電気通信システムの通信回線に結合されたアナログフロントエンドをテストするための方法において、前記回線の前記アナログフロントエンドを介してシングルエンド回線テスト測定を適用し、それにより、シングルエンド回線テスト測定値を収集するステップと、前記シングルエンド回線テスト測定値を解釈し、それにより、前記アナログフロントエンドが故障していることを判断するステップとを含むことを特徴とする、方法。前記シングルエンド回線テスト測定が、周波数領域反射率法であること、および前記回線テスト測定値が、信号パワースペクトル密度であることを特徴とする、請求項1に記載の方法。前記解釈するステップが、所定の較正曲線を、前記信号パワースペクトル密度のグラフにより比較するステップを含むことを特徴とする、請求項2に記載の方法。前記解釈するステップが、前記受信したスペクトル密度に対する合計パワーを求め、前記合計パワーを所定の閾値と比較し、かつ前記合計パワーが、前記所定の閾値未満である場合、前記アナログフロントエンドが故障していると判断するステップを含むことを特徴とする、請求項2に記載の方法。電気通信システムの通信回線LINEに結合されたアナログフロントエンドAFEをテストするためのテストシステムTEST-AFEにおいて、前記回線LINEの前記アナログフロントエンドAFEを介してシングルエンド回線テスト測定を適用し、それにより、シングルエンド回線テスト測定値を収集するためのシングルエンド回線テスト測定モジュールSELTと、前記シングルエンド回線テスト測定値を解釈し、それにより、前記アナログフロントエンドAFEが故障していることを判断するための処理手段PROCと、前記シングルエンド回線テスト測定モジュールSELTおよび処理手段PROCを制御するための制御手段CTRLとを備えることを特徴とする、テストシステムTEST-AFE。前記シングルエンド回線テスト測定モジュールSELTが、周波数領域反射率法を実施すること、および前記回線テスト測定値が信号パワースペクトル密度であることを特徴とする、請求項5に記載のテストシステムTEST-AFE。前記処理手段PROCが、所定の較正曲線を、前記信号パワースペクトル密度のグラフにより比較するように構成されることを特徴とする、請求項6に記載のテストシステムTEST-AFE。前記処理手段PROCが、前記受信したスペクトル密度に対する合計パワーを求め、前記合計パワーを、所定の閾値と比較し、かつ前記合計パワーが、前記所定の閾値未満である場合、前記アナログフロントエンドが故障していると判断するためにさらに構成されることを特徴とする、請求項6に記載のテストシステムTEST-AFE。前記テストシステムが複数の通信回線に結合され、それにより、前記複数の通信回線のうちの1つに結合される各アナログフロントエンドAFEをテストすることが可能になることを特徴とする、請求項5に記載のテストシステムTEST-AFE。前記テストシステムが、様々なネットワーク要素にわたり分散されることを特徴とする、請求項5に記載のテストシステムTEST-AFE。前記テストシステムが、少なくとも部分的にアクセスノードに含まれることを特徴とする、請求項5に記載のテストシステムTEST-AFE。前記テストシステムが、少なくとも部分的にネットワーク診断ツールに含まれることを特徴とする、請求項5に記載のテストシステムTEST-AFE。本発明の目的は、上述の弱点を含まない、上記の知られたタイプのテストなど、電気通信システムにおける通信回線に結合されたアナログフロントエンドをテストするための方法およびテストシステムを提供することである。本発明によれば、この目的は、テストシステムが、通信回線のアナログフロントエンドを介してシングルエンド回線テスト測定を適用し、それにより、シングルエンド回線テスト測定値を収集するためのシングルエンド回線テスト測定モジュールと、シングルエンド回線テスト測定値を解釈し、それにより、アナログフロントエンドが故障していることを判断するための処理手段と、シングルエンド回線テスト測定モジュールおよび処理手段を制御するための制御手段とを備えることにより達成される。本出願の基本的な概念は、アナログフロントエンドにおけるハードウェアの障害を検知するために反射率測定を使用することである。