a被検眼眼底に光を照射する光源と、b被検眼眼底から発せられる光を分割して第1反射部と第2反射部に導く分割光学系と、c前記第1反射部で反射された第1反射光と前記第2反射部で反射された第2反射光を同一点に導く結像光学系と、d前記結像光学系の結像面上に2次元配置された複数の受光素子を有する干渉光強度検出手段と、e前記第1反射部を移動させることにより前記第1反射光と前記第2反射光の光路長差を伸縮する光路長差伸縮手段と、f前記第1反射部の移動量を検出する移動量検出手段と、g前記結像光学系の光軸と前記結像面の交点から各受光素子までの距離と、前記結像光学系の焦点距離と、前記第1反射部の移動量から当該受光素子における光路長差を算出する光路長差算出手段と、h前記光路長差伸縮手段によって光路長差を伸縮させつつ前記干渉光強度検出手段の各受光素子で干渉光強度変化を検出してインターフェログラムを求め、このインターフェログラムをフーリエ変換することによりスペクトルを取得する処理部と、を備えることを特徴とする眼底分光特性測定装置。前記被検眼眼底の2次元画像を取得する画像取得手段と、前記2次元画像から前記被検眼眼底の特定領域を抽出させる領域抽出手段とを備え、前記処理部が、前記被検眼眼底の特定領域から発せられた光の干渉光強度変化を前記受光素子で検出して、インターフェログラムを求めることを特徴とする請求項1に記載の眼底分光特性測定装置。前記領域抽出手段が、前記被検眼眼底の中心窩を中心とする所定領域を抽出することを特徴とする請求項2に記載の眼底分光特性測定装置。a被検眼眼底から発せられる光を分割光学系によって分割して第1反射部と第2反射部に導き、b前記第1反射部で反射された第1反射光と前記第2反射部で反射された第2反射光を結像光学系によって同一点に導き、c前記結像光学系の結像面上に2次元配置された複数の受光素子を有する干渉光強度検出手段により、前記同一点に導かれた干渉光の強度を検出し、d前記結像光学系の光軸と前記結像面の交点から各受光素子までの距離と、前記結像光学系の焦点距離と、前記第1反射部の移動量から当該受光素子における光路長差を算出し、e前記第1反射部を移動させることにより前記第1反射光と前記第2反射光の光路長差を伸縮させつつ、各受光素子で干渉光強度変化を検出してインターフェログラムを求め、このインターフェログラムをフーリエ変換することによりスペクトルを取得することを特徴とする眼底分光特性測定方法。a被測定物から発せられる光を分割して第1反射部と第2反射部に導く分割光学系と、b前記第1反射部で反射された第1反射光と前記第2反射部で反射された第2反射光を同一点に導く結像光学系と、c前記結像光学系の結像面上に2次元配置された複数の受光素子を有する干渉光強度検出手段と、d前記第1反射部を移動させることにより前記第1反射光と前記第2反射光の光路長差を伸縮する光路長差伸縮手段と、e前記第1反射部の移動量を検出する移動量検出手段と、f前記被測定物の2次元画像を取得する画像取得手段と、g前記2次元画像から前記被測定物の特定領域を抽出させる領域抽出手段と、h前記結像光学系の光軸と前記結像面の交点から各受光素子までの距離と、前記結像光学系の焦点距離と、前記第1反射部の移動量から当該受光素子における光路長差を算出する光路長差算出手段と、i前記光路長差伸縮手段によって光路長差を伸縮させつつ前記特定領域から発せられた光の干渉光強度変化を各受光素子で検出してインターフェログラムを求め、このインターフェログラムをフーリエ変換することによりスペクトルを取得する処理部と、を備えることを特徴とする分光特性測定装置。領域抽出手段が、前記画像取得手段で得られた2次元画像データから中心窩を中心とする所定領域を抽出し、抽出された所定領域に基づきインターフェログラムを取得することを特徴とする請求項5に記載の分光特性測定装置。a被測定物から発せられる光を分割光学系によって分割して第1反射部と第2反射部に導き、b前記第1反射部で反射された第1反射光と前記第2反射部で反射された第2反射光を結像光学系によって同一点に導き、c前記結像光学系の結像面上に2次元配置された複数の受光素子を有する干渉光強度検出手段により、前記同一点に導かれた干渉光の強度を検出し、d前記第1反射部を移動させることにより前記第1反射光と前記第2反射光の光路長差を伸縮させつつ、前記被測定物の特定領域から発せられた光の干渉光強度変化を各受光素子で検出してインターフェログラムを求め、このインターフェログラムをフーリエ変換することによりスペクトルを取得し、e前記結像光学系の光軸と前記結像面の交点から各受光素子までの距離と、前記結像光学系の焦点距離と、前記第1反射部の移動量から当該受光素子における光路長差を算出し、f算出された前記光路長差に応じて当該受講素子における前記スペクトルを補正することを特徴とする分光特性測定方法。