記録済みホログラフィックディスク10の読み出し時又は事前フォーマット済みホログラフィックディスク10における記録時にサーボを行う方法であって、前記ホログラフィックディスクのターゲットデータ層のターゲットデータトラックからの反射主ビームの主信号を検出するステップであって、前記主ビームの照射は第1の波長を含む、前記ステップと、前記主信号の電力測定値を電力閾値と比較するステップと、前記主信号の前記電力測定値が前記電力閾値を下回った場合に、前記ホログラフィックディスクの基準層からの反射トラッキングビームのトラッキング信号を検出するステップであって、前記トラッキングビームの照射は第2の波長を含む、前記ステップと、前記主信号又は前記トラッキング信号に基づいてサーボエラー信号を発生させるステップと、前記主ビームが前記ターゲットデータ層上で収束するように、前記主サーボエラー信号又は前記トラッキングサーボエラー信号のいずれかに基づいて、光学サブシステムをアクチュエートするステップとを含む方法。主信号を検出する前記ステップは、前記反射主ビームから反射電力分布を検出することを含む、請求項1に記載の方法。トラッキング信号を検出する前記ステップは、前記反射トラッキングビームから反射電力分布を検出することを含む、請求項1に記載の方法。記録済みホログラフィックディスク10の読み出し時又は事前フォーマット済みホログラフィックディスク10における記録時にサーボを行うシステム80であって、前記ホログラフィックディスクのターゲットデータ層のターゲットデータトラックからの反射主ビームの主信号86を検出するように構成された第1の検出器84であって、前記主ビームは第1の波長を含む、前記第1の検出器84と、前記ホログラフィックディスクの基準層からの反射トラッキングビームのトラッキング信号90を検出するように構成された第2の検出器88であって、前記トラッキングビームは第2の波長を含む、前記第2の検出器88と、処理サブシステム92であって、前記主信号の電力測定値を電力閾値と比較するように構成された比較器と、前記主信号に基づく主サーボエラー信号又は前記トラッキング信号に基づくトラッキングサーボエラー信号のいずれかを発生させるように構成された、少なくとも1つのサーボエラー発生器98と、前記電力測定値が前記閾値以上になった場合は、前記主サーボエラー信号に基づいてアクチュエーション信号105を発生させ、前記電力測定値が前記閾値未満になった場合は、前記トラッキングサーボエラー信号に基づいてアクチュエーション信号105を発生させるように構成されたサーボ制御装置104と、を備える前記処理サブシステム92と、前記主ビームが前記ターゲットデータ層上で収束するように、前記アクチュエーション信号105に基づいてアクチュエートするように構成された光学サブシステム108とを備えるシステム80。前記基準層は、部分的ダイクロイックコーティング又は部分的メタライズドコーティングの少なくとも一方を含む、請求項4に記載のシステム80。記録済みホログラフィックディスク10の読み出し時又は事前フォーマット済みホログラフィックディスク10における記録時にサーボを行う方法であって、前記ホログラフィックディスクの基準層からの反射トラッキングビームのトラッキング信号を検出するステップであって、前記トラッキングビームの照射は第1の波長を含み、前記基準層は部分的ダイクロイックコーティング又は部分的メタライズドコーティングの少なくとも一方を含む、前記ステップと、前記トラッキング信号に基づいてトラッキングサーボエラー信号を発生させるステップと、前記トラッキングサーボエラー信号に基づいてトラッキングランアウト特性を取得するステップと、前記トラッキングビームが前記基準層上で収束するように、前記トラッキングサーボエラー信号に基づいて光学サブシステムをアクチュエートするステップと、前記ホログラフィックディスクのターゲットデータ層からの反射主ビームの照射の主信号を検出するステップであって、前記主ビームの照射は第2の波長を含む、前記ステップと、前記主信号に基づいて主サーボエラー信号を発生させるステップと、前記主ビームが前記データ層上で収束するように、前記主サーボエラー信号及び前記取得されたトラッキングランアウト特性に基づいて、前記光学サブシステムをアクチュエートするステップとを含む方法。