レーザ光を出射する発光素子と、発光強度制御信号のレベルに応じて前記発光素子を駆動する駆動手段と、前記発光素子からの前記レーザ光の光量を検出して光量検出結果を出力する光量検出手段と、前記光量検出結果をデジタル値に変換して出力するAD変換手段と、前記AD変換手段からの出力レベルと所定の基準レベルとに基づいて前記発光強度制御信号を変化させ、前記駆動手段に対して出力するフィードバック制御手段と、前記フィードバック制御手段によって前記発光強度制御信号を変化させる際の変化単位を、前記発光素子の放射角効率に基づいて設定変更する設定変更手段と、を有することを特徴とする画像形成装置。前記発光素子の発光効率を検出する検出手段と、前記変化単位を記憶する記憶手段と、を備え、前記フィードバック制御手段は、前記記憶手段に記憶される前記変化単位に基づいて前記発光強度制御信号を変化させる構成をなし、前記設定変更手段は、前記検出手段によって検出された前記発光効率に基づいて前記記憶手段に記憶される前記変化単位を設定変更することを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。前記検出手段は、前記発光素子の光量が、所定の第1値となるときの前記発光強度制御信号のレベルと、所定の第2値となるときの前記発光強度制御信号のレベルとに基づいて前記発光効率を算出することを特徴とする請求項2に記載の画像形成装置。前記発光素子は、半導体レーザ素子であり、前記第1値は、前記発光素子の閾値であり、前記第2値は、印字の際の目標値であることを特徴とする請求項3に記載の画像形成装置。当該画像形成装置を、前記発光効率を検出する検出モードと、それ以外のモードとに切り換える切換手段を備え、前記フィードバック制御手段は、前記検出モードにおいて、前記発光強度制御信号のレベルを、所定の低レベルから所定間隔おきに一定レベルずつ次第に上昇させる上昇制御を行う構成をなし、前記検出手段は、前記上昇制御の際に前記発光素子の光量が前記第1値に達してから前記第2値に達するまでの経過時間を検出し、前記設定変更手段は、前記経過時間に基づいて前記変化単位を変更することを特徴とする請求項3又は請求項4に記載の画像形成装置。ところで、上記のようなフィードバック制御を行う場合、制御量の変化単位の設定が問題となる。例えば、発光素子からのレーザ光の光量を駆動電流量の増減によって制御する場合、従来では、その変化単位を一定値としてフィードバック制御を行っていた。しかしながら、この変化単位は、一般的に、小さくなるほど制御精度が良好となるものの追従性が悪くなり、逆に大きくなるほど追従性が良くなるものの制御精度が悪くなる。よって、変化単位は使用環境を考慮して適切に設定されることが望まれる。一方、発光素子を用いた画像形成装置では発光強度制御信号のレベル変化に応じた光量の変化の度合いが使用環境や部品間のばらつきに応じて異なるという問題がある。即ち、使用環境や部品間のばらつきによって発光強度制御信号のレベル変化に応じて光量が大きく変化する場合もあれば、光量があまり変化しない場合もある。従って、変化単位を設定する際にはこのような事情を考慮することが望ましい。本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、レーザ光について使用環境や部品間のばらつきに応じた適切なフィードバック制御が可能な画像形成装置を提供することを目的とする。本発明は、レーザ光を出射する発光素子と、発光強度制御信号のレベルに応じて前記発光素子を駆動する駆動手段と、前記発光素子からの前記レーザ光の光量を検出して光量検出結果を出力する光量検出手段と、前記光量検出結果をデジタル値に変換して出力するAD変換手段と、前記AD変換手段からの出力レベルと所定の基準レベルとに基づいて前記発光強度制御信号を変化させ、前記駆動手段に対して出力するフィードバック制御手段と、前記フィードバック制御手段によって前記発光強度制御信号を変化させる際の変化単位を、前記発光素子の放射角効率に基づいて設定変更する設定変更手段と、を有することを特徴とする。