"互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、を備える放射線画像撮影装置と、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、を備え、前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から全ての前記走査線にオフ電圧を印加して前記各スイッチ手段をオフ状態とした状態で、前記読み出し回路に周期的に読み出し動作を行わせて、前記スイッチ手段を介して前記放射線検出素子からリークした前記電荷をリークデータに変換するリークデータの読み出し処理と、前記各放射線検出素子のリセット処理とを交互に繰り返し行わせ、読み出した前記リークデータが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする放射線画像撮影システム。互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、を備える放射線画像撮影装置と、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、を備え、前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から前記各走査線にオン電圧を順次印加して照射開始検出用の前記画像データの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記照射開始検出用の画像データが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする放射線画像撮影システム。前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記走査線の延在方向に並ぶ前記画像データの平均値を前記走査線ごとに算出して、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記平均値のプロファイルを算出し、前記放射線画像撮影装置の前記制御手段が放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された前記走査線である検出ラインおよび当該検出ラインより先にオン電圧が印加された所定本数の前記走査線を除く、前記検出ライン前後の所定本数の前記走査線において、前記平均値のプロファイルを近似する第1の近似直線を算出し、前記検出ラインを含む前記各走査線ごとに、前記平均値を、当該走査線に対応する前記第1の近似直線上の値で除算して、それぞれ前記各走査線ごとの低下率を算出して、前記各走査線ごとの前記低下率のプロファイルを算出し、前記検出ラインおよび当該検出ラインより先にオン電圧が印加された所定本数の前記走査線を選択し、当該所定本数の走査線に関する前記低下率のプロファイルを第2の近似直線で近似し、当該所定本数の走査線については、当該各走査線に対応する前記第2の近似直線の各値の各逆数をそれぞれ各修復係数として、対応する前記走査線の前記低下率にそれぞれ乗算し、前記修復係数を乗算した前記低下率と1との誤差を算出し、前記所定本数の走査線以外の前記走査線については、前記走査線の前記低下率と1との誤差を算出し、算出した前記各誤差を加算して合計値を算出する処理を、選択する前記走査線の前記所定本数を替えて行い、算出した前記誤差の合計値が最小となる前記第2の近似直線に対応する前記所定本数の前記各走査線を、前記欠損を生じている前記画像データの範囲として特定するとともに、特定した前記範囲の前記各走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記画像データに、抽出した前記第2の近似直線に基づいて、対応する前記走査線について算出した前記修復係数をそれぞれ乗算することにより、特定した前記範囲の前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の放射線画像撮影システム。前記画像処理装置は、前記誤差の合計値が最小となる前記近似直線を抽出し、前記各画像データに対応する前記抽出した近似直線上の各値の逆数をそれぞれ前記各修復係数として用いて、前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項3に記載の放射線画像撮影システム。前記画像処理装置は、前記直線で近似する代わりに、前記放射線画像撮影装置に放射線を照射する放射線源における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて設定される関数で近似して、前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項3または請求項4に記載の放射線画像撮影システム。前記画像処理装置は、前記欠損を生じている前記画像データの範囲に対応する前記放射線画像撮影装置の前記各走査線のうち、前記欠損が生じ始めた最初の前記走査線から修復対象の前記走査線までの本数と、当該修復対象の走査線に接続されている前記各放射線検出素子から読み出された前記各画像データに乗算すべき係数との関係の情報を予め有しており、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析し、前記欠損を生じている画像データの範囲を特定して、前記欠損が生じ始めた最初の前記走査線を特定し、前記情報を参照して、特定した前記範囲の前記各画像データに、当該画像データが読み出された前記放射線検出素子が接続されている前記走査線に割り当てられている前記係数をそれぞれ乗算することにより、前記画像データをそれぞれ修復することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の放射線画像撮影システム。前記放射線画像撮影装置は、前記画像データ中に含まれる暗電荷に起因するオフセット分を前記放射線検出素子ごとにオフセットデータとして読み出すオフセットデータの読み出し処理を行うように構成されており、前記画像処理装置は、前記画像データのプロファイルを解析する代わりに、前記放射線画像撮影装置の前記放射線検出素子ごとに前記画像データから前記オフセットデータを差し引いて真の画像データを算出し、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記真の画像データのプロファイルを解析して前記欠損を生じている前記真の画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記真の画像データを修復することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。前記画像処理装置は、前記画像データのプロファイルまたは前記真の画像データのプロファイルの代わりに、前記放射線画像撮影装置の前記走査線の延在方向に並ぶ前記画像データまたは前記真の画像データの平均値を前記走査線ごとに算出し、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記平均値のプロファイルを解析して前記欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データまたは前記真の画像データを修復することを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。前記画像処理装置は、前記平均値を前記走査線ごとに算出する際に、放射線が被写体を介さずに前記放射線画像撮影装置に直接到達した部分の前記放射線検出素子に対応する前記画像データまたは前記真の画像データを、前記平均値の算出の対象から除外することを特徴とする請求項8に記載の放射線画像撮影システム。前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置で読み出された前記画像データまたは前記画像データに基づいて算出される前記真の画像データを用いる代わりに、前記画像データまたは前記真の画像データをそれぞれ基準値で除算して算出される正規化された前記画像データまたは前記真の画像データを用いることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の放射線画像撮影システム。しかしながら、本発明者らの研究で、上記の手法は、バイアス線9が各放射線検出素子7の電極に接続されているため、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線9を介して各放射線検出素子7に伝わり、放射線検出素子7から読み出される画像データDにノイズとして重畳される場合があるなど、必ずしも解決が容易でない問題があることが分かってきた。そして、本発明者らは、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを検出する別の手法について種々研究を重ねた結果、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを的確に検出することが可能ないくつかの手法を見出すことができた。ところで、後述するように、本発明者らが見出した新たな放射線の照射開始の検出方法では、放射線画像撮影前に、走査駆動手段15のゲートドライバ15bから走査線5の各ラインL1~Lxにオン電圧を順次印加して画像データdの読み出し処理を行う。なお、以下では、撮影直後に行われる本画像としての画像データDと区別して、この放射線画像撮影前に放射線の照射開始の検出用に読み出される照射開始検出用の画像データを、画像データdという。そして、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出される画像データdの値が上昇することを利用して、読み出された画像データdの値に基づいて放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が開始されたことを検出するように構成される。また、本発明者らが見出した別の新たな放射線の照射開始の検出方法では、放射線画像撮影前に、走査駆動手段15のゲートドライバ15bから全ての走査線5にオフ電圧を印加して各TFT8をオフ状態とした状態で読み出し回路17に読み出し動作を行わせ、TFT8を介して放射線検出素子7からリークした電荷q後述する図13参照をリークデータdleakに変換するリークデータdleakの読み出し処理を行うように構成される。そして、この場合も、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出されるリークデータdleakの値が上昇するため、それを利用して、読み出されたリークデータdleakの値に基づいて放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が開始されたことを検出するように構成される。その際、前述したように、リークデータdleakの読み出し処理では各TFT8がオフ状態とされるが、各TFT8がオフ状態のままであると、放射線検出素子7自体の熱温度による熱励起等により常時発生している、いわゆる暗電荷が各放射線検出素子7内に蓄積されてしまう。そのため、後述するように、ゲートドライバ15bから走査線5にオン電圧を順次印加して各放射線検出素子7内から暗電荷を除去する各放射線検出素子7のリセット処理を、リークデータdleakの読み出し処理と交互に繰り返し行うように構成される。しかし、上記のように、放射線画像撮影装置に放射線が照射されると、読み出される画像データdの値が上昇するということは、すなわち、放射線の照射により放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の一部が、画像データdの読み出し処理を行うことにより、放射線検出素子7から信号線6に流出してしまうことを意味する。また、放射線画像撮影前にリークデータdleakの読み出し処理を行う場合には、放射線の照射によりTFT8を介して放射線検出素子7からリークする電荷qが増加するとしても、放射線の照射により当該放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の総量に比べれば微々たるものであり、たいした影響はない。しかし、リークデータdleakの読み出し処理と交互に行われる各放射線検出素子7のリセット処理を行うことで、やはり、放射線の照射により放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の一部が当該放射線検出素子7から信号線6に流出してしまう可能性がある。このように、画像データdの読み出し処理や各放射線検出素子7のリセット処理でゲートドライバ15bからオン電圧が印加された走査線5に接続されている各放射線検出素子7からは、放射線の照射により発生した有用な電荷の一部がそれぞれ信号線6に流出してしまう。そのため、後述する図26に示すように、本画像として読み出された画像データD中或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中の当該走査線5に対応する部分に、有用な電荷の一部が欠損した画像データDの線、すなわちいわゆる線欠陥が現れることになる。この線欠陥の発生は、上記の本発明者らが新たに見出した放射線の照射開始の検出方法を採用する限り、必然的に発生するものである。また、検出感度が低いような場合には、放射線源から放射線画像撮影装置に対する放射線の照射が実際に開始されてから放射線画像撮影装置で放射線の照射開始を検出するまでに時間がかかり、その間に、線欠陥が多数発生してしまう場合があり得る。この場合、線欠陥は、後述する図28に示すように、本画像として読み出された画像データD中或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中に連続して現れる状態になる。このように、線欠陥が発生する場合、そのような線欠陥を有する画像データDに基づいて放射線画像を生成すると、放射線画像中に線状の或いは線欠陥が多数連続して発生する場合には帯状の模様が写り込んでしまい、放射線画像が見難くなる。また、例えば、放射線画像撮影装置で撮影された放射線画像を医療における診断用等に用いるような場合、線欠陥の部分に病変部が撮影されているような場合、それが病変部なのか線欠陥による模様なのかが判別し難くなる場合があり、そのような放射線画像を見た医師等が誤診してしまう可能性がある。