試料セルと、前記試料セルに測定光を出射する光源部と、前記試料セルを通過した測定光を検出する光検出器と、前記光源部からの測定光が光検出器に一定周期で入射しないようにする遮光部と、前記遮光部で遮光された遮光期間と、前記光検出器で得られた出力強度信号とを対応付けて記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶された遮光期間の出力強度信号と入射期間の出力強度信号とに基づいて、透過率又は吸光度を算出する制御部とを備える分光光度計であって、前記記憶部は、前記光検出器に外光が入射したことを検知するための閾値を記憶し、前記制御部は、前記遮光期間の出力強度信号と閾値とに基づいて、前記光検出器に外光が入射したことを検知することを特徴とする分光光度計。外光が光検出器に入射しないようにすることが可能な遮光シャッタを備え、前記制御部は、前記遮光期間の出力強度信号と閾値とに基づいて、前記光検出器に外光が入射しないように、前記遮光シャッタを制御することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。前記光検出器に印加電圧値を印加する電圧発生部を備え、前記光検出器は、検出感度が外部からの印加電圧値に応じて変更可能であり、前記記憶部は、前記光検出器に印加された印加電圧値と、前記遮光部で遮光された遮光期間と、前記光検出器で得られた出力強度信号とを対応付けて記憶し、前記制御部は、前記記憶部に記憶された遮光期間の出力強度信号と入射期間の出力強度信号とに基づいて、透過率又は吸光度を算出し、かつ、前記印加電圧値と遮光期間の出力強度信号と閾値とに基づいて、前記印加電圧値を調整するように電圧発生部を制御することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。参照セルと、前記試料セルに代えて参照セルに測定光を一定周期で導くように変更可能な切替部を備え、前記記憶部は、前記遮光部で遮光された遮光期間と、前記切替部で光路を切り替えた切替期間と、前記光検出器で得られた出力強度信号とを対応付けて記憶し、前記制御部は、前記記憶部に記憶された試料側遮光期間の出力強度信号と試料側入射期間の出力強度信号と参照側遮光期間の出力強度信号と参照側入射期間の出力強度信号とに基づいて、透過率又は吸光度を算出し、かつ、前記試料側遮光期間の出力強度信号及び参照側遮光期間の出力強度信号と、閾値とに基づいて、前記光検出器に外光が入射したことを検知することを特徴とする請求項1~請求項3のいずれかに記載の分光光度計。しかしながら、上述したような紫外可視分光光度計160では、一の試料の測定が終わり、次の試料の測定を行うときに、筐体15の扉15aを開けて試料セル6や参照セル8を交換することになるが、このときに外光が入射することにより光検出器12が劣化することがあった。つまり、図6bに示すように、筐体15の扉15aを開けたときには、出力強度信号点線が限界電流値Ithを超える、すなわち信号値実線がAD変換限界値になるため、フィードバック制御を実行することにより光検出器12への印加電圧値Vを下げることになるが、1回のフィードバック制御では信号値がAD変換限界値から基準閾値Ibとなるような程度に印加電圧値Vを下げるので、出力強度信号が限界電流値Ithを超える状態が直ぐに回避できないことがあった。さらに、紫外可視分光光度計160では、1周期Tの期間中、印加電圧値Vを一定に維持した後に、光検出器12への印加電圧値Vを下げるため、限界電流値Ithを超える電流が光検出器12から出力されていても、1周期Tの期間中、電流値が変わらないという問題もあった。そこで、試料セル6や参照セル8を交換する際に開く筐体15の扉15aに開閉センサを設け、コンピュータ130が扉15aが開いたことを検知し、すなわち外光の入射を検知した際には、光検出器12が劣化しないように、外光入射前に印加電圧値Vを下げることが行われている。その場合、開閉センサを設ける分コストが高くなった。さらに、扉15aに開閉センサを設けても、付属品使用時には開閉センサが働かないため、外光入射を検知できなくなる問題があった。