"粒子が分散した試料を収容するセルと、前記セル内に電界を与え、粒子を誘電泳動により移動させる一方向に配列された電極と、前記電極に交流電圧を印加する電源と、前記電源を制御することにより前記電極に印加される交流電圧の周波数を制御する電源制御手段と、前記電極に測定光を照射する光源と、前記測定光が一方向に配列された前記電極に照射されることで生じた回折光を測定することにより粒子の誘電泳動に起因する前記回折光の強度又は方向あるいはこれらの変化をモニタする検出手段と、前記検出手段の出力を複数の周波数の間で比較することで、前記電極に対する粒子の移動方向が切り替わる周波数であるクロスオーバー周波数を算出する周波数算出手段を備えることを特徴とする粒子測定装置。請求項1に記載の粒子測定装置において、前記電源制御手段は、一定の時間だけ交流電圧を前記電極に印加し、前記周波数算出手段は、交流電圧印加終了時点の前記検出手段の出力を複数の周波数の間で比較することで前記クロスオーバー周波数を算出することを特徴とする粒子測定装置。請求項1に記載の粒子測定装置において、前記電源制御手段は、前記電極に印加する交流電圧の周波数を第1周波数から第1周波数と異なる第2周波数へ切替え、前記周波数算出手段は、交流電圧の周波数の切り替え後の前記検出手段の出力を複数の第2周波数の間で比較することで、前記クロスオーバー周波数を算出することを特徴とする粒子測定装置。請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の粒子測定装置において、前記検出手段が出力する検出データを基に、粒子の大きさを算出する粒子径算出手段を備えることを特徴とする粒子測定装置。請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の粒子測定装置において、前記クロスオーバー周波数を基に、粒子の表面状態の指標である表面コンダクタンスを算出するコンダクタンス算出手段を備えることを特徴とする粒子測定装置。しかしながら、従来構成によれば、次のような問題点がある。すなわち、従来構成によれば、クロスオーバー周波数を計測できる粒子の種類が限られているという問題点がある。従来方法によれば、クロスオーバー周波数を計測するには、粒子の移動を顕微鏡下で観察する必要がある。したがって、顕微鏡で観察できない微細な粒子についてのクロスオーバー周波数を知ることは従来方法では難しい。すなわち、従来方法によれば、マイクロメートルオーダーの大きな粒子についてにしかクロスオーバー周波数を計測することができない。より小さな粒子についてクロスオーバー周波数を計測するには、粒子表面に蛍光色素を付着させる必要がある。しかしながら、このような付着操作は、簡単に行えるものではない。また、粒子表面に修飾を施せば、粒子表面の状態が変化することが考えられる。すると、粒子に蛍光色素を付着しなかったときのクロスオーバー周波数と、蛍光色素を用いて実際に測定されるクロスオーバー周波数とが異なってきてしまう。つまり、従来構成によれば、クロスオーバー周波数を正確に測定することが難しい。本発明は、この様な事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、液体に分散する粒子が小さなものであっても正確にクロスオーバー周波数を測定できる粒子測定装置を提供することにある。本発明は上述の課題を解決するために次のような構成をとる。すなわち、本発明に係る粒子測定装置は、粒子が分散した試料を収容するセルと、セル内に電界を与え、粒子を誘電泳動により移動させる一方向に配列された電極と、電極に交流電圧を印加する電源と、電源を制御することにより電極に印加される交流電圧の周波数を制御する電源制御手段と、電極に測定光を照射する光源と、測定光が一方向に配列された電極に照射されることで生じた回折光を測定することにより粒子の誘電泳動に起因する回折光の強度又は方向あるいはこれらの変化をモニタする検出手段と、検出手段の出力を複数の周波数の間で比較することで、電極に対する粒子の移動方向が切り替わる周波数であるクロスオーバー周波数を算出する周波数算出手段を備えることを特徴とするものである。[作用効果]上述の構成によれば、電極に測定光を照射し、生じた回折光を測定する。この様にすれば、粒子の移動そのものを観察しなくても、回折光の強度を通じて粒子の移動を知ることができる。