長尺の円筒形の被検査体の表面に光を照射し、反射光を検出して、上記検出した反射光により上記被検査体の表面の欠陥を検出する円筒形被検査体の表面欠陥検査装置において、断面点状の光を出射する照明手段と、上記点状の光を上記検査体の中心軸と直角で上記表面から所定距離離反した直線上に配列した断面線状の光に変換し上記変換した線状の光を上記被検査体の長さ方向に照射する光変換手段と、上記光変換手段から照射された線状の光を受け、上記受けた線状の光を上記被検査体の中心に向けて反射する反射手段と、上記被検査体の欠陥から反射される乱反射光は受光せず、欠陥の無い表面から反射される正反射光を受光し上記正反射光の各位置での受光量を検出する検出手段とから成る複数の検査ユニットを上記被検査体の全周を取りまくように配置し、上記被検査体の全周から検出した上記正反射光の各位置での受光量から上記被検査体表面の欠陥及びその位置を判定する判定手段と、上記被検査体をその長さ方向に移動させる移動手段とを設けたことを特徴とする円筒形被検査体の表面欠陥検査装置。長尺の円筒形の被検査体の表面に光を照射し、反射光を検出して、上記検出した反射光により上記被検査体の表面の欠陥を検出する円筒形被検査体の表面欠陥検査装置において、断面点状の光を出射する照明手段と、上記点状の光を上記被検査体の中心軸と直角で上記表面から所定距離離反した直線上に配列した断面線状の光に変換し上記変換した線状の光を上記被検査体の長さ方向に照射する光変換手段と、上記光変換手段から照射された線状の光を受け、上記受けた線状の光を上記被検査体の中心に向けて反射する反射手段と、上記被検査体の欠陥の無い表面から反射される正反射光は受光せず、欠陥から反射される乱反射光を受光し、上記乱反射光の各位置での受光量を検出する検出手段とから成る複数の検査ユニットを上記被検査体の全周を取りまくように配置し、上記被検査体の全周から検出した上記乱反射光の各位置での受光量から上記被検査体表面の欠陥及びその位置を判定する判定手段と、上記被検査体をその長さ方向に移動させる移動手段とを設けたことを特徴とする円筒形被検査体の表面欠陥検査装置。上記被検査体の周方向に隣り合う上記各検査ユニットをその検出可能な範囲を周方向に一部オーバーラップさせて設置することを特徴とする請求項1または2に記載の円筒形被検査体の表面欠陥検査装置。上記特許文献1に記載の傷検査装置では、被検査体が円筒形状の場合、被検査体表面の法線方向が一定ではないため被検査体表面からの反射光を被検査体上部に設置した受光部で受光することができないという問題がある。上記特許文献2に記載の傷検査装置では、投光器と受光器と被検査体表面との位置関係が常に一定となるように検査手段を構成しているが、ケーブル全周を検査するために検査手段を回転させる必要があるため、装置構成が複雑になるという問題がある。本発明は上記のような問題を解決するものであり、簡単な構成で円筒形被検査体の表面に発生する欠陥を検査できる円筒形被検査体の表面欠陥検査装置を提供することを目的とする。本発明に係る円筒形被検査体の表面欠陥検査装置は、長尺の円筒形の被検査体の表面に光を照射し、反射光を検出して、上記検出した反射光により上記被検査体の表面の欠陥を検出する円筒形被検査体の表面欠陥検査装置において、断面点状の光を出射する照明手段と、上記点状の光を上記検査体の中心軸と直角で上記表面から所定距離離反した直線上に配列した断面線状の光に変換し上記変換した線状の光を上記被検査体の長さ方向に照射する光変換手段と、上記光変換手段から照射された線状の光を受け、上記受けた線状の光を上記被検査体の中心に向けて反射する反射手段と、上記被検査体の欠陥から反射される乱反射光は受光せず、欠陥の無い表面から反射される正反射光を受光し上記正反射光の各位置での受光量を検出する検出手段とから成る複数の検査ユニットを上記被検査体の全周を取りまくように配置し、上記被検査体の全周から検出した上記正反射光の各位置での受光量から上記被検査体表面の欠陥及びその位置を判定する判定手段と、上記被検査体をその長さ方向に移動させる移動手段とを設けたものである。