"半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査ユニットを備えた画像形成装置であって、ユーザ操作により、若しくは設定されたタイミングで、前記光走査ユニットに設けられたポリゴンミラーの反射面の方向を、該反射面で反射したレーザ光が非印字エリアに照射するような所定の方向になるように調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査実施部と、レーザ光の被走査体上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する検知センサとを備え、前記検査実施部は、前記反射面で反射したレーザ光が前記検知センサで検知されるように、前記反射面の方向の調整を行うことを特徴とする画像形成装置。前記ポリゴンミラーには、固定子及び固定子を励磁して回転させる回転子を有するモータが取り付けられており、前記固定子を励磁して前記回転子を停止させることが可能な所定の励磁パターンと、前記反射面の方向とに相関を持たせたことを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。前記回転子のN極とS極の境界面の方向と前記反射面の方向とが所定の角度をなすように、前記ポリゴンミラーに前記モータが取り付けられていることを特徴とする請求項2に記載の画像形成装置。前記反射面の方向と前記所定の励磁パターンとの相関関係を記憶した記憶部をさらに備えたことを特徴とする請求項2に記載の画像形成装置。前記検査実施部で実施した検査の結果を表示する表示部をさらに備えたことを特徴とする請求項1~4のいずれか1項に記載の画像形成装置。半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査ユニットを備えた画像形成装置における半導体レーザ検査方法であって、ユーザ操作により、若しくは設定されたタイミングで、前記光走査ユニットに設けられたポリゴンミラーの反射面の方向を、該反射面で反射したレーザ光が非印字エリアに照射するような所定の方向になるように調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査工程を有し、該検査工程は、レーザ光の被走査体上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する検知センサで、前記反射面で反射したレーザ光が検知されるように、前記反射面の方向の調整を行うことを特徴とする半導体レーザ検査方法。ところで、半導体レーザは、静電気に対して非常に弱く、最終形態の製品化までの間に静電気が加わると寿命が大きく変動してしまう。そのため、画像形成装置においても製品組上げ後の最終状態で半導体レーザの検査を行って、不良である場合には交換することが望まれる。しかしながら、特許文献1では、検査試験を実施できるように光送信モジュール用プリント基板を改良することについて提案されているが、製品組上げ後の最終形態での検査の実施を行うものではない。また、特許文献2には、半導体レーザのスクリーニングの実施について記載されていない。また、特許文献3に記載の技術では、画像形成装置において感光体が停止している状態で発光させることは可能であるが、そのために永久磁石や電磁石といった余計な部品が必要となる。本発明は、上述のような実状に鑑みてなされたものであり、その目的は、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査ユニットを備えた画像形成装置において、余計な部品を追加することなく、光走査ユニットが搭載された最終状態での半導体レーザの検査を実施できるようにすることにある。上記課題を解決するために、本発明の第1の技術手段は、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査ユニットを備えた画像形成装置であって、ユーザ操作により、若しくは設定されたタイミングで、前記光走査ユニットに設けられたポリゴンミラーの反射面の方向を、該反射面で反射したレーザ光が非印字エリアに照射するような所定の方向になるように調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査実施部と、レーザ光の被走査体上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する検知センサとを備え、前記検査実施部は、前記反射面で反射したレーザ光が前記検知センサで検知されるように、前記反射面の方向の調整を行うことを特徴としたものである。