"第1の局所的に測定可能なループ特性と第1の組のパラメータとを用いて、第1のループ特徴値推定方法を較正するための較正方法であって、第1の複数のループに対する前記第1の局所的に測定可能なループ特性を測定するステップと、前記ループ特徴値の基準推定値を表す基準データセットを取得するステップであって、前記基準推定値は、第2の局所的に測定可能なループ特性と第2の組のパラメータとを用いて、較正された第2のループ特徴値推定方法を実行することによって取得される、取得するステップと、前記基準推定値と、前記較正されたパラメータを前記第1の組のパラメータとして用いて前記第1のループ特徴値推定方法を前記測定値に適用することによって取得可能な推定値との間の偏差を最小化するように、較正されたパラメータを決定するステップと、を含む、較正方法。前記第1の複数のループの特徴値の検証推定値を表す検証データセットを取得するステップを更に含み、前記検証推定値は、較正されていないパラメータを前記第1の組のパラメータとして用いて、前記第1のループ特徴値推定方法を前記測定値に適用することによって取得され、前記較正されたパラメータを決定する前記ステップは、前記検証推定値と前記基準推定値との間の偏差を最小化するように、前記較正されたパラメータを更新するステップを含む、請求項1に記載の較正方法。前記基準データセットを取得する前記ステップは、第2の複数のループの特徴値を測定するステップと、前記第2の複数のループの前記特徴値と、前記第2のループ特徴値推定方法を実行することによって取得された前記特徴値の推定値との間の偏差を最小化するように、前記第2の組のパラメータを決定するステップと、を含み、前記第2の複数のループの電気的特性は、前記第1の複数のループの電気的特性を実質的に表す、請求項1または請求項2に記載の較正方法。前記第2の複数のループは前記第1の複数のループの部分集合である、請求項3に記載の較正方法。前記第1のループ特徴値推定方法または前記第2のループ特徴値推定方法はMELT法を含む、請求項1から4のいずれか一項に記載の較正方法。前記MELT法は、単位長さ当たりの微分キャパシタンスと単位長さ当たりの同相キャパシタンスとを含むパラメータセットを用いる、請求項5に記載の較正方法。前記第1のループ特徴値推定方法または前記第2のループ特徴値推定方法はSELT法を含む、請求項1から4のいずれか一項に記載の較正方法。前記SELT法は、単位長さ当たりの直列抵抗、単位長さ当たりの直列インダクタンス、単位長さ当たりの並列コンダクタンス、および単位長さ当たりの並列キャパシタンスを含むパラメータセット用いる、請求項7に記載の較正方法。前記ループ特徴はループの長さを含む、請求項1から8のいずれか一項に記載の較正方法。実行されると請求項1から9のいずれか一項に記載の較正方法を実行するプロセッサ実行可能な命令を含むコンピュータプログラム製品。第1の局所的に測定可能なループ特性と第1の組のパラメータとを用いて、第1のループ特徴値推定方法を較正するためのシステムであって、第1の局所的に測定可能な物理的特性を測定するための第1の測定デバイスと、前記第1の測定デバイスと第1のパラメータメモリとに動作的に接続されており、前記第1の測定可能な物理的特性と前記第1のパラメータメモリの中に含まれる第1のパラメータセットとに基づき、第1のループ特徴値推定方法により、第1のループ特徴値の推定値を生じるように構成されている第1のループ特徴値推定プロセッサと、第2の局所的に測定可能な物理的特性を測定するための第2の測定デバイスと、前記第2の測定デバイスと第2のパラメータメモリとに動作的に接続されており、前記第2の測定可能な物理的特性と前記第2のパラメータメモリの中に含まれる第2のパラメータセットとに基づき、第2のループ特徴値推定方法により、第2のループ特徴値の推定値を生じるように構成されている第2のループ特徴値推定プロセッサと、前記第1のループ特徴値の推定値と前記第2のループ特徴値の推定値とを用いて、前記第1のループ特徴値推定プロセッサによって以後に得られるループ特徴値の推定値と前記第2のループ特徴値推定プロセッサによって得られるループ特徴値の推定値とが実質的に一致するように、前記第1のパラメータセットを更新するための手段と、を備えている、システム。前記第1のループ特徴値推定方法または前記第2のループ特徴値推定方法はMELT法を含む、請求項11に記載のシステム。