X線を発生するX線発生部と、前記X線発生部から発生され、天板に載置された被検体を透過したX線を検出するX線検出部と、前記発生されたX線の線質を硬化する複数のフィルタを有するX線絞り部と、前記X線発生部と前記X線検出部との距離と前記被検体の厚みとに基づいて、前記複数のフィルタのうち少なくとも一つのフィルタを特定するフィルタ特定部と、前記X線発生部と前記被検体との間に前記特定されたフィルタを配置させるために、前記X線絞り部を制御するX線絞り制御部と、を具備することを特徴とするX線診断装置。前記X線の発生に関するX線条件と前記X線検出部に入射するX線の線量と前記距離と前記フィルタの厚みとに基づいて、前記被検体の厚みを決定する厚み決定部をさらに具備し、前記フィルタ特定部は、前記距離と前記決定された厚みとに基づいて、前記複数のフィルタのうち少なくとも一つのフィルタを特定すること、を特徴とする請求項1に記載のX線診断装置。前記被検体の厚みと前記距離とに応じた前記フィルタの対応表を記憶する記憶部をさらに具備し、前記フィルタ特定部は、前記被検体の厚みと前記距離と前記対応表とに基づいて、前記複数のフィルタのうち少なくとも一つのフィルタを特定すること、を特徴とする請求項1に記載のX線診断装置。前記X線の発生に関するX線条件と前記被検体の厚みを有する第1ファントムのデータとを用いて、前記X線条件で発生されたX線が前記第1ファントムを透過したときに前記X線検出部から出力される第1信号値を計算し、前記被検体の厚みより薄い所定の厚みを有し、造影剤に関する第2ファントムのデータと前記X線の発生に関するX線条件とを用いて、前記X線条件で発生されたX線が前記第2ファントムを透過したときに前記X線検出部から出力される第2信号値を計算し、前記第1信号値と前記第2信号値との比を計算する計算部をさらに具備し、前記フィルタ特定部は、前記距離と前記被検体の厚みと前記比とに基づいて、前記複数のフィルタのうち少なくとも一つのフィルタを特定すること、を特徴とする請求項1に記載のX線診断装置。前記被検体の検査部位を入力する入力部をさらに具備し、前記フィルタ特定部は、前記検査部位と前記距離と前記被検体の厚みと前記比とに基づいて、前記複数のフィルタのうち少なくとも一つのフィルタを特定すること、を特徴とする請求項4に記載のX線診断装置。前記フィルタ特定部は、前記X線発生部で発生されるX線に関するX線条件と前記距離と前記被検体の厚みとに基づいて、前記複数のフィルタのうち少なくとも一つのフィルタを特定すること、を特徴とする請求項1に記載のX線診断装置。前記X線の発生に関する複数のX線条件各々に対応し、かつ前記被検体の厚みと前記距離と応じた前記フィルタの厚みの対応表を記憶する記憶部をさらに具備し、前記フィルタ特定部は、前記X線条件に対応する対応表と前記被検体の厚みと前記距離とに基づいて、前記複数のフィルタのうち少なくとも一つのフィルタを特定すること、を特徴とする請求項6に記載のX線診断装置。前記被検体の厚みと前記距離と前記被検体への入射線量率の上限値とに応じた前記フィルタの対応表を記憶する記憶部と、前記距離と前記上限値とを入力する入力部とをさらに具備し、前記フィルタ特定部は、前記被検体の厚みと前記距離と前記上限値と前記対応表とに基づいて、前記複数のフィルタのうち少なくとも一つのフィルタを特定すること、を特徴とする請求項1に記載のX線診断装置。目的は、被検体厚とSIDとに基づいて適切な付加フィルタを特定し、X線発生部と天板に載置された被検体との間に特定された付加フィルタを配置することができるX線診断装置を提供することにある。本実施形態に係るX線診断装置は、X線を発生するX線発生部と、前記X線発生部から発生され、天板に載置された被検体を透過したX線を検出するX線検出部と、前記発生されたX線の線質を硬化する複数のフィルタを有するX線絞り部と、前記X線発生部と前記X線検出部との距離と前記被検体の厚みとに基づいて、前記複数のフィルタのうち少なくとも一つのフィルタを特定するフィルタ特定部と、前記X線発生部と前記被検体との間に前記特定されたフィルタを配置させるために、前記X線絞り部を制御するX線絞り制御部と、を具備することを特徴とする。以下、図面を参照しながら本発明の実施形態に係るX線診断装置を説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。