ディスプレイにおける有機発光デバイスOLEDベースのピクセルのエージングの補償のために特性相関曲線を決定する方法であって、基準デバイスへ第1のストレス状態を与えるステップと、前記基準デバイスのベースライン光学的特性とベースライン電気的特性とを記憶するステップと、前記基準デバイスの電気的特性を決定するために基準電流に基づく出力電圧を周期的に測定するステップと、前記基準デバイスの光学的特性を決定するために基準ピクセルの輝度を周期的に測定するステップと、前記基準デバイスの前記ベースライン光学的特性および前記ベースライン電気的特性と、決定された前記電気的特性および前記光学的特性とに基づいて前記第1のストレス状態に対応する特性相関曲線を決定するステップと、前記第1のストレス状態に対応する前記特性相関曲線を記憶するステップとを備える方法。請求項1に記載の方法であって、前記基準デバイスは、OLEDおよび駆動トランジスタを含むピクセルであり、前記ベースライン電気的特性は、前記駆動トランジスタおよび前記OLEDの特性を測定して決定される、方法。請求項2に記載の方法であって、複数の基準ピクセルへ前記第1のストレス状態を与えるステップであって、それぞれの基準ピクセルが駆動トランジスタおよびOLEDを有するものである、ステップとそれぞれの前記基準ピクセルの電気的特性を決定するために基準電流に基づく出力電圧を周期的に測定するステップと、それぞれの前記基準ピクセルの光学的特性を決定するためにそれぞれの前記基準ピクセルの輝度を周期的に測定するステップと、前記特性相関曲線を決定するために、前記複数の基準ピクセルの各基準ピクセルの前記電気的特性および前記光学的特性の平均を求めるステップとを更に備える方法。請求項3に記載の方法であって、前記特性相関曲線を決定するために、前記複数の基準ピクセルの各基準ピクセルの前記電気的特性および前記光学的特性の重み付き平均を適用するステップを更に備える方法。請求項1に記載の方法であって、OLEDを有する第2の基準ピクセルへ第2のストレス状態を与えるステップと前記第2の基準ピクセルのベースライン光学的特性とベースライン電気的特性とを記憶するステップと、前記第2の基準ピクセルの電気的特性を決定するために基準電流に基づく出力電圧を周期的に測定するステップと、前記第2の基準ピクセルの光学的特性を決定するために基準ピクセルの輝度を周期的に測定するステップと、前記第2の基準ピクセルの前記ベースライン光学的特性および前記ベースライン電気的特性と、決定された前記電気的特性および前記光学的特性とに基づいて前記第2のストレス状態に対応する第2の特性相関曲線を決定するステップと、前記第2のストレス状態に対応する前記第2の特性相関曲線を記憶するステップとを更に備える方法。請求項5に記載の方法であって、ディスプレイのアクティブピクセルへのストレス状態を決定するステップであって、前記ストレス状態は前記第1のストレス状態と前記第2のストレス状態との間のものである、ステップと、前記第1の基準ピクセルと前記第2の基準ピクセルとに対応する前記第1の特性相関曲線と前記第2の特性相関曲線との関数として補償ファクタを決定するステップと、エージングの影響に対する補償のために前記アクティブピクセルに対して前記補償ファクタによりプログラミング電圧を変更するステップと、を更に備える方法。請求項6に記載の方法であって、前記補償ファクタは、前記アクティブピクセルへの以前に決定されたストレス状態に平均補償ファクタを乗算したものに基づいて決定され、前記平均補償ファクタは、前記第1の特性相関曲線と前記第2の特性相関曲線との間の差の関数である、方法。請求項7に記載の方法であって、前記平均補償ファクタは時間の関数として増加される、方法。請求項7に記載の方法であって、前記補償ファクタは以前に決定された補償ファクタに基づいて決定される、方法。請求項6に記載の方法であって、前記基準デバイスはディスプレイ上にある、方法。請求項6に記載の方法であって、前記基準デバイスはスタンドアローンのデバイスである、方法。請求項1に記載の方法であって、前記基準デバイスの前記ベースライン光学的特性および前記ベースライン電気的特性は、前記基準デバイスの製作直後に前記基準デバイスから測定される、方法。請求項1に記載の方法であって、前記基準デバイスの前記ベースライン光学的特性および前記ベースライン電気的特性は、ベースデバイスの周期的測定から決定される、方法。請求項13に記載の方法であって、前記ベースデバイスは既知のレベルでストレスが与えられる、方法。請求項1に記載の方法であって、前記輝度特性は前記基準ピクセルに近接した光センサにより測定される、方法。エージングの影響の補償を行うディスプレイシステムであって、イメージを表示する複数のアクティブピクセルであって、各アクティブピクセルが駆動トランジスタと有機発光ダイオードOLEDとを含むものである、アクティブピクセルと、第1の予め定めたストレス状態に対する第1の特性相関曲線と、第2の予め定めたストレス状態に対する第2の特性相関曲線とを記憶するメモリと、前記複数のアクティブピクセルと結合されるコントローラであって、コントローラは、前記アクティブピクセルの1つのアクティブピクセルへのストレス状態を決定するものであり、前記ストレス状態は、前記第1の予め定めたストレス状態と前記第2の予め定めたストレス状態との間にあり、かつコントローラは、前記第1の予め定めたストレス状態の特性相関曲線と前記第2の予め定めたストレス状態の特性相関曲線とに基づいてプログラミング電圧へ適用する補償ファクタを決定するものである、コントローラとを備えるディスプレイシステム。請求項16に記載のディスプレイシステムであって、駆動トランジスタとOLEDとを含む第1の基準ピクセルと、駆動トランジスタとOLEDとを含む第2の基準ピクセルとを更に備え、前記第1の特性相関曲線は、前記第1の予め定めたストレス状態のもとにある前記第1の基準ピクセルから決定される電気的特性および光学的特性に基づいて決定され、前記第2の特性相関曲線は、前記第2の予め定めたストレス状態のもとにある前記第2の基準ピクセルから決定される電気的特性および光学的特性に基づいて決定される、ディスプレイシステム。