"自動試験システムを用いて電子機器を試験及び選別する、改良された方法であって、前記自動試験システムは、前記電子機器を搬送するためのトラックを有し、前記改良は、前記トラックにすべて隣接する、第1の試験ステーションと第2の試験ステーションと第1の選別ステーションと第2の選別ステーションとを前記自動試験システムに設け、前記トラックを用いて前記第1の試験ステーションに隣接する位置に前記電子機器の第1の部分を搬送し、前記トラックを用いて前記第2の試験ステーションに隣接する位置に前記電子機器の第2の部分を搬送し、前記電子機器の前記第1及び第2の部分の搬送は実質的に同時に行われ、前記第1の試験ステーションを用いて前記電子機器の前記第1の部分に対して第1の試験を行って第1の試験結果を取得し、前記第2の試験ステーションを用いて前記電子機器の前記第2の部分に対して第2の試験を行って第2の試験結果を取得し、前記第1及び第2の試験は実質的に同時に行われ、前記電子機器の前記第1の試験が行われた部分を前記第1の選別ステーションに隣接する位置に搬送し、前記電子機器の前記第2の試験が行われた部分を前記第2の選別ステーションに隣接する位置に搬送し、前記第1の試験の結果に従って、前記第1の選別ステーションを用いて前記電子機器の前記第1の試験が行われた部分を選別し、前記第2の試験の結果に従って、前記第2の選別ステーションを用いて前記電子機器の前記第2の試験が行われた部分を選別し、前記選別は実質的に同時に行われ、これにより前記第1及び第2の試験ステーションを用いて1つの前記トラック上で前記電子機器を試験及び選別することを含む、方法。前記電子機器は受動電子部品である、請求項1に記載の方法。前記電子機器は発光ダイオードである、請求項1に記載の方法。前記トラックは回転式である、請求項1に記載の方法。前記トラックは直線状である、請求項1に記載の方法。前記自動試験システムは2つ以上のトラックを有する、請求項1に記載の方法。電子機器を試験するための改良された自動試験システムであって、前記改良は、割り出しにより前記電子機器を搬送可能なトラックと、前記トラックに隣接して配置される第1及び第2の試験ステーションと、前記トラックに隣接して配置される第1及び第2の選別ステーションと、を含み、前記トラックは、前記電子機器の第1の部分が前記第1の試験ステーションに隣接し、前記電子機器の第2の部分が前記第2の試験ステーションに隣接するように電子機器を搬送可能である、自動試験システム。前記電子機器は受動電子部品である、請求項7に記載のシステム。前記電子機器は発光ダイオードである、請求項7に記載のシステム。前記トラックは回転式である、請求項7に記載のシステム。前記トラックは直線状である、請求項7に記載のシステム。前記改良は、2つ以上のトラックと、各トラックに隣接した第1及び第2の試験ステーションと、各トラックに隣接して配置される第1及び第2の選別ステーションを含む、請求項7に記載のシステム。本発明の態様は、試験される部品をトラック上で搬送する自動試験システムを用いて、電気的及び/又は光学的特性に基づき電子機器を試験及び選別する改良された方法を提供する。改良は、トラックに隣接して第1及び第2の試験ステーションを試験システムに設け、第1の試験ステーションで一部の機器を試験し、第2の試験ステーションで他の一部の機器を試験することを含んでいる。その後、機器は、試験結果に従い、選別機構を用いて試験に基づいて選別される。システムは、1つのトラックで2つの試験ステーションを用いて電子機器を試験及び選別する。本発明は、これらの試験を並行して行い、これにより、トラック機構を複数にすることにより並行して部品を試験するシステムよりも安価に、順次機器を試験するシステムよりもスループットを高くすることができる。本発明の様態は、トラック及び機器の割り出しを行って機器を処理する。割り出しとは、トラックをある位置に移動させ、一定の時間停止させ、その後、次の位置に移動させるという停止/開始のタイプの動きをいう。自動試験システムの場合、典型的には、トラックは、機器をトラックに置くロード位置から、機器が試験される試験位置へ、そして機器がトラックから取り出されてビンに選別される選別位置へと割り出され、その後、一連の工程でロード位置に戻るように割り出される。本発明は、隣り合う機器間のピッチよりも大きな所定量だけトラックが割り出される際に、ある機器が第1の試験ステーションに供給され、他の機器が第2の試験ステーションに提供されるように、試験ステーションの位置をオフセットすることにより単一のトラック上で並行して機器を処理することができる。トラックは単位時間当たり2倍の距離で割り出されるので、システムスループットは約2倍になる。本明細書にて具体化され、大まかに述べたような本発明の目的に従い、上記目的及び他の目的を達成するための方法及び装置が開示される。本発明の実施形態は、小型電子機器の試験及び選別のための改良されたシステム及び方法である。本発明の実施形態は、トラック上で試験される部品を搬送する自動試験システムを用いて電気的及び/又は光学的特性に基づいて電子機器を試験及び選別する、改良された方法を提供する。