X線回折法を利用して被定量試料中における複数の結晶質相の含有率を測定するX線回折を用いた結晶相の定量方法であって、複数の結晶質相の含有率が既知である参照試料における各結晶質相のX線回折強度を参照強度として測定するステップと、被定量試料における各結晶質相のX線回折強度を定量強度として測定するステップと、各結晶質相の定量強度を各結晶質相の参照強度で除算し、各結晶質相の除算値に前記参照試料における各結晶質相の含有率を乗算した値を各結晶質相の指標値として算出するステップと、各結晶質相の指標値の比をもって前記被定量試料における各結晶質相の含有率の比とする、又は、各結晶質相の指標値を全結晶質相の指標値の和で除算した値を前記被定量試料における各結晶質相の含有率として一度に算出するステップと、を含むことを特徴とするX線回折を用いた結晶相の定量方法。X線回折法を利用して被定量試料中における複数の結晶質相の含有率を測定するX線回折を用いた結晶相の定量方法であって、複数の結晶質相の含有率が既知である参照試料における各結晶質相のX線回折強度を参照強度として測定するステップと、被定量試料における各結晶質相のX線回折強度を定量強度として測定するステップと、結晶質相を任意に一つ、基準結晶質相として選択し、被定量試料と参照試料のそれぞれにおいて、各結晶質相の定量強度の基準結晶質相の定量強度に対する比をその結晶質相の相対強度として求め、各結晶質相につき、被定量試料における相対強度を参照試料における相対強度で除算したものに前記参照試料における各結晶質相の基準結晶質相に対する含有率の比を乗算した値を被定量試料における各結晶質相の基準結晶質相に対する含有率の比として算出するステップと、を含むことを特徴とするX線回折を用いた結晶相の定量方法。各結晶質相の参照強度を理論計算によって算出することを特徴とする請求項1又は2に記載のX線回折を用いた結晶相の定量方法。1つ以上の結晶質相について、複数の異なる面指数によるX線回折の定量強度と参照強度とを測定し、それぞれの面指数において、定量強度を参照強度で除算した値を求め、次に、各面指数における除算値の平均値を求め、次に、これら平均値に参照試料における各結晶質相の含有率を乗算した値を該結晶質相の指標値として算出することを特徴とする請求項1又は3に記載のX線回折を用いた結晶相の定量方法。しかしながら、内部標準法や標準添加法を利用して被検物質の質量比率を測定する場合、被定量試料に内部標準物質を均一に混合するために、被定量試料を粉末状にする必要があり、試料の調製が困難又は不可能になる場合がある。例えば、鉄鋼材料の表面に生成した腐食生成物を定量する場合、腐食生成物を鉄鋼材料から分離する必要があり、この際の腐食生成物の変質が問題となり得る。また、焼結したセラミックス等、非常に硬度の高い材料を粉末状にするのには大きな困難を伴う。さらに、定量する被検物質毎に検量線を作成する手間がかかる。また、直接比較法を利用して定量を行う場合には、内部標準物質を被定量試料に混合する必要はないものの、適用可能な被定量試料が2成分系に限られる又は成分毎に検量線を作成する手間がかかる。また、リートベルト法を用いて被検物質の質量比率を測定する場合には、各試料について理論計算のためのパラメータを入力する手間、被定量試料のX線回折図形に対する理論計算回折図形のプロファイルフィッティングに関するノウハウなどの高度な知識が必要になる。以上のような理由で、X線回折法を利用した定量方法を広く一般材料へ適用するのには限界があり、品質保証や品質管理等の目的で工業的に利用する場合にも多くの制約が生じる。このため、X線回折法を利用して材料を構成する物質の存在量を簡易に測定可能な技術の提供が期待されていた。本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、その目的は、X線回折法を利用して材料を構成する物質の含有率を簡易に測定可能なX線回折を用いた結晶相の定量方法を提供することにある。上記課題を解決し、目的を達成するに、本発明の第1の態様に係るX線回折を用いた結晶相の定量方法は、複数の結晶質相の含有率が既知である参照試料における各結晶質相のX線回折強度を参照強度として測定するステップと、被定量試料における各結晶質相のX線回折強度を定量強度として測定するステップと、各結晶質相の定量強度を各結晶質相の参照強度で除算し、各結晶質相の除算値に前記参照試料における各結晶質相の含有率を乗算した値を各結晶質相の指標値として算出するステップと、各結晶質相の指標値の比をもって前記被定量試料における各結晶質相の含有率の比とする、又は、各結晶質相の指標値を全結晶質相の指標値の和で除算した値を前記被定量試料における各結晶質相の含有率として一度に算出するステップと、を含むことを特徴とする。