"入力光の光強度スペクトルを測定する装置であって、前記入力光を波長成分ごとに空間分解し波長成分ごとに空間分解された分解光を生成する波長成分分解手段と、前記分解光を複数の分岐光に分岐する分岐手段と、前記複数の分岐光をそれぞれ別個に受光する複数のスリット付き受光素子アレイと、前記複数のスリット付き受光素子アレイでそれぞれ検出された波長成分ごとの光強度信号から前記入力光の光強度スペクトル情報を生成する光強度スペクトル生成手段と、を有し、前記複数のスリット付き受光素子アレイの各々は、受光する分岐光の波長成分変化方向と受光素子のアレイ方向とが一致し、前記アレイ方向において各受光素子の受光面に対する当該受光面より狭いスリット透光部の位置がスリット付き受光素子アレイごとに異なる、ことを特徴とする光強度スペクトル測定装置。前記分岐手段が前記分解光をn個nは2以上の整数の分岐光に分岐し、各受光素子アレイの各受光素子において、前記スリット透光部は、当該受光素子の受光面の1/nの間隔を有すると共に他の受光素子アレイにおける1/nの間隔を有するスリット透光部と重複しない位置に配置されることを特徴とする請求項1に記載の光強度スペクトル測定装置。前記nが2あるいは4であることを特徴とする請求項2に記載の光強度スペクトル測定装置。前記分岐手段が前記分解光をn個nは2以上の整数の分岐光に分岐し、各受光素子アレイの各受光素子において、前記スリット透光部は、当該受光素子の受光面の1/mm>nの間隔を有すると共に他の受光素子アレイにおける1/mの間隔を有するスリット透光部と重複しない位置に配置され、前記光強度スペクトル生成手段が前記複数のスリット付き受光素子アレイでそれぞれ検出された波長成分ごとの光強度信号から内挿補完により前記入力光の光強度スペクトル情報を生成する、ことを特徴とする請求項1に記載の光強度スペクトル測定装置。入力光の光強度スペクトルを測定する方法であって、波長成分分解手段が前記入力光を波長成分ごとに空間分解し波長成分ごとに空間分解された分解光を生成し、分岐手段が前記分解光を複数の分岐光に分岐し、複数のスリット付き受光素子アレイが前記複数の分岐光をそれぞれ別個にスリットを通して受光し、光強度スペクトル生成手段が前記複数のスリット付き受光素子アレイでそれぞれ検出された波長成分ごとの光強度信号から前記入力光の光強度スペクトル情報を生成し、前記複数のスリット付き受光素子アレイの各々において、受光する分岐光の波長成分変化方向と受光素子のアレイ方向と前記スリットのスリット透光部の配列方向とが一致しており、前記アレイ方向において各受光素子の受光面に対する当該受光面より狭いスリット透光部の位置がスリット付き受光素子アレイごとに異なる、ことを特徴とする光強度スペクトル測定方法。前記分岐手段が前記分解光をn個nは2以上の整数の分岐光に分岐し、各受光素子アレイの各受光素子において、前記スリット透光部は、当該受光素子の受光面の1/nの間隔を有すると共に他の受光素子アレイにおける1/nの間隔を有するスリット透光部と重複しない位置に配置されることを特徴とする請求項5に記載の光強度スペクトル測定方法。前記nが2あるいは4であることを特徴とする請求項6に記載の光強度スペクトル測定方法。前記分岐手段が前記分解光をn個nは2以上の整数の分岐光に分岐し、各受光素子アレイの各受光素子において、前記スリット透光部は、当該受光素子の受光面の1/mm>nの間隔を有すると共に他の受光素子アレイにおける1/mの間隔を有するスリット透光部と重複しない位置に配置され、前記光強度スペクトル生成手段が前記複数のスリット付き受光素子アレイでそれぞれ検出された波長成分ごとの光強度信号から内挿補完により前記入力光の光強度スペクトル情報を生成する、ことを特徴とする請求項5に記載の光強度スペクトル測定方法。請求項1-5のいずれか1項に記載の光強度スペクトル測定装置を用いた波長分解ストークスベクトル測定装置。請求項9に記載の波長分解ストークスベクトル測定装置を用いた偏波分散モニタ。しかしながら、上述した波長一括方式および波長スキャン方式は、次に述べるように、いずれも高速測定と高波長分解能とを両立させることができない。波長一括方式は、波長成分を一括して一度に測定できるため、数μsec程度で全波長成分の測定が可能であり、高速性測定が可能である。この方式では、受光素子アレイ中の各受光素子面積によって波長分解能が制限をうけ、受光素子面積が小さいほど高い波長分解能が期待できる。長距離光通信向けの1.5μm帯では、受光素子アレイはInGaAsを材料とした光センサが用いられる。ただし、InGaAsは微細加工することが困難なために、現状、商用で入手可能なものとしては浜松ホトニクス株式会社製の光センサがありhttpjphamamatsucomproductssensorssdpd101pd109indexjahtml、画素サイズ30μm×30μm程度が最小である。