袋状に形成されたセパレータ内に配置された電極に対して、前記セパレータを透過し、前記電極を透過しない第1光を投射する第1投光手段と、前記セパレータを透過した前記第1光を受光する第1受光手段と、前記セパレータに反射する第2光を投射する第2投光手段と、前記セパレータに反射した前記第2光を受光する第2受光手段と、前記第1受光手段および前記第2受光手段による受光結果に基づいて、前記セパレータおよび前記電極の位置を検出し、前記セパレータに対する前記電極の相対位置を検出する検出手段と、を有する電極位置検出装置。前記検出手段は、前記セパレータに対する前記電極の相対位置の良否を判断する請求項1記載の電極位置検出装置。前記セパレータはセラミックセパレータであり、前記第1光は近赤外光である請求項1または請求項2記載の電極位置検出装置。前記第1投光手段および前記第2投光手段は、前記電極を介して、相互に反対側に配置されており、前記第1受光手段および前記第2受光手段は、共通の受光装置により実現され、前記第1電極の位置は、前記電極によって遮断された前記第1光の影に基づいて検出される請求項1~3のいずれか一項に記載の電極位置検出装置。前記検出手段は、前記セパレータおよび前記電極の辺を検出し、それぞれの辺の位置に基づいて、前記セパレータに対する前記電極の位置を検出する請求項1~4のいずれか一項に記載の電極位置検出装置。前記検出手段は、前記第2受光手段による受光結果に基づいて、袋状の前記セパレータにめくれが発生しているかを検査する請求項1~5のいずれか一項に記載の電極位置検出装置。袋状の前記セパレータは、2枚のセパレータの端辺を接合部により接合して形成されており、前記検出手段は、前記第1受光手段による受光結果に基づいて、前記接合部を検出し、前記接合部に対する前記電極の相対位置に基づいて、電極位置の良否を判断する請求項1~6のいずれか一項に記載の電極位置検出装置。前記第1投光手段によって投光される前記第1光は、前記セパレータの透過率が50以上となる波長の光である請求項1~7のいずれか一項に記載の電極位置検出装置。袋状に形成されたセパレータ内に配置された電極に対して、前記セパレータを透過し、前記電極を透過しない第1光を投射する第1投光工程と、前記セパレータを透過した前記第1光を受光する第1受光工程と、前記セパレータに反射する第2光を投射する第2投光工程と、前記セパレータに反射した前記第2光を受光する第2受光工程と、前記第1受光工程および前記第2受光工程における受光結果に基づいて、前記セパレータおよび前記電極の位置を検出し、前記セパレータに対する前記電極の相対位置を検出する検出工程と、を有する電極位置検出方法。しかしながら、特許文献1記載の発明では、セパレータ内で正極が正確に位置決めされていることが前提とされている。したがって、正極が本当は正確に位置決めされていない場合であっても、後工程で確認されることがない。これでは、セパレータに対して正極の位置がずれたままで、電池が組み立てられ、そのまま出荷されてしまう虞がある。品質保証の向上が望まれる。本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、セパレータに袋詰めされた電極において、セパレータに対する電極の位置を検出できる電極位置検出装置および電極位置検出方法を提供することを目的とする。本発明の電極位置検出装置は、第1投光手段、第1受光手段、第2投光手段、第2受光手段とおよび検出手段を有する。第1投光手段は、袋状に形成されたセパレータ内に配置された電極に対して、セパレータを透過し、電極を透過しない第1光を投射する。第1受光手段は、セパレータを透過した第1光を受光する。第2投光手段は、セパレータに反射する第2光を投射する。第2受光手段は、セパレータに反射した第2光を受光する。検出手段は、第1受光手段および第2受光手段による受光結果に基づいて、セパレータおよび電極の位置を検出し、セパレータに対する電極の相対位置を検出する。本発明の電極位置検出方法は、第1投光工程、第1受光工程、第2投光工程、第2投光工程および検出工程を含む。第1投光工程は、袋状に形成されたセパレータ内に配置された電極に対して、セパレータを透過し、電極を透過しない第1光を投射する。