1次カラム、モジュレータ、及び2次カラムを具備する包括的2次元クロマトグラフで分離された試料を質量分析装置に導入し、該質量分析装置において所定質量範囲を繰り返し走査するスキャン測定を実行することにより収集されたマススペクトルデータを処理する包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置であって、a収集されたマススペクトルデータに基づいて総イオン強度の時間的変化を示す2次元クロマトグラムを作成する2次元クトマログラム作成手段と、b該2次元クロマトグラムに対しピーク検出を行うピーク検出手段と、c前記2次元クロマトグラムの2つの時間軸がなす平面上で、前記ピーク検出手段により検出されたピークに対応するピーク領域と該ピーク領域の周囲のバックグラウンド領域とを決定する領域決定手段と、d前記バックグラウンド領域中の複数の位置におけるマススペクトルデータに基づいて前記ピーク領域中の少なくとも1つの位置におけるマススペクトルのバックグラウンドを推算し、推算されたバックグラウンドを除去したマススペクトルを求めるバックグラウンド除去手段と、を備えることを特徴とする包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置。請求項1に記載の包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置であって、前記バックグラウンド除去手段は、前記2次元クロマトグラムの2つの時間軸がなす平面上において、前記バックグラウンド領域中で且つ目的ピークに対応する測定点を含む直線上で該測定点を挟んだ両側にそれぞれバックグラウンド基準測定点を定め、該複数のバックグラウンド基準測定点のマススペクトルデータに基づいて前記目的ピークに対応する測定点におけるマススペクトルのバックグラウンドを推算することを特徴とする包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置。請求項2に記載の包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置であって、前記バックグラウンド基準測定点を定めるための直線は、2次元クロマトグラムの2つの時間軸に沿った2本の直線を含むものとし、その2本以上の直線上で目的ピークに対応する測定点を挟んだ両側にそれぞれ定められた4以上のバックグラウンド基準測定点のマススペクトルデータに基づいて目的ピークに対応する測定点におけるバックグラウンドを推算することを特徴とする包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置。本発明は上記課題に鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、包括的2次元GC/MSで得られるマススペクトルデータに重畳されているノイズを的確に除去することで、例えばマススペクトルデータを用いた定性の性能を向上させることができる包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置を提供することである。上記課題を解決するためになされた本発明は、1次カラム、モジュレータ、及び2次カラムを具備する包括的2次元クロマトグラフで分離された試料を質量分析装置に導入し、該質量分析装置において所定質量範囲を繰り返し走査するスキャン測定を実行することにより収集されたマススペクトルデータを処理する包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置であって、a収集されたマススペクトルデータに基づいて総イオン強度の時間的変化を示す2次元クロマトグラムを作成する2次元クトマログラム作成手段と、b該2次元クロマトグラムに対しピーク検出を行うピーク検出手段と、c前記2次元クロマトグラムの2つの時間軸がなす平面上で、前記ピーク検出手段により検出されたピークに対応するピーク領域と該ピーク領域の周囲のバックグラウンド領域とを決定する領域決定手段と、d前記バックグラウンド領域中の複数の測定点におけるマススペクトルデータに基づいて前記ピーク領域中の少なくとも1つの測定点におけるマススペクトルのバックグラウンドを推算し、推算されたバックグラウンドを除去したマススペクトルを求めるバックグラウンド除去手段と、を備えることを特徴としている。