対象物のある領域の画像を構築するための画像データを提供する方法であって、対象物に放射源から入射放射を提供する工程と、少なくとも一つの検出器によって、前記対象物によって散乱された放射の一部を検出する工程と、前記検出された放射に応じて反復処理により画像データを提供する工程と、を備え、前記反復処理は、前記検出器の平面での散乱された放射の波面を推定する工程と、前記検出された放射に基づいて前記波面の一部を更新する工程と、前記推定された波面の一部を実質的に変化させないでおく工程と、前記対象物によって散乱され、かつ、前記検出器によって検出されない放射の一部に対応する、前記波面の一部を一つ以上の値に設定する工程と、前記更新された波面に基づいて画像データを提供する工程と、を備える、方法。前記検出する工程は、第一及び第二の位置における前記入射放射又は開口を使用して、前記対象物によって散乱される放射の一部を検出する工程を含む、請求項1に記載の方法。前記推定された波面の実質的に変化されない部分は、一つ以上の値に設定される前記波面の部分よりも相対的に大きい、請求項1又は2に記載の方法。前記一つ以上の値は、所定の値である、請求項1、2又は3に記載の方法。前記一つ以上の値は、一つ以上の関数により決定される値である、請求項1、2又は3に記載の方法。前記対象物によって散乱され、かつ、前記検出器によって検出されない放射の一部に対応する、前記波面の一部は、前記波面の少なくとも一部の周辺領域である、請求項1から5のいずれかに記載の方法。前記周辺領域は、前記波面の方に複数画素を拡張する、請求項6に記載の方法。前記対象物の少なくともある領域の少なくとも一つの特性を示す物体関数と、前記対象物又は前記開口への入射放射の少なくとも一つの特性を示すプローブ関数と、の少なくとも一つを推定する工程と、前記物体関数および前記プローブ関数に基づいて、前記少なくとも一つの検出器の平面での波面を推定する工程と、を更に備える、請求項1から7のいずれかに記載の方法。前記波面の一部を更新する工程は、前記検出された放射に応じて、前記波面の絶対値を更新する工程を含む、請求項1から8のいずれかに記載の方法。前記推定された波面の一部は、により前記検出放射に基づいて更新され、ここで、Isuは、プローブ位置sjについての放射の検出強度である、請求項1から9のいずれかに記載の方法。前記検出された放射に基づく前記波面の前記更新された部分は、おおよそ中心部に位置する、請求項1から10のいずれかに記載の方法。前記反復処理に使用する、散乱放射の一部の測定用の、入射放射又は開口の位置の順番を決定する工程を備える、請求項1から11のいずれかに記載の方法。前記決定された順番は、ランダム又は疑似ランダムである、請求項12に記載の方法。前記順番は、不連続パターンである、請求項12又は13に記載の方法。前記第一及び第二の位置の間で、前記入射放射又は前記開口のサブピクセルシフトの値を決定する工程を備える、請求項2に従属する請求項のいずれかに記載の方法。前記サブピクセルシフトの値に基づいて、前記プローブ関数の変換に位相ランプを適用する工程を備える、請求項8及び15に従属する請求項のいずれかに記載の方法。前記対象物によって散乱された放射を、前記少なくとも一つの検出器の開口を超えて拡張させる工程を備える、請求項1から16のいずれかに記載の方法。前記拡張させる工程は、拡散器を前記放射と相互に影響し合うよう配置する工程を含み、それによって、前記少なくとも一つの検出器の開口を超えて散乱された放射を拡張する、請求項17に記載の方法。前記拡散器は、前記放射の目標前方の経路か、又は前記散乱された放射の経路に配置される、請求項18に記載の方法。対象物のある領域の画像を構築するための画像データを提供する装置であって、前記対象物によって散乱された放射の強度を検出するための少なくとも一つの検出器と、前記検出された放射に応じて反復処理により画像データを提供するよう配置される処理手段と、を備え、前記反復処理は、前記検出器の平面での散乱された放射の波面を推定する工程と、前記検出された放射に基づいて、前記波面の一部を更新する工程と、前記推定された波面の一部を実質的に変化させないでおく工程と、前記対象物によって散乱され、かつ、前記検出器によって検出されない放射の一部に対応する、前記波面の一部を一つ以上の値に設定する工程と、前記更新された波面に基づいて画像データを提供する工程とを含む、装置。少なくとも第一及び第二の部分の間で、入射放射又は開口を移動させる手段を備える、請求項20に記載の装置。前記一つ以上の値は、一つ以上の関数により決定される値である、請求項20又は21に記載の装置。前記一つ以上の値は、所定の値である、請求項20又は21に記載の装置。前記対象物によって散乱され、かつ、前記検出器によって検出されない放射の一部に対応する、前記波面の一部は、前記波面の少なくとも一部の周辺領域である、請求項20から23のいずれかに記載の装置。