第1受光工程は、セパレータを透過した第1光を受光する。第2投光工程は、セパレータに反射する第2光を投射する。第2受光工程は、セパレータを介して、第2光を受光する。検出工程は、第1受光工程および第2受光工程における受光結果に基づいて、セパレータおよび電極の位置を検出し、セパレータに対する電極の相対位置を検出する。本発明の電極位置検出装置および電極位置検出方法によれば、セパレータと電極の両者の位置を検出できるので、セパレータ内で電極が適切に配置されていることを確認できる。以下、添付の図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。なお、図面の寸法比率は、説明の都合上誇張されており、実際の比率とは異なる場合がある。本発明は、二次電池の製造工程の一部に適用される電極位置検出装置に関する。本発明の一実施形態である電極位置検出装置を説明する前に、電池の構造および電池の発電要素を組み立てる構成であるシート積層装置について説明する。電池まず、図1を参照して、シート積層装置により形成されるリチウムイオン二次電池積層型電池について説明する。図1はリチウムイオン二次電池の外観を表した斜視図、図2はリチウムイオン二次電池の分解斜視図、図3は負極および袋詰正極の平面図、図4は袋詰正極に負極を重ねた様子を示す平面図である。図1に示すとおり、リチウムイオン二次電池10は、扁平な矩形形状を有しており、正極リード11および負極リード12が外装材13の同一端部から導出されている。外装材13の内部には、充放電反応が進行する発電要素電池要素15が収容されている。図2に示すとおり、発電要素15は、袋詰正極20と、負極30とが交互に積層されて形成される。袋詰正極20は、図3Aに示すように、シート状の正極集電体の両面に正極活物質層22が形成されてなる正極24が、セパレータ40により挟み込まれてなる。2枚のセパレータ40は、端部において接合部42により相互に接合されて、袋状に形成されている。正極24は、タブ部分26がセパレータ40の袋から引き出されている。正極24は、タブ部分26以外の部分に正極活物質層22が形成されている。負極30は、図3Bに示すように、ごく薄いシート状の負極集電体の両面に負極活物質層32が形成されてなる。負極30は、タブ部分34以外の部分に負極活物質層32が形成されている。袋詰正極20に、負極30を重ねると図4に示すようになる。図4に示すように、負極活物質層32は、正極24の正極活物質層22よりも平面視して一回り大きく形成されている。なお、袋詰正極20と負極30とを交互に積層してリチウムイオン二次電池を製造する方法自体は、一般的なリチウム二次電池の製造方法であるため、詳細な説明は省略する。シート積層装置次に、上記発電要素15を組み立てるためのシート積層装置について説明する。図5はシート積層装置を示す概略平面図、図6はシート積層装置を示す斜視図、図7は図6の矢印方向に見た正極供給テーブルの正面図、図8は正極供給テーブルの平面図である。図5および図6に示すとおり、シート積層装置100は、積層ロボット110、正極供給テーブル120、負極供給テーブル130、積層ステージ140、記憶部150および制御部160を有する。積層ロボット110、正極供給テーブル120、負極供給テーブル130、および積層ステージ140は、制御部160により制御される。また、制御部160の制御プログラムや各種データは記憶部150に記憶される。積層ロボット110は、袋詰正極20および負極30を交互に積層して発電要素積層体15を形成する。積層ロボット110は、L字状アーム112と、L字状アーム112の端部に設けられた第1および第2の吸着ハンド114、116とを有する。L字状アーム112は、水平方向に所定角、たとえば、本実施形態では90度回動する。また、L字状アーム112は、鉛直方向に所定量移動することができる。第1の吸着ハンド114は、L字状アーム112の一方の端部に設けられ、袋詰正極20を吸着保持または解放する。第2の吸着ハンド116は、L字状アーム112の他方の端部に設けられ、負極30を吸着保持または解放する。正極供給テーブル120は、L字状アーム112に袋詰正極20を受け渡すためのテーブルである。