CCDアレイを装備した分光計の校正方法であり、前記CCDアレイによって、第1の校正スペクトルと第2の校正スペクトルとが記録され、これらの前記校正スペクトルを生成するため、参照構造が照射され、該参照構造は、これらの前記参照構造から発生する光の脱出深さに関して顕著に異なっている、方法。これらの前記両方の校正スペクトルから修正システムが検出され、該修正システムにより、それぞれ使用されるCCDアレイの記録信号が個別に標準化されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。前記修正システムは、例えば特性曲線、又はパラメータ化された修正機能として、分光計の制御装置内に保存されることを特徴とする、請求項2に記載の方法。特定の物質に対する多数の前記修正システムが作成されることを特徴とする、請求項3に記載の方法。例えば、選択された組織成分又は血液成分を測定するのに、それぞれ最適な前記修正システムが用いられることを特徴とする、請求項1~4のいずれか一項に記載の方法。記録される光の元の深さに関する深さの情報が、前記測定により評価工程の中で得られることを特徴とする、請求項1~5のいずれか一項に記載の方法。前記深さ情報に基づいて、前記修正システムがさらに適合されることを特徴とする、請求項1~6のいずれか一項に記載の方法。様々な濃度の参照物質が含まれている多数の参照サンプルを使用することによって、多数の前記修正システムが作成されることを特徴とする、請求項1~7のいずれか一項に記載の方法。CCDアレイを装備した分光計の校正方法であり、前記CCDアレイによって参照体積放射体からのスペクトルが記録され、このときに記録された生データに基づいて、この場合に生じる干渉現象効果を説明する機能が作成され、この前記機能は、体積放射体からの測定のための修正機能として前記分光計の中に保存される、方法。本発明は、CCDアレイを用いた分光測定法において、特に高い有意性を特徴とする測定値が得られる解決方法を提供するという課題に基づいている。この課題は、本発明に基づき、CCDアレイを装備した分光計の校正方法によって解決され、本方法の場合、CCDアレイによって、第1の校正スペクトルと第2の校正スペクトルとが記録され、その際、これらの校正スペクトルを作成するため、参照構造が照射され、これらの参照構造は、それぞれの参照測定においてこれらの参照構造から発生する光の脱出深さに関して顕著に異なっている。これにより、有利な方法で、修正システムを決定することが可能となり、この修正システムにより、それぞれ使用されるCCDアレイの記録特性が書き込まれ、ユニット内部で正規化され得る。この修正システムは、例えば特性曲線、又はパラメータ化された修正機能として、分光計の制御装置内に保存され得る。本発明の特に好ましい実施形態によれば、特定の物質に対する多数の修正システムが作成されるため、例えば、選択された組織成分又は血液成分を測定するのに、それぞれ最適な修正システムを用いることができる。好ましくは、一方の試料は面放射体であり、他方の試料は体積放射体である。この参照放射体は、これらが主として白色光を発するように形成されることができる。測定は、記録される光の元の深さに関する深さ情報が、この測定により評価工程の中で得られるように、設定することが可能である。この深さ情報に基づき、必要に応じて、さらにこの修正システムを適合させることができる。この深さ情報は、特に、混濁効果によって引き起こされる信号変動を考慮し、データ技術的に処理することによって得ることができる。好ましくは、様々な濃度の参照物質が含まれている多数の参照サンプルを使用することによって、多数の修正システムが作成される。好ましくは、それぞれの物質について1つの参照サンプルが提供され、このことは、照射光が深く侵入することなく、光が放射されるのを保証する。好ましくは、この同じ物質を含む参照サンプルは、半透明のベースの中にこの物質が埋め込まれているように形成することができる。この半透明のベースは、その濁度特性に関して、分光分析を行う体部位に典型的な濁度特性と一致するように形成することができる。本発明に基づく分光計の校正は、有利な方法では、この分光計が、放射される光の元の深さに関して異なっている多数の参照サンプルに通されることによって行うことができる。そのようにして得られたこれらのスペクトルは、修正システムを作成するために、直接分光計の中に組み込まれている電子信号処理装置によって用いられることができる。しかし、好ましくは、得られたスペクトルがインタフェース装置によって読み取られ、独立したコンピュータシステムに送られることである。このコンピュータシステムにより、次の工程の中で分光計の評価装置に保存される修正機能を作成することができる。また、例えばインターネットにアクセスできるコンピュータを介して、分光計の識別コードに割り当てることで、この修正機能を保存することも可能である。この特殊な修正機能には、分光計のユーザー又はスペクトルの評価を委託されたユーザーだけがアクセスできる。また、分光計のユーザーによって校正パターンが要求され、顕著に異なる反射深さから2つのスペクトルを得ることができるように、本発明に基づく方法を実現することも可能である。ユーザーによって得られたスペクトルは、次に、この校正パターンについて他の用途で検出された基準スペクトルを用いて比較することもできる。その比較に基づき、分光計の校正又は測定値の標準化を行うことができる。本発明のその他の詳細及び特徴は、図を用いた以下の説明によって生じる。図1は、CCDアレイを含む分光計を使用して得られた2つのスペクトルを示している。これらのスペクトルは、2つの試料図3のP1及びP2から得られた。これらの試料は校正パターンとして働き、この校正パターンにおけるそれぞれ1つの参照物質が、一方の校正パターンについては、検査する光の放射が極めて表面近くから生じるように調整され、これに対して他方の校正パターンは、検査する光が、より深く、深さが異なる箇所から放射されるように形成されている。これらの両方のスペクトルの違いにより、CCDアレイ、詳細にはCCDアレイの酸化被膜に起因する系統的な信号記録効果を定量化し、これに基づいて校正システム即ち標準化システムを適合させることが可能となる。この標準化システムは、特性曲線として、又は図2に例が示されているように、修正機能として表されることができる。この修正機能は分光計の中に保存され得るため、この分光計が、直接、標準化された測定結果を供給する。この修正機能は、他の用途でも、例えば様々な装置によって検出された測定結果を互いに関連させなければならない場合に、特殊な後処理のためなどに考慮され得る。図3から分かるように、試料P1及びP2のスペクトルが記録され、その際、これらの試料は、それぞれ分光計の中に接続された光Lが、一方はほぼ完全に極めて表面に近い部分から放射され、試料P2では、深い箇所から、好ましくはさらに分散した深さから放射されるように形成されている。収集された光は分光計1に送られ、この分光計はCCDアレイ2を含んでいる。このCCDアレイ2によって検知された信号は、第1のメモリ3の中に、例えば光学密度ODの未処理数値として保存される。これらの未処理数値は、校正コンピュータ4によって読み取られる。校正コンピュータ4は、少なくとも2つの特殊な試料P1及びP2について測定されたスペクトルに基づいて校正機能Kを作成する図2を参照。この校正機能Kは、測定装置の信号処理装置5の中に保存される。後の測定のため、最終的にユザーに提供される測定結果Mは、信号処理装置5内にあるこの校正機能を考慮して標準化される。試料P1とP2の一方は、体積放射体を形成している。この試料は、好ましくは、これが生体組織に典型的な混濁を引き起こすように形成されている。校正機能Kは、この混濁により、スペクトルの中に生じる動的特性が説明されるように形成することができる。分散した深さからの測定では、狭い波長範囲についてそれぞれ動的値が検出され、その値に基づいて光学密度の代表値が決定される。この修正機能は、この場合、干渉現象と呼ばれる生データの分散を導関数の形で表す。