"小石粒を不良品試験サンプルとなし、予め整粒された米粒を良品試験サンプルとなして、これら不良品試験サンプルと良品試験サンプルとを所定割合で混合して調製したことを特徴とする光学式粒状物選別機における試験サンプル。前記不良品試験サンプル1重量部に対し、前記良品試験サンプル20~100重量部を混合してなる請求項1記載の光学式粒状物選別機における試験サンプル。小石粒を原料とし、該小石粒を篩機に通して粒径選別するとともに、該粒径選別された小石粒を光学式粒状物選別機に通して光学的に複数群に選別し、さらに、該複数群に選別された小石粒を粒状物品位検査装置に供給して小石粒の特徴づけを行う一方、該特徴づけられた小石粒を拾い集めて不良品試験サンプルを作製し、該不良品試験サンプルを、予め整粒された米粒からなる良品試験サンプルと所定割合で混合し調製したことを特徴とする光学式粒状物選別機における試験サンプルの製造方法。前記不良品試験サンプル1重量部に対し、前記良品試験サンプル20~100重量部を混合してなる請求項3記載の光学式粒状物選別機における試験サンプルの製造方法。本発明は上記問題点にかんがみ、仮に試験サンプルが良品側へ混入することがあっても、人への健康被害を起こす可能性が極めて小さい光学式粒状物選別機における試験サンプル及びその製造方法を提供することを技術的課題とする。上記課題を解決するため本発明は、小石粒を不良品試験サンプルとなし、予め整粒された米粒を良品試験サンプルとなして、これら不良品試験サンプルと良品試験サンプルとを所定割合で混合して調製した光学式粒状物選別機における試験サンプルとした。請求項2記載の発明によれば、前記不良品試験サンプル1重量部に対し、前記良品試験サンプル20~100重量部を混合して調製した試験サンプルとした。請求項3記載の発明によれば、小石粒を原料とし、該小石粒を篩機に通して粒径選別するとともに、該粒径選別された小石粒を光学式粒状物選別機に通して光学的に複数群に選別し、さらに、該複数群に選別された小石粒を粒状物品位検査装置に供給して小石粒の特徴づけを行う一方、該特徴づけられた小石粒を拾い集めて不良品試験サンプルを作製し、さらに、該不良品試験サンプルを、予め整粒された米粒からなる良品試験サンプルと所定割合で混合して調製することを特徴とする。請求項4記載の発明によれば、前記不良品試験サンプル1重量部に対し、前記良品試験サンプル20~100重量部を混合することを特徴とする。本発明によれば、小石粒を不良品試験サンプルとなし、予め整粒された米粒を良品試験サンプルとなして、これら不良品試験サンプルと良品試験サンプルとを所定割合で混合し調製することで光学式粒状物選別機における試験サンプルとしたものであり、不良品試験サンプルの原料として、従来技術のような人工的な素材を用いるのではなく、例えば、精米施設に設置されている石抜き機から排出された小石粒を用いることで、仮に不良品試験サンプルが良品側へ混入することがあっても、人への健康被害を起こす可能性が極めて小さく、安心安全な試験サンプルを提供することができる。また、請求項2記載の発明によれば、前記不良品試験サンプル1重量部に対し、前記良品試験サンプル20~100重量部を混合した光学式粒状物選別機における試験サンプルであり、例えば、不良品混入率1から5までの範囲に任意に調節した試験サンプルを提供することができる。請求項3記載の発明によれば、小石粒を原料とし、該小石粒を篩機に通して粒径選別するとともに、該粒径選別された小石粒を光学式粒状物選別機に通して光学的に複数群に選別し、さらに、該複数群に選別された小石粒を粒状物品位検査装置に供給して小石粒の特徴づけを行う一方、該特徴づけられた小石粒を拾い集めて不良品試験サンプルを作製し、該不良品試験サンプルを、予め整粒された米粒からなる良品試験サンプルと所定割合で混合し調製する試験サンプルの製造方法としたので、人工的な素材で試験サンプルを作製するよりも極めて安価に試験サンプルを作製することができる。さらに、不良品試験サンプルとして、例えば、光学式粒状物選別機の可視光カメラCCDに特異的に反応する小石粒群と、光学式粒状物選別機の近赤外光カメラNIRに特異的に反応する小石粒群のみを収集しているから、光学式粒状物選別機の保守点検作業を確実に行うことができる。また、請求項4記載の発明によれば、前記不良品試験サンプル1重量部に対し、前記良品試験サンプル20~100重量部を混合した光学式粒状物選別機における試験サンプルであり、例えば、不良品混入率1から5までの範囲に任意に調節した試験サンプルの製造方法を提供することができる。本発明を実施するための形態を図面を参照しながら説明する。図1は光学式粒状物選別機における試験サンプル製造工程の概要図である。