金属元素として、Ba、Ti、希土類元素、MgおよびMnを含有するペロブスカイト型複合酸化物からなる結晶粒子と、粒界相とからなる誘電体磁器であって、前記結晶粒子内において、前記希土類元素の濃度の、前記Mnの濃度に対する比率が、前記結晶粒子の表面からの距離が大きくなるにつれて小さくなることを特徴とする誘電体磁器。前記結晶粒子内において、前記Mgの濃度の、前記希土類元素の濃度に対する比率が、前記結晶粒子の表面からの距離が大きくなるにつれて小さくなることを特徴とする請求項1に記載の誘電体磁器。前記Mnの濃度が、前記結晶粒子内において、ほぼ均一であることを特徴とする請求項1または2に記載の誘電体磁器。請求項1乃至3のうちいずれかに記載の誘電体磁器からなる誘電体層と内部電極層とを交互に積層してなることを特徴とする積層型電子部品。しかしながら、上記した特開平10-330160号公報に開示される誘電体磁器は、高温負荷試験における信頼性が低いという問題があった。即ち、近年においては小型高容量化が要求されているが、上記公報では、信頼性を向上する希土類元素が結晶粒子表面にのみ存在するため、積層セラミックコンデンサの誘電体層を薄層化すると、絶縁抵抗の低下が多発し、信頼性が低下するという問題があった。また、特開平5-144319号公報に開示された誘電体磁器は、BaTiO3表面に、Dy、Co等の酸化物からなる添加成分をコーティングした原料を用いて誘電体磁器が作製されているものの、焼成条件等から希土類元素を含む添加成分が結晶粒子表面に存在するため、誘電体層を薄層化すると、絶縁抵抗の低下が多発し、信頼性が低下するという問題があった。本発明は上述の課題に鑑みて案出されたものであり、その目的は高温負荷試験における信頼性を向上し、長寿命とすることができる誘電体磁器および積層型電子部品を提供することを目的とする。本発明の誘電体磁器は、金属元素として、Ba、Ti、希土類元素、MgおよびMnを含有するペロブスカイト型複合酸化物からなる結晶粒子と、粒界相とからなる誘電体磁器であって、前記結晶粒子内において、前記希土類元素の濃度の、前記Mnの濃度に対する比率が、前記結晶粒子の表面からの距離が大きくなるにつれて小さくなることを特徴とする。結晶粒子が、Ba、Ti、希土類元素、Mg、Mnを含有するペロブスカイト型複合酸化物からなるとともに、信頼性を向上する希土類元素がMgよりも結晶粒子の中央部側にまで存在すると、高温負荷試験における信頼性を向上し、長寿命とすることができる。また、結晶粒子の中央部には希土類元素が存在していないと、BaTiO3のみの強誘電性の部分が残り、これにより高い誘電率を保持したまま、高温負荷試験において高い信頼性を得ることができる。また、本発明の誘電体磁器は、前記結晶粒子内において、前記Mgの濃度の、前記希土類元素の濃度に対する比率が、前記結晶粒子の表面からの距離が大きくなるにつれて小さくなることが望ましい。さらに、本発明の誘電体磁器では、前記Mnの濃度が、前記結晶粒子内において、ほぼ均一であることが望ましい。このように、Mnが結晶粒子内においてほぼ均一に存在することにより、還元性雰囲気中で焼成される誘電体磁器中の結晶粒子の結晶成長を抑制しつつ、粒界相を生成させ、また、誘電体の還元反応を抑えることにより、高絶縁性の誘電体磁器を得ることができる。また、本発明の誘電体磁器では、希土類元素は、結晶粒子表面から、その半径の0.55倍以上中央部側にまで存在することが望ましい。これにより、希土類元素がより結晶粒子の中央部側まで存在しているため、高温負荷試験における信頼性を向上し、長寿命とすることができる。本発明の積層型電子部品は、上記誘電体磁器からなる誘電体層と内部電極層とを交互に積層してなるものである。本発明の誘電体磁器では、高温負荷試験における信頼性を向上し、長寿命とすることができる。本発明の積層型電子部品Aである積層セラミックコンデンサについて、図1の概略断面図をもとに詳細に説明する。本発明の積層型電子部品Aは、電子部品本体1の両端部に外部電極3を形成して構成されている。この外部電極3は、例えば、CuもしくはCuとNiの合金ペーストを焼き付けて形成されている。電子部品本体1は、内部電極層5と誘電体層7を交互に積層してなる容量部9の積層方向の両面に、誘電体層7と同一材料からなる絶縁層11を形成して構成されている。また外部電極3の表面には、例えば、順にNiメッキ層13、Snメッキ層もしくはSn-Pb合金メッキ層15が形成されている。一方、内部電極層5は導電性ペーストの膜を焼結させた金属膜からなり、導電性ペーストとしては、例えば、Ni、Co、Cu等の卑金属が使用されている。