"光通信信号を伝搬する現用光伝送路に対し、当該現用光伝送路から分岐された状態で並行に配置される前記光通信信号の迂回線路ユニットと、前記現用光伝送路と前記迂回線路ユニットとの間の線路長の差により生じる遅延時間を調整する遅延制御ユニットとを具備し、前記迂回線路ユニットは、前記現用光伝送路から分岐された光通信信号を受光して電気信号に変換する光通信用の光-電気変換手段と、前記光通信用の光-電気変換手段により変換された電気信号を、設定された遅延量に応じて遅延処理する光通信用の可変遅延手段と、前記光通信用の可変遅延手段により遅延処理された電気信号を光通信信号に変換し、この変換された遅延処理後の光通信信号を前記現用光伝送路へ送出する光通信用の電気-光変換手段とを備え、前記遅延制御ユニットは、前記現用光伝送路と前記迂回線路ユニットとの間の線路長の差を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された線路長の差に基づいて、当該線路長の差を減少させるべく前記光通信用の可変遅延器の遅延量を制御する制御手段とを備えることを特徴とする光伝送路二重化装置。前記検出手段は、前記現用光伝送路から分岐された光通信信号を受光して、当該受光された光通信信号とは波長の異なる光試験信号を生成し、この生成された光試験信号を前記現用光伝送路及び迂回線路ユニットへ送出する試験信号生成手段と、前記現用光伝送路を伝搬した光試験信号と、前記迂回線路ユニットを伝搬した光試験信号をそれぞれ受信し、この受信された各光試験信号を比較することにより前記線路長の差の有無を判定する判定手段とを、有することを特徴とする請求項1記載の光伝送路二重化装置。前記迂回線路ユニットは、前記試験信号生成手段から送出された光試験信号を受光して電気信号に変換する試験用の光-電気変換手段と、前記試験用の光-電気変換手段により変換された電気信号を、設定された遅延量に応じて遅延処理する試験用の可変遅延手段と、前記試験用の可変遅延手段により遅延処理された電気信号を光通信信号に変換し、この変換された遅延処理後の光通信信号を前記判定手段に入力する試験用の電気-光変換手段とを、さらに備え、前記制御手段は、前記判定手段により前記線路長の差が有ると判定された場合に、前記試験用の可変遅延手段の遅延量を単位量ずつ複数回に渡り変化させ、この遅延量の変化により前記線路長の差が無いと前記判定手段により判定されたとき、このときの試験用の可変遅延手段の遅延量を前記光通信用の可変遅延手段に設定することを特徴とする請求項2記載の光伝送路二重化装置。前記光通信用の可変遅延手段は、2系統の可変遅延デバイスと、これらの可変遅延デバイスを選択的に前記光通信用の光-電気変換手段と光通信用の電気-光変換手段との間に接続する選択スイッチとを、有し、前記制御手段は、前記選択スイッチを制御することにより前記2系統の可変遅延デバイスを前記光通信用の光-電気変換手段と光通信用の電気-光変換手段との間に交互に接続させ、接続されていない状態の可変遅延デバイスに対し遅延量を設定することを特徴とする請求項2記載の光伝送路二重化装置。前記光通信用の可変遅延手段及び試験用の可変遅延手段は、主として前記検出された線路長の差を減少させるための遅延量を第1の単位で設定可能な第1の可変遅延回路と、主として可変遅延手段間の遅延量の個体差を調整するための遅延量を前記第1の単位より小さい第2の単位で設定可能な第2の可変遅延回路とを、有することを特徴とする請求項2又は3記載の光伝送路二重化装置。前記第1の可変遅延回路は、各々が設定すべき単位遅延量を有する複数の光遅延器と、前記複数の光遅延器の各々を遅延信号路に挿脱可能に接続する切替スイッチとを、備え、前記複数の光遅延器は、遅延信号路から入力された電気信号を光信号に変換する電気-光変換器と、前記設定すべき遅延量に対応する線路長を有し前記電気-光変換器により変換された光信号を伝搬する遅延用光ファイバと、前記遅延用光ファイバにより伝搬された光信号を電気信号に変換して前記遅延信号路へ出力する光-電気変換器とを有することを特徴とする請求項5記載の光伝送路二重化装置。前記第2の可変遅延回路は、半導体素子からなる複数の可変遅延素子を有し、これらの可変遅延素子のうち第1の可変遅延素子群には可変遅延手段間の遅延量の個体差を調整するための遅延量が割り当てられ、他の第2の可変遅延素子群には前記第1の可変遅延回路に設定された遅延量の微調整をするための遅延量が割り当てられることを特徴とする請求項5記載の光伝送路二重化装置。