被写体を測光する測光手段と、前記測光手段の出力値が所定値となるように当該測光手段をリセットするリセット手段と、前記リセットを行ってから第1の時間が経過したときの前記測光手段の出力に基づく第1の測光値と、前記リセットを行ってから前記第1の時間よりも長い第2の時間が経過したときの前記測光手段の出力に基づく第2の測光値とに基づいて予測測光値を算出する算出手段と、前記リセットを行ってから前記第2の時間よりも長い第3の時間が経過したときに前記測光手段の出力に基づく第3の測光値を取得した場合、前記第3の測光値に基づいて露出演算に前記予測測光値を用いるか否かを決定する決定手段と、を有することを特徴とする撮像装置。前記決定手段は、前記第3の測光値が前記第2の測光値以上の場合、前記予測測光値を用いずに前記第3の測光値を前記露出演算に用いるようにすることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記決定手段は、前記第3の測光値が前記予測測光値よりも小さい場合、前記予測測光値を用いずに前記第3の測光値を前記露出演算に用いるようにすることを特徴とする請求項1または2に記載の撮像装置。前記決定手段は、前記第3の測光値が前記第2の測光値よりも小さく、かつ、前記予測測光値以上である場合、前記第3の測光値及び前記予測測光値を加重平均して算出した測光値を前記露出演算に用いるようにすることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の撮像装置。前記決定手段は、前記第3の時間が第1の閾値未満である場合、前記第3の時間が前記第1の閾値に近いほど、前記第3の測光値の重み付けを大きくして加重平均して算出した測光値を前記露出演算に用いるようにすることを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。前記決定手段は、前記第3の時間が前記第1の閾値以上の場合、前記予測測光値を用いずに前記第3の測光値を前記露出演算に用いるようにすることを特徴とする請求項5に記載の撮像装置。前記決定手段は、前記第3の時間が前記第1の閾値よりも小さい第2の閾値未満の場合、前記第2の閾値以上の時間が経過したときの前記測光手段の測光値に基づいて露出演算に用いる測光値を決定することを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。被写体を測光する測光手段と、前記測光手段の出力値が所定値となるように当該測光手段をリセットするリセット手段と、を有する撮像装置の制御方法であって、前記リセットを行ってから第1の時間が経過したときの前記測光手段の出力に基づく第1の測光値と、前記リセットを行ってから前記第1の時間よりも長い第2の時間が経過したときの前記測光手段の出力に基づく第2の測光値とに基づいて予測測光値を算出する算出ステップと、前記リセットを行ってから前記第2の時間よりも長い第3の時間が経過したときに前記測光手段の出力に基づく第3の測光値を取得した場合、前記第3の測光値に基づいて露出演算に前記予測測光値を用いるか否かを決定する決定ステップと、を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。しかしながら、特許文献1に記載された測光回路では、複数の測光出力Voが直線的でない場合、測光出力Voが安定化しているとして最後の測光出力Voを測光出力Voutとしてしまう。そのため、例えば、測光出力Voが直線的にならなければ、測光出力Voが安定化していない状態であっても最後の測光出力Voを測光出力Voutとしてしまい、適正な測光出力Voutが得られない場合がある。本発明は上記問題点を鑑みてなされたものであり、測光値の予測を行う場合にも、被写体の輝度を反映させた測光値を用いて露出演算を行うことができるようにすることを目的とする。