前記光学サブシステムをアクチュエートする前記ステップは、前記主サーボエラー信号又は前記トラッキングサーボエラー信号から、それぞれ発生した主アクチュエーション信号又はトラッキングアクチュエーション信号に基づいてアクチュエートすることを含む、請求項6に記載の方法。記録済みホログラフィックディスク10の読み出し時又は事前フォーマット済みホログラフィックディスク10における記録時にサーボを行うシステム110であって、前記ホログラフィックディスクの基準層13からの反射トラッキングビームのトラッキング信号113を検出するように構成された第1の検出器112であって、前記トラッキングビームの照射は第1の波長を含み、前記基準層は部分的ダイクロイックコーティング又は部分的メタライズドコーティングの少なくとも一方を含む、前記第1の検出器112と、前記ホログラフィックディスクのターゲットデータ層からの反射主ビームの照射の主信号152を検出するように構成された第2の検出器154であって、前記主ビームの照射は第2の波長を含む、前記第2の検出器154と、前記第1の検出器及び前記第2の検出器と結合された処理サブシステム132であって、前記主信号に基づく主サーボエラー信号又は前記トラッキング信号に基づくトラッキングサーボエラー信号のいずれかを発生させるように構成された、少なくとも1つのサーボエラー発生器134と、前記トラッキングサーボエラー信号に基づいて、トラッキングアクチュエーション信号及びトラッキングランアウト特性を発生させるように構成されたトラッキングサーボ制御装置136と、前記主サーボエラー信号及び前記トラッキングランアウト特性に基づいて、主アクチュエーション信号を発生させるように構成された主サーボ制御装置142と、を備える前記処理サブシステム132と、前記主アクチュエーション信号及び前記トラッキングアクチュエーション信号に基づいてアクチュエートして、前記主ビームを前記ターゲットデータ層上で収束させるように構成された光学サブシステムとを備えるシステム。前記第2の波長は前記第1の波長と異なる、請求項8に記載のシステム110。前記第1の検出器及び前記第2の検出器は象限検出器を含む、請求項8に記載のシステム110。以下で詳細に説明するように、本発明の実施形態は、精密なサーボのシステム及び方法を含む。本システム及び方法は、ホログラフィックディスクのデータ層/トラックの上でレーザを直接収束させることを可能にしてブラックアウト期間を無くす技術を含む。本明細書で用いるブラックアウトという用語は、レーザがデータ層上のトラック間又は層間の領域に収束したために反射主ビームからの反射信号が存在しない期間を意味する。主ビームという用語は、記録済みホログラフィックディスクからの読み出しを行う読み出しビーム、又は、事前フォーマット済みホログラフィックディスクにおいて消去による記録を行う記録ビームを意味する。以下、本発明の技術の1つ以上の実施形態を記載する。これらの実施形態の記載を簡潔にするために、本明細書では、実際の実装のすべての機能を記載するわけではない。そのような、いかなる実際の実装の開発においても、どのような開発プロジェクトや設計プロジェクトにおいてもそうであるように、開発者の個々の目標を達成するためには、実装ごとに異なる可能性のある、システム関連及びビジネス関連の制約に従うことなど、実装ごとに様々な決定を行わなければならないことを理解されたい。さらに、そのような開発作業は、複雑であり、時間のかかるものであるにもかかわらず、当業者にとっては、決まり切った設計、製作、及び製造の作業であり、本開示は、そのような当業者に恩恵をもたらすことを理解されたい。ビット単位のホログラフィックデータ記憶システムは、典型的には、重なり合い、干渉し合う2つのビームを記録媒体例えば、ホログラフィックディスク内に照射することによって記録を行うことを伴う。各データビットは、マイクロホログラムと呼ばれる、微視的サイズの局在ホログラフィックパターンの有無によって表現される。