複製システムのホログラフィックディスクにデータを記録する方法であって、前記ホログラフィックディスクを回転させるステップと、前記ホログラフィックディスクの参照トラックを追跡して移動測定値を決定するステップと、前記移動測定値に基づいて前記ホログラフィックディスクの第1の表面の上で第1の光ヘッドを作動させるステップと、前記ホログラフィックディスクのデータ位置に向けて前記第1の光ヘッドからの第1のビームを合焦するステップと、前記第1のビームと反対方向に伝搬し重なり合うように第2の光ヘッドからの第2のビームを合焦して前記ホログラフィックディスクの前記データ位置にデータを記録するステップと、前記第1のビームと前記第2のビームとの間の重なり合いの位置合わせ不良を決定するステップと、前記重なり合いの位置合わせ不良に基づいて前記ホログラフィックディスクの第2の表面の上で前記第2の光ヘッドを作動させるステップであり、前記第2の表面が前記第1の表面の反対側である、ステップとを含む、方法。前記ホログラフィックディスクの前記参照トラックを追跡するステップが、前記第1の光ヘッドから前記ホログラフィックディスクの前記参照トラックにトラッキングビームを合焦するステップと、前記参照トラックからの前記トラッキングビームの反射を検出して前記移動測定値を決定するステップとを含む、請求項1記載の方法。前記重なり合いの位置合わせ不良を決定するステップが、前記複製システムの4象限検出器によって測定される前記ホログラフィックディスクを通る前記第1のビームまたは前記第2のビームの伝送に基づく、請求項1記載の方法。前記移動測定値が合焦誤りおよびトラッキング誤りの1つまたは複数を含む、請求項1記載の方法。前記移動測定値が、前記複製システムのスピンドルを軸とした前記ホログラフィックディスクのウォブリング、予定位置に対する前記ホログラフィックディスクのティルト、および前記ホログラフィックディスクの不完全性の1つまたは複数に由来する、請求項1記載の方法。前記移動測定値を前記複製システムのサーボ機械システムに伝達するステップを含む、請求項1記載の方法。前記ホログラフィックディスクの前記第1の表面の上で前記第1の光ヘッドを作動させるステップが、前記ホログラフィックディスクの前記表面に対して半径方向および軸方向の1つまたは複数に前記第1の光ヘッドのレンズを平行移動するステップを含む、請求項1記載の方法。前記データ位置が、データを記録するための前記ホログラフィックディスクのデータ層にデータトラックを含む、請求項1記載の方法。第2の組の光学構成要素を調整するステップが前記移動測定値にさらに基づく、請求項1記載の方法。前記ホログラフィックディスクの前記第2の表面の上で前記第2の光ヘッドを作動させるステップが、前記ホログラフィックディスクの前記表面に対して半径方向、軸方向、および接線方向の1つまたは複数に前記第2の光ヘッドのレンズを平行移動するステップを含む、請求項1記載の方法。前記ホログラフィックディスクの前記表面に対して接線方向に前記複製システムの光学要素を調整して、前記第2のビームの伝送に作用するステップを含む、請求項1記載の方法。前記光学要素がガルバノミラーを含む、請求項11記載の方法。前記第2のビームが、前記ホログラフィックディスクに記録されるべき符号、アドレス、トラッキングデータ、補助情報、および他のデータの1つまたは複数を含む、請求項1記載の方法。ホログラフィックディスクにマイクロホログラムを記録するためのシステムであって、前記ホログラフィックディスクの第1の側に対して軸方向および半径方向の1つまたは複数に第1の光ヘッドを作動させるように構成された第1のアクチュエータと、前記ホログラフィックディスクの第2の側に対して軸方向、半径方向、および接線方向の1つまたは複数に第2の光ヘッドを作動させるように構成された第2のアクチュエータであり、前記第2のアクチュエータによる前記第2の光ヘッドの作動が前記第1のアクチュエータによる前記第1の光ヘッドの作動に基づく、第2のアクチュエータとを備えるサーボ機械システムを具備し、前記第1の光ヘッドが前記ホログラフィックディスクの前記第1の側からデータ位置に第1のビームを合焦するように構成され、前記第2の光ヘッドが前記ホログラフィックディスクの前記第2の側から前記データ位置で前記第1のビームと干渉するように第2のビームを合焦するように構成され、前記第2の側が前記第1の側の反対側である、システム。