また、長尺の円筒形の被検査体の表面に光を照射し、反射光を検出して、上記検出した反射光により上記被検査体の表面の欠陥を検出する円筒形被検査体の表面欠陥検査装置において、断面点状の光を出射する照明手段と、上記点状の光を上記被検査体の中心軸と直角で上記表面から所定距離離反した直線上に配列した断面線状の光に変換し上記変換した線状の光を上記被検査体の長さ方向に照射する光変換手段と、上記光変換手段から照射された線状の光を受け、上記受けた線状の光を上記被検査体の中心に向けて反射する反射手段と、上記被検査体の欠陥の無い表面から反射される正反射光は受光せず、欠陥から反射される乱反射光を受光し、上記乱反射光の各位置での受光量を検出する検出手段とから成る複数の検査ユニットを上記被検査体の全周を取りまくように配置し、上記被検査体の全周から検出した上記乱反射光の各位置での受光量から上記被検査体表面の欠陥及びその位置を判定する判定手段と、上記被検査体をその長さ方向に移動させる移動手段とを設けたものである。本発明の円筒形表面傷検査装置によれば、簡単な構成で円筒形被検査体の欠陥を検査することができる。以下、本発明の実施の形態について説明する。実施の形態1.図1は、本発明に係る円筒形被検査体の表面欠陥検査装置における検査ユニットの実施の形態1を示す模式図であり、aは側面図、bは平面図、cはA-A断面図である。被検査体である円筒形被検査体1は、例えば、電線等の円筒形状の長尺物であり、本発明に係る円筒形被検査体の表面欠陥検査装置は、長尺の円筒形被検査体の表面に光を照射し、反射光を検出して、上記検出した反射光により円筒形被検査体1の表面にある欠陥7を検出するものである。本発明に係る円筒形被検査体の表面欠陥検査装置は、後述のように、検査ユニットを円筒形被検査体1の全周に複数個配置し円筒形被検査体1全周を検査できるようにしたものである。本実施の形態1の検査ユニットは、断面点状の光3を出射する照明手段2と、点状の光3を円筒形の被検査体1の中心軸と直角で上記表面から所定距離離反した直線上に配列した断面線状の光9に変換し、変換した線状の光9を被検査体1の長さ方向に照射する光変換手段4と、光変換手段4で変換した線状の光9を受け、受けた線状の光9を被検査体1の中心11に向かって反射するミラー等の反射手段5と、反射手段5から照射された線状の光9が被検査体1の欠陥7から反射される乱反射光8bは受光せず、被検査体1の欠陥の無い表面から反射した正反射光8aを受光する検出手段6aとを備えている。検出手段6aからは、正反射光8aの各位置での受光量の多少正反射光8aの受光量の分布が出力される。検出手段6aから入力された正反射光8aの各位置での受光量の多少から欠陥7の有無及び欠陥7の位置がパソコン等で構成される判定手段10により判定される。また、円筒形被検査体1を長さ方向に移動させる移動手段が設けられている。照明手段2には、レーザ光源、LED照明、ハロゲンランプ照明等の点光源を使用することができ、光変換手段4には、ポリゴンミラーやレンズを使用することができる。また、検出手段6aには、CCDカメラやPD等の受光素子を使用することができる。次に、本実施の形態1における円筒形表面欠陥検査装置の動作について図1を参照して説明する。照明手段2から出射された点状の光3は、光変換手段4で点状の光3から線状の光9に変換される。線状の光9は、図1bに示したように、円筒形被検査体1の長手方向に放射状に照射され、円筒形被検査体1の長手方向の前方に配置された反射手段5に入射する。反射手段5の反射面の形状は、図1cに示したように、線状の光9が円筒形被検査体1の中心11に向うように形成されている。円筒形被検査体1の表面に入射した線状の光9は、円筒形被検査体1の表面で反射する。円筒形被検査体1の表面にキズや割れといった欠陥7が無い場合は、表面での正反射光8aが多く、乱反射光8bは少なくなる。検出手段6aは正反射光8aをもっとも多く受光できる位置、すなわち正反射光8aの中心を中央で受光する位置に設置する。円筒形被検査体1の表面に欠陥7がある場合は、正反射光8aが低減し、乱反射光8bが増大する。したがって、正反射光8aの各位置における受光量の多少正反射光8aの受光量の分布を受光素子を線状に配列した検出手段6aで検出し、受光量の少ない位置に欠陥7が生じていると判断手段10で判断することができる。このように円筒形被検査体1の表面での正反射光8aの各位置での受光量の多少を検出手段6aで検出し、検出情報を判定手段10に入力することにより、円筒形被検査体1の表面の欠陥7及びその位置を検出することが可能となる。ここで、円筒形被検査体1は図示しない保持機構で保持しながら移動手段で長手方向に移動させるが、移動時の振動や応力の影響を受け、線状の光9に対する円筒形被検査体1の位置関係が変動する場合がある。