レーザーダイオードから放射されるガウシャン分布特性を有するレーザー光を光ディスクに設けられている信号記録層に集光させるとともに開口数がAに設定されている対物レンズを備えた光ピックアップ装置であり、前記対物レンズの表面に対物レンズを透過するレーザー光の強度を調整する反射防止膜を設け、該反射防止膜にて対物レンズの第1開口数Bと開口数Aとの間の透過率を100としたとき、第2開口数C以下の開口数における透過率をR以下に設定することにより信号記録層に照射されて生成されるレーザースポットのリム強度の低下を防止したことを特徴とする光ピックアップ装置。第1開口数Bと第2開口数Cとの間の開口数における透過率が直線的に変化するように設定したことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。反射防止膜が単層であることを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。反射防止膜が多層であることを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。第2開口数C以下の透過率を一定にしたことを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。前述した特許文献には、対物レンズに反射防止膜を設け、該反射防止膜によって所定の位置における反射率を最小にする技術が記載されている。斯かる技術によってもリム強度の改善を行うことは出来るものの対物レンズの全領域において最良の特性を得ることは出来ない。本発明は、斯かる問題を解決することが出来る光ピックアップ装置を提供しようとするものである。本発明は、レーザーダイオードから放射されるガウシャン分布特性を有するレーザー光を光ディスクに設けられている信号記録層に集光させるとともに開口数がAに設定されている対物レンズを備え、前記対物レンズの表面に対物レンズを透過するレーザー光の強度を調整する反射防止膜を設け、該反射防止膜にて対物レンズの第1開口数Bと開口数Aとの間の透過率を100としたとき、第2開口数C以下の開口数における透過率をR以下に設定することにより信号記録層に照射されて生成されるレーザースポットのリム強度の低下を防止したことを特徴とするものである。また、本発明は、第1開口数Bと第2開口数Cとの間の開口数における透過率が直線的に変化するように設定したことを特徴とするものである。そして、本発明は、反射防止膜を単層または多層にしてことを特徴とするものである。更に、本発明は、第2開口数C以下の透過率、即ち対物レンズの光軸中心である開口数0から第2開口数Cまでの透過率を一定にしたことを特徴とするものである。本発明は、開口数がAに設定されている対物レンズの表面に対物レンズを透過するレーザー光の強度を調整する反射防止膜を設け、該反射防止膜にて対物レンズの第1開口数Bと開口数Aとの間の透過率を100としたとき、第2開口数C以下の開口数における透過率をR以下に設定することにより光ディスクに設けられている信号記録層に照射されて生成されるレーザースポットのリム強度の低下を防止するようにしたので、信号の記録再生動作に適したレーザースポットを得ることが出来る。また、本発明は、第1開口数Bと第2開口数Cとの間の開口数における透過率が直線的に変化するように設定したので反射防止膜の対物レンズへのコーティング動作を簡単に行うことが出来る。そして、本発明は、反射防止膜を単層にしたので、反射防止膜の対物レンズへのコーティング動作を簡単に行うことが出来る。また、本発明は、反射防止膜を多層にしたので、反射率の異なる膜を使用することによって所望の透過率の反射膜を対物レンズに設けることが簡単に出来る。そして、本発明は、第2開口数C以下の透過率を一定にしたので、第2開口数C以下の透過率を必要最大限に設定することによってレーザーダイオードが放射されるレーザー光を有効に使用することが出来る。図1は本発明の光ピックアップ装置を示す概略図、図2は本発明に係る対物レンズと光ディスクとの関係を示すの拡大図、図3は本発明に係る対物レンズにおける開口数と透過率との関係を示す特性図である。図1において、1は例えば405nmの青紫色光であるレーザー光を放射するレーザーダイオードであり、前述したように放射されるレーザー光はガウシャン分布特性を有している。2は前記レーザーダイオード1から放射されるレーザー光が入射される回折格子であり、レーザー光を0次光、1次光及び-1次光に分離する回折格子部2aと入射されるレーザー光をS方向の直線偏光光に変換する1/2波長板2bとより構成されている。3は前記回折格子2を透過したレーザー光が入射される偏光ビームスプリッタであり、S偏光されたレーザー光を反射し、P方向に偏光されたレーザー光を透過させる制御膜3aが設けられている。4は前記レーザーダイオード1から放射されたレーザー光の中の前記偏光ビームスプリッタ3を透過したレーザー光が照射される位置に設けられているモニター用光検出器であり、その検出出力は前記レーザーダイオード1から放射されるレーザー光の出力を制御するために使用される。5は前記偏光ビームスプリッタ3の制御膜3aにて反射されたレーザー光が入射される位置に設けられている1/4波長板であり、入射されるレーザー光を直線偏光光から円偏光光に変換する作用を成すものである。