光通信信号を伝搬する現用光伝送路に対し当該現用光伝送路から分岐された状態で並行に配置される光通信信号用の迂回線路と、この光通信信号用の迂回線路に対し並列に配置される光試験信号用の迂回線路と、前記現用光伝送路と前記光通信信号用の迂回線路との間の線路長の差により生じる遅延時間を調整する遅延制御ユニットとを具備し、前記光通信信号用の迂回線路及び前記光試験信号用の迂回線路が、前記現用光伝送路から分岐された光信号を電気信号に変換したのち可変遅延器により遅延処理し、この遅延処理された電気信号を光信号に変換して前記現用光伝送路へ送出するように構成された光伝送路二重化装置で用いられる光伝送路二重化方法にであって、前記遅延制御ユニットが、前記光試験信号用の迂回線路に設けられた試験用可変遅延器の遅延量を変化させながら、前記現用光伝送路を伝搬した光試験信号と前記光試験信号用の迂回線路を伝搬した光試験信号の各受信結果を比較することにより、前記線路長の差の有無を判定する工程と、前記遅延制御ユニットが、前記線路長の差が無いと判定されたときの前記試験用可変遅延器の遅延量を、前記光通信信号用の迂回線路に設けられた可変遅延器に設定する工程とを具備することを特徴とする光伝送路二重化方法。ところが、非特許文献1及び2に記載された技術は、何れも光波長変換器や光パワー増幅のための光増幅器、光信号伝達時間を調整するための光可変遅延器を用いて迂回線路を構成している。すなわち、迂回線路の構成要素を全て光学デバイスにより構成している。この回路を実現するには、光アンプや光経路切替スイッチ等の主要な光学デバイス以外に、波長選択フィルタ、光アイソレータ等の数多くの光学デバイスが必要であり、これにより装置の大型化及び複雑化を招く。また、光学デバイス間の接続では、光学デバイスに付属している光ファイバに接続作業のための十分な余長が必要である。このため、最終的に装置内の固定的な光線路長が数十メートルにも達し、この結果光信号が迂回線路を伝搬する間に多くの遅延時間が発生してしまう。この発明は上記事情に着目してなされたもので、その目的とするところは、構成を簡単かつ小型化し、しかも迂回線路における信号伝搬時間の短縮を図った光伝送路二重化装置及び方法を提供することにある。上記目的を達成するためにこの発明の一観点は、光通信信号を伝搬する現用光伝送路に対し当該現用光伝送路から分岐された状態で並行に配置される上記光通信信号の迂回線路ユニットと、上記現用光伝送路と上記迂回線路ユニットとの間の線路長の差により生じる遅延時間を調整する遅延制御ユニットとを具備する光伝送路二重化装置にあって、上記迂回線路ユニットに、上記現用光伝送路から分岐された光通信信号を受光して電気信号に変換する光通信用の光-電気変換手段と、上記光通信用の光-電気変換手段により変換された電気信号を予め設定された遅延量に応じて遅延処理する光通信用の可変遅延手段と、上記光通信用の可変遅延手段により遅延処理された電気信号を光通信信号に変換して上記現用光伝送路へ送出する光通信用の電気-光変換手段とを設けている。そして、上記遅延制御ユニットにより、上記現用光伝送路と上記迂回線路ユニットとの間の線路長の差を検出し、この検出された線路長の差に基づいて当該線路長の差を減少させるべく上記光通信用の可変遅延器の遅延量を制御するようにしたものである。したがって、迂回線路ユニット内において、現用光伝送路と迂回線路との間の線路長の差を調整するための遅延処理は、光通信信号から変換された電気信号に対し行われる。このため、迂回線路ユニットに光アンプや光経路切替スイッチ、波長選択フィルタ、光アイソレータ等の光学デバイスを用いる必要がなくなり、これにより装置の簡単小型化を図ることが可能となる。また、一般に光デバイス間を光ファイバで接続する場合には光ファイバに十分な余長を設定する必要があり、これが通信信号の伝搬遅延の一因になっている。しかしこの発明によれば、迂回線路ユニット内の電気信号処理区間では光ファイバが不要になるので、その分通信信号の伝搬遅延を減らすことができる。また、この発明の一観点は以下のような態様を備えることを特徴とする。第1の態様は、上記線路長の差を検出する手段に、試験信号生成手段と、この試験信号を用いて線路長の差の有無を判定する判定手段を設ける。試験信号生成手段は、上記現用光伝送路から分岐された光通信信号を受光して、当該受光された光通信信号とは波長の異なる光試験信号を生成し、この生成された光試験信号を上記現用光伝送路及び迂回線路ユニットへ送出するように構成される。判定手段は、上記現用光伝送路を伝搬した光試験信号と、上記迂回線路ユニットを伝搬した光試験信号をそれぞれ受信し、この受信された各光試験信号を比較することにより上記線路長の差の有無を判定するように構成される。このように構成すると、光通信信号をもとに光試験信号を生成することができるので、発振器などの能動回路が不要となり、これにより試験信号生成手段の構成を簡単化することができる。第2の態様は、上記迂回線路ユニットに、上記試験信号生成手段から送出された光試験信号を受光して電気信号に変換したのち可変遅延手段で遅延処理し、この遅延処理された電気信号を光通信信号に変換して上記判定手段に入力する試験用の迂回線路を設ける。