"部品を挿入孔に挿入する部品挿入装置であって、挿入対象の部品の保持部分を撮影する第1撮影手段と、前記部品の保持部分を保持して部品を移動させる保持手段と、前記保持手段に保持されている前記部品を挿入方向と逆の方向から、部品の挿入開始部分を撮影する第2撮影手段と、前記第1撮影手段の撮影結果に基づいて前記保持手段の位置決めを行って部品を保持する際の前記保持手段の位置決めを行うと共に、前記第2撮影手段による撮影結果に基づいて、前記挿入開始部分と前記保持部分との挿入孔の開口面上の偏差を検出し、前記偏差に基づいて前記部品を挿入孔に挿入する際の前記保持手段の位置決めを行う制御手段と、を備えることを特徴とする部品挿入装置。前記制御手段は、前記第2撮影手段による前記撮影結果に基づいて前記部品を前記挿入開始部分から前記挿入孔に予め定められた量だけ挿入し、その後、前記偏差に基づき前記保持手段を位置決めし、位置決め後に前記保持手段による部品の保持を解除することを特徴とする請求項1記載の部品挿入装置。前記第1撮影手段は前記部品を前記挿入方向から、前記保持部分を撮影することを特徴とする請求項1または2記載の部品挿入装置。前記保持手段は前記部品を吸引することで保持することを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の部品挿入装置。前記部品はICのテスト検査に用いられるテストピンであることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の部品挿入装置。挿入対象の部品を保持する保持手段を備え、部品を挿入孔に挿入する装置の部品挿入方法であって、挿入対象の部品の保持部分を撮影する第1撮影ステップと、前記第1撮影ステップの撮影結果に基づいて前記保持手段を前記部品上に位置決めし、前記部品の保持部分を保持する保持ステップと、前記保持ステップにより保持されている前記部品を挿入方向と逆の方向から、部品の挿入開始部分を撮影する第2撮影ステップと、前記第2撮影ステップの撮影結果に基づいて、前記保持部分と挿入開始部分の挿入孔の開口面上の偏差を検出する検出ステップと、前記検出ステップによって検出された偏差に基づいて前記保持手段を挿入孔に対して位置決めし、前記部品を挿入孔に挿入する挿入ステップと、を含む部品挿入方法。前記挿入ステップは、前記第2撮影ステップによる前記撮影結果に基づいて前記部品を前記挿入開始部分から前記挿入孔に予め定められた量だけ挿入し、その後、前記偏差に基づき前記保持手段を位置決めし、位置決め後に前記保持手段による部品の保持を解除することを特徴とする請求項6記載の部品挿入方法。テストピンの挿入作業が人手で行われる場合、テストピンの直径や挿入孔の孔径が小さく、両者の寸法の遊びが小さいため、作業者は顕微鏡やルーペ、さらにピンセットを使用する必要がある。微小のテストピンを傷つけることなく、供給ピンユニットの供給孔から取り出し、挿入ソケットの挿入孔に差し込むという作業は、神経を使いきわめて困難な作業といえる。また、テストピンの本数に応じては、作業量は膨大となる。そのため、テストピンを傷つけることなく、目的の挿入孔に正確に挿入させることのできる、作業効率の良い仕組みが望まれている。本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであり、テストピンのような微小の対象部品を傷つけることなく、目的の挿入孔に正確に挿入させることができ、且つ作業効率の良い部品挿入装置及び方法を提供することを目的とする。上記課題を解決するために、本発明の請求項1記載の発明は、部品を挿入孔に挿入する部品挿入装置であって、挿入対象の部品の保持部分を撮影する第1撮影手段と、前記部品の保持部分を保持して部品を移動させる保持手段と、前記保持手段に保持されている前記部品を挿入方向と逆の方向から、部品の挿入開始部分を撮影する第2撮影手段と、前記第1撮影手段の撮影結果に基づいて前記保持手段の位置決めを行って部品を保持する際の前記保持手段の位置決めを行うと共に、前記第2撮影手段による撮影結果に基づいて、前記挿入開始部分と前記保持部分との挿入孔の開口面上の偏差を検出し、前記偏差に基づいて前記部品を挿入孔に挿入する際の前記保持手段の位置決めを行う制御手段と、を備えることを特徴とする。請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記制御手段は、前記第2撮影手段による前記撮影結果に基づいて前記部品を前記挿入開始部分から前記挿入孔に予め定められた量だけ挿入し、その後、前記偏差に基づき前記保持手段を位置決めし、位置決め後に前記保持手段による部品の保持を解除することを特徴とする。