反応管内の混合液に対して、光源からの光を照射する照射光学部と、前記混合液を透過した光を検出する検出光学部と、を有し、前記照射光学部は、前側焦点位置に前記光源が配置され、前記光源からの光を集光する第1光学素子と、前記第1光学素子を通過した光を前記反応管に導く第2光学素子と、前記第1光学素子の後側に設けられ、前記光源からの光を前記反応管に入射させる際の開口数を調整する入射開口数調整部材と、を有することを特徴とする分析装置。前記第1光学素子の後側焦点位置に配置され、前記第1光学素子を透過した光の一部を通過させる第1スリットを更に有し、前記入射開口数調整部材は、前記第1スリットを通過した光の一部を通過させる第2スリットであることを特徴とする請求項1記載の分析装置。前記照射光学部は、前記第2スリットは、前記第2光学素子の前側焦点位置に配置されることを特徴とする請求項2記載の分析装置。前記第2スリットは、前記第2光学素子と前記反応管との間に配置されることを特徴とする請求項2記載の分析装置。前記第2スリットは、前記第2光学素子と一体形成されていることを特徴とする請求項2記載の分析装置。前記入射開口数調整部材は、前記第1光学素子の後側焦点位置に配置され、前記第1光学素子を透過した光の一部を通過させる第1スリットであることを特徴とする請求項1記載の分析装置。前記検出光学部は、前記反応管を透過した光をコリメートする第3光学素子と、前記第3光学素子を透過した光の一部を通過させる第3スリットと、前記第3スリットを通過した光を集光する第4光学素子と、前記第4光学素子によって集光された光の一部を通過させる第4スリットと、を有し、前記第4スリットを通過した光を分光する分光部と、前記分光部で分光された光を検出する検出部と、を有することを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の分析装置。前記光源からの光を前記反応管に入射させる際の開口数と前記検出部において前記反応管を透過した光を検出する際の開口数とが等しいことを特徴とする請求項7記載の分析装置。前記光源からの光を前記反応管に入射させる際の開口数及び前記検出部において前記反応管を透過した光を検出する際の開口数がそれぞれ0.1以下であることを特徴とする請求項7又は8に記載の分析装置。前記光源からの光を前記第2光学素子を介して前記反応管に入射させる際の開口数及び前記検出部において前記反応管を透過した光を検出する際の開口数がそれぞれ0.05以下であることを特徴とする請求項9記載の分析装置。前記第2光学素子は、凹面鏡であることを特徴とする請求項1から10のいずれかに記載の分析装置。前記凹面鏡への光の入射角は10度以下であることを特徴とする請求項11記載の分析装置。ここで、比濁測定の場合には混合液内には散乱体が存在する。従って、レンズを用いた光学系により比濁測定を行う場合、散乱体による多重散乱の問題が生じる。すなわち、検出光に対して多重散乱によって生じる光が混入することにより検出の精度確度に悪影響を及ぼすこととなる。また、レンズのような光学素子は光の波長ごとに屈折率が異なる。従って、レンズを用いた光学系により比色測定や比濁測定を行う場合、色収差により所望の結像位置において波長毎に像が異なる等の問題が生じる。このようにレンズを用いた光学系により比色測定や比濁測定を行う場合には測定を阻害する要因が存在する。よって実施形態では、上記課題を解決するために、レンズを用いた光学系において比色測定や比濁測定の測定性能を向上させる構成について説明する。上記課題を解決するために、実施形態に記載の分析装置は、反応管内の混合液に対して、光源からの光を照射する照射光学部を有する。また検出光学部は、混合液を透過した光を検出する。また照射光学部は、前側焦点位置に光源が配置され、光源からの光を集光する第1光学素子を有する。また第2光学素子は、第1光学素子を通過した光を反応管に導く。また入射開口数調整部材は、第1光学素子の後側に設けられ、光源からの光を反応管に入射させる際の開口数を調整する。装置構成まず、図1を用いて第1及び第2実施形態に共通する自動分析装置の構成について説明する。なお、実施形態は自動分析装置に関するものであるが、これに限られない。本実施形態の構成を各種分光分析装置に適用することも可能である。自動分析装置は、試薬ボトル1、試薬ラック2a2b、試薬庫3a3b、反応管4、反応ディスク5、被検試料容器6、ディスクサンプラ7、分注アーム8a8b、サンプリングアーム9、撹拌ユニット10、測光ユニット11、及び洗浄ユニット12を有する。試薬ボトル1は、被検試料の各種成分と反応する試薬を納める容器である。