監視領域20に存在する物体の検出及び距離測定のための光電センサ10、特にレーザスキャナであって、多数の互いに連続した個別光パルス54を含む発射光線16を出射するための発光器12、前記発射光線16を周期的に偏向させて前記監視領域20へ出射するための回転可能な偏向ユニット18、前記偏向ユニット18の角度位置に応じた角度位置信号58を生成するための角度測定ユニット30、前記監視領域20に存在する物体により直反射又は拡散反射された発射光から受信パルス102を生成するための受光器26、及び、多数の受信パルス102を時間的なヒストグラム110にまとめ、該ヒストグラム110に基づいてセンサ10から物体までの光通過時間を求め、該時間から物体の距離に関する測定値を確定するように構成された解析ユニット32を備える光電センサ10において、前記解析ユニット32が、その都度の角度位置信号58に基づいて受信パルス102のグループ56を選択し、それをヒストグラム110にまとめ、該グループ56のヒストグラム110に基づいて確定された物体の距離に関する測定値を前記角度位置信号58により表される検出角度に割り当てるように構成されていることを特徴とする光電センサ10。前記角度測定ユニット30が所定の角度分解能で角度位置信号を出力することを特徴とする、請求項1に記載の光電センサ10。前記解析ユニット32が、1つの角度位置信号58が検出される度に所定数の受信パルス102を選択して1つのグループ56にするように構成されていることを特徴とする、請求項1又は2に記載の光電センサ10。各グループ56の最後の受信パルスと次の角度位置信号58との間に時間バッファを挿入できるように、前記個別光パルス54の数及び2つの個別光パルス54の間の時間間隔が十分に小さくなっていることを特徴とする、請求項3に記載の光電センサ10。前記解析ユニット32が、所定数の受信パルス102が検出された時間範囲内に別の角度位置信号58が存在するかどうかを検査し、該別の角度位置信号58が存在する場合には、該当グループ56のヒストグラム110に基づいて決められる物体の距離に関する測定値を、より多数の受信パルス102が属する角度位置信号58、特に該当グループ56の各受信パルス102までの時間間隔の合計が最小になるような角度位置信号58に割り当てるように構成されていることを特徴とする、請求項3又は4に記載の光電センサ10。前記解析ユニット32は少なくとも2つの解析チャネル32a~bを備え、各解析チャネル32a~bにおいてそれぞれ受信パルスを独自のヒストグラム110に集計し、各ヒストグラム110に基づいてセンサ10から物体までの光の通過時間をそれぞれ求め、その時間から物体の距離についての測定値を確定することを特徴とする、請求項1~5のいずれかに記載の光電センサ10。前記少なくとも2つの解析チャネル32a~bが部分的に重複して解析を行うように構成され、その解析において、各解析チャネル32a~bが交替で、1つの角度位置信号58に続く所定数の受信パルス102を1つのグループ56として選択することを特徴とする、請求項6に記載の光電センサ10。前記少なくとも2つの解析チャネル32a~bが並列に解析を行うように構成され、特に受信パルス102を選択してグループ56にまとめるための基準が異なっていることを特徴とする請求項6に記載の光電センサ10。前記解析ユニット32が、受信パルス102を選択してグループ56にまとめる処理を時間的に遅らせて実行するように構成されていることを特徴とする、請求項1~8のいずれかに記載の光電センサ10。前記解析ユニット32が、検出角度に応じて、及び/又は、物体までの予め決められた距離に応じて、1つのグループ56に含まれる受信パルス102の数を適宜設定するように構成されていることを特徴とする、請求項1~9のいずれかに記載の光電センサ10。各受信パルス102を前処理により両極性信号104に変換し、その信号をA/D変換器52を通じて前記解析ユニット32へ送るためのフィルタ46を含むアナログプリプロセッサ44を備え、特に、前記アナログプリプロセッサ44が前記信号104の正の部分又は負の部分を飽和レベルまで増幅するための制限増幅器50を備え、前記A/D変換器52が二値符号化器であることを特徴とする、請求項1~10のいずれかに記載の光電センサ10。センサ10の射程距離が短い場合に角度分解能を高くしたり、その逆の操作を行ったりするためのパラメータ設定装置34を備えることを特徴とする、請求項1~11のいずれかに記載の光電センサ10。前記ヒストグラム110に、受信パルス102が集められる前にプリロード値が予め割り当てられ、特に、前記プリロード値が検出角度に依存した値であることを特徴とする、請求項1~12のいずれかに記載の光電センサ10。前記プリロード値が、特に前面ガラスの反射をプリロードするために、前記監視領域20の基準状態における校正測定により決定されることを特徴とする、請求項1~13のいずれかに記載の光電センサ10。