"ノズルから液滴を吐出させる吐出期間と前記ノズルから液滴を吐出させない非吐出期間とを含む吐出検査周期が繰り返されるように前記ノズルから液滴を吐出させる吐出制御手段と、前記吐出期間において前記ノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度を所定の信号閾値により2値化した検出パルス信号を取得する検出パルス信号取得手段と、前記吐出検査周期における所定時刻よりも前の期間である第1判定期間において、所定の第1正常形状の前記検出パルス信号が取得されたか否かを判定するとともに、前記吐出検査周期における前記所定時刻以後の期間である第2判定期間において、所定の第2正常形状の前記検出パルス信号が取得されたか否かを判定する信号判定手段と、前記第1判定期間において前記第1正常形状の前記検出パルス信号が取得され、かつ、前記第2判定期間において前記第2正常形状の前記検出パルス信号が取得された場合に、前記ノズルから正常に液滴が吐出されたと判定する判定手段と、を備える吐出検査装置。前記所定時刻は、前記吐出期間にて前記ノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度が極値となる時刻である、請求項1に記載の吐出検査装置。前記検出パルス信号からグリッチを除去して前記判定手段に出力するグリッチ除去手段をさらに備える、請求項1または請求項2のいずれかに記載の吐出検査装置。前記検出パルス信号における2値信号強度の遷移回数であるエッジ数をカウントするエッジ数計数手段と、前記エッジ数が所定のノイズ閾値以上である場合に、前記検出パルス信号がノイズ重畳状態であると判定するノイズ判定手段と、をさらに備え、前記判定手段は、前記第1判定期間において前記第1正常形状の前記検出パルス信号が取得され、前記第2判定期間において前記第2正常形状の前記検出パルス信号が取得され、かつ、前記検出パルス信号が前記ノイズ重畳状態でない場合には、前記ノズルから正常に液滴が吐出されたと判定する、請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の吐出検査装置。前記エッジ数計数手段は、前記グリッチ除去手段により前記グリッチが除去されていない前記検出パルス信号における前記エッジ数をカウントする、請求項4に記載の吐出検査装置。前記吐出検査周期に含まれる拘束期間において前記ノズルから吐出された前記液滴に応答して変化する検出信号の信号強度を所定強度に拘束する拘束手段を、さらに備える請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の吐出検査装置。前記信号判定手段は、前記吐出期間において前記ノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度が極値となるピーク期間と、当該液滴に応答して変化した信号強度が収束する収束期間とを前記第1判定期間と前記第2判定期間とから除く、請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の吐出検査装置。しかしながら、誘導電流に対応する電圧のピーク値はノイズの影響を受けやすいという問題があった。すなわち、正常にインク滴が吐出されていないにも拘わらず、誘導電流に対応する電圧のピーク値がノイズにより正常な値となり、正常にインク滴が吐出されたと誤判定されるという問題があった。本発明は、前記課題にかんがみてなされたもので、液滴が正常に吐出されたと誤判定することを防止する吐出検査装置の提供を目的とする。前記目的を達成するため、本発明の吐出検査装置において、吐出制御手段は、ノズルから液滴を吐出させる吐出期間とノズルから液滴を吐出させない非吐出期間とを含む吐出検査周期が繰り返されるようにノズルから液滴を吐出させる。検出パルス信号取得手段は、吐出期間においてノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度を所定の信号閾値により2値化した検出パルス信号を取得する。信号判定手段は、吐出検査周期における所定時刻よりも前の期間である第1判定期間において、所定の第1正常形状の検出パルス信号が取得されたか否かを判定する。さらに、信号判定手段は、吐出検査周期における所定時刻以後の期間である第2判定期間において、所定の第2正常形状の検出パルス信号が取得されたか否かを判定する。そして、判定手段は、第1判定期間において第1正常形状の検出パルス信号が取得され、かつ、第2判定期間において第2正常形状の検出パルス信号が取得された場合に、ノズルから正常に液滴が吐出されたと判定する。前記の構成において、第1判定期間において形状が正常な検出パルス信号が取得され、かつ、第2判定期間においても形状が正常な検出パルス信号が取得され場合に、ノズルから正常に液滴が吐出されたと判定される。このようにすることにより、第1判定期間と第2判定期間とのいずれか一方に取得された検出パルス信号がノイズの影響により正常な形状となったとしても、当該一方における検出パルス信号の形状が正常であることをもって、ノズルから正常に液滴が吐出されたと誤判定することが防止できる。また、ピーク値のようなある瞬間における検出信号の信号強度を閾値判定する場合よりも、ノイズによる信号強度の変化に強く、判定の信頼性を向上させることができる。また、所定時刻は検出信号の信号強度が極値となる時刻とするのが好ましい。これにより、検出信号の信号強度が極値に到達するまでの期間を第1判定期間とし、液滴に応答して変化する検出信号の信号強度が収束に向かう期間を第2判定期間とすることができる。すなわち、信号強度が極値に向かって正常に増加または減少し、かつ、信号強度が極値から正常に減少または増加した場合に、液滴が正常に吐出されたと判定できる。従って、吐出検査周期において単調的に増加または減少する低周波のノイズが検出信号に重畳される場合でも、第1判定期間または第2判定期間のいずれかにおいて検出パルス信号が正常でないと判定することができる。また、検出パルス信号からグリッチを除去して判定手段に出力するグリッチ除去手段を備えさせてもよい。これにより、グリッチを正常な形状の検出パルス信号として誤検出することが防止できる。さらに、検出パルス信号における2値信号強度の遷移回数であるエッジ数をカウントするエッジ数計数手段と、エッジ数が所定のノイズ閾値以上である場合に、検出パルス信号がノイズ重畳状態であると判定するノイズ判定手段とを備えてもよい。検出パルス信号がノイズ重畳状態であれば、ノズルから正常に液滴が吐出されたとの判定結果の信頼度が低いと考えることができる。従って、判定手段は、第1判定期間において第1正常形状の検出パルス信号が取得され、かつ、第2判定期間において第2正常形状の検出パルス信号が取得された場合であっても、検出パルス信号がノイズ重畳状態である場合には、ノズルから正常に液滴が吐出されなかったと判定するのが好ましい。すなわち、検出パルス信号がノイズ重畳状態である場合には、液滴が正常に吐出されたとする判定結果を信頼しないようにしてもよい。これにより、誤判定を確実に防止できる。また、エッジ数計数手段は、グリッチが除去された検出パルス信号ではなく、グリッチが除去されていない検出パルス信号におけるエッジ数をカウントすることが好ましい。これにより、液滴に応答して変化する検出信号の信号強度に対するノイズ重畳状態を正確に判定できる。さらに、液滴に応答して変化する検出信号の信号強度からノイズを除去する手段を備えさせることにより、判定の信頼性を向上させてもよい。具体的に、吐出検査周期に含まれる拘束期間においてノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度を所定強度に拘束する拘束手段を備えさせてもよい。すなわち、拘束手段が信号強度を吐出検査周期に含まれる拘束期間ごとに拘束することにより、信号強度におけるノイズが複数の吐出検査周期にまたがって蓄積されることが防止できる。従って、信号強度に対する低周波のノイズの影響を抑制できる。また、拘束を行うことにより、ハイパスフィルターを用いて低周波のノイズを除去する場合よりも検出信号の遅れを抑制できるため、第1判定期間と第2判定期間とを設けても吐出検査の所要期間が長期化することが防止できる。また、信号判定手段は、吐出期間においてノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度が極値となるピーク期間と、当該液滴に応答して変化した信号強度が収束する収束期間とを第1判定期間と第2判定期間とから除いてもよい。