"ペルチェ素子、前記ペルチェ素子上の接着剤、前記ペルチェ素子に結合されたウェルブロック、および前記ペルチェ素子に結合されたヒートシンクを含み、前記ウェルブロックおよび前記ヒートシンクのうちの少なくとも一方が、前記接着剤を介して前記ペルチェ素子に結合される、熱循環装置。前記ウェルブロックが前記ヒートシンクにクランプされる、請求項1に記載の熱循環装置。前記ウェルブロックが前記ヒートシンクにクランプされない、請求項1に記載の熱循環装置。前記接着剤が、前記ウェルブロックと前記ペルチェ素子プレートとの間に配置される、請求項1に記載の熱循環装置。前記接着剤が、前記ペルチェ素子プレートと前記ヒートシンクとの間に配置される、請求項1に記載の熱循環装置。前記接着剤が、前記ウェルブロックと前記ペルチェ素子との間に配置され、また、前記接着剤が、前記ペルチェ素子と前記ヒートシンクとの間にも配置される、請求項1に記載の熱循環装置。前記ペルチェ素子が、前記接着剤を介して前記ヒートシンクに結合される、請求項1に記載の熱循環装置。前記ペルチェ素子が、ハンダを介して前記ヒートシンクに結合される、請求項1に記載の熱循環装置。前記ウェルブロックが複数のウェルを含み、各ウェルが、円錐形部分の下方に配置された全体的に円筒形の部分と、平坦な底部とを含み、前記平坦な底部が、前記全体的に円筒形の部分に対して垂直である、請求項1から8までのいずれか一項に記載の熱循環装置。前記接着剤が、シリコーンベース化合物を含む、請求項1から9までのいずれか一項に記載の熱循環装置。前記接着剤が、前記装置が上下逆さまにされたときに、前記ウェルブロックおよび前記ヒートシンクのうちの少なくとも一方に隣接した前記ペルチェ素子を保持する、請求項1から10までのいずれか一項に記載の熱循環装置。前記接着剤が、少なくとも95°Cほどの高温と少なくとも60°Cほどの低温との間で、少なくとも約5,000回、少なくとも約10,000回、少なくとも約100,000回、または少なくとも約200,000回の循環が可能であり、かつ、前記装置が上下逆さまにされたときになおも前記ヒートシンクを保持する、請求項1から11までのいずれか一項に記載の熱循環装置。前記接着剤が、少なくとも約15、約15から約1,000の間、約35から約700の間、約70から約500の間、または100から約200の間の伸びの弾性を有する、請求項1から12までのいずれか一項に記載の熱循環装置。前記接着剤が、約1kgf/cm2から約75kgf/cm2の間、約10kgf/cm2超、約10kgf/cm2から約45kgf/cm2の間の、下塗りなし重ね剪断接着強さを有する、請求項1から13までのいずれか一項に記載の熱循環装置。前記接着剤が、約1,000センチポイズから約200,000センチポイズの間、約10,000センチポイズから約150,000センチポイズの間、約20,000センチポイズから約80,000センチポイズの間、または約30,000センチポイズから約40,000センチポイズの間の粘度を有する、請求項1から14までのいずれか一項に記載の熱循環装置。前記接着剤が、25°/77°Fで約0.7ワット/メートル-Kから約2.5ワット/メートル-Kの間の熱伝導率を有する、請求項1から15までのいずれか一項に記載の熱循環装置。前記熱循環装置が筐体内に設けられ、前記筐体が光学系をさらに備える、請求項1から16までのいずれか一項に記載の熱循環装置。前記熱循環装置が、前記熱循環装置を制御するための計算装置を備える、請求項1から17までのいずれか一項に記載の熱循環装置。前記熱循環装置にサンプルを装填するように構成されたロボットユニットをさらに備える、請求項1から18までのいずれか一項に記載の熱循環装置。複数のウェルを含むウェルブロックであって、各ウェルが、円錐形の部分の下方に配置された全体的に円筒形の部分と、平坦な底部とを含み、また、前記平坦な底部が前記円筒形の部分に対して垂直である、ウェルブロックと、前記ウェルブロックに結合されたペルチェ素子と、前記ペルチェ素子に結合されたヒートシンクと、を含む、熱循環装置。前記円錐形の部分が、前記円筒形の部分と約16°の角度を作る、請求項20に記載の熱循環装置。前記全体的に円筒形の部分の壁が、前記平坦な底部とある角度を作り、前記角度が90°から95°の間である、請求項20に記載の熱循環装置。前記平坦な底部が前記ペルチェ素子と接触する、請求項20から22に記載の熱循環装置。各ウェル内に配置される円錐形サンプルウェルが前記ウェルの前記平坦な底部に接触することができないように、前記ウェルがそれぞれ構成される、請求項20から23に記載の熱循環装置。円錐形の部分を含む円錐形サンプルウェルが各ウェル内に配置されるときに、前記サンプルウェルの前記円錐形の部分が前記ウェルの前記円錐形の部分と接触するように、前記ウェルがそれぞれ構成される、請求項20から24に記載の熱循環装置。各平坦な底部がベースプレートに結合される、請求項20から25に記載の熱循環装置。複数のペルチェ素子をさらに含み、所定の数のウェルが各ペルチェ素子に結合されて、所定の数の熱的ゾーンを前記ウェルブロックに形成する、請求項20に記載の熱循環装置。前記ウェルの前記平坦な底部を介して、互いに隣接したウェルの第1の対に結合された、第1のベースプレートをさらに含み、それにより、前記第1のベースプレートに伝達された熱が、次いで前記ウェルの第1の対に伝達される、請求項20から27に記載の熱循環装置。