監視領域20に存在する物体の検出及び距離測定方法であって、多数の互いに連続した個別光パルス54を含む発射光線16が出射され、前記発射光線16が周期的な偏向により前記監視領域20を走査し、前記監視領域20に存在する物体により直反射又は拡散反射された発射光から受信パルス102が生成され、前記偏向の角度が角度位置信号58を通じて検出され、多数の受信パルス102が時間的なヒストグラム110にまとめられ、該ヒストグラム110に基づいてセンサ10から物体までの光通過時間が求められる方法において、その都度の角度位置信号58に基づいて受信パルス102のグループ56が選択され、それがヒストグラム110にまとめられ、該グループ56のヒストグラム110に基づいて確定された物体の距離に関する測定値が前記角度位置信号58により表される検出角度に割り当てられることを特徴とする物体の検出及び距離測定方法。従って、本発明の課題は、複数のパルスを発射する度に統計分析を行い、その結果に基づいて測定を行うという方法を、ノイズに強い角度分解的な距離測定に応用することである。この課題は、請求項1に記載の光電センサ及び請求項15に記載の物体検出及び距離測定方法により解決される。本発明は、先に従来技術として説明した公知の平均化処理を前提としている。この処理は複数パルス法と呼ばれ、単一パルスの所要時間を用いる方法及び位相に基づく方法と並ぶ第三の光通過時間測定方法のカテゴリを成す。そして、本発明の基礎を成す技術思想は、共通のヒストグラムを作るための複数のパルスを適切にまとめることで、所望の角度分解能で略連続的に走査を実行できるようにすることにある。このように複数の個別パルスを所定の検出角度に割り当てることにより、意図的な又は妨害因子による偏向ユニットの回転数の変化に強い測定を行うことができる。本発明には、水平方向に広い視野角度範囲を持ちながらも、非常に安価且つ小型であり、しかもノイズの多い環境において特に高い測定精度を有するセンサが得られるという利点がある。本発明で用いられている複数パルス法は、一意の測定が可能な範囲が従来よりも明らかに広く、また妨害因子にも明らかに強い。なぜなら、個々の測定値のS/N比が非常に低い場合でも、統計分析によって正確な測定値を得ることが可能だからである。更に、複数パルス法をスキャナ装置に応用すれば、単純な入射光記録装置では問題にならないような有利な効果がいくつも得られる。なぜなら、公知のパルス所要時間法と違って、本発明の方法は角度範囲全体を略連続的に、つまりほとんど欠落無しで走査できるため、様々な利用形態に適合させることが可能だからである。これにより特殊な測定の要求を満たすことが可能となる。あるいは、例えば無人輸送システムや運転補助装置において回転数の変動を伴うような振動が起きた場合に発生するノイズのような、特殊なノイズに反応する装置の開発も可能である。本発明において、角度測定ユニットは、所定の角度分解能で角度位置信号を出力することが好ましい。前記角度分解能は、角度単位形成体に設けられた等間隔で均一に増加する符号とそのまま一致するものでもよいし、あるいは、そうして実際に測定された角度位置から、内挿又は外挿によって、均一な角度分解能や、検出方向に応じて変わる角度分解能を更に求めてもよい。最も簡単な場合、角度測定ユニットにおいて物理的に決定される角度位置信号、あるいはその信号から計算で求められる角度位置信号は、1つのグループを形成する所望の数の受信パルスの開始位置を示す一種の角度トリガとして利用することができる。あるいは、例えば前記角度位置信号が受信パルスのグループの末尾又はその他の位置に来るように、事後的にパルスのグループ分けを行ってもよい。本発明において、解析ユニットは、1つの角度位置信号が検出される度に所定数の受信パルスを選択して1つのグループにするように構成されることが好ましい。その1つの実施形態においては、前記所定数をすべての角度位置信号に対して同一の値とすることにより、どの検出角度においても1本のヒストグラムが同じ回数分の測定値から成るようにする。ここで、1つのグループに含まれる受信パルスが連続的に並んでいる必要はない。例えば、一連の受信パルスを2つの別のグループに交互に割り振ることも可能である。この方法は、個別光パルスを高い出力レベルと低い出力レベルで交互に出射する場合に利用できる。これにより、反射率の低い目標物に対しては高い出力レベルでの走査で得られる測定値を取得する一方、反射率の高い目標物例えば反射鏡に対しては低い出力レベルでの走査で得られる測定値を取得し、飽和又は過負荷を回避するのである。2つの個別光パルスの時間間隔は一定であること、つまり発光器は一定の反復周波数で動作することが好ましい。あるいは、時間軸上でスキャン動作のむらを平坦化するとともに、離散的なパターンによる人為的な影響を避けるために、個別光パルスにそれぞれ時間的なオフセットを与え、単にそれらの平均値だけが一定の反復周波数に一致するようにしてもよい。各グループの最後の受信パルスと次の角度位置信号との間に時間バッファを挿入できるように、個別光パルスの数及び2つの個別光パルスの間の時間間隔を十分に小さくすることが好ましい。この方法では、2つの角度位置信号の間の時間を最大限に利用した場合に可能な数よりも少ない数の受信パルスしか分析に供されなくなる。これにより、回転の変動が緩和され、次の角度位置信号が到来するまでに受信パルスのグループが完全に揃うことが保証される。