"レーザ光の照射を受けることにより測定対象物が発する蛍光の蛍光信号を処理する蛍光検出装置であって、レーザ光を、所定の周波数の変調信号で強度変調して出射する光源部と、前記レーザ光に照射されて発する測定対象物の蛍光を受光して、出力レベルの調整された蛍光信号を出力する、前記出力レベルの調整が可能な受光素子、を備える受光部と、前記蛍光信号を前記周波数の変調信号とミキシングすることにより、位相および強度の情報を含む蛍光データを生成する第1の処理部と、前記蛍光データを用いて、前記蛍光の、前記変調信号に対する第1の位相ずれを算出し、算出した前記第1の位相ずれに対して、前記出力レベルの調整条件に応じた補正をして第2の位相ずれを算出し、算出した前記第2の位相ずれを用いて前記蛍光の蛍光緩和時間を算出する第2の処理部と、を有することを特徴とする蛍光検出装置。前記受光部は、前記受光素子に与える調整パラメータ値により、前記出力レベルを調整する調整部を有する、請求項1に記載の蛍光検出装置。前記第2の処理部は、前記補正を行うとき、前記調整パラメータ値に応じて定まる補正式を用いる、請求項2に記載の蛍光検出装置。前記第2の処理部は、前記補正式に用いる定数の値を予め記憶し、前記補正を行うとき、前記定数の値を呼び出して用いる、請求項3に記載の蛍光検出装置。前記第2の処理部は、前記受光素子に与える調整パラメータ値を予め変更することにより、前記調整パラメータ値と前記出力レベルとの関係を求め、前記関係が前記受光素子の出力レベルの飽和を表していないとき、前記補正式に用いる前記定数の値を抽出する出力レベル調整部を有する、請求項3または4に記載の蛍光検出装置。蛍光緩和時間が既知の基準対象物を測定対象物として用いて前記第2の位相ずれから算出される蛍光緩和時間が、前記補正により、前記基準対象物の既知の蛍光緩和時間に近似するように、前記出力レベル調整部は前記定数の値を抽出する、請求項5に記載の蛍光検出装置。前記受光素子は光電子増倍管であり、前記調整パラメータ値は、前記光電子増倍管の電極に印加する電圧である、請求項2~6のいずれか1項に記載の蛍光検出装置。前記電極に印加する電圧をV、前記第1の位相ずれをθmeas、前記第2の位相ずれをθτ、としたとき、前記補正式は、下記式で表される、請求項7に記載の蛍光検出装置。θτ=X-θmeas-AVXおよびAは定数。前記受光素子の受光面の前面には、調整可能な減光フィルタが設けられる、請求項1~8のいずれか1項に記載の蛍光検出装置。レーザ光の照射を受けることにより測定対象物が発する蛍光の蛍光信号を処理する蛍光検出装置の蛍光検出方法であって、レーザ光を、所定の周波数の変調信号で強度変調して出射するステップと、前記レーザ光に照射されて発する測定対象物の蛍光を受光素子で受光して、出力レベルの調整された蛍光信号を出力するステップと、前記蛍光信号を前記所定の周波数の変調信号とミキシングすることにより、位相および強度の情報を含む蛍光データを生成するステップと、前記蛍光データを用いて、前記蛍光の、前記変調信号に対する第1の位相ずれを算出し、算出した前記第1の位相ずれに対して、前記出力レベルの調整条件に応じた補正をして第2の位相ずれを算出し、算出した前記第2の位相ずれを用いて前記蛍光の蛍光緩和時間を算出するステップと、を有することを特徴とする蛍光検出方法。レーザ光の照射を受けることにより、蛍光緩和時間が既知の基準対象物が発する蛍光の蛍光信号を蛍光検出装置が処理する方法であって、レーザ光を、所定の周波数の変調信号で強度変調して出射する第1のステップと、前記レーザ光に照射されて発する基準対象物の蛍光を受光素子で受光して、出力レベルの調整された蛍光信号を出力する第2のステップと、前記蛍光信号を前記所定の周波数の変調信号とミキシングすることにより、位相および強度の情報を含む蛍光データを生成する第3のステップと、前記蛍光データを用いて、前記蛍光の、前記変調信号に対する第1の位相ずれを算出し、算出した前記第1の位相ずれと、前記出力レベルを調整するために、前記受光素子に与える調整パラメータ値とを組にして記憶する第4のステップと、前記調整パラメータ値を変更して、前記第1のステップ~前記第4のステップを繰り返すことにより、前記第1の位相ずれと前記調整パラメータ値の組を複数組記憶する第5のステップと、記憶した前記複数組を呼び出し、前記調整パラメータ値と前記第1の位相ずれとの関係を定める回帰式を、呼び出した前記複数組の関係に近似させることにより、前記回帰式に含まれる未知の定数の値を抽出する第6のステップと、抽出した前記定数の値を記憶する第7のステップと、を有する蛍光信号を処理する方法。