照射光源から照射された光を受光装置によって受光して、外乱による基準位置に対する計測対象位置の変位を検出する光学式変位計測装置における計測誤差を補正する光学式変位計測装置の計測誤差補正装置であって、前記基準位置および前記計測対象位置が所定の構造体に設定されており、前記構造体の構造解析モデルを用いて構造解析を実施し、前記構造体における前記基準位置に対する前記計測対象位置の変位である構造解析変位を推定する構造解析変位推定手段と、前記光学式変位計測装置における計測結果および推定された前記構造解析変位に基づいて、前記光学式変位計測装置の誤差を補正する誤差補正手段と、を備えることを特徴とする光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。前記構造解析変位推定手段は、構造解析変位として、前記光学式変位計測装置の計測結果から得られる計測変位を第1構造解析変位とし、前記照射光源と前記受光装置との間の相対的な回転角である第1局部回転角を前記第1構造解析変位から求め、前記第1構造解析変位および前記第1局部回転角を用いた構造解析を行って、第2構造解析変位を推定し、以後、前記第n-1構造解析変位から求められる第n-1局部回転角n:整数および第1構造解析変位を用いた構造解析を行って、第n構造解析変位を推定する請求項1に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。前記構造解析変位推定手段は、第n構造解析変位と第n-1構造解析変位との差が所定のしきい値以下となったときに、前記第n構造解析変位を補正後の基準位置に対する計測対象位置の変位とする請求項2に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。前記構造解析変位を所定期間内における所定の単位時間ごとに算出し、前記単位時間ごとの第n構造解析変位と第n-1構造解析変位との差の平均とが所定のしきい値以下となったときに、前記第n構造解析変位を補正後の基準位置に対する計測対象位置の変位とする請求項2に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。前記構造体が建物であり、前記外乱が地震による震動である請求項1~請求項4のうちのいずれか1項に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。照射光源から照射された光を受光装置によって受光して、外乱による基準位置に対する計測対象位置の変位を検出する光学式変位計測装置における計測誤差を補正する光学式変位計測装置の計測誤差補正方法であって、前記基準位置および前記計測対象位置が所定の構造体に設定されており、前記構造体の構造解析モデルを用いて構造解析を実施し、前記構造体における前記基準位置に対する前記計測対象位置の変位である構造解析変位を推定する構造解析変位推定ステップと、前記光学式変位計測装置における計測結果および推定された前記構造解析変位に基づいて、前記光学式変位計測装置の誤差を補正する計測誤差ステップと、を備えることを特徴とする光学式変位計測装置の計測誤差補正方法。しかし、ジャイロセンサを用いる方法や画像解析を併用する方法では、地震などの外乱に対する建物の変位を計測する場合、受光部や光源部の設置位置の部材局所変形量は、大地震時においても非常に小さく、たとえば、局所変形量の最大値が数ミリラジアン以下であることが多い。このため、計測装置の分解能を考慮するとさらに微小な角度の計測が必要となる。さらに、地震のような非定常性の強い外乱に対する建物応答に伴う回転量を計測するためには、実用的な範囲における回転量計測装置での計測はできなかった。したがって、ジャイロセンサや画像解析を用いる方法については、地震などの外乱に対する建物のモニタリングシステムにおける変位計測装置の誤差除去として用いることは、実用上現実的ではなかった。また、角度計測機構を追加して回転量を直接計測する方法では、光学式変位計測装置および角度計測機構のそれぞれに対して受光部および光源部が必要となる。このため、複数の受光部および光源部が必要となることから、装置全体が複雑化するとともに、建築計画的に設置位置が限定される可能性があるという問題があった。