"画像情報に基づいて変調されたビームを出射する光源手段と、前記ビームを偏向する回転多面鏡とを備えた光学走査装置における前記ビームの位置ずれを検査する光学走査装置の特性検査装置において、前記回転多面鏡の回転周期で発生する前記ビームの主走査方向の位置ずれ及び副走査方向の位置ずれを検出するための時間データを、前記回転多面鏡の1面で1走査が行われるごとに取得するデータ取得手段と、前記データ取得手段により取得された各走査に対応する時間データをFFT解析し、前記回転多面鏡の面数とビーム本数とにより特定される周波数と、振幅スペクトルの大きさとの関係を導出するデータ処理手段と、を備えたことを特徴とする光学走査装置の特性検査装置。前記データ取得手段は、前記回転多面鏡に偏向された前記ビームを第1検知部で検知する第1検知手段と、前記第1検知部よりも前記ビームの主走査方向下流の第2検知部で前記ビームを検知する第2検知手段と、を有し、前記データ取得手段により取得される時間データは、前記回転多面鏡に偏向された前記ビームが、前記第1検知手段で検知されてから前記第2検知手段で検知されるまでの時間であり、前記第1検知部及び前記第2検知部は、主走査方向における前記第1検知部と前記第2検知部との間の距離が、副走査方向で異なるように設けられていることを特徴とする請求項1に記載の光学走査装置の特性検査装置。前記データ取得手段は、前記回転多面鏡の回転周期で発生する前記ビームの主走査方向の位置ずれを検出するための時間データを、前記回転多面鏡の1面で1走査が行われるごとに取得する第1データ取得手段と、前記回転多面鏡の回転周期で発生する前記ビームの副走査方向の位置ずれを検出するための時間データを、前記回転多面鏡の1面で1走査が行われるごとに取得する第2データ取得手段と、を有し、前記データ取得手段により取得される時間データは、前記第1データ取得手段により取得される時間データと、前記第2データ取得手段により取得される時間データとを、前記回転多面鏡の鏡面ごとに組み合わせて得られた時間データであることを特徴とする請求項1に記載の光学走査装置の特性検査装置。前記光学走査装置は、前記回転多面鏡の複数の鏡面のうち前記ビームを偏向する鏡面を、予め定められた面数おきとする面飛ばしを行うことが可能に構成されており、前記データ処理手段は、前記回転多面鏡の1面で1走査が行われるごとに前記データ取得手段により取得された時間データを、面飛ばしが行われる際の鏡面の使用順に従って並べ替え、この並べ替えで得られた各走査に対応する時間データをFFT解析することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光学走査装置の特性検査装置。画像情報に基づいて変調されたビームを出射する光源手段と、前記ビームを偏向する回転多面鏡とを備えた光学走査装置における前記ビームの主走査方向あるいは副走査方向の位置ずれを検査する光学走査装置の特性検査装置において、前記回転多面鏡の回転周期で発生する前記ビームの主走査方向あるいは副走査方向の位置ずれを毎走査単位で時間を表す離散的な数値データとして複数回取得するデータ取得手段と、前記データ取得手段により取得された各走査に対応する複数の数値データをFFT解析し、前記回転多面鏡の面数とビーム本数により特定される周波数と、振幅スペクトルの大きさとの関係を導出するデータ処理手段と、を備えたことを特徴とする光学走査装置の特性検査装置。ところで、中間調処理ハーフトーン処理によって豊かな濃度表現階調性を実現するカラー画像形成装置において、線数、スクリーン角、ドットの成長等が規定されたディザパターンによっては、画質に影響を与える場合があることが分かって来ている。すなわち、主走査方向のレーザ光の位置ずれジッタ量と副走査方向のレーザ光の位置ずれ面倒れ量の両方がディザパターンと干渉し、いわゆるモアレと呼ばれる画像不良に影響していることが分かって来ている。例えば図19aに示すような図19aに示すように印字位置ずれがなければ略一様にムラ無く見えていたものが、この例のように主走査方向、副走査方向の位置ずれによって縞模様となって現れる現象がモアレと呼ばれる画像不良である。図18は主走査方向X方向のずれ、副走査方向Y方向のずれがそれぞれ生じた際に、どのようなモアレが発生するかを示している。図19と異なる点は、主走査方向と副走査方向のずれを同時に与えた場合を示している点である。XY軸の方向は図に示すような方向に与えており、Sin波状の印字位置ずれが生じている場合を示している。例えば、X方向にのずれが生じている状態とはXの方向に先にずれるSin波が生じている場合であり、-のずれが生じている場合とは、にずらした場合の位相を反転位相180°させたものを示している。本発明者は、モアレに関して次のような現象が発生する場合があることを確認している。それは、図18a,iに示すように、Xが-でYが、或いはXがでYが-の時にモアレは強めあい、図18c,gに示すように、XがでYも、或いはXが-でYも-の時にモアレは弱めあうという現象である。これに対し、上記のような従来技術の場合には、主走査方向のレーザ光の位置ずれと副走査方向のレーザ光の位置ずれの両方がディザパターンと干渉することによって発生する画像不良を検査することはできなかった。また、特にジッタを周波数解析する場合、2つのセンサから生成される原波形を周波数解析する場合に、精度と分解能処理速度などを十分に両立させることが難しい。例えば、アナログ信号として原波形を受け取り周波数解析をする場合には、アナログ回路特有の問題として、ノイズや温度変化などの外部変化や素子ばらつき等の影響を受けやすく、安定して精度の良い結果が得られにくい。