第1の実施形態図1は、本実施形態に係るX線診断装置1の構成を示している。X線診断装置1は、X線発生部3と、X線絞り部4と、X線検出部5と、支持機構7と、支持機構駆動部9と、天板11と、天板駆動部13と、移動制御部15と、厚み決定部16と、フィルタ特定部17と、X線絞り制御部18、画像発生部19と、記憶部21と、表示部23と、入力部25と、システム制御部27とを有する。X線発生部3は、図示していないX線管と高電圧発生部とを有する。高電圧発生部は、X線管に供給する管電流と、X線管に印加する管電圧とを発生する。高電圧発生部は、X線撮影およびX線透視にそれぞれ適した管電流をX線管に供給し、X線撮影およびX線透視各々にそれぞれ適した管電圧をX線管に印加する。X線管は、高電圧発生部から供給された管電流と、高電圧発生部により印加された管電圧とに基づいて、X線の焦点以下管球焦点と呼ぶでX線を発生する。X線絞り部4は、X線発生部と後述する天板11に載置された被検体との間に設けられる。具体的には、X線絞り部4は、X線発生部3のX線放射窓に設けられる。X線絞り部4は、X線発生部3で発生されたX線を、観察部位以外に不要な被爆をさせないために、所定の照射視野のサイズに絞る。X線絞り部4は、被検体への被曝線量の低減および画質の向上を目的として、利用X線錐内に挿入される複数のフィルタ以下、付加フィルタと呼ぶを有する。複数の付加フィルタ各々は、金属薄板アルミニウム、銅、モリブデン、タンタルなどで構成される板材である。複数の付加フィルタは、それぞれ異なる厚みを有する。付加フィルタは、X線フィルタ、濾過板、ビームフィルタ、線質フィルタ、またはビームスペクトグラムフィルタとも呼ばれる。X線絞り部4は、後述するX線絞り制御部18の制御のもとで、複数の付加フィルタのうち少なくとも一つを、X線放射窓の前面に配置する。複数の付加フィルタ各々は、X線発生部3で発生された連続スペクトルX線の長波長成分を、付加フィルタの厚みに応じて除去する。複数の付加フィルタ各々は、厚みに応じた長波長成分の除去により、X線発生部3で発生されたX線の線質を硬化させる。また、複数の付加フィルタ各々は、X線診断にとって不必要なX線のエネルギー成分を除去することも可能である。これにより、複数の付加フィルタ各々は、X線発生部3で発生されたX線の線質を調整するために用いられる。X線絞り部4は、後述するX線絞り制御部18による制御のもとで、後述するフィルタ特定部17で特定された付加フィルタを、X線発生部3におけるX線放射窓の前面に配置する。X線検出部5は、X線発生部3から発生され、被検体Pを透過したX線を検出する。例えば、X線検出部5は、フラットパネルディテクタFlatPanelDetecter:以下、FPDと呼ぶを有する。FPDは、複数の半導体検出素子を有する。半導体検出素子には、直接変換形と間接変換形とがある。直接変換形とは、入射X線を直接的に電気信号に変換する形式である。間接変換形とは、入射X線を蛍光体で光に変換し、その光を電気信号に変換する形式である。X線の入射に伴って複数の半導体検出素子で発生された電気信号は、図示していないアナログディジタル変換器AnalogtoDigitalconverter:以下、A/D変換器と呼ぶに出力される。A/D変換器は、電気信号をディジタルデータに変換する。A/D変換器は、ディジタルデータを、図示していない前処理部に出力する。なお、X線検出部5として、イメージインテンシファイアImageintensifierが用いられてもよい。図示していない前処理部は、X線検出部5から出力されたディジタルデータに対して、前処理を実行する。前処理とは、X線検出部5におけるチャンネル間の感度不均一の補正、および金属等のX線強吸収体による極端な信号の低下またはデータの脱落に関する補正等である。前処理されたディジタルデータは、後述する画像発生部19に出力される。支持機構7は、X線発生部3とX線検出部5とを移動可能に支持する。具体的には、支持機構7は、例えば、図示していないCアームとCアーム支持部とを有する。Cアームは、X線発生部3とX線検出部5とを、互いに向き合うように支持する。なお、Cアームに代わりにΩアームが用いられてもよい。