したがって、回折光強度によりクロスオーバー周波数を算出するようにすれば、従来のように粒子の大きさに関係なくクロスオーバー周波数を算出できる。つまり、本発明によれば、粒子に蛍光色素を付着しなくともクロスオーバー周波数を算出できるので、より正確にクロスオーバー周波数を算出することができる。また、上述の粒子測定装置において、電源制御手段は、一定の時間だけ交流電圧を電極に印加し、周波数算出手段は、交流電圧印加終了時点の検出手段の出力を複数の周波数の間で比較することでクロスオーバー周波数を算出すればより望ましい。[作用効果]上述の構成は、本発明における粒子測定装置の具体的な態様を表したものとなっている。一定の時間だけ交流電圧を電極に印加するようにし、交流電圧印加終了時点の回折光の強度を複数の周波数の間で比較することでクロスオーバー周波数を算出すれば、より確実にクロスオーバー周波数を算出できる。回折光の強度は、粒子の移動の大きさを表している。したがって、印加された交流電圧がクロスオーバー周波数であると、粒子が誘電泳動されず、電圧印加の前後における回折光の強度変化も観察できなくなるはずである。したがって、複数の周波数の間で回折光の強度を比較すれば、より確実にクロスオーバー周波数を算出できる。また、上述の粒子測定装置において、電源制御手段は、電極に印加する交流電圧の周波数を第1周波数から第1周波数と異なる第2周波数へ切替え、周波数算出手段は、交流電圧の周波数の切り替え後の検出手段の出力を複数の第2周波数の間で比較することで、クロスオーバー周波数を算出すればより望ましい。[作用効果]上述の構成は、本発明における粒子測定装置の具体的な態様を表したものとなっている。電極に印加する交流電圧の周波数を第1周波数から第1周波数と異なる第2周波数へ切替え、交流電圧の周波数の切り替え後の回折光の強度変化を複数の第2周波数の間で比較することでクロスオーバー周波数を算出すれば、より確実にクロスオーバー周波数を算出できる。回折光の強度は、粒子の誘電泳動の大きさを表している。したがって、第2周波数がクロスオーバー周波数であると、粒子が誘電泳動されず、回折光の強度変化は自由拡散のときと同様な挙動を示すはずである。このように、複数の周波数の間で回折光の強度を比較すれば、より確実にクロスオーバー周波数を算出できる。また、上述の粒子測定装置において、検出手段が出力する検出データを基に、粒子の大きさを算出する粒子径算出手段を備えればより望ましい。[作用効果]上述の構成は、本発明における粒子測定装置の具体的な態様を表したものとなっている。本発明は、粒子径を測定する粒子径測定装置にも適用できる。また、上述の粒子測定装置において、クロスオーバー周波数を基に、粒子の表面状態の指標である表面コンダクタンスを算出するコンダクタンス算出手段を備えればより望ましい。[作用効果]上述の構成は、本発明における粒子測定装置の具体的な態様を表したものとなっている。本発明によれば、クロスオーバー周波数をより正確に算出できる。したがって、本発明によれば、クロスオーバー周波数を基に表面コンダクタンスをより正確に算出することができるのである。本発明によれば、電極に測定光を照射し、生じた回折光を測定する。この様にすれば、粒子の移動そのものを観察しなくても、回折光の強度を通じて粒子の移動を知ることができる。したがって、回折光強度によりクロスオーバー周波数を算出するようにすれば、従来のように粒子の大きさに関係なくクロスオーバー周波数を算出できる。つまり、本発明によれば、粒子に蛍光色素を付着しなくともクロスオーバー周波数を算出できるので、より正確にクロスオーバー周波数を算出することができる。<粒子測定装置の全体構成>まず、粒子測定装置1の全体構成について説明する。粒子測定装置1は、図1に示すように、粒子が分散した液体試料を収容するセル2と、セル2の内壁面に設けられたセル内に電界を与える一対の電極3a,3bと、電極3a,3bに交流電圧を印加する電源4と、電源4を制御することにより、電極3a,3bに印加される交流電圧の周波数を制御する電源制御部5とを備えている。液体試料中の粒子は電極3a,3bがセル内に与えた電界により誘電泳動を起こして液体中を移動することになる。電源制御部5は、本発明の電源制御手段に相当する。