このような事情により測定機器はデジタルが主流になっている。一方、デジタル信号として原波形を受け取り周波数解析をする場合には、分解能と処理速度の兼ね合いが問題となる。図20aに示すグラフはサイン波のアナログ信号を模式的に表現したものである。これをデジタル信号で表現すると、図20bに示すようなグラフになる。このように原波形のアナログ信号は連続信号であって、デジタル化によって離散化すると、1周期分の信号が多数の点によって表現される。ジッタ測定においては、2つのセンサによって得られる1回の走査のデータで1周期であるから、例えば数百走査のデータとなるとその量は膨大である。1回の走査時間が300μsとして、これを1μsの分解能でデジタル化すると、1周期のデータで300個のデータとなる。例えばこれを500走査分取り込むならば、データ数は300×500=150,000となる。一方、A4サイズの紙媒体に印刷するとして印字領域が幅210mmとすれば、これを300μsで走査するならば、走査速度は210mm÷300μs=700msとなる。仮に、画像形成装置の解像度が600dpiとすると、ドット間隔は25.4mm÷600=約42.3μmとなる。仮に、12ドットの位置ズレを検知するならば、42.3÷2=約21.2μmの分解能が最低限必要である。これを走査速度を用いて時間に換算すれば、21.2μm÷700ms=約30nsとなり、先程述べた1μsの分解能では全く検知できない。もし30nsの最低限の必要分解能を確保して、1周期300μsの波形をデジタル化すれば、1周期のデータが10,000個のデータとなり、500走査分取り込むならば5,000,000個のデータを処理しなければならない。この膨大なデータを周波数分析処理するには、その処理時間も膨大なものとなる。光学走査装置の製造において、秒単位でタクトを管理しているのに対し、このような処理時間を確保するのは厳しく、相当数の検査装置を並べて並列処理を行わねばならない。すると設備投資額も莫大になりそれによる減価償却費がコストを押し上げ、製品競争力を低減させてしまい、周波数分析を行うことによる品質向上効果を打ち消してしまう恐れがある。本発明は上記したような事情に鑑みてなされたものであり、より的確に画像不良の有無を検査できる光学走査装置の特性検査装置を提供することを目的とする。上記目的を達成するために本発明にあっては、画像情報に基づいて変調されたビームを出射する光源手段と、前記ビームを偏向する回転多面鏡とを備えた光学走査装置における前記ビームの位置ずれを検査する光学走査装置の特性検査装置において、前記回転多面鏡の回転周期で発生する前記ビームの主走査方向の位置ずれ及び副走査方向の位置ずれを検出するための時間データを、前記回転多面鏡の1面で1走査が行われるごとに取得するデータ取得手段と、前記データ取得手段により取得された各走査に対応する時間データをFFT解析し、前記回転多面鏡の面数とビーム本数とにより特定される周波数と、振幅スペクトルの大きさとの関係を導出するデータ処理手段と、を備えたことを特徴とする。また、画像情報に基づいて変調されたビームを出射する光源手段と、前記ビームを偏向する回転多面鏡とを備えた光学走査装置における前記ビームの主走査方向あるいは副走査方向の位置ずれを検査する光学走査装置の特性検査装置において、前記回転多面鏡の回転周期で発生する前記ビームの主走査方向あるいは副走査方向の位置ずれを毎走査単位で時間を表す離散的な数値データとして複数回取得するデータ取得手段と、前記データ取得手段により取得された各走査に対応する複数の数値データをFFT解析し、前記回転多面鏡の面数とビーム本数により特定される周波数と、振幅スペクトルの大きさとの関係を導出するデータ処理手段と、を備えたことを特徴とする。本発明によれば、より的確に画像不良の有無を検査できる光学走査装置の特性検査装置を提供することが可能となる。以下に図面を参照して、この発明を実施するための形態を例示的に詳しく説明する。ただし、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状それらの相対配置などは、発明が適用される装置の構成や各種条件により適宜変更されるべきものであり、この発明の範囲を以下の実施の形態に限定する趣旨のものではない。本実施形態は、レーザビームプリンタやデジタル複写機、デジタルFAX等の電子写真装置においてレーザ光を使用して光書き込みを行う光学走査装置の特性検査装置に関する。実施例1以下に、実施例1について説明する。図1は、本実施例のカラー画像形成装置の概略構成を示す断面図である。画像情報に基づいて各々光変調されたビームLc,Lm,Ly,Lkが光学走査装置31から出射され、各々対応する感光ドラム32c,32m,32y,32kの表面上を照射して静電潜像が形成される。この静電潜像は、一次帯電器33c,33m,33y,33kによって各々一様に帯電している感光ドラム32c,32m,32y,32kの表面上に形成されている。そして、この静電潜像は、現像器34c,34m,34y,34kによって各々シアン、マゼンタ、イエロー、ブラックの画像に可視像化され、転写ベルト39上に送り出される。そして、転写ベルト39上を精度良く搬送されている間に感光ドラム32c,32m,32y,32kの表面上に形成されたシアン、マゼンタ、イエロー、ブラックの画像が順に記録材36上に転写されてカラー画像が形成される。