前記第1のステップ~前記第4のステップを繰り返す度に、前記出力レベルが減少するように、前記調整パラメータ値を変更する、請求項11に記載の蛍光信号を処理する方法。前記受光素子に受光される前記蛍光は、前記受光素子の出力する前記蛍光信号の出力レベルが飽和しないように、前記受光素子に受光される前に、減光フィルタにより減光される、請求項11または12に記載の蛍光信号を処理する方法。上記蛍光緩和時間の算出に用いる位相ずれは、蛍光を受光する光電変換器自体の特性に起因する位相ずれ、装置におけるレーザ光や蛍光の光路長の他、電気回路長による位相ずれの影響を除いて算出される。しかし、上記蛍光緩和時間の算出に用いる位相ずれは、光電変換器から出力される蛍光信号の出力レベルに応じて微妙に変化するので、必ずしも、正確な蛍光緩和時間の値が算出されない場合があった。特に、FRETFluorescenceResonanceEnergyTransferの有無の判定等においては、蛍光緩和時間の値を正確に算出することが望まれる。そこで、本発明は、上記問題点を解決するために、測定対象物が、レーザ光の照射を受けることにより発する蛍光の蛍光信号を処理するとき、正確な蛍光緩和時間を算出することができる蛍光検出装置および蛍光検出方法と、この蛍光検出装置および蛍光検出方法に用いる、蛍光信号を信号処理する方法を提供することを目的とする。本発明の一態様は、レーザ光の照射を受けることにより測定対象物が発する蛍光の蛍光信号を処理する蛍光検出装置である。当該蛍光検出装置は、レーザ光を、所定の周波数の変調信号で強度変調して出射する光源部と、前記レーザ光に照射されて発する測定対象物の蛍光を受光して、出力レベルの調整された蛍光信号を出力する、前記出力レベルの調整が可能な受光素子、を備える受光部と、前記蛍光信号を前記周波数の変調信号とミキシングすることにより、位相および強度の情報を含む蛍光データを生成する第1の処理部と、前記蛍光データを用いて、前記蛍光の、前記変調信号に対する第1の位相ずれを算出し、算出した前記第1の位相ずれに対して、前記出力レベルの調整条件に応じた補正をして第2の位相ずれを算出し、算出した前記第2の位相ずれを用いて前記蛍光の蛍光緩和時間を算出する第2の処理部と、を有する。前記受光部は、前記受光素子に与える調整パラメータ値により、前記出力レベルを調整する調整部を有する、ことが好ましい。その際、前記第2の処理部は、前記補正を行うとき、前記調整パラメータ値に応じて定まる補正式を用いる、ことが好ましい。さらに、前記第2の処理部は、前記補正式に用いる定数の値を予め記憶し、前記補正を行うとき、前記定数の値を呼び出して用いる、ことが好ましい。また、前記第2の処理部は、前記受光素子に与える調整パラメータ値を予め変更することにより、前記調整パラメータ値と前記出力レベルとの関係を求め、前記関係が前記受光素子の出力レベルの飽和を表していないとき、前記補正式に用いる前記定数の値を抽出する出力レベル調整部を有する、ことが好ましい。その際、蛍光緩和時間が既知の基準対象物を測定対象物として用いて前記第2の位相ずれから算出される蛍光緩和時間が、前記補正により、前記基準対象物の既知の蛍光緩和時間に近似するように、前記出力レベル調整部は前記定数の値を抽出する、ことが好ましい。前記受光素子は、例えば光電子増倍管であり、前記調整パラメータ値は、前記光電子増倍管の電極に印加する電圧である。そのとき、前記電極に印加する電圧をV、前記第1の位相ずれをθmeas、前記第2の位相ずれをθτ、としたとき、前記補正式は、下記式で表される、ことが好ましい。θτ=X-θmeas-AVXおよびAは定数。また、前記受光素子の受光面の前面には、調整可能な減光フィルタが設けられる、ことが好ましい。本発明の他の一態様は、レーザ光の照射を受けることにより測定対象物が発する蛍光の蛍光信号を処理する蛍光検出装置の蛍光検出方法である。