"各々が分離モジュールM1’,M2’,...Mn’を備える並列流体経路F1’,F2’,....Fn’を備える分離システム31での方法であって、1つを除く前記並列流体経路の少なくとも各々に同じ形式のセンサS1,S2,...Snを設ける段階と、前記並列流体経路の前記センサの少なくとも1つにより特徴的な流体特性を測定する段階と、可能であれば前記分離システム31の出口に配置されたシステムセンサ45により同じ特徴的な流体特性を測定する段階と、測定された特徴的な流体特性を比較し、前記分離システムの性能を評価及び/又は認定する段階とを含む方法。前記分離システムの評価は滞留時間及び/又はクロマトグラフィー効率の測定を含む、請求項1記載の方法。前記流体経路の1つの少なくとも1つのセンサからのセンサ応答を、前記システムセンサ45のセンサ応答と比較する段階をさらに含む、請求項1又は請求項2記載の方法。前記特徴的な流体特性は、流体流量、濃度、力、圧力、温度、伝導率、pH、あるいは、例えばUV吸光度の測定のような、光の吸光度、反射率、又は放射の形式のものである、請求項1乃至請求項3のいずれか1項記載の方法。前記センサ応答の比較は、前記システムの性能を認定する、監視する、又は記述する目的のために行われる、請求項1乃至請求項4のいずれか1項記載の方法。複数の並列流体経路F1’,F2’,...Fn’を備える分離システムであって、各々の並列流体経路は分離モジュールM1’,M2’,...Mn’を備え、少なくとも、1つを除くすべての流体経路は同じ形式のセンサS1,S2,...Snを備え、前記分離システムは、前記分離システム全体を測定する同じ形式のシステムセンサ45をさらに備える分離システム。前記分離モジュールM1’,M2’,...Mn’が使い捨てである、請求項6記載の分離システム。前記センサS1,S2,...Snは使い捨てプローブである、請求項6又は請求項7記載の分離システム。流体と接触するセンサ部分は前記カラムモジュールの一体部分である、請求項6乃至請求項8のいずれか1項記載の分離システム。本発明の1つの目的は、2つ以上の分離モジュールを並列に作動する場合に生じる調節問題を処理することである。これは、請求項1に係る方法及び請求項6に係るシステムによって達成される。これによって、滞留時間及びクロマトグラフィー効率の双方は、並列に作動する場合、個々のモジュールに渡って測定することができる。本発明の他の目的は、有効な医薬品成分、診断学、食品、医薬品、及び、医療用具の製造及び試験で使用される品質システムの必要条件を満たし超える並列構成の分離システムを提供することである。このような品質システムの例は、製品の品質に影響を与える可能性がある製造及び試験のアスペクトを概観する適正製造基準すなわちGMPである。GMPの基本的な原理は、例えば、製造プロセスが明確に定義され、制御される必要があるということである。すべての重要なプロセスは、仕様との整合性及び準拠性を保証するために検証する必要がある。さらに、製造中、手動又は器具によって記録が行われるべきであり、これらの記録は、追跡すべきバッチの完全な履歴が理解可能でアクセス可能な形態で保持されることを可能にしなければならない。GMPは、規制機関によって、米国では米国FDAによって、例えば、1938年の食品医療品化粧品法21USC351のセクション501Bの下で施行される。この規制はこれらのガイドラインを記述するために、現行の適正製造基準というフレーズを使用する。本発明の他の目的は、並列構成で分離システムを使用する場合に、プロセス及び洗浄バリデーションのようなGMPに属するバリデーション要件を特に満たすことである。本発明の他の目的は、並列構成で分離システムを使用する場合に、プロセス及び設計時適格性評価DQ、構成要素適格性評価CQ、設備据付時適格性評価IQ、運転時適格性評価OQ、性能適格性評価PQのようなGMPに属する適格性評価要件を特に満たすことである。本発明のさらなる目的は、並列構成で自動化分離システムを使用する場合に、GMPに属する文書化要件を特に満たすことと、特に、バリデーション及び適格性評価要件を満たし超えるために必要な電子データ及び記録を提供することである。本発明のさらなる好適な実施形態は、従属請求項に記載される。図1は、本発明の一実施形態による分離モジュールM1’,M2’,....Mn’の並列組立部品33を備える分離システム31を概略的に示している。並列組立部品33は、複数の並列流体経路F1’,F2’,....Fn’を備えている。ここでは3つの流体経路が示されているが、どのような数の並列流体経路であってもよい。各々の流体経路F1’,F2’......Fn’は、分離モジュールM1’,M2’,......Mn’を備えている。分離システム31は、並列組立部品33に入る入口流体経路35と、並列組立部品33を出て行く出口流体経路37とをさらに備えている。入口流体経路35は、本実施形態では、ポンプ39と、流量計41と、圧力センサ43とを備えている。本発明によれば、各々の流体経路F1’,F2’,...Fn’は、センサS1,S2,....Snも備え、システム31の出口流体経路37は、少なくとも1つのシステムセンサ45を備えている。センサS1..Snは、分離モジュールが並列に作動している場合、個々の分離モジュールM1’,M2’,....Mn’に渡る滞留時間及び/又はクロマトグラフィー効率を測定するのに適しており、同時にこれらの特徴を、システムセンサ45によってシステムレベルで測定することもできる。