"試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をm層mは2以上の整数備えた多層記録型光ディスクであって、らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第1の小領域からに第nの小領域nは2以上の整数に分割されており、所定の記録層の未記録小領域に対し、他の記録層の同じ半径位置のm-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せが、他の半径位置のm-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せと異なることを特徴とする多層記録型光ディスク。請求項1に記載の多層記録型光ディスクにおいて、各試し書き領域は、m×2m-1の小領域に分割されていることを特徴とする多層記録型光ディスク。請求項1に記載の多層記録型光ディスクにおいて、前記組合せとして、全ての小領域がデータ記録済みである組合せと、全ての小領域がデータ未記録である組合せを有することを特徴とする多層記録型光ディスク。試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をm層mは2以上の整数備えた多層記録型光ディスクであって、らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第1の小領域からに第nの小領域nは2以上の整数に分割されており、第aの記録層aはm以下の整数の未記録小領域に対し、第aの記録層よりもレーザー光の入射面に近い他のa-1層の同じ半径位置のa-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せが、他の半径位置のa-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せと異なることを特徴とする多層記録型光ディスク。請求項4に記載の多層記録型光ディスクにおいて、各試し書き領域は、少なくとも2m-12m-22221の小領域に分割されていることを特徴とする多層記録型光ディスク。請求項4に記載の多層記録型光ディスクにおいて、前記組合せとして、全ての小領域がデータ記録済みである組合せと、全ての小領域がデータ未記録である組合せを有することを特徴とする多層記録型光ディスク。試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をm層mは2以上の整数備え、らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第1の小領域からに第nの小領域nは2以上の整数に分割され、所定の記録層の未記録小領域に対し、他の記録層の同じ半径位置のm-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せが、他の半径位置のm-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せと異なる試し書き領域を備えた光ディスクに対する多層記録型光ディスクの記録方法であって、所定の記録層の試し書き領域に試し書きを行い、当該試し書き領域内の各小領域におけるそれぞれの最適記録パワーを求める処理と、求められた各小領域における最適記録パワーから、当該層の最適記録パワーを求める処理を行うことを特徴とする多層記録型光ディスクの記録方法。請求項7に記載の多層記録型光ディスクの記録方法において、前記当該層の最適記録パワーを求める処理は、各小領域の最適記録パワーの平均値を求める処理であることを特徴とする多層記録型光ディスクの記録方法。請求項7に記載の多層記録型光ディスクの記録方法において、前記当該層の最適記録パワーを求める処理は、各小領域の最適記録パワーのばらつきの中心値を求める処理であることを特徴とする多層記録型光ディスクの記録方法。試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をm層mは2以上の整数備え、らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第1の小領域からに第nの小領域nは2以上の整数に分割された多層記録型光ディスクの記録方法であって、所定の記録層の未記録小領域に対し、他の記録層の同じ半径位置のm-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せが、他の半径位置のm-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せと異なるように、試し書き領域に記録を行う処理と、所定の記録層の試し書き領域に試し書きを行い、当該試し書き領域内の各小領域におけるそれぞれの最適記録パワーを求める処理と、求められた各小領域における最適記録パワーから、当該層の最適記録パワーを求める処理を行うことを特徴とする多層記録型光ディスクの記録方法。