"鉄鋼材料に電子線を照射するステップと、前記電子線の照射に伴い発生するX線を波長分散型X線検出器で検出することによって、前記鉄鋼材料に含まれる主成分元素以外の第1の元素の分布状態を測定する第1のステップと、クロム箔からなるフィルターを透過した前記X線をエネルギー分散型X線検出器で検出することによって、前記鉄鋼材料に含まれる主成分元素以外の元素であって、前記第1の元素より濃度が高い第2の元素の分布状態を測定する第2のステップと、を含み、前記第1のステップと前記第2のステップとを同時に実行することを特徴とする元素マッピング方法。前記エネルギー分散型X線検出器の計数率が50000cps以上であることを特徴とする請求項1に記載の元素マッピング方法。前記エネルギー分散型X線検出器がシリコンドリフト検出器を備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の元素マッピング方法。前記波長分散型X線検出器が比例計数管を備えることを特徴とする請求項1~3のうち、いずれか1項に記載の元素マッピング方法。鉄鋼材料に電子線を照射する電子線源と、前記電子線の照射に伴い発生するX線を検出することによって、前記鉄鋼材料に含まれる主成分元素以外の第1の元素の分布状態を測定する波長分散型X線検出器と、クロム箔からなるフィルターを透過した前記X線を検出することによって、前記鉄鋼材料に含まれる主成分元素以外の第2の元素の分布状態を測定するエネルギー分散型X線検出器と、を備えることを特徴とする元素マッピング装置。前記エネルギー分散型X線検出器の計数率が50000cps以上であることを特徴とする請求項5に記載の元素マッピング装置。前記エネルギー分散型X線検出器がシリコンドリフト検出器を備えることを特徴とする請求項5又は6に記載の元素マッピング装置。前記波長分散型X線検出器が比例計数管を備えることを特徴とする請求項5~7のうち、いずれか1項に記載の元素マッピング装置。連続鋳造機により鉄鋼製品を製造するステップと、請求項1~4に記載の元素マッピング方法を使用して前記鉄鋼製品に含まれる主成分以外の元素の分布状態を測定するステップと、前記元素の分布状態の測定結果に基づいて前記連続鋳造機の操業条件を制御するステップと、を含むことを特徴とする鉄鋼製品の製造方法。しかしながら、特許文献1,2記載の技術をEPMAに適用して鉄鋼材料に含まれる主成分元素であるFe以外の高濃度元素と低濃度元素との分布状態を測定する場合には、以下に示すような問題が発生する。すなわち、特許文献1記載の技術をEPMAに適用して鉄鋼材料に含まれる元素の分布状態を測定した場合、EDXによって検出されるX線強度の大部分がFeの特性X線の強度で占められる。このため、鉄鋼材料に含まれるFe以外の元素の分布状態を明確に検出するためには、X線強度の積算時間を少なくとも秒のオーダー以上の時間にして測定しなければならない。従って、1点あたりの積算時間が数十ミリ秒のオーダーで行われるEPMAに特許文献1記載の技術を適用したとしても、Fe以外の元素の分布状態をほとんど検出することができず、Fe以外の高濃度元素と低濃度元素との分布状態を測定することができない。また、特許文献2記載の技術をEPMAに適用して鉄鋼材料に含まれる元素の分布状態を測定する場合、FeやNiの特性X線の強度もフィルターを透過することによって減少するために、元素の分布状態の測定に十分なX線強度が得られない。特に、鉄鋼材料に含まれる高濃度元素ではあるけれども、主成分であるFeよりは圧倒的に濃度の小さいMnの分布状態を測定するためには、Feの特性X線の強度を大幅に減少させてMnの特性X線の強度を増加させる必要がある。しかしながら、特許文献2記載の技術を応用して例えば単純にFeより原子番号の1小さいMnをフィルターに用いたとしても、Feの特性X線であるFeKα線のエネルギーに対するMnの質量吸収係数が小さいため、Feの特性X線の強度を大幅に減少させてMnの特性X線の強度を増加させることができない。また、Mnよりもさらに低濃度の元素を同時測定することはさらに困難であることはいうまでもない。