光線41の寸法を制限するために、アパーチャ開口部37を備えるアパーチャ装置29を有する顕微鏡10であって、前記アパーチャ開口部37のサイズが、第1のアパーチャ部材32及び第2のアパーチャ部材34を用いて調整可能であり、前記2つのアパーチャ部材32、34のうちの少なくとも一方は、他方のアパーチャ部材32、34に対して移動可能であり、前記アパーチャ部材32、34は、前記アパーチャ開口部37が閉じられた場合に、互いに離間する、顕微鏡10。前記2つのアパーチャ部材32、34は、制限されるべき前記光線14の軸方向にて互いにオフセットされて配置されている、請求項1に記載の顕微鏡10。前記アパーチャ開口部37が閉じられた場合、前記アパーチャ部材32、34のアパーチャ縁部39、43は、制限されるべき前記光線41の軸方向にて互いにオフセットされて配置される、請求項1又は2に記載の顕微鏡10。前記アパーチャ部材32、34のうちの少なくとも一方の片側は、前記光線41の一部が前記アパーチャ開口部37を透過するように、前記光線41の別の一部を反射する反射領域33、35を備える、請求項1~3のいずれか一項に記載の顕微鏡10。前記アパーチャ開口部37のサイズを調整するために、前記アパーチャ部材32、34のうちの少なくとも一方は、制限されるべき前記光線41のビーム軸42に略垂直又は垂直な方向にて移動可能である、請求項1~4のいずれか一項に記載の顕微鏡10。前記アパーチャ開口部37のサイズを調整するために、前記アパーチャ部材32、34のうちの少なくとも一方は、制限されるべき前記光線41のビーム軸42に略平行又は平行な回転軸49、52を中心として回転可能である、請求項1~5のいずれか一項に記載の顕微鏡10。前記アパーチャ開口部37のサイズを調整するために、前記アパーチャ部材32、34のうちの少なくとも一方は、制限されるべき前記光線41のビーム軸42に略垂直又は垂直なスイング軸60、62を中心としてスイング可能である、請求項1~6のいずれか一項に記載の顕微鏡10。前記アパーチャ装置29を含む分光計11を備える、請求項1~7のいずれか一項に記載の顕微鏡10。前記アパーチャ装置29は、前記顕微鏡10の検出光路に配置される、請求項1~8のいずれか一項に記載の顕微鏡10。前記アパーチャ部材32、34のうちの少なくとも一方は、円、丸、多角形、四辺形、矩形、又は正方形に具現化される、請求項1~9のいずれか一項に記載の顕微鏡10。レーザ顕微鏡、共焦点顕微鏡、蛍光顕微鏡、多光子顕微鏡及び/又は走査顕微鏡として具現化される、請求項1~10のいずれか一項に記載の顕微鏡10。本発明の目的は、非常に小さなアパーチャ開口部を特に信頼性が高いように生成することができるアパーチャ装置を有する顕微鏡を生成することである。この目的は、独立請求項1の特徴構成により達成される。有利な実施形態は従属請求項に示される。本発明は、アパーチャ開口部が閉じられている場合、アパーチャ部材が互いから離間されることを特徴とする。アパーチャ開口部が閉じられるということは、これに関連して、光線のどの部分もアパーチャ開口部を通過せず、したがって、アパーチャ装置が完全に光線を遮ることを意味する。アパーチャ開口部が閉じられた場合にアパーチャ部材が互いから離間される結果として、アパーチャ開口部が小さくなるにつれて、アパーチャ部材を互いの任意の近傍に運ぶことができ、したがって、アパーチャ開口部を任意の小ささにすることができる。不規則な制御適用の結果として、又は製造許容差により、光線の伝播方向で見た場合、万が一アパーチャ部材が期せずして互いに近づきすぎて重なってしまう場合であっても、アパーチャ部材は互いに衝突せず、それにより、アパーチャ部材への破損が回避される。アパーチャ開口部は、例えば、円形、スリット系、又は多角形であることができる。有利な実施形態では、2つのアパーチャ部材は、制限されるべき光線の軸方向において互いからオフセットされて配置される。これにより、アパーチャ開口部が閉じられた場合のアパーチャ部材が互いから離間されることの特に単純な実施が可能である。代替又は追加として、アパーチャ開口部が閉じられた場合、制限されるべき光線の軸方向において互いからオフセットされた状態でのみ、アパーチャ部材のアパーチャ縁部を配置することができる。これにより、アパーチャ部材を軸方向において同じ高さにすることができるが、それにも関わらず、アパーチャ開口部が閉じられた場合にアパーチャ部材間に間隔を実施することができる。アパーチャ開口部を閉じることができるように、アパーチャ部材のうちの少なくとも一方は、制限されるべき光線のビーム軸に略垂直又は垂直な方向において移動可能である。