"被検眼眼底からの反射光を受光して眼底像を撮像する眼底撮像光学系と、前記眼底撮像光学系の光路中に配置され、入射光の波面を制御して被検眼の波面収差を補償する波面補償デバイスと、被検眼眼底に向けて測定光を投光し、その眼底からの反射光を波面センサにより検出する波面収差検出光学系と、被検眼の瞳孔情報を取得し、取得された瞳孔情報に応じて前記波面補償デバイスを制御することにより収差補正制御が有効な有効領域のサイズを変更する制御手段と、を備えることを特徴とする波面補償付眼底撮影装置。被検眼からの反射光を受光する受光手段と、受光手段からの受光信号に基づいて被検眼の瞳孔情報を検出する検出手段を備え、前記制御手段は、前記検出手段から被検眼の瞳孔情報を取得する請求項1の波面補償付眼底撮影装置。被検眼前眼部像を撮像する前眼部観察ユニットを備え、前記検出手段は、前記前眼部観察ユニットによって撮像された前眼部画像より瞳孔外縁部を画像処理により抽出し、瞳孔径を検出する検出手段であって、前記制御手段は、前記検出手段によって検出された瞳孔径に応じて、前記有効領域のサイズを変更する請求項2の波面補償付眼底撮影装置。前記検出手段は、前記波面センサによる指標パターン像の受光領域の外縁部を検出する検出手段であって、前記制御手段は、前記検出手段によって検出された外縁部のサイズに応じて、前記有効領域のサイズを変更する請求項2の波面補償付眼底撮影装置。前記検出手段は、検出した前記外縁部から指標パターン像の受光領域の中心位置を算出し、該中心座標から該外縁部までの径を検出し、前記制御手段は、前記検出手段によって検出された前記中心座標から前記外縁部までの径に応じて、前記有効領域のサイズを変更する請求項2の波面補償付眼底撮影装置。前記制御手段は、被検眼の瞳孔情報を取得し、取得された瞳孔情報の変化に応じて、前記有効領域のサイズの変更を行う第1のフィードバック制御を行う請求項1~5の波面補償付眼底撮影装置。前記制御手段は、該波面センサからの検出信号に基づく被検者眼の波面収差を検出し、その検出結果に基づく前記波面補償デバイスの制御を行う第2のフィードバック制御を行う制御手段を備える請求項1~6の波面補償付眼底撮影装置。従来、波面補償デバイスの有効領域は、そのサイズが固定されている例えば、φ=5.5mm。しかしながら、被検者によって瞳孔のサイズはそれぞれ異なるため、瞳孔を介して受光されるハルトマン像のサイズは、それぞれ異なるサイズにて受光される。このため、被検者の瞳孔のサイズによって、有効領域のサイズとハルトマン像のサイズに、差が生じ、収差検出に影響する。例えば、被検眼の瞳孔径が有効領域よりも大きい場合例えば、φ6.5mm、波面補償デバイスに入射される入射光全体の内、ある一部の領域例えば、有効領域のφ5.5mmの光束に制限される。そして、他の入射光については、受光素子に向けて反射されるが、波面は補償されない。すなわち、瞳孔領域φ6.5mmの領域を通過した眼底反射光の内のφ5.5mmからφ6.5mmまでの領域の眼底反射光は、収差補正をすることができないため、φ5.5mmからφ6.5mmまでの領域の情報は、高分解能の画像を撮像する際に寄与させることができない。このため、高分解能の画像を撮像することが困難となる。また、被検眼の瞳孔径が有効領域よりも小さい場合例えば、φ5.0mm、波面補償デバイスに入射される入射光全体では、有効領域を満たすことができず、ハルトマン像が形成されていない領域においては、収差が検出されない。そして、このように波面測定データの一部が欠損している場合、波面全体の情報が得られないため、波面収差が適正に測定されない。そして、このような状態で得られた検出結果に基づいて波面補償制御が行われた場合、波面補償デバイスは誤った収差補償量にて制御されてしまう。すなわち、有効領域φ5.5mmの内のφ5.0mmからφ5.5mmまでの領域においては、瞳孔領域φ5.0mm領域を通過した眼底反射光が入射することができず、収差検出をすることができない。このため、最適な収差補正をすることができず、波面収差が補正された状態の良好な眼底画像を撮影できない。本発明は、上記問題点を鑑み、波面収差が補正された状態の良好な眼底画像スムーズに撮影できる波面補償付眼底撮影装置を提供することを技術課題とする。上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。1被検眼眼底からの反射光を受光して眼底像を撮像する眼底撮像光学系と、前記眼底撮像光学系の光路中に配置され、入射光の波面を制御して被検眼の波面収差を補償する波面補償デバイスと、被検眼眼底に向けて測定光を投光し、その眼底からの反射光を波面センサにより検出する波面収差検出光学系と、被検眼の瞳孔情報を取得し、取得された瞳孔情報に応じて前記波面補償デバイスを制御することにより収差補正制御が有効な有効領域のサイズを変更する制御手段と、を備えることを特徴とする。2被検眼からの反射光を受光する受光手段と、受光手段からの受光信号に基づいて被検眼の瞳孔情報を検出する検出手段を備え、前記制御手段は、前記検出手段から被検眼の瞳孔情報を取得する1の波面補償付眼底撮影装置。