"露光差を測定するための方法であって、a少なくとも2つの隣接する光電センサ素子群2,3を光により露光時間TB中に露光するステップS1を有し、ただし前記各光電センサ素子群2,3は光をそれぞれ、当該露光時間TB中にそれぞれの前記センサ素子群2,3に入射する光の光量LA,LBに対応する電荷量QA,QBに変換し、b前記2つの隣接する光電センサ素子群2,3を露光時間TB中に以下のように放電するステップS2を有し、当該放電では、前記2つの光電センサ素子群2,3のうち当該2つの光電センサ素子群2,3の他方の群よりも弱い光強度で光が入射する方の群が電荷を有さないように、かつ前記2つの光電センサ素子群2,3のうち前記他方の群が、当該2つの隣接するセンサ素子群2,3に入射する光量の間の露光差に相当する電荷量を有するように行う、方法。請求項1に記載の方法において、前記2つの隣接する光電センサ素子群2,3は、前記露光時間中に連続的に放電されるか、または同じ電荷値でもって非連続的に放電される方法。請求項1または2に記載の方法において、前記2つの隣接する光源センサ素子群2,3のうち露光時間TB中に比較的強い光強度の光が入射する群から、当該光電センサ素子群2,3の飽和を回避するために規則的に所定の時間間隔Δtで電荷の一部が取り出される方法。請求項3に記載の方法において、前記取り出された電荷の一部は1つの電荷量に累積加算され、当該電荷量が前記2つの隣接するセンサ素子群2,3に入射する光量間の露光差に相当する方法。請求項1から4までのいずれか一項に記載の方法において、前記各光電センサ素子群2,3は、ウェーブレット係数を直接求めるために、1つのセンサ素子フィールドにそれぞれ222nの数の互いに隣接する光電センサ素子を有し、ここでnはn≧0の整数である方法。請求項5に記載の方法において、前記センサ素子フィールドの複数の光電センサ素子が露光前に、1つの光電センサ素子群2,3に統合接続される方法。請求項1から6までのいずれか一項に記載の方法において、前記光源センサ素子群2,3はCMOSセンサ素子からなる方法。請求項1から7までのいずれか一項に記載の方法において、前記2つの隣接する光電センサ素子群2,3は前記露光時間TBの経過後に、信号評価のために読み出される方法。請求項1から8までのいずれか一項に記載の方法において、前記2つの隣接するセンサ素子群2,3に入射する光量間の露光差に相当する前記発生する電荷量が、前記2つの隣接するセンサ素子群2,3のうち、露光時間中に比較的強い光強度の光が入射するセンサ素子群から読み出され、当該電荷量は、前記差に対して読み出された符号を備えるウェーブレット係数に相当する方法。請求項1から9までのいずれか一項に記載の方法において、前記センサ素子群2,3の光電センサ素子は、所定の周波数範囲の電磁ビームに対して感度を有する方法。露光差を検出するための装置1であって、当該装置は、a少なくとも2つの隣接する光電センサ素子群2,3を有し、当該光電センサ素子群には調整可能な露光時間TB中に光が入射し、該光はそれぞれ電荷量QA,QBに変換され、該電荷量は露光時間TB中に前記それぞれのセンサ素子群2,3に入射する光の光量LA,LBに対応し、b検出器4を有し、該検出器は、前記2つの光電センサ素子群2,3により発生される電荷量QA,QBのうちの最小電荷量Qminを検出し、当該最小電荷量を前記2つの光電センサ素子群2,3から減算する装置。請求項11に記載の装置において、読み出し回路5が設けられており、該読み出し回路は、露光時間TBの経過後に信号評価のために前記光電センサ素子群2,3を信号評価回路6に読み出す装置。請求項11または12に記載の装置において、前記光電センサ素子群2,3は、ウェーブレット係数を直接求めるために、1つのセンサ素子フィールドにそれぞれ222nの数の互いに隣接する光電センサ素子を有し、ここでnはn≧0の整数である装置。請求項11から13までのいずれか一項に記載の装置において、制御回路が設けられており、該制御回路は、前記複数の光電センサ素子を、露光時間TBの開始前に1つのセンサ素子群2,3に統合接続する装置。請求項11から14までのいずれか一項に記載の装置において、1つのセンサ素子フィールドが設けられており、該センサ素子フィールドの前記各光電センサ素子が次々にスイッチング可能に露光されるか、または複数のセンサ素子フィールドが重なり合って配置されているか、または複数のセンサ素子フィールドが重なり合ってまたは並んで配置されており、前記複数のセンサ素子フィールドからの画像を多重化するためにビームスプリッタが設けられている装置。