励起放射にさらされたときに第一波長の放射を放出することが可能なルミネセンス対象分析物プローブと光学的に交信するのに有効な装置を校正し、前記プローブから得られる発光寿命測定から対象分析物分圧を求める方法であって、a様々な既知の濃度の対象分析物にさらされた対象分析物消光可能プローブと交信することによって得られる複数の発光寿命データポイントから、シュテルンフォルマープロットを実験的に作ること、ここで前記装置に搭載された励起エネルギ源から放出される励起エネルギは、前記プローブに伝達される前に前記励起エネルギから前記第一波長の放射を取り除くためにフィルタ処理される、及び、b作られたシュテルンフォルマープロットから前記装置を校正することの段階を含む。前記対象分析物は酸素である、請求項1の方法。前記プローブは酸素消光可能白金ポルフィリンプローブである、請求項1の方法。前記装置に搭載された前記励起エネルギ源は発光ダイオードである、請求項1の方法。対象ルミネセンス対象分析物プローブと光学的に交信するのに有効な装置を校正し、前記プローブから得られる発光寿命測定から対象分析物分圧を求める方法であって、a前記装置に搭載された励起エネルギ源が停止し、所定の減衰遅延時間まで経過した時間である開始時間から、該開始時間での発光強度が所定の割合まで減衰した時間である終了時間までを測定した時間から各々成る発光寿命について、様々な既知の濃度の対象分析物にさらされた対象分析物消光可能プローブと交信することによって得られる複数の発光寿命データポイントからシュテルンフォルマープロットを実験的に作ること、及び、b作られたシュテルンフォルマープロットから前記装置を校正することの段階を含む。前記対象分析物は酸素である、請求項5の方法。前記プローブは酸素消光可能白金ポルフィリンプローブである、請求項5の方法。前記装置に搭載された前記励起エネルギ源は発光ダイオードである、請求項5の方法。前記減衰遅延時間は実験的に0.5から6μ秒の間の値で得られる、請求項5の方法。前記減衰遅延時間は反復的に0.5から2μ秒の間の値で定められる、請求項5の方法。対象ルミネセンス対象分析物プローブと光学的に交信するのに有効な装置を校正し、前記プローブから得られる発光寿命測定から対象分析物の分圧を求める方法であって、a開始時間から、該開始時間での発光強度が30から60の間の所定の割合まで減衰した時間である終了時間までを測定した時間から各々成る発光寿命について、様々な既知の濃度の対象分析物にさらされた対象分析物消光可能プローブと交信することによって得られる複数の発光寿命データポイントからシュテルンフォルマープロットを、実験的に作ること、及び、b作られたシュテルンフォルマープロットから前記装置を校正することの段階を含む。前記対象分析物は酸素である、請求項11の方法。前記プローブは酸素消光可能白金ポルフィリンプローブである、請求項11の方法。前記装置に搭載された前記励起エネルギ源は発光ダイオードである、請求項11の方法。前記発光減衰の所定の割合は50である、請求項11の方法。前記終了時間は、発光強度を反映する前記装置によって発生された一次電気信号が、該一次電気信号を受ける反転増幅器によって発生された二次電気信号と等しくなる時間である、請求項11の方法。第二波長の励起放射にさらされたときに、第一波長の発光放射を放出するのに有効な対象分析物プローブと光学的に交信する方法であって、a前記プローブを励起させるために、前記第一波長の放射がフィルタ処理された励起放射に前記プローブをさらすこと、bこのさらされた後に励起した前記プローブによって放出される放射強度を測定すること、c放出された放射の発光強度が最大値近くになる時間である開始時間から、放出された放射の発光強度が前記開始時間での発光強度から所定の割合まで減衰した時間である終了時間までを測定した時間から成る前記プローブの発光寿命を、測定し通知すること、dこれにより、通知された発光寿命が、前記プローブと流体連通する対象分析物分圧を示す、段階を含む。前記対象分析物は酸素である、請求項17の方法。前記励起エネルギ源は発光ダイオードである、請求項17の方法。測定された発光寿命が所定の閾値と比べて小さいとき、知覚可能な信号が発生し、前記プローブが過剰な分圧の対象分析物と流体連通していることを示す、請求項17の方法。測定された発光寿命が所定の閾値と比べて大きいとき、知覚可能な信号が発生し、前記プローブが不十分な分圧の対象分析物と流体連通していることを示す、請求項17の方法。