レーザビームを出力するレーザ光源と、前記レーザ光源から出力された前記レーザビームを試料に照射し、前記試料からの測定光を検出して前記試料の共焦点画像を取得するレーザ光学系と、任意の波長を有する照明光を出射する光源と、前記光源から出射された前記照明光を前記レーザ光学系に導入して前記試料に照射し、前記試料からの測定光を検出して前記試料の非共焦点画像を取得する光学顕微鏡光学系と、前記レーザ光学系及び前記光学顕微鏡光学系の光軸上にそれぞれ挿脱可能で、前記試料からの測定光を検出して前記試料の微分干渉画像を取得する微分干渉用の複数の光学素子と、を具備することを特徴とする共焦点レーザスキャニング顕微鏡。前記複数の光学素子は、微分干渉プリズム、アナライザ及びポラライザを有することを特徴とする請求項1記載の共焦点レーザスキャニング顕微鏡。前記微分干渉プリズム及び前記アナライザは、それぞれ前記レーザ光学系に挿脱可能に配置されることを特徴とする請求項2記載の共焦点レーザスキャニング顕微鏡。前記レーザ光学系により前記試料の共焦点微分干渉画像又は非共焦点微分干渉画像のうちいずれか一方又は両方を取得する場合、前記微分干渉プリズムは、前記レーザ光学系に配置され、前記アナライザは、前記レーザ光学系から外され、前記ポラライザは、前記光源から出射される前記照明光を前記レーザ光学系に導入する位置との間から外される、ことを特徴とする請求項3記載の共焦点レーザスキャニング顕微鏡。前記光学顕微鏡光学系により前記試料の前記微分干渉画像を取得する場合、前記微分干渉プリズム及び前記アナライザは、それぞれ前記レーザ光学系に配置され、前記ポラライザは、前記光源から出射される前記照明光を前記レーザ光学系に導入する位置に配置される、ことを特徴とする請求項3記載の共焦点レーザスキャニング顕微鏡。前記光学顕微鏡光学系により前記試料の簡易偏光画像を取得する場合、前記微分干渉プリズムは、前記レーザ光学系から外され、前記アナライザは、前記レーザ光学系に配置され、前記ポラライザは、前記光源から出射される前記照明光を前記レーザ光学系に導入する位置との間に配置される、ことを特徴とする請求項3記載の共焦点レーザスキャニング顕微鏡。前記レーザ光学系と前記光学顕微鏡光学系との分岐点に配置され、前記レーザ光学系と前記光学顕微鏡光学系とを分離するビームスプリッタと、前記レーザ光源から出力される前記レーザビームの光軸上に配置された偏光ビームスブリッタと、前記レーザ光源から出力される前記レーザビームの波長を1/4波長位相シフトすると共に、前記試料からの前記測定光の波長を1/4波長位相シフトする1/4波長板とを有し、前記1/4波長板は、前記ビームスプリッタと前記偏光ビームスプリッタとの間の光軸上に配置される、ことを特徴とする請求項1記載の共焦点レーザスキャニング顕微鏡。前記ビームスプリッタは、偏光特性を有しないことを特徴とする請求項7記載の共焦点レーザスキャニング顕微鏡。上記特許文献1は、試料の共焦点画像と非共焦点画像とを選択可能であるが、このうちの非共焦点画像は、試料を落射照明して、明視野観察法により取得されるものである。試料の観察では、試料に合わせて明視野観察を行う他に例えば暗視野観察などの各種観察法により観察する要求がある。しかしながら、上記特許文献1では、共焦点レーザ顕微鏡を用いて試料の共焦点画像の他に、試料の明視野観察を可能とするが、例えば暗視野観察などの各種観察法で観察することは不可能である。本発明は、レーザビームを出力するレーザ光源と、前記レーザ光源から出力された前記レーザビームを試料に照射し、前記試料からの測定光を検出して前記試料の共焦点画像を取得するレーザ光学系と、任意の波長を有する照明光を出射する光源と、前記光源から出射された前記照明光を前記レーザ光学系に導入して前記試料に照射し、前記試料からの測定光を検出して前記試料の非共焦点画像を取得する光学顕微鏡光学系と、前記レーザ光学系及び前記光学顕微鏡光学系の光軸上にそれぞれ挿脱可能で、前記試料からの測定光を検出して前記試料の微分干渉画像を取得する微分干渉用の複数の光学素子と、を具備することを特徴とする共焦点レーザスキャニング顕微鏡である。本発明は、例えば明視野観察、暗視野観察又は微分干渉観察などの光学顕微鏡系の観察法の少なくとも2種の観察法が切り替え可能である共焦点レーザ顕微鏡を提供できる。以下、本発明の第1の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は共焦点レーザスキャニング顕微鏡の構成図である。レーザ顕微鏡の試料台1上には、試料2が載置されている。共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系について説明する。レーザ光学系は、レーザ光源4と、レンズ5と、偏光ビームスプリッタ6と、光スキャナ7と、瞳投影レンズ8と、1/4波長板9と、第1のビームスプリッタ10と、結像レンズ11と、対物レンズ12と、ビームスプリッタ15と、共焦点用ピンホール16と、第1の検出器17と、第2の検出器18とから構成されている。ここで、レーザ光源4と、レンズ5と、偏光ビームスプリッタ6と、光スキャナ7と、瞳投影レンズ8と、1/4波長板9と、第1のビームスプリッタ10とを通る光軸を第3の光軸L3とする。