"ローラ部材に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置によって撮影し、前記ローラ部材に発生する放電ムラを観察することを特徴とするローラ部材の放電ムラ観察方法。ローラ部材に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段によって増倍し、前記ローラ部材に発生する放電ムラを観察することを特徴とするローラ部材の放電ムラ観察方法。前記光電子増倍手段がイメージインテンシファイアであることを特徴とする請求項2に記載のローラ部材の放電ムラ観察方法。前記透明電極基板と前記ローラ芯金との間に交流バイアスを重畳印加することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のローラ部材の放電ムラ観察方法。前記光電子増倍手段を直列に複数個配設することを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載のローラ部材の放電ムラ観察方法。前記ローラを回転させることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載のローラ部材の放電ムラ観察方法。請求項1乃至6のいずれかに記載される放電ムラ観察方法を実行するための機構を備えることを特徴とするローラ部材の放電ムラ観察装置。ローラ部材に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置で撮影し、得られた放電光の強度に基づいて、前記ローラ部材の抵抗を求めることを特徴とするローラ部材の抵抗測定方法。ローラ部材に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段によって増倍し、得られた放電光の強度に基づいて、前記ローラ部材の抵抗を求めることを特徴とするローラ部材の抵抗測定方法。前記光電子増倍手段がイメージインテンシファイアであることを特徴とする請求項9に記載のローラ部材の抵抗測定方法。前記光電子増倍手段を直列に複数個配設することを特徴とする請求項9または10に記載のローラ部材の抵抗測定方法。前記光電子増倍手段の背面に撮影手段を配設し、前記光電子増倍手段で増幅された放電光を撮影し、画像処理によって前記ローラ部材の抵抗を算出することを特徴とする請求項9乃至11のいずれかに記載のローラ部材の抵抗測定方法。前記ローラを回転させることを特徴とする請求項8乃至12のいずれかに記載のローラ部材の抵抗測定方法。前記撮影手段により撮影された画像データと、予め用意された放電光の明度とローラ部材抵抗の関係式を用いて、ローラ部材の抵抗を算出することを特徴とする請求項8乃至13のいずれかに記載のローラ部材の抵抗測定方法。請求項8乃至14のいずれかに記載の抵抗測定方法を実行するための機構を備えることを特徴とするローラ部材の抵抗測定装置。請求項1または2に記載のローラ部材の放電ムラ観察方法が適用されるローラ部材として用いられる帯電ローラであって、前記帯電ローラは、前記撮影手段により観察された放電光が1本または2本の直線状をなす場合に正常帯電可能なものとして判定されることを特徴とする帯電ローラ。前記帯電ローラは、イオン導電性部材にカーボンを分散させて構成されていることを特徴とする請求項16に記載の帯電ローラ。前記帯電ローラは、イオン導電性部材にカーボンを分散させた層の上に高抵抗層をコーティングした多層構造とされていることを特徴とする請求項16または17に記載の帯電ローラ。前記イオン導電性部材がエピクロルヒドリンゴムであることを特徴とする請求項17または18に記載の帯電ローラ。複数粒子からなる粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置によって撮影し、前記ローラ部材に発生する放電ムラを観察することを特徴とする粉体の放電ムラ観察方法。複数粒子からなる粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段によって増倍し、前記ローラ部材に発生する放電ムラを観察することを特徴とする粉体の放電ムラ観察方法。前記光電子増倍手段がイメージインテンシファイアであることを特徴とする請求項20または21に記載の粉体の放電ムラ観察方法。前記透明電極基板と前記ローラ芯金との間に交流バイアスを重畳印加することを特徴とする請求項20乃至22のいずれかに記載の粉体の放電ムラ観察方法。前記光電子増倍手段を直列に複数個配設することを特徴とする請求項20乃至23のいずれかに記載の粉体の放電ムラ観察方法。前記半透明または透明な電極の表面粗さが算術平均高さRaで0.5mm以下に設定されていることを特徴とする請求項20または21に記載の粉体の放電ムラ観察方法。請求項20乃至25のいずれかに記載される放電ムラ観察方法を実行するための機構を備えることを特徴とする粉体の放電ムラ観察装置。複数粒子からなる粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記粉体と非接触になるように配設される透明電極基板と、前記粉体を介して前記電極基板に対向する位置に配設される対向電極とを備え、前記透明電極基板と前記対向電極との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記粉体との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置で撮影し、得られた放電光の強度に基づいて、前記粉体の抵抗を求めることを特徴とする粉体の抵抗測定方法。複数粒子からなる粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記粉体と非接触になるように配設される透明電極基板と、前記粉体を介して前記電極基板に対向する位置に配設される対向電極とを備え、前記透明電極基板と前記対向電極との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記粉体との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段によって増倍し、得られた放電光の強度に基づいて前記粉体の抵抗を求めることを特徴とする粉体の抵抗測定方法。前記光電子増倍手段がイメージインテンシファイアであることを特徴とする請求項28に記載の粉体の抵抗測定方法。前記光電子増倍手段を直列に複数個配設することを特徴とする請求項28または29に記載の粉体の抵抗測定方法。前記光電子増倍手段の背面に撮影手段を配設し、前記光電子増倍手段で増幅された放電光を撮影し、画像処理によって前記粉体の抵抗を算出することを特徴とする請求項28乃至30のいずれかに記載の粉体の抵抗測定方法。前記透明電極基板の表面粗さが算術平均高さRaで0.5mm以下であることを特徴とする請求項27乃至31のいずれかに記載の粉体の抵抗測定方法。前記撮影手段により撮影された画像データと、予め用意された放電光の明度と粉体抵抗の関係式を用いて粉体の抵抗を算出することを特徴とする請求項27乃至32のいずれかに記載される粉体の抵抗測定方法。請求項27乃至33のいずれかに記載される抵抗測定方法を実行するための機構を備えることを特徴とする粉体の抵抗測定装置。感光体や転写材上のトナー像を、転写材、もしくは他の転写材に転写するための電界を形成するための構成に用いられるローラ部材であって、前記ローラ部材は、芯金にバイアスを印加される芯金に弾性発泡体層を有する構成を備え、前記転写材との間にニップ部を形成するように透明若しくは半透明の対向電極と対峙して配置され、該対向電極との間に電位差を設定されて該ニップ部の周辺近傍に放電を発生させたとき、該放電に伴って観察される発光領域での前記ニップ幅方向の積算距離の平均値Llightaveとし、無発光領域の積算距離の平均値をLdarkaveとしたとき、前記無発光領域の平均積算距離Llightave.の前記ニップ周辺近傍領域に対して占める割合が少なくともLlightave/LdarkaveLdarkave<0.4で示されることを特徴とするローラ部材。前記弾性発泡体層の平均セル径が100μm以上350μm未満であることを特徴とする請求項36に記載のローラ部材。前記ローラ部材は、電子写真方式の画像形成装置に搭載可能であり、該画像形成装置に搭載された際に、静電潜像保持体の基板部と前記ローラ部材の芯金との間に設けられる電位差と同じ電位差を設けた状況において、上記関係式を満たすことを特徴とする請求項35または36に記載のローラ部材。前記ローラ部材は、電子写真方式の画像形成装置に搭載可能であり、該画像形成装置に搭載された際に、転写材、もしくは転写材搬送部材との間で形成するニップ幅と同じ幅のニップを設けた状況において上記関係式を満たすことを特徴とする請求項35乃至37のいずれかに記載のローラ部材。請求項35乃至請求項38のいずれかに記載されるローラ部材を搭載することを特徴とする画像形成装置。前記ローラ部材がニップを形成する転写材、もしくは転写材搬送部材が無端ベルトで、前記無端ベルトが、樹脂で構成されるベース中に導電性物質が分散されていることを特徴とする請求項39に記載の画像形成装置。