"レーザ光源と、前記レーザ光源から出力されるレーザ光の波長に対して単調増加または単調減少する第1物理量を検出する第1単調変動量検出手段と、前記レーザ光の波長に対して周期的に変動する第2物理量を検出する周期変動量検出手段と、前記レーザ光源から出力されるレーザ光の光強度に対して単調増加または単調減少する第3物理量を検出する第2単調変動量検出手段と、前記第1、第2、および第3物理量に基づいて、前記レーザ光の設定波長からの波長ずれを検出する波長ずれ検出手段と、を備えたことを特徴とする光伝送モジュール。請求項1に記載の光伝送モジュールにおいて、前記第1単調変動量検出手段は、前記レーザ光源の温度を検出する、ことを特徴とする光伝送モジュール。請求項2に記載の光伝送モジュールにおいて、前記レーザ光源近傍の温度を検出する第1温度検出手段をさらに含み、前記第1単調変動量検出手段は、前記第1温度検出手段により検出された温度に基づいて、前記レーザ光源の温度を検出する、ことを特徴とする光伝送モジュール。請求項3に記載の光伝送モジュールにおいて、前記第1温度検出手段よりも前記レーザ光源から離れた位置の温度を検出する第2温度検出手段をさらに含み、前記第1単調変動量検出手段は、前記第1温度検出手段により検出された温度と、前記第2温度検出手段により検出された温度と、の間の温度勾配にさらに基づいて、前記レーザ光源の温度を検出する、ことを特徴とする光伝送モジュール。請求項3または4に記載の光伝送モジュールにおいて、前記レーザ光源に印加されるバイアス電流を検出するバイアス電流検出手段をさらに含み、前記第1単調変動量検出手段は、前記バイアス電流検出手段により検出されたバイアス電流にさらに基づいて、前記レーザ光源の温度を検出する、ことを特徴とする光伝送モジュール。請求項1から5のいずれかに記載の光伝送モジュールにおいて、前記周期変動量検出手段は、入射光の波長に対して透過率が周期的に変化する光フィルタを透過する前記レーザ光の透過率を検出する、ことを特徴とする光伝送モジュール。請求項6に記載の光伝送モジュールにおいて、前記光フィルタの温度を検出する第3温度検出手段をさらに含み、前記周期変動量検出手段は、前記第3温度検出手段により検出された温度に基づいて、前記検出された透過率を補正する、ことを特徴とする光伝送モジュール。請求項6または7に記載の光伝送モジュールにおいて、前記光フィルタは、エタロンフィルタである、ことを特徴とする光伝送モジュール。請求項1から8のいずれかに記載の光伝送モジュールにおいて、前記波長ずれ検出手段による前記波長ずれの検出結果に応じて、アラームを出力するか否かを判定するアラーム判定手段をさらに含む、ことを特徴とする光伝送モジュール。レーザ光源から出力されるレーザ光の波長に対して単調増加または単調減少する第1物理量を検出する第1単調変動量検出手段と、前記レーザ光の波長に対して周期的に変動する第2物理量を検出する周期変動量検出手段と前記レーザ光源から出力されるレーザ光の光強度に対して単調増加または単調減少する第3物理量を検出する第2単調変動量検出手段と、前記第1、第2、および第3物理量に基づいて、前記レーザ光の設定波長からの波長ずれを検出する波長ずれ検出手段と、を備えたことを特徴とする波長モニタ。レーザ光源から出力されるレーザ光の波長に対して単調増加または単調減少する第1物理量を検出する第1単調変動量検出ステップと、前記レーザ光の波長に対して周期的に変動する第2物理量を検出する周期変動量検出ステップと、前記レーザ光源から出力されるレーザ光の光強度に対して単調増加または単調減少する第3物理量を検出する第2単調変動量検出ステップと、前記第1、第2、および第3物理量に基づいて、前記レーザ光の設定波長からの波長ずれを検出する波長ずれ検出ステップと、を含むことを特徴とする波長ずれ検出方法。しかしながら、上記特許文献1または2に開示された波長モニタでは、光送信器の劣化や故障などによって光波長が設定波長から大きくドリフトした場合に、光波長の推定を誤ってしまうという問題がある。たとえば、図4に示すように、自回線nの光波長が隣接波長グリッド隣接回線n±1の設定波長付近までドリフトすると、エタロンフィルタを透過する光の透過率は光波長が設定波長付近にある場合の透過率と同様の値となるため、波長モニタは光波長が設定波長付近にあるものと誤認してしまう。このため、上記波長モニタでは、光波長が大きくドリフトした場合に波長ずれの検出を誤り、通信障害を正しく検出できないことがある。本発明では、レーザ光の波長ずれを誤りなく検出することができる光伝送モジュール、波長モニタ、および波長ずれ検出方法を提供することを目的とする。