"自動車の高電圧HVシステムと自動車の車体との間の漏れ抵抗を測定するシステムであって、前記HVシステムと前記自動車の車体との間に接続され、前記HVシステムと前記自動車の車体との間の容量性リアクタンスを実質的に打ち消す誘導性リアクタンスを有するエミュレートされたインダクタンスと、前記HVシステムと前記自動車の車体との間に、AC電流信号及びAC電圧信号のうちどちらか一方を出力する信号源と、前記HVシステムと前記自動車の車体との間の前記AC電圧信号に対するAC電流応答、及び、前記HVシステムと前記自動車の車体との間の前記AC電流信号に対するAC電圧応答のうちどちらか一方を測定するセンサーとを備えるシステム。前記AC電流信号及び前記AC電圧応答、並びに、前記AC電圧信号及び前記AC電流応答のうち、どちらか一方に基づいて、漏れ抵抗を計算する制御モジュールをさらに備える請求項1に記載のシステム。前記エミュレートされたインダクタンスの値は可変であり、前記制御モジュールは、前記エミュレートされたインダクタンスの前記値をN個の異なる値へと調整して、前記エミュレートされたインダクタンスの前記誘導性リアクタンスを変化させ、前記Nは1より大きい整数値である請求項2に記載のシステム。前記エミュレートされたインダクタンスは、可変抵抗を含み、前記制御モジュールは、前記エミュレートされたインダクタンスの前記可変抵抗をN個の異なる値へと調整して、前記エミュレートされたインダクタンスの前記誘導性リアクタンスを変更し、前記Nは1より大きい整数値である請求項2に記載のシステム。前記制御モジュールは、前記N個の値のうち、前記HVシステムと前記自動車の車体との間の容量性リアクタンスを打ち消すような値を1つ選択する請求項3に記載のシステム。前記制御モジュールは、前記N個の値のうち前記1つが選択されている間に、前記信号源に前記AC電流信号及び前記AC電圧信号のうちの前記一方を生成させることにより、前記HVシステムと前記自動車の車体との間の前記漏れ抵抗を計算する請求項4に記載のシステム。前記エミュレートされたインダクタンスは、さらに、反転入力及び非反転入力を持つオペアンプと、前記HVシステムと前記オペアンプの前記反転入力との間に接続された第1抵抗とを有する請求項4に記載のシステム。前記エミュレートされたインダクタンスは、前記HVシステムと前記オペアンプの前記非反転入力との間に接続された容量をさらに有し、前記可変抵抗は、前記非反転入力に接続されている請求項7に記載のシステム。第1容量と、第1抵抗と、第2抵抗と、前記第1抵抗と前記第2抵抗との間に接続される第1入力、及び、前記制御モジュールに接続される出力を有するアナログ‐デジタルコンバータとをさらに備え、前記第1容量、前記第1抵抗及び前記第2抵抗は、前記HVシステムと前記自動車の車体との間に直列に接続される請求項2に記載のシステム。前記制御モジュールは、前記漏れ抵抗の値をT個生成し、前記T個の値のうちS個の値を選択し、前記S及び前記Tは、2より大きい整数であって、S<Tであり、前記制御モジュールは、最終的な漏れ抵抗の値を前記S個の値の関数として計算し、前記制御モジュールは、HV制御装置及び自動車システム制御装置のうちのどちらか一方から受信されたイネーブル信号に基づいて、前記S個の値を選択する請求項2に記載のシステム。前記制御モジュールは、前記AC電圧応答及び前記AC電流応答のうちの前記一方の複数の半周期をサンプリングするサンプリングモジュールと、前記AC電圧応答及び前記AC電流応答のうちの前記一方の前記複数の半周期に対応する複数の相関値を生成する相関モジュールとを有する請求項2に記載のシステム。前記AC電圧応答及び前記AC電流応答のうち前記一方の前記複数の半周期のうち、予め定められた相関値よりも大きい相関値を有する選択された半周期に基づいて、前記漏れ抵抗を計算する漏れ計算モジュールをさらに備える請求項11に記載のシステム。前記相関モジュールは、前記AC電圧応答及び前記AC電流応答のうちの前記一方の前記複数の半周期のそれぞれを、前記AC電圧応答及び前記AC電流応答のうちの前記一方の前記複数の半周期のうちの別の1つ、及び、予め定められた波形のうちのどちらか一方と相関させることにより、前記複数の相関値を生成する請求項11に記載のシステム。