被試験電気信号を受ける入力端子と、上記被試験電気信号をデジタル化するアナログデジタルコンバータと、デジタル化した上記被試験電気信号からI同相及びQ直交ベースバンド成分情報を生成するデジタルダウンコンバータと、上記I及びQベースバンド成分情報を用いて1つ以上のIQベース時間領域トレースを生成するトレース生成部と、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースの特性に対応する1つ以上の測定値を生成する測定部とを具える試験測定装置。上記IQベース時間領域トレースが、周波数対時間トレース、位相対時間トレース又は電力対時間トレースであることを特徴とする請求項1記載の試験測定装置。上記入力端子を第1入力端子とし、第2信号を受ける第2入力端子を更に具え、上記IQベース時間領域トレースは周波数対時間トレースであって、上記測定部が上記第2信号と上記周波数対時間トレース間の遅延時間を測定することを特徴とする請求項1記載の試験測定装置。試験測定装置において、時間領域トレースを測定するための方法であって、上記試験測定装置の端子において被試験電気信号を受けるステップと、アナログデジタルコンバータを用いて上記被試験電気信号をデジタル化するステップと、デジタル化した上記被試験電気信号をダウンコンバートしてI同相及びQ直交ベースバンド成分情報を生成するステップと、上記I及びQベースバンド成分情報を用いて1つ以上のIQベース時間領域トレースを生成するステップと、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースの複数の測定値を自動的に生成するステップとを具える測定方法。こうした信号は本質的に複雑なので、従来の技術ではこれら信号を複数の観点から正確に測定することは困難か又は不可能である。リアルタイムスペクトラムアナライザRTSAは、周波数領域においてRF信号を測定するのを多くの点で得意としているが、一方で、特に時間領域における特定の測定についての能力が不足している。RTSAでも、復調及びデータ復号能力と、制限はあるものの、ある程度の1チャンネル測定が可能なものもある。しかし、こうした装置では、急速に拡大及び多面化する技術分野において、RF信号をトータルに理解するのに必要な豊富な測定機能は有していない。RF信号については、ランダムなバースト長、周波数ホッピングアルゴリズム、位相変調、信号歪み、など要求される特性が多く存在するなか、RF信号の既存の測定方法では、特に時間領域に関して、不十分である。従って、信号伝送における問題を診断したり、完全な信号測定を行ったりすることが困難又は不可能となっている。本発明の実施形態は、無線周波数RF信号の時間領域特性を測定するための測定技法を提供する。本発明による装置、システム及び方法は、RF信号を受けてデジタル化及びダウンコンバートし、デジタル化したRF信号からIinphase:同相及びQquadrature:直交のベースバンド成分情報を生成する。1つ以上のIQベース時間領域トレースが、I及びQベースバンド成分情報を用いて生成される。IQベース時間領域トレースには、例えば、周波数対時間トレース、位相対時間トレース、振幅つまり、電力対時間トレース、I対時間トレース、そして、Q対時間トレースが含まれる。実施形態によっては、試験測定装置の測定部は、時間領域波形に基づいて生成できる種々の適切な測定結果の中から、IQベース時間領域トレースの周波数、IQベース時間領域トレースのパルス幅、IQベース時間領域トレースと他の信号間の遅延時間、そしてIQベース時間領域トレースの立ち上がり及び立ち下がり時間のようなIQベース時間領域トレースの特性に対応する複数の測定値を生成する。例えば、測定部は、周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数を測定し、試験測定装置の表示ユニット上でその測定値を表示するか、さもなくば、測定値を外部のコンピュータ又は記憶装置に伝送する。一般に、信号特性に対応する測定結果は、時間領域レコード全体に渡って生成されるか、さもなくば、取り込んだレコードの最初の部分又はレコード中の複数の場所で生成される。複数の測定は、一度に行われるか、組合せて行われる。以下で詳しく説明するように、種々の測定値をIQベース時間領域トレースに適用できる。本願の第1観点の発明は、試験測定装置であって、被試験電気信号を受ける入力端子と、上記被試験電気信号をデジタル化するアナログデジタルコンバータと、デジタル化した上記被試験電気信号からI同相及びQ直交ベースバンド成分情報を生成するデジタルダウンコンバータと、上記I及びQベースバンド成分情報を用いて1つ以上のIQベース時間領域トレースを生成するトレース生成部と、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースの特性に対応する1つ以上の測定値を生成する測定部とを具えている。