そこで、本発明の課題は、非定常性の強い外乱に対する計測を行うことができるとともに、装置全体の複雑化を防止しながら光学式変位計測装置の計測誤差を補正することができる光学式変位計測装置の計測誤差補正装置および補正方法を提供することにある。上記課題を解決した本発明に係る光学式変位計測装置の計測誤差補正装置は、照射光源から照射された光を受光装置によって受光して、外乱による基準位置に対する計測対象位置の変位を検出する光学式変位計測装置における計測誤差を補正する光学式変位計測装置の計測誤差補正装置であって、基準位置および計測対象位置が所定の構造体に設定されており、構造体の構造解析モデルを用いて構造解析を実施し、構造体における基準位置に対する計測対象位置の変位である構造解析変位を推定する構造解析変位推定手段と、光学式変位計測装置における計測結果および推定された構造解析変位に基づいて、光学式変位計測装置の誤差を補正する誤差補正手段と、備えることを特徴とする。本発明に係る光学式変位計測装置の計測誤差補正装置においては、構造体の構造解析モデルを用いて構造解析を実施し、構造体における基準位置に対する計測対象位置の変位である構造解析変位を推定する。また、推定された構造解析変位および光学式変位計測装置における計測結果に基づいて、光学式変位計測装置の誤差を補正している。このため、ジャイロセンサなどによる計測と異なり、実用的な範囲で非定常性の強い外乱に対する建物応答に伴う構造体の変位の推定などを行うことができる。さらには、角度計測機構などによる計測と異なり、複数の受光部および光源部を必要とすることもない。よって、非定常性の強い外乱に対する計測を行うことができるとともに、装置全体の複雑化を防止しながら光学式変位計測装置の計測誤差を補正することができる。ここで、構造解析変位推定手段は、構造解析変位として、光学式変位計測装置の計測結果から得られる計測変位を第1構造解析変位とし、照射光源と受光装置との間の相対的な回転角である第1局部回転角を第1構造解析変位から求め、第1構造解析変位および第1局部回転角を用いた構造解析を行って、第2構造解析変位を推定し、以後、第n-1構造解析変位から求められる第n-1局部回転角n:整数および第1構造解析変位を用いた構造解析を行って、第n構造解析変位を推定するようにすることができる。このように、第1構造解析変位および第1構造解析変位から求められる第1局部回転角を用いた構造解析を行って、第2構造解析変位を推定し、以後、第n-1局部回転角n:整数および第1構造解析変位を用いた構造解析を行って、第n構造解析変位を推定し、段階的に構造解析変位を推定することにより、計測誤差をより精度よく補正することができる。また、構造解析変位推定手段は、第n構造解析変位と第n-1構造解析変位との差が所定のしきい値以下となったときに、第n構造解析変位を補正後の基準位置に対する計測対象位置の変位とするようにすることができる。このように、構造解析変位にしきい値を設定することにより、計測誤差の補正をスムーズに行うことができる。さらに、構造解析変位を所定期間内における所定の単位時間ごとに算出し、単位時間ごとの第n構造解析変位と第n-1構造解析変位との差の平均とが所定のしきい値以下となったときに、第n構造解析変位を補正後の基準位置に対する計測対象位置の変位とするようにすることができる。このように、単位時間ごとの構造解析変位に対してしきい値を設定することにより、計測時間の全体における計測誤差が小さくなったときに計測誤差の補正を終了することができる。よって、計測時間の全体に対する計測誤差の補正をスムーズに行うことができる。また、構造体が建物であり、外乱が地震による震動である態様とすることができる。このように、構造体が建物であり、外乱が地震による震動であるときに、光学式変位計の計測誤差を好適に補正することができる。他方、上記課題を解決した本発明に係る光学式変位計測装置の計測誤差補正方法は、照射光源から照射された光を受光装置によって受光して、外乱による基準位置に対する計測対象位置の変位を検出する光学式変位計測装置における計測誤差を補正する光学式変位計測装置の計測誤差補正方法であって、基準位置および計測対象位置が所定の構造体に設定されており、構造体の構造解析モデルを用いて構造解析を実施し、構造体における基準位置に対する計測対象位置の変位である構造解析変位を推定する構造解析変位推定ステップと、光学式変位計測装置における計測結果および推定された構造解析変位に基づいて、光学式変位計測装置の誤差を補正する計測誤差ステップと、備えることを特徴とする。