"複数の画素が配置され、入射光を受光する有効領域、及び前記有効領域の周囲に設けられ入射光が遮光された遮光領域を有する画素領域と、前記遮光領域に互いに所定距離離れて設けられ、閾値を求めるための複数の閾値領域と、前記遮光領域に互いに所定距離離れて設けられ、前記閾値を用いて補正量を求めるための複数の基準領域と、前記閾値領域に配置された画素から読み出された画素信号の前記閾値領域ごとの平均値から前記閾値を算出し、算出した前記閾値に基づき前記基準領域に配置された画素から読み出された画素信号を補正した補正信号を算出し、前記基準領域ごとの前記補正信号の平均値から前記補正量を算出する算出部と、前記補正量に基づき前記有効領域に配置された画素から読み出された画素信号を補正する補正部と、を備える固体撮像装置。前記算出部は、前記閾値領域に配置された画素から読み出された画素信号の前記閾値領域ごとの前記平均値のうち最小の平均値を前記閾値とする請求項1に記載の固体撮像装置。前記算出部は、前記補正信号の前記基準領域ごとの前記平均値のうち最小の平均値を前記補正量とする請求項1に記載の固体撮像装置。前記算出部は、前記基準領域に配置された画素から読み出された前記画素信号が前記閾値より一定値小さい下限閾値より小さい場合、該画素信号の値を前記下限閾値に補正し、前記基準領域に配置された画素から読み出された前記画素信号が前記閾値より一定値大きい上限閾値より大きい場合、該画素信号の値を前記上限閾値に補正することで前記補正信号を生成する請求項1に記載の固体撮像装置。有効領域の周囲の遮光領域の一部であって互いに所定距離離れて形成された複数の閾値領域ごとに、該閾値領域に配置された画素から読み出された画素信号の平均値を算出するステップと、前記閾値領域に配置された画素から読み出された前記画素信号の前記平均値から閾値を算出するステップと、前記遮光領域の一部であって互いに所定距離離れて配置された複数の基準領域にそれぞれ配置された画素から読み出された前記画素信号を、前記閾値に基づき補正した補正信号を算出するステップと、前記補正信号の平均値を前記基準領域ごとに算出するステップと、前記補正信号の前記平均値から補正量を算出するステップと、前記補正量に基づき、前記有効領域に配置された画素から読み出された前記画素信号を補正するステップと、を備える固体撮像装置の駆動方法。複数の画素が配置され、入射光を受光する有効領域、及び前記有効領域の周囲に設けられ入射光が遮光された遮光領域を有する画素領域と、前記遮光領域に互いに所定距離離れて設けられ、閾値を求めるための複数の閾値領域と、前記遮光領域に互いに所定距離離れて設けられ、前記閾値を用いて補正量を求めるための複数の基準領域と、前記閾値領域に配置された画素から読み出された画素信号の前記閾値領域ごとの平均値から前記閾値を算出し、算出した前記閾値に基づき前記基準領域に配置された画素から読み出された画素信号を補正した補正信号を算出し、前記基準領域ごとの前記補正信号の平均値から前記補正量を算出する算出部と、前記補正量に基づき前記有効領域に配置された画素から読み出された画素信号を補正する補正部と、を備える固体撮像装置前記光電変換部に前記入射光を導く光学レンズと、を備える電子機器。遮光領域に配置された画素に蓄積される信号電荷は時間経過とともに増加する。特許文献1に開示される方法では、遮光領域への光漏れが起きたか否かを判断する閾値が時間経過にかかわらず一定である。そのため、時間経過によって遮光領域に配置された画素に蓄積される信号電荷が増加した場合でも、遮光領域への光漏れが起きたと誤判断しあらかじめ決められた補正値でクランプ動作を行う可能性があり、クランプ動作の精度が低下してしまう恐れがある。本開示は、上述の点を鑑みてなされたものであり、時間経過によらずクランプ動作を高精度に行うことができる固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法を提供するものである。また、本開示は、かかる固体撮像装置を備えた電子機器を提供するものである。本開示に係る固体撮像装置は、複数の画素が配置され、入射光を受光する有効領域、及び前記有効領域の周囲に設けられ入射光が遮光された遮光領域を有する画素領域と、前記遮光領域に互いに所定距離離れて設けられ、閾値を求めるための複数の閾値領域と、前記遮光領域に互いに所定距離離れて設けられ、前記閾値を用いて補正量を求めるための複数の基準領域と、前記閾値領域に配置された画素から読み出された画素信号の前記閾値領域ごとの平均値から前記閾値を算出し、算出した前記閾値に基づき前記基準領域に配置された画素から読み出された画素信号を補正した補正信号を算出し、前記基準領域ごとの前記補正信号の平均値から前記補正量を算出する算出部と、前記補正量に基づき前記有効領域に配置された画素から読み出された画素信号を補正する補正部と、を備える。