静電容量方式のタッチパネルを備えたタッチパネル装置であって、前記タッチパネルの1水平ラインにおけるRawdataを取得するRawdata取得部と、前記Rawdata取得部で取得された前記1水平ラインのRawdataの平均値を、平均ベースラインとして算出する平均ベースライン算出部と、前記タッチパネルの1水平ラインの各センサについて、取得されたRawdataと前記平均ベースラインとを比較し、前記Rawdataが前記平均ベースラインから一定の距離にあるスレッシュホールド以上である場合にタッチ有りと判定し、前記Rawdataが前記スレッシュホールド以下である場合にタッチなしと判定するタッチ検出処理部と、を備えたことを特徴とするタッチパネル装置。前記平均ベースライン算出部は、隣り合うRawdataの差分が前記スレッシュホールド以上である場合には、当該Rawdataを平均値の算出から除外することを特徴とする請求項1に記載のタッチパネル装置。静電容量方式のタッチパネルのタッチ検出方法であって、前記タッチパネルの1水平ラインにおけるRawdataを取得するRawdata取得ステップと、前記Rawdata取得ステップで取得された前記1水平ラインのRawdataの平均値を、平均ベースラインとして算出する平均ベースライン算出ステップと、前記タッチパネルの1水平ラインの各センサについて、取得されたRawdataと前記平均ベースラインとを比較し、前記Rawdataが前記平均ベースラインから一定の距離にあるスレッシュホールド以上である場合にタッチ有りと判定し、前記Rawdataが前記スレッシュホールド以下である場合にタッチなしと判定するタッチ検出処理ステップと、を備えたことを特徴とするタッチパネルのタッチ検出方法。しかしながら、従来技術には、以下のような課題がある。図10に示した従来の薄型のタッチパネルを備えた液晶表示装置では、カラーフィルタ側ガラス基板64が約0.4mmの厚さなので、LCDノイズの発生源である液晶駆動電極63から、タッチパネル10AのセンサITO13までの距離が、約0.4mmとなる。すなわち、図10に示した液晶表示装置では、図9に示した液晶表示装置と比較して、液晶駆動電極63とセンサITO13との距離が近くなる。また、図9に示したシールドITO11が省略されていることから、LCDノイズの影響を受けやすい構成となっている。そのため、薄型のタッチパネル10Aを備えたタッチパネル装置においては、LCDノイズの影響によって、Rawdataが急激に上下する場合がある。このとき、薄型のタッチパネル10Aを備えたタッチパネル装置について、第Mフレーム時間におけるRawdataを例示した図11に表されるように、LCDノイズの影響によってRawdataがスレッシュホールド以下に変動することにより、タッチされているにも関わらず、タッチなしと判定される場合がある。これは、ベースラインデータがLCDノイズの影響によるRawdataの急激な変動に追従できていないことが原因である。図12は、従来の薄型のタッチパネル装置のタッチされているポイントにおけるRawdataの変動を例示する説明図である。ここで、このポイントは、連続してタッチされ続けているものとする。図12において、Rawdataが急激にベースラインデータ以下となった後、次のフレーム時間で、ベースラインデータまたはスレッシュホールド以上となっている点がある。このとき、ベースラインデータは、デクリメントされた後にインクリメントされるか、またはタッチ検出時であるとして更新されないので、ほぼ一定の値を示すこととなる。すなわち、Rawdataが短時間に大きな変動量でベースラインデータの上下を推移する場合には、ベースラインデータがRawdataの急激な変動に追従することができず、ほぼ一定の値を示し続けることとなる。そのため、Rawdataが短時間に大きく下方に変動した場合には、タッチされているにも関わらず、タッチなしと判定される場合がある。したがって、LCDノイズの影響によって誤動作が生じるとともに操作感が低下し、タッチパネル装置のパフォーマンスが低下するという問題があった。また、更新後のベースラインデータは、次回のタッチ検出処理時に使用するために、ベースラインデータ専用に割り当てられたメモリに書き込まれるので、このメモリの容量を、1フレームの全センサ交点分確保する必要があるという問題もあった。