"画像を取得する取得手段と、前記画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する特定手段と、前記特定手段によって特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からAF評価値を算出するAF評価値算出手段と、を備えたことを特徴とする画像処理装置。前記特定手段は、勾配強度が最大値となる勾配角度を有する第1のエッジと、その勾配角度とは異なり、勾配強度が2番目に高い値となる勾配角度を有する第2のエッジを特定し、前記AF評価値算出手段は、前記第1のエッジ及び前記2のエッジを含む領域を除外した画像領域からAF評価値を算出することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。前記画像の輝度の勾配に基づいて、勾配強度についての勾配方向の分布を表す勾配ヒストグラムを算出するヒストグラム算出手段を更に備え、前記特定手段は、前記ヒストグラム算出手段によって算出した勾配ヒストグラムに基づき、勾配方向が略一定のエッジを特定することを特徴とする請求項1又は2に記載の画像処理装置。前記特定手段は、前記ヒストグラム算出手段によって算出された勾配ヒストグラムのうち、勾配強度が所定値以上の勾配ヒストグラムのみを考慮して前記勾配方向が略一定のエッジを特定することを特徴とする請求項3に記載の画像処理装置。前記AF評価値算出手段は、前記取得手段によって取得した画像から前記特定手段によって特定されたエッジを含む領域をマスクしたマスク画像を生成する生成手段を含み、前記AF評価値算出手段は、前記生成手段によって生成されたマスク画像からAF評価値を算出することを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の画像処理装置。画像を入力する入力ステップと、この入力された画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する特定ステップと、この特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からAF評価値を算出するAF評価値算出ステップと、を備えたことを特徴とする画像処理方法。処理を制御するコンピュータに、画像を入力する入力機能と、前記画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する特定機能と、前記特定機能の発揮によって特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からAF評価値を算出するAF評価値算出機能と、を実現させるためのプログラム。しかしながら、特許文献1に記載の手法では、特異なケースとして動物等の被写体の手前にフェンス等が存在するといった場合は、フェンス等の位置が合焦レンズ位置として算出される場合がある。つまり、フェンス等は被写体よりも手前にあり、撮像装置の最至近に存在することが多いため、フェンス等の位置が合焦レンズ位置として算出されAF評価エリアが選択されて、フェンス等に合焦してしまう。即ち、被写体の手前にフェンス等が存在すると、これを着目すべき被写体と見做し、真に着目すべき被写体に合焦できない場合がある。本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、複数の対象が遠近方向に存在する環境において、遠い位置にある方の対象に着目した画像処理を行うこと、例えば着目する被写体の手前にフェンス等が存在しても、着目する被写体に合焦させることを目的とする。上記目的を達成するため、本発明の一態様の画像処理装置は、画像を取得する取得手段と、前記画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する特定手段と、前記特定手段によって特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からAF評価値を算出するAF評価値算出手段と、を備えたことを特徴とする。本発明によれば、着目する被写体の手前にフェンス等が存在しても、着目する被写体に合焦させることができる。以下、本発明の実施形態について、図を用いて説明する。図1は、本発明に係る画像処理装置の一実施形態である撮像装置1のハードウェアの構成を示すブロック図である。撮像装置1は、CPUCentralProcessingUnit11と、ROMReadOnlyMemory12と、RAMRandomAccessMemory13と、画像処理部14と、バス15と、入出力インターフェース16と、撮像部17と、操作部18と、表示部19と、記憶部20と、通信部21と、ドライブ22と、を備えている。CPU11は、ROM12に記録されているプログラム、又は、記憶部20からRAM13にロードされたプログラムに従って各種の処理を実行する。RAM13には、CPU11が各種の処理を実行する上において必要なデータ等も適宜記憶される。画像処理部14は、DSPDigitalSignalProcessorや、VRAMVideoRandomAccessMemory等から構成されており、CPU11と協働して、画像のデータに対して各種画像処理を施す。