ベースバンド信号を出力するベースバンド信号出力手段11と、予め定められた局部発振周波数の局部発振信号を生成する局部発振信号生成手段20と、前記ベースバンド信号と前記局部発振信号とを乗算して直交変調及び周波数変換を行うことにより無線周波数信号を生成する無線周波数信号生成手段14と、を有し、前記局部発振信号生成手段は、所定周波数の周波数信号を発生する周波数信号発生部21、22、23と、可変分周器34の分周比に応じて前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する位相同期ループ回路30と、前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在することを条件として、前記複数の分周比のうち前記周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を前記可変分周器に設定する分周比設定部26と、を備えたことを特徴とする信号発生装置。前記可変分周器は、小数型の分周器であり、前記分周比設定部は、小数の分周比を前記可変分周器に設定するものであることを特徴とする請求項1に記載の信号発生装置。ベースバンド信号を出力するベースバンド信号出力ステップS12と、予め定められた局部発振周波数の局部発振信号を生成する局部発振信号生成ステップS20と、前記ベースバンド信号と前記局部発振信号とを乗算して直交変調及び周波数変換を行うことにより無線周波数信号を生成する無線周波数信号生成ステップS14と、を有し、前記局部発振信号生成ステップは、所定周波数の周波数信号を発生する周波数信号発生ステップS25、S26と、可変分周器34の分周比に応じて前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する周波数変換ステップS30と、前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在することを条件として、前記複数の分周比のうち前記周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を前記可変分周器に設定する分周比設定ステップS23と、を含むことを特徴とする信号発生方法。前記可変分周器は、小数型の分周器であり、前記分周比設定ステップにおいて、小数の分周比を前記可変分周器に設定することを特徴とする請求項3に記載の信号発生方法。しかしながら、従来の信号発生装置では、DDSを用いると不要波成分以下スプリアスという。が発生するという課題があった。このスプリアスは、DDSの出力周波数が高くなるに従って、その発生頻度及びレベルが高くなることが知られており、スプリアスの発生を抑制することができる信号発生装置が求められていた。本発明は、前述の事情に鑑みてなされたものであり、スプリアスの発生を抑制することができる信号発生装置及び信号発生方法を提供することを目的とする。本発明の請求項1に係る信号発生装置は、ベースバンド信号を出力するベースバンド信号出力手段11と、予め定められた局部発振周波数の局部発振信号を生成する局部発振信号生成手段20と、前記ベースバンド信号と前記局部発振信号とを乗算して直交変調及び周波数変換を行うことにより無線周波数信号を生成する無線周波数信号生成手段14と、を有し、前記局部発振信号生成手段は、所定周波数の周波数信号を発生する周波数信号発生部21、22、23と、可変分周器34の分周比に応じて前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する位相同期ループ回路30と、前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在することを条件として、前記複数の分周比のうち前記周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を前記可変分周器に設定する分周比設定部26と、を備えた構成を有している。この構成により、本発明の請求項1に係る信号発生装置は、分周比設定部が、周波数信号の周波数を局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在する場合、複数の分周比のうち周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を可変分周器に設定することにより、スプリアスがより発生しにくい周波数に設定できるので、スプリアスの発生を抑制することができる。本発明の請求項2に係る信号発生装置は、前記可変分周器は、小数型の分周器であり、前記分周比設定部は、小数の分周比を前記可変分周器に設定するものである構成を有している。この構成により、本発明の請求項2に係る信号発生装置は、小数型の分周器を用いてスプリアスの発生を抑制することができる。