正極供給テーブル120は、前工程で作成されて吸着コンベア60により運搬されてきた袋詰正極20を1枚ずつ受け取り、載置する。正極供給テーブル120も、吸着コンベアであり、吸着コンベア60からの負圧が開放された袋詰正極20を吸着して、略中央まで運び負圧により固定する。また、正極供給テーブル120は、袋詰正極20の平面位置を調節できるように、平面方向に移動および回転可能である。正極供給テーブル120は、たとえば、XYステージ122上に設けられており、XYステージ122がX、Y方向に移動または平面方向に回転することによって、平面位置が調整される。XYステージ122は、3つのモータにより、平面方向の移動および回転が実現される。正極供給テーブル120は、吸着コンベア60よりも幅が狭く、袋詰正極20の側方がはみ出るように、構成されている。図5、5では図示を省略しているが、図7および図8に示すように、正極供給テーブル120の両側には、透明な支持台124が設けられている。支持台124は、正極供給テーブル120からはみ出ている袋詰正極20の端部を支持する。また、支持台124と対応する位置に、クランパ126が設けられる。クランパ126は、支持台124と共に袋詰正極20の端部を挟んで固定する。支持台124およびクランパ126は共に可動式であり、正極供給テーブル120上に袋詰正極20が載置されると、袋詰正極20の端部を支持および固定するように、袋詰正極20に接近する。また、正極供給テーブル120の下方には光源70が、上方にはカメラ80が配置されている。光源70は、透明な支持台124の下方に設置され、袋詰正極20の端部に光を照射する。照射される光は、セパレータ40を所定の透過率以上で透過し、正極24に透過しない所定の透過率以下で透過する波長の光である。カメラ80は、光源70から投光され正極24に遮断されつつもセパレータ40を透過した光を受光し、正極24の位置を撮像する。つまり、正極24の影に基づいて、正極24の位置を撮像する。カメラ80により撮像された正極24の位置に基づいて、正極24袋詰正極20の水平位置が調整される。この調整により、吸着ハンド114は、正極24の位置が正確に位置決めされた袋詰正極20を毎回ピックアップできる。図5および図6に戻って、負極供給テーブル130は、L字状アーム112に負極30を受け渡すためのテーブルである。負極供給テーブル130は、前工程で作成されて吸着コンベア62により運搬されてきた負極30を1枚ずつ受け取り、載置する。負極供給テーブル130も、吸着コンベアであり、吸着コンベア62からの負圧が開放された負極30を吸着して、略中央まで運び負圧により固定する。負極30が第1の吸着ハンド116に吸着される際には、負極供給テーブル130は吸着を開放する。また、負極供給テーブル130は、負極30の平面位置を調節できるように、平面方向に移動および回転可能である。負極供給テーブル130は、たとえば、XYステージ132上に設けられており、XYステージ132がX、Y方向に移動または平面方向に回転することによって、平面位置が調整される。XYステージ132は、3つのモータにより、平面方向の移動および回転が実現される。また、負極供給テーブル130の上方には、光源72およびカメラ82が配置されている。光源72は、負極30に反射する波長の光を、負極30に照射する。カメラ82は、光源72から投光されて負極30に反射した光を受光して、負極30の位置を撮像する。負極供給テーブル130は、カメラ82により撮像された負極30の位置に基づいて、負極30の水平位置が調整される。この調整により、吸着ハンド116は、正確に位置決めされた負極を毎回ピックアップできる。積層ステージ140は、袋詰正極20および負極30が交互に積層されるパレットを載置する載置部142と、載置部142を昇降する駆動部144と、載置部142の周縁部に配置される4つのクランパ146とを有する。載置部142は、袋詰正極20および負極30が所定枚数積層されて発電要素15が完成するまでは、積層体15を保持し、完成すると、発電要素15を、コンベア64に払い出す。駆動部144は、載置部142の高さを調整する。