"光電変換により信号を生成する第1の画素と、前記第1の画素に対して同一行に配列され、光電変換により信号を生成する第2の画素と、前記第1の画素に基づく信号と時間に対してレベルが変化する第1の参照信号とを比較する第1の比較器と、前記第2の画素に基づく信号と前記第1の参照信号に対して時間に対する変化率が異なる第2の参照信号とを比較する第2の比較器と、前記第1の比較器が前記第1の画素に基づく信号と前記第1の参照信号との大小関係が逆転することを示す信号を出力するまでの間にカウントを行う第1のカウンタと、前記第2の比較器が前記第2の画素に基づく信号と前記第2の参照信号との大小関係が逆転することを示す信号を出力するまでの間にカウントを行う第2のカウンタと、少なくとも前記第1のカウンタのカウント値及び/又は前記第2のカウンタのカウント値を基に1個の画素信号を生成する処理部とを有することを特徴とする撮像装置。前記第1の画素及び前記第2の画素は、列方向に隣接する2画素であることを特徴とする請求項1記載の撮像装置。前記第1の画素及び前記第2の画素は、列方向に隣接する同色のカラーフィルタが設けられた2画素であることを特徴とする請求項1記載の撮像装置。前記処理部は、前記第1の参照信号及び前記第2の参照信号の時間に対する変化率の違いに対応する前記第1のカウンタのカウント値及び前記第2のカウンタのカウント値のゲインの違いを補正することを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の撮像装置。前記第2の参照信号は、前記第1の参照信号に対して時間に対する変化率が大きく、前記処理部は、前記第1の画素に基づく信号と前記第1の参照信号との大小関係が逆転せず、前記第2の画素に基づく信号と前記第2の参照信号との大小関係が逆転したときには、前記第2のカウンタのカウント値を選択して1個の画素信号を生成することを特徴とする請求項1~4のいずれか1項に記載の撮像装置。前記第2の参照信号は、前記第1の参照信号に対して時間に対する変化率が大きく、前記処理部は、前記第1の画素に基づく信号と前記第1の参照信号との大小関係が逆転し、前記第2の画素に基づく信号と前記第2の参照信号との大小関係が逆転したときには、前記第1のカウンタのカウント値を選択して1個の画素信号を生成することを特徴とする請求項1~5のいずれか1項に記載の撮像装置。前記処理部は、前記第1の画素に基づく信号と前記第1の参照信号との大小関係が逆転し、前記第2の画素に基づく信号と前記第2の参照信号との大小関係が逆転したときには、前記第1のカウンタのカウント値及び前記第2のカウンタのカウント値を合成して1個の画素信号を生成することを特徴とする請求項1~5のいずれか1項に記載の撮像装置。前記第2の比較器は、第1のモードでは、前記第2の画素に基づく信号と前記第1の参照信号に対して時間に対する変化率が異なる第2の参照信号とを比較し、第2のモードでは、前記第2の画素に基づく信号と前記第1の参照信号に対して時間に対する変化率が同じ第2の参照信号とを比較することを特徴とする請求項1~7のいずれか1項に記載の撮像装置。列並列AD変換器搭載イメージセンサでは、変換時間のカウント数がAD変換の結果となるため、変換時間の制約からダイナミックレンジを広げることが難しい。一般的な列並列AD変換器では参照電圧の傾きを大きくすることでダイナミックレンジを広げることが可能だが、1LSB当たりの電圧が大きくなるという分解能とのトレードオフになるといった問題点がある。そのため、同一行内で、低照度の画素と高照度の画素が混在する際に、適切な参照信号の傾きを選択することが難しいといった問題がある。分解能を維持しつつAD変換器のダイナミックレンジを広げる手法として、列アンプゲインを変換毎に調整する方法、フレーム方向に加算処理をする手法、複数のコンパレータを用いる方法がある。しかしながら、いずれの手法も回路の複雑化やフレーム数の減少、チップサイズの増加といった問題がある。上記理由により、列並列AD変換器を用いた撮像装置では、回路を複雑化させることなく行内で異なる傾きの参照信号を用いてダイナミックレンジを適切に変化させる必要がある。本発明の目的は、フレームレートの減少、チップサイズの大幅な増加を防ぎつつ、アナログデジタル変換のダイナミックレンジを拡大することができる撮像装置を提供することである。