"光記録媒体に光ビームを照射して情報の記録および再生の少なくとも一方を行なう光ピックアップ装置であって、光ビームを射出する光源と、前記光源より射出された光ビームを前記光記録媒体に導く光学系と、前記光記録媒体からの戻り光を受光し、前記戻り光の強度に対応した電気信号へ変換する光検出器とを備え、前記光記録媒体の記録面と前記光検出器の受光面とは平行に配置される、光ピックアップ装置。前記光学系は、前記光記録媒体からの戻り光を分岐させる回折素子と、前記回折素子からの回折光を前記光検出器に反射する光反射素子とを含み、前記光検出器、前記回折素子および前記光反射素子は、検出ブロックとして一体化されている、請求項1に記載の光ピックアップ装置。前記光検出器は、前記回折素子に入射した光ビームの0次回折光を受光し、電気信号へ変換する少なくとも1つの0次回折光受光素子と、前記回折素子に入射した光ビームの1次回折光を受光し、電気信号へ変換する少なくとも4つの1次回折光受光素子とを含み、前記少なくとも4つの1次回折光受光素子は、前記記録媒体のトラック方向と平行に配置される、請求項2に記載の光ピックアップ装置。前記検出ブロックは、前記光検出器、前記回折素子および前記光反射素子を保持する保持ホルダーを含み、前記光検出器と前記光反射素子とが直接接着され、かつ、前記回折素子と前記保持ホルダーとが接着されることにより一体化される、請求項2または3に記載の光ピックアップ装置。前記検出ブロックは、前記光検出器、前記回折素子および前記光反射素子を保持する保持ホルダーを含み、前記光検出器、前記回折素子および前記光反射素子と前記保持ホルダーとがそれぞれ接着されることにより一体化される、請求項2または3に記載の光ピックアップ装置。前記光記録媒体は、複数の記録層が形成されており、前記回折素子は、前記少なくとも4つの1次回折光受光素子が、フォーカスを合わせていない前記光記録媒体の記録層からの迷光を受光しないようにパターン設計されている、請求項3に記載の光ピックアップ装置。前記光源は、第1の波長の光ビームを出射する第1光源と、前記第1の波長と異なる第2の波長の光ビームを出射する第2光源とを含む、請求項1~6のいずれかに記載の光ピックアップ装置。前記光源は、第1の波長の光ビームを出射する第1光源と、複数波長の光ビームを出射する多波長マルチ光源とを含む、請求項1~6のいずれかに記載の光ピックアップ装置。請求項1~8のいずれかに記載の光ピックアップ装置を搭載した電子機器。上記のように、特許文献1は、複数の記録層を形成する記録媒体を含む異なる種類の記録媒体に対して好適にトラッキング誤差信号を検出することができる光ディスク装置の構成、偏光ホログラムの分割パターン、受光素子の配置等を示している。しかしながら、特許文献1に記載の光ディスク装置は、偏光ホログラムと受光素子とが別々に配置される構成となっており、ピックアップ組み立て時にそれらが順番に調整される。そのため、調整に時間を要するという問題がある。また、特許文献1の光ディスク装置は、受光素子を受光器上の広範囲に配置している。一般に、迷光の影響を回避するため、回折素子からの0次回折光を受光する受光素子と、回折素子からの1次回折光を受光する受光素子との間隔は、大きく取る必要がある。その上で、特許文献1のように受光素子を受光器上の広範囲に配置した場合、受光器の小型化が困難であり、光ディスク装置の薄型化を阻害する。それゆえに、この発明の目的は、部品調整時間の短縮を図るとともに、所定の記録層以外の記録層からの迷光の影響を低減し、さらに装置全体の薄型化を実現する光ピックアップ装置およびこれを搭載した電子機器を提供することである。この発明のある局面によれば、光記録媒体に光ビームを照射して情報の記録および再生の少なくとも一方を行なう光ピックアップ装置であって、光ビームを射出する光源と、光源より射出された光ビームを光記録媒体に導く光学系と、光記録媒体からの戻り光を受光し、戻り光の強度に対応した電気信号へ変換する光検出器とを備え、光記録媒体の記録面と光検出器の受光面とは平行に配置される。好ましくは、光学系は、光記録媒体からの戻り光を分岐させる回折素子と、回折素子からの回折光を光検出器に反射する光反射素子とを含み、光検出器、回折素子および光反射素子は、検出ブロックとして一体化されている。好ましくは、光検出器は、回折素子に入射した光ビームの0次回折光を受光し、電気信号へ変換する少なくとも1つの0次回折光受光素子と、回折素子に入射した光ビームの1次回折光を受光し、電気信号へ変換する少なくとも4つの1次回折光受光素子とを含み、少なくとも4つの1次回折光受光素子は、記録媒体のトラック方向と平行に配置される。好ましくは、検出ブロックは、光検出器、回折素子および光反射素子を保持する保持ホルダーを含み、光検出器と光反射素子とが直接接着され、かつ、回折素子と保持ホルダーとが接着されることにより一体化される。好ましくは、検出ブロックは、光検出器、回折素子および光反射素子を保持する保持ホルダーを含み、光検出器、回折素子および光反射素子と保持ホルダーとがそれぞれ接着されることにより一体化される。好ましくは、光記録媒体は、複数の記録層が形成されており、回折素子は、少なくとも4つの1次回折光受光素子が、フォーカスを合わせていない光記録媒体の記録層からの迷光を受光しないようにパターン設計されている。好ましくは、光源は、第1の波長の光ビームを出射する第1光源と、第1の波長と異なる第2の波長の光ビームを出射する第2光源とを含む。好ましくは、光源は、第1の波長の光ビームを出射する第1光源と、複数波長の光ビームを出射する多波長マルチ光源とを含む。この発明の他の局面によれば、光ピックアップ装置を搭載した電子機器であって、当該光ピックアップ装置は、光記録媒体に光ビームを照射して情報の記録および再生の少なくとも一方を行ない、光ビームを射出する光源と、光源より射出された光ビームを光記録媒体に導く光学系と、光記録媒体からの戻り光を受光し、戻り光の強度に対応した電気信号へ変換する光検出器とを備えている。