電縫管溶接部に対して管周方向に配置されたアレイ探触子を用いてタンデム探傷を行って微小酸化物からのエコーを検出する電縫管のシーム検出方法において、前記アレイ探触子からの送波ビームと受波ビームとの交差位置を管厚のほぼ中心とし、前記アレイ探触子の送信用振動子群の位置と受信用振動子群の位置を管周方向に切り替えて前記交差位置を管周方向に移動して管周方向にスキャンし、前記管周方向のスキャンによって得られたエコー高さ分布に基づきシーム位置を検出することを特徴とする電縫管のシーム検出方法。前記アレイ探触子からの送波ビームは、ビーム幅が3mm以上で、且つ指向角を1 ゚以上としたことを特徴とする請求項1に記載の電縫管のシーム検出方法。前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子とを管長手方向に相対移動させ、前記交差位置を管周方向に移動して管周方向にスキャンするとともに、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子との管長手方向の相対移動により、管周方向及び管長手方向のエコー高さのスキャンデータを採取し、前記スキャンデータの管長手方向における異常値を除去した後に、前記スキャンデータを管長手方向に平均処理し、前記平均処理された管周方向のエコー高さ分布に基づきシーム位置を検出することを特徴とする請求項1又は2に記載の電縫管のシーム検出方法。前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子とを管長手方向に相対移動させ、前記交差位置を管周方向に移動して管周方向にスキャンするとともに、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子との管長手方向の相対移動により、管周方向及び管長手方向のエコー高さのスキャンデータを採取し、前記スキャンデータの長手方向における異常値を除去した後に、前記スキャンデータを管長手方向に平均処理し、平均処理された管周方向のエコー高さ分布に基づきシーム位置を計算し、前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理を行ってシーム位置を検出することを特徴とする請求項1又は2に記載の電縫管のシーム検出方法。前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理する方法は、予め設定された測定点数で移動平均を施す処理であることを特徴とする請求項4に記載の電縫管のシーム検出方法。前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理する方法は、予め設定された周期fを遮断周期としてローパスフィルター処理を施す処理であることを特徴とする請求項4に記載の電縫管のシーム検出方法。電縫管溶接部に対して管周方向に配置されたアレイ探触子を用いてタンデム探傷を行って微小酸化物からのエコーを検出する電縫管のシーム検出装置において、前記アレイ探触子は、その送波ビームと受波ビームとの交差位置が管厚のほぼ中心となるような位置に配置され、前記アレイ探触子の送信用振動子群の位置と受信用振動子群の位置を管周方向に切り替えて前記交差位置を移動して管周方向にスキャンするアレイ送信部と、前記管周方向のエコー高さのスキャンデータを取得するアレイ受信部と、前記管周方向のエコー高さ分布に基づきシーム位置を検出するピーク位置検出部とを備えたことを特徴とする電縫管のシーム検出装置。前記電管溶接部と前記アレイ探触子とを管長手方向に相対移動させる駆動手段を備えたことを特徴とする請求項7に記載の電縫管のシーム検出装置。前記アレイ受信部は、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子との管長手方向の相対移動により、管周方向及び管長手方向のエコー高さのスキャンデータを取得し、前記スキャンデータの管長手方向における異常値を除去する異常値除去部と、異常値が除去された前記スキャンデータを管長手方向に平均処理する長手方向平均部とを備え、前記ピーク位置検出部は、前記管周方向のシーム位置を管長手方向に沿って検出することを特徴とする請求項8に記載の電縫管のシーム検出装置。前記アレイ受信部は、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子との管長手方向の相対移動により、管周方向及び管長手方向のエコー高さのスキャンデータを取得し、前記スキャンデータの管長手方向における異常値を除去する異常値除去部と、異常値が除去された前記スキャンデータを管長手方向に平均処理する長手方向平均部とを備え、前記ピーク位置検出部は、平均処理された管周方向のエコー高さ分布に基づきシーム位置を計算し、前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理を行ってシーム位置を検出することを特徴とする請求項8に記載の電縫管のシーム検出装置。