"台、測定プローブ、および前記台に関して測定プローブを再配向するためのプローブヘッドを備える座標位置決め装置を再較正するための方法であって、前記方法は、前記測定プローブの複数の配向に対するデータムデータを含む前記座標位置決め装置に対する較正データセットをとるステップを含み、前記データムデータは前記測定プローブの第1の公称的配向に対する第1のデータムデータを含み、前記方法は、前記座標位置決め装置に障害が生じた後に、前記較正データセットを更新するステップを含み、前記較正データセットを更新する前記ステップは、前記座標位置決め装置を使用して1つまたは複数の位置測定値を取得するステップと、前記座標位置決め装置に前記障害が生じた後に前記第1のデータムデータの変化を記述する前記1つまたは複数の位置測定値から第1の補正を計算するステップと、前記第1の補正を使用して前記測定プローブの複数の異なる配向について前記データムデータを更新するステップとを含む方法。前記台は、機械座標系内で移動可能であり、前記測定プローブは、基準測定点を有し、前記第1のデータムデータは、前記測定プローブの前記第1の公称的配向について、前記機械座標系内のある点に関して前記測定プローブの前記基準測定点の位置を記述するベクトルを含み、前記第1の補正は、前記測定プローブの前記第1の公称的配向に対する前記機械座標系内の前記点に関して前記測定プローブの前記基準測定点のシフトを記述する第1のオフセットベクトルを含む請求項1に記載の方法。前記測定プローブは、プローブ筐体および実質的に球形のスタイラス先端部を有するスタイラスを備え、前記スタイラスは、中立位置から偏向可能であり、前記測定プローブの前記基準測定点は、前記スタイラスが前記中立位置にあるときに前記球形のスタイラス先端部の中心を含む請求項2に記載の方法。前記座標位置決め装置の前記障害は、前記測定プローブの前記スタイラスを置き換えるステップを含む請求項3に記載の方法。前記座標位置決めは、知られている位置の較正アーチファクトを含み、前記座標位置決め装置を使用して1つまたは複数の位置測定値を取得する前記ステップは、前記測定プローブを前記第1の公称的配向に置くステップと、前記較正アーチファクトの第1の見かけの位置を測定するステップとを含み、前記第1の補正は、前記較正アーチファクトの前記第1の見かけの位置と前記較正アーチファクトの前記知られている位置との間の差から計算される請求項1から4までのいずれか一項に記載の方法。前記座標位置決め装置を使用して1つまたは複数の位置測定値を取得する前記ステップは、前記測定プローブを少なくとも1つのさらなる公称的配向に置くステップと、前記較正アーチファクトの少なくとも1つのさらなる見かけの位置を測定するステップとを含み、少なくとも1つのさらなる補正は、前記較正アーチファクトの前記少なくとも1つのさらなる見かけの位置と前記較正アーチファクトの前記知られている位置との間の差から計算され、平均補正は、前記第1の補正および前記少なくとも1つのさらなる補正から計算され、前記測定プローブの複数の異なる配向に対する前記データムデータは、前記平均補正を使用して更新される請求項5に記載の方法。前記座標位置決め装置を使用して1つまたは複数の位置測定値を取得する前記ステップは、前記測定プローブを少なくとも1つのさらなる公称的配向に置くステップと、前記較正アーチファクトの少なくとも1つのさらなる見かけの位置を測定するステップとを含み、少なくとも1つのさらなる補正は、前記較正アーチファクトの前記少なくとも1つのさらなる見かけの位置と前記較正アーチファクトの前記知られている位置との間の差から計算され、前記第1の補正および前記少なくとも1つのさらなる補正は、前記座標位置決め装置の前記障害の結果、前記プローブヘッドの、前記台に関して回転および/または平行移動があったかどうかを判定するために使用される請求項5に記載の方法。ヘッドの移動補正を計算し、前記台に関する前記プローブヘッドの回転および/または平行移動を考慮するステップを含み、前記ヘッドの移動補正は、複数の異なる配向に対して前記データムデータを更新するために使用される請求項7に記載の方法。前記較正データセットは、前記較正アーチファクトを測定することによってすでに確定されており、前記較正アーチファクトは前記較正プロセス以降に同じ位置で前記装置に固定されたままとなっている請求項5から8のいずれか一項に記載の方法。前記座標位置決め装置は、未知の位置に配置されている較正アーチファクトを含み、前記座標位置決め装置を使用して1つまたは複数の位置測定値を取得するステップは、前記測定プローブを少なくとも3つの異なる公称的配向に置くステップと、前記測定プローブの前記少なくとも3つの異なる公称的配向のそれぞれについて前記較正アーチファクトの見かけの位置を測定するステップとを含み、前記第1の補正は、前記較正アーチファクトの前記少なくとも3つの見かけの位置から計算される請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。前記較正アーチファクトは、球を含み、前記較正アーチファクトの前記位置を測定するそれぞれのステップは、前記球面上の複数の点を測定するステップと、それから前記球中心の位置を計算するステップとを含む請求項5から11のいずれか一項に記載の方法。前記プローブヘッドは、前記測定プローブが前記台に関する複数の公称的に反復可能な割り出し配向を使用することを可能にする割り出しプローブヘッドを備える請求項1から11のいずれか一項に記載の方法。