さらに、光記録媒体の記録面と光検出器の受光面とは平行に配置される。この発明の実施の形態によれば、部品調整時間の短縮を図るとともに、所定の記録層以外の記録層からの迷光の影響を低減して安定したトラッキング誤差信号を検出し、さらに装置全体の薄型化を実現することができる。以下、この発明の実施の形態について図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。[実施の形態1]図1は、この発明の実施の形態1による光ピックアップ装置1Aの構成を示した側面図である。図2は、この発明の実施の形態1による光ピックアップ装置1Aの構成を示した正面図である。図1,2を参照して、実施の形態1の光ピックアップ装置1Aは、光源11と、光分離素子12と、コリメートレンズ13と、レンズ駆動ユニット14と、立上げミラー15と、対物レンズ16と、アクチュエータ17と、検出レンズ21と、検出ブロック29とを備える。検出ブロック29は、回折素子22と、光反射素子23と、光検出器24と、保持ホルダー25とを含む。光源11は、レーザ光を発光するレーザ光源である。レンズ駆動ユニット14は、コリメートレンズ13を駆動する。アクチュエータ17は、対物レンズ16をトラッキングまたはフォーカス制御するときに駆動される。光ピックアップ装置1Aは、単層の光ディスク100に対して情報を記録または再生する。光ピックアップ装置1Aの動作について、図1を用いて以下に説明する。光源11から出射された光ビームは、一定の広がり角で光分離素子12を透過する。当該透過光は、コリメートレンズ13でほぼ平行光に変換される。当該平行光は、立上げミラー15でディスク方向に折り曲げられ、対物レンズ16によって光ディスク100の情報記録面に光スポットとして集光される。光ディスク100の情報記録面で反射された光ビームは、対物レンズ16で再びほぼ平行光にされる。当該平行光は、立上げミラー15で光源11側に折り曲げられ、コリメートレンズ13で収束光に変換される。当該収束光は、光分離素子12で折り曲げられ、検出レンズ21で非点収差が与えられた後、回折素子22を透過する。当該透過光は、光反射素子23で光検出器24の方向に折り曲げられる。光分離素子12は、光源11のレーザ光の直線偏光たとえば、P偏光を透過し、光ディスク100で反射されたレーザ光の直線偏光たとえば、S偏光を反射するように設計されている。光分離素子12は、たとえば偏光ビームスプリッタである。立上げミラー15は、光源11のレーザ光を反射する。立上げミラー15は、たとえば全反射ミラーである。しかしながら、立上げミラー15は、光源11のレーザ光の大部分を反射できればよい。立上げミラー15は、たとえば、光源11のレーザ光の波長帯の光ほぼ全てを反射するような膜が形成されたミラーでもよい。対物レンズ16は、アクチュエータ17と連結される。対物レンズ16は、中立位置を含む可動範囲内で、ラジアル方向Y方向およびフォーカス方向Z方向に変位可能に構成される。ここで、中立位置とは、対物レンズ16の光軸がコリメートレンズ13を通過した出射光の光軸と一致する位置を意味する。ラジアル方向は、記録媒体が光ディスク100のように円盤状であれば、記録媒体の径方向に相当する。フォーカス方向は、対物レンズ16を通過する出射光の光軸に平行な方向である。フォーカス方向は、ラジアル方向に垂直な関係にある。アクチュエータ17は、トラッキング制御の際、対物レンズ16をラジアル方向に駆動する。また、アクチュエータ17は、対物レンズ16の射出光が照射される光ディスク100のラジアル方向の位置を制御し、光ディスク100の所望のピット列に対して情報の記録または再生を行なう。同様に、アクチュエータ17は、フォーカス制御の際、対物レンズ16をフォーカス方向に駆動する。また、アクチュエータ17は、対物レンズ16の射出光が照射される光ディスク100の記録層に光スポットが形成されるように制御し、光ディスク100の所望の1つの記録層に対して情報の記録または再生を行なう。検出レンズ21は、一方の面が凸面、他方の面が円筒面で構成されるレンズである。検出レンズ21の円筒面は、光ビームに非点収差を発生させる。回折素子22は、入射した光ビームを指定したパターン領域ごとに異なる方向に回折させる。回折素子22は、たとえばホログラム素子である。回折素子22によって分岐された光ビームは、光反射素子23によって折り曲げられた後、光検出器24に入射する。光検出器24に入射した光ビームは、トラッキング誤差信号、フォーカス誤差信号などの生成に利用される。光反射素子23は、回折素子22を透過した0次回折光および±1次回折光を反射し、各光ビームを光検出器24に導く。光反射素子23は、たとえば、斜面を反射面とした直角プリズムである。当該プリズムは、角柱プリズムであってもよい。光検出器24は、受光面が光ディスク100の記録面とほぼ平行になるように配置されている。上述のように、光源11から射出されるレーザ光は、光ディスク100で反射される。当該反射光のうち、回折素子22で分岐された0次回折光によりフォーカス誤差信号が生成され、回折素子22で分岐された1次回折光によりトラッキング誤差信号が生成される。図3は、検出ブロック29の具体的構成の一例を示した斜視図である。図4は、検出ブロック29の具体的構成の一例を示した断面図である。図3,4を参照して、検出ブロック29は、回折素子22、光反射素子23および光検出器24が保持ホルダー25を通じて一体化されている。光反射素子23は、光検出器24のパッケージ部分に直接、接着固定されている。回折素子22は、部品を保持するための保持ホルダー25を介して固定されている。