第2の技術手段は、第1の技術手段において、前記ポリゴンミラーには、固定子及び固定子を励磁して回転させる回転子を有するモータが取り付けられており、前記固定子を励磁して前記回転子を停止させることが可能な所定の励磁パターンと、前記反射面の方向とに相関を持たせたことを特徴としたものである。第3の技術手段は、第2の技術手段において、前記回転子のN極とS極の境界面の方向と前記反射面の方向とが所定の角度をなすように、前記ポリゴンミラーに前記モータが取り付けられていることを特徴としたものである。第4の技術手段は、第2の技術手段において、前記反射面の方向と前記所定の励磁パターンとの相関関係を記憶した記憶部をさらに備えたことを特徴としたものである。第5の技術手段は、第1~第4のいずれか1の技術手段において、前記検査実施部で実施した検査の結果を表示する表示部をさらに備えたことを特徴としたものである。第6の技術手段は、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査ユニットを備えた画像形成装置における半導体レーザ検査方法であって、ユーザ操作により、若しくは設定されたタイミングで、前記光走査ユニットに設けられたポリゴンミラーの反射面の方向を、該反射面で反射したレーザ光が非印字エリアに照射するような所定の方向になるように調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査工程を有し、該検査工程は、レーザ光の被走査体上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する検知センサで、前記反射面で反射したレーザ光が検知されるように、前記反射面の方向の調整を行うことを特徴としたものである。本発明によれば、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査ユニットを備えた画像形成装置において、余計な部品を追加することなく、光走査ユニットが搭載された最終状態での半導体レーザの検査を実施できるようになる。図1は、本発明に係る画像形成装置における光走査ユニットの一構成例を示す図である。本発明に係る画像形成装置は、図1で例示するような半導体レーザ20及びポリゴンミラー回転多面鏡10を有する光走査ユニットと、その光走査ユニットを含めた画像形成装置の全体を制御する制御部図示せずとを備える。この制御部は、光走査ユニット用のコントローラとそれを制御する主制御部などに分け構成してもよい。その他、説明の簡略化のため画像形成装置における光走査ユニット以外の構成については特に説明しないが、既存の技術を適用して構成すればよい。半導体レーザ20を用いた光走査ユニットは、レーザスキャニングユニットLSU、レーザ露光ユニットとも言い、以下、LSUとして説明する。LSUでは、画像データに応じて発せられたレーザ光レーザビームが、ポリゴンミラー10に取り付けられたモータポリゴンモータが回転することにより、ポリゴンミラー10の回転周面上に設けられた反射面図1では6つで反射し、図1で点線で図示する被走査体感光体ドラム上に走査される。図1で例示するように、このレーザ光はポリゴンミラー10の回転に従い主走査方向Aに走査され、また感光体ドラムの例えばB方向への回転によって副走査方向に走査される。LSUは、ポリゴンミラー10の他、画像データに応じて半導体レーザ20から出射された光ビームをポリゴンミラー10に導くためのレンズやミラー等の光学要素や、ポリゴンミラー10によって反射された光ビームを感光体ドラムに導くためのレンズやミラー等の光学要素が配置されている。前者の光学要素としては、例えば図1に示すように、半導体レーザ20からのレーザ光を入射するコリメータレンズ21、コリメータレンズ21の出射側に設けられた開口板22、開口板の開口部分から出射した光を入射するシリンドリカルレンズ23、及び、シリンドリカルレンズ23から出射した光を入射し、ポリゴンミラー10の反射面に向けて反射させるミラー24などが挙げられる。後者の光学要素としては、f-θレンズ25などが挙げられる。なお、図1では、ポリゴンミラー10として6つの反射面を有するものを挙げているが、これに限ったものではない。