前記ウェルの前記平坦な底部を介して、互いに隣接したウェルの第2の対に結合された、第2のベースプレートをさらに含み、前記第1および第2のベースプレートが前記ペルチェ素子上で対にされ、それにより、前記ペルチェ素子から前記第1および第2のベースプレートを介して、前記ウェルの第1および第2の対を含む4つのウェルのセットへ熱が伝達される、請求項28に記載の熱循環装置。前記第1のベースプレートおよび前記第2のベースプレートが、前記ペルチェ素子プレートから延在する線がそれを通じて延在することができる空間により、互いに分離される、請求項29に記載の熱循環装置。ウェルブロックと、ペルチェ素子であって、前記ウェルブロックが直接ハンダ付けされた、ペルチェ素子と、前記ペルチェ素子に結合されたヒートシンクと、を含む、熱循環装置ヒートシンクと、前記ヒートシンクの上方の複数のペルチェ素子と、各ペルチェ素子の上方の第1および第2のベースプレートの対と、4ウェルゾーンを複数含むウェルブロックと、を含む、熱循環装置であって、各4ウェルゾーンが、ウェルの第1の対およびウェルの第2の対を含み、各ウェルの第1の対および各ウェルの第2の対が、それぞれ、前記第1のベースプレートおよび前記第2のベースプレートの上方に位置し、それにより、1つのペルチェ素子が、1つの4ウェルゾーンに対して熱伝達をもたらす、熱循環装置。前記複数のペルチェ素子が、少なくとも24個の個別に駆動されるペルチェ素子を含む、請求項32に記載の熱循環装置。前記個別に駆動されるペルチェ素子のそれぞれが、プリント回路に接続された熱送り要素を有し、前記プリント回路が抵抗測温体に接続される、請求項33に記載の熱循環装置。サンプルを循環させるための方法であって、上面および複数のサンプルウェルを有するサンプルプレートを用意するステップと、ウェルブロックを含む熱循環装置であって、前記ウェルブロックが複数のウェルを含む、熱循環装置を用意するステップと、前記サンプルウェルを前記ウェルブロックの前記ウェル内に配置するステップと、サンプルが前記サンプルプレートの前記上面とほぼ同じ高さになるように、ある量の前記サンプルを前記サンプルウェルのうちの少なくとも1つの中に配置するステップと、を含む、方法。各サンプルウェルが、約1.27cm約0.5インチから約1.524cm約0.6インチの範囲の平均的深さを有し、前記ウェルブロックが複数のウェルを含み、各ウェルが約0.762cm約0.3インチの平均的深さを有する、請求項35に記載の方法。ヒートシンクと、前記ヒートシンクに熱的に結合された複数のペルチェ素子と、複数のゾーンを含むウェルブロックであって、各ゾーンがそのそれぞれのペルチェ素子に熱的に結合され、また、各ゾーンが1つまたは複数のウェルを含む、ウェルブロックと、を含む、熱循環装置であって、各ペルチェ素子が、前記ウェルに均一に温度を与えるために個別に駆動される、熱循環装置。各ゾーンが4つのウェルを含む、請求項37に記載の熱循環装置。複数のウェルがそこから延在している上面を有するウェルブロックであって、前記ウェルが複数の列に配置され、各ウェルが底部を有している、ウェルブロックを準備するステップと、先行ベースプレートシートを前記ウェルの前記底面に付着させるステップと、前記先行ベースプレートシートの一部分を取り除いて、ウェルの列の間にチャネルを形成するステップと、を含む、ウェルブロック組立体の製造方法。前記ウェルの前記底面が平底である、請求項39に記載のウェルブロック組立体。前記先行ベースプレートシートの前記部分が、機械加工、打抜加工、プレス加工、およびダイシングから成る群から選択された方法によって取り除かれる、請求項39に記載のウェルブロック組立体。0035図1は、各サンプルウェル82がウェルブロック110のウェル120内に位置決めされるように、熱循環装置100のウェルブロック110上に位置決めされる準備ができた、サンプルウェル82を有するサンプルプレート80を示す。図2は、サンプルプレート80が熱ブロックプレート110上に位置決めされた後の、同じコンポーネントを示す。熱循環装置100の構成は、図3~図6を観察することで理解することができる。図3は、図2中に設けられた切欠き部分の拡大図である。図4~図6は、熱ブロックプレート上のサンプルプレートの、図2中の切断線4-4に沿って分離した断面図を提供する。図3および図6は、各サンプルウェル82内の一例としてはPCR用のサンプル90と、ウェルブロック110、ベースプレート140、接着剤の層150、ペルチェ素子160、別の接着剤の層170、およびヒートシンク180を含む100で示された熱循環装置の実施形態の構成要素と、を示す。図3~図6に示されているように、ウェルブロック110は、サンプルウェル82の側壁84のおおよそ半分の高さまで上方に延在する。しかし、これは例示的なものに過ぎず、図7に示された背の高いウェルブロック110’などの、他のウェルブロックの高さが本発明の範囲に入ることを理解されたい。図5に示された構成要素の分解斜視図は、最も洞察に満ちた図を提供し、この図により、各4ウェルゾーンに対して1対のベースプレート140があること、および、隣接した2つのウェル間に各対がまたがることが分かる。また図5では、接着剤の層150がペルチェ素子160との接点を提供することが分かる。さらに、ペルチェ素子160が、接着剤の層150を介してベースプレート140の対に熱的に接続されることが分かる。0036ウェルブロック110の複数のウェル120について、図6でより詳細に分かる。