"固定コンタクトと、その固定コンタクトに対して接触離間するように移動可能に設けられた可動コンタクトとが、絶縁ハウジングに取り付けられているとともに、前記絶縁ハウジングに設けられた相手挿入穴を通して挿入された相手コネクタにより前記可動コンタクトが前記固定コンタクトから離間されるように構成されたスイッチ付同軸コネクタにおいて、前記可動コンタクトには、前記相手挿入穴に対面するようにして貫通穴が形成され、その貫通穴を挟んだ両側には、当該貫通穴を介して対面する二体の相手コネクタ接触片が、前記可動コンタクトの一部をなすように設けられていることを特徴とするスイッチ付同軸コネクタ。前記相手コネクタ接触片には、他方の相手コネクタ接触片に対面する壁面に、前記相手コネクタの一部に接触する傾斜面からなる接点部が設けられていることを特徴とする請求項1記載のスイッチ付同軸コネクタ。前記可動コンタクトは、当該可動コンタクトを前記絶縁ハウジングに固定する支持基部と、その支持基部から片持ち状に延出して前記相手コネクタの一部が接触する弾性ビームと、を有し、前記貫通穴が、前記弾性ビームから前記支持基部にかけて延在するように設けられていることを特徴とする請求項1記載のスイッチ付同軸コネクタ。前記可動コンタクトに、前記固定コンタクトに接触する部位において二方向に分割された二股状接点部が設けられているとともに、前記固定コンタクトには、前記可動コンタクトの二股状接点部の間に入り込む突状接点部が設けられ、前記可動コンタクトの二股状接点部が、前記固定コンタクトの突状接点部に接触する傾斜面に形成されていることを特徴とする請求項1記載のスイッチ付同軸コネクタ。前記固定コンタクトの突状接点部は、前記可動コンタクトの二股状接点部に対して、当該可動コンタクトの二股状接点部の間隔を押し広げるように接触する楔形状に形成されていることを特徴とする請求項4記載のスイッチ付同軸コネクタ。前記可動コンタクトに設けられた前記弾性ビームは、前記可動コンタクトの支持基部から下降段差部を介して連設され、当該可動コンタクトの弾性ビームが、前記下降段差部から前記固定コンタクトの接点部に向かって上昇する方向に傾斜して延在しているとともに、前記可動コンタクトの支持基部は、前記配線基板からの高さが、前記絶縁ハウジングに設けられたコンタクト挿入開口部と略同一の高さを有していることを特徴とする請求項3記載のスイッチ付同軸コネクタ。前記絶縁ハウジングの内部であって、前記相手挿入穴に対向し、かつ前記可動コンタクトの貫通穴に対向する位置に、突起が設けられていることを特徴とする請求項1記載のスイッチ付同軸コネクタ。そこで本発明は、相手挿入穴を通して内部に侵入した塵埃による電気的な接続不良の発生を、簡易な構成によって良好に防止することができるようにしたスイッチ付同軸コネクタを提供することを目的とする。上記目的を達成するため本発明では、固定コンタクトと、その固定コンタクトに対して接触離間するように移動可能に設けられた可動コンタクトとが、絶縁ハウジングに取り付けられているとともに、前記絶縁ハウジングに設けられた相手挿入穴を通して挿入された相手コネクタにより前記可動コンタクトが前記固定コンタクトから離間されるように構成されたスイッチ付同軸コネクタにおいて、前記可動コンタクトには、前記相手挿入穴に対面するようにして貫通穴が形成され、その貫通穴を挟んだ両側には、当該貫通穴を介して対面する二体の相手コネクタ接触片が、前記可動コンタクトの一部をなすように設けられた構成になされている。このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、相手コネクタが嵌合されていないときに開放されている相手挿入穴を通して内部に進入する塵埃が、可動コンタクト上に蓄積されることなく貫通穴を通して排出されるため、相手コネクタと可動コンタクトとの電気的な導通性及び可動コンタクトと固定コンタクトとの電気的な導通性が、塵埃により妨げられるおそれが低減される。また、本発明における前記相手コネクタ接触片には、他方の相手コネクタ接触片に対面する壁面に、前記相手コネクタの一部に接触する傾斜面からなる接点部が設けられていることが望ましい。このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、相手コネクタの一部が、相手コネクタ接触片の傾斜面からなる接点部に沿うように接触されるために電気的な接続が良好に行われるとともに、貫通穴を通して排出される塵埃が、相手コネクタ接触片の傾斜面により円滑に案内される。また、本発明における前記可動コンタクトは、当該可動コンタクトを前記絶縁ハウジングに固定する支持基部と、その支持基部から片持ち状に延出して前記相手コネクタの一部が接触する可動ビームとを有し、前記貫通穴が、前記可動ビームから前記支持基部にかけて延在するように設けられていることが望ましい。このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、貫通穴が可動コンタクトの支持基部まで延びているため、相手コネクタのプローブが可動ビームに接触した際の応力が支持基部の一部に集中することなく分散され、可動コンタクトの耐久性が向上される。また、本発明においては、前記可動コンタクトに、前記固定コンタクトに接触する部位において二方向に分割された二股状接点部が設けられているとともに、前記固定コンタクトには、前記可動コンタクトの二股状接点部の間に入り込む突状接点部が設けられ、前記可動コンタクトの二股状接点部が、前記固定コンタクトの突状接点部に接触する傾斜面に形成されていることが望ましい。このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、可動コンタクトの二股状接点部が固定コンタクトの突状接点部に沿うように接触されるために電気的な接続が良好に行われるとともに、内部に侵入した塵埃が、可動コンタクトの二股状接点部の傾斜面によって円滑に排出される。また、本発明における前記固定コンタクトの突状接点部は、前記可動コンタクトの二股状接点部に対して、当該可動コンタクトの二股状接点部の間隔を押し広げるように接触する楔形状に形成されていることが望ましい。このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、固定コンタクトの突状接点部に対して可動コンタクトの二股状接点部が接触した際に、両者が圧接状態で良好に接触されるとともに、可動コンタクトの二股状接点部の間隔が押し広げられるために、接触部分近傍に存在する塵埃が二股状接点部の間隔を通して落下され易くなる。また、固定コンタクトの突状接点部に対して、可動コンタクトの二股状接点部が接触した際に、前記二股状接点部同士の間隔が押し広げられ、前記突状接点部と前記二股状接点部が圧接状態で摺動するように接触されるため、両接点部をクリーニングする効果が発揮される。また、本発明においては、前記可動コンタクトに設けられた前記可動ビームは、前記可動コンタクトの支持基部から下降段差部を介して連設され、当該可動コンタクトの可動ビームが、前記下降段差部から前記固定コンタクトの接点部に向かって上昇する方向に傾斜して延在しているとともに、前記可動コンタクトの支持基部は、前記配線基板からの高さが、前記絶縁ハウジングに設けられたコンタクト挿入開口部と略同一の高さを有していることが望ましい。このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、貫通穴を通して排出される塵埃が、可動コンタクトの可動ビームの上昇傾斜面によって固定コンタクトの接点部側に移行しなくなるため、可動コンタクトと固定コンタクトとの電気的な接続が良好に行われるとともに、絶縁ハウジングのコンタクト挿入開口部が可動コンタクトの支持基部により閉塞され、そこからの塵埃の侵入が防止される。また、本発明においては、前記絶縁ハウジングの内部であって、前記相手挿入穴に対向し、かつ前記可動コンタクトの貫通穴に対向する位置に突起が設けられていることが望ましい。このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、絶縁ハウジングに設けた突起が、挿入された相手コネクタプローブのストッパとして働き、相手コネクタから可動コンタクトへ負荷される過度な外力を防止し、接触信頼性を向上させる。