"被検体に放射線を照射する放射線源と、前記被検体を透過した放射線の線量分布を検出する検出器と、前記被検体に対し前記放射線源及び前記検出器を相対的に移動させて複数回走査する走査機構と、前記検出器からの出力信号を処理して複数の透過画像を生成する信号処理回路と、前記信号処理回路で生成された複数の透過画像を走査回数と関連付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段で記憶された透過画像のデータに対し、走査位置が同じで走査回数が異なる透過画像の重ね合せ処理を行う重ね合せ処理手段と、重ね合せ処理後の透過画像に基づいて前記被検体の断層画像又は立体画像を再構成する画像再構成手段とを備えたCT装置において、前記記憶手段で記憶された透過画像のデータに対し、走査回数毎に、透過画像の全体若しくは特定の一部分の画素値を積算して画素値総和量を演算する画素値総和量演算手段と、前記画素値総和量演算手段で演算された各走査回数の透過画像データの画素値総和量が予め設定された基準範囲内にあるかどうかを判断することにより、前記記憶手段で記憶された各走査回数の透過画像データが正常であるかどうかを判定する判定手段とを備え、前記重ね合せ処理手段は、前記判定手段で正常と判定された透過画像データに対し、走査位置が同じで走査回数が異なる透過画像の重ね合せ処理を行うことを特徴とするCT装置。請求項1記載のCT装置において、前記画素値総和量演算手段は、前記記憶手段で記憶された透過画像のデータに対し、走査回数毎に、透過画像の特定の1列の画素値を積算して画素値総和量を演算することを特徴とするCT装置。請求項1又は2記載のCT装置において、前記走査機構を駆動制御する走査制御手段を備え、前記判定手段は、各走査回数の終了の度にその走査回数で取得した透過画像のデータが正常であるかどうかを判定し、前記走査制御手段は、前記判定手段で正常でないと判定された場合に、その走査回数で取得した透過画像のデータを破棄するとともに、走査回数をカウントアップしないで再走査を行わせ、前記判定手段で正常と判定された場合に、走査回数をカウントアップし、走査回数のカウント値が設定値に達するまで前記走査機構を駆動制御することを特徴とするCT装置。上記特許文献1に記載の従来技術では、透過画像の重ね合せ処理を行うことにより、バラツキを減少させている。ところで、検出器及び信号検出回路から透過画像のデータを取得する際には、データの飛びやノイズ混入のような不具合エラーが生じることがある。そして、透過画像の一次データに不具合が生じたまま重ね合せ処理を行い、重ね合せ処理後の二次データに基づいて断層画像又は立体画像を再構成すると、断層画像又は立体画像に虚像が現れてしまう。本発明の目的は、処理時間の短縮を図りつつ、断層画像又は立体画像における虚像の発生を防止することができるCT装置を提供することにある。1上記目的を達成するために、被検体に放射線を照射する放射線源と、前記被検体を透過した放射線の線量分布を検出する検出器と、前記被検体に対し前記放射線源及び前記検出器を相対的に移動させて複数回走査する走査機構と、前記検出器からの出力信号を処理して複数の透過画像を生成する信号処理回路と、前記信号処理回路で生成された複数の透過画像を走査回数と関連付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段で記憶された透過画像のデータに対し、走査位置が同じで走査回数が異なる透過画像の重ね合せ処理を行う重ね合せ処理手段と、重ね合せ処理後の透過画像に基づいて前記被検体の断層画像又は立体画像を再構成する画像再構成手段とを備えたCT装置において、前記記憶手段で記憶された透過画像のデータに対し、走査回数毎に、透過画像の全体若しくは特定の一部分の画素値を積算して画素値総和量を演算する画素値総和量演算手段と、前記画素値総和量演算手段で演算された各走査回数の透過画像データの画素値総和量が予め設定された基準範囲内にあるかどうかを判断することにより、前記記憶手段で記憶された各走査回数の透過画像データが正常であるかどうかを判定する判定手段とを備え、前記重ね合せ処理手段は、前記判定手段で正常と判定された透過画像データに対し、走査位置が同じで走査回数が異なる透過画像の重ね合せ処理を行う。このように本発明においては、記憶手段で記憶された透過画像のデータに対し、走査回数毎に、透過画像の全体若しくは特定の一部分の画素値を積算して画素値総和量を演算する。そして、各走査回数の透過画像データの画素値総和量が予め設定された基準範囲内にあるかどうかを判断することにより、各走査回数の透過画像データが正常であるかどうかを判定する。