上記課題を解決するために、本発明に係る光伝送モジュールは、レーザ光源と、前記レーザ光源から出力されるレーザ光の波長に対して単調増加または単調減少する物理量を検出する単調変動量検出手段と、前記レーザ光の波長に対して周期的に変動する物理量を検出する周期変動量検出手段と、前記単調変動量検出手段により検出された物理量と、前記周期変動量検出手段により検出された物理量と、に基づいて、前記レーザ光の設定波長からの波長ずれを検出する波長ずれ検出手段と、を含むことを特徴とする。本発明によれば、レーザ光の波長に対して周期的に変動する物理量だけでなく、レーザ光の波長に対して単調増加または単調減少する物理量にも基づいてレーザ光の波長ずれを検出する。このため、レーザ光源の劣化や故障などによってレーザ光の波長が設定波長から大きくドリフトした場合でも、レーザ光の波長ずれを誤りなく検出することができる。また、本発明の一態様では、前記波長ずれ検出手段は、前記単調変動量検出手段により検出された物理量が前記設定波長に対応する所定範囲内である場合には、前記周期変動量検出手段により検出された物理量に基づいて前記波長ずれを検出し、前記単調変動量検出手段により検出された物理量が前記所定範囲外である場合には、前記単調変動量検出手段により検出された物理量に基づいて前記波長ずれを検出する。この態様によれば、レーザ光源の劣化や故障などによってレーザ光の波長が設定波長に対応する所定範囲外にドリフトした場合でも、レーザ光の波長ずれを誤りなく検出することができる。また、本発明の一態様では、前記単調変動量検出手段は、前記レーザ光源の温度を検出する。この態様によれば、レーザ光源の温度とレーザ光の波長との関係に基づいて、レーザ光の波長ずれを検出することができる。また、本発明の一態様では、前記レーザ光源近傍の温度を検出する第1温度検出手段をさらに含み、前記単調変動量検出手段は、前記第1温度検出手段により検出された温度に基づいて、前記レーザ光源の温度を検出する。この態様では、前記第1温度検出手段よりも前記レーザ光源から離れた位置の温度を検出する第2温度検出手段をさらに含み、前記単調変動量検出手段は、前記第1温度検出手段により検出された温度と、前記第2温度検出手段により検出された温度と、の間の温度勾配にさらに基づいて、前記レーザ光源の温度を検出してもよい。こうすれば、レーザ光源の温度がより正確に得られるので、レーザ光の波長ずれを精度よく検出することができる。また、この態様では、前記レーザ光源に印加されるバイアス電流を検出するバイアス電流検出手段をさらに含み、前記単調変動量検出手段は、前記バイアス電流検出手段により検出されたバイアス電流にさらに基づいて、前記レーザ光源の温度を検出してもよい。こうすれば、レーザ光源の温度がより正確に得られるので、レーザ光の波長ずれを精度よく検出することができる。また、本発明の一態様では、前記周期変動量検出手段は、入射光の波長に対して透過率が周期的に変化する光フィルタを透過する前記レーザ光の透過率を検出する。かかる光フィルタの一例として、エタロンフィルタがある。この態様によれば、レーザ光の波長と光フィルタの透過率との関係に基づいて、レーザ光の波長ずれを検出することができる。また、この態様では、前記光フィルタの温度を検出する第3温度検出手段をさらに含み、前記周期変動量検出手段は、前記第3温度検出手段により検出された温度に基づいて、前記検出された透過率を補正してもよい。こうすれば、光フィルタの温度依存性を考慮したより正確な透過率が得られるので、レーザ光の波長ずれを精度よく検出することができる。また、本発明の一態様では、前記レーザ光の光強度を検出する光強度検出手段をさらに含み、前記波長ずれ検出手段は、前記光強度検出手段により検出された光強度が所定電力未満であるか否かにさらに基づいて、前記波長ずれを検出する。この態様によれば、たとえばレーザ光源の動作状態正常に発光しているか否かなどを考慮したより柔軟な波長ずれの検出が可能となる。また、本発明の一態様では、前記波長ずれ検出手段による前記波長ずれの検出結果に応じて、アラームを出力するか否かを判定するアラーム判定手段をさらに含む。この態様によれば、検出された波長ずれの大きさなどに応じて、アラームを発することができる。また、本発明に係る波長モニタは、レーザ光源から出力されるレーザ光の波長に対して単調増加または単調減少する物理量を検出する単調変動量検出手段と、前記レーザ光の波長に対して周期的に変動する物理量を検出する周期変動量検出手段と、前記単調変動量検出手段により検出された物理量と、前記周期変動量検出手段により検出された物理量と、に基づいて、前記レーザ光の設定波長からの波長ずれを検出する波長ずれ検出手段と、を含むことを特徴とする。