第1の発光体モジュールと第1の検出信号を生成するのに適した第1の検出器モジュールD1とを備えた第1のセルと、該第1の発光体モジュールを監視するための第1の監視信号を生成するのに適した第2の検出器モジュールを備えた第2のセルと、該第1の監視信号によって該第1の検出信号を重み付けすることによって第1の測定信号を生成するための制御回路と、を備え、該第2のセルは、第2の発光体モジュールを有し、該第2の検出器モジュールD2は、第2の検出信号を生成するのに適し、該第1の検出器モジュールは、該第2の発光体モジュールを監視するための第2の監視信号を生成するのに適する光学プローブ。該第1及び第2のセルのそれぞれは、有効面を有する密閉体の形状である請求項1に記載の光学プローブ。該第1及び第2のセルのそれぞれは、その有効面に設置されたそれぞれのウィンドウの後ろに配置された請求項2に記載の光学プローブ。該第1及び第2の検出器モジュールD1、D2のそれぞれは、対応するウィンドウに隣接するそれぞれの部分反射板の後ろに配置された請求項3に記載の光学プローブ。該第1及び第2の検出器モジュールD1、D2が同一である請求項4に記載の光学プローブ。該第1及び第2のセルは、接続手段によって接続され、該第1及び第2のセルの有効面は互いに向き合っている請求項5に記載の光学プローブ。該第1の測定信号が、該第1の検出信号を該第1の監視信号で除した比に等しい請求項1から6のいずれかに記載の光学プローブ。該制御回路がメモリに基準測定値Qr、基準吸収値Ar、及び特性長Lcを、自然対数を示すLn項とともに格納し、該制御回路は式によって導かれる吸収値Amを生成する請求項7に記載の光学プローブ。該制御回路が温度補償を備えた請求項8に記載の光学プローブ。該温度補償が、2個の定数K1及びK2、キャリブレーション温度θ0及び測定が行われる温度θによって、式を使用して実施される請求項9に記載の光学プローブ。該第1及び第2の発光体モジュールの一方は、部分反射板を介して向き合う検出器モジュールを照射する2個の光源SEa、SEbを含む請求項1から10のいずれかに記載の光学プローブ。本発明の目的は、2個のセルによって、複数の波長において吸収を測定することができるようにする光学プローブを提供することである。本発明によれば、光学プローブは、第1の発光体モジュールと第1の検出信号を生成するのに適した第1の検出器モジュールとを備えた第1のセルと、該第1の発光体モジュール監視するための第1の監視信号を生成するのに適した第2の検出器モジュールを備えた第2のセルと、該第1の監視信号によって該第1の検出信号を重み付けすることによって第1の測定信号を生成するための制御回路と、を備える。さらに、該第2のセル、第2の発光体モジュールを有し、該第2の検出器モジュールは、第2の検出信号を生成するのに適し、該第1の検出器モジュールは、該第2の発光体モジュールを監視するための第2の監視信号を生成するのに適する。通常、該第1及び第2のセルのそれぞれは、有効面を有する密閉体の形状である。該第1及び第2のセルのそれぞれは、その有効面に設置されたそれぞれのウィンドウの後ろに配置されるのが有利である。追加の特徴によれば、該第1及び第2の検出器モジュールのそれぞれは、対応するウィンドウに隣接するそれぞれの部分反射板の後ろに配置されている。該第1及び第2の検出器が同一であるのが好ましい。さらに、該第1及び第2のセルは、接続手段によって接続され、該第1及び第2のセルの有効面は互いに向き合っている。たとえば、該第1の測定信号Qmは、検出信号を監視信号で除した比に等しい。該制御回路がメモリに基準測定値Qr、基準吸収値Ar、及び特性長Lcを、自然対数を示すLn項とともに格納し、該制御回路は式によって導かれる吸収値Amを生成するのが有利である。該制御回路が温度補償を備えているのが好ましい。たとえば、該温度補償は、2個の定数K1及びK2、キャリブレーション温度θ0及び測定が行われる温度θによって、式を使用して実施される。