光源からの光に基づく光像を対物レンズを介して対象物上に結像させ、前記対象物からの前記光像の反射光を前記対物レンズを介して前記光像の反射像を結像させる焦点検出光学系と、前記焦点検出光学系の結像位置に設けられて前記反射像を検出する光電変換器と、前記光電変換器で得られた前記反射像の信号に基づいて前記対物レンズを含む観察光学系の結像位置を調節する観察光学系結像調節手段と、前記光電変換器で得られた前記反射像の信号に基づいて前記焦点検出光学系の結像位置を調節する焦点検出光学系結像調節手段と、前記観察光学系結像調節手段または前記焦点検出光学系結像調節手段に前記光電変換器からの信号を切替える切替制御手段を有することを特徴とする顕微鏡。前記対物レンズは、互いに異なる倍率を有する複数の対物レンズを切替える対物レンズ切替手段に配置され、前記対物レンズが前記対物レンズ切替手段により切替えられた際、前記切替制御手段は前記光電変換器からの信号を前記観察光学系結像調節手段から前記焦点検出光学系結像調節手段に切替え、前記観察光学系結像調節手段により前記焦点検出光学系の結像位置を調節した後、前記観察光学系結像調節手段に切替えることを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡。前記対物レンズが前記対物レンズ切替手段により切替えられた際、切替前後の対物レンズの同焦点ずれを検出して、前記同焦点ずれを補正する同焦点ずれ補正手段を有することを特徴とする請求項1または2に記載の顕微鏡。前記同焦点ずれ補正手段による前記同焦点ずれの補正は、交換後の対物レンズに対する前記焦点検出光学系結像調節手段による前記焦点検出結像光学系の結像位置の調節開始前に、前記観察光学系結像調節手段を介して行われることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の顕微鏡。しかしながら、特許文献1に開示されている顕微鏡では、オフセットレンズの移動量に対する観察光学系の焦点位置対物レンズの前側焦点位置の移動量は、観察に用いる対物レンズの倍率等によって変化し、対物レンズ毎にオフセットレンズの移動量を再調整しなければならず、所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業が煩雑になると言う問題がある。本発明は、上記課題に鑑みて行われたものであり、所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業の煩雑さを改善した自動焦点調節装置を内蔵する顕微鏡を提供することを目的とする。上記課題を解決するために、本発明は、光源からの光に基づく光像を対物レンズを介して対象物上に結像させ、前記対象物からの前記光像の反射光を前記対物レンズを介して前記光像の反射像を結像させる焦点検出光学系と、前記焦点検出光学系の結像位置に設けられて前記反射像を検出する光電変換器と、前記光電変換器で得られた前記反射像の信号に基づいて前記対物レンズを含む観察光学系の結像位置を調節する観察光学系結像調節手段と、前記光電変換器で得られた前記反射像の信号に基づいて前記焦点検出光学系の結像位置を調節する焦点検出光学系結像調節手段と、前記観察光学系結像調節手段または前記焦点検出光学系結像調節手段に前記光電変換器からの信号を切替える切替制御手段を有することを特徴とする顕微鏡を提供する。本発明によれば、所望の観察位置に対物レンズの前側焦点位置を設定する作業の煩雑さを改善した自動焦点調節装置を内蔵する顕微鏡を提供することができる。以下、本発明の一実施の形態に関し図面を参照しつつ説明する。図1は、本発明の実施の形態に係る顕微鏡の概略構成図である。図2は、オフセットレンズを移動した時の焦点調節用スリット像の合焦状態を表す図であり、aはオフセット量ゼロの状態であり、bはオフセットレンズを移動したときの状態であり、cは焦点位置が調節された状態である。図3は、オフセットレンズによりスリット像の合焦位置が調整された状態を模式的に示す図である。図1において、本発明に係る顕微鏡は、標本18の光学像或いは蛍光像を観察する観察光学系3と、焦点検出用照明光学系5、焦点検出光学系7及び顕微鏡制御装置CPU41から構成されている。