観察光学系は、白色光源19と、各レンズ21、22と、対物レンズ12と、結像レンズ11と、フィールドレンズ27と、CCDカメラ28とから構成されている。ここで、白色光源19と、各レンズ21、22とを通る光軸を第1の光軸L1とする。ここで、レーザ光学系と観察光学系とで共通に用いられる各光学素子がある。これら光学素子は、対物レンズ12と、結像レンズ11と、第1のビームスプリッタ10とである。又、対物レンズ12と、結像レンズ11と、第1のビームスプリッタ10と、フィールドレンズ27と、CCDカメラ28とを通る光軸を第2の光軸L2とする。以下、具体的に説明する。レーザ顕微鏡本体3内には、レーザ光源4が設けられている。レーザ光源4は、例えば半導体レーザが用いられる。レーザ光源4から出力されるレーザビームの光路上には、レンズ5、偏光ビームスプリッタ6、光スキャナ7、瞳投影レンズ8、共焦点レーザスキャニング顕微鏡用の1/4波長板9及び第1のビームスプリッタ10が設けられている。光スキャナ7は、例えばガルバノミラーからなる。光スキャナ7は、レーザ光源4から出力されたレーザビームを試料2上に2次元スキャンする。試料2上での2次元スキャンは、XY平面上に行われる。第1のビームスプリッタ10は、偏光特性を有しない。第1のビームスプリッタ10の下方への反射方向の光路上には、結像レンズ11及び対物レンズ12が設けられている。レーザ顕微鏡本体3の下部には、レボルバ13が回転可能に設けられている。対物レンズ12は、レボルバ13に対して取り付けられている。レボルバ13には、互いに倍率の異なる複数の対物レンズ12が取り付けられている。従って、レボルバ13を回転することにより任意の倍率の対物レンズ12が選択されて第2の光軸L2上に配置される。偏光ビームスプリッタ6は、試料2上にレーザビームを照射したとき、試料2で反射され、対物レンズ12、結像レンズ11、ビームスプリッタ10、1/4波長板9、瞳投影レンズ8、光スキャナ7を通って入射した第1の測定光を反射する。偏光ビームスプリッタ6の反射方向の光路上には、結像レンズ14、ビームスプリッタ15が設けられている。ビームスプリッタ15は、偏光特性を有しない。ビームスプリッタ15は、結像レンズ14により結像される第1の測定光を透過方向と反射方向との2方向に分岐する。ビームスプリッタ15の透過方向の光路上には、共焦点用ピンホール16を介して第1の検出器17が設けられている。ビームスプリッタ15の反射方向の光路上には、第2の検出器18が設けられている。第1の検出器17及び第2の検出器18は、それぞれ例えばフォトダイオード又はフォトマルチプライヤを用いる。次に、光学顕微鏡の光学系について説明する。レーザ顕微鏡本体3内には、白色光源19が設けられている。白色光源19は、例えば白色光の照明光を出力する。白色光源19は、例えば光ファイバ20の端部をレーザ顕微鏡本体3内に挿入して設けられている。なお、白色光源19は、ランプ等の光源自体をレーザ顕微鏡本体3内に設けてもよい。白色光源19から出力される照明光の光路上には、各レンズ21、22を介して光学素子切換部としての明暗視野切換キューブ23が設けられている。図2は明暗視野切換キューブ23の構成図を示す。明暗視野切換キューブ23は、明視野用プリズム明視野用ハーフプリズム24と暗視野用環状ミラー暗視野用ドーナツミラー25とを有する。明暗視野切換キューブ23は、明視野用プリズム24と暗視野用環状ミラー25とを第2と第1との光軸L2、L1に対して互いに垂直であるY方向に挿脱し、第2と第1との光軸L2、L1の交点上に明視野用プリズム24又は暗視野用環状ミラー25のいずれか一方を配置する。明暗視野切換キューブ23は、明視野用プリズム24又は暗視野用環状ミラー25の切り替えを手動式にしてもよいし、モータ等を用いて自動的に行うようにしてもよい。共焦点レーザスキャニング顕微鏡の光学系の瞳位置は、明視野用プリズム24を第2の光軸L2上に配置した状態で、対物レンズ12の瞳位置と一致する。明視野用プリズム24は、偏向面24aを有する。偏向面24aは、X方向第1の光軸L1方向に対する角度φ=45°に設定している。明視野用プリズム24は、レーザ光源4から出力されたレーザビームを透過すると共に、このとき試料2で反射してきた第1の測定光を透過する。明視野用プリズム24は、白色光源19から出力された照明光を下方に反射すると共に、このときの試料2で反射してきた第2の測定光を透過する。暗視野用環状ミラー25は、環状に形成されている。暗視野用環状ミラー25は、X方向第1の光軸L1方向に対して角度φ=45°に傾斜して設けられている。暗視野用環状ミラー25は、白色光源19から出力された照明光をリング状に整形して下方に偏向すると共に、このときの試料2で反射してきた第2の測定光をリングの開口部に通過させる。レーザ顕微鏡本体3内には、検出部としての光路切替えセンサ26が設けられている。光路切替えセンサ26は、明暗視野切換キューブ23により明視野用プリズム24又は暗視野用環状ミラー25のいずれかを第2の光軸L2上に配置したかを検出し、その切替え信号を出力する。光路切替えセンサ26は、例えばマイクロスイッチからなる。第1のビームスプリッタ10の透過方向の第2の光軸L2上には、フィールドレンズ27を介してCCDカメラ28が設けられている。