本発明によれば、発光素子の放射角効率に基づいてフィードバック制御の際の変化単位が変更されるため、放射角効率に基づいた適切なフィードバック制御が可能となる。本発明の放射角効率は、発光素子から照射されるレーザ光のパワーに対する、照射対象物例えば感光体に照射されるレーザ光のパワーの割合を意味する。従って、放射角効率が大きければ、発光素子から照射対象物に照射される際に漏洩するエネルギーが小さく、放射角効率が小さければ発光素子から照射対象物に照射される際に漏洩するエネルギーが大きいこととなる。本発明において、前記発光素子の発光効率を検出する検出手段と、前記変化単位を記憶する記憶手段と、を備える構成とし、前記フィードバック制御手段を、前記記憶手段に記憶される前記変化単位に基づいて前記発光強度制御信号を変化させる構成とし、前記設定変更手段を、前記検出手段によって検出された前記発光効率に基づいて前記記憶手段に記憶される前記変化単位を設定変更する構成とすることができる。このようにすれば、使用環境や部品の特性に応じて変化単位を自動的に設定変更できる好適例となる。本発明において、前記検出手段を、前記発光素子の光量が、所定の第1値となるときの前記発光強度制御信号のレベルと、所定の第2値となるときの前記発光強度制御信号のレベルとに基づいて前記発光効率を算出する構成とすることができる。このようにすれば、発光強度制御信号のレベル変化に応じて光量がどの程度変化するかを簡易かつ精度高く特定できる好適例となる。本発明において、前記発光素子を、半導体レーザ素子とし、前記第1値を、前記発光素子の閾値とし、前記第2値を、印字の際の目標値とすることができる。このようにすれば、フィードバック制御を行う上で影響の大きい閾値から目標値までの範囲において発光効率をより適切に検出できることとなる。本発明において、当該画像形成装置を、前記発光効率を検出する検出モードと、それ以外のモードとに切り換える切換手段を備える構成とし、前記フィードバック制御手段を、前記検出モードにおいて、前記発光強度制御信号のレベルを、所定の低レベルから所定間隔おきに一定レベルずつ次第に上昇させる上昇制御を行う構成とし、前記検出手段を、前記上昇制御の際に前記発光素子の光量が前記第1値に達してから前記第2値に達するまでの経過時間を検出する構成とし、前記設定変更手段を、前記経過時間に基づいて前記変化単位を変更する構成とすることができる。このようにすれば、発光効率を迅速かつ適切に検出できる好適例となる。本発明によれば、発光素子の放射角効率に基づいてフィードバック制御の際の変化単位が変更されるため、放射角効率に基づいた適切なフィードバック制御が可能となる。<実施形態1>本発明の実施形態1について図面を参照して説明する。図1は、本発明の実施形態1に係る画像形成装置1において、レーザーダイオードからレーザ光が照射される様子を概念的に説明する説明図である。図2は、レーザ光が感光体ドラムに照射される経路を説明する説明図である。図3は、レーザ光の制御装置の電気的構成を例示するブロック図である。図4は、変化単位の設定処理を例示するフローチャートである。図5は、レーザ光の制御処理を例示するフローチャートである。図6は、発光強度制御信号、光量、経過時間の関係を説明するためのグラフである。図7は、発光効率等について説明するためのグラフである。本実施形態に係る画像形成装置1は、レーザプリンタとして構成されるものであり、図1、図2では、その画像形成装置1の一部分スキャナ部50のみを示している。なお、図1、図2では省略しているが、画像形成装置1は、スキャナ部以外にも、図示しない給紙部、プロセス部、定着部などを備えており、電子写真方式のレーザプリンタとして構成されている。スキャナ部50は、本体ケーシング内に設けられ、図1、図2に示すように、発光素子、半導体レーザ素子の一例に相当するレーザーダイオードLD、スキャナモータ60により回転駆動されるポリゴンミラー51、レンズ52および56、反射鏡54および58などを備えている。そして、ダイオードLDから発光される所定の画像データに基づくレーザ光を、図2における一点鎖線で示すように、ポリゴンミラー51、レンズ52、反射鏡54、レンズ56、反射鏡58の順に通過あるいは反射させ、プロセス部に設けられた感光体ドラム70の表面上に高速走査にて照射させている。