そこで、本発明は、扉に開閉センサ等を設けることなく、光検出器で得られた出力強度信号によって試料セルを交換する際等の外光の入射を検知することを目的とするものである。上記課題を解決するためになされた本発明の分光光度計は、試料セルと、前記試料セルに測定光を出射する光源部と、前記試料セルを通過した測定光を検出する光検出器と、前記光源部からの測定光が光検出器に一定周期で入射しないようにする遮光部と、前記遮光部で遮光された遮光期間と、前記光検出器で得られた出力強度信号とを対応付けて記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶された遮光期間の出力強度信号と入射期間の出力強度信号とに基づいて、透過率又は吸光度を算出する制御部とを備える分光光度計であって、前記記憶部は、前記光検出器に外光が入射したことを検知するための閾値を記憶し、前記制御部は、前記遮光期間の出力強度信号と閾値とに基づいて、前記光検出器に外光が入射したことを検知するようにしている。このとき、入射期間の出力強度信号には装置光源からの入射光が含まれるのに対し、遮光期間の出力強度信号には装置光源からの入射光が含まれず装置外からの光しか含まれないため、遮光期間の出力強度信号は全て外光に由来するものとみなすことができる。ここで、光検出器とは、過大な光量が入射したり、過大な電流を出力したりすると劣化する可能性があるものが挙げられ、例えば、検出感度が外部からの印加電圧値Vに応じて変更可能である光電子増倍管や、PbS光導電素子等が挙げられる。本発明の分光光度計によれば、光検出器に外光が入射したことを検知するための閾値I0を記憶している。そして、制御部は、遮光期間の出力強度信号と閾値I0とに基づいて、光検出器に外光が入射したことを検知する。これにより、例えば、出力強度信号がAD変換限界値から基準閾値Ibとなるように印加電圧値Vを下げるのではなく、光検出器への印加電圧値Vを極端に下げたり、1周期Tの期間中、印加電圧値Vを一定に維持せず、速やかに光検出器への印加電圧値Vを下げたり、遮光シャッタを光検出器の前に配置したりすることができる。以上のように、本発明の分光光度計によれば、扉に開閉センサ等を設けることなく、付属品が使用されても、外光に由来するものとみなすことができる遮光期間の出力強度信号に基づいて、試料セルを交換する際等の外光の入射を検知することができる。他の課題を解決するための手段および効果また、上記の発明において、外光が光検出器に入射しないようにすることが可能な遮光シャッタを備え、前記制御部は、前記遮光期間の出力強度信号と閾値とに基づいて、前記光検出器に外光が入射しないように、前記遮光シャッタを制御するようにしてもよい。本発明の分光光度計によれば、試料セルを交換する際等の外光の入射を検知することにより、試料セルを交換する際に、過大な光量が光検出器に入射しないようにすることができる。そして、上記の発明において、前記光検出器に印加電圧値を印加する電圧発生部を備え、前記光検出器は、検出感度が外部からの印加電圧値に応じて変更可能であり、前記記憶部は、前記光検出器に印加された印加電圧値と、前記遮光部で遮光された遮光期間と、前記光検出器で得られた出力強度信号とを対応付けて記憶し、前記制御部は、前記記憶部に記憶された遮光期間の出力強度信号と入射期間の出力強度信号とに基づいて、透過率又は吸光度を算出し、かつ、前記印加電圧値と遮光期間の出力強度信号と閾値とに基づいて、前記印加電圧値を調整するように電圧発生部を制御するようにしてもよい。さらに、上記の発明において、参照セルと、前記試料セルに代えて参照セルに測定光を一定周期で導くように変更可能な切替部を備え、前記記憶部は、前記遮光部で遮光された遮光期間と、前記切替部で光路を切り替えた切替期間と、前記光検出器で得られた出力強度信号とを対応付けて記憶し、前記制御部は、前記記憶部に記憶された試料側遮光期間の出力強度信号と試料側入射期間の出力強度信号と参照側遮光期間の出力強度信号と参照側入射期間の出力強度信号とに基づいて、透過率又は吸光度を算出し、かつ、前記試料側遮光期間の出力強度信号及び参照側遮光期間の出力強度信号と、閾値とに基づいて、前記光検出器に外光が入射したことを検知するようにしてもよい。