このため、特許文献2記載の技術をEPMAに適用して鉄鋼材料に含まれる元素の分布状態を測定した場合、X線強度の大部分がFeの特性X線の強度で占められ、さらには特許文献2記載の装置が蛍光X線分析装置であるため、Fe以外の元素の分布状態を明確に検出するためにはX線強度の積算時間を少なくとも秒のオーダー以上の時間にして測定しなければならない。従って、1点あたりの積算時間が数十ミリ秒のオーダーで行われるEPMAに特許文献2記載の技術を適用したとしても、Fe以外の元素の分布状態はほとんど検出することができず、Fe以外の高濃度元素と低濃度元素との分布状態を測定することができない。以上のことから、鉄鋼材料に含まれるFe以外の高濃度元素と低濃度元素との分布状態を同時、且つ、高精度に測定可能な技術の提供が期待されていた。なお、本明細書中において、高濃度元素とは、低濃度元素の濃度に対して質量で少なくとも2倍以上の濃度を有する元素のことを意味する。但し、より効果的に本発明の効果を奏するためには、高濃度元素の濃度は、低濃度元素の濃度に対し、質量で10倍以上であることが好ましい。また、高濃度元素としてはMn,Cr,Mo等を例示することができ、低濃度元素としてはNb,S,P,Si,Cu,V等を例示することができる。本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、その目的は、鉄鋼材料に含まれる主成分元素以外の高濃度元素と低濃度元素との分布状態を同時、且つ、高精度に測定可能な元素マッピング方法及び元素マッピング装置を提供することにある。また、本発明の他の目的は、鉄鋼製品の歩留まりを向上させることが可能な鉄鋼製品の製造方法を提供することにある。上記課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る元素マッピング方法は、鉄鋼材料に電子線を照射するステップと、前記電子線の照射に伴い発生するX線を波長分散型X線検出器で検出することによって、前記鉄鋼材料に含まれる主成分元素以外の第1の元素の分布状態を測定する第1のステップと、クロム箔からなるフィルターを透過した前記X線をエネルギー分散型X線検出器で検出することによって、前記鉄鋼材料に含まれる主成分元素以外の元素であって、前記第1の元素より濃度が高い第2の元素の分布状態を測定する第2のステップと、を含み、前記第1のステップと前記第2のステップとを同時に実行する。上記課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る元素マッピング装置は、鉄鋼材料に電子線を照射する電子線源と、前記電子線の照射に伴い発生するX線を検出することによって、前記鉄鋼材料に含まれる主成分元素以外の第1の元素の分布状態を測定する波長分散型X線検出器と、クロム箔からなるフィルターを透過した前記X線を検出することによって、前記鉄鋼材料に含まれる主成分元素以外の元素であって、前記第1の元素より濃度が高い第2の元素の分布状態を測定するエネルギー分散型X線検出器と、を備える。上記課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る鉄鋼製品の製造方法は、連続鋳造機により鉄鋼製品を製造するステップと、本発明に係る元素マッピング方法を使用して前記鉄鋼製品に含まれる主成分元素以外の元素の分布状態を測定するステップと、前記元素の分布状態の測定結果に基づいて前記連続鋳造機の操業条件を制御するステップと、を含む。本発明に係る元素マッピング方法及び元素マッピング装置によれば、鉄鋼材料に含まれる主成分元素以外の高濃度元素と低濃度元素との分布状態を同時、且つ、高精度に測定することができる。また、本発明に係る鉄鋼製品の製造方法によれば、鉄鋼製品の歩留まりを向上させることができる。以下、図面を参照して、本発明の一実施形態である元素マッピング方法及び元素マッピング装置について説明する。元素マッピング装置の構成始めに、図1を参照して、本発明の一実施形態である元素マッピング装置の構成について説明する。図1は、本発明の一実施形態である元素マッピング装置の構成を示すブロック図である。図1に示すように、本発明の一実施形態である元素マッピング装置1は、電子線源2,波長分散型X線検出器WDX3,及びエネルギー分散型X線検出器EDX4を主な構成要素として備えている。