診断対象のメモリの領域をnnは3以上の整数個の部分領域に区分する領域区分部と、前記メモリが搭載されているシステムにおいて行われる周期処理の空き時間ごとに、n個の部分領域から2つの部分領域を選択し、選択した2つの部分領域をカップリングフォルトが検出される診断方式により診断する動作を繰り返して、全種類の部分領域のペアに対して診断を行う診断実行部とを有することを特徴とするメモリ診断装置。前記領域区分部は、部分領域ごとの領域サイズを変化させて、前記メモリの領域をn個の部分領域に区分し、前記診断実行部は、異なる領域サイズの2つの部分領域を選択することを特徴とする請求項1に記載のメモリ診断装置。前記診断実行部は、1回の空き時間において、部分領域の複数のペアの診断を行うことを特徴とする請求項1に記載のメモリ診断装置。診断対象のメモリの領域をnnは3以上の整数個の部分領域に区分し、前記メモリが搭載されているシステムにおいて行われる周期処理の空き時間ごとに、n個の部分領域から2つの部分領域を選択し、選択した2つの部分領域をカップリングフォルトが検出される診断方式により診断する動作を繰り返して、全種類の部分領域のペアに対して診断を行うことを特徴とするメモリ診断方法。診断対象のメモリの領域をnnは3以上の整数個の処理分領域に区分する領域区分処理と、前記メモリが搭載されているシステムにおいて行われる周期処理の空き時間ごとに、n個の処理分領域から2つの処理分領域を選択し、選択した2つの処理分領域をカップリングフォルトが検出される診断方式により診断する動作を繰り返して、全種類の部分領域のペアに対して診断を行う診断実行処理とをプロセッサ装置に実行させることを特徴とするプログラム。非特許文献1の方法は、ソフトウェアによるRAM診断方法の1つである。非特許文献1の方法では、RAMを読み書きし期待値と比較することで、RAMの故障を検出する。そのため、アプリケーションが利用するスタック領域を侵害してしまうため、他のアプリケーションの動作に影響を与えるという特徴がある。また、RAM全体を読み書きするため処理量が多いという特徴がある。これらの特徴により、組み込みシステムに適用しようとした場合、非特許文献1の方法は処理時間が長く時分割処理を考慮していないため、組み込みシステム特有の周期処理に適用することができない。そのため、アプリケーションを実行する時間とは別にRAM診断に専用の時間が必要となり、アプリケーションの稼働率に多大な影響を与えるという課題がある。本発明では、上記のような課題を解決することを主な目的の一つとしており、カップリングフォルトが検出でき、アプリケーションの稼働率に影響を与えないメモリ診断を実施することを主な目的とする。本発明に係るメモリ診断装置は、診断対象のメモリの領域をnnは3以上の整数個の部分領域に区分する領域区分部と、前記メモリが搭載されているシステムにおいて行われる周期処理の空き時間ごとに、n個の部分領域から2つの部分領域を選択し、選択した2つの部分領域をカップリングフォルトが検出される診断方式により診断する動作を繰り返して、全種類の部分領域のペアに対して診断を行う診断実行部とを有することを特徴とする。本発明によれば、診断対象のメモリが搭載されているシステムにおいて行われる周期処理の空き時間に診断を行うので、システムにおけるアプリケーションの稼働率に影響を与えることがない。また、カップリングフォルトを検出できる診断方式による診断を、すべての部分領域のペアに対して行うため、カップリングフォルトを有効に検出すことができる。実施の形態1.本実施の形態では、従来技術の課題を解決するために、時分割処理可能なメモリ診断方法を説明する。より具体的には、本実施の形態に係るメモリ診断方法は、診断処理量が多大なRAM診断の処理を時分割し、診断対象のRAMが搭載されているシステム例えば、組み込みシステムにおいて行われる周期処理の空き時間にRAM診断の時分割処理を実行する。これにより、診断処理のための専用の時間が必要なくなり、RAMが搭載されているシステムにおけるアプリケーションの稼働率に与える影響をなくすことができる。