入力端子と、前記入力端子に接続され通過帯域の中心周波数を変えることができるチューナブル帯域フィルタと、前記チューナブル帯域フィルタに接続された歪み素子と、前記歪み素子に接続されて自装置が受信する周波数の高周波信号を復調して低周波信号を得る復調回路と、前記復調回路に接続されて前記チューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数を設定する制御信号を前記チューナブル帯域フィルタに送信する中心周波数設定回路と、前記復調回路に接続されて復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧を測定するSメータ測定回路と、前記Sメータ測定回路に接続され前記Sメータ測定回路で測定した電圧を記憶して比較するSメータ比較回路とを備え、前記Sメータ比較回路は、前記復調回路で復調する高周波信号の周波数と前記チューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が等しいときに前記復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧と、前記復調回路で復調する高周波信号の周波数と前記チューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が異なるときに前記復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧とを比較して、相互変調歪みの発生を検出する相互変調歪み検出装置。前記Sメータ比較回路は、復調回路で復調する高周波信号の周波数とチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が等しいときに復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧よりも、復調回路で復調する高周波信号の周波数とチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が異なる場合に、復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧の方が大きいときに相互変調歪みの発生を検出する、請求項1に記載の相互変調歪み検出装置。前記Sメータ比較回路は、復調回路で復調する高周波信号の周波数とチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が等しいときに復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧と、復調回路で復調する高周波信号の周波数よりもチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が高周波数側に異なるときに復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧と、復調回路で復調する高周波信号の周波数よりもチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が低周波数側に異なるときに復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧と、を比較して相互変調歪みの発生を検出する請求項1に記載の相互変調歪み検出装置。前記Sメータ比較回路は、復調回路で復調する高周波信号の周波数とチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が等しいときに復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧と、復調回路で復調する高周波信号の周波数に対しチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が第1の周波数幅だけ異なるときに復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧と、復調回路で復調する高周波信号の周波数に対しチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が第2の周波数幅だけ異なるときに復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧と、を比較して相互変調歪みの発生を検出する請求項1に記載の相互変調歪み検出装置。前記相互変調歪み検出装置は、さらに回路ゲインを変化させるAGC回路を具備したことを特徴とする、請求項1から4に記載の相互変調歪み検出装置。前記相互変調歪み検出装置は、前記AGC回路の回路ゲインを固定して、相互変調歪みの発生を検出する請求項5に記載の相互変調歪み検出装置。入力端子と、前記入力端子に接続され通過帯域の中心周波数を変えることができる第1のチューナブル帯域フィルタと、前記第1のチューナブル帯域フィルタに接続された第1の歪み素子と、前記第1の歪み素子に接続され通過帯域の中心周波数を変えることができる第2のチューナブル帯域フィルタと、前記第2のチューナブル帯域フィルタに接続された第2の歪み素子と、前記第2の歪み素子に接続されて受信する周波数の高周波信号を復調して低周波信号を得る復調回路と、前記復調回路に接続され前記第1のチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数を設定する制御信号を前記第1のチューナブル帯域フィルタに送信する第1の中心周波数設定回路と、前記復調回路に接続され前記第2のチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数を設定する制御信号を前記第2のチューナブル帯域フィルタに送信する第2の中心周波数設定回路と、前記復調回路に接続されて前記復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧を測定するSメータ測定回路と、前記Sメータ測定回路に接続されSメータ測定回路で測定した電圧を記憶して比較するSメータ比較回路とを備える相互変調歪み検出装置。前記相互変調歪み検出装置は、前記復調回路で復調する高周波信号の周波数と第1のチューナブル帯域フィルタおよび第2のチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が等しいときに、前記復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧と、前記復調回路で復調する高周波信号の周波数と前記第2のチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が異なるときに、前記復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧とを比較し、前記復調回路で復調する高周波信号の周波数と第1のチューナブル帯域フィルタおよび第2のチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が等しい場合に、前記復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧と、前記復調回路で復調する高周波信号の周波数と前記第1のチューナブル帯域フィルタおよび前記第2のチューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数が異なるときに、前記復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧とを比較し、相互変調歪みの発生を検出する、請求項7に記載の相互変調歪み検出装置。請求項1から8に記載の相互変調歪み検出装置を具備した受信機。しかしながら、特許文献1に記載された従来の受信機においては、第1の可変利得手段の利得をαdBdB:デシベル減衰させたとき、復調手段への入力電力量を一定に保つため第2の可変利得手段を制御し、第2の可変利得手段の利得の変化量としてβdBβ=2×α以内の変化量を必要とするときに混変調歪み信号が受信感度の劣化に影響を及ぼしていないと判断し、βdBを越える変化量を必要とするときは混変調を発生する2つ以上の妨害波が存在すると判断しているが、歪みの発生源となる非線形素子への妨害波の入力レベルがαdB変化したとき、非線形素子の出力信号における相互変調IM歪み信号のレベルがn×αdBnは2以上以上変化するのは、IM歪み信号のレベルが非線形素子の飽和レベルに対して十分低い場合だけであるため、IM歪み信号のレベルが非線形素子の飽和レベルに近づくとIM歪みを検出できないという問題があった。また、特許文献2に記載された従来の受信機においては、同調手段からの出力信号のレベルと予め決定された基準レベルを比較して同調手段の同調周波数を制御しているが、復調回路におけるベースバンド信号の信号レベルSメータを参照していないため、IM歪みが発生しているか否かを区別できないという課題があった。つまり、妨害波が存在する環境において、IM歪み信号が発生し希望波との混信が起こりうる条件と、混信が起こりえない条件を区別することができないため、IM歪みを検出することができなかった。本発明は、従来の問題を解決するためになされたもので、相互変調歪みを検出することのできる受信機を提供することを目的とする。上記目的を達成するために本発明は、入力端子と、入力端子に接続され通過帯域の中心周波数を変えることができるチューナブル帯域フィルタと、チューナブル帯域フィルタに接続された歪み素子と、歪み素子に接続されて受信する周波数の高周波信号を復調して低周波信号を得る復調回路と、復調回路に接続されて復調回路で復調する高周波信号の周波数を設定する受信周波数設定回路と、受信周波数設定回路に接続され前記チューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数を設定する制御信号を前記チューナブル帯域フィルタに送信する中心周波数設定回路と、復調回路に接続されて復調回路で受信する周波数の高周波信号を復調して得られた低周波信号の電圧を測定するSメータ測定回路と、Sメータ測定回路に接続されSメータ測定回路で測定した電圧を記憶して比較するSメータ比較回路という構成を有する。本発明によれば、チューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数をシフトする前後のSメータを比較することにより、相互変調歪みを検出することができるという効果を奏する。実施の形態1以下、本発明の実施の形態1における相互変調歪み検出装置10について図面を参照しながら説明する。図1は本発明の実施の形態1における相互変調歪み検出装置10のブロック図である。図1において、相互変調歪み検出装置10は、高周波信号の入力端子11と、入力端子11に接続され入力端子11から相互変調歪み検出装置10に入力された高周波信号が入力されるチューナブル帯域フィルタ12と、チューナブル帯域フィルタ12から出力された高周波信号が入力される歪み素子13と、歪み素子13から出力された高周波信号が入力される復調回路14とを有する。