代替又は追加として、アパーチャ部材のうちの一方は、制限されるべき光線のビーム軸に略平行又は平行する回転軸を中心として回転可能であることができる。代替又は追加として、アパーチャ部材のうちの少なくとも一方は、制限されるべき光線のビーム軸に略垂直又は垂直なスイング軸を中心としてスイング可能である。本発明のさらなる実施形態では、アパーチャ装置は、顕微鏡内に配置される分光計の一部である。アパーチャ装置は、例えば、顕微鏡の検出光路に配置することができる。顕微鏡は、レーザ顕微鏡、共焦点顕微鏡、蛍光顕微鏡、多光子顕微鏡、及び/又は走査顕微鏡として具現することができる。本発明の例示的な実施形態について、概略図を参照して以下にさらに詳細に説明する。同一の設計又は機能の要素は、図全体を通して同じ参照文字で記される。図1は、分光計11を有するとともに、光源12を有する顕微鏡10を示す。顕微鏡10は共焦点レーザ顕微鏡である。したがって、光源12は、1つ、2つ、又は3つ以上の波長で、又は連続波長スペクトルでレーザ光を生成するレーザである。特に、光源12は照明光線14を生成し、照明光線14は、主ビームスプリッタ16及び対物レンズ18を介して、試料ステージ20に配置された試料に向けられる。試料からの検出光は対物レンズ18及び主ビームスプリッタ16を通ってプリズム24に向かい、この文脈の中では、主ビームスプリッタ16は、照明光線14から検出光線22を分離する。プリズム24は、波長に従って検出光線22を分割する。特に、第1の波長を有する少なくとも1つの光線26及び第2の波長を有する少なくとも1つの光線28がプリズム24から出射する。第1の波長の光線26は、アパーチャ装置29を用いて軸が延びる方向に垂直な寸法が制限される。アパーチャ装置29は、第1のアパーチャ部材32及び第2のアパーチャ部材34を含む。2つのアパーチャ部材32、34はアパーチャ開口部37を画定し、アパーチャ開口部37を通して、第1の波長の第1の光線26の一部分が通過し、第1の検出器30により検出される。2つのアパーチャ部材32、34のそれぞれは反射領域33、35を含む。反射領域33、35は、第1の波長とは異なる波長の光を反射する役割を果たす。特に、第2の波長の光線28は、第2のアパーチャ部材34の反射領域35で反射され、それにより、反射光線36は第2の検出器38に衝突し、第2の検出器38で検出される。代替又は追加として、顕微鏡10は走査ユニットを備えることができる。顕微鏡10はさらに、非共焦点式に動作することができる。特に、顕微鏡10は、透過光法を使用して試料像を取得することができる。顕微鏡10は、異なる波長の光線26、28をはるかに多くの検出器に配ることができ、それにより、多数の異なる波長の光線26、28を互いに独立して同時に検出可能なように、はるかに多くのアパーチャ装置29をさらに備えることができる。例えば、アパーチャ部材32、34等の示される光学要素に加えて、好ましくは、さらなる光学要素簡明にするために図示せず、特に、さらなるアパーチャ又はアパーチャ部材、ピンホール、又はレンズを配置することもできる。特に、例えば、レンズをアパーチャ部材32、34のそれぞれと第1の検出器30との間及び/又は主ビームスプリッタ16とプリズム24との間に配置することができる。図2は、アパーチャ装置29の第1の実施形態を示す。制限されるべき光線41は、反射領域33、35の方向において2つのアパーチャ部材32、34に向けられる。制限されるべき光線41はビーム軸42に沿って進む。光線はアパーチャ開口部37を通る。アパーチャ開口部は2つのアパーチャ部材32、34、特に第1の部材32の第1のアパーチャ縁部39及び第2のアパーチャ部材34の第2のアパーチャ縁部43により制限される。制限光線40はアパーチャ開口部37を超えて延びる。アパーチャ開口部37のサイズは、2つのアパーチャ部材を調整することにより変更可能である。特に、位置決め要素図示せずを用いて、第1のアパーチャ部材32は第1の移動方向44に移動可能であり、第2のアパーチャ部材34は、ビーム軸42に垂直する第2の移動方向46において移動可能である。制限光線40がアパーチャ開口部37を通る限り、アパーチャ開口部37は開いていると呼称される。図3は、アパーチャ開口部37が閉じた状態のアパーチャ装置29の第1の実施形態を示す。アパーチャ開口部37が閉じていることは、この文脈では、制限されるべき光線41のいかなる部分もアパーチャ開口部37を通過しないことを意味する。