"被写体からの光束を受光して、画素データを出力する複数の画素が配列された撮像素子と、前記複数の画素のうちの欠陥画素から出力された欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す補正手段と、前記撮像素子の露光時間と撮像感度とを設定する設定手段と、前記撮像素子の露光時間と撮像感度とを含む撮影条件の組合せを複数のグループに分け、前記複数のグループのそれぞれと、複数の前記欠陥画素データのうち前記画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録された記録手段と、前記設定手段により設定された前記露光時間と前記撮像感度とが前記複数のグループのいずれに属するかを判定する第1判定手段と、を備え、前記補正手段は、前記第1判定手段により判定された前記グループに関連付けされて前記記録手段に記録されている前記補正対象個数の前記欠陥画素データに対して前記画素欠陥補正処理を施すことを特徴とする撮像装置。請求項1に記載の撮像装置において、前記補正対象個数が、前記補正手段によって1回の前記画素欠陥補正処理で補正が施される前記欠陥画素データの上限個数を上回るか否かを判定する第2判定手段をさらに備え、前記第2判定手段により前記補正対象個数が前記上限個数を上回ると判定された場合には、前記補正手段は、出力レベルが最大の前記欠陥画素データから出力レベルが低くなる順序で前記上限個数に含まれる前記欠陥画素データに対して前記画素欠陥補正処理を施すことを特徴とする撮像装置。請求項2に記載の撮像装置において、前記第2判定手段により前記補正対象個数が前記上限個数を上回ると判定された場合には、前記補正手段は、第1回目の処理において、前記上限個数の前記欠陥画素データに対して前記画素欠陥補正を施し、第2回目以降の処理において、前記上限個数を上回った個数の前記欠陥画素データに対して前記画素欠陥補正を施すことを特徴とする撮像装置。請求項1乃至3の何れか一項に記載の撮像装置において、前記撮像素子の近傍の温度を計測する温度計測手段をさらに備え、前記記録手段には、前記撮影条件と前記撮像素子の近傍の温度との組合わせを前記複数のグループに分けて、前記複数のグループのそれぞれと前記補正対象個数とが関連付けされて記録され、前記第1判定手段は、前記設定手段により設定された前記露光時間および前記撮像感度と、前記温度計測手段により計測された前記温度とが属する前記グループを判定することを特徴とする撮像装置。請求項1乃至4の何れか一項に記載の撮像装置において、前記記録手段には、さらに、前記欠陥画素の位置に関する情報が記録されることを特徴とする撮像装置。被写体からの光束を受光して、画素データを出力する複数の画素が配列された撮像素子と、前記複数の画素のうちの欠陥画素から出力された欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す補正手段と、前記撮像素子の露光時間と撮像感度とを設定する設定手段と、前記設定手段により設定された前記露光時間と撮像感度とに基づいて、前記露光時間と撮像感度とを含む撮影条件の組合せを複数のグループに分け、前記複数のグループのそれぞれと、複数の前記欠陥画素データのうち前記画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録されたテーブルからいずれのグループに属するかを判定する判定手段と、を備え、前記補正手段は、前記判定手段により判定された前記グループに関連付けされて記録されている前記補正対象個数の前記欠陥画素データに対して前記画素欠陥補正処理を施すことを特徴とする撮像装置。しかしながら、登録時の撮影条件と異なる撮影条件で撮影された画像に対して登録された画素欠陥の個数分だけ補正を施す場合、撮影条件に応じて画質が異なるという問題がある。請求項1に記載の発明による撮像装置は、被写体からの光束を受光して、画素データを出力する複数の画素が配列された撮像素子と、複数の画素のうちの欠陥画素から出力された欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す補正手段と、撮像素子の露光時間と撮像感度とを設定する設定手段と、露光時間と撮像感度とを含む複数の撮影条件の組合せを複数のグループに分け、複数のグループのそれぞれと、複数の欠陥画素データのうち画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録された記録手段と、設定手段により設定された前記撮像素子の露光時間と撮像感度とが複数のグループのいずれに属するかを判定する第1判定手段と、を備え、補正手段は、第1判定手段により判定されたグループに関連付けされて記録手段に記録されている補正対象個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施すことを特徴とする。