なお、上記測定点とは、所定質量範囲のマススペクトルデータを取得する保持時間を示す、2次元クロマトグラムの2つの時間軸がなす平面上の点である。トータルイオンクロマトグラムTICデータに基づいて作成表示される2次元クロマトグラムにおいて1つの測定点は1つの画素を示すから、以下の説明において測定点と画素は同義である。本発明に係る包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置では、2次元クロマトグラムに現れるピークの中で、目的とするピーク、より具体的には同定したいピークの周辺にバックグラウンド領域を設定する。即ち、このバックグラウンド領域中の測定点、つまり保持時間は、目的ピークの出現する時間に近接しており、バックグラウンドが比較的短時間に変化する状況であっても、バックグラウンド領域中の測定点におけるバックグラウンドスペクトルと目的ピークに対応する測定点におけるマススペクトルに重畳しているバックグラウンドとは相関性があると推定される。そのため、バックグラウンド除去手段は、目的ピークに対応する測定点におけるマススペクトルに重畳しているバックグラウンドスペクトルを的確に推定することができ、バックグラウンドの影響の少ないマススペクトルを求めることが可能となる。本発明に係る包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置では、好ましくは、前記バックグラウンド除去手段は、前記2次元クロマトグラムの2つの時間軸がなす平面上において、前記バックグラウンド領域中で且つ目的ピークに対応する測定点を含む直線上で該測定点を挟んだ両側にそれぞれバックグラウンド基準測定点を定め、該複数のバックグラウンド基準測定点のマススペクトルデータに基づいて前記目的ピークに対応する測定点におけるマススペクトルのバックグラウンドを推算する構成とするとよい。複数のバックグラウンド基準測定点のマススペクトルデータに基づいてピーク領域中の測定点におけるマススペクトルのバックグラウンドを推算する際には、例えば、質量電荷比毎に複数のバックグラウンド基準測定点における信号強度を内挿するとよい。最も簡単な内挿は直線補間であるが、多項式補間や重み付け補間を行ってもよい。さらに好ましくは、上記バックグラウンド基準測定点を定めるための直線は、2次元クロマトグラムの2つの時間軸に沿った2本の直線を含むものとし、その2本以上の直線上で目的ピークに対応する測定点を挟んだ両側にそれぞれ定められた4以上のバックグラウンド基準測定点のマススペクトルデータに基づいて目的ピークに対応する測定点におけるバックグラウンドを推算する構成とするとよい。この構成によれば、1次カラムの分離特性上で目的ピークに時間的に近い測定点と、2次カラムの分離特性上で目的ピークに時間的に近い測定点とがバックグラウンド基準測定点として選択され、しかも2つの時間軸に沿った方向で内挿が行われるので、目的ピークに対応する測定点におけるマススペクトルに重畳しているバックグラウンドスペクトルをより的確に推定することが可能となる。それによって、バックグラウンド除去の精度も向上する。本発明に係る包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置によれば、時間的に緩慢に変化する要因によるものだけでなく、比較的短時間の間に生じる外乱等に起因するバックグラウンドを的確に除去したマススペクトルを取得することができる。また、2次元クロマトグラムにおいて目的ピークに別のピークの一部が重なっている場合、その別のピークも部分的にバックグラウンド領域に入ることになるため、別のピークの重なり部分もバックグラウンドとして除去し、目的ピークにおけるマススペクトルの純度を高めることができる。それによって、マススペクトルを利用した成分同定などの精度が向上する。以下、本発明に係る包括的2次元クロマトグラフ質量分析用データ処理装置を用いた包括的2次元GC/MSの一実施例について、添付図面を参照して説明する。