この方法では、1つの角度位置信号に対して解析に必要な数の個別光パルスだけを発生させることが好ましい。この場合、時間バッファの間にはパルスの出射が中断されることになる。あるいは、個別光パルスを連続的に出射しつつ、前記時間バッファの間はパルスを解析対象から外してもよい。時間バッファを用いる代わりに、新たな角度位置信号の検出の度に現在のグループを終了し、新たなグループを開始するようにしてもよい。この方法では、時々、特に回転速度が変化した場合に、各グループに含まれる受信信号の数が互いに違ってくる。そうなると統計的な深さに差が生じ、その結果、検出角度とともに射程距離が変動することになる。解析ユニットは、所定数の受信パルスが検出された時間範囲内に別の角度位置信号が存在するかどうかを検査し、該別の角度位置信号が存在する場合には、該当グループのヒストグラムに基づいて決められる物体の距離に関する測定値を、より多数の受信パルスが属する角度位置信号、特に該当グループの各受信パルスまでの時間間隔の合計が最小になるような角度位置信号に割り当てるように構成されることが好ましい。この方法は時間バッファを必要としないため、偏向ユニットの1回転毎に取得できる最大数の個別測定値を含む最大量の測定情報が得られる。なお、前記別の角度位置信号は本来、次の測定値に対応する新たなグループの検出の開始を要求する信号である場合があるが、仮に前記所定数の受信パルスの間にこのような信号が挟まっていても、該所定数の受信パルスを1つのグループに集める。これは、検出角度の変化に応じて射程距離が変動することを回避するためである。その後、該当グループの場所を最も良く表す角度位置信号に測定値を割り当てる。なお、回転速度が予想通りである場合には、2つの角度位置信号の時間間隔及び前記所定数を特に互いに合わせて調整することで、前述のような事後的な割り当てを不要にすることが好ましい。あるいは、前記所定数の信号パルスの収集を繰り返し遅延させることにより、新たな測定値がちょうど次の次の角度位置信号に割り当てられるようにすることも可能である。このとき、意図的に飛ばされた角度位置信号については、内挿により測定値を求めることができる。解析ユニットは少なくとも2つの解析チャネルを備え、各解析チャネルにおいてそれぞれ受信パルスを独自のヒストグラムに集計し、各ヒストグラムに基づいてセンサから物体までの光の通過時間をそれぞれ求め、その時間から物体の距離についての測定値を確定することが好ましい。異なる解析チャネルに対して、受信パルス、グループ及び角度位置信号の間に割り当て規則が特にない場合、上記の構成はハードウエアの故障を見つけ出すための冗長な測定を可能にする。これは特に安全技術の分野で有意義である。同時に、解析チャネル毎にグループ化の方法を異ならせるという選択肢もある。これはまず、冗長且つ異なる種類の解析を行う上で役立つ。つまり、同じ解析対象に異なる測定方法を用いることで、単純な冗長性を持つシステムよりも頑強なシステムが得られる。それから、上記の方法によれば、回転速度の変化の問題が解決できるとともに、追加的な測定情報も得られる。別の実施形態では、出力レベルの低い個別光パルスが一方の解析チャネルで解析され、それと交互に出射される、出力レベルの高い個別光パルスが他方の解析チャネルで解析される。前記少なくとも2つの解析チャネルは部分的に重複して解析を行うように構成され、その解析において、各解析チャネルが交替で、1つの角度位置信号に続く所定数の受信パルスを1つのグループとして選択することが特に好ましい。これにより、欠落のない走査が可能となり、内挿で埋め合わせるべき欠落が測定に生じる恐れがある手法つまり、時間バッファの設定や角度位置信号の事後的な割り当てを用いる必要がなくなる。この実施形態において、1つの解析チャネルが所定数の受信パルスの収集を終える前に次の角度位置信号が到来したとしても、それは何ら障害とはならない。なぜなら、既に別の解析チャネルにおいて新たなグループの測定が重複的に始まっているからである。このような状況は、例えば2つの解析チャネルを用いる場合には交互に生じ、グループの重複の度合いを一層高めるために3つ以上の解析チャネルを用いる場合には循環的に生じる。重複の度合いを高めることは、例えば、射程距離が大きいとき及び/又は回転速度の変動が大きいときに高い角度分解能を達成する必要がある場合に有用と思われる。前記少なくとも2つの解析チャネルは並列に解析を行うように構成されることが好ましい。更にこれを、特に解析チャネルの追加によって、部分的な重複と組み合わせることができる。また、並列の解析チャネルにおいて受信パルスを選択してグループにまとめるための基準が異なっていることが特に好ましい。例えば、ある解析チャネルでは少数の受信パルスから成る多数のグループを作り、別の解析チャネルでは多数の受信パルスから成る少数のグループを作ることができる。これにより、同一の物理的な測定から、射程距離は短いが角度分解能が高い測定値と、角度分解能は低いが射程距離が長い測定値の両方が得られる。なお、これは異なる解析手法の一例に過ぎない。別の例では、前記少なくとも2つの解析チャネルが互いに時間的にずれて動作し、そこではどのグループも同じ所定数の受信パルスで構成されるものの、ある解析チャネルは角度位置信号の到来と同時に各グループの処理を開始する一方、他の解析チャネルは2つの角度位置信号の中間の時点で各グループの処理を開始する。