本願の第2観点の発明は、第1観点の試験測定装置において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースが周波数対時間トレースを含み、上記測定部は上記周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数を測定するように構成され、これによって、上記被試験信号の1側面として、周波数変調ホップレートを決定するものである。本願の第3観点の発明は、第1観点の試験測定装置において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースが周波数対時間トレースを含み、上記測定部は上記周波数対時間トレースのパルス幅を測定するように構成され、これによって、上記被試験信号の1側面として、周波数変調ホップ持続時間を決定するものである。本願の第4観点の発明は、第1観点の試験測定装置において、上記入力端子が第1入力端子から構成され、上記試験測定装置が更に第2信号を受ける第2入力端子を具えているものである。本願の第5観点の発明は、第4観点の試験測定装置において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースが周波数対時間トレースを含み、上記測定部は上記第2信号と上記周波数対時間トレース間の遅延時間を測定するように構成されているものである。本願の第6観点の発明は、第1観点の試験測定装置において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースが位相対時間トレースを含み、上記測定部は上記位相対時間トレースの特性に対応する1つ以上の測定値を生成するように構成されているものである。本願の第7観点の発明は、第1観点の試験測定装置において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースが電力対時間トレースを含み、上記測定部が上記電力対時間トレースの特性に対応する1つ以上の測定値を生成するように構成されているものである。本願の第8観点の発明は、第1観点の試験測定装置において、上記測定値を受けて表示する表示ユニットを更に具えるものである。本願の第9観点の発明は、第1観点の試験測定装置において、コントローラが上記トレース生成部及び上記測定部を含み、上記コントローラは1つ以上の上記測定値を外部デバイスに伝送するように構成されることを特徴としている。本願の第10観点の発明は、試験測定装置において、時間領域トレースを測定するための方法であって、上記試験測定装置の端子において被試験電気信号を受けるステップと、アナログデジタルコンバータを用いて上記被試験電気信号をデジタル化するステップと、デジタル化した上記被試験電気信号をダウンコンバートしてI同相及びQ直交ベースバンド成分情報を生成するステップと、上記I及びQベースバンド成分情報を用いて1つ以上のIQベース時間領域トレースを生成するステップと、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースの複数の測定値を自動的に生成するステップとを具えている。本願の第11観点の発明は、第10観点の方法において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースの複数の上記測定値を表示ユニット上に表示するステップを更に具えている。本願の第12観点の発明は、第10観点の方法において、複数の上記測定値を外部デバイスに伝送するステップを更に具えている。本願の第13観点の発明は、第10観点の方法において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースを生成するステップが、周波数対時間トレースを生成するステップを含んでいることを特徴としている。本願の第14観点の発明は、第13観点の方法において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースの複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、上記周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数を測定することによって、周波数変調ホップレートを決定するステップと、上記周波数変調ホップレートに対応する測定値を表示ユニット上に表示するステップとを含んでいることを特徴としている。