同一平面状に配置された複数の第1金属板、この第1金属板に搭載されたパワー半導体チップ、及び橋桁部とこの橋桁部を支える脚部とで構成され、且つこの脚部によって、上記パワー半導体チップの電極間、パワー半導体チップの電極と上記第1金属板間を適宜ハンダ接合する跨線橋状第2金属板を有し、これらの部材を電気絶縁性樹脂で封止した樹脂パッケージで構成されたパワー半導体モジュールであって、上記脚部のハンダ接合部は、折り曲げ加工によって平面状に形成されるとともに上記橋桁部より低い位置に設けたことを特徴とするパワー半導体モジュール。上記第2金属板において、上記パワー半導体チップの電極との接合面及び上記第1金属板の接合面の両方あるいはどちらか一方に、ハンダ量をコントロールする突起を設けたことを特徴とする請求項1記載のパワー半導体モジュール上記樹脂パッケージから引き出された上記第1金属板の外端部で外部接続端子を形成し、この外部接続端子の上記樹脂パッケージ内側根元部分を他の部分より細く、くびれ構造とし且つ当該部に上記樹脂を充填したことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のパワー半導体モジュール。上記外部接続端子の上記樹脂パッケージ内側根元部分に貫通穴を設け、当該部に上記樹脂を充填したことを特徴とする請求項1~請求項3のいずれか1項に記載のパワー半導体モジュール。第1金属板のパワー半導体チップ搭載面とは反対側の裏面を、上記樹脂パッケージから露出させ放熱面としたことを特徴とする請求項1~請求項4のいずれか1項に記載のパワー半導体モジュール。上記外部接続端子は、アクチュエータとの接続端子を兼ねたことを特徴とする請求項1~請求項5のいずれか1項に記載のパワー半導体モジュール。請求項1から請求項6記載のいずれか1項に記載のパワー半導体モジュールをヒートシンク部上に載置し、両者間に上記パワー半導体モジュールからの熱を放熱する熱伝導材を介在させ、この熱伝導材を介し上記パワー半導体モジュールを上記ヒートシンク部に向けて押圧する押圧機構を備えたことを特徴としたパワーユニット装置。上記熱伝導材とパワー半導体モジュール間及び上記熱伝導材とヒートシンク部間の両方あるいはどちらか一方に電気絶縁部材を介在させたことを特徴とする請求項7記載のパワーユニット装置。上記押圧機構は、上記パワー半導体モジュールを押圧する球面状押圧部を有し、この球面状押圧部を上記パワー半導体モジュール上面の略中央部に配置したことを特徴とする請求項7又は請求項8記載のパワーユニット装置。上記第1金属板露出面を除く上記樹脂パッケージの外面に、上記ヒートシンク部との間隙を確保する複数の突起を、上記樹脂パッケージと一体に成型したことを特徴とする請求項7~請求項9のいずれか1項に記載のパワーユニット装置。しかし、このような構成のパワー半導体モジュールにおいては、複数の外部接続端子と放熱基板は、それぞれ個別に用意されたものを、はんだ付けなどで接合されたものであったため、接合面積の分だけモジュールが余分に大きくなってしまい、小型化を阻害する問題があった。又、半導体素子からの発熱は、放熱基板を通過後、熱伝導性の低いモールドパッケージを通過する構造であるため、放熱性の面で不利であり、結果として、放熱基板の面積を拡大することで放熱性能を確保しなければならないため、結果的にモジュールの放熱性、小型化を阻害していた。又、複数のワイヤボンディングで配線されたパワーラインは電流容量を確保するためになされたものだが、工作上の制約もあり内部抵抗を低減することに限界があった。又、多数のワイヤボンディングを施す必要があり信頼性面でも問題があった。この発明は、このような課題を解決するためになされたものであって、小型化が可能で、放熱性が良好、内部抵抗を低減し、かつ信頼性の高いパワー半導体モジュールを提供するものである。又、アクチュエータとの接続構造において、パワー半導体モジュールの端子を流用できる構造としたため、小型化、コスト低減を可能とした。この発明に係わるパワー半導体モジュールは、同一平面状に配置された複数の第1金属板、この第1金属板に搭載されたパワー半導体素子以下パワー半導体チップという、及び橋桁部とこの橋桁部を支える脚部とで構成され、且つこの脚部によって、上記パワー半導体チップの電極間、パワー半導体チップの電極と上記第1金属板間を適宜ハンダ接合する跨線橋状第2金属板を有し、これらの部材を電気絶縁性樹脂で封止した樹脂パッケージで構成されたパワー半導体モジュールであって、上記脚部のハンダ接合部は、折り曲げ加工によって平面状に形成されるとともに上記橋桁部より低い位置に設けたものである。