"外部からの指令に応じて接点を開閉する電磁開閉装置であって、前記接点の開閉状態を検出する検出手段と、当該検出手段が検出する前記接点の開閉状態と前記指令に対応した当該接点の開閉状態とに基づいて異常の有無を判断する判断手段と、当該判断手段の判断結果を外部に出力する出力手段とを備えることを特徴とする電磁開閉装置。前記判断手段は、前記接点を閉極する指令が外部から与えられたときに、前記検出手段が検出する前記接点の状態が開極状態である場合に当該接点に接触不良が生じていると判断することを特徴とする請求項1記載の電磁開閉装置。前記判断手段は、前記接点を開極する指令が外部から与えられたときに、前記検出手段が検出する前記接点の状態が閉極状態である場合に当該接点に接点溶着が生じていると判断することを特徴とする請求項1又は2記載の電磁開閉装置。前記出力部は、前記判断結果として前記異常の種類を示す信号を出力することを特徴とする請求項1~3の何れか1項に記載の電磁開閉装置。前記接点の開閉と連動する補助接点を備え、前記検出手段は、当該補助接点の開閉状態に基づいて前記接点の開閉状態を検出することを特徴とする請求項1~4の何れか1項に記載の電磁開閉装置。前記接点は、固定接点と可動接点からなり、電磁力を利用して前記可動接点を前記固定接点に接離させる電磁石を備え、前記検出手段は、当該電磁石の励磁に伴ってインピーダンスが変化する検出コイルを有し、当該検出コイルのインピーダンスの変化に基づいて前記接点の開閉を検出することを特徴とする請求項1~4の何れか1項に記載の電磁開閉装置。前記接点は、固定接点と可動接点からなり、当該可動接点を変位させる変位手段を備え、前記検出手段は、前記変位手段による前記可動接点の変位に基づいて前記接点の開閉状態を検出することを特徴とする請求項1~4の何れか1項に記載の電磁開閉装置。前記検出手段は、前記接点に印加される電圧に基づいて前記接点の開閉状態を検出することを特徴とする請求項1~4の何れか1項に記載の電磁開閉装置。ところで、上述のような電磁開閉装置では、接点の表面が酸化して導通しなくなったり、あるいはアークの影響で固定接点と可動接点が溶着することがある。しかしながら、従来は電磁開閉装置を搭載する機器が、上述のような電磁開閉装置に発生する種々の異常を検出しなければならなかった。本発明は、上記課題に鑑みて為されたものであり、異常の有無を自己診断して外部に通知することを目的とする。本発明の電磁開閉装置は、外部からの指令に応じて接点を開閉する電磁開閉装置であって、前記接点の開閉状態を検出する検出手段と、当該検出手段が検出する前記接点の開閉状態と前記指令に対応した当該接点の開閉状態とに基づいて異常の有無を判断する判断手段と、当該判断手段の判断結果を外部に出力する出力手段とを備えることを特徴とする。この電磁開閉装置において、前記判断手段は、前記接点を閉極する指令が外部から与えられたときに、前記検出手段が検出する前記接点の状態が開極状態である場合に当該接点に接触不良が生じていると判断することが好ましい。この電磁開閉装置において、前記判断手段は、前記接点を開極する指令が外部から与えられたときに、前記検出手段が検出する前記接点の状態が閉極状態である場合に当該接点に接点溶着が生じていると判断することが好ましい。この電磁開閉装置において、前記出力部は、前記判断結果として前記異常の種類を示す信号を出力することが好ましい。この電磁開閉装置において、前記接点の開閉と連動する補助接点を備え、前記検出手段は、当該補助接点の開閉状態に基づいて前記接点の開閉状態を検出することが好ましい。この電磁開閉装置において、前記接点は、固定接点と可動接点からなり、電磁力を利用して前記可動接点を前記固定接点に接離させる電磁石を備え、前記検出手段は、当該電磁石の励磁に伴ってインピーダンスが変化する検出コイルを有し、当該検出コイルのインピーダンスの変化に基づいて前記接点の開閉を検出することが好ましい。この電磁開閉装置において、前記接点は、固定接点と可動接点からなり、当該可動接点を変位させる変位手段を備え、前記検出手段は、前記変位手段による前記可動接点の変位に基づいて前記接点の開閉状態を検出することが好ましい。