本開示に係る固体撮像装置の駆動方法は、有効領域の周囲の遮光領域の一部であって互いに所定距離離れて形成された複数の閾値領域ごとに、該閾値領域に配置された画素から読み出された画素信号の平均値を算出するステップと、前記閾値領域に配置された画素から読み出された前記画素信号の前記平均値から閾値を算出するステップと、前記遮光領域の一部であって互いに所定距離離れて配置された複数の基準領域にそれぞれ配置された画素から読み出された前記画素信号を、前記閾値に基づき補正した補正信号を算出するステップと、前記補正信号の平均値を前記基準領域ごとに算出するステップと、前記補正信号の前記平均値から補正量を算出するステップと、前記補正量に基づき、前記有効領域に配置された画素から読み出された前記画素信号を補正するステップと、を備える。本開示に係る電子機器は、上述した固体撮像装置と、光学レンズとを有する。本開示によれば、時間経過によらずクランプ動作を高精度に行うことができる。第1実施形態図1は、第1実施形態に係る固体撮像装置1を示す図である。固体撮像装置1は、CMOSイメージセンサであり、センサ部10と信号処理部20とを有する。センサ部10は、複数の画素101がマトリクス状に配置された画素領域である画素アレイ部100と、垂直信号線102と、垂直走査部106と、アナログデジタルA/D変換部103と、水平走査部104と制御部107を備えている。信号処理部20は、補正部201及び算出部202を有する。画素アレイ部100は、マトリクス状に半導体基板に配置された複数の画素101を有する。画素101は、図示を省略するが、それぞれ光電変換素子例えば、フォトダイオード、転送トランジスタ、リセットトランジスタ、及び増幅トランジスタを有する。転送トランジスタは、光電変換素子で得られた信号電荷をFDフローティングディフュージョン部に転送する。リセットトランジスタは、FD部の電位をリセットする。増幅トランジスタは、FD部の電位に応じた画素信号を出力する。これらの各トランジスタの動作は、水平信号線105及び垂直信号線102を介して水平走査部104及び垂直走査部106から供給される信号により制御される。なお、画素101としては、上述の3種のトランジスタの他に、画素選択を行うための選択トランジスタを有する構成を用いることもできる。垂直信号線102は、各画素101で取り込んだ画素信号をA/D変換部103へ送る配線である。垂直信号線102は、画素101の並びの垂直方向に沿って配線される。垂直走査部106は、制御信号及び垂直同期信号に基づき、行単位で画素101を選択し、垂直方向に沿って順次走査する。水平走査部104は、制御信号及び水平同期信号に基づき、列単位で画素101を選択し、水平方向に沿って順次走査する。水平走査部104は、垂直走査部106による走査に同期して水平方向に沿った画素101を順次選択する。画素101に蓄積された画素信号は、垂直信号線102を介して順次A/D変換部103へ送られる。A/D変換部103は、順次送られてきたアナログの画素信号にA/D変換処理を施しデジタルの画素信号を生成する。デジタルの画素信号は、A/D変換部103から信号処理部20へと送られる。制御部107は、外部から入力されるクロックまたは自身で生成するクロックに基づき垂直同期信号及び水平同期信号を生成し、垂直走査部106及び水平走査部104にそれぞれ供給する。また、制御部107は、A/D変換処理に必要なクロックをA/D変換部103に供給する。制御部107は、垂直走査部106及び水平走査部104が順次走査する画素101を指定する制御信号を生成し、垂直走査部106及び水平走査部104に供給する。具体的には、各画素101の位置情報は、各画素101のアドレスとして制御部107に記憶されている。制御部107は、アドレス情報を含む制御信号を生成することで、垂直走査部106及び水平走査部104が走査する画素101を制御する。画素信号は、信号処理部20へと送られる。信号処理部20の算出部202は、画素信号に基づき、クランプ動作に使用する補正量を算出する。補正部201は、算出部202が算出した補正量に基づき画素信号に対してクランプ動作を行う。次に図2を用いて画素アレイ部100の詳細について説明する。