ピーク期間と収束期間とにおいては、信号強度の傾きが小さく、信号強度が2値化のための閾値をまたぐ可能性は低い。すなわち、ピーク期間と収束期間とにおいて正常な形状の検出パルス信号が取得されたとしても、当該正常な形状の検出パルス信号はノイズの影響により表れた可能性が高い。従って、ピーク期間と収束期間とを第1判定期間と第2判定期間とから除くことにより、ノズルから正常に液滴が吐出されたと誤判定することが確実に防止できる。以下、本発明の実施形態を添付図面を参照しながら以下の順に説明する。1実施形態の概要:2第1実施形態:2-1吐出検査装置の構成:2-2吐出検査装置の動作:3他の実施形態:1実施形態の概要:図1は、実施形態の概要を説明する模式図である。本実施形態の吐出検査装置は、静電容量が寄生するコンデンサの一電極を構成する検出電極31を備え、当該検出電極31に液滴としてのインク滴を着弾させることにより、検出電極31に電荷変化量ΔQを生じさせる。信号生成回路G1,G2は電荷変化量ΔQに応答した応答波を含む検出電圧V2を信号生成する。この検出電圧V2の応答波は、検出電極31にインク滴を吐出させる吐出期間paにおいて極大値に向けて徐々に増加し、インク滴を吐出させない非吐出期間paにおいて収束に向けて徐々に減少する。すなわち、検出電圧V2の応答波は、吐出期間paから非吐出期間prへと移行するタイミングにて極大値となる。信号生成回路G1,G2は、検出電圧V2の応答波を所定の信号閾値電圧V2t<極大値により2値化することにより検出パルス信号Spを生成し、当該検出パルス信号Spを吐出検査制御部13へ出力する。ここで、吐出期間paから非吐出期間prへと移行するタイミングよりも前の第1判定期間pd1において検出パルス信号Spの2値信号レベルが1から0へと立ち下がり、吐出期間paから非吐出期間prへと移行するタイミングよりも後の第2判定期間pd2において検出パルス信号Spの2値信号レベルが0から1へと立ち上がる。吐出検査制御部13は、検出パルス信号Spからグリッチを除去する。吐出検査制御部13は、第1判定期間pd1におけるグリッチ除去後の検出パルス信号Spから1から0へと立ち下がる形状の有効パルスが検出され、かつ、第2判定期間pd2におけるグリッチ除去後の検出パルス信号Spから0から1へと立ち上がる形状の有効パルスが検出された場合に、原則として、正常にインク滴が吐出されたと判定する。ただし、検出パルス信号Spが重篤なノイズ重畳状態である場合には、判定の信頼度が低いとして、正常にインク滴が吐出されたと判定しない。吐出検査制御部13は、グリッチを除去していない状態の検出パルス信号Spの2値信号レベルが0から1および1から0へと遷移する回数が所定の重篤ノイズ閾値以上である場合には、検出パルス信号Spが重篤なノイズ重畳状態であると判定する。以上説明したように、第1判定期間pd1での検出パルス信号Spが正常であり、第1判定期間pd1での検出パルス信号Spが正常であり、かつ、重篤なノイズ重畳状態でない場合に正常にインク滴が吐出されたと判定するため、信頼度の高い判定結果を得ることができる。2第1実施形態:2-1吐出検査装置の構成:図2は、第1実施形態にかかる吐出検査装置を含む印刷装置1のブロック図である。印刷装置1は、メイン基板10と印刷ヘッド20とノズルキャップ30とシールド構造40と信号生成基板50とを含む。印刷装置1は、インクジェットプリンターである。メイン基板10は、メイン制御部11と吐出制御部12と吐出検査制御部13とを含む。メイン制御部11は、CPUやRAMやROMやASIC等で構成され、図示しないインターフェース部を介して取得した画像データに基づいて印刷制御データを生成し、当該印刷制御データを吐出制御部12に出力する処理を実行する。また、メイン制御部11は、後述する吐出検査処理の結果を図示しないユーザーインターフェース部を介して通知させる処理を実行する。吐出制御手段としての吐出制御部12は、CPUやRAMやROMやASIC等で構成され、印刷制御データに基づいて印刷ヘッド20に出力する駆動データを生成する処理を実行する。なお、吐出制御部12は、所定のラッチ周期約87μ秒単位で印刷ヘッド20の駆動制御を行う。ラッチ周期はラッチ信号Slによって特定され、ラッチ信号Slは、メイン制御部11によって生成される。なお、ラッチ信号Slは信号レベルが0または1の2値信号であり、ラッチ周期が開始するタイミングごとに信号レベルが1となる。吐出検査制御部13の詳細については後述する。印刷ヘッド20は、ピエゾ素子21とノズルプレート22とノズル23とを備える。印刷ヘッド20は、図示しないインクタンクからインクの供給を受けており、当該インクのインク滴液滴をノズル23から吐出させる。印刷ヘッド20は、多数のノズル23を備え、ノズル23は図示しない記録媒体に対して平行に対向する平面状のノズルプレート22において配列される。多数のノズル23のそれぞれと図示しないインク室が連通しており、当該インク室にインクタンクからインクが供給される。インク室ごとに備えられたピエゾ素子21には、吐出制御部12が生成した駆動データに基づく駆動パルスが印加される。ピエゾ素子21は、駆動パルスによって機械的に変形することにより、インク室内のインクを加減圧する。これにより、インク滴をノズル23から吐出させる。本実施形態のノズルプレート22は、ステンレスで形成されており、基準電位0Vに接地されている。ノズルキャップ30は検出電極31を備える。検出電極31は、例えばノズルプレート22に対して平行に対向する平面状の電極である。検出電極31とノズルプレート22とが密着するようにノズルキャップ30を動作させることにより、ノズル23におけるインクの乾燥や固化を防止する。検出電極31は着弾したインク滴が浸透可能なメッシュ電極であってもよく、検出電極31の裏側ノズルプレート22の反対側に備えられたスポンジ等によってインクを吸収したり、さらに廃液チューブ等によってインクを廃液してもよい。また、吐出検査時においては、ノズルキャップ30は印刷ヘッド20から離間し、ノズルプレート22と検出電極31とが所定距離を隔てて平行に対向する。シールド構造40は、検出電極31と、検出電極31と信号生成基板50とを接続するケーブルを外部の電磁的外乱要因から保護するための保護部を含む。なお、シールド構造40は、検出電極31と信号生成基板50とを一体化させつつ保護するモジュール構造であってもよい。また、シールド構造40は、ノズルキャップ30に備えられた廃液チューブ等も被覆し、廃液チューブ等を電磁的外乱要因から保護してもよい。信号生成基板50は、高電圧モジュール51と高電圧遮断コンデンサ52とローパスフィルター回路53と第1増幅回路54とクランプ回路55と第2増幅回路56と2値化回路57と高電圧診断回路58とを含む。図3は、検出パルス信号取得手段としての信号生成基板50の回路図である。信号生成基板50には2組の信号生成回路G1,G2が形成され、信号生成回路G1,G2はそれぞれ高電圧遮断コンデンサ52とローパスフィルター回路53と第1増幅回路54とクランプ回路55と第2増幅回路56と2値化回路57とを含む。高電圧モジュール51は、検出電極31に接続され、吐出検査制御部13の制御により吐出検査時において高電圧例えば100~500Vを負荷抵抗経由で出力する。従って、吐出検査時において、検出電極31と基準電位のノズルプレート22との間に寄生する静電容量CにQ=CVVは前記高電圧の電荷量Qの電荷が蓄積される。吐出検査時において、吐出制御部12はノズル23からインク滴を吐出させる。ノズル23から吐出されたインク滴は検出電極31に着弾し、ノズルプレート22から検出電極31へとインク滴が運んだ電荷により、検出電極31の電荷量Qに微少な電荷変化量ΔQが生じる。このとき、電荷変化量ΔQに対応した微少電流が負荷抵抗を経由して検出電極31に流れる。吐出検査において、ノズルプレート22と検出電極31との距離は理想的に一定の距離に保たれるが、ノズルプレート22におけるインク滴の吐出に起因してノズルプレート22が振動する場合や、その他の要因に起因してノズルプレート22と検出電極31との少なくとも一方が振動する場合には、ノズルプレート22と検出電極31との間の距離が変化する。これにより、ノズルプレート22と検出電極31との間の静電容量が変化し、検出電極31に微少な電荷変化量ΔQが生じ得る。