"少なくとも、サーボ領域パターンまたはデータ領域パターンのいずれかが同心円状に構成されている磁気記録媒体に対し、信号の記録または信号の再生を行う磁気ヘッドを評価するヘッドテスタであって、前記磁気記録媒体を回転させる回転駆動機構と、前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体上の少なくとも半径方向に移動可能なアクチュエータと、前記磁気ヘッドを用いて前記磁気記録媒体に特定パターンを記録し、当該特定パターンの再生信号から前記磁気ヘッドの磁気記録特性の評価を行う評価部と、前記磁気ヘッドの磁気記録特性を表示する表示部と、前記サーボ領域パターン、前記データ領域パターン、磁気記録層のうち少なくとも一つが相互に異なる複数のテストエリアからなるテストゾーンを備えた当該磁気記録媒体を前記回転駆動機構に装着した際、前記アクチュエータによって前記磁気ヘッドをいずれかのテストゾーンに含まれる所定のテストエリアに移動させ、前記評価部によって前記所定のテストエリアに於ける前記磁気ヘッドの磁気記録特性評価を行い、当該磁気ヘッドの磁気記録特性を前記表示部に表示する制御部と、を有することを特徴とするヘッドテスタ。少なくとも、サーボ領域パターンまたはデータ領域パターンのいずれかが同心円状に構成されている磁気記録媒体に対し、信号の記録または信号の再生を行う磁気ヘッドを評価するヘッドテスタであって、前記磁気記録媒体を回転させる回転駆動機構と、前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体上の少なくとも半径方向に移動可能なアクチュエータと、前記磁気ヘッドを用いて前記磁気記録媒体に特定パターンを記録し、当該特定パターンの再生信号から前記磁気ヘッドの磁気記録特性の評価を行う評価部と、前記磁気ヘッドの磁気記録特性を記憶する記憶部と、前記サーボ領域パターン、前記データ領域パターン、磁気記録層のうち少なくとも一つが相互に異なる複数のテストエリアからなるテストゾーンを備えた当該磁気記録媒体を前記回転駆動機構に装着した際、前記アクチュエータによって前記磁気ヘッドをいずれかのテストゾーンに含まれる所定のテストエリアに移動させ、前記評価部によって前記所定のテストエリアに於ける前記磁気ヘッドの磁気記録特性評価を行い、前記記憶部に当該磁気ヘッドの磁気記録特性を記憶させる制御部と、を有することを特徴とするヘッドテスタ。前記制御部は、前記所定のテストエリアに於ける前記磁気ヘッドの磁気記録特性評価を全てのテストゾーンで繰り返し、全てのテストゾーンの評価結果が所定の磁気記録特性であったならば評価を停止し、いずれかのテストゾーンの評価結果が所定の磁気記録特性でなかったならば、当該所定のテストエリアの次のテストエリアの評価を行う、ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のヘッドテスタ。所定の磁気記録特性とは、データ信号のエラーレート、サーボ信号のリニアリティ、サーボ信号の不感帯、サーボ信号のノイズのいずれかである、ことを特徴とする請求項3に記載のヘッドテスタ。前記磁気記録媒体の前記複数のテストエリアは、トラックピッチ、ビットピッチ、または、面記録密度のうち、いずれかの順に配列されている、ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のヘッドテスタ。前記制御部は、前記複数のテストエリアのうち最低記録密度のテストエリアに於ける、いずれかのテストゾーンの評価結果が所定の磁気記録特性でなかったならば、評価を終了する、ことを特徴とする請求項5に記載のヘッドテスタ。前記複数のテストエリアは、単一の前記磁気記録媒体上に構成されている、ことを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載のヘッドテスタ。前記複数のテストエリアは、複数の前記磁気記録媒体上に分割されて構成されており、前記制御部は、前記アクチュエータの移動、または、前記磁気記録媒体の交換の後、前記磁気ヘッドを複数の前記磁気記録媒体のうち評価対象のテストエリアを有する磁気記録媒体に位置決めする、ことを特徴とする請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載のヘッドテスタ。複数の前記磁気記録媒体は、前記回転駆動機構に積層されて保持されており、前記アクチュエータは更に、前記磁気ヘッドを複数の前記磁気記録媒体の積層方向に移動可能である、ことを特徴とする請求項8に記載のヘッドテスタ。前記磁気記録媒体は、磁気記録層の記録密度の順に積層されている、ことを特徴とする請求項9に記載のヘッドテスタ。前記制御部は、複数の前記磁気記録媒体のうち最低記録密度の磁気記録媒体に於ける、いずれかのテストゾーンの評価結果が、所定の磁気記録特性でなかったならば、評価を終了する、ことを特徴とする請求項8に記載のヘッドテスタ。少なくとも、サーボ領域パターンまたはデータ領域パターンのいずれかが同心円状に構成されている磁気記録媒体に対し、信号の記録または信号の再生を行う磁気ヘッドを評価するヘッドテスタのヘッドテスト方法であって、当該ヘッドテスタは、前記磁気記録媒体を回転させる回転駆動機構と、前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体上の少なくとも半径方向に移動可能なアクチュエータと、前記磁気ヘッドを用いて前記磁気記録媒体に特定パターンを記録し、当該特定パターンの再生信号から前記磁気ヘッドの磁気記録特性の評価を行う評価部と、前記磁気ヘッドの磁気記録特性を表示する表示部と、少なくとも前記アクチュエータと前記評価部と前記表示部とを制御する制御部と、を備え、前記サーボ領域パターン、前記データ領域パターン、磁性体の構造のうち少なくとも一つが相互に異なる複数のテストエリアからなるテストゾーンを備えた当該磁気記録媒体が前記回転駆動機構に装着された際に、前記制御部、前記アクチュエータによって前記磁気ヘッドをいずれかのテストゾーンに含まれる所定のテストエリアに移動させる第1のステップと、前記評価部によって前記所定のテストエリアに於ける前記磁気ヘッドの磁気記録特性評価を行う第2のステップと、当該磁気ヘッドの磁気記録特性を前記表示部に表示する第3のステップと、を実行することを特徴とするヘッドテスト方法。