画素アレイ部100は、遮光された遮光領域120と遮光されていない有効領域110とを有する。遮光領域120は、有効領域110の周囲に配置される。図2では、遮光領域120は、有効領域110の四辺を囲うように配置されているが、少なくとも一辺を囲うように配置されていればよい。図2では図示を省略しているが、有効領域110及び遮光領域120にはそれぞれ画素101がマトリクス状に配置されている。有効領域110に配置される画素101有効画素は、遮光されておらず入射光を光電変換し信号電荷を蓄積する。一方、遮光領域120に配置される画素101遮光画素は、遮光されており入射光は光電変換しないが、暗電流による信号電荷を蓄積する。暗電流により蓄積された信号電荷は時間経過とともに増加する。遮光領域120は、複数の閾値領域及び複数の基準領域を有する。複数の閾値領域は、互いに離れて配置されていれば個数に制限はなく2以上の閾値領域を設けてもよい。複数の基準領域は、互いに配置されていれば個数に制限はなく2以上の基準領域を設けてもよい。本実施形態では、説明を簡略にするために、遮光領域120が2つの閾値領域第1閾値領域121及び第2閾値領域122及び2つの基準領域第1基準領域123及び第2基準領域124を有する場合について説明する。第1,第2閾値領域121,122は、遮光領域120のうちA/D変換部103から最も離れた部分に形成される。本実施形態では、上記のとおり有効領域110の四辺を囲む遮光領域120において、A/D変換部103と対向する有効領域110の二辺のうちA/D変換部103から離れている方の辺と接するように設けられた辺部に、第1,第2閾値領域121,122は設けられる。図2では、遮光領域120の上側の辺部に第1,第2閾値領域121,122が設けられる。第1閾値領域121は、第2閾値領域122に対して、遮光領域120の上部のうち、垂直走査部106に近い領域に形成される。第2閾値領域122は、第1閾値領域121と同一の行であって、第1閾値領域121と所定の距離だけ離れて配置される。本実施形態では、図2に示すように、第1閾値領域121及び第2閾値領域122は、それぞれ遮光領域120の上側の辺部における両端部図2において左右両端部に配置される。第1,第2閾値領域121,122には、それぞれ複数の画素101閾値画素が配置される。本実施形態では、第1,第2閾値領域121,122には、閾値画素が1行配置されているとするが、複数行にわたって閾値画素が配置された領域を第1,第2閾値領域121,122としてもよい。算出部202は、第1,第2閾値領域121,122に配置された画素101に蓄積された信号電荷を用いて補正量を算出する。補正量の算出方法は後述する。第1,第2基準領域123,124は、遮光領域120のうちA/D変換部103から最も離れた部分に形成される。本実施形態では、上記のとおり有効領域110の四辺を囲む遮光領域120において、A/D変換部103と対向する有効領域110の二辺のうちA/D変換部103から離れている方の辺と接するように設けられた辺部に、第1,第2基準領域123,124は設けられる。図2では、遮光領域120の上側の辺部に第1,第2基準領域123,124が設けられる。第1基準領域123は、第2基準領域124に対して、遮光領域120の上部のうち、垂直走査部106に近い領域に形成される。第1基準領域123は、第1閾値領域121と有効領域110との間に形成される。第2基準領域124は、第1基準領域123と同一の行であって、第1閾値領域121と所定の距離だけ離れて配置される。第2基準領域124は、第2閾値領域122と有効領域110との間に形成される。本実施形態では、図2に示すように、第1基準領域123及び第2基準領域124は、それぞれ遮光領域120の上側の辺部における両端部図2において左右両端部に配置される。第1,第2基準領域123,124には、それぞれ画素101基準画素が配置される。本実施形態では、第1,第2基準領域123,124には、基準画素が1行配置されているとするが、複数行にわたって基準画素が配置された領域を第1,第2基準領域123,124としてもよい。算出部202は、第1,第2基準領域123,124に配置された画素101に蓄積された信号電荷を用いて補正量を算出する。固体撮像装置の動作続いて固体撮像装置1の動作について説明する。本実施形態では、第2閾値領域122及び第2基準領域124付近に太陽などの高輝度の被写体が撮像された場合について説明する。