そこで、上記のような放射線画像撮影装置を用いる放射線画像撮影システムに対しては、放射線画像撮影装置による撮影で上記のように線欠陥が不可避的に発生してしまうとしても、それを適切に修復して、線欠陥が写り込んでいない放射線画像を的確に生成することができることが望まれる。本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたものであり、放射線画像撮影装置自体で放射線が照射されたことを検出することが可能であり、しかも、そのような放射線画像撮影装置を用いた放射線画像撮影で得られた画像データD中に生じている線欠陥を適切に修復して放射線画像を生成することが可能な放射線画像撮影システムを提供することを目的とする。前記の問題を解決するために、本発明の放射線画像撮影システムは、互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、を備える放射線画像撮影装置と、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、を備え、前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から全ての前記走査線にオフ電圧を印加して前記各スイッチ手段をオフ状態とした状態で、前記読み出し回路に周期的に読み出し動作を行わせて、前記スイッチ手段を介して前記放射線検出素子からリークした前記電荷をリークデータに変換するリークデータの読み出し処理と、前記各放射線検出素子のリセット処理とを交互に繰り返し行わせ、読み出した前記リークデータが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする。また、本発明の放射線画像撮影システムは、互いに交差するように配設された複数の走査線および複数の信号線と、前記複数の走査線および複数の信号線により区画された各小領域に二次元状に配列された複数の放射線検出素子とを備える検出部と、オン電圧を印加する前記各走査線を切り替えながら前記各走査線にオン電圧を順次印加する走査駆動手段と、前記各走査線に接続され、オン電圧が印加されると前記放射線検出素子に蓄積された電荷を前記信号線に放出させるスイッチ手段と、前記放射線検出素子から放出された前記電荷を画像データに変換して読み出す読み出し回路と、少なくとも前記走査駆動手段および前記読み出し回路を制御して前記放射線検出素子からの前記画像データの読み出し処理を行わせる制御手段と、外部装置との間で信号を送受信する通信手段と、を備える放射線画像撮影装置と、前記放射線画像撮影装置から送信されてきた前記画像データに基づいて放射線画像を生成する画像処理装置と、を備え、前記放射線画像撮影装置の前記制御手段は、放射線画像撮影前に、前記走査駆動手段から前記各走査線にオン電圧を順次印加して照射開始検出用の前記画像データの読み出し処理を繰り返し行わせ、読み出した前記照射開始検出用の画像データが閾値を越えた時点で放射線の照射が開始されたことを検出するように構成されており、前記画像処理装置は、前記放射線画像撮影装置の前記信号線の延在方向における前記画像データのプロファイルを解析して欠損を生じている前記画像データの範囲を特定し、特定した前記範囲の前記画像データを修復することを特徴とする。本発明のような方式の放射線画像撮影システムによれば、放射線画像撮影装置で、放射線画像撮影前に、リークデータの読み出し処理や画像データの読み出し処理を行い、読み出したリークデータや画像データの値に基づいて放射線の照射開始を検出するため、放射線画像撮影装置自体で放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。そのため、前述した特許文献4や特許文献5に記載された発明のように、例えば放射線画像撮影装置1にバイアス線9等を流れる電流を検出する電流検出手段を設けなくてもよくなり、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線9を介して各放射線検出素子7に伝わって画像データDにノイズとして重畳される等の問題が生じることを確実に防止することが可能となる。また、画像処理装置は、放射線画像撮影装置の信号線の延在方向における画像データDのプロファイルを解析して、欠損を生じている画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲を適切に特定する。そして、適切に特定した範囲の画像データDを修復する。そのため、放射線画像撮影装置を用いた放射線画像撮影で得られた画像データD中に生じている線欠陥を適切に修復したうえで、放射線画像を生成することが可能となる。そのため、放射線画像中に、線欠陥が線状或いは帯状に写り込んで放射線画像が見難くなることが的確に防止され、線欠陥が写り込んでいない放射線画像を的確に生成することが可能となる。そして、例えば放射線画像を医療における診断用等に用いるような場合、線欠陥の部分に病変部が撮影されていても、線欠陥が的確に修復されるため、修復された画像データに基づいて生成された放射線画像を見た医師等が、病変部を的確に識別することができるようにすることが可能となる。以下、本発明に係る放射線画像撮影システムの実施の形態について、図面を参照して説明する。なお、以下では、放射線画像撮影システムで用いられる放射線画像撮影装置として、シンチレータ等を備え、放射された放射線を可視光等の他の波長の電磁波に変換して電気信号を得るいわゆる間接型の放射線画像撮影装置について説明するが、本発明は、シンチレータ等を介さずに放射線を放射線検出素子で直接検出する、いわゆる直接型の放射線画像撮影装置に対しても適用することができる。[放射線画像撮影装置]まず、本実施形態に係る放射線画像撮影装置について説明する。図1は、放射線画像撮影装置の外観を示す斜視図であり、図2は、図1のX-X線に沿う断面図である。放射線画像撮影装置1は、図1や図2に示すように、筐体状のハウジング2内にシンチレータ3や基板4等で構成されるセンサパネルSPが収納されている。本実施形態では、筐体2のうち、放射線入射面Rを有する中空の角筒状のハウジング本体部2Aは、放射線を透過するカーボン板やプラスチック等の材料で形成されており、ハウジング本体部2Aの両側の開口部を蓋部材2B、2Cで閉塞することで筐体2が形成されている。また、筐体2の一方側の蓋部材2Bには、電源スイッチ37や切替スイッチ38、コネクタ39、バッテリ状態や放射線画像撮影装置1の稼働状態等を表示するLED等で構成されたインジケータ40等が配置されている。本実施形態では、コネクタ39は、例えば図3に示すように、ケーブルCaの先端に設けられたコネクタCが接続されることにより、例えば後述するコンソール58図11や図12参照等との間でケーブルCaを介して信号等を送受信したり、画像処理装置としてのコンソール58に画像データD等を送信したりする際の有線方式の通信手段として機能するようになっている。なお、コネクタ39の設置位置は蓋部材2Bに限定されず、放射線画像撮影装置1の適宜の位置に設置することが可能である。また、図示を省略するが、例えば筐体2の反対側の蓋部材2C等に、アンテナ装置41後述する図7参照が例えば蓋部材2Cに埋め込む等して設けられており、本実施形態では、このアンテナ装置41が、放射線画像撮影装置1とコンソール58等との間で信号等の無線方式で送受信する場合の通信手段として機能するようになっている。なお、アンテナ装置41の設置位置は蓋部材2Cに限定されず、放射線画像撮影装置1の任意の位置にアンテナ装置41を設置することが可能である。また、設置するアンテナ装置41は1個に限らず、複数設けることも可能である。図2に示すように、筐体2の内部には、基板4の下方側に図示しない鉛の薄板等を介して基台31が配置され、基台31には、電子部品32等が配設されたPCB基板33やバッテリ24等が取り付けられている。また、基板4やシンチレータ3の放射線入射面Rには、それらを保護するためのガラス基板34が配設されている。また、本実施形態では、センサパネルSPと筐体2の側面との間に、それらがぶつかり合うことを防止するための緩衝材35が設けられている。シンチレータ3は、基板4の後述する検出部Pに対向する位置に設けられるようになっている。本実施形態では、シンチレータ3は、例えば、蛍光体を主成分とし、放射線の入射を受けると300~800nmの波長の電磁波、すなわち可視光を中心とした電磁波に変換して出力するものが用いられる。基板4は、本実施形態では、ガラス基板で構成されており、図4に示すように、基板4のシンチレータ3に対向する側の面4a上には、複数の走査線5と複数の信号線6とが互いに交差するように配設されている。基板4の面4a上の複数の走査線5と複数の信号線6により区画された各小領域rには、放射線検出素子7がそれぞれ設けられている。このように、走査線5と信号線6で区画された各小領域rに二次元状に配列された複数の放射線検出素子7が設けられた小領域r全体、すなわち図4に一点鎖線で示される領域が検出部Pとされている。本実施形態では、放射線検出素子7としてフォトダイオードが用いられているが、この他にも例えばフォトトランジスタ等を用いることも可能である。各放射線検出素子7は、図4の拡大図である図5に示すように、スイッチ手段であるTFT8のソース電極8sに接続されている。また、TFT8のドレイン電極8dは信号線6に接続されている。放射線検出素子7は、放射線画像撮影装置1の筐体2の放射線入射面Rから放射線が入射し、シンチレータ3で放射線から変換された可視光等の電磁波が照射されると、その内部で電子正孔対を発生させる。放射線検出素子7は、このようにして、照射された放射線本実施形態ではシンチレータ3で放射線から変換された電磁波を電荷に変換するようになっている。そして、TFT8は、後述する走査駆動手段15から走査線5を介してゲート電極8gにオン電圧が印加されるとオン状態となり、ソース電極8sやドレイン電極8dを介して放射線検出素子7内に蓄積されている電荷を信号線6に放出させるようになっている。また、TFT8は、接続された走査線5を介してゲート電極8gにオフ電圧が印加されるとオフ状態となり、放射線検出素子7から信号線6への電荷の放出を停止して、放射線検出素子7内に電荷を蓄積させるようになっている。本実施形態では、図5に示すように、それぞれ列状に配置された複数の放射線検出素子7に1本のバイアス線9が接続されており、図4に示すように、各バイアス線9はそれぞれ信号線6に平行に配設されている。また、各バイアス線9は、基板4の検出部Pの外側の位置で結線10に結束されている。本実施形態では、図4に示すように、各走査線5や各信号線6、バイアス線9の結線10は、それぞれ基板4の端縁部付近に設けられた入出力端子パッドともいう。11に接続されている。各入出力端子11には、図6に示すように、後述する走査駆動手段15のゲートドライバ15bを構成するゲートIC15c等のチップがフィルム上に組み込まれたフレキシブル回路基板ChipOnFilm等ともいう。12が異方性導電接着フィルムAnisotropicConductiveFilmや異方性導電ペーストAnisotropicConductivePaste等の異方性導電性接着材料13を介して接続されている。そして、フレキシブル回路基板12は、基板4の裏面4b側に引き回され、裏面4b側で前述したPCB基板33に接続されるようになっている。このようにして、放射線画像撮影装置1のセンサパネルSPが形成されている。なお、図6では、電子部品32等の図示が省略されている。ここで、放射線画像撮影装置1の回路構成について説明する。図7は本実施形態に係る放射線画像撮影装置1の等価回路を表すブロック図であり、図8は検出部Pを構成する1画素分についての等価回路を表すブロック図である。前述したように、基板4の検出部Pの各放射線検出素子7は、その第2電極7bにそれぞれバイアス線9が接続されており、各バイアス線9は結線10に結束されてバイアス電源14に接続されている。バイアス電源14は、結線10および各バイアス線9を介して各放射線検出素子7の第2電極7bにそれぞれバイアス電圧を印加するようになっている。また、バイアス電源14は、後述する制御手段22に接続されており、制御手段22により、バイアス電源14から各放射線検出素子7に印加するバイアス電圧が制御されるようになっている。図7や図8に示すように、本実施形態では、バイアス電源14からは、放射線検出素子7の第2電極7bにバイアス線9を介してバイアス電圧として放射線検出素子7の第1電極7a側にかかる電圧以下の電圧すなわちいわゆる逆バイアス電圧が印加されるようになっている。走査駆動手段15は、配線15dを介してゲートドライバ15bにオン電圧とオフ電圧を供給する電源回路15aと、走査線5の各ラインL1~Lxに印加する電圧をオン電圧とオフ電圧の間で切り替えて各TFT8のオン状態とオフ状態とを切り替えるゲートドライバ15bとを備えている。本実施形態では、ゲートドライバ15bは、複数の前述したゲートIC15c図6参照が並設されて構成されている。図7や図8に示すように、各信号線6は、読み出しIC16内に内蔵された各読み出し回路17にそれぞれ接続されている。読み出し回路17は、増幅回路18と相関二重サンプリング回路19等で構成されている。読み出しIC16内には、さらに、アナログマルチプレクサ21と、A/D変換器20とが設けられている。なお、図7や図8中では、相関二重サンプリング回路19はCDSと表記されている。また、図8中では、アナログマルチプレクサ21は省略されている。本実施形態では、増幅回路18は、オペアンプ18aと、オペアンプ18aにそれぞれ並列にコンデンサ18bおよび電荷リセット用スイッチ18cが接続され、オペアンプ18a等に電力を供給する電源供給部18dを備えたチャージアンプ回路で構成されている。増幅回路18のオペアンプ18aの入力側の反転入力端子には信号線6が接続されており、増幅回路18の入力側の非反転入力端子には基準電位V0が印加されるようになっている。なお、基準電位V0は適宜の値に設定され、本実施形態では、例えば0[V]が印加されるようになっている。また、増幅回路18の電荷リセット用スイッチ18cは、制御手段22に接続されており、制御手段22によりオン/オフが制御されるようになっている。