図1は本実施例による包括的2次元GC/MSの概略構成図である。分析部1は、1次カラム12、該1次カラム12に試料ガスを導入する試料気化室などを含む試料導入部11、1次カラム12から溶出する成分化合物を一定時間間隔で捕集し時間的に圧縮して送り出すモジュレータ13、1次カラム12とは異なる分離特性典型的には異なる極性を有する高速分離可能な2次カラム14、及び、2段階のカラム12、14で分離された各成分を検出する質量分析計15、を備える。質量分析計15は質量分析器として四重極マスフィルタを用いた四重極型質量分析計であり、指定された質量範囲を繰り返し走査するスキャン測定が可能である。分析部1に含まれる各部の動作は、制御処理部2に含まれる分析制御部200により制御される。制御処理部2に含まれるデータ処理部20は、質量分析計15で取得されたデータを処理し試料に含まれる各種成分を同定するつまり定性分析する機能を有する。より詳しくは、データ処理部20は、時間経過に伴って順次得られるマススペクトルデータを格納するデータ格納部21、該マススペクトルデータに基づいて2次元クロマトグラムを作成するクロマトグラム作成部22、その2次元クロマトグラム上でピークを検出するピーク検出部23、ピーク検出結果に基づいて2次元クロマトグラム上でピークが存在するピーク領域とバックグラウンド領域とをそれぞれ決定する領域抽出部24、マススペクトルに重畳しているバックグラウンドを除去するバックグラウンド除去部25、バックグラウンドが除去されたマススペクトルデータを保存する処理済みデータ格納部26、化合物毎にマススペクトルのピーク情報などが収録されている同定用データベース28、及び、バックグラウンドが除去されたマススペクトルデータを用い同定用データベース28を参照して成分同定を行う成分同定部27、などの機能ブロックを含む。また制御処理部2に含まれる主制御部201には、ユーザーインターフェイスとしての操作部3や表示部4が接続されている。この主制御部201、分析制御部200、データ処理部20は、パーソナルコンピュータをハードウエア資源とし、そのパーソナルコンピュータに予めインストールされた専用の制御処理ソフトウエアを実行することにより実現されるようにすることができる。まず、分析部1における分析動作、つまりデータ収集動作を概略的に説明する。分析部1において、試料導入部11は分析制御部200からの指示に応じて、1次カラム12に略一定流量で送られるキャリアガス中に分析対象である試料を導入する。通常、この試料には多数の成分化合物が含まれる。該試料に含まれる各種成分は、所定の昇温プログラムに従って温調された1次カラム12を通過する間に分離されて時間的にずれて溶出する。この時点では全ての成分が十分に分離されるとは限らず、1次カラム12での保持時間が近い成分は重なって混じった状態で溶出する。モジュレータ13は一定時間=モジュレーション期間t:一般に数秒~最大でも10秒程度中に1次カラム12から溶出してくる成分を全て捕集し、時間的に圧縮して2次カラム14に送り込む、という操作を連続的に繰り返す。したがって、1次カラム12からの溶出成分は漏れなく2次カラム14に送り込まれる。モジュレーション期間t毎に送り込まれた複数の試料成分は2次カラム14を通過する際に高い分解能で以て時間方向に分離されて溶出し、溶出した順に質量分析計15に導入される。質量分析計15においてスキャン測定が実行されると、スキャン測定のインターバル間隔毎に所定の質量範囲に亘るマススペクトルデータが得られる。2次カラム14から各成分が溶出している時間幅よりも短いインターバル間隔でスキャン測定を行うことによって、全ての溶出成分を漏れなく検出することができる。こうして質量分析計15で繰り返し取得されたマススペクトルデータはデータ格納部21に保存される。次に、本実施例の包括的2次元GC/MSの特徴であるバックグラウンド除去処理を含む定性処理動作について、図2~図5を参照して詳細に説明する。図2はこの定性処理動作のフローチャート、図3は2次元クロマトグラムの一例を示す図、図4及び図5はマススペクトルに対するバックグラウンド除去処理の説明図である。