本実施の形態1の相互変調歪み検出装置10は、主にラジオ受信機やテレビ受信機などの無線の受信機に搭載して使用することを想定している。入力端子11は、相互変調歪み検出装置10が高周波信号を受信するための高周波信号の入り口であり、例えばアンテナ19などに接続される。チューナブル帯域フィルタ12は、入力端子11を通じて相互変調歪み検出装置10に入力された高周波信号から、復調回路14に入力すべき周波数帯域の高周波信号を選択的に通過させる帯域フィルタである。チューナブル帯域フィルタ12は、チューナブル帯域フィルタ12が通過させる周波数帯域内の周波数の高周波信号を、通過させる周波数帯域外の周波数の高周波信号よりも少ない減衰量で通過させることができる。さらに、チューナブル帯域フィルタ12が通過させる周波数帯域の中心周波数を外部から制御できる特徴を有する。歪み素子13は、高周波アンプやミキサなどの非線形素子の総称である。高周波アンプは、入力された高周波信号の電力を増幅して出力する素子である。ミキサは、一般に、複数の入力端子を持ち、複数の入力端子のそれぞれから入力された高周波信号を混合し、周波数変換を行った信号を出力する。どちらもトランジスタ、FET、ダイオードなどを含む回路素子であり、所定の電力以上の信号が入力されると出力が飽和することにより歪み信号を発生させる。そのため、ここでは、高周波アンプやミキサを区別せずに歪み素子13と呼ぶことにする。復調回路14は、相互変調歪み検出装置10が受信した高周波信号を復調し、必要な情報が乗せられた低周波ベースバンド信号を取得する回路である。ここでの低周波信号とは、本実施の形態の相互変調歪み検出装置10を搭載する受信機がテレビであれば映像と音声、ラジオであれば音声、データ通信端末であればデータが含まれる電気信号などのことであり、図示していないディスプレイ、スピーカなどの出力デバイスに入力され、所定の映像をディスプレイに表示したり、所定の音声をスピーカから出力したりするのに使用される。復調回路14は、相互変調歪み検出装置10が受信し復調回路14で復調する高周波信号の周波数以下で受信周波数と呼ぶを、中心周波数設定回路15に出力する。中心周波数設定回路15は、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数以下で中心周波数と呼ぶが受信周波数と同じとなるようにするため、中心周波数に応じた信号をチューナブル帯域フィルタ12へ出力する。チューナブル帯域フィルタ12は、中心周波数設定回路15から入力される信号に応じて、通過帯域の中心周波数を変化させる。復調回路14は、復調回路14が高周波信号を復調して得た低周波信号をSメータ測定回路16に出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から出力された低周波信号の電圧信号レベルを測定する。復調回路14が復調して得た低周波信号の信号レベルをSメータと呼ぶ。Sメータ測定回路16は、SメータをSメータ比較回路17へ出力する。以上のように構成された相互変調歪み検出装置10について、以下にその処理動作を説明する。図2は本発明の実施の形態1における相互変調歪み検出装置10の動作説明のフローチャートである。まずユーザからの指示動作などにより、相互変調歪み検出装置10が受信モードに入るステップS31。次に、復調回路14は、ユーザからの指示や相互変調歪み検出装置10を制御するプログラムの命令を受けて、相互変調歪み検出装置10が受信して復調する高周波信号の周波数受信周波数を決め、受信周波数をチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数設定回路15へ出力する。中心周波数設定回路15は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が、受信周波数と同じとなるように、チューナブル帯域フィルタ12へ制御信号を出力する。以上の動作により、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数は、復調回路14の受信周波数に設定される。そのため、チューナブル帯域フィルタ12は、入力端子11に入力された高周波信号から受信周波数の信号を選択して出力する。チューナブル帯域フィルタ12から出力された高周波信号は、歪み素子13、さらに復調回路14へ入力され、復調回路14で復調される。復調回路14は、復調回路14に入力された高周波信号から受信周波数の信号を復調して低周波信号を得て、低周波信号をSメータ測定回路16へ出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から入力された低周波信号のSメータS1を、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、SメータS1を記憶するステップS32。次に、復調回路14は、ユーザからの指示や相互変調歪み検出装置10を制御するプログラムの命令に従い、IM歪み検出試験モードを開始するか、開始しないかを選択するステップS33。IM歪み検出試験モードを開始しない場合ステップS33のNO、受信モードのステップS32に戻る。復調回路14が、IM歪み検出試験モードを開始することを選んだ場合ステップS33のYES、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数設定回路15は、中心周波数を受信周波数から所定量だけシフトさせるため、チューナブル帯域フィルタ12に制御信号を出力する。チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数は、復調回路14の受信周波数から所定量だけシフトする。チューナブル帯域フィルタ12から出力された高周波信号は、歪み素子13、さらに復調回路14へ入力され、復調回路14で復調される。復調回路14は、復調回路14に入力された高周波信号から受信周波数の信号を復調して低周波信号を得て、低周波信号をSメータ測定回路16へ出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から入力された低周波信号のSメータS2を、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、SメータS2を記憶するステップS34。次に、Sメータ比較回路17では、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数と等しいときの受信周波数のSメータS1と、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数に対して所定量のシフトをしているときの受信周波数のSメータS2の大小を比較するステップS35。Sメータ比較回路17は、S2がS1より大となったときにIM歪みが生じていると判断する。一方、Sメータ比較回路17は、S2がS1より小となったときは、IM歪みが生じていないと判断する。Sメータ比較回路17が、IM歪みが生じていないと判断したときは、受信モードS32に戻り、通常の受信動作を行う。以上のように構成された相互変調歪み検出装置10について、以下で、処理動作の実施例を説明する。まず、チューナブル帯域フィルタ12の減衰度の周波数特性の例を図3に示す。図3の横軸は、チューナブル帯域フィルタ12に入力される高周波信号の周波数である。縦軸は、チューナブル帯域フィルタ12に入力される高周波信号がチューナブル帯域フィルタ12を通過する前後に受ける信号レベルの減衰度を表す。以下では、チューナブル帯域フィルタ12に入力される高周波信号がチューナブル帯域フィルタ12を通過する前後に受ける信号レベルの減衰度のことを、チューナブル帯域フィルタ12の減衰度と呼ぶ。すなわち、チューナブル帯域フィルタ12への入力信号のレベルを縦軸の0としたとき、縦軸が出力信号のレベルに相当する。図2のステップS32において、チューナブル帯域フィルタ12は、中心周波数設定回路15からの出力信号を受けて、通過帯域の中心周波数が受信周波数となるように設定される。図3の実線A1は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が受信周波数となるときのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度を表している。このとき、受信周波数をfdで表す。チューナブル帯域フィルタ12へ周波数が受信周波数fdである信号を含む広帯域信号が入力したとき、周波数が受信周波数fdと等しい信号は、最小の減衰減衰度L0を受けて出力される。しかしながら、周波数が受信周波数fdより高い信号と低い信号は、周波数fdの信号より大きな減衰を受けて出力される。つまり、チューナブル帯域フィルタ12は、受信周波数fdの信号を選択して出力している。次に、図2のステップS34において、チューナブル帯域フィルタ12は、中心周波数設定回路15から出力された制御信号を受けて、通過帯域の中心周波数を受信周波数fdからシフトさせる。図3の破線A2は、周波数のシフト幅がΔf中心周波数がfdΔfとなるときのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度を表している。チューナブル帯域フィルタ12に、周波数が受信周波数fdの信号が入力されたときに、受信周波数fdの信号が受ける減衰度はLd2となる。次に、IM歪み信号が発生する場合の処理動作の例を図4を用いて説明する。図4aは、相互変調歪み検出装置10の入力端子11からチューナブル帯域フィルタ12に入力される信号の周波数対信号レベルの特性図スペクトラムを表す。図4の横軸は、チューナブル帯域フィルタ12に入力される信号の周波数を表し、縦軸は信号レベルを表す。チューナブル帯域フィルタ12には、周波数が受信周波数fdと等しい信号B11、周波数faの信号B12、周波数fbの信号B13が入力される。周波数の関係を式1に示す。fa-fd=fb-fa式1つまり、周波数fd、周波数fa、周波数fbは等間隔で並んでいる。周波数fdの信号レベルをVd、周波数faと周波数fbの信号レベルをVaとする。周波数fdの信号は、復調回路の受信周波数と等しく、復調すべき信号つまり希望波信号であるのに対し、周波数faと周波数fbの信号は、希望波信号の復調のためには不要な信号妨害波信号である。相互変調歪みが生じるのは、希望波信号と周波数が異なる2波以上の妨害波信号が存在する場合である。さらに、希望波信号と2波以上の妨害波信号の互いの周波数の間隔が等しい場合に、相互変調歪みで生じる相互変調歪み信号以下では単に歪み信号と呼ぶことがあるが希望波信号と同じ周波数となるため、希望波信号と歪み信号の分離が困難となり、受信性能を著しく劣化させる場合がある。式1は、このような場合の、希望波信号と妨害波信号の周波数の関係を表す。なお、図4では、妨害波の周波数が希望波の周波数より高い場合を示したが、逆に低い場合も同様である。ただし、相互変調歪みにかかわる妨害波の周波数は、希望波周波数に対して、高い側か低い側のいずれかの側に等間隔に並ぶ必要がある。