パルス状のポンプ光を出力する光源と、前記ポンプ光が入力され、該ポンプ光によってブリユアン散乱光を発生するセンサ用光ファイバと、前記センサ用光ファイバから出力された前記ブリユアン散乱光を受光する受光器と、を備え、入力される前記ポンプ光のパルスの長さの1/2をΔz、ピーク光強度をIpとすると、前記センサ用光ファイバは、長さをzm、伝送損失をadB/km、ブリユアン利得係数gBと有効コア断面積Aeffとの比をgB/Aeffm-1W-1とした場合に、以下の式を満たすように長さzが設定されていることを特徴とする光ファイバセンサ。前記センサ用光ファイバは、以下の式を満たすように長さzが設定されていることを特徴とする請求項1に記載の光ファイバセンサ。前記センサ用光ファイバは、前記ポンプ光の波長における有効コア断面積Aeffが15μm2以下であることを特徴とする請求項1または2に記載の光ファイバセンサ。前記センサ用光ファイバは、前記ポンプ光の波長における比gB/Aeffが0.6m-1W-1以上であることを特徴とする請求項1~3のいずれか一つに記載の光ファイバセンサ。前記センサ用光ファイバは、10mmの曲げ半径で一周回曲げた状態での前記ポンプ光の波長における曲げ損失が0.1dB以下であることを特徴とする請求項1~4のいずれか一つに記載の光ファイバセンサ。前記ポンプ光の波長は1550nmであることを特徴とする請求項1~5のいずれか一つに記載の光ファイバセンサ。複数の前記センサ用光ファイバと、前記複数のセンサ用光ファイバの間に介挿された、前記複数のセンサ用光ファイバよりも伝送損失が小さい接続用光ファイバとを備えることを特徴とする請求項1~6のいずれか一つに記載の光ファイバセンサ。請求項1~7のいずれか一つに記載の光ファイバセンサによって測定対象の温度または歪みを測定することを特徴とする光ファイバセンシング方法。前記センサ用光ファイバの少なくとも一箇所を10mm以上の曲げ半径で曲げた状態で前記測定対象に設置することを特徴とする請求項8に記載の光ファイバセンシング方法。光ファイバセンサに対しては、よりいっそう測定精度を向上させることが強く要求されている。本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、測定精度を向上させた光ファイバセンサおよび光ファイバセンシング方法を提供することを目的とする。上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る光ファイバセンサは、パルス状のポンプ光を出力する光源と、前記ポンプ光が入力され、該ポンプ光によってブリユアン散乱光を発生するセンサ用光ファイバと、前記センサ用光ファイバから出力された前記ブリユアン散乱光を受光する受光器と、を備え、入力される前記ポンプ光のパルスの長さの1/2をΔz、ピーク光強度をIpとすると、前記センサ用光ファイバは、長さをzm、伝送損失をadB/km、ブリユアン利得係数gBと有効コア断面積Aeffとの比をgB/Aeffm-1W-1とした場合に、以下の式を満たすように長さzが設定されていることを特徴とする。また、本発明に係る光ファイバセンサは、上記の発明において、前記センサ用光ファイバは、以下の式を満たすように長さzが設定されていることを特徴とする。また、本発明に係る光ファイバセンサは、上記の発明において、前記センサ用光ファイバは、前記ポンプ光の波長における有効コア断面積Aeffが15μm2以下であることを特徴とする。また、本発明に係る光ファイバセンサは、上記の発明において、前記センサ用光ファイバは、前記ポンプ光の波長における比gB/Aeffが0.6m-1W-1以上であることを特徴とする。また、本発明に係る光ファイバセンサは、上記の発明において、前記センサ用光ファイバは、10mmの曲げ半径で一周回曲げた状態での前記ポンプ光の波長における曲げ損失が0.1dB以下であることを特徴とする。また、本発明に係る光ファイバセンサは、上記の発明において、前記ポンプ光の波長は1550nmであることを特徴とする。また、本発明に係る光ファイバセンサは、上記の発明において、複数の前記センサ用光ファイバと、前記複数のセンサ用光ファイバの間に介挿された、前記複数のセンサ用光ファイバよりも伝送損失が小さい接続用光ファイバとを備えることを特徴とする。