少なくとも、サーボ領域パターンまたはデータ領域パターンのいずれかが同心円状に構成されている磁気記録媒体に対し、信号の記録または信号の再生を行う磁気ヘッドを評価するヘッドテスタのヘッドテスト方法であって、当該ヘッドテスタは、前記磁気記録媒体を回転させる回転駆動機構と、前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体上の少なくとも半径方向に移動可能なアクチュエータと、前記磁気ヘッドを用いて前記磁気記録媒体に特定パターンを記録し、当該特定パターンの再生信号から前記磁気ヘッドの磁気記録特性の評価を行う評価部と、前記磁気ヘッドの磁気記録特性を記憶する記憶部と、少なくとも前記アクチュエータと前記評価部と前記記憶部とを制御する制御部と、を備え、前記サーボ領域パターン、前記データ領域パターン、磁性体の構造のうち少なくとも一つが相互に異なる複数のテストエリアからなるテストゾーンを備えた当該磁気記録媒体が前記回転駆動機構に装着された際に、前記制御部は、前記アクチュエータによって前記磁気ヘッドをいずれかのテストゾーンに含まれる所定のテストエリアに移動させる第1のステップと、前記評価部によって前記所定のテストエリアに於ける前記磁気ヘッドの磁気記録特性評価を行う第2のステップと、前記記憶部に当該磁気ヘッドの磁気記録特性を記憶させる第3のステップと、を実行することを特徴とするヘッドテスト方法。前記制御部は、前記第2のステップに於ける前記所定のテストエリアに於ける前記磁気ヘッドの磁気記録特性評価を全てのテストゾーンで繰り返し、全てのテストゾーンの評価結果が所定の磁気記録特性であったならば評価を停止して前記第3のステップを実行し、いずれかのテストゾーンの評価結果が所定の磁気記録特性でなかったならば、当該所定のテストエリアの次のテストエリアを新たな評価対象として前記第2のステップを繰り返す、ことを特徴とする請求項13に記載のヘッドテスト方法。エラーレートに代表される磁気ディスク装置の性能は、磁気ヘッドのコア幅および磁気ヘッドのリードライト特性に関わっている。磁気ヘッドのコア幅および磁気ヘッドのリードライト特性は、個々の磁気ヘッドによって大きくばらつく。磁気ヘッドのコア幅に基いて、この磁気ヘッドで読み書きする磁気ディスクを選択し、磁気ディスク装置に組込んだ場合には、性能を十分に確保できるか否かは不確定であり、磁気ディスク装置の歩留まりが低下する虞があった。そのため、磁気ヘッドと、当該磁気ヘッドで読み書きする磁気ディスクをテスト評価することにより、磁気ディスク装置に組込んだ場合に於けるエラーレートなどの性能を予測することと、当該磁気ヘッドに適切な磁気ディスクの組合せを判別することとが望まれている。そこで、本発明は、複数パターンの磁気ディスクのうち、磁気ヘッドに適切な組合せを判別することを課題とする。前記課題を解決し、本発明の目的を達成するために、以下のように構成した。すなわち、請求項1に記載の発明では、少なくとも、サーボ領域パターンまたはデータ領域パターンのいずれかが同心円状に構成されている磁気記録媒体に対し、信号の記録または信号の再生を行う磁気ヘッドを評価するヘッドテスタであって、前記磁気記録媒体を回転させる回転駆動機構と、前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体上の少なくとも半径方向に移動可能なアクチュエータと、前記磁気ヘッドを用いて前記磁気記録媒体に特定パターンを記録し、当該特定パターンの再生信号から前記磁気ヘッドの磁気記録特性の評価を行う評価部と、前記磁気ヘッドの磁気記録特性を表示する表示部と、前記サーボ領域パターン、前記データ領域パターン、磁気記録層のうち少なくとも一つが相互に異なる複数のテストエリアからなるテストゾーンを備えた当該磁気記録媒体を前記回転駆動機構に装着した際、前記アクチュエータによって前記磁気ヘッドをいずれかのテストゾーンに含まれる所定のテストエリアに移動させ、前記評価部によって前記所定のテストエリアに於ける前記磁気ヘッドの磁気記録特性評価を行い、当該磁気ヘッドの磁気記録特性を前記表示部に表示する制御部と、を有することを特徴とするヘッドテスタとした。その他の手段については、発明を実施するための形態のなかで説明する。本発明によれば、複数のパターンの磁気ディスクのうち、磁気ヘッドに適切な組合せを判別することができる。以降、本発明を実施するための形態を、図を参照して詳細に説明する。第1の実施形態の構成図1は、第1の実施形態に於けるヘッドテスタを示す概略の構成図である。ヘッドテスタ10は、機構系と回路系とを備えている。ヘッドテスタ10の機構系ヘッドテスタ10の機構系は、スピンドル14と、微動アクチュエータ12と、X軸ステージ13と、定盤11とを備えている。スピンドル14と、X軸ステージ13とは、定盤11に固定されている。微動アクチュエータ12は、X軸ステージ13上に固定されている。定盤11は、ヘッドテスタ10の機構系の要素、例えば、スピンドル14と、X軸ステージ13とを固定し、これらに外部からの振動の影響を受けにくいようにするものである。スピンドル14回転駆動機構は、上部にBPM型ディスク40が装着可能なように構成されている。スピンドル14は更に、装着したBPM型ディスク40を所定の回転速度で回転するように構成されている。X軸ステージ13アクチュエータは、磁気ヘッド60をBPM型ディスク40上の任意の半径上に移動させるため、または、BPM型ディスク40上から退避させるために、微動アクチュエータ12を大きく移動させ、磁気ヘッド60の大まかな位置決めを行うものである。微動アクチュエータ12アクチュエータは、磁気ヘッド60をBPM型ディスク40上のテストエリア50の任意のトラック上に位置決めする。X軸ステージ13と微動アクチュエータ12とは、磁気ヘッド60をBPM型ディスク40上の半径方向に移動可能なアクチュエータである。微動アクチュエータ12は、サスペンション61を介して磁気ヘッド60を保持している。微動アクチュエータ12は、磁気ヘッド60が接続されたサスペンション61を取り外し、別の磁気ヘッド60が接続されたサスペンション61に取り換えることが可能なように構成されている。ヘッドテスタ10の回路系ヘッドテスタ10の回路系は、サーボ復調部21と、減算器22と、サーボ駆動部23と、制御部24と、評価部25と、表示部26と、記憶部30とを備えている。サーボ復調部21は、磁気ヘッド60で再生したサーボ領域43図2に記録されたサーボ情報を復調し、BPM型ディスク40に対する磁気ヘッド60の位置を表すPOSPOSition信号に変換するものである。減算器22は、目標位置信号からPOS信号を減算して、PESPositionErrorSignal信号を出力するものである。