請求項17に記載のディスプレイシステムであって、複数の光センサを更に備え、各光センサは1つの基準ピクセルに対応する、ディスプレイシステム。請求項16に記載のディスプレイシステムであって、前記メモリは、前記第1の特性相関曲線および前記第2の特性相関曲線をルックアップテーブルの形で記憶する、ディスプレイシステム。請求項16に記載のディスプレイシステムであって、前記メモリは、前記第1の特性相関曲線および前記第2の特性相関曲線を区分線形モデルの形で記憶する、ディスプレイシステム。請求項16に記載のディスプレイシステムであって、前記補償ファクタは、係数を前記アクティブピクセルの年齢の関数として調節することにより、動的移動平均により決定される、ディスプレイシステム。請求項16に記載のディスプレイシステムであって、前記補償ファクタは、以前の時間期間に決定された前記補償ファクタと、予め定めた前記特性相関曲線へ適用される現在の前記ストレス状態からの電気的変化とにより決定される、ディスプレイシステム。ディスプレイのOLEDデバイスに関する特性相関曲線を決定する方法であって、予め定めた高ストレス状態での第1の基準ピクセルのグループに基づく第1の特性相関曲線を記憶するステップと、予め定めた低ストレス状態での第2の基準ピクセルのグループに基づく第2の特性相関曲線を記憶するステップと、前記高ストレス状態と前記低ストレス状態との間にあるアクティブピクセルのストレスレベルを決定するステップと、前記アクティブピクセルへの前記ストレスに基づいて補償ファクタを決定するステップであって、前記補償ファクタは、前記アクティブピクセルへの前記ストレスと、前記第1の特性相関曲線および前記第2の特性相関曲線とに基づくものである、ステップと、前記特性相関曲線に基づいて前記アクティブピクセルへのプログラミング電圧を調節するステップとを備える方法。請求項23に記載の方法であって、前記第1の特性相関曲線は、前記第1の基準ピクセルのグループの特性の平均に基づいて決定される、方法。請求項23に記載の方法であって、前記補償ファクタは、前記アクティブピクセルへの以前に決定されたストレス状態に平均補償ファクタを乗算したものに基づいて決定され、前記平均補償ファクタは、前記第1の特性相関曲線と前記第2の特性相関曲線との間の差の関数である、方法。請求項23に記載の方法であって、前記平均補償ファクタは時間の関数として増加される、方法。請求項23に記載の方法であって、前記補償ファクタは以前に決定された補償ファクタに基づいて決定される、方法。0019本発明は様々な変更や代替的形態が可能であるが、ここでは、例として図面に特定の実施形態を示して詳細に説明する。しかしながら、本発明は、ここで開示する特定の形態に限定することを意図していないことを理解すべきである。むしろ、本発明は、特許請求の範囲で定義した本発明の精神および範囲の中にある全ての変更形態、等価形態、および代替的形態を網羅する。0020図1は、アクティブマトリクスエリア、即ち、ピクセルアレイ102を有する電子ディスプレイシステム100を示し、アクティブマトリクスエリアでは、アクティブなピクセルアクティブピクセル104のアレイが行と列との構成に配されている。例示を容易にするために、2つの行と列とのみが示されている。この例ではピクセルアレイ102であるアクティブマトリクスエリアの外側は周辺エリア106であり、このエリアには、ピクセルアレイ102のエリアの駆動および制御のための周辺回路が配されている。周辺回路は、ゲート即ちアドレスドライバ回路108、ソース即ちデータドライバ回路110、コントローラ112、およびオプションの供給電圧例えば、EL_Vddドライバ114を含む。コントローラ112は、ゲート、ソース、および供給電圧のドライバ108、110、および114を制御する。ゲートドライバ108は、コントローラ112の制御のもとで、ピクセルアレイ102のピクセル104の各行に1つが対応するアドレス即ち選択線SEL[i]、SEL[i1]などに対しての動作を行う。以下で説明するピクセル共有構成では、ゲート即ちアドレスドライバ回路108はまた、オプションとして、グローバル選択線GSEL[j]および/GSEL[j]に対しての動作を行うことができ、これらは、ピクセル104の2行ずつなどのように、ピクセルアレイ102のピクセル104の複数の行に対して動作を行う。ソースドライバ回路110は、コントローラ112の制御のもとで、ピクセルアレイ102のピクセル104の各列に1つが対応する電圧データ線Vdata[k]、Vdata[k1]などに対しての動作を行う。電圧データ線は、ピクセル104の各発光デバイスの明るさを示す電圧プログラミング情報を各ピクセル104へ搬送する。各ピクセル104のキャパシタなどのような記憶エレメントは、放出即ち駆動サイクルが発光デバイスをオンにするまで、電圧プログラミング情報を記憶する。オプションの供給電圧ドライバ114は、コントローラ112の制御のもとで、ピクセルアレイ102のピクセル104の各行に1つが対応する供給電圧EL_Vdd線を制御する。また、コントローラ112はメモリ118と結合され、メモリ118は、ピクセル104のエージングのパラメータおよび様々な特性相関曲線を記憶するが、これについては後に説明する。メモリ118は、フラッシュメモリ、SRAM、DRAM、これらの組み合わせ、およびこれらと同様のもののうちの1以上のものであり得る。0021また、ディスプレイシステム100は、電流バイアス線へ固定電流を供給する電流源回路を含むことができる。幾つかの構成では、電流源回路へ基準電流を供給することができる。そのような構成では、電流源制御は、電流バイアス線へのバイアス電流の印加のタイミングを制御する。