本願の第15観点の発明は、第13観点の方法において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースの複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、上記周波数対時間トレースのパルス幅を測定することによって、周波数変調ホップ持続時間を決定するステップと、上記周波数変調ホップ持続時間に対応する測定値を表示ユニット上に表示するステップとを更に含んでいることを特徴としている。本願の第16観点の発明は、第10観点の方法において、上記端子が第1端子から構成されると共に、上記試験測定装置の第2端子において第2信号を受けるステップを更に具えていることを特徴としている。本願の第17観点の発明は、第16観点の方法において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースを生成するステップが、周波数対時間トレースを生成するステップを含み、複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、上記第2信号と上記周波数対時間トレース間の遅延時間を測定するステップと、表示ユニットに遅延時間測定結果を表示するステップとを有することを特徴としている。本願の第18観点の発明は、第10観点の方法において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースを生成するステップが、位相対時間トレースを生成するステップを含み、複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、上記位相対時間トレースの特性に対応する複数の測定値を生成するステップを含んでいることを特徴としている。本願の第19観点の発明は、第10観点の方法において、1つ以上の上記IQベース時間領域トレースを生成するステップが、電力対時間トレースを生成するステップを含み、複数の上記測定値を自動的に生成するステップが、上記電力対時間トレースの特性に対応する複数の測定値を生成するステップを含んでいることを特徴としている。本願の第20観点の発明は、磁気ディスク、光学ディスク、固体ディスク、揮発性メモリ、不揮発性メモリ、ランダムアクセスメモリ、リードオンリメモリ又はフラッシュメモリを含む機器から情報を引き出す装置であって、試験測定装置で実行したときに、第10観点の発明のステップを機械に実行させる結果となる関連する命令を有する機械アクセス可能なメディアを具えている。本発明の目的、効果及び他の新規な点は、以下の詳細な説明を添付の特許請求の範囲及び図面とともに読むことによって明らかとなろう。図1は、アナログデジタルコンバータADC108、デジタルダウンコンバータ115、トレース生成部145及び測定部147を含むコントローラ140、表示ユニット150を有する本発明の実施形態例による試験測定装置100のブロック図である。試験測定装置100は、デジタルオシロスコープ、リアルタイムスペクトラムアナライザRTSA、その他の適切な測定装置としても良い。簡潔かつ一貫性を持たせるため、ここでは、全般に試験測定装置としてオシロスコープを例に説明するが、これに限られるものではない。オシロスコープ100は、ここで説明する種々の実施形態での利用に適した入力端子110のような入力端子又はチャンネルを複数有している。このオシロスコープは、入力端子110を1つだけ持つとしても良いが、本願発明は、4つ又は任意の数の入力を有するオシロスコープにも等しく適用可能である。オシロスコープ100の構成要素は、互いに直接結合された形で示されているが、オシロスコープ100は、必ずしも図示しないものの、他の種々の回路、ソフトウェア要素、入力端子、出力端子、インタフェースを含んでも良く、これらは図示したオシロスコープ100の構成要素の間等に配置される。入力端子110は、被試験電気信号、好ましくはRF信号を受ける。このRF信号は、アナログ中間周波数IF信号に変換しても良く、これはADC108でデジタル化される前にフィルタされる。しかし、基準となるのは、ここでは1つ又は複数のRF信号であり、これには1つ以上のRF信号、又は、RF信号から導かれた1つ以上のIF信号が含まれると考えて良い。ADC108は、被試験RF信号をデジタル化するように構成される。デジタルダウンコンバータ115は、ADC108と動作可能に結合され、デジタル化されたRF信号を受けて、このデジタルRF信号からI同相及びQ直交ベースバンド成分のデータ又は信号を生成する。より具体的には、ミキサ120が数値的にサイン及びコサインをデジタルRF信号にかけ算し、これによってI及びQ成分情報を生成する。