共振回路を用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの検査装置において、回路に電圧または電流を供給する電源部と、CTSPのITO電極の抵抗Rpおよび電極間の静電容量Cpを直列に接続したCTSP部と、前記電源部に接続され、電気的共振を起こすLC共振回路を含む共振部と、前記共振部に接続され、前記共振部の共振周波数を変化させる共振周波数変更部と、前記CTSP部と共振周波数変更部との間で動作し、前記CTSP部と前記共振周波数変更部とを接続する作動部とを含んでなり、前記作動部の動作によって前記CTSP部と前記共振部とを接続した状態で、共振周波数の変化により前記CTSP部の抵抗Rpと静電容量Cpを同時に測定することを特徴とする、共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの電気的特性検査装置。前記共振周波数の変化は、前記CTSP部の抵抗Rpに任意に変更可能な抵抗rを直列に接続してrの変化に応じて生じることを特徴とする、請求項1に記載の共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの電気的特性検査装置。前記共振周波数変更部は、スイッチがターンオンされるように作動して前記共振部に別途のキャパシタをさらに並列接続し、前記共振周波数を変化させて前記CTSP部の静電容量Cpを測定することを特徴とする、請求項1に記載の共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの電気的特性検査装置。前記CTSP部の抵抗Rpを固定し、共振周波数の変化による前記CTSP部の静電容量Cpを測定することを特徴とする、請求項3に記載の共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの電気的特性検査装置。本発明は、上述した問題点に鑑みて創作されたもので、その目的は、共振周波数の変化によるCTSPのITO抵抗Rpと静電容量Cpを同時に測定するように機能する、共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの電気的特性検査装置を提供することにある。上記目的を達成するために、本発明は、共振回路を用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの検査装置において、回路に電圧または電流を供給する電源部と、CTSPのITO電極の抵抗Rpおよび電極間の静電容量Cpを直列に配置したCTSP部と、前記電源部に接続され、電気的共振を起こすLC共振回路を含む共振部と、前記共振部に接続され、前記共振部の共振周波数を変化させる共振周波数変更部と、前記CTSP部と共振周波数変更部との間で動作し、前記CTSP部と前記共振周波数変更部とを接続する作動部とを含んでなり、前記作動部の動作によって前記CTSP部と前記共振部とを接続した状態で、共振周波数の変化により前記CTSP部の抵抗Rpと静電容量Cpを同時に測定することを特徴とする、共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの電気的特性検査装置を提供するものである。ここで、前記共振周波数の変化は、前記CTSP部の抵抗Rpに任意に変更可能な抵抗rを直列に接続してrの変化に応じて生じさせることが好ましい。また、前記共振周波数変更部は、スイッチがターンオンされるように作動して前記共振部に別途のキャパシタをさらに並列接続し、前記共振周波数を変化させて前記CTSP部の静電容量Cpを測定することが好ましい。ここで、前記CTSP部の抵抗Rpを固定し、共振周波数の変化による前記CTSP部の静電容量Cpを測定することが好ましい。本発明に係る検査装置によれば、既存のCTSPに簡単なLC共振回路を直列接続して共振周波数特性を用いることにより、容易にCTSPの電気的特性Rp、Cpを検出することができるという効果がある。また、LC共振回路の定数と共振周波数の関係式からCTSPのITO電極間の実際静電容量値を得ることができるので、不良分析に容易に使うことができる。本発明の上記目的、特徴および他の利点は、添付図面を参照して本発明の好適な実施例を詳細に説明することによりさらに明らかになるであろう。以下に添付図面を参照しながら、本発明の実施例に係る共振周波数シフトを用いた静電容量方式タッチスクリーンパネルの電気的特性検査装置を詳細に説明する。本明細書のために、図面における同一の参照番号は、別途指示しない限り、同一の構成部分を示す。図1は本発明の一実施例に係る回路ブロック図である。図2は本発明の一実施例に係るLC共振回路をCTSPに接続した形態の回路図である。図1に示すように、本発明は、電源電力を発生して供給する電源部100と、CTSPのITO電極の抵抗Rpおよび電極間の静電容量Cpを直列に接続したCTSP部500と、電源部100に接続され、電気的共振を起こすLC共振回路を含む共振部200と、共振部200に接続され、共振部200の共振周波数を変化させる共振周波数変更部300と、CTSP部500と共振周波数変更部300との間で動作し、CTSP部500と共振周波数変更部300とを接続する作動部400とを含んでなる。本発明に係る検査装置は、作動部400のSW1の動作によってCTSP部500と共振部200とを接続した状態で、共振周波数の変化によりCTSP部500の抵抗Rpと静電容量Cpを同時に測定するように機能する。