前記MELT法は、単位長さ当たりの微分キャパシタンスと単位長さ当たりの同相キャパシタンスとを含むパラメータセットを用いる、請求項12に記載のシステム。前記第1のループ特徴値推定方法または前記第2のループ特徴値推定方法はSELT法を含む、請求項11に記載のシステム。前記SELT法は、単位長さ当たりの直列抵抗、単位長さ当たりの直列インダクタンス、単位長さ当たりの並列コンダクタンス、および単位長さ当たりの並列キャパシタンスを含むパラメータセットを用いる、請求項12に記載の較正方法。局所的に測定可能な物理的特性に基づき、ループの長さや加入者線の欠陥の位置などの特徴値を推定するために用いられる方法の較正を容易にすることが、本発明の実施形態の目的である。本発明のある態様によると、第1の局所的に測定可能なループ特性と第1の組のパラメータとを用いて、第1のループ特徴値推定方法を較正するための較正方法であって:第1の複数のループに対する第1の局所的に測定可能なループ特性を測定するステップと;特徴値の基準推定値を表す基準データセットを取得するステップであって、この基準推定値は、第2の局所的に測定可能なループ特性と第2の組のパラメータとを用い、較正された第2のループ特徴値推定方法を実行することによって取得される、取得するステップと;基準推定値と、較正されたパラメータを第1の組のパラメータとして用いて第1のループ特徴値推定方法を測定値に適用することによって取得することができる推定値との間の偏差を最小化するように、較正されたパラメータを決定するステップと、を含む較正方法が提供される。従って、第1のループ特徴値推定方法を、多数の伝統的なすなわち、非局所的なループ特徴値の測定値に頼ることを要せずに、比較的大きな較正データセットを用いて、較正することができることが、本発明の利点である。上述の特徴値には、数ある中で、ループの長さ、短絡などの1つまたは複数の故障箇所、1つまたは複数のブリッジタップの位置、ゲージの変化、抵抗値の変化などが含まれうる。局所的に測定可能な特性には、抵抗値、キャパシタンス、インダクタンス、インパルス応答ダイアグラムなどのうちの1つ又は複数が含まれうる。上述の利点は、前もって較正されている第2のループ特徴値推定方法により較正データセットを生成することによって、達成される。本発明による方法は、第2のループ特徴値推定方法の較正が過去に既に行われている場合、それがより正確である場合、または、それが第1のループ特徴値推定方法の直接的な較正よりも容易である場合に、特に有利である。ある実施形態では、本発明による較正方法は、第1の複数のループの特徴値の検証推定値を表す検証データセットを取得するステップを更に含み、この検証推定値は、較正されていないパラメータを第1の組のパラメータとして用い、第1のループ特徴値推定方法を測定値に適用することによって得られる。そして、較正されたパラメータを決定するステップは、検証推定値と基準推定値との間の偏差を最小化するように、較正されたパラメータを更新するステップを含む。第1のループ特徴値推定方法のパラメータを較正するための反復的アルゴリズムは、それに対して演算を行う何らかの初期値を要求する。従って、実際のパラメータの粗い推定値に対応しうる所定の組のパラメータを用いるのが有利である。なお、この粗い推定値は、ループの理論物理モデルから導くことができる。本発明による較正方法のある実施形態では、第2のデータセットを取得するステップは、第2の複数のループの特徴値を測定するステップと、第2の複数のループの特徴値と、第2のループ特徴値推定方法を実行することによって取得された特徴値の推定値との間の偏差を最小化するように、第2の組のパラメータを決定するステップと、を含み、第2の複数のループの電気的特性は、第1の複数のループの電気的特性を実質的に表している。第2のループ特徴値推定方法の較正を含むことが、この実施形態の利点である。なお、この第2のループ特徴値推定方法の較正は、オプションでループの異なる組を用いる場合もあるが、第1のループ特徴値推定方法の較正と実質的に同様に効率的に行われる。ある特定の実施形態では、第2の複数のループは、第1の複数のループの部分集合である。本発明による較正方法のある実施形態では、第1のループ特徴値推定方法または第2のループ特徴値推定方法は、MELT法を含む。ある特定の実施形態では、MELT法は、単位長さ当たりの微分キャパシタンスと単位長さ当たりの同相キャパシタンスとを含むパラメータセットを用いる。