互いに異なる2以上のランダム符号を発生させるランダム符号発生器11と、前記ランダム符号発生器からのランダム符号が入力され、波長ごとに異なるランダム符合で変調された試験光を出力する、波長の異なる複数の光源13_1~13_Nと、前記複数の光源からの前記試験光を合波する合波器21と、前記合波器からの合波光を被測定光ファイバに出力し、前記被測定光ファイバからの後方散乱光が入力される光カプラ14と、前記光カプラから入力された前記後方散乱光を受光して電気信号に変換する受光器16と、前記受光器からの電気信号に含まれる直流成分をカットする直流カット回路17と、前記直流カット回路からのアナログ信号をデジタル信号に変換するAD変換回路19と、前記AD変換回路からのデジタル信号と前記ランダム符号発生器からの各ランダム符号との相関演算を行う相関器20と、を備える多波長同時測定OTDROpticalTime-DomainReflectometer。前記合波器は、WDMWavelengthDivisionMultiplexersであることを特徴とする請求項1に記載の多波長同時測定OTDR。互いに異なる2以上のランダム符号を発生させるランダム符号発生手順と、前記ランダム符号発生手順で発生させたランダム符号が入力され、波長の異なる複数の光がそれぞれ異なるランダム符合で変調された試験光を出力する試験光出力手順と、前記試験光出力手順で出力した試験光を合波する合波手順と、前記合波手順で合波した合波光を前記被測定光ファイバに出力し、前記被測定光ファイバからの後方散乱光を受光して電気信号に変換する受光手順と、前記受光手順で変換した電気信号に含まれる直流成分をカットする直流カット手順と、前記直流カット手順で直流成分をカットした後の交流成分をデジタル信号に変換するAD変換手順と、前記AD変換手順で変換したデジタル信号と前記ランダム符号発生手順で発生させた各ランダム符号との相関演算を行う相関処理手順と、を順に有する多波長同時OTDR測定方法。複数の波長について同時にOTDR測定を行おうとすると、光源を複数備え、波長フィルタで各波長の信号を分離し、各波長の後方散乱光を受光する必要がある。そのため、複数の波長についてOTDR試験を行う場合は、各波長について順に測定を行っていた。各波長について順に測定を行うと、ある波長での測定時間が1分程度かかった場合、3波長測定するためには3分かかることになる。心線の数が少ない場合は問題とならないが、多心構造の光ファイバを測定する場合など、現場によっては1000心の光ファイバのOTDR測定を行わなければならない場合もある。この場合、単純計算で3000分、すなわち実質約2日程度をOTDR測定に費やさなくてはならない問題がある。特許文献1では、試験光のパワーを低くしても信号対雑音比が劣化しないように相関符号で変調する旨の記載はあるが、後方散乱光と波長の異なる信号光との分離には波長フィルタを用いている。特許文献2では、雑音レベルの内からでも後方散乱光を見出すためにランダム符号で変調する旨の記載はあるが、後方散乱光と波長の異なる光との分離については考慮されていない。特許文献3では、ダイナミックレンジを改良するためにゴーレー符号を用いて変調する旨の記載はあるが、後方散乱光と波長の異なる光との分離については考慮されていない。これら特許文献1乃至3に記載されているように、従来は、波長の異なる信号を分離するためには波長フィルタを用いており、複数の波長を波長フィルタを用いずに分離する手段は提案されていない。このため、仮に特許文献1乃至3に記載された発明を組み合わせたとしても、波長フィルタを用いて複数の波長を分離する発明しか構成することはできない。波長フィルタを用いて複数の波長を分離しようとすると、各波長の波長フィルタを搭載する必要があるため、装置の製造コストが上がってしまう問題がある。そこで、本発明は、波長フィルタを用いずに各波長の後方散乱光を分離し、複数波長の光パルス試験を同時に行うことにより測定時間を短縮することを可能とし、工事の効率化を図ることを可能にすることを目的とする。本発明に係る多波長同時測定OTDRは、互いに異なる2以上のランダム符号を発生させるランダム符号発生器11と、前記ランダム符号発生器からのランダム符号が入力され、波長ごとに異なるランダム符合で変調された試験光を出力する、波長の異なる複数の光源13_1~13_Nと、前記複数の光源からの前記試験光を合波する合波器21と、前記合波器からの合波光を被測定光ファイバに出力し、前記被測定光ファイバからの後方散乱光が入力される光カプラ14と、前記光カプラから入力された前記後方散乱光を受光して電気信号に変換する受光器16と、前記受光器からの電気信号に含まれる直流成分をカットする直流カット回路17と、前記直流カット回路からのアナログ信号をデジタル信号に変換するAD変換回路19と、前記AD変換回路からのデジタル信号と前記ランダム符号発生器からの各ランダム符号との相関演算を行う相関器20と、を備える。本発明に係る多波長同時測定OTDRは、複数の光源13_1~13_Nと、合波器21と、光カプラ14と、受光器16と、AD変換回路19と、を備えるため、複数波長の光パルス試験を行うことができる。