"サンプル物体10、たとえば目20の内部寸法を光学的に測定するシステムOCT12-OCT12’’’であって、前記物体10は、入射光の一部分が逆反射および/または逆散乱されて光干渉断層撮影OCTによって検出されることができるように屈折率の変化する位置にある複数の内部インターフェイス14、14’、14’’を有し、前記物体10の第1の部分領域17における内部寸法を測定するための少なくとも1つの第1の光干渉断層撮影装置OCT1と、前記物体10の第2の部分領域19における内部寸法を測定するための少なくとも1つの第2の光干渉断層撮影装置OCT2とを含み、前記第2の部分領域19が少なくとも部分的に第1の部分空間17と異なることを特徴とするシステム。前記第1の部分領域17は前記物体10の前面16またはその近くに位置し、該前面16はシステムに面しており、前記第2の部分領域19は前記物体の後面18またはその近くに位置するか、または前記物体10の前記前面16から前記後面18にかけて広がっていることを特徴とする請求項1に記載のシステムOCT12-OCT12’’’。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1は、第1の参照アームRA1と第1のサンプルアームSA1を具備し、前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2は第2の参照アームRA2と第2のサンプルアームSA2を具備し、前記第1のサンプルアームSA1の少なくとも一部分と前記第2のサンプルアームSA2の少なくとも一部分が前記物体10の方向に向いているものであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のシステムOCT12。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1は目20の角膜部22および前面部24を測定するように適合され、および/または前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2は深さ方向に沿って測定されるような長さ、および/または前記目20の網膜26を測定するように適合されたものであることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のシステムOCT12-OCT12’’’。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1は、所定の第1の焦点距離f1で集光する第1のビームB1を放出するように適合され、前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2は所定の第2の焦点距離f2で集光する第2のビームB2を放出するように適合されており、前記第1の焦点距離f1は前記第2の焦点距離f2よりも短いことを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載のシステムOCT12、OCT12’。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1は、第1の動作波長λ1および第1の帯域幅Δλ1から決定される、第1の軸方向分解能Δz1∝λ12/Δλ1を決定する第1の波長範囲内の波長を有する第1の放射の第1のビームB1を放出するように適合され、前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2は、第2の動作波長λ2および第2の帯域幅Δλ2から決定される、第2の軸方向分解能Δz2∝λ22/Δλ2を決定する第2の波長範囲内の波長を有する第2の放射の第2のビームB2を放出するように適合され、前記第1の軸方向分解能Δz1は前記第2の軸方向分解能Δz2より高いことすなわちΔz1<Δz2を特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載のシステムOCT12-OCT12’’’。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1は、第1の動作波長λ1および第1の開口数NA1を有し、したがって第1の横方向分解能Δx1∝λ1/NA1を決定する第1の波長範囲内の波長を持つ集束放射の第1のビームB1を放出するように適合されており、前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2は、第2の動作波長λ2および第2の開口数NA2を有し、したがって第2の横方向分解能Δx2∝λ2/NA2を決定する第2の波長範囲内の波長を持つ集束放射の第2のビームB2を放出するように適合されており、前記第1の横方向分解能Δx1は前記第2の横方向分解能Δx2と異なり、該第2の横方向分解能Δx2より小さいことを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載のシステムOCT12-OCT12’’’。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1はスペクトラルドメイン光干渉断層撮影装置SD-OCTであり、前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2はタイムドメイン光干渉断層撮影装置TD-OCTであることを特徴とする請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載のシステムOCT12。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1および前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2はそれぞれスペクトラルドメイン光干渉断層撮影装置SD-OCTであることを特徴とする請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載のシステムOCT12-OCT12’’’。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1は、第1のレンズシステムL1および共通のレンズシステムL12を含む第1のサンプルアームSA1を有し、前記第1のレンズシステムL1および前記共通のレンズシステムL12は第1の光軸上に設置され、組み合わせられて、前記第1のサンプルアームSA1中に前記第1のビームB1の第1の集光部を形成し、該第1の集光部は第1の焦点距離f1を有し、前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2は第2のサンプルアームSA2を有し、該第2のサンプルアームSA2は第3のレンズシステムL3と、前記共通のレンズシステムL12と、前記第1のレンズシステムL1と前記共通のレンズシステムL12の間に設けられて、第2の光軸方向に沿って進み前記第3のレンズシステムL3を通り抜ける第2のビームB2を、第1の光軸方向に進み前記共通のレンズシステムL12を通り抜けるように方向を変える分光部分反射ミラーMを含み、前記第3のレンズシステムL3および前記共通のレンズシステムL12は組み合わせられて前記第2のサンプルアームSA2中に前記第2のビームの第2の集光部を形成し、該第2の集光部は第2の焦点距離f2を有し、前記第1の焦点距離f1は前記第2の焦点距離f2と異なり、該第2の焦点距離f2より小さいことを特徴とする請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載のシステムOCT12-OCT12’’’。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1は、第1の動作波長λ1および第1の帯域幅Δλ1を持つ第1の光源LS1を有し、前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2は、第2の動作波長λ2および第2の帯域幅Δλ2を持つ第2の光源LS2を有し、前記第1の帯域幅Δλ1は約100nmから約200nmの範囲内であり、前記第2の帯域幅Δλ2は約20nmよりも小さいことを特徴とする請求項10に記載のシステムOCT12。