また、オペアンプ18aと相関二重サンプリング回路19との間には、電荷リセット用スイッチ18cと連動して開閉するスイッチ18eが設けられており、スイッチ18eは、電荷リセット用スイッチ18cがオン/オフ動作と連動してオフ/オン動作するようになっている。放射線画像撮影装置1で、各放射線検出素子7内に残存する電荷を除去するための各放射線検出素子7のリセット処理を行う際には、図9に示すように、電荷リセット用スイッチ18cがオン状態およびスイッチ18eがオフ状態とされた状態で、各TFT8がオン状態とされる。すると、オン状態とされた各TFT8を介して各放射線検出素子7から電荷が信号線6に放出され、増幅回路18の電荷リセット用スイッチ18cを通過して、オペアンプ18aの出力端子側からオペアンプ18a内を通り、非反転入力端子から出てアースされたり、電源供給部18dに流れ出す。このようにして、各放射線検出素子7のリセット処理が行われるようになっている。一方、各放射線検出素子7からの画像データDの読み出し処理の際には、図10に示すように、増幅回路18の電荷リセット用スイッチ18cがオフ状態およびスイッチ18eがオン状態とされた状態で、オン状態とされた各TFT8を介して各放射線検出素子7から電荷が信号線6に放出されると、電荷が増幅回路18のコンデンサ18bに蓄積される。そして、増幅回路18では、コンデンサ18bに蓄積された電荷量に応じた電圧値がオペアンプ18aの出力側から出力されるようになっており、増幅回路18により、各放射線検出素子7から流出した電荷が電荷電圧変換されるようになっている。そして、増幅回路18の出力側に設けられた相関二重サンプリング回路CDS19は、各放射線検出素子7から電荷が流出する前に制御手段22からパルス信号Sp1図10参照が送信されると、その時点で増幅回路18から出力されている電圧値Vinを保持し、上記のように各放射線検出素子7から流出した電荷が増幅回路18のコンデンサ18bに蓄積された後に制御手段22からパルス信号Sp2が送信されると、その時点で増幅回路18から出力されている電圧値Vfiを保持する。そして、相関二重サンプリング回路19は、2回目のパルス信号Sp2で電圧値Vfiを保持すると、電圧値の差分Vfi-Vinを算出し、算出した差分Vfi-Vinをアナログ値の画像データDとして下流側に出力するようになっている。そして、相関二重サンプリング回路19から出力された各放射線検出素子7の画像データDは、アナログマルチプレクサ21を介して順次A/D変換器20に送信され、A/D変換器20で順次デジタル値の画像データDに変換されて記憶手段23に出力されて順次保存されるようになっている。なお、1回の画像データDの読み出し処理が終了すると、増幅回路18の電荷リセット用スイッチ18cがオン状態とされ図10参照、コンデンサ18bに蓄積された電荷が放電されて、上記と同様に、放電された電荷がオペアンプ18aの出力端子側からオペアンプ18a内を通り、非反転入力端子から出てアースされたり、電源供給部18dに流れ出す等して、増幅回路18がリセットされる。制御手段22は、図示しないCPUCentralProcessingUnitやROMReadOnlyMemory、RAMRandomAccessMemory、入出力インターフェース等がバスに接続されたコンピュータや、FPGAFieldProgrammableGateArray等により構成されている。専用の制御回路で構成されていてもよい。そして、制御手段22は、放射線画像撮影装置1の各部材の動作等を制御するようになっている。また、図7等に示すように、制御手段22には、SRAMStaticRAMやSDRAMSynchronousDRAM等で構成される記憶手段23が接続されている。また、本実施形態では、制御手段22には、前述したアンテナ装置41が接続されており、さらに、検出部Pや走査駆動手段15、読み出し回路17、記憶手段23、バイアス電源14等の各部材に電力を供給するためのバッテリ24が接続されている。また、バッテリ24には、図示しない充電装置からバッテリ24に電力を供給してバッテリ24を充電する際の接続端子25が取り付けられている。前述したように、制御手段22は、バイアス電源14を制御してバイアス電源14から各放射線検出素子7に印加するバイアス電圧を設定したり可変させたりするなど、放射線画像撮影装置1の各機能部の動作を制御するようになっている。なお、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出等については、本実施形態に係る放射線画像撮影システム50について説明した後で説明する。[放射線画像撮影システム]次に、本実施形態に係る放射線画像撮影システムについて説明する。図11や図12は、本実施形態に係る放射線画像撮影システムの構成を示す図である。図11は、病院等の撮影室R1や前室操作室等ともいう。R2等に放射線画像撮影システム50が構築された場合を示す図であり、図12は、放射線画像撮影システム50が病室R3に搬入される回診車71上に構築された場合を示す図である。なお、図12において、Hは被写体である被験者を表し、Bは被験者が横臥するベッドBを表す。以下、図11に示すように、放射線画像撮影システム50が、撮影室R1等に構築された場合について主に説明するが、図12に示した回診車71上に構築された場合についても同様に説明される。図11に示すように、撮影室R1には、ブッキー装置51が設置されており、ブッキー装置51は、そのカセッテ保持部カセッテホルダともいう。51aに上記の放射線画像撮影装置1を装填して用いることができるようになっている。なお、図11では、ブッキー装置51として、立位撮影用のブッキー装置51Aと臥位撮影用のブッキー装置51Bが設置されている場合が示されているが、例えば、立位撮影用のブッキー装置51Aのみ、或いは、臥位撮影用のブッキー装置51Bのみが設けられていてもよい。放射線画像撮影装置1をブッキー装置51に装填する際に、例えば前述した図3に示したように、放射線画像撮影装置1のコネクタ39に、ブッキー装置51から延設されたケーブルCaの先端に設けられたコネクタCを接続した状態で装填するように構成することが可能である。なお、この場合、放射線画像撮影装置1は、コネクタ39やケーブルCaを介してコンソール58との間で有線方式で信号の送受信等を行ったり、画像処理装置としてのコンソール58への画像データDの送信等を行うことが可能となることは前述した通りである。また、図12に示したように、放射線画像撮影システム50を回診車71上に構築した場合、図18に示したように放射線画像撮影装置1にケーブルCaを接続した状態で撮影を行ってもよいが、ケーブルCaが放射線技師等の撮影動作の邪魔になるような場合には、放射線画像撮影装置1にケーブルCaを接続しない状態で撮影が行われる。撮影室R1には、図11に示すように、被写体を介してブッキー装置51に装填された放射線画像撮影装置1に放射線を照射する放射線源52が少なくとも1つ設けられている。本実施形態では、放射線源52の位置を移動させたり、放射線の照射方向を変えることで、1つの放射線源52で、立位撮影用のブッキー装置51Aと臥位撮影用のブッキー装置51Bのいずれにも放射線を照射することができるようになっている。一方、回診車71上に構築された放射線画像撮影システム50では、図12に示すように、放射線画像撮影装置1はブッキー装置51には装填されず、いわば単独の状態で用いられる。そして、例えば、患者Hが病室R3のベッドBから起き上がれず、撮影室R1に行くことができないような場合に、図12に示すように放射線画像撮影装置1をベッドBと患者の身体との間に差し込んだり患者の身体にあてがったりして用いることができるようになっている。また、放射線画像撮影装置1を病室R3等で用いる場合、前述した撮影室R1に据え付けられた放射線発生装置55や放射線源52を病室R3に持ち込むことができないため、図12に示すように、放射線発生装置55が例えば回診車71に搭載される等して病室R3に持ち込まれる。そして、この場合、放射線源52Pは任意の方向に放射線を照射できるように構成される。そして、ベッドBと患者の身体との間に差し込まれたり患者の身体にあてがわれたりした放射線画像撮影装置1に対して、適切な距離や方向から放射線を照射するように調整される。なお、図11に示したように、撮影室R1内においても、放射線画像撮影装置1を、例えば臥位撮影用のブッキー装置51B上に横臥した患者の身体と臥位撮影用のブッキー装置51Bとの間に差し込んだり、臥位撮影用のブッキー装置51B上で患者の身体にあてがったりして用いることも可能である。そして、この場合、放射線源52としては、ポータブルの放射線源を用いることも可能であり、また、撮影室R1に据え付けられた放射線源52を用いることも可能である。図11に示すように、撮影室R1には、撮影室R1内の各装置等や撮影室R1外の各装置等の間の通信等を中継するための中継器基地局等ともいう。54が設けられている。なお、本実施形態では、中継器54には、放射線画像撮影装置1が無線方式で画像データDや信号等の送受信を行うことができるように、無線アンテナアクセスポイント等ともいう。53が設けられている。また、中継器54は、放射線発生装置55やコンソール58と接続されており、中継器54には、放射線画像撮影装置1やコンソール58等から放射線発生装置55に送信するLAN通信用の信号等を放射線発生装置55用の信号等に変換し、また、その逆の変換も行う図示しない変換器が内蔵されている。なお、図12に示した回診車71上に構築された放射線画像撮影システム50では、放射線発生装置55内に、或いは外付けで、LAN通信用の信号等を放射線発生装置55用の信号等に変換し、その逆の変換も行う図示しない変換器が設けられており、この変換器に無線アンテナ53が取り付けられている。前室操作室ともいう。R2には、本実施形態では、放射線発生装置55の操作卓57が設けられており、操作卓57には、放射線技師等が操作して放射線発生装置55に対して放射線の照射開始等を指示するための曝射スイッチ56が設けられている。そして、本実施形態では、放射線技師等が曝射スイッチ56を操作することで放射線源52から放射線が照射されるようになっている。図12に示した回診車71上に構築された放射線画像撮影システム50では、回診車71に搭載された放射線発生装置55が操作卓57の役割も果たしており、放射線発生装置55に、図12では図示を省略した曝射スイッチ56が取り付けられている。放射線発生装置55は、このほか、放射線源52から適切な線量の放射線が照射されるように、放射線源52に所定の管電流や管電圧を供給したり放射線源52からの放射線の照射時間を調整する等して、放射線源52を制御するようになっている。本実施形態では、コンピュータ等で構成されたコンソール58が、図11の場合には前室R2に設けられており、図12の場合には、回診車71に搭載されている。なお、図11の場合に、コンソール58を撮影室R1や前室R2の外側や別室等に設けるように構成することも可能であり、コンソール58の設置場所は適宜決められる。本実施形態では、コンソール58には、CRTCathodeRayTubeやLCDLiquidCrystalDisplay等を備えて構成される表示部58a図12では図示省略が設けられており、また、HDDHardDiskDrive等で構成された記憶手段59図12では図示省略が接続、或いは内蔵されている。コンソール58は、放射線画像撮影装置1から画像データD等が送信されてくると、それに基づいて表示部58a上にプレビュー画像を表示するようになっている。そして、放射線技師等は、表示されたプレビュー画像を見て、画像中に被写体が撮影されているかや画像中での被写体の撮影位置が適切であるか等を確認して、再撮影の要否等を判断するようになっている。また、本実施形態では、コンソール58は、画像処理装置として機能するようにもなっており、放射線技師等により再撮影の必要がないと判断された場合には、画像データDにオフセット補正やゲイン補正、欠陥画素補正、階調処理等の所定の画像処理を行って放射線画像を生成するようになっている。なお、画像処理装置としてのコンソール58における画像処理については、後で説明する。[放射線の照射開始の検出の制御構成について]次に、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出処理の制御構成について説明する。本実施形態では、放射線画像撮影装置1と放射線発生装置55との間でインターフェースが構築されず、放射線画像撮影装置1自体で放射線源52から放射線が照射されたことを検出するようになっている。以下、本実施形態に係る放射線画像撮影装置1で行われる放射線の照射開始の検出の仕方について説明する。なお、本実施形態に係る検出方法は、本発明者らの研究により新たに見出された検出方法であり、前述した特許文献4や特許文献5に記載されているように、装置内に電流検出手段を設けて電流検出手段からの出力値に基づいて放射線の照射開始等を検出する手法は採用されていない。本発明者らの研究により新たに見出された検出方法としては、例えば、下記の2つの検出方法のいずれかを採用することが可能である。[検出方法1]例えば、放射線画像撮影において放射線画像撮影装置1に放射線が照射される前に、リークデータdleakの読み出し処理を繰り返し行うように構成することも可能である。ここで、リークデータdleakとは、図13に示すように、各走査線5にオフ電圧を印加した状態で、オフ状態になっている各TFT8を介して各放射線検出素子7からリークする電荷qの信号線6ごとの合計値に相当するデータである。そして、リークデータdleakの読み出し処理では、図10に示した画像データDの読み出し処理の場合と異なり、図14に示すように、走査線5の各ラインL1~Lxにオフ電圧を印加して各TFT8をオフ状態とした状態で、制御手段22から各読み出し回路17の相関二重サンプリング回路19図7、8のCDS参照にパルス信号Sp1、Sp2を送信するようになっている。相関二重サンプリング回路19は、制御手段22からパルス信号Sp1が送信されると、その時点で増幅回路18から出力されている電圧値Vinを保持する。そして、増幅回路18のコンデンサ18bに各TFT8を介して各放射線検出素子7からリークする電荷qが蓄積されて増幅回路18から出力される電圧値が上昇し、制御手段22からパルス信号Sp2が送信されると、相関二重サンプリング回路19は、その時点で増幅回路18から出力されている電圧値Vfiを保持する。そして、相関二重サンプリング回路19が電圧値の差分Vfi-Vinを算出して出力した値が、リークデータdleakとなる。