被測定対象に沿って所定長に敷設された光ファイバに、タイミング信号に同期して光パルスを入射させて得られる後方散乱光の2成分の夫々を受光した電気信号をA/D変換し、平均処理を実行する信号処理部を介してデータ記憶メモリに保持させ、このデータ記憶メモリから読み出される前記2成分のデータを演算して温度信号に変換する光ファイバ温度測定装置において、前記タイミング信号の発生より所定の遅延時間経過まで、前記信号処理部の処理を停止させる遅延時間発生回路を備えることを特徴とする光ファイバ温度測定装置。前記信号処理部は、前記タイミング信号に同期して、前記信号処理部の処理結果を保持させる前記データ記憶メモリのアドレスを指定するためのカウンタを備え、前記遅延時間発生回路は、前記タイミング信号の発生より所定の遅延時間経過まで、前記カウンタの動作を停止させることを特徴とする請求項1に記載の光ファイバ温度測定装置。前記遅延時間は、前記信号処理部から前記データ記憶メモリのメモリサイズ一杯まで書き込まれる時間よりも長く設定されることを特徴とする請求項1または2に記載の光ファイバ温度測定装置。温度を測定したい場所は、光ファイバ温度測定装置のパルス入力端からではなく、離れていることもある。従来構成の光ファイバ温度測定装置では、光ファイバに沿って温度を測定できることが特徴であるが、遠方に測定対象がある場合には、それに応じてデータ記憶メモリを増やす必要があり、メモリ資源のコストアップとなる問題がある。データ記憶メモリを増やすことは、その分のコストアップだけでなく、温度測定装置の基盤となるハードウエアやOSを変更することにもなる。本発明の目的は、メモリサイズを増やすことなく、より遠方の温度測定を可能とする光ファイバ温度測定装置を実現することにある。このような課題を達成するために、本発明は次の通りの構成になっている。1被測定対象に沿って所定長に敷設された光ファイバに、タイミング信号に同期して光パルスを入射させて得られる後方散乱光の2成分の夫々を受光した電気信号をA/D変換し、平均処理を実行する信号処理部を介してデータ記憶メモリに保持させ、このデータ記憶メモリから読み出される前記2成分のデータを演算して温度信号に変換する光ファイバ温度測定装置において、前記タイミング信号の発生より所定の遅延時間経過まで、前記信号処理部の処理を停止させる遅延時間発生回路を備えることを特徴とする光ファイバ温度測定装置。2前記信号処理部は、前記タイミング信号に同期して、前記信号処理部の処理結果を保持させる前記データ記憶メモリのアドレスを指定するためのカウンタを備え、前記遅延時間発生回路は、前記タイミング信号の発生より所定の遅延時間経過まで、前記カウンタの動作を停止させることを特徴とする1に記載の光ファイバ温度測定装置。3前記遅延時間は、前記信号処理部から前記データ記憶メモリのメモリサイズ一杯まで書き込まれる時間よりも長く設定されることを特徴とする1または2に記載の光ファイバ温度測定装置。本発明では、データ取得するタイミングを変える機能によって、データを格納するメモリを増やすことなく、より遠方にある熱源の温度測定が可能となる。これにより、メモリを増やすことによる装置の基盤となるハードウエアやOSを変更などの影響を回避することができる。温度を測定したい場所は、光ファイバ温度測定装置のパルス入力端からではなく、遠方の特定箇所の場合もある。例えば、海底油田の温度測定では、海底まで数kmの場合もある。このような測定環境でも、海中の温度は測定せずに特定箇所である海底油田の温度を測定することができる。以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図1は、本発明を適用した光ファイバ温度測定装置の一実施例を示す機能ブロック図である。図6で説明した従来構成と同一要素には同一符号を付して説明を省略する。図6に示した従来構成に追加される本発明の特徴部は、タイミング発生回路2と信号処理部8との間に挿入された遅延時間発生回路100を設けた構成にある。この遅延時間発生回路100によって、信号処理部8によるデータ記憶メモリ9へのデータの格納を遅延させる。図2は、本発明の動作を説明するタイムチャートである。遅延時間は測定距離に対応する。遅延時間τを、信号処理部8からデータ記憶メモリ9のメモリサイズM一杯まで書き込まれる時間よりも長く設定することにより、メモリサイズMで対応可能な距離より遠方にある熱源の測定データを取得することができる。図3は、本発明を適用した光ファイバ温度測定装置の主要部の詳細を示す機能ブロック図である。タイミング発生回路2からのクロックCLに同期して、A/D変換回路7はAD変換データを信号処理部の加算器81Aおよび81Bに入力する。遅延発生回路100は、最初のクロック発生のタイミングより所定の遅延時間後に加算器81Aおよび81Bに加算イネーブル信号を与え、平均化処理のための加算処理を有効にする。加算器81Aおよび81Bは、A/D変換回路7から与えられる現在の測定データADとデータ記憶メモリから読み返した前回の測定データであるリードデータを加算して平均化し、その平均値を現在の測定データであるライトデータとしてデータ記憶メモリ9に保存する。信号処理部8は、クロックCLをカウントアップするカウンタ82を備える。このカウンタ82は、距離に対応した一対の測定データをデータ記憶メモリ9に格納するためのリードアドレスおよびライトアドレスを与える。カウンタのカウント値は測定距離に対応し、データ記憶メモリ9のアドレスとなる。遅延発生回路100は、最初のクロック発生のタイミングより所定の遅延時間後にこのカウンタ82にカウンタイネーブル信号を与え、測定データを格納するためのアドレス生成を有効にする。データの読み出し、書き込みが同時にあるため、リードアドレスとライトアドレスをそれぞれ出力する。データ記憶メモリ9は、距離に対応したアドレスに一対の測定データが対応して保持されるテーブル構成となっている。図4は、図3の動作を説明するタイムチャートである。図4Aはリードアドレス、Bはライトアドレス、Cはクロック、DはADデータ、Eはリードデータ、Fライトデータを示す。遅延時間発生回路100は、遅延後の時刻t1でカウンタイネーブル信号を出力し、アドレスがカウントアップされる。例では0~99、加算時間を考慮し、リードアドレスとライトアドレスが1クロック遅れている。1回目の測定では、データ記憶メモリ9の初期値となるため、加算イネーブル信号は出力せず、ADデータA0A1A2...A99がメモリへ格納される。時刻t2からの2回目以降の測定では、加算イネーブル信号が出力され、読み出した過去の測定データであるリードデータR0R1R2...R99と現在の測定データであるADデータA0A1A2...A99が加算されライトデータW0W1W2...W99としてデータ記憶メモリ9へ格納される。