また、Cアームは、X線発生部3とX線検出部5との距離線源受像面間距離SourceImageDistance:以下、SIDと呼ぶを変更可能に、X線発生部3とX線検出部5とを支持する。Cアーム支持部は、そのC形状に沿う方向以下、第1方向と呼ぶに、Cアームをスライド可能に支持する。また、Cアーム支持部は、CアームとCアーム支持器との接続部を中心として、第1方向に直交する方向以下、第2方向と呼ぶに回転可能にCアームを支持する。なお、Cアーム支持部は、後述する天板の横手方向以下、X方向と呼ぶと長手方向以下、Y方向と呼ぶとに平行移動可能にCアームを支持することも可能である。支持機構駆動部9は、後述する移動制御部17の制御のもとで、支持機構7を駆動する。具体的には、支持機構駆動部9は、移動制御部17からの制御信号に応じた駆動信号をCアーム支持部に供給して、Cアームを第1方向LAOまたはRAOにスライド、第2方向CRAまたはCAUに回転させる。支持機構駆動部9は、入力部25を介して操作者により入力されたSIDを実現するために、移動制御部15の制御のもとで、支持機構7を駆動する。X線透視時およびX線撮影時においては、X線発生部3とX線検出部5との間に、天板11に載置された被検体Pが配置される。天板駆動部13は、後述する移動制御部15の制御のもとで、天板11を駆動する。具体的には、天板駆動部13は、移動制御部15からの制御信号に基づいて、天板11の横手方向または天板11の長手方向に、天板11をスライドさせる。また、天板駆動部13は、鉛直方向に関して、天板11を昇降する。天板駆動部13は、移動制御部15の制御のもとで、入力部25を介して入力された視野サイズとSIDとに基づいて、天板11を駆動する。移動制御部15は、支持機構7を駆動することにより、撮影位置および透視位置にFPDの中心を位置させるために、支持機構駆動部9を制御する。具体的には、移動制御部15は、撮影位置および透視位置にFPDの中心を位置させるための制御信号を、支持機構駆動部9に出力する。厚み決定部16は、X線発生部3においてX線の発生に関する条件以下、X線条件と呼ぶと、X線検出部5に入射するX線の線量以下、X線検出線量と呼ぶと、視野サイズと、SIDと付加フィルタの厚み付加フィルタの種別を含むとに基づいて、被検体の厚み以下、被検体厚と呼ぶを決定する。X線条件とは、例えば、X線管に印加される管電圧kVとX線管に供給される管電流mAとの積電力:kWである。X線検出線量とは、例えば、FPDからの出力により画像を発生させるために必要なX線の線量であって、画質に関連する。具体的には、厚み決定部16は、X線条件とX線検出線量と視野サイズとSIDと付加フィルタの厚み付加フィルタの種別を含むとを入力値として、所定の計算を実行することにより、被検体厚を決定する。厚み決定部16は、決定した被検体厚を、後述するフィルタ特定部17に出力する。フィルタ特定部17は、被検体厚とSIDとに基づいて、X線絞り部4における複数の付加フィルタのうち少なくとも一つを特定する。具体的には、フィルタ特定部17は、後述する記憶部21に記憶された対応表を読み出す。対応表とは、被検体厚とSIDとに応じた付加フィルタの対応表である。フィルタ特定部17は、被検体厚とSIDと読み出した対応表とに基づいて、複数の付加フィルタから、X線放射窓の前面に配置される付加フィルタを特定する。例えば、被検体厚が薄く、SIDが短い場合、フィルタ特定部17は、厚い付加フィルタを特定する。また、例えば、被検体厚が厚く、SIDが長い場合、フィルタ特定部17は、薄い付加フィルタを特定する。フィルタ特定部17は、特定した付加フィルタに関する情報例えば、付加フィルタの厚みによる識別子等:以下、付加フィルタ特定情報と呼ぶを、後述するX線絞り制御部18に出力する。なお、対応表は、被検体厚とSIDとに応じた付加フィルタの厚みの対応表であってもよい。このとき、フィルタ特定部17は、被検体厚とSIDと読み出した対応表とに基づいて、付加フィルタの厚みを決定する。次いで、フィルタ特定部17は、決定された厚みを有する付加フィルタを、複数の付加フィルタから特定する。図2は、対応表を可視化させた一例を示す図である。図2の対応表は、被検体厚とSIDとに応じた付加フィルタの厚みの対応表である。フィルタ特定部17は、例えば、被検体厚が11cmであって、SIDが123cmの場合、付加フィルタの厚みを、0.9mmとして決定する。