試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をm層mは2以上の整数備え、らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第1の小領域からに第nの小領域nは2以上の整数に分割され、所定の記録層の未記録小領域に対し、他の記録層の同じ半径位置のm-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せが、他の半径位置のm-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せと異なる多層記録型光ディスクの記録装置であって、前記光ディスクにレーザービームを照射するレーザーと、前記レーザーを制御するレーザービーム制御回路と、所定の記録層の試し書き領域に試し書きを行い、当該試し書き領域内の各小領域におけるそれぞれの最適記録パワーを求める試し書き処理回路と、求めた各最適記録パワーに基づいて当該層の最適記録パワーを求める最適記録パワー演算手段と、を具備したことを特徴とする多層記録型光ディスクの記録装置。試し書き領域とデータ記録エリアを有する記録層をm層mは2以上の整数備え、らせん状に設けられた各層の試し書き領域は光ディスクの内周から外周に向けて第1の小領域からに第nの小領域nは2以上の整数に分割され、第aの記録層aはm以下の整数の未記録小領域に対し、第aの記録層よりもレーザー光の入射面に近い他のa-1層の同じ半径位置のa-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せが、他の半径位置のa-1個の小領域におけるデータの記録済/未記録の組合せと異なる多層記録型光ディスクの記録装置であって、前記光ディスクにレーザービームを照射するレーザーと、前記レーザーを制御するレーザービーム制御回路と、所定の記録層の試し書き領域に試し書きを行い、当該試し書き領域内の各小領域におけるそれぞれの最適記録パワーを求める試し書き処理回路と、求めた各最適記録パワーに基づいて当該層の最適記録パワーを求める最適記録パワー演算手段と、を具備したことを特徴とする多層記録型光ディスクの記録装置。多層記録型光ディスクにレーザー光を照射することで情報を記録するとき、レーザー光の入射面に近い上位層が記録済みであるか未記録であるかによって上位層の透過率に差がでるため、同じパワーのレーザー光を出射した場合であっても入射面から遠い下位層に与えられるレーザー光のパワーは異なる。また、他の記録層に記録されている情報からのクロストークの影響により最適な記録パワーが変動する場合もある。特許文献1では、ランダムパターン記録済みの上位層の試し書き領域を通過したレーザー光で下位層の試し書き領域でのOPCを行っている。しかし、このようにして求めた最適な記録パワー値は、未記録の上位層のデータ領域を通過したレーザー光で下位層のデータ領域への記録を行うときには適したものではない。近年、多層記録型光ディスクの任意の層にデータを記録できる光ディスクが登場してきている。このような光ディスクの上位層のデータ領域では、データが記録されている領域とデータが記録されていない領域が混在する場合がある。このため、下位層にデータを記録するときには、未記録の上位層のデータ領域を通過したレーザー光で下位層のデータ領域へ記録する場合と、記録済の上位層のデータ領域を通過したレーザー光で下位層のデータ領域へ記録する場合がある。しかし、特許文献1のOPCで求めた最適な記録パワー値は、一方に対する最適値であるため、他方に対しては有効ではなく、何れかの状況においてデータの記録品質の向上に寄与しないという問題があった。上記課題は特許請求の範囲に記載の発明により解決される。多層ディスクに対してランダムに記録が行われて、各層の記録済み箇所、未記録箇所がランダムに分布して透過率がばらばらになっても、良好なパワーで書き込みを行い、データの記録品質を向上させることができる。図1を用いて、4層構造の記録型光ディスクを例に、本発明の第1の実施例である多層記録型光ディスクを説明する。図1は、片面から記録または再生が可能な多層記録型光ディスクの断面図であり、右側が光ディスクの内周側、左側が光ディスクの外周側である。この光ディスクの各層を記録または再生するためのレーザー光は上方向から入射される。以下では、レーザー光の入射面から近い順に、第1層、第2層、第3層、第4層と呼ぶこととする。各層は記録可能な領域として、OPCを行い最適パワーを求めるための試し書き領域PCAPowerCalibrationAreaと、ユーザーデータを書き込むデータ記録エリアを持つ。つまり、図1では、第1層用PCA、第2層用PCA、第3層用PCA、第4層用PCAの4つのPCAが存在することとなる。各層のPCAは、内周から順にa,b,c,d,e,f,g,h,...のように半径方向に複数の小領域エリアに細分化されている。なお、本実施例では各層のPCAが螺旋状に設けられているものとして説明するが、PCAを同心円状に設ける構成としても良い。図1に示すように、第4層用PCAのエリアa~hは全て未記録の状態であるが、第1層用PCA、第2層用PCA、第3層用PCAには表1のようにランダムパターンが記録されている。