"出力値と測定対象物までの距離とが反比例の関係を有する測距センサと、前記測距センサの出力値に基づいて前記測距センサから測定対象物までの距離を算出する算出部とを備え、該算出部は、前記測距センサの出力値を、前記測距センサから少なくとも任意の3点の測定ポイントまでの距離と前記測定ポイントにおける前記測距センサの出力値とに基づいて決定される前記測距センサから測定対象物までの距離と前記センサの出力値とに係る特性曲線に当てはめることにより、前記センサから測定対象物までの距離を算出することを特徴とする距離測定装置。出力値と測定対象物までの距離とが反比例の関係を有する測距センサと、前記測距センサの出力値に対してオフセット調整を行う調整部と、前記オフセット調整された前記測距センサの出力値を増幅する増幅部と、前記増幅された前記測距センサの出力値に基づいて前記測距センサから測定対象物までの距離を算出する算出部とを備え、該算出部は、前記増幅された前記測距センサの出力値を、前記測距センサから少なくとも任意の3点の測定ポイントまでの距離と前記測定ポイントにおける前記増幅された前記測距センサの出力値とに基づいて決定される前記測距センサから測定対象物までの距離と前記増幅された前記測距センサの出力値とに係る特性曲線に当てはめることにより、前記測距センサから測定対象物までの距離を算出することを特徴とする距離測定装置。出力値と測定対象物までの距離とが反比例の関係を有する測距センサの出力値を前記測距センサから測定対象物までの距離に変換する方法であって、前記測距センサから少なくとも任意の3点の測定ポイントまでの距離と前記測定ポイントにおける前記測距センサの出力値とに基づいて前記測距センサから測定対象物までの距離と前記測距センサの出力値とに係る特性曲線を決定するステップと、前記測距センサの出力値を前記特性曲線に当てはめることにより前記測距センサから測定対象物までの距離を算出するステップとを有することを特徴とする距離測定方法。出力値と測定対象物までの距離とが反比例の関係を有する測距センサの出力値を前記測距センサから測定対象物までの距離に変換する方法であって、前記測距センサの出力値に対してオフセット調整を行うステップと、前記オフセット調整された前記測距センサの出力値を増幅するステップと、前記測距センサから少なくとも任意の3点の測定ポイントまでの距離と前記測定ポイントにおける前記増幅された前記測距センサの出力値とに基づいて前記測距センサから測定対象物までの距離と前記増幅された前記測距センサの出力値とに係る特性曲線を決定するステップと、前記増幅された前記測距センサの出力値を前記特性曲線に当てはめることにより前記測距センサから測定対象物までの距離を算出するステップとを有することを特徴とする距離測定方法。請求項1ないし請求項2のいずれかに記載の距離測定装置を備える表示装置。しかしながら、いかに個々のセンサの測定精度特に、遠距離での測定精度を向上させたとしても、実際の測距センサには、電気的バラツキ、構造バラツキ、物性上のバラツキなどがあり、これらの個体バラツキによって個々のセンサで出力電圧の特性がばらついてしまう。図3に測距センサにおける電圧―距離変換の概念図を示す。図3から、任意の測定距離doに対して、個々のセンサでそれぞれ異なる出力電圧VoおよびV’oが対応づけられてしまうことが分かる。このため、測距センサの使用に際しては、個々のセンサに対して、あらかじめ出力電圧Vと測定対象物までの距離dを1対1に対応づけておくキャリブレーション工程が必要である。電圧―距離変換の方法としては従来、個々のセンサに対して各測定距離d1,d2,d3,における各出力電圧V1,V2,V3,を複数点記憶させ、線形補間などにより特性曲線を近似する方法が知られている。表1に、線形補間法による電圧―距離変換テーブルの概念図を示す。しかし、図3中のセンサαの出力電圧V―測定距離dの関係を示す線から明らかなように、この方法は測定点の個数を多くしなければ精度を高められず、個体バラツキの調整に多大な測定時間を要するなどの問題があった。また、測距センサには測定距離の保証範囲が仕様として定められており、前記範囲外での測距精度は保証されない。したがって、測距センサを備えた距離測定装置において測距センサを用いて距離の測定を行う場合、当該距離測定装置に要求される測定範囲と比較して十分に広い測定距離の保証範囲をもつ測距センサを用いる必要がある。なお、あらかじめ測定範囲が決まっている場合、測距センサの出力電圧範囲も一定の範囲に収まる。