この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、LCDノイズの影響を低減することにより、誤動作を防止し、操作感を向上させるとともに、使用メモリを削減することができるタッチパネル装置およびタッチパネルのタッチ検出方法を得ることを目的とする。この発明に係るタッチパネル装置は、静電容量方式のタッチパネルを備えたタッチパネル装置であって、タッチパネルの1水平ラインにおけるRawdataを取得するRawdata取得部と、Rawdata取得部で取得された1水平ラインのRawdataの平均値を、平均ベースラインとして算出する平均ベースライン算出部と、タッチパネルの1水平ラインの各センサについて、取得されたRawdataと平均ベースラインとを比較し、Rawdataが平均ベースラインから一定の距離にあるスレッシュホールド以上である場合にタッチ有りと判定し、Rawdataがスレッシュホールド以下である場合にタッチなしと判定するタッチ検出処理部と、を備えたものである。また、この発明に係るタッチパネルのタッチ検出方法は、静電容量方式のタッチパネルのタッチ検出方法であって、タッチパネルの1水平ラインにおけるRawdataを取得するRawdata取得ステップと、Rawdata取得ステップで取得された1水平ラインのRawdataの平均値を、平均ベースラインとして算出する平均ベースライン算出ステップと、タッチパネルの1水平ラインの各センサについて、取得されたRawdataと平均ベースラインとを比較し、Rawdataが平均ベースラインから一定の距離にあるスレッシュホールド以上である場合にタッチ有りと判定し、Rawdataがスレッシュホールド以下である場合にタッチなしと判定するタッチ検出処理ステップと、を備えたものである。この発明に係るタッチパネル装置およびタッチパネルのタッチ検出方法によれば、Rawdata取得部は、タッチパネルの1水平ラインにおけるRawdataを取得し、平均ベースライン算出部は、Rawdata取得部で取得された1水平ラインのRawdataの平均値を、平均ベースラインとして算出し、タッチ検出処理部は、タッチパネルの1水平ラインの各センサについて、取得されたRawdataと平均ベースラインとを比較し、Rawdataが平均ベースラインから一定の距離にあるスレッシュホールド以上である場合にタッチ有りと判定し、Rawdataがスレッシュホールド以下である場合にタッチなしと判定する。そのため、LCDノイズの影響を低減することにより、タッチパネルの誤動作を防止し、操作感を向上させることができる。また、従来必要であった1フレームの全センサ交点分のメモリを不要とすることにより、使用メモリを削減することができる。以下、この発明に係るタッチパネル装置およびタッチパネルのタッチ検出方法の好適な実施の形態につき図面を用いて説明するが、各図において同一、または相当する部分については、同一符号を付して説明する。実施の形態1.図1は、この発明の実施の形態1に係るタッチパネル装置を示すブロック構成図である。図1において、このタッチパネル装置は、タッチパネル10A、タッチ制御IC20、MCU30Aおよびホストコントローラ50を備えている。タッチパネル10Aは、図10に示した薄型のタッチパネルである。また、タッチパネル10Aの動作、並びにタッチ制御IC20およびホストコントローラ50の構成および動作は、上述した図6のものと同様なので、説明を省略する。MCU30Aは、Rawdata取得部31、平均ベースライン算出部32およびタッチ検出処理部33を有している。なお、MCU30Aは、CPUとプログラムを格納したメモリ1次メモリとを有するマイクロプロセッサ図示せずで構成されており、MCU30Aを構成する各ブロックは、メモリにソフトウェアとして記憶されている。ここで、図2、3を参照しながら、タッチパネル10Aに重畳するLCDノイズについて説明する。図2は、この発明の実施の形態1に係るタッチパネル装置のタッチパネルにおける1水平ライン上のRawdataの取得位置を示す説明図である。また、図3a~cは、図2に示した各取得位置における差分データを示す説明図である。