次いで、フィルタ特定部17は、0.9mmの厚みを有する付加フィルタを、複数の付加フィルタから特定する。なお、フィルタ特定部17は、複数の付加フィルタのうち2種類以上の付加フィルタを組み合わせることにより、0.9mmの厚みとなる複数の付加フィルタを特定してもよい。また、フィルタ特定部17は、付加フィルタの特定前に、第1、第2の閾値を記憶部21から読み出し、以下の処理を行うことも可能である。フィルタ特定部17は、被検体厚が第1の閾値以下である場合、SIDに因らずに、X線放射窓の前面に配置される付加フィルタを特定することも可能である。この時、フィルタ特定部17は、まず、被検体厚と所定の閾値とを比較する。次いで、被検体厚が所定の閾値以上である場合、フィルタ特定部17は、被検体厚に応じた付加フィルタを、複数の付加フィルタから特定する。なお、被検体厚が第2の閾値を超える場合、フィルタ特定部17は、被検体厚とSIDと読み出した対応表とに基づいて、複数の付加フィルタから、X線放射窓の前面に配置される付加フィルタを特定する。X線絞り制御部18は、フィルタ特定部17により特定された付加フィルタを、X線放射窓の前面に配置させるために、X線絞り部4を制御する。具体的には、X線絞り制御部18は、フィルタ特定部17から出力された付加フィルタ特定情報に対応する付加フィルタを、X線放射窓の前面に配置させるために、X線絞り部4を制御する。画像発生部19は、撮影位置においてX線撮影された後に前処理されたディジタルデータに基づいて、撮影画像を発生する。画像発生部19は、透視位置でX線透視された後に前処理されたディジタルデータに基づいて、透視画像を発生する。記憶部21は、画像発生部19で発生された種々の画像、本X線診断装置1の制御プログラム、診断プロトコル、後述する入力部25から送られてくる操作者の指示、撮影条件、透視条件などの各種データ群、視野サイズ、SID、X線検出線量などを記憶する。また、記憶部21は、X線条件とX線検出線量と視野サイズとSIDとを入力値として、所定の計算を実行するための被検体厚計算プログラムを記憶する。記憶部21は、被検体厚とSIDとに応じた付加フィルタの対応表を記憶する。また、記憶部21は、第1、第2の閾値を記憶してもよい。なお、記憶部21は、被検体厚とSIDとに応じた付加フィルタの厚みの対応表を記憶してもよい。表示部23は、画像発生部19で発生された撮影画像および透視画像を表示する。表示部23は、X線条件、X線検出線量、被検体への入射線量率上限値、視野サイズ、SID等を入力するための入力画面を表示する。なお、表示部23は、被検体厚を入力するための画面を表示することも可能である。入力部25は、操作者が所望するX線撮影の撮影条件およびX線透視の透視条件、視野サイズ、SIDなどを入力する。具体的には、入力部25は、操作者からの各種指示命令情報選択設定を本X線診断装置1に取り込む。入力部25は、図示しないが、関心領域の設定などを行うためのトラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード等を有する。入力部25は、表示画面上に表示されるカーソルの座標を検出し、検出した座標を後述するシステム制御部27に出力する。なお、入力部25は、表示画面を覆うように設けられたタッチパネルでもよい。この場合、入力部25は、電磁誘導式、電磁歪式、感圧式等の座標読み取り原理でタッチ指示された座標を検出し、検出した座標をシステム制御部27に出力する。なお、入力部25は、被検体厚を入力することも可能である。システム制御部27は、図示していないCPUCentralProcessingUnitとメモリを備える。システム制御部27は、入力部25から送られてくる操作者の指示、撮影条件、透視条件などに従って、X線撮影よび透視を実行するために、X線発生部3、X線絞り制御部、移動制御部17などを制御する。付加フィルタ特定機能付加フィルタ特定機能とは、被検体厚とSIDと読み出した対応表とに基づいて、複数の付加フィルタから、X線放射窓の前面に配置される付加フィルタを特定する機能である。以下、付加フィルタ特定機能に関する処理以下、付加フィルタ特定処理と呼ぶについて説明する。なお、付加フィルタ特定処理は、検査の目的に応じた対応表を用いて実行されてもよい。