試薬ラック2aは複数の試薬ボトル1を収容した状態で試薬庫3aに設置される。同様に、試薬ラック2bは複数の試薬ボトル1を収容した状態で試薬庫3bに設置される。反応管4は、被検試料と試薬を反応させる際に使用する容器である。反応ディスク5の円周上には、複数の反応管4が配置される。被検試料容器6は、被検試料を納める容器である。ディスクサンプラ7上には、複数の被検試料容器6が配置される。試薬ボトル1内の試薬は、分注アーム8a又は分注アーム8bによって反応管4内に分注される。また被検試料容器6内の被検試料は、サンプリングアーム9によって反応管4内に分注される。被検試料と試薬が分注された反応管4は、反応ディスク5の回動により、撹拌ユニット10の位置まで移動される。撹拌ユニット10は、被検試料と試薬が入った状態の反応管4を撹拌し、被検試料と試薬を混合させるユニットである。撹拌された反応管4は、測光ユニット11の位置まで移動される。測光ユニット11は、反応管4に対して光を照射し、被検試料と試薬の混合液の吸光度変化等を測定することにより、被検試料の成分分析を行うユニットである。洗浄ユニット12は、成分分析が完了した反応管4内の混合液が廃棄された後、反応管4内の洗浄を行うユニットである。測光ユニット11の構成次に、図2を用いて第1及び第2実施形態に共通する測光ユニット11の構成について説明する。測光ユニット11は、光源20、照射光学部21、検出光学部22、分光部23、及び検出部24を有する。なお実施形態では、照射光学部21又は検出光学部22の光路上に配置される光学素子等後述に対して、光源20側を前側といい、検出部24側を後側という場合がある。光源20は、照射光学部21を介して反応管4に照射される光を発生する機能を有している。本実施形態において、光源20は白色光源であって、測定には近紫外域340nmから近赤外域850nmの間の光が使用される。照射光学部21は、光源20で発生した光を反応管4に導くための光学系である。また検出光学部22は、反応管4を透過した光を分光部23に導くための光学系である。照射光学部21及び検出光学部22の詳細については後述する。分光部23は、検出光学部22によって導かれた光を波長毎に分光する機能を有している。分光部23は、例えば回折格子のような分光光学素子を含む。検出部24は、分光部23によって分光された光の強度を検出する機能を有する。検出部24は、例えばPDAPhotodiodeArrayのような光検出器を含む。第1実施形態図3から図7を用いて第1実施形態に係る自動分析装置について詳述する。図3に示すように、第1実施形態における測光ユニット11の照射光学部21は、レンズ211第1光学素子、スリット212第1スリット、フィルタ213、平面鏡214、スリット215第2スリット、及び凹面鏡216第2光学素子を有する。レンズ211は、光源20の後側に配置され、光源20からの光を集光するための光学素子である。レンズ211は、凸レンズ等の光学レンズからなる。スリット212は、レンズ211の後側に配置され、レンズ211からの光の光束を制限光量調整するための絞りである。スリット212は、透過型でも反射型でもよい。またスリット212の代わりに凹面鏡や平面鏡を配置し、その反射有効径で光束を調整することも可能である。本実施形態においては、凹面鏡や平面鏡を含め、第1スリットという場合がある。ここで本実施形態では、レンズ211の前側焦点位置に光源20が配置され、レンズ211の後側焦点位置にスリット212が配置されている。従って、光源20からの光はレンズ211によって光源20の光軸O1図5参照と平行な光となり、その光の一部のみがスリット212を通過することとなる。つまり光源20からの光のうち一部の光を制限することにより反応管4に入射するビームスポット後述の大きさや光量の調整を行っている。フィルタ213は、スリット212の後側に配置され、スリット212を通過した光の熱成分を吸収する赤外線カットフィルタである。なお、フィルタ213の配置はスリット212の後側に限られない。例えば光源20とレンズ211の間に設けられていても良い。平面鏡214は、フィルタ213の後側に配置され、スリット212を通過した光を反射させるミラーである。本実施形態においては、平面鏡214で反射された光の光軸を光軸O2とする図5参照。平面鏡214を用いて光を反射させる折り返すことにより、照射光学部21内の照射光学系レンズ211、スリット212、フィルタ213、平面鏡214、スリット215、及び凹面鏡216を直線的に配置する場合と比べ省スペース化を図ることができる。