前記サーボ機械システムが、接線方向および半径方向の1つまたは複数で前記第2のビームの合焦に作用するミラーを作動させるように構成された第3のアクチュエータを含む、請求項14記載のシステム。前記第1のアクチュエータ、前記第2のアクチュエータ、および前記第3のアクチュエータが各々前記第1のアクチュエータ、前記第2のアクチュエータ、および前記第3のアクチュエータの作動を制御するように構成された1つまたは複数のコントローラに結合される、請求項15記載のシステム。前記第1の光ヘッドが前記ホログラフィックディスクの参照トラックにトラッキングビームを合焦するように構成され、前記参照トラックからの前記トラッキングビームの反射が前記ホログラフィックディスクの前記第1のビームの衝突を示す、請求項14記載のシステム。前記ホログラフィックディスクの前記第1のビームの合焦位置と前記ホログラフィックディスクのデータ記録のための予定位置との間の逸脱に対応する第1の組の誤り信号を生成するように前記トラッキングビームの反射を検出するように構成された第1の4象限検出器を含み、前記第1のアクチュエータが前記第1の組の誤り信号に基づいて前記第1の光ヘッドを作動させるように構成される、請求項17記載のシステム。前記第1のビームの前記合焦位置と前記第2のビームの合焦位置との間の位置合わせ不良に対応する第2の組の誤り信号を生成するように前記第1のビームおよび前記第2のビームの1つまたは複数の伝送を検出するように構成された第2の4象限検出器を含み、前記第2のアクチュエータが前記第2の組の誤り信号に基づいて前記第2の光ヘッドを作動させるようにさらに構成される、請求項14記載のシステム。ホログラフィックディスクを事前フォーマットするためのシステムであって、前記ホログラフィックディスクのデータ位置に第1のビームを合焦し、反射が前記データ位置への前記第1のビームの合焦を示すトラッキングビームを前記ホログラフィックディスクの参照トラックに合焦し、前記参照トラックからの前記トラッキングビームの前記反射を受け取るように構成された第1の光ヘッドと、前記データ位置で前記第1のビームと重なり合い干渉するように第2のビームを合焦するように構成された第2の光ヘッドであり、前記第2のビームが前記第1のビームと反対方向に伝搬している、第2の光ヘッドと、前記トラッキングビームの前記反射に基づいて前記第1の光ヘッドの光学構成要素を作動させるように構成された第1のサーボ機械システムと、前記ホログラフィックディスクを通る前記第1のビームおよび前記第2のビームの1つまたは複数の伝送に基づいて前記第2の光ヘッドの光学構成要素を作動させるように構成された第2のサーボ機械システムとを備える、システム。前記第1のサーボ機械システムが、前記ホログラフィックディスクのデータ層平面に対して半径方向および軸方向の1つまたは複数に前記第1の光ヘッドの対物レンズを作動させるように構成される、請求項20記載のシステム。前記第2のサーボ機械システムが、前記ホログラフィックディスクのデータ層平面に対して半径方向、軸方向、および接線方向の1つまたは複数に前記第2の光ヘッドの対物レンズを作動させるように構成される、請求項20記載のシステム。前記ホログラフィックディスクのデータ層平面に対して接線方向および半径方向の1つまたは複数に前記第2のビームの合焦を変更するようにガルバノミラーを作動させるように構成された第3のサーボ機械システムを含む、請求項20記載のシステム。前記第1の光ヘッドおよび前記第2の光ヘッドの前記光学構成要素の作動が、前記システムに対して半径方向および接線方向の1つまたは複数に前記光学構成要素をティルティングすることを含む、請求項20記載のシステム。前記ホログラフィックディスクの前記第1のビームの合焦位置の合焦誤りおよびトラッキング誤りの1つまたは複数に対応する第1の組の誤り信号を生成するように前記トラッキングビームの前記反射を検出するように構成された第1の検出器を含む、請求項20記載のシステム。前記第1の検出器が動的に動作し、前記第1の組の誤り信号を前記第1のサーボ機械システムに連続的に伝送し、前記第1のサーボ機械システムが前記第1の組の誤り信号に基づいて前記第1の光ヘッドの光学構成要素を動的に作動させる、請求項25記載のシステム。前記ホログラフィックディスクの前記第1のビームの前記合焦と前記第2のビームの前記合焦との間の位置合わせ不良に対応する第2の組の誤り信号を生成するように前記ホログラフィックディスクを通る前記第1のビームの伝送または前記第2のビームの伝送を検出するように構成された第2の検出器を含む、請求項20記載のシステム。