複数の記録層を積層する多層膜光ディスクの初期化工程において、すべての記録層の初期化が完了した光ディスクに、前記記録層の積層方向にレーザスポットを走査させ、検出したフォーカス誤差信号によって現れる一定振幅以上の曲線波形信号のカウント数が、前記記録層の積層数と同一か否かを判定し、各記録層の初期化が正常に行われたかを確認することを特徴とする多層膜光ディスクの初期化確認方法。前記一定振幅以上の曲線波形信号は、前記曲線信号のピークレベル値が、予めパラメータとして設定した判定しきい値を超えることを特徴とする請求項1記載の多層膜光ディスクの初期化確認方法。前記判定の動作は、光ディスクの内周から外周にかけて、パラメータとして設定した任意の半径位置で実行可能であることを特徴とする請求項1記載の多層膜光ディスクの初期化確認方法。複数の記録層を積層する多層膜光ディスクの初期化確認装置であって、各記録層の初期化を順次実行した積層の積層方向にレーザスポットを走査させ、フォーカス誤差信号を検出するフォーカス誤差信号検出手段と、前記フォーカス誤差信号によって現れる曲線波形信号のピークレベルが、予め設定した判定しきい値を超える前記曲線信号をカウントする計測手段と、前記カウント数が前記記録層の積層数と同一か否かを比較演算して、各記録層の初期化が正常に行われたかを判定する初期化確認手段を備えたことを特徴とする多層膜光ディスクの初期化確認装置。近年、デジタルハイビジョン放送や3D映像録画用として、大容量化が可能な多層膜光ディスクの需要が飛躍的に増大している。現在、書換え型のブルーレイディスクにおいては、2層50GBディスクに加えて3層100GBディスクも商品化されている。これら書換え型の光ディスクには、成膜後の記録膜を非結晶状態から結晶状態にする初期化処理行程が必要であり、複数トラックの一括初期化が可能な半径方向に長い楕円形ビームの高出力レーザを搭載した専用初期化装置が用いられる。本初期化装置においても、光ディスクの記録膜全面にわたって均一な初期化品位を確保するため、再生記録装置と同様にレーザ光のフォーカス制御が必要である。例えば2層膜ディスクにおいては、先ず第1の記録層にフォーカスをかけて記録膜全面の初期化を実行した後、一旦フォーカスを外して、次に第2の記録層にフォーカスをかけ直して記録膜全面の初期化を実行する。ここで、前記の通り、一般的に初期化装置で用いられているレーザビームでは、記録層の識別情報を読み出すことが不可能であり、フォーカスをかけた記録層が正しいかどうかを確実にチェックできる手段がない。従来の反射光レベルによる判定方式も、記録膜が初期化されたかどうかはチェックできるものの、記録層第1記録層か第2記録層かの判別まではできない。つまり、多層膜ディスクにおいて、何らかの理由により誤った記録層にフォーカスがかかり、全ての記録層が正常に初期化されなかった場合の不良ディスクをリジェクトする方法としては、記録再生装置のような記録層情報を認識できる機器を用いる必要があった。しかしながら、前記の方法は光ディスクの初期化行程において、初期化用と検査用の2種類の装置が必要になり、光ディスク製造メーカにおける設備コストや装置管理の負担が増えることになる。また、初期化装置に記録再生装置のような検査用のレーザ光学系を搭載する方法においても、ハードウエアの大幅な変更が必要となり、装置自体のコストアップに繋がる。これらの理由により、初期化装置のハードウエアをそのまま利用して、多層膜ディスクの各層の初期化状態を簡易的に確認できる方法の実現が望まれていた。本発明は、このような期待に応えようとするものであって、前記初期化工程において、全ての記録層の初期化が完了した段階で、記録膜の積層方向にフォーカスアクチュエータを動作させ、一定の振幅以上のフォーカス誤差信号が記録層数分あるかをカウントすることで、確実に、各層が正常に初期化されているかを判定することが可能となることに着目し、多層膜光ディスクの初期化工程における各層の初期化確認の判定を行うための多層膜光ディスクの初期化確認方法及びその確認装置を提供することを目的とする。前記の目的を達成するために、請求項1記載の本発明は、多層膜光ディスクの初期化確認方法であって、複数の記録層を積層する多層膜光ディスクの初期化工程において、すべての記録層の初期化が完了した光ディスクに、前記記録層の積層方向にレーザスポットを走査させ、検出したフォーカス誤差信号によって現れる一定振幅以上の曲線波形信号のカウント数が、前記記録層の積層数と同一か否かを判定し、各記録層の初期化が正常に行われたかを確認することを特徴とする。この構成により、積層間における記録層の反射率の差が殆ど無い場合、目的層が初期化されたかどうかの判定が困難であった従来の方式の弱点を一掃できる。請求項2記載の本発明は、前記一定振幅以上の曲線波形信号は、前記曲線信号のピークレベル値が、予めパラメータとして設定した判定しきい値を超えることを特徴とする。