"平行光を発する光源と、固定スケールと、前記固定スケールに対して相対変位するインデックススケールと、前記平行光が前記固定スケールおよび前記インデックススケールを透過あるいは反射した光を受光して、電気信号に変換する光電変換手段と、を備えたリニアエンコーダにおいて、前記固定スケールに設けられ、互いに異なるピッチの第一格子目盛および第二格子目盛と、前記第一格子目盛を透過または反射した光を光電変換して得られる信号の振幅を第一信号振幅として取得する手段と、前記第二格子目盛を透過または反射した光を光電変換して得られる信号の振幅を第二信号振幅として取得する手段と、前記第二信号振幅に基づいて温度の影響量を取得する手段と、前記第一信号振幅から前記温度の影響量を除去した補正信号振幅を取得し、当該補正信号振幅に基づいて前記固定スケールと前記インデックススケールとの間のギャップ量を算出する手段と、を備えることを特徴とするリニアエンコーダ。請求項1に記載のリニアエンコーダにおいて、前記第二格子目盛の格子ピッチは、前記第一格子目盛の格子ピッチの2倍以上である、ことを特徴とするリニアエンコーダ。しかしながら、上述のギャップ検出技術を採用したリニアエンコーダにおいては、次のような問題が生ずる。信号振幅AMP_Lは、発光素子12の温度特性にも影響されることが知られている。具体的には、温度が高い場合、発光素子の光量が低下し信号振幅も低下する。また温度が低い場合、光量が増加し信号振幅も大きくなる。このため、温度が高い場合は、ギャップが広いと誤判定する可能性があり、また温度が低い場合ギャップが狭いと誤判定する可能性がある。詳細には、発光素子12の光出力の温度特性は図6に示す通りであり、周囲温度の変化により光出力が変化し、また光電変換した信号振幅も同様に変化する。この結果、信号振幅から温度要因とギャップ要因を区別することが難しい。この様に、受光光量の振幅からギャップを検出する方式は検出原理が簡単な反面、原理的に温度変化の影響を受けやすく、正確な取付け調整作業が困難となっていた。また、不正確な取付け調整作業を防止するため、ギャップ目標値上限と下限の範囲をあらかじめ大きくした場合、取付け位置の不良を検出できないとの問題が有った。本発明の目的は、上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、ギャップ検出の信頼性を高める事を可能とする、リニアエンコーダを提供する事にある。本発明のリニアエンコーダは、平行光を発する光源と、固定スケールと、前記固定スケールに対して相対変位するインデックススケールと、前記平行光が前記固定スケールおよび前記インデックススケールを透過あるいは反射した光を受光して、電気信号に変換する光電変換手段と、を備えたリニアエンコーダにおいて、前記固定スケールに設けられ、互いに異なるピッチの第一格子目盛および第二格子目盛と、前記第一格子目盛を透過または反射した光を光電変換して得られる信号の振幅を第一信号振幅として取得する手段と、前記第二格子目盛を透過または反射した光を光電変換して得られる信号の振幅を第二信号振幅として取得する手段と、前記第二信号振幅に基づいて、温度の影響量を取得する手段と、前記第一信号振幅から前記温度の影響量を除去した補正信号振幅を取得し、当該補正信号振幅に基づいて前記固定スケールと前記インデックススケールとの間のギャップ量を算出する手段と、を備えることを特徴とする。好適な態様では、前記第二格子目盛の格子ピッチは、前記第一格子目盛の格子ピッチの2倍以上である。本発明によれば、より正確にギャップを検出することができ、機械上での取付けをより正確に行なうことができる。また取付け調整完了後には、信号振幅の低下を検出して、スケールが汚染された場合を検出するが、取付け調整時に精度良く調整されることにより、信号低下時に発生させるアラームレベルまでのマージンを大きく取ることができるため、アラーム判定の精度を高める事ができる。以下に本発明の実施形態を図面に従って説明する。以下の説明では、本実施形態のリニアエンコーダの構成において従来技術と同様である部分は説明を省略する。図1は本発明実施形態である光学式リニアエンコーダの信号検出部の一例を表す斜視図である。