請求項6に記載の発明による撮像装置は、被写体からの光束を受光して、画素データを出力する複数の画素が配列された撮像素子と、複数の画素のうちの欠陥画素から出力された欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す補正手段と、撮像素子の露光時間と撮像感度とを設定する設定手段と、設定手段により設定された露光時間と撮像感度とに基づいて、露光時間と撮像感度とを含む撮影条件の組合せを複数のグループに分け、複数のグループのそれぞれと、複数の欠陥画素データのうち画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録されたテーブルからいずれのグループに属するかを判定する判定手段と、を備え、補正手段は、判定手段により判定されたグループに関連付けされて記録されている補正対象個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施すことを特徴とする。本発明によれば、設定された撮像素子の露光時間と撮像感度とが属するグループに関連付けされて記録された補正対象個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施すことができる。-第1の実施の形態-図面を参照して、本発明による第1の実施の形態におけるカメラを説明する。図1はデジタルカメラ1の要部構成を示す図である。デジタルカメラ1は、カメラボディ100と、交換レンズ200とにより構成され、交換レンズ200が図示しないマウント部を介してカメラボディ100に装着される。交換レンズ200には、撮影レンズ201、絞り202等が設けられている。撮影レンズ201は、ズーミングレンズやフォーカシングレンズ等の複数の光学レンズ群から構成され、被写体からの光束をその焦点面近傍に結像する。なお、図1では撮影レンズ201を説明の都合上1枚のレンズで代表して示している。絞り202は、光量調整のために撮影レンズ201の光軸中心に開口径が可変な開口を形成する。カメラボディ100には、撮像素子101、制御回路102、液晶表示素子駆動回路103、液晶表示素子104、接眼レンズ105、操作部106、メモリカード107等が設けられている。撮像素子101には、たとえばCCDやCMOSにより構成される光電変換素子画素が二次元状に配置されている。撮像素子101は、後述する制御回路102の制御に応じて駆動して交換レンズ200を通過した光束により形成された被写体像を撮像し、撮像して得たアナログの画素データを出力する。撮像素子101は、たとえば、ISO100相当~ISO1600相当の範囲内において撮像感度露光感度を所定のステップで変更可能、すなわち撮像素子101からの画素信号の信号出力の動作状態が変更可能に構成されている。撮像感度とは、撮像素子101に蓄積される電荷の検出感度、もしくは不図示の増幅回路の増幅利得を変化させる被制御量のことをいう。制御回路102は、図示しないCPU、ROM、RAMなどを有し、デジタルカメラ1の各構成要素を制御したり、各種のデータ処理を実行する演算回路である。また、制御回路102は、撮像素子101から出力された画素データに基づいて、焦点検出演算と交換レンズ200の焦点調節とを行うとともに、画素データを用いて被写体の輝度値を演算し、適正な露光量が得られるように撮影条件、すなわちシャッタ秒時露光時間、絞りの値、撮像感度等を演算する。図2に示すように、制御回路102は、撮像制御部102aと、第1画像処理部102bと、第2画像処理部102cと、欠陥補正部102dと、第3画像処理部102eと、記録部102fと、検出部102gと、補正個数制御部102hとを機能的に備える。撮像制御部102aは、撮像素子101の駆動制御および撮像素子101からの画素データの読み出し、すなわち撮像素子101の電荷蓄積量を制御する。第1画像処理部102bは、撮像素子101から出力されたアナログの画素データに対してデジタル変換等の処理を施して第1画像データを生成する。この場合、第1画像データの画素数は撮像素子101の画素数と同一となる。第2画像処理部102cは、後述する動画撮影モードやライブビューモードが設定されている場合に、撮像素子101から出力された画素データに対して、たとえばデジタルフィルタ等を用いた解像度変換処理を施して、画像サイズを変更縮小または拡大して第2画像データを生成する。したがって、第2画像データの画素数は撮像素子101の画素数とは異なるものとなる。欠陥補正部102dは、後述する静止画撮影モードが設定されている場合には、撮像素子101に含まれる複数の画素のうち欠陥画素から出力された、第1画像データ上の画素データ以後、欠陥画素データと呼ぶに対して補正処理を施す。