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1は第1のサンプルアームSA1を有し、前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2は、少なくとも部分的に前記第1のサンプルアームSA1に空間的に重ね合わせられた第2のサンプルアームSA2を有し、前記第1のサンプルアームおよび前記第2のサンプルアームSA1、SA2は、第1の焦点距離f1を有し前記第1のサンプルアームSA1中で作用する第1の集光部FP1と、第2の焦点距離f2を有し前記第2のサンプルアームSA2中で作用する第2の集光部FP2とを含む2焦点共通光学レンズシステムBFL12を通過し、前記第1の焦点距離f1は前記第2の焦点距離f2と異なり、該第2の焦点距離f2より小さいことを特徴とする請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載のシステムOCT12’、OCT12’’。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1および前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2が共通の光源LS12を有することを特徴とする請求項1ないし請求項12のいずれか1項に記載のシステムOCT12-OCT12’’’。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1は第1の参照アームRA1を有し、前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2は、少なくとも部分的に前記第1の参照アームRA1に空間的に重ね合わせられた第2の参照アームRA2を有し、前記第1の参照アームRA1は、第1のサンプルアームSA1の光路長と一致する光路長を持ち、第1のミラーMR1と、第1の参照路方向RAD1に沿って伸び、前記第1のミラーMR1上に集束される第1の参照アーム部を形成する第1の参照アーム長さシステムLR1とを含み、前記第2の参照アームRA2は、前記第2のサンプルアームSA2の光路長と一致する光路長を持ち、第2のミラーMR2と、前記第1の参照アームRA1中の前記第1の参照アームレンズシステムLR1の前方に設置された第2の参照アーム部分反射ミラーMRAと、前記第1の参照アームRA1の外側で、前記第2の参照アーム部分反射ミラーMRAと第2の参照アームレンズシステムLR2の間に設置された第2の参照アームレンズシステムLR2とを含み、前記部分反射ミラーMRAは、前記第2の参照アームRA2と関連する第2の波長範囲内の波長を有し前記第1の参照アームレンズシステムLR1を通過する光のビームを、第2の参照アーム方向RAD2に進み前記第2の参照アームレンズシステムLR2を通り抜けるように方向を変え、前記第1の参照アームレンズシステムLR1および前記第2の参照アームレンズシステムLR2は組み合わせられて前記第2のミラーMR2上に集束される第2の参照アーム部を形成することを特徴とする請求項12または請求項13に記載のシステムOCT12’’。前記第1の光干渉断層撮影装置OCT1は、2焦点参照アーム共通レンズシステムBFLRAの第1の集光部FPR1を通過する第1の参照アームRA1を有し、前記第2の光干渉断層撮影装置OCT2は、少なくとも部分的に前記第1の参照アームRA1に空間的に重ね合わせられ、前記2焦点参照アーム共通レンズシステムBFLRAの第2の集光部FPR2を通過する第2の参照アームRA2を有し、前記第1の参照アームRA1は第1の動作波長λ1および第1の帯域幅Δλ1によって決定される第1の波長範囲内の波長を持つ光を反射するように適合された第1のミラーMR1を含み、前記第2の参照アームRA2は第2の動作波長λ2および第2の帯域幅Δλ2によって決定される第2の波長範囲内の波長を持つ光を分光的に反射するように適合された第2のミラーMR2を含み、前記第1の集光部FPR1の焦点距離は前記第1の参照アームRA1の光路長が前記第1のサンプルアームSA1の光路長と一致するように設定され、前記第2の集光部FPR2の焦点距離は前記第2の参照アームRA2の光路長が前記第2のサンプルアームSA2の光路長と一致するように設定され、前記第1の集光部FPR1は中央の円形部分であり、前記第2の集光部FPR2は、前記2焦点参照アーム共通レンズシステムBFLRAの前記第1の集光部FPR1を囲む環状の部分であることを特徴とする請求項12または請求項13に記載のシステムOCT12’’’。物体10、たとえば目20の内部寸法を光学的に測定する方法であって、前記物体は、入射光の一部分が逆反射および/または逆散乱されて検出されることができるように屈折率の変化する位置にある複数の内部インターフェイス14、14’、14’’を有し、前記物体10の第1の部分領域17における寸法と、前記物体の第2の部分領域19における寸法を、光干渉断層撮影OCTによって1回の測定で測定する工程を有し、前記物体10の前記第2の部分領域19を少なくとも部分的に前記物体10の前記第1の部分領域17と異なったものとすることを特徴とする方法。請求項1ないし請求項15のいずれか1項に記載のシステムを用いることを特徴とする請求項16に記載の方法。従来技術における、物体、たとえば目の異なる複数の内部部分領域における異なる複数の特性を得るために異なる複数の装置を使用することに関連する上記の問題の観点から、本発明は、異なる種類の診断装置の使用に関連する診断時間およびコストを節減することを目的とし、患者の目の視力矯正のための正確で個別的なあつらえられた治療を行うことを可能にするために、目の異なる複数の部分の測定に適した精度分解能を得ることを特定の技術的目標とする。この目的は、実質上1回の測定、たとえば1回の診断的調査によって異なるデータを得ることを可能にする本発明の1つのシステムを提供することで達成される。言い換えると、2種類以上のパラメーターを測定するときにも患者は1回の測定の実施のみを受ければよい耐えればよいということである。本発明は、異なる測定タスク、すなわち調査される物体の異なる複数の内部部分領域を異なる複数の軸方向および横方向の適切な分解能すなわち精度で測定することに寄与する異なる複数の光干渉断層撮影OCT装置を統合することを含む。本発明の第1の態様によると、入射光の一部分が逆反射および/または逆散乱されて光干渉断層撮影OCTによって検出できるように屈折率の変化する位置にある複数の内部インターフェイスを有する物体の内部寸法を光学的に測定するためのシステムであり、物体の第1の部分領域における内部寸法を測定するために適合された少なくとも1つの第1のOCT装置を有するシステムが提供される。本発明によるシステムは、同じ物体の第2の部分領域における内部寸法を測定するために適合された少なくとも1つの第2のOCT装置と組み合わされ、この第2の部分領域は少なくとも部分的に第1の部分領域と異なることを特徴とする。第1のOCT装置および第2のOCT装置を組み合わせて1つのシステムにすることによって、サンプル物体の異なる複数の部分領域における内部寸法の、異なる適切な、すなわち必要とされる精度での測定を1つのシステムを使用して行うことができ、2つの個別のOCT装置をそれぞれ1回の測定に使用する場合と比較して短い時間で測定を行うことができる。第1の部分領域はサンプル物体の前面またはその近くに位置することができる。前面は、実質的にシステムに面することができる。第2の部分領域は物体の後面またはその近くに位置するか、または実質上物体の前面から後面にかけて広がっていることができる。物体は、たとえば目、特に人間の目であることができる。物体、特に目の異なる複数の部分領域における内部寸法を1つの統合されたシステムを用いて測定することで、時間および測定の労力を節減し、目を調査する場合には患者が受ける苦痛を低減する。第1のOCT装置は第1の参照アームと第1のサンプルアームを具備し、第2のOCT装置は第2の参照アームおよび第2のサンプルアームを具備し、第1のサンプルアームの少なくとも一部分と第2のサンプルアームの少なくとも一部分は前記物体の方向に向いている。第2のサンプルアームの前記一部分は少なくとも部分的に第1のサンプルアームの前記一部分に空間的に重ね合わせられていることが好ましい。より好ましくは、第2のサンプルアームの前記一部分と、第1のサンプルアームの前記一部分が共通のレンズシステムを通り抜ける方向に向けられている。好ましくは空間的に重ね合わせられて最終的に共通のレンズシステムを通り抜ける方向に向けられている第1のサンプルアームおよび第2のサンプルアームを同じ物体の方向に向けることによって、本発明のシステムに対する物体の物理的調整を1回行うだけで、物体の異なる複数の特性を測定することができる。第1のOCT装置は、角膜部および前眼部CASなど、物体の前面またはその近くに位置する第1の部分領域を測定するために適合されることができる。第2のOCT装置は、たとえば深さ方向、すなわち物体の第2の部分領域に沿って測定された長さ、たとえば角膜の前表面から網膜までの目の全長を測定するように適合されることができる。