この電磁開閉装置において、前記検出手段は、前記接点に印加される電圧に基づいて前記接点の開閉状態を検出することが好ましい。本発明の電磁開閉装置は、異常の有無を自己診断して外部に通知することができるという効果がある。本実施形態の電磁開閉装置A1は、図1に示すように接点部1、駆動部2、制御部3、入力部4、検出部5、異常判断部6、記憶部7、出力部8などを備える。接点部1は、電路100の途中に挿入される2つの固定接点10と、固定接点10に接離する可動接点11とを有する。すなわち、2つの固定接点10と可動接点11が接触しているときに接点部1が閉極して電路100が導通し、2つの固定接点10と可動接点11が接触していないときに接点部1が開極して電路100が非導通となる。図4に本実施形態の電磁開閉装置A1の一部省略した断面図を示す。ただし、以下の説明では、図4において上下左右の各方向を定める。固定接点10は円柱形状の固定端子10Aの先端に設けられている。可動接点11は銅又は銅合金からなる矩形平板状に形成され、長手方向の中央部で可動軸21に支持されている。また、固定接点10並びに可動接点11は、下面が開口する箱形に形成されたセラミックス製の封止容器12内に収納されており、封止容器12の底壁を一対の固定端子10Aが貫通している。駆動部2は、励磁コイル20、可動軸21、固定鉄心22、可動鉄心23、キャップ24、継鉄25,26などで構成されている。キャップ24は、非磁性材料によって有底円筒形状に形成され、内部の底側に可動鉄心23が収納され、開口側に固定鉄心22が収納且つ固定されている。可動軸21は、固定鉄心22を移動自在に貫通するとともに下端部分に可動鉄心23が固定されている。なお、図示は省略しているが、固定鉄心22と可動鉄心23との間には、可動鉄心23を固定鉄心22から離す向きに弾性付勢する復帰ばねが配設されている。また、固定鉄心22と可動接点11との間には、可動接点11を固定接点10に近付く向きに弾性付勢する接圧ばねが配設されている。キャップ24の外側に絶縁材料製のコイルボビンが設けられ、当該コイルボビンに励磁コイル20が巻設されている。そして、励磁コイル20の外側に継鉄25,26が配設され、励磁コイル20と継鉄25,26とで磁気回路が形成されている。一方の継鉄26は平板状に形成され、励磁コイル20と封止容器12の間に配置されている。而して、励磁コイル20に励磁電流が流れていない状態では、復帰ばねに弾性付勢された可動鉄心23が下向きに変位することで可動軸21及び可動接点11も下向きに変位する。その結果、可動接点11が固定接点10から離れて接点部1が開極する。一方、励磁コイル20に励磁電流が流れると、固定鉄心22と可動鉄心23との間に作用する電磁力で可動鉄心23が固定鉄心22に近付く向きに変位するので、可動軸21及び可動接点11も上向きに変位する。その結果、可動接点11が固定接点10に接触して接点部1が閉極する。すなわち、励磁コイル20と固定鉄心22で電磁石が構成されており、この電磁石の電磁力によって可動鉄心23が変位するのである。制御部3は、外部から入力部4に入力される制御信号に応じて駆動部2を制御する。すなわち、入力部4に接点オンの制御信号が入力されれば、制御部3は駆動部2の励磁コイル20に励磁電流を流して接点部1を閉極させ、入力部4に接点オフの制御信号が入力されれば、制御部3は励磁コイル20に流す励磁電流を停止して接点部1を開極させる。なお、制御信号はハイレベルとローレベルに切り換わる直流電圧信号であり、ハイレベルが接点オン、ローレベルが接点オフにそれぞれ対応する。検出部5は、接点の開閉状態を検出するものであって、接点部1の開閉に連動して開閉する補助接点50の開閉状態に基づいて接点部1の開閉状態を検出する。なお、接点部1の開閉状態の検出結果は、閉極状態のときにハイレベルとなり、開極状態のローレベルとなる直流電圧信号として異常判断部6に出力される。補助接点50は、図4に示すようにキャップ24の下方に配置されたリードスイッチからなり、可動鉄心23の下面に取り付けられている永久磁石51の磁力でオンされる。すなわち、接点部1が開極しているときは可動鉄心23がキャップ24の底側に位置するために永久磁石51の磁力でリードスイッチがオンになる。