電子線源2は、鉄鋼材料Sに向けて電子線Eを照射するものである。電子線Eの照射電流量は、WDX3の検出能に応じて調整される。WDX3は、分光結晶5と検出器6とを備えている。分光結晶5は、鉄鋼材料Sに電子線Eを照射することによって発生するX線X1の中からから鉄鋼材料Sに含まれる測定対象元素に対応する波長のX線特性X線X2を選別し、選別された特性X線X2を検出器6に供給するものである。検出器6は、特性X線X2の強度を検出することによって、測定対象元素の分布状態を測定するものである。検出器6としては、特性X線X2を高計数率で測定可能にするため、不感時間の短い比例計数管を用いることが好ましい。この場合、比例計数管の計数率は、60000cps程度あることが望ましい。EDX4は、フィルター7と検出器8とを備えている。フィルター7は、鉄鋼材料Sに電子線Eを照射することによって発生するX線X1中に含まれるFeの特性X線の強度を減少させるためのものである。フィルター7としては、Cr箔を用いることが望ましく、Feの特性X線であるFeKα線に対する質量吸収係数が463cm2/gであり、Mnの特性X線であるMnKα線に対する質量吸収係数が62.3cm2/gであり、厚さが5~50μmの範囲内にあるCr箔を用いることが好ましい。フィルター7の載置方法は、フィルター7が検出器8の受光面を覆う限り、どのような載置方法であってもよい。例えば厚さ30μmのCr箔をフィルター7として載置した場合、Feの特性X線であるFeKα線の強度は、入射強度1に対してCr箔透過後は0.000046となり、大幅に減少する。これに対して、Feより元素番号が1つ小さい鉄鋼材料Sの主要元素であるMnの特性X線であるMnKα線の強度は、入射強度1に対してCr箔透過後は0.26となり、FeKα線と比較してその減少量は小さい。このため、Cr箔を載置しない場合、図2に示すように、X線X1の全強度に占めるMnKα線の強度の割合は約3であるのに対して、Cr箔を載置した場合には、図3に示すように、X線X1の全強度に占めるMnKα線の強度の割合は約21に増加する。すなわち、Cr箔を載置することによって、MnKα線の強度を7倍の大きさに増加させることができる。これは、Cr箔によってFeの特性X線であるFeKα線,FeKβ線,及びFeL線の強度が大幅に減少されるのに対して、Mnの特性X線であるMnKα線の強度は小幅な減少に抑えられるためである。検出器8は、フィルター7を透過したX線X1をそのエネルギー毎に検出することにより、鉄鋼材料Sに含まれる測定対象元素の分布状態を測定するものである。検出器8としては、計数率が50000cps以上のシリコンドリフト検出器SDDを用いることが望ましい。従来のEDXでは、半導体検出器SSDが検出器として用いられていた。しかしながら、SSDの計数率は約10000cps程度あり、WDX3の計数率約60000cpsより低い。また、WDX3は1つの元素に対して約60000cpsのX線強度測定が可能であるのに対して、SSDは全エネルギー範囲での全強度、つまり、鉄鋼材料S中の全元素強度の計数率が10000cpsとなる。このため、1つの元素に注目すると、SSDの計数率は、濃度にも依存するが、WDX3の計数率の2桁以上小さくなる。このため、検出器8としてSSDを用いた場合、WDX3と同レベルの測定が困難になる。これに対して、SDDを検出器8として用いた場合、SDDの計数率がSSDの計数率より1桁以上大きいため、EDX4の計数率をWDX3の計数率に近づけることができる。なお、EDX4の計数率が50000cps以上であれば良いとした理由は、50000cps以上の計数率であれば、WDX3を構成する分光結晶の中でも計数率が低い分光結晶と最低限同レベルの計数率を確保することができるためである。100000cps以上の計数率であれば、分光結晶の中で計数率が高い結晶と同レベルまで計数率を確保することができるため、さらに好適である。但し、検出器8はSDDに限定されることはなく、上述の計数率の条件を満足するものであれば、どのようなタイプでも良い。検出器8としてSDDを用いることによりEDX4の計数率を向上させることができるが、その計数率はWDX3の計数率と比較するとまだ不十分である。