また、本発明に係る光ファイバセンシング方法は、上記の発明のいずれか一つに記載の光ファイバセンサによって測定対象の温度または歪みを測定することを特徴とする。また、本発明に係る光ファイバセンシング方法は、上記の発明において、前記センサ用光ファイバの少なくとも一箇所を10mm以上の曲げ半径で曲げた状態で前記測定対象に設置することを特徴とする。本発明によれば、センサ用光ファイバで発生するブリユアン散乱光の強度を高くすることができるので、測定精度を向上させた光ファイバセンサおよび光ファイバセンシング方法を実現できるという効果を奏する。以下に、図面を参照して本発明に係る光ファイバセンサおよび光ファイバセンシング方法の実施の形態を詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。なお、本明細書で特に定義しない用語については、ITU-T国際電気通信連合G.650.1における定義、測定方法に従うものとする。実施の形態図1は、実施の形態1に係る光ファイバセンサの構成図である。図1に示すように、この光ファイバセンサ100は、BOTDR装置10と、BOTDR装置10に接続したセンサ用の光ファイバ20とを備えている。BOTDR装置10は、光源11と、光サーキュレータ12と、受光器13と、信号発生器14と、合波器15と、電気増幅器16と、時間波形測定器17とを備えている。光ファイバセンサ100の動作を説明する。光ファイバセンサ100を使用する際は、まず、温度や歪みを測定したい測定対象に沿って光ファイバ20を設置する。光源11は、パルス状のポンプ光を出力する。出力されたポンプ光は、光サーキュレータ12を通過して光ファイバ20に入力される。光ファイバ20では、ポンプ光が伝搬中にブリユアン散乱が発生する。光ファイバ20の長手方向の各地点で発生したブリユアン散乱光ストークス光は後方散乱し、BOTDR装置10側に伝搬する。光サーキュレータ12は光ファイバ20から伝搬してきたブリユアン散乱光を受光器13に導く。受光器13はブリユアン散乱光を受光してこれを電気信号に変換して出力する。信号発生器14は正弦波電気信号を出力する。合波器15は、受光器13が出力した電気信号と信号発生器14が出力した正弦波電気信号とを合波して出力する。電気増幅器16は合波された電気信号を増幅して時間波形測定器17に出力する。時間波形測定器17では、増幅された電気信号の波形の時間依存性を測定することができる。このとき、信号発生器14が出力する正弦波電気信号の周波数を変化させ、それぞれの周波数に対する増幅された電気信号の波形の時間依存性を時間波形測定器17で測定することにより、光ファイバ20の長手方向各地点におけるブリユアン散乱光の分布を求めることができる。このブリユアン散乱光の分布を求めることによって、光ファイバ20を設置した測定対象の温度や歪みを、光ファイバ20の長手方向にわたって分布的に測定することができる。BOTDR装置10としては、各構成機器を組み合わせて構成したものを用いてもよい。また、市販のBOTDR装置たとえば、横河電機製BOTDR装置AQ8603を用いてもよい。ここで、光ファイバ20は、入力されるポンプ光のパルスの長さの1/2をΔz、ピーク光強度をIp、長さをzm、伝送損失をadB/m、ブリユアン利得係数gBと有効コア断面積Aeffとの比をgB/Aeffm-1W-1とした場合に、以下の式1a、より好ましくは1bを満たすように長さzが設定されている。これによって、光ファイバ20中で発生するブリユアン散乱光の強度を高くすることができるので、BOTDR装置10の受光器13で受光するブリユアン散乱光の強度も高くなる。その結果、時間波形測定器17で測定する電気信号の波形の強度も高くなるので、光ファイバセンサ100の温度等の測定精度を向上させることができる。以下、具体的に説明する。図2は、ブリユアン散乱光の発生について説明する図である。長さがLの光ファイバ20の長手方向に沿ってz座標を定義し、ポンプ光S1が入力される一方の端部のz座標をz=0とし、もう一方の端部のZ座標をz=Lとする。この光ファイバ20に、パルスの長さがΔLpのポンプ光S1を入力した場合に、位置z=lで発生するブリユアン散乱光を考える。