測定対象物が異なる測定される部分領域が異なる第1のOCT装置および第2のOCT装置を組み合わせることによって、物体の測定のために連続的に異なる複数の測定装置を調整して用いる場合と比較して、コスト、時間および測定の労力を低減することができる。さらに、組み合わせられたOCT診断装置は、目全体のイメージング特性を計算するのに必要な完全なデータセットを、1つの工程で一発で適切な精度をもって提供する。第1のOCT装置および第2のOCT装置は、それぞれ所定の第1の焦点距離および第2の焦点距離で集光する第1のビームおよび第2のビームをそれぞれ放出するように適合されることができ、第1の焦点距離は第2の焦点距離よりも短くてもよい。これによって、物体の前表面に対して異なる深さに位置する異なる測定対象内部領域を測定することができる。第1のOCT装置は、第1の動作波長および第1の帯域幅から決定される、第1の軸方向分解能を決定する第1の波長範囲内の波長を有する第1の放射の第1のビームを放出するように適合されることができる。第2のOCTは、第2の動作波長および第2の帯域幅から決定される、第2の軸方向分解能を決定する第2の波長範囲内の波長を有する第2の放射の第2のビームを放出するように適合されることができる。第1の軸方向分解能は、第2の軸方向分解能より高くてもよい。第1の軸方向分解能は5μmより小さく、第2の軸方向分解能は15μmより大きいことが好ましい。より好ましくは、第1の帯域幅は約100nmより大きく、第2の帯域幅は約20nmより小さい。さらに好ましくは、第1の動作波長は約700nmから約1350nm、好ましくは約700nmから約900nm、より好ましくは約750nmから約850nmの範囲内であり、特に約820nmであり、第1の帯域幅は約100nmから約200nmの範囲内である。第2の動作波長は約600nmから約1000nmの範囲内であることができ、好ましくは約620nmから約750nm、または約800nmから約1000nmの範囲内であり、特に約700nmであり、第2の帯域幅は約5nmから約10nmの範囲内である。物体の異なる複数の内部寸法および部分領域の測定において異なる複数の軸方向分解能を提供することで、測定時間を節減でき、データ量および必要なデータ記憶量を小さくすることができる。すなわち、小さな寸法に対しては高い分解能が必要とされるが、大きな寸法に対しては低い分解能で十分であり、両方の領域を同じ高い分解能で測定するシステムと比較して、処理するデータを減らすことができる。第1のOCT装置は、第1の動作波長および第1の開口数によって決定される、したがって第1の横方向分解能を決定する第1の波長範囲内の波長を持つ集束放射の第1のビームを放出するように適合されることができる。第2のOCT装置は、第2の動作波長および第2の開口数を有し、したがって第2の横方向分解能を決定する第2の波長範囲内の波長を持つ集束放射の第2のビームを放出するように適合されることができる。第1の横方向分解能は、第2の横方向分解能と異なってもよい。第1の横方向分解能は、第2の横方向分解能より高いことが好ましい。より好ましくは、第1の横方向分解能は約10μmから約20μmでありさらに好ましくはこれを1μmから3μmの軸方向分解能と組み合わせる、第2の横方向分解能は約50μmから約200μmであるさらに好ましくはこれを10μmから50μmの軸方向分解能と組み合わせる。集束放射の異なる複数のビームに異なる複数の横方向分解能を持たせることによって、異なる適用条件に分解能を適合させ、計測時間、データ量および必要なデータ記憶量を節減することができる。第1のOCT装置はスペクトラルドメインOCT装置とすることができ、第2のOCT装置はタイムドメインOCT装置とすることができる。代わりに、第1のOCT装置および第2のOCT装置の両方をスペクトラルドメインOCT装置とすることもできる。さらに、第1のOCT装置および第2のOCT装置の両方をタイムドメインOCT装置とすることもできる。調査される物体の異なる部分領域にOCT装置の種類スペクトラルドメインまたはタイムドメインを適合させることによって、物体の調査の目的に応じて測定の精度を最適化し、測定時間を最短化し、データ取得の速度を適合/最適化することができる。第1のOCT装置は、第1のレンズシステムおよび共通のレンズシステムを含む第1のサンプルアームを有することができ、第1のレンズシステムおよび共通のレンズシステムは第1の光軸上に設置され、組み合わせられて、第1のサンプルアーム中に第1のビームの第1の集光部を形成し、このビームの第1の集光部は第1の焦点距離を有する。第2のOCT装置は、第2のサンプルアームを有することができ、この第2のサンプルアームは第3のレンズシステムと、前記共通のレンズシステムと、第1のレンズシステムおよび共通のレンズシステムの間に設けられて、第2の光軸方向に沿って進み第3のレンズシステムを通り抜ける第2のビームを、第1の光軸方向に進み前記共通のレンズシステムを通り抜けるように方向を変える分光部分反射ミラーとを含み、第3のレンズシステムおよび共通のレンズシステムは組み合わせられて第2のサンプルアーム中に第2のビームの第2の集光部を形成し、このビームの第2の集光部は第2の焦点距離を有する。この構成において、第1の焦点距離は第2の焦点距離と異なってもよい。第1の焦点距離は、第2の焦点距離より小さいことが好ましい。焦点距離は、深さの範囲測定の範囲を決定する。したがって、より好ましくは、第2のOCT装置によって目の軸方向長さ全体が測定できるようにすなわち十分に長く第2の焦点深度が設計されている。そのような、第1のビームの第1の光軸方向と異なる第2の光軸に沿った第2の方向から第2のサンプルアームが出て、第1の光軸方向に進むように方向を変えられ、第1のビームとともに共通のレンズシステムを通り抜けるような装置では、第1のOCT装置と第2のOCT装置とで、たとえばOCTの種類スペクトラルドメインまたはタイムドメイン、軸方向分解能および横方向分解能、放射の波長範囲の選択、放射の強度、第1のOCT装置および第2のOCT装置によって生成される放射の時間的調節に関して異なるように設計することができる。別の実施態様、たとえば目の測定とは異なる測定への適用を意図する実施態様では、第2の焦点距離が第1の焦点距離より小さくてもよい。第1のOCT装置は、第1の動作波長および第1の帯域幅を持つ第1の光源を有することができ、第2のOCT装置は、第2の動作波長および第2の帯域幅を持つ第2の光源を有することができる。この構成において、第1の帯域幅は約100nmより大きくてもよく、第2の帯域幅は約20nmより小さくてもよい。好ましくは、第1の動作波長が約820nmであり、第1の帯域幅が約100nmから約250nm好ましくは約100nmから約200nmの範囲内であり、第2の動作波長が約700nmであり、第2の帯域幅が20nmより小さく、好ましくは約5nmから約10nmの範囲内である。第1のOCT装置および第2のOCT装置のこのようなスペクトル構成によって、第1の部分領域を、第2の部分領域と比較して異なる軸方向分解能で、好ましくは異なる動作波長で調査することができる。第1のOCT装置は第1のサンプルアームを有し、第2のOCT装置は、少なくとも部分的に第1のサンプルアームに空間的に重ね合わせられた第2のサンプルアームを有することができる。第1のサンプルアームおよび第2のサンプルアームは、第1のサンプルアーム中で作用し第1の焦点距離を有する第1の集光部と、第2のサンプルアーム中で作用し第2の焦点距離を有する第2の集光部とを含む2焦点共通光学レンズシステムを通過することができる。この構成において、第1の焦点距離は第2の焦点距離より小さくてもよい。好ましい第1の実施態様において、第1の集光部は2焦点長さシステムの中央の円形部分であり、第2の集光部は第1の集光部を囲む環状の部分である。より好ましくは、第1の集光部および第2の集光部は、物体内の異なる距離すなわち深さにあることができるそれぞれの部分領域これらの部分領域に共通のレンズシステムの第1の集光部および第2の集光部の焦点距離がそれぞれ適合されているの調査における必要性に応じて異なるスペクトル透過特性を有することができ、それらのスペクトル透過特性は、動作波長および帯域幅によって決定される適切な波長範囲を決定するためにそれぞれ適合されている。代わりの好ましい第2の実施態様において、2焦点長さシステムが少なくとも2つの相補的な領域、すなわち、第1の焦点距離を与えるように設計された第1の領域と、第2の焦点距離を与えるように設計された第2の領域を有する、適切に設計された回折光学部品DOEとして構成される。第1のOCT装置および第2のOCT装置は共通の光源を有することができる。これはさらにシステムのコストを削減し、第1のOCT装置および第2のOCT装置の統合の度合いを上昇させる。