電流源回路へ基準電流が供給されない構成では、電流源アドレスドライバが、電流バイアス線へのバイアス電流の印加のタイミングを制御する。0022知られているように、ディスプレイシステム100の各ピクセル104は、ピクセル104内の発光デバイスの明るさ明度を示す情報でプログラムされる必要がある。フレームは時間期間を定めるものであり、これは、プログラミングのサイクル即ちフェーズと、駆動即ち放出のサイクル即ちフェーズとを含み、プログラミングサイクルの間には、ディスプレイシステム100の全てのピクセルのそれぞれが、明度を示すプログラミング電圧でプログラムされ、駆動サイクルの間には、各ピクセルの各発光デバイスがオンにされて、記憶エレメントに記憶されたプログラミング電圧に対応する明度で光を発する。従って、フレームは、ディスプレイシステム100で表示される完全な動画を構成する多くの静止イメージのうちの1つである。ピクセルのプログラミングおよび駆動には少なくとも2つのスキームがあり、それら2つは、ローバイローrowbyrow、行毎とフレームバイフレームframebyframe、フレーム毎とである。ローバイローのプログラミングでは、ピクセルの1つの行は、プログラミングされ、次いで、ピクセルの次の行がプログラミングされ駆動される前に、駆動される。フレームバイフレームのプログラミングでは、ディスプレイシステム100のピクセルの全ての行が最初にプログラミングされ、フレームの全てが行毎に駆動される。何れのスキームも、ピクセルがプログラミングも駆動もされない各期間の開始時または終了時に短い垂直ブランキング時間を用いることができる。0023ピクセルアレイ102の外側に位置するコンポーネントは、ピクセルアレイ102が配されるのと同じ物理的基板上の、ピクセルアレイ102の周りの周辺エリア106に配することができる。それらのコンポーネントは、ゲートドライバ108、ソースドライバ110、およびオプションの供給電圧制御部114を含む。代替例としては、周辺エリアのコンポーネントの幾つかのものをピクセルアレイ102と同じ基板に配し、その他のコンポーネントを別の基板に配することや、周辺エリアの全てのコンポーネントを、ピクセルアレイ102の配される基板とは別の基板に配することもできる。ゲートドライバ108と、ソースドライバ110と、供給電圧制御部114とが共になってディスプレイドライバ回路を構成する。ディスプレイドライバ回路は、幾つかの構成では、ゲートドライバ108およびソースドライバ110を含むが、供給電圧制御部114を含まない。0024ディスプレイシステム100は更に電流供給および読み出し部120を含み、データ出力線VD[k]、VD[k1]などからの出力データを読み出すものであり、ピクセルアレイ102のアクティブピクセル104の各列各コラムに1つのデータ出力線が対応する。基準ピクセル130などのようなオプションの基準デバイスの組は、周辺エリア106の、アクティブピクセル104の外側のピクセルアレイ102の縁部に作られる。また、基準ピクセル130は、コントローラ112から入力信号を受信することができ、電流供給および読み出し部120へデータ信号を出力することができる。基準ピクセル130は、駆動トランジスタおよびOLEDを含むが、イメージを表示するピクセルアレイ102の一部ではない。以下で説明するように、基準ピクセル130の様々なグループが、電流供給回路120からの様々な電流レベルを通じて、様々なストレス状態に置かれる。基準ピクセル130は、ピクセルアレイ102の一部ではなく、従ってイメージを表示しないので、基準ピクセル130は、様々なストレス状態でのエージングの影響を示すデータを提供することができる。図1では1つの行および列の基準ピクセル130のみが示されているが、任意の数の基準ピクセルを用いることが可能であることは理解されるであろう。図1で示す例での基準ピクセル130のそれぞれは、対応する光センサ132の隣に作られている。光センサ132は、対応する基準ピクセル130から放射される光の輝度レベルを求めるために用いられる。基準ピクセル130などのような基準デバイスは、アクティブピクセル104とともにディスプレイ上に作らずに、スタンドアローンのデバイスとすることもできる。0025図2は、図1の例示的な基準ピクセル130の1つに対するドライバ回路200の一例を示す。基準ピクセル130のドライバ回路200は、駆動トランジスタ202、有機発光デバイスOLED204、ストレージキャパシタ206、選択トランジスタ208、および監視トランジスタ210を含む。駆動トランジスタ202へは電圧源212が結合される。図2に示すように、駆動トランジスタ202は、この例では薄膜トランジスタであり、アモルファスシリコンから作られる。選択トランジスタ208へは選択線214が結合され、それによりドライバ回路200を作動させる。電圧プログラミング入力線216は、プログラミング電圧が駆動トランジスタ202へ印加されることを可能とする。監視線218は、OLED204および/または駆動トランジスタ202の出力が監視されることを可能とする。選択線214は選択トランジスタ208および監視トランジスタ210へ結合され、読み出し時間の間、選択線214はハイへと引き上げられる。プログラミング電圧は、プログラミング電圧入力線216を介して印加される。監視電圧は、監視トランジスタ210へ結合された監視線218から読み出される。選択線214への信号は、ピクセルプログラミングサイクルと並列に送ることができる。0026基準ピクセル130は、一定電圧をプログラミング電圧入力線216へ印加することにより、或る電流レベルでストレスが加えられる。以下で説明するように、プログラミング電圧入力線216へ印加される基準電圧に基づいて監視線218から測定される電圧出力は、基準ピクセル130の或る時間にわたっての動作に関しての印加されるストレス状態に対する電気的特性データを求めることを可能とする。