"物体の動きを検出する回路であって、前記物体に付随する磁場に比例するDIFF信号を生成する少なくとも1つの磁場検知エレメントであって、前記DIFF信号が現在のサイクルを含む複数のサイクルを有する、少なくとも1つの磁場検知エレメントと、前記物体の動きを示す動き信号を生成するように構成されている少なくとも1つの動き検出器であって、前記動き信号が、前記DIFF信号の前記サイクルと関連のあるエッジを有する、少なくとも1つの動き検出器と、を備えており、該少なくとも1つの動き検出器が、前記DIFF信号を受け取るように結合され、閾値信号を生成するように構成されている閾値生成回路と、少なくとも1つの閾値選択モジュールであって、前記閾値信号を受け取るように結合され、前記閾値信号のサンプルをセーブするように構成され、前記現在のサイクルよりも所定のサイクル数だけ前における前記DIFF信号の直前のサイクルと関連のある前記閾値信号のサンプルを選択するように構成され、更に前記閾値信号の選択されたサンプルに関係がある選択閾値信号を生成するように構成されている少なくとも1つの閾値選択モジュールと、前記選択閾値信号を表す信号を受け取るように結合され、前記DIFF信号を受け取るように結合され、前記選択閾値信号を表す前記信号を前記DIFF信号と比較するように構成され、前記動き信号を生成するように構成されている比較器と、を備えている、回路。請求項1記載の回路において、前記少なくとも1つの閾値選択モジュールが、更に、前記DIFF信号のそれぞれの複数の以前のサイクルと関連のある前記閾値信号の複数のサンプルを選択するように構成されており、前記複数の以前のサイクルの各1つが、それぞれ、前記現在のサイクルよりも所定サイクル数だけ前にあり、前記少なくとも1つの閾値選択モジュールが、更に、前記選択閾値信号を生成するために、前記閾値信号の複数のサンプルを組み合わせるように構成されている機能プロセッサを備えている、回路。請求項2記載の回路において、前記機能プロセッサが、更に、前記選択閾値信号を生成するために、前記閾値信号の複数のサンプルの平均を取るように構成されている、回路。請求項1記載の回路において、前記少なくとも1つの閾値選択モジュールが、前記閾値信号を受け取るように結合され、前記閾値信号を、当該閾値信号のディジタルサンプルに変換するように構成されているアナログ/デジタル変換器と、前記デジタルサンプルを受け取るように結合され、複数の前記ディジタルサンプルをセーブするように構成されているメモリと、前記複数のディジタルサンプルから選択されたものに関係があるサンプルを受け取るように結合され、前記複数のディジタルサンプルから選択されたものに関係がある前記選択閾値信号を生成するように構成されているディジタル/アナログ変換器と、を備えている、回路。請求項4記載の回路において、前記メモリが、多ビットデジタルシフトレジスタを含む、回路。請求項1記載の回路において、前記少なくとも1つの閾値選択モジュールが、前記閾値信号を受け取るように結合され、前記閾値信号の複数のアナログサンプルをセーブするように構成されているアナログメモリと、前記複数のアナログサンプルの中からアナログサンプルを選択するように構成され、更に前記選択したアナログサンプルに関係がある前記選択閾値信号を生成するように構成されている回路モジュールと、を備えている、回路。請求項6記載の回路において、前記アナログメモリが、アナログシフトレジスタを含む、回路。請求項1記載の回路であって、更に、前記閾値信号を前記選択閾値信号と組み合わせて、前記選択閾値信号を表す信号を供給するように構成されている結合回路を備えている、回路。請求項1記載の回路であって、更に、前記選択閾値信号を第1および第2の異なる選択閾値信号に分割し、異なるそれぞれの時点において、前記第1および第2の異なる選択閾値信号を、前記選択閾値信号を表す信号として供給するように構成されている分割回路を備えている、回路。請求項1記載の回路において、前記閾値生成回路が、第1および第2の異なる閾値値信号を生成するように構成されており、前記少なくとも1つの動き検出器が、第1および第2閾値選択モジュールを備えており、前記第1閾値選択モジュールが、前記第1閾値信号を受け取るように結合され、前記第1閾値のサンプルをセーブするように構成され、前記現在のサイクルよりも第1の所定のサイクル数だけ前における前記DIFF信号のサイクルと関連のある前記第1閾値信号のサンプルを選択するように構成され、更に前記第1閾値信号から選択したサンプルに関係がある第1選択閾値信号を生成するように構成されており、前記第2閾値選択モジュールが、前記第2閾値信号を受け取るように結合され、前記第2閾値信号のサンプルをセーブするように構成され、前記現在のサイクルよりも第2所定サイクル数だけ前における前記DIFF信号のサイクルと関連のある前記第2閾値信号のサンプルを選択するように構成され、更に前記第2閾値信号から選択したサンプルに関係がある第2選択閾値信号を生成するように構成されており、前記回路が、更に、前記第1および第2選択閾値信号を受け取るように結合され、異なるそれぞれの時点において、前記第1および第2選択閾値信号を、前記選択閾値信号を表す信号として供給するように構成されている分割回路を備えている、回路。請求項1記載の回路において、前記閾値生成回路が、PDAC更新時間間隔において前記DIFF信号を追跡するために、そして前記PDAC更新時間期間以外の時間前記DIFF信号を保持するためにPDAC出力信号を生成するように構成されているPDACと、NDAC更新時間間隔において前記DIFF信号を追跡するために、そして前記NDAC更新時間間隔以外の時間前記DIFF信号を保持するためにNDAC出力信号を生成するように構成されているNDACと、を備えている、回路。請求項11記載の回路において、前記閾値生成回路が、第1端において前記PDAC出力信号を受け取るように結合され、第2端において前記NDAC出力信号を受け取るように結合され、前記第1および第2端の間にある中間タップにおいて、前記閾値信号を生成するように構成されている抵抗ラダーを備えている、回路。請求項11記載の回路において、前記閾値生成回路が、前記PDAC出力信号を受け取るように結合され、第1閾値信号を生成するように構成されている第1電圧源と、前記NDAC出力信号を受け取るように結合され、第2の異なる閾値信号を生成するように構成されている第2の異なる電圧源と、を備えている、回路。請求項1記載の回路において、前記閾値生成回路が、前記DIFF信号を追跡する追跡信号を受け取るように結合されている抵抗ラダーを備えている、回路。請求項1記載の回路において、前記少なくとも1つの磁場検知エレメントが、RDIFF信号およびLDIFF信号を生成する少なくとも2つの磁場検知エレメントを備えており、前記RDIFF信号が現在のRDIFFサイクルを含む複数のサイクルを有し、前記LDIFF信号が現在のLRDIFFサイクルを含む複数のサイクルを有し、前記少なくとも1つの動き検出器が、前記RDIFFおよびLDIFF信号をそれぞれ受け取るように結合されている第1および第2動き検出器を備えており、前記第1動き検出器が、前記物体の動きを示す第1動き信号を生成するように構成されており、前記第2動き検出器が、前記物体の動きを示す第2動き信号を生成するように構成されている、回路。請求項15記載の回路において、前記第1動き検出器および前記第2動き検出器が、前記RDIFF信号およびLDIFF信号をそれぞれ追跡するために、第1および第2のそれぞれの追跡信号を生成するように構成されている、回路。請求項16記載の回路において、前記第1動き検出器が、第1PDAC更新時間間隔の間前記RDIFF信号を追跡するために、そして前記第1PDAC更新時間間隔以外のときに前記RDIFF信号を保持するために、第1PDAC出力信号を生成するように構成されている第1PDACと、第1NDAC更新時間間隔の間前記RDIFF信号を追跡するために、そして前記第1NDAC更新時間間隔以外のときに前記RDIFF信号を保持するために、第1NDAC出力信号を生成するように構成されている第1NDACと、前記RDIFF信号を受け取るように構成され、第1動き検出器閾値信号を生成するように構成されている、第1閾値生成回路と、前記第1動き検出器閾値信号を受け取るように結合され、前記第1動き検出器閾値信号のサンプルをセーブするように構成され、前記現在のRDIFFサイクルよりも第1の所定サイクル数だけ前における前記RDIFF信号のサイクルと関連のある前記第1動き検出器閾値信号のサンプルを選択するように構成され、更に前記第1動き検出器閾値信号から選択した前記サンプルに関係がある第1選択閾値信号を生成するように構成されている第1の少なくとも1つの閾値選択モジュールと、を備えており、前記比較器が、前記第1選択閾値信号を表す信号を受け取るように結合され、前記RDIFF信号を受け取るように結合され、前記第1選択閾値信号を表す信号を前記RDIFF信号と比較するように構成され、更に前記第1動き信号を生成するように構成されている第1比較器を備えており、前記第2動き検出器が、第2PDAC更新時間間隔の間前記LDIFF信号を追跡するために、そして前記第2PDAC更新時間間隔以外のときに前記LDIFF信号を保持するために、第2PDAC出力信号を生成するように構成されている第2PDACと、第2NDAC更新時間間隔の間前記LDIFF信号を追跡するために、そして前記第2NDAC更新時間間隔以外のときに前記LDIFF信号を保持するために、第2NDAC出力信号を生成するように構成されている第2NDACと、前記LDIFF信号を受け取るように構成され、第2動き検出器閾値信号を生成するように構成されている第2閾値生成回路と、前記第2動き検出器閾値信号を受け取るように結合され、前記第2動き検出器閾値信号のサンプルをセーブするように構成され、前記現在のLDIFFサイクルよりも第2の所定サイクル数だけ前における前記LDIFF信号のサイクルと関連のある前記第2動き検出器閾値信号のサンプルを選択するように構成され、更に前記第2動き検出器閾値信号から選択した前記サンプルに関係がある第2選択閾値信号を生成するように構成されている第2の少なくとも1つの閾値選択モジュールと、を備えており、前記比較器が、更に、前記第2選択閾値信号を表す信号を受け取るように結合され、前記LDIFF信号を受け取るように結合され、前記第2選択閾値信号を表す信号を前記LDIFF信号と比較するように構成され、更に前記第2動き信号を生成するように構成されている第2比較器を備えている、回路。