本実施形態のスケール10は、主格子目盛16に加え、当該主格子目盛16に対してピッチが2倍以上の補助目盛格子17が設けられている。この補助目盛格子17および主格子目盛16は、図1から明らかなとおり、スケール10の面内において上下にスケール10の短軸方向に配設されている。また、インデックススケール13aには、主目盛格子16および補助目盛格子17に対応するため8つの副格子が設けられている。また、受光素子も、副格子に対応するべく、8つの受光素子14aが配されている。スライダ15から位置を読み取り処理をする場合の位置演算方法は、従来技術と同様であり、主格子目盛16を通して得られるSig.La1,b1,a2,b2信号から求めた位置と、補助格子目盛17を通して得られるSig.H信号から求めた位置を合成することにより検出する。上述した、主格子目盛16は格子目盛のピッチをギャップに敏感となるよう構成し、補助格子目盛17は、その目盛ピッチを、主格子目盛16の2倍以上として、ギャップに対して、ほぼ影響が無い様に構成する。例えば主格子目盛16のピッチを80μm、補助格子目盛17のピッチを2mmとした場合を考える。この場合、80μmの主格子目盛16では、ギャップによる光量変化の周期は、約14.5mmとなる。一方、ピッチが2mmの補助格子目盛17ではギャップによる振幅変化の周期は9090mmと、非常に大きな周期となる。その結果、補助格子目盛17側での信号振幅はギャップに対しほとんど影響を受けない。一方で、周囲温度による発光素子の光量への影響は格子目盛のピッチとは無関係であるため、主格子目盛16側と、補助格子目盛17側との光量、あるいは信号振幅への影響は、同等である。このように構成することにより、2mm格子側の信号振幅の変化分は、温度による影響結果であり、温度係数と見なすことができる。この結果、80μm格子の信号振幅に対し、この温度係数を乗ずることにより、温度の影響を取り除いた、ギャップを表す信号が得られる。図2は本発明の実施形態での信号演算部の構成を表す図であり、従来例と異なり、補助格子目盛17から求めた信号Sig.Hの振幅を演算する振幅演算部25、この求めた振幅から温度係数を演算する温度係数演算部26、および、主格子目盛16から得られた信号Sig.Lから求めた振幅と温度係数演算部26から求めた温度係数とからギャップを求めるギャップ演算部27が新たに追加されている。具体的には、図2の信号検出部31は、補助格子目盛17を透過した光量変化を受光素子14aによって光電変換した結果の4つの信号Ha1,Ha2,Hb1,Hb2Sig.Hを検出しており、このSig.Hから、振幅演算部25では、HA=Ha1-Ha2、HB=Hb1-Hb2によりオフセットの無いHA,HB信号を求め、さらに信号振幅AMPHをAMPH=HA2HB21/2の演算により求める。AMPHは、基準温度での振幅AMPHFとの比較により、温度係数KAMPHFAMPHを求める。なお、基準温度での振幅とは、スケールスライダをセットで基準温度で行なう発光素子12の光量調整により決定される数値であり、固定値である。次に、ギャップ演算部27では、Sig.Lから求めた、AMP_Lに対し、上記にて求めた温度係数Kを乗ずることにより、補正信号振幅AMP_LKを求めるAMP_LK=AMP_L×K。この演算により求めた補正信号振幅AMP_LKから、従来技術と同様のギャップ判定部23により、ギャップの適否を検出する。上記では、主格子目盛16のピッチを80μm、補助格子目盛17のピッチを2mmとした場合について説明したが、この値は一例であり、原理からも計算できるとおり、補助格子目盛17の格子ピッチは主格子目盛16の2倍以上であれば、補助格子目盛17のギャップによる信号振幅への影響度は十分低くなるため、効果が十分に得られる。また、本実施形態では、ギャップ演算、判定を行なうタイミングを特に指定せず、エンコーダが動作している時に常時動作すると説明したが、実際にギャップ演算、判定を行なうのは、機械上での取付け調整時のみであり、この取付け調整時にのみギャップ演算、判定を行なうような構成にしてもよい。また、本実施形態では、光透過方式のエンコーダの場合を例示しているが、光反射方式のエンコーダで有っても同様の原理を実現することができ、また同等の効果を得ることができる。"