透過型電子顕微鏡の試料の保持に用いられるリング状平板形状を有する試料保持用メッシュにおいて、前記リング状平板の上面に設けられた溝により、前記リング状平板を第1および第2の半リング状平板形状に2分して形成された第1および第2のメッシュと、を有し前記第1および前記第2のメッシュからなる前記リング状平板形状の前記第1のメッシュ上に試料を搭載した状態で、前記第2のメッシュを前記溝から前記リング状平板の下面方向に折り曲げて、前記第1のメッシュの下面側に折りたたむことができる、ことを特徴とする試料保持用メッシュ。被測定体である試料を請求項1記載の試料保持用メッシュに載置し、試料の元素を分析する元素分析方法において、前記試料保持用メッシュを構成する前記第1のメッシュ上に載置された前記試料を、透過型電子顕微鏡により観測する工程と、前記試料保持用メッシュに前記試料を載置した状態で、前記透過型電子顕微鏡から前記試料保持用メッシュを取り外した後、前記試料が前記第1のメッシュに載置された状態で、前記第2のメッシュを前記溝から前記リング状平板の下面方向に折り曲げて、前記第1のメッシュの下面側に折りたたむ工程と、前記第2のメッシュが折りたたまれた前記試料保持用メッシュを3次元アトムプローブ測定装置に設置し、前記試料から離脱した元素の位置および飛行時間を測定する工程とを備えることを特徴とする元素分析方法。しかしながら、3DAP装置で使用する試料は、先端部が針状の構造体針状構造体であるため、上記のように、メッシュが予め切り欠け部を有する場合、試料の搬送時等に先端部が破損し易くなり、その取扱いが難しくなるという問題がある。また、メッシュが搭載される試料ホルダの窪み凹部形状を、切り欠け部の形状に応じた専用の形にすることが必要になり、汎用性の問題もある。本発明は上記のような問題点に鑑みてなされたものであり、試料が破損し難く且つ汎用性のあるメッシュ、及び元素分析方法を提供することを目的とする。上記の課題について、本発明者は、メッシュの一部を分離し、分離した部分と残った部分とが着脱可能な構成とすること等により、解決可能であることを見出し、本発明をなすに至った。すなわち、本発明は、その一観点によれば、本発明のメッシュは、透過型電子顕微鏡に用いられる試料保持用のメッシュであって、前記メッシュの一部が分離し、当該一部が、分離後に残った部分と脱着可能であることを特徴とする。また、本発明の他の観点によれば、本発明の試料保持用メッシュは、透過型電子顕微鏡の試料の保持に用いられるリング状平板形状を有する試料保持用メッシュにおいて、前記リング状平板の上面に設けられた溝により、前記リング状平板を第1および第2の半リング状平板形状に2分して形成された第1および第2のメッシュと、を有し前記第1および前記第2のメッシュからなる前記リング状平板形状の前記第1のメッシュ上に試料を搭載した状態で、前記第2のメッシュを前記溝から前記リング状平板の下面方向に折り曲げて、前記第1のメッシュの下面側に折りたたむことができる、ことを特徴とする。また、本発明の他の観点によれば、本発明の元素分析方法は、被測定体である試料を試料保持用のメッシュに載置し、試料の元素を分析する元素分析方法であって、前記メッシュに載置された前記試料を、透過型電子顕微鏡により観測する工程と、前記メッシュに前記試料を載置した状態で、前記透過型電子顕微鏡から前記試料を取り外した後、前記試料が前記メッシュに載置された状態で、前記試料が載置されていないメッシュの一部を分離する工程と、前記分離後に残った部分を3次元アトムプローブ測定装置に設置し、前記試料から離脱した元素の位置および飛行時間を測定する工程とを備えることを特徴とする。また、本発明の他の観点によれば、本発明の元素分析方法は、被測定体である試料を請求項1記載の試料保持用メッシュに載置し、試料の元素を分析する元素分析方法において、前記試料保持用メッシュを構成する前記第1のメッシュ上に載置された前記試料を、透過型電子顕微鏡により観測する工程と、前記試料保持用メッシュに前記試料を載置した状態で、前記透過型電子顕微鏡から前記試料保持用メッシュを取り外した後、前記試料が前記第1のメッシュに載置された状態で、前記第2のメッシュを前記溝から前記リング状平板の下面方向に折り曲げて、前記第1のメッシュの下面側に折りたたむ工程と、前記第2のメッシュが折りたたまれた前記試料保持用メッシュを3次元アトムプローブ測定装置に設置し、前記試料から離脱した元素の位置および飛行時間を測定する工程とを備えることを特徴とする。本発明によれば、上記のような構成を備えることにより、試料を試料保持用メッシュに載せた状態で搬送する際に、試料の先端部が破損し難くなるとともに、従来の試料ホルダをそのまま使用できるというメリットを有する。また、測定中、試料の先端を崩さずに、精度の高い元素分析を行なうことが可能となる以下に、本発明の実施形態に係る詳細を、図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の実施例1に係る試料保持用メッシュである。図に示すように、試料保持用メッシュ13は中央で分離しており、その分離したメッシュが分離する前の状態を示した斜視図が図1aである。TEMによる観察は、この状態で行なわれる。なお、TEMで観察する場合は、このように、試料11が載った状態の試料保持用メッシュ13が、図8に示すようなTEM用の試料ホルダに搭載されて、観察が行なわれる。