"撮像光学系と、該撮像光学系を介して被写体像を取り込む撮像素子と、該撮像素子から出力された画像信号を処理する画像処理手段と、該画像処理手段における画像処理に用いられるパラメータを予め記憶しておく記憶手段とを備えてなる撮像装置において、前記撮像素子は、前記撮像光学系の光軸の位置において焦点が合うように配置されており、前記画像処理手段は、前記撮像光学系の光軸に対する前記撮像素子の受光面の法線の傾きθによる撮像画像の歪を、前記撮像画像の光軸からの距離をA、歪補正後の撮像画像における光軸からの距離をB、及び、前記撮像光学系の焦点距離をfとして、下記演算式B=A×cosθ×f/f±A×sinθによる座標変換を用いて補正することを特徴とする撮像装置。前記撮像光学系と前記撮像素子は、前記撮像光学系の光軸と前記撮像素子の撮像面の中心とが一致するように配置されていることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。請求項1又は2に記載の撮像装置を複数有してなることを特徴とするステレオ撮像装置。しかしながら、上記特許文献1では、撮像画像の各画素に対して座標変換データを予めメモリ等に記憶しておく必要がある。高画素化が進む近年では、そのデータ量が膨大となり、大容量のメモリが必要不可欠になってしまうという問題点がある。また、特許文献1に開示された補正処理では、光軸に直交するXY平面における歪補正は行われているものの、光軸方向Z方向における歪補正が行われておらず、十分な補正が行われているとは言えない。本発明は上記問題点に鑑みなされたものであり、撮像素子の傾きによる画像歪を簡易な構成で、且つ、精度良く補正可能な撮像装置及び該撮像装置を複数用いたステレオ撮像装置を提供することを目的とする。本発明に係る撮像装置は上記課題を解決するために、撮像光学系と、該撮像光学系を介して被写体像を取り込む撮像素子と、該撮像素子から出力された画像信号を処理する画像処理手段と、該画像処理手段における画像処理に用いられるパラメータを予め記憶しておく記憶手段とを備えてなる撮像装置において、前記撮像素子は、前記撮像光学系の光軸の位置において焦点が合うように配置されており、前記画像処理手段は、前記撮像光学系の光軸に対する前記撮像素子の受光面の法線の傾きθによる撮像画像の歪を、前記撮像画像の光軸からの距離をA、歪補正後の撮像画像における光軸からの距離をB、及び、前記撮像光学系の焦点距離をfとして、下記演算式B=A×cosθ×f/f±A×sinθによる座標変換を用いて補正することを特徴とする。本発明によれば、撮像素子の傾きにより撮像画像に生じた歪みを、上記演算式の座標変換を用いた画像処理によって補正できるので、煩雑な調整作業を伴うことなく、簡易に歪のない良質な画像表示を行うことができる。特に、この演算式には撮像光学系等を特徴付ける簡易なパラメータしか含まれておらず、上記特許文献1のように各画素に対応する座標変換データを記憶しておく必要がない。そのため、演算に必要なパラメータを記憶しておく記憶手段メモリの小容量化を図ることができ、より簡易な構成でコスト効率の優れた撮像装置を実現することができる。好ましくは、前記撮像光学系と前記撮像素子は、前記撮像光学系の光軸と前記撮像素子の撮像面の中心とが一致するように配置されているとよい。本発明に係るステレオ撮像装置は、上述の撮像装置上記各種態様を含むを複数有してなることを特徴とする。これによれば、ステレオ撮像装置を構成する各撮像装置において煩雑な調整作業を行うことなく、画像処理によって演算処理を行うのみによって、撮像素子の傾きによる歪を補正できる。特にステレオカメラでは、2台のカメラが撮像した各画像の差を比較して、距離検出等の解析を行うことがある。このような場合、カメラが光軸に対して撮像素子が傾いて取り付けられていると、その画像から正確な解析結果を得ることができなくなってしまう。