例えば、画像処理部14は、後述する撮像部17から出力される撮像画像のデータに対して、ノイズ低減、ホワイトバランス、手ぶれ補正等の画像処理を施す。CPU11、ROM12、RAM13及び画像処理部14は、バス15を介して相互に接続されている。このバス15にはまた、入出力インターフェース16も接続されている。入出力インターフェース16には、撮像部17、操作部18、表示部19、記憶部20、通信部21及びドライブ22が接続されている。撮像部17は、光学系31と、イメージセンサ32と、レンズ駆動部33と、を備えている。光学系31は、被写体を撮像するための光を集光するレンズ、例えば、フォーカスレンズやズームレンズ等で構成される。フォーカスレンズは、イメージセンサ32の受光面に被写体像を結像させるレンズであり、後述するレンズ駆動部33によって位置合焦位置が調節されることにより、被写体の合焦を行うレンズである。ズームレンズは、焦点距離を一定の範囲で自在に変化させるレンズである。イメージセンサ32は、光電変換素子や、AFEAnalogFrontEnd等から構成される。光電変換素子は、例えばCMOSComplementaryMetalOxideSemiconductor型の光電変換素子等から構成される。光電変換素子には、光学系31から被写体像が入射される。そこで、光電変換素子は、被写体像を光電変換撮像して画像信号を一定時間蓄積し、蓄積した画像信号をアナログ信号としてAFEに順次供給する。AFEは、このアナログの画像信号に対して、A/DAnalog/Digital変換処理等の各種信号処理を実行する。AFEでの各種信号処理によって、ディジタル信号が生成され、撮像部17の出力信号として出力される。なお、以下、撮像部17の出力信号を、撮像画像のデータと呼ぶ。従って、撮像部17からは撮像画像のデータが出力されて、CPU11、画像処理部14、記憶部20等に適宜供給される。レンズ駆動部33は、CPU11等の制御に基づいて、光学系31を構成するフォーカスレンズやズームレンズ等を駆動して、各位置を調整する。例えば、レンズ駆動部33は、後述するCPU11によるAF位置決定処理の結果に基づいて、ズームレンズを駆動して、その位置を調整する。操作部18は、例えば、図示せぬリレーズ釦等の各種釦により構成され、ユーザの指示操作を受け付ける。表示部19は、各種画像を表示可能なディスプレイ等により構成される。記憶部20は、DRAMDynamicRandomAccessMemory等で構成され、後述するスルー画像、表示対象の原画像、当該原画像に合成され得る画像等の各種画像のデータを記憶する。通信部21は、インターネットを含むネットワークを介して他の装置図示せずとの間で行う通信を制御する。ドライブ22には、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、或いは半導体メモリ等よりなる、リムーバブルメディア23が適宜装着される。ドライブ22によってリムーバブルメディア23から読み出されたプログラムは、必要に応じて記憶部20にインストールされる。また、リムーバブルメディア23は、記憶部20に記憶されている画像のデータ等の各種データも、記憶部20と同様に記憶することができる。撮像装置1は、以上のようなハードウェアの構成により、手前にフェンス等が存在しても、着目する被写体に合焦させることが可能なAF処理を実行することができる。AF処理として、フォーカスレンズの各位置でAF評価値を算出する処理以下、AF評価処理と呼ぶと、算出されたAF評価値を比較して、合焦位置を決定する処理以下、AF位置決定処理と呼ぶとが含まれている。本実施形態では、このようなAF処理のうちAF評価処理として、手前にフェンス等の遮蔽物が存在しても、着目する被写体に合焦させるために、当該遮蔽物を考慮しないでAF評価値の算出が可能になるAF評価処理が採用されている。そこで、以下、本実施形態で採用されているAF評価処理について主に説明する。図2は、図1の撮像装置1の機能的構成のうち、AF評価処理を実行するための機能的構成を示す機能ブロック図である。本実施形態では、画像処理部14は、AF評価処理を実行すべく、スルー画像取得部41と、輝度画像生成部42と、ノイズ除去部43と、勾配ヒストグラム作成部44と、勾配ピーク選定部45と、除外画素選定部46と、AF評価用画像生成部47と、AF評価部48と、を備える。なお、図2の機能的構成は例示であって、画像処理部14の機能の少なくとも一部を、画像処理部14以外の他の構成要素CPU11等に移譲させることも当然可能である。スルー画像取得部41は、撮像部17から出力された撮像画像のデータを、スルー画像のデータとして取得する。即ち、CPU11等は、AF評価処理の実行中やその前後に、スルー撮像処理及びスルー表示処理を実行することで、スルー画像を表示部19に表示させる。具体的には、CPU11等は、例えば操作部18のレリーズ釦が半押しされると、撮像部17による撮像動作を継続させる。そして、CPU11等は、撮像部17による撮像動作が継続されている間、当該撮像部17から順次出力される撮像画像のデータを、メモリ本実施形態では記憶部20に一時的に記憶させる。このような一連の制御処理が、ここでいうスルー撮像処理である。