リークデータdleakが、その後、A/D変換器20でデジタル値に変換されることは、前述した画像データDの読み出し処理の場合と同様である。しかし、リークデータdleakの読み出し処理のみを繰り返し行うように構成すると、各TFT8がオフ状態のままとなってしまい、各放射線検出素子7内で発生した暗電荷が各放射線検出素子7内に蓄積され続ける状態になってしまう。そのため、上記のように、放射線画像撮影前に、リークデータdleakの読み出し処理を繰り返し行うように構成する場合には、図15に示すように、各走査線5にオフ電圧を印加した状態で行うリークデータdleakの読み出し処理と、走査線5の各ラインL1~Lxにオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子7のリセット処理とを交互に繰り返し行うように構成することが望ましい。なお、図15や後述する図16等のTやτについては後で説明する。このように放射線画像撮影前にリークデータdleakの読み出し処理と各放射線検出素子7のリセット処理とを交互に繰り返して行うように構成した場合、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が開始されると、シンチレータ3図2参照で放射線から変換された電磁波が、各TFT8に照射される。そして、それにより、各TFT8を介して各放射線検出素子7からリークする電荷q図13参照がそれぞれ増加することが本発明者らの研究で分かった。そして、例えば図16に示すように、放射線画像撮影前にリークデータdleakの読み出し処理と各放射線検出素子7のリセット処理とを交互に繰り返して行う場合、図17に示すように、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が開始された時点で読み出されたリークデータdleakが、それ以前に読み出されたリークデータdleakよりも格段に大きな値になる。なお、図16および図17では、図16で走査線5のラインL4にオン電圧が印加されてリセット処理が行われた後の4回目の読み出し処理で読み出されたリークデータdleakが、図17の時刻t1におけるリークデータdleakに対応する。また、図16においてRは各放射線検出素子7のリセット処理を表し、Lはリークデータdleakの読み出し処理を表す。なお、図16中のTacについては後で説明する。そこで、放射線画像撮影装置1の制御手段22で、放射線画像撮影前のリークデータdleakの読み出し処理で読み出されたリークデータdleakを監視するように構成し、読み出されたリークデータdleakが、例えば予め設定された所定の閾値dleakth図17参照を越えた時点で、放射線の照射が開始されたことを検出するように構成することができる。そして、この場合、制御手段22は、上記のようにして、放射線の照射が開始されたことを検出すると、図16に示したように、その時点で各走査線5へのオン電圧の印加を停止して、ゲートドライバ15bから走査線5の全てのラインL1~Lxにオフ電圧を印加させ、各TFT8をオフ状態にして、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷を各放射線検出素子7内に蓄積させる電荷蓄積状態に移行させる。そして、例えば放射線の照射開始を検出してから所定時間が経過した後、制御手段22は、放射線画像撮影前のリークデータdleakの読み出し処理で放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された走査線5図16の場合は走査線5のラインL4の次にオン電圧を印加すべき走査線5図16の場合は走査線5のラインL5からオン電圧の印加を開始し、各走査線5にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データDの読み出し処理を行うように構成される。なお、図16では、本画像としての画像データDの読み出し処理を、放射線の照射開始を検出した時点でオン電圧が印加された走査線5のラインLnの次にラインLn1からオン電圧の印加を開始して行う場合を示したが、例えば、走査線5の最初のラインL1等からオン電圧の印加を開始して画像データDの読み出し処理を行うように構成することも可能である。[検出方法2]また、上記の検出方法1のように、放射線画像撮影前にリークデータdleakの読み出し処理を行うように構成する代わりに、放射線画像撮影前に、図18に示すように、走査駆動手段15のゲートドライバ15bから走査線5の各ラインL1~Lxにオン電圧を順次印加して、各放射線検出素子7からの画像データdの読み出し処理を繰り返し行うように構成することも可能である。なお、前述したように、撮影直後に行われる上記の本画像としての画像データDと区別して、以下、この放射線画像撮影前に放射線の照射開始の検出用に読み出される照射開始検出用の画像データを、画像データdという。また、図18中において、1フレームとは、検出部P図4や図7参照上に二次元状に配列された1面分の各放射線検出素子7から画像データdの読み出し処理を行う期間をいう。また、画像データdの読み出し処理における読み出し回路17の増幅回路18の電荷リセット用スイッチ18cのオン/オフや、相関二重サンプリング回路19へのパルス信号Sp1、Sp2の送信等は、図19に示すように、図10に示した画像データDの読み出し処理における処理と同様に行われる。なお、図19等におけるΔTについては後で説明する。上記のように放射線画像撮影前に画像データdの読み出し処理を行うように構成した場合、図20に示すように、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が開始されると、その時点で読み出された画像データd図20では走査線5のラインLnにオン電圧が印加されて読み出された画像データdが、前述した図17に示したリークデータdleakの場合と同様に、それ以前に読み出された画像データdよりも格段に大きな値になる。そこで、放射線画像撮影装置1の制御手段22で、放射線画像撮影前の読み出し処理で読み出された画像データdを監視するように構成し、読み出された画像データdが予め設定された所定の閾値dthを越えた時点で、放射線の照射が開始されたことを検出するように構成することができる。そして、この場合、制御手段22は、上記のようにして、放射線の照射が開始されたことを検出すると、図20に示すように、その時点で各走査線5へのオン電圧の印加を停止して、ゲートドライバ15bから走査線5の全てのラインL1~Lxにオフ電圧を印加させ、各TFT8をオフ状態にして、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷を各放射線検出素子7内に蓄積させる電荷蓄積状態に移行させる。そして、例えば放射線の照射開始を検出してから所定時間が経過した後、制御手段22は、放射線画像撮影前の画像データdの読み出し処理で放射線の照射が開始されたことを検出した時点またはその直前にオン電圧が印加された走査線5図20の場合は走査線5のラインLnの次にオン電圧を印加すべき走査線5図20の場合は走査線5のラインLn1からオン電圧の印加を開始し、各走査線5にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データDの読み出し処理を行うように構成される。なお、図20に示した場合においても、本画像としての画像データDの読み出し処理を、例えば走査線5の最初のラインL1等からオン電圧の印加を開始して行うように構成することが可能である。また、図20中のΔTやτについては後で説明する。[放射線の照射終了の検出について]例えば、上記の検出方法1において、図16に示したように、放射線の照射が開始されたことを検出した後、各走査線5にオン電圧を順次印加して行う各放射線検出素子7のリセット処理は停止して電荷蓄積状態に移行する。そして、その際、例えば図21に示すように、電荷蓄積状態で、各走査線5にオフ電圧を印加して行うリークデータdleakの読み出し処理を続行するように構成して、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射の終了を検出するように構成することも可能である。放射線の照射開始検出後、リークデータdleakの読み出し処理を続行するように構成すると、電荷蓄積状態では既に放射線の照射が開始されているため、図22に示すように、読み出されるリークデータdleakは大きな値になっているが、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が終了すると、リークデータdleakは元の小さな値に戻る。そのため、例えば時刻t2でリークデータdleakが閾値dleakth以下の値になったことをもって放射線の照射が終了したことを検出することが可能となる。なお、この場合の閾値dleakthは、上記の検出方法1で放射線の照射開始を検出する際の閾値と同じ値dleakthであってもよく、別の値として設定することも可能である。また、図22では、時刻t2で放射線の照射の終了を検出した後もリークデータdleakの読み出し処理を引き続き行ってリークデータdleakを読み出す場合が示されているが、実際には、下記のように、放射線の照射の終了を検出するとリークデータdleakの読み出し処理は停止される。図22に示したように、リークデータdleakが閾値dleakth以下の値になり、放射線の照射が終了したことが検出された時点図21ではA参照。図22の時刻t2に対応する。で、各走査線5へのオン電圧の順次の印加を開始して本画像としての画像データDの読み出し処理を開始するように構成することが可能となる。このように構成すれば、図21に示したように、放射線の照射の終了を検出した後、すぐに画像データDの読み出し処理を開始することが可能となり、画像データDの読み出し処理以降の処理を早期に行うことが可能となるといった利点がある。なお、この電荷蓄積状態においてリークデータdleakの読み出し処理を行って放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射の終了を検出する手法を、上記の検出方法2で行うように構成することも可能である。[改良された放射線の照射開始の検出方法について]ところで、上記の検出方法1、2は、以下のように改良することができる。なお、以下では、前述した検出方法1、すなわち放射線画像撮影前にリークデータdleakの読み出し処理を行い、読み出したリークデータdleakに基づいて放射線の照射開始を検出する場合について説明するが、上記の検出方法2についても同様にあてはまる。上記の検出方法1を採用して放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射開始を検出するように構成する場合、放射線画像撮影装置1の検出部P図4や図7等参照には、通常、数千本から数万本の信号線6が配線されており、各信号線6にそれぞれ読み出し回路17が設けられているため、1回のリークデータdleakの読み出し処理で読み出されるリークデータdleakの数は、数千個から数万個の数になる。そして、それらの全てのリークデータdleakについて、上記のように閾値を越えたか否かを判断する処理を各読み出し処理ごとに行うように構成すると、処理が重くなり、リアルタイムで放射線の照射開始を検出することができなくなる虞れがある。そこで、以下のような検出手法を採用することが可能である。[検出手法A]読み出しIC16図7参照内には、例えば、128個や256個の読み出し回路17が形成されて内蔵されている。すなわち、1個の読み出しIC16には、128本や256本等の信号線6が接続されている。そして、1回のリークデータdleakの読み出し処理で、1個の読み出しIC16から各信号線6ごとに128個や256個のリークデータdleakが読み出される。いま、仮に信号線6が4096本設けられており、1個の読み出しIC16に256個の読み出し回路17が内蔵されているすなわち1個の読み出しIC16に256本の信号線6が接続されているとすると、読み出しIC16の数は、全部で4096÷256=16個になる。そこで、例えば、1回のリークデータdleakの読み出し処理で1つの読み出しIC16から出力されたリークデータdleakの合計値や平均値、中間値、最大値等以下、これらを代表して平均値という。を算出し、各読み出しIC16について算出したリークデータdleakの平均値dleakaveが、それぞれ閾値を越えたか否かを判断するように構成することが可能である。なお、平均値dleakave中のzは、読み出しIC16の番号であり、上記の例では、読み出しIC16は16個設けられているため、zは1から16までの値をとる。この検出手法Aのように構成すれば、放射線画像撮影装置1の制御手段22は、上記の例で言えば、1回のリークデータdleakの読み出し処理で読み出される4096個のリークデータdleakについて各々閾値を越えたか否かを判断する必要がなくなり、各読み出しIC16から出力されたリークデータdleakの16個の平均値dleakaveについて閾値を越えたか否かを判断するだけで済む。そのため、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射開始の判断処理が軽くなる。[検出手法B]また、さらに判断処理を軽くするために、制御手段22で、1回のリークデータdleakの読み出し処理で1つの読み出しIC16から出力されたリークデータdleakから算出した16個の平均値dleakaveの中から最大値を抽出し、リークデータdleakの平均値dleakaveの最大値が閾値を越えたか否かを判断するように構成することも可能である。しかし、この場合、各読み出しIC16内の各読み出し回路17におけるデータの読み出し効率が問題になる場合がある。すなわち、各読み出し回路17図7等参照のデータの読み出し効率は、通常、各読み出し回路17ごとに異なり、各放射線検出素子7から信号線6にリークする電荷qの合計値図13参照が信号線6ごとに同じであったとしても、他の読み出し回路17よりも常に大きな値のリークデータdleakを読み出す読み出し回路17もあれば、他の読み出し回路17よりも常に小さな値のリークデータdleakを読み出す読み出し回路17もある。