前記プローブヘッドは、前記測定プローブを自由に回転して異なる配向にすることを可能にする連続プローブヘッドを含み、前記連続プローブヘッドは、前記測定プローブの前記配向を測定するために少なくとも1つのエンコーダを備える請求項1から11のいずれか一項に記載の方法。前記第1の補正を使用して前記測定プローブの複数の異なる配向に対して前記データムデータを更新するステップは、回転関数を使用して、前記第1の補正を前記測定プローブの異なる配向に対するデータムデータに適用するステップを含む請求項1から13のいずれか一項に記載の方法。前記測定プローブは、アナログプローブを含み、前記較正データセットは、局所座標系における前記アナログプローブによりとった測定の結果を前記機械座標系における測定の結果にコンバートするための少なくとも1つのプローブ変換行列を含み、前記少なくとも1つのプローブ変換行列は、前記データムデータを更新する前記ステップにおいて無変更のままである請求項1から14のいずれか一項に記載の方法。前記測定プローブは、タッチトリガープローブを含む請求項1から14のいずれか一項に記載の方法。較正データセットをとる前記ステップは、あらかじめ決定されている較正データセットを取り出すステップを含む請求項1から16のいずれか一項に記載の方法。台、測定プローブ、および前記台に関して前記測定プローブを再配向するためのプローブヘッドを備える座標位置決め装置であって、前記装置は、前記測定プローブの複数の配向に対するデータムデータを含む前記座標位置決め装置に対する較正データセットを格納する制御装置を備え、前記データムデータは前記測定プローブの第1の公称的配向に対する第1のデータムデータを含み、前記制御装置は、前記座標位置決め装置の障害が生じた後、前記座標位置決め装置を使用して1つまたは複数の位置測定値を取得し、それから前記座標位置決め装置に前記障害が発生した後の前記第1のデータムデータの変化を記述する第1の補正を計算するように配置構成され、前記制御装置は、前記第1の補正を使用して前記測定プローブの複数の異なる配向に対する前記データムデータを更新するようにさらに配置構成される座標位置決め装置。複数の配向に置くことができる測定プローブを有する座標位置決め装置に対する再較正を行う方法であって、前記測定プローブの第1の配向に対するデータムデータの変化を判定し、データムデータの前記変化を使用して前記測定プローブの少なくとも1つの異なる配向に対するデータムデータを更新するステップを含む方法。図1を参照すると、座標測定機CMM2の形態の座標位置決め装置が図示されている。CMM2は、物体例えば、被加工物を置くことができるベースまたはテーブル4とベース4に関してxおよびy方向にそって移動可能であるガントリー6とを備える。ガントリー6は、ガントリー6に関してz方向にそって移動可能であるクイル8を備える。位置エンコーダがCMM2のそれぞれの軸上に設けられ、これにより、x、y、およびz方向のクイルの位置を測定する。こうして、クイルの位置の測定は、いわゆる機械座標x,y,z系において行われる。クイル8は、RenishawPH10電動式プローブヘッドなどの割り出しプローブヘッド10を搭載する。割り出しプローブヘッド10は、クイル8に取り付けられるベースアタッチメント部分と、偏向可能スタイラス14を有する走査プローブ12を搭載するプローブアタッチメント部分とを備える。RenishawSP25プローブを備えることができる走査プローブ12は、いわゆる中立または静止位置から離れる方向のスタイラス14の偏向を測定する内部トランスデューサを備える。したがって、スタイラス14の偏向は、局所プローブ座標a,b,c系内の走査プローブ12によって測定される。複雑な物体を走査する能力を改善するために、割り出しプローブヘッド10を使用して、走査プローブ12を直交軸AおよびBの周りで、クイルに関して回転させ、複数の割り出し位置のうちのどれか1つに係止させることができる。RenishawPH10プローブヘッドの場合、プローブは、720の異なる割り出し位置のうちのどれか1つに割り出すことができる。制御装置16は、CMMの動作を制御する。そこで、クイルの位置は、機械座標x,y,z系内で測定され、走査プローブ12は、局所プローブ座標a,b,c系内のスタイラスの偏向を測定する。走査プローブ12を使用して機械座標系内の物体の表面上の点の位置を測定するために、較正プロセスを実行して装置のさまざまな幾何学的関係を確定する必要がある。図2を参照すると、CMMクイルに関するスタイラス先端部の位置を示すベクトル図が示されている。機械ベクトルMは、機械座標系内の固定点もしくは原点oに関して、プローブヘッド上の任意の点hの位置を定義し、そうして、点hの位置は、クイルとともに移動するときに機械座標系内で知られる。点hは、プローブベクトルPによってスタイラス先端部tの中心から相隔てて並ぶ。プローブベクトルPは、スタイラスがその中立つまり、無偏向の位置に配置されたときに点hとスタイラス先端部tとの間の位置の差を記述するデータムベクトルの形態のデータムデータを含む。走査プローブでは、プローブベクトルPは、中立位置から離れる方向のスタイラス先端部の偏向を記述するスタイラス偏向ベクトルも含む。上述のように、静止位置から離れる方向のスタイラス先端部の偏向の測定は、局所またはプローブ座標a,b,c系内で走査プローブによってなされ、プローブ座標a,b,c系からのコンバータを可能にし、機械x,y,z座標でスタイラス偏向ベクトルを規定するいわゆるプローブ較正行列Cがこうして形成される。