"撮像素子からの画像信号から画素欠陥を検出し、検出した画素欠陥を補正する画素欠陥検出補正回路と、該画素欠陥検出補正回路により補正された画像信号を処理して映像信号を送出する信号処理回路を備えた撮像装置において、画素欠陥検出補正回路は、補正対象画素の近隣の画素の画素信号を保持する画素値保持部と、補正対象画素の画素値と、前記画素値保持部に保持された画素値との差を予め設定した閾値と比較して補正対象画素の画素欠陥を検出する比較部と、画素欠陥を検出したとき欠陥画素を補間して補正する補正部を備え、前記閾値は、補正対象画素の色信号の輝度信号に寄与する程度を表す重み係数に対応して各色毎に設定し、前記補正対象画素の色信号に応じて切り換えることを特徴とする撮像装置。請求項1記載の撮像装置において、前記画素値保持部が保持する画素が表す色と補正対象画素が表す色は同一であることを特徴とする撮像装置。請求項1記載の撮像装置において、各色毎に設定する閾値は、オートホワイトバランス制御部が各色信号毎に設定したゲインに応じて変更することを特徴とする撮像装置。請求項1記載の撮像装置において、各色毎に設定する閾値は、被写体を照明する光源の色温度にしたがって変更することを特徴とする撮像装置。撮像素子に生じる画素欠陥には、製造工程において生じる画素欠陥と、温度変化あるいは宇宙線などの放射線照射などの経時変化に伴う画素欠陥がある。これらの画素欠陥には欠陥箇所の輝度が高くなるいわゆる白欠陥と、欠陥箇所の輝度が低くなるいわゆる黒欠陥とがある。製造工程において生じる画素欠陥は固定位置であるため、工場出荷時に、欠陥画素の出力を近隣画素の出力で補間した値で補正する欠陥補正を施すことがおこなわれている。しかしながら、温度変化等の出荷後の径時変化で生じた画素欠陥については、前記補間を行うことができないため画質が損なわれる。この問題を解決する方法として、前記特許文献1がある。前記特許文献1では、レンズを非合焦状態にしたときの固体撮像素子の出力信号に基づいて画素欠陥検出を行うことにより、経時変化で現れる欠陥画素に対応できる。ところで、白点欠陥は、補正対象画素と該画素に隣り合う画素の信号の差分があらかじめ設定した差分よりも大きく、かつ該差分が正の場合に白点欠陥と判定し、黒点欠陥は、隣り合う画素の信号の差分があらかじめ設定した差分よりも大きく、かつ該差分が負の場合に黒点欠陥であると判定できる。このため、モノクロの撮像装置であれば正しく判定できるが、複数の色フィルタを配置したカラー撮像装置においては、同一色の画素との間が離れていたり、隣接する画素間で輝度への重み係数が異なっているために、固定の閾値では、欠陥を補正できないことがある。また、欠陥画素で無いにもかかわらず欠陥画素として補正してしまうことがある。本発明はこれらの問題点に鑑みてなされたもので、補正対象画素と近隣の画素の画素信号を比較して補正対象画素欠陥画素を補正するに際して、画素欠陥判定の閾値を補正対象画素の色信号の種類に応じて切り換えることにより精度の高い補正を施すことを可能とするものである。本発明は上記課題を解決するため、次のような手段を採用した。撮像素子からの画像信号から画素欠陥を検出し、検出した画素欠陥を補正する画素欠陥検出補正回路と、該画素欠陥検出補正回路により補正された画像信号を処理して映像信号を送出する信号処理回路を備えた撮像装置において、画素欠陥検出補正回路は、補正対象画素の近隣の画素の画素信号を保持する画素値保持部と、補正対象画素の画素値と、前記画素値保持部に保持された画素値との差を予め設定した閾値と比較して補正対象画素の画素欠陥を検出する比較部と、画素欠陥を検出したとき欠陥画素を補間して補正する補正部を備え、前記閾値は、補正対象画素の色信号の輝度信号に寄与する程度を表す重み係数に対応して各色毎に設定し、前記補正対象画素の色信号に応じて切り換える。本発明は、以上の構成を備えるため、精度の高い欠陥補正を施すことできる。以下、本発明の実施形態を添付図面を参照しながら説明する。図1は、第1の実施形態にかかる撮像装置を説明する図であり、本実施形態では、撮像装置としてビデオカメラを用いる。図1において、撮像レンズ101を介して被写体から入射された光は撮像素子102に照射され、被写体像が結像される。