ウェル120は、上部円錐形側壁122、移行部側壁124、下部円筒形側壁126、および底部128を有して示されており、底部128は、平坦であって、下部円筒形側壁126の間に延在する。平底128はベースプレート140上に位置し、ベースプレート140は、接着剤150上に位置して、ペルチェプレート160に熱的に接続される。図6はまた、側壁84、ウェル82の丸みを帯びた底部領域86、および丸形頂点88を含むサンプルウェル82の構成について、より詳細に示す。0037接着剤の層150および170は、同じ材料とすることができる。接着剤は、延性および可撓性があり、比較的高い熱伝導率、および低い粘度を有する。例示的には、接着剤は、ペルチェ素子160とウェル120との間の熱伝達の均一性を高める。一実施形態では、接着剤は、ヒートシンクにウェルブロックをクランプするために使用される従来のクランプを使用することなしに、装置100を組み立てることを可能にする。装置100などの実施形態で接着剤が使用される場合、接着剤は、たとえウェルブロック110がヒートシンク180にクランプされずに装置100が上下逆さまにされたとしても、接着剤と接触しているウェルブロック110のウェル120および/またはヒートシンク180などの構造物に隣接したペルチェ素子160を保持することが可能である。0038適切な接着剤の様々な実施形態は、少なくとも95°C程度の高温から少なくとも60°C程度の低温の間で、少なくとも約5,000回、少なくとも約10,000回、少なくとも約100,000回、または少なくとも約200,000回の循環が可能であり、なおもペルチェ素子160を保持することが可能である。適切な接着剤の様々な実施形態は、下記の実施例で定義されるように、少なくとも約15、20、22、35、40、50、55、60、70、90、110、120、180、200、400、または、約15から約1,000、約35から約700、約70から約500、もしくは100から約200の間などのこれらの値の組み合わせの範囲内の伸びを有することができる。0039適切な接着剤はまた、約1kgf/cm2から約75kgf/cm2の間、約10kgf/cm2超、約10kgf/cm2から約45kgf/cm2の間の、下塗りなし重ね剪断接着強さunprimedadhesionlapshearを有することができる。接着剤の粘度は、約1,000センチポイズから約200,000センチポイズの間、約10,000センチポイズから約150,000センチポイズの間、約20,000センチポイズから約80,000センチポイズの間、または約30,000センチポイズから約40,000センチポイズの間におよびうる。0040様々な実施形態はまた、下記の実施例で定義されるように、少なくとも約0.39、0.40、0.74、0.77、0.84、0.85、0.9、0.92、0.95、1.1、1.4、1.53、1.8、1.9、1.97、2.2、2.5、または、約0.74から約2.5もしくは約0.9から約1.8などのこれらの値の組み合わせの範囲内の、熱伝導率を有することができる。一実施形態では、接着剤は、25°C/77°Fで約0.7ワット/メートル-Kから約2.5ワット/メートル-Kの間の熱伝導率を有する。別の実施形態では、接着剤は、25°C/77°Fで約0.8ワット/メートル-Kから約2.0ワット/メートル-Kの間の熱伝導率を有する。一実施形態では、接着剤は、25°C/77°Fで約0.9ワット/メートル-Kから約1.5ワット/メートル-Kの間の熱伝導率を有する。さらに別の実施形態では、接着剤は、25°C/77°Fで約1.0ワット/メートル-Kを超える熱伝導率を有する。さらなる実施形態では、重合体は、25°C/77°Fで約1.1ワット/メートル-Kの熱伝導率を有する。0041適切な接着剤の実施例は、非硬化型の熱伝導性シリコーンペーストを含む。非硬化型の適切な熱伝導性シリコーンペーストの具体的な商標名は、実施例に記載されたものによって挙げられる。0042図7に100’で図示された熱循環装置の実施形態は、装置100’がベースプレート140などのベースプレートを有さないので、装置100とは異なる。また、装置100’は、背の高い側壁122’を有するウェル120’を備えるウェルブロック110’を特徴とする。ここで開示されたウェルブロックの実施形態はそれぞれ、側壁122または側壁422の代わりに、そのような背の高い側壁を有しうる。ウェル120’は、直接に接着剤の層150の上に位置して接着剤の層150と接触している、平底128を有する。装置100’の構成は、装置100の構成と比較して、接着剤の層150が付着する面積をより少なくするが、装置100’の構成はまた、ベースプレートがないため、熱が通過するための部分がより少なくなるので、ペルチェ素子160とウェル120’との間でのより迅速な熱伝達を可能とする。0043図8A~図8Bは、熱循環装置の別の実施形態を200で図示している。装置200は、接着剤の代わりに、270で示された、カーボンシートまたはグリースまたは他の非結合熱界面材料を特徴とする。任意で、接着剤の層150も非結合熱界面材料270と置き換えることができる。カーボンシートまたはグリースは、装置100’が上下逆さまにされるときに、ヒートシンク180に隣接したペルチェ素子160を保持しないので、クランプバー230を用いてウェルブロック110をヒートシンク180にクランプすることが必要である。