機械座標系内のスタイラス先端部tの中心の位置を定義する、その結果得られる先端部位置ベクトルQは、こうして、機械ベクトルMとプローブベクトルPとを組み合わせることによって構成される。測定対象の物体と接触する球形のスタイラス先端部は、これもまた知られており、知られている方法で適宜考慮される有限の半径rも有する。CMMを使用して物体を測定する前に、一連の較正測定を実行して、CMMを使用して測定値を取得するために必要な較正データを確定することが知られている。典型的には、このような較正測定は、CMMのベッド上に置かれた、較正球などの、較正アーチファクトの表面を走査することを伴う。広範な較正技術が知られているが、そのような較正プロセスの最終結果は、物体の表面上のスタイラス先端部の接点を決定するために使用できる較正データセットである。較正データセットの形態および/またはフォーマットはさまざまであるが、必ず、CMMのエンコーダから得られる位置x,y,z値と測定プローブによって出力されるトランスデューサa,b,c読み取り値と組み合わせるために必要な情報を具現化し、これにより機械x,y,z座標系内で測定される物体の表面上の点の位置を確定する。較正プロセスにおける1ステップは、いわゆるプローブ定性的評価またはプローブデータミングである。プローブデータミングは、測定プローブの基準測定点例えば、無偏向のスタイラス先端部の位置tの間の位置関係を機械座標系内の知られている点例えば、機械座標幾何学の原点oに関する知られている位置を有するヘッド上の点hに関して確定するプロセスである。例えば、プローブ定性的評価は、上で説明されているスタイラス偏向ベクトルの形態でデータムデータを確定することを伴いうる。データムデータは、スタイラスの球形先端部の半径rに関係する値も含みうる。較正プロセスにおける別のステップは、プローブ座標a,b,c系内で測定されたスタイラスの偏向を機械座標x,yz系に翻訳するための3×3のプローブ較正行列を確定することである。プローブ行列は、球などの、較正アーチファクトの表面を走査することによって求めることもでき、好適な技術は、参照により本明細書に組み込まれている特許文献1および特許文献2において概略が示されている。特許文献1および特許文献2から明らかなように、プローブ行列を決定するために必要な測定を行うのは、時間のかかるプロセスとなる可能性がある。それに加えて、上述の較正プロセスは、CMMのクイルに関する測定プローブの単一配向に対してのみ有効であることにも留意されたい。言い換えると、プローブヘッドが別の位置に対して測定プローブを割り出す場合、その位置に対する較正データを確定することが必要になる。説明されているように、データムデータは、複数の配向で収集され、中間配向について推論されうる例えば、特許文献3参照。同様に、説明されているように、プローブ変換行列などの較正データは、1つまたはいくつかの配向で計算され、他の配向で使用できるように回転されうる例えば、特許文献4参照。較正プロセスを簡素化するけれども、そのような技術には測定精度を下げるという不利点があり、測定値を得て、完全な較正データセットを生成するのに必要な計算を実行するのに数分から数時間程度を要することすらある。CMMまたは新しい測定プローブのコミッショニングを行う際にワンオフの較正を実行するのは、時間のかかる作業であるが、そのような事象は、生産スケジュールに適合するようにあらかじめ計画しておくことができる。さらに、較正した後、CMMを使用して、長期間の測定値を取得することができる。しかし、スタイラスを壊し、および/またはプローブヘッドのアライメントを狂わす故障などの、機械の不測の障害が発生することでCMMの再較正が急に必要なる場合がある。このような場合、オペレータは、計測性能が維持されることを保証するために機械をオフラインにして必要な再較正プロセスを実行しなければならなくなる事態に直面する。これは、生産プロセスに対する重大な混乱を引き起こしうる。本発明の発明者は、完全な再較正を実行する代わりに、較正済みの機械が障害を受ける状況において著しく短い再較正プロセスを実行することができることを発見した。例えば、測定プローブのスタイラスが壊れた場合、壊れたスタイラスを新しい例えば、公称的に同一のスタイラスで置き換えることが可能である。次いで、古い例えば、壊れたスタイラスと新しいスタイラスの未検出のスタイラス先端部の中心の位置の間のオフセットを確定する測定を実行することができる。このオフセットは、以下でさらに詳しく説明されるように古い例えば、壊れたスタイラスに対して得られたデータムデータおよび新しいスタイラスで実行される新しい測定を使用して確定される。重要なのは、プローブヘッドのすべての割り出し位置に対してこのオフセットを確定する必要はないことである。その代わりに、オフセットを、1つのまたは適宜、少数の、割り出し位置で確定することで十分であることが判明している。次いで、オフセット値を使用して、較正データセットを調節し、新しいスタイラスで測定を行うために使用できる更新された、または補正された較正データセットを生成することができる。図3を参照すると、図1を参照しつつ説明されている走査プローブ12は、その第1のスタイラス14が取り付けられた状態で示されている。第2の、交換用の、スタイラス30も破線の輪郭で示されている。