粒子測定装置1は、液体中の粒子の移動の様子を観察するために次のような各部を有している。すなわち、粒子測定装置1は、電極3a,3bに単一波長のレーザー光測定光を照射する光源6と、光源6を制御する光源制御部7と、測定光が電極に照射されることで、生じた回折光を測定する検出部11と、電極3a,3bに対する粒子の誘電泳動による移動方向が切り替わる周波数であるクロスオーバー周波数を算出する周波数算出部12と、検出部11が出力する検出データを基に、粒子の大きさを算出する粒子径算出部13と、クロスオーバー周波数を基に、粒子の表面状態の指標である表面コンダクタンスを算出する表面コンダクタンス算出部14とを備えている。検出部11は、本発明の検出手段に相当し、周波数算出部12は、本発明の周波数算出手段に相当する。また、粒子径算出部13は、本発明の粒子径算出手段に相当し、表面コンダクタンス算出部14は、本発明のコンダクタンス算出手段に相当する。主制御部21は、各部5,7,11,12,13,14を統括的に制御する目的で設けられている。この主制御部21は、CPUによって構成され、各種のプログラムを実行することにより、各部5,7,11,12,13,14を実現している。なお、上述の各部はそれらを担当する制御装置に分割されて実現されてもよい。<電極の構成とクロスオーバー周波数>図2は、電極3a,3bの構成を説明している。電極3a,3bは、支線3a1,3b1が配列した櫛形となっている。電極3aの支線3a1は、電極3b側に伸び、電極3bの支線3b1も電極3a側に伸びている。支線3a1の各々には、電極3bから遠ざかる方向に伸びた凹部3a2が設けられていて、これにより、支線3a1は、2本の枝3a3に分けられている。同様に、支線3b1の各々には、電極3aから電極3bに遠ざかる方向に伸びた凹部3b2が設けられていて、これにより、支線3b1は、2本の枝3b3に分けられている。したがって、電極3a,3bを電極3aの幹線が伸びる方向に見ていくと、電極3aの枝3a3が2本と、電極3bの枝3b3の2本とが交互に現れるように枝が一方向に配列されていることになる。そして、各枝3a3,3b3を区別しないでその配列を見たとすると、各枝は、等間隔に幹線が伸びる方向に配列されている。電極3a,3bは図1においては、断面図で表されている。図3は、電極3a,3bに低周波の交流電圧を印加したときの誘電泳動の様子を表している。電極3a,3bの間に交流電圧を印加すると、試料液体に分散していた粒子が誘電泳動され、電極3a,3bに集まる。図3においては、粒子が集まる様子を矢印で表している。粒子は、特に枝3b3に隣接している枝3a3の枝3b3側に集まる。また、枝3a3に隣接している枝3b3の枝3a3側にも粒子は集まる。図4は、電極3a,3bに高周波の交流電圧を印加したときの誘電泳動の様子を表している。電極3a,3bの間に図3のときよりも高周波の交流電圧を印加すると、試料液体に分散していた粒子が誘電泳動され、電極3a,3bから離れる。図4においては、粒子が離れる様子を矢印で表している。粒子は、特に枝3b3に隣接している枝3a3の枝3b3側から離れる。また、枝3a3に隣接している枝3b3の枝3a3側からも粒子は離れる。図3の状態から交流電圧の周波数を次第に高くしていくと、ある周波数で誘電泳動が停止し、その後、図4の状態となる。この粒子の移動方向が切り替わる際に誘電泳動が停止する周波数がクロスオーバー周波数である。クロスオーバー周波数の詳細については上述している。<粒子の移動の測定>次に、粒子測定装置1が粒子の移動を測定する方法について説明する。図5は、光源6から発するレーザー光が回折する様子を表している。セル2の内壁には、電極3a,3bの枝3a3,3b3が等間隔に配列されている。したがって、セル2の内壁にレーザー光を当てると、回折が起こる。回折光の出射方向は、枝3a3,3b3の配列ピッチに応じたものとなっている。図5においては、レーザー光を実線の矢印で、回折光を破線の矢印で表している。図6も、光源6から発するレーザー光が回折する様子を表している。電極3a,3bに交流電圧を印加した状態でレーザー光を電極3a,3bに照射すると、粒子が電極3a,3bに集合していることにより、回折光の発生の様子が変化する。すなわち、枝3a3と枝3b3との間の間隙が集合した粒子により埋められているので、回折光の出射方向を決める配列ピッチは図5の場合と比べて2倍となる。