ここで、センサの出力電圧VはADCなどを介すことによってデジタルデータとして取得されるが、ADCの入力電圧範囲と入力分解能は有限であることから、距離分解能を高めるためには該当の距離測定装置に要求される測定範囲におけるダイナミックレンジをできる限り大きく取ることが望ましい。したがって、センサの出力電圧Vを直接ADCに入力するのではなく、事前に当該距離測定装置に要求される測定範囲における測距センサの出力電圧範囲を推定し、前記推定結果に基づいて増幅回路などを用いてADCの入力電圧範囲に合わせ込むように電圧範囲を最適化してからADCに入力することが有効である。図4にADCの入力電圧範囲と測距センサの出力電圧範囲の関係について示す。出力特性γはセンサの出力電圧Vを直接ADCに入力した例である。出力特性δは適切に電圧範囲を最適化してからADCに入力した例である。図4では4bitのADCに入力した場合を示しているが、明らかに出力特性δのほうが測定範囲内での距離分解能が高くなっていることがわかる。従来、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における測距センサの出力電圧範囲を推定するには、センサの個体バラツキを考慮する必要があったため、電圧範囲を最適化する際は、あらゆる個体バラツキを許容できるように設計マージンを大きく取らざるを得ず、この結果、ADCの入力電圧範囲に十分に合わせ込むことができずにダイナミックレンジが損なわれるという問題があった。本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、該当の距離測定装置に要求される測定範囲に対して、その範囲での測距精度の向上と、センサの特性曲線の個体バラツキを補正した電圧―距離変換とを、同時に、かつ短時間で高精度に行うことができる距離測定装置、距離測定方法、および該距離測定装置を備えた表示装置を提供することを目的とする。請求項1記載の発明は、出力値と測定対象物までの距離とが反比例の関係を有する測距センサと、前記測距センサの出力値に基づいて前記測距センサから測定対象物までの距離を算出する算出部とを備え、該算出部は、前記測距センサの出力値を、前記測距センサから少なくとも任意の3点の測定ポイントまでの距離と前記測定ポイントにおける前記測距センサの出力値とに基づいて決定される前記測距センサから測定対象物までの距離と前記測距センサの出力値とに係る特性曲線に当てはめることにより、前記測距センサから測定対象物までの距離を算出することを特徴とする。請求項2記載の発明は、出力値と測定対象物までの距離とが反比例の関係を有する測距センサと、前記測距センサの出力値に対してオフセット調整を行う調整部と、前記オフセット調整された前記測距センサの出力値を増幅する増幅部と、前記増幅された前記測距センサの出力値に基づいて前記測距センサから測定対象物までの距離を算出する算出部とを備え、該算出部は、前記増幅された前記測距センサの出力値を、前記測距センサから少なくとも任意の3点の測定ポイントまでの距離と前記測定ポイントにおける前記増幅された前記測距センサの出力値とに基づいて決定される前記測距センサから測定対象物までの距離と前記増幅された前記測距センサの出力値とに係る特性曲線に当てはめることにより、前記測距センサから測定対象物までの距離を算出することを特徴とする。請求項3記載の発明は、出力値と測定対象物までの距離とが反比例の関係を有する測距センサの出力値を前記測距センサから測定対象物までの距離に変換する方法であって、前記測距センサから少なくとも任意の3点の測定ポイントまでの距離と前記測定ポイントにおける前記測距センサの出力値とに基づいて前記測距センサから測定対象物までの距離と前記測距センサの出力値とに係る特性曲線を決定するステップと、前記測距センサの出力値を前記特性曲線に当てはめることにより前記測距センサから測定対象物までの距離を算出するステップとを有することを特徴とする。請求項4記載の発明は、出力値と測定対象物までの距離とが反比例の関係を有する測距センサの出力値を前記測距センサから測定対象物までの距離に変換する方法であって、前記測距センサの出力値に対してオフセット調整を行うステップと、前記オフセット調整された前記測距センサの出力値を増幅するステップと、前記測距センサから少なくとも任意の3点の測定ポイントまでの距離と前記測定ポイントにおける前記増幅された前記測距センサの出力値とに基づいて前記測距センサから測定対象物までの距離と前記増幅された前記測距センサの出力値とに係る特性曲線を決定するステップと、前記増幅された前記測距センサの出力値を前記特性曲線に当てはめることにより前記測距センサから測定対象物までの距離を算出するステップとを有することを特徴とする。