このような状況において、例えば図23に示すように、放射線画像撮影装置1に対して放射線が、検出部Pの中央部分に照射野Fが絞られた状態で照射され、他の読み出し回路17よりも常に大きな値のリークデータdleakを読み出す読み出し回路17に接続されている信号線6aが照射野F外に存在する場合を考える。このような場合、図24に示すように、照射野F内に存在する信号線6に接続されている読み出し回路17を含む読み出しIC16から出力されたリークデータdleakの平均値dleakave図中のγ参照が放射線の照射により上昇しても、照射野F外に存在する信号線6aに接続されている読み出し回路17を含む読み出しIC16から出力されたリークデータdleakの平均値dleakave図中のδ参照を越えない場合が生じ得る。そして、このような場合、1回のリークデータdleakの読み出し処理で1つの読み出しIC16から出力されたリークデータdleakから算出した16個の平均値dleakaveの中から最大値を抽出すると、図中δで示されたリークデータdleakの平均値dleakaveが抽出されるが、抽出されたリークデータdleakの平均値dleakaveは放射線の照射によっても変動しないため、結局、閾値を越えなくなり、放射線の照射を検出することができなくなる。そこで、このような問題を回避するために、例えば、各読み出し処理ごとに各読み出しIC16から出力されたリークデータdleakの平均値dleakaveの移動平均を、読み出しIC16ごとに算出するように構成することが可能である。すなわち、1回のリークデータdleakの読み出し処理ごとに読み出しIC16から出力されるリークデータdleakの平均値dleakaveを算出するごとに、当該読み出し処理の直前の読み出し処理を含む所定回数分の過去の各読み出し処理の際に算出された、読み出しIC16ごとのリークデータdleakの平均値dleakaveの平均すなわち移動平均を算出するように構成する。そして、読み出しIC16ごとに、今回の読み出し処理で算出したリークデータdleakの平均値dleakaveと、算出した移動平均との差分Δdを算出するように構成することが可能である。そして、制御手段22で、1回のリークデータdleakの読み出し処理で読み出しIC16から出力されたリークデータdleakから算出した平均値dleakaveと、それぞれに対応する移動平均との差分Δdを、各読み出しIC16ごとにそれぞれ算出し、算出した差分Δd上記の例では16個の差分Δdの中から最大値を抽出し、差分Δdの最大値が閾値を越えたか否かを判断するように構成することが可能である。このように構成すれば、読み出しIC16内に設けられた読み出し回路17ごとに読み出し効率にばらつきがあったとしても、同じ読み出し効率で読み出されたリークデータdleakの平均値dleakaveと移動平均との差分Δdを算出することで、読み出し効率によるばらつきが相殺される。そのため、上記差分Δdが、読み出しIC16ごとに、純粋にリークデータdleakの平均値dleakaveが過去のデータから増加したか否かのみを反映する値になり、それに基づいて放射線の照射開始を検出するように構成することで、図24に示したような問題が発生することを的確に防止することが可能となる。[検出手法C]また、制御手段22で、1回のリークデータdleakの読み出し処理で1つの読み出しIC16から出力されたリークデータdleakから算出した16個の平均値dleakaveと、それぞれに対応する移動平均との差分Δdをそれぞれ算出するが、算出した差分Δdの中から最大値だけでなく最小値も抽出し、差分Δdの最大値と最小値との差が、閾値を越えたか否かを判断するように構成することも可能である。[検出手法D]また、放射線源52から放射線画像撮影装置1に照射される放射線の線量が非常に小さい場合、上記の検出手法A~Cに従って算出する読み出しIC16ごとのリークデータdleakの平均値dleakave検出手法Aや、読み出しIC16ごとのリークデータdleakの平均値dleakaveと移動平均との差分Δd検出手法B、或いは差分Δdの最大値と最小値との差検出手法Cが小さく、放射線が照射されてもそれらの値が閾値を越えない場合があり得る。そこで、例えば、読み出しIC16ごとに、リークデータdleakの平均値dleakaveと移動平均との差分Δdの時間的な積分値すなわち積算値を算出し、この積分値が閾値を越えたか否かを判断するように構成することも可能である。このように構成すると、放射線画像撮影装置1に放射線が照射されないうちは、リークデータdleakの平均値dleakaveがゆらいで移動平均よりも大きくなったり小さくなったりするため、それらの差分Δdの積分値は0に近い値で推移する。しかし、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が開始されると、リークデータdleakの平均値dleakaveは移動平均よりも大きな値になるため、それらの差分Δdは、正の値になる場合が多くなる。そのため、上記のように構成すれば、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射が開始されないうちは積分値が閾値を越えることはないが、放射線の照射が開始されると、積分値が増加していき、閾値を越えるようになる。そのため、上記のように構成することで、放射線源52から放射線画像撮影装置1に照射される放射線の線量が非常に小さい場合でも、放射線画像撮影装置1に対する放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。なお、上記の検出手法A~Dのいずれか1つの検出手法を採用するように構成することも可能である。また、例えば、検出手法A~Dのうちの複数の手法或いは全ての手法を併用して行うように構成し、いずれか1つの検出手法で放射線の照射開始が検出された場合に、制御手段22が放射線の照射が開始されたと判断するように構成することも可能である。また、上記の検出方法1において、放射線画像撮影前の各放射線検出素子7のリセット処理で、ある走査線5に対するオン電圧の印加を開始してから次の走査線5に対するオン電圧の印加を開始するまでの周期τ図15や図16等参照を長くして、制御手段22から送信する2回のパルス信号Sp1、Sp2の送信間隔Tを長くすると、1回のリークデータdleakの読み出し処理で読み出されるリークデータdleakの値が大きくなり、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出感度が向上する。また、上記の検出方法2において、放射線画像撮影前の画像データdの読み出し処理で、各TFT8をオン状態とする時間ΔT図19や図20参照、すなわち走査駆動手段15のゲートドライバ15bから走査線5にオン電圧を印加してからオフ電圧に切り替えるまでの時間ΔTを長くすると、1回の画像データdの読み出し処理で読み出される画像データdの値が大きくなり、やはり放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出感度が向上する。このように、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出感度を向上させること等を目的として、上記の検出手法A~D以外にも、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出方法については種々の改良が可能である。[オフセットデータの取得について]一方、図16や図20に示したように、放射線画像撮影装置1の制御手段22は、上記のようにして放射線の照射開始を検出すると、ゲートドライバ15bから走査線5の全てのラインL1~Lxにオフ電圧を印加させて電荷蓄積状態に移行させる。そして、その後、各走査線5にオン電圧を順次印加させて、本画像としての画像データDの読み出し処理を行う。ところで、放射線検出素子7内では、放射線検出素子7自体の熱温度による熱励起等により、いわゆる暗電荷が常時発生している。そして、前述した画像データDの読み出し処理で読み出された画像データDにも、この暗電荷に起因するオフセット分が重畳されている。そこで、画像処理装置としてのコンソール58での画像データDに基づく放射線画像の生成処理では、画像データDからこの暗電荷に起因するオフセット分を差し引いて、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷のみに基づく真の画像データ以下、真の画像データDという。を算出し、この真の画像データDに基づいて放射線画像が生成される。そして、この画像データDに重畳される暗電荷に起因するオフセット分をオフセットデータOとして取得する処理が、通常、放射線画像撮影装置1で、放射線画像撮影の前や後に行われる。本実施形態では、制御手段22は、画像データDの読み出し処理図16等参照までの一連の処理シーケンスを繰り返して、オフセットデータOの読み出し処理を行うようになっている。すなわち、例えば上記の検出方法1を採用する場合、制御手段22は、図25に示すように、画像データDの読み出し処理後、図16に示した放射線画像撮影前のリークデータdleakの読み出し処理と各放射線検出素子7のリセット処理の繰り返しから電荷蓄積状態への移行、画像データDの読み出し処理までの一連の処理シーケンスを繰り返して、オフセットデータOの読み出し処理を行うようになっている。なお、オフセットデータOの読み出し処理における電荷蓄積状態では、暗電荷のみを各放射線検出素子7内に蓄積させるために、放射線画像撮影装置1に対して放射線は照射されない。そのため、画像データDの読み出し処理の後、オフセットデータOにおける電荷蓄積状態への移行前に、図25に示したように、リークデータdleakの読み出し処理を各放射線検出素子7のリセット処理と交互に行う必要はなく、リークデータdleakの読み出し処理を行わずに、各放射線検出素子7のリセット処理のみを行うように構成することも可能である。また、図25では、画像データDの読み出し処理後に、各放射線検出素子7のリセット処理を1回すなわち走査線5のラインLn1~Lx、L1~Lnにオン電圧を順次印加して行うリセット処理を行う場合を示したが、各放射線検出素子7のリセット処理を複数回行うように構成することも可能である。各放射線検出素子7内に蓄積される暗電荷の量は、当該放射線検出素子7に接続されているTFT8がオフ状態とされていた時間すなわち図16における時間Tacなお、以下、この時間Tacを実効蓄積時間Tacという。に比例して増大する。そして、蓄積された暗電荷はオフセットデータOとして読み出されるが、オフセットデータOの大きさも、TFT8がオフ状態とされていた時間すなわち図25における実効蓄積時間Tacに依存して変化する。その際、上記のように、本画像としての画像データDの読み出し処理までの処理シーケンスと、オフセットデータOの読み出し処理までの処理シーケンスを同じ処理シーケンスとすれば、オフセットデータOの読み出し処理の際にTFT8がオフ状態とされていた実効蓄積時間Tac図25参照が、本画像としての画像データDの読み出し処理の際の実行蓄積時間Tac図16参照と同じ時間になる。そのため、画像データDに重畳されている暗電荷に起因するオフセット分と、オフセットデータOの読み出し処理で読み出されるオフセットデータOとが同じ値になるため、画像データDからオフセットデータOを差し引くことで、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷のみに基づく真の画像データDを算出することが可能となるのである。放射線画像撮影装置1の制御手段22は、上記のようにして本画像としての画像データDを読み出すと、読み出した画像データDをコンソール58に送信し、また、上記のようにしてオフセットデータOの読み出し処理を行うと、読み出したオフセットデータOをコンソール58に送信するようになっている。[画像処理装置における線欠陥の修復処理について]次に、画像処理装置としてのコンソール58で、画像データD等に基づいて放射線画像の生成処理を行う前に行われる線欠陥の修復処理について説明する。また、本実施形態に係る放射線画像撮影システム50の作用についてもあわせて説明する。なお、本実施形態では、コンソール58は、線欠陥の修復処理を行った後、修復後の画像データすなわち後述する真の画像データに対してゲイン補正や欠陥画素補正、階調処理等の所定の画像処理を行って放射線画像を生成するようになっているが、この所定の画像処理は公知の技術であり、説明を省略する。また、本実施形態では、上記のように、コンソール58が画像処理装置として機能するようになっているが、コンソール58とは別体として画像処理装置を設けてもよい。ここで、画像データD中に発生する線欠陥について簡単に説明する。以下では、上記の検出方法2図20等参照すなわち放射線画像撮影前に画像データdの読み出し処理を行う場合について説明する。検出方法2では、上記のように、読み出した画像データdが増加することに基づいて放射線の照射開始を検出するが、読み出した画像データdが増加するということは、結局、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の一部、すなわち本画像としての画像データDとして読み出されるべき電荷の一部が、放射線画像撮影前に画像データdとして各放射線検出素子7内から失われてしまうことを意味する。すなわち、図20に示した例で言えば、走査線5のラインLnにオン電圧を印加した時点で放射線の照射開始が検出されているが、これは、走査線5のラインLnに接続されている各放射線検出素子7からは、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の一部が失われたことを意味する。そのため、後の本画像としての画像データDの読み出し処理で、走査線5のラインLnに接続されている各放射線検出素子7から読み出された各画像データDには、有用な電荷の一部の欠損が生じていることになる。すなわち、当該各画像データDは、本来の値よりも若干小さな値になっている。そして、例えば図26に示すように、画像データD中或いはそれらに基づいて生成された放射線画像中の走査線5のラインLnに対応する部分に、欠損を生じている画像データDの線、すなわち線欠陥が現れることになる。この線欠陥が現れる現象は、上記の検出方法1を採用した場合でも同様である。