また、CPU11等は、スルー撮像処理の最中にメモリ本実施形態では記憶部20に一時的に記録された各撮像画像のデータを順次読み出して、当該撮像画像を表示部19に順次表示させる。このような一連の制御処理が、ここでいうスルー表示処理であり、スルー表示処理により表示部19に表示されている撮像画像を、以下、スルー画像と呼ぶ。ここで、本実施形態の理解を容易なものとすべく、スルー画像取得部41が、図3に示すようなスルー画像のデータを取得したものとして、以下説明する。図3は、スルー画像の一例を示す模式図である。具体的には、図3には、フェンスFの奥に存在する被写体PO例えば樹木を撮像部17が撮像したときに得られた撮像画像が、スルー画像として表示部19に表示されている様子が示されている。ここで、フェンスFは、被写体POの手前に存在する遮蔽物に該当し、所定の角度で折り曲げられた複数の列線が組み合わされることによって、平行四辺形の網目状となるように形成されたフェンス、いわゆる、ひし型金網以下、フェンスと呼ぶである。なお、スルー画像では、フェンスFは被写体よりも手前にあり、撮像装置の最至近に存在するため、フェンスFの位置が合焦レンズ位置として算出されフェンスFに合焦しているものとする。図2に戻り、輝度画像生成部42は、スルー画像取得部41により取得されたスルー画像のデータから輝度成分を画素単位で抽出し、抽出された各輝度成分を画素値としてそれぞれ有する画像以下、輝度画像と呼ぶのデータを生成する。例えば、輝度画像生成部42は、図3に示すようなスルー画像のデータから、図4に示すような輝度画像のデータを生成する。図4は、図3のスルー画像から生成された輝度画像の一例を示す模式図である。図4の例の輝度画像においては、黒くなるほど輝度が低くなり、白くなる程輝度が高くなるようになされている。例えば、フェンスFは、その形状がはっきりと写っており、輝度が高いため白に近い色で表示されている。図2に戻り、ノイズ除去部43は、輝度画像生成部42により生成された輝度画像のデータに対して、ノイズを除去する処理を施す。ノイズ除去部43におけるノイズの除去の手法は、主に画像内の輝度の変化を滑らかにする手法、即ち、いわゆる平滑化処理を目的とするものであれば足り、本実施形態においては、ガウスフィルタガウシアンフィルタを用いた手法が採用されている。そして、画像の内の輝度の勾配を計算することでエッジの強さを計算し、勾配の方向からエッジの局所的方向を予測し、その方向の勾配が局所的に極大となる箇所を探す。なお本実施例においては、勾配ヒストグラム作成部44によって、輝度画像生成部42により生成された輝度画像のデータにおける輝度の勾配ヒストグラムを作成することで、画像の輝度の勾配を見積もる。ここで、勾配ヒストグラムの作成手法の一例について説明する。勾配ヒストグラムとは、輝度画像のデータから画素単位で取得可能な勾配強度Mについての、勾配方向θ毎の分布を表した図である。まず、勾配ヒストグラム作成部44は、輝度画像のデータから、各画素における勾配方向θをそれぞれ算出する。各画素における勾配方向θは、例えば、次の式1により算出される。ここで、式1の左辺のx,yとは、輝度画像において、処理の対象として注目すべき画素以下、注目画素と呼ぶの位置を示す座標である。当該座標は、輝度画像において、水平右向方向をx軸として垂直下向方向をy軸として構築される直交座標系により表現される。即ち、左辺のθx,yとは、輝度画像内の座標x,yに位置する画素、即ち注目画素の勾配方向θを示している。式1の右辺のmodα,βは、値αを値βで除算した場合の剰余を出力するMODULO関数である。Hx,yは、輝度画像内の座標x,yに位置する画素、即ち注目画素における、水平Horizon方向のコントラストの度合い以下、水平コントラスト長と呼ぶを示しており、次の式2によって定義される。また、Vx,yは、輝度画像内の座標x,yに位置する画素、即ち注目画素における、垂直Vertical方向のコントラストの度合い以下、垂直コントラスト長と呼ぶを示しており、次の式3によって定義される。式2及び式3において、Pxα,xbは、輝度画像内の座標xα,xbについての輝度値画素値を示している。ここで、図5を参照して、式2の水平コントラスト長と式3の垂直コントラスト長についてさらに詳しく説明する。図5は、図4の輝度画像の一部を、画素レベルに拡大して示す模式図である。図5において、1つの黒丸印は、1つの画素を示している。同図には、x方向水平方向に5個分の画素、かつ、y方向垂直方向に5個分の画素で、総計25個=5×5個の画素が示されている。ここで、注目画素と隣接する画素を、以下、隣接画素と呼ぶならば、式2の注目画素の水平コントラスト長Hx,yは、右方の隣接画素の輝度値Px1、yと、左方の隣接画素の輝度値Px-1、yとの差分により求められる。また、式3の注目画素の垂直コントラスト長Vx,yは、下方の隣接画素の輝度値Px、y1と、上方の隣接画素の輝度値Px、y-1との差分により求められる。具体的には例えば、右方の隣接画素の輝度値Px1、yが、白を示す1であり、左方の隣接画素の輝度値Px-1、yが、黒を示す0であるとする。この場合、式2の注目画素の水平コントラスト長Hx,yは、1=1-0になる。また例えば、下方の隣接画素の輝度値Px、y1が、白を示す1であり、上方の隣接画素の輝度値Px、y―1が、黒を示す0であるとする。