"可撓性を有するシート状のディスクに対して情報の再生及び記録の少なくとも一方を行うために、前記ディスクを回転させるディスク駆動装置であって、前記ディスクのディスク面に対向して近接し、前記ディスクの面振れを抑制する安定化部材と、前記安定化部材の表面と、回転している前記ディスクのディスク面とを所定幅毎に近接させる近接部材と、前記安定化部材の表面と前記ディスク面との間隙部分の気圧の周辺大気圧に対する差圧を検出する差圧計と、前記近接部材により、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記差圧計により検出された差圧を基に、前記安定化部材の表面と前記ディスク面との間隙部分の幅を制御する制御部と、を備えることを特徴とするディスク駆動装置。前記制御部は、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記間隙部分の幅Cの微小変化ΔCに対する前記差圧Pの微小変化ΔPの割合である局所差圧勾配Sk=ΔP/ΔCを基に、前記間隙部分の幅を制御することを特徴とする請求項1に記載のディスク駆動装置。前記制御部は、前記間隙部分の幅を、前記局所差圧勾配Skが0以下になったときの前記間隙部分の幅以下に制御することを特徴とする請求項2に記載のディスク駆動装置。前記制御部は、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記間隙部分の幅Cの微小変化に対する前記差圧Pの微小変化の割合である局所差圧勾配Skと、前記間隙部分の幅Cの変化全体に対する前記差圧Pの変化の割合である全体差圧勾配Stとの勾配比Sk/St、又は前記局所差圧勾配Skと、前記間隙部分の幅の変化領域全体における各部分の局所差圧勾配Skの平均値である平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Sa、を基に前記間隙部分の幅を制御することを特徴とする請求項1に記載のディスク駆動装置。前記制御部は、前記間隙部分の幅を前記局所差圧勾配Skと前記全体差圧勾配Stとの勾配比Sk/St、又は前記局所差圧勾配Skと前記平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saが0.1以下となったときの前記間隙部分の幅以下に制御することを特徴とする請求項4に記載のディスク駆動装置。可撓性を有するシート状のディスクに対して情報の再生及び記録の少なくとも一方を行うために前記ディスクを回転させるディスク駆動方法であって、前記ディスクの面振れを抑制する安定化部材と前記ディスクのディスク面とを対向させながら近接させる近接工程と、周辺の大気圧と、前記安定化部材と前記ディスク面との間隙部分の気圧との差圧を検出する差圧検出工程と、検出された前記差圧に基づいて、前記安定化部材と前記ディスク面との間隙の幅を制御する制御工程と、を有することを特徴とするディスク駆動方法。前記近接工程において、前記安定化部材と回転している前記ディスクの間隙を所定幅ずつ減少させていき、前記制御工程において、差圧測定時における前記差圧の前記間隙の幅の変化に対する変化割合を算出し、前記間隙の幅を前記差圧の変化割合が所定値以下となったときの前記間隙の幅以下に制御することを特徴とする請求項6に記載のディスク駆動方法。前記近接工程において、前記安定化部材と回転している前記ディスクの間隙を減少させていき、前記制御工程において、差圧測定時における前記差圧の前記間隙の幅の減少量に対する減少割合が、前記近接工程全体における前記差圧の前記間隙の幅の減少量に対する減少割合に対し、所定値以下となったときの前記間隙の幅以下を、前記ディスクの面振れ抑制領域として前記間隙を制御することを特徴とする請求項6に記載のディスク駆動方法。可撓性を有するシート状のディスク以下では、便宜上、可撓性ディスク、光ディスク、又はディスクと略述することがある。に対して、情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置では、可撓性ディスクのディスク面に近接して安定化板を配置することにより、安定化板と可撓性ディスクとの間に可撓性ディスクが回転することによって生じる空気流が影響して可撓性ディスクの面振れを抑制している。この場合、この安定化板が面振れを抑制する効果を発揮するためには、可撓性ディスクと安定化板との距離を所定の範囲内に保つ必要がある。しかしながら、前記可撓性ディスクと安定化板との適切な距離は、ディスク回転数や、ディスクの基材、記録膜、保護膜の構成等の機械特性などによって変化する。このため、安定化板が面振れを抑制する効果を発揮する可撓性ディスクと安定化板との距離を、所定の範囲に自動的に調整するためには、面振れが抑制されているか否かを調べる手段が必要であった。面振れの抑制の有無を調べる手段として、ピックアップレンズのフォーカスエラー信号を利用する方法が知られている。従来のCDやDVDなどの光ディスク装置は、対物レンズの開口数NAが小さく、対物レンズとディスク記録面の距離が大きいので両者が接触する危険は少ない。しかし、大容量、高密度化されたBlurayDiscに代表される光ディスク装置などは、対物レンズのNAが大きく、対物レンズとディスク記録面の距離が小さいため、ディスクの面振れが大きいと両者が接触してピックアップ故障の原因となる。このため、BlurayDisc装置に代表される対物レンズのNAが大きい光ディスク装置では、フォーカスエラー信号を用いて面振れが抑制されている状態の有無を調べることは困難である。また、特許文献1に開示されている可撓性ディスクの構成に対する相対位置の調整パターンを装置内に記憶する方法は、あらかじめ構成を記憶している可撓性ディスク以外の可撓性ディスクに対しては、調整パターンが不明のため相対位置の調整が達成できない。また、特許文献1に示されている、ディスク外周部の半径方向チルト角を検出し、チルト角が零近傍となるように前記相対位置を調整する方法では、チルト角検出のための装置が必要となる。一般的に非接触でディスクのチルト角を検出可能な装置は高価なため、ディスク駆動装置の高コスト化を招来するという問題があった。本発明は、上記問題点を踏まえ、可撓性ディスクの情報記録又は再生時に発生するディスクの回転に伴う面振れを、情報記録又は再生可能な状態に簡便に制御するディスク駆動装置又はディスク駆動方法の提供を目的とする。