サーボ駆動部23は、制御部24から出力される目標位置信号からサーボ復調部21で復調されたPOS信号を減算器22で減算したPES信号を低減させ、磁気ヘッド60をテストエリア50の目標トラック上に位置決めさせるように微動アクチュエータ12を駆動するためのサーボ信号を算出して出力するものである。制御部24は、当該ヘッドテスタ10全体の動作を制御するものであり、例えば、スピンドル14と、微動アクチュエータ12と、X軸ステージ13と、サーボ駆動部23とを制御する。評価部25は、磁気ヘッド60を用いてBPM型ディスク40に評価用パターン特定パターンを記録し、当該評価用パターンの再生信号から磁気ヘッド60の磁気記録特性の評価を実施するものである。表示部26は、例えば、液晶ディスプレイなどであり、BPM型ディスク40に係るテスト結果35磁気記録特性などを表示するものである。記憶部30は、例えば、RAMRandomAccessMemoryまたはフラッシュメモリであり、BPM型ディスク40に係るテストディスク属性34と、テスト結果35とを記憶するものである。このテストディスク属性34は、テストエリア属性31と、テストゾーン属性32と、ディスク属性33とを有している。テストエリア属性31と、テストゾーン属性32とディスク属性33とは、後記する図5に於いて詳細に説明する。磁気ヘッド60は、BPM型ディスク40に対し、信号の記録または信号の再生を行うものである。サスペンション61は、微動アクチュエータ12に装着されて、磁気ヘッド60を保持するものである。図2は、BPM型ディスクに於けるサーボ領域とデータ領域を示す図である。BPM型ディスク40には、同心円状に複数のトラックが形成されている。BPM型ディスク40には、BPM型ディスク40上の位置を検出するための情報が記録されたサーボ領域43と、データの記録再生を行うデータ領域41とが、トラック上に交互に等ピッチに構成されている。ヘッドテスタ10は、サーボ領域43に記録されたサーボ情報を磁気ヘッド60で読み出し、サーボ復調部21で復調してPOS信号に変換し、BPM型ディスク40に対する磁気ヘッド60の位置を検出するように構成されている。ハードディスク装置は、ヘッドテスタ10と同様に、BPM型ディスク40に対する磁気ヘッド60の位置を検出する。図3は、BPM型ディスクに於けるサーボ領域とデータ領域のパターンの例を示す図である。パターンの黒い部分は、磁性膜が表面に設けられた磁性領域である。パターンの白地の部分は、磁性膜の存在しない非磁性領域である。サーボ領域43の磁性領域は、初期化の際に一方向に磁化され、常に固定パターンの再生信号を出力するようになっている。サーボ領域43は、プリアンブル部43aと、サーボマーク部43bと、トラックコードセクタ部43cと、バースト信号部43dとを有している。プリアンブル部43aは、サーボクロック信号の同期と、信号レベルのゲイン調整とを行うためのものである。サーボマーク部43bは、サーボ領域43の位置を確定するためものであり、データ領域41では発生しない特別なパターンが構成されている。トラックコードセクタ部43cは、データ領域41のアドレス情報セクタ情報またはシリンダ情報を2値化したパターンである。バースト信号部43dは、ヘッドの位置誤差を検出するものである。データ領域41は、個々の磁性領域である複数のセルで構成されたデータパターン部41aを有している。個々のセルの磁性領域は、周囲が非磁性領域に囲まれて孤立している。1個のセルは、1ビットの情報を保持する。データパターン部41aに於いて、各ビットのセルは、半径方向に等間隔に構成されたトラックに沿って、等ピッチで整列している。ビットのセルの半径方向の間隔は、トラックピッチである。ビットのセルの半径方向のサイズは、トラック幅である。ビットのセルのトラック方向の間隔は、ビットピッチである。ビットのセルのトラック方向のサイズは、ビットサイズである。第1の実施形態に於いて、BPM型ディスク40はテスト専用である。BPM型ディスク40は、一部の領域にテストエリア50が複数設けられている。個々のテストエリア50は、同一形状の連続した複数のトラックから構成され、テストに必要な範囲よりも広い幅を有している。図4a,bは、第1の実施形態に於けるテストゾーンとテストディスクの例を示す図である。図4aに、複数テストエリア50が配置されたテストゾーン52の一例を示す。テストゾーン52には、n個のテストエリア50-1~50-nが配置されている。テストエリア50-1~50-nの個々のサーボ領域43およびデータ領域41のパターンは、テストする磁気ヘッド60と組合せ可能なn種類の製品用のBPM型ディスク40と同一のパターンである。したがって、テストエリア50-1~50-nはそれぞれ、サーボ領域43のパターンのサイズとピッチ、および、データ領域41のパターンのサイズとピッチがそれぞれ異なっている。テストゾーン52には、テストエリア50が記録密度順に配列されている。テストエリア50-1は、最も記録密度が高いパターンである。テストエリア50-nは、記録密度が最も低いパターンである。テストエリア50-sは標準仕様パターンであり、標準的な形状および性能の磁気ヘッド60と組合せて使用すると所定の性能が得られるように設計されている。第1の実施形態に於いて、磁気ヘッド60と組合せ可能なn種類の製品用のBPM型ディスク40と同一仕様パターンのn種類のテストエリア50-1~50-nは、全て1枚のテスト用のBPM型ディスク40上に構成されている。したがって、1枚のテスト用のBPM型ディスク40へのアクセスで、磁気ヘッド60と組合せ可能なn種類の製品用のBPM型ディスク40と同一仕様パターンのテストを完了させることができる。以上のような構成のもとに、テストエリア50を順次変更して磁気ヘッド60の評価を実施し、複数のテストエリア50-1~50-nの中から所定の評価結果が得られるテストエリア50を検出している。これにより、ヘッドテスタ10は、磁気ヘッド60と組合せ可能なn種類の製品用のBPMディスクの中から適切な組合せを判別することが可能になる。なお、判断の基準になる評価結果としては、エラーレートが特に重要である。エラーレートは、サーボ信号の精度やリードライト特性などを含む総合的な性能を示している。エラーレートが所定値以下にならないと、磁気ディスク装置の記録再生情報にエラーが発生する確率が高くなり、エラーリカバリに時間を要し、最悪の場合には元のデータを再現できなくなる虞がある。第1の実施形態に於いて、エラーレートが所定値以下であることを所定の評価結果として、以下説明を行う。