本発明の撮像装置は、光電変換により信号を生成する第1の画素と、前記第1の画素に対して同一行に配列され、光電変換により信号を生成する第2の画素と、前記第1の画素に基づく信号と時間に対してレベルが変化する第1の参照信号とを比較する第1の比較器と、前記第2の画素に基づく信号と前記第1の参照信号に対して時間に対する変化率が異なる第2の参照信号とを比較する第2の比較器と、前記第1の比較器が前記第1の画素に基づく信号と前記第1の参照信号との大小関係が逆転することを示す信号を出力するまでの間にカウントを行う第1のカウンタと、前記第2の比較器が前記第2の画素に基づく信号と前記第2の参照信号との大小関係が逆転することを示す信号を出力するまでの間にカウントを行う第2のカウンタと、少なくとも前記第1のカウンタのカウント値及び/又は前記第2のカウンタのカウント値を基に1個の画素信号を生成する処理部とを有することを特徴とする。第1の参照信号と第2の参照信号の時間に対する変化率を異ならせることにより、フレームレートの減少、チップサイズの大幅な増加を防ぎつつ、アナログデジタル変換のダイナミックレンジを拡大することができる。第1の実施形態図1は、本発明の実施形態に係る撮像装置の構成例を示すブロック図である。撮像装置は、例えばカメラシステムであり、列並列AD変換器搭載イメージセンサ110の画素領域に入射光を導く被写体像を結像する光学系、例えば入射光像光を撮像面上に結像させるレンズ101を有する。撮像装置は、列並列AD変換器搭載イメージセンサ110と、イメージセンサ110からの画素信号に対し所定の信号処理を行う画像処理部108と、画像処理部108の駆動を制御する全体制御部109とを有する。全体制御部109は、イメージセンサ110内の回路を駆動するスタートパルスやクロックパルスを含む各種タイミング信号を生成するタイミングジェネレータを有し、所定のタイミングでイメージセンサ110を駆動する。また、画像処理部108は、RGBの画素出力信号をY,Cb,Cr色空間への変換や、ガンマ補正などの所定の画像処理を施す。画像処理部108で処理された画像信号は、例えばメモリなどの記録媒体に記録される。記録媒体に記憶された画像情報は、プリンタなどによってハードコピーされる。また、画像処理回路108で処理された画像信号は、液晶ディスプレイなどからなるモニターに動画として映し出される。列並列AD変換器搭載イメージセンサ110は、レンズ101によって結像された光を電気信号に変換する画素アレー部102と、AD変換の際に参照信号として用いられる参照信号を発生させるランプ発生回路部103とを有する。参照信号は、時間に対して変化する参照信号である。さらに、イメージセンサ110は、画素アレー部102からのアナログ信号をデジタル信号に変換する列並列AD変換部104と、AD変換時の制御パルスを発生させるタイミング発生回路部105とを有する。さらに、イメージセンサ110は、相関二重サンプリングCDSなどの処理をAD変換出力結果に対して行う信号処理部106と、LVDSなどの外部インターフェースI/F部107とを有する。撮像装置は、その他さまざまな機能部位をもつが、本実施形態での特徴的な部位のみを記述した。図2は、図1の列並列AD変換器搭載イメージセンサCMOSイメージセンサ110の構成例を示す図である。図2の画素アレー部209は、図1の画素アレー部102に対応する。図2の列並列AD変換部210は、列並列AD変換部104に対応する。図2のランプ発生回路参照信号発生回路208は、図1のランプ発生回路部103に対応する。図2のタイミング発生回路部207は、図1のタイミング発生回路部105に対応する。図2の信号処理部206は、図1の信号処理部106に対応する。列並列AD変換器搭載イメージセンサ110は、撮像部としての画素アレー部209と、信号処理部206と、各種駆動パルスのタイミング制御を行うタイミング発生回路部207とを有する。画素アレー部209は、2次元行列状に配列された画素202及び垂直走査部201を有する。さらに、イメージセンサ110は、画素アレー部209の読み出し部としての列並列AD変換部210と、列アンプ203及び比較器204などに流れる電流を制御するバイアス回路部211とを有する。さらに、イメージセンサ110は、参照信号を発生させるランプ発生回路208を有する。列並列AD変換部210は、列アンプ203と、比較器204と、カウンタ205とを有する。カウンタ205は、タイミング発生回路部207が生成するクロック信号CLKのクロック数をカウントする。これらの構成要素のうち、画素アレー部209、垂直走査部201、列並列AD変換部210、ランプ発生回路208、バイアス回路部211はアナログ回路により構成される。