"情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生ステップと、前記復調された正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップとを包含し、前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第1および第2のエラーパターンを検出するステップを含み、前記第1のエラーパターンと前記第2のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の2乗が互いに異なり、前記検出ステップは、前記第1のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第1のパターンシフト量を演算するステップと、前記第2のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第2のパターンシフト量を演算するステップと、前記第1のパターンシフト量と前記第2のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップとをさらに含む、情報再生方法。前記第1のエラーパターンにおけるエラービット数は同じであり、前記第2のエラーパターンにおけるエラービット数は同じであり、前記第1のエラーパターンにおけるエラービット数と前記第2のエラーパターンにおけるビット数とは互いに異なる、請求項1に記載の情報再生方法。前記第1のエラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に1ビットシフトするエラーパターンと、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に1ビットシフトするエラーパターンとを含み、前記第2のエラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークのエッジずれで発生するエラーパターンである、請求項2に記載の情報再生方法。前記情報の再生に用いるレーザ光の波長をλ、対物レンズの開口数NAとすると、前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの長さは、λ/4×NA以下の長さである、請求項3に記載の情報再生方法。前記レーザ光の波長λは400nmから410nm、前記対物レンズの開口数NAは0.84から0.86である、請求項4に記載の情報再生方法。前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが反転する2つのグループで、前記長さ誤差および前記位相誤差をそれぞれ演算する、請求項5に記載の情報再生方法。最短ラン長が2TであるRLL1,7符号を用いた情報が複数の長さを有する記録マークおよびスペースとして形成された情報記録媒体から情報を再生する情報再生方法であって、PR1,2,2,2,1MLであるPRML方式を用いて、前記情報記録媒体から再生される再生信号から前記情報を復調する再生ステップと、前記PRML方式で識別される正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップとを包含し、前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第1および第2のエラーパターンを検出するステップを含み、前記第1のエラーパターンと前記第2のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の2乗が互いに異なり、正解パターンのビット列が1110011000であり、前記第1のエラーパターンが1100111000および1110001100を含む場合と、正解パターンのビット列が0001100111であり、前記第1のエラーパターンが0011000111および0001110011を含む場合とにおいて、前記検出ステップは、前記第1のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第1のパターンシフト量を演算するステップと、前記第2のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第2のパターンシフト量を演算するステップと、前記第1のパターンシフト量と前記第2のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップとをさらに含む、情報再生方法。情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生ステップと、前記復調された正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップと、前記長さ誤差および前記位相誤差に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録条件を調整する調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップとを包含し、前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第1および第2のエラーパターンを検出するステップを含み、前記第1のエラーパターンと前記第2のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の2乗が互いに異なり、前記検出ステップは、前記第1のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第1のパターンシフト量を演算するステップと、前記第2のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第2のパターンシフト量を演算するステップと、前記第1のパターンシフト量と前記第2のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップとをさらに含む、情報記録方法。トラックを有する情報記録媒体であって、前記トラックには情報が記録され、前記トラックを再生した再生信号から情報が復調され、前記復調される正解パターンに対応する複数のエラーパターンが検出され、前記複数のエラーパターンのうちの第1および第2のエラーパターンが検出され、前記第1のエラーパターンと前記第2のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の2乗が互いに異なり、前記第1のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化することにより、第1のパターンシフト量が演算され、前記第2のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化することにより、第2のパターンシフト量が演算され、前記第1のパターンシフト量と前記第2のパターンシフト量との和または差により、長さ誤差と位相誤差が演算され、前記長さ誤差と前記位相誤差に基づいて調整された記録条件が記録される、情報記録媒体。請求項9に記載の情報記録媒体から情報の再生を行う情報再生装置であって、前記情報記録媒体にレーザ光を照射する光ヘッド部と、前記情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生部を備える情報再生装置。情報記録媒体の高密度化がさらに進むと、符号間干渉およびSNR劣化がさらに問題となる。特に、最短ラン長の連続信号、すなわち最短の記録マークおよびスペースが繰り返される信号が、光学分解能を超える場合では、再生信号の振幅はゼロとなる。光学分解能を超える条件とは、レーザの波長をλ、対物レンズの開口数をNANumerialApertureとすると、記録マークおよびスペースの長さLが、λ/4×NA以下となる条件である。例えば、BDシステムの場合では、一般的にλ=405nm、NA=0.85であるため、長さLは約119.1nmとなる。これは、ディスク構造を同じとした場合、記録容量は約31GBに相当する。従って、記録容量が約31GBとなる高密度記録では、最短ラン長の連続信号での振幅はゼロとなる。光学分解能を超える場合では、再生信号がゼロとなる信号は、記録マークのエッジが出現しないため、PRML方式による記録制御方法が必要となる。また、前述のように、ディスク構造、および光学条件を同一として、高密度記録を行う場合、記録マークおよびスペースの長さを短く形成する必要がある。図4に、記録密度により異なる記録マークの形状変化を説明する図を示す。同図において、図4aは記録密度が低い、図4bは記録密度が高い記録マークであり、記録密度の差は、記録マークの長さである。図4aのように、記録密度が低い場合では、記録パルスの始端側を変化させると、記録マークの始端エッジの片側が変化する。しかしながら、図4bのように記録密度が高い場合では、記録パルスの始端側を変化させると、記録マークの始端および終端エッジの両側が変化する。これは、記録マークの形成時において、始端側の熱変化が終端側に影響するためである。すなわち、自己マーク形成時における熱干渉の影響が発生する。BDで記録密度25GBにおいても、最短の記録マークでは、厳密には図4bのような自己マークの熱干渉が発生する。しかし、光学分解能に余裕があるため、自己マークの熱干渉の影響は少なく、実際は、始端および終端で記録条件を分離した記録調整が行われている。光学分解能の限界に近づく又は超えると、自己マークの熱干渉の影響は無視できなくなる。そのため、高密度記録例えば30GB以上における最短の記録マークは、図7のように、前後スペースに応じて、記録条件が設定されることが望ましい。但し、さらに高密度例えば、40GB以上である場合、最短の記録マークだけではなく、2番目に短い記録マークも対象となる。このように、高密度記録においては、特に最短の記録マークおよびスペースの長さを適切に形成することが非常に困難であり、調整精度が必要とされる。ここで、BDにおけるビットエラーについて説明する。BDにおける変調符号の最短ラン長は2Tであり、最短の長さである2T信号の記録マークまたはスペースに関するエラーが支配的である。BDで記録密度25GBにおいては、記録マークのエッジずれで発生する1ビットエラーが多かった。そのため、特許文献1のように、1ビットエラーに対する記録調整が行われている。しかし、BDシステムで光学分解能を超える高密度記録約31GBを行った場合では、1ビットエラーだけではなく、2ビットエラー、3ビットエラーなどが発生する。ここで2ビットエラーとは、最短の記録マークまたはスペースの2Tが1Tシフトして復号されるエラーである。例えば、正解パターンがXTスペース-2Tマーク-YTスペースXs2mYsである場合、復号結果はX-1s2mY1sまたはX1s2mY-1sに誤る。2Tスペースの場合Xm2sYmも同様である。なお、X,Yは任意の正の整数であり、変調符号により決定される。例えば、RLL1,7符号では、X,Yは2T~8TSync部に9Tが存在するとなる。そのため、X-1またはY-1におけるXおよびYは、必然的に3T以上となる。また、3ビットエラーとは、最短の記録マークおよびスペースの2T連続が1Tシフトして復号されるエラーである。例えば、正解パターンがXTマーク-2Tスペース-2Tマーク-YTスペースXm2s2mYsである場合、復号結果はX-1m2s2mY1sまたはX1m2s2mY-1sに誤る。2Tマーク-2Tスペースの場合Xs2m2sYmも同様である。高密度記録では、この3ビットエラーによる影響が大きい。そのため、特許文献1による1ビットエラーに対応した記録調整では不十分である。また、特許文献1では、2T連続のエッジは検出されない。特許文献2では、記録調整するエッジに対する検出エッジが左右にシフトした場合のエラーパターンが設定される。そのため、特許文献2では、1ビットエラーだけではなく、2ビットエラーにも対応したエッジ検出が記載されている。ここで、図5に、1ビットエラーに対するユークリッド距離差のパターン分布を示す。図5aは再生ノイズが低い場合で、ノイズが低いために、パターン分布の広がりは少ない。しかし、図5bのように、再生ノイズが高くなると、パターン分布の広がりは大きくなる。但し、図5bにおけるパターン分布の平均値は、図5aにおけるパターン分布の平均値と殆ど変わらない。なお、ユークリッド距離差は、信号S1および信号S2とのユークリッド距離の2乗を表す。ユークリッド距離差Dは、次式により計算される。次に、図6に、2ビットエラーに対するユークリッド距離差のパターン分布を示す。図6aは再生ノイズが低い場合で、図5aと同じ例としている。図6bのように、再生ノイズが高くなると、図5bと同様に、パターン分布の広がりは大きくなる。さらに、図6bにおけるパターン分布の平均値は、図6aにおけるパターン分布の平均値と異なる。この平均値ずれは、PRML方式を用いた再生信号の適応等化処理が不十分、すなわち等化誤差が残る場合に発生する。光学分解能を超える条件において、再生装置の回路規模や部品などに制限があるため、この平均値ずれが発生する。なお、この平均値ずれは、3ビットエラーの場合にも発生する。図5または図6において、各パターン分布の平均値を平均したエッジ検出は、ノイズの影響を受けない。しかし、ユークリッド距離が異なるパターン分布を用いる場合例えば、図5aにおける左のパターン分布と、図6aにおける右のパターン分布、各パターン分布の平均値を平均したエッジ検出は、ノイズの影響を受ける。このように、特許文献2では、再生ノイズの影響を受ける記録制御となっている。さらに、図7に、記録パラメータのテーブルの一例を示す。図7は、記録パラメータの記録補償ここではスペース補償の説明例であり、図7aは始端エッジに対する記録マーク長と前方スペースとの関係を示し、図7bは終端エッジに対する記録マーク長と後方スペースとの関係を示す。図7において、記録マークMi、前方スペースSi-1、後方スペースSi1の各記号は、図8に示すような記録マークおよびスペースの時系列によって表される。記号Mは記録マーク、記号Sはスペース、任意の記録マークおよびスペースの時系列は記号iを用いて表し、図7の記録パラメータに対応する記録マークをMiで表す。従って、記録マークMiの前方スペースはSi-1、記録マークMiの後方スペースはSi1である。そのため、例えば図7の始端エッジにおけるパターン3Ts4TmはSi-1=3T、Mi=4Tの関係となり、終端エッジにおけるパターン3Tm2TsはMi=3T、Si1=2Tの関係となる。