自動車の高電圧HVシステムと自動車の車体との間の漏れ抵抗を測定する方法であって、前記HVシステムと前記自動車の車体との間のエミュレートされたインダクタンスを生成する段階と、前記エミュレートされたインダクタンスの誘導性リアクタンスを利用して、前記HVシステムと前記自動車の車体との間の容量性リアクタンスを実質的に打ち消す段階と、前記HVシステムと前記自動車の車体との間に、AC電流信号及びAC電圧信号のうちどちらか一方を生成する段階と、前記HVシステムと前記自動車の車体との間の前記AC電圧信号に対するAC電流応答、及び、前記HVシステムと前記自動車の車体との間の前記AC電流信号に対するAC電圧応答のうちどちらか一方を測定する段階とを備える方法。前記AC電流信号及び前記AC電圧応答、並びに、前記AC電圧信号及び前記AC電流応答のうち、どちらか一方に基づいて、漏れ抵抗を計算する段階をさらに備える請求項14に記載の方法。前記エミュレートされたインダクタンスの可変抵抗を、N個の異なる値へと調整して、前記エミュレートされたインダクタンスの前記誘導性リアクタンスを変化させる段階をさらに備え、前記Nは1より大きい整数値である請求項15に記載の方法。前記N個の値のうち、前記HVシステムと前記自動車の車体との間の容量性リアクタンスを実質的に打ち消すような値を1つ選択する段階をさらに備える請求項16に記載の方法。前記N個の値のうち前記1つが選択されている間に、前記AC電流信号及び前記AC電圧信号のうちの前記一方を生成することにより、前記HVシステムと前記自動車の車体との間の前記漏れ抵抗を計算する段階をさらに備える請求項17に記載の方法。前記漏れ抵抗の値をT個生成する段階と、前記T個の値からS個を選択する段階であって、前記S及び前記Tは2より大きい整数であってS<Tである段階と、最終的な漏れ抵抗の値を前記S個の値の関数として計算する段階と、HV制御装置及び自動車システム制御装置のうちのどちらか一方から受信されたイネーブル信号に基づいて、前記S個の値を選択する段階とをさらに備える請求項14に記載の方法。前記AC電圧応答及び前記AC電流応答のうちの前記一方の複数の半周期をサンプリングする段階と、前記AC電圧応答及び前記AC電流応答のうちの前記一方の前記複数の半周期に対応する複数の相関値を生成する段階とをさらに備える請求項15に記載の方法。前記AC電圧応答及び前記AC電流応答のうちの前記一方の前記複数の半周期のうち、予め定められた相関値よりも大きい相関値を有する選択された半周期に基づいて、前記漏れ抵抗を計算する段階をさらに備える請求項20に記載の方法。前記AC電圧応答及び前記AC電流応答のうちの前記一方の前記複数の半周期のそれぞれを、前記AC電圧応答及び前記AC電流応答のうちの前記一方の前記複数の半周期のうちの別の1つ、及び、予め定められた波形のうちのどちらか一方と相関させることにより、前記複数の相関値が生成される請求項20に記載の方法。以下の説明は、例示を目的としたものであり、本開示、本開示の適用又は使用を限定することを意図していない。明瞭化を目的として、添付の図面において、同様な要素には同じ参照番号を付与している。また、本明細書で使用されているA、B及びCのうち少なくとも1つという文言は、非排他的論理ORを使用した、A又はB又はCを意味する論理を意味していると解釈されるべきである。また、方法において記載される段階又は工程は、本開示の原理を変更することなく、異なる順序で実行されてもよいと、理解されるべきである。また、本明細書で使用されている、モジュールという言葉は、以下に記載する機能を提供する1つ以上のソフトウェアプログラム、ファームウェアプログラム、組み合わせ論理回路及び/又はその他適切な要素を実行する、特定用途向け集積回路ASIC、電子回路、組み合わせ論理回路、フィールドプログラマブルゲートアレイFPGA、共有、占有又はグループプロセッサ、及び他の好適な要素、若しくは、システムオンチップのような上述の一部又は全ての組み合わせの一部をなす又はこれらに含まれていることを指す。また、モジュールという言葉は、プロセッサによって実行されるコードを記憶する共有、占有又はグループメモリを含んでもよい。