あるいは、クランプバー230は、シリコーンなどの適切な材料から形成されうる薄い圧縮パッドまたは柔軟層232の上に位置することができる。クランプバー230は、隣接するベースプレート140を横切って延在し、また、クランプ装置のための従来の機構を用いて、その端部において装置200に取り付けることができる。また、ウェルブロックを通じてヒートシンク内まで延在する、クランプねじを使用することも可能である。様々なクランプバーおよびクランプねじの実施形態が、当技術分野で知られている。0044図9は、熱循環装置の別の実施形態を300で図示している。装置300は、ペルチェ素子160とヒートシンク180との間のハンダ370を特徴とする。図6~図7に示されている実施形態と同様に、この構成を用いても、ウェルブロック110をヒートシンク180にクランプする必要はない。0045図10は、熱循環装置の別の実施形態を400で図示している。装置400は、側壁422を有するウェル420を備えるウェルブロック410を特徴とし、側壁422は、平底の代わりに、丸みを帯びた底部426に移行し、丸みを帯びた頂点428を有する。また、各ウェル420の丸みを帯びた底部は、一例としては直接にペルチェ素子160に接触している丸みを帯びた頂点428と共に、ハンダ440の中に位置する。図7に示されているようにウェル120などの平底を有するウェルも、ウェル420と同様に直接ペルチェ素子にハンダ付けすることができる。0046図11は、熱循環装置の別の実施形態を500で図示している。装置500は、ハンダ350を介してペルチェ素子160にハンダ付けされたベースプレート240上のウェルブロック110を特徴とする。ペルチェ素子160が非結合熱界面材料270上に位置するので、装置200に関して上述したのと同じ構成を用いて、クランプバー230も使用される。上記で論述されかつ100、100’、200、300、400、および500で図示された装置に加えて、他の組み合わせも使用することができる。例えば、装置500は、ハンダ350を接着剤150またはカーボンもしくはグリースなどの非結合熱界面材料270と置き換えることによって、変更することができる。0047図12は、図1~図6に示されている実施形態に対応し、単一のゾーンの構成要素の全てを示している。装置100は、4ウェルゾーンを複数含むウェルブロック110を有し、各4ウェルゾーンは、ウェル120の第1の対およびウェル120の第2の対を含み、各ウェル120の第1の対、および各ウェル120の第2の対は、1つのペルチェ素子160が1つの4ウェルゾーン対して熱伝達を提供するように、第1のベースプレートおよび第2のベースプレートの上に、それぞれ位置する。各ペルチェ素子160は、接着剤150を介してベースプレート140の対を加熱または冷却して、4つのウェル120の各底部128および側壁122を介して4つのサンプルウェル内のサンプルを加熱または冷却する。ヒートシンク180は、接着剤170を介してペルチェ素子160に熱的に接続される。4ウェルゾーンが一例に過ぎず、また各ゾーンが他の様々な数のウェルを含みうることを理解されたい。0048ウェル120の構成に関するより詳細な情報は、図12~図14を参照することによって理解することができる。図14は、ウェル120の寸法を説明するための参照記号を提供する。下部円筒形側壁126の長さはL1として識別され、平底128の直径はL2として識別され、ウェル120の深さはL3として識別され、上部円錐形側壁122と下部円筒形側壁126から延びる線との間の角度は、α1として識別される。一実施形態における上部円錐形側壁122と下部円筒形側壁126との間の角度α1は、16.3°のように約16°であるが、他の角度も本発明の範囲内に入り、市販されているマイクロタイタープレートの外形寸法におおよそ一致しうる。下部円筒形側壁126と平底128との間の角度α2は、90°と等しいか、92°のように90°よりわずかに大きいが、他の角度も本発明の範囲内に入る。一例として、90°の角度のα2が予定されていても、製造過程において使用される型からウェルブロック110を取り外し易くするために、90°よりもわずかに大きい角度が望まれる場合がある。90°よりもわずかに大きい角度がα2に対して使用される場合、円筒形側壁126が、全体的に円筒形の部分、すなわち、実際にはわずかに円錐形の部分を画定するということを理解されたい。α2は、一例としては90°α1未満であり、一例としては95°以下であり、さらに一例としては92°以下である。0049従来技術の構成と比較した平底128の利点は、その形状をより均一性をもって製造することができること、および、より均一でより迅速な速度での熱の伝達を可能とする追加の表面積を提供することである。しかし、平底128が、側壁126の近くに丸みを帯びた縁部を有しうること、または円筒形側壁126の一方の側から他方の側まで完全に平坦とはされない可能性があることを、理解されたい。さらに、下部円筒形側壁126はウェル120内へのサンプルウェル82の挿入に干渉しないので、ウェル120の形状により、サンプルウェル82が各ウェルブロック内のウェルの側壁122と最大限に接触することが可能になる。0050図7に示されるように、ウェルブロック110’の標準のウェル120’は、サンプルウェル82の高さに近く、また、例示的には、96ウェルプレートに対して、約1.27cm約0.5インチ~1.524cm0.6インチの深さを有する。