また、動画撮影モードまたはライブビューモードが設定され第2画像処理部102cにより解像度変換処理が施されている場合には、欠陥補正部102dは、第2画像処理部102cによる解像度変換処理により欠陥画素に起因して発生した、第2画像データ上の欠陥データに対して画素欠陥補正処理を施す。第3画像処理部102eは、第1画像データまたは第2画像データに対して、ホワイトバランス処理、ガンマ補正処理、色補間処理、輪郭強調、ビネット補正などの画像処理を施した後、画像ファイルを生成してメモリカード107に記録させる。記録部102fには、欠陥補正部102dにより補正が施される欠陥画素の個数を示す補正対象個数と撮影条件とが関連付けされたデータが予め記録されている。検出部102gは、欠陥画素に起因して第1画像データ上に発生する欠陥画素データの位置を検出する。補正個数制御部192は、記録部102fに記録されたデータに基づいて、欠陥補正部102dが欠陥画素補正処理を施す欠陥画素データの個数を決定する。なお、欠陥補正部102dと検出部102gと補正個数制御部102hとの詳細については説明を後述する。図1に示す液晶表示素子駆動回路103は、電気的なビューファインダとして機能する。液晶表示素子駆動回路103は、撮像素子101から読み出された画素信号を用いて制御回路102により生成された画像データに対応するライブビュー画像を液晶表示素子104に表示させる。その結果、ユーザは接眼レンズ105を介してライブビュー画像を観察することができる。メモリカード107は、制御回路102により生成された画像ファイルを記録する、不揮発性の記録媒体である。操作部106は、ユーザの操作を受け付けるスイッチである。操作部106には、電源スイッチ、レリーズスイッチ、その他の設定メニューの表示切換スイッチ、設定メニュー決定ボタン、撮影モードを選択するモード選択ボタンなどが含まれる。撮影モードとしては、静止画撮影モード、動画撮影モード、ライブビュー画像を表示するライブビューモード等が含まれる。以下の説明は、欠陥画素データに対する補正処理に関連する処理を中心に行う。補正処理に関連する処理として、撮影条件と画素欠陥補正処理を施す補正対象個数とを対応付けたデータの作成処理と、欠陥画素データを補正する補正処理とに分けて説明する。1データ作成処理デジタルカメラ1の生産調整時に、撮影条件を異ならせた複数種類の条件下で静止画を撮影することにより欠陥画素の個数を検出して、検出した欠陥画素の個数と撮影条件との対応関係を記録部102fに記録する。この場合、デジタルカメラ1は、静止画モードに設定された状態で、たとえば露光時間、すなわちシャッタ秒時と撮像素子101の撮像感度ISO感度とを変化させて、均一面を有する被写体を撮影する。このときに撮像素子101を構成する各画素から出力される画素信号の出力レベルを計測することにより欠陥画素が特定される。図3を参照して、欠陥画素の特定について説明する。図3aは、撮像素子101を構成する画素150の配置を示す。なお、図3aにおいては、図の水平方向すなわち画素行方向をx軸、垂直方向すなわち画素列方向をy軸とする。図3bは、第n番目の画素行y=ynに配列された画素150からの画素データの出力レベルを模式的に例示する図である。各画素150からの画素データには、基準となる出力レベル基準出力レベルよりも出力レベルが高いものと、低いものとが含まれる。図3bに示す例では、x座標がx1、x4、x5に配置された画素150からの画素データの出力レベルは基準出力レベルよりも高いため、画像上では輝点として現れる。また、x座標がx2、x3に配置された画素150からの画素データの出力レベルは基準出力レベルよりも低い場合には、画像上では黒点として現れる。本実施の形態では、各画素データのうち、基準出力レベルに対して所定の範囲内の出力レベルを有する画素データは正常な画素から出力され、基準出力レベルに対して所定の範囲外の出力レベルを有する画素データは欠陥画素から出力された欠陥画素データとする。図3bに示す例では、図の破線で示す範囲Reに含まれない画素データ、すなわちx座標がx2、x4、x5に位置する画素150からの画素データが欠陥画素データである。換言すると、x座標がx2、x4、x5に位置する画素150が欠陥画素として特定される。上記の処理を撮像素子101の全ての画素行について行い、ある露光時間および撮像感度の場合での、特定された全ての欠陥画素の位置座標と個数が決定される。特定された全ての欠陥画素の座標は欠陥画素位置情報として記録部102fに記録される。図3bの例では、座標x2,ynとx4,ynとx5,ynとが欠陥画素位置情報として記録部102fに記録される。図4に露光時間および撮像感度と、欠陥画素の個数との対応関係を示す。図4に示すように、露光時間が長くなる、すなわちシャッタ秒時が低速になる程、欠陥画素の個数が増加する。また、撮像感度ISO感度が高感度になる程、欠陥画素の個数が増加する。