ここで、パルスの長さとは、パルスの時間幅での光ファイバ中の伝送距離を意味する。このとき入力するポンプ光S1は、位置z=lに到達するまでに、光ファイバ20の伝送損失によって強度が減衰する。そして、位置z=lでは、減衰した光強度のポンプ光S1にてブリユアン散乱効果が発生する。ブリユアン散乱で発生したブリユアン散乱光B1ストークス光は後方散乱し、光ファイバ20の伝送損失によって強度が減衰しながら、位置z=0に到達する。パルス光であるポンプ光S1入力端位置z=0において、後方散乱したブリユアン散乱光を受光する場合、入力端位置z=0から入射するポンプ光S1は有限のパルスの長さΔLpを持っているために、受光部13で任意の時間tに受光した光に含まれる散乱は、光ファイバ20中のΔLp/2の長さの光ファイバからの散乱が含まれている。このΔLp/2を作用長と呼び、Δzとする。光ファイバ20中でポンプ光S1と逆方向に伝搬しているブリユアン散乱光の強度Isと入力されたポンプ光の強度Ipとの関係は一般に以下の式2a、2bで表される。ここで、αは光ファイバ20の損失係数、gBはブリユアン利得係数、Aeffは有効断面積を示す。α、gB、Aeffはポンプ光S1の波長における値である。なお、ポンプ光S1の波長は特に限定されないが、以下では例示として1550nmとする。また、ブリユアン散乱光の波長はポンプ光S1の波長よりもブリユアンシフト量だけ長波長側にシフトしている。光ファイバ20の長さの単位をkmで考えた場合に、損失係数αは、光ファイバについて一般的に使用されているパラメータである伝送損失adB/kmとは以下の式3a、3bで示される関係にある。ここで、上述したように、ブリユアン散乱効果が作用するのはポンプ光S1のパルス時間幅相当の長さである。通常のポンプ光S1のパルス時間幅は100ns程度であり、このパルス時間幅でのポンプ光S1の伝搬距離の12に相当する長さΔz作用長は10mである。この短い長さでは伝送損失が極めて小さい。そこで、この作用長での伝送損失の影響を無視し、式2a、2bでの損失係数αの項を削除して、光ファイバ20中の任意の位置z=lからz=lΔzの間での強度Isについて求めると、式4のようになる。式4の強度Isは、光ファイバ20の位置z=lに入力される、ブリユアン散乱光ストークス光の強度を示す。なお、BOTDR方式では、ポンプ光の入力側とは反対の端面から入力する光は存在せず、自然放出ブリユアン散乱によって発生するストークス光が種光となる。このような場合、Isは、一般にポンプ光の入力時の強度Ipに対して微小な値たとえば、Ip/Is=1012をみたすようなIsの値として計算されるたとえば、非特許文献4参照。また、BOTDA方式の場合は、Isは、ポンプ光とは反対端から入射するプローブ光となる。つぎに、式4において位置z=0からz=lまでの往復の伝送損失を考慮すると、z=0でのブリユアン散乱光B1の強度Isは以下に式5で表される。式5より、測定対象となるブリユアン散乱光B1の強度Isを高くするためには、gB/Aeffが大きく、損失係数αが小さいことが好ましい。従来の光ファイバセンサでは、センサ用の光ファイバとして、たとえばITU-TG.652に準拠する通信用の標準シングルモード光ファイバ以下、SMFSingleModeopticalFiberとするが用いられていた。これに対して、光ファイバセンサ100では、センサ用の光ファイバ20として、上記式1a、好ましくは式1bを満たすgB/Aeff、a、および長さzを有する光ファイバを用いている。その結果、式5における強度Isが、同じ長さのSMFを用いた場合よりも高くなる。これによって、受光器13において受光されるブリユアン散乱光B1の強度も高くなる。その結果、光ファイバセンサ100は測定精度が向上したものになる。たとえば、SMFのgB/AeffをgB/Aeff-Sとし、損失係数αをαSとする。また、本実施の形態1に係る光ファイバ20のgB/AeffをgB/Aeff-Fとし、損失係数αをαFとする。SMFと光ファイバ20との長さをLとして、2つの光ファイバに対して同じ強度のIpおよびIsを仮定した場合に、式5より、以下の式6が成立すれば、光ファイバ20を用いた場合に、SMFを用いた場合よりもIsが大きくなる。