本発明は、可撓性を有するシート状のディスクに対して情報の再生及び記録の少なくとも一方を行うために、前記ディスクを回転させるディスク駆動装置であって、前記ディスクのディスク面に対向して近接し、前記ディスクの面振れを抑制する安定化部材と、前記安定化部材の表面と、回転している前記ディスクのディスク面とを所定幅毎に近接させる近接部材と、前記安定化部材の表面と前記ディスク面との間隙部分の気圧の周辺大気圧に対する差圧を検出する差圧計と、前記近接部材により、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記差圧計により検出された差圧を基に、前記安定化部材の表面と前記ディスク面との間隙部分の幅を制御する制御部と、を備えることを特徴とするディスク駆動装置である。好ましい本発明は、前記制御部は、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記間隙部分の幅Cの微小変化ΔCに対する前記差圧Pの微小変化ΔPの割合である局所差圧勾配Sk=ΔP/ΔCを基に、前記間隙部分の幅を制御することを特徴とする前記ディスク駆動装置である。好ましい本発明は、前記制御部は、前記間隙部分の幅を、前記局所差圧勾配Skが0以下になったときの前記間隙部分の幅以下に制御することを特徴とする前記ディスク駆動装置である。好ましい本発明は、前記制御部は、前記安定化部材の表面と前記ディスク面とを近接させた際の、前記間隙部分の幅Cの微小変化に対する前記差圧Pの微小変化の割合である局所差圧勾配Skと、前記間隙部分の幅Cの変化全体に対する前記差圧Pの変化の割合である全体差圧勾配Stとの勾配比Sk/St、又は前記局所差圧勾配Skと、前記間隙部分の幅の変化領域全体における各部分の局所差圧勾配Skの平均値である平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saを基に前記間隙部分の幅を制御することを特徴とする前記ディスク駆動装置である。好ましい本発明は、前記制御部は、前記間隙部分の幅を前記局所差圧勾配Skと前記全体差圧勾配Stとの勾配比Sk/St、又は前記局所差圧勾配Skと前記平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saが0.1以下となったときの前記間隙部分の幅以下に制御することを特徴とする前記ディスク駆動装置である。である。本発明は、可撓性を有するシート状のディスクに対して情報の再生及び記録の少なくとも一方を行うために前記ディスクを回転させるディスク駆動方法であって、前記ディスクの面振れを抑制する安定化部材と前記ディスクのディスク面とを対向させながら近接させる近接工程と、周辺の大気圧と、前記安定化部材と前記ディスク面との間隙部分の気圧との差圧を検出する差圧検出工程と、検出された前記差圧に基づいて、前記安定化部材と前記ディスク面との間隙の幅を制御する制御工程と、を有することを特徴とするディスク駆動方法である。好ましい本発明は、前記近接工程において、前記安定化部材と回転している前記ディスクの間隙を所定幅ずつ減少させていき、前記制御工程において、差圧測定時における前記差圧の前記間隙の幅の変化に対する変化割合を算出し、前記間隙の幅を前記差圧の変化割合が所定値以下となったときの前記間隙の幅以下に制御することを特徴とする前記ディスク駆動方法である。好ましい本発明は、前記近接工程において、前記安定化部材と回転している前記ディスクの間隙を減少させていき、前記制御工程において、差圧測定時における前記差圧の前記間隙の幅の減少量に対する減少割合が、前記近接工程全体における前記差圧の前記間隙の幅の減少量に対する減少割合に対し、所定値以下となったときの前記間隙の幅以下を、前記ディスクの面振れ抑制領域として前記間隙を制御することを特徴とする前記ディスク駆動方法である。本発明によれば、可撓性ディスクの情報記録又は再生時に発生しやすい、ディスクの回転に伴う面振れを情報記録又は再生可能な状態に簡便に制御するディスク駆動装置又はディスク駆動方法を提供することができる。例えば、本発明によれば、可撓性ディスクのチルト角を検出する装置を用いずに、ディスクの面振れが情報記録又は再生可能な状態に抑制されている状態と、面振れ量が情報記録又は再生可能な状態以上に増大している状態とを容易に経済的に判別することができる。そして、本発明によれば、ディスクの形状、構成や回転数に依存せず、面振れ量を情報記録又は再生可能な状態に制御し、安定した記録又は再生を実現するディスク駆動装置又はディスク駆動方法を提供することができる。さらに、ディスクの形状、構成や回転数が特定されれば、より厳密に情報記録又は再生可能な状態に面振れ量を制御し、安定した記録又は再生を実現するディスク駆動装置又はディスク駆動方法を提供することができる。ディスク駆動装置図1~3に、本発明のディスク駆動装置の一実施形態を含む光ディスク装置100を示す。図1は、本実施形態例の光ディスク装置の主要部を表す断面図である。図1において、可撓性ディスク可撓性を有するシート状のディスク、光ディスク、ディスクということもある。10の外径と内径はそれぞれ120mm半径60mmと15mm半径7.5mmである。ディスク装着部40は、直径が33mmであり、可撓性ディスク10を装着し、スピンドルモータ30により高速で定速回転させることができる。安定化板安定化部材の一態様50は、可撓性ディスク10のディスク面に対向する面が平滑なドーナツ状の円板で、回転している可撓性ディスク10と平行に配置されている。安定化板50の外径と内径は、それぞれ122mm半径61mmと35mm半径17.5mmである。昇降部近接部材の一態様70は、安定化板50を昇降させることができる。特に、昇降部70は、所定量ずつ制御しながら安定化板50を、回転している可撓性ディスク10の表面に対向するように配置して安定化板50と可撓性ディスク10とを徐々に近接させることができる。なお、可撓性ディスク10の表面と安定化板50の可撓性ディスク10との対向面の近接操作は、可撓性ディスク10又は安定化板50のいずれかを移動させることでも、両者を移動させることでも可能である。また、各々の部材等の寸法は、これに限定するものではないが、安定化板50の外径は可撓性ディスク10の外径より少し大きいことが好ましい。安定化板50の外周部付近には、差圧計差圧センサともいう。60が設置されている。差圧計60は、可撓性ディスク10と安定化板50との間隙部分80の圧力気圧と、この光ディスク装置周辺の大気圧との差圧を検出する差圧センサである。図2は、上記光ディスク装置の安定化板50の平面図である。差圧計60は、安定化板50の外周付近本実施形態では中心から59mmの位置の位置に等間隔に3個設けてある。差圧計60は、安定化板50と可撓性ディスク10との間の空気圧と大気圧との差を測定する装置であり、可撓性ディスク10の面振れ量の増大の影響を顕著に受け易いディスク外周部付近と対向する位置に設けることが好ましい。