すなわち、検出電極31に流れる微少電流には、インク滴の着弾に起因する電荷変化量ΔQだけでなく、それ以外のノイズ要因に起因した電荷変化量ΔQに応じた電流も重畳されることとなる。信号生成回路G1,G2にはそれぞれ独立した検出電極31が接続されており、検出電極31が互いにノズルプレート22の異なる位置に対向する。すなわち、検出電極31にインク滴を着弾させるノズル23が異なっている。なお、それぞれの検出電極31に対して共通する高電圧モジュール51により高電圧を印加することにより、コスト低減を図っている。また、検出電極31は、シールド構造40によって、例えば商用電源や印刷装置1が備える他の回路から発せられる電磁的外乱要因から保護される。信号生成回路G1,G2は、検出電極31の位置を除き互いに同様の構成であるため、ここでは一方についてのみ説明する。高電圧遮断コンデンサ52の一方の電極は、シールド構造40によって保護されたケーブルを介して検出電極31と接続される。このようにシールド構造40を設けた場合であっても、信号生成回路G1,G2の信号生成過程において電磁的外乱要因によって信号にノイズが重畳されることとなる。高電圧遮断コンデンサ52の他方の電極は、ローパスフィルター回路53と接続される。この高電圧遮断コンデンサ52により、高電圧を遮断してローパスフィルター回路53等を保護するとともに、検出電極31における微少な電荷変化量ΔQに応じた微少電流をローパスフィルター回路53に流すことができる。ローパスフィルター回路53は、微少電流から所定周波数2kHzよりも高周波成分を除去するための回路である。これにより、微少電流から高周波のノイズが除去できる。本実施形態においてローパスフィルター回路53は、入力抵抗と接地したコンデンサと出力抵抗とをT型に結線したT型ローパスフィルター回路である。第1増幅回路54は、ローパスフィルター回路53によって高周波成分が除去された微少電流を入力し、微少電流を電圧に変換しつつ増幅する。第1増幅回路54は、オペアンプA1と正相入力回路54aと帰還抵抗回路54bとを含む。第1増幅回路54の入力インピーダンスは実質的に0であり、オペアンプA1は反転入力端子-にてローパスフィルター回路53から微少電流を吸入する。正相入力回路54aは、所定電源電圧3.3Vを抵抗値が互いに等しい2個の分圧抵抗により分圧して得られた1.65Vの電圧をオペアンプA1の非反転入力端子に入力する。帰還抵抗回路54bは、帰還抵抗R1~R3とコンデンサC1,C2とを含み、オペアンプA1の出力端子Voutと反転入力端子-との間に介在する。また、帰還抵抗回路54bの帰還分圧抵抗R3510Ωに10μFのコンデンサC2を接続することにより、非反転入力端子と同じ1.65Vの自己バイアス電圧をオペアンプA1に入力する。ここで、第1増幅回路54の増幅係数X1は、帰還抵抗回路54bの各帰還抵抗R1~R3の抵抗値R1:1MΩR2:5.1kΩR3:510Ωにより、X1=1MΩ×5.1kΩ510Ω/510Ω=11MΩで与えられる。従って、オペアンプA1の出力端子Voutの出力電圧としての中間電圧V1第1増幅信号はV1=-X1×IIは反転入力端子-にて吸入される微少電流の電流値で与えられる。なお、増幅係数X1を決定づける各帰還抵抗R1~R3の抵抗値のばらつきは所定の基準例えば最大誤差が1以内で管理されることが望ましい。帰還抵抗回路54bには、位相補償用コンデンサC1が備えられる。位相補償用コンデンサC1の静電容量を10~15pF程度に調整することにより、中間電圧V1の高周波帯域におけるゲインが最適化される。なお、ローパスフィルター回路53をT型ローパスフィルター回路とすることにより、ローパスフィルター回路53の接地したコンデンサと、第1増幅回路54の帰還抵抗回路54bとの間にローパスフィルター回路53の出力抵抗を介在させることができる。これにより、第1増幅回路54を安定させることができ、第1増幅回路54が発振状態に陥ることが防止できる。拘束手段としてのクランプ回路55は、結合コンデンサC3と電源回路55aとアナログスイッチYとを含む。結合コンデンサC3の一方の電極に第1増幅回路54から中間電圧V1が入力され、結合コンデンサC3の他方の電極に第2増幅回路56が接続される。第2増幅回路56は、オペアンプA2と帰還抵抗R4R5とを含み、オペアンプA2の非反転入力端子に第1増幅回路54の中間電圧V1が入力される。第2増幅回路56は非反転増幅回路であり、第1増幅回路54の中間電圧V1を増幅し、出力端子Voutから検出電圧V2第2増幅信号を出力する。ここで、第2増幅回路56の増幅率X2は、帰還抵抗R4R5の抵抗値R4:51kΩR5:510Ωにより、X2=51kΩ510Ω/510Ω=101倍で与えられる。従って、オペアンプA2の出力端子Voutにおける検出電圧V2はV2=X2×V1で与えられる。ここでも、増幅率X2を決定づける各帰還抵抗R4R5の抵抗値のばらつきは所定の基準例えば最大誤差が1以内で管理されることが望ましい。以上のように、第1増幅回路54と第2増幅回路56とが順列に接続されるが、これらの間のクランプ点CPにおいてクランプ回路55のアナログスイッチYの一端子T1が接続する。アナログスイッチYの他方の端子T2には電源回路55aが接続される。電源回路55aは、所定電源電圧3.3Vを抵抗と順方向のダイオード順方向降下電圧とによって分圧することにより、一定の所定電位V1c0.6Vを生成する。この所定電位V1cは、アナログスイッチYの端子T2に入力される。アナログスイッチYは制御端子T3を有し、制御端子T3には吐出検査制御部13からクランプ信号Scが入力される。クランプ信号Scは、信号レベルが0または1の2値信号であり、拘束期間としてのクランプ期間に限り1となる。アナログスイッチYは、例えばCMOSスイッチであり、クランプ信号Scが1となる期間に限り端子T1,T2間を導通させる。これにより、クランプ期間において所定電位V1cの電源により結合コンデンサC3に充電された電気量が所定電位V1cに対応した電気量に拘束され、クランプ期間以外においては電荷変化量ΔQに応じて結合コンデンサC3の充放電が行われる。すなわち、クランプ期間に限り、クランプ点CPにおける中間電圧V1が所定電位V1cに拘束される。なお、アナログスイッチYを導通させて中間電圧V1を所定電位V1cへと拘束することを、本明細書においてクランプすると表記する場合もある。なお、中間電圧V1を所定電位V1cへとクランプすることにより、第2増幅回路56から出力される検出電圧V2も所定電位V2c=X2×V1cへと拘束されることとなる。また、第2増幅回路56は、アナログスイッチYの端子T2の電位をグランドに引き込むためのスイッチWを有し、スイッチWが導通することにより、電源回路55aの所定電位V1cを0.6Vから0Vへと切り替えることができる。また、結合コンデンサC3は、第1増幅回路54と第2増幅回路56とを交流結合するが、時定数がクランプ開放期間クランプしない期間よりも十分に長くなるように、結合コンデンサC3の電気容量と第2増幅回路56の入力インピーダンスとが設定されている。2値化回路57は、検出電圧V2を2値化するための回路であり、検出電圧V2が信号閾値電圧V2t以上である場合に2値信号レベルが0となり、検出電圧V2が信号閾値電圧V2tよりも小さい場合に2値信号レベルが1となる検出パルス信号Spを生成する。2値化回路57は、検出パルス信号Spを吐出検査制御部13に出力する。2値化回路57は、吐出検査制御部13からPWM信号である信号閾値設定信号Stのデューティー比に応じた信号閾値電圧V2tを生成する積分回路を含む。本実施形態では、オペアンプA3を用いた積分器により信号閾値設定信号Stを積分して直流電圧V3をオペアンプA3の出力点から出力する。コンパレーターCOは、非反転入力端子が抵抗R7を介してオペアンプA3の出力点と接続され、反転入力端子-にて検出電圧V2を入力する。また、コンパレーターCOの出力検出パルス信号Spを帰還抵抗R6を介して非反転入力端子に正帰還させることにより、コンパレーターCOはヒステリシス特性を有することとなる。具体的に2値化回路57は、検出電圧V2が信号閾値電圧V2tよりも大きくなっていく場合の信号閾値電圧V2t1の方が、検出電圧V2が信号閾値電圧V2tよりも小さくなっていく場合の信号閾値電圧V2t2よりも大きくなるヒステリシス特性を有する。