また、時分割処理を行う場合には、診断対象のRAMの領域を単純に分割することが考えられるが、RAM領域を分割したのみでは、分割された領域のメモリセルに対しての読み書きしか実施できないため、カップリングフォルトを検出できない場合がある。カップリングフォルトとは、RAMの故障モデルの一つであり、あるメモリセルに対して読み書きを行ったときに他のメモリセルのデータ値が変化するという故障である。カップリングフォルトを検出するためには、あるメモリセルに注目し、他のメモリセルすべてに読み書きを実施した後に、着目したメモリセルの内容が変化してないか検査する必要がある。単純にRAM領域を分割するのみでは、分割した範囲内のみしか読み書きを実施できないので、分割範囲を跨いだカップリングフォルトは検出できない。本実施の形態では、診断対象のRAMが搭載されているシステムにおいて行われる周期処理の空き時間に診断を行い、システムにおけるアプリケーションの稼働率に与える影響をなくすとともに、カップリングフォルトを検出できるメモリ診断方法を説明する。まず、本実施の形態に係るメモリ診断方法の原理を説明する。本実施の形態に係る診断方式では、診断対象のRAMMをn個の部分領域に分割するM={m1、m2、...、mn}:mをベース領域と呼ぶなお、nは3以上の整数。そして、分割されたベース領域から2つのベース領域の組を選出し、選出された領域に対して非特許文献1に記載の診断方法以下、Abrahamと表記するを実施する。次に、他のベース領域の組を選出しAbrahamを実施していき、全ての組に対してAbrahamを実施するまで繰り返す。これにより、全てのRAM領域に対してAbrahamを実施したのと同等の処理を、RAMの各セルに対して実施することができる。また、RAMを分割し診断範囲を小さくすることで処理時間を短くすることができる。つまり、診断を組み込みシステムの周期処理の空き時間に実行することができる。ベース領域のサイズに関しては、診断対象のシステムに合わせて変更することができる。ベース領域を小さくした場合、ベース領域のペアごとの処理時間が短くなり空き時間の短いシステムに適用可能となるが、ベース領域のペア数が増えるため、RAM全体の診断が完了するまでの時間は長くなる。一方で、ベース領域を大きくした場合、ベース領域のペアごとの処理時間が長くなり空き時間の大きいシステムにのみ適用可能であるが、ベース領域のペア数が減るため、RAM全体の診断が完了するまでの時間は短くなる。このように、システムが求める診断完了までの時間や周期時間に合わせてベース領域を設定できることは、本実施の形態に係る診断方法の特徴の一つである。なお、本実施の形態ではベース領域に対してAbrahamを実行する例を説明するが、カップリングフォルトが検出できるのであれば、他の診断手法を適用してもよい。本実施の形態に係る診断方法の概要を、例を用いて図1に示す。図1では、RAM200を3つのベース領域に分けて診断する例を示すM={m1、m2、m3}。まず、周期1では、診断対象のベース領域m1とm2を選出し、2つのベース領域を1つのRAMと見立ててAbrahamを実行する。なお、診断対象として選出されたペース領域を、ターゲット領域1とターゲット領域2と呼ぶ。図1及び図2では、破線の枠で囲んでいる範囲が診断対象の領域を意味し、また、ターゲット領域1をハッチングで表現し、ターゲット領域2を塗りつぶしで表現する。次に、周期2では、診断対象としてベース領域m1とm3を選出し、2つの領域を1つのRAMと見立ててAbrahamを実行する。次に、周期3は、診断対象としてベース領域m2とm3を選出し、2つの領域を1つのRAMと見立ててAbrahamを実行する。これで、全てのペアに対してAbrahamの実行が完了する。本実施の形態に係るメモリ診断方法を実現する構成例を図2に示し、処理手順を図3に示す。なお、それぞれの図におけるステップ番号S1~S6は相互に対応付けられている。なお、図2において、100はメモリ診断装置として動作するCPUCentralProcessingUnitである。