"被検眼に検眼光束を投光しその反射光を受光して被検眼の検査又は測定を行う検眼光学系を有する装置本体と、装置本体に配置され、前記検眼光学系の光軸と被検眼との相対的なぶれを検出するための検出器と、前記検眼光学系の一部として配置され、前記ぶれを補正するためのぶれ補正光学系と、前記ぶれ検出器からの出力に基づいて前記ぶれ補正光学系を駆動する駆動部と、を備える手持型眼科装置。請求項1の手持型眼科装置において、前記検出器は、前記装置本体に加わるシフトぶれを検出するためのシフトぶれ検出器を有する手持型眼科装置。請求項1~2の手持型眼科装置において、前記検出器は、被検眼角膜からの反射光を受光することによって、前記検眼光学系の光軸と被検眼との相対的なぶれを検出する手持型眼科装置。請求項1~3のいずれかの手持型眼科装置において、前記ぶれ補正光学系は、前記検眼光学系の投光系と受光系の共通光路、もしくは前記検眼光学系の投光系と受光系のそれぞれに配置されている手持型眼科装置。請求項1~4のいずれかの手持型眼科装置において、前記装置本体は、さらに、被検眼の正面像を撮像素子により撮像する撮像光学系を有し、前記ぶれ補正光学系は、前記検眼光学系と前記撮像光学系の共通光路に配置されている手持型眼科装置。請求項5の手持型眼科装置において、前記ぶれ補正光学系は、前記検眼光束を偏向させる光偏向部材である手持型眼科装置。請求項6の手持型眼科装置において、前記光偏向部材は、前記検眼光束を被検者眼に向けて反射させる光反射部材である手持型眼科装置。請求項6の手持型眼科装置において、前記光偏向部材は、前記検眼光束を被検者眼に向けて透過するレンズである手持型眼科装置。請求項7~8のいずれかの手持型眼科装置において、前記検眼光学系は、被検者眼眼底に測定指標を投影し、その眼底反射光束を受光して眼屈折力を測定する眼屈折力測定光学系である手持型眼科装置。請求項9の手持型眼科装置において、前記駆動手段は、前記眼屈折力測定光学系による測定領域が被検眼の瞳孔上に位置されるようにぶれ補正光学系を駆動する手持型眼科装置。請求項1~10の手持型眼科装置において、前記検出器は、光ポジションセンサであって、光ポジションセンサからの受光信号に基づいて前記検眼光学系の光軸と被検眼との相対的なぶれを検出する手持型眼科装置。被検眼に測定指標を投光する投光光学系と、測定指標によって取得される被検眼からの反射光を受光素子により受光する受光光学系と、を有し、受光素子からの出力信号に基づいて被検眼の眼光学特性を測定するための検眼光学系と、前記検眼光学系の光軸と被検眼前眼部との相対的な位置ずれを検出するための検出器と、駆動部を有し、前記位置ずれを補正するために、前記検眼光学系の光路中に配置されたレンズを、そのレンズ光軸に対して垂直方向に移動可能な補正ユニットと、前記検出器からの出力に基づいて前記駆動部を制御する制御器と、を備える手持型眼科装置。請求項12の手持型眼科装置において、前記検出器は、前記検眼光学系の光軸と被検眼前眼部との相対的な位置ずれを光学的に検出する手持型眼科装置。請求項13の手持型眼科装置において、被検眼の略角膜頂点位置に指標像を形成する投影光学系を有し、前記検出器は、前記指標像による反射光の位置を検出するための光ポジションセンサーであって、前記光ポジションセンサーからの受光信号に基づいて前記検眼光学系の光軸に対して直交する方向に関する前記検眼光学系の光軸と被検眼との相対的なずれが検出される手持型眼科装置。請求項12~請求項14のいずれかの手持型眼科装置において、前記レンズの位置に応じて被検眼の眼光学特性の測定結果を補正する演算器を有する手持型眼科装置。請求項12~請求項15のいずれかの手持型眼科装置において、前記検出器は、少なくとも前記検眼光学系の光軸と被検眼前眼部との相対的なぶれを検出する手持型眼科装置。請求項12~請求項16のいずれかの手持型眼科装置において、前記レンズは、前記検眼光学系の対物レンズである手持型眼科装置。請求項12~17のいずれかの手持型眼科装置において、位置ずれが所定の許容範囲を超えた場合に、前記レンズを基準位置に復帰させる手持型眼科装置。一方、ハンディタイプの装置の場合、検者は、装置全体を把持し、装置全体を三次元に移動させる。また、検者の手ぶれによって装置が眼に対して動くことがありうる。このような点から、ハンディタイプの眼科装置は、アライメントが難しく、測定/検査のエラーが生じやすいのが現状である。本発明は、上記問題点を鑑み、操作性が高く、安定した測定/検査を行うことができる手持型眼科装置を提供することを技術課題とする。上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。1被検眼に検眼光束を投光しその反射光を受光して被検眼の検査又は測定を行う検眼光学系を有する装置本体と、装置本体に配置され、前記検眼光学系の光軸と被検眼との相対的なぶれを検出するための検出器と、前記検眼光学系の一部として配置され、前記ぶれを補正するためのぶれ補正光学系と、前記ぶれ検出器からの出力に基づいて前記ぶれ補正光学系を駆動する駆動部と、を備える手持型眼科装置。21の手持型眼科装置において、前記検出器は、前記装置本体に加わるシフトぶれを検出するためのシフトぶれ検出器を有する手持型眼科装置。31~2の手持型眼科装置において、前記検出器は、被検眼角膜からの反射光を受光することによって、前記検眼光学系の光軸と被検眼との相対的なぶれを検出する手持型眼科装置。41~3のいずれかの手持型眼科装置において、前記ぶれ補正光学系は、前記検眼光学系の投光系と受光系の共通光路、もしくは前記検眼光学系の投光系と受光系のそれぞれに配置されている手持型眼科装置。51~4のいずれかの手持型眼科装置において、前記装置本体は、さらに、被検眼の正面像を撮像素子により撮像する撮像光学系を有し、前記ぶれ補正光学系は、前記検眼光学系と前記撮像光学系の共通光路に配置されている手持型眼科装置。65の手持型眼科装置において、前記ぶれ補正光学系は、前記検眼光束を偏向させる光偏向部材である手持型眼科装置。76の手持型眼科装置において、前記光偏向部材は、前記検眼光束を被検者眼に向けて反射させる光反射部材である手持型眼科装置。86の手持型眼科装置において、前記光偏向部材は、前記検眼光束を被検者眼に向けて透過するレンズである手持型眼科装置。97~8のいずれかの手持型眼科装置において、前記検眼光学系は、被検者眼眼底に測定指標を投影し、その眼底反射光束を受光して眼屈折力を測定する眼屈折力測定光学系である手持型眼科装置。109の手持型眼科装置において、前記駆動手段は、前記眼屈折力測定光学系による測定領域が被検眼の瞳孔上に位置されるようにぶれ補正光学系を駆動する手持型眼科装置。111~10の手持型眼科装置において、前記検出器は、光ポジションセンサであって、光ポジションセンサからの受光信号に基づいて前記検眼光学系の光軸と被検眼との相対的なぶれを検出する手持型眼科装置。12被検眼に測定指標を投光する投光光学系と、測定指標によって取得される被検眼からの反射光を受光素子により受光する受光光学系と、を有し、受光素子からの出力信号に基づいて被検眼の眼光学特性を測定するための検眼光学系と、前記検眼光学系の光軸と被検眼前眼部との相対的な位置ずれを検出するための検出器と、駆動部を有し、前記位置ずれを補正するために、前記検眼光学系の光路中に配置されたレンズを、そのレンズ光軸に対して垂直方向に移動可能な補正ユニットと、前記検出器からの出力に基づいて前記駆動部を制御する制御器と、を備える手持型眼科装置。1312の手持型眼科装置において、前記検出器は、前記検眼光学系の光軸と被検眼前眼部との相対的な位置ずれを光学的に検出する手持型眼科装置。