少なくとも回路基板を内蔵した電子機器の設計情報を入力する設計情報入力部と、前記電子機器から放射または伝導される電磁波の測定情報を入力する電磁波情報入力部と、前記設計情報と電磁波情報とに基づいて前記電子機器のどの部分がノイズ源であるかを推定する推定部とを備えたノイズ源推定装置において、前記設計情報入力部と推定部との間に設計情報に基づいて電子機器の電磁波解析を行う解析部を設け、この解析部で解析した結果と電磁波情報入力部からの電磁波情報を電流算出部においてそれぞれの電流分布を算出し、この電流算出部で算出したそれぞれの電流の差分を電流差分算出部において算出し、推定部においてその差分の大きい部分もノイズ源として推定するように構成したことを特徴とするノイズ源推定装置。少なくとも回路基板を内蔵した電子機器の設計情報を入力する設計情報入力処理と、前記電子機器からの放射または伝導される電磁波の測定情報を入力する電磁波情報入力処理と、前記設計情報と電磁波情報とに基づいて前記電子機器のどの部分がノイズ源であるかを推定する推定処理とを行うノイズ源推定方法において、前記設計情報に基づいて電磁波解析を行う電磁波解析処理を行い、この電磁波解析処理により得た値と電磁波情報入力処理から入力される電磁波情報を用いてそれぞれの電流分布を算出し、その両者の差分を算出し、その差分の大きい部分もノイズ源として推定することを特徴とするノイズ源推定方法。しかしながら、従来のノイズ源推定装置およびノイズ源推定方法においては、設計情報、近傍電磁界分布情報からノイズ源を推定する際に、近傍電磁界分布情報においてその絶対値が小さいノイズ源の検出漏れが発生するという課題を有していた。ここで、絶対値が小さいノイズには、電磁妨害EMI:ElectroMagneticInterferenceに大きな影響を及ぼすものもある。また、この電磁妨害は他の機器に影響を与えるため、各国で規制されており、この規制を満たさない製品は出荷することができない。例えば、日本においてはVCCIVoluntaryControlCouncilforInterferencebyDataProcessingEquipmentandElectronicOfficeMachinesによって規制されている。したがって、絶対値が小さいノイズ源の検出漏れにより、EMI対策およびノイズ対策の工数が増大し、商品出荷遅れなどの企業活動にとって致命的な問題につながる場合もある。本発明は、上記従来の課題を解決するものであり、前記ノイズ源の検出漏れがないノイズ源推定装置およびノイズ源推定方法を提供することを目的とする。上記目的を達成するために本発明に関するノイズ源推定装置は、少なくとも回路基板を内蔵した電子機器の設計情報を入力する設計情報入力部と、電子機器から放射または伝導される電磁波の測定情報を入力する電磁波情報入力部と、設計情報と測定情報とに基づいて電子機器のどの部分がノイズ源であるかを推定する推定部とを備えたノイズ源推定装置において、設計情報入力部と推定部との間に設計情報に基づいて電子機器の電磁波解析を行う解析部を設け、この解析部で解析した結果と電磁波情報入力部からの電磁波情報を電流算出部においてそれぞれの電流分布を算出し、この電流算出部で算出したそれぞれの電流の差分を電流差分算出部において算出し、推定部においてその差分の大きい部分もノイズ源として推定するように構成している。本発明のノイズ源推定装置によれば、設計情報と実測情報からそれぞれの電流分布を計算し、その差分が大きい部分もノイズ源として推定するという構成にしたことにより、絶対値が小さいために実測情報だけでは抽出できなかったノイズ源を抽出し、検出漏れを削減するという効果を得ることができる。ここで、絶対値が小さいノイズには、電磁妨害に大きな影響を及ぼすものもある。この電磁妨害は他の機器に影響を与えるため、各国で規制されており、この規制を満たさない製品は出荷することができない。したがって、前記ノイズ源を検出することはEMI対策を実施すべき箇所の検出漏れを削減することになる。すなわち、電子機器のEMI対策およびノイズ対策を効率的に行うことができる。実施の形態以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。図1は本発明を適用したノイズ源推定装置のブロック図である。