ここで、検出電圧V2が信号閾値電圧V2tよりも大きくなっていく場合の信号閾値電圧V2t1はコンパレーターCOの帰還抵抗R6,R7の抵抗値R6,R7と表記を用いてV2t1=R6×V3R7×Vhi/R6R7で与えられ、検出電圧V2が信号閾値電圧V2tよりも小さくなっていく場合の信号閾値電圧V2t2の信号閾値電圧V2t2はV2t2=R6×V3R7×Vlo/R6R7で与えられる。なお、Vhiは検出パルス信号Spの2値信号レベルの1に対応するコンパレーターCOの出力電圧本実施形態では3.3Vを意味し、Vloは検出パルス信号Spの2値信号レベルの0に対応するコンパレーターCOの出力電圧本実施形態では0Vを意味する。以上説明したコンパレーターCOのヒステリシス特性により、検出電圧V2の信号閾値電圧V2t付近でのゆらぎに起因する検出パルス信号Spのノイズを低減できる。高電圧診断回路58は、高電圧モジュール51が生成した高電圧を複数の抵抗によって分圧することにより、高電圧診断信号Shを生成する。次に、吐出検査制御部13について説明する。図4は、吐出検査制御部13を示すブロック図である。本実施形態の吐出検査制御部13は、いわゆるSocSystemonachipで構成される。吐出検査制御部13は、タイミング信号生成部13aとパルスマスク部13bとグリッチ除去部13cと信号判定部13dとエッジ数計数部13eとノイズ判定部13fと高電圧診断部13gと信号閾値設定部13hと高電圧制御部13iとレジスタ13jとを備える。レジスタ13jは、メイン制御部11と吐出検査制御部13とがデータを読み書き可能な記憶領域である。メイン制御部11は、レジスタ13jにデータを記録させることにより、吐出検査制御部13の動作設定を行う。また、メイン制御部11は、レジスタ13jに記録されたデータを読み出すことにより、吐出検査制御部13による吐出検査の結果を取得する。なお、吐出検査制御部13の各部13a~13iとレジスタ13jとの間のデータ流れを破線で示す。タイミング信号生成部13aは、メイン制御部11から入力されたラッチ信号Slに基づいて各回路に出力する各種のタイミング信号クランプ信号Sc等を生成する回路である。タイミング信号の流れは、一点鎖線で示される。メイン制御部11はレジスタ13jに各種タイミングを規定するタイミング設定データを記録し、タイミング信号生成部13aは当該タイミング設定データに基づいてタイミング信号を生成する。パルスマスク部13bは、信号生成基板50が出力する検出パルス信号Sp太線で示すを期間に応じてマスク無効化し、後段のグリッチ除去部13cとエッジ数計数部13eとに出力する回路である。パルスマスク部13bは、クランプ期間pcにおいて検出パルス信号Spをマスクする。なお、パルスマスク部13bは、タイミング信号生成部13aからクランプ信号Scを取得し、当該クランプ信号Scに基づいてクランプ期間pcを特定する。メイン制御部11はレジスタ13jに極性設定データ1bitを記録し、パルスマスク部13bは当該極性設定データに基づく極性に応じて検出パルス信号Spをマスクする2値信号レベルを切り替える。すなわち、検出パルス信号Spが凸極性であれば、クランプ期間pcにおける検出パルス信号Spの2値信号レベルを0とすることにより、検出パルス信号Spをマスクする。一方、検出パルス信号Spが凹極性であれば、クランプ期間pcにおける検出パルス信号Spの2値信号レベルを1とすることにより、検出パルス信号Spをマスクする。なお、検査周期におけるインク滴起因の電荷変化量ΔQに対して検出パルス信号Spが上側に凸状0→1→0に応答する場合には極性として凸極性が設定され、当該電荷変化量ΔQに対して検出パルス信号Spが凹状1→0→1に応答する場合には極性として凹極性が設定される。なお、信号生成回路G1,G2の回路構成によっては検出パルス信号Spの極性が反転し得るため、信号生成回路G1,G2の回路構成に応じて極性が設定される。本実施形態では、検出パルス信号Spが凹極性となる。グリッチ除去部13cは、パルスマスク部13bが出力した検出パルス信号Spからグリッチを除去する回路である。グリッチ除去部13cは、ラッチ周期よりも十分に短いクロック周期約1~2MHzで動作する直列3段のシフトレジスタと、各シフトレジスタに保持された2値信号の組み合わせに基づいてグリッチ除去後の検出パルス信号Spを出力する論理出力部とを含む。この論理出力部は、シフトレジスタが保持する2値データの組み合わせがすべて1である場合にはグリッチ除去後の検出パルス信号Spの2値信号レベルを1とし、それ以外の組み合わせの場合にはグリッチ除去後の検出パルス信号Spの2値信号レベルを0とする。これにより、クロック周期の3倍よりもパルス幅が短いグリッチを除去した検出パルス信号Spが生成できる。なお、論理出力部は、シフトレジスタが保持する2値データの組み合わせがすべて0である場合にはグリッチ除去後の検出パルス信号Spの2値信号レベルを0とし、それ以外の組み合わせの場合にはグリッチ除去後の検出パルス信号Spの2値信号レベルを1としてもよい。また、グリッチ除去部13cは、レジスタ13jに記録された極性設定データに基づいて、シフトレジスタが保持する2値データをクランプ期間pcにおいて初期化する。具体的には、グリッチ除去部13cは、凸極性である場合にはシフトレジスタの2値データをすべて0に初期化し、凹極性である場合には2値データをすべて1に初期化する。なお、グリッチ除去部13cはタイミング信号生成部13aからクランプ信号Scを取得し、当該クランプ信号Scに基づいて初期化を行うクランプ期間pcを特定する。信号判定部13dは、グリッチ除去後の検出パルス信号Spに所定の正常パルス形状に形状が一致する正常パルスが含まれるか否かを判定する。信号判定部13dは、タイミング信号生成部13aからタイミング信号を入力し、当該タイミング信号に基づいて第1判定期間pd1と第2判定期間pd2とを特定する。なお、タイミング信号生成部13aは、電荷変化量ΔQに応答して検出電圧V2が極値本実施形態では極大値となる所定時刻よりも前の期間を第1判定期間pd1とし、前記所定時刻よりも後の期間を第2判定期間pd2とする。また、検出電圧V2が極値となる所定時刻とは、吐出期間paが終了する時刻である。吐出期間pa後は、インク滴によって電荷が運搬されなくなり、電荷変化量ΔQが収束へと転じるからである。信号判定部13dは、第1判定期間pd1と第2判定期間pd2とのそれぞれにおいて、グリッチ除去部13cから入力されたグリッチ除去後の検出パルス信号Spに所定の正常パルス形状に一致する正常パルスが含まれるか否かを判定する。図5は、パルス形状を示す表である。図5の右欄には、複数のパルス形状が区分1~3に区分して示されている。なお、図5の右欄において横軸は時刻左ほど過去を示し、縦軸はグリッチ除去後の検出パルス信号Spの2値信号レベルを示す。区分1はパルス先頭からパルス末尾にかけて2値信号レベルが0から1と遷移するパルス形状立ち上がり形状の区分である。区分2はパルス先頭とパルス末尾の2値信号レベルが同一となるパルス形状維持形状の区分である。区分3はパルス先頭からパルス末尾にかけて2値信号レベルが1から0へと遷移するパルス形状立ち下がり形状の区分である。ここで、図5の左欄に示すように信号判定部13dは、レジスタ13jに記録された極性設定データが凸極性を示す場合、第1判定期間pd1において立ち上がり形状を示す区分1のパルス形状を正常パルス形状とし、第2判定期間pd2において立ち下がり形状を示す区分3のパルス形状を正常パルス形状とする。凸極性の場合、検出電圧V2が極値となる所定時刻において検出パルス信号Spが1となり、所定時刻よりも前の第1判定期間pd1において検出パルス信号Spが0から1へと遷移し、所定時刻よりも後の第2判定期間pd2において検出パルス信号Spが1から0へと遷移すべきであるからである。反対に、信号判定部13dは、極性設定データが凹極性を示す場合、第1判定期間pd1において立ち下がり形状を示す区分3のパルス形状を正常パルス形状とし、第2判定期間pd2において立ち上がり形状を示す区分1のパルス形状を正常パルス形状とする。凹極性の場合、検出電圧V2が極値となる所定時刻において検出パルス信号Spが0となり、所定時刻よりも前の第1判定期間pd1において検出パルス信号Spが1から0へと遷移し、所定時刻よりも後の第2判定期間pd2において検出パルス信号Spが0から1へと遷移すべきであるからである。なお、維持形状を示す区分2のパルス形状は、極性設定データおよび期間第1判定期間pd1,第2判定期間pd2に拘わらず正常パルス形状とされない。