"ガラス基板の不均一度測定システムにおいて、第1光を上記ガラス基板に照射する光源部,及びスクリーンを含み、上記光源部から照射された第1光は上記ガラス基板の上面及び下面で反射され、上記ガラス基板の上面によって反射された第1反射光が上記スクリーンに入射されて第1帯を形成し、上記ガラス基板の下面によって反射されて上記上面を通じて出力された第2反射光が上記スクリーンに入射されて第2帯を形成し、上記第1帯と上記第2帯が分離されて形成されるように上記光源部及び上記スクリーンが上記ガラス基板を基準として配列されることを特徴とするガラス基板の不均一度測定システム。上記不均一度測定システムは、上記スクリーンに形成された帯を感知する感知部,及び上記感知部によって感知された帯のうち上記第1帯のみを分離し、上記分離された第1帯を分析して上記ガラス基板の不均一度を測定する不均一度測定部をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のガラス基板の不均一度測定システム。上記光源部は、第2光を出力する光源,上記光源から照射された第2光を拡散する第1レンズ,及び上記第1レンズによって拡散された第2光を一定の線幅を有する第1光として出力させる第2レンズを含むことを特徴とする請求項1に記載のガラス基板の不均一度測定システム。上記光源、上記第1レンズ及び上記第2レンズは1つのケース内に含まれて具現され、上記ケースは全方向に動き可能であるように具現され、上記不均一度測定システムは、上記ガラス基板及び上記スクリーンを固定させた状態で、上記ケースを動かして上記帯が分離される最適な位置を検出し、上記ケースを上記検出された位置に固定させることを特徴とする請求項3に記載のガラス基板の不均一度測定システム。上記光源部と上記ガラス基板間の距離と、上記ガラス基板から上記スクリーンのうち上記第1帯が形成される部分までの距離の比は1:1~1:0.5であり、上記光源部は上記ガラス基板を基準として45°~80°の範囲に位置することを特徴とする請求項4に記載のガラス基板の不均一度測定システム。上記光源部と上記ガラス基板間の距離が60mm~120mmであり、上記光源部が上記ガラス基板を基準として45°~80°の範囲に位置する状態で、上記ガラス基板から上記スクリーンのうち上記第1帯が形成される部分までの距離が60mm以下の場合には、上記帯が相互分離されて形成されることを特徴とする請求項4に記載のガラス基板の不均一度測定システム。上記第2レンズと上記ガラス基板間の距離が固定された状態で、上記ガラス基板と上記光源部の間の角度が増加するほど上記ガラス基板と上記スクリーン間の距離が近くなることを特徴とする請求項4に記載のガラス基板の不均一度測定システム。ガラス基板の不均一度測定システムにおいて、特定光を出力する光源,及び少なくとも1つのスリットを有するスリット部を含み、上記光源から出力された光は上記スリット部のスリットを通じて上記ガラス基板に照射され、上記ガラス基板に照射された光は上記ガラス基板の上面及び下面で反射され、上記ガラス基板の上面によって反射された第1反射光に該当する第1帯と、上記ガラス基板の下面によって反射されて上記上面を通じて出力される第2反射光に該当する第2帯が分離されて配列されることを特徴とするガラス基板の不均一度測定システム。上記不均一度測定システムは、上記第1帯及び上記第2帯を感知する感知部,及び上記感知部によって感知された帯のうち上記第1帯のみを分離し、上記分離された第1帯を分析して上記ガラス基板の不均一度を測定する不均一度測定部をさらに含み、上記感知部は上記ガラス基板を直接撮影して上記帯を感知することを特徴とする請求項8に記載のガラス基板の不均一度測定システム。上記不均一度測定システムは、上記第1反射光及び上記第2反射光が入射されるスクリーン,感知部,及び不均一度測定部をさらに含み、上記スクリーンには上記第1反射光に該当する上記第1帯及び上記第2反射光に該当する第2帯が形成され、上記感知部は上記帯を感知し、上記不均一度測定部は上記感知部によって感知された帯のうち上記第1帯のみを分離及び分析して上記ガラス基板の不均一度を測定することを特徴とする請求項8に記載のガラス基板の不均一度測定システム。