この構成としては、設計情報入力部102、電磁波情報入力部103に入力される情報がそれぞれ記憶部190に入力される。コマンド入力部101に入力される情報はコマンド解析部104を介して分離部105に出力され、分離部105、取得部106、解析部151、電流算出部152、電流差分算出部153、周波数誤差算出部154、検索部155はそれぞれ順に直列に情報を出力、入力し、これらは記憶部190ともそれぞれ情報を入出力する。取得部106、解析部151、電流差分算出部153、検索部155から出力される情報は推定部156にそれぞれ入力され、推定部156から出力される情報は出力部191に入力される。記憶部190から出力される情報は出力部191にも入力される。また、図2はノイズ源推定装置4を含む系の全体を示している。この構成としては、被測定物1の近傍電磁界を近傍電磁界測定装置2およびノイズ測定装置3を用いて測定し、ノイズ測定装置3はノイズ源推定装置4に接続される。ここで、被測定物1は少なくとも回路基板を内蔵した電子機器、近傍電磁界測定装置2は被測定物1の近傍電磁界を電気信号として変換する装置、ノイズ測定装置3は前記電気信号の周波数特性を表示する装置とする。例えばノイズ測定装置3の一つとして、スペクトラムアナライザがある。以下、本発明の実施の形態であるノイズ源推定装置の動作を示す図3を中心として、ノイズ源推定装置4の構成を動作とともに図3から図18までを用いて説明する。まず、図3のステップS11に示すように、被測定物1の設計情報を設計情報入力部102から入力して記憶部190に記憶する。この設計情報は、例えばCADComputerAidedDesign装置によって作成された情報であり、図12に示す基板構成テーブル10、図13に示す層間テーブル11、図14に示す部品テーブル12、図15に示す端子テーブル13、図16に示す配置テーブル14、図17に示すネットテーブル15、図18に示す配線テーブル16に書き込まれる。これらのテーブルの詳細な内容については、本実施の形態の最終項で詳しく説明する。さて、このように被測定物1の設計情報が記憶部190に記憶されると、図3のステップS12に示すように、ノイズ測定装置3によって測定された被測定物1の近傍電磁界の電磁波情報を電磁波情報入力部103から入力して記憶部190に記憶する。この電磁波情報は、図4に示す近傍電磁界テーブル17に書き込まれる。上記近傍電磁界テーブル17は、図4に示すように、周波数、X座標、Y座標、Z座標ごとに、被測定物1が動作しない状態で測定したときの電界強度あるいは磁界強度を示すノイズフロアフィールドと、被測定物1を動作させたときの電界強度あるいは磁界強度を示すノイズ量フィールドとを備えている。電流値解析、電流値、電磁界ノイズ判定、電流差分判定フィールドに関しては後の動作に関するフィールドとなるため後述する。ここで、例えば図4の2行目に関して左の列から順に説明すると、磁界強度に関して周波数が30[MHz]、被測定物1のノイズ量およびノイズフロアを測定および解析する際の近傍電磁界測定装置2におけるX、Y、Z座標がそれぞれ、0.0[mm]、0.0[mm]、5.0[mm]、前記座標におけるノイズフロアが10.0[dBuV]、ノイズ量が10.0[dBuV]となる。図4の近傍電磁界テーブル17におけるノイズ量の分布を図5に示す。図5において、横方向、縦方向はそれぞれX軸、Y軸を表しており、この時のZ座標は任意の値で一定とする。各セグメント5のパターンの密度は、その領域で測定されたノイズ量あるいはノイズフロアの高低を表しており、パターンの密度が高いすなわち色が濃いほどノイズ量あるいはノイズフロアの値が高い。ここではセグメント53が最もノイズ量が多く、セグメント52、セグメント51、セグメント5の順にノイズ量が少なくなる。図5において、上側が濃いため値が高くなっている。図5に示される内容は、必要に応じてディスプレイ等の出力部191に出力することができる。さて、このようにノイズ測定装置3によって測定された電磁波情報が記憶部190に記憶されると、ユーザは、キーボードやマウスなどのコマンド入力部101を用いてコマンドを入力する。コマンドには、設計情報読み取りコマンド、電磁波情報読み取りコマンド、ノイズ解析コマンド、電磁界解析コマンド、電流算出コマンド、差分算出コマンド、ノイズ源推定コマンドなどの種別があるが、ここではノイズ源推定コマンドが入力されたものと仮定する。