図3は、第1の実施形態に係り、X線条件とSIDとX線検出線量と付加フィルタの厚み付加フィルタの種別も含むとに基づいて被検体厚を決定し、被検体厚とSIDとに基づいて複数の付加フィルタから一つの付加フィルタを特定する手順の一例を示すフローチャートである。本X線診断装置1によるX線撮影およびX線透視に先立って、X線条件、SID、X線検出線量、被検体への入射線量率上限値、視野サイズ等が設定されるステップSa1。なお、X線条件、SID、X線検出線量、被検体への入射線量率上限値、視野サイズ等の設定は、例えば、入力部25を介して操作者により入力されてもよい。設定されたX線条件とSIDとX線検出線量と視野サイズと付加フィルタの厚み付加フィルタの種別も含むとを入力値として、所定の計算を実行することにより、被検体厚が決定されるステップSa2。次いで、記憶部21から対応表が読み出される。決定された被検体厚とSIDと読み出された対応表とを用いて、複数の付加フィルタのうち少なくともひとつの付加フィルタが特定されるステップSa3。特定された付加フィルタをX線放射窓の前面に配置させるために、X線絞り部4が制御されるステップSa4。第1の変形例第1の実施形態との相違は、管電圧および管電流などのX線条件またはX線管の最大電力に応じた複数の対応表を記憶し、設定されたX線条件に対応する対応表と被検体厚とSIDとに基づいて、複数の付加フィルタから、X線放射窓の前面に配置される付加フィルタを特定することにある。記憶部21は、例えば、管電圧と管電流との積などのX線条件またはX線管の最大電力に応じた複数の対応表を記憶する。記憶部21は、複数の対応表各々に応じた複数の閾値を記憶する。フィルタ特定部17は、設定されたX線条件例えば、管電圧と管電流との積である電力に応じた対応表を、記憶部21から読み出す。フィルタ特定部17は、被検体厚とSIDと読み出した対応表とに基づいて、複数の付加フィルタから、X線放射窓の前面に配置される付加フィルタを特定する。フィルタ特定部17は、付加フィルタ特定情報を、X線絞り制御部18に出力する。また、フィルタ特定部17は、付加フィルタの特定前に、読み出された対応表に対応する閾値を、記憶部21から読み出し、以下の処理を行うことも可能である。フィルタ特定部17は、被検体厚が読み出された第1の閾値以下である場合、SIDに因らずに、X線放射窓の前面に配置される付加フィルタを特定する。この時、フィルタ特定部17は、まず、被検体厚と所定の閾値とを比較する。次いで、被検体厚が第1の閾値以下である場合、フィルタ特定部17は、被検体厚に応じた付加フィルタを、複数の付加フィルタから特定する。なお、被検体厚が、第2の閾値を超える場合、フィルタ特定部17は、被検体厚とSIDと読み出した対応表とに基づいて、複数の付加フィルタから、X線放射窓の前面に配置される付加フィルタを特定する。付加フィルタ特定機能第1の変形例における付加フィルタ特定機能とは、X線条件に応じた対応表を記憶部21から読み出し、被検体厚とSIDと読み出された対応表とに基づいて複数の付加フィルタから一つの付加フィルタを特定する機能である。以下、第1の変形例における付加フィルタ特定機能に関する処理について説明する。図4は、第1の実施形態の第1の変形例に係り、X線条件X線管の最大電力に対応した対応表を読み出し、被検体厚とSIDと読み出された対応表とに基づいて複数の付加フィルタから一つの付加フィルタを特定する手順の一例を示すフローチャートである。本X線診断装置1によるX線撮影およびX線透視に先立って、X線条件、SID、X線検出線量、被検体への入射線量率上限値、視野サイズ等が設定されるステップSb1。なお、X線条件、SID、X線検出線量、被検体への入射線量率上限値、視野サイズ等の設定は、例えば、入力部25を介して操作者により入力されてもよい。設定されたX線条件とSIDとX線検出線量と視野サイズと付加フィルタの厚み付加フィルタの種別も含むとを入力値として、所定の計算を実行することにより、被検体厚が決定されるステップSb2。次いで、記憶部21からX線条件に応じた対応表が読み出されるステップSb3。図5は、X線条件と被検体への入射線量率上限値とSIDと被検体厚とに応じた付加フィルタの対応表の一例を示す図である。図5のaは、パルスX線透視法におけるX線条件として最大電力kWが3kWである対応表の一例を示している。