また、タイミング発生回路部207、信号処理部206はデジタル回路により構成される。各画素202は、フォトダイオードと画素内アンプとを含み、光電変換により信号を生成する。例えば、図7に示すような画素202がマトリックス状行列状に配置されている。図7は、イメージセンサ110の各画素202の構成例を示す図である。画素202は、光電変換素子例えばフォトダイオード701と、転送スイッチである転送トランジスタ706と、画素レベルをリセットするリセットトランジスタ703と、増幅トランジスタ704と、選択トランジスタ705とを有する。フォトダイオード701は、入射光をその光量に応じた量の電荷ここでは電子に光電変換する。転送トランジスタ706は、フォトダイオード701の出力ノードとしてのフローティングディフュージョンFD707とフォトダイオード701との間に接続されている。転送トランジスタ706は、転送制御線LTXを通じて、そのゲート転送ゲートに駆動信号TGが与えられることにより、フォトダイオード701で光電変換された電荷をフローティングディフュージョン707に転送する。リセットトランジスタ703は、電源ラインLVDDとフローティングディフュージョン707との間に接続されている。リセットトランジスタ703は、リセット制御線LRSTを通してそのゲートにリセットRSTが与えられることで、フローティングディフュージョン707の電位を電源ラインLVDDの電位にリセットする。フローティングディフュージョン707は、増幅トランジスタ704を介して、垂直信号線702に接続される。増幅トランジスタ704は、画素202の外部の定電流源とソースフォロアを構成している。そして、選択制御線LSELを通して制御信号アドレス信号又はセレクト信号SELが選択トランジスタ705のゲートに与えられ、選択トランジスタ705がオンする。選択トランジスタ705がオンすると、増幅トランジスタ704はフローティングディフュージョン707の電位を増幅してその電位に応じた電圧を垂直信号線702に出力する。垂直信号線702を通じて、各画素202から出力された電圧は、画素信号読み出し回路としての列並列AD変換部210に出力される。これらの動作は、例えば転送トランジスタ706、リセットトランジスタ703、及び選択トランジスタ705の各ゲートが行単位で接続されていることから、1行分の各画素202について同時に行われる。画素アレー部209に配線されているリセット制御線LRST、転送信号線LTX、及び選択制御線LSELが一組として画素202の配列の各行単位で配線されている。これらのリセット制御線LRST、転送制御線LTX、及び選択制御線LSELは、画素駆動部としての垂直走査部201により駆動される。タイミング制御回路部207は、画素アレー部209、垂直走査部201、信号処理部206、列並列AD変換部210、ランプ発生回路208の信号処理に必要なタイミング信号を生成する。画素アレー部209においては、ラインシャッターを使用した光子蓄積及び排出により、映像や画面イメージを画素行毎に光電変換し、アナログ信号を列並列AD変換部210に出力する。列並列AD変換部210は、列毎でそれぞれ、画素アレー部209のアナログ出力信号とランプ発生回路208からの参照信号とを比較し、デジタル信号を出力する。列並列AD変換部210は、AD変換器が複数列配列されている。各AD変換器は、参照信号を階段状もしくはスロープ状に変化させた参照信号と、行列毎に画素202から垂直信号線702を経由し列アンプ203で増幅して得られるアナログ信号とを比較する比較器204を有する。さらに、各列のAD変換器は、比較時間をカウントし、カウント結果をラッチして保持するカウンタ205を有する。列毎に配置された比較器204は、列アンプ203からの画素信号と参照信号の電圧が等しくなったときに、比較器204の出力を反転し、カウンタ205のカウントを停止し、AD変換を完了させる。本構成では、画素列毎に列アンプ203を用いたが、画素垂直信号線702を直接比較器204に入力する構成であっても良い。ランプ発生回路208は、複数の参照信号を生成する。以下、ランプ発生回路208の具体的な構成及び機能について説明する。ランプ発生回路208は、時間に対してレベルが変化する参照信号を生成する。参照信号は、例えば、時間が経過するにつれてレベルが階段状、もしくはランプ状に変化するスロープ傾斜状の波形の信号である。