この情報には、オリジナルのRF信号中に存在する情報の全てが含まれる。信号成分データは、その後、間引きフィルタ125を用いて間引きされる。これは、信号に関するサンプル数とノイズをデジタル的にフィルタして減少させる。取込みアクイジションメモリ130は、デジタルダウンコンバータ115と動作可能に結合されて、RF信号に関するデジタルI及びQベースバンド成分情報の1つ以上のレコード135を取込み及び蓄積する。言い換えると、取込みメモリ130は、デジタルダウンコンバータ115からI及びQベースバンド成分情報を受けて、これを蓄積することができる。実施形態によっては、ADC108が出力するデジタルデータを、メモリ130のようなメモリに最初に直接蓄積しても良く、その後、ダウンコンバータ115がアクセスしてI及びQベースバンド成分情報を生成するようにしても良い。オシロスコープの各入力端子110は、成分情報が蓄積された取込みメモリ130の異なる部分又は異なるレコード135と関係がある。取込みメモリ130は、種々のメモリとしても良い。例えば、取込みメモリ130は、揮発性メモリ、非揮発性メモリ、ダイナミックランダムアクセスメモリDRAM、スタティックメモリSRAMなどとしても良い。コントローラ140は、取込みメモリ130と動作可能に結合されており、I及びQ成分情報を受ける。コントローラ140は、表示ユニット150にも結合され、被試験信号を処理し、表示ユニット150に表示する対応する波形、トレース、又は測定結果を生成する。トレース及び測定結果を表示する代わりに、又は、これらに加えて、コントローラ140は、バスやワイヤなどの伝送線を介してこれらを外部デバイス160に伝送することもできる。外部デバイス160は、例えば、試験測定装置とは別個のコンピュータや、外部記憶装置などとしても良い。コントローラ140は、トレース生成部145及び測定部147を有していても良い。トレース生成部145は、I及びQベースバンド成分情報を用いて、1つ以上のIQベースの時間領域トレースを生成する。例えば、ダウンコンバートした後、トレース生成部145は、QをIで割ったもののアークタンジェントつまり、ARCTANQ/Iの計算によって位相を生成しても良い。トレース生成部145は、位相の微分導関数を計算するつまり、d/dtphaseことによって、周波数を生成しても良い。位相及び周波数は、位相対時間トレース、周波数対時間トレースをそれぞれプロットするのに用いられる。加えて、トレース生成部145は、振幅つまり、電力対時間トレースを生成しても良く、これは、例えば、Iの2乗にQの2乗を加えたものの平方根を取る例えば、SQRTI^2Q^2ことで生成しても良い。種々のトレースについて、以下で更に詳細に説明する。測定部147は、IQベースの時間領域トレースの測定可能な観点の少なくとも1つから測定値を生成する。例えば、IQベース時間領域トレースが周波数対時間トレースなら、測定部147は、周波数対時間トレース中の周波数がホップする周波数を測定することによって、その測定値を生成し、これによって、その信号の1つの側面である周波数変調ホップレートを決定する。他の例としては、測定部147は、周波数対時間トレースのパルス幅を測定し、これによって、信号の1つの側面である周波数変調ホップ持続時間durationを決定する。一般に、測定結果は信号特性に対応し、時間領域レコード全体に渡って生成されるか、さもなくば、取込みメモリ130のレコード135のような取込みレコードの最初の部分か、又は、取込みレコード中の複数の場所において生成される。測定は、1度に1つか、組合せて行われても良い。以下で更に説明する他の測定値は、周波数対時間トレースに関しても生成される。実際には、当業者に周知の他の適切な種々の測定をIQベース時間領域トレースに適用しても良い。加えて、測定部147は、I及びQベースバンド成分情報の複数のトレースそれぞれの測定可能な観点の少なくとも1つから測定値を生成できる。言い換えると、Iベースバンド成分情報のトレース又はQベースバンド成分情報のトレースに対して、測定を直接行っても良い。表示ユニット150は、RF信号のスペクトラムやRF信号のスペクトログラムのような周波数領域トレースと共に、1つ以上のIQベース時間領域トレースを表示ユニットの同じウィンドウ内に一緒につまり、互いに近くに、又は、重ねて表示するのに適したものとなっている。RF信号のスペクトラムやスペクトログラムのような周波数領域トレースは、高速フーリエ変換FFTアルゴリズムをI及びQデータに適用することによって生成される。複数のIQベース時間領域トレースの測定値が生成されると、これら測定値も、表示ユニットの同じウィンドウ内のオシロスコープのユーザが見やすい場所に表示される。