使用する波長分解素子の性能にも依存するが、一辺が30μmの受光素子面積の場合に達成可能な波長分解能は、おおよそ100pm程度である。波長スキャン方式は、分解された波長成分を順番に測定するので全波長成分を測定するのに数msec程度の時間を要するが、波長成分を順次測定するので受光素子アレイへの入力ビーム径をスリット等によって絞ることによって高い波長分解能を実現することができる。使用する波長分解素子の性能にも依存するが、10μm幅のスリットを使った場合に達成可能な波長分解能は、おおよそ10pm程度である。波長分解ストークスベクトルを精度良く測定するためには、高速測定と高波長分解能を両立させる必要がある。波長分解能が不十分であれば波長分解ストークスベクトルが正しく測定できなくなり、算出される偏波分散量の誤差が大きくなってしまう。また、測定に時間がかかると、測定途中で偏波状態が変動してしまうため、正しい波長分解ストークスベクトル測定が行えなくなり、その結果として得られる偏波分散量の誤差が大きくなってしまう。長距離大容量光通信においてリアルタイムで高次成分まで含めた偏波分散測定を行うためには、光強度スペクトルをμsecオーダで高速に、かつ、pmオーダの高波長分解能で測定することが必要であるが、高速性を優先すると、上述したように現状利用可能なデバイスでは要求に対して1/100~1/1000程度の波長分解能しか実現できない。また、波長分解能を優先すると、要求に対して1/1000程度の速度しか実現できない。そのため、高速化と高波長分解能化はトレードオフの関係にあり、同時に実現することが現状技術では困難であった。そこで、本発明は上述した問題点を鑑みてなされたものであり、高波長分解能と高速測定とが両立可能な光強度スペクトル測定方法および装置を提供することを目的としている。本発明による光強度スペクトル測定装置は、前記入力光を波長成分ごとに空間分解し波長成分ごとに空間分解された分解光を生成する波長成分分解手段と、前記分解光を複数の分岐光に分岐する分岐手段と、前記複数の分岐光をそれぞれ別個に受光する複数のスリット付き受光素子アレイと、前記複数のスリット付き受光素子アレイでそれぞれ検出された波長成分ごとの光強度信号から前記入力光の光強度スペクトル情報を生成する光強度スペクトル生成手段と、を有し、前記複数のスリット付き受光素子アレイの各々は、受光する分岐光の波長成分変化方向と受光素子のアレイ方向とが一致し、前記アレイ方向において各受光素子の受光面に対する当該受光面より狭いスリット透光部の位置がスリット付き受光素子アレイごとに異なる、ことを特徴とする。本発明による光強度スペクトル測定方法は、波長成分分解手段が前記入力光を波長成分ごとに空間分解し波長成分ごとに空間分解された分解光を生成し、分岐手段が前記分解光を複数の分岐光に分岐し、複数のスリット付き受光素子アレイが前記複数の分岐光をそれぞれ別個にスリットを通して受光し、光強度スペクトル生成手段が前記複数のスリット付き受光素子アレイでそれぞれ検出された波長成分ごとの光強度信号から前記入力光の光強度スペクトル情報を生成し、前記複数のスリット付き受光素子アレイの各々において、受光する分岐光の波長成分変化方向と受光素子のアレイ方向と前記スリットのスリット透光部の配列方向とが一致しており、前記アレイ方向において各受光素子の受光面に対する当該受光面より狭いスリット透光部の位置がスリット付き受光素子アレイごとに異なる、ことを特徴とする。本発明によれば、光強度スペクトル測定において高波長分解能と高速測定とを両立させることができる。本発明によれば、入力光を波長成分ごとに空間分解して得られた光を複数の分岐光に分岐し、複数の分岐光をそれぞれ別個に受光する複数のスリット付き受光素子アレイを配置する。このスリット付き受光素子アレイは、受光する分岐光の波長成分変化方向と受光素子のアレイ方向とが一致しており、各受光素子の受光面に対する当該受光面より狭いスリット透光部の位置がスリット付き受光素子アレイごとに異なっている。このようなスリット構成を有する複数のスリット付き受光素子アレイでそれぞれ検出された光強度信号を合成することにより、高い波長分解能を得ることができ、かつ、複数の受光素子アレイにより同時に光強度信号を得ることができるので、高速測定が可能となる。以下、本発明の実施形態および実施例について詳細に説明する。1.一実施形態以下、説明の煩雑さを避けるために、2つのスリット付き受光素子アレイを設けた光強度スペクトル測定装置を例示し、本発明の一実施形態について説明する。もちろん、本発明はn個n>2のスリット付き受光素子アレイを搭載した場合でも適用可能である。