物体の動きを検出する方法であって、前記物体に付随する磁場に比例するDIFF信号を生成するステップであって、前記DIFF信号が現在のサイクルを含む複数のサイクルを有する、ステップと、前記物体の動きを示す動き信号を生成するステップであって、前記動き信号が、前記DIFF信号のサイクルと関連のあるエッジを有する、ステップと、を備えており、前記動き信号を生成するステップが、前記DIFF信号にしたがって閾値信号を生成するステップと、前記閾値信号のサンプルをセーブするステップと、前記現在のサイクルよりも所定のサイクル数だけ前における前記DIFF信号の直前のサイクルと関連のある前記閾値信号のサンプルを選択するステップと、前記閾値信号から選択した前記サンプルに関係がある選択閾値信号を生成するステップと、前記動き信号を生成するために、前記選択閾値信号を表す信号を前記DIFF信号と比較するステップと、を備えている、方法。請求項18記載の方法において、更に、前記DIFF信号の複数のサイクルのそれぞれと関連のある前記閾値信号の複数のサンプルを選択するステップであって、前記複数のサイクルの各1つが、前記現在のサイクルよりもそれぞれ所定サイクル数だけ前である、ステップと、前記選択閾値信号を生成するために、前記閾値信号の前記複数のサンプルを組み合わせるステップと、を備えている、方法。請求項19記載の方法において、前記組み合わせるステップが、前記選択閾値信号を生成するために、前記閾値信号の前記複数のサンプルの平均を取るステップを含む、方法。請求項18記載の方法において、前記セーブするステップが、前記閾値信号をディジタルサンプルに変換するステップと、複数の前記ディジタルサンプルをセーブするステップと、を含み、前記選択閾値信号を生成するステップが、前記複数のディジタルサンプルから選択したものに関係があるサンプルにしたがって、前記選択閾値信号を生成するステップを含む、方法。請求項21記載の方法において、前記複数のディジタルサンプルをセーブするステップが、前記複数のディジタルサンプルを多ビットディジタルシフトレジスタにセーブするステップを含む、方法。請求項18記載の方法において、前記セーブするステップが、前記閾値信号のアナログサンプルをセーブするステップを含む、方法。請求項23記載の方法において、前記アナログサンプルをセーブするステップが、アナログシフトレジスタを備えているアナログメモリに、前記閾値信号の前記アナログサンプルをセーブするステップを含む、方法。請求項18記載の方法であって、更に、前記選択閾値信号を表す前記信号を供給するために、前記閾値信号を前記選択閾値信号と組み合わせるステップを備えている、方法。請求項18記載の方法であって、更に、前記選択閾値信号を、第1および第2の異なる選択閾値信号に分割するステップと、異なるそれぞれの時点において、前記第1および第2の異なる選択閾値信号を、前記選択閾値信号を表す前記信号として供給するステップと、を備えている、方法。請求項18記載の方法において、前記閾値信号を生成するステップが、第1および第2の異なる閾値信号を生成するステップを含み、前記閾値信号の前記サンプルをセーブするステップが、前記第1閾値信号のサンプルをセーブするステップと、前記第2の異なる閾値信号のサンプルをセーブするステップと、を含み、前記閾値信号から前記サンプルを選択するステップが、前記現在のサイクルよりも第1の所定サイクル数だけ前における前記DIFF信号のサイクルと関連のある前記第1閾値信号のサンプルを選択するステップと、前記現在のサイクルよりも第2の所定サイクル数だけ前における前記DIFF信号のサイクルと関連のある前記第2の異なる閾値信号のサンプルを選択するステップと、を含み、前記選択閾値信号を生成するステップが、前記第1閾値信号から選択したサンプルに関係がある第1選択閾値信号を生成するステップと、前記第2閾値信号から選択したサンプルに関係がある第2選択閾値信号を生成するステップと、を含み、前記方法が、更に、異なるそれぞれの時点において、前記第1および第2選択閾値信号を、前記選択閾値信号を表す前記信号として供給するステップを備えている、方法。請求項18記載の方法において、前記追跡信号を生成するステップが、PDAC更新時間間隔の間前記DIFF信号を追跡するために、そして前記PDAC更新時間間隔以外のときに前記DIFF信号を保持するために、PDAC出力信号を生成するステップと、NDAC更新時間間隔の間前記DIFF信号を追跡するために、そして前記NDAC更新時間間隔以外のときに前記DIFF信号を保持するために、NDAC出力信号を生成するステップと、を含む、方法。請求項28記載の方法において、前記閾値信号を生成するステップが、抵抗ラダーの第1端において前記PDAC出力信号を受け取るステップと、前記抵抗ラダーの第2端において前記NDAC出力信号を受け取るステップと、前記第1および第2端の間にある中間タップにおいて、前記閾値信号を生成するステップと、を含む、方法。請求項28記載の方法において、前記閾値信号を生成するステップが、第1電圧源によって前記PDAC出力信号を受け取るステップと、第2電圧源によって前記NDAC出力信号を受け取るステップと、を含み、前記閾値信号を生成するステップが、前記第1電圧源によって第1閾値信号を生成するステップと、前記第2電圧源によって第2の異なる閾値信号を生成するステップと、を含む、方法。請求項18記載の方法において、前記閾値信号を生成するステップが、抵抗ラダーによって前記追跡信号を受け取るステップと、前記抵抗ラダーの中間タップにおいて、前記閾値信号を生成するステップと、を含む、方法。請求項18記載の方法において、前記DIFF信号を生成するステップが、RDIFF信号を生成し、LDIFF信号を生成するステップであって、各信号が前記磁場に比例する、ステップを含み、前記RDIFF信号が現在のRDIFFサイクルを含む複数のサイクルを有し、前記LDIFF信号が現在のLDIFFサイクルを含む複数のサイクルを有し、前記動き信号を生成するステップが、前記RDIFF信号にしたがって第1動き信号を生成するステップと、前記LDIFF信号にしたがって第2動き信号を生成するステップと、を含む、方法。請求項32記載の方法において、前記追跡信号を生成するステップが、前記RDIFF信号を追跡し、前記RDIFF信号のピークを保持する第1追跡信号を生成するステップと、前記LDIFF信号を追跡し、前記LDIFF信号のピークを保持する第2追跡信号を生成するステップと、を含む、方法。請求項33記載の方法において、前記第1追跡信号を生成するステップが、第1PDAC更新時間間隔の間前記RDIFF信号を追跡するために、そして前記第1PDAC更新時間間隔以外のときに前記RDIFF信号を保持するために第1PDAC出力信号を生成するステップと、第1NDAC更新時間間隔の間前記RDIFF信号を追跡するために、そして前記第1NDAC更新時間間隔以外のときに前記RDIFF信号を保持するために第1NDAC出力信号を生成するステップと、を含み、前記第2追跡信号を生成するステップが、第2PDAC更新時間間隔の間前記LDIFF信号を追跡するために、そして前記第2PDAC更新時間間隔以外のときに前記LDIFF信号を保持するために第2PDAC出力信号を生成するステップと、第2NDAC更新時間間隔の間前記LDIFF信号を追跡するために、そして前記第2NDAC更新時間間隔以外のときに前記LDIFF信号を保持するために第2NDAC出力信号を生成するステップと、を含み、前記閾値信号を生成するステップが、前記第1PDAC出力信号または前記第1NDAC出力信号の内少なくとも1つに関係がある第1動き検出器閾値信号を生成するステップと、前記第2PDAC出力信号または前記第2NDAC出力信号の内少なくとも1つに関係がある第2動き検出器閾値信号を生成するステップと、を含み、前記閾値信号の前記サンプルをセーブするステップが、前記第1動き検出器閾値信号のサンプルをセーブするステップと、前記第2動き検出器閾値信号のサンプルをセーブするステップと、を含み、前記閾値信号から前記サンプルを選択するステップが、前記現在のRDIFFサイクルよりも第1の所定サイクル数だけ前における前記RDIFF信号のサイクルと関連のある前記第1動き検出器閾値信号のサンプルを選択するステップと、前記現在のLDIFFサイクルよりも第2の所定サイクル数だけ前における前記DLIFF信号のサイクルと関連のある前記第2動き検出器閾値信号のサンプルを選択するステップと、を含み、前記選択閾値信号を生成するステップが、前記第1動き検出器閾値信号から選択した前記サンプルに関係がある第1選択閾値信号を生成するステップと、前記第2動き検出器閾値信号から選択した前記サンプルに関係がある第2選択閾値信号を生成するステップと、を含み、前記比較するステップが、前記第1動き信号を生成するために、前記第1選択閾値信号を表す第1信号を、前記RDIFF信号と比較するステップと、前記第2動き信号を生成するために、前記第2選択閾値信号を表す第2信号を、前記LDIFF信号と比較するステップと、を含む、方法。物体の動きを検出する方法であって、少なくとも1つの磁場検知エレメントによって磁場信号を生成するステップであって、前記磁場信号が、前記物体に付随する磁場に比例し、前記磁場信号が、現在のサイクルを含む複数のサイクルを有する、ステップと、前記磁場信号の少なくとも一部を追跡する追跡信号を生成するステップと、前記現在のサイクルに先立つ前記磁場信号の以前のサイクルにしたがって、選択閾値信号を生成するために、前記追跡信号を用いるステップと、を備えている、方法。請求項35記載の方法において、前記物体が回転するように構成されており、前記現在のサイクルに先立つ前記磁場信号のサイクルが、前記物体の過去の回転と関連がある、方法。請求項35記載の方法において、前記物体が回転するように構成されており、前記物体が、前記少なくとも1つの磁場検知エレメントに最も近接して通過するときに前記サイクルと関連がある構造を有し、前記現在のサイクルに先立つ前記磁場信号のサイクルが、以前に前記少なくとも1つの磁場検知エレメントに最も近づいて通過した前記物体の構造と関連がある、方法。