光源からの光を信号光と参照光とに分割する第1の分割部と、前記信号光の光路を、異なる光路長を有する複数の信号光路に分割する第2の分割部と、前記複数の信号光路を経由した複数の信号光を合成する合成部と、前記参照光の光路を、前記複数の信号光路に対応する光路長を有する複数の参照光路に分割する第3の分割部と、前記合成部により合成された前記複数の信号光の被測定物体からの戻り光と、前記複数の参照光路を経由した複数の参照光とを重畳させて干渉光を生成する重畳部と、前記干渉光の光路を複数の干渉光路に分割する第4の分割部と、前記複数の干渉光路のそれぞれに設けられ、当該干渉光路を導かれた干渉光を検出する検出部と、前記信号光を走査する走査部と、走査された前記信号光の戻り光を前記参照光に重畳させて得られた前記干渉光の複数の前記検出部による検出結果に基づいて、前記被測定物体の複数の断層像を形成する形成部とを有する光画像計測装置。前記第2の分割部は、前記第1の分割部により生成された信号光を2つの信号光に分割することを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。前記2つの信号光の進行方向が光軸に対して対称であることを特徴とする請求項2に記載の光画像計測装置。前記第2の分割部は、正立プリズムにおける最初の反射面にプリズムを接続してなる光学素子であることを特徴とする請求項3に記載の光画像計測装置。前記走査部は、前記第1の分割部により生成された信号光を所定方向に走査する第1の走査部と、前記合成部により合成された信号光を前記所定方向に直交する方向に走査する第2の走査部とを含むことを特徴とする請求項2~請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。前記走査部は、前記第1の分割部により生成された信号光を所定方向に走査する第1の走査部と、前記所定方向に直交する方向に当該信号光を走査する第2の走査部とを含むことを特徴とする請求項2~請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。前記2つの信号光は、前記第1の分割部により生成された信号光のP偏光成分及びS偏光成分であることを特徴とする請求項2~請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置。前記P偏光成分及び前記S偏光成分のそれぞれの光路に設けられた2分の1波長板と、前記2分の1波長板を回転させる機構とを更に有し、前記第3の分割部は偏光ビームスプリッタであることを特徴とする請求項7に記載の光画像計測装置。特許文献8、9には、被測定物体に複数の信号光サンプル光を照射し、それらの戻り光と参照光との干渉光を検出する光学系が記載されている。しかし、この光学系は非常に複雑であり、好適な干渉信号を得るための調整が困難であること、また高コストであること、といった問題がある。更に、特許文献8、9に記載の装置では、広範囲をスキャンすることも望まれているが、そのためには振れ幅の大きなガルバノスキャナを用いる必要があり、これもまた高コスト化の要因となる。この発明は、スキャン時間の短縮を図ることが可能な光画像計測装置を提供することを目的とする。上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、光源からの光を信号光と参照光とに分割する第1の分割部と、前記信号光の光路を、異なる光路長を有する複数の信号光路に分割する第2の分割部と、前記複数の信号光路を経由した複数の信号光を合成する合成部と、前記参照光の光路を、前記複数の信号光路に対応する光路長を有する複数の参照光路に分割する第3の分割部と、前記合成部により合成された前記複数の信号光の被測定物体からの戻り光と、前記複数の参照光路を経由した複数の参照光とを重畳させて干渉光を生成する重畳部と、前記干渉光の光路を複数の干渉光路に分割する第4の分割部と、前記複数の干渉光路のそれぞれに設けられ、当該干渉光路を導かれた干渉光を検出する検出部と、前記信号光を走査する走査部と、走査された前記信号光の戻り光を前記参照光に重畳させて得られた前記干渉光の複数の前記検出部による検出結果に基づいて、前記被測定物体の複数の断層像を形成する形成部とを有する光画像計測装置である。