3被検眼前眼部像を撮像する前眼部観察ユニットを備え、前記検出手段は、前記前眼部観察ユニットによって撮像された前眼部画像より瞳孔外縁部を画像処理により抽出し、瞳孔径を検出する検出手段であって、前記制御手段は、前記検出手段によって検出された瞳孔径に応じて、前記有効領域のサイズを変更する2の波面補償付眼底撮影装置。4前記検出手段は、前記波面センサによる指標パターン像の受光領域の外縁部を検出する検出手段であって、前記制御手段は、前記検出手段によって検出された外縁部のサイズに応じて、前記有効領域のサイズを変更する2の波面補償付眼底撮影装置。5前記検出手段は、検出した前記外縁部から指標パターン像の受光領域の中心位置を算出し、該中心座標から該外縁部までの径を検出し、前記制御手段は、前記検出手段によって検出された前記中心座標から前記外縁部までの径に応じて、前記有効領域のサイズを変更する2の波面補償付眼底撮影装置。6前記制御手段は、被検眼の瞳孔情報を取得し、取得された瞳孔情報の変化に応じて、前記有効領域のサイズの変更を行う第1のフィードバック制御を行う1~5の波面補償付眼底撮影装置。7前記制御手段は、該波面センサからの検出信号に基づく被検者眼の波面収差を検出し、その検出結果に基づく前記波面補償デバイスの制御を行う第2のフィードバック制御を行う制御手段を備える1~6の波面補償付眼底撮影装置。本発明は、上記問題点を鑑み、波面収差が補正された状態の良好な眼底画像を撮影できる。本発明の実施形態を説明する。図1は、本実施形態の眼底撮影装置の外観図を示しており、本装置は、基台510と、顔支持ユニット600と、撮影部500を備える。顔支持ユニット600は、基台510に取り付けられている。撮影部500には、後述する光学系が収納されており、基台510の上に設けられている。顔支持ユニット600には、顎台610が設けられている。顎台610は、図示無き顎台駆動手段の操作により、顔指示ユニット600の基部に対して左右方向X方向、上下方向Y方向及び前後方向Z方向に移動される。図2は、本実施形態の眼底撮影装置の光学系を示した模式図である。本実施形態の眼底撮影装置は、大別して、眼底撮像光学系100と、波面収差検出光学系以下、収差検出光学系と記載する。110と、収差補償ユニット10,72と、第2撮影ユニット200と、トラッキング用ユニット位置検出部300、前眼部観察ユニット700を備える。眼底撮像光学系100は、被検眼Eの眼底からの反射光を受光して被検眼の眼底像を撮像する。収差検出光学系110は、波面センサ73を有し、被検眼眼底に測定光を投光し、その眼底からの反射光を波面センサ73にて指標パターン像として受光検出する。収差補償ユニット10,72は、被検眼の収差を補正するために眼底撮像光学系100に配置される。第2撮影ユニット200は、眼底撮像光学系100で得られる眼底画像以下、第1眼底画像と記すの撮影位置を指定するための眼底の観察画像以下、第2眼底画像と記すを得る。ここで、眼底撮像光学系100は、被検眼Eの眼底を高解像度高分解能高倍率で撮影する。また、収差補償ユニットは、被検眼の低次収差視度:例えば、球面度数を補正するための視度補正部10と、被検眼の高次収差を補正するための高次収差補償部波面補償デバイス72と、に大別される。眼底撮像光学系100は、被検眼Eに照明光照明光束を照射し眼底を2次元的に照明する第1照明光学系100aと、眼底に照射された照明光の反射光反射光束を受光して第1眼底画像を得るための第1撮影光学系100bと、収差補償部72と、を備える。眼底撮像光学系100は、例えば、共焦点光学系を用いた走査型レーザ検眼鏡の構成とされる。第1照明光学系100aは、光源1第1光源、走査部15を有する。光源1は、被検眼に視認されにくい近赤外域の照明光が用いられ、眼底を照明するための照明光を出射する。本実施形態では光源1は、波長840nmのSLDSuperLuminescentDiode光源が用いられる。なお、光源としては、収束性の高い特性を持つスポット光を出射するものであればよく、例えば、半導体レーザ等であってもよい。走査部15は、照明光スポット光を眼底上で水平方向X方向に走査する。はじめに、第1照明光学系100aを説明する。第1照明光学系100aは、光源1から眼底に到るまでの光路において、レンズ2、偏光ビームスプリッタPBS4、凹面ミラー6、凹面ミラー7、平面ミラー8、波面補償デバイス72、凹面ミラー11、凹面ミラー12、走査部15、凹面ミラー16、凹面ミラー17を備える。そして、さらに、平面ミラー21、レンズ22、平面ミラー23、視度補正部10、平面ミラー25、凹面ミラー26、偏向部400、ダイクロイックミラー90、凹面ミラー31、平面ミラー32、平面ミラー33、凹面ミラー35が配置される。視度補正部10は、平面ミラーとレンズからなる。偏向部400は、光源1から出射された照明光を眼底上で垂直方向Y方向に走査する。さらに、偏向部400は、2次元状に走査される照明光の走査位置を補正する。