請求項35記載の方法において、前記用いるステップが、前記現在のサイクルよりも第1の所定サイクル数だけ前における前記追跡信号の第1サンプルを選択するステップと、前記現在のサイクルよりも第2の所定サイクル数だけ前における前記追跡信号の第2サンプルを選択するステップと、前記第1および第2サンプルを組み合わせるステップと、を含む、方法。請求項38記載の方法において、前記組み合わせるステップが、前記第1および第2サンプルの平均を取るステップを含む、方法。ある種の回転検出器は、1種類以上の初期化または較正を、例えば、回転検出器の起動または電力投入に近い時点で、またそれ以外では所望に応じてときどき実行する。ある種の較正の間に、前述の閾値レベルが決定される。動体、例えば、前述の磁場センサによって検知される回転動体の中には、不規則な動きを呈するもの、または不規則な特徴を有するものもある。例えば、ギアが回転するとふらつきが生ずる可能性があり、芯振れが生ずる可能性がありその回転軸を中心として非対称、またはその機械的寸法にむらがある可能性がある。例えば、一部のギア歯が他のものよりも広い場合がある。これらの不規則性のために、理想的でない閾値が生成されることが多くなる。この理想的でない閾値によって、Poscomp信号のエッジが、動体と関連のある磁場信号のサイクルに対して精度高く位置付けられないことが多くなる。したがって、磁場信号と関連のある閾値レベルを精度高く特定することができ、検知対象の動体の動きにおけるむら、またはその機械的特性の異常があっても精度が高い磁場センサを提供することができれば望ましいであろう。本発明は、磁場信号と関連のある閾値レベルを精度高く特定することができ、検知対象の動体の動きにおけるむら、またはその機械的特性の異常があっても精度が高い磁場センサを提供する。本発明の第1の態様によれば、物体の動きを検出する回路は、この物体に付随する磁場に比例するDIFF信号を生成する少なくとも1つの磁場検知エレメントを含み、DIFF信号が現在のサイクルを含む複数のサイクルを有する。また、この回路は、物体の動きを示す動き信号を生成するように構成されている少なくとも1つの動き検出器を含み、動き信号が、DIFF信号のサイクルと関連のあるエッジを有する。少なくとも1つの動き検出器は、DIFF信号を受け取るように結合され、閾値信号を生成するように構成されている閾値生成回路を含む。また、少なくとも1つの動き検出器は、閾値信号を受け取るように結合され、閾値信号のサンプルをセーブするように構成され、現在のサイクルよりも所定のサイクル数だけ前におけるDIFF信号の直前のサイクルと関連のある閾値信号のサンプルを選択するように構成され、更に閾値信号の選択されたサンプルに関係がある選択閾値信号を生成するように構成されている少なくとも1つの閾値選択モジュールも含む。また、少なくとも1つの動き検出器は、選択閾値信号を表す信号を受け取るように結合され、DIFF信号を受け取るように結合され、選択閾値信号を表す信号をDIFF信号と比較するように構成され、動き信号を生成するように構成されている比較器も含む。本発明の第1の態様の実施形態の中には、少なくとも1つの閾値選択モジュールが、更に、DIFF信号のそれぞれの複数の以前のサイクルと関連のある閾値信号の複数のサンプルを選択するように構成されており、複数の以前のサイクルの各1つが、それぞれ、現在のサイクルよりも所定サイクル数だけ前にあり、少なくとも1つの閾値選択モジュールが、更に、選択閾値信号を生成するために、閾値信号の複数のサンプルを組み合わせるように構成されている機能プロセッサを含む場合もある。前述の発明の実施形態の中には、機能プロセッサが、更に、選択閾値信号を生成するために、閾値信号の複数のサンプルの平均を取るように構成されている場合もある。本発明の第1の態様の実施形態の中には、少なくとも1つの閾値選択モジュールが、閾値信号を受け取るように結合され、閾値信号を、当該閾値信号のディジタルサンプルに変換するように構成されているアナログ/デジタル変換器と、デジタルサンプルを受け取るように結合され、複数のディジタルサンプルをセーブするように構成されているメモリと、複数のディジタルサンプルから選択されたものに関係があるサンプルを受け取るように結合され、複数のディジタルサンプルから選択されたものに関係がある選択閾値信号を生成するように構成されているデジタル/アナログ変換器とを含む場合もある。前述の発明の実施形態の中には、メモリが、多ビットデジタルシフトレジスタを構成する場合もある。本発明の第1の態様の実施形態の中には、少なくとも1つの閾値選択モジュールが、閾値信号を受け取るように結合され、閾値信号の複数のアナログサンプルをセーブするように構成されているアナログメモリと、複数のアナログサンプルの中からアナログサンプルを選択するように構成され、更に選択したアナログサンプルに関係がある選択閾値信号を生成するように構成されている選択回路モジュールとを含む場合もある。本発明の実施形態の中には、アナログメモリが、アナログシフトレジスタを構成する場合もある。本発明の第1の態様の実施形態の中には、前述の回路が、更に、閾値信号を選択閾値信号と組み合わせて、選択閾値信号を表す信号を供給するように構成されている結合回路を含む場合もある。本発明の第1の態様の実施形態の中には、前述の回路が、更に、選択閾値信号を第1および第2の異なる選択閾値信号に分割し、異なるそれぞれの時点において、第1および第2の異なる選択閾値信号を、選択閾値信号を表す信号として供給するように構成されている分割回路を含む場合もある。本発明の第1の態様の実施形態の中には、閾値生成回路が、第1および第2の異なる閾値値信号を生成するように構成されている場合もある。更に、少なくとも1つの動き検出器は、第1および第2閾値選択モジュールを含み、第1閾値選択モジュールが、第1閾値信号を受け取るように結合され、第1閾値のサンプルをセーブするように構成され、現在のサイクルよりも第1の所定のサイクル数だけ前におけるDIFF信号のサイクルと関連のある第1閾値信号のサンプルを選択するように構成され、更に第1閾値信号から選択したサンプルに関係がある第1選択閾値信号を生成するように構成されている場合もある。更に、第2閾値選択モジュールは、第2閾値信号を受け取るように結合され、第2閾値信号のサンプルをセーブするように構成され、現在のサイクルよりも第2所定サイクル数だけ前におけるDIFF信号のサイクルと関連のある第2閾値信号のサンプルを選択するように構成され、更に第2閾値信号から選択したサンプルに関係がある第2選択閾値信号を生成するように構成されている。更に、前述の回路は、第1および第2選択閾値信号を受け取るように結合され、異なるそれぞれの時点において、第1および第2選択閾値信号を、選択閾値信号を表す信号として供給するように構成されている分割回路を含む。本発明の第1の態様の実施形態の中には、閾値生成回路が、PDAC更新時間間隔においてDIFF信号を追跡するために、そしてPDAC更新時間期間以外の時間DIFF信号を保持するためにPDAC出力信号を生成するように構成されているPDACと、NDAC更新時間間隔においてDIFF信号を追跡するために、そしてNDAC更新時間間隔以外の時間DIFF信号を保持するためにNDAC出力信号を生成するように構成されているNDACとを含む場合もある。本発明の実施形態の中には、閾値生成回路が、第1端においてPDAC出力信号を受け取るように結合され、第2端においてNDAC出力信号を受け取るように結合され、第1および第2端の間にある中間タップにおいて、閾値信号を生成するように構成されている抵抗ラダーを含む場合もある。本発明の実施形態の中には、閾値生成回路が、PDAC出力信号を受け取るように結合され、第1閾値信号を生成するように構成されている第1電圧源と、NDAC出力信号を受け取るように結合され、第2の異なる閾値信号を生成するように構成されている第2の異なる電圧源とを含む場合もある。本発明の第1の態様の実施形態の中には、閾値生成回路が、DIFF信号を追跡する追跡信号を受け取るように結合されている抵抗ラダーを含む場合もある。本発明の第1の態様の実施形態の中には、少なくとも1つの磁場検知エレメントが、RDIFF信号およびLDIFF信号を生成する少なくとも2つの磁場検知エレメントを備えており、RDIFF信号が現在のRDIFFサイクルを含む複数のサイクルを有し、LDIFF信号が現在のRDIFFサイクルを含む複数のサイクルを有する場合もある。更に、少なくとも1つの動き検出器は、RDIFFおよびLDIFF信号をそれぞれ受け取るように結合されている第1および第2動き検出器を含み、第1動き検出器は、物体の動きを示す第1動き信号を生成するように構成されており、第2動き検出器は、物体の動きを示す第2動き信号を生成するように構成されている。前述の発明の実施形態の中には、第1動き検出器および第2動き検出器が、RDIFF信号およびLDIFF信号をそれぞれ追跡するために、第1および第2のそれぞれの追跡信号を生成するように構成されている場合もある。本発明の実施形態の中には、第1動き検出器が、第1PDAC更新時間間隔の間RDIFF信号を追跡するために、そして第1PDAC更新時間間隔以外のときにRDIFF信号を保持するために、第1PDAC出力信号を生成するように構成されている第1PDACと、第1NDAC更新時間間隔の間RDIFF信号を追跡するために、そして第1PDAC更新時間間隔以外のときにRDIFF信号を保持するために、第1NDAC出力信号を生成するように構成されている第1NDACと、RDIFF信号を受け取るように構成され、第1動き検出器閾値信号を生成するように構成されている、第1閾値生成回路と、第1動き検出器閾値信号を受け取るように結合され、第1動き検出器閾値信号のサンプルをセーブするように構成され、現在のRDIFFサイクルよりも第1の所定サイクル数だけ前におけるRDIFF信号のサイクルと関連のある第1動き検出器閾値信号のサンプルを選択するように構成され、更に第1動き検出器閾値信号の選択したサンプルに関係がある第1選択閾値信号を生成するように構成されている第1の少なくとも1つの閾値選択モジュールとを含む場合もある。更に、前述の比較器は、第1選択閾値信号を表す信号を受け取るように結合され、RDIFF信号を受け取るように結合され、第1選択閾値信号を表す信号をRDIFF信号と比較するように構成され、更に第1動き信号を生成するように構成されている第1比較器を含む。