代替例としては、監視線218とプログラミング電圧入力線216とを1つの線即ち、Data/Monに組み合わせて、1つの線によりプログラミング機能と監視機能との双方を行うようにすることができる。光センサ132の出力は、基準ピクセル130の或る時間にわたっての動作に関してのストレス状態に対する光学特性データを求めることを可能とする。0027例示的な実施形態によると、図1のディスプレイシステム100は、各ピクセルまたはサブピクセルの明るさは、システムの動作の寿命例えば、75000時間までにわたって実質的に均一な表示を維持るすために、少なくとも1つのピクセルのエージングに基づいて調節される。ディスプレイシステム100を組み込んだディスプレイデバイスの例としては、モバイル電話、デジタルカメラ、パーソナルデジタルアシスタントPDA、コンピュータ、テレビジョン、ポータブルビデオプレーヤ、グローバルポジショニングシステムGPSなどがあるが、これはディスプレイデバイスの限定を意図するものではない。0028アクティブピクセル104のOLED材料が老化すると、所与のレベルに関してOLEDを通る一定電流を維持するために必要な電圧が増加する。OLEDの電気的老化を補償するために、メモリ118は、一定電流を維持するために各アクティブピクセルの必要な補償電圧を記憶する。また、メモリは、様々なストレス状態に対する特性相関曲線の形態のデータを記憶する。このデータは、アクティブピクセル104の各OLEDを駆動するプログラミング電圧を変更するための補償電圧を求めるために、コントローラ112により使用されるものであり、その補償によりOLEDの電流を増加させて所望される輝度の出力レベルで正しく表示するようにさせることにより、OLEDの光学的老化を補償する。特定的には、メモリ118は、複数の予め定めた特性相関曲線または関数を記憶し、これらは、様々な予め定めたストレス状態のもとで動作するOLEDの輝度の効率の劣化を表す。様々な予め定めたストレス状態は、一般に、ピクセルの寿命までの間にアクティブピクセル104が受ける様々なタイプのストレスや動作状態を表す。様々なストレス状態は、低から高までの様々なレベルでの一定電流の要求や、低から高までの一定輝度の要求や、2以上のストレスレベルを混合したものを含み得る。例えば、ストレスレベルは、或る時間の或る割合について或る電流でのもの、および或る時間の別の割合について別の電流レベルでのものであり得る。他のストレスレベルは、ディスプレイシステム100に表示される平均ストリームビデオを表すレベルなどのように、専門化される。最初に、様々なストレス状態での、基準ピクセル130などのような基準デバイスのベースラインの電気的特性および光学的特性が、メモリ118へ記憶される。この例では、基準デバイスのベースライン光学的特性およびベースライン電気的特性は、基準デバイスを作った直後に基準デバイスから測定される。0029それぞれのそのようなストレス状態は、基準ピクセル130などのような基準ピクセルのグループへ与えられるものであり、それは、或る時間期間にわたって基準ピクセル130などのような基準ピクセルを流れる一定電流を維持すること、或る時間期間にわたって基準ピクセル130の一定輝度を維持すること、および/または或る時間期間にわたって様々な予め定めたレベルおよび予め定めた間隔で基準ピクセルを流れる電流または基準ピクセルの輝度を変化させることによりなされる。基準ピクセル130で生成された電流または輝度のレベル1または複数は、ディスプレイシステム100の使用が意図される特定の応用に関して予想される、例えば、高い値、低い値、および/または平均値であり得る。例えば、コンピュータのモニタ装置などでの応用では、高い値が要求される。同様に、基準ピクセルにおいて電流または輝度のレベル1または複数が生成される時間期間1または複数は、ディスプレイシステム100の使用が意図される特定の応用に依存し得る。0030予め定めたそれぞれのストレス状態のもとでのエージングの影響を複製するために、ディスプレイシステム100の動作中に、様々な予め定めたストレス状態が様々な基準ピクセル130へ適用されることが企図されている。言い換えると、第1の予め定めたストレス状態が第1組の基準ピクセルへ適用され、第2の予め定めたストレス状態が第2組の基準ピクセルへ適用され、以下同様に、ストレス状態が基準ピクセルへ適用される。この例では、ディスプレイシステム100は、ピクセルに対しての低い電流値から高い電流値までの範囲の16の様々なストレス状態のもとでストレスが加えられる基準ピクセル130のグループを有する。即ち、この例では、基準ピクセル130の16の異なるグループがある。当然ではあるが、望まれる補償の精度、周辺エリア106の物理的空間、使用可能な処理能力の大きさ、特性相関曲線データを記憶するメモリの容量などのような要因に依存して、これよりも多いまたは少ない数のストレス状態を適用することも可能である。0031基準ピクセルまたは基準ピクセルのグループへストレス状態を連続的に与えることにより、基準ピクセルのコンポーネントは、ストレス状態での動作状態に従って老化する。システム100の動作中に基準ピクセルへストレス状態が与えられると、アレイ102のアクティブピクセル104のエージングの補償のための相関曲線を求めるために、基準ピクセルの電気的特性および光学的特性が測定され評価される。この例では、光学的特性および電気的特性は、基準ピクセル130の各グループについて1時間に一度測定される。従って、対応する特性相関曲線が、基準ピクセル130の測定された特性に関して更新される。当然のことではあるが、これらの測定は、エージングの補償の精度に応じて、より短い期間で行うことも、より長い期間で行うことも可能である。0032一般に、OLED204の輝度は、OLED204へ印加される電流と直接的な線形の関係を有する。OLEDの光学的特性は以下のように表すことができる。L=O×I上記の式において、輝度Lは、OLEDの特性に基づく係数Oに、電流Iを乗算したものである。