X線を照射するX線管と、前記X線管と対向する位置に設置され、X線を検出するX線検出素子が配列されたX線検出器と、前記X線検出器の端部に設置されているX線検出器側リファレンス検出器と、前記X線管から照射されたX線が直接検出可能な位置に設置されるX線管側リファレンス検出器と、前記X線管、前記X線検出器、前記X線検出器側リファレンス検出器、及び前記X線管側リファレンス検出器が搭載されたスキャナと、被写体が載置され、スキャン中に前記スキャナの開口部を通過する寝台と、を備えるX線CT装置であって、前記X線管側リファレンス検出器の出力データを前記X線検出器側リファレンス検出器の出力データに変換するための変換係数を算出する変換係数算出手段と、前記変換係数算出手段によって算出された前記変換係数を記憶する変換係数記憶手段と、前記変換係数記憶手段からスキャン条件に対応する前記変換係数を読み出し、読み出された前記変換係数を用いて前記X線管側リファレンス検出器の出力データから前記X線検出器側リファレンス検出器の出力データに変換する変換処理手段と、を備えることを特徴とするX線CT装置。前記変換係数算出手段は、出荷時に実施される第1エア計測における前記X線管側リファレンス検出器の出力データに基づいて、前記第1エア計測の条件毎の前記変換係数を算出し、前記変換係数記憶手段は、前記変換係数算出手段によって算出された前記第1エア計測の条件毎の前記変換係数を記憶することを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。前記変換係数算出手段は、設置施設において実施される第2エア計測における前記X線管側リファレンス検出器の出力データに基づいて、前記第2エア計測の条件毎の前記変換係数を算出し、前記変換係数記憶手段は、前記変換係数算出手段によって算出された前記第2エア計測の条件毎の前記変換係数を用いて、前記第1エア計測の条件毎の前記変換係数を更新することを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。前記変換係数算出手段は、前記変換係数の管電流リニアリティーを校正するための第1近似関数のパラメータを算出し、前記変換係数記憶手段は、前記変換係数算出手段によって算出された前記第1近似関数のパラメータを記憶することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のX線CT装置。スキャン中に前記X線検出器側リファレンス検出器に対する前記被写体のはみ出しを判定する判定手段、を更に備え、前記判定手段は、前記被写体が固定の管電流によってスキャンされている間に、前記被写体が前記X線検出器側リファレンス検出器にはみ出していない1又は複数の第1計測ビュー群を特定し、前記変換係数算出手段は、スキャン終了後、前記判定手段によって特定された前記第1計測ビュー群における前記X線管側リファレンス検出器の出力データに基づいて、前記第1計測ビュー群の平均の前記変換係数を算出し、前記変換係数記憶手段は、前記変換係数算出手段によって算出された前記第1計測ビュー群の平均の前記変換係数を記憶することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載のX線CT装置。スキャン中に前記X線検出器側リファレンス検出器に対する前記被写体のはみ出しを判定する判定手段、を更に備え、前記判定手段は、前記被写体が管電流自動制御によってスキャンされている間に、前記被写体が前記X線検出器側リファレンス検出器にはみ出していない1又は複数の第2計測ビュー群を特定し、前記変換係数算出手段は、スキャン終了後、前記判定手段によって特定された前記第2計測ビュー群における前記X線管側リファレンス検出器の出力データに基づいて、設定管電流値ごとの前記第2計測ビュー群の前記変換係数を算出し、更に、前記設定管電流値と前記第2計測ビュー群の前記変換係数との関係を近似するための第2近似関数のパラメータを算出し、前記変換係数記憶手段は、前記変換係数算出手段によって算出された前記第2近似関数のパラメータを記憶することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載のX線CT装置。しかしながら、特許文献1に記載のように、X線管側に設けられた補正用検出器の出力データを直接リファレンス補正データとして使用すると、リファレンス補正の精度が低下するという問題がある。リファレンス補正の精度が低下する理由としては、以下のことが考えられる。例えば、X線管の焦点から補正用検出器までの距離と、X線管の焦点からX線検出器までの距離とが異なる為、単位面積当たりのX線強度が距離の二乗で減衰するというX線の性質によって、精度が低下する。また、補正用検出器とX線検出器とでは、温度などの周辺環境、検出器までの透過物質などが異なる為、これらの要因によっても精度が低下する。また、近年メタボリックシンドロームに代表されるように、肥満が問題視されている背景もあり、比較的大柄の被写体をX線CT装置で撮影することは珍しくない。大きな被写体に対応するために寝台のワイド化が進み、最近では被写体を寝台に載せたまま左右方向に移動可能な寝台もあり、寝台自体がFOVをはみ出す可能性が高くなりつつある。また、X線CT装置の普及に伴う価格低下に対して原価を抑えるために、FOVが従来の500mmに比べて小さなFOVのX線CT装置も製品化されている。このように、はみ出しが懸念される被写体やX線CT装置において、X線検出器側にリファレンス検出器が設けられている場合を考える。