例えば、図7において、始端エッジの記録パラメータとしてTtopおよびdTtop、終端エッジの記録パラメータとしてTlpおよびdTsが設定される。特許文献1および2ともに、図7のように始端エッジでは前方スペース、終端エッジでは後方スペースに対してのみ記録パラメータが設定される。しかし、上記したように、高密度記録では自己マークの熱干渉の影響が発生する。そのため、前方および後方スペースに対応した記録パラメータの設定が必要となる。以上のことから、光学分解能を超える高密度記録を行う場合、PRML方式におけるユークリッド距離差に対するノイズの影響を低減し、なおかつ自己マークの熱干渉の影響を考慮した記録調整が必要となる。そのため、従来技術のようなエッジ検出で、前方または後方スペースのみ記録パラメータを設定した記録調整では、特に最短の記録マークおよびスペースが繰り返される信号に対する記録調整性能が不十分であるという課題を有していた。本発明は、これらの課題を解決するため、高密度記録において、最尤復号を行うときのエラーの発生する確率が最小となるように、情報の記録時に記録パラメータを最適化する情報再生方法、情報記録方法、およびそのような方法において調整された記録条件を記録する情報記録媒体を提供する。本発明の情報再生方法は、情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生ステップと、前記復調された正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップとを包含する。前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第1および第2のエラーパターンを検出するステップを含む。前記第1のエラーパターンと前記第2のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の2乗が互いに異なる。前記検出ステップは、前記第1のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第1のパターンシフト量を演算するステップと、前記第2のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第2のパターンシフト量を演算するステップと、前記第1のパターンシフト量と前記第2のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップとをさらに含む。ある実施形態によれば、前記第1のエラーパターンにおけるエラービット数は同じであり、前記第2のエラーパターンにおけるエラービット数は同じであり、前記第1のエラーパターンにおけるエラービット数と前記第2のエラーパターンにおけるビット数とは互いに異なる。ある実施形態によれば、前記第1のエラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に1ビットシフトするエラーパターンと、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に1ビットシフトするエラーパターンとを含む。前記第2のエラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークのエッジずれで発生するエラーパターンである。ある実施形態によれば、前記情報の再生に用いるレーザ光の波長をλ、対物レンズの開口数NAとすると、前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの長さは、λ/4×NA以下の長さである。ある実施形態によれば、前記レーザ光の波長λは400nmから410nm、前記対物レンズの開口数NAは0.84から0.86である。ある実施形態によれば、前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが反転する2つのグループで、前記長さ誤差および前記位相誤差をそれぞれ演算する。また、本発明の情報再生方法は、最短ラン長が2TであるRLL1,7符号を用いた情報が複数の長さを有する記録マークおよびスペースとして形成された情報記録媒体から情報を再生する。情報再生方法は、PR1,2,2,2,1MLであるPRML方式を用いて、前記情報記録媒体から再生される再生信号から前記情報を復調する再生ステップと、前記PRML方式で識別される正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップとを包含する。前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第1および第2のエラーパターンを検出するステップを含む。前記第1のエラーパターンと前記第2のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の2乗が互いに異なる。正解パターンのビット列が1110011000であり、前記第1のエラーパターンが1100111000および1110001100を含む場合と、正解パターンのビット列が0001100111であり、前記第1のエラーパターンが0011000111および0001110011を含む場合とにおいて、前記検出ステップは、前記第1のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第1のパターンシフト量を演算するステップと、前記第2のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第2のパターンシフト量を演算するステップと、前記第1のパターンシフト量と前記第2のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップとをさらに含む。本発明の情報記録方法は、情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生ステップと、前記復調された正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップと、前記長さ誤差および前記位相誤差に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録条件を調整する調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップとを包含する。前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第1および第2のエラーパターンを検出するステップを含む。前記第1のエラーパターンと前記第2のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の2乗が互いに異なる。前記検出ステップは、前記第1のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第1のパターンシフト量を演算するステップと、前記第2のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して、第2のパターンシフト量を演算するステップと、前記第1のパターンシフト量と前記第2のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップとをさらに含む。本発明の情報記録媒体は、トラックを有する情報記録媒体であって、前記トラックには情報が記録され、前記トラックを再生した再生信号から情報が復調される。前記復調される正解パターンに対応する複数のエラーパターンが検出され、前記複数のエラーパターンのうちの第1および第2のエラーパターンが検出される。前記第1のエラーパターンと前記第2のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の2乗が互いに異なる。前記第1のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第1のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化することにより、第1のパターンシフト量が演算される。前記第2のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の2乗との差を、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第2のエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化することにより、第2のパターンシフト量が演算される。前記第1のパターンシフト量と前記第2のパターンシフト量との和または差により、長さ誤差と位相誤差が演算され、前記長さ誤差と前記位相誤差に基づいて調整された記録条件が前記情報記録媒体に記録される。本発明の情報再生装置は、前記情報記録媒体から情報の再生を行う情報再生装置であって、前記情報記録媒体にレーザ光を照射する光ヘッド部と、前記情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生部を備える。また、本発明の情報記録再生装置は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生部と、PRML方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる2つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の2乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の2乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する記録調整部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録部を備える。前記エラーパターンの1つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第1エラーパターンおよび第2エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整部は、前記第1エラーパターンおよび前記第2エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトとによって前記信号指標値を算出する。ある実施形態によれば、前記信号指標値が0に最も近くなる、または前記信号指標値の絶対値が最小となるように、記録パルスまたは記録パワーを調整する。ある実施形態によれば、前記第1エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に1ビットシフトするエラーパターンであり、前記第2エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に1ビットシフトするエラーパターンである。ある実施形態によれば、前記PRML方式がPR1,2,2,2,1MLであり、最短ラン長が2Tである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列1110011000に対する前記第1エラーパターンは1100111000、前記第2エラーパターンは1110001100である。または、正解パターンのビット列0001100111に対する前記第1エラーパターンは0011000111、前記第2エラーパターンは0001110011である。ある実施形態によれば、前記第1エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が前方に1ビットシフトするエラーパターンであり、前記第2エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が後方に1ビットシフトするエラーパターンである。ある実施形態によれば、前記PRML方式がPR1,2,2,2,1MLであり、最短ラン長が2Tである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列1110011000に対する前記第1エラーパターンは1100110000、前記第2エラーパターンは1111001100である。または、正解パターンのビット列0001100111に対する前記第1エラーパターンは0011001111、前記第2エラーパターンは0000110011である。ある実施形態によれば、前記情報記録再生装置におけるレーザ波長をλ、対物レンズの開口数をNAとすると、前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの長さは、λ/4×NA以下の長さである。ある実施形態によれば、前記レーザの波長λは400nmから410nmである。ある実施形態によれば、前記対物レンズの開口数NAは0.84から0.86である。ある実施形態によれば、前記エラーパターンは、さらに、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第3エラーパターンおよび第4エラーパターンを含み、前記正解パターンに対応する第3エラーパターンのユークリッド距離は、前記正解パターンに対応する第1エラーパターンのユークリッド距離と同じであり、かつ、前記正解パターンに対する前記第3エラーパターンのエラービット数は、前記正解パターンに対する前記第1エラーパターンのエラービット数と異なる。前記信号指標値は、さらに、前記第3エラーパターンおよび第4エラーパターンで検出される各パターンシフトの差を用いて算出される。ある実施形態によれば、前記第1エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に1ビットシフトするエラーパターンであり、前記第2エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に1ビットシフトするエラーパターンであり、前記第3エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が前方に1ビットシフトするエラーパターンであり、前記第4エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が後方に1ビットシフトするエラーパターンである。