例えば、ランプ発生回路208は、タイミング発生回路部207から与えられる制御信号に応じて、デジタルアナログ変換回路によりデジタルアナログ変換を行い、参照信号を生成する。撮像装置は、複数のランプ発生回路208を有する。複数のランプ発生回路208は、タイミング発生回路部207から与えられるクロック信号に基づいて、異なる傾きのスロープを持つ複数系統、例えば2系統の参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを生成する。なお、スロープ状の波形の参照信号を生成する手段としては、デジタルアナログ変換回路に限られるものではない。また、複数系統の参照信号を生成する手法に関しても、ランプ発生回路208を複数用いる構成に限定されるものではない。信号処理部106又は画像処理部108は、列アンプ203のゲインを列毎に異ならせた場合のゲイン補正画素の選択処理を行う。イメージセンサ110内でゲイン補正をする場合は、信号処理部106がゲイン補正を行い、イメージセンサ110外でゲイン補正する場合は、画像処理部108がゲイン補正を行う。画素の選択処理に関しては、後で詳述する。撮像装置は、参照信号の傾きに対して、列間で異ならせるか同一のものを用いるかを選択するモード切り替え手段を有する。各画素202にカラーフィルタを用いた場合の参照信号の対応関係に関して説明する。図4は、2種類の傾きの異なる参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを用いた構成例である。図1の複数の画素202は、画素列群402及び403に分けられる。各画素202には、カラーフィルタが設けられる。画素列群402は、参照信号RAMP_Aに対応する列の画素領域である。画素列群403は、参照信号RAMP_Bに対応する列の画素領域である。列並列AD変換部404は図2の列並列AD変換部210に対応し、信号処理部401は図2の信号処理部206に対応する。信号処理部401は、画素の選択/合成部及びゲイン補正部を有する。異なる傾きの参照信号RAMP_A及びRAMP_Bの画素列群402及び403は、最も近隣にある同一色のカラーフィルタを設けた画素列間で分ける。図4は、隣り合う4画素でR、Gr、Gb、Bのカラーフィルタを用いた場合の参照信号RAMP_A及びRAMP_Bの対応例である。参照信号RAMP_A及びRAMP_Bは、同一色の近隣画素列間で分けるため、2画素列毎に交互に2つの参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを用いる。すなわち、画素列群402及び403毎に、異なる傾きの参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを用いる。また、信号処理部401は、異なる傾きの参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを用いて比較器204で比較した同色画素の信号間で、画素の選択合成処理、及びゲイン補正処理を行う。信号処理部401は、図1の信号処理部106又は画像処理部108に対応する。ここで、本実施形態は、近隣4画素をR、Gr、Gb、Bと配列させたカラーフィルタを用いたイメージセンサ110に限定されるものではない。3種類以上の参照信号を用いた場合も同様に、1行内で最も近隣にある同一色画素の信号間で、参照信号の傾きを異ならせ、AD変換を行う。具体例として、図4で示した4画素でR、Gr、Gb、Bを構成するカラーフィルタを有するイメージセンサ110に対し、3種類の参照信号を用いた場合、6画素列毎に同一の傾きの参照信号をAD変換に用いる。また、三板式カラーセンサの画素配列や、モノクロセンサなどは単一色のカラーフィルタを用いた画素配列で構成されているため、2種類の参照信号を用いた場合は、1画素列毎に交互に参照信号RAMP_A及びRAMP_BをAD変換に用いる。図5は、全列で同じ参照信号RAMPを用いてAD変換する第2のモードの動作を示すタイミングチャートである。参照信号RAMPは、ランプ発生回路208により生成される。画素202に基づく信号画素信号SIGは、列アンプ203の出力信号である。AD変換期間は、画素202のリセットレベルを変換するN信号変換期間と、光信号レベルを変換するS信号変換期間を有する。N信号変換期間では、図7に示すように、画素信号SIGは、リセットトランジスタ703をオンした際の列アンプ203の出力信号であり、画素リセット信号がAD変換される。