反射率法は、シングルエンド回線テストSELTとも呼ばれるが、すでに知られた技法であり、xDSLシステムで使用されている。シングルエンド回線テストは、バインダの通信回線における障害を識別するための方法であり、またバンドルの様々な回線に対して、シングルエンド回線テストSELTを行うステップを含む。シングルエンド回線テストのよく知られた技法は、時間領域反射率法TDRと呼ばれる。TDRは、ツイストペアを介して信号を送り、かつ時間経過と共に受信したエコーを測定することからなる。入射信号とも呼ばれる入力信号は、送信入力により通信回線に加えられ、受信出力によりエコー信号が測定される。得られた測定値は、反射率分布reflectogramと呼ばれる。回線の、たとえわずかであっても、任意のインピーダンス変化があると、反射されたエコーレベルが変化することになり、それは、エコー測定値におけるピークまたは谷として現れる。この技法を用いたとき、接触不良、ブリッジタップ、またはワイヤゲージの変化などのいずれかの障害が、反射率分布で見えるようになる。他の知られたシングルエンド回線テスト法は、周波数領域反射率法FDRと呼ばれる。この技法は、周波数に応じて、エコー信号の振幅および位相を測定することからなる。実際には、エコーは、周波数スイープと呼ばれる各必要な周波数に対して別々に、または1度にすべての周波数に対して測定することができるが、その場合、放射された信号は広帯域信号である。得られたグラフは、周波数に対する振幅および位相の反射係数によるボーデ線図である。このような線図は、単一の障害が、エコー振幅において、一連の規則的に間隔のある隆起または穴として出現することになるので、解釈するのが多少複雑である。時間領域と周波数領域の反射率法の場合、結果は、接触不良、またはケーブル中の水分などの障害により影響を受けるが、ワイヤゲージの変化またはブリッジタップなどのいわゆる通常の欠陥によっても影響される。これらの技法に基づいて、ループ終端を決定するために、またはブリッジタップなどの他の障害を検出するために、ループ長を測定することが知られている。本出願の原理は、通信回線で信号を送り、かつ回線から戻る信号の反射を観察する、すなわち、エコーを観察することである。アナログフロントエンドが故障したxDSLポートに接続されている通信回線に対して反射率測定が行われたとき、観察される測定は、実際には通信回線から戻ってくるエコーではなく、環境の背景雑音に非常に近いものとなる。したがって、反射率測定が、エコー信号ではなく非常に低い雑音だけを含む場合、入射信号が回線上で送られておらず、障害がアナログフロントエンドの送信部にあることを示している可能性があるが、あるいは入射信号を正しく測定できておらず、障害がアナログフロントエンドの受信部にあることを示している可能性もある。したがって、シングルエンド回線テスト測定から取得された情報は、ポートのアナログ回路で生ずる可能性のあるハードウェア障害を診断するために使用される。本出願の価値は、手動の介入を行う必要なく、故障したアナログフロントエンドが自動的に検出されることである。こうすることにより、ネットワークを維持しているオペレータに時間およびコストの利点を与え、したがって、この機能を電気通信ネットワークの診断ツールに統合することは、非常に価値がある。実際に、上記で述べたように、手動の再配線の介入には数時間かかる可能性があるが、反射率測定、ならびにテスト結果の自動処理および解釈は、1分未満で行われる。様々な配線およびxDSLボードが、同じ会社に属していないアンバンドル型シナリオではより一層の価値がある。その場合、実際に、障害がボード上にあるのか、それとも回線それ自体にあるのかを判定することは、2つの異なる会社の責任を示唆するので、重大なことである。本出願の好ましい実装形態は、シングルエンド回線テスト測定モジュールが、周波数領域反射率法FDRを実施すること、およびそれによる回線テスト測定値が、信号のパワースペクトル密度であることである。このようなFDR実装形態の他の特性的な特徴は、処理手段が、所定の較正曲線を、信号パワースペクトル密度のグラフにより比較するように構成されることである。このようないわゆる較正曲線は、結果の正しい解釈を行うのに必要であるため、シングルエンド回線テストモジュールの設計時に、または初期化時に常に実施される。通常、3種類の較正測定が行われる。