この場合、式3の注目画素の垂直コントラスト長Vx,yは、1=1-0になる。従って、本例の場合、式1のtan-1{Vx,y/Hx,y}は、45度になるため、式1の右辺のMODULO関数の出力は、45/180の余りである45になる。即ち、注目画素の勾配方向θは、45度になる。なお、このようにMODULO関数を用いて、全方位0度乃至360度で特定される角度を180度で除算してその余りを、注目画素の勾配方向θとして出力しているため、注目画素の勾配方向θは、0度乃至180度の範囲内で特定されることになる。次に、輝度画像のデータから、各画素における勾配強度Mをそれぞれ算出する。勾配強度Mは、全画素において、画素間の輝度の差分を算出することにより特定される。各画素における勾配強度Mは、例えば次の式4により算出される。式4に示すように、注目画素の勾配強度Mは、水平コントラスト長Hx,yの2乗と垂直コントラスト長Vx,yの2乗との和の平方根をとることによって演算される。具体的には例えば、図5を用いて説明した上述の例では、式2の注目画素の水平コントラスト長Hx,yは1となり、式3の注目画素の垂直コントラスト長Vx,yは1となったので、注目画素の勾配強度Mは、√2になる。なお、本実施形態においては、勾配強度Mは、注目画素が示す被写体についての、撮像装置1からの実際の距離が考慮される。具体的には例えば、注目画素が、撮像装置1から近い距離にある被写体の一部を示す画素である場合には、勾配強度Mに対する重み付けの度合いが高くなる。逆に、注目画素が、撮像装置1から遠い距離にある被写体の一部を示す画素である場合には、勾配強度Mに対する重み付けの度合いが低くなる。このように撮像装置1からの距離に応じて勾配強度Mの重み付けを変えることにより、近距離にある遮蔽物を示す画素の勾配強度Mが大きくなる一方、遠くの遮蔽物を示す画素の勾配強度Mが小さくなる。このため、例えば、手前にある金網等の被写体を積極的に除去することができるようになる。このようにして、勾配ヒストグラム作成部44は、輝度画像を構成する全画素を対象に、勾配方向θ及び勾配強度Mを算出すると、その算出結果に基づいて、例えば図6に示すような勾配ヒストグラムを作成する。画素の勾配強度Mを画素が有する勾配角度とすると、勾配ヒストグラムは、画像に含まれる勾配角度の分布を表すということができる。図6は、図4の輝度画像から作成された勾配ヒストグラムを示している。図6においては、縦軸は勾配強度Mを示し、横軸は勾配方向θを示す。ここで、縦軸の勾配強度Mは、式4の各画素の算出値である勾配強度Mx,yそのものを意味せず、各勾配方向θ毎の、同一の勾配方向θを有する画素群の各勾配強度Mx、y式4の各算出結果の総和を示している。ただし、本実施形態では、式4の各画素の勾配強度Mx,yのうち、所定の閾値ThM以下のものは、ノイズの影響を受けている可能性があるものとして、勾配ヒストグラムに反映させない。即ち、勾配ヒストグラム作成部44は、ノイズ除去を行った上で、勾配ヒストグラムを作成する。具体的には例えば、本実施形態では、次の式5に従って、勾配ヒストグラムが作成される。式5において、histθ=Mx,yとは、勾配ヒストグラムにおいて、所定の勾配方向θ横軸の所定値についての勾配強度M縦軸の高さに対して、注目画素の式4の演算結果である勾配強度Mx、yを加算する、という意味である。即ち、所定の勾配方向θ横軸の所定値を有する画素群のうち、その勾配強度Mx、yが閾値ThMを超えているもののみが演算対象となり、演算対象となった各画素の勾配強度Mx、yの総和が、当該所定の勾配方向θについての勾配強度M縦軸の高さとして、勾配ヒストグラムにプロットされる。換言すると、所定の勾配方向θ横軸の所定値を有する画素群のうち、その勾配強度Mx、yが閾値ThM以下のものは演算対象とならずに、ノイズとして除去される。以上、勾配ヒストグラムの作成手法の一例について説明した。このような作成手法に従って、図2の勾配ヒストグラム作成部44により作成された勾配ヒストグラムは、勾配ピーク選定部45に供給される。勾配ピーク選定部45は、勾配ヒストグラム作成部44により作成された勾配ヒストグラムにおいて、勾配のピークを選定する。勾配のピークとは、勾配ヒストグラムにおいて、所定の勾配方向θの勾配強度Mの極大点に該当する部分をいう。即ち、勾配強度Mが、勾配方向θが前後において最高値となっている部分勾配強度Mを勾配方向θ方向に微分した場合に、その微分値が正から負に変わる部分が、勾配のピークである。勾配のピークとなっている勾配方向θは、スルー画像原画像に含まれるオブジェクトのうち、合焦しているオブジェクトのエッジの実角度オブジェクトに対応する実物体の、実世界上での輪郭の角度を示している可能性が高い。当該オブジェクトに合焦する程ピントが合う程、当該オブジェクトのコントラストが高くなるため、当該オブジェクトを構成する各画素の勾配強度Mx,y式4の演算結果が高くなるからである。即ち、その結果として、それらの総和である勾配強度M勾配ヒストグラムの縦軸の高さが高くなるからである。ただし、スルー画像のうち動物等の被写体に合焦している場合、その被写体のエッジでは、同一角度となっている領域画素群は少ない。即ち、動物等の被写体のエッジについては、同一の勾配方向θを有する画素数は少なくなる。