なお、区分1,3のパルス形状によれば、グリッチ除去後の検出パルス信号Spの2値信号レベルがパルス先頭とパルス末尾との間で細かく遷移することを許容でき、検出電圧V2の信号閾値電圧V2t付近におけるゆらぎの影響を抑制できる。信号判定部13dは、第1判定期間pd1におけるグリッチ除去後の検出パルス信号Spに、正常パルス形状の正常パルスが含まれる場合には第1判定期間pd1おける検出電圧V2が正常であったとして第1信号判定データ1bitを1とし、正常パルスが含まれなかった場合には第1判定期間pd1おける検出電圧V2が正常でなかったとして第1信号判定データを0とする。同様に、第2判定期間pd2におけるグリッチ除去後の検出パルス信号Spに、正常パルス形状の正常パルスが含まれる場合には第2判定期間pd2おける検出電圧V2が正常であったとして第2信号判定データ1bitを1とし、正常パルスが含まれなかった場合には第2判定期間pd2おける検出電圧V2が異常であったとして第2信号判定データを0とする。信号判定部13dは、吐出検査周期pごとに第1信号判定データと第2信号判定データとを生成し、これらをレジスタ13jに更新記録する。なお、グリッチ除去部13cにおいてはシフトレジスタが検出パルス信号Spを保持するため信号遅延が生じる。従って、信号判定部13dは、当該信号遅延を考慮した期間にてパルス形状の比較を行ってもよい。エッジ数計数部13eは、パルスマスク部13bから入力した検出パルス信号Spから2値信号レベルが0から1へと遷移する回数と、1から0へと遷移する回数との合計であるエッジ数をカウントする回路である。エッジ数計数部13eは、タイミング信号生成部13aからクランプ信号Scを取得し、当該クランプ期間pcを除く期間においてエッジ数をカウントする。エッジ数計数部13eは、クランプ期間pcが到来すると、それまでにカウントしたエッジ数を示すデータを後段のノイズ判定部13fへと出力するとともに、エッジ数を0にリセットする。そして、クランプ信号Scが終了すると、エッジ数のカウントを再開する。ノイズ判定部13fは、エッジ数計数部13eが出力したエッジ数と、所定の軽微ノイズ閾値と重篤ノイズ閾値とを比較する。軽微ノイズ閾値は2より大きく、本実施形態では3とされる。重篤ノイズ閾値は、軽微ノイズ閾値より大きく本実施形態では10とされる。軽微ノイズ閾値と重篤ノイズ閾値とを示すノイズ閾値データ各8bitは、レジスタ13jに記録されている。ノイズ判定部13fは、エッジ数が軽微ノイズ閾値以上である場合には第1ノイズ判定データ1bitを1とし、エッジ数が軽微ノイズ閾値よりも小さい場合には第1ノイズ判定データを0とする。ノイズ判定部13fは、エッジ数が重篤ノイズ閾値以上である場合には第2ノイズ判定データ1bitを1とし、エッジ数が重篤ノイズ閾値よりも小さい場合には第2ノイズ判定データを0とする。信号判定部13dは、吐出検査周期pごとに第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとを生成し、これらをレジスタ13jに更新記録する。第1ノイズ判定データが0であれば、検出パルス信号Spが軽微なノイズ重畳状態でないと判定できる。第1ノイズ判定データが1かつ第2ノイズ判定データが0であれば、検出パルス信号Spが軽微なノイズ重畳状態である判定できる。第2ノイズ判定データが1であれば、検出パルス信号Spが重篤なノイズ重畳状態である判定できる。高電圧診断部13gはA/Dコンバーターを含み、所定の時間周期ごとに高電圧診断回路58が生成した高電圧診断信号Shの電圧値を示す高圧診断データ8bitを生成し、レジスタ13jに記録する。信号閾値設定部13hは、メイン制御部11によってレジスタ13jに記録された信号閾値設定データ8bitに応じたデューティー比のPWM信号である信号閾値設定信号Stを生成し、2値化回路57に出力する。高電圧制御部13iは、メイン制御部11によってレジスタ13jに記録された高電圧制御データ1bitに基づいて、高電圧モジュール51に高電圧を生成させるための高圧制御信号Skを出力する。高圧制御信号Skは、信号レベルが1または0の2値信号であり、高圧制御信号Skの信号レベルが1となる期間に限り高電圧モジュール51が高電圧を生成する。以上の構成により、吐出検査周期pごと、すなわちノズル23ごとに第1信号判定データと第2信号判定データと第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとをレジスタ13jにて更新記録していくことができる。従って、メイン制御部11は、ノズル23ごとの第1信号判定データと第2信号判定データと第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとを取得できる。これにより、メイン制御部11は、第1判定期間pd1と第2判定期間pd2のそれぞれにおいて検出電圧V2が正常に変化したか否かが判定できる。また、メイン制御部11は、検出電圧V2が軽微なノイズ重畳状態であるか否か、および、検出電圧V2が重篤なノイズ重畳状態であるか否かが判定できる。さらに、メイン制御部11は、高圧診断データに基づいて高電圧モジュール51を診断できる。2-2吐出検査装置の動作:図6は、吐出検査装置が実行する吐出検査処理のタイミングチャートである。図6のa欄においては、高圧制御信号Skを示す。高圧制御信号Skの信号レベルが1となる全検査期間P2において高電圧モジュール51が高電圧を出力する。全検査期間P2は、時刻の早い順に前置期間pfと実検査期間P1と後置期間pbとを含む。なお、前置期間pfにおいて高電圧モジュール51に高電圧を出力させておくことにより、実検査期間P1よりも前に高電圧遮断コンデンサ52を十分に充電しておく。図6のb欄においては、ラッチ周期を示すラッチ信号Slの波形を示す。なお、ラッチ周期の長さをLと表記する。図6のc欄においては、各ノズル23の吐出状態を示す。本実施形態において、印刷ヘッド20は、2つの検出電極31に対してインク滴を着弾させるノズル23をそれぞれN個ずつ有し、インク滴を着弾させる検出電極31ごとにノズル番号n=1,2,3Nが付されている。そして、ノズル番号の昇順に各ノズル23の吐出検査が行われる。各ノズル23を吐出検査するために要する期間吐出検査周期pは一定であり、吐出検査周期pの長さにノズル数を乗じた期間が全ノズルの吐出検査に要する実検査期間P1となる。本実施形態では、印刷ヘッド20は5760個のノズル23を備え、一方の検出電極31にインク滴を着弾させるノズル23の個数Nは2880個となる。吐出検査周期pの長さはラッチ周期の長さLの倍数とされ、本実施形態では、吐出検査周期pの長さは1ラッチ周期Lの12倍とされる。また、吐出検査周期pの開始から6ラッチ周期6L経過するまでが吐出期間paとされる。この吐出期間paにおいてメイン基板10の吐出制御部12は、吐出検査対象のノズル23からインク滴を24回吐出させる。すなわち、吐出期間paに含まれる各ラッチ周期において、吐出制御部12は、吐出検査対象のノズル23からインク滴を4回ずつ吐出させる。吐出期間paの終了から吐出検査周期pの終了するまでの期間が非吐出期間prとされる。この非吐出期間prにおいて吐出制御部12は、吐出検査対象のノズル23からインク滴を吐出させない。また、吐出制御部12は、吐出検査対象以外のノズル23からは吐出期間paであるか非吐出期間prであるかに拘わらずインク滴を吐出させない。ただし、吐出制御部12は、吐出検査対象以外のノズル23におけるインク液面をインク滴が吐出されない程度に微振動させる。なお、吐出制御部12は、吐出検査制御部13のタイミング信号生成部13aが生成したタイミング信号を入力しており、当該タイミング信号に基づいて吐出検査周期pや吐出期間paや非吐出期間prを特定する。ここで、吐出検査周期pや吐出期間paや非吐出期間prの長さの根拠について説明する。図7A~7Dは、1ラッチ周期Lあたりにノズル23からインク滴を4回ずつ吐出するテスト吐出期間patを2ラッチ周期2L,4ラッチ周期4L,6ラッチ周期6L,8ラッチ周期8Lにわたって継続した場合に、第2増幅回路56から出力された検出電圧V2を示すグラフである。図7A~7Dの縦軸は検出電圧V2を示し、横軸は時刻を示す。なお、テスト吐出期間patが開始するまでは、クランプ回路55のアナログスイッチYを導通させることにより、第2増幅回路56の入力電圧中間電圧V1を所定電位V1cにクランプしておくこととする。また、各種のノイズの影響はないものとする。