図4bに、テスト用のBPM型ディスク40上に配置された複数のテストゾーン52の一例を示す。磁気ディスク装置では、所定の回転速度で磁気ディスクを回転させるので、半径位置によって線速度が異なり、ビットピッチが同じであれば、半径の大きな外周ほど記録再生信号の周波数が高くなる。記録再生信号周波数の変動幅が大きくなるのは望ましくないため、半径方向にゾーンを分け、ゾーンごとにビットピッチを変えるゾーンビットレコーディング方式が一般的に採用されている。ゾーンビットレコーディングが採用されているBPM型ディスク40は、個々のゾーンで磁気記録再生特性が異なり、評価結果に差が出る虞がある。テスト用のBPM型ディスク40は、複数のテストゾーン52を、ゾーンビットレコーディングのゾーンごとに、その中でリードライト条件の厳しくなる場所に設けている。しかし、これに限られず、それらゾーンのうちの代表的な場所に絞ってテストゾーン52を設けてもよい。これにより、テスト時間を短縮することができる。第1の実施形態のテスト用のBPM型ディスク40は、外周、中周、内周のそれぞれにテストゾーン52-1~52-3の3個のテストゾーン52を配置している。第1の実施形態の各テストゾーン52-1~52-3に於いて、複数のテストエリア50-1~50-nの番号1~nは、n種類の製品用のBPM型ディスク40の番号と一致している。同一番号のテストエリア50は、同一番号の製品用のBPM型ディスク40の各ゾーンのパターンと一致している。第1の実施形態の各テストゾーン52-1~52-3の全てに於いて、同一番号のテストエリア50でエラーレートが所定値以下になることが、テスト合格の条件となる。図5a~cは、第1の実施形態に於ける各テーブルの例を示す図である。図5aは、テストエリア属性31を示す図である。テストエリア属性31は、当該BPM型ディスク40に係る各テストエリア50の属性が格納されているものである。テストエリア属性31は、テストエリア番号欄31aと、トラックピッチ欄31bと、トラック幅欄31cと、ビットピッチ欄31dと、ビット幅欄31eとを備えている。テストエリア番号欄31aは、当該エントリに係るテストエリア50の番号を格納するものである。トラックピッチ欄31bは、当該テストエリア50に係るトラックピッチの情報を格納するものである。トラック幅欄31cは、当該テストエリア50に係るトラック幅の情報を格納するものである。ビットピッチ欄31dは、当該テストエリア50に係るビットピッチの情報を格納するものである。ビット幅欄31eは、当該テストエリア50に係るビット幅の情報を格納するものである。図5bは、テストゾーン属性32を示す図である。テストゾーン属性32は、当該BPM型ディスク40に係る各テストゾーン52の属性が格納されているものである。テストゾーン属性32は、テストゾーン番号欄32aと、記録密度欄32bを備えている。テストゾーン番号欄32aは、当該エントリに係るテストゾーン52の番号を格納するものである。記録密度欄32bは、当該テストゾーン52に係る記録密度を格納するものである。ここではテストゾーン52ごとの相対的な記録密度が低中高として格納されている。図5cは、ディスク属性33を示す図である。ディスク属性33は、当該BPM型ディスク40に係るディスクの属性が格納されているものである。ディスク属性33は、磁性体の種類、ディスク径、ディスク厚などから構成されている。第1の実施形態の動作図1を基に、ヘッドテスタ10の動作を説明する。BPM型ディスク40は、スピンドル14に保持されており、スピンドル14は、データの記録再生の際に所定の回転速度で回転する。BPM型ディスク40に対してデータの記録再生を行う磁気ヘッド60は、サスペンション61を介して微動アクチュエータ12に保持されている。X軸ステージ13は、磁気ヘッド60をBPM型ディスク40上の任意の半径へ移動させ、あるいはBPM型ディスク40上から退避させるために、微動アクチュエータ12を移動させて磁気ヘッド60の大まかな位置決めを行う。微動アクチュエータ12は、サーボ駆動部23から出力されるサーボ信号によって駆動され、磁気ヘッド60をBPM型ディスク40上のテストエリア50の任意のトラック上に位置決めする。サーボ復調部21は、磁気ヘッド60で再生したサーボ領域43に記録されたサーボ情報を復調して、BPM型ディスク40に対する磁気ヘッド60の位置を表すPOS信号に変換する。減算器22は、制御部24から出力される目標位置信号から、サーボ復調部21で復調されたPOS信号を減算してPESPositionErrorSignal:位置誤差信号を生成し、サーボ駆動部23に出力する。サーボ駆動部23は、当該PES信号を低減させ、磁気ヘッド60をテストエリア50の目標トラック上に位置決めさせるよう、サーボ信号を算出して出力し、微動アクチュエータ12を駆動する。制御部24は、スピンドル14、微動アクチュエータ12、X軸ステージ13、サーボ駆動部23の動作を制御する。評価部25は、PES信号によって磁気ヘッド60の位置制御が行われている状態であることを制御部24からの信号で確認した後、磁気ヘッド60によって評価用パターン特定パターンをBPM型ディスク40に記録し、その再生信号から磁気記録特性の評価を実施し、評価結果を記憶部30のテスト結果35に保存し、かつ表示部26に表示する。図6は、第1の実施形態に於けるテストシーケンスの例を示すフローチャートである。処理を開始すると、ステップS10に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、最初に評価を実行するテストエリア50のテスト順番を決定する。ステップS11に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、評価部25によって磁気ヘッド60のコア幅を測定する。ステップS12に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、磁気ヘッド60を最も記録密度の低いテストゾーン52に移動する。ステップS13に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、テスト対象である当該トラックピッチが、磁気ヘッド60のコア幅よりも小さいか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS14の処理を行い、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS16の処理を行う。