つまり、図6の場合に生じる回折光の照射方向は、図5とは異なる方向となる。なお、図6においても、レーザー光を実線の矢印で、回折光を破線の矢印で表している。このように、電極3a,3b付近での粒子の集まりの程度に応じて回折光の強さが変化する。つまり、回折光の強さを測定すれば、試料液体中での粒子の挙動がわかるということになる。回折光の強さは、具体的には検出部11により測定される。すなわち、検出部11は、枝3a3と枝3b3との間の間隙に粒子が集合すると、回折光がより強くなる方向から回折光を検出している。したがって、粒子の集合に応じて検出部11に入射する回折光は強くなる。この様に検出部11は、測定光が電極3a,3bに照射されることで生じた回折光を測定することにより粒子の誘電泳動に起因する回折光の強度変化回折光の出射方向または、これらのいずれもをモニタする。<クロスオーバー周波数の測定>次に、粒子測定装置1がクロスオーバー周波数を測定する方法について説明する。検出部11が出力する検出データは、周波数算出部12に送出される。周波数算出部12は、検出データを基にクロスオーバー周波数を算出する。クロスオーバー周波数を算出するためには、所定の測定を行わなければならない。以下、この測定の具体的な方法について説明する。この測定を行うに当たり各部に対する具体的な指示は、主制御部21が行う。図7は、クロスオーバー周波数算出に伴う回折光の測定結果を表している。図7におけるONの位置は、所定の周波数の交流電圧を印加した時点を示している。交流電圧の印加を開始すると粒子の誘電泳動が起こり、回折光強度が上昇する。そして、図7におけるOFFの時点で所定の周波数の交流電圧の印加を終了する。周波数算出部12は、OFFの位置における回折光強度から、ONの位置における回折光強度を減算して、ピーク値IPを取得する。この一連の動作が一回の測定である。なお、ONの時点以前においては交流電圧は電極3a,3bに印加されていない。ちなみに、交流電圧の印加を終了すると粒子の誘電泳動が収まり、粒子はブラウン運動により液体中に拡散する。図7においてOFFの時点以降に回折光強度が低下しているのはそのためである。このような測定は、交流電圧の周波数を変更しながら複数回繰り返される。このとき、交流電圧の印加開始から印加終了までの時間は、測定を通じて一定である。この様な測定により、交流電圧をONしてからOFFするまでの回折光強度の変化量であるピーク値IPが周波数ごとに算出できることになる。周波数算出部12は、回折光の測定結果からピーク値IPを算出し、ピーク値IPと交流電圧の周波数の関係からクロスオーバー周波数を算出する。図8は、周波数算出部12が取得したピーク値IPとこれに対応する交流電圧の周波数の関係を表している。図8を見れば分かるように、周波数が高周波となるに従って、ピーク値IPが減少している。理想的には、粒子の誘電泳動は、交流電圧の周波数を高めるにつれ、小さくなり、周波数がクロスオーバー周波数に至ると発生しなくなる。そして、周波数をクロスオーバー周波数よりも高めると、粒子の誘電泳動の方向が逆転する。周波数算出部12が取得するピーク値IPは、誘電泳動の強さを表している。したがって、ピーク値IPは、周波数が高まるにつれ、小さくなり、周波数がクロスオーバー周波数となったところで0となるはずである。実際の測定の様子を示す図8においては、周波数が高周波となるに従ってピーク値IPが減少しているので、この点、理想通りである。周波数を上げていくと、ピーク値IPは、周波数fcで極小となり、そこから小さく増加する。しかし、理想とは異なり、図8においては極小のピーク値IPは、0とはなっていない。この理由について説明する。試料液体中に分散している粒子の大きさは同じではない。すなわち、粒子の大きさにはバラツキがある。クロスオーバー周波数は、粒子の大きさによって異なるので、試料液体中には、クロスオーバー周波数が異なる粒子が混在した状態となっている。周波数fcにおいては、粒子に含まれるほどんどの粒子にとってクロスオーバー周波数となっており、これら粒子は誘電泳動していない。しかし、一部の粒子にとっては、周波数fcはクロスオーバー周波数となっていないので、これら粒子は誘電泳動する。このように、粒子の大きさのバラツキにより、試料液体中の粒子が一斉に誘電泳動しなくなる周波数がないことになり、図8の極小のピーク値IPは0とはならないのである。