そして、上記制御手段の制御の下で、上記判定手段により上記線路長の差が有ると判定された場合に、上記試験用の可変遅延手段の遅延量を単位量ずつ複数回に渡り変化させ、この遅延量の変化により上記線路長の差が無いと上記判定手段により判定されたとき、このときの試験用の可変遅延手段の遅延量を上記光通信用の可変遅延手段に設定するようにしたものである。このように構成すると、試験用の迂回線路を用いて現用光伝送路と迂回線路との間の線路長の差に相当する遅延時間を検出し、この検出結果に基づいて光通信信号の迂回線路に遅延量を設定することができる。また、遅延時間を検出する際に、試験用の可変遅延手段の遅延量を単位量ずつ複数回に渡り変化させながら線路長差の有無を判定するようにしているので、安定にかつ精度良く線路長差に対応する遅延量を検出することができる。第3の態様は、上記光通信用の可変遅延手段に、2系統の可変遅延デバイスと、これらの可変遅延デバイスを選択的に上記光通信用の光-電気変換手段と光通信用の電気-光変換手段との間に接続する選択スイッチとを設ける。そして、上記制御手段により、上記選択スイッチを制御することにより上記2系統の可変遅延デバイスを上記光通信用の光-電気変換手段と光通信用の電気-光変換手段との間に交互に接続させ、接続されていない状態の可変遅延デバイスに対し遅延量を設定するようにしたものである。このように構成すると、可変遅延デバイスが光通信用の光-電気変換手段と光通信用の電気-光変換手段との間に接続されていない状態で、当該可変遅延デバイスに対する遅延量の設定が行われる。このため、光通信信号に対し影響を及ぼすことなく遅延量を設定することができる。第4の態様は、上記光通信用の可変遅延手段及び試験用の可変遅延手段に、第1可変遅延回路と第2の可変遅延回路を設ける。第1の可変遅延回路は、主として上記検出された線路長の差を減少させるための遅延量を第1の単位で設定可能に構成される。一方第2の可変遅延回路は、主として可変遅延手段間の遅延量の個体差を調整するための遅延量を上記第1の単位より小さい第2の単位で設定可能に構成される。このように構成すると、一般に比較的大きな値となる線路長差に相当する遅延量は、単位遅延量が大きく設定された第1の可変遅延回路を用いることで効率良く設定することができる。これに対し、比較的小さい値となる可変遅延手段間の個体差を吸収するための遅延量は、単位遅延量が小さく設定された第2の可変遅延回路を用いることで高精度に設定することができる。第5の態様は、上記第1の可変遅延回路として、各々が設定すべき単位遅延量を有する複数の光遅延器と、上記複数の光遅延器の各々を遅延信号路に挿脱可能に接続する切替スイッチを使用し、上記複数の光遅延器を、遅延信号路から入力された電気信号を光信号に変換する電気-光変換器と、上記設定すべき遅延量に対応する線路長を有し上記電気-光変換器により変換された光信号を伝搬する遅延用光ファイバと、上記遅延用光ファイバにより伝搬された光信号を電気信号に変換して上記遅延信号路へ出力する光-電気変換器とから構成したものである。このように構成すると、第1の可変遅延回路の遅延線として光ファイバが用いられるため、例えば同軸ケーブルを使用する場合に比べ簡単かつ小型で安価に構成できる。第6の態様は、上記第2の可変遅延回路として、半導体素子からなる複数の可変遅延素子を使用し、これらの可変遅延素子のうち第1の可変遅延素子群に可変遅延手段間の遅延量の個体差を調整するための遅延量を設定し、他の第2の可変遅延素子群には上記第1の可変遅延回路に設定された遅延量を微調整をするための遅延量を設定するようにしたものである。このように構成すると、単位遅延量が小さい第2の可変遅延回路を用いて、可変遅延手段間の個体差の調整ばかりでなく、第1の可変遅延回路に設定された遅延量の微調整も行うことができる。すなわちこの発明によれば、構成を簡単かつ小型化し、しかも迂回線路における信号伝搬時間の短縮を図った光伝送路二重化装置及び方法を提供することができる。以下、図面を参照してこの発明に係わる実施形態を説明する。[一実施形態]構成図1は、この発明の一実施形態に係る光伝送路二重化装置の構成を示すブロック図である。この実施形態の光伝送路二重化装置は、局側伝送装置OLT100と加入者側伝送装置ONUとの間を接続する現用光ファイバ102の、支障移転工事区間に設置される。この支障移転工事区間のOLT100側の端部及びONU101側の端部にはそれぞれ上部光分岐カプラ201及び下部光分岐カプラ202が配置される。これらの光分岐カプラ201,202は、それぞれ現用光ファイバ102から光信号を分岐させて迂回用光ファイバ103,104へ出力する機能と、上記迂回用光ファイバ103,104により伝搬された光信号を現用光ファイバ102に合波させる機能を有する。