この構成により、判定しきい値の振幅を越えたものを、単にカウントするだけで各記録層の初期化済の有無判定ができるから、判定に基づく検査確認の信頼性がきわめて高い。また、記録膜の特性反射率に合わせた判定しきい値をパラメータとして設定することにより、検査の確実性を上げることができる。請求項3記載の本発明は、前記判定の動作は、光ディスクの内周から外周にかけて、パラメータとして設定した任意の半径位置で実行可能であることを特徴とする。この構成により、例えば、面振れ量がより小さい内周側での判定を行うことで、検査の確実性を上げることが可能となる。請求項4記載の本発明は、多層膜光ディスクの初期化確認装置であって、複数の記録層を積層する多層膜光ディスクの初期化確認装置であって、各記録層の初期化を順次実行した積層の積層方向にレーザスポットを走査させ、フォーカス誤差信号を検出するフォーカス誤差信号検出手段と、前記フォーカス誤差信号によって現れる曲線波形信号のピークレベルが、予め設定した判定しきい値を超える前記曲線信号をカウントする計測手段と、前記カウント数が前記記録層の積層数と同一か否かを比較演算して、各記録層の初期化が正常に行われたかを判定する初期化確認手段を備えたことを特徴とする。この構成により、各記録層の初期化状態を、初期化装置そのものを用いて連続的に確認することができるため、他の検査装置は不要となる。本発明によれば、初期化確認装置による不良ディスク検出能力が向上し、生産ラインにおける歩留まりを改善することができる。また、積層間における記録層の反射率の差が殆ど無い場合の判定が困難であった従来の方式の課題を、抜本的に解決することもできる。そのうえ、確認をきわめて容易に行うことができる。以下、本発明による多層膜光ディスクの初期化確認方法及びその確認装置の一実施形態を、図面を参照して説明する。本実施形態による多層膜光ディスクの初期化確認装置は、多層膜光ディスクの初期化装置1を利用することができる。多層膜光ディスクの初期化装置1は、大別して、レーザ光学ヘッド、レーザヘッド位置決め機構、光ディスク回転機構など各種制御機構によって構成されるが、本発明に直接関係する光学ヘッドのフォーカス制御系について説明する。初期化装置1における、初期化を行うための光学ヘッド4は、図1に示す如く、レーザビームを発生するレーザダイオード9と、該レーザビームが通過する偏光ビームスプリッタPBS8及びλ/4板7と、該λ/4板7を通過したレーザビームを集光して光ディスク2の記録層3にレーザスポットを形成する対物レンズ5と、前記対物レンズ5を上下して焦点合わせを行う対物レンズアクチュエータ6と、前述の記録層3から反射され、対物レンズ5及びλ/4板7を介してPBS8によりアイソレートした反射光をレンズ10で集光した反射光量を検出するフォーカス光ディテクタ11を備える。このフォーカス光ディテクタ11は、記録層2からの反射光により記録層とレーザスポットとの相対変位を検出するものであり、このディテクタ11が出力する2つの光電信号を減算器12にて差をとることによりフォーカス誤差信号を生成する。記録層にフォーカスをかけるための一実施形態であるが、始めに回路切替えスイッチ14を装置制御部内CPU16側にして、アクチュエータ駆動回路13を制御することで対物レンズアクチュエータ6を記録膜の積層方向に走査する。記録膜の焦点位置でフォーカス誤差信号に現れる曲線波形信号S字波形信号を検出したところで、スイッチ14をサーボ回路15側にして、記録膜上にフォーカスサーボをかける。本発明に係る多層膜光ディスク初期化装置を用いた初期化済み記録層検出部の一実施形態を図2に示す。図1で説明したフォーカス誤差信号と、装置制御部内CPU17で設定可能なD/Aコンバータ18の出力を、電圧比較器19で比較処理することで、記録膜の焦点位置でフォーカス誤差信号に現れる一定レベル以上の曲線波形信号S字波形信号を検出する。多層膜ディスクの各層の初期化処理が終わった後、対物レンズアクチュエータを記録膜の積層方向一方向に走査させたときの、前記電圧比較器19の出力変化点をカウンタ20でカウントし、そのカウント数と記録層の数が一致した場合は正常初期化済みと判定され、一致しない場合は異常と判定されて不良品として行程から排出される。ここで、D/Aコンバータ18の出力は、初期化済み記録層から得られる曲線信号S字波形信号の判定検出しきい値であり、装置外部に出力された信号モニタ端子21でS字波形信号を観察した上で最適な値に調整、設定する。次に、本実施形態によるフォーカス誤差信号を利用して、2つの記録層27、28からなる光ディスク2の初期化済であるか否かの判定方法を、図3を参照して説明する。