"被検試料を当該被検試料が含まれる試料容器から吸引し、反応容器内に吐出する分注手段と、前記分注手段により前記被検試料を前記試料容器から第1の試料量分吸引する際に要する第1吸引時間、前記反応容器内に前記被検試料を前記第1の試料量分吐出する際に要する第1吐出時間、前記被検試料を前記試料容器から前記第1の試料量より少ない前記第2の試料量分吸引する際に要する第2吸引時間および前記反応容器内に前記被検試料を前記第2の試料量分吐出する際に要する第2吐出時間に基づいて、前記第1の試料量分の分注に要する時間と前記第2の試料量分の分注に要する時間の差分である余剰時間を算出する算出手段と、前記余剰時間に基づいて、前記分注手段の制御を可変する制御手段と、を備えることを特徴とする自動分析装置。前記制御手段は、前記分注手段による前記被検試料の吸引動作のうちの当該分注手段が有するプローブの前記試料容器への下降動作、前記プローブの下降動作停止後の前記試料の吸引動作、前記吸引動作終了後の前記プローブの前記試料容器からの上昇動作、前記分注手段による前記被検試料の吐出動作のうちの当該分注手段が有するプローブの前記試料容器への下降動作、前記プローブの下降動作停止後の前記試料の吐出動作、前記吐出動作終了後の前記プローブの前記試料容器からの上昇動作の少なくともいずれか一つの動作についての制御を可変することを特徴とする請求項1記載の自動分析装置。しかしながら、単項目分注方式のセミランダムアクセス方式では、吸引するために試料容器の被検試料に複数のサンプル分注プローブが入るので、複数のサンプル分注プローブを介して前に分注された被検試料が試料容器に持ち込まれることになり、例えば極低濃度の免疫項目などが測定される被検試料は影響を受けやすくなる問題がある。また、被検試料を分注するためのサンプル分注プローブ、サンプル分注ポンプ、及びサンプル分注ポンプを駆動する機構などのサンプル分注系が、測定ラインと同数だけ必要になるので、装置が複雑且つ高価になる問題がある。一方、複数項目分注方式においては、一度に多くの被検試料がサンプル分注プローブ内に吸引されるので、ダミー部分のみならずダミー近傍の被検試料も希釈されてサンプル分注精度が低下して測定精度が低下する問題がある。本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので、被検試料間の影響を低減し、精度よく被検試料を分注することができる自動分析装置及びその分注方法を提供することを目的とする。上記目的を達成するために、請求項1に係る本発明の自動分析装置は、被検試料を当該被検試料が含まれる試料容器から吸引し、反応容器内に吐出する分注手段と、前記分注手段により前記被検試料を前記試料容器から第1の試料量分吸引する際に要する第1吸引時間、前記反応容器内に前記被検試料を前記第1の試料量分吐出する際に要する第1吐出時間、前記被検試料を前記試料容器から前記第1の試料量より少ない前記第2の試料量分吸引する際に要する第2吸引時間および前記反応容器内に前記被検試料を前記第2の試料量分吐出する際に要する第2吐出時間に基づいて、前記第1の試料量分の分注に要する時間と前記第2の試料量分の分注に要する時間の差分である余剰時間を算出する算出手段と、前記余剰時間に基づいて、前記分注手段の制御を可変する制御手段と、を備えることを特徴とする。以下に、本発明による自動分析装置の実施例を、図1乃至図12を参照して説明する。図1は、本発明の実施例に係る自動分析装置の構成を示したブロック図である。この自動分析装置100は、様々な測定項目のキャリブレータや被検試料毎に選択入力された測定項目を測定する分析部19と、分析部19の測定動作の制御を行う分析制御部30と、分析部19から出力された分析信号を処理して分析データを生成する分析データ処理部40と、分析データ処理部40からの分析データを出力する出力部50と、測定項目毎の分析条件の設定や被検試料毎の測定項目の選択入力、各種コマンド信号を入力する操作部60と、上述したこれらのユニットを統括して制御するシステム制御部70とを備えている。分析部19は、測定項目毎のキャリブレータ、被検体から採取された被検試料などのサンプルに係る分析ユニットなどを有するサンプル部20と、サンプルの測定項目の成分と化学反応させるための試薬に係る分析ユニットなどを有する試薬部21と、サンプルと試薬の混合液の測定に係る分析ユニットなどを有する反応部22とを備えている。そして、キャリブレータや被検試料の測定により生成されたキャリブレータ信号や分析信号などは、分析データ処理部40に出力される。分析制御部30は、分析部19の分析ユニットなどを駆動する各機構を有する機構部31と、機構部31の各機構を制御する制御部32とを備えている。分析データ処理部40は、分析部19から出力されたキャリブレータ信号や分析信号などから各測定項目のキャリブレーションテーブルの作成、各被検試料の各測定項目の分析データの算出などを行う演算部41と、演算部41で作成されたキャリブレーションテーブルや算出された分析データなどが保存される記憶部42とを備えている。演算部41は、分析部19から出力された各測定項目のキャリブレータ信号から各測定項目のキャリブレーショテーブルを作成して出力部50に出力すると共に記憶部42に保存する。また、分析部19から出力された各被検試料の各測定項目の分析信号に対して、記憶部42から測定項目のキャリブレーションテーブルを読み出した後、このキャリブレーションテーブルを用いて分析データを算出して出力部50に出力すると共に記憶部42に保存する。記憶部42は、ハードディスクなどを備え、演算部41から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどが被検試料毎に保存される。出力部50は、分析データ処理部40から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを印刷出力する印刷部51及び表示出力する表示部52を備えている。印刷部51は、プリンタなどを備え、分析データ処理部40から出力されたキャリブレーションテーブル、分析データなどを予め設定されたフォーマットに従って、プリンタ用紙などに印刷出力する。表示部52は、CRTや液晶パネルなどのモニタを備え、分析データ処理部40から出力されたキャリブレーションテーブルや分析データ、被検体のID及び氏名などを入力する被検体情報入力画面、測定項目毎の分析条件を設定するための分析条件設定画面、被検試料毎に測定項目を選択設定するための測定項目設定画面などの表示を行う。操作部60は、キーボード、マウス、ボタン、タッチキーパネルなどの入力デバイスを備え、測定項目毎の分析条件の設定、被検体の被検体IDや被検体名などの被検体情報の入力、被検試料毎の測定項目の選択入力、各測定項目のキャリブレーションや被検試料測定などの様々な操作が行われる。