また、この実施形態の光伝送路二重化装置は、下り信号の迂回線路と、上り信号の迂回線路と、試験信号の迂回線路と、上部WDMWavelengthDivisionMultiplexingカプラ1及び下部WDMカプラ2を備えている。下り信号の迂回線路、上り信号の迂回線路及び試験信号の迂回線路は、何れも光-電気変換器O/E10,11,12及び電気-光変換器E/O20,21,22を有し、これらの光-電気変換器O/E10,11,12と電気-光変換器E/O20,21,22との間に可変遅延器30,31,32を配置したものとなっている。可変遅延器30,31,32は、上記光-電気変換器O/E10,11,12から出力される電気信号を、後述する制御装置60から可変遅延器制御線61を介して与えられる遅延量に従い遅延処理し、この遅延処理後の電気信号を電気-光変換器E/O20,21,22へ出力する機能を有する。上部WDMカプラ1及び下部WDMカプラ2は、上記迂回用光ファイバ103,104により伝搬された光信号を波長分割して上記下り信号の迂回線路、上り信号の迂回線路及び試験信号の迂回線路に入力する機能と、上記下り信号の迂回線路、上り信号の迂回線路及び試験信号の迂回線路から出力された光信号を波長多重して上記迂回用光ファイバ103,104へ送出する機能を有する。さらにこの実施形態の光伝送路二重化装置は、試験信号発生器40と、光路長差検出器50と、制御装置60を備えている。図2は、このうちの試験信号発生器40及び光路長差検出器50の構成の一例を示すブロック図である。試験信号発生器40は、WDMカプラ41と、光-電気変換器O/E42と、電気-光変換器E/O43を有する。そして、OLT100から現用光ファイバ102を介して伝搬されたのち下部光分岐カプラ201により分岐された波長λDownの光信号を、WDMカプラ1で分波して光-電気変換器42により電気信号に変換し、この変換された電気信号を電気-光変換器43により波長λsenseの光試験信号に変換してWDMカプラ41から送出する。この光試験信号は、下部光分岐カプラ201を通じて現用光ファイバ102および下部迂回用光ファイバ104に送られる。光路長差検出器50は、波長選択フィルタ51と、試験用の光-電気変換器52と、CDRClockDataRecoveryエラー検出器53を有する。そして、現用光ファイバ102により伝搬されたのち上部光分岐カプラ201により分岐された光試験信号と、上記試験用の迂回線路を伝搬したのち上部光分岐カプラ201により分岐された迂回光試験信号を、波長選択フィルタ51により選択したのち試験用の光-電気変換器52で電気信号に変換してCDRエラー検出器53に入力する。そして、CDRエラー検出器53おいて、エラーの有無を検出することにより、現用光ファイバ102と試験信号迂回線路との間の光路長に差があるか否かを判定し、その判定結果を検出信号線54を介して制御装置60に通知する機能を有する。制御装置60は、例えばマイクロプロセッサにアプリケーションプログラムを実行させることにより機能するもので、上記通知された判定結果をもとに、光路長差に差があると判定されているときには、可変遅延器制御線62を介して試験信号可変遅延器32の遅延量を予め設定した一定量ずつ変化させ、この変化ごとに上記判定結果を監視する。そして、光路長差が無いと判定されると、このときの上記試験信号可変遅延器32の遅延量を、可変遅延器制御線51を介して下り信号可変遅延器30及び上り信号可変遅延器31に設定する。上記下り信号可変遅延器30、上り信号可変遅延器31及び試験信号可変遅延器32は、以下のように構成される。図3はその構成を示すブロック図である。すなわち、各可変遅延器30,31,32は、A系統及びB系統をそれぞれ構成する2個の可変遅延デバイス302,303と、これらの可変遅延デバイス302,303を択一的に可変遅延器入力端子300と可変遅延器出力端子306との間に接続する選択スイッチ301,304と、上記A系統及びB系統の各可変遅延デバイス302,303から出力された遅延処理後の電気信号を合成するAB系統合成回路305とを備えている。AB系統合成回路305はOR論理回路からなる。上記可変遅延デバイス302,303の遅延量は制御装置60により制御される。また選択スイッチ301,304も制御装置60により切り替え制御される。上記A系統及びB系統の各可変遅延デバイス302,303は、例えば図4に示すように、半導体遅延部330と、光遅延部331とを直列に接続したものとなっている。半導体遅延部330は、複数m個の可変遅延半導体素子310を直列に接続したもので、個々の可変遅延半導体素子310は固定遅延時間Δtsemiを有している。