また、円筒形被検査体1の表面に欠陥ではない凹凸が発生する場合がある。このような変動が発生した場合、表面に欠陥がなくても円筒形被検査体1の表面で反射する正反射光8aの方向が変動するため、検出手段6aのサイズは、位置関係及び形状が変動した場合の正反射光8aを受光でき、且つ、円筒形被検査体1の表面に発生した欠陥7で乱反射した乱反射光8bは受光しないサイズとする。図2は、反射手段5の形状を説明するための側面図a及びB-B断面図であり、図3は、円筒形被検査体への照射角度における反射手段ミラー5の法線ベクトルを示すグラフである。図2aに示したように、光変換手段4から反射手段5に入射される位置までの距離を40mm、図2bに示したように、反射手段5に入射された線光源9の中心から線状の光9が円筒形被検査体1に到達する位置までの距離を40mm、円筒形被検査体1に照射する範囲を±15°照射角度θ=30°とした場合、円筒形被検査体1への照射する範囲±15°における反射手段5の法線ベクトルは、図3に示すような形状となる。検出手段6aの形状は、線状の正反射光8aの一端から多端までの各位置での反射光を受光できるように曲面状の面上に受光素子を配列する。図4は、本発明に係る円筒形被検査体の表面欠陥検査装置の構成を説明するための斜視図である。なお、図4では、図の複雑さを避けるために、円筒形被検査体1と反射手段5のみを示し、反射手段5それぞれの検査ユニットを構成する照明手段2、光変換手段4、検出手段6aは省略している。図4に示したように、本発明に係る円筒形被検査体の表面欠陥検査装置は、円筒形被検査体1を取りまき全周から検出情報が得られるように検査ユニットを複数個設置する。また、図4に示したように、各検査ユニットで検出可能な範囲を一部オーバーラップさせて設置する。本実施の形態1の円筒形被検査体の表面欠陥検査装置によれば、断面点状の光3を出射する照明手段2と、点状の光3を円筒形被検査体1の中心軸と直角で上記表面から所定距離離反した直線上に配列した断面線状の光9に変換し、変換した線状の光9を円筒形被検査体1の長さ方向に照射する光変換手段4と、光変換手段4で変換した線状の光9を受け、受けた線状の光9を円筒形被検査体1の中心11に向かって反射するミラー等の反射手段5と、反射手段5から照射された線状の光9が円筒形被検査体1の欠陥7から反射される乱反射光8bは受光せず、円筒形被検査体1の欠陥の無い表面から反射した正反射光8aを受光する検出手段6aとからなる検出ユニットを円筒形被検査体の全周を取りまくように配置し、円筒形被検査体1の全周から検出した正反射光8aの各位置での受光量から円筒形被検査体1表面の欠陥7及びその位置を判定する判定手段10と、円筒形被検査体1長さ方向に移動させる移動手段とを設けたので、簡単な構成で円筒形被検査体1の欠陥7を検査することができる。また、周方向に隣り合う各検査ユニットを周方向に一部オーバーラップさせて設置することによって、各検査ユニットの検出可能な範囲の境界で情報が欠落するのを防止することができる。オーバーラップさせた部分は2つの検査ユニットで検査されるため、その部分の情報が2つ得られる。この2つの情報を平均したものをオーバーラップさせた部分の情報とする。ただし、オーバーラップさせた部分を検査する2つのユニットは円筒形被検査体1の長手方向にずらして設置されるので、同じ部分の情報を取り込むのに時間差が生じる。従って、この時間差分を較正したデータを平均処理する。実施の形態2.図5は、本発明に係る円筒形被検査体の表面欠陥検査装置における検査ユニットの実施の形態2を示す模式図である。上記実施の形態1では、正反射光8aを検出手段6aに受光し、乱反射光8bを受光しないようにしたが、図5に示したように、本実施の形態2では、乱反射光8bを受光する位置に検出手段6bを設置する。円筒形被検査体1表面にキズや割れといった欠陥が無い場合は、表面での正反射光が多く、乱反射光は少なくなる。また、円筒形被検査体表面にキズや割れといった欠陥がある場合は、表面での正反射光が低減し、乱反射光が増大する。したがって、検出手段6bで乱反射光8bを検出することによって欠陥7を検出することができる。このように円筒形被検査体表面での乱反射光8bの各位置における受光量乱反射光8bにおける受光量分布を検出手段6bで検出し、その情報を判定手段10に入力することにより、簡単な構成で円筒形被検査体1の欠陥7及びその位置を検査することができる。