これにより、記憶手段で記憶された透過画像の一次データに対し、データの飛びやノイズ混入のような不具合が生じていないかどうかを確認することができる。そして、正常と判定された透過画像の一次データに対し重ね合せ処理を行い、重ね合せ処理後の二次データに基づいて被検体の断層画像又は立体画像を再構成する。これにより、例えば透過画像の一次データに不具合が生じたまま画像処理を行う場合とは異なり、断層画像又は立体画像における虚像の発生を防止することができる。また、本実施形態では、透過画像の重ね合せ処理を行う前に、透過画像が正常であるかどうかを判定するので、画像処理時間の短縮を図ることができる。すなわち、例えば各走査回数の終了の度に、透過画像の重ね合せ処理を行い、重ね合せ処理後の二次データに基づいて被検体の断層画像又は立体画像を再構成して表示し、この断層画像又は立体画像が正常であるかどうかをオペレータが目視確認することにより、透過画像の一次データが正常であるかどうかを判定する場合と比べ、画像処理時間の短縮を図ることができる。2上記1において、好ましくは、前記画素値総和量演算手段は、前記記憶手段で記憶された透過画像のデータに対し、走査回数毎に、透過画像の特定の1列の画素値を積算して画素値総和量を演算する。これにより、例えば透過画像の全体の画素値を積算して画素値総和量を演算する場合と比べ、処理時間の短縮を図ることができる。3上記1又は2において、好ましくは、前記走査機構を駆動制御する走査制御手段を備え、前記判定手段は、各走査回数の終了の度にその走査回数で取得した透過画像のデータが正常であるかどうかを判定し、前記走査制御手段は、前記判定手段で正常でないと判定された場合に、その走査回数で取得した透過画像のデータを破棄するとともに、走査回数をカウントアップしないで再走査を行わせ、前記判定手段で正常と判定された場合に、走査回数をカウントアップし、走査回数のカウント値が設定値に達するまで前記走査機構を駆動制御する。本発明によれば、処理時間の短縮を図りつつ、断層画像又は立体画像における虚像の発生を防止することができる。以下、本発明の一実施形態を、図面を参照しつつ説明する。図1は、本実施形態におけるCT装置の構成を表す概略図である。この図1において、CT装置は、被検体1に放射線を照射する放射線源2例えばX線管と、被検体1を透過した放射線の線量分布を検出する検出器3と、被検体1を中心として放射線源2及び検出器3を回転移動させて複数回走査する回転機構4走査機構と、検出器3からの出力信号を処理して透過画像のデータを生成する信号処理回路5と、放射線源2及び回転機構4を制御するとともに、信号処理回路5からの出力データを処理する制御装置6とを備えている。被検体1は、テーブル7上に設置されて静止している。放射線源2と検出器3は、被検体1を挟んで対向するように配置され、回転機構4によって支持されるとともに回転移動するようになっている。そして、放射線源2及び検出器3を、例えば1回の走査あたり360度回転させることにより、被検体1に対し全周囲方向から放射線を照射して複数の透過画像を取得する。あるいは、例えば1回の走査あたり360度未満であって特定の角度範囲で回転させることにより、被検体1に対し特定の周囲方向から放射線を照射して複数の透過画像を取得する。なお、本実施形態では、被検体1を静止させて放射線源2及び検出器3を回転移動させる場合を例にとって説明したが、これに代えて、放射線源2及び検出器3を静止させて被検体1をテーブル7とともに回転させてもよい。検出器3は、例えば2次元的に配置された複数の検出素子詳細には、例えば放射線を電荷に変換する半導体素子等を有し、各検出素子からのアナログ信号を出力する。信号処理回路5は、所定のサンプリング時間毎に、各検出素子からの信号強度を積算しデジタル化して画素値とし、それらの画素値と各検出素子の位置から透過画像のデータを生成する。そして、生成した透過画像のデータを制御装置6に出力する。制御装置6は、例えばワークステーションであり、図示しないが、ディスプレイ等の表示手段や、キーボードやマウス等の入力手段を有している。また、機能的構成として、放射線源制御部8、中央制御部9、画像再構成部10、及び記憶部11を有している。制御装置6の放射線源制御部8は、放射線源2に電力を供給する電源12を制御して、放射線源2による放射線の発生量を制御する。また、放射線源2を冷却する冷却装置13を制御して、放射線源2の温度上昇を抑えるようになっている。制御装置6の中央制御部9は、回転速度、回転ピッチ、及び総走査回数などの撮像条件を設定するとともに、設定された回転速度及び総走査回数に基づき回転機構4を駆動制御するようになっている。