本発明の請求項3に係る信号発生方法は、ベースバンド信号を出力するベースバンド信号出力ステップS12と、予め定められた局部発振周波数の局部発振信号を生成する局部発振信号生成ステップS20と、前記ベースバンド信号と前記局部発振信号とを乗算して直交変調及び周波数変換を行うことにより無線周波数信号を生成する無線周波数信号生成ステップS14と、を有し、前記局部発振信号生成ステップは、所定周波数の周波数信号を発生する周波数信号発生ステップS25、S26と、可変分周器34の分周比に応じて前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する周波数変換ステップS30と、前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在することを条件として、前記複数の分周比のうち前記周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を前記可変分周器に設定する分周比設定ステップS23と、を含む構成を有している。この構成により、本発明の請求項3に係る信号発生方法は、分周比設定ステップにおいて、周波数信号の周波数を局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在する場合、複数の分周比のうち周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を可変分周器に設定することにより、スプリアスがより発生しにくい周波数に設定できるので、スプリアスの発生を抑制することができる。本発明の請求項4に係る信号発生方法は、前記可変分周器は、小数型の分周器であり、前記分周比設定ステップにおいて、小数の分周比を前記可変分周器に設定する構成を有している。この構成により、本発明の請求項4に係る信号発生方法は、小数型の分周器を用いてスプリアスの発生を抑制することができる。本発明は、スプリアスの発生を抑制することができるという効果を有する信号発生装置及び信号発生方法を提供することができるものである。以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。まず、本発明に係る信号発生装置の一実施形態における構成について説明する。図1に示すように、本実施形態における信号発生装置10は、波形データ記憶部11、デジタルアナログコンバータDAC12及び13、直交変調器14、自動レベル制御ALC回路16、ステップアッテネータステップATT17、操作部18、設定部19、局部発振装置20を備えている。局部発振装置20は、DDS21、局部発振器22、ミキサ23、バンドパスフィルタBPF24、分周比演算部25、分周比設定部26、周波数設定部27、位相同期ループPhaseLockedLoop:PLL回路30を備えている。PLL回路30は、位相周波数比較器PhaseFrequencyDetector:PFD31、ループフィルタLF32、電圧制御発振器VoltageControlledOscillator:VCO33、可変分周器34を備えている。波形データ記憶部11は、被試験装置を試験するための複数の試験信号データとして、デジタル値のベースバンドの波形データを記憶している。試験者は、操作部18を操作し、設定部19を介して、波形データ記憶部11に記憶された試験信号データを選択できるようになっている。試験信号データは、I相成分同相成分及びQ相成分直交成分のベースバンドの波形データを含む。波形データは、例えば、図示しないDSPDigitalSignalProcessorによって生成される。DAC12及び13は、それぞれ、波形データ記憶部11が出力するデジタル値のベースバンド信号波形データをアナログ値に変換して直交変調器14に出力するようになっている。直交変調器14は、DAC12から出力されるベースバンド信号I相成分及びDAC13から出力されるベースバンド信号Q相成分と、局部発振装置20から入力した局部発振信号とを乗算することにより直交変調及び周波数変換を行って無線周波数の試験信号RF試験信号を生成してALC回路16に出力するようになっている。この直交変調器14は、本発明に係る無線周波数信号生成手段を構成する。ALC回路16は、入力したRF試験信号のレベルを所定の電力レベルに設定してステップATT17に出力するようになっている。ALC回路16が設定する電力レベルは、設定部19からの設定信号によって設定されるようになっている。ステップATT17は、入力したRF試験信号のレベルを所定の減衰量のステップで減衰することができるATTである。このステップATT17の減衰量は、設定部19からの設定信号によって設定されるようになっている。操作部18は、試験者が試験条件及び試験手順に関する設定等を行うために操作するものであり、例えば、キーボード、ダイヤル又はマウスのような入力デバイス、これらを制御する制御回路等で構成される。試験者が設定する試験条件としては、例えば、波形データ記憶部11に記憶された波形データ、ステップATT17が出力するRF試験信号の出力レベル及び無線周波数等がある。設定部19は、例えばマイクロコンピュータによって構成されており、装置全体の制御を行うようになっている。また、設定部19は、試験者が操作部18を操作して設定した各試験条件に基づき、各試験条件を設定する制御信号を波形データ記憶部11、ALC回路16、ステップATT17、分周比演算部25にそれぞれ出力し、各試験条件を設定するようになっている。次に、局部発振装置20の構成について説明する。この局部発振装置20は、本発明に係る局部発振信号生成手段を構成する。DDS21は、比較的純度が高く周波数が安定した周期関数信号例えば正弦波を発生する発振器である。このDDS21は、本発明に係る周波数信号発生部を構成する。なお、周波数信号発生部としては、同様の機能を有するものであれば、DDS以外のものであってもよい。