これに対し、S信号変換期間では、図7に示すように、画素信号SIGは、リセットトランジスタ703をオフした際の列アンプ203の出力信号であり、フォトダイオード701に蓄積された光信号がAD変換される。N信号変換期間では、リセットトランジスタ703がオンされる。比較器204は、画素信号SIGと参照信号RAMPの大小関係が逆転すると出力信号OUTを反転させる。カウンタ205は、参照信号RAMPの傾斜開始時刻t1から比較器204の出力信号OUTが反転する時刻t2までの期間、クロック信号CLKのクロック数をカウント値デジタル信号としてカウントする。これにより、画素信号SIGがアナログからデジタルに変換される。S信号変換期間では、リセットトランジスタ703がオフされる。比較器204は、画素信号SIGと参照信号RAMPの大小関係が逆転すると出力信号OUTを反転させる。カウンタ205は、参照信号RAMPの傾斜開始時刻t3から比較器204の出力信号OUTが反転する時刻t4までの期間、クロック信号CLKのクロック数をカウント値デジタル信号としてカウントする。これにより、画素信号SIGは、アナログからデジタルに変換される。その後、信号処理部106又は画像処理部108は、時刻t3~t4のS信号変換期間にAD変換されたカウント値と時刻t1~t2のN信号変換期間にAD変換されたカウント値との差分を演算し、リセットレベルが減算された画素信号を得る。撮像装置は、画像の照度をAD変換結果から検出し、S信号変換期間内に比較器204の反転が終わるように参照信号RAMPの傾きを変化させる。しかし、参照信号RAMPを各列に共通に使用した場合の動作では、同行内に照度が高い画素と照度が低い画素が混在した場合に、図6に示すように、S信号変換期間内に比較器204の出力信号OUTの反転が起こらなく、カウンタ205のカウンタ値が飽和する。本実施形態の撮像装置は、モード切り替えによって全列に共通の参照信号RAMPを用いる第2のモードと、異なる参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを用いる第1のモードとを切り替える。参照信号の傾きを列間で異ならせるか、同一にするかはユーザが任意にモード切り替え操作をしてもよいし、撮像装置が画像内の照度差を検出して自動でモードを切り替えても良い。例えば、撮像装置は、照度差が大きい場合に、モード切り替えによって、図4に示すように隣接する同色の2画素の信号に対し、傾きを異ならせた参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを用いてAD変換する第1のモードに設定する例を説明する。この場合のタイミングチャートを図3A及びBに示す。図3A及びBでは、隣接する同色の2画素の画素信号SIGは等しいと仮定し、一つの画素信号SIGで表している。出力信号OUT_A及びOUT_Bは、それぞれ上記の隣接する同色の2画素の信号についての比較器204の出力信号である。出力信号OUT_Aは、画素列群402の画素と傾きが小さい参照信号RAMP_Aとを比較した比較器204の出力信号である。出力信号OUT_Bは、画素列群403の画素と傾きが大きい参照信号RAMP_Bとを比較した比較器204の出力信号である。図3Aに示すように、照度の高い画素に対して二つの参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを用いてAD変換を行った場合、傾きが小さい参照信号RAMP_Aを用いた画素では比較器204の出力信号OUT_Aの反転が行われない。一方、傾きが大きい参照信号RAMP_Bを用いた画素では比較器204の出力信号OUT_Bが反転する。後段の信号処理部401は、隣接する同色の2画素間で参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを用いたカウント値A及びBのうちの飽和していないカウント値Bを選択し、上記の隣接する同色の2画素の信号の代表値とする。ここでは2画素のうち1画素のみを使う選択方式を示したが、信号処理方法は選択方式に限られるものではなく、複数の画素の合成処理などを行って、画素信号を求めてもよい。3種類の参照信号を用いた際は3画素間での信号処理を行う。図3Bは、1画素行内で照度が低い画素のAD変換を示したものである。図3Bでは、画素信号SIGの光信号レベルが小さいため、傾きが小さい参照信号RAMP_Aを用いた比較器204の出力信号OUT_Aと傾きが大きい参照信号RAMP_Bを用いた比較器204の出力信号OUT_Bの両方が反転する。