前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理する方法は、予め設定された測定点数で移動平均を施す処理であることを特徴とする請求項10に記載の電縫管のシーム検出装置。前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理する方法は、予め設定された周期fを遮断周期としてローパスフィルター処理を施す処理であることを特徴とする請求項10に記載の電縫管のシーム検出装置。しかしながら、上記の方法においても次のような問題点があった。まず、超音波探傷によってシーム位置を検出するためには溶接欠陥が必要であり、溶接の入熱を下げるなどして人為的にそのような部分を作る必要があった。このため、コイル端部での利用はできるが、定常操業において製造され切断された製品材に対しては適用が困難であった。また、シーム位置を探索するために、超音波探触子の位置を管の周方向に機械的に動かしており、設備的にも複雑なものが必要であった。本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、製品材に対しても簡便な構成で精度良くシーム検出可能な電縫管のシーム検出方法及びその装置を提供することを目的とする。本発明に係る電縫管のシーム検出方法は、電縫管溶接部に対して管周方向に配置されたアレイ探触子を用いてタンデム探傷を行って微小酸化物からのエコーを検出する電縫管のシーム検出方法において、前記アレイ探触子からの送波ビームと受波ビームとの交差位置を管厚のほぼ中心とし、前記アレイ探触子の送信用振動子群の位置と受信用振動子群の位置を管周方向に切り替えて前記交差位置を管周方向に移動して管周方向にスキャンし、前記管周方向のスキャンによって得られたエコー高さ分布に基づきシーム位置を検出する。また、本発明に係る電縫管のシーム検出方法において、前記アレイ探触子からの送波ビームは、ビーム幅が3mm以上で、且つ指向角を1 ゚以上とした。また、本発明に係る電縫管のシーム検出方法は、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子とを管長手方向に相対移動させ、前記交差位置を管周方向に移動して管周方向にスキャンするとともに、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子との管長手方向の相対移動により、管周方向及び管長手方向のエコー高さのスキャンデータを採取し、前記スキャンデータの管長手方向における異常値を除去した後に、前記スキャンデータを管長手方向に平均処理し、前記平均処理された管周方向のエコー高さ分布に基づきシーム位置を検出する。また、本発明に係る電縫管のシーム検出方法は、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子とを管長手方向に相対移動させ、前記交差位置を管周方向に移動して管周方向にスキャンするとともに、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子との管長手方向の相対移動により、管周方向及び管長手方向のエコー高さのスキャンデータを採取し、前記スキャンデータの長手方向における異常値を除去した後に、前記スキャンデータを管長手方向に平均処理し、平均処理された管周方向のエコー高さ分布に基づきシーム位置を計算し、前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理を行ってシーム位置を検出する。また、本発明に係る電縫管のシーム検出方法において、前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理する方法は、予め設定された測定点数で移動平均を施す処理である。また、本発明に係る電縫管のシーム検出方法において、前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理する方法は、予め設定された周期fを遮断周期としてローパスフィルター処理を施す処理である。本発明に係る電縫管のシーム検出装置は、電縫管溶接部に対して管周方向に配置されたアレイ探触子を用いてタンデム探傷を行って微小酸化物からのエコーを検出する電縫管のシーム検出装置において、前記アレイ探触子は、その送波ビームと受波ビームとの交差位置が管厚のほぼ中心となるような位置に配置され、前記アレイ探触子の送信用振動子群の位置と受信用振動子群の位置を管周方向に切り替えて前記交差位置を移動して管周方向にスキャンするアレイ送信部と、前記管周方向のエコー高さのスキャンデータを取得するアレイ受信部と、前記管周方向のエコー高さ分布に基づきシーム位置を検出するピーク位置検出部とを備えたものである。本発明に係る電縫管のシーム検出装置は、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子とを管長手方向に相対移動させる駆動手段を備えたものである。