また、差圧計60は、安定化板50に最低限1つ設ければよいが、複数個設けることにより、可撓性ディスク10の面振れ量の変化をより精密に検知することができる。差圧計60は、回転している可撓性ディスク10の空気流の影響を受けない周辺部分の圧力と、可撓性ディスク10と安定化板50との間隙部分の気圧との差圧を測定できればよく、可撓性ディスク10と安定化板50との間隙部分の気圧そのものを測定する必要はない。このため、本発明における差圧センサ60は簡易な装置が利用できる。差圧センサ60は、例えばダイアフラム差圧計や液柱差圧計を利用したものなどが使用できる。図3は、本実施形態の光ディスク装置ディスク駆動装置を含んでいる。100の制御部を中心としたブロック図である。光ディスク装置100は、例えば、画像収録再生装置や音楽収録再生装置などの上位装置200との信号授受をするインターフェース92、各種の情報を記憶するメモリ91、光ピックアップ20のレーザ出力を制御するレーザ制御回路21、光ピックアップ20の駆動を制御する駆動制御回路22、昇降部70を介して安定化板50の昇降を制御する昇降制御回路71、差圧センサ60による間隙80における差圧Pの検出動作を制御する測定回路61、スピンドルモータ30の回転を制御するモータードライバ31を備えている。本実施形態の光ディスク装置100においては、回転中の可撓性ディスク10と安定化板50の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Pと、可撓性ディスク10のディスク面とこれに対向する安定化板50表面との間隙部分の間隙の幅C図1における間隙80の幅、間隙Cと略称することもある。とは、対応関係がある。このため、可撓性ディスク10の面振れを制御するには、間隙Cに替えて上記差圧Pを制御してもよい。間隙Cと差圧Pと面振れの関係図4~15は、図1~3に記載した光ディスク装置100を用いて、厚さの異なる光ディスク可撓性ディスク10を異なる回転数それぞれ7,000rpm、10,000rpm、13,000rpmで回転させながら、光ディスク10と安定化板50を所定幅ずつ近接させたときの間隙Cと、装置周辺の気圧大気圧に対する回転中の光ディスク10と安定化板50の間隙80の気圧の差圧差圧Pと略称する。と、光ディスク10の面振れ量との関係を測定した測定データとその一部のグラフである。それぞれの図を参照しながら、光ディスク装置100における間隙Cと差圧Pと面振れ量の関係から、それぞれの条件において光ディスク10の面振れ量を光ディスク10に対する記録再生可能な範囲内に制御する方法について述べる。実施例1図4は、外径120mm半径60mm、厚さ0.1mmの光ディスク10を、回転数7,000rpmで回転させたときのディスク10と安定化板50の間隙Cmm、ディスク10の外周部中心から59mmの位置の間隙部分の気圧と装置周辺部の大気圧との差圧PPa、間隙Cの値が所定値図4におけるカウンタの値がkのときの間隙Ckmmの微小変化ΔCkmmに対する差圧PkPaの微小変化量ΔPkPaを表す局所差圧勾配Sk=ΔP/ΔCPa/mm、間隙Cが初期値から所定値まで図4におけるカウンタの値kが0からkまで変化したときの、間隙Cの変化全体に対応する差圧Pの変化量である全体差圧勾配StPa/mm、間隙Cが初期値から所定値まで図4におけるカウンタの値kが0からkまで変化したときの、それぞれのカウンタの値kにおける前記局所差圧勾配Skの平均値である平均差圧勾配SaPa/mm、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの比である勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの比である勾配比Sk/Sa、及びディスク10の外周部中心から55mmの位置の面振れ量μmを示す表である。間隙Ckにおける局所差圧勾配Skは、光ディスク10を所定回転数で回転させながらディスクと安定化板の間隙Cを初期値から所定量ずつk回狭めていったときに、k番目に設定した間隙Ckにおける間隙Cの局所的な変化量ΔCkと、間隙部分の圧力気圧と大気圧との差圧Pkの局所的な変化量ΔPkの比、すなわち、下式1で表される。Sk=ΔPk/ΔCk1間隙Ckにおける全体勾配Stは、光ディスク10を所定回転数で回転させながら光ディスク10と安定化板50の間隙Cを初期値から所定量一定量でなくてもよい。ずつ狭めていったときに、間隙部分の気圧と大気圧との差圧Pが負の値になる直前の間隙Cの値C0と差圧Pの値P0を基準C0、P0が初期値に相当する。にして、所定の間隙Ckに変化したときの差圧Pkの変化量から求めた勾配であり、下式2で表される。St=P0-Pk/C0-Ck2なお、可撓性ディスクを高速で回転させながら安定化板をディスク面に近接させてディスクの面振れを抑制する光ディスク駆動装置においては、安定化板がディスク面から十分に離れていれば。安定化板とディスク面との間の間隙部分の気圧は、光ディスク駆動装置周辺の大気圧と変わらない。安定化板とディスク面との間の間隙を次第に狭くしていくと、間隙Cの気圧は一時的に大気圧より若干高くなることもあるが、さらに安定化板とディスク面とを近づけていくと、間隙Cの気圧が装置周辺の大気圧より低くなり、大気圧に対する間隙Cの気圧差圧Pが負の値装置周辺の大気圧を0とする。となる。このような状態では、光ディスクの面振れに対して安定化板が影響を及ぼし、光ディスクの面振れ量が小さくなってくる。本願発明においては、安定化板とディスク面とを近づける際に、間隙Cの差圧Pが負の値に変化する寸前の状態の測定値を基準として、カウンタ値k=0に対応させ、それぞれ間隙C、差圧Pの初期値C0、P0としている。局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saは、以下のようにして算出する。平均差圧勾配Saは、光ディスク10を所定回転数で回転させながらディスクと安定化板の間隙Cを所定量ずつ狭めていったときに、間隙部分の気圧と大気圧との差圧Pが負の値になった時点の直前を0回目カウンタk=0と数えてk回目まで間隙Cを所定量ずつ狭めていってそれぞれPkを測定し、1番目の局所差圧勾配S1から、k番目の測定点における局所差圧勾配Skまでのk個の局所差圧勾配Siの平均値である。すなわち、平均差圧勾配Saは下式3で表される。従って、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stとの勾配比は、Sk/Stで表され、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの勾配比は、Sk/Saで表される。