第1の較正測定は開放回路で行われ、第2のものは短絡回路で行われ、かつ第3のものは、デジタル加入者線システムで通常100オームである整合インピーダンスで行われる。これらの較正測定は、DSLボードの設計時に行われるが、より確度を高めるために、生産ラインから出た各DSLボードに対して繰り返すことができる。このように、較正曲線は、DSLボードがフィールドで展開される時点には知られている。故障したアナログフロントエンドを潜在的に検出する目的で、シングルエンド回線テスト測定値における異常値を判定する他の方法は、処理手段が、受信したスペクトル密度に対する合計パワーを求め、かつその合計パワーを所定の閾値と比較するようにテストシステム中でさらに構成されることである。本明細書による処理手段は、合計パワーが所定の閾値未満であった場合、アナログフロントエンドは故障していると判断するように設計される。さらに、本出願のテストシステムは、複数の通信回線に結合することができ、それにより、テストシステムと、複数の通信回線のうちの1つとの間で結合された各アナログフロントエンドのそれぞれ1つのものをテストできるようになる、すなわち、1つのテストシステムを用いて、異なるアナログフロントエンドを、その適正な動作に関してテストすることができる。様々な回線をすべて1つの、同じボードに結合することができるが、異なるボードにも同様に結合することができ、それにより、1つのテストシステムが、様々なボードにもサービスできることに留意する必要がある。テストシステムは、少なくとも部分的にアクセスノードに含めることができるが、あるいは少なくとも部分的にネットワーク診断ツールに含めることができる。これは、本出願の可能な実装形態は、テストシステムが、DSLボード中に完全に実装される、または診断ツール中に完全に実装される実装形態を含むことを意味している。最後に、テストシステムの様々な機能ブロックは、1つの、同じネットワーク要素中に集中化することができるが、アクセスノードおよび/または診断ツールなどの様々なネットワーク要素にわたり分散させてもよい。特許請求の範囲で使用される用語備える/含むcomprisingは、その後に列挙される手段に限定されるものと解釈すべきではないことに留意されたい。したがって、表現手段AおよびBを備える装置の範囲は、構成要素AおよびBだけからなる装置に限定されるべきではない。それは、本発明に関して、単に関連する装置の構成要素が、AおよびBであることを意味している。同様に、特許請求の範囲で使用される用語結合されるはまた、直接接続されるものだけに限定されると解釈すべきではないことに留意されたい。したがって、表現装置Bに結合された装置Aの範囲は、装置Aの出力が、装置Bの入力に直接接続される装置またはシステムに限定されるべきではない。それは、他の装置または手段を含む経路でありうる、Aの出力とBの入力との間に経路が存在することを意味する。添付図面と併せて以下の一実施形態の以下の記述を参照することにより、本発明の上記のならびに他の目的および特徴がより明らかとなり、本発明それ自体が最もよく理解されよう。図1で示すその電気通信環境における本発明による装置の動作は、そこで示された様々なブロックの機能的な記述により説明される。この説明に基づけば、ブロックの実際的な実装形態は当業者には自明のものとなるので、それを詳細に説明しないものとする。加えて、アナログフロントエンドをテストするための方法の原理的な動作がさらに詳細に説明される。図1を参照すると、DSLBoardの1つのポートが示されている。DSLのポートは、デジタル部分DIGITALとアナログ部分ANALOGUEとを備える。両方の部分の間の境界は、D/A変換器DAC、およびA/D変換器ADCにより形成される。アナログ部分は、述べられる順序で互いに結合された以下のコンポーネントを有するアナログフロントエンドAFEを備える:-デジタル信号プロセッサから送られたデジタル信号をアナログ信号に、すなわち、電圧信号に変換するD/A変換器DAC、-D/A変換器DACから送られた信号を、通信回線に送る前に増幅するラインドライバLD、-受信信号から、送られた信号を分離するハイブリッドHyb、-xDSL信号と電話信号との間の相互作用を阻止する高域通過フィルタHPF、-通信回線から受信した信号を増幅する低雑音増幅器LNA、-範囲外信号のエイリアシングを阻止する低域通過フィルタLPFであるアンチエイリアシングフィルタ、および-デジタル信号プロセッサDSPに送るために、受信したアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換器ADC。