変形例において、該第1及び第2の発光体モジュールの一方は、部分反射板を介して向き合う検出器モジュールを照射する2個の光源を含む。本発明は、説明及び添付の図面の参照によって与えられる実施形態の以下の記述によって、さらに詳細に示される。複数の図に存在する部品は、それぞれの図において同じ符号で示される。図1を参照すると、光学プローブは、2個の別個の部品、第1のセルC1及び第2のセルC2の形態をなす。本例において、2個のセルのそれぞれは、シリンダー体形状である。2個のセルは、上部バーL1及び下部バーL2の形態をなす接続手段によってともに接続される。この接続は、両方のシリンダー体が同一の軸を共有するように実施される。2個のシリンダー体の向き合う面は、以下において、それらの有効面と呼称する。分析される媒体は、当然、これらの2個の有効面の間で検出される。図2aを参照すると、第1のオプションにおいて、第1のセルC1は、第1の発光体モジュールLED1、たとえば、発光ダイオードLED、及び第1の検出器モジュールD1を備える。これらの2個の第1のモジュールLED1及びD1は、第1のセルC1の有効面を実現する第1のウィンドウH1の後ろに配置される。光源の性質に応じて、光源とウィンドウH1との間にバンドパスフィルタを備えるのが必要な場合もある。発光体モジュールが比較的狭い発光スペクトルを示すLEDであれば、フィルタは必ずしも必要ではない。第1の検出器モジュールは、第1の発光体モジュールLED1の近傍において、第1のウィンドウH1の後ろに配置される第1の検出器D1を有する。第1の部分反射板PR1が、第1のウィンドウH1及び第1の検出器D1の間に置かれる。この部分反射板は、ウィンドウに組み込んでもよい。同様に、第2のセルC2は、第2の発光体モジュールLED2と第2の検出器モジュールD2とを備える。これらの2個の第2のモジュールLED2及びD2は、第2のセルC2の有効面を実現する第2のウィンドウH2の後ろに配置される。第2の検出器モジュールは、第2の発光体モジュールLED2の近傍において、第2のウィンドウH2の後ろに配置される第2の検出器D2を有する。第2の部分反射板PR2が、第2のウィンドウH2及び第2の検出器D2の間に置かれる。分析用の媒体は流体であるので、セルC1及びC2は、当然に密閉される。セルC1及びC2のそれぞれは、それらの有効面と反対側の端部に壁を備える。以上の記載において、これらのセルの本体は、分析に使用される放射を通さないことが暗に仮定されている。本発明は、本体が放射に対して透明である場合にも適用されるので、本体が放射を通さないことは、本発明の限定とみなされるべきではない。ウィンドウという用語は、広く、すなわち透明な面として、理解されるべきであることが理解できる。プローブの性能を最適化するために、第2の検出器D2は、第1の検出器D1と同一であるのが好ましい。同様に、2個のウィンドウは、同じ種類のものである。プローブの機械的な配置は、第1の発光体モジュールLED1からの光ビームが、第1のウィンドウH1、分析用の媒体、及び第2のウィンドウH2を順次通過するようなものである。この光ビームは、つぎに第2の部分反射板PR2に到達する。光ビームの一部は、第2の部分反射板PR2を透過して第2の検出器D2に到達し、他方、光ビームの一部は、第2の部分反射板PR2に反射されて第1のウィンドウH1に到達し、最終的には、第1の部分反射板PR1を通過し、第1の検出器D1に到達する。同様に、第2の発光体モジュールLED2からの光ビームは、第2のウィンドウH2、分析用の媒体、及び第1のウィンドウH1を順次通過する。この光ビームは、つぎに第1の部分反射板PR1に到達する。光ビームの一部は、第1の部分反射板PR1を透過して第1の検出器D1に到達し、他方、光ビームの一部は、第1の部分反射板PR1に反射されて第2のウィンドウH2に到達し、最終的には、第2の部分反射板PR2を通過し、第1の検出器D2に到達する。本例において、ウィンドウH1及びH2は、プローブの軸にほぼ垂直である。