そのため、本発明をステレオカメラに適用することによって、上記効果をより効果的に享受することができる。本発明によれば、撮像素子の傾きにより撮像画像に生じた歪みを、上記演算式の座標変換を用いた画像処理によって補正できるので、煩雑な調整作業を伴うことなく、簡易に歪のない良質な画像表示を行うことができる。特に、この演算式には撮像光学系等を特徴付ける簡易なパラメータしか含まれておらず、上記特許文献1のように各画素に対応する座標変換データを記憶しておく必要がない。そのため、演算に必要なパラメータを記憶しておく記憶手段メモリの小容量化を図ることができ、より簡易な構成でコスト効率の優れた撮像装置を実現することができる。図1は本発明に係る撮像装置1の構成を示すブロック図である。撮像装置1は、単数又は複数の光学レンズを含んでなる撮像光学系2を介して、被写体から発せられた光信号入射光線を取り込む。取り込まれた光信号は、撮像光学系2の焦点位置に配置された撮像素子3上に被写体像を結像する。撮像素子3は例えばCCDやCMOSなどの光電変換素子であって、撮像光学系2を介して照射された光信号を電気的な画像信号以下に説明する補正処理が行われた画像信号と区別するために補正前画像信号と称するに変換する。撮像素子3から出力された補正前画像信号は、MPUMicroProcessingUnit4に送られ、そこで画像処理が施される。MPU4は、例えばマイコンなどの演算処理装置である半導体チップからなっており、撮像装置1の画像処理に必要な各種演算処理を行う。MPU4で行われる画像処理の詳細な内容については後述するが、当該演算に必要なパラメータはMPU4がアクセス可能に設置されたメモリ5に予め記憶されている。ここで、メモリ5は例えばフラッシュメモリなどの不揮発性メモリである。このようにMPU4で演算処理によって補正が施された画像信号補正後画像信号は、ディスプレイなどの表示装置に出力されることにより、画像表示がなされる。尚、表示装置などに代えて、他の画像処理を行う機器などに出力してよいことは言うまでもない。図2は、本発明に係る撮像装置1において、撮像素子3が撮像光学系2に対して傾いている状態を示す模式図であり、図3は撮像素子3の傾きの有無による撮像画像の違いを示す模式図である。撮像装置1内部において、撮像素子3の位置は、撮像光学系2の光軸に対して予め最適な位置になるように調整されている。しかしながら、撮像装置1の組立精度には限界があるため、精度が十分に得られない場合には、撮像画像に歪が生じることがある。また、製造時には撮像素子3の位置が精度良く調整されていた場合であっても、時間の経過に伴ってズレが生じたり、外部からの衝撃によって後発的に撮像素子3が図2に示すように傾いてしまうこともある。図2において撮像素子3の符号Aで示す位置に到達する光線は、被写体側の符号A ́から入射した光線であり、撮像素子3の符号Bで示す位置に到達する光線は符号B ́から入射した光線である。ここで符号B ́に示す位置は、符号A ́で示す位置より光軸から離れた場所にある。そのため、撮像素子3に傾きがないように正確に調整されている場合には、図3bに示すように歪のない撮像画像が得られるが、図2に示すように撮像素子3が光軸に対して傾いている場合には、図3aに示すように歪が生じ、撮像画像が変形してしまう。図4はMPU4が実行する画像処理の内容を示すフローチャートである。MPU4は、撮像素子3から出力された補正前撮像画像信号を取得しステップS101、該補正前撮像画像信号に撮像素子3の傾きによって生じた歪みがあるか否かを判定することにより、補正の要否を判断するステップS102。この判定は、例えば予め歪みが無い場合の撮像画像を記憶しておき、実際の撮像画像との差異の有無によって判断するとよい。そして補正処理が必要と判定された場合ステップS102:YES、MPU4はメモリ5から補正処理に必要なパラメータを取得しステップS103、該取得したパラメータを用いて補正処理を行うことにより、補正後画像信号を作成するステップS104。