入射光量に応じて光電変換を行う複数の画素を含む有効撮像部及び遮光された画素を有するオプティカルブラック部を有する撮像素子と、前記撮像素子から出力される映像信号に対して画像処理を行う複数の画像処理手段と、前記撮像素子から出力される前記有効撮像部の映像信号を複数の領域に分割するとともに、前記オプティカルブラック部の映像信号を各領域に対応して分割し、分割した前記有効撮像部の映像信号に対してそれぞれ対応する前記オプティカルブラック部の映像信号を付加して領域毎に前記複数の画像処理手段に振り分ける映像信号分割手段とを備え、前記画像処理手段は、連続した欠陥画素を含む前記オプティカルブラック部における欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された前記オプティカルブラック部における欠陥画素を補正する画素補正手段とを有することを特徴とする撮像装置。前記欠陥画素検出手段は、対象画素の信号レベルと前記対象画素に対して一の方向に隣接する画素の信号レベルとに基づいて、前記対象画素の信号レベルと前記隣接する画素の信号レベルの平均値との差の絶対値が第1の閾値以上である場合には、前記対象画素を欠陥画素として検出し、前記欠陥画素として検出された前記対象画素の信号レベルと前記隣接するいずれかの画素の信号レベルとの差の絶対値が第2の閾値以下である場合には、前記対象画素を連続した欠陥画素として検出することを特徴とする請求項1記載の撮像装置。前記画素補正手段は、連続していない欠陥画素として検出された欠陥画素の信号レベルを当該欠陥画素に隣接する画素の信号レベルの平均値に置換し、連続した欠陥画素として検出された欠陥画素の信号レベルを当該連続した欠陥画素に隣接する画素の信号レベルの平均値に置換することを特徴とする請求項2記載の撮像装置。1つのフレームにて、連続した欠陥画素を含む前記オプティカルブラック部における欠陥画素の検出を行い、検出された欠陥画素の位置を示す情報を記憶し、当該フレームより後のフレームでは、記憶されている欠陥画素の位置を示す情報を用いて欠陥画素を補正することを特徴とする請求項1又は2記載の撮像装置。前記画素補正手段は、記憶されている欠陥画素の位置を示す情報に対応する画素の信号レベルを所定の黒レベルに置換することを特徴とする請求項4記載の撮像装置。前記画像処理手段が行う画像処理は、前記撮像素子の固定パターンノイズの除去及び黒レベルクランプ処理の少なくとも一方の処理を含むことを特徴とする請求項1~5の何れか1項に記載の撮像装置。入射光量に応じて光電変換を行う複数の画素を含む有効撮像部及び遮光された画素を有するオプティカルブラック部を有する撮像素子と、前記撮像素子から出力される映像信号に対して画像処理を行う複数の画像処理手段とを備える撮像装置での画像処理方法であって、前記撮像素子から出力される前記有効撮像部の映像信号を複数の領域に分割するとともに、前記オプティカルブラック部の映像信号を各領域に対応して分割し、分割した前記有効撮像部の映像信号に対してそれぞれ対応する前記オプティカルブラック部の映像信号を付加して領域毎に前記複数の画像処理手段に振り分ける映像信号分割工程と、前記映像信号分割工程にて振り分けられた映像信号に対して、前記複数の画像処理手段により画像処理を行う画像処理工程とを有し、前記画像処理工程は、連続した欠陥画素を含む前記オプティカルブラック部における欠陥画素を検出する欠陥画素検出工程と、前記欠陥画素検出工程にて検出された前記オプティカルブラック部における欠陥画素を補正する画素補正工程とを有することを特徴とする画像処理方法。複数の画像処理LSIを設け、撮像素子からの映像信号を複数の領域に分割し各画像処理LSIに振り分けて処理する場合に、撮像素子の固定パターンノイズの除去等をはじめとする処理を行うには、撮像素子のオプティカルブラック部の信号が必要となる。そのため、映像信号を複数の領域に分割する際には、オプティカルブラック部の信号も各領域に対応するように分割し、画像処理LSIで処理を行う。しかし、オプティカルブラック部を各領域に対応して分割すると、各領域に対応したオプティカルブラック部を接合した際に、接合した境界において隣り合う画素が実際の撮像素子とは変わるものがある。これにより、撮像素子の要求仕様ではオプティカルブラック部において水平方向に欠陥画素が連続して存在することが禁止されている場合であっても、接合後のオプティカルブラック部では欠陥画素が連続して存在してしまうことがあるという問題がある。そのため、欠陥画素補正に関わるパラメータを欠陥画素が連続しないシステムに比べて緩和せざるを得ないが、パラメータを緩和すると欠陥画素の除去率が下がってしまい、黒レベルクランプ処理等の精度が悪化し、撮像装置の画質に著しく影響を与えてしまう。本発明の目的は、撮像素子からの映像信号を複数の領域に分割し各画像処理LSIに振り分けて処理する撮像装置にて、接合したオプティカルブラック部で欠陥画素が連続して存在しても、欠陥画素を良好に補正できる撮像装置を提供することである。