スリット215は、平面鏡214の後側に配置され、平面鏡214によって反射された光の光束を制限することで、光源20からの光を反応管4へ入射させる際の開口数以下、入射開口数という場合があるを調整するための絞りである。つまり本実施形態においては、スリット215が入射開口数調整部材として機能することとなる。スリット215は、透過型でも反射型でもよい。またスリット215の代わりに凹面鏡や平面鏡を配置し、その反射有効径で光束を調整することも可能である。本実施形態においては、凹面鏡や平面鏡を含め、第2スリットという場合がある。なお、スリット215は、凹面鏡216の後側に配置されていてもよい。或いは、スリット215と凹面鏡216を一体的に形成することにより、1つの光学素子でスリット215と凹面鏡216の役割を果たすことでもよい。凹面鏡216は、スリット215の後側に配置され、スリット215を通過した光の色収差を補正し、当該補正された光を反応管4に導くための光学素子である。本実施形態において、凹面鏡を用いる理由は後述する。また図4に示すように、第1実施形態における測光ユニット11の検出光学部22は、レンズ221第3光学素子、スリット222第3スリット、レンズ223第4光学素子、スリット224第4スリットを有する検出光学系からなる。レンズ221は、反応管4の後側に配置され、反応管4を透過した光をコリメートするための光学素子である。レンズ221は、例えばコリメートレンズからなる。レンズ221により、反応管4を透過した光は光軸O3図5参照に対して平行な状態に調整される。スリット222は、レンズ221の後側に配置され、レンズ221でコリメートされた光の一部を通過をさせることにより、反応管4を透過した光を検出する際の開口数以下、検出開口数という場合があるを調整するための絞りである。レンズ223は、スリット222の後側に配置され、スリット222を通過した光を集光させてスリット224に導く光学素子である。レンズ223は、凸レンズ等の光学レンズからなる。スリット224は、レンズ223の後側に配置され、レンズ223で集光された光の一部を通過させるための絞りである。スリット224を通過した光は分光部23で分光され、検出部24によって波長成分毎に検出される。次に図5を用いて、本実施形態における光の進み方について説明する。光源20が点光源であるとすると、レンズ211の前側焦点位置に配置された光源20より発生した光L0は、レンズ211によって光源20の光軸O1と平行な光L1となる。光L1がスリット212を通過することにより、L1の光束が一部制限された光L2となる。光L2は、フィルタ213を透過した後、平面鏡214で反射される。平面鏡214で反射された光L2は、スリット215に到達する。スリット215に到達した光L2は、そのスリット215を通過することにより、光束が一部制限された光L3となる。そして光L3は凹面鏡216に至る。ここで、スリット215を通過した光L3が凹面鏡216に入射する角度は、凹面鏡216の反射光軸O3に対して10度以下であることが望ましい。スリット215を通過した光L3が凹面鏡216に入射する角度を変えることにより、凹面鏡216で反射された光L4が結像する際の状態結像状態が変化する。図6は、反応管4に入射する光L4の径ビームスポットの断面における強度分布を示すグラフである。縦軸は強度を表し、横軸はビームスポットの断面における位置を表す。図6のグラフから明らかなように、スリット215を通過した光L3が凹面鏡216に入射する角度入射角が凹面鏡216の反射光軸O3に対して10度以下の場合、光L4は均一な強度分布を有している。従って、反応管4内の被検試料に均一な強度の光を照射することができることから、良好な結像状態を実現することが可能となる。凹面鏡216で反射された光L4は反応管4内に導かれ、反応管4内で結像する。ここで、一般にレンズを用いて結像させる場合には、光の波長によってその結像状態にずれが生じる、いわゆる色収差の問題がある。しかし、本実施形態においては、第2光学素子として凹面鏡216を使用することにより色収差の問題を解消している。図7は、反応管4内の結像位置における色収差の度合いをシミュレーションした結果を示すグラフである。縦軸は強度を表し、横軸はビームスポットの断面における位置を表す。このグラフから明らかなように、第2光学素子として凹面鏡216を用いた場合には、近紫外域340nmから近赤外域850nmまでほぼ一定の強度を有している。従って、波長の違いによる色収差の問題は生じないことから均一な結像状態を得ることができる。