光源と、光源からの光線を反射率測定点に集光する集光光学装置と、前記光源から出射された光線を前記集光光学装置の光軸に垂直な方向の幅より狭い平行光線にする平行光化光学装置と、前記反射率測定点に集光するように前記出射光線の光路を変更する光路変更手段と、前記光源からの前記出射光線の放射輝度から前記反射率測定点への入射光線の放射輝度を計算する手段と、前記光路変更手段と前記集光光学装置間に設置され前記通過光線を直進させ前記反射率測定点からの反射光線を反射する光路変更光学装置と、前記反射光線の放射輝度を光電変換して光検出信号を出力する光検出器と、前記出力光検出信号から前記測定点反射光線の放射輝度を計算する手段と、前記入射光線と反射光線の放射輝度から双方向反射率分布関数を計算する手段とを備えたことを特徴とする双方向反射率分布関数取得装置。前記光路変更光学装置がビームスプリッタであることを特徴とする請求項1に記載の双方向反射率分布関数取得装置。前記平行光化光学装置が、レーザ装置であることを特徴とする請求項1または2に記載の双方向反射率分布関数取得装置。請求項1~3の何れかに記載の双方向反射率分布関数取得装置を制御することを特徴とする制御プログラムである。本発明は、前述の事情を鑑みてなされたもので、任意の照明環境下における所望の方向からの物体を、画像化するために必要な物体表面の反射特性を計測する装置であって、測定回数が少なく、光源によって反射光線を遮蔽することなく、双方向反射率分布関数を取得することを可能とする装置及びその制御プログラムを提供することを目的とする。本発明は、上記課題を解決するためのものであり、本発明の請求項1に係る発明は、光源と、光源からの光線を反射率反射率測定点に集光する集光光学装置と、前記光源から出射された光線を前記集光光学装置の光軸に垂直な方向の幅より狭い平行光線にする平行光化光学装置と、前記反射率反射率測定点に集光するように前記出射光線の光路を変更する光路変更手段と、前記光源からの前記出射光線の放射輝度から前記反射率反射率測定点への入射光線の放射輝度を計算する手段と、前記光路変更手段と前記集光光学装置間に設置され前記通過光線を直進させ前記反射率反射率測定点からの反射光線を反射する光路変更光学装置と、前記反射光線の放射輝度を光電変換して光検出信号を出力する光検出器と、前記出力光検出信号から前記反射率測定点反射光線の放射輝度を計算する手段と、前記入射光線と反射光線の放射輝度から双方向反射率分布関数を計算する手段とを備えたことを特徴とする双方向反射率分布関数取得装置である。本発明の請求項2に係る発明は、前記光路変更光学装置がビームスプリッタであることを特徴とする請求項1に記載の双方向反射率分布関数取得装置である。本発明の請求項3に係る発明は、前記平行光化光学装置が、レーザ装置であることを特徴とする請求項1または2に記載の双方向反射率分布関数取得装置である。本発明の請求項4に係る発明は、請求項1~3の何れかに記載の双方向反射率分布関数取得装置を制御することを特徴とする制御プログラムである。本発明によれば、任意の照明環境下における所望の方向からの物体を画像化するために必要な物体表面の反射特性を、光源による反射光線の遮蔽をなくし、すべての入射光線と反射光線の組み合わせにおける反射率、すなわち双方向反射率分布関数を取得することができる。<装置構成>以下、本発明の一実施形態による双方向反射率分布関数を取得するための反射率測定装置を、図面を参照して説明する。図1は反射率測定装置の構成を示すブロック図であり、説明を簡単にするために2次元で記述する。図1において、符号M1は反射率測定対象物の表面である。符号M2は反射率測定対象M1表面における微小領域であり、本装置が反射率を測定する点である。符号L3は集光光学装置であり、集光光学装置L3の上方から垂直に入射する平行光を反射率測定点M2に集光する。符号L1のレーザダイオードは集光光学装置L3の光軸と直交する2次元平面上を移動可能であり、集光光学装置L3方向に集光光学装置L3の光軸に平行、かつ集光光学装置L3の光軸に垂直な方向の幅より狭い光線を出射する。レーザダイオードは平行光線を出射するために光源、および平行光化用光学装置で構成されている。光路変更手段であるレーザダイオードL1の移動、および移動平面については後で詳しく述べる。符号L2のビームスプリッタL2はレーザダイオードL1からの光線を直進させ、反射率測定点M2で反射し、集光光学装置L3を透過して平行光化された光線を撮像素子L4方向に反射する。撮像素子L4は2次元配列の光検出器で構成され、ビームスプリッタL2からの光線の放射輝度を測定する。符号C1はレーザダイオードL1の位置制御、測定した放射輝度の保持や反射率の計算を行うコンピュータである。符号C2は、ユーザからの入力を受け付けるキーボードやマウス等の入力部である。符号C4は、処理部である符号C3における処理内容や結果等を表示するディスプレイ装置から構成されている表示部である。処理部C3は、C31、C32、C33から成り、それぞれCPU、メモリ、データ記憶部である。<照明>反射率測定点M2の照明について図2を用いて説明する。図1同様、説明を簡単にするために2次元で表す。符号P1は集光光学装置L3の光軸に垂直な2次元XYi平面であり、ビームスプリッタL2より上方にある。ユーザは平面P1上の位置を指定し、レーザダイオードL1が指定位置に移動される。符号L11は平面P1上の位置xik、yikに移動されたレーザダイオードL1である。xik、yikはユーザがk番目に指定した位置である。符号R11はレーザダイオードL11の出射光であり、光路は集光光学装置L3の光軸に平行である。符号R21は集光光学装置L3を透過した光線R11である。符号L12はxik1、yik1に移動されたレーザダイオードL1であり、符号R12とR22はそれぞれ光線R11とR12と同様であるが、レーザダイオードL12から出射されている。