表1に従って第1層から第3層のPCAにランダムパターンを記録することで、第1層用PCAから第3層用PCAの記録済/未記録について、全ての組合せを用意することができる。第4層用PCAのエリアa~hの8エリアに対しOPCを行えば、ランダム記録が許容される光ディスクの第4層のデータ記録エリアを記録するときに発生する第1層から第3層の記録済/未記録の全ての組合せでの記録パワーの最適値を知ることができる。そして、各組合せでの最適な記録パワーの平均値を用いて第4層を記録することで、第4層のデータ記録エリアに対して適正な記録パワーで記録を行うことが容易となる。同様に、第1層のPCA中に第2層~第4層の記録済/未記録の組合せに対応する8エリアを用意し、第2層のPCA中に第1層、第3層、第4層の記録済/未記録の組合せに対応する8エリアを用意し、第3層のPCA中に第1層~第3層の記録済/未記録の組合せに対応する8エリアを用意し、各々のエリアに記録済/未記録を適切に配置することで、第1層から第3層のいずれについても他層の記録済/未記録の全ての組合せを準備することができる。このように、PCAを32エリア4×24-1に細分化すれば、4層の記録型光ディスクの任意記録層を記録するときに生じうる他3層の記録層の記録済/未記録の全ての組合せを備えた光ディスクを提供できる。なお、これを一般化すれば、m層の光ディスクの場合には、m×2m-1エリアを用意しておけばよいことが分かる。以上では、レーザー光の入射面から遠い下位の記録層の記録済/未記録の組合せも考慮したため、PCAを32エリアに細分化した。しかし、下位記録層からのクロストークが上位の記録層の記録時に与える影響は小さいため、上位の記録層の記録済/未記録のみを考慮してPCAを細分化しても良い。すなわち、第2層用に第1層を考慮した2エリア、第3層用に第1層~第2層を考慮した4エリア、第4層用に第1層~第3層を考慮した8エリアの合計14エリアを用意し、各々のエリアに記録済/未記録を適切に配置する構成としてもよい。このように、PCAを14エリアに細分化すれば4層の記録型光ディスクの任意記録層を記録するときに生じうる上位層の記録済/未記録の全ての組合せを備えた光ディスクを提供できる。なお、以上では、4層構造の光ディスクを例に説明を行ったが、本発明の適用対象はこれに限られず、任意の記録層数を有する光ディスクに対しても本発明を適用することができる。例えば、記録層の総数がmのときに、第1層から第m-1層までの各PCAを2m-1に細分化すれば、第m層記録時に発生しうる、上位の第1層から第m-1層までの記録済/未記録の全ての組合せを用意することができる。また、第1層から第m-2層までの各層のPCAを2m-2に細分化すれば、第m-1層の記録時に発生しうる、上位の第1層から第m-2層までの記録済/未記録の全ての組合せを用意することができる。同様に、第1層のPCAを21に細分化すれば、上位の第2層の記録時に発生しうる、記録済/未記録の全ての組合せを用意することができる。つまり、記録層数がmのとき、各層のPCAを2m-12m-22221に細分化すれば、任意の記録層を記録するときに生じうる、上位の記録層の記録/未記録の全ての組合せを予め用意しておくことができる。以上で説明した第1の実施例によれば、任意の記録層に記録するときにその記録層に至るまでにレーザー光が通過する記録層にて取りうる記録済/未記録の全ての組合せを予め備えた光ディスクを提供することができる。そして、この光ディスクを用いれば、後述する記録パワー制御を容易に行うことができ、上位層の透過率の変化や隣接層からのクロストークに起因する最適記録パワーの変動に適切に対応した記録パワー制御を求めるのに適した多層記録型光ディスクを提供することができる。なお、本実施例では予め記録済みとする箇所にはランダムパターンを記録する例を示したが、特定のパターンを記録する構成としてもよい。この構成によれば、光ディスクの製造時にランダムな記録パターンを生成する処理を省略することができる。また、本実施例ではデータ記録エリアの内周側にPCAが位置する例を示したが、PCAは外周側に位置してもよいし、両側にあってもよい。この構成によれば、外周側に設けられたPCAを用いることで内周側での試し書きと異なる記録速度での試し書きを行うことができる多層記録型光ディスクを提供できる。さらに、本実施例では上位層の記録済/未記録に対して全ての組合せを保持する光ディスクを説明したが、上位層のPCAが全て記録済である組合せと、上位層のPCAが全て未記録である組合せのみを有する光ディスクとしても良い。この光ディスクを用いれば、最も透過率が高い状況での最適記録パワーと、最も透過率が低い状況での最適記録パワーを簡易に求めることができ、両者の平均値についても簡易に求めることができる。図2は第1の実施例として説明した多層記録型光ディスクの製造方法である第2の実施例を示すフローチャートである。本フローチャートは製造工程の内、通常の製造工程でライト可能エリアとして製造された後、OPCのためPCAをイニシャルする部分を示す。201はPCAを各層用にy分割するステップである。第1の実施例で示した4層構造の光ディスクの場合ではyは4となる。