光ファイバ複合架空地線を配置した懸垂クランプに地線用ボンド線を取り付けた複数の供試体を用意し、複数の異なる腐食環境にそれぞれ対応した特性の異なる腐食溶液を用意し、各々の供試体に対して特性の異なる腐食溶液の吹き付けと乾燥とのサイクルを繰り返し加速試験を行い、前記加速試験中に前記光ファイバ複合架空地線の光ファイバを収納したアルミ管の孔食深さの時系列データを測定し、複数の異なる腐食環境毎に時間を関数とした加速試験での前記孔食深さのグラフを作成し、加速試験での前記孔食深さのグラフを腐食倍率に基づいて実際の前記孔食深さのグラフに換算し、換算した前記孔食深さのグラフに基づいて前記腐食環境毎に光ファイバ複合架空地線の寿命を予測することを特徴とする光ファイバ複合架空地線の寿命予測方法。実際の光ファイバ複合架空地線を回収したときは、前記光ファイバ複合架空地線の前記孔食深さを測定し、実際の光ファイバ複合架空地線が使用された腐食環境、使用期間及び測定した孔食深さに基づいて、換算された前記孔食深さのグラフを補正することを特徴とする請求項1記載の光ファイバ複合架空地線の寿命予測方法。しかし、特許文献1のものは、光ファイバ複合架空地線アルミ管の穴あきを高精度に特定していくものであり、腐食の対象箇所が予め分かっている地線用ボンド線14の直下における光ファイバ複合架空地線の寿命予測には適さない。また、特許文献2のものは、電線腐食の対象箇所における腐食の程度を診断するものであるが、電線腐食の対象箇所を電気的接触を取って電気抵抗を測定して特定していくことになるので、腐食の対象箇所である地線用ボンド線14の直下における光ファイバ複合架空地線の電気抵抗を測定しなければならない。地線用ボンド線の設置数は膨大であり、地線用ボンド線14の直下における光ファイバ複合架空地線の電気抵抗を測定することは現実的でない。地線用ボンド線14の直下における光ファイバ複合架空地線は、腐食環境と経過年数により腐食の程度が異なるが、その腐食の程度を診断できると、光ファイバ複合架空地線の張替時期を明確にすることができ設備の信頼性を向上できる。本発明の目的は、地線用ボンド線の直下における光ファイバ複合架空地線の腐食の程度を低コストで診断し、その寿命を精度良く予測できる光ファイバ複合架空地線の寿命予測方法を提供することである。請求項1の発明に係る光ファイバ複合架空地線の寿命予測方法は、光ファイバ複合架空地線を配置した懸垂クランプに地線用ボンド線を取り付けた複数の供試体を用意し、複数の異なる腐食環境にそれぞれ対応した特性の異なる腐食溶液を用意し、各々の供試体に対して特性の異なる腐食溶液の吹き付けと乾燥とのサイクルを繰り返し加速試験を行い、前記加速試験中に前記光ファイバ複合架空地線の光ファイバを収納したアルミ管の孔食深さの時系列データを測定し、複数の異なる腐食環境毎に時間を関数とした加速試験での前記孔食深さのグラフを作成し、加速試験での前記孔食深さのグラフを腐食倍率に基づいて実際の前記孔食深さのグラフに換算し、換算した前記孔食深さのグラフに基づいて前記腐食環境毎に光ファイバ複合架空地線の寿命を予測することを特徴とする。請求項2の光ファイバ複合架空地線の寿命予測方法は、請求項1の発明において、実際の光ファイバ複合架空地線を回収したときは、前記光ファイバ複合架空地線の前記孔食深さを測定し、実際の光ファイバ複合架空地線が使用された腐食環境、使用期間及び測定した孔食深さに基づいて、換算された前記孔食深さのグラフを補正することを特徴とする。請求項1の発明によれば、光ファイバ複合架空地線を配置した懸垂クランプに地線用ボンド線を取り付けた複数の供試体に対し、特性の異なる腐食溶液の吹き付けと乾燥とのサイクルを繰り返し加速試験を行い、複数の異なる腐食環境毎に時間を関数とした加速試験での孔食深さのグラフを作成し、加速試験での孔食深さのグラフを腐食倍率に基づいて実際の孔食深さのグラフに換算した孔食深さのグラフを求め、腐食環境毎に光ファイバ複合架空地線の寿命を予測するので、地線用ボンド線の直下における光ファイバ複合架空地線の電気抵抗を測定することなく、光ファイバ複合架空地線の腐食の程度を低コストで診断でき、その寿命を精度良く予測できる。