当該方法は、レーザ光を、所定の周波数の変調信号で強度変調して出射するステップと、前記レーザ光に照射されて発する測定対象物の蛍光を受光素子で受光して、出力レベルの調整された蛍光信号を出力するステップと、前記蛍光信号を前記所定の周波数の変調信号とミキシングすることにより、位相および強度の情報を含む蛍光データを生成するステップと、前記蛍光データを用いて、前記蛍光の、前記変調信号に対する第1の位相ずれを算出し、算出した前記第1の位相ずれに対して、前記出力レベルの調整条件に応じた補正をして第2の位相ずれを算出し、算出した前記第2の位相ずれを用いて前記蛍光の蛍光緩和時間を算出するステップと、を有する。本発明のさらに他の一態様は、レーザ光の照射を受けることにより、蛍光緩和時間が既知の基準対象物が発する蛍光の蛍光信号を蛍光検出装置が処理する方法である。当該方法は、レーザ光を、所定の周波数の変調信号で強度変調して出射する第1のステップと、前記レーザ光に照射されて発する基準対象物の蛍光を受光素子で受光して、出力レベルの調整された蛍光信号を出力する第2のステップと、前記蛍光信号を前記所定の周波数の変調信号とミキシングすることにより、位相および強度の情報を含む蛍光データを生成する第3のステップと、前記蛍光データを用いて、前記蛍光の、前記変調信号に対する第1の位相ずれを算出し、算出した前記第1の位相ずれと、前記出力レベルを調整するために、前記受光素子に与える調整パラメータ値とを組にして記憶する第4のステップと、前記調整パラメータ値を変更して、前記第1のステップ~前記第4のステップを繰り返すことにより、前記第1の位相ずれと前記調整パラメータ値の組を複数組記憶する第5のステップと、記憶した前記複数組を呼び出し、前記調整パラメータ値と前記第1の位相ずれとの関係を定める回帰式を、呼び出した前記複数組の関係に近似させることにより、前記回帰式に含まれる未知の定数の値を抽出する第6のステップと、抽出した前記定数の値を記憶する第7のステップと、を有する。その際、前記第1のステップ~前記第4のステップを繰り返す度に、前記出力レベルが減少するように、前記調整パラメータ値を変更する、ことが好ましい。また、前記受光素子に受光される前記蛍光は、前記受光素子の出力する前記蛍光信号の出力レベルが飽和しないように、前記受光素子に受光される前に、減光フィルタにより減光される、ことが好ましい。上記態様の蛍光検出装置および蛍光検出方法では、測定対象物が、レーザ光の照射を受けることにより発する蛍光の蛍光信号を処理するとき、正確な蛍光緩和時間を算出することができる。また、上記一態様の蛍光信号を信号処理する方法では、正確な蛍光緩和時間を算出するための補正式に用いる定数の値を効率よく決定することができる。以下、本発明の蛍光検出装置、蛍光検出方法、および蛍光信号を処理する方法を詳細に説明する。図1は、本実施形態の蛍光検出装置を用いたフローサイトメータ10の概略構成図である。フローサイトメータ10は、信号処理装置20と、分析装置コンピュータ80とを有する。信号処理装置20は、測定対象とする試料12にレーザ光を照射し、試料12が発する蛍光の蛍光信号を検出して信号処理をする。分析装置コンピュータ80は、信号処理装置20で得られた処理結果から蛍光強度や蛍光緩和時間を算出する。試料12の例として、蛍光蛋白蛍光色素X1を付けた細胞分析対象物X2により構成される測定対象物を用いて以降説明する。本実施形態では、蛍光蛋白以外の蛍光色素を用いることもできる。分析対象物も、細胞以外に、DNA、RNA、酵素、蛋白等の生体物質の他、人工的に作製されたマイクロビーズ等を用いることもできる。なお、図1に示す試料12は、例えば、細胞X2内に蛍光蛋白X1が進入し、蛍光蛋白X1が細胞X2内に取り込まれて分散した構成である。細胞X2に付着する蛍光蛋白X1は1つには限定されず、複数であってもよい。信号処理装置20は、レーザ光源部22と、受光部24、26と、制御処理部28と、管路30と、を有する。制御処理部28は、レーザ光源部22からのレーザ光を所定の周波数で強度変調させる制御部、及び試料12が発する蛍光の蛍光信号を処理する信号処理部を含む。管路30は、高速流を形成するシース液に含ませることで試料12のフローを形成する。管路30の出口には、回収容器32が設けられている。