ガラス基板の不均一度を測定する方法において、第1光を上記ガラス基板に照射する段階,及び上記第1光が照射されることによって、上記ガラス基板の上面によって反射された第1反射光に該当する第1帯と上記ガラス基板の下面によって反射されて上記上面を通じて出力される第2反射光に該当する第2帯のうち少なくとも1つを感知する段階を含み、上記第1帯と上記第2帯は相互分離されて形成されることを特徴とするガラス基板の不均一度測定方法。上記不均一度測定方法は、上記第1帯と上記第2帯のうち上記第1帯のみを分離する段階,及び上記分離された第1帯を分析して上記ガラス基板の不均一度を測定する段階をさらに含むことを特徴とする請求項11に記載のガラス基板の不均一度測定方法。上記ガラス基板に照射する段階は、第2光を第1レンズを用いて拡散する段階,及び上記拡散された第2光を第2レンズを用いて一定の線幅を有する第1光に変化させ上記ガラス基板に照射する段階を含み、上記ガラス基板の上面から反射された第1光はスクリーンに入射されて上記第1帯を形成し、上記ガラス基板の下面から反射された第2光は上記スクリーンに入射されて上記第2帯を形成することを特徴とする請求項12に記載のガラス基板の不均一度測定方法。上記光源、上記第1レンズ及び上記第2レンズは1つのケース内に含まれて具現され、上記ケースは全方向に動き可能であるように具現され、上記不均一度測定方法は、上記ガラス基板及び上記スクリーンを固定させた状態で上記帯が分離されるまで上記ケースを動かす段階,及び上記帯が分離された後上記ケースを固定する段階をさらに含み、上記ガラス基板の不均一度を測定する時は上記光源部及び上記スクリーンを固定させた状態で上記不均一度を測定することを特徴とする請求項13に記載のガラス基板の不均一度測定方法。上記第2レンズと上記ガラス基板間の距離と、上記ガラス基板から上記スクリーンのうち上記第1帯が形成される部分までの距離の比は1:1~1:0.5であり、上記光源は上記ガラス基板の上面を基準として45°~80°の範囲に位置することを特徴とする請求項13に記載のガラス基板の不均一度測定方法。上記第2レンズと上記ガラス基板間の距離が60mm~120mmであり、上記光源が上記ガラス基板の上面を基準として45°~80°の範囲に位置した状態で、上記ガラス基板から上記スクリーンのうち上記第1帯が形成される部分までの距離が60mm以下の場合には、上記帯が相互分離されて形成されることを特徴とする請求項13に記載のガラス基板の不均一度測定方法。上記感知する段階は、上記ガラス基板を直接撮影して上記第1帯及び上記第2帯を感知する段階を含み、上記光源から出力された第1光は少なくとも1つのスリットを有するスリット部を通じて上記ガラス基板に照射されることを特徴とする請求項12に記載のガラス基板の不均一度測定方法。上記第1反射光と上記第2反射光はスクリーンに入射されてそれぞれ上記第1帯及び上記第2帯を形成し、上記光源から出力された第1光は少なくとも1つのスリットを有するスリット部を通じて上記ガラス基板に照射されることを特徴とする請求項12に記載のガラス基板の不均一度測定方法。本発明は前記のような点に鑑みてなされたものであって、本発明の目的は、下面の処理過程なしに、ガラス基板自体で不均一度を測定するシステム及び方法を提供するものである。本発明の他の目的は、ガラス基板の上面及び下面から反射された反射光のうち上面から反射された反射光のみを用いて、ガラス基板の不均一度を測定するシステム及び方法を提供するものである。上述した目的を達成するために、本発明の一態様によるガラス基板の不均一度測定システムは、第1光を上記ガラス基板に照射する光源部,及びスクリーンを含む。ここで、上記光源部から照射された第1光は上記ガラス基板の上面及び下面で反射され、上記ガラス基板の上面によって反射された第1反射光が上記スクリーンに入射されて第1帯を形成し、上記ガラス基板の下面によって反射され上記上面を通じて出力された第2反射光が上記スクリーンに入射されて第2帯を形成し、上記第1帯と上記第2帯が分離されて形成されるように上記光源部及び上記スクリーンが上記ガラス基板を基準として配列される。