ここで、公知のSMFについては、たとえばコアが純シリカからなる純シリカ光ファイバの場合にgBが最も大きいと考えられる。純シリカ光ファイバの理論値のgBは2.8×10-11mW-1である。したがって、通常のSMFであれば、gBは2.8×10-11mW-1以下であると考えられる。また、SMFの典型的なAeff-Sは約80μm2である。したがって、典型的なSMFであれば、gB/Aeff-Sは0.35m-1W-1以下であると考えられる。また、伝送損失aについては、純シリカ光ファイバの場合が最も低いと考えられる。公知の純シリカ光ファイバの場合のaは0.148dB/kmである。したがって、通常のSMFであれば、aは0.148dB/km以上であると考えられる。gB/Aeff-S=0.35m-1W-1、a=0.148dB/kmを用いると、式3aより、以下の式が成り立つ。ただし、zの単位はkmである。式6においてLをzに置き換えて、この式を式6に代入し、長さzの単位をmに換算すると、式6が成り立つgB/Aeff-Fの条件は、以下の式7aとなる。なお、Ip=Ipとし、単位をmWとする。式7aにおいてgB/Aeff-FをgB/Aeffとすると式1bとなる。また、公知のSMFの典型的な値として、gB/Aeff-S=0.162m-1W-1、伝送損失a=0.20dB/kmを用いると、式6が成り立つgB/Aeff-Fの条件は、以下の式7bとなる。式7bにおいてgB/Aeff-FをgB/Aeffとすると式1aとなる。すなわち、式7b、より好ましくは式7aが成り立つように、センサ用の光ファイバ20の長さzを設定することによって、光ファイバセンサ100は測定精度が向上する。なお、gB/Aeffについては、ポンプ光の波長、たとえば波長1550nmにおけるgB/Aeffが0.6m-1W-1以上であれは、公知のSMFよりも十分にIsが大きくなるので好ましい。このようなgB/Aeffが0.6m-1W-1以上となる光ファイバとしては、たとえば高非線形光ファイバと呼ばれる、光ファイバ中の光学非線形性を利用して各種光増幅や信号処理などを行うための光ファイバを用いることができる。ここで、典型的なBOTDR装置では、ポンプ光のパルス時間幅は10ns~200nsであり、平均光強度は-5dBmであり、測定距離レンジは1km~80kmである。測定距離レンジを10kmとし、ポンプ光の平均光強度を-5dBmとし、パルス時間幅を10nsすなわち作用長Δzを1mとすると、ピーク光強度はIpは3160mWになる。したがって、式7bにΔz=1、Ip=3160mWを代入すると、式8となる。つぎに、実施例1~3、比較例の光ファイバを用いて、実施の形態1における好ましい光ファイバ20の長さについて説明する。図3、4は、比較例、実施例1~3の光ファイバセンサに使用される光ファイバの特性を示す図である。比較例の光ファイバはSMFである。なお、図4において、dB/ターンとは、光ファイバを所定の曲げ半径で一周回曲げた状態での一周回あたりの光損失をdBで表した単位である。また、図3、4における伝送損失、Aeff、gB、gB/Aeff、曲げ損失はポンプ光の波長である1550nmの値である。なお、ブリユアン散乱を用いた光ファイバセンサは、構造物の温度や歪を測定する場合に好適に使用される。この場合、測定対象である構造物のサイズに応じて使用する光ファイバの長さを設定することが好ましい。また、市販のBOTDR装置においては、ポンプ光のパルス時間幅は最小で10ns程度である。そこで、以下では、パルス時間幅が100nsΔzは約10mおよび10nsΔzは約1mの2つの場合について説明する。また、ポンプ光のピーク強度Ipは1000mWとする。はじめに、パルス時間幅が100nsの場合について説明する。図5は、ポンプ光のパルス時間幅が100nsの場合の、式1aにて等号が成り立つ光ファイバの長さzとgB/Aeffとの関係を、様々の伝送損失に対して示す図である。図5は、構造物のサイズ等に応じて使用する光ファイバの長さzが定められた場合に、その光ファイバの伝送損失に対応する実線よりも大きいgB/Aeffにすれば、式1aが成立することを示している。