言い換えると、IQベース時間領域トレース、IQベース周波数領域トレース及び測定値は、1つのウィンドウ内において、互いに近い位置に、表示ユニット150のおおよそ全表示領域を占めるように表示できる。ここで、周波数領域に言及すると、これは、当業者には理解されるように、周波数領域の測定やトレースを指すものと考えるべきである。例えば、RF信号のスペクトラムは、周波数領域であって、周波数レンジを表す水平軸と、任意の周波数についての振幅又は信号電力を表す垂直軸とを有するプロットを含んでいる。加えて、RF信号のスペクトログラムは、周波数領域に含まれると考えられ、典型的には、周波数レンジを表す水平軸と、時間を表す垂直軸とを有し、色を変化させることでトレースの振幅を表すプロットを有している。一方、時間領域は、複数の異なる形式の測定やトレースを含んでいる。例えば、周波数対時間の測定やトレースは、周波数領域というよりは、時間領域に属すると考えられ、また、これは時間を表す水平軸と、周波数を表す垂直軸とを有すると考えられる。周波数対時間測定は、時間領域に関して、スペクトログラムよりも高い解像度を有している。周波数対時間と同様に、電力対時間トレースは、時間に対して信号電力がどのように変化するかを示し、時間領域に属すると考えられ、その水平軸は時間を表し、垂直軸は電力線形なスケールの電圧の代わりに、典型的には、対数logスケールを表す。加えて、位相対時間の測定やトレースは、時間の関数として表示され、時間領域に属すると考えられる。その水平軸は時間を表し、垂直軸は位相値のレンジを表す。ここでIQベース時間領域トレースに言及すると、これはI及びQ成分情報又はデータから得られた信号又はトレースを指しており、周波数領域とは対照的に、時間領域に属している。ADC108、デジタルダウンコンバータ115、トレース生成部及び測定部を含むコントローラ140並びに表示ユニット150のいずれもが、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、又はこれらの組合せたものの中に存在するか、または、これらを用いて実現される。図2A及び2Bは、本発明の実施形態の例によるもので、種々の受信信号又はこれから得られた信号や、周波数対時間トレース225のようなトレースを含む簡略化した表示画面200を示している。図2Aに示すように、表示画面200の上部には、制御信号220と周波数対時間トレース225がある。表示画面200の上部に示しているものの、信号やトレースは、表示領域のどこに配置しても良い。加えて、信号220は制御信号としているが、実施形態によっては、この信号は、試験測定装置が受信又は生成した時間領域信号のような任意の信号としても良い。オシロスコープの複数の端子110は、RF信号や制御信号220のような種々の信号を同時に受信するのに利用でき、周波数対時間トレース225のようなトレースは、受信信号に関する情報から求めることができる。実施形態によっては、制御信号220は、周波数の遷移を示すものでも良く、周波数対時間トレース225に、この遷移が反映される。実施形態によっては、信号とトレース間で関係や影響を生じさせないようにする必要のあるものもある。例えば、時間領域信号つまり、制御信号220と関係のない信号と周波数対時間トレース225の間で測定を行っても良い。図1の測定部147は、周波数対時間トレースに関する1つ以上の測定値230を生成できる。例えば、測定部147は、周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数測定値を生成でき、表示画面200上にその測定値が表示される。測定部147は、図2Bに例として示すように、周波数対時間トレースのパルスのパルス幅、制御信号及び周波数対時間トレース間の遅延時間、周波数対時間トレースのパルス又は一部分の立ち上がり時間、周波数対時間トレースのパルス又は一部分の立ち下がり時間、周波数対時間トレースのオーバーシュート状態、周波数対時間トレースのスルーレート、などのその他の種々の測定値230を生成できる。実際的には、当業者には周知のように、その他の種々の適切な測定を周波数対時間トレースに適用できる。加えて、コントローラ140は、バスやワイヤなどの伝送線を介して測定値230を外部デバイス160に伝送することもできる。更には、時間領域の周波数対時間トレースや、制御信号、測定値と共に、周波数領域のスペクトログラム285やスペクトラム290を一緒につまり、互いに近く又は重ねて、表示ユニット150の表示画面200のほぼ全体を占めるように1つのウィンドウ200中に表示できる。言い換えると、スペクトログラム285やスペクトラム290は、他の信号やトレースと別個の表示画面には表示されないのであって、そうでないと、信号間の情報を相互に関連させるのが困難になる。