ダイクロイックミラー90は、第2撮影ユニット200等の光路を第1照明光学系100aと略同軸にする。光源1から出射された照明光は、レンズ2により平行光とされた後、PBS4を介する。照明光は、本実施形態においては、PBS4によりS偏光成分のみの光束とされる。PBS4を経た照明光は、ビームスプリッタBS71を介し、凹面ミラー6、凹面ミラー7及び平面ミラー8にて反射され、波面補償デバイス72に入射する。波面補償デバイス72にて反射した照明光は、BS75を介し、凹面ミラー11、凹面ミラー12にて反射され、走査部15に向かう。走査部15は、ここでは、眼底でX方向に照明光を走査する。本実施形態では、照明光を眼底にて水平方向X方向に偏向させ走査するための偏向部材となるレゾナントミラーと、ミラーを駆動する駆動部を備える。走査部15を経た照明光は、凹面ミラー16、凹面ミラー17、平面ミラー21で反射され、レンズ22にて集光される。そして、照明光は、平面ミラー23にて反射される。照明光は、視度補正部10を介して、平面ミラー25、凹面ミラー26、にて反射され、偏向部400に向かう。なお、視度補正部10は、駆動部10aを有し、平面ミラー及びレンズが図示する矢印方向に移動することにより、光路長を変えることができ、視度補正の役目を果たしている。なお、視度補正部10は、駆動部と、駆動部の駆動によって光軸方向に移動可能なプリズムからなる構成であってもよい。偏向部400は、眼底でXY方向に照明光を走査する。本実施形態では、X走査用のガルバノミラーと、Y走査用のガルバノミラーからなる2枚のガルバノミラーにより構成されている。さらに、偏向部400は、走査部15を経た照明光をX方向及びY方向に対して所定量だけさらに偏向させる役目を持っている。偏向部400を経た照明光は、ダイクロイックミラー90、凹面ミラー31、平面ミラー32、平面ミラー33、及び凹面ミラー35にて反射され、被検眼Eの眼底に集光し、走査部15及び偏向部400によって眼底上を2次元的に走査することとなる。また、ダイクロイックミラー90は、後述する第2撮影ユニット200、トラッキング用ユニット300、及び前眼部観察ユニット700からの光束を透過させ、光源1及び後述する光源76からの光束を反射させる特性を持つ。なお、光源1及び光源76の出射端と被検眼Eの眼底とは共役とされている。このようにして、照明光を眼底に2次元的に照射する第1照明光学系100aが形成される。トラッキング用ユニット300は、撮影される被検眼Eの固視微動等による位置ずれの経時変化を検出し、移動位置情報を得る。トラッキング用ユニット300では、トラッキング開始時に得られた受光結果を基準情報として制御部80に送っておき、その後、1走査毎に得られる受光結果受光情報を逐次、制御部80に送信する。制御部80は基準情報に対してその後に得られた受光情報を比較し、基準情報と同じ受光情報が得られるように、移動位置情報を演算により求める。制御部80は求めた移動位置情報に基づいて偏向部400を駆動させる。このようなトラッキングを行うことにより、被検眼Eが微動してもその動きが相殺されるように偏向部400の駆動が行われるため、モニタ70に表示される眼底画像の動きは抑制されることとなる。また、ダイクロイックミラー91は、第2撮影ユニット200からの光束を透過させ、トラッキング用ユニット300からの光束を反射させる特性を持つ。前眼部観察ユニット700は、被検眼前眼部を可視光にて照明し、前眼部正面像を撮像する。また、ダイクロイックミラー95は、第2撮影ユニット200及びトラッキング用ユニット300からの光束を透過させ、前眼部観察ユニット700からの光束を反射させる特性を持つ。次に、第1撮影光学系100bを説明する。第1撮影光学系100は、第1照明光学系100aにて説明したダイクロイックミラー90からBS71までの光路を共通とし、さらに平面ミラー51、PBS52、レンズ53、ピンホール板54、レンズ55、受光素子56を含む。なお、本実施形態では、受光素子56はAPDアバランシェフォトダイオードが用いられている。ピンホール板54は、眼底と共役な位置に置かれる。光源1から出射された照明光における眼底からの反射光は、前述した第1照明光学系100aを逆に辿り、BS71、平面ミラー51で反射され、PBS52にてS偏光の光だけ透過される。この透過光は、レンズ53を介してピンホール板54のピンホールに焦点を結ぶ。ピンホールにて焦点を結んだ反射光は、レンズ55を経て受光素子56に受光される。なお、照明光の一部は角膜上で反射されるが、ピンホール板54により大部分が除去され、角膜反射の画像への悪影響が低減される。このため、受光素子56は、角膜反射の影響を抑えて、眼底からの反射光を受光できる。このようにして、第1撮影光学系100bが形成される。第1撮影光学系100bで受光された処理された画像が第1眼底画像となる。1フレームの第1眼底画像は、走査部15の主走査と、偏向部400に設けられたY走査用のガルバノミラーの副走査によって形成される。