また測定にこのような光を用いることにより空間的なボケや強度のムラを抑えることが可能となる。なお、第2光学素子は、色収差を補正できるものであればよい。従って、凹面鏡216の代わりに例えば色消しレンズを用いることも可能である。反応管4を透過した光L5は、レンズ221でコリメートされ、スリット222、レンズ223及びスリット224を介して分光部23に導かれる。分光部23に到達した光L5は、分光部23において波長毎に分光され、検出部24によって波長毎に検出される。検出された光の強度に基づいて吸光度や透過度を求めることにより、被検試料の分析が行われる。なお、分光部23で分光された光が検出部24に入射する際に反射光が生じる。この反射光が分光部23に戻らないよう、検出部24の光入射面は、分光部23の反射面の光軸O4に対して傾斜するように配置されている。第1実施形態の作用効果本実施形態において、第2スリットは第1スリットを通過した光の一部を通過させる機能を有する。つまり第2スリットによって入射開口数の調整を行うことが可能となる。また本実施形態において、第3スリットは、反応管4を透過した光の一部を通過させる機能を有する。つまり第3スリットによって検出開口数の調整を行うことが可能となる。また本実施形態において、第2スリットが第2光学素子と一体形成されている場合、一の光学素子を配置するだけで入射開口数の調整を行うことが可能となる。このように本実施形態によれば、入射開口数や検出開口数を調整することにより、比濁測定における散乱光の影響を抑制することがきる。従って、比濁測定を性能よく行うことができる。また本実施形態において、第2光学素子として凹面鏡216を用いることにより色収差を解消することができる。従って、比色測定及び比濁測定を性能よく行うことが可能となる。第1実施形態の変形例1本変形例において、スリット215には、入射開口数を調整するためにそのスリットの幅を可変可能とする可変機構図示なしが設けられている。可変機構を設けることにより、入射開口数を測定項目毎に調整することが可能となる。またスリット215と同様、スリット222にも可変機構を設け、検出開口数を測定項目毎に調整することも可能である。図8は、入射開口数検出開口数による比濁測光性能の比較結果を示す実験結果のグラフである。図8の横軸はある被検物質濃度を示し、縦軸は検出部24によって検出される吸光度差を示している。また図8のAは、開口数が0.05の場合を示す。図8のBは、開口数が0.10の場合を示す。図8のCは、開口数が0.25の場合を示す。なお、図8において、入射開口数と検出開口数は等しいものとする。ここで、吸光度差から被検査物質の濃度を求める場合には、被検査物質の濃度に対して吸光度差が比例関係を保っていることが望ましい。例えば図8において、吸光度差αの場合を考える。C開口数0.25の場合には被検査物質濃度の値がβからγまで取りうることから正確な被検査物質濃度を求めることができない。一方、開口数がA0.05の場合には、被検物質濃度がΔとなる。つまり被検物質濃度を一意に求めることが可能である。また開口数がA0.05の場合の方が、開口数がB0.10の場合よりもグラフの傾きが大きい。つまり開口数が小さいほうが精度の高い分析が可能となる。第1実施形態の変形例2凹面鏡216の結像位置を調整することにより様々な効果が得られる。例えば、凹面鏡216の結像位置に反応管4の中心が位置するように凹面鏡216と反応管4の位置関係を調整することにより、反応管4内の混合液の量を低減させることが可能となる。或いは、凹面鏡216の結像位置が反応管4の中心よりも後側に位置するように凹面鏡216と反応管4の位置関係を調整することにより、反応管4内の混合液に含まれる散乱体により散乱された光の検出を抑制することが可能となる。第2実施形態次に、図9及び図10を用いて第2実施形態についての説明を行う。図9に示すように、第2実施形態における測光ユニット11の照射光学部21は、レンズ211第1光学素子、スリット212第1スリット、フィルタ213、及び凸レンズ217第2光学素子を有する。レンズ211は、光源20の後側に配置され、光源20からの光を集光するための光学素子である。レンズ211は、凸レンズ等の光学レンズからなる。スリット212は、レンズ211の後側に配置され、レンズ211からの光の光束を制限入射開口数調整するための絞りである。つまり本実施形態においては、スリット212が入射開口数調整部材として機能することとなる。スリット212は、透過型でも反射型でもよい。またスリット212の代わりに凹面鏡や平面鏡を配置し、その反射有効径で光束を調整することも可能である。