図5から、たとえば、使用する光ファイバの長さzが3000mと定められた場合に、伝送損失を1.39dB/kmとすると、gB/Aeffが0.58m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。また、伝送損失を0.96dB/kmとすると、gB/Aeffが0.37m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。さらに、伝送損失を0.36dB/kmとすると、gB/Aeffが0.19m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。図3からわかるように、実施例1~3の光ファイバはいずれも上記の伝送損失とgB/Aeffとの関係を満たすので、長さzが3000mの場合に、式1aを満たすような測定精度が向上した光ファイバセンサ100の光ファイバ20として使用できるものである。また、たとえば、使用する光ファイバの長さzが5000mと定められた場合に、伝送損失を1.39dB/kmとすると、gB/Aeffが1.31m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。また、伝送損失を0.96dB/kmとすると、gB/Aeffが0.65m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。さらに、伝送損失を0.36dB/kmとすると、gB/Aeffが0.22m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。図3からわかるように、実施例1、2の光ファイバはいずれも上記の伝送損失とgB/Aeffとの関係を満たすので、長さzが5000mの場合に、式1aを満たすような測定精度が向上した光ファイバセンサ100の光ファイバ20として使用できるものである。また、たとえば、使用する光ファイバの長さzが10000mと定められた場合に、伝送損失を0.96dB/kmとすると、gB/Aeffが2.52m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。さらに、伝送損失を0.36dB/kmとすると、gB/Aeffが0.31m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。図3からわかるように、実施例1の光ファイバは上記の伝送損失とgB/Aeffとの関係を満たすので、長さzが10000mの場合に、式1aを満たすような測定精度が向上した光ファイバセンサ100の光ファイバ20として使用できるものである。このように、必要な光ファイバの長さzに応じて、式1aを用いることによって、測定精度を向上させることができる光ファイバを選択することができる。なお、上記では式1aを用いて光ファイバを選択しているが、式1bを用いてもよい。図6は、ポンプ光のパルス時間幅が100nsの場合の光ファイバの長さとブリユアン散乱光の受光強度との関係を示す図である。なお、図6において、横軸の光ファイバの長さzは、式5におけるlをzに置き換えたものであり、受光強度は、式5における強度Isである。図6に示すように、実施例1~3の光ファイバの場合は、少なくとも長さ3000mまでは比較例の光ファイバの場合よりも大幅に受光強度が高い。また、長さが619mより短い場合は実施例3の光ファイバの場合が受光感度が高く、619mより長く1360mより短い場合は実施例2の光ファイバの場合が受光感度が高く、1360mより長い場合は実施例1の光ファイバの場合が受光感度が高い。このように、必要な光ファイバの長さに応じて、測定精度を向上させることができる光ファイバを選択することができる。または、使用する光ファイバに対して、測定精度を向上させることができるように光ファイバの長さzを設定することができる。つぎに、パルス時間幅が10nsの場合について説明する。図7は、ポンプ光のパルス時間幅が10nsの場合の、式1aにて等号が成り立つ光ファイバの長さzとgB/Aeffとの関係を、様々の伝送損失に対して示す図である。図7から、たとえば、使用する光ファイバの長さzが1000mと定められた場合に、伝送損失を1.39dB/kmとすると、gB/Aeffが0.59m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。