本発明に係る多波長同時測定OTDRは、さらに、ランダム符号発生器11と、直流カット回路17と、相関器20と、を備えるため、波長フィルタを用いずに各波長の後方散乱光強度を観測することができる。このため、本発明に係る多波長同時測定OTDRは、波長フィルタを用いずに各波長の後方散乱光を分離し、複数波長の光パルス試験を同時に行うことにより測定時間を短縮することを可能とし、工事の効率化を図ることの可能にすることができる。本発明に係る多波長同時測定OTDRでは、前記合波器は、WDMWavelengthDivisionMultiplexersであってもよい。本発明により、合波器における結合損失を低減することができる。本発明に係る多波長同時OTDR測定方法は、互いに異なる2以上のランダム符号を発生させるランダム符号発生手順と、前記ランダム符号発生手順で発生させたランダム符号が入力され、波長の異なる複数の光がそれぞれ異なるランダム符合で変調された試験光を出力する試験光出力手順と、前記試験光出力手順で出力した試験光を合波する合波手順と、前記合波手順で合波した合波光を前記被測定光ファイバに出力し、前記被測定光ファイバからの後方散乱光を受光して電気信号に変換する受光手順と、前記受光手順で変換した電気信号に含まれる直流成分をカットする直流カット手順と、前記直流カット手順で直流成分をカットした後の交流成分をデジタル信号に変換するAD変換手順と、前記AD変換手順で変換したデジタル信号と前記ランダム符号発生手順で発生させた各ランダム符号との相関演算を行う相関処理手順と、を順に有する。本発明に係る多波長同時OTDR測定方法は、試験光出力手順と、合波手順と、受光手順と、AD変換手順と、を有するため、複数波長の光パルス試験を行うことができる。本発明に係る多波長同時OTDR測定方法は、さらに、ランダム符号発生手順と、直流カット手順と、相関処理手順と、を有するため、波長フィルタを用いずに各波長の後方散乱光強度を観測することができる。このため、本発明に係る多波長同時OTDR測定方法は、波長フィルタを用いずに各波長の後方散乱光を分離し、複数波長の光パルス試験を同時に行うことにより測定時間を短縮することを可能とし、工事の効率化を図ることの可能にすることができる。本発明によれば、波長フィルタを用いずに各波長の後方散乱光を分離し、複数波長の光パルス試験を同時に行うことにより測定時間を短縮することを可能とし、工事の効率化を図ることができる。添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施の例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。図1に、本実施形態に係る多波長同時測定OTDRの一例を示す。多波長同時測定OTDRは、ランダム符号発生器11と、変調器12_1~12_Nと、光源13_1~13_Nと、合波器21と、光カプラ14と、ポート15と、受光器16と、直流カット回路17と、増幅器18と、AD変換回路19と、相関器20と、を備える。本実施形態に係る多波長同時OTDR測定方法は、ランダム符号発生手順と、試験光出力手順と、合波手順と、受光手順と、直流カット手順と、AD変換手順と、相関処理手順と、を順に有する。ランダム符号発生手順では、ランダム符号発生器11は、試験光の波長ごとに互いに異なる2以上のランダム符号C_1~C_Nを同時に発生させる。ランダム符号C_1~C_Nは、例えばM系列符号である。試験光出力手順では、多波長同時測定OTDRは試験光LT_1~LT_Nを同時に出力する。例えば、変調器12_1~12_Nは、例えば電流制御回路であり、ランダム符号発生器11からのランダム符号C_1~C_Nに合わせて、光源13_1~13_Nからの出力光を同時に変調する。光源13_1~13_Nは、例えばLDLaserDiodeであり、光源13_1~13_Nの各波長は異なる。光源13_1~13_Nは、ランダム符号C_1~C_Nが入力され、ランダム符号C_1~C_Nで変調された試験光LT_1~LT_Nを出力する。図3に、ランダム符号で変調された試験光の一例を示す。合波手順では、合波器21は、光源13_1~13_Nからの試験光LT_1~LT_Nを合波する。合波器21は、WDMWavelengthDivisionMultiplexersであることが好ましい。これにより、合波器21における結合損失を減少させることができる。光カプラ14は、合波光をポート15に導く。ポート15は、被測定光ファイバ93と接続可能であり、光カプラ14からの合波光を被測定光ファイバ93に出力する。これにより、合波光LMが被測定光ファイバ93に入射される。ここで、試験光出力手順において、光源13_1~13_Nは、被測定光ファイバ93を光が伝搬するのに要する時間以上の所定時間にわたり連続して試験光を出力する。この場合、ランダム符号発生器11は、当該所定時間にわたる符号長を有するランダム符号を有する。例えば、ランダム符号の符号長Nは、パルス幅Pwと被測定光ファイバ長Lfiberと光ファイバ中の光の伝搬速度vを用いて次式で表される。N>2/vLfiber/Pwただし、Nは2n-1を満たす。