請求項3記載の発明は、請求項1または2記載の発明において、前記第1撮影手段は前記部品を前記挿入方向から、前記保持部分を撮影することを特徴とする。請求項4記載の発明は、請求項1ないし3のいずれか1項に記載の発明において、前記保持手段は前記部品を吸引することで保持することを特徴とする。請求項5記載の発明は、請求項1ないし4のいずれか1項に記載の発明において、前記部品はICのテスト検査に用いられるテストピンであることを特徴とする。請求項6記載の発明は、挿入対象の部品を保持する保持手段を備え、部品を挿入孔に挿入する装置の部品挿入方法であって、挿入対象の部品の保持部分を撮影する第1撮影ステップと、前記第1撮影ステップの撮影結果に基づいて前記保持手段を前記部品上に位置決めし、前記部品の保持部分を保持する保持ステップと、前記保持ステップにより保持されている前記部品を挿入方向と逆の方向から、部品の挿入開始部分を撮影する第2撮影ステップと、前記第2撮影ステップの撮影結果に基づいて、前記保持部分と挿入開始部分の挿入孔の開口面上の偏差を検出する検出ステップと、前記検出ステップによって検出された偏差に基づいて前記保持手段を挿入孔に対して位置決めし、前記部品を挿入孔に挿入する挿入ステップと、を含む。請求項7記載の発明は、請求項6記載の発明において、前記挿入ステップは、前記第2撮影ステップによる前記撮影結果に基づいて前記部品を前記挿入開始部分から前記挿入孔に予め定められた量だけ挿入し、その後、前記偏差に基づき前記保持手段を位置決めし、位置決め後に前記保持手段による部品の保持を解除することを特徴とする。本発明によれば、テストピンのような微小の対象部品を傷つけることなく、目的の挿入孔に正確に挿入させることができ、且つ作業効率の良い部品挿入装置及び方法を提供することができる。以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。この実施の形態では、ICの検査に用いられるテストピンを供給ピンユニットから検査用の挿入ソケットに移動し、挿入ソケットの挿入孔に一本ずつ挿入する部品挿入装置であるピン挿入装置について説明する。図1は、本発明に係るピン挿入装置の機構要素の位置関係を示す斜視図である。図1に示されるように、ピン挿入装置1には、位置決め機構10、吸着端撮影部20、挿入端撮影部30、吸着部40、及び、作業台50が備えられている。位置決め機構10、吸着端撮影部20、挿入端撮影部30、及び、吸着部40は後述する制御ユニットの制御に従って動作する。なお、吸着端とはテストピンの吸着される側の端部保持部分を意味し、挿入端とはテストピンの挿入開始側の端部挿入開始部分を意味するものとする。位置決め機構10はいわゆる3軸ロボットで構成されており、移動部10aには吸着端撮影部20及び吸着部40が取り付けられている。位置決め機構10は後述する位置決め制御部の制御に従って、X軸方向、Y軸方向、または、Z軸方向に移動部を移動させ、吸着端撮影部20または吸着部40を位置決めする。吸着端撮影部20は、上部カメラ21、レンズ22、及び、リング照明23を含む。上部カメラ21は作業台50上の撮影対象物を撮影する。レンズ22の焦点はこの実施の形態では固定されている。リング照明23は、例えば、複数の疑似白色発光ダイオードLEDで構成されており、撮影対象物に向けて下向きに光を照射する。吸着部40は、ピン吸着ヘッダ41、管42、及び図示しない吸引源であるバキューム、吸引開閉弁、解除源であるコンプレッサ、解除開閉弁等を含む。ピン吸着ヘッダ41は、テストピンの直径よりも少し大きめの開口部を有し、開口部から内部に向かってテーパ状に細くなるように形成されたパイプ形状をなしている。ピン吸着ヘッダ41は管42及び吸引開閉弁を介してバキュームに接続されている。吸引開閉弁を開くと、バキュームの吸引により、ピン吸着ヘッダ41の開口部に負圧が導入され、開口部に近接するテストピンを吸着することができるようになっている。また、解除開閉弁を開くと、コンプレッサからの圧縮圧力がピン吸着ヘッダ41から吹き出されて、吸着されたテストピンをピン吸着ヘッダ41から離すことができるようになっている。なお、吸着端撮影部20の上部カメラ21の光軸方向と、ピン吸着ヘッダ41の軸方向とは相対的に固定されており、位置決め機構10により移動されても変動しない。さらに、吸着端撮影部20の焦点とピン吸着ヘッダ41の先端部との物理的距離は、テストピンの吸着端の撮影から吸着による保持までの間、一定に維持される。作業台50にはピン供給ユニット51、挿入ソケット53、及び、ソケットバックライト54が備えられている。この実施の形態では、図1に示されるように、ピン供給ユニット51が作業台50上面の一端に載置され、挿入ソケット53が作業台50上面の他端に載置されている。