撮像素子102はタイミングジェネレータ106による駆動パルスによって水平と垂直の走査がなされ、被写体像を撮像し電気信号を発生する。この電気信号はA/D変換回路103でデジタル信号に変換され、欠陥検出補正回路104に入力する。欠陥検出補正回路104では、タイミングジェネレータ106による色情報にしたがって、欠陥検出する閾値白欠陥用/黒欠陥用を適宜切り替え、欠陥検出補正回路104に入力する入力信号と近隣の画素信号との差および前記差と閾値白欠陥用/黒欠陥用の関係をもとに前記入力信号が正常信号であるか欠陥信号であるかを判断し、正常と判断した場合には入力信号を信号処理回路105に出力し、欠陥と判断した場合には近隣の画素信号をもとに補間した信号を信号処理回路105に出力する。信号処理回路105ではノイズ除去やガンマ補正などの各種カメラ信号処理を施し、NTSC信号などのTV信号に変換した後、出力する。図2は、欠陥検出補正回路104の詳細を説明する図である。撮像素子からの入力画素信号は、欠陥検出補正回路104の比較器201およびデータラッチ202に供給される。データラッチ202は、例えばn画素前の同色の入力画素信号を保持する画素値保持部であり、撮像素子からの入力画素に対してn画素前の信号を逐次比較器201に出力する。閾値選択回路203には、入力画素に対応する色情報が入力される。閾値選択回路203では、あらかじめ各色に対する閾値白欠陥用/黒欠陥用が設定されており、入力された色情報の種類に応じた閾値白欠陥用/黒欠陥用を選択して、比較器201に出力する。図3は、前記比較器201の動作について説明する図である。図3において、比較器201は、入力画素信号の信号量が白欠陥用閾値とデータラッチ202に格納された信号との信号量の和よりも大きいか否かを判定しSTEP1、入力画素信号の信号量が白欠陥用閾値とデータラッチ202に格納された信号との信号量の和よりも大きいとき白欠陥と判定し、近隣の画素で補間した信号あるいはデータラッチ202の信号を補正部で生成し、生成した信号を信号処理回路105に出力するSTEP2。次に、入力画素の信号量がデータラッチ202の信号量から黒欠陥用閾値を引いた信号量よりも小さいか否かを判定しSTEP3、入力画素の信号量がデータラッチ202の信号量から黒欠陥用閾値を引いた信号量よりも小さい場合には黒欠陥と判定し、近隣の画素から補間した信号に相当するデータラッチ202の信号量を信号処理回路105に出力するSTEP2と同じ。なお、上記白欠陥および黒欠陥と判定されなかった場合には、正常と判定し、入力信号を信号処理回路105に出力するSTEP4。次に、ステップ1に戻り、次の画素信号を取り込む。次に、閾値選択回路203の動作について説明する。図4は原色フィルタの例説明する図である。例えばNTSC方式の撮像装置では、輝度信号Yを、赤R、緑G、青Bの各入力信号をもとに、Y=0.29R0.60G0.11Bの計算式で生成している。図4中の太枠で囲った水平2垂直2の4画素に着目すると緑Gは2箇所あるため、輝度信号Yへの重み係数の比率は、R:G:B=0.29:0.30:0.111となっている。ここで赤R、緑G、青Bのそれぞれの画素に欠陥があった場合を考えると、輝度信号Yに対しては上記1式の比率で欠陥の影響が現れることになる。このため、閾値の比率も上記1式の比率に合わせることで、精度の高い画素欠陥検出が可能となる。すなわち、閾値選択回路203には、大略上記1式の比率であらかじめ各色毎に閾値白欠陥用/黒欠陥用を設定しておき、欠陥の有無を判定する画素比較器に入力されている画素の色情報に対応して前記閾値を切り替えて使用するとよい。図5は補色フィルタの例を説明する図である。図5のような補色フィルタを用いた撮像装置では、信号処理のマトリクスの組み方に複数の組み方が考えられるが、たとえばY=K1YeK2CyK3MgK4Gの計算式で生成している場合には、Ye:Cy:Mg:G=K1:K2:K3:K42であるから、上記1式と同様に大略上記2式の比率であらかじめ各色に対する閾値白欠陥用/黒欠陥用を設定しておくと良い。なお、上記以外の他の色配置の場合でも同様に設定すると良い。