そのようなウェルブロックは、サンプルウェル82を多量のサンプルで満たすことを可能にし、また、静温度になりうる加熱蓋の効果を緩和する。図1~図6、図8~図17、図20~図22、および図25に含まれる、本開示で示されるほとんどの実施形態は、96ウェルプレートに対して、一例としては約0.762cm0.3インチに過ぎない、より短いウェル120の深さL3を有する。この構成の利点は、特に冷却中に発生する、側壁での凝縮を緩和することである。従来のウェルと比較してウェルの高さが減少したことによるこの構成の別の利点は、従来技術の構成と比較してウェルブロックの体積が減少することであり、このことにより、熱循環速度が向上する。ウェルブロックのウェルの高さの選択が、特定の用途に依存すること、および、どちらの構成も、本明細書において開示された様々な実施形態とともに使用されうることを、理解されたい。0051図15A~図15Cは、ウェルの底部上にベースプレートの対を得るための、説明に役立つウェルブロック組立体149の製造方法を図示している。まず、図15Aに示されるように、先行ベースプレートシート142が用意され、次に、図15Bに示されるように、一例としてはハンダ付けにより、先行ベースプレートシート142が平底128に付着される。次に、図15Cに示されるように、先行ベースプレートシートの一部分が取り除かれて、隣接したウェルにまたがるベースプレート144a、144bの対が得られる。ベースプレートシートの一部分は、機械加工、打抜加工、プレス加工、またはダイシングなどの任意の従来の方法によって取り除くことができる。あるいは、最初にベースシートを切断して、それにベースプレートを付け加えることができる。先行シート142の一部分を取り除くことによりチャネル141が形成され、このチャネル141は、図26~図27に示されるように、一例としてはペルチェ素子160または測温体167に配線するための、配線用の空間として使用することができる。図16は、対を成すベースプレートの部分を有するウェルブロック110の、別の図を示す。図17は、ベースプレート140の長さに関する識別記号L4を提供する。0052図18および図19は、異なる実施形態に関する同じ図を提供する。図18は、装置100に対応する。図19は、4つより多くのウェルを接続するベースプレート240を示す。そのような実施形態は結果として、制御面での低下を伴いながらも、均一性を向上させることになる。ベースプレート240はまた、図8A~図8Bおよび図11に示されているクランプバー230などのクランプバーと共に、より容易に使用される。幾つかの実施形態では、固体ベースプレートが、一例として凹設された温度センサと共に、許容されうる。0053図20~図22は、図19に図示されたのと同じ実施形態を、異なる視点から示す。図22は、ベースプレート140’の長さの識別記号を提供し、これは、周囲に位置するウェルにベースプレート140’がまたがる場合は、L5であり、周囲に位置しないウェルにベースプレート140’がまたがる場合は、L6である。0054図23A~図23Bは、ペルチェ素子160に関するより詳細な図を提供する。プレート162とプレート164の間では、熱送り要素163がプリント回路166に接続され、プリント回路166は、一例としてはハンダまたは接着剤により、一例としては抵抗測温体である測温体167に接続される。0055図24~図25は、装置100の製造方法を図示している。図24は、接着剤170上に設置されているペルチェ素子160を示す。図25は、接着剤150をペルチェ素子160上に設置し、続いてベースプレート140を接着剤150上に設置する、その後のステップを示す。この構成の利点は、上述されたようなクランプまたはねじが必要とされないことである。しかし、装置100にそのようなクランプまたはねじを使用することが妨げられるということではない。0056図24~図25に示されるように、24個のペルチェ素子160が使用されるが、所望の用途に応じて、より多くのまたはより少ないペルチェ素子160を使用できることを理解されたい。例示的には、96ウェルプレートに対して、4個から96個のペルチェ素子を使用することができる。4個のペルチェ素子を使用する場合には24ウェルのゾーンを伴い、1ウェルのゾーンまで至ると、各ペルチェ素子が個々のウェルを制御する。説明に役立つ一実施形態では、各ペルチェ素子160は、個別に駆動される。一例としては、ペルチェ素子160は、直列でも並列でもない。そのような実施形態は、例えば、外側のペルチェ素子を若干高い温度まで加熱し、それにより外側のウェル、特に隅部のウェルにおいて最高温度が低くなる問題を軽減させることにより、ウェル-ウェル間の均一性をより高めるために使用することができる。個別に駆動されるペルチェ素子160はまた、プレート全域での温度勾配を提供するために使用することができる。0057図26は、ヒートシンク180上の一連の24個のペルチェ素子160、およびペルチェ素子160をプリント回路に接続するそれらの線の透視図である。プリント回路は、測温体167に接続される。0058図27は、図26に示されたペルチェ素子上のウェルブロック110、およびそれらの関連する線181を示す。図15Cで明らかなように、各対のベースプレート140間に、空間であるチャネル141があり、そのため、ウェルブロック110およびベースプレート140がペルチェ素子160上に設置されたときに、ペルチェ素子160から延びる線は、この空間を通じて延在することができる。