"水晶振動子を接続するためのXT端子とXTN端子を備え、定電流をインバータに入力する定電流方式の発振回路において、前記インバータによる消費電流を測定するテスト方法であって、前記XT端子とXTN端子の少なくとも一方にプルアップ抵抗を接続して、外部信号を入力することを特徴とする定電流方式の発振回路におけるテスト方法。しかし、この従来の水晶振動子を接続した状態で消費電流の測定を行なう方法では、水晶振動子が安定発振動作に達するまでに時間が掛かるので、テスト開始までの時間が長く、これによってテストに時間が掛かり過ぎるという不都合がある。この不都合を解消するものとして、従来においては、図3に示すように、水晶振動子を接続しないで、信号生成器SignalGenerater31で生成した外部信号をキャパシタ40を介してXT端子から入力し、この外部信号でインバータ32を動作させて発振動作を生起させ、上述と同様に、前記インバータ32に定電流源33から定電流を供給し、発振検出回路34が安定発振動作を検出した後、電流測定器35で消費電流を測定することが行なわれている。なお、図3中、36,37は負荷容量、38は帰還抵抗、39は負荷抵抗である。しかしながら、この外部信号を用いる従来例では、通常入力する信号と異なる外部信号が入力することで、入力端子の電位が低下する場合があり、このような事態が生じると、図示例ではインバータ32を構成するPMOSトランジスタの定電流源33との接続端側の電位が下がって、回路内部電圧が低下してしまい、インバータ32の動作が安定したものとならず、所望の消費電流の測定を正確に行なうことができないという問題が生じる。さらに、回路内部電圧の低下にともない発振回路から所定電圧が出力されないので、発振回路の後段に接続された図示していないインバータなどの回路素子も正常な動作をなし得ないという問題もある。本発明は、このような問題を解決した定電流方式の発振回路におけるテスト方法を提供することを目的とする。この目的を達成するため本発明に係る定電流方式の発振回路におけるテスト方法は、XT端子、XTN端子の少なくとも一方にプルアップ抵抗を接続した状態で、外部信号を入力するものである。プルアップ抵抗を接続することによって、外部信号を入力しても回路内部電圧が下がることがなく安定動作がなされる。本発明に係る定電流方式の発振回路におけるテスト方法によれば、水晶振動子を接続しないで外部信号を入力しても安定した正確なテストができ、また、発振開始時間が遅くなることがないのでテスト時間も短縮できるという効果を奏する。以下、本発明の好適な実施形態を図1に基づいて説明する。図1に示すように、32KHzの水晶発振器は従来と同様の構成で、PMOSトランジスタとNMOSトランジスタからなるインバータ1と、帰還抵抗2と、負荷抵抗3と、負荷容量4,5からなり、水晶振動子を接続するXT端子とXTN端子を備えている。前記インバータ1には定電流源6から定電流を供給し、電流測定器7で消費電流を測定する。なお、8は発振検出回路である。そして、XTN端子にはプルアップ抵抗9を接続する一方、XT端子にはキャパシタ10を介して、信号生成器SignalGenerater11で生成した外部信号を入力し、インバータ1を動作させて発振動作を生起させるよう構成している。前記プルアップ抵抗9によって、XTN端子には開放電圧、換言すると発振していない時の安定状態での電圧が掛かるよう電圧調整している。このように、信号生成器11からの外部信号はプルアップ抵抗9をXTN端子に接続した状態でXT端子から入力するので、内部回路電圧が下がることはなく、インバータ1が正常に安定動作して発振する。したがって、このインバータ1に定電流源6から供給された定電流を電流測定器7で測定することにより、消費電流の測定テストを安定して正確に行なうことができる。なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、例えばプルアップ抵抗9を接続する端子はXTN端子に限らず、XT端子あるいはこれら両端子であってもよいものである。また、定電流方式の発振回路であれば如何なる構成の回路にも適用可能である。"