上記目的を達成するために、本発明にかかる撮像装置は、被写体を測光する測光手段と、前記測光手段の出力値が所定値となるように当該測光手段をリセットするリセット手段と、前記リセットを行ってから第1の時間が経過したときの前記測光手段の出力に基づく第1の測光値と、前記リセットを行ってから前記第1の時間よりも長い第2の時間が経過したときの前記測光手段の出力に基づく第2の測光値とに基づいて予測測光値を算出する算出手段と、前記リセットを行ってから前記第2の時間よりも長い第3の時間が経過したときに前記測光手段の出力に基づく第3の測光値を取得した場合、前記第3の測光値に基づいて露出演算に前記予測測光値を用いるか否かを決定する決定手段と、を有することを特徴とする。また、上記目的を達成するために、本発明にかかる撮像装置の制御方法は、被写体を測光する測光手段と、前記測光手段の出力値が所定値となるように当該測光手段をリセットするリセット手段と、を有する撮像装置の制御方法であって、前記リセットを行ってから第1の時間が経過したときの前記測光手段の出力に基づく第1の測光値と、前記リセットを行ってから前記第1の時間よりも長い第2の時間が経過したときの前記測光手段の出力に基づく第2の測光値とに基づいて予測測光値を算出する算出ステップと、前記リセットを行ってから前記第2の時間よりも長い第3の時間が経過したときに前記測光手段の出力に基づく第3の測光値を取得した場合、前記第3の測光値に基づいて露出演算に前記予測測光値を用いるか否かを決定する決定ステップと、を有することを特徴とする。本発明によれば、測光値の予測を行う場合にも、被写体の輝度を反映させた測光値を用いて露出演算を行うことができる。以下、本発明の好ましい実施形態を図面を用いて詳細に説明する。なお、以下の説明に用いる図面において、同一の要素部品は同じ符号としている。第1の実施形態図1は、本発明の第1の実施形態における撮像装置の概略構成図である。同図において、101はCPU中央演算処理装置であり、本撮像装置の各部の動作はこのCPU101により制御される。不図示の被写体像からの光束が、レンズユニット内の撮影レンズ115及び絞り112を介してクイックリターンミラー110に導かれる。クイックリターンミラー110の中央部はハーフミラーになっており、一部の光束が透過する。そして、この透過した光束は、クイックリターンミラー110に設置されたサブミラー116によって、117、118、119からなる公知の位相差方式焦点検出ユニットに導かれる。ここで117はフィールドレンズ、118は2次結像レンズ、119はAFセンサである。AFセンサ119の出力に基づいて、CPU101は撮影レンズ駆動制御部125に撮影レンズ115の駆動させるための駆動パルスを送る。撮影レンズ駆動制御部125は送られてきた駆動パルスに応じてパルスモータを駆動させ、撮影レンズ115を合焦位置に駆動させることで自動焦点調節を行う。一方、クイックリターンミラー110で反射された光束は、焦点検出板以降ピント板と称す120、ペンタプリズム121を介して接眼レンズ122に導かれる。なお、ピント板120は撮影レンズ115の撮像素子結像面と等価の結像面に配され、クイックリターンミラー110で反射された被写体像はピント板120で1次結像する。また、接眼レンズ122の近傍に配置された測光回路100は、測光プリズム123、測光レンズ124によってピント板120に結像した被写体像を測光回路100のチップ上に2次結像させることで被写体の測光を行う。撮影者が不図示のレリーズボタンを押すと、クイックリターンミラー110は撮像素子113への光路外に退避する。一方、撮影レンズ115によって集光された光束はフォーカルプレーンシャッタ111以下、シャッタとするにて光量制御がなされ、CMOS等の撮像素子113によって光電変換処理された後、撮影画像として不図示の記録メディアに記録される。図2は、本実施形態の撮像装置のブロック図である。測光回路100は被写界を複数の領域に分割して測光し、それぞれの領域の測光データを順次出力する。測光回路100から出力された測光データは記憶部102に記憶される。記憶部102に記憶された測光データは、測光値判定部103、測光制御部104、予測測光値算出部106及び露出演算部107へ出力される。測光値判定部103は、測光回路100から出力された測光データが測光回路100の安定時に出力された測光データか否かを、測光データが出力されたタイミングと記憶部102に保持された閾値との比較に基づいて判定する。