このように、光検出器24の受光面を光ディスク100の記録面とほぼ平行になるように配置することで、記録面と垂直に配置した場合と比べて、光ピックアップ装置1Aを薄型化することが容易となる。なお、実施の形態1において、検出レンズ21は、一方の面が凸面、他方の面が円筒面で構成されるとした。しかし、これは一例であって、検出レンズ21と光検出器24との距離や受光面サイズなどに応じて設計されるため、一方の面が凹面、他方の面が平面で検出レンズ21が構成されてもよい。また、図1,2においては、光検出器24の受光面が光ディスク100の記録面と対向する方向に配置されるように光反射素子23を配置している。しかし、光検出器24の受光面と光ディスク100の記録面とは、平行であればよい。したがって、光反射素子23で光ディスク100からの戻り光を折り曲げる方向を、図1,2とは反対になるように光反射素子23および光検出器24を配置してもよい。また、光反射素子23と光検出器24とが直接接着固定されるとしたが、回折素子22を保持する保持ホルダー25にそれらの部品をそれぞれ接着してもよい。次に、回折素子22の領域分割について図5を用いて説明する。図5は、光ピックアップ装置1Aにおける回折素子22の領域分割および入射光のボールパターンを示した図である。図5を参照して、回折素子22は、回折素子部22Hを含む。回折素子部22Hは、分割線22L5,22L6により、光ディスク100のトラック方向に3分割されている。3分割された両端領域は、一方が分割線22L1により2分割され、他方が分割線22L2により2分割されている。3分割された領域のうち中央領域は、2本の分割線22L3,22L4により3分割されている。分割線22L1~22L4は、光ディスク100の厚み方向の分割線である。このような分割線により、回折素子部22Hは、分割領域22a~22gの7つの領域に分割されている。分割領域22a~22gは、領域ごとに光ビームを異なる方向に分岐させる。ボールパターン70は、光ディスク100で反射されて回折素子22に入射する戻り光の光スポットである。ボールパターン70は、光ディスク100のトラック方向に、光ディスク100のトラック溝から生じる0次回折光と±1次回折光との干渉領域70k1,70k2を含む。なお、回折素子部22Hをトラック方向に分割する分割線22L5,22L6は、ボールパターン70の干渉領域70k1,70k2がトラック方向に3分割された領域の中央領域に収まるように位置することが望ましい。次に、光検出器24の素子分布について図6を用いて説明する。図6は、光ピックアップ装置1Aにおける光検出器24の素子分布および入射光の受光パターンを示した図である。図6を参照して、光検出器24は、0次回折光受光素子24Aと、1次回折光受光素子24a~24dとを含む。0次回折光受光素子24Aは、回折素子部22Hから0次回折光として透過した光ビーム701を受光する。0次回折光受光素子24Aは、4つの領域24A1~24A4に分割されており、各領域に入射する光ビーム701のビーム強度に応じてフォーカス誤差信号が生成される。1次回折光受光素子24a~24dは、回折素子部22Hから1次回折光として分岐された光ビームをそれぞれ受光する。1次回折光受光素子24a,24bは、回折素子部22Hの分割領域22a,22bからの1次回折光をそれぞれ受光する。1次回折光受光素子24cは、回折素子部22Hの分割領域22c,22dからの1次回折光を受光する。1次回折光受光素子24dは、回折素子部22Hの分割領域22e,22fからの1次回折光を受光する。1次回折光受光素子24a~24dに入射する光ビームに応じてトラッキング誤差信号が生成される。なお、図6に示すように、1次回折光受光素子24a~24dは、光ディスク100のトラック方向と平行に配置されている。また、実施の形態1においては、光検出器24が4個の1次回折光受光素子24a~24dを含むとしたが、回折素子22の分割領域22a~22gの個数分だけ含んでもよい。また、光検出器24の0次回折光受光素子24Aと1次回折光受光素子24a~24dとの位置関係は、図6の位置関係に限定されるものではない。たとえば、1次回折光受光素子24a~24dは、回折素子22からの1次回折光を受光するか-1次回折光を受光するかで位置が変更され得る。実施の形態1では、フォーカス誤差信号の生成に非点収差法を使用し、トラッキング誤差信号の生成に1ビームDPPDifferentialPushPull法を使用することを想定している。図6を参照して、サーボ信号生成の動作について説明する。0次回折光受光素子24Aの4つの領域24A1~24A4で検出される電気信号をそれぞれ24A1S~24A4Sとする。また、1次回折光受光素子24a~24dで検出される信号をそれぞれ24aS~24dSとする。このとき、サーボ信号の一種であるフォーカス誤差信号FESおよびトラッキング誤差信号TESは、以下の演算式により検出することができる。FES=24A1S24A3S-24A2S24A4STES=24aS-24bS-α24cS-24dSここで、αは対物レンズ16のシフトや光ディスク100のチルトによるオフセットをキャンセルするのに最適な係数に設定される。次に、検出ブロック29の作成手順について図7,8を用いて説明する。図7は、検出ブロック29において光反射素子23と光検出器24との調整を行なっている模式図である。図7を参照して、最初に、光反射素子23と、予め保持ホルダー25に固定された光検出器24とを接着する。ここで、光軸80は、オートコリメータなどの調整機の光軸を表わす。第1の反射光81は、光反射素子23の平面からの反射光を表わす。第2の反射光82は、光検出器24の受光面からの反射光を表わす。