すなわち、例えば図16に示したタイミングで放射線の照射開始が検出された場合、4回目のリークデータdleakの読み出し処理の直前に各放射線検出素子7のリセット処理が行われた走査線5のラインL4では、リセット処理により、この走査線5に接続されている各放射線検出素子7内から放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した有用な電荷の一部が失われてしまっている可能性がある。そのため、放射線の照射開始が検出されたリークデータdleakの読み出し処理の直前にオン電圧が印加されてリセット処理が行われた走査線5では、当該走査線5に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDに、有用な電荷の一部に欠損を生じている可能性がある。そのため、上記の検出方法1を採用した場合でも、放射線の照射開始を検出したリークデータdleakの読み出し処理の直前にリセット処理でオン電圧が印加された走査線5に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDについて、やはり図26に示したような線欠陥が生じ得る。一方、放射線源52から照射される放射線の強度の立ち上がりが遅い場合や、放射線画像撮影装置1の検出感度が低いような場合には、例えば検出方法2を採用した場合、図27に示すように、実際に放射線源52からの放射線の照射が開始されてから、放射線画像撮影装置1で放射線の照射が開始されたことを検出するまでに時間がかかる場合がある。そして、このように放射線の照射開始の検出が遅れると、その間に、何回か画像データdの読み出し処理が行われてしまう場合がある。また、図示を省略するが、検出方法2を採用した場合も同様であり、実際に放射線源52からの放射線の照射が開始されてから、放射線画像撮影装置1で放射線の照射が開始されたことを検出するまでに時間がかかると、その間に、何回か、リークデータdleakの読み出し処理と交互に行う各放射線検出素子7のリセット処理が行われてしまう場合がある。そして、例えば図27に示したように、放射線画像撮影前の画像データdの読み出し処理で、走査線5のラインLnにオン電圧を印加して画像データdの読み出し処理が行われた時点で放射線源52からの放射線の照射が開始され、走査線5のラインLn2にオン電圧を印加して行われた画像データdの読み出し処理で放射線の照射開始が検出された場合には、図28に示すように、走査線5のラインLn~Ln2に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDに欠損が生じる。そして、走査線5のラインLn~Ln2に対応する部分に線欠陥が生じる。すなわち、上記のように放射線画像撮影装置1の検出感度が低い場合等には、図28に示すように、線欠陥が連続して発生する状態になる。そこで、図26や図28に示したように画像データD中に発生する線欠陥を、画像処理装置としてのコンソール58で修復することが必要になる。しかし、その際、放射線画像撮影装置1自体では、実際に放射線源52からどのタイミングで放射線画像撮影装置1に対して放射線の照射が開始されたかを認識することができない。すなわち、例えば図27の例で言えば、放射線画像撮影前の画像データdの読み出し処理で、走査線5のラインLnにオン電圧を印加して画像データdの読み出し処理が行われた時点で放射線源52からの放射線の照射が開始されたことを、放射線画像撮影装置1は認識することができない。放射線画像撮影装置1自体では、ただ、走査線5のラインLn2にオン電圧を印加して行われた画像データdの読み出し処理で読み出された画像データdに基づいて、放射線の照射開始が検出されるだけである。これは、検出方法1を採用した場合も同様である。そこで、本実施形態では、以下のようにして、画像処理装置としてのコンソール58が画像データD本実施形態では真の画像データD。以下同じのプロファイルを解析して、放射線源52から放射線の照射が開始された後で各放射線検出素子7のリセット処理検出方法1や画像データdの読み出し処理検出方法2が行われて、欠損を生じている画像データDの範囲を特定するようになっている。そして、コンソール58は、欠損を生じているとして特定した範囲の画像データDを修復するようになっている。以下、画像処理装置としてのコンソール58での画像データDの線欠陥の修復処理について説明する。上記のように、画像データDには暗電荷に起因するオフセット分が含まれているため、各画像データDの値にばらつきが生じている場合が多い。そして、このようにばらつきがある画像データDに基づいて上記の範囲を特定しようとすると、範囲が適切に特定できなくなる虞れがある。そこで、本実施形態では、コンソール58は、修復すべき画像データDの範囲の特定処理を行う前に、まず、放射線画像撮影装置1から送信されてきた放射線画像撮影後の画像データDとオフセット補正値Oに基づいて、下記1式に従って、放射線の照射により各放射線検出素子7内で発生した電荷のみに相当し暗電荷分を含まない真の画像データDを各放射線検出素子7ごとに算出するようになっている。D=D-O...1そして、本実施形態では、算出されたこれらの真の画像データDを対象として、以下で説明する修復処理を行うようになっている。しかし、例えば画像データD自体にさほどばらつきがないような場合には、オフセットデータOを減算していない画像データD自体を対象として修復処理を行うように構成することも可能である。コンソール58は、続いて、算出した真の画像データDを、真の各画像データDに対応する放射線画像撮影装置1の信号線6図4や図7等参照の延在方向に並べてプロットした場合に形成される真の画像データDのプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定するようになっている。ここで、各放射線検出素子7を、当該放射線検出素子7が接続されている信号線6のライン番号mと走査線5のライン番号nとを用いてm,nで表し、各放射線検出素子m,nから読み出された画像データDから算出された真の画像データDをDm,nと表す。上記のようにして算出した真の画像データDm,nの中から、ある信号線6この信号線6のライン番号をMとする。に接続されている各放射線検出素子M,nから読み出された画像データD等に基づいて算出された真の画像データDM,nを抽出する。そして、抽出した真の画像データDM,nを走査線5のライン番号nの順にプロットすると真の画像データDM,nのプロファイルが得られる。これが、放射線画像撮影装置1のライン番号Mの信号線6に関する、信号線6の延在方向における真の画像データDM,nのプロファイルになる。コンソール58は、このようにして形成される真の画像データDのプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲を特定するようになっている。しかし、上記のようにして算出した真の画像データDにもばらつきが生じている場合がある。そのため、抽出した真の画像データDM,nを走査線5のライン番号nの順にプロットすると、プロファイルにもばらつきが生じてしまい、プロファイルに基づいて上記の範囲を特定しようとしても、範囲が適切に特定できなくなる場合があり得る。そこで、本実施形態では、上記のようにして算出した真の画像データDm,nについて、放射線画像撮影装置1の走査線5の延在方向に並ぶ真の画像データDm,nの平均値Dave、すなわち同じ走査線5のライン番号nの真の画像データDm,nの平均値Daveを走査線5ごとに算出する。そして、この平均値Daveを、上記と同様にして、図29に示すように放射線画像撮影装置1の信号線6の延在方向に並べてプロットした場合に形成される平均値Daveのプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定するようになっている。なお、真の画像データDではなく画像データD自体を対象としてプロファイルを解析する場合も、同様にして、同じ走査線5のライン番号nの画像データDm,nの平均値Daveを走査線5ごとに算出してプロファイルを形成することが望ましい。このように真の画像データDm,n或いは画像データDm,n。以下同じ。の走査線5ごとの平均値Daveを算出すると、真の各画像データDm,nに含まれるばらつきが相殺される。そのため、図29に示すようにばらつきのないプロファイルが得られるため、欠損を生じている真の画像データDの範囲を的確に特定することが可能となる。なお、図29の右側のグラフでは、欠損を生じている真の画像データDの範囲の近傍の部分の平均値Daveのプロファイルのみが拡大されて示されている。また、平均値Daveのプロファイルを解析して欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定する場合には、以下の点に注意することが望ましい。放射線が被写体を介さずに放射線画像撮影装置1に直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDは、真の画像データDがとり得る値の上限値に近い値になる。それに対し、被写体が撮影されている部分の真の画像データDは、通常、それより小さな値になる。また、本実施形態では、読み出し回路17図7や図8参照で読み出し得る最大の電荷量よりも多くの電荷量を、放射線検出素子7内に蓄積できるように構成されている。そして、上記のように、放射線画像撮影前のリセット処理検出方法1の場合や画像データdの読み出し処理検出方法2の場合で放射線検出素子7から電荷の一部が流出したとしても、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子7では、その後、大きな電荷量が放射線検出素子7内で発生して、読み出し回路17で読み出し得る最大の電荷量以上の電荷量が放射線検出素子7内に蓄積される状態になり得る。そのため、放射線が直接到達した部分の放射線検出素子7では、放射線画像撮影前のリセット処理等で放射線検出素子7から電荷の一部が流出したとしても、結局、読み出される画像データDは、読み出し回路17が出力し得る上限値或いはそれに近い値になる場合がある。すなわち、放射線が直接到達した部分の放射線検出素子7では、放射線画像撮影前のリセット処理等で放射線検出素子7から電荷の一部が流出したとしても、読み出される画像データDを見る限り、欠損を生じていない大きな値の画像データDが読み出される場合がある。そのため、このような画像データDから算出される真の画像データDも、真の画像データDがとり得る値の上限値に近い値になり、しかも、その真の画像データDは欠損を生じていない大きな値のデータになる場合がある。そして、このような欠損が生じていない大きな値の真の画像データDm,nを、上記のように真の画像データDm,nの走査線5ごとの平均値Daveの算出の対象に含めてしまうと、欠損が生じていない大きな値の真の画像データDm,nの影響が大きくなる。そして、走査線5ごとの平均値Daveのプロファイルが、例えば図30に示すように、欠損を生じている真の画像データDの範囲が分かりづらいプロファイルになり、プロファイルを解析しても、欠損を生じている真の画像データDの範囲を的確に特定することが困難になる場合がある。そこで、本実施形態では、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDを特定して、当該放射線検出素子7に対応する真の画像データDを、上記の平均値Daveの算出の対象から除外するようになっている。放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDの特定は、例えば以下のようにして行われる。上記のように、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDが、真の画像データDがとり得る上限値やそれに近い値であることを利用して、例えば予め真の画像データDがとり得る上限値やそれに近い値を閾値として定め、閾値以上の真の画像データDについては一律に上記の平均値Daveの算出の対象から除外するように構成することが可能である。例えば、真の画像データDが0~65535=216-1の値をとり得る場合、閾値を例えば64000に設定すれば、64000以上の値の真の画像データDは、一律に上記の平均値Daveの算出の対象から除外される。また、もう1つの方法として、例えば、画像処理装置としてのコンソール58で放射線画像を生成するために行われる、被写体が撮影されている領域の認識処理以下、被写体領域認識処理という。の結果を用いるように構成することも可能である。被写体領域認識処理では、例えば図31Aに示すように、真の各画像データDm,nの中から、例えばライン番号Nの走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Nに対応する真の画像データDm,Nを抽出する。そして、抽出した真の画像データDm,Nを信号線6のライン番号mの順にプロットする。すると、図31Bに示すように、放射線が被写体を介さずに放射線画像撮影装置1に直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDは、真の画像データDがとり得る値の上限値或いはそれに近い値になるが、被写体が撮影されている部分の真の画像データDはそれより小さな値になる。そこで、このプロファイルを解析することで、ライン番号Nの走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Nに対応する真の各画像データDm,Nについて、図31Bに示すように、被写体が撮影されている領域Roが決まる。そして、この処理を、各走査線5ごとに行うことで、図31Cに示すように、全ての真の画像データDにおける被写体が撮影されている領域Roを決定して認識することができる。被写体領域認識処理では、このようにして、全ての真の画像データDにおいて被写体が撮影されている領域Roが認識されるようになっている。そこで、この被写体領域認識処理の結果を用い、被写体が撮影されている領域Ro以外の領域に属する真の画像データDm,nを、上記の平均値Daveの算出の対象から除外するように構成することが可能である。画像処理装置としてのコンソール58は、上記のようにして真の画像データDm,nの走査線5ごとの平均値Daveを算出すると図29参照、続いて、平均値Daveのプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲を特定するようになっている。