図18aに示すように、はみ出し無しの場合の投影高さに比べて、図18b、cのように被写体がはみ出した場合において、従来の検出器両端のリファレンス検出器のデータを使ってリファレンス補正を実施すると、見かけ上投影高さが低くなっていることが分かる。この投影データから作成した画像のCT値は、図18aの正しいCT値に比べて低く算出されてしまう。従って、被写体がFOVからはみ出す可能性が高く、スキャン中にほとんどの計測ビューにおいて被写体がはみ出した場合においても、精度の高いはみ出し補正が必要となる。本発明は、前述した問題点に鑑みてなされたもので、その目的とすることは、大部分の計測ビューにおいて被写体がリファレンス検出器からはみ出した場合においても、精度の高いリファレンス補正を可能とするX線CT装置を提供することである。前述した目的を達成するために本発明は、X線を照射するX線管と、前記X線管と対向する位置に設置され、X線を検出するX線検出素子が配列されたX線検出器と、前記X線検出器の端部に設置されているX線検出器側リファレンス検出器と、前記X線管から照射されたX線が直接検出可能な位置に設置されるX線管側リファレンス検出器と、前記X線管、前記X線検出器、前記X線検出器側リファレンス検出器、及び前記X線管側リファレンス検出器が搭載されたスキャナと、被写体が載置され、スキャン中に前記スキャナの開口部を通過する寝台と、を備えるX線CT装置であって、前記X線管側リファレンス検出器の出力データを前記X線検出器側リファレンス検出器の出力データに変換するための変換係数を算出する変換係数算出手段と、前記変換係数算出手段によって算出された前記変換係数を記憶する変換係数記憶手段と、前記変換係数記憶手段からスキャン条件に対応する前記変換係数を読み出し、読み出された前記変換係数を用いて前記X線管側リファレンス検出器の出力データから前記X線検出器側リファレンス検出器の出力データに変換する変換処理手段と、を備えることを特徴とするX線CT装置である。本発明により、大部分の計測ビューにおいて被写体がリファレンス検出器からはみ出した場合においても、精度の高いリファレンス補正を可能とするX線CT装置を提供することができる。特に、本発明によると、両側のX線検出器側リファレンス検出器に被写体がはみ出した場合でもリアルタイムのX線出力変動データで正規化するリファレンス補正が可能となり、CT値異常やアーチファクトが無い高画質な診断画像を得ることが可能となる。以下図面に基づいて、本発明の実施形態を詳細に説明する。最初に、図1~図4を参照しながら、本発明に係るX線CT装置の概要について説明する。図1は、本発明を搭載したX線CT装置の基本構造を示している。図1の左上には、X線CT装置における方向の定義を示している。以下の文中では、これらの方向をX/Y/Z方向と示す。X線CT装置は、開口部を有するスキャナ104と、被写体が載置され、スキャン中にスキャナ104の開口部を通過する寝台108と、を備える。スキャナ104には、X線を照射するX線管105と、X線管105と対向する位置に設置され、X線を検出するX線検出素子が配列されたX線検出器109と、X線検出器109の両端に設置されるX線検出器側リファレンス検出器115と、X線管105から照射されたX線が直接検出可能な位置に設置されるX線管側リファレンス検出器106と、が搭載される。ここで、X線が直接検出可能な位置とは、常に被写体を通過しないX線を検出可能な位置である。また、スキャナ104には、更に、X線の強度分布を調整するX線補償フィルタや、被写体へ照射するX線の低エネルギー部分を除去する線質硬化フィルタなどが格納されているコリメータユニット107、X線検出器109のデータを収集してA/D変換を行うデータ収集回路110等が搭載される。また、X線CT装置は、操作卓に設置される操作装置101、制御装置102CPU、ROM、RAM等を備える。、通信I/F103等を備える。また、X線CT装置は、スキャン後の各種のデータ処理を実現する為に、通信I/F111、画像処理装置112CPU、ROM、RAM等を備える。、記憶装置113、表示装置114、はみ出し有無判定機能116、リファレンス補正データ変換係数算出機能117、リファレンス補正データ変換係数記憶機能118、リファレンス補正データ変換処理機能119等を備える。尚、はみ出し有無判定機能116、リファレンス補正データ変換係数算出機能117、リファレンス補正データ変換係数記憶機能118、及びリファレンス補正データ変換処理機能119は、例えば、図示しない制御装置CPU、ROM、RAM等を備える。が、記憶装置113に記憶されている各種プログラムを読み出して実行することによって実現されるものである。図示しない制御装置は、スキャナ104に搭載されていても良いし、スキャナ104以外の場所に設置されても良い。また、制御装置102又は画像処理装置112が、図示しない制御装置の役割を果たしても良い。X線CT装置は、操作装置101から入力したスキャン条件を制御装置102が制御信号に変換し、通信I/F103を介して、スキャナ104に送る。制御信号を受けたスキャナ104は、スキャン条件に応じて作動する。具体的には、X線管105、コリメータユニット107、寝台108が、スキャン条件に応じて作動する。X線検出器109は、X方向に数百~1000程度のチャネルとZ方向に1~数百程度の列のX線検出器素子が配列された2次元マトリックス状の検出器である。X線検出器109は、被写体を透過したX線を電気信号に変換する。データ収集回路110は、各X線検出器素子のデータを収集してA/D変換を行い、通信I/F111を介して画像処理装置112に送る。