固体撮像装置1の制御部107は、A/D変換部103から離れた行に配置された画素101に蓄積された信号電荷から順に読み出すように水平走査部104及び垂直走査部106を制御する。A/D変換部103から離れた行に配置された画素101から読み出しを行う場合、図2に示すようにまず第1,第2閾値領域121,122に配置された画素から画素信号が読み出される。第1,第2閾値領域121,122に配置された画素から読み出された画素信号をそれぞれ第1閾値画素信号及び第2閾値画素信号と称する。第1,第2閾値画素信号は、各画素101から読み出された後、A/D変換部103でデジタル信号に変換され、算出部202へ送られる。算出部202は、第1,第2閾値画素信号の閾値領域ごとの平均値から閾値を算出する。まず算出部202は、第1閾値領域121に配置された画素から読み出した複数の第1閾値画素信号の第1平均値を算出し、第2閾値領域122に配置された画素から読み出した複数の第2閾値画素信号の第2平均値を算出する図3のステップS101。次に、算出部202は、算出した第1,第2平均値に基づき閾値算出処理を行うことで閾値を算出するステップS102。閾値算出処理の詳細については後述する。制御部107は、第1,第2閾値領域121,122に配置された画素101から第1,第2閾値画素信号を読み出した後、第1,第2基準領域123,124に配置された画素101から画素信号を読み出す。第1,第2基準領域123,124に配置された画素から読み出された画素信号をそれぞれ第1基準画素信号及び第2基準画素信号と称する。第1,第2基準画素信号は、各画素101から読み出された後、A/D変換部103でデジタル信号に変換され、算出部202へ送られる。算出部202は、ステップS102で算出した閾値に基づき、第1,第2基準画素信号を補正し、第1,第2補正信号を生成する図3のステップS103。この処理を基準補正処理と称し、詳細については後述する。算出部202は、ステップS103で生成した第1,第2補正信号の基準領域ごとの平均値を算出しステップS104、算出した平均値から補正量を算出するステップS105。補正量は、算出部202から補正部201へと送られる。制御部107は、有効領域110に配置された画素101から行ごとに画素信号を読み出す。有効領域110に配置された画素101から読み出された画素信号を有効画素信号と称する。有効画素信号は、制御部107より読み出された後、A/D変換部103にてデジタル信号に変換され、補正部201へと送られる。補正部201は、算出部202から入力された補正量を用いて有効画素信号に対しクランプ動作を行い、黒レベルを補正するステップS106。固体撮像装置1は、画素アレイ部100に配置される全画素を読み出す度に、補正部201で補正量を算出するようにする。つまり、上述した補正量は、1フレーム毎に算出される。このように、本実施形態では、補正量を動的に算出する。次に、固体撮像装置1の動作の詳細を説明する。まず、図4を用いて閾値算出処理の詳細を説明する。算出部202は、図3のステップS101で算出した第1閾値画素信号の第1平均値と、第2閾値画素信号の第2平均値とを比較する図4のステップS201。第1平均値が第2平均値より小さい場合ステップS201のYes、算出部202は、第1平均値を中心閾値とするステップS202。一方、第2平均値が第1平均値以下の場合ステップS201のNo、算出部202は、第2平均値を中心閾値とするステップS203。なお、閾値領域が複数ある場合は、各閾値領域の平均値のうち最小の平均値を中心閾値とする。第2閾値領域122の近くで太陽のような高輝度の被写体が撮像された場合、有効領域110からの光漏れ等の影響で第2閾値領域122の第2閾値信号の平均値は非常に大きな値となる。一方、第1閾値領域121は、第2閾値領域122とは離れた位置に配置されているため、第2閾値領域122の近くで高輝度の被写体が撮像されても第1閾値領域121の第1閾値信号には影響がない場合が多い。従って、第1閾値領域121の第1閾値信号の平均値は高輝度の被写体の影響を受けない黒レベルの値となる。算出部202は、閾値領域毎に閾値信号の平均値を算出し、最も値の小さい平均値を中心閾値とする。従って、本実施形態では、第1閾値領域121の平均値が中心閾値となる。次に、算出部202は、中心閾値から一定値W1だけ減算した値を下限閾値とし、中心閾値に一定値W2を加算した値を上限閾値とするステップS204。これにより、図6に示すように、算出部202は、中心閾値を中心とし所定の基準幅を有する閾値を算出する。