なお、第1撮影ユニット100で取得する眼底画像眼底像の画角が所定の角度となるように走査部15及び偏向部400におけるミラーの振れ角揺動角度を定める。ここでは、眼底の所定の範囲を高倍率で観察、撮影するここでは、細胞レベルでの観察等をするために、画角を1度~5度程度とする。本実施形態では、1.5度とする。被検眼の視度等にもよるが、第1眼底画像の撮影範囲は、500μm角程度とされる。さらに、偏向部400に設けられたX走査用のガルバノミラーとY走査用のガルバノミラーの反射角度が第1眼底眼底像の撮像画角より大きく移動されることによって、眼底上における第1眼底画像の撮像位置が変更される。次に、第2撮影ユニット200を説明する。第2撮影ユニットは、第1撮影ユニットの画角よりも広画角の眼底画像第2眼底画像を取得するためのユニットであり、取得される第2眼底画像は、前述した狭画角の第1眼底画像を得るための位置指定、及び位置確認用の画像として用いられる。このような第2眼底画像を取得するための第2撮影ユニット200は、被検眼Eの眼底画像を観察用として広画角例えば20度~60度程度でリアルタイムに取得できればよい。したがって第2撮影ユニット200は、既存の眼底カメラの観察撮影光学系や走査型レーザー検眼鏡ScanningLaserOphthalmoscope:SLOの光学系、及び制御系を用いることができる。次に、収差検出光学系110について説明する。前述のように、収差検出光学系110は、一部の光学素子を第1照明光学系100aの光路上に持ち、第1照明光学系100aと光路を一部共用している。収差検出光学系110は、光源76、レンズ77、PBS78、BS75、BS71、ダイクロイックミラー86、PBS85、レンズ84、平面ミラー83、レンズ82、波面センサ73を含む。そして、収差検出光学系110は、第1照明光学系100aの光路上に置かれるBS71から凹面ミラー35までの光学部材を共用することにより構成されている。なお、波面センサ73は、例えば、多数のマイクロレンズからなるマイクロレンズアレイと、マイクロレンズアレイを透過した光束を受光させるための二次元撮像素子73a2次元受光素子からなる。また、収差検出用光源第3光源である光源76は、光源1と異なる赤外域の光を発する光源とされる。本実施形態では光源76は波長780nmのレーザ光を出射するレーザダイオードを用いている。光源76から出射したレーザ光は、レンズ77により平行光束とされ、PBS78により光源1からの照明光と直交する偏光方向P偏光とされ、BS75により第1照明光学系の光路に導かれる。なお、光源76の出射端はこの眼底共役位置と共役な関係とされる。PBS78は、光源76から出射された光を所定の偏光方向とする役割を持ち、波面補償部が備える第1偏光手段の役割を持つ。BS75により反射したレーザ光は、第1照明光学系100aの光路を経て被検眼Eの眼底に集光される。眼底で反射されたレーザ光は、第1照明光学系100aの各光学部材を経て波面補償デバイス72にて反射し、BS71により第1照明光学系100aの光路から外れ、ダイクロイックミラー86によって反射され、PBS85、レンズ84、平面ミラー83、レンズ82を経て波面センサ73へと導かれる。PBS85は、波面補償部に備えられた第2偏光手段であり、光源76から眼Eに照射された光の偏光方向P偏光光を遮断し、この偏光方向に直交する偏光方向S偏光光を透過し、波面センサ73へと導光する役割を持つ。なお、ダイクロイックミラー86は、光源1の波長の光840nmを透過し、収差検出用の光源76の波長の光780nmを反射する特性とされる。従って、波面センサ73では、照射したレーザ光の眼底での散乱光のうちS偏光成分を持つ光が検出される。このようにして、角膜や光学素子で反射される光が波面センサ73に検出されることを抑制している。また、走査部15、波面補償デバイス72の反射面、及び波面センサ73のマイクロレンズアレイは、被検眼の瞳と略共役とされる。また、波面センサ73の受光面は被検眼Eの眼底と略共役とされる。波面センサ73には、低次収差及び高次収差を含む波面収差が検出できる素子、例えば、ハルトマンシャック検出器や光強度の変化を検出する波面曲率センサ等を用いる。また、波面補償デバイス72は、例えば、液晶空間光変調器とし、反射型のLCOSLiquidCrystalOnSilicon等を用いるものとしている。そして、波面補償デバイス72は、眼底撮像光学系100の光路中に配置され、入射光の波面を制御して被検眼の波面収差を補償する。なお、波面補償デバイス72は、光源1からの照明光S偏光光、照明光の眼底での反射光S偏光光、波面収差検出用光の反射光S偏光成分等の所定の直線偏光S偏光に対して収差を補償することが可能な向きに配置される。これにより、波面補償デバイス72は、入射する光のS偏光成分を変調できる。また、波面補償デバイス72は、その液晶層内の液晶分子の配列方向が入射する反射光の偏光面と略平行であり、さらに、液晶分子が液晶層への印加電圧の変化に応じて回転する所定の面が、波面補償デバイス72に対する眼底からの反射光の入射光軸及び反射光軸と、波面補償デバイス72が持つミラー層の法線と、を含む平面に対して略平行になるように、配置されている。