データ処理部20においてクロマトグラム作成部22は、上記のように収集されたマススペクトルデータに対し、質量電荷比に依らない全てのイオンの強度信号をマススペクトル毎に合算し、それを時間経過に従って並べることでトータルイオンクロマトグラムTICデータを求める。そして、このTICデータをモジュレーション期間t毎に区切り、図3aに示すように、モジュレーション期間t内のデータを縦軸T2軸方向に順に並べ、横軸T1軸方向にモジュレーション期間tの発生順を並べるようにし、信号強度を等高線又は色の相違で表すことにより図3bに示すような2次元クロマトグラムを作成するステップS1。この2次元クロマトグラムは主制御部201を介して表示部4の画面上に表示される。なお、2次元クロマトグラムは、横軸方向がモジュレーション期間t、縦軸方向がスキャン測定のインターバル間隔Tに相当する時間幅をそれぞれもつ矩形状の画素の集合である。画素毎に所定質量範囲のマススペクトルデータが存在し、2次元クロマトグラム上では各画素が1つのTICデータを示す。ピーク検出部23は、2次元クロマトグラムに対し2次元的にピーク検出を実行するステップS2。ピーク検出のアルゴリズムは特に限定されず、例えば通常の1次元的なクロマトグラム上でのピーク検出と同様にすることができる。例えば、時間軸に従って強度値をモニタしてゆき、強度値の上昇カーブの傾きが所定値以上になったときにピーク開始点とみなし、その傾きがゼロからさらに負になりその絶対値が所定値以下になったときにピーク終了点とみなすことによりピークを検出する。これを2つの時間軸それぞれで行うことにより、2次元的なピークの範囲やピークトップの位置を決めることができる。2次元クロマトグラム上でピークが検出されたならば、処理対象つまりは定性対象のピークを選択するステップS3。このピーク選択を自動的に行う場合には、例えば、ピークトップの強度の大きい順に所定個数の又は個数に依らず所定強度以上であるピークを順に選択すればよい。また、自動ではなくユーザーの指定による手動ピーク選択を行うようにすることもできる。その場合には、表示部4に表示した2次元クロマトグラム上で、検出されたピークを明示し、ユーザーが操作部3で定性したいピークをクリック操作等により指示するようにすればよい。処理対象のピークが決まったならば、領域抽出部24はまず2次元クロマトグラムにおいて、処理対象ピークのうちの1つのピークが存在する範囲を確定し、そのピーク領域の周囲にバックグラウンド領域を設定するステップS4。この例では、図4に示すように、2次元クロマトグラム上で斜線で示す画素がピーク領域であると確定した場合、それを取り囲む最も小さな矩形の額縁状にバックグラウンド領域を設定する。即ち、外側の矩形枠と内側の矩形枠との間の、両時間軸T1、T2に沿う方向の直線状の複数の画素がバックグラウンド領域となる。ただし、バックグラウンド領域の形状はこれに限るものではなく、ピーク領域を囲み必ずしも全周を囲んでいる必要はない且つピーク領域の外側に近接している領域であれば任意の形状とすることができる。上記ピーク領域に含まれる各画素におけるマススペクトルはバックグラウンド除去の対象とされるマススペクトルであり、一方、バックグラウンド領域に含まれる各画素におけるマススペクトルは、バックグラウンド除去に用いられるバックグラウンドスペクトルを算出するための元データとなるマススペクトルである。バックグラウンド除去部25は、上記ピーク領域中の任意の画素について、その画素のマススペクトルに重畳しているバックグラウンドを、該画素に対応したバックグラウンド領域中の複数の画素のマススペクトルから推算するステップS5。その推算方法の一例を図5により説明する。なお、図4、図5は説明の理解を容易にするために簡略化した図であり、多くの場合、ピーク領域にはもっと多数の画素が含まれる。いま、バックグラウンド領域の外枠で囲まれる矩形状の領域が、T1方向にm個、T2方向にn個の、m×n個の画素を含むものとする。この領域内における画素の位置をi、j、ただし、1≦i≦m、1≦j≦n、で表す。また、j、iに位置する画素に対するマススペクトルデータの中で、質量電荷比mz=kの信号強度をIkijで表す。