システム制御部70は、図示しないCPUと記憶回路を備え、操作部60から供給される操作者のコマンド信号、測定項目の分析条件、被検体情報、被検試料毎の測定項目などの情報を記憶した後、これらの情報に基づいて、分析部19を構成する各分析ユニットなどを一定サイクルの所定のシーケンスで測定動作させる制御、キャリブレーションテーブルの作成、分析データの算出と出力などシステム全体の制御を行う。次に、分析部19及び分析制御部30の構成の詳細を図2乃至図3を参照して説明する。図2は、分析部19のサンプル部20、試薬部21、及び反応部22の構成を説明するための斜視図である。サンプル部20は、キャリブレータ、精度管理用試料、被検試料などのサンプルを収容した試料容器17と、キャリブレータ設定位置に設定された試料容器17や精度管理用試料設定位置に設定された通常の試料容器17を回動可能に保持するサンプラ6aと、被検試料設定位置に設定された試料容器17や小児などから採取した微量の被検試料を吸引可能に収容する微量対応の試料容器17bなどを保持するラック17aと、複数のラック17aを移動可能に保持するサンプラ6bとを備えている。また、試料容器17からサンプルを吸引して反応部22の複数の測定項目の測定が可能なように設けられたA,B測定ラインに対応するサンプル吐出位置A,Bの反応容器4A,4Bに吐出し、同一サンプルの分注終了毎にサンプル分注プローブ洗浄位置で洗浄されるサンプル分注プローブ16と、このサンプル分注プローブ16をキャリブレータ吸引位置、精度管理用試料吸引位置、被検試料吸引位置、サンプル吐出位置A,B、及びサンプル分注プローブ洗浄位置の各位置間の回動、及び各位置での上下移動を可能に保持するサンプル分注アーム10とを備えている。なお、サンプル分注プローブ16は、被検試料を吸引するために被検試料の液面から例えば2mm程度の所定の深さまで入って液面を検出するので、試料容器17,17bには前記所定の深さの分よりも深くなるように被検試料を入れておく必要がある。そして、通常の試料容器17は、多項目測定が可能な量の被検試料を収容することができるようになっている。しかしながら、小児から採取できる被検試料は微量であるので、微量の被検試料の吸引が可能な試料容器17bでは、前記所定の深さの分よりも深く被検試料を収容できるように通常の試料容器17よりも開口部及び収容部の水平断面が細径になっている。図3は、分析部19のサンプル部20と反応部22の構成の一部を上から見た図である。サンプル分注アーム10は、このサンプル分注アーム10の回動軸を軸として矢印R1及びR2方向に回動して、サンプル分注プローブ16を図3に破線で示したサンプル分注プローブ16の移動軌跡に沿って移動する。このサンプル分注プローブ16の移動軌跡下には、サンプル吐出位置A,Bと、このサンプル吐出位置A,Bの近傍に位置する被検試料吸引位置と、サンプル吐出位置A,Bと被検試料吸引位置の間に位置するサンプル分注プローブ洗浄位置とがある。そして、サンプル分注プローブ16がサンプル吐出位置A,Bと被検試料吸引位置間、サンプル吐出位置A,Bとサンプル分注プローブ洗浄位置間、及びサンプル分注プローブ洗浄位置と被検試料吸引位置間を短時間で移動できるようになっている。サンプル分注プローブ16は、被検試料の入った試料容器17などを保持するラック17aが矢印L1方向に移動して、被検試料吸引位置に停止する例えば1乃至5の試料容器17の被検試料を、サンプル吐出位置A,Bに停止した反応容器4A,4Bに分注する。そして、試料容器17のサンプル分注終了毎にサンプル分注プローブ洗浄位置で洗浄される。図2の試薬部21は、サンプルに対して選択的に反応する第1試薬が入った試薬ボトル7a及びこの第1試薬と対の第2試薬が入った試薬ボトル7bと、第1試薬が入った試薬ボトル7aを収納する試薬ラック1aと、試薬ラック1aを回動可能に保持する試薬庫2と、第2試薬が入った試薬ボトル7bを収納する試薬ラック1bと、試薬ラック1bを回動可能に保持する試薬庫3とを備えている。また、試薬部21は、図示しない第1A,第1B試薬吸引位置の試薬ボトル7aから第1試薬を吸引して、反応部22のA,B測定ラインに対応する図示しない第1A,第1B試薬吐出位置から吐出し、第1試薬分注終了毎に図示しない第1A,第1B試薬分注プローブ洗浄位置で洗浄する第1試薬分注プローブ14a,14bと、図示しない第2A,第2B試薬吸引位置の試薬ボトル7bから第2試薬を吸引して、A,B測定ラインに対応する図示しない第2A,第2B試薬吐出位置から吐出し、第2試薬分注終了毎に図示しない第2A,第2B試薬洗浄位置で洗浄する第2試薬分注プローブ15a,15bとを備えている。更に、試薬部21は、第1試薬分注プローブ14a,14bを第1A,第1B試薬吸引位置、第1A,第1B試薬吐出位置、及び第1A,第1B試薬分注プローブ洗浄位置の各位置間で回動、及び各位置で上下移動を可能に保持する第1試薬分注アーム8a,8bと、第2試薬分注プローブ15a,15bを第2A,第2B試薬吸引位置、第2A,第2B試薬吐出位置、及び第2A,第2B試薬分注プローブ洗浄位置の各位置間で回動、及び各位置で上下移動を可能に保持する第2試薬分注アーム9a,9bを備えている。反応部22は、サンプル吐出位置A,Bに停止したサンプル分注プローブ16から分注されたサンプルと、第1A,第1B試薬吐出位置に停止した第1試薬分注プローブ14a,14bから分注された第1試薬と、第2A,第2B試薬吐出位置に停止した第2試薬分注プローブ15a,15bから分注された第2試薬とを受入れるA,B測定ラインに対応する反応容器4A,4Bから構成される反応容器群の反応容器4と、円周上に複数配置された反応容器4を回転可能に保持する反応ディスク5とを備えている。そして、反応ディスク5は、例えば4.5秒の分析サイクルで反時計回りに回転して停止し、例えば4分析サイクルで1周と反応容器4A,4B分を加算した角度だけ回転する。なお、時計回りに回転させるようにしてもよい。また、1周と反応容器4A,4B分を減算した角度だけ回転させるようにしてもよい。また、反応部22は、A,B測定ラインに対応する図示しない第1A,第1B撹拌位置に停止した反応容器4内のサンプルと第1試薬の混合液を撹拌し、この混合液の撹拌終了毎に図示しない第1A,第1B撹拌洗浄位置で洗浄する図示しない第1A,第1B撹拌子を、第1A,第1B撹拌位置と第1A,第1B撹拌子洗浄位置間を回動、及び各位置での上下移動を可能に保持する第1撹拌ユニット11aを備えている。また、A,B測定ラインに対応する図示しない第2A,第2B撹拌位置に停止した反応容器4内のサンプル、第1試薬、及び第2試薬の混合液を撹拌し、この混合液の撹拌終了毎に図示しない第2A,第2B撹拌子洗浄位置で洗浄する図示しない第2A,第2B撹拌子を、第2A,第2B撹拌位置と第2A,第2B撹拌洗浄位置間を回動、及び各位置での上下移動を可能に保持する第2撹拌ユニット11bとを備えている。