このように、互いに離れて配置される閾値領域の平均値を比較して閾値を算出することで、光漏れやブルーミング等の影響を受けていない画素信号から閾値を算出することができる。基準補正処理次に、図5を用いて閾値に基づき基準画素信号を補正する基準補正処理について説明する。本実施形態では、制御部107は、垂直走査部106に近い画素101から順に1つずつ画素信号を読み出すものとする。まず算出部202は、制御部107によって読み出された第1基準領域123の1番目の第1基準信号に対して基準補正処理を施すステップS301。具体的には、算出部202は、1番目の第1基準信号と上限閾値とを比較するステップS302。1番目の第1基準信号が上限閾値より大きい場合ステップS302のYes、算出部202は1番目の第1基準信号の値を上限閾値に置き換え、1番目の第1補正信号を生成するステップS303。一方、1番目の第1基準信号が上限閾値以下の場合ステップS302のNo、算出部202は1番目の第1基準信号と下限閾値とを比較するステップS304。1番目の第1基準信号が下限閾値より小さい場合ステップS304のYes、算出部202は1番目の第1基準信号の値を下限閾値に置き換え、1番目の第1補正信号を生成するステップS305。上述したステップS302からステップS305までの処理を第1基準領域123のすべての第1基準画素信号に対して行う。第1基準領域123にn個の画素が配置されている場合、算出部202は上述した基準補正処理をn回繰り返して行うことで第1基準領域123の第1補正信号を算出する。次に、算出部202は、制御部107によって読み出された第2基準領域124の1番目の第2基準信号に対して基準補正処理を施すステップS307。具体的には、算出部202は、1番目の第2基準信号と上限閾値とを比較するステップS308。1番目の第2基準信号が上限閾値より大きい場合ステップS308のYes、算出部202は1番目の第2基準信号の値を上限閾値に置き換え、1番目の第2補正信号を生成するステップS309。一方、1番目の第2基準信号が上限閾値以下の場合ステップS308のNo、算出部202は1番目の第2基準信号と下限閾値とを比較するステップS310。1番目の第2基準信号が下限閾値より小さい場合ステップS310のYes、算出部202は1番目の第2基準信号の値を下限閾値に置き換え、1番目の第2補正信号を生成するステップS311。上述したステップS308からステップS311までの処理を第2基準領域124のすべての第2基準画素信号に対して行う。第2基準領域124にn個の画素が配置されている場合、算出部202は上述した基準補正処理をn回繰り返して行うことで第2基準領域124の第2補正信号を算出する。図6aは、第1基準信号の黒レベルの分布を示す図である。図6aに示すグラフのx軸は第1基準信号の黒レベルを、y軸はこの黒レベルに該当する第1基準信号の検出回数を表している。また、中心閾値、上限閾値、下限閾値は、それぞれ図4の閾値算出処理によって算出部202が算出したものである。高輝度の被写体が第2基準領域124付近で撮像されたとしても、第1基準領域123は、第2基準領域124から所定の距離だけ離れて配置されているため、第1基準領域123の第1基準信号は高輝度の被写体の影響を受けにくい。従って、第1基準信号の黒レベルの多くが、上限閾値と下限閾値の範囲に収まっている。上述したステップS302からステップS305までの基準補正処理では、黒レベルが上限閾値と下限閾値の範囲に収まっていない第1基準信号を上限閾値と下限閾値の範囲内に収める補正を行う。図6aの波線の矢印に示すように、上限閾値と下限閾値の範囲外にある第1閾値信号の値を上限閾値又は下限閾値と置き換える。図6bは、第2基準信号の黒レベルの分布を示す図である。図6bに示すグラフのx軸は第2基準信号の黒レベルを、y軸はこの黒レベルに該当する第2基準信号の検出回数を表している。また、中心閾値、上限閾値、下限閾値は、それぞれ図4の閾値算出処理によって算出部202が算出したものであり、図6aと同じ値である。高輝度の被写体が第2基準領域124の付近で撮像されると、第2基準領域124の画素にブルーミングや光漏れが生じるため、第2基準信号の多くが図6bに示すように上限閾値を超える値となる。ステップS308からステップS311までの基準補正処理では、黒レベルが上限閾値と下限閾値の範囲に収まっていない第2基準信号を上限閾値と下限閾値の範囲内に収める補正を行う。本実施形態では、第2基準信号のほとんどが上限閾値を超えているため、図6bの波線の矢印で示すように、第2基準信号の値を上限閾値に置き換える。