焦点検出用照明光学系5は、LED光源20側から光軸に沿って順に、第1コレクタレンズ21、スリット板22、第2コレクタレンズ23、第1瞳制限マスク24、第1ハーフミラー25、焦点検出光学系結像位置調節手段であるオフセットレンズ8及び光学フィルタ10例えば、可視光カットフィルタが配設されて構成されている。スリット板22の中央部には長方形の細長いスリット開孔22aが形成されており、スリット板22は、スリット開孔22aの長手方向が図1において紙面に垂直方向に延びるように光軸を中心に配設されている。LED光源20から出射された赤外光近赤外光は第1コレクタレンズ21で集光されてスリット板22に入射し、標本面カバーガラス14と標本18が浸された媒質との境界面と共役位置に配置したスリット板22のスリット開孔22aを通り、第2コレクタレンズ23で平行光に変換され、第1瞳制限マスク24に照射される。第1瞳制限マスク24は、瞳の半分を遮光するものであり、光軸を中心にスリット状の赤外光の長手方向の中心線にそって半分が遮光されるように配設されている。第1瞳制限マスク24を通過した赤外光Laは、第1ハーフミラー25を透過する。なお、第1ハーフミラー25は、焦点検出用照明光学系5と焦点検出光学系7の光軸が交差する点に配設されており、赤外光の一部を反射して、他の一部を透過するものであり、後述するように、焦点検出光学系7でも共用されている。焦点検出用照明光学系5と観察光学系3の光軸が交差する点には、ダイクロイックミラー16が配設されており、後述するように観察光学系3でも共用されている。ダイクロイックミラー16は、観察光学系3の観察光路上のアフォーカル系に配設され、赤外光を反射してその他の光を透過する作用をする。第1ハーフミラー25を透過した赤外光Laはオフセットレンズ8を透過した後、光学フィルタ10で赤外光La以外の波長成分が除去された後、ダイクロイックミラー16で第1対物レンズ12以後、単に対物レンズと記すの方向に反射され赤外光Lb、対物レンズ12によって標本18に集光されて照射される。なお、対物レンズ12は、後述するように、観察光学系3でも共用されている。また、オフセットレンズ8については後述する。観察光学系3は、標本18側から順に、対物レンズ12、ダイクロイックミラー16、第2ハーフミラー17および接眼用第2対物レンズ13が配設されて構成されており、さらに接眼用第2対物レンズ13の先には図示しないが接眼レンズが配設されて構成されている。また、図示しないが、ステージ11上に載置された標本18を照明する照明装置が設けられている。この照明装置は、透過型または落射型であり、透過型の照明装置の場合はステージ11の下方に配置され、落射型の照明装置の場合はステージ11の上方に配置される。照明装置から照射された照明光または励起光は標本を透過または反射して観察光または蛍光となり、対物レンズ12で集光され、ダイクロイックミラー16を透過し、蛍光フィルタ118で所定の波長の蛍光が選択されてカメラ用第2対物レンズ36、カメラ用リレーレンズ37、カメラ用CCDセンサ38に入射する。なお、蛍光観察の際には、第2ハーフミラー17は光路から移動可能に構成されている。焦点検出光学系7は、焦点検出用照明光学系5によりステージ11上の標本に照射されて反射するスリット状の赤外光を受光するものである。ここで、ステージ11上のスライドガラス15に載置された標本18はカバーガラス14によって覆われているため、対物レンズ12で結像された赤外光は、カバーガラス14の表面やカバーガラス14と標本18の境界面標本面14b、図3参照で反射する。カバーガラス14や標本面等で反射した赤外光は、対物レンズ12で平行光に変換され赤外光Lc、ダイクロイックミラー16でLED光源20側に反射され赤外光Ld、さらに光学フィルタ10及びオフセットレンズ8を通り、光軸に略45度傾けて配設された第1ハーフミラー25に入射する。第1ハーフミラー25に入射した赤外光Ldは、一部が光路を略90度偏向され焦点検出光学系7に入る。焦点検出光学系7は、焦点検出用照明光学系5側から光軸に沿って、第1ハーフミラー25、焦点検出用第2対物レンズ26、焦点検出用リレーレンズ27、第2瞳制限マスク28、焦点検出用リレーレンズ27、シリンドリカルレンズ29および焦点検出用CCDセンサ30が配設されて構成されている。