更に、反応部22は、第1或いは第2撹拌後の混合液の入った反応容器4が測光位置を通過する時に光を照射して、透過した光から設定波長の吸光度を測定して分析信号を生成する測光ユニット13と、洗浄及び乾燥位置に停止した反応容器4内の測定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器4内を洗浄する洗浄ノズル及び乾燥する乾燥ノズルを上下移動可能に保持する洗浄ユニット12とを備えている。そして、反応容器4は、洗浄ユニット12で洗浄及び乾燥された後、再び測定に使用される。次に、分析制御部30の機構部31の構成を説明する。この機構部31は図示しないが、分析部19のサンプラ6a、試薬庫2、及び試薬庫3を各回動する機構、ラック17aを移動する機構、反応ディスク5を回転する機構、サンプル分注アーム10、第1試薬分注アーム8a,8b、第2試薬分注アーム9a,9b、第1撹拌ユニット11a、及び第2撹拌ユニット11bを各回動及び上下移動する機構、洗浄ユニット12の上下移動を行う機構を備えている。また、機構部31は、水などの圧力伝達媒体を介してサンプル分注プローブ16内へのサンプルの吸引やサンプル分注プローブ16からのサンプルの吐出を行わせるサンプル分注ポンプ10aを駆動する機構、第1試薬分注プローブ14a,14bから第1試薬の吸引及び吐出を行う試薬ポンプを各駆動する機構、第2試薬分注プローブ15a,15bから第2試薬の吸引及び吐出を行う試薬ポンプを各駆動する機構、第1撹拌ユニット11aの第1A,第1B撹拌子を別々に撹拌駆動する各機構、第2撹拌ユニット11bの第2A,第2B撹拌子を別々に撹拌駆動する各機構、洗浄ユニット12の洗浄ノズルから洗浄液の吐出及び吸引を行う洗浄ポンプを駆動する機構、洗浄ユニット12の乾燥ノズルから吸引を行う乾燥ポンプを駆動する機構等を備えている。制御部32は、機構部31のサンプラ6a、ラック17a、試薬庫2、試薬庫3、反応ディスク5、サンプル分注アーム10、第1試薬分注アーム8a,8b、第2試薬分注アーム9a,9b、第1撹拌ユニット11a、第2撹拌ユニット11b、洗浄ユニット12、サンプル分注ポンプ10a、試薬ポンプ、第1A,第1B撹拌子、第2A,第2B撹拌子、洗浄ポンプ、乾燥ポンプなどの各機構を制御する制御回路を備えている。そして、分析サイクル単位で、機構部31の各機構を動作させる。次に、図1乃至図5を参照して、被検試料を反応容器4に分注するサンプル分注動作の詳細を説明する。図4は、被検試料を反応容器4に分注するサンプル分注工程と、このサンプル分注工程の後に行われるサンプル分注プローブ洗浄工程とを示したフローチャートである。このサンプル分注工程S50は、分析サイクル毎に実行され、被検試料吸引位置の試料容器17に収容された被検試料を反応容器4Aに分注するサンプル分注A工程S60と、前記被検試料を反応容器4Bに分注するサンプル分注B工程S70から構成される。そして、サンプル分注A工程S60及びサンプル分注B工程S70は、被検試料を反応容器4A,4Bに分注するために実行されるサンプル分注プローブ16の試料容器17への移動、サンプル分注プローブ16を介しての被検試料の吸引、サンプル分注プローブ16の反応容器4A,4Bへの移動、及びサンプル分注プローブ16を介しての反応容器4A,4Bへの吐出の動作からなる。なお、1分析サイクルの間に、サンプル分注工程S50の他にサンプル分注A工程S60、又はサンプル分注B工程S70だけを実行することができる。サンプル分注工程S50は、システム制御部70からの分析制御部30の制御部32への測定の指示に基づいて、制御部32によって制御される反応ディスク5、サンプル分注アーム10、サンプル分注ポンプ10aなどの各分析ユニットを駆動する機構部31の機構により実行される。サンプル分注工程S50のサンプル分注A工程S60は、ステップS61乃至S65から構成される。まずサンプル分注アーム10は、反応ディスク5の回転中に、図3の矢印R1方向に回動してサンプル分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位置にサンプル分注プローブ16を移動し、更にサンプル分注プローブ16の先端が試料容器17内の被検試料の液面を検出するまで下降して停止するステップS61。サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、サンプル吐出位置Aに停止する反応容器4Aに被検試料を分注するための吸引動作を行う。この吸引動作により、被検試料が試料容器17からサンプル分注プローブ16内に吸引されるステップS62。このように、1つのサンプル分注プローブ16を移動させて被検試料を吸引するので、2つのサンプル分注プローブでは移動が困難な微量対応の試料容器17b内にも容易に移動させて、被検試料を吸引することができる。サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吸引動作後に上昇し、次いで図3の矢印R2方向に回動してサンプル分注分注プローブ16をサンプル吐出位置Aに移動する。そして、反応ディスク5の回転が停止してからサンプル分注プローブ16の先端が反応容器4A内の吐出位置に達するまで下降して停止するステップS63。サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、サンプル吐出位置Aに停止している反応容器4Aに被検試料を分注するための吐出動作を行う。この吐出動作により、被検試料がサンプル分注プローブ16から反応容器4A内に吐出されるステップS64。サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吐出動作後に上昇し、次いでR1方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置に移動するステップS65。サンプル分注B工程S70は、ステップS71乃至S75から構成される。サンプル分注アーム10は、R1方向に回動してサンプル分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位置にサンプル分注プローブ16を移動し、更にサンプル分注プローブ16の先端が試料容器内17内の被検試料の液面を検出するまで下降して停止するステップS71。サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、サンプル吐出位置Bに停止している反応容器4Bに被検試料を分注するための吸引動作を行う。