CCDカメラ28は、撮像面28aを有する。CCDカメラ28は、撮像面28a上に結像された試料2の像を撮像してその画像信号を出力する。コントローラ29は、画像処理部29a、レーザビーム遮光部29b、画像メモリ29cを有する。画像処理部29aは、レーザ光源4から出力されたレーザビームを試料2上にスキャンしたときに、第1の検出器17の出力信号を画像処理して試料2の共焦点画像を取得し、かつ第2の検出器18の出力信号を画像処理して試料2の非共焦点画像を取得する。画像処理部29aは、白色光源19から出力された照明光を試料2上に照射したときに、CCDカメラ28から出力された画像信号を画像処理して明視野観察又は暗視野観察での試料2の非共焦点画像を取得する。画像処理部29aは、試料2の共焦点画像、明視野観察又は暗視野観察での各共焦点画像データ、非共焦点画像データを画像メモリ29cに保存し、かつこれら共焦点画像データ、非共焦点画像データをモニタ30に表示する。レーザビーム遮光部29bは、光路切替えセンサ26から出力された切替え信号を入力し、暗視野用環状ミラー25が第2の光軸L2上に配置されたか否かを検出する。レーザビーム遮光部29bは、暗視野用環状ミラー25が第2の光軸L2上に配置されたことを検出すると、レーザ出力用電源からレーザ光源4への電力供給を遮断する。レーザ出力用電源からレーザ光源4への電力供給を遮断は、半導体を用いないリレー回路、例えばシーケンス回路を用いる。これにより、レーザビームは、レーザ光学系に導入されない。レーザ光学系にレーザビームを導入させない構成は、次のようにしてもよい。図1においてシャッタ31は、レーザ光源4とレンズ5との間の第3の光軸L3上に設けられている。シャッタ31は、例えば電力供給の遮断により閉じる。レーザビーム遮光部29bは、暗視野用環状ミラー25が第2光軸L2上に配置されたことを検出すると、シャッタ31に対して電源供給を遮断する。これにより、シャッタ31は、閉じる。レーザビームは、レーザ光学系に導入されない。次に、上記の如く構成された顕微鏡の動作について説明する。共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系を用いた明視野観察は、次のように行われる。明暗視野切換キューブ23は、図2に示すように明視野用プリズム24を光軸L1上に配置する。この状態で、レーザ光源4から出力されたレーザビームは、レンズ5、偏光ビームスプリッタ6を通って光スキャナ7に入射する。光スキャナ7は、入射したレーザビームを試料2上に対してXY平面上にスキャンする。スキャンされたレーザビームは、瞳投影レンズ8により集光され、1/4波長板9を透過する。このときレーザ光源4から出力されたレーザビームがP偏光であれば、1/4波長板9を透過すると、円偏光に変換される。1/4波長板9を透過したレーザビームは、第1のビームスプリッタ10で下方に反射され、結像レンズ11、明視野用プリズム24、対物レンズ12を通して試料2上にスキャンされる。試料2で反射した第1の測定光は、試料2へのレーザビームの照射光路とは逆の光路、すなわち対物レンズ12、明視野用プリズム24、結像レンズ11、第1のビームスプリッタ10、1/4波長板9、瞳投影レンズ8、光スキャナ7を通って偏光ビームスプリッタ6に入射する。第1の測定光は、1/4波長板9を透過することによりS偏光になる。偏光ビームスプリッタ6は、入射した第1の測定光を結像レンズ14側に反射する。反射された第1の測定光は、結像レンズ14を通ってビームスプリッタ15に入射し、2方向に分岐される。ビームスプリッタ15により分岐された一方の第1の測定光は、共焦点用ピンホール16を通って第1の検出器17に入射する。第1の検出器17には試料2の共焦点像が結像する。第1の検出器17は、試料2の共焦点像の画像信号を出力する。ビームスプリッタ15により分岐された他方の第1の測定光は、第2の検出器18に入射する。第2の検出器18には試料2の非共焦点像が結像する。第2の検出器18は、試料2の非共焦点像の画像信号を出力する。コントローラ29の画像処理部29aは、第1の検出器17から出力された画像信号を入力すると共に、第2の検出器18から出力された画像信号を入力する。画像処理部29aは、第1の検出器17の出力信号を画像処理して明視野観察での試料2の共焦点画像を取得する。これと共に画像処理部29aは、第2の検出器18の出力信号を画像処理して明視野観察での試料2の非共焦点画像を取得する。画像処理部29aは、共焦点画像データと非共焦点画像データとをそれぞれ画像メモリ29cに保存する。これと共に、画像処理部29aは、共焦点画像データと非共焦点画像データとをそれぞれモニタ30に表示する。暗視野観察は、次のように行われる。レーザ光学系による試料2の明視野観察中に明暗視野切換キューブ23の切り換えが行われる。暗視野用環状ミラー25が明視野用プリズム24に変って第2の光軸L2上に配置される。光路切替えセンサ26は、暗視野用環状ミラー25が第2の光軸L2上に配置されたことを検出し、その切替え信号を出力する。レーザビーム遮光部29bは、光路切替えセンサ26から出力された切替え信号を入力し、暗視野用環状ミラー25が第2の光軸L2上に配置されたことを検出すると、レーザ出力用電源からレーザ光源4への電力供給を遮断する。