尚、ポリゴンミラー51、レンズ52、反射鏡54、レンズ56、反射鏡58などにより光学系部品が構成される。次にレーザ光の制御装置10について説明する。当該制御装置10は、図3に示すように、レーザ光を出射するレーザーダイオードLDと、レーザーダイオードLDからのレーザ光の光量を検出して光量検出結果を出力するフォトダイオードPDとを備え、さらに、発光強度制御信号のレベルに応じてレーザーダイオードLDを駆動する電流制御部34を有している。また、各種処理を行うCPU12が、後述するフィードバック制御部20、A/Dデータ演算部47に接続される形態で設けられている。この制御装置10では、フィードバック制御部20が発光強度制御信号S1を生成しており、この発光強度制御信号S1は、レーザーイオードLDに与える電流I1のレベルに対応している。フィードバック制御部20にて出力された発光強度制御信号S1は、PWM生成部30にて対応するレベルのPWM信号に変換され、そのPWM信号はD/A変換器32対応するアナログ信号に変換され、電流制御部34に出力される。上述の通り、そのアナログ信号に応じた電流I1が電流制御部34からレーザーダイオードLDに流れる。なお、電流制御部34とレーザーダイオードLDの間には高速変調回路が接続されており、レーザーダイオードLDに供給される電流は、この高速変調回路によってデータ信号に基づいてオンオフ制御されるようになっている。つまり、レーザーダイオードLDの発光、非発光が制御される。フォトダイオードPDは公知のフォトダイオードとして構成されるものであり、受光量に応じた電流が発生するようになっている。フォトダイオードPDの受光量に応じて生じる電流は、光量検出結果に相当するものであり、A/D変換部38に入力されるようになっている。A/D変換部38はアナログ信号として入力される光量検出結果をデジタル値に変換して出力しており、A/Dデータ記憶部42は、そのデジタル値を更新可能に記憶している。尚、フォトダイオードPDの受光量に対する電流の発光量は、半固定抵抗VRにより調整可能となっている。A/Dデータ記憶部42に記憶される値は、A/Dデータ演算部47、効率検出回路46、起動時閾値検出回路44で利用されるようになっている。A/Dデータ演算部47は、A/Dデータ記憶部42に記憶されるデジタル値光量検出結果に対応したデジタル値を比較器49に与える。比較器48は、A/D変換部38からのデジタル値を基準値設定部48に記憶される基準レベルと比較し、基準レベルのほうが大きければ正の信号を出力する。逆に、基準レベルのほうが小さければ負の信号を出力する。ここでの基準レベルは、印字をする際のレーザ光の光量の目標値具体的には、印字の際にフォトダイオードPDにて検出されるべき目標光量に対応している。つまり、レーザ光の光量が目標値となったときに得られるA/D変換部38からのデジタル値が基準値として設定される。比較器49からの出力はフィードバック制御部20、効率検出回路46に与えられるようになっている。フィードバック制御部20は、A/D変換部38からの出力レベルと所定の基準レベルとに基づいて発光強度制御信号を変化させ、電流制御部34に対して出力する構成をなしている。また、この発光強度制御信号の変化は、変化単位記憶部22に記憶される変化単位に基づいて行われる。具体的には、A/D変換部38からの出力レベルが基準値設定部に記憶される基準レベルに満たない場合つまり光量が目標値に満たない場合には、変化単位記憶部に記憶される変化単位を加算して発光強度制御信号S1を出力する。発光強度制御信号S1は、PWM生成部にて生成されるPWM信号のパルス幅を指示するであり、変化単位はこのパルス幅を増減する。つまり、比較記49から正の信号が出力される場合には、変化単位記憶部22に記憶される変化単位の分だけパルス幅を増加させる発光強度制御信号S1を出力し、比較記49から負の信号が出力される場合には、変化単位記憶部22に記憶される変化単位の分だけパルス幅を減少させる発光強度制御信号S1を出力する。