第1ハーフミラー25で反射された赤外光Ldは、焦点検出用第2対物レンズ26で集光して結像光に変換されスリット像を結像する。焦点検出用リレーレンズ27は、焦点検出用第2対物レンズ26によって結像されたスリット像赤外光Leをリレーし、シリンドリカルレンズ29を経て、オートフォーカス用CCDセンサ30の撮像面にスリット像を再結像する。なお、第2瞳制限マスク28は、瞳の半分を遮光するように配設されており、遮光される領域は、上記に述べた第1瞳制限マスク24によって遮光される領域に対応している。また、シリンドリカルレンズ29は、所定方向のみに屈折作用を持つレンズであり、赤外光Leを図1において紙面に垂直方向スリット像の長手方向に圧縮して、焦点検出用CCDセンサ30の撮像面に結像させる作用をする。また、焦点検出用CCDセンサ30は、複数の受光部が1次元に配列されたラインセンサ、または、2次元に配列されたエリアセンサで構成することが可能である。以上の説明では焦点検出用照明光学系5において、LED光源20から出射した光をスリット板22のスリット開孔22aを通してスリット状にしてスリット開孔22aの像を標本18に照射している。これは、スポット光とした場合、標本面等に段差部分があると、その反射光が散乱して理想的な光量信号を得ることができないためであるが、標本面等の状態によってはこのスリット板22を無くし、上述の方法でLED光源20の像を標本に照射してオートフォーカス制御をすることも可能である。なお、第1コレクタレンズ21はなくても実現可能である。次に、オフセット付加において使用するオフセットレンズ8について説明する。オフセットレンズ8は図1に示す通り、ダイクロイックミラー16と第1ハーフミラー25の間、つまり、焦点検出用照明光学系5と焦点検出光学系7の共通光路上に位置し、アフォーカル系に配設されている。またオフセットレンズ8にはオフセットレンズ駆動部9が取り付けられており、図示しないが、オフセットレンズ8を光軸に沿って前後に移動可能とするオフセットレンズ用DCモータと、倍率の異なる複数のオフセットレンズ8を交換可能とするオフセットレンズ用電動ターレットで構成されている。また、後述する入力部43にはオフセットレンズ8を光軸に沿って移動させるオフセット調節ダイアル51と不図示のオフセットレンズ切り替えスイッチが配設されている。観察者はオフセット調節ダイアル51を操作すると、オフセットレンズ8を光軸にそって前後に移動させることができ、また、オフセットレンズ切り替えスイッチにより、オフセットレンズ用電動ターレットに装着された複数のオフセットレンズ8から任意のオフセットレンズ8を選択して切り替えることができる。オフセットレンズ8の作用について、図2及び図3を用いて説明する。なお、図2及び図3では説明に必要な構成部品のみを図示している。また、図において焦点検出用照明光を実線で示し、観察光学系3における観察光を点線で示している。オフセットレンズ8は、対物レンズ12で標本18に集光照射されるスリット像の結像位置aを光軸に沿ってずらし、同時に、標本18で反射し、焦点検出用CCDセンサー30の撮像面に再結像するスリット像の結像位置を光軸に沿ってずらす働きをする。以下、対物レンズオートフォーカス制御以後、対物レンズAF制御と記すを行いながら、標本18における実際に観察したい位置に対物レンズ12の観察光学系3の焦点位置対物レンズの前側焦点位置を合わす方法について説明する。オフセットレンズ8は凸レンズ8aと凹レンズ8bとを有し、一方のレンズが光軸上に固定され、他方のレンズが光軸上に沿って移動可能に構成されている。また、変形例としては、凸レンズ8aと凹レンズ8bを光軸に沿って移動可能なように構成しても良い。なお、以降の説明では、凸レンズ8aが物体側に固定して配置され、その後方に凹レンズ8bが光軸に沿って移動可能に配置されている場合について説明する。まず、図2aに示すように、対物レンズ12の前側焦点fがカバーガラス14と標本18の境界面以下、標本面14bと呼ぶに合っている状態で、スリット開孔22aを通して標本18に照射される焦点検出用スリット像の焦点aが同じく標本面14bに合い、且つ、その反射像の焦点が焦点検出用CCDセンサ30の撮像面に合うようにオフセットレンズ8凹レンズ8bの位置を調節するこの位置をオフセットレンズ8によるスリット像のオフセットゼロ位置と呼ぶ。