"高加速寿命試験内に配置された発光デバイスを定電流で発光し、前記発光デバイスからの光を受光する光電素子からの受光電流を検出する光測定系統として基準系と評価系との2系統を設置し、基準系測定系統には光の通過経路中光透過性材料を設置することがなく、また評価系光測定系統には光の通過経路中で前記高加速寿命試験装置の悪環境下に光透過性材料を設置し、前記基準系と評価系との光測定系統の前記受光電流の差分変化によって、光透過性材料の劣化状態を加速的に評価することを特徴とする光透過性材料の劣化評価方法。高加速寿命試験装置内に配置される発光デバイスを含む発光素子ユニットと前記発光デバイスからの光を受光してその受光量に相応する電流を発生する光電素子を含む受光素子ユニットとからそれぞれ成っている2つの光測定系統と、前記各光測定系統の発光デバイスに定電流を供給して前記発光デバイスを発光する発光デバイス定電流器と、前記発光デバイスを流れる発光デバイス電流と発光デバイス電圧とを検出して測定する発光デバイス電圧/電流測定器と、前記受光素子ユニットからの受光電流を検出し測定する受光電流測定器と、前記発光デバイス定電流器に定電流を供給するように前記発光デバイス定電流器に指令する定電流供給指令信号を発生し、前記発光デバイス電圧/電流測定器と前記受光電流測定器とからの測定データを受けて前記測定データを表示/又は記録する制御装置とを備え、前記2つの光測定系統のうち一方の光測定系統は、発光素子ユニットと受光素子ユニットとの間の光の通過経路中に被試験光透過性材料を設置することがない基準系光測定系統であり、他方の光測定系統は、発光素子ユニットと受光素子ユニットとの間の光の通過経路中で前記高加速寿命試験装置の悪環境下に被試験光透過性材料を設置した評価系光測定系統であり、前記制御装置は、前記基準系と評価系との光測定系統の前記受光電流の差分変化によって、光透過性材料の劣化状態を加速的に評価するようにしたことを特徴とする光透過性材料の劣化評価装置。請求項2に記載の光透過性材料の劣化評価装置であって、前記は発光素子ユニットと前記受光素子ユニットは、前記高加速寿命試験装置内の前記悪環境下から絶縁するそれぞれの密閉容器内に配置され、前記密閉容器は、ユニットの開口を導光デバイスによって閉じられていることを特徴とする光透過性材料の劣化評価装置。本発明が解決しようとする第1の課題は、試験対象である光透過性材料をHAST装置から取り出すことなく、光透過性材料の劣化状態を温度/湿度の悪環境の中で経時的に直接測定することができる光透過性材料の劣化評価方法を提供することにある。本発明が解決しようとする第2の課題は、試験対象である光透過性材料をHAST装置から取り出すことなく、光透過性材料の劣化状態を温度/湿度の悪環境の中で経時的に直接測定することができる光透過性材料の劣化評価方法を提供することにある。本発明の第1の課題を解決するための解決手段は、高加速寿命試験装置内に配置された発光デバイスを定電流で発光し、前記発光デバイスからの光を受光する光電素子からの受光電流を検出する光測定系統として基準系と評価系との2系統を設置し、基準系測定系統には光の通過経路中光透過性材料を設置することがなく、また評価系光測定系統には光の通過経路中で前記高加速寿命試験装置の悪環境下に光透過性材料を設置し、前記基準系と評価系との光測定系統の前記受光電流の差分変化によって、光透過性材料の劣化状態を加速的に評価することを特徴とする光透過性材料の劣化評価方法を提供することにある。本発明の第2の課題解決手段は、高加速寿命試験装置内に配置される発光デバイスを含む発光素子ユニットと前記発光デバイスからの光を受光してその受光量に相応する電流を発生する光電素子を含む受光素子ユニットとからそれぞれ成っている2つの光測定系統と、前記各光測定系統の発光デバイスに定電流を供給して前記発光デバイスを発光する発光デバイス定電流器と、前記発光デバイスを流れる発光デバイス電流と発光デバイス電圧とを検出して測定する発光デバイス電圧/電流測定器と、前記受光素子ユニットからの受光電流を検出し測定する受光電流測定器と、前記発光デバイスに定電流を供給するように前記発光デバイス定電流器に指令する定電流供給指令信号を発生し、前記発光デバイス電圧/電流測定器と前記受光電流測定器とからの測定データを受けて前記測定データを表示/又は記録する制御装置とを備え、前記2つの光測定系統のうち一方の光測定系統は、発光素子ユニットと受光素子ユニットとの間の光の通過経路中に被試験光透過性材料を設置することがない基準系光測定系統であり、他方の光測定系統は、発光素子ユニットと受光素子ユニットとの間の光の通過経路中で前記高加速寿命試験装置の悪環境下に被試験光透過性材料を設置した評価系光測定系統であり、前記制御装置は、前記基準系と評価系との光測定系統の前記受光電流の差分変化によって、光透過性材料の劣化状態を加速的に評価するようにしたことを特徴とする光透過性材料の劣化評価装置を提供することにある。