設定変更部26は、フィードバック制御部20によって発光強度制御信号S1を変化させる際の変化単位を、レーザーダイオードLDの発光効率に応じて設定変更するものであり、具体的には変化単位記憶部22に記憶される変化単位を発光効率に応じて設定変更する構成となっている。ここで、発光効率とは、発光強度制御信号S1のレベル変化に応じた光量の変化の度合いを意味する。具体的には、発光強度制御信号S1で与えられるパルス幅の変化に応じた照射対象感光体ドラムでの光量変化の度合いを発光効率として検出しており、本実施形態では、発光効率は、駆動電流の変化量に応じた感光体ドラム表面での光量変化の度合いに対応している。即ち、レーザーダイオードLDの特性及び光学系部品の特性を含んだ特性となっている。尚、本実施形態では、画像形成装置組立時において、感光体ドラム70図2表面上でのレーザーダイオードLDの光量を測定して、ある発光量時におけるフォトダイオードPDの出力が所定値となるように半固定抵抗VRの値が調整され、工場において、制御装置10の初期設定が行なわれる。本実施形態に係る制御装置10では、光学系部品を含んだレーザーダイオードLDの発光効率を検出する効率検出回路46を備えており、上述の設定変更部26は、効率検出回路46によって検出された発光効率に基づいて変化単位記憶部22に記憶される変化単位を設定変更する構成となっている。この効率検出回路46は、図6に示すように、レーザーダイオードLDの光量が、所定の第1値P1となるときの発光強度制御信号のレベルと、所定の第2値P2となるときの発光強度制御信号のレベルとに基づいて発光効率を算出する構成となっている。具体的には、第1値P1は、レーザーダイオードLDの閾値レーザダイオードLDが急激に立ち上がる境界の光量とされ、第2値P2は、印字の際の目標値とされている。具体的には、後述する検出モードにおいて、フォードバック制御部20の制御により、図6のように、発光強度制御信号S1のレベルを、所定の低レベル本実施形態では光量ゼロに対応したゼロレベルから所定間隔おきに一定レベル本実施形態では起動時変化単位ずつ次第に上昇させる上昇制御を行うようにする。そして、効率検出回路46は、この上昇制御の際にレーザーダイオードLDの光量が閾値第1値P1図6に達してから目標値第2値P2図6に達するまでの経過時間を検出し、この経過時間を発光効率に相当するものとして取り扱っている。具体的には所定間隔おきに一定レベルずつ上昇させているため、閾値でのパルス幅と目標値でのパルス幅が判明すれば、経過時間を算出できることとなる。図6では、時間tごとにパルス幅0316進法ずつ上昇させる例を示しており、閾値に達したときのパルス幅1216進法と、目標値に達したときのパルス幅1B]16進法が判明すれば、P1からP2に至るまでの経過時間が判明する。この経過時間は、発光効率が大きければ短く、小さければ長くなるため、本実施形態では、この経過時間を発光効率に相当するものとみなし、発光効率に応じて変化単位を変更するようにしている。設定変更部26は、効率検出回路46によって検出された経過時間に基づいて変化単位記憶部22に記憶される変化単位を変更するようにしている。以下、具体的な処理の流れについて図4を参照して説明する。変化単位の設定処理は、当該画像形成装置1の電源投入時、印刷開始時、印刷中紙間等に行うことができ、図4では、印刷開始時に行われる場合を例に挙げて説明する。なお、S10~120の処理が行われる間が検出モードに相当しており、CPU12は、当該画像形成装置1を、発光効率を検出する検出モードと、それ以外のモードとに切り換える切換手段に相当している。つまり、CPU12は、印刷開始に伴って当該画像形成装置1を検出モードとし、S10~S120の処理を実行させ、S120の終了に伴って、当該画像形成装置1を再び検出モード以外のモード本実施形態では印刷モードに切り換えるように機能する。当該設定処理は、印刷開始に応じてCPU12により実行され、まず、S10にてレーザーダイオードLDを初期状態とする。本実施形態では、レーザーダイオードに電流を与えていない状態が初期状態である。次いで、S20にて、変化単位パルス幅の変化量を予め定められた固定値に設定する。