請求項5記載の発明は、請求項1ないし請求項2のいずれかに記載の距離測定装置を備える表示装置である。本発明によれば、出力値と測定距離とが反比例の関係を有する測距センサの基本特性に着目して、複数の未知係数例えば、l,m,nを求める方法を取り入れることにより、あらゆる個体バラツキをもった個々のセンサに対して補間による誤差のない高精度な出力値―距離変換を行うことができる。また、測距センサの出力値が電圧、または電圧に変換することができるアナログ出力値電流などである場合には、同時に、前記高精度な出力値―距離変換結果に基づいてADCのダイナミックレンジが最大限に取れるように、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における測距センサの出力範囲を最適化できる。さらに、測定点は3点だけでよいため、個体バラツキの調整に要する測定時間を大幅に短縮することができる。本発明の基本原理まず前提として、本発明の基本原理について説明する。上述のように、本発明においては、出力値と測定距離とが反比例の関係を有する測距センサの基本特性に着目して、複数の未知係数を求める方法を用いる。表2に、未知係数法による電圧―距離変換テーブルの概念図を示す。図3中のセンサβの出力電圧V―測定距離dの関係を示す線から明らかなように、未知係数法を用いることにより、補間による誤差のない高精度な電圧―距離変換を行うことができる。アナログ出力型三角測量方式測距センサの基本特性以下、特性曲線と記すは、反比例曲線の標準形の式を用いて記述される。特性曲線を表す式は、次に示す式1である。式1で、doは任意の測定距離、Voはdoにおける出力電圧、l,m,nが未知係数である。図5A~Cの実線は式1が表すセンサの特性曲線を描いたものである。図5の点は特性曲線の中心であり、特性曲線がV=nとd=mに漸近することを表す。また、図5A~Cの破線は、図5の実線に対して未知係数l,m,nをそれぞれ変化させた場合の特性曲線の変化を描いたものである。未知係数lは、図2におけるのバラツキ、すなわち構造バラツキと捉えることができ、特性曲線の斜め方向のずれを決める係数となる。未知係数lの変化を図5Aに示す。未知係数lの変化は、特性曲線の直線V=dmnに沿ったバラツキとして表れ、特性曲線と直線V=dmnの交点√lm,√ln付近で最も大きな変化となり、測定距離全域で測距精度に影響を与える。未知係数mは距離の次元をもち、図2における赤外LEDからPSDに至る光路のバラツキと捉えることができ、特性曲線の横軸方向のずれを決める係数となる。未知係数mの変化を図5Bに示す。光路のバラツキが発生する要因は、例えば、レンズの偏心、センサボディの歪や非対称性、あるいはセンサの保護や目隠しのためにセンサ前面に取りつけるカバー材などと考えられる。測定距離dが十分長いとき、相対的に未知係数mが式1の特性曲線に与える影響は小さくなる。また、反比例曲線の性質上、測定距離dが小さいほど出力電圧Vの変化に対する測定距離dの変化が小さくなるため、未知係数mの変化は特性曲線の近距離側での測距精度に影響を与える。未知係数nは電圧出力値の次元をもち、測定対象物が無限遠にあるときのオフセット電圧のバラツキと捉えることができ、特性曲線の縦軸方向のずれを決める係数となる。未知係数nの変化を図5Cに示す。オフセット電圧のバラツキが発生する要因は、例えば、PSDのダイボンド位置のバラツキや、PSDの位置検出誤差、光電流―電圧変換バラツキなどと考えられる。測定距離dが十分小さいとき、相対的に未知係数nが式1の特性曲線に与える影響は小さくなる。また、反比例曲線の性質上、測定距離dが大きいほど出力電圧Vの変化に対する測定距離dの変化が大きくなるため、未知係数nの変化は特性曲線の遠距離側での測距精度に影響を与える。これら3つの未知係数l,m,nを個々のセンサに対して求めることにより、個体バラツキを含む特性曲線が求まり、精度の高い電圧―距離変換が可能になる。未知係数l,m,nの特定には、異なる測定距離における出力電圧を少なくとも3点実測する必要がある。なお、十分高精度に製造されたセンサであれば、未知係数l,m,nは一定範囲内に収まると考えてよい。次に、本発明の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。本実施形態は、本発明に係る距離測定装置を、液晶表示装置に適用した場合の実施形態である。