このように、LSUは、帯電された感光体ドラムを入力された画像データに応じて露光することにより、その表面に、その画像データに応じた静電潜像を形成する機能を有する。なお、感光体ドラム上に形成された静電潜像は現像器でトナーにより顕像化される。画像形成装置は、例えばブラック、シアン、マゼンタ、イエローの4色など、複数色により画像を形成する装置であってもよく、その場合、各色用に半導体レーザ20及び感光体ドラムを設け、これらをタンデム方式で画像形成するように構成しておけばよい。このような構成の場合、ポリゴンミラー10は各色で共有させてもよいし、各色用にそれぞれ設けてもよい。また、本発明に係る画像形成装置は、レーザ光の感光体ドラム上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する検知センサ27をさらに備える。通常、検知センサ27は、図1で示すようにLSUに設けられる。検知センサ27について、感光体ドラム上での主走査の開始のためにレーザ光を検知するセンサであるものとして説明する。ここで、ポリゴンミラー10で反射して感光体ドラムへ向かうレーザ光には、感光体ドラム上での画像形成に使用されるレーザ光、すなわち主走査方向Aに走査するための光ビーム主走査ビームとも言うがある。この主走査ビームが走査する際に通過する空間領域を画像領域とし、画像領域以外の領域を非画像領域とする。レーザ光が感光体ドラムを走査するとき、レーザ光は主走査方向Aのラインを定期的に走査する。このとき感光体ドラムは回転しているので、感光体ドラムは一定期間毎に異なる場所を走査されることになる。但し、走査ラインの書き始めの位置は、レーザ光が走査される毎に同一である必要がある。この走査ラインの書き始めの位置を検出するために、光走査装置には同期検出装置が設けられている。この同期検出装置は、上述の検知センサ27と、検知センサ27に同期検出ビームを導く案内手段である同期検出ビームの折り返しミラー同期ミラー26とを備える。検知センサ27は、上記非画像領域の光ビームを同期検出ビームとして検出するためのセンサであり、同期検出センサ、若しくはBDBeamDetectセンサとも言う。なお、検知センサ27と同期ミラー26との間には、検知センサ27に同期検出ビームを集光するレンズを設けてもよい。上記同期検出ビームは、各主走査ビームの最初の照射位置との同期をとるための信号であり、ポリゴンミラー10を出射した光ビームが、f-θレンズ25を通過した後に、同期ミラー26で反射された光ビームである。同期検出ビームは、同期ミラー26により折り返され、検知センサ27に到達する。この検知センサ27は受光量に応じたセンサ信号を出力する。そして、LSUを制御する制御部例えばLSUコントローラは、検知センサ27からのセンサ信号に基づいて、画像書き込み開始位置を決定するための同期信号を生成する。具体的には、検知センサ27の受光量が、少なくともそのレーザ光が感光体ドラムを露光して静電潜像を形成するのに必要な光量以上の場合に、同期信号が生成される。このように、同期信号は主走査方向Aの走査開始基準信号として用いられ、この信号を基準として各ラインの主走査方向の書出し開始位置の同期が取られる。このような同期を行うため、同期ミラー26は、主走査方向Aにおいて、印字エリアの直ぐ近くの非印字エリアを通るレーザ光が当たるように設けられている。また、同期検出装置は、検知センサ27で光ビームが検出できない場合にエラー信号を出力する。光走査装置が組み込まれた画像形成装置では、装置の運転を停止するとともに、例えば所定のサービスコードをその表示画面に表示させることで、走査方向の書き始めの位置の不具合をユーザに知らせる。4色で画像形成する場合を例に挙げると、主走査方向の書き出し位置を検出する検知センサ27は、例えばブラック用光ビームの光路上のみに備えられ、4つの光ビームのうちのブラック用の光ビームのみに対応させ、他の色用の光ビームには、これを参照させることにより、予め決定された画像データの書き出し開始タイミングによって走査を開始させるようにしておけばよい。そして、上述した画像形成装置の制御部は、次に説明する検査実施部における発光検査の実行の制御も行う。この検査実施部は、ユーザ操作により、若しくは設定されたタイミングで、LSUに設けられたポリゴンミラー10の反射面の方向例えば反射面に立てた法線の方向を、その反射面で反射したレーザ光が非印字エリアに照射するような所定の方向になる所定の方向で停止するように調整してから、半導体レーザ20からレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する。