CMMは、走査プローブ12のスタイラスホルダーに取り付けられた第1のスタイラス14で完全に較正される。言い換えると、較正データセットは、割り出しプローブヘッドによって与えられる測定プローブの複数の配向のそれぞれについてデータムデータおよびプローブ変換行列を含む較正データセットが第1のスタイラス14を使用して取得される。較正データセットは、収集に多くの時間を要する場合があるが、高い精度レベルでその後の測定値を得ることが可能である。第1のスタイラス14が破損し、取り出された後、例えば、CMMが故障した場合、第2のスタイラス30を測定プローブのスタイラスホルダーに取り付ける。第2のスタイラス30は、第1のスタイラス14に公称的に同一であるが、第1のスタイラス14の先端部t1の中心と第2のスタイラス30の先端部t2の中心との間にまだオフセットがある。この無偏向のスタイラス先端部の位置のオフセットは小さいが、測定精度を許容できないレベルにまで低下させるのには十分な大きさである。本発明のこの例では、測定プローブを、前の較正プロセスにおいて第1のスタイラス14を使用して第1のデータムデータが収集された第1の公称的配向例えば、プローブヘッドの割り出し位置のうちの選択された1つの位置に置く。この第1のデータムデータは、データミングプロセスにおいて決定された先端部の位置t1を記述する。次いで、先端部の位置t1とt2との間のオフセットを、例えば、以下の2つの方法のいずれかで確定することができる。第1の例では、先端部の位置のオフセットは、機械座標系内で知られている位置を有する球などの較正アーチファクトを使用して決定される。較正球は、初期較正プロセスにおいてCMMに固定されており、その後の測定でも適所に残されたままであってよく、したがって初期構成時に確定された球中心の位置Sが知られる。あるいは、必要なときにCMMに較正アーチファクトが置かれ、CMMの障害による影響を受けていない較正を有する異なる測定プローブおよび/またはスタイラスの組み合わせを使用して測定を実行することによって球中心の位置が知られるようになる。例えば、CMMの測定プローブは、保持モジュールおよびスタイラスモジュールを備えるモジュール型とすることができる。反復可能な位置で保持モジュールに別々に取り付け可能なさまざまなスタイラスモジュール例えば、異なるスタイラス構成、長さ、スプリング力などを有するを備えることができる。そのようなモジュール型測定プローブでは、それぞれのスタイラスモジュールの組み合わせに対して個別の較正プロセスを実行する必要がある。スタイラスモジュールのうちの1つが交換もしくは再構成の必要がある場合例えば、スタイラスが壊れたことにより、球中心の位置を確定するために較正が有効なままである別のスタイラスモジュールを使用することが可能である。これにより、初期較正の後に較正アーチファクトを機械から取り出し、再較正プロセスが実行されるときにCMM上でのみ交換することができる好ましくは、較正時に使用したのと公称的に同じ位置で。障害故障などによりプローブヘッドのアライメントが狂った場合、これはその上に装着されているすべてのプローブの較正に影響を及ぼし、典型的には、球中心が不明である場合に、実際の球の位置に関する知識を必要としない以下で説明されている代替的再較正手順を使用する必要が生じることに留意されたい。単純な例では、知られているか、または較正されている球中心の位置Sは、式によって見かけの、または再測定された球中心の位置Cに関係付けられる。ただし式中、Pcurrentは、現在の較正のプローブベクトルでありつまり、古い、今は壊れている、スタイラスを使用して前に実行された較正、Prealは、実際の、または実プローブベクトルつまり、新しいスタイラスに関連付けられている未知のプローブベクトルである。式1からPrealはによって与えられる。したがって、式2から、壊れたスタイラスを交換した結果のプローブベクトルのオフセットまたは変化は、知られている位置の球の位置の見かけの変化から求めることができることがわかる。この例のように、測定プローブが関節プローブヘッドに搭載される場合、プローブベクトルPも、ヘッドの角度だけ回転されうる。2軸回転ヘッドつまり、A軸とA軸に実質的に直交するB軸との周りに測定プローブを回転させることができる関節プローブヘッドでは、プローブベクトルΡ0,0は、A0B0の配向つまり、A軸が0°まで回転され、B軸も0°まで回転されるプローブヘッドの配向に対して定義されうる。次いで、プローブベクトルPA,Bを、のようにヘッド角度A,Bによって回転されたプローブベクトルP0,0からの他のプローブヘッドの配向について求めることができる。ヘッドが配向ABに置かれた場合、式2は、そこで、となり、これはに簡約される。したがって、式4bは、A0B0の配向のプローブオフセットベクトルを見つけるために特定のプローブヘッドの配向ABの知られている球中心Sと見かけの球中心Cとの間の位置の差をどれだけ回転して戻せるかを記述している。次いで、式4bから導き出されるプローブオフセットベクトルを式3中で使用して、配向ABのプローブオフセットベクトルを求めることができる。プローブオフセットベクトルつまり、見かけの球中心の位置と実際の球中心の位置との間の位置の差は、プローブヘッドの複数の配向について計算されうることに留意されたい。次いで、プローブオフセットベクトルの平均をとり、適切な回転を適用した後、測定の不確実さを低減したオフセットベクトルを結果として得ることができる。