図1は、本実施形態に係る液晶表示装置1の構成を示すブロック図である。図において液晶表示装置1は、表示用のデバイスとして液晶パネル17を備える表示装置であり、PC3から入力される画像信号に基づいて液晶パネル17に画像表示を行うものである。液晶表示装置1は、制御部10、RAMRandomAccessMemory11、RAMRandomAccessMemory24、ROMReadOnlyMemory12、ROMReadOnlyMemory25、操作部13、入力部14、画像処理部15、パネル駆動部16、液晶パネル17、ライト駆動部18、バックライト19、PSDセンサ20、調整部21、増幅部22及び算出部23等を備えて構成されている。制御部10は、具体的にはCPUCentralProcessingUnit又はMPUMicroProcessingUnit等の演算処理装置にて構成され、ROM12に記憶された制御プログラムを読み出して実行することにより種々の処理を行うことができる。制御部10は、液晶表示装置1内の各部と情報の授受を行ってこれら各部の動作を制御することにより、液晶パネル17に画像を表示するための種々の制御処理を実行する。RAM11は、例えばSRAMStaticRAM又はDRAMDynamicRAM等のデータ書き換え可能なメモリ素子により構成されており、一時的なデータを記憶することができる。例えばRAM11は、制御部10が行う種々の制御処理の演算過程などで発生したデータを一時的に記憶する。RAM24も、例えばSRAMStaticRAM又はDRAMDynamicRAM等のデータ書き換え可能なメモリ素子により構成されており、一時的なデータを記憶することができる。本実施の形態においては、PSDセンサ20の検出結果及びこの検出結果に基づいて出力される増幅器出力電圧Vamp等のデータ詳細は後述するをRAM24に記憶する。ROM12は、例えばEEPROMElectricallyErasableProgrammableROM又はフラッシュメモリ等の不揮発性のメモリ素子により構成され、制御部10の動作に必要な制御プログラムと、その他の種々のデータ図示は省略するとが予め記憶されている。ROM25も、例えばEEPROMElectricallyErasableProgrammableROM又はフラッシュメモリ等の不揮発性のメモリ素子により構成されている。本実施の形態においては、PSDセンサ20から測定対象物までの距離を算出するために用いる特性曲線を構成するバラツキ成分定数A,m,Bの値詳細は後述するがROM25に予め記憶されており、算出部23がこれらのデータを読み出して処理を行う。操作部13は、ユーザが液晶表示装置1を操作するための各種のファンクションキーなどを有している。例えば、液晶パネル17の画像表示の明るさブライトネスを変更するためのキー、又は画像表示のカラーバランスを変更するためのキー等のように、液晶表示装置1の表示特性を設定するための設定キーが操作部13に設けられている。操作部13は、これらのファンクションキーに対するユーザの操作を受け付けて制御部10へ通知し、制御部10は操作部13からの通知に応じて各部の動作を制御することができる。入力部14は、PC3などの外部機器に信号ケーブルを介して接続される接続端子を有しており、PC3から入力される画像信号を取得し、この画像信号を画像処理部15へ与える。画像処理部15は、制御部10の制御に応じて、入力部14から与えられた画像信号に対して明るさ調整又はカラーバランス調整等の種々の画像処理を施し、画像処理後の画像信号をパネル駆動部16へ与える。画像処理部15から与えられた画像信号に応じてパネル駆動部16が液晶パネル17を駆動することにより、液晶表示装置1はPC3からの画像信号に基づく画像表示を行うことができる。液晶パネル17は、一対のガラス基板が対向配置され、その間隙内に液晶物質である液晶層が形成された構造をなしている。一方のガラス基板には、複数の画素電極と、画素電極のそれぞれにドレインを接続したTFTThinFilmTransistorとが設けられ、他方のガラス基板には共通電極が設けられている。各TFTのゲート及びソースは、パネル駆動部16のゲートドライバ及びソースドライバ図示は省略するに接続され、パネル駆動部16から駆動信号がそれぞれ入力されている。パネル駆動部16は、画像処理部15から与えられた画像信号に応じて液晶パネル17を駆動するための駆動信号を出力する。詳しくは、パネル駆動部16のゲートドライバは、液晶パネル17が有する多数のTFTのゲートに、与えられた画像信号に応じて選択的に電圧を印加し、また同様に、パネル駆動部16のソースドライバは、TFTのソースに、入力された映像信号に応じた電圧値で電圧を印加する。