図5は、図4における光ディスク10と安定化板50の間隙Cmmに対する、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPaと、光ディスク10の面振れ量の関係の主要部分を示したグラフである。図4、5から判るように、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cが狭くなると、光ディスク10の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Pは負の値となる。そして、間隙Cをさらに狭めると、光ディスク10の差圧Pはさらに小さくなっていく。図4、5に示す実施例1では、差圧Pは、間隙Cが0.60mm付近から負の値となり、間隙Cが0.40mm付近まで13~25Pa/mm程度の勾配でほぼ単調に低下していく。間隙Cが0.40mm以下になると、差圧Pは、0.44Pa/mm程度でほとんど低下しなくなる。一方、光ディスク10の面振れ量は、間隙Cが0.40mmを超える領域では、50μmを超えているが、0.40mm付近で急速に低下し、間隙Cが0.40mmで10μm、間隙Cが0.39mmで8μmとなり、その後は間隙Cが小さくなるに連れてゆっくりと低下する。なお、面振れ量は光学的に測定した値である。なお、間隙Cが0.1mmになるまで安定化板50を光ディスク10に近づけているが、実用上では、光ディスク10の面振れが所定値以下になれば、それ以上安定化板50を可撓性ディスク10に近づけることは、安定化板50と光ディスク10の接触の恐れが増加するので実行する必要はない。このため、光ディスク10の面振れが小さくなり、一旦安定した後は、間隙Cをそれ以上小さくすることは実用上不必要であり、間隙Cが0.15mm以下の領域の面振れ量が3μm以下おける差圧Pは急降下傾向を示すことがある。しかし、一旦面振れ量が20μm、好ましくは10μm以下となれば、面振れ量は増加することはないので、この領域の測定はあまり意味がなく無視できる。この傾向は、後述する実施例2~6においても同じである。通常、光ディスク10の面振れ量は、20μm以下、好ましくは10μm以下であれば使用可能である。このため、0.1mm厚の光ディスク10を7,000rpmで回転させて使用するこの実施例の光ディスク装置においては、間隙Cが0.40mm以下とすればよい。また、間隙Cの代わりに、差圧Pを-4.4Pa以下に制御すればよいことが判る。光ディスク10の面振れ量を制御するために、間隙Cの代わりに、差圧Pを制御指標とすることで、間隙Cの測定が不用となり、光ディスク装置を簡単なものとすることができる。図4において、間隙Cの減少に伴う光ディスク10の面振れ量μmの変化、及び差圧Pk、局所差圧勾配Sk、全体差圧勾配St、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saを観察すると、面振れ量が確実に所定値20μm以下とするための制御条件として、差圧Pkを-4.4Pa以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。1局所差圧勾配Skが1.0Pa/mm以下、好ましくは0.0Pa/mm以下である。2局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/Stが0.2未満、好ましくは0.1以下、さらに好ましくは0.0以下である。3局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saが0.2未満、好ましくは0.1以下、さらに好ましくは0.0以下である。実施例2図6、7は、ディスク10の外周部中心から59mmの位置の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPa、差圧Pと間隙Cの局所差圧勾配SkPa/mm、差圧Pと間隙Cの全体差圧勾配StPa/mm、平均差圧勾配SaPa/mm、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saの関係、及びディスクの外周部中心から55mmの位置の面振れμmを表す表及びグラフである。図6は、実施例1において、光ディスク10を回転数7,000rpmから10,000rpmに変更して回転させた以外は、実施例1と同様にして測定及び算出した光ディスク10と安定化板50の間隙Cmm、ディスク10の外周部中心から59mmの位置の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPa、差圧Pと間隙Cの局所差圧勾配SkPa/mm、差圧Pと間隙Cの全体差圧勾配StPa/mm、平均差圧勾配SaPa/mm、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saの関係、及びディスクの外周部中心から55mmの位置の面振れμmを表す表である。図7は、図6における光ディスク10と安定化板50の間隙Cmmに対する、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPaと、光ディスクの面振れ量の関係を示したグラフである。図6、7から判るように、実施例2は、実施例1と同様の傾向を示しており、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cが狭くなると、光ディスク10の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Pは負の値となる。そして、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cをさらに狭めると、差圧Pは小さくなっていく。図6、7に示す実施例では、差圧Pは、間隙Cが0.23mm付近から負の値となり、間隙Cが0.20mm付近までほぼ200~250Pa/mm程度の勾配で単調に低下していく。間隙Cが0.20~0.15mmでは、差圧Pの低下傾向は小さくなる。一方、光ディスク10の面振れ量は、間隙Cが0.24mmを超える領域では、50μm以上であるが、間隙Cの減少と共に急速に減少し、間隙Cが0.20mmで14μm、間隙Cが0.19mmで10μmとなり、その後は間隙Cが小さくなるに連れてゆっくりと低下する。光ディスク10の面振れ量は、20μm以下、好ましくは10μm以下であれば使用可能である。このため、0.1mm厚の光ディスク10を10,000rpmで回転させて使用するこの実施例においては、間隙Cを0.20mm以下とすればよい。