画像処理装置112は、投影データの補正処理、補正処理後の生データローデータの作成、断面像の再構成をして、記憶装置113にローデータや再構成した断面像を保存し、表示装置114に断面像を表示する。X線検出器109のX方向の両端付近には、リファレンス補正データを計測する1~数チャネルのX線検出器側リファレンス検出器115がある。はみ出し有無判定機能116は、X線検出器側リファレンス検出器115の出力データに基づいて、被写体のX線検出器側リファレンス検出器115へのはみ出しの有無を判定する。リファレンス補正データ変換係数算出機能117は、予め、X線管側リファレンス検出器106の出力データをX線検出器側リファレンス検出器115の出力データに変換するための変換係数を算出する。リファレンス補正データ変換係数記憶機能118は、リファレンス補正データ変換係数算出機能117によって算出された変換係数を記憶装置113に記憶する。リファレンス補正データ変換処理機能119は、記憶装置113からスキャン条件に対応する変換係数を読み出し、読み出された変換係数を用いてX線管側リファレンス検出器106の出力データからX線検出器側リファレンス検出器115の出力データに変換する。例えば、はみ出し有無判定機能116が、左右のX線検出器側リファレンス検出器115に対してはみ出し有りと判定した場合、リファレンス補正データ変換処理機能119は、記憶装置113から変換係数を読み出し、X線管側リファレンス検出器106の出力データ及び読み出された変換係数から、模擬的なX線検出器側リファレンス検出器115の出力データを算出し、算出された模擬的なX線検出器側リファレンス検出器115の出力データをリファレンス補正データとして画像処理装置112に送信する。図2では、画像処理装置112によって行われるローデータ作成の処理手順の一例を示している。ローデータ作成処理では、画像処理装置112は、公知のオフセット補正S101、Log変換S102、リファレンス補正S103などの処理を実施した後、エア補正S104を行う。また、S103のリファレンス補正時に被写体のはみ出しが有る場合、画像処理装置112は、はみ出し補正も実施する。エア補正は、空気に対する被写体の減弱率を算出する処理である。X線CT装置では、日常的にエア補正のためのデータとして、エア計測を実施している。エア計測では、空気をスキャンして減弱率の基準となるデータを収集する。画像処理装置112は、エア補正後、X線検出器109のリニアリティー補正などの各種補正S105を実施して、ローデータ作成処理を終了する。尚、図2はローデータ作成処理の一例を示したものであり、本発明における処理手順はこれに限ったことではない。次に、図3と図4を参照しながら、はみ出し有無判定機能216の判定処理について説明する。はみ出し有無判定処理では、X線CT装置は、左右のX線検出器側リファレンス検出器115の出力データのオフセット補正後のデータを監視する。図1の左側のX線検出器側リファレンス検出器115の各計測ビューにおけるオフセット補正後のデータをLinRDLとし、右側のX線検出器側リファレンス検出器115の各ビューにおけるオフセット補正後のデータをLinRDRとする。vは計測ビューの変数を意味する。いま、管電圧をScanTubeVolkV、管電流をScanTubeCurmA、回転速度をScanRotsのスキャン条件によってスキャンしていると仮定する以下、仮スキャン条件とする。S201では、X線CT装置は、判定に使用する閾値ThLとThRを以下の式によって算出する。ここで、ThLは、LinRDLに対するはみ出し判定の閾値である。ThRは、LinRDRに対するはみ出し判定の閾値である。ARDLaveは、仮スキャン条件に対応するエア計測時の左側のX線検出器側リファレンス検出器115の全計測ビューの平均値である。ARDRaveは、エア計測時の右側のX線検出器側リファレンス検出器115の全計測ビューの平均値である。AircalTubeCurは、エア計測時の設定管電流値である。式1、2におけるRatiothよりも前の項は、左右のX線検出器側リファレンス検出器115におけるエア計測のデータから仮スキャン条件における仮基準データを作成したことになる。この仮基準データにRatiothという係数を乗算して、閾値を設定する。次に、S202において、X線CT装置は、仮スキャン条件によってスキャン中のLinRDLが、式によって算出されたThL以下かどうかを各計測ビューのデータを用いて判定する。左側のX線検出器側リファレンス検出器115に被写体がはみ出した場合はオフセット補正後のデータLinRDLが減少するため、X線CT装置は、ThLを下回る場合を左側はみ出し有りと判定する。S202においてNoの場合、X線CT装置は、LinRDRが式によって算出されたThR以下かどうかを各計測ビューのデータを用いて判定する。更に、S203においてもNoの場合、X線CT装置は、S204へ進み、はみ出し無しと判定する。図4aには、はみ出し無し判定時のX線検出器側リファレンス検出器115の出力データLinRDLとLinRDRを示している。はみ出し無しの場合、従来のリファレンス補正と同様に、LinRDLとLinRDRをリファレンス補正データとして使用する。例えば、LinRDLとLinRDRの平均値などを使用する。S203においてYesの場合、X線CT装置は、S205に進み、右側はみ出し有りと判定する。S202においてYesの場合、X線CT装置は、S206に進み、S203と同様に、LinRDRが式によって算出されたThR以下かどうかを各計測ビューのデータを用いて判定する。S206においてNoの場合、X線CT装置は、S207に進み、左側はみ出し有りと判定する。