相互変調歪み検出装置10が受信モードを開始図2のステップS31した後、ステップS32において、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数は受信周波数fdとなるように設定される。このときのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度は図3の減衰度曲線A1で表される。このとき、周波数fd、周波数fa、周波数fbの信号のチューナブル帯域フィルタ12の通過前後の減衰度は、L0、La1、Lb1となり、それらの大小関係は、L0<La1<Lb1である。つまり、周波数fdの希望波信号が最も減衰度が小さく、周波数faと周波数fbの妨害波は希望波よりも大きな減衰を受ける。チューナブル帯域フィルタ12を出力された信号の信号レベルを図4bの実線で示す。周波数fdの希望波は減衰度L0を受けて信号レベルVd-L0となるB21。周波数faの妨害波は減衰度La1を受けて信号レベルVa-La1となるB22。周波数fbの妨害波は減衰度Lb1を受けて信号レベルVa-Lb1となるB23。チューナブル帯域フィルタ12を出力された信号は、歪み素子13に入力される。歪み素子13は周波数faと周波数fbの妨害波信号の信号レベルに応じて、相互変調IM歪みを発生させる。今、希望波と妨害波の周波数の関係が式1で表される関係にあるため、IM歪みで生じる信号の中で、3次IM歪み信号のうちの一つが希望波と同じ周波数となる。その理由は、周波数faとfbの信号が3次IM歪みを起こした時に発生するIM歪み信号の周波数は、2×fa-fb、および2×fb-faの2つであり、その中で周波数2×fa-fbの信号は、希望波の周波数fdと等しくなるためである。周波数の関係を式2に示した。なお、式2の式の変換に、式1の関係を使った。2×fa-fb=fafa-fb=fafd-fa=fd式2図4cは、歪み素子13の出力信号のレベル特性図スペクトラムを示す。歪み素子13の出力信号のうち周波数fdである信号には、歪み素子13に周波数fdで入力されて出力される信号B31と、歪み素子13に異なる周波数で入力されてIM歪みのために周波数fdとなって出力される信号B32の2つが含まれることになる。歪み素子13は、歪み素子13に周波数fdで入力されて出力される信号B31と、歪み素子13に異なる周波数で入力されてIM歪みのために周波数fdとなって出力される信号B32の2つを復調回路14に出力する。歪み素子13に周波数fdで入力されて出力される信号B31のレベルをVd1、歪み素子13に異なる周波数で入力されてIM歪みのために周波数fdとなって出力される歪み信号B32のレベルをVim1とする。歪み素子13に異なる周波数で入力されてIM歪みのため周波数fdとなって出力される歪み信号のレベルVim1は、IM歪みを発生させる元となる周波数faと周波数fbの妨害波の信号レベルが大きいほど信号レベルが大となる。復調回路14は、周波数fdの信号を復調して得られた低周波信号をSメータ測定回路16へ出力する。復調回路14が復調するべき信号は、歪み素子13に周波数fdで入力されて出力される希望波信号B31であるが、歪み素子13に異なる周波数で入力されてIM歪みのために周波数fdとなって出力されるIM歪み信号B32は同一周波数の妨害波であるため区別することができない。したがって、Sメータ測定回路16は、信号レベルVd1となる希望波信号もしくは信号レベルVim1となるIM歪み信号のうち信号レベルの大きい信号の信号レベルをSメータ測定値S1として、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、S1の値を記憶する。ここまでの信号レベルの関係を表1に示す。次に、相互変調歪み検出装置10がIM歪み検出試験モードを開始した場合について説明する図2のステップS33。このとき、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数設定回路15は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdから周波数シフト幅Δfだけシフトさせる。周波数シフト幅Δfは、妨害波信号の周波数周波数faと周波数fbの中央付近となるように選ぶ。このとき、チューナブル帯域フィルタ12の減衰度は、図3の減衰度曲線A1からA2へ変化する。チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフトのため、周波数fd、周波数fa、周波数fbの各信号のチューナブル帯域フィルタ12を通過する前後の減衰度が変化する。周波数fdの信号の減衰度はL0からLd2に増大しL0<Ld2、周波数faの信号の減衰度はLa1からほぼL0に減少するLa1>L0。同じように、周波数fbの信号の減衰度はLb1からほぼL0に減少するLb1>L0。このときのチューナブル帯域フィルタ12の出力レベルの特性図スペクトラムを図4bに破線で示す。周波数fdの希望波は減衰度Ld2を受けて信号レベルVd-Ld2なるB24。周波数faの妨害波は減衰度L0を受けて信号レベルVa-L0となるB25。周波数fbの妨害波は減衰度L0を受けて信号レベルVa-L0となるB26。チューナブル帯域フィルタ12の出力信号の信号レベルを、周波数ごとにチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数をシフトする前後で比較する。周波数fdの希望波信号の信号レベルは、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト前の信号レベルVd-L0であるのに対し、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト後は信号レベルVd-Ld2である。Ld2>L0であるから、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト後は信号レベルが低下する。次に周波数faの妨害波信号の信号レベルは、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト前の信号レベルVa-La1であるのに対し、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト後は信号レベルVa-L0である。L0<La1であるから、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト後は信号レベルが増大する。次に周波数fbの妨害波信号の信号レベルは、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト前の信号レベルVa-Lb1であるのに対し、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト後は信号レベルVa-L0である。L0<Lb1であるから、シフト後は信号レベルが増大する。すなわち、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト後は、希望波の信号レベルが低下し、IM歪みを発生させる元となる妨害波の信号レベルが増大する。相互変調歪み検出試験モード開始後、すなわちチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト後の歪み素子13の出力信号のレベル特性図を図4dに示す。歪み素子13に周波数fdで入力されて出力される希望波信号B41のレベルをVd2、歪み素子13に異なる周波数で入力されてIM歪みのために周波数fdとなって出力されるIM歪み信号B42のレベルをVim2とする。希望波とIM歪み信号の歪み素子13の出力レベルを、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数をシフトする前後で比較する。IM歪みを発生させる元となる周波数faと周波数fbの妨害波のチューナブル帯域フィルタ12の出力レベルが増大したため、IM歪みのため周波数fdとなって出力されるIM歪み信号のレベルは増大するVim1<Vim2。一方で、周波数fdの希望波のチューナブル帯域フィルタ12の出力レベルが低下したため、歪み素子13に周波数fdで入力されて出力される信号のレベルは低下するVd1>Vd2。復調回路14は、周波数fdの信号を復調し、復調信号の信号レベルをSメータ測定回路16へ出力する。復調回路14が復調するべき信号は、歪み素子13に周波数fdで入力されて出力される希望波信号B41であるが、歪み素子13に異なる周波数で入力されてIM歪みのために周波数fdとなって出力されるIM歪み信号B42は同一周波数の信号であるため区別することができない。したがって、Sメータ測定回路16は、信号レベルVd2である希望波信号もしくは信号レベルVim2であるIM歪み信号のうち信号レベルの大である方の信号の信号レベルをSメータ測定値S2として、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、S2の値を記憶する。相互変調歪み検出試験モード開始後の信号レベルの関係を表2に示す。次に、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数シフト前後の希望波とIM歪み信号の歪み素子13の出力レベルの変化を表3に示す。希望波のレベルが減少するのに対し、IM歪み信号の信号レベルは増大する。次に、Sメータ比較回路17にて、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数シフト前のSメータS1と、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数シフト後のSメータS2を比較する。次の3つの場合に分けて説明する。1受信モードにおいて希望波よりIM歪み信号のレベルが大きい場合。すなわちチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が希望波周波数fdと等しいときの希望波の歪み素子13からの出力レベルVd1が、IM歪み信号の出力レベルVim1より小さい場合Vd1<Vim1。このとき、S1=Vim1となる。次に、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数シフト後は、Vd2<Vd1、Vim2>Vim1だから、必ず、Vd2<Vim2となり、S2=Vim2となる。この条件は、受信モードの段階で歪み素子13においてIM歪み信号が発生していて、希望波の出力レベルVd1よりIM歪み信号の出力レベルVim1の方が大きいために、IM歪み信号が復調されていた場合に相当する。チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト前後のSメータを比べると、S1<S2となるので、IM歪みが発生していると判定する。2受信モードにおいて希望波よりIM歪み信号のレベルが小さく、IM歪み検出試験モードで希望波よりIM歪み信号のレベルの方が大きくなる場合。