図5のbは、パルスX線透視法におけるX線条件として最大電力kWが2.2kWである対応表の一例を示している。図5における第1乃至第7の付加フィルタは、フィルタの厚みが異なる付加フィルタである。第1乃至第7の付加フィルタのうち、第1の付加フィルタは最も厚い付加フィルタであって、第7の付加フィルタは最も薄い付加フィルタである。決定された被検体厚とSIDと読み出された対応表とを用いて、複数の付加フィルタのうち少なくともひとつの付加フィルタが特定されるステップSb4。特定された付加フィルタをX線放射窓の前面に配置させるために、X線絞り部4が制御されるステップSb5。以上に述べた構成によれば、以下の効果を得ることができる。本X線診断装置1によれば、X線条件とX線検出線量と視野サイズとSIDと付加フィルタの厚み付加フィルタの種別も含むとに基づいて決定された被検体厚、SID、および対応表に基づいて、X線撮影およびX線透視に適切な付加フィルタを、より精密に特定することができる。これにより、本X線診断装置1においてX線を発生させる性能を最大限に活用することができる。加えて、被検体への被曝量を最小限に抑えることができる。また、本X線診断装置1によれば、付加フィルタの特定に用いられる対応表を、X線条件に応じて用いることができる。これにより、X線条件例えば、X線管の性能に応じて、最適な付加フィルタを用いることができる。加えて、X線管の陽極蓄積熱の上昇や経年劣化に応じて、X線管の性能が劣化した場合においても、最適な付加フィルタを用いることが可能となる。以上のことから、本X線診断装置1によれば、被検体厚が薄い被検体においては常に被曝低減を優先した付加フィルタを使用することができる。加えて、被検体厚が厚い被検体であってもSIDが短い場合は、X線管の性能を有効に利用することができ、被検体厚が厚い被検体においても被曝低減が可能となる。第2の実施形態以下に述べる第2の実施形態において、第1の実施形態と同じ構成要素については、説明の重複を避けるため同じ構成部分には同符号を付して、その詳細な説明は省略し、異なる構成要素についてのみ説明する。図6は、第2の実施形態に係るX線診断装置の構成を示す図である。記憶部21は、被検体厚と同じ厚みを有する第1ファントムのデータを記憶する。第1ファントムのデータは、例えば、水のX線減弱係数を有するデータである。記憶部21は、被検体厚より薄い所定の厚みを有する第2ファントムのデータを記憶する。第2ファントムのデータは、造影剤のX線減弱係数を有するデータである。所定の厚みとは、例えば血管の直径である。記憶部21は、被検体厚とSIDと後述する計算部20により計算されたコントラスト値とに応じた付加フィルタの対応表を記憶する。具体的には、第2の実施形態における対応表は、例えば、第1の実施形態における図5の対応表の項目に、コントラスト値が付加された対応表である。第2の実施形態に関する対応表における付加フィルタは、コントラスト値を向上させる付加フィルタである。なお、記憶部21は、第1、第2ファントムのデータを記憶する代わりに、水のX線減弱係数と造影剤のX線減弱係数と所定の厚みとを記憶していてもよい。計算部20は、X線条件と第1ファントムのデータとを用いて、X線条件で発生されたX線が第1ファントムを透過したときにX線検出部5から出力される第1信号値を計算する。計算部20は、X線条件と第2ファントムのデータとを用いて、X線条件で発生されたX線が第2ファントムを透過したときにX線検出部5から出力される第2信号値を計算する。計算部20は、第1信号値に対する第2信号値の比以下、コントラスト値と呼ぶを計算する。なお、計算部20は、コントラスト値として、第2信号値に対する第1信号値の比を計算してもよい。なお、記憶部21に第1、第2ファントムのデータが記憶されていない場合、計算部20は、第1、第2信号値を計算する前に、記憶部21に記憶された水のX線減弱係数と被検体厚とに基づいて第1ファントムのデータを発生し、記憶部21に記憶された水のX線減弱係数と被検体厚とに基づいて第1ファントムのデータを発生し、記憶部21に記憶された造影剤のX線減弱係数と所定の厚みとに基づいて第2ファントムのデータを発生することも可能である。フィルタ特定部17は、被検体厚とSIDとコントラスト値とに基づいて、X線絞り部4における複数の付加フィルタのうち少なくとも一つを特定する。