また、測光値判定部103は、測光回路100から出力された測光データを比較して、被写体の輝度が変化したか否かの判定も行う。測光制御部104は、記憶部102に記憶されている測光データと測光値判定部103の判定結果に基づいて、測光回路100の電荷の蓄積及び蓄積された電荷の読み出しを行うタイミングを制御する。測光回路100の動作の詳細については、後に詳しく説明する。露出演算部107では、記憶部102に格納されている測光データと、レンズデータ108内に収められているレンズユニットの焦点距離、開放絞り値、射出瞳位置、ケラレ情報などのレンズデータなどに基づいて、露出値の演算を行う。露出制御部109は、不図示のレリーズボタンが押されると、露出演算部107により演算された露出値に基づいてクイックリターンミラー110、シャッター111、絞り112などを制御し露光を行う。なお、記憶部102、測光値判定部103、測光制御部104、予測測光値算出部106、露出演算部107、及び露出制御部109はすべてCPU101によって実現されているが、その機能の一部あるいは全部を他の電気回路によって実現することも可能である。図3は、本実施形態の測光回路100の詳細な構成を示す回路図の一例である。図3において、Q1は入射光に応じて電荷を発生する光電変換領域をベースに有するNPNのフォトトランジスタ、MP1はQ1のベース電位を固定するためのPMOS、IはMP1の負荷である電流源である。MP2はMP1のゲート電位をMP1のドレインにフィードバックするためのPMOS、MP3はQ1にキャリアの注入を強制的に行うための画素リセット以下、リセット動作ともいう用のPMOSである。そして、206はQ1のエミッタ電流を対数圧縮するための対数圧縮部である。なお、測光回路100の構成は図3に示す回路構成に限られるものではなく、フォトトランジスタのベース電位光電変換領域をリセットできる構成を有する回路構成であればよい。例えば、特開2000-77644号公報、特開2010-45293号公報、特開2010-45294号公報等に記載された回路のフォトトランジスタのベース電位をリセット可能な構成として、測光回路100に利用することができる。定電流が流れたMP1のゲート電圧は、電圧VCCに対して、一定の電位差Vthとなるので、Q1のベース電位もQ1に入射する光強度によらず一定電位となる。また、MP2を用いてフィードバックを形成することにより、さらにQ1のベース電位を安定化させている。これにより、大きなベース容量Ccbの充放電は行う必要がない。したがって、図3に示した測光回路の応答性は、コレクタ容量よりは小さい、エミッタ容量Ceb及びMP2のドレイン容量と光電流により決定される。したがって、応答性による影響が見え始める低輝度下では、測光値は、実際の輝度に相当する値よりも高くなってしまうため、実際の輝度に相当する値よりも高い測光値に基づいて露出制御を行い撮影することで露出アンダーの撮影画像になってしまう。図4は、測光回路100の測光出力が時間とともにどのように安定化していくかを示した図である。縦軸は、測光回路100の測光出力以下、測光値ともいうをAD変換した結果を示し、横軸はリセット動作後の経過時間を示している。グラフの各系列は、輝度による違いの例であり、それぞれ輝度=BV2、BV0、BV-2、BV-4の時の測光出力の変化を表している。また各系列において、リセット動作後の経過時間が10ms、20ms、50ms、150ms、250msの時に読み出した結果をプロットしている。リセット動作をしてから安定状態に達するまでの特性は輝度ごとに異なっているため、安定状態に達するまでの期間過渡状態に複数回測光出力の読み出しを行い、予測測光値算出部106によって安定状態になったときの測光出力を予測する。安定状態の測光出力の予測は、例えば、以下の式1及び図9に示す予測関数を用いればよい。V=VR-VTexp-ktVT1式1では、3つの測光出力により上記の式のパラメータを決定することによって安定状態の測光出力を予測する。