また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の光画像計測装置であって、前記第2の分割部は、前記第1の分割部により生成された信号光を2つの信号光に分割することを特徴とする。また、請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の光画像計測装置であって、前記2つの信号光の進行方向が光軸に対して対称であることを特徴とする。また、請求項4に記載の発明は、請求項3に記載の光画像計測装置であって、前記第2の分割部は、正立プリズムにおける最初の反射面にプリズムを接続してなる光学素子であることを特徴とする。また、請求項5に記載の発明は、請求項2~請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記走査部は、前記第1の分割部により生成された信号光を所定方向に走査する第1の走査部と、前記合成部により合成された信号光を前記所定方向に直交する方向に走査する第2の走査部とを含むことを特徴とする。また、請求項6に記載の発明は、請求項2~請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記走査部は、前記第1の分割部により生成された信号光を所定方向に走査する第1の走査部と、前記所定方向に直交する方向に当該信号光を走査する第2の走査部とを含むことを特徴とする。また、請求項7に記載の発明は、請求項2~請求項4のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記2つの信号光は、前記第1の分割部により生成された信号光のP偏光成分及びS偏光成分であることを特徴とする。また、請求項8に記載の発明は、請求項7に記載の光画像計測装置であって、前記P偏光成分及び前記S偏光成分のそれぞれの光路に設けられた2分の1波長板と、前記2分の1波長板を回転させる機構とを更に有し、前記第3の分割部は偏光ビームスプリッタであることを特徴とする。この発明によれば、光路長の異なる複数の信号光路を経由した複数の信号光を合成して被測定物体に照射し、その戻り光と参照光とを重畳させて得られる干渉光を複数の検出部で検出し、これら検出部による検出結果に基づいて複数の断層像を形成することが可能である。したがって、スキャン時間の短縮を図ることが可能である。この発明に係る光画像計測装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。この発明に係る光画像計測装置は、OCTを用いて被測定物体の断層像や3次元画像を形成する。この明細書では、OCTによって取得される画像をOCT画像と総称することがある。また、OCT画像を形成するための計測動作をOCT計測と呼ぶことがある。なお、この明細書に記載された文献の記載内容を、以下の実施形態の内容として適宜援用することが可能である。以下の実施形態では、被測定物体は被検眼眼底とし、フーリエドメインタイプのOCTを適用してOCT計測を行う装置について説明する。特に、実施形態に係る装置は、スペクトラルドメインOCTの手法を用いるものである。なお、スペクトラルドメイン以外のタイプ、たとえばスウェプトソースOCTの手法を用いる光画像計測装置に対して、この発明に係る構成を適用することも可能である。第1の実施形態この実施形態に係る光画像計測装置の光学系の構成の一例を図1に示す。光画像計測装置1の光源2により出力された光は、レンズ3により屈折されてハーフミラー4に到達する。ハーフミラー4を透過した光は、被検眼Eに照射される信号光となる。一方、ハーフミラー4により反射した光は参照光となる。なお、スペクトラルドメインOCTでは、光源2として、広帯域の低コヒーレンス光源が用いられる。スウェプトソースOCTでは、光源2として、広帯域の波長掃引光源が用いられる。まず、信号光及びその光路について説明する。信号光の光路信号光路Aには、ガルバノミラー11と光学素子12が設けられている。ガルバノミラー11は、信号光を水平方向x方向に走査する。つまり、ガルバノミラー11は、信号光の進行方向をx方向において変化させる。ガルバノミラー11を経由した信号光は、光学素子12に入射する。光学素子12は、信号光路Aを、異なる光路長を有する複数の信号光路に分割する。この実施形態では、光学素子12は、信号光路Aを2つの信号光路A1、A2に分割する。光学素子12の構成の一例を図2に示す。光学素子12は、正立プリズム12Aにおける最初の反射面12aにプリズム12Bを接続したものである。