具体的には、フィルタ特定部17は、記憶部21に記憶された対応表を読み出す。対応表とは、被検体厚とSIDとコントラスト値とに応じた付加フィルタの対応表である。フィルタ特定部17は、被検体厚とSIDとコントラスト値と読み出した対応表とに基づいて、複数の付加フィルタから、X線放射窓の前面に配置される付加フィルタを特定する。例えば、被検体厚が薄く、SIDが短く、コントラスト値が大きい場合は、厚い付加フィルタが特定される。また、例えば、被検体厚が厚く、SIDが長く、コントラスト値が小さい場合は、薄い付加フィルタが特定される。フィルタ特定部17は、特定した付加フィルタに関する情報例えば、付加フィルタの厚みによる識別子等:以下、付加フィルタ特定情報と呼ぶを、後述するX線絞り制御部18に出力する。付加フィルタ特定機能第1の実施形態との相違は、被検体厚とX線条件と第1、第2ファントムのデータとに基づいてコントラスト値を計算し、計算されたコントラスト値と被検体厚とSIDとに基づいて、複数の付加フィルタから一つの付加フィルタを特定することにある。以下、第2の実施形態における付加フィルタ特定機能に関する処理について説明する。図7は、第2の実施形態に係り、被検体厚とX線条件と第1、第2ファントムのデータとに基づいてコントラスト値を計算し、計算されたコントラスト値と被検体厚とSIDとに基づいて、複数の付加フィルタから一つの付加フィルタを特定する手順の一例を示すフローチャートである。本X線診断装置1によるX線撮影およびX線透視に先立って、X線条件、SID、X線検出線量、視野サイズ等が設定されるステップSc1。なお、X線条件、SID、X線検出線量、視野サイズ等の設定は、例えば、入力部25を介して操作者により入力されてもよい。設定されたX線条件とSIDとX線検出線量と視野サイズと付加フィルタの厚み付加フィルタの種別も含むとを入力値として、所定の計算を実行することにより、被検体厚が決定されるステップSc2。次いで、第1ファントムのデータが読み出される。X線条件と被検体厚と第1ファントムのデータとに基づいて、X線検出部5から出力される第1信号値が計算されるステップSc3。次いで、第2ファントムのデータが読み出される。X線条件と被検体厚と第2ファントムのデータとに基づいて、X線検出部5から出力される第2信号値が計算されるステップSc4。第1信号値に対する第2信号値の比であるコントラスト値が計算されるステップSc5。次いで、記憶部21から対応表が読み出される。コントラスト値と被検体厚とSIDと読み出された対応表とを用いて、複数の付加フィルタのうち少なくともひとつの付加フィルタが特定されるステップSc6。特定された付加フィルタをX線放射窓の前面に配置させるために、X線絞り部4が制御されるステップSc7。第2の変形例第2の実施形態との相違は、入力部25などを介して入力された検査部位とコントラスト値と被検体厚とSIDとに基づいて、複数の付加フィルタから一つの付加フィルタを特定することにある。入力部25は、被検体の検査部位を入力する。なお、検査部位の代わりに検査プロトコルが、入力されてもよい。検査部位または検査プロトコルは、図示していないインターフェースを介して接続された病院情報システムまたは放射線部門情報管理システムから転送されてもよい。記憶部21は、検査部位と被検体厚とSIDとコントラスト値とに応じた付加フィルタの対応表を記憶する。具体的には、第2の変形例における対応表は、例えば、第1の実施形態における図5の対応表の項目に、コントラスト値と検査部位とが付加された対応表である。第2の変形例の対応表における付加フィルタは、コントラスト値を向上させる付加フィルタまたは被検体の被曝低減のために用いられる付加フィルタである。なお、記憶部21は、被検体の被曝低減またはコントラスト値の向上などの目的に応じて複数の対応表を記憶することも可能である。また、記憶部21は、複数の検査部位にそれぞれ対応する複数の対応表を記憶してもよい。なお、記憶部21は、被検体への被曝量と表示部23で表示される画像の質との優先順位を設けた対応表を記憶してもよい。フィルタ特定部17は、検査部位と被検体厚とSIDとコントラスト値とに基づいて、X線絞り部4における複数の付加フィルタのうち少なくとも一つを特定する。