図4に示す露光時間および撮像感度と、欠陥画素の個数との関係により、欠陥補正部102dにより画素欠陥補正が施される欠陥画素データ、すなわち補正対象データの個数である補正対象個数が決定される。たとえばシャッタ秒時が16[s]よりも低速、すなわち露光時間が長い場合には、撮像感度に関わらず補正対象個数はN個NはN≧0を満たす整数に設定される。シャッタ秒時が16[s]よりも高速、すなわち露光時間が短い場合には、撮像感度が高いときには補正対象個数はM個MはM≧0を満たす整数、撮像感度が低いときには補正対象個数はL個LはL≧0を満たす整数に決定される。すなわち、露光時間と撮像感度とが図4の領域R1に含まれる場合には補正対象個数はN個、領域R2に含まれる場合には補正対象個数はM個、領域R3に含まれる場合には補正対象個数はL個となる。なお、本実施の形態においては、N>M>Lの関係を有するものとする。上記の関係に基づいて、露光時間と撮像感度とを含む複数の撮影条件の組合せを複数のグループに分け、それぞれのグループと補正対象個数とが関連付けされて補正対象個数情報として記録部102fに記録される。なお、補正対象個数情報はテーブル形式によって記録部102fに記録されている。図4の領域R1を満たす撮影条件の組合せ、すなわち撮影条件として露光時間が長い場合を第1グループとし、第1グループと補正対象個数であるN個とが関連付けされて記録部102fに記録される。領域R2を満たす撮影条件の組合せ、すなわち撮影条件として露光時間が短く撮像感度が高感度の場合を第2グループとし、第2グループと補正対象個数であるM個とが関連付けされて記録部102fに記録される。さらに、領域R3を満たす撮影条件の組合せ、すなわち撮影条件として露光時間が短く撮像感度が低感度の場合を第3グループとし、第3グループと補正対象個数であるL個とが関連付けされて記録部102fに記録される。2欠陥画素データの補正処理検出部102gは、記録部102fに記録された欠陥画素位置情報に基づいて、第1画像データ上で欠陥画素データの位置座標を検出する。そして、検出部102gは、欠陥画素データの出力レベルが高い順序、すなわち出力レベルが最大のものから降順で欠陥画素データをソートする。次に、補正個数制御部102hは、撮影条件と、記録部102fに記録された補正対象個数情報とを用いて、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数を決定する。この場合、補正個数制御部102hは、撮影条件、すなわち算出された露光時間と撮像感度とが、第1~第3グループに分けられたいずれの撮影条件に該当するかを判定する。すなわち、補正個数制御部102hは、露光時間と撮像感度とが図4に示す領域R1~R3のいずれに含まれるかを判定する。撮影条件が第1グループに該当する場合露光時間と撮像感度とが領域R1に含まれる場合、すなわちシャッタ秒時が長秒時の場合には、補正個数制御部102hは、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数をN個に決定する。撮影条件が第2グループに該当する場合露光時間と撮像感度とが領域R2に含まれる場合、すなわちシャッタ秒時が短秒時かつ撮像感度が高感度の場合には、補正個数制御部102hは、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数をM個に決定する。撮影条件が第3グループに該当する場合露光時間と撮像感度とが領域R3に含まれる場合、すなわちシャッタ秒時が短秒時かつ撮像感度が低感度の場合には、補正個数制御部102hは、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数をL個に決定する。補正個数制御部102hにより個数が決定されると、欠陥補正部102dは、検出部102gにより検出された欠陥画素データのうち、補正個数制御部102hにより決定された個数分の欠陥画素データに対して画素欠陥補正を施す。この場合、欠陥補正部102dは、検出部102gによりソートされた順序で、補正個数制御部102hにより決定された個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す。上述したように、検出部102gは、出力レベルが最大の欠陥画素データから降順で欠陥画素データをソートしている。したがって、欠陥補正部102dは、欠陥画素データの出力レベルが高い順序、換言すると欠陥画素により影響が顕著なものから順次、画素欠陥補正処理を施す。なお、欠陥補正部102dは、画素欠陥補正を施す際に、公知のメディアンフィルタ等を用いて、欠陥画素データを周囲の画素データによって置換する。以上で説明した第1の実施の形態のデジタルカメラ1によれば、以下の作用効果が得られる。撮像素子101は、被写体からの光束を受光して、画素データをそれぞれ出力する複数の画素150が配列されている。