上記の通りレーザ出力用電源からレーザ光源4への電力供給を遮断は、半導体を用いないリレー回路、例えばシーケンス回路を用いる。これにより、レーザビームは、レーザ光学系に導入されない。シャッタ31がレーザ光源4と光スキャナ7との間の第3の光軸L3に設けられている場合、レーザビーム遮光部29bは、暗視野用環状ミラー25が第2の光軸L2上に配置されたことを検出すると、シャッタ31に対して電源供給を遮断する。これにより、シャッタ31は、閉じる。レーザビームは、レーザ光学系に導入されない。この結果、試料2に対する不必要なレーザビームの照射が防止される。次に、光学顕微鏡の光学系を用いた明視野観察は、次のように行われる。明暗視野切換キューブ23は、図2に示すように明視野用プリズム24を第2の光軸L2上に配置する。レーザ光源4は、レーザビームの出力動作を停止する。又はシャッタ31は、閉じる。これにより、レーザ光源4から出力されるレーザビームは、シャッタ31により遮光される。白色光源19は、白色光の照明光を出力する。この照明光は、各レンズ21、22を通って図2に示す明視野用プリズム24に入射する。照明光は、明視野用プリズム24で下方に反射され、対物レンズ12を通して試料2上に照射される。試料2で反射した第2の測定光は、対物レンズ12、明視野用プリズム24、結像レンズ11、第1のビームスプリッタ10、フィールドレンズ27を通ってCCDカメラ28の撮像面28aに結像される。CCDカメラ28は、撮像面28a上に結像された試料2の像を撮像してその画像信号を出力する。コントローラ29の画像処理部29aは、CCDカメラ28から出力された画像信号を入力する。画像処理部29aは、CCDカメラ28から出力された画像信号を画像処理して明視野観察での試料2の非共焦点画像を取得する。画像処理部29aは、取得した非共焦点画像を画像メモリ29cに保存する。これと共に画像処理部29aは、非共焦点画像をモニタ30に表示する。次に、光学顕微鏡の光学系を用いた暗視野観察は、次のように行われる。明暗視野切換キューブ23は、明視野用プリズム24を第2の光軸L2上から外し、暗視野用環状ミラー25を第2の光軸L2上に配置する。白色光源19から出力された照明光は、上記同様に、各レンズ21、22を通って暗視野用環状ミラー25に入射する。暗視野用環状ミラー25は、入射した照明光をリング状に整形して下方に反射する。偏光されたリング状の照明光は、対物レンズ12を通して試料2上に照射される。なお、暗視野観察において対物レンズ12は、暗視野用のものである。試料2で反射した第2の測定光は、上記同様に、対物レンズ12、暗視野用環状ミラー25の開口部、結像レンズ11、第1のビームスプリッタ10、フィールドレンズ27を通ってCCDカメラ28の撮像面28aに結像される。CCDカメラ28は、撮像面28a上に結像された試料2の像を撮像してその画像信号を出力する。コントローラ29の画像処理部29aは、CCDカメラ28から出力された画像信号を入力する。画像処理部29aは、CCDカメラ28から出力された画像信号を画像処理して暗視野観察での試料2の非共焦点画像を取得する。画像処理部29aは、上記同様に、取得した非共焦点画像データを画像メモリ29cに保存し、かつモニタ30に表示する。このように上記第1の実施の形態によれば、共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系の光軸L2に対して、明暗視野切換キューブ23を用いて光学顕微鏡用の明視野用プリズム24と暗視野用環状ミラー25とを挿脱可能に設けた。これにより、共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系による試料2の共焦点画像と非共焦点画像とが取得できる。さらに、光学顕微鏡による明視野観察と暗視野観察とが可能である。従って、明視野観察で試料2の非共焦点画像が取得できる。暗視野観察で試料2の非共焦点画像が取得できる。レーザ光学系による試料2の観察中に、暗視野用環状ミラー25を第2の光軸L2上に配置した場合、レーザ光源4のレーザビームの出力動作を停止するか、又はレーザ光源4から出力されるレーザビームをシャッタ31により遮光する。試料2に対して規定値以上の出力のレーザビームを照射することが防止できる。1/4波長板9は、第1のビームスプリッタ10と偏光ビームスプリッタ6との間の第3の光軸L3上において出来るだけ対物レンズ12側でかつ第2の光軸L2に入らない位置に設けられる。1/4波長板9の配置位置は、レーザ光学系への各光学素子からの迷光を低減させると共に対物レンズ12、明視野用プリズム24、結像レンズ11、第1のビームスプリッタ10、フィールドレンズ27及びCCDカメラ28からなるCCDカメラ撮像系の偏光特性に影響を与えない。次に、本発明の第2の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図1と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略する。図3は共焦点レーザスキャニング顕微鏡の構成図である。