第二波長の励起放射にさらされたときに、第一波長の発光放射を放出するのに有効な対象分析物プローブと光学的に交信する方法であって、a前記プローブを励起させるために、該プローブを励起エネルギ源からの励起放射にさらすこと、bさらされた後に励起した前記プローブによって放出される放射強度を測定すること、c前記励起エネルギ源が停止し、所定の減衰遅延時間まで経過した開始時間から、放出された放射の発光強度が前記開始時間での発光強度から所定の割合まで減衰した時間である終了時間までを測定した時間から成る前記プローブの発光寿命を、測定し通知すること、dこれにより、通知された発光寿命が、前記プローブと流体連通する対象分析物分圧を示す、段階を含む方法。前記対象分析物は酸素である、請求項22の方法。前記減衰遅延時間は実験的に0.5から6μ秒の間の値になる、請求項22の方法。前記減衰遅延時間は反復的に0.5から2μ秒の間の値で定められる、請求項22の方法。測定された発光寿命が所定の閾値と比べて小さいとき、知覚可能な信号が発生し、前記プローブが過剰な分圧の対象分析物と流体連通していることを示す、請求項22の方法。測定された発光寿命が所定の閾値と比べて大きいとき、知覚可能なシグナルが発生し、当該プローブが不十分な分圧の対象分析物と流体連通していることを示す、請求項22の方法。第二波長の励起放射にさらされたときに、第一波長の発光放射を放出するのに有効な対象分析物プローブと光学的に交信する方法であって、a前記プローブを励起させるために、該プローブを励起エネルギ源からの励起放射にさらすこと、bさらされた後に励起した前記プローブによって放出される放射強度を測定すること、c発光強度が最大値になった時間またはその後の時間である開始時間から、該開始時間での発光強度が30から60の間の所定の割合まで減衰した時間である終了時間までを測定した時間から成る前記プローブの発光寿命を、測定し通知すること、dこれにより、通知された発光寿命が、前記プローブと流体連通する対象分析物分圧を示す、段階を含む方法。前記対象分析物は酸素である、請求項28の方法。測定された発光寿命が所定の閾値と比べて小さいとき、知覚可能な信号が発生し、前記プローブが過剰な分圧の対象分析物と流体連通していることを示す、請求項28の方法。測定された発光寿命が所定の閾値と比べて大きいとき、知覚可能な信号が発生し、前記プローブが不十分な分圧の対象分析物と流体連通していることを示す、請求項28の方法。前記所定の発光減衰割合は50である、請求項28の方法。前記終了時間は、発光強度を反映する前記装置によって発生された一次電気信号が、該一次電気信号を受ける反転増幅器によって発生された二次電気信号と等しくなる時間である、請求項28の方法。第二波長の励起放射にさらされたときに、第一波長の発光放射を放出するのに有効な対象分析物プローブと光学的に交信する方法であって、a前記プローブを励起させるために、該プローブを励起エネルギ源からの励起放射にさらすこと、bさらされた後に励起した前記プローブによって放出される放射強度を測定すること、及び、c前記励起エネルギ源が始動し、所定の上昇遅延時間まで経過した開始時間から、放出された放射の発光強度が前記開始時間での発光強度から所定の割合まで上昇した時間である終了時間までを測定した時間から成る前記プローブの発光寿命を、測定し通知すること、dこれにより、通知された発光寿命が、前記プローブと流体連通する対象分析物分圧を示す、段階を含む方法。前記対象分析物は酸素である、請求項34の方法。前記励起エネルギ源は発光ダイオードである、請求項34の方法。前記上昇遅延時間は実験的に0.5から6μ秒の間の値になる、請求項34の方法。前記上昇遅延時間は反復的に0.5から2μ秒の間の値に定められる、請求項34の方法。測定された発光寿命が所定の閾値と比べて小さいとき、知覚可能な信号が発生し、前記プローブが過剰な分圧の対象分析物と流体連通していることを示す、請求項34の方法。測定された発光寿命が所定の閾値と比べて大きいとき、知覚可能な信号が発生し、前記プローブが不十分な分圧の対象分析物と流体連通していることを示す、請求項34の方法。第二波長の励起放射にさらされたときに、第一波長の発光放射を放出するのに有効な対象分析物プローブと光学的に交信する方法であって、aピーク発光強度を放出可能な励起したプローブを作り出すために、該プローブを励起エネルギ源からの励起放射にさらすこと、bさらされた後に励起した前記プローブによって放出される放射強度を測定すること、c発光強度が最小値になった時間またはその後の時間である開始時間から、発光強度がピーク発光強度の30から60の間の所定割合まで上昇した時間である終了時間までを計測した時間から成る該プローブの発光寿命を、測定し通知すること、dこれにより、通知された発光寿命が、前記プローブと流体連通する対象分析物分圧を示す、段階を含む方法。