この状態ではスリット像が対物レンズ12の前側焦点fつまり標本面14bに結像し、その反射光は焦点検出用CCDセンサ30の撮像面に結像している状態である。また、この状態ではオフセットレンズ8は単に望遠系となっており、オフセットレンズ8の前後では焦点検出用照明光は共に平行光束となっている。この状態で対物レンズAF制御をかけると常に標本面14bに対物レンズ12の前側焦点fと焦点検出光学系7の焦点aが合っている状態に制御される。次にオフセットレンズ8凹レンズ8bを光軸に沿って前後に移動し、焦点検出用スリット像の結像位置を移動させて、対物レンズ12における焦点検出用スリット像の結像位置f実線と観察光学系3の焦点位置a破線の位置をずらすオフセットさせる。例えば、図2bに示すように凹レンズ8bを後方凸レンズ8aから離れる方向に距離xだけ移動させると、焦点検出用スリット像の焦点aは標本面14bより対物レンズ12側に所定の距離この距離をオフセット量OSと呼ぶだけ移動する。この状態で、対物レンズAF制御を行うと、対物レンズ12が標本18に向かって移動して、図2cに示すように、焦点検出用スリット像の焦点aが標本面14bに一致する。このため、対物レンズ12の前側焦点fはオフセット量OSだけ標本18の中に移動し、例えば、図3に示すように標本18内の点Pに一致させることができる。このとき、オフセットレンズ8を構成する凹レンズ8bの移動量xと、標本面14bでのオフセット量OSは、対物レンズ12の倍率焦点距離に応じて決まる。顕微鏡装置として必要なオフセット量OSは、標本18の構成上、50μm程度必要とされる。液浸対物レンズの場合、カバーガラスの入射面14aの反射率は、媒質がオイルの場合ほぼ0であり、水の場合も標本面14bと同じ反射率となり、一般に40倍以上の高倍で開口数も大きく標本側の焦点深度は非常に浅いためカバーガラス入射面14bの反射は焦点検出制御にとって妨げとはならない。なお、オフセット付加は一般的ないわゆる乾燥系対物レンズにも対応可能であるが、乾燥系の場合は、カバーガラス入射面14aの反射率は標本面14bの10倍以上となり焦点深度が比較的深いことから本来のカバーガラス標本面14bを焦点検出基準面とするのは困難となる。従って、信号として10倍以上大きいカバーガラス入射面14aを基準面とするのが適当となる。この場合、オフセット量は高倍/液浸対物レンズのオフセット量50μmに比べて非常に大きくなる例えば、カバーガラス厚170μm50μmが、オフセットレンズ8の適当な設定によりカバーガラス入射面14aを基準とするような大きなオフセット量の設定が可能となる。以上のように、焦点検出光学系7にオフセットレンズ8を組み込むことにより焦点検出用照明光の結像位置焦点aと対物レンズ12の前側焦点位置焦点fをオフセットOSさせることができ、標本18内部の所定の位置に観察光学系3の前側焦点位置焦点fを設定することができる。なお、上述のオフセットレンズ8でオフセットさせることが可能な距離は、オフセットレンズ8の焦点距離により物理的な制限があるため、その物理的な制限以上にずらしたい場合には、オフセットレンズ8を交換することで対応可能である。例えば、焦点距離の長いものに交換することにより長いずらし量を実現することができる。また、上記構成ではオフセットレンズ8をダイクロイックミラー16と第1ハーフミラー25の間、すなわち焦点検出用照明光学系5と焦点検出光学系7の共通光路上に配設し、標本18に集光照射されるスリット像と標本18標本面14bで反射して焦点検出用CCDセンサ30の撮像面に再結像するスリット像の両方の焦点位置を光軸方向にずらしていたが、第1ハーフミラー25と第1瞳制限マスク24の間にオフセットレンズ8を配設して標本18に集光照射されるスリット像の焦点位置を光軸方向にずらして実現することも可能である。また、第1ハーフミラー25と焦点検出用第2対物レンズ26の間にオフセットレンズ8配設して、焦点検出用CCDセンサ30の撮像面に再結像するスリット像の焦点位置を光軸方向にずらして実現することも可能である。次に、顕微鏡の制御系について説明する。