以上述べたように本発明は、絶縁ハウジングに取り付けた可動コンタクトに相手挿入穴に対面する貫通穴を貫通形成し、その貫通穴を挟んだ両側に二体の相手コネクタ接触片を配置したことにより、相手コネクタが嵌合されていないときに開放されている相手挿入穴を通して内部に進入する塵埃を、可動コンタクト上に蓄積させることなく貫通穴を通して排出し、相手コネクタと可動コンタクトとの電気的な導通性及び可動コンタクトと固定コンタクトとの電気的な導通性を塵埃により妨げられるおそれを低減するように構成したものであるから、相手挿入穴を通して内部に侵入した塵埃による電気的な接続不良の発生を、簡易な構成によって良好に防止することができ、スイッチ付同軸コネクタの信頼性を安価かつ大幅に高めることができる。以下、本発明にかかるスイッチ付同軸コネクタを回路検査スイッチとして採用した実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。[回路検査スイッチの全体構造について]まず、図1に示された本発明の第1の実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタ10は、図示を省略した配線基板上に実装されるものであって、当該スイッチ付同軸コネクタ10に対して、相手コネクタとしての検査用プラグコネクタ20図12及び図13参照が上方側から嵌合され、又は上方側に向かって抜出される構成になされている。すなわち、そのスイッチ付同軸コネクタ10の上方側に配置された検査用プラグコネクタ20が、作業者の手で把持されながら下方側のスイッチ付同軸コネクタ10に向かって適宜の力で押し込まれ、それによって両コネクタ同士が嵌合された装着状態になされる。また、その両コネクタの装着状態から検査用プラグコネクタ20を把持して上方側に適宜の力で引き上げれば、当該検査用プラグコネクタがスイッチ付同軸コネクタ10から上方に離脱して抜出が行われる。なお、検査用プラグコネクタ20は作業者の手で挿抜されることに限らず、機械によって自動的に挿抜されてもよい。以下、この検査用プラグコネクタの挿入方向及び抜出方向を、それぞれ下方向及び上方向とする。このような回路検査スイッチの組立体を構成しているスイッチ付同軸コネクタ10は、例えば携帯電話等の電子機器に設けられた電子回路基板図示省略上に半田付けにより実装されて使用され、その電子機器に設けられた電子回路を、例えば機器本体側とアンテナ側とを分断又は接続するように配置される。[絶縁ハウジングの構成について]図2、図3及び図4にも示されているように、上記スイッチ付同軸コネクタ10の本体部を構成している絶縁ハウジング11は、プラスチック等の樹脂材を用いて例えばモールド成形されたものであって、平面略矩形状の板状部材からなるベース枠体部11aと、そのベース枠体部11aの上面中央部分に配置された挿入ガイド部11bとを一体的に有している。挿入ガイド部11bは、上述したベース枠体部11aの上側表面から略円筒状をなして上方に立ち上がるように形成されている。この挿入ガイド部11bの内周側表面は、略すり鉢状をなすように形成されており、当該挿入ガイド部11bの上端縁部分に形成された円環状外縁部から、中心部分に相手挿入穴として設けられたプローブ挿入穴11cの上面側開口部に向かって斜め下方に延在する傾斜ガイド面11dが形成されている。この傾斜ガイド面11dは、前述した検査用プラグコネクタ20に設けられたプローブ20aをプローブ挿入穴11cに向かって案内する機能を有するものであって、検査用プラグコネクタ20のプローブ20aがプローブ挿入穴11cの真上に配置されていない場合であっても、傾斜ガイド面11dの傾斜面上にプローブの先端部が当接されれば、プローブ20aの先端部が傾斜ガイド面11dに沿って下方に滑り落ちるように移動され、プローブ挿入穴11cまで円滑に案内されるようになっている。相手挿入穴として設けられたプローブ挿入穴11cは、上述したように挿入ガイド部11bの上端開口部からベース枠体部11aの中心軸に沿って下方に延出しており、絶縁ハウジング11の正面背面両端面に設けられたコンタクト挿入開口部11e,11fまで貫通して、後述する可動コンタクト12の上方位置に開口するように形成されている。このプローブ挿入穴11cは、検査用プラグコネクタ20のプローブ20aを挿入可能とする内径を有する大きさの平面略円形状をなすように形成されていて、当該プローブ挿入穴11cの上面側開口部の周囲に、挿入ガイド部11bが略同心状をなすように配置されている。