0059図28は、熱循環装置100を含む自動システムを示す。熱循環装置100は、筐体101内に取り付けられる。ウェルブロック110は、サンプルプレート80が開口部102に挿入され次第、サンプルプレート80を受け入れるように位置決めされる。図28に示されるように、開口部102は可動蓋であるが、開口部102は、スロット、ドアなどを含む、当技術分野で知られた任意の型式の開口部とすることができることを理解されたい。任意で、蓋機構は、サンプルウェル82内のサンプルを密閉するように、または、サンプルプレート80のウェル82をウェルブロック110のウェル120により接触させるように、サンプルプレート80の上へと降りてもよい。実時間データ収集またはポストPCR融解post-PCRmeltingが所望される場合、光学ブロック109が、サンプルの励起および検出のために設けられうる。光学ブロック109は、当技術分野で知られているように、単色または多色による検出を提供することができる。0060システムは計算装置104を含み、この計算装置104は、1つまたは複数のプロセッサ、記憶装置、コンピュータ可読媒体、1つまたは複数のHMIデバイス103例えば、入出力デバイス、表示装置、印刷機、など、1つまたは複数の通信用インターフェース例えば、ネットワークインターフェース、ユニバーサルシリアルバスUSBインターフェース、など、などを含みうる。計算装置104は、筐体101内に設けるか、または、ひざ載せ型もしくは卓上型のコンピュータのように別々に設けることができ、または、計算装置104の一部分を筐体101内に常駐させると同時に、他の部分を別々に配置して、配線を通じてまたは無線で接続することができる。計算装置104は、熱循環装置100および光学ブロック109を制御するためのコンピュータ可読プログラムコードをロードするように構成されうる。説明に役立つ一実施形態では、筐体101内の熱循環装置100は、ロボットユニット105と共に自動システムに設けられうる。ロボットユニット105は、サンプルをサンプルウェル82に装填し、次いで開口部102を通じてサンプルプレート80を筐体101に装填するように、プログラムされうる。任意で、ロボットユニット105は、サンプルウェル82へ装填する前にサンプルを用意することもできる。プレート80をウェルブロック110内へと配向するために、教示点がロボットユニット105によって使用されうる。教示点134a~cは、図16で最も良く分かり、ここでは3つの教示点が使用されている。この説明に役立つ構成では、教示点134aが第1の縁部177の近くに配置される一方で、教示点134bおよび134cが、ウェルブロック110の第2の縁部178の近くに配置される。3つの教示点により、ロボットユニット105は、ウェルブロック110の向きを容易に確認することができる。しかし、3つの教示点が例示的なものであり、任意の数の教示点を使用することができることを、理解されたい。ロボットユニット105の制御は、計算装置104を通じたものであってもよく、または、ロボットユニット105は、個別のプロセッサによって制御されてもよい。任意で、ロボットユニット105は、複数の熱循環デバイスにサンプルを装填するように構成することができる。0061接着剤の実施例0062エラストマ弾性材料の引張強さおよび伸び率を測定するための例示的な方法を、以下に説明する。この方法は、ASTMD412ではないが、それに密接に基づいている。この例示的な方法の場合、装置は以下のものとされうるが、必要とされる確度および精度が可能とされるならば、類似の機器を使用することができる。使用されるダイは、任意の適切な供給元からの、ASTMD412ダイC、または規定されている他のものとすることができる。使用される印し器は、ダイCおよびDに対しては1±0.003インチ2.54±0.0076cm離れた2本の平行線を用い、ダイA、B、E、およびFに対しては2±0.003インチ5.08±0.0076cm離れた2本の平行線を用いる、任意適切な商業用ゴム印台の供給元からの標線印し器とすることができる。使用されるマイクロメータは、±0.001インチ0.02mmに対応し、かつ1.5psi10kpa以下の合力を働かせる、任意の適切な供給元からのものとすべきである。使用される型は、アルミニウム製であって、少なくとも4インチ×4インチ10.2cm×10.2cmで0.06インチから0.12インチ0.15cmから0.30cmの厚さのサンプルを作成することができる、任意の適切な供給元からのものとすることができる。プレス機は、試験棒の切断に適した任意の小型手動プレス機とすることができる。そのようなプレス機の例には、MonsantoInstruments、Akron、OH;InstronCorp.、Canton、MA;または、UnitedTestinsSystems、AuburnHeights、MIからの引張試験機が含まれる。0063当業者であれば気づくはずであるが、注意すべきは、ダイを不適切に取り扱うことによって悪影響がもたらされる可能性があることである。縁部は鋭くなければならず、また、常に欠けキズから保護されなければならない。0064被検材料の標準的な試験スラブ厚さ0.080±0.008インチ、2.0±0.2mmを、規定されているように成形しかつ硬化させた。