マイクロホログラムは、収束ビームを照射されると、容積光反射器として動作する。例えば、図1に示すホログラフィックディスク10は、ディスク10の層内にデータビットを配列できる様子を表している。一般に、ホログラフィックディスク10は、円形の、ほぼ平坦なディスクであって、1つ以上のデータ記憶層11が、透明なプラスチックフィルムに埋め込まれている。これらのデータ層は、深さ方向にほぼ局在化していて光を反射することが可能な材料からなる、任意の数の変性領域を含むことが可能であり、これらは、例えば、ビット単位のホログラフィックデータ記憶装置に用いられるマイクロホログラムである。いくつかの実施形態では、データ層は、ディスク10に当たる光ビームの照射強度に対して応答性があるホログラフィック記録可能材料に埋め込むことが可能である。例えば、様々な実施形態において、ディスク10の材料は、閾値応答性であってよく、或いは、線形応答性であってもよい。データ層は、厚さが約0.05μmから5μmの範囲であってよく、間隔が約0.5μmから250μmの範囲であってよい。基準層13は、部分的ダイクロイックコーティング又は部分的メタライズドコーティング或いはその両方を含み、図3~5において参照される。マイクロホログラム15の形式のデータは、一般に、ディスク10の外側エッジから内側限界にかけての情報領域に、順次式らせん状トラック12の形で記憶可能であるが、同心の円形又はらせん状トラック、又は他の構成を用いることも可能である。ディスク10がデータの記録及び/又は読み出しのために回転可能であるように、スピンドル穴14のサイズを、ホログラフィックシステムのスピンドル周囲と嵌合するように決定することが可能である。スピンドルの回転は、記録及び/又は読み出し処理の間、一定線速度又は一定角速度を維持するように、フィードバックシステムによって制御可能である。さらに、ディスクスピンドル、記録系光学素子、及び/又は読み出し系光学素子を、平行移動台又はスライダにより、ディスクの半径方向に動かすことにより、光学系がディスクの半径全体にわたって記録又は読み出しを行うことが可能になる。図2は、マイクロホログラムをホログラフィックディスク10に記録する一例示的システム20のブロック図である。ホログラフィックシステム20は、第1の波長を有する1つ以上の主ビーム21と、第1の波長と異なる第2の波長を有するトラッキングビーム22とを含む。主ビーム21及びトラッキングビーム22は、光学/アクチュエータシステム28を通過する。光学/アクチュエータシステム28は、収束主ビーム及びトラッキングビーム30をディスク10の特定の場所で収束させるように構成された各種の光学素子及びアクチュエータ素子を含み得る。例えば、光学/アクチュエータシステム28は、収束ビーム30を、ディスク10の特定のデータ層又はデータトラック12図1で収束させる。マイクロホログラムは、ホログラフィックディスク10の干渉パターンの照射スポットに記録される。いくつかの実施形態では、収束反射主ビーム34を用いて、記録済みマイクロホログラムをディスク10から取り出す。収束主ビーム及びトラッキングビームの反射34データ反射36とも称するは、サーボ及び信号検出のために、主検出器38及びトラッキング検出器42で受信する。検出データ44は、データ分析のために処理サブシステム46に入力される。処理サブシステム46はまた、ディスク10上でのビーム21、22の収束又は位置合わせがより良くなるように、アクチュエーション信号48を計算して光学/アクチュエータシステムを制御又はアクチュエートする。図3は、記録済みホログラフィックディスクの読み出し時又は事前フォーマット済みホログラフィックディスク10図1における記録時にサーボを行うシステム80のブロック図である。システム80は、ホログラフィックディスク10のターゲットデータ層のターゲットデータトラックからの反射主ビームの主ビーム信号86を検出する第1の検出器84を含み、主ビーム図示せずは、第1の波長を含む。特定の実施形態では、主ビームの電力分布が検出される。第2の検出器88が、ディスク10の基準層13図1からの反射トラッキングビーム図示せずのトラッキング信号90を検出する。