本発明に係る光学式変位計測装置の計測誤差補正装置および補正方法によれば、装置全体の複雑化を防止するとともに、光学式変位計測装置の計測誤差補正することができる。以下、図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。なお、各実施形態において、同一の機能を有する部分については同一の符号を付し、重複する説明は省略することがある。本実施形態に係る計測誤差補正装置によって計測誤差の補正が行われる光学式変位計測装置は、照射光源および受光装置を備えており、照射光源および受光装置がそれぞれ変位計測の対象となる対象物、たとえば建物に設けられる。計測誤差補正装置では、これらの照射光源または受光装置の回転に伴う計測誤差を補正する。たとえば、地震等の外乱が発生した場合、建物について、地震等の外乱に対する建物のモニタリングシステムによって建物の変位情報に基づいた損傷評価を行う損傷評価装置がある。このとき、建物の変位を光学式変位計測装置によって計測して建物の変位情報を得るが、光学式変位計測装置では、変位計測時に、照射光源または受光部材が設置された部位に局所変形が生じ、この局所変形による回転を伴う計測誤差が生じる可能性がある。この計測誤差が生じた場合には、建物の損傷評価の精度が低くなる。本実施形態に係る計測誤差補正装置は、光学式変位計測装置における計測誤差を補正するものである。図1は、本発明の実施形態に係る光学式変位計測装置およびその計測誤差補正装置のブロック構成図である。図1に示すように、本実施形態に係る計測誤差補正装置1には、光学式変位計測装置2が接続されている。また、計測誤差補正装置1は、構造解析モデルデータ格納部12、シミュレーション部11、および計測誤差補正部13を備えている。光学式変位計測装置2は、図2に示すように、計測対象物である建物Mの各階に取り付けられた照射光源21および受光部材22を備えている。受光部材22は、照射光源21から照射された光を受光した受光位置を計測誤差補正装置1におけるシミュレーション部11に所定時間毎、たとえば1ms毎に送信する。受光部材22の受光位置に基づいて、建物Mの層間変位などの変位を検出する。図2において、建物Mとしては、上梁31、下梁32、左柱41および右柱42が示されている。照射光源21は、上梁31に設けられており、受光部材22は、下梁32に設けられている。またその他の梁や柱に対して、照射光源21や受光部材22が適宜設けられる。なお、図2においては、建物Mにおける上梁31、下梁32、左柱41および右柱42については簡略化して描いている。また、図2では、地震等の外乱が生じて建物Mに水平方向の力Fが入力した場合の建物の歪みを概略的に描いていている。建物Mの歪みにより、照射光源21が設けられた上梁31や受光部材22が設けられた下梁32に局部変形が生じると、照射光源21が受光部材22に対して相対的に回転する。この回転により、受光部材22における照射光源21からの光の受光位置がずれて、誤差が生じる。図2に示すように、照射光源21と受光部材22との間で層間変位L1と局部変形による変位成分L2とがあり、局部変形による変位成分L2が誤差となって現れる。計測誤差補正装置1では、この誤差による層間変位の誤差を補正する。計測誤差補正装置1における構造解析モデルデータ格納部12は、コンピュータ等のメモリ装置に設定された特定の領域に構成され、構造解析モデルを格納する装置である。構造解析モデルは、建物の構造部材たとえば、柱、梁、壁、床毎に各々の力学特性たとえば、剛性、降伏特性を表現する要素に置換した建物の構造解析モデルである。建物の構造解析モデルとしては、たとえば、参考文献武藤清著、構造物の動的設計、丸善、1977に開示されているものがある。特に、構造解析モデルデータ格納部12には、設計時に設定された漸増変位載荷解析用の構造解析モデルが格納されている。シミュレーション部11は、コンピュータ等に構成される処理装置である。シミュレーション部11では、光学式変位計測装置2から送信された受光位置から求められる建物の各層の層間変位時刻歴から得られる建物の各階変位時刻歴を計測変位時刻歴とする。このため、計測変位は時刻歴のサンプリング時間たとえば1ms毎の数値が求められる。