また、間隙Cの代わりに、差圧Pが-9.3Pa以下となればよいことが判る。図6において、間隙Cの減少に伴う可撓性ディスク10の面振れ量の変化、及び差圧P、局所差圧勾配Sk、全体差圧勾配St、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saを観察すると、面振れ量が所定値以下となるための制御条件として、差圧Pkを-9.0Pa以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。1局所差圧勾配Skが220Pa/mm未満、好ましくは180Pa/mm以下、さらに好ましくは20Pa/mm以下となる。2局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/Stが1.0未満、好ましくは0.8以下になる。3局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Sa1.0未満、好ましくは0.8以下になる。実施例3図8は、実施例1において、光ディスク10を回転数7,000rpmから13,000rpmに変更して回転させた以外は、実施例1と同様にして測定及び算出したディスクと安定化板の間隙Cmm、ディスク10の外周部中心から59mmの位置の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPa、差圧Pと間隙Cの局所差圧勾配SkPa/mm、差圧Pと間隙Cの全体差圧勾配StPa/mm、平均差圧勾配SaPa/mm、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saの関係、及びディスクの外周部中心から55mmの位置の面振れμmを表す表である。図9は、図8における光ディスク10と安定化板50の間隙Cmmと、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPa、との関係を示したグラフである。図8、9から判るように、実施例3は、実施例1とほぼ同様の傾向を示しており、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cが狭くなると、光ディスク10の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Pは負の値となる。そして、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cをさらに狭めると、差圧Pは小さくなっていく。図8、9に示す実施例では、差圧Pは、間隙Cが0.130mm付近から負の値となり、間隙Cが0.125mm付近までほぼ1500~2500Pa/mm程度の勾配で低下していく。間隙Cが0.125mm以下になると、差圧Pは低下率が減少する。一方、光ディスク10の面振れ量は、間隙Cが0.130mm以上の領域では、30μm以上であるが、間隙Cが0.125mmで10μm、間隙Cが0.120mmで6μmとなり、その後は間隙Cが小さくなるに連れてゆっくりと低下する。光ディスク10の面振れ量は、20μm以下、好ましくは10μm以下であれば使用可能である。このため、0.1mm厚の可撓性ディスク10を13,000rpmで回転させて使用するこの実施例においては、間隙Cを0.125mm以下とすればよい。また、間隙Cの代わりに、差圧Pが-20Pa以下とすればよいことが判る。図8、9において、間隙Cの減少に伴う可撓性ディスク10の面振れ量の変化、及び差圧P、局所差圧勾配Sk、全体差圧勾配St、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saを観察すると、面振れ量が所定値以下となるための制御条件として、差圧Pkを-20.0Pa以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。1局所差圧勾配Skが2500Pa/mm未満、好ましくは1500Pa/mm以下となる。2局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/Stが0.8以下、好ましくは0.2以下、さらに好ましくは0.1以下となる。3局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saが0.8以下、好ましくは0.2以下、さらに好ましくは0.1以下となる。このように、厚さが0.1mmの光ディスク10においては、差圧の正負の符号と、間隙Cに対する差圧の勾配の大きさの変化から、面振れ抑制状態を判別することが可能とである。差圧の符号と差圧の勾配と面振れ状態の定性的な関係を表1に整理する。実施例4図10は、実施例1において、光ディスク10の厚さを0.1mmから0.2mmに変更した以外は、実施例1と同様にして測定及び算出したディスクと安定化板の間隙Cmm、ディスク10の外周部中心から59mmの位置の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPa、差圧Pと間隙Cの局所差圧勾配SkPa/mm、差圧Pと間隙Cの全体差圧勾配StPa/mm、平均差圧勾配SaPa/mm、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saの関係、及びディスクの外周部中心から55mmの位置の面振れμmを表す表である。図11は、図10における光ディスク10と安定化板50の間隙Cmmと、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPa、との関係を示したグラフである。図10、11から判るように、実施例4は、実施例1とほぼ同様の傾向を示しており、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cが狭くなると、光ディスク10の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Pは負の値となる。そして、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cをさらに狭めると、光ディスク10の差圧Pはさらに小さくなっていく。図10、11に示す実施例では、差圧Pは、間隙Cが0.7mm付近から負の値となり、間隙Cが0.45mm付近までほぼ7~50Pa/mm程度の勾配で低下していく。間隙Cが0.44mm以下になると、差圧Pは、僅かな上昇傾向に転ずる。