むしろ、周波数領域のスペクトログラム285やスペクトラム290からの情報は、同じ表示画面内の周波数対時間トレース225や測定値230のような時間領域トレースからの情報と相互に関連が取れるようにしている。実施形態によっては、測定部147は、ユーザの選択に応じて周波数対時間トレースの複数の測定値を生成し、ユーザが更に分析できるように、表示画面200上に自動的に測定値230を表示させる。例えば、ユーザの入力に応じて、周波数対時間トレース中の周波数ホップの周波数と、周波数対時間トレースのパルス幅とを自動的に測定することによって、周波数変調ホップレート及びホップ持続時間が自動的に決定され、測定値が表示されるので、ユーザは測定値を観測できる。制御信号に関する遅延時間のようなその他の測定結果も、自動的に決定されて表示できる。上述した測定技法や測定値は、オシロスコープ100によって自動的に実行及び測定され、表示されることが理解されるであろう。図3は、本発明の実施形態の例による種々の受信信号又は得られた信号や、位相対時間トレース325のようなトレースを含む簡略化した表示画面300を示す。図3に示すように、表示画面300の上部には、制御信号320と位相対時間トレース325がある。表示画面300の上部に示しているものの、信号やトレースは、表示領域のどこに配置しても良い。加えて、信号320は制御信号としているが、実施形態によっては、この信号は、試験測定装置が受信又は生成した時間領域信号のような任意の信号としても良い。オシロスコープの複数の端子110は、RF信号や制御信号320のような種々の信号を同時に受信するのに利用でき、位相対時間トレース325のようなトレースは、受信信号に関する情報から求めることができる。実施形態によっては、制御信号320は、RF信号の位相遷移又はその他の特性を示すとしても良い。実施形態によっては、信号とトレース間で関係や影響を生じさせないようにする必要のあるものもある。例えば、時間領域信号つまり、制御信号320と関係のない信号と位相対時間トレース325の間で測定を行っても良い。図1の測定部147は、位相対時間トレースに関する1つ以上の測定値330を生成できる。例えば、測定部147は、上述した測定値230と類似するか、これらに対応する測定値330を生成できるが、これらは位相対時間トレース325に測定を適用したものである。測定値330は、表示画面300上に表示するか、バスやワイヤなどの伝送線を介して外部デバイス160に伝送できる。実際的には、当業者には周知のように、その他の種々の適切な測定を位相対時間トレースに適用できる。更には、時間領域の位相対時間トレース325や、制御信号320、測定値330と共に、周波数領域のスペクトログラム385やスペクトラム390を一緒につまり、互いに近く又は重ねて、表示ユニット150の表示画面300のほぼ全体を占めるように1つのウィンドウ300中に表示できる。言い換えると、スペクトログラム385やスペクトラム390は、他の信号やトレースと別個の表示画面には表示されないのであって、そうでないと、信号間の情報を相互に関連させるのが困難になる。むしろ、周波数領域のスペクトログラム385やスペクトラム390からの情報は、同じ表示画面内の位相対時間トレース325や測定値330のような時間領域トレースからの情報と相互に関連が取れるようにしている。実施形態によっては、測定部147は、ユーザの選択に応じて自動的に位相対時間トレースの複数の測定値を生成し、ユーザが更に分析できるように、表示画面300上に自動的に測定値330を表示させる。例えば、制御信号320と位相対時間トレース325間の遅延時間を測定することによって、制御信号と回路の位相変調出力信号間の遅延時間が決定される。これら測定結果は、自動的に測定されて表示される。上述した測定技法や測定値のいずれもが、位相対時間トレースの特性を測定するために利用でき、オシロスコープ100によって自動的に測定され、表示されることが理解されるであろう。図4は、本発明の実施形態の例によるもので、種々の受信信号又はこれから得られた信号や、電力対時間トレース425のようなトレースを含む簡略化した表示画面400を示している。図4に示すように、表示画面400の上部には、制御信号420と振幅つまり、電力対時間トレース425がある。表示画面400の上部に示しているものの、信号やトレースは、表示領域のどこに配置しても良い。加えて、信号420は制御信号としているが、実施形態によっては、この信号は、試験測定装置が受信又は生成した時間領域信号のような任意の信号としても良い。オシロスコープの複数の端子110は、RF信号や制御信号420のような種々の信号を同時に受信するのに利用でき、電力対時間トレース425のようなトレースは、受信信号に関する情報から求めることができる。