また、伝送損失を0.96dB/kmとすると、gB/Aeffが0.41m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。さらに、伝送損失を0.36dB/kmとすると、gB/Aeffが0.21m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。図3からわかるように、実施例1~3の光ファイバはいずれも上記の伝送損失とgB/Aeffとの関係を満たすので、長さzが1000mの場合に、式1aを満たすような測定精度が向上した光ファイバセンサ100の光ファイバ20として使用できるものである。また、たとえば、使用する光ファイバの長さzが3000mと定められた場合に、伝送損失を1.39dB/kmとすると、gB/Aeffが2.51m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。また、伝送損失を0.96dB/kmとすると、gB/Aeffが1.29m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。さらに、伝送損失を0.36dB/kmとすると、gB/Aeffが0.32m-1W-1以上の光ファイバを用いればよい。図3からわかるように、実施例1の光ファイバは上記の伝送損失とgB/Aeffとの関係を満たすので、長さzが5000mの場合に、式1aを満たすような測定精度が向上した光ファイバセンサ100の光ファイバ20として使用できるものである。また、実施例1の光ファイバを使用する場合は、6550mより短ければ、式1aを満たすので、測定精度を向上させることができる。図8は、ポンプ光のパルス時間幅が10nsの場合の光ファイバの長さとブリユアン散乱光の受光強度との関係を示す図である。図8に示すように、実施例1~3の光ファイバの場合は、少なくとも長さ1000mまでは比較例の光ファイバの場合よりも受光強度が高い。また、長さが303mより短い場合は実施例3の光ファイバの場合が受光感度が高く、303mより長く622mより短い場合は実施例2の光ファイバの場合が受光感度が高く、622mより長い場合では実施例1の光ファイバの場合が受光感度が高い。このように、必要な光ファイバの長さに応じて、測定精度を向上させることができる光ファイバを選択することができる。または、使用する光ファイバに対して、測定精度を向上させることができるように光ファイバの長さzを設定することができる。なお、上記では式1aを用いて光ファイバを選択しているが、式1bを用いて光ファイバを選択してもよい。つぎに、実施例1および比較例の光ファイバを用いて図1に示すような光ファイバセンサを構成し、光ファイバの長手方向でのブリユアンスペクトル強度分布を測定した。なお、光ファイバへ入力するポンプ光の平均光強度は30mW、パルス時間幅は100nsとした。また、得られたデータは時間平均した。平均化時間幅は30秒とした。なお、実施例1および比較例の光ファイバの長さはいずれも3000mとした。図9は、比較例の光ファイバの長手方向でのブリユアンスペクトル強度分布を示す図である。図10は、実施例1の光ファイバの長手方向でのブリユアンスペクトル強度分布を示す図である。図9、10において、位置はパルス光の入力側を0とした位置である。また、光強度の単位は光電気変換した電気信号を測定しているため電圧Vボルトである。また、周波数は、ブリユアンシフト量を示すものである。図9、10の比較から解るように、図10の実施例1の光ファイバを用いた場合の方がピークの光強度が高く、かつスペクトル分布のばらつきが少なかった。つぎに、図9、10のデータから、光ファイバの長手方向におけるブリユアンスペクトルのピーク周波数の分布を求めた。図11は、比較例における光ファイバの長手方向でのブリユアンスペクトルピーク周波数分布を示す図である。図12は、実施例1における光ファイバの長手方向でのブリユアンスペクトルピーク周波数分布を示す図である。図11に示すように、比較例の光ファイバを用いた図9の場合は、全長でのブリユアンスペクトルのピーク周波数に関して、平均値は10.85GHzであり、ばらつきについては分散σが0.0178であった。