一方、光ディスク10の面振れ量は、間隙Cが0.46mm以上の領域では、90μmを超えているが、0.45mm付近で急激に低下し、間隙Cが0.45mmで17μm、間隙Cが0.25mmで15μmとなり、その後は間隙Cが小さくなるに連れてゆっくりと低下し、間隙Cが0.15mmで9μmとなる。光ディスク10の面振れ量は、20μm以下、好ましくは10μm以下であれば使用可能である。このため、0.2mm厚の光ディスク10を7,000rpmで回転させて使用するこの実施例の場合は、間隙Cを0.45mm以下、好ましくは0.15mm以下とすればよい。また、間隙Cの代わりに、差圧Pが-8.2Pa以下となればよいことが判る。図10、11において、間隙Cの減少に伴う光ディスク10の面振れ量の変化、及び差圧P、局所差圧勾配Sk、全体差圧勾配St、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saを観察すると、面振れが所定値以下となるための制御条件として、差圧Pkを-7.9Pa以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。1局所差圧勾配Skが7.0Pa/mm未満、好ましくは0.0Pa/mm以下となる。2局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/Stが0.5未満、好ましくは0.0以下となる。3局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saが0.6以下、好ましくは0.0以下となる。実施例5図12は、実施例4において、光ディスク10を回転数7,000rpmから10,000rpmに変更して回転させた以外は、実施例4と同様にして測定及び算出したディスクと安定化板の間隙Cmm、ディスク10の外周部中心から59mmの位置の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPa、差圧Pと間隙Cの局所差圧勾配SkPa/mm、差圧Pと間隙Cの全体差圧勾配StPa/mm、平均差圧勾配SaPa/mm、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saの関係、及びディスクの外周部中心から55mmの位置の面振れμmを表す表である。図13は、図12における光ディスク10と安定化板50の間隙Cmmと、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPa、との関係を示したグラフである。図12、13から判るように、実施例5は、実施例4とほぼ同様の傾向を示しており、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cが狭くなると、光ディスク10の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Pは負の値となる。そして、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cをさらに狭めると、光ディスク10の差圧Pは小さくなっていく。しかし、光ディスク10の面振れ量が十分小さくなると差圧Pは若干上昇する傾向にある。図12、13に示す例では、差圧Pは、間隙Cが0.5mm付近から負の値となり、間隙Cが0.33mm付近まで20~380Pa/mm程度の勾配で低下していく。間隙Cが0.33~0.20mmにおいては、差圧Pは、少しずつ上昇する傾向にある。一方、光ディスク10の面振れ量は、間隙Cが0.34mm以上の領域では、100μmを超えているが、間隙Cが0.33mmで18μm、その後は間隙Cが小さくなるに連れてゆっくりと低下し、間隙Cが0.25mm以下で10μm以下となる。光ディスク10の面振れ量は、20μm以下、好ましくは10μm以下であれば使用可能である。このため、0.2mm厚の光ディスク10を10,000rpmで回転させて使用するこの実施例においては、間隙Cを0.33mm以下、好ましくは0.25mm以下とすればよい。また、間隙Cの代わりに、差圧Pが-15.7Pa以下となればよいことが判る。図12、13において、間隙Cの減少に伴う可撓性ディスク10の面振れ量の変化、及び差圧P、局所差圧勾配Sk、全体差圧勾配St、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saを観察すると、面振れが所定値以下となるための制御条件として、差圧Pkを-13Pa以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。1局所差圧勾配Skが20Pa/mm未満、好ましくは-10Pa/mm以下、さらに好ましくは-20Pa/mm以下となる。2局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/Stが0.8未満、好ましくは-0.1以下、さらに好ましくは-0.2以下となる。3局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saが0.8以下、好ましくは-0.1以下、さらに好ましくは-0.2以下となる。実施例6図14は、実施例4において、光ディスク10を回転数7,000rpmから13,000rpmに変更して回転させた以外は、実施例4と同様にして測定及び算出したディスクと安定化板の間隙Cmm、ディスク10の外周部中心から59mmの位置の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPa、差圧Pと間隙Cの局所差圧勾配SkPa/mm、差圧Pと間隙Cの全体差圧勾配StPa/mm、平均差圧勾配SaPa/mm、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saの関係、及びディスクの外周部中心から55mmの位置の面振れμmを表す表である。図15は、図14における光ディスク10と安定化板50の間隙Cmmと、ディスクの外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧PPa、との関係を示したグラフである。図14、15から判るように、実施例6は、実施例4とほぼ同様の傾向を示しており、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cが狭くなると、光ディスク10の外周部の間隙部分の気圧と大気圧との差圧Pは負の値となる。そして、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙Cをさらに狭めると、光ディスク10の差圧Pは小さくなっていく。