図4bには、片側はみ出し有り判定時のX線検出器側リファレンス検出器115の出力データLinRDLとLinRDRを示している。図4bは、被写体が左側のX線検出器側リファレンス検出器115にはみ出した場合の例である。片側はみ出し有りの場合、はみ出していない方のX線検出器側リファレンス検出器115の出力データ図4bではLinRDRをリファレンス補正データとして使用する。片側はみ出し有り時の補正技術は公知のものを利用すれば良い為、説明を省略する。S206においてYesの場合、X線CT装置は、S208に進み、両側はみ出し有りと判定する。図4cには、両側はみ出し有り判定時のX線検出器側リファレンス検出器115の出力データLinRDLとLinRDRを示している。両側はみ出し有りの場合、LinRDLとLinRDRに被写体の計測ビュー方向の変動成分も入っているため、リファレンス補正データとして使用できない。そこで、本実施形態のX線CT装置では、予めX線管側リファレンス検出器106の出力データとX線検出器側リファレンス検出器115の出力データを計測し、変換係数を算出記憶しておき、X線管側リファレンス検出器106の出力データと変換係数を用いて、疑似的にX線検出器側リファレンス検出器115のデータを算出し、リファレンス補正データとして使用する。尚、はみ出し有無判定処理は、図3に示す例に限るものではない。次に、図5~図17を参照しながら、両側はみ出し時のリファレンス補正方法ついて説明する。図5は、図1のコリメータユニット107の部分を拡大した図である。X線CT装置は、X線管105の焦点から角度αdegのX線ビームを照射し、更に、コリメータユニット107の開口部に従って角度γdegのファン状のX線ビームに絞った状態で被写体にX線ビームを照射する。X線管側リファレンス検出器106は、X線管105の焦点から照射されたX線ビームが直接検出できる位置に設置される。より具体的には、X線管側リファレンス検出器106は、常に被写体を通過しないX線ビームが検出できる位置に設置される。また、X線管側リファレンス検出器106は、被写体に照射されるX線ビームを遮らない位置に設置される。図5の例であれば、X線管側リファレンス検出器106は、被写体に照射されていないβdegのX線ビームを検出できるような位置に配置される。X線管側リファレンス検出器106は、図5に示すように、例えば、コリメータユニット107の内部の下方に設置される。但し、X線管側リファレンス検出器106は、被写体に照射される角度γdeg外であれば、どこに設置されても良い。X線管側リファレンス検出器106がコリメータユニット107の外部に設置される場合、X線管側リファレンス検出器106やその周辺を通過するX線によって、無効被曝が生じる可能性がある。これは、本発明では、X線管側リファレンス検出器106にもX線が照射される必要があり、何ら対策を講じないと、X線がX線管側リファレンス検出器106やその周辺を通過し、ひいては、撮影に寄与しないX線が被写体等に照射されてしまうからである。そこで、X線管側リファレンス検出器106がコリメータユニット107の外部に設置される場合、例えば、X線管側リファレンス検出器106の背面X線管105から見て背面に、X線を遮蔽する為の遮蔽物を設けることが望ましい。また、既存の構造物を有効活用して無効被曝を回避するという意味では、X線管側リファレンス検出器106は、コリメータユニット107の内部に設置されることが望ましい。これは、一般に、コリメータユニット107のケーシングは、被写体に照射されるX線が通過する開口部を除き、X線が遮蔽される材質によって形成されており、X線管側リファレンス検出器106やその周辺を通過したX線を遮蔽するからである。ここで、コリメータユニット107には、前述したように、X線補償フィルタや線質硬化フィルタが格納されている。例えば、X線管側リファレンス検出器106がX線補償フィルタや線質硬化フィルタよりも上方に設置される場合、つまり、X線管側リファレンス検出器106が、X線補償フィルタや線質硬化フィルタを通過しないX線を検出する位置に設置される場合、X線管側リファレンス検出器106に入射するX線は、X線補償フィルタや線質硬化フィルタを通過したX線に比べて強度が大きくなり、X線管側リファレンス検出器106の出力データのS/N比が良い為、X線管側リファレンス検出器106として、感度が低い検出器を用いても問題がない。また、例えば、X線管側リファレンス検出器106がX線補償フィルタや線質硬化フィルタよりも下方に設置される場合、つまり、X線管側リファレンス検出器106が、X線補償フィルタや線質硬化フィルタを通過するX線を検出する位置に設置される場合、X線の線質という意味では、X線検出器側リファレンス検出器115に近い環境となり、予め算出しておく変換係数の数を減らすことができる。また、X線管側リファレンス検出器106は、1チャネル分だけ設置しても良いし、複数チャネル分設置しても良い。また、X線管側リファレンス検出器106は、チャネル方向だけでなく、列方向に並べて設置しても良い。また、X線管側リファレンス検出器106は、X線検出器側リファレンス検出器115と同様、X線管105の焦点を挟んで、左側と右側の両側に設置しても良い。この場合、例えば、左側のX線管側リファレンス検出器106の出力データを用いて、左側のX線検出器側リファレンス検出器115の出力データを補正し、右側のX線管側リファレンス検出器106の出力データを用いて、右側のX線検出器側リファレンス検出器115の出力データを補正することによって、よりリファレンス補正の精度を上げることができる。また、リファレンス補正の精度を上げる為には、X線管側リファレンス検出器106の単位時間当たりの計測ビューレートは、X線検出器側リファレンス検出器115のレートと同じであることが望ましい。