正立プリズム12Aは、一般的には倒立像を正立像に変換する光学素子である。この実施形態の光学素子12は、このような正立プリズム12Aに入射した信号光が最初に反射される面反射面12aに、プリズム12aの傾斜面を貼り付けたものとして構成される。それにより、入射した信号光は、この反射面12a貼り付け面において二分される。反射面12aを透過した成分は、入射した信号光の進行方向Dinと同じ進行方向Dout1を持つ光第1の信号光として光学素子12から出射する。一方、反射面12aにて反射された成分は、入射した信号光の進行方向Dinと比較し、水平方向つまりx方向において光軸に対して対称な進行方向Dout2を持つ光第2の信号光として光学素子12から出射する。したがって、光学素子12から出射する第1の信号光の進行方向Dout1と、第2の信号光の進行方向Dout2は、光軸に対して対象となる。光学素子12から出射した第1の信号光は、第1の信号光路A1に設けられたリレーレンズ13、14を経由してハーフミラー18に到達する。一方、光学素子12から出射した第2の信号光は、第2の信号光路A2に設けられたリレーレンズ15、16及び反射ミラー17を経由してハーフミラー18に到達する。ハーフミラー18は、第1の信号光と第2の信号光とを合成する。つまり、ハーフミラー18は、第1及び第2の信号光路A1及びA2を合成して信号光路A3を形成する。ハーフミラー18を透過した第1の信号光と、ハーフミラー18により反射された第2の信号光は、信号光路A3に設けられたガルバノミラー19により垂直方向y方向に走査される。ガルバノミラー19により偏向された信号光は、合焦レンズ20及び対物レンズ21を介して被検眼Eに入射して眼底Efに照射される。なお、合焦レンズ20は、信号光路A3の光軸に沿って移動可能とされており、眼底Efに対する光学系のフォーカスに用いられる。眼底Efに照射された信号光は、眼底Efの様々な深さ位置において散乱反射を含むされる。眼底Efによる信号光の後方散乱光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してハーフミラー4に導かれる。次に、参照光及びその光路について説明する。参照光の光路参照光路Bには、ハーフミラー31が設けられている。ハーフミラー31は、参照光路Bを第1の参照光路B1と第2の参照光路B2とに分割する。ハーフミラー31により反射された成分は第1の参照光路B1に導かれ、ハーフミラー31を透過した成分は第2の参照光路B2に導かれる。第1の参照光路B1に導かれた第1の参照光は、コリメータレンズ32により参照ミラー33の反射面に結像される。参照ミラー33に反射された第1の参照光は、同じ経路を逆向きに進行してハーフミラー4に導かれる。コリメータレンズ32及び参照ミラー33は、第1の参照光路B1の光軸に沿って移動可能とされている。ハーフミラー4から第1の信号光路A1を経由して眼底Efに至る光学的距離と、ハーフミラー4から第1の参照光路B1の参照ミラー33に至る光学的距離とがほぼ等しくなるように、参照ミラー33の位置が調整される。第2の参照光路B2には、反射ミラー34と、コリメータレンズ35と、参照ミラー36とが設けられている。第2の参照光路B2に導かれた第2の参照光は、反射ミラー34により反射された後、コリメータレンズ35により参照ミラー36の反射面に結像される。参照ミラー36に反射された第2の参照光は、同じ経路を逆向きに進行してハーフミラー4に導かれる。コリメータレンズ35及び参照ミラー36は、第2の参照光路B2の光軸に沿って移動可能とされている。ハーフミラー4から第2の信号光路A2を経由して眼底Efに至る光学的距離と、ハーフミラー4から第2の参照光路B2の参照ミラー36に至る光学的距離とがほぼ等しくなるように、参照ミラー36の位置が調整される。以上のように、ハーフミラー4には、第1の信号光路A1を経由した信号光の後方散乱光第1の戻り光と、第2の信号光路A2を経由した信号光の後方散乱光第2の戻り光と、第1の参照光路B1を経由した第1の参照光と、第2の参照光路B2を経由した第2の参照光とが戻ってくる。OCTに用いられる低コヒーレンス干渉光学系の原理により、第1の戻り光と第2の参照光とが干渉し、第2の戻り光と第2の参照光とが干渉する。なお、第1の信号光路A1と第2の信号光路A2との光路長の差は、光源1からの光のコヒーレント長よりも十分大きいものとする。