レーザ顕微鏡本体3には、微分干渉プリズムDifferentialInterfererxeCortrast:以下、DICプリズムと称する挿入穴41が設けられている。DICプリズム挿入穴41は、対物レンズ12と明暗視野切換キューブ23との間の第2の光軸L2上に設けられている。具体的に説明すれば、DICプリズム挿入穴41は、対物レンズ12と明視野用プリズム24との間の第2の光軸L2上に設けられている。DICプリズム挿入穴41は、DICプリズム40が挿脱される。具体的にDICプリズム40は、例えばDICプリズム用スライダに取り付けられている。DICプリズム用スライダは、DICプリズム挿入穴41内に挿脱される。これにより、DICプリズム40は、第2の光軸L2上に設けられる。レーザ顕微鏡本体3には、アナライザ挿入穴43が設けられている。アナライザ挿入穴43は、結像レンズ11と明視野用プリズム24との間の第2の光軸L2上に設けられている。アナライザ挿入穴43は、アナライザ42が挿脱される。具体的にアナライザ42は、例えばアナライザ用スライダに取り付けられている。アナライザ用スライダは、アナライザ挿入穴43に挿脱される。これにより、アナライザ42は、第2の光軸L2上に設けられる。レーザ顕微鏡本体3には、ポラライザ挿入穴45が設けられている。ポラライザ挿入穴45は、レンズ22と明視野用プリズム24との間の第1の光軸L1上に設けられている。ポラライザ挿入穴45には、ポラライザ44が挿脱される。具体的にポラライザ44は、例えばポラライザ用スライダに取り付けられている。ポラライザ用スライダは、ポラライザ挿入穴45に挿脱される。これにより、ポラライザ44は、第1の光軸L1上に設けられる。1/4波長板9は、第1のビームスプリッタ10と偏光ビームスプリッタ6との間の第3の光軸L3上において出来るだけ対物レンズ12側でかつ第2の光軸L2に入らない位置に設けられる。1/4波長板9の配置位置は、レーザ光学系への各光学素子からの迷光を低減させると共に、対物レンズ12、明視野用プリズム24、結像レンズ11、第1のビームスプリッタ10、フィールドレンズ27及びCCDカメラ28からなるCCDカメラ撮像系の偏光特性に影響を与えない。なお、第1のビームスプリッタ10及び明視野用プリズム24は、それぞれ偏光特性を持っていない。次に、上記の如く構成された顕微鏡の動作について説明する。共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系を用いた明視野観察は、次のように行われる。レーザ光学系を用いた明視野観察において、DICプリズム40は、DICプリズム挿入穴41から取り外される。アナライザ42は、アナライザ挿入穴43から取り外される。ポラライザ44は、ポラライザ挿入穴45から取り外しても、外さなくてもよい。このようにDICプリズム40及びアナライザ42が第2の光軸L2上から外され、ポラライザ44が第1の光軸L1上から外されると、レーザ光学系は、図1に示す上記第1の実施の形態におけるレーザ光学系の構成と同一になる。従って、レーザ光学系による試料2の共焦点画像及び非共焦点画像の取得動作は、上記第1の実施の形態と同一となり、その説明は省略する。光学顕微鏡の光学系を用いた明視野観察及び暗視野観察は、次のように行われる。光学顕微鏡の光学系を用いた明視野観察及び暗視野観察においても、DICプリズム40は、DICプリズム挿入穴41から取り外される。アナライザ42は、アナライザ挿入穴43から取り外される。ポラライザ44は、ポラライザ挿入穴45から取り外される。このようにDICプリズム40及びアナライザ42が第2の光軸L2上から外され、ポラライザ44が第1の光軸L1上から外されると、光学顕微鏡の光学系は、図1に示す上記第1の実施の形態における光学顕微鏡の光学系の構成と同一になる。従って、光学顕微鏡の光学系による試料2の非共焦点画像の取得動作は、上記第1の実施の形態と同一となり、その説明は省略する。次に、光学顕微鏡の光学系を用いた明視野での微分干渉観察は、次のように行われる。光学顕微鏡の光学系を用いた微分干渉観察において、DICプリズム40は、DICプリズム挿入穴41内に挿入される。アナライザ42は、アナライザ挿入穴43内に挿入される。ポラライザ44は、ポラライザ挿入穴45内に挿入される。明暗視野切換キューブ23は、明視野用プリズム24を第2の光軸L2上に配置する。白色光源19から出力された白色光の照明光は、各レンズ21、22からポラライザ44を通って明視野用プリズム24に入射する。照明光は、明視野用プリズム24で下方に反射され、DICプリズム40、対物レンズ12を通して試料2上に照射される。試料2で反射した第2の測定光は、対物レンズ12、DICプリズム40、明視野用プリズム24、アナライザ42、結像レンズ11、第1のビームスプリッタ10、フィールドレンズ27を通ってCCDカメラ28の撮像面28aに結像される。CCDカメラ28は、撮像面28a上に結像された試料2の像を撮像してその画像信号を出力する。画像処理部29aは、CCDカメラ28から出力された画像信号を入力する。画像処理部29aは、CCDカメラ28から出力された画像信号を画像処理して明視野観察での試料2の微分干渉画像を取得する。画像処理部29aは、取得した微分干渉画像データを画像メモリ29cに保存し、かつモニタ30に表示する。