なお、本実施例においては、波面補償デバイス72は、液晶変調素子とし、反射型のLCOSLiquidCrystalOnSilicon等を用いるものとしているが、これに限るものではない。反射型の波面補償デバイスであればよい。例えば、MEMSMicroElectroMechanicalSystemsの一形態であるデフォーマブルミラーを用いてもよい。また、反射型の波面補償デバイスではなく、眼底からの反射光を透過させて波面収差を補償するような透過型の波面補償デバイスを用いることもできる。なお、以上の説明では、収差検出用光源として、第1光源とは異なる波長の照明光を出射する光源を用いたが、第1光源を収差検出用光源として用いてもよい。なお、以上説明した本実施形態では、波面センサ及び波面補償デバイスを被検眼の瞳共役としたが、被検眼の前眼部の所定部位と略共役な位置であればよく、例えば、角膜共役であってもよい。次に、眼底撮影装置の制御系を説明する。図3は、本実施形態の眼底撮影装置の制御系を示したブロック図である。装置全体の制御を行う制御部80には、光源1、駆動機構505、走査部15、受光素子56、波面補償デバイス72、波面センサ73、光源76、第2撮影ユニット200、トラッキング用ユニット300、偏向部400、前眼部観察ユニット700、駆動部10a、が接続される。また、記憶部81、コントロール部92、画像処理部93、モニタ70、が接続される。画像処理部93は受光素子56、第2撮影ユニット200にて受光した信号に基づきモニタ70に画角の異なる被検眼眼底の画像、つまり、第1眼底画像及び第2眼底画像を形成する。記憶部81には種々の設定情報後述する有効領域のサイズを変更するためのプログラム等や撮影画像が保存される。なお、モニタ70には、例えば、外部のパ-ソナルコンピューターのモニタや装置に備えられているモニタが考えられる。モニタ70には、所定のフレームレートにて更新される眼底画像第1眼底画像、及び第2眼底画像が表示される。フレームレートとしては、例えば、10~100Hzとされる。このようにして、動画として眼底画像が表示される。本実施形態では、制御部80は、モニタ70の表示制御部80、偏向部400の駆動制御部80、光源1、76等の出射制御部80の機能を兼ねる。なお、波面補償デバイス72を制御する場合、波面センサ73で検出された波面収差に基づいて、波面補償デバイス72が制御され、光源76の反射光のS偏光成分と共に、光源1から出射される照明光とその反射光の高次収差が取り除かれる。このようにして、光源1から出射された照明光とその反射光が持つ収差が取り除かれる。言い換えると、被検眼Eの高次収差が取り除かれた波面補償された高解像度の第1眼底画像が得られることとなる。この場合、視度補正部10によって低次収差が補正される。図4は、波面センサの補償可能領域と有効領域について説明する図である。補償可能領域40は、波面補償デバイス72において、入射光の波面を制御可能な領域を示している。有効領域41は、補償可能領域40内において、波面センサ73からの検出信号に基づく波面補償デバイス72の制御によって収差補正が有効である領域を示している。本実施形態においては、補償可能領域40は、16×12mmのサイズであり、有効領域41は、φ8.64mmのサイズである。補償可能領域40のサイズは、有効領域41のサイズよりも十分な範囲のサイズであるため、有効領域41の位置サイズ形状の少なくともいずれかを補償可能領域40内において変更できる詳しくは後述する。図5は、波面センサの補償可能領域上における指標パターン像と有効領域の具体例について説明する図である。図6はモニタ70の画面上に表示された収差補正画面60を示した図である。収差補正画面60には、波面センサ73の二次元撮像素子73aに受光された指標パターン像本実施例においては、ハルトマン像とし、以下、ハルトマン像と記載する61と、収差補正の補正度合残存収差をグラフィック表示した収差補正グラフィック65と、実際に撮影されている眼底の細胞像画像66と、が表示されている。ハルトマン像ドットパターン像61は、波面センサ73上に受光された複数の点像61aの集まりを示す。レンズアレイを通過した眼底反射光は、波面センサ73の二次元撮像素子73aに受光され、ハルトマン像として撮像される。そして、ハルトマン像61は、モニタ70上に表示される。なお、波面センサ73によって点像61aが検出された領域では、収差検出が可能である。円62は、二次元撮像素子73a上において、波面補償デバイス72の波面を制御することができ、波面を制御することによって、収差補正が有効可能である有効領域を仮想的に示したものである。そして、円62に対応するグラフィックが、モニタ70上のハルトマン像に重合されて表示される。円62の中心に位置するマークは、波面センサ73上における有効領域の中心位置を示すグラフィックである。