1413の手持型眼科装置において、被検眼の略角膜頂点位置に指標像を形成する投影光学系を有し、前記検出器は、前記指標像による反射光の位置を検出するための光ポジションセンサーであって、前記光ポジションセンサーからの受光信号に基づいて前記検眼光学系の光軸に対して直交する方向に関する前記検眼光学系の光軸と被検眼との相対的なずれが検出される手持型眼科装置。1512~14のいずれかの手持型眼科装置において、前記レンズの位置に応じて被検眼の眼光学特性の測定結果を補正する演算器を有する手持型眼科装置。1612~15のいずれかの手持型眼科装置において、前記検出器は、少なくとも前記検眼光学系の光軸と被検眼前眼部との相対的なぶれを検出する手持型眼科装置。1712~16のいずれかの手持型眼科装置において、前記レンズは、前記検眼光学系の対物レンズである手持型眼科装置。1812~17のいずれかの手持型眼科装置において、位置ずれが所定の許容範囲を超えた場合に、前記レンズを基準位置に復帰させる手持型眼科装置。本発明によれば、操作性が高く、安定した測定/検査を行うことができる。<概要>本実施形態に係る眼科装置は、手持型眼科装置であって、装置本体と、ずれを検出するための検出器と、ずれ補正光学系と、ずれ補正光学系を駆動する駆動部と、を備える。装置本体は、検眼光学系を有する。検眼光学系は、眼Eに検眼光束を投光しその反射光を受光して眼Eの検査又は測定を行うために設けられている。検眼光学系は、例えば、被検眼に測定指標を投光し、その反射光を受光素子により受光して被検眼の眼光学特性を測定するための検眼光学系である。このような装置としては、オートレフラクトメータ、ケラトメータが代表的である。また、検眼光学系は、眼の画像を撮影するための撮影光学系例えば、眼底カメラ、眼科用OCTであってもよい。ずれを検出するための検出器は、装置本体に配置され、検眼光学系の光軸と眼Eとの相対的な位置ずれを検出するために設けられる。この場合、検眼光学系の光軸と被検眼前眼部との相対的な位置ずれを光学的に検出する構成が有利である。例えば、眼Eの略角膜頂点位置に指標像を形成する投影光学系と、指標像による反射光の位置を検出するための光ポジションセンサーが設けられ、光ポジションセンサーからの受光信号に基づいて検眼光学系の光軸に対して直交する方向に関する検眼光学系の光軸と眼Eとの相対的なずれが高速で検出される。検出器としては、例えば、検眼光学系の光軸と眼Eとの相対的なぶれ第1のずれを検出するためのぶれ検出器が有利である。このようなぶれとしては、装置本体に加わるぶれ検者の手ブレ、被検者の動きによるぶれ、が挙げられる。このような検出器としては、例えば、角速度センサ、加速度センサなどの装置本体に加わるぶれを直接的に検出する構成の他、眼例えば、角膜からの反射光を受光する受光センサたとえば、光ポジションセンサ、撮像素子、超音波センサなどが考えられる。この場合、装置本体に加わるシフトぶれを検出するためのシフトぶれ検出器が有利である。また、前述の検出器は、検眼光学系の光軸に対して眼Eがずれているときのずれ第2のずれを検出するための構成であってもよい。このような検出器としては、例えば、眼例えば、角膜からの反射光を受光する受光センサたとえば、光ポジションセンサ、撮像素子、超音波センサなどが考えられる。また、前述の検出器は、第1のずれと第2のずれの両方を検出可能な構成であってもよい。このような検出器としては、例えば、眼からの反射光を受光する受光センサたとえば、光ポジションセンサ、撮像素子、超音波センサが考えられる。補正光学系は、検眼光学系の一部として配置され、検眼光学系の光軸と眼Eとの相対的な位置ずれを補正するために設けられる。補正光学系は、前述の検出器からの出力に基づいて検出される位置ずれを補正するために用いられる。ぶれ補正光学系は、検眼光学系の光軸と眼Eとの相対的なぶれ第1のずれを補正するための構成が有利である。また、ぶれ補正光学系は、検眼光学系の光軸に対して眼Eがずれているときのずれ第2のずれを補正するための構成である。また、ずれ補正光学系は、第1のずれと第2のずれの両方を補正する構成であってもよい。補正光学系としては、例えば、検眼光束を偏向させる光偏向部材が用いられる。ぶれ補正光学系としては、検眼光学系の光路中に配置されたレンズを、そのレンズ光軸に対して垂直方向に移動可能な構成が有利である。この場合、例えば、対物レンズが移動される。また、ぶれ補正光学系は、検眼光学系の光路中に配置された光反射部材を移動可能な構成が考えられる。補正光学系は、例えば、検眼光学系の投光系と受光系の共通光路、もしくは検眼光学系の投光系と受光系のそれぞれに配置される。また、被検眼の正面像を撮像素子により撮像する撮像光学系が設けられた場合、例えば、検眼光学系と撮像光学系の共通光路に配置されているのが有利である。また、補正光学系は、検眼光学系の投光系と受光系のいずれかの光路に配置された構成であってもよい。例えば、ケラトメータの場合、指標像を受光する受光系例えば、前眼部観察系にのみ補正光学系が配置された構成であってもよい。また、眼屈折力測定と角膜形状の両方を測定可能な構成の場合、眼屈折力測定光学系と角膜形状測定光学系のいずれかに補正光学系が配置された構成であってもよい。前述の駆動部は、前述の検出器からの出力に基づいて補正光学系を駆動するために設けられる。駆動部は、例えば、レンズをそのレンズ光軸に対して垂直方向に移動可能なアクチュエータ、ミラーを回転移動可能なアクチュエータが考えられる。また、装置本体に設けられる制御器例えは,CPU、制御回路は、検出器からの出力に基づいて駆動部を制御する。なお、眼屈折力測定装置にその駆動部が設けられた場合、眼屈折力測定光学系による測定領域が眼Eの瞳孔上に位置されるように補正光学系を駆動する構成が有利である。なお、ぶれ補正光学系に設けられた光学部材の位置に応じて検眼光学系による検眼結果を補正する演算器が設けられるのが有利である。例えば、装置に設けられた演算器は、補正光学系に設けられたレンズの位置に応じて眼Eの眼光学特性の測定結果を補正する。本実施形態に係る眼科装置によれば、操作性が高く、安定した測定/検査を行うことができる。例えば、眼光学特性を測定するための眼特性測定装置の場合、眼特性測定装置における測定において、手ブレ等による位置あわせの困難性を解決できる。また、眼撮影装置の場合、撮像光軸と眼Eとのずれが検出され、その検出信号に基づいて補正光学系が駆動される。例えば、眼底を撮像する装置の場合、制御部80は、眼底観察光学系に設けられた眼底撮像用例えば、アライメント用撮像素子によって撮像された眼底像のぶれを検出し、ぶれが補正されるように補正光学系をフィードバック駆動させるようにしてもよい。もちろん、加速度センサ等を設けるようにしてもよい。なお、手持型眼科装置でなく、据置型眼科装置であっても、装置が不安定な場所に置かれる場合等に備えて、本実施形態の適用がありうる。なお、本実施形態において、さらに、瞳孔共役位置から外れた位置に光束偏向部材例えば、プリズムを設け、この部材を光軸を中心に偏心回転させることで、検眼用受光素子への外乱光の入射が好適に除去される。<実施例><第1実施例>以下、本実施形態に係る第1実施例について説明する。以下、本発明の第1実施例を図面に基づいて説明する。図1は第1実施例に係る手持型眼科装置の一例を示す外観側方図である。以下、眼屈折力測定装置オートレフラクトメータを例に説明する。なお、以下の説明では、被検眼と装置との位置関係について、被検眼と装置が対向した状態においておける前後方向をZ方向、左右方向をX方向、上下方向をY方向として説明する。