この吸引動作により、被検試料が試料容器17からサンプル分注プローブ16内に吸引されるステップS72。サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吸引動作後に上昇し、次いでR2方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル吐出位置Bに移動し、更にサンプル分注プローブ16が反応容器4B内の吐出位置に達するまで下降して停止するステップS73。サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、反応容器4Bに被検試料を分注するための吐出動作を行う。この吐出動作により、被検試料がサンプル分注プローブ16から反応容器4B内に吐出されるステップS74。サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吐出動作後に上昇し、次いでR2方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置に移動するステップS75。次に、同一被検試料の最後の測定項目のサンプル分注が終了した次の分析サイクルで、サンプル分注プローブ16を洗浄するためのサンプル分注プローブ洗浄工程S80が実行される。サンプル分注プローブ洗浄工程S80は、ステップS81乃至S83から構成される。サンプル分注アーム10は、サンプル分注プローブ16の先端部がサンプル分注プローブ洗浄位置に設けられた洗浄液吐出口に達するまで下降して停止するステップS81。サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、サンプル分注ポンプ10aとサンプル分注プローブ16間の圧力伝達媒体の流路に設けられた切換弁を介して供給される他の流路からの洗浄液を、サンプル分注プローブ16から吐出させて内壁洗浄を行う。また、サンプル分注プローブ洗浄位置の洗浄液吐出口からの洗浄液の吐出によりサンプル分注プローブ16の外壁が洗浄されるステップS82。サンプル分注アーム10は、サンプル分注プローブ16の洗浄後、上昇して次の被検試料の分注に備えて待機するステップS83。図5は、図4に示したサンプル分注工程S50及びサンプル分注プローブ洗浄工程80の各ステップの動作のタイミングを示したタイミングチャートである。このタイミングチャート80には、矢印T方向に実行されるサンプル分注A工程S60のステップS61乃至S65、サンプル分注B工程S70のステップS71乃至S75、及びサンプル分注プローブ洗浄工程80のステップS81乃至S83に対応した反応ディスク5、サンプル分注アーム10、及びサンプル分注ポンプ10aの動作開始タイミング、動作時間、及び動作終了タイミングが表されている。まず、タイミングチャート80のサンプル分注工程S50に対応する各ステップの動作のタイミングの詳細を説明する。タイミングチャート80のサンプル分注工程S50におけるステップS62,S64,S72,S74の凸部の吸引及び吐出は、サンプル分注ポンプ10aの吸引及び吐出動作に対応し、凸部の巾はその動作時間に対応している。この動作時間には、各測定項目の分析条件に最大サンプル量が設定されたときに、その最大量を吸引及び吐出するのに要する時間が割り当てられている。従って、吸引及び吐出の動作開始タイミングは分析サイクル毎に不変なので、設定されたサンプル量が最大量よりも少ない場合、サンプル分注アーム10及びサンプル分注ポンプ10aは、図5の破線で示した実際の動作終了タイミングから割り当てられた動作終了タイミングまでの余剰時間中、同じ状態を維持している。ステップS61,S63,S65,S71,S73,S75は、サンプル分注アーム10の回動、上昇、及び下降の動作によるサンプル分注プローブ16の移動に対応している。ステップS61,S71の凸部の移動は、サンプル分注アーム10の回動によるサンプル分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位置への移動、及びサンプル分注アーム10の下降による被検試料吸引位置から被検試料の液面検出位置までの移動に対応している。ステップS63の移動は、サンプル分注アーム10の上昇による被検試料液面検出位置から被検試料吸引位置への移動、サンプル分注アーム10の回動による被検試料吸引位置からサンプル吐出位置Aへの移動、及びサンプル分注アーム10の下降によるサンプル吐出位置Aから反応容器4A内の吐出位置への移動に対応している。なお、ステップS63では、サンプル分注プローブ16が回転中の反応ディスク5に衝突するのを阻止するために、反応ディスク5の停止のタイミングに合わせて、サンプル吐出位置Aから反応容器4A内の吐出位置にサンプル分注プローブ16を移動させている。このため、ステップS63のタイミングに合わせてステップS62のタイミングを割り当てることになり、延いてはステップS61とステップS62には多少の余裕時間が生じている。従って、サンプル分注A工程S60は、サンプル分注B工程S70よりも長い時間を要している。ステップS65の移動は、サンプル分注アーム10の上昇による反応容器4Aの吐出位置からサンプル吐出位置Aへの移動、及びサンプル分注アーム10の回動によるサンプル吐出位置Aからサンプル分注プローブ洗浄位置への移動に対応している。ステップS71の移動は、サンプル分注アーム10の回動によるサンプル分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位置への移動、及びサンプル分注アーム10の下降による被検試料吸引位置から被検試料の液面検出位置への移動に対応している。ステップS73の移動は、サンプル分注アーム10の上昇による被検試料の液面検出位置から被検試料吸引位置への移動、サンプル分注アーム10の回動による被検試料吸引位置からサンプル吐出位置Bへの移動、及びサンプル分注アーム10の下降によるサンプル吐出位置Bから反応容器4B内の吐出位置への移動に対応している。ステップS75の移動は、サンプル分注アーム10の上昇による反応容器4Bの吐出位置からサンプル吐出位置Bへの移動、及びサンプル分注アーム10の回動によるサンプル吐出位置Bからサンプル分注プローブ洗浄位置への移動に対応している。そして、各ステップにおける各移動は、初期に加速して移動し、次いで一定の高速で移動して、更に減速して一旦停止してから次のステップに移行する。なお、ステップS65,S75に連続してステップS71,S61が実行される場合、サンプル分注プローブ16は、ステップS65,S75の初期に加速され、ステップS71,S61の被検試料吸引位置近傍で減速されるまで、一定の高速で移動する。