次に、図8において、極小の周波数fcから周波数を増加させていくと、ピーク値IPが小さく増加する理由について説明する。粒子は、クロスオーバー周波数よりも高い周波数の交流電圧が印加された状況においては、電極3a,3bから離れる方向に誘電泳動する。すると、図9に示すように、粒子は両極の枝3a3,3b3の間の領域に滞留することになる。このように粒子が規則性をもって特定の場所に集まると、検出部11が検出する回折光の強度が強くなってしまう。したがって、図8においては、周波数fcよりも高周波側で、ピーク値IPの増加が見られるのである。周波数算出部12は、ピーク値IPと周波数との関係より、ピーク値IPが極小となる周波数fcを算出し、これをクロスオーバー周波数とする。以降、クロスオーバー周波数を符号fcで表すことにする。このように、周波数算出部12は、交流電圧印加終了時点の回折光の強度を複数の周波数の間で比較することで、クロスオーバー周波数を算出する。<粒子径算出部の動作>検出部11が出力する検出データは、粒子径算出部13にも送られる。具体的には、図7で示したタイムコースのデータが粒子径算出部13に送られる。粒子径算出部13は、交流電圧印加の終了後からの回折光強度の変化を用いて、試料液体中の粒子の粒子径を算出する。すなわち、粒子径算出部13は、図7におけるOFFの時点以降の回折光強度に着目する。このときの回折光強度の減衰は、誘電泳動された粒子が自然に拡散することによって引き起こされ、時間とともに指数関数状に減衰する。OFFの時点以降の回折光強度Iと時間tとの間には、具体的に次のような関係がある。I=IPexp-2Dq2tここで、IPとはピーク値であり、Dは、拡散係数、qは、電極3a,3bの配列ピッチ格子間隔である。粒子径算出部13は、実際の回折光強度の変化を用いて、拡散係数Dを算出する。拡散係数Dは、ボルツマン定数、絶対温度、溶液の粘性、粒子径の各パラメータにより表現でき、これらのうち、ボルツマン定数、絶対温度、溶液の粘性は、既知である。この様な関係を利用して、粒子径算出部13は、拡散係数Dを基に粒子径を算出する。<表面コンダクタンス算出部の動作>算出されたクロスオーバー周波数fc,粒子径は、表面コンダクタンス算出部14に送られる。表面コンダクタンス算出部14は、クロスオーバー周波数fcを用いて粒子の表面コンダクタンスを求める。表面コンダクタンスについて説明する。溶液中の粒子は一般に表面に電荷を帯びている。この粒子表面の電荷量を粒子径で割った値が表面コンダクタンスである。この表面コンダクタンスの値が大きいほど、粒子同士が静電気力により反発するので、粒子は液体中で塊を作りにくくなる。つまり、粒子の表面コンダクタンスを知ることで粒子同士がどの程度安定に分散しやすいかが判断できる。表面コンダクタンス算出部14が表面コンダクタンスを求めるには、次式の関係を利用する。ここで、fcは、クロスオーバー周波数である。また、σmは、液体の導電率であり、σpは、粒子の導電率である。また、εmは、液体の誘電率であり、εpは、粒子の誘電率である。この場合、fc,σm,εm,εpは既知である。表面コンダクタンス算出部14は、上式を用いて、粒子の導電率σpを算出する。表面コンダクタンス算出部14は、粒子の導電率σpを基に表面コンダクタンスKを求める。そのときに使用される数式は以下のようなものである。ここで、σbは、粒子の材料の導電率であり、rは、粒子径半径である。この場合、σp,σb,rは既知である。表面コンダクタンス算出部14は、上式を用いて、表面コンダクタンスKを求める。<実際の測定例>次に、本発明に係る粒子測定装置1を用いた実際の測定について説明する。図10は、90nm,100nmの粒子径を有するポリスチレン粒についての測定結果である。いずれの粒子径であっても、周波数を高周波にしてゆくにつれ、ピーク値IPは減少し、一度増加に転じた後、再び減少に転ずる。この測定結果によればクロスオーバー周波数は、90nm径については、約6MHz,100nm径については約3MHzとなっている。図11は、図10と同一の電圧条件でONかOFFまでの時間幅図7参照を同じくした状態での測定結果である。測定に用いた粒子は、100nmの粒子径を有するポリスチレン粒であるが、粒子表面がカルボキシル基で修飾されている。