装置本体100には、被検眼Eに検眼光束を投光しその反射光を受光する検眼光学系10を含む光学ユニット1、装置本体100に加わるぶれ例えば、検者の手ぶれを検出するぶれ検出ユニット60、装置本体100に加わったぶれによる検眼光束のぶれを補正するためのぶれ補正ユニット70、が設けられている。また、検査窓102は、本体100の眼E側に配置される。操作部84及びモニタ85は、本体100の検者側に配置される。さらに、装置本体100には、制御や演算処理のための電気系が収納される。検者は、被検者に対向し、本体100を把持する。そして、モニタ85を見ながら、眼Eに対し本体100をアライメントする。ぶれ補正ユニット70は、ぶれ補正光学系としての反射ミラー72、反射ミラー72をXY方向に回転させる駆動部例えば、ボイルコイルモータ機構74を備える。反射ミラー72は、検眼光学系10の光路中のいずれかに配置され、検眼光学系10の一部として用いられる。なお、ぶれ補正用の反射ミラーが複数設けられた構成例えば、ガルバノモータ機構が利用されるであってもよく、この場合、一方がX方向に回転され、他方がY方向に回転される。図1において、反射ミラー72は、眼Eと対向する位置に配置され、検眼光学系10は、反射ミラー72の下方に配置されている。なお、検眼光学系10の光軸L1は、反射ミラー72によって眼E方向に折り曲げられる。反射ミラー72は、検眼光学系10からの出射光を反射して眼Eに導き、また、眼Eからの反射光を反射して検眼光学系10に導く。反射ミラー72は、光軸L1と反射ミラー72の間の交点Kを中心に回転される。反射ミラー72の基準位置は、光軸L1がZ方向に平行になる位置である。反射ミラー72が回転されるとき、光軸L1上の所定点Oを中心に光軸L1が旋回される図5参照。所定点Oは、アライメントにより瞳孔中心Pcに一致される。検出ユニット60は、少なくとも一つの角速度センサ又は加速度センサを持ち、装置本体100のぶれ状態を検出する。そして、検出ユニット60は駆動部74に接続されており、駆動部74は反射ミラー72に接続されている。このような構成において、ぶれ検出ユニット60がぶれ量を検出し、ぶれ検出ユニット60の出力に基づいて駆動部74が反射ミラー72を駆動する。図1において、検出ユニット60は加速度センサ62を有する。加速度センサ62は、XY方向における装置本体100の平行ぶれシフトぶれに応じた加速度信号を出力する。なお、XYの2軸のセンサに加えて、Z方向の平行ぶれを検出するセンサを設けても良い。また、1軸のセンサのみであってもよい。なお、加速度センサ62としては、機械式、光学式、半導体式静電容量型、ピエゾ抵抗型、ガス温度分布型の加速度センサの利用が考えられる。なお、加速度センサ62を用いたのは、眼の検査測定においては装置本体100と眼Eとの間の距離が比較的短く、検者による平行ぶれが発生しやすいからである。また、加速度センサ62に加えて、角速度センサを設けるようにしてもよい。この場合、装置本体100の回転ぶれに応じた角速度信号が出力される。図2は第1実施例に係る本体100に収納された光学系を正面から見た光学配置図である。光学ユニット1は、検眼光学系10、眼Eに固視標を投影するための視標投影光学系30、眼Eを観察するための観察光学系50、を備える。図2において、検眼光学系10は、他覚的に眼屈折力を測定するための光学系である。検眼光学系10は、眼底Efに測定指標を投影し、その眼底反射光束を受光する。そして、その受光信号に基づいて眼Eの屈折力が測定される。より具体的には、検眼光学系10は、瞳孔中心Pcを介して眼底Efにスポット指標を投光する投光光学系10と、眼底反射光を瞳孔周辺からリング状に取り出し、撮像素子26上にリング状の反射像を撮像させる受光光学系20と、から構成される。投光光学系10aは、光軸L1上に配置された光源11,リレーレンズ12,ホールミラー13,対物レンズ14、及び反射ミラー72を備える。光源11は、眼底Efと略共役位置に配置され、ホールミラー13の開口は、眼Eの瞳孔と略共役位置に配置される。光源11から出射された測定光は、光源11,リレーレンズ12,ホールミラー13、ダイクロイックミラー35、ダイクロイックミラー53、対物レンズ14を介して反射ミラー72により反射される。そして、反射ミラー72によって反射された測定光は瞳孔中心Pcを通過し、そして、スポット状の光束が眼底Ef上に投影される。受光光学系10bは、反射ミラー72、対物レンズ14,ホールミラー13、コリメータレンズ22、リングレンズ24、及び撮像素子例えば、CCD、CMOS等の二次元撮像素子26、を備える。撮像素子26は、レンズ14、レンズ22、リングレンズ24を介して眼底Efと略共役位置に配置される。リングレンズ20は、円筒レンズがリング状に形成されたレンズ部と、レンズ部と同じ大きさのリング開口を持つ遮光部と、から構成され、眼Eの瞳孔と略共役位置に配置されている。撮像素子22からの出力信号は、制御部80に接続される。そして、投光光学系10aによる眼底反射光束は、再び反射ミラー72により反射され、対物レンズ14、ダイクロイックミラー53、ダイクロイックミラー35、ホールミラー13の反射面により反射され、コリメータレンズ22にて略平行光束正視眼の場合とされ、リングレンズ24によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子24に受光される。なお、上記構成の他、瞳孔周辺部から眼底Efにリング指標を投影し、瞳孔中心から反射光を取り出して、撮像素子上にリング像を受光させる方式、眼底にスリット光を投影する位相差方式、など種々の方式が採用可能である。対物レンズ14とホールミラー13との間には、ビームスプリッタとして可視反射赤外透過のダイクロイックミラー35が配置され、光源31からの光が眼Eに向けて導光される。また、ダイクロイックミラー35と対物レンズ14との間には、ビームスプリッタとしてダイクロイックミラー53が配置され、前眼部からの光が観察光学系50に導光される。そのミラー53は、測定光束を透過し、観察光束を反射する波長特性を有する。これらのビームスプリッタによって、測定光軸、固視光軸、観察光軸は、同じ光軸L1上に配置される。視標投影光学系30は、可視光を発する光源31、風景/動物などが描かれた固視標32、投光レンズ33、全反射ミラー34、ダイクロイックミラー35、対物レンズ14、反射ミラー72を備える。なお、上記構成の他、固視標として、LEDなどの点光源、液晶パネルなどのディスプレイなどが用いられる。また、複数の固視標が二次元的に配置されてもよい。光源31に照明された固視標32は、投光レンズ33、全反射ミラー34、ダイクロイックミラー35、ダイクロイックミラー53、対物レンズ14、反射ミラー72を介して眼底Efに投影される。これにより、眼Eは固視される。また、光源31及び固視標32が光軸方向に移動され、眼Eに雲霧がかけられる。また、検査窓102の外側には、角膜Ecにリング状の有限遠指標を投影する第1投影光学系45が光軸L1と同心円状に配置されている。また、角膜Ecに無限遠指標を投影する第2投影光学系46が光軸L1に対し左右対称図の便宜上上下に配置されている。なお、第1投影光学系45は、赤外光にて前眼部を照明する。また、角膜形状測定指標ケラト指標としても利用されうる。観察光学系50は、反射ミラー72、対物レンズ14、ダイクロイックミラー53、撮像レンズ51、二次元撮像素子52を備える。撮像素子52からの出力信号は、制御部80に接続され、モニタ85に出力される。