全記録層の初期化が完了した後、レーザ出力を記録膜に影響を与えない程度の低いパワーに切替え、対物レンズ5を一定の速度で駆動することにより、レーザスポット18を、第1記録層27の記録膜から第2記録層28の記録膜方向に動作させる。第1記録層27の記録膜、第2記録層28の記録膜のゼロクロス34、35前後においてフォーカス誤差信号に現れる曲線波形信号S字波形信号29、31をモニタリングする。初期化によって記録膜の反射率が上がることにより、曲線波形信号の振幅も大きくなる。この結果、第1、第2の記録層27、28ともに正常に初期化が行われた場合、曲線波形信号S字波形信号29、31の波形のピークレベル30、32がともに所定の判定しきい値33を超える。つまり、所定の判定しきい値33を超えている曲線波形信号S字波形信号29、31は、2つあり、2つの記録層の数と同一になる。このようにして、第1記録層27、第2記録層29ともに、正常な初期化が行なわれたとして、正常判定がされる。一方、第2の記録層28が未初期化の場合を例にあげると、第1記録層27の記録膜における曲線波形信号S字波形信号36は、所定の判定しきい値40を超えるが、第2記録層28の記録膜における曲線波形信号S字波形信号38の波形のピークレベル39が所定の判定しきい値40を超えない。この結果、所定の判定しきい値33を超えている曲線波形信号S字波形信号は1つだけであり、記録層の数に足りないため、初期化不良ディスクと判定される。つまり、本発明では、対物レンズ3を一定の速度で駆動している間、一定の振幅以上の曲線波形信号S字波形信号をカウントした数が、記録層数であるか否かで、各層の反射光レベルが同等であるか否かを問わず、各層が正常に初期化されているか否かを判定することが可能となる。ここで判定しきい値33、40は、曲線波形信号S字波形信号29、31、36、38のゼロクロス34、35、41、42を基準として、曲線波形信号S字波形信号29、31、36、38のピークレベル30、32、37、39までの値を読み取り、最適のしきい値を設定する。次に、本発明の初期化確認動作を、図4と図5を参照して、従来の初期化確認動作と比較しながら説明する。図4は、従来の初期化確認動作を示すフローチャート、図5は、本願発明による初期化確認動作を示すフローチャートである。従来の初期化確認動作は、まず、第1記録層へのフォーカスからスタートし、記録膜全面の初期化が終了した後、反射光レベルを測定し、その結果が判定しきい値をクリアしたか否かを判定し、結果が異常と判定されたときは、不良ディスクとして処理されるステップ101~106。正常と判定されると、第2記録層へのフォーカスに移り、反射光レベルを測定し、第1記録層と同様、その結果が判定しきい値をクリアしたか否かを判定し、結果が異常と判定されたときは、不良ディスクとして処理されるステップ107~112。正常と判定されると、すべての記録層はすべて正常に初期化されたと判定されるステップ113。本方法において、第1と第2の記録膜を初期化した後の期待する反射率、つまり反射光レベル判定しきい値が同等であると、例えば第2の記録層へフォーカスする際、誤って既に初期済みの第1の記録層にフォーカスした場合、反射率は上がっているため正常判定となってしまう。つまり、第2の記録層が未初期化のまま、ディスクとしては未完成にもかかわらず、不良ディスクとして判別できない。それに対して本発明では、従来のような記録層ごとに正常、異常の判定を行うことなく、すべての記録層の初期化が完了した後に、多層膜光ディスクとしての正常、異常の判定を行う201~211。また、両者の最大の相違点は、判定手段として、従来の確認方法では、記録膜にフォーカスをかけた状態で反射光レベルの測定を実行するステップ105、111のに対し、本願発明では、各記録層へのフォーカスサーチ動作時レーザスポットが記録膜の合焦点位置を通過する際に出力する一定レベル以上のフォーカス誤差信号の曲線波形信号S字波形信号が記録層数分あるか否かをもって判定する。つまり、従来の初期化確認動作と比較し、本願発明によれば、各層の反射光レベルが同等であるかどうかに係わらず、各層が正常に初期化されているかを判定することが可能となる。しかも、一定レベル以上の曲線波形信号S字波形信号が記録層数分あるか否か、というきわめて簡便かつ正確な方法で判定することができる。本実施形態による多層膜光ディスクの初期化確認装置では、反射率測定位置を、光ディスクの内周から外周にかけて、パラメータとして設定した任意の半径位置で実行することができる。例えば判定結果にディスクの面振れが影響する場合には、面振れ量がより小さい内周側での判定を行うことで、検査の確実性を上げることが可能である。また、前記半径位置は、複数の測定点を予め設定することもできる。本発明は、本実施例で説明した2層ディスクのみに係わらず、3層以上の多層膜光ディスクについても、その初期化確認方法及びその初期化確認装置として、そのまま用いることができる。