少なくとも角膜表面の一つをパターン光で投影するための少なくとも一つの光源と、角膜表面によって反射された光を集光し、前記光を光センサ上に投影する結像光学系と、インフォーカス平面に対する光センサ上の角膜画像のデフォーカスの程度が結果として参照スペクトルに対する像空間スペクトルの変位になるように光を変調する少なくとも一つの光学マスクと、光センサ上の画像をデジタル電気信号に変換する基本処理手段と、追加の標準デジタル画像処理手段およびもし必要であれば、画像ディスプレイと、角膜画像のサブ領域のスペクトル分解を行なうように構成されて、参照スペクトルに対する角膜画像のサブ領域の空間スペクトルの変位の程度を測定する第1処理手段と、第2処理手段と、第3処理手段とを備える、角膜形状解析器であって、前記第2処理手段は前記変位の程度に応じて該当する角膜のサブ領域それぞれのデフォーカスの程度に変換するように構成され、前記第3処理手段は前記それぞれのデフォーカスの程度を結像光学系における絶対距離に変換するように構成されることを特徴とする角膜形状解析器。角膜のサブ領域に対応する複数のデフォーカスの程度を組み合わせて角膜のデフォーカスマップを作るように構成されることを特徴とする、請求項1に記載の角膜形状解析器。角膜の複数のサブ領域の間の相対的な距離を組み合わせて角膜の深さマップを作るように構成されることを特徴とする、請求項1に記載の角膜形状解析器。デフォーカスおよび深さの情報を組み合わせて角膜トポグラムを提供するように構成されたことを特徴とする請求項2または3に記載の角膜形状解析器。前記光源が、パターン光が少なくとも一つの角膜表面を投影するように構成されたレーザであることを特徴とする請求項1に記載の角膜形状解析器。角膜表面の少なくとも一つをパターン光で投影し、前記角膜表面によって反射された光を集め、前記光を結像光学系によって光センサ上に投影し、焦点誤差が結果として参照スペクトルに対する角膜画像の空間スペクトルの変位になるように少なくとも一つの光学マスクにより光の変調がされ、光センサ上の画像をデジタル電気信号に変換する基本的処理を行ない、追加的に標準デジタル画像処理を行ない、ディスプレイに表示し、登録画像をスペクトル分解によって空間スペクトルに分解し、参照画像に対する角膜画像のサブ領域の空間スペクトルの変位の程度を提供する第1次処理を行ない、第2次処理および第3次処理を行なう方法であって、前記第2次処理において、前記変位の程度を、角膜のサブ領域に対応して複数の対応するデフォーカスの程度に変換し、デフォーカスマップを作るように構成され、前記第3次処理において、前記角膜表面の複数のサブ領域のデフォーカスの程度を絶対距離に変換し、前記角膜の前記サブ領域の間の相対的な距離を含む深さマップを作るように構成されたことを特徴とする角膜形状解析のための方法。