これに対して、図12に示すように、実施例1の光ファイバを用いた図10の場合は、全長でのブリユアンスペクトルのピーク周波数に関して、平均値は9.266GHzであった。また、ばらつきについては分散σが0.00096であり、比較例の場合よりもきわめて小さかった。また、実施例1の光ファイバの全長のブリユアンスペクトルのピーク周波数を、非特許文献5に開示された別の方法によって測定したところ、9.270GHzであり、上記のBOTDR装置を用いた測定値と略一致していた。ブリユアン散乱光を用いた光ファイバセンサでは、測定対象物の温度や歪を測定する場合には、ブリユアンスペクトルのピーク周波数の変化から温度や歪みの変化を算出し、これをもとに温度や歪みを測定する。したがって、ブリユアンスペクトルのピーク周波数のばらつきが小さい実施例1の光ファイバを用いた光ファイバセンサは、比較例1の光ファイバを用いた場合よりも測定精度が高い。つぎに、比較例1の光ファイバを用いた光ファイバセンサにおいて、平均化時間幅を300秒とした。図13は、平均化時間幅を300秒とした場合の、比較例における光ファイバの長手方向でのブリユアンスペクトルのピーク周波数分布を示す図である。この場合、全長でのブリユアンスペクトルのピーク周波数に関して、平均値は10.85GHzであった。また、ばらつきについては分散σが0.00106であり、実施例1の光ファイバを用いた場合と同程度の分散σとなった。しかし、この場合は、実施例1の光ファイバを用いた場合よりも測定時間は10倍必要となる。すなわち、同程度の測定精度を実現しようとする場合、実施例1の場合は、比較例1の場合よりも、測定時間が約1/10に短縮されることになる。以上説明したように、本実施の形態1に係る光ファイバセンサ100は、測定精度が向上したものとなる。実施の形態2図14は、実施の形態2に係る光ファイバセンサの構成図である。図14に示すように、この光ファイバセンサ200は、実施の形態1に係る光ファイバセンサ100と同じBOTDR装置10と光ファイバ20とを備えている。ただし、この光ファイバセンサ200では、光ファイバ20の一部はシート30上に渦巻き状に巻かれた状態で布線されている以下、シート30に光ファイバ20が布線されたものをファイバシートとする。ここで、シート30としては、たとえば可とう性を有する樹脂等のシートや、金属、プラスチック等の可とう性を有さないシートを用いることができる。また、光ファイバ20としては、たとえば実施例1~3の光ファイバを、内径D1を6.0cm、外径D2を14cmとして長さ50mだけ渦巻き状に巻いたものを使用することができる。光ファイバセンサ200は、たとえばファイバシートを測定対象物に付着等によって取り付け、その測定対象物の温度変化を測定する際に使用することができる。また、ファイバシートを構成することによって、より長い光ファイバ20を特定の測定対象箇所に集中的に配置することができる。これによって、測定対象箇所の温度を、より長い光ファイバで測定することができるので、測定感度および測定精度がより向上する。この場合、よりコンパクトにより長い光ファイバ20をシート30上に布線することが、測定感度および測定精度の向上に有効である。実施の形態3図15は、実施の形態3に係る光ファイバセンサの構成図である。図15に示すように、この光ファイバセンサ300は、光ファイバセンサ200において、光ファイバ20の一部をシート30上に布線した複数の光ファイバシートを直列に接続したものである。この光ファイバセンサ300は、複数の測定対象箇所に対して各光ファイバシートを取り付けて使用することができる。これによって、各測定対象箇所の温度変化を、より高い測定感度および測定精度で測定することができる。実施の形態4図16は、実施の形態4に係る光ファイバセンサの構成図である。図16に示すように、この光ファイバセンサ400は、実施の形態1に係る光ファイバセンサ100において、光ファイバ20が1箇所以上の曲げ部20a、20b、20c、20dを有する。最も曲率半径が小さい曲げ部20bでは、曲げ半径Rが10mmである。ここで、比較例の光ファイバのようなSMFをセンサ用光ファイバとして用いた場合、曲げ部における曲げ損失によってブリユアン散乱光の強度が低下するので、BOTDR装置10における受光感度が低下する。