本発明の第2の課題解決手段において、前記発光素子ユニットと前記受光素子ユニットは、前記高加速寿命試験装置内の前記悪環境下から絶縁するそれぞれの密閉容器内に配置され、前記密閉容器は、ユニットの開口を導光デバイスによって閉じられている形態とすることができる。本発明によれば、高い試験温度例えば、110°C~130°Cと高い湿度例えば、65~85とを有する高加速寿命試験装置HAST装置内の高い悪環境下に光透過性材料を設置したまま光透過性材料の加速評価を実現することができることができるので、従来技術の恒温槽等による試験に比べて、極めて短期間で且高い精度で光透過性材料の高加速劣化試験を達成することができる。本発明の光透過性材料の劣化評価装置は、高加速寿命試験装置HAST装置内に、基準系と評価系の光測定系統を備え、基準系光測定系統は、LEDの如き発光デバイスとこの発光デバイスからの光を受光するフォトダイオード以下PDと略するの如き光電素子との間に光透過性材料を設置しない系統であり、評価系光測定系統は、同じくLEDの如き発光デバイスとこの発光デバイスからの光を受光するPDの如き光電素子との間に光透過性材料を設置する系統であり、これらの光測定系統の光透過性を逐次的に基準系と評価系とで比較評価することによって、光透過性材料の透過性の劣化を確認することを特徴としている。本発明の実施の形態を図面を参照して詳細に述べると、図1は、本発明の実施の形態による光透過性材料の劣化評価装置を示し、この光透過性材料の劣化評価装置は、高加速寿命試験装置以下、HAST装置と称する500の容器内に被試験光透過性材料930を配置したままその透過性の劣化を評価するものであり、この装置は、基準系と評価系との2つの光測定系統S1、S2を備えている。基準系光測定系統S1は、HAST装置500内に配置された発光素子ユニット600-1と受光素子ユニット600-3とから成り、これらのユニット間の光の通過経路中に被試験用の光透過性材料930がなく、また、評価系光測定系統S2は、同様にHAST装置500の容器内に配置された発光素子ユニット600-2と受光素子ユニット600-4とから成り、これらのユニット間の光の通過経路中でHAST装置内の悪環境下に晒して被試験用の光透過性材料930が設置されている。この光透過性材料930は、治具940によってHAST装置500内に固定されている。HAST装置500内は、試験時には、高い試験温度例えば、110°C~130°Cと高い湿度例えば、65~85とを有するまで高悪環境となるように設計される。発光素子ユニット600-1、600-2は、それぞれ、同じ構造の発光デバイス700-1、700-2とこれらの発光デバイス700-1、700-2からの光を導通する導光デバイス900-1、900-2とから成り、発光デバイス700-1と700-2は、HAST装置500内の環境から絶縁してHAST装置500の環境下の湿度、圧力等の影響を受けないようにするために密閉容器内に実装され、これらの密閉容器は、導光デバイス900-1,900-2でそれぞれ口を閉じている。受光素子ユニット600-3、600-4は、それぞれ、同じ構造の光電素子710-3、710-4と、発光素子ユニット600-1、600-2からの光を光電素子710-3、710-4にそれぞれ導く導光デバイス900-3、900-4とから成り、光電素子710-3,710-4は、HAST装置500内の環境から絶縁してHAST装置500の環境下の湿度、圧力等の影響を受けないようにするために密閉容器内にそれぞれ実装され、この密閉容器は、導光デバイス900-3、900-4でそれぞれ開口を閉じている。本発明の光透過性材料の劣化評価装置は、発光デバイス定電流装置100と、発光デバイス電圧/電流測定器200と、受光電流測定器300と、制御装置400とを更に備えている。HAST装置500の装置口800は、発光デバイス定電流器100の出力側の導線12-1、12-2と発光デバイス700-1、700-2の入力側の導線13-1、13-2とをそれぞれ接続し、発光デバイス電圧/電流測定器200の入力側導線15-1、15-2と発光デバイス700-1、7002の出力側導線14-1、14-2とをそれぞれ接続し、受光電流用測定器300の入力側導線18―1、18-2と受光器600-1、600-2の出力側導線17-1、17-2をそれぞれ接続する接続部を構成している。制御装置400は、発光デバイス700-1、700-2定電流を供給するのを指示する定電流供給指令信号11を発光デバイス定電流装置100に供給し、また、発光デバイス電圧/電流測定器200から供給される発光デバイス電圧電流測定データD16と受光電流測定器300から供給される受光電流光電素子電流測定データD19とをそれぞれの導線16、を経て受けてこれらの測定データD16、D19を表示及び/又は記録する。