ある実施形態によれば、前記PRML方式がPR1,2,2,2,1MLであり、最短ラン長が2Tである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列1110011000に対する前記第1エラーパターンは1100111000、前記第2エラーパターンは1110001100、前記第3エラーパターンは1100110000、前記第4エラーパターンは1111001100である。または、正解パターンのビット列0001100111に対する前記第1エラーパターンは0011000111、前記第2エラーパターンは0001110011、前記第3エラーパターンは0011001111、前記第4エラーパターンは0000110011である。また、本発明の情報記録再生装置は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生部と、PRML方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる2つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の2乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の2乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差および位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する記録調整部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録部を備える。前記エラーパターンの1つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第1エラーパターンおよび第2エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整部は、前記第1エラーパターンおよび前記第2エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。少なくとも1つの前記パターンシフトの差に対する係数を、長さ誤差および位相誤差の算出時で符号反転する。また、本発明の情報記録再生装置は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生部と、PRML方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる2つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の2乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の2乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが異なるグループに分類して調整する記録調整部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録部を備える。前記分類された各グループにおける前記エラーパターンの1つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第1エラーパターンおよび第2エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整部は、前記第1エラーパターンおよび前記第2エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。ある実施形態によれば、前記パターンシフトの差に対する係数を、前記分類された各グループで符号反転する。ある実施形態によれば、前記第1エラーパターンおよび第2エラーパターンは、前記分類された各グループに対しても、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである。ある実施形態によれば、検出される前記エラーパターンの数が各グループで同じである。ある実施形態によれば、前記分類されたグループは、最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びがスペース/記録マーク、記録マーク/スペース、スペース/記録マーク/スペースである。前記記録調整部は、スペース/記録マークおよび記録マーク/スペースに対して、前記信号指標値により記録条件を調整し、前記調整された記録条件に基づいてスペース/記録マーク/スペースの記録条件を決定する。また、本発明の情報記録再生装置は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生部と、PRML方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる2つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の2乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の2乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差および位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが異なるグループに分類して調整する記録調整部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録部を備える。前記分類された各グループにおける前記エラーパターンの1つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第1エラーパターンおよび第2エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整部は、前記第1エラーパターンおよび前記第2エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。少なくとも1つの前記分類された各グループにおける前記パターンシフトの差に対する係数を、長さ誤差および位相誤差の算出時で符号反転する。また、本発明の情報記録再生方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生ステップと、PRML方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる2つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の2乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の2乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する記録調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップを含む。前記エラーパターンの1つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第1エラーパターンおよび第2エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整ステップは、前記第1エラーパターンおよび前記第2エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。ある実施形態によれば、前記信号指標値が0に最も近くなる、または前記信号指標値の絶対値が最小となるように、記録パルスまたは記録パワーを調整する。ある実施形態によれば、前記第1エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に1ビットシフトするエラーパターンであり、前記第2エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に1ビットシフトするエラーパターンである。ある実施形態によれば、前記PRML方式がPR1,2,2,2,1MLであり、最短ラン長が2Tである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列1110011000に対する前記第1エラーパターンは1100111000、前記第2エラーパターンは1110001100である。または、正解パターンのビット列0001100111に対する前記第1エラーパターンは0011000111、前記第2エラーパターンは0001110011である。ある実施形態によれば、前記第1エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が前方に1ビットシフトするエラーパターンであり、前記第2エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が後方に1ビットシフトするエラーパターンである。ある実施形態によれば、前記PRML方式がPR1,2,2,2,1MLであり、最短ラン長が2Tである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列1110011000に対する前記第1エラーパターンは1100110000、前記第2エラーパターンは1111001100である。または、正解パターンのビット列0001100111に対する前記第1エラーパターンは0011001111、前記第2エラーパターンは0000110011である。ある実施形態によれば、前記情報記録再生方法におけるレーザ波長をλ、対物レンズの開口数をNAとすると、前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの長さは、λ/4×NA以下の長さである。ある実施形態によれば、前記レーザの波長λは400nmから410nmである。ある実施形態によれば、前記対物レンズの開口数NAは0.84から0.86である。ある実施形態によれば、前記エラーパターンは、さらに、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第3エラーパターンおよび第4エラーパターンを含み、前記正解パターンに対応する第3エラーパターンのユークリッド距離は、前記正解パターンに対応する第1エラーパターンのユークリッド距離と同じであり、かつ、前記正解パターンに対する前記第3エラーパターンのエラービット数は、前記正解パターンに対する前記第1エラーパターンのエラービット数と異なる。前記信号指標値は、さらに、前記第3エラーパターンおよび第4エラーパターンで検出される各パターンシフトの差を用いて算出される。ある実施形態によれば、前記第1エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に1ビットシフトするエラーパターンであり、前記第2エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に1ビットシフトするエラーパターンであり、前記第3エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が前方に1ビットシフトするエラーパターンであり、前記第4エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が後方に1ビットシフトするエラーパターンである。ある実施形態によれば、前記PRML方式がPR1,2,2,2,1MLであり、最短ラン長が2Tである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列1110011000に対する前記第1エラーパターンは1100111000、前記第2エラーパターンは1110001100、前記第3エラーパターンは1100110000、前記第4エラーパターンは1111001100である。または、正解パターンのビット列0001100111に対する前記第1エラーパターンは0011000111、前記第2エラーパターンは0001110011、前記第3エラーパターンは0011001111、前記第4エラーパターンは0000110011である。また、本発明の情報記録再生方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生ステップと、PRML方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる2つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の2乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の2乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差および位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する記録調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップを含む。前記エラーパターンの1つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第1エラーパターンおよび第2エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整ステップは、前記第1エラーパターンおよび前記第2エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。少なくとも1つの前記パターンシフトの差に対する係数を、長さ誤差および位相誤差の算出時で符号反転する。また、本発明の情報記録再生方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生ステップと、PRML方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる2つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の2乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の2乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが異なるグループに分類して調整する記録調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップを含む。