すなわち、リセット動作後に測光を2回行って安定状態の測光値を予想した予想測光値を算出する。ここで、Vはリセット動作後、時間t経過したときの測光出力の値、VR、VT、kは測光出力の時間特性を決めるパラメータである。つまり、Vの値はt=∞の時に、安定状態の測光出力となるということをこの式は示している。t=0でV=VRとなることから、VRはリセット電位に関するパラメータ、t→∞でV=VTとなり、安定状態の測光出力であるVTに収束する。kは測光出力の時間特性のカーブの曲率を規定するパラメータであり、寄生容量やhFE、光電流などに依存する。なお、本実施形態では、リセット動作直後の測光回路100の出力値は予め決められた所定値であるものとする。また、安定状態の測光出力の予測方法は上記の式1を用いた方法に限定されるものではなく、過渡状態において得た測光出力を用いて予測する方法であればよい。図5は、リセット動作後に行った複数回の測光により得られる測光値を示している。リセット動作後の経過時間がT1の時に得られる測光値をAE1、経過時間がT2の時に得られる測光値をAE2としている。そして、これら2回の測光タイミング及び測光値と前述の式1とに基づいて算出された予測測光値をAEpとしている。また、リセット動作後の経過時間がT3の時に得られる測光値を、3つの場合に分けて示している。1に示した場合は、3回目の測光値が2回目の測光値AE2よりも大きい場合を示している。この場合、2回目の測光と3回目の測光との間で被写体の輝度が高輝度側に変化したと想定されるので、予測測光値AEpよりも3回目の測光出力に基づく測光値のほうが被写体の輝度を正確に反映していると言える。2に示した場合は、3回目の測光値が2回目の測光値AE2と予測測光値AEpとの間である場合を示している。この場合、2回目の測光と3回目の測光との間で被写体の輝度に変化がなく予測関数に従って測光出力が変化している、あるいは、2回目の測光と3回目の測光との間で被写体の輝度に小さな変化があると想定される。しかしながら、上記の式1に示した予測関数は測光出力を予測するためのものであって、過渡状態における測光出力が予測関数と一致するように変化するとは限らない。そのため、2回目の測光出力と3回目の測光出力との間の変化が過渡状態であることに起因する変化なのか被写体の輝度変化に起因する変化なのかを3回目の測光出力から判断することは困難である。3に示した場合は、3回目の測光値が予測測光値AEpよりも小さい場合を示している。この場合、2回目の測光と3回目の測光との間で被写体の輝度が低輝度側に変化したと想定されるので、予測測光値AEpよりも3回目の測光値のほうが被写体の輝度を正確に反映していると言える。以上のように、予測測光値を算出した後に測光を行った場合、予測測光値と最新の測光出力に基づく測光値のうち、被写体の輝度を予測測光値のほうが正確に反映している場合と最新の測光値のほうが正確に反映している場合のいずれも考えられる。そこで、予測測光値を算出した後に測光を行った場合に、露出演算に予測測光値を用いるか否かについて図6のフローチャートを用いて説明する。図6は、本実施形態における露出演算動作を示すフローチャートである。ステップS601で測光制御部104は測光回路100を動作させてリセット動作を行う。リセット動作を行った後、ステップS602で不図示のタイマーにしたがって時間T1第1の時間が経過するまで待機する。その後、CPU101はステップS603で測光回路100の出力の読み出しを行い、読み出して得られた測光値AE1第1の測光値を記憶部102に記憶する。続いて、ステップS604でCPU101はリセット動作から時間T2第2の時間が経過するまで待機した後、ステップS605で測光回路100の出力の読み出しを行い、読み出して得られた測光値AE2第2の測光値を記憶部102に記憶する。時間T1、T2は、例えば、図4に示したように、10ms、20msに設定される。ステップS606で予測測光値算出部106は測光値AE1及びAE2に基づいて予測測光値AEpを算出する。次に、ステップS607でCPU101はさらに測光を行う時間があるか否かを判断し、次のコマの露光をしなければならないなど測光を行う時間がない場合、ステップS608へ進む。