本発明が解決しようとする課題は、検出感度の低下を招くことなく高精度に眼底の分光特性を測定することができる眼底分光特性測定装置及び眼底分光特性測定方法、並びに分光特性測定装置及び分光特性測定方法を提供することである。本発明者は、被測定物を光学的に構成する輝点から生じる物体光を分割し、これら分割光同士の干渉現象を利用することにより被測定物のインターフェログラムを求める手法を発明し、先に出願した特許文献2。本願発明は、この手法を眼底の分光特性測定に利用したものである。具体的には、上記課題を解決するために成された本発明に係る眼底分光特性測定装置は、a被検眼眼底に光を照射する光源と、b被検眼眼底から発せられる光を分割して第1反射部と第2反射部に導く分割光学系と、c前記第1反射部で反射された第1反射光と前記第2反射部で反射された第2反射光を同一点に導く結像光学系と、d前記結像光学系の結像面上に2次元配置された複数の受光素子を有する干渉光強度検出手段と、e前記第1反射部を移動させることにより前記第1反射光と前記第2反射光の光路長差を伸縮する光路長差伸縮手段と、f前記第1反射部の移動量を検出する移動量検出手段と、g前記結像光学系の光軸と前記結像面の交点から各受光素子までの距離と、前記結像光学系の焦点距離と、前記第1反射部の移動量から当該受光素子における光路長差を算出する光路長差算出手段と、h前記光路長差伸縮手段によって光路長差を伸縮させつつ前記干渉光強度検出手段の各受光素子で干渉光強度変化を検出してインターフェログラムを求め、このインターフェログラムをフーリエ変換することによりスペクトルを取得する処理部と、を備えることを特徴とする。この場合、処理部は、算出された光路長差に基づきインターフェログラムを求めるようにしても良く、第1反射部の移動量に基づきインターフェログラムを求め、このインターフェログラムと算出された光路長差とからスペクトルを求めるようにしても良い。また、上述の眼底分光特性測定装置は、さらに、前記被検眼眼底の2次元画像を取得する画像取得手段と、前記2次元画像から前記被検眼眼底の特定領域を抽出させる領域抽出手段とを備え、前記処理部が、前記被検眼眼底の特定領域から発せられた光の干渉光強度変化を各受光素子で検出して、当該受光素子におけるスペクトルを取得することを特徴とする。例えば、上述の加齢黄斑変性症AMDは滲出型と萎縮型に分けられ、中心暗点、変視症、非可逆且つ高度な視力低下といった症状が見られる。萎縮型は進行が緩慢であるのに対して滲出型は進行が早い。厚生省現厚生労働省特定疾患網膜脈絡膜視神経萎縮症調査研究班により作成された分類及び診断基準によると、AMDの前駆病変として中心窩を中心とする半径3mm以内の領域に、軟性ドルーゼンや網膜色素上皮異常がみられる。網膜色素上皮異常とは、網膜色素上皮の色素脱失、色素沈着、色素むら、小型の漿液性網膜色素上皮剥離直径1乳頭未満を指す。図1は、健康な網膜aとAMD患者の網膜bを示している。このように、健康な網膜とAMD患者の網膜では、中心窩を中心とする半径3mm以内の領域の色調、色素むらの有無等が明らかに異なる。従って、本発明の眼底分光特性装置を用いて、網膜の分光特性を測定することにより、網膜色素上皮異常の有無を調べることができ、ひいてはAMDの早期診断が可能となる。また、本発明に係る眼底分光特性測定方法は、a被検眼眼底から発せられる光を分割光学系によって分割して第1反射部と第2反射部に導き、b前記第1反射部で反射された第1反射光と前記第2反射部で反射された第2反射光を結像光学系によって同一点に導き、c前記結像光学系の結像面上に2次元配置された複数の受光素子を有する干渉光強度検出手段により、前記同一点に導かれた干渉光の強度を検出し、d前記結像光学系の光軸と前記結像面の交点から各受光素子までの距離と、前記結像光学系の焦点距離と、前記第1反射部の移動量から当該受光素子における光路長差を算出し、d前記第1反射部を移動させることにより前記第1反射光と前記第2反射光の光路長差を伸縮させつつ、各受光素子で干渉光強度変化を検出してインターフェログラムを求め、このインターフェログラムをフーリエ変換することによりスペクトルを取得することを特徴とする。