基準層は、部分的ダイクロイックコーティング又は部分的メタライズドコーティングの少なくとも一方を含む。特定の実施形態では、ダイクロイックコーティングは、酸化物又は窒化物の複数の誘電体層を含む。別の実施形態では、メタライズドコーティングは、アルミニウム又は金又は銀又はこれらの合金のうちのいずれかを含む。特定の実施形態では、トラッキングビームは、第1の波長と異なる第2の波長を有する。特定の実施形態では、主ビームの第1の波長は、約375nmから約650nmの範囲の波長を含む。別の実施形態では、トラッキングビームの第2の波長は、約400nmから約800nmの範囲にある。さらに別の実施形態では、第1の検出器及び第2の検出器は、象限検出器を含む。第1の検出器84と結合された処理サブシステム92は、主信号86の電力94を、ブロック96で参照されるように、電力の閾値と比較する。並行して、処理サブシステム92内のサーボエラー発生器98が、主信号86に基づいて主サーボエラー信号100を発生させる。同様に、トラッキング信号90に基づいて、トラッキングサーボエラー信号102を発生させる。電力94が閾値を超えた場合は、主サーボエラー信号100がサーボ制御装置104に入力され、サーボ制御装置104はアクチュエーション信号105を発生させる。アクチュエーション信号105は、1つ以上のアクチュエータ106に入力され、これらのアクチュエータは、主ビームが所望のデータトラック上又はデータ層上で収束するように、光学サブシステム108をアクチュエートする。電力94が閾値未満の場合は、トラッキングサーボエラー信号102がサーボ制御装置104に入力される。サーボ制御装置104は、トラッキングサーボエラー信号102に基づいてアクチュエーション信号105を発生させ、アクチュエーション信号105は、1つ以上のアクチュエータ106に入力され、アクチュエータ106は、主ビーム21図2がターゲットデータ層上で正確に収束するように光学サブシステム108をアクチュエートする。一例示的実施形態では、光学サブシステム108は、対物レンズを含む。なお、本発明の実施形態は、本発明の処理タスクを実行するいかなる特定の処理装置にも限定されない。本明細書で用いる処理サブシステムという用語は、本発明のタスクの実行に必要な計算を実行できる任意の機械を意味するものとする。処理装置という用語は、構造化入力を受け入れ、所定のルールに従って入力を処理して出力を生成することが可能な任意の機械を意味するものとする。また、本明細書で用いる~するように構成されたという語句は、当業者であれば理解されるように、本発明のタスクを実行するハードウェア及びソフトウェアの組み合わせを処理装置が備えていることを意味するものとする。図4は、ホログラフィックディスク10図1のサーボを行う別の例示的システム110のブロック図である。システム110で採用している技術がシステム80と異なる点は、最初に、トラッキングビームを基準層上で収束させて、トラッキングビームを基準層上で収束させることを可能にするトラッキングランアウト特性を取得することである。その後、取得したトラッキングランアウト特性に基づいて、主ビームを収束させる。図示の実施形態では、学習フェーズにおいて、第1の検出器112が、ホログラフィックディスク10の基準層13図1からの反射トラッキングビームのトラッキング信号113を検出する。トラッキングビームは、第1の波長を有し、基準層は、部分的ダイクロイックコーティング又は部分的メタライズドコーティングの少なくとも一方を含む。検出されたトラッキング信号113は、サーボエラー発生器134を含む処理サブシステム132に入力される。サーボエラー発生器134は、トラッキングサーボエラー信号135を発生させ、これは、トラッキングサーボ制御装置136に入力される。トラッキングサーボ制御装置136は、学習/観測済みトラッキングランアウト特性140を発生させ、これは主サーボ制御装置142に入力される。トラッキングサーボ制御装置136はまた、1つ以上のアクチュエータ146に向けてトラッキングアクチュエーション信号144を発生させる。