前記分類された各グループにおける前記エラーパターンの1つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第1エラーパターンおよび第2エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整ステップは、前記第1エラーパターンおよび前記第2エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。ある実施形態によれば、前記パターンシフトの差に対する係数を、前記分類された各グループで符号反転する。ある実施形態によれば、前記第1エラーパターンおよび第2エラーパターンは、前記分類された各グループに対しても、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである。ある実施形態によれば、検出される前記エラーパターンの数が各グループで同じである。ある実施形態によれば、前記分類されたグループは、最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びがスペース/記録マーク、記録マーク/スペース、スペース/記録マーク/スペースである。前記記録調整ステップは、スペース/記録マークおよび記録マーク/スペースに対して、前記信号指標値により記録条件を調整し、前記調整された記録条件に基づいてスペース/記録マーク/スペースの記録条件を決定する。また、本発明の情報記録再生方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生ステップと、PRML方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる2つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の2乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の2乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差および位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが異なるグループに分類して調整する記録調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップを含む。前記分類された各グループにおける前記エラーパターンの1つは、少なくとも、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第1エラーパターンおよび第2エラーパターンを含む。前記記録調整ステップは、前記第1エラーパターンおよび前記第2エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。少なくとも1つの前記分類された各グループにおける前記パターンシフトの差に対する係数を、長さ誤差および位相誤差の算出時で符号反転する。また、本発明の情報記録制御装置は、情報記録媒体から再生した情報を示す再生信号に対して、PRML方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる2つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の2乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の2乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する。前記エラーパターンの1つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第1エラーパターンおよび第2エラーパターンを少なくとも含む。前記第1エラーパターンおよび前記第2エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。また、本発明の情報記録制御方法は、情報記録媒体から再生した情報を示す再生信号に対して、PRML方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる2つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の2乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の2乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する。前記エラーパターンの1つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第1エラーパターンおよび第2エラーパターンを少なくとも含む。前記第1エラーパターンおよび前記第2エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。本発明によれば、情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調し、復調される正解パターンに対応する複数のエラーパターンと再生信号との間のユークリッド距離の2乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する際に、最短の記録マークまたはスペースに関係するビットがシフトすることで発生する第1のエラーパターンと、記録マークのエッジずれで発生する第2のエラーパターンとを使用する。このとき、第1のエラーパターンと第2のエラーパターンは、正解パターンとのユークリッド距離の2乗が互いに異なる。そして、エラーパターンと再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、正解パターンと再生信号との間のユークリッド距離の2乗の差を、正解パターンとエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して得られるパターンシフトを、複数のエラーパターンごとに検出する。そして、第1のエラーパターンに対して正規化された第1のパターンシフト量と、第2のエラーパターンに対して正規化された第2のパターンシフト量との和または差により、長さ誤差と位相誤差を演算する。このとき、第1のエラーパターンは、少なくとも最短の記録マークまたはスペースが前方にビットシフトするエラーパターンと、後方にビットシフトするエラーパターンを含む。そして、第1のパターンシフト量によって、最短の記録マークまたはスペースが前方にビットシフトするエラーパターンから検出されるパターンシフトと、後方にビットシフトするエラーパターンから検出されるパターンシフトの平均的な位置を検出することができる。平均的な位置を求めることで、再生ノイズによって前方方向および後方方向に変化するパターンシフトのずれ量を抑制することができる。そのため、第1のパターンシフト量によって、再生ノイズの影響を受けないエッジ検出ができる。このように、本発明によれば、正解パターンとのユークリッド距離の2乗が互いに異なる第1のエラーパターンと第2エラーパターンを用いて演算した長さ誤差および位相誤差を、再生ノイズが変化しても、適切に検出することができる。本発明は、最短の記録マークまたはスペースに関するビットがシフトすることで発生するエラーが含まれる光学分解能を超える高密度記録に対して特に有効である。本発明により記録条件を調整することによって、光学分解能を超える高密度記録に対して、記録情報のエラーレートが低減する記録を行うことができ、より安定した記録再生システムを提供することができる。以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。同様の構成要素には同様の参照符号を付し、同様の説明の繰り返しは省略する。なお、本発明の実施形態の説明では、BDシステムで光学分解能を超える高密度記録について説明を行う。上記のように、光学分解能を超える記録密度は約31GB以上である。但し、本実施形態は、約31GB以上に限定されず、ほぼ同じ記録密度である30GBに適用してもよい。また、本実施形態における再生系の信号処理にPR1,2,2,2,1ML方式を採用し、記録符号にRLL1,7符号等のRLLRunLengthLimited符号を用いる。このとき、変調符号の最短ラン長は2Tとして説明を行う。そのため、最短マークおよびスペースである2Tの長さが119.1nm以下となる。はじめに、本実施形態における記録条件である記録パラメータのテーブル以下、パターンテーブルについて説明する。なお、本実施形態における記録条件は、記録パルス条件として説明するが、記録パワー条件など他の記録パラメータであってもよい。図9に、本実施形態における記録パラメータのパターンテーブルを示す。図9aは記録マークの始端エッジ、図9bは記録マークの終端エッジに関する記録パラメータのパターンテーブルである。ここでの特徴は、最短マークに対する記録において、記録パラメータが前方および後方スペースの両方以下、前後スペースに対して設定されることである。図9aでは、後方スペースの長さに応じて記録パラメータ設定が分離される。図9bでは、前方スペースの長さに応じて記録パラメータ設定が分離される。図9において、記録パラメータの対象となる記録マークは、上述した図7および図6と同様に、記録マークMiで表す。その他のスペースまたは記録マークに関しても同様の記号を用いる。図9aにおけるSi1の記号2Tsは、後方スペースが2Tスペース以外、すなわち3Tスペース以上例えば3Tスペースであることを表現している。図9bにおけるSi-1の記号2Tsも同様である。従って、最短マーク2Tmは、前後スペースで記録パラメータが設定されることになる。例えば、図9aにおける3Ts2Tm2Tsは、前方スペースが3Tスペース、後方スペースが2Tスペースであることを表している。また、記号xTsは、スペースの長さを特に限定する必要がないことを表している。さらに、図7と同様のパターン表現に関しては、カッコを付与する。例えば、図7aのパターン2Ts3Tmは、図9aではパターン2Ts3Tmと表現される。これらの記号は、他のパターンに対しても同じである。図9のパターンテーブルにより、記録マークが最短マーク以外、すなわち、3Tマーク以上は従来のパターンテーブル図7と同じである。そして、記録マークMiが最短マークとなる場合のみ、図9aでは後方のスペースSi1の長さ、図9bでは前方のスペースSi-1の長さに応じて、パターン表現が異なる。つまり、最短マークの後方または前方のスペース長の違いにより、記録パラメータが異なる設定で行われることを意味する。このように、本実施形態では、自己マークの熱干渉の影響が生じる高密度記録においても、より適切な記録マークが形成できるように、最短マークの後方または前方のスペース長の違いによって、記録パラメータを分離している。図9において、SMSグループ、SMグループ、MSグループは、2T連続パターンに関係する記録パラメータである。ここで、本実施形態における2T連続パターン、すなわち最短の記録マークおよびスペースが繰り返されるパターンの分類について説明する。図10に、2T連続パターンの分類を示す。図10aでは、記録マークが2Tマークであり、前方スペースが2Tスペース、後方スペースが2Tスペースである。図10bでは、記録マークが2Tマークであり、前方スペースが2Tスペース、後方スペースが3T以上のスペースである。図10cでは、記録マークが2Tマークであり、前方スペースが3T以上のスペース、後方スペースが2Tスペースである。なお、X,Yは任意の整数である。図10において、図10aは前後スペースが2Tスペースであり、図10bおよび図10cは前方または後方スペースの一方が2Tスペースである。従って、図10aにおける2T連続パターンは、2Tマークを含み、2Tマークおよび2Tスペースが少なくとも3回以上連続する。図10bおよび図10cにおける2T連続パターンは、2Tマークを含み、2Tマークおよび2Tスペースが少なくとも2回以上連続する。本実施形態では、図10aの2T連続パターンをSMSパターン、図10bの2T連続パターンをSMパターン、図10cの2T連続パターンをMSパターンとする。上述したように、図9におけるSMSグループ、SMグループ、MSグループは、2T連続パターンに関係する記録パラメータである。図9におけるSMSグループは、図10aのSMSパターンに対する記録パラメータである。SMSグループは、図9aの始端エッジに対しては2Ts2Tm2Ts、図9bの終端エッジに対しては2Ts2Tm2Tsとなる。図9におけるSMグループは、図10bのSMパターンに対する記録パラメータである。SMグループは、図9aの始端エッジに対しては2Ts2Tm2Ts、図9bの終端エッジに対しては2Ts2Tm3Ts、2Ts2Tm4Ts、2Ts2Tm5Tsとなる。図9におけるMSグループは、図10cのMSパターンに対する記録パラメータである。MSグループは、図9aの始端エッジに対しては3Ts2Tm2Ts、4Ts2Tm2Ts、5Ts2Tm2Ts、図9bの終端エッジに対しては2Ts2Tm2Tsとなる。従って、2T連続パターンに対する記録調整は、上述した2T連続パターンの各分類に対する記録パラメータにより調整することできる。なお、図9の記録マークが2Tマークの記録パラメータにおいて、SMSグループ、SMグループ、MSグループ以外の記録パラメータ例えば、図9aにおける3Ts2Tm2Tsは、2T連続パターンではないため、従来技術を用いて記録調整を行えばよい。すなわち、図9aの始端エッジは前方スペースに対して、図9bの終端エッジは後方スペースに対してエッジ調整を行う。なお、本実施形態では、図9aのように、前方スペースに対する後方スペースの設定は、最短スペース2Tsとそれ以外2Tで分離した。これは、記録パラメータを記憶する回路の規模を考慮して、熱干渉の影響が最も大きい最短スペースで分離した場合であるが、本実施形態はこれに限定されない。例えば、後方スペースの設定は、3T以上例えば、前方スペースと同じように3T,4T,≧5Tで分離してもよい。図9bのように、後方スペースに対する前方スペースの設定も同様である。