図14、15に示す実施例では、差圧Pは、間隙Cが0.3mm付近から負の値となり、間隙Cが0.25mm付近まで100~700Pa/mm程度の勾配で低下していく。間隙Cが0.25~0.15mmにおいては、差圧Pは、変わらないか若干上昇する傾向にある。一方、光ディスク10の面振れ量は、間隙Cが0.26mm以上の領域では、95μm以上であるが、間隙Cが0.25mmで12μm、0.24mmで10μm、その後は間隙Cが小さくなるに連れてゆっくりと低下する。光ディスク10の面振れ量は、20μm以下、好ましくは10μm以下であれば使用可能である。このため、0.2mm厚の光ディスク10を13,000rpmで回転させて使用するこの実施例においては、間隙Cを0.25mm以下、好ましくは0.24mm以下とすればよい。また、間隙Cの代わりに、差圧Pが-26.2Pa以下となればよいことが判る。図14、15において、間隙Cの減少に伴う光ディスク10の面振れ量の変化、及び差圧P、局所差圧勾配Sk、全体差圧勾配St、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/St、局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saを観察すると、面振れが所定値以下となるための制御条件として、差圧Pkを-24Pa以下とする方法以外に、以下の制御条件を選択すればよいことが判る。1局所差圧勾配Skが103Pa/mm未満、好ましくは0.0Pa/mm以下となる。2局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/Stが1.6未満、好ましくは0.0以下となる。3局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saの勾配比Sk/Saが1.3未満、好ましくは0.0以下となる。このように、ディスク厚0.2mmのディスクにおいても、間隙Cに対する差圧Pの勾配の大きさの変化から、面振れ抑制状態を判別することが可能となる。差圧Pの符号と差圧Pの勾配と面振れ状態の定性的な関係を表2に整理する。光ディスクの駆動方法上記実施例1~6の結果を踏まえて、光ディスク10の面振れ状態を抑えるための安定化板50の配置、すなわち光ディスク10と安定化板50の間隙の設定の方法を定量的に考察する。厚さが0.1~0.2mm程度の可撓性ディスクでは、安定化板による高速回転中のディスクの面振れ抑制が必要である。ディスクの面振れ量は、20μm以下、好ましくは10μm以下とすることが求められる。そこで、実施例1~6の結果を踏まえて、以下の光ディスクの駆動方法を発明した。光ディスクを記録再生等に必要な所定の回転数で回転させて、面振れが発生した状態において、安定化板を所定量ずつ光ディスクに近づける。安定化板が光ディスクの表面に近づくと、光ディスクと安定化板の間隙Cがある程度狭くなった段階で、この間隙Cの気圧がディスク駆動装置周辺の大気圧より低くなる。この大気圧と間隙Cの気圧との差圧Pが負の値になる付近から、光ディスクは安定化板の影響を受けて面振れが抑制されてくる。そして、間隙Cが所定値以下となると、差圧Pも所定値以下となり、間隙Cの減少量に対する差圧Pの減少量、すなわち間隙Cに対する差圧Pの減少勾配も急激に低下する。この差圧勾配の急激な減少点が面振れ量が、20μm好ましくは10μm以下となる点である。そこで、間隙Cを減少させながら差圧Pを測定し、この差圧Pを基にして、光ディスクの面振れ量を所望値に制御することができる。以下に、実施例1~6を基にして、具体的な制御方法の例を示す、記憶再生動作をすることもできる。実施形態3局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saを指標とする可撓性ディスク駆動方法局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saを指標として、所定回転数で回転している可撓性ディスク光ディスクの面振れを所定値以下に安定させるには、安定化板50を光ディスク10に近づけるに従って光ディスク10の面ブレ量の変化量も小さくなることを利用する。すなわち、光ディスク10のディスク面と安定化板50の表面の間隙80における気圧の大気圧との差圧Pを測定しながら、所定回転数で回転している光ディスク10に安定化板50を近づけていき、それぞれの安定化板50の位置における差圧Pの間隙の幅Cに対する変化量局所差圧勾配Skを算出し、その局所差圧勾配Skのそれまで安定化板50を移動させてきた間全体の局所差圧勾配Skの平均値平均差圧勾配Saに対する比率勾配比=局所差圧勾配Sk/平均差圧勾配Saが所定値以下となったときを光ディスク10の面振れが所望値通常は20mm以下となり、光ディスク10は安定した記録再生状態となることを利用して制御する。なお、実施例において説明したように、勾配比Sk/Saの所定値は、光ディスク装置、光ディスク10の厚さ、回転数などの使用状態により変化するので、それぞれの光ディスク10の使用状態に対応して勾配比Sk/Saを測定して求め、これを利用すればよい。本実施形態では、使用した光ディスク装置について全ての光ディスク10の使用状態に対して適用可能な勾配比Sk/Saにより光ディスク10の面振れを安定化させる駆動方法を示す。図17は、回転している光ディスク10と安定化板50の間隙Ckを小さくしていったときに、差圧Pが負になった時点k=1からk個の間隙Ckに対する局所差圧勾配Sk=Pk-1-Pk/Ck-1-Ckを算出し、差圧Pが負になった時点からのk個の局所差圧勾配S1からSkまでの平均値である平均値局所差圧勾配Saを求め、間隙Ckにおける勾配比Sk/Saを制御指標として、勾配比Sk/Saが所定値以下となったら光ディスク10の記録又は再生を行う可撓性ディスク駆動方法を示すフロー図である。勾配比Sk/Saを指標とする可撓性ディスク駆動方法について、図1~3を参照しながら、図17に従って説明する。本実施形態のステップS201からステップS227までは、実施形態1で説明したステップS101からステップS127までと同様であるので、実施形態1を参照することで説明を省略する。本実施形態においては、ステップS227で算出した局所差圧勾配Skをメモリ領域MSkに格納しステップS229、メモリ領域MSkに格納してあった局所差圧勾配Skk=1~kから平均差圧勾配Saを算出するステップS231。平均差圧勾配Saは、カウンタkが1からkまでの局所差圧勾配Skの平均値であり、算出式は既に説明した式3を参照すればよい。