しかしながら、接点部1が閉極しているときは可動鉄心23がキャップ24の開口側に位置するため、永久磁石51の磁力が及び難くなることでリードスイッチがオフとなる。ただし、図4に示すように補助接点50がキャップ24の側面に配置されても構わない。この場合、可動鉄心23の底面に設けられた支持部材52の先端に永久磁石51が取り付けられる。異常判断部6は、制御信号と接点検出信号を比較し、両信号が何れもハイレベル又はローレベルのときは異常なしと判断し、両信号の一方がハイレベル且つ他方がローレベルのときは異常有りと判断する。そして、異常判断部6の判断結果は制御部3に出力される。制御部3は、異常判断部6の判断結果が異常なしであれば、出力部8からハイレベルの異常検出信号を出力させ、判断結果が異常有りであれば、出力部8からローレベルの異常検出信号を出力させる。なお、制御部3と入力部4と異常判断部6と記憶部7と出力部8とは、それぞれが別々のハードウェアで実現されてもよいし、1つのマイクロコンピュータ及び種々のソフトウェアで実現されてもよい。ここで、入力部4に制御信号が入力されてから、駆動部2が接点部1を駆動して接点部1の開閉状態が切り換わるまでにはある程度の時間が必要となる。電磁リレーにおいては、通常、接点が閉極するときに要する前記時間が動作時間と呼ばれ、接点が開極するときに要する前記時間が復帰時間と呼ばれる。つまり、動作時間や復帰時間が経過する前に、異常判断部6が制御信号と接点検出信号を比較してしまうと、異常の有無を誤判断してしまう虞がある。したがって、動作時間や復帰時間が経過するまでの間、異常判断部6が異常の有無を判断しないことが望ましい。そこで、本実施形態における異常判断部6は、図2に示すような排他的論理和回路60と論理和回路61とで構成され、異常有無の判断処理がマスク信号によって入切されている。排他的論理和回路60は、制御信号と接点検出信号の排他的論理和を反転して出力している。論理和回路61は、排他的論理和回路60の出力信号とマスク信号の論理和を出力している。マスク信号は制御部3から出力される信号であって、制御部3が異常判断部6に出力する制御信号のハイローを切り換えてから、動作時間又は復帰時間よりも短くないマスク時間が経過するまでの間だけハイレベルになる直流電圧信号である。なお、ここでは論理和回路61の出力を、便宜上、異常検出信号と呼ぶ。次に、図3~を参照して、異常判断部6の判断処理を詳しく説明する。例えば、制御部3から異常判断部6に入力される制御信号が時刻t1にハイレベルに立ち上がれば、制御部3から論理和回路61に入力されるマスク信号も同時にハイレベルに立ち上がる。そして、制御部3が駆動部2の励磁コイル20に励磁電流を流すことにより、異常がなければ、時刻t2に接点部1が閉極して検出部5の接点検出信号がハイレベルに立ち上がる参照。一方、異常が有ると接点部1が閉極しないので、時刻t2を過ぎても検出部5の接点検出信号がハイレベルに立ち上がらない参照。なお、このような異常としては、固定接点10と可動接点11との間に絶縁性の異物が挟まっていること、あるいは接点部1に氷結が生じていること、何らかの原因で可動接点11が変位しないことなどが想定される。しかしながら、時刻t2の時点ではマスク信号がハイレベルであるので、制御信号と接点検出信号の論理値が互いに相違していても論理和回路61の出力、すなわち、異常検出信号はハイレベルに維持される参照。そして、時刻t3にマスク信号がローレベルに立ち下がると、制御信号と接点検出信号の論理値がハイレベルで一致していれば、異常検出信号はハイレベルに維持される参照。一方、制御信号がハイレベル、接点検出信号がローレベルというように互いの論理値が相違していれば、異常検出信号はローレベルに立ち下がる参照。あるいは、図3に示すように制御部3から異常判断部6に入力される制御信号が時刻t1にローレベルに立ち下がれば、制御部3から論理和回路61に入力されるマスク信号が同時にハイレベルに立ち上がる。そして、制御部3が駆動部2の励磁コイル20に流していた励磁電流を停止することにより、異常がなければ、時刻t2に接点部1が開極して検出部5の接点検出信号がローレベルに立ち下がる。