カルボキシル基は、プロトンを放出することで、負の電荷を帯びることが特徴の官能基である。したがって、ポリスチレン粒子の表面は、負の電荷を帯びている。図11の測定結果によればクロスオーバー周波数は、約7MHzとなっている。つまり、図10と図11とを比較すれば分かるように、同じ100nmの粒子径を有するポリスチレン粒子であっても、カルボキシル基修飾の有無に応じて測定結果が異なる。これは、互いの粒子の間で表面コンダクタンスに違いがあるからである。このように、実施例1の装置によれば、粒子表面の性質を敏感に数値化することができる。以上のように、実施例1の構成によれば、電極3a,3bに測定光を照射し、生じた回折光を測定する。この様にすれば、粒子の移動そのものを観察しなくても、回折光の強度を通じて粒子の移動を知ることができる。したがって、回折光強度によりクロスオーバー周波数fcを算出するようにすれば、従来のように粒子の大きさに関係なくクロスオーバー周波数fcを算出できる。つまり、本発明によれば、粒子に蛍光色素を付着しなくともクロスオーバー周波数fcを算出できるので、より正確にクロスオーバー周波数fcを算出することができる。また、上述の構成は、本発明における粒子測定装置の具体的な態様を表したものとなっている。一定の時間だけ交流電圧を電極3a,3bに印加するようにし、交流電圧印加終了時点の回折光の強度を複数の周波数の間で比較することでクロスオーバー周波数fcを算出すれば、より確実にクロスオーバー周波数fcを算出できる。回折光の強度は、粒子の移動の大きさを表している。したがって、印加された交流電圧がクロスオーバー周波数fcであると、粒子が誘電泳動されず、電圧印加の前後における回折光の強度変化も観察できなくなるはずである。したがって、複数の周波数の間で回折光の強度を比較すれば、より確実にクロスオーバー周波数fcを算出できる。また、本発明によれば、クロスオーバー周波数fcをより正確に算出できる。したがって、本発明によれば、クロスオーバー周波数fcを基に表面コンダクタンスKをより正確に算出することができるのである。次に、実施例2に係る粒子測定装置1について説明する。実施例2に係る粒子測定装置1の全体構成としては、実施例1の装置と同じ構成となっている。異なる点は、周波数算出部12の動作である。<クロスオーバー周波数の測定>次に、実施例2に係る粒子測定装置1がクロスオーバー周波数を測定する方法について説明する。検出部11が出力する検出データは、周波数算出部12に送出される。周波数算出部12は、検出データを基にクロスオーバー周波数を算出する。クロスオーバー周波数を算出するためには、所定の測定を行わなければならない。以下、この測定の具体的な方法について説明する。この測定を行うに当たり各部に対する具体的な指示は、主制御部21が行う。図12は、クロスオーバー周波数算出に伴う回折光の測定結果を表している。図12におけるONの位置は、所定の周波数の交流電圧を印加した時点を示している。交流電圧の印加を開始すると粒子の誘電泳動が起こり、回折光強度が上昇する。そして、図12におけるCHANGEの時点で所定の周波数の交流電圧の印加を終了するとともに、別の周波数の交流電圧の印加を開始する。この一連の動作が一回の測定である。なお、ONの時点以前においては交流電圧は電極3a,3bに印加されていない。このような測定は、交流電圧の周波数を変更しながら複数回繰り返される。このとき、変更されるのは、切り替え後の交流電圧の周波数第2周波数であり、切り替え前の交流電圧の周波数第1周波数は、測定を通じて一定である。また、交流電圧の印加開始から印加電圧切り替えまでの時間は、測定を通じて一定である。図12においては、切替後の周波数を1.5MHzから2.5MHzまでとして4通りの測定を行っている。周波数算出部12は、周波数切替後の周波数と回折光強度のタイムコースとによりクロスオーバー周波数を算出する。図12は、周波数算出部12が出得した回折光強度のタイムコースを重ねて表している。図12を見れば分かるように、各タイムコースの挙動は、交流電圧の切替前は同じであり、交流電圧切替CHANGE後から異なっている。図12に示している1.5MHzから2.5MHzまでの周波数の表示は、切替後の周波数の値とタイムコースとの対応関係を表している。