"原子間力顕微鏡を用いて多数の細胞を計測する方法であって、A微細加工基板上に個々の細胞を配列し、個々の細胞を自動で位置決めするステップ;B配列化した細胞の複素弾性率の周波数特性を計測するステップ;およびC細胞内計測位置または細胞内構造を変化させ、再度、多数細胞の複素弾性率の周波数特性を計測するステップ;を含む方法。前記原子間力顕微鏡は、細胞の位置を観察できる光学顕微鏡と一体化した、請求項1に記載の方法。前記微細加工基板は、ガラス基板、金属基板、または高分子系基板からなり、細胞の形状を均一化し、細胞を基板表面に配列化するために用いる、請求項1に記載の方法。前記細胞の複素弾性率の周波数特性は、原子間力顕微鏡を用いた細胞力学応答の周波数変調による計測である、請求項1に記載の方法。前記細胞内計測位置とは、原子間力顕微鏡カンチレバープローブと細胞との接触位置を変化させて計測する位置である、請求項1に記載の方法。前記細胞内構造とは、アクチン線維、微小管、中間径フィラメント等の細胞骨格構造を薬剤等の外的な要因により変化させる、請求項1に記載の方法。細胞力学特性の細胞数分布を定量解析する方法であって、A複素弾性率の細胞数分布の平均値、および標準偏差の周波数特性を算出するステップ;B細胞内計測位置、または細胞内構造を変化して得られた複素弾性率の周波数特性から実験誤差量を解析するステップ;およびC実験誤差量を考慮して細胞本来の細胞力学特性の標準偏差を算出するステップ;を含む方法。細胞力学特性の細胞数分布を定量化する装置であって、A請求項1から6に記載の方法を含む原子間力顕微鏡装置部;およびB請求項7に記載の方法を含むデータ解析部、を有する装置。先行技術では、多数細胞計測から得られた貯蔵弾性率の細胞数分布の定量解析は行われていない。その理由は、細胞本来の力学特性と実験誤差とを分離することができないからである。本発明では、細胞診断の有意差検定を行うために必要とされる、細胞数分布の定量解析法と定量解析装置を提案する。本発明の第一は、原子間力顕微鏡を用いて多数の細胞を短時間で計測する方法に関する。[1]原子間力顕微鏡を用いて多数の細胞を計測する方法であって、A微細加工基板上に個々の細胞を配列し、個々の細胞を自動で位置決めするステップ;B配列化した細胞の複素弾性率の周波数特性を計測するステップ;およびC細胞内計測位置または細胞内構造を変化させ、再度、多数細胞の複素弾性率の周波数特性を計測するステップ;を含む方法。[2]前記原子間力顕微鏡は、細胞の位置を観察できる光学顕微鏡と一体化した、[1]に記載の方法。[3]前記微細加工基板は、ガラス基板、金属基板、または高分子系基板からなり、細胞の形状を均一化し、細胞を基板表面に配列化するために用いる、[1]~[2]のいずれかに記載の方法。[4]前記細胞の複素弾性率の周波数特性は、原子間力顕微鏡を用いた細胞力学応答の周波数変調による計測である、[1]~[3]のいずれかに記載の方法。[5]前記細胞内計測位置とは、原子間力顕微鏡カンチレバープローブと細胞との接触位置を変化させて計測する位置である、[1]~[4]のいずれかに記載の方法。[6]前記細胞内構造とは、アクチン線維、微小管、中間径フィラメント等の細胞骨格構造を薬剤等の外的な要因により変化させる、[1]~[5]のいずれかに記載の方法。本発明の第二は、複素弾性率の細胞数分布を定量解析する方法に関する。[7]細胞力学特性の細胞数分布を定量解析する方法であって、A複素弾性率の細胞数分布の平均値、および標準偏差の周波数特性を算出するステップ;B細胞内計測位置、または細胞内構造を変化して得られた複素弾性率の周波数特性から実験誤差量を解析するステップ;およびC実験誤差量を考慮して細胞本来の細胞力学特性の標準偏差を算出するステップ;を含む方法。本発明の第三は、[1]から[6]に記載の原子間力顕微鏡による多数細胞計測、および[7]に記載の細胞数分布の定量解析から、細胞本来の細胞数分布を定量化する装置に関する。本発明により、原子間力顕微鏡計測により得られた細胞の複素弾性率の細胞数分布を定量的に解析することができる。