また、内部電極層5は卑金属を主成分とし、概略矩形状の導体膜であり、上から第1層目、第3層目、第5層目の奇数層の内部電極層5は、その一端がコンデンサ本体1の一方端面に露出しており、上から第2層目、第4層目、第6層目の内部電極層5は、その一端が電子部品本体1の他方端面に露出している。尚、外部電極3と内部電極層5は必ずしも同一材料から構成される必要はない。そして、本発明の積層型電子部品Aでは、誘電体磁器からなる誘電体層7の結晶粒子は、金属元素としてBa、Ti、希土類元素、Mg、Mnを含有するペロブスカイト型複合酸化物から構成されている。結晶粒子の粒界には、例えば、成分としてLi、SiおよびCaを含有する粒界相が主にガラスとして存在している。希土類元素は、Mgよりも結晶粒子の中央部まで存在している。希土類元素がMgよりも結晶粒子の中央部側にまで存在するとは、エネルギー分散型X線検出器EDSによるMg濃度がほぼ0になる位置よりも、希土類元素濃度がほぼ0となる位置の方が、結晶粒子の中央部側であることを意味する。また、誘電体磁器中のすべての結晶粒子について、希土類元素がMgよりも結晶粒子の中央部側にまで存在することが望ましいが、そのような構造となっていない粒子が存在する場合がある。また、結晶粒子内における希土類元素の存在量は、結晶粒子の中央部に向けて次第に減少している。これは、希土類元素が結晶粒界粒子表面から、連続的な濃度分布を持つことを意味しており、一定の濃度勾配でなくともかまわない。尚、希土類元素としては、Y、Sc、Ce、Pr、Nd、Sm、En、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、La等が挙げられるが、これらのうちでもYが望ましい。さらに、希土類元素は、結晶粒子表面から、その半径の0.55倍以上中央部側にまで存在することが望ましいが、結晶粒子の中央部には、希土類元素が存在しない領域があることが望ましい。また、Mnは結晶粒子内にほぼ均一に存在している。希土類元素、Mg、Mnの粒径0.8μmの結晶粒子内における存在量を図2に示す。この図2から、希土類元素は、Mgよりも結晶粒子の中央部まで存在し、結晶粒子内における希土類元素の存在量は、結晶粒子の中央部に向けて次第に減少しており、Mnは結晶粒子内にほぼ均一に存在していることが判る。また、図4は、粒径0.8μmの結晶粒子内のY濃度を示すもので、この図4から、Yは、結晶粒子表面から、その半径の0.7倍程度まで中央部側に存在していることが判る。これらの結晶粒子から構成されるシート状の誘電体層1層の厚みは3μm以下とされている。積層電子部品Aの、例えば、積層セラミックコンデンサの大容量化に対して、誘電体層を薄層化することは効果的な手段であり、近年の小型、高容量の積層セラミックコンデンサを構成するためには、その誘電体層厚みは1~3μmが好適である。また、結晶粒子の平均粒径は1μm以下、特には0.8μm以下が望ましい。上記したように誘電体層を3μm以下とするためには、平均粒径は1μm以下が必要であり、また、このような微粒の結晶粒子とすることにより、希土類元素を結晶粒子の中央部まで存在させることができる。製法本発明の積層型電子部品Aは、先ず、誘電体層となるグリーンシートを作製する。このグリーンシートは、例えば、BaTiO3原料粉末を用いて形成することができ、主原料のBaTiO3粉の合成法は、固相法、液相法シュウ酸塩を経過する方法等、水熱合成法等があるが、そのうち粒度分布が狭く、結晶性が高いという理由から水熱合成法が望ましい。そして、BaTiO3粉の比表面積は1.7~6.6m2/gが好ましい。このBaTiO3粉に希土類元素酸化物を表面に被覆したものを主原料とする。被覆手法としては、固相法、液相法、気相法などがあるが、手法は特に限定されるものではない。希土類元素酸化物を表面に被覆したBaTiO3粉を用いることにより、希土類元素がBaTiO3中央部まで存在しやすくなる。次に、そのグリーンシートに導電性ペーストからなる内部電極層の電極パターンを印刷し、これを乾燥させる。次に、この電極パターンが形成されたグリーンシートを複数枚積層し、熱圧着させる。その後、この積層物を格子状に切断して、電子部品本体1の成形体を得る。この電子部品本体1の成形体の両端面には、内部電極層5の電極パターンの端部が交互に露出している。