また、本発明に係る波長ずれ検出方法は、レーザ光源から出力されるレーザ光の波長に対して単調増加または単調減少する物理量を検出する単調変動量検出ステップと、前記レーザ光の波長に対して周期的に変動する物理量を検出する周期変動量検出ステップと、前記単調変動量検出ステップで検出された物理量と、前記周期変動量検出ステップで検出された物理量と、に基づいて、前記レーザ光の設定波長からの波長ずれを検出するステップと、を含むことを特徴とする。本発明によれば、レーザ光源の劣化や故障などによってレーザ光の波長が設定波長から大きくドリフトした場合でも、レーザ光の波長ずれを誤りなく検出することができる。また、従来の光伝送モジュールに光学的な部品を追加することなく、簡便に波長モニタや波長アラームを構成することができる。以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。[実施形態1]図1は、本発明の実施形態1に係る光伝送モジュール10の機能ブロック図である。同図に示すように、光伝送モジュール10は、レーザダイオードLaserDiode:LD20、温度検出器22,40,50、ペルティエ素子ThermoelectricCooler:TEC24,42、光分岐器26,30、変調器28、フォトダイオードPhotoDiodo:PD32,38、光出力算出部34、エタロンフィルタ36、波長算出部44、自動光出力制御部AutoPowerController:APC46、レーザバイアス電流モニタ48、レーザ温度算出部52、波長誤差取得部54、および波長アラーム判定部56、を含んで構成されている。このうち、光出力算出部34、波長算出部44、レーザ温度算出部52、波長誤差取得部54、および波長アラーム判定部56は、たとえばマイクロコントローラおよびマイクロコントローラの動作を制御するプログラムなどで構成される。レーザダイオード20は、印加されるバイアス電流に応じた光強度のレーザ光を出力する発光素子である。レーザダイオード20から出力されるレーザ光の波長は、レーザダイオード20の温度に応じて変化する。このため、光伝送モジュール10では、レーザダイオード20から出力されるレーザ光の波長が所定の設定波長目標波長に維持されるよう、レーザダイオード20の温度を制御している。図3は、レーザダイオード20の温度誤差量とレーザダイオード20から出力されるレーザ光の波長誤差量との関係を示す図である。同図に示すように、レーザ光の波長誤差量は、レーザダイオード20の温度誤差量の増大に伴って単調に増大するレーザダイオード20の温度は、レーザ光の波長の増大に伴って単調上昇または単調下降する。この関係から、レーザ光の波長を設定波長に維持するために必要となるレーザダイオード20の温度目標温度が導かれる。また、レーザダイオード20の温度を検出すれば、レーザダイオード20から出力されるレーザ光の波長を推定することができる。レーザダイオード20の温度は、レーザダイオード20の近傍に配置された温度検出器22によってモニタされている。温度検出器22は、検出したレーザダイオード20近傍の温度をレーザ温度算出部52に出力する。レーザダイオード20と温度検出器22は、熱電気クーラの1つであるペルティエ素子24上に搭載されている。ペルティエ素子24は、温度検出器22により検出される温度が図3に示す関係から導かれる目標温度になるよう、レーザダイオード20の温度を制御する。レーザダイオード20から出力されたレーザ光は、光分岐器26によって2方向に分岐される。光分岐器26によって分岐されたレーザ光の一方は変調器28に入射し、他方は光分岐器30によってさらに2方向に分岐される。光分岐器30によって分岐されたレーザ光の一方はフォトダイオード32に入射し、他方はエタロンフィルタ36に入射する。変調器28は、光分岐器26を介して入射するレーザ光を送信信号に変調し、変調されたレーザ光を光伝送モジュール10の外部に送出する。フォトダイオード32は、光分岐器30を介して入射するレーザ光を電気信号に変換する受光素子である。フォトダイオード32は、受光したレーザ光の光強度に応じた電流を光出力算出部34に出力する。光出力算出部34は、フォトダイオード32から入力される電流に基づいて、レーザダイオード20から出力されるレーザ光の光強度を算出する。そして、算出した光強度を波長算出部44、自動光出力制御部46、および波長誤差取得部54にそれぞれ出力する。エタロンフィルタ36は、入射光の波長に対して透過率が周期的に変化する光フィルタの1つであり、図4に示すような光透過特性を有する。