そして、円62の外周、領域、波面センサ73上におけるその位置情報が予め記憶部81に設定されている。これらは、キャリブレーション又はシミュレーションなどにより予め求めておけばよい。なお、波面補償デバイス72において、有効領域は、入射光全体の内、ある一部の領域例えば、瞳孔上における直径6mm領域の光束に制限される。このため、他の入射光については、受光素子54に向けて反射されるが、波面は補償されない。ここで、収差補正は、波面センサ73による収差検出結果に基づいて行われる。そして、適正な収差補正を行うためには、適正な収差検出を行う必要がある。以下、収差検出を行う際のハルトマン像と有効領域の関係について説明する。例えば、収差検出において、ハルトマン像61が形成された領域ハルトマン像外周61bのサイズが円62の領域有効領域と略同一であれば、波面の状態が適正に検出可能である。このため、最適な収差補正を行うことができる図5a参照。ハルトマン像61が形成された領域のサイズが円62の領域有効領域よりも小さい場合、有効領域でハルトマン像61が形成されていない領域S1が生じる。円62の領域内において、ハルトマン像61が形成されていない領域S1においては、波面の状態が検出されない。ここで、波面データの一部が欠損している場合、波面全体の情報が得られないため、波面補正領域における波面収差が適正に測定されない図5b参照。よって、図6aに示すように、収差補正が実行されても、収差補正グラフィック65に示されるように適正に収差が除去されない。また、細胞像画像66に示されるように撮影が困難となる。ハルトマン像61が形成された領域のサイズが円62の領域有効領域よりも大きい場合、ハルトマン像61の領域が円62に領域よりも大きい領域S2では、その領域における反射光束は受光できるが、波面補償デバイス72による波面は補償されない図5c参照。このため、領域S2の収差情報を検出できているが、その収差情報を波面補償デバイス72に反映寄与させることができないため、画像撮像の際には、高分解能の画像を撮像することが困難となる。以上、上記で説明したように、適正な収差検出を行うためには、ハルトマン像のサイズと有効領域のサイズが略同一であることが望ましい。このため、本実施形態においては、被検眼の瞳孔情報を取得し、取得された瞳孔情報に応じて波面補償デバイス72を制御することにより収差補正制御が有効な有効領域のサイズを変更する。例えば、ハルトマン像のサイズに応じて、有効領域のサイズの変更を行う。これにより、図5aに示されるように、円62の領域のサイズがハルトマン像61のサイズとなり、適正な収差検出及び収差補正を行うことができる詳しくは後述する。図6bに示すように、収差補正グラフィック65に示されるように収差が除去された状態となり、細胞像画像66においても、収差が除去された高分解能の画像が表示される。以上のような構成の眼底撮影装置において、波面収差が補正された状態の良好な眼底画像を取得するまでの制御動作を図7に示すフローチャートを用いて説明する。検者により、初めに、モニタ70の画面上に表示された前眼部画像を観察しながら、顎台610の位置調整を手動又は自動にて行い、粗くアライメントを行う。また、検者は、被検者が図示無き固視標を固視するように指示する。顎台610による粗いアライメントが完了し、検者により図示無き測定スイッチが選択されると、制御部80により、視度補正部10を用いて視度補正が行われる。次いで、制御部80は、前眼部撮影ユニット700によって、被検眼からの反射光を受光し、取得した前眼部画像より、瞳孔部分例えば、瞳孔径の検出を行う。以下に、前眼部画像より瞳孔のエッジ位置を求め、瞳孔径を検出する方法を図8に基づいて説明していく。図8のaは撮像された前眼部画像を示し、bは走査線Lでの映像信号を示す。瞳孔暗部と虹彩明部との境界エッジを知るために、まず、図8のbにおける信号波形を微分処理する。このときの信号波形は図8のcのようになる。この信号は正負の信号となっているので、さらに、これを2乗すると図8のdに示す正の数値の信号になる。図8のdにおいて、例えば、高さe1の初めの波形信号と高さe2の最後の波形信号のエッジを各々の高さ振幅の1/2の点と定義すると、画素位置n1、n2が走査線Lでのエッジの座標位置となる。また、画素位置n1、n2からその間隔の画素数nが求められる。ここで、1画素分の長さをK、光学倍率をPとすると、画素位置n1、n2の間の距離瞳孔径PS ́は、PS ́=nK/Pの式から求められる。すなわち、K、Pの値は装置固有の既知の値であるので、上記の画素数nを求めれば瞳孔径が得られる。このとき、瞳孔の輪郭情報に基づいて瞳孔中心の位置が検出され、その瞳孔中心を基準に各経線方向の瞳孔径が算出される。瞳孔径が検出されると、制御部80は、検出した瞳孔径に基づいて、収差補正の際に設定された波面補償デバイス72における有効領域41のサイズを変更する。また、変更された有効領域41のサイズに対応するように、波面センサ73に受光されたハルトマン像において、収差検出に用いる指標領域のサイズを変更する。