次に、光学顕微鏡の光学系を用いた明視野での試料2の簡易偏光観察は、次のように行われる。光学顕微鏡の光学系を用いた明視野での簡易偏光観察において、アナライザ42は、アナライザ挿入穴43内に挿入される。ポラライザ44は、ポラライザ挿入穴45内に挿入される。DICプリズム40は、DICプリズム挿入穴41から取り外される。明暗視野切換キューブ23は、明視野用プリズム24を第2の光軸L2上に配置する。白色光源19から出力された白色光の照明光は、各レンズ21、22からポラライザ44を通って明視野用プリズム24に入射する。照明光は、明視野用プリズム24で下方に反射され、対物レンズ12を通して試料2上に照射される。試料2で反射した第2の測定光は、対物レンズ12、明視野用プリズム24、アナライザ42、結像レンズ11、第1のビームスプリッタ10、フィールドレンズ27を通ってCCDカメラ28の撮像面28aに結像される。CCDカメラ28は、撮像面28a上に結像された試料2の像を撮像してその画像信号を出力する。画像処理部29aは、CCDカメラ28から出力された画像信号を入力する。画像処理部29aは、CCDカメラ28から出力された画像信号を画像処理して明視野観察での試料2の簡易偏光画像を取得する。画像処理部29aは、取得した簡易偏光画像データを画像メモリ29cに保存し、かつモニタ30に表示する。次に、共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系を用いたレーザ微分干渉観察は、次のように行われる。レーザ微分干渉観察において、DICプリズム40は、DICプリズム挿入穴41に挿入される。アナライザ42は、アナライザ挿入穴43から取り外される。このとき、ポラライザ44は、ポラライザ挿入穴45から取り外してもよいし、外さなくてもよい。レーザ光源4から出力されたレーザビームは、レンズ5、偏光ビームスプリッタ6を通って光スキャナ7に入射する。光スキャナ7は、入射したレーザビームを試料2上に対してXY平面上にスキャンする。スキャンされたレーザビームは、瞳投影レンズ8により集光され、1/4波長板9を透過する。レーザ光源4から出力されたレーザビームがP偏光であれば、1/4波長板9を透過すると、円偏光に変換される。1/4波長板9を透過したレーザビームは、第1のビームスプリッタ10で下方に反射され、結像レンズ11、DICプリズム40、明視野用プリズム24、対物レンズ12を通して試料2上にスキャンされる。試料2で反射した第1の測定光は、試料2へのレーザビームの照射光路とは逆の光路、すなわち対物レンズ12、DICプリズム40、明視野用プリズム24、結像レンズ11、第1のビームスプリッタ10、1/4波長板9、瞳投影レンズ8、光スキャナ7を通って偏光ビームスプリッタ6に入射する。第1の測定光は、1/4波長板9を透過し、偏光ビームスプリッタ6により結像レンズ14側に反射する。反射された第1の測定光は、結像レンズ14を通ってビームスプリッタ15に入射し、2方向に分岐される。ビームスプリッタ15により分岐された一方の第1の測定光は、共焦点用ピンホール16を通って第1の検出器17に入射する。第1の検出器17には試料2の共焦点微分干渉像が結像する。第1の検出器17は、試料2の共焦点微分干渉像の画像信号を出力する。ビームスプリッタ15により分岐された他方の第1の測定光は、第2の検出器18に入射する。第2の検出器18には試料2の非共焦点微分干渉像が結像する。第2の検出器18は、試料2の非共焦点微分干渉像の画像信号を出力する。コントローラ29の画像処理部29aは、第1の検出器17から出力された画像信号を入力すると共に、第2の検出器18から出力された画像信号を入力する。画像処理部29aは、第1の検出器17の出力信号を画像処理して明視野観察での試料2の共焦点微分干渉画像を取得する。これと共に画像処理部29aは、第2の検出器18の出力信号を画像処理して明視野観察での試料2の非共焦点微分干渉画像を取得する。画像処理部29aは、共焦点微分干渉画像データと非共焦点微分干渉画像データとをそれぞれ画像メモリ29cに保存し、かつ共焦点微分干渉画像データと非共焦点微分干渉画像データとをそれぞれモニタ30に表示する。このように上記第2の実施の形態によれば、共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系の光軸L2に対してDICプリズム40及びアナライザ42を挿脱可能にすると共に、光学顕微鏡の光学系の光軸L3に対してポラライザ44を挿脱可能にした。これにより、共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系を用いた試料2の共焦点画像及び非共焦点画像が取得できる。光学顕微鏡の光学系を用いて以下の各画像が取得できる。すなわち、明視野観察による試料2の非共焦点画像が取得できる。暗視野観察による試料2の非共焦点画像が取得できる。明視野観察による試料2の微分干渉画像が取得できる。アナライザ42及びポラライザ44を挿入し、DICプリズム40を取り外せば、試料2の簡易偏光画像が取得できる。試料2の簡易偏光画像は、明視野で取得できる。