さらに、処理手段が配置されており、前記処理手段は、前記対象物の少なくともある領域の少なくとも一つの特性を示す物体関数及び/又は前記対象物又は前記開口への入射放射の少なくとも一つの特性を示すプローブ関数との少なくとも一つの性質を推定し、前記物体関数および前記プローブ関数に基づいて、前記少なくとも一つの検出器の平面での波面を推定する、請求項20から24のいずれかに記載の装置。前記検出された放射に応じて、前記波面の一部の絶対値を更新するように、処理手段が配置されている、請求項20から25のいずれかに記載の装置。前記波面の一部は、で置き換えられ、ここで、Isuは、プローブ位置jについての放射の検出強度である、請求項26に記載の装置。前記検出された放射に基づく前記波面の前記更新された部分は、おおよそ中心部に位置する、請求項20から27のいずれかに記載の装置。前記放射と相互に影響し合うように配置された拡散器を備え、前記散乱された放射を前記少なくとも一つの検出器の開口を超えて拡張する、請求項20から28のいずれかに記載の装置。前記拡散器は、前記放射の目標前方の経路か、又は前記散乱された放射の経路に配置される、請求項29に記載の装置。図1は、本発明の実施形態に係る装置100を示す図である。本装置は、物体の少なくともある領域の画像を生成するために使用され得る、物体の画像データを提供するのに好適であるが、これに限定されない。装置100は、拡散器10、開口20、一対のレンズ30a、30b、及び入射放射を検出するための放射検出器50を備える。放射源は、図1には示していないが、拡散器10に当たって最終的には対象物40のある領域を照らす放射60の源である。放射という用語は、広く解釈すべきであることを理解されたい。放射という用語は、各種の波面を含む。放射には、放射源からのエネルギーが含まれる。これには、X線、電子などの放射粒子を含む電磁放射が含まれる。他の種類の放射として、音波等の音響放射が含まれる。このような放射は、波動関数Ψrによって表すことができる。この波動関数は、当業者には明らかなように、実部と虚部を含む。これは、波動関数の絶対値modulusと位相とによって表すことができる。Ψrは、Ψrの複素共役であって、ΨrΨr=|Ψr|2であり、ここで、|Ψr|2が波動関数に関して測定される強度である。拡散器10は、ある範囲の位相勾配を放射60に導入するため、即ち、放射の位相を無作為にするために設けられる。拡散器10は、多くの材料から形成可能である。幾つかの実施形態では、拡散器10が、一以上の層のプラスチック膜によって形成される。単層のプラスチック膜は、弱い拡散器として使用可能である一方、二層以上はより強い拡散器を形成するよう使用可能である。以下に述べるように、拡散器10は、検出器50の範囲を超えて回折パターンを拡大させるのに役立つ。従って、対象物40と検出器50と間の距離zは、拡散器10の強度に応じたものとすればよい。例えば、弱い拡散器の場合には、z=86mmの距離を利用し、一方、より強い拡散器の場合には、z=94.4mmの距離を利用すればよいが、当然のことながら、これらは単なる例示的な距離である。図1を参照して説明される実施形態において、拡散器10は、プローブ20の手前、即ち、プローブより先に照らされるように配置される。ただし、拡散器10を別の代替的な位置に配置してもよく、例えば、後続の、即ちプローブ20の下流であって、プローブ20のすぐ近隣又は更に下流等に配置してもよい。装置100に拡散器10を含めることにより、結果として得られる回折パターンのダイナミックレンジが減少することにもなる。大半の検出器のダイナミックレンジは限定されているので、回折パターンのダイナミックレンジが減少することにより、決定される回折パターンについてのより忠実な表現が可能となる。更に、試料40に入射する放射が全ての回折角に対して、より均等に広がると、画像データを提供する際に必要な入射束を減少でき、これにより対象物40に損傷を与える可能性を減少させることができる。任意の伝達関数を有する任意の種類の拡散器10を使用可能である。当業者には明らかなように、拡散器は、使用される放射の特性及び所望の拡散効果に応じて選択する。例えば、可視光の場合には、拡散器は、すりガラスを備えてもよい。当然ながら、拡散器10を含まない本発明の実施形態も想定可能である。図1に示した実施形態において、一対のレンズ30a、30bと開口20とが、対象物40のある領域を照らすよう配置されるプローブを形成する。図1に示したレンズ30a、30bは、4f構造に配置される。当然のことながら、本発明の実施形態は、一対のレンズ30a、30bを含まず、たった一つのレンズを含むか、又は別の配置の一つ以上のレンズを含むものを想定することもできる。対象物40に入射する照明光は、照明関数を形成するプローブ関数Prを表す。Prは、物体40の平面で計算されるこのような波動場の複素定常値complexstationaryvalueである。