そしてステップS104で作成した補正後画像信号を出力しステップS105、MPU4は処理を終了するEND。尚、ステップS102にて補正処理が不要と判定された場合にはステップS102:NO、MPU4は特段の演算を行うことなく、補正前画像信号を補正後画像信号としてそのまま出力する。第1実施例第1実施例では、被写体として校正用チャート7を用いた場合を例に説明する。図5は第1実施例において、被写体である校正用チャート7の撮像画像を取得する過程を概略的に示す模式図である。図5のうち校正用チャート7と結像画像は、撮像光学系2の光軸Z軸に垂直な平面本来の撮像面と平行なXY平面で表示しており、撮像光学系2と撮像素子3とは、光軸Z軸方向に沿って配列された様子を簡易的に示している。尚、図5では、撮像装置1のその他の構成については、説明の煩雑化を避けるために適宜省略した。校正用チャート7は、光軸Z軸に直交するXY平面本来の撮像面と平行な面において、Y方向に沿って延在する線分縦線がX方向に沿って等間隔に並べられてなる。この校正用チャート7では、各縦線のX軸における位置がL0、L1、、L10で示されており、各縦線同士の間隔はaに設定されている。被写体である校正用チャート7から撮像装置1に取り込まれた光信号は、撮像光学系2を介して、焦点位置に配置された撮像素子3に結像する。図5では、撮像素子3に傾きが無い場合に得られる結像画像を破線で表示している図5では、結像画像において校正用チャート7のL0、L1、、L10に対応する位置をL0 ́、L1 ́、、L10 ́で示した。後述する図8及び図9においても同様。しかしながら、図2及び図3を参照して説明したように、撮像素子3が傾いている場合には、結像画像には歪みが生じる図5の実線を参照。図5で具体的に説明すると、撮像素子3のうち被写体からの距離が遠くなるL0側図5における左側では、結像画像のY方向の長さが大きくなると共に、X方向についても光軸から離れるように歪みが生じている。また、撮像素子3のうち被写体からの距離が近くなるL10側図5における右側では、結像画像のY方向の長さが小さくなると共に、X方向についても歪みが生じている。このように、本来の撮像面に平行なXY面に対して撮像素子3が傾いている場合、結像画像に歪みが生じることとなる。ここで、図6は第1実施例において、撮像光学系2と撮像素子3との光学的位置関係を幾何学的に示す模式図である。図6では、撮像光学系2の焦点距離をf、撮像素子3の本来の撮像面XY平面に平行な面に対する傾きをθ、補正前画像の光軸からの距離をA、補正後画像の光軸からの距離をBとしている。光軸より左側撮像素子3のうち被写体側から離れている側において、補正後画像の光軸からの距離Bは、補正前画像の光軸からの距離Aの関数として幾何学に基づいて次式で求められる。B=C×f/fD=A×cosθ×f/fA×sinθ1一方、光軸より右側撮像素子3のうち被写体側から近づいている側においては、補正後画像の光軸からの距離Bは、補正前画像の光軸からの距離Aの関数として幾何学に基づいて次式で求められる。B=C×f/f―DB=A×cosθ×f/f―A×sinθ2ここで撮像素子3の傾きθの算出方法について、図7を参照して説明する。図7は本発明に係る撮像装置1において、撮像素子3の傾きθと結像座標との関係を幾何学的に示す模式図である。尚、図7では撮像素子3はXZ平面に沿った方向に傾いている場合を例に説明する。また、図7ではXY平面本来の撮像面に対する撮像素子3の角度をθ、該傾いた撮像素子3における結像座標をZ,X、傾きが無い場合の結像座標すなわち、本来の撮像面にある補正後の結像座標をZ1,X1、被写体側から入射する光線の入射角をθ ́、結像座標Z,Xから原点までの距離をLとしている。図7において、撮像素子3の傾きを示す直線Lは、撮像素子3の傾きθと入射角θ ́とを用いて、次式により表わされる。