消耗電極と母材との間でアーク発生状態と短絡状態とを繰り返す消耗電極アーク溶接にあって、短絡状態からアークが再発生する前兆現象である溶滴のくびれ現象を消耗電極と母材との間の電圧値又は抵抗値の変化がくびれ検出基準値に達したことによって検出し、このくびれ現象を検出すると短絡負荷に通電する溶接電流を減少させて低電流値の状態でアークが再発生するように出力制御する消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法において、短絡ごとに前記くびれ現象検出時点からアーク再発生時点までのくびれ検出時間を検出し、このくびれ検出時間が予め定めた下限時間以下であるときはカウンタ値から1を減算し、前記くびれ検出時間が前記下限時間よりも長い時間である予め定めた上限時間以上であるときは前記カウンタ値に1を加算し、前記カウンタ値が予め定めた負の値であるマイナス基準値に達したときは前記くびれ検出基準値を予め定めた減少値だけ減少させると共に前記カウンタ値を0にリセットし、前記カウンタ値が予め定めた正の値であるプラス基準値に達したときは前記くびれ検出基準値を予め定めた増加値だけ増加させると共に前記カウンタ値を0にリセットし、溶接中は前記くびれ検出基準値の修正を継続する、ことを特徴とする消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法。前記減少値を前記カウンタ値が0にリセットされた時点から前記マイナス基準値に達するまでの時間に応じて変化させ、前記増加値を前記カウンタ値が0にリセットされた時点から前記プラス基準値に達するまでの時間に応じて変化させる、ことを特徴とする請求項1記載の消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法。前回の短絡が開放されてアークが再発生した時点から所定期間内に短絡が発生したときは、この短絡の前記くびれ検出時間に基づいて前記カウンタ値の増減を行わない、ことを特徴とする請求項1又は2記載の消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法。上述した特許文献2及び3の発明を適用することによって溶接条件に応じてくびれ検出基準値を自動的に適正化することができる。ところで、送給速度が比較的低速であるとき溶接電流平均値が約200A未満であるときには、溶滴移行形態は短絡移行形態になり、短絡期間とアーク期間とが規則正しく繰り返されるので、くびれの発生状態も安定している。このような状況下においては、特許文献2及び3の発明によってくびれ検出基準値を速やかに適正値に収束させることができる。しかし、送給速度が比較的高速溶接電流平均値が約200A以上になると、溶滴移行形態はグロビュール移行形態になり、短絡が不規則に発生するようになるので、くびれの発生状態も変動が大きくなる。このために、くびれ検出時間が下限時間以下である短絡が発生した次の短絡ではくびれ検出時間が上限時間以上となるような状態も生じる。このようにくびれ発生状態の変動が大きいときに、特許文献2及び3の発明を適用すると、くびれ検出基準値が大きく変動して適正値に収束しない状態になる場合が生じる。この結果、スパッタ発生量の抑制効果は小さくなり、くびれ検出制御によって溶接状態が不安定になる場合も生じる。くびれ発生状態の変動が大きい溶接条件としては、上記の場合以外にも、溶接速度が速いとき、溶接ワイヤの材質がステンレス鋼であるとき、ワイヤ突出し長さが比較的長いとき等の場合がある。そこで、本発明では、くびれ発生状態の変動が大きい溶接条件においても、くびれ検出基準値を適正値に迅速に収束させることができる消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法を提供することを目的とする。上述した課題を解決するために、請求項1の発明は、消耗電極と母材との間でアーク発生状態と短絡状態とを繰り返す消耗電極アーク溶接にあって、短絡状態からアークが再発生する前兆現象である溶滴のくびれ現象を消耗電極と母材との間の電圧値又は抵抗値の変化がくびれ検出基準値に達したことによって検出し、このくびれ現象を検出すると短絡負荷に通電する溶接電流を減少させて低電流値の状態でアークが再発生するように出力制御する消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法において、短絡ごとに前記くびれ現象検出時点からアーク再発生時点までのくびれ検出時間を検出し、このくびれ検出時間が予め定めた下限時間以下であるときはカウンタ値から1を減算し、前記くびれ検出時間が前記下限時間よりも長い時間である予め定めた上限時間以上であるときは前記カウンタ値に1を加算し、前記カウンタ値が予め定めた負の値であるマイナス基準値に達したときは前記くびれ検出基準値を予め定めた減少値だけ減少させると共に前記カウンタ値を0にリセットし、前記カウンタ値が予め定めた正の値であるプラス基準値に達したときは前記くびれ検出基準値を予め定めた増加値だけ増加させると共に前記カウンタ値を0にリセットし、溶接中は前記くびれ検出基準値の修正を継続する、ことを特徴とする消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法である。