OLED204が老化すると、係数Oが低くなり、従って、一定電流値では輝度が低下する。従って、所与の電流で測定された輝度は、予め定めたストレス状態に関しての特定の時間での特定のOLED204についてのエージングに起因する係数Oにおける特性変化を求めるために、用いることができる。0033測定された電気的特性は、駆動トランジスタ202へ供給される電圧と、OLED204を流れる結果的な電流との間の関係を表す。例えば、一定電流レベルが基準ピクセルのOLEDを流れることを達成するために必要とされる電圧の変化は、電圧センサや、図2の監視トランジスタ210などのような薄膜トランジスタを用いて測定され得る。一般に、必要とされる電圧は、OLED204や駆動トランジスタ202が老化すると大きくなる。必要とされる電圧は、以下の式に示すような出力電流とのベキ乗則の関係を有する。I=k×V-ea上記の式において、電流は、入力電圧Vから駆動トランジスタ202の電気的特性を表す係数eを減算した値と、定数kとを乗算することにより求められる。従って、電圧は、電流Iに対して、変数aによるベキ乗則の関係を有する。トランジスタ202が老化すると、係数eが増加し、従って、同じ電流を生成するためには、より高い電圧が必要となる。従って、基準ピクセルからの測定された電流は、特定の基準ピクセルへ与えられるストレス状態に関しての、特定の時間での特定の基準ピクセルに対する係数eの値を求めるために使用される。0034説明したように、光学的特性Oは、光センサ132により測定された基準ピクセル130のOLED204により生成された輝度と、図2のOLED204を流れる電流との間の関係を表す。測定された電気的特性eは、印加される電圧と結果的な電流との間の関係を表す。ベースライン光学的特性からの、一定電流レベルでの基準ピクセル130の輝度の変化は、ストレス状態が基準ピクセルへ与えられているときに図1の光センサ132などのような光センサにより測定される。ベースライン電気的特性からの電気的特性eの変化は、電流出力を求めるために監視線から測定することができる。ディスプレイシステム100の動作中に、ストレス状態の電流レベルは、基準ピクセル130へ連続的に印加される。測定が望まれるとき、ストレス状態の電流は取り除かれ、選択線214が作動される。基準電圧が印加され、結果として得られる輝度レベルが光センサ132の出力から得られ、出力電圧が監視線218から測定される。得られたデータは、以前の光学的データおよび電気的データと比較され、エージングからの特定のストレス状態に関する電流出力および輝度出力の変化が求められ、そのストレス状態での基準ピクセルの特性が更新される。更新された特性データは、特性相関曲線を更新するために用いられる。0035次に、基準ピクセルから測定された電気的特性および光学的特性を用いて、或る時間にわたってのその予め定めたストレス状態に関する特性相関曲線または関数が求められる決定される。特性相関曲線は、ストレス状態のもとにある所与のピクセルに関して予測される光学的劣化と電気的エージングとの間の定量化可能な関係を提供する。より特定的には、特性相関曲線の各点は、基準ピクセル130から測定値が得られた所与の時間におけるストレス状態のもとでの所与のピクセルのOLEDの電気的特性と光学的特性との間の相関を決定する。次に、特性はコントローラ112により用いられて、基準ピクセル130へ与えられたストレス状態と同じストレス状態のもとで老化しているアクティブピクセル104に対する適切な補償電圧が決定される。別の例では、基準ピクセルのOLEDの光学的特性が測定されるのと同時に、ベースOLEDデバイスからベースライン光学的特性が周期的に測定される。ベースOLEDデバイスは、ストレスを与えられていないか、または既知の制御されたレートでストレスを与えられている。これは、基準OLED特性への環境的影響を除去する。0036製造プロセスおよび当業者に知られた他の要因により、ディスプレイシステム100の各基準ピクセル130は均一の特性を持たない場合もあり、結果として、発光の性能が異なる場合もある。1つの技法は、予め定めたストレス状態のもとで1組の基準ピクセルから得られた電気的特性の値と輝度特性の値とを平均することである。平均ピクセルでのストレス状態の影響をより良く表す表現は、基準ピクセル130の組へストレス状態を適用し、そして、基準ピクセルへストレス状態を適用している間に起こり得る欠陥、測定ノイズ、および他の問題を避けるようにポーリング平均技法pollingaveragingtechniqueを適用することにより、得られる。例えば、ノイズや不動の基準ピクセルに起因した誤った値は、平均化するときに取り除かれる。このような技術は、それらの値を平均の計算に含める前に、それらの値が適合しなければならない予め定めたレベルの輝度特性および電気的特性を有する。また、更に、統計学的回帰技法を使用して、所与のストレス状態のもとでの基準ピクセルに関する他の測定値と大きく異なる電気的特性値および光学的特性値へ、低い重みを提供することもできる。0037この例では、それぞれのストレス状態は、それぞれに異なる基準ピクセル組へ適用される。基準ピクセルの光学的特性および電気的特性が測定され、ポーリング平均技法および/または統計学的回帰技法が適用され、それぞれのストレス状態に対する様々な特性相関曲線が決定される。様々な特性相関曲線は、メモリ118へ記憶される。この例では、相関曲線を求めるために基準デバイスを用いるが、相関曲線は、他の方法により決定することも可能であり、例えば、履歴データにより求めることや、製造者により予め定めることなども可能である。0038ディスプレイシステム100の動作中、基準ピクセル130の各グループにはそれぞれに対するストレス状態が与えられ、メモリ118へ最初に記憶された特性相関曲線が、アクティブピクセル104と同じ外部状態を適用される基準ピクセル130から取られたデータを反映するように、コントローラ112により更新される。