これにより液晶パネル17は、パネル駆動部16のゲートドライバから印加される電圧によって各画素のTFTのオン/オフが制御され、パネル駆動部16のソースドライバから入力される出力電圧液晶パネル17への入力レベルが各画素のTFTに印加されることにより、液晶物質の電気光学特性によって決定される光透過率が制御されて、バックライト19からの光の透過が調整され、所望の画像を階調表示することができる。液晶パネル17の各画素は、RGBのように複数色分の副画素で更に構成され、光の透過方向にカラーフィルムを配することで、カラー表示を可能としている。バックライト19は、表示装置1内にて液晶パネル17の背面側に配設されており、ライト駆動部18から与えられる出力電圧により駆動される。ライト駆動部18は、制御部10の制御に応じて、バックライト19への出力電圧を調整する。これにより、例えばユーザが操作部13を操作して設定したブライトネス設定に応じて、ライト駆動部18に出力電圧を調整させて、バックライト19の輝度を調整することができる。PSDセンサ20は、液晶表示装置1の筐体の正面部分例えば液晶パネル17を囲む周囲の枠部分に設けられ、液晶表示装置1の正面側に存在する物体までの距離を検出し、検出結果として距離に応じた電圧値の信号を調整部21へ出力する。PSDセンサ20は、例えば赤外LEDと組み合わせて用いられ、赤外LEDから出射した赤外光の対象物における反射光を受光し、このときの受光位置又は受光角度等に応じた電圧値の信号を出力する。このためセンサが出力する信号の電圧値を元に、三角測量方式にて対象物までの距離を算出することができる。なおPSDセンサ20は、測定対象物までの距離が近いほど電圧値が高い信号を出力し、対象物までの距離が遠いほど電圧値が低い信号を出力する。PSDセンサ20からの出力信号が与えられた調整部21は、後述する方法により、算出部23からの指示に基づいて、この信号をオフセット調整補正する。前記オフセット調整補正された信号は、後述する方法により、算出部23からの指示に基づいて、増幅部22にて増幅される。なお、後述するように、本実施の形態においては、調整部21と増幅部22は同一の出力電圧最適化回路4図6に備えられ、調整部21におけるオフセット調整補正は、出力電圧最適化回路4を構成する増幅器A2および増幅器A1において実行され、増幅部22における増幅ゲイン補正は、増幅器A1において実行される。なお、オフセット補正とゲイン補正は、ほぼリアルタイムに実行される。算出部23は、前記増幅された信号を、後述する方法によって得られる特性曲線に当てはめることにより、PSDセンサ20から測定対象物までの距離を算出する。なお算出部23は、前記増幅された信号の電圧値VampをA/D変換図示は省略するによりデジタルの情報として取得する。制御部10は、算出部23が算出した測定対象物までの距離情報に基づいて、液晶表示装置1の正面PSDセンサ20の検出範囲内に検出対象物例えば、人が存在するか否かを判定し、判定結果に応じて液晶パネル17の表示/非表示を切り替える制御処理を行う。即ち制御部10は、人が存在すると判定した場合には、液晶パネル17にPC3から入力された画像の表示を行い、人が存在しないと判定した場合には、液晶パネル17の画像表示を停止する。なお画像表示の停止は、例えばパネル駆動部16及びライト駆動部18による駆動信号の出力を停止することで行ってもよく、また例えば電源回路図示は省略するから各部への電力供給を停止することで行ってもよく、その他の方法で行ってもよい。次に、調整部21において実行されるオフセット調整補正、および増幅部22において実行される増幅ゲイン補正の詳細について説明する。図6に、オフセット調整補正および増幅ゲイン補正を行う出力電圧最適化回路4の一例を示す。出力電圧最適化回路4は、図1に記載する調整部21および増幅部22に該当する。上述したように、調整部21におけるオフセット調整補正は、出力電圧最適化回路4を構成する増幅器A2および増幅器A1において実行され、増幅部22における増幅ゲイン補正は、増幅器A1において実行される。出力電圧最適化回路4は、2段の差動増幅器A2およびA1により構成され、初段の増幅器A2に外部DACなどから入力されるオフセット補正電圧Voffsetと、ダイオードの順方向電圧などにより提供される温度補償電圧Vtempとが入力すると、抵抗比R2R1によって決まるゲインG2図示は省略するにて差動増幅を行い、補正電圧Vcompを生成し、次段の増幅器A1に前記補正電圧Vcompとセンサの出力電圧Voとが入力すると、抵抗比R4R3によって決まるゲインG1図示は省略するにて差動増幅を行い、増幅電圧Vampを得る。