一方、溶着などの異常が有ると接点部1が開極しないので、時刻t2を過ぎても検出部5の接点検出信号がローレベルに立ち下がらない。しかしながら、時刻t2の時点ではマスク信号がハイレベルであるので、制御信号と接点検出信号の論理値が互いに相違していても論理和回路61の出力、すなわち、異常検出信号はハイレベルに維持されるそして、時刻t3にマスク信号がローレベルに立ち下がると、制御信号と接点検出信号の論理値がローレベルで一致していれば、異常検出信号はハイレベルに維持される。一方、制御信号がローレベル、接点検出信号がハイレベルというように互いの論理値が相違していれば、異常検出信号はローレベルに立ち下がる。上述のように本実施形態の電磁開閉装置A1は、接点部1の開閉状態を検出する検出部5と、検出部5が検出する接点部1の開閉状態と外部からの指令に対応した接点部1の開閉状態とに基づいて異常の有無を判断する異常判断部6と、異常判断部6の判断結果を外部に出力する出力部8とを備える。したがって、本実施形態の電磁開閉装置A1は、異常の有無を自己診断して外部に通知することができる。そのため、従来のように電磁開閉装置A1を搭載する機器が接点部1の異常を検出する必要が無く、電磁開閉装置A1の異常の監視が容易になる。ここで、入力部4と出力部8の代わりに、図1に示すように制御部3と外部との通信をインタフェースするシリアル通信部9を電磁開閉装置A1が備えても構わない。この場合、図5に示すように複数ビットの情報が外部に出力可能であるから、発生した異常の種類毎に異なるビットを割り当てれば、外部の機器で異常の有無だけでなくその種類を特定することかできる。例えば、異物等による接触不良の異常が発生していると推定されるときは先頭のビットを1とし、接点溶着の異常が発生していると推定されるときは2番目のビットを1とすればよい。また、補助接点50はリードスイッチに限定されるものではない。例えば、図6に示すように、キャップ24の内底部に配置されるマイクロスイッチを補助接点50としてもよい。この場合、接点部1が開極しているときに可動鉄心23がマイクロスイッチをオンし、接点部1が閉極しているときに可動鉄心23がマイクロスイッチをオフする。あるいは、図6に示すように、キャップ24の内底部に並設される一対のばね接点を補助接点50としてもよい。この場合、接点部1が開極しているときに可動鉄心23を介して一対のばね接点がオンし、接点部1が閉極しているときに可動鉄心23を介して一対のばね接点がオフする。または、図6に示すように、キャップ24の内底部に配設される接点と継鉄26の上面に配設される接点とを補助接点50としてもよい。この場合、接点部1が開極しているときは、継鉄26と固定鉄心22と可動鉄心23を介して一対の接点間に閉回路が形成されるために補助接点50がオンする。一方、接点部1が閉極しているときは、前記閉回路が形成されないために補助接点50がオフする。本実施形態の電磁開閉装置A2は基本的な構成が実施形態1と共通しているので、実施形態1と共通の構成要素に同一の符号を付して適宜図示及び説明を省略する。本実施形態における検出部5は、図7,に示すようにキャップ24の下端と対向する位置に検出コイル53が配設され、検出コイル53を含む電気回路の特性が可動鉄心23との距離に応じて変化することを利用して接点部1の開閉状態を検出している。検出部5は、例えば、検出コイル53とコンデンサとの並列回路よりなるLC発振回路を有している。LC発振回路を構成する検出コイル53に金属製の可動鉄心23が接近した際、電磁誘導作用による渦電流損が生じて検出コイル53の実効抵抗値が変化する。そして、検出コイル53のコンダクタンスが変化するとLC発振回路の発振条件も変化するため、LC発振回路を発振させている状態から、LC発振回路の発振が停止または発振振幅が所定値以上減衰することになる。したがって、検出部5ではLC発振回路の発振が停止又は発振振幅が所定値以上減衰したことにより、可動鉄心23が接近している、つまり、接点部1が開極していると判定する参照。一方、LC発振回路の発振が開始又は発振振幅が所定値以上増大すれば、検出部5は、可動鉄心23が接近していない、つまり、接点部1が閉極していると判定する参照。