図7A~7Dに示すように、各テスト吐出期間patにおいてノズル23からインク滴を吐出すると上側に凸状の応答波が検出電圧V2に1つ表れる。この応答波は、テスト吐出期間patにおいて検出電極31に着弾した各インク滴が運んだ電荷の総和に対応する電荷変化量ΔQを反映させたものである。この応答波は、テスト吐出期間patの開始における検出電圧V2クランプにより所定電位V2cから徐々に増加して極大となり、再び、所定電位V2cへと収束する形状を示す。なお、ノズルプレート22におけるインク滴の着弾位置がノズル23ごとに異なり、吐出されるインク滴のインク量がノズル23ごとにばらつくため、同一のテスト吐出期間patとした場合であってもノズル23ごとに検出電圧V2の応答波の振幅極大の検出電圧V2と所定電位V2cとの差が異なる。図7A~7Dでは、振幅が最大となるノズル23についての応答波を実線で示し、振幅が最小となるノズル23についての応答波を破線で示す。ここで、テスト吐出期間patが長いほどインク滴が着弾する期間が長く、電荷変化量ΔQを反映させた応答波が時刻軸方向に長くなる。なお、電荷変化量ΔQに対応した検出電圧V2の応答波は上述した信号生成回路G1,G2の応答特性上、テスト吐出期間patの終了と同時に所定電位V2cに収束せず、テスト吐出期間patの終了後しばらくしてから所定電位V2cに収束する。テスト吐出期間patの終了時刻において応答波がほぼ極大となる。テスト吐出期間pat後は、インク滴によって電荷が運搬されなくなり、電荷変化量ΔQが収束へと転じるからである。また、テスト吐出期間patが長いほどインク滴が運ぶ電荷の総和が大きくなるため、応答波の振幅が大きくなる。しかし、図7A~7Dに示すようテスト吐出期間patがある程度長くなると、テスト吐出期間patが長くなっても応答波の振幅は増加しなくなる。図7Eは、テスト吐出期間patと応答波の振幅検出電圧V2の極大値との関係を示すグラフである。同図に示すように、振幅が最大となるノズル23についての応答波実線と、振幅が最小となるノズル23についての応答波破線とのいずれについても、テスト吐出期間patが5~6ラッチ周期5L~6Lまではテスト吐出期間patが長くなるほど応答波の振幅が増加するが、テスト吐出期間patが5~6ラッチ周期5L~6L以上となるとテスト吐出期間patが長くなるのに伴う応答波の振幅の増加が鈍くなる。従って、吐出検査制御部13に設定する吐出期間paを6ラッチ周期6Lとすることにより、最大限、応答波の振幅を確保するとともに、吐出期間paが長くなり吐出検査に要する期間が長くなることが防止できる。また、図7Cに示すように、6ラッチ周期6Lのテスト吐出期間patの終了後さらに6ラッチ周期6Lが経過するタイミングで応答波が所定電位V2cへと収束している。異なるノズル23間で応答波が重畳されないように、本実施形態では吐出期間paの後の6ラッチ周期6Lを非吐出期間prとする。吐出検査に要する期間を短縮するために、応答波が収束する範囲において非吐出期間prもできるだけ短く設定するのが望ましい。本実施形態では、吐出期間paと吐出期間paとをそれぞれ6ラッチ周期6Lとして1ノズルあたりの吐出検査周期pを12ラッチ周期12L≒12×87μ秒≒1m秒とすることにより、2880個のノズル23を順次検査した場合の実検査期間P1を2.88秒程度に抑制している。図6の説明に戻る。図6のd欄においては、吐出検査制御部13のタイミング信号生成部13aが生成する各タイミング信号によって特定される各期間pc,pd1,pp,pd2,peを示す。本実施形態では、吐出検査周期pにおける非吐出期間prの最後のラッチ周期がクランプ期間pcとされる。すなわち、非吐出期間prから吐出期間paへと移行するタイミングから1ラッチ周期L以内の期間がクランプ期間pcとされる。なお、クランプ期間pcが開始する周期は吐出検査周期pと同一となる。クランプ期間pcにおいては検出電圧V2が所定電位V2cに保持され、クランプ期間pc以外の期間においては検出電極31における電荷変化量ΔQに応じて検出電圧V2が変化する。なお、クランプ期間pcは、上述の前置期間pfにも設定される。これにより吐出検査の前に検出電圧V2を所定電位V2cに拘束しておくことができる。図8A,8Bは、吐出検査周期pよりも低周波のノイズが含まれ、かつ、クランプ期間pcにて中間電圧V1をクランプしない場合とする場合のそれぞれにおける検出電圧V2を示す。ここでは低周波のノイズの電圧波形がサイン波であると仮定する。図8Aに示すように、検出電圧V2には吐出検査周期pごとに検出電極31における電荷変化量ΔQに対応する応答波が表れるが、この応答波に破線で示すように低周波のノイズ検出電極31の振動起因の電荷変化量ΔQや他の電磁的外乱要因に起因が重畳されることとなる。これに対して、図8Bのように各吐出検査周期pの直前終了前1ラッチ周期Lのクランプ期間pcにて中間電圧V1を所定電位V1cにクランプすることにより、複数の吐出検査周期p間で低周波のノイズを蓄積することが防止できる。すなわち、低周波のノイズが複数の吐出検査周期pにまたがって蓄積されることが防止でき、電荷変化量ΔQの応答波の信号強度に対する低周波のノイズ強度の比を抑制した検出電圧V2を得ることができる。また、中間電圧V1を所定電位V1c付近に拘束できるため、中間電圧V1がオペアンプA1の出力可能電圧範囲外となることが防止でき、クリップによる波形歪みが防止できる。図8Cは、検出電圧V2のノイズ抑圧特性を示すグラフである。図8Cの横軸はノイズ周波数対数を示し、縦軸は信号抑圧比入力電力/通過電力対数を示す。第1増幅回路54の入力点に各周波数のテストノイズを意図的に注入し、検出電圧V2が示すテストノイズの通過電力を調査する。図8Cに示すように、吐出検査周期pと同等の周期に対応する周波数帯域200~2000Hzのテストノイズは、第2増幅回路56の出力点までほぼ減衰することなく通過し、電荷変化量ΔQの応答波は通過できることが分かる。クランプ期間pcの周期が吐出検査周期pと同一であり、吐出検査周期pよりも短い周期に対応する高周波帯域のテストノイズの波形はクランプの影響を受けないからである。なお、2000Hzよりも高周波帯域のノイズは、ローパスフィルター回路53により抑圧できる。一方、吐出検査周期pよりも長い周期に対応する低周波帯域~200Hzにおいては、テストノイズの周波数が小さくなるほど抑圧される。具体的に、周波数の1decadeごと周波数が10倍となるごとに、テストノイズの通過電力が-20dB減衰する。なお、低周波帯域~5Hzにおいては信号抑圧比の傾きが緩和される。これは第1増幅回路54の増幅係数X1を小さくしたにも拘わらず、低周波帯域~5Hzでは、より大きなノイズ成分が抑圧可能なために、ついに第1増幅回路54を構成するオペアンプA1の出力端子Voutにおける中間電圧V1がオペアンプA1の出力可能電圧範囲内にクリップされたことによる波形歪みに起因する。本実施形態において、第1増幅回路54を構成するオペアンプA1の出力可能電圧範囲は約3.3Vであり、クランプ点CPにおける中間電圧V1の応答波の振幅が出力可能電圧範囲の1/100~1/100.033~0.33Vppとなるように第1増幅回路54の増幅係数X1が設定されている。これにより、クランプ点CPにおけるノイズの電圧が-0.6~2.7V程度で変動する場合でも、中間電圧V1がオペアンプA1の出力可能電圧範囲を超え、当該中間電圧V1がクリップされることが防止できる。すなわち、検出電極31における電荷変化量ΔQの応答波形が中間電圧V1のクリップにより歪むことが防止でき、インク滴が吐出されたか否かを精度よく判定できる。なお、第1増幅回路54の増幅係数X1が小さくても、クランプされた中間電圧V1をさらに増幅する第2増幅回路56が備えられるため、インク滴が吐出されたか否かを判定するのに好適な検出電圧V2を得ることができる。なお、クランプ点CPにおけるノイズ成分の電圧が0~3.0V程度で変動する場合には、スイッチWを導通させてクランプする所定電位V1cを0.6Vから0Vへと切り替えることにより、応答波のクリップを防止するのが望ましい。なお、クランプ期間pcは、検出電圧V2が既知の所定電位V2cに保持され、電荷変化量ΔQの応答波も表れない期間である。そのため、クランプ期間pcは、パルスマスク部13bが検出パルス信号Spをマスクする期間とされる。また、クランプ期間pcは、グリッチ除去部13cがシフトレジスタの2値データを初期化する期間とされる。さらに、クランプ期間pcは、エッジ数計数部13eがエッジ数を計数しない期間とされる。