本発明に係る電縫管のシーム検出装置は、前記アレイ受信部は、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子との管長手方向の相対移動により、管周方向及び管長手方向のエコー高さのスキャンデータを取得し、前記スキャンデータの管長手方向における異常値を除去する異常値除去部と、異常値が除去された前記スキャンデータを管長手方向に平均処理する長手方向平均部とを備え、前記ピーク位置検出部は、前記管周方向のシーム位置を管長手方向に沿って検出する。また、本発明に係る電縫管のシーム検出装置は、前記アレイ受信部は、前記電縫管溶接部と前記アレイ探触子との管長手方向の相対移動により、管周方向及び管長手方向のエコー高さのスキャンデータを取得し、前記スキャンデータの管長手方向における異常値を除去する異常値除去部と、異常値が除去された前記スキャンデータを管長手方向に平均処理する長手方向平均部とを備え、前記ピーク位置検出部は、平均処理された管周方向のエコー高さ分布に基づきシーム位置を計算し、前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理を行ってシーム位置を検出する。本発明に係る電縫管のシーム検出装置において、前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理する方法は、予め設定された測定点数で移動平均を施す処理である。本発明に係る電縫管のシーム検出装置において、前記計算されたシーム位置に対して管長手方向に平滑処理する方法は、予め設定された周期fを遮断周期としてローパスフィルター処理を施す処理である。本発明によれば、製品材に対しても真のシーム位置を精度良く検出可能となる。このため、超音波探傷やアニールの精度信頼性を向上させることができ、より溶接品質の高い電縫管が製造できる。本発明の実施の形態を説明するのに先だって、まず、本発明の概要を説明する。図1は、本発明に係る電縫管のシーム検出方法の管周方向のスキャンの説明図であり、図2は、図1の超音波ビーム送波ビーム受波ビームの形状を示す説明図である。図1及び図2において、1は電縫管、2は溶接部、3はアレイ探触子である。4はアレイ探触子3の送信用振動子群の位置、5はアレイ探触子3の受信用振動子群の位置を示す線であり、この例では7ヶ所で切り替える例が示されている。すなわち、送波ビームと受波ビームとが交差する点が管周方向に7ヶ所スキャンされていることが示されている。6は7ヶ所でスキャンする内の中央の場合の送波ビーム、7は同様に受波ビームを示している。図1及び図2から分かるように、本発明では電縫管1のシーム部をアレイ探触子3でタンデム探傷する構成となっている。そして、本発明では、この構成により溶接部2に散在してわずかに残留する微小酸化物からの微弱なエコーを検出する。なお、図1及び図2では、アレイ探触子3は直線状のリニアアレイであるが、これに限られるものではなく、曲面状のアレイ探触子でも適用できる。ここで、超音波ビームの交差位置は管厚のほぼ中央とする。これは、交差位置が管厚の外面側や内面側の表面近くであると、表面粗さからのエコーを検出しやすくなり、酸化物からのエコーのS/Nが低下するためである。但し、本発明の管厚のほぼ中央とは、厳密な中央位置に限定されるものではなく、管厚の1/4~3/4程度の範囲であれば良い。超音波ビーム幅は、少なくとも管厚の1/2より広くなるように設定する。具体的には、送信振動子群及び受信振動子群の同時使用素子数と各素子の遅延時間とによってビーム幅を決定する。なお、管周方向のスキャンについて、図1では7ヶ所としているが、本発明はこの値に限定されない。また、スキャンの際の素子移動量は、図1では3素子の例について示しているが、この値も適宜設定されるものである。また、平面状のアレイ探触子を用いる場合には、管周方向のスキャン時に電縫管への入射角が一定となるように、各素子の遅延時間を順次ずらして偏向を行うようにすることが望ましい。次に、以上の図1及び図2の構成により溶接部2に残留する微小酸化物を検出することにより真のシーム位置が検出できるメカニズムを説明する。発明者は電縫管の溶接品質を溶接部に残留する微小酸化物ペネトレータとも言うとの関係を鋭意調査した結果、従来から知られている固まりとして存在するペネトレータの他に、数μmの微小酸化物が広い範囲に分散した形態のペネトレータが存在していることを見出した。そして、この微小酸化物の密度が溶接品質と相関があり、さらには非常に良好な溶接品質の電縫溶接部においてもこの微小酸化物は完全にゼロにはならず、わずかに残っていることを見出した。本発明はこのような知見に基づいている。すなわち、電縫管の溶接部に存在する微小酸化物は密度の薄い面として存在しているため、これを検出するためには一般的な超音波探傷で用いられる反射法では検出できず、受波を正反射方向で行うタンデム探傷が有効である。同時に、この構成にすると、送信と受信の位置が分離されるため、一般的な反射法で問題となる表面エコーや振動子での残響が大幅に減り、微弱な信号のS/Nが向上する。また、反射体が極小さくかつ密度が薄いことから、集束ビームほど検出能が高いという一般的な常識に反し、超音波ビームを広げるほどその中に含まれる反射体の個数が増えて検出感度が向上する特性を持っているため、ビーム幅を3mm以上と広く設定することによって溶接部に広く薄く残留した微小酸化物の検出がしやすくなる。