無論、ここでの調整は、ユーザ操作を受けて若しくは設定されたタイミングの到来により、自動で行われる。上記ユーザ操作に関し、ユーザとは画像形成装置を納品する設置者が挙げられ、操作とは操作部から開始指示キーが押下される操作を指す。また、上記設定されたタイミングとしては、出荷状態から最初に電源が投入されたタイミングとしておいてもよいし、最初に電源が投入されたタイミングから所定時間経過したタイミングとしておいてもよい。出荷状態になる手前で今から電源を落として出荷する場面で次回電源が投入されたとき又はそこから所定時間後を上記タイミングとするようにしておけばよい。また、ユーザ操作の場合も設定されたタイミングの場合も、発光検査だけを行うのではなく、半導体レーザ20の発光検査を少なくとも含むLSU自体の検査や画像形成装置自体の検査を併せて開始するようにしておいてもよい。このように、本発明ではLSUが搭載された画像形成装置で半導体レーザ20のスクリーニングを実施するので、装置を設置してから比較的初期に発生しているレーザ劣化を防止することができ、またLSUの運搬時やマシン取り付け時に静電気が加わったとしても、例えば寿命の短くなった半導体レーザや点灯しない半導体レーザなどの不良を検出でき、その半導体レーザをはねて新しい半導体レーザに交換することができる。特に、LSUの外側にレーザ端子が剥き出しになっているタイプのものは、より静電気が加わりやすいため、効果的である。また、ポリゴンミラー10の反射面の方向を、その反射面で反射したレーザ光が非印字エリアに照射するような所定の方向になるように調整してから、つまり感光体ドラムにレーザ光を照射しないようにしてから、発光検査を行うため、LSUが画像形成装置に搭載された状態で半導体レーザ20のスクリーニングを実施しても、感光体を露光及び劣化させることがない。また、本発明に係る画像形成装置は、上記検査実施部で実施した検査の結果を表示する表示部をさらに備えることが好ましい。この表示部としては、操作パネルが利用できるが、外部に接続された表示装置に表示させるようにしてもよい。後者の場合、その表示装置には画像形成装置に接続されたときに検査開始を指示する信号を送るように構成されていてもよく、その場合、上述の設定されたタイミングとしてその信号を受け取ったタイミングとしておけばよい。その他、検査結果は音によりエラーか正常かを知らせるように構成してもよい。そして、本発明の主たる特徴として、上記検査実施部は、ポリゴンミラー10の反射面で反射したレーザ光が検知センサ27で検知されるように、反射面の方向を上記所定の方向に調整する。つまり、本発明では、半導体レーザ20を点灯させた時に、印字エリアの直ぐ近くの非印字エリアに設けられた同期ミラー26を介して検知センサ27の検知面にレーザ光が常に当たるように、ポリゴンミラー10の反射面の方向を調整している。なお、図1で例示する6面のポリゴンミラー10の場合、レーザ光を検知センサ27で検出できるモータの方向は6つあるが、上記所定の方向としてはそのうち1つだけを採用してもよいし、2~6つのいずれかを採用してもよい。このような構成により、本発明に係る画像形成装置では、余計な部品を追加することなく、LSUが搭載された最終状態での半導体レーザ20の検査を実施できるようになる。また、検知センサ27からは受光量に応じたセンサ信号が出力されるため、全く発光しない故障だけでなく、そのセンサ信号のレベルにより、半導体レーザ20の劣化度合いも判定することができる。図2は、図1のLSUを備えた画像形成装置で実施される検査方法の一例を説明するためのフロー図である。また、図3は、図2の検査方法における半導体レーザ検査を実施するタイミングの一例を説明するための図である。まず、ユーザ操作又は設定されたタイミングで、画像形成装置の制御部がLSUの通信チェックを行うステップS1。より具体的には、ステップS1において、このマシン画像形成装置にLSUが装着されているか否かをチェックする。ステップS1でYESの場合にはステップS3へ進み、NOの場合には表示部にエラー表示1を表示させステップS2、処理を終了する。このチェックでは、LSUの運搬時や取り付け時のLSU基板破損と、画像形成装置への装着時のコネクタ接触不良を想定しており、このエラー表示1としてはこのいずれかに該当するエラーであることを表示しておけばよい。