[コンタクトの構成について]一方、絶縁ハウジング11のベース枠体部11aの内部には、信号伝送用の可動コンタクト12及び固定コンタクト13が、上述した検査用プラグコネクタ20の挿抜方向上下方向に略直交する水平方向に互いに対向するように取り付けられている。これらの可動コンタクト12及び固定コンタクト13は、いわゆるコンタクト対を構成するものであって、絶縁ハウジング11の正面背面両端面に設けられたコンタクト挿入開口部11e,11fを通して、当該絶縁ハウジング11の内部に挿入され、その両コンタクト12,13同士が互いに弾性的に接触した状態となるように絶縁ハウジング11に取り付けられている。この両コンタクト12,13同士の接触状態は、後述するように検査用プラグコネクタ20の嵌合によって解除されて離間状態になされる。可動コンタクト12及び固定コンタクト13は、当該両部材12,13同士が対向する方向の後端部分に基板接続部12a,13aをそれぞれ有している。それらの基板接続部12a,13aは、絶縁ハウジング11に圧入固定される支持基部12b,13bの下端面部を構成するものであって、上述した配線基板上に設けられた信号伝送用の導電路に半田接合されて実装される。このような基板接続部12a,13aを有する支持基部12b,13bは、側面略コの字状をなすように形成されていて、当該両支持基部12b,13b同士が、水平方向に互いに対向するようにして絶縁ハウジング11に対して圧入固定されている。より具体的には、固定コンタクト13側に設けられた支持基部13bには、当該支持基部13bの上端面部を構成する固定片13cが、コネクタ内方側図10の左方側に向かって延出するように設けられている。その固定片13cは、絶縁ハウジング11の内壁面に圧接されていて、上述した絶縁ハウジング11のコンタクト挿入開口部11fが、支持基部13bにより閉塞されている。また、その固定片13cのコネクタ内方側図10の左方側における先端部分には、下方に向かって略円筒状に突出する固定接点部13dが形成されている。一方、可動コンタクト12に設けられた支持基部12bの上端面部を構成している固定片12cも、コネクタ内方側図10の右方側に向かって延出するように設けられている。この固定片12cは、絶縁ハウジング11の内壁面に圧接されて固定状態になされており、上述した絶縁ハウジング11のコンタクト挿入開口部11eが、支持基部13bにより閉塞された状態になされている。このように本実施形態においては、可動コンタクト12及び固定コンタクト13に設けられた支持基部12b,13bが、図示を省略した配線基板からの高さh1を有しており、その支持基部12b,13bの高さh1が、絶縁ハウジングに設けられたコンタクト挿入開口部11e,11fの高さh2と略同一の高さとなるように設定されているh1≒h2。このような構成としておけば、絶縁ハウジング11のコンタクト挿入開口部11e,11fが、可動コンタクト12及び固定コンタクト13の支持基部12b,13bにより閉塞され、そこからの塵埃の侵入が防止される。また、上述した可動コンタクト12の支持基部12bに設けられた固定片12cには、クランク形状をなすように形成された下降段部12dが、下方向への段差を形成するように連設されているとともに、その下降段部12dを介して片持ち状に延出する弾性ビーム12eが、上下方向に揺動自在となるように連設されている。その弾性ビーム12eの根本部分を構成している下降段部12dは、上述したように固定片12cの先端部から斜め下方に向かって延出しており、当該下降段部12dの下端部が、絶縁ハウジング11に設けられた内壁面に当接するように配置されている。また、その下降段部12dから延出している弾性ビーム12eは、帯状バネ部材から形成されており、上述した固定コンタクト13側に向かって斜め上方に浮き上がるように配置されている。この弾性ビーム12eの延出側の先端部分には可動接点部12fが設けられており、その可動コンタクト12の可動接点部12fが、上述した固定コンタクト13の固定接点部13dに対して弾性ビーム12eの弾性付勢力により下方側から弾性的に接触されるように構成されている。このような可動コンタクト12の弾性ビーム12eを構成している帯状バネ部材の延在方向途中部分は、前述した相手挿入穴としてのプローブ挿入穴11cの直下に配置されている。