202はy分割したPCAを各層第m層用にX個に再分割するステップである。第1の実施例で示した4層構造の光ディスクで記録、未記録の全組合せを設ける場合はX=8となる。203は、第m層用にX分割された各領域に対し各領域の各層の記録、未記録の組合せを互いに異なるようにランダムパターンをライトするステップである。第1の実施例で示した4層構造の光ディスクの場合、例えば第4層用のPCAのa~hの領域に対し領域aから順番にランダムパターンをライトするのが対応する。204は、全ての層用のPCAに対し、全てステップ203の処理が終了したかを判定し、未終了の場合はステップ203を再度実施し、終了の場合はPCA領域の作成処理を終了させるステップである。第1の実施例で示した4層構造の光ディスクの場合、第4層用のPCA、第3層用のPCA、第2層用のPCA、第1層用のPCA全てについて各層の記録、未記録の組合せが全て作成されたか判定する。本実施例によれば、多層ディスクで層間を含めたランダムアクセスをすることによって、他の層が記録済みか未記録かによって透過率の差が出たり、クロストークの影響などが受けることが考えられる場合も、各ケースに対応したOPCが可能なので、ランダムアクセスを許可するディスクにおいても適正な記録パワーで記録することが可能となるディスクが製造できる。また、本実施例では、エリアごとに全層に対して選択的にランダムパターンのライトを行なう例を示したが、一層ごとにエリアに対して選択的にランダムパターンのライトを行なう順序で行なっても構わない。図3は第1の実施例として説明した多層記録型光ディスクの記録方法である第3の実施例を示すフローチャートである。ステップ301は、第m層用のPCAのn番目のエリアにピックの位置を合わせる。第1の実施例で言えば、まずエリアaにピックの位置を合わせる。ステップ302はOPCの実行である。具体的に言えば、順次記録パワーを変化させて記録を行ない、記録を行なったエリアを再生して、最も再生品質が良くなる記録パワーを最適記録パワーとして選択する。再生品質の判定はエラーレート、ジッタ、波形等例えばβなどを用いて判断される。ステップ303はエリアを変更するためn=n1を行なう。つまり、ステップ301と組み合わせるとエリアを順次変えていくことになる。ステップ301とステップ303をあわせると、第1の実施例で言えば,エリアa、b、c...の順にピックの位置を変えていくことになる。ステップ304は第m層用の全組み合わせについてOPCを実行したか判定し、未終了ならステップ301に戻って継続、終了ならば次のステップ305に進む。第1の実施例で言えば、エリアa,b,c,d,e,f,g,h全てにおいてOPCが実行済みか判定することになる。ステップ305は、第m層に対する他層の記録済みもしくは未記録の全組合せに対するOPC結果の平均値を計算する。第1の実施例ではエリアa,b,c,d,e,f,g,h全てに対するOPCの結果の平均値を計算する。ステップ306はステップ305で求められた平均値を第m層の最適記録パワーとして登録する。本実施例によれば、多層記録型光ディスクにおいて、層間も含めたランダムアクセスを許可した場合でも、最適な記録パワーが求めることができる。具体的には、このようにOPCを行うことで、所望の記録層に記録するときに生じうる全ての組合せについて適正なレーザーパワーを求めることができ、任意の記録層にランダムに記録を行うときであっても、OPCにより求めた適正なレーザーパワーを用いて記録を行うことができる。なお、本実施例では第m層のOPCについて説明したが別の層についても同様である。又、本実施例では、第m層用のPCAに対し、他層の記録済み、未記録の全組合せエリアを設け全てに対しOPCを行い平均値を求めたが、透過率の観点に立って、第m層用のPCAに対し上層の記録済み、未記録の全組合せもしくは、選択的に選んだ組合せエリアを設けOPCを行い平均値を求めてもよい。又、本実施例では各組合せに対し最適パワーの調整を行なったが、更に記録波形の調整を行なっても良い。また、本実施例では平均値である最適記録パワーを第m層の最適記録パワーとして採用する構成を示したが、平均値を用いる代わりに最適値のばらつきの中心値を用いる構成としても良い。図4は第1の実施例として説明した多層記録型光ディスクの記録方法である第4の実施例を示すフローチャートである。図4においてステップ301、ステップ302、ステップ303、ステップ304は第3の実施例と同等であるため説明を省略する。本実施例では、第m層用のPCAに対し、他層の記録済み、未記録の全組合せエリアを設け全てに対しOPCを行う。以下で詳細に説明する。ステップ401は、第m層に対する他層の記録済みもしくは未記録の全組合せに対するOPC結果の最大値と最小値を求める。ステップ402は最大値と最小値の平均を求める。ステップ306は第3の実施例と同様に求められた平均値を第m層の最適記録パワーとして登録する。以上、本実施例によれば、多層記録光ディスクにおいて、層間も含めたランダムアクセスを許可した場合でも、最適な記録パワーが求めることができる。なお、本実施例では第m層のOPCについて説明したが別の層についても同様である。