上記のコードという言葉は、ソフトウェア、ファームウェア及び/又はマイクロコードを含んでもよく、また、プログラム、ルーチン、関数、クラス及び/又はオブジェクトを指す言葉として使用される場合もある。また、上記の共有という言葉は、複数のモジュールからのコードの一部又は全てが、1以上のプロセッサを使用して実行されること意味する。加えて、複数のモジュールからのコードの一部又は全てが、1以上の物理メモリロケーションに記憶されてもよい。また、上記のグループという言葉は、1つのモジュールからのコードの一部又は全てが、複数のプロセッサからなる1つのグループを使用して実行されてもよいことを意味する。加えて、1つのモジュールからのコードの一部又は全てを、複数のメモリからなる1つのグループを使用して実行してもよい。本明細書に記載する装置及び方法は、1以上のプロセッサによって実行される1以上のコンピュータプログラムによって実装されてもよい。コンピュータプログラムは、一時的でない実体のあるコンピュータ可読媒体に記憶されるプロセッサ実行可能な命令を含む。また、コンピュータプログラムは、記憶されたデータを含んでもよい。これに限定されるわけではないが、一時的でない実体のあるコンピュータ可読媒体の例としては、不揮発性メモリ、磁気記憶媒体及び光学式記憶媒体が挙げられる。本開示に係る制御システム及び方法は、実質的にシステムの容量性リアクタンスを打ち消すようエミュレートした誘導性リアクタンスを使用して、漏れ抵抗Rleakの値を測定する。本明細書で使用されている実質的に打ち消すという言葉は、所望の許容範囲内において漏れ抵抗の測定が可能となるのに十分な程度に、打ち消すことを意味する。また、本開示は、HV電池を備えるHVシステムに照らし合わせて説明されるが、燃料電池又はタービンのようなHV電源といった他の種類の蓄電装置を採用した他のシステムも考えられる。他のHV蓄電装置及びHV電源についても、考慮される。また、本明細書において使用されるHVシステムという言葉は、電池、インバータ、モータ、空調システム、並びに電力を引き出す及び/又は高電圧に接続された他の付属的な装置を含む、電気的なシステム全体を指す。図1は、ハイブリッド自動車10の例を示しており、自動車10の1以上の車輪22を駆動する電気モータ20が含まれている。電気モータ20は、インバータ24と連結されていてもよく、インバータ24は、HV電池システム26、又は、燃料電池又はその他の形式のHV電気発電システムからのDC電力を変換する。HV制御モジュール28は、HVシステム26のオペレーションを制御する。また、自動車10は、LV電池システム32も含んでもよい。図2A-2Dは、HVシステムのAC等価インピーダンスを示し、自動車の車体に対する電気容量C例えば、Yコンデンサの容量性結合及び抵抗性結合Rleakが含まれている。図2Bにおいて、HV電池又はHV電源の等価回路は、AC方法を用いてテストが実施される時には、テスト信号に対して短絡されている。図2Cでは、図2Bに示した回路を、容量2Cと抵抗Rleakの並列の組み合わせに単純化した構成が示されている。図2Dでは、容量2Cが、Yコンデンサ、車体の容量への配線、車体の容量に対するインバータ、車体の容量に対する電池、及び固定子/車体の容量に対する電気モータを表す容量Ctotで置き換えられている。図3及び図4に示すように、抵抗Rleakが容量性リアクタンスXCtotよりも非常に大きい場合に、漏れ抵抗Rleakを測定するのが難しいという課題が存在する。図3において、抵抗Rleakの値は、多くの自動車の場合で、通常、容量性リアクタンスXCtotよりも一桁大きい。図4に示すように、物理的なインダクタjXLの誘導性リアクタンスを、容量性リアクタンス-jXCtotを打ち消すのに使用することができる。容量性リアクタンス-jXCtotが、誘導性リアクタンスjXLに等しい場合、抵抗Rleakは、VAC/IACに等しくなる。しかしながら、実際には、物理的なインダクタjXL値は、2000Hから10,000Hのオーダーになってしまう場合があり、非現実的になってしまう。さらに、容量性リアクタンスXCtotの正確な値は、正確に知ることができない及び/又はオペレーションの間に変動する場合がある。