また、計測のタイミングも同じであることが望ましいため、X線検出器109の計測タイミングに使用するビュートリガーと同じ信号を使用することが望ましい。図6では、両側はみ出し時のリファレンス補正処理の流れを示している。S301では、X線CT装置は、スキャン条件に応じて、X線管側リファレンス検出器106のオフセット補正後データから左右のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後データに変換するための変換係数KL、KRを、記憶装置113から取得する。尚、変換係数KL、KRの算出方法については後述する。S302では、X線CT装置は、X線検出器側リファレンス検出器115の出力データを以下の式に従って算出する。ここで、LinRDUは、各計測ビューにおけるX線管側リファレンス検出器106のオフセット補正後のデータである。CalcRDLとCalcRDRは、算出された模擬的なX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のデータである。図7では、左側の模擬的なX線検出器側リファレンス検出器115のデータを算出する場合を示している。図7に示すように、X線CT装置は、予め算出しておいた変換係数KLとLinRDUから、模擬的な左側のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後データCalcRDLを算出する。右側のCalcRDRも同様に算出することができる。図8には、スキャン途中で、はみ出し無しの状態から、左側はみ出し有り、両側はみ出し有りに変化する場合のリファレンス補正データの切り替わりを示している。aはみ出し無しの状態では、LinRDLとLinRDRをリファレンス補正データとして使用する。例えばLinRDLとLinRDRの平均値などを使用する。次に、b左側はみ出し有りの状態では、はみ出していないLinRDRをリファレンス補正データとして使用する。次に、c両側はみ出し有りの状態では、算出されたCalcRDLとCalcRDRをリファレンス補正データとして使用する。例えば、CalcRDLとCalcRDRの平均値などを使用する。以下、図9~図17を参照しながら、変換係数KL、KRの算出方法の第1実施形態から第3実施形態を説明する。<第1実施形態>第1実施形態では、工場出荷時における変換係数KL、KRの算出方法を説明する。第1実施形態は、図9のフローチャートに従って実施する。S401では、X線CT装置は、出荷調整に使用するエア補正のためのエア計測を実施する。考えられる計測条件としては、管電圧、焦点サイズ、X線検出器109のコリメーション、回転速度、X方向のX線強度を調整するX線補償フィルタ複数種類ある場合、被写体へ照射するX線の低エネルギー部分を除去線質硬化フィルタ複数種類や無しの切り替え機能がある場合、データ収集回路110によるA/D変換前に信号を増幅するDASゲインなどがある。S402では、X線CT装置は、S401において計測した際のX線管側リファレンス検出器106のオフセット補正後のデータLinRDUの計測ビュー方向平均値であるAveRDUと、左右のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のデータの計測ビュー方向平均値であるAveRDLとAveRDRから、以下の式に従ってKLAirとKRAirを算出する。ここでKLAirとKRAirは、エア計測のデータから算出する変換係数である。X線CT装置は、KLAirとKRAirをエア計測の条件ごとに算出し、図10に示すように、各スキャン条件におけるKLAirとKRAirのテーブルを、リファレンス補正データ変換係数記憶機能118によって、記憶装置113に記憶する。S403では、X線CT装置は、必要な条件において収集完了か否かを判定し、収集完了であれば、S404に進む。S402におけるエア計測は、エア補正のためのエア計測であり、通常はデータがオーバーフローしない程度の管電流値のみで計測する。しかしながら、実際に被写体をスキャンする場合は、あらゆる管電流値でスキャンする。そこで、エア補正のためのエア計測で計測した管電流以外に対応するために、S404では、X線CT装置は、X線管側リファレンス検出器106とX線検出器側リファレンス検出器115の管電流に対するリニアリティー特性の差を校正するために、変換係数の管電流依存性を算出し、記憶装置113に記憶する。X線管側リファレンス検出器106とX線検出器側リファレンス検出器115の管電流に対するリニアリティー特性が異なる理由としては、X線管側リファレンス検出器106がX線検出器側リファレンス検出器115と同じ検出器ではなく、汎用的な検出器の可能性も考慮したためである。尚、前述したように、X線管側リファレンス検出器106が汎用的な検出器であっても、ビューレートや計測タイミングはX線検出器側リファレンス検出器115と同じものが望ましい。また、X線管側リファレンス検出器106とX線検出器側リファレンス検出器115が同じ検出器だとしても、両検出器とX線管105の間の透過物補償フィルタの形状や線質硬化フィルタによって入射するX線の線質エネルギーが異なると、両検出器のリニアリティー特性が異なる場合が考えられる。つまり、エネルギーが変化する条件である管電圧、X線補償フィルタ、X線硬化フィルタの条件においてリニアティー特性をおさえておく必要がある。リニアリティー特性は、検出器などを交換しない限り変化しないため、工場出荷時に算出記憶しておけば、その後は同じデータが使用可能である。