前記ローラ部材がニップを形成する前記無端ベルトが単層ベルトであり、前記無端ベルトのベースとなる樹脂が、1013Ωcm以上の体積抵抗率を有することを特徴とする、請求項39または40に記載の画像形成装置。前記ローラ部材がニップを形成する前記無端ベルトの体積抵抗率が1011Ωcm以下であることを特徴とする請求項39乃至41のいずれかに記載の画像形成装置。シート部材に対し、半透明もしくは透明な電極の表面に蛍光体が塗布された透明電極基板を有し、前記透明電極基板は、蛍光体塗布面が前記シート部材に向けられ、かつ非接触になるように配設され、さらに前記シート部材を介して前記透明電極基板に対向する位置に配設された背後電極と前記透明電極基板の背面に配設される撮像撮影手段、を備え、前記透明電極基板と前記背後対向電極との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記シート部材との間の電位差で生じた放電により、前記蛍光体から発生した蛍光を、前記撮像手段によって撮影し、前記シート部材に発生する放電ムラを観測することを特徴とする、シート部材の放電ムラ測定方法。前記撮像撮影手段は放電ムラ評価手段に接続され、該放電ムラ評価手段は、該撮像刷撮影手段からの画像データに基づき、放電ムラの特徴量を抽出することを特徴とする請求項43に記載の放電ムラ測定方法。前記撮像撮影手段は、記透明電極基板の背面に、等倍イメージセンサーを配置した構成が用いられることを特徴とする請求項43または44に記載の放電ムラ観察方法。請求項43乃至45のいずれかに記載の放電ムラ観察方法を実行するための機構を備えることを特徴とする放電ムラ観察装置。ところで、表面抵抗率や体積抵抗率はミリメートルオーダー以上の電極を用いて評価されるものであり、マクロな電気特性を示すため、表面抵抗率や体積抵抗率の測定値だけではベルトの電気特性を完全には把握できないという問題がある。画像形成装置の転写プロセスにおいて、転写材と感光体や、転写材と転写ローラとの間で発生する放電が重要な因子であるため、マクロな意味での表面抵抗率や体積抵抗率の値が同等のローラを用いて、同じ条件で感光体上のトナーを転写ベルトや用紙に転写しても、ハーフトーン画像などで発生する濃度ムラや画像が所々白く抜ける現象以下、白抜けと記すの傾向が異なるといった問題が多発し、結局のところ、画像形成装置の開発段階においては、多くのローラサンプルについて様々な条件下でトナー画像の転写実験を行い、出力画像を見て好ましいローラを抽出するといった作業が発生していた。このような実情から、より微視的な放電特性や電気特性の評価手法の確立が望まれると同時に、そこで得られる知見に基づいて、濃度ムラや白抜けを発生しない、良好な転写ローラが開発されることが要望されていた。また、転写ローラとしての重要な特性として、転写材との組み合わせによりいかにして電気的に均一なニップ部を形成できるかという点がある。今日まで用いられている転写ローラの特性を示すための指標としては、ローラ部材の芯金となんらかの対向電極との間に一定のバイアスを印加した際に流れる電流値から算出されるマクロな抵抗値と、顕微鏡などを使って測定されるセル径が主であり、これらの特性値だけではローラ部材の電気特性を完全には把握できない上に、ローラ部材と転写材とが当接した状態では、ローラ部材表面の物理形状や粘弾性分布が影響するために、実際の転写ニップ部において、電気的に均一なニップが形成できているか否かがわからないという問題がある。その結果、セル径や上述の手法で得られる抵抗値が同等の、別の転写ローラを用いて、同じ転写条件下で感光体上や転写ベルト上のトナーを転写しても、前述した白抜けの傾向が異なるといった問題が頻発してしまうことになる。従って、この場合にも、前述したように、画像形成装置の開発段階において転写実験に基づき好ましいローラを抽出する作業が発生していた。一方、第2番目に挙げた帯電装置を対象とした場合、高画質対応のためAC帯電が有利であるが、感光体膜削れ、画像流れを可能な限り低減するためにACバイアスをできるだけ小さくしたい。放電が均一なイオン導電性物質を用いることで大幅にACバイアスを低減可能であるが、環境による抵抗変動を防止するためにカーボン等のフィラーを添加して低抵抗化して用いている必要がある。フィラーを添加することで温度が変化しても抵抗変動の影響が小さくなり、帯電電位が均一となり、安定した帯電が可能と期待される。カーボンが多いほど電位変動が小さくなるが、しかしながら、フィラー量や分散具合によっては、イオン導電性では発生しなかった過剰放電が発生するようになった。これはカーボン分散量が多い、または分散性が悪いと放電が不安定となり、せっかくのイオン導電性のメリットがなくなってくることが判明した。理想の帯電ローラはイオン導電性ゴムにカーボンを均一に分散させて、低抵抗化することである。カーボン量は多すぎても問題が発生するため、カーボン量をある範囲に収めなければいけないが、カーボン種類、ヒドリンゴムの製法、混練条件や焼成温度等によって一意には決められない。以上の背景より、ローラの微視的な放電の安定性や電気特性抵抗や誘電率を評価する手法が必要とされていた。さらに第3番目に挙げた粉体を対象とした場合には、4探針や、リング電極を用いる抵抗率測定方法では、ミリメートルオーダーの電極を用いて評価されるものであり、マクロな電気特性を示すため、トナーにおけるミクロの電気特性を完全には把握できないという問題がある。例えば、電子写真の画像形成の転写プロセスにおいては、ベルトと感光体や、ベルトと転写ローラとの間で発生する放電が重要な因子である。単にマクロな意味での抵抗率が同じトナーを用いて、同じ条件で感光体上のトナーを転写ベルトや用紙に転写しても、ハーフトーン画像などで発生する濃度ムラや画像が所々白く抜ける現象以下、白抜けと記すの傾向が異なるといった問題が多発し、結局のところ、画像形成装置の開発段階においては、多くのトナーサンプルについて様々な条件下で、トナー画像の転写実験を行い、出力画像を見て好ましいトナーを選択するといった作業が発生していた。このような実情から、より微視的な放電特性や電気特性の評価手法の確立が望まれると同時に、そこで得られる知見に基づいて、濃度ムラや白抜けを発生しない、良好なトナーが開発されることが要望されていた。また、第4番目に挙げた転写ベルトを対象とした場合においても、転写ローラと同様に表面抵抗率や体積抵抗率はミリメートルオーダーの電極を用いて評価されるものであり、マクロな電気特性を示すため、表面抵抗率や体積抵抗率の測定値だけではベルトの電気特性を完全には把握できないという問題がある。また、画像形成装置の転写プロセスにおいては、ベルトと感光体や、ベルトと転写ローラとの間で発生する放電が重要な因子であるため、実際には抵抗だけではなく、ベルトの表面粗さも大きく影響を及ぼすことが知られており、単にマクロな意味での表面抵抗率や体積抵抗率の値が同等のベルトを用いて、同じ条件で感光体上のトナーを転写ベルトや用紙に転写しても、転写ローラの場合において説明したと同様な白抜けの傾向が異なるといった問題が多発し、結局のところ、画像形成装置の開発段階においては、多くのベルトサンプルについて様々な条件下でトナー画像の転写実験を行い、出力画像を見て好ましいベルトを抽出するといった作業が発生していた。このような実情から、より微視的な放電特性や電気特性の評価手法の確立が望まれると同時に、そこで得られる知見に基づいて、濃度ムラや白抜けを発生しない、良好な転写ベルトが開発されることが要望されていた。また、電子写真方式の複写機やプリンタで使用される用紙の適応性を判定して推奨紙を選別する上でも同様である。本発明の目的は、上記従来の放電および放電による帯電現象を利用する部材における問題に鑑み、微視的電気特性の測定で得られた知見に基づき開発される、濃度ムラや白抜けを発生しない、放電あるいは放電による帯電現象を利用する部材を得ることができるための放電ムラ観察方法、放電ムラ観察装置および抵抗測定方法および測定装置および画像形成装置を提供することにある。特に詳しくは、第1に、転写装置に用いられる転写ローラの微視的な放電特性や電気特性、つまり、放電ムラやこれに影響する抵抗特性が評価可能な、実用的手法と観察装置を提供することにある。第2に、導電性基材にカーボンを分散させた帯電ローラを対象として均一帯電が可能な帯電ローラを規定することができる実用的な評価手法および観察装置を提供することにある。第3に、トナーなどの粉体を対象として、微視的な放電特性等の電気特性を評価可能な実用的測定方法および測定装置を提供することにある。第4に、転写ベルトなどのシートを対象として、微視的な放電特性や電気特性の評価が可能な実用的な測定手法および測定装置を提供することにある。この目的を達成するため、本発明は次の構成よりなる。1ローラ部材に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置によって撮影し、前記ローラ部材に発生する放電ムラを観察することを特徴とするローラ部材の放電ムラ観察方法。2ローラ部材に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段によって増倍し、前記ローラ部材に発生する放電ムラを観察することを特徴とするローラ部材の放電ムラ観察方法。3前記光電子増倍手段がイメージインテンシファイアであることを特徴とする2に記載のローラ部材の放電ムラ観察方法。