請求項11から15までのいずれか一項に記載の装置を有するデジタルカメラ。したがって本発明の課題は、露光差を直接測定することのできる方法および装置を提供することである。この課題は本発明により、請求項1に記載の発明特定事項を備える方法によって解決される。本発明は以下のステップにより露光差を測定する方法を達成する。すなわち、少なくとも2つの隣接する光電センサ素子群を光により露光時間中に露光するステップを有し、ただし前記光電センサ素子群は光をそれぞれ、当該露光時間中にそれぞれのセンサ素子群に入射する光の光量に対応する電荷量に変換し、前記2つの隣接する光電センサ素子群を露光時間中に次のように放電するステップを有し、当該放電では、前記2つの光電センサ素子群のうち、当該2つの光電センサ素子群の他方の群よりも弱い光強度で光が入射する方の群が電荷を有さず、前記2つの光電センサ素子群の前記他方の群が、当該2つの隣接するセンサ素子群に入射する光量の間の露光差に相当する電荷量を有するように行う。したがって本発明の方法では、それぞれ少なくとも1つのセンサ素子からなる2つの隣接するセンサ素子群間の露光差が直接測定され、信号として出力される。この出力された信号は、アナログ/デジタル変換の実行後にはウェーブレット係数に対応し、このウェーブレット係数はデータ処理装置で直接処理することができる。したがって本発明の方法では、光電センサ素子群アクティブピクセルセンサを有する1つのセンサチップで差分形成が直接実行される。本発明の方法の可能な実施形態では、2つの隣接する光電センサ素子群が露光時間中に同時に連続的に同じ電荷値で放電される。本発明の方法の可能な択一的実施形態では、2つの隣接する光電センサ素子群が露光時間中に同時に非連続的に放電される。本発明の方法の可能な実施形態では、2つの隣接する光電センサ素子群のうち、露光時間中に比較的高い光強度で光が入射する群から、当該光電センサ素子群の飽和を回避するために規則的に所定の時間間隔で電荷成分が取り出される。可能な実施形態では、取り出された電荷成分が電荷量に累積加算され、この電荷量は2つの隣接するセンサ素子群に入射する光量間の露光差に相当する。本発明の方法の可能な実施形態では、各光電センサ素子群が、1つのセンサ素子フィールドに互いに隣接する222nの数の光電センサ素子を有し、ここでnは整数n≧0である。本発明の方法の可能な実施形態では、センサ素子フィールドの複数の光電センサ素子が露光前に、1つの光電センサ素子群にまとめられる。本発明の方法の可能な実施形態では、光電センサ素子群はCMOSセンサ素子からなる。本発明の方法の可能な実施形態では、2つの隣接する光電センサ素子群が露光時間の経過後に信号評価のために読み出される。本発明の方法の別の可能な実施形態では、2つの隣接するセンサ素子群に入射する光量間の露光差に対応して発生する電荷量が、2つの隣接するセンサ素子群のうち、露光時間中に比較的強い光強度の光が入射するセンサ素子群から読み出され、これはウェーブレット係数に相当する。本発明の方法の可能な実施形態では、センサ素子群の光電センサ素子は、所定の周波数範囲の電磁ビームに対して感度を有する。さらに本発明は露光差を検出する装置に関するものであり、この装置は、少なくとも2つの隣接する光電センサ素子群を有し、該光電センサ素子群には調整可能な露光時間中に光が入射し、該光はそれぞれ電荷量に変換され、該電荷量は露光時間中にそれぞれのセンサ素子群に入射する光の光量に対応し、さらに検出器を有し、該検出器は、前記2つの光電センサ素子群により発生される電荷量のうちの最小電荷量を検出し、当該最小電荷量を前記2つの光電センサ素子群から減算する。本発明の装置の実施形態では、この装置が読み出し回路を有し、該読み出し回路は光電センサ素子群を露光時間の経過後に信号評価のために信号評価回路に読み出し、前記読み出し回路は前記信号評価回路に好ましくは差電荷と当該差電荷の符号を通知または通報する。本発明の装置の可能な実施形態では、光電センサ素子群がセンサ素子フィールドにそれぞれ互いに隣接する222nの数の光電センサ素子を有し、ここでnは≧0の整数である。