これに対して、光ファイバセンサ400では、光ファイバ20として、図4の実施例1~3のような、曲げ半径が10mmの場合の曲げ損失が0.1dB/ターンより小さい光ファイバを用いている。その結果、曲げ部20bのように曲げ半径が10mmの部分があったとしても受光感度の低下が抑制されるので、向上した測定精度が維持される。なお、光ファイバ20として使用する光ファイバの曲げ半径が10mmの場合の曲げ損失については、0.1dB/ターン以下であれば好ましい。なお、このように光ファイバ20に曲げ半径が10mmの曲げ部を形成することができる場合、たとえば形状が複雑な測定対象物であっても、それに沿った形状に光ファイバ20を布設して光ファイバセンシングを行うことができるので好ましい。また、光ファイバ20を測定対象物の内部空間に配置する場合に、その内部空間が狭い場合にも、それに沿った形状に光ファイバ20を布設することができるので好ましい。実施の形態5図17は、実施の形態5に係る光ファイバセンサの構成図である。図17に示すように、この光ファイバセンサ500は、BOTDR装置10と、3本の光ファイバ20とを備えている。BOTDR装置10と、光ファイバ20との間、および光ファイバ20同士は光ファイバ40を介して接続している。また、光ファイバ20と光ファイバ40とは光コネクタ50によって接続している。光ファイバ40としては、たとえば伝送損失が小さいSMFを用いることができる。光ファイバセンサ500は、たとえば測定対象物が3つあり、各測定対象物間の距離が離れている場合に好適に使用することができる。すなわち、光ファイバセンサ500を使用する際に、センサ用の光ファイバ20は測定対象物に設置する。一方、光ファイバセンシングを行わなくてよい各測定対象物間では、比較的に伝送損失が低い光ファイバ40で光ファイバ20同士を接続する。これによって、光ファイバ40中では伝送損失が小さいために受光感度の低下が抑制されるので、測定精度の低下が抑制される。なお、使用する光ファイバ20の数は、3本に限らず、測定対象物の数に応じて適宜2以上の値とすることができる。実施の形態6図18は、実施の形態6に係る光ファイバセンサの構成図である。図18に示すように、この光ファイバセンサ600は、BOTDA装置60と、BOTDA装置60に接続したセンサ用の光ファイバ20とを備えている。BOTDA装置60は、図1に示すBOTDR装置10と同様に構成された光源11、光サーキュレータ12、受光器13、信号発生器14、合波器15、電気増幅器16、および時間波形測定器17とを備えている。さらに、BOTDA装置60は、光ファイバ20の光サーキュレータ12と接続された側とは反対側の端部に接続したプローブ連続光源68を備えている。プローブ連続光源68はプローブ光を出力するものである。このプローブ光は、光ファイバ20で発生するブリユアン散乱光と同じ波長を有し、かつ連続光である。このようなBOTDA装置60を用いた光ファイバセンサ600においても、光ファイバ20が、以下の式1a、より好ましくは1bを満たすように長さzが設定されているので、光ファイバセンサ100と同様に、温度等の測定精度を向上させることができる。なお、上記実施の形態において、BOTDR装置10およびBOTDA装置60の光源11と光ファイバ20との間に、光源11から出力されるポンプ光を増幅するための光増幅器を設けてもよい。また、ラマン増幅用の励起光を発生する励起光源を光ファイバセンサのいずれかの箇所に設けてもよい。そして、光ファイバ20自体をラマン増幅用光ファイバとし、ブリユアン散乱光をラマン増幅するように構成してもよい。これらの光増幅器やラマン増幅用励起光源を設けることによって、ブリユアン散乱光の受光強度を高めることができるので、さらに測定精度を向上させることができる。また、上記実施の形態により本発明が限定されるものではない。上記各実施形態の各構成要素を適宜組み合わせて構成したものも本発明に含まれる。たとえば、実施の形態5における光ファイバ20を実施の形態2のようにファイバシート状にしてもよい。その他、上記実施の形態に基づいて当業者等によりなされる他の実施の形態、実施例及び運用技術等は全て本発明に含まれる。