4前記透明電極基板と前記ローラ芯金との間に交流バイアスを重畳印加することを特徴とする1乃至3のいずれかに記載のローラ部材の放電ムラ観察方法。5前記光電子増倍手段を直列に複数個配設することを特徴とする2乃至4のいずれかに記載のローラ部材の放電ムラ観察方法。6前記ローラを回転させることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載のローラ部材の放電ムラ観察方法。71乃至6のいずれかに記載される放電ムラ観察方法を実行するための機構を備えることを特徴とするローラ部材の放電ムラ観察装置。8ローラ部材に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置で撮影し、得られた放電光の強度に基づいて、前記ローラ部材の抵抗を求めることを特徴とするローラ部材の抵抗測定方法。9ローラ部材に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段によって増倍し、得られた放電光の強度に基づいて、前記ローラ部材の抵抗を求めることを特徴とするローラ部材の抵抗測定方法。10前記光電子増倍手段がイメージインテンシファイアであることを特徴とする9に記載のローラ部材の抵抗測定方法。11前記光電子増倍手段を直列に複数個配設することを特徴とする9または10に記載のローラ部材の抵抗測定方法。12前記光電子増倍手段の背面に撮影手段を配設し、前記光電子増倍手段で増幅された放電光を撮影し、画像処理によって前記ローラ部材の抵抗を算出することを特徴とする9乃至11のいずれかに記載のローラ部材の抵抗測定方法。13前記ローラを回転させることを特徴とする8乃至12のいずれかに記載のローラ部材の抵抗測定方法。14前記撮影手段により撮影された画像データと、予め用意された放電光の明度とローラ部材抵抗の関係式を用いて、ローラ部材の抵抗を算出することを特徴とする8乃至13のいずれかに記載のローラ部材の抵抗測定方法。158乃至14のいずれかに記載の抵抗測定方法を実行するための機構を備えることを特徴とするローラ部材の抵抗測定装置。161または2に記載のローラ部材の放電ムラ観察方法が適用されるローラ部材として用いられる帯電ローラであって、前記帯電ローラは、前記撮影手段により観察された放電光が1本または2本の直線状をなす場合に正常帯電可能なものとして判定されることを特徴とする帯電ローラ。17前記帯電ローラは、イオン導電性部材にカーボンを分散させて構成されていることを特徴とする16に記載の帯電ローラ。18前記帯電ローラは、イオン導電性部材にカーボンを分散させた層の上に高抵抗層をコーティングした多層構造とされていることを特徴とする16または17に記載の帯電ローラ。19前記イオン導電性部材がエピクロルヒドリンゴムであることを特徴とする17または18に記載の帯電ローラ。20複数粒子からなる粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置によって撮影し、前記ローラ部材に発生する放電ムラを観察することを特徴とする粉体の放電ムラ観察方法。21複数粒子からなる粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯金との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段によって増倍し、前記ローラ部材に発生する放電ムラを観察することを特徴とする粉体の放電ムラ観察方法。22前記光電子増倍手段がイメージインテンシファイアであることを特徴とする20または21に記載の粉体の放電ムラ観察方法。23前記透明電極基板と前記ローラ芯金との間に交流バイアスを重畳印加することを特徴とする20乃至22のいずれかに記載の粉体の放電ムラ観察方法。24前記光電子増倍手段を直列に複数個配設することを特徴とする20乃至23のいずれかに記載の粉体の放電ムラ観察方法。25前記半透明または透明な電極の表面粗さが算術平均高さRaで0.5mm以下に設定されていることを特徴とする20または21に記載の粉体の放電ムラ観察方法。2620乃至25のいずれかに記載される放電ムラ観察方法を実行するための機構を備えることを特徴とする粉体の放電ムラ観察装置。27複数粒子からなる粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記粉体と非接触になるように配設される透明電極基板と、前記粉体を介して前記電極基板に対向する位置に配設される対向電極とを備え、前記透明電極基板と前記対向電極との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記粉体との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置で撮影し、得られた放電光の強度に基づいて、前記粉体の抵抗を求めることを特徴とする粉体の抵抗測定方法。28複数粒子からなる粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記粉体と非接触になるように配設される透明電極基板と、前記粉体を介して前記電極基板に対向する位置に配設される対向電極とを備え、前記透明電極基板と前記対向電極との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記粉体との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段によって増倍し、得られた放電光の強度に基づいて、前記粉体の抵抗を求めることを特徴とする粉体の抵抗測定方法。29前記光電子増倍手段がイメージインテンシファイアであることを特徴とする28に記載の粉体の抵抗測定方法。30前記光電子増倍手段を直列に複数個配設することを特徴とする28または29に記載の粉体の抵抗測定方法。31前記光電子増倍手段の背面に撮影手段を配設し、前記光電子増倍手段で増幅された放電光を撮影し、画像処理によって前記粉体の抵抗を算出することを特徴とする28乃至30のいずれかに記載の粉体の抵抗測定方法。32前記透明電極基板の表面粗さが算術平均高さRaで0.5mm以下であることを特徴とする27乃至31のいずれかに記載の粉体の抵抗測定方法。33前記撮影手段により撮影された画像データと、予め用意された放電光の明度と粉体抵抗の関係式を用いて粉体の抵抗を算出することを特徴とする27乃至32のいずれかに記載される粉体の抵抗測定方法。3427乃至33のいずれかに記載される抵抗測定方法を実行するための機構を備えることを特徴とする粉体の抵抗測定装置。35感光体や転写材上のトナー像を、転写材、もしくは他の転写材に転写するための電界を形成するための構成に用いられるローラ部材であって、前記ローラ部材は、芯金にバイアスを印加される芯金に弾性発泡体層を有する構成を備え、前記転写材との間にニップ部を形成するように透明若しくは半透明の対向電極と対峙して配置され、該対向電極との間に電位差を設定されて該ニップ部の周辺近傍に放電を発生させたとき、該放電に伴って観察される発光領域での前記ニップ幅方向の積算距離の平均値Llightaveとし、無発光領域の積算距離の平均値をLdarkaveとしたとき、前記無発光領域の平均積算距離Llightave.の前記ニップ周辺近傍領域に対して占める割合が、少なくともLlightave/LdarkaveLdarkave<0.4で示されることを特徴とするローラ部材。36前記弾性発泡体層の平均セル径が100μm以上350μm未満であることを特徴とする36に記載のローラ部材。37前記ローラ部材は、電子写真方式の画像形成装置に搭載可能であり、該画像形成装置に搭載された際に、静電潜像保持体の基板部と前記ローラ部材の芯金との間に設けられる電位差と同じ電位差を設けた状況において、上記関係式を満たすことを特徴とする35または36に記載のローラ部材。38前記ローラ部材は、電子写真方式の画像形成装置に搭載可能であり、該画像形成装置に搭載された際に、転写材、もしくは転写材搬送部材との間で形成するニップ幅と同じ幅のニップを設けた状況において上記関係式を満たすことを特徴とする35乃至37のいずれかに記載のローラ部材。3935乃至38のいずれかに記載されるローラ部材を搭載することを特徴とする画像形成装置。40前記ローラ部材がニップを形成する転写材、もしくは転写材搬送部材が無端ベルトで、前記無端ベルトが、樹脂で構成されるベース中に導電性物質が分散されていることを特徴とする39に記載の画像形成装置。41前記ローラ部材がニップを形成する前記無端ベルトが単層ベルトであり、前記無端ベルトのベースとなる樹脂が、1013Ωcm以上の体積抵抗率を有することを特徴とする39または40に記載の画像形成装置。42前記ローラ部材がニップを形成する前記無端ベルトの体積抵抗率が1011Ωcm以下であることを特徴とする39乃至41のいずれかに記載の画像形成装置。