以下で説明されるように、複数のプローブオフセットベクトルを使用して、CMMの障害の結果、クイルに関するプローブヘッドの回転または平行移動があったかどうかを判定することができる。しかし、ごく少数のプローブヘッドの配向でオフセットを測定することが明らかに好ましく、そうでなければ、それぞれの必要な配向における完全な再データミング手順と比較した本発明の測定速度に関する利点は否定される。第2の例では、先端部の位置のオフセットは、機械座標系内で未知の位置を有する球などの較正アーチファクトを使用して決定される。これは、例えば、再較正プロセスのためスタイラスの交換例えば、スタイラスが壊れたことによりの後CMMのベッド上に置かれる球を含むものとしてよい。球中心Sが知られていないので、新しいスタイラスによるプローブベクトルにおけるオフセットPoffsetは、3つの異なる配向に置かれているプローブヘッドで行った見かけの球中心Cの3回の測定の結果から決定される。これにより、球の実際の未知の位置と見かけの球の位置との間の差を記述する以下の3つの幾何学的な式が得られる。ただし式中、Sは、未知の実際の球の位置であり、C0,0はA0B0の配向で測定したときの見かけの球の位置であり、C90,0はA90B0の配向で測定したときの見かけの球の位置であり、C90,90はA90B90の配向で測定したときの見かけの球の位置であり、R0,0はA0B0の配向からの回転行列恒等行列であり、R90,0はA0B0の配向からA90B0の配向への回転行列であり、R90,90はA0B0の配向からA90B90の配向への回転行列であり、Poffsetはプローブベクトルのオフセットである。上記の式5を引くことによって、未知の球中心の位置Sは、のように消去される。式6を加えることによって、プローブベクトルのオフセットはとなることがわかる。式7のプローブベクトルオフセットPoffsetを計算するために、行列R3R2-2R1の逆行列を求められるように3つのヘッドの配向を選択することに留意されたい。上記の例では、3つの配向を、ノイズに対する感度に関して最良の構成をもたらすことが判明している3本の直交軸にそって使用している。次いで、この方法で計算されたプローブベクトルのオフセットPoffsetを使用して、測定プローブの複数の異なる配向でプローブベクトルを補正することができ、これは、式4に似ているが球中心の差S-Cの代わりに式7を使用してPoffsetが定義されている式を使用して達成されうる。上記の例では、CMMの障害の後にプローブベクトル内のオフセットを確定する仕方について概要を述べており、特に、壊れたスタイラスを交換した後にそのような再較正プロセスをどのように実行するかについて説明している。スタイラスが交換される場合、新しいスタイラスは、これと交換するスタイラスに公称的に同一の半径のスタイラス先端部を有する可能性が高い。そのような場合、この方法は、適宜、スタイラス先端部の半径の変化を計算して新しいスタイラス先端部の半径を考慮し、その後、先端部の半径のその変化を他の配向に適用するステップも含みうる。CMMに障害が発生しても、交換する必要があるのは壊れたスタイラスだけである。しかし、障害は例えば、衝撃を含む場合、それに加えて、または代替的に、結果として装着先の台またはクイルに関する何らかの形のプローブヘッドのアライメントの狂いを引き起こす可能性がある。言い換えると、CMMに障害が発生した結果、クイルに関してプローブヘッドに何らかのずれまたはねじれが生じている可能性があるということである。最も単純な言い方をすると、プローブヘッドへのそのような障害をプローブヘッドの平行移動および/またはプローブヘッドの回転として記述することが可能である。障害の異なる結果例えば、スタイラスの交換、ヘッドの平行移動、ヘッドの回転は、区別することができ、適宜、以下で説明されている仕方で、必要に応じて補償されうる。図4aを参照すると、スタイラスの交換だけの効果が示されている。特に、図4aは、スタイラスの胴42の遠位端に配置されたスタイラスのボールの第1の見かけのボール位置40を示している。CMM図示せずのプローブヘッドは、回転軸44の周りにプローブのスタイラスを回転させて第2の見かけのボール位置46および第3の見かけの位置48に移動することができる。スタイラスが交換される場合、スタイラスのボールの新しい中心は、スタイラス座標幾何学において不変である小さなオフセットだけシフトされうる。図4aからわかるように、このオフセットの効果として、プローブヘッドの3つの例示されている回転角度に対してシフトされた第1の見かけのボール位置40a、シフトされた第2の見かけのボール位置46a、およびシフトされた第3の見かけのボール位置48aが得られる。上で説明されているように、プローブオフセットベクトルを1つのヘッドの配向で測定し、これを適切な回転を行った後に使用して関連するデータムデータを更新することによって他の配向における見かけのボール位置のシフトを補正することができる。図4bは、CMMのクイルに関するプローブヘッドの1つの軸この例ではx軸にそった直線的平行移動のみの効果を示している。この平行移動のせいでスタイラス座標幾何学におけるスタイラスのボール位置のシフトはないが、それぞれの見かけのボール位置は、クイルの座標系のx軸にそって一定量だけ平行移動される。言い換えると、プローブヘッドの平行移動により、プローブヘッドの3つの例示されている回転角度に対してシフトされた第1の見かけのボール位置40b、シフトされた第2の見かけのボール位置46b、およびシフトされた第3の見かけのボール位置48bが得られるということである。