S404では、X線CT装置は、エネルギーに関する条件管電圧、X線補償フィルタ、X線硬化フィルタ別に、設定可能な管電流値の中でN1点以上の異なる管電流値でエア計測する。X線CT装置は、計測されたX線管側リファレンス検出器106のオフセット補正後のデータLinRDUの計測ビュー方向平均値であるAveRDUと、左右のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のデータ計測ビュー方向平均値であるAveRDLとAveRDRから、式5、6に示すKLmAとKRmAを各計測管電流値ScanTubeCurにおいて算出する。そして、X線CT装置は、算出されたKLmA、KRmAと計測管電流値ScanTubeCurを用いて、以下のようにN次の多項式で近似する。ここで、KLmAとKRmAは、管電流に対するX線管側リファレンス検出器106のオフセット補正後のデータから左右のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のデータへの管電流リニアリティー変換係数である。CLN、CLN1、...CL0は、多項式近似の各次の係数である。X線CT装置は、こうして算出された多項式のN1個の係数を、図11に示すように、各スキャン条件別に記憶装置113に記憶する。尚、多項式近似は一例であり、指数関数やその他の近似関数等を用いても良い。X線CT装置は、変換係数の管電流リニアリティーを校正するための近似関数のパラメータを算出し、算出された近似関数のパラメータを各スキャン条件別に記憶装置113に記憶する。以上の通り、第1実施形態では、X線CT装置は、工場出荷時におけるX線管側リファレンス検出器106のオフセット補正後のデータから左右のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のデータへの変換係数を算出し、記憶する。実際に被写体をスキャンしてX線検出器側リファレンス検出器115の両側に被写体がはみ出した場合、X線CT装置は、スキャン時のX線管側リファレンス検出器106のオフセット補正後のデータから左右のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のデータへの変換係数KLとKRを、以下の式で算出する。X線CT装置は、こうして算出されたKLとKRを式3、4に代入し、各計測ビューの模擬的なX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後データCalcRDLとCalcRDRを算出し、両側はみ出し時のリファレンス補正データとして使用する。第1実施形態によれば、大部分の計測ビューにおいて被写体がリファレンス検出器からはみ出した場合においても、精度の高いリファレンス補正を行うことができる。特に、工場出荷時に変換係数を算出しておくので、工場出荷後から直ちに実施することができる。<第2実施形態>第2実施形態では、病院設置施設において行われるデイリーのエア計測時における変換係数KL、KRの算出方法を説明する。第2実施形態は、第1実施形態に加えて実施することによって、一層精度の高い変換係数を算出することが可能となる。第2実施形態は、図12のフローチャートに従って実施する。S501では、X線CT装置は、エア補正のためのエア計測を毎朝検査開始前に実施する。このエア計測は第1実施形態の工場出荷時のS401のエア計測と同じである。X線検出器109のX線に対する感度が周辺環境の影響で経時的に変化するため、基準データを算出するためのエア計測はデイリーで実施しているのが通例である。この感度変化は、X線管側リファレンス検出器106や左右のX線検出器側リファレンス検出器115においても同じことが言える。そこで、S502では、X線CT装置は、S501において計測されたエアデータから再度変換係数KLAirとKRAirを算出し、図10に示すテーブルを更新する。そして、S503では、X線CT装置は、必要な条件において収集完了か否かを判定し、収集完了であれば、処理を終了する。尚、施設によっては検査に必要な条件のみエア計測する場合も考えられる。その場合は計測した条件のみを更新する。更新後に被写体をスキャンして左右のX線検出器側リファレンス検出器115に被写体がはみ出した場合、第1実施形態と同様に、式9、10に従ってX線管側リファレンス検出器106のオフセット補正後のデータから左右のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のデータへの変換係数KLとKRを算出し、式3、4に代入して、各計測ビューの模擬的なX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後データCalcRDLとCalcRDRを算出して、両側はみ出し時のリファレンス補正データとして使用する。第2実施形態によれば、大部分の計測ビューにおいて被写体がリファレンス検出器からはみ出した場合においても、精度の高いリファレンス補正を行うことができる。特に、院設置施設において行われるデイリーのエア計測とともに変換係数を更新するので、周辺環境の経時的な変化の影響を抑えることができる。<第3実施形態>第3実施形態では、被写体のスキャン中のデータに基づく変換係数KL、KRの算出方法を説明する。第3実施形態は、図13又は図16のフローチャートに従って実施する。第3実施形態では、X線CT装置は、実際の被写体をスキャン中に、被写体がはみ出していない計測ビューのX線管側リファレンス検出器106のオフセット補正後のデータLinRDUと左右のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のデータLinRDLLinRDRから変換係数を算出する。