供試開閉装置のコンデンサバンク開閉性能を評価するためにコンデンサバンク開閉試験を投入試験と遮断試験に分けて試験を行う場合のコンデンサバンク開閉性能試験方法において、第1のステップとして供試開閉装置を開極状態にして開閉装置適用系統電圧の波高値相当の直流電圧を前記供試開閉装置の電極間に印加し、第2のステップとして前記供試開閉装置を投入状態にすることで高周波の突入電流を前記供試開閉装置に注入し、開閉装置の投入性能の検証を行うことを特徴とするコンデンサバンク開閉性能試験方法。前記第1ステップでの開閉装置適用系統電圧の波高値相当の直流電圧に代えて、前記開閉装置適用系統電圧の交流電圧を前記供試開閉装置の電極間に印加することを特徴とする請求項1記載のコンデンサバンク開閉性能試験方法。請求項1または2の試験方法と進み電流遮断試験方法とを組み合わせて一連のコンデンサバンク開閉性能を検証することを特徴とするコンデンサバンク開閉性能試験方法。供試開閉装置のコンデンサバンク開閉性能を評価するために開閉試験を投入試験と遮断試験に分けて試験を行う場合のコンデンサバンク開閉性能試験装置において、電源用コンデンサからギャップを介して突入電流用リアクトルが接続された回路と、この回路に並列に接続され開閉器適用系統電圧の波高値相当の直流電圧を印加するためのコンデンサと抵抗との直列接続回路とを備え、前記ギャップをトリガすることにより前記電源用コンデンサに充電された電荷を前記直列接続回路のコンデンサに充電して直流電圧を発生させ、その直流電圧を前記供試開閉装置に印加し、開閉装置の投入性能の検証を行うことを特徴とするコンデンサバンク開閉性能試験装置。前記直列接続回路に代えて、開閉器適用系統電圧相当の交流電圧を印加する交流電圧発生用リアクトルを設け、前記ギャップをトリガすることにより前記電源用コンデンサに充電された電荷を前記交流電圧発生用リアクトルに交流電圧を発生させ、その交流電圧を前記供試開閉装置に印加し、開閉装置の投入性能の検証を行うことを特徴とするコンデンサバンク開閉性能試験装置。前記供試開閉装置に印加される交流電圧の過電圧及び電圧振動を抑制させる働きを持たせるための素子を追加したことを特徴とする請求項5記載のコンデンサバンク開閉性能試験装置。245kV、145kV、725kVの電圧階級に使用される交流電圧発生用リアクトルは、交流電圧発生用リアクトルに対する突入電流用リアクトルの比が5000~10000分の1程度である交流電圧発生用リアクトルを採用したことを特徴とする請求項5または6記載のコンデンサバンク開閉性能試験装置。開閉装置の合成遮断試験に用いる電圧源設備の電源用コンデンサは並列に複数接続したコンデンサを段間にギャップを設けて直列に複数段積み重ねた構造のものがある。これをギャップで供試開閉装置端子と隔て充電後それぞれのギャップをトリガさせ放電することで電圧源としている。多段にしている理由としては1段当りの段数倍の出力電圧を得ることができる点が挙げられる。また、先に述べたようにコンデンサの出力取り出し端子はギャップが設置され負荷側と隔てられている。ここで、従来の技術で説明した図7に示す規格に記載されている回路例において、電源用コンデンサ2に多段構造のコンデンサを使用した場合を考える。電源用コンデンサ2は試験回路とギャップを介して接続されるので、図9に示すような回路構成となる。このとき、多段構造のコンデンサの段間のギャップは、図9においては省略し等価的に1段のコンデンサとして表している。このような回路で電源用コンデンサ2を所定の電圧に充電しギャップ7をトリガさせた場合、ギャップ7が導通状態にある状態で瞬時的に供試開閉装置1の電極間に電圧が印可されるが、連続的に電圧を印加することはできない。従って、規格で紹介された例のような連続的に供試開閉装置の電極間に電圧を印加した状態で投入操作を行いプレアーク発生と高調波の突入電流注入時の投入性能を検証するということはできない。そこで、本発明の実施形態では、開閉装置の投入操作時に適用系統電圧相当の電圧を連続的に印加し、プレアーク発生と高調波の突入電流注入時の投入性能を検証することができるコンデンサバンク開閉性能試験方法及び試験装置を提供する。本発明の実施形態は、供試開閉装置のコンデンサバンク開閉性能を評価するためにコンデンサバンク開閉試験を投入試験と遮断試験に分けて試験を行う場合のコンデンサバンク開閉性能試験方法であり、第1のステップとして供試開閉装置を開極状態にして開閉装置適用系統電圧の波高値相当の直流電圧を前記供試開閉装置の電極間に印加し、第2のステップとして前記供試開閉装置を投入状態にすることで高周波の突入電流を前記供試開閉装置に注入し、開閉装置の投入性能の検証を行うことを特徴とする。以下、本発明の実施形態について説明する。図1は本発明の実施形態1に係るコンデンサバンク開閉性能試験方法を実現するための試験装置の回路図である。