜厚分布測定部100と、を備えている。そして、当該膜厚分布測定部100で測定された塗膜12の膜厚分布に基づいて、帯状基材10に形成される塗膜12が、塗膜12の位置、塗膜12の幅および塗膜12の厚さについて、精度良く形成されるように、塗工部40をフィードバック制御する。これにより、帯状基材10に対して塗膜12の位置、塗膜12の幅および塗膜12の厚さを精度良く形成することができる。ここで、従来の塗膜形成装置では、帯状基材に形成された塗膜の膜厚分布を測定する際に、変位センサを帯状基材の全幅に亘って走査させる必要があるため、1回のスキャン時間が長くなってしまう。すなわち、塗膜の膜厚分布を迅速に測定することができないという問題がある。測定に時間がかかると、高速なフィードバック制御が困難になるため、例えば、外乱によって位置ずれ等の塗工不良が発生した場合に、速やかに修正を行うことができず、大量の不良品が発生することがあり得る。これに対し、本実施形態の塗膜形成装置200によると、帯状基材10の幅方向に沿って一直線上に配置された複数の変位センサ20A、20Bと、当該複数の変位センサ20A、20Bを帯状基材10の幅方向に走査させることによって、帯状基材10に形成された塗膜12の膜厚分布を測定する膜厚分布測定部100と、を備えるので、膜厚分布の測定に要する時間が極めて短く、幅方向の膜厚分布を高速で取得できる。そのため、高速なフィードバック制御が可能となる。かかる構成によると、外乱によって位置ずれ等の塗工不良が発生したとしても、迅速に修正して、大量の不良品が発生するのを回避することができる。これにより、廃棄物を低減でき、材料コスト、材料の使用効率などの面でも極めて効率よく改善され、製品コストを低減できる。また、かかる塗膜形成装置200によると、変位センサを帯状基材の全幅に亘って走査させる必要がなく、変位センサのスキャン時間を大幅に短縮できる。そのため、スキャン時間に依存する帯状基材10の搬送速度を従来よりも上げることができ、帯状基材10への塗膜12の形成を連続して効率よく行うことができる。次に、本実施形態に係る塗膜形成装置200を用いることにより、幅方向の膜厚分布を高速で測定できることを確認するため、実施例として以下の実験を行った。すなわち、図8および表1に示す条件で帯状基材10に形成された塗膜12の膜厚分布を測定した。ここでは8スキャンの平均化処理で膜厚分布を測定した。比較例では、1つのレーザ変位計スキャン速度50mm/sを使用し、図8のa1~a4の範囲を走査するスキャンを8回4往復繰り返した。1回のスキャン距離は600mm、8スキャンにかかる時間は96秒であった。この場合、帯状基材の搬送速度を40m/分とすると、1回の測定8スキャンを約64mおきにしていることとなる。換言すると、運転中に塗工不良が発生すると、フィードバック制御して修正するまでに、少なくとも64mの長さの不良品が発生する可能性がある。これに対し、実施例では、2つのレーザ変位計スキャン速度50mm/sを使用し、そのうちの一方で図8のa1~a2の範囲を、他方で図8のa3~a4の範囲を走査するスキャンを8回4往復繰り返した。1回のスキャン距離は120mm、8スキャンにかかる時間は19.2秒であった。この場合、帯状基材の搬送速度を40m/分とすると、1回の測定8スキャンを約12.8mおきにしていることとなる。換言すると、運転中に塗工不良が発生した場合、フィードバック制御して修正するまでに、少なくとも12.8mの長さの不良品が発生する可能性がある。この数値は比較例の1/5程度である。この結果から、2つのレーザ変位計スキャン速度50mm/sを用いることによって、1つのレーザ変位計を用いる場合に比べて、1回の測定時間を20に低減でき、不良品長さを80近く低減できることが確認された。以上、本発明の一実施形態に係る塗膜形成装置を説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されるものではない。当該塗膜形成装置の膜厚分布測定部については、上述した膜厚分布測定装置100と同様の構成であり、同様の変更が可能である。上述した膜厚分布測定装置および塗膜形成装置は、例えば、リチウムイオン二次電池などの電池の捲回電極体の構成要素となる帯状電極正極および負極のいずれにも適用できる。の帯状基材集電体に、電池用電極の構成成分例えば、活物質、バインダ等を含むスラリーを塗工して塗膜を形成する工程に適用することができる。この際、上述した膜厚分布測定装置および塗膜形成装置を用いることにより帯状基材に形成される塗膜12を効率よく且つ高精度に形成することができる。したがって、品質の良い電池用電極ならびに該電極を備える電池典型的にはリチウムイオン電池等の二次電池を生産性よく製造することができる。以下、前述した塗膜形成装置を使用して製造された正極用の帯状電極と負極用の帯状電極とを用いて構築されるリチウム二次電池の一実施形態につき、図2及び図3に示す模式図を参照しつつ説明する。