MELTは、この明細書でより詳細に説明されるが、広く知られ正確なループ長推定方法であり、比較的小さな組のパラメータを用いて較正されうるので有利である。本発明による較正方法のある実施形態では、第1のループ特徴値推定方法または第2のループ特徴値推定方法は、SELT法を含む。ある特定の実施形態では、SELT法は、単位長さ当たりの直列抵抗値、単位長さ当たりの直列インダクタンス、単位長さ当たりの並列コンダクタンス、および単位長さ当たりの並列キャパシタンスを含むパラメータセットを用いる。SELTは、合計ループ長、ループ分岐トポロジ、欠陥位置、および終端抵抗値などの特徴値を推定するための広く知られ正確な別の方法である。SELTについては、この明細書でより詳細に説明される。SELTは、比較的小さな組のパラメータを用いて較正されうるので有利である。本発明による較正方法のある実施形態では、ループ特徴は、ループ長を含む。本発明の別の態様によると、実行されると以上で説明した本発明による較正方法を行うプロセッサ実行可能な命令を含むコンピュータプログラム製品が提供される。本発明の別の態様によると、第1の局所的に測定可能なループ特性と第1の組のパラメータとを用いて、第1のループ特徴値推定方法を較正するためのシステムであって、第1の局所的に測定可能な物理的特性を測定するための第1の測定デバイスと、第1の測定デバイスと第1のパラメータメモリとに動作的に接続されており、第1の測定可能な物理的特性と第1のパラメータメモリの中に含まれる第1のパラメータセットとに基づき、第1のループ特徴値推定方法により、第1のループ特徴値の推定値を生じるように構成されている第1のループ特徴値推定プロセッサと、第2の局所的に測定可能な物理的特性を測定するための第2の測定デバイスと、第2の測定デバイスと第2のパラメータメモリとに動作的に接続されており、第2の測定可能な物理的特性と第2のパラメータメモリの中に含まれる第2のパラメータセットとに基づき、第2のループ特徴値推定方法により、第2のループ特徴値の推定値を生じるように構成されている第2のループ特徴値推定プロセッサと、第1のループ特徴値の推定値と第2のループ特徴値の推定値とを用いて、第1のループ特徴値推定プロセッサによって以後に得られるループ特徴値の推定値と第2のループ特徴値推定プロセッサによって得られるループ特徴値の推定値とが実質的に一致するように、第1のパラメータセットを更新するための手段と、を備えているシステムが提供される。本発明によるシステムのある実施形態では、第1のループ特徴値推定方法または第2のループ特徴値推定方法は、MELT法を含む。ある特定の実施形態では、MELT法は、単位長さ当たりの微分キャパシタンスと単位長さ当たりの同相キャパシタンスとを含むパラメータセットを用いる。本発明によるシステムのある実施形態では、第1のループ特徴値推定方法または第2のループ特徴値推定方法は、SELT法を含む。ある特定の実施形態では、SELT法は、単位長さ当たりの直列抵抗値、単位長さ当たりの直列インダクタンス、単位長さ当たりの並列コンダクタンス、および単位長さ当たりの並列キャパシタンスを含むパラメータセットを用いる。本発明によるコンピュータプログラム製品とシステムとの様々な実施形態の利点は、本発明による方法との関係で上述した利点と必要な変更を加えることによって対応する。次に、本発明の実施形態による装置および/または方法の実施形態が、単なる例示により、以下の添付の図面を参照して説明される。ネットワーク診断ツールは、物理的問題の原因を遠隔的に診断することができ、性能を向上させるための措置を講じることもできる、という両方の能力を備えているのが理想的である。そうであれば、多くの問題のために人が介在することが回避されて、オペレータがサービスの質の向上を享受し、時間と費用とを節約することの助けになる。本発明は、ループの特徴値の推定に関するものである。この特徴値とは、他のものに加え、ループの長さ、短絡など1つまたは複数の欠陥の位置、1つまたは複数のブリッジタップの位置、ゲージの変化、抵抗値の変化などでありうる。ループプラントのこのような性質は、現場で測定することが非常に困難であるのが通常であるから、局所的に測定可能な物理的特性の測定値に基づく推定が非常に好ましい。様々なxDSLフレーバに用いられるツイストペア電話線などのメタルワイヤラインチャネル経由で提供されるサービスでは、リモートテスティングの鍵となる特徴は、ループ長の推定にある。