ステップS14に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、磁気ヘッド60をテストゾーン52の中の該当テストエリア50に移動する。ステップS15に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、評価部25によって磁気ヘッド60の評価を実行して、ステップS17の処理を行う。ステップS16に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、当該評価をスキップして、評価結果としてSKIPを設定する。ステップS17に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、ステップS15に於ける評価結果がOKであったか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS18の処理を行い、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS23の処理を行う。ステップS18に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、全てのテストゾーン52を評価したか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS19の処理を行い、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS20の処理を行う。ステップS19に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、磁気ヘッド60を、次に記録密度が低いテストゾーン52に移動し、ステップS13の処理に戻る。ステップS20に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、テストの結果としてOKを設定する。ステップS21に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、各テストエリア50の評価結果に基き、磁気ヘッド60のランクを決定する。ステップS22に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、評価部25によってテストの結果を記憶部30のテスト結果35に保存して、表示部26に表示し、図6の処理を終了する。ステップS23に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、最低記録密度のテストエリア50であるか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS24の処理を行い、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS25の処理を行う。ステップS24に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、テストの結果としてNGを設定し、ステップS22の処理を行う。ステップS25に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、次のテストエリア決定処理を行う。ステップS25の処理は、後述する図7で詳細に説明する。ステップS26に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、全てのテストエリアを評価したか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS12の処理に戻り、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS24の処理を行う。磁気ヘッド60と記録密度の高いBPM型ディスク40との組合せが望まれる場合、ヘッドテスタ10の制御部24は、当該磁気ヘッド60の評価に於いて、最高記録密度のテストエリア50-1からテストを開始し、評価結果に応じて記録密度の低いテストエリア50に順次移行するように、ステップS10でテストエリア順番を決定する。磁気ヘッド60と標準的な記録密度のBPM型ディスク40との組合せでよい場合、標準仕様パターンのテストエリア50-sからテストを開始して、記録密度の低いテストエリア50に順次移行するよう、ステップS10でテストエリア順番を決定する。これにより、テスト時間の短縮が可能になる。次のテストエリア決定処理に於いて、ステップS10で決定したテストエリア順番に沿って選択することが考えられる。しかし、該当テストエリア50のエラーレートの値と所定値との差が大きな場合、または、該当テストエリア50に於ける評価結果OKの統計確率が低い場合などには、ステップS11で測定した磁気ヘッド60のコア幅などの基本特性値に基き、評価結果がOKでない蓋然性の高いテストエリア50をスキップすることによって、テストの効率化を図ることができる。磁気ヘッド60のコア幅などの基本特性値に基く場合には、記録密度だけではなく、コア幅の場合にはトラックピッチやトラック幅、リードライト特性の場合にはビットピッチやビット幅などの値に注目して、評価結果がOKでない蓋然性の高いテストエリア50をスキップすることが可能である。磁気ヘッド60のコア幅などの基本特性値については、ステップS11に於いて測定される。しかし、これに限られず、各テストゾーン52の最初のテストエリア50での評価の際に併せて測定してもよく、図6のテストシーケンスを開始する前に、予めヘッドテスタ10に入力するようにしてもよい。第1の実施形態では、各磁気ヘッド60の最終的なテストの結果に加えて、テスト途中のテストエリア50とエラーレートの値の関係やコア幅などの基本特性値をテスト結果35に保存し、これらの保存結果をデータベースとして次のテストエリア50を選択するようにしている。これにより、更に短時間で適切な磁気ヘッド60とBPM型ディスク40の組み合わせの選択が可能になる。なお、テストゾーン52の評価順序に関しては、リードライト条件が厳しくエラーレートの値が大きくなると予測されるテストゾーン52から順番に評価すると、該当テストエリア50での評価がNGである場合に、早い段階でチェックできる可能性が高く、テスト時間の短縮を図ることができる。図7は、第1の実施形態に於ける次のテストエリア決定処理を示すフローチャートである。