すなわち、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が希望波周波数fdと等しいときの希望波の歪み素子13からの出力レベルVd1が、IM歪み信号の出力レベルVim1より大きくVd1>Vim1、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数をシフトした後の希望波の歪み素子13からの出力レベルVd2が、IM歪み信号の出力レベルVim2より小さい場合Vd2<Vim2。このとき、S1=Vd1、S2=Vim2となる。この条件は、受信モードの段階では希望波のレベルがIM歪み信号より大きいので希望波を復調していたが、IM歪み検出試験モードに入った後、歪み素子13において強いIM歪み信号が発生し、希望波のレベルよりIM歪み信号のレベルの方が大きくなってIM歪み信号が復調された場合に相当する。チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト前後のSメータを比べると、S1とS2の大小関係は不定であるつまりS1<S2となる場合も、S1>S2となる場合もある。受信モードの段階では希望波を復調していたので、必ずしもIM歪みは検出しない。3受信モードにおいて希望波よりIM歪み信号のレベルが小さく、IM歪み検出試験モードにおいても希望波よりIM歪み信号のレベルの方が小さくなる場合。すなわち、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が希望波周波数と等しいときの希望波の歪み素子13からの出力レベルVd1が、IM歪み信号の出力レベルVim1より大きくVd1>Vim1、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数シフト後の希望波の歪み素子13からの出力レベルVd2が、IM歪み信号の出力レベルVim2より大きい場合Vd2>Vim2。このとき、S1=Vd1、S2=Vd2となる。この条件は、受信モードの段階でも、IM歪み検出試験モードの段階でも、希望波よりIM歪み信号のレベルが小さいので、どちらのモードでも希望波が復調された場合に相当する。チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数シフト前後のSメータの変化を比べると、S1>S2となる。したがって、IM歪みは検出しない。以上をまとめると、表4のようになる。なお、IM歪みが発生していない場合は、表4の条件3に該当するので、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数シフト前後のSメータの変化を比べると、S1>S2となる。したがって、IM歪みは検出しない。以上のように、本実施の形態によれば、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数をシフトする前後のSメータを比較することにより、IM歪みを検出することができる。実施の形態2以下、本発明の実施の形態2における相互変調歪み検出装置10について図面を参照しながら説明する。実施の形態2における相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図は、実施の形態1における相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図と同じである。そのため同一の構成要素には同一の符号を付して、その詳細な説明は省略する。実施の形態2と実施の形態1との相違点は、IM歪み検出試験モードにおいて、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数を高周波数側にシフトしてIM歪み検出試験を行い、その結果IM歪みを検出しなかった場合、次に、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数を低周波数側にシフトして同じ試験を行う点である。図5は本発明の実施の形態2における相互変調歪み検出装置10の動作説明のフローチャートである。ステップS42までは、実施の形態1と同じであるので説明を省略する。復調回路14が、IM歪み検出試験モードを開始することを選んだ場合ステップS43のYES、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数設定回路15は、中心周波数を受信周波数より高周波数側へ所定量だけシフトさせるため、チューナブル帯域フィルタ12に制御信号を出力する。チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数は、復調回路14の受信周波数より高周波数側へ所定量だけシフトする。復調回路14は、復調回路14に入力された高周波信号を復調して得た低周波信号をSメータ測定回路16に出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から入力された低周波信号のSメータS2を測定し、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、SメータS2を記憶するステップS44。次に、Sメータ比較回路17では、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数と等しいときの受信周波数のSメータS1と、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数より高周波数側へ所定量のシフトをしているときの受信周波数のSメータS2の大小を比較するステップS45。Sメータ比較回路17は、S2がS1より大となったときにIM歪みが生じていると判断する。同時に、IM歪みを発生させる妨害波の周波数は、受信周波数より高周波数側であると判断するステップS46。一方、Sメータ比較回路17において、S2がS1より小となったときは、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数設定回路15は、中心周波数を受信周波数より低周波数側へ所定量だけシフトさせるため、チューナブル帯域フィルタ12に制御信号を出力する。チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数は、復調回路14の受信周波数より低周波数側へ所定量だけシフトする。復調回路14は、復調回路14に入力された高周波信号を復調して得た低周波信号をSメータ測定回路16に出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から入力された低周波信号のSメータS3を測定し、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、SメータS3を記憶するステップS47。次に、Sメータ比較回路17では、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数と等しいときの受信周波数のSメータS1と、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数より低周波数側へ所定量のシフトをしているときの受信周波数のSメータS3の大小を比較するステップS48。Sメータ比較回路17は、S3がS1より大となったときにIM歪みが生じていると判断する。同時に、IM歪みを発生させる妨害波の周波数は、受信周波数より低周波数側であると判断するステップS49。一方、Sメータ比較回路17は、S3がS1より小となったときはIM歪みが生じていないと判断するステップS50。その場合、受信モードに戻り、通常の受信動作を再開する。以上のように構成された相互変調歪み検出装置10について、以下で、処理動作の実施例を説明する。チューナブル帯域フィルタ12の減衰度の周波数特性の例を図6に示す。図6の横軸は、チューナブル帯域フィルタ12に入力される高周波信号の周波数、縦軸は高周波信号がチューナブル帯域フィルタ12を通過する前後に受ける減衰度である。受信モード時は、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数は受信周波数fdと等しい。このときのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度を曲線A1で表す。IM歪み検出試験モード開始後、図5のステップS44において、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数を受信周波数fdより高周波数側へ所定量Δfだけシフトする。このときのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度をの曲線A2で表す。図5のステップS47において、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数を受信周波数fdより低周波数側へ所定量-Δfだけシフトする。このときのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度を曲線A3で表す。次に、それぞれの条件における高周波信号の減衰度について説明する。まず、受信周波数fdの希望波に対し、IM歪みを発生させる妨害波の周波数が高周波数側であるとき、妨害波の周波数を周波数fa1、周波数fb1fd<fa1<fb1とする。受信モード時、周波数fdの希望波、周波数fa1およびfb1の妨害波がチューナブル帯域フィルタ12の通過前後に受ける減衰度をL0、La1、Lb1とするとき、周波数がチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数から離れるほどチューナブル帯域フィルタ12の減衰度が増すので、各々の周波数ごとの減衰度の大小の関係は、希望波の減衰度が最も小さく、妨害波の減衰度がより大きい関係L0<La1<Lb1となる。次に、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が高周波数側へ周波数幅Δf中心周波数fdΔfは、妨害波の周波数faとfbの中間であるとするだけシフトしたとき、妨害波の周波数faとfbはチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数fdΔfとの差が小さく、希望波の周波数fdとチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数fdΔfの差が大きくなる。このとき、周波数fdの希望波の減衰度をLd2、周波数fa1、fb1の妨害波の減衰度をほぼL0とする。チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数fdΔfと近いほど減衰度が小さいので、希望波の減衰度は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が希望波の周波数と等しいときの減衰度L0と比べて増大するLd2>L0。