次に、サンプル分注プローブ洗浄工程80におけるステップS81の凸部の移動は、サンプル分注アーム10の下降によるサンプル分注プローブ16のサンプル分注プローブ洗浄位置からサンプル分注プローブ洗浄位置の洗浄液吐出口への移動に対応している。ステップS82の凸部の洗浄は、サンプル分注ポンプ10aなどによるサンプル分注プローブ16の被検試料に接する内外壁の洗浄に対応している。ステップS83の凸部の移動は、サンプル分注アーム10の上昇によるサンプル分注プローブ16のサンプル分注プローブ洗浄位置の洗浄液吐出口からサンプル分注プローブ洗浄位置への移動に対応している。そして、各ステップの移動の凸部の巾は移動時間に対応し、洗浄の凸部の巾は洗浄時間に対応している。次に、タイミングチャート80のサンプル分注工程S50の各ステップの動作のタイミングと反応ディスク5の動作のタイミングの関係を説明する。反応ディスク5は、測定開始から終了までの間、分析サイクル毎に回転及び停止する。そして、分析サイクル毎の回転中に、ステップS61,62、及びステップS63の移動の途中までが実行される。次いで、反応ディスク5の分析サイクル毎の停止中に、ステップS63における少なくともサンプル吐出位置Aから反応容器4A内の吐出位置への移動、及びステップS64,S65,S71,S72,S73,S74,S75が実行される。そして、同一の被検試料の分注動作が終了した次の分析サイクルの反応ディスク5回転中に、ステップS81,S82,S83が実行される。なお、被検試料に他の被検試料からの影響を受けやすい例えば極低濃度の免疫項目が含まれる場合、その測定項目を予め影響を受けやすい項目として設定しておくことにより、影響を受けやすい項目が含まれる被検試料の前の被検試料の分注後の分析サイクル内で、サンプル分注プローブ16がステップS82の通常の洗浄時間よりも長い時間をかけて洗浄される。このように、分析サイクル毎に回転して停止する反応ディスク5の回転中に反応容器4Aに分注するための被検試料を吸引し、反応ディスク5の停止中に被検試料を反応容器4Aに吐出し、更にサンプル分注プローブ16を被検試料吸引位置とサンプル吐出位置B間を高速移動させて試料容器から被検試料を吸引して反応容器4Bに吐出させることにより、サンプル分注プローブ16、サンプル分注アーム10、サンプル分注ポンプ10aなどの1つのサンプル分注系だけで、分析サイクル毎に反応容器4A,4Bに被検試料を分注することができる。次に、図1乃至図8を参照して、自動分析装置100の動作を説明する。図6は、自動分析装置100の動作の一例を示したフローチャートである。操作部60からのキャリブレーション操作により、分析データ処理部40の記憶部42には予め各測定項目のキャリブレーションテーブルが保存されている。また、操作部60からの測定項目選択入力により、システム制御部70の内部記憶回路には、被検試料毎に選択入力された測定項目が保存されている。図7は、表示部52に表示される選択入力された測定項目設定画面の一例を示した図である。この測定項目設定画面53は、被検体情報入力画面で入力された被検体のIDを表示するIDの欄と、項目名を略称で表示する項目の欄と、IDの欄に表示された被検体のID毎に項目の欄に表示された項目名の測定項目を設定するための測定項目設定エリア53aから構成される。IDの欄には、予め入力された例えば1乃至3の被検体のIDが表示されている。また、項目の欄には、例えば予め測定ラインAの分析条件の設定により反応容器4Aで測定されることになるGOT及びCaや、測定ラインBの分析条件の設定により反応容器4Bで測定されることになるGPT及びTPなどの項目名が表示されている。測定項目設定エリア53aには、IDの欄の各被検体のIDに対応した項目の欄の項目名が設定された場合には○が表示され、設定されない場合にはが表示される。そして、操作部60から例えばIDの欄に表示された1に対して、GOT、GPT、Ca、及びTPが設定されると、測定項目設定エリア53aに1乃至4テストの○が表示される。また、IDの欄に表示された2に対してTPが設定されると、測定項目設定エリア53aに5テストの○が表示され、IDの欄に表示された3に対してCaが設定されると、測定項目設定エリア53aに6テストの○が表示される。そして、測定項目設定画面53から設定入力された測定項目設定情報は、システム制御部70の内部記憶回路に保存される。なお、被検試料の測定は、測定項目設定画面53から選択入力された測定項目の情報に基づいて行われる。IDの最上段の1に対応した被検試料から順に、各被検体のIDの左の設定された測定項目測定項目から順に測定されることになる。まず、操作部60からの測定開始操作により、自動分析装置100は、動作を開始する図6のステップS1。システム制御部70は、分析制御部30、分析データ処理部40、及び出力部50に指示して、内部記憶回路に保存されている被検試料毎の測定項目の測定を指示する。分析制御部30の制御部32は、分析部19の各分析ユニットを一旦ホームポジションに移動させてから測定動作を開始させる図6のステップS2。分析部19は、各分析ユニットが測定動作を開始してから図8に示す1分析サイクルの時に、測定項目設定画面53で選択入力された被検体ID1のGOTを測定するための被検試料を分注するサンプル分注A工程S60と、GPTを測定するためのサンプル分注B工程S70とを実行する図6のステップS3。被検体ID1のGOTの被検試料を分注するためのサンプル分注A工程S60では、サンプル分注アーム10は、反応ディスク5の回転中に、R1方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位置に移動する。そして、被検試料吸引位置に停止した例えば図3のラック17aの位置1の試料容器17に収容された被検体ID1の被検試料の液面検出位置まで下降して停止する。サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注プローブ16内にGOT図7の1テストの被検試料を吸引する動作を行う。なお、被検試料は、サンプル分注ポンプ10aとサンプル分注プローブ16間の流路に封入された水などの圧力伝達媒体を介してサンプル分注プローブ16から吸引及び吐出される。サンプル分注プローブ16内に吸引された1測定項目の設定サンプル量の被検試料と圧力伝達媒体の間には、測定に使用されない被検試料によるダミー層が設けられている。このダミー層が圧力伝達媒体による測定項目の被検試料の希釈を防いでいる。そして、被検試料毎の最初の測定項目の被検試料吸引時に、先ずダミー用の被検試料が吸引され続いてその測定項目の設定サンプル量の被検試料が吸引されて、被検試料吐出時にダミー用の被検試料はサンプル分注プローブ16内に保持される。2回目以降の測定項目からは、測定項目の設定サンプル量の被検試料が吸引されてサンプル分注プローブ16内に保持されたダミーは、その被検試料の全ての測定項目の分注が終わるまでサンプル分注プローブ16内で使い回される。