X=-1/tanθ×Z3また、入射光線に沿った直線Mは同じくYZ座標系で次式により表わされる。X=tanθ ́×ZX14この二式を解くことにより、直線L及びMの交点である補正前画像の結像座標Z,Xは次式のように算出される。Z=X1×tanθ/-1-tanθ ́×tanθ5X=1/1tanθ ́×tanθ×X16ここで幾何学的に、Z=L×sinθ、X=L×cosθであるため、これらを上記56に代入すると、次式が得られる。L×sinθ=X1×tanθ/-1-tanθ ́×tanθ7L×cosθ=1/1tanθ ́×tanθ×X18そして、78を解くことにより、撮像素子3の傾きθは次式と求められる。このように9式にて算出されたθを、2式に代入することによって補正後画像の光軸からの距離Bと、補正前画像の光軸からの距離Aの関数との関係式が得られる。尚、2式における焦点距離fは、撮像光学系2が個別に有するパラメータであり、予めメモリ5に記憶しておくとよい。MPU4は、以上説明した演算により補正前画像信号の各座標点を座標変換することにより、煩雑な調整作業を伴うことなく撮像画像に含まれる歪を取り除くことができ、良質な画像表示を行うことが可能となる。第2実施例図8は第2実施例に係る撮像装置1において、被写体として校正用チャート8を用いた場合の撮像画像が得られる過程を概略的に示す模式図である。第2実施例では、被写体として、光軸に直交するXY平面において、X方向に沿って延在する線分縦線がY方向に沿って等間隔に並べられてなる校正用チャート8を用いた場合を例に説明する。この校正用チャート8では、各縦線のY軸における位置がL0、L1、、L10で示されており、各縦線同士の間隔はaに設定されている。被写体である校正用チャート8からの光信号は、第1実施例と同様に、撮像光学系2を介して焦点位置に配置されている撮像素子3に結像する。図8においても図5と同様に、撮像素子3に傾きが無い場合に得られる結像画像を破線で示しており、撮像素子3に傾きが有る場合に得られる結像画像を実線で示している。第2実施例においても、第1実施例と同様の考えに基づき、撮像画像に含まれる歪を取り除くことができる。すなわち、上記式3乃至8においてXとYを入れ替えることによって、同様の演算式に基づいて、歪を取り除いた良質な画像表示を行うことが可能となる。第3実施例図9は第3実施例に係る撮像装置1において、被写体として校正用チャート9を用いた場合の撮像画像が得られる過程を概略的に示す模式図である。第3実施例では、被写体として、光軸に直交するXY平面において、上記校正用チャート7及び8を組み合わせたマトリクス状の校正用チャート9を用いた場合を例に説明する。被写体である校正用チャート8からの光信号は、第1及び第2実施例と同様に、撮像光学系2を介して焦点位置に配置されている撮像素子3に結像する。図9においても図5及び図8と同様に、撮像素子3に傾きが無い場合に得られる結像画像を破線で示しており、撮像素子3に傾きが有る場合に得られる結像画像を実線で示している。即ち、第3実施例は、第1及び第2実施例を組み合わせた場合に相当し、撮像素子3のX及びY方向のそれぞれの方向における傾きによって生じる歪を取り除くことができる。以上説明したように、本実施例に係る撮像装置1によれば、撮像素子3の傾きにより撮像画像に生じた歪みを、上記演算式の座標変換を用いた画像処理によって補正することにより、煩雑な調整作業を伴うことなく、簡易に歪のない良質な画像表示を行うことができる。特に、この演算式には撮像光学系2等を特徴付ける簡易な光学パラメータしか含まれておらず、上記特許文献1のように各画素に対応する座標変換データを記憶しておく必要がない。そのため、演算に必要なパラメータを記憶しておくメモリ5の小容量化を図ることができ、より簡易な構成でコスト効率の優れた撮像装置を実現することができる。"