以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。図1は、本発明の一実施形態であるダブルビーム型の紫外可視分光光度計を示す概略構成図である。図3は、複数周期期間に亘る信号値と時間との関係の一例を示す図である。なお、紫外可視分光光度計160と同様のものについては、同じ符号を付している。紫外可視分光光度計60は、試料セル6と、参照セル8と、測定光を出射する光源1と分光器2とを有する光源部50と、光検出器12と、セクタ鏡切替部、遮光部40と、複数の反射鏡3、5、7、9、10、11と、光を透過しない筐体15と、光検出器12に印加電圧値Vを印加する高電圧発生部22と、インデクス信号発生部20と、アナログ-デジタルA/D変換器14と、デジタル-アナログD/A変換器21と、紫外可視分光光度計60全体を制御するコンピュータ30とを備える。なお、本発明に係る筐体15の扉15aには、開閉センサは設けられていない。つまり、コストを安くすることができる。コンピュータ30においては、CPU制御部31やメモリ記憶部34を備え、さらにキーボードやマウス等を有する入力装置32と、表示装置33とが連結されている。また、CPU31が処理する機能をブロック化して説明すると、メモリ34に光検出器12からの信号値出力強度信号を記憶させる記憶制御部31aと、透過率を算出する算出制御部31bと、電圧発生部20を制御する電圧制御部31cとを有する。なお、メモリ34には、基準閾値Ibが予め記憶されるとともに、光検出器12に外光が入射したことを検知するための閾値I0が予め記憶されている。電圧制御部31cは、光検出器光電子増倍管12で得られた信号値試料側暗信号zs、試料側光束信号s、参照側暗信号zr、参照側光束信号rに応じて光検出器12への印加電圧値Vを決定して、決定した印加電圧値Vを印加するように高電圧発生部22に指示信号を出力し、検出感度増倍率を調整するというフィードバック制御を実行している。具体的には、電圧制御部31cは、光検出器12で得られた信号値を基準閾値Ibと比較し、信号値が基準閾値Ibを超えると光検出器12への印加電圧値Vを下げて検出感度を下げることにより光検出器12から出力される電流を小さくしている。一方、信号値が基準閾値Ibを下回ると光検出器12への印加電圧値Vを上げて検出感度を上げることにより光検出器12から出力される電流を大きくしている。つまり、信号値試料側光束信号s、参照側光束信号rが基準閾値Ibになるように制御を実行している。このとき、検出器12への印加電圧値Vは1周期Tの期間中、一定に維持されるようにしている。つまり、1周期T1の期間が終了した後で、電圧制御部31cは次なる1周期T2の印加電圧値V2を決定し、光検出器12への印加電圧値Vを印加電圧値V1から印加電圧値V2に変更するようにしている。また、本発明に係る電圧制御部31cは、試料側暗信号zs試料側遮光期間の出力強度信号及び参照側暗信号zr参照側遮光期間の出力強度信号が閾値I0以上であるときには、印加電圧値Vを極端に下げる例えば、印加電圧値V0が0となるように電圧発生部22に指示信号を出力し、検出感度増倍率を調整するという制御を行う。具体的には、図3bに示すように電圧制御部31cは、試料側暗信号zsに対応する6個の検出値データについて、試料側暗信号zsの平均値を計算し、計算した試料側暗信号zsと閾値I0とを比較し、計算した試料側暗信号zsが閾値I0を超えると光検出器12への印加電圧値Vを極端に下げて検出感度を下げることにより光検出器12から出力される電流を小さくしている。つまり、フィードバック制御のように信号値が基準閾値Ibとなるようには調整しない。さらに、光検出器12への印加電圧値Vは1周期Tの期間中、一定に維持されることなく、速やかに変更されるようになっている。つまり、1周期T1の期間が終了することを待たずに、光検出器12への印加電圧値Vを、1周期T2の試料側遮光期間の印加電圧値V1から、1周期T2の参照側入射期間の印加電圧値V0に変更するようにしている。