光遅延部331は、複数n個の光遅延器のセットを直列に配置したものである。各光遅延器は、遅延線として機能する光ファイバ314と、入力された電気信号を光信号に変換して上記光ファイバ314に入射する電気-光変換器312と、上記光ファイバ314から出射された光信号を電気信号に変換する光-電気変換器313と、半導体マルチプレクサ311とから構成される。各光遅延器の遅延時間はそれぞれ光ファイバ314の線長を調整することにより設定される。半導体マルチプレクサ314は、上記光ファイバ314を光遅延部331内の遅延線路に挿入するか外すかを決定するもので、制御装置60により制御される。動作次に、以上のように構成された装置の動作を説明する。局側伝送装置OLT100から送出された波長λDownの下り光通信信号以後下り信号光とも呼ぶは、上部光分岐カプラ201により現用光ファイバ102および上部迂回用光ファイバ103に分岐される。上部迂回用光ファイバ103を伝搬した波長λDownの下り信号光は、上部WDMカプラ1でさらに分波されて、下り信号光-電気変換器10に入射し電気信号に変換される。この変換された電気信号は下り信号可変遅延器30において、制御装置60により設定された遅延時間だけ遅延処理されたのち下り信号電気-光変換器20により再度波長λDownの下り信号光に変換される。そしてこの波長λDownの下り信号光は、下部WDMカプラ2により合波されたのち、下部迂回用光ファイバ104を介して下部光分岐カプラ202に導かれ、ここで現用光ファイバ102により伝搬されてきた波長λDownの下り信号光と合波されて、加入者側伝送装置ONU101へ伝搬される。一方、加入者側伝送装置ONU101から送出された波長λUpの上り光通信信号以後上り信号光とも呼ぶは、下部光分岐カプラ202で現用光ファイバ102と下部迂回用光ファイバ104とに分配される。下部迂回用光ファイバ104を伝搬した波長λUpの上り信号光は、下部WDMカプラ2で分波されて上り信号光-電気変換器11に導かれ、ここで電気信号に変換されたのち上り信号可変遅延器31に入力される。そして、上り信号可変遅延器31において、制御装置60から設定された遅延時間分だけ遅延されたのち、上り信号電気-光変換器21により再度波長λUpの上り信号光に変換される。この上り信号光は、上部WDMカプラ1により合波されたのち上部迂回用光ファイバ103を介して上部光分岐カプラ202に導かれ、この上部光分岐カプラ202により現用光ファイバ102を伝搬してきた波長λUpの上り信号光と合波されて、局側伝送装置OLT100へ伝搬される。ところで、以上述べた下り及び上りの各信号光の二重化伝送を実現するには、現用光ファイバ102と迂回線路との間の信号伝搬時間を一致させる必要がある。そこで、制御装置60の制御の下で、試験信号を用いて現用光ファイバ102と迂回線路との間の光路長差を検出し、この検出された光路長差を零にするための遅延時間を下り及び上りの各可変遅延器30,31に設定する処理を以下のように行っている。すなわち、光路長差を検出するために、試験信号発生器40からは波長λsenseの光試験信号以後試験信号光とも呼ぶが送出される。ここで、試験信号光の波長λsenseとしては、波長λUpの上り信号光および波長λDownの下り信号光とは異なる波長が用いられる。上記送出された波長λsenseの試験信号光は、下部光分岐カプラ202において現用光ファイバ102と下部迂回用光ファイバ104とに分配される。下部迂回用光ファイバ104を伝搬した波長λsenseの試験信号光は下部WDMカプラ2で分波され、試験信号光-電気変換器12により電気信号に変換されたのち試験信号可変遅延器32に入力される。そして、試験信号可変遅延器32において制御装置60から設定された遅延時間だけ遅延される。この遅延処理された電気信号は、試験信号電気-光変換器22により再度波長λsenseの試験信号光に変換されたのち、上部WDMカプラ1により合波されて上部迂回用光ファイバ103を介して上部光分岐カプラ202に導かれ、この上部光分岐カプラ202において現用光ファイバ102を伝搬した波長λsenseの試験信号光と合波されたのち、光路長差検出器50に伝搬される。光路長差検出器50において、上記試験信号光は波長選択フィルタ51を通過した後、試験信号光-電気変換器52により電気信号に変換される。変換された電気信号は、CDRエラー検出器53により再生クロックのエラーの有無が調べられる。このエラー有無を表す信号は検出信号線54を介して制御装置60に通知される。なお、上記試験信号としては、局側伝送装置OLT100および加入者側伝送装置ONU101による光通信信号の伝送レートと同等の伝送速度のパルスを用いることでも可能である。