なお、本実施形態においては、瞳孔径検出前の初期の有効領域として、φ4.0mmとしている。もちろん、異なるサイズを初期の有効領域としてもよく、検者が任意に設定可能な構成としてもよい。以下に、有効領域の変更動作について説明する。記憶部81には、瞳孔径と有効領域との相関関係がテーブルとして記憶されている。すなわち、各瞳孔径に応じて、最適な有効領域が設定されている。例えば、瞳孔径がφ5.0mmの場合の有効領域は瞳上での有効領域がφ5.0mmとなるように設定される。制御部80は、検出された瞳孔径に対応する有効領域を記億部81から取得し、初期の有効領域から取得した有効領域へと変更を行う。なお、瞳孔径と有効領域との相関関係テーブルを作成する場合、例えば、予め、本装置によって、所定の瞳孔径でのハルトマン像を検出し、そのハルトマン像と有効領域のサイズが一致又は略一致する有効領域を求める。そして、この有効領域の算出を瞳孔径の異なる模型眼に対して、それぞれ行うことによって、瞳孔径と有効領域との相関関係のテーブルが作成される。以上のようにして、瞳孔径に基づいて有効領域の変更が行われる。なお、本実施形態においては、記憶部81に記憶された瞳孔径と有効領域との相関関係がテーブルに基づいて、有効領域の変更をおこなったがこれに限定されない。例えば、瞳孔径が検出された際、検出された瞳孔径に基づいて、有効領域を所定の演算式によって算出し、算出した有効領域に変更する構成でもよい。次に、制御部80は、波面センサ73上に設定された波面補償デバイス72の有効領域例えば、円62と波面センサ73による指標パターン像例えば、ハルトマン像61の受光領域波面測定領域との間の重心位置のずれを検出する。そして、制御部80は、顎台610の位置調整を手動又は自動にて行う。他の構成として、撮影部500を眼Eに対して移動可能な構成を設けた場合、制御部80は、ずれ情報が許容範囲内に収まるように撮影部500を移動させてもよい。また、検出光学系110の光路中に、測定光束の進行方向を変更する光偏向部を設け、光偏向部の駆動により光学的に位置関係が調整されてもよい。このような動作は、眼Eと撮影部500との位置ずれによる円62とハルトマン像61とのずれを補正するためである。制御部80は、円62の成す領域がハルトマン像外周61bの成す領域内に収まっているか判定をする。そして、制御部80は、円62の成す領域がハルトマン像外周61bの成す領域から外れている場合、眼Eと撮影部500との相対位置を調整する。一方、制御部80は、円62の成す領域がハルトマン像外周61bの成す領域内に収まっている場合に、波面センサ73の検出結果に基づいて被検眼Eの波面収差を検出するとともに、眼底撮像光学系100による眼底撮影を開始する。制御部80は、その収差の検出結果に基づいて、収差補償量を算出し、その算出結果を用いて、波面補償デバイス72の有効領域41における収差補正量を制御し、波面収差を補償する。そして、制御部80は、前眼部画像より瞳孔径の検出を行い、有効領域41のサイズを変更する。そして、制御部80は、波面センサ73から出力されるハルトマン像を新たに取得し、波面収差を検出する。その後、その収差検出結果に基づいて、収差補償量を算出し、その算出結果を用いて、波面補償デバイス72の有効領域41における収差補正量を制御し、波面収差を補償する。制御部80は、波面センサ73からの検出信号に基づく被検者眼の波面収差を検出し、その検出結果に基づく波面補償デバイス72の制御を繰り返す第2のフィードバック制御を行う。上記の第2のフィードバック制御は、波面収差が補償される間に、同時に取得されている眼底動画像に反映される。すなわち、上記のように、第2のフィードバック制御を行うことにより、眼底反射光の波面が補償されていくため、眼底動画像のぼけを減らすことができる。したがって、被検眼の瞳孔径の変化によって、眼底撮影装置に対する被検眼の収差状態が変化しても、鮮明な眼底像を得ることができる。なお、第2のフィードバック制御は、撮影終了時まで行われる。また、第2のフィードバック制御が行われ、眼底動画像を取得している間に、所定のトリガ信号が出力されると、そのときに取得された眼底の細胞像が動画像又は静止画像として記憶部81に記憶される。上記第2のフィードバック制御中において、眼Eの瞳孔径が変化する可能性があるため、さらに、制御部80は、被検眼の瞳孔情報を取得し、取得された瞳孔情報の変化に応じて、有効領域41のサイズの変更を繰り返す第1のフィードバック制御を行うようにしてもよい。以上のように、瞳孔径のサイズに応じて、波面補償デバイス72の有効領域41のサイズを変更させることによって、被検眼の瞳孔径の違いに関わらず、良好な収差補正結果を得ることができる。これにより、被検眼の個人差に関わらず、高分解能の良好な眼底画像を撮影できる。なお、本実施形態においては、瞳孔ハルトマン像の形が変則的な被検眼に対しても適用可能である。例えば、波形の形を含む瞳孔や楕円の形である瞳孔をもつ被検眼の場合には、変則的な瞳孔領域の内側において、瞳孔の領域を含むような内接円を有効領域として変更することが挙げられる。