前記第2の検出器が動的に動作し、前記第2の組の誤り信号を前記第2のサーボ機械システムに連続的に伝送し、前記第2のサーボ機械システムが前記第2の組の誤り信号に基づいて前記第2の光ヘッドの光学構成要素を動的に作動させる、請求項27記載のシステム。ホログラフィックディスクの予定データ位置からの第1のビームの合焦位置の第1の変位を検出するステップと、前記第1の変位を示す第1の組の誤り信号を生成するステップと、前記検出された第1の変位を補償するように、前記第1の組の誤り信号に基づいて前記ホログラフィックディスクに対して半径方向および軸方向の1つまたは複数に第1の光学システムの第1の光学構成要素を作動させるステップと、ホログラフィックディスクの第2のビームの合焦位置と前記第1のビームの前記合焦位置との間の位置合わせ不良を検出するステップと、前記位置合わせ不良に基づいて第2の組の誤り信号を生成するステップと、前記検出された位置合わせ不良を補償するように、前記第2の組の誤り信号に基づいて前記ホログラフィックディスクに対して半径方向、軸方向、および接線方向の1つまたは複数に第2の光学システムの第2の光学構成要素を作動させるステップとを含む方法。目標データ位置の変位を検出するステップが、ホログラフィック記録システムに対してディスクティルト、ディスク運動、およびディスク不完全性の1つまたは複数を検出するステップと、前記検出されたディスクティルト、ディスク運動、またはディスク不完全性に基づいて前記変位を予測するステップとを含む、請求項29記載の方法。誤り信号が、トラッキング誤り信号、合焦誤り信号、およびティルト誤り信号の1つまたは複数を含む、請求項29記載の方法。前記第1の光学構成要素が1つまたは複数のレンズを含む、請求項29記載の方法。前記第2の光学構成要素が1つまたは複数のレンズおよびガルボミラーを含む、請求項29記載の方法。前記第1の光学構成要素を作動させるステップが1つまたは複数のレンズをティルティングおよび平行移動させるステップの少なくとも一方を含む、請求項29記載の方法。前記第2の光学構成要素を作動させるステップが1つまたは複数のレンズおよびミラーをティルティング、平行移動、および回転させるステップの少なくとも1つを含む、請求項29記載の方法。前記検出された変位を補償するステップは、記光学構成要素から放出されたビームが前記目標データ位置に位置合わせされるように光学構成要素を平行移動およびティルティングさせるステップの1つまたは複数を含む、請求項29記載の方法。本技法の1つまたは複数の実施形態を以下で説明する。これらの実施形態の簡潔な説明を提供するために、実際の実施態様のすべての特徴を明細書で説明するわけではない。任意のそのような実際の実施態様の開発において、あらゆる工学または設計計画と同様に、実施態様ごとに変化するシステム関連およびビジネス関連の制約の遵守などの開発者の特定の目標を達成するために多数の実施態様に特有の決定を下さなければならないことが理解されるべきである。さらに、そのような開発上の努力は複雑で時間がかかるが、それにもかかわらず、本開示の利益を受ける当業者にとって設計、製作、および量産の通常の作業であることが理解されるべきである。ビット単位ホログラフィックデータ記憶システムは、一般に、2つの重なり合い干渉するビームを記録媒体例えば、ホログラフィックディスクの内部に放出することによって記録することを含む。データビットは、合焦ビームによって照明されたとき体積光反射器として働くマイクロホログラムと呼ばれる極微の大きさの局所的ホログラフィックパターンの有無によって示される。例えば、図1に示されるホログラフィックディスク10はデータビットをディスク10の層にどのように編成することができるかを示す。一般に、ホログラフィックディスク10は、1つまたは複数のデータの記憶層が透明プラスティック薄膜に埋め込まれた円形で実質的に平坦なディスクである。データ層は、光を反射することができる深さ方向に実質的に局所化された任意の数の材料の変性領域、例えば、ビット単位のホログラフィックデータ記憶で使用されるマイクロホログラムなどを含むことができる。実施形態によっては、データ層は、ディスク10に衝突する光ビームの照明強度に反応するホログラフィック記録可能材料に埋め込むことができる。例えば、異なる実施形態では、ディスク10の材料は閾値のある反応性または直線的な反応性とすることができる。