ハーフミラー4により生成された干渉光は、干渉光路Cを導かれる。干渉光路Cにはハーフミラー41が設けられている。ハーフミラー4により反射された第1の干渉光は、第1の干渉光路C1に入射し、分光器42により分光スペクトル分解され、CCDイメージセンサ43の受光面に投影される。CCDイメージセンサ43は、たとえばラインセンサであり、分光された第1の干渉光の各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。CCDイメージセンサ43は、この電荷を蓄積して検出信号を生成し、これを出力する。なお、第1の干渉光は、第1の戻り光と第1の参照光との干渉により得られた光である。一方、ハーフミラー4を透過した第2の干渉光は、第2の干渉光路C2に入射し、反射ミラー44により反射され、分光器45により分光され、CCDイメージセンサ46の受光面に投影される。CCDイメージセンサ46は、たとえばラインセンサであり、分光された第2の干渉光の各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。CCDイメージセンサ46は、この電荷を蓄積して検出信号を生成し、これを出力する。なお、第2の干渉光は、第2の戻り光と第2の参照光との干渉により得られた光である。この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。また、CCDイメージセンサに代えて、他の形態のイメージセンサ、たとえばCMOSComplementaryMetalOxideSemiconductorイメージセンサなどを用いることが可能である。光画像計測装置1には、従来の眼科装置眼底カメラ等と同様に、アライメント光学系、フォーカス光学系、固視光学系が設けられているいずれも図示せず。アライメント光学系は、被検眼Eに対する装置光学系のxy方向における位置合わせアライメントを行うための指標アライメント指標を被検眼Eに投影する。フォーカス光学系は、眼底Efに対してフォーカスピントを合わせるための指標スプリット指標を眼底Efに投影する。固視光学系は、被検眼Eを所定方向に固視させるための固視標を眼底Efに投影する。光画像計測装置1の制御系の構成について説明する。制御系の構成の一例を図3に示す。制御系は、制御部100を中心に構成される。制御部100は、主制御部101と記憶部102を有する。主制御部101は、光画像計測装置1の各部の制御を行う。記憶部102は、各種のデータを記憶する。記憶部102に記憶されるデータとしては、たとえば、OCT画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。また、記憶部102には、制御用のコンピュータプログラムや、演算処理用のコンピュータプログラムが予め記憶されている。主制御部101は、これらコンピュータプログラムに基づいて各種の制御や演算を実行する。主制御部101は、光源2の動作制御を行う。主制御部101は、ガルバノミラー11、19を独立に制御することで、xy方向において信号光を走査する。主制御部101は、合焦駆動部20Aを制御することで、合焦レンズ20を光軸に沿って移動させる。主制御部101は、参照駆動部33A、36Aを制御することで、コリメータレンズ32及び参照ミラー33を一体的に光軸に沿って移動させ、かつ、コリメータレンズ35及び参照ミラー36を一体的に光軸に沿って移動させる。主制御部101は、CCDイメージセンサ43、46の動作感度、蓄積時間等を制御する。各CCDイメージセンサ43、46は、干渉光を検出して電気信号検出信号を生成し、これを画像形成部110に送る。画像形成部110は、各CCDイメージセンサ43、46からの検出信号に基づいて、眼底Efの断層像の画像データをそれぞれ形成する。この処理には、従来のスペクトラルドメインタイプの光コヒーレンストモグラフィと同様に、ノイズ除去ノイズ低減、フィルタ処理、FFTFastFourierTransformなどの処理が含まれている。他のタイプのOCT装置の場合、画像形成部110は、そのタイプに応じた公知の処理を実行する。画像形成部110は形成部の一例として機能する。画像形成部110は、たとえば、画像形成処理に特化した回路基板を含んで構成される。