この構成によって、検出器をプローブの軸に平行に配置し、発光体モジュールをプローブの軸に対して傾けることにより、発光体モジュールLED1及びLED2の両方を使用して検出器D1及びD2の両方を照射することが可能となる。このように、第2の検出器D2は、第1の発光体モジュールLED1を第1の検出器D1へ接続する光路上に存在する。同様に、第1の検出器D1は、第2の発光体モジュールLED2を第2の検出器D2へ接続する光路上に存在する。つぎに、図3を参照しながら、光学プローブの電気回路、及び、第1の発光体モジュールLED1のみが作動状態にあるとして、第1の検出器D1の受光帯域において吸収を測定する方法について説明する。制御回路CCは、第1の検出器D1からの第1の検出信号DS1、及び第2の検出器D2からの第1の監視信号MS1を受け取る。制御回路CCは、吸収係数Aまたは該吸収係数を得ることを可能にするすべての中間値を生成する。以下において、下記の符号を使用する。I0第1の発光体モジュールLED1によって放出される強度I1第1の検出信号DS1によって表される、第1の検出器D1によって受け取られる強度I2第1の監視信号MS1によって表される、第2の検出器D2によって受け取られる強度R第2のウィンドウH2の反射係数T第2のウィンドウH2の透過係数G2第1の発光体モジュールLED1と第2のウィンドウH2との間の減衰係数G1第1の発光体モジュールLED1と第1のウィンドウH1との間の減衰係数Lc2個のウィンドウH1及びH2の間の距離A吸収係数、より詳細には、制御回路CCに格納される基準媒体における吸収係数Arと分析用媒体における吸収係数Amexp指数関数Ln自然対数減衰係数は、検出器が、検出器に向けて放出される光束の全てを受け取ることはないとの事実を考慮している。減衰係数は、このように、幾何学的な問題に依存し、吸収係数とは独立したものである。他方、吸収係数は、分析される媒体の物理化学的性質に依存する。第2の検出器によって受け取られる強度は、以下の式によって与えられる。第1の検出器によって受け取られる強度は、以下の式によって与えられる。プローブの感度を最適化するためには、強度I2及びI1が同様の大きさとなるように第2のウィンドウH2を設計するということを、ここで強調すべきである。このウィンドウによる部分的な反射は、種々の方法、特に、以下の少なくとも一つによって得られる。微細な厚さの金属の被覆市松模様、列状などに配置された開口部を有する、不透明で反射性の金属の層中央開口を有するミラー誘電体ミラーウィンドウの一部を覆うミラー測定値Qは、第1の検出器D1によって受けたられる強度を第2の検出器D2によって受けたられる強度で除した比として定義される。項は、Kと記載することのできる定数である。2個のウィンドウH1及びH2の間の距離Lcのみが含まれることがわかる。したがって、この距離は、光学プローブの特性長である。この特性長Lcは、制御回路CCに格納される。基準媒体におけるキャリブレーションによって、基準測定値Qrが得られる。この基準測定値も制御回路CCに格納される。分析用媒体における測定によって測定値信号Qmが得られる。上記から以下の式が導かれる。制御回路は、求める吸収係数Amを生成する。分析用媒体の吸収係数Amを得るために他の手段を利用することもできる。たとえば、基準測定値Qrに対する測定値信号Qmの比を直接計算することもできる。そこで式1及び2は等価であり、本発明は、上述の原理から導かれるいずれの解法にも適用される。キャリブレーションと測定自体は、同一の温度で実施されないということを考慮するために、オプションとして温度補償を行ってもよい。強度は、温度θの関数として線形に変化し、この変化は、4個の定数α、β、χ及びδによって定量化されると仮定する。ここで、θは、と同じである。第2の検出器D2によって受け取られる強度は、によって得られる。第1の検出器によって受け取られる強度は、によって得られる。測定値Qθは、常に、第1の検出器D1によって受け取られる強度の、第2の検出器D2によって受け取られる強度に対する比を与える。