実施形態によっては、制御信号420は、RF信号の電力又は他の特性の遷移を示すものでも良い。実施形態によっては、信号とトレース間で関係や影響を生じさせないようにする必要のあるものもある。例えば、時間領域信号つまり、制御信号420と関係のない信号と電力対時間トレース425の間で測定を行っても良い。図1の測定部147は、電力対時間トレースに関する1つ以上の測定値430を生成できる。例えば、測定部147は、上述した測定値230と類似するか、これらに対応する測定値430を生成できるが、これらは電力対時間トレース425に測定を適用したものである。測定値430は、表示画面400上に表示するか、バスやワイヤなどの伝送線を介して外部デバイス160に伝送できる。実際的には、当業者には周知のように、その他の種々の適切な測定を電力対時間トレースに適用できる。更には、時間領域の電力対時間トレース425や、制御信号420、測定値430と共に、周波数領域のスペクトログラム485やスペクトラム490を一緒につまり、互いに近く又は重ねて、表示ユニット150の表示画面400のほぼ全体を占めるように1つのウィンドウ400中に表示できる。言い換えると、スペクトログラム485やスペクトラム490は、他の信号やトレースと別個の表示画面には表示されないのであって、そうでないと、信号間の情報を相互に関連させるのが困難になる。むしろ、周波数領域のスペクトログラム485やスペクトラム490からの情報は、同じ表示画面内の電力対時間トレース425や測定値430のような時間領域トレースからの情報と相互に関連が取れるようにしている。実施形態によっては、測定部147は、ユーザの選択に応じて自動的に電力対時間トレースの複数の測定値を生成し、ユーザが更に分析できるように、表示画面400上に自動的に測定値430を表示させる。これら測定結果は、自動的に測定されて表示される。上述した測定技法や測定値のいずれもが、電力対時間トレースの特性を測定するために利用でき、オシロスコープ100によって自動的に測定され、表示されることが理解されるであろう。図5は、本発明の1つの実施形態によるIQベース時間領域トレースの測定方法を示すフローチャートである。この方法は、ステップ505で始まり、ここではオシロスコープのような試験測定装置の端子がRF信号を受ける。ステップ510では、ADCを用いてRF信号がデジタル化される。続いてフローはステップ515に進み、ここではデジタル化された信号がダウンコンバートされ、I及びQベースバンド成分情報又はデータが生成される。ステップ520において、IQベースバンド成分情報を用いた時間領域トレースが生成される。次に、フローは、いくつかのパスのどれか1つに沿って進む。ステップ525に進むと、IQベース時間領域トレースの周波数が測定される。ステップ530に進むと、IQベース時間領域トレースのパルス幅が測定される。ステップ535に進むと、IQベース時間領域トレースのパルスの立ち上がり時間が測定される。ステップ540に進むと、IQベース時間領域トレースの他の値が測定される。他の値としては、図1~4に関して上述した測定値のいずれかとしても良く、簡単のため、ここでは繰り返さない。続いて、フローはステップ545又は550に進み、ここでは測定値がユーザの観測及び分析のために、オシロスコープの表示ユニット150上で表示されるか、又は、更なる処理や分析のため、外部デバイス160図1参照に伝送される。具体的な実施形態を説明してきたが、本発明の原理はこれら実施形態に限定されるものではないことが理解されよう。例えば、上述の実施形態では、波形の異なる特性を記述しているが、上述の特性は、ジッタ測定に関する特性のように、統計的な性質のものではない。しかし、開示した実施形態は、統計的な特性でないものに限定されず、むしろ、ジッタ測定のような統計的測定にも拡張できるものである。例えば、統計、ヒストグラムなどのような測定結果について更なる分析を行っても良い。最大、最小、中央、平均、標準偏差などの統計的な値を測定に利用しても良い。その他の分析としては、測定値のトレンドプロット、ヒストグラムなどを含めても良いことが理解されよう。実施形態によっては、磁気ディスク、光学ディスク、固体ディスク、揮発性メモリ、不揮発性メモリ、ランダムアクセスメモリ、リードオンリメモリ、フラッシュメモリを含む機器から情報を引き出す装置であっても良く、この装置が、試験測定装置で実行したときに、本願で開示した本発明の種々の実施形態のステップを機械に実行させる結果が得られる関連する命令を有する機械アクセス可能なメディアを具えていても良い。また、その他の種々の変形が、本発明の原理から離れることなく実現可能なことが理解されるであろう。