固定された主軸台と、固定された主軸台に対向し、x軸の方向に移動可能な心押し台との間に測定する部片を取り付け可能である、基準支持と、前記測定下の部片によって遮られる光のビームを前記x軸にわたって誘導するための光源を担持し、さらに、前記光源と整列し、前記測定下の部片によって遮られなかった前記光のビームの残留光を受けるように配置されている、光学検出器を担持している、前記測定する部片に対して線形軸xに沿って移動可能な光学往復台とを含み、自動測定機能を具現化するように処理ユニットがプログラムされ、それにより、測定装置が駆動され、前記測定する部片のプロファイルを端部から端部まで自動的に走査し、すべての前記部片の横断寸法および長手寸法を自動的に算出することを特徴とする、光学測定装置。光のビームで走査する表面を選択的に曝すため、測定下の部片を回転させるように主軸台がモータによって回転駆動され、かつ、前記モータを駆動し、前記部片の複数の角度向きについて、横断寸法および長手寸法を自動的に算出するように処理ユニットがプログラムされている、請求項1記載の光学測定装置。測定下の部片の事前走査を実施し、記憶されたプログラムのメモリを検索して、前記事前走査で得られたプロファイルが前記プログラムの一つに対応するか否かを決定するように処理ユニットが配置されている、請求項1または2記載の光学測定装置。事前走査で得られたプロファイルから、測定する部片のフィーチャを推測するように処理ユニットが配置されている、請求項3記載の光学測定装置。自動測定機能において、測定下の部片の予備走査を実施し、および/または測定下の部片が逆転した向きで挿入されているか否かを検出するように処理ユニットがプログラムされている、請求項1から4のいずれか一項記載の光学測定装置。光のビームが複数の強度レベルに設定可能な単色光のコリメート線からなる、請求項1から5のいずれか一項記載の光学測定装置。加工部片のプロファイルを走査する方法であって、:固定された主軸台と、固定された主軸台に対向する移動可能な心押し台との間に加工部片を位置付け、前記主軸台と前記心押し台との間にx軸の方向に部片を維持する工程と、前記加工部片の事前走査を実施し、事前走査プロファイルを得る工程と、記憶されたプログラムのメモリを検索し、事前走査プロファイルが前記記憶されたプログラムの一つに対応するか否かを決定するか、事前走査プロファイルから、測定する部片のフィーチャを推測する工程と、前記プログラムで指定されているか、前記推測から得られた寸法を測定し、表示する工程とを含む、方法。さらなる使用のため、プログラムが測定結果をコンピュータメモリに記憶する能力がある、請求項7記載の方法。