次に、図4cを参照すると、CMMのクイルに関するプローブヘッドを回転させる例えば、ねじるだけの効果が図示されている。このねじり効果は、例えば、プローブヘッドをクイルに取り付ける量で回転を引き起こす障害から生じうる。プローブヘッドの回転の効果として、プローブヘッドがとる角度に依存する大きさを有する見かけのボール位置のシフトつまり、ヘッドの回転の前に確定されるようなボール位置に関するシフトが導入される。図示されている例では、ヘッドの回転は、第1の見かけのボール位置40に影響を及ぼさないが、わずかにシフトした第2の見かけのボール位置46cおよび著しくシフトした第3の見かけのボール位置48cが生じる見かけのボール位置の例示されているシフトはページの平面から出ることに留意されたい。図4a~4cからわかるように、スタイラス、プローブヘッドの平行移動、およびプローブヘッド回転を変化させたときにプローブヘッドの角度の関数として生じる見かけのスタイラスのボール位置つまり、プローブオフセットベクトルのシフトに異なる影響が生じる。したがって、複数の異なるヘッドの配向でプローブオフセットベクトルプローブまたはスタイラスの幾何学的座標系において定義されるを測定し、それを使用することで、CMMに対して障害が及ぼした影響を評価することができる。好ましくは、広い角度範囲によって異なるヘッドの配向を分離する。測定されたプローブオフセットベクトルが複数のそのような異なるプローブヘッドの配向においてプローブ座標系内で同じである場合、プローブヘッドの著しい回転または平行移動がなかったと仮定することができる。そこで、プローブオフセットベクトルの平均を適切な回転を行った後適用して、プローブヘッドのそれぞれの必要な配向においてデータムデータを補正することができる。プローブオフセットベクトルが異なるヘッドの配向で、ただし予測可能な形で変化する方向プローブ座標系内に類似の大きさを有する場合、プローブヘッドの平行移動は、CMMの障害の結果であると判定することができる。さらに、プローブオフセットベクトルが大きさと方向の両方においてプローブ座標系内で変化する場合、プローブヘッドの回転は、この障害のせいで生じた可能性がある。知られている位置の較正アーチファクトがCMM上に存在している場合、そのようなプローブヘッドの平行移動または回転は、そのアーチファクトの測定をさらに行うことによって評価することができる。特に、プローブオフセットベクトルは、プローブヘッドを複数の異なる角度配向に回転させて測定することができる。次いで、さまざまなプローブオフセットベクトルの分析を使用して、プローブヘッドの回転および/または平行移動に関する情報を抽出することができる。いくつかの場合において例えば、非常に高精度のアプリケーションの場合、プローブヘッドの著しい回転または平行移動が生じた場合の本発明の高速な再較正プロセスなしで済まし、その代わりに完全な較正プロセスを繰り返すことも好ましいときがある。他の極端な例では、プローブヘッドの平行移動および/または回転の量が小さい場合、複数の角度で測定されたプローブオフセットベクトルの平均をすべてのヘッド角度についてデータムデータに単純に適用することができる。図4a~4cを参照しつつ説明されている上記の例は、理解しやすくするために2次元で示されている。当業者であれば、クイルに関する3つの平行移動の自由度のうちの1つまたは複数にそったプローブヘッドの平行移動および/またはクイルに関する3つの回転の自由度のうちの1つまたは複数の周りのプローブヘッドの回転がありうることを理解するであろう。プローブヘッドは、好ましくはさらに、上で説明されたような2本の回転軸を備え、好ましくは2本の回転軸のそれぞれの周りで異なる位置に回転されるプローブヘッドにより変化が測定される。次に図5aから図5eを参照しつつ、スタイラスの交換、プローブヘッドの平行移動、およびプローブヘッドの回転から生じるプローブオフセットベクトルへの個別のベクトルの寄与を確認するための方法を説明する。図5aは、CMMの幾何学的座標系内のX-Y平面を示している。X-Y平面は、スタイラスのボールの中心と交差するz軸にそってある高さに配置される。図5aでは、プローブヘッドは、A0の配向において垂直下方を指すように、つまり、A軸の周りの回転角度が0°となるようにスタイラスを保持するが、ただし、A軸は図1に例示されているヘッドの回転角度である。図5aにおいて、ベクトルSは、スタイラスが交換されるときに生じるスタイラスのボール位置の変化を表す。図5aでは、プローブヘッドの障害から生じる効果だけが、スタイラスの交換例えば、スタイラスが壊れたことによるから生じるスタイラスのボール位置のシフトであると仮定される。そこで、A0B0の配向では、スタイラスの交換の効果は見かけのボール位置をA0’B0’にシフトすることであることがわかり、これはベクトルSによるシフトである。スタイラスが現在B軸の周りに180°回転される場合、元のすでに較正されているスタイラスのボール位置A0B180と交換用スタイラスのボールがとる新しい位置A0’B180’との間に-Sのベクトルシフトがあることがわかる。ただし、B0の配向に対するオフセットを記述するベクトルSは、B180の配向に対するオフセットを記述するベクトル-Sに等しく向きは反対である機械座標幾何学内でことに留意することが重要である。ベクトルSは、もちろん、スタイラスの座標系内で不変である。