駆動ローラ40は転写ベルト39の送りを精度良く行っており、記録材36上に形成されたカラー画像は定着器37によって熱定着された後、排出ローラ38等によって搬送されて装置外に出力される。図2は、本実施例のカラー画像形成装置に具備された光学走査装置31の光学的な概略構成を示す斜視図である。光源手段としての半導体レーザ51c,51m,51y,51kから出射されたビーム光線は、コリメータレンズ54c,54m,54y,54kによって各々平行光化された後、シリンドリカルレンズ47c,47m,47y,47kを通過する。その後、回転する回転多面鏡以下、ポリゴンミラー82によって2本ずつのビームが互いに異なる方向へ偏向走査される。ポリゴンミラー82は光偏向装置42に回転可能に設けられている。その後、2本ずつのビームはそれぞれにFθレンズ43c,43m,43y,43kを透過し、折り返しミラー72c,70m,71m,70y,71y,72kによってそれぞれ反射されて、最終的に感光ドラム32c,32m,32y,32k上に結像する。偏向走査されたビームの一部は光書き込みの前のタイミングでBDミラー45によって折り返された後、BDセンサ46によって検知される。カラー画像形成装置においてはBDセンサ46の出力信号を毎走査ごとにモニタし、この信号を取得してから所定時間後に光書き込みを開始するようにしている。このようにすることで、毎走査ごとの走査方向の印字位置ずれを高精度に制御している。図3aは、光学走査装置31に具備された光偏向装置42の内部構成を示す概略断面図である。光偏向装置42はスキャナモータユニットと呼び替えてもよい。ポリゴンミラー82を回転させる駆動モータは、固定スリーブ88に支承された回転軸83を有する。また、回転軸83と一体に固定されている支持部材85には、カシメ等で一体的に結合されたヨーク91及びロータマグネット92を備えたロータ86を具備している。また、モータ基板87には、モータ基板87に固定されたステータコア93、ステータコア93に周回されたステータコイル94からなるステータ89が備えられている。支持部材85は、回転軸83の外周に対し圧入或いは焼嵌め等の方法で固定された真鍮又はアルミ等からなる金属部材である。高純度のアルミを切削して製作されているポリゴンミラー82は、弾性部材84と固定リング90によって支持部材85に押圧固定され、回転軸83及びロータ86と一体的に回転する。図3bは、ポリゴンミラー82の概略上面図である。ポリゴンミラー82が回転軸oまわりに矢印R方向に回転すると、6つの鏡面はF1,F2,F3,F4,F5,F6の順に使用されて、光書き込みがなされる。もし鏡面F1が破線Aのように凸であったり一点鎖線Bのように凹であったりすると、ビームの走査速度が変化する。もし破線Aのように凸であれば走査速度が速くなり、一点鎖線Bのように凹であれば走査速度が遅くなる。具体的にはビームLiが矢印R方向に走査される速度が速くなったり遅くなったりするということを指す。他の鏡面F2~F6についても同様であり、結果として走査速度はF1~F6まで6通りに長短が発生し、走査速度に面間差が生ずる可能性がある。この走査速度の面間差が生じた場合には、BDセンサ46からの出力信号を基準に所定時間後に光書き込みを行なっても、ポリゴンミラー82の1回転周期で走査方向の印字位置ずれが生ずる。ある印字位置に相当する位置にセンサを配置して、BDセンサ46の出力信号を基準に当該センサの出力信号まで時間差を取得すると、ポリゴンミラー82の1回転に相当する周期で走査時間の変動が生ずる。これがポリゴンミラー82の鏡面形状に起因するジッタであり、このジッタによって感光ドラム32面上においてポリゴンミラー82の1回転周期の主走査方向の位置ずれが生ずる。ここで、主走査方向とはポリゴンミラー82の回転軸に垂直な方向であり、ポリゴンミラー82で走査される走査線の方向を示す。また、副走査方向とはポリゴンミラー82の回転軸と平行な方向を示す。図4は、図3aと同様な光偏向装置42の概略断面図であるが、こちらは光偏向装置42の面倒れ特性を説明するための図である。図4では面倒れ特性の悪化要因の1つを例として挙げ、説明を行う。図4ではポリゴンミラー82が傾いて取り付けられている場合を示している。図4において実線で示すようにポリゴンミラー82が傾いて取り付けられてしまうと、ビーム入射ビームLpはLpdで示す矢印のように下方向に反射されてしまう。このポリゴンミラー82が回転して、例えば180°度回転すると図4にて破線で示すように逆方向に傾くようになる。すると、ビームLpは今度はLpuで示す矢印のように上方向に反射されてしまう。このように、ポリゴンミラー82の取り付け姿勢などによって、鏡面ごとに反射されたビームの方向が主走査方向と垂直な方向に倒れるように変化する現象が面倒れである。この面倒れによって結果として感光ドラム32面上においてポリゴンミラー82の1回転周期の副走査方向の位置ずれが生ずる。光学走査装置31ではポリゴンミラー82の鏡面位置と感光ドラム32表面とを光学的に共役関係とすることで面倒れをある程度補正しているものの、高精細なカラー画像形成装置においては、このような面倒れ要因によってもモアレが発生する。図5は、画像形成装置による印字位置ずれを説明するイメージ図である。図5においては、丸印の1つ1つが印字位置を示し、画像形成装置の解像度に応じて丸印が示されているものとする。仮にポリゴンミラー82の鏡面数が6つであるとし、縦に6つのドットを並べて印字するとする。印字位置ずれが無い場合には、図5aに示すように、直線上に等間隔で6つのドットが印字される。