このように、1つのサンプル分注プローブ16を用いて被検試料が吸引されるので、ダミー用の被検試料の使用量を低減することができる。また、サンプル分注プローブ16内に1測定項目分だけの被検試料が吸引されるので、サンプル分注プローブ16内でその測定項目の被検試料が希釈されるのを防ぐことができる。サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吸引動作後に、上昇してR2方向に回動する。そして、反応ディスク5の停止中に、下降してサンプル分注プローブ16をサンプル吐出位置Aに停止した反応容器4Aの吐出位置に移動する。サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の移動動作後に、サンプル分注プローブ16を介してGOTの被検試料を反応容器4Aに吐出する。サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吐出動作後に、上昇及びR1方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置に移動する。被検体ID1のGPTの被検試料を分注するためのサンプル分注B工程S70は、サンプル分注A工程S60から連続して実行される。サンプル分注アーム10は、R1方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置から被検試料吸引位置に移動する。そして、ラック17aの位置1の被検試料の液面検出位置まで下降して停止する。サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注プローブ16内にGPT図7の2テストの被検試料を吸引する動作を行う。サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吸引動作後に、上昇、R2方向への回動、及び下降してサンプル分注プローブ16をサンプル吐出位置Bに停止している反応容器4Bの吐出位置に移動する。サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の移動動作後に、サンプル分注プローブ16を介してGPTの被検試料を反応容器4Bに吐出する。サンプル分注アーム10は、サンプル分注ポンプ10aの被検試料吐出動作後に、上昇及びR1方向に回動してサンプル分注プローブ16をサンプル分注プローブ洗浄位置に移動する。次に、分析部19は、図8の2分析サイクルの時に、1分析サイクル時の動作と同様にして、被検体ID1のCaとTPの被検試料を分注するためのサンプル分注工程S50を実行する図6のステップS4。次に、分析部19は、図8に示した3分析サイクルの時に、サンプル分注プローブ16に付着した被検体ID1の被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄工程S80を実行する図6のステップS5。サンプル分注アーム10は、サンプル分注プローブ16の先端部がサンプル分注プローブ洗浄位置に設けられた洗浄液吐出口に達するまで下降して停止する。サンプル分注ポンプ10aは、サンプル分注アーム10の下降動作後に、サンプル分注プローブ16の内壁洗浄を行う。また、サンプル分注プローブ洗浄位置の洗浄液吐出口からの洗浄液によりサンプル分注プローブ16の外壁が洗浄される。このように、被検体ID1の被検試料分注動作終了後に、被検試料に接したサンプル分注プローブ16の内外壁が洗浄されるので、サンプル分注プローブ16を介して被検体ID1からの被検体ID2へ持ち込まれる被検試料量を低減することができる。サンプル分注アーム10は、サンプル分注プローブ16の洗浄後、上昇して被検体ID2の被検試料の分注に備えて待機する。次に、分析部19は、図8の4分析サイクルの時に、被検体ID2のTPを測定するための被検試料を分注するサンプル分注B工程S70を実行する図6のステップS6。そして、図8の5分析サイクルの時に、サンプル分注プローブ16に付着した被検体ID2の被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄工程S80を実行する図6のステップS7。次に、分析部19は、図8の6分析サイクルの時に、被検体ID3のCaを測定するための被検試料を分注するサンプル分注A工程S60を実行する図6のステップS8。そして、図8の7分析サイクルの時に、サンプル分注プローブ16に付着した被検体ID3の被検試料を洗い落とすためのサンプル分注プローブ洗浄工程S80を実行する図6のステップS9。被検試料分注後、被検体ID1乃至3の被検試料が分注された反応容器4A,4Bが第1試薬吐出位置A,Bに停止した時に、第1試薬分注プローブ14a,14bを介して各反応容器4A,4Bの測定項目に該当する第1試薬が分注される図6のステップS10。第1試薬分注後に、被検体ID1乃至3の被検試料と第1試薬の混合液が入った反応容器4A,4Bが第1撹拌位置A,Bに停止した時に、第1撹拌ユニット11aの第1A,第1B撹拌子によって各反応容器4A,4B内の混合液が撹拌される図6のステップS11。第1の撹拌後に、被検体ID1及び3の被検試料と第1試薬の混合液が入った反応容器4A,4Bが第2A,第2B試薬吐出位置に停止した時に、第2試薬分注プローブ15a,15bを介して各反応容器4A,4BにGOT、GPT、Caの2試薬系の測定項目に該当する第2試薬が分注される図6のステップS12。第2試薬分注後に、被検体ID1及び3の被検試料、第1試薬、及び第2試薬の混合液が入った反応容器4A,4Bが第2撹拌位置A,Bに停止した時に、第2撹拌ユニット11bの第2A,第2B撹拌子によって反応容器4A,4B内の混合液が撹拌される図6のステップS13。第2の撹拌後に、被検試料、第1試薬、及び第2試薬の混合液や、被検試料及び第1試薬の混合液が入った反応容器4A,4Bが測光位置を通過した時に、測光ユニット13は、反応容器4A,4Bに光を照射して、透過した光から設定波長の吸光度を測定する。そして、被検体ID1乃至3の被検試料の各測定項目の分析信号を生成して分析データ処理部40に出力する図6のステップS14。測定後に、被検体ID1乃至3の被検試料の混合液が入った反応容器4A,4Bが洗浄及び乾燥位置に停止した時に、洗浄ユニット12は、反応容器4A,4B内の測定を終えた混合液を吸引すると共に、反応容器4内を洗浄及び乾燥する図6のステップS15。そして、洗浄及び乾燥を終えた反応容器4A,4Bは、再び測定に使用される。分析データ処理部40の演算部41は、測光ユニット13から出力された分析信号から各被検試料の各測定項目の分析データを生成して記憶部42に保存すると共に、出力部50に出力する図6のステップS16。