上記不均一度測定システムは、上記スクリーンに形成された帯を感知する感知部,及び上記感知部によって感知された帯のうち上記第1帯のみを分離し、上記分離された第1帯を分析して上記ガラス基板の不均一度を測定する不均一度測定部をさらに含む。上記光源部は、第2光を出力する光源,上記光源から照射された第2光を拡散する第1レンズ,及び上記第1レンズによって拡散された第2光を一定の線幅を有する第1光として出力させる第2レンズを含む。上記光源、上記第1レンズ及び上記第2レンズは、1つのケース内に含まれて具現され、上記ケースは全方向に動き可能であるように具現される。ここで、上記不均一度測定システムは、上記ガラス基板及び上記スクリーンを固定させた状態で上記ケースを動かして上記帯が分離される最適な位置を検出し、上記ケースを上記検出された位置に固定させる。上記光源部と上記ガラス基板間の距離と、上記ガラス基板から上記スクリーンのうち上記第1帯が形成される部分までの距離の比は1:1~1:0.5であり、上記光源部は、上記ガラス基板を基準として45°~80°の範囲に位置する。上記光源部と上記ガラス基板間の距離が60mm~120mmであり、上記光源部が上記ガラス基板を基準として45°~80°の範囲に位置する状態で、上記ガラス基板から上記スクリーンのうち上記第1帯が形成される部分までの距離が60mm以下の場合には、上記帯が相互分離されて形成される。上記第2レンズと上記ガラス基板間の距離が固定された状態で、上記ガラス基板と上記光源部の間の角度が増加するほど上記ガラス基板と上記スクリーン間の距離は近くなる。本発明の他の態様によるガラス基板の不均一度測定システムは、特定光を出力する光源,及び少なくとも1つのスリットを有するスリット部を含む。ここで、上記光源から出力された光は、上記スリット部のスリットを通じて上記ガラス基板に照射され、上記ガラス基板に照射された光は、上記ガラス基板の上面及び下面で反射され、上記ガラス基板の上面によって反射された第1反射光に該当する第1帯と上記ガラス基板の下面によって反射され上記上面を通じて出力される第2反射光に該当する第2帯が分離されて配列される。上記不均一度測定システムは、上記第1帯及び上記第2帯を感知する感知部,及び上記感知部によって感知された帯のうち上記第1帯のみを分離し、上記分離された第1帯を分析して上記ガラス基板の不均一度を測定する不均一度測定部をさらに含む。ここで、上記感知部は、上記ガラス基板を直接撮影して上記帯を感知する。上記不均一度測定システムは、上記第1反射光及び上記第2反射光が入射されるスクリーン,感知部,及び不均一度測定部をさらに含む。ここで、上記スクリーンには上記第1反射光に該当する上記第1帯及び上記第2反射光に該当する第2帯が形成され、上記感知部は上記帯を感知し、上記不均一度測定部は上記感知部によって感知された帯のうち上記第1帯のみを分離及び分析して上記ガラス基板の不均一度を測定する。本発明の他の態様によるガラス基板の不均一度を測定する方法は、第1光を上記ガラス基板に照射する段階,及び上記第1光が照射されることによって上記ガラス基板の上面によって反射された第1反射光に該当する第1帯と、上記ガラス基板の下面によって反射され上記上面を通じて出力される第2反射光に該当する第2帯のうち少なくとも1つを感知する段階を含む。ここで、上記第1帯と上記第2帯は、相互分離されて形成される。上記不均一度測定方法は、上記第1帯と上記第2帯のうち上記第1帯のみを分離する段階,及び上記分離された第1帯を分析して上記ガラス基板の不均一度を測定する段階をさらに含む。上記ガラス基板に照射する段階は、上記第1光を第1レンズを用いて拡散する段階,及び上記拡散された第1光を第2レンズを用いて一定の線幅を有する第2光に変化させ上記ガラス基板に照射する段階を含む。