図1bは、試料保持用メッシュ13の一部第1のメッシュ13-1を、残った部分第2のメッシュ13-2から分離した図である。図に示すように、試料が搭載されていない第1のメッシュ13-1は、残った第2のメッシュ13-2から完全に分離する。但し、前記第1のメッシュ13-1と第2のメッシュ13-2とは、図1aに示すように、分離した後に、再度、組み合わせることが可能である。そのような機能、すなわち着脱を可能とした機能を、例えば、図2に示す形態により実現する。図2は、試料保持用メッシュ13について、その第1のメッシュ13-1と残った第2のメッシュ13-2とを着脱可能とするための形態である。図2に示すように、試料保持用メッシュ13を分離した際のそれぞれの先端部に、複数の切断ライン21を付ける。そして、図のように、切断ラインを付けた相手側の先端同士を組み合わせる。このとき、切断ライン21により分離された後の先端を、図中の拡大図のように、それぞれ交互に異なる方向矢印方向にずらしておくと、着脱がスムーズに出来る。なお、本図では、図示の便宜上、各先端について2本の切断ライン21を設けた例を示したが、実際には、3~5本の切断ライン21を設けることが望ましい。また、第1のメッシュ13-1と第2のメッシュ13-2のいずれか一方の先端にのみ切断ライン21を設けて、相手側の先端を挟み込むようにしても良い。続いて、次の実施例について、図3を参照しながら説明する。図3は、本発明の実施例2に係る試料保持用メッシュを示す概略図である。本実施例では、図3bに示すように、試料保持用メッシュ14の一部である第1のメッシュ14-1が、試料が搭載されている第2のメッシュ14-2から分離せず、矢印方向に折り曲げ可能になっている。具体的には、試料保持用メッシュ14の中央に、深い溝22を設けた構造を有している。溝22を形成する際には、例えば、高精度の切断ができるFIBFocusedIonBeam装置を使用する。-電子顕微鏡-次に、試料保持用メッシュを搭載する電子顕微鏡について説明する。図4は、本発明の実施例1および実施例2に係る試料保持用メッシュを搭載する透過型電子顕微鏡を示す概略断面図である。図に示すように、透過型電子顕微鏡30の最上部には、電子ビーム電子線を発する電子銃31が配置され、電子ビームの進行方向に、電子ビームを段階的に加速する加速管32、電子ビームを集光するコンデンサレンズ33、試料をセットする試料室34等が設けられている。本発明の試料保持用メッシュ13或いは試料保持用メッシュ14は、試料ホルダ15に搭載されて、図のように、この試料室34内に設置される。試料ホルダ15は、図4の中央付近に示したホルダレバー29の先端に取り付けられ、試料室34内へ挿入、或いは、試料室34内から引き出される。この試料室34を拡大した概略図が図5である。図5に示されるように、試料室34は、対物レンズ35、36に挟まれた空間であり、サイド図中の矢印方向から試料ホルダ15が挿入される。そして、透過型電子顕微鏡30により測定を行なう際には、この試料保持用メッシュ13或いは試料保持用メッシュ14の中央付近に試料11が載せられ、図のように、電子線23が照射される。図4に戻り、試料室34を透過した電子ビームの進行方向には、中間レンズ37、投影レンズ38、試料像の結像面としての蛍光板39が設けられている。ここで述べた透過型電子顕微鏡30では、先ず、電子ビームは、電子銃31を出射した後に加速管32により段階的に加速される。そして、コンデンスレンズ33、一方の対物レンズ35により集光され、試料室34の試料に照射される。この電子ビームは試料を通過後、他方の対物レンズ36、中間レンズ37、投影レンズ38によって集光を繰り返し、蛍光板39に結像し、試料表面の拡大像が表示される。-元素分析方法-本実施例の試料保持用メッシュ13或いは試料保持用メッシュ14を使用する元素分析は次のように行なう。最初に、試料11を試料保持用メッシュ13或いは試料保持用メッシュ14に載せ、試料11を試料保持用メッシュ13或いは試料保持用メッシュ14に固定した後、試料ホルダ15に設置する。次に、試料ホルダ15を、透過型電子顕微鏡30に挿入設置した後、電子線23を試料11に照射して、透過型電子顕微鏡30により試料11の表面を観察する。次に、試料保持用メッシュ13或いは試料保持用メッシュ14に試料11が載った状態で、透過型電子顕微鏡30から試料11を取り外す。次に、試料保持用メッシュ13を試料ホルダ15から取り外す。その後、第1のメッシュ13-1のみを分離する。このとき、実施例2の試料保持用メッシュ14を使用する場合には、試料11が載っていない第1のメッシュ14-1を、前記試料11が載っていない側に折りたたむ。最後に、分離後に残った第2のメッシュ13-2に試料11が載った状態のもの、を3次元アトムプローブ測定装置に設置し、試料11から離脱した元素の位置および飛行時間を測定する。実施例2の場合には、第1のメッシュ14-1が第2のメッシュ14-2に折り畳まれたものに試料11が載った状態のものを、3次元アトムプローブ測定装置に設置し、試料11から離脱した元素の位置および飛行時間を測定する。このように、本実施例では、メッシュの一部を分離し、分離した部分と残った部分とを着脱可能な構成にすること等により、試料を試料保持用メッシュに載せた状態で搬送する際に、試料の先端部が破損し難くするとともに、従来の試料ホルダをそのまま使用することが可能となる。