本発明の装置の別の可能な実施形態では、複数の光電センサ素子が、露光時間の開始前に1つのセンサ素子群に統合接続される。本発明の装置の別の可能な実施形態では、複数のセンサ素子フィールドが重なり合って配置されている。可能な実施形態では、複数のセンサ素子フィールドが並んで配置されており、その前方に画像多重化のためにビームスプリッタが設けられている。さらに本発明は、露光差を検出するための装置を有するデジタルカメラを提供する。このデジタルカメラは、少なくとも2つの隣接する光電センサ素子群を有し、当該光電センサ素子群には調整可能な露光時間中に光が入射し、該光はそれぞれ電荷量に変換され、該電荷量は露光時間中にそれぞれのセンサ素子群に入射する光の光量に対応し、さらに検出器を有し、該検出器は、前記2つの光電センサ素子群により発生される電荷量のうちの最小電荷量を検出し、当該最小電荷量を前記2つの光電センサ素子群から減算する。さらに露光差を検出するための本発明の装置および本発明の方法の可能な実施形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。図1から分かるように、そこに示された実施形態による本発明の装置1は、隣接する少なくとも2つの光電センサ素子群2,3を有し、それらの群はそれぞれ複数の光電センサ素子2-i,3-iからなる。図1に示された実施形態では、2つの隣接する光電センサ素子群2,3はそれぞれ、2つの光電センサ素子2-1,2-1と3-1,3-2を有する。一般的に各光電センサ素子群2,3は、ウェーブレット係数を求めるために、1つのセンサ素子フィールドにそれぞれ222nの数の互いに隣接する光電センサ素子を有し、ここでnはn≧0の整数である。すなわち2、8等の数のセンサ素子である。対応して各センサ素子群2,3はこの実施形態では、ウェーブレット係数を直接求めるために少なくとも2つの光電センサ素子を有する。択一的実施形態では別の適用事例のために、1つのセンサ素子群2,3は少なくとも1つのセンサ素子またはピクセルからなることもできる。2つの隣接するセンサ素子群2,3には、それぞれ調整可能な露光時間TB中に光が入射する。図1に示された実施形態では、第1の光電センサ素子群2に光量LAが入射し、第2の光電センサ素子群3に光量LBが入射する。それぞれの光電センサ素子群2,3に入射する光は、それぞれ所属の光電センサ素子群2,3によって対応する電荷量QA,QBに変換される。この電荷量QA,QBは、露光時間TB中にそれぞれのセンサ素子群2,3に入射した光の光量LA,LBに対応する。装置1はさらに検出器4を有し、この検出器は、前記2つの光電センサ素子群2,3により発生される電荷量QA,QBのうちの最小電荷量Qminを検出し、当該最小電荷量を前記2つの光電センサ素子群2,3からそれぞれ減算する。さらに図1に示した実施形態で、装置1には読み出し回路5が設けられており、読み出し回路は光電センサ素子群2,3を、露光時間TBの経過後、それらの信号評価のために信号評価回路6に読み出す。図1に示した実施形態では、露光差を検出するための装置1に読み出し回路5が組み込まれている。択一的実施形態では、露光差を検出するための装置1が光電センサ素子群と検出器4だけを有する。本発明の装置1の別の実施形態では、付加的に図1に図示しない制御回路が設けられており、この制御回路は複数の光電センサ素子を1つのセンサ素子群1,3に露光時間の開始前に統合接続する。センサ素子群2,3の大きさまたは規模は制御回路によって調整することができ、図1に示した光電センサ素子2-i,3-iは、多数の光電センサ素子を有する大きなセンサ素子フィールドの一部を形成することができる。別の可能な実施形態では、このセンサ素子フィールドは多数の光電感知性CMOSセンサ素子からなる。図1に示された実施形態では、装置1が1つのセンサ素子フィールドを有する。択一的な実施形態で装置1は、重なり合うように配置された複数のセンサ素子フィールドを有することもできる。さらに複数のセンサ素子フィールドを並べて配置し、1つのビームスプリッタを画像多重化のために設けることができる。ピクセルまたはセンサ素子の面積は変化しても良い。さらに統合接続されたセンサ素子の数は適合または調整することができる。可能な実施形態では、この適合は動的に例えば光強度に依存して行われる。本発明の装置1の可能な実施形態では、センサ素子フィールドの光電センサ素子が所定の周波数範囲ΔFの電磁光線に対して感度を有する。