又、この発明に係わるパワーユニット装置は、パワー半導体モジュールをヒートシンク部上に載置し、両者間に上記パワー半導体モジュールからの熱を放熱する熱伝導材を介在させ、この熱伝導材を介し上記パワー半導体モジュールを上記ヒートシンク部に向けて押圧する押圧機構を備えたものである。この発明のパワー半導体モジュールによれば、第2金属板による半導体チップとの接合部及び第1金属板との接合部を他の部分より低くしたので、第2金属板の接合部のハンダが電極からはみ出すことなく安定に接合できる。又、接合部周辺の半田フィレットが安定して形成されるため接続が安定する。又、第2金属板は接合部で折り曲げ構造となっているため、熱応力緩和でき信頼性が向上する。さらに第2金属板は半導体チップ電極とほぼ同一幅で構成することが可能となり内部抵抗を低減することもできる。又、この発明のパワーユニット装置によれば、パワー半導体モジュールとヒートシンク部間における熱抵抗のバラツキを抑制することが容易になり放熱性が安定する。この発明におけるパワー半導体モジュールは内部の回路構成を限定するものではないが、実施の形態1においては、パワーMOSFETMetalOxideSemiconductorFieldEffectTransistorを用いたパワー回路を有する三相ブリッジインバータ回路を例として説明する。以下、図面に基づいて、この発明の各実施の形態を説明する。なお、各図間において、同一符号は同一あるいは相当部分を示す。実施の形態1.以下、図1~図4によりこの発明の実施の形態1について説明する。図1は、実施の形態1におけるパワー半導体モジュール100の構成を示す斜視図であるが、樹脂モールドパッケージ7を省略し内部のみを示した透視図である。図2は、パワー半導体モジュール100の平面図とA―A線の拡大断面図である。図3は、図1、図2に示すパワー半導体チップ3の電極部を示した斜視図、図4は、図1のB部分の拡大図、図5は、樹脂モールドパッケージ7を裏面側から見た平面図と、B―B線における拡大断面図である。図1及び図2に示すように計5枚の第1金属板1は、同一平面状に配置されており、内3枚の第1金属板1には1個づつのパワー半導体チップ3がそれぞれ搭載計3個されている。パワー半導体チップ3は、MOSFETのチップであって、図3に示すように一面にソース電極3aとゲート電極3bを有しており、その反対面にはドレイン電極を有している。パワー半導体チップ3のドレイン電極と第1金属板1は、はんだ8aで機械的、電気的に接続されている。接続部材は導電性接着剤などの導電性の接続部材でもかまわない。図2は、パワー半導体チップのソース電極3a間、及び第1金属板1を第2金属板2によって接続する構造を示したものであり、以下、図bの拡大断面図に基づいて詳細説明する。第2金属板2は、パワー半導体チップ上面の電極とほぼ同一幅とし、橋桁部2bとこの橋桁部を支える脚部2cとで構成され、例えば銅合金などの熱伝導性及び導電性の良好な金属の板材からなり、全面もしくは部分的に適宜スズめっき処理やニッケルめっき処理などがなされている。パワー半導体チップ3のそれぞれのソース電極3a間は、第2金属板2によって接続されており、第2金属板2は橋桁部2bがさらに延びその脚部2cが別の第1金属板1図中左側に接続されている。ここで第2金属板2の脚部2cに相当するそれぞれの接合部は、他の部分橋桁部2bより低くなるよう折り曲げ平面状に形成され、その接合部のみにハンダ8が充填されるようになっている。又、第2金属板2が折り曲げられていることによって、第1金属板1や樹脂モールドパッケージ7の熱収縮によるハンダ部に対する応力が緩和されヒートサイクル性や自己発熱による熱応力に対しても耐久性が向上する。又、第2金属板2のハンダ接合部には、ハンダ面に対して図では下向きに突起2aが設けられており、ハンダ接合部に一定のギャップが確保できるようになっている。この突起2aの高さを適切に調整することにより、接合部のハンダ8の量をコントロールすることができ、耐久性を向上することができる。なお、図2では第2金属板2のハンダ接合部全てパワー半導体チップの電極との接合面及び第1金属板との接合面の両方に突起2aを設けたが、どちらか一方にのみ設けるようにしてもよい。パワー半導体チップ3のゲート電極3bは、別の信号ターミナル4にハンダで同様に接続され、又、シャント抵抗5やコンデンサ6が第1金属板1上にハンダ接合された後、全体が樹脂モールドパッケージ7として封止されている。このとき、第1金属板1の一部と信号ターミナル4の一部は、モールドパッケージ外部へ伸びており、電気接続のためのターミナルとして用いられる。