フローサイトメータ10には、レーザ光の照射により短時間内に試料12中の所定の細胞等の生体物質を分離するためのセルソータを配置して別々の回収容器に分離するように構成することもできる。レーザ光源部22は、所定の波長のレーザ光を出射する部分である。レーザ光は、管路30中の所定の位置に集束するようにレンズ系が設けられ、この集束位置で試料12の測定点が形成される。図2は、レーザ光源部22の構成の一例を示す図である。レーザ光源部22は、可視光帯域の波長を有し、強度変調したレーザ光を出射する。レーザ光源部22は、光源22aを有する。光源22aは、蛍光蛋白X1を励起する波長を有するレーザ光LをCW連続波レーザ光として出射し、かつこのレーザ光Lの強度を所定の周波数fの変調信号で強度変調しながら出射する。さらに、レーザ光源部22は、レンズ系23と、レーザドライバ34と、を有する。レンズ系23は、レーザ光Lを管路30中の中心に集束させ測定点を形成させる。レーザドライバ34は、光源22aを駆動する。レーザ光Lを出射する光源として例えば半導体レーザが用いられる。レーザ光Lは、例えば5~100mW程度を出力する。一方、レーザ光Lの強度変調に用いる周波数変調周波数fは、その周期が蛍光緩和時間に比べてやや長く、例えば10~50MHzである。光源22aは、レーザ光Lが蛍光色素を励起して特定の波長帯域の蛍光を発するように、予め定められた波長帯域で発振する。レーザ光Lによって励起される試料12は管路30の測定点を通過する際、測定点でレーザ光Lの照射を受ける。このとき、蛍光蛋白X1が特定の波長で蛍光を発する。受光部24は、管路30を挟んでレーザ光源部22と対向するように配置されている。受光部24は、測定点を通過する試料12によって前方散乱したレーザ光を受光することにより、試料12が測定点を通過することを知らせる試料12の検出信号を出力する光電変換器を備える。この受光部24から出力される検出信号は、制御処理部28および分析装置80に供給され、試料12が管路30中の測定点を通過するタイミングを知らせて処理を開始するトリガ信号、処理開始のON信号、OFF信号として用いられる。一方、受光部26は、レーザ光源部22から出射されるレーザ光の出射方向に対して垂直方向であって、かつ管路30中の試料12の移動方向に対して垂直方向に配置されており、測定点にて照射された試料12が発する蛍光を受光する光電子増倍管を備える。本実施形態では、光電子倍増管の代わりにアバランシェフォトダイオード等の公知の光電変換器を用いることもできる。図3は、受光部26の一例の概略の構成を示す概略構成図である。図3に示す受光部26は、試料12からの蛍光信号を集束させるレンズ系26aと、NDフィルタ26bと、バンドパスフィルタ26cと、電圧調整部26dと、光電子増倍管受光素子27と、を有する。レンズ系26aは、受光部26に入射した蛍光を光電子増倍管27の受光面に集束させるように構成されている。NDフィルタ26bは、受光部26に入射した蛍光を減光する。受光部26がNDフィルタ26bを用いるのは、後述するように、光電子増倍管27の陽極に印加するコントロール電圧を最大にしても、蛍光信号の出力レベルが飽和しないように蛍光を減光するためである。バンドパスフィルタ26cは、光電子増倍管27の受光面の前面に設けられ、所定の波長帯域の蛍光のみを透過させるフィルタである。光電子増倍管27は、光電面で受光した光を電気信号に変換し、蛍光信号を出力する受光素子である。ここで出力される蛍光信号は、出力レベルが調整されている。光電子増倍管27が受光する蛍光は、所定の周波数で強度変調を受けたレーザ光に基づくので、出力される蛍光信号も所定の周波数で強度が変動する。この蛍光の受光によって出力される蛍光信号は、制御処理部28に供給される。図4は、光電子増倍管27の概略の構成を示す図である。光電子増倍管27は、例えば104Pa程度の真空雰囲気を維持する真空容器内に、受光面を表面に持つ陰極27aと、集束電極27bと、光電子増倍部27cと、陽極27d1~27d11と、を有し、真空容器の外側にステム27eを有する。陰極27aに光が入射されると、陰極27aの光電面から真空容器内の真空中に光電子が放出される。この光電子は集束電極27bによって光電子増倍部27cに導かれる。光電子は陽極27d1により引っ張られて光電子増倍部27cのダイノード27c1に衝突して、ダイノード27c1は二次電子を放出する。