これによって、システムセンサ45によって測定されるようなシステムレベルでの全体的な応答を、センサS1..Snによって測定されるような各々の分離モジュールの個々の応答と比較することができる。本発明の代わりの実施形態では、センサS1,....Snは、1つを除くすべての流体経路にのみ設けられる。最後の流体経路からのセンサ応答は、システムセンサからの応答を使用し、他のセンサ応答を減算することによって、依然として計算することができる。好適には、これらのセンサは、特徴的な流体特性が、流体流量、例濃度、力、圧力、温度、伝導率、pH、あるいは、例えばUV吸光度の測定のような、光の吸光度、反射率、又は放射の形式のものである場合、特徴的な流体特性を測定する使い捨てプローブである。図2は、本発明の一実施形態による本発明の方法のフローチャートである。ステップは以下の順序で説明される。S1:並列流体経路で前記センサS1,S2,...Snによって特徴的な流体特性を測定する。代わりに、前記センサのn-1によって特徴的な流体特性を測定し、システムレベルの特徴的な流体特性を測定し、最後の流体経路での特徴的な流体特性を計算する。S3:可能であれば、システムセンサ45によって同じ特徴的な流体特性を測定する。S5:測定された特徴的な流体特性を比較し、分離システムの性能を評価及び/又は認定する。分離システムの評価は、滞留時間及び/又はクロマトグラフィー効率の測定であってもよい。特徴的な流体特性は、流体流量、濃度、伝導率、あるいは、光又はエネルギーの吸収、反射、又は消衰の変化の形式のものであってもよい。センサ応答の比較は、システムの性能を認定する、監視する、又は記述する目的のために行われる。図3は、図1に示す実施形態による一例に関するパルス応答図を示す。本例では、3つの流体経路F1’,F2’,F3’が存在し、したがって、3つの分離モジュールM1’,M2’,M3’が存在する。51で示される曲線は、システムレベルでの、すなわち、システムセンサ45によって測定される実際の応答を示す。ここで、滞留時間は、曲線に渡る積分によって計算される平均滞留時間として測定される。単純化された手順では、滞留時間を、最大パルス応答ピークの最大高さでの滞留時間から差し引いてもよい。曲線中のリーディングは、並列組立部品内のいずれか1つ以上のモジュールが、滞留時間の点で公称応答から逸脱している可能性があること、又は、少なくとも1つのモジュールが、過度のリーディングを示す充填床効率を有する可能性があることを示唆している。しかしながら、全体的な応答信号は、単独では、個々のモジュールの状態についての詳細な情報と、曲線中のリーディングの根本的な原因とを与えない。この情報は、個々のモジュールからの信号によってのみ提供することができる。53で示される曲線は、第1流体経路F1’内の第1センサS1で測定されるような実際の応答を示す。これは、したがってシステムの他の分離モジュールM2’、M3’と並列に実行する場合の、第1分離モジュールM1’からの実際の応答である。55で示す曲線は、第2流体経路F2’中の第2センサS2で測定されるような実際の応答を示す。これは、したがってシステムの他の分離モジュールM1’、M3’と並列に実行する場合の、第2分離モジュールM2’からの実際の応答である。57で示す曲線は、第3流体経路F3’中の第3センサS3で測定されるような実際の応答を示す。これは、したがってシステムの他の分離モジュールM1’、M2’と並列に実行する場合の、第3分離モジュールM3’からの実際の応答である。ここで論じる例に関して、分離モジュールのすべては、対称形状の滞留時間曲線を有するが、1つの分離モジュール、第1分離モジュールM1’は、減少した平均滞留時間を有する。これは、このモジュールに関する流体力学的抵抗が他のモジュールに関するより小さく、このモジュールに関する実際の流量が他のモジュールに関するより大きいことを明らかにする。結果として、サブシステムレベルでの信号の評価は、並列組立部品の効率の完全な見識を与える。個々の分離モジュールの性能に加えて、センサ45を使用して測定される並列組立部品の全体的に性能に関する合格基準は、並列組立部品の設置時に加えて、プロセス前及びその間中に設定及び監視することができる。3つの主要パラメータ、aシステムレベルでの応答曲線の平均滞留時間と比較した並列組立部品の各々のモジュールに関する平均滞留時間と、bシステムレベルでの応答曲線に関するピーク幅と比較した並列組立部品の各々のモジュールに関するピーク幅バンド広がりの点でのクロマトグラフィー効率と、cシステムレベルでの応答曲線の対称性と比較した並列組立部品の各々のモジュールに関する応答曲線に関するピーク対称性とが、クロマトグラフィーモジュールの並列組立部品に関して測定及び評価される。本発明で説明されている制御及び測定の目的に関するシステムの複雑さ及び費用を減少させるために、多重化技術を使用することができる。多重化技術は、例えば、制御バルブの位置に順次にアクセスし、これを変更するために、制御システムからの、又は制御システムへの共通信号処理チャンネルの組み合わされた使用を可能にする。さらに、多重化技術は、送信機又は制御システムそれぞれへのセンサ情報の順次又は同時読み出しを可能にする。本発明で説明したような流体ラインの流体力学的抵抗の順次調節中、多重化原理は、制御システムを構築するために特に好適である。分離モジュールの性能監視のための、説明したようなセンサ情報の読み出しに関して、別々のセンサ信号の順次及び周期的な読み出しとして可能になる多重化も、カラムモジュール及びシステムで監視すべきパルス応答信号のむしろ遅い変化によって適用可能である。"