6は前記1/4波長板5を透過したレーザー光が入射されるコリメートレンズであり、入射されたレーザー光を平行光にする作用を成すとともにBlu-ray規格の光ディスクDの保護層による球面収差を補正するために設けられている。7は前記コリメートレンズ6にて平行光に変換されたレーザー光が入射されるとともに該レーザー光を反射させる反射ミラーであり、後述するように光ディスクDの信号記録層Lから反射された戻り光が入射されるとともに該戻り光を前記偏光ビームスプリッタ3の方向へ反射させる作用を成すように設けられている。8は前記偏光ビームスプリッタ3に設けられている制御膜3aを透過した戻り光が入射されるセンサーレンズであり、シリンドリカル面、平面、凹曲面または凸曲面等が入射面側及び出射面側に形成されている。斯かるセンサーレンズ8は戻り光に非点収差を発生させることによってフォーカス制御動作に使用されるフォーカスエラー信号を生成させるために設けられている。9は前記センサーレンズ8を通過した戻り光が集光されて照射される位置に設けられている光検出器であり、フォトダイオードが配列された4分割センサー等にて構成されている。斯かる光検出器9の構成及び非点収差法によるフォーカスエラー信号の生成動作等は周知であり、その説明は省略する。10は前記反射ミラー7にて反射されたレーザー光が入射されるとともに入射されたレーザー光を前記光ディスクDに設けられている信号記録層Lに集光させる対物レンズであり、曲率半径が球面と異なり小さくされている。前記対物レンズ10の入射面側の表面には該対物レンズを透過するレーザー光の強度を調整する反射防止膜11が設けられているが、斯かる反射防止膜の詳細については後述する。光ディスクDに記録されている信号の再生動作を行う場合には、レーザーダイオード1に駆動電流が供給され、該レーザーダイオード1から波長が405nmのレーザー光が放射される。前記レーザーダイオード1から放射されたレーザー光は、回折格子2に入射され、該回折格子2を構成する回折格子部2aによって0次光、1次光及び-1次光に分離されるとともに1/2波長板2bによってS方向の直線偏光光に変換される。前記回折格子2を透過したレーザー光は、偏光ビームスプリッタ3に入射され、該偏光ビームスプリッタ3に設けられている制御膜3aにて反射されるとともに一部のレーザー光は透過してモニター用光検出器4に照射される。前記制御膜3aにて反射されたレーザー光は、1/4波長板5を通してコリメートレンズ6に入射され該コリメートレンズ6の働きによって平行光に変換される。前記コリメートレンズ6によって平行光に変換されたレーザー光は、反射ミラー7にて反射された後対物レンズ10に入射される。前記対物レンズ10に入射されたレーザー光は該対物レンズ10の集光動作によって光ディスクDの信号記録層Lにスポットとして照射されることになる。このようにして、レーザーダイオード1から放射されるレーザー光は、光ディスクDの信号記録層Lに所望のスポットとして照射されるが、この場合における対物レンズ10の開口数は0.85になるように設定されている。また、前述した対物レンズ10によるレーザー光の集光動作が行われるとき、信号記録層Lと光ディスクDの信号入射面との間にある保護層の厚みの相違によって球面収差が発生するが、本実施例に示したコリメートレンズ6を光路方向へ変位させることによってこの球面収差が最も少なくなるように調整することが出来る。斯かる調整動作は一般的に行われており、その説明は省略する。前述した動作によってレーザー光の光ディスクDに設けられている信号記録層Lへの照射動作が行われるが、斯かる照射動作が行われるとき、該信号記録層Lから反射される戻り光が対物レンズ10に対して光ディスクD側から入射される。前記対物レンズ10に入射された戻り光は、反射ミラー7、コリメートレンズ6及び1/4波長板5を通して偏光ビームスプリッタ3に入射される。前記偏光ビームスプリッタ3に入射される戻り光は、P方向の直線偏光光に変換されているので、該偏光ビームスプリッタ3に設けられている制御膜3aを透過することになる。前記制御膜3aを透過したレーザー光の戻り光は、センサーレンズ8に入射され、該センサーレンズ8の働きによって非点収差が発生せしめられる。前記センサーレンズ8によって非点収差が発生せしめられた戻り光は、該センサーレンズ8の集光動作によって光検出器9に設けられている4分割センサー等のセンサー部に照射される。このようにして戻り光が光検出器9に照射される結果、該光検出器9に組み込まれているセンサー部に照射されるスポット形状の変化を利用して周知のようにフォーカスエラー信号の生成動作が行われる。斯かるフォーカスエラー信号を利用して対物レンズ10を光ディスクDの信号面方向へ変位させることによってフォーカス制御動作を行うことが出来る。また、本実施例では説明しないが、回折格子2によって生成される1次光と-1次光を利用した周知のトラッキング制御動作を行うことが出来るように構成されており、斯かる制御動作を行うことによって光ディスクDに記録されている信号の読み取り動作が行われることになる。前述したように光ディスクDに記録されている信号の読み取り動作は行われるが、斯かる読み取り動作が行われているときモニター用光検出器4にレーザー光の一部が照射されているので、該モニター用光検出器4から得られるモニター信号を利用してレーザーダイオード1に供給される駆動電流値を制御することが出来る。