次に、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が受信周波数より低周波数側へΔfだけシフトしたとき、妨害波の周波数faおよびfbとチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数fd-Δfとの差は、希望波の周波数fdとチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数fd-Δfの差よりも大きくなる。このとき、周波数fdの希望波の減衰度をLd2とする。周波数fa1の妨害波の周波数fa1とチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数fd-Δfとの差は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が希望波周波数fdと等しいときの周波数の差よりも周波数シフト幅Δfだけ大きくなるので、減衰度もチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が希望波周波数fdと等しいときの減衰度La1よりさらに大となる。同様に、周波数fb1の妨害波の周波数fb1とチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数fd-Δfとの差は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が希望波周波数fdと等しいときの周波数の差よりも周波数シフト幅Δfだけ大きくなるので、減衰度もチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が希望波周波数fdと等しいときの減衰度Lb1よりさらに大となる。したがって、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数を受信周波数fdよりも高周波数側へシフトさせたときのみ、周波数fa1とfb1の妨害波が、チューナブル帯域フィルタ12を通過する前後に受ける減衰度が受信モード時より少なくなりつまりチューナブル帯域フィルタ12を出力される信号レベルが増大する、同時に周波数fdの希望波がチューナブル帯域フィルタ12を通過する前後に受ける減衰度が受信モードの時より大きくなるつまりチューナブル帯域フィルタ12を出力される信号レベルが減少する。以上の信号レベルの関係を表5に示す表5中で、希望波のレベルの増減妨害波のレベルの増減は、ともにチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数がfdであるときのチューナブル帯域フィルタ12の出力信号のレベルを基準としたときの希望波および妨害波それぞれのチューナブル帯域フィルタ12の出力信号のレベルの増減を表す。そのため、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdより高周波数側へシフトしたとき、歪み素子13に入力される希望波の信号レベルは低下し、妨害波の信号レベルは増大する。したがって、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdより高周波数側へシフトしたとき、歪み素子13を出力される信号の中で、希望波の信号レベルが低下し、IM歪み信号の信号レベルが増大する。以上の理由から、受信モードにおいて歪み素子13がIM歪みを発生させていてIM歪み信号の信号レベルが希望波の信号レベルより大きかった場合、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数より高周波数側へシフトしたときは、歪み素子13を出力されて復調回路14に入力される信号の中で、IM歪み信号の信号レベルが上がり、希望波の信号レベルが下がるので、IM歪み信号が復調回路14で復調され、得られた低周波信号がSメータ測定回路16へ送られる。そのため、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を高周波数側へシフトしたときのSメータS2が、受信モードのSメータS1より大となるため、IM歪みが検出される。同時に、妨害波の周波数が受信周波数より高周波数側であることがわかる。なお、受信周波数fdの希望波に対し、IM歪みを発生させる妨害波の周波数が低周波数側であるときもほぼ同様の手順を行う。チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を、受信周波数より低周波数側へシフトしたときにIM歪みが検出されることから、妨害波の周波数が受信周波数より低周波数側であることがわかる。つまり、実施の形態2では、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を、受信周波数より高周波数側と低周波数側へシフトさせ、シフト前のSメータと比較する構成としたことにより、IM歪みの検出と、妨害波の周波数が受信周波数より高周波数側か低周波数側かの判断を同時に行うことができる。なお、図5のフローチャートでは、IM歪み検出試験モードを開始した後、先にチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を高周波数側へシフトしステップS44、IM歪みが検出されなかった場合にステップS45のNO、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を低周波数側へシフトするステップS47構成としているが、先にチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を低周波数側へシフトし、IM歪みが検出されなかった場合に、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を高周波数側へシフトする構成としてもよい。実施の形態3以下、本発明の実施の形態3における相互変調歪み検出装置10について図面を参照しながら説明する。実施の形態3における相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図は、実施の形態1における相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図と同じである。そのため同一の構成要素には同一の符号を付して、その詳細な説明は省略する。実施の形態3と実施の形態1との相違点は、IM歪み検出試験モードにおいて、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数を第1の周波数幅だけシフトさせて、復調回路14にて高周波信号を復調して得られた低周波信号のSメータをSメータ測定回路16にて測定した後、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数を第2の周波数幅だけシフトさせて、同様に、復調回路14にて高周波信号を復調して得られた低周波信号のSメータをSメータ測定回路16にて測定し、同様の試験を行う点である。図7は本発明の実施の形態3における相互変調歪み検出装置10の動作説明のフローチャートである。ステップS62までは、実施の形態1と同じであるので説明を省略する。復調回路14が、IM歪み検出試験モードを開始することを選んだ場合ステップS63のYES、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数設定回路15は、中心周波数を受信周波数から第1の周波数幅Δf1だけシフトさせるため、チューナブル帯域フィルタ12に制御信号を出力する。チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数は、復調回路14の受信周波数fdから、第1の周波数幅Δf1だけシフトする。復調回路14は、復調回路14に入力された高周波信号を復調して得た低周波信号をSメータ測定回路16に出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から入力された低周波信号のSメータS2を、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、SメータS2を記憶するステップS64。次に、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数設定回路15は、中心周波数を受信周波数から第2の周波数幅Δf2だけシフトさせるため、チューナブル帯域フィルタ12に制御信号を出力する。チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数は、復調回路14の受信周波数fdから、第2の周波数幅Δf2だけシフトする。復調回路14は、復調回路14に入力された高周波信号を復調して得た低周波信号をSメータ測定回路16に出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から入力された低周波信号のSメータS3を、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、SメータS3を記憶するステップS65。次に、Sメータ比較回路17では、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数と等しいときの受信周波数のSメータS1と、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数より第1の周波数幅Δf1だけシフトをしているときの受信周波数のSメータS2の大小を比較し、さらに、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数と等しいときの受信周波数のSメータS1と、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数より第2の周波数幅Δf2だけシフトをしているときの受信周波数のSメータS3の大小を比較するステップS66。Sメータ比較回路17は、S2がS1より大、またはS3がS1より大となったときにIM歪みが生じていると判断するステップS66のYES。Sメータ比較回路17は、S2がS1より大、またはS3がS1より大となりIM歪みが生じていると判断したときはS2とS3の大小を比較するステップS67。S2がS3より大となったときは、IM歪みを発生させている2波以上の妨害波の周波数の中心は、希望波の周波数fdに対し、第1の周波数幅Δf1シフトした周波数、すなわち周波数fdΔf1の近傍であると判断するステップS68。S2がS3より小となったときは、IM歪みを発生させている2波以上の妨害波の周波数の中心は、希望波の周波数fdに対し、第2の周波数幅Δf1シフトした周波数、すなわち周波数fdΔf2の近傍であると判断するステップS70。一方、S2がS1より小、かつS3がS1より小となったときは、IM歪みは発生していないと判断してステップS69、通常の受信モードに戻る。以上のように構成された相互変調歪み検出装置10について、以下で、処理動作の実施例を説明する。チューナブル帯域フィルタ12の減衰度の周波数特性の例を図8に示す。