"光ビームを発する発光素子と前記光ビームを受光する受光素子を用い、前記発光素子からの光ビームのインク滴への照射で生じる散乱光により記録ヘッドの各ノズルの液吐出不良を検出する液吐出不良検出装置であって、前記光ビームの光軸と交差する方向に前記記録ヘッドを相対的に移動させるヘッド移動手段と、離れた少なくとも2つのノズルから交互に液滴を吐出する液滴吐出手段と、各ヘッド位置における前記受光素子の出力を得る計測手段と、得られた出力から各ヘッド位置における出力分布を求める出力分布算出手段と、前記出力分布におけるピークのうち強度の強い側のピークから前記光軸と交差する方向の位置を算出する位置算出手段と、前記出力分布における2つのピークから水平方向の角度を算出する角度算出手段と、前記光軸と交差する方向および水平方向の曲がり角度を調整する調整手段とを有していることを特徴とする液吐出不良検出装置。前記離れた少なくとも2つのノズルは、前記計測手段にて得られる出力のピークが高いノズルと低いノズルであることを特徴とした請求項1に記載の液吐出不良検出装置。前記得られるピークの出力が高いノズルは、前記光ビームの焦点位置に近いノズルであり、前記得られるピークの出力が低いノズルは、前記光ビームの焦点位置から遠いノズルであることを特徴とする請求項2に記載の液吐出不良検出装置。前記離れた少なくとも2つのノズルから液滴を交互に吐出するときに、それぞれのノズルから吐出する液滴の速度が異なるようにしたことを特徴とした請求項1~3のいずれか1項に記載の液吐出不良検出装置。前記計測手段は、ローパスフィルター機能およびハイパスフィルター機能を有していることを特徴とする請求項4に記載の液吐出不良検出装置。請求項1~5のいずれか1項に記載の液吐出不良検出装置を備えることを特徴とするインクジェット記録装置。しかしながら、例えば、特許文献1に開示の技術では、インクを吐出するノズルによる差特に、曲がり検知の場合重要であるを考慮しておらず、位置合わせ精度を高くすることはできない。また、特許文献2に開示の技術では、開口部付近での吐出を行っているため、ミストや紙粉などにより、開口部がふさがってしまい、長時間動作させた後の位置合わせ精度に問題が出てくる可能性がある。また、特許文献3に開示の技術では、吐出ノズル数が所定の基準値を越えている記録ヘッドの移動位置を求め、その移動位置を含む範囲の中心位置を吐出検出手段の最適な検出位置として求めており、光軸の中心にノズル列を精度良く合わせることが難しい。また、特許文献4に開示の技術では、ノズル列と光ビームとの相対的角度ずれθの補正も含む光軸との位置合わせを行い得るが、インク滴が光軸を遮断したかしないかで吐出検知を行っているので、図4の波形に示されるように、ノズル列を光ビーム光軸の中心位置に位置合わせすることは精度が劣るものと考えられる。本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、液吐出不良検出装置において、ノズル列と吐出検知に用いる光ビームの光軸との位置合わせの精度をさらに高めることを目的としている。上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、光ビームを発する発光素子と前記光ビームを受光する受光素子を用い、前記発光素子からの光ビームのインク滴への照射で生じる散乱光により記録ヘッドの各ノズルの液吐出不良を検出する液吐出不良検出装置であって、前記光ビームの光軸と交差する方向に前記記録ヘッドを相対的に移動させるヘッド移動手段と、離れた少なくとも2つのノズルから交互に液滴を吐出する液滴吐出手段と、各ヘッド位置における前記受光素子の出力を得る計測手段と、得られた出力から各ヘッド位置における出力分布を求める出力分布算出手段と、前記出力分布におけるピークのうち強度の強い側のピークから前記光軸と交差する方向の位置を算出する位置算出手段と、前記出力分布における2つのピークから水平方向の角度を算出する角度算出手段と、前記光軸と交差する方向および水平方向の曲がり角度を調整する調整手段とを有していることを特徴とする。また、本発明は、インクジェット記録装置であって、上記液吐出不良検出装置を備えることを特徴とする。本発明によれば、液吐出不良検出装置において、ノズル列と吐出検知に用いる光ビームの光軸との位置合わせの精度がさらに高まるという効果を奏する。