なお、観察光学系50は、眼Eの正面像を観察する他、眼Eに対する装置本体100のアライメント状態を検出する検出光学系として用いられる。第1投影光学系45により照明された眼Eの前眼部像は、反射ミラー72、対物レンズ14、ダイクロイックミラー53、撮像レンズ51を介して、撮像素子52の撮像面に受光される。また、同様に、第1投影光学系45、第2投影光学系46によるアライメント指標像が、撮像素子52に検出される。図3は第1実施例に係る本体100に収納された電気制御系を示すブロック図である。制御部80は、装置全体の制御、眼屈折値の算出などの演算処理を行う。制御部80には、光源11、撮像素子26、光源31、撮像素子52、各種設定に用いられる操作部84、モニタ85、ぶれ検出ユニット60、ぶれ補正ユニット70、メモリ81、等が接続されている。なお、制御部80による検出ユニット60及び補正ユニット70の作動について、高速化のため、専用の駆動回路例えば、LSIを用いてもよい。もちろんソフトウェアによる作動であってもよい。なお、制御部80は、モニタ85の表示を制御し、前眼部像、測定結果、などを画面上に重畳表示する。また、制御部80は、撮像素子52からの撮像信号に基づいてアライメントずれを検出する。図4は測定の際に撮像素子26に撮像されるリング像である。撮像素子26からの出力信号は、メモリ81に画像データ測定画像として記憶される。その後、制御部80は、メモリ81に記憶された画像に基づいて各経線方向に関し像位置を検出し、その後、最小二乗法等を用いて楕円近似を行う。そして、制御部80は、近似した楕円の形状から各経線方向の屈折誤差が求め、これに基づいて眼屈折値、S球面度数、C柱面度数、A乱視軸角度を測定し、結果をモニタ85に表示する。以上のような構成を備える装置において、その動作について説明する。検者は、装置本体100を把持し、固視標32を固視するよう指示した後、検査窓102を眼Eの正面に置く。これにより、前眼部が撮像素子52によって撮像され、モニタ85には、前眼部像F、第1投影光学系45によるリング像マイヤーリング像R、第2投影光学系46によって投影された無限遠指標像Mが表示される図3参照。そして、制御部80は、撮像素子52からの撮像信号に基づいて被検眼に対するアライメント状態を検出する。この場合、制御部80は、リング指標Rの中心位置略角膜中心を算出することによりXY方向のアライメントずれを求める。また、制御部80は、装置本体100がZ方向にずれた場合に、指標Mの間隔がほとんど変化しないのに対して、リング指標Rの像間隔が変化するという特性を利用して、Z方向のアライメントずれを求める詳しくは、特開平6-46999号参照。制御部80は、Z方向のアライメント検出結果に基づいてインジゲータGの数を増減させる。ここで、検者は、リング像RとレチクルマークLTが同心円になるように装置本体100をXY方向に移動させる。また、Z方向のアライメント検出結果に基づいて変化するインジゲータGを参考にしながらもしくはリング像Rが最も細くなるように、装置本体100をZ方向に移動させる。その後、オートショットを作動させた場合、制御部80は、XYZ方向のアライメント状態が許容範囲を満たしたら、測定開始のトリガ信号を発する。一方、オートショットがOFFの場合には、操作部84に設けられたトリガスイッチが押されると、測定が開始される。トリガ信号が出力されると、制御部80は、光源11を点灯させて、眼底Efに測定指標を投光する。そして、制御部80は、その反射光を撮像素子26により受光し、指標像を検出する。このとき、はじめに予備測定が行われ、その結果に基づいて光源31及び固視標板32が光軸方向に移動され、眼Eに対して雲霧がかけられる。その後、眼Eに対して本測定が行われる。なお、本測定では、リング画像の加算/蓄積処理、又は複数回測定するため、複数フレームの画像が取得され、メモリ81に記憶される。上記測定中において、制御部80は、センサ62に電源を供給し、センサ62から出力される加速度信号に基づいて位置変位信号を生成する。そして、制御部80は、生成された位置変位信号を入力として、装置本体100のシフトぶれをキャンセルする方向に反射ミラー72を回転させるためのブレ補正信号を出力する。図5は第1実施例に係る測定時での手ブレを補正する際の具体例であり、図5aは手ブレが生じる前の状態であり、図5bは手ブレによってシフトずれが生じた直後の図であり、図5cはシフトずれが補正された後の状態である。制御部80は、眼屈折力測定光学系による測定領域が瞳孔上に位置されるようにぶれ補正ユニット70を駆動する。手ぶれを補正するためには、手ぶれにより発生した眼Eの中心例、瞳孔中心Pc、又は角膜中心に対する光軸L1のずれを打ち消すように、装置本体100の移動と逆方向に光軸L1が移動される。なお、完全でなくとも、光軸L1のずれが抑制されればよい。例えば、検者の手ブレにより眼Eの視線方向に対して装置本体100が下方向にΔYずれた場合、位置変位信号として下方向への偏位量ΔYが生成される。制御部80は、駆動部74を駆動し、瞳孔中心Pcを旋回点として光軸L1が旋回されるように反射ミラー72を上方向にΔθ回転させる。投光光学系10aからの測定光束は、反射ミラー72の移動により補正偏向され、瞳孔中心Pcを介して眼底Efに投影される。そして、眼底からの反射光束は、反射ミラー72により反射され、対物レンズ14の光軸と同軸となり、撮像素子26へと向かう。検眼光学系10による測定領域は、眼Eの瞳孔に対してトラッキングされる。視標投影光学系30の固視光束は、同様に、反射ミラー72の移動により補正偏向されるので、眼Eが誘導され、眼Eの視軸と光軸L1とが同軸になる。すなわち、眼Eの固視方向は、光軸L1に対してトラッキングされる。なお、眼Eの反応速度によっては、固視方向が正面方向のままのケースもありえる。視標投影光学系30が反射ミラー72から独立された配置の場合、眼Eは正面方向に固定される。前眼部からの反射光束は、反射ミラー72により反射され、対物レンズ14の光軸と同軸となり、撮像素子52に向かう。観察光学系50による観察領域は、眼Eの前眼部に対してトラッキングされる。これにより、検者の手ぶれによって装置本体100が動いても、眼屈折力の測定、固視誘導、前眼部観察が可能となる。この場合、測定光の投受光を連続的に行って例えば、複数フレームの測定画像を得る、屈折力を測定する場合に特に有利である。なお、上記説明においては、Y方向のみを例にとって説明したが、X方向についても同様の制御を行うことにより、手ぶれによるXY方向に位置ずれが補正される。以上のように、眼Eの基準位置例えば、角膜頂点、又は瞳孔中心から光軸L1がずれる状態を検出して補正光学系を駆動させることにより、アライメントが難しい手持型眼科装置であっても、安定した測定/検査を行うことができる。なお、図2に示すように、検眼光学系10の投光系と受光系の共通光路にぶれ補正光学系72が配置されることにより、眼に対する光束の入射位置と出射位置が適正に補正され、精度良く測定検査が行われる。なお、投光系と受光系のそれぞれにぶれ補正光学系が配置されるようにしてもよい。また、図2に示すように、検眼光学系10と観察光学系50の共通光路にぶれ補正光学系が配置されていることにより、観察像のぶれも補正されるため、安定した観察及び測定検査が可能となる。また、上記では、ずれ補正のために検眼光束を偏向させる補正光学部材として光反射部材例えば、反射ミラー、反射プリズムが用いられている。これにより、補正光学部材への入射光が眼Eに向かうため、光学部材の移動時において、検眼用受光素子への外乱光の入射が好適に回避される。