データ層は約0.05μmから5μmまでの間の厚さとすることができ、約0.5μmから250μmまでの間の離隔距離を有することができる。マイクロホログラムの形態のデータは、一般に、ディスク10の外側の縁部から内側の限界まで連続した螺旋状トラック12に記憶することができるが、同心円トラックまたは他の構成を使用することができる。スピンドルホール14はホログラフィックシステムのスピンドルのまわりに係合するように大きさを合わせることができ、その結果、ディスク10はデータ記録および/または読取りのために回転することができる。ディスク10は、リードイン区域、ユーザーデータ区域、およびリードアウト区域などの様々な機能区域をさらに含むことができる。スピンドルの回転は、記録および/または読取りプロセスの間一定線速度または一定角速度を維持するようにフィードバックシステムによって制御することができる。さらに、ディスクスピンドル、記録光学系、および/または読取り光学系は平行移動ステージまたはスレッドによってディスクの半径方向に移動し、それにより、光学システムはディスクの半径全体を横切って記録または読取りができるようになる。マイクロホログラムを複製ディスク10に記録する一般的なシステムが図2Aのブロック図で与えられる。ホログラフィックシステム16は、信号ビーム20と参照ビーム22とに分割することができる光源18を含む。信号ビーム20は、信号ビーム20を変調してデータビーム26をもたらす信号変調回路24に伝送することができる。実施形態によっては、プロセッサ40が、複製ディスク10に記録されるべきデータに基づいて信号変調を制御することができる。さらに、実施形態によっては、信号変調は光源18で直接行われ、その結果、光源18から放出される光は複製ディスク10に記録されるべきデータを含むように直接変調される例えば、データビーム26の形態で。データビーム26は別の光学系-サーボ機械システム28を通過することができ、それは、記録ビーム30をディスク10の特定の場所に合焦するように構成された様々な光学およびサーボ機械デバイスを含むことができる。例えば、光学系-サーボ機械システム28は、ディスク10の特定のデータ層またはデータトラック12に記録ビーム30を合焦することができる。参照ビーム22は、同様に、ディスク10の特定のデータ層またはデータトラック12に合焦参照ビーム34を合焦するように設計された様々な光学系-サーボ機械デバイスを含む光学系-サーボ機械システム32を通過することができ、その結果、合焦参照ビーム34は記録ビーム30と重なり合う。マイクロホログラムは、重なり合い反対方向に伝搬する2つの合焦レーザビーム30および34によって形成される干渉例えば、照明スポットの状態でホログラフィックディスク10に記録することができる。実施形態によっては、記録されたマイクロホログラムは合焦参照ビーム34を使用してディスク10から取り出すことができる。データ反射36と呼ばれる合焦参照ビーム34の反射は信号検出38のための検出器で受け取ることができる。さらに、図2Bで与えられるように、複製システムの1つまたは複数の実施形態は光源18の直接変調を含む。例えば、光源18は、光源18を直接変調するのに好適な変調器24に結合することができる。変調器24は、プロセッサ40で制御することができ、光源18によって放出される変調信号ビーム26が複製ディスク10に記録されるべき情報を含むように光源18を変調することができる。読取りおよび複製プロセスの間、複製ディスク10はホログラフィックシステムのスピンドルを軸として回転することができる。複製ディスク10に記録される信号ビームは、直接変調する例えば図2Aか、または好適な信号変調回路24で変調する例えば図2Bことができる。さらに、信号ビームはマスターディスクのデータによって変調することができ、次に、変調された信号ビームは複製ディスク10に誘導され、反対方向に伝搬するビームに重ね合わせられ、選択されたトラック12上にマイクロホログラムを記録する。記録中の複製ディスク10の回転速度と、複製ディスク10上に記録されたマイクロホログラムの近接性とが、読取りおよび/または複製誤りの確率を増加させることがある。例えば、合焦レーザビーム30および34の一方または両方が誤って位置合わせされ、複製ディスク10の正確な位置例えば、データトラック12および層に衝突しない場合、データは間違った位置に記録されることがあり、または合焦レーザビーム30および34の干渉が形成されず、その結果、データが記録されないことがある。