図7に示すように、オートコリメータから射出した光ビームの各面からの反射光を検出し、その光軸を合わせることで、あおり90,91が調整される。第1の反射光81と第2の反射光82との光軸が重なったら、所定の位置に接着剤が塗布される。接着剤が硬化することで、光反射素子23と光検出器24とが固定される。図8は、検出ブロック29において回折素子22を保持ホルダー25に接着する際の調整を示した模式図である。図8を参照して、調整面22Nは、回折素子部22Hを含む回折素子22の調整面を表わす。受光面24Nは、光検出器24の受光面を表わす。回折素子22の調整面22Nには、調整基準マーカ85a~85dが形成されている。光検出器24の受光面24Nにも、調整基準マーカ86a~86dが形成されている。受光面24Nからの反射光を確認すると、調整基準マーカ86a~86dの位置を確認することができる。そのため、調整基準マーカ85a~85dと、調整基準マーカ86a~86dとが重なるように、回折素子22を調整する。各調整基準マーカの重なりを確認したら、所定の位置に接着剤が塗布される。接着剤が硬化することで、回折素子22と保持ホルダー25とが固定される。最後に、検出ブロック29以外の部品が調整され固定された光ピックアップ装置1Aにおいて、光源11からのレーザ光を確認しながら、検出ブロック29を調整し、光ピックアップ装置1Aに接着固定する。なお、光反射素子23と光検出器24との調整にオートコリメータを使用するとしたが、チルトセンサーでも調整可能である。また、接着剤には一般的には紫外線硬化性樹脂を使用し、硬化には紫外線照射器が用いられる。しかし、その他にも接着剤に熱硬化性樹脂を使用することも考えられる。また、回折素子22、光反射素子23および光検出器24を保持ホルダー25にそれぞれ接着する構成の場合、まず面基準で保持ホルダー25の端面に光検出器24を接着固定する。次に、オートコリメータから射出した光ビームの各面からの反射光を確認しながら、光反射素子23を調整して接着固定する。最後に、調整基準マーカ85a~85dを確認しながら回折素子22を調整し、接着固定する。回折素子22、光反射素子23および光検出器24の調整は独自に行なうことが可能である。そのため、通常その他の部品が組みつけられるメインハウジングへの調整および組み付けとは別に、上記回折素子22等を含む検出ブロック29の組み立てが可能である。よって、光ピックアップ装置1Aでは、部品を単品ごとに組み付けていく場合と比較して、調整時間を短縮することが可能である。以上のように、実施の形態1の光ピックアップ装置1Aは、光ディスク100の記録面と光検出器24の受光面とを平行に配置し、かつ、回折素子22、光反射素子23および光検出器24を一体化する構造を採用している。これにより、光ピックアップ装置1Aの薄型化を可能とし、さらには、一体化構造による調整時間の短縮を実現できる。[実施の形態2]図9は、この発明の実施の形態2による光ピックアップ装置1Bの構成を示した側面図である。図9を参照して、実施の形態2の光ピックアップ装置1Bは、実施の形態1の光ピックアップ装置1Aと構成要素は同じである。光ピックアップ装置1Bは、4層BDの光ディスク100Bに対して情報を記録または再生する。光ディスク100Bに光源11から射出されたレーザ光が集光する様子を図10~13を用いて説明する。図10は、光ディスク100Bの第1記録層111に光スポットのフォーカスを合わせている状態を示した断面図である。図11は、光ディスク100Bの第2記録層112に光スポットのフォーカスを合わせている状態を示した断面図である。図12は、光ディスク100Bの第3記録層113に光スポットのフォーカスを合わせている状態を示した断面図である。図13は、光ディスク100Bの第4記録層114に光スポットのフォーカスを合わせている状態を示した断面図である。図10~13を参照して、実施の形態2の光ディスク100Bは、第1記録層111~第4記録層114と、カバー層110とを含む。各層間距離は、第3記録層113と第4記録層114との間が最も短い。続いて、第1記録層111と第2記録層112との間、第2記録層112と第3記録層113との間の順で、距離が長くなる。第4記録層114とカバー層110との間が最も長い。図10~13において、光ディスク100Bに入射する実線は、フォーカスを合わせている記録層に入射する光ビームの経路を表わす。光ディスク100Bに入射する破線は、フォーカスを合わせていない記録層で反射される光ビームの経路を表わす。たとえば、図10を参照して、光ビーム121aは、第1記録層111に入射する。光ビーム122は、第2記録層112で反射される。光ビーム123は、第3記録層113で反射される。光ビーム124は、第4記録層114で反射される。図9を参照して、光ディスク100Bの各記録層へのフォーカス調整は、たとえばレンズ駆動ユニット14によりコリメートレンズ13を移動させることによって行なわれる。また、アクチュエータ17により対物レンズ16をフォーカス方向に駆動させることによっても可能である。コリメートレンズ13の調整は、光ディスク100Bの記録層上での球面収差を低減する補正動作でもある。フォーカス誤差信号の生成には、フォーカスを合わせている記録層からの反射光のみを光検出器24の1次回折光受光素子24a~24dで受光することが望ましい。フォーカスを合わせていない記録層からの迷光が1次回折光受光素子24a~24dに入射すると、安定したトラッキング制御ができなくなる可能性がある。したがって、フォーカスを合わせていない記録層からの迷光は受光しないように、回折素子22をパターン設計して1次回折光受光素子24a~24dを配置することが望ましい。光ディスク100Bの第1記録層111の情報を記録または再生しているときの反射光について図10および図14~16を用いて説明する。