以下に添付図面を参照して、この発明にかかる実施の形態を詳細に説明する。なお、共通する構成要素には、共通の符号を附している。はじめに、図1~5を用いて、液吐出不良検出に関してその概要を説明する。図1は、本実施の形態にかかる液吐出不良検出装置の主要部周辺の構成例を示す説明図である。この図1において、符号100は複数のノズルを有し、各ノズルからインク滴を画像信号に応じて吐き出して記録媒体に記録を行なう記録ヘッド以下、ヘッドと略記、符号101はヘッド100を構成する複数のノズル、符号102はたとえば半導体レーザなどを用いた発光素子、符号103は発光素子102からの光ビームを平行光に補正するコリメートレンズ、符号104は光ビーム、符号105は光ビーム光軸、符号106はたとえばフォトダイオードなどを用いた受光素子、符号107はノズル101から吐き出されるインク滴、符号108は光ビーム104がインク滴107に照射して生じる散乱光、符号109は前方散乱光である。なお、図1では、各ノズルを区別するため、発光素子102側のノズルを101NnLD、受光素子106側のノズルを101NnPD、その間の任意のノズルを101NnXとして示している。また、図1において、符号111は本装置の各部を制御する制御部、符号112はノズル101からのインク滴107の吐き出しを行なうヘッド駆動部、符号113は発光素子102の発光を行なう発光駆動部、符号114は散乱光108を受光する受光素子106の出力を計測する受光回路である。制御部111は、CPU,ROM,RAM、タイマーなどを有するマイクロコンピュータシステムで構成され、ROMに格納された制御プログラムにしたがってCPUが後述する一連の処理等を実行する。この図1に示す液吐出不良検出装置の構成において、ヘッド100のノズル101からインク滴107を吐出する。発光素子102から発した光をコリメートレンズ103で平行な光ビーム104とし、その光ビーム光軸105がインク滴107の吐出方向と直交する方向に配置する。受光素子106は、その光ビーム径を外れた位置、図では光ビーム104の下に配置しており、光ビーム径と受光素子106の受光面が重ならない位置で、できるだけ光ビーム光軸105の中心近くに配設することにより、散乱光108に対する効率の良い検出が可能となる。また、光ビーム104を、その焦点110が受光素子106の近傍となるようにすることにより、受光素子106を光ビーム光軸105に近づけることができ、さらに効率の良い検知が可能となる。この液吐出不良検出装置の構成でヘッド100のノズル101からインク滴107を吐出すると散乱光108が発生する。受光素子106はこの散乱光108、特に散乱光108の中で光強度が強い前方散乱光109を受光することにより、その光出力を電圧値光出力値として計測することができ、インク滴107の吐出の有無、曲がりを検出することができる。図2は、光ビーム104の強度分布を示す説明図である。発光素子102として半導体レーザを使用した場合、垂直水平方向にそれぞれ角度を持って発光する。一般的な半導体レーザの垂直水平方向の角度は、それぞれ14°/30°となっている。以下では半導体レーザを使用したときについて述べる。このような光をコリメートレンズ103で平行光にした場合、縦横比が異なる楕円形状となる。ここで、図2には各方向X方向:水平方向インク滴吐出方向に対して直角の方向、Y方向:垂直方向インク滴吐出方向の光強度分布を示す。これより、光ビーム104の中心光ビーム光軸105で最も光強度が強く、縁に行くにしたがい光強度は低下しており、ガウシャン分布となっていることがわかる。図3にノズルの吐出方向から見たインク滴107の吐出の様子を示す。なお、この図3ではインク滴107は2滴あるので区別するため便宜上符号107B1,B2と記述している。また、簡単のため、B1,B2等と略記する場合もある。ヘッド100のノズル列が光ビーム光軸105上にある場合、正常吐出したインク滴107B1はそのまま鉛直方向に飛翔するためインク滴107B1は光ビーム104の中心を通過する。しかし、曲がりが発生したインク滴107B2は光ビーム104の中心から外れた位置を通過する。また、不吐出のときはインク滴107が吐出しないため、光ビーム104を通過しない。図4にインク滴107が光ビーム104と交わったときに発生する散乱光108を受光素子106で受光したときの電圧値VPDを示す。