図7の処理は、ステップS25の処理によって呼び出される。処理を開始すると、ステップS30に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、ステップS10図6で決定したテストエリア50の順番に基き、次のテストエリア50を選択する。ステップS31に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、当該磁気ヘッド60のコア幅に係るテスト結果35を集計する。ステップS32に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、集計したテスト結果35を、当該テストディスクの磁性体に係るものに絞込む。ステップS33に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、集計したテスト結果35を更に、選択したテストパターンに係るものに絞込む。ステップS34に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、集計したテスト結果35は、統計上有意な件数であるか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立しなかったならばNo、図7の処理を終了し、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS35の処理を行う。ステップS35に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、エラーレートエラー率が所定値以上であるか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立しなかったならばNo、図7の処理を終了し、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS36の処理を行う。ステップS36に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、全テストエリア50を評価したか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS30の処理を行い、当該判断条件が成立したならばYes、図7の処理を終了する。図8は、第1の実施形態に於けるテスト結果表示の例を示す図である。表示部26の画面には、磁気ヘッド60の固有番号00123と、テストの結果としてOKが表示されている。テストの結果がOKの場合なので、更に磁気ヘッド60のランクが3として表示されている。第1の実施形態では、各テストゾーン52-1~52-3のテストエリア50-1~50-nの中で、実際にテストを行った部分の評価結果が表示されるようになっている。オペレータは、例えばテスト結果35に於ける磁気ヘッド60のランクに基き、磁気ヘッド60を、ランクごとに設けられた個々のトレイに振り分けることができる。テスト終了の際には、磁気ヘッド60を一旦元のトレイに戻しておき、記憶部30に記録されたテスト結果35を参照して、テスト済みの磁気ヘッド60をランクごとに別のトレイに振り分け、磁気ディスク装置組立ての際に、所定ランクの磁気ヘッド60のみを使用してもよい。第1の実施形態の効果以上説明した第1の実施形態では、次のA~Eのような効果がある。A第1の実施形態では、一枚のBPM型ディスク40に複数のテストエリア50を設けている。これにより、複数のBPM型ディスク40を切り替えることなく、1枚のBPM型ディスク40により、磁気ヘッド60と複数のテストエリア50との組合せ評価を行うことができる。B第1の実施形態のBPM型ディスク40は、複数のテストゾーン52に、複数のテストエリア50を設けている。これにより、ゾーンビットレコーディングが採用されているBPM型ディスク40であっても、個々のゾーンでの磁気記録再生特性の評価を行うことができる。Cヘッドテスタ10は、最も記録密度の低いテストゾーン52からテストを開始している。これにより、当該テストエリア50に於いてエラーが発生し始める記録密度のテストゾーン52に関する情報を蓄積し、次のテストエリア決定処理で、もっとも適切な次のテストエリア50を選択する情報源とすることができる。Dヘッドテスタ10は、テストエリア50のトラックピッチがコア幅よりも狭いとき、当該評価をスキップしている。これにより、明らかに評価不要なテストシーケンスを省き、テスト時間を短縮することができる。Eヘッドテスタ10は、次のテストエリア50を選択したとき、選択したテストエリア50のテスト結果35を集計してエラーレートが所定値以上であったならば、更に次のテストエリア50を選択している。これにより、統計上、明らかにエラーレートが高いテストエリア50の評価を省き、テスト時間を短縮することができる。第2の実施形態の構成図9は、第2の実施形態に於けるヘッドテスタを示す概略の構成図である。第2の実施形態のヘッドテスタ10Aは、第1の実施形態のヘッドテスタ10図1に加えてZ軸ステージ15を備え、スピンドル14に複数のBPM型ディスク40が積層されて取付けられ、記憶部30に複数のテストディスク属性34-1~34-4が記憶されている他は、第1の実施形態のヘッドテスタ10図1と同様に構成されている。Z軸ステージ15は、X軸ステージ13上に配置され、微動アクチュエータ12を支持している。Z軸ステージ15は、支持している微動アクチュエータ12を上下方向Z軸方向に駆動可能なアクチュエータである。Z軸ステージ15は、X軸ステージ13によって、BPM型ディスク40の半径方向X軸方向に駆動される。複数のBPM型ディスク40は、トラックピッチやビットピッチなどのパターンの形状に加えて、リードライト特性のばらつきに合わせて磁性体の構造が異なるもので構成されている。これにより、トラックピッチやビットピッチなどのBPM型ディスク40のパターンの形状のテストに、磁性体の構造が異なるBPM型ディスク40のリードライト特性のテストを組み合わせることが可能となる。複数のテストディスク属性34-1~34-4は、積層した複数のBPM型ディスク40に係る属性を記憶している。Z軸ステージ15は、支持している微動アクチュエータ12を上下方向に駆動することにより、サスペンション61に支持された磁気ヘッド60を上下移動させる。Z軸ステージ15は、X軸ステージ13と連動して、複数のBPM型ディスク40のうちの任意のBPM型ディスク40上に、磁気ヘッド60を移動させる。