ここで、ポリゴンミラー82の鏡面数周期の印字位置がSin波状にずれたとする。この時、主走査方向の位置ずれがあると図5bに示すように横波状の印字位置ずれとなり、副走査方向の位置ずれがあると図5cに示すように縦波状の印字位置ずれとなる。前述したように、モアレはディザパターンとこのポリゴンミラー82の面数周期の位置ずれとの干渉によって発生しているので、モアレ発生の有無やどのようなモアレ干渉縞が現れるかは、ディザパターンの線数スクリーン角などによって異なる。また、ポリゴンミラー82の鏡面数や光学走査装置31のビーム数などによっても異なる。このモアレは各色ごとに起こる単色のモアレを説明したものであるが、さらに複数色重ね合わせ、例えばイエローとシアンの重ね合わせによるグリーンの二次色のモアレなどもポリゴンミラー周期の位置ずれによって発生することが確認されている。そこで、このモアレがどのくらい強く人間の目に見えるかを、実際に印刷した画像をイメージスキャナで取り込み、画像濃淡のむらを2次元FFT高速フーリエ変換解析し、実際のモアレの方向と空間周波数におけるパワースペクトルを算出した。すると、このパワースペクトルの強弱とモアレの見えやすさとは凡そ一致した。図6は、モアレの強弱を示す前記パワースペクトルの対数値と、ジッタとの相関を実験において本発明者が検証した結果を示す図である。ここで示すジッタは、ジッタ波形をFFT解析してポリゴンミラー82の鏡面数周期の振幅スペクトルで表している。先に記載したように、このモアレはディザパターンとポリゴンミラーの面数周期によって発生している。したがって、ポリゴンミラー要因によって発生するジッタをFFT解析して鏡面数周期の振幅スペクトルを求めることにより、次のようなことが検証された。すなわち、モアレの2次元FFT解析結果のパワースペクトルの対数値とジッタ波形をFFT解析した振幅スペクトルとの間におよそリニアな相関が得られることが検証された。以下に、本実施例におけるジッタ測定の方法について図7から図10を用いて説明する。図7は、光学走査装置31におけるジッタ測定のための構成を説明するための概略斜視図である。ここでは、光学走査装置31から出射される4本のビームのうち、ビームLkにおいての測定方法を説明するが、他のLc,Lm,Lyについても測定の仕方は同様である。ビームLkは矢印Lsで示すように直線状に等速で走査される。ビームLkは画像形成装置上では感光ドラム32k図1に図示上で結像して等速に走査されているので、感光ドラム32kの表面相当位置に測定工具のセンサを配置して測定する。測定は2つのジッタセンサ1A,1Bを用いる。ここで、ジッタセンサ1Aは第1検知手段に相当し、ジッタセンサ1Bはジッタセンサ1Aよりもビームの主走査方向下流でビームを検知する第2検知手段に相当する。ビームLkは毎走査回ごとに書き出し側のジッタセンサ1Aで検知された後、書き終わり側のジッタセンサ1Bで検知される。このジッタセンサ1Aで検知されて出力される信号からジッタセンサ1Bで検知され出力される信号までの時間、いわゆるタイムインターバル時間データを測定する。図8は、本実施例の光学走査装置の特性検査装置における信号の処理系の構成を示す概略図である。ビームLkがジッタセンサ1A,1Bに入射すると信号が出力され、その信号は計測部1Cに入力される。ここで、ジッタセンサ1A,1B、計測部1Cはデータ取得手段を構成している。計測部1Cにはタイムインターバルアナライザ等を使用することにより、ジッタセンサ1Aの出力信号からジッタセンサ1Bの出力信号までの時間を計測できる。これにより、デジタルな数値データ時間データ、時間を表す離散的な数値データとして毎走査毎ポリゴンミラーの1面で1走査が行われるごと、毎走査単位の計測が可能である。計測部1Cから出力される時間データはデータ処理部データ処理手段1Dに入力され、データ処理部1Dで後述する計算が行われる。ここで、光学走査装置の特性検査装置は、ジッタセンサ1A,1B、計測部1C及びデータ処理部1Dで構成されている。なお、データ処理部1Dはパーソナルコンピュータなどで構成されるものであってもよい。図9は、タイムインターバルアナライザで計測されたタイムインターバルのデータの一例を示す。図9において、横軸が走査回数、すなわち測定されたデータ数を示し、縦軸がジッタセンサ1Aからジッタセンサ1BまでビームLkの走査する時間、つまりタイムインターバルを示している。この各走査に対応するタイムインターバル図10に示されるタイムインターバル波形がデータ処理部1DでFFT解析される。ここで、データ計測部1Cにて得られるデータは、毎走査ごとのジッタセンサ1Aの出力信号からジッタセンサ1Bの出力信号までの時間であって、毎走査ごとにデジタルな数値データ時間データとして得られる。タイムインターバルアナライザを用いれば100ps=0.0001μs程度の分解能が得られるので、例えば走査時間が平均300μsの光学走査装置であって、1回目の走査時間が300.0020sであったなら、300.0020という数値データが1個得られる。2回目が299.9954μsであったなら、2つ目のデータとして299.9954という数値が得られる。例えば512走査分のデータを取得すると、このような数値データが512個得られ複数回取得され、それを走査回数を横軸に、縦軸を走査時間としてプロットしたものが図9のようになるのである。FFT解析はこの512個のデータを元に行われることになる。512個程度のデータに対するFFT解析であれば、現在のPCの処理能力のレベルであれば処理時間はほぼ一瞬である。