又、本実施例においても、第m層用のPCAに対し、他層の記録済み、未記録の全組合せエリアを設け全てに対しOPCを行っていたが、第3の実施例と同様に、第m層用のPCAに対し上層の記録済み、未記録の全組合せもしくは、選択的に選んだ組合せエリアを設けOPCを行なっても良い。又、記録済み、未記録の組合せのうち透過率から考慮して最大値を取るエリアと最小値をとるエリアに対してだけOPCを行なうことも可能である。又、本実施例では各組合せに対し最適パワーの調整を行なったが、更に記録波形の調整を行なっても良い。図5は本発明の多層記録型光ディスクの記録装置である第5の実施例を示すブロック図である。図5において、501は光ディスク、502は光ディスク501を回転させるディスクモーター、503は光ディスク501の読み書きのために発光するレーザー、504はレーザー503を搭載し、光ディスクにレーザー光の焦点を合わせるためのレンズ、光信号を電気信号に変換するOEICなどを更に搭載してなる光ピックアップ、505は信号再生処理回路で、光ピックアップ504で検出された信号に対し波形等化を行い、同期クロックを再生する。更には各エッジのジッタを検出する。506は試し書き再生信号処理回路で、信号再生処理回路505で検出されたジッタを基に第3の実施例のステップ3に示す処理、即ち定められたエリアに対する最適記録パワーを導出する。507は最適パワー記憶回路であり試し書き再生信号処理回路506で導出された各エリアに対する最適記録パワーを記憶する。508は平均演算回路であり、最適パワー記憶回路507に記憶された各エリアに対する最適パワーの平均を求めて、目的とする層の最適記録パワーとする。なお、本実施例では、最適記録パワー記憶回路507と平均演算回路508は最適記録パワー演算回路515の内部に設けられる構成とする。509はサーボ制御回路であり、ディスクモーターの回転制御や光ビームのフォーカスやトラッキングの制御を行なう。510はレーザービーム制御回路であり、レーザー503の発光強度の制御を行なう。511は試し書き記録信号処理回路であり、PCAに試し書きを行うための信号パターンを生成する。本実施例では一例としてランダムパターンを生成する。なお、本実施例では試し書き記録信号処理回路511は試し書き再生信号処理回路506と共に試し書き処理回路514の内部に設けられる構成とする。512は記録信号処理回路であり、データ記録エリアにユーザーデータを書き込む場合に誤り訂正符号の付加や変調処理を行なう。513はCPUであり信号再生処理回路505、試し書き再生信号処理回路506、サーボ制御回路509、レーザービーム制御回路510、試し書き記録信号処理回路511、記録信号処理回路512の制御を行なう他、平均演算回路508の出力をレーザービーム制御回路510の制御に用いる。以下では、本実施例の記録装置が、第1の実施例の光ディスクに対し、第3の実施例の記録方法で記録を行なう場合の動作を説明する。まず、第3の実施例のステップ301に対応して、サーボ制御回路509の制御により、第m層のエリアaにピックを移動する。次に、ステップ302に対応して、ライトとリードの2処理を行う。まずライト処理はこのエリア内で試し書き記録信号処理回路511で生成されたランダムパターンをレーザービーム制御回路510でレーザー503の発光パワーを逐次変更させながら記録を行う。次に行うリードの処理は、記録された信号を光ピックアップ503で再生して検出された信号から、信号再生処理回路505で各発光パワーに対するジッターを検出する。試し書き再生信号処理回路506はジッターを最小とする発光パワーを最適記録パワーとし、結果を最適パワー記憶回路507に蓄積する。ステップ303からステップ304を介してステップ301へ戻る制御は、サーボ制御回路509が、第1の実施例のエリアb,c,d,...,にピックを順次移動させることで実現される。ステップ304に対応して、CPUが全組合せでのOPCが終了したと判定したとき、すなわち、エリアa~hでのOPCが完了したとき、ステップ305に対応して、平均演算回路508は、最適パワー記憶回路507に記憶されたエリアaからエリアhの結果の平均を求める。その後、ステップ306に対応して、平均値演算回路508で求められた平均値は当該第m層の最適記録パワーとしてCPU513に送られ、当該第m層のデータ記録エリアにユーザーデータを記録する場合は、CPU513に送られた最適パワーに基づいてレーザービーム制御回路を制御する。以上、本実施例によれば、層間も含めたランダムアクセスを許可した多層記録光ディスクに対して、各層における最適な記録パワーを求めることが可能な記録装置を提供できる。なお、本実施例においては試し書きした信号の再生品質の評価をジッターを用いて行なう場合について説明したが、βなどの波形情報を用いて行なう場合は、βの検出は信号再生処理回路505で行われ、試し書き再生信号処理回路506では目標β値を与える発光パワーを最適記録パワーとする。又、本実施例では最適パワーの調整を行なったが、更に記録波形の調整を行なっても良い。この場合、記録波形は、レーザービーム制御回路509で制御される。"