複製プロセスの正確さおよび精度は、読取りおよび複製システムに対するディスク10のウォブリングまたはティルティングによって、ホログラフィックディスク10の不完全性によって、またはディスク10の位置を予定位置から逸脱させる他の要因によって影響を受けることがある。図3に示されるように、ホログラフィックディスク10は傾斜するか、揺動するか、または不完全性を有することがあり、そのため、マイクロホログラム記録プロセスの正確さが低下する。例えば、ディスク10は平坦な表面でなく、そのため、ビームがディスク10に正確に衝突しないことがある。例えば、ディスク10が予定位置42に対して傾斜している場合にも不正確が生じることがある。例えば、ディスク10は平行でない上部表面と下部表面とを有することがあり、またはディスク10は完全なディスク42よりも厚いことがあり、その結果、ディスク10が複製システムのスピンドルに取り付けられたとき、ディスク10の位置またはディスク10の層が予定位置42から逸脱する。さらに、ディスク10は、予定位置42に対してディスク10の湾曲した形状で示されるように歪められることがある。そのような不正確な位置づけまたは不完全性はマイクロホログラム記録の誤りを複製ディスク10にもたらすことがある。図4は、ディスク10のデータトラック12の予定位置と実際の位置とを比較するグラフ50を示す。グラフ50のx軸およびy軸は、それぞれディスク10の半径方向距離および軸方向距離両方共マイクロメートル単位を示す。ディスク10の半径方向中心はx=0μmとすることができ、一方、ディスクの上部表面および下部表面はy=0μmからy=-1200μmまでであると見込まれる。y=0μmで示されるように、ディスク10の上部表面52はディスク10の上部表面の予定位置54に対して傾斜している。このティルトは、図3で説明したように、読取りおよび/または記録の間のホログラフィック記録システム16図2Aおよび2Bに対するディスク10のティルティングまたはウォブリングに起因するか、またはディスク10の不完全性に起因する可能性がある。ディスクのティルティングまたは不完全性は、ディスク10の表面54と読取りまたは書込みヘッドの前面レンズとの間の距離の変化をもたらすことがある。したがって、ディスク表面54と前面レンズとの間の距離の変化を補償するように調整が行われない場合、複製ディスク10に衝突する記録ビームは異なるデータ層および/または異なるデータトラック12に衝突し、それによって間違ったデータが読取りおよび/または記録されるか例えば、ビームが所望のトラック12と異なるトラック12に衝突する場合、またはデータが全く読取りまたは記録されない例えば、ビームがいかなるトラック12にも位置合わせされない場合ことがある。例えば、矢印56は複製ディスク10に記録されるべき予定データ位置を示す。データ位置はデータ層の所望のトラック12上にあることができ、ディスク10の上部表面54から約-600μmと-602μmとの間の範囲にわたることができる。ディスク10のティルトに起因して、実際の照明スポット58は予定照明スポット56から軸方向および半径方向の両方に逸脱することがあり、多分、ディスクティルトまたは不完全性の激しさに応じて間違ったトラック12に、トラックのないところに、および/または間違ったデータ層に合焦することになる。そのような逸脱は複製ディスク10に不正確な記録データをもたらし、ホログラフィック記録システムのビット誤り率を増加させることがある。本実施形態は、ディスク10を複製する際の誤りを減少させるための合焦および位置合わせ技法を含む。そのような合焦および位置合わせ技法は、複製ディスク10に記録する間合焦および/または位置合わせ誤りを補正するように光学構成要素を作動させるためのサーボ機械デバイスの使用を含むことができる。図2Aおよび2Bに関して説明したように、サーボ機械デバイスは、複製ディスク10に記録ビームを伝送する光学構成要素例えば、光学およびサーボ機械システム28および32に結合することができる。他の実施形態では、異なる複製システムは、複製ディスク10を複製しながらマスターディスクから同時に読取ることを含むことができる。そのような実施形態は、マスターディスクの正確な読取りのためにマスターディスクリーダの光学構成要素に結合されたサーボ機械デバイスの使用をさらに含むことができる。図5は、ホログラフィック複製システム60の1つの例示的構成のより詳細な図を示す。