このため、動物等の被写体のエッジを構成する各画素の勾配強度Mx,y式4の演算結果がある程度の高値を有していたとしても、全体の画素数が少ない以上、それらの総和である勾配強度M勾配ヒストグラムの縦軸の高さはさほど高くならない。一方で、スルー画像のうち手前のフェンスに合焦している場合、フェンスは、ほぼ全体が、略同一角度のエッジ線の集合体、通常は2種類の角度のエッジの集合体で構成されている。即ち、2種類の角度のうちの何れかを勾配方向θとして有する画素の数は非常に多くなる。このため、フェンスに合焦すると、当該フェンスを構成する各画素の勾配強度Mx,y式4の演算結果がある程度の高値を有するようになり、かつ、全体の画素数が非常に多いため、2種類の角度の各々に対応する勾配方向θにおいて、それらの総和である勾配強度M勾配ヒストグラムの縦軸の高さは非常に高くなる。ここで、勾配ヒストグラムにおける複数の勾配ピークのうち、最高値の勾配強度M縦軸の高さを有する勾配ピークを、以下、第1の勾配ピークと呼び、2番目に高い勾配強度M縦軸の高さを有する勾配ピークを、以下、第2の勾配ピークと呼ぶ。この場合、第1の勾配ピークにおける勾配方向θと、第2の勾配ピークにおける勾配方向θとは、上述の内容により、フェンスを構成する各画素の勾配方向θであると判断することが可能である。従って、撮像装置1は、第1及び第2の勾配ピークを判断することにより、スルー画像において、合焦しているフェンスF等の遮蔽物を識別することができる。具体的には例えば、図6の勾配ヒストグラムは、フェンスFに合焦した状態の図3のスルー画像から作成された図4の輝度画像に基づいて作成されたものである。このフェンスの像は、図4に示すように、略40度のエッジと略130度のエッジとの集合体により構成されている。このため、図6の勾配ヒストグラムでは、勾配方向θが略40度と略130度とのそれぞれにおいて、勾配のピークが表れているのである。即ち、勾配方向θが略40度における勾配ピークが、第1の勾配ピークである。また、勾配方向θが略130度における勾配ピークが、第2の勾配ピークである。この場合、勾配ピーク選定部45は、勾配ヒストグラムから2第1の勾配ピーク及び第2の勾配ピークを選定する。このようにして、勾配ピーク選定部45は、第1及び第2の勾配ピークを選定することで、スルー画像において規則的に配置される連子状の遮蔽物であるフェンスFを特定することができる。除外画素選定部46は、勾配ピーク選定部45により選定された勾配ピーク本実施形態においては、第1の勾配ピーク及び第2の勾配ピークに対応する画素を選定する。勾配ピークに対応する画素とは、勾配ピークとなっている勾配方向θ上述の例では略40度と略130度を有する画素をいい、スルー画像において規則的に配置される連子状の遮蔽物上述の例ではフェンスFの一部を示すと想定される画素である。詳細については後述するが、本実施形態では、このような画素が除外されてAF評価が行われる。そこで、以下、勾配ピークに対応する画素を、以下、除外画素と呼ぶ。即ち、除外画素選定部46は、輝度画像を構成する各画素の中から、勾配ピークに対応する画素を除外画素として選定し、AF評価用画像生成部47に通知する。AF評価用画像生成部47は、輝度画像生成部42により生成された輝度画像のデータから、周波数成分直流成分を除くを画素単位で抽出して、抽出値を各画素値とする画像のデータを生成する。ここで、AF評価用画像生成部47により生成される画像のデータを構成する各画素値は、上述の如く、輝度画像のデータから抽出された周波数成分直流成分を除くであり、後述するAF評価値の算出においてAF検波値として用いられる。そこで、以下、このようにしてAF評価用画像生成部47により生成される画像のデータを、以下、AF評価用画像のデータと呼ぶ。ここで、AF評価用画像生成部47には、除外画素選定部46により選定された除外画素、即ち、図4のフェンスF等の遮蔽物の一部を示すと想定される除外画素が通知されている。そこで、AF評価用画像生成部47は、除外画素をマスクしたAF評価用画像のデータを生成する。除外画素をマスクするとは、AF評価用画像における除外画素の画素値を、AF検波値としてほぼ用いることができないようにすること、即ち、その画素値を0又は低値にすることを意味する。AF評価部48は、AF評価用画像生成部47により生成されたAF評価用画像のデータのうち、AF評価エリア内の各画素のデータAF検波値としての画素値を積分することによって、AF評価値を求める。この場合、AF評価エリア内の各画素の中に除外画素が存在する場合、除外画素のデータAF検波値としての画素値は0又は低値であるので、積分結果としてのAF評価値には反映されない。即ち、除外画素はマスクされてAF評価値が求められるのと等価の処理が実行される。従って、撮像装置1のCPU11等は、上述したAF評価部48により生成されるAF評価値を用いることにより、除外画素をマスクしたAF位置決定処理を実行することができる。即ち、除外画素とは、図4のフェンスF等のような所定の方向で規則的に覆うような遮蔽物の一部を示す画素であるため、このような遮蔽物をマスクして、本来合焦させたい被写体のみに着目して、合焦位置を自動的に決定することができるようになる。