このように、算出部202は、第1、第2基準信号に対して各基準信号が上限閾値と下限閾値との範囲内に収まるように基準補正処理を行い、第1、第2補正信号を生成する。図3のステップS104に戻る。第1,第2基準信号から第1、第2補正信号を生成すると、算出部202は、基準領域毎に補正信号の平均値を算出する。第1基準領域123付近では高輝度の被写体が撮像されておらず、第1基準信号の補正信号第1補正信号は上限閾値と下限閾値の範囲内に広く分布している。従って、ステップS104で第1基準領域123の第1補正信号の平均値である第1基準値を算出すると、図6aに示すように第1基準値は中心閾値付近の値となる。一方、第2基準領域124付近では高輝度の被写体が撮像されているため、第2基準信号の補正信号第2補正信号は、上限閾値と同じ値のものが多い。従って、ステップS104で第2基準領域124の第2補正信号の平均値である第2基準値を算出すると、図6bに示すように、第2基準値は上限閾値とほぼ同じ値となる。ステップS104で基準領域毎の補正信号の平均値を算出すると、次のステップS105で算出部202は算出した基準値第1基準値及び第2基準値から補正量を算出する。具体的には、まず算出部202は第1基準値と中心閾値との差分の絶対値、及び第2基準値と中心閾値との差分の絶対値を算出する。次に算出部202は、算出した差分の絶対値が小さい方、すなわち、中心閾値に近い基準値を補正量とする。なお、基準領域が複数ある場合は、基準値と中心閾値との差分の絶対値が最も小さいもの、すなわち中心閾値に最も近い基準値を補正量とする。本実施形態では、第1基準値は中心閾値に近い値であり、第2基準値は上限閾値に近い値であるため、算出部202は、第1基準値を補正量とする。算出部202は、補正量である第1基準値を補正部201へ出力する。補正部201は、算出部202から入力された補正量である第1基準値を用いて有効画素信号に対しクランプ動作を行う。以上のように、本実施形態では互いに離れて配置された閾値領域の画素信号を用いて、互いに離れて配置された基準領域の画素信号を補正し、補正した信号に基づいてクランプ動作に用いる補正量を算出する。このように、互いに離れて配置された領域を用いて補正量を算出することで、光漏れやブルーミングの影響を抑制しつつクランプ動作を行うことができる。また、補正量は全画素を読み出す毎、すなわちフレーム毎に算出する。このように、補正量をフレーム毎に動的に算出するため、時間が経過しても最適な補正量を算出することができ、時間経過によらずクランプ動作を高精度に行うことができる。上述した実施形態では、信号処理部20が処理を行う前に、制御部107が各画素101から画素信号を読み出すものとしたが、信号処理部20の処理と制御部107による読み出し動作とを平行して行うようにしてもよい。また、全画素101から読み出した画素信号を図示しないバッファに記憶させておいてから信号処理部20が処理を行うようにしてもよい。また、各閾値領域及び各基準領域の配置は、図2に限られない。例えば、図7に示す画素アレイ部100Aのように、第1基準領域123Aと第1閾値領域121Aとを、第2基準領域124Aと第2閾値領域122Aとを入れ替えて配置してもよい。つまり、第1,第2基準領域123A,124Aは、遮光領域120のうちA/D変換部103から最も離れた部分に形成される。ここでは、有効領域110の四辺を囲む遮光領域120において、A/D変換部103と対向する有効領域110の二辺のうちA/D変換部103から離れている方の辺と接するように設けられた遮光領域120に、第1,第2基準領域123A,124Aは設けられる。図7では、遮光領域120の上側の辺部に第1,第2基準領域123A,124Aが設けられる第1閾値領域121Aは、第2閾値領域122Aに対して、遮光領域120の上部のうち、垂直走査部106に近い領域に形成される。第1閾値領域121Aは、第1基準領域123Aと有効領域110との間に形成される。第2閾値領域122Aは、第1閾値領域121Aと同一の行であって、第1閾値領域121Aと所定の距離だけ離れて配置される。第2閾値領域122Aは、第2基準領域124Aと有効領域110との間に形成される。本実施形態では、図7に示すように、第1閾値領域121A及び第2閾値領域122Aは、それぞれ遮光領域120の上側の辺部における両端部図2において左右両端部に配置される。