"媒質412へ伝搬した光信号に対する前記媒質412の作用を補正するデバイス100を構成する方法200であって、前記デバイス100は少なくとも1つの光学素子1061~106nを含むものとし、前記光学素子の空間位相プロファイルは個々に調節可能であるものとし、前記方法100は以下の工程:-前記媒質412へ第一光信号408を伝搬させる工程206であって、いわゆる無秩序信号414を提供する前記伝搬工程206;-前記デバイス100へ前記無秩序信号414を伝搬させる工程210;-前記デバイス100へ、参照信号と呼ばれる第二光信号410を伝搬させる工程210であって、前記参照信号410が前記第一信号408と同一である、前記伝搬工程210;及び-前記無秩序信号414と前記参照信号410との間の干渉を最適化する工程212;を含むものとし、前記最適化工程212は、少なくとも1つの前記光学素子1061~106nについて以下の工程:-前記無秩序信号414と前記参照信号410との間の少なくとも1つの干渉パラメーターを測定する工程214と;-前記干渉パラメーターに応じて、少なくとも1つの前記光学素子1061~106nの位相プロファイルを修正216する工程と;の少なくとも1つの繰り返しを含むものとする、前記方法。干渉パラメーターを測定する工程214が、各光学素子について:-各光学素子1061~106nのいくつかの領域についての干渉パラメーター;及び又は-各光学素子1061~106nのピクセル5021~520p毎の干渉パラメーター;及び又は-光学素子1061~106n全体についての干渉パラメーター;を測定する工程を含む、請求項1に記載の方法。干渉パラメーターが、参照信号410及び無秩序信号414の干渉により得られる干渉信号の強度に対するパラメーター6041~604pを含む、請求項1又は2に記載の方法。光学素子1061~106nの空間位相プロファイルを修正する工程216が、前記光学素子1061~106nの少なくとも1つの領域及び又は少なくとも1つのピクセル5021~520pによって光信号へ付与される位相遅れを修正することを含む、請求項1~3のいずれか一項に記載の方法。参照信号410をデバイス100へ伝搬させる前に、前記参照信号410を位相変調208する工程をも含む、請求項1~4のいずれか一項に記載の方法。参照信号410と無秩序信号414との間の干渉ビジビリティーパラメーターを測定する工程220をも含む、請求項5に記載の方法。最適化工程212を、補正デバイス100の各光学素子1061~106nについて次々と実現する、請求項1~6のいずれか一項に記載の方法。固有の光信号404から第一信号408及び参照信号410を発生させる工程202をも含む、請求項1~7のいずれか一項に記載の方法。固有の光信号408を空間的に変調する工程201を含む、請求項8に記載の方法。請求項1~9のいずれか一項に記載の方法の工程を実施する命令を含むコンピュータープログラムであって、コンピューター又は演算手段により実行される、前記コンピュータープログラム。媒質412へ伝搬した光信号に対する前記媒質412の作用を補正するデバイス100であって、前記デバイス100は少なくとも1つの光学素子1061~106nを含み、そして、前記光学素子1061~106nの空間位相プロファイルが、個々に調節可能であり且つ請求項1~9のいずれか一項に記載の方法200により構成される、前記デバイス。少なくとも1つの光学素子1061~106nが、空間光変調器又は可変ミラーである、請求項11に記載のデバイス100。媒質412へ伝搬した光信号に対する前記媒質412の作用を補正する方法300であって、前記方法300は、少なくとも1つの光学素子1061~106nを含むデバイス100の実施を含むものとし、前記光学素子1061~106nの空間プロファイルは個々に調節可能であるものとし、そして、前記方法が:-請求項1~9のいずれか一項に記載の方法200による前記デバイスを構成する構成段階302;及び-前記較正デバイス100によって前記信号を補正する補正段階304;を含むものとする、前記方法。補正段階304の間に媒質412において変化が生じる場合に、デバイス100の構成を調節する少なくとも1つの調節工程308をも含む、請求項13に記載の方法。媒質412へ伝搬した光信号に対する前記媒質412の作用を補正するデバイス100を構成するシステム400であって、前記デバイス100は、少なくとも1つの光学素子1061~106nを含むものとし、前記光学素子1061~106nの空間位相プロファイルは、個々に調節可能であるものとし、そして、前記システム400は:-いわゆる無秩序信号414を提供する前記媒質412へ、第一光信号408を伝搬させる手段406;-前記デバイス100へ前記無秩序信号414を伝搬させる手段;-前記デバイス100へ、参照信号と呼ばれる第二光信号410を伝搬させる手段406,418,420であって、前記参照信号410が前記第一信号と同一である、前記伝搬手段406,418,420;-前記無秩序信号414と前記参照信号410との間の干渉パラメーターを、各光学素子1061~106nのレベルで測定する手段4201~420n,504i,506i;及び-前記干渉パラメーターを増加させるために少なくとも1つの前記光学素子1061~106nの位相プロファイルを修正する手段4221~422n;を含むものとする、前記システム。補正デバイス100へ参照信号410が伝搬する前に、前記参照信号410を変調する変調手段416をも含む、請求項15に記載のシステム。測定手段が、各光学素子1061~106nについてのCCDカメラ4201~420nを含む、請求項15又は16に記載のシステム。修正手段が、各光学素子1061~106nについての少なくとも1つのアクチュエーター4221~422nを含む、請求項15~17のいずれか一項に記載のシステム。媒質へ伝搬した光信号に対する前記媒質の作用を補正するシステムであって:-少なくとも1つの光学素子を含む補正デバイス100であって、前記光学素子の空間位相プロファイルが個々に調節可能である、前記補正デバイス100と;-前記デバイス100を構成する請求項15~18のいずれか一項に記載の構成システム400と;を含む、前記システム。以下の:-請求項1~9のいずれか一項に記載の方法及び/又はデバイスを構成するための請求項15~18のいずれか一項に記載のシステム;-請求項10に記載のコンピュータープログラム;-請求項11又は12に記載のデバイス;-請求項13又は14に記載の方法;及び/又は-請求項19に記載のシステム;の使用であって、ここで:-媒質により付与される変形が任意の変形であるものとし;-無秩序信号が参照信号であるものとし;そして-第二信号が変形する信号であるものとする;信号へ任意の変形を付与するための、前記使用。"