後段の信号処理部401は、より1LSB当たりの分解能が高い方の傾きが小さい参照信号RAMP_Aを用いたカウント値を選択し、上記の隣接する同色の2画素の信号の代表値とする。ここでも、上記と同様に、信号処理方式は選択方式に限られるものではなく、参照信号RAMP_A及びRAMP_Bの両方の変換結果のカウント値A及びBを用いて画素信号を求めてもよい。各列でAD変換された変換結果のカウント値は、参照信号の傾きが異なるため、列並列AD変換器210の入力信号からみた変換ゲインが列毎で異なる。すなわち、列並列AD変換器210が異なる傾きの参照信号を用いて画素信号SIGをAD変換することは、異なるゲインで画素信号SIGを増幅することを意味する。そこで、後段の信号処理部401は、同一行の画素の変換ゲインを等しくさせるため、参照信号の傾き比で出力結果のカウント値を割ることにより、ゲイン補正を行う。すなわち、信号処理部401は、カウンタ205のカウント値に対して、参照信号の傾きの違いに対応するゲインの違いを補正する。なお、上記の隣接する同色の2画素のうちから1画素を選択又は合成する処理とゲイン補正処理は、イメージセンサ110内の信号処理部106で行ってもよいし、イメージセンサ110の外部の画像処理部108で行ってもよい。参照信号の傾きの制御は、ユーザのモード切り替え操作や、撮像装置により前フレームもしくは前行の照度検出結果などを基に行われる。第1の画素は、例えば図4の画素列群402内の画素202であり、光電変換により信号を生成する。第2の画素は、例えば図4の画素列群403内の画素202であり、第1の画素に対して同一行に配列され、光電変換により信号を生成する。第1の画素及び第2の画素は、列方向に隣接する同色のカラーフィルタが設けられた2画素である。なお、三板式カラーセンサ又はモノクロセンサなどでは、第1の画素及び第2の画素は、列方向に隣接する2画素である。図3A及びBに示すように、第1の比較器204は、第1の画素に基づく信号SIGと時間に対してレベルが変化する第1の参照信号RAMP_Aとを比較し、出力信号OUT_Aを出力する。第2の比較器204は、第2の画素に基づく信号SIGと第1の参照信号RAMP_Aに対して時間に対する変化率傾きが異なる第2の参照信号RAMP_Bとを比較し、出力信号OUT_Bを出力する。第1のカウンタ205は、第1の比較器204が第1の画素に基づく信号SIGと第1の参照信号RAMP_Aとの大小関係が逆転することを示す信号OUT_Aを出力するまでの間にカウント値Aのカウントを行う。第2のカウンタ205は、第2の比較器204が第2の画素に基づく信号SIGと第2の参照信号RAMP_Bとの大小関係が逆転することを示す信号OUT_Bを出力するまでの間にカウント値Bのカウントを行う。信号処理部401又は画像処理部108は、少なくとも第1のカウンタ205のカウント値A及び/又は第2のカウンタ205のカウント値Bを基に1個の画素信号を生成する。また、処理部401又は108は、図4に示すように、第1の参照信号RAMP_A及び第2の参照信号RAMP_Bの時間に対する変化率の違いに対応する第1のカウンタ205のカウント値A及び第2のカウンタ205のカウント値Bのゲインの違いを補正する。図3A及びBに示すように、第2の参照信号RAMP_Bは、例えば、第1の参照信号RAMP_Aに対して時間に対する変化率が大きい。図3Aは、第1の画素に基づく信号SIGと第1の参照信号RAMP_Aとの大小関係信号OUT_A参照が逆転せず、第2の画素に基づく信号SIGと第2の参照信号RAMP_Bとの大小関係信号OUT_B参照が逆転した場合を示す。その場合には、処理部401又は108は、第2のカウンタ205のカウント値Bを選択して1個の画素信号を生成する。図3Bは、第1の画素に基づく信号SIGと第1の参照信号RAMP_Aとの大小関係信号OUT_A参照が逆転し、第2の画素に基づく信号SIGと第2の参照信号RAMP_Bとの大小関係信号OUT_B参照が逆転した場合を示す。その場合には、処理部401又は108は、高分解能の第1のカウンタ205のカウント値Aを選択して1個の画素信号を生成する。なお、図3Bの場合、処理部401又は108は、第1のカウンタ205のカウント値A及び第2のカウンタ205のカウント値Bを合成して1個の画素信号を生成してもよい。図3A及びBに示す第1のモードでは、第1の比較器204は、第1の画素に基づく信号SIGと時間に対してレベルが変化する第1の参照信号RAMP_Aとを比較し、出力信号OUT_Aを出力する。