正常に吐出したインク滴107B1は光強度が最も高い光ビーム104の中心を通過するため、散乱光強度も高くなり、V’の電圧値を得ることができるこれを図4では実線で示す。これに対し、曲がりが発生したインク滴107B2は光ビーム104の中心から外れるため、電圧値はV<V’と低くなるこれを図4では破線で示す。また、不吐出の場合、インク滴107が光ビーム104を通過しないため、電圧値V0が得られないこれを図4では一点鎖線で示す;VPDTP2=0。ここで、不良吐出を判定するための閾値をVSHとするとインク滴107B1は正常吐出と判断することができ、インク滴107B2は曲がりが発生したと検出することができる。また、閾値VSHをより低くすることにより、不吐出の状態、すなわち不良吐き出しに該当するノズル101を検出することができる。図5は、第1の受光回路の構成を示すブロック図である。この図5において、受光回路114は、散乱光108を受光する受光素子106、受光値の電流電圧変換を行なうI/V変換部201、電流電圧変換後の電圧値を増幅する1段目の増幅部202、DC成分ノイズ成分を除去するハイパスフィルター203、ハイパスフィルター203の出力電圧値を増幅する2段目の増幅部204、散乱光108のパルス波形と基準電圧とを比較する比較部205、最終的な受光値を出力する出力部206を備える。つぎに、以上のように構成された受光回路114の動作について説明する。受光回路114は、散乱光108を受光素子106で受光した後、その値の電流電圧変換をI/V変換部201によって行い、増幅部202で1段目の増幅をするTP1。その後、ハイパスフィルター203によりDC成分ノイズ成分を除去した後、増幅部204で2段目の増幅を行なうTP2。そして、散乱光108のパルス波形と基準電圧を比較部205で比較するが、このとき、ヒステリシスを掛けており、ノイズ成分による出力のばたつきをなくし、出力部206により最終出力するTP3。また、電源をツェナーダイオードにより分割し、受光回路114の検出部I/V変換部201で1段目の増幅部DC増幅部202の接地グラウンド、ならびにプラス/マイナス成分の電源を作り出している。また、オフセット電圧はTP1で計測し、散乱光出力値はTP2で計測している。続いて、ヘッド100のノズル列ノズル101NnLD~101NnPDからなる列と光ビーム光軸105の位置合わせについて、図6~図13を用いて説明する。図6は、ヘッド100のノズル101NnXから吐出されるインク滴107と、光ビーム光軸105との関係を説明する図であり、図7は、インク滴107による出力分布を説明する図である。本実施形態においてインク滴吐出の曲がりの検出は、上記受光回路114で得られる散乱光出力値TP2によって判定しているため、間違った位置にヘッド100のノズル列を配置した場合、誤検出となる場合がある。例えば、ヘッド100のノズル列が光ビーム光軸105から大きく外れている場合、曲がりが発生したインク滴107BAは光ビーム104を通過しないため図6参照、散乱光出力値TP2が得られず欠損と判定される可能性がある図7のインク滴BAによる出力分布参照。一方、ヘッド100のノズル列が光ビーム光軸105から少し外れている場合は、光ビーム光軸105上をインク滴107BBが通過することがあるため図6参照、散乱光出力値TP2がインク滴吐出の曲がりを判定する閾値VSHよりも大きくなり、正常な吐出と判定される場合がある図7のインク滴BBによる出力分布参照。さらに、正常吐出の場合図6:インク滴107BCでも、散乱光出力値TP2が閾値VSHよりも小さくなって、曲がりがあると判定されることがある図7のインク滴BCによる出力分布参照。従って、精度の良い曲がり判定を行うために、ヘッド100のノズル列と光ビーム光軸105の位置合わせをする必要がある。ここで、ヘッド100のノズル列115と光ビーム光軸105の位置合わせの方法を、図8を用いて説明する。図8は、その一連の処理を説明するためのフローチャートである。まず、設計値から算出した光ビーム光軸105から少し外れた位置にヘッド100を移動させるステップS101。その後、1ピッチ分ヘッド100を移動させステップS102、その状態からノズル101NnXからインク滴107を吐出するステップS103。インク滴107を吐出すると光ビーム104上にインク滴107があれば散乱光108図1が発生し、受光素子106により散乱光出力値TP2を検出することができる。