次に、この電子部品本体1の成形体を大気中で40~80°C/hの昇温速度で400~500°Cにて脱バインダー処理を行い、その後、還元雰囲気中で500°Cからの昇温速度を40~80°C/hとし、1270~1300°Cの温度で2~5時間焼成し、続いて80~120°C/hの降温速度で冷却し、大気雰囲気中750~850°Cで再酸化処理を行う。特に、500°Cからの昇温速度を40~80°C/hとし、1270~1300°Cの温度で焼成することにより、被覆された希土類元素が、BaTiO3中により中央部側まで存在するようになる。この後、焼成したコンデンサ本体の両端面に、外部電極用ペーストを塗布して窒素中で焼き付けることによって、外部電極3を形成する。さらに外部電極3の表面を脱脂、酸洗浄、純水を用いた水洗を行った後、バレル方式により、メッキを行う。本発明では、結晶粒子が、Ba、Ti、希土類元素、Mg、Mnを含有するペロブスカイト型複合酸化物からなるとともに、信頼性を向上する希土類元素がMgよりも結晶粒子の中央部側にまで存在することにより、高温負荷試験における信頼性を向上し、長寿命とすることができる。積層型電子部品の一つである積層セラミックコンデンサを以下のようにして作製した。まず、誘電体素材料として、比表面積が3.2m2/gとなるBaTiO3粉末であって、BaTiO3100重量部に対して1重量部のY2O3を被覆したBaTiO3粉末を用い、このBaTiO3100重量部に対して、MgOを0.2重量部、MnCO3を0.1重量部、Li2OとSiO2とCaOからなる粒界相成分を0.5重量部とする原料粉末を、直径5mmφのZrO2ボールを用いたボールミルにて湿式粉砕することにより、調製した。比較例として、誘電体素材料として、比表面積が3.2m2/gとなるBaTiO3100重量部に対して、Y2O3を1重量部、MgOを0.2重量部、MnCO3を0.1重量部、Li2OとSiO2とCaOからなる粒界相成分を0.5重量部とする原料粉末を、調製した。次に、有機バインダを混合してスラリーを調製し、ドクターブレードによりグリーンシートを作製した。次にこのグリーンシート上に、内部電極ペーストをスクリーン印刷した。この内部電極層の有効面積は2.1mm2であった。次に、内部電極ペーストを印刷したグリーンシートを100枚積層し、その上下面に、内部電極ペーストを印刷していないグリーンシートをそれぞれ20枚積層し、プレス機を用いて一体化し、積層体を得た。この後、積層体を格子状に切断して、2.3mm×1.5mm×1.5mmの電子部品本体1の成形体を作製した。次に、この電子部品本体の成形体を50°C/hの昇温速度で大気中で500°Cにて脱バインダー処理を行い、500°Cからの昇温速度が50°C/hの昇温速度で、1270°C~1300°C酸素分圧1011atmで2時間焼成し、続いて100°C/hの降温速度で800°Cまで冷却し、大気雰囲気中800°Cで4時間再酸化処理をし、200°C/hの降温速度で冷却し、電子部品本体を作製した。誘電体層の厚みは2.5μmであった。次に、焼成した電子部品本体1をバレル研磨した後、電子部品本体の両端部にCu粉末とガラスを含んだ外部電極ペーストを塗布し、850°C、窒素中で焼き付けを行い外部電極を形成した。その後、電解バレル機を用いて、この外部電極の表面に、順にNiおよびSnメッキを行い、積層型電子部品を作製した。積層型コンデンサの高温負荷寿命試験を、本実施例および比較例のそれぞれ50個について行った。試験条件は、125°Cで定格電圧の2倍の直流電圧を印可したもの、125°Cで定格電圧の3倍の直流電圧を印可したもの、および150°Cで定格の2倍の直流電圧を印可したものの3通りで行った。試験時間1000時間後のショートしたコンデンサの、ショートに至った数を測定することにより評価した。この結果を表1に記載した。高温負荷寿命は、誘電体層を薄層化する際に特に重要となるものである。試験条件の如何に関わらず、実施例は比較例よりも高い信頼性を有することが分かる。結晶粒内の元素の濃度分布をエネルギー分散型X線検出器EDSにより測定した結果について、本発明の試料No.2を図2に、比較例の試料No.3を図3に示す。また、No.2について、結晶粒子の半径内におけるY濃度を図4に示す。比較例では、Mgの濃度が0になる距離と、Y濃度が0になる距離が同じであるが、本実施例では、Mgより、Yが結晶粒中央部側に存在していることが分かる。そのため、高い信頼性が発現することが判る。尚、試料は、Ba、Ti、希土類元素、MgおよびMnを含有するペロブスカイト型複合酸化物からなる結晶粒子と、Li2OとSiO2とCaOからなる粒界相とから構成されていた。