詳細には、袋詰正極20および負極30が交互に積層され、積層体15の高さが変動しても、積層体15の最上面の高さが変わらないように、積層の進行に従って載置部142の位置を下げる。これにより、積層ロボット110は、積層の進行に関わらず、同じ動作を繰り返すだけで、発電要素15の積層ができる。クランパ146は、積層体15がずれないように、負極30または袋詰正極20を積層するたびに、積層体15の4角を固定する。積層の進行に従って載置部142の高さが低く調整されるので、クランパ146も毎回同じストロークでクランプを繰り返せる。積層動作以上のとおり構成されるシート積層装置100によれば、正極供給テーブル120および負極供給テーブル130上に位置調整して載置される袋詰正極20および負極30が、積層ロボット110によりピックアップされ、積層ステージ140に交互に提供される。以下、図9~図11を参照して、シート積層装置100の積層動作について説明する。図9~図11は、積層ロボットによる負極および袋詰正極の積層動作を説明するための図である。なお、以下では、積層ロボット110により積層ステージ140に袋詰正極20を積層する際の動作から説明する。図9Aに示すとおり、積層ステージ140には、袋詰正極20および負極30が載置されており、積層ステージ140の上方には、吸着ハンド114が位置している。袋詰正極20および負極30の積層体の最上層には負極30が配置されており、吸着ハンド114は、袋詰正極20を吸着保持している。一方、吸着ハンド116は、負極供給テーブル130の上方に位置している。負極供給テーブル130上には、負極30が載置されている。続いて、積層ロボット110のL字状アーム112が所定量だけ下降する図9B参照。L字状アーム112の下降に伴って、吸着ハンド116および吸着ハンド114は、負極供給テーブル130および積層ステージ140上にそれぞれ降下する。このとき、吸着ハンド116の底面には負圧が作用し、吸着ハンド116は、負極30を吸着保持する。一方、吸着ハンド114には負圧が解除され、袋詰正極20を解放する。続いて、積層ロボット110のL字状アーム112が所定量だけ上昇する図10C参照。L字状アーム112の上昇にともなって、吸着ハンド116は、テーブル130から負極30を取り上げる。また、吸着ハンド116および吸着ハンド114は、負極供給テーブル130上および積層ステージ140の上方に移動する。続いて、積層ロボット110のL字状アーム112が所定量だけ回動する図10D参照。L字状アーム112が、水平方向に90度回動することにより、吸着ハンド116が積層ステージ140の上方に位置し、吸着ハンド114がテーブル120の上方に位置するようになる。続いて、積層ロボット110のL字状アーム112が所定量だけ下降する図11E参照。L字状アーム112の下降にともなって、吸着ハンド116および吸着ハンド114は、積層ステージ140および正極供給テーブル120上にそれぞれ到達する。このとき、吸着ハンド116の負圧が解除され、吸着ハンド116は、積層ステージ140上の積層体の最上面で負極30を解放する。一方、吸着ハンド114の底面には負圧が発生し、吸着ハンド114は、テーブル120上の袋詰正極20を吸着保持する。続いて、積層ロボット110のL字状アーム112が所定量だけ上昇する図11F参照。L字状アーム112の上昇にともなって、吸着ハンド116は、積層ステージ140の上方に移動する。一方、吸着ハンド114は、テーブル120から袋詰正極20を取り上げる。続いて、積層ロボット110のL字状アーム112が所定量だけ回動する。L字状アーム112が、水平方向に-90度回動することにより、吸着ハンド116がテーブル130の上方に位置し、吸着ハンド114が積層ステージ140の上方に位置するようになる図9A参照。以上の動作が繰り返されることにより、積層ステージ140上で袋詰正極20および負極30が交互に積層される。袋詰正極20および負極30が所定枚数積層されることにより、発電要素15としての積層体が形成される。電極位置検出装置次に、上記シート積層装置100に適用される電極位置検出装置200について説明する。図5および図6に戻って、電極位置検出装置200の構成について説明する。