このように走査時間をデジタルな数値データとして取得することで、毎回の走査時間の取得時の分解能が向上する。そして、512回の走査分のデータを取得しても、それは512個というわずかなデータ数で済む。これにより処理に必要なデータ数も少なく、処理時間も少なく、分解能も良好になり、これらの両立が図れる。上記説明では512走査分のデータとしているが、取得する走査回数は任意である。但し、取得するデータ数を多くすると、その量に応じてリニアに測定時間が延びる。これは、その分のビーム走査が終わるまで物理的に測定が終了できないからである。そのため、あまりデータ数を多くするとタクトが延び、製造設備の生産性に影響する恐れがあるから注意が必要である。また、逆にデータ数を少なくすると、FFT解析後の分解能に影響が出てくる。512個の離散データをFFT解析すると512個のデータが得られ、そのうち半分は残り半分の繰り返しデータであるから有効なデータ数は半分の256個のデータである。ここで、測定によって得られる周波数範囲は0Hzから2走査分のBD周期の逆数までであり、この範囲を得られたデータ数で分割した結果となる。つまり、あまりにデータ数が少なければその分周波数分解能が低下することとなる。尚、FFT解析は通常2のN乗個のデータに対して行うことによって演算速度を高めているものなので、これまでの説明ではデータ数を2のN乗個としている。そのため512データから増やそうと思えば次は1024走査分のデータが必要となり、減らそうとすれば次は256走査分となる。つまりデータ数と分解能も離散的に変化するのであって、必要な精度とタクト等を勘案して取得データ数を決めることとなる。図10は、タイムインターバル波形をFFT解析した結果を示す図である。図10において、横軸が周波数、縦軸が振幅スペクトルである。横軸の周波数とは1走査当たりのポリゴンミラーの回転数であって、本波形の例では鏡面数が6なので、1/6=0.167cycle/走査がポリゴンミラーの1回転周期相当の周波数である。このときの振幅スペクトルが図10において矢印Pで示すピークである。このようにして導出されたピーク値とモアレのパワースペクトルの対数値との間に前述の図6で示すおおよそリニアな相関が検証された。ここで、データ数が不十分であると矢印Pで示すピークの検出精度が低下するので注意が必要である。さらに本実施例では、主走査方向の位置ずれに加えて、ポリゴンミラーの面倒れによる副走査方向の位置ずれによって発生するモアレについても、上述のジッタ測定方法を改善することにより検査可能とし、これによりモアレの検出精度を高めている。この点について以下に説明する。図11は、従来のジッタセンサ1A,1Bの主要部品の構成を説明する概略斜視図である。図11における本実施例と同様の構成部分においては、説明の便宜上、本実施例の構成部分と同一の符号を付している。ジッタセンサ1A,1Bには、スリット板3が設けられている。スリット板3の中央には矩形穴形状のスリット穴4が設けられている。このスリット板3をビーム走査線Ltが横切ると、スリット穴4をビームが通過している間のみ、フォトダイオード2にビームが入射する。このフォトダイオード2にビームが入射することで光電変換され、図示しない電気回路基板によって波形整形されて電気信号が出力される。図12は、ジッタセンサ1A,1Bのスリット穴4A,4Bを説明する図であり、aは従来例について示し、bは本実施例について示している。図12aにおける本実施例と同様の構成部分においては、説明の便宜上、本実施例の構成部分と同一の符号を付している。ここで、スリット穴4Aは第1検知部に相当し、スリット穴4Bは第2検知部に相当する。図12aに示すように、従来例では、スリット穴4A,4Bはジッタセンサ1A,1B共にビームLtと直交するように設けられている。これに対して、本実施例では、書き終わり側のジッタセンサ1B側のスリット穴4Bを図12bに示すように、副走査方向に対して図12bにおいてビームLtに対して直交する方向に対して角度θ分傾けて構成したことを特徴としている。図12aのようにスリット穴4BがビームLtに直交していると、面倒れによってビームLtの高さが鏡面ごとに変化しても走査時間の変化はない。例えばビームLtの高さが破線に示す位置まで変化しても2つのスリット穴4A,4Bを横切る距離Jは変化しない。そのためジッタによる走査時間変化だけを検知することになるが、図12bのようにスリット穴4Bが副走査方向に対して角度θ分傾いていると、その面倒れの大きさとスリット穴4Bの傾け量に応じ、走査時間が変化する。例えば、ビームLtの高さ副走査方向の位置が破線に示す位置まで変化すると、ビームLtが2つのスリット穴4A,4Bを横切る距離J’は距離Jよりも短くなる。これは、ジッタセンサ1Bのスリット穴4Bが、副走査方向に対して角度θ分傾けて構成されることで、主走査方向におけるスリット穴4A,4B間の距離が、副走査方向で異なるためである。このような構成によって、主走査方向と副走査方向のドットずれ、つまりドットの横ずれと縦ずれを同時に検知することが可能となる。このように、斜めに傾けられたスリット穴4Bを用いて、これまで説明したのと同様にタイムインターバルを測定し、タイムインターバル波形をFFT解析することで、ビームの主走査方向と副走査方向の位置ずれを同時に検出することが可能となる。タイムインターバル波形をFFT解析することで、図10に示すようなポリゴンミラー面周期の振幅スペクトルを求めることができ、図10のようなグラフから検査者検査装置の使用者が、画像不良の有無を判定することができる。