43シート部材に対し、半透明もしくは透明な電極の表面に蛍光体が塗布された透明電極基板を有し、前記透明電極基板は、蛍光体塗布面が前記シート部材に向けられ、かつ非接触になるように配設され、さらに前記シート部材を介して前記透明電極基板に対向する位置に配設された背後電極と前記透明電極基板の背面に配設される撮像撮影手段、を備え、前記透明電極基板と前記背後対向電極との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記シート部材との間の電位差で生じた放電により、前記蛍光体から発生した蛍光を、前記撮像手段によって撮影し、前記シート部材に発生する放電ムラを観測することを特徴とするシート部材の放電ムラ測定方法。44前記撮像撮影手段は放電ムラ評価手段に接続され、該放電ムラ評価手段は、該撮像刷撮影手段からの画像データに基づき、放電ムラの特徴量を抽出することを特徴とする43に記載の放電ムラ測定方法。45前記撮像撮影手段は、記透明電極基板の背面に、等倍イメージセンサーを配置した構成が用いられることを特徴とする43または44に記載の放電ムラ観察方法。4643乃至45のいずれかに記載の放電ムラ観察方法を実行するための機構を備えることを特徴とする放電ムラ観察装置。請求項1および請求項20記載の発明によれば、ローラ部材あるいは粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯がねとの間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置によって撮影することによって、前記ローラ部材に発生する放電ムラを観察することが可能となる。請求項2および請求項21記載の本発明によれば、ローラ部材あるいは粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に接触又は非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯がねとの間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段することによって、前記ローラ部材に発生する放電ムラを高感度で観察することが可能となる。請求項3,22,29記載の本発明によれば、前記光電子増倍手段としてイメージインテンシファイアを用いることによって、高感度で、かつ時間分解能の高い放電ムラ観察が可能となる。請求項4請求項23記載の本発明によれば、前記透明電極基板と前記ローラ芯がねとの間に交流バイアスを重畳印加することによって、直流バイアスでは継続的な放電が発生しないようなローラ部材に関しても、ローラ部材表面に発生する放電ムラを観察することか可能となる。請求項5,24,30記載の本発明によれば、前記イメージインテンシファイアを複数個直列に配設することによって、微弱な放電ムラをも観察することが可能となる。請求項6記載の本発明によれば、前記ローラ部材を回転させることによって、観察個所を変えながら、ローラ部材表面に発生する放電ムラを観察することか可能となる。請求項7記載の本発明によれば、請求項1乃至6のいずれかに記載される放電ムラ観察方法を実行するための機構を備えることにより、ローラ部材の放電ムラ観察装置を実現できる。請求項8記載の発明によれば、ローラ部材に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯がねとの間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置で撮影し、得られた放電光の強度に基づいて、前記ローラ部材の抵抗や抵抗ムラを算出することが可能となる。請求項9記載の発明によれば、ローラ部材に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記ローラ部材表面に非接触となるように配設される透明電極基板を備え、前記透明電極基板と前記ローラの芯がねとの間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記ローラ部材との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段によって増倍し、高感度で得られた放電光の強度に基づいて、前記ローラ部材の抵抗や抵抗ムラを高精度に算出することが可能となる。請求項10記載の発明によれば、前記光電子増倍手段としてイメージインテンシファイアを用いることによって、高感度で、かつ高時間分解能の抵抗ムラ測定が可能となる。請求項11記載の発明によれば、前記光電子増倍手段を複数個直列に配設することによって、微弱な抵抗ムラをも測定することが可能となる。請求項12記載の発明によれば、前記光電子増倍手段の背面にCCDを内蔵する撮影手段を配設して前記光電子増倍手段で増幅された放電光を撮影し、これを画像処理することによって前記ローラ部材の抵抗や抵抗ムラを算出することが可能となる。請求項13記載の発明によれば、前記ローラ部材を回転させることによって、観察個所を変えながら、ローラ部材の抵抗や抵抗ムラを算出することが可能となる。請求項14記載の発明によれば、前記撮影手段により撮影された画像データと、予め用意された放電光の明度とローラ部材抵抗の関係式を用いて、ローラ部材の抵抗や抵抗ムラを算出することが可能となる。請求項15記載の発明によれば請求項8乃至14のいずれかに記載される抵抗測定方法を実行するための機構を備えることにより、ローラ部材の抵抗測定装置を実現できる。請求項16記載の発明によれば、異常画像や不均一帯電が発生しない帯電ローラを提供可能となり、均一帯電が可能で高画質に適した帯電ローラが実現可能となる。請求項17記載の発明によれば、イオン導電性部材で構成された帯電ローラにおいて、異常画像や不均一帯電が発生しないカーボン分散量、分散状態をもったローラを提供可能となり、環境変動が少なく、均一帯電が可能で高画質に適した帯電ローラが実現可能となる。請求項18記載の発明によれば、イオン導電性部材で構成され、表面をコーティングしたローラにおいて、異常画像や不均一帯電が発生しないカーボン分散量、分散状態をもったローラを提供可能となり、環境変動が少なく、均一帯電が可能で高画質に適した帯電ローラが実現可能となる。請求項19記載の発明によれば、イオン導電性部材で構成された帯電ローラにおいて、異常画像や不均一帯電が発生しないカーボン分散量、分散状態をもったローラを提供可能となり、環境変動が少なく、均一帯電が可能で高画質に適した帯電ローラが実現可能となる。請求項25記載の発明によれば、表面粗さが算術平均高さRaで0.5mm以下の、平滑な透明電極基板を用いることによって、粉体の抵抗ムラや形状のみに由来する放電ムラを観察することが可能となる。請求項26記載の発明によれば、請求項20乃至25のいずれかに記載される放電ムラ観察方法を実行するための機構を備えることにより、粉体の放電ムラ観察装置を実現できる。請求項27記載の発明によれば、粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記粉体と非接触になるように配設される透明電極基板と、前記粉体を介して前記電極基板に対向する位置に配設される対向電極とを備え、前記透明電極基板と前記対向電極との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記粉体との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される撮影装置で撮影し、得られた放電光の強度に基づいて、前記粉体の抵抗や抵抗ムラを算出することが可能となる。請求項28記載の発明によれば、粉体に対し、表面に半透明、もしくは透明な電極を有し、前記電極面が前記粉体と非接触になるように配設される透明電極基板と、前記粉体を介して前記電極基板に対向する位置に配設される対向電極とを備え、前記透明電極基板と前記対向電極との間に電位差を設け、前記透明電極基板と前記粉体との間に設けられた電位差によって発生する放電光を、前記透明電極基板の背面に配設される光電子増倍手段によって増倍し、高感度で得られた放電光の強度に基づいて、前記粉体の抵抗や抵抗ムラを高精度に算出することが可能となる。請求項31記載の発明によれば、光電子増倍手段の背面にCCDを内蔵する撮影手段を配設して撮像素子を蛍光面に近接して配置でき、この構成において前記光電子増倍手段で増幅された放電光を撮影してこれを画像処理することによって、省スペースな構成を用いて前記粉体の抵抗や抵抗ムラを算出することが可能となる。請求項32記載の発明によれば、表面粗さが算術平均高さRaで0.5mm以下の、平滑な透明電極基板を用いることによって、粉体の抵抗や抵抗ムラを算出することが可能となる。請求項33記載の発明によれば、撮影手段により撮影された画像データと、予め用意された放電光の明度と粉体抵抗の関係式を用いて、粉体の抵抗や抵抗ムラを算出することが可能となる。請求項34記載の発明によれば、請求項20乃至27のいずれかに記載される抵抗測定方法を実行するための機構を備えることにより、粉体の抵抗測定装置を実現できる。請求項35記載の発明によれば、感光体や転写材上のトナー像を、転写材、もしくは他の転写材に転写するための電界を形成するために、芯金にバイアスが印加されて用いられる、電子写真方式の画像形成装置に搭載されるローラ部材で、前記ローラ部材に対してニップを形成するように、透明、もしくは半透明の対向電極を当接させるとともに、前記ローラ部材と前記対向電極との間に電位差を設けて、前記ローラ部材と前記対向電極との前記ニップの周辺近傍に放電を発生させた時、前記放電に伴って観察される発光領域の、ニップ幅方向の平均積算距離をLlightaveとし、無発光領域の平均積算距離をLdarkaveとした時、前記無発光領域の平均積算距離の前記ニップ周辺近傍領域に対して占める割合を、Llightave/LlightaveLdarkave<0.4とすることによって、良好な転写を実現する転写ローラを実現できる。