このように、第1基準領域123Aと第1閾値領域121Aとを入れ替えて配置し、第2基準領域124Aと第2閾値領域122Aとを入れ替えて配置してもよい。図8に各閾値領域及び各基準領域の配置の別の例を示す。図8に示す画素アレイ部100Bは、遮光領域120のA/D変換部103に近い領域に第1,第2基準領域123B,124B及び第1,第2閾値領域121B,122Bを設けている。つまり、第1,第2閾値領域121B,122Bは、遮光領域120のうちA/D変換部103に最も近い部分に形成される。ここでは、有効領域110の四辺を囲む遮光領域120において、A/D変換部103と対向する有効領域110の二辺のうちA/D変換部103に近い方の辺と接するように設けられた辺部に、第1,第2閾値領域121B,122Bは設けられる。図8では、遮光領域120の下側の辺部に第1,第2閾値領域121B,122Bが設けられる。第1基準領域123Bは、第2基準領域124Bに対して、遮光領域120の下部のうち、垂直走査部106に近い領域に形成される。第1基準領域123Bは、第1基準領域123Aと有効領域110との間に形成される。第2基準領域124Bは、第1基準領域123Bと同一の行であって、第1基準領域123Bと所定の距離だけ離れて配置される。第2基準領域124Bは、第2閾値領域122Bと有効領域110との間に形成される。ここでは、図8に示すように、第1基準領域123B及び第2基準領域124Bは、それぞれ遮光領域120の下側の辺部における両端部図8において左右両端部に配置される。上述したように、各閾値領域及び各基準領域の配置はこれらの例に限られない。垂直走査部106と平行な有効領域110の辺に接して設けられた遮光領域120に各閾値領域及び各基準領域を設けてもよい。また複数の閾値領域は互いに離れて配置されればよく3つ以上の閾値領域を設けてもよい。同様に、複数の基準領域も互いに離れて配置されればよく3つ以上の基準領域を設けてもよい。また閾値領域及び基準領域の数は必ずしも一致している必要はなく、近接して設けられる必要はない。ただし、補正量の算出は、まず閾値領域の画素信号から閾値を求める必要がある。図7、図8に示す画素アレイ部100A,100Bの場合、制御部107は画素アレイ部100A,100Bの上部から順に画素信号を読み出すのではなく、閾値領域から画素信号を読み出すようにする。あるいは、図示しないバッファ等の記憶手段にあらかじめ全画素101の画素信号を記憶しておき、バッファから閾値画素信号を読み出して閾値を算出するようにしてもよい。また、上述した実施形態は、信号処理部20が補正部201及び算出部202を有し、画素信号をデジタルに変換してから閾値算出処理や基準補正処理を行う場合について説明したが、閾値算出処理や基準補正処理を、画素信号をデジタルに変換する前のアナログの画素信号に対して行うようにしてもよい。この場合、例えばA/D変換部103が補正部201及び算出部202を有し、アナログの画素信号に対して閾値算出処理や基準補正処理を行うようにする。A/D変換部103は、黒レベル補正が行われた有効画素信号に対してA/D変換を行う。第2実施形態次に、第2実施形態では、固体撮像装置1の応用例を説明する。図9は、固体撮像装置1を電子機器400に応用した例を示す。電子機器400としては、例えばデジタルカメラや、携帯電話機等のカメラ、スキャナ、監視カメラ等が挙げられるが、ここでは電子機器400がデジタルカメラである場合について説明する。本実施形態に係る電子機器400は、固体撮像装置1と、光学レンズ210と、駆動回路212とを有する。光学レンズ210は、被写体からの像光入射光を固体撮像装置1の撮像面上に結像させる。これにより固体撮像装置1内に一定期間信号電荷が蓄積される。駆動回路212は、固体撮像装置1の転送動作を制御する駆動信号を供給する。固体撮像装置1は、駆動信号に基づき光電変換素子に蓄積された信号電荷に各種の信号処理を行う。固体撮像装置1は、生成した撮像信号である画像データを図示しないメモリなどの記憶媒体やモニタ等に出力する。以上のように、本実施形態に係る電子機器400は、第1実施形態に係る固体撮像装置1を搭載しているため、時間経過によらずクランプ動作を高精度に行うことができる。これにより、より高精度な画像を撮像することができる。最後に、上述した各実施形態の説明は本開示の一例であり、本開示は上述の実施の形態に限定されることはない。このため、上述した各実施の形態以外であっても、本開示に係る技術的思想を逸脱しない範囲であれば、設計等に応じて種々の変更が可能であることは勿論である。"