請求項2の発明は、前記減少値を前記カウンタ値が0にリセットされた時点から前記マイナス基準値に達するまでの時間に応じて変化させ、前記増加値を前記カウンタ値が0にリセットされた時点から前記プラス基準値に達するまでの時間に応じて変化させる、ことを特徴とする請求項1記載の消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法である。請求項3の発明は、前回の短絡が開放されてアークが再発生した時点から所定期間内に短絡が発生したときは、この短絡の前記くびれ検出時間に基づいて前記カウンタ値の増減を行わない、ことを特徴とする請求項1又は2記載の消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法である。本発明によれば、くびれ検出時間の傾向をカウンタ値によって判別し、その傾向が所定状態以上になったときにくびれ検出基準値を修正するようにしている。すなわち、カウンタ値がマイナス基準値以下になったときはくびれ検出時間が傾向として適正範囲よりも短い状態にあると判別して、くびれ検出基準値を減少させて感度を高めるようにしている。カウンタ値がプラス基準値以上になったときはくびれ検出時間が傾向として適正範囲よりも長い状態にあると判別して、くびれ検出基準値を増加させて感度を低くするようにしている。このようにすることによって、くびれ発生状態の変動が大きい溶接条件においても、迅速かつ安定にくびれ検出基準値を適正化することができる。このために、スパッタ発生量の抑制効果を大きくすることができ、溶接状態も安定にすることができる。以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。[実施の形態1]本発明の実施の形態1に係るくびれ検出制御方法では、短絡ごとにくびれ検出時間Tnを検出し、このくびれ検出時間Tnが下限時間Lt以下であるときはカウンタ値Cnから1を減算し、上限時間Ht以上であるときはカウンタ値Cnに1を加算し、カウンタ値がマイナス基準値Lcに達したときはくびれ検出基準値Vtnを減少値Δdだけ減少させると共にカウンタ値Cnを0にリセットし、カウンタ値Cnがプラス基準値Hcに達したときはくびれ検出基準値Vtnを増加値Δuだけ増加させると共にカウンタ値Cnを0にリセットし、溶接中は上述したくびれ検出基準値Vtnの修正を継続して行う。以下、この実施の形態1について説明する。図1は、本発明の実施の形態1に係る消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法を実施するための溶接装置のブロック図である。同図は図6と対応しており、同一のブロックには同一符号を付して、それらの説明は省略する。同図は、図6に破線で示すカウンタ回路CN、カウンタ値判別回路CD、減少値設定回路DD及び増加値設定回路DUを追加し、図6のくびれ検出基準値設定回路VTNを破線で示すくびれ検出基準値設定修正回路VTNSに置換したものである。以下、これらのブロックについて同図を参照して説明する。カウンタ回路CNは、くびれ検出信号Nd及びリセット信号Rsを入力として、このくびれ検出信号NdがHighレベルになっている時間くびれ検出時間Tnを計測し、このくびれ検出時間Tnが予め定めた下限時間Lt以下であるときはカウンタ値から1を減算し、くびれ検出時間Tnが予め定めた上限時間Ht以上であるときはカウンタ値に1を加算して、カウンタ値信号Cnを出力する。また、このカウンタ回路CNは、リセット信号Rsが入力されるとカウンタ値を0にリセットする。カウンタ値信号Cnの値がカウンタ値となる。カウンタ値は、溶接開始時に初期値0になっている。当然ながら、上限時間Htは下限時間よりも長い時間に設定される。上記の下限時間Ltは、0~200μs程度の範囲で設定される。また、上限時間Htは、500~800μs程度の範囲に設定される。これらの設定値は、溶接条件に応じて適正値になるように実験によって決定する。