電極位置検出装置200は、光源70、74、カメラ80および制御部160を有する。光源70、74、カメラ80は、それぞれ、制御部160に接続されており、制御部160によって動作が制御される。電極位置検出装置200は、上述のシート積層装置100と共通の構成も含む。光源70は、第1投光手段として、正極供給テーブル120の下方に設置される。カメラ80は、第1および第2受光手段として、袋詰正極20に対して光源70とは反対側に設置される。カメラ80は、袋詰正極20中の正極24を撮像する。光源70は、袋詰正極20に向かって、セパレータ40には透過し正極24を透過しない反射または吸収される波長の光第1光、たとえば赤色光を投光する。光源70の光は、透明な支持台124を通過して、袋詰正極20の端部に投光される。袋詰正極20の中央部分は、正極供給テーブル120によって隠れているので、光源70の光は照射されない。光源74は、第2投光手段として、袋詰正極20に対して、カメラ80と同じ側に配置される。光源74は、袋詰正極20に向かって、セパレータ40に反射する波長の光第2光、たとえば白色光を投光する。なお、光の波長が長くなる程、透過率が高くなることが知られているが、透過率は材料によっても異なる。セパレータ40の材料に基づいて、投光する光の波長は適宜設定する必要がある。投光する光の波長をどのように設定するかについて、詳細は後述する。制御部160は、検出手段として、カメラ80による撮像に基づいて、正極24およびセパレータ40の位置を検出する。以下、正極24の位置を検出する際の、電極位置検出装置200の作用電極位置検出方法について説明する。図12は袋詰正極内の正極の位置を確認する様子を示す概念図、図13はセパレータの位置を確認する様子を示す概念図、図14は正極の位置を判定する様子を示す概念図である。まず、正極供給テーブル120上に袋詰正極20が載置され、透明な支持台124によって袋詰正極20の端部が支持され、クランパ126によって固定される。固定後、電極位置検出装置200は、吸着ハンド114によって袋詰正極20が吸着される前に、光源70、74によって投光する。投光は、同時ではなく、順次行われる。たとえば、光源70による投光が先に行われる。投光された光は、セパレータ40の端部を透過して、正極24を透過しない。カメラ80は、セパレータ40を透過した光を受光する。すなわち、カメラ80は、正極24を介して、正極24の部分が影になった光を受光する。影の輪郭を検出することで、正極24の位置を検出できる。ただし、正極24が正極供給テーブル120によって隠れている部分は元々光が透過しないので、正極24の位置は検出できない。たとえば、図12に着色して示されるように、正極24の端部の形状、位置が確認される。カメラ80によって、図12のような画像が得られると、制御部160は、画像を解析し、図中両矢印に示される範囲の正極24の辺を特定する。特定した辺を延長して、正極24の全体の辺の位置を特定する。正極24は、タブ部分26を有しているが、図12に示すように活物質層22が形成された塗工部分の辺を特定する。したがって、全体の辺の位置が特定された正極24は、図14に示すように矩形として特定される。特定された正極24の辺の位置情報は記憶部150に記憶される。続けて、光源74による袋詰正極20への投光が行われる。投光された光は、セパレータ40に反射して、カメラ80に受光される。カメラ80は、セパレータ40の全体像を受光する。たとえば、図13に示すように、セパレータ40の位置が確認される。カメラ80によって、図13のような画像が得られると、制御部160は、画像を解析し、図中両矢印に示される範囲のセパレータ40の辺を特定する。特定されたセパレータ40の辺の位置情報は記憶部150に記憶される。制御部160は、記憶部150からセパレータ40および正極24の辺の位置情報を読み出し、セパレータ40の位置に対する、正極24の位置を確認する。たとえば、制御部160は、図14に示すように、セパレータ40と正極24の辺の位置を重ね合わせ、両矢印で示す位置の距離を測定する。ここで重ね合わされる正極24は、タブ部分26が省略され、セパレータ40内に含まれる部分のみである。