前記増幅電圧VampはADC図示は省略するに入力される。増幅電圧Vampは、増幅器A1のゲインG1、増幅器A2のゲインG2、オフセット補正電圧Voffset、温度補償電圧Vtempを用いて、次に示す式2で表すことができる。なお、式2は、補正電圧Vcompを用いて、式2’と表すこともできる。温度補償電圧Vtempと増幅器A2のゲインG2は、センサの温度特性からあらかじめ設定される。アナログ出力型三角測量方式測距センサは周囲温度の変化によって機構材料の膨張収縮や電気的特性の変化が起こると、上述の未知係数が変化して特性曲線に誤差が生じる。特性曲線の温度特性はセンサの設計によりさまざまであるが、例えば、センサの出力電圧が線形な温度特性をもっていた場合、シリコンダイオードやツェナーダイオードなどの、同じく線形な温度特性をもった素子で基準電圧を生成し、それを温度補償電圧Vtempとして増幅器A2に入力して補正電圧Vcompに温度特性を与え、補正電圧Vcompの温度特性がセンサの温度特性と等しくなるようにゲインG2を設定することにより、増幅器A1で補正電圧Vcompとセンサの出力電圧Voとを差動増幅するときにセンサの温度特性をキャンセルすることができる。なお、温度補償電圧VtempとゲインG2は、オフセット補正電圧Voffsetや、増幅器A1、A2の温度特性も加味して設定してもよい。オフセット補正オフセット補正電圧Voffsetは、DACなどから供給される可変直流電圧であり、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最長距離dmaxに応じて設定される。なお、オフセット補正電圧Voffsetは、必ずしも、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最長距離dmaxに応じて設定されなければならないわけではなく、任意の距離dに応じて設定されることができる。すなわち、最長距離dmaxよりも長い距離に応じて設定されてもよいし、逆に、最長距離dmaxよりも短い距離に応じて設定されてもよい。ただし、最長距離dmaxよりも短い距離に応じて設定される場合には、該当の距離測定装置に要求される測定範囲内において測定距離の飽和が発生しないようにする必要がある。以下では、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最長距離dmaxに応じてオフセット補正電圧Voffsetを設定する場合について説明する。この場合が、最も効率的かつ高精度にオフセット補正することができるからである。図8は、オフセット補正とゲイン補正によるセンサの特性曲線の最適化を示す概念図である。まず、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最長距離dmaxにおける増幅電圧Vminを実測する。次に、前記VminをADCの入力電圧範囲の最小値に近づけるようにオフセット補正電圧Voffsetを調整してオフセット補正を行う。前記VminをADCの入力電圧範囲の最小値に近づける際は、前記最小値と一致させてもよいが、経年変化などによって前記最小値を下回らないようにマージンを設けておいてもよい。なお、オフセット補正電圧Voffsetの初期値は任意の電圧でよい。また、例えば、オフセット補正電圧Voffsetの初期値を温度補償電圧Vtempと等しく設定して補正電圧Vcompをキャンセルしておく方法や、あらかじめセンサの個体バラツキの傾向を調べておき、中央付近の個体バラツキをもったセンサの特性曲線に最適化したオフセット補正電圧Voffsetを初期値とする方法によってオフセット補正の所要時間を短縮させることもできる。ゲイン補正増幅器A1のゲインG1は、上述したオフセット補正を行ったのち、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最短距離dminに応じて設定される。なお、増幅器A1のゲインG1は、必ずしも、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最短距離dminに応じて設定されなければならないわけではなく、任意の距離dに応じて設定されることができる。