局部発振器22は、所定の局部発振周波数を有する局部発振信号を生成してミキサ23に供給するようになっている。この局部発振器22は、本発明に係る周波数信号発生部を構成する。ミキサ23は、DDS21の出力信号と、局部発振器22の局部発振信号とを乗算して所定周波数の周波数信号に周波数変換し、BPF24に出力するようになっている。このミキサ23は、本発明に係る周波数信号発生部を構成する。BPF24は、入力信号のフィルタリングを行って、所定周波数領域の信号を取り出すようになっている。分周比演算部25は、可変分周器34に設定する分周比を演算して求めるようになっている。ここで、分周比演算部25は、DDS21の出力可能な周波数範囲内で所望の局部発振装置20の局部発振周波数が得られる分周比を演算して求め、複数の分周比が存在する場合には、DDS21の発振周波数が最小周波数となる分周比を可変分周器34に設定する分周比として決定するようになっている。分周比設定部26は、分周比演算部25が求めた分周比を可変分周器34に設定するようになっている。この分周比設定部26は、本発明に係る分周比設定部を構成する。周波数設定部27は、分周比演算部25が求めた分周比に基づき、DDS21の発振周波数を設定するようになっている。次に、PLL回路30の構成を説明する。このPLL回路30は、本発明に係る位相同期ループ回路を構成する。PFD31は、BPF24及び可変分周器34の各出力信号の位相を比較して位相差を求め、位相差に応じた信号レベルの信号をLF32に出力するようになっている。LF32は、PFD31の出力信号を平滑化して直流電圧を生成し、この直流電圧をVCO33に出力するようになっている。VCO33は、LF32が出力する直流電圧に応じた周波数の出力信号を生成し、直交変調器14及び可変分周器34に出力するようになっている。可変分周器34は、小数型又は分数型の分周器であるフラクショナルfractional分周器で構成されている。この可変分周器34は、整数Nと0以上1未満の値F通常Fは分数で表される値に対して分周比N.Fの分周が可能であり、原理的には、一定時間内に分周比Nの分周と分周比N1の分周とをある比率で行って、その平均的な分周比がN.Fとなるようにしたものである。例えば、分周比設定部26が、分周比N.F=100.1N=100、F=0.1を設定する場合について説明する。この場合、可変分周器34は、100分周9回入力パルス数900個と101分周1回入力パルス数101個とを行い、合計入力パルス数1001個に対して10回の分周パルスを出力する。したがって、平均的な分周比は1001/10=100.1となる。次に、本実施形態における信号発生装置10の動作について図1に示したブロック構成図及び図2に示すフローチャートを用いて説明する。試験者が操作部18を操作することにより、試験者が所望する試験条件が入力され、設定部19によって試験条件が各部に設定されるステップS11。具体的には、設定部19は、波形データ記憶部11に波形データを指定する信号を出力する。また、設定部19は、ALC回路16に出力信号の電力レベルを指定する信号を、ステップATT17に減衰量を指定する信号をそれぞれ出力する。さらに、設定部19は、局部発振装置20の局部発振周波数を示す信号を分周比演算部25に出力する。局部発振装置20は、設定された局部発振装置20の局部発振周波数を有する局部発振信号を生成するステップS20。なお、局部発振信号の生成については後述する。波形データ記憶部11は、試験者が指定した、I相成分及びQ相成分のベースバンドの波形データを、それぞれ、DAC12及び13に出力するステップS12。DAC12及び13は、それぞれ、I相成分及びQ相成分のベースバンドの波形データをアナログの波形データに変換しステップS13、直交変調器14に出力する。直交変調器14は、DAC12、13からベースバンド信号と、局部発振装置20から局部発振信号とを入力し、ベースバンド信号と局部発振信号とを乗算することにより、直交変調及び周波数変換を行ってRF試験信号を生成しステップS14、生成したRF試験信号をALC回路16に出力する。ALC回路16は、入力したRF試験信号のレベルを、例えば-10dBmに設定するレベル制御を行ってステップS15、ステップATT17に出力する。ステップATT17は、設定部19が設定した減衰量でRF試験信号を減衰しステップS16、減衰したRF試験信号を出力するステップS17。次に、ステップS20の局部発振信号の生成について、図1に示したブロック構成図及び図3に示したフローチャートに基づき説明する。ここで、局部発振装置20において設定された各部の試験条件を図4に示す。すなわち、DDS21は100MHz±15MHz85MHz~115MHzの周波数信号を生成し、局部発振器22は800MHzの局部発振信号を生成し、BPF24は900MHz±15MHz885MHz~915MHzの周波数信号を出力するものとする。また、VCO33は3000MHz~6000MHzの局部発振信号を出力できるものとする。以下、局部発振装置20が3640MHzの局部発振信号の周波数を生成する場合の動作例を挙げる。設定部19は、局部発振装置20が出力する局部発振信号の局部発振周波数、すなわち、VCO33の出力周波数以下fVCOと記す。として3640MHzを分周比演算部25に指示するステップS21。分周比演算部25は、可変分周器34に設定する分周比を演算して決定するステップS22。