アクチュエータ146は、トラッキングビームがディスク10の基準層13図1上で収束するように、トラッキングアクチュエーション信号144に基づいて、図2の光学/アクチュエータシステム28と同等の光学サブシステム148をアクチュエートする。さらに、第2の検出器154で検出された主信号152が、サーボエラー発生器156に入力され、サーボエラー発生器156は、主サーボエラー信号158を発生させる。一実施形態では、主ビームの電力分布が検出される。主サーボエラー信号158は、主サーボ制御装置142に入力される。主サーボ制御装置142は、学習済みトラッキングランアウト特性140に基づいて、主アクチュエーション信号164を発生させる。主アクチュエーション信号164は、1つ以上のアクチュエータ146に入力され、これらのアクチュエータは、主ビームがターゲットデータ層上で収束するように、光学サブシステム148をアクチュエートする。一実施形態では、第1の検出器112及び第2の検出器154は、象限検出器を含む。図4においてそうであるように、特定の実施形態では、トラッキングビームの第1の波長は、約400nmから約800nmの範囲の波長を含む。別の実施形態では、主ビームの第2の波長は、約375nmから約650nmの範囲にある。図5は、図4に記載した学習済みトラッキングランアウト特性の一例示的シミュレーション結果160をグラフィカルに示したものである。このランアウト特性は、図4に記載した学習済みトラッキングランアウト特性140と同等である。X軸152は、秒単位の時間を表し、Y軸154は、正規化振幅を表している。グラフ156は、一定時間の間にトラッキングレーザ又は一時レーザが横切ったトラック158を示している。さらに、グラフ162図5の参照符号162は、別々のトラック158において、様々な時間間隔で取得された主サーボエラー信号164を示している。様々なトラック158に対して、例示的な実際のトラッキングランアウト特性166を示しており、学習済みランアウト特性のシミュレーション結果160は、図4に記載したトラッキングサーボエラー信号に基づいて発生させている。さらに、サーボ性能を評価するために、主サーボエラー信号に基づいて、残留ランアウトエラー168を発生させている。シミュレーションによれば、主ビームは、±0.2μmの誤差で、ターゲットデータ層上で収束する。従って、上述の、精密なサーボを行うシステム及び方法の各種実施形態は、データを記録するホログラフィックディスクの複数の層/トラックに直接収束させる、便利で効率の良い手段を達成する方法を提供する。データ層に対して直接サーボを行う方法は、読み出し信号の信号対雑音比を改善し、複製時のデータ層間隔に対する厳密な要件、並びに、読み出し時の層間隔を一致させるための複雑な読み出し光学系の設計を不要にする。いかなる特定の実施形態によっても、上述の目的及び利点がすべて達成可能であるとは必ずしも限らないことを理解されたい。従って、例えば、当業者であれば理解されるように、本明細書に記載のシステム及び技術は、本明細書に教示の1つの利点又は1群の利点を達成又は最適化するように実施又は実行し、本明細書において教示又は示唆される他の目的又は利点を必ずしも達成しない。さらに、当業者であれば、様々な実施形態の各種機能の間の互換性に気付くであろう。同様に、当業者であれば、記載の各種機能並びに機能ごとの他の既知の等価物を混合及び調和させて、本開示の原理に従うさらなるシステム及び技術を構築することが可能である。限定された数の実施形態のみに関して本発明を詳細に記載してきたが、本発明がそのような開示の実施形態に限定されないことは容易に理解されよう。むしろ、本発明は、これまで記載してこなかったが本発明の趣旨及び範囲に見合った、任意の数の変形、変更、置換、又は等価構成を組み込むように修正可能である。さらに、本発明の各種実施形態を記載してきたが、本発明の各態様は、記載の実施形態のうちの一部しか含まなくてよいことを理解されたい。従って、本発明は、前述の記載によって限定されると解釈されるのではなく、添付の特許請求の範囲によってのみ限定される。新規であって、米国特許証によって保護されることが必要であると主張する内容は以下のとおりである。