ホログラフィック複製システム60は、マイクロホログラム記録および/または読取りのための適切な波長例えば、405nm、532nmなどを有する光源ビーム64を放出する光源62を含むことができる。光源62は光源ビーム64を伝送することができ、光源ビーム64は様々な光学デバイス例えば、ミラー66を通り、電気光学的に光源ビーム64を変調する電気光学変調器EOM68で変調されて、複製ディスク10に書き込まれるべきデータを含む変調ビーム70が生成される。例えば、そのようなデータは、符号、アドレス、トラッキングデータ、および/または他の補助情報などの事前記録データ、および/またはディスク10に記録されるべき他のデータを含むことができる。データビーム70は、レンズ72、およびデータビーム70のパワーおよび/または強度を変調するのに好適である空間フィルタ74などの他の光学要素を通って複製ディスク10まで複製プロセスの全体にわたり異なる強度で通過することができる。実施形態によっては、データビーム70をミラー76などの他の要素で反射させ、その後、偏光ビームスプリッタ78に伝送することができ、偏光ビームスプリッタ78により、データビーム70は、マイクロホログラムを記録するために記録ビーム80と、向かい合ってディスク10に衝突することができる反対方向に伝搬する参照ビーム104とに分割される。代替として、実施形態によっては、別個の光源を、記録ビーム80および反対方向に伝搬する参照ビーム104の各々に備えることができる。記録ビーム80は、ディスク10の記録の間開かれ、読出しの間閉じられる読取り/書込みシャッタを通して伝送することができる。実施形態によっては、記録ビーム80は反射され例えば、ミラー84によって、偏光ビームスプリッタ86およびレンズ94を通して伝送され、ガルボミラーgalvomirror96で反射され得る。以下で説明するように、ガルボミラー96は、サーボシステム140で特に、接線方向追従構成要素146で制御することができ、ディスク10への記録ビーム80の衝突に作用するように作動することができる。記録ビーム80は1/4波長板98およびレンズ100を通って光ヘッド102まで通過することができる。光ヘッド102は、複製ディスク10の所望のデータ層および所望のデータトラック12に記録ビーム80を合焦する光学構成要素を含むことができる。光ヘッド102は、さらに、サーボ機械システム140に結合することができ、サーボ機械システム140は、ディスク10のティルティングまたはウォブリングおよび/またはディスク10の不完全性を補償するように光ヘッド102の構成要素を調整するサーボ機械構成要素を含むことができる。参照ビーム104は、偏光ビームスプリッタ106およびレンズ114を通して伝送され、ダイクロイックミラー118で反射され得る。次に、参照ビーム104は1/4波長板120およびレンズ122を通って光ヘッド124に到達することができる。光ヘッド124は、記録ビーム80が合焦される同じ所望の層およびトラック12に参照ビーム104を合焦する光学構成要素を含むことができ、その結果、参照ビーム104と記録ビーム80とは相乗的に干渉して、ディスク10の所望位置に照明スポットが形成される。照明スポットはディスク10にマイクロホログラムを形成することができる。実施形態によっては、光ヘッド124は参照ビーム104の反射を読取ることができ、反射参照ビームは1/4波長板120および様々な他の光学要素を通過し、偏光ビームスプリッタ106で反射され得る1/4波長板120を2回通過した後に90°だけ偏光が回転された後。反射参照ビームはレンズ108およびフィルタ110を通過し、共焦点検出器112で検出され得る。したがって、参照ビーム104は、複製システム60の記録プロセスでは記録ビーム80に対して反対方向に伝搬してマイクロホログラムを記録することができ、さらに複製システム60の読取りプロセスではディスク10で反射され、検出器112で読取られて、マイクロホログラムを読取ることができる。実施形態によっては、追加の光源136がトラッキングビーム116を伝送することができ、トラッキングビーム116は参照ビーム104と共に複製ディスク10に衝突し、参照ビーム104の合焦および位置合わせを追跡することができる。トラッキングビーム116は記録および参照ビーム80および104と異なる波長とすることができる。例えば、トラッキングビーム116は658nmまたは別の好適な波長とすることができる。トラッキングビーム116は、ミラー134で反射され、偏光ビームスプリッタ128およびレンズ126を通して伝送され得る。