これは、一種の移動平均処理であり、解析チャネルの数に応じてその分解能が増倍される。解析ユニットは、受信パルスを選択してグループにまとめる処理を時間的に遅らせて実行するように構成されることが好ましい。この構成では、例えば走査周期の1回分又はその半分程度という、極めてわずかな時間的な遅延だけで略リアルタイムに測定値の解析が行われる。偏向ユニットの通常の回転数であれば、リアルタイム解析に対する遅れはわずか数分の一秒程度である。その代償として、事後的に任意且つ適応的なグループ分けを行うことできる。そのためには、後で改めて各受信信号を1つの角度位置に割り当てることができるように、受信信号に時間又は角度を示す一種の刻印を施す。解析ユニットは、検出角度に応じて、及び/又は、物体までの予め決められた距離に応じて、1つのグループに含まれる受信パルスの数を適宜設定するように構成されることが好ましい。グループの大きさが変わると、射程距離及び角度分解能の変化という実際上の効果が生じる。検出角度に応じて受信パルス数を設定する場合、角度分解能は低いが射程距離が長い角度領域や、それとは逆の角度領域が形成される。これにより、各用途に応じたより柔軟な対応が可能となる。物体までの予め決められた距離に基づいてグループ分けを適宜行うという方法は、例えば、まず何もない監視領域を長い射程距離と低い角度分解能で走査し、その走査で物体が検出された後は、その物体に合わせて、全角度領域における又は前記物体の検出角度を含む所定の角度領域内における射程距離を短くすることにより、該領域での角度分解能を高める、という形で利用できる。各受信パルスを前処理により両極性信号に変換し、その信号をA/D変換器を通じて解析ユニットへ送るためのフィルタを含むアナログプリプロセッサを設けると有利である。受光器への光の入射により発生するのは正の信号のみであるので、光信号は常に単極性である。光の入射により振動するフィルタ例えばバンドパスフィルタや差動素子を後段に接続すると、両極性信号が得られる。この信号をA/D変換した後、デジタル信号処理により、ゼロ交差法を用いて受信時点を確定することができる。この方法は、例えば正のピークの位置を求める方法よりもはるかに正確である。なぜなら、ゼロ交差は信号の強度に依存せず、従って出力や環境に関するパラメータの影響を受けないからである。前記フィルタの前段又は後段には増幅器、特にトランスインピーダンス増幅器を配置することが好ましい。更に、前記アナログプリプロセッサが信号の正の部分又は負の部分を飽和レベルまで増幅するための制限増幅器を備え、前記A/D変換器が二値符号化器バイナライザであることが特に好ましい。このようにすれば、二値的な受信信号が生成されるため、非常に少ないリソースで統計解析を行うことができる。本発明に係る光電センサは、該センサの射程距離が短い場合に角度分解能を高くしたり、その逆の操作を行ったりするためのパラメータ設定装置を備えることが好ましい。パラメータ設定装置は、センサ上の操作パネルの形、あるいはデータ結合用の出力部の形で構成することができる。このようなパラメータ設定機能の追加により、具体的な使用の際、必要に応じてより一層柔軟な対応が可能となる。また、グループ分けが変わった場合、各受信パルスを収集する際にパラメータに応じて射程距離の拡張又は短縮及び角度領域の拡大又は縮小を行うための設定が変更される。ヒストグラムには、受信パルスが集められる前にプリロード値を予め割り当てることが好ましい。特に、前記プリロード値は検出角度に依存した値にする。これにより、予想値が表現され、その後の測定結果を修正することができる。前記プリロード値は、監視領域の基準状態における校正測定により決定されることが好ましい。その場合、前記予想値は最初の測定により得られる。その際、場合によってはより多くの回数の校正測定値の平均化処理又は他の前処理の後、基準値そのものではなくその否定値符号を逆転させた値がプリロード値として用いられる。このようにすると、まず予想値に相当する量が自動的に打ち消された後、測定値が実際に現れる。プリロードの一例として前面ガラスの反射が挙げられる。受信信号の一部は前面ガラスの表面における個別光パルスの反射に由来するものであり、これが測定を妨害する。そこで、前面ガラスによる反射の典型的なパターンを予め測定し、ヒストグラムに予めロードしておけば、最終的に前記妨害の影響がないヒストグラムを得ることができる。プリロードの別の例として参照用の背景が挙げられる。この場合、センサは既知の物体配置からの動的な変化だけを記録することになる。先に説明した前面ガラスの反射の例では、基本的にプリロードが全てのヒストグラムに等しく関係するが、参照用の背景の場合、各ヒストグラムに与えるプリロード値は検出角度に応じて異なるものとなる。本発明に係る方法は、前記と同様のやり方で仕上げていくことが可能であり、それにより同様の効果を奏する。そのような効果をもたらす特徴は、例えば本願の独立請求項に続く従属請求項に記載されているが、それらに限定されるものではない。