図8の横軸は、チューナブル帯域フィルタ12に入力される高周波信号の周波数、縦軸は高周波信号がチューナブル帯域フィルタ12を通過する前後に受ける減衰度である。受信モード時は、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数は受信周波数fdと等しい。このときのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度を曲線A4で表す。IM歪み検出試験モード開始後、図7のステップS64において、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数を受信周波数fdより第1の周波数幅Δf1だけシフトする。このときのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度を曲線A5で表す。図7のステップS65において、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数を受信周波数fdより第2の周波数幅Δf2だけシフトする。このときのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度を曲線A6で表す。次に、周波数の関係について説明する。受信周波数fdの希望波に対し、IM歪みを発生させる妨害波の周波数を周波数fa1、fb1fd<fa1<fb1とする。また、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数から第1の周波数幅Δf1だけシフトさせたときの中心周波数fdΔf1は、希望波周波数fdと周波数が低周波数側の妨害波の周波数fa1の間であるとするfd<fdΔf1<fa1。また、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数から第2の周波数幅Δf2だけシフトさせたときの中心周波数fdΔf2は、2つの妨害波の周波数fa1とfb1の間であるとするfa1<fdΔf2<fb1。次に、周波数ごとのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度について説明する。受信モード時、周波数fdの希望波、周波数fa1、fb1の妨害波がチューナブル帯域フィルタ12の通過前後に受ける減衰度をL0、La1、Lb1とするとき、周波数がチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数から離れるほど減衰度が増すので、L0<La1<Lb1となる。次に、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdから第1の周波数幅Δf1だけシフトしたとき、周波数fdの希望波の減衰度はほぼL0、周波数fa1の妨害波の減衰度もほぼL0となり、周波数fb1の妨害波の減衰度をLb2とする。チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト前後の、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数と希望波、妨害波の周波数の差の変化を比べる。希望波の周波数fdとチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の差は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の周波数シフト幅Δf1だけ増大する。低周波数側の妨害波の周波数fa1とチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の差は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の周波数シフト幅Δf1だけ減少する。同様に、高周波数側の妨害波の周波数fb1とチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の差も、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の周波数シフト幅Δf1だけ減少する。このときチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数fdΔf1は、受信周波数fdと低周波数側の妨害波の周波数fa1の間であるfd<fdΔf1<fa1。そのため、周波数fa1である低周波数側の妨害波のチューナブル帯域フィルタ12の減衰度は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が受信周波数fdと等しいときの減衰度La1から、ほぼL0まで減少する。また、周波数fb1である高周波数側の妨害波のチューナブル帯域フィルタ12の減衰度は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が受信周波数fdと等しいときの減衰度Lb1から、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数をシフトした後の減衰度は、Lb2まで減少する。したがって、受信モードよりも、周波数fa1およびfb1の妨害波の減衰度は小さくなる。次に、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdから第2の周波数幅Δf2だけシフトしたとき、周波数fdの希望波の減衰度をLd2とし、周波数fa1の妨害波の減衰度はほぼL0、周波数fb1の妨害波の減衰度もほぼL0となる。チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が受信周波数fdと等しいときと、中心周波数を周波数幅Δf2だけシフトした後の、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数と希望波、妨害波の周波数の差の変化を比べる。希望波の周波数fdとチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の差は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の周波数シフト幅Δf2だけ増大する。チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数fdΔf2は、2つの妨害波の周波数fa1とfb1の間であるfa1<fdΔf2<fb1としたので、低周波数側の妨害波の周波数fa1とチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の差は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が受信周波数fdと等しいときの受信周波数fdと妨害波周波数fa1の差fa1-fdから、半分程度fa1-fd/2、すなわちfb1-fa1/2と等しいまで減少する。高周波数側の妨害波の周波数fb1とチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の差は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の周波数シフト幅Δf2だけ減少し、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数が受信周波数fdと等しいときの受信周波数fdと妨害波周波数fb1の差fb1-fdから、周波数差fa1-fd/2、すなわち周波数差fb1-fa1/2まで減少する。このとき、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdから第1の周波数幅Δf1だけシフトしたときよりも、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdから第2の周波数幅Δf2だけシフトしたときの方が、希望波の周波数fdとチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の差が大きくなるので、希望波周波数fdのチューナブル帯域フィルタ12の減衰度は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdから第2の周波数幅Δf2だけシフトしたときの方が大きくなり、減衰度Ld2となる。また、このとき、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdから第1の周波数幅Δf1だけシフトしたときよりも、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdから第2の周波数幅Δf2だけシフトしたときの方が、高周波数側の妨害波の周波数fb1とチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数の差が小さくなるので、高周波数側の妨害波周波数fb1のチューナブル帯域フィルタ12の減衰度は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdから第2の周波数幅Δf2だけシフトしたときの方が小さくなり、ほぼL0となる。したがって、チューナブル帯域フィルタ12の通過帯域の中心周波数を受信周波数fdよりも第2の周波数幅Δf2だけシフトさせたときに、周波数fa1とfb1の妨害波が、チューナブル帯域フィルタ12を通過する前後に受ける減衰度が受信モード時より少なくなりチューナブル帯域フィルタ12から出力される信号レベルが増大する、かつ最小となるチューナブル帯域フィルタ12から出力される信号レベルが最大となる。同時に周波数fdの希望波がチューナブル帯域フィルタ12を通過する前後に受ける減衰度は受信モード時より大きくなるつまりチューナブル帯域フィルタ12から出力される信号レベルが減少する。以上の信号レベルの関係を表6に示す表6中で、希望波のレベルの増減妨害波のレベルの増減は、ともにチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数がfdであるときのチューナブル帯域フィルタ12の出力信号のレベルを基準としたときの希望波および妨害波それぞれの増減を表す。チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdより第2の周波数幅Δf2だけシフトしたとき、歪み素子13に入力される希望波の信号レベルは低下し、妨害波のレベルが増大し、最大となる。したがって、歪み素子13の出力信号の中で、希望波の信号レベルが低下し、IM歪み信号の信号レベルが増大して最大となる。以上の理由から、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を、受信周波数fdより第1の周波数幅Δf1だけシフトしたときに、IM歪み信号が復調回路14で復調され、得られた低周波信号がSメータ測定回路16へ送られて測定されるSメータS2と、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を、受信周波数fdより第2の周波数幅Δf2だけシフトしたときに、IM歪み信号が復調回路14で復調され、得られた低周波信号がSメータ測定回路16へ送られて測定されるSメータS3を比較するとS3>S2となる。