光源と、この光源から出射する光束を測定光束として出射する光学系と、該測定光束を回転可能に載置された試料に照射しその反射光がミラーを介して導入される検出器を有する絶対反射測定装置において、前記ミラーは、前記検出器を保持する支持台に支持される凹面鏡で構成されており、前記支持台は前記試料の反射面と測定光束中心の交点を中心とする円周上の所定範囲を移動可能であることを特徴とする絶対反射測定装置。光源と、この光源から出射する光束を測定光束として出射する光学系と、該測定光束を回転可能に載置された試料に照射しその反射光がミラーを介して導入される検出器を有する絶対反射測定装置において、前記ミラーは、前記検出器を保持する支持台に支持される平面鏡で構成されており、前記支持台は前記試料の反射面と測定光束中心の交点を中心とする円周上の所定範囲を移動可能であり、前記検出器の反射光導入孔と前記ミラーとの距離が前記試料と前記ミラーとの距離より長く、試料からの反射光の前記ミラーへの入射角が10°以下であることを特徴とする絶対反射測定装置。光源と、この光源から出射する光束を測定光束として出射する光学系と、該測定光束を回転可能に載置された試料に照射しその反射光がミラーを介して導入される検出器を有する絶対反射測定装置において、前記ミラーが2個以上の複数の平面鏡で構成されるとともに前記検出器を保持する支持台に支持され、前記支持台は前記試料の反射面と測定光束中心の交点を中心とする円周上の所定範囲を移動可能であり試料からの反射光の前記ミラーへの入射角がいずれも10°以下であることを特徴とする絶対反射測定装置。上述のとおり入射角/反射角が小さいとき測定困難となる問題は改善されているが、1個のミラーを配設して反射光50Aを90°方向転換させ検出器53に導入する場合ミラーへの入射角度はおよそ45°である。図4が示すとおり入射角度が10°近傍以下では入射角度の変動が生じてもミラーの鏡面反射率は変化しないが、入射角度45°の近傍では入射角度の誤差が鏡面反射率の変動を生起させ絶対反射率の測定誤差を生じる。したがって検出器設定角度に誤差があるとミラーへの入射角度に誤差が生じて絶対反射率の測定誤差となる。本発明は光源と、この光源から出射する光束を測定光束として出射する光学系と、該測定光束を回転可能に載置された試料に照射しその反射光がミラーを介して導入される検出器を有する絶対反射測定装置において、前記ミラーは、前記検出器を保持する支持台に支持される凹面鏡で構成されており、前記支持台は前記試料の反射面と測定光束中心の交点を中心とする円周上の所定範囲を移動可能である。したがって、試料からの反射光に対してミラーの角度が変動しても入射角度の変動は軽減される。あるいは光源と、この光源から出射する光束を測定光束として出射する光学系と、該測定光束を回転可能に載置された試料に照射しその反射光がミラーを介して導入される検出器を有する絶対反射測定装置において、前記ミラーは、前記検出器を保持する支持台に支持される平面鏡で構成されており、前記支持台は前記試料の反射面と測定光束中心の交点を中心とする円周上の所定範囲を移動可能であり、前記検出器の反射光導入孔と前記ミラーとの距離が前記試料と前記ミラーとの距離より長く、試料からの反射光の前記ミラーへの入射角が10°以下である。光源と、この光源から出射する光束を測定光束として出射する光学系と、該測定光束を回転可能に載置された試料に照射しその反射光がミラーを介して導入される検出器を有する絶対反射測定装置において、前記ミラーが2個以上の複数の平面鏡で構成されるとともに前記検出器を保持する支持台に支持され、前記支持台は前記試料の反射面と測定光束中心の交点を中心とする円周上の所定範囲を移動可能であり試料からの反射光の前記ミラーへの入射角がいずれも10°以下である。したがって、試料からの反射光に対してミラーの角度が変動して入射角度が変化してもミラーの鏡面反射率の変動は少ない。凹面鏡を介して試料からの反射光を検出器に導入する場合、反射光検出系角度の設定誤差などにより前記反射光に対して凹面鏡の角度が変動しても入射角度の変動は軽減され凹面鏡の鏡面反射率の変動は少なく絶対反射率の測定誤差は小さい。