更に、第2動き検出器は、第2PDAC更新時間間隔の間LDIFF信号を追跡するために、そして第2PDAC更新時間間隔以外のときにLDIFF信号を保持するために、第2PDAC出力信号を生成するように構成されている第2PDACと、第2NDAC更新時間間隔の間LDIFF信号を追跡するために、そして第2NDAC更新時間間隔以外のときにLDIFF信号を保持するために、第2NDAC出力信号を生成するように構成されている第2NDACと、LDIFF信号を受け取るように構成され、第2動き検出器閾値信号を生成するように構成されている第2閾値生成回路と、第2動き検出器閾値信号を受け取るように結合され、第2動き検出器閾値信号のサンプルをセーブするように構成され、現在のLDIFFサイクルよりも第2の所定サイクル数だけ前におけるLDIFF信号のサイクルと関連のある第2動き検出器閾値信号のサンプルを選択するように構成され、更に第2動き検出器閾値信号の選択したサンプルに関係がある第2選択閾値信号を生成するように構成されている第2の少なくとも1つの閾値選択モジュールと含む。更に、前述の比較器は、第2選択閾値信号を表す信号を受け取るように結合され、LDIFF信号を受け取るように結合され、第2選択閾値信号を表す信号をLDIFF信号と比較するように構成され、更に第2動き信号を生成するように構成されている第2比較器を含む。本発明の第2の態様によれば、物体の動きを検出する方法は、物体に付随する磁場に比例するDIFF信号を生成するステップを含み、DIFF信号が現在のサイクルを含む複数のサイクルを有する。また、この方法は、物体の動きを示す動き信号を生成するステップも含み、動き信号が、DIFF信号のサイクルと関連のあるエッジを有する。動き信号を生成するステップは、DIFF信号にしたがって閾値信号を生成するステップを含む。また、動き信号を生成するステップは、閾値信号のサンプルをセーブするステップと、現在のサイクルよりも所定のサイクル数だけ前におけるDIFF信号の直前のサイクルと関連のある閾値信号のサンプルを選択するステップとも含む。また、動き信号を生成するステップは、閾値信号の選択したサンプルに関係がある選択閾値信号を生成するステップと、動き信号を生成するために、選択閾値信号を表す信号を、DIFF信号と比較するステップとを含む。本発明の第2の態様の実施形態の中には、この方法が、更に、DIFF信号の複数のサイクルのそれぞれと関連のある閾値信号の複数のサンプルを選択するステップであって、複数のサイクルの各1つが、現在のサイクルよりもそれぞれ所定サイクル数だけ前である、ステップと、選択閾値信号を生成するために、閾値信号の複数のサンプルを組み合わせるステップとを含む場合もある。前述の発明の実施形態の中には、前述の組み合わせるステップが、選択閾値信号を生成するために、閾値信号の複数のサンプルの平均を取るステップを含む場合もある。本発明の第2の態様の実施形態の中には、前述のセーブするステップが、閾値信号をディジタルサンプルに変換するステップと、複数のディジタルサンプルをセーブするステップとを含む場合もある。更に、選択閾値信号を生成するステップは、複数のディジタルサンプルから選択したものに関係があるサンプルにしたがって、選択閾値信号を生成するステップを含む。前述の発明の実施形態の中には、複数のディジタルサンプルをセーブするステップが、複数のディジタルサンプルを多ビットディジタルシフトレジスタにセーブするステップを含む場合もある。本発明の第2の態様の実施形態の中には、前述のセーブするステップが、前記閾値信号のアナログサンプルをセーブするステップを含む場合もある。前述の発明の実施形態の中には、前述のアナログサンプルをセーブするステップが、アナログシフトレジスタを備えているアナログメモリに、閾値信号のアナログサンプルをセーブするステップを含む場合もある。本発明の第2の態様の実施形態の中には、本方法が、更に、選択閾値信号を表す信号を供給するために、閾値信号を選択閾値信号と組み合わせるステップを含む場合もある。本発明の第2の態様の実施形態の中には、本方法が、更に、選択閾値信号を、第1および第2の異なる選択閾値信号に分割するステップと、異なるそれぞれの時点において、第1および第2の異なる選択閾値信号を、選択閾値信号を表す信号として供給するステップとを含む場合もある。本発明の第2の態様の実施形態の中には、前述の閾値信号を生成するステップが、第1および第2の異なる閾値信号を生成するステップを含む場合もある。更に、前述の閾値信号のサンプルをセーブするステップは、第1閾値信号のサンプルをセーブするステップと、第2の異なる閾値信号のサンプルをセーブするステップとを含む。更に、閾値信号のサンプルを選択するステップは、現在のサイクルよりも第1の所定サイクル数だけ前におけるDIFF信号のサイクルと関連のある第1閾値信号のサンプルを選択するステップと、現在のサイクルよりも第2の所定サイクル数だけ前におけるDIFF信号のサイクルと関連のある第2の異なる閾値信号のサンプルを選択するステップとを含む。更に、前述の選択閾値信号を生成するステップは、第1閾値信号の選択したサンプルに関係がある第1選択閾値信号を生成するステップと、第2閾値信号の選択したサンプルに関係がある第2選択閾値信号を生成するステップとを含む。更に、方法は、異なるそれぞれの時点において、第1および第2選択閾値信号を、選択閾値信号を表す信号として供給するステップを含む。本発明の第2の態様の実施形態の中には、前述の追跡信号を生成するステップが、PDAC更新時間間隔の間DIFF信号を追跡するために、そしてPDAC更新時間間隔以外のときにDIFF信号を保持するために、PDAC出力信号を生成するステップと、NDAC更新時間間隔の間DIFF信号を追跡するために、そしてNDAC更新時間間隔以外のときにDIFF信号を保持するために、NDAC出力信号を生成するステップとを含む場合もある。前述の発明の実施形態の中には、前述の閾値信号を生成するステップが、抵抗ラダーの第1端においてPDAC出力信号を受け取るステップと、抵抗ラダーの第2端においてNDAC出力信号を受け取るステップと、第1および第2端の間にある中間タップにおいて、閾値信号を生成するステップとを含む場合もある。前述の発明の実施形態の中には、前述の閾値信号を生成するステップが、第1電圧源によってPDAC出力信号を受け取るステップと、第2電圧源によってNDAC出力信号を受け取るステップとを含む場合もある。更に、閾値信号を生成するステップは、第1電圧源によって第1閾値信号を生成するステップと、第2電圧源によって第2の異なる閾値信号を生成するステップとを含む。本発明の第2の態様の実施形態の中には、前述の閾値信号を生成するステップが、抵抗ラダーによって追跡信号を受け取るステップと、抵抗ラダーの中間タップにおいて、閾値信号を生成するステップとを含む場合もある。本発明の第2の態様の実施形態の中には、前述のDIFF信号を生成するステップが、RDIFF信号を生成し、LDIFF信号を生成するステップを含む場合もあり、各信号が磁場に比例し、RDIFF信号が現在のRDIFFサイクルを含む複数のサイクルを有し、LDIFF信号が現在のLDIFFサイクルを含む複数のサイクルを有する。更に、前述の動き信号を生成するステップは、RDIFF信号にしたがって第1動き信号を生成するステップと、LDIFF信号にしたがって第2動き信号を生成するステップとを含む。前述の発明の実施形態の中には、前述の追跡信号を生成するステップが、RDIFF信号を追跡し、RDIFF信号のピークを保持する第1追跡信号を生成するステップと、LDIFF信号を追跡し、LDIFF信号のピークを保持する第2追跡信号を生成するステップとを含む場合もある。前述の発明の実施形態の中には、前述の第1追跡信号を生成するステップが、第1PDAC更新時間間隔の間RDIFF信号を追跡するために、そして第1PDAC更新時間間隔以外のときにRDIFF信号を保持するために第1PDAC出力信号を生成するステップと、第1NDAC更新時間間隔の間RDIFF信号を追跡するために、そして第1NDAC更新時間間隔以外のときにRDIFF信号を保持するために第1NDAC出力信号を生成するステップとを含む場合もある。更に、前述の第2追跡信号を生成するステップは、第2PDAC更新時間間隔の間LDIFF信号を追跡するために、そして第2PDAC更新時間間隔以外のときにLDIFF信号を保持するために第2PDAC出力信号を生成するステップと、第2NDAC更新時間間隔の間LDIFF信号を追跡するために、そして第2NDAC更新時間間隔以外のときにLDIFF信号を保持するために第2NDAC出力信号を生成するステップとを含む。更に、前述の閾値信号を生成するステップは、第1PDAC出力信号または第1NDAC出力信号の内少なくとも1つに関係がある第1動き検出器閾値信号を生成するステップと、第2PDAC出力信号または第2NDAC出力信号の内少なくとも1つに関係がある第2動き検出器閾値信号を生成するステップとを含む。更に、前述の閾値信号のサンプルをセーブするステップは、第1動き検出器閾値信号のサンプルをセーブするステップと、第2動き検出器閾値信号のサンプルをセーブするステップとを含む。更に、前述の閾値信号のサンプルを選択するステップは、現在のRDIFFサイクルよりも第1の所定サイクル数だけ前におけるRDIFF信号のサイクルと関連のある第1動き検出器閾値信号のサンプルを選択するステップと、現在のLDIFFサイクルよりも第2の所定サイクル数だけ前におけるDLIFF信号のサイクルと関連のある第2動き検出器閾値信号のサンプルを選択するステップとを含む。更に、前述の選択閾値信号を生成するステップは、第1動き検出器閾値信号の選択したサンプルに関係がある第1選択閾値信号を生成するステップと、第2動き検出器閾値信号の選択したサンプルに関係がある第2選択閾値信号を生成するステップとを含む。更に、前述の比較するステップは、第1動き信号を生成するために、第1選択閾値信号を表す第1信号を、RDIFF信号と比較するステップと、第2動き信号を生成するために、第2選択閾値信号を表す第2信号を、LDIFF信号と比較するステップとを含む。本発明の第3の態様によれば、物体の動きを検出する方法は、少なくとも1つの磁場検知エレメントによって磁場信号を生成するステップを含む。磁場信号は、物体に付随する磁場に比例し、磁場信号は、現在のサイクルを含む複数のサイクルを有する。