請求項36記載の発明によれば、転写ローラに用いる弾性発泡体層の平均セル径を100μm以上350μm未満とすることによって電気的に均一なニップを形成可能な転写ローラを実現できる。請求項37記載の発明によれば、電子写真方式の画像形成装置に搭載される際に、静電潜像保持体の基板部と転写ローラの芯金との間に設けられる電位差と同じ電位差を設けた状況において、Llightave/LlightaveLdarkave<0.4を満足する転写ローラを抽出することによって、良好な転写を実現する転写ローラを提供できる。請求項38記載の発明によれば、電子写真方式の画像形成装置に搭載される際に、転写ローラと転写材、もしくは転写材搬送部材との間で形成するニップ幅と同じ幅のニップを設けた状況において、Llightave/LlightaveLdarkave<0.4を満足する転写ローラを抽出することによって、良好な転写を実現する転写ローラを提供できる。請求項39記載の発明によれば、請求項1乃至請求項4のいずれかに記載される転写ローラを搭載することによって、良好な転写を実現する電子写真方式の画像形成装置を提供できる。請求項40記載の発明によれば、樹脂で構成されるベース中に導電性物質が分散されている転写ベルトや紙搬送ベルトと請求項1乃至4のいずれかに示される転写ローラとを組み合わせることによって、抵抗変動の環境依存性の低さや耐久性の高さ、膜厚偏差の小ささなどの利点を生かすとともに、高画質転写が可能な電子写真方式の画像形成装置を提供できる。請求項41記載の発明によれば、ベース樹脂の体積抵抗率が1013Ωcm以上の転写ベルトや紙搬送ベルトと請求項1乃至4のいずれかに示される転写ローラとを組み合わせることによって、抵抗の環境依存性が小さく、高画質転写が可能な電子写真方式の画像形成装置を提供できる。請求項42記載の発明によれば、体積抵抗率が1011Ωcm以下の転写ベルトや紙搬送ベルトと請求項1乃至4のいずれかに示される転写ローラとを組み合わせることによって、低負荷で高画質転写が可能な電子写真方式の画像形成装置を提供できる。請求項43および46記載の発明によれば、転写ベルトや複写用紙などのシート状部材の抵抗ムラや表面凹凸に起因する放電ムラを直接観察可能となり、画像に影響のある放電ムラが発生するかどうかの判断が容易となる。また、高画質に適したシート状部材を容易に選別可能となる。請求項44記載の発明によれば、一意に決定できる特徴量を算出することで客観的な放電ムラの評価が可能になる。請求項45記載の発明によれば、撮像素子を蛍光面に近接して配置できることで、光学的に効率良く放電光の像を撮影することが可能になる。以下、図に示した実施例による本発明の実施の形態について説明する。図1は、ローラ部材を対象として放電観察方法を採用した放電ムラ観察装置を示す概略図である。本実施例におけるローラ部材の放電ムラ観察装置は、観察対象である転写ローラなどのサンプルローラ1をステージ8の上に置き、電極2に外部から電圧を印加することによってサンプルローラ1とアースに短絡されたITOIndium-Tin-Oxide電極7との間に発生する放電光を、ミラー5を介してイメージインテンシファイア4に導入し、増倍された放電画像を、CCDを内蔵するビデオカメラ3などで取り込む構成となっている。本装置では、微小な発光を捕らえることを目的として、イメージインテンシファイア4浜松フォトニクス株社製V1366Pを2つ直列に並べており、それぞれのイメージインテンシファイアの入口側に像を結像するためにレンズ9PENTAX社製、smcPENTAX-ADENTALMACRO1:4100mmとレンズ10PENTAX社製、smcPENTAX-FA1:2.850mmMACROが配設されている。サンプルローラ1と透明電極7との距離は、ステッピングモーター12を用いてステージ8を動かすことにより、1μmのオーダーで制御され、ステッピングモーター12はステッピングモータコントローラ13駿河精機株製ステッピングモーターコントローラD70を介して、パソコン14で制御される。なお、電極2に印加されるバイアスについても、アンプ11トレック社製、MODEL677Aを介してパソコン14で制御される。尚、サンプルローラをモーター等を用いて回る構成にすることで、サンプルローラの周方向全体を観察できるとともに、実際と同様の条件で観察できる。本装置では最大ルミナンスゲインが6×104[ft-L/ft-c]のイメージインテンシファイアを直列に配置し、理論上3×109を超えるルミナンスゲインを得ることで、高感度かつ、高時間分解能でサンプルローラ上の微細な放電ムラをも可視化することに成功した。当然のことながら、これと同等かそれ以上の性能を有するものであれば、どのようなイメージインテンシファイアを使用することも可能であり、また、大まかな放電ムラを観察する場合に関しては、より低いルミナンスゲインの物を使用することも可能である。このような場合は、イメージインテンシファイアを複数個配置することなく、1つだけで観察することも可能であるが、少なくとも1×104[ft-L/ft-c]以上のルミナンスゲインを有するイメージインテンシファイアを使用することが望ましい。なお、時間分解能を必要としない観察条件に関しては、イメージインテンシファイアの代わりに通常の銀円写真方式のカメラや、CCD、冷却CCD例えば、SantaBarbaraInstrumentGroup製ST-6などを用い、露出時間を長くするなどして放電ムラを観察することも可能である。本実施例では、透明電極7としてITO電極を使用しているが、透明性を有する電極であればこれに限るものではなく、例えばガラスやブラスチックなどの透明材料上に金、銀、銅、アルミニウム、白金、インジウム、カーボンなどの、様々な金属をナノメートルオーダで蒸着したものを使用することも可能である。図2は、本実施例によるローラ部材の放電ムラ観察装置を用いて、転写ローラサンプルA、B、Cの、放電ムラを観察した結果の模式図である。サンプルA、Bはウレタン発泡のローラで発泡の仕方が異なるもの、Cは発泡させていないウレタンのローラであり、各サンプルローラとITO電極を接触させニップ幅一定とし、印加バイアスを変化させて観察を行った。図示されるように、本実施例による放電ムラ観察装置を用いることによって、放電ムラや、その発生傾向の電界依存性の違いを明確に確認できることがわかる。なお、サンプルローラ内に抵抗が高い領域があり、直流バイアスでは継続的な放電が発生しないものに対しては、電極2に振幅の大きいACバイアスを重畳し連続的に放電を発生させることによって、放電ムラの傾向を見ることが可能になるため、放電ムラ観察時にACバイアスを使用することは非常に有効である。放電ムラの観察時は、直流バイアス成分のオフセット値や、交流成分の振幅、周波数などについて、様々な条件で測定することが望ましい。さらに、種々の長波長カットフィルタやバンドパスフィルタなどの光学フィルタをイメージインテンシファイアの前に使用することによって、ノイズを抑えた観察が実現できる。図5は、実施例1とは別の様態の、ローラ部材の放電ムラ観察装置である。本装置では、ミラーを配設せず、レンズやイメージインテンシファイア、CCDなどをベルトに対して垂直に置くことによって、省スペースが図られている。図3は、実施例1に示されるローラ部材の放電ムラ観察手方法と装置を用いて撮影された放電光観察像から、本発明に基づいてローラ部材の抵抗を求める方法の原理に関する実施例を説明するものである。放電が一定の抵抗を有するサンプルローラと電極との間で発生する場合においては、単位時間当たりに発生する放電の発生量は抵抗に依存して変化し、抵抗が高い材料ほど少なくなる。すなわち、予め一定の電界で発生する放電光の光強度と抵抗の関係がわかっていれば、観察される放電光の強度からサンプルローラの抵抗を求めることが可能になる。本実施例では、実施例1の放電ムラ観察装置を用いて、サンプルローラとITO電極の間にギャップを設け、サンプルローラ上に発生する放電光を観察し、サンプルローラの抵抗を算出した。なお、図1に示されるビデオカメラ3で撮影された画像データは、本実施例ではパソコン14に取り込まれるようになっている。図4は、本手法を採用した抵抗測定装置の動作のフローを説明する図である。本装置では、ユーザから本抵抗測定装置に付属のパソコンのキーボードを介して入力されたサンプルローラの厚さや、ITO電極との距離、印加バイアスなどの情報に基づいて、サンプルローラとITO電極との距離を調整後、サンプルローラの芯金に電圧を印加し、放電を発生させる。CCDによって撮影された放電画像データはパソコンへ転送後、画像処理によってグレースケール化され、明度情報に変換される。得られた明度の値と、予め用意された抵抗-明度曲線から、サンプルローラの抵抗や抵抗ムラが算出される。なお、本手法では、実際に発生している放電光の光強度と撮影された画像の明度とが比例する必要があるため、イメージインテンシファイアのルミナンスゲインは一定でなければならない。