局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saから勾配比Sk/Saを算出し、この勾配比Sk/Saが0.1以下であればステップS233のY、光ディスク10の面振れは所定値以内であり、光ディスク装置は記録再生操作を実行する。勾配比Sk/Saが0.1を超えていればステップS233のN、光ディスク10の面振れは所定値を超えているとみなして、ステップS217に戻り、ステップS217からステップS233のステップを繰り返す。ステップS235からステップS241までの光ディスク10の記録再生及び光ディスク装置の停止操作は、実施形態1のステップS131からステップS137までと同様であるので、実施形態1を参照すればよいので説明を省略する。なお、ステップS233においては、勾配比Sk/Saの値の臨界値を0.1としたが、ディスク駆動装置、光ディスク10の厚さや回転数などの条件が特定されている場合は、それぞれの条件に応じて、他の値、例えば0.0、0.2、0.5などとすることもできる。この実施形態においても、間隙Cの絶対値の測定や、面振れ量の測定が不用である。このため、光デスク装置の制御部を簡単なものとすることができる。また、光ディスク10の種類及びその回転数が特定されていれば、最初にこの実施形態で算出した勾配比Sk/Saの値が臨界値、例えば0.1以下となったときの差圧Pkを記憶しておき、次回の記憶再生動作においては、ステップS203からステップS233までの工程に替えて、間隙Cを減少させていき、記憶しておいた差圧Pk以下になった時点の間隙Cを一定又はそれ以下に制御して、記憶再生動作をすることもできる。実施形態4局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stとの勾配比Sk/Stを指標とする可撓性ディスク駆動方法局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stとの勾配比Sk/Stを指標として、所定回転数で回転している可撓性ディスク光ディスクの面振れを所定値以下に安定させる光ディスクの駆動方法は、実施形態2で説明した局所差圧勾配Skと平均差圧勾配Saとの勾配比Sk/Saを制御指標とする光ディスクの駆動方法と基本的考え方は同じである。この実施形態では、実施形態2で利用した平均差圧勾配Saに替えて全体差圧勾配Stを利用する点が異なっている。この実施形態では、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stとの勾配比Sk/Stが所定値以下となったときを光ディスク10の面振れが所望値通常は20mm以下となり、光ディスク10は安定した記録再生状態となることを利用して制御する。なお、既に実施例において説明したように、勾配比Sk/Stの所定値は、光ディスク10の厚さ、回転数などの使用状態により変化するので、それぞれの光ディスク10の使用状態等に対応して勾配比Sk/Stを測定して求め、これを利用すればよい。本実施形態では、使用した光ディスク装置について全ての光ディスク10の使用状態に対して適用可能な勾配比Sk/Stにより光ディスク10の面ブレを安定化させる駆動方法を示す。図18は、回転している光ディスク10と安定化板50の間隙90を、比較的離れた状態から徐々に小さくしていったときに、差圧Pが零又は正の値から負の値変化する直前の時点カウンタk=0の間隙C0に対応する差圧P0を基準として、安定化板50を光ディスク10に徐々に近づけていき、間隙をk回変化させた場合、カウンタkが1からkまでの局所差圧勾配Sk=Pk-1-Pk/Ck-1-Ckと全体差圧勾配St=P0-Pk/C0-Ckを算出し、局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stの勾配比Sk/Stを制御指標として、勾配比Sk/Stが所定値以下となったら光ディスク10の記録又は再生を行う可撓性ディスク駆動方法を示すフロー図である。勾配比Sk/Stを指標とする可撓性ディスク駆動方法について、図1~3を参照しながら、及び図18に従って説明する。本実施形態のステップS311からステップS325までは、実施形態2で説明したステップS211からステップS225までと同様であるので、説明は実施形態2を参照することとし省略する。本実施形態においては、ステップS327において、算出若しくは測定してある、又は記憶している間隙Ck、C0、差圧Pk、P0などを基にして、局所差圧勾配Sk=Pk-1-Pk/Ck-1-Ck、全体差圧勾配St=P0-Pk/C0-Ckを算出するステップS327。局所差圧勾配Skと全体差圧勾配Stから勾配比Sk/Stを算出し、この勾配比Sk/Stが0.1以下であればステップS329のY、光ディスク10の面振れは所定値以内であり、記録再生操作を実行する。勾配比Sk/Stが0.1を超えていればステップS329のN、光ディスク10の面振れは所定値を超えているとみなして、ステップS317に戻り、ステップS317からステップS329のステップを繰り返す。ステップS331からステップS337までの光ディスク10の記録再生及び光ディスク装置の停止操作は、実施形態2のステップS235からステップS241までと同様であるので、それを参照して説明を省略する。なお、ステップS331においては、勾配比Sk/Stの値の臨界値を0.1としたが、光ディスク10の厚さや回転数などが特定されている場合は他の値、例えば0、0.2、0.5などとすることもできる。この実施形態においても、間隙Cの絶対値の測定や、面振れ量の測定が不用である。このため、光デスク装置の制御部を簡単なものとすることができる。また、光ディスク10の種類及びその回転数が特定されていれば、最初にこの実施形態で算出した勾配比Sk/Stの値が臨界値、例えば0.1以下となったときの差圧Pkを記憶しておき、次回の記憶再生動作においては、ステップS303からステップS329までの工程に替えて、間隙Cを減少させていき、記憶しておいた差圧Pk以下になった時点の間隙Cを一定又はそれ以下に制御して、記憶再生動作をすることもできる。実施形態1~3において、光ディスク10への記録再生を実行するか否かの制御指標局所差圧勾配Sk、勾配比Sk/Sa、又は勾配比Sk/Stの臨界値は、実施例1~6に示すように、光ディスク10の面振れ量が20mm以下となるときの間隙の幅Cの臨界値に対応する値より小さい場合もある。しかし、光ディスク10の面振れ量は20mm以下を満足しており、間隙Cが臨界値より大きく離れることはないので、実用上は問題がなく、むしろ測定精度等によるバラツキを吸収する余裕と考えることもできる。"