さらに、ダイノード27c1で放出された二次電子はダイノード27c2の前面に設けられた陽極27d2により引っ張られてダイノード27c2に衝突してダイノード27c2は更に二次電子を放出する。こうして、陽極27dnに引っ張られてダイノード27c3~ダイノード27c10に衝突し、さらに、ダイノード27c3~ダイノード27c10から二次電子が順次放出されて、電子が増倍される。増倍された電子は、陽極27d11により引っ張られてダイノード27c11に集められることにより、ステム27eを介して蛍光電流が生成される。このとき陽極27d1~27d11に印加される電圧によって電子の移動速度は決定され、この電子の移動速度によって、ダイノード27c1~ダイノード27c10に衝突する電子のエネルギーは定まる。このため、陽極27d1~27d11に印加される電圧によって、ダイノード27c1~ダイノード27c10で放出される二次電子の量は調整される。フローサイトメータ10は、上記陽極27d1~27d11に印加する電圧を、蛍光信号蛍光電流の出力レベルを制御するコントロール電圧として用いる。電圧調整部26d図3参照は、蛍光信号の出力レベルを制御するコントロール電圧を設定して光電子増倍管27に印加する。電圧調整部26dは、後述する分析装置80の出力レベル調整部94の指示に応じてコントロール電圧を設定する。電圧調整部26dは、光電子増倍管27に印加したコントロール電圧の情報を後述する位相ずれ補正部88図6参照に提供する。制御処理部28は、図5に示すように、信号生成部40と、信号処理部42と、信号制御部44と、を有する。信号生成部40は、レーザ光Lの強度を所定の周波数fで変調するための変調信号を生成する。具体的には、信号生成部40は、発振器46、パワースプリッタ48及びアンプ50,52を有する。信号生成部40は、生成される変調信号を、レーザ光源部22のレーザドライバ34に供給するとともに、信号処理部42に供給する。信号処理部42に変調信号を供給するのは、後述するように、光電子増倍管27から出力される蛍光信号を検波するための参照信号として用いるためである。なお、変調信号は、DC成分に所定の周波数の正弦波信号が載った信号であり、10~50MHzの範囲の周波数に設定される。信号処理部42は、光電子増倍管27から出力される蛍光信号を用いて、レーザ光の照射により発する蛍光の位相ずれ情報を抽出する。信号処理部42は、アンプ54と、IQミキサ58と、ローパスフィルタ62と、を有する。アンプ54は、光電子増倍管27から出力される蛍光信号を増幅する。IQミキサ58は、光電子増倍管27から供給される蛍光信号を、信号生成部40から供給される変調信号を参照信号としてミキシングする装置である。具体的には、IQミキサ58は、参照信号を蛍光信号RF信号と乗算して、変調信号と同相の成分を含む、蛍光信号のI信号と、変調信号に対して90度位相のシフトした成分を含む蛍光信号のQ信号とを生成する。同相の成分を含むI信号は、変調信号と蛍光信号をミキシングすることにより生成され、90度位相のシフトした成分を含むQ信号は、90度位相のシフトした変調信号と蛍光信号をミキシングすることにより生成される。ローパスフィルタ62は、IQミキサ58で生成されたI信号、Q信号の低周波信号をろ過する。このろ過により、変調信号と同相の、蛍光信号の成分Re成分と、変調信号に対して90度位相のシフトした、蛍光信号の成分Im成分が、蛍光データとして取り出される。取り出された各成分は、信号制御部44に送られる。以降では、IQミキサ58によるミキシング処理とローパスフィルタ62によるフィルタリング処理を含む処理を周波数ダウン変換処理といい、この処理により得られるデータを蛍光データという。信号制御部44は、信号処理部42から送られた蛍光信号のRe成分およびIm成分を増幅し、AD変換を行う。具体的には、信号制御部44は、各部分の動作制御のための指示を与えるとともに、フローサイトメータ10の全動作を管理するシステムコントローラ60と、信号処理部42で生成されたRe成分およびIm成分を増幅するアンプ64と、増幅されたRe成分およびIm成分をサンプリングするA/D変換器66と、を有する。