そのため、イメージインテンシファイアが自動的にルミナンスゲインを調整するような条件では、本手法は使う事はできないので、注意が必要である。また、時間分解能を必要としない測定条件に関しては、イメージインテンシファイアの代わりに通常の銀円写真方式のカメラや、CCD、冷却CCDなどを用い、露出時間を長くするなどして放電ムラを観察することも可能である。次に、帯電ローラをサンプルとして放電ムラを観察する場合の実施例について説明する。本例では、図1に示した構成の放電ムラ観察装置が用いられ、各部材のうちで、透明電極7として表面粗さが小さいものが選択されている。具体的には、JISB0601基準の算術平均高さRaで0.5mm以下とされ、これを用いることで良好な放電光の観察を実現している。図6乃至図9は、シリコーンゴムをベースにカーボン分散量を変更して構成した2本のローラを対象とした放電光観察結果を示す模式図である。図6乃至図9に示す結果が得られたローラは、カーボン分散量が多いもの便宜上、ローラFと称するとカーボン分散量が少ないもの便宜上、ローラGと称するとが対象となり、ローラFは体積抵抗で103Ωm、ローラGは体積抵抗で105Ωmである。ローラとITO電極間は50μmの空隙があり、AC2kHz、Vpp=1000Vを印加した場合の結果を、図6ローラF、図7ローラGに示す。図6では中心に1本の断線状の放電光が見えるが、図7では途切れのない1本の放電光が観察されている。本方式ではITO電極とローラ間の直接の放電を観察するため、放電の均一性が悪い場合や、ローラ表面に高抵抗のコーティング層を有していない場合には、過剰な放電電流が流れやすく、ITO電極が破壊されたり、ローラが焼けたり、イメージインテンシファイアの劣化が起こるといった不具合が多発する。これを防止するために、ITO電極表面に透明な高抵抗保護層を設けるとよい。図8、図9はITO電極表面に厚さ25μmのポリカーボネートをコーティングし、ローラとコーティング層を接触させた状態で、同様のバイアスを印加した場合の観察結果である。図8ではニップ両側に2本の断線状の放電光が、図9では直線状の放電光が観察されている。このように本放電光観察方法によって、カーボン分散量や分散状態を反映した放電光が観察可能であることがわかる。本発明のローラ部材の放電ムラ観察装置を用いて、帯電ローラA、B、C、D、Eの、放電ムラを観察した結果を以下に示す。ローラAはエピクロルヒドリンゴム単体で体積抵抗値2×105Ωm、B~Eはエピクロルヒドリンゴムに導電性カーボンを分散させたものである。ローラB~Cはローラの体積抵抗値は105Ωm前後でばらつきの範囲内でほぼ同じ抵抗値とみなせる。またDとEはローラの体積抵抗値5×104Ωm前後でばらつきの範囲内でほぼ同じ抵抗値とみなせる。各ローラとITO電極の距離を50μm一定とし、直流電圧-400Vと-1000V、Vpp=1500V、周波数2kHzで観察を行った。表で示されるように、本実施例の放電ムラ観察装置を用いることによって、放電ムラや、その発生傾向を明確に確認できることがわかる。Vdc=-500VローラA中心に1本の直線状放電。幅約1.0mm。ローラB中心に1本の直線状放電。幅約1.5mm。ローラC1本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。ローラD中心に1本の直線状放電。幅2.0mm。ローラE1本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。Vdc=-1000VローラA中心に1本の直線状放電。幅約1.5mm。ローラB中心に1本の直線状放電。幅約2.0mm。ローラC1本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。ローラD中心に1本の直線状放電。幅2.5mm。ローラE1本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。次にローラを400rpmで回転させながら同じように放電光を観察した結果を示す。Vdc=-500VローラA中心に1本の直線状放電。幅1.0mm。ローラB中心に1本の直線状放電。幅1.5mm。ローラC1本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。ローラD中心に1本の直線状放電。幅2.5mm。ローラE1本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。Vdc=-1000VローラA中心に1本の直線状放電。幅1.5mm。ローラB中心に1本の直線状放電。幅2.0mm。ローラC1本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。ローラD中心に1本の点線状放電。時間で放電点位置が揺らぐように変動する。ローラE1本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。ローラを回転させなかった場合には、ローラDは均一に直線状放電をしていたが、回転させるとローラDでは不均一な点線状放電となった。これは回転によってローラ表面電位が十分上昇する前に放電するためであり、ローラの抵抗ムラを反映していると考えられる。画像との対応例実際の電子写真装置で各ローラを用いてアナログハーフトーン画像を形成した結果を以下に示す。条件1は帯電電位を-450Vに、条件2は-900Vに帯電させた際の結果である。帯電ムラの発生するローラは、放電光観察装置において放電が点在しており、対応が取れることがわかる。よって本評価装置によって、ローラAとローラBが安定であり、次にローラDが安定といえる。条件1ローラA均一なハーフトーン画像ローラB均一なハーフトーン画像ローラCうろこ状の帯電ムラが観察される。ローラD均一なハーフトーン画像ローラEうろこ状の帯電ムラが観察される。条件2ローラA均一なハーフトーン画像ローラB均一なハーフトーン画像ローラC条件1よりも大きなうろこ状帯電ムラとなる。ローラDうろこ状の帯電ムラが観察される。ローラE条件1よりも大きなうろこ状帯電ムラとなる。帯電特性の環境依存性図10は、各ローラを低温低湿であるLL環境10°C、15と常温常湿であるMM環境23°C、65の環境で帯電特性を測定した結果である。なお、通常は高温高湿HH環境を加えて3環境で評価するが、MMとHHはほとんど同じ帯電特性を示すため省略した。実施例1,2と図7より最適なローラを考える。ローラAは環境変動の影響が大きいため、補正等の手段を要すると考えられる。ローラBは帯電が均一で、かつ環境変動が少ないため最適となる。また印加電圧が大きくない場合には、条件1で均一帯電可能と判断したローラDも使用可能と判断できる。ITO電極表面に厚さ25μmのポリカーボネートをコーティングし、ローラと接触させて電圧を印加した。印加電圧は直流電圧-500Vと-1000V、Vpp=1500V、周波数2kHzである。以下に示されるように、本実施例の放電ムラ観察装置を用いることによって、放電ムラや、その発生傾向を明確に確認できることがわかる。Vdc=-500VローラA中心に2本の直線状放電。幅0.5mm。ローラB中心に2本の直線状放電。幅0.8mm。ローラC2本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。ローラD中心に2本の直線状放電。幅1.2mm。ローラE2本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。Vdc=-1000VローラA中心に2本の直線状放電。幅0.7mm。ローラB中心に2本の直線状放電。幅1.0mm。ローラC2本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。ローラD中心に2本の点線状放電。時間で放電点位置が揺らぐように変動する。ローラE2本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。ローラC表面にコーティング層を設けた、C1、C2、C3、C4ローラの放電光を観察した。C1とC2ではコーティング厚さが異なる。C1とC3、C4はコーティング厚さは同じだが、コーティング材料が異なっている。各ローラとITO電極の距離を50μm一定とし、直流電圧-1000V、Vpp=1500V、周波数2kHzで観察を行った。表で示されるように、本実施例の放電ムラ観察装置を用いることによって、放電ムラや、その発生傾向を明確に確認できることがわかる。Vdc=-1000VローラC1中心に1本の直線状放電。幅約1.0mm。ローラC2中心に1本の直線状放電。幅約0.7mm。ローラC31本の点線状放電。放電が点在しているとみなせる。ローラC4中心に1本の直線状放電。幅約0.7mm。実機で画像を確認したところ、C3以外は均一なハーフトーン画像が得られ、放電観察結果と画像に対応が取れていることが確認された。次に粉体を対象とした放電ムラ観察に関する実施例について説明する。図11粉体の放電ムラ観察装置の構成を示しており、大半の構成は図1に示した構成と同様であるが、観察対象が粉体であるので、電極2上には、トナー1’が付着量0.4mg/cm2の量で載せられている。