画像処理部120は、画像形成部110により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部120は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理を実行する。画像処理部120は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底Efの3次元画像の画像データボリュームデータを形成する。更に、画像処理部120は、このボリュームデータに対してレンダリング処理を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な3次元画像の画像データを形成する。なお、3次元画像の画像データとは、3次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。ユーザインターフェイス130には、表示部131と操作部132が含まれる。表示部131は、OCT画像や各種データを表示する。操作部132は、光画像計測装置1の操作や、これに対する情報入力に用いられる。操作部132には、光画像計測装置1の筐体や外部装置に設けられたボタンやキーが含まれる。表示部131と操作部132は、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。たとえばタッチパネルモニタのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。その場合、操作部132は、このタッチパネルディスプレイとコンピュータプログラムとを含んで構成される。操作部132に対する操作内容は、電気信号として制御部132に入力される。また、表示部131に表示されたグラフィックユーザインターフェイスGUIと、操作部132とを用いて、操作や情報入力を行うようにしてもよい。光画像計測装置1は、次の構成要素を含む:光源2からの光を信号光と参照光とに分割するハーフミラー4第1の分割部;この信号光の光路Aを、異なる光路長を有する複数2つの信号光路A1及びA2に分割する光学素子12第2の分割部;複数2つの信号光路A1及びA2を経由した複数2つの信号光を合成するハーフミラー18合成部;参照光の光路Bを、複数2つの信号光路A1及びA2に対応する光路長を有する複数2つの参照光路B1及びB2に分割するハーフミラー31第3の分割部;ハーフミラー18により合成された複数2つの信号光の眼底Efからの戻り光と、複数2つの参照光路B1及びB2を経由した複数2つの参照光とを重畳させて干渉光を生成するハーフミラー4重畳部;干渉光の光路Cを複数2つの干渉光路C1及びC2に分割する第4の分割部と、複数2つの干渉光路C1及びC2のそれぞれに設けられ、当該干渉光路C1及びC2を導かれた干渉光を検出する複数2つのCCDイメージセンサ43及び46複数の検出部;信号光を走査するガルバノミラー11及び19走査部;走査された信号光の戻り光を参照光に重畳させて得られた干渉光の複数2つのCCDイメージセンサ43及び46による検出結果に基づいて、眼底Efの複数2つの断層像を形成する画像形成部110形成部。ここで、走査部は、ハーフミラー4により生成された信号光を所定方向x方向に走査するガルバノミラー11第1の走査部と、ハーフミラー18により合成された信号光を所定方向x方向に直交する方向y方向に走査するガルバノミラー19第2の走査部とを含んでいる。このような光画像計測装置1によれば、光学素子12の特性、つまり光学素子12から出射する2つの信号光の進行方向が光軸に対して対称になるという特性と、光学素子12の前段側及び後段側にそれぞれガルバノミラー11及び19が設けられていることにより、同一の走査線に対して信号光を互いに逆方向に同時に走査することができる。具体例として、図4に示すように、第1の信号光路A1を経由する第1の信号光を符号S1に示す態様で走査すると同時に、第2の信号光路A2を経由する第2の信号光を符号S2に示す態様で走査することができる。なお、このスキャン態様は、y方向走査用のガルバノミラー19を固定した状態で、x方向走査用のガルバノミラー11をx方向に向けて走査することにより実現される。このように同一の走査線上を同時に逆方向にスキャン可能とすることにより、同一の走査線を反復的に走査する場合の計測時間を短縮することができる。なお、同一の走査線を反復的に走査することはOCT計測において頻繁に行われる。具体的には、当該走査線を複数回走査し、それにより得られた複数のデータに基づいて1枚の断層像を形成することで画質の向上が図られている。