図1Aに示すように、光ファイバ1001より入力された光信号は、レンズ1002によって平行光に変換され、この平行光が波長分解素子1003によって波長成分ごとに空間的に分解される。すなわち、波長成分によって出力される位置が変わるため、波長成分と出力位置の関係が予め分かっていれば、位置毎に受光強度を調べることにより、入力光信号の光強度スペクトルを測定することができる。これは、広く知られた光強度スペクトル測定方式の一つである。波長分解された光信号はハーフミラー1004によって分岐され、一方の分岐光がスリット1007を受光面上に設けた受光素子アレイ1005へ、他方の分岐光がスリット1008を受光面上に設けた受光素子アレイ1006へ入射する。すなわち、これら2つの分岐光は、それぞれスリット1007および1008で部分的に遮られた後に受光素子アレイ1005おおび1006にて受光される。分岐光は空間的に波長分解されているので、受光素子アレイ1005および1006の受光素子位置と波長成分とを予め対応付けておけば受光素子アレイ1005および1006の各受光素子で検出される光強度から入力光の光強度スペクトルを得ることができる。受光素子アレイ1005の各受光素子は入射した光の強度に対応した電気信号を光強度スペクトル構成部1009へ出力する。同様に、受光素子アレイ1006の各受光素子は入射した光の強度に対応した電気信号を光強度スペクトル構成部1009へ出力する。光強度スペクトル構成部1009は、受光素子アレイ1005、1006にて受光された波長成分毎の光強度を組み合わせ、光ファイバ1001からの入力光の光強度スペクトルを演算して再構成する。本実施形態によれば、受光素子アレイ1005および1006の各受光素子の実効的な受光面積を小さくすることで高波長分解能を得る。すなわち、受光素子アレイ1005および1006のそれぞれの受光面上にスリット1007および1008をそれぞれ設け、各受光素子に入射する波長成分を制限することで高波長分解能を達成する。一方の受光素子アレイ1005のスリット1007の影によって受光できなくなった波長成分は、別の受光素子アレイ1006のスリット1007を用いて測定可能にする。具体的には、図1Bに示すように、同じ受光面積を有する受光素子が同数配列された受光素子アレイ1005と受光素子アレイ1006とを用意し、それぞれの受光面側に透光部と遮光部の位相が逆転した状態で配列されたスリット1007および1008をそれぞれ設ける。言い換えれば、スリット1007によって、受光素子アレイ1005の各受光素子は、図1Bの紙面に対して右半分1/2の受光面で受光し、左半分1/2の受光面がスリットの陰となる。他方、スリット1008によって、受光素子アレイ1006の各受光素子は、図1Bの紙面に対して右半分1/2がスリットの陰となり、左半分1/2の受光面で受光する。したがって、受光素子アレイ1005により検出される分岐光はスリット1007の透光部の位置に応じた波長成分であり、受光素子アレイ1006により検出される分岐光はスリット1008の透光部の位置すなわちスリット1007の遮光部の位置に対応した波長成分である。これら受光素子アレイ1005および1006にて受光された波長成分毎の光強度を組み合わせれば、光ファイバ1001からの入力光の全波長を網羅でき、全体として波長分解能は2倍に向上する。なお、ここではスリットによる波長成分の制限を受光素子面積の1/2とすることによって波長分解能を2倍にしたが、2倍に限定されるものではない。スリットの遮光部と透光部の面積比1/nnは3以上の整数を変えることによって理論的にはn倍の波長分解能を得ることができる。ただし、2倍にするときには入力光を2分岐して受光素子アレイ数も2倍、3倍にするときには入力光を3分岐して受光素子アレイ数も3倍に増やす、というように、n倍の波長分解能を得るには分岐数および受光素子アレイ数もn倍にすることが必要であるので、nが大きくなれば実装難度もあがる。このように、本実施形態によれば、波長分解能を向上させることができるが、さらに入力光の波長成分が複数の受光素子アレイにより一括して同時に測定されるので、測定の高速化も達成できる。2.第1実施例図2に示す光強度スペクトル測定装置は、図1における波長分解素子1003として回折格子2003を利用し、光強度スペクトル構成部1009としてアナログ-デジタル変換器ADC2009およびFPGA2010を利用した例である。図3は、受光素子アレイ2005、受光素子アレイ2006における各受光素子とスリットの位置関係を示したものであり、位置と波長成分の関係も示してある。さらに、図4はハーフミラー2004により分岐された光信号ビーム2011、スリット2007および受光素子アレイ2005の位置関係を示したものであり、位置と波長成分の関係も示してある。