また、設定された回転速度と回転ピッチとの積からサンプリング時間を演算し、このサンプリング時間の指令を信号処理回路5に出力する。そして、回転機構4の駆動制御と信号処理回路5の透過画像データ出力制御を同期させるようになっている。制御装置6の中央制御部9は、信号処理回路5から入力した透過画像を走査回数及び取得順番言い換えれば、走査位置と関連付け、これを一次データとして記憶部11に記憶させる。そして、透過画像の一次データに対し、走査位置が同じで走査回数が異なる透過画像の重ね合せ処理加算平均処理を行い、重ね合せ処理後の透過画像を二次データとして記憶部11に記憶させる。そして、画像再構成部10は、記憶部11に記憶された透過画像の二次データに基づいて被検体1の断層画像又は立体画像を再構成し、これをディスプレイに表示させるようになっている。ここで、本実施形態の大きな特徴として、制御装置6の中央制御部9は、透過画像の重ね合せ処理を行う前に、透過画像が正常であるかどうか判定するようになっている。このような制御手順を、図2により説明する。図2は、制御装置9の制御処理内容を表すフローチャートである。この図2において、まず、ステップ100にて、制御装置6の中央制御部9は、計測開始前のオペレータの入力に応じて回転速度、回転ピッチ、及び総走査回数S但し、S≧2等の撮像条件を設定し、ステップ110に進み、走査回数i=1に初期化する。そして、オペレータが計測開始の指示を入力すると、ステップ120に進み、制御装置6の中央制御部9は、回転機構4を制御して走査回数i=1回目の走査を開始し、ステップ130に進み、信号処理回路5から入力した複数の透過画像を走査回数i=1回目及び取得順序言い換えれば、走査位置と関連付け、走査回数i=1回目の一次データとして記憶部11に一時保存する。そして、走査回数i=1回目の走査が終了すると、ステップ140に進み、走査回数i=1回目の一次データに対し、透過画像の全体における画素値を積算して画素値総和量を演算するすなわち、画素値総和量は、1回の走査あたりの透過画像の枚数×各画像の画素数×画素値に相当する。その後、ステップ150に進み、走査回数i=1回目の一次データの画素値総和量が予め設定された基準範囲内にあるかどうかを判断することにより、走査回数i=1回目の一次データが正常であるかどうかを判定する。なお、基準範囲については、事前に、例えば1回の走査を行い、その際に取得した複数の透過画像に基づいて被検体1の断層画像を再構成して表示し、この断層画像が正常であるかどうかをオペレータが目視確認し、正常である場合に複数の透過画像の画素値総和量を演算し、この演算値正常値に基づいて基準範囲を設定すればよく、例えば正常値の±20の範囲に設定すればよい。そして、例えば走査回数i=1回目の一次データの画素値総和量が基準範囲外にある場合言い換えれば、一次データが正常でないと判定した場合は、ステップ150の判定が満たされず、ステップ160に移る。ステップ160では、制御装置6の中央制御部9は、記憶部11に一時保存された走査回数i=1回目の一次データを破棄削除し、その後、前述のステップ120に戻り、回転機構4を制御して走査回数i=1回目の走査をやり直す。一方、例えば走査回数i=1回目の一次データの画素値総和量が基準範囲内にある場合言い換えれば、一次データが正常であると判定した場合は、ステップ150の判定が満たされ、ステップ170に移る。ステップ170では、制御装置6の中央制御部9は、記憶部11に一時保存された走査回数i=1回目の一次データをそのまま保存しておく。その後、ステップ180に進み、走査回数i≧2回目であるかどうかを判定する。最初は、走査回数i=1回目であるから、ステップ180の判定が満たされず、ステップ190に移る。ステップ190では、制御装置6の中央制御部9は、画像再構成の指令を画像再構成部10に出力し、画像再構成部10は、この指令に応じて、記憶部11に保存された透過画像の一次データに基づいて被検体1の断層画像又は立体画像を再構成し、この断層画像又は立体画像をディスプレイに表示させる。そして、ステップ200に進み、走査回数i=総走査回数Sであるかどうかを判定する。最初は、走査回数i=1回目であるから、ステップ200の判定が満たされず、ステップ210に移る。ステップ210では、走査回数i=i1が演算されて、走査回数i=2回目となる。そして、ステップ120に進み、回転機構4を制御して走査回数i=2回目の走査を開始し、ステップ130に進み、信号処理回路5から入力した複数の透過画像を走査回数i=2回目及び取得順序言い換えれば、走査位置と関連付け、走査回数i=2回目の一次データとして記憶部11に一時保存する。