また、たとえば被検眼Eのように動きを伴う被測定物体を計測する場合において、同一の走査線を複数回スキャンする場合、被測定物体の動きにより複数回の走査の位置がずれるおそれがある。しかし、この実施形態に係る光画像計測装置1によれば走査に掛かる時間が半分になるので、被検体の動きの影響を受ける可能性が低くなる。なお、この実施形態では信号光、参照光及び干渉光をそれぞれ2つに分割しているが、3つ以上に分割するように構成することも可能である。その場合、計測時間や走査時間を更に短縮することが可能である。ただし、この分割数の増大は装置構成の複雑化を招くので、装置構成と計測時間との双方を考慮して分割数を決定することが望ましい。また、この実施形態では、ハーフミラー4が第1の分割部と重畳部を兼用しているが、適用する干渉光学系の構成に応じて分割部と重畳部は別々の部材であってもよい。第2の実施形態上記実施形態では、同一の走査線を同時に逆方向にスキャンする構成について説明したが、この実施形態では、異なる走査線を同時にスキャンする構成について説明する。なお、第1の実施形態と同様の構成部分については説明を割愛することがある。この実施形態に係る光画像計測装置の構成例を図5に示す。光画像計測装置200は、第1の実施形態の光画像計測装置1とほぼ同様の構成を有する。両者の主たる相異は、第1の実施形態のガルバノミラー11及び19の代わりに、ガルバノスキャナ201が設けられている点である。ガルバノスキャナ201は、ハーフミラー4により生成された信号光をxy平面上の任意の方向に走査する。ガルバノスキャナ201は、たとえば、信号光をx方向に走査するガルバノミラーと、y方向に走査するガルバノミラーと、これらを独立に駆動する機構とを含んで構成される。ガルバノスキャナ201は、第1の走査部及び第2の走査部を兼用している。光画像計測装置200の制御系の構成も第1の実施形態とほぼ同様であり、その一例を図6に示す。このような光画像計測装置200によれば、光学素子12の特性、つまり光学素子12から出射する2つの信号光の進行方向が光軸に対して対称になるという特性と、光学素子12の前段側に信号光を2次元的に走査するガルバノスキャナ201が設けられていることにより、異なる2つの走査線を同時に走査することができる。具体例として、図7に示すように、第1の信号光路A1を経由する第1の信号光を符号S11に示す態様で走査すると同時に、第2の信号光路A2を経由する第2の信号光を符号S21に示す態様で走査することができる。更に、第1の信号光路A1を経由する第1の信号光を符号S12に示す態様で走査すると同時に、第2の信号光路A2を経由する第2の信号光を符号S22に示す態様で走査することができる。つまり、この実施形態では、xy平面の原点光軸を中心として点対称な位置に同時に2つの信号光を照射することができる。なお、図7に示すスキャン態様は、y方向の走査を固定した状態でx方向の走査を行い、続いてx方向の走査とy方向の走査とを同時に行なって走査線の切り替えを行い、更にy方向の走査を固定した状態でx方向の走査を行うことにより実現される。このように複数の走査線上を同時にスキャン可能とすることにより、計測時間を短縮することができる。また、たとえば被検眼Eのように動きを伴う被測定物体の広い範囲を計測する場合においてたとえば3次元画像を形成する場合などにおいて、当該範囲の走査に掛かる時間が半分になるので、被検体の動きの影響を受ける可能性が低くなる。また、走査対象領域の半分をスキャンするようにガルバノスキャナの振れ幅を制御すれば当該領域全体をスキャンすることが可能であるから、振れ幅の小さな低コストのガルバノミラーを用いることが可能である。なお、この実施形態に係る光画像計測装置200においても、信号光、参照光及び干渉光をそれぞれ3つ以上に分割するように構成することが可能である。また、この実施形態では、ハーフミラー4が第1の分割部と重畳部を兼用しているが、適用する干渉光学系の構成に応じて分割部と重畳部は別々の部材であってもよい。第3の実施形態この実施形態では、被測定物体の偏光特性を計測可能な光画像計測装置について説明する。なお、上記実施形態と同様の構成部分については説明を割愛することがある。この実施形態に係る光画像計測装置の構成例を図8に示す。光画像計測装置300は、第1の実施形態の光画像計測装置1とほぼ同様の構成を有する。