上記課題を解決し、目的を達成するに、本発明の第2の態様に係るX線回折を用いた結晶相の定量方法は、複数の結晶質相の含有率が既知である参照試料における各結晶質相のX線回折強度を参照強度として測定するステップと、被定量試料における各結晶質相のX線回折強度を定量強度として測定するステップと、結晶質相を任意に一つ、基準結晶質相として選択し、被定量試料と参照試料のそれぞれにおいて、各結晶質相の定量強度の基準結晶質相の定量強度に対する比をその結晶質相の相対強度として求め、各結晶質相につき、被定量試料における相対強度を参照試料における相対強度で除算したものに前記参照試料における各結晶質相の基準結晶質相に対する含有率の比を乗算した値を被定量試料における各結晶質相の基準結晶質相に対する含有率の比として算出するステップと、を含むことを特徴とする。本発明に係るX線回折を用いた結晶相の定量方法は、上記発明において、各結晶質相の参照強度を理論計算によって算出することを特徴とする。本発明に係るX線回折を用いた結晶相の定量方法は、上記発明において、1つ以上の結晶質相について、複数の異なる面指数によるX線回折の定量強度と参照強度とを測定し、それぞれの面指数において、定量強度を参照強度で除算した値を求め、次に、各面指数について得られた除算値の平均値を求め、次に、これら平均値に参照試料における各結晶質相の含有率を乗算した値を該結晶質相の指標値として算出することを特徴とする。本発明に係るX線回折を用いた結晶相の定量方法によれば、X線回折法を利用して材料を構成する物質の含有率を簡易に測定することができる。以下、図面を参照して、本発明の一実施形態であるX線回折を用いた結晶相の定量方法の流れについて説明する。なお、本発明の一実施形態であるX線回折を用いた結晶相の定量方法は、定量の対象である結晶質相以外に定量の対象としない結晶質相や非晶質相があっても構わず適用することができる。以下、結晶質相と記載するものは定量の対象とする結晶質相であって、定量の対象としない結晶質相はこれにいれない。また、以下で結晶質相の含有率とは、定量しようとする結晶質相全部に対する各々の結晶質相の含有率を示す。本発明の概念始めに、本発明の概念について説明する。被定量試料を構成する物質が全て結晶質である場合、又は、被定量試料中の非晶質成分は重要構成物質ではなく、被定量試料中の結晶質相のみの含有率又は含有率の比を測定できればよい場合、本発明の方法を用いることができる。既述の数式1にて、各被検成分iの定数Kiと、各被検成分iのX線回折強度Iiと各被検成分iの質量比率Wiとの関係を表すことができる。また、既述の数式1を変形すると、定数Kiは以下に示す数式2のように表せる。数式2中のは被定量試料の平均質量吸収係数である。また、参照試料中の各被検成分iの質量比率Wsiと各被検成分iのX線回折強度Isiと定数Kiとは以下の数式3に示す関係を満足する。なお、数式3中のsは参照試料の平均質量吸収係数を示す。一方、被定量試料中の被検成分iの質量比率Wiは数式1より以下に示す数式4のように表せる。従って、数式4中の定数Kiに数式3を代入することによって、被定量試料中の被検成分iの質量比率Wiは、以下に示す数式5のように表される。さらに、数式5中のsは、この場合、被定量試料と参照試料とにより決まり、被検成分iの種類によらず定数であるからこれを定数aと表現することにより、被定量試料中の各被検成分iの質量比率Wiは以下に示す数式6のように表せる。以上のことから、被定量試料に含まれている複数の被検成分が全て結晶質相である場合、又は、被定量試料中の結晶質相のみの含有率又は含有率の比を測定できればよい場合、数式6に示すように、被検成分iの質量比率Wsiが既知である参照試料のX線回折強度Isiを参照強度、その質量比率Wsiを参照質量比率とし、被定量試料中における被検成分iのX線回折強度Iiを参照強度Isiで除算すると共に除算値を参照質量比率Wsiと乗算した値を各被検成分iの指標値として算出し、各被検成分iの指標値を全被検成分iの指標値の和で除算した値を被検成分iの含有率として算出する。又は、各被検成分の指標値の比をもって各被検成分の含有率の比を求めることができる。