アンプ64およびA/D変換器66は、後述する分析装置80内で行われることもできる。分析装置80は、信号制御部44にてAD変換されて得られるRe成分、Im成分から、レーザ光に対する蛍光の位相ずれ角を求め、さらに、この位相ずれ角から蛍光緩和時定数蛍光緩和時間を求める。また、分析装置80は、Re成分、Im成分から蛍光強度を求める。図6は、分析装置80の概略の構成を示す図である。分析装置80は、CPU82およびメモリ84を備えるコンピュータで構成される。分析装置80は、さらに、位相ずれ算出部86と、位相ずれ補正部88と、蛍光緩和時間算出部90と、蛍光強度算出部92と、出力レベル調整部94と、を有する。これらの各部分は、コンピュータ上でソフトウェアが起動されることにより、機能を発揮するソフトウェアモジュールである。勿論、これらの部分を専用回路で構成することもできる。位相ずれ算出部86は、蛍光蛋白X1の発する蛍光の蛍光データについて、Re成分を実数部としIm成分を虚数部とする複素数の偏角tan1蛍光データのIm成分/蛍光データのRe成分を、位相ずれ角θmeasとして算出する。位相ずれ算出部86は、位相ずれ角θmeasを位相ずれ補正部88に提供する。位相ずれ補正部88は、位相ずれ算出部86において算出した位相ずれ角θmeasに対して、光電子増倍管27の陽極27d1~d11に印加したコントロール電圧調整パラメータ値に応じた補正を行うことにより、すなわち、電圧調整部26dを介した蛍光信号の出力レベルの調整条件に応じた補正を行うことにより、蛍光蛋白X1が発する蛍光に由来した位相ずれ角θτを算出する。この補正は、光電子増倍管27における光電子および二次電子の移動速度が変化することによって生じる位相ずれ角θの変化を防止し、正確な蛍光緩和時間を算出するために行われる。光電子増倍管27では、コントロール電圧により、光電子および二次電子の移動速度は異なる。したがって、位相ずれ角θmeasに対して、設定したコントロール電圧に応じた補正が行われる。光電子増倍管27において二次電子が生成されるダイノードと二次電子が引っ張られる陽極間の距離lを用いて、光電子および二次電子が移動する時間tは下記式1で表される。t=2ml2/V/q1mは電子の質量、qは電子の電荷量、Vはコントロール電圧。一方、位相ずれ角θは、時間tに比例する。したがって、光電子増倍管27内を電子が移動する時間により生じる位相ずれ角光電子倍増管27に由来する位相ずれ角θpmtは、定数Bを付加してθpmt=AVBで表される。なお、A、Bは定数である。一方、位相ずれ算出部86で算出される位相ずれ角θmeasは、下記式2で表すことができる。θmeas=θ0-θpmtθdθτ2上記式2において、θ0は基準とする位相ずれ角定数であり、θpmtは光電子倍増管27に由来する位相ずれ角であり、θdはフローサイトメータ10におけるレーザ光および蛍光の経路長と蛍光信号の電気回路長に由来する位相ずれ角であり、θτは蛍光蛋白X1の発する蛍光に由来する位相ずれ角である。したがって、蛍光蛋白X1の発する蛍光に由来する位相ずれ角θτは、下記式3に示すように表される。θτ=θ0-θpmtθdθmeas3上記式3にθpmt=AVBを代入することにより、下記式4となる。θτ=X-θmeas-AV4ただし、Xは、X=θ0-B-θdで表され、コントロール電圧に依存しない定数である。分析装置80のメモリ84は、上記定数Xと定数Aの値を予め記憶している。位相ずれ補正部88は、定数Xと定数Aの値をメモリ84から呼び出して式4に付与して補正式を用意する。これにより、位相ずれ補正部88は、位相ずれ算出部86から提供された位相ずれ角θmeasと電圧調整部26dから提供されたコントロール電圧Vから、用意された補正式を用いて位相ずれ角θτを算出する。位相ずれ補正部88は、算出した位相ずれ角θτを蛍光緩和時間算出部90に提供する。蛍光緩和時間算出部90は、位相ずれ補正部88で算出された位相ずれ角θτを用いて、蛍光蛋白X1の蛍光緩和時間τをτ=1/2πftanθτの式にしたがって算出する。ここで、fは、レーザ光Lの強度変調に用いた周波数である。蛍光緩和時間τをτ=1/2πftanθτの式にしたがって算出することができるのは、蛍光現象が、1次の緩和過程に沿った変化を示すからである。