このように、実際のスキャン中のLinRDUとLinRDLLinRDRの相関性を得ることによって、より精度の高い変換係数を得ることが可能となる。これは、温度などの検出器周辺の環境状態がスキャン時と同じ状態のデータが得られるからである。また、被写体や寝台108はスキャン面内にあるため、左右のX線検出器側リファレンス検出器115のデータに被写体からの散乱線による出力増加の可能性も考えられる。以上の点から、スキャン中に算出される変換係数を用いることによって、実際のスキャンにより適したリファレンス補正データを算出することができると言える。S601では、X線CT装置は、スキャン開始後、左右のX線検出器側リファレンス検出器115の各計測ビューにおいて、LinRDLLinRDRをモニタリングする。S602では、X線CT装置は、左側のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のLinRDLがはみ出し判定の閾値ThL以下かどうかを判定する。S602においてNoの場合左側がはみ出していない場合、S603に進み、右側のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のLinRDRがはみ出し判定の閾値ThR以下かどうかを判定する。S603においてもNoの場合、X線CT装置は、S604に進み、はみ出し無しと判定し、その計測ビューにおけるX線管側リファレンス検出器106のオフセット補正後のデータから左右のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のデータへの変換係数KLscanとKRscanを以下の式に従って算出する。X線CT装置は、算出されたKLscanとKRscanを、記憶装置113に記憶しておく。S603において、LinRDRがはみ出し判定の閾値ThR以下の場合、X線CT装置は、S606に進み、右側はみ出し有りと判定し、S607においてはみ出し無しの左側のKLscanを算出し、記憶装置113に記憶する。S602において、左側のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のLinRDLがはみ出し判定の閾値ThL以下の場合、X線CT装置は、S608に進み、右側のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のLinRDRがはみ出し判定の閾値ThR以下かどうかを判定する。S608においてNoの場合、X線CT装置は、S609に進み、左側はみ出し有りと判定し、式12を用いてはみ出していない右側のKRscanを算出し、記憶装置113に記憶する。S608においてYesの場合、X線CT装置は、S611に進み、両側はみ出し有りと判定する。X線CT装置は、S605、S607、S610、及びS611のいずれの処理を行った後も、S612に進み、スキャン終了かどうかを判定し、終了していなければS613に進み、次の計測ビューについてS601から処理を繰り返し実施する。S612においてスキャン終了と判定された場合、X線CT装置は、S614に進み、記憶済のKLscanとKRscanの平均変換係数KLscanaveとKRscanaveを算出し、記憶装置113に記憶する。図14は、図13に示す処理の算出例を示している。図14では、比較的大きな楕円状の被写体を撮影していると仮定する。横軸が計測ビュー、縦軸が左右のX線検出器側リファレンス検出器115のオフセット補正後のデータ値とする。図中の2本の実線は、LinRDLとLinRDRであり、計測ビュー方向の変化を示している。計測開始直後のaはみ出し無しの領域では、図13のS605に示すように、X線CT装置は、KLscanとKRscanを算出し、記憶装置113に記憶する。次のb左側はみ出しでは、左側のX線検出器側リファレンス検出器115に被写体がはみ出した状態となっているので、X線CT装置は、はみ出していない右側の変換係数KRscanを算出し、記憶装置113に記憶する。次のc両側はみ出しでは、完全に両側ではみ出した状態となっているため、X線CT装置は、変換係数を算出しない。次のd右側はみ出しでは、右側のみはみ出した状態となっているため、X線CT装置は、左側の変換係数KLscanを算出し、記憶装置113に記憶する。そして、aはみ出し無しの状態に戻る。こうして算出された変換係数の平均変換係数KLscanaveとKRscanaveは、図15に示すテーブルに記憶される。以下の式によって算出されたCalcRDLとCalcRDRは、c両側はみ出し時のリファレンス補正データとして使用する。上記では、スキャン終了後にKLscanaveとKRscanaveを算出保存する例を示したが、X線を連続的に照射し、且つ被検体を載せた寝台108を動かしながらスキャンするヘリカルスキャン時においては、KLscanaveとKRscanaveを1回転毎に算出し、同じ回転中の両側はみ出し時のリファレンス補正データとして使用してもよい。または、図2に示したローデータの処理を、各ビュー計測直後から処理を開始するようなリアルタイム処理を重視する場合は、両側はみ出し有りと判定される前までのKLscanaveとKRscanaveを算出し、その後の両側はみ出し有りと判定された場合のリファレンス補正データとして使用してもよい。図14を例にとると、aのはみ出し無し時のKLscanとKRscanや、bの左側はみ出し時のKRscanからKLscanaveとKRscanaveを算出し、cの両側はみ出し時のリファレンス補正データとして使用することで、リアルタイム処理を可能とする。