第1のOCT装置は第1の参照アームを有し、第2のOCT装置は少なくとも部分的に第1の参照アームに空間的に重ね合わせられた第2の参照アームを有することができる。第1の参照アームは、第1のサンプルアームの光路長と実質的に一致する光路長を持つことができ、第1のミラーと、第1のミラー上に集束される第1の参照アーム部を形成する第1の参照アームレンズシステムとを含むことができる。第2の参照アームは、第2のサンプルアームの光路長と実質的に一致する光路長を持つことができ、第2のミラーと、第1の参照アーム中の第1の参照アームレンズシステムの前方に設置された第2の参照アーム部分反射ミラーと、第1の参照アームの外側で実質上第2の参照アーム部分反射ミラーおよび第2の参照アームレンズシステムの間に設置された第2の参照アームレンズシステムとを含み、部分反射ミラーは、たとえば第2の動作波長および第2の帯域幅によって決定される第2の波長範囲内の波長を有し第1の参照アームレンズシステムを第1の参照アーム方向に沿って通過する光のビームを、第2の参照アーム方向に進み第2の参照アームレンズシステムを通り抜けるように方向を変え、第2の参照アーム部分反射ミラーおよび第2の参照アームレンズシステムは組み合わせられて第2のミラー上に集束される第2の参照アーム部を形成する。このような構成によって、第1のOCT装置および第2のOCT装置の、それぞれ第1の参照アームおよび第2の参照アームの、少なくとも部分的な統合すなわち重ね合わせが可能となり、また、第1の参照アームおよび第2の参照アームの光路長が第1のサンプルアームおよび第2のサンプルアームの光路長と実質的に一致することが可能となる。参照アームの別の実施態様では、第1のOCT装置は、2焦点参照アーム共通レンズシステムの第1の集光部を通過する第1の参照アームに作用するように適合された第1の集光部を有し、第2のOCT装置は少なくとも部分的に第1の参照アームに空間的に重ね合わせられ、前記2焦点参照アーム共通レンズシステムの第2の集光部を通過する第2の参照アームを有し、第2の集光部は第2の参照アームに作用するように適合されている。この実施態様においてさらに、第1の参照アームは、たとえば第1の動作波長および第1の帯域幅によって決定される、第1の波長範囲内の波長を有する光を分光的に部分的に反射する第1のミラーを含み、第2の参照アームは、たとえば第2の動作波長および第2の帯域幅によって決定される第2の波長範囲内の波長を有する光を分光的に反射する第2のミラーを含む。第1の集光部の焦点距離は第1の参照アームの光路長が第1のサンプルアームの光路長と実質的に一致するように適合され、第2の集光部の焦点距離は第2の参照アームの光路長が第2のサンプルアームの光路長と実質的に一致するように適合されることができる。2焦点参照アーム共通レンズシステムの第1の集光部は中央の円形部分であり、第2の集光部は第1の集光部を囲む環状の部分であることが好ましい。1つの構成では、2焦点参照アーム共通レンズシステムの第1の集光部および第2の集光部が、調査される物体の第1の部分領域および第2の部分領域を標的とした第1のビームおよび第2のビームの適用条件に適合された異なるスペクトル透過特性を有する。別の構成では、選択的スペクトル透過特性を有する分光フィルターを2焦点参照アーム共通レンズシステムの後ろに取り付けることができる。本発明の第2の態様によると、入射光の一部分が逆反射および/または逆散乱されて検出されることができるように屈折率の変化する位置にある複数の内部インターフェイスを有する物体の内部寸法を光学的に測定するための方法が提供される。物体は、たとえば目でもよい。本発明による方法は、物体の第1の部分領域における内部寸法と、物体の第2の部分領域における内部寸法を光干渉断層撮影OCTによって1回の測定で測定する工程を有し、第2の部分領域を少なくとも部分的に第1の部分領域と異なったものとする。この方法は、本発明のシステムと同じ技術的効果および利点を達成する。本発明の方法を実行するとき、上記のシステムを使用することができる。添付された図を参照して以下に示される、特定の実施態様についての詳細な記述から、本発明のさらなる実施態様、利点および技術的効果が明らかになるが、これは本発明の範囲を制限することを意図するものではない。図1は、従来の、スペクトラルドメイン型の光干渉断層撮影OCT装置SD-OCTを例示している。符号100で示されるSD-OCTは、好ましくは広帯域の光源102、光源光ファイバー104、光ファイバーカプラ106、両方向光ファイバー108、ビームスプリッター112、サンプルアーム、参照アームおよび検出アームを有し、サンプルアームはサンプルアームおよび参照アームに共通の第1の共通レンズシステム110、ビームスプリッター112、およびサンプルアームレンズシステム114を含み、参照アームはビームスプリッター112、参照アームレンズシステム116および参照アームミラー117を含み、検出アームはファイバーカプラ106、検出アーム光ファイバー118、第1のコリメーションレンズシステム120、光回折格子122、第2のスペクトルイメージングレンズシステム124、分光的に分解された干渉パターンを測定するための複数の検出器セル128-1から128-nを有する分光計検出器配列126を含む。SD-OCT100はさらに、前記分光的に分解された干渉パターン130の高速フーリエ変換を行って、サンプル物体10中の屈折率インターフェイス14、14’、14’’の深さ分布134を計算するための計算ユニット132を有する。SD-OCT100の動作において、光源102は広帯域の放射光、すなわち比較的広いスペクトルの波長域に分布する波長の放射を含む放射光を生成する。生成された放射は、光源光ファイバー104中を進み、ファイバーカプラ106を介して、両方向光ファイバー108中を進むように伝達される。その光ファイバー108の光源から遠いほうの端から、第1のサンプルアームレンズシステム110を通り抜ける発散ビームB1の形で放射が放出され、第1のサンプルアームレンズシステム110はビームB1を図1に示すようにビームスプリッター112を通り抜ける実質的に平行な光のビームにする。ビームスプリッター112中で、平行な光のビームの一部分はSD-OCT100のサンプルアームSA1に伝達されて、ビームを集光させて物体10中に焦点を有する集光ビーム部分にする第2のサンプルアームレンズシステム114に向けられる。物体10は、内部領域中に、屈折率が変化して物体10を照明する集束ビームの部分反射が起きる位置にある複数の内部インターフェイス14、14’、14’’を含む。複数の内部インターフェイス14、14’、14’’から反射された放射は第2のサンプルアームレンズシステム114によって回収され、その中を実質的に平行な光のビームとして通過し、ビームスプリッター112を通過し、第1のサンプルアームレンズシステム110によって、両方向光ファイバー108の光源から遠いほうの端の中に集光される。第1のサンプルアームレンズシステム110を通り抜けるように実質的に平行な放射のビームとして両方向光ファイバー108から伝達される放射の別の部分は、入ってくる実質的に平行な放射のビームに対して好ましくは実質的に45°の角度で傾いている、実質的に平面である内部表面によって部分的に反射され、実質的に平行な放射のビームを参照アームミラー117上に集光させる参照アームレンズシステム116の方向に向かう参照アームRA1を形成する。参照アームミラー117は固定されており、集束放射のビームを反射して、反射されて発散する放射が参照アームレンズシステム116によって回収されるようにし、参照アームレンズシステム116は反射された放射を参照アームからの実質的に平行な放射のビームとして透過する。参照アームから戻ってくる放射は、ビームスプリッター112の前記平面である内部表面によって第1のサンプルアームレンズシステム110の方向に向けられ、サンプルアームレンズシステム110は参照アームRA1から戻ってくる光を透過して両方向光ファイバー108の光源から遠いほうの端に集光する。このようにして、光ファイバー108は物体10の内部インターフェイス14、14’、14’’で反射されてサンプルアームSA1から戻ってくる放射と、参照アームミラー117で反射されて参照アームRA1から戻ってくる放射の両方を伝達し、これらの放射のビームを干渉可能にする。干渉している放射は光ファイバー108中を進み、ファイバーカプラ106を介して検出アーム光ファイバー118に入り、その中を進んで光ファイバー118の光源から遠いほうの端に伝達されて、干渉している放射は発散ビームとして放出され、第1の検出レンズシステム120によって回収、透過されて、光回折格子122の方向に向かう実質的に平行な光のビームにされる。