従って、特性相関曲線は、ディスプレイシステム100の動作中に基準ピクセル130の電気的特性および輝度特性に関して行われた測定に基づいて、アクティブピクセル104のそれぞれに対して調整される。従って、それぞれのストレス状態に関する電気的特性および輝度特性は、ディスプレイシステム100の動作中にメモリ118へ記憶され更新される。データの記憶は、区分線形モデルpiecewiselinearmodelで行われる。この例では、このような区分線形モデルは16の係数を有し、これらは、電圧特性および輝度特性に関して基準ピクセル130に対する測定が行われると更新される。代替例として、曲線は、線形回帰を用いることや、メモリ118のルックアップテーブルへデータを記憶することにより、決定および更新することができる。0039全ての考えられ得るストレス状態に対する特性相関曲線を生成および記憶することは、大量の資源例えば、メモリ装置、処理能力などを必要とするので、実用的ではない。ここで開示するディスプレイシステム100は、予め定めたストレス状態での個別の離散した数の特性相関曲線を決定および記憶し、次いで、線形または非線形のアルゴリズム1または複数を用いて、予め定めた特性相関曲線を組み合わせ、ディスプレイシステム100の各ピクセル104に対する補償ファクタを、各ピクセルの特定の動作状態に応じて合成することにより、このような制限を克服する。説明したように、この例では、16の異なる予め定めたストレス状態という範囲があり、従って、16の異なる特性相関曲線がメモリ118へ記憶される。0040それぞれのピクセル104について、ディスプレイシステム100は、ピクセル104へ与えられているストレス状態を分析し、パネルピクセルの測定された電気的エージングおよび予め定めた特性相関曲線に基づいて、アルゴリズムを用いて補償ファクタを決定する。次に、ディスプレイシステム100は、補償ファクタに基づいてピクセルへ電圧を提供する。従って、コントローラ112は、特定のピクセル104のストレスを決定し、そして、最も近い2つの予め定めたストレス状態と、特定のピクセル104のストレス状態に関しての、それらの2つの予め定めたストレス状態での基準ピクセル130から得た付随する特性データとを決定する。従って、アクティブピクセル104のストレス状態は、低い予め定めたストレス状態と、高い予め定めたストレス状態との間のものとなる。0041特性相関曲線を組み合わせるための線形および非線形の式の以下に示す例は、開示を容易にするために、2つの予め定めた特性相関曲線に関して説明されている。しかし、特性相関曲線を組み合わせるための例示の技術において、任意の数の予め定めた特性相関曲線を用いることができることは、理解されるであろう。2つの例示の特性相関曲線は、高いストレス状態に対して決定された第1の特性相関曲線と、低いストレス状態に対して決定された第2の特性相関曲線とを含む。0042様々なレベルにわたっての様々な特性相関曲線を使用する能力は、予め定めたストレス状態が基準ピクセル130へ与えられる場合よりも、様々なストレス状態にさらされるアクティブピクセル104に対する正確な補償を提供する。図3は、或る時間にわたって放出される光の輝度レベルを示すアクティブピクセル104に対しての或る時間にわたっての様々なストレス状態を示すグラフである。第1の時間期間の間、アクティブピクセルの輝度はトレース302で表され、これは、300ニトcd/cm2と500ニトとの間の輝度を示す。従って、トレース302の間にアクティブピクセルへ与えられるストレス状態は、比較的高い。第2の時間期間において、アクティブピクセルの輝度はトレース304で表され、これは、300ニトと100ニトとの間の輝度を示す。従って、トレース304の間のストレス状態は第1の時間期間のものよりも低く、この時間期間のピクセルのエージングの影響は、高ストレス状態のときとは異なる。第3の時間期間において、アクティブピクセルの輝度はトレース306で表され、これは、100ニトと0ニトとの間の輝度を示す。この時間期間のストレス状態は第2の時間期間のものよりも低い。第4の時間期間において、アクティブピクセルの輝度はトレース308で表され、これは、400ニトと500ニトとの間の高い輝度に基づくと、高ストレス状態へ戻ったことを示す。0043制限された数の基準ピクセル130および対応する制限された数のストレス状態は、各アクティブピクセル104の特定のストレス状態に対して平均または連続移動平均を使用することを必要とする。特定のストレス状態は、幾つかの基準ピクセル130からの特性相関曲線の線形的組み合わせとして、各ピクセルに関してマップされる。予め定めたストレス状態での2つの特性相関曲線の組み合わせは、それらのストレス状態の間で発生する全てのストレス状態に対する正確な補償を可能とする。例えば、高ストレス状態と低ストレス状態とに対する2つの基準の特性相関曲線は、2つの基準の曲線の間のストレス状態を有するアクティブピクセルに対しての近い特性相関曲線を決定することを、可能とする。メモリ118に記憶された第1の基準の特性相関曲線と第2の基準の特性相関曲線とは、重み付き移動平均weightedmovingaverageアルゴリズムを用いてコントローラ112により組み合わされる。アクティブピクセルに対する或る時間Sttiにおけるストレス状態は、下記の式により表すことができる。St=×kavgL/上記の式において、Stti-1は、以前の時間でのストレス状態であり、kavgは、移動平均の定数である。Ltiは、前記の或る時間におけるアクティブピクセルの測定された輝度であり、これは下記の式により決定することができる。L=Lpeak/gpeakγ上記の式において、Lpeakは、ディスプレイシステム100の設計において許容される最高の輝度である。変数Gtiは、測定時のグレイスケール値である。gpeakは、使用する最高のグレイスケール値例えば、255であり、γは、ガンマ定数である。