本発明に係る撮像装置は、入射光量に応じて光電変換を行う複数の画素を含む有効撮像部及び遮光された画素を有するオプティカルブラック部を有する撮像素子と、前記撮像素子から出力される映像信号に対して画像処理を行う複数の画像処理手段と、前記撮像素子から出力される前記有効撮像部の映像信号を複数の領域に分割するとともに、前記オプティカルブラック部の映像信号を各領域に対応して分割し、分割した前記有効撮像部の映像信号に対してそれぞれ対応する前記オプティカルブラック部の映像信号を付加して領域毎に前記複数の画像処理手段に振り分ける映像信号分割手段とを備え、前記画像処理手段は、連続した欠陥画素を含む前記オプティカルブラック部における欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された前記オプティカルブラック部における欠陥画素を補正する画素補正手段とを有することを特徴とする。本発明によれば、接合したオプティカルブラック部の境界で欠陥画素が連続しても、それら欠陥画素を良好に補正することができ、オプティカルブラック部の信号を使用する必要がある画像処理を精度良く行うことができる。以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。第1の実施形態本発明の第1の実施形態について説明する。図1は、本発明の第1の実施形態に係る撮像装置の構成例を示すブロック図である。図1には、第1の実施形態に係る撮像装置のうち、撮像素子から画像処理LSIまでの構成を示している。図1に示す撮像装置は、撮像素子101、ラインメモリ102、映像信号分割部103、及び複数の画像処理LSI104を含む。撮像素子101は、高画素数に対応した撮像素子であり、レンズからの入射光を受け、それを光電変換により映像信号へ変換して出力する。撮像素子101は、例えばCCDChargeCoupledDeviceイメージセンサやCMOSイメージセンサ等である。撮像素子101は、映像信号として、アナログの映像信号を直接出力するものや、内部でアナログデジタル変換処理を行ってLVDSLowvoltagedifferentialsignaling等のデジタルデータを出力するものなどがある。撮像素子101は、光電変換素子を含む複数の画素を有し、それらが2次元状に行方向及び列方向に配列されている。また、撮像素子101は、入射光量に応じて光電変換を行う複数の画素を含む有効撮像部有効画素部と、遮光された画素を有するオプティカルブラック部とを有する。ここで、本実施形態における撮像素子101は、映像信号分割部103において分割する前の状態では、欠陥画素が連続して存在することを禁止している。ラインメモリ102は、撮像素子101からの映像信号を複数の画像処理LSI104に振り分ける際に使用される。映像信号分割部103は、撮像素子101から出力された映像信号を受け、それを複数の領域に分割して画像処理LSI104に振り分ける。映像信号分割部103は、撮像素子101の有効撮像部有効画素部より得られた映像信号を複数の領域に分割するとともに、各領域に対応するように撮像素子101のオプティカルブラック部より得られた映像信号を分割する。そして、映像信号分割部103は、分割した映像信号に、その領域に対応するオプティカルブラック部の信号を付加して、画像処理LSI104に出力する。図2は、映像信号分割部103による映像信号の振り分けの一例を示す図である。図2においては、撮像素子101からの1フレーム分の出力を模式的に表しており、一例として映像信号を4つの領域に分割する場合を示している。図2において、水平のオプティカルブラックHOB部201及び垂直のオプティカルブラックVOB部202は、遮光されている画素領域に対応し、光には反応はせずに黒レベルを出力する。有効撮像部203は、入射光を受ける画素領域に対応し、実際の光を光電変換し入射光に応じたレベルを出力する。映像信号分割部103は、図2に示す有効撮像部203をA~Dの4つの領域に分割し、領域A~Dのそれぞれに対して水平及び垂直に対応したオプティカルブラック部を付加する。すなわち、映像信号分割部103は、有効撮像部203の領域Aに対しては、オプティカルブラック部201、202の領域E、領域F、領域Hを付加する。同様に、有効撮像部203の領域Bに対しては、オプティカルブラック部201、202の領域E、領域G、領域Hを付加し、有効撮像部203の領域Cに対しては、オプティカルブラック部201、202の領域E、領域F、領域Iを付加する。また、有効撮像部203の領域Dに対しては、オプティカルブラック部201、202の領域E、領域G、領域Iを付加する。このようにして、映像信号分割部103は、分割した有効撮像部203の各領域に対して、それぞれ対応するオプティカルブラック部201、202の領域の信号を付加して領域毎に画像処理LSI104に振り分ける。ここで、図2に示した撮像素子101からの映像信号は、図中の左上から横方向に右下まで順に出力される。