理想的には、粒子の誘電泳動は、交流電圧の周波数を高めるにつれ、小さくなり、周波数がクロスオーバー周波数に至ると発生しなくなる。そして、周波数をクロスオーバー周波数よりも高めると、粒子の誘電泳動の方向が逆転する。検出部11が取得する回折光強度は、誘電泳動の強さを表している。したがって、CHANGE後のタイムコースは、周波数が高まるにつれ、傾きが小さくなるはずである。実際の測定の様子を示す図12においては、周波数が1,5MHzから2.2MHzまでの間、高周波となるに従って傾きが減少しているので、この点、理想通りである。周波数を上げていくと、傾きは、第2周波数が2.2MHzで極小となり、そこから小さく増加する。つまり、第2周波数が2.2MHzで全ての粒子が電極3a,3bから離れる方向に移動していることになる。そして、周波数を更に上げると、再び回折光強度は理想から外れて増加傾向に転じる。この理由は、粒子が電極3a,3bから離れた場所に集められて、回折光に変化を及ぼすからであり、図9を用いて既に説明済みである。周波数算出部12は、タイムコースの傾きと周波数との関係より、傾きが低下し始める周波数と、極小となる切替後の周波数を算出する。そして、これら周波数の間の周波数がクロスオーバー周波数であると算出する。図12の例においては、1.8MHzから2.2MHzまでの間のいずれかの周波数がクロスオーバー周波数であるということになる。図12において、クロスオーバー周波数をタイムコースの傾きが極小の2.2MHzと認定できない理由について説明する。クロスオーバー周波数は、粒子が誘電泳動されていない状態である。したがって、周波数がクロスオーバー周波数となっている場合における回折光強度のタイムコースは、ブラウン運動による自由拡散におけるタイムコースに近いものとなるはずである。自由拡散のタイムコースとは、具体的には図7におけるOFF以降のタイムコースである。ところが、図12においては、どの周波数においても自由拡散のタイムコースと一致しない。液体に分散する粒子には粒子径にバラツキがあり、これに伴ってクロスオーバー周波数にもバラツキがあるからである。図12における2.2MHzのタイムコースは、全てのクロスオーバー周波数が異なる粒子の全てが電極3a,3bから離れる方向に動いているが故に傾きが極小となっているのである。ということは、実際に求めたいクロスオーバー周波数は、2.2MHzよりも低い周波数であり、2.2MHzではない。これが、クロスオーバー周波数を2.2MHzと認定できない理由である。とはいえ、実施例2の構成によれば、クロスオーバー周波数がどの辺りの周波数となるかを知ることができる。また、実施例1の場合とは違い、タイムコースを比較してクロスオーバー周波数の測定を行うので、情報量が多い。したがって、実施例1よりも誤認の少ないクロスオーバー周波数の測定ができる。このように、周波数算出部12は、交流電圧の周波数の切り替え後の回折光強度の強度変化を複数の第2周波数の間で比較することで、前記クロスオーバー周波数を算出する。以上のように、実施例2の構成は、本発明における粒子測定装置の具体的な態様を表したものとなっている。電極3a,3bに印加する交流電圧の周波数を第1周波数から第1周波数と異なる第2周波数へ切替え、交流電圧の周波数の切り替え後の回折光の強度変化を複数の第2周波数の間で比較することでクロスオーバー周波数fcを算出すれば、より確実にクロスオーバー周波数fcを算出できる。回折光の強度は、粒子の誘電泳動の大きさを表している。したがって、第2周波数がクロスオーバー周波数fcであると、粒子が誘電泳動されず、回折光の強度変化は自由拡散のときと同様な挙動を示すはずである。したがって、複数の周波数の間で回折光の強度を比較すれば、より確実にクロスオーバー周波数fcを算出できる。本発明は、上述の構成に限られず、下記のように変形実施することができる。1上述の構成においては、粒子径を計測できる装置についての実施例を示しているが、単にクロスオーバー周波数の算出に特化した装置に本発明を適用することもできる。2上述の構成において、実施例1のクロスオーバー周波数の算出方法と実施例2のクロスオーバー周波数の算出方法のいずれも可能にした装置として本発明を実施することもできる。3上述の構成においては、ポリスチレン粒を計測に用いていたが、これに代えてラクトソームなどの他の粒子について計測を行うようにしても良い。"