ここで、電圧制御部31cが高電圧発生部22を制御する制御方法の一例について説明する。図4は、高電圧発生部22を制御する制御方法について説明するためのフローチャートである。まず、ステップS101の処理において、記憶制御部31aは、メモリ34に光検出器12からの試料側光束信号sを記憶させる。次に、ステップS102の処理において、記憶制御部31aは、メモリ34に光検出器12からの試料側暗信号zsを記憶させる。次に、ステップS103の処理において、電圧制御部31cは、試料側暗信号zsが閾値I0以上であるか否かを判定する。試料側暗信号zsが閾値I0以上であると判定したときには、ステップS104の処理において、印加電圧値Vを極端に下げるように高電圧発生部22に指示信号を出力する。一方、試料側暗信号zsが閾値I0以上でないと判定したときには、ステップS105の処理において、記憶制御部31aは、メモリ34に光検出器12からの参照側光束信号rを記憶させる。次に、ステップS106の処理において、記憶制御部31aは、メモリ34に光検出器12からの参照側暗信号zrを記憶させる。次に、ステップS107の処理において、電圧制御部31cは、参照側暗信号zrが閾値I0以上であるか否かを判定する。参照側暗信号zrが閾値I0以上であると判定したときには、ステップS108の処理において、印加電圧値Vを極端に下げるように高電圧発生部22に指示信号を出力する。一方、参照側暗信号zrが閾値I0以上でないと判定したときには、ステップS109の処理において、電圧制御部31cは、試料側光束信号s及び参照側光束信号rと基準閾値Ibとを比較して、印加電圧値Vを調整するように高電圧発生部22に指示信号を出力する。次に、ステップS110の処理において、測定を終了するか否かを判定する。測定を終了しないと判定したときには、ステップS101の処理に戻る。一方、測定を終了すると判定したときには、本フローチャートを終了させる。以上のように、紫外可視分光光度計60によれば、筐体15の扉15aに開閉センサ等を設けることなく、付属品が使用されても、参照側暗信号zrや試料側暗信号zsに基づいて、試料セル6や参照セル8を交換する際等の外光の入射を検知することができる。これにより、試料セル6や参照セル8を交換する際に、光検出器12を劣化させる過大な電流が光検出器12を流れないようにすることができる。なお、試料の測定中には、試料セル6や参照セル8を交換することがないため、遮光期間の出力強度信号が閾値I0を越えることもないので、1周期Tの期間中、印加電圧値Vを一定に維持することになる。つまり、コンピュータ30で透過率を正確に算出することができる。<他の実施形態>1上述した紫外可視分光光度計60では、光検出器12が、紫外光を検出する光電子増倍管を含んだものであるような構成を示したが、赤外光を検出するPbS光導電素子を含んだものであるような構成としてもよい。このときには、外光が光検出器に入射しないようにすることが可能な遮光シャッタを備え、制御部は、試料側暗信号zs試料側遮光期間の出力強度信号及び参照側暗信号zr参照側遮光期間の出力強度信号が閾値I0以上であると判定したときには、遮光シャッタを所定の時間例えば、1秒等、光検出器に外光が入射しないように制御することになる。あるいは、遮光シャッタの解除は手動で行ってもよい。2上述した紫外可視分光光度計60では、試料側暗信号zs及び参照側暗信号zrが閾値I0以上であるときには、印加電圧値Vを極端に下げる例えば、印加電圧値V0が0となるように電圧発生部22に指示信号を出力するような構成を示したが、例えば、印加電圧値V0が0~-50Vとなるように電圧発生部に指示信号を出力するような構成としてもよい。3上述した紫外可視分光光度計60では、試料側暗信号zs及び参照側暗信号zrが閾値I0以上であるときには、検出器12への印加電圧値Vは1周期Tの期間中、一定に維持されることなく、速やかに変更されるような構成を示したが、検出器への印加電圧値Vは1周期Tの期間中、一定に維持された後で、変更されるような構成としてもよい。