顕微鏡の制御系は、焦点検出位置検出のための焦点検出用信号処理部31、対物レンズ12を上下動する合焦リング54、焦点検出光学系7からの信号に基づき対物レンズ12を上下動し対物レンズAF制御を行う観察光学系結像調節手段の一部である対物レンズ駆動部52、対物レンズ12の光軸に沿った位置Z方向位置を検出するエンコーダ53、ステージ11をXY方向に移動させるステージ駆動部34、対物レンズ12を交換するための電動レボルバを駆動する電動レボルバ駆動部35およびそれらを制御するためのCPU41、メモリ42、入力部43で構成されている。なお、合焦リング54からCPU41に対物レンズ12の光軸方向の位置が不図示のエンコーダを介して送られている。焦点検出用CCDセンサ30において検出したスリット像の信号は、焦点検出用信号処理部31に出力され、CPU41の観察光学系結像調節手段の一部である観察光学系信号処理部により処理され、対物レンズ12に対する標本の焦点情報が検出される。この焦点情報に関する信号は、CPU41の観察光学系信号処理部を介して対物レンズ駆動部52に送られ、対物レンズ12の位置を光軸に沿って上下動させることにより対物レンズ12による対物レンズAF制御が達成される。なお、焦点検出用CCDセンサ30の撮像面の中でスリット像が形成される位置は、対物レンズ12の光軸に沿った上下動によって、標本18やカバーガラス14の位置が変わると、それに合わせて、スリット像の短手方向に移動する。このような焦点検出用CCDセンサ30で検出されたスリット像から対物レンズ12の光軸方向の位値を制御する。このような対物レンズAF制御を用いて標本18に対物レンズ12の焦点fを合わせることが可能になる。対物レンズ駆動部53は、図1には図示しないが対物レンズ12に取り付けられた対物レンズ駆動用DCモータと、対物レンズ駆動用DCモータを回転させる対物レンズ駆動用モータドライバと、対物レンズ駆動用DCモータの回転角を検出するエンコーダ53例えば、ロータリエンコーダ等と、エンコーダ53の検出結果に基づいて対物レンズ12の上下動をカウントするアップ/ダウンカウンタとで構成されている。対物レンズAF制御はCPU41で処理され、制御信号は上下動制御信号と速度制御信号として対物レンズ駆動用モータドライバに出力され、この信号に基づいて対物レンズ駆動用DCモータは駆動される。アップ/ダウンカウンタのカウント結果は、上下動位置信号としてCPU41に出力される。対物レンズ12は対物レンズ駆動用DCモータが回転すると、その回転角に応じて光軸に沿って上下動する。そして、対物レンズ12が上下動し、ステージ11に載置された標本18と対物レンズ12との位置関係が調節される。図1では1本の対物レンズ12のみを示したが、本実施の形態にかかる顕微鏡は、倍率が異なる複数の対物レンズ12によって構成可能である。複数の対物レンズ12は、図示しないが電動レボルバに装着されており、電動レボルバはこれを回転駆動する電動レボルバ駆動部35に接続される。電動レボルバ駆動部35には、図示しないが電動レボルバに取り付けられた電動レボルバ駆動用DCモータと、CPU41からの回転制御信号に基づいて電動レボルバ駆動用DCモータを回転させる電動レボルバ駆動用モータドライバとが設けられている。電動レボルバは、上記した電動レボルバ駆動用DCモータの回転に応じて回転する。そして、電動レボルバに装着された複数の対物レンズ12もともに回転し、いずれか1つの第1対物レンズ12が顕微鏡の観察光路上に位置決めされる。電動レボルバ駆動部35には、電動レボルバのレボルバ穴例えば6個のうち、顕微鏡の観察光路上に位置決めされたレボルバ穴の番号1~6を検知するセンサ図示せずが設けられている。入力部43について説明する。入力部43には、オフセットレンズ8の移動量を与えるオフセットレンズ調整ダイアル51、図示しないが、キーボード、対物レンズ切り替えスイッチ、焦点検出信号切替スイッチ、オートフォーカス制御開始スイッチ、合焦位置記憶スイッチ、アップ/ダウン微調整スイッチ、及び各種スイッチ等が設けられている。キーボードは、対物レンズ12の情報を入力する時に使用される。キーボードから入力された対物レンズ12に関するデータは、メモリ42に記憶される。また、合焦位置記憶スイッチによって取得された合焦位置情報もメモリ42に記憶される。