ここで、上記ガラス基板の上面から反射された第2光はスクリーンに入射されて上記第1帯を形成し、上記ガラス基板の下面から反射された第2光は上記スクリーンに入射されて上記第2帯を形成する。上記光源、上記第1レンズ及び上記第2レンズは1つのケース内に含まれて具現され、上記ケースは全方向に動き可能であるように具現される。上記不均一度測定方法は、上記ガラス基板及び上記スクリーンを固定させた状態で上記帯が分離されるまで上記ケースを動かす段階,及び上記帯が分離された後上記ケースを固定する段階をさらに含む。ここで、上記ガラス基板の不均一度を測定する時は、上記光源部及び上記スクリーンを固定させた状態で上記不均一度を測定する。上記第2レンズと上記ガラス基板間の距離と、上記ガラス基板から上記スクリーンのうち上記第1帯が形成される部分までの距離の比は1:1~1:0.5であり、上記光源は、上記ガラス基板の上面を基準として45°~80°の範囲に位置する。上記第2レンズと上記ガラス基板間の距離が60mm~120mmであり、上記光源が上記ガラス基板の上面を基準として45°~80°の範囲に位置した状態で、上記ガラス基板から上記スクリーンのうち上記第1帯が形成される部分までの距離が60mm以下の場合には、上記帯が相互分離されて形成される。上記感知する段階は、上記ガラス基板を直接撮影して上記第1帯及び上記第2帯を感知する段階を含む。ここで、上記光源から出力された第1光は、少なくとも1つのスリットを有するスリット部を通じて上記ガラス基板に照射される。上記第1反射光と上記第2反射光は、スクリーンに入射されそれぞれ上記第1帯及び上記第2帯を形成する。ここで、上記光源から出力された第1光は、少なくとも1つのスリットを有するスリット部を通じて上記ガラス基板に照射される。本発明によるガラス基板の不均一度測定システム及び方法は、下面を特定の方法で処理することがなくガラス基板自体を用いてガラス基板の不均一度を測定するため、不均一度測定のための時間及び費用を低減することができ、測定過程を自動化することが容易な長所がある。また、不均一度測定システム及び方法は、ガラス基板の上面によって反射された第1反射光に該当する第1帯とガラス基板の下面によって反射された第2反射光に該当する第2帯を明確に分離させた後、第1帯を分析するため、不均一度測定システム及び方法はガラス基板の不均一度を正確に測定できる。さらに、本発明の不均一度測定システムは、簡単な構成要素だけで具現できるので、システムを構築することが容易であり、システムのエラーを減らすことができる。以下では、添付の図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。図2は、本発明の一実施例によるガラス基板の反射形態を示した断面図である。本発明のガラス基板の不均一度測定システムは、ガラス基板200の表面の不均一度、望ましくは上面200aの不均一度を測定するシステムである。ここで、ガラス基板200はディスプレイ素子に用いられる透明基板であって、例えば液晶表示素子LiquidCrystalDisplay、LCDに用いられるベース基板である。以下、ガラス基板200の光反射特性を詳察し、その後ガラス基板の不均一度測定システムを詳察する。まず、ガラス基板200における光反射特性を説明する。図2を参照すると、光源図示せずから出力された特定の波長を有する光210がガラス基板200に入射される場合、入射された光210のうち一部はガラス基板200の上面200aによって反射され、他の一部はガラス基板200の下面200bによって反射される。結果的に、光210がガラス基板200に入射されると、ガラス基板200の上面200aによって第1反射光212及びガラス基板200の下面200bによって反射され上面200aを通じて出力される第2反射光214が発生する。一般的に、ガラス基板200の上面200a及び下面200bが均一であると、光210のうち一部はガラス基板200の上面200aで同一の入射角θと反射角θを有して反射し、下面200bによって反射した第2反射光214は第1反射光212と平行に進行される。