図6の説明に戻る。図6のd欄に示すように、吐出検査周期pは、時刻の早い順に第1判定期間pd15Lとピーク期間ppLと第2判定期間pd24Lと収束期間peLとクランプ期間pcLとを含む。第1判定期間pd1は、吐出検査周期pの開始とともに開始し、吐出期間paの終了前に終了する。ピーク期間ppは、第1判定期間pd1の終了と同時に開始し、吐出期間paとともに終了する。すなわち、吐出期間paは、第1判定期間pd1とピーク期間ppとを含む。第2判定期間pd2は、非吐出期間prの開始とともに開始し、非吐出期間prの終了前に終了する。収束期間peは、第2判定期間pd2の終了と同時に開始し、クランプ期間pcの開始とともに終了する。クランプ期間pcは非吐出期間prとともに終了する。すなわち、非吐出期間prは、第2判定期間pd2と収束期間peとクランプ期間pcとを含む。なお、本実施形態において、第1判定期間pd1とピーク期間ppと第2判定期間pd2と収束期間peとクランプ期間pcの長さはラッチ周期の倍数とされるが、必ずしもラッチ周期の倍数でなくてもよい。図6のe欄は、検出電圧V2における電荷変化量ΔQの応答波低周波のノイズは無視を示す。なお、図6のe欄の破線は、検出電圧V2に重畳されたスパイクノイズを示す。図6のe欄に示すように、検出電圧V2は吐出期間paにおいて立ち上がり、吐出期間paの終了時刻t1にて極大となる。従って、正常にインク滴が吐出された場合、吐出期間paの終了よりも前に終了する第1判定期間pd1においては、検出電圧V2が立ち上がる単調増加となるはずである。反対に、検出電圧V2は非吐出期間prにおいて極大の状態から立ち下がって収束する。従って、正常にインク滴が吐出された場合、第2判定期間pd2においては、検出電圧V2が立ち下がる単調減少となるはずである。図6のe欄において、信号閾値電圧V2tV2t1,V2t2を一点鎖線で示す。なお、2値化回路57は、ヒステリシス特性を有するため、検出電圧V2が信号閾値電圧V2tよりも大きくなっていく場合の信号閾値電圧V2t1の方が、検出電圧V2が信号閾値電圧V2tよりも小さくなっていく場合の信号閾値電圧V2t2よりも大きい。なお、信号閾値電圧V2tはレジスタ13jに記録された信号閾値設定データデューティー値によって設定される。また、信号閾値電圧V2tは、例えば図7Cにて破線で示す応答波の最小振幅に所定電位V2cを加えた電圧とされる。また、検出電圧V2に重畳されると想定されるノイズに対応したマージンを信号閾値電圧V2tに加味してもよい。図6のf欄は、図6のe欄の検出電圧V2にスパイクノイズがないとした場合の検出パルス信号Spを示す。なお、本実施形態の検出パルス信号Spは検出電圧V2と極性が反転し、凹極性となる。すなわち、インク滴が正常に吐出された場合、吐出期間paの開始とともに増加を開始した検出電圧V2が信号閾値電圧V2t1以上となるまでは2値信号レベルが1となり、吐出期間paの終了とともに減少に転じた検出電圧V2が信号閾値電圧V2t2よりも小さくなるまでは2値信号レベルが0となり、その後は2値信号レベルが再び1となる。なお、凹極性の場合、クランプ期間pcにてグリッチ除去部13cはシフトレジスタが保持する2値データを1に初期化する。これにより、シフトレジスタが保持する2値データを1としたまま吐出期間paへと移行することができ、グリッチ除去部13cにおいてクランプ期間pcの直後に偽のパルスのエッジが表れることが防止できる。また、凹極性の場合、図4に示すように第1判定期間pd1における正常パルス形状が立ち下がり形状とされる。すなわち、信号判定部13dは第1判定期間pd1において、グリッチ除去後の検出パルス信号Spの2値信号レベルが1から0へと遷移する区分3のパルス形状を正常パルス形状とする。図6のf欄において、第1判定期間pd1に2値信号レベルが1から0へと遷移するパルス形状が1つ表れるため、信号判定部13dは正常である旨を示す第1信号判定データ1をレジスタ13jに記録する。一方、信号判定部13dは、第2判定期間pd2において、グリッチ除去後の検出パルス信号Spの2値信号レベルが0から1へと遷移する区分1のパルス形状を正常パルス形状とする。図6のf欄においては、第2判定期間pd2に2値信号レベルが0から1へと遷移するパルス形状が1つ表れるため、信号判定部13dは正常である旨を示す第2信号判定データ1をレジスタ13jに記録する。なお、ピーク期間ppと収束期間peとを第1判定期間pd1と第2判定期間pd2とから除外することにより、ピーク期間ppと収束期間peとにおけるノイズの影響を軽減できる。ピーク期間ppと収束期間peとにおいては検出電圧V2が大きく変動しないはずであり、ピーク期間ppと収束期間peとにおいて正常パルスが検出されても、当該正常パルスはノイズに起因する可能性が高いからである。なお、電荷変化量ΔQの応答波における傾きの絶対値が所定閾値よりも小さくなる期間を、ピーク期間ppと収束期間peと設定してもよい。図6のf欄の場合、エッジ数計数部13eがカウントするエッジ数は2となり、ノイズ判定部13fは検出パルス信号Spが軽微なノイズ重畳状態でも重篤なノイズ重畳状態でもない旨を示す第1ノイズ判定データ0と第2ノイズ判定データ0をレジスタ13jに記録する。なお、検出パルス信号Spに重畳されたノイズのパルス幅がグリッチ除去部13cのクロック周期の3倍よりも短い場合、当該ノイズに対応するパルスはグリッチとして除去されることとなる。しかし、エッジ数計数部13eにはグリッチ除去部13cにてグリッチが除去されていない検出パルス信号Spが入力されるため、エッジ数計数部13eではパルス幅に拘わらずエッジ数をカウントできる。すなわち、エッジ数計数部13eに対してグリッチ除去することなく検出パルス信号Spを入力することにより、ノイズに敏感なエッジ数を得ることができる。図6のg欄は、図6のf欄の検出電圧V2にスパイクノイズがあるとした場合の検出パルス信号Spを示す。図6のg欄においては、スパイクノイズに応じた偽のパルスが表れる。しかし、図6のg欄の場合、第1判定期間pd1に2値信号レベルが1から0へと遷移するパルス形状が2つ表れるため、信号判定部13dは正常である旨を示す第1信号判定データ1をレジスタ13jに記録する。一方、第2判定期間pd2にも2値信号レベルが0から1へと遷移するパルス形状が2つ表れるため、信号判定部13dは正常である旨を示す第2信号判定データ1をレジスタ13jに記録する。また、図6のg欄の場合、エッジ数計数部13eがカウントするエッジ数は6となり、ノイズ判定部13fは検出パルス信号Spが軽微なノイズ重畳状態であるが重篤なノイズ重畳状態ではない旨を示す第1ノイズ判定データ1と第2ノイズ判定データ0をレジスタ13jに記録する。メイン制御部11は、吐出検査周期pごと、すなわちノズル23ごとに更新記録される第1信号判定データと第2信号判定データと第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとをレジスタ13jから読み出し、これらに基づく処理を実行する。なお、メイン制御部11は、吐出検査周期pが経過するごとにノズル番号を示すデータをインクリメントすることにより、吐出検査対象のノズル23のノズル番号を特定する。図9は、判定手段としてのメイン制御部11がレジスタ13jから読み出した各判定データの組み合わせと、メイン制御部11が実行する処理との対応関係を示す表である。この対応関係を示すデータは、メイン制御部11が読み出し可能なROM等の記録媒体に記録される。図9に示すように、第2ノイズ判定データが、検出パルス信号Spが重篤なノイズ重畳状態である旨を示す場合には、メイン制御部11は、第1信号判定データと第2信号判定データに拘わらず重篤なノイズが重畳された旨を吐出検査対象のノズル23のノズル番号に対応付けて示すログを記録するとともに、当該ノズル23についての吐出検査を再度実行させる。第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとが、検出パルス信号Spが軽微なノイズ重畳状態であるが重篤なノイズ重畳状態でなかった旨を示す場合には、メイン制御部11は、軽微なノイズ重畳状態である旨をノズル番号に対応付けて示すログを記録するとともに、第1信号判定データと第2信号判定データとに基づく判定結果を信頼することとする。