ステップS104では、そのときのヘッド100の位置ヘッド位置を記憶し、散乱光出力値TP2を計測する。以後、所定の終了位置まで例えば設計値から算出した光ビーム104が無い部分まで、あるいは任意の値以上の散乱光出力値が得られなくなるまで繰り返し行う。図8のフローチャートでは、ヘッド位置が終了位置に到達するまで、ステップS102からステップS105Noを繰り返す。終了位置に到達するとステップS105でYes、各ヘッド位置に対する散乱光出力分布以下、出力分布とも記すを算出するステップS106。図9Aに示すVPDTP2の波形に対し、キャリッジの移動速度と吐出のタイミングから、図9Bに示す各ヘッド位置に対する散乱光出力分布光軸を横断した分布を得ることができる。そして、この出力分布から、液吐出不良検出装置の検知位置ヘッドノズル列位置を算出するステップS107。ところで、光ビーム光軸105上は通常、光ビーム104の強度が最も大きくなることから、インク滴107を吐出するときに得られる散乱光出力値TP2が最も高くなる。したがって、出力分布のピークWPPD1となるときのヘッド位置XHを算出し例えば、各ピークを比較し最も大きい部分を算出する方法で算出してもよい、これを液吐出不良検出装置の検知位置ヘッドノズル列位置として位置合わせをする。これにより、図6を用いて前述したインク滴吐出の曲がりによる誤検出を無くすことが可能となる。図10に、ヘッド100と光ビーム104の状態インク滴吐出方向:鉛直方向を示し、図11に散乱光出力分布を示す。これらは、図1に示したように、光ビーム104の焦点110が受光素子106の近傍となるように構成されているときのものである。図10,11からわかるように、発光素子102側に比べ受光素子106側の方が光ビーム104の径が小さく図10、また散乱光出力値TP2が大きい図11ことがわかる。従って、発光素子102側に比べ、受光素子106側の方が、出力分布のピークのヘッド位置XHをより容易に算出することができる。また、散乱光出力値TP2のピークの違い高いピークと低いピークから各ノズル101NnPD、101NnLDの区別がつくので、精度の良い、ノズル列115と光ビーム光軸105の位置合わせを短時間に行うことができる。また、この場合に、液吐出不良検出装置に構成の変更は必要ない。上記に対し、例えばヘッド100のノズル列の範囲に焦点110があるような図12の場合では、焦点110の位置がもっとも散乱光出力値TP2が高く、また散乱光出力値TP2が高くなる範囲が狭い範囲で存在するため、焦点110の位置のノズル101NnXを使う方が良いこととなる。また、上記では、液吐出不良検出装置の検知位置ヘッドノズル列位置として、得られる出力分布のピーク部分WPPD1の位置を採用したが、これに限らず、図13Aに示すような任意の閾値VnSHで区切った範囲図中X1-X2間の中心を液吐出不良検出装置の検知位置ヘッドノズル列位置とする方法でもよい。また、図3、4で前述したとおり、散乱光出力値TP2が任意の閾値VnSH以下になったときに曲がりが発生したとの判定を行っているが、光ビーム104の強度分布が左右対称では無い場合図13B、曲がり方向によっては正常吐出と判定する場合がある。そこで、任意の閾値VnSHで区切った範囲図中X1-X2間の中心を液吐出不良検出装置の検知位置ヘッドノズル列位置とする方法で液吐出不良検出装置の検知位置ヘッドノズル列位置とすることにより、曲がりの方向に左右されず曲がり検出が可能となる。また、このときに任意の閾値VnSHを曲がり判定の閾値VSHに合わせることにより、さらに精度の良い曲がり判定が可能となる。以上、液吐出不良検出装置の検知位置として、ヘッド100のノズル列と光ビーム光軸105の主走査方向の位置合わせ方法について述べた。通常、従来技術として特開2010-5917号公報にあるように、液吐出不良検出装置単体で光軸調整をし、その光ビーム光軸105上にあるピンと本体ベース部にあけた穴を合わせることにより、液吐出不良検出装置と本体の水平方向θ方向の調整は不要となる。しかし、この手法では、最終的な液吐出不良検出時の位置合わせは主走査方向のみとなる。本実施形態において上述した方法で、主走査方向の位置合わせを解決できるが、装置本体を使用していく中で経時的に液吐出不良検出装置とヘッド100の水平方向図16に示すθ方向の位置が変化してしまうことがある。その場合、主走査方向のみの位置合わせだけでは対応できない部分があり、誤検出を招く恐れがある。