この場合、瞳孔共役位置から外れた位置に光束偏向部材例えば、プリズムを設け、この部材を光軸L1を中心に偏心回転させることで、外乱光がさらに好適に除去される。もちろん、他の補正光学部材であっても、一定の効果は得られる。この場合、装置本体100と眼Eとの位置がずれたとき、XY方向に関する眼Eの瞳とリングレンズ24との共役関係が保たれるように光学部材が移動される構成が好ましい。例えば、投光光路と受光光路の共通光路に配置された対物レンズ14が光軸に対し垂直に移動されてもよい。もちろん、光軸ずれ専用の光学部材例えば、凹レンズが配置されてもよい。また、複数の光学部材であってもよい。また、リングレンズ24と撮像素子26とがレンズ22の光軸に対して垂直方向に移動されてもよい光源11が連動して移動されてもよい。なお、撮像素子26がぶれ検出系として用いられてもよい。例えば、撮像素子26からの撮像信号に基づいて、撮像素子26上のリング像の中心が光軸と一致されるように補正光学系が移動される。なお、上記説明においては、装置本体100の移動を検出するセンサ検出ユニット60を用いたが、眼Eを撮像する撮像素子をぶれ検出センサとして用いるようにしてもよい。例えば、制御部80は、撮像素子52による撮像結果からぶれを検出し、アライメント基準位置例えば、撮像面と光軸L1との交点からある許容範囲内に角膜中心又は瞳孔中心でもよいが収まるように、補正光学系をフィードバック駆動させる。なお、本手法によれば、補正光学系の駆動範囲内において、装置本体100に対して眼Eが動いたときでも、位置ずれが補正される。また、上記説明において、アライメントずれがある許容範囲例えば、アライメント完了の範囲より広いを満たした時点で、手ぶれ検出及び補正動作が開始されるようにしてもよい。また、操作部84からの出力信号をトリガとして手ぶれ補正動作が開始されてもよい。なお、撮像素子52の出力からアライメントずれを検出する場合、実際のずれ量に対して検出ユニット60によって検出される偏位量をオフセットする補正するようにしてもよい。また、手ブレ補正時には、アライメント検出及び結果出力を停止するようにしてもよい。なお、上記説明においては、オートレフラクトメータを例にとって説明したが、他の眼科装置においても、本発明の適用は可能である。例えば、ハンディタイプの眼底撮影装置例えば、眼底カメラ、眼科用OCTにおいても、本発明の適用が可能である。この場合、手ぶれによる撮像光軸と眼Eとのずれが検出され、その検出信号に基づいて補正光学系が駆動される。例えば、眼底を撮像する装置の場合、制御部は、眼底観察光学系に設けられた眼底撮像用例えば、アライメント用撮像素子によって撮像された眼底像のぶれを検出し、ぶれが補正されるように補正光学系をフィードバック駆動させるようにしてもよい。もちろん、加速度センサ等を設けるようにしてもよい。なお、手持型眼科装置でなく、据置型眼科装置であっても、装置が不安定な場所に置かれる場合に備えて、本発明の適用がありうる。なお、以上の説明においては、眼底に測定光束を投光し、その反射光束を受光して眼特性例えば、眼屈折力、眼軸長を測定する手持型眼科装置において、装置本体100に加わるぶれを検知するセンサを用いるものとしたが、これに限るものではない。例えば、測定光学系の光路中に光束偏向部材例えば、プリズム、ミラー等を設け、光束偏向部材を駆動させて、前眼部上における測定光束の通過領域を随時変化させて測定するようにしてもよい。光束偏向部材は、例えば、測定光学系の瞳孔共役位置から外れた位置に配置される。より具体的には、プリズムが光軸L1を中心に偏心回転され、通過領域が偏心回転される。また、ミラーが上下に往復移動され、通過領域が上下に移動される。このようにすれば、測定光束の通過領域が前眼部に対して高速移動されることによって、手ブレによる測定光束のずれが相殺される。よって、相殺時における測定光束を受光して測定を行うことで、容易に測定が行われる。<第2実施例>以下、本実施形態に係る第2実施例について説明する。図6は第2実施例に係る手持型眼科装置の一例を示す外観側方図である。以下、眼屈折力測定装置オートレフラクトメータを例に説明する。以下の説明では、被検眼と装置との位置関係について、被検眼と装置が対向した状態における前後方向をZ方向、左右方向をX方向、上下方向をY方向として説明する。装置本体100には、光学ユニット1、補正ユニット110が設けられている。光学ユニット1は、被検眼Eに検眼光束を投光し、その反射光を受光する検眼光学系10を含む。また、検査窓102は、本体100の眼E側に配置される。操作部84及びモニタ85は、本体100の検者側に配置される。さらに、装置本体100には、制御や演算処理のための電気系が収納される。検者は、被検者に対向し、本体100を把持する。そして、モニタ85を見ながら、眼Eに対し本体100をアライメントする。補正ユニット110は、検眼光学系10の検眼光軸L1と眼Eとの相対的な位置ずれを補正するために設けられている。補正ユニット110は、例えば、補正光学系としての対物レンズ14、駆動部111を備える。対物レンズ14は、対物レンズ14の光軸に対して垂直な面上において移動可能に配置されている。駆動部111は、対物レンズ14の光軸に対して垂直方向測定光軸L1に直交する方向に対物レンズ14をシフト移動させるために設けられている。対物レンズ14は、検眼光学系10の光路中のいずれかに配置され、検眼光学系10の一部として用いられる。図6において、検眼光学系10の光軸L1は、反射ミラー72によって眼E方向に折り曲げられる。対物レンズ14の基準位置は、検眼光学系10における対物レンズ14以外の他のレンズ系例えば、レンズ12によって形成される光軸L1と、対物レンズ14の光軸とが、同軸となる位置である。なお、本実施例においては、検眼光学系10の光軸L1を反射ミラー72によって眼E方向に折り曲げる構成としたがこれに限定されない。例えば、検眼光学系10の光軸L1が直接眼Eに向かう構成であってもよい。駆動部111の駆動によって対物レンズ14がシフトされるとき、光軸L1が偏向され、瞳孔中心Pcを通るように光軸L1が調整される図10参照。図7は第2実施例に係る本体100に収納された光学系を正面から見た光学配置図である。光学ユニット1は、検眼光学系10、眼Eに固視標を投影するため視標投影光学系30、眼Eを観察するための観察光学系50、眼Eの角膜頂点に輝点を形成するための正面投影光学系120を備える。図7において、検眼光学系10は、他覚的に眼屈折力を測定するための光学系である。検眼光学系10は、被検眼に測定指標を投影し、その測定指標によって取得される被検眼からの反射光を受光する。そして、その受光信号に基づいて眼Eの屈折力が測定される。より具体的には、検眼光学系10は、瞳孔中心Pcを介して眼底Efに測定指標スポット指標を投光する投光光学系10aと、眼底反射光を瞳孔周辺からリング状に取り出し、撮像素子26上にリング状の反射像を撮像受光させる受光光学系10bと、から構成される。投光光学系10aは、光軸L1上に配置された光源11,リレーレンズ12,ホールミラー13,対物レンズ14、及び反射ミラー72を備える。光源11は、眼底Efと略共役位置に配置され、ホールミラー13の開口は、眼Eの瞳孔と略共役位置に配置される。光源11から出射された測定光は、光源11,リレーレンズ12,ホールミラー13、ダイクロイックミラー35、ダイクロイックミラー53、対物レンズ14を介して反射ミラー72により反射される。そして、反射ミラー72によって反射された測定光は瞳孔中心Pcを通過し、そして、スポット状の光束が眼底Ef上に投影される。