この処理について図5及び図6を用いて具体的に説明する。まず、図5は、所望のfVCO=3640MHzの近傍周波数3400MHz~3900MHzを横軸とし、可変分周器34の分周比N.FとfVCOとの関係を示した図である。図示の例では、分周比N.Fを0.1ステップで変化させているが、本発明はこれに限定されるものではない。図5において、分周比N.F=3.9~4.2にそれぞれ対応するfVCOの周波数範囲を横線で示している。各横線の上段には、DDS21の出力周波数以下fDDSと記す。の下限値85MHz及び上限値115MHzを示している。各横線の下段には、fVCOの下限値及び上限値をそれぞれ示しており、これらは分周比N.Fに応じた値となる。例えば、分周比N.F=4.0において、fDDSが下限の85MHzのときはBPF24の出力周波数は885MHzであるので、fVCOは3540MHz885MHz×4.0となる。また、fDDSが上限の115MHzのときはBPF24の出力周波数は915MHzであるので、fVCOは3660MHz915MHz×4.0となる。次に、図6について説明する。図6は、分周比N.F=3.9~4.2において、fVCO=3640MHzが得られる場合の、可変分周器34が出力する分周周波数fD=fVCO×1/N.Fと、fDDS=fD-800MHzとの関係を示した図である。例えば、分周比N.F=3.9では、分周周波数fDは933.3MHz3640MHz×1/3.9である。この場合、fDDS=133.3MHz933.3MHz-800MHzとなり、この周波数はDDS21の出力可能周波数の範囲外である。同様に、分周比N.F=4.0ではfDDS=110.0MHz、F=4.1ではfDDS=87.8MHzであって、ともにDDS21の出力可能周波数の範囲内である。さらに、分周比N.F=4.2ではfDDS=66.7MHzであって、DDS21の出力可能周波数の範囲外である。したがって、DDS21の出力可能周波数で所望のfVCO=3640MHzが得られるのは、分周比N.F=4.0fDDS=110.0MHzの場合と、分周比F=4.1fDDS=87.8MHzの場合の2つであることがわかる。ここで、スプリアスの発生を考慮すると、DDS21の発振周波数が低い方が好ましいので、分周比演算部25は、分周比N.F=4.1fDDS=87.8MHzを採用する。なお、分周比演算部25は、DDS21の出力可能周波数で所望のfVCOが得られる分周比が3つ以上ある場合は、3つ以上の分周比のうちDDS21の発生周波数が最小周波数となる分周比を採用する。前述のように、分周比演算部25は、DDS21の出力可能周波数で所望のfVCO=3640MHzが得られる分周比を演算して求める。そして、分周比演算部25は、複数の分周比が存在する場合には、DDS21の発振周波数が最小周波数となる分周比を、可変分周器34に設定する分周比として決定する。また、分周比演算部25は、決定した分周比4.1におけるDDS21の発振周波数87.8MHzを周波数設定部27に指示する。図3に戻り、分周比設定部26は、分周比演算部25が決定した分周比を可変分周器34に設定するステップS23。周波数設定部27は、分周比演算部25が指示した発振周波数87.8MHzをDDS21に設定するステップS24。DDS21は、周波数設定部27が設定した発振周波数87.8MHzの周波数信号を出力するステップS25。ミキサ23は、DDS21からの周波数信号と、局部発振器22からの局部発振信号とを乗算しステップS26、乗算して得た周波数信号をBPF24に出力する。BPF24は、バンドパスフィルタ処理を行ってステップS27、900MHz±15MHzの周波数信号をPFD31に出力する。PFD31は、BPF24及び可変分周器34の各出力信号の位相を比較して位相差を求め、位相差に応じた信号レベルの信号をLF32に出力するステップS28。LF32は、PFD31の出力信号を平滑化することにより直流電圧を生成するループフィルタ処理を行ってステップS29、生成した直流電圧をVCO33に出力する。VCO33は、LF32が出力する直流電圧に応じた周波数3640MHzの出力信号を生成し、出力信号を局部発振信号として直交変調器14に出力するステップS30。以上のように、本実施形態における信号発生装置10は、分周比設定部26が、周波数信号の周波数を局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在することを条件として、複数の分周比のうちDDS21が発生する周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を可変分周器34に設定する構成としたので、スプリアスの発生を抑制することができる。なお、前述の実施形態において、分周比演算部25が、DDS21の出力可能周波数で所望のfVCOが得られる分周比が複数存在する場合に、DDS21の発振周波数が最小周波数となる分周比を演算によって求めて可変分周器34に設定する分周比として決定し、分周比設定部26が分周比を設定する構成を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、分周比設定部26が、fVCOと分周比との関係を予め求めたデーブルを有し、このテーブルを参照してDDS21の最小周波数が得られる分周比を設定する構成としてもよい。