そして、特に図12及び図13に示されているように、前述した検査用プラグコネクタ20が上方側から嵌合され、当該検査用プラグコネクタ20に設けられたプローブ20aが、プローブ挿入穴11cを通してコネクタ内部に挿入されると、当該検査用プラグコネクタ20のプローブ20aが、可動コンタクト12の弾性ビーム12eの途中部分に当接する。さらに、検査用プラグコネクタ20が下方に押し下げられると、可動コンタクト12側の可動接点部12fが、固定コンタクト13の固定接点部13dから下方に離間される。このとき、上述した可動コンタクト12側に設けられた可動接点部12fは、固定コンタクトの固定接点部13dに接触する部位において二方向に分割された二股状接点部を構成しており、平面視において略U字状をなすように可動接点部12fが形成されている。そして、その二股状接点部を構成する可動コンタクト12側の可動接点部12fに対して、固定コンタクト13側に設けられた固定接点部13dは、可動コンタクト12の二股状接点部の間に入り込む略円筒状の突状接点部をなすように形成されている。より具体的には、可動コンタクト12に二股状接点部として設けられた可動接点部12fは、平面略U字状をなすように形成された内周縁を有しており、その略U字状をなす内周縁には、当該内周面により画成された内側空間に向かって下降する傾斜面が形成されている。この該可動接点部12fに設けられた傾斜面は、固定コンタクト13の突状接点部としての固定接点部13dの先端部分に対して面状に接触するように構成されている。このように、可動コンタクト12に、二股状接点部としての可動接点部12fを設けておけば、固定コンタクト13に突状接点部として設けられた固定接点部13dに沿うようにして可動コンタクト12の可動接点部12fが接触されるため、電気的な接続が良好に行われるとともに、コネクタ内部に侵入した塵埃が、可動コンタクト12の可動接点部二股状接点部12fに設けられた傾斜面に沿って円滑に排出される。このとき、上述した実施形態と同一の構成部材に対して同一の符号を付した図20~図22にかかる他の実施形態においては、可動コンタクト12に設けられた可動接点部12f’を構成している二股状接点部が、長めのスパンを有するように形成されているとともに、固定コンタクト13側に突状接点部として設けられた固定接点部13d’が、更に下方に突出するように設けられ、可動コンタクト12側の可動接点部二股状接点部12f’に対して楔形状をなすように形成されている。そして、可動コンタクト12に設けられた可動接点部12f’が固定コンタクト13の固定接点部13d’に接触した際に、当該固定コンタクト13の楔形状をなす固定接点部13d’が、可動コンタクト12の可動接点部12f’を構成する二股状接点部同士の間に侵入することによって、可動接点部12f’を構成する二股状接点部同士の間隔が、特に図21に示されているように押し広げられるようになっている。このような構成としておけば、固定コンタクト13に設けられた固定接点部突状接点部13d’に対して、可動コンタクト12の可動接点部二股状接点部12f’が接触した際に、両部材12f’,13d’が圧接状態で良好に接触されるとともに、可動コンタクト12の可動接点部二股状接点部12f’同士の間隔が押し広げられることとなるため、両部材12f’,13d’の接触部分近傍に存在するゴミなどの塵埃が、可動コンタクト12の可動接点部12f’の拡大された間隔部分を通して落下され易くなる。また、固定コンタクト13に設けられた固定接点部突状接点部13d’に対して、可動コンタクト12の可動接点部二股状接点部12f’が接触した際に、可動コンタクト12の可動接点部二股状接点部12f’同士の間隔が押し広げられ、それら両部材12f’,13d’が水平方向に圧接した状態で摺動するように接触されるため、接点部をクリーニングする効果が発揮される。さらにまた、上述した可動コンタクト12の弾性ビーム12eを構成している帯状バネ部材には、検査用プラグコネクタ20のプローブ20aとの接触位置、すなわちプローブ挿入穴相手挿入穴11cに対面する直下位置に、スリット状をなすようにして塵埃落下穴としての貫通穴12gが形成されている。