また、透明電極は、前述した例と同様に、表面粗さがJISB0601基準の算術平均高さRaで0.5mm以下とされている。図12は、本実施例の粉体の放電ムラ観察装置を用いて、トナーサンプルA、B、Cの、放電ムラを観察した結果の模式図である。トナーAは粉砕型トナー、トナーBは球形度の低い重合型トナー、トナーCは球形度の高い重合型トナーである。トナーA、B、Cについて、株式会社ダイアインスツルメンツのMCP-PD51型粉体抵抗測定システムで測定したときの抵抗率は等しい値となった。トナーA、B、Cについて、本放電ムラ観察装置を用い、各トナー試料上面とITO電極の距離を約20μm一定とし、印加バイアスを変化させて観察を行った。図示されるように、本実施例の放電ムラ観察装置を用いることによって、放電ムラや、その発生傾向の電界依存性の違いを明確に確認できることがわかる。なお、トナー試料内に抵抗が高い領域があり、直流バイアスでは継続的な放電が発生しないものに対しては、電極2に振幅の大きいACバイアスを重畳することによって連続的に放電を発生させることによって、放電ムラの傾向を見ることが可能になるため、放電ムラ観察時にACバイアスを使用することは非常に有効である。放電ムラの観察時は、直流バイアス成分のオフセット値や、交流成分の振幅、周波数などについて、様々な条件で測定することが望ましい。さらに、種々の長波長カットフィルタやバンドパスフィルタなどの光学フィルタを使用することによって、ノイズを抑えた観察が実現できる。図14は、実施例1とは別の様態の、粉体の放電ムラ観察装置である。本装置では、ミラーを配設せず、レンズやイメージインテンシファイア、CCDなどをトナーに対して垂直に置くことによって、省スペースが図られている。図13は、実施例8に示される粉体の放電ムラ観察手方法と装置を用いて撮影された放電光観察像から、本発明に基づいて粉体の抵抗を求める方法の原理を説明するものである。平行平板間の空気ギャップに均一電界が働く状況では、空気ギャップ間の電位差が放電限界を超えると放電が発生するのだが、このような放電が一定の抵抗を有するトナーと電極との間で発生する場合においては、単位時間当たりに発生する放電の発生量は抵抗に依存して変化し、抵抗が高い材料ほど少なくなる。すなわち、予め一定の電界で発生する放電光の光強度と抵抗の関係がわかっていれば、観察される放電光の強度からトナーの抵抗を求めることが可能になる。本実施例では、実施例8の放電ムラ観察装置を用いて、トナー上に発生する放電光を観察し、トナーの抵抗を算出した。なお、図1に示されるビデオカメラ3で撮影された画像データは、本実施例ではパソコン14に取り込まれるようになっている。図15は、本手法を採用した抵抗測定装置の動作のフローを説明する図である。本装置では、ユーザから本抵抗測定装置に付属のパソコンのキーボードを介して入力されたトナーの厚さや、ITO電極との距離、印加バイアスなどの情報に基づいて、トナーとITO電極との距離を調整後、トナー下の電極に電圧を印加し、放電を発生させる。CCDによって撮影された放電画像データはパソコンへ転送後、画像処理によってグレースケール化され、明度情報に変換される。得られた明度の値と、予め用意された抵抗-明度曲線から、トナーの抵抗や抵抗ムラが算出される。なお、本手法では、実際に発生している放電光の光強度と撮影された画像の明度とが比例する必要があるため、イメージインテンシファイアのルミナンスゲインは一定でなければならない。そのため、イメージインテンシファイアが自動的にルミナンスゲインを調整するような条件では、本手法は使う事はできないので、注意が必要である。また、時間分解能を必要としない測定条件に関しては、イメージインテンシファイアの代わりに通常の銀円写真方式のカメラや、CCD、冷却CCDなどを用い、露出時間を長くするなどして放電ムラを観察することも可能である。抵抗測定時においては、トナー試料の上面の凹凸が大きいと、凸部で局所的な放電が発生するために、光強度と抵抗の相関をとることが困難になることから、測定前に滑らかな平板で押さえ、トナー試料の上面の高さを揃えるとよい。なお、透明電極に関してはRa0.5mm以下の平滑な表面を有する電極を使用することで、良好な抵抗ムラの測定を実現している。種々の長波長カットフィルタやバンドパスフィルタなどの光学フィルタを使用し、放電光以外の測定ノイズを抑えるのも有効である。次に弾性発泡層を有するローラ部材を対象とした放電ムラ観察方法に関する実施例について説明する。図16は、本実施例によるローラ部材の放電光を観察するための観察装置を示す概略図である。本実施例のローラ部材の放電光観察装置は、観察対象であるローラ部材1を絶縁性のステージ2の上に置き、ローラ部材1の芯金に外部から電圧を印加することによって、ローラ部材1とアースに短絡されたITOIndium-Tin-Oxide電極7との間に発生する放電光を、ミラー5を介してイメージインテンシファイア4に導入し、増倍された放電画像を、CCDを内蔵するビデオカメラ3などで取り込む構成となっている。本装置では、微小な発光を捕らえることを目的として、イメージインテンシファイア4浜松フォトニクス株社製V1366Pを2つ直列に並べており、それぞれのイメージインテンシファイアの入口側に像を結像するためにレンズ9PENTAX社製、smcPENTAX-ADENTALMACRO1:4100mmとレンズ10PENTAX社製、smcPENTAX-FA1:2.850mmMACROが配設されている。ローラ部材1と透明電極7との距離は、ステッピングモーター12を用いてステージ8を動かすことにより、1μmのオーダーで制御され、両者を完全に当接させることによって、任意の幅を有するニップを形成することができる。なお、ステッピングモーター12はステッピングモータコントローラ13駿河精機株製ステッピングモーターコントローラD70を介して、パソコン14で制御され、ローラ部材の芯金に印加されるバイアスについても、アンプ11トレック社製、MODEL677Aを介してパソコン14で制御される。本装置では最大ルミナンスゲインが6×104[ft-L/ft-c]のイメージインテンシファイアを直列に配置し、理論上3×109を超えるルミナンスゲインを得ることで、高感度高時間分解能でローラ部材と透明電極との間で発生する微細な放電ムラをも可視化することに成功した。当然のことながら、これと同等かそれ以上の性能を有するものであれば、どのようなイメージインテンシファイアを使用することも可能であり、また、大まかな放電ムラを観察する場合に関しては、より低いルミナンスゲインの物を使用することも可能である。このような場合は、イメージインテンシファイアを複数個配置することなく、1つだけで観察することも可能であるが、少なくとも1×104[ft-L/ft-c]以上のルミナンスゲインを有するイメージインテンシファイアを使用することが望ましい。なお、時間分解能を必要としない観察条件に関しては、イメージインテンシファイアの代わりに通常の銀円写真方式のカメラや、CCD、冷却CCD例えば、SantaBarbaraInstrumentGroup製ST-6などを用い、露出時間を長くするなどして放電ムラを観察することも可能である。透明電極7に関しては、透明を有する電極としての多の材料を用いることや表面粗さを実施例1,8と同様な条件としている。図17は、様々なセル径を有する発泡ウレタンゴムを表面に設けた転写ローラサンプルA~Hに関して、上述の放電光観察装置を用いて、ITO電極との間で発生する放電光を観察したときの結果と、それらの転写ローラを実際の画像形成装置に搭載して得られる一次転写画像を評価した結果との相関を示すものである。図18は、各ローラに放電光を観察した時の様子を示す模式図、図19は、サンプルB,D,Fについての放電観察時のニップ周辺部を説明するための模式図である。評価した転写ローラはいずれもφ8の芯金の周りに厚さ3.5mmの発泡ウレタンゴム層を有するもので、放電光観察時にはローラの芯金とITO電極との間に1500Vのバイアスを印加して行い、また、実際に画像形成装置で画像を出力する際においては、放電光観察時と同じ転写バイアスを転写ローラへ印加するとともに、中間転写ベルト導電性カーボンを分散した厚さ80μm、体積抵抗率1010Ωcmのポリイミドベルトとローラとのニップ幅も同じになるように調整して転写を行った。なお、セルの径や個数の測定はレーザ顕微鏡キーエンス社製、VK-8500を用いて行った。図18および図19に示すように、サンプルB、D、Fのような、画像不良を発生しない転写ローラでは、基本的にITOとのニップ部においては放電光が観察されず、ニップの両端部のエアギャップ部においてのみ放電光が観察され、基本的には、セル径や抵抗ムラに起因すると推測されるさまざまな形状をした微細な放電光の粒から成る、2本のラインとして観察されることがわかった。さらにこれらのローラでは、ニップ部における明るい領域放電発生領域のニップ幅方向への積算距離Llightの平均値Llightaveの、ニップ周辺領域の幅、すなわち、暗い領域放電未発生領域のニップ幅方向の積算距離Ldarkの平均値Ldarkaveと明るい領域の積算距離の平均値Llightaveの合計値LlightaveLdarkaveに対する割合Llightave/LlightaveLdarkaveが小さくなる。