したがって、IM歪みを検出できるだけでなく、IM歪みを発生させる元となる妨害波の周波数の中心は、周波数fdΔf2の近傍であることがわかる。なお、受信周波数fdの希望波に対し、IM歪みを発生させる妨害波の周波数の中心が受信周波数fdより第1の周波数幅Δf1だけシフトした周波数fdΔf1の近傍である時は、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数fdより第1の周波数幅Δf1だけシフトしたとき、歪み素子13に入力される妨害波のレベルが最大となる。したがって、詳細な説明を省くが、S2>S3となることから、IM歪みを発生させる元となる妨害波の周波数の中心は、周波数fdΔf1の近傍であることがわかる。つまり、実施の形態3では、受信モード時のSメータとチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を第1の周波数幅だけシフトさせたときと、第2の周波数幅だけシフトさせたときのSメータを比較する構成としたことにより、IM歪みの検出と、2波以上の妨害波の周波数の中心が受信周波数より、どの程度離れているかの判断を同時に行うことができる。なお、上記ではチューナブル帯域フィルタ12の中心周波数のシフト幅として、2段階周波数幅Δf1およびΔf2におけるSメータを測定して比較したが、3段階以上でもよい。また、チューナブル帯域フィルタ12の中心周波数を受信周波数より高周波数側と低周波数側を含めて多段階にシフトさせて、Sメータを測定し比較してもよい。このとき、IM歪みを発生させる2波以上の妨害波の周波数の中心の推定の精度を上げることができる。実施の形態4以下、本発明の実施の形態4における相互変調歪み検出装置10について図面を参照しながら説明する。図9は、実施の形態4における相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図である。実施の形態1における相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図である図1と異なる点は、AGC回路18AutoGainControl:自動利得制御が、入力端子11とチューナブル帯域フィルタ12の間に挿入されている点である。そのほかの実施の形態1における相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図と同一の構成要素には同一の符号を付して、その詳細な説明は省略する。AGC回路18は、復調回路14に入力される高周波信号の信号レベルが、所定の閾値以上となることを防ぐための回路のゲイン調整を行う。その理由は、歪み素子13および復調回路14に所定のレベル以上の高周波信号が入力されると、歪み素子13や復調回路14の素子が飽和して波形が歪むことがあり、復調された信号のSN比が劣化したり、ビット誤り率が低下したりすることがあるためである。相互変調歪みもその一例である。すなわち、AGC回路18は、復調回路14に入力される高周波信号の信号レベルが、所定の閾値以上となることを防ぐことによって、相互変調歪み検出装置10が受信して復調できる電力のダイナミックレンジの上限を上方へ上げる役割を担う。AGC回路18は、例えば、PINダイオードなどを用いた減衰量可変回路や、低雑音増幅器のゲインを可変することによって実現できる。復調回路14は随時、復調回路14に入力される高周波信号の信号レベルをモニターしており、高周波信号の信号レベルが所定の閾値以上となった場合、AGC回路18に制御信号を送って、AGC回路18のゲインまたは減衰度を調整する。例えば、復調回路14に入力される高周波信号の信号レベルが所定の閾値より1dB大きくなった場合は、AGC回路18の減衰度を1dB増やすことで、チューナブル帯域フィルタ12、歪み素子13および復調回路14に入力される高周波信号の信号レベルを1dB低下させる、というように調整が行われる。この調整をAGC回路18のAGC動作と呼ぶことにする。図10は本発明の実施の形態4における相互変調歪み検出装置10の動作説明のフローチャートである。ステップS82までは、実施の形態1と同じであるので説明を省略する。復調回路14が、IM歪み検出試験モードを開始することを選んだ場合ステップS83のYES、復調回路14は、AGC回路18によるAGC動作を停止させるステップS84。その後は、実施の形態1と同様にIM歪み検出試験モードのフローが行われる。その結果、IM歪みが検出されない場合ステップS88、AGC回路18によるAGC動作を再開しステップS89、その後、通常の受信モード動作に復帰する。ステップS84においてAGC動作を停止するとは、復調回路14に入力される高周波信号の信号レベルに応じて、AGC回路18のゲインを調整する動作を停止し、AGC回路18のゲインを一定に保つという意味である。AGC回路18のAGC動作を停止したIM歪み検出試験モードでは、AGC回路18の回路ゲインが大きい減衰度が小さいほど、IM歪み検出試験の感度が高くなるため望ましい。一般に、AGC回路18による回路ゲインの調整は、ゲインを下げる減衰度を増やすことで行われるので、その場合は、AGC回路18の回路ゲインを最大値に保つ減衰度を最小値に保つことが望ましい。一方、AGC回路18の回路ゲインが最大値でなくても、一定の固定値を維持させれば、IM歪み検出試験を行うことができる。なお、AGC回路18のAGC動作のために、随時信号レベルをモニターする回路ブロックは、復調回路14の入力レベルではなく、歪み素子13の入力レベルでもよい。なお、AGC回路18は、チューナブル帯域フィルタ12と入力端子11の間ではなく、チューナブル帯域フィルタ12と歪み素子13の間でもよい。なお、AGC回路18は、一回路だけでなく、二回路以上設けてもよい。以上のように、本実施の形態では、AGC回路18を設けたため、相互変調歪み検出装置10の復調信号のSN比が劣化したり、ビット誤り率が低下したりすることなく受信復調できる電力のダイナミックレンジの上限を上方へ上げることができる。実施の形態5以下、本発明の実施の形態5における相互変調歪み検出装置10について図面を参照しながら説明する。図11は、実施の形態5における相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図である。図11において、相互変調歪み検出装置10は、高周波信号の入力端子11と、入力端子11に接続され入力端子11から相互変調歪み検出装置10に入力された高周波信号が入力される第1のチューナブル帯域フィルタ102と、第1のチューナブル帯域フィルタ102から出力された高周波信号が入力される第1の歪み素子103と、第1の歪み素子103から出力された高周波信号が入力される第2のチューナブル帯域フィルタ104と、第2のチューナブル帯域フィルタ104から出力された高周波信号が入力される第2の歪み素子105と、復調回路14とを有する。入力端子11は、相互変調歪み検出装置10が高周波信号を受信するための高周波信号の入り口であり、例えばアンテナ19に接続される。図11における第1のチューナブル帯域フィルタ102と第2のチューナブル帯域フィルタ104は、実施の形態1の相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図である図1のチューナブル帯域フィルタ12と、本質的に同じものであるので、詳細な説明は省略する。図11における第1の歪み素子103と第2の歪み素子105は、実施の形態1の相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図である図1の歪み素子13と、本質的に同じものであるので、詳細な説明は省略する。例えば、第1の歪み素子103が低雑音アンプ、第2の歪み素子105がミキサという構成や、第1の歪み素子103が低雑音アンプ、第2の歪み素子105がバッファアンプという構成にて実現される。図11における復調回路14は、実施の形態1の相互変調歪み検出装置10の構成を示すブロック図である図1の復調回路14と、本質的に同じものであるので、詳細な説明は省略する。復調回路14は、相互変調歪み検出装置10が受信し復調回路14で復調する高周波信号の周波数受信周波数を、第1の中心周波数設定回路107と第2の中心周波数設定回路108に出力する。第1の中心周波数設定回路107は、第1のチューナブル帯域フィルタ102の中心周波数を設定するための制御信号を第1のチューナブル帯域フィルタ102へ出力する。第2の中心周波数設定回路108は、第2のチューナブル帯域フィルタ104の中心周波数を設定するための制御信号を第2のチューナブル帯域フィルタ104へ出力する。第1のチューナブル帯域フィルタ102は、第1の中心周波数設定回路107から入力された制御信号に応じて、第1のチューナブル帯域フィルタ102の通過帯域の中心周波数を変化させる。第2のチューナブル帯域フィルタ104は、第2の中心周波数設定回路108から入力された制御信号に応じて、第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数を変化させる。復調回路14は、復調回路14が受信周波数の高周波信号を復調して得た低周波信号をSメータ測定回路16に出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から出力された低周波信号の電圧信号レベルを測定する。復調回路14が復調して得た低周波信号の信号レベルをSメータと呼ぶことにする。Sメータ測定回路16は、SメータをSメータ比較回路17へ出力する。以上のように構成された相互変調歪み検出装置10について、以下にその処理動作を説明する。図12は本発明の実施の形態5における相互変調歪み検出装置10の動作説明のフローチャートである。まずユーザからの指示動作などにより、相互変調歪み検出装置10が受信モードに入るステップS101。次に、復調回路14は、ユーザからの指示や相互変調歪み検出装置10を制御するプログラムの命令を受けて、相互変調歪み検出装置10が受信して復調する高周波信号の周波数受信周波数を決め、受信周波数を、第1のチューナブル帯域フィルタ102の中心周波数を設定する第1の中心周波数設定回路107と、第2のチューナブル帯域フィルタ104の中心周波数を設定する第2の中心周波数設定回路108へ出力する。第1の中心周波数設定回路107は、第1のチューナブル帯域フィルタ102の中心周波数が受信周波数と同じとなるように、第1のチューナブル帯域フィルタ102へ制御信号を出力する。第2の中心周波数設定回路108は、第2のチューナブル帯域フィルタ104の中心周波数が受信周波数と同じとなるように、第2のチューナブル帯域フィルタ104へ制御信号を出力する。以上の動作により、第1のチューナブル帯域フィルタ102の通過帯域の中心周波数と第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数は、復調回路14の受信周波数に設定される。