回折格子122は、入ってくる干渉光のビームを反射して、回折格子122に入射する放射の異なる波長に応じて異なる反射角を有する複数の実質的に平行な光のビームにする。入射する放射を、放射の波長に応じて異なる反射角で反射する分光分解部分としての回折格子122の構造および機能は当業者に対して既知のものであり、その説明はここでは省略する。回折格子122から反射され分光的に分解された放射の複数のビームは、第2の検出レンズシステム124によって回収されて、回折格子122からの反射角に応じて分光計検出器配列上に集光され、集光されて入射した分光的に分解された複数のビームは、複数の検出器セル128-1から128-nのそれぞれによって検出される。第1の検出レンズ120、光回折格子122、第2の検出レンズシステム124および分光計検出器配列126のこの配置によると、分光計検出器配列126上の特定の位置、すなわち特定の検出器セル128-iが、それぞれサンプルアームSA1および参照アームRA1から戻ってくる放射の干渉から発生する干渉放射の特定の波長に対応する。分光計検出器配列126は、このようにして、実質的に干渉放射のスペクトル別の強度分布である、分光的に分解された干渉パターン130を検出する。スペクトル別分布は、たとえば高速フーリエ変換計算ユニット132によってフーリエ変換され、図1に示される、屈折率インターフェイスの深さ分布134を生じる。分布134は、実質的に、物体10内の内部インターフェイス14、14’、14’’によって反射される放射が寄与するサンプルアームSA1で測定された光路長zの関数である干渉放射の強度すなわち振幅azの分布を含む。図1に示されるように、分布134は物体10中の3つの内部インターフェイス14、14’、14’’に対応する3つのピークを有する。言い換えると、光源102から放出された放射の広帯域スペクトル分布は、サンプルアームSA1中の物体10の屈折率不連続、すなわち内部インターフェイス14、14’、14’’から反射されたのちに、参照アームRA1中で反射された放射の広帯域スペクトル分布と干渉する。回折格子122と特定の検出器セル128-iが組み合わせられてなされる分光的分解に対応したそれぞれの干渉スペクトル間隔は、物体10中の内部インターフェイス14、14’、14’’の異なる深さからの情報に対応する。分光計検出器配列126によって登録されたスペクトルの、計算されたフーリエ変換からは、次に物体10中の深さ方向zに沿ったインターフェイスの深さ位置についての情報が得られる。物体10が人間の目である場合、図8に示すような目20の異なる部分の屈折率の差は、サンプルアームSA1中の放射が横切る、空気屈折率1.003、涙の膜屈折率1.3335、上皮屈折率1.401および実質屈折率1.3771を含む物質の異なる屈折率から生じる。人間の目20の部分の上記の屈折率の値は、TOMEY社によって製造された前述の装置の仕様書から引用された。図2に、従来の、タイムドメイン型のOCT装置TD-OCTの例を概略的に示す。TD-OCT150は、好ましくは低干渉の光源152、第1の光源光ファイバー154、任意のサーキュレーター155、両方向に使用される第2の光源光ファイバー156、光ファイバーカプラ158、サンプルアームSA2を有し、サンプルアームSA2は、両方向に使用されるサンプルアーム光ファイバー160、第1のサンプルアームレンズシステム162、第2のサンプルアームレンズシステム164および屈折率の変化する位置にある内部インターフェイス14、14’、14’’を有するサンプル物体10を含む。TD-OCT装置150はさらに、両方向に使用される参照アーム光ファイバー166、参照アームレンズシステム168、位置が調節される参照アームミラー170、そして高速遅延スキャナー172を含む参照アームRA2を有する。さらに、OCT装置150は第1の検出光ファイバー174および検出器178を含む検出アームを有する。信号対ノイズ比を上げるために、OCT装置150は、さらに任意でサーキュレーター155、第2の検出光ファイバー176およびたとえば2部分バランス信号検出DBSDユニットである、検出器178の差形成部分を含む。物体10中の内部インターフェイス14、14’、14’’についての深さの情報を得る方法として、OCT装置150はさらに帯域通過フィルター180、復調器182および復調された信号を受けて内部インターフェイス14、14’、14’’の深さ情報を計算するための計算機184を有する。TD-OCT150の動作において、光源152は、比較的低干渉性となるのに十分であり、比較的狭い波長範囲を有する放射を放出する。光源152によって放出された放射は、第1の光源光ファイバー154中を進み、任意のサーキュレーター155を介して第2の光源光ファイバー156を進み、光ファイバーカプラ158を介して伝達されて、光ファイバーカプラ中で、サンプルアームSA2に伝搬される第1の放射部分および参照アームRA2に伝搬される第2の放射部分に分割される。第1の放射部分はサンプルアーム光ファイバー160中を伝達され、その光源から遠いほうの端から発散ビームとして放出され、第1のサンプルアームレンズシステム162によって回収されて、第2のサンプルアームレンズシステム164の方向に向かう実質的に平行な光のビームとして透過される。レンズシステム164はビームを透過し集束させて、焦点が物体10中に位置する集束ビームにする。内部インターフェイス14、14’、14’’はそれぞれ入ってくる光の一部分を部分的に反射して第2のサンプルアームレンズシステム164の方向に向かって戻し、第2のサンプルアームレンズシステム164は、複数の内部インターフェイス14、14’、14’’から反射された複数の放射の部分を回収してこれらを第1のサンプルアームレンズシステム162に向かう方向に透過し、第1のサンプルアームレンズシステム162は、サンプルアームSA2から戻ってくる反射された放射の部分をサンプルアーム光ファイバー160の光源から遠いほうの端に集光し、この端はファイバーカプラ158を介して放射を第1の検出光ファイバー174に伝達する。ファイバーカプラ158によって分割された第2の放射部分は、参照アームRA2中を、参照アーム光ファイバー166を通って伝達され、その光源から遠いほうの端から発散ビームとして放出される。これは参照アームレンズシステム168によって回収され、調節される参照アームミラー170の方向に向かう実質的に平行な放射のビームとして透過される。参照アームミラー170は、高速遅延スキャナー172によって、周期的に参照アームRA2のこの部分を軸方向に行き来するように図2中の左右両向き矢印で示されるように高速で動かされる。位置が調節される参照アームミラー170から反射された放射は参照アームレンズシステム168によって透過されて、参照アーム光ファイバー166の光源から遠いほうの端に集光され、その端は、反射された参照アーム放射を、ファイバーカプラ158を介して第1の検出光ファイバー174に伝達し、ここで放射は、物体10の内部インターフェイス14、14’、14’’によって反射されてサンプルアームSA2から戻ってきた放射と干渉する。干渉光は第1の検出光ファイバー174中を進んで、検出器178の入力ステージの入力ポート-に伝達され、ここで干渉放射の強度の時間依存性が検出され記録される。信号対ノイズ比を改善するための、たとえばバックグラウンド除去を行うことによる任意の方法として、光源152から放出される放射の一部分はサーキュレーター155によって伝達され、第2の検出光ファイバー176中を進んで検出器178の入射ステージの別の入力ポートに伝達される。検出器178は、干渉放射の信号から、光源152から放出されてサーキュレーター155によってタップされた放射の信号を除去する。検出器178の、および-の入力ポートを有するこの構成によって、光源152の信号からの過剰なノイズが干渉放射の信号から除去され、信号対ノイズ比を改善する。このようにして得られた信号は帯域通過フィルター180を通して復調器182に送られ、参照アームRA2中の遅延スキャナー172の高速調節による高周波部分が除去される。このようにして得られた信号は、計算機184に送られて記録され、計算機184は受け取った信号から物体10中の内部インターフェイス14、14’、14’’’の所望の深さ情報を計算する。TD-OCT150において、サンプルアームSA2中の物体10の内部インターフェイス14、14’、14’’から反射される放射と、遅延スキャナー172によって生成されるミラー170の周期的な動きによって光路長がスキャンされるすなわち変化する参照アームRA2から戻ってくる放射の干渉によって、狭帯域干渉放射は低減される。