また、シミュレーション部11は、構造解析モデルデータ格納部12に格納された構造解析モデルおよび計測変位を用いて時刻歴変位載荷解析を行い、この解析結果に基づいて、局部変形の影響を含む構造解析変位に相当する推定変位の時刻歴を推定して生成する。シミュレーション部11は、本発明の構造解析変位推定手段を構成する。時刻歴変位載荷解析では、サンプリング時間毎の数値として求められる計測変位を所定回数分求めるたとえば地震の継続時間に相当する所定回数求める。たとえば1サンプリング時間が1ms、継続時間が10sの場合に、計測変位を10000回求める。シミュレーション部11は、光学式変位計測装置2から送信された受光位置に基づいて求めた計測変位の時刻歴である計測変位時刻歴および生成した推定変位の時刻歴である推定変位時刻歴を計測誤差補正部13に出力する。計測誤差補正部13は、シミュレーション部11から出力された計測変位時刻歴および推定変位時刻歴を用いて収束判定を行い、推定変位時刻歴が収束していると判定した場合には、このときの推定変位時刻歴を最終推定変位時刻歴となる収束推定変位時刻歴と判断する。また、推定変位時刻歴が収束していないと判定した場合には、未収束信号をシミュレーション部11に出力する。未収束信号を出力されたシミュレーション部11では、前回の推定変位時刻歴を用いて、再び解析構造モデルを用いた時刻歴変位載荷解析を行う。シミュレーション部11は、ここでの解析結果から推定変位の時刻歴を生成し、第2推定変位時刻歴として計測誤差補正部13に出力する。以後、この収束判定において収束していると判定されるまで、シミュレーション部11において、構造解析モデルを用いた時刻歴変位載荷解析を繰り返す。そして、計測誤差補正部13において収束判定の結果、収束していると判定されたら、たとえば、第n回目に出力された推定変位時刻歴に基づく収束判定結果が収束している場合には、最後である第n回目に出力された推定変位時刻歴を収束推定変位時刻歴と判定する。シミュレーション部11および計測誤差補正部13は、本発明の誤差補正手段を構成する。次に、本実施形態に係る光学式変位計測装置の計測誤差補正装置における動作について説明する。図3は、本実施形態に係る計測誤差補正装置の動作手順を示すフローチャートである。図3に示すように、本実施形態に係る計測誤差補正装置においては、まず、光学式変位計測装置2によって建物Mの変位を計測するS1。建物Mの変位を計測したら、シミュレーション部11において、光学式変位計測装置2によって計測した建物Mの変位を用いて時刻歴変位載荷解析を行うS2。シミュレーション部11における時刻歴変位載荷解析は、次の手順で行う。時刻歴変位載荷解析においては、光学式変位計測装置2によって計測された建物Mの層間変位である計測建物変位δ′を、第1回の推定変位である第1推定変位δ1と仮定する。ここで、建物Mの一点における変位の時刻歴は、たとえば図4aに示す波形となる。図4aでは、縦軸に第1推定変位δ1、横軸に時間tを設定して、第1推定変位δ1の時刻歴の例を示している。こうして第1推定変位δ1の時刻歴を仮定したら、構造解析モデルデータ格納部12に格納された構造解析モデルを読み出し、この構造解析モデルに対して、各時刻における第1推定変位δ1に対する時刻歴変位載荷解析を実施する。この時刻歴変位載荷解析を行うことにより、光学式変位計測装置2の照射光源21または受光部材22の設置位置の回転角以下第1推定局部回転角というθ1の時刻歴を得ることができる。この第1推定局部回転角θ1の時刻歴は、第1推定変位δ1の時刻歴から得ることができ、たとえば、図4bに示す波形となる。ここで、照射光源21と受光部材22とは、一定の角度関係を持って建物Mに設けられているが、その相対位置関係、たとえば設置角度の関係に誤差が生じると、光学式変位計測装置2による計測結果である第1推定変位δ1に誤差が含まれることになる。この誤差は、照射光源21と受光部材22との間の相対的な回転角である第1推定局部回転角θ1に含まれる誤差に起因するものである。そこで、誤差が含まれている推定変位の補正を行うS3。推定変位の補正は、計測建物変位δ′=第1推定変位δ1に含まれる誤差を、実際の推定変位δnの時刻歴を推定する過程で除去することによって行う。推定変位の補正を行うにあたり、第1推定変位δ1の時刻歴を求めたら、第2推定変位δ2の時刻歴を求める。