上記したように、図10は、光ディスク100Bの第1記録層111に光スポットのフォーカスを合わせている状態を示した断面図である。図14は、図10の状態において光ディスク100Bの第2記録層112からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図15は、図10の状態において光ディスク100Bの第3記録層113からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図16は、図10の状態において光ディスク100Bの第4記録層114からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図14~16において、各光ビームは、斜線領域で表わされている。図10を参照して、光ディスク100Bの第1記録層111にフォーカスを合わせているとき、第2記録層112では対物レンズ16からのレーザ光は大きくデフォーカスしている。そのため、第2記録層112からの反射により、1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成される光ビームも大きくデフォーカスされる。その結果、図14に示すように、1次回折光受光素子24a~24dの周辺では、第2記録層112からのビーム光が形成されているが、各受光素子には入射していない。よって、第2記録層112からの光ビームにより、トラッキング制御が影響を受けることはない。同様に、図15に示すように、1次回折光受光素子24a~24dの周辺では、第3記録層113からのビーム光が形成されているが、各受光素子には入射していない。また、図16に示すように、1次回折光受光素子24a~24dの周辺では、第4記録層114からのビーム光が形成されているが、各受光素子には入射していない。図10のように第1記録層111にフォーカスを合わせている場合、図14~16に示すように、第3記録層113および第4記録層114上でのデフォーカス量は、第2記録層112でのデフォーカス量に比べて大きい。そのため、図15,16の場合、1次回折光受光素子24a~24dに光ビームが入射したとしても、図14の場合と比べて、トラッキング制御に与える影響は小さくなる。また、上記したように、図11は、光ディスク100Bの第2記録層112に光スポットのフォーカスを合わせている状態を示した断面図である。図17は、図11の状態において光ディスク100Bの第1記録層111からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図18は、図11の状態において光ディスク100Bの第3記録層113からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図19は、図11の状態において光ディスク100Bの第4記録層114からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図17~19において、各光ビームは、斜線領域で表わされている。なお、図17については、図11の状態で第1記録層111からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で実際には形成されないため、光ビームは描かれていない。また、上記したように、図12は、光ディスク100Bの第3記録層113に光スポットのフォーカスを合わせている状態を示した断面図である。図20は、図12の状態において光ディスク100Bの第1記録層111からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図21は、図12の状態において光ディスク100Bの第2記録層112からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図22は、図12の状態において光ディスク100Bの第4記録層114からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図20~22において、各光ビームは、斜線領域で表わされている。なお、図21については、図12の状態で第2記録層112からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で実際には形成されないため、光ビームは描かれていない。また、上記したように、図13は、光ディスク100Bの第4記録層114に光スポットのフォーカスを合わせている状態を示した断面図である。図23は、図13の状態において光ディスク100Bの第1記録層111からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図24は、図13の状態において光ディスク100Bの第2記録層112からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図25は、図13の状態において光ディスク100Bの第3記録層113からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で形成する光ビームを示す。図23~25において、各光ビームは、斜線領域で表わされている。なお、図24については、図13の状態で第2記録層112からの反射光が1次回折光受光素子24a~24dの周辺で実際には形成されないため、光ビームは描かれていない。図14~25に示すように、光ディスク100Bのどの記録層に光スポットのフォーカスを合わせた場合でも、フォーカスを合わせていない記録層からの反射によるビーム光は、1次回折光受光素子24a~24dに入射しない。