すなわち、最短距離dminよりも長い距離に応じて設定されてもよいし、逆に、最短距離dminよりも短い距離に応じて設定されてもよい。以下では、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最短距離dminに応じて増幅器A1のゲインG1を設定する場合について説明する。この場合が、最も効率的かつ高精度にゲイン補正することができるからである。まず、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最短距離dminにおける増幅電圧Vmaxを実測する。次に、前記VmaxをADCの入力電圧範囲の最大値に近づけるようにゲインG1を調整してゲイン補正を行う。前記VmaxをADCの入力電圧範囲の最大値に近づける際は、前記最大値と一致させてもよいが、経年変化などによって前記最大値を上回らないようにマージンを設けておいてもよい。また、ゲインG1を変えることで測定範囲における最長距離dmaxにおける増幅電圧Vminが変化するため、上記オフセット補正を再度行い、さらに上記ゲイン補正を再度行い、これを繰り返すことで、より高精度に電圧範囲の最適化を行ってもよい。なお、ゲインG1の初期値は、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における測距センサの出力電圧範囲においてADCの入力電圧範囲を超えないように設定しておく。ADCの入力分解能が十分に大きく、増幅器A1のゲインG1を可変させてADCのダイナミックレンジをできる限り大きく取らずとも十分な距離分解能が得られる場合には、あらかじめ該当の距離測定装置に要求される測定範囲において最も出力電圧範囲の広い個体バラツキをもったセンサの特性曲線においても飽和しないようにゲインG1を固定値に設定しておいてもよい。以上より、図8に示すように、オフセット補正とゲイン補正により、センサの特性曲線は、出力電圧最適化回路を経て、所望の測定範囲における測距センサの出力電圧範囲がADCの入力電圧範囲に合わせて最適化される。なお、図6に示す出力電圧最適化回路4によりオフセット補正やゲイン補正を行い、任意の測定距離doにおける出力電圧Voのセンサの特性曲線を、任意の測定距離doにおける増幅電圧Vampの特性曲線に変換しても、アナログ出力型三角測量方式測距センサがもつ特性曲線の特徴は変化しない。以下、この点について説明する。上述の式1に示す測距センサの特性曲線を上述の式2に代入し、次に示す式3、式4とおくと、式5が得られる。なお、式4は補正電圧Vcompを用いて式4’とも表すことができる。ここで、式3のゲインG1、未知係数lは定数であるため、係数Aは定数である。同様に、式4のゲインG1、G2、未知係数n、オフセット補正電圧Voffset、温度補償電圧Vtempは定数であるため、係数Bは定数である。したがって、式5の増幅電圧Vampと測定距離doは反比例の関係にある。つまり、任意の測定距離doにおけるセンサの出力電圧Voの特性曲線に対して、図6の出力電圧最適化回路4によりオフセット補正や増幅ゲイン補正を行い、任意の測定距離doにおける増幅電圧Vampの特性曲線に変換しても、アナログ出力型三角測量方式測距センサがもつ特性曲線の特徴は変化せず、未知係数l,m,nがそれぞれ係数A,m,Bに置き換わったとみなすことができる。すなわち、式5は任意の測定距離doにおける増幅電圧Vampを対応づける電圧―距離変換式であり、個々のセンサに対して係数A,m,Bを求めることにより、センサの特性曲線の個体バラツキを補正することができる。なお、上述のオフセット補正は、式4、式4’が表すように、式5において係数Bを設定することに相当する。図7にオフセット補正前後の2つの特性曲線を示す。いかなる係数Bを設定した場合でも、すなわち、いかなるオフセット補正電圧Voffsetを設定した場合でも、オフセット補正前後の特性曲線はV軸方向に平行移動するだけである。ここで、任意の測定距離doの変化による増幅電圧Vampの変化を特性曲線上の任意の1点を基準に相対値として取り扱うことにより、係数Bを未知係数A,mとは無関係に選ぶことができる。したがって、係数Bはハードウェアの要求、すなわちADCの入力電圧範囲に合わせて所望の値に設定すればよい。また、上述のゲイン補正では、式3、式4、式4’が表すように係数A、Bに掛かっているゲインG1を変えるため、式5において任意の測定距離doにおける増幅電圧Vampが増減し、図8のゲイン補正の矢印に示すように特性曲線の傾斜が変化する。距離算出方法次に、算出部23において、PSDセンサ20から測定対象物までの距離を算出する方法の詳細について説明する。