以下、本発明について、更なる特徴及び利点をも考慮しつつ、模範的な実施形態に基づき、添付の図面を参照ながら詳しく説明する。図面の内容は以下の通りである。図1は本発明に係る光電センサの一実施形態であるレーザスキャナ10の概略断面図である。発光器12は、例えばレーザ光源を備えており、発光光学系14を用いて発射光線16を生成する。この発射光線16は偏向ユニット18を介して監視領域20へと出射される。そこに何か物体が存在すれば、光線はその物体により拡散反射される。この反射光22は再びレーザスキャナ10へと戻り、偏向ユニット18により偏向された後、受光光学系24により収束され、受光器26例えばフォトダイオード、あるいは、より高い感度が必要な場合はアバランシェフォトダイオードAPDにより検出される。図示したレーザスキャナ10では、発光器12と発光光学系14が受光光学系24の中央に設けられた開口の中に配置されているが、この配置は単なる一例に過ぎない。例えば、発光光線16のための専用の鏡領域を設けたり、分割鏡を用いたりする等、他の方法を用いる形態も本発明に含まれる。偏向ユニット18はモータ28により一定の走査周波数で連続的に回転駆動される。これにより、走査周期の間、つまり前記走査周波数で完全に1回転する間、一つの平面が発射光線16により走査される。偏向ユニット18の外周部には、各時点における偏向ユニット18の角度位置を検出するために角度測定ユニット30が配置されている。本実施形態では、例として、角度単位形成体としての目盛り板と走査手段としてのフォーク状光遮断機から成る角度測定ユニット30を用いている。解析ユニット32が発光器12、受光器26、モータ28及び角度測定ユニット30と接続されている。後で図2及び図3を用いて詳しく説明する複数パルス法により、発射光線16の出射から反射光22の受光までの所要時間が測定され、その時間と光の速度に基づいてレーザスキャナ10から検出された物体までの距離が推定される。その発射光線16が出射された時点での角度位置は角度測定ユニット30を介して解析ユニット32に通知されている。偏向ユニット18の通常の回転周波数に対して、前記所要時間は無視しうるほど短い。従って、発射光線16の発射とそれに対応する反射光22の検出は、実際上、同じ角度位置で行われる。こうして、走査周期毎に監視領域20内の全ての対象点の角度及び距離の2次元極座標が得られる。これにより物体の位置又は輪郭が分かり、インタフェース34を通じてその情報を外部へ出力したり、スキャナ10上で表示したりすることができる。なお、インタフェース34は、解析ユニット32へデータを入力するためのパラメータ設定用インタフェースとして利用することもできる。あるいは、別にパラメータ設定専用のインタフェースを設けてもよい。安全技術の分野で使用する場合はインタフェース34の安全性を高めてもよい。特に、防護領域への侵入が確認された場合に安全確保に向けた電流遮断信号を出力するには、より安全性の高い出力部OutputSignalSwitchingDeviceOSSDを用いる。レーザスキャナ10は、筒状に外周を取り巻く前面ガラス38を備えるケーシング36に収納されている。なお、本実施形態におけるケーシング36及び前面ガラス38の幾何形状、並びに、発光チャネル及び受光チャネルの形態は純粋な模範例に過ぎない。本発明を利用できる基本設計は他にも多数知られている。本発明では複数パルス法により所要時間を測定する。これについて図2及び図3に基づいて以下に詳しく説明する。以下の説明において、同一の符号は同一の特徴部分を示している。なお、1次元距離測定装置のための複数パルス法は、先に言及した特許文献3により公知であるので、その全体的な説明については該文献を参照されたい。本実施形態の解析ユニット32は、例として2つの解析チャネル32a~bを備えており、FPGAFieldProgrammableGateArray等のデジタルチップ38上に実装されている。レーザスキャナ10の制御ユニットとしても機能する解析ユニット32は、遅延装置40及びレーザ駆動回路42を通じて発光器12に指示を出し、特定の時点に個別光パルスを出射させる。遅延装置40はFPGAのレジスタやカウンタ等を用いて実現できる。個別光パルスから生じる拡散反射光22は受光器26により受信パルスに変換され、前増幅器46、フィルタ48及び制限増幅器50を有するアナログプリプロセッサ44並びにA/D変換器52を通じて解析ユニット32へ送られる。前増幅器46及びフィルタ48の配置は入れ替えてもよい。図2の様々な中間段階で発生する信号を図3に示す。発光器12は各測定期間100内に1つの個別光パルスを出力する。このパルスにより正確な時点の確定が可能となる。それには矩形パルスが好適であるが、他の種類のパルス例えばガウス形パルスも考えられる。個別光パルスは、監視領域20において直反射又は拡散反射された後、受光器26において電気的な受信パルス102に変換され、トランスインピーダンス増幅器46により増幅される。なお、図では受信パルス102が理想的な形状で描かれているが、実際にはノイズの混入や波形の歪みが加わることがある。光の性質上、受信パルス102は常に単極性信号となる。