DICプリズム40を挿入し、アナライザ42及びポラライザ44を取り外すので、レーザ光学系を用いて明視野観察での試料2の共焦点微分干渉画像及び非共焦点微分干渉画像が取得できる。これら共焦点微分干渉画像及び非共焦点微分干渉画像は、通常の共焦点画像、非共焦点画像に比べて細かい凹凸形状を観察するに有効である。共焦点レーザスキャニング顕微鏡用の1/4波長板9は、出来るだけ対物レンズ9に近く、かつCCDカメラ撮像系の光学系でない位置に設けた。これにより、レーザ光学系への各光学素子からの迷光を低減させると共に、効率がよく、かつCCDカメラ撮像系の偏光特性に影響を与えることはない。次に、本発明の第3の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図3と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略する。図4は共焦点レーザスキャニング顕微鏡の構成図である。第2の光軸L2上には、結像レンズ50が設けられている。結像レンズ50は、第1のビームスプリッタ10とアナライザ挿入穴43との間の第2の光軸L2上に設けられている。第2の光軸L2上には、第1のフィールドレンズ51が設けられている。第1のフィールドレンズ51は、第1のビームスプリッタ10とCCDカメラ28との間の第2の光軸L2上に設けられている。第1のフィールドレンズ51は、結像レンズ50と合わせた後ろ側焦点距離を短くする。第1のフィールドレンズ51は、例えば複数の光学レンズを組み合わせたレンズ群からなる。瞳投影レンズ52及び第2のフィールドレンズ53が光スキャナ7と1/4波長板9との間の第3の光軸L3上に設けられている。第2のフィールドレンズ53は、結像レンズ50及び瞳投影レンズ52と合わせた後ろ側焦点距離を短くする。第2のフィールドレンズ53は、例えば複数の光学レンズを組み合わせたレンズ群からなる。第1のフィールドレンズ51と結像レンズ50とを組み合わせたときのCCDカメラ28の撮像面28a上の非共焦点画像の視野の大きさと、第2のフィールドレンズ53と結像レンズ50及び瞳投影レンズ52とを組み合わせたときの第1の検出器17上の共焦点画像の視野の大きさとは、同一である。このような上記第3の実施の形態であれば、第1のフィールドレンズ51を設けることによって第1のフィールドレンズ51と結像レンズ50とを合わせた後ろ側焦点距離を短くできる。第2のフィールドレンズ53を設けることによって第2のフィールドレンズ53と結像レンズ50及び瞳投影レンズ52とを合わせた後ろ側焦点距離を短くできる。これによって共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系及びCCDカメラ撮像系の各光路長を短くでき、レーザ顕微鏡本体3の小型化を実現できる。第1のフィールドレンズ51及び第2のフィールドレンズ53は、それぞれただ単に第2の光軸L2、第3の光軸L3上に設けると、CCDカメラ28の撮像面28a上の非共焦点画像の第1の視野の大きさと、第1の検出器17上の共焦点画像の第2の視野の大きさとを異ならせてしまう。しかるに、第1の視野と第2の視野との各大きさが同一になるような各焦点距離を有する第1のフィールドレンズ51及び結像レンズ50の組み合わせと、第2のフィールドレンズ53、結像レンズ50及び瞳投影レンズ52の組み合わせとが行なわれる。次に、上記の如く構成された顕微鏡の動作について説明する。共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系による明視野観察は、DICプリズム40、アナライザ42及びポラライザ44をそれぞれDICプリズム挿入穴41、アナライザ挿入穴43及びポラライザ挿入穴45から取り外す。このようにDICプリズム40及びアナライザ42が第2の光軸L2上から外され、ポラライザ44が第1の光軸L1上から外されると、レーザ光学系は、図1に示す上記第1の実施の形態におけるレーザ光学系の構成と同一になる。従って、レーザ光学系による試料2の共焦点画像及び非共焦点画像の取得動作は、上記第1の実施の形態と同一となり、その説明は省略する。光学顕微鏡の光学系による明視野観察及び暗視野観察は、DICプリズム40、アナライザ42及びポラライザ44をそれぞれDICプリズム挿入穴41、アナライザ挿入穴43及びポラライザ挿入穴45から取り外す。このようにDICプリズム40、アナライザ42及びポラライザ44を取り外すと、光学顕微鏡の光学系は、図1に示す上記第1の実施の形態における光学顕微鏡の光学系の構成と同一になる。従って、光学顕微鏡の光学系による試料2の非共焦点画像の取得動作は、上記第1の実施の形態と同一となり、その説明は省略する。光学顕微鏡の光学系による微分干渉観察は、DICプリズム40、アナライザ42及びポラライザ44をそれぞれDICプリズム挿入穴41、アナライザ挿入穴43及びポラライザ挿入穴45に挿入する。このようにDICプリズム40、アナライザ42及びポラライザ44を挿入すると、光学顕微鏡の光学系は、図2に示す上記第2の実施の形態における光学顕微鏡の光学系の構成と同一になる。従って、光学顕微鏡の光学系による試料2の微分干渉画像の取得動作は、上記第2の実施の形態と同一となり、その説明は省略する。