そこで、図5aは、関連するプローブヘッドの回転または平行移動なしで例えば、壊れたスタイラスを純粋に交換するだけの効果を示している。次に、図5bを参照すると、X-Y平面内のプローブヘッドの平行移動の付加的効果が図示されている。スタイラス交換ベクトルSとは異なり、プローブヘッドの平行移動ベクトルTはB軸の回転角度とともに変化することはない。その代わりに、平行移動ベクトルTは、B軸の周りのプローブヘッドのそれぞれの回転角度で、例示されている機械座標系内において、同じ大きさおよび方向を有する。そこで、図5bは、図5aに示されているスタイラス交換ベクトルSへのヘッドの平行移動ベクトルTの付加的効果を示している。障害の後の新しい見かけのボール位置A0’B0’は、こうして、前の較正済みのボール位置A0B0からシフトされる。位置A0B0とA0’B0’との間の差は、ヘッドの平行移動ベクトルTおよびスタイラス交換ベクトルSの結果であるベクトルV1によって記述されうる。B軸の周りの回転が180°である場合、元のボール位置A0B180は、結果として得られるベクトルV2だけA0’B180’にシフトされていることがわかる。ベクトルV2は、ヘッドの平行移動ベクトルTおよびスタイラス交換ベクトル-Sの結果であり、-Sは等しい大きさを有するが、B0の配向のベクトルSとは向きが反対である。数学的に、結果として得られたベクトルV1およびV2は、V1=TS8aV2=T-S8bと記述することができる。したがって、V1とV2との和の1/2で、ヘッドの平行移動ベクトルTが得られるが、ベクトルV1とV2との間の差の1/2でスタイラス交換ベクトルSが得られる。このようにして、180°隔てられたB軸の周りの配向で結果として得られるプローブオフセットベクトルV1およびV2の測定により、ヘッドの平行移動ベクトルTおよびスタイラス交換ベクトルSを求めることができる。ヘッドの平行移動ベクトルTがゼロであるつまり、障害の結果生じる平行移動がなかった場合、ベクトルV1およびV2は、図5aに示されているようにスタイラス交換ベクトル-SおよびSを含むだけなので等しく、かつ向きが反対であり、したがってプローブヘッドの平行移動の有無を素早く識別できることもわかる。上記は、障害の結果生じるプローブヘッドの平行移動がx-y平面内のみであるという仮定に基づいていることに留意されたい。しかし、スタイラス交換ベクトルSは、プローブヘッドがA0の配向にあるときに異なるB軸の配向に対して不変であるz軸成分を含むことも可能である。図5Cに例示されているように、障害の結果生じるプローブヘッドの回転が、プローブヘッドがA0の配向にあるときに見かけのスタイラスのボール位置に対して及ぼす効果は無視できるくらい小さい。これは、この障害が発生した結果、プローブヘッドはプローブヘッドによって与えられる回転のB軸に少なくともほぼ平行で、一致する、軸の周りに回転するという仮定に基づく。特に、図5Cは、CMMへの唯一の障害がプローブヘッドの回転である場合にA0のヘッド角度に対して見かけのスタイラスのボール位置がいかに影響を受けないかを例示している。言い換えると、見かけのスタイラスのボール位置A0’Bn’は、nの角度値例えば、n=0から360°までに対して不変であるということである。したがって、障害の結果生じるプローブヘッドの回転は、ヘッドの平行移動ベクトルTおよび図5bを参照しつつ上で説明されている方法を使用して抽出されるスタイラス交換ベクトルSに実質的な影響を及ぼさないことがわかる。障害によるプローブヘッドの回転がB軸と一致しない場合、回転効果はそのまま補正できるが、回転軸におけるオフセットがあるので平行移動を分離するためにA0B0およびA0B180で追加の測定が必要になる可能性があることに留意されたい。図5Dは、障害の結果生じるプローブヘッドの回転が、プローブヘッドがA90の配向つまり、スタイラスが水平に保持されている配向にあるときに見かけのスタイラスのボール位置に対して影響をどのように及ぼすかを示している。特に、ヘッドの配向A=90°、B=0°に対する回転ベクトルRA90B0が図5Dに示されており、このベクトルは、A90B0からA90’B0’までの見かけのスタイラスのボール位置のシフトを記述する。図5Dに示されているように、障害の唯一の効果は、プローブヘッドの純粋な回転であると仮定されている。ベクトルRA90B0は、回転関数を適用することによってB軸の周りに回転させることもでき、例えば、RA90B0は、適当な回転行列を掛けて、nを0°から360°までの範囲内の任意の角度とする同じx-y平面内の任意のベクトルRA90Bn内に回転させることができる。最後に図5Eを参照すると、プローブヘッドがA90B0の配向に置かれているときの見かけのスタイラスのボール位置に対するスタイラス交換、ヘッドの平行移動、およびヘッドの回転の組み合わされた効果が示されている。そこで、特に、その結果得られるスタイラスのボールのオフセットベクトルV3は、ヘッドの平行移動ベクトルT、スタイラス交換ベクトルS’、およびヘッドの回転ベクトルRA90B0のベクトル加法で得られるものである。ヘッドの平行移動ベクトルTは、図5bを参照しつつ説明されている方法から知られ、A軸の配向で不変である。A90B0の配向におけるスタイラス交換ベクトルS’は、図5bを参照しつつ上で説明されている方法を使用してA0の配向について導出されたスタイラス交換ベクトルSに適切な回転を加えることによって求めることができる。