そして、測定した距離が、所定の範囲内か否かを判定することによって、正極24の位置が正常か異常かが判定される。所定の範囲は、セパレータ40の各辺からの距離の範囲として、予め設定されており、袋詰正極20の規格等に従って適宜決定される。制御部160は、正極24の少なくとも一辺の位置がセパレータ40の辺の位置に対して所定の範囲内にないことを発見した場合、発見した袋詰正極20を積層ロボット20により排出したり、どの発電要素15に組み込まれたか記憶部150に記憶しておいて後の工程で不良品として排出したりできる。以上のように、本実施形態では、袋状に形成されたセパレータ40内に配置された正極24自体の位置を検出し、セパレータ40との相対的な位置を検出できる。したがって、相対的な位置が許容範囲か、つまり、正極24がセパレータ40内に正確に位置決めされているか否かを確実に検査できる。結果として、位置ずれを起こした正極24がセパレータ40に袋詰めされたまま発電要素15が形成され、出荷されることを防止できる。セパレータ40の位置も検出するので、セパレータ40との相対的な位置関係に基づいて、正極24の位置の良否を判断できる。また、カメラ80は、光源70および光源74の両者からの光を共通して受光できる。したがって、光源70、74のそれぞれにカメラを用意する必要がなく、設備費用を低減できる。加えて、上記実施形態では、正極24の辺の一部を検出して、検出した辺から、辺全体を算出している。したがって、正極24の一部が正極供給テーブル120によって隠れており光学的に正極24の辺全長は検出できないにも関わらず、正極24の輪郭を特定できる。次に、投光する光の波長について説明する。図15はセパレータの透過特性を示す概略図である。図15は、横軸が光の波長nmを示し、縦軸が光の透過率を示す。図15では、3種類のセパレータ、すなわち、ポリプロピレンセパレータ、ポリエチレンセパレータ、セラミックセパレータの透過特性を示す。ポリプロピレンセパレータ、ポリエチレンセパレータは、それぞれポリプロピレン、ポリエチレンで形成されたポリマー骨格である。また、セラミックセパレータは、ポリプロピレンの基材上にシリカ、アルミナ、ジルコニウム酸化物、チタン酸化物等のセラミック粒子とバインダーの結合により形成される多孔膜をコートしたものである。図15を参照すると、セパレータ40は材料によって、透過傾向が異なる。しかし、いずれの材料に対しても、長波長の光ほど、透過率が高くなることがわかる。上記実施形態では、正極24を検出する場合、光源70からは、セパレータ40を透過する波長の光を投光する必要がある。カメラ80の感度にもよるが、少なくともセパレータの透過率が50以上となるような波長の光が、光源70から投光されることが好ましい。透過率が50以上だと、確実にセパレータ40を透過させて、正極24を検出できる。なお、正極24は、アルミニウムや銅などの金属から形成されているので、光はほぼ透過しない。したがって、セパレータ40さえ透過する波長以上であれば、上限は特にない。以上のように、セパレータ40の材料に関わらず、セパレータ40に対する透過率に基づいて、投光する光の波長を設定できる。すなわち、セパレータ40に対する透過率50以上により波長の下限を設定できる。たとえば、図15の透過特性を有するセラミックセパレータを採用した場合、約1300nm以上の波長の光、たとえば近赤外光を使用できる。セラミックセパレータは、ポリプロピレンセパレータやポリエチレンセパレータに比べて光が透過しにくいが、近赤外光を使用することによって、透過させることができる。なお、光源74から照射する光は、露出しているセパレータ40を検出するためのものである。したがって、光源74は、セパレータ40をあまり透過しない光、たとえば、透過率が50以下となる波長の光を照射する。変形例上記実施形態では、電極位置検出装置200は、正極供給テーブル120上に載置された袋詰正極20について、正極24の位置を検出していた。しかし、本発明はこれに限定されない。二次電池10を製造する工程において、袋詰正極20が形成された後であれば、いかなる工程においても、電極位置検出装置200による電極検出は適用できる。