スペクトラルドメイン型の図1に示されるようなOCT装置は、商業的にもっとも多く使用されるタイムドメイン型の図2に示されるようなOCT装置に対して、よりよいすなわちより高い信号対ノイズ比を有し、タイムドメインOCT装置150の参照アームミラー170などの機械的に動く部分を含まずに内部インターフェイス14、14’、14’’’の深さ情報を同時に得ることができる点が有利である。光学の基本的な原理から導くことができ、当業者に対して既知であるように、OCT装置の軸方向分解能Δz、すなわち内部インターフェイス14、14’、14’’の深さ位置を得るための精度は、実質的に使用される放射の帯域幅Δλおよび中心波長λ0から次の数式1によって決定される。nは、部分反射インターフェイスが存在する媒質の屈折率である。物体10が図8に示される人間の目20である場合、主要なインターフェイスの相応する屈折率は、角膜のn=1.3771である。軸方向zに対して横方向の、深さ情報を得る精度、すなわち横方向分解能Δxは、実質上次の数式2によって決定される。NAは集束レンズシステムの開口数であり、fはサンプルアーム中の放射を物体10上に集光させるレンズシステムの焦点距離である。放射の十分に強い部分が物体10中で反射すなわち逆散乱される軸方向の範囲は、放射を物体10中に集光するレンズシステムの焦点深度DOFと同じ桁数であり、レンズシステムの焦点距離fから、すなわち開口数NAから次の数式3によって決定される。第2の部分領域が実質上物体の全長に沿って広がり、第1の部分領域が物体10の前面16またはその近くに位置して、前面からたとえば軸方向の全長の10分の1にかけてのみ広がる軸方向に広がる物体について数式1、2および3を評価すると、第1の内部領域内において内部インターフェイスを適切な精度で測定するために適合されたOCT装置は、全長、すなわち第2の部分領域に沿って分布する内部インターフェイスを物体10の第1の部分領域における分解能と同じ分解能で測定することはできないことが明らかになる。特に、物体10が図8に示すような人間の目20である場合、角膜および前眼部CASを含む目の前面部を高い精度すなわち軸方向分解能Δz=1μmから3μmで測定するために適合された1つのOCT装置によって、角膜から網膜26までの目20の長さを共に得ることはできない。従来の方法では、目20のCASの眼内構造は、比較的高い、10μmより小さい軸方向分解能を有し、軸方向分解能が約1μmから約3μmの範囲内であるスペクトラルドメイン型のOCT装置を用いて測定されている。目のCASのさまざまなインターフェイスの正確な測定のためには、軸方向分解能が1μmより小さい、現状の技術における最新のSD-型OCT装置を用いることが本発明の範囲内で可能であり、非常に好ましい。一方で、目の長さは従来、たとえば光低干渉性反射率計測OLCRの原理に基づく装置またはタイムドメイン型のOCT装置によって測定され、その際参照アームの長さを目の長さに対応した長さ全体で変化させスキャンしなければならず、これはミラーをそのような長さ全体で軸方向にスキャンすることによって、またはたとえばHaag-Streit社によって製造されたOLCR型の装置で実行されるように、対応する基礎を有するプリズムを横方向に動かすことによって達成される。上記のように、本発明によると、物体の全長に対する割合が比較的小さい一部分にのみ広がっている第1の部分領域の、十分に高い分解能での測定と、たとえば物体の全長に渡って広がっている、または第1の部分領域からたとえば物体の全長の半分以上の軸方向距離で軸方向に隔たっている第2の部分領域の測定を同時にまたはほぼ同時に行うことを可能にするために、それぞれ物体の第1の部分領域および第2の部分領域において内部寸法を測定するために適合された第1のOCT装置および第2のOCT装置を組み合わせる統合することが提案される。その特定の実施態様を、以下に図3、図4、図6および図7を参照して説明する。下記の実施態様では、第1の部分領域17は物体10の前面16またはその近くに位置し、実質上第1の部分領域17を横切るように伸びる焦点範囲DOF1を有する第1のOCT装置OCT1によって測定され、第2の部分領域は物体10の前面16から後面18にかけて広がり、第2の部分領域を横切るように伸びる焦点深度DOF2を有する第2のOCT装置OCT2によって測定されると想定される。図3に示される第1の実施態様では、第2のOCT装置OCT2のサンプルアームSA2の一部分を第1のOCT装置OCT1のサンプルアームSA1の一部分と重ね合わせ、第2のOCT装置OCT2のサンプルアームSA2と第1のOCT装置OCT1のサンプルアームSA1の一部分の両方が共通のレンズL12を通り抜けて同じ物体10に伸びるようにすることによって第1のOCT装置OCT1を第2のOCT装置OCT2と組み合わせる。第1のOCT装置OCT1のサンプルアームSA1は、第1のレンズシステムL1および共通のレンズシステムL12を通り抜けるように設計され、これらのレンズシステムは組み合わされて、共通のレンズシステムL12からの第1の部分領域17の距離と、物体の第1の部分領域17全体に渡って伸びる焦点深度DOF1とにおおむね一致する集束サンプルアームビーム部分B1を形成する。第2のOCT装置OCT2のサンプルアームSA2は第3のレンズシステムL3、部分反射ミラーMおよび共通のレンズシステムL12を含むように設計され、第3のレンズシステムL3は、第1のレンズシステムL1および共通のレンズシステムL12の間にある第1のOCT装置OCT1の第1のサンプルアームSA1の外に設置され、部分反射ミラーMは第1のレンズシステムL1および共通のレンズシステムL12の間にある第1のOCT装置OCT1の第1のサンプルアームSA1の中に、第2のOCTシステムOCT2のサンプルアームSA2の一部分を第1のOCT装置OCT1の第1のサンプルアームSA1の方向に偏向するように設置されている。特に、第2のOCT装置OCT2のサンプルアームSA2の一部分は第1のOCT装置OCT1のサンプルアームSA1に対して実質上垂直であり、部分反射ミラーMは第1のOCT装置OCT1の第1のサンプルアームSA1の方向に対して実質上45°の角度で設置されている。部分反射ミラーMの配置は、上記の配置に制限されるものではない。部分反射ミラーMは、45°とは異なる角度θ、たとえばθ=20°からθ=70°の範囲内で設置することができ、第3のレンズシステムL3を含むサンプルアームSA2の部分および第2のOCT装置OCT2のサンプルアームSA2を除く構成部分は、サンプルアームSA1に対して2θの角度で設置することができる。第3のレンズシステムL3は、共通のレンズシステムL12と組み合わせられて、共通レンズシステムL12から物体10の後半の部分までの距離に実質上一致する焦点距離f2を有する第2の集光部B2を形成し、第2の集光部FP2の焦点深度DOF2は実質上第2の部分領域19全体にわたって伸びる。第1のOCT装置OCT1は、たとえば図1に示すSD-OCT100の構成のスペクトラルドメインOCT装置であり、図1のSD-OCT100の第1のサンプルアームレンズシステム110および第2のサンプルアームレンズシステム114は、それぞれ図3に示される組み合わせられたシステムの第1のレンズシステムL1および共通のレンズシステムL12に対応する。第2のOCTシステムOCT2は、たとえば図2に示すTD-OCT150の構成のタイムドメインOCTシステムであり、図2のTD-OCT150の第1のサンプルアームレンズシステム162および第2のサンプルアームレンズシステム164はそれぞれ図3に示されるシステムの第3のレンズシステムL3および共通のレンズシステムL12に対応する。また、図2の装置150のサンプルアームSA2は、図3に示すように部分反射ミラーMを挿入することで、第1のサンプルアームレンズシステム162と第2のサンプルアームレンズシステム164の間の部分でサンプルアームSA2を折りたたむことによって調節される。第1のOCT装置OCT1および第2のOCT装置OCT2は、図5に示されるように、それぞれ第1の動作波長λ1と第1の帯域幅Δλ1によって決定される第1の波長範囲内の波長を有する第1の放射を生成する第1の光源および第2の動作波長λ2と第2の帯域幅Δλ2によって決定される第2の波長範囲内の波長を有する第2の放射を生成する第2の光源不図示を有する。第1のOCT装置OCT1が、図8に示される人間の目20のCAS22、24を測定するように適合されているとき、適切な第1の動作波長はλ1≒1300nmであるが、λ1は約700nmから約950nmの範囲内の波長、たとえば図5の例のように約850nmであることができる。第1の帯域幅Δλ1は、約100nmから約200nmの範囲内、たとえば約100nmであることができる。