発光管の両端にシュリンクシールによる封止部が形成され、当該封止部内にはスペーサガラスの両面に金属箔を有し、該金属箔が電極に接合されてなるロングアーク型放電ランプにおいて、前記金属箔の幅をWmm、厚みをThmmとし、前記スペーサガラスの厚みをTgmmとしたとき、114≦W/Th≦444、かつ、W×Tg≦13.6の関係を満足することを特徴とするロングアーク型放電ランプ。前記ロングアーク型放電ランプは、定常点灯モードと待機点灯モードを切り替えて点灯され、定常点灯モード時の電流値が20A以上であることを特徴とする請求項1に記載のロングアーク型放電ランプ。この発明が解決しようとする課題は、封止部にスペーサガラスを用いた2枚箔構造の封止部を有するロングアーク型放電ランプにおいて、特に、フルスタンバイ点灯などにより、封止部に熱応力の増減が繰り返し加わっても、金属箔にシワが発生せず、金属箔とスペーサガラスが常に密着し、更には、スペーサガラスが破損しないロングアーク型放電ランプを提供することにある。上記課題を解決するために、本の発明に係るロングアーク型放電ランプは、封止部内にスペーサガラスの両面に金属箔を備えたロングアーク型放電ランプにおいて、前記金属箔の幅をWmm、厚みをThmmとし、前記スペーサガラスの厚みをTgmmとしたとき、114≦W/Th≦444、かつ、W×Tg≦13.6の関係を満足することを特徴とする。また、前記ロングアーク型放電ランプは、定常点灯モードと待機点灯モードを切り換えて点灯され、定常点灯モード時の電流値が20A以上であることを特徴とする。この発明のロングアーク型放電ランプによれば、フルスタンバイ点灯などにより、ランプの封止部に繰り返しの熱応力変動が負荷されても、スペーサガラスが破損することなく、金属箔にシワが発生することもない。また、金属箔とスペーサガラスの密着性が高く、箔が剥がれて箔浮きしてしまうこともない。本発明のロングアーク型放電ランプは、発光長が1mを超えるものであり、定常点灯モード時では、電流値が20Aを超えるものであり、スペーサガラスの両面に金属箔を用いた2枚箔構造の封止部を有するものである。本発明では、図1に示す、封止部内のスペーサガラスと金属箔の構造について、スペーサガラス5の厚さTgmmおよび、金属箔6の幅Wmmと厚さThmmの最適関係について以下に説明する。W/Th≧114とすると、金属箔の幅Wに対して金属箔の厚みThを小さくすることになり、頻繁に電力切り替え定常点灯モードと待機点灯モードの切り替えを行っても、スペーサガラス内部は、中心より両方の箔側に引っ張られる応力を小さくすることができ、スペーサガラスの破損を防止することができる。図1において、スペーサガラス5は石英ガラス製であり、金属箔6はモリブデン製である。つまり、スペーサガラス5と金属箔6は膨張係数が異なり、電力切り替えに伴い金属箔の温度が変化する。つまり、待機点灯モードになると金属箔に流れる電流値が小さくなり、金属箔が定常点灯モードの時より温度が低くなる。この結果、通常点灯時に膨張Aしていたものが、この待機点灯モード時には、金属箔6が収縮Bする。この時、金属箔6とスペーサガラス5の表面は溶着しているので、スペーサガラス5の表面がそれぞれの金属箔6方向に引っ張られる。この結果、スペーサガラス5は内部中心より両方の箔方向に引っ張られる応力Fが発生するが、W/Th≧114とすると、金属箔6の厚みThを小さくすることになり、その結果として、前記引張応力Fを十分に小さくすることができ、スペーサガラス5が破損するまでに大きさの応力とならないものである。以下、下記のランプ仕様で、実験1、2、3を行った。<ランプ仕様>定格入力:24kWランプ電圧900W、ランプ電流26.7A発光長:1500mm封入物質:水銀、ヨウ化鉄、希ガス電力:定常点灯18kWランプ電圧815W、ランプ電流22.1A待機点灯12kWランプ電圧774W、ランプ電流16.1A30秒毎に切り替えて点灯<実験1>金属箔6の幅Wと厚さThを変えた場合のスペーサガラス5が破損した割合を示す実験1を行った。スペーサガラス5が破損した割合は、シール部クラック発生率で表現している。また、それぞれのランプ群は同一構造のランプ20本の作成し、実験を行った。実験1の結果を、下記の表1に示す。<表1>W/Th≦444とすると、金属箔の厚さThに対して金属箔の幅Wを小さくすることになる。シュリンクシールによって封止部を形成する場合、封止部は円柱状になる。封止部が円柱状となると、金属箔も幅方向で見ると円弧状の曲線状となっている。つまり、金属箔の幅が広くなる金属箔の幅Wの値が大きくなると、シール加熱時に、金属箔の長手方向沿ってシワが発生しやすくなる。つまり、W/Th≦444とすると、金属箔の厚さThに対して金属箔の幅Wを小さくすることになり、シュリンクシールによって封止部が円柱状になっても、金属箔の長手方向沿ってシワが発生しなくなる。<実験2>金属箔の幅W、金属箔の厚さThを変えた場合の封止部における金属箔のシワの発生割合を示す実験2を行った。また、それぞれのランプ群は同一構造のランプ20本の作成し、実験を行った。実験2の結果を、下記の表2に示す。<表2>W×Tg≦13.6とすると、金属箔の幅Wに対してスペーサガラスの厚さTgを小さくするものである。通常、スペーサガラスの幅は、略金属箔の幅Wと同じであり、W×Tgの関係は、言い換えると、スペーサガラスの幅とスペーサガラスの厚さの関係を規定したことになる。W×Tgは、略スペーサガラスの断面積のことであり、W×Tgが、13.6を超えるとスペーサガラスの断面積が大きくなり過ぎ、シール時にスペーサガラスの温度が十分に高くならず、スペーサガラスと金属箔が完全に密着せず、ランプ点灯中に金属箔がスペーサガラスから剥がれて箔浮きが発生する。W×Tg≦13.6とすると、スペーサガラスの断面積を小さくすることができ、シール時にスペーサガラスの温度を十分に高くすることができ、スペーサガラスと金属箔を完全に密着することができる。<実験3>金属箔の幅W、スペーサガラスの厚さTgを変えた場合の封止部における金属箔の箔浮きを示す実験3を行った。実験3の結果を、下記の表3に示す。<表3>以上のように、金属箔の幅Wmmと、厚さThmmと、スペーサガラスの厚さTgmmの関係において、114≦W/Th≦444とすることにより、金属箔の膨張収縮によるスペーサガラスの破損を防止することができるとともに、金属箔のシワの発生を防止でき、更に、W×Tg≦13.6とすることにより、封止部での金属箔の箔浮きを回避することができるものである。