符号M3は反射率測定点M2の法線を表す。レーザダイオードL11から光線R11が出射し、ビームスプリッタL2と集光光学装置L3を透過し、光線R21として反射率測定点M2に入射する。つまり、レンズの光軸と平行かつ位置xik、yikを通過する光線R11が集光光学装置L3の透過後に、法線M3を基準とした光線の入射方向である天頂角と方位角がθik、φikの光線R21となる。光線R21の放射輝度liθik、φikは以下の数1のように表される。ただし、lはレーザダイオードL1が出射する光線の放射輝度、cL2ixik、yik、cL3xik、yikは、レンズの光軸と平行かつ位置xik、yikを通過する光路においてビームスプリッタL2と集光光学装置L3による放射輝度の減衰係数をそれぞれ表す。<測定>反射率測定点M2が光線R21で照明されたときの反射光線の測定について図3を参照して説明する。図2同様、説明を簡単にするために2次元で表す。符号R31は反射率測定点M2の反射光線、符号R41は集光光学装置L3を透過し、ビームスプリッタL2に入射する光線R31、符号R51はビームスプリッタによって反射された光線R41であり、撮像素子L4に入射する。符号R32も光線R31と同様に反射率測定点M2の反射光線であり、符号R42とR52はそれぞれ光線R41とR51と同様であるが、元になる反射光線が光線R32である。符号P2は集光光学装置L3の光軸に垂直な2次元XYo平面であり、ビームスプリッタL2と集光光学装置L3の間にある。平面P2の座標は集光光学装置L3を透過した光線の位置を表す。放射輝度liθik、φikの光線R21で照明された反射率測定点M2の反射光線R31は撮像素子L4のm番目の光検出器で測定される。放射輝度lokθom、φomである反射光線R31は集光光学装置L3を透過し、平面P2上の位置xom、yomを透過する。その光線R41の放射輝度lok’xom、yomは以下の数2で表される。光線R41はビームスプリッタL2によって反射され、光線R51となり、m番目の光検出器の位置xm、ymで放射輝度が測定される。光線R51の放射輝度lok’’xm、ymは以下の数3で表される。ただし、cL2oxom、yomはレンズの光軸と平行かつ位置xom、yomを通過する光路においてビームスプリッタL2による放射輝度の減衰係数を表す。光線R52の放射輝度は光線R51と同様に測定される。光線R52の放射輝度がm1番目の光検出器で測定されるとき、放射輝度lok’’xm1、ym1は数4で表される。本測定では、レーザダイオードL11に遮蔽されることなく、1度の撮影で集光光学装置L3を透過するすべての反射光線の放射輝度を測定することができる。撮像素子L4で集光光学装置L3を透過するすべての反射光線を測定することで、測定された放射輝度関数lok’’x、y、数2と数3から反射光線の放射輝度分布lokθo、φoを計算することができる。したがって、放射輝度分布lokθo、φoと数1より入射光線と反射光線の方向の組み合わせがθik、φik、θo、φoである反射率分布関数fkθo、φoは以下の数5で求められる。ただし、dωは入射光線に対する立体角である。双方向反射率分布関数fはすべての入射光線と反射光線の組み合わせにおける反射率を表したものである。双方向反射率分布関数fを取得するために、まず図2のようにレーザダイオードL1をxik1、yik1に移動する符号L12。光線R12は集光光学装置L3を透過し、方向θik1、φik1から反射率測定点M2に入射する符号L22。数6から、本装置ではレーザダイオードL1を移動することで照明方向を変えることができる。このときの反射光線の放射輝度を測定することで反射率分布関数fk1θo、φoを得る。順次、移動と測定を繰り返し、すべての入射光線方向に対する反射率分布関数を取得することで双方向反射率分布関数fθi、φi、θo、φoは数7から取得することができる。なお、焦点が反射率測定点M2であれば、集光光学装置は異なる光学特性を持った集光光学装置や集光ミラー等の光学部材でもよい。その場合、焦点への入射光線の光路上に光線が出射されるよう光源や出射光線の平行光化光学装置を設置すればよい。図1における処理部の機能を実現するためのプログラムをコンピュータが読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより双方向反射率分布関数の取得を行ってもよい。なお、ここでいうコンピュータシステムとは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD-ROM等の可搬媒体、ハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらにコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリRAMのように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。また、前記プログラムは、このプログラムを記憶装置等から、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他の記憶装置等に伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する伝送媒体は、インターネット等のネットワーク通信網や電話回線等の通信回線通信線のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。また、前記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。さらに、前述した機能を記録媒体にすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル差分プログラムであってもよい。