そして、全ての反応容器4の洗浄及び乾燥が終了し、被検体ID1乃至3の全ての測定項目の分析データが出力された時点で、自動分析装置100は、測定動作を終了する図6のステップS17。次に、図1乃至図10を参照してタイミングチャート80の他の実施例を説明する。図9は、図5に示したタイミングチャート80の他の実施例を示したタイミングチャートである。このタイミングチャート81がタイミングチャート80と異なる点は、サンプル分注動作の時間が制約される反応ディスク5停止中の吸引と吐出の動作開始及び動作終了タイミングを可変にした点である。このタイミングチャート81には、反応容器4Aへの被検試料の分注を行うためのステップS61,S62,S63,S64a,S65aと、反応容器4Bへの被検試料の分注を行うためのステップS71,S72a,S73,S74a,S75における吸引、吐出、及び移動のタイミングが表されている。そして、タイミングチャート81のステップS64a,S72a,S74aは、タイミングチャート80のステップS64,S72,S74の動作タイミングの範囲内で、各ステップの動作開始及び終了タイミングを可変にしたものである。ところで、測定項目の分析条件に最大サンプル量が設定される可能性があるのは特定の数測定項目であり、しかもその測定項目が選択されなければ、サンプル分注工程S50で被検試料が最大量で分注されることはない。例えば、最大サンプル量が15μLとすると、通常、各測定項目の分析条件の設定サンプル量の平均は、3μL~4μLである。従って、分注精度が低下しやすい例えば1.5~4.0μLの微量のサンプル量が設定された測定項目の分注が行われる時に、図5で説明した吸引及び吐出の余剰時間を後述する分注精度の誤差となる要因に割り振るようにする。システム制御部70は、サンプル分注工程S50を実行させる前に、サンプル分注工程S50で反応容器4A,4Bに分注される測定項目の設定サンプル量を内部記憶回路から読み出して、ステップS64aにおける反応容器4Aへの吐出に要する吐出時間TAd、ステップS72における反応容器4Bに分注するための被検試料の吸引に要する吸引時間TBa、ステップS74における反応容器4Bへの吐出に要する吐出時間TBdを算出する。そして、最大サンプル量の吸引に要する時間を最大サンプル吸引時間Tma、最大サンプル量の吐出に要する時間を最大サンプル吐出時間Tmdとすると、ステップS64a,S72a,S74aでは、夫々Tmd-TAd、TmaTBa、Tmd-TBdで表される余剰時間が生まれることになる。この余剰時間を、以下に述べる分注精度誤差要因に割り振る。ステップS64a,S72a,S74aにおける余剰時間を前側のTw1,Tw3,Tw5と後側のTw2,Tw4,Tw6とに分ける。そして、ステップS64a,S74aにおける吐出の余剰時間の前側Tw1,Tw5を、例えばサンプル分注アーム10の下降時の下降速度の調整、サンプル分注アーム10の下降動作後にサンプル分注ポンプ10aが被検試料の吐出動作を開始するまでの待ち時間の調整などに割り振る。ステップS64a,S74aにおける吐出の余剰時間の後側Tw2,Tw6を、例えばサンプル分注ポンプ10aの被検試料吐出動作後にサンプル分注アーム16が上昇動作を開始するまでの待ち時間の調整、サンプル分注アーム10の上昇時の上昇速度の調整などに割り振る。ステップS72aにおける吸引の余剰時間の前側Tw3を、例えばサンプル分注アーム10の下降時の下降速度の調整、サンプル分注アーム10の下降動作後にサンプル分注ポンプ10aが被検試料の吸引動作を開始するまでの待ち時間の調整などに割り振る。ステップS72aにおける吸引の余剰時間の後側Tw4を、例えばサンプル分注ポンプ10aの被検試料吸引動作後にサンプル分注アーム16が上昇動作を開始するまでの待ち時間の調整、サンプル分注アーム10の上昇時の上昇速度の調整などに割り振る。このように、反応ディスク5の停止中におけるタイミングチャートの吸引及び吐出の動作タイミングを、分析条件の設定サンプル量に基づいて可変にして、微量サンプルのサンプル分注により生じる余剰時間を分注精度の誤差要因となる動作に割り振ることにより、微量サンプルのサンプル分注精度を向上させることができる。図10は、図8に示したタイミングチャート80の他の実施例を示したタイミングチャートである。このタイミングチャート82がタイミングチャート80と異なる点は、サンプル分注動作が制約される反応ディスク5停止中の移動の動作開始タイミングと、吸引と吐出の動作開始及び終了タイミングとを可変にした点である。このタイミングチャート82には、反応容器4Aへの被検試料の分注を行うためのステップS61,S62,S63,S64b,S65bと、反応容器4Bへの被検試料の分注を行うためのステップS71b,S72b,S73b,S74b,S75bにおける吸引、吐出、移動のタイミングが表されている。そして、タイミングチャート82のステップS64bの動作終了タイミングと、ステップS72b,74bの動作開始及び終了タイミングと、ステップS65b,S73b,S75bの動作開始タイミングとが可変になっており、ステップS64b,S72b,S74bで生じた余剰時間を除いて、ステップS64b,S65b及びステップSS71b乃至S75bの動作が連続して行われるようになっている。反応ディスク5停止中に実行されるステップS64bの反応容器4Aへの被検試料の吐出開始のタイミングは、反応ディスク5回転動作開始のタイミングから一定時間t1後とし、ステップS64bの吐出開始のタイミングから反応ディスク5の次の回転開始タイミングまでの時間を一定の最大時間Tmaxとする。また、ステップS65bステップS71b及びステップS73bにおけるサンプル分注プローブ16の反応容器4A内の吐出位置と試料容器17の被検試料間の移動時間、ステップS73bにおけるサンプル分注プローブ16の反応容器4B内の吐出位置と試料容器17の被検試料間の移動時間、ステップS75bにおけるサンプル分注プローブ16の反応容器4B内の吐出位置とサンプル分注プローブ洗浄位置間の移動時間を、夫々一定のTAt、TBt、Th1とする。また、ステップS64b,S72b,S74bの吐出及び吸引の動作時間は、サンプル分析工程50の実行毎に、予めシステム制御部70により算出され、測定項目毎に可変のTAd、TBa、TBdとする。そして、最大時間Tmaxは、Tmax≧TAdTAtTBaTBtTBdTBt1の関係式で表され、最大時間TmaxがTAdTAtTBaTBtTBdTBt1に等しい時に、タイミングチャート80と一致する。図11は、図10の反応容器4A,4Bへの被検試料の分注が行われるタイミングチャート82を、分析サイクルで反応容器4Bへの被検試料の分注だけが行われる場合に適用したタイミングチャートである。