具体的には、フィルタ特定部17は、記憶部21に記憶された対応表を読み出す。対応表とは、検査部位と被検体厚とSIDとコントラスト値とに応じた付加フィルタの対応表である。なお、フィルタ特定部17は、検査内容に応じた被検体への被曝量と画質との優先順位の入力に基づいて、対応表を読み出してもよい。フィルタ特定部17は、検査部位と被検体厚とSIDとコントラスト値と読み出した対応表とに基づいて、複数の付加フィルタから、X線放射窓の前面に配置される付加フィルタを特定する。例えば、被検体厚が薄く、SIDが長く、コントラスト値が大きく、検査部位が頭部である場合は、厚い付加フィルタが特定される。また、例えば、被検体厚が厚く、SIDが短く、コントラスト値が小さく、検査部位が腹部である場合は、薄い付加フィルタが特定される。フィルタ特定部17は、特定した付加フィルタに関する情報例えば、付加フィルタの厚みによる識別子等:以下、付加フィルタ特定情報と呼ぶを、後述するX線絞り制御部18に出力する。付加フィルタ特定機能付加フィルタ特定機能における第2の実施形態との相違は、検査部位が設定され、設定された検査部位とコントラスト値と被検体厚とSIDと読み出された対応表とを用いて、複数の付加フィルタのうち少なくともひとつの付加フィルタが特定されることにある。図8は、コントラスト値と被検体厚とSIDと被検体の検査部位とに基づいて、複数の付加フィルタから一つの付加フィルタを特定する手順の一例を示すフローチャートである。本X線診断装置1によるX線撮影およびX線透視に先立って、被検体の検査部位、X線条件、SID、X線検出線量、視野サイズ等が設定されるステップSd1。なお、被検体の検査部位、X線条件、SID、X線検出線量、視野サイズ等の設定は、例えば、入力部25を介して操作者により入力されてもよい。設定されたX線条件とSIDとX線検出線量と視野サイズと付加フィルタの厚み付加フィルタの種別も含むとを入力値として、所定の計算を実行することにより、被検体厚が決定されるステップSd2。次いで、第1ファントムのデータが読み出される。X線条件と被検体厚と第1ファントムのデータとに基づいて、X線検出部5から出力される第1信号値が計算されるステップSd3。次いで、第2ファントムのデータが読み出される。X線条件と被検体厚と第2ファントムのデータとに基づいて、X線検出部5から出力される第2信号値が計算されるステップSd4。第1信号値に対する第2信号値の比であるコントラスト値が計算されるステップSd5。次いで、記憶部21から対応表が読み出される。検査部位とコントラスト値と被検体厚とSIDと読み出された対応表とを用いて、複数の付加フィルタのうち少なくともひとつの付加フィルタが特定されるステップSd6。特定された付加フィルタをX線放射窓の前面に配置させるために、X線絞り部4が制御されるステップSd7。以上に述べた構成によれば、以下の効果を得ることができる。本X線診断装置1によれば、X線条件とX線検出線量と視野サイズとSIDと付加フィルタの厚み付加フィルタの種別も含むとに基づいて決定された被検体厚と、X線条件とに基づいて、コントラスト値を計算することができる。本X線診断装置1によれば、コントラスト値と被検体厚とSIDと対応表とに基づいて、X線撮影およびX線透視に適切な付加フィルタを、より精密に特定することができる。これにより、本X線診断装置1においてX線を発生させる性能を最大限に活用することができる。加えて、被検体への被曝量を最小限に抑えることができる。また、本X線診断装置1によれば、コントラスト値を考慮して付加フィルタを特定するため、表示部23で表示される画像の質を落とすことなく、付加フィルタの特定が可能となる。また、本X線診断装置1によれば、付加フィルタの特定に用いられる対応表を、検査部位または検査プロトコルなどに応じて読み出すことができる。これにより、被検体への被曝量と画質との優先程度に応じて、付加フィルタを特定することが可能となる。以上のことから、本X線診断装置1によれば、X線条件、被検体厚などに最適な付加フィルタを使用することができ、被検体の検査内容に応じた最適な画像を提供することができる。加えて、診断時間の短縮、正確な診断、被曝量の低減などが可能となる。なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。