本発明の実施形態1の試験装置は、図1に示すように、電源用コンデンサ2と突入電流用リアクトル3との間にギャップ7が設けられている。それらと並列にコンデンサ4と抵抗8との直列接続回路が接続されている。突入電流リアクトル3から供試開閉装置1には減衰抵抗6を経て接続されている。また、図1にあるリアクトル5は配線分インピーダンスを考慮して表している。ギャップ7はシーケンス装置で所定のタイミングでトリガさせる。このような構成の試験装置において、供試開閉装置1を開極状態であらかじめ電源用コンデンサ2を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電しておく。次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ7をトリガする。ギャップ7がトリガされると、電源用コンデンサ2に蓄えられた電荷は、突入電流用リアクトル3を経て放電されコンデンサ4を充電し、供試開閉装置1は開極状態なので供試開閉装置1の電極間に、図2aに示すような直流電圧が印加される。次に、供試開閉装置1を投入すると、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5、供試開閉装置1の直列接続のRLC回路が形成され、図2bに示すように、高周波突入電流が供試開閉装置1に注入される。このように、供試開閉装置1を開極状態で電源用コンデンサ2を充電し、突入電流用リアクトル3を経て放電し、コンデンサ4を充電することにより供試開閉装置1の系統適用電圧の波高値相当の直流電圧を発生させる。そして、この直流電圧を供試開閉装置1の電極間に印加し、供試開閉装置1を投入することにより、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5、供試開閉装置1の直列接続のRLC回路で高周波突入電流を供試開閉装置1に注入する。これにより、開閉装置のコンデンサバンク開閉性能試験を投入試験と遮断試験に分けて行う場合の投入試験を行うことができる。また、進み電流遮断試験方法とを組み合わせて一連のコンデンサバンク開閉性能を検証することもできる。実施形態1によれば、多段構造のコンデンサを電源として用い、供試開閉装置1の電極間に対して、ギャップ7を閉じて電源用コンデンサ1を放電させ、突入電流用リアクトル3を介して接続されているコンデンサ4を充電する。これにより、開閉装置適用系統の電圧として、直流電圧を供試開閉装置1の電極間に印加するので、多段構造のコンデンサを用いた試験装置で、供試開閉装置1の電極間に直流の試験電圧を連続的に印加することができる。次に、本発明の実施形態2について説明する。図3は本発明の実施形態2に係るコンデンサバンク開閉性能試験方法を実現する試験装置の回路図である。この実施形態2の試験装置は、図1に示した実施形態1に対し、コンデンサ4と抵抗8との直列接続回路に代えて、交流発生用リアクトル9を設けたものである。まず、供試開閉装置1を開極状態であらかじめ電源用コンデンサ2を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電しておく。次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ7をトリガする。ギャップ7がトリガされると、電源用コンデンサ2は回路に接続され、電源用コンデンサ2に蓄えられていた電荷は、突入電流用リアクトル3、交流電圧発生用リアクトル9の2つを通して放電される。すなわち、電源用コンデンサ5、突入電流用リアクトル3、交流電圧発生用リアクトル9の3素子でLC振動回路が形成され、それぞれの素子を所定の値に設定することにより、任意の周波数の交流電流を流すことができる。ここで、交流電圧発生用リアクトル9≫突入電流用リアクトル3に設定されているので、充電電圧はほぼ交流電圧発生用リアクトル9の両端に印加されることとなる。このとき、供試開閉装置1は開路状態なので、供試開閉装置1の電極間にも、図4aに示すように、交流電圧発生用リアクトル9に印加されている電圧と同程度の交流電圧が印加される。次に、印加されている交流電圧が波高値相当で供試開閉装置1を投入すると、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5、供試開閉装置1の直列接続のRLC回路が形成され、高周波突入電流が供試開閉装置1に注入される。ここで、供試開閉装置1に印加する交流電圧の周波数は商用周波程度としている。また高周波突入電流はIEC62271100で周波数4250Hz、突入電流の第1波の波高値が20kAと規定されている。高周波突入電流の周波数に比べ商用周波は170程度と遅い。電源用コンデンサ5、突入電流用リアクトル3、交流電圧発生用リアクトル9のLC振動回路で商用周波を発生させるが交流電圧発生用リアクトル9でほぼ周波数が決まるように設定する。