しかしながら、上述のように、この元素マッピング装置1では、鉄鋼材料SとEDX4との間にフィルター7が配設され、フィルター7がX線X1中に含まれるFeの特性X線の強度を減少させることによって、測定対象元素の強度割合を増加させている。このため、この元素マッピング装置1によれば、EDX4は、WDX3と同レベルの測定時間少なくとも倍以下の時間で工程分析等に耐えうる精度及び時間で測定を行うことができる。具体的には、フィルター7によって測定対象元素の強度割合を7倍増加させ、さらには検出器8としてSSDの10倍以上の計数が可能なSDDを用いることによって、従来のCr箔フィルターがなく、検出器としてSSDを用いた装置と比較して、同一測定時間において約100倍の強度測定が可能になり、元素の分布状態を短時間で測定することができる。元素マッピング方法次に、上記元素マッピング装置1を利用した本発明の一実施形態である元素マッピング方法について説明する。本発明の一実施形態である元素マッピング方法では、始めに、電子線源2が鉄鋼材料Sに電子線Eを照射する。次に、WDX3が、電子線Eの照射に伴い発生するX線X1の中から低濃度元素の特性X線X2を分光結晶5によって選別し、選別された特性X線X2の強度を検出器6によって計測することによって、低濃度元素の分布状態を測定する。低濃度の元素としては、Nb,S,P,Si,Cu,V等を例示することができる。また、この時同時に、EDX4が、フィルター7を透過したX線X1をエネルギー毎に検出することによって、高濃度元素の分布状態を測定する。高濃度の元素としては、Mn,Cr,Mo等を例示することができる。これにより、鉄鋼材料Sに含まれる主成分元素以外の高濃度元素と低濃度元素との分布状態を同時、且つ、高精度に測定することができる。なお、電子線Eの照射電流量は、低濃度元素の特性X線の強度が十分得られるような大きさに調整するとよい。但し、この際、検出器8のX線強度の数え落としが発生し、EDX4側の測定精度が低下する場合には、フィルター7の厚さを適宜調整することによって、検出器8のX線強度の数え落としが発生することを抑制するとよい。また、本実施形態では、WDX3側及びEDX4側でそれぞれ低濃度元素及び高濃度元素の分布状態を測定することとしたが、EDX4の計数率をWDX3の計数率より大きくすることができれば、WDX3側及びEDX4側でそれぞれ高濃度元素及び低濃度元素の分布状態を測定するようにしてもよい。実験例次に、本発明の一実施形態である元素マッピング装置1と、フィルター7を設置せず、且つ、EDX4の検出器8としてSSDを用いた従来装置とを利用して、鉄鋼スラブに対し元素マッピングを行った実験結果を以下に示す。なお、元素マッピングとは、測定する領域を一定サイズの格子に分割し、各格子点におけるX線の強度又は検量線等によってX線の強度から求められる濃度の分布を2次元的に求めることを意味する。本実験では、鉄鋼スラブのC断面の中心偏析部から厚さ10mm、幅約80mmの領域を切り出して研磨したものを鉄鋼材料Sとして用いた。また、フィルター7を構成するCr箔の厚さは30μmとした。また、分析条件は、電子線Eの加速電圧,照射電流,及びビーム径はそれぞれ25kV,5μA,100μmとし、1測定点当たりの積算時間は10msecとした。また、WDX4及びEDX5の分析対象元素をそれぞれNb,Mnとした。測定に要した時間は約13分であった。図4は、本発明の一実施形態である元素マッピング装置を利用したNbの元素マッピング結果を示す図である。図5は、図4に示す領域R1におけるNbの特性X線の強度を三次元的に表示した図である。図4及び図5に示すように、本発明の一実施形態である元素マッピング装置1を利用することにより、鉄鋼材料Sの領域R1においてNbの中心偏析を確認することができた。また、Nbの特性X線の強度から求められたNbの濃度は0.01~5質量であった。図6は、本発明の一実施形態である元素マッピング装置を利用したMnの元素マッピング結果を示す図である。図7は、図6に示す領域R2におけるMnの強度を三次元的に表示した図である。図6及び図7に示すように、本発明の一実施形態である元素マッピング装置1を利用することにより、鉄鋼材料Sの領域R2においてMnの中心偏析を明瞭に確認することができた。