フィルタ48例えばバンドパスフィルタではそのパルスから両極性信号104が生成される。なお、図では最初の2つの波だけを描いている。本来の両極性信号104の両側にある灰色の長方形はノイズレベルを象徴的に示している。制限増幅器50では、この両極性信号104が飽和レベルまで増幅された上でカットされる。これにより、本来の信号が矩形状の側面部106になり、灰色の矩形で描かれたノイズレベルがダイナミックレンジ全体にわたって振幅方向に引き延ばされる。矩形状の側面部106は、特に二値符号化器として構成されたA/D変換器52において走査される。図ではこの走査の各基点が矢印108で象徴的に示されている。生成されるビット列は解析ユニット32においてヒストグラム110の作成に用いられる。そのために、対応するビット値が1のときだけ計数値を加算する累算器がヒストグラムの各ビン毎に設けられている。ノイズの無い理想的な信号であれば、このヒストグラムは、前記矩形の側面部106が存在する箇所のビンだけが満たされた形となる。しかし、図のように、制限増幅器34によりノイズレベルが引き上げられるため、他のビンも満たされている。ノイズはランダムに発生するため、確率的には測定期間100の2回に1回の割合でこの形になる。以上のような処理を繰り返し、測定期間100のn回分のヒストグラム110を作成すると、全てのビンがノイズにより約n2のレベルまで満たされ、そこに統計的な変動が加わった形となる。このn2のレベルが二値化処理の信号値0に相当する。両極性信号104の正極性の部分により形成される最大値は前記0レベルより上に突出し、対する最小値はそのレベルより下へ突出する。その中間の連続的なゼロ値を検出することにより、解析ユニット32は、信号レベルに影響されることなく受信時点を確定できる。多数の個別測定値の統計的な分析によりS/N比が大幅に向上するため、ノイズの多い環境下でも確実に距離を測定することができる。このことは、増幅後の個々の受信パルス102に大量のノイズが付随しているために目的の信号とノイズが全く区別できないような場合にも当てはまる。図3に示したのは測定期間100のうち受信時点を含む重要な区間のみである。メモリを節約するため、この時間領域を事前に求めておき、測定期間100の一部のみに対応するヒストグラム110を作成してもよい。本発明では、前述のように個別光パルスが出射され、解析ユニット32により測定値毎にヒストグラム110にまとめられて分析される。偏向ユニット18が回転しているため、各個別光パルスには固有の角度でずれが生じる。複数パルス法では、走査周波数、角度分解能及び射程距離の交換を容易に行うことができる。これらのパラメータは、統計的な深さ又は平均化の深さ、すなわちヒストグラム110において1つの測定値にまとめられる受信パルス102の数を介して、相互に関係している。4番目の調節可能なパラメータとして個別光パルスの反復周期が考えられるが、ここでは一定であるものとする。前記3つのパラメータが交換可能であることについて図4~図6に基づいて以下に説明する。図4aは平均化の深さが小さい場合、図4bは平均化の深さが大きい場合の信号強度の時間的な推移をそれぞれ示している。いずれの場合も、近い領域からの受信パルス102aはノイズレベルと十分区別できる。一方、遠い領域からの受信パルス102bは、平均化の深さが大きい図4bの方でしかノイズから分離されていない。従って、統計的な深さを大きくするほど、レーザスキャナ10の射程距離は長くなる。図5及び図6はいずれもレーザスキャナ10と走査期間の一部の間に出射される個別光パルス54を示す平面図である。ヒストグラム110を作成する際に1つにまとめられる複数の受信パルス102に対応する個別光パルス54の組が矢印56で示されている。なお、実際には、1度あたり数100個以上という多数の個別光パルス54が出射されるのが通例である。図5は角度分解能と射程距離が交換可能であることを説明している。図5aでは個別光パルス54が大きめのグループ56にまとめられている。従って、図4に基づいて説明した関係からすると、比較的遠方の物体まで検出可能である。その代わり、各グループ56は比較的広い角度範囲に広がっている。これに対し、図5bでは角度分解能がより高くなっており、それだけ各グループ56のパルス数が小さくなっている。このように平均化の深さが小さくなると、S/N比が低下し、射程距離が短くなる。走査周波数についても全く同様の交換可能性がある。図6aはある一定の走査周波数の場合の比較図を示している。走査周波数が高くなると、同じ角度範囲に入る個別光パルス54の数が少なくなる。この場合、図6bのように角度分解能を維持しようとすると、統計的な深さが小さくなるため、射程距離が短くなる。一方、図6cのように射程距離をそのまま維持しようとすると、角度分解能が低下する。なぜなら、同じ統計的な深さを確保するにはより広い角度範囲から個別光パルス54を集めなければならないからである。当然のことながら、この原理によると、射程距離の短縮と角度分解能の低下の両方が起きるものの、その程度が先の2例より小さいという、中間の段階も考えられる。本発明では、このような交換可能性を利用して、射程距離、走査周波数及び角度分解能をパラメータとして設定できるようにする。