また、当然のことながら、上記計算方法によらずとも、以下に示すように上記と数学的に同等の計算方法で求めることも本発明範囲となる。つまり、結晶質相を任意に一つ、基準結晶質相として選択し、被定量試料と参照試料のそれぞれにおいて、各結晶質相の定量強度Ii、Isiの基準結晶質相の定量強度IjIsjに対する比をその結晶質相の相対強度Ri、Rsiとして求め、各結晶質相につき、被定量試料における相対強度Riを参照試料における相対強度Rsiで除算したものに参照試料における各結晶質相の基準結晶質相に対する含有率の比を乗算した値を被定量試料における各結晶質相の基準結晶質相に対する含有率の比として算出することも可能である。なお、参照強度Isiは実測値又は理論計算値のどちらを使用しても良い。また、被検成分iの質量比率Wsiとして、参照試料中の被検成分iの質量比率が不明であっても、参照試料中での被検成分iの全被検成分の和に対する比率、又は、被検成分どうしの比がわかればそれを用いることができる。また、本発明の方法は、前述したように定量しようとする結晶質相以外に定量の対象としない結晶質相が被定量試料中にあったとしても、その定量の対象としない結晶質相のX線回折ピークが定量しようとする結晶質相のX線回折ピークと重ならない場合、定量しようとする結晶質相のみを対象として本発明の方法を適用することで、定量しようとする結晶質相の含有率の比もしくは含有率を求める方法として用いることができる。このような本発明に係るX線回折を用いた結晶相の定量方法によれば、内部標準物質は不必要であり、また、検量線を作成する必要もない。また、参照強度Isiを理論計算によって算出する場合であっても、被検物質の純物質を混合した場合のX線回折強度を一旦算出するだけで済む。従って、本発明に係るX線回折を用いた結晶相の定量方法によれば、X線回折法を利用して材料を構成する物質の含有率を簡易に測定することができる。なお、本発明に係るX線回折を用いた結晶相の定量方法では、被検成分iの等量混合物を参照試料とすることによってより簡易な定量が可能となる。すなわち、被検成分iの等量混合物では、各被検成分iの質量比率Wiが等しくなるため、被検成分i間のX線回折強度Iiの比率は定数Kiの比率に相当することになる。詳しくは、被検成分iの等量混合物ではs/Wsiは定数となるため、既述の数式3においてこれを定数bと表せば、定数Kiは以下に示す数式7のように表される。これにより、数式1の定数Kiに数式7を代入することによって、被検成分iの質量比率Wiは以下に示す数式8のように表される。数式8中の/bは定数であるからこれを定数cと表すことによって、被検成分iの質量比率Wiは以下に示す数式9のように表される。従って、被検成分iの等量混合物を参照試料とすることによって、被定量試料中の被検成分iのX線回折強度を参照試料中の被検成分iのX線回折強度で除算して、除算値を各被検成分iの指標値として算出し、各被検成分iの指標値を全被検成分iの指標値の和で除算した値を被検成分iの含有率として算出することができる。また、各被検成分の指標値の比をもって各被検成分の含有率の比を求めることができる。なお、定量に用いるX線回折ピークとしては、他の被検成分のX線回折ピークと重ならず、且つ、強度の強いX線回折ピークを用いることが望ましい。また、定量に用いるX線回折ピークは被検成分i毎に複数用いてもよい。すなわち、試料配向の影響で、理想的な無配向試料のピーク強度比とは異なる場合、定量値の確かさが低下するが、複数の回折ピークを用いることで、試料配向の影響を軽減できる場合がある。この際、1つ以上の結晶質相について、複数の異なる面指数によるX線回折の定量強度と参照強度を測定し、それぞれの面指数において、定量強度を参照強度で除算した値を求め、次に、各面指数における除算値の平均値を求め、次に、これら平均値に参照試料における各結晶質相の含有率を乗算した値をその結晶質相の指標値として算出することができる。X線回折を用いた結晶相の定量方法次に、図1を参照して、本発明の一実施形態であるX線回折を用いた結晶相の定量方法について説明する。図1は、本発明の一実施形態であるX線回折を用いた結晶相の定量方法の流れを示すフローチャートである。本発明の一実施形態であるX線回折を用いた結晶相の定量方法では、始めに、複数の結晶質相被定量物質、被検物質の含有率が既知である参照試料における各結晶質相のX線回折強度Isiを参照強度として測定するステップS1。次に、被定量試料における各結晶質相のX線回折強度Iiを定量強度として測定するステップS2。