第1のOCT装置OCT1は、前記のTOMEY社によって製造された、光源が中心出力波長λ1≒1310nmおよび5mW以下の出力を有する掃引光源レーザーを含むものなどのスペクトラルドメインOCT装置であることができる。図3に示す構成の部分反射ミラーMは、ダイクロイックミラーとして従来の方法で提供することができる。第2のOCT装置OCT2が、図8に示される人間の目20の全長を測定するように適合されているとき、適切な第2の波長λ2は約800nmから約1000nmの範囲内である。過去には、前眼部のためのOCT装置は約1300nmの波長を使用していたが、Si-CMOS技術を使用する光検出器など、約950nmより小さい範囲で動作する適切な光検出器の利用可能性が上がったため、より短い波長に変わっていく可能性がある。たとえば第1のスペクトルバンドおよび第2のスペクトルバンドの間のクロストークを低減するために、そして特に第1のスペクトルバンドを第2のスペクトルバンドから分けるための必須ではないダイクロイックビームスプリッターのスペクトル設計を容易にするために、第2のスペクトル帯域幅Δλ2によって決定される範囲を含む第2の波長λ2は第1の波長λ1と異なるべきであり、第1の波長λ1を含む第1のスペクトル帯域幅Δλ1によって決定される範囲の外であることが好ましい。図5に、第1のスペクトルバンドおよび第2のスペクトルバンドのスペクトル設計の好ましい例を示す。図5の例では、第1の動作波長λ1は約850nmであり、第1の帯域幅Δλ1は100nmであって、第1のスペクトルバンドは約750nmから約950nmの範囲を包含し、これはSi-CMOS技術に基づく検出器およびSi-CCD検出器のスペクトル感受特性に対応している。第2の動作波長λ2は約700nmであり、第2の帯域幅Δλ2は第1の帯域幅Δλ1より十分に小さく、特に20nmより小さい。この場合、第2のOCT装置OCT2は、Haag-Streit社によって製造された装置などの、光低干渉性反射率計測OLCRの原理に基づく装置に置き換えることができる。第2のOCTシステムOCT2のサンプルアームSA2中での第3のレンズシステムL3および共通のレンズシステムL12の組み合わせは、物体10の軸方向の全長にわたって広がる第2の部分領域19を測定することができるような、比較的長い焦点距離f2を有し、さらに、第2の部分領域19全体にわたって伸びるように比較的長く、適切に設計された焦点深度DOF2を有する。一方、第1のOCT装置OCT1の第1のサンプルアームSA1中での第1のレンズシステムL1および共通のレンズシステムL12の組み合わせは、それぞれ物体10の前面16またはその近くに位置する第1の部分領域17に位置し、その中だけに伸びる比較的短い焦点距離f1および比較的短い焦点深度DOF1を有する。図4は、第2のOCT装置のサンプルアームSA2を少なくとも部分的に空間的に第1のOCT装置のサンプルアームSA1と重ね合わせ、さらに、第1のOCT装置と第2のOCT装置を組み合わせたシステムOCT12に統合することによって第1のOCT装置と第2のOCT装置が組み合わせられる、統合されたシステムOCT12’の第2の実施態様を示す。組み合わせられたシステムOCT12’では、第1のOCT装置および第2のOCT装置の検出アームが統合された検出アーム不図示中で共有され、第1のOCT装置および第2のOCT装置の参照アームがたとえば図6および図7にそれぞれ示される第3の実施態様および第4の実施態様で行われるように、統合された参照アーム不図示に統合され、さらに第1のOCT装置および第2のOCT装置の光源は、組み合わせられたシステムOCT12の共通の光源LS12に統合される。図4に示される、システムOCT12’の第2の実施態様は、第1のOCT装置の第1のサンプルアームSA1のビームB1および第2のOCT装置の第2のサンプルアームSA2のビームB2の大部分が互いに空間的に重ね合わせられた、第1のOCT装置のサンプルアームSA1および第2のOCT装置のサンプルアームSA2の、共通のサンプルアームへの統合を含む。図4に示されるように、図5に示されるような第1の波長範囲内の波長で放出される第1のOCT装置に関係する放射および第2の波長範囲以内の波長で放出される第2のOCT装置に関係する放射は、共通の光ファイバーSOF12を通して導かれることによって、統合されたサンプルアームSA12に導かれ、共通の光ファイバーSOF12の光源から遠い方の端から、発散共通ビームB12として放出され、第1のレンズL1によって回収されて、第1の波長範囲の放射に作用する第1の集光部FP1および第2の波長範囲の放射に作用する第2の集光部FP2を提供する2焦点共通レンズシステムBFL12として構成された共通のレンズシステムの方向に向かう実質的に平行な光である共通ビームB12’として透過される。図4に示されるように、第1の集光部FP1は第1の部分領域17全体を通じて伸びる第1の焦点距離f1および第1の焦点深度DOF1を提供し、第2の集光部FP2は物体10の第2の部分領域19に沿って伸びる第2の焦点距離f2および第2の焦点深度DOF2を提供する。共通レンズシステムBFL12は、第1の集光部FP1および第2の集光部FP2が隣り合うように、たとえば2つの半分の面の形で設けられるように設計されたものとすることができる。代わりに、図4に示すように、一つがもう一つを取り囲むように配置され、第1の集光部FP1は中央の円形部分、第2の集光部FP2は中央の円形部分を取り囲む環状の部分とされる。共通レンズシステムを2焦点共通レンズシステムとする代わりに、共通レンズシステムは、2焦点フレネルレンズ、またはたとえば2焦点眼内レンズIOLと類似した設計の、2つの異なる焦点距離を有する2焦点回折光学素子DOEとすることができる。第1の代替的な実施態様では、共通ビームB12,B12’の放射が、図5に示す第1の波長範囲および第2の波長範囲の両方を包含する連続的なスペクトルの放射を有し、レンズシステムBFL12の第1の集光部FP1および第2の集光部FP2は、それぞれ図5に示されるように第1の動作波長λ1と第1の帯域幅Δλ1、第2の動作波長λ2と第2の帯域幅Δλ2によって決定される第1の波長範囲および第2の波長範囲において高い、好ましくは90より大きく、100に近い、またはおよそ100の透過係数を提供するように適合された分光フィルター透過特性を有する。第2の代替的な実施態様において、図5に示されるようなサンプルアーム中の共通のビームB12、B12’のスペクトル構成は、2焦点共通レンズシステムBFL12の第1の集光部FP1および第2の集光部FP2とそれぞれ一致する第1のスペクトルフィルターおよび第2のスペクトルフィルターを提供することによって得られる。図4に示される実施態様の、第1および第2の代替的な実施態様の両方において、2焦点共通レンズシステムBFL12を通過する際に、共通の放射のビームB12’は、第1の集光部FP1を通過し、図5のλ1およびΔλ1によって決定される第1の波長範囲内の波長を有し、物体の第1の部分領域17中に伸びる第1の焦点距離f1と焦点深度DOF1を有する第1の放射のビームB1と、第2の集光部FP2を通過し、図5のλ2およびΔλ2によって決定される第2の波長範囲内の波長を有し、実質上物体10の全長12に渡って広がる第2の部分領域19に沿って伸びる第2の焦点距離f2と、焦点深度DOF2を有する第2の放射のビームB2に分けられる。2焦点共通レンズシステムBFL12の中で、第1の集光部FP1を、第2の集光部FP2を取り囲むように配置することによって、第1の集光部FP1は第2の集光部FP2よりも大きな直径を有し、したがって第1のビームB1は第2のビームB2よりも大きな開口数を有する。その結果、数式2によると、第1の部分領域17中の第1のビームB1は、第2の部分領域19中の第2のビームB2よりも小さな横方向分解能Δxを有する。数式3によると、第1のビームB1の焦点深度DOF1は、第2の部分領域19を測定するために適合された第2のビームB2の焦点深度DOF2よりも小さい。さらに、第1のビームB1の第1の帯域幅Δλ1が比較的広く、たとえば約100nmから約200nmの範囲内であり、第1の動作波長λ1が約700nmから約950nmの範囲内で、たとえば850nmであり、第2のビームB2の第2の帯域幅Δλ2は比較的狭帯域でありたとえば20nmよりも小さいため、数式1によると、第1のビームB1の軸方向分解能∝1/Δz1は第2のビームB2の軸方向分解能∝1/Δz2よりかなり高く、言い換えると、Δz1<<Δz2である。第1のOCTシステムおよび第2のOCTシステムの両方がSD-OCT型の装置であるとき、それらは図4、図6および図7に示されるように統合されたサンプルアームを有することができ、図6および図7に示されるように共通の光源LS12を共有することができ、さらにたとえば図6および図7に示される実施態様でのように参照アームを統合されることができる。