例えば、ユーザがこれらの量のうち一つ又は複数を予め設定すると、レーザスキャナ10が統計的な深さを介して残りの量を適切に設定する。同様に、射程距離と角度分解能を可変とした適応性のある方法も考えられる。この適応化は、視野角に依存させる他、時間に依存させることも可能である。例えば、特定の角度領域では短い射程距離と高い角度分解能で、また残りの角度領域では長い射程距離と低い角度分解能でそれぞれ検出を行うといったことが可能である。別の例として、無人輸送機械車両、船舶、飛行機等への応用が挙げられる。この場合、まず粗い角度分解能と長い射程距離で走行又は航行し、物体を検出したら、既に分かっている物体までの距離に合わせて射程距離を変えつつ、次第に角度分解能を高めていく。加えて、角度に依存した適応を併用してもよい。複数パルス法はほぼ連続的に処理が行われる。なぜなら、発光器12は連続的に個別光パルス54を出射し、その都度、それに応じて記録された受信パルス102がグループ56にまとめられ、ヒストグラム110に統合されると、直ちに次のグループ56の解析が行われる。その際、解析のために休止時間が生じることもある。こうして、原理的に欠落が無く、どの走査角度においても走査の欠落がないスキャナ装置ができる。使用環境にもよるが、レーザスキャナ10では、振動や揺れ等に起因して回転数にある程度の変動が生じる。そうすると、現在の測定が終わる前に、新たなヒストグラム110を用いた新たな測定値の解析が始まってしまうということが起き得る。図7はこのような状況の例を示している。図7aは回転数の変動がない理想的な場合である。角度測定ユニット30が均一に等間隔で角度位置信号56を出力し、個別光パルス54又はそれに対応する受信パルス102が重複せずに各グループ56にまとめられている。矢印60はヒストグラム110の解析に必要となるむだ時間を示している。一方、図7bでは、回転数の変動により時間的な挙動が混乱している。例えば、角度5°のグループ56bに帰属すべき個別光パルス54の一部が角度4°のグループ56aに振り分けられている。このような割り当て間違いの一因は、例えばコード板を用いた場合、角度測定ユニット30としての物理的な分解能が低すぎることにあると考えられる。このような角度位置信号から所望の角度分解能を得るには内挿が必要であり、リアルタイムには利用できない。それから、受信パルス102が誤って前のヒストグラム110に集められてしまったということが後で初めて判明することが時々ある。簡単な打開策は、解析を遅延させること、つまり、まず全ての受信パルス102をそのまま一時的にメモリに保存し、後でグループ分けと統計解析を行うことである。しかし、これではメモリのコストが高くなる上、リアルタイム測定が不可能になる。自然に思いつくもう一つの打開策は、ヒストグラム110に後続の角度範囲からの受信パルス102が混入してしまったことが判明した場合に測定値を破棄するというものである。しかし、この場合は走査に欠落が生じてしまう。そこで、本発明の一実施形態では、統計的な深さを動的に適応させるようにしている。極めて単純な実装方法として、新たな角度位置信号58が到来したら、どのレベルの統計的な深さに達しているかに関わらずグループ56を終了するというものが挙げられる。この場合、先に説明した交換関係から、最終的には角度に応じて射程距離が変動することになるが、これは走査の欠落よりも受け入れ易い場合が多い。しかし、実際には射程距離、従って統計的な深さを予め決めておきたい場合が通例と思われる。言い換えると、各グループ56の個別光パルス54の数、従ってそれに対応する受信パルス102の数を事前に決めておくということである。先に説明したように、この事前設定値は完全に動的な値、つまり角度領域又は時間とともに変化する値であってもよい。別の実施形態では、回転数の変動を補うために予備バッファが提示される。2つのグループ56毎に、むだ時間60と類似の拡張領域が間に設けられる。図7aに示した理想的な場合では、この拡張領域にはヒストグラム110に付加すべき受信パルス102は出現しない。一方、回転数に変動が生じると、次の角度位置信号58の到来より前に所定数の受信パルス102を達成するため、予備バッファが用いられる。この処理では、予備バッファを大きく取れば取るほど略連続的な解析から遠ざかる。図8は本発明の更に別の実施形態を示している。この実施形態は、予備バッファの使用を避けるため及び/又は予備バッファが不足する事態に備えるために利用可能である。図7と同様に、図8の上部には個別光パルス54の時間的な並びが示されている。その下には角度測定ユニット30により生成される角度位置信号58aが描かれており、これらの信号から内挿により角度位置信号58が所望の角度分解能で導出される。あるいは、角度測定ユニット30が角度位置信号58を用いて所望の角度パターンを出力してもよい。所定数の受信パルス102の収集のための時間62解析のためのむだ時間60を含むは2つの角度位置信号58の時間間隔より小さくても構わない。その場合、1つの測定値が生成されたら、新たな測定値のために次の角度位置信号58を待ち受けることになる。