以上説明したように、本実施形態によれば、欠陥検出する画素の色情報の輝度信号に対する影響度を考慮して、欠陥検出する画素をその色情報に応じて欠陥か否かを判定する閾値を切り替えて使用する例えば、赤R画素の欠陥を判定するときの閾値THrと、緑G画素の欠陥を判定するときの閾値THgと、青B画素の欠陥を判定するときの閾値THbをTHr/THg/THb=0.29/0.30/0.11となるように設定しておき、欠陥の有無を判定すべき画素が比較器に入力されたとき、入力された画素の色信号に応じて前記閾値を切り替えて使用する。このため、カラー撮像装置においても、画素欠陥を高精度に検出し、補正することが可能となる。なお、本実施形態では、データラッチ202を用いて、近隣画素として直前の同色の画素の情報を取得し、この情報を用いて欠陥検出と欠陥補正を行うようにした。しかしながら、例えばラインメモリを用いて、1ライン手前の画素の情報を取得し、この情報を用いて欠陥検出と欠陥補正を行うこともできる。また、フィードフレームメモリなどを用いて左右、1ライン上下、斜め右上、斜め右下、斜め左上、斜め左下、などの情報を用いて、すなわち、より広い範囲の周辺画素の情報を用いて欠陥検出と欠陥補正を行うこともできる。なお、本発明は、前記特許文献1記載の撮像装置と同様に、監視カメラシステムなどのように長期間に亘って通電し続け、欠陥画素が経時変化で現れる撮像装置において、特に有効である図6は、本発明の第2の実施形態を説明する図である。第1の実施形態とは、欠陥検出補正回路の構成に相違がある。なお、図6において図2に示される部分と同一部分については同一符号を付してその説明を省略する。撮像装置においては、撮影する光源の色温度がさまざまであるため、白色が白色として撮影できるように色ゲインを自動で制御するいわゆるオートホワイトバランス制御が広く採用されている。例えば、色温度が高くなるほど赤色Rのゲインを大きくし、青色Bのゲインを小さくする。逆に色温度が低くなるほど赤色Rのゲインを小さくし、青色Bのゲインを大きくする。また、蛍光灯などの光源下では、緑色Gのゲインを制御することもある。なお、本実施形態では、オートホワイトバランス制御は、信号処理回路15に配置されているとする。欠陥検出補正回路104が、オートホワイトバランス制御回路の前に配置されている場合、上記したように、オートホワイトバランス制御回路が各色のゲインを変更するため、各色に対して設定してある閾値白欠陥用/黒欠陥用は前記各色のゲインを考慮した値とする必要がある。閾値選択回路303は、図示しないオートホワイトバランス制御部から各色R,G,B毎のゲイン光源の色温度情報を表すを入力し、あらかじめ設定してある各色に対する閾値白欠陥用/黒欠陥用を、入力された各色毎のゲインを乗じた値に変更する。また、この変更された閾値は、比較器201に入力された画素信号の色情報に応じて選択されて、比較器201に出力する。本実施形態では、撮影する光源の色温度が変わった場合において、光源の色温度に応じて閾値を変更しているため、より精度の高い画素欠陥検出と画素欠陥補正を可能とすることができる。なお、本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすくするために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加削除置換をすることが可能である。また、上記の各構成は、それらの一部又は全部が、ハードウェアで構成されても、プロセッサでプログラムが実行されることにより実現されるように構成されてもよい。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。以上説明したように、本発明の実施形態によれば、検出補正対象画素の画素値と、前記画素値保持部に保持された画素値との差を予め設定した閾値と比較する比較部を備え、前記閾値は、欠陥と判定する画素の輝度に対する重み係数を考慮して設定し、検出補正対象画素の色情報の種類に応じて切り換える。また、ホワイトバランスの状態光源の色温度によって閾値の設定を変更するためより精度の高い画素欠陥検出を行うことが可能となる。"