原子間力顕微鏡を用いて多数細胞計測から細胞本来の偏差個性を評価することができる技術であるため、以下の作用利点がある。1高精度の力計測であり、細胞力学特性の差異を精密に評価できる。2実験条件に依存せず、細胞本来の標準偏差を解析できる。3細胞本来の標準偏差の解析により、個々の細胞の差異を定量化できる。図1は、本発明の一実施の形態における、原子間力顕微鏡を用いた細胞単体の多数細胞計測の一例を示す図である。微細加工基板上の細胞の位置を観察するために、原子間力顕微鏡と光学顕微鏡とが一体化した装置を用いる。一例として、Nikon社の光学顕微鏡TE-2000に装着されたAsylumResearch社のAFM装置MFP-3D-Bioがある。培養ディッシュ上で培養した細胞を微細加工基板上に播種培養する。可能な限り、細胞を基板上に配列し、その形状を均一にする。細胞種は、線維芽細胞、上皮細胞、内皮細胞、神経細胞、骨格筋細胞、およびそれらに関連する細胞である。原子間力顕微鏡カンチレバープローブを細胞に圧入し、カンチレバーもしくは細胞接着基板をある周波数で振動させる。振動周波数に対するカンチレバーの振幅および位相をロックイン検波器で計測し、複素弾性率貯蔵弾性率と損失弾性率を求める。この計測を、振動周波数を変化させながら行い、複素弾性率の周波数特性を測定する。この細胞測定後、隣の細胞を同様の方法で計測して多数細胞の複素弾性率のデータを得る。次に、細胞内計測位置または細胞内構造を変化させ、再度、上記と同様の計測を行う。図2に示すように、複素弾性率の細胞数分布は対数正規分布に従う。細胞数分布の平均値および標準偏差の周波数特性を算出する。生細胞の貯蔵弾性率は周波数のべき乗則に従う。図3aは、貯蔵弾性率の周波数特性を模式的に示した図である。貯蔵弾性率は、周波数の増加とともにべき乗則で増大する。べき指数の値は、細胞内測定位置や細胞内構造の計測条件に依存して変化する。計測条件が異なる計測データのべき乗曲線は点AFgで交差する。点Aの周波数Fにおいて、細胞力学特性は、計測条件に依らずに一定の値をもつ。図3aの関係から、貯蔵弾性率の細胞数分布の標準偏差の規則性が導かれる。図3bは、貯蔵弾性率の標準偏差の周波数特性を模式的に示した図である。標準偏差の大きさは、計測条件に依存して変化し、周波数の減少関数になる。計測条件が異なる計測データが交差する点Bが存在する。交差点の周波数はFであり、標準偏差はゼロである。図3に示した細胞の複素弾性率の関係は、AFM計測に制限されるものではない。従って、図3を考慮した解析法は、AFM以外の細胞力学計測法にも適用できる。図4は、AFM計測による算出された貯蔵弾性率の標準偏差Wを模式的にグラフ表示した図である。異なる細胞サンプルの結果の交点Bにおいて、標準偏差は正の値sをもつ。図3aより、この値はゼロでなければならない。したがって、数値sは細胞本来の偏差ではなく、主に、それ以外の実験誤差に起因する。このように、V=W-sの関係式を用いて、細胞本来の偏差を算出できる。図5は、微細加工基板上に配列化したマウスの線維芽細胞のAFM計測の結果を示している。通常の細胞とアクチン骨格を破壊した細胞の貯蔵弾性率は、交点F,gで一致する。また、この周波数Fにおいて、貯蔵弾性率の標準偏差Wは正の値sをもつ。図6は、異なる計測結果から細胞本来の標準偏差Vを解析した図である。異なる細胞サンプルであっても計測条件が同じ黒塗りの三角と四角である場合は、Vの値はほぼ一致する。一方で、計測条件が異なるデータ白抜きの三角と四角は、他のデータと大きく異なる。このように、細胞力学の偏差を定量的に解析することができる。図7は、細胞力学特性の細胞数分布を定量化する装置を示している。装置はAFM装置部とデータ解析部からなる。AFM装置部において、[1]から[6]に記載の多数細胞の複素弾性率のデータを取得する。データ解析部において、A複素弾性率の細胞数分布を導出するステップ;B細胞分布の周波数特性を算出するステップ;C実験誤差量を解析するステップ;およびD細胞本来の標準偏差を算出するステップ;を含む装置である。"