欠陥補正部102dは、複数の画素150のうちの欠陥画素から出力された欠陥画素データのそれぞれに対して画素欠陥補正処理を施す。制御回路102は、撮像素子101の露光時間と撮像感度とを設定する。記録部102fには、撮像素子101の露光時間と撮像感度とを含む複数の撮影条件の組合せを第1~第3グループに分け、第1~第3グループのそれぞれと、複数の欠陥画素データのうち画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録されている。補正個数制御部102hは、制御回路102により設定された撮像素子101の露光時間と撮像感度とが第1~第3グループのいずれに属するかを判定する。そして、欠陥補正部102dは、補正個数制御部102hにより判定されたグループに関連付けされて記録部102fに記録されている補正対象個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施すようにした。露光時間、撮像感度が異なる場合には画素欠陥データが発生する個数が異なるので、ある1つの撮影条件に補正対象個数が決定されている場合には、全ての画素欠陥データが補正できない、もしくは補正対象個数が過剰となる。本実施の形態では、複数の撮影条件の組合せを第1~第3グループに分けて、それぞれのグループに補正対象個数を関連付けているので、補正する欠陥画素データの個数が不足する、または過剰になることを防ぎ、欠陥画素による影響が補正された高画質の画像を生成できる。-第2の実施の形態-図面を参照して、本発明の第2の実施の形態によるデジタルカメラ1を説明する。以下の説明では、第1の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第1の実施の形態と同じである。本実施の形態では、画素欠陥補正を施す欠陥画素データの個数に制限がある点で、第1の実施の形態とは異なる。本実施の形態の欠陥補正部102dには、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数に上限が設けられている。この上限の個数は、1つの画素行について設けられるものであってもよいし、1フレームの第1画像データについて設けられるものであってもよい。また、上限個数は、欠陥補正部102d以外の内部メモリ不図示や外部メモリ不図示の容量に基づいて設けられてもよい。以下の説明では、1フレームの第1画像データについて補正個数に上限が設けられているものとして行う。以下、欠陥補正部102dに設けられた補正個数の上限をP個として説明する。補正個数制御部102hは、第1の実施の形態と同様にして、撮影条件に基づいて、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数をN、M、L個のいずれかに決定する。そして、補正個数制御部102hは、決定した個数と、欠陥補正部102dに設けられた補正個数の上限であるP個とを比較する。補正個数制御部102hは、露光時間と撮像感度とに基づいて画素欠陥補正処理を施す個数をN個に決定したとすると、補正個数の上限であるP個との大小を判定する。補正個数の上限であるP個がN個以上の場合P≧Nには、欠陥補正部102dは、第1の実施の形態と同様に、補正個数制御部102hにより決定されたN個の欠陥画素データについて画素欠陥補正処理を施す。補正個数の上限であるP個のほうが小さい場合P<Nには、欠陥補正部102dは、補正個数の上限であるP個の欠陥画素データについて画素欠陥補正処理を施す。すなわち、欠陥補正部102dは、出力レベルが最大のものからP番目の出力レベルに含まれる欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す。この場合、検出部102gによって、出力レベルが高い順序でP1番目以降にソートされた欠陥画素データに対しては、欠陥補正部102dは画素欠陥補正処理を施さない。以上で説明した第2の実施の形態のデジタルカメラ1によれば、以下の作用効果が得られる。補正個数制御部102hは、欠陥補正部102dによって1回の画素欠陥補正処理で補正が施される欠陥画素データの上限個数のP個を上回るか否かを判定する。そして、補正個数制御部102hにより補正対象個数が上限個数のP個を上回ると判定された場合には、欠陥補正部102dは、出力レベルが最大の欠陥画素データから出力レベルが低くなる順序で上限個数のP個に含まれる欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施すようにした。したがって、欠陥補正部102dの補正個数に制限がある場合には、欠陥画素の影響が大きい欠陥画素データほど欠陥画素補正処理が施されるので、高画質の画像を得ることができる。-第3の実施の形態-図面を参照して、本発明の第3の実施の形態によるデジタルカメラ1を説明する。