試料からの反射光に対して入射角が10°以下になるように配設したミラーを介して前記反射光を検出器に導入する場合、反射光検出系角度の設定誤差などにより前記反射光に対するミラーの角度が変動して入射角度が変化してもミラーの鏡面反射率の変動は少なく絶対反射率の測定誤差は小さい。また入射角が10°以下の場合は偏光成分についても入射角変動に対する鏡面反射率の変化が少なく、偏光子を試料の後側に載置するような絶対反射率の測定においても測定誤差は小さい。各ミラーはガラスの研磨面にAl蒸着した構造のものであり、測定する入射角の変更に際し検出器とともに試料の反射面と測定光束中心の交点を中心とする円周上を移動させ入射角と等しい反射角の反射光が検出器に入射する角度に設定し固定する反射光検出系角度を設定する。本発明の請求項1の実施例について図1を参照して説明する。図1は、本発明の実施例1による絶対反射測定装置の概略構造を示す図である。本発明の実施例1による絶対反射測定装置は、図1に示すとおり、例えばハロゲンランプで構成される光源11と、この光源11から出射する白色光束を分光し単色光の測定光束12Aとして出射する分光器で構成される光学系12と、該測定光束12Aを回転可能に載置された試料Sに照射しその反射光10Aがミラー14を介して導入される移動可能に支持された積分球13aと、該積分球13a内に配設された例えば光電子増倍管で構成される光電変換器13bなどからなる構造を有する。前記ミラー14は、積分球13aと光電変換器13bで構成される検出器13を保持する支持台16に支持される凹面鏡で構成されており前記試料Sの反射面と測定光束12Aの中心との交点を中心とする円周上の所定範囲を移動可能である。本発明の実施例1は以上の構造であるから、反射光検出系角度の設定誤差などにより前記反射光10Aに対して凹面鏡で構成されるミラー14の角度θ1が変動しても入射角度の変動は軽減されミラー14の鏡面反射率の変動は少なく絶対反射率の測定誤差は小さい。例えばミラー14の曲率半径がミラー14と試料Sの距離の√2倍の場合、反射光10Aに対してミラー14の角度が1°変動しても入射角度の変動は約0.01°程度である。絶対反射率の測定は次のとおり行われる。試料Sが無い状態で光学系12から出射した測定光束12Aをミラー14を介して直接、検出器13破線で示す位置に移動に入射して測定した信号を100になるように各波長毎に測定系の感度を設定した後、測定光束12Aを試料Sに入射角θで入射し、反射角θの反射光10Aがミラー14を介して検出器13に入射するように反射光検出系角度を設定し、前回と同一感度条件の測定系で測定される各波長の信号の大きさを求める。本発明の実施例1による絶対反射測定装置では、図1に示すとおり入射角θの小さい測定の場合、ミラー14により測定光束12Aが遮られるまで測定可能であり、入射角θが小さい場合でも積分球13aにより測定光束12Aが遮られることはない配置で構成されている。図1で示す実施例1では、検出器13は積分球13aと光電変換器13bとからなる構造であるが積分球13aの代わりに光電変換器13bの冷却材兼支持体で置き換えても本発明は適用可能である。また、図示例ではシングルビームの構成であるが測定光束12Aをハーフミラーで分岐し分岐された光束をモニター用の検出器に導入するダブルビームの構成としても本発明は適用可能であり、本発明はこれら変形例を包含する。本発明の請求項2の実施例について図2を参照して説明する。図2は、本発明の実施例2による絶対反射測定装置の概略構造を示す図である。本発明の実施例2による絶対反射測定装置は、図2に示すとおり、例えばハロゲンランプで構成される光源21と、この光源21から出射する白色光束を分光し単色光の測定光束22Aとして出射する分光器で構成される光学系22と、該測定光束22Aを回転可能に載置された試料Sに照射しその反射光20Aがミラー24を介して導入される移動可能に支持された積分球23aと、該積分球23a内に配設された例えば光電子増倍管で構成される光電変換器23bなどからなる構造を有する。