具体的には、起動時変化単位設定部24にこの固定値が設定されており、S20では、起動時変化単位設定部24から、起動時の変化単位が変化単位記憶部22に与えられ、当該検出モードでの変化単位として設定される。なお、起動時の変化単位は所定の小レベル例えば、設定変更可能となる変化単位のうちの最も小さいレベルとされている。次に、現在の発光強度制御信号S1に対して変化単位を加算し、パルス幅PWM値を再設定する。起動直後の初期状態では、パルス幅がゼロレベルであるので、パルス幅が変化単位分だけ増加される。その後、レーザーダイオードLDの光量のモニタ値を取得する。具体的にはA/D変換部46から出力されるデジタル値がA/Dデータ演算部47によってCPU12に与えられ、このデジタル値をモニタ値としている。そして、このデジタル値が閾値レベルを超えているかを判断する。つまり、レーザ光の光量が閾値P1図6参照を超えているか否かを判断している。S50にてモニタ値A/D変換部46から出力されるデジタル値が閾値レベルを超えていない場合レーザ光の光量が閾値を超えていない場合にはS50にてNOに進み、S30以降の処理を繰り返す。モニタ値A/D変換部46から出力されるデジタル値が閾値レベルを超えている場合レーザ光の光量が閾値を超えている場合にはS50にてYESに進む。そして、閾値検出した一つ前のパルス幅を閾値データとして保持するS60。この閾値データは、PDにて検出されるレーザ光の光量が閾値に達するときにレーザーダイオードLDに与えられている閾値電流に相当する。さらに、S70にてパルス幅が変化単位分だけ増加される。その後、レーザーダイオードLDの光量のモニタ値を取得するS80。具体的にはA/D変換部46から出力されるデジタル値がA/Dデータ演算部47によってCPU12に与えられる。そして、このデジタル値が基準レベルを超えているかを判断するS90。基準レベルは、レーザ光の光量が印字の際の目標値基準値となるときにA/D変換部46から出力されるデジタル値に相当するものであり、つまり、S90では、光量が印字の際の目標値を超えているか否かを判断している。S80にてモニタ値A/D変換部46から出力されるデジタル値が基準レベルを超えていない場合レーザ光の光量が印字の際の目標値を超えていない場合にはS90にてNOに進み、S70以降の処理を繰り返す。モニタ値が基準レベルを超えている場合レーザ光の光量が印字の際の目標値を超えている場合にはS90にてYESに進む。そして、基準レベルの超過を検出した一つ前のパルス幅を効率算出用データとして保持すると共にS100、発光効率図6での経過時間を算出するS110。そして、S120にて、発光効率に基づいて変化単位を再設定する。例えば発光効率が所定レベル以上の場合には、第1の変化単位に設定し、その所定レベル未満の場合には第2の変化単位に設定するようにすることができる。また、変化単位を、発光効率の範囲に応じて3以上の段階に設定変更できるようにしてもよい。例えば、発光効率が第1の範囲にある場合には、第1の変化単位とし、第2の変化単位にある場合には第2の変化単位とし、第3の範囲にある場合には第3の変化単位に設定するようにしてもよい。図5では、レーザ光の制御処理を例示しており、印刷中に当該処理が実行されることとなる。当該処理では、S210にてレーザーダイオードLDのモニタ値A/D変換38からの現在のデジタル値と基準レベル光量の目標値に対応したレベルとを比較し、モニタ値が基準レベルよりも大きい場合にはS220にてYESに進み、設定される変化単位分、パルス幅を小さくする。逆に、基準レベルよりも大きい場合には、S220にてNOに進み、設定される変化単位分、パルス幅を大きくするS240。以上のように、本発明によれば、レーザーダイオードLDの発光効率に応じて設定変更する設定変更部26が設けられているため、レーザーダイオードLDの発光効率に応じてフィードバック制御の際の変化単位が変更できるようになり、発光効率に応じた適切なフィードバック制御が可能となる。