また、この方法は、磁場信号の少なくとも一部を追跡する追跡信号を生成するステップと、現在のサイクルに先立つ磁場信号の以前のサイクルにしたがって、選択閾値信号を生成するために、追跡信号を用いるステップとを含む。本発明の第3の態様の実施形態の中には、物体が回転するように構成されており、現在のサイクルに先立つ磁場信号のサイクルが、物体の過去の回転と関連がある場合もある。本発明の第3の態様の実施形態の中には、物体が回転するように構成されている場合もある。更に、この物体は、少なくとも1つの磁場検知エレメントに最も近接して通過するときにサイクルと関連がある構造を有する。更に、現在のサイクルに先立つ磁場信号のサイクルが、以前に少なくとも1つの磁場検知エレメントに最も近づいて通過した物体の構造と関連がある。本発明の第3の態様の実施形態の中には、前述の用いるステップが、現在のサイクルよりも第1の所定サイクル数だけ前における追跡信号の第1サンプルを選択するステップと、現在のサイクルよりも第2の所定サイクル数だけ前における追跡信号の第2サンプルを選択するステップと、第1および第2サンプルを組み合わせるステップとを含む場合もある。前述の発明の実施形態の中には、前述の組み合わせるステップが、第1および第2サンプルの平均を取るステップを含む場合もある。本発明について述べる前に、いくつかの導入概念および用語について説明する。本明細書において用いる場合、磁場検知エレメントという用語は、磁場を検知することができる様々な種類の電子エレメントを記述するために用いられる。磁場検知エレメントは、ホール効果エレメント、磁気抵抗エレメント、または磁気トランジスタとすることができるが、これらに限定されるのではない。周知のように、ホール効果エレメントには異なる種類、例えば、平面ホールエレメント、垂直ホールエレメント、円形ホールエレメント、およびアンチモン化インジウムInSbセンサがある。また、周知のように、磁気抵抗エレメントには異なる種類、例えば、異方性磁気抵抗AMRエレメント、巨大磁気抵抗GMRエレメント、トンネリング磁気抵抗TMRエレメント、および磁気トンネル接合MTJエレメントがある。周知のように、前述の磁場検知エレメントの一部は、磁場検知エレメントを支持する基板に対して平行に、最大感度の軸を有することが多く、前述の磁場検知エレメントの他のものは、磁場検知エレメントを支持する基板に対して垂直に最大感度の軸を有することが多い。具体的には、全部ではないが、殆どの種類の磁気抵抗エレメントは基板に対して平行に最大感度の軸を有することが多く、全部ではないが、殆どの種類のホールエレメントは、基板に対して垂直に感度の軸を有することが多い。本明細書において用いる場合、磁場センサという用語は、磁場検知エレメントを含む回路を記述するために用いられる。磁場センサは、種々の用途において用いられ、電流搬送導体によって搬送される電流によって発生する磁場を検知する電流センサ、強磁性体または磁性体の物体の近接を検知する磁気スイッチまたは近接検出器、通過する強磁性体の物品、例えば、リングマグネットの磁気ドメインまたは強磁性体ギアの歯を検知する回転検出器、ならびに磁場の磁場密度を検知する磁場センサが含まれるが、これらに限定されるのではない。回転検出器は、本明細書では例として用いられる。しかしながら、本明細書において記載する回路および技法は、物体の動きを検出することができるあらゆる磁場センサにも適用される。閾値検出器およびピーク検出器について先に記載した。本明細書において用いる場合、追跡回路という用語は、磁場信号の正ピークまたは負ピークあるいは双方を表す信号を追跡し、おそらくは保持することができる回路を記述するために用いられる。尚、閾値検出器およびピーク検出器は双方共追跡回路を採用できることは言うまでもない。本明細書において用いる場合、閾値識別回路という用語は、閾値信号を生成するように構成されている回路部分を記述するために用いられる。本明細書において用いる場合、閾値生成回路という用語は、閾値を生成するように構成されていれる回路であればいずれでも記述するために用いられ、閾値検出器またはピーク検出器を含むが、これらに限定されるのではない。閾値検出器は、追跡回路および閾値識別回路双方を含むことができる。本明細書において用いる場合、比較器という用語は、2つ以上の信号を比較することが可能な回路であればいずれでも記述するために用いられる。2つ以上の信号は、アナログ信号またはディジタル信号とすることができる。つまり、比較器は、アナログ信号を比較するように構成されているアナログ比較器、ディジタル信号を比較するように構成されているディジタル比較器、またはプログラマブルデバイス、例えば、2つのディジタル信号を比較するためのコードを内部に有するマイクロプロセッサとすることができるが、これらに限定されるのではない。以下では、閾値検出器を用いる回路を示すが、他の実施形態では、同様の回路がピーク検出器を用いることもできる。また、以下では、回転検出器を用いる回路を示すが、実施形態の中には、回転検出器が、物体の他の運動、例えば、反復する直線状の運動を検出するように構成されている動き検出器であることも可能な場合もある。本明細書では、いわゆる較正モードでの磁場センサの動作について説明する。本明細書では、較正モードを初期化モードとも呼ぶ。また、本明細書では、いわゆる継続モードでの磁場センサの動作にも言及する。較正モードは、動作の開始時または所望に応じてときどきに行うことができ、継続モードには他の時点で到達する。継続モードの動作については、前述の特許の内1つ以上、特に、米国特許第5,917,320号および米国特許出願第11/333,522号において更に詳細に記載されている。これらをここで引用したことにより、その全体が本願にも含まれるものとする。一般に、較正モードの間は、磁場センサからの出力信号は高精度でなくてもよく、継続モードの間は、出力信号は高精度であると考えられる。即ち、出力信号のエッジは、磁場信号の特徴と適正に整列されている。本明細書では較正時間期間について論じ、この較正時間期間の終端において、ある種の規準にしたがって、本明細書において論ずる較正モードを終了するが、示された較正時間期間の終端以降に、他の較正を行うことができることは認められてしかるべきである。例えば、自動利得制御は、示された較正時間期間の終端後にも較正を継続することができる。示された較正時間期間の終端後のある時点において、しかし必ずしも示された較正時間期間の終端とは一致せずに、本明細書において説明する磁場センサは継続モードに入ることができ、継続モードの間では、較正モードの間とは異なる方法で回路パラメータ値に対する更新を行うことができる。これより図1を参照すると、磁場センサの一例10は、物体24に伴う磁場に比例する信号14a、14b即ち磁場信号を生成する磁場検知エレメント14を含む。磁場検知エレメント14は、ホール効果エレメント、磁気抵抗エレメント、または磁気トランジスタとすることができるが、これらに限定されるのではない。尚、物体24は磁場センサ10の一部である必要はないことは言うまでもない。物体24は、回転するように構成されている物体、例えば、強磁性体のギアとすることができる。磁場センサ10は、磁場検知エレメント14に近接して配置されている永久磁石16を含むことができる。磁場センサ10は、増幅器18を含むことができる。増幅器18は、磁場検知エレメント14から信号14a、14bを受け取るように結合されており、更に信号18aこれも磁場信号を生成するように構成されている。また、磁場センサ10は、動き検出器、ここでは、回転検出器12も含むことができる。検出器12は、信号18aを受け取るように結合され、信号20aを生成するように構成されている増幅器20を有する。信号20aは、本明細書ではDIFF信号と呼ばれ、信号18aを表す。実施形態の中には、増幅器20が自動利得制御AGC増幅器である場合もある。DIFF信号20aは、本明細書では、磁場信号とも呼ばれる。つまり、信号14a、14b、16a、および20aは全て磁場信号であり、全て磁場検知エレメント14が受ける磁場を示す。回転検出器12は、閾値生成および比較回路22を含むことができる。閾値生成および比較回路22は、DIFF信号20aを受け取るように結合され、物体24の動き即ち、回転を示すPosComp動き信号22aを生成するように構成されている。以下で更に詳しく説明する実施形態の中には、動き信号22aが二状態方形波であり、物体24の回転速度に比例する周波数を有する二状態方形波である場合がある。構成の中には、磁場検知エレメント14が、物体24の動き、例えば、ギア上の強磁性体ギア歯の動きに応答できる場合がある。ギア24上のギア歯24a~24cは、ギア歯を代表する。このために、固定磁石16を磁場検知エレメント14に近接して配置することができ、ギア歯は、ギアが回転すると、磁石16によって生成される磁場を乱すことができる。しかしながら、他の構成では、磁場検知エレメント14は、磁石上の磁性領域の動き、例えば、ギア24に結合されているリングマグネット図示せず上の磁性領域に応答することができる。特定的な構成の中には、リングマグネットおよびギア24が互いに軸等で結合されている場合もある。これらの特定的な構成では、リングマグネットは、磁気検知エレメント14に近接することができるが、ギア24は磁場検知エレメント14に近接する必要はない。磁場検知エレメント14は、ギア歯24a~24cの近接に応答する。動作において、磁場検知エレメント14は、ギア24が回転すると、概略的に正弦波形状を有する磁場信号14a、14bを生成する磁場信号18a、20aも生成する。この正弦波の各ピーク正および負は、ギア歯24a~24cの1つと関連がある。また、磁場センサ10は、出力プロトコルプロセッサ26も含むことができる。出力プロトコルプロセッサ26は、PosComp動き信号22aを受け取るように結合されており、物体24の回転速度を表す出力信号26aを生成するように構成されている。実施形態の中には、出力信号26aが、物体24の回転速度に比例する周波数を有する二状態方形波である場合もある。他の実施形態では、出力信号26aが、物体24の回転速度を表すディジタルワードをを構成する場合もある。これより図1Aを参照すると、図1と同様のエレメントには同様の参照符号が付けられて示されており、磁場センサの他の例50は、磁場に比例する信号52aa、52ab、52ba、52bb、52ca、52cb磁場信号を生成する複数の磁場検知エレメント52a~52cを含む。