これは、光路長差に起因した位相差により、現用光ファイバ102と上部迂回用光ファイバ103を伝搬し上部光分岐カプラ201において合波された試験信号のデューティ比が変化することを用いる手法である。すなわち、光路長差検出器50にて受信した試験信号のデューティ比と、試験信号発生器40から送出した時の試験信号のデューティ比とを比較することにより、光路長差の有無を検出することが可能である。制御装置60は、上記光路長差検出器50から通知される光路長差の有無を表す信号をもとに、光路長差に差があると判定されているときに、可変遅延器制御線62を介して試験信号可変遅延器32の遅延量を予め設定した一定量ずつ変化させる。そして、光路長差が無いと判定されると、このときの上記試験信号可変遅延器32の遅延量を、可変遅延器制御線51を介して下り信号可変遅延器30及び上り信号可変遅延器31に設定する。この制御装置60による制御処理動作をさらに詳しく説明する。図5はその処理手順と処理内容を示すフローチャートである。この処理動作は、光路長調査工程ST700と、遅延時間設定工程ST710に分けられる。先ず光路長調査工程ST700では、試験信号可変遅延器32の遅延時間を変化させながら光路長差検出器50において光路長差の有無を確認し、光路長差が無くなった時の遅延時間を計測する。先ずステップST701で、遅延時間をT=01とおく。次にステップST702において、遅延時間Tの時に必要な試験信号可変遅延器32の個体差調整用補正値Tsを用いて、試験信号可変遅延器32の遅延時間として、TTSを設定する。続いてステップST703により、光路長差検出器50から通知される検出信号により光路長差の有無を確認し、光路長差があればステップST704により遅延時間TをT=Tα2とし、前述の工程を繰り返す。ただし、αは上りおよび下り伝送信号に影響を与えない伝搬時間である。例えば、伝送速度1Gbpsのシステムの場合、100ps程度となる。上記処理の繰り返しの結果、光路長差が無くなったとすると、ステップST705において、この光路長差がなくなったと判定された時の遅延時間をTd=T3として一時保存し、遅延時間設定工程ST710に移行する。遅延時間設定工程710においては、ステップST711でT=Tiに初期設定したのち、ステップST712においてA系統選択スイッチをONにしたままステップST7121、B系統選択スイッチをOFFにするステップST7122。この状態で、ステップST713によりB系統可変遅延デバイス303の遅延時間を設定する。遅延時間は、遅延時間Tの時に必要な個体差調整用補正値TBを用いて、TTBとする。次に、ステップST714において、B系統選択スイッチをONした上でステップST7141、A系統選択スイッチをOFFにするステップST7142。そして、ステップST715によりA系統可変遅延デバイス302の遅延時間を設定する。遅延時間は、遅延時間Tの時に必要な個体差調整用補正値TAを用いて、TTAとする。続いてステップST716において、遅延時間Tが光路長調査工程ST700で得たTdに等しいかどうか判定し、等しくなければステップST717により設定時間TをT=Tα4とし、前述のステップST712~ST716の工程を繰り返す。なお、αは先に光路長調査工程ST700の場合と同様に、上りおよび下り伝送信号に影響を与えない伝搬時間であり、伝送速度1Gbpsのシステムの場合には100ps程度となる。以上の処理動作を繰り返し、ステップST716の判定の結果、遅延時間T=TdとなればステップST718により遅延時間設定工程ST710を終了する。上記A系統可変遅延デバイス302及びB系統可変遅延デバイス303に対する遅延時間の設定動作を、図4を用いてさらに詳しく説明する。いま例えば、可変遅延半導体素子の可変遅延時間をΔTsemi、固定遅延時間をΔtsemiとし、半導体マルチプレクサ311、電気-光変換器312、光-電気変換器313および光ファイバ314で構成される1つの光遅延器における可変遅延時間の最小変化時間ΔToptを、固定遅延時間Δtoptをとするとき、可変遅延デバイス302,303全体の可変遅延時間Tは、T=m×ΔTsemin×ΔTopt5また、全体の固定遅延時間tは、t=m×Δtsemin×Δtopt6となる。ただし、固定遅延時間tは、可変遅延時間で設定できる遅延時間をゼロにしたときに発生する可変遅延デバイス全体の遅延時間である。光ファイバ314による可変遅延時間の最小変化時間ΔToptはΔTopt=m×ΔTsemi7により設定される。光遅延部331の電気-光変換器312、光-電気変換器313および光ファイバ314による可変遅延時間の最小変化時間ΔToptは、各変換器312,313の個体差や光ファイバ314の切断長さ等により変動することが考えられる。