一般に、フォーカスを合わせていない記録層からの反射によるビーム光が1次回折光受光素子24a~24dに入射しないようにするには、0次回折光受光素子24Aと1次回折光受光素子24a~24dとを相当程度離す必要がある。特に、光検出器24の受光面を光ディスク100Bの記録面と垂直な方向に配置し、かつ、0次回折光受光素子24Aおよび1次回折光受光素子24a~24dを光ディスク100Bの記録面と垂直な方向に離す場合、光ディスク100Bの記録面と垂直な方向への光検出器24の小型化が阻害される。その結果、光ピックアップ装置の薄型化が困難となる。しかしながら、実施の形態2の光ピックアップ装置1Bでは、実施の形態1と同様に、光検出器24の受光面が光ディスク100Bの記録面とほぼ平行となるように、光検出器24を配置している。そのため、0次回折光受光素子24Aおよび1次回折光受光素子24a~24dの面積に大きな制約が生じない。したがって、光ピックアップ装置1Bの薄型化を阻害されることなく、光検出器24における受光素子のパターンおよび配置を比較的自由に決定することができる。なお、実施の形態2では、複数の記録層が形成された光ディスク100Bとして、4層BDの光ディスクを例に説明した。しかし、これは一例であって、3層BDであっても、2層DVDであっても、フォーカスを合わせていない記録層からの反射によるビーム光が1次回折光受光素子24a~24dに入射しないように調整可能である。以上のように、実施の形態2の光ピックアップ装置1Bは、複数の記録層が形成された光ディスク100Bに対しても、実施の形態1と同様の作用効果が得られるように、回折素子22のパターン、光検出器24の配置、および1次回折光受光素子24a~24dの配置が適正化されている。これにより、複数の記録層が形成された光ディスク100Bに対しても、安定したトラッキング制御を実現し、光ディスク100Bに対して良好に情報の記録または再生を行なうことができる。[実施の形態3]図26は、この発明の実施の形態3による光ピックアップ装置1Cの構成を示した側面図である。図27は、この発明の実施の形態3による光ピックアップ装置1Cの構成を示した正面図である。図26,27を参照して、実施の形態3の光ピックアップ装置1Cは、光源11,31と、光分離素子12,33と、コリメートレンズ13と、レンズ駆動ユニット14と、立上げミラー15,34と、対物レンズ16,35と、アクチュエータ17と、検出レンズ21と、検出ブロック29と、回折格子32とを備える。検出ブロック29は、回折素子22と、光反射素子23と、光検出器24Xと、保持ホルダー25とを含む。上記のように、実施の形態3の光ピックアップ装置1Cは、光源31、回折格子32、光分離素子33、立上げミラー34、および対物レンズ35を付加され、光検出器24が光検出器24Xに置き換えられた点において、実施の形態1の光ピックアップ装置1Aと異なる。よって、実施の形態1と重複する部分の説明は繰り返さない。光源31は、光源11とは異なる波長のレーザ光を射出する。光源31から射出された光ビームの経路について、図26,27を用いて説明する。光源31から出射された光ビームは、一定の広がり角で回折格子32に入射し、0次回折光と±1次回折光とに分岐される。回折格子32を透過した光ビームは、光分離素子33に入射して、コリメートレンズ13の方向に折り曲げられる。折り曲げられた光ビームは、コリメートレンズ13でほぼ平行光に変換される。当該平行光は、立上げミラー34でディスク方向に折り曲げられ、対物レンズ35によって光ディスク100の情報記録面に光スポットとして集光される。光ディスク100の情報記録面で反射された光ビームは、対物レンズ35で再びほぼ平行光にされる。当該平行光は、立上げミラー34で折り曲げられ、コリメートレンズ13で収束光に変換される。当該収束光は、光分離素子12で折り曲げられ、検出レンズ21で非点収差が与えられた後、回折素子22を透過する。当該透過光は、光反射素子23で光検出器24Xの方向に折り曲げられる。上記のように、回折格子32は、入射した光ビームを3つに分岐させる。分岐された3つの光ビームは光ディスク100上に入射し、各々の戻り光はトラッキング誤差信号、フォーカス誤差信号等の生成に用いられる。フォーカス誤差信号は、非点収差法もしくは差動非点収差法により生成される。分岐された3つの光ビームとは、たとえば、中央が0次回折光であり、両端が±1次回折光である。回折格子32により分岐される0次回折光と1次回折光とのなす回折角度θは、次式で表わされる。θ=sin1λ/Λここで、λは光源31のレーザ光の波長、Λは回折格子32の格子ピッチを示す。上式は、一般の回折格子にも適用される。光分離素子33は、入射する光ビームの波長に応じて光ビームを透過または反射する。実施の形態3において、光分離素子33は、光源11の波長の光ビームはほぼ全て透過し、光源31の波長の光ビームはほぼ全て反射する。光分離素子33は、たとえばダイクロイックプリズムである。立上げミラー34は、光源11の波長の光ビームをほぼ全て透過し、光源31の波長の光ビームをほぼ全て反射する。立上げミラー34は、たとえばダイクロイックプリズムである。立上げミラー34は、光源11の波長の光ビームをほぼ透過し、光源31の波長の光ビームをほぼ反射する膜が形成されたミラーでもよい。対物レンズ35は、アクチュエータ17と連結される。対物レンズ35は、中立位置を含む可動範囲内で、ラジアル方向Y方向およびフォーカス方向Z方向に変位可能に構成される。ここで、中立位置とは、対物レンズ35の光軸がコリメートレンズ13を通過した出射光の光軸と一致する位置を意味する。また、対物レンズ35は、対物レンズ16と同じホルダーに取り付けられている。アクチュエータ17は、そのホルダーを制御する。よって、対物レンズ35がアクチュエータ17により駆動された場合、対物レンズ16も同時に動くことになる。