そして、走査回数i=2回目の走査が終了すると、ステップ140に進み、走査回数i=2回目の一次データに対し、透過画像の全体における画素値を積算して画素値総和量を演算する。その後、ステップ150に進み、走査回数i=2回目の一次データの画素値総和量が予め設定された基準範囲内にあるかどうかを判断することにより、走査回数i=2の一次データが正常であるかどうかを判定する。そして、例えば走査回数i=2回目の一次データの画素値総和量が基準範囲外にある場合言い換えれば、一次データが正常でないと判定した場合は、ステップ150の判定が満たされず、ステップ160に移る。ステップ160では、制御装置6の中央制御部9は、記憶部11に一時保存された走査回数i=2回目の一次データを破棄削除し、その後、前述のステップ120に戻り、回転機構4を制御して走査回数i=2回目の走査をやり直す。一方、例えば走査回数i=2回目の一次データの画素値総和量が基準範囲内にある場合言い換えれば、一次データが正常であると判定した場合は、ステップ150の判定が満たされ、ステップ170に移る。ステップ170では、制御装置6の中央制御部9は、記憶部11に一時保存された走査回数i=2回目の一次データをそのまま保存する。その後、ステップ180に進み、走査回数i≧2回目であるかどうかを判定する。走査回数i=2回目であるから、ステップ180の判定が満たされ、ステップ220に移る。ステップ220では、制御装置6の中央制御部9は、走査回数i=1回目の一次データと走査回数i=2回目の一次データを用いて透過画像の重ね合せ処理を行い、重ね合せ処理後の透過画像を二次データとして記憶部11に保存させる。その後、ステップ190に進み、制御装置6の中央制御部9は、画像再構成の指令を画像再構成部10に出力し、画像再構成部10は、この指令に応じて、記憶部11に保存された透過画像の二次データに基づいて被検体1の断層画像又は立体画像を再構成し、この断層画像又は立体画像をディスプレイに表示させる。そして、ステップ200に進み、走査回数i=総走査回数Sであるかどうかを判定する。例えば走査回数i<Sであれば、ステップ200の判定が満たされず、ステップ210に移り、上記同様の手順を繰り返す。そして、例えば走査回数i=Sに達すれば、ステップ200の判定が満たされ、計測が終了する。次に、本実施形態の動作を、図3を用いながら説明する。図3は、制御装置6の表示画面20を表す図である。まず、オペレータは、キーボードやマウス等の操作により、制御装置6の表示画面20上の計測データ名入力欄21を選択して計測データ名を入力する。また、画面20上の回転速度設定欄22を選択して回転速度を設定し、画面20上の回転ピッチ設定欄23を選択して回転ピッチを設定する。また、画面20上の総走査回数設定欄言い換えれば、重ね合せ回数設定欄24を選択して総走査回数S言い換えれば、重ね合せ回数を設定する。その後、画面20上の計測開始ボタン27を選択すると、回転機構4による放射線源2及び検出器3の回転移動が開始する。最初、画面20上の走査回数表示欄25には0が表示されて、1回目の走査が行われる。例えば、1回目の走査が仮に終了しても、透過画像の一次データが正常でないと判定された場合には、再走査が行われる。このとき、画面20上の走査回数表示欄25は0のままであり、エラー表示欄26にエラー発生/再走査が表示される。一方、例えば、透過画像の一次データが正常であると判定された場合には、画面20上のエラー表示欄26が消える。また、画面20上の断層画像表示領域28若しくは立体画像表示領域には、透過画像の一次データ若しくは二次データに基づいて再構成された断層画像若しくは立体画像が表示されるとともに、走査回数表示欄25に1が表示される。その後、走査回数表示欄25の表示が総走査回数Sとなるまで、上記同様の手順が繰返し行われる。次に、本実施形態の作用効果を、図4~図7で示す具体例を用いて説明する。図4は、比較例における各走査回数の透過画像データの画素値総和量を表す図であり、図5は、比較例における断層画像を表す図である。図6は、本実施形態における各走査回数の透過画像データの画素値総和量を表す図であり、図7は、本実施形態における断層画像を表す図である。なお、図4~図7で示す具体例における撮像条件は、1回の走査あたりの透過画像が1800枚程度、1枚の透過画像あたりの画素数が1024×1024個、画素値が14ビットの階調である。検出器3及び信号検出回路4から透過画像のデータを取得する際には、データの飛びやノイズ混入のような不具合エラーが生じることがある。