蛍光強度算出部92は、AD変換器66から送られた蛍光データについて、Re成分を実数部としIm成分を虚数部とする複素数の絶対値を求めることで、蛍光蛋白X1が発する蛍光の蛍光強度を算出する。算出された蛍光蛋白X1の蛍光強度、位相ずれ角θτおよび蛍光緩和時間τは、図示されないプリンタやディスプレイ等の出力装置に結果情報として出力される。また、この結果情報は、試料12が管路30の測定点を通過する度に得られる測定結果として、統計処理の対象とされる。出力レベル調整部94は、光電子増倍管27に印加するコントロール電圧を定めるための制御信号を生成する。コントロール電圧は、光電子増倍管27から出力される蛍光信号の出力レベルが飽和しない範囲で自在に設定される。出力レベル調整部94は、少なくとも光電子増倍管27に印加する現在のコントロール電圧の情報を取得している。また、出力レベル調整部94は、定数Xおよび定数Aの値を算出するために、後述するキャリブレーションを行う。図7aは、定数Xおよび定数Aの値が付与されて用意された補正式から求まる、蛍光蛋白Qdot555の蛍光の位相ずれ角θmeasと、フローサイトメータ10を用いて分析装置80が算出した実測の位相ずれ角θmeasとを比較したグラフである。図7bは、定数Xおよび定数Aの値が付与されて用意された補正式から求まる、蛍光蛋白PerCPの蛍光の位相ずれ角θmeasと、フローサイトメータ10を用いて分析装置80が算出した実測の位相ずれ角θmeasとの比較したグラフである。ここで、蛍光蛋白Qdot555およびPerCPの蛍光緩和時間τは既知であるので、位相ずれ角θτは、θτ=tan12πfτで算出される値を用いた。図7a,b中の曲線が補正式による位相ずれ角θmeasの算出結果であり、●が位相ずれ角θmeasの実測結果である。図7a,bから判るように、補正式は、実測結果に極めて一致していることがわかる。これより、補正式を用いた補正、すなわち、式4で算出される位相ずれ角θτは、精度の高い蛍光緩和時間を算出することができる。次に、フローサイトメータ10で行われる蛍光検出方法について説明する。まず、フローサイトメータ10は、所定の周波数fで強度変調したレーザ光を照射光としてレーザ光源部22から出射する。次に、受光部26は、蛍光を受光して蛍光信号を出力する。制御処理部28は、出力した蛍光信号を、レーザ光Lを強度変調する変調信号とミキシングすることにより、変調信号に対する蛍光信号の位相ずれ角と強度振幅を含む蛍光データを生成する。分析装置80の位相ずれ算出部86は、生成した蛍光データから、位相ずれ角θmeasを算出する。位相ずれ補正部88は、算出した位相ずれ角θmeasを、定数X及び定数Aの値が付与された補正式である式4に沿って位相ずれ角θτを算出する。さらに、蛍光緩和時間算出部90は、位相ずれ角θτを用いて、蛍光蛋白X1の蛍光緩和時間τをτ=tanθτ/2πfの式にしたがって算出する。一方、蛍光強度算出部92は、生成した蛍光データの絶対値を求めて蛍光強度を算出する。算出された蛍光緩和時間、位相ずれ角θτ及び蛍光強度は、図示されない出力装置から出力される。図8は、フローサイトメータ10を用いて、メモリ84に記憶する定数X,Aの値を決定するキャリブレーションのフローの例を示す図である。定数X,Aの値を決定する際、フローサイトメータ10で測定に用いる蛍光蛋白X1は蛍光緩和時間τが既知のものである。まず、分析装置80の出力レベル調整部94は、光電子増倍管以降、PMTという27のコントロール電圧Vを最大化させるステップS10。コントロール電圧Vの最大化は、微量な蛍光であっても高感度に蛍光を検出できるようにするためでる。コントロール電圧の調整は、電圧調整部26dを通して行われる。次に、分析装置80の出力レベル調整部94は、NDフィルタ26bを適宜調整するステップS20。NDフィルタによる減光を行うのは、PMT27のコントロール電圧を最大化してPMT27を最高感度の状態にするとき、光量に対するPMT27の蛍光信号の出力レベルが飽和しないようにするためである。NDフィルタ26bは、例えば、最大減光と最小減光の中間に設定される。次に、光源22aは、周波数fで強度変調したレーザ光Lを照射するステップS30。これにより、測定点を通過したとき、レーザ光Lの照射を受けた試料12が発する蛍光をPMT27は受光する。