図1を参照しつつ本発明を実施するための形態を説明する。まず、原料となる小石粒を収集することになる。収穫された米粒中には、当該米粒とほぼ同じ粒径の小石が混じることがあるが、穀物調製乾燥施設や、精米施設などに設置されている石抜き機1は小石混じりの米粒から小石粒を除去することができるため、これら石抜き機1から排出される小石粒Kを原料として利用することができる。次に、石抜き機1から排出された小石粒Kを、篩機2に通して大まかに粒径を選別し、所望の大きさの粒径の小石粒kのみ例えば、米粒と同程度の径、幅、厚みである3mm未満を取り出す。そして、この篩機2による篩選別後の小石粒kを、米粒の色を検知するための可視光カメラCCD4aおよび異物を検知するための近赤外光カメラNIR4bから構成される光学式粒状物選別機3に通して光学的に選別する。図2は小石粒kを光学的に選別する際のフロー図である。まず、前段に配置した近赤外カメラNIR4bに小石粒kを通過させると、近赤外カメラNIR4bでは検知されずにそのまま流下スルーする小石粒群矢印S1と、近赤外カメラNIR4bで検知されて選別イジェクトされる小石粒群矢印S2とに分離される。そして、流下スルーした小石粒群矢印S1と選別イジェクトされた小石粒群矢印S2とは、後段に配置した可視光カメラCCD4aにそれぞれ通過させることになる。前段の近赤外カメラNIR4bでそのまま流下した小石粒群矢印S1を後段の可視光カメラCCD4aに通過させると、後段の可視光カメラCCD4aでは検知されずにそのまま流下スルーする小石粒群矢印S3と、後段の可視光カメラCCD4aで検知されて選別イジェクトされる小石粒群矢印S4とに分離される。これにより、小石粒kは、可視光カメラCCD4aおよび近赤外光カメラNIR4bでは検知されずにそのまま流下する小石粒群1と、可視光カメラCCD4aのみに検知されて選別される小石粒群2との2種類に選別されることになる。一方、前段の近赤外カメラNIR4bで検知されて選別イジェクトされた小石粒群矢印S2を後段の可視光カメラCCD4aに通過させると、後段の可視光カメラCCD4aでは検知されずにそのまま流下スルーする小石粒群矢印S5と、後段の可視光カメラCCD4aで検知されて選別イジェクトされる小石粒群矢印S6とに分離される。これにより、小石粒kは、可視光カメラCCD4aおよび近赤外光カメラNIR4bの両方に検知されて選別される小石粒群3と、近赤外光カメラNIR4bのみに検知されて選別される小石粒群4との2種類に選別され、合計4種類の小石粒群に選別されることになる。なお、図2では、前段の光学センサとして近赤外カメラNIR4bを1個、後段の光学センサとして可視光カメラCCD4aを2個それぞれ配置する構成としたが、これに限定されるものではなく、前段の光学センサとして可視光カメラCCD4aを1個、後段の光学センサとして近赤外カメラNIRを2個それぞれ配置する構成としてもよい。この配置構成であっても、上記同様、合計4種類の小石粒群に選別されることになる。再度、図1を参照して試験サンプル製造工程を説明する。上記のように光学式粒状物選別機3で4種類に分別された小石粒群は、それぞれを粒状物品位検査装置5に供給し、形状情報と色情報の解析を行う。この粒状物品位検査装置5は、例えば、携帯可能なノート型パーソナルコンピュータ5aと、該コンピュータ5aに接続して、粒状物の画像を読み取るイメージスキャナー5bと、コンピュータ5aに内蔵されたソフトウェアとから構成される。これにより、イメージスキャナー5bにより入手した画像は、コンピュータ5a内で形状情報を解析して、例えば、米粒よりも形状が大きい石a、米粒よりも形状が小さく、かつ、重量が米粒と同じ石b、米粒よりも形状が小さい石cの3種に分類することができる。また、イメージスキャナー5bにより入手した画像は、コンピュータ5a内で色情報を解析して、例えば、光の三原色と呼ばれるRGBによる3色のカラーモードの割合と、Lab表色系による均等色空間の割合とを算出し、黒っぽい石、灰色の石、米粒の色に近い色をした石などに分類することができる。一例を示すと、小石粒群を下記表1のように分類して、それぞれの特徴づけを行うことができた。次に、上記表1により分類し、特徴づけが行われた小石粒群につき、所望粒数の石を拾い集めて試験サンプルを調製することになる図1の符号6。上記表1のうち、3NIR及びCCDで除去できる石と、4NIRのみで除去できる石とを比較すれば、ともに色情報及び形状情報が同じ程度であるため、4NIRのみで除去できる石のほうを試験サンプルとして利用すればよい。