第2の実施形態のヘッドテスタ10Aは、複数のBPM型ディスク40にアクセスするため、スピンドル14に複数のBPM型ディスク40を積層して取付け、Z軸ステージ15で磁気ヘッド60を上下移動させ、任意のBPM型ディスク40でテストを行うように構成されている。複数のBPM型ディスク40には、それぞれ1個または複数個のテストエリア50が構成されており、これらを全て組合せることにより、組合せ可能な製品用のBPM型ディスク40の全種類のパターンになるように構成されている。第2の実施形態では、積層した複数のBPM型ディスク40は、各テストエリア50の記録密度が一方向に増加または減少するように配置している。これにより、磁気ヘッド60の上下移動の時間を減らし、テスト時間を短縮させることができる。制御部24は、複数のテストディスク属性34-1~34-4に基き、積層した複数のBPM型ディスク40のいずれかに磁気ヘッド60を移動させ、いずれかのテストエリア50でテストを行う。第2の実施形態の動作図10は、第2の実施形態に於けるテストシーケンスの例を示すフローチャートである。第1の実施形態のテストシーケンス図6と同一の要素には同一の符号を付与している。処理を開始すると、ステップS10Aに於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、評価するテストディスク順番とテストエリア順番を決定する。ステップS11の処理は、第1の実施形態のステップS11図6の処理と同様である。ステップS12Aに於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、Z軸ステージ15によって、決定したテストディスクに磁気ヘッド60を移動させる。ステップS12~S24の処理は、第1の実施形態のステップS12~S24図6の処理と同様である。ステップS23に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS25Aの処理を行う。ステップS25Aに於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、次のテストディスクとテストエリア決定処理を行う。ステップS25Aの処理は、後記する図11で詳細に説明する。ステップS26Aに於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、全テストディスクと全テストエリア50の評価を完了したか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS24の処理を行い、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS27の処理を行う。ステップS27に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、次のテストディスクが、現在の評価中のディスクと同一であるか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS12の処理を行い、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS12Aの処理を行う。図11は、第2の実施形態に於ける次のテストディスクとテストエリア決定処理を示すフローチャートである。第1の実施形態の次のテストエリア決定処理図7と同一の要素には同一の符号を付与している。処理を開始したのち、ステップS30~S36の処理は、第1の実施形態のステップS30~S36の処理図7と同様である。ステップS36に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS37の処理を行う。ステップS37に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、ステップS10A図10で決定したテストディスク順番に基き、次のテストディスクを選択する。ステップS38に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、全てのテストディスクを評価したか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立したならばYes、図11の処理を終了し、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS39の処理を行う。ステップS39に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、ステップS10A図10で決定したテストエリア50の順番に基き、最初のテストエリア50を選択し、ステップS31の処理に戻る。第2の実施形態の効果以上説明した第2の実施形態では、次のF,Gのような効果がある。F複数のBPM型ディスク40を積層すると共に、Z軸ステージ15によって、これらの複数のBPM型ディスク40のうち任意のひとつに、磁気ヘッド60を移動させてテストを行うことができる。これにより、トラックピッチやビットピッチなどのBPM型ディスク40のパターンの形状のテストに、磁性体の構造が異なるBPM型ディスク40のリードライト特性のテストを組み合わせることが可能となる。G第2の実施形態では、積層した複数のBPM型ディスク40は、各テストエリア50の磁気記録層の記録密度が一方向に増加または減少するように配置している。これにより、複数のBPM型ディスク40の磁気記録層の記録密度の順番に評価するテストシーケンスに於いて、磁気ヘッド60の上下移動の時間を減らし、テスト時間を短縮させることができる。第3の実施形態の構成第3の実施形態のヘッドテスタ10Aは、第2の実施形態のヘッドテスタ10Aとは異なり、製品用のBPM型ディスク40がスピンドル14に積層して取付けられている。複数の異なるパターンのテストエリア50を備えるテスト用のBPM型ディスク40は、製品用のBPM型ディスク40に比べて生産数が大幅に少なくなり、製造コストが非常に高くなる虞がある。組合せ可能な製品用のBPM型ディスク40の種類が少ない場合には、製品用のBPM型ディスク40をスピンドル14に積層して取付けて使用することにより、廉価な製品用のBPM型ディスク40によって磁気ヘッド60のテストを行うことができる。第3の実施形態の動作図12は、第3の実施形態に於けるテストシーケンスの例を示すフローチャートである。第1の実施形態のテストシーケンス図6と同一の要素には同一の符号を付与している。