第2推定変位δ2を求めるにあたっては、各時刻における光学式変位計測装置2で計測した計測建物変位δ′=第1推定変位δ1、構造解析モデルを用いて求めた推定局部回転角θ1、および計測間距離hを下記1式に代入することにより、算出することができる。ここで求めた第2推定変位δ2から第2推定変位δ2の時刻歴を求める。δ2=δ′±hθ11こうして第2推定変位δ2の時刻歴を求めたら、第1推定局部回転角θ1を求めた場合と同様にして、各時刻における第2推定変位δ2に対して構造解析モデルを用いた時刻歴変位載荷解析を実施し、第2推定局部回転角θ2を算出する。以後、同様にして、各時刻における第n-1推定変位δn-1n:整数に対して、構造解析モデルを用いた時刻歴変位載荷解析を実施して、第n-1推定局部回転角θn-1を求める。その後、下記2式を用いて、第n推定変位δnを算出し、第n推定変位δnの時刻歴を求める。δn=δ′±hθn-12その後、n=n1として順次第n推定変位δnを求めることにより、最終的な推定変位である最終推定変位時刻歴を求める。本実施形態では、最終推定変位時刻歴を求めるにあたり、順次第n推定変位δnを求める過程において、第n-1推定変位δn-1と第n推定変位δnとの差を求め、この差が所定条件を満たした時点で、誤差の除去が収束しており、第n推定変位δnを最終推定変位と判定する収束判定を行うS4。以下、収束判定において、第n推定変位δnを最終推定変位と判定するための所定条件について説明する。ここでは、各時刻における推定変位の誤差の平均値を用いて収束判定を行う。収束判定は、下記3式を用いて行うことができる。下記3式では、時刻歴データ個数Nおよび収束判定しきい値εを用いる。時刻歴データ個数Nは、本実施形態では、時刻歴データを生成する際の個数である10000である。また、収束判定しきい値εは、適宜の数値に設定することができ、たとえば計測装置の分解能たとえば0.1mmとすることができる。こうして、推定変位の補正を行うとともに、上記3式に基づいて収束判定を行い、3式を満たす場合に、第n推定変位nの時刻歴を最終推定変位時刻歴とするS5。この最終推定変位時刻歴を、補正後の基準位置に対する受光部材22の変位の時刻歴とすることができる。その後、計測誤差判定装置における処理を終了する。一方、3式を満たさない場合には、第n1推定変位δn1を求め、上記3式を満たすまでステップS2~S4の処理を繰り返す。このように、本実施形態に係る計測誤差補正装置1においては、建物Mの構造解析モデルを用いて時刻歴変位載荷解析を実施し、建物Mにおける基準位置に対する計測対象位置の変位である構造解析変位を推定し、推定変位とする。また、推定変位および光学式変位計測装置2における計測結果に基づいて、光学式変位計測装置2の誤差を補正している。このため、光学式変位計測装置2における照射光源21または受光部材22の回転に伴う計測誤差を高いロバスト性を有する変動載荷解析に基づいたシミュレーション解析により補正することができる。したがって、角度計測機構などによる計測と異なり、実用的な範囲で非定常性の強い外乱に対する建物応答に伴う構造体の変位の推定を行うことができる。さらには、複数の受光部および光源部を必要とすることもないので、非定常性の強い外乱に対する計測を行うことができるとともに、装置全体の複雑化を防止しながら光学式変位計測装置の計測誤差を補正することができる。また、本実施形態に係る計測誤差補正装置1を、地震等の外乱に対する建物のモニタリングシステムによって建物の変位情報に基づいた損傷評価を行う損傷評価装置に用いることができる。この場合、光学式変位計測装置2における計測誤差を実用的な範囲で非定常性の強い外乱に対する建物応答に伴う構造体の変位の推定を行うことができるので、損傷評価装置の品質を大幅に高めることができる。また、本実施形態における計測誤差補正装置1においては、計測変位δ′および第n-1局部回転角θn-1を用いた構造解析を行って、第n推定変位δnを推定している。このため、段階的に推定変位構造解析変位を推定することにより、計測誤差をより精度よく補正することができる。また、第n推定変位と第n-1推定変位との差が所定のしきい値以下となったときに、第n推定変位を補正後の推定変位としている。このため、計測誤差の補正をスムーズに行うことができる。