このようにコマンドが入力されると、コマンド解析部104は、そのコマンドの種別を解析し、ノイズ源推定コマンドが入力されたことを認識すると分離部105を呼び出す。これによって、図3のステップS13において、分離部105は、記憶部190に記憶されている近傍電磁界テーブル17を参照し、ノイズ量からノイズフロアを差し引いた値が例えば3dB以上など所定値以上を示したときの周波数を特定し、その近傍電磁界テーブル17の判定欄にフラグを立ててノイズを分離する。なお、図4の電磁界ノイズ判定欄に示す○印はフラグが立っていることを表し、一方×印はフラグが立っていないことを表している。次に、図3のステップS14において、取得部106は、記憶部190に記憶されているネットテーブル15から被測定物1内で使用されている周波数情報を取得する。また、図3のステップS15において、記憶部190に記憶されている基板構成テーブル10、層間テーブル11、部品テーブル12、端子テーブル13、配置テーブル14、配線テーブル16から、被測定物1の部材情報を取得する。さらに、図3のステップS16において、記憶部190に記憶されている近傍電磁界テーブル17から、被測定物1の電磁波情報を取得する。これによって、図3のステップS17において、解析部151は、上記取得部106が取得した部材情報などに基づいて、被測定物1の部材ごとにその近傍電磁界を解析する。この近傍電磁界の解析方法には、簡易な解析方法を用いてもよいし、モーメント法やFDTDFiniteDifferenceTimeDomain法など詳細な解析方法を用いてもよい。これら解析技術は公知の技術であるため、ここでは詳しい説明は省略する。ここで、図3のステップS18において、電流算出部152は、上記解析部151によって解析された被測定物1の近傍電磁界情報および記憶部190に記憶されている近傍電磁界テーブル17の被測定物1の近傍電磁界情報のノイズ量からノイズフロアを差し引いたものに対して、被測定物1上におけるそれぞれの電流を算出する。この算出には解析部151と同様の解析技術を用いる。これによって、図3のステップS19において、電流差分算出部153は、上記電流算出部152によって算出された被測定物1の部材情報から算出された電流分布およびノイズ測定装置によって測定された被測定物1の結果から算出された電流分布の差分を算出する。このとき、部材情報、測定情報からそれぞれ算出された電流分布において、X座標、Y座標、Z座標、周波数が両者の同一の座標における電流値の差分を各々算出し、全ての箇所についてこの差分算出を実施する。そして、ある座標において例えば、X座標=X1、Y座標=Y1、Z座標=Z1、周波数=f1、その差分値が例えば3dB以上など所定値以上を示したときに周波数を特定し、その近傍電磁界テーブル17の判定欄にフラグを立てる図4の電流差分判定欄に示す○印はフラグが立っていることを表し、一方×印はフラグが立っていないことを表している。次に、図3のステップS20において、周波数誤差算出部154は、近傍電磁界テーブル17の判定欄にフラグが立てられたレコードを特定し、そのレコードの周波数フィールドに書き込まれている周波数ごとに後述する周波数誤差を算出する。このように周波数誤差算出部154が周波数誤差を直接入力するのではなく、ユーザが周波数誤差を直接入力するようにしてもよいし、あるいは、あらかじめ設定された定数を周波数誤差として用いるようにしてもよい。次に、図3のステップS21において、検索部155は、近傍電磁界テーブル17を参照し、判定欄にフラグが立っているレコードの周波数フィールドに書き込まれている各周波数について、その高調波成分にノイズ成分が存在するかどうか、つまり、その高調波にあたる周波数の判定欄にフラグが立っているかどうかを調べる。例えば、周波数フィールドに30MHzを意味する情報が書き込まれているレコード以下、単に周波数30MHzというの判定欄にフラグが立っている場合、この30MHzの高調波にあたる周波数は60MHz、90MHz、120MHzである。そこで1GHzなど所定周波数になるまで高調波成分を検索し、これら高調波にあたる周波数60MHz90MHz120MHz990MHzの判定欄にフラグが立っているかどうかを調べる。