ラインメモリ102は、オプティカルブラック部領域E、領域F、領域G、領域H、領域Iの信号を記憶する。そして、映像信号分割部103が、有効撮像部領域A、領域B、領域C、領域Dの信号をリアルタイムに振り分けるのと同時に、オプティカルブラック部の各領域の信号もラインメモリ102から読み出されて振り分けられる。画像処理LSI104は、映像信号分割部103により振り分けられた領域の映像信号に対して各種の画像処理を行う。画像処理LSI104は、撮像素子101の欠陥画素に係る補正処理や、撮像素子101の固定パターンノイズの除去や、黒レベルクランプ処理等を行う。また、画像処理LSI104は、ノイズリダクションやガンマ補正等の撮像装置における各種画像処理を行う。画像処理LSI104は、映像信号に対してノイズリダクションやガンマ補正等をはじめとする各種画像処理を行う処理部105、及び撮像素子101のオプティカルブラック部の欠陥画素に係る補正処理を行う欠陥画素補正部106を有する。また、画像処理LSI104は、それぞれの補正や画像処理に必要となる設定値を記憶しておく記憶回路を含む。本実施形態における撮像装置では、高画素に対応する撮像素子101から出力される映像信号は、映像信号分割部103により複数の領域に分割され、それぞれの領域の映像信号について複数の画像処理LSI104を使用して並列に処理される。これにより、撮像素子101からの映像信号の画像処理に係る処理速度を向上させることができる。図3は、欠陥画素補正部106の構成例を示すブロック図である。図3において、領域判定部301は、入力された映像信号がオプティカルブラック部の画素の信号であるか否かを判定する。欠陥画素検出部302は、オプティカルブラック部における欠陥画素を検出する。欠陥画素検出部302は、対象画素の信号レベルと対象画素に隣接する左右の画素の信号レベルとに基づいて、対象画素が欠陥画素であるか否か、さらに欠陥画素である場合には欠陥画素が連続する連続欠陥画素であるか否かを判断し欠陥画素の検出を行う。画素補正部303は、欠陥画素検出部302により検出された欠陥画素の信号レベルを置換し補正する。次に、第1の実施形態における欠陥画素補正処理について説明する。図4は、第1の実施形態における撮像素子101のオプティカルブラック部の欠陥画素補正処理を示すフローチャートである。図4に示す欠陥画素補正処理は、画像処理LSI104の欠陥画素補正部106により実行される。まず、ステップS11にて、画像処理LSI104は、映像信号分割部103により複数の領域に分割され領域毎に振り分けされた各々の画像処理LSIに対応する映像信号を受ける。次に、ステップS12にて、欠陥画素補正部106の領域判定部301は、入力された映像信号における画素信号がオプティカルブラック部の画素の信号であるか否かを判定する。これは、あらかじめ撮像素子101の仕様から、オプティカルブラック部の領域が決定されるので、オプティカルブラック部の領域を示す情報を画像処理LSIにあらかじめ記憶させ、その情報を参照して判定を行う。ステップS12での判定の結果、オプティカルブラック部の画素の信号であると判定した場合にはステップS13へ進み、オプティカルブラック部の画素の信号ではないと判定した場合にはステップS18へ進む。ステップS13にて、欠陥画素補正部106の欠陥画素検出部302は、対象画素の信号レベルと対象画素に対して一の方向に隣接する画素ここでは、対象画素に隣接する左右の画素の信号レベルの平均値とを比較する。比較の結果、対象画素の信号レベルと隣接する左右の画素の信号レベルの平均値との差の絶対値が、予め記憶しておいた第1の閾値以上である場合には、欠陥画素検出部302は、対象画素が欠陥画素であると判断し、ステップS14へ進む。一方、対象画素の信号レベルと隣接する左右の画素の信号レベルの平均値との差の絶対値が第1の閾値よりも小さい場合には、欠陥画素検出部302は、その画素が欠陥画素ではないと判断し、ステップS18へ進む。ステップS14にて、欠陥画素検出部302は、ステップS13において欠陥画素である判断された対象画素の信号レベルと隣接する左右のそれぞれの画素の信号レベルとを比較する。対象画素の信号レベルと隣接する左右のいずれかの画素の信号レベルとの差の絶対値が予め定めた第2の閾値以下である場合には、ステップS15へ進み、欠陥画素検出部302は、対象画素が比較した画素との連続欠陥画素であると判断し、ステップS16へ進む。ステップS16にて、欠陥画素補正部106の画素補正部303は、連続欠陥画素であると判断された画素について補正処理を行う。ここで、撮像素子101は欠陥画素が連続しないことから、連続欠陥画素の隣接画素は欠陥画素でないことは自明である。そこで、画素補正部303は、連続欠陥画素の信号レベルを、連続欠陥画素の隣接画素の信号レベルの平均値に置換し、ステップS18へ進む。