このため、本実施形態において被測定光ファイバ長Lfiberが500mであり、ランダム符号の1bitのパルス幅Pwが10nsecである場合、符号長Nは511bit以上となる。また、本実施形態では、ランダム符号発生器11が当該所定時間にわたる符号長を有するランダム符号を4回連続して発生させ、光源13_1~13_Nが当該所定時間の4倍の時間にわたり連続して試験光を出力する。受光手順では、多波長同時測定OTDRは以下のように動作する。ポート15は、被測定光ファイバ93からの後方散乱光LBが入力される。光カプラ14は、ポート15からの後方散乱光LBを受光器16に導く。受光器16は、光カプラ14から入力された後方散乱光LBを受光して電気信号に変換する。ここで、被測定光ファイバからは、ランダム符号C_1~C_Nに応じた後方散乱光LBが受光器16で受光される。ランダム符号により変調された後方散乱光LBはあるレベルを中心に変調された信号となる。被測定光ファイバ93が図3で示すような光ファイバ特性を有する場合、受光器16から出力される電気信号は図4のようになる。直流カット手順では、直流カット回路17は、受光器16からの電気信号に含まれる直流成分をカットする。直流カット回路17は、例えばコンデンサであり、受光器16からの電気信号をAC結合させる。AD変換手順では、AD変換回路19は、直流カット回路17からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。相関処理手順では、相関器20は、AD変換回路19からのデジタル信号とランダム符号発生器11からの各ランダム符号との相関演算を行う。ランダム符号により変調された複数波長の後方散乱光LBはAD変換回路19によりデジタル信号に変換される。しかし、相関処理手順においてデジタル信号とランダム符号C_1~C_Nとの相関を取得することにより、各ランダム符号C_1~C_Nにより変調された各後方散乱光を取り出すことができる。このため、複数波長の後方散乱光が入った環境下であっても、各波長の試験光LT_1~LT_Nによって発生した後方散乱光を観測し、各波長のOTDR測定を行うことが可能となる。図5に、ランダム符号C_1~C_Nのうちのある符号の相関演算を行う相関器20からの出力波形の一例を示す。ランダム符号を4回連続して発生させたうちの、最初と最後を除く2回において、図3に示す被測定光ファイバの特性が再現できている。このように、ランダム符号を3回以上連続して発生させた試験光を用いることにより、複数波長の光パルスを被測定光ファイバ93に同時に入射した場合であっても、AC結合した後に信号増幅を行うため、波長フィルタを用いずに複数波長OTDR試験を行うことが可能となる。図6に、本実施形態に係る多波長同時測定OTDRの使用形態の一例を示す。本実施形態では、多波長同時測定OTDRがPONに接続されている例を示す。PONは、1本の光線路91が光カプラ92によって複数の光線路93_1~93_Nに分岐されている。これにより、OLT96と複数のONU97_1~97_Nとの間で通信を行う。波長フィルタ94_1~94_N及び波長フィルタ95は、光線路91及び光線路93_1~93_Nの端部に配置され、PONで伝送される信号光SCを通過させて信号光SC以外の光を反射する。OTDR101は、光線路91及び光線路93_1~93_Nの端部のいずれかに配置され、波長フィルタ94_1~94_N、95の反射波長の光をランダム符号で変調した試験光を光カプラ92に向けて入射する。そして、試験光が波長フィルタ94_1~94_N、95又は光線路91、93_1~93_Nで反射又は散乱された後方散乱光LBを、波長フィルタを介さずに受光してランダム符号との相関処理を行う。例えば、OTDR101は、光線路93_3に接続される。この場合、試験光出力手順において、光源13_1~13_Nは、被測定光ファイバ93を光が伝搬するのに要する時間以上の所定時間にわたり連続して試験光を出力する。この光線路91の端部は波長フィルタ95であってもよく、光線路93_3の端部は波長フィルタ94_3であってもよい。背景光は通信信号により変調されているが、ビットレートは光源13_1~13_Nの変調周波数に比べて非常に高いため、受光器16で電気信号に変換する際にはOTDRの受信帯域に制限されることとなる。また、低域の背景光は直流カット回路17によりカットされることとなる。一部の変調された背景光は、ランダム符号により変調された後方散乱光LBと共にAD変換回路19によりデジタル信号に変換される。しかし、背景光はランダム符号C_1~C_Nと相関をもたないため、相関を持つ後方散乱光特性のみが抽出されることとなる。このため、複数波長の後方散乱光に加えて背景光が入った環境下であっても、各波長の試験光LT_1~LT_Nによって発生した後方散乱光を観測し、背景光の影響なくOTDR測定を行うことが可能となる。なお、本実施形態では、ONU側からOLT側に向けて試験光を入射する例について説明したが、OLT側からONU側に試験光を入射してもよい。この場合、光カプラ92と波長フィルタ95の間にOTDR101を挿入する。