そこで、以下では、ヘッド100のノズル列と光ビーム光軸105の主走査方向とθ方向の位置合わせの方法について、図14~図16を用いて説明する。先に、図11を用いて各ノズル101NnPD、101NnLDのインク滴吐出による散乱光の出力分布が異なることを説明したが、ここではこれを利用する。以下に、この場合の、ヘッド100のノズル列115と光ビーム光軸105の位置合わせの方法を、図14を用いて説明する。図14は、その一連の処理を説明するためのフローチャートである。まず、設計値から算出した光ビーム光軸105から少し外れた位置にヘッド100を移動させるステップS201。その後、1ピッチ分ヘッド100を移動させステップS202、その状態から各ノズル101NnPD、101NnLDから順次、インク滴107を吐出するステップS203。各ノズル101NnPD、101NnLDからインク滴107を吐出すると光ビーム104上にインク滴107があれば散乱光108図1が発生し、受光素子106により散乱光出力値TP2を検出することができる。ステップS204では、そのときのヘッド100の位置ヘッド位置を記憶し、散乱光出力値TP2を計測する。以後、所定の終了位置まで例えば設計値から算出した光ビーム104が無い部分まで、あるいは任意の値以上の散乱光出力値が得られなくなるまで繰り返し行う。図14のフローチャートでは、ヘッド位置が終了位置に到達するまで、ステップS202からステップS205Noを繰り返す。終了位置に到達するとステップS205でYes、各ヘッド位置に対する散乱光出力分布以下、出力分布とも記すを算出するステップS206。ここで算出される出力分布は、図15Aに示すように、2ノズル分の出力波形が混ざるため図ではわかりやすいようにノズル101NnPD分は実線で、ノズル101NnLD分は破線で表している、ピークが隣り合う2つの波形もしくは任意の区間の波形を比較し、ピークが高い方をそのヘッド位置での出力としている。これにより、キャリッジの移動速度と吐出のタイミングから、図15Aに示すVPDTP2の波形に対し、図15Bに示す各ヘッド位置に対する散乱光出力分布光軸を横断した分布を得ることができる。図15Bに示すように、各ノズル101NnPD、101NnLDからのインク液吐出で散乱光出力値TP2が異なるため、そのピークが現れるところが異なる。従って、散乱光出力値TP2が高い受光素子106側のノズル101NnPDからのインク液吐出による散乱光出力値TP2がピークとなるヘッド位置XHPDと、散乱光出力値TP2の低い発光素子102側のノズル101NnLDからのインク液吐出による散乱光出力値TP2がピークとなるヘッド位置XHLDはそれぞれ異なるものとなる図15。各ノズル101NnPD、101NnLDからのインク液吐出に対して散乱光出力値TP2がピークとなるヘッド位置間の距離Xを算出X=XHLD-XHPDし、既知であるヘッド100のノズル列115の長さノズル101NnLDおよびノズル101NnPDのノズル間距離hからθを算出θ=sin-1X/hすることができる図16参照。また、図15Bの出力分布の最大のピークWPPD2が受光素子106側のノズル101NnPDが光ビーム光軸105上に来ていることになるので、θだけでなく、主走査方向のズレ量も前述のようにして算出することができる。この様に、出力が異なる2つのノズルを使用することにより、θ方向と主走査方向のズレ量を1回のキャリッジの動作で算出することができ、位置合わせに要する時間を短縮することが可能となる。図14に戻り、最後に、ステップS206で算出した出力分布から、液吐出不良検出装置の検知位置ヘッドノズル列位置を算出するステップS207。以上では、各ノズル101NnPD、101NnLDからのインク滴吐出による散乱光出力値TP2におけるピークの差を利用する位置合わせをする方法を示したが、他の例として、各ノズル101NnPD、101NnLDでの吐出速度vを変更することにより、位置合わせをする方法を示す。基本的には、図14で示した手順と同じであるが、インク滴107を吐出するときに、各ノズル101NnPD、101NnLDで吐出速度vPD、vLDvPD>vLDを変更する。今回は、受光素子106側に比べ発光素子102側の吐出速度を遅くしているが、反対でも効果は同じである。