改良は、トラックに隣接する第1及び第2試験ステーションを有する試験システムを提供することと、第1試験ステーションで機器の一部を試験することと、第2試験ステーションで機器の別の部分を試験することを含む。機器は、その後、試験結果に従い選別機構で、試験に基づき選別される。システムは、1つのトラック上の2つの試験ステーションで電子機器を試験及び選別する。本発明は、それらの試験を並行して行い、それにより、装置を連続して試験するシステムの処理能力を上昇させ、トラック機構を複数にすることにより並行して部品を試験するシステムの費用をより少なくする。本発明の実施形態は、試験のため、電子機器を固定又は確実に保持する位置を有するトラックを採用する。本発明の実施形態は、機器を処理するため、トラック及び固定された機器を割り出す。割り出しとは、トラック及び固定された機器をある位置に移動させ、一定の時間停止させ、その後、次の位置に移動させるという停止/開始のタイプの動きをいう。例えば、図2は、本発明の実施形態を示しており、これは、本発明の実施形態に従い配置されたトラック14を有する単一トラック自動試験システム50を備えている。トラック14は矢印の方向に割り出しを行う。トラック14は、電子機器34,36を固定可能な位置15~27を有する。図2は、距離pピッチだけ離れた2つの隣接する位置15,16を示している。位置15と17は、距離2p、すなわちピッチの2倍だけ離れていることに留意されたい。バルク電子機器32は、トラック14上の位置18,19に部品34,36を装填するフィーダ30に入れられる。トラック14は次に2pの距離に割り出すので、ローダは少なくとも2つの部品を装填しなければならず、これにより2つの空の位置16,17をローダ30に提供し、電子機器34,36を位置20,21に割り出すことに留意されたい。また、2つのローダを用いてもよい。トラック14の次の2pの割り出しにより、電子機器は、試験ステーション38,40によりそれらが並行して試験される位置22,23に送られる。試験とコントローラ図示せずにおけるの試験結果の記憶に続いて、トラック14は、2pの大きさの距離で、電子機器46、48がトラック14から選別管42、44により取り除かれる位置26,27に電子機器を割り出す。トラック14は、pではなく2pずつ割り出されるので、停止する回数が半分となり、従って、滞在、加速、及び減速の回数が半分となる。これにより、ほぼ2の係数だけシステムスループットを促進することができる。加えて、この概念は、3組以上のロードステーションと試験ステーションと選別ステーションに拡張可能である。例えば、3組のロードステーションと試験ステーションと選別ステーションを用いた場合、1回の動作ですべての機器を試験及び選別するために、システムがピッチの3倍、すなわち3pずつ割り出せるようにステーションが配置される。本発明の実施形態は、円板状の組立体がその表面上又はその内部の1以上のトラックとともに回転する回転トラックか、あるいは、ステーションを通過した位置をトラックに再循環させる可撓ベルトや他の構成であり得る直線トラックを用いる。回転式フィーダ、振動ボウルフィーダ、重力、特別な機構又はそれらの組み合わせを使用して、バルク装置をトラックに個別化及び装填することができる。トラックは、回転板上の円形パターン状に配置された特別な形状の一連の凹部又は孔や、ロードフェンス及び流体口をはじめとしたより複雑な機構を有していてもよい。その共通の特性は、機器が所定の位置に割り出され、精査され、試験され、その後、トラックの割り出し中に多数のビンのうちの1つに排出されるように機器を固定することである。トラックは、機器がトラック内に置かれるロード位置から適切な中間位置を経て機器が試験される試験位置に割り出され、そしてより多くの適切な中間位置を経て最終的には機器がトラックから取り出されビンに選別される選別位置に割り出される。その後、トラックは、一連の工程でロード位置に戻るように割り出される。本発明は、オフセットよりも大きい所定量だけトラックが割り出される際に、一部の機器が第1の試験ステーションに供給され、他の一部の機器が第2の試験ステーションに供給されるように試験ステーションの位置をオフセットしているので、単一のトラック上で機器を並行して処理することが可能である。トラックが単位時間当たり2倍の距離で割り出されるので、システムスループットが約2倍になる。機器ピッチよりも大きな距離で割り出し、2組以上のローダと試験ヘッドと選別ビンをトラックに隣接した適切な位置に配置するこの構成により、自動試験システムは、同一のスループットを提供するようにトラック機構が複数化される場合に要求されるよりも、より少ないハードウェアとより少ない空間で単位時間当たりに約2倍の数の部品を処理することが可能となる。本発明の上述した実施形態の詳細に対して、その基本的な原理から逸脱することなく多くの変更がなされてもよいことは、当業者には明白であろう。したがって、本発明の範囲は、以下の特許請求の範囲によってのみ決定されるべきである。"