以下の説明では、第1および第2の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第1および第2の実施の形態と同じである。本実施の形態では、撮影条件により決定された補正個数が欠陥補正部により補正個数の上限を上回る場合に、画素欠陥補正処理を複数回行う点で、第2の実施の形態とは異なる。第2の実施の形態と同様に、補正個数制御部102hは、画素欠陥補正処理を施す個数をN個に決定する。そして、補正個数の上限であるP個の方がN個よりも小さい場合P<Nには、欠陥補正部102dは、第1回目の処理として、P個の欠陥画素データについて画素欠陥補正処理を施す。次に、補正個数制御部102hは、第1回目の処理で画素欠陥補正処理が施されていない、P1番目以降にソートされた画素欠陥データの個数、すなわちN-P個と、補正個数の上限であるP個との大小を判定する。N-P個がP個以下であると判定された場合には、欠陥補正部102dは、第2回目の処理として、P1番目以降にソートされたN-P個の欠陥画素データ、すなわち第1回目の処理で画素欠陥補正処理が施されていない全ての欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す。N-P個がP個よりも大きいと判定された場合には、欠陥補正部102dは、第2回目の処理として、P1番目以降にソートされたP個の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す。第1回目および第2回目の画素欠陥補正処理により補正が施されていない2P1番目以降にソートされたN-2P個の欠陥画素データに対しても、補正個数制御部102hと欠陥補正部102dは上述した処理を繰り返し行う。すなわち、N個の欠陥画素データのすべてに対して欠陥補正部102dにより画素欠陥補正処理が施されるまで、上記の処理を繰りかえす。以上で説明した第3の実施の形態のデジタルカメラ1によれば、以下の作用効果が得られる。補正個数制御部102hにより補正対象個数が上限個数のP個を上回ると判定された場合には、欠陥補正部102dは、第1回目の処理において、上限個数のP個の欠陥画素データに対して画素欠陥補正を施し、第2回目以降の処理において、上限個数のP個を上回った個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正を施すようにした。したがって、欠陥補正部102dによる補正個数に制限がある場合であっても、全ての欠陥画素の影響を補正できるので、画質の向上に寄与できる。以上で説明した第1~第3の実施の形態のデジタルカメラ1を、次のように変形できる。1補正対象個数と関連付けされる条件として、露光時間と撮像感度とに加えて、撮像素子101近傍の温度を用いてもよい。この場合、撮像素子101の近傍が高温であるほど、補正対象個数が多くなるように関連付けされていればよい。換言すると、露光時間と撮像感度と撮像素子の近傍の温度との組合わせを複数のグループに分けて、複数のグループのそれぞれと補正対象個数とが関連付けされて記録されて記録部102fに記録される。さらに、デジタルカメラ1は、撮像素子101の近傍の温度を計測する温度センサを備える。そして、補正個数制御部102hは、温度センサから入力した温度と、制御回路102により設定された露光時間および撮像感度とが、いずれのグループに属するかを判定すればよい。なお、温度センサにより撮像素子101の温度を計測してもよい。そして、補正個数制限部102hは、温度センサから入力した温度と、制御回路102により設定された露光時間および撮像感度とが、いずれのグループに属するかを判定すればよい。2複数の撮影条件を第1~第3グループに分けるものに代えて、第1~第4グループに分けてもよい。この場合、図5に示すように、領域R1、すなわち露光時間が長く撮像感度が高感度の撮影条件を第1グループ、領域R2、すなわち露光時間が短く撮像感度が高感度の撮影条件を第2グループ、領域R3、すなわち露光時間が短く撮像感度が低感度の撮影条件を第3グループ、領域R4、すなわち露光時間が長く撮像感度が低感度の撮影条件を第4グループとすることができる。このとき、第1グループの補正対象個数をN個、第2グループの補正対象個数をM個、第3グループの補正対象個数をL個、第4グループの補正対象個数をO個とし、たとえば、M>O>N>Lの関係が成立するように補正対象個数が設定されればよい。なお、O個は計測等に基づいて、最適な値として設定されればよい。また、本発明の特徴を損なわない限り、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で考えられるその他の形態についても、本発明の範囲内に含まれる。説明に用いた実施の形態および変形例は、それぞれを適宜組合わせて構成しても構わない。"