このループ長が、送信側と受信側との間の信号の減衰を決定し、従って、達成可能なビットレートを、重要性を有する程度まで決定する。ループ長を推定する技術には、メタルラインテスティングMELTとシングルエンドラインテスティングSELTとが含まれる。以下では、本発明の実施形態を、ループ長を推定する方法というコンテキストに即して説明する。これは、目的を明確化するという目的だけのためになされるのであって、本発明を限定するものと理解すべきではない。ループ長推定方法を較正する目的で説明されるすべての実施形態は、ループの他の特徴値を推定する方法を較正する目的を有する類似の実施形態を含むものと理解されるべきである。MELTは基本的に、低周波モデルに従って、電気的パラメータの測定値に基づく推定を行う。このモデルは、図1に概略的に図解されている。特に、単位長さ当たりの同相キャパシタンスCl,cmと単位長さ当たりの微分キャパシタンスCl,diffとは、関心対象であるケーブルタイプに対して経験的に決定され、特定のケーブルの長さlは、そのケーブルの測定された同相キャパシタンスCcm,measuredと微分キャパシタンスCdiff,measuredとから、次の数式に従って推定することができる。Cdiff,measured=l×Cl,diffCtermCcm,measured=l×Cl,cmCl,diffとCl,cmとに対する値は、例えば、50nF/mでありうる。SELTは、回線の特性を推定するのに、反射率測定に依存する。推定の信頼性は、回線の較正に左右される。テスト信号の様々な検出された反射のタイミングがどのように回線の長さまたは、それ以外のトポロジカルな特徴を表すのかを決定するには、信号が回線を伝播する速度について仮定しなければならない。この速度の仮定には較正が必要となる。図2を参照すると、SELTの方法論の基礎となる高周波伝送回線モデルは、次のように表すことが可能である:l=v×trここで、およびとすると、νf=FRf,Lf,Cf,Gfとなる。なお、νは、媒体における電気信号の速度であり;tendは、時刻t0において送信され時刻trにおいて反射が生じたインパルスの、ループの端部によって生成された反射の局所的な検出の時刻を表し;fは、抵抗値R、インダクタンスL、キャパシタンスC、およびコンダクタンスGが測定された周波数を表し、fと環状周波数ωとはω=2πfという関係を有しており;α、β、およびγは、上に示されているR、L、G、およびCの関数において定義される補助変数である。典型的には、較正は、データから時空モデルを作成するために異なるループ長の回線と終端インピーダンスとがテストされる実験室での測定を通じて実行される。較正方法の手動での調整も、精度を得るために、現場において特定のループについて直接に行われることがある。その結果として、正確な実験室でのテストと現場での介入とが必要になるこの方法は、時間を要するものとなる。これらのアプローチは共に、現実世界の状況とモデル化されたパラメータ値との間での不完全な較正または齟齬の結果として生じるシステム的な誤差を含む多くのタイプの誤差の影響を受ける。従って、本発明の実施形態の目的は、自動的な相互較正を実行することによって、これらの誤差を部分的に縮小することである。この自動的な相互較正は、較正の欠陥を検出し補償することによって、ループ長の推定および/またはモデルパラメータを著しく改善する機能を有するのである。図3は、本発明による方法の実施形態を図解している。本発明の基本的な部分は、110-150とラベル付けされているステップによって表されている。200および300とラベル付けされているブロックは、オプションのブロックを表す。様々なステップが表されている順序は、別のステップが終了するまでは特定のステップが生じることがありえないことが以下の説明から明確でない限り、純粋に例示的であって、本発明を限定しない。また、複数のステップの組み合わせが可能であること、そして、入力データに対して異なる演算を実行することによって、組み合わされた結果を数学的に同等な方法で達成できることを、当業者であれば想到しうる。そのような実施形態も、本発明の範囲に含まれる。図解されている実施形態の目的は、第1のパラメトリックなループ長推定方法において用いられるパラメータを決定することである。この第1のループ長推定方法は、第1のステップ110に図解されているように、局所的に測定可能な物理的特性を測定することによって、1つまたは複数のループすなわちターゲットセットの長さを決定するように機能する。