これに対し、画像不良を発生するA、C、G、Hなどのローラにおいては、電気的に均一なニップが形成できていないことから、ニップ部でも放電が発生するため、その割合が大きくなることが判明した。出力画像の画質との相関を調査した結果、Llightave/LlightaveLdarkaveの値が0.4未満となる転写ローラを一次転写ローラとして選択することにより、画像ムラや白抜けのない、画像形成装置を実現できることが明らかになった。すなわち、本実施例に示した放電光観察方法や装置を用いて、転写ローラの放電光を観察することにより、画像形成装置に最適な転写ローラの選別が容易に可能となり、また、この方法で選別されたローラを転写ローラとして画像形成装置に搭載することによって、高画質転写を実現できる画像形成装置の提供が可能となる。なお、放電観察画像から得られる、暗い領域の積算距離の平均値Ldarkaveと明るい領域の積算距離の平均値Llightaveは、例えば、放電観察時に得られた動画からいくつかの静止画例えばJPEG画像などを切り出し、これらをグレースケール化256階調してローラ軸方向の任意の点に対して、ローラの半径方向における明部と暗部の距離をそれぞれ積算し、これらを測定箇所の数で平均するなどして算出することが可能であり、また、市販の動画処理ソフトなどを用いて連続的に解析を行うことも可能である。この際、得られた画像のネガ-ポジを反転させると、放電部分が黒く表現されるので積算作業が容易となる。一方、図17に示されるように、弾性発泡体層の平均セル径が350μm以上である転写ローラについては、セルの空隙で放電が著しく発生するため、Llightave/LlightaveLdarkave<0.4の関係を満たさず、また、良好な転写画像も得られなかった。また、平均セル径が100μmよりも小さい弾性発泡層を有する転写ローラでは、ゴム硬度が高く、画像形成装置搭載時においての転写ベルトとのニップ幅が狭くなることから、安定した転写画像の形成が困難となるのに対し、放電光に関しても狭いニップに放電電流が集中するために、上記の関係式を満たすのは困難であった。このことから、転写ローラに用いる弾性発泡体層の平均セル径は、100μm以上350μm未満であることが望ましい。また、放電光観察時においては、評価するローラ部材と透明の対向電極との間に設けられる電位差やニップ幅が、実際の画像形成装置で使用される状態と大きく異なると、実質的な転写ローラとしての性能を評価することが困難となるため、これらの因子についてはなるべく実際の使用環境に近くなるように調整されることが好ましい。ところで、電気的に不均一なニップを形成する転写ローラを、大きな抵抗ムラを有する中間転写ベルトや紙搬送ベルトを搭載した画像形成装置に用いると、著しい転写不良が発生するが、本手法により選別された転写ローラではそのような現象を抑えることが可能であることを確認した。このことから、特に、絶縁性の高い樹脂で構成されるベース中に導電性物質が分散されていて、一般的にPVDFポリビニリデンジフルオライド等のようなイオン導電性のベルトに比べて抵抗ムラが大きいとされるPIベルトやPAIベルトなどの、電子伝導性の中間転写ベルトや紙搬送ベルトを搭載する画像形成装置に対して、本手法によって選別された転写ローラを搭載することは非常に有効である。これにより、PIベルトなどが有する、抵抗変動の環境湿度などに対する依存性の低さや耐久性の高さ、および膜厚偏差の小ささなどの利点を生かすとともに、高画質転写が実現可能となる。抵抗ムラの度合いはベルト抵抗が低くなると顕著になるため、本手法で選別されるローラは、特にベルトそのもの体積抵抗率が1011Ωcm以下の、中抵抗から低抵抗とされる領域のベルトで顕著に効果を発揮し、低負荷で低いバイアスを利用できるシステムを実現できる。なお、本実施例で示したローラの評価手法は一次転写ローラにのみ適用されるものではなく、当然のことながら、二次転写ローラの評価手法としても有効であり、本実施例の手法で選別されたローラを二次転写ローラとして使用することによって画像不良のない、二次転写画像を得られることを確認した。また、発泡層を有する帯電ローラの評価手法としても有効である。また、発泡層の材料に関しても当然のことながら、ウレタンゴムに限るものではなく、シリコーンゴムやFKM,EPDM,NBR,NR,CR等を表層として有するローラの評価について用いることも可能である。次にベルトを含むシートを対象とした放電ムラ観察に関する実施例について説明する。図20は、シートの放電ムラ観察装置の構成を示す模式図であり、同図において、放電ムラ観察装置においては、背面電極1004上に測定対象のシート部材1003が密着して配置し、シート部材1003の上に、間隔を置いて、透明電極基板1001を配置する。透明電極基板1001のギャップ方向の面には均一に蛍光体1002が積層されている。透明電極基板1001は、例えばITO電極を用いる。蛍光体1002はエレクトロルミネッセンスによる発光効率が良いものであれば良く、例えばP43のように550nm付近に発光ピークがあれば、視感度が高く目視観察も可能である。撮像手段1005としてはイメージセンサーとしてCCDやCMOSセンサーを用いた静止画または動画用のカメラを用いる。特にリアルタイム性を重視しない場合には、静止画像として露光時間を長くして撮影することにより感度を高くすることが可能である。また、蛍光体1002の発光ピーク波長とイメージセンサーの感度のピーク波長が一致する特性を有する蛍光体とイメージセンサーの組み合わせを適宜選べばよい。マニュアルによる電圧電流設定、または計算機手段7により制御された給電手段1006により、透明電極基板1001と背面電極1004の間に電圧を印加することで、透明電極基板1001とシート部材1003の間には電位差が生じ、適当な電位差になると透明電極基板1001とシート部材1003表面の間で放電が生じる。放電によるエネルギーにより蛍光体1002が発光する。シート部材1003の表面形状や抵抗および誘電率のムラに応じて、放電電流のムラが生じ、蛍光体1002の発光強度のムラとなって現れる。撮像手段1005により発光の画像を計算機手段1007に取り込み、適宜画像処理を施した後、画像表示手段1008に表示させることで、放電ムラの分布を観察することが可能になる。図2は透明電極基板1001の背面にイメージセンサーを配置した構成を示す図であり、同図において、撮像手段1005として透明基板上1001の上の面に、マイクロレンズアレイ1011を介して等倍イメージセンサー1010が設けられている。等倍イメージセンサーはCCDセンサー、CMOSセンサーなどの2次元センサーで、面積が1cm2以上あるものを用いる。また高密度に実装されたラインセンサーを用い、シート部材上をスキャンさせることで2次元画像を得るように変更してもよい。イメージセンサーを、放電による蛍光体の発光面に近接して配置することで、光学的に効率よく画像を撮影することが可能になる。図22は、放電ムラの評価を行う処理の過程を示すブロック図である。図22において、撮像手段5で撮影された蛍光面における発光の生画像データ20を、ガンマ変換手段21により物理的な光のパワーに比例する数量に変換し、これを光量分布データ22とする。さらに光量分布データ22に基づきムラ評価手段23により、放電ムラを評価する。放電ムラの特徴を客観的に評価する方法としては、従来から用いられている画像ノイズの評価方法である、RMS粒状度やウィナースペクトル、R.P.Dooleyらにより提案された視覚的な周波数特性を考慮して求められる粒状度を流用し、適宜変更を加えることでムラの評価を行う。文献:R.P.Dooley,R.Shaw,JournalofAppliedPhotographicEngineering,Vol.51979190-196.具体的には、本来のRMS粒状度は、画像濃度の標準偏差であり、またDooleyらによる視覚粒状度は明度に対するノイズ評価量であるが、本発明では光量分布データ1022に対する評価量で置き換える。さらに最大値で規格化した2次元光量データPとする。RMS粒状度σは、空間を離散化した2次元光量データPijに対し式1を用いることにより評価される。ただしNはデータ数、<P>は光量データPijの平均値である。視覚粒状度Gは、ここでは連続空間で表現するが、2次元光量データPx,yに対し、式2で示される2次元フーリエ変換を行い、空間周波数特性Fを得る。次に式3により、ウィナースペクトルWSに変換する。ここでf,θは周波数空間の曲座標表現である。最後に式4により、粒状度Gを算出する。ここで、VTFfは視覚的の空間周波数特性である。Dooleyらによる視覚粒状度の定義では式4にさらに、濃度分布の平均値に基づく補正係数が乗じられているが、ここでは不要である。また、光量と電流密度の関係を予め関数化して、光量分布データを電流密度分布データに変換して上記RMS粒状度および視覚粒状度に適用してもよい。式1は直接プログラム化し、式2乃至式4は実空間x,yと周波数空間u,vを離散化した計算アルゴリズムを用いてプログラム化し、計算機手段1007内に実装することで具現化することができる。従来は適宜作製されたランク見本と評価対象を目視により比較し、ムラの良し悪しを判定することが多く行われるが、本発明による放電ムラ評価方法および装置により、客観的な放電ムラのランク評価が可能になる。"