これらのピン供給ユニット51及び挿入ソケット53は、必要に応じて作業台50に取り付けられ、作業台50から取り外し可能である。作業台50の下面には、挿入ソケット53の取付位置に合わせて、ソケットバックライト54が設けられる。ピン供給ユニット51には、複数の、例えば、500個程度の供給孔51aが碁盤状に形成されており、各供給孔51aには、予めテストピン2が挿入されている。挿入ソケット53には、検査対象であるICのテスト個所に対応して挿入孔53aが形成されている。ピン供給ユニット51の供給孔51aの孔径は、テストピンの供給の容易性を考慮して、テストピン2の直径に対して比較的大きいものになっているのに対して、挿入ソケット53の挿入孔53aの孔径は、テストピンの位置を厳格に保持するべく、テストピン2の直径に対して僅かしか大きくなっていない。ソケットバックライト54は、作業台50を貫通するように設けられている。挿入孔53aが挿入ソケット53を貫通しているためソケットバックライト54の光は挿入孔53aを通過可能となっており、挿入孔53aの撮像時に照射される。作業台50の下部には挿入端撮影部30が配置される。挿入端撮影部30は下部カメラ31、レンズ32、及び、リング照明33を含む。挿入端撮影部30は後述する制御ユニット60の制御に従って、作業台50の開口55上方に位置決めされたテストピン2の挿入端を撮影する。なお、この実施の形態では、レンズ32の焦点は作業台50上側の予め定められた空間位置に固定されている。リング照明33は、例えば、複数の疑似白色LEDで構成され、作業台50の開口55を取り囲むように配置されており、開口55上方に向かって光を照射する。次に、図1には示されていない制御ユニットについて図2を参照して説明する。図2は、図1に示されている機構要素と制御ユニットとの関係を示すブロック図である。制御ユニット60は、図1に示される電気的な制御を必要とする要素と接続されており、所定の場所に配置される。制御ユニット60は、例えば、中央処理装置CPUやメモリを備えたコンピュータであってもよい。制御ユニット60は、撮影制御部61、位置決め制御部62、及び、吸着制御部63を含む。撮影制御部61は吸着端撮影部20に接続されており、上部カメラ21の撮影タイミングを指示する。同様に、撮影制御部61は挿入端撮影部30に接続されており、下部カメラ31の撮影タイミングを指示する。撮影制御部61は位置決め制御部62に接続されている。撮影制御部61は位置決め制御部62の位置決め完了の通知に応じて各種指示を行う。位置決め制御部62は、位置決め機構10に接続されており、前述の吸着端撮影部20や吸着部40を所望の位置に位置決めするように、位置決め機構10を駆動する。例えば、吸着部40によりテストピン2を保持するにあたり、吸着端撮影部20が保持対象のテストピン2の吸着端を撮影できるように位置決め機構10を駆動する。位置決めが完了するとその旨を撮影制御部61に通知する。位置決め制御部62は吸着制御部63に接続されている。例えば、テストピン2の吸着を行う場合、ピン吸着ヘッダ41の開口部が、テストピン2の吸着端に位置決めされた場合、位置決め制御部62は、この位置決め完了を吸着制御部63に通知する。吸着制御部63は、吸着部40の吸着及びその解除を制御する。具体的には、テストピンを吸着する場合には、吸着用開閉弁を開き、ピン吸着ヘッダ41に負圧を導入して、テストピン2の吸着端を吸着させる。吸着を解除する場合、吸着用開閉弁を閉じて解除用開閉弁を開き、ピン吸着ヘッダ41から圧縮空気を吹き出して、テストピン2を離す。なお、制御ユニット60は、ピン挿入装置1が含まれる三次元空間における、吸着端撮影部20及び/または吸着部40の座標位置をメモリなどに常時保持する。また、テストピン2の直径、高さ寸法、ピン供給ユニット51の各供給孔51aの位置高さ位置Z位置も含むや、挿入ソケット53の挿入孔53aの位置高さ位置Z位置も含むもメモリに予め記憶されている。ただし、これら供給孔51a、挿入孔53aの少なくとも水平面内位置X,Y位置は必ずしも正確なものではなく、位置決め機構10を駆動してこれらの孔を吸着端撮像部20の撮影視野に収めることができる程度の精度があればよい。次に、この実施の形態におけるピン挿入装置1の動作を図3を参照しつつ説明する。多数のテストピンが供給孔51aに差し込まれているピン供給ユニット51及び空の挿入孔53aを有する挿入ソケット53が作業台50上に配置された後、操作者の指示に応じて制御ユニット60は、テストピンの挿入処理を開始する。先ず、位置決め制御部62は位置決め機構10を制御して、吸着端撮影部20を対象のテストピンが差し込まれている供給孔51a上に位置決めする。前述したように、制御ユニット60は供給孔51aの位置を予め記憶している。