以下、図2~図4を参照しながら、高速かつ高波長分解能を同時に実現する光強度スペクトル測定装置の動作について詳細に説明する。基本的な動作は図1と同様である。すなわち、光ファイバ2001より入力された光信号は、レンズ2002によって平行光に変換され、この平行光が回折格子2003によって波長成分ごとに空間的に分解される。波長分解された光信号はハーフミラー2004によって分岐され、一方の分岐光がスリット2007を受光面上に設けた受光素子アレイ2005へ、他方の分岐光がスリット2008を受光面上に設けた受光素子アレイ2006へ入射する。受光素子アレイ2005および2006から出力された光強度信号はADC2009によりデジタル変換され、FPGA2010により合成されて入力光の光強度スペクトルが得られる。以下、図3および図4を参照して、スリット、受光素子アレイの各受光素子の位置関係、および位置と波長の関係について詳細に説明する。スリット2007を有する受光素子アレイ2005において、受光素子アレイ2005の受光素子の受光面2013は、図3Cに示すようにライン状に多数配列されている。以下、各受光素子の受光面積をSeとする。受光素子アレイ2005は、図3Aに示すように、スリット2007によって各受光素子の受光面積が1/2になるように位置が調整されている。さらに、回折格子2003によって空間的に波長分解された光信号に対して、スリット2007を通過して受光できる波長成分がλ1,...,λ2i1,...,λ2n1となるように回折格子2003、スリット2007および受光素子アレイ2005の位置が調整されている。同様に、スリット2008を通過して受光できる波長成分がλ2,...,λ2i,...,λ2nとなるように回折格子2003、スリット2008および受光素子アレイ2006の位置が調整されている。このように位置調整された2組のスリット付き受光素子アレイ2005および2006を用いることにより、各受光素子の受光面積は実際にはSeだが、実効的には図3Bに示すようにSe/2の受光面積を持った受光素子列と等価な受光素子配列2012となる。ハーフミラー2004からスリット2007付き受光素子アレイ2005に入力される空間的に波長分解された光信号ビームは、回折格子2003によって波長ごとに出力方位が変わるため、図4に示すように受光素子アレイ2005の長手方向に広がった形状となる。また、スリット2007に結像された位置によって含まれる波長成分が異なっているため、スリット2007を通過して受光素子アレイ2005にて受光されたとき、受光素子アレイ2005のどの受光素子により受光したかの情報と波長情報とが予め分かっていれば、受光強度を測定することによって光強度スペクトルを測定することができる。スリット2008を有する受光素子アレイ2006に関しても動作は同様である。受光素子アレイ2005、2006で測定される光強度スペクトルは、それぞれ半分の波長成分しか含まれていないため、後に光強度スペクトルを再構成する必要がある。ここで、入力光の波長成分を上述したようにλ1,λ2,...,λ2i1,λ2i,...,λ2n1,λ2nとする。この場合、波長分解能はΔλ=λ2i-λ2i1と表すことができる。入力光は空間的に波長分解されているので、スリット2007の位置を調節することにより、受光素子アレイ2005へ入力される光信号の波長成分がλ1,...,λ2i1,...,λ2n1となるようにすることができる。一方、スリット2008の位置を調節することにより、受光素子アレイ2006へ入力される光信号の波長成分がλ2,...,λ2i,...,λ2nとなるようにすることができる。従って、受光素子アレイ2005、2006を両方用いることにより、入力光の全波長成分を検出することが可能となる。ここで注意すべきは、波長分解能Δλである。受光素子アレイ2005、2006へ入力される光信号は、空間的に波長分解されているので、測定される光強度スペクトルの波長分解能は、受光素子アレイ2005、2006の受光素子の受光面積の大きさによって決まる。つまり、空間的に波長分解された入力光をどのくらい細かく位置分解して検出したかによって測定される光強度スペクトルの波長分解能が決まる。例えば、全受光面積がSaである受光素子アレイ2005が、受光面積がSeである100個の受光素子から構成されているとしSa=100×Se、Saが測定すべき波長帯域Λに対応しているとする。この場合の波長分解能Δλは、Seに対応し、Δλ=Λ/100となる。これに対して、本実施例では、受光素子アレイ2005、2006の前にスリット2007、2008を設けてあるため、受光素子アレイ2005、2006に入力される光信号の波長成分が制限を受ける。