受光光学系10bは、反射ミラー72、対物レンズ14,ホールミラー13、コリメータレンズ22、リングレンズ24、及び撮像素子例えば、CCD、CMOS等の二次元撮像素子26、を備える。撮像素子26は、対物レンズ14、コリメータレンズ22、リングレンズ24を介して眼底Efと略共役位置に配置される。リングレンズ20は、円筒レンズがリング状に形成されたレンズ部と、レンズ部と同じ大きさのリング開口を持つ遮光部と、から構成される。リングレンズ20は、対物レンズ14に関して、眼Eの瞳孔と略共役位置に配置されている。撮像素子22からの出力信号は、制御部80に接続される。そして、投光光学系10aによって眼底Efに投影され、眼底Efによって反射された眼底反射光束は、再び反射ミラー72により反射され、対物レンズ14、ダイクロイックミラー53、ダイクロイックミラー35、ホールミラー13の反射面により反射され、コリメータレンズ22にて略平行光束正視眼の場合とされ、リングレンズ24によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子24に受光される。なお、上記構成の他、瞳孔周辺部から眼底Efにリング指標を投影し、瞳孔中心から反射光を取り出して、撮像素子上にリング像を受光させる方式、眼底にスリット光を投影する位相差方式、など種々の方式が採用可能である。また、連続的なリング像でなく、間欠的なリング像を取り出す構成であってもよく、点像が略リング状に並べられた眼底反射像を取り出す構成であってもよい。視標投影光学系30は、可視光を発する光源31、風景/動物などが描かれた固視標32、投光レンズ33、ダイクロイックミラー125、ダイクロイックミラー35、対物レンズ14、反射ミラー72を備える。なお、上記構成の他、固視標として、LEDなどの点光源、液晶パネルなどのディスプレイなどが用いられる。また、複数の固視標が二次元的に配置されてもよい。光源31に照明された固視標32は、投光レンズ33、ダイクロイックミラー125、ダイクロイックミラー35、ダイクロイックミラー53、対物レンズ14、反射ミラー72を介して眼底Efに投影される。これにより、眼Eは固視される。また、光源31及び固視標32が光軸方向に移動され、眼Eに雲霧がかけられる。正面投影光学系120は、近赤外光を発する光源121、投光レンズ122、ダイクロイックミラー35、対物レンズ14、反射ミラー72を備える。光源121には、例えば、LEDLightEmittingDiode光源が用いられる。光源121から出射された光は、投光レンズ122、ダイクロイックミラー125、ダイクロイックミラー35、ダイクロイックミラー53を介し、対物レンズ14にて略平行光束とされ、反射ミラー72により反射される。そして、反射ミラー72によって反射された光は角膜Ecに無限遠指標として投影される。正面投影光学系120は、眼Eの正面方向から指標を投光することにより、角膜Ec上の頂点位置に角膜輝点指標像を形成させる。この角膜輝点は、検眼光軸L1と眼Eとの相対的な位置ずれを検出するために用いられる詳細は後述する。投光レンズ122とダイクロイックミラー35の間には、ビームスプリッタとして可視反射赤外透過のダイクロイックミラー125が配置され、光源31からの光が眼Eに向けて導光される。また、対物レンズ14とホールミラー13との間には、ビームスプリッタとして、ダイクロイックミラー35が配置され、光源31及び光源121からの光が眼Eに向けて導光される。ダイクロイックミラー35は、光源121及び光源31の光束を反射し、光源11からの光束を透過する波長特性を有する。また、ダイクロイックミラー35と対物レンズ14との間には、ビームスプリッタとしてダイクロイックミラー53が配置され、前眼部からの光が観察光学系50に導光される。そのミラー53は、測定光束を透過し、観察光束を反射する波長特性を有する。これらのビームスプリッタによって、測定光軸、固視光軸、観察光軸は、同じ光軸L1上に配置される。検査窓102の外側には、角膜Ecにリング状の有限遠指標を投影する第1投影光学系45が光軸L1と同心円状に配置されている。また、角膜Ecに無限遠指標を投影する第2投影光学系46が光軸L1に対し左右対称図の便宜上上下に配置されている。なお、第1投影光学系45は、赤外光にて前眼部を照明する。また、角膜形状測定指標ケラト指標としても利用されうる。観察光学系50は、反射ミラー72、対物レンズ14、ダイクロイックミラー53、撮像レンズ51、二次元撮像素子52を備える。撮像素子52からの出力信号は、制御部80に接続され、モニタ85に出力される。なお、観察光学系50は、眼Eの正面像を観察することで、眼Eに対する装置本体100のアライメント状態を検出する検出光学系として用いられる。眼Eの前眼部像は、反射ミラー72、対物レンズ14、ダイクロイックミラー53、ダイクロイックミラー54、撮像レンズ51を介して、撮像素子52の撮像面に受光される。また、同様に、第1投影光学系45及び第2投影光学系46によるアライメント指標像が、撮像素子52に検出される。ダイクロイックミラー53と撮像レンズ51の間には、ビームスプリッタとしてダイクロイックミラー54が配置され、前眼部からの光の内、光源121による角膜反射光をXYアライメント検出光学系150以下、検出光学系150と省略するに導光する。そのミラー54は、第1投影光学系45及び第2投影光学系46による光束を透過し、正面投影光学系120の光束を反射する波長特性を有する。検出光学系150は、検眼光学系10の検眼光軸L1と眼Eとの相対的な位置ずれを高速に検出するために設けられている。検出光学系150は、反射ミラー72、対物レンズ14、ダイクロイックミラー53、ダイクロイックミラー54、受光レンズ55、光ポジションセンサーPSD:PositionSensitiveDetector56を備える。例えば、検出光学系150は、正面投影光学系120によって形成された角膜輝点をPSD56によって検出することにより位置ずれを検出するために用いられる。PSD56からの出力信号は、制御部80に接続され、モニタ85に出力される。PSDは、半導体位置検出素子であり、スポット状の光の位置を検出できる光センサである。PSDからの出力信号は、角膜輝点の位置データそのものを表す出力信号であるため、角膜輝点の位置データを即座に取得できる。PSDは、CCD等の二次元撮像素子に比べて、受光からずれ検出までの処理を高速化できる。したがって、PSDを用いて手ブレ等のシビアな位置ずれを検出することにより、高速でずれを補正できる。正面投影光学系120により投影された角膜中心輝点指標像は、反射ミラー72、対物レンズ14、ダイクロイックミラー53、ダイクロイックミラー54、撮像レンズ55を介して、PSD56の受光面に受光される。図8は第2実施例に係る本体100に収納された電気制御系を示すブロック図である。制御部80は、装置全体の制御、眼屈折値の算出などの演算処理を行う。制御部80には、光源11、撮像素子26、光源31、光源121、撮像素子52、PSD56、各種設定に用いられる操作部84、モニタ85、補正ユニット110、メモリ81、等が接続されている。なお、制御部80による補正ユニット110の作動について、高速化のため、専用の駆動回路例えば、LSIを用いてもよい。もちろんソフトウェアによる作動であってもよい。なお、制御部80は、モニタ85の表示を制御し、前眼部像、測定結果、などを画面上に重畳表示する。また、制御部80は、PSD56からの撮像信号に基づいて、アライメントずれ量及び手ぶれ量検出を行う。