このプロファイル中で、欠損を生じている真の画像データDの平均値Daveは、欠損を生じていない真の画像データDの平均値Daveの全体的な推移のトレンドから外れる状態になる。そこで、本実施形態では、例えば以下のようにして欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定するようになっている。放射線画像撮影装置1では、放射線の照射開始を検出した画像データdの読み出し処理の際検出方法2の場合、或いは放射線の照射開始を検出したリークデータdleakの読み出し処理の直前の各放射線検出素子7のリセット処理の際検出方法1の場合に、ゲートドライバ15bからオン電圧を印加した走査線5以下、この走査線5を検出ラインという。のライン番号nを認識することができる。以下、この走査線5すなわち検出ラインのライン番号をNaとする。例えば図27に示した例では、このライン番号Naの走査線5すなわち検出ラインは、放射線の照射開始が検出された画像データdの読み出し処理でオン電圧が印加された走査線5のラインLn2すなわちこの場合、ライン番号Naはn2に相当する。また、放射線画像撮影装置1は、コンソール58に画像データD等を送信する際、この走査線5すなわち検出ラインのライン番号Naも同時に送信するように構成される。画像処理装置としてのコンソール58は、図32に示すように、真の画像データDの平均値Daveのプロファイルにおいて、この放射線の照射開始が検出された際にオン電圧が印加されていたライン番号Naの走査線5すなわち検出ラインから順に、それ以前にオン電圧が印加されたライン番号Na-1、Na-2、...の各ライン番号に対応する平均値Daveを見ていく。そして、まず、DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値を算出し、差分ΔDaveの絶対値が、予め0に近い小さな値に設定された閾値未満であるか否かを判断する。図32の例では、DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値は閾値以上であるから、続いて、DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値を算出し、差分ΔDaveの絶対値が閾値未満であるか否かを判断する。この処理を繰り返していくと、図32の例では、DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値も、DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値も、ともに閾値以上になるが、閾値以上DaveとDaveの差分ΔDaveの絶対値が初めて閾値未満になる。そして、この場合は、ライン番号Na-3の走査線5にオン電圧が印加されて行われた各放射線検出素子7のリセット処理検出方法1の場合や画像データdの読み出し処理検出方法2の場合と、ライン番号Na-2の走査線5にオン電圧が印加されて行われた各放射線検出素子7のリセット処理や画像データdの読み出し処理との間のタイミングで、放射線源52図11、図12参照から実際に放射線画像撮影装置1に放射線が照射されたと判断することができる。そこで、コンソール58は、この場合は、ライン番号Na-2の走査線5を、画像データDに欠損が生じ始めた最初の走査線5として認識するようになっている。そして、この場合、欠損を生じている真の画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲は、ライン番号Na-2、Na-1、Naの3本の走査線5に接続されている各放射線検出素子7に対応する真の画像データDとして特定される。すなわち、真の各画像データDm,nのうち、真の画像データDm,Na-2、Dm,Na-1、Dm,Naが欠損を生じている真の画像データDの範囲として特定される。なお、図33に矢印Aで示すように、欠損を生じている真の画像データDの範囲図中の2本の一点鎖線の間の範囲の中でも、平均値Daveの差分ΔDaveの絶対値が閾値未満になることがあり得る。そのため、上記のように、走査線5のライン番号nを繰り下げながら上記の差分ΔDaveを算出していき、平均値Dave同士の差分ΔDaveの絶対値が閾値未満になっても差分ΔDaveの算出や差分ΔDaveの絶対値と閾値との比較を続行するように構成する。そして、絶対値が閾値未満になる差分ΔDaveが連続して現れる状態になったことが確認された時点で、欠損を生じている真の画像データDの範囲から外れたと判断して、欠損を生じている真の画像データDの範囲の検索処理を終了するように構成することも可能である。また、上記の手法の他にも、例えば、より厳密な画像処理等を行って、欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定するように構成することも可能である。画像処理装置としてのコンソール58は、上記のようにして、欠損を生じている真の画像データDの範囲上記の例ではライン番号Na-2~Naの3本の走査線5の範囲を特定すると、続いて、特定した範囲の真の画像データDを修復するようになっている。欠損を生じている真の画像データDを修復する手法としては、例えば下記のような手法を採用することができる。例えば、図32に示した例で言えば、欠損を生じている真の画像データDの範囲として特定した平均値Dave~Daveより図中で左側の平均値Daveや平均値Dave或いは図中でさらに左側の各平均値Daveを含む範囲の各平均値Daveを、例えば図34に示すように直線Lapで直線近似する。すなわち、Dap=a×nb...2の形に直線近似する。そして、平均値Dave、Dave、Daveは、欠損を生じていなければ、本来的には、Na-2、Na-1、Naをそれぞれ上記2式に代入して得られるa×Na-2b、a×Na-1b、a×Nabであるはずであると考える。そして、ライン番号Na-2の走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Na-2に対応する真の各画像データDm,Na-2に対して、{a×Na-2b}/Daveを乗算し、すなわち、Dm,Na-2×{a×Na-2b}/Dave...3の演算を行って、ライン番号Na-2の走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Na-2に対応する真の各画像データを修復する。ライン番号Na-1、Naの各走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Na-1、m,Naに対応する真の各画像データDm,Na-1、Dm,Naについても同様に、Dm,Na-1×{a×Na-1b}/Dave...4Dm,Na×{a×Nab}/Dave...5の演算を行って、ライン番号Na-1、Naの各走査線5に接続されている各放射線検出素子m,Na-1、m,Naに対応する真の各画像データを修復する。このようにして、欠損を生じている真の画像データDの範囲として特定した範囲の真の画像データDを、直線近似等の方法を用いてそれぞれ的確に修復することが可能となる。また、もう1つの修復方法として、例えば、画像処理装置としてのコンソール58が、予め、欠損を生じている真の画像データDの範囲に対応する放射線画像撮影装置1の各走査線5すなわち上記の例ではライン番号Na-2~Naの各走査線5のうち、欠損が生じ始めた最初の走査線5すなわち上記の例ではライン番号Na-2の走査線5から修復対象の走査線5までの本数と、当該修復対象の走査線5に接続されている各放射線検出素子7に対応する真の画像データDに乗算すべき係数との関係の情報を有しておくように構成する。すなわち、例えば、欠損が生じ始めた最初の走査線5から1本目の走査線5すなわち上記の例ではライン番号Na-2の走査線5では、当該走査線5に接続されている各放射線検出素子7に対応する真の画像データDに乗算すべき係数を例えば1.1とする。また、欠損が生じ始めた最初の走査線5から2本目の走査線5すなわち上記の例ではライン番号Na-1の走査線5では、当該走査線5に接続されている各放射線検出素子7に対応する真の画像データDに乗算すべき係数を例えば1.2とする。さらに、欠損が生じ始めた最初の走査線5から3本目の走査線5すなわち上記の例ではライン番号Naの走査線5すなわち検出ラインでは、当該走査線5に接続されている各放射線検出素子7に対応する真の画像データDに乗算すべき係数を例えば1.3とする。このような関係の情報を、コンソール58が予め有しておくように構成する。なお、この関係は、予め実験を行う等して求めておく。また、この関係は、上記のように欠損が生じ始めた最初の走査線5から何本目の走査線5までの情報を有しておくかは、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出感度等に応じて適宜決められる。そして、コンソール58は、上記のようにして真の画像データDや平均値Daveのプロファイルを解析して、欠損が生じ始めた最初の走査線5や欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定すると、上記の情報を参照して、特定した範囲の真の各画像データDに対して、当該真の画像データDに対応する放射線検出素子7が接続されている走査線5に割り当てられている上記の係数をそれぞれ乗算する。このようにして、欠損を生じている真の画像データDの範囲として特定した範囲の真の画像データDを、上記の走査線5と係数の関係の情報を用いてそれぞれ的確に修復することが可能となる。また、上記の手法の他にも、例えば、より厳密な画像処理を行う等して、欠損を生じている真の画像データDを修復するように構成することも可能である。例えば、上記の図29以降の各図に示した真の画像データDm,n或いは画像データDm,n自体。以下同様の走査線5ごとの平均値Daveの算出処理では、上記のように、放射線が被写体を介さずに直接到達した部分の放射線検出素子7に対応する真の画像データDを特定し図31A~C参照、そのような放射線検出素子7に対応する真の画像データDを除外して、平均値Daveの算出を行った。しかし、それでもなお、走査線5ごとの平均値Daveは、値が大きな真の画像データDの影響を強く受ける。すなわち、被写体である患者の身体は、通常、その中心部付近で分厚く、周縁部に向かうに従って厚みが薄くなる。そのため、被写体の中心部付近よりも周縁部の方が、放射線の透過量が多くなり、その部分に対応する真の画像データDの方が中心部の真の画像データDよりも値が大きくなる。そのため、上記のように真の画像データDm,nの走査線5ごとの平均値Daveを単純に算出すると、被写体の周縁部分の真の画像データDm,nの影響が色濃く反映された平均値Daveになってしまう。そして、値が大きい被写体の周縁部分の真の画像データDm,nに比較的大きなばらつきが生じると、走査線5ごとの平均値Daveのプロファイルに真の画像データDm,nのばらつきが反映されてしまい、例えば図29や図32等に示したように線欠陥の部分での平均値Daveの低下が明確に現れない状態になってしまう場合がある。そこで、以下で説明する厳密な画像処理の例では、画像処理装置としてのコンソール58は、真の画像データDそのものの値を用いる代わりに、真の画像データDをそれぞれ基準値で除算して算出される正規化された真の画像データDnorを用いて、欠損を生じている真の画像データD或いは画像データDの範囲を特定するように構成されることが好ましい。その場合、基準値としては、例えば、上記の被写体領域認識処理により認識した被写体が撮影されている領域Ro例えば図31C参照内の任意の行、すなわち領域Ro中で任意のnを有する真の画像データDm,nの行以下、この行を基準ラインという。の真の画像データDm,nを用いることができる。すなわち、例えば、領域Roのうち、走査線5の延在方向すなわち例えば同図の横方向における長さが最も長い位置例えば同図では図中の上端部分すなわちn=1の部分の行を基準ラインとし、その基準ライン上の真の各画像データDm,1を各基準値とすることが可能である。また、例えば、検出ライン図32の走査線5のラインNa等参照の近傍の走査線5に対応する行を基準ラインとし、その走査線5に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDに基づいて算出された真の各画像データDm,nを各基準値とすることも可能である。なお、この場合、検出ラインNaの近傍の走査線5のうち、図32に示したライン番号がNa-3~Na-1の走査線5のような走査線5は、まさにこれから行われる厳密な画像処理の対象となる走査線5であるから、基準ラインとして選択されるべきでない。そのため、上記の場合、検出ラインNaよりもライン番号nが大きい走査線5例えば図32ではNaより大きないずれかのライン番号nの走査線5を基準ラインとし、それに接続されている各放射線検出素子7から読み出された各画像データDm,nに基づいて算出された真の各画像データDm,nを各基準値として用いることが望ましい。そして、正規化処理は、上記のようにして設定された各基準値、すなわち基準ラインの走査線5に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDm,nに基づいて算出された真の各画像データDm,nで、同じ列のすなわち同じmを有する他の行の真の画像データDm,nをそれぞれ除算することにより行われる。すなわち、ある真の画像データDm,nを正規化する場合には、各基準値のうち、当該真の画像データDm,nと同じmすなわち信号線6のライン番号mを有する真の画像データDm,nで当該真の画像データDm,nを除算する。他の列の真の画像データDM,nM≠mを正規化する場合には、各基準値のうち、当該真の画像データDM,nと同じMを有する真の画像データDM,nで当該真の画像データDM,nをそれぞれ除算する。このようにして、領域Po内の真の各画像データDm,nについて、各基準値と真の各画像データDm,nとからそれぞれ正規化された真の各画像データDnorm,nが算出される。なお、上記の方法では、基準ライン上の真の各画像データDm,nはそれぞれ自らの値によって除算されて正規化されるため、基準ライン上の正規化された真の各画像データDnorm,nはそれぞれ1になる。