パラメータの決定は、図解されている第4のステップ140において実行される。この決定を行うためには、図解されている第2のステップ120における第1のループ長推定方法を通じて得られるループ長の推定値が、オプションのブロック200から得られる基準推定値と、図解されている第3のステップ130において比較される。ブロック200については、より詳しく後述する。オプションのブロック200が存在しない場合には、より早い時点で確立されている基準推定値を例えばメモリから取得できることを、当業者であれば想到しうる。第2のステップ120で第1のループ長推定方法によって得られた推定値と基準推定値200との比較130は、線形回帰係数の決定で構成される。このアプローチがとられる場合には、線形回帰係数が1に近づくように、パラメータが決定される140。当業者であれば、推定された長さと基準推定値との間の測定された偏差130から適切なパラメータを得る140ために他の適切なアルゴリズムを用いることができることを、想到できる。ステップ120、130および140の複数回の反復を、十分に信頼できるパラメータを得る前に、適用しなければならない場合がある。オプションで反復的なプロセスを通じて、いったんパラメータが決定されると140、第1のループ長推定方法に対するパラメータの較正が完了したと見なされる150。第1のループ長推定方法に関するいくつかの選択肢については、基準推定値と測定された物理的特性とから直接的に第1のパラメータセットを数学的に導くことが効率的でありうる。従って、図解されているステップ120-140を単一で必ずしも反復的ではない動作にまとめることが効率的でありうる。オプションのブロック200は、基準推定値がどのようにして得られるかを図解している。有利には、第2のパラメトリックループ長推定方法が適用されるが、これは、ループの第2の局所的に測定可能な物理的特性に依存する。第2のループ長推定方法は、前もって較正がなされているものと仮定される。この較正は、オプションのブロック300の中に示されているステップを通じて行われうる。ブロック300についての詳細は後述する。当業者であれば、他の知られている較正手順を適用しても同じ効果が得られることを想到することができる。ターゲットセットのそれぞれのループの第2の物理的特性が、ステップ210で測定される。これらの特性に基づき、ステップ220において、ループ長推定値が、第2のループ長推定方法によって得られる。これらの推定値は、上述したように、第1のループ長推定方法の較正のために、基準推定値として機能する。第1のループ長推定方法はSELT法であってもよく、第2のループ長推定方法はMELT法であってもよい。その逆も可能である。本発明の基礎となる洞察から離れずに、他のループ長推定方法を、第1および/または第2のループ長推定方法として用いることが可能であることは、当業者であれば想到するであろう。第1のループ長推定方法は、多数の伝統的すなわち、非局所的なループ長測定に頼る必要がなくして、比較的大きな較正データセットを用いて較正することが可能であるというのは、本発明の利点である。この利点は、前もって較正されている第2のループ長推定方法による構成データセットを生成することにより、達成される。本発明によるプロセスは、第2のループ長推定方法の較正が既に過去に行われている場合、それがより正確である場合、または、それが第1のループ長推定方法の直接的な較正よりも容易である場合に、本発明によるプロセスは特に有利である。第2のループ長推定方法は、オプションのブロック300に図解されているステップによって、既に較正されている。この較正は、ループの代表的なセットの知られているループ長に依存している。これらの知られているループ長は、局所的でない測定方法によって、例えば、伝統的な測定用ロッドの使用、光学的測定その他、または、ループの製造および/もしくは設置の最中の測定によって、得ることができる。ループの実際の長さを得るためのこれらの方法は、測定ステップ410によって象徴されている。代表セットの知られているループ長は、ステップ320において得られた第1のループ長測定方法により得られた推定されたループ長を検証するための基準として、用いられる。ステップ320において第1のループ長推定方法によって得られた推定されたループ長の推定値は、ステップ310において実行される第2の物理的特性の局所的な測定に依存する。