例えば光電センサ素子は、可視領域の光に対して感度を有する。択一的実施形態では、センサ素子フィールドが他の周波数範囲に対して、例えば紫外線または赤外線に対して感度を有する。別の可能な実施形態では、光電センサ素子が例えばX線に対して感度を有する。別の可能な実施形態では、重なり合って配置された複数のセンサ素子フィールドが、同じ周波数範囲の電磁ビームに対して感度を有する。択一的な実施形態では、重なり合うように配置されたセンサ素子フィールドが、異なる周波数範囲の電磁ビームに対して感度を有する。別の可能な実施形態では、図1に示された露光差を測定するための装置がデジタルカメラに組み込まれている。択一的実施形態では、図1に示された実施形態が、例えばX線検出器またはコンピュータトモグラフに設けられている。図1に示した装置1では、各光電センサ素子またはピクセルがセンサノードと接続されており、このセンサノードは局所的に形成された電荷Qを隣接の検出器4に通報する。2つの隣接するセンサ素子群2,3の確定された比較的小さい方の電荷が、2つの隣接するセンサ素子群の目下の電荷から検出器4によって減算される。これにより、2つの隣接するセンサ素子群2,3の一方の目下の電荷Qが常にゼロになり、それぞれ他方のセンサ素子群は、センサ素子群2,3に入射する2つの光量LA,LBの差に相当する電荷Qを有する。この差電荷ΔQまたは光量差は読み出し回路5によって露光時間TBの経過後に読み出され、さらなる信号評価のために信号評価回路6に出力される。さらに読み出し回路5は、差電荷ΔQの符号を信号評価回路6に通報する。信号評価回路6は例えばアナログ/デジタル変換器を有することができ、このアナログ/デジタル変換器は差電荷または光量差をデジタル値に変換し、このデジタル値はウェーブレット係数に直接対応する。したがって本発明の装置1により直接形成されたウェーブレット係数を直接電子的にさらに処理することができ、例えば信号圧縮、ノイズ除去および後修正することができる。さらに記録されたウェーブレット係数を逆ウェーブレット変換によって実データにバックトランスレーションすることができる。本発明の露光差を検出するための装置1は、とりわけ散乱光、例えば太陽光にも適する。本発明の装置1は、画像のウェーブレット係数を測定するために使用される。本発明の構成は全画像センサに対して格段のダイナミックゲインを提供する。すなわち,画像センサ上のウェーブレット変換は高ダイナミックレンジHDRセンサである。図2は、露光差を測定するための本発明の方法の実施形態を示すフローチャートである。第1のステップS1で、隣接する少なくとも2つの光電センサ素子群2,3が、露光時間TB中に光により露光される。可能な実施形態では露光時間TBが調整可能である。可能な実施形態では、センサ素子が露光時間TB中に感光性にアクティブに切り替えられ、露光時間TBの経過後に再び非作動にされる。このことは時間発生器またはタイマを有する制御回路によって行うことができる。択一的に実施形態では露光時間TBが、センサフィールドの前方にある絞りの制御によって調整される。この絞りは露光時間中、開放される。2つの隣接する光電センサ素子群2,3は、発生する光をそれぞれステップS1で電荷量QA,QBに変換する。この電荷量は、露光時間TB中にそれぞれのセンサ素子群2,3に入射する光Lの光量LA,LBに相当する。さらに露光時間TB中にステップS2で2つの隣接する光電センサ素子群2,3の放電が次のように行われる。この放電では、2つの光電センサ素子群2,3のうち、他方の光電センサ素子群よりも弱い光強度の光が入射する光電センサ素子群が電荷を有さずQ=0、2つの光電センサ素子群2,3のうち前記他方の光電センサ素子群が、2つの隣接するセンサ素子群2,3に入射する光量LA,LBの露光差ΔLΔL=|LA-LB|に相当する電荷量Qまたはこれに比例する電荷量Q~ΔLを有するように行われる。2つの隣接する光電センサ素子群2,3の露光時間TB中の放電は、可能な実施形態では連続的に行うことができる。択一的な実施形態では、2つの隣接する光電センサ素子群2,3の放電が露光時間TB中に非連続的に行われる。図3は、露光差を測定するための本発明の方法と本発明の装置1の機能を説明するための信号線図である。図3から分かるように、露光によって形成された電荷Qが時間tについて示されている。