測定された発光寿命が所定の閾値と比べて小さいとき、知覚可能な信号が発生し、前記プローブが過剰な分圧の対象分析物と流体連通していることを示す、請求項41の方法。測定された発光寿命が所定の閾値と比べて大きいとき、知覚可能な信号が発生し、前記プローブが不十分な分圧の対象分析物と流体連通していることを示す、請求項41の方法。前記所定の発光減衰の割合は50である、請求項41の方法。前記終了時間は、発光強度を反映する前記装置によって発生された一次電気信号が、該一次電気信号を受ける反転増幅器によって発生された二次電気信号と等しくなる時間である、請求項41の方法。定義特許請求の範囲を含む本明細書で使用されている減衰遅延時間decaydelayは、励起エネルギ源が停止した後、プローブから放出された発光強度が自然対数的な減衰速度になるまでに要する時間を意味する。特許請求の範囲を含む本明細書で使用されている上昇遅延時間risedelayは、励起エネルギ源が始動した後、プローブから放出された発光強度が指数関数的に上昇し始めるまでに要する時間を意味する。特許請求の範囲を含む本明細書で使用されている対象分析物targetanalyteは、存在の有無を検出され、測定される分子を意味する。一般的な対象分析物は酸素O2と二酸化炭素CO2である。特許請求の範囲を含む本明細書で使用されている実質的に100essentially100は、含まれる混入物が微量であることを意味する。説明構造本発明は光学的対象分析物検出システム10の校正及び使用を含む。このような光学的対象分析物検出システム10の実施形態は図1に例示されている。図1に示されたシステム10は検出装置20とプローブ120とを含む。簡素化のみを目的とし、限定する意図はないが、O2感受性を持つプローブ120は最も一般的に使用されているタイプの光学活性プローブ120であるので、後述の説明では対象分析物として酸素O2を前提とし対象得る。検出装置検出装置20はプローブ120と光学的に交信するために、第一波長を有する励起エネルギE1を発生させてプローブ120に向けて方向付け、続いて、第一波長とは異なる第二波長を有する、プローブ120から放出される放射エネルギE2の強度を時間tにわたって検出及び測定するよう構成配置されている。議論のために、検出装置20は、図1に示される光学部品30と図2に示される電気部品40とのように分離されている。図1を参照すると、検出装置20の光学部品30は発光ダイオードLEDのような励起エネルギ源31を含んでいる。励起エネルギ源31は、選定されたプローブ120を励起させるのに有効な波長を有する励起エネルギE1を発生させるように選ばれる。例えば、酸素感受性を持つ白金IIオクタエチルポルフィンケトンPtOEPKプローブ120は390nmの波長を有する放射エネルギによって励起される。ビームスプリッタ33は、励起エネルギ源31によって発生する励起エネルギE1を反射させ、主経路39を下って装置20の末端符号なしから放出させる。プローブ120から放出され装置20と交信する放射エネルギE2の波長と同じ波長を有する励起エネルギ源31から放出される放射エネルギを、遮断または減衰させるために、光学フィルタ32が励起エネルギ源31と主経路39の間に設けられている。装置20から発生する励起エネルギの光束と接触しているプローブ120は発光し、励起エネルギE1の波長とは異なる波長を有する放射エネルギE2を放出する。例えば、酸素感受性を持つ白金IIオクタエチルポルフィンケトンPtOEPKプローブ120は、波長590nmの放射エネルギE1によって励起されると波長760nmの放射エネルギE2を放射し、酸素感受性を持つ白金IIテトラキスペンタフルオロフェニルポルフィンPtPFPPプローブ120は波長525と400nmの両方の放射エネルギE1によって励起されると波長650nmの放射エネルギE2を放射する。励起したプローブ120から放出されたエネルギE2は、主経路39を進み、減衰することなくビームスプリッタ33を通過し、放出されたエネルギE2の強度を長時間検出すること、及び、フォトダイオード36に到達した放出されたエネルギE2の強度を表わす電気信号を発生させることが可能なフォトダイオード36と接触する。主経路39を進みフォトダイオード36の小さな検出領域に到達する放射エネルギE2を集束させるため、レンズ34が主経路39内に備えられているのが好ましい。これは、信号レベルを損失することなく小さな検出領域図示せずを有するフォトダイオード36を使用することを可能にする。検出領域がより小さいと必要な静電容量はより少なく、それゆえにより広い帯域幅を作り出し、その結果、より正確な発光寿命減衰曲線をもたらす。