また、すべての記録パラメータを前方スペースまたは後方スペースを基準とした記録パラメータに設定図9a、bのどちらかに統一しても良い。この場合においても、2T連続パターンの各分類は同様に設定される。図9における記録パラメータでは、2T連続パターンを考慮したために、2Tマークに対する記録パラメータが拡張されているが、3T以上の記録マークに対しても同様に、前後スペースに対する設定を行ってもよい。次に、2T連続パターンの記録調整時に使用するエッジ検出について説明する。まず、図11および図12を参照して、PR1,2,2,2,1MLを簡単に説明する。図11は、RLL1,7記録符号と等化方式PR1,2,2,2,1とから定まる状態遷移則を示す状態遷移図である。図12は、図11に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。PR1,2,2,2,1MLとRLL1,7との組み合わせにより、復号の状態数は10に制限され、その状態遷移のパス数は16になり、再生レベルは9レベルとなる。図11に示すPR1,2,2,2,1MLの状態遷移則を参照して、ある時刻での状態S0,0,0,0をS0、状態S0,0,0,1をS1、状態S0,0,1,1をS2、状態S0,1,1,1をS3、状態S1,1,1,1をS4、状態S1,1,1,0をS5、状態S1,1,0,0をS6、状態S1,0,0,0をS7、状態S1,0,0,1をS8、状態S0,1,1,0をS9というように表記し、10状態を表現する。ここで、括弧内に記載されている0または1は、時間軸上の信号系列を示し、ある状態から次の時刻の状態遷移で、どの状態になる可能性があるのかを示している。また、この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図12に示すトレリス図が得られる。図12に示すPR1,2,2,2,1MLの状態遷移において、ある時刻の所定の状態から別の時刻の所定の状態へ遷移するときに2つの状態遷移を取り得るような状態遷移列パターン状態の組み合わせが無数にある。しかしながら、エラーを引き起こす可能性が高いパターンは、判別が難しい特定のパターンに限定される。特にエラーが発生しやすいパターンに着目すると、PR1,2,2,2,1MLの状態遷移列パターンは、表1、表2および表3に示すようにまとめることができる。表1は1ビットエラー、表2は2ビットエラー、表3は3ビットエラーに対応している。表1~表3において、第1番目の列は、エラーを起こしやすい2つの状態遷移が分岐して再合流する状態遷移Smk-9→Snkを表す。第2番目の列は、この状態遷移を発生する遷移データ列bk-i,,bkを表す。遷移データ列中のXは、これらのデータの中でエラーを起こす可能性が高いビットを示しており、この状態遷移がエラーと判定された際に、このX数Xも同様がエラー数となる。遷移データ列の中で、Xが1もしくは0となった一方が、最も確からしい第1の状態遷移列に対応し、もう一方が2番目に確からしい第2の状態遷移列に対応する。表2および表3において、XはXのビット反転を表している。ビタビ復号などにより復調を行った復調データ列の中から、この遷移データ列と比較Xの箇所はDon’tCareを行うことで、エラーを起こしやすい最も確からしい第1の状態遷移列と2番目に確からしい第2の状態遷移列を抽出することができる。3番目の列は、第1の状態遷移列および第2の状態遷移列に対する検出パターンを表している。表1~表3において、かっこ[]内の記号は、第1の状態遷移列および第2の状態遷移列のユークリッド距離差を表している。但し、表2および表3における各ユークリッド距離差は12であるため、各表を区別するために、表2の記号は12A、表3の記号は12Bとしている。また、かっこ[]外の数字は、18種類存在する検出パターンを区別しており、記号A,Bは2つの状態遷移列を区別している。4番目の列は、各時刻における状態Sを表している。5番目の列は、それぞれの状態遷移を経由した場合の2つの理想的な再生波形PR等化理想値を示しており、6番目の列は、この2つの理想信号のユークリッド距離の2乗ユークリッド距離差を示している。表1は、2つの状態遷移を取り得る状態遷移パターンのユークリッド距離差が14となる状態遷移パターンを示し、18種類が存在する。これらのパターンは、記録マークとスペースの切り替わり部分再生信号のエッジ部分に該当する。一例として、表1の状態遷移におけるS0k-5からS6kに到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が0,0,0,0,1,1,1,0,0と遷移する1つのパス、すなわち、4T以上スペース、3Tマーク、2T以上スペースが検出される。なお、再生データの0はスペース部分、1はマーク部分とする。図13は、表1に示す上記記録系列のPR等化理想波形の一例を示す図である。上記示した記録系列のPR等化理想波形を図13にパスAの信号波形として示す。同様に、図14は、表2で示すPR等化理想波形の一例を示す図である。図15は、表3で示すPR等化理想波形の一例を示す図である。図13、図14および図15において、横軸はサンプル時間記録系列の1時刻ごとにサンプリングを示し、縦軸は再生信号レベルを示している。上述したように、PR1,2,2,2,1MLでは、理想的な再生信号レベルは9レベル0レベルから8レベルある。表1の状態遷移におけるS0k-5からS6kに到る状態遷移パスのうちのもう1つのパスの記録系列の遷移0,0,0,0,0,1,1,0,0は、5T以上スペース、2Tマーク、2T以上スペースとなる。そのパスのPR等化理想波形を図13にパスBの信号波形として示す。表1に示すユークリッド距離差が14のパターンの特徴は、エッジ情報が必ず1つ含まれている点が特徴である。表2は、ユークリッド距離差が12となる状態遷移パターンを示し、18種類が存在する。これらのパターンは、2Tマークまたは2Tスペースのシフトエラーに該当し、2ビットエラーのパターンである。一例として、表2の状態遷移におけるS0k-7からS0kに到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が0,0,0,0,1,1,0,0,0,0,0と遷移する1つのパス、すなわち、4T以上スペース、2Tマーク、5T以上スペースが検出される。そのパスのPR等化理想波形を図14にパスAの信号波形として示す。もう1つのパスの記録系列の遷移0,0,0,0,0,1,1,0,0,0,0は、5T以上スペース、2Tマーク、4T以上スペースとなる。そのパスのPR等化理想波形を図14にパスBの信号波形として示す。表2に示すユークリッド距離差が12のパターンの特徴は、2Tの立ち上がりおよび立ち下りのエッジ情報が必ず2つ含まれていることである。表3は、ユークリッド距離差が12となる状態遷移列パターンを示し、18種類が存在する。これらのパターンは、2Tマークと2Tスペースとが連続する箇所に該当し、3ビットエラーのパターンである。一例として、表3の状態遷移におけるS0k-9からS6kに到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が0,0,0,0,1,1,0,0,1,1,1,0,0と遷移する1つのパス、すなわち、4T以上スペース、2Tマーク、2Tスペース、3Tマーク、2T以上スペースが検出される。そのパスのPR等化理想波形を図15にパスAの信号波形として示す。もう1つのパスの記録系列の遷移0,0,0,0,0,1,1,0,0,1,1,0,0は、5T以上スペース、2Tマーク、2Tスペース、2Tマーク、2T以上スペースとなる。そのパスのPR等化理想波形を図15にパスBの信号波形として示す。表3に示すユークリッド距離差が12のパターンの特徴は、エッジ情報が少なくとも3つ含まれていることである。本実施形態における記録調整は、はじめにSMグループとMSグループの2Tマークの記録条件をそれぞれ調整し、続いてSMSグループの2Tマークの記録条件をSMグループおよびMSグループの各記録調整結果から調整する。これは、SMSグループにおける2Tマークの始終端エッジに対して直接検出できるエッジずれ情報が少ないためである。また、SMSグループは、SMグループおよびMSグループにおける2T連続パターンを含む。従って、本実施形態では、SMグループおよびMSグループの検出を行う。ここで、2T連続パターンにおける2Tマークの長さおよび位相変化に対して、誤りやすいパターンについて説明する。図16にSMグループの2Tマーク変化時に誤りやすいパターン、図17にMSグループの2Tマーク変化時に誤りやすいパターンを示す。図16aは、SMグループにおける2Tマークが変化した場合に、熱干渉の影響で前マークの終端エッジが1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。このとき、Xは3以上の整数である。なお、図16aは1ビットエラーであるため、上記表1の状態遷移列パターンで検出される。図16bは、SMグループにおける2Tマークが変化した場合に、2Tマークの終端エッジが1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。なお、図16bは1ビットエラーであるため、上記表1の状態遷移列パターンで検出される。図16cは、SMグループにおける2Tマークが変化した場合に、2Tマーク前方の2Tスペースが前方に1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。このとき、Xは3以上の整数である。なお、図16cは2ビットエラーであるため、上記表2の状態遷移列パターンで検出される。図16dは、SMグループにおける2Tマークが変化した場合に、2Tマークが後方に1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。なお、図16dは2ビットエラーであるため、上記表2の状態遷移列パターンで検出される。図16eは、SMグループにおける2Tマークが変化した場合に、2Tスペースおよび2Tマークが前方に1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。このとき、Xは3以上の整数である。なお、図16eは3ビットエラーであるため、上記表3の状態遷移列パターンで検出される。図16fは、SMグループにおける2Tマークが変化した場合に、2Tスペースおよび2Tマークが後方に1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。なお、図16fは3ビットエラーであるため、上記表3の状態遷移列パターンで検出される。図17の説明についても、図16と同様である。図17aは、MSグループにおける2Tマークが変化した場合に、2Tマークの始端エッジが1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。なお、図17aは1ビットエラーであるため、上記表1の状態遷移列パターンで検出される。図17bは、MSグループにおける2Tマークが変化した場合に、熱干渉の影響で後マークの始端エッジが1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。このとき、Yは3以上の整数である。なお、図17bは1ビットエラーであるため、上記表1の状態遷移列パターンで検出される。図17cは、MSグループにおける2Tマークが変化した場合に、2Tマークが前方に1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。なお、図17cは2ビットエラーであるため、上記表2の状態遷移列パターンで検出される。図17dは、MSグループにおける2Tマークが変化した場合に、2Tマーク後方の2Tスペースが後方に1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。このとき、Yは3以上の整数である。なお、図17dは2ビットエラーであるため、上記表2の状態遷移列パターンで検出される。図17eは、MSグループにおける2Tマークが変化した場合に、2Tマークおよび2Tスペースが前方に1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。なお、図17eは3ビットエラーであるため、上記表3の状態遷移列パターンで検出される。図17fは、MSグループにおける2Tマークが変化した場合に、2Tマークおよび2Tスペースが後方に1ビットシフトして誤るエラーパターン図中の矢印である。このとき、Yは3以上の整数である。なお、図17fは3ビットエラーであるため、上記表3の状態遷移列パターンで検出される。上記、表1、表2および表3は、PR1,2,2,2,1MLにおける特にエラーが発生しやすいパターンに着目した検出パターンを表している。本実施形態における2T連続パターンに対する記録調整では、表1、表2および表3におけるすべての検出パターンを使用する必要はない。そのため、図16における各エラーパターンに対して、図16aは、表1における[14]6A,[14]9A,[14]18A、図16bは、表1における[14]4B,[14]5B,[14]6B、図16cは、表2における[12A]4A,[12A]7A,[12A]16A、図16dは、表2における[12A]13A,[12A]14A,[12A]15A、図16eは、表3における[12B]4A,[12B]5A,[12B]7A,[12B]8A,[12B]16A,[12B]17A、図16fは、表3における[12B]4B,[12B]5B,[12B]6B,[12B]7B,[12B]8B,[12B]9B,[12B]16B,[12B]17B,[12B]18Bの検出パターンにより、各グループにおけるパターン分布の平均値ずれパターンシフトが検出される。同様に、図17における各エラーパターンに対して、図17aは、表1における[14]1B,[14]10B,[14]13B、図17bは、表1における[14]13A,[14]14A,[14]15A、図17cは、表2における[12A]3B,[12A]12B,[12A]15B、図17dは、表2における[12A]4B,[12A]5B,[12A]6B、図17eは、表3における[12B]1B,[12B]2B,[12B]3B,[12B]10B,[12B]11B,[12B]12B,[12B]13B,[12B]14B,[12B]15B、図17fは、表3における[12B]1A,[12B]2A,[12B]3A,[12B]10A,[12B]11A,[12B]12Aの検出パターンにより、各グループにおけるパターン分布の平均値ずれパターンシフトが検出される。