例えば、図3のようなフェンスF越しに、フェンスFの奥の風景を撮影したい場合に、フェンスFの奥の樹木被写体POに合焦位置を自動的に合わせることができるようになる。以上、図2乃至図6を参照して、本実施形態の撮像装置1の機能的構成について説明した。次に、このような機能的構成を有する撮像装置1が実行するAF機能に係る処理のうちAF評価処理の流れについて説明する。図7は、図2の機能的構成を有する図1の撮像装置1が実行するAF評価処理の流れを説明する図である。AF評価処理は、本実施形態においては、例えば、ユーザが操作部18のリレーズ釦に対して半押しの操作をすることにより、スルー画像取得部41により、図3に示すようなフェンスF越しに風景が映し出されたスルー画像が取得されることを契機として開始される。その結果、レンズ駆動部33は、フォーカスレンズを所定の位置初期位置に移動させる。なお、AF評価処理が終了し、その後、合焦位置が決定した後に、ユーザが操作部18のリレーズ釦に対して全押しの操作をすることで、決定された合焦位置での撮像が行われる。ステップS1において、輝度画像生成部42は、輝度画像を生成する。詳細には、輝度画像生成部42は、スルー画像取得部41により取得されたスルー画像のデータから輝度成分を画素単位で抽出し、抽出された各輝度成分を画素値としてそれぞれ有する輝度画像のデータを生成する。本実施形態においては、輝度画像生成部42は、図3に示すようなスルー画像のデータから、図4に示すような輝度画像のデータを生成する。ステップS2において、ノイズ除去部43は、ノイズを除去する。詳細には、輝度画像生成部42により生成された輝度画像のデータに対して、ノイズを除去するガウスフィルタの処理を施す。ステップS3において、勾配ヒストグラム作成部44は、勾配ヒストグラムを作成する。詳細には、輝度画像生成部42により生成された輝度画像のデータから、勾配ヒストグラムを作成する。本実施形態においては、勾配ヒストグラム作成部44は、ノイズ除去部43によりノイズが除去された輝度画像の各画素から上述した式1を演算し勾配方向θを算出し、上述した式4を演算して勾配強度Mを算出する。また、勾配ヒストグラム作成部44は、上述した式5によりノイズ除去を行う。最終的に、勾配ヒストグラム作成部44は、算出した各画素の勾配方向θ及び勾配強度Mに基づいて、図6に示すような勾配ヒストグラムを作成する。ステップS4において、勾配ピーク選定部45は、勾配ピークを選定する。詳細には、勾配ピーク選定部45は、勾配ヒストグラム作成部44により作成された勾配ヒストグラムにおいて、勾配のピークを選定する。また、勾配ピーク選定部45は、勾配ヒストグラム作成部44で作成された勾配ヒストグラムにおいて、第1の勾配ピーク及び第2の勾配ピークを選定する。本実施形態においては、図6に示すように、勾配方向θが略40度を第1の勾配ピークとし、勾配方向θが略130度を第2の勾配ピークとして選定する。ステップS5において、除外画素選定部46は、除外画素を選定する。詳細には、除外画素選定部46は、勾配ピーク選定部45により選定された勾配ピーク本実施形態においては、第1の勾配ピーク及び第2の勾配ピークに対応する画素を選定する。ステップS6において、AF評価用画像生成部47は、AF評価用画像を生成する。詳細には、AF評価用画像生成部47は、輝度画像生成部42により生成された輝度画像のデータから、周波数成分直流成分を除くを画素単位で抽出して、抽出値を各画素値とするAF評価用画像のデータを生成する。ステップS7において、AF評価部48は、AF評価を行う。詳細には、AF評価用画像生成部47により生成されたAF評価用画像のデータのうち、AF評価エリア内の各画素のデータAF検波値としての画素値を積分することによって、AF評価値を求める。撮像装置1においては、ステップS1乃至S7の処理が実行されてAF評価処理が終了した場合、撮像装置1のCPU11等は、他の複数の合焦位置で再度、AF評価処理が行われる。その後、撮像装置1のCPU11等は、上述したAF評価部48により生成されるAF評価値を用いることにより、除外画素をマスクしたAF位置決定処理を実行して、合焦位置を自動的に合わせる。その後、ユーザが操作部18のリレーズ釦に対して全押しの操作をすることで、決定された合焦位置での撮像が行われる。以上説明したように、本実施形態における撮像装置1は、撮像部17から出力された撮像画像のデータに基づいてスルー画像を取得するスルー画像取得部41と、画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する除外画素選定部46と、除外画素選定部46によって特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からAF評価値を算出するAF評価部48と、を備える。このような構成により、撮像装置1は、被写体の前後に例えばフェンス等の遮蔽物が存在しても、取得したスルー画像から、遮蔽物を特定して除去した画像に基づいてAF評価値を算出することができる。従って、撮像装置1は、被写体の前後にフェンス等の遮蔽物が存在しても、算出されたAF評価値に基づいて着目する被写体に合焦させることができる。また、撮像装置1は、さらに、第1の勾配ピーク勾配強度が最大値となる勾配角度と、その勾配角度とは異なり、勾配強度が2番目に高い値となる勾配角度を有する第2のエッジを特定する勾配ピーク選定部45を備える。