また、その際、広いビームの形成方法として、開口を大きくして平面波とする方法と、開口を狭くして指向性を広げる方法があるが、平面波は指向性が鋭くわずかな反射角度の違いによって検出性能が低下するため指向性を1 ゚以上に広げる方法が適当である。図3Aは、同時使用素子数とシームからのエコーのS/Nを調べた結果である。この結果より、同時使用素子数が多い平面波領域16素子以上ではS/Nが低下し、同時使用素子数が少なく指向性が広くなる範囲ではS/Nが向上することが分かる。さらに、タンデム探傷の送波ビームと受波ビームの交差位置を管周方向に走査するようにすれば、いずれかの位置でエコーが検出されることになり、その際の交差位置がすなわち真のシーム位置ということになる。ここで、ビームの交差位置以下、交差位置ともいうは、幾何学的な関係や人工疵による実験からアレイ探触子3からの距離として求めておくことができるため、アレイ探触子の位置から真のシーム位置を求めることができる。図3Bは、以上の知見に基づいて同時使用素子数に対する指向角度及びビーム幅の最適な条件を求めた結果を示した図である。上記の説明により本発明の動作原理が明らかになったところで、次に、本発明の実施の形態について説明する。図4は、本発明の一実施の形態に係る電縫管のシーム検出装置の構成を示すブロック図である。この電縫管のシーム検出装置は、上記のアレイ探触子3の他に、被検体サイズ入力部11、アレイ探触子記憶部12、送受信制御部13、アレイ送信即記憶部14、アレイ受信即記憶部15、アレイ送信部16、アレイ受信部17、ゲート部18、記憶部19、異常値除去部20、長手方向平均部21及びピーク位置検出部22を備えている。ここで、アレイ探触子3は、5MHz、0.8mmピッチ×64chのものを用い、同時使用素子数を10chとした例について説明する。なお、図示は省略したが、アレイ探触子3と電縫管1とを管長手方向に相対移動させる駆動手段を備えており、これによってアレイ探触子3による管長手方向のスキャンを可能にしている。被検体サイズ入力部11は、操作者の操作により被検体の外径、肉厚等のサイズ情報を入力する。アレイ探触子記憶部12は、予め入力されたアレイ探触子の素子ピッチ、素子数、被検体に対する位置を記憶する。送受信制御部13は、これら被検体のサイズ及びアレイ探触子の情報に基づいて、送信時の同時使用素子位置と各素子の遅延時間、及び受信時の同時使用素子位置と各素子の遅延時間を、管周方向の各スキャンに対して計算する。アレイ送信即記憶部14及びアレイ受信即記憶部15は、管周方向各スキャンの同時使用素子位置と各素子の遅延時間を記憶する。アレイ送信部16は、アレイ送信即記憶部14の情報に基づきスキャン毎に素子を選択して、アレイ探触子3の各素子に所定の遅延時間をかけて送信パルスを印加する。アレイ受信部17は、アレイ受信即記憶部15の情報に基づき、スキャン毎に素子を選択して、アレイ探触子3の各素子から受信を行い、所定の遅延時間をかけた後に、各素子からの信号を加算する。このようにして、スキャン毎の受信信号を得る。ゲート部18は、被検体のシーム部からのエコーが現れる時間位置からエコー強度を求める。記憶部19は、各スキャンのエコー強度が時系列に2次元のデータとして格納される。異常値除去部20は、時系列データの中から、無効なスキャンデータを除去する処理をする。長手方向平均部21は、2次元の時系列データを管長手方向に平均する処理移動平均処理をする。ピーク位置検出部22は、各スキャンのピーク位置を時系列データとして求めていく。上記の構成において、アレイ探触子3、アレイ送信部16及びアレイ受信部17を除く部分はPCで構成される。図5は、図4の電縫管のシーム検出装置のデータ処理を概念的に示した説明図である。アレイ探触子3の内、所定数の送信用振動子群4をシフトしながら駆動して送波ビーム6を送信させ、それと同数の受信用振動子群5がその受波ビーム7を受信し、管周方向におけるデータを取得する。そのデータは交差位置送信用振動子群及び受信用振動子群の位置でも良いと受信信号のレベルとを組としており、受信信号のピーク値を示す交差位置がシーム位置に相当することになる。そして、このような処理を管長手方向に沿って行う。この管長手方向における処理は、アレイ探触子3と電縫管1との相対移動管長手方向を必要とするが、管周方向における測定に際しては、送信用振動子群4及び受信用振動子群5をシフトしながら切り替えて管周方向のスキャンを行ってデータを取得しており、アレイ探触子3と電縫管1との相対移動を必要としない。このようにして取得されたデータは、上記のように、記憶部19に2次元のデータとして格納される。記憶部19に格納された2次元のデータは、異常値除去部にて異常値が除去され、異常値が除去されたデータは長手方向平均部21にて管長手方向の値の平均化処理される。そして、ピーク位置検出部22が管長手方向の値の平均化処理されたデータから、管周方向のピーク値を特定し、そのピーク値を示す交差位置をシーム位置として出力する。