第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとが検出パルス信号Spが軽微なノイズ重畳状態でも重篤なノイズ重畳状態でもなかった旨を示す場合には、メイン制御部11は、ノイズに関するログを記録することなく、第1信号判定データと第2信号判定データとに基づく判定結果を信頼することとする。第1信号判定データと第2信号判定データとに基づく判定結果を信頼する場合、すなわち検出パルス信号Spが重篤なノイズ重畳状態でなかった場合、メイン制御部11は、第1信号判定データと第2信号判定データとの一致性を判定する。そして、第1信号判定データと第2信号判定データとの一方のみが正常である旨を示す一致しない場合、メイン制御部11は、吐出検査対象のノズル23についての吐出検査を再度実行させる。一方、第1信号判定データと第2信号判定データがともに正常である旨を示す場合、吐出検査対象のノズル23から正常にインク滴が吐出されたと判定し、正常にインク滴が吐出された旨を当該ノズルのノズル番号に対応付けて示すログを記録する。反対に、第1信号判定データと第2信号判定データがともに正常でない旨を示す場合、吐出検査対象のノズル23から正常にインク滴が吐出されなかったと判定異常判定し、正常にインク滴が吐出されなかった旨を当該ノズルのノズル番号に対応付けて示すログを記録する。以上説明したように、メイン制御部11は、エッジ数が所定の基準よりも小さい場合に限り、第1信号判定データと第2信号判定データとに基づく判定結果を信頼するため、ノイズの影響を受けにくくすることができる。すなわち、ローパスフィルター回路53やクランプ回路55では除去されにくい周波数帯域のノイズが重畳される場合でも、信頼性の高い吐出異常判定が実現できる。さらに、エッジ数が所定の基準よりも小さい場合であっても、第1信号判定データと第2信号判定データとが一致しない場合には、吐出検査対象のノズル23についての吐出検査を再度実行させるため、誤判定を防止できる。ここで、低周波のノイズが単調増加傾向にある場合、第1判定期間pd1における検出電圧V2の電圧値に基づく判定結果は正常となりやすく、第2判定期間pd2における検出電圧V2の電圧値に基づく判定結果は正常となりにくくなる。反対に、低周波のノイズが単調減少傾向にある場合、第1判定期間pd1における検出電圧V2の電圧値に基づく判定結果は正常となりにくく、第2判定期間pd2における検出電圧V2の電圧値に基づく判定結果は正常となりやすくなる。従って、検出電圧V2に低周波のノイズが重畳される場合には、第1信号判定データと第2信号判定データとが不一致となりやすくなり、低周波のノイズに起因してインク滴が正常に吐出されたと誤判定されることが防止できる。以上説明したように、本実施形態においては、クランプ回路55が吐出検査周期pに同期して中間電圧V1を所定電位V1cにクランプすることにより、検出電圧V2から低周波のノイズを除去でき、ノイズに対する耐性の高い吐出異常判定を実現できる。また、クランプによって低周波のノイズを除去するため、バンドパスハイパスフィルターを使用して低周波のノイズを除去する場合よりも、検出電極31における電荷変化量ΔQの応答波形の歪みや遅れが抑制できる。また、第1信号判定データと第2信号判定データと第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとは合計で4bitであるため、メイン制御部11は高速に図9の処理を実行できる。従って、第1判定期間pd1と第2判定期間pd2とを設けても各ノズル23の吐出検査に要する期間を短縮でき、多数のノズル23の吐出検査を短期間に完了させることができる。3他の実施形態:図9に示したメイン制御部11の処理は一例であり、第1信号判定データと第2信号判定データと第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとの組み合わせに応じて図9と異なる処理を実行してもよい。例えば、第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとが軽微なノイズ重畳状態である旨を示す場合にも、第1信号判定データと第2信号判定データとを信頼しないようにしてもよい。第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとが軽微または重篤なノイズ重畳状態である旨を示す場合に、警告を発したり、吐出検査処理を中断したりしてもよい。さらに、メイン制御部11は、異常と判定されたノズル23の個数等に応じて、フラッシングや吸引等の回復動作を実行してもよい。また、第1信号判定データと第2信号判定データと第1ノイズ判定データと第2ノイズ判定データとは合計で4bitと少ないため、吐出検査制御部13においてすべてのノズル23についての各判定データをキャッシュする記憶領域を設けておくことができる。この場合、すべてのノズル23についての吐出検査処理が完了した段階で、メイン制御部11がすべてのノズル23についての各判定データを一括して読み出せばよい。むろん、すべてのノズル23についての判定データではなく、ノズル23を所定個数例えば8ノズルごとに区分したブロックやラインごとに各判定データをキャッシュしてもよい。また、メイン制御部11と吐出検査制御部13とを接続するバスのメモリ幅に応じて各判定データをキャッシュするノズル数を設定してもよい。また、軽微ノイズ閾値と重篤ノイズ閾値との少なくとも一方を変化させながら同一のノズル23について複数回吐出検査を行うことにより、ノイズ量を示すエッジ数を詳細に特定してもよい。例えば、軽微ノイズ閾値を徐々に増加させていき、第1ノイズ判定データが1から0に転じた際の軽微ノイズ閾値をノイズ量として特定してもよい。むろん、軽微ノイズ閾値と重篤ノイズ閾値の一方のみについて閾値判定を行ってもよい。第1判定期間pd1と第2判定期間pd2とを変化させながら複数回吐出検査を行うことにより、インク滴が正常に吐出された場合に、正常パルスが確実に表れる第1判定期間pd1と第2判定期間pd2との長さの下限値を特定してもよい。これにより、第1判定期間pd1と第2判定期間pd2とをできるだけ短くして、吐出検査処理を短期化することができる。さらに、正常にインク滴が吐出された場合に、第1判定期間pd1の途中から第2判定期間pd2の途中まで検出電圧V2が飽和するように、第2増幅回路56の増幅率X2を高めに設定してもよい。この場合、検出電圧V2が飽和したか否かによって検出電圧V2を2値化でき、2値化回路57が省略できる。この場合、第2増幅回路56による2値化のノイズに対するマージンを確保するために、中間電圧V1をクランプする所定電位V1cを0.6Vから0Vへと切り替えてもよい。また、必ずしも第1判定期間pd1と第2判定期間pd2とからピーク期間ppと収束期間peとを除外しなくてもよい。なお、前記実施形態では凹極性の検出パルス信号Spを示したが、検出パルス信号Spは凸極性であってもよい。検出パルス信号Spが凸極性である場合、レジスタ13jにおいて凸極性を示す極性設定データを記録しておけばよい。むろん、検出電圧V2と検出パルス信号Spとの極性が一致してもよい。なお、前記実施形態において検出電極31はノズルキャップ30に備えられたが、検出電極31は独立して備えられてもよい。また、検出電極31とノズルプレート22との間に静電容量を寄生させればよく、検出電極31を接地し、ノズルプレート22側に高電圧を出力してもよい。さらに、検出電極31はインク滴が着弾するように構成されなくてもよく、例えば互いに平行に対面する検出電極31と対向電極との間において、検出電極31と対向電極とに対して平行にインク滴を吐出させてもよい。また、検出電極31はコンデンサを構成しなくてもよく、帯電したインク滴の接近により誘導電流が流れるように構成されてもよい。さらに、インク滴の吐出に起因した物理量変化の応答波を得るように構成されていればよく、例えば吐出されたインク滴により強度や周波数が干渉される可視光等の電磁波の受信強度を検出信号として検出してもよい。これらのいずれの方式により検出信号を検出した場合であっても、第1判定期間pd1と第2判定期間pd2のそれぞれにおいて検出電圧V2が正常に変化したか否かを判定するため、信頼度の高い判定結果を得ることができる。むろん、ノズル23はインク滴を吐出するように構成されていればよく、サーマルジェット方式によってインク滴が吐出されてもよい。むろん、色の再現を主目的としたインク滴に限らず、吐出されることにより何らかの物理量が変化する液滴であれば本発明の吐出検査手法が適用できる。"