また、高周波突入電流は波高値が高いことからも突入電流用リアクトルは交流電圧発生用リアクトルに比べて非常に小さな値となる。調相設備用開閉装置の利用が多いと考えられる245kV、145kV、725kVの電圧階級に対応させると、実施形態2の試験装置では、突入電流用リアクトル3は交流電圧発生用リアクトル9の5000~10000分の1程度の値になる。以上のように、実施形態2によれば、供試開閉装置1を開極状態で電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、交流電圧発生用リアクトル9によるLC振動回路で供試開閉装置1の系統適用電圧の交流電圧を発生させ、供試開閉装置1の電極間に印加し、供試開閉装置1を投入する。これにより、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、配線分のインピーダンスを考慮したリアクトル5、供試開閉装置の直列接続のRLC回路で高周波突入電流を供試開閉装置1に注入し、開閉装置1のコンデンサバンク開閉性能試験を投入試験と遮断試験に分けて行う場合の投入試験を行うことができる。また、進み電流遮断試験方法とを組み合わせて一連のコンデンサバンク開閉性能を検証することもできる。次に、本発明の実施形態3について説明する。図5は本発明の実施形態3に係るコンデンサバンク開閉性能試験方法を実現する試験装置の回路図である。この実施形態3の試験装置は、図3に示した実施形態2に対し、コンデンサ4と抵抗8とを追加したものである。コンデンサ4と抵抗8とを追加する理由は、図3の試験装置に対して、実際の試験回路における浮遊容量を考慮するためである。すなわち、図3の試験装置で浮遊容量を考慮すると、電源用コンデンサ2に蓄えられた電荷が放電される際に浮遊容量が充電され、高周波の電圧が重畳される。このことから、試験電圧の2倍程度の電圧が供試開閉装置1の電極間に印加される場合がある。そこで、コンデンサ4と抵抗8との直列接続を図3の試験装置に追加することで過電圧とそこで発生する高周波の振動を抑える働きを担う。このような構成の試験装置において、供試開閉装置1を開極状態であらかじめ電源用コンデンサ2を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電しておく。次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ7をトリガする。ギャップ7がトリガされると電源用コンデンサ2が回路に接続され、電源用コンデンサ2に蓄えられていた電荷は突入電流用リアクトル3を経て放電される。この放電電荷が突入電流用リアクトル3を通ると、交流電圧発生用リアクトル9に流れ込む電荷、すなわち、実施形態2にあるように電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、交流電圧発生用リアクトル9の3素子で形成されるLC振動回路を流れる電荷は所定の交流電流となる。ここで、交流電圧発生用リアクトル9≫突入電流用リアクトル3に設定されているので、充電電圧は、ほぼ交流電圧発生用リアクトル9に印加されることとなる。このとき、供試開閉装置1は開極状態なので、図6aに示すように、供試開閉装置1の電極間には交流電圧発生用リアクトル9に印加されている電圧と同程度の交流電圧が印加される。同時に、交流電圧発生用リアクトル9に並列にコンデンサ4と抵抗8とが接続されているのでコンデンサ8が充電され、浮遊容量の充電による過電圧とそこで発生する高調波の振動を抑える働きをする。次に、図6aに示す交流電圧が波高値相当で供試開閉装置1を投入すると、電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5、供試開閉装置1の直列接続のRLC回路が形成され、図6bに示すように、高周波突入電流が供試開閉装置1に注入される。以上のように、実施形態3によれば、供試開閉装置1を開極状態で電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、交流電圧発生用リアクトル9によるLC振動回路で供試開閉装置1の系統適用電圧にあたる交流電圧を発生させ、供試開閉装置1の電極間に印加し、その場合の浮遊容量の充電による過電圧とそこで発生する高調波の振動を抑え、交流電圧が波高値相当で供試開閉装置1を投入することにより電源用コンデンサ2、突入電流用リアクトル3、減衰抵抗6、リアクトル5、供試開閉装置1の直列接続のRLC回路で高周波突入電流を供試開閉装置1に注入し、開閉装置のコンデンサバンク開閉性能試験を投入試験と遮断試験に分けて行う場合の投入試験を行うことができる本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。