一方、ガラス基板200の上面200aまたは下面200bが不均一であると、このような現象が同じように発生しない場合があるが、ガラス基板200の上面200a及び下面200bによって第1反射光212及び第2反射光214が発生するという事実には変わりはない。一般的にディスプレイ素子を製造する工程では、レイヤlayersがガラス基板200の上面200a上にスパッタリングsputtering方法などを通じて積層されるため、基板200の上面200aの不均一度を測定することが重要である。しかし、光210をガラス基板200に照射する場合、上面200aによって反射された第1反射光212だけでなく下面200bによって反射された第2反射光214が発生するため、上面200aの不均一度を測定することが容易ではなかった。特に、第2反射光214が第1反射光212と干渉を起こすため、第1反射光212のみを分離することが難しかった。従って、本発明はガラス基板200の下面200bによって反射される第2反射光214の存在を認めながら第2反射光214が第1反射光212に干渉を起こさない方法を提案する。以下、本発明のガラス基板の不均一度測定システム及び方法を添付の図面を参照して説明する。図3は、本発明の第1実施例によるガラス基板の不均一度測定システムを概略的に示した図面である。図3を参照すると、光源部300は、特定の波長を有する光210を出力してガラス基板200に照射し、照射された光210は、ガラス基板200の上面200a及び下面200bによって反射され第1反射光212及び第2反射光214が出力される。ここで、光210は、一定の線幅を有して、可視光線、紫外線または赤外線であってもよい。本発明の一実施例によると、光源部300は、レーザを用いて光210を出力することができ、後述するようにレンズを用いて一定の線幅の光210を出力することもできる。ガラス基板200によって反射された第1反射光212及び第2反射光214は、ガラス基板200の上部に位置するスクリーン302に入射される。ここで、スクリーン302は不透明材質からなり、その結果第1反射光212に該当する干渉縞である第1帯310と、第2反射光214に該当する干渉縞である第2帯312がスクリーン302上に形成される。ただし、本実施例の不均一度測定システムは、第1帯310と第2帯312が視覚的に分離されて形成されるように上記システムの構成要素を配列させる。これに関する詳細な説明は後述する。続いて、上記不均一度測定システムは、帯310及び312のうち第1帯310のみを分離してガラス基板200の不均一度を測定する。この過程で、第1帯310と第2帯312が明確に分離されているため、上記システムが第1帯310に関する情報のみを得るのが容易である。要するに、本実施例のガラス基板の不均一度測定システムは、ガラス基板200の不均一度を正確に測定するために、第1反射光212に該当する第1帯310と第2反射光214に該当する第2帯312を明確に分離し、その後第1帯310のみを用いてガラス基板200の不均一度を測定する。以下、第1帯310と第2帯312を分離する方法及び多様な不均一度測定方法を添付の図面を参照して詳述する。図4は、図3のガラス基板の不均一度測定システムを具体的に示した図面であり、図5は、本発明の一実施例による光源部の構造を示した図面である。図6は、帯の形態を示した図面である。図4を参照すると、本実施例の不均一度測定システムは、光源部300、スクリーン302、感知部400及び不均一度測定部402を含む。光源部300は、特定波長の光を出力する素子であって、例えば一定の線幅を有する第1光210例:可視光線をガラス基板200に照射する。本発明の一実施例によると、光源部300は、図5に示すように光源500、第1レンズ502及び第2レンズ504からなる。光源500は、例えば発光ダイオードを用いるレーザであり、可視光線、紫外線または赤外線を出力する。第1レンズ502は、光源500から出力された光520を拡散させる役割をし、第2レンズ504は、拡散された光522を一定の線幅を有する第1光210として変化させる。