図6は、本発明の第1実施例として、φ273mm×t14.9mmの電縫管を用いて、上記の電縫管のシーム検出装置によりシーム位置を検出した結果を示した図である。図6のマップは、7ヶ所のスキャンによって得られたエコー高さを輝度で表し、これを約20秒間にわたって記録したものであり、ここでは、溶接部2の位置を図中左右に揺動しながら測定を行っている。この結果、エコーが現れている位置が管周方向に移動している様子が検出できている。この管周方向のエコー高さ分布に基づくシーム位置の検出は、最大値が得られるスキャン位置として求められる。あるいは、スキャン位置は素子ピッチによって決まる飛び飛びの値となるため、最大値の前後数点のスキャンデータに基づき、最小二乗法などでピークが得られる位置としてさらに細かく求めることも可能である。次に、本発明の第2実施例として、実際の製品材に対して、上記の電縫管のシーム検出装置により管長手方向に連続的にシーム位置を検出した結果について説明する。ここでは、管長手方向に1mmピッチで、100点約100mmにわたってスキャン測定した例を示す。図7aは、7ヶ所のスキャンによって得られたエコー高さのマッピング例であり、この図では縦軸が管周方向、横軸が時間方向すなわち管長手方向としている。下段は、各時間位置において、7ヶ所のスキャンで得られたエコー高さの最大位置をマッピングした図に重ね書きしたものである。同図から分かるように、管長手方向でのエコー高さ位置のばらつきが大きく、シーム位置が不明瞭である。これは、本発明がシームに残留する微小酸化物のエコーを計測するという計測方法を用いており、微小酸化物の分布状態が管長手方向においてばらついたり、部分的にはエコーがほとんど得られない箇所があるためである。そこで、本第2実施例では、以下に示すデータ処理を行った。まず、生データにてシーム位置が最も端のスキャンラインにあるデータについては異常値として、その部分のデータを除去する。その除去処理は異常値除去部20により行われる。図7bはその結果である。次に、スキャンデータを管長手方向に平均処理を行った。その平均化処理は、長手方向平均部21により行われる。ここでは、50点50mmのデータを平均した。図7cはその結果であり、下段は各時間位置において、7ヶ所のスキャンで得られたエコー高さの最大位置を重ね書きしたものである。この最大位置は、ピーク位置検出部22により検出される。同図から分かるように、上述の処理によって、シーム位置が変化していく様子を明瞭に検出できるようになっている。最適な平均処理の区間は、エコーのばらつき程度とシーム位置の変化程度により決定される。図8に平均回数を変化させた場合の例を示す。図8のデータは管長手方向3000点3000mmのデータである。平均回数が100回程度100mmからばらつきが少なくなり、平均回数が1000回1000mmでは、シーム位置の変化が一部現れなくなっていることから、およそ100mm~1000mmの区間が適当であり、望ましくは300mm~500mmが最良の効果が得られる次に、本発明の第3実施例について説明する。上記の第2実施例では、管の長手方向に対してシーム位置が最も端のスキャンラインにあるデータについては異常値としてその部分のデータを除去した後に、スキャンデータを長手方向に平均処理を行い、管周方向7箇所のスキャンで得られたエコー高さの分布から最大位置を抽出してシーム位置を出力している。この場合、管長手方向に対する平均処理の回数が大きくなると、それだけ計算量も増えることになる。従って、計算量を軽減させる為に、長手方向に対するスキャンデータの平均処理と、スキャンデータから計算されたシーム位置出力結果に対する長手方向の平滑処理を組み合わせても良い。そのように処理した例が第3実施例である。図9Aは、第2の実施例に記載のとおりに異常値をリジェクトし、スキャンデータを管長手方向に50点50mmにわたって平均処理を行い、管周方向7箇所のスキャンで得られたエコー高さの分布から最大位置を抽出してシーム位置を算出した結果である。なお、この測定点数50点は任意に設定されるものである。図9Bは、図9Aに示す算出結果に、長手方向に対して300点300mmの移動平均処理を施した結果である。図9Bと第2実施例の結果である図8とを比較すると、例えば、図8に示される300mm~500mmで長手方向に対してスキャンデータを平均処理した結果と第3実施例の計算結果図9Bとがほぼ同等のシーム位置の変化が得られていることがわかる。なお、上記の第3実施例では、平滑処理に移動平均処理を用いたが、予め設定した周期fを遮断周期としてローパスフィルター処理を適用しても同等の効果が得られる。以上説明したように、本実施の形態では、シームに残留する微小な酸化物を検出してシーム位置を検出するようにしているため、コイル端部にて人為的に溶接欠陥を発生させる必要はなく、定常操業において製造され切断された製品材に対しても適用可能である。さらに、アレイ探触子を用いて管周方向にスキャンを行ってシーム位置を探索するようにしているため、超音波探触子の周方向位置を機械的に動かす必要もなく、設備的にも複雑なものは必要ないという効果を有する。