この貫通穴12gは、可動コンタクト12の長手方向に沿って細長状に延在する長穴から形成されており、上述した弾性ビーム12eの先端側に設けられた可動接点部12fの近傍から、プローブ挿入穴11cの直下位置を通って支持基部12bまで延在している。この貫通穴12gが設けられた可動コンタクト12の弾性ビーム12eには、当該弾性ビーム12eの板幅方向に貫通穴12gを挟んだ両側部分に、二体のプローブ接触片12h,12hが細幅に延在するように配置されている。すなわち、これら二体のプローブ接触片12h,12hは、本発明で言う相手コネクタ接触片を構成するものであって、上述した貫通穴12gを画成するように配置されたものであるとともに、相手コネクタとしての検査用プラグコネクタ20のプローブ20aに対する接触片をなすよう設けられている。このように可動コンタクト12の弾性ビーム12eに貫通穴12gを設けておけば、検査用プラグコネクタ20が嵌合されていないときに開放状態にあるプローブ挿入穴相手挿入穴11cを通して内部に進入するゴミ等の塵埃が、可動コンタクト12や固定コンタクト13の上に蓄積することなく貫通穴12gを通して排出され、その結果、可動コンタクト12と固定コンタクト13との電気的な導通性が塵埃により妨げられるおそれが低減される。また、このときの各プローブ接触片12hにおいては、他方のプローブ接触片12hに対面する壁面に、検査用プラグコネクタ20のプローブ20aに接触する検査用接点部12iが、傾斜面をなすように設けられている。この検査用接点部12iは、検査用プラグコネクタ20のプローブ20aの先端側部分に形成された湾曲面に対して、略接線方向に延在するように形成されており、プローブ20aに対して面状に当接するように形成されている。このような傾斜面からなる検査用接点部12iを、可動コンタクト12のプローブ接触片12hに設けておけば、当該プローブ接触片12hの検査用接点部12iに沿うようにして検査用コネクタ20のプローブ20aの先端部分が可動コンタクト12に接触されることなり、両部材12,20同士の電気的な接続が良好に行われるとともに、貫通穴12gを通して排出される塵埃が、プローブ接触片12hの傾斜面によって円滑に案内される。さらに、本実施形態においては、上述したように可動コンタクト12の弾性ビーム12eに設けられた貫通穴12gが、弾性ビーム12eから後方側の支持基部12b側にかけて延在しており、当該貫通穴12gの後端部分が支持基部12bの上端面部を構成している固定片12cに一部かかるように延長して設けられていることから、検査用コネクタ20のプローブ20aが可動コンタクト12の弾性ビーム12eに接触した際の応力が、可動コンタクト12の固定片12cの一部に集中することなく分散されることとなり、可動コンタクト12の使用耐久性が向上されるようになっている。[導電性シェルについて]一方、上述した絶縁ハウジング11の上面側表面には、薄板状の導電性部材からなる導電性シェル14が上方側から覆うようにして装着されている。この導電性シェル14は、絶縁ハウジング11の上面側から挿入ガイド部11bの外周面の一部を覆うように装着されているが、この導電性シェル14が絶縁ハウジング11の上面側表面を覆っている上面基板14aが平面略矩形状をなすように形成されている。その導電性シェル14における略矩形状をなす上面基板14aの中央部分には、上述した絶縁ハウジング11の挿入ガイド部11bを外方側から覆うグランド端子部14bが略中空円筒状をなすようにして一体に設けられている。このグランド端子部14bの外周表面には、円環状をなす固定係止溝14cが凹設されており、その固定係止溝14cに対して、前述した検査用プラグコネクタ20の導電性シェルに設けられた係合突部20bが嵌め込まれ、それによってスイッチ付同軸コネクタ10に検査用プラグコネクタ20が適宜の嵌合力で連結された状態に維持されるようになっている。また、上述した導電性シェル14の上面基板14aにおける略矩形状の四隅部分には、下方に向かって垂れ下がるように延在する基板接続部14dがそれぞれ連設されている。それら4体の基板接続部14dのうち、前述した可動コンタクト12と固定コンタクト13との対向方向に隣接する2体の基板接続部14d,14d同士は、一体的に連結されていて、それら一体連結された一方側の基板接続部14d,14dと、他方側の基板接続部14d,14dとが、可動コンタクト12と固定コンタクト13とからなるコンタクト対を両側から挟むように配置されている。