予め定めた高ストレス状態と低ストレス状態との特性相関曲線を用いる重み付き移動平均アルゴリズムは、下記の式を用いて補償ファクタKcompを決定することができる。Kcomp=KhighfhighKlowflow上記の式において、fhighは、予め定めた高ストレス状態に対する特性相関曲線に対応する第1の関数であり、flowは、予め定めた低ストレス状態に対する特性相関曲線に対応する第2の関数である。ΔIは、固定電圧入力に対してのOLEDの電流の変化であり、これは、特定の時間に測定されたエージングの影響に起因する変化電気的劣化を示す。電流の変化を、固定電流に対する電圧の変化ΔVへと置き換えられ得ることは、理解されるであろう。Khighは、高ストレス状態に対する特性相関曲線へ割り当てられる重み付けされた変数であり、Klowは、低ストレス状態に対する特性相関曲線へ割り当てられる重みである。重み付けされた変数KhighおよびKlowは、下記の式から求めることができる。Khigh=St/LhighKlow=1-Khigh上記の式において、Lhighは、高ストレス状態と関連させられた輝度である。0044動作中の任意の時間でのアクティブピクセルの電圧または電流の変化は、電気的特性の変化を表し、高およひ低のストレス状態に対する関数の一部としての電流の変化は、光学的特性の変化を表す。この例では、高ストレス状態での輝度、ピーク輝度、および平均補償ファクタ2つの特性相関曲線の間の差の関数Kavgは、アクティブピクセルのそれぞれに対する補償ファクタを決定するためにメモリ118に記憶される。追加の変数もメモリ118に記憶され、それらは、ディスプレイシステム100で許容される最大輝度値に対するグレイスケール値例えば、255を含むが、追加の変数はこれに限定されるものではない。更に、平均補償ファクタKavgは、ストレス状態を基準ピクセルへ与えている間に得られたデータから経験的に決定することができる。0045従って、ディスプレイシステム100の任意のピクセル104の光学的劣化と電気的老化との間の関係は、様々なストレス状態に起因する特性相関曲線における逸脱divergence、発散と関連するエラーを避けるために、調整することができる。記憶される特性相関曲線の数もまた、要求される補償レベルに関して平均化技法が十分な精度を持つ、という信頼を提供できる数へと最小化することができる。0046補償ファクタKcompは、アクティブピクセルに対するプログラミング電圧を調節するために、OLEDの光学的効率のエージングの補償のために使用することができる。アクティブピクセルへのストレス状態に対する適切な補償ファクタを決定するための別の技法は、動的移動平均dynamicmovingaveragingと呼ばれるものである。動的移動平均技法は、ディスプレイ出力における歪みを避けるために、異なる予め定めたストレス状態での2つの特性相関曲線における逸脱を補償するように、ディスプレイシステム100の寿命までの間に移動平均係数Kavgを変えることを含む。アクティブピクセルのOLEDが老化すると、異なるストレス状態にある2つの特性相関曲線の間の逸脱は増加する。従って、ディスプレイシステム100の寿命までの間にKavgが増加させられ、2つの予め定めたストレス状態の間にあるストレス状態を有するアクティブピクセルに対する2つの曲線の間での鋭い遷移を避けるようにされる。電流における測定された変化ΔIは、補償ファクタを決定するためのアルゴリズムの性能を改善するために、Kavgを調節するために使用することができる。0047補償プロセスを性能を改善する別の技法はイベントベースの移動平均と呼ばれるものであり、これは、それぞれのエージング段階の後にシステムをリセットするものである。この技法は、それぞれのアクティブピクセル104のOLEDに対する特性相関曲線の抽出を更に改善する。ディスプレイシステム100は、それぞれのエージング段階の後にまたはユーザがディスプレイシステム100をターンオンまたはオフした後にリセットされる。この例では、補償ファクタKcompは下記の式により決定される。Kcomp=KcompevtKhigh-fhighKlow-flow上記の式において、Kcompevtは、以前の時間に計算された補償ファクタであり、ΔIevtは、固定電圧での前記の以前の時間の間のOLED電流における変化である。他の補償の決定の技法と同様に、電流の変化は、固定電流のもとでのOLED電圧の変化と置き換えることができる。0048図4は、様々な技法に基づく様々な特性相関曲線を示すグラフである。グラフ400は、所与の電流を生成するために必要なアクティブピクセルのOLEDの電圧の変化と、光学的補償のパーセンテージの変化とを比較するものである。グラフ400に示すように、高ストレスの予め定めた特性相関曲線402は、アクティブピクセルのエージングを反映する電圧における変化が大きくなるほど、低ストレスの予め定めた特性相関曲線404から逸脱する。1組の点406は、電圧における様々な変化でのアクティブピクセルの電流の補償のために、予め定めた特性相関曲線402および404から移動平均技法により決定された相関曲線を表す。エージングを反映して電圧の変化が増加すると、相関曲線406の遷移は、低い特性相関曲線404と高い特性相関曲線402との間で鋭い遷移となる。1組の点408は、動的移動平均技法により決定された特性相関曲線を表す。1組の点410は、イベントベースの移動平均技法により決定された補償ファクタを表す。OLEDの効率の低下に対する補償を改善するために、OLEDの挙動に基づいて上記の技法の1つを用いることができる。0049説明したように、第1組のサンプルピクセルの電気的特性が測定される。例えば、第1組のサンプルピクセルのそれぞれのピクセルの電気的特性は、各ピクセルと接続された薄膜トランジスタTFTにより測定することができる。代替例としては、例えば、光学的特性例えば、輝度を、第1組のサンプルピクセルの各ピクセルに対して提供される光センサにより測定することができる。