なお、本実施例においては、PSD56によって、被検者に起因するアライメントずれ検出及び、検者に起因する手ブレ検出を行うようにしたが、撮像素子52からの撮像信号に基づいてアライメントずれ検出及び手ブレ検出を行うようにしてもよい。図4は測定の際に撮像素子26に撮像されるリング像である。撮像素子26からの出力信号は、メモリ81に画像データ測定画像として記憶される。その後、制御部80は、メモリ81に記憶された画像に基づいて各経線方向に関し像位置を検出し、その後、最小二乗法等を用いて楕円近似を行う。そして、制御部80は、近似した楕円の形状から各経線方向の屈折誤差が求め、これに基づいて眼屈折値、S球面度数、C柱面度数、A乱視軸角度を測定し、結果をモニタ85に表示する。以上のような構成を備える装置において、その動作について説明する。検者は、装置本体100を把持し、固視標32を固視するよう指示した後、検査窓102を眼Eの正面に置く。前眼部が撮像素子52によって撮像され、モニタ85には、前眼部像が表示される。図9は、モニタ85の表示画面の一例を示す図である。モニタ85には、前眼部像F、第1投影光学系45によるリング像マイヤーリング像R、第2投影光学系46によって投影された無限遠指標像M、正面投影光学系120によって投影された角膜中心指標無限遠角膜中心輝点Cが表示される。制御部80は、PSD56からの受光信号に基づいて眼Eと光軸L1との相対的な位置ずれを検出する。相対位置のずれとしては、眼Eに対して装置本体100が動いたときのずれ例えば、手ブレ、装置本体100に対して眼Eが動いたときのずれ例えば、固視微動、眼Eに対するアライメント完了前でのずれ、の少なくともいずれかが含まれる。例えば、制御部80は、PSD56からの受光信号に基づいて、検眼光学系10の光軸L1に対して直交する方向に関する検眼光学系10の光軸L1と被検眼との相対的なずれを検出する。制御部80は、角膜中心輝点Cを算出することにより眼Eに対する光軸L1のXY方向に関する位置ずれを求める。また、制御部80は、装置本体100がZ方向にずれた場合に、指標Mの間隔がほとんど変化しないのに対して、リング指標Rの像間隔が変化するという特性を利用して、Z方向のアライメントずれを求める詳しくは、特開平6-46999号参照。制御部80は、Z方向のアライメント検出結果に基づいてインジゲータGの数を増減させる。ここで、検者は、角膜中心輝点CがレチクルマークLT内に収まるように装置本体100をXY方向にシフト移動させる。レチクルマークLTは、本実施例においては、角膜頂点位置と装置の光軸L1が一致する位置として設定された基準位置を電子的に表示したものである。また、Z方向のアライメント検出結果に基づいて変化するインジゲータGを参考にしながらもしくはリング像Rが最も細くなるように、装置本体100をZ方向に移動させる。その後、オートショットを作動させた場合、制御部80は、XYZ方向のアライメント状態が許容範囲を満たしたら、測定開始のトリガ信号を発する。一方、オートショットがOFFの場合には、操作部84に設けられたトリガスイッチが押されると、測定が開始される。トリガ信号が出力されると、制御部80は、光源11を点灯させて、眼底Efに測定指標を投光する。また、第1投影光学系45、第2投影光学系46、正面投影光学系120光源121を消灯する。すなわち、測定光束とその他の光束が重なって、測定結果又は観察画像に影響が生じないように、制御部80は、第1投影光学系45~正面投影光学系120の消灯時には、光源11を点灯する。また、制御部80は、第1投影光学系45~正面投影光学系120の点灯時には、光源11を消灯する。そして、制御部80は、その反射光を撮像素子26により受光し、指標像を検出する。このとき、はじめに予備測定が行われ、その結果に基づいて光源31及び固視標板32が光軸方向に移動され、眼Eに対して雲霧がかけられる。その後、眼Eに対して本測定が行われる。なお、本測定では、リング画像の加算/蓄積処理、又は複数回測定するため、複数フレームの画像が取得され、メモリ81に記憶される。このとき、制御部80は、複数の測定を行う際に、1フレームの画像を取得する毎に、第1投影光学系45~正面投影光学系120によるアライメント状態の検出と手ぶれ検出を行い、補正を行う。例えば、制御部80は、測定を開始してから、1フレームの画像を取得すると、制御部80は、光源11を消灯させ、第1投影光学系45~正面投影光学系120を点灯させる。そして、制御部80は、PSD56からの受光信号に基づいて駆動部111を駆動させ、位置ずれ補正を行う。ずれ補正が完了すると、制御部80は、第1投影光学系45~正面投影光学系120の消灯時には、光源11を点灯し、次の1フレームの画像取得を行う。すなわち、測定時においては、光源11の光と、他の光学系の光例えば、第1投影光学系45、第2投影光学系46、正面投影光学系120が交互に高速点滅して測定が行われる。また、光源11と、第1投影光学系45、第2投影光学系46、正面投影光学系120、それぞれの光が順次高速点滅するようにしてもよい。正面投影光学系を用いた手ぶれ補正について説明する。本実施例の装置は、手ぶれによって生じる装置本体100のXY方向のシフトずれを補正する。制御部80は、角膜Ec上に形成された角膜輝点CとレチクルLTのシフトずれずれ量及ぶずれ方向をPSD56によって、検出する。このとき、予め設定されたレチクルマークLT基準位置の所定の許容範囲内に角膜中心輝点Cが収まるまでのずれ量がシフトずれとして検出される。そして、制御部80は、検出したシフトずれに基づいて、駆動部111を駆動し、対物レンズ14をシフトさせる。これにより、手ぶれによって生じたシフトずれを補正する。すなわち、制御部80は、装置本体100のシフトぶれをキャンセルする方向に対物レンズ14をシフトさせるための、ずれ補正信号を出力する。なお、前述の所定の許容範囲としては、例えば、補正ユニット110の駆動によって位置ずれを補正できる範囲例えば、各方向に関して1.0mmのずれの範囲内に設定される。図10は、第2実施例に係る測定時での手ブレを補正する際の具体例であり、図5aは手ブレが生じる前の状態であり、図5bは手ブレによってシフトずれが生じた直後の図であり、図5cはシフトずれが補正された後の状態である。制御部80は、眼屈折力測定光学系による測定領域が瞳孔上に位置されるようにぶれ補正ユニット110を駆動する。手ぶれを補正するため、制御部80は、駆動部111の駆動を制御し、手ぶれにより発生した眼Eの中心例、瞳孔中心Pc、又は角膜中心に対する光軸L1のずれを打ち消すように、装置本体100の移動と逆方向に光軸L1を移動させる。なお、完全でなくとも、光軸L1のずれが抑制されればよい。例えば、検者の手ブレにより眼Eの視線方向に対して装置本体100が下方向にΔYずれた場合、下方向へのシフトずれΔYが検出される。制御部80は、駆動部111を駆動し、矢印A方向にΔSシフト移動させることにより、シフトずれΔYを補正する。投光光学系10aからの測定光束は、対物レンズ14の移動により補正偏向され、瞳孔中心Pcを介して眼底Efに投影される。そして、眼底からの反射光束は、対物レンズによって補正され、対物レンズ14の光軸と同軸となり、撮像素子26へと向かう。検眼光学系10による測定領域は、眼Eの角膜頂点に対してトラッキングされる。視標投影光学系30の固視光束は、同様に、対物レンズ14の移動により補正偏向されるので、眼Eは検査窓102に向くように、固視誘導されて、眼Eの視軸と光軸L1とが同軸になる。なお、眼Eの反応速度によっては、固視方向が正面方向のままのケースもありえる。視標投影光学系30が対物レンズ14から独立された配置の場合、眼Eは正面方向に固定される。