対物レンズ切り替えスイッチは、顕微鏡の観察光路上に位置決めされた対物レンズ12を別の対物レンズ12に切り替えるときに使用される。CPU41は、対物レンズ切り替えスイッチから入力された切り替え信号に基づいて電動レボルバ駆動部35を制御し、切り替え信号によって指定されたレボルバ穴を顕微鏡の観察光路上に位置決めする。焦点検出信号切替スイッチは、後述する焦点検出用信号処理部31からの信号で対物レンズ12を駆動するかオフセットレンズ8を駆動するかを切替えるためのスイッチである。オートフォーカス制御開始スイッチは、顕微鏡における対物レンズAF制御または後述するオフセットレンズAF制御のオートフォーカス制御の開始を指示する時に使用される。CPU41は、オートフォーカス制御開始スイッチが操作されると、既に説明したスリット投影式対物レンズオートフォーカス制御の実行を開始し、標本18が第1対物レンズ12の焦点に位置決めしたり、後述するオフセットレンズAF制御の実行を開始したりする。アップ/ダウン微調整スイッチは、手動操作によって対物レンズ12の上下動を微調整する時に使用される。CPU41は、アップ/ダウン微調整スイッチから入力された微調整信号に基づいて対物レンズ12を位置決めする。なお、アップ/ダウン微調整スイッチの操作は、操作者が顕微鏡の不図示の接眼用第2対物レンズおよび接眼レンズを介して標本の像を観察しながら行うものである。そして操作者にとってコントラストの高い像が良好に観察できた時点で、アップ/ダウン微調整スイッチの操作を終了し、対物レンズ12が位置決めされる。この時、本実施形態の顕微鏡では、標本18の中の任意の面が対物レンズ12の前側焦点位置に一致している。このようにして、本発明の実施の形態にかかる顕微鏡が構成されている。以下、本発明の実施の形態にかかる顕微鏡の光学像を観察する際の制御に関し説明する。図4ステップS1~S5は、標本18の所望の観察位置に観察光学系の焦点位置焦点fを設定するまでのステップを示している。以下、各ステップ毎に説明する。ステップ1スライドガラス15に載置された標本18にカバーガラス14をセットしてステージ11にセットした後、対物レンズ12を合焦ダイアル54を上下に移動して標本18とカバーガラス14の標本面14bに対物レンズ12の焦点fを位置付ける。この時、オフセットレンズ8の位置はオフセットゼロ位置にセットされており、観察光学系3の焦点位置f破線で示すと焦点検出光学系7の焦点位置a実線で示すとが一致している。ステップ2この状態にセットした後、オートフォーカス制御開始スイッチをONにし、対物レンズAF制御を開始し、対物レンズ12の焦点位置を所定の位置に維持するように制御する。ステップ3、4続いて、対物レンズ12の観察光学系の焦点位置fを標本18中の所望の位置に移動するために、オフセット調節ダイアル51を回動してオフセットレンズ8を光軸に沿って移動する。オフセットレンズ8を移動例えば、移動量xすると、焦点検出光学系7の焦点位置aが標本面14bからずれるため、これを補正するように対物レンズ12が標本18方向にOS移動し、焦点検出光学系7の焦点位置aが標本面14bに一致する。ステップ5対物レンズ12が標本方向に距離OS移動した結果、観察光学系3の焦点位置fが標本18中に移動して所望の位置の光学像が観察可能になり、対物レンズAF制御によって焦点位置が維持される。従来の顕微鏡において対物レンズ12を倍率の異なる対物レンズに交換する場合、標本18中の同じ位置に観察光学系3の焦点位置fを位置付けるためのオフセットレンズ8のオフセット量OSが交換前後の対物レンズでは異なっている。このため対物レンズを交換する際には、対物レンズAF制御スイッチを一端OFFにした後、対物レンズを電動リボルバ駆動部35を介して切替え、オートフォーカス制御開始スイッチをONにし、光学像を目視で観察しながら標本面14bに位置付けしたのち、再度オフセットレンズ8のオフセット量を調節すると言う煩雑な作業が必要であった。なお、交換する対物レンズ同士の同焦点がずれている場合には、オートフォーカス制御開始スイッチをONにする前に、オフセットレンズ8の位置をオフセットゼロ位置に戻した後、目視で境界面14bに焦点位置をセットしオートフォーカス制御開始スイッチをONにし、光学像を目視で観察しながら再度オフセットレンズ8のオフセット量を調節する煩雑な作業が必要であった。