制御部は、ステップS3において、ポリゴンモータが正常動作しているか否かの動作チェックを行う。ステップS3でYESの場合にはステップS5へ進み、NOの場合には表示部にエラー表示2を表示させステップS4、処理を終了する。このチェックでは、LSU運搬時の衝撃によりポリゴンモータが破損してしまうことを想定しており、このエラー表示2としては破損している旨を表示しておけばよい。ステップS5の処理として、制御部は、ポリゴンモータに停止励磁を加えることで、上述した所定の方向への調整を行う。その後、制御部は、半導体レーザ20の強制点灯を開始しステップS6、レーザ光を検知センサ27の検知面で検知したか否かを判定するステップS7。ステップS7でYESの場合にはステップS9へ進み、NOの場合には表示部にエラー表示3を表示させステップS8、その後、後述のステップS12へ進む。ステップS7のチェックでは、光軸ケラレ又はレーザ故障があることを想定しており、このエラー表示3としてはそのいずれかに該当するエラーであることを表示しておけばよい。ステップS9の処理として、制御部は、所定時間経過したか否かを判定する。この所定時間とは、半導体レーザ20の故障や劣化がセンサ信号により検知できる期間であればよい。例えば、図3には市場における半導体レーザの劣化トラブル件数と印刷枚数の関係の例を示しているが、5000枚の通常印刷6印字でのレーザ照射時間2分間の連続レーザ照射に相当を境に故障台数が減っていることから、この例ではこの境つまり開始から2分後で故障か否かを判定すればよい。このように、半導体レーザ検査を実施するタイミングの一例として、市場における半導体レーザの劣化トラブル件数と印刷枚数の関係を利用してもよい。次に制御部は、ステップS9でNOの場合にはYESとなるまで待ち、YESとなった時点で、ステップS7と同様にレーザ光を検知センサ27の検知面で検知したか否かを判定するステップS10。ステップS10でYESの場合には、半導体レーザ20の強制点灯を終了するステップS12。ステップS10でNOの場合には、表示部にエラー表示4を表示させステップS11、その後、ステップS12へ進む。ステップS10のチェックは、本発明の発光検査の主たる部分に該当し、レーザ故障があることを想定しており、このエラー表示4としてはそれに該当するエラーであることを表示しておけばよい。次に、ステップS5におけるポリゴンミラー10の反射面を所定の方向に調整する手法の一例を挙げる。このような調整のためには、ポリゴンミラー10の反射面の方向と、ポリゴンミラー10を回転させるモータポリゴンモータの回転子を停止させるための後述する所定の励磁パターンとに相関を持たせることが好ましい。ここで、モータとは固定子とそれらの固定子を励磁して回転させる回転子とを有し、ポリゴンミラー10に取り付けられている。また、上述したように検知センサ27を用いることから、LSUのポリゴンミラー10の停止位置がレーザ光が感光体ドラムに入射することが無い位置になるようにしてスクリーニングを行うことになる。その際、特別なシャッタ等を用いる必要がないように、モータを上記所定の励磁パターンで停止させたときに、ポリゴンミラー10の反射面の位置が感光体にレーザ光が入射せず検知センサ27に入射する位置に来るようにしておけばよい。図4は、図1の光走査ユニットにおけるポリゴンモータの一例を示す断面図で、モータの回転子とポリゴンミラーとの位置関係を示す図である。図4で例示するポリゴンミラー10には、モータとして3相2極のブラシレスDCモータが取り付けられた例に挙げている。図示したように、ポリゴンミラー10における6面ある反射面12同士がなす6角の付近のうち3箇所にモータの固定子13,14,15が取り付けられている。固定子13,14,15はそれぞれU,V,W相の固定子である。そして、ポリゴンミラー10に取り付けられたモータの中央部には、N極とS極とからなる回転子11が取り付けられている。このような3相2極のブラシレスDCモータの場合、例えば、モータのU相固定子13と多角形からなるポリゴンミラー10の頂点が合致するように調整しておけば、固定子13,14,15に所定の励磁パターンある停止励磁パターンを加える度にポリゴンミラー10の反射面は所定の方向で停止するように制御できる。つまり、上記所定の励磁パターンとは、固定子13,14,15を励磁して回転子11を停止させることが可能な励磁パターンを指す。