これらの機能のいくつかは単一のチップに統合することができるが、これらの機能の全てを統合することはできないことに留意すべきである。なぜならば、これらの機能は、他の技術を必要とする、またはインダクタ、変圧器、もしくは大型のコンデンサなどのように単により大型のコンポーネントであるからである。このようにD/A変換器は、A/D変換器と統合することができるが、ラインドライバは、電力半導体技術を必要とするので、他のコンポーネントとさらに統合することは難しく、また大型のコンデンサを必要とするフィルタもまた、他のコンポーネントとさらに統合することは困難である。高域通過フィルタHPFは、通信回線LINEに結合され、それは次いで、顧客の構内設備CPEに結合される。デジタル部分は、D/A変換器DACおよびA/D変換器ADCの両方と、本出願のテストシステムTEST-AFEとに結合されるデジタル信号プロセッサDSPを備える。テストシステムTEST-AFEは、シングルエンド回線テスト測定モジュールSELT、プロセッサと呼ばれる処理手段PROC、および制御器と呼ばれる制御手段CTRLを備える。シングルエンド回線テストモジュールSELTは、デジタル信号プロセッサDSP、プロセッサPROC、および制御器CTRLに結合される。制御器はまた、プロセッサに結合される。シングルエンド回線テスト測定モジュールSELTは、アナログフロントエンドを介し、回線LINEに対してシングルエンド回線テスト測定を適用し、それによりシングルエンド回線テスト測定値を収集するために、テストシステムに含まれる。プロセッサPROCは、シングルエンド回線テスト測定値を解釈し、それにより、アナログフロントエンドAFEが故障しているかどうかを判断するために、テストシステムTES-AFEに含まれる。制御器CTRLは、シングルエンド回線テスト測定モジュールSELTおよびプロセッサPROCを制御するためにテストシステムTEST-AFEに含まれる。顧客が、例えば、LINEなど、自分の通信回線に関して苦情を訴える状況を考える。本出願の方法は、アナログフロントエンドにおける障害が疑われうるかどうかを検証する方法を提供する。オペレータは、このような状況において、制御器CTRLをトリガすることができ、制御器は、次いで、シングルエンド回線テスト測定モジュールおよびプロセッサを制御することになる。第1の制御信号が、シングルエンド回線テスト測定モジュールに転送されてこのモジュールをトリガし、各回線LINEのアナログフロントエンドを介してシングルエンド回線テスト測定を適用し、かつそれにより、シングルエンド回線テスト測定値を収集する。収集されたシングルエンド回線テスト測定値は、測定モジュールSELTによりテストシステムのプロセッサPROCへと転送される。測定値を受信すると、プロセッサPROCは、シングルエンド回線テスト測定値の解釈を開始し、かつそれにより、通信回線LINEに関する苦情が、関連するアナログフロントエンドが故障したことに起因しているかどうかを判断する。制御器CTRLにより、シングルエンド回線テスト測定モジュールSELTおよびプロセッサPROCを共に制御するための代替的な方法は、例えば、測定モジュールSELTが、例えば、通常の方法でシングルエンド回線測定を行い、かつそれにより通常の方法で収集された測定値をプロセッサに送る場合に提供されることに留意されたい。オペレータが制御器CTRLを開始した場合、制御器は、例えば、最近受信した測定値および判断の解釈の実行をトリガするために、第2の制御信号をプロセッサPROCに送る。その目的は、制御器CTRLを介して、外部のイベントが、その機能を実行するように装置SELTおよびPROCの両方に転送されることにある。例えば、xDSLシステムでは、通常、周波数領域反射率法FDRが、シングルエンド回線テスト測定として使用されることに留意する必要がある。FDRを適用するとき、測定を反映する典型的なグラフは、周波数に応じた受信信号のパワーを、すなわち、受信した信号パワースペクトル密度PSDを実際に示している。