ステップS608で露出演算部107は予測測光値AEpを露出演算に用いる測光値に決定して露出演算を行う。ステップS607でさらに測光を行う時間があると判断した場合、ステップS609へ進み、CPU101は測光回路100の出力の読み出しを行い、読み出して得られた測光値AE3第3の測光値を取得する。そして、ステップS610でCPU101は測光値AE3を取得した時のリセット動作を行ってから経過した時間T3第3の時間を記憶部102に記憶する。ステップS611で測光値判定部103は、時間T3が閾値Tth未満第1の閾値未満か否かを判断し、閾値Tth以上第1の閾値以上であれば、測光値AE3を取得した時は安定状態であると判定して、ステップS612へ進む。ステップS612で露出演算部107は、測光値AE3を露出演算に用いる測光値に決定して露出演算を行う。ここで、閾値Tthは、リセット動作後に被写体の輝度に変化がない場合に測光回路100の測光出力が安定するまでに要する時間、例えば、120msなどに設定される。なお、閾値Tthは、測光回路100の測光出力が安定するまでに要する時間に基づいて設定されればよいため、被写体の輝度に応じて閾値Tthの値を変更してもよい。例えば、予測測光値AEpの大きさから被写体の輝度を判断して閾値Tthの値を変更してもよい。時間T3が閾値Tth未満であれば、測光値判定部103は、測光値AE3を取得した時は過渡状態であると判定して、ステップS613へ進む。ステップS613で測光値判定部103は測光値AE3を測光値AE2及び予測測光値AEpと比較する。測光値AE3がAEp≦AE3<AE2を満たさない第3の測光値が予測測光値より小さい、または、第2の測光値以上場合、図5に示した1または3の場合に相当し、2回目の測光と3回目の測光の間で被写体の輝度が大きく変化したと想定される。そのため、ステップS614へ進み、露出演算部107は測光値AE3を露出演算に用いる測光値に決定して露出演算を行う。一方、AEp≦AE3<AE2を満たす第3の測光値が予測測光値以上、かつ、第2の測光値より小さい場合、図5に示した2の場合に相当する。すなわち、測光値AE2と測光値AE3との差が、過渡状態であることに起因するのか被写体の輝度が変化したことに起因するのか判断できない。そのため、ステップS615へ進み、露出演算部107は測光値AE3と予測測光値AEpとの加重平均により露出演算に用いる測光値AE ́を以下の式2を用いて算出する。AE ́=T3×AE3Tth-T3×AEp/Tth2式2に示すように、時間T3が閾値Tthに近いほどAE3の重み付けが大きくなるようにして測光値AE ́を算出している。これは、リセット動作を行ってからの経過時間が閾値Tthに近いほど、過渡状態にある測光値が予測測光値AEpに近くなるからである。例えば、被写体の輝度に変化がない場合、時間T3が閾値Tthに近いほど測光値AE3と予測測光値AEpとの差は小さくなる。そのため、時間T3が閾値Tthに近ければ測光値AE3の重み付けを大きくして測光値AE ́を算出しても、算出結果と予測測光値AEpとの差は小さく、誤った測光値になりにくい。また、被写体の輝度に変化があった場合でも、測光値AE3の重み付けを大きくすることで予測測光値AEpの寄与率が小さくなり、被写体の輝度の変化を反映させた測光値を算出することができる。以上のように、測光値を予測した後に測光を行った場合に、最新の測光値に基づいて露出演算に用いる測光値を決定することで、被写体の輝度を反映させた測光値を用いて露出演算を行うことができる。また、最新の測光値を得るタイミングに基づいて露出演算に用いる測光値を決定することで、被写体の輝度を反映させた測光値を用いて露出演算を行うことができる。第2の実施形態第1の実施形態では、予測測光値の算出後に測光を行って得られた測光値に基づいて露出演算に用いる測光値を決定する場合を説明したが、本実施形態では、予測測光値の算出後に測光を行っても露出演算に用いる測光値の決定に寄与させない場合を説明する。なお、本実施形態における撮像装置の構成は第1の実施形態と同様であるため、説明は省略する。