本発明の実施の形態に係る顕微鏡は、対物レンズ交換時の諸調整を自動で行うことができるように構成されている。以下、対物レンズ交換の際の制御ステップに関し説明する。図4のステップS6において、対物レンズの切替を行うかどうかを判断する。ステップ6対物レンズ12を切替えるか判断する。切替えない場合はステップ3に戻る。対物レンズを切替える時はステップS7の対物レンズ切替シーケンスを実行する。図5は、対物レンズ切替に伴う顕微鏡の制御フローチャートを示す。ステップ7-1対物レンズ12の切替の指令を入力部42から入力する。この時、入力部43から電動リボルバに位置決めされている対物レンズ12を選択指示する例えば、電動リボルバの穴番号を入力する。対物レンズ12による対物レンズAF制御を行いながらS7-2、オフセットレンズ8が固定されS7-3、現在光路中に挿入されている対物レンズ12の光軸に沿ったZ位置Za値がエンコーダ53を介して読み取られてCPU41に送られメモリ42に記憶されるS7-4。ステップ7-5~7-7対物レンズ12による対物レンズAF制御S7-5を行いながらオフセットレンズ8をオフセットゼロ位置オフセット基準位置に移動しS7-6、このときの対物レンズ12のZ位置Zb値をエンコーダ53を介して読み取りCPU41に送りメモリ42に記憶するS7-7。オフセット基準位置では、標本面14bに焦点位置fとaが位置付けられる。ステップ7-8CPU41を介して対物レンズ12のオートフォーカス制御開始スイッチがOFFにされ対物レンズAF制御が解除され、電動リボルバ駆動部35にCPU41から回転の指示が送られ、指定された対物レンズ12が電動リボルバ駆動部35を介して選択され光路中に挿入される。ステップ7-9電動リボルバ駆動部35からの交換完了信号を受け、交換後の対物レンズ12の対物レンズAF制御を開始する。オフセットレンズ8はオフセット基準位置に固定されているので対物レンズ12の焦点検出光学系7の焦点位置aは標本面14bに位置付けられるように対物レンズBが制御される。ステップ7-10この状態における対物レンズ12の光軸に沿ったZ位置Zc値がエンコーダ53を介して読み取られてCPU41に送られメモリ42に記憶される。ステップ7-11CPU41において、Za値、Zb値、及びZc値から交換前の対物レンズと交換後の対物レンズのZ位置の補正値Za-Zb-Zcが計算される。ここでZb-Zcが交換前の対物レンズと交換後の対物レンズの同焦点ずれに相当する。計算されたZ位置の補正値の基づき対物レンズ12が移動されるが、この時、対物レンズ12への対物レンズAF制御が一旦OFFにされた状態でZ方向に補正値だけ移動される。ステップ7-12ステップ7-11で対物レンズ12を移動したので、焦点検出光学系7の焦点位置aがずれてしまう。これを補正するために、焦点検出用信号処理部31からの信号を用いた焦点調節をオフセットレンズ駆動部9に与えて、オフセットレンズ8によるフォーカス制御これをオフセットレンズAF制御と言うを行うようにCPU41で信号を切替える。これにより、焦点検出用CCDセンサー30上で結像のボケが無いようにオフセットレンズ8が光軸に沿って移動され、焦点検出光学系7の焦点位置aが境界面14bに位置付けられる。以上のステップにより対物レンズの同焦点ずれの補正が完了する。ステップ7-13その後、CPU41はオートフォーカス制御をオフセットレンズAF制御から対物レンズAF制御に切替、さらに対物レンズ12における所定のオフセット量をオフセットレンズ8に与えることで、交換前の対物レンズで観察していた観察光学系3の焦点位置fに対物レンズ12における観察光学系の焦点位置fを位置付けることが可能になる。交換後の対物レンズのオフセットレンズ8の移動量とオフセット量の関係は、メモリ42中に前もって保存されており、このデータから交換後の対物レンズ12におけるオフセットレンズ8の移動量を算出して所定の焦点位置に位置付けすることが可能になる。ステップ7-14オフセットレンズ8が所定の位置にセットされた時点でオフセットレンズ8は固定される。以後、対物レンズAF制御が継続され観察光学系3の焦点位置fが所望の観察位置に維持される。