レーザーダイオード1に供給される駆動電流値を制御することによってレーザー光の出力を制御することが出来るので、光ディスクDに記録されている信号の読み取り動作だけでなく該光ディスクD1に信号を記録する場合に要求されるレーザー出力の調整動作も行うことが出来る。以上に説明したように図1に示した構成の光ピックアップ装置における信号の再生動作等は行われるが、次に本発明の要旨である反射防止膜11の作用について説明する。前記反射防止膜11は対物レンズ10の入射面側の表面に例えばフッ化マグネシウムによる単層にて形成されるが、斯かる反射防止膜11は反射されるレーザー光の反射率を調整制御することによって対物レンズ10を透過するレーザー光の強度を調整するように構成されている。対物レンズ10にコーティングされる反射防止膜11によって調整される開口数に対する透過率と信号記録層L上に形成されるレーザースポットの径、即ちスポットサイズとの関係を表1に示す。表1において、理論例1は、レーザーダイオード1から放射されるレーザー光の瞳内強度がガウシャン分布ではなく理想的な分布、即ち一様の場合であり、且つ対物レンズ10上の全ての開口数における透過率が100の場合であり、斯かる場合におけるスポットサイズは、0.3934μmとなる。即ち、理論的には、このスポットサイズの値が最小のサイズであり、これより良いサイズのスポットを得ることは出来ないことになる。同様に理論例2は、レーザーダイオード1から放射されるレーザー光の瞳内強度がガウシャン分布の場合であり、且つ対物レンズ10上の全ての開口数における透過率が100の場合であり、斯かる場合におけるスポットサイズは、0.4122μmとなる。このようにレーザーダイオード1から放射されるレーザー光の瞳内強度がガウシャン分布の場合において、対物レンズ10上の全ての開口数における透過率が100の場合には、ガウシャン分布による影響が出て、スポットサイズが大きくなる。実施例1~実施例4は、レーザーダイオード1から放射されるレーザー光の瞳内強度がガウシャン分布の場合であり、前記対物レンズ10の表面に形成される反射防止膜11によって開口数の透過率を相違させたものである。実施例1は、開口数0、即ち対物レンズ10の光軸中心から開口数0.3までの透過率を55、開口数0.6から最大開口数である0.85までの透過率を100とし、開口数0.3から0.6までを直線的に変化した透過率になるように設定したものであり、斯かる場合におけるスポットサイズは、0.3998μmとなる。次に、実施例2は、開口数0から開口数0.3までの透過率を55、開口数0.7から最大開口数である0.85までの透過率を100とし、開口数0.3から0.7までを直線的に変化した透過率になるように設定したものであり、斯かる場合におけるスポットサイズは、0.3987μmとなる。また、実施例3は、開口数0から開口数0.3までの透過率を55、開口数0.8から最大開口数である0.85までの透過率を100とし、開口数0.3から0.8までを直線的に変化した透過率になるように設定したものであり、斯かる場合におけるスポットサイズは、0.3975μmとなる。そして、実施例4は、開口数0から開口数0.3までの透過率を55、最大開口数である0.85の透過率を100とし、開口数0.3から0.85までを直線的に変化した透過率になるように設定したものであり、斯かる場合におけるスポットサイズは、0.3993μmとなる。前述したように実施例3の場合におけるスポットサイズが最も小さくなり、理論例1に近いサイズのスポットを得ることが出来る。実施例4に示すように開口数0.3における透過率を55とし、最大開口数である0.85における透過率を100とし、その間の透過率を直線的に変化させた場合と比較して開口数が0.85より小さい位置から最大開口数0.85の位置までの透過率を100にした場合の方が良好なサイズのスポットを形成することが出来ることがわかる。図3は実施例3の場合における開口数と透過率との関係を示す特性図であり、開口数0.8から最大開口数0.85までの透過率を100とした場合において、開口数0から開口数0.3までの透過率を55とし、0.3から0.8までの透過率を直線的に変化させた場合である。前述した実施例のように対物レンズの最大開口数がAの場合において、第1開口数であるBと開口数Aとの間の透過率を100としたとき、第2開口数C以下の開口数における透過率をR以下にすることによって光ディスクDの信号記録層Lに記録されている信号の読み出し動作や記録動作に適したレーザースポット、即ちリム強度が十分に高いレーザースポットを生成することが出来る。第2開口数Cと開口数0までの間の透過率をR以下になるように連続的に変化させることも出来るが、本実施例では一定値である55に設定している。これは、リム強度に対して悪影響を与えない最大透過率に設定したものであり、このようにすることによってレーザーダイオード1から放射されるレーザー光の出力を最大限利用することが出来る。また、対物レンズ10の表面に形成される反射防止膜11を単層にて構成したが、反射率の調整、即ち対物レンズ10のレーザー光の透過率を調整する方法としては、各開口数における膜の厚さや材質を変更することによって実施することが出来る。そして、反射防止膜11は単層ではなく、多層にて構成する、即ちマルチコーティングすることによって実施することもできる。