これにより、PMT27はコントロール電圧Vによって調整された出力レベルで、蛍光信号を出力するステップS40。蛍光信号は、信号処理部42および信号制御部44で処理されて、Re成分とIm成分を含む蛍光データが生成されるステップS50。次に、分析装置80の蛍光強度算出部92は、蛍光データから蛍光強度を算出するステップS60。蛍光強度は、蛍光データの絶対値で表される。次に、設定されているコントロール電圧Vが、所定の電圧以下であるか否かを出力レベル調整部94は判定するステップS70。判定結果が否定である場合、出力レベル調整部94は、電圧調整部26dを通して、コントロール電圧Vを一定の幅で低減させるステップS80。こうして、低減したコントロール電圧を用いてステップS30~70が繰り返される。すなわち、蛍光信号のレベルが、ステップS30~70を繰り返す度に減少するように、コントロール電圧Vの調整が行われる。ステップS70における判定が肯定である場合、出力レベル調整部94は、さらに、PMT27が出力する蛍光信号の飽和の有無を、コントロール電圧Vに対する蛍光強度の変化を用いて判定するステップS90。PMT27が出力する蛍光信号の飽和の有無の判定は、図示されないディスプレイにグラフ表示した特性結果を確認したオペレータの入力に従って行われてもよい。あるいは、分析装置80が、図示されないディスプレイにグラフ表示した特性結果を自動的に解析して、蛍光信号の飽和の有無を判定してもよい。例えば、図9に示すように、コントロール電圧Vに対して、蛍光強度算出部92が算出する蛍光強度の値をグラフにより特性結果として表示したとき、コントロール電圧Vに対する蛍光強度の特性が、コントロール電圧の上昇に伴って直線から屈曲してなだらかに変化する領域があるか否かを、オペレータの目視による確認結果に基づいて、あるいは分析装置80の解析結果に基づいて、蛍光信号の飽和の有無を判定する。この判定の結果が肯定の場合、ステップS20に戻り、ステップS20~ステップS80が繰り返される。ステップS90の判定結果が否定の場合、すなわち、PMT27が飽和状態でない場合、出力レベル調整部94は、回帰式を近似して定数X及び定数Aの値を抽出しステップS100、抽出した定数X及び定数Aの値をメモリ84に記憶させるステップS110。回帰式は、上記式4を変形した下記式5が用いられる。θmeas=X-θτ-AV5ただし、θτ=tan12πfτここで、fはレーザ光の強度変調の周波数既知であり、τは測定に用いる蛍光蛋白X1の蛍光緩和時間既知である。出力レベル調整部94は、上記式5を用いて予測された位相ずれ角θmeasが、実測の位相ずれ角θmeasに近似されるように、上記式5等の回帰式を用いて、実測の位相ずれ角θmeasから、定数Xと定数Aの値を抽出する。言い換えると、実測の位相ずれ角θmeasnを上式4を用いて補正された位相ずれ角式4の右辺の値が、既知の蛍光緩和時間τによって定まる位相ずれ角θτに近似するように、更に言うと、式4の右辺に示す補正された位相ずれ角から算出される蛍光緩和時間が、既知の蛍光緩和時間τに近似するように、定数Xと定数Aの値を抽出する。図7aに示す例では、定数Xの値として3.7584、定数Aの値として0.6360が抽出される。定数Xおよび定数Aの値は、最小二乗近似法等の公知の方法を用いて抽出される。定数X及び定数Aの値は、蛍光蛋白X1に関わらず、装置固有の値であり、蛍光蛋白の種類を変えても用いることのできる値である。分析装置80は、図7a,bに示すように、設定された回帰式を用いて、PMT27のコントロール電圧に対する位相ずれ角θmeasの変化を正確に予測することができる。したがって、分析装置80は、この回帰式に用いる定数X及び定数Aの値を定めた補正式である式4を用いて、実測された位相ずれ角θmeasから蛍光蛋白X1に由来する位相ずれ角θτを算出することができる。すなわち、位相ずれ角θmeasを補正することができる。したがって、分析装置80は、蛍光蛋白X1が発する蛍光の蛍光緩和時間を正確に算出することができる。以上、本発明の蛍光検出装置、蛍光検出方法および蛍光信号を信号処理する方法について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。"