このように高調波成分を検索する際、所定幅の周波数誤差を考慮するのが好ましい。例えば、高調波にあたる周波数が60MHzである場合は、60MHz×0.01を演算することによって0.6MHzを周波数誤差とする。そして、この0.6MHzの周波数誤差を考慮して、周波数59.4MHz~60.6MHzの判定欄にフラグが立っているかどうかを調べる。このように周波数誤差を算出する際に用いる係数は0.01に限定されるものではない。すなわち、高調波にあたる周波数60MHz、90MHz、120MHz、ごとに上記係数を変更するようにしてもよい。これによって、図3のステップS22において、推定部156は、上記検索部155によって検索されたノイズ成分、上記取得部106によって取得された周波数情報、部材情報、電磁波情報、上記解析部151によって解析された結果、上記電流差分算出部153にて算出された結果などに基づいて、被測定物1のどの部分がノイズ源であるかを推定する。すなわち、図3のステップS21でノイズ成分が存在することが判明した場合は、このノイズ成分の周波数をノイズ源の周波数であると推定することができる。例えば、図6に示すように、ノイズ源が配置された電子機器の近傍電磁界を測定したところ、周波数が30MHzにおける電磁界分布の強度が図5であったものと仮定する。ここで、図6において、ノイズ源には該当するセグメント54に×印を付している。また、この電子機器の設計情報から近傍電磁界を解析した電磁界分布の強度が図7であったものと仮定する。この場合、従来の手法においては図5の上側のみノイズ源として抽出され、絶対値が小さい下側中央部分はノイズ源として抽出されない。しかし、本手法を用いると、被測定物1を測定したものと、被測定物1の設計情報から解析したものとを比較、すなわち図5と図7の差分が生じている下側中央部分セグメント52を抽出することが可能である。ここで、上記絶対値が小さいノイズ源について一例を示す。被測定物1として図8のような簡易試験用の基板を用いる。この基板は第1層に信号線6を1本配置し、第2層にグランドプレーン7を配置し、第1層と第2層の間には絶縁層が挟まれている。ただし、グランドプレーン7は基板中央部8にて左右2つに分割されているものとする。すなわち、基板中央部8にて第1層の信号線6の直下にはグランドプレーン7が存在しない。この基板の信号線に電流を流した際の近傍磁界測定結果を図9に示す。図9において、ここでは各単位の詳細は記載しないが、縦方向はノイズ量を表しており、上に行くほど値が高くなるものとする。したがって、基板中央部8に該当する部分においてノイズ量が相対的に大きくなっている。この場合、基板中央部8に該当する部分のノイズ量の絶対値が小さいと、従来の手法においてはこの部分はノイズ源として抽出されない。また、この基板の設計情報から近傍磁界を解析した磁界分布の強度を図10に示す。図10において、基板中央部8に該当する部分は、それ以外の部分すなわち信号線6の直下にグランドプレーン7がある部分と同等のノイズ量を示している。ここで、本手法を用いることにより、図9と図10の差分が生じている基板中央部8に該当する部分を抽出することが可能となる。ノイズ源が推定できたら、その推定結果はディスプレイなどの出力部191へ出力される。この出力形態は、ユーザが視覚的に被測定物1のどの部分がノイズ源であるかを即座に判断できる形態としておく。例えば、図6に示すように、推定したノイズ源そのものを出力する。この場合、ユーザが表示切り替えコマンドを入力することにより、測定した電磁界分布の強度を示す図5や、あるいは設計情報から解析した電磁界分布の強度を示す図7や、両者の結果から被測定物1上の電流をそれぞれ算出し、その差分を示す図11などの出力も可能である。ここではある周波数例えば、30MHzについて説明したが、ユーザが表示する周波数の範囲を自由に設定し、任意の電磁界分布を表示できる。複数のノイズ源が見つかった場合は、その全てをノイズ源の候補として出力してよい。あるいは、部材に流れる信号の電源電圧の高い順にソートし、その上位のみをノイズ源の候補として出力してもよい。さらには、上記電流算出部152にて算出された電流値の差分が大きい順にソートし、その上位のみをノイズ源の候補として出力してもよい。