また、1NIR及びCCDでは除去できない石と、2CCDのみで除去できる石とを比較すれば、1NIR及びCCDでは除去できない石として認識される割合が極わずかであり、無視してもよい程度であるので、2CCDのみで除去できる石のほうを試験サンプルとして利用すればよい。表2は、2CCDのみで除去できる石と4NIRのみで除去できる石とを試験サンプルとして選択した場合に、何粒の小石を拾い上げるのが適当かを示した表である。表2のように、2CCDのみで除去できる石の内訳として、a米粒よりも形状が大きい石10粒、米粒よりも形状が小さく、かつ、重量が米粒と同じ石10粒、c米粒よりも形状が小さい石10粒の全30粒とした。一方、4NIRのみで除去できる石の内訳として、a米粒よりも形状が大きい石10粒、b米粒よりも形状が小さく、かつ、重量が米粒と同じ石10粒、c米粒よりも形状が小さい石10粒の全30粒とした。これら、総計60粒の小石を不良品試験サンプルとなし、これを予め整粒した米粒からなる良品試験サンプルと混合することで光学式粒状物選別機の試験サンプルとなす。不良品試験サンプルとなる小石と、良品試験サンプルとなる予め整粒した米粒との混合割合は、不良品混入率を想定して決定すればよい。例えば、コシヒカリの米粒玄米1000粒重が22グラム程度であるから、不良品混入率1程度の試験サンプルを作製するには、60粒の小石に対し、約6000粒約132グラムの米粒を混入すればよく、不良品混入率2程度の試験サンプルを作製するには、60粒の小石に対し、約3000粒約66グラムの米粒を混入すればよく、不良品混入率3程度の試験サンプルを作製するには、60粒の小石に対し、約2000粒約44グラムの米粒を混入すればよいことになる。不良品混入率5程度の試験サンプルを作製するには、60粒の小石に対し、約1200粒約26.4グラムの米粒を混入すればよいことになる。本発明を、さらに実施例に基づいて説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。穀物調製乾燥施設や、精米施設などに設置されている石抜き機1から排出される小石粒Kを原料とし、篩機2に通して粒径選別し、米粒と同程度の径、幅、厚みである3mm未満の小石粒kを取り出した。そして、小石粒kを光学式粒状物選別機3に通して光学的に選別するとともに、粒状物品位検査装置5により評価した後、所望粒数の石を拾い集めて試験サンプルを調製した。小石の粒数の割合は表2のとおりとした。次に、この総計60粒の小石を不良品試験サンプルとなし、これを予め整粒した米粒からなる良品試験サンプルと混合する。すなわち、不良品混入率を1程度と想定して約6000粒の予め整粒した米粒を混入した。そして、図3に示す光学式粒状物選別機の貯留タンク101にこの試験サンプルを投入し、光学センサ106,106の検出信号の良否、動作確認、イジェクタ部105の噴風能力の良否、噴射タイミングの良否、噴風時間の長短の確認などを行った。これにより、1.米粒よりも形状が大きい石が流れたときは、イジェクタ部105の噴風能力の良否当該石を吹き飛ばすことができるか否かを確認することができる、2.米粒よりも形状が小さく、かつ、重量が米粒と同じ石が流れたときは、イジェクタ部105の噴射タイミングの良否光学検査部104が検知してからのイジェクタ部105の駆動遅れ時間のタイミングの確認および噴風時間の長短の確認をすることができる、3.米粒よりも形状が小さい石が流れたときは、光学センサ106,106の検出信号の良否の確認および動作確認をすることができる、という結果が得られた。以上説明したように、不良品試験サンプルの原料として、例えば、精米施設に設置されている石抜き機などから排出された小石粒を用いるので、仮に不良品試験サンプルが良品側へ混入することがあっても、人への健康被害を起こす可能性が極めて小さく、安心安全な試験サンプル及びその製造方法を提供することが可能となった。また、小石粒を原料とし、該小石粒を篩機に通して粒径選別するとともに、該粒径選別された小石粒を光学式粒状物選別機に通して光学的に複数群に選別し、さらに、該複数群に選別された小石粒を粒状物品位検査装置に供給して小石粒の特徴づけを行う一方、該特徴づけられた小石粒を拾い集めて不良品試験サンプルを作製し、該不良品試験サンプルを、予め整粒された米粒からなる良品試験サンプルと所定割合で混合し調製する試験サンプルの製造方法としたので、人工的な素材で試験サンプルを作製するよりも極めて安価に試験サンプルを作製することができる。さらに、不良品試験サンプルとして、例えば、光学式粒状物選別機の可視光カメラCCDに特異的に反応する小石粒群と、光学式粒状物選別機の近赤外光カメラNIRに特異的に反応する小石粒群のみを収集しているから、光学式粒状物選別機の保守点検作業を確実に行うことができる。"