減少値設定回路DDは、予め定めた減少値信号Δdを出力する。増加値設定回路DUは、予め定めた増加値信号Δuを出力する。カウンタ値判別回路CDは、この減少値信号Δd、増加値信号Δu及び上記のカウンタ値信号Cnを入力として、カウンタ値信号Cnの値が予め定めたマイナス基準値Lc以下になった時点で減少値信号Δdを修正信号Δudとして出力すると共にリセット信号Rsを出力し、カウンタ値信号Cnの値が予め定めたプラス基準値以上になった時点で増加値信号Δuを修正信号Δudとして出力すると共にリセット信号Rsを出力する。上記のマイナス基準値Lcは負の値に設定され、例えば-5~-20程度の範囲で設定される。また、上記のプラス基準値Hcは正の値に設定され、例えば5~20程度の範囲に設定される。これらの設定値は、くびれ発生状態の変動の大きさに応じて、実験によって適正値に決定される。マイナス基準値Lcとプラス基準値Hcの絶対値は必ずしも同一値である必要はない。上記の減少値信号Δdの値は負の値に設定され、その絶対値は例えばくびれ検出基準値の初期値Vtn0の10~30程度の範囲に設定される。上記の増加値信号Δuの値は正の値に設定され、例えばくびれ検出基準値の初期値Vtn0の10~30程度の範囲に設定される。これらの設定値はフィードバック系のゲインに相当するので、くびれ検出基準値Vtnの修正状態の過渡応答性及び定常安定性を考慮して、実験によって設定される。くびれ検出基準値設定修正回路VTNSは、上記の修正信号Δudを入力として、修正信号Δudの値に基づいて修正を行いくびれ検出基準値信号Vtnを出力する。Vtn=Vtn0ΣΔudである。ここで、Vtn0は初期値である。また、Δudの加算は修正信号Δudが入力されるごとに行う。上記のブロックの動作を整理すると、くびれ検出基準値Vtnの修正方法は以下のようになる。1短絡ごとにくびれ検出時間Tnを検出する。2Tn≦LtのときはCn-1を行い、Lt<Tn<HtのときはCn0を行い、Tn≧HtのときはCn1を行う。ここで、Ltは下限時間であり、Htは上限時間であり、Cnはカウンタ値である。カウンタ値Cnは溶接開始時に0にリセットされる。3Cn≦Lcになった時点で修正信号Δud=Δdを出力すると共にCnを0にリセットする。Cn≧Hcになった時点で修正信号Δud=Δuを出力すると共にCnを0にリセットする。ここで、Lcはマイナス基準値であり、Hcはプラス基準値であり、Δdは減少値であり、Δuは増加値である。4くびれ検出基準値Vtn=Vtn0ΣΔudを行い、くびれ検出基準値Vtnを修正する。ここで、Vtn0は初期値である。5上記1~4の修正動作を溶接中継続する。上述したようにくびれ発生状態の変動が大きい溶接条件においては、短絡ごとのくびれ検出時間Tnは大きく変動する。第n回目の短絡におけるくびれ検出時間Tnが下限時間Lt以下であり、第n1回目の短絡におけるくびれ検出時間Tnが上限時間Ht以上になり、第n2回目の短絡におけるくびれ検出時間Tnが下限時間Ltと上限時間Htとの間の適正範囲になるような場合が生じる。このようにくびれ検出時間Tnの変動が大きい場合に、上述した従来技術を適用すると、くびれ検出時間Tnの変動に対して過剰に反応してくびれ検出基準値Vtnが大きく変動することになる。このような状態になると溶接状態は不安定になっていた。これに対して、上述した実施の形態1によれば、短絡ごとのくびれ検出時間Tnに対して直接にくびれ検出基準値Vtnを修正することはない。くびれ検出時間Tnの傾向をカウンタ値Cnによって判別し、その傾向が所定状態以上になったときにくびれ検出基準値Vtnを修正するようにしている。すなわち、カウンタ値Cnがマイナス基準値Lc以下になったときはくびれ検出時間Tnが傾向として適正範囲よりも短い状態にあると判別して、くびれ検出基準値Vtnを減少させて感度を高めるようにしている。カウンタ値Cnがプラス基準値Hc以上になったときはくびれ検出時間Tnが傾向として適正範囲よりも長い状態にあると判別して、くびれ検出基準値Vtnを増加させて感度を低くするようにしている。このようにすることによって、くびれ発生状態の変動が大きい溶接条件においても、迅速かつ安定にくびれ検出基準値Vtnを適正化することができる。このために、スパッタ発生量の抑制効果を大きくすることができ、溶接状態も安定にすることができる。[実施の形態2]本発明の実施の形態2に係るくびれ検出制御方法では、上記の減少値Δdを上記のカウンタ値Cnが0にリセットされた時点から上記のマイナス基準値Lcに達するまでのマイナス基準値到達時間Tdに応じて変化させ、上記の増加値Δuを上記のカウンタ値Cnが0にリセットされた時点から上記のプラス基準値Hcに達するまでのプラス基準値到達時間Tuに応じて変化させる。