このため、光分岐器30を介してエタロンフィルタ36に入射するレーザ光の透過率を検出すれば、レーザダイオード20から出力されるレーザ光の波長を推定することができる。なお、本実施形態では、この方法によるレーザ波長の推定精度の方が、上記レーザダイオード20の温度に基づくレーザ波長の推定精度より高いものとする。フォトダイオード38は、エタロンフィルタ36を透過したレーザ光の光強度に応じた電流を波長算出部44に出力する。温度検出器40は、エタロンフィルタ36近傍の温度をモニタし、検出した温度を波長算出部44に出力する。なお、エタロンフィルタ36、フォトダイオード38、および温度検出器40は、ペルティエ素子42上に搭載されており、ペルティエ素子42によって適宜冷却される。波長算出部44は、フォトダイオード38から入力される電流に基づいてエタロンフィルタ36を透過したレーザ光の光強度を算出するとともに、算出した光強度透過後の光強度を光出力算出部34から入力される光強度透過前の光強度で除算することによりエタロンフィルタ36を透過したレーザ光の透過率を算出する。さらに、算出した透過率とエタロンフィルタ36の光透過特性図4参照とに基づいてレーザダイオード20から出力されるレーザ光の波長を推定透過率を波長に換算し、推定したレーザ波長を波長誤差取得部54に出力する。なお、エタロンフィルタ36の光透過特性に温度依存性がある場合、波長算出部44は、温度検出器40により検出されるエタロンフィルタ36近傍の温度に基づいて、エタロンフィルタ36の光透過特性を補正してもよい。こうすれば、波長算出部44によって算出されるレーザ波長の推定精度が向上する。また、光出力算出部34から入力される光強度が所定電力未満たとえば極めて0に近い値である場合、波長算出部44は、予め設定された固定値をレーザ波長として波長誤差取得部54に出力してもよい。自動光出力制御部46は、レーザダイオード20から出力されるレーザ光の光強度が一定となるよう、光出力算出部34により算出されたレーザ光の光強度に基づいてレーザダイオード20に印加されるバイアス電流を制御する。レーザバイアス電流モニタ48は、レーザダイオード20に印加されるバイアス電流をモニタし、検出されたバイアス電流値をレーザ温度算出部52に出力する。温度検出器50は、レーザダイオード20近傍の温度をモニタする温度検出器22よりもレーザダイオード20から離れた位置に配置されている。そして、温度検出器50は、その位置の温度をモニタし、検出した温度をレーザ温度算出部52に出力する。レーザ温度算出部52は、温度検出器22により検出されたレーザダイオード20近傍の温度に基づいてレーザダイオード20の温度を算出する。そして、算出したレーザダイオード20の温度を波長誤差取得部54に出力する。なお、レーザ温度算出部52は、温度検出器22により検出された温度と、温度検出器22よりもレーザダイオード20から離れた位置に配置された温度検出器50により検出された温度と、の間の温度勾配に基づいて、レーザダイオード20の温度を算出温度検出器22により検出された温度を補正してもよい。こうすれば、レーザダイオード20の温度をより精度よく検出することができる。また、レーザ温度算出部52は、レーザバイアス電流モニタ48から出力されるレーザダイオード20へのバイアス電流に基づいてレーザダイオード20の発熱量を推定し、推定した発熱量に基づいてレーザダイオード20の温度を算出温度検出器22により検出された温度を補正してもよい。たとえば、レーザダイオード20の劣化によってバイアス電流当たりの光強度が低下すると、レーザダイオード20に印加するバイアス電流を上げなければならない。この場合、レーザダイオード20の温度が上昇するにも関わらず、レーザダイオード20から出力されるレーザ光の波長は変化しないことがある。すなわち、レーザダイオード20の劣化によって、レーザダイオード20の温度とレーザ波長との関係図3参照に誤差が生じる場合がある。このような場合、温度検出器22により検出される温度からバイアス電流の増加分に応じたレーザダイオード20の発熱量を差し引くことによって、レーザダイオード20の温度とレーザ波長との関係に生じた誤差を補正することができる。波長誤差取得部54は、波長算出部44から入力されるレーザ波長と、レーザ温度算出部52から入力されるレーザダイオード20の温度と、に基づいて、レーザダイオード20から出力されるレーザ光の設定波長からの波長ずれを検出するレーザ波長と設定波長との波長誤差を取得する。