一方、従来装置を利用した元素マッピングでは、X線強度の大部分をFeの特性X線の強度が占め、且つ、SSDの計数率が低いため、Mnの特性X線の強度は1測定点当たり数カウント~数10カウント程度しか得られず、結果として、Mnの中心偏析を確認することができなかった。これにより、本発明の一実施形態である元素マッピング装置1によれば、低濃度のNbの元素マッピングと高濃度のMnの元素マッピングとを迅速、且つ、高精度に実行可能であることが確認された。但し、元素マッピングができる元素の組合せはNbとMnとの組み合わせに限定されることはなく、例えばWDX3によりS,P,Si,Cu,V等の元素、EDX4によりCr,Mo等の元素を元素マッピングすることができる。この場合には、測定条件を適宜選定すればよい。応用例本発明の一実施形態である元素マッピング方法は、例えば連続鋳造工程の工程分析に用いることができる。図8は、連続鋳造工程において用いられる連続鋳造機の概略構成を示す模式図である。図8に示すように、連続鋳造機10は、図示しない取鍋から溶鋼11が注入されるタンディッシュ12と、浸漬ノズル13を介してタンディッシュ12から注がれた溶鋼11を表面の凝固シェル14が樹枝状晶に成長するまで成形しつつ半凝固させる銅製の鋳型15と、鋳型15から半凝固状態の鋳片16を垂直下方に引き抜きつつ冷却する鋳片支持ロール17aと、鋳片支持ロール17aによって引き抜かれた鋳片16を冷却搬送する鋳片支持ロール17bと、鋳片支持ロール17bによって搬送された鋳片16を水平方向に冷却搬送する鋳片支持ロール17cと、鋳片支持ロール17cによって搬送された鋳片16を所定の長さに切断することによって鉄鋼スラブ19を製造するガス切断機18と、を備えている。このような連続鋳造機で鋳造される鉄鋼スラブのうち、中心偏析の評価が必要とされる代表的な鉄鋼スラブの数は1日に3~4枚程度である。しかしながら、従来のEPMAを利用して鉄鋼スラブに含まれる元素の分布状態を測定する場合、1スラブに約20時間程度の測定時間が必要になる。このため、従来のEPMAでは1日に約1スラブしか元素の分布状態を測定することができず、連続鋳造工程の工程分析に適用することができなかった。これに対して、本発明の一実施形態である元素マッピング方法によれば、鉄鋼スラブの品質評価に必要な約2m幅のスラブ断面における元素の分布状態を従来のEPMAによる測定時間の約4分の1に相当する約5時間で行うことができる。従って、本発明の一実施形態である元素マッピング方法によれば、1日に3~4枚の鉄鋼スラブの評価が可能になり、連続鋳造工程の工程分析に適用することができる。また、このような連続鋳造機10によって製造される鉄鋼スラブの元素の分布状態は、冷却速度や搬送速度等の連続鋳造機10の操業条件に応じて変化する。従って、本発明の一実施形態である元素マッピング方法によって測定された鉄鋼スラブの元素の分布状態とその時の連続鋳造機10の操業条件とを関連付けしてデータベースに記憶しておき、データベースに記憶されている情報に基づいて所望の元素の分布状態が得られるように連続鋳造機10の操業条件を制御することによって、所望の元素の分布状態を有する鉄鋼製品を製造し、鉄鋼製品の製造歩留まりを向上させることができる。以上の説明から明らかなように、本発明の一実施形態である元素マッピング方法及び元素マッピング装置によれば、鉄鋼材料Sに電子線Eを照射し、電子線Eの照射に伴い発生するX線を検出器6で検出することによって、鉄鋼材料Sに含まれる主成分元素以外の低濃度元素の分布状態を測定し、Cr箔からなるフィルター7を透過したX線を検出器8で検出することによって主成分元素以外の高濃度元素の分布状態を測定するので、鉄鋼材料Sに含まれる主成分元素以外の高濃度元素と低濃度元素との分布状態を同時、且つ、高精度に測定することができる。以上、本発明者によってなされた発明を適用した実施の形態について説明したが、本実施形態による本発明の開示の一部をなす記述及び図面により本発明は限定されることはない。すなわち、本実施形態に基づいて当業者等によりなされる他の実施の形態、実施例および運用技術等は全て本発明の範疇に含まれる。"