ステップ120-140に図解されている第1のループ長推定方法に関して説明された較正と完全に類似した方法において、第2のループ長推定方法は、知られているループ長に基づいて較正される。代表セットは、ターゲットセットの部分集合でありうる。しかし、代表セットは、ループの完全に異なったセットである場合、例えば、特に較正の目的に用いられる研究室で利用可能なループのセットである場合もある。代表セットは、好ましくは、ターゲットセットと同じタイプおよび/またはゲージのループを含む。代表セットは、好ましくは、その長さの範囲がターゲットセットの長さの範囲と実質的に一致するループを含む。当業者であれば、様々な上述した方法のステップはプログラムされたコンピュータによって実行できることを容易に想到するであろう。本出願では、いくつかの実施形態は、マシンまたはコンピュータ可読であり、前記上述の方法のステップのうちの一部またはすべてを実行する命令のマシン実行可能またはコンピュータ実行可能なプログラムを符号化する、プログラム記憶装置、例えば、デジタルデータ記憶媒体、に及ぶことも意図されている。プログラム記憶装置は、例えば、デジタルメモリ、磁気ディスクや磁気テープ、ハードディスクなどの磁気記憶媒体、または光学的に読み取り可能なデジタルデータ記憶媒体でありうる。これらの実施形態は、また、上述の方法の前記ステップを実行するようにプログラムされたコンピュータにも及ぶことが意図されている。本発明の実施例によるシステムが、図4に図解されている。図4は、加入者の装置をアクセスノード600に接続するのに用いられうる複数のメタルツイストペア回線650を含む、メタルアクセスネットワークの一部を示している。図3に図解されている本発明による方法の実施形態に関する上述した説明を参照し、図解されているツイストペア回線650は、ターゲットセットのループであると仮定する。一般性を失うことなく、測定ユニット500は、アクセスノード600の中に一体化されているものとして図解されている。ただし、このユニット500は、スタンドアロン型の装置または他のデバイスの中に一体化されていてもかまわない。測定ユニット500は、ターゲットセットのループのそれぞれに対して、少なくとも、第1の測定可能な物理的特性を測定する第1の測定デバイス510と、第2の測定可能な物理的特性を測定する第2の測定デバイス520とを含む。測定ユニット510、520のそれぞれは、それぞれが第1および第2のループ長推定方法を実行する対応のループ長推定プロセッサ511、521に接続されている。第1のループ長推定プロセッサ511は、第1のパラメータメモリ512に記憶されているパラメータの組に依存する。このメモリは、当初は空であるか、または、例えば、粗く推定されたパラメータの組を用いて予めプログラムされている場合もある。第2のループ長推定プロセッサ512は、第2のパラメータメモリ522に記憶されているパラメータの組に依存する。このメモリには、正確なパラメータの組が記憶されていると仮定される。すなわち、第2のループ長推定プロセッサ512は、十分な較正がなされているのである。第1のパラメータメモリ512と第2のパラメータメモリ522とは、1つの同じ物理メモリに、または、複数の異なる物理メモリに、異なる組の変数が記憶されているものとして実装することができることは、当業者であれば想到できるであろう。両方のループ長推定プロセッサ511、521は、較正プロセッサ530に動作的に結合されている。較正プロセッサ530は、両方のループ長推定方法によって得られた推定値を比較し、較正がなされるプロセッサ511の結果と予め較正されているプロセッサ521の基準値とのベストフィットが得られるパラメータの組を決定するように構成されている。更新されたパラメータは、第1のパラメータメモリ512に記憶される。第1のループ長推定プロセッサのための更新されたパラメータの決定は、反復的な方法で実行されうる。より一般的に述べるならば、較正プロセッサ530は、実際、第1のループ長推定プロセッサ511から得られた第1のループ長推定値と第2のループ長推定プロセッサ521から得られた第2のループ長推定値とを用い、第1のループ長推定プロセッサ511によって後で得られたループ長推定値が第2のループ長推定プロセッサ521によって得られたループ長推定値と実質的に一致するように、第1のパラメータセットを更新する特定の手段である。