このように、本発明の実施の形態にかかる顕微鏡では、交換前後の対物レンズの同焦点ずれを検出し補正することができ、かつ交換後の対物レンズに応じたオフセットレンズ8の移動量を有しているため、対物レンズを交換した後でも対物レンズの交換前の観察光学系3の焦点位置fに容易に位置付けすることが可能になる。なお、同焦点ずれが無い複数の対物レンズをレボルバに固定している場合には、上記ステップは簡単になり図6に示すステップで対物レンズの交換を行うことができる。図6に示すように、交換前後の対物レンズに同焦点ずれが無いことが前もって知られている場合には、図5に示す処理ステップの内、ステップ7-2~ステップ7-6、及びステップ7-9~ステップ7-10が省略でき、より簡単な処理ステップで対物レンズの交換を行うことができる。次に、本発明の実施の形態に係る顕微鏡の別の制御に関し説明する。前述の顕微鏡では、観察位置を標本中の所望の位置に位置付けする場合、接眼レンズを介して標本像を観察しながら標本18とカバーガラス14の標本面14bに観察光学系3の焦点位置fと焦点検出光学系7の焦点位置aとを最初に位置付けし、その後オフセットレンズ8を光軸に沿って移動することでオフセット量OSを付与し、観察光学系3の焦点位置fを標本18内部の所望の位置に位置付けすることを行っている。このような作業は所望の観察位置を見つけ出すために多数のポイントをサーチする必要があり、観察位置に観察光学系3の焦点位置fを位置付けする作業が煩雑になると言う問題がある。本実施の形態にかかる顕微鏡では、標本18の所望の観察位置に容易に観察光学系3の焦点位置fを位置付けすることが出来る機能を有している。以下、図7に示すフローチャートに従って顕微鏡の動作を説明する。図4と同様のステップには同じ符号を付し説明する。ステップ1-1標本18をステージ11に設置後、オフセットレンズ8の位置をオフセットゼロ位置にセットする。この状態では、図2aに示すように観察光学系3の焦点位置f破線で示すと焦点検出光学系7の焦点位置a実線で示すとは一致している。ステップ2-1焦点検出用信号処理部31からの信号をCPU41が受けて、この信号に基づくオフセットレンズAF制御を開始する。オフセットレンズAF制御は前述と同様である。ステップ3-1、4-1オフセットレンズAF制御を行い、接眼レンズを介して標本像を観察しながら顕微鏡の合焦リング53を操作して標本18中の所望の観察位置に観察光学系3の焦点位置fを位置付けする。この際、オフセットレンズAF制御が行われているので、焦点検出光学系7の焦点位置aは、標本面14bに位置付けされるようにオフセットレンズ駆動部9により光軸に沿って前後に移動する。ステップ5-1オフセットレンズAF制御から対物レンズAF制御にCPU41を介して切替える。これにより標本18の所望の位置に観察光学系3の焦点位置fを所望の位置に位置付けし続けることが可能になる。なお、オフセットAF制御と対物レンズAF制御の切替は、手動の場合には入力部43の焦点検出信号切替スイッチにより切替えることで行うことが可能である。また、自動で切替える場合には、CPU41が合焦ダイアル54からの入力信号を検出し、所定時間合焦ダイアル54からの信号に変化がない場合自動的に切替えるようにすることで可能になる。ステップ6対物レンズ12を切替えるか判断する。切替えない場合はステップ3に戻る。対物レンズを切替える時はステップS7の対物レンズ切替シーケンスを実行する。ステップS7以降のシーケンスは、前述の図5、図6と同様であり説明を省略する。これら同様のシーケンスを実行することにより、同様の効果を奏することができる。このように、本発明の実施の形態にかかる顕微鏡は、焦点検出用信号処理部31からの信号を対物レンズAF制御とオフセットレンズAF制御とに適宜切替えることが可能であり、これにより対物レンズの交換や観察位置の選択等を容易に行うことが可能になる。なお、上述の説明は、正立型の顕微鏡の場合について行ったが倒立型の顕微鏡でも同様の効果を奏することができる。また、自動焦点調節制御を対物レンズを上下駆動する対物レンズAF制御の場合について説明したが、ステージ11を上下駆動することで対物レンズAF制御と同様の制御を行うことも可能である。なお、上述の実施の形態は例に過ぎず、上述の構成や形状に限定されるものではなく、本発明の範囲内において適宜修正、変更が可能である。