換言すれば、アパーチャ開口部37が閉じている場合、アパーチャ部材32、34は、制限されるべき光線41の視点から重なるのに十分に互いに向かって移動しており、それにより、光線41はもはやアパーチャ開口部37を通過できない。アパーチャ開口部37が閉じている場合、2つのアパーチャ部材32、34は互いに離間されている。これにより、2つのアパーチャ部材32、34は互いに近づいて摺動することができ、それにより、アパーチャ開口部37を任意の小ささにすることができ、アパーチャ開口部37はわずか数ナノメートルにわたって延びる。製造許容差又は不規則な制御適用により、2つのアパーチャ部材32、34がさらに互いに向かって移動する場合であっても、互いに衝突して破損し得る前に隙間が存在する。図4は、2つのアパーチャ部材32、34が回転可能なアパーチャ装置29の第2の実施形態を示す。このために、第1のアパーチャ部材32は第2のマウント47に固定され、第2のアパーチャ部材34は第1のマウント45に固定される。2つのマウント45、47のそれぞれは、第1の回転軸49を中心として第1の回転方向48及び第2の回転軸51を中心として第2の回転方向50に回転可能である。アパーチャ部材32、34はマウント45、47に偏心して取り付けられるため、アパーチャ開口部37のサイズは、アパーチャ部材32、34を回転させることにより変更することができる。アパーチャ開口部37が開かれると、制限されるべき光線41は少なくとも部分的にアパーチャ開口部37を通り、制限光線40がアパーチャ開口部を超えてさらに伝播する。図5は、アパーチャ開口部37が閉状態にあるアパーチャ装置29の第2の実施形態を示す。この例示的な実施形態でも同様に、2つのアパーチャ部材32、34が、ビーム軸42の軸方向において互いにオフセットされて配置される。この結果、ここでも、アパーチャ部材32、34は、互いに衝突せずにアパーチャ開口部37を任意の小ささにすることができる。閉位置では、光線41のいかなる部分もアパーチャ開口部37を通過しない。図6は、アパーチャ開口部37が開いた状態のアパーチャ装置29の第3の実施形態を示す。この実施形態では、第1のアパーチャ部材32は第2のスイング軸62を中心としてスイング可能又は旋回可能であり、第2のアパーチャ部材34は第1のスイング軸60を中心として回転可能又はスイング可能である。2つのスイング軸60、62は、好ましくは、ビーム軸42に垂直に延びる。2つのアパーチャ部材32、34は、アパーチャ開口部37が開くのに十分に遠くにスイングし、制限されるべき光線41は少なくとも部分的に、制限光線40の形態でアパーチャ開口部37を通過する。図7は、アパーチャ開口部37が閉じた状態のアパーチャ装置29の第3の実施形態を示す。アパーチャ開口部37が閉じた場合、ここでも、アパーチャ部材32、34が互いの近傍にスイングするため、制限されるべき光線41のいかなる部分もアパーチャ開口部37を通過しない。2つのアパーチャ部材32、34は、アパーチャ縁部39、43が制限されるべき光線42の軸方向において互いからオフセットされて配置され、それにより、製造許容差又はナノメートル領域でアパーチャ開口部37のサイズを調整する位置決め要素による不規則な制御適用にも拘わらず、アパーチャ開口部37が閉じられた場合、2つのアパーチャ部材32、34が互いに衝突せず、したがって、互いから離間されるように互いに対してスイングする。本発明は、示される例示的な実施形態に限定されない。例えば、プリズム34への代替又は追加として、別又はさらなるスペクトル拡散要素を提供することができる。個々の例示的な実施形態をさらに互いに組み合わせることもできる。例えば、2つのアパーチャ部材32、34のうちの一方は回転可能又はスイング可能であってもよく、2つのアパーチャ部材32、34のうちの他方はビーム軸42に垂直にシフト可能であってもよい。さらに、2つのアパーチャ部材32、34のうちの一方はスイング可能であり、他方は回転可能であってもよい。さらに、アパーチャ装置29毎に、アパーチャ部材32、34の片側が反射性であってもよい。アパーチャ開口部37のサイズは、例えば、制御装置に記憶されたソフトウェアプログラムを用いて調整することができる。ソフトウェアは、コンピュータによりインタラクティブに使用することができる。2つの検出器30、38又は任意選択的にさらなる検出器を、ソフトウェアを用いて読み出すことができる。これらの検出器に関連付けられたアパーチャ装置29のアパーチャ開口部37はさらに、個々に調整することができる。