そして、各結晶質相の定量強度Iiを各結晶質相の参照強度Isiで除算し、各結晶質相の除算値に参照試料における各結晶質相の質量比率Wsiを乗算した値を各結晶質相の指標値として算出し、各結晶質相の指標値の比をもって各結晶質相の含有率の比とする、又は、各結晶質相の指標値を全結晶質相の指標値の和で除算した値を被定量試料における各結晶質相の含有率として一度に算出するステップS3。このような本発明の一実施形態であるX線回折を用いた結晶相の定量方法によれば、内部標準物質は不必要であり、また、検量線を作成する必要もない。また、参照試料のX線回折強度を理論計算によって算出する場合であっても、被定量物質の純物質を混合した場合のX線回折強度を一旦算出するだけで済む。従って、本発明の一実施形態であるX線回折を用いた結晶相の定量方法によれば、X線回折法を利用して材料を構成する複数の結晶質相の含有率を簡易に測定することができる。実施例1アナターゼAnatase、ルチルRutile、及び窒化チタンTiNを以下の表1に示す比率で混合し、等量混合物試料及び被定量試料を作製した。試料の配向を極力減らすよう、試料になるべく圧力を加えないようにして試料ホルダーに試料を充填し作製した各試料のX線回折図形をθ-2θ法で試料を面内回転させて測定した。X線源にはCuKα線を用いた。定量にはアナターゼ、ルチル、及び窒化チタンでそれぞれ101、110、200反射を用いた。但し、定量に用いる反射については、これに限定されるものではない。以下の表1に等量混合物試料及び被定量試料のX線回折強度を示す。なお、被定量試料中におけるアナターゼ、ルチル、及び窒化チタンの定量値は、等量混合物試料におけるアナターゼ、ルチル、及び窒化チタンのX線回折強度はそれぞれAs、Rs、Tsとし、被定量試料におけるアナターゼ、ルチル、及び窒化チタンのX線回折強度はそれぞれAi、Ri、Tiとして、以下に示す数式10~12により算出した。表1に示すように、本発明に係る定量方法により算出された定量値は、各成分の混合比率とよく一致している。これにより、本発明に係るX線回折を用いた結晶相の定量方法によれば、X線回折法を利用して材料を構成する物質の含有率を簡易に測定できることが確認された。実施例2試料によっては、試料配向に起因して定量値の確からしさが低下することが考えられるが、その場合、以下に示すように、複数の回折線を用いることで試料配向の影響を軽減できる場合がある。具体的には、本実施例2では、アナターゼAnatase、ルチルRutile、及び窒化チタンTiNを表2に示す比率で混合し、等量混合物試料及び被検試料を作製した。本実施例2の被検試料に関しては、実施例1のような試料配向を回避するような試料調製方法を用いなかった。これら供試材のX線回折図形をθ-2θ法で測定した。本実施例2では、等量混合試料を除き、測定の際に試料面内回転をしなかった。X線源にはCuKα線を用いた。アナターゼ、ルチル、及び窒化チタンについてそれぞれ101、110、200反射を用いて定量した。ルチルについては特に試料配向の影響が認められたため、110以外に、101、111の3本の回折線を用いた定量も行った。なお、測定条件、定量に用いる反射については、これらに限定されるものではない。表2に等量混合物試料及び被検試料の回折強度を示す。ここで、等量混合試料におけるアナターゼ、ルチル、及び窒化チタンの回折強度をそれぞれAs、Rs、Tsとし、被検試料におけるアナターゼ、ルチル、及び窒化チタンの回折強度をそれぞれAi、Ri、Tiとし、被検試料中のアナターゼ、ルチル、及び窒化チタンの定量値は、数式10~12により算出した。ルチルについては、回折線として110反射のみを用いて定量した結果と3本の回折線を用いて定量した結果とを表3に示した。3本の回折線を用いた場合は、それぞれの場合のRi/Rsを3つ求め、それらを平均した値をルチルのRi/Rsとして、数式10~12によりアナターゼ、ルチル、及び窒化チタンの定量値を算出した。本実施例2では、表3に示すように、ルチルの110反射のみを用いた場合、試料配向の影響によって定量値と実際の混合比率との乖離が認められた。一方、ルチルの3本の反射を用いた場合には混合比率に良く一致する定量値が得られた。以上のことから、本発明の方法によれば、内部標準物質を被検試料に混合することなく、且つ、被検試料のX線回折図形に対してプロファイルフィッティングをすることなく、且つ、成分毎に検量線を作製することなく、定量が可能であることが確認された。