ここで、第2レンズ504はシリンドリカルレンズCylindricalLensが該当する。結論として、光源部300は一定の線幅を有する第1光210を出力することができる。本発明の一実施例によると、光源部300の構成要素、即ち光源500、第1レンズ502及び第2レンズ504は、図5に示したように1つのケース510内に含めて具現することができる。ただし、光源部300の構成要素500、502及び504が一旦ケース510内に設けられた後は、光源部300の構成要素500、502及び504は個別に制御されず後述するように一体として動くように制御される。即ち、ケース510を上下左右に動かすことができる。このような構造の光源部300は、図4に示したようにガラス基板200を基準として所定角度ガラス基板200の表面と光源部300間の角度、θ1及び離隔距離aを有して設けられる。本発明の一実施例によると、角度θ1及び離隔距離aのうち少なくとも1つは後述するように相互分離された帯310及び312を得るために可変することができる。これに関する詳細な説明は後述する。スクリーン302は、反射光212及び214に該当する像が結ばれる部分、即ち帯310及び312が形成される部分であって、ガラス基板200から所定距離bだけ離隔された状態で配列される。感知部400は、スクリーン302に形成された帯310及び312を感知し、例えばカメラとして帯310及び312を撮影しイメージを獲得する。ここで、感知部400がスクリーン302に形成された帯310及び312のイメージが獲得できさえすれば、感知部400の設置位置及び方向は特に制限されない。本発明の他の実施例によると、感知部400は、スクリーン302に形成された帯310及び312のうち第1帯310に関するイメージのみを獲得することもできる。ただし、帯310及び312のイメージを獲得し、獲得されたイメージから第1帯310に関する情報のみを分離する過程が、第1帯310に関するイメージのみを獲得して分析する過程より容易であるため、帯310及び312に関するイメージを獲得することが望ましい。不均一度測定部402は、第1帯310の分析を通じてガラス基板200の不均一度を測定する不均一度判断部410を含む。具体的には、不均一度判断部410は、感知部400と有線または無線で連結され感知部400から帯310及び312に関するイメージを受信し、イメージから第1帯310に関する情報のみを分離させる。ここで、第1帯310は散乱縞としてガラス基板200の不良に関する情報を含んでいるため、不均一度判断部410は第1帯310の分析を通じてガラス基板200の不均一度を測定できる。図4には示さなかったが、不均一度測定部402は1つのコンピュータで具現することができ、管理者に測定結果を提供するためにディスプレイ部などをさらに含む。また、コンピュータは不均一度測定だけでなく、光源部300及びスクリーン302の動きを制御することもできる。要するに、本実施例のガラス基板の不均一度測定システムは、相互分離されて形成された帯310及び312に関するイメージを獲得し、イメージのうち第1帯310のみを分離及び分析してガラス基板200の不均一度を正確に測定する。上述したように、ガラス基板200の不均一度を正確に測定するためには、帯310及び312が明確に分離し形成されることが必須である。従って、本実施例の不均一度測定システムは、相互分離された帯310及び312を獲得するためにガラス基板200と光源部300間の角度θ1、ガラス基板200と光源部300間の離隔距離a及びガラス基板200とスクリーン302間の距離bを適切に設定する。以下、不均一度測定システムの設定過程を実際の実験結果を通じて説明する。まず、光源部300とガラス基板200間の角度θ1及び離隔距離aをそれぞれ45°及び110mmに設定した後、ガラス基板200とスクリーン302間の離隔距離bを可変しながらスクリーン302に形成された帯310及び312を観察した。実験の結果、図6Aに示されたように帯310及び312が視覚的に分離される最適の離隔距離bは52mmとして測定され、約60mmの離隔距離bまでは帯310及び312が相互干渉なく分離されることを確認した。