そして、それらの各基板接続部14dが、図示を省略した配線基板上のグランド用導電路に半田接合されることによって、グランド接続が行われるとともに、スイッチ付同軸コネクタ10の全体の保持が行われるようになっている。このとき、それらの各基板接続部14dは、上述した上面基板14aの端縁から下方に向かって湾曲形状をなすように延在しており、2体の基板接続部14d,14d同士の連結方向と直交する方向における横断面形状が、略S字又は略Z字形状をなすように湾曲形成されている。この導電性シェル14に設けられた基板接続部14dの形状を具体的に説明すると、当該基板接続部14dは、上述した上面基板14aの端縁からコネクタ内方側に向かって斜め下方に窪むように延出する逆テーパ状の傾斜壁面を有しているとともに、その傾斜壁面の下端部から、再びコネクタ外方に向かって略水平に突出する水平壁面を有している。そして、その基板接続部14aに設けられた逆テーパ状の傾斜壁面と水平壁面とによって、前述した固定コンタクト13及び可動コンタクト12側に向かって窪む凹部14eが画成されており、当該凹部14eが、基板接続部14dに窪むように設けられた構成になされている。また、上述した基板接続部14aの水平壁面によって、配線基板上に半田接合される半田接合片14fが形成された構成になされている。このように基板接続部14aに凹部14eを窪ませるようにして設けておけば、導電性シェル14の基板接続部14aに対して使用した半田材の余剰分やフラックスが、基板接続部14aや導電性シェル14の他の壁面に沿って這い上がろうとしても、その這い上がろうとする半田材の余剰分やフラックスが凹部14eの内部に蓄えられる。また、その凹部14eの壁面を構成する逆テーパ状の傾斜壁面によって、半田材やフラックスの這い上がり作用力が低減されることとなる。さらに、当該凹部14eの壁面が湾曲状に延在していることによって、半田材及びフラックスの這い上がり長さが延長されることとなり、いわゆる半田上がり良好に防止されて、電気的な導通状態への影響が大幅に低減される。また、本実施形態にかかる導電性シェル14の基板接続部14aには、前述したように凹部14eからコネクタ外方に向かって延出する半田接合片14fを有していることから、基板接続部14aの半田接合片14fに対する半田材の接合状態が、作業者によって直ちに目視されることとなって作業効率が向上される。このとき、本実施形態にかかる半田接合片14fの先端部は、上述した導電性シェル14の最大外形である上面基板14aの幅方向寸法と同一か、ややコネクタ内方側に位置している。このような構成によって、当該半田接合片14fに対する半田付け作業に支障を与えることなく全体の小型化が可能となっている。一方、前述した実施形態と同一の構成部材に対して同一の符号を付した図23及び図24にかかる更に他の実施形態においては、検査用プラグコネクタ相手コネクタ20のプローブ20aに対する移動規制部材ストッパとしての突起11gが、絶縁ハウジング11の内部に設けられている。この移動規制部材としての突起11gは、絶縁ハウジング11のベース枠体部11aの底面部分から上方に突出するように形成されており、上述したプローブ挿入穴相手挿入穴11cに対向し、かつ可動コンタクト12の貫通穴12gに対向する位置に配置されている。このような構成としておけば、検査用プラグコネクタ20のプローブ20aがプローブ挿入穴11cを通してコネクタ内部に挿入された際に、絶縁ハウジング11の突起11gがプローブ20aのストッパとして働き、検査用プラグコネクタ相手コネクタ20から可動コンタクト12へ負荷される過度な外力の発生が防止されることとなって接触の信頼性が向上される。以上、本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であるというのはいうまでもない。例えば上述した実施形態においては、可動コンタクト12に貫通穴12gを設けているが、全体の配置関係に応じて、固定コンタクトに貫通穴を設けるようにしても良い。また、本発明は、上述した実施形態のような回路検査スイッチ以外の用途に用いられるスイッチ付同軸コネクタに対しても同様に適用可能である。"