さらに、本実施形態における計測誤差補正装置1においては、サンプリング時間毎の推定変位δnを用いた上記3式におけるしきい値εを設定している。このしきい値εを設定することにより、計測時間の全体における計測誤差が小さくなったときに計測誤差が収束して補正を終了するようにしている。したがって、計測時間の全体に対する計測誤差の補正をスムーズに行うことができる。また、図5および図6を参照して、本実施形態に係る計測誤差補正装置1を用いた計測誤差の補正の実施例について説明する。図5は、光学式変位計測装置2による変位の計測を行い、計測誤差補正装置1においてその計測誤差を補正した建物の一例であり、aが建物の基準階梁伏図、bが建物の一面の軸組図である。本実施例における建物Mは鉄骨造建物であり、最高高さ29m、総重量9300kNである。また、建物MのY方向の一次固有周期は0.97sである。図5に示すように、建物Mは、柱P1~P8および梁B1~B9を備えている。光学式変位計測装置2は、図5aに示す中央の第2柱P2および第3柱P3の間であって、第2柱P2の端部柱芯から525mmの位置に配置されている。また、図5bに示すように、第1梁B1~第9梁B9の全てに光学式変位計測装置2が配置されている。図5bでは、図2に示す光学式変位計測装置2のうちの照射光源21の配置位置を図示しており、受光部材22については、その下層の梁にそれぞれ配置されている。こうして配置された光学式変位計測装置2によって、建物Mの層間変位を計測する。また、ここでは、解析結果を実際の層間変位と想定し、局部変形の影響を含む計測層間変位時刻歴を生成した。解析モデルは、柱、梁、接合部パネルを各部材毎にモデル化した各階面内剛床の立体フレームモデルとし、各部材毎に降伏モーメントを折れ点とする弾塑性モデルを設定した。この弾塑性モデルでは、柱を塑性論モデル、梁を分割梁モデル、接合パネルをBi-Linearばねとした。建物Mの建物固有の減衰は、2の各次一律減衰を仮定し、入力地震動はELECENTRO1940NSを最大速度50cm/sに基準化して用いた。このときに局部変形による計測誤差の補正結果の例として、第1層の層間変位時刻歴を図6に示す。図6に示す例では、計測値を細い実線で示し、補正値を太い破線で示し、実値を細い実線で示している。図6に示すように、光学式変位計測装置2による計測結果は、実値とは異なる波形となった。この計測結果に対して、計測誤差補正装置1によって時刻歴変位載荷解析を数回実施して、層間変位時刻歴について補正を施した。その結果、補正値は、実値とほとんど重なる結果となった。このように、計測誤差補正装置1によって層間変位時刻歴を補正することにより、計測層間変位時刻歴を、実際の層間変位時刻歴である実値に近づけることができる結果となった。以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。たとえば、上記実施形態において、最終推定変位時刻歴は、収束推定変位時刻歴としているが、それ以外のものとすることもできる。たとえば、推定変位時刻歴を算出する回数を予め定めておいて、この回数の推定変位時刻歴を求めたときの最後の推定変位時刻歴を最終推定変位時刻歴とすることができる。また、上記実施形態では、層間変位の時刻歴について補正を行っているが、時刻歴ではなく、層間変位自体の補正を行うこともできる。層間変位自体の補正を行う際にも、上記1式および2式を用いた補正を行うことができる。また、上記実施形態では光学式変位計測装置として水平方向の変位を計測する計測装置を各階に少なくとも1個ずつ設置する構成としたが、鉛直方向の変位を計測する装置も設置してもよいし、各階に複数個設置してもよい。あるいは、全ての階ではなく、建物全体で複数個設置建物全体としての変位状況が得られる個数であり、たとえば、1階、屋上階の2個設置、1階、屋上階、中央階の3個設置、1階飛ばしで設置、2階飛ばしで設置してもよい。さらに、本実施の形態では損傷の評価結果を表示する構成としたが、評価結果を紙にプリントアウト、評価結果を示すデータを他のシステムに出力転送する等、他の出力方法でもよい。また、本発明に係る構造解析モデルについては、設計時に設定したモデルを、建物の改築、増築あるいは実際のモニタリング結果を反映しながら逐次更新していくことも可能である。さらに、構造解析モデルにおいて、配管類等を考慮した設備系の剛性等を考慮することもできる。