このように、SMパターンとMSパターンの差は、記録マークおよびスペースの並びが異なるだけである。そのため、SMパターンおよびMSパターンにおいて、再生信号の復号結果である2値化データ正解パターンに対するユークリッド距離やエラービット数は同じであり、また検出されるエラーパターン数も同じとなる。但し、本実施形態は、これに限定されず、ユークリッド距離やエラーパターン数を変更したパターンシフトを検出してもよい。本実施形態において、再生信号をS、正解パターンの信号をT、前記2値化データにおける対象エッジが前方に1ビットシフトするエラーパターンの信号をL、前記2値化データにおける対象エッジが後方に1ビットシフトするエラーパターンの信号をRとすると、正解パターンの信号と再生信号のユークリッド距離差はDT,S、前方に1ビットシフトするエラーパターンの信号と再生信号のユークリッド距離差はDL,S、後方に1ビットシフトするエラーパターンの信号と再生信号のユークリッド距離差はDR,S、正解パターンの信号と前方に1ビットシフトするエラーパターンの信号のユークリッド距離差はDT,L、正解パターンの信号と後方に1ビットシフトするエラーパターンの信号のユークリッド距離差はDT,Rとなる。このとき、前方に1ビットシフトするエラーパターンに関係するパターンシフトPS1は、次式により計算される。また、後方に1ビットシフトするエラーパターンに関係するパターンシフトPS2は、次式により計算される。なお、再生信号に対して対象エッジは複数回検出されるため、パターンシフトPS1およびPS2は複数回検出した累積結果を平均することで、パターンシフトの検出精度を向上させることができる。図16のSMグループにおける各パターンシフトは、式2または式3により計算される。図16aにおけるパターンシフトをPXM2Sとすると、PXM2Sは式2で計算される。図16bにおけるパターンシフトをP2MXSとすると、P2MXSは式3で計算される。図16cにおけるパターンシフトをASM_Lとすると、ASM_Lは式2で計算される。図16dにおけるパターンシフトをASM_Rとすると、ASM_Rは式3で計算される。図16eにおけるパターンシフトをBSM_Lとすると、BSM_Lは式2で計算される。図16fにおけるパターンシフトをBSM_Rとすると、BSM_Rは式3で計算される。同様に、図17のMSグループにおける各パターンシフトも、式2または式3により計算される。図17aにおけるパターンシフトをPXS2Mとすると、PXS2Mは式2で計算される。図17bにおけるパターンシフトをP2SXMとすると、P2SXMは式3で計算される。図17cにおけるパターンシフトをAMS_Lとすると、AMS_Lは式2で計算される。図17dにおけるパターンシフトをAMS_Rとすると、AMS_Rは式3で計算される。図17eにおけるパターンシフトをBMS_Lとすると、BMS_Lは式2で計算される。図17fにおけるパターンシフトをBMS_Rとすると、BMS_Rは式3で計算される。本実施形態において、SMグループにおける2Tマークの長さ誤差Lsmおよび位相誤差Psmは、図16の各パターンシフトを用いて検出され、次式により計算される。なお、係数a1,b1,c1,a2,b2,c2は実数である。前記係数は、各成分との加減算を行うための符号、または各成分との重み付けを行うために使用される。ここで、式4および式5において、第2項および第3項は同じユークリッド距離差における各成分の平均値としている。すなわち、前方に1ビットシフトする成分と後方に1ビットシフトする成分の平均的な位置を検出している。このようにして、上記課題に対して、再生ノイズにより発生するユークリッド距離差のパターン分布の平均値ずれを抑制することができる。そのため、長さ誤差および位相誤差の計算において、第2項および第3項の計算式は同じとなる。但し、係数b1とb2、または係数c1とc2が異なってもよい。また、式4および式5における各パターンシフトは、式2および式3においてユークリッド距離差で正規化されているため、ユークリッド距離差が異なる項に対して、式4および式5の計算が可能となる。なお、本実施形態において、ユークリッド距離差が異なる項は、第1項とその他第2項および第3項の関係である。さらに、長さ誤差および位相誤差の計算における第1項内の符号の違いについて説明する。図18に、SMグループの2Tマークの長さ変化および位相変化を示す。図18aは、2Tマークの長さが長くなるように2Tマークの始端エッジを変化させた場合のマーク変化である。図18bは、2Tマークの始終端エッジによって2Tマークの位相を前方に変化させた場合のマーク変化である。図18aにおいて、2Tマークの始端エッジを変化させると、2Tマークの始端エッジおよび終端エッジ、さらに前方の記録マークの終端エッジが変化する。このとき、前方の記録マークの終端エッジの変化量をΔx1、2Tマークの終端エッジの変化量をΔx2とする。図18bにおいて、2Tマークの始終端エッジを同一方向に変化させると、2Tマークの始端エッジおよび終端エッジ、さらに前方の記録マークの終端エッジが変化する。このとき、前方の記録マークの終端エッジの変化量をΔy1、2Tマークの終端エッジの変化量をΔy2とする。なお、変化量Δx1、Δx2、Δy1は、他のマークエッジの変化により、熱干渉の影響を受けたエッジ変化量である。そのため、各変化量は、マークエッジの変化量よりも小さい。図18aおよび図18bにおいて、2Tマークの始端エッジの変化は前方に変化するため、前方の記録マークの終端エッジの変化量Δx1およびΔy1は同一方向に変化する。図18の場合では、Δx1およびΔy1は後方に変化する。しかし、2Tマークの終端エッジの変化は、2Tマークの長さおよび位相変化によって、逆方向に変化する。図18の場合では、Δx2は後方に、Δy2は前方に変化する。このように、長さ変化および位相変化によって、同一方向と逆方向に変化する変化量が存在する。従って、式4および式5における第1項に関して、PXM2Sの符号は同じで、P2MXSの符号は異なっている。同様に、本実施形態において、MSグループにおける2Tマークの長さ誤差Lmsおよび位相誤差Pmsは、図17の各パターンシフトを用いて検出され、次式により計算される。なお、係数a3,b3,c3,a4,b4,c4は実数である。前記係数は、各成分との加減算を行うための符号、または各成分との重み付けを行うために使用される。このようにして、SMグループおよびMSグループの2Tマークは、長さ誤差および位相誤差を検出することで、記録調整することが可能となる。なお、SMSグループの2Tマークは、SMグループおよびMSグループの各調整結果を反映すればよい。例えば、SMSグループの2Tマークにおける記録条件例えばdTtopは、SMグループの2Tマークにおける記録条件およびMSグループの2Tマークにおける記録条件の平均値に設定される。あるいは、初期記録条件に対するSMグループの調整結果記録条件の変化量とMSグループの調整結果記録条件の変化量とした場合、SMSグループの2Tマークにおける記録条件は、各変化量を平均した値を初期条件に加算してもよい。前記調整結果の反映は、長さ調整または位相調整ごとに記録条件を反映しても良く、長さ調整および位相調整を一度に調整した後に記録条件を反映しても良い。なお、本実施形態の図16および図17では、正解パターンのビット列は次のように検出することになる。図16a、c、eの正解パターンは、ビット列1110011000である。図16b、d、fの正解パターンは、ビット列110011000である。図17a、c、eの正解パターンは、ビット列000110011である。図17b、d、fの正解パターンは、ビット列0001100111である。但し、正解パターンに対するエラーパターンのビット変化により、正解パターンのビット列は次のように検出してもよい。図16a、cの正解パターンは、ビット列111001となる。図16b、dの正解パターンは、ビット列011000となる。図17a、cの正解パターンは、ビット列000110となる。図17b、dの正解パターンは、ビット列100111となる。これにより、上記検出ビットに関する回路規模を減少することができる。このとき、上記正解パターンのビット列は、2T連続ではないビット列を含む検出パターンとなる。例えば、ビット列111001がビット列11100111の一部である場合である。そのため、記録調整を行う際に使用する記録信号における2Tマークまたは2Tスペースは、必ず2Tが連続する記録信号に設定することにより、上記正解パターンのビット列を置き換えることがより望ましい。また、図16dの正解パターンは、同一ユークリッド距離差である図16cの正解パターンと一致させるために、ビット列110011000をビット列1110011000に変更してもよい。同様に、図17cの正解パターンは、同一ユークリッド距離差である図17dの正解パターンと一致させるために、ビット列000110011をビット列0001100111に変更してもよい。さらに、図16fの正解パターンは、同一ユークリッド距離差である図16eの正解パターンと一致させるために、ビット列110011000をビット列1110011000に変更してもよい。同様に、図17eの正解パターンは、同一ユークリッド距離差である図17fの正解パターンと一致させるために、ビット列000110011をビット列0001100111に変更してもよい。この場合、図16fの検出パターンは、表3における[12B]7B,[12B]8B,[12B]9B,[12B]16B,[12B]17B,[12B]18Bとなり、図17eの検出パターンは、表3における[12B]1A,[12B]2A,[12B]3A,[12B]10A,[12B]11A,[12B]12Aとなる。これにより、信号振幅がない2Tが3連続以上する高周波数成分の信号を除去することができ、より精度良くSMパターンおよびMSパターンの信号に対するシフトずれを検出することができる。次に、本発明の実施形態による情報記録再生装置を説明する。図1に本発明の実施形態による情報記録再生装置100を示す。情報記録再生装置100は、再生部101、記録調整部102、記録部103を備える。再生部101は、プリアンプ部3、AGC部4、波形等化部5、A/D変換部6、PLL部7を備える。記録調整部102は、PR等化部8、最尤復号部9、パターンシフト検出部10、制御部15を備える。制御部15は評価指標計算部16を有する。記録部103は、光ヘッド2、記録パターン発生部11、記録補償部12、レーザ駆動部13、レーザパワー設定部14を備える。情報記録再生装置100には、情報記録媒体1が搭載される。情報記録媒体1は、光学的に情報の記録再生が行われる情報記録媒体であり、例えば光ディスクである。光ヘッド2は、対物レンズを通過したレーザ光を情報記録媒体1の記録層に収束させ、その反射光を受光して、情報記録媒体1に記録された情報を示すアナログ再生信号を生成する。例えば、対物レンズの開口数NAは0.84から0.86であり、より好ましくは0.85である。レーザ光の波長は400から410nmであり、より好ましくは405nmである。プリアンプ部3は、アナログ再生信号を所定のゲインで増幅してAGC部4へ出力する。AGC部4は、予め設定されたターゲットゲインを用いて、A/D変換部6から出力される再生信号のレベルが一定のレベルとなるように再生信号を増幅して波形等化部5へ出力する。波形等化部5は、再生信号の高域を遮断するLPF特性と、再生信号の所定の周波数帯域を増幅するフィルタ特性を有しており、再生波形を所望の特性に整形させてA/D変換部6へ出力する。PLL部7は、波形等化後の再生信号に同期する再生クロックを生成してA/D変換部6へ出力する。A/D変換部6は、PLL部7から出力される再生クロックに同期して再生信号をサンプリングしてアナログ再生信号をデジタル再生信号へ変換し、PR等化部8、PLL部7およびAGC部4へ出力する。A/D変換部6のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号はPR等化部8に入力される。PR等化部8は、記録時および再生時のデジタル再生信号の周波数特性が最尤復号部9の想定する特性例えばPR1,2,2,2,1等化特性となるように、デジタル再生信号の周波数を調整する。最尤復号部9は、PR等化部8から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、2値化信号を生成する。最尤復号部9は、例えばビタビ復号部である。PR等化部8および最尤復号部9を組み合わせた再生信号処理技術がPRML方式である。パターンシフト検出部10は、PR等化部8から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部9から出力された2値化信号とを受け取る。パターンシフト検出部10は、2値化信号から状態遷移を判別し、判別結果とブランチメトリックからパターンシフトを求める。このとき、パターンシフト検出部10は、2値化信号に基づいて、表1~表3の検出パターンに応じて前記パターンシフトを検出する。制御部15は、記録パルス条件を調整するために、再生部101、記録調整部102、記録部103、サーボ制御部図示せずなど記録再生装置における各部を制御する。また、制御部15は、記録パルス条件の調整時において、記録パターンの選択および記録再生動作を制御する。制御部15は、光ヘッド2の光学条件レーザ光の波長、NAにより、光学回折限界以上の長さとなる記録マークが少なくとも1つ以上含まれる記録信号が情報記録媒体に記録されるように、記録部103を制御する。例えば、上記光ヘッド2の好ましい光学条件では、最短マークの長さと最短スペースの長さを加算した長さは238.2nm未満となる。また、制御部15は、設定した記録マークの長さに応じた最適な等化特性例えば、PR1,2,2,2,1等化特性をPR等化部8に対して設定する。制御部15は、パターンシフト検出部10から出力された検出パターンに応じたパターンシフトを受け取り、SMグループおよびMSグループのパターンシフトに分離する。各グループに対応するパターンシフトに基づいて、長さ誤差または位相誤差の評価指標値が評価指標計算部16によって計算される。評価指標計算部16は、ユークリッド距離差が異なるパターンシフトを用いて評価指標値を計算する。評価指標値として、SMグループにおける長さ誤差および位相誤差は式4および式5により計算される。また、MSグループにおける長さ誤差および位相誤差は式6および式7により計算される。