このタイミングチャート82aには、反応容器4Bへの被検試料の分注を行うステップS71c,S72c,S73c,S74c,S75cにおける移動、吸引、吐出のタイミングが表され、図10の夫々ステップS61,S62,S63,S64b,S65bのタイミングにほぼ一致する。図12は、図10の反応容器4A,4Bへの被検試料の分注動作の後に行われる洗浄のタイミングを示したタイミングチャートである。このタイミングチャート82bには、反応容器4A又は4Bへの被検試料の分注の後に連続して行われる可変のステップS81bの移動、ステップS82bの洗浄、及びステップS83bの移動のタイミングが表され、サンプル分注プローブ洗浄工程S80のステップS81,S82,S83に対応している。ステップS81b,S82b,S83bの動作時間を夫々一定のTh2、Tw、Th3とすると、Tmax≧TAdTAtTBaTBtTBdTh1Th2TwTh3のときに、反応ディスク5の停止中に洗浄を行うことができるのでタイミングチャート82bが実行される。Tmax<TAdTAtTBaTBtTBdTh1Th2TwTh3のときには、タイミングチャート80のステップS81,S82,S83が実行される。このように、タイミングチャートの吸引と吐出の動作開始及び終了タイミングと、移動の動作開始タイミングと、洗浄の動作開始タイミングとを可変にして、微量サンプルの分注により生じる余剰時間を除いて、反応ディスク5の停止中に移動、吐出、吸引、及び洗浄を連続して実行させることにより、分析サイクル内で反応容器4A,4Bへの被検試料の分注と、サンプル分注プローブ16の洗浄とを行うことができるので、N個の被検試料を測定するときに、測定時間を最大N-1分析サイクルの測定時間を短縮することができる。以上述べた本発明の実施例によれば、2つの測定項目の測定が可能なように設けられたA,B測定ラインを有するセミランダムアクセス方式において、サンプル分注プローブ16、サンプル分注アーム10、サンプル分注ポンプ10aなどの1つのサンプル分注系を用いて、分析サイクル毎に回転して停止する反応ディスク5の回転中に反応容器4Aに分注するための被検試料を吸引させ、前記分析サイクル中の反応ディスク5の停止中に被検試料を反応容器4Aに吐出させ、更に前記被検試料を吸引して反応容器4Bに吐出させることができる。これにより、サンプル分注プローブ16を介しての被検試料間の影響を低減することができるので、精度よく測定することができる。また、1つのサンプル分注系にすることにより、装置の構成を簡素化でき低廉化を図ることができる。また、1つのサンプル分注プローブ16を用いて被検試料を吸引させることにより、2つのサンプル分注プローブでは移動が困難な微量対応の試料容器17b内にも容易に移動させて、被検試料を吸引することができる。また、ダミーの使用量を低減することができるので、微量の被検試料で測定することができる。また、サンプル分注プローブ16内に1測定項目分だけの被検試料が吸引させることにより、サンプル分注プローブ16内での測定項目の被検試料の希釈を防ぎ、精度よく被検試料を分注することができるので精度よく測定することができる。また、反応ディスク5の停止中における吸引及び吐出の動作タイミングを、分析条件の設定サンプル量に基づいて可変にして、微量サンプルの分注により生じる余剰時間をサンプル分注精度の誤差要因の動作に割り振ることにより、更に微量サンプルのサンプル分注精度を向上させることができる。また、反応ディスク5の停止中における吸引と吐出の動作開始及び終了タイミングと、移動の動作開始タイミングと、洗浄の動作開始タイミングとを可変にして、微量サンプルの分注により生じる余剰時間を除いて、反応ディスク5の停止中に移動、吐出、吸引、及び洗浄を連続して動作させることにより、分析サイクル内で反応容器4A,4Bへの被検試料の分注と、サンプル分注プローブ16の洗浄とを行うことができるので、測定時間を短縮することができる。なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、例えばA,B測定ラインに加えてC測定ラインを設け、1つのサンプル分注系と、C測定ラインに対応する反応容器4C、試薬分注プローブ、試薬分注アーム、試薬分注ポンプなどの試薬分注系、及び撹拌ユニットなどを設けたセミランダム方式にして実施するようにしてもよい。この場合、反応ディスク停止中の吸引と吐出の動作開始及び終了タイミングと、移動の動作開始タイミングとを可変にして、分析サイクル毎に、反応ディスク5の回転中に反応容器4Aに分注するための吸引をさせ、反応ディスク5の停止中に反応容器4Aへの吐出と、反応容器4B,4Cへ被検試料を分注するための移動、吐出、吸引を連続して動作させることにより、上記の1つのサンプル分注系と同様の効果が得られる他に更に被検試料を高速に処理することができる。また、例えば4つのA1,B1,A2,B2測定ラインと、A1,A2測定ラインに対応した反応容器4A1,4A2及びAサンプル分注プローブと、B1,B2測定ラインに対応した反応容器4B1,4B2及びBサンプル分注プローブと、A,Bサンプル分注プローブを移動するサンプル分注アームと、A,Bサンプル分注プローブを介して夫々被検試料の吸引及び吐出を行うA,Bサンプル分注ポンプと、A1,B1,A2,B2測定ラインに対応した4つの第1及び第2試薬分注系試薬分注プローブ、試薬分注アーム、及び試薬分注ポンプ、及び4つの撹拌子を有する第1及び第2の撹拌ユニットとを設ける。そして、反応ディスクの回転中に、A,Bサンプル分注プローブ及びA,Bサンプル分注ポンプを用いて反応容器4A1,4B1に分注するための被検試料を吸引し、反応ディスクの停止中に、Aサンプル分注プローブ及びAサンプル分注ポンプを用いて反応容器4A1に被検試料を吐出させると共に、Bサンプル分注プローブ及びBサンプル分注ポンプを用いて反応容器4B1に被検試料を吐出させる。更に、サンプル分注アームを移動してAサンプル分注プローブ及びAサンプル分注ポンプを用いて反応容器4A2に被検試料を分注させると共に、Bサンプル分注プローブ及びBサンプル分注ポンプを用いて反応容器4B2に被検試料を分注させる。これにより、測定ラインと同数のサンプル分注プローブを用いた場合よりも、サンプル分注プローブを介しての被検試料間の影響を低減することができるので、精度よく測定することができる。また、装置の構成を簡素化でき低廉化を図ることができる。また、ダミーの使用量を低減することができるので、微量の被検試料で測定することができる。また、各サンプル分注プローブ内に1測定項目分だけの被検試料が吸引させることにより、サンプル分注プローブ内での測定項目の被検試料の希釈を防ぎ、精度よく被検試料を分注することができるので精度よく測定することができる。"