図4は、図1のB部分を拡大したもので、第1金属板1が樹脂モールドパッケージ7から引き出される部分である。樹脂モールドパッケージ7から引き出された第1金属板1の外端部は、外部接続端子を形成し、第1金属板1のモールドとの堺目部分である樹脂モールドパッケージ内側根元部分は、他の部分より細く、くびれた形状になされ、このくびれ部分16に樹脂モールドパッケージの樹脂が充填される構造になっている。樹脂がくびれ部分に回り込むことで、ターミナルとして機能する第1金属板1に水平方向に応力がかかった場合の強度が増し、外部応力に対して破壊耐量を向上することができる。これによって外部接続端子に横方向の応力がかかってもくびれ構造部がアンカーの役割を果たし強度アップ、樹脂剥離を防止でき信頼性が向上する。又、外部接続端子の樹脂モールドパッケージ内側根元部分には、1個以上の板厚方向の貫通穴15が設けられ、当該部に樹脂を充填することによってくびれ構造と同様にターミナルへの応力に対する破壊耐量を向上することができ、又、貫通穴15に埋め込まれた部分がアンカーとして作用し、強度アップ、樹脂剥離を防止でき信頼性が向上する。第1金属板1の裏面、すなわちパワー半導体チップ3が搭載された面とは反対側の裏面1aは、図2bの断面図で分かるように、放熱性の低い樹脂モールドパッケージ7から露出するようにモールドされている。パワー半導体チップ3へ通電することによる発熱は、第1金属板1へ広がり、又、樹脂モールドパッケージ7を介して空気中へ放熱する。通常モールドの熱抵抗は比較的大きいためモールドからの放熱はあまり期待できないが、第1金属板1の裏面1aを上記のように露出させることにより、図7で後述するように、パワー半導体モジュール100を熱抵抗の十分低いアルミヒートシンク部10上に配置したとき、樹脂モールドパッケージ7から露出した第1金属板1の裏面1aとアルミヒートシンク部10との間に、熱抵抗の十分低い熱伝導材料でかつ電気絶縁性の材料を挟むことで放熱効率の良い構造を構築することができる。図5abは、樹脂モールドパッケージ7を裏面から見た平面図と、B-B線における断面図である。図5において、第1金属板1の裏面1aは、前述のように樹脂モールドパッケージ7から露出しており、この第1金属板1の露出面1aを除く樹脂モールドパッケージ7aの外面には、複数の第1金属板1の間から複数のモールドの樹脂突起9がでている。この樹脂突起9は前述のアルミヒートシンク部10との間隙を確保するとともに、その間隔精度を確保するために設けられている。樹脂突起9は、トランスファーモールド時に一体成型されるもので、金型製作時の作り込みにおいてその高さ精度を確保することが容易である。又、樹脂突起9はパワー半導体モジュール100の裏面に一様に複数個設けることが望ましいいが、第1金属板1の構造に応じて適宜設計すれば良い。このような構成によれば、ヒートシンク部10上にパワー半導体モジュール100を設置したときに、ヒートシンク部10とパワー半導体モジュール100の放熱面とのクリアランスを樹脂突起9の高さで容易に確保することができ放熱性能が安定し、又、ヒートシンクへの電気的ショートに対する信頼性が向上する。実施の形態2.この発明に係る実施の形態2として、パワー半導体モジュール100をヒートシンク部10に配置し、パワーラインを接続する構造例パワー半導体モジュールを組み込んだ機器を図6に示す。又、図7に図6中のC-C線における断面図を示す。なお、図1~4に示した実施の形態1と対応する構成部分には同一の符号を用いている。図6は、例えば3相ブラシレスモータを駆動するパワーユニット装置であって、パワー部からの発熱を放熱するための、ヒートシンク部10がモータに取り付けられる形状に加工されている。又、ヒートシンク部10のフラットな面上には、実施の形態1で説明したパワー半導体モジュール100が搭載できるように放熱面が加工されている。図5、図7に示すように、パワー半導体モジュール100は、ヒートシンク部10に搭載できる形状となっている。図示しないが、実施の形態1で説明したように、パワー半導体モジュール100とヒートシンク部10の間には、パワー半導体モジュール100からの熱を放熱する熱伝導電気絶縁材例えば流動性熱伝導電気絶縁樹脂材が充填介在されており、その厚みは前述の樹脂突起9にて確保されている。パワー半導体モジュール100は、樹脂製のフレーム11とヒートシンク部10で挟み込む構造になっており、フレーム11は締付ネジ14でヒートシンク部10に固定されている。