いま、ピーク領域中の位置p、qに存在する任意の1個の画素に対応するマススペクトルのバックグラウンド除去を実行する場合を考える。qの位置でT1軸方向に延びる直線、つまり位置p、qに存在する画素を含み、T1軸方向に一直線状に並ぶ画素列を考え、その両端、つまりバックグラウンド領域に含まれる2つの画素を抽出する。図5の例では、位置1、qと位置m、qに存在する2つの画素である。位置1、q及びm、qに存在する2つの画素と、ピーク領域中の位置p、qにある画素とは、1次カラム12の分離特性上では時間的にかなり近い。また、位置1、qは位置p、qよりも時間的に前であり、位置m、qは位置p、qよりも時間的に後である。したがって、ピーク領域中の位置p、qにある画素に対するマススペクトルデータの中で、mz=kの信号強度Ikpqには、位置1、qと位置m、qに存在する画素に対するマススペクトルデータの中でmz=kの信号強度Ik1q、Ikmqを内挿して求まる信号強度がバックグラウンドとして重畳していると考えることができる。図5右部に示すように、バックグラウンドの影響が時間的に直線的に変化すると近似すれば、直線補間による内挿によって、1、qとm、qとの間に存在する任意の画素のバックグラウンドを計算できる。即ち、T1軸方向における時間的変化を考慮したときの位置p、qにある画素に対するバックグラウンドは、Xkpq=Ikmq-Ik1qp/mIk1qである。一方、同様に、pの位置でT2軸方向に延びる直線、つまり位置p、qに存在する画素を含み、T2軸方向に一直線状に並ぶ画素列を考え、その両端、つまりバックグラウンド領域に含まれる2つの画素を抽出する。図5の例では、位置p、1と位置p、nに存在する2つの画素である。位置p、1及びp、nに存在する2つの画素と、ピーク領域中の位置p、qにある画素とは、2次カラム14の分離特性上では時間的にかなり近い。また、位置p、1は位置p、qよりも時間的に前であり、位置p、nは位置p、qよりも時間的に後である。したがって、ピーク領域中の位置p、qにある画素に対するマススペクトルデータの中で、mz=kの信号強度Ikpqには、位置p、1と位置p、nに存在する画素に対するマススペクトルデータの中でmz=kの信号強度Ikp1、Ikpnを内挿して求まる信号強度がバックグラウンドとして重畳していると考えることができる。この場合も、直線補間による内挿によって、p、1とp、nとの間に存在する任意の画素のバックグラウンドを計算できるから、T2軸方向の時間的変化を考慮したときの位置p、qにある画素に対するバックグラウンドは、Ykpq=Ikpn-Ikp1q/nIkp1である。位置p、qにある画素にはT1軸方向とT2軸方向の影響が平均的に現れると考えることができるから、位置p、qにある画素におけるmz=kのバックグラウンドの強度は、Bkpq=XkpqYkpq/2であると推定する。マススペクトル中の全ての質量電荷比mzについて同様の推算を行うことにより、位置p、qにある画素におけるバックグラウンドスペクトルBpqを求めることができる。上述のようにしてバックグラウンドスペクトルBpqが得られたならば、位置p、qにある画素に対するマススペクトルIpqからバックグラウンドスペクトルBpqを差し引く、つまり質量電荷比毎に信号強度を差し引くことにより、バックグラウンドを除去したマススペクトルSpqを求め、そうして得られたマススペクトルデータを処理済みデータ格納部26に保存するステップS6。処理対象であるピークのピーク領域中で未処理の画素があればステップS7からS5へと戻り、未処理である別の画素に対して上述したステップS5、S6の処理を実行することで、バックグラウンドを除去したマススペクトルを求める。実際には、ピーク領域中の画素について位置i、jのi、jが小さい順に処理を進めてゆくことで、ピーク領域に含まれる全ての画素のマススペクトルに対するバックグラウンド除去を効率よく進めることができる。ただし、必ずしもピーク領域に含まれる全ての画素に対するマススペクトルのバックグラウンド除去が必要となるとは限らない。即ち、後述する成分同定のために2次元クロマトグラムに現れるピークトップ付近のマススペクトルのみを利用する場合には、そのピークトップ付近のマススペクトルのみのバックグラウンドを除去すればよい。