第1のチューナブル帯域フィルタ102は、入力端子11に入力された高周波信号から受信周波数の信号を選択して出力する。第1のチューナブル帯域フィルタ102から出力された高周波信号は、第1の歪み素子103へ入力される。第1の歪み素子103から出力された高周波信号は、第2のチューナブル帯域フィルタ104へ入力される。第2のチューナブル帯域フィルタ104から出力された高周波信号は、第2の歪み素子105、さらに復調回路14へ入力され、復調回路14で復調される。復調回路14は、復調回路14に入力された高周波信号から受信周波数の信号を復調して低周波信号を得て、低周波信号をSメータ測定回路16へ出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から出力された低周波信号のSメータS1を、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、SメータS1を記憶するステップS102。次に、復調回路14は、ユーザからの指示や相互変調歪み検出装置10を制御するプログラムの命令に従い、IM歪み検出試験モードを開始するか、開始しないかを選択するステップS103。IM歪み検出試験モードを開始しない場合ステップS103のNO、受信モードのステップS102に戻る。復調回路14が、IM歪み検出試験モードを開始することを選んだ場合ステップS103のYES、第2のチューナブル帯域フィルタ104の中心周波数を設定する第2の中心周波数設定回路108は、第2のチューナブル帯域フィルタ104の中心周波数を受信周波数から所定量だけシフトさせるため、第2のチューナブル帯域フィルタ104に制御信号を出力する。第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数は、復調回路14の受信周波数から所定量だけシフトする。第2のチューナブル帯域フィルタ104から出力された高周波信号は、第2の歪み素子105、さらに復調回路14へ入力され、復調回路14で復調される。復調回路14は、復調回路14に入力された高周波信号から受信周波数の信号を復調して低周波信号を得て、低周波信号をSメータ測定回路16へ出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から出力された低周波信号のSメータS2を、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、SメータS2を記憶するステップS104。次に、第1のチューナブル帯域フィルタ102の中心周波数を設定する第1の中心周波数設定回路107は、第1のチューナブル帯域フィルタ102の中心周波数を受信周波数から所定量だけシフトさせるため、第1のチューナブル帯域フィルタ102に制御信号を出力する。第1のチューナブル帯域フィルタ102の通過帯域の中心周波数は、復調回路14の受信周波数から所定量だけシフトする。第1のチューナブル帯域フィルタ102から出力された高周波信号は、第1の歪み素子103、第2のチューナブル帯域フィルタ104、第2の歪み素子105、さらに復調回路14へ入力され、復調回路14で復調される。復調回路14は、復調回路14に入力された高周波信号から受信周波数の信号を復調して低周波信号を得て、低周波信号をSメータ測定回路16へ出力する。Sメータ測定回路16は、復調回路14から出力された低周波信号のSメータS3を、Sメータ比較回路17へ出力する。Sメータ比較回路17は、SメータS3を記憶するステップS105。次に、Sメータ比較回路17では、受信モード第1のチューナブル帯域フィルタ102の通過帯域の中心周波数と第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数と等しいときの受信周波数のSメータS1と、第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数に対して所定量のシフトをしているときの受信周波数のSメータS2の大小を比較するステップS106。Sメータ比較回路17は、S2がS1より大となったときに、第2の歪み素子105でIM歪みが生じていると判断するステップS107。一方、Sメータ比較回路17は、S2がS1より小となったときは、第2の歪み素子105でIM歪みが生じていないと判断するステップS106のNO。Sメータ比較回路17が、第2の歪み素子105でIM歪みが生じていないと判断したときは、受信モード第1のチューナブル帯域フィルタ102の通過帯域の中心周波数と第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数と等しいときの受信周波数のSメータS1と、第1のチューナブル帯域フィルタ102の通過帯域の中心周波数と第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数が復調回路14の受信周波数に対して所定量のシフトをしているときの受信周波数のSメータS3の大小を比較するステップS108。Sメータ比較回路17は、S3がS1より大となったときに、第2の歪み素子105ではなく第1の歪み素子103でIM歪みが生じていると判断するステップS109。一方、Sメータ比較回路17は、S3がS1より小となったときは、第1の歪み素子103と第2の歪み素子105でIM歪みが生じていないと判断するステップS108のNO。Sメータ比較回路17が、第1の歪み素子103と第2の歪み素子105でIM歪みが生じていないと判断したときはステップS110、通常の受信モードに戻る。以上のように構成された相互変調歪み検出装置10について、以下の条件ごとに、処理動作の実施例を説明する。1受信モードで第2の歪み素子105でIM歪みが発生していて、第2の歪み素子105の出力信号において希望波よりIM歪み信号の信号レベルが大きい場合。2受信モードで第2の歪み素子105でIM歪みは発生していないが、第1の歪み素子103でIM歪みが発生し、第1の歪み素子103の出力信号において希望波よりIM歪み信号の信号レベルが大きい場合。3受信モードで第2の歪み素子105においても第1の歪み素子103においてもIM歪みが発生していない場合。1の条件について説明する。ステップS104において、第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数を所定の周波数幅だけシフトしたことによって、第2の歪み素子105に入力されるIM歪みを発生させる元となる妨害波の信号レベルが増大し、受信周波数である希望波の信号レベルが低下する。したがって、第2の歪み素子105から出力される希望波の信号レベルは低下する。また、第2の歪み素子105でIM歪みが発生すると仮定したので、第2の歪み素子105の出力信号に含まれる信号のうちで、受信周波数と同じ周波数のIM歪み信号の信号レベルが増大する。したがって、実施の形態1と同じように、第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数をシフトした後のSメータS2は、受信モードのSメータS1より増大する。すなわち、S2>S1であれば、第2の歪み素子105がIM歪みの発生源となっていることがわかる。2の条件について説明する。ステップS104において、第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数を所定の周波数幅だけシフトしたことによって、第2の歪み素子105に入力されるIM歪みを発生させる元となる妨害波のレベルが増大し、受信周波数である希望波のレベルが低下するが、第2の歪み素子105がIM歪みを発生させていないため、第2の歪み素子105から出力する信号に含まれる信号のうちで受信周波数と同じ周波数のIM歪み信号の信号レベルは増大しない。したがって第2のチューナブル帯域フィルタ104の通過帯域の中心周波数をシフトした後のSメータS2は、受信モードのSメータS1より増大しない。すなわち、S2<S1であれば、第2の歪み素子105はIM歪みの発生源ではないことがわかる。次に、ステップS105において、第1のチューナブル帯域フィルタ102の通過帯域の中心周波数を所定の周波数幅だけシフトしたことによって、第1の歪み素子103に入力される信号のうちで、IM歪みを発生させる元となる妨害波の信号レベルが増大し、受信周波数である希望波の信号レベルが低下する。したがって、第1の歪み素子103から出力される希望波の信号レベルは低下する。また、第1の歪み素子103でIM歪みが発生すると仮定したので、第1の歪み素子103の出力信号に含まれる信号のうちで受信周波数と同じ周波数のIM歪み信号の信号レベルが増大する。したがって、第1のチューナブル帯域フィルタ102の通過帯域の中心周波数をシフトした後のSメータS3は、受信モードのSメータS1より増大する。すなわち、S3>S1であれば、第1の歪み素子103がIM歪みの発生源となっていることがわかる。以上から、S2<S1、かつS3>S1となったときは、第2の歪み素子105はIM歪みの発生源ではなく、第1の歪み素子103がIM歪みの発生源であることがわかる。3の条件について説明する。まず、第2の歪み素子105はIM歪みの発生源ではないので、2の条件においてすでに説明したように、S2<S1となる。次に、ステップS105において、第1のチューナブル帯域フィルタ102の通過帯域の中心周波数を所定の周波数幅だけシフトしたことによって、第1の歪み素子103に入力される信号のうちでIM歪みを発生させる元となる妨害波の信号レベルが増大し、受信周波数である希望波の信号レベルが低下するが、第1の歪み素子103がIM歪みを発生させていないため、第1の歪み素子103から出力する信号に含まれる信号のうちで受信周波数と同じ周波数のIM歪み信号の信号レベルは増大しない。したがって第1のチューナブル帯域フィルタ102の通過帯域の中心周波数をシフトした後のSメータS3は、受信モードのSメータS1より増大しない。すなわち、S3<S1であれば、第1の歪み素子103はIM歪みの発生源ではないことがわかる。以上から、S2<S1、かつS3<S1となったときは、第1の歪み素子103と第2の歪み素子105はともにIM歪みの発生源ではないことがわかる。つまり、実施の形態5では、複数の歪み素子を有する相互変調歪み検出装置においてチューナブル帯域フィルタを複数設け、復調回路に近い側のチューナブル帯域フィルタから順に、チューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数を受信周波数から所定の周波数幅だけシフトさせるIM歪み検出試験を行うことによって、IM歪みの発生源となっている歪み素子を明らかにすることができる。なお、チューナブル帯域フィルタの通過帯域の中心周波数のシフト幅は、実施の形態2と3にて述べたように、受信周波数に対して高周波数側と低周波数側の両方の試験を実施したり、周波数幅を切り替えながら複数回の試験を実施したりすることも可能である。なお、AGC回路を設けることも可能である。なお、チューナブル帯域フィルタと歪み素子は3回路以上あっても構成可能である。チューナブル帯域フィルタと歪み素子が同じ数でなくても構成可能である。