具体的には、図3aは、図2の取得位置NNは整数における差分データRawdata-ベースラインデータを示し、図3bは、図2の取得位置N1における差分データを示し、図3cは、図2の取得位置N2における差分データを示している。この図2、3では、取得位置N2がタッチされている場合について説明する。図2、3において、差分データの変動は、タッチ位置のオフセット成分を除いて考えると、各取得位置で同一の形状となっていることが分かる。すなわち、タッチパネル10Aの1水平ラインについて、タッチパネル10Aに同一のLCDノイズが重畳していることが分かる。したがって、タッチパネル10Aの1水平ライン単位で、LCDノイズの影響を低減することを考える。ここで、上述した図8、11を参照すると、1水平ライン上の各センサのRawdataは、ほぼ同じ値をとっていることが分かる。そこで、タッチパネル10Aの1水平ラインにおけるRawdataの平均値をベースライン以下、平均ベースラインと称するとし、Rawdataと平均ベースラインとの差分データに基づいて、タッチの有無を検出することが考えられる。以下、図4のフローチャートを参照しながら、図1に示したタッチパネル装置のMCU30Aの各部の動作について説明する。まず、Rawdata取得部31は、タッチパネル10Aの1水平ラインにおけるRawdataを取得するステップS1。続いて、平均ベースライン算出部32は、ステップS1で取得された1水平ラインのRawdataの平均値を算出するステップS2。平均ベースライン算出部32は、算出したRawdataの平均値を、1水平ラインの平均ベースラインとしてMCU30A内のメモリ1次メモリに記憶する。なお、この1次メモリは、汎用メモリ領域であって、別途専用に割り当てる必要のない、他でも使用可能なメモリである。このように、従来は、次回のタッチ検出処理時に使用するために、更新後のベースラインデータを、ベースラインデータ専用に割り当てられたメモリ図6のメモリ40に、1フレームの全センサ交点分書き込む必要があったが、算出した平均ベースラインをMCU30A内の1次メモリに記憶することにより、ベースラインデータを次回のタッチ検出処理まで保持する必要がなくなるので、使用メモリを削減することができる。ここで、平均ベースライン算出部32は、隣り合うRawdataの差分がスレッシュホールド以上である場合、すなわちタッチ検出時には、当該Rawdataを平均値の算出から除外する。これにより、タッチ未検出時の基準となる平均ベースラインを高精度に算出することができる。次に、タッチ検出処理部33は、タッチ制御IC20からのRawdataとステップS2で算出した平均ベースラインとに基づいて、タッチパネル10Aの1水平ラインの各センサについてタッチ検出処理を行い、タッチの有無をタッチ検出信号としてホストコントローラ50に出力してステップS3、図4の処理を終了する。具体的には、タッチ検出処理部33は、第MMは整数フレーム時間におけるRawdataを例示した図5に表されるように、Rawdataが平均ベースラインから一定の距離にあるスレッシュホールド以上である場合にタッチ有りと判定し、Rawdataがスレッシュホールド以下である場合にタッチなしと判定する。なお、Rawdata取得部31、平均ベースライン算出部32およびタッチ検出処理部33は、続くサイクルにおいて、次の水平ラインについて、順次図4に示した処理を繰り返し実行する。以上のように、実施の形態1によれば、Rawdata取得部は、タッチパネルの1水平ラインにおけるRawdataを取得し、平均ベースライン算出部は、Rawdata取得部で取得された1水平ラインのRawdataの平均値を、平均ベースラインとして算出し、タッチ検出処理部は、タッチパネルの1水平ラインの各センサについて、取得されたRawdataと平均ベースラインとを比較し、Rawdataが平均ベースラインから一定の距離にあるスレッシュホールド以上である場合にタッチ有りと判定し、Rawdataがスレッシュホールド以下である場合にタッチなしと判定する。そのため、LCDノイズの影響を低減することにより、タッチパネルの誤動作を防止し、操作感を向上させることができる。また、従来必要であった1フレームの全センサ交点分のメモリを不要とすることにより、使用メモリを削減することができる。