図7は、図5における2回目の測光と3回目の測光の間に測光が可能だった場合の測光値のプロットを図5に追加した図である。測光値の予測に必要な2回の測光の後に3回目の測光が可能な場合であっても、3回目の測光が2回目の測光と近すぎると、被写体の輝度が変化することで測光値が変化したことを判断しにくく、被写体の輝度を正確に反映させた測光値を決定することが困難となる。そこで、本実施形態では、予測測光値の算出後に測光を行う場合に、測光を行うタイミングに応じて露出演算に用いる測光値の決定に寄与させるか否かを判断する。図8は本実施形態における露出演算動作を説明するフローチャートである。なお、ステップS801~S807は、図6のステップS601~S607と同様の処理を行うため、説明は省略する。CPU101は、ステップS807でさらに測光を行う時間があるか否かを判断し、次のコマの露光をしなければならないなど測光を行う時間がない場合、ステップS808に進む。ステップS808で露出演算部107は予測測光値AEpを露出演算に用いる測光値に決定して露出演算を行う。ステップS807でさらに測光を行う時間があると判断した場合、ステップS809へ進み、CPU101は測光回路100の出力の読み出しを行い、読み出して得られた測光値AEnnの初期値=3を取得する。そして、ステップS810でCPU101は測光値AEnを取得した時のリセット動作を行ってから経過した時間Tnを記憶部102に記憶する。ステップS811で測光値判定部103は測光値AEn-1と測光値AEnを比較し、AEn-1<AEnであれば被写体の輝度が高輝度側に変化したと判定しステップS812に進む。ステップS812で露出演算部107は測光値AEnを露出演算に用いる測光値に決定して露出演算を行う。AEn-1≧AEnであればステップS813に進み、CPU101は時間Tnと時間Ta第2の閾値を比較する。時間Taは測光値AE2を取得した時の時間T2よりわずかに長い時間、例えば40msなどが設定される。Tn<Ta時間Tnが第2の閾値未満であれば、CPU101は予測測光値の算出直後にn回目の測光出力が読み出されたと判断し、ステップS814でnをインクリメントしてステップS807へ戻り、再び測光を行う時間があるか否かを判断する。Tn≧Ta時間Tnが第2の閾値以上であればステップS815へ進む。ステップS815で測光値判定部103は時間Tnと閾値Tthを比較し、Tn≧Tthであれば、測光値AEnを取得した時は安定状態であると判定して、ステップS816へ進む。ステップS816で露出演算部107は測光値AEnを露出演算に用いる測光値に決定して露出演算を行う。Tn<Tthであれば、測光値判定部103は測光値AEnを取得した時は過渡状態であると判定して、ステップS817で測光値AEnを予測測光値AEpと比較する。AEp≦AEnを満たさない場合、n-1回目の測光とn回目の測光の間で被写体の輝度が大きく変化したと想定される。そのため、ステップS816へ進み、露出演算部107は測光値AEnを露出演算に用いる測光値に決定して露出演算を行う。AEp≦AEnを満たす場合、測光値AEn-1と測光値AEnとの差が、過渡状態であることに起因するのか被写体の輝度が変化したことに起因するのか判断できない。そのため、露出演算部107は測光値AEnと予測測光値AEpとの加重平均により露出演算に用いる測光値AE ́ ́を以下の式3を用いて算出する。AE ́ ́=Tn×AEnTth-Tn×AEp/Tth3式3も前述の式2と同様の考え方に基づいて、時間Tnが閾値Tthに近いほどAEnの重み付けが大きくなるようにしている。上記のようにして測光値AE ́ ́を算出すると、露出演算部107は、算出した測光値AE ́ ́を露出演算に用いる測光値に決定して露出演算を行う。以上のように、測光値の予測を行った後に測光を行った場合に、予測測光値の算出後所定時間内に得られた測光値は露出演算に用いる測光値の決定に寄与させないようにすることで、被写体の輝度をより正確に反映させた測光値を露出演算に用いることができる。なお、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。