例えば図10に示すグラフの場合には、ポリゴンミラーの1回転周期相当の周波数に対する振幅スペクトル矢印Pで示すピークの大きさが、閾値以上かどうかをみることにより、検査者は画像不良の有無を判定することができる。また、このようなタイムインターバル波形をFFT解析すると、従来のジッタセンサ構成よりモアレの強さと良い相関結果が得られる。この点について以下に説明する。図13は、図6と同様に、実際に印刷して得られた画像をイメージスキャナで取り込み、モアレを2次元FFT解析した結果のパワースペクトルの対数値と、ジッタ波形をFFT解析した後の振幅スペクトルの関係を示したものである。ここで、図13においては、ジッタセンサ1Bのスリット穴4Bを3通りに傾けた結果を示している。図13bはスリット穴4Bが走査方向に垂直な結果であって図6と全く同じである。図13cはスリット穴4Bを40°傾けた結果であって、図13aはスリット穴を図13cの場合とは逆方向に-40°傾けた結果である。各グラフにおいて一次の近似直線とその相関係数R2乗値を示している。図13bの状態、すなわちスリット角度0°では相関係数が約0.73なのに対し、図13cの状態、すなわちスリット角度40°では相関係数が約0.81と向上している。また、図13aの状態、すなわちスリット角度-40°では相関係数が約0.68と、スリット角度0°に対して悪化している。図13において横軸はおよそモアレの強さであり、縦軸が実測値であるから、相関係数が高いほどモアレの強さを適切に検知できていることとなる。つまり、スリット穴4Bは適切な方向の適切な角度に傾けることで、モアレの強さに対し、より適切な測定結果を得ることができる。このスリット穴4Bの最適な傾け方向と最適な傾け角度は、シミュレーションによって導出できる。具体的には、意図的に印字位置ずれが生じている状態をシミュレーションによって再現してモアレの強めあい、弱めあいを確認して傾け方向を求める。次に、シミュレーション結果を2次元フーリエ解析してピークを算出することによって、主走査方向と副走査方向の効き率を算出し、その比率に応じた角度をスリット穴4Bの傾け角度とするのである。傾け方向について簡単に説明すると、図18に示す場合では、Xが方向、Yが-方向の組合せ、或いはXが-方向、Yが方向の組合せでモアレが強めあう。Xがの方向が主走査方向、Yがの方向が副走査方向であるとすると、Xがにずれることは走査速度が速くなることが、副走査方向と逆方向にずれることと同義と考えることができて、モアレの斜めの縞と同方向にスリット穴4Bを傾けるとよいことになる。図14は、ジッタセンサ1Bの変形例の概略構成を示す斜視図である。ジッタセンサ1Bは、図14に示すような構成としてもよい。ビームが図14において矢印Zのように走査されるものとして、ビームLuが矢印に示す位置に来たとする。ハーフミラー6によって透過ビームLvと反射ビームLwに分割され、透過ビームLvは矩形穴の開いたスリット板3を通過してフォトダイオード2Aに受光される。反射ビームLwは三角穴の開いた面倒れスリット5を通過してフォトダイオード2Bに受光される。すると、フォトダイオード2Aからはジッタセンサ1A図示していないからのタイムインターバルとして面倒れによらない走査時間波形が得られる。また、フォトダイオード2Bからは三角穴を横切る時間をモニタすることによって面倒れ量に応じたパルス幅の信号波形が得られる。面倒れスリット5及びフォトダイオード2Bは面倒れ量の検知のためのセンサであって、例えばラインセンサなどの他の形態も取り得る。このようにして同時に得られたジッタ特性と面倒れ特性を前述のスリット穴4Bの傾け角と同じ効き率で組み合わせることによって、前述のスリット穴4Bを傾けるのと同じ効果を得ることができる。ここで、ジッタセンサ1A、フォトダイオード2A、スリット板3、計測部1Cは第1データ取得手段を構成している。また、ジッタセンサ1A、フォトダイオード2B、面倒れスリット5、計測部1Cは第2データ取得手段を構成している。ここで、面倒れスリット5を用いた面倒れ計測について説明する。図15は、面倒れスリット5とフォトダイオード2Bの動作を説明するための図であり、aは面倒れスリット5とフォトダイオード2Bを示す概略斜視図、bはaにおいて矢印Gで示す方向から見た図である。図15aに示すように、ビームは設計中心であれば、ビームLpc実線で示す矢印のようにフォトダイオード2Bの中心を通りながら、矢印S方向に走査されるとする。しかし、実際には図4で示したように、ポリゴンミラー82には面倒れが厳密には存在する。そのため、走査されるビームが矢印γ方向にばらつくこととなる。ここで、ビームは、ポリゴンミラー82の鏡面毎にγ方向の位置高さが変化し、ビームLpu破線で示す矢印からビームLpd一点鎖線で示す矢印の範囲でばらつくものとする。ビームLpc,Lpu,Lpdは、面倒れスリット5上では、それぞれビームLpc’実線で示す矢印、ビームLpu’破線で示す矢印、ビームLpd’一点鎖線で示す矢印で示すように直線的に走査される。フォトダイオード2Bは受光面7に光が当たると光電変換して電流を発生させるので、面倒れスリット5の三角穴上をビームが走査されると三角穴を通過している間の時間だけ電流が出力される。この点について、図15bを用いて以下に詳細に説明する。図15bに示すように、破線で示す矢印のようにビームLpu’が走査されると距離Mpuの間だけ出力が生じ、一点鎖線で示す矢印のようにビームLpd’が走査されると距離Mpdの間だけ出力が生ずる。