しかし、対物レンズ16,35を同時に使用することはないので問題ない。次に、光源11から射出された光ビームの経路について、図26,27を用いて説明する。光源11から射出された光ビームは、光ディスク100までの間で、光分離素子33および立上げミラー34を透過する。光ディスク100から反射して戻ってきた光ビームは、立上げミラー34を再度透過する。これらの点において、光源11から射出された実施の形態3の光ビームは、実施の形態1と異なる。また、光源11,31は、光分離素子33以後の経路上で双方の光軸が重なるように調整される。次に、光検出器24Xの素子分布について図28を用いて説明する。図28は、光ピックアップ装置1Cにおける光検出器24Xの素子分布および入射光の受光パターンを示した図である。図28を参照して、光検出器24Xは、3つの0次回折光受光素子24A~24Cと、1次回折光受光素子24a~24dとを含む。1次回折光受光素子24a~24dは、実施の形態1,2と同一である。検出ブロック29は、回折素子22、光反射素子23および光検出器24Xが保持ホルダー25を通じて一体化されている。0次回折光受光素子24Aは、光源11から射出された光ビームの戻り光のうち回折素子部22Hで分岐された0次回折光と、光源31から射出され回折格子32を0次回折光として透過した戻り光のうち回折素子部22Hで分岐された0次回折光とから構成される光ビーム711を受光する。0次回折光受光素子24Aは、4つの領域24A1~24A4に分割されている。0次回折光受光素子24Bは、光源31から射出された光ビームのうち、回折格子32で1次回折光として分岐され、かつ回折素子部22Hで0次回折光として分岐された光ビーム712を受光する。0次回折光受光素子24Bは、4つの領域24B1~24B4に分割されている。0次回折光受光素子24Cは、光源31から射出された光ビームのうち、回折格子32で-1次回折光として分岐され、かつ回折素子部22Hで0次回折光として分岐された光ビーム713を受光する。0次回折光受光素子24Cは、4つの領域24C1~24C4に分割されている。実施の形態3では、光源11を波長帯405nmの青紫色レーザとし、光源31を波長帯660nmの赤色レーザとしている。また、トラッキング誤差信号の検出に、DVD-RAMRandomAccessMemoryでは3ビームDPP法、BDおよびDVD-RRecordableでは1ビームDPP法を採用している。また、フォーカス誤差信号の検出に、DVD-RAMでは差動非点収差法、BDおよびDVD-Rでは非点収差法を採用している。このような場合、トラッキング誤差信号およびフォーカス誤差信号は、以下の演算式にて検出することができる。0次回折光受光素子24Aの4つの領域24A1~24A4で検出される信号をそれぞれ24A1S~24A4Sとする。0次回折光受光素子24Bの4つの領域24B1~24B4で検出される信号をそれぞれ24B1S~24B4Sとする。0次回折光受光素子24Cの4つの領域24C1~24C4で検出される信号をそれぞれ24C1S~24C4Sとする。また、1次回折光受光素子24a~24dで検出される電気信号をそれぞれ24aS~24dSとする。このとき、DVD-RAMのトラッキング誤差信号TESRAM、DVD-RAMのフォーカス誤差信号FESRAM、DVD-Rのトラッキング誤差信号TESR、およびDVD-Rのフォーカス誤差信号FESRは、以下の演算式により検出することができる。なお、BDの場合の演算式については、実施の形態1で記載した演算式と同一となるため、ここでは記載を繰り返さない。TESRAM={24A1S24A4S-24A2S24A3S}-α1{24B1S24B4S-24B2S24B3S24C1S24C4S-24C2S24C3S}FESRAM={24A1S24A3S-24A2S24A4S}-α2{24B1S24B3S-24B2S24B4S24C1S24C3S-24C2S24C4S}TESR=24aS-24bS-α324cS-24dSFESR=24A1S24A3S-24A2S24A4Sここで、α1~α3は対物レンズ16,35のシフトや光ディスク100のチルトによるオフセットをキャンセルするのに最適な係数に設定される。実施の形態3では、DVD-RAMのフォーカス誤差信号の生成に差動非点収差法を使用したため、0次回折光受光素子24B,24Cを4分割している。しかし、非点収差法を用いる場合には、上下2分割だけでもよい。また、0次回折光受光素子24A~24Cを4分割しているため、DVD-Rを再生するとき、トラッキング誤差信号の生成にDPDDifferentialPhaseDetection法を用いることも可能である。また、光分離素子33は、光源11から出射された光ビームをほぼ透過し、光源31から出射された光ビームをほぼ反射する。しかし、光源11と光源31との位置を入れ換え、光源31から出射された光ビームをほぼ透過し、光源11から出射された光ビームをほぼ反射してもよい。この場合、回折格子32は、光源31と光分離素子33との間に配置される。光源31は、マルチレーザ光源等に置換され得る。以上のように、実施の形態3の光ピックアップ装置1Cは、実施の形態1の光ピックアップ装置1Aに対して、光源31、回折格子32、光分離素子33、立上げミラー34、および対物レンズ35を付加し、光検出器24が光検出器24Xに置き換えた。これにより、実施の形態1,2での効果に加えて、複数の異なる種類の光ディスク100に対して共通の部品構成で情報を記録または再生することが可能となる。[実施の形態4]図29は、この発明の実施の形態4による光ピックアップ装置1Dの構成を示した正面図である。図29を参照して、実施の形態4の光ピックアップ装置1Dは、光検出器24Xが光検出器24Yに置き換えられ、光源31が2波長マルチレーザ光源31Yに置き換えられた他は、実施の形態3の光ピックアップ装置1Cと同じ構成要素である。