また、波形の形を含む瞳孔や楕円の形である瞳孔をもつ被検眼の場合には、変則的な瞳孔領域を含むような外接円を有効領域として変更することも挙げられる。この場合、外接円と瞳孔領域との間には、収差が検出されない領域が生じるため、変則的な瞳孔領域が円形の瞳孔領域であった場合を推測して、収差検出を行う必要がある。なお、本実施形態においては、第1のフィードバック制御において、随時、瞳孔径を検出し、波面補償デバイス72の有効領域41のサイズを変更する構成としたがこれに限定されない。例えば、瞳孔径の変化例えば、φ±0.3mmが所定の許容範囲内で有る場合には、有効領域41のサイズを変更しない構成としてもよい。また、撮影開始時にのみ有効領域41のサイズを変更する構成としてもよい。なお、本実施形態においては、制御部80が前眼部観察ユニット700によって撮像された前眼部画像より瞳孔外縁部を画像処理により抽出し、瞳孔径を検出し、検出された瞳孔径に応じて、有効領域のサイズを変更する構成としたがこれに限定されない。本装置は、被検眼からの反射光を受光する受光手段を備え、受光手段からの受光信号に基づいて被検眼の瞳孔情報を検出し、検出した瞳孔情報に応じて波面補償デバイス72を制御することにより収差補正制御が有効な有効領域のサイズを変更する。例えば、制御部80は、波面センサ73の検出結果に基づいて、有効領域のサイズを変更する構成であってもよい。その第1の例として、制御部80は、波面センサ73による指標パターン像の受光領域の外縁部を検出し、検出された外縁部のサイズに応じて、有効領域のサイズを変更する。より具体的には、制御部80は、波面センサ73で受光されたハルトマン像61の内で最も外側で受光された点像位置を順に検出していきハルトマン像外周61bの位置情報を検出する。そして、制御部80は、ハルトマン像外周61bと円62を比較する。例えば、制御部80は、円62の成す領域とハルトマン像外周61bの成す領域との差分領域が所定の閾値を超えるものであれば、波面補償デバイス72の有効領域41のサイズを変更する構成が挙げられる。また、第2の例として、制御部80は、検出した外縁部から指標パターン像の受光領域の中心位置を算出し、中心座標から外縁部までの径を検出し、検出された中心座標から外縁部までの径に応じて、有効領域41のサイズを変更する。より具体的には、ハルトマン像61の中心座標位置を検出し、その中心座標を基準にハルトマン像外周61bまでの各経線方向の距離が算出される。そして、算出した距離の内、最小値を検出し、最小値に基づいて、距離の最小値と円62の半径が一致又は略一致するように、波面補償デバイス72の有効領域41のサイズを変更する。なお、本実施形態においては、円形の有効領域の半径を変更する構成としているがこれに限定されない。瞳孔情報に基づいて、有効領域のサイズが変更される構成であればよい。例えば、有効領域は、楕円形状、三角形状、四角形状でもよく、それらのサイズが変更される構成であってもよい。また、制御部80は、ハルトマン像の外周部を検出し、ハルトマン像の外縁の形状とサイズが一致するように、波面補償デバイス72の有効領域41のサイズを変更するようにしてもよい。また、有効領域の形状の設定は、検者が任意に行える構成としてもよい。なお、上記実施形態においては、瞳孔情報を検出するセンサを設けたが、これに限定されない。例えば、他の瞳孔径計測デバイスによって得られた瞳孔情報に応じて、有効領域のサイズを変更するようにしてもよい。有効領域のサイズを変更する場合、必ずしも有効領域41のサイズを被検眼の瞳孔サイズに一致させる必要はなく、良好な収差補正結果が得られる程度であればよい。例えば、有効領域41のサイズを段階的に変更可能とし例えば、φ=3.0~8.0mmにおいて、1mmステップ、検出された瞳孔サイズに近い有効領域41のサイズが選択/設定される構成であってもよい。なお、上記実施形態において、有効領域41の変更に応じて、収差検出に用いる指標領域のサイズを変更する構成としたがこれに限定されない。制御部80は、取得される眼Eの瞳孔情報に応じて、波面センサ73に受光されたハルトマン像において収差検出に用いる指標領域のサイズを変更するようにしてもよい。また、制御部80は、ハルトマン像外周61bを検出し、波面センサ73に受光された指標パターン像全体に基づいて波面収差を計測するようにしてもよい。なお、以上の説明においては、眼底撮像光学系100として、被検眼眼底と略共役な位置に配置された共焦点開口を介して被検眼眼底で反射した光束を受光して被検眼眼底の共焦点正面画像を撮影する共焦点光学系SLO光学系を用いるものとしたが、これに限るものではない例えば、特表2001-507258号公報参照。例えば、被検眼眼底で反射した光束を二次元撮像素子により受光して被検眼の眼底正面画像を撮影する眼底カメラ光学系であってもよい。また、被検眼眼底で反射した光束と参照光による干渉光を受光して被検眼の断層画像を撮影する光断層干渉光学系OCT光学系であってもよい。"