磁場センサ50は、磁場検知エレメント52aおよび52bに結合され、信号58aこれも磁場信号を生成するように構成されている右チャネル増幅器58を含む。また、磁場センサ50は、磁場検知エレメント52bおよび52cに結合され、信号64aこれも磁場信号を生成するように構成されている左チャネル増幅器64も含む。信号58aは、物体24に対して第1の位置における磁場に比例し、信号64aは、物体24に対して第2の位置における磁場に比例する。以下で更に詳しく説明するが、これらの第1および第2の位置は、それぞれ、右および左電子チャネルと関連がある。また、磁場センサ50は、動き検出器、ここでは回転検出器56も含む。回転検出器56は、右および左チャネル動き検出器、ここではそれぞれ回転検出器56a、56bを含む。回転検出器56aは、信号58aを受け取るように結合され、信号58aを表すRDIFF信号60aこれも磁場信号を生成するように構成されている。回転検出器56bは、信号64aを受け取るように結合され、信号64aを表すLDIFF信号66aこれも磁場信号を生成するように構成されている。実施形態の中には、増幅器60、66が、自動利得制御AGC増幅器である場合もある。また、回転検出器56aは、右チャネル閾値生成および比較回路62も含む。右チャネル閾値生成および比較回路62は、RDIFF信号60aを受け取るように結合され、物体24の動き即ち、回転を示すRPosComp動き信号62aを生成するように構成されている。また、回転検出器56も、左チャネル閾値生成および比較回路68を含む。左チャネル閾値生成および比較回路68は、LDIFF信号66aを受け取るように結合され、物体24の動き即ち、回転を示すLPosComp動き信号68aを生成するように構成されている。実施形態の中には、動き信号62a、68aが、各々、物体24の回転速度に比例する周波数を有する二状態方形波である場合がある。尚、磁場検知エレメント52a~52cは、異なる物理的位置にあるので、RPosComp信号62aは、LPosComp信号68aとは異なる位相を有する可能性があることは言うまでもない。更に、物体24が一方向に回転する場合、RPosComp62aの位相は、LPosComp68aの位相よりも進むが、物体24が逆方向に回転する場合、この位相関係は逆になる。したがって、磁場センサ50は、図1の磁場センサ10とは異なり、物体24の回転速度を表す信号だけでなく、物体24の回転方向を表す信号も生成することができる。左および右また、それぞれ、LおよびRという以上の表記は、物体24に対する磁場センサ52a~52cの物理的配置を示し、任意に左および右チャネルに対応する。図示の実施形態では、3つの磁場検知エレメント52a~52cが、異なる磁場検知に用いられており、中央のセンサ52bは双方のチャネルに用いられている。3つの磁場センサ52a~52cが示されているが、2つ以上のセンサを用いることができることは認められてしかるべきである。例えば、2つの磁場センサ52a、52cのみを用いる実施形態では、磁場センサ52aのみを右チャネル増幅器58に結合することができ、磁場センサ54cのみを左チャネル象風紀64に結合することができる。また、磁場センサ50は出力プロトコルプロセッサ70も含むことができる。出力プロトコルプロセッサ70は、RPosComp信号62aおよびLPosComp信号68aを受け取るように結合され、物体24の少なくとも回転速度を表す出力信号70aを生成するように構成されている。実施形態の中には、出力信号70aが物体24の回転方向も示す場合もある。実施形態の中には、出力信号70aが、物体24の回転速度に比例する周波数と、物体24の回転方向を表すデューティサイクルまたはパルス幅とを有する二状態方形波である場合もある。他の実施形態では、出力信号70aは、物体24の回転速度と回転方向とを表すディジタルワードを構成する場合もある。これより図2を参照すると、図1と同様のエレメントには同様の参照符号が付けられて示されており、回路100は回転動き検出器の一例102を含む。この回転検出器102は、図1の回転検出器と同一または同様とすることができるが、更に詳細に示されている。回転検出器102は、図1の磁場信号18aを受け取るように結合されている。磁場信号18aは、望ましくないDCオフセットを含む可能性がある。したがって、DCオフセットを低減または排除するために、自動オフセットコントローラ104、オフセットディジタル/アナログ変換器DCA106、および加算器108を設けることができる。また、回転検出器102は、自動利得制御AGC増幅器112も含むことができる。自動利得制御AGC増幅器112は、加算器108が生成する出力信号108aを受け取るように結合され、被制御振幅範囲内の振幅を有するDIFF信号20aを生成するように構成されている。尚、DIFF信号20aは、1つ以上の磁場検知エレメント、例えば、図1の磁場検知エレメント14が受ける磁場を表すことは理解されてしかるべきである。DIFF信号20aは、比較器114閾値生成および比較回路116の比較部116bに結合されている。また、比較器114は、閾値信号138も受け取る。閾値信号138の生成については、以下で更に説明する。閾値比較器114は、PosComp信号22aを生成するように構成されている。閾値信号138は、2つの異なる値の間で切り替わることができる。特定的な一実施形態では、閾値信号138は、閾値検出器116a閾値生成および比較回路116の閾値生成部116aによって決定することができる。第1閾値信号132aは、DIFF信号20aのピークピーク振幅の第1の所定の割合、例えば、DIFF信号20aの正のピーク付近であるがそれより低い割合、例えば、85パーセットとすることができる。第2閾値信号132bは、DIFF信号20aのピークピーク振幅の第1の所定の割合、例えば、DIFF信号20aの負のピーク付近であるがそれより高い割合、例えば、15パーセントとすることができる。閾値信号138は、したがって、ある時点ではDIFF信号20aの正ピークに比較的近くそれよりも低くなることができる、他の時点ではDIFF信号20aの負のピークに比較的近くそれよりも高くなることができる。したがって、比較器114は、DIFF信号20aの正および負ピークと密接に関連があるエッジを有するPosComp信号22aを生成することができる。しかしながら、他の実施形態では、閾値信号138は、2つの他の異なる値、例えば、DIFF信号20aのゼロ交差に近い2つの値を取ることができ、したがって、閾値比較器114は、DIFF信号20aのゼロ交差と密接に関連があるエッジを有するPosComp信号22aを生成することができる。更に他の実施形態では、閾値信号138は、例えば、先に記載したピーク検出器によって生成することができる2つの他の異なる値を取ることもできる。閾値信号または電圧138は、閾値生成および比較回路116によって生成される。閾値生成および比較回路116は、図1の閾値生成および比較回路22と同一または同様とすることができる。閾値生成および比較回路116の閾値生成部116aは、カウンタ120、122、PDAC124、NDAC126、第1および第2比較器、それぞれ、128、130、更新論理回路118、抵抗器ラダー132、ならびに第1および第2スイッチ、それぞれ、134、136を含むことができる。PDAC124は、カウンタ120からカウント信号120aを受け取るように結合されている。PDAC124は、抵抗器ラダー132の第1端に結合されるPDAC出力信号124aを生成するように構成されている。NDAC126は、カウンタ122からのカウント信号122aを受け取るように結合されている。NDAC126は、抵抗器ラダー132の第2端に結合されるNDAC出力信号126aを生成するように構成されている。PDAC出力信号124aおよびNDAC出力信号126aは、ここでは、追跡信号とも呼ばれる。動作において、PDAC出力信号124aは、ときにはDIFF信号20aを追跡し、ときにはDIFF信号20aの正のピークを保持することができ、NDAC出力信号126aは、ときにはDIFF信号20aを追跡し、ときにはDIFF信号20aの負のピークを保持することができる。第1スイッチ134は、抵抗器ラダー132の第1タップから第1閾値信号132a信号を受け取るように結合されており、第2スイッチ136は、抵抗器ラダー132の第2タップから第2閾値信号132b信号を受け取るように結合されている。第1スイッチ134は、PosComp信号22aによって制御することができ、第2スイッチ136は、反転したPosComp信号22a、即ち、PosCompN信号によって制御することができる。第1比較器128は、PDAC出力信号124aを受け取るように結合され、更にDIFF信号20aを受け取るように結合されており、そして第1フィードバック信号を生成するように構成されている。第2比較器130は、NDAC出力信号126aを受け取るように結合され、更にDIFF信号20aを受け取るように結合されており、そして第2フィードバック信号130aを生成するように構成されている。図5から図10において、追加の回路、即ち、閾値選択モジュールを、閾値生成および比較回路116の閾値生成部116aと比較部116bとの間に結合できることが示されている。これより図2Aを参照すると、図1と同様のエレメントには同様の参照符号が付けられて示されており、回路150は、2つの回転動き検出器の例152を含む。これらは、152a、152bで識別され、図1Aの回転検出器56a、56bと同一または同様とすることができるが、更に詳しく示されている。回転検出器152は、2つの閾値生成および比較回路116、164を含むことができ、これらは、図1Aの閾値生成および比較回路62、68と同一または同様とすることができるが、更に詳しく示されている。回転検出器152aは、図1Aの磁場信号58aを受け取るように結合されており、回転検出器152bは、図1Aの磁場信号64aを受け取るように結合されている。回転検出器152aは、RPosComp信号62a図1AおよびRDIFF信号60a図1Aを生成するように構成されており、回転検出器152bは、LPosComp信号68a図1AおよびLDIFF信号66a図1Aを生成するように構成されている。これら2つの回転検出器152a、152bの各1つの動作は、図2の回転検出器102の動作と同一または同様であるので、ここでは再度論じないことにする。