対物レンズ14が基準位置から動いた場合、第1投影光学系45、第2投影光学系46による前眼部からの反射光束は、対物レンズ14によって偏向され、対物レンズ14の下流に配置されたレンズ51の光軸と同軸になり、撮像素子52によって受光される。また、対物レンズ14が基準位置から動いた場合、正面投影光学系120による前眼部からの反射光束は、、対物レンズ14によって偏向され、対物レンズ14の下流に配置されたレンズ55の光軸と同軸となり、PSD56によって受光される。これにより、検者の手ぶれや被検者の動きによって装置本体100が相対的に動いても、眼屈折力の測定、固視誘導、前眼部観察が可能となる。この場合、測定光の投受光を連続的に行って例えば、複数フレームの測定画像を得る、屈折力を測定する場合に特に有利である。なお、上記説明においては、Y方向のみを例にとって説明したが、X方向についても同様の制御を行うことにより、手ぶれによるXY方向に位置ずれが補正される。以上のように、眼Eに対する光軸L1のずれを検出して補正光学系を駆動させることにより、アライメントが難しい手持型眼科装置であっても、安定した測定/検査を行うことができる。上記補正は、装置本体100に対して眼Eが動いたときのずれ例えば、固視微動、眼Eに対するアライメント完了前でのずれを補正するためにも有用である。手持型眼科装置の場合、据置型眼科装置のようなアライメント移動機構例えば、装置本体を3次元方向に移動させるモータ機構等を持たないため、アライメント完了位置まで装置本体を移動させるのは難しい。また、アライメント完了後、連続測定を行うような場合、固視微動などによって眼が動くため、再度の調整が必要となる。また、通常、両眼を計測する必要があり、片眼毎にアライメントを行う必要があるから、アライメント調整には時間を要する。上記構成によれば、補正ユニット110の駆動によって位置ずれを補正できる範囲まで検者が本体100を移動させればよいため、手持型眼科装置におけるアライメント作業が大きく改善される。なお、図7に示すように、検眼光学系10の投光系と受光系の共通光路にぶれ補正ユニット110が配置されることにより、眼に対する光束の入射位置と出射位置が適正に補正され、精度良く測定検査が行われる。なお、投光系と受光系のそれぞれにぶれ補正光学系が配置されるようにしてもよい。また、図7に示すように、検眼光学系10と観察光学系50の共通光路にぶれ補正光学系が配置されていることにより、観察像のぶれも補正されるため、安定した観察及び測定検査が可能となる。なお、本実施例において、さらに、Z方向の手ぶれ補正を行う構成としてもよい。Z方向の手ぶれ補正は、光学部材を用いてフォーカスを調整する構成やZ方向へのずれ量から測定結果を補正するようにすればよい。Z方向のずれ量から測定結果を補正する場合、例えば、Z方向のずれ量に応じた補正量が設定されている測定結果補正テーブルを用いて、測定結果の補正を行うことが挙げられる。測定結果補正テーブルは、例えば、予め、Z方向のずれ量に応じた測定結果の補正値を算出しておき作成し、メモリ81に記憶させておくことが挙げられる。もちろん、他の補正光学部材であっても、一定の効果は得られる。例えば、ずれ補正のために検眼光束を偏向させる補正光学部材として光反射部材例えば、反射ミラー、反射プリズムが用いられてもよい。もちろん、光軸ずれ専用の光学部材例えば、凹レンズが配置されてもよい。また、複数の光学部材であってもよい。なお、本実施例において、角膜中心輝点が検出されていない場合、第1投影光学系によって投影されたリング像Rを用いて、角膜中心輝点が検出される位置までアライメントずれを補正するようにしてもよい。また、XY方向のアライメントずれ検出を第1投影光学系によって投影されたリング像Rによって行い、手ぶれによるシフトずれを角膜中心輝点で行う構成としてもよい。また、光軸L1と眼Eとのずれ量がある許容範囲例えば、アライメント完了の範囲より広く、レンズの移動による補正が可能な範囲を超える場合、制御部80は、モニタ85上に装置本体100の移動を促す表示を行うようにしてもよい。例えば、モニタ85上にアライメントをサポートするための矢印等の表示を行うようにしてもよい。この場合、制御部80は、レンズによる補正制御を停止してもよい。なお、本実施形態において、制御部80は、撮像素子52からの撮像信号に基づいて眼Eと光軸L1とのラフな位置ずれを検出し、PSD56からの受光信号に基づいて眼Eと光軸L1との細かい位置ずれを検出するようにしてもよい。なお、本実施形態において、アライメントずれがある許容範囲例えば、アライメント完了の範囲より広いを満たした時点で、手ぶれ検出及び補正動作が開始されるようにしてもよい。また、操作部84からの出力信号をトリガとして手ぶれ補正動作が開始されてもよい。また、対物レンズ14の可動領域の限度に達した場合に、制御部80は、ぶれの補正ユニット110による駆動を停止し、対物レンズ14を基準位置に戻し、再度、補正動作を再開してもよい。この場合、例えば、再度、検査窓102が眼Eの正面に置かれた状態をPSD56からの出力信号に基づいて検知し、補正を開始する。なお、本実施例においては、位置ずれを検出するために、検出光学系120PSD56を用いて、検眼光学系10の光軸L1と被検眼前眼部との相対的な位置ずれを光学的に検出する構成としたがこれに限定されない。加速度センサでの検出結果と、PSDでの検出結果の両方を利用して相対的な位置ずれが検出され、位置ずれが補正されるようにしてもよい。例えば、第2実施例の装置に、さらに、加速度センサが設けられる。そして、制御部80は、加速度センサからの検出信号に基づいて駆動機構111を制御して手ブレを補正し、PSDからの受光信号に基づいて駆動機構111を制御して、眼が動いたときの位置ずれを補正する。なお、本実施例において、制御部80は、少なくともレンズの位置に応じて被検眼の眼光学特性の測定結果を補正するようにしてもよい。例えば、XY方向のアライメントずれ量、フォーカスずれ量Z方向ずれ量、ずれ補正のための対物レンズ14の位置に基づいて、測定結果を補正することが挙げられる。これは、検眼光学系10における他の光学部材に対して対物レンズ14が偏位した場合、測定結果が変動する可能性があるからである。なお、手持型眼科測定装置オートレフラクトメータケラトメータにおいて、測定時に前眼部画像や瞳孔画像等を測定結果とともにメモリ81に記憶させておくのが好ましい。このような画像に基づいて装置と眼Eとの位置関係が検出され、測定結果例えば、乱視軸角度の補正に用いられる。例えば、寝たきり状態の被検者に対して無理な体勢で測定を行うような場合、制御部80は、メモリ81に記憶された画像を用いて装置と眼Eと傾斜状態を検出し、その傾斜状態に基づいて測定結果を補正する。例えば、測定結果を補正する場合、例えば、測定結果補正テーブルを用いて、測定結果の補正を行うことが挙げられる。測定結果補正テーブルは、例えば、予め、対物レンズ14の光軸に対して垂直な平面上における対物レンズ14の位置に応じた補正量が実験又はシミュレーションにより求められる。各位置に応じた測定結果の補正値をそれぞれ算出しておき、テーブルが作成される。なお、本実施形態においては、光源11の点灯時には、第1投影光学系45、第2投影光学系46、正面投影光学系120を消灯させる構成としたがこれに限定されない。例えば、第1投影光学系と第2投影光学系においては、光源11の点灯状態下においても点灯状態としてもよい。この場合、より好ましくは、各光源間の光が干渉をおこなさないように、波長が異なる光源を用いるとよい。"