当然のことながら、目標40上で弱収束又は実際には強収束の照明ではなく、非収束の放射を、目標後方の開口と共に使用可能である。本実施形態において、開口は対象物の後方に配置されているため、これにより調査する目標のある領域が選択される。開口は、サポートを画定するようマスク内に形成される。サポートとは、ある関数のゼロではないエリアのことである。言い換えれば、サポートの外部では、関数はゼロとなる。サポートの外側では、マスクは、放射の透過を阻止する。開口という用語は、放射の局所的な透過関数を説明している。このことは、0と1との間の絶対値を有する二次元の複素変数によって表される。一例として、透過率が変化する物理的な開口領域を有するマスクが挙げられる。従って、入射放射は、対象物40の上流側に当たり、そして、伝達されるにつれて対象物40によって散乱される。対象物40は、入射放射に対して少なくとも部分的に透明であるべきである。対象物40は、何らかの繰り返し構造を有していても有していなくてもよい。或いは、散乱パターンが反射された放射に基づいて計測される場合には、対象物40は、全体的又は部分的に反射性のものであってもよい。従って、物体40との相互作用の後の放射の出射波動関数として波が形成される。Orは、二次元の複素物体/試料関数を表しており、Or内の各点が複素数と関連しており、rは二次元座標を示す。Orは、平面波によって照らされた物体から発する出射波を物理的に表すものと仮定する。例えば、電子散乱の場合、Orは、対象となる物体を通過した結果として入射波に導入される位相及び振幅の変化を表すことになる。開口20は、分析する物体の出射波動関数の一部を選択するプローブ関数Pr又は透過関数を提供する。当然のことながら、開口を選択するのではなく、透過回折格子やその他のこのようなフィルタ関数を物体関数の下流側に配置してもよい。プローブ関数Pr-Rは、照明波又は開口が位置Rにある場合の照明波又は開口透過関数である。プローブ関数は、プローブによってそれに入射する完全平面波に導入された絶対値及び位相の変化を表す絶対値及び位相によって与えられる複素数を備えた複素関数として表せる。更に当然のことながら、プローブ、試料関数は共に、三次元の複素関数、Ps及びOsであってもよく、Ps及びOsでの各点が複素数と関連しており、sは三次元座標を示す。出射波動関数uに基づいて更新される。引用文献で説明されているように、Ψjuは複素数値であるので、数式2のように表される。幾つかの実施形態において、検出器50の平面での波面Ψjuは、cMuを保存するよう配置される。データ処理装置740は、図3に示し、上述したような、本発明の実施形態に係る方法を実現する。データ処理装置は、決定した画像データをメモリ730に保存する。当然のことながら、本願発明の実施形態は、ハードウェア、ソフトウェア、または、ハードウェア及びソフトウェアの組み合わせの形態において実現され得る。かかるソフトウェアのいずれもが、消去可能であるか若しくは書き換え可能であるかにかかわらず、例えば、ROM等の記憶装置等の揮発性又は不揮発性の記憶装置の形態で記憶されるか、例えば、RAM、メモリチップ、デバイス又は集積回路等のメモリの形態で記憶されるか又は、例えば、CD、DVD、磁気ディスク若しくは磁気テープ等の光学又は磁気可読媒体において記憶される。当然のことながら、記憶装置及び記憶媒体は、プログラム又は複数のプログラムを記憶するのに適した機械可読記憶装置の実施形態であり、当該プログラムが実行されると、本発明の実施形態が実現される。従って、実施形態は、先のいずれかの請求項に記載されたシステム又は方法を実現するコードを含むプログラムと、かかるプログラムを記憶する機械読込可能な記憶装置とを提供する。更に、本発明の実施形態は、有線接続若しくは無線接続において伝達される通信信号等の任意の媒体を介して電子的に伝達され、実施形態はこれを適切に包含し得る。添付した特許請求の範囲、要約、及び図面のすべてを含む本明細書で開示された特徴のすべて、及び/又は、開示された任意の方法又は処理のステップのすべてが、かかる特徴及び/又はステップのうち少なくともいくつかが互いに排他的である組み合わせを除く、任意の組み合わせで組み合わされ得る。添付した特許請求の範囲、要約、及び図面のすべてを含む本明細書で開示された各々の特徴が、特に明記しない限り、同一、同等、又は類似の目的に有益である代替的特徴によって置換されてもよい。従って、特に明記しない限り、開示された各特徴は、包括的な一連の均等又は類似の特徴の一例である。本発明は、前述のいかなる実施形態の詳細にも限定されない。本発明は、添付した特許請求の範囲、要約、及び図面のすべてを含む本明細書で開示された特徴の任意の新規なもの、又は任意の新規な組合せに、又は、開示された任意の方法及び処理のステップの、任意の新規なもの、又は任意の新規な組合せに及ぶ。特許請求の範囲は、上記の実施形態のみに及ぶだけでなく、特許請求の範囲に記載された発明の範囲内の任意の実施形態にも及ぶものと、解釈されるべきである。