両者の主たる相異は次の点である:第1の実施形態の光学素子12の代わりに、最初の反射面信号光を分割する面301a図2の反射面12aに対応するが偏光ビームスプリッタとしての機能を持つ光学素子301が設けられている;第1の信号光路A1及び第2の信号光路A2に、それぞれ2分の1波長板半波長板、λ/2板302及び303が設けられている;第1の実施形態のハーフミラー18の代わりに、偏光ビームスプリッタ304が設けられている。ハーフミラー4により生成された信号光は、光学素子301の反射面301aによりP偏光成分とS偏光成分とに分割される。P偏光成分は、反射面301aを透過する信号光の成分であり、第1の信号光路A1に導かれる。S偏光成分は、反射面301aにより反射される信号光の成分であり、第2の信号光路A2に導かれる。各2分の1波長板302及び303は、光軸を中心として回転可能とされている。2分の1波長板302は、第1の信号光路A1に入射したP偏光成分の偏向方向を、その回転角度に応じた方向に変化させる。2分の1波長板302の回転角度は、たとえば、偏光ビームスプリッタ304に到達する光がP偏光になるように決定される。また、2分の1波長板303は、第2の信号光路A2に入射したS偏光成分の偏向方向を、その回転角度に応じた方向に変化させる。2分の1波長板303の回転角度は、たとえば、偏光ビームスプリッタ304に到達する光がS偏光になるように決定される。偏光ビームスプリッタ304は、第1の信号光路A1を経由したP偏光の光を透過させ、かつ、第2の信号光路A2を経由したS偏光の光を反射する。それにより、これら2つの信号光が合成される。合成された信号光は、ガルバノミラー19、合焦レンズ20及び対物レンズ21を介して眼底Efに照射される。眼底Efによる信号光の後方散乱光は、往路と同様の経路を介してハーフミラー4に到達し、参照光に重畳される。それにより生成された干渉光は、第1の実施形態と同様に、分光器42及び45により分光され、CCDイメージセンサ43及び46により検出される。光画像計測装置300の制御系の構成の一例を図9に示す。光画像計測装置300は、第1の実施形態の構成図3を参照に加え、波長板駆動部302A及び303Aを有する。波長板駆動部302A及び303Aは、それぞれ2分の1波長板302及び303を独立に回転させる。画像形成部110は、CCDイメージセンサ43及び46からの電気信号を受けて、各CCDイメージセンサ43、46からの電気信号に基づく画像をそれぞれ生成する。この画像は、信号光が照射された領域における眼底Efの偏光特性を表す情報を含む。このようなOCT計測は偏光OCTなどと呼ばれ、たとえば、複屈折性を有する被測定物体からの後方散乱光の円偏光量を検出して、被測定物体における複屈折分布を取得するために用いられる。このような光画像計測装置300によれば、被測定物体の偏光特性の計測に掛かる時間を短縮することができる。なお、この実施形態では第1の実施形態に基づく構成について説明したが、第2の実施形態に基づく構成を適用することも可能である。変形例以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形省略、置換、付加等を適宜に施すことが可能である。たとえば、上記の実施形態においては、参照光の光路長を変更することにより、信号光路と参照光路との光路長差を変更しているが、この光路長差を変更する手法はこれに限定されるものではない。たとえば、信号光の光路に光路長変更部材たとえばコーナーキューブ等を配置することによって、当該光路長差を変更することが可能である。また、被測定物体に対して装置光学系を移動させることにより当該光路長差を変更することもできる。また、特に被測定物体が生体部位でない場合などには、被測定物体を深度方向z方向に移動させることにより光路長差を変更することも可能である。上記の実施形態を実現するためのコンピュータプログラムを、コンピュータによって読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、たとえば、半導体メモリ、光ディスク、光磁気ディスクCD-ROM/DVD-RAM/DVD-ROM/MO等、磁気記憶媒体ハードディスク/フロッピー登録商標ディスク/ZIP等などを用いることが可能である。また、インターネットやLAN等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。