具体的には、受光素子アレイ2005ではスリット2007によって受光素子の受光面積が1/2に制限されているため、有効受光面積Se’はSe’=Se/2となるため、Sa=100×Se’/2となる。SaがΛに対応しており、SaをSe’で分割していることになるので、波長分解能はΔλ=Λ/200となり、2倍の波長分解能となる。ただし、スリット2007の影になって受光できなくなる波長成分が発生するので、これを同様に構成された受光素子アレイ2006にて受光することにより、波長分解能を2倍にして全波長成分の光強度を測定することが可能となる。具体的には、受光素子アレイ2005からはλ1,...,λ2i1,...,λ2n1奇数成分光強度、受光素子アレイ2006からはλ2,...,λ2i,...,λ2n偶数成分光強度がアナログ電圧値となってADC2009に入力される。ADC2009は、それぞれの入力アナログ電圧値をデジタル値に変換し、FPGA2010へ出力する。FPGA2010は、ADC2009から入力した奇数成分光強度と偶数成分光強度と並べ替えてλ1,λ2,...,λ2i1,λ2i,...,λ2n1,λ2nを構成し、全波長範囲の光強度スペクトルを得ることが得きる。本実施例では、上記のように高波長分解能化された光強度スペクトル測定において、入力光の波長成分は一括して同時に測定される。従って、高速化と高波長分解能化を同時に実現する光強度スペクトル測定が可能となる。3.第2実施例図5に示す本発明の第2実施例による光強度スペクトル測定装置は4倍の波長分解能を有する。図2に示す第1実施例との差異は、スリット通過波長成分を1/4とし、かつ、スリット付き受光素子アレイを4個利用している点である。波長分解能を4倍にするためには、受光素子アレイの各受光素子に入力される波長成分を、受光素子面積の1/4に制限する必要があるためである。そのため、スリットによって受光できなくなる波長成分が3/4に増えるため、4組のスリット付き受光素子アレイが必要となる。4つの分岐光を得るために、ハーフミラー3004にて2分岐した空間的に波長分解された光信号を、さらにハーフミラー3104、3204にてそれぞれ2分岐する構成となっている。ハーフミラー3104で分岐された分岐光の一方はスリット3107を通して受光素子アレイ3105へ入射し、他方はスリット3108を通して受光素子アレイ3106へ入射する。同様に、ハーフミラー3204で分岐された分岐光の一方はスリット3007を通して受光素子アレイ3005へ入射し、他方はスリット3008を通して受光素子アレイ3006へ入射する。スリット3007、3008、3107および3108と受光素子アレイ3005、3006、3105および3106と空間的に波長分解された光信号との位置関係は、既に述べたとおりであるから、その説明は省略する。なお、第2実施例の変形例として次のように構成することもできる。すなわち、スリット付き受光素子アレイを2組のまま、スリット通過波長成分を1/4とすると、得られる波長成分は1/2となる。得られた波長成分から、FPGA3010で隣接波長成分データから内挿補完することで欠損した波長成分を推定することも可能である。ただし、光強度スペクトル変化が大きい場合には誤差が大きくなるため、波長分解能が期待通り4倍にならない場合があることに注意しなければならない。測定する光強度スペクトル変化があまり大きくないことが予め分かっている場合には有効な構成である。4.効果上述した本発明の第1実施例および第2実施例によれば、次のような効果を得ることができる。第1の効果は、高速性と高波長分解能を同時に実現させることができる点である。その理由は、高速測定が可能だが高波長分解能の実現が困難な波長一括方式において、スリット付き受光素子アレイを複数設けることによって、高波長分解能を達成できるためである。第2の効果は、低コストで実現可能な点である。その理由は、高波長分解能化を行うためには、受光素子アレイの受光素子面積を小さくすることが必要だが、これを実現するためには大規模な技術開発、設備投資が必要となる。しかし、スリットを設けることによって等価的に受光素子面積を制限するだけで実現が可能なためである。第3の効果は、実現が容易な点である。その理由は、構成するデバイスは、現状、商用で入手可能なものであるためである。第4の効果は、拡張性が高い点である。その理由は、スリット通過面積を変えることによって所望の波長分解能を設計できるためである。第5の効果は、適用範囲が広いことである。その理由は、高速かつ高波長分解能で光強度スペクトルを測定することが期待される領域は、リアルタイムの偏波分散モニタに限らず、デバイス物性評価やトモグラフィ等など様々な適用が可能なためである。"