以下、この実施の形態2について説明する。図2は、実施の形態2に係る消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法を実施するための溶接装置のブロック図である。同図は、上述した図6及び図1と対応しており、同一のブロックには同一符号を付して、それらの説明は省略する。同図は、図1に破線で示す基準値到達時間計測回路TUDを追加し、図1の減少値設定回路DDを破線で示す減少値設定修正回路DDSに置換し、増加値設定回路DUを破線で示す増加値設定修正回路DUSに置換したものである。以下、これらのブロックについて同図を参照して説明する。基準値到達時間計測回路TUDは、カウンタ値信号Cnを入力として、カウンタ値信号Cnの値が0にリセットされた時点からマイナス基準値Lcに達するまでの時間を計測してマイナス基準値到達時間信号Tdとして出力し、カウンタ値信号Cnの値が0にリセットされた時点からプラス基準値Hcに達するまでの時間を計測してプラス基準値到達時間信号Tuとして出力する。減少値設定修正回路DDSは、上記のマイナス基準値到達時間信号Tdを入力として、予め定めた減少値修正関数に従って算出した減少値信号Δdを出力する。増加値設定修正回路DUSは、上記のプラス基準値到達時間信号Tuを入力として、予め定めた増加値修正関数に従って算出した増加値信号Δuを出力する。上記の減少値修正関数の一例を図3に示す。図3は、マイナス基準値到達時間Tdを入力として減少値Δdを算出する減少値修正関数の一例を示す図である。同図の横軸はマイナス基準値到達時間Tdmsを示し、縦軸は減少値ΔdVを示す。同図に示すように、減少値Δdは、0ms≦Td<10msの範囲は一定値の-0.1Vであり、10ms≦Td<50msの範囲は右肩上がりの直線状に変化し、50ms≦Tdの範囲は一定値の-0.01Vとなる。すなわち、マイナス基準値到達時間Tdが長くなると減少値Δdの絶対値は概ね小さくなるように変化する。このようにする理由は、以下のとおりである。マイナス基準値到達時間Tdが短い場合には、くびれ検出時間Tnが下限時間Lt以下である短絡が頻発して発生している状態である。このような状態は、くびれ検出基準値Vtnが適正値よりも相当に大きいときであるので、減少値Δdの絶対値を大きくしてくびれ検出基準値Vtnを大幅に小さくするようにしている。くびれ検出基準値Vtnの修正制御系において、ゲインを大きくしていることになる。これにより、過渡応答性を高速化している。逆に、マイナス基準値到達時間Tdが長い場合には、くびれ検出時間Tnが下限時間Lt以下である短絡がときたま発生している状態である。このような状態は、くびれ検出基準値Vtnが適正値よりも少し大きいときであるので、減少値Δdの絶対値を小さくしてくびれ検出基準値Vtnを小幅に小さくするようにしている。くびれ検出基準値Vtnの修正制御系において、ゲインを小さくしていることになる。これにより、定常安定性を良好にしている。同図の変化カーブは一例であり、曲線状、直線状、階段状に変化するようにしても良い。増加値修正関数についても、上述した図3と同一である。但し、横軸はプラス基準値到達時間Tumsに置換され、縦軸は増加値ΔuVに置換される。横軸については同一であるが、縦軸の増加値Δuは正の値となる。したがって、増加値Δuは、減少値Δdとその絶対値は同一であるが、符号が異なることになる。作用効果についても、図3と同様である。もちろん、減少値Δdと増加値Δuとで絶対値の変化カーブを異なるように設定しても良い。減少値修正関数及び増加値修正関数は、くびれ発生状態の変動の大きさに応じて適正な関数に設定される。この設定は、実験によって行なう。上述した実施の形態2によれば、減少値をカウンタ値が0にリセットされた時点からマイナス基準値に達するまでの時間に応じて変化させ、増加値をカウンタ値が0にリセットされた時点からプラス基準値に達するまでの時間に応じて変化させる。これにより、実施の形態1の効果に加えて、くびれ検出基準値の修正制御系におけるゲインを可変にすることができるので、過渡応答性及び定常安定性を向上させることができる。[実施の形態3]本発明の実施の形態3に係るくびれ検出制御方法では、上述した実施の形態1及び2に追加して、前回の短絡が開放されてアークが再発生した時点から所定期間Ti内に短絡が発生したときは、この短絡のくびれ検出時間Tnに基づいてカウンタ値Cnの増減を行わないようにしたものである。以下、この実施の形態3について説明する。