図9に示すように、本実施形態に係るリチウム二次電池1000は、金属製樹脂製又はラミネートフィルム製も好適である。のケース150を備える。このケース外容器150は、上端が開放された扁平な直方体状のケース本体152と、その開口部を塞ぐ蓋体154とを備える。ケース150の上面すなわち蓋体154には、捲回電極体180の正極110と電気的に接続する正極端子172および該電極体の負極120と電気的に接続する負極端子174が設けられている。ケース150の内部には、例えば長尺シート状の正極正極シート110および長尺シート状の負極負極シート120を計二枚の長尺シート状セパレータセパレータシート130とともに積層して捲回し、次いで得られた捲回体を側面方向から押しつぶして拉げさせることによって作製される扁平形状の捲回電極体180が収容される。捲回電極体180は、図10に示すように、シート状電極体182を捲回することによって形成されている。シート状電極体182は、捲回電極体180を組み立てる前段階における長尺状帯状のシート構造を有している。シート状電極体182は、典型的な捲回電極体と同様に正極シート110と負極シート120を計2枚のセパレータシート130と共に積層して形成されている。正極シート110は、長尺シート状の箔状の正極集電体112の両面に正極活物質層114が付着されて形成されている。ただし、正極活物質層114はシート状電極体の幅方向の端辺に沿う一方の側縁には付着されず、正極集電体112を一定の幅にて露出させている。負極シート120も正極シート110と同様に、長尺シート状の箔状の負極集電体122の両面に負極活物質層124が付着されて形成されている。ただし、負極活物質層124はシート状電極体の幅方向の端辺に沿う一方の側縁には付着されず、負極集電体122を一定の幅にて露出させている。また、正負極シート110、120間に使用されるセパレータシート130としては、例えば多孔質ポリオレフィン系樹脂で構成されたものが挙げられる。あるいはポリプロピレンPP/ポリエチレンPE/ポリプロピレンPPの3層構造を有するセパレータであってもよい。上記捲回電極体を構築する際には、正極シート110の正極活物質層非形成部分と負極シート120の負極活物質層非形成部分とがセパレータシート130の幅方向の両側からそれぞれはみ出すように、正極シート110と負極シート120とを幅方向にややずらして重ね合わせる。その結果、捲回電極体180の捲回方向に対する横方向において、正極シート110および負極シート120の電極活物質層非形成部分がそれぞれ捲回コア部分すなわち正極シート110の正極活物質層形成部分と負極シート120の負極活物質層形成部分と二枚のセパレータシート130とが密に捲回された部分から外方にはみ出ている。かかる正極側はみ出し部分すなわち正極合剤層の非形成部分116および負極側はみ出し部分すなわち負極合剤層の非形成部分126には、正極リード端子176および負極リード端子178がそれぞれ付設されており、上述の正極端子172および負極端子174とそれぞれ電気的に接続される。そして、ケース本体152の上端開口部から該本体152内に捲回電極体180を収容するとともに適当な電解質を含む電解液をケース本体152内に配置注液する。電解質は例えばLiPF6等のリチウム塩である。例えば、適当量例えば濃度1MのLiPF6等のリチウム塩をジエチルカーボネートとエチレンカーボネートとの混合溶媒例えば質量比1:1のような非水電解液に溶解して電解液として使用することができる。その後、上記開口部を蓋体154との溶接等により封止し、本実施形態に係るリチウム二次電池1000の組み立てが完成する。ケース150の封止プロセスや電解質の配置注液プロセスは、従来のリチウム二次電池の製造で行われている手法と同様でよく、本発明を特徴付けるものではない。このようにして本実施形態に係るリチウム二次電池1000の構築が完成する。以上、本発明を好適な実施形態により説明してきたが、こうした記述は限定事項ではなく、勿論、種々の改変が可能である。例えば、帯状基材10の幅方向に沿って配置される変位センサの数は上述した2つに限らず、2つ以上例えば2~5つであってもよい。センサの数が多いほど、帯状基材10に形成された塗膜12の膜厚分布をより高精度に測定することができる。ただし、上述した実施形態の如く、2つの変位センサを用いる態様が装置構成を簡略化する観点から好ましい。また、上述した例では、本発明の塗膜形成装置を電極製造用の塗膜形成装置として使用する場合について説明したが、これに限定されない。本発明に係る膜厚分布測定装置および塗膜形成装置は、リチウム二次電池などの電池の捲回電極体の構成要素となる、帯状電極に電極活物質の塗膜を形成する工程に限らず、帯状基材に塗膜を形成する用途に広く適用できる。