その場合は、半導体遅延部330のm個の可変遅延半導体素子310のうち、p個を上記光遅延器の個体差調整に用いることにより解決できる。この時、可変遅延デバイス302,303全体の可変遅延時間Tは、T=m-p×ΔTsemin×ΔTopt8となる。ただし、ΔTopt=m-p×ΔTsemi9式8に示すように全体の可変遅延時間は減少するものの、光ファイバ314切断時の精度要求が緩和されるという利点がある。事前に可変遅延デバイスの遅延時間を0から式8のTまで変化させて、遅延時間が線形に変化するように個体差調整用のp個の可変遅延半導体素子310の遅延時間を設定し、この時の遅延時間値を調整用遅延時間として制御装置60に記憶しておくことで実現可能となる。次に、式6の固定遅延時間tを最小化するために、単位可変遅延時間当たりの固定遅延時間を指標として設計することを考える。可変遅延半導体素子310における単位可変遅延時間当たりの固定遅延時間をRsemiとすると、Rsemi=Δtsemi/ΔTsemi10となる。このRsemiは、用いる可変遅延半導体素子310の数量に関係なく、用いる素子に依存した固定値となる。また、光遅延部331における単位可変遅延時間当たりの固定遅延時間をRoptすると、Ropt=Δtopt/ΔTopt11となる。よって、可変半導体素子310から光遅延部に切り替える時の個数は、Ropt≦Rsemi12を満たす時が最も効率となる。これらの式9、式10、式11、式12より固定遅延時間に関する効率化を図るための条件は、Δtopt≦m-p×Δtsemi13と表すことができる。ただし、光遅延部331における可変遅延時間の最小変化時間ΔToptは、電気-光変換器312、光-電気変換器313および光ファイバ314により発生させており、ある遅延時間以下にすることは技術的に難しい。この時に実現可能な最小遅延時間をΔToptminとすると、ΔTopt=m-p×ΔTsemi>ΔToptmin14次式を満たす必要がある。以上の通り、式13および式14を満たす最小のm-pを用いることにより、可変遅延デバイス全体の固定遅延時間を最小化が可能となる。一例として、ΔToptmin=35nsec、ΔTsemi=10nsec、Δtopt=5nsec、Δtsemi=2nsec、個体差調整用の可変遅延半導体素子310をp=2個20nsec=2×ΔTsemiとすると、式13を満たすmは、m≧Δtopt/Δtsemip=2.52=4.5より、m≧5となる。次に、式14を満たすmは、m>ΔToptmin/ΔTsemip=35nsec/10nsec2=5.5より、m≧6となる。よって、この例では可変遅延半導体素子310を6個用い、光遅延部331における最小遅延時間をΔTopt=40nsecとした時に全体の固定遅延時間を最小化することができることが分かる。個体差調整に用いるp個の可変遅延半導体素子310に対する遅延時間設定値は、下り信号可変遅延器30、上り信号可変遅延器31および試験信号可変遅延器32それぞれの設定遅延時間に対する遅延時間誤差を事前に計測し、個体差調整用補正値として制御装置60に記憶しておき、遅延時間設定時にこれら個体差調整用補正値を足し合わせた遅延時間を設定することにより系統別の個体差を吸収することが可能となる。実施形態の効果以上詳述したようにこの実施形態では、上り迂回線路、下り迂回線路及び試験用の迂回線路を、現用光ファイバ102から分岐された信号光を電気信号に変換したのち可変遅延器30,31,32に入力して遅延処理し、この遅延処理された電気信号を信号光に変換して現用光伝送路へ送出するように構成している。そして、制御装置60の制御の下で、試験用の可変遅延器32の遅延量を変化させながら、光路長差検出器50により現用光ファイバ102と上記試験用の迂回線路との間の光路長差の有無を判定し、光路長差がなくなったときの遅延量を上記下り及び上り迂回線路の可変遅延器30,31にそれぞれ設定するようにしている。したがって、下り及び上りの各迂回線路において、現用光ファイバ102と迂回線路との間の光路長の差を調整するための遅延処理は、信号光から変換された電気信号に対し行われる。このため、迂回線路に光アンプや光経路切替スイッチ、波長選択フィルタ、光アイソレータ等の光学デバイスを用いる必要がなくなり、これにより装置の簡単小型化を図ることが可能となる。また、一般に光デバイス間を光ファイバで接続する場合には光ファイバに十分な余長を設定する必要があり、これが通信信号の伝搬遅延の一因になっている。しかし、迂回線路内の可変遅延器では光ファイバが不要になるので、その分通信信号の伝搬遅延を減らすことができる。またこの実施形態では、下り伝送路において、下り信号電気-光変換器20により信号光に変換され、加入者側伝送装置101に到達する波長λDownの下り信号光と、局側伝送装置OLT100から直接加入者側伝送装置ONU101に到達する波長λDownの下り信号光とは、光源が異なる。