本実施例において、面倒れスリット5の三角穴は、頂角を下に底辺を上とした二等辺三角形を成しており、底辺は走査方向と平行である。ここで、三角穴は二等辺三角形で無くともよいし、頂角が上でもよいし、底辺は走査方向と平行で無くともよいが、計算が煩雑になるので本実施例では上記形態として説明する。距離Mpu,Mpdはそれぞれ電流出力が生じている時間に、面倒れスリット5上を走査されるビームの走査速度を乗ずることで求めることができる。ここで、面倒れはビームLpu’とビームLpd’の高さの差、つまり図15bにおいてhで示す量である。図15bに示すように、二等辺三角形状の三角穴の頂角をψとすると、hは次のように求めることができる。h=Mpu-Mpd/2tanψ/21例えば、N回の走査分の出力電流をモニタすると、hはN個のデータとして得られる。ポリゴンミラー82の鏡面数が6個であれば、1面目、2面目、と順にデータが得られ、7番目以降のデータはおよそ1番目のデータから6番目までのデータの繰り返しとなる。以上の内容を踏まえて、図14に示すような構成を用いた場合の手順について、図16を用いて説明する。図16aは上述のように、面倒れスリット5とフォトダイオード2Bを用いて面倒れを測定した結果面倒れデータをグラフとして示している。図16aにおいては、縦軸が面倒れであって平均値に対する差分が、実際の印字の際に副走査方向への印字位置ずれとして現れる。図16bは、ジッタ測定用のスリット板3とフォトダイオード2Aを用いてジッタを測定した結果ジッタデータをグラフとして示している。図16bにおいては、縦軸がジッタであって平均値に対する差分が、実際の印字の際に主走査方向への印字位置ずれとして現れる。この2つのデータをポリゴンミラーの鏡面ごとに組み合わせる、すなわち重み付けを考慮して足し合わせると、既に説明した図9と同様なグラフとなり、それをFFT解析すると図10で示したようなグラフとなって、既に説明した場合と同様な効果が得られる。ここで、重み付けを考慮して足し合わせる、という点について説明する。重み付けを考慮して足し合わせるとは、図16aに示す面倒れデータがM1,M2,M3,...,Mnとし、図16bに示すジッタデータがN1,N2,N3,...,Nnとして、添え字の同じデータをある比率でもって足し合わせることを指す。例えば、足し合わせ後のデータをS1,S2,S3,...,Snとして、α、βを係数とした時、Sn=α×Mnβ×Nn2というようにn個のデータについてそれぞれ合算して求めることを具体的には指している。係数のα、βの値は図13で説明したスリット角度と相関するパラメータであり、αとβの比率がスリット角度と相関する。スリット角度やαβの比率は、画像形成装置における中間調表現の仕方により変化する。具体的には、スリット角度やαβの比率は、ディザにより表現される中間調表現において、ディザベクトルの大きさ方向、及びドットの成長方法に依存する。ここで、画像形成時のドット成長パターンと光学走査装置における走査線周期との2次元的な干渉によりモアレが生じる。このように、ディザが変わればスリット角度やαβの比率は変化し、また、光学走査装置のポリゴンミラー82の鏡面数や同時に走査されるレーザビームの本数などによってもスリット角度やαβの比率は変化する。したがって、組合せ毎にスリット角度やαβの比率を導出することとする。カラー画像形成装置においては色毎にディザが異なるのが通常であるから、色毎に最適なスリット角度やαβの比率は異なる。以上説明したように、主走査方向の位置ずれと副走査方向の位置ずれを検知して、これをFFT解析してポリゴンミラー面周期の振幅スペクトルを求めることにより、モアレによる画像不良をより正確に検出することができる。また、ディザによっては主走査方向とズレによってモアレを生ずるが副走査方向のズレに対してはモアレを生じないもの、あるいは、副走査方向のズレによってモアレを生ずるが主走査方向のズレによってはモアレを生じないものとがある。その場合には主走査方向のみあるいは副走査方向のみ位置ずれを検知して、これをFFT解析をしてポリゴンミラー面周期の振幅スペクトルを求めることにより、モアレによる画像不良をより正確に検出することができる。なお、図7で示した書き出し側のジッタセンサ1Aの代わりに、光学走査装置31のBDセンサ46にビームLkが入射して水平同期信号を生成している場合には、この水平同期信号を基準にジッタ測定することにより、より検出精度を高めることができる。また、タイムインターバル波形をFFT解析した結果において、ポリゴンミラーの1回転周期相当の周波数基本波のピークだけでなく、逓倍波のピークを合わせて用いてもよい。その際には視覚の空間周波数特性に基づいて決定されるVTF視覚伝達関数を用いてもよい。尚、1つの感光体に付き複数のビームを走査するマルチビーム光学系においては、光学走査装置特有の周波数成分は、ポリゴンミラー面数とビーム本数により特定される周波数成分、すなわちポリゴンミラー面数×ビーム本数周期が基本となる。また、本実施例では、タイムインターバル波形をFFT解析することで、ポリゴンミラー面周期の振幅スペクトルを求め、例えば図10に示すようなグラフから検査者が、画像不良の有無を判定するものであるが、これに限るものではない。すなわち、図10に示すような周波数と振幅スペクトルとの関係から、予め定められた周波数ポリゴンミラーの1回転周期相当の周波数における振幅スペクトルの大きさが閾値以上かどうかをデータ処理部1Dで判定するように構成してもよい。そして、その振幅スペクトルの大きさが閾値以上の場合に、画像不良が有ると判定し、画像不良が有ることを報知表示する手段が設けられるものであってもよい。