これにより、その結果得られるベクトルV3の測定値から、ヘッドの回転ベクトルRA90B0を求めることができる。スタイラスのボール位置の変化に対するヘッドの回転ベクトルRの効果は、A90の配向については最大となり、A0の配向については実質的にゼロとなる。見かけの球の位置に対するヘッドの回転ベクトルの効果は、A90の最大からA0の最小まで正弦曲線を描いて変化する。そこで、ベクトルRA90B0を求めた後、以下の関係式Ra=RA90Sina9により、A軸の配向B0のに対してヘッドの回転ベクトルRを確定することが可能である。ただし式中、aは、プローブヘッドのA軸の角度配向である。上で述べたように、ヘッドの回転ベクトルRの方向大きさでなくも、与えられたA軸の配向に対するB軸の角度とともに知られている仕方で変化する。そこで、ヘッドの回転ベクトルRは、A軸とB軸の周りに任意の角度で決定されうる。そこで、上で説明されている方法を用いることで、その結果得られる3つのプローブオフセットベクトルV1、V2、およびV3を測定することによって、スタイラスの交換、ヘッドの回転、およびヘッドの平行移動の効果を個別に求めることができる。プローブオフセットベクトルへのこれらの構成要素の寄与が決定された後、そのような構成要素ベクトルを使用して適切な回転を加えてプローブヘッドの望ましい配向にスタイラスのボール位置を補正することができる。このようにして、測定プローブの複数の異なる配向についてデータムデータを補正することができる。上記の例では、再較正手順において較正アーチファクトに対して測定を実行することを説明していることにも留意されたい。いくつかの場合において、初期較正プロセスおよび再較正手順において同じ較正アーチファクトを使用することができる。しかし、初期較正手順において使用されたのと異なる較正アーチファクトを使用して再較正プロセスを実行することも可能であろう。また、較正アーチファクトを全く使用しないで済ますこともでき、CMMまたはCMMの特徴を使用して検査されている被加工物または部分を再較正手順に使用することも可能であることにも留意されたい。例えば、測定時にスタイラスが壊れてしまった部分を使用して再較正プロセスを実行することも可能である。例えば、これは、部分のx、y、およびz軸にそって点を再測定し、プローブベクトルのオフセットを記述するために必要な3つのオフセット値を取得することを伴いうる。他の、較正済みの、測定プローブまたはスタイラスが測定に利用可能である場合、再較正プロセスは、較正された測定プローブ構成を持つ部分に実行した測定の結果を再較正されている測定プローブ構成を使用して得られる結果と比較して、プローブベクトルオフセットを確認することを含みうる。プローブベクトルオフセットが上で説明されているように計算された後、これを使用して、すでに取得されている較正データセットを補正する。特に、測定プローブのそれぞれの配向に対するプローブベクトルを、プローブベクトル内にオフセットを含むように調節することができる。同様に、較正データが測定プローブのそれぞれの配向に対するスタイラス先端部の半径データを含む場合、これは、スタイラス先端部の半径の測定された変化を使用してそれぞれの配向について更新されうる。すべての較正データは、前もって補正され、補正されたデータは格納されうるか、または必要な限りにおいて補正を計算し、適用することができる。走査プローブの場合、プローブ較正行列は、好ましくは、再較正プロセスによって無変更である。したがって、本発明により、故障の後のCMMプローブの高速再較正が可能であり、特に、完全な較正プロセスをはじめから即座に実行する必要がなくなる。その代わりに、CMMにすでに関連付けられている較正データセットを補正するために十分なデータムデータが集められ、それにより、システムは測定作業を素早く再開することができる。再較正プロセスの後、自己チェック手順が実行され、これにより、再較正プロセスが成功したことを確認することができる。これは、例えば、較正アーチファクトの位置例えば、較正球の中心を複数回、プローブヘッドによって異なる配向に置かれた測定プローブにより測定することを含むものとしてよい。再較正プロセスが成功した場合、較正アーチファクトの位置は、それぞれの測定について装置の所望の精度限界内で同じであるべきである。走査またはアナログプローブが上述の例の中で説明されているけれども、当業者であれば、この方法は、RenishawTP20またはTP200プローブなどのタッチトリガープローブにも等しく適用可能であることを理解するであろう。個別の測定プローブおよびプローブヘッドが上で説明されているが、この方法は、プローブヘッドと一体形成された測定プローブを使用して実施することも可能である。さらに、上記の例は、複数の反復可能な割り出し位置をとることができる割り出しプローブヘッドを備える。しかし、プローブヘッドを種類に関係なく使用することも可能である。特に、1つまたは複数の軸の周りで測定プローブの連続回転を行わせるいわゆる連続またはアクティブプローブヘッドを使用することとも可能であり、このヘッドは測定プローブが回転するときの角度を測定するためのエンコーダも備える。上記の例は、物体と接触するためにスタイラスを有するプローブを備えるけれども、本発明の方法は、非接触測定プローブを使用しても適用することが可能である。このような非接触例えば、静電容量性または光学的測定プローブは、非接触測定システムの特定の点例えば、原点に配置された基準測定点を含むものとしてよい。"