以上のように、本発明によれば、被測定物1の設計情報に基づいて、被測定物1のどの部分がノイズ源であるかを推定することができるので、迅速にEMI対策を施すことができる。なお、上記の説明では、60MHz、90MHz、120MHz、、990MHzというように、所定周波数になるまで高調波成分を検索することとしているが、本発明はこれに限定されるものではない。また、ノイズの放射量は、上記基本周波数の他、その部材に流れる信号の立ち上り時間、あるいは立ち下り時間にも依存する。すなわち、基本周波数の低い信号でもその立ち上り時間あるいは立ち下り時間が短いと、高い周波数まで強い電磁波が放射されることになる。そこで、上記立ち上り時間が所定値例えば5ns以下の部材や、上記立ち下り時間が所定値例えば5ns以下の部材のみをノイズ源の候補とするようにしてもよい。すなわち、推定部156において、特定の部材例えば、上記立ち上り時間が5ns以下の部材のみ選択することでこの部材のみをノイズ源の候補とする。さらに、複数のノイズ成分がノイズ源の候補として挙がった場合例えば、10MHz、15MHz、20MHz、30MHz、40MHz、45MHzのノイズ成分が測定された場合、これらノイズ成分の周波数が、上記ネットテーブル15の周波数フィールドに書き込まれていないときがある。このときは、低い周波数の高調波にあたる周波数例えば、10MHzの高調波にあたる周波数20MHz、30MHz、40MHzはノイズ源の候補から除外してもよい。あるいは、ノイズ源の候補としての優先順位を下げるようにしてもよい。また、ノイズ源の候補が複数ある場合は、周波数が高いノイズ源の候補の優先順位を上げるようにしてもよい。ここで、10から16までの各テーブルについての中身を詳しく説明する。これらのテーブルは回路基板に関連したものであるが、回路基板を内蔵した電子機器の場合においても、これらのテーブルを電子機器全体に関する情報へ拡張することで、本発明の適用が可能である。基板構成テーブル10は、図12に示すように回路基板を構成する各層名フィールドと、これら各層に流れる信号種類フィールドとを備えている。また、上記層間テーブル11は、図13に示すように回路基板における層間の厚さフィールドを備えている。これらテーブル10、11に書き込まれる情報は、基板外形の情報とともに当該ノイズ源推定装置4へ入力される。ここでは、4層のプリント配線板を設計対象とした場合を想定し、また、第1層と第4層とが信号線用、第2層が0Vのグランド用、第3層が5Vの電源用である場合を例示している。上記部品テーブル12は、図14に示すように回路基板に含まれる部品ごとに、その部品番号、部品名、端子数、形状、長さ、幅の各フィールドを備えている。この形状フィールドに例示したSOPはSmallOutlinePackageの略語である。上記端子テーブル13は、図15に示すように回路基板に含まれる部品ごとに、その端子番号、属性、立ち上がり時間、立ち下り時間の各フィールドを備えている。この属性フィールドに例示したINは、当該端子が入力端子であることを示し、一方OUTは、当該端子が出力端子であることを示している。上記配置テーブル14は、図16に示すように回路基板に配置された部品ごとに、その配置位置を示す座標フィールド、配置角度フィールド、および配置面フィールドを備えている。設計段階において回路基板に部品を配置する手法は、例えば手動配置など一般的な手法でよい。上記ネットテーブル15は、図17に示すように回路基板に含まれる一連の信号線以下ネットというごとに、その名称を示すネット名フィールド、当該ネットに接続される端子の名称を示す接続端子名フィールド、当該ネットを流れる信号の周波数フィールド、および電位フィールドを備えている。ここでは、net2という名称のネットは33MHzの信号線であり、net100という名称のネットは0Vのグランドであり、net200という名称のネットは5Vの電源である場合を例示している。上記配線テーブル16は、図18に示すように上記ネットごとに、その種類フィールドと、当該ネットの箔やプレーンの構成座標を示す構成座標フィールドとを備えている。ここでいうプレーンとは、グランドプレーンや電源プレーンなどのことである。また、ネットの箔やプレーンの構成座標とは、ネットの箔やプレーンを構成する点例えば、ネットの箔を線分で表すことができる場合は当該線分の両端点の座標のことである。