光学顕微鏡の光学系による試料2の簡易偏光観察は、アナライザ42とポラライザ44とをそれぞれアナライザ挿入穴43とポラライザ挿入穴45とに挿入し、DICプリズム40をDICプリズム挿入穴41から取り外す。このようにアナライザ42及びポラライザ44を挿入し、DICプリズム40を取り外すと、光学顕微鏡の光学系は、図2に示す上記第2の実施の形態における光学顕微鏡の光学系の構成と同一になる。従って、光学顕微鏡の光学系による試料2の簡易偏光画像の取得動作は、上記第2の実施の形態と同一となり、その説明は省略する。レーザ微分干渉観察は、DICプリズム40を挿入し、アナライザ42及びポラライザ44を取り外す。このようにDICプリズム40を挿入し、アナライザ42及びポラライザ44を取り外すと、レーザ光学系は、図2に示す上記第2の実施の形態におけるレーザ光学系の構成と同一になる。従って、レーザ光学系による試料2の共焦点微分干渉画像及び非共焦点微分干渉画像の取得動作は、上記第2の実施の形態と同一となり、その説明は省略する。共焦点レーザスキャニング顕微鏡のレーザ光学系による試料2の観察中に、暗視野用環状ミラー25を第2の光軸L2上に配置した場合、レーザ光源4のレーザビームの出力動作を停止するか、又はレーザ光源4から出力されるレーザビームをシャッタ31により遮光する。これにより、試料2に対して規定値以上の出力のレーザビームを照射することを防止できる。なお、上記第1及び第2の実施の形態では、第2の光軸L2に対して第3の光軸L3を第1のビームスプリッタ10を介して折り曲げて第2の光軸L2に一致するようにしているが、第3の光軸L3を折り曲げずに直線的な光軸に構成し、この第3の光軸L3に対してフィールドレンズ27及びCCDカメラ28からなる光軸を折り曲げて直線的な第3の光軸L3に一致させるようにしてもよい。次に、本発明の他の特徴とするところを説明する。本発明は、試料を載置する試料台と、レーザ光を出力するレーザ光源と、任意の波長を有する照明光を出力する光源と、前記レーザ光源から出力された前記レーザ光を2次元的にスキャンする光スキャナと、前記光スキャナによりスキャンされた前記レーザ光を集光する瞳投影レンズと、前記瞳投影レンズにより集光された前記レーザ光を前記試料側に反射すると共に当該レーザ光を前記試料上に照射したときの前記試料からの前記第1の測定光を前記瞳投影レンズ、前記光スキャナ側に偏向し、かつ前記光源から出力された前記照明光を前記試料上に照射したときの前記試料からの前記第2の測定光を透過する第1のビームスプリッタと、前記第1のビームスプリッタにより偏向された前記レーザ光の光軸上に設けられた少なくとも結像レンズ及び対物レンズからなる照明観察光学系と、前記光源から出力された前記照明光を前記照明観察光学系に導入する明視野用プリズムと暗視野用環状ミラーとを有し、これら明視野用プリズムと前記暗視野用環状ミラーとを前記結像レンズと前記対物レンズとの間の光軸上に切り替えて挿脱可能とする明暗視野切替えキューブと、前記明視野用プリズムと前記暗視野用環状ミラーとの前記照明観察光学系の光軸上への挿脱を検出する切替えセンサと、前記切替えセンサにより前記暗視野用環状ミラーが前記照明観察光学系の光軸上に挿入されたことを検出すると、前記レーザ光源のレーザ出力動作を停止、又は前記レーザ光源から出力されたレーザ光を遮光するレーザ光遮光部と、前記第1のビームスプリッタにより偏向されて前記瞳投影レンズから前記光スキャナを通った前記第1の測定光を分岐する偏光ビームスプリッタと、前記偏光ビームスプリッタにより分岐された前記第1の測定光の光路上に配置されたピンホールと、前記ピンホールを通過した前記第1の測定光を検出する検出器と、前記第1のビームスプリッタを透過した前記第2の測定光を撮像する撮像素子と、前記対物レンズと前記第1のビームスプリッタとの間の光軸上に挿脱可能な微分干渉プリズムと、前記結像レンズと前記第1のビームスプリッタとの間の光軸上に挿脱可能なアナライザと、前記光源と前記第1のビームスプリッタとの間の光軸上に挿脱可能なポラライザと、前記第2のビームスプリッタと前記偏光ビームスプリッタとの間の光軸上でかつ前記ビームスプリッタ側に配置され、前記レーザ光源から出力された前記レーザ光の波長を1/4波長位相シフトすると共に、前記試料からの前記第2の測定光の波長を1/4波長位相シフトする1/4波長板と、前記第2のビームスプリッタの透過光軸上に配置され、前記結像レンズと合わせた後ろ側焦点距離を短くする第1のフィールドレンズと、前記第2のビームスプリッタの偏向光軸上に配置され、前記瞳投影レンズ及び前記結像レンズと合わせた後ろ側焦点距離を短くする第2のフィールドレンズと、前記検出器の出力信号を処理して明視野観察、暗視野観察又は微分干渉観察での前記試料の共焦点画像を取得し、かつ前記撮像素子から出力される画像信号を処理して明視野観察、暗視野観察又は微分干渉観察での前記試料の非共焦点画像を取得する画像処理部とを具備し、前記第1のフィールドレンズと前記結像レンズとの組み合わせによる前記撮像素子上の前記非共焦点画像の視野の大きさと前記第2のフィールドレンズと前記瞳投影レンズとの組み合わせによる前記検出器上の前記共焦点画像の視野の大きさとを同一にすることを特徴とする共焦点レーザ顕微鏡である。