ここで、共振周波数の変化はITO電極の抵抗Rpに任意に変更可能な抵抗rを直列に接続してrの変化に応じて生じさせることができる。また、共振周波数変更部300は、別途のスイッチSW2をターンオンして共振部200に別途のキャパシタC1をさらに並列接続し、共振周波数を変化させてCTSP部500の静電容量Cpを測定することができる。この際、CTSP部500の抵抗Rpを固定し、共振周波数の変化によりCTSP部500の静電容量Cpを測定することができる。前記電源部100は一般な独立電源を意味する。このように一般な意味での独立電源は、変圧器などを用いて、負荷側で必要とする電圧に昇圧または降圧されて負荷に伝達される。前記電源部100としての独立電源は交流電源でもよく、直流電源でもよい。交流電源は交流電圧電源および交流電流電源の両方を含み、前記直流電源は直流電圧電源および直流電流電源の両方を含む。前記独立電源が直流電源の場合にはこれをインバータを介して交流に変換させることができる。本発明では、図2に示したスイッチSW1を有する作動部400、一般なLC並列共振回路共振部と同一200およびCTSP部500間の結合により構成された変形LC並列共振回路を数学的に分析し、CTSP部500の電気的特性を構成するITO電極の静電容量値Cpと抵抗値Rpを同時に測定する方法を考案した。本発明の原理は次のとおりである。一般なLC並列回路の共振周波数f0はインピーダンスZが無限大∞となる点の周波数で決定されるが、次のように導き出される。参考として、共振周波数f0とは、LとCで組み合わせられる回路においてその回路の固有周波数と電源の周波数とが一致して共振現象を引き起こし、電流または電圧が最大となるまでの周波数を意味する。RLC回路における共振周波数foは下記数式1から導き出される。ここで、数式1のように基本LCref並列回路としてのLC並列共振回路200にCTSP部500のITO電極の抵抗Rpおよび静電容量Cpが接続されるように作動部400のSW1を閉じると、LC並列共振回路200は、LCref並列回路と、ITO電極の抵抗Rp、静電容量Cpの直列回路との間での並列回路である、変形LC共振回路と見なされる。この際、それぞれのインピーダンスZ1とZ2は下記数式2で与えられる。この回路の総インピーダンスZは下記数式3で求めることができる。前記総インピーダンスZにおいて、共振周波数はインピーダンスZの虚数部が0となる条件で決定される。よって、下記数式4を満足する周波数が共振周波数である。ここで、CrefCpLRp≠0の場合、正の実根を求めると、下記数式5のとおりである。ここで、抵抗Rp=0の場合には基本共振となり、抵抗Rp→∞の場合にはに収束することが分かる。前記解のみでは、与えられたCTSP部500での抵抗Rpと静電容量Cpを同時に求めることができない。ところが、抵抗Rpに、知られている抵抗値を持つ抵抗rを直列に接続して抵抗rの変化による共振周波数の変化データを測定し、これを下記数式6に当てはめれば、抵抗Rpと静電容量Cpを同時に求めることができる。図3は抵抗rの変化による共振周波数の変化計算グラフを示す。図3のグラフは、L=Rref=Rp=Cp=1のとき、0.001<r<10の範囲で共振周波数の変化計算グラフを示すものである。特定rの範囲ではrが増加するときに共振周波数が線形的に増加することが分かる0.01<r<5。図1において、抵抗Rpと静電容量Cpからなる直列RC回路の時定数をτpとし、Lと静電容量Cpのみからなる並列共振回路の共振周波数をωpとすれば、下記数式7のような関係が形成される。元々の共振条件方程式は数式8のとおりであり、その解は下記数式9のとおりである。一方、共振条件方程式をωpに対して解くと、下記数式10のとおりである。前記数式10でωpとτpを求めるためにω0を変化させ、これにより変化するωを測定する。このために、前記共振周波数変更部300のスイッチSW2をターンオンして共振部200に別途のキャパシタC1をさらに並列接続することにより共振周波数を変更させることができる。すなわち、図2のSW2を閉じてC1を共振回路に並列接続してω0を変化させる。この際、測定によってω0、ω値を2つ以上求めると、未知数が2つ、方程式が2つなので、ωpとτpを求めることができ、最終的には下記数式11でRpと静電容量Cpを求めることができる。前記数式11において、抵抗RpはCTSP部500上の一つの静電容量に対して変わらない値なので、この値を固定し、タッチ環境手指の位置などの変更が変化するにつれて変化するωによって各瞬間の静電容量Cpを正確に測定することができる。このような方法でCTSP部500の単純な不良有無を超えて製作されたCTSP部500の全体的な性質を特性化する装備を構築することができる。本発明に係る検査装置によれば、既存のCTSPに簡単なLC共振回路を直列接続して共振周波数特性を用いることにより、容易にCTSPのITO電極の電気的特性抵抗Rp、静電容量Cpを検出することができるという効果がある。また、LC共振回路の定数と共振周波数の関係式からCTSPのITO電極間の実際静電容量値を得ることができるので、不良分析に容易に使うことができる。以上、本発明の好適な実施例について説明したが、本発明は上述した特定の実施例に限定されるものではない。すなわち、本発明の属する技術分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲の思想および範疇を逸脱することなく、本発明に対する多数の変更および修正が可能であり、それらの全ての適切な変更および修正の均等物も本発明の範囲に属するものと見なされるべきである。