本発明に係る分光特性測定装置は、a被測定物から発せられる光を分割して第1反射部と第2反射部に導く分割光学系と、b前記第1反射部で反射された第1反射光と前記第2反射部で反射された第2反射光を同一点に導く結像光学系と、c前記結像光学系の結像面上に2次元配置された複数の受光素子を有する干渉光強度検出手段と、d前記第1反射部を移動させることにより前記第1反射光と前記第2反射光の光路長差を伸縮する光路長差伸縮手段と、e前記第1反射部の移動量を検出する移動量検出手段と、f前記被測定物の2次元画像を取得する画像取得手段と、g前記2次元画像から前記被測定物の特定領域を抽出させる領域抽出手段と、h前記結像光学系の光軸と前記結像面の交点から各受光素子までの距離と、前記結像光学系の焦点距離と、前記第1反射部の移動量から当該受光素子における光路長差を算出する光路長差算出手段と、i前記光路長差伸縮手段によって光路長差を伸縮させつつ前記特定領域から発せられた光の干渉光強度変化を各受光素子で検出してインターフェログラムを求め、このインターフェログラムをフーリエ変換することによりスペクトルを取得する処理部と、を備えることを特徴とする。本発明に係る分光特性測定方法は、a被測定物から発せられる光を分割光学系によって分割して第1反射部と第2反射部に導き、b前記第1反射部で反射された第1反射光と前記第2反射部で反射された第2反射光を結像光学系によって同一点に導き、c前記結像光学系の結像面上に2次元配置された複数の受光素子を有する干渉光強度検出手段により、前記同一点に導かれた干渉光の強度を検出し、d前記第1反射部を移動させることにより前記第1反射光と前記第2反射光の光路長差を伸縮させつつ、前記被測定物の特定領域から発せられた光の干渉光強度変化を各受光素子で検出してインターフェログラムを求め、このインターフェログラムをフーリエ変換することによりスペクトルを取得し、e前記結像光学系の光軸と前記結像面の交点から各受光素子までの距離と、前記結像光学系の焦点距離と、前記第1反射部の移動量から当該受光素子における光路長差を算出し、f算出された前記光路長差に応じて当該受光素子における前記スペクトルを補正することを特徴とする。本発明によれば、分割光学系対物レンズ、固定ミラー部、可動ミラー部を通過してきた光線の全てを被検眼眼底の分光特性測定に利用することができるため、微弱光であっても分光特性の測定精度を向上させることができる。また、2次元配置された複数の受光素子のうちいずれの位置の受光素子で検出された干渉光強度に基づきスペクトルを取得した場合であっても、光路長差を正しく求めてスペクトルを補正することができるため、分光特性の測定精度が向上する。以下、本発明の眼底分光特性測定装置の一実施形態について説明する。図2は本実施形態に係る眼底分光特性測定装置1の光学系を概略的に示す図である。眼底分光特性測定装置1では、光源5から出射した光がハーフミラー8により図中下方に反射され、対物レンズ12により平行光束となり平行光線化されて被検眼Sに照射される。被検眼Sに照射された光は被検眼Sの前眼部Saを透過して眼底Sbに到達し、様々な光学現象に起因した反射光、散乱光が生成される。これらの生成された光により眼底Sbを光学的にモデル化すると、理想的な点光源である輝点の集合体と見なすことができる。照明方式や光学現象により指向性は異なるが、理想的な点光源である1つの輝点からは、放射状に光線が射出される。このように眼底Sb上の一輝点から射出された光で表される。Δx=2dxcosθまた、図6から、結像レンズの焦点距離をf、2次元CCDカメラの画素と結像レンズの光軸との距離をyとすると、位相シフター14への入射角θは次の式で表される。θ=arctan式及びから、光路長差Δx入射角θのときの光路長差は次の式で表される。Δx式より、可動ミラー部16を移動させたときに与えられる光路長差は、2次元CCDカメラの各画素の光軸からの距離によって変化することが分かる。そこで、本実施形態では、可動ミラー部16の移動量と2次元CCDの画素毎に、当該画素の光軸からの距離と可動ミラー部16の移動量とから光路長差を算出し、この光路長差を使って分光特性を求めるようにしている。図7は、CCDカメラの画素位置に関係なく、可動ミラー部16の移動量を光路長差としたときのつまり、光路長差補正をしない場合、ピーク波長の変化をシミュレーションした結果を示している。図7は、光路長差を伸縮させつつ、633nmの光を対物レンズ12に入射させてたときに得られる分光スペクトルのピーク波長を示している。横軸は2次元CCDカメラの画素と結像レンズ22の光軸との距離を、縦軸はピーク波長を表す。なお、結像レンズ22の焦点距離は50mmである。図7に示すように、光軸からの距離が大きくなるにつれてピーク波長が長波長側にシフトし、光軸からの距離が001mのときはピーク波長が約645nmとなり、実際のピーク波長633nmから10nm以上ずれていることが分かる。これに対して、上記式から求められた光路長差を用いて分光スペクトルを得た場合は2次元CCDカメラの画素位置に関係なく正しくピーク波長633nmを得ることができる。従って、例えば、被検眼の眼底の特定領域における分光特性を求める場合であっても、干渉光強度変化を検出する画素の位置によってピーク波長がずれることがなく、該特定領域の分光特性を精度良く求めることができる。