前記ミラー24は、積分球23aと光電変換器23bで構成される検出器23を保持する支持台図示しないに支持される平面鏡で構成されており前記試料Sの反射面と測定光束22Aの中心との交点を中心とする円周上の所定範囲を移動可能であり、検出器23とミラー24との間隔は試料Sとミラー24との間隔より長い配置である。前記反射光20Aはミラー24に入射角θ2で入射し、該入射角θ2は10°以下に設定される。積分球23aの開口近傍には試料Sの散乱光の該開口への入射を遮るための遮蔽板27が配設される。本発明の実施例2は以上の構造であるから、反射光検出系角度の設定誤差などにより前記反射光20Aの平面鏡で構成されるミラー24への入射角θ2が変動しても10°以下に設定されているためミラー24の鏡面反射率の変動は少なく絶対反射率の測定誤差は小さい。また各構成部品を試料Sの近傍に配置できるため小型の絶対反射測定装置を提供可能である。絶対反射率の測定は次のとおり行われる。試料Sが無い状態で光学系22から出射した測定光束22Aをミラー24を介して直接、検出器23破線で示す位置に移動に入射して測定した信号を100になるように各波長毎に測定系の感度を設定した後、測定光束22Aを試料Sに入射角θで入射し、反射角θの反射光20Aがミラー24を介して検出器23に入射するように反射光検出系角度を設定し、前回と同一感度条件の測定系で測定される各波長の信号の大きさを求める。本発明の実施例2による絶対反射測定装置では、図2に示すとおり入射角θの小さい測定の場合、ミラー24により測定光束22Aが遮られるまで測定可能であり、入射角θが小さい場合でも積分球23aにより測定光束22Aが遮られることはない配置で構成されている。本発明の請求項3の実施例について図3を参照して説明する。図3は、本発明の実施例3による絶対反射測定装置の概略構造を示す図である。本発明の実施例3による絶対反射測定装置は、図3に示すとおり、例えばハロゲンランプで構成される光源31と、この光源31から出射する白色光束を分光し単色光の測定光束32Aとして出射する分光器で構成される光学系32と、該測定光束32Aを回転可能に載置された試料Sに照射しその反射光30Aがミラー34、35を介して導入される移動可能に支持された積分球33aと、該積分球33a内に配設された例えば光電子増倍管で構成される光電変換器33bなどからなる構造を有する。前記ミラー34、35は、積分球33aと光電変換器33bで構成される検出器33を保持する支持台図示しないに支持される平面鏡で構成されており前記試料Sの反射面と測定光束32Aの中心との交点を中心とする円周上の所定範囲を移動可能である。前記反射光30Aはミラー34に入射角θ3で入射し、ミラー34で反射後ミラー35に入射角θ4で入射する。該入射角θ3、4は10°以下に設定される。本発明の実施例3は以上の構造であるから、反射光検出系角度の設定誤差などにより前記反射光30Aの平面鏡で構成されるミラー34、35への入射角θ3、4が変動しても10°以下に設定されているためミラー34、35の鏡面反射率の変動は少なく絶対反射率の測定誤差は小さい。絶対反射率の測定は次のとおり行われる。試料Sが無い状態で光学系32から出射した測定光束32Aをミラー34、35を介して直接、検出器33破線で示す位置に移動に入射して測定した信号を100になるように各波長毎に測定系の感度を設定した後、測定光束32Aを試料Sに入射角θで入射し、反射角θの反射光30Aがミラー34、35を介して検出器33に入射するように反射光検出系角度を設定し、前回と同一感度条件の測定系で測定される各波長の信号の大きさを求める。本発明の実施例3による絶対反射測定装置では、図3に示すとおり入射角θの小さい測定の場合、ミラー34により測定光束32Aが遮られるまで測定可能であり、入射角θが小さい場合でも積分球33aにより測定光束32Aが遮られることはない配置で構成されている。