これにより、撮像装置1はスルー画像内に、ある所定の勾配角度を有する領域、例えば、連子状のフェンス等が存在しても遮蔽物として選定することができる。その結果、撮像装置1は、例えば手前にフェンス等の遮蔽物が存在しても、着目する被写体に合焦させることができる。また、勾配ピーク選定部45は、更に第2の勾配ピーク第1の勾配ピーク以外で勾配強度が2番目に大きな値となる勾配角度を有する領域を選定し、第1の勾配ピークを有する領域と、第2の勾配ピークを有する領域とを遮蔽物として選定する。これにより、撮像装置1は、スルー画像内に、2つの所定の勾配角度を有する領域、例えば、格子状のフェンス等が存在しても遮蔽物として選定することができる。その結果、撮像装置1は、例えば手前にフェンス等の遮蔽物が存在しても、着目する被写体に合焦させることができる。また、勾配ピーク選定部45は、勾配ヒストグラム作成部44によって算出された勾配ヒストグラムのうち、勾配強さが所定値以上の勾配ヒストグラムのみを考慮して遮蔽物を選定する。従って、撮像装置1は、AF評価値を算出する際に、除外する遮蔽物の選定精度を高めることができる。また、撮像装置1は、除外画素選定部46によって特定された遮蔽物の領域をマスクしたAF評価用画像を生成するAF評価用画像生成部47を備え、AF評価部48は、AF評価用画像生成部47によって生成されたAF評価用画像からAF評価値を算出する。これにより、撮像装置1は、手前にフェンス等の遮蔽物が存在しても、特別な合焦に係るデータ等を取得することなく、スルー画像を利用して、着目する被写体に合焦させることができる。なお、本発明は、上述の実施形態や数式に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。つまり、上述の実施形態では、勾配ヒストグラムを算出することにより、勾配ピークを算出し、勾配方向が一定のエッジを特定したが、これに限らず、例えばPrewittオペレータやRobertscrossなど、他の手法を用いて画像の輝度の勾配を見積もるようにしてもよい。つまり、勾配方向が一定のエッジを特定できる方法であればよい。また、上述の実施形態では、図3に示すように、勾配方向θが一定本実施形態においては、略40度のエッジと略130度のエッジの遮蔽物を特定するように構成したが、本発明はこれに限定されない。例えば、図8に示すような、勾配方向が画像内の位置により変化する遮蔽物の画像に対して勾配ヒストグラムを作成した場合を想定する。形成される勾配ピークは2つ存在する。しかし、図8に示す画像では、フェンスの方向が緩やかに変化しているため、得られる勾配ヒストグラムの勾配ピークは、図3に示す画像から得られる勾配ヒストグラム図6参照の勾配ピークよりも幅が広くなる。従って、図8に示すような、勾配方向が画像内の位置に応じて緩やかに変化する遮蔽物や、遠近等の画像への映り込みの状態等により画像内で勾配方向が緩やかに変化する遮蔽物を選定する場合には、例えば、勾配ピーク選定部45が選定する勾配方向θを有する画素を特定する範囲をθ±γ広げればよい。即ち、勾配ピーク選定部45が選定する勾配ヒストグラムのピークの幅を、想定される勾配方向の変化分、例えば、γだけ広げればよい。また、上述の実施形態では、輝度画像に平滑化処理を行うことによりノイズの除去を実行し、勾配ヒストグラム作成時にも所定の勾配強度を除去することによってノイズの除去を実行するものとして説明した。しかし、これらのノイズの除去は、遮蔽物を特定するための精度を高めるに過ぎず、本発明の目的を達成するために、必須の構成ではなく、種々の使用目的等により適宜採用することができる。また、上述の実施形態では、画像内における遮蔽物の特定を、勾配方向θに撮像装置からの遠近の重み付けを加味して判断するとして説明したが、本発明はこれに限定されない。撮像装置からの遠近の重み付けは、フェンス越しの撮影を想定し、手前にある遮蔽物は外形のエッジコントラストが強くなる傾向が高く、AF評価値に反映されやすいことを考慮して、手前にある遮蔽物を積極的に排除するという思想に基づいている。このため、必ずしも必須の構成ではなく、種々の使用目的等により適宜採用することができる。また、上述の実施形態では、本発明が適用される電子装置は、デジタルカメラ等の撮像装置1を例として説明したが、特にこれに限定されない。本発明は、上述のAF評価処理を実行可能な電子機器一般に適用することができる。具体的には、例えば、本発明は、ノート型のパーソナルコンピュータ、ビデオカメラ、携帯型ナビゲーション装置、携帯電話装置、ポータブルゲーム機、WEBカメラ等に適用可能である。上述した一連の処理は、ハードウェアにより実行させることもできるし、ソフトウェアにより実行させることもできる。また例えば、上述した一連の処理は、ハードウェアにより実行させることもできるし、ソフトウェアにより実行させることもできる。換言すると、図2の機能的構成は例示に過ぎず、特に限定されない。即ち、上述した一連の処理を全体として実行できる機能が撮像装置1に備えられていれば足り、この機能を実現するためにどのような機能ブロックを用いるのかは特に図2の例に限定されない。また、1つの機能ブロックは、ハードウェア単体で構成してもよいし、ソフトウェア単体で構成してもよいし、それらの組み合わせで構成してもよい。