第2の比較器204は、第2の画素に基づく信号SIGと第1の参照信号RAMP_Aに対して時間に対する変化率が異なる第2の参照信号RAMP_Bとを比較し、出力信号OUT_Bを出力する。これに対し、図5に示す第2のモードでは、第1の比較器204は、第1の画素に基づく信号SIGと時間に対してレベルが変化する第1の参照信号RAMPとを比較し、出力信号OUTを出力する。第2の比較器204は、第2の画素に基づく信号SIGと第1の参照信号RAMPに対して時間に対する変化率が同じ第2の参照信号RAMPとを比較し、出力信号OUTを出力する。第2の実施形態図8は、本発明の第2の実施形態による撮像装置の構成例を示す図である。第1の実施形態においては、複数種類の参照信号を生成するために複数個のランプ発生回路208を用いた。本発明の第2の実施形態では、複数種類の参照信号を生成する別の手段として、分圧器212を用いて参照信号を生成する。本実施形態図8は、第1の実施形態図2に対して、分圧器212を追加したものである。以下、本実施形態が第1の実施形態と異なる点を説明する。本実施形態は、分圧器212を各列毎に設けることにより、1つのランプ発生回路208で、複数種類の異なる参照信号を生成することができる。ランプ発生回路208は、各列共通の参照信号を生成し、各列の分圧器212に出力する。各列の分圧器212は、ランプ発生回路208により生成された共通の参照信号を入力し、分圧器コントロール部213の傾き制御信号に応じて、複数の異なる傾きの参照信号を生成することができる。分圧器212は、例えば、抵抗分割方式により参照信号の傾きを変えることができる。比較器204は、分圧器212により生成された参照信号と列アンプ203の出力信号SIGとの比較を行う。信号処理部401の画素選択方法及びゲイン補正方法は、第1の実施形態と同様である。以上のように、本実施形態は、ランプ発生回路208を複数持たなくとも、第1の実施形態と同等の効果を得ることができる。第3の実施形態図9は、本発明の第1の実施形態による撮像装置の構成例を示す図である。本実施形態図9は、第1の実施形態図4に対して、画素列901及び902が異なる。以下、本実施形態が第1の実施形態と異なる点を説明する。第1の実施形態では、R、Gr、Gb、Bの4画素が隣り合うように配列されたカラーフィルタを用いた例を説明した。カラーフィルタの配列によっては、信号処理部401が選択する画素を、第1の実施形態から変更することが必要になる場合がある。そのような例として、R、R、Gr、Gr、Gb、Gb、B、B配列のカラーフィルタを用いた場合を、本発明の第3の実施形態として説明する。以下、本実施形態が第1の実施形態と異なる点を説明する。図1の複数の画素202は、画素列901及び902に分けられる。各画素202には、カラーフィルタが設けられる。画素列901は、参照信号RAMP_Aを用いてAD変換される画素信号に対応する列の画素領域である。画素列902は、参照信号RAMP_Bを用いてAD変換される画素信号に対応する列の画素領域である。図9に示すように、8画素でR、R、Gr、Gr、Gb、Gb、B、Bと配列させたカラーフィルタを用いた場合において、1行内で最も近隣にある同一色の画素列間で異なる傾きの参照信号を用いる。このようなカラーフィルタを用いたイメージセンサ110では、例えば2種類の参照信号を用いた場合、参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを1画素列毎に交互にAD変換に用いる。すなわち、画素列901及び902毎に、異なる傾きの参照信号RAMP_A及びRAMP_Bを用いる。第1の実施形態では、図4に示すように、信号処理部401は、列並列AD変換部404のAD変換結果を選択合成処理する際に、画素の選択する部分をクロスさせる必要があった。本実施形態では、図9に示すように、隣り合う画素が同色であるため、信号処理部401は、列並列AD変換部404のAD変換結果の入れ替えを行わず、隣り合う画素同士間で選択合成処理を行えばよい。なお、本実施形態は、第2の実施形態に適用することもできる。以上のように、信号処理部401が同色の画素の信号間で行うようにAD変換結果の選択又は合成を行うことにより、カラーフィルタ配列が異なる場合においてもダイナミックレンジ拡大の効果を得ることができる。なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。"