しかし、離隔距離bが60mmを超える場合、図6Bに示したように帯310及び312が明確に分離されず相互干渉を起こすことが確認された。続いて、光源部300とガラス基板200間の離隔距離aを110mmに維持した状態で、光源部300とガラス基板200間の角度θ1を60°75°及び85°の順に設定し、ガラス基板200とスクリーン302間の離隔距離bを可変させながら帯310及び312を観察した。実験の結果、帯310及び312が明確に分離される最適な離隔距離bは50mm、38mm及び5mmとしてそれぞれ測定された。続いて、光源部300とガラス基板200間の角度θ1を一定の値に維持した状態で、光源部300とガラス基板200間の離隔距離aを順に設定した後、ガラス基板200とスクリーン302間の離隔距離bを可変しながら帯310及び312を観察した。上記のような方式で角度θ1、離隔距離a及び離隔距離bを可変しながら帯310及び312を観察した。実験の結果を要約すると、光源部300とガラス基板200間の角度θ1が45°~80°の間の値を有し、光源部300とガラス基板200間の離隔距離aが約60mm~約120mmを有する状態で、ガラス基板200とスクリーン302間の離隔距離bが約60mm以下である場合、帯310及び312がスクリーン302上に視覚的に分離して形成された。ただし、ガラス基板200の破損を防止するためにスクリーン302をガラス基板200から最小5mm以上離隔させるのが望ましく、ガラス基板200とスクリーン302間の離隔距離bは約5mm~約60mmであった。また、実験の結果、光源部300とガラス基板200間の距離aと、ガラス基板200からスクリーン302のうち第1帯310が形成される部分までの距離bの比が1:1~1:0.5であって、光源部300とガラス基板200間の角度θ1が45°~80°の間の値を有する場合に、帯310及び312がスクリーン302上で視覚的に分離して形成されることを確認できた。さらに、帯310及び312がスクリーン302上に視覚的に分離されるためには、光源部300とガラス基板200間の角度θ1が大きくなるにつれてガラス基板200とスクリーン302間の離隔距離bを小さくする必要があることを確認できた。以下、本実施例のガラス基板の不均一度測定システムの設置過程を説明する。まず、ガラス基板200を基準として光源部300及びスクリーン302を特定位置及び角度に設ける。続いて、不均一度測定システムは、帯310及び312が明確に分離されるまで光源部300を上下左右に動かす。即ち、光源部300とガラス基板200間の角度θ1及び離隔距離aを変化させながら、帯310及び312が明確に分離される最適な角度θ1及び離隔距離aを検出する。ここで、光源部300の動きは管理者の操作によって手動で行わせることもできる。続いて、不均一度測定システムは、検出された角度θ1及び離隔距離aに光源部300を設けて固定する。続いて、不均一度測定システムは、ガラス基板200をローラを用いて順に移動させてガラス基板200の不均一度を測定する。即ち、不均一度測定システムは、スクリーン302を一定の位置に設定した後、光源部300を調整する方法を通じて所望のシステムを具現できる。本発明の他の実施例によると、不均一度測定システムは、光源部300を固定させた状態でスクリーン302を調整して所望のシステムを具現することもできる。図2~図6を要約すると、本実施例のガラス基板の不均一度測定システムは、レンズ方式を用いて、帯310及び312が明確に分離されるように、光源部300及びスクリーン302をガラス基板200を基準として適切な位置及び角度に設ける。ここで、光源部300及びスクリーン302の調整過程は、管理者によって手動で行わせることもでき、コンピュータによって自動で行わせることもできる。以下、本実施例のガラス基板の不均一度測定方法と従来の不均一度測定方法を比較する。