すなわち、波長誤差取得部54は、レーザ温度算出部52により算出されたレーザダイオード20の温度が目標温度レーザ光の波長を設定波長に維持するために必要となるレーザダイオード20の温度を含む所定の温度範囲内であれば、波長算出部44により推定されたレーザ波長と設定波長との誤差を波長誤差として取得する。なお、目標温度を含む所定の温度範囲は、図4に示す波長アラーム閾値に対応する温度範囲よりも広く、図4に示す透過率の変動周期の半分に対応する温度範囲よりも狭いことが望ましい。一方、レーザ温度算出部52により算出されたレーザダイオード20の温度が上記所定の温度範囲外であれば、レーザダイオード20の温度とレーザ波長との関係図3参照およびレーザ温度算出部52により算出されたレーザダイオード20の温度に基づいてレーザ波長を推定温度を波長に換算し、推定したレーザ波長と設定波長との誤差を波長誤差として取得する。そして、波長誤差取得部54は、こうして取得した波長誤差を波長アラーム判定部56に出力する。なお、波長誤差取得部54は、光出力算出部34から入力される光強度が所定電力未満である場合には、波長算出部44から入力されるレーザ波長やレーザ温度算出部52から入力されるレーザダイオード20の温度に関わらず、所定の波長誤差を波長アラーム判定部56に出力してもよい。波長アラーム判定部56は、波長誤差取得部54から入力される波長誤差が予め設定された波長アラーム閾値図4参照以上であればレーザ波長異常を示すアラームを生成し、生成したアラームを外部に出力する。[実施形態2]図2は、本発明の実施形態2に係る光伝送モジュール12の機能ブロック図である。同図に示すように、光伝送モジュール12は、レーザダイオード20、温度検出器22,40,50、ペルティエ素子24,42、光分岐器26,30、変調器28、フォトダイオード32,38、光出力算出部34、エタロンフィルタ36、波長算出部44、自動光出力制御部46、レーザバイアス電流モニタ48、レーザ温度アラーム判定部58、光出力アラーム判定部60、波長アラーム判定部62、および波長アラーム総合判定部64、を含んで構成されている。このうち、光出力算出部34、波長算出部44、レーザ温度算出部52、光出力アラーム判定部60、波長アラーム判定部62、および波長アラーム総合判定部64は、たとえばマイクロコントローラおよびマイクロコントローラの動作を制御するプログラムなどで構成される。以下では、重複説明を避けるため、光伝送モジュール10と異なる構成を中心に説明する。レーザ温度アラーム判定部58は、レーザ温度算出部52により算出されたレーザダイオード20の温度が目標温度を含む所定の温度範囲内であるか否かに応じて、レーザ温度アラームの要否を判定する。光出力アラーム判定部60は、光出力算出部34により算出された光強度が所定の光出力アラーム閾値未満であるか否かに応じて、光出力アラームの要否を判定する。波長アラーム判定部62は、波長算出部44により推定されたレーザ波長が波長アラーム閾値図4参照に対応する所定の波長範囲内であるか否かに応じて、波長アラームの要否を判定する。波長アラーム総合判定部64は、レーザ温度アラーム判定部58による判定結果、光出力アラーム判定部60による判定結果、および波長アラーム判定部62による判定結果、という3つの判定結果に基づいて、最終的にアラーム出力の要否を判定する。なお、波長アラーム総合判定部64は、アラーム出力の要否を最終的に判定する際、上記3つの判定結果をいかように組み合わせて用いてもよい。たとえば、光出力アラーム判定部60は、上記3つの判定結果のうち少なくとも1つが要である場合にレーザ波長異常を示すアラームを出力してもよく、また上記3つの判定結果のすべてが不要である場合にアラーム出力を解除してもよい。以上説明した光伝送モジュール10および12によれば、レーザ光の波長に対して周期的に変動する物理量エタロンフィルタ36に入射するレーザ光の透過率だけでなく、レーザ光の波長に対して単調増加する物理量レーザダイオード20の温度にも基づいてレーザ光の波長ずれ波長誤差を検出する。このため、レーザダイオード20の劣化や故障などによってレーザ光の波長が設定波長から大きくドリフトした場合でも、レーザ光の波長ずれを誤りなく検出することができる。なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、光伝送モジュール全般および波長モニタ全般に広く適用可能である。また、上記実施形態では、レーザ光源から出力されるレーザ光の波長に対して単調増加または単調減少する物理量としてレーザダイオードの温度を例示したが、入射光の波長に対して透過率が線形に変化する光フィルタを透過するレーザ光の光強度を用いてもよい。"