制御部15は、前記情報記録媒体に対して、複数の記録条件で記録信号の記録および再生を行う。さらに制御部15は、各記録条件に対して測定される評価指標値と、制御部15の内部に記憶されている指標目標値とを比較し、前記指標目標値に最も近い記録条件を判断する。指標目標値は例えば0である。この場合、評価指標値自体が調整誤差となるため、制御部15は、調整誤差が0に最も近い、または調整誤差の絶対値が最小となる記録条件に調整する。制御部15は、例えば光ディスクコントローラである。記録パターン発生部11は、入力された記録データから記録パターンとなるNRZI信号を生成する。記録補償部12は、制御部15で変更される記録パラメータをもとに、NRZI信号に従って記録パルス列を生成する。レーザパワー設定部14は、ピークパワーPp、ボトムパワーPbなど各記録パワー設定を行う。レーザ駆動部13は、記録パルス列およびレーザパワー設定部14で設定される記録パワーに従って、光ヘッド2のレーザ発光動作を制御する。情報記録再生装置100の動作をさらに説明する。図19に、本実施形態において記録調整を行う記録パルスを示す。図19aはパターン2Ts2Tm2TsのNRZI信号、図19bはパターン2Ts2Tm2TsのNRZI信号に対する記録パルスを示している。図19cはパターン2Ts2Tm≧3TsのNRZI信号、図19dはパターン2Ts2Tm≧3TsのNRZI信号に対する記録パルスを示している。図19eはパターン≧3Ts2Tm2TsのNRZI信号、図19fはパターン≧3Ts2Tm2TsのNRZI信号に対する記録パルスを示している。記録パラメータの設定対象となる記録マークは、2Tマークである。図19bはSMSグループ、図19dはSMグループ、図19fはMSグループの記録パルスである。図19において、dTpsおよびdTpeは記録マークの始端エッジ、dCpは記録マークの終端エッジに関する記録パラメータである。始端エッジは、先頭パルスの立ち上がりエッジ位置dTpsおよび先頭パルスの立ち下がりエッジ位置dTpeの記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。この場合、図9のパターンテーブルは、前記dTpsおよびdTpeの2つのテーブルが存在することになる。終端エッジは、記録終了位置オフセットdCpの記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。この場合、図9のパターンテーブルは、前記dCpのテーブルが存在することになる。また、図19の記録パルスおよび図9の記録パラメータ設定の関係では、SMSグループの記録パルスでは、始端エッジの記録パラメータdTpsおよびdTpeは図9aの2Ts2Tm2Ts、終端エッジの記録パラメータdCpは図9bの2Ts2Tm2Tsに対応する。SMグループの記録パルスでは、始端エッジの記録パラメータdTpsおよびdTpeは図9aの2Ts2Tm2Ts、終端エッジの記録パラメータdCpは図9bの2Ts2Tm3Ts、2Ts2Tm4Ts、2Ts2Tm5Tsに対応する。MSグループの記録パルスでは、始端エッジの記録パラメータdTpsおよびdTpeは図9aの3Ts2Tm2Ts、4Ts2Tm2Ts、5Ts2Tm2Ts、終端エッジの記録パラメータdCpは図9bの2Ts2Tm2Tsに対応する。SMグループの記録パルスの終端エッジ、およびMSグループの記録パルスの始端エッジは、複数の記録パラメータが対象となる。そのため、本実施形態では、各グループにおける記録パラメータdTps,dTpe,dCpは、始端エッジもしくは終端エッジで、初期の記録パルス条件に対して、同一方向にオフセット変化させて使用する。但し、各グループ内においても前後スペース長に応じてオフセット変化を行ってもよい。各記録パラメータは、オフセット変化ではなく、dTtop,Ttopなどの設定値に置き換えてもよい。本実施形態における長さ調整は、SMグループではdTps2T連続パターンが変化し、MSグループではdTpeおよびdTps2T連続パターンが同一方向に変化する。位相調整は、SMグループまたはMSグループにおける各記録パラメータが同一方向に変化する。長さ調整では、長いスペースを含むエッジではなく、熱干渉の影響が大きい最短スペースに対するエッジ2T連続パターンを変化させることでより精度良く記録調整を行うことができる。但し、2T連続パターンのエッジおよび長いスペースを含むエッジ、すなわち始終端エッジを同時に変化させても構わない。この場合、始端エッジの記録パラメータdTpsと、終端エッジの記録パラメータdTpeおよびdCpは逆方向に変化する。また、記録マークの大きさを変更するために、最短マークのみに関する記録パワーPpを各グループで変化させても構わない。図20は、本実施形態の情報記録再生装置100における記録パルス条件の調整手順をフローチャートで示している。以下、図20を参照して、記録パルス条件の調整手順をステップごとに説明する。この記録パルス条件の調整手順は、情報記録再生装置100によって、情報記録媒体1に対して実行される。第1ステップS2001では、記録条件の設定値を読み出す。情報記録再生装置100は、情報記録媒体1もしくは情報記録再生装置100の内部例えばメモリに記憶されている記録パワーおよび記録パルス条件に関する情報を初期記録条件の記録パラメータとして読み出す。ここで、情報記録媒体1の内部に記憶されている情報とは、媒体の製造時において製造者が媒体の記録特性を評価した結果に基づいて記録条件をあらかじめ指定した値である。また、情報記録媒体1の内部に記憶されている情報としては、前記情報記録媒体1に対する情報記録再生装置例えば光ディスクドライブが装置固有の情報を記録するための領域に、記録条件を過去に記録した値などがある。また、情報記録再生装置100の内部に記録されている情報とは、装置の製造時において製造者が装置の記録特性を評価した結果に基づいて記録条件をあらかじめ指定した値である。また、情報記録再生装置自身が過去に使用した情報記録媒体に対して記録条件の履歴情報を記憶している値も含まれる。なお、記録パワーおよび記録パルス条件としては、図2で説明した記録パワーや記録パルスに関する設定値である。第2ステップS2002では、記録条件テーブルを生成する。制御部15は、複数の記録条件で所定の記録パターンを記録する際に使用する記録条件テーブルを生成する。記録条件テーブルとは、記録パラメータを変化させるためのテーブルである。例えば、SMグループの長さ調整を行う場合、制御部15は記録条件テーブルに従って、始端エッジの記録パラメータdTpsを、-4stepから4stepの範囲を、1step間隔でオフセット変化させる。MSグループの長さ調整を行う場合も同様に、制御部15は記録条件テーブルに従って、終端エッジの記録パラメータdTpeおよびdCpを、-4stepから4stepの範囲を、1step間隔でオフセット変化させる。例えば、SMグループの位相調整を行う場合、制御部15は記録条件テーブルに従って、始終端エッジの記録パラメータを、-8stepから8stepの範囲を、2step間隔でオフセット変化させる。MSグループの位相調整を行う場合も同様に、制御部15は記録条件テーブルに従って、始終端エッジの記録パラメータを、-8stepから8stepの範囲を、2step間隔でオフセット変化させる。なお、SMグループおよびMSグループで、記録パラメータのオフセット量およびオフセット間隔が異なってもよい。また、同一グループにおける長さ調整および位相調整で、記録パラメータのオフセット量およびオフセット間隔が異なってもよい。ここでの1stepは、例えば、記録クロックの周期Tを32分割した単位である。周期Tが132MHzである場合、1stepは約237psとなる。また、1stepは固定値例えば、250psで設定されてもよい。第3ステップS2003では、最短のマークおよびスペース長の連続を含む記録パターンが設定される。制御部15は、記録パターン発生部11に記録パターンを指定する。なお、前記記録パターンは、記録動作の度にパターン生成しても構わない。記録パターンの生成時間を短縮するために、予め生成された記録パターンを情報記録再生装置の内部に記憶させておくことがより好ましい。記録パターンは、例えばRLL1,7符号のランダム信号である。但し、2T連続パターンの出現頻度を考慮した記録パターンであってもよい。例えば、記録調整を行うSMグループおよびMSグループのエッジが多数検出されるように、2Ts2Tm≧3Tsおよび≧3Ts2Tm2Tsの出現頻度が前記ランダム信号よりも多い記録パターンであってもよい。記録パターン発生部11は、指定された記録パターンに基づいて、NRZI信号を生成する。記録補償部12は、制御部15から出力された記録パラメータの記録パルス形状、および記録パターン発生部11から出力されたNRZI信号をもとに、レーザ発光波形の記録パルス列を生成する。レーザパワー設定部14は、制御部15の初期記録条件に応じて、ピークパワーPp、ボトムパワーPbなど各記録パワー設定を行う。第4ステップS2004では、情報記録媒体1に対して記録パターンの記録動作が実行される。制御部15は、記録パラメータを調整するための記録領域に光ヘッド2を移動させる。前記記録領域は、例えば情報記録媒体の最内周に設けられた記録パワーおよび記録パルス調整用の記録領域であり、DVDではPCA領域PowerCalibrationAreaと呼ばれている。また、情報記録媒体や情報記録再生装置などの製造段階において、製造者が情報記録媒体または情報記録再生装置の記録特性を評価する場合などでは、ユーザデータを記録するユーザデータ領域を使用してもよい。次に、レーザ駆動部13は、記録補償部12で生成された記録パルス列、およびレーザパワー設定部14で設定される記録パワーに従って、光ヘッド2のレーザ発光動作を制御して、情報記録媒体1の前記記録領域のトラック図示せずに、所定の記録長例えば、最小記録単位での長さ、アドレス単位などで記録パターンを記録する。このとき、制御部15は、ステップS2002で生成した記録条件テーブルを参照して、レーザ駆動部13が記録条件を変化させて記録パターンを記録するように制御する。第5ステップS2005では、複数の記録条件で記録された記録パターンの再生動作が実行される。情報記録再生装置100は、記録パターンが複数の記録条件で記録されたトラックを再生する。光ヘッド2は、情報記録媒体1から読み出した情報を示すアナログ再生信号を生成する。アナログ再生信号は、プリアンプ部3によって増幅されてACカップリングされたのち、AGC部4に入力される。AGC部4では後段の波形等化部5の出力が一定振幅となるようゲインが調整される。AGC部4から出力されたアナログ再生信号は波形等化部5によって波形整形される。波形整形されたアナログ再生信号はA/D変換部6に出力される。A/D変換部6はPLL部7から出力された再生クロックに同期してアナログ再生信号をサンプリングする。PLL部7はA/D変換部6でサンプリングされたデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。A/D変換部6のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号はPR等化部8に入力される。PR等化部8は、デジタル再生信号の波形を整形する。最尤復号部9は、PR等化部8から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、2値化信号を生成する。パターンシフト検出部10は、PR等化部8から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部9から出力された2値化信号とを受け取る。さらに、パターンシフト検出部10は、再生信号とPR等化理想値とのずれであるパターンシフトを求める。前記パターンシフトは、制御部15に出力される。第6ステップS2006では、複数の記録条件に対する評価指標値が検出される。制御部15は、パターンシフト検出部10から出力された検出パターンに応じたパターンシフトを受け取る。さらに、SMグループまたはMSグループに対応するパターンシフトに基づいて、長さ誤差または位相誤差の評価指標値が評価指標計算部16によって計算される。評価指標計算部16は、ユークリッド距離差が異なるパターンシフトを用いて評価指標値を計算する。評価指標計算部16は、長さ調整時ではSMグループおよびMSグループの長さ誤差を計算し、位相調整時ではSMグループおよびMSグループの位相誤差を計算する。第7ステップS2007では、最適な記録条件の決定処理が行われる。制御部15は、ステップS2006で検出された複数の記録条件に対する評価指標値と、制御部15の内部に記憶されている指標目標値とを比較し、前記指標目標値に最も近い記録条件を選択する。この結果、SMグループおよびMSグループに対する記録条件が決定する。さらに、制御部15は、SMグループおよびMSグループの記録調整結果から、SMSグループの記録条件を決定する。例えば、前記記録調整結果である記録パルス条件の設定値dTtopなどからSMSグループの記録パルス条件を決定する場合では、制御部15は、SMグループおよびMSグループの各記録パルス条件の設定値を平均した値を、SMSグループの記録パルス条件に設定することで、SMSグループの記録条件を決定する。また、前記記録調整結果である記録パラメータの変化量dTpsなどからSMSグループの記録パルス条件を決定する場合では、制御部15は、SMグループおよびMSグループの各記録パラメータの変化量を平均した値を、SMSグループの記録パラメータの変化量として、初期記録条件に加算することで、SMSグループの記録条件を決定する。なお、前記平均値が設定単位の中間値となる場合では、中間値は切り上げ、または切り下げられる。このようにして、情報記録再生装置100における記録パルス条件の調整が実施され、制御部15によって2T連続パターンの長さ調整または位相調整が行われる。なお、上記記録パルス条件の調整において、SMグループとMSグループを同時に記録調整する必要はなく、別々に記録調整を行ってもよい。図21に、本実施形態の情報記録再生装置100における長さ調整および位相調整の調整手順を示す。第1ステップS2101では、2T連続パターンに関する長さ調整が実行される。さらに、第2ステップS2102では、2T連続パターンに関する位相調整が実行される。2T連続パターン、すなわちSMSグループ、SMグループ、MSグループの記録パルス条件に対して、図20の記録パルス条件の調整フローにより、長さ調整および位相調整が実行される。