スラブを、室温で少なくとも3時間にわたって、平らな面上に放置した。試験を行う部屋は、23±2°Cに維持した。ASTMD412ディスクまたは他の規定のダイ、およびプレス機を使用して、材料の筋目があるならばそれと平行に、3本の棒すなわち規定の数の試験棒を切断した。0065標準的な試験棒を切断するのに十分な材料が入手できない場合、真っ直ぐなサンプルを引っ張ってもよいことに注意する。しかし、その幅は測定されなければならない。これらの場合では、A=W/[DL]であって、式中、Aはcm2での面積であり、Wはグラムgでの空中重量であり、Dはg/cm3での密度であり、Lはcmでの長さである。同様に、適切な棒を切り出すには小さ過ぎる管状材料の小片は、その面積が計算されるのであれば、引っ張ることができる。3/8インチ0.95cm以下のODを有する管状材料に対しては、上記の式が近似しうる。他の場合では、A=CSA,1-CSA,2であって、式中、CAS,1は外径を使用した面積であり、CSA,2は内径を使用した面積である。0066各試験棒の厚さ{0.001インチ0.02mmまで}を、細くなった区間の端から端までの3箇所で測定した。3つの測定値の中央値を、Thとして記録した。測定値が0.003インチ0.07mmを超えて変化した場合、試験棒は廃棄された。例えば永久延びを必要とする場合、試験棒のそれぞれを、細くなった区間の中心線から等距離でありかつその長手軸に対して垂直な、1インチ2.54cmのL,o標線で印付けた。サンプルが試験に先立って熱熟成または熱貯蔵される場合は常に、インクがサンプルに影響を及ぼす可能性があるならばインクマークを用いるのではなく、端部を切欠くことにより、それらのサンプルを識別のために印付けすることに、留意されたい。0067試験棒を試験機の把持部内に設置し、試験中、張力が試験棒の断面にわたって均一に分散されるように、調整した。機械を始動し、試験棒を破壊点まで引き延ばして、規定されているように計算を完成するのに必要なデータを記録した。計器には機械的または電気的な測定システムが装備されうること、および、計器が手動または自動の記録システムを備えうることに、留意されたい。計算は、試験計器に取り付けられたコンピュータによって行われてもよい。0068この例示的な方法では、試験棒の破断点は、ダイに関する問題の兆候として観測されなければならない。したがって、全てのサンプルが同じ面積で破断した場合、ダイの問題が存在する可能性がある。この問題が生じた場合、残りの試験棒を用いて試験を繰り返した。別の報告態様が指定されていない限り、必要な結果が計算され、中央値が報告された。指定されている場合、他の報告態様または値、例えば平均値、重み付き平均値、最低値、最高値が報告されうる。00693つの試験棒の中央値を使用したが、仕様適合試験時に値のうちの1つまたは複数が規定要求事項に満たない場合、または、サンプルが審査用材料かもしくはラウンドロビン材料であった場合は、別である。これらの場合では、全部で5つの試験棒が引っ張られて、中央値が報告された。0070結果が無効であるという何らかの兆候があった場合、全ての試験を繰り返した。そのような兆候の例は、最大値および最小値が中央値から±15であること、全ての試験棒で破断点が一定であることすなわち、ダイの損傷、切断技法の悪さまたはダイの損傷に起因する試験棒の縁部の欠けキズ、および、気泡、流れキズなどであり、これらはサンプル調整の悪さを意味する場合がある。0071永久伸びが求められる場合、2つの小片を10分間放置し、次いで、破断した箇所で完全に接触するように、それらを注意深く組み合わせた。標線間の距離を測定して、L,2として記録した。0072この例示的な方法では、引張試験機、標線印し器、およびマイクロメータを所定の較正スケジュールに入れた。0073以下の定義は、この方法において使用される用語に適用される。0074伸びとは、元の長さに対するパーセンテージとして表される、破断に至るまでの試験棒の伸張であり、標線によって測定される。これは、極限伸びまたは破断伸びとしても知られている。この用語はまた、モジュラスまたは永久伸びと共に使用されるときには、特定の伸張率を説明するのに使用される場合があるすなわち、伸び200時のモジュラス。伸びElongation,は、[{L,1-L,o}100]/L,oとして計算され、式中、L,1は破断時の標線間の長さであり、l,oは標線間の元の長さである。伸びゲージおよび1インチ2.54cmの標線間隔を用いると、伸び率は、E,として直接読み取ることができる。0075モジュラスとは、特定の伸び率で試験棒の元の断面積単位当たりに印加される力すなわち、所与の伸びでの引張応力である。この用語は、通常、規定の伸び率を伴い、一般に、モジュラス、200と書かれる。モジュラスは、[F係数]/[WTh]=psiとして計算され、式中、Fは、印加された力またはEでのダイヤル読取り値であり、係数は、ダイヤル読取り値を重量ポンドに変換するのに必要な計器係数であり、Wは、引っ張る前の細くなった区間の幅{ダイCの場合、0.250インチ0.635cm}であり、Thは、引っ張る前の細くなった区間の中央厚さであり、Eは、規定の伸び率であり、KPaは、psi×6.8948である。0076引張強さとは、試験棒の破断中に印加された最大引張応力である。引張強さは、[F係数]/[WTh]=psiとして計算され、式中、Fを除く全ての記号は、上記で定義された通りであり、Fは、サンプルを破断するまでに印加された最大力である。