フォトダイオード36は、高速、赤外線増幅式IRenhanced、青色増幅式blueenhanced、及び、ガイガーのようなアバランシェタイプと同様に、紫外線増幅式UVenhanced、高速エピタキシャル、低暗電流、低静電容量、クオドラント、及び、黒色フォトダイオードを含むがこれらに限定はされない、幅広い種類のフォトダイオード36から選定することができる。最適なフォトダイオード36は、実用性の範囲内で、できるだけ広い範囲をもつ低静電容量の高速フォトダイオードである。漂遊している放射エネルギがフォトダイオード36に到達し、電気信号を乱すのを妨げるために、プローブ120から放出され装置20と交信する放射エネルギE2の波長とは異なる波長を有する放射エネルギを遮断、または減衰させるための光学フィルタ35がビームスプリッタ33とフォトダイオード36の間に設けられている。図2を参照すると、光学部品30は、フォトダイオード36において電気部品40とインターフェースしており、周囲の光と温度の影響を低減するためにA/Cカップリング41を通してプリアンプ42と容量的に連結している。周囲の温度影響をさらに低減するためには、プリアンプ42は硫化ポリフェニレンPPSコンデンサが好ましい。プリアンプ42は、100K~150Kのゲインを有する高速例えば、少なくとも100MHzのオペアンプが好ましい。プリアンプ42は、約10MHzの帯域幅を保持するために、約100のゲインを有する別の好ましくは高速のオペアンプ45に直接つなぐことができる。プリアンプ42からの信号は、強度と寿命の両方を測定するために、分割される。強度の測定はいくつかの応用の対象になり得、また、寿命測定の細かい補正または調整をするためにも使用され得る。信号の振幅を正規化して下流側部品に一定のレンジやゲインを供給するために、プリアンプ42からの分割された信号の一つは自動利得制御AGC43に伝達される。この信号は、バイアスを減らすためにACカップリング44され、信号をゼロ周辺に集中させるための放射エネルギの反転曲線E2 ́を発生させるために反転46され、一次信号曲線と反転シグナル曲線が交わる時間txを確認するためにコンパレータ47内で分析される。これは、LED停止時間tOffを減衰発光寿命τDecayの測定開始時間tStartとして使用することを可能にし、さらに、発光損失50になる時間は初期シグナル曲線と反転シグナル曲線が交わる時間txであり、回路で検出できるため、発光損失50を減衰発光寿命τDecayの測定終了時間tEndとして使用することを可能にする。発光信号に過度の変動を伴う時間である、60より大きな発光損失後において発光を検出して発光損失の計算をする必要がない、迅速で信頼性のある着実な開始及び終了時間をもたらすので、これらの時間を減衰発光寿命τDecayの測定開始時間tStartと終了時間tEndとして使用するのは、減衰発光寿命τDecayの測定をより正確にする。少なくともはじめの50の増減においては、発光増加速度は発光減衰の速度と対称であるので、電気信号処理回路40はまた、LED始動時間tOnを増加発光寿命τRiseの測定のための開始時間tStartとして使用可能にし、さらに、発光増加50になる時間は一次信号曲線と反転信号曲線が交わる時間txであり回路で検出できるため、発光増加50を増加発光寿命τRiseの測定終了時間tEndとして使用可能にする。対応する発光寿命曲線の減衰部分によく似ている発光寿命曲線の増加部分に沿った、迅速で信頼性のある一定の開始及び終了時間をもたらすので、これらの時間を増加発光寿命τRiseの測定開始時間tStartと終了時間tEndとして使用するのは、増加発光寿命τRiseの測定をより正確にする。測定された減衰発光寿命τDecay及び/又は増加発光寿命τRiseの値を示す電子信号は、処理のためにA/D変換器49及びマイクロプロセッサ50に送られる前に、集計され、蓄積される48。電気信号処理システム40は、低速A/D変換器49とマイクロプロセッサ50を用いて減衰発光寿命τDecayを迅速かつ正確に測定することができ、必要な電力が限られているので、携帯可能でコストが低い検出装置20の製作を可能にする。また装置20がUSBポート図示せずを介して通信することも可能にする。図6を参照すると、シュテルンフォルマー関係から予測された指数関数的減衰は、tOffで即座に開始しないことが明らかになった。τDecayを正確に測定するために、電気信号処理システム40は、τDecayの測定を始める前に、tOffの後で約0.5から6μ秒、好ましくは約0.5から2μ秒の短い遅延時間ΔtDecayDelayをもたらすための、遅延タイマーdelaytimer64を含んでいる。図5を参照すると、tOnにおける発光増加において、これと同じ現象が見られた。