一連の処理をソフトウェアにより実行させる場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが、コンピュータ等にネットワークや記録媒体からインストールされる。コンピュータは、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータであってもよい。また、コンピュータは、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能なコンピュータ、例えば汎用のパーソナルコンピュータであってもよい。このようなプログラムを含む記録媒体は、ユーザにプログラムを提供するために装置本体とは別に配布される図1のリムーバブルメディア23により構成されるだけでなく、装置本体に予め組み込まれた状態でユーザに提供される記録媒体等で構成される。外部メモリ26は、例えば、磁気ディスクフロッピディスクを含む、光ディスク、又は光磁気ディスク等により構成される。光ディスクは、例えば、CD-ROMCompactDisk-ReadOnlyMemory,DVDDigitalVersatileDisk等により構成される。光磁気ディスクは、MDMini-Disk等により構成される。また、装置本体に予め組み込まれた状態でユーザに提供される記録媒体は、例えば、プログラムが記録されている図1のROM12や、図1の記憶部20に含まれるハードディスク等で構成される。なお、本明細書において、記録媒体に記録されるプログラムを記述するステップは、その順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的或いは個別に実行される処理をも含むものである。また、本明細書において、システムの用語は、複数の装置や複数の手段などより構成される全体的な装置を意味するものとする。以上、本発明のいくつかの実施形態について説明したが、これらの実施形態は、例示に過ぎず、本発明の技術的範囲を限定するものではない。本発明はその他の様々な実施形態を取ることが可能であり、更に、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、省略や置換等種々の変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、本明細書等に記載された発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。以下に、本願の出願当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。[付記1]画像を取得する取得手段と、前記画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する特定手段と、前記特定手段によって特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からAF評価値を算出するAF評価値算出手段と、を備えたことを特徴とする画像処理装置。[付記2]前記特定手段は、前記勾配強度が最大値となる勾配角度を有する第1のエッジと、その勾配角度とは異なり、前記勾配強度が2番目に高い値となる勾配角度を有する第2のエッジを特定し、前記AF評価値算出手段は、前記第1のエッジ及び前記2のエッジを含む領域を除外した画像領域からAF評価値を算出することを特徴とする付記1に記載の画像処理装置。[付記3]前記画像の輝度の勾配に基づいて、勾配強度についての勾配方向の分布を表す勾配ヒストグラムを算出するヒストグラム算出手段を更に備え、前記特定手段は、前記ヒストグラム算出手段によって算出した勾配ヒストグラムに基づき、勾配方向が略一定のエッジを特定することを特徴とする付記1又は2に記載の画像処理装置。[付記4]前記特定手段は、前記ヒストグラム算出手段によって算出された勾配ヒストグラムのうち、勾配強度が所定値以上の勾配ヒストグラムのみを考慮して前記勾配方向が略一定のエッジを特定することを特徴とする付記3に記載の画像処理装置。[付記5]前記AF評価値算出手段は、前記取得手段によって取得した画像から前記特定手段によって特定されたエッジを含む領域をマスクしたマスク画像を生成する生成手段を含み、前記AF評価値算出手段は、前記生成手段によって生成されたマスク画像からAF評価値を算出することを特徴とする付記1から4のいずれか1項に記載の画像処理装置。[付記6]画像を入力する入力ステップと、この入力された画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する特定ステップと、この特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からAF評価値を算出するAF評価値算出ステップと、を備えたことを特徴とする画像処理方法。[付記7]処理を制御するコンピュータに、画像を入力する入力機能と、前記画像の輝度の勾配に基づいて勾配方向が略一定のエッジを特定する特定機能と、前記特定機能の発揮によって特定されたエッジを含む領域を除外した画像領域からAF評価値を算出するAF評価値算出機能と、を実現させるためのプログラム。"