0077引張応力とは、試験棒の元の断面積単位当たりの印加された力である。0078破断後永久伸びtensionsetafterbreakとは、試験棒が破断するまで延伸されてから10分間収縮が許容された後に残っている残留歪伸張であり、標線の元の長さに対するパーセンテージとして表される。これを永久伸びと混同してはならない。破断後永久伸びは、Set,=[{L,2-L,o}100]/L,oとして計算され、式中、L,oは、標線間の元の長さであり、L,2は、破断後に10分間放置した後の標線間の長さである。0079永久伸びとは、試験棒を所与の伸び率まで延伸させてから収縮させた後に残る歪伸張であり、標線の元の長さに対するパーセンテージとして表される。値は、以下のようにして得られる:試験棒を把持部に配置する。把持部を規定の伸び率まで20インチ/分50.8±2.5cm/分で広げる。機械を固定し、サンプルを張力下で規定の時間にわたってそのままにしておく。サンプルを素早くしかし捻らずに解放し、試験棒を取り外す。試験棒を規定の時間にわたって平坦なところに放置して、元の長さの1に対する標線間の距離を測定する。破断後永久伸びの場合と同様に計算する。結果は一般に、永久伸び、200のように、伸び率を伴って報告される。0080様々な結果の精度は、繰返し性、再現性、および確度を確実にするために、±15の範囲内でなければならない。0081以下で表1に記載されている熱伝導性化合物は、DowCorningから入手可能であり、前述の例示的な方法を使用して、その全てを試験した。関連するデータを示してある。0082表1:ワット/メートル-K単位での、25°C/77°Fでの熱伝導率、単位での伸び、センチポイズ単位での粘度、および、kgf/cm2単位での下塗りなし重ね剪断接着強さ。0083ACCSiliconesSomerset、UKから入手可能な化合物AS1808を、前述の例示的な方法と同等の方法を使用して試験した。AS1808の、25°C/77°Fでの熱伝導率ワット/メートル-K、伸び、およびアルミニウム重なり剪断強さkg/cm2は、それぞれ、1.79、91、および12.31である。0084PCR法への言及が一例に過ぎず、本開示のデバイスが他の増幅の方法に適合されうることを、理解されたい。そのような適切な手法には、鎖置換増幅法SDA法、核酸配列ベース増幅法NASBA法、カスケードローリングサークル増幅法CRCA法、Qベータレプリカーゼ増幅法、等温キメラプライマー核酸増幅法ICAN法、転写介在増幅法TMA法などが含まれる。非対称PCR法も使用されうる。したがって、本明細書においてPCR法という用語が使用されているときには、PCR法の変形形態および他の代替的な増幅法、ならびに融解曲線分析などのポストPCR処理を含むことを理解すべきである。融解曲線分析の説明に役立つ実例は、参照により本明細書に援用される、米国特許第7,387,887号で見ることができる。さらに、本開示のデバイスは、温度制御を必要とする様々な他の生物学的および非生物学的な反応に適しうる。0085本明細書において提示された基本的な原理から逸脱することなく、上述の実施形態の細部に変更がなされうることが、当業者には理解されるであろう。例えば、様々な実施形態またはその特徴の任意の適切な組み合わせが意図されている。0086本明細書において説明された方法のいずれも、説明された方法を実施するための1つまたは複数のステップまたは行為を含む。方法の諸ステップおよび/または諸行為は、互いに置き換えることができる。言い換えれば、実施形態の実施に対して、特定のステップまたは行為の順序が必要とされていない限りは、特定のステップおよび/もしくは行為の順序ならびに/または使用法は、変更することができる。0087本明細書の全体にわたって、1つの実施形態oneembodiment、一実施形態anembodiment、または実施形態theembodimentへの言及はいずれも、その実施形態に関連して説明された特定の特徴、構造、または特性が少なくとも1つの実施形態に含まれることを意味する。したがって、本明細書の全体にわたって記載される引用表現またはその変形は、必ずしも全てが同じ実施形態について言及するわけではない。0088同様に、実施形態に関する上記の説明において、開示を簡素化する目的で、様々な特徴が単一の実施形態、形状、またはその説明にまとめられることもあることを、認識すべきである。しかし、この開示の方法は、いずれの請求項もその請求項に明示的に記載されている特徴よりも多くの特徴を必要とする、という意図を反映していると解釈すべきではない。むしろ、発明性のある態様は、先に開示した任意の単一の実施形態の全ての特徴よりも少ない組み合わせの中にある。本明細書において提示された基本的な原理から逸脱することなく、上述の実施形態の細部に変更がなされうることが、当業者には明らかになるであろう。0089したがって、この発明を実施するための形態に続く特許請求の範囲は、この発明を実施するための形態に明白に組み込まれ、各請求項は個別の実施形態として自立している。本開示は、従属請求項を伴う独立請求項のあらゆる入れ替えを含む。特許請求の範囲で記載される、特徴または構成要素に関する第1のという用語は、必ずしも第2のそのような特徴または構成要素が存在することを示唆するものではない。独占的な使用権または特権が請求される本発明の実施形態を、以下に定義する。"