これは、第2のプロセッサ521から得られた推定値が、第1のプロセッサ511によって用いられるパラメータを較正するために用いられることを意味する。一般性を失うことなく、プロセッサ511、521、および530は、別々のブロックとして図解されている。これは、別個のコンポーネントとして実装される必要があることを意味しない。特に、ブロック511および530は、演算としては異なった方法で数学的に同等の結果を生じるように機能的に統合されることもありうる。従って、第1のループ長推定方法の選択に応じて、第1のパラメータセットを、利用可能なデータから、すなわち第1の測定デバイス510から得られた測定データと第2のループ長推定プロセッサ521から得られた基準推定値とから、直接的に導くことが計算的に効率的な場合がある。そのような構成もまた本発明の範囲に属する。両方のループ長推定プロセッサ511、521の出力を知られている態様でネットワーク管理ステーション620に結合することにより、ネットワークオペレータがこれらのプロセッサから得られた推定値から何らかの有用な結論を引き出すことが可能である。これは、較正プロセスの後、まだ較正に参加していないループに対して、ループ長推定値が生成されるときに特に関連する。本発明の実施形態の方法およびシステムの一部であるループ長推定方法において用いられるパラメータの数は、実際に選択される方法に左右される。知られているSELTおよびMELT法に用いられうる特定のパラメータセットについては、上述した。第1のループ長推定方法が較正されるループのターゲットセットのサイズは、本発明の方法またはシステムのユーザにより、選択される方法の関数として、決定される必要があるパラメータの数に従い、賢明な方法で選択される。図5は、2つの異なるループ長推定方法を適用することによって得られるループ長推定値の対を表す散乱プロットである。水平方向の軸は較正されたMELT法を適用することによって推定されるループ長であり、垂直方向の軸は較正されていないSELT法を適用することによって得られる対応のループ長を表す。一般性を失うことなく、両方の軸上の測定単位はメートルであると仮定される。理想的には、2つの方法によって得られる長さの推定値が同一であり、その結果として、原点を通過し勾配が1である直線が生じる。しかし、利用可能な例示的なデータセットの線形回帰によると、実際の関係は、y軸との交点が約500mであり勾配が1を僅かに超える直線によって、よりよく近似されることが明らかになる。y軸との交点がゼロでないことは、SELTシステムのアナログフロントエンドの較正オフセットとして、物理的に説明することができる。勾配の誤差は、システムとしての較正誤差と考えなければならない。ここに図解されているような場合には、本発明による較正方法の目的は、得られる別の推定値が対応する較正済みのMELTの推定値と実質的に一致するように、SELTシステムのパラメータを調整することであろう。プロセッサというラベル付けがなされている任意の機能ブロックを含めて、図面に示されている様々な要素の機能は、専用のハードウェアの使用に加え、適切なソフトウェアと関連してソフトウェアを実行することができるハードウェアの使用を通じて提供されることがある。プロセッサによって提供されると、単一の専用のプロセッサによって、単一の共有されるプロセッサによって、またはいくつかが共有可能であるような複数の個別のプロセッサによって、これらの機能が提供されうる。更に、プロセッサまたはコントローラという用語の明確な使用は、ソフトウェアを実行することができるハードウェアだけを排他的に意味するように解釈されるべきではなく、明示的ではないが、限定を意味せずに、デジタル信号プロセッサDSPハードウェア、ネットワークプロセッサ、特定用途向け集積回路ASIC、フィールドプログラマブルゲートアレイFPGA、ソフトウェアを記憶するリードオンリメモリROM、ランダムアクセスメモリRAM、および不揮発性ストレージを含む。これ以外のハードウェアも、従来型および/またはカスタムもまた含まれうる。同様に、図に示されているスイッチはすべてが、概念的なものに過ぎない。それらの機能は、プログラムロジックの動作を通じて、専用ロジックを通じて、プログラム制御と専用ロジックとの相互作用を通じて、または更には手動でも実行されうる。特定の技術は、コンテキストからより特定して理解されるように、実装を行う者によって選択可能である。"