このように、上記所定の励磁パターンとポリゴンミラー10の反射面の方向とに相関を持たせるために、ポリゴンミラー10をモータの回転子11に組み付ける時、モータの回転子のN極とS極の境界面の方向とポリゴンミラー10の反射面の方向とが所定の角度をなすようにしておけばよい。ここでも上述したように、モータを所定の停止励磁で停止させたときに、ポリゴンミラー10の反射面の位置が、感光体にレーザ光が入射せずつまり図4における印字エリアA内になく検知センサ27に入射する位置つまり非印字エリアに来るようにしておけばよい。なお、磁極数が増えたとしても、モータ中心軸を中心としてポリゴンミラー10は対称構造になっているため、対応は可能である。但し、ポリゴンミラー10の面数が奇数の場合、3以上の磁極数では対応できないため、極数を2にする必要がある。図5は、図1の光走査ユニットにおけるポリゴンモータ及びその駆動の一例を説明するための図で、図5Aは3相ブラシレスDCモータの簡略回路図、図5Bはそのモータのスイッチングシーケンスを示す図である。図5Aで例示するポリゴンミラー10の回路は、主にモータ巻線31とそれに電力を供給するパワー回路32とを備える。図5の例でも、図4で例示したものと同様の3相ブラシレスDCモータを挙げているが、これに限ったものではない。パワー回路32は、トランジスタTr1~Tr6を有し、トランジスタTr1~Tr6を、それぞれ図5Bのスイッチングパターン一覧33におけるスイッチングパターンi~viに基いてON/OFFさせることによって、電気角で1回転分に相当する励磁パターンを生成する。モータ巻線31で示すi~viは、それぞれこれらスイッチングパターンi~viに従ってON/OFFすることで流れる電流の方向を示している。そして、i~viのいずれかをセレクトすることによって、電気角で60=360/6度毎の任意の位置に回転子を停止させることが可能になる。ここで、回転子の回転角の位置は上述したようにN極とS極との境界面の方向で特定でき、ポリゴンミラー10の反射面の方向としても特定できる。但し、このままでは60度刻みでしか位置制御できないため、デューティ制御を用いる。例えば、スイッチングパターンiとiiを1:1の時間比率で高速スイッチングさせると、iの停止位置とiiの停止位置との中間でポリゴンミラー10の回転子を停止させることができる。そして時間比率を変えることで、任意の位置に停止させることもできる。従って、検知センサ27での検知を行うときのスイッチングパターン及びデューティ値を、制御部の内部又は外部に別途設けた記憶部に記憶させておけば、上記所定の方向で停止させることが可能となる。この記憶部としては、EEPROMElectricallyErasableProgrammableReadOnlyMemoryなど、様々な不揮発性メモリが利用できる。このように、ポリゴンミラー10の反射面の方向と上記所定の励磁パターンとの相関関係を記憶した記憶部を備えることでも、上記所定の励磁パターンとポリゴンミラー10の反射面の方向とに相関を持たせることはできる。なお、図5で説明したような相関関係を記憶する例は、図4で説明した、モータの回転子のN極とS極の境界面の方向とポリゴンミラー10の反射面の方向とが所定の角度をなすようにモータをポリゴンミラー10に取り付けた例と併せて適用してもよいが、適用せずに単独でも記憶された相関関係に沿った制御は可能であるため問題ない。以上、本発明に係る画像形成装置について説明したが、その処理の流れを説明したように、本発明は、画像形成装置における半導体レーザ検査方法としての形態も採ることができる。この半導体レーザ検査方法は、ユーザ操作により、若しくは設定されたタイミングで、LSUに設けられたポリゴンミラーの反射面の方向を、その反射面で反射したレーザ光が非印字エリアに照射するような所定の方向になるように調整してから、半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査工程を有する。そして、この検査工程は、レーザ光の被走査体上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する検知センサで、ポリゴンミラーの反射面で反射したレーザ光が検知されるように、ポリゴンミラーの反射面の方向の調整を行う。その他の応用例については画像形成装置について説明した通りであり、その説明を省略する。"