これより図2Bを参照すると、いわゆるゼロ交差検出器200、閾値生成および比較回路は、図2の閾値生成および比較回路116と対比することができる。ここでは、増幅器206は、2つの磁場検知エレメント202、204から信号202a、202b、204a、204bを受け取るように結合されている。この増幅器は、バンドバスフィルタBPF208に結合される差動出力信号206a、206bを生成するように構成されている。差動信号206a、206bは、差動DIFF信号に相当する。BPF208は、差動濾波信号208a、208bを生成するように構成されている。比較器が、差動濾波信号208a、208bを受け取るように結合され、動き信号PosComp信号210aを生成するように構成されている。動作において、信号208a、208bは、本質的に閾値として動作する。信号208a、208bは、それぞれの信号208a、208bのゼロ交差においてまたはその付近で互いに交差する。以下の論述から、図5および図7の実施形態においてゼロ交差検出器をどのように使用するかが明白となろう。これより図3を参照すると、グラフ220は2つの部分220a、220bを含み、各部分は、回転角度または直線的変位に関係付けることができる、任意の時間単位の目盛りとした水平軸と、磁場強度ガウスまたは関連するディジタル値に関係付けることができる、任意の電圧単位の目盛りとした垂直軸とを有する。部分220a、220bの各1つのサイクルは、磁場検知エレメント、例えば、図1Aの磁場検知エレメント54a~54cのそばを通過するギア歯、例えば、図1Aのギア歯24a~24cを示す。部分220a、220bは、各々、図1のギア24の同じ位置回転角度における異なる回転を示す。部分220bは、例えば、図1および図2のDIFF信号20aを表すDIFF信号230bを含む。DIFF信号230bは、図1のギア24のn回目の回転を表す。通常動作では、PDAC信号222は、図2のPDAC信号124aと同様であり、DIFF信号230bの正のピークに達してこれを取り込むことができる。同様に、NDAC信号224は、図2のNDAC信号126aと同様であり、DIFF信号230bの負のピークに達してこれを取り込むことができる。部分220aは、同様に、例えば図1および図2のDIFF信号20aを表すDIFF信号230aを含む。DIFF信号230aは、図1のギア24のn-1回目の回転、即ち、直前の回転を表す。通常動作では、PDAC信号222は、DIFF信号230aの正のピークに達してこれを取り込むことができる。同様に、NDAC信号224は、DIFF信号230aの負のピークに達してこれを取り込むことができる。閾値226a~226fは、ギア24のn-1回目の回転におけるDIFF信号230aのサイクル中に計算することができる。閾値228a~2228fは、DIFF信号230bのサイクル中に計算することができるが、ギア24のn回目の回転においてである。閾値226a~226fは、例えば、図2の抵抗器ラダー132の中央タップから取り込むことができる閾値信号、即ち、ギア24のn-1回目の回転におけるDIFF信号230aの正および負のピーク間の50点に対応する。閾値228a~228fは、例えば、ギア24のn回目の回転における、抵抗器ラダー132の中央タップから取り込むことができる閾値信号に対応する。中央タップは、以下の図に示されている。矢印232によって代表される矢印は、他の場合では閾値228a~228fを用いることができたDIFF信号230bによって表されるギアのn回目の回転の間に、閾値226a~226fが代わりに用いられることを示す。ギア24のn回目の回転において、n-1回目の回転中に決定された閾値が、1エッジずらされて、用いられる。言い換えると、n回目の回転では、閾値228aの代わりに閾値226bが用いられ、閾値228bの代わりに閾値226cが用いられる等となる。直前のサイクルからの閾値が用いられるが、ギア24の次のエッジと関連のある閾値が用いられる。同様に、DIFF信号が示されていないギア24のn1回目の回転では、閾値228a~228fを用いることができる。つまり、ギア24の直前の回転からの閾値が用いられる。尚、ギア24のn回目の回転では、n-1回目の回転からの閾値のみの使用が示されているが、他の実施形態では、直前および現在のサイクルならびに回転からの閾値のいずれの組み合わせでも用いることができることは明白であろう。例えば、一実施形態では、現在n回目の回転である現在のギア歯と同じギア歯と関連のある以前の閾値数個の平均を取ることができる。例えば、同じギア歯と関連があるが、n-1、n-2、...n-M回目の回転における閾値の平均を取って、n回目の回転における同じギア歯に用いる閾値を供給することができる。更に他の実施形態では、現在のn回目の回転における1つよりも多いギア歯と関連のある以前の閾値を用いることができる。例えば、全てn回目の回転における異なるギア歯、n-1、n-2、...n-N番目のギア歯と関連のある閾値の平均を取って、n回目の回転におけるギア歯に用いる閾値を供給することができる。更に他の実施形態では、以前の閾値だけでなく、現在決定されている閾値も、以上の2つの平均のいずれにでも用いることができる。更に、以上では平均について論じたが、閾値のいずれの組み合わせでも、用いることができる。この組み合わせには、RMSの組み合わせ、および加重平均を含むことができるが、これらに限定されるのではない。更に他の実施形態では、現在および以前のギア歯および/または回転からの現在および以前の閾値のいずれの組み合わせでも、用いることができる。一例として閾値226dを取り上げ、回転n-1220aのみについて検討すると、間隔222bの間に取り込まれたPDAC信号222に基づいて、間隔224cの間に取り込まれたNDAC信号224に関して、閾値226dが計算されることが認められてしかるべきである。つまり、実際には、回転n-1の間に生成された閾値226dが、DIFF信号230のエッジにおいて適用されれば最良であろうが、図示のように、代わりに閾値226cが適用されている。しかしながら、その時点において、閾値226dは未だ生成されていない。言い換えると、回転n-1の間に生成される各閾値は、それが実際に適用されるエッジギア歯よりも前のDIFF信号230aのエッジギア歯における適用に、実際には最も適している。したがって、以上で説明した構成によって、次の回転、即ち、回転nにおいて、図示のように、DIFF信号230aの直前のサイクルにおいて閾値226dが生成されたギア歯の直前のギア歯に対応するDIFF信号230bのエッジに、閾値226dが適用される。尚、これによって、信号230bの各サイクルギア歯に関して一層精度高く閾値が置かれることが認められよう。精度高い閾値の配置、およびその結果得られる図2AのPOSCOMP信号62a、68aのエッジタイミングの精度は、物体の正確な回転角度を表すためにエッジが用いられる用途では重要である。このような精度は、例えば、種々のエンジンのタイミングを制御するために自動車におけるカムシャフトの回転を検知するのに図2Aの回転動き検出器152が用いられるときにも、重要であると考えられる。これより図4を参照すると、グラフ250は、任意の時間単位の目盛りとした横軸と、任意の電圧単位の目盛りとして縦軸とを有する。グラフ250は、DIFF信号252およびDIFF信号254を含み、各々、例えば、図1および図2のDIFF信号20aを表すが、各々、図1および図2のギア24の異なる回転におけるDIFF信号20aを表す。2つのDIFF信号252、254の間に、DCオフセット260が示されている。DCオフセット260にしたがって、異なる閾値、例えば、閾値256、258を、各サイクルにおいて決定するが、未だ閾値の補正を全く考慮に入れていない。オフセットの変化260は、複数の回転からの閾値の履歴からでなければ得られず、このオフセットの変化260を検知することによって、以下で説明する技法を用いて、このオフセットの変化またはドリフトを計算することができる。オフセットの変化は、閾値を更に精度高く位置付けるために、各ギア歯において用いられる閾値例えば、図3の閾値226a~226fおよび228a~228fに適用することができる。これより図5を参照すると、物体の動きを検出する回路300即ち、動き検出器300は、物体例えば、図1および図1Aのギア24に付随する磁場に比例するDIFF信号306aを生成する、少なくとも1つの磁場検知エレメント図示せず、例えば、図1~図2Aの54a~54cを含み、DIFF信号306aは、現在のサイクルを含む複数のサイクルを含む。回路300は、物体の動きを示す動き信号308aを生成するように構成されている少なくとも1つの動き検出器300を設け、動き信号308aは、DIFF信号306aのサイクルと関連のあるエッジを有する。少なくとも1つの動き検出器300は、DIFF信号306aを受け取るように結合され、閾値信号320aを生成するように構成されている閾値生成回路320ここでは、閾値検出器320を含むことができる。また、少なくとも1つの動き検出器300は、少なくとも1つの閾値選択モジュール326も含むことができる。閾値選択モジュール326は、閾値信号320aを受け取るように結合され、閾値信号320aのサンプル332をセーブするように構成され、現在のサイクルよりも所定数だけ前のサイクルのDIFF信号306aの直前のサイクルと関連のある閾値信号320aのサンプル336aを選択するように構成され、更に閾値信号320aから選択されたサンプル336aに関係がある選択閾値信号326aを生成するように構成されている。また、少なくとも1つの動き検出器300は、比較器308も含むことができる。比較器308は、選択閾値信号326aを表す信号316aを受け取るように結合され、DIFF信号306aを受け取るように結合され、選択閾値信号326aを表す信号316aをDIFF信号306aと比較するように構成され、更に動き信号308aを生成するように構成されている。尚、閾値生成回路320は、追跡回路部322を含むことができ、追跡回路部322はPDAC信号322aおよびNDAC信号322bを生成することができ、これらは各々DIFF信号306aの一部を追跡することができることは認められよう。また、閾値生成回路320は、閾値識別回路部324も含むことができる。