本実施の形態に係るメモリ診断方法はCPU100上で動作するソフトウェアとして実装される。CPU100は、バス300を経由してRAM200に読み書きを実施し、診断を実行する。なお、本方式と同等の機能をFPGAField-ProgrammableGateArrayなどのハードウェアに実装してもよい。RAM200上のある領域には、診断情報と呼ばれるデータが格納されている。診断情報とは、具体的に、ターゲット領域1の先頭アドレス、ターゲット領域2の先頭アドレス、ターゲット領域のサイズ、RAMのサイズを示す。図5は、図2のCPU100メモリ診断装置のモジュール構成例を示す。図5において、領域区分部101、診断実行部102はプログラムで実現される。レジスタ103は、ターゲット領域のデータを格納するために用いられる。領域区分部101は、診断対象のRAMの領域をnnは3以上の整数個のベース領域部分領域に区分する。診断実行部102は、RAM200が搭載されている組み込みシステムにおいて行われる周期処理の空き時間ごとに、n個のベース領域から2つのベース領域をターゲット領域として選択し、選択した2つのターゲット領域をカップリングフォルトが検出される診断方式により診断する動作を繰り返して、全種類のベース領域のペアに対して診断を行う。診断実行部102は、1回の空き時間において、複数ペアの診断を行うようにしてもよい。次に、本実施の形態に係るCPU100の動作シーケンスを示す。なお、このシーケンスは、組み込みシステムの処理周期にて実行され、アプリケーションが実行されない空き時間に実施される図4参照。まず、ある周期nにて診断処理が開始されるS1。次に、診断実行部102が、診断情報をRAM200から取得し、CPU100のレジスタ103に保存するS2。次に、診断実行部102は、診断情報に記述されているターゲット領域1の先頭アドレス、ターゲット領域2の先頭アドレス、ターゲット領域のサイズを用いて診断範囲を決定しターゲット領域1とするベース領域及びターゲット領域2とするベース領域を選択し、診断範囲に対してAbrahamを実行するS3。次に、診断実行部102は、診断情報のターゲット領域1の先頭アドレス、ターゲット領域2の先頭アドレス、ターゲット領域のサイズ、RAMの全体サイズを用いて、次の周期n-1に診断するターゲット領域を選出するS4。この選出のアルゴリズムは、順次ペアを選定するような単純な方式でも、他の方式でもよい。次に、診断実行部102は、S4で決定した診断情報全てを、RAM200に格納するS5。以上で、周期nの診断処理を完了するS6。診断前と診断後のRAM200のデータを同じにする場合は、診断前にバックアップ用のRAMやターゲット領域とは異なるRAM200の領域にターゲット領域のデータ内容をバックアップし、診断後にバックアップしたデータを戻すという機能を追加してもよい。また、ターゲット領域1とターゲット領域2のサイズは等しくなくともよい。つまり、領域区分部101は、ベース領域ごとの領域サイズを変化させて、RAM200をn個のベース領域に区分してもよい。この場合は、診断実行部102は、異なる領域サイズのベース領域をターゲット領域として選択することがある。また、ベース領域ごとのサイズが一定でない場合は、診断情報の作成時に、次の周期で診断対象となるターゲット領域1とターゲット領域2のサイズを特定し、診断情報にターゲット領域1とターゲット領域2のサイズを記述する必要がある。なお、本実施の形態では、RAM200が搭載されているシステムが組み込みシステムである例を説明したが、RAM200が搭載されているシステムがどのようなものであって、本実施の形態で示したメモリ診断装置及びメモリ診断方式は適用可能である。以上、本実施の形態によれば、診断対象のRAMが搭載されているシステムにおいて行われる周期処理の空き時間に診断を行うので、システムにおけるアプリケーションの稼働率に与える影響をなくすことができる。また、カップリングフォルトを検出できる診断方式による診断を、すべての部分領域のペアに対して行うため、カップリングフォルトを有効に検出すことができる。