図4を用いて具体的に説明すると、1~11,15,16回目の走査時にそれぞれ取得した透過画像データは、データの飛びやノイズ混入が生じておらず、各走査回数の透過画像データの画素値総和量が9E12程度でほぼ一定となっている。しかし、13回目の走査時に取得した透過画像データは、データの飛びが生じており、その画素値総和量が6.5E12程度まで減少している。また、14回目の走査時に取得した透過画像データは、データの飛びが生じており、その画素値総和量が2E12程度まで減少している。また、15回目の走査時に取得した透過画像データは、ノイズ混入が生じており、その画素値総和量が1.8E13程度まで増加している。そして、このような不具合が生じた透過画像の一次データを用いてすなわち、走査回数12~14回目の一次データも含めて重ね合せ処理を行い、重ね合せ処理後の透過画像の二次データに基づいて被検体1の断層画像を再構成すると、例えば図5で示す断層画像のように虚像図中点線で示すが現れてしまう。そこで、本実施形態では、各走査回数の透過画像データの画素値総和量が予め設定された基準範囲例えば7.2E12~1.08E13程度内にあるかどうかを判断することにより、各走査回数の透過画像データが正常であるかどうかを判定する。これにより、透過画像の一次データに対し、データの飛びやノイズ混入のような不具合が生じていないかどうかを確認することができる。そして、例えば図4で示す具体例のように走査回数12回目~14回目の一次データが得られた場合は、そのデータを破棄し、再走査を行ってデータを再取得する。これにより、例えば図6で示すように、全ての走査回数における透過画像データの画素値総和量がほぼ一定となる。そして、正常と判定された透過画像の一次データを用いて重ね合せ処理を行い、重ね合せ処理後の二次データに基づいて被検体1の断層画像を再構成すると、図7で示す断層画像のように虚像の発生を防止することができる。また、本実施形態では、透過画像の重ね合せ処理を行う前に、透過画像が正常であるかどうかを判定するので、画像処理時間の短縮を図ることができる。すなわち、例えば各走査回数の終了の度に、透過画像の重ね合せ処理を行い、重ね合せ処理後の二次データに基づいて被検体1の断層画像又は立体画像を再構成して表示し、この断層画像又は立体画像が正常であるかどうかをオペレータが目視確認することにより、透過画像の一次データが正常であるかどうかを判定する場合と比べ、画像処理時間の短縮を図ることができる。なお、上記一実施形態においては、制御装置6の中央制御部9は、走査回数毎に、透過画像の全体における画素値を積算して画素値総和量を演算する場合を例にとって説明したが、これに限られない。すなわち、透過画像の特定の一列好ましくは、断層画像への影響度を考慮すれば、透過画像の中央に位置する一列における画素値を積算して画素値総和量を演算してもよい。このような変形例においては、上記一実施形態と比べ、処理時間を短縮することができる。また、上記一実施形態においては、制御装置6の中央制御部9は、各走査回数の終了の度に、画像処理重ね合せ処理及び画像再構成を行って断層画像を表示する場合すなわち、図2中のステップ200の判定が満たされる前に、ステップ200及び190を行う場合を例にとって説明したが、これに限られず、計測が終了してから、はじめて画像処理を行って表示するようにしてもよいすなわち、図2中のステップ200の判定が満たされてから、はじめてステップ200及び190を行ってもよい。この場合も、上記同様の効果を得ることができる。また、上記一実施形態においては、制御装置6の中央制御部9は、各走査回数の終了の度に、その走査回数で取得した透過画像が正常であるかどうかを判定し、透過画像が正常でないと判定したときに、その走査回数で取得した透過画像を破棄するとともに、走査回数をカウントアップしないで再走査を行わせ、透過画像が正常であると判定されたときに、走査回数をカウントアップし、走査回数のカウント値が設定値に達するまで走査制御を行う場合を例にとって説明したが、これに限られない。すなわち、例えば重ね合せ回数にこだわらなければ、透過画像データの正常異常にかかわらず走査回数をカウントし、そのカウント値が設定値に達するまで走査制御を行ってもよい。この場合も、上記同様の効果を得ることができる。なお、以上においては、本発明の適用対象として、被検体1に対し放射線源2及び検出器3を相対的に回転させる回転機構を備えたCT装置を例にとって説明したが、これに限られない。すなわち、例えば配管等の長物を被検体とし、この被検体の長手方向に放射線源及び検出器を並進移動させて複数回走査する走査機構を備えたCT装置に適用してもよい。このような場合も、上記同様の効果を得ることができる。"