また、本実施形態の構成では、レーザーダイオードLDの発光効率を検出する効率検出回路46と、変化単位を記憶する変化単位記憶部22とを備える構成とし、フィードバック制御部20を、変化単位記憶部22に記憶される変化単位に基づいて発光強度制御信号を変化させる構成とし、設定変更部26を、効率検出回路46によって検出された発光効率に基づいて変化単位記憶部22に記憶される変化単位を設定変更する構成としている。このようにすれば、使用環境に応じて変化単位を自動的に設定変更できる好適例となる。本実施形態では、効率検出回路46を、レーザーダイオードLDの光量が、所定の第1値となるときの発光強度制御信号のレベルと、所定の第2値となるときの発光強度制御信号のレベルとに基づいて発光効率を算出する構成としている。このようにすれば、発光強度制御信号のレベル変化に応じて光量がどの程度変化するかを簡易かつ精度高く特定できる好適例となる。また、本実施形態では、レーザーダイオードLDを、半導体レーザ素子とし、第1値を、レーザーダイオードLDの閾値とし、第2値を、印字の際の目標値としている。このようにすれば、フィードバック制御を行う上で影響の大きい閾値から目標値までの範囲において発光効率をより適切に検出できることとなる。また、本実施形態では、当該画像形成装置1を、発光効率を検出する検出モードと、それ以外のモードとに切り換える構成としている。また、検出モードにおいて、発光強度制御信号のレベルを、所定の低レベルから所定間隔おきに一定レベルずつ次第に上昇させる上昇制御を行うようにフィードバック制御部20を構成とし、上昇制御の際にレーザーダイオードLDの光量が第1値に達してから第2値に達するまでの経過時間を検出するように効率検出回路46を構成している。さらに、経過時間に基づいて変化単位を変更するように変更手段を構成している。このようにすれば、発光効率を迅速かつ適切に検出できる好適例となる。<他の実施形態>本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。本発明において、設定変更部26を、レーザーダイオードLDの微分効率に基づいて変化単位を設定変更する構成とすることができる。このように微分効率に応じてフィードバック制御の際の変化単位を変更するようにすれば、レーザーダイオードLDの発光効率を適切に反映した好適なフィードバック制御が可能となる。微分効率は、与えられた単位電流あたりの発光素子の出力変化の度合いに相当しており、図7に示すように、レーザーダイオードLDから照射される直後のレーザ光を検出することで算出できる。なお、図7では、第1のレーザーダイオードの微分効率は1/2ΔPであり、第2のレーザーダイオードの微分効率はΔPとなっている。この場合、この微分効率に応じて変化単位を設定変更するようにしてもよい。例えば、微分効率が一定レベル以上の場合は変化単位を第1の変化単位とし、一定レベル未満の場合には第2の変化単位とするようにしてもよい。本発明において、設定変更部26を、レーザーダイオードLDの放射角効率に基づいて変化単位を設定変更する構成としてもよい。このように放射角効率に応じてフィードバック制御の際の変化単位を変更するようにすれば、レーザーダイオードLDの発光効率を適切に反映した好適なフィードバック制御が可能となる。本発明の放射角効率は、発光素子から照射されるレーザ光のパワーに対する、照射対象物例えば感光体に照射されるレーザ光のパワーの割合を意味する。従って、放射角効率が大きければ、発光素子から照射対象物に照射される際に漏洩するエネルギーが小さく、放射角効率が小さければ発光素子から照射対象物に照射される際に漏洩するエネルギーが大きいこととなる。この放射角効率は、レーザ光が閾値に達したときに発光素子に与えられる駆動電流第2電流と、レーザ光が目標値に達したときに発光素子に与えられる駆動電流第1電流に基づいて定めることができる。例えば、第1電流と第2電流の差分を放射角効率とみなしてもよく、第1電流と第2電流の差分に微分効率を乗算した値を放射角効率とみなしてもよい。そして、この放射角効率に応じて変化単位を設定変更するようにしてもよい。例えば、放射角効率が一定レベル以上の場合は変化単位を第1の変化単位とし、一定レベル未満の場合には第2の変化単位とするようにしてもよい。