受信信号、すなわち、SELTモジュールにより受信された信号は、エコー信号であることも、ないこともありうることに留意されたい。これは、アナログフロントエンドが実際に故障しているかどうかに依存しており、故障している場合には、故障している各コンポーネントにも依存する。上記で述べたように、較正曲線は、結果の正しい解釈に必要であるため、シングルエンド回線テストモジュールSELTの設計時に、または初期化時に常に生成される。これらの較正曲線が図2に示されている。設計時に生成される典型的な3種類の較正測定は:-開放回路で、-短絡回路で、かつ-デジタル加入者線システムでは通常100オームである整合インピーダンスで行われる。伝統的な送信回路理論によれば、エコー信号の最大測定信号は、ポートが、開放回路または短絡回路により終端されたときに生ずる。これは、図2で、すなわち、最も高い曲線で示されている。これらの場合では、すべての信号パワーは放射源に戻る。さらに、エコー信号の最小の測定信号は、ポートが、負荷を加えるとも呼ばれる整合インピーダンスで終端されたときに生ずる。インピーダンスは、実際は、回線LINEのポートの内部ソースインピーダンスに等しい。この場合、図2を参照すると、すべての信号パワーは、負荷へと送信され、戻ってくる信号パワーはない。プロセッサPROCの解釈のタスクを、次にさらに詳細に述べるものとする。シングルエンド回線テストSELTが、FDRを実施することにより提供され、かつそれにより信号パワースペクトル密度が測定されてグラフで提供されるxDSL電気通信システムの場合、解釈するステップは、これらの所定の較正曲線を、測定された信号パワースペクトル密度のグラフにより比較するステップを含む。図2は、故障したアナログフロントエンドシステムに対する測定された信号パワースペクトル密度を示している。図示された故障したポートのエコーレベルは、正常なポートに対して生成された較正曲線のどれよりもはるかに低い。ポートが整合インピーダンスで負荷が加えられた場合であっても、故障したアナログフロントエンドを含む生成されたグラフは、はるかに低い。プロセッサPROCの解釈は、較正曲線と比較したとき、SELTの実際の測定値が、図で実際にはるかに低い位置にあるかどうかを判定するステップからなる。実際の測定値が、実際にはるかに低い場合、プロセッサPROCは、アナログフロントエンドが実際に故障していると判断/判定する。さらなる、または代替の解釈するステップは、受信したスペクトル密度に対する合計パワーを求め、この合計のパワーを所定の閾値と比較するステップを含む。スペクトル密度信号の合計パワーは、周波数にわたって受信したPSD信号を積分することにより求めることができる。実際に、SELTモジュールの設計時に、例えば、整合インピーダンスの較正曲線に関する合計パワーを求めることができる。計算されたパワーの値は、例えば、プロセッサPROCに記憶される閾値として定義される。アナログフロントエンドの適正な動作を疑う場合、プロセッサPROCは、最近のSELT測定値に基づき、受信したスペクトル密度に対する合計パワーを計算し、この値を所定の閾値と比較する。受信したスペクトル密度の合計パワーが、所定の閾値よりも低い場合、プロセッサPROCは、は、アナログフロントエンドが実際に故障していると判断する。最後に、図1は、テストシステムが1つの通信回線LINEにだけ結合されていることを示すことに留意する必要がある。しかし、本テストシステムTEST-AFEは、そのアナログフロントエンドをそれぞれが備える複数の同様の通信回線に対して同様に結合され、かつサービスすることができる。最後の留意点は、本発明の諸実施形態は、機能ブロックに関して上記で述べられていることである。上記で示されたこれらのブロックの機能的な説明から、電子装置を設計する当業者であれば、よく知られた電子コンポーネントを用いて、これらのブロックの実施形態をどのようにすれば製作できるかは明らかであろう。したがって、機能ブロックの内容の詳細なアーキテクチャは示さないものとする。本発明の原理が、特有の装置と共に上記で述べられてきたが、この記述は、例示のために行われているに過ぎず、添付の特許請求の範囲で定義される本発明の範囲を限定するものではないことを明確に理解されたい。