ここには、露光時間TB中の2つの隣接する光電センサ素子ピクセル1、ピクセル2の電荷経過が図示されている。図3に示された線形経過は一例である。すなわち露光時間TB中の電荷増加は必ずしも線形である必要はない。図3に示された例では、隣接する第2のピクセル2よりも多くの光量が第1のピクセル1に入射し、これにより発生する電荷Qtは、第1のピクセル1が図示の例で飽和限界に達するまで増加する。本発明の方法では、この比較的に強く露光される第1のピクセル1から、比較的弱く露光される第2のピクセル2により発生される電荷量が常時引き出される。図3から分かるように図示の例では、これにより第1のピクセル1が露光時間TB中に飽和に達せず、したがって露光時間TBの終了時に測定された露光差は実際の光量差に相当する。したがって本発明の方法では、電荷、すなわち光子によって発生する電子が、比較的に弱く露光されるセンサ素子群の電荷量をゼロに維持するために2つのセンサ素子またはセンサ素子群、ピクセル1,ピクセル2から同時に引き出される。比較的強く露光されるセンサ素子群により形成された電荷Qが露光時間の経過後に読み出される。この電荷Qはちょうど光量差ΔLに相当する。図3から分かるように、露光差を測定するための本発明の方法と本発明の装置1は、多くの場合、電気センサ素子群の飽和を阻止することができ、したがって測定された差の歪みを阻止できることが利点である。とりわけ図4に示すように、対応して露光時間TBが長い場合、または光強度が強い場合には、2つの隣接する光電センサ素子群2,3のうち比較的強く露光される方が飽和に達することがある。これにより測定された差が実際の光量差ΔLに対して歪んでしまう。このことは本発明の方法の可能な変形実施形態では、図5に示すように比較的強く露光されるセンサ素子群を規則的に放電することによって阻止される。ここでは2つの隣接する光源センサ素子群2,3のうち露光時間TB中に比較的強い光強度の光が入射する群から、比較的強く露光される光電センサ素子群の飽和を回避するために規則的に所定の時間間隔Δtで電荷成分が取り出される。このようにして比較的に弱く露光される光電センサ素子群、すなわち図5の実施例ではピクセル1の飽和を阻止することができる。取り出された電荷成分Miは1つの電荷量に累積加算され、この電荷量が2つの隣接するセンサ素子群2,3に入射する光量LA,LB間の露光差ΔLに相当する。可能な実施形態では、電荷成分を取り出すための所定の時間間隔Δtは調整可能である。図5に示した実施例では、電荷成分を取り出すために露光時間TBが4つの時間間隔に分割される。図5に示した実施例では、電荷成分を取り出すための時間間隔Δtは同じ大きさである。別の可能な変形実施形態では、電荷成分を取り出すための時間間隔Δtは異なっている。電荷成分を取り出すための時間間隔Δtが短く調整されていれば、2つの光電センサ素子群2,3またはピクセル1,ピクセル2が飽和に至る確率も小さい。この変形実施形態はとりわけ、光強度が高い場合にセンサ素子群またはセンサ素子が過励振されるのを阻止する。別の可能な変形実施形態では、それぞれのセンサ素子群の過飽和を阻止するために、飽和限界に達するとセンサ素子群の放電が自動的に行われ、またはトリガされる。したがってこの実施形態では、形成された電荷が監視され、閾値と比較される。露光差を測定するための本発明の方法または本発明の装置1は、任意に大きなダイナミックレンズまたはコントラスト範囲を提供する。ここでは同じハードウエアを異なる環境に対して使用することができる。本発明の方法または本発明の装置1により、オンチップデータ圧縮と別個のメモリスペースが可能である。カメラにより記録された構造体、例えばグリッドの高い周波数または空間周波数を記録の際に抑圧または除去することができる。可能な実施形態では、ピクセル容量の充電電流の検出と、この電流の対応する制御が行われる。択一的な実施形態では、コンデンサまたはピクセル容量の電圧が検出され、同時の電荷放出により電圧が相応に調整される。露光差を測定するための本発明の方法または本発明の装置1は、とりわけ医用技術、例えばX線検出器またはコンピュータトモグラフに適する。さらなる可能な使用分野は超高度偵察、例えば地図製作のための衛星画像の形成である。さらに本発明の方法および装置1はとりわけエンドユーザのデジタルカメラに適する。"