図5は、エミュレートされた可変インダクタンス100を含む絶縁性監視システム、及び以下に説明するエミュレートされたインダクタンスを掃引する制御モジュール110を示した簡略的な電気回路図及び機能ブロック図である。本明細書で使用されるエミュレートされたインダクタンスとは、HVシステムと車体との間の容量性リアクタンスを相殺するのに必要な誘導性リアクタンスを発生させるのに使用されるコンデンサ、抵抗、オペアンプ等の回路要素の組み合わせを含む。加えて、エミュレートされたインダクタンスは、インダクタエミュレーションソフトウェアを実行するプロセッサ、メモリ及びソフトウェアを使用して実装することもできる。制御モジュール110は、いつエミュレートされたインダクタンスの誘導性リアクタンスjXLが、容量性リアクタンス-jXCtotに等しくなるかを判断し、抵抗Rleakを測定する。より具体的には、共振ピークが決定されるまで、エミュレートされた可変インダクタンス100が掃引される。なお、図ではAC電流信号源が示されているが、AC電圧源を使用することもでき、この場合、AC電流応答を測定する。図6には、エミュレートされた可変インダクタンス100の例が、より詳細に示されている。エミュレートされた可変インダクタンス100は、抵抗R1、容量C、オペアンプ120及び可変抵抗R2を含む。エミュレートされた可変インダクタンス100は、HVシステムと車体との間に接続される端子A及び端子Bを含む。制御モジュール110は、掃引の間は、端子Cを通じて、抵抗R2の値を変更する。抵抗R1は、端子Aとオペアンプ120の反転入力との間に接続される。容量Cは、端子Aとオペアンプ120の非反転入力との間に接続される。可変抵抗R2は、オペアンプ120の非反転入力に接続される。オペアンプ120の出力は、反転入力に接続される。これに限定するわけではないが、例えば、可変抵抗R2は、デジタル又はアナログポテンショメーター、スイッチトレジスタ切り替え抵抗、抵抗及びトランジスタの組み合わせ等であってもよい。エミュレートされたインダクタンスに対する直列等価回路は、インダクタLS及び抵抗RSが直列に接続されたものである。エミュレートされたインダクタンスに対する並列等価回路は、インダクタLS及び抵抗RSが並列に接続されたものである。図7は、測定システムを示しており、測定システムは、エミュレートされた可変インダクタンス100、制御モジュール110、電流源126及びアナログ/デジタルコンバータADC130を含む。必ずしも、1つの実装例に限られないが、制御モジュール110は、ADC130と連結されて、可変抵抗R2の値を制御してもよい。電流源126は、AC電流信号IACを生成する。電流源126は、抵抗R3及び容量C3によりHVシステムに接続され、また、容量C4及び抵抗R4を通じてエミュレートされた可変インダクタンス100に接続される。容量C5及び抵抗R5A及び抵抗R5Bを含む分圧器は、HVシステムと車体の間に接続される。ADC130は、分圧器と連結されている。例えば、電流源126は、5μA以上の振幅、及び0.5Hzから10Hzの間の周波数を有していてもよく、また他の値を使用してもよい。容量C3、C4及びC5の値の例としては、それぞれ、0.2μF、2μF及び2~10pFであってもよく、他の値を使用してもよい。抵抗R2、R3、R4及びR5Aの値の例としては、それぞれ、10kΩ、0.1~1kΩ、1~3kΩ及び10kΩであってもよく、他の値を使用してもよい。図8は、制御モジュール110の実装例を示したものであり、抵抗掃引モジュール200、ピークモジュール210及び漏れ抵抗計算モジュール230を含む。抵抗掃引モジュール200は、可変抵抗R2の値を変更する。ピークモジュール210は、ピーク電圧が発生する時の抵抗R2の値を特定する。ピーク電圧が決定されると、ピークモジュール210は、その時の可変抵抗R2の値を設定する。漏れ抵抗計算モジュール230は、可変抵抗R2が、ピーク電圧での値に設定された時の漏れ抵抗Rleakの値を計算する。ある例では、漏れ抵抗計算モジュール230は、複数のサンプルに渡って漏れ抵抗Rleakの値を計算してもよい。また、他の例では、ブレーキ時、加速時、及び/又は絶縁状態測定の有効性を変化させてしまうようなその他の条件といった自動車の特定の動作状態の間に生じたサンプルについては、無効であるとの宣言を行ってもよい。