よって、下り信号可変遅延器30の遅延時間を調整し現用光ファイバ102と迂回ルートの伝搬時間とが一致した場合においても、光学干渉は起こさなくなる。また、同様に上り伝送路においても、上り信号電気-光変換器21により光に変換され、局側伝送装置100に到達する波長λUpの上り信号光と、加入者側装置101から直接局側伝送装置100に到達する波長λUpの上り信号光とは、光源が異なる。よって、上り信号可変遅延器31の遅延時間を調整し現用光ファイバ102と迂回ルートの伝搬時間が一致した場合においても、光学干渉は起こさなくなる。したがって、波長変換技術等の干渉低減技術例えば、非特許文献2参照を用いる必要は全く無くなる。さらにこの実施形態では、試験信号発生器40を、現用光ファイバ102から分岐された下り光通信信号を受光して、当該受光された光通信信号とは波長の異なる光試験信号を生成し、この生成された光試験信号を上記現用光ファイバ102及び下部迂回用光ファイバ104へそれぞれ送出するように構成している。このため、下り光通信信号をもとに光試験信号を生成することができるので、発振器などの能動回路が不要となり、これにより試験信号発生器40の構成を簡単化することができる。また、可変遅延器30,31,32に、A系統及びB系統の可変遅延デバイス302,303を設け、これらの可変遅延デバイス302,303を系統選択スイッチ301,304により択一的に切り替え、可変遅延デバイス302,303に対し非接続の状態で遅延量を設定するようにしている。このため、可変遅延デバイス302,303に対する遅延量の設定処理を光通信信号に対し影響を及ぼすことなく行うことができる。さらに、下り及び上りの各可変遅延器30,31及び試験用の可変遅延器32に、固定遅延時間の小さい半導体遅延部330と、遅延時間を大きく設定できる光遅延部331を設けている。そして、光路長差を減少させるための大きな遅延量を光遅延部331に設定し、可変遅延デバイス302,303間の遅延量の個体差を調整するための比較的小さい遅延量を可変遅延半導体素子310に設定している。このため、比較的大きな値となる光路長差に相当する遅延量を多数の遅延素子を用いることなく効率良く設定することができ、またその一方で比較的小さい値となる可変遅延デバイス302,303間の遅延量の個体差を吸収するための遅延量を、半導体遅延部330において精度良く設定することができる。さらに、可変遅延デバイス302,303において、遅延線として遅延用光ファイバ314を使用している。このため、例えば同軸ケーブルを使用する場合に比べ、遅延量の大きな可変遅延デバイス302,303を簡単かつ小型に実現できる利点がある。さらに、可変遅延デバイス302,303において、半導体遅延部330の複数の可変遅延半導体素子310のうちの一部を光遅延部331における遅延用光ファイバ314などの個体差を調整するための遅延量を設定するために使用している。このため、半導体遅延部330の固定遅延量が小さい可変遅延半導体素子310を用いて、可変遅延デバイス302,303間の個体差の調整とともに、光遅延部331における遅延用光ファイバ314などの個体差を調整することができる。なお、A系統可変遅延デバイス302およびB系統可変遅延デバイス303に用いる可変遅延デバイスとしては、例えばプログラム可能な半導体可変ディレイランが用いられる。このプログラム可能な半導体可変ディレイランは、例えばWebサイトhttpwwwelmeccojpprogrammablehtmlに詳しく記載されている。しかしながら、これらの可変遅延デバイス302,303に遅延時間を設定する場合、内部の回路切替のために瞬断等が発生し、通信が不安定になる可能性がある。この場合においても、前述のような伝送路二重化方法を用いることにより可変遅延器入力端子300と可変遅延器出力端子306の間で通信を維持しながら、希望する遅延時間に遅延時間を設定することができる。なお、試験信号可変遅延器では遅延時間設定時の瞬断が問題にならないことから、AB2系統の可変遅延デバイスを用いる必要はなく、どちらか1系統の可変遅延デバイスのみで実現可能であることは言うまでもない。[他の実施形態]なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、可変遅延デバイスの構成や当該可変遅延デバイスに対する遅延量の設定方法等についても、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施可能である。要するにこの発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。"