各ピクセルの明るさにおいて必要とされる変化量は、1または複数のピクセルの電圧のシフト変化から抽出することができる。これは、ピクセルへ供給される電圧または電流におけるシフトの間、および/またはそのピクセルの発光材料の明るさの間の相関を決定する一連の計算により、実現することができる。0050アレイ内のピクセルのエージングに対する補償のために特性相関曲線を抽出する上記の方法は、図1のコントローラ112のような処理デバイスや、同様の他のデバイスにより行うことができ、これらのデバイスは、コンピュータ、ソフトウェア、およびネットワーク技術の分野の当業者には理解できる本明細書で開示され例示された教示に従ってプログラムされる汎用コンピュータシステム、マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ、マイクロコントローラ、特定用途向け集積回路ASIC、プログラマブル論理デバイスPLD、フィールドプログラマブル論理デバイスFPLD、フィールドプログラマブルゲートアレイFPGAなどのうちの1または複数のものりより好都合に実現することができる。0051更に、2以上のコンピュータシステムやデバイスを、上記のコントローラのうちの任意の1つのものに代えて用いることもできる。従って、ここで説明したコントローラのロバスト性や性能を向上させるために、望まれる場合には、冗長型や複製型などのような分散型の処理の原理および利点も実現することが可能である。0052エージングの補償を行う方法の例示の特性相関曲線に関する動作は、機械読取可能な命令を用いて行うことができる。それらの例では、機械読取可能な命令は、aプロセッサ、bコントローラ、および/またはc1以上の他の適切な処理デバイスにより実行されるアルゴリズムを含む。アルゴリズムは、例えば、フラッシュメモリ、CD-ROM、フロッピー登録商標ディスク、ハードドライブ、デジタルビデオバーサタイルディスクDVD、または他のメモリデバイスなどのような実体的な媒体に記録されるソフトウェアに埋め込むことができる。しかし、アルゴリズムの全体および/または一部を、プロセッサ以外のデバイスにより実行することができること、および/または既知の様式でファームウェアや専用ハードウェアへ埋め込むことができることは、当業者には容易に理解できるであろう。例えば、特定用途向け集積回路ASIC、プログラマブル論理デバイスPLD、フィールドプログラマブル論理デバイスFPLD、フィールドプログラマブルゲートアレイFPGA、個別のロジックなどで実現することができる。例えば、エージングの補償のための方法の特性相関曲線の成分の何れかまたは全ては、ソフトウェア、ハードウェア、および/またはファームウェアで実現できる。また、表される機械読取可能な命令の幾つかまたは全てを手動で実現することもできる。0053図5は、図1のディスプレイシステム100などのようなディスプレイシステムのために特性相関曲線を決定および更新するプロセスのフロー図である。ストレス状態の選択は、アクティブピクセルに対する或る範囲のストレス状態を相関させるために十分なベースラインを提供するようになされる500。次に、ストレス状態のそれぞれに対して基準ピクセルのグループが選択される502。次に、各ストレス状態に対応する各グループの基準ピクセルは、対応するストレス状態でストレスが与えられ、ベースラインの光学的特性および電気的特性が記憶される504。周期的な間隔で、各グループの各ピクセルについての輝度レベルが測定され記憶される506。次に、各ストレス状態に対するピクセルグループの各ピクセルについて測定された輝度の平均を求めることにより、輝度特性が決定される508。各グループの各ピクセルの電気的特性が決定される510。グループ内の各ピクセルの平均が求められ、平均電気的特性が決定される512。次に、各グループに対する平均輝度特性および平均電気的特性を用いて、対応する予め定めたストレス状態に対しての特性相関曲線を更新する514。相関曲線が決定され更新されると、コントローラは、更新された特性相関曲線を用いて、様々なストレス状態にさらされているアクティブピクセルに対するエージングの影響に関する補償を行う。0054図6を参照すると、所与の時間にアクティブピクセルに対する補償ファクタを決定するための、図5のプロセスで得たディスプレイシステム100に対しての適切な予め定めた特性相関曲線を用いるプロセスを示すフロー図が示されている。アクティブピクセルにより放出された光の輝度は、最高の輝度とプログラミング電圧とに基づいて決定される600。以前のストレス状態、決定された輝度、および平均補償ファクタに基づいて特定のアクティブピクセルに対してストレス状態が測定される602。適切な予め定めたストレス特性相関曲線がメモリから読み出される604。この例では、2つの特性相関曲線が予め定めたストレス状態に対応し、アクティブピクセルの測定されたストレス状態は2つの特性相関曲線の間となる。次に、コントローラ112は、アクティブピクセルからの測定された電流または電圧の変化を用いて、予め定めたストレス状態のそれぞれから、係数を決定する606。次に、コントローラは、アクティブピクセルへのプログラミング電圧へ付加する補償電圧を計算するために、変更された係数を決定する608。決定されたストレス状態はメモリへ記憶される610。次に、コントローラ112は新たな補償ファクタを記憶し、この補償ファクタは、基準ピクセル130の測定の後の各フレーム期間の間にアクティブピクセルへのプログラミング電圧を変更するために適用される612。0055本発明の特定の実施形態、特徴、および応用を例示して説明したが、本発明はここに説明した構成そのものに限定されないこと理解されるであろう。また、特許請求の範囲で定めた本発明の精神および範囲から離れることなく、上記の説明から、様々な変更された形態、変化させた形態、変形させた形態は明らかである。