たとえば、2枚のセパレータ40に正極24が挟まれて、袋詰めされた直後に、セパレータ40に対する正極24の位置を検出してもよい。また、上記実施形態では、袋詰正極20として、セパレータ40に正極24が袋詰めされた形態について説明した。しかし、袋詰めされるのは負極30であってもよい。この場合、袋詰電極として、袋詰負極について、セパレータに対する負極の位置が検出される。また、上記実施形態では、セパレータ40の辺の位置を基準に、正極24の辺の位置が所定範囲か否かで、正極24の相対位置の良否を判定していた。しかし、正極24の相対位置評価の基準はこれに限定されない。たとえば、セパレータ40および正極24の辺の位置から、それぞれの角四隅を算出し、角の平均位置からそれぞれの中心位置を算出して、中心位置同士をずれに基づいて、正極24の位置を評価してもよい。また、上記実施形態では、光源70は、カメラ80と対向する位置に設けられている。しかし、光源70とカメラ80の位置関係はこれに限定されない。光源70とカメラ80とは、袋詰正極20に対して同側に設けられてもよい。この場合、光源70から照射された光は、セパレータ40を透過して、正極24には透過せずに、カメラ80に撮像される。つまり、カメラ80は、正極24の影ではなく、正極24自体を撮像する。また、上記実施形態では、一つのカメラ80により、光源70、74の両者の光を受光していた。しかし、各光源70、74に、それぞれ受光用のカメラを設けてもよい。この場合、たとえば、光源70、74を同じ側に配置したり、設計を変更できる。また、上記実施形態では、図1に示すように、正極リート11および負極リード12が外装材13の同一端部から導出されている場合について説明した。しかし、これに限定されない。正極リード11および負極リード12がたとえば反対の端部から導出されてもよい。この場合、二次電池10の発電要素15を形成する際には、タブ部分26、34が相互に反対向きになるように負極30と袋詰正極20が積層される。セパレータのめくれ検出上記実施形態では、セパレータ40に対する正極24の相対位置を検出している。しかし、カメラ80では、セパレータ40自体も撮像している。したがって、セパレータ40自体の撮像結果に基づいて、セパレータ40が正常か否かも判定してもよい。図16は、セパレータにめくれが発生している様子の一例を示す概略図である。制御部160は、図16に示すように、セパレータ40の図中左下の角がめくれている場合、セパレータ40が異常であると検出できる。めくれの発生は次のように検出できる。制御部160は、光源74から光を照射し、セパレータ40に反射した光をカメラ80によって受光する。制御部160は、カメラ80による撮像を分析し、白みがかって見えるセパレータ40と、黒っぽく見える正極24とを区別する。たとえば、画像の明度の違いによって、正極24を検出する。セパレータ40があるはずの範囲に黒い正極24が検出された場合、セパレータ40がめくれて正極24が露出していることを検出できる。セパレータ40のめくれ検出は、上記の正極24のセパレータ40に対する相対位置の判定の際に同時に実行できる。上記構成により、セパレータ40のめくれも検出して、袋詰正極20の不良をより精度よく検出できる。接合部の検出上記実施形態では、セパレータ40に対する正極24の相対位置を検出している。追加的に、セパレータ40の接合部42の位置も評価してもよい。セパレータ40は、袋状に形成される際に、端辺がたとえば熱溶着により接合される。この際に、図3Bに示すように、接合部42が形成される。セパレータ40同士を接合する接合部42は、元々のセパレータ40から物性が変わり、光の透過率も、接合部42以外の部分とは異なる。接合部42の透過率は、他のセパレータ40の部分よりも低い。したがって、光源70から投光する光の波長を調節することにより、正極24の位置を検出する際に、接合部42の位置も検出できる。検出した接合部42の位置は、上記実施形態において検出したセパレータ40の位置と比較することで評価できる。すなわち、正極24の場合と同様に、セパレータ40の各辺の位置を基準として、対応する接合部42の距離を算出し、算出した距離が所定の範囲内なら接合部42の位置が正常であると判断し、範囲外なら異常であると判断する。