ある実装形態では、漏れ抵抗計算モジュール230は、システム制御装置又は高電圧制御からイネーブル/ディセーブル信号を受信して、特定のサンプルについての漏れ抵抗計算を有効又は無効としてもよい。図9~11には、漏れ抵抗計算Rleakを計算する方法のいくつかの例が示されている。図9に示すように、250において、可変抵抗R2を掃引する。252において、可変抵抗R2の特定の抵抗値について、ピークが特定される。254において、制御は、可変抵抗R2の値を、ピークが生じた時の値に設定する。258において、電流源は、電流信号IACを注入し、電圧VACが測定される、又は、電圧VACを注入し、電流信号IACが測定される。262において、漏れ抵抗Rleakが計算される。ブロック250、252及び254は、工場において実行されてもよく、可変抵抗R2に対する選択された抵抗値を記憶させた後、自動車を工場から出荷してもよい。あるいは、ブロック250、252及び254を、周期的に又はその他の時間間隔で測定を行うために自動車が道路を走行している間に、実行してもよい。図10においても、ブロック250、252及び254は、上述のように実行される。270において、較正抵抗を、HVシステムのある1点から車体へと接続する。AC電流信号IACが注入され、電圧VACが272において測定される。274において、漏れ抵抗Rleakが計算され、選択された較正抵抗の値と共に、参照テーブルLUTに格納される。さらなる較正値が接続され、Rleakが測定され、格納される。ある環境下では、LUTは、数学的関係に置き換えられてもよい。図11では、参照テーブル又は数学的関係が、自動車に格納されている。ブロック250、252及び254は、上述のように実行される。270において、AC電流信号IACが注入され、電圧VACが測定される。284において、漏れ抵抗Rleakが計算される。290において、計算された漏れ抵抗Rleakを使用して、LUTにアクセスし、1つ以上の較正値を選択する。計算された漏れ抵抗Rleakが、格納された較正値の間に位置する場合には、補間又はその他の概算方法を適用してもよい。あるいは、LUTを好適な数学的関係で置き換えてもよい。図12は、別の方法を示している。サンプリングモジュール300は、電流信号IACに応答して、電圧VACをサンプリングする。反転モジュール302により、電圧VACの負の半周期を反転させる。相関モジュール314は、電圧VACの半周期の間の相関測定を行う。サンプル選択モジュール316は、相関閾値を上回る相関値を有する電圧VACの半周期を複数選択する。漏れ抵抗計算モジュール320は、電圧VACの選択した複数の半周期から、漏れ抵抗Rleakを計算する。図13に示すように、350において、可変抵抗R2がピークで生じる値に設定されている間に、電圧VACの複数の半周期が格納される。356において、電圧VACの負の半周期が反転される。360において、サンプルに対する相関値が生成される。364において、制御は、相関閾値を上回る相関値を有するサンプルを複数選択する。370において、制御は、選択された複数のサンプルから漏れ抵抗Rleakを計算する。相関は、反転させずに実行することができ、また、正弦波のような格納された波形の値と比較することにより、相関を行ってもよいことは明らかである。本開示の絶縁性監視システムによれば、様々な利点が得られる。上述の方法は、相対的に高い精度を有し、また車体へのDC経路を必要としない。また、高価な光スイッチも必要ない。また、絶縁性テストを、HVバッテリーを取り付けずに行ってもよい。多くの正常な結果、並びに少ない誤検出及び少ない検出漏れであった場合に、制御モジュールにより、測定結果を有効化するようにしてもよい。また、本質的にノイズの多い環境において、高いノイズ抵抗性を備えている。したがって、例えば10μAといった非常に小さい試験信号であっても、十分な結果を生成可能である。本開示が広く教示するところは、様々な形式で実装することができる。したがって、本開示は、特定の例を含んでいるが、本開示の範囲はこれらに限定されず、添付の図面、明細書及び添付の特許請求の範囲を精査することにより、その他の改良及び変更が可能であることは、明らかである。"