図4は、本発明の実施の形態3に係る消耗電極アーク溶接のくびれ検出制御方法を実施するための溶接装置のブロック図である。同図は図6及び図1と対応しており、同一のブロックには同一符号を付して、それらの説明は省略する。同図は、図1に破線で示す短絡/アーク判別回路SA及びダブル短絡判別回路SSを追加し、図1のカウンタ回路CNを破線で示す第2カウンタ回路CN2に置換したものである。以下、これらのブロックについて同図を参照して説明する。短絡/アーク判別回路SAは、溶接電圧Vwを入力として、この値が予め定めた短絡/アーク判別基準値Vta未満のときは短絡期間であると判別してHighレベルとなり、以上のときはアーク期間であると判別してLowレベルになる短絡/アーク判別信号Saを出力する。この短絡/アーク判別基準値Vtaは10V程度に設定される。ダブル短絡判別回路SSは、この短絡/アーク判別信号Saを入力として、この信号がHighレベル短絡に変化した時点において、この信号が前回Lowレベルアークに変化した時点から今回Highレベル短絡に変化した時点までの時間アーク期間の長さを計測し、この計測した時間が所定期間Ti未満であるときはHighレベルに変化し、以上であるときはLowレベルに変化するダブル短絡判別信号Ssを出力する。すなわち、前回の短絡が開放されてアークが再発生した時点から所定期間Ti内に今回の短絡が発生したときは、短いアーク期間を挟んで2回の短絡ダブル短絡が発生したと判別して、ダブル短絡判別信号SsをHighレベルにセットする。所定期間Tiは、例えば100~500μs程度に設定される。この値は、溶接法、溶接ワイヤの種類、送給速度等に応じて適正値になるように、実験によって設定される。第2カウンタ回路CN2は、くびれ検出信号Nd、リセット信号Rs及び上記のダブル短絡判別信号Ssを入力として、くびれ検出信号NdがHighレベルになっている時間くびれ検出時間Tnを計測し、ダブル短絡判別信号SsがLowレベルであり、くびれ検出時間Tnが予め定めた下限時間Lt以下であるときはカウンタ値から1を減算し、くびれ検出時間Tnが予め定めた上限時間Ht以上であるときはカウンタ値に1を加算して、カウンタ値信号Cnを出力する。この第2カウンタ回路CN2は、リセット信号Rsが入力されるとカウンタ値を0にリセットする。カウンタ値信号Cnの値は、以下のように変化することになる。1Ss=LowレベルかつTn≦LtのときはCnは1だけ減算される。2Ss=LowレベルかつTn≧HtのときはCnは1だけ加算される。3Ss=LowレベルかつLt<Tn<HtのときはCnは増減されない。4Ss=HighレベルのときはTnの値によらずCnは増減されない。同図は、実施の形態1の図1を基礎として実施の形態3の発明を追加したものであるが、実施の形態2の図2を基礎として実施の形態3の発明を追加する場合も同様である。上述したように、実施の形態3では、実施の形態1及び2とは異なり、ダブル短絡が発生したときは、くびれ検出時間によらずカウンタ値を増減させないようにしている。ダブル短絡とは、上述したように、前回の短絡が開放されてアークが再発生してから短い所定期間Ti内に次の短絡が発生する状態である。すなわち、短い時間の瞬時アークが発生して直ぐに再び短絡が発生する状態である。このようなダブル短絡は、溶融池の不規則な運動、溶接ワイヤの送給速度の変動、アークが再発生したときのアークの状態等の種々な要因に起因して時々発生することになる。ダブル短絡は、短い瞬時アークの後に発生するので、通常の短絡発生時とは異なり、溶接ワイヤの先端が溶融して溶滴を形成する時間がない。このために、ダブル短絡が発生したときには、溶接ワイヤの先端がほとんど溶融していない状態で溶融池と短絡することになる。このような短絡では、溶滴にくびれが形成されて溶滴が移行する通常の状態ではなく、溶接ワイヤの突出し部に溶接電流が通電してジュール熱によって発熱して溶断し、アークが再発生する状態となる。したがって、このようなダブル短絡時のくびれ検出時間Tnに基づいてカウンタ値を増減させると、くびれ検出基準値の修正制御系を不安定化することになる。これを防止するために、ダブル短絡時は、くびれ検出時間にかかわらずカウンタ値を増減させないようにしている。上述した実施の形態3によれば、前回の短絡が開放されてアークが再発生した時点から所定期間内に短絡ダブル短絡が発生したときは、この短絡のくびれ検出時間に基づいてカウンタ値の増減を行わないようにしている。これにより、ダブル短絡発生に伴ってくびれ検出基準値の修正制御系が不安定になることを抑制することができる。したがって、くびれ検出基準値を迅速かつ安定して適正値に収束させることができる。