一方、ステップS14での比較の結果、対象画素の信号レベルと隣接する左右のそれぞれの画素の信号レベルとの差の絶対値がともに第2の閾値より大きい場合には、欠陥画素検出部302は、欠陥画素が連続していないと判断する。そして、ステップS17にて、画素補正部303は、対象画素の信号レベルを隣接する左右の画素の信号レベルの平均値に置換することで補正を行い、ステップS18へ進む。ステップS18にて、欠陥画素補正部106は、対象画素が読出し領域の最終画素であるか否かの判断を行う。すなわち、図2における各領域の右下の画素であるかどうかを判断する。その結果、対象画素が読出し領域の最終画素でない場合には、次の画素を対象画素としてステップS12へ戻るステップS19。一方、対象画素が読出し領域の最終画素である場合には、次のフレームにおける左上の先頭画素に移り、新たに図4に示した処理を繰り返す。第1の実施形態によれば、複数の領域に分割され各画像処理LSI104に振り分けられた映像信号において、撮像素子101のそのものには禁止である連続欠陥画素がオプティカルブラック部に発生した場合でも、欠陥画素を良好に補正することができる。このように、接合したオプティカルブラック部の境界で欠陥画素が連続しても、それら欠陥画素を良好に補正することができ、その後の処理に影響を及ぼすことなく、撮像素子の黒レベルクランプ処理等の画像処理を精度良く行うことができる。第2の実施形態次に、本発明の第2の実施形態について説明する。第2の実施形態における撮像装置の構成は、前述した第1の実施形態と同様であるので説明は省略し、以下では第2の実施形態における欠陥画素補正処理について説明する。図5は、第2の実施形態における撮像素子101のオプティカルブラック部の欠陥画素補正処理を示すフローチャートである。図5に示す欠陥画素補正処理は、画像処理LSI104の欠陥画素補正部106により実行される。図5において、ステップS21~ステップS24までの処理は、図4に示したステップS11~ステップS14までの処理と同様であるので、説明は省略する。ステップS24での比較の結果、対象画素の信号レベルと隣接する左右のいずれかの画素の信号レベルとの差の絶対値が予め定めた第2の閾値以下である場合には、ステップS25へ進む。ステップS25にて、欠陥画素検出部302は、対象画素が比較した画素との連続欠陥画素であると判断する。続くステップS26にて、画素補正部303は、連続欠陥画素であると判断された2つの画素の位置を示す情報以下、アドレスと称するを記憶回路に記憶し、ステップS28へ進む。また、ステップS24での比較の結果、対象画素の信号レベルと隣接する左右のそれぞれの画素の信号レベルとの差の絶対値がともに第2の閾値より大きい場合には、欠陥画素検出部302は、欠陥画素が連続していないと判断する。そして、ステップS27にて、画素補正部303は、欠陥画素であると判断された対象画素のアドレスを記憶回路に記憶し、ステップS28へ進む。ステップS28にて、欠陥画素補正部106は、対象画素が読出し領域の最終画素であるか否かの判断を行う。その結果、対象画素が読出し領域の最終画素でない場合には、次の画素を対象画素としてステップS22へ戻るステップS29。一方、対象画素が読出し領域の最終画素である場合には、ステップS30へ進む。ここで、ステップS30へ進むときには、前述した処理が読出し領域の最終画素まで行われ、すべての欠陥画素のアドレスが抽出されている。ステップS30にて、画素補正部303は、抽出された欠陥画素のアドレスに対応するすべての画素の信号レベルを、画像処理LSI104で定めている所定の黒レベルに置換することで補正を行い、処理を終了する。第2の実施形態によれば、複数の領域に分割され各画像処理LSI104に振り分けられた映像信号において、連続欠陥画素がオプティカルブラック部に発生した場合でも、欠陥画素を良好に補正することができる。このように、接合したオプティカルブラック部の境界で欠陥画素が連続しても、それら欠陥画素を良好に補正することができ、その後の処理に影響を及ぼすことなく、撮像素子の黒レベルクランプ処理等の画像処理を精度良く行うことができる。また、第2の実施形態では、欠陥画素を一律に規定した黒レベルに置換するため、第1の実施形態よりも黒レベルの誤差は大きくなるが、1つのフレームで欠陥画素を抽出すれば他のフレームでは再度この動作を行わなくても良いので、処理を軽減することができる。本発明の他の実施形態また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアプログラムを、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータまたはCPUやMPU等がプログラムを読み出して実行する処理である。なお、前記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化のほんの一例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。