以上の通り、被写体のスキャンを固定管電流で実施した場合、X線CT装置は、被写体が固定の管電流によってスキャンされている間に、被写体がX線検出器側リファレンス検出器115にはみ出していない1又は複数の計測ビュー群を特定し、スキャン終了後、はみ出していないと特定された計測ビュー群におけるX線管側リファレンス検出器106の出力データに基づいて、計測ビュー群の平均の変換係数を算出し、算出された計測ビュー群の平均の変換係数を記憶する。そして、X線CT装置は、記憶されている計測ビュー群の平均の変換係数を用いて、両側はみ出し時のリファレンス補正データを算出する。以上の説明は、被写体のスキャンを固定管電流で実施した場合である。一方、被写体がはみ出すような部位は体幹部であり、特に腹部の可能性が高い。体幹部は近年のX線CT装置であれば、体軸方向の減弱量に応じて管電流変調を制御する管電流自動制御でスキャンすることが考えられる。図16は、管電流自動制御を使用した場合のスキャン中の変換係数算出処理を示している。図13に示す固定管電流によるスキャン中の変換係数算出処理と異なる点のみについて説明する。X線CT装置は、S702、S703、及びS708において使用するはみ出し判定のための閾値ThLとThRについて、スキャン計画時に設定する管電流値から計測ビュー毎に算出する。また、X線CT装置は、S705、S707、及びS710において、変換係数を算出し、記憶装置113に記憶する場合、そのビューにおける管電流値ScanTubeCurも記憶装置113に記憶する。そして、X線CT装置は、スキャン終了後、記憶装置113に記憶されている左側の変換係数KLAECと管電流値TubeCurの関係を以下のようなM次の多項式によって近似する。また、X線CT装置は、右側のKRAECについても同様に、以下のようなM次の多項式によって近似する。X線CT装置は、こうして算出されたKLAECとKRAECのM1個の近似係数を、図17に示すテーブルに記憶する。尚、多項式近似は一例であり、指数関数やその他の近似関数等を用いても良い。X線CT装置は、設定管電流値と計測ビュー群の変換係数との関係を近似するための近似関数のパラメータを算出し、算出された近似関数のパラメータを記憶する。そして、X線CT装置は、両側はみ出し時の管電流値ScanTubeCurからKLAECとKRAECを式15、16によって算出し、以下の式によって算出されるCalcRDLとCalcRDRを、両側はみ出し時のリファレンス補正データとして使用する。上記では、スキャン終了後にM1個の近似係数CSLM、CSLM1、、CSL0を算出保存する例を示したが、ヘリカルスキャン時においては、M1個の近似係数を1回転毎に算出して、M1個の近似係数と式15、16のようなM次の多項式近似からKLAECとKRAECを算出し、同じ回転中の両側はみ出し時のリファレンス補正データとして使用してもよい。または、ローデータのリアルタイム処理を重視する場合は、両側はみ出し有りと判定されるビューまでのKLAECとKRAECと管電流値ScanTubeCurからM1個の近似係数を算出しておき、その後の両側はみ出し時の管電流値ScanTubeCurとM1個の近似係数による式15、16のようなM次の多項式近似からKLAECとKRAECを算出し、リファレンス補正データとして使用してもよい。以上の通り、管電流自動制御を使用した場合、X線CT装置は、被写体が管電流自動制御によってスキャンされている間に、被写体がX線検出器側リファレンス検出器115にはみ出していない1又は複数の計測ビュー群を特定し、スキャン終了後、はみ出していないと特定された計測ビュー群におけるX線管側リファレンス検出器106の出力データに基づいて、設定管電流値ごとの計測ビュー群の変換係数を算出し、更に、設定管電流値と計測ビュー群の変換係数との関係を近似するための近似関数のパラメータを算出し、算出された近似関数のパラメータを記憶する。そして、X線CT装置は、記憶されている近似関数のパラメータを用いて、両側はみ出し時のリファレンス補正データを算出する。尚、スキャン計測中全ての計測ビューにおいて両側はみ出し有りの場合は、第3実施形態の手法は適用不可のため、第1実施形態や第2実施形態の方法による実施となる。第3施形態によれば、大部分の計測ビューにおいて被写体がリファレンス検出器からはみ出した場合においても、精度の高いリファレンス補正を行うことができる。特に、スキャン中のデータに基づいて算出される変換係数を用いるので、実際のスキャンにより適したリファレンス補正データを算出することができる。以上の実施例により、大きな被写体が多くの計測ビューにおいてX線検出器側リファレンス検出器115にはみ出した場合でも、精度の高いリファレンス補正が可能となる。また、計測FOVが小さく被写体がはみ出す可能性が高くなるX線CT装置においても、同様の効果がある。尚、前述の説明では、X線管側リファレンス検出器106や左右のX線検出器側リファレンス検出器115のデータをオフセット補正後のデータで説明したが、log変換後のデータでも実施可能である。また、前述の説明では、スキャン時の両側はみ出しについて説明したが、スキャン計画のためのスキャノグラム撮影時に対しても適用可能である。以上、添付図面を参照しながら、本発明に係るX線CT装置等の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例又は修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。