すなわち、検出部5は検出コイル53を含む電気回路の特性に基づいて接点部1の開閉状態を検出することができる。なお、図8に示すように検出コイル53が可動鉄心23の下方ではなく、可動鉄心23の側方に配設されても構わない。あるいは、励磁コイル20に流れる励磁電流に高周波電流を重畳することで励磁コイル20を検出コイルに兼用しても構わない。ところで、上述した検出方法では、検出部5の検出コイル53に連続して高周波電流を流さなければならないので、検出部5の電力消費が増大してしまう。そこで、検出部5の電力消費の増大を抑えるためには、以下の検出方法を採用することが望ましい。この検出方法では、検出コイル53のコンダクタンスとLC発振回路の時定数が比例しており、コンダクタンスが増加するにつれて時定数が大きくなることを利用する。例えば、検出コイル53に定電圧が印加されたとき、検出コイル53の両端電圧Vの立ち上がり時間は、時定数が大きいほど遅くなる。そこで、検出部5では、パルス電圧を周期的に検出コイル53に印加するとともに、検出コイル53の両端電圧Vが所定の基準値Vthを超えるまでの立ち上がり時間Ton,Toffを検出することにより、接点部1の開極と閉極を判別して開閉状態を検出することができる。このような検出方法では、検出コイル53にパルス電圧を印加すればよいので、検出コイル53に連続して高周波電流を流す場合と比較して検出部5の電力消費の増大を抑えることができる。本実施形態の電磁開閉装置A3は基本的な構成が実施形態1と共通しているので、実施形態1と共通の構成要素に同一の符号を付して適宜図示及び説明を省略する。本実施形態における検出部5は、ホール素子を利用した磁気センサ55で可動鉄心23の変位を検出する。例えば、図10に示すように可動鉄心23の下面に取り付けられた永久磁石51の位置が、キャップ24の下方に配置された磁気センサ55で検出される。あるいは、図10に示すように磁気センサ55がキャップ24の側面に配置されても構わない。この場合、可動鉄心23の底面に設けられた支持部材52の先端に永久磁石51が取り付けられる。または、図10に示すようにキャップ24の下方に磁気センサ55を配置するとともに、この磁気センサ55の下面に永久磁石51を取り付けてもよい。本実施形態の電磁開閉装置A4は基本的な構成が実施形態1と共通しているので、実施形態1と共通の構成要素に同一の符号を付して適宜説明を省略する。本実施形態における検出部5は、接点部1に印加される電圧に基づいて接点部1の開閉状態を検出するものであって、図11に示すように電圧検出部56、絶縁部57、電圧比較部58、基準電圧部59などを有している。電圧検出部56は、例えば、一対の固定接点10間に接続される検出抵抗を有し、当該検出抵抗に生じる電圧降下によって接点間電圧を検出している。電圧検出部56の検出結果は、フォトカプラなどで構成される絶縁部57を介して電圧比較部58に出力される。ここで、接点部1が開極しているときは接点間電圧の絶対値が相対的に高い電圧値V1となり、接点部1が閉極しているときは接点間電圧の絶対値が相対的に低い電圧値V0となる参照。故に電圧比較部58では、電圧検出部56の検出結果と、基準電圧部59から入力される基準電圧Vthとを比較し、接点間電圧の絶対値が基準電圧Vth未満であればハイレベルの接点検出信号を出力し、基準電圧Vth以上であればローレベルの接点検出信号を出力する。本実施形態では、接点間電圧を検出するための抵抗の消費電力がごく僅かであるので、検出コイル53に高周波電流を流す実施形態2と比較して、検出部5の電力消費の増大を抑えることができる。ところで、接点間電圧の検出に検出抵抗を利用する場合、電路100から検出抵抗への漏れ電流が生じてしまう。このような漏れ電流の発生を回避するには、検出部5が、非接触で接点部1の接点間電圧を検出することが好ましい。例えば、接点部1を介して電路100に電流が流れているときに接点部1の周囲に生じる磁界をホール素子で検出すればよい。つまり、接点部1の周囲に生じる磁界の強さが流れる電流の大きさに比例し、且つ接点部1の接触抵抗が一定と仮定すると当該電流の大きさが接点間電圧に比例するので、磁界の強さに基づいて接点間電圧を間接的に検出することができる。"