処理を開始すると、ステップS10Bに於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、評価するテストディスク順番を決定する。ステップS11~S22の処理は、第1の実施形態のステップS12~S22図6の処理と同様である。ステップS23Bに於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、最低記録密度のテストディスクであるか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS24の処理を行い、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS25Bの処理を行う。ステップS24の処理は、第1の実施形態のステップS24図6の処理と同様である。ステップS25Bに於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、次のテストディスク決定処理を行う。ステップS25Bの処理は、後記する図13で詳細に説明する。ステップS26Bに於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、全テストディスクの評価を完了したか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS24の処理を行い、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS12の処理を行う。図13は、第3の実施形態に於ける次のテストディスク決定処理を示すフローチャートである。第1の実施形態の次のテストエリア決定処理図7と同一の要素には同一の符号を付与している。処理を開始したのち、ステップS30Bに於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、ステップS10B図12で決定したテストディスク順番に基き、次のテストディスクを選択する。ステップS31~S35の処理は、第1の実施形態のステップS31~S35の処理図7と同様である。ステップS35に於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立したならばYes、ステップS37Bの処理を行う。ステップS37Bに於いて、ヘッドテスタ10の制御部24は、全てのテストディスクを評価したか否かを判断する。ヘッドテスタ10の制御部24は、当該判断条件が成立したならばYes、図13の処理を終了し、当該判断条件が成立しなかったならばNo、ステップS30Bの処理を行う。第3の実施形態の効果以上説明した第3の実施形態では、次のHのような効果がある。H第3の実施形態のテストシーケンスによれば、複数の製品用のBPM型ディスク40によって、磁気ヘッド60のテストを行うことができる。これにより、生産量が極めて少なくて高価なテスト用のBPM型ディスク40ではなく、生産量が多くて廉価な製品用のBPM型ディスク40を使って、磁気ヘッド60のテストを行うことができる。変形例本発明は、上記実施形態に限定されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、変更実施が可能である。この利用形態や変形例としては、例えば、次のa~fのようなものがある。a第2および第3の実施形態に於いて、ヘッドテスタ10Aは、複数のBPM型ディスク40へのアクセス方法として、1台のスピンドル14に複数のBPM型ディスク40を積層させている。しかし、これに限られず、ヘッドテスタは、磁気ヘッド60の周囲に複数台のスピンドル14を設けて、その上に取付けられた1枚もしくは複数枚のBPM型ディスク40にアクセスするように構成してもよい。また、ヘッドテスタは、ディスクの自動交換機構などによって、スピンドル14に取付けられたBPM型ディスク40を自動で交換するように構成してもよい。b第1~第3の実施形態のヘッドテスタ10,10Aは、BPM型ディスク40と磁気ヘッド60との組合せのテストを行っている。しかし、これに限られず、ヘッドテスタは、例えば転写型ディスクのようにサーボ領域43のパターンが固定化されたディスク、例えばDTM型ディスク、サーボ領域43に加えてデータ領域41のトラック形状が固定化されたディスク、データ領域41のトラック形状が固定化されたディスク、または、少なくともサーボ領域パターンまたはデータ領域パターンのいずれかが同心円状に構成されているディスクに適用してもよい。c第1~第3の実施形態のヘッドテスタ10,10Aは、所定の評価結果として、サーボ情報の精度やリードライト特性などを含んだ総合的な性能を示すエラーレートの値を用いている。しかし、これに限られず、ヘッドテスタは、サーボ領域43のパターンのみが固定化された転写型ディスクなどに於けるサーボ情報の精度を、当該所定の評価結果に用いてもよい。d第1~第3の実施形態のヘッドテスタ10,10Aは、サーボ領域43のパターンと磁気ヘッド60のコア幅やリードライト特性の組合せによって、POS信号のリニアリティ低下、POS信号の不感帯の発生、POS信号へのノイズが発生する。したがって、ヘッドテスタは、これらPOS信号のリニアリティ低下、POS信号の不感帯の発生、POS信号へのノイズ指標のいずれか、または、これらの組み合わせを、所定の評価結果に用いてもよい。e第1の実施形態のヘッドテスタ10は、テスト結果35に応じて記録密度の低いテストエリア50に順次移行している。しかし、これに限られず、これはテスト結果35に応じて記録密度の高いテストエリア50に移行するようにしてもよい。例えば、ヘッドテスタは標準仕様パターンのテストエリア50-sからテストを開始し、テスト結果35のエラーレートの値が所定値より十分に小さな場合には、記録密度の高いテストエリア50に移行することで、テスト時間を短縮し、かつ、高記録密度なBPM型ディスク40との組合せを見つけることが可能となる。f第1の実施形態のテスト用のBPM型ディスク40は、複数のテストゾーン52を、ゾーンビットレコーディングのゾーンごとに、その中でリードライト条件の厳しくなる場所に設けている。しかし、これに限られず、ヘッドテスタを、ゾーンビットレコーディング方式を採用していない磁気記録媒体と磁気ヘッドの組み合わせテストに使用してもよい。このとき、テストゾーンは、磁気記録媒体の半径方向に於ける代表的な場所、例えば最外周近傍と最内周近傍などに設けることとなる。"