従来の不均一度測定システムは、ガラス基板に入射された光がガラス基板の下面で反射されないようにガラス基板の下面に特定物質をコーティングする方法、ガラス基板を水面上に浮かばせる方法などを用いた。従って、ガラス基板の不均一度を測定した後に、ガラス基板の下面にコーティングされた物質を除去する等の追加過程を行う必要があった。結果的に、ガラス基板の不均一度を測定する時間及び費用が増加し、ガラス基板を用いるディスプレイ素子の歩留まりが低くなった。しかし、本発明のガラス基板の不均一度測定システムは、ガラス基板200の下面にいかなる処理もせずにガラス基板200自体を用い、スクリーン302に形成される帯310及び312が相互分離されるように上記システムを構築する。従って、不均一度測定システムにおいては、追加の工程を要せず、その結果不均一度を測定するための時間及び費用を著しく低減でき、ガラス基板200を用いるディスプレイ素子の歩留まりを向上できる。また、本発明の不均一度測定システムは、簡単な構成要素300、302及び400からなることができるので、上記システムを設けることが容易であり、エラーの発生確率も低かった。図7は、本発明の第2実施例によるガラス基板の不均一度測定システムを示した図面であり、図8は、本発明の一実施例によるスリット部の構造を示した図面である。図9は、図7の不均一度測定システムを用いた感知結果を示す図面である。図7を参照すると、本実施例のガラス基板の不均一度測定システムは、光源700、スリット部704及び感知部706を含む。光源700は、特定波長を有する第1光710を出力する。例えばレーザ光である。スリット部704は、図8に示したように少なくとも1つのスリット800を含み、不均一度測定時にスリット800のうち一部または全部を開放することができる。結果的に、光源700から出力された第1光710がスリット800を通過することによって一定の線幅を有する第2光712に変化する。スリット800を通過した第2光712は、ガラス基板702に入射され、ガラス基板702の上面及び下面によって反射される。感知部706は、スクリーン302を感知した第1実施例と異なってガラス基板702の上面を感知し例えば上面を撮影、その結果、図9に示したように2つの帯900及び902が表示されるイメージを獲得することができる。ここで、第1帯900はガラス基板702の上面によって反射される第1反射光に該当する干渉縞であり、第2帯902はガラス基板702の下面によって反射される第2反射光に該当する干渉縞である。示さなかったが感知部706によって感知されたイメージは不均一度判断部に提供され、不均一度判断部は帯900及び902のうち第1帯900のみを分析してガラス基板702の不均一度を測定する。要するに、本実施例のガラス基板の不均一度測定システムは、スリット部704を用いて、感知部706がガラス基板本702を直接撮影して帯900及び902に関するイメージを獲得する。説明を省略したが、スリット部704の位置に応じて帯900及び902が明確に分離されることもでき、相互干渉を起こすこともできる。従って、本実施例の不均一度測定システムは、スリット部704または光源700の位置を調整して帯900及び902が明確に分離され得るように上記システムを具現し、その後ローラを通じて移動する複数のガラス基板702の不均一度を順次測定する。図10は、本発明の第3実施例によるガラス基板の不均一度測定システムを示した図面である。図10を参照すると、本実施例のガラス基板の不均一度測定システムは、光源1000、スリット部1004、スクリーン1006及び感知部1008を含む。ガラス基板702を直接的に感知した第2実施例と異なって本実施例の不均一度測定システムは、スリット部1004を用いるものの、スクリーン1006に形成された反射光1014及び1016に該当する帯を感知してガラス基板1002の不均一度を測定する。ただし、感知部1008は、他の実施例と異なってガラス基板1002の下面の下部に位置させることができる。もちろんスクリーン1006の設置角度に応じて感知部1008がガラス基板1002の上部に位置することもできる。"