フレーム11をヒートシンク部10に固定したときに、パワー半導体モジュール100を一定の力でヒートシンク部10へ押し付ける必要があるため、締付ネジ14を締め付けたとき、フレーム11は、図7の太実線で示すように一定量たわむように設計されている。この締付ネジ14による締め付け時、パワー半導体モジュール100を押さえつける支点がずれることにより、パワー半導体モジュール100がヒートシンク部10に対して傾いて固定される懸念がある。これを避けるため、パワー半導体モジュール100の上面には、パワー半導体モジュール100をヒートシンク部10に向けて押圧する押圧機構が配置されている。又、この例ではパワー半導体モジュール100は、図6に示すように円周上に3個配置されている。押圧機構は、具体的には、図7に示すように、フレーム11と、このフレーム11に形成された断面扇形隆起部球面状突起部の押圧部17と、締付ネジ14とで構成され、この押圧部17でパワー半導体モジュール上面のほぼ中央の1点を押圧し、これによりパワー半導体モジュール100はヒートシンク部10に対して常に垂直に押し付けられている。このようにパワー半導体モジュール100の上面のほぼ中央の1点を押さえる構造としたので、上面支持構造体の変形に対しても、常にヒートシンク部10に対して垂直方向の力が働き、パワー半導体モジュール100をヒートシンク部10に対して常に垂直に押し付けることができ、パワー半導体モジュール100がヒートシンク部10に対して傾くことなく安定的に配置することができパワー半導体モジュール100が傾くことによるヒートシンク部10間の熱抵抗バラツキを抑制することが容易に達成でき放熱性が安定する。図7において、パワー半導体モジュール100の第1金属板1は、樹脂モールドパッケージから外部に延びL字に曲げられて、フレーム11のガイドを通って上部に出ている。一方、アクチュエータターミナル12、本実施の形態では図示しない3相ブラシレスモータのターミナルが、反対方向から延びてきており、ネジ13部分で重なるよう配置されている。それぞれのターミナルには、図示しないネジ穴が設けられておりネジ13で締結する。パワーユニットからの電力信号は、これらのターミナルを通じて、3相ブラシレスモータに伝わり動力を発生することができる。第1金属板1のターミナル4を外部への接続端子として使えるよう、予め形状を設計することでアクチュエータとの接続が容易になり機器の小型化が可能になる。第1金属板1は、モータ等のアクチュエータとの接続端子を兼ねた構造となっており外部機器との接続箇所が少なくなり、部品点数削減、小型化、製造工程削減、コスト低減ができる。なお、上記の実施の形態では、ヒートシンク部10上に熱伝導電気絶縁材のみを介して、パワー半導体モジュール100が搭載、押圧されている場合を説明したが、更に絶縁性の向上のために、ヒートシンク部10とパワー半導体モジュール100間に電気絶縁部材を介在させてもよい。例えば、ヒートシンク部10のパワー半導体モジュール100搭載面にアルマイト処理や絶縁塗装を施したり、絶縁性のセラミック板やポリイミドシートを挟みこんでも良い。この場合、介在する電気絶縁部材によって確実に絶縁性が確保される。そのため、介在させる熱伝導材の絶縁性は不要であり、絶縁性を犠牲にして熱伝導率の高い材料を選択したり、数μmレベルの薄い膜厚の材料の構成とすることができる。さらには、介在する電気絶縁部材に熱伝導率の高い電気絶縁部材を適用することで、ヒートシンク部10とパワー半導体モジュール100間の熱抵抗を格段に小さくすることができる。上記の実施の形態に対して、熱伝導部材に加えて電気絶縁部材が増えることになるが、電気絶縁性と熱伝導率の機能を分担することで、幅広い部材の選択が可能となり、より高い放熱性と絶縁性を両立することが可能となる。その他の実施の形態以上に述べた実施の形態は、この発明の実施の形態の一例に過ぎず、発明の趣旨を逸脱しない範囲において適宜変更が加えられたり、実施の形態1、2の各要素が各々独立したのであっても良い。又、実施の形態1は半導体素子としてパワーMOSFET素子を用いた三相ブリッジインバータ回路であったが、別の回路機能を有するパワー半導体モジュールであってもよい。例えば、リレー回路であってもよく、あるいはその一部を構成するパワー半導体モジュールであってもよい。又、半導体素子としてはパワーMOSFET素子に限らず、IGBTInsulatedGateBipolarTransistor素子などのパワー半導体素子であってもよい。又、モジュールに配設される素子は半導体素子のみに限らず、チップ型のコンデンサ素子や抵抗素子も同時に配設され樹脂パッケージに埋設されていてもよい。又、半導体素子、金属板との電気接続には、一部ワイヤボンドを採用してもよい。