よって、実施の形態3と重複する部分の説明は繰り返さない。2波長マルチレーザ光源31Yは、波長帯660nmのレーザ光を出射する第1のレーザ光源と、波長帯785nmのレーザ光を出射する第2のレーザ光源とが1つのユニットに搭載された半導体レーザである。2波長マルチレーザ光源31Yは、光ディスク100の種類に応じて第1および第2のレーザ光源が適宜選択される。たとえば、光ディスク100がDVDのときには第1の光源が選択される。また、光ディスク100がCDのときには第2の光源が選択される。光源11または2波長マルチレーザ光源31Yは、光分離素子33以後の経路上で両光源の光軸が重なるように調整される。次に、光検出器24Yの素子分布について図28を用いて説明する。図30は、光ピックアップ装置1Dにおける光検出器24Yの素子分布および入射光の受光パターンを示した図である。図30を参照して、光検出器24Yは、6つの0次回折光受光素子24A~24Fと、1次回折光受光素子24a~24dとを含む。3つの0次回折光受光素子24A~24Cは、実施の形態3と同一である。また、1次回折光受光素子24a~24dは、実施の形態1~3と同一である。検出ブロック29は、回折素子22、光反射素子23および光検出器24Yが保持ホルダー25を通じて一体化されている。0次回折光受光素子24Dは、2波長マルチレーザ光源31Yの第2のレーザ光源から出射された光ビームが回折格子32で0次回折光として透過し、かつ回折素子22で0次回折光として透過したレーザ光714を受光する。0次回折光受光素子24Dは、4つの領域24D1~24D4に分割されている。0次回折光受光素子24Eは、2波長マルチレーザ光源31Yの第2のレーザ光源から出射された光ビームが回折格子32で1次回折光として分岐され、かつ回折素子22で0次回折光として透過したレーザ光715を受光する。0次回折光受光素子24Eは、2つの領域24E1,24E2に分割されている。0次回折光受光素子24Fは、2波長マルチレーザ光源31Yの第2のレーザ光源から出射された光ビームが回折格子32で-1次回折光として分岐され、かつ回折素子22で0次回折光として透過したレーザ光715を受光する。0次回折光受光素子24Fは、2つの領域24F1,24F2に分割されている。実施の形態4では、光源11を波長帯405nmの青紫色レーザとし、2波長マルチレーザ光源31Yの第1のレーザ光源を波長帯660nmの赤色レーザとし、2波長マルチレーザ光源31Yの第2のレーザ光源を波長帯785nmの赤外レーザとしている。また、トラッキング誤差信号の検出に、DVD-RAMおよびCDでは3ビームDPP法、BDおよびDVD-Rでは1ビームDPP法を採用している。また、フォーカス誤差信号の検出に、DVD-RAMでは差動非点収差法、BD、DVD-RおよびCDでは非点収差法を採用している。このような場合、トラッキング誤差信号およびフォーカス誤差信号は、以下の演算式にて検出することができる。0次回折光受光素子24Dの4つの領域24D1~24D4で検出される信号をそれぞれ24D1S~24D4Sとする。0次回折光受光素子24Eの2つの領域24E1,24E2で検出される信号をそれぞれ24E1S,24E2Sとする。0次回折光受光素子24Fの2つの領域24F1,24F2で検出される電気信号をそれぞれ24F1S,24F2Sとする。なお、0次回折光受光素子24A~24Cおよび1次回折光受光素子24a~24dで検出される電気信号の記号は、実施の形態3と同じである。このとき、CDのトラッキング誤差信号TESCDおよびCDのフォーカス誤差信号FESCDは、以下の演算式により検出することができる。なお、BD,DVD-RAM,DVD-Rの場合の演算式については、実施の形態1,3で記載した演算式と同一となるため、ここでは記載を繰り返さない。TESCD={24D1S24D4S-24D2S24D3S}-α{24E1S-24E2S24F1S-24F2S}FESCD=24D1S24D3S-24D2S24D4Sここで、αは対物レンズ16,35のシフトや光ディスク100のチルトによるオフセットをキャンセルするのに最適な係数に設定される。実施の形態4では、CDのフォーカス誤差信号の生成に非点収差法を使用したため、0次回折光受光素子24E,24Fを左右2分割している。しかし、差動非点収差法を用いる場合には、4分割でもよい。また、2波長マルチレーザ光源31Yの第1のレーザ光源を赤色レーザ、第2のレーザ光源を赤外レーザとしているが、第1および第2のレーザ光源を入れ換えてもよい。さらに、2波長マルチレーザ光源31Yを3波長以上の多波長マルチレーザ光源としてもよい。また、光分離素子33は、光源11から出射された光ビームをほぼ透過し、2波長マルチレーザ光源31Yから出射された光ビームをほぼ反射する。しかし、光源11と2波長マルチレーザ光源31Yとの位置を入れ換え、2波長マルチレーザ光源31Yから出射された光ビームをほぼ透過し、光源11から出射された光ビームをほぼ反射するように構成してもよい。この場合、回折格子32は、2波長マルチレーザ光源31Yと光分離素子33との間に配置される。以上のように、実施の形態4の光ピックアップ装置1Dは、実施の形態3の光ピックアップ装置1Cに対して、光検出器24Xが光検出器24Yに置き換え、光源31が2波長マルチレーザ光源31Yに置き換えた。これにより、実施の形態1~3での効果に加えて、部品構成を変更することなく、BD、DVD、CDを含む複数の異なる種類の光ディスク100に対して情報を記録または再生することが可能となる。今回開示された実施の形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。"