トラッキングビーム116は、ダイクロイックミラー118から1/4波長板120およびレンズ122を通り、光ヘッド124に至ることができるようにする偏光を有することができる。光ヘッド124は、ディスク10のトラッキング位置にトラッキングビーム116を合焦することができる。トラッキングビーム116は、トラッキングビーム116および参照ビーム104が各々同じ光ヘッド124からディスク10に衝突するのでディスク10上の参照ビーム104の位置を追跡するのに使用することができる。例えば、トラッキングビーム116によって目標とされたトラッキング位置は参照ビーム104の所望位置または目標データ位置に対応することができる。実施形態によっては、トラッキング位置は、ディスク10の符号化トラッキングデータトラックまたはディスク10の参照層の特定の溝とすることができる。トラッキングビーム116はディスク10から反射され、1/4波長板120を通り、ダイクロイックミラー118を通り、偏光ビームスプリッタ128で反射され得る1/4波長板120を2回通過した後に90°だけ偏光が回転された後。反射トラッキングビームは他の光学要素130を通過し、それにより、反射トラッキングビームは4象限検出器132に合焦することができる。4象限検出器132は反射トラッキングビームの強度および他の属性を測定するように構成することができる。例えば、測定値は、トラッキングビーム116が目標トラッキング位置参照ビーム104の目標データ位置への適切な合焦に対応するに適切に合焦されているかどうかを示すことができる。誤り信号とも呼ばれるそのような測定値は、システム60に対するディスク10のティルト、移動、および/または不完全性を示すことができる。同様に、参照ビーム104の伝送を使用して参照ビームと記録ビームとの間の位置合わせ不良を決定することもできる。参照ビーム伝送は1/4波長板98を通過することができ、他の光学要素により反射または伝送され、偏光ビームスプリッタ86で反射され得る1/4波長板98を2回通過した後に90°だけ偏光が回転された後。伝送参照ビームは他の光学要素88を通過することができ、それにより、伝送参照ビームは4象限検出器90に合焦することができる。4象限検出器132と同様の4象限検出器90は伝送参照ビームの強度および他の属性を測定するように構成することができる。誤り信号とも呼ばれるそのような測定値は、参照ビームと記録ビームとの間の位置合わせ不良を示すことができる。実施形態によっては、4象限検出器132および90からの測定値または生成された誤り信号は各々それぞれ閾値値を超える測定値をフィルタ処理することができるフィルタシステム138および92例えば、低域通過フィルタに伝送することができ、それにより、ディスク10がティルト、移動、および/または不完全性を有しており、それは正確な複製を続けるには補償されなければならないことを示すことができる。誤り信号が閾値を超える場合、フィルタシステム138および92は各々それぞれ反射トラッキングビームおよび伝送参照ビームに基づく誤り信号をサーボ機械システム140に供給することができる。サーボシステム140は、光ヘッド124の光学構成要素を軸方向および半径方向に作動させるように構成された軸方向および半径方向サーボ機械構成要素142を含むことができ、その結果、光ヘッド124はディスク10のいかなる移動および/または不完全性も補償して、参照ビーム104をディスク10の所望位置例えば、データ層およびデータトラック12に衝突させることができる。サーボシステム140は、さらに、光ヘッド124の構成要素の動作に追従するように光ヘッド102の構成要素を作動させるように構成することができる。説明したように、参照ビーム104はディスク10の目標データ位置で記録ビーム80と干渉してマイクロホログラムを適切に記録する。実施形態によっては、光ヘッド124の軸方向および半径方向の動作に追従するように光ヘッド102を作動させるためにサーボシステム140の追従サーボ機械構成要素144を使用することができる。したがって、光ヘッド124はディスク10の表面の上で軸方向および/または半径方向に作動することができ、光ヘッド102は、対応して、記録ビーム80が参照ビーム104と反対方向に伝搬して干渉するようにディスク10の反対側の表面の上で軸方向および/または半径方向および/または接線方向に作動することができ、両方のビーム80および104はディスク10の目標データ位置に位置合わせされる。