実施例2以下に、実施例2について説明する。本実施例では、画像形成装置でスループットを変更する場合について説明するものであり、実施例1と同様の構成部分については同一の符号を付して、その説明は省略する。カラー画像形成装置では、記録材の種類によらず最良の画質を実現するために、選択された記録材によって印刷速度スループットを変更する場合がある。例えば厚紙に印刷する場合に定着性能の低下を防止し、高グロスを維持するために印刷速度を下げる。そのときに通常はポリゴンミラーの回転数を同じ比率で下げるのであるが、もし同じ比率で下げると元々の回転数と大きく違ってしまう場合に、ポリゴンミラーの回転駆動精度が大きく悪化する恐れがある。例えばポリゴンミラーを駆動するモータの軸受が流体軸受である場合、流体軸受は回転によって発生する動圧によって軸を支持するので、回転数を下げすぎると動圧不足になり、ジッタ振動寿命騒音など諸性能が設計目標を満たさなくなってしまう恐れがある。そこで、印刷速度を下げる場合でもポリゴンミラーの回転数を下げる代わりにポリゴンミラーの複数の鏡面のうちビームを偏向する鏡面を1つずつ飛ばして使用する場合がある。以下、これを面飛ばしと称する。この面飛ばしでは例えば5つの鏡面を有する回転多面鏡で1面目を使用したら、次は2面目を使用せずに3面目を使用し、その後は5面目を使用し、そして2面目、4面目と移り、1面目に戻るのである。すると、ポリゴンミラーの回転数を下げず、記録材の送り速度を半分にした場合にも、同一の解像度元の状態と同じ副走査方向の解像度で光書き込みを行うことが可能になる。ところが、このポリゴンミラーの面飛ばし走査を行なった時のみモアレが発生し、通常のレーザ光の走査とは異なる不具合が発生することを本発明者は確認している。そこで、本実施例では、この面飛ばしにおけるジッタ性能を検査する手段を改善している。この点について、以下に説明する。図17は、面飛ばしにおけるジッタ性能を検査する手段について説明するための図である。ここでは、ポリゴンミラー82の鏡面数が5の場合を例にとって説明する。実施例1で説明した方法でタイムインターバルを取り込んだ結果を図17aに示す。図17aでは、図9と同様に、横軸を走査回数、縦軸をタイムインターバルとしている。面飛ばしをしない場合は、図17aに示すような波形になる。鏡面を1つずつ飛ばす、いわゆる面飛ばしを行うと、その結果は図17bに示すようになる。面飛ばしを行った場合には、図17bに示すように、図17aに示す結果に対して、データ数は半分になり粗い結果となる。この波形に対してFFT解析を行うとデータ数が分解能に対しリニアに影響するので分解能が低下してしまう。そこで、本実施例では、面飛ばしをしない場合のタイムインターバル波形に所定の処理を加えてから、FFT解析を行うこととしている。図17cは、図17aの波形の一部を拡大したものと、それに所定の処理を加えたものとを示す。図17cにおいてCで示す波形が、図17aの波形そのものである。それに所定の処理を加えた波形が図17cにおいてDで示す波形である。ここで、加えた所定の処理とは、タイムインターバルのデータの並べ替えである。元々の波形Cを並べ替えることによって波形Dを得ている。ポリゴンミラー82の鏡面数が5であって、ポリゴンミラーの回転方向にF1,F2,F3,F4,F5という5つの鏡面がある場合に、鏡面を1面飛ばしすると、F1,F3,F5,F2,F4の順に使用されF1に戻る。そのため、面飛ばしをしない場合のデータをポリゴンミラーの回転方向に順に、d1,d2,d3,d4,d5,d6,d7,d8,d9,d10,,d100とした場合に、測定データを次のように並べ替えるのである。すなわち、d1,d3,d5,d2,d4,d6,d8,d10,d7,d9,,d97,d99と並べ替えるのである。このように、面飛ばしする時の鏡面の使用順と同様にデータを並べ替えた結果をタイムインターバルの測定データとして使用することにより、データ数を減らすことなく、面飛ばしの場合においても十分な分解能で検査をすることが可能になる。ここで、ポリゴンミラー82の鏡面数が奇数であれば、鏡面数が5でなくとも適用は可能である。ポリゴンミラー82の鏡面に対して、ポリゴンミラーの回転方向に順にナンバーを割り当てたとき、まず奇数番目のデータを並べ、次に偶数番目のデータを並べる。これをポリゴンミラー82の鏡面数周期で繰り返すことにより、上記同様の効果を得ることができる。更に言えば、鏡面数がT、飛ばす面の数に1を加えたものをKとした時、TがKで割り切れない場合には、ポリゴンミラー82の鏡面数周期でデータを並べ替えることにより、上記同様の効果を得ることができる。TがKで割り切れる場合には、T/Kの面数しか光書き込みで使用しないため、この手法は適用できない。例えば、鏡面数T=4で1面飛ばすK=2場合だと、1面目と3面目しか使用しないT/K=2個の鏡面しか使用しない。また、鏡面数T=9で2面飛ばすK=3場合だと、1,4,7面目しか使用しないT/K=3個の鏡面しか使用しない。このように、T/Kが割り切れる場合は適用できないが、それ以外の場合には適用が可能である。例えば、鏡面数T=11で2面飛ばすK=3場合だと、1,4,7,10,2,5,8,11,3,6,9面目の順にデータ並び替えを、ポリゴン鏡面数周期で行えばよい。このように、走査時間のデータを鏡面数周期で並び替える操作を行うことによって、鏡面を飛ばして印字するモードにおいても、並び替えたデータをFFT解析することにより、モアレによる画像不良をより正確に検出することができる。"