上述したように、光学分解能を超える高密度記録においては、特に最短マークで自己マークによる熱干渉の影響が大きい。熱干渉の影響は、記録マークの位置変化よりも、長さ変化に対して大きい。記録マークの位置変化は、記録パルス幅を一定に維持した状態で記録パルスが変化するため、記録マークを形成する熱量が一定であり、自己マークによる熱干渉の影響は少ない。そのため、自己マークの熱干渉の影響が大きい長さ調整が実行された後に、位相調整が実行されることが望ましい。これにより、始端エッジまたは終端エッジの片方を変化させる従来の記録調整方法では除去できない自己マークの熱干渉の影響を抑制することができる。以上のように、本実施形態の記録動作は、光学分解能を超える高密度記録を考慮した前記パターンテーブルに従って記録動作を行うため、従来のように1つのスペースと記録マークに対するエッジずれに対する記録調整ではなく、前後スペースを考慮した記録条件の記録調整となっている。さらに、前記パターンテーブルに対して、PRML方式で検出される2T連続パターンの誤りやすいパターンに分離したグループでの記録調整となっている。そのため、光学分解能を超える高密度記録に対して、記録情報のエラーレートが低減する記録条件に調整することができ、より安定した記録再生システムを提供することができる。以上、図面を参照して、本発明の実施形態を説明した。本実施形態では、長さ誤差および位相誤差の計算式における係数の設定方法は特に限定されないが、設定例を以下に示す。情報記録媒体はBD-REディスクとし、情報記録再生装置における光ヘッドの対物レンズの開口数NAは0.85、レーザ光の波長は405nm、PRMLはPR1,2,2,2,1ML方式、記録符号はRLL1,7符号であるBDシステムにおいて、記録容量が約33.4GBの記録再生について上述した。このとき、最短の2Tマークおよび2Tスペースの長さは、約111.7nmである。上述したように、最短マークおよびスペースである2Tの長さが119.1nm以下であるため、光学分解能を超える記録条件である。図22aは、SMパターンにおける記録パルスの変化に対するパターンシフトの変化量を示す。図22bは、MSパターンにおける記録パルスの変化に対するパターンシフトの変化量を示す。ここで、各パターンシフトの変化量は、記録パルスが0.25ns変化したときの変化量であり、ユークリッド距離差で正規化された変化量単位である。SMパターンの長さ変化に対する記録パルスの変化は、図19dにおいて、dTpsを前方に変化させた。この場合、SMパターンの2Tマークは大きくなる方向である。SMパターンの位相変化に対する記録パルスの変化は、図19dにおいて、dTps、dTpe、dCpを同時に前方に変化させた。この場合、SMパターンの2Tマークは前方にシフトする方向である。MSパターンの長さ変化に対する記録パルスの変化は、図19fにおいて、dTpe、dCpを同時に後方に変化させた。この場合、MSパターンの2Tマークは大きくなる方向である。MSパターンの位相変化に対する記録パルスの変化は、図19fにおいて、dTps、dTpe、dCpを同時に前方に変化させた。この場合、MSパターンの2Tマークは前方にシフトする方向である。このとき、図22において、SMパターンの長さ変化時のパターンシフトの変化量を式4に割り当てると、PXM2S-P2MXS>0、ASM_R-ASM_L>0、BSM_R-BSM_L<0となる。式4において、各成分の重み付けを同じに設定すると、係数a1、b1、c1は、a1=1、b1=1、c1=-1となる。また、SMパターンの位相変化時のパターンシフトの変化量を式5に割り当てると、PXM2SP2MXS>0、ASM_R-ASM_L>0、BSM_R-BSM_L>0となる。式5において、各成分の重み付けを同じに設定すると、係数a2、b2、c2は、a2=1、b2=1、c2=1となる。同一成分に対する係数を比較すると、式4および式5の第3項におけるc1およびc2が符号反転する関係にある。同様に、図22において、MSパターンの長さ変化時のパターンシフトの変化量を式6に割り当てると、P2SXM-PXS2M>0、AMS_R-AMS_L<0、BMS_R-BMS_L>0となる。式6において、各成分の重み付けを同じに設定すると、係数a3、b3、c3は、a3=1、b3=-1、c3=1となる。また、MSパターンの位相変化時のパターンシフトの変化量を式7に割り当てると、P2SXMPXS2M<0、AMS_R-AMS_L>0、BMS_R-BMS_L>0となる。式7において、各成分の重み付けを同じに設定すると、係数a4、b4、c4は、a4=-1、b4=1、c4=1となる。同一成分に対する係数を比較すると、式6および式7の第1項におけるa3およびa4、および第2項におけるb3およびb4が符号反転する関係にある。なお、MSパターンの位相変化は前方に変化させたが、2Tスペース側である後方を基準とする場合、係数a4、b4、c4の符号は反転し、a4=1、b4=-1、c4=-1となる。この場合、同一成分に対する係数を比較すると、式6および式7の第3項におけるc3およびc4が符号反転する関係にある。従って、SMパターンおよびMSパターンの長さおよび位相変化において、2Tスペース側を正方向とした記録パルスの変化では、長さ誤差および位相誤差の計算式における係数の関係は、第3項が符号反転する。すなわち、エラーパターンによってパターンシフトの差を符号反転させることで、パターンシフトの差を含む長さ誤差および位相誤差を計算することができる。さらに、SMパターンとMSパターンの係数を比較すると、長さ変化および位相変化ともに、第2項および第3項の係数が反転する関係にある。すなわち、最短の記録マークおよびスペースの並びが異なるエラーパターンの分類に対する長さ誤差または位相誤差の計算において、各分類に対してパターンシフトの差を符号反転させることで、各分類に対する長さ誤差または位相誤差を計算することができる。このように、上記BDシステムにおいて、上記関係を有する係数を用いて、SMパターンおよびMSパターンの記録調整を行うことが可能である。要するに、本発明は、情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調し、復調される正解パターンに対応する複数のエラーパターンと再生信号との間のユークリッド距離の2乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する際に、最短の記録マークまたはスペースに関係するビットがシフトすることで発生する第1のエラーパターンと、記録マークのエッジずれで発生する第2のエラーパターンとを使用する。このとき、第1のエラーパターンと第2のエラーパターンは、正解パターンとのユークリッド距離の2乗が互いに異なる。さらに本発明は、エラーパターンと再生信号との間のユークリッド距離の2乗と、正解パターンと再生信号との間のユークリッド距離の2乗の差を、正解パターンとエラーパターンとの間のユークリッド距離の2乗で正規化して得られるパターンシフトを、複数のエラーパターンごとに検出する。そして、第1のエラーパターンに対して正規化された第1のパターンシフト量と、第2のエラーパターンに対して正規化された第2のパターンシフト量との和または差により、長さ誤差と位相誤差を演算する。このとき、第1のエラーパターンは、少なくとも最短の記録マークまたはスペースが前方にビットシフトするエラーパターンと、後方にビットシフトするエラーパターンを含む。そして、第1のパターンシフト量によって、最短の記録マークまたはスペースが前方にビットシフトするエラーパターンから検出されるパターンシフトと、後方にビットシフトするエラーパターンから検出されるパターンシフトの平均的な位置が検出される。平均的な位置を求めることで、再生ノイズによって前方方向および後方方向に変化するパターンシフトのずれ量を抑制することができる。そのため、第1のパターンシフト量によって、再生ノイズの影響を受けないエッジ検出ができる。このように、本発明の実施形態によれば、正解パターンとのユークリッド距離の2乗が互いに異なる第1のエラーパターンと第2エラーパターンを用いて演算した長さ誤差および位相誤差を、再生ノイズが変化しても、適切に検出することができる。従って、本発明は、最短の記録マークまたはスペースに関するビットがシフトすることで発生するエラーが含まれる光学分解能を超える高密度記録に対して特に有効である。本実施形態では、記録再生動作を説明するために、再生部101を含めた情報記録再生装置としたが、装置は、記録制御だけを行う記録制御部102および記録部103を有する情報記録装置として構成されてもよい。この場合、記録条件の調整が不要となるため、例えば再生専用ディスクReadOnlyDiscなどに対して情報の記録動作のみを行う記録装置に適用可能である。また、入力信号に対する長さ誤差および位相誤差が検出可能な情報記録装置としてもよい。本実施形態におけるパターンテーブルは、5T以上の記録マークおよびスペースの長さを一つにまとめたが、5Tから最長マークまでの記録マークおよびスペースに対して各々設定しても構わない。また、前記パターンテーブルにおいて、前方スペースあるいは後方スペースを3T以上としたが、3Tから最長スペースに対して各々設定しても構わない。さらに、前記パターンテーブルで分類された記録条件は、情報記録媒体1内に記載されてもよい。これにより、制御部15は、情報記録媒体の種類や記録倍速ごとに対するパターンテーブルの記録条件を記憶する必要がなくなり、回路規模の削減が可能となる。また、前記情報記録媒体に対する最適な記録条件が前記パターンテーブルに従って記載されている場合では、記録パラメータの調整削減、または調整時間の短縮を行うことができる。なお、情報記録再生装置100図1は、情報再生装置としても適用できる。この場合、再生部101および記録調整部102は図1と同じ構成であり、記録部103は、光ヘッド2、レーザ駆動部13、レーザパワー設定部14から構成される。レーザパワー設定部14は、再生パワー設定を行う。レーザ駆動部13は、レーザパワー設定部14で設定される再生パワーに従って、光ヘッド2のレーザ発光動作を制御する。この情報再生装置は、情報が記録された書換え可能ディスクまたは再生専用ディスクに対して再生を行い、長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出する。これにより、情報再生装置は、再生した光ディスクに対する記録マークのエッジずれを評価することができる。すなわち、情報再生装置は、情報記録装置例えば、再生専用ディスクの製造装置が記録する信号品質を検査、または記録条件を補正する再生装置として使用することができる。図23は、本実施形態の情報記録媒体1の模式図である。図23に示す情報記録媒体1はBDであり、内周領域に設けられたPIC領域PermanentInformationControlDataZone301と、それよりも外周側に設けられたユーザデータ領域302を有する。PIC領域はトラック溝を変調することにより、ディスク構造やディスクの記録時に必要な情報等が記録される領域である。上述のように情報記録媒体1の製造段階で調整された記録条件は、例えば、このPIC領域に記載される。ユーザデータ領域302には、光学分解能を超える高密度記録により、情報が記録される。また、図24に、本実施形態における情報記録媒体1を再生する情報再生装置400を示す。図1における情報記録再生装置100と共通する構成要素には同じ参照符号を付している。情報再生装置400は、光ヘッド2、プリアンプ部3、AGC部4、波形等化部5、A/D変換部6、PLL部7、PR等化部8、最尤復号部9を備える。情報再生装置400は、情報記録媒体1のユーザデータ領域302にレーザ光を照射し、情報記録媒体1から再生される再生信号から記録情報を復調することができる。なお、本実施形態では、指標目標値は、各メーカーの情報記録媒体の種類や記録倍速ごと、あるいは前記パターンテーブルに対して分離されたグループごとに設定されてもよい。前記指標目標値は、例えば情報記録再生装置の製造工程において記憶される。また、新たに開発される情報記録媒体に応じた指標目標値をさらに記憶させていくことで、新規情報記録媒体に対する対応が可能となるため、指標目標値は書き換え型のメモリに記憶されることが望ましい。また、新規情報記録媒体に対する指標目標値は、情報記録再生装置100が最適となる記録パラメータで形成された記録マークを再生することで決定できる。なお、本実施形態では、ユークリッド距離差が12となる表2および表3に対するエラーについて説明したが、本実施形態はこれに限定されない。例えば、ユークリッド距離差が12であり、2Tの3連続部が1ビットシフトすることによる4ビットエラーに対しても同様に適用できる。本実施形態では、最短マーク長さが2Tである符号と等化方式PR1、2、2、2、1から定まる状態遷移則を用いて最尤復号を行なう場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、最短マーク長さが2Tまたは3Tである符号と等化方式PRC0、C1、C0を用いた場合、最短マーク長さが2Tまたは3Tである符号と等化方式PRC0、C1、C1、C0を用いた場合や最短マーク長さが3Tである符号と等化方式PRC0、C1、C2、C1、C0を用いた場合においても適用できる。C0、C1、C2は任意の正の数である。また、再生系の信号処理は、PR1,2,2,2,1ML方式ではなく、PR2,3,3,3,2ML方式であってもよい。なお、本実施形態では、パターンテーブルにおいて、最短マークの記録条件に対して前後スペースで分離しているが、本発明はこれに限定されない。例えば、最短マークでなくても、最短マークの次に長いマークに対しても前後スペースで分離した場合にも適用できる。なお、本実施形態における情報記録媒体は、CD、DVD、BDなどの光ディスクに限定されず、MOMagneto-OpticalDiscなどの光磁気媒体や、デジタル信号の記録符号0または1が連続する長さである極性間隔に応じて形成される情報本実施形態では記録マークおよびスペースの長さまたは位相を変化させて情報を記録する情報記録媒体に対しても適用できる。さらに、本発明における情報記録再生装置の一部は、情報記録媒体に情報を記録するための記録パルス形状を調整する記録条件調整装置として、1チップ化されたLSI半導体集積回路またはその一部の機能として製造され得る。なお、情報記録再生装置の一部が、1チップ化されたLSIとして製造される場合には、記録パラメータを調整するための信号処理時間を大幅に短縮することができる。情報記録再生装置の各部が独立にLSIとして製造されてもよい。"