上述のオフセット補正とゲイン補正を行ったのち、所望の測定範囲における中間距離dmidにおける増幅電圧Vmidを実測する。前記中間距離dmidは該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最長距離dmaxと該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最短距離dminとの間で任意に選んでよいが、あらかじめセンサの個体バラツキの傾向を調べておき、中央付近の個体バラツキをもったセンサの特性曲線の頂点付近に前記中間距離dmidを設定することにより、センサの個体バラツキの補正精度を高めることができる。上述の過程で得られた3つの測定点、、は、式5を用いてそれぞれ次に示す式6、式7、式8で表すことができる。式6と式8とから次に示す式9、式7と式8とから式10が得られ、式9と式10とから係数A,mが式12、式13のとおり求まる。式5と式8から式11が得られ、係数Bが消去される。式11を任意の測定距離doについてまとめると、式14が得られる。式8を係数Bについてまとめると、次に示す式15が得られるため、式14は式16と表すことができる。式16は式5を任意の測定距離doについてまとめた式に等しい。式12、式13、および式15を用いてセンサのバラツキ係数A,m,Bを算出し、式16を用いることにより、センサの特性曲線の個体バラツキを補正した電圧―距離変換が可能となる。なお、本実施の形態によれば、該当の距離測定装置に要求される測定範囲における最長距離dmaxに応じたオフセット補正と、最短距離dminに応じたゲイン補正を行う過程、すなわち、ADCのダイナミックレンジが最大限に取れるように、該当の距離測定装置に要求される測定範囲におけるPSDセンサ20の出力範囲を最適化する過程出力電圧最適化回路4において、3点の測定ポイントの内の2点の測定が完了するため、極めて効率的にPSDセンサ20の特性曲線を求めることができる。なお、以上の過程において算出した係数A,m,Bに基づいて、式3、式4からそれぞれ未知係数lと未知係数nを逆算することができ、出力電圧最適化回路4を通す前のセンサの特性曲線を定める3つの未知係数l,m,nを求めることができる。そして、算出された未知係数l,m,nを用いて、式1からセンサの特性曲線を特定することができる。したがって、該当の距離測定装置に要求される測定範囲を変更する場合には、上述により特定されたセンサの特性曲線を用いて机上計算に基づいてオフセット補正、ゲイン補正を行い、新たな係数BとゲインG1を設定することにより、再測定なしにADCの入力電圧範囲と測距センサの出力電圧範囲を合わせ込むことができる。このような合わせ込みによって、該当の距離測定装置に要求される測定範囲を変更した場合であっても、ADCのダイナミックレンジが最大限に取れるように測距センサの出力範囲を最適化することができ、高精度な出力値―距離変換を行うことができる。図9に該当の距離測定装置に要求される測定範囲を変更した特性曲線を示す。なお、本実施の形態においては、LEDとPSDを用いた電圧出力の光学式アナログ出力型三角測量方式測距センサを備えた距離測定装置を液晶表示装置1に搭載した構成を例に説明を行ったが、本発明の適用は液晶表示装置1に限るものではない。本発明における距離測定装置を構成する測距センサは、センサの出力値が測定対象物までの距離と反比例の関係をもつものであればよく、このような関係をもつものであれば、センサの出力値が、電流、数値、デジタルデータ等であってもよく、また、光学式測距センサに限らず、例えば、静電センサ、輝度センサ、温度センサ等であってもよい。そして、本発明における距離測定装置は、液晶表示装置以外の表示装置、例えば、プラズマディスプレイ、有機ELディスプレイ、CRTディスプレイ等に適用することもできる。さらに、本発明における距離測定装置は、表示装置以外にも、測定対象物例えば、人までの距離に基づいて種々の制御例えば、電源のオン/オフの制御を行う様々な電気機器、例えば、空気調和機、照明装置、防犯設備等にも適用することができる。なお、請求項1において明らかなように、本発明における距離測定装置は、調整部21および増幅部22を有さない構成であってもよい。すなわち、上述のオフセット補正およびゲイン補正を行わない構成であってもよい。なお、この場合、測定ポイントは任意の3点でよく、必ずしも、最長距離dmaxおよび最短距離dminを測定ポイントに含める必要はない。"