キャリブレーションは、キャリブレーション温度θ0における、公知の吸収の基準媒体において実施される。温度θにおける、分析用媒体における測定によって、測定値信号Qmθが得られる。上記から以下の式が導かれる。定数β/α及びδ/χは実験的に定める。温度によって吸収が変化しない液体に対して、温度θの関数としての、第1の検出器D1によって受け取られる強度I1θの特性は、2個の定数a及びbによって定められる。式4と上記の式を使用して、以下の式が導かれる。比K1=β/αは、上記から簡単に導かれ、比b/aに等しい。比K2=δ/χを得るために、温度θの関数としての、第2の検出器D2によって受け取られる強度I2θの特性を定めるのに、同様の手順が使用される。温度変化を特徴づけるこれらの2個の比K1及びK2は、キャリブレーション温度θ0とともに制御回路CCに格納される。さらに、センサは、測定が行われる温度θの情報を制御回路CCに与える。当業者は、2個のセルC1及びC2が対称であることに気付く。したがって、第2の発光体モジュールのみが作動状態にあると仮定して、第2の検出器D2の受信帯域における吸収をどのように測定するかを詳細に説明する必要はない。各検出器における吸収を測定するために、検出器に対して両方の発光体モジュールが同時に動作するのを避ける必要がある。第1の解決策は、発光体モジュールを順次作動させることである。第2の解決策は、発光体モジュールを2個の異なる周波数で変調することである。それぞれが、2個の周波数のそれぞれに同調された検出器は、同時検出を実施するのに使用される。これは、当業者にはよく知られた技術である。一般的に、検出器は、2個の別個の波長に合わせられる。検出器が、同じスペクトル応答を有し、冗長性が生成される場合にも本発明は適用される。図2bを参照すると、第2のオプションとして、プローブの軸に対してウィンドウH1及びH2を傾け、2個の検出器D1及びD2ならびに2個の発光体モジュールLED1及びLED2を該軸に平行に配置することによって、所望の幾何学的構成が得られる。図2aを参照しながらなされた説明は、修正することなくあてはまる。図4を参照すると、スペクトルの範囲をさらに増加させることを可能にするプローブの変形例が記載されている。第1のセルは、図2bを参照しながら記載された第2のオプションと同様に配置される。第2のセルは、上述のものと同一の第2の検出器モジュールを備えるが、第2の発光体モジュールは異なる。これらの2個のモジュールは、第2のウィンドウH2の後ろに配置される。この変形例における第2の発光体モジュールは、半透過板SRを照射する第1及び第2の光源SEa及びSEbから構成される。幾何学的な構成は以下のとおりである。第1の光源SEaからのビームは、半透過板SRを通過して、第1の検出器D1に到達し、第2の光源SEbからのビームは、半透過板SRで反射されて同様に第1の検出器D1に至る。一般的に、2個の光源は、2個の別個の波長に合わせられる。2個の光源が同じスペクトルを発光し、2個の光源の一方の故障の影響を軽減することを可能にする場合にも適用される。2個の光源が、2個の別個の波長に合わせられる場合には、2個の光源を同時に使用することを避ける必要がある。本発明の光学プローブは、肝要な媒体の光学特性を、基準媒体の光学特性と比較することによって、吸収を測定する。監視セルが、背景技術で述べた種々のドリフトに影響されるのを避けることができるので、キャリブレーションは、プローブを動作させる前に1回行われる。キャリブレーションは、安全上の理由のみにより、オプションとして時々実施してもよい。本発明のさらなる利点は、両方のセルが同一であってもよいことである。このことにより、プローブのサブアセンブリの数が非常に少なくなり、製造が簡略化される。上述の本発明の実施形態は、具体的な性質の故に選択されたものである。しかしながら、本発明によってカバーされる実施形態を網羅的に挙げることは可能ではない。特に、記載されたどのような手段も、本発明の範囲を超えることなく、等価な手段と置き換えることができる。