実施形態によっては、図6でさらに説明するように、光ヘッド102の軸方向および半径方向の動作は、4象限検出器132のフィードフォワード合焦およびトラッキングデータに基づくことができる。サーボシステム140は実施形態によっては接線方向追従構成要素146を含むこともできる。接線方向追従構成要素146は、ディスク10における記録ビーム80の衝突に接線方向で作用するようにガルボミラー96を作動させるように構成されたサーボ機械構成要素を含むことができる。実施形態によっては、光ヘッド102を接線方向に作動させると、目標データ位置例えば、データが記録されるべき特定のデータ層を光ヘッド102に関して接線方向に変化させることがあるディスク10のウォブリングおよびティルティングまたはディスク10の不完全性をさらに補償することができる。実施形態によっては、接線方向追従構成要素146は4象限検出器132からのフィードフォワード情報に基づいて作動することができる。図6のブロック図は、サーボシステム140と4象限検出器132および90の測定値との間のフィードフォワード関係の一例である。軸方向および半径方向作動構成要素142図5からのは、コントローラ150および1つまたは複数のアクチュエータ152を含むことができる。コントローラ150は光ヘッド124の位置決めを制御するのに好適とすることができ、アクチュエータ152は光ヘッド124を作動させるようにコントローラ150で制御することができる。軸方向および半径方向構成要素142による光ヘッド124の位置決めは4象限検出器132で検出される光の強度に影響を与えることができる。複製プロセスの全体にわたって、およびアクチュエータ152による動的位置決めの全体にわたって、検出器132は、ディスク10のティルト、ウォブル、および/または不完全性によってもたらされることがある目標データ位置における合焦記録スポットの位置合わせ不良に対応するデータを含むことができる測定値154を生成することができる。測定値154は、予定位置に対する所望位置マイクロホログラムを記録するためのの場所を含む任意の情報を含むことができる。測定値154はコントローラ150に連続的にすなわち、動的にフィードバックすることができ、コントローラ150は作動のタイプおよび/または量を決定し例えば、計算によって、アクチュエータ152と通信して、直前に受け取った測定値154に応じて光ヘッドの半径方向または軸方向の位置を増減させることができる。同様に、追従構成要素144および147はコントローラ156および1つまたは複数のアクチュエータ158をさらに含むことができる。コントローラ156は光ヘッド102の位置決めを制御するのに好適とすることができ、アクチュエータ158は光ヘッド102を作動させるようにコントローラ156で制御することができる。追従構成要素144および147による光ヘッド102の位置決めは4象限検出器90で検出される光の強度に影響を与えることができる。複製プロセスの全体にわたって、およびアクチュエータ158による動的位置決めの全体にわたって、検出器90は、参照ビームの合焦と記録ビームの合焦との間の位置合わせ不良に対応するデータを含むことができる測定値160を生成することができる。測定値160は、予定位置に対する所望位置マイクロホログラムを記録するためのの場所を含む任意の情報を含むことができる。測定値160はコントローラ156に連続的にすなわち、動的にフィードバックすることができ、コントローラ156は作動を計算し、アクチュエータ158と通信して、直前に受け取った測定値160に応じて光ヘッド102の半径方向または軸方向位置を増減させることができる。実施形態によっては、コントローラ150によって制御された作動は、測定値160に基づいてコントローラ156によって計算された作動に追加されるようにフィードフォワードするブロック162ことができる。そのため、アクチュエータ158は、光ヘッド124の位置に追従するように光ヘッド102の位置を作動させることができ、その結果、記録ビーム80および参照ビーム104はディスク10の所望位置例えば、目標データトラック12およびデータ層で干渉することができる。本発明のいくつかの特徴のみを本明細書で図示および説明したが、当業者なら多くの変更および改変を想起するであろう。したがって、添付の特許請求の範囲は、本発明の真の趣旨内にあるすべてのそのような変更および改変を包含するものであることを理解すべきである。