このような構成は、光源LS12がSD-OCTに適した、たとえば約700nmより小さい範囲から約950nmより大きい範囲にわたる放出スペクトルを有する広帯域光源であるときに、特にCAS領域17および人間の目20の全長19図8参照を測定するために適合されることができる。この範囲は、現在の高速シリコンSIベース検出器のスペクトル感受性によく適合されている。第1の波長は、たとえば約820nmの第1の中心動作波長λ1周辺の波長および100nmから200nmの範囲の第1の帯域幅Δλ1を有する放射を透過するように設計された分光フィルター部によって共有光源LF12の放出スペクトルから分光的にフィルタリングされることができる。第2の波長範囲も、たとえば約700nmの第2の中心動作波長λ2周辺の波長および約5nmから約20nmの範囲の第2の帯域幅Δλ2を有する放射を透過するように設計されたフィルターによって共有光源LS12の放出スペクトルからフィルタリングすることができる。それぞれの分光フィルターは、統合されたサンプルアームSA12中に、2焦点共通レンズシステムBFL12の第1の集光部FP1および第2の集光部FP2と一致するように別々に設けられることができ、また、たとえば適切な分光フィルターコーティング、特に、第1の集光部FP1に適用される第1のエッジフィルターのエッジが図5に示される第1の波長範囲および第2の波長範囲の間に位置するように設計されたエッジフィルターコーティングとして、2焦点共通レンズシステムBFL12の第1の集光部FP1および第2の集光部FP2に直接適用することができる。図6は、組み合わせられたシステムOCT12’’の第3の実施態様を示す。組み合わせられたシステムOCT12’’は、実質的に図1に示されるスペクトラルドメインOCT装置としての構成を有するが、図4に示される実施態様に関する以下の変更がなされている。第1に、サンプル光ファイバーSOF12、第1の長さシステムL1および2焦点共通レンズシステムBFL12を含むサンプルアームSA12が、図4に示される第2の実施態様でのように構成される。第2に、光源LS12はSD-OCT適用に適合された広帯域光源であり、図5に示されるように決定される第1の波長範囲および第2の波長範囲をフィルタリングするために、2焦点共通レンズシステムBFL12の第1の集光部FP1および第2の集光部FP2にそれぞれ第1のスペクトルフィルターおよび第2のスペクトルフィルターを適用することによって広帯域放射スペクトルの分光的フィルタリングが行われる。第3に、検出アームは、組み合わせられて、図1に示されるSD-OCT装置100の第1の検出レンズシステム120、光回折格子122、第2の検出レンズシステム124および分光計検出器配列126と類似した構成を形成する、第1のビームB1および第2のビームB2からの干渉放射を導くための共通の検出アーム光ファイバーDOF12、第1の検出アーム光学レンズシステムDL1、共通の検出アーム回折格子DG12、第2の検出アーム光学レンズシステムDL2および共通検出アーム分光計検出器配列SDA12を用いることで統合される。しかし、共通の検出アーム回折格子DG12は、共通の検出アーム分光計検出器配列SDA12と組み合わせられて、上記したように、また図5に示されるようにスペクトルフィルターによって生成される第1の波長範囲および第2の波長範囲の両方を含む放射を検出し、分光的に分解するように適合されている。第4に、参照アームは、第1の参照アームRA1および第2の参照アームRA2を、それぞれ第1のサンプルアームSA1および第2のサンプルアームSA2に少なくとも部分的に空間的に重ね合わせることによって統合される。第1の参照アームRA1は、共通のビームスプリッターBS12、第1の参照アームレンズLR1、そして第1の参照アームRA1中の放射RAD1の光路長が第1の部分領域17中に集光する第1のビームB1の放射の光路長と一致するような共通のビームスプリッターBS12に対する位置距離に固定された第1の参照アームミラーMR1を含む。第2の参照アームRA2は、前記共通のビームスプリッターBS12、第2の参照アーム部分反射ミラーMRA、第2の参照アームレンズシステムLR2および第2の参照アームミラーMR2を含み、ミラーMRAは、共通のビームスプリッターBS12および第1の参照アームレンズシステムLR1の間の第1の参照アームRA1の光路の中に配置され、第2の波長範囲λ2およびΔλ2によって決定される、図5参照内の波長を有する放射RAD2を部分的に反射偏向して、第1の参照アームRA1の方向から遠ざけ第2の参照アームレンズシステムLR2および第2の参照アームミラーMR2の方向に向けるように適合されている。さらに、第2の参照アームミラーMR2は、第2の参照アームRA2の中の第2の放射RAD2の光路長が物体10の第2の部分領域中19に集光される第2のサンプルアームSA2の第2のビームB2の放射の光路長と一致するような共通のビームスプリッター12に対する位置に配置され、固定される。部分反射ミラーMRAは、第1のスペクトル範囲内の第1の放射RAD1の波長について選択的に透過的であり、第2の波長範囲内の第2の放射RAD2の波長ついて選択的に反射的であるように適合される。信号対ノイズ比を上昇させ、および/または第1の部分領域17中の屈折率インターフェイスから戻ってくる第1のビームB1の干渉信号を改善するため、約10から50の範囲内の透過係数を与えることで第2の波長範囲内の波長について部分的に透過的であり、第1の波長範囲内の波長について反射的であるように設計された第3の参照アームミラーMR3が追加で設けられる図6参照。ミラーMR3は、ビームスプリッターBS12およびミラーMR3の間の光路長がビームスプリッターBS12およびミラーMR1の間の光路長と一致するような第2の参照アームRA2中の位置に設けられる。図6に示される実施態様において、第2の参照アームレンズシステムLR2は2焦点共通光学レンズシステムBFL12の第2の集光部FP2と同じ焦点距離を有することができる。したがって、レンズシステムLR2は第2の参照アームミラーMR2および第3の参照アームミラーMR3上に、サンプルアームSA2中の第2の集光部FP2の焦点深度DOF2に対応する比較的長い焦点深度にわたって、同様のビーム直径のビームを集光するため、充分な参照信号が得られる。図7は、図6に示される組み合わされたシステムの第3の実施態様OCT12’’と、サンプルアーム12、光源LS12および検出アームの統合に関して類似し、参照アームの構成および統合度についてのみ異なる、組み合わされたシステムの第4の実施態様OCT12’’’を示す。図7において、統合された参照アームRA12は、2焦点共通参照アームレンズシステムBFLRA、または2焦点レンズシステムBFLRAと同様に作用するように設計された適切な2焦点回折光学素子DOEを含み、そのいずれも第1の参照アーム集光部FPR1および第1の参照アーム集光部FPR1を囲む第2の参照アーム集光部FPR2を有する。第1の参照アーム集光部FPR1は、第1の波長範囲λ1およびΔλ1によって決定される、図5参照内の波長を有する放射を透過し参照アームミラーMR1上に集光するように適合された焦点距離を有し、第2の参照アーム集光部FPR2は第2の波長範囲λ2およびΔλ2によって決定される、図5参照内の波長を有する放射を透過し、第2の参照アームミラーMR2上に集光するように適合されている。第1の参照アームミラーMR1および第2の参照アームミラーMR2は、第1の参照アーム集光部FRP1によって生成された第1の参照アームRA1の光路長がサンプルアームSA12中の第1のビームB1の光路長と一致し、第2の参照アーム集光部FPR2によって生成された第2の参照アームRA2の光路長がサンプルアームSA12の第2のビームB2の光路長と一致するような、共通のビームスプリッターBS12に対する距離に配置される。2焦点参照アーム共通レンズシステムBFLRAは、このように、サンプルアームSA12中の2焦点共通レンズシステムBFL12と同様に構成することができる。図4、図6および図7に示される、統合されたシステムの第2、第3および第4の実施態様OCT12’、OCT12’’およびOCT12’’’において、サンプルアームSA12中の2焦点参照アーム共通レンズシステムBFL12および参照アーム中の2焦点参照アーム共通レンズシステムBFLRAの代わりにそれぞれ2焦点フレネルレンズシステムを設けることができる。さらに、物体10の第1の部分領域17および第2の部分領域19中の第1のビームB1および第2のビームB2の色収差を近似し、統合されたシステムの信号対ノイズ比を上昇させるために、色収差の補正をこれらの統合されたシステムの参照アームRA12中で行うことができる。"