また、テストピン2の高さ寸法は既知であるので、テストピン2の吸着端に吸着端撮影部20のピントが合うように、吸着端撮影部20が位置決めされる。位置決めの完了は、位置決め制御部62から撮影制御部61に通知される。撮影制御部61は吸着端撮影部20を制御して対象のテストピン2の吸着端を撮影するステップS1、図10A。ここでテストピン2が供給孔51aに差し込まれている状態について説明する。図4はテストピン2が供給孔51aに差し込まれている状態を例示した図である。図4の上部は、テストピン2の差し込まれた状態を上から見た状態を示しており、図4の下部はその断面を示している。前述のように供給孔51aの孔径は、供給容易性からテストピンの直径よりも大きく設計されているため、テストピン2は鉛直ではなく、通常、多少斜めになって差し込まれていることが多い。撮影制御部61は、撮影された吸着端の画像から、対象とするテストピン2の吸着端の座標を求める。この座標は、複数のテストピン2が整列してそれらの高さ位置Z位置はほぼ等しい状態であるとすれば、画像の中心からのX,Y距離と、吸着端撮像部20の位置とから求めることができる。位置決め制御部62は、この吸着端の座標に基づいて、図5に示されるようにテストピン2の吸着端にピン吸着ヘッダ41を位置決めする。位置決め完了後、吸着制御部63は吸着部40の吸引開閉弁を開きピン吸着ヘッダ41を負圧にすると、対象のテストピン2がピン吸着ヘッダ41に吸着されるステップS2、図10B。ここで、ピン吸着ヘッダ41に吸着されたテストピンの状態を図6を参照して説明する。前述したように、供給孔51aに差し込まれているテストピン2は多少傾いた状態にあることが多いため、ピン吸着ヘッダ41に吸着された状態にあっても、テストピン2の傾きは解消されておらず、傾いた状態で保持されていることが起こり得る。このとき、テストピン2の挿入端はピン吸着ヘッダ41の軸に対して図6に示されるようなX-Y面内のずれ偏差を生じている。このすれを検出するために、位置決め制御部62は、吸着部40を作業台50の開口55上に位置決めするステップS3、図10C。好ましくは、吸着部40を挿入端撮像部30の下部カメラ31の光軸に合うように位置決めする。位置決めされた状態は図7に示されるようになる。そして、撮影制御部61は挿入端撮影部30を制御して、テストピン2の挿入端を撮影する。図6に示されるようにテストピン2が傾いて吸着されている場合、挿入端撮影部30によって撮影された挿入端は、吸着端、即ち光軸からずれていることになる。撮影制御部61は、撮影された挿入端の画像から、テストピン2の挿入端の座標を求め、挿入端の座標と光軸の座標との距離から、挿入端と吸着端とのX-Y面内のずれを求めるステップS4。この後、位置決め制御部62は、対象である挿入孔53a上に吸着端撮影部20を位置決めしステップS5、撮影制御部61は吸着端撮影部20の上部カメラ21を用いて挿入孔53aの撮影を行うステップS6。撮影制御部61は撮影された画像に基づいて挿入孔53aの正確な位置を求める。この後、求められた挿入孔53aの正確な位置と、前述のステップS4で求めたテストピンのずれとに従って挿入端が対象挿入孔53aの中心に一致するように吸着部40を挿入ソケット53の対象挿入孔53a上に位置決めするステップS7。この後、位置決め制御部62は、テストピンの挿入端が挿入孔53aから外れない程度の、挿入ソケット53の上面から若干の長さ0.5mm程度、挿入孔53a内に挿入されるように、吸着部40を挿入ソケット53側に下げるステップS8、図8。次いで、位置決め制御部62は、ステップS4で求められた、挿入端と吸着端のずれに基づいて吸着部40の位置を制御するステップS9、図9。具体的には、テストピン2の吸着端が挿入孔53aの中心に一致するようにピン吸着ヘッダ41の位置を調整する。この調整によって、テストピン2は鉛直になるように補正される。このような調整時にも、ピン吸着ヘッダ41に保持されるテストピンの姿勢が変更できる程度にテストピンの吸着は維持される。吸着端の位置が調整された後、吸着開閉弁を閉じて解除開閉弁を開き、ピン吸着ヘッダ41から圧縮空気を吹き出して、吸着を解除するステップS10。吸着が解除されたテストピンは挿入孔に自重により挿入される。以上の処理により、ピン供給ユニット51に差し込まれていたテストピンが、正確に移動されて、挿入ソケット53の挿入孔に挿入される。ピン挿入装置1は、ピン挿入ソケット53の挿入孔53a全てにテストピンが挿入されるまで予め決められた供給孔及び挿入孔の順序で処理を繰り返し行うステップS11。この実施の形態のピン挿入装置によれば、テストピンのような微小の対象部品を傷つけることなく、目的位置に正確に移動することができる。また、部品を保持する機構の位置決めが適切に行われるため、作業効率が向上する。"