τDecayと同じく、τRiseを正確に測定するために、電気信号処理システム40は、τRiseの測定を始める前に、tonの後で約0.5から6μ秒、好ましくは約0.5から2μ秒の短い遅延時間ΔtRiseDelayをもたらすための、遅延タイマーdelaytimer64を含んでいる。図2を参照すると、電気信号処理システム40はまた、プローブ120の温度を検出するための第一温度センサ61、検出装置20周辺の気温を測定するための第二温度センサ62、及び、検出装置20周辺の大気圧力を測定するための圧力計63を含んでいるのが好ましく、その理由はこれらの各変数はもたらされる結果に影響しうるからである。このような補整調節は、当業者にはよく知られ、理解されているものである。プローブプローブ120は対象分析物の分圧最も一般的には酸素の分圧に対して感受性があり、それゆえに、密封されたパッケージの保持空間図示せずのような密閉空間における酸素の分圧PO2を光学的に確認するのに役立つ。このようなプローブ120は支持層supportlayer単独で図示せず上を覆う固体フォトルミネセンス組成物の薄膜単独で図示せずを含む。該固体フォトルミネセンス組成物は、酸素透過性ポリマーマトリクス単独で図示せずに埋め込まれた、酸素分圧感受性PO2感受性フォトルミネセンス色素単独で図示せずを含む。固体フォトルミネセンス組成物に使用されている酸素感受性を持つフォトルミネセンス色素は、どのような既知のPO2感受性を持つフォトルミネセンス色素からでも選ばれ得る。業界における慣用技能の一つによれば、プローブの使用目的に基づいて適切な色素を選ぶことが可能である。適切な酸素感受性フォトルミネセンス色素の非包括的リストには、具体的には、ただし限定するわけではないが、ルテニウムIIビピリジル及びルテニウムIIジフェニルフェナノトロリンの複合体、白金IIオクタエチルポルフィンケトンのようなポルフィリンケトン、白金IIテトラキスペンタフルオロフェニルポルフィンのような白金IIポルフィン、パラジウムIIテトラキスペンタフルオロフェニルポルフィンのようなパラジウムIIポルフィン、テトラベンゾポルフィリンの燐光性金属複合体、塩素、アザポルフィリン、及びイリジウムIIIもしくはオスミウムIIの長期減衰long-decayルミネセンス複合体が含まれる。一般に、酸素感受性フォトルミネセンス色素は、適切な酸素透過性の疎水性担体マトリックスと複合される。同様に、業界における慣用技能の一つによれば、プローブ120と選定された色素の使用目的に基づいて、適切な酸素透過性の疎水性担体マトリックスを選ぶことが可能である。酸素透過性の疎水性担体マトリックスとしての使用に適切なポリマーの非包括的リストには、具体的には、ただし限定するわけではないが、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリスルホン、ポリ塩化ビニル、及びいくつかの共重合体が含まれる。フォトルミネセンス組成物は、例えば、酸素感受性フォトルミネセンス色素を含ませた高分子微粒子またはナノ粒子の水性懸濁液もしくは粉末のような、分散物質として供給され得る。支持層は、PO2感受性フォトルミネセンス固体組成物の支持層として広く使用されているどのような素材からも選ばれ得る。業界における慣用技能の一つによれば、検出される特定の分析物、及び、プローブ120の使用目的に基づいてその素材を選ぶことが可能である。基材の非包括的なリストには、具体的には、ただし限定するわけではないが、ボール紙、板紙、ポリエステルMylar登録商標フィルム、スパンボンド式ポリプロピレン織物のような不織スピンレイドspinlaid繊維状ポリオレフィン繊維である。支持層の厚さは、30μmから500μmの間であることが好ましい。例1シュテルンフォルマープロットの構築表1に記載の既知の濃度のO2にさらされたPtOEPKプローブ120の発光寿命τは、表1に記載のΔtRiseDelay、ΔtDecayDelay、及び、tEndでの発光を用いて約300のτRiseとτDecayを測定し蓄積することで、確かめられた。3組の蓄積された値が、表1に記載の原測定τ時間カウント数を得るために平均化された。表1に記載の補正τ時間カウント数を得るために、表1に記載のΔtRiseDelayとΔtDecayDelayとが互いに加算され、各原測定τ時間カウント数から減算された。シュテルンフォルマー比は各O2濃度において、O2濃度0τ0で得られた補正τ時間カウント数をそのO2濃度τで得られた補正τ時間カウント数で割り、得られた値から1を引くことで計算された。O2濃度対シュテルンフォルマー比のシュテルンフォルマープロットは図3に記載されている。