ここでは、ノズル101NnLDでの吐出速度vLDをノズル101NnPDでの吐出速度vPDよりも遅くしているため、得られる波形は図17Aの様に波形幅が異なった2種類の波形が交互にあるものとなる。ここで、第2の受光回路114’としてその回路内に、図18に示すようなローパスフィルター207、およびハイパスフィルター208を設けることにより、図17Bに示すノズル101NnPDのインク滴吐出による出力分布、および図17Cに示すノズル101NnLDのインク滴吐出による出力分布を得ることができる。つまり、ローパスフィルター207により、高周波、つまり吐出速度の速い、受光素子106側のノズル101NnPDから吐出したインク滴107の波形成分が除去されて、吐出速度の遅い、発光素子102側のノズル101NnLDから吐出したインク滴107による波形成分だけが残り、図17Bに示す出力分布を得ることができる。反対に、ハイパスフィルター208により、低周波、つまり吐出速度の遅い、発光素子102側のノズル101NnLDから吐出したインク滴107の波形成分が除去されて、受光素子106側のノズル101NnPDから吐出したインク滴107による波形成分だけが残り、図17Cに示す出力分布を得ることができる。このように、受光回路114’に、散乱光出力値TP2に対するローパスフィルター機能およびハイパスフィルター機能をもたせたことにより、各ノズル101NnLDおよび101NnPDからのインク滴吐出による散乱光出力値TP2を明確に分けることができる。なお、ローパスフィルター207およびハイパスフィルター208のカットオフ周波数は、あらかじめ分かっているインク滴107の速度吐出速度vと光ビーム104の径からも算出可能であるが、実際にインク滴を吐出際の波形で周波数を確認しカットオフ周波数を決定する方法でもよい。図17Bおよび図17Cに示す出力分布からそれらのピークWPPD3、WPLD3となる部分のヘッド位置XHPD、XHLDを算出することで、各ノズル101NnPD、101NnLDの光ビーム光軸105上での位置がわかり、図16を用いて前述した方法により、θ方向および主走査方向の、ノズル列115と光ビーム光軸105とのズレ量を算出することが可能となる。ここで、図13に示したある閾値VnSHから算出する方法で、主走査方向のズレ量を算出しても問題ない。なお、上記では、2つのノズル101NnPD、101NnLDからインク滴107を吐出させているので2種類の波形が得られるが、3つ以上のノズル101からインク滴107を吐出させる場合は、それぞれについてその波形が得られ、他の波形を除去するためのフィルターを採用するとよい。この場合に、ローパスフィルターとハイパスフィルターを用いたのでは、カットオフ周波数の設定が複雑になるため、特定の周波数の信号のみを通過させるバンドパスフィルターを採用すると、液吐出不良検出装置の検知位置ヘッドノズル列位置の特定がし易くなる。また、ここでは、受光回路114’内に各フィルターを設けているが、散乱光出力値TP2を、フィルター機能を持つPC等の機器にいったん取り込み、後のデータ処理の際にフィルター処理を行うようにしても、同様の性能を得ることが可能である。なお、図18および図5では、増幅部202による1段目の増幅後にハイパスフィルター203を配置しているが、これは、吐出速度が極端に遅いミスト成分をカットするためのものであり、ハイパスフィルター208に比べカットする周波数は低いものとなっている。上記の様に吐出速度に差をつける方法では、2つのノズル101NnPD、101NnLDからのインク滴107を吐出による散乱光出力値TP2の差が小さく、各ノズル101NnPD、101NnLDの区別がつきにくい場合には特に有効である。ここまでで、ヘッド100のノズル列と光ビーム光軸105の主走査方向とθ方向のズレ量を算出する方法を示した。実際に液吐出不良検出を行う場合は、このズレ量を補正しなければ、正確な曲り判定はできない。そこで、以下では、これら主走査方向とθ方向のズレ量を補正する手法について、図19~図22を用いて説明する。図19は、インクジェット記録装置の概略構成を示す図であり、図20は、液吐出不良検出装置の概略構成を示す図である。また、図21は、水平方向θ方向のズレを補正する方法を説明するための図であり、図22は、複数のノズル列を有しているヘッドを複数個キャリッジに搭載している場合の位置合わせの方法を説明するための図である。