本実施形態においては、凹面鏡や平面鏡を含め、第1スリットという場合がある。ここで本実施形態では、レンズ211の前側焦点位置に光源20が配置され、レンズ211の後側焦点位置にスリット212が配置されている。従って、光源20からの光はレンズ211によって光源20の光軸O5図10参照と平行な光となり、その光の一部のみがスリット212を通過することとなる。つまり光源20からの光のうち一部の光を制限することにより入射開口数の調整を行っている。フィルタ213は、スリット212の後側に配置され、スリット212を通過した光の熱成分を吸収する赤外線カットフィルタである。なお、フィルタ213の配置はスリット212の後側に限られない。例えば光源20とレンズ211の間に設けられていても良い。凸レンズ217は、スリット212の後側に配置され、スリット212を通過した光を反応管4に導くための光学素子である。本実施形態においては、凸レンズ217が第2光学素子として作用する。また本実施形態においては、凸レンズ217の前側焦点位置凸レンズ217からその焦点距離だけ離れた位置にスリット212が配置されている。検出光学部22は、第1の実施形態と同様、レンズ221第3光学素子、スリット222第3スリット、レンズ223第4光学素子、及びスリット224第4スリットを有する検出光学系からなる図4参照。レンズ221は、反応管4の後側に配置され、反応管4を透過した光をコリメートするための光学素子である。レンズ221は、例えばコリメートレンズからなる。レンズ221により、反応管4を透過した光は光軸O5に対して平行な状態に調整される。スリット222は、レンズ221の後側に配置され、レンズ221でコリメートされた光の一部を通過させるための絞り検出開口数調整を行うための絞りである。レンズ223は、スリット222の後側に配置され、スリット222を通過した光を集光させてスリット224に導く光学素子である。レンズ223は、凸レンズ等の光学レンズからなる。スリット224は、レンズ223の後側に配置され、レンズ223で集光された光の一部を通過させるための絞りである。スリット224を通過した光は分光部23で分光され、検出部24によって波長成分毎に検出される。次に図10を用いて、本実施形態における光の進み方について説明する。レンズ211の前側に配置された光源20より発生した光L6は、レンズ211によって光源20の光軸O5と平行な光L7となる。光L7がスリット212を通過することにより、L7の光束が一部制限された入射開口数が調整された光L8となる。光L8は、フィルタ213を透過した後、凸レンズ217に至る。凸レンズ217を透過した光L9は反応管4内に入射する。反応管4を透過した光L10は、レンズ221でコリメートされ、スリット222、レンズ223及びスリット224を介して分光部23に導かれる。なお、入射開口数と検出開口数を所望の値に設定することで反応管4内の散乱物質により多重散乱した光はレンズ221に到達することはほとんどない。分光部23に到達した光L10は、分光部23において波長毎に分光され、検出部24によって波長毎に検出される。検出された光の強度に基づいて吸光度や透過度を求めることにより、被検試料の分析が行われる。なお、分光部23で分光された光が検出部24に入射する際に反射光が生じる。この反射光が分光部23に戻らないよう、検出部24の光入射面は、分光部23の反射面の光軸O6に対して傾斜するように配置されている。第2実施形態の作用効果以上より、本実施形態では、スリット212により入射開口数を調整し、スリット222により検出開口数を調整している。これら入射開口数と検出開口数を所望の値に設定することで反応管4内の散乱物質により多重散乱した光の検出を抑制することができるため比濁測定を性能よく行うことが可能となる。第1実施形態及び第2実施形態に共通の事項分析装置の測光方法としては、特定の波長帯の光のみを用いる単波長測光と、2つの異なる波長帯の光を用い、それらの相対変化を測定する2波長測光がある。第1実施形態及び第2実施形態の構成によれば、いずれの測光方法の場合であっても比色測定及び比濁測定を性能よく行うことができる。上記実施形態において光源20が配置される位置にファイバーの出射端を配置することも可能である。この場合、測光ユニット11とは別体で光源を設ける。その光源からの光をファイバー経由で照射光学部21内に導くことにより、上記実施形態と同様の測光が可能となる。本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。