一方、特定の質量電荷比に対する信号強度に基づいて2次元クロマトグラムを作成する必要がある場合には、少なくともその質量電荷比についてピーク領域中の全ての画素においてバックグラウンド除去を行う必要がある。そうして1つのピークのピーク領域中の全ての画素について処理が終了すると、ステップS3で選択された処理対象ピークの中で未処理のピークがあるか否かを判定しステップS8、未処理のピークがあればステップS4へと戻り、別のピークについて上述したステップS4~S7の処理を繰り返す。これによって、自動的に又は手動で選択された全てのピークについて、マススペクトルに重畳しているバックグラウンドが除去される。その後、成分同定部27は処理済みデータ格納部26からバックグラウンドが除去されたマススペクトルデータを読み出し、このマススペクトルを用いたデータベース検索により成分同定を行うステップS9。具体的には例えば、2次元クロマトグラムから検出された1つのピークについて、そのピーク領域から得られたマススペクトルの平均や積算を求め、この平均又は積算マススペクトルのピークパターンに類似するピークパターンを示す成分を同定用データベース28中で検索することにより、各ピークに対応した成分を同定する。上述したように、本実施例の包括的2次元GC/MSでは、2次元クロマトグラムに現れるピークに対応したマススペクトルに重畳しているバックグラウンドが、そのピークの出現時刻にきわめて近接した時刻において得られるバックグラウンドスペクトルを利用して除去される。特に、1次カラム12による分離の時間方向と2次カラム14による分離の時間方向との両方で目的ピークの出現時刻に近い、より詳しくはピークの出現時刻の前後のバックグラウンドスペクトルがバックグラウンド除去に反映されるため、時間的に緩慢に変化する要因によるものだけでなく、比較的短時間の間に生じる外乱等に起因するバックグラウンドが的確に除去される。それによって、成分同定の正確性が向上し、同定漏れや誤同定の発生確率を下げることができる。また、本実施例の包括的2次元GC/MSでは、2次元クロマトグラムにおいて処理対象であるピークと別のピークの一部とが重なっている場合、その別のピークが部分的にバックグラウンド領域に入ることになる。そのため、別のピークが重なった部分の多くはバックグラウンドとして除去される。ただし、こうした隣接ピークの重なりをバックグラウンドとみなして低減するためには、上述したように、T1軸方向、T2軸方向のそれぞれの直線上に位置する画素におけるマススペクトルを利用して或る画素のバックグラウンドスペクトルを推算するだけでなく、それ以外の画素におけるマススペクトルも利用することが望ましい。具体的には、図6aで示すように2次元クロマトグラム上で処理対象ピークと隣接ピークとの一部が重なっている場合には、図6bに示すように、T1T2軸に対して45°の角度を有して斜め方向に延伸する線上に位置する画素におけるマススペクトルも利用して、上述したようにバックグラウンドを推算するとよい。こうして推算したバックグラウンドも上記Bpqに反映させると、図6aに示したピーク重なり部分もバックグラウンドとみなして適切に除去されることになる。なお、上記実施例の説明では、バックグラウンド領域中の画素のマススペクトルを利用して直線補間により、目的ピークに対応した画素の位置におけるバックグラウンドを推算していたが、より正確にバックグラウンドを推定するために多項式補間や重み付き補間を行ってもよい。また、2次元クロマトグラム上でピークが孤立して存在している場合と、図6aに示したように隣接ピークが重なっている場合、或いは、或るピーク領域中に別のピークが完全に含まれている場合様々な要因によって大きく拡がったピークのテーリングに他のシャープなピークが重畳しているような場合とで、バックグラウンドの推算方法を適宜変えるようにしてもよい。また、バックグラウンド領域の設定の仕方についても同様に、ピークの状況に応じて適宜変えるようにしてもよい。また、上記実施例は本発明の一例にすぎず、上記各種の変形例以外にも、本発明の趣旨の範囲で適宜変形や修正、追加を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。