通常、印字するときには、図19に示すキャリッジ301といわれる複数のヘッド100H1、100H2を搭載したユニットをガイドロッド302に沿って主走査方向用紙の紙送りに対して直角方向に駆動し、必要なタイミングでインク滴107を吐出し、印字部304に搬送されてきた用紙に印字している。そのキャリッジ301の動作はエンコーダシート303により位置決め制御がされているが、主走査方向のズレを補正する場合に、この動作を用いることにより、新たな機構を搭載することなく、位置合わせが可能となる。なお、ここでは、キャリッジ301を動作させているが、液吐出不良検出装置305に、図示しない移動機構をつけて光ビーム光軸105を移動させるようにしてもよい。また、同図符号306で示すユニットは、ヘッド100のノズル開口部のインク乾燥防止等のため、ノズル開口部をキャップした状態にしておく維持部である。次にθ方向のズレを補正する場合を以下に示す。図20に示すような、モータ122により回転駆動される回転機構回転中心を液吐出不良検出装置305に搭載することにより、液吐不良検出装置305はθ方向の回転ができ、位置合わせが可能となる。このθ方向の回転中心は、受光素子106側または発光素子102側にすると図20では受光素子106側として例示、位置合わせが容易にできる。また、吐出するノズル101が上記以外の場所つまり、得られる出力分布の出力が高く、その範囲が狭い場所や焦点位置などの場合は、そこを回転中心にするとよい。なお、図20において示す符号120は、ヘッド100のノズル101図20では101NnPDから吐出されるインク滴が通過する開口部であり、符号121で示す部分は、光ビーム104が再び受光素子106に入射することがないようにする迷光処理機構である。上記では、θ方向のズレ量を補正する場合に、新たな回転機構を搭載する例を挙げたが、キャリッジ301の動作でこれを克服することができる。つまり、2つのノズル101NnPD、101NnLDの出力からθ方向のズレ量角度を算出することができているため、図21に示すように任意のノズル101NnXの液吐出不良を検出する際に、Xn=h2sinθ=h2XHPD-XHLD/h1ただし、は乗算を、/は除算を表わすとしてノズル101NnPDおよびノズル101NnLD間の距離Xnを算出する。そして、最初に決めた液吐出不良検出位置からXn分移動させることにより、そのノズル101NnXが光ビーム光軸105上に存在することとなり、正確な曲り判定が可能となる。また、実際のインクジェット記録装置では、図22に示すように、複数のノズル列115を有しているヘッド100を複数個キャリッジ301に搭載している。これは、各ヘッド100H1、100H2、もしくは各ノズル列115NL1、115NL2、115NL3、115NL4があることにより、異なる色を使用できるほか、印字解像度を向上させることができるためである。この場合は、以下の様にして位置合わせを行う。まず、各ヘッド100H1、100H2の各ノズル列115NL1、115NL3と光ビーム光軸105との各ズレ量XH1、XH2を前述のようにして算出する。ヘッド100H1、100H2同士の距離X12はキャリッジ301に搭載する際に接着ズレなどを起こし、設計値から大きくズレることがある。しかし、同一ヘッド100内の他のノズル列115との間の距離X1112、X2122設計値は、ノズル穴製造時に精度の良い加工を行っているため、このX1112、X2122を、上記で算出したズレ量XH1、XH2にそれぞれ足したもしくは引いた位置を各ノズル列115NL2、115NL4に対する液吐出不良検出位置とする。この様に行うことにより、複数のヘッド100および複数のノズル列115が搭載されている場合でも短時間での位置合わせが可能である。以上説明したように、本実施形態の液吐出不良検出装置によれば、ノズル列115と光ビーム光軸105との位置合わせを精度良く短時間に行うことができる。また本実施形態の液吐出不良検出装置をインクジェット記録装置に搭載することにより、吐出不良検知の際の判断の精度を高めることが可能となり、また、印字性能が安定した低コストなインクジェット記録装置を提供することができる。最後に、上記実施形態に挙げた形状や構成に、その他の要素との組み合わせなど、ここで示した用件に、本発明が限定されるものではない。これらの点に関しては、本発明の主旨をそこなわない範囲で変更することが可能であり、その応用形態に応じて適切に定めることができる。"