しかし、図8に示したのは、回転数の変動により2つの角度位置信号58の間の時間間隔が不十分となり、その時間内で必要数の受信パルス102をヒストグラム110にまとめることができなくなった場合である。この場合、1回の測定の後、直ちに次の測定が開始される。これにより時間的な区分けができなくなることはないが、少なくともそれに制約が出てくる。図では各測定の開始時点が矢印64で示されている。そこでは、最も多くの個別光パルス54又はそれに対応する受信パルス102特にそれらパルスの過半数を含む角度セグメントに対して測定値が事後的に割り振られる。この操作は別の矢印66で示されている。従って、この場合は、測定値だけでなく、それに対応する角度も出力値として記録しなければならない。いくつかの短くなった時間セグメントが続くと、やがて、新たな測定の開始を伴わない角度位置信号58が出てくる。図8の例では角度位置5°及び11°がそれに該当する。これらの角度位置信号58に対する測定値は最初は利用できないが、必要であれば、隣接する角度位置信号58の内挿によって測定値を得ることができる。どの中間的な角度であっても個別光パルス54が必ず測定に反映されるため、監視が連続的且つ欠落のないものであることが保証されている。実際には、発射光線16により周囲が漏れなく照明されるのに応じて、ほぼ連続的な走査が行われる。ところが、回転数の急な増大の結果、個別光パルス54のパルス列が回転角に比べて少し遅れてしまい、必要なレベルを下回ったため、実効的な角度分解能が一時的に低下している。測定技術的に最も正確な解析は、複数の解析チャネル332a~bを設けたことで可能となっている。この形態では、必要な場合、第1の解析チャネル32aが新たな角度位置信号58を超えてヒストグラムの生成を継続する一方、それと部分的に重なるようにして第2の解析チャネル32bが前記角度位置信号58を開始信号として新たな測定を始める。このようにすると、回転数が変動しても、統計的な深さ及び射程距離、並びに角度分解能は全く変わらない。ただ、角度位置信号58以降の重複領域にある受信パルス102が前後の2つの測定値に二重に反映されるため、測定値の独立性にわずかな影響が出る。それでも、実際の測定で得られる全体の受信パルス102がそれに対応する検出角度の近傍で生じているから、実際上の影響はない。上記に加えて、又は上記の代わりに、複数の解析チャネル32a~bを用いて、受信パルス102の形の同じ測定データを複数の異なる解析法で並列に処理することもできる。これは冗長な解析又は冗長且つ異なる種類の解析を行う場合に、解析の信頼性を検査する上で役に立つ。更にまた、並列分岐において、射程距離及び角度分解能に対して異なる基準を適用することも可能である。これにより、例えば角度分解能は低いが射程距離が長い測定と、射程距離は短いが角度分解能の高い測定を同時に実行し、後でいずれか必要な測定結果を選択したり、両方の測定結果の比較や差引を行ったりすることができる。並列の解析チャネル32a~bは角度位置信号58に対して相互に異なる時間のずれをもって動作してもよい。これにより、最終的に移動平均のように互いにずれた角度スケールを走査し、後でそれらを重ねることにより角度分解能を高めることができる。しかし、移動平均の場合と違って、ウィンドウを先へずらしながらヒストグラム110からその都度の受信パルス102を受信パルス102を抜き出すために、個々の測定値用のメモリを用意する必要がない。というのも、ヒストグラム110はその都度集計され、解析された後、破棄されるからである。ここまで説明してきた実施形態は、ヒストグラム110の初期状態において全てのビンが空であることを少なくとも暗示的に前提としていた。しかし、この前提から意図的に離れ、ヒストグラム110にプリロード値を予め割り当てることも可能である。プリロード値としては、角度に依存しない値と角度に依存した値の両方が考えられる。応用例として、発射光線16が前面ガラス38を通ってレーザスキャナ10から出射する際に前面ガラス38上で発生する反射光の抑制が挙げられる。それ以外に、光学的又は電気的な混信等の妨害の影響を補償することもできる。最後に、まさに静的な用途の場合、参照用の背景をプリロード値によって学習させておくことにより、装置の稼働中、追加的な物体の動きに高速且つ敏感に反応できるようにすることが原理的に考えられる。そのためには、工場出荷時あるいは使用場所において、後の角度分解能を用いた校正測定を行う際に前記の妨害因子を学習させ、その後の稼動時に、新たなヒストグラムを作成する度に、前記校正測定で得られたプリロード値をその符号を逆転させてヒストグラムのビンに予め割り当てる。その際、学習の際及び稼働中に設定された統計的な深さに基づいてスケーリング処理を行うようにする。できれば、後で用いる統計的な深さで予めプリロード値を学習させておくことが好ましいが、本発明に動的な要素が含まれているため、それは常に可能とは限らない。こうしてプリロード値が割り当てられたヒストグラム110に受信パルス102を集めると、学習しておいた既知のノイズがプリロード値に基づいて自動的に、測定中の非常に早い時点で補償される。以上、図面及び実施例に基づいて本発明を説明したが、それらの組み合わせも本発明に含まれることは言うまでもない。