そして、上記と同様にして、正規化された真の各画像データDnorm,nについて、放射線画像撮影装置1の走査線5ごとの平均値Dnoraveを算出し、それらを放射線画像撮影装置1の信号線6の延在方向に並べてプロットした場合に形成される平均値Dnoraveのプロファイルを解析して、欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定するように構成される。このように、正規化された真の各画像データDnorm,nについて走査線5ごとに平均値Dnoraveを算出することで、真の各画像データDnorm,nごとの値のばらつきの相対的な重みが均等になる。そのため、例えば、上記のように、被写体の中心部付近よりも周縁部の方が真の画像データDm,nのばらつきが相対的に大きくなって線欠陥の部分での平均値Daveの低下例えば図29や図32参照が明確に現れなくなることを的確に防止することが可能となる。例えば、正規化される前の真の各画像データDm,nの平均値Daveのプロファイルが例えば図35Aに示すようなプロファイルであった場合、正規化された後の真の各画像データDnorm,nの平均値Dnoraveのプロファイルは、例えば図35Bに示すようなプロファイルになる。以下、このようにして算出された正規化された真の各画像データDnorm,nの平均値Dnoraveのプロファイル図35B参照を解析して、欠損を生じている真の画像データDの範囲を特定し、それらを修復する手法の一例について説明する。まず、図36に示すように、正規化された真の各画像データDnorm,nの平均値Dnoraveのプロファイルのうち、線欠陥が現れている可能性がある走査線5の部分LDすなわち検出ラインNaおよびライン番号がNaより小さい所定本数の走査線5すなわち検出ラインNaより先にオン電圧が印加された所定本数の走査線5を含む部分LDを除く、検出ラインNa前後の所定本数の各走査線5における各平均値Dnoraveを近似する第1の近似直線Lap1を算出する。そして、検出ラインLNaのライン番号Naを含む各ライン番号nごとに、実際の平均値Dnoraveを、当該平均値Dnoraveに対応する第1の近似直線Lap1上の値で除算した値をプロットすると、例えば図37に示すようなグラフになる。これらの除算した値は、第1の近似直線Lap1に対する実際の平均値Dnoraveの低下率DSである。なお、図37や以下の各図では、検出ラインNaやライン番号がNaより小さい各走査線5に関する部分のみが示されている。また、以下の処理では、この低下率DSを用いて処理を行う場合について説明するが、第1の近似直線Lap1で近似せず、正規化された真の各画像データDnorm,nの平均値Dnoraveをそのままで用いて処理を行うように構成することも可能である。また、検出ラインNaよりライン番号が15~5程度小さい走査線5の部分で低下率DSが1より若干小さくなっているが、これは、骨や臓器等の何らの対象が撮影されている部分であるためと考えられる。すなわち、この部分は、下記に示すような線欠陥が現れた部分ではない。上記のようにして各走査線5ごとに低下率DSを算出すると、続いて、算出した低下率DSに対して、検出ラインNaの低下率DSと、放射線画像撮影装置1における放射線の照射開始の検出処理前述した検出方法1、2等参照の際に検出ラインNaよりも前にオン電圧が印加された所定本数の各走査線5すなわち検出ラインNaよりライン番号が小さい所定本数の各走査線5の各低下率DSとを第2の近似直線Lap2で直線近似する。なお、以下、第2の近似直線Lap2を、簡単に近似直線Lap2という。そして、図38に示すように、上記の走査線5の所定本数を替えて、それぞれ近似直線Lap2で近似する。具体的には、いま仮に、所定本数を4本とすると、その場合、欠損を生じている真の画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲が、ライン番号がNa-3~Naの4本の走査線5にそれぞれ接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDに基づいて算出された真の画像データDであると仮定されたことになる。そして、このようにして選択されたライン番号Na-3~Naの4本の走査線5の各低下率DS~DSを、例えば最小二乗法等を用いて近似直線Lap2で直線近似する。正確には、この場合は、図38等のグラフ上で、Na-3,DS、Na-2,DS、Na-1,DS、Na,DSの4点を近似直線Lap2で直線近似する。また、ライン番号Na-3~Naの各走査線5に対応する近似直線Lap2上の各値を、それぞれ例えばLap2~Lap2とすると、それらの各値Lap2~Lap2の各逆数1/Lap2~1/Lap2が、上記の修復すべき範囲として仮定されたライン番号nがNa-3~Naの各走査線5にそれぞれ接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDに基づいて算出された真の各画像データDをそれぞれ修復するための各修復係数であると考えられる。そこで、ライン番号nがNa-3~Naの各走査線5の各低下率DS~DSに、それぞれ各修復係数1/Lap2~1/Lap2を乗算する。すると、修復された各低下率DS/Lap2~DS/Lap2は、それぞれ1に近い値に修復されているはずである。そして、欠損を生じている真の画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲として仮定されたライン番号がNa-3~Naの4本の走査線5については、修復された各低下率DS/Lap2~DS/Lap2と1との二乗誤差すなわち差の二乗をそれぞれ算出する。一方、それ以外の走査線5については、元の各低下率DSと1との二乗誤差をそれぞれ算出する。そして、それらの二乗誤差の合計値を算出する。このようにして算出された二乗誤差の合計値が、所定本数を4本とした場合に近似された近似直線Lap2に対する値となる。そのため、所定本数が4本の場合の近似直線Lap2に、算出された二乗誤差の合計値が割り当てられる。このようにして、欠損を生じている真の画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲として仮定する走査線5の所定本数を2本、3本、4本、...と替えて、図38に示すように、それぞれ近似直線Lap2で近似する。そして、近似直線Lap2を算出するごとに、上記と同様にして、上記の範囲の走査線5については修復された各低下率と1との二乗誤差をそれぞれ算出し、それ以外の走査線5については、元の各低下率DSと1との二乗誤差をそれぞれ算出する。そして、二乗誤差の合計値を算出して、近似直線Lap2にそれぞれ割り当てる。そして、図39に示すように、各近似直線Lap2のうち、上記の二乗誤差の合計値が最小となる近似直線Lap2を抽出する。そして、抽出された近似直線Lap2が、図39に示すように例えばライン番号がNa-5からNaまでの各走査線5を対象として近似した近似直線であれば、欠損を生じている真の画像データDの範囲すなわち線欠陥の範囲は、ライン番号がNa-5からNaまでの各走査線5にそれぞれ接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDに基づいて算出された真の画像データDであるとして特定することができる。また、この場合、上記のように、ライン番号Na-5~Naの各走査線5に対応する、抽出された近似直線Lap2上の各値Lap2~Lap2の各逆数1/Lap2~1/Lap2が、それぞれ、ライン番号Na-5~Naの各走査線5に接続されている各放射線検出素子7から読み出された画像データDに基づく真の画像データDに対する各修復係数になる。そこで、ライン番号Na-5~Naの各走査線5に接続されている各放射線検出素子7ごとの真の画像データDに、それぞれ対応する修復係数1/Lap2~1/Lap2を乗算して、修復すべき範囲内の真の各画像データDをそれぞれ修復する。具体的には、ライン番号nがNa-5である各放射線検出素子7m,Na-5ごとの真の画像データDm,Na-5には修復係数1/Lap2を乗算し、同様に、ライン番号nがNa-4~Naである真の各画像データDm,Na-4~Dm,Naには修復係数1/Lap2~1/Lap2をそれぞれ乗算することにより、修復すべき範囲内の真の各画像データDをそれぞれ修復することができる。このようにして修復すべき範囲内の真の各画像データDをそれぞれ修復するように構成することにより、図35Aとは別の撮影部位を撮影した場合の例であり真の画像データDの走査線5ごとの平均値Daveを示すものであるが、例えば図40に示すように、修復すべき範囲内の真の各画像データDに対してより厳密な画像処理を行って、真の各画像データDをそれぞれ的確に修復することが可能となる。なお、上記の図38や図39に示した真の画像データDの修復手法の例では、各走査線5ごとの低下率DS等を近似直線Lap2で直線近似する場合について説明した。これは、実際には、図41Aに示すように、放射線源52図11や図12参照から放射線画像撮影装置1に対して放射線を照射する際に、放射線の線量率すなわち単位時間当たりの線量uが、放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がることが前提とされている。すなわち、放射線の照射開始からの線量率uが一定であるため、放射線画像撮影装置1の各放射線検出素子7内に発生する電荷が時間tに比例して増加する。そして、時間tに比例して増加する電荷が、放射線の照射が開始された後の各放射線検出素子7のリセット処理検出方法1の場合や画像データdの読み出し処理検出方法2の場合で各放射線検出素子7から放出されるために線欠陥が生じる。そのため、図39等に示したように、線欠陥の部分における真の画像データDの減少図39の場合はそれに対応する低下率DSの減少を、近似直線Lap2等で近似するという仮定が成り立ったのである。しかし、放射線源52における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性は多様であり、必ずしも図41Aに示したように、放射線の線量率uが放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がるとは限らない。そこで、放射線の線量率uが放射線の照射開始直後に瞬時に立ち上がらない放射線源52を用いる場合には、線欠陥の部分における真の画像データDの減少或いはそれに対応する低下率DS等の変化を、上記のように近似直線Lap2で近似する代わりに、放射線源52における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて適切な関数を設定し、設定した関数で近似して、真の各画像データDをそれぞれ修復することが望ましい。上記のように、放射線画像撮影装置1の各放射線検出素子7内に発生する電荷は、放射線画像撮影装置1に照射される放射線の線量率uの時間的な積分値に応じて増加する。そのため、上記の関数を設定する際には、放射線源52から照射される放射線の線量率uが例えば図41Bに示すように変化する場合には、放射線の線量率uが増加している最中に各放射線検出素子7のリセット処理検出方法1の場合や画像データdの読み出し処理検出方法2の場合が行われた可能性がある走査線5については二次関数で、また、線量率uが一定になった後で各放射線検出素子7のリセット処理等が行われた可能性がある走査線5については一次関数すなわち直線で近似するように構成することが可能である。また、放射線源52から照射される放射線の線量率uの時間的変動が別の形態になる場合には、線量率uの時間的な積分値もそれにあわせて変わる。このように、放射線源52における放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性に基づいて適切な関数を設定し、設定した関数で近似して、真の各画像データDをそれぞれ修復することが望ましい。なお、このように構成する際、施設に複数の放射線源52が設けられている場合には、各放射線源52ごとに放射線の照射開始からの放射線の立ち上がり特性を検出する等して、各放射線源52ことに上記の関数近似直線である場合を含む。を設定しておくことが望ましい。そして、画像処理装置としてのコンソール58は、画像データDがどの放射線源52から放射線が照射されて得られたものであるかを認識し、その放射線源52に対応する関数を適用して、上記の修復処理を行うように構成される。以上のように、本実施形態に係る放射線画像撮影システム50によれば、放射線画像撮影装置1で、放射線画像撮影前に、リークデータdleakの読み出し処理や画像データdの読み出し処理を行い、読み出したリークデータdleakや画像データdの値に基づいて放射線の照射開始を検出するように構成した。そのため、前述した特許文献4や特許文献5に記載された発明のように、例えば放射線画像撮影装置1にバイアス線9等を流れる電流を検出する電流検出手段を設けなくても、読み出したリークデータdleakや画像データdの値に基づいて放射線画像撮影装置1自体で放射線の照射開始を的確に検出することが可能となる。そのため、電流検出手段で発生したノイズがバイアス線9を介して各放射線検出素子7に伝わって画像データDにノイズとして重畳される等の問題が生じることを確実に防止することが可能となる。また、本実施形態に係る放射線画像撮影システム50によれば、画像処理装置としてのコンソール58は、放射線画像撮影装置1の信号線6の延在方向における画像データDや真の画像データDのプロファイルや走査線5の延在方向に並ぶ真の画像データDm,n等の平均値Daveのプロファイルを解析して、欠損を生じている画像データDや真の画像データDの範囲、すなわち線欠陥の範囲を適切に特定する。そして、このようにして適切に特定した範囲の画像データDや真の画像データDを修復する。そのため、放射線画像撮影装置1を用いた放射線画像撮影で得られた画像データD中に生じている線欠陥を適切に修復したうえで、放射線画像を生成することが可能となる。そのため、放射線画像中に、線欠陥が線状或いは帯状に写り込んで放射線画像が見難くなることが的確に防止され、線欠陥が写り込んでいない放射線画像を的確に生成することが可能となる。そして、例えば放射線画像を医療における診断用等に用いるような場合、線欠陥の部分に病変部が撮影されていても、線欠陥が的確に修復されるため、修復された画像データに基づいて生成された放射線画像を見た医師等が、病変部を的確に識別することができるようにすることが可能となる。なお、本発明が上記の各実施形態に限定されず、適宜変更可能であることは言うまでもない。"