発光デバイス定電流器100は、制御装置400からの定電流供給指令信号11を受けてこの定電流供給指令信号11に相応する定電流を発光デバイス700-1、700-2にそれぞれ導線12-1、12-2と導線13-1、13-2とを介して供給してこの発光デバイス700-1、700-2を同じ条件で発光させる。発光デバイス電圧/電流測定器200は、発光デバイス700-1、700-2が駆動されてこの発光デバイス700-1、700-2に流れる電流とその両端電圧をそれぞれに導線14-1、14-2と導線15-1、15-2を介して、これらの電流/電圧データを逐次的に測定する。また、受光電流測定器300は、受光素子ユニット600-3、600-4からの受光量に相応する光電素子710-3、710-4の受光電流をそれぞれ導線17-1、17-2と導線18-1、18-2とを介して受けてこの受光電流を逐次的に測定する。既に述べたように、制御装置400は、発光デバイス電圧/電流測定器200の発光デバイス電圧電流測定データD16と受光電流測定器300の受光電流光電素子電流測定データD19とを受信してこれらの測定データを表示及び/又は記録する。次に、本発明の光透過性材料の劣化評価装置の動作を述べると、HAST装置500内の環境が試験条件例えば、温度120°C、湿度85に到達した後に、制御装置400が定電流供給指令信号11を発光デバイス定電流器100に供給し、発光デバイス定電流器100は、導線12-1、12-2と導線13-1、13-2とを介してHAST装置500内にある発光デバイス700-1、700-2に同一定電流を供給する。発光デバイス700-1、700-2は、この定電流によって同じ条件で発光し、またその電流及び電圧は、導線14-1、14-2と導線15-1、15-2を介して発光デバイス電圧/電流測定器200に伝送される。発光デバイス電圧/電流測定器200は、発光デバイス電圧/電流測定データの導線16を介して制御装置400に送る。それと同時に、基準系光測定系統S1においては、発光デバイス700-1からの光は、発光素子ユニット600-1側の導光デバイス900-1と受光素子ユニット600-3側の導光デバイス900-3を通して光電素子710-3で受光され、この受光電流は、導線17-1、18-1を介して受光電流測定器300に供給される。また、評価系測定系統S2においては、発光デバイス700-2からの光は、導光デバイス900-2を通過し、HAST装置500内の高悪環境下に暴露されている被試験用の光透過性材料930を通過するが、その際にこの光透過性材料930内で減衰し、この減衰光は、受光素子ユニット600-3側の導光デバイス900-4を通って光電素子710-4で受光され、この受光電流は、導線17-2、18-2を介して受光電流測定器300に供給される。受光電流測定器300は、これらの両系統の受光電流測定データD19を導線19を介して制御装置400に逐次送る。制御装置400は、これらの測定データD16、D19を表示及び/又は記録する。図2は、透明の透過性材料を被試験光透過性材料とし、これを、試験温度を120°Cとし、湿度を85としたHAST装置内に設置し、凡そ200時間試験した結果を示す。図2において、横軸は、試験経過時間を示し、また縦軸は、光電素子710-3、710-4の受光電流を受けて制御装置400内で計算された光電素子710-3、710-4の受光相対輝度を示し、この相対輝度は、試験開始時点を100としてそれ以降の適宜の時間の各測定データ値光透過性材料の透過性劣化値を値で示しており、この受光測定データ値から光透過性材料の逐次的な劣化変化が解る。基準系測定系統S1の相対輝度光電素子710-3の受光電流値に相応する値1000は、発光デバイス700-1が発光する光が発光素子ユニット600-1から光透過性材料930を通過しないで受光素子ユニット600-2で受光された光量に相応する輝度基準輝度である。一方、評価系測定系統S2の相対輝度光電素子10-4の受光電流値に相応する値2000は、発光デバイス700-2が発光する光が発光素子ユニット600-2からHAST装置500内の高悪環境下に暴露されている光透過性材料930を通過して減衰され、受光素子ユニット600-4で受光された光量に相応する輝度減衰輝度である。図2において、基準系測定系統S1の受光電流値基準輝度1000と評価系測定系統S2の受光電流値減衰輝度2000との差分劣化線3000の高さが光透過性材料930の劣化値であり、この図2から試験対象である光透過性材料930の時系列的な劣化を評価することができる。減衰輝度2000は、光透過性材料930をHAST装置500から取り出すことなく、HAST装置500内の高悪環境下にしたまま測定されるので、測定を短時間で精度よく行うことができる。"