請求項2の発明によれば、実際の光ファイバ複合架空地線を回収したときは、その回収した光ファイバ複合架空地線の孔食深さを測定し、実際の光ファイバ複合架空地線が使用された腐食環境、使用期間及び測定した孔食深さに基づいて、換算された孔食深さのグラフを補正するので、その診断の精度を向上させることができ、光ファイバ複合架空地線寿命の精度をより向上させることができる。以下、本発明の実施形態を説明する。図1は本発明の実施形態に係る光ファイバ複合架空地線の寿命予測方法の一例を示すフローチャートである。まず、光ファイバ複合架空地線を配置した懸垂クランプに地線用ボンド線を取り付けた複数の供試体を用意するS1。この供試体は、懸垂クランプに所定長さの光ファイバ複合架空地線を配置し、懸垂クランプに地線用ボンド線を取り付けて、複数のものを用意する。次に、複数の異なる腐食環境にそれぞれ対応した特性の異なる腐食溶液を用意するS2。例えば、腐食溶液としては、臨海工業地帯を想定したNaCl濃度5でpH2の溶液腐食溶液A、海塩少なく汚染ガス濃度の高い環境を想定したNaCl濃度1でpH2の溶液腐食溶液B、一般的な海岸近接地帯を想定したNaCl濃度5でpH4の溶液腐食溶液C、比較的汚損程度の小さい環境を想定したNaCl濃度1でpH4の溶液腐食溶液Dを用意する。このように、4種類の特性の異なる腐食溶液A、B、C、Dを用意したときは、それに対応して4個の供試体を用意し、各々の供試体に対して腐食溶液A、B、C、Dの吹き付けと乾燥とのサイクルを繰り返し加速試験を行うS3。すなわち、供試体aに対して腐食溶液Aを吹き付け、供試体bに対して腐食溶液Bを吹き付け、供試体cに対して腐食溶液Cを吹き付け、供試体dに対して腐食溶液Dを吹き付け、この吹き付けと乾燥とのサイクルを繰り返し加速試験を行う。この加速試験中に光ファイバ複合架空地線の光ファイバを収納したアルミ管の孔食深さの時系列データを測定するS4。この場合、供試体a、b、c、dごとにアルミ管の孔食深さの時系列データを測定する。そして、供試体a、b、c、dごとにアルミ管の孔食深さの時系列データを横軸を時間としたグラフにプロットして、複数の異なる腐食環境毎に時間を関数とした加速試験での孔食深さのグラフを作成するS5。図2は、加速試験での孔食深さの一例を示すグラフである。縦軸は供試体a、b、c、dの孔食深さ、横軸は実験時間日である。アルミ管の厚さは、標準アルミ厚よりやや大きくした300μmとした場合を示している。孔食深さがアルミ管の標準アルミ厚に達するまでの時間は、供試体aの場合は約25日、供試体bの場合は約31日、供試体cの場合は約45日、供試体dの場合は約47日であった。次に、このようにして作成した加速試験での孔食深さのグラフを腐食倍率に基づいて実際の孔食深さのグラフに換算するS6。腐食倍率は、実際の光ファイバ複合架空地線を回収したときは、光ファイバ複合架空地線の孔食深さを測定し、加速試験での孔食深さと比較して求める。一方、実際の光ファイバ複合架空地線を回収できないときは理論値として求める。理論値として求めた場合には、実際の光ファイバ複合架空地線を新たに回収したときは、その回収した光ファイバ複合架空地線の使用された腐食環境、使用期間及び測定した孔食深さに基づいて、換算された孔食深さのグラフを補正する。これにより、より精度の高い実際の孔食深さのグラフを得られる。図3は、図2に示した加速試験での孔食深さのブラフを腐食倍率に基づいて換算した実際の孔食深さの一例のグラフである。縦軸は供試体a、b、c、dの孔食深さ、横軸は経過時間年である。すなわち、腐食倍率に基づき、孔食深さがアルミ管の標準アルミ厚に達するまでの時間が長くなっている。孔食深さがアルミ管の標準アルミ厚に達するまでの時間は、供試体aの場合は約20年、供試体bの場合は約30年、供試体cの場合は約48年、供試体dの場合は約58年である。そして、図3に示す換算した孔食深さのグラフに基づいて、腐食環境毎に光ファイバ複合架空地線の寿命を予測する。例えば、供試体aの環境下臨海工業地帯の環境下の地線用ボンド線の直下における光ファイバ複合架空地線の場合には、使用期間が10年であれば孔食深さは約190μmであることが分かり、使用期間が20年で孔食深さがアルミ管の標準アルミ厚に達するので、余寿命は約10年であることが分かる。このように、腐食環境と経過年数とにより、腐食している可能性を評価することが可能となる。これにより、対象設備全体の点検張替計画の立案が可能となる。