閾値生成回路320は、図2の閾値生成および比較回路116の閾値生成部116aと同一または同様とすることができる。比較器308は、図2の閾値生成および比較回路116の比較部116bと同一または同様とすることができる。閾値選択モジュール326は、、閾値生成回路320と比較器308との間に結合されている。2つの閾値信号132a、132bを生成する図2の閾値生成回路116aとは異なり、閾値生成回路320は、1つの閾値信号320aのみを生成することができる。2つの閾値を生成する他の実施形態については、以下で図と関連付けて示す。閾値選択モジュール326は、閾値信号320aを受け取るように結合され、閾値信号320aのディジタルサンプル328aを生成するように構成されているアナログ/デジタル変換器328を含むことができる。また、閾値選択モジュール326は、多ビット広ディジタルシフトレジスタの形態とした、ディジタルメモリ330も含むことができる。このディジタルメモリ330は、図1~図2Bのギア24のM回の回転に付随するサンプルを保持する大きさにすることができ、回転の各1つには、N個のサンプルが付随する。つまり、実施形態では、メモリ330が閾値信号320aのM×N個の多ビットサンプル、即ち、閾値の履歴を保持する大きさにすることができる。実施形態の中には、ディジタルメモリ330が、PosComp信号308aの各正および負エッジにおいて、またはこれと関連付けて、閾値信号320aのそれぞれのサンプルを格納することができる場合もある。他の実施形態では、ディジタルメモリ330は、PosComp信号308aの各正および負エッジにおいてまたはこれと関連付けて、閾値信号320aのそれぞれのサンプルを格納することができる。実施形態の中には、ディジタルメモリ330が、各ギア歯と関連付けるのではなく各POSCOMPではなく、ギア歯の一部のみと関連付けて閾値信号320aのサンプルを格納することができる場合もある。端的に図3を参照すると、これらおよびその他の構成により、n-1回目の回転の閾値を、n回目の回転と関連のあるサイクル例えば、ギア歯の一部のみ、例えば、異常な振幅を有するサイクルに適用することが可能である。他の実施形態では、ディジタルメモリ330は、各ギア回転と関連付けてではなく、ギア回転の一部のみと関連付けて、閾値信号320aのサンプルを格納することができる。これらの構成は全て、使用するディジタルメモリ330の量、および回路のダイ面積の量を削減することができる。また、閾値選択モジュール326は、M×N:xワードマルチプレクサ336も含むことができる。M×N:xワードマルチプレクサ336は、ディジタルメモリ330に結合され、可能なM×Nサンプルワードの中からx個のサンプルワードを選択するように構成されている。尚、x個のサンプルワードの各1つは、PosComp信号308aにしたがって、新たなサンプルワードに送られることは認められよう。つまり、x個のサンプルワードの各1つは、実際には、サンプルワードのストリームであり、各々、DIFF信号306aの現在のサイクルにおける、またはそれ以前におけるDIFF信号306aの特定のサイクルを表す。つまり、以下の論述では、サンプルに言及するときは、そのサンプルは実際にはサンプルのストリームであると理解されたい。M×N:xワードマルチプレクサ336は、格納されている閾値信号320aのサンプルから選択したいずれの数のサンプルにしたがってでも、サンプルを選択することができ、選択された各サンプルは、DIFF信号306aの異なるサイクルと関連がある。M×N:xワードマルチプレクサ336は、制御信号334にしたがって、x個のサンプルワードを選択することができる。実施形態の中には、M×N:xワードマルチプレクサ336が、M×N:1マルチプレクサであり、1つのサンプルサンプルストリームのみを選択する場合もある。実施形態の中には、1つの選択されたサンプルが、現在のサイクルの直前のDIFF信号306aのサイクルと関連がある場合もある。これは、図3に表されている。つまり、DIFF信号306aの各サイクルにおいて、直前のサイクルにしたがって、サンプルを選択する。他の実施形態では、1つの選択されたサンプルは、現在のサイクルよりもいずれのサイクル数でも前にすることができ、例えば、ギア24図2の回転に対応するDIFF信号306aのサイクル数だけ前でも可能である。M×N:xワードマルチプレクサ336は、x個のサンプル336a1つのサンプルもあり得るを機能プロセッサ338に供給するように構成されている。尚、x個のサンプルは、DIFF信号306aのそれぞれのサイクル毎に生成されること、したがって、信号336aはサンプルの連続ストリームであることは認められよう。機能プロセッサ338は、x個のサンプル336aを受け取るように結合され、これらx個のサンプル336aの関数である信号338aを供給するように構成されている。例えば、実施形態の中には、信号338aがサンプルのストリームを供給し、このサンプルの各1つが、x個のサンプル336の集合の内1つの平均である場合もある。他の実施形態では、信号338aは、x個のサンプル336aの各集合のRMS平均である。他の実施形態では、信号338aは、x個のサンプル336aの各集合の加重平均であり、例えば、新しいサンプル程、以前のサンプルよりも大きな重みを与える。x個のサンプルの集合の他の組み合わせも可能である。メモリ330に保持した閾値の履歴には、特定のギア歯と関連のある閾値が回転毎に大きくずれる場合、このずれを用いて磁場センサ300における障害を示すことができるという他の用法もある。尚、1つのサンプルサンプルストリームのみを用いる場合、機能プロセッサ338は不要となり、省略してもよいことは認められよう。ディジタル/アナログ変換器340は、信号338aを受け取るように結合され、一連のディジタルサンプル338aにしたがって、アナログサンプル、即ち、更に正確に言えば、一連のアナログサンプル326aを生成するように構成されている。一連のアナログサンプル326aを、ここでは、選択閾値信号326aとも呼ぶ。尚、選択閾値信号326aをスムージングするためにフィルタ図示せずを用いることができることは認められよう。実施形態の中には、選択閾値信号326aを直接比較器308に結合することができる場合もある。しかしながら、他の実施形態では、回路300は、選択閾値信号326aを受け取るように結合された回路モジュール310を含むことができる。この回路モジュールは、2:1アナログマルチプレクサ314を含むことができる。2:1アナログマルチプレクサ314は、選択閾値信号326aを受け取るように結合され、閾値信号320aを受け取るように結合され、そしてパワーオン信号318aの制御の下で、閾値信号320aまたは選択閾値信号326aから選択した1つとして、出力信号314aを生成するように構成されている。基本的に、回路300に最初に電源が入れられた後間もない時間、例えば、較正時間期間において、2:1アナログマルチプレクサ314は、出力信号314aとして閾値信号320aを選択することができ、その後、例えば、継続動作モードの間、2:1アナログマルチプレクサ314は、出力信号314aとして、選択閾値信号326aを選択することができる。この構成が必要となると考えられるのは、電源投入直後では、閾値履歴がなく、ギア24の以前の回転からの閾値が入手できないからである。閾値誤差補正モジュール316は、信号314aを受け取るように結合することができ、信号316aを生成するように構成することができる。信号316aは、電源投入から所定の時間量後の時点において、選択閾値信号326aを表すことができ、電源投入から所定の時間量以内における時点では、閾値信号320aを表すことができる。また、回路モジュール310は、差分回路312も含むことができる。差分回路312は、閾値信号320aを受け取るように結合され、選択閾値信号326aを受け取るように結合され、そして閾値信号320aと選択閾値信号326aとの差として、信号312aを生成するように構成されている。閾値誤差補正モジュール316は、信号312aも受け取るように結合することができる。動作において、閾値選択モジュール326は、DIFF信号の各サイクルにおいてメモリ330から1つ以上のサンプルを選択する。それぞれのサンプルは、DIFF信号306aの現在のサイクルよりもそれぞれ同じ時間だけ前のものである。実施形態では、閾値選択モジュール326は、選択したサンプル、例えば、DIFF信号306aの直前5回のサイクルからのサンプルを処理し、例えば、平均を取り、選択閾値信号326aを生成することができる。実施形態の中には、閾値選択モジュール326が、1つのサンプルのみ、例えば、DIFF信号306aの現在のサイクルの直前のサイクルからの閾値サンプルを選択し、この1つのサンプルを、処理せずに、選択閾値信号326aとして渡す場合もある。他の実施形態の中には、閾値選択モジュール326が、1つのサンプルのみ、例えば、現在の回転の直前のギア24図1の回転からの対応するサイクルからの閾値サンプルを選択し、この1つのサンプルを、処理せずに、選択閾値信号326aとして渡す場合もある。前述のように、以前のサイクルからの複数の閾値の関数にしたがって、または直前の回転の対応する1サイクルにしたがって、選択閾値信号326aを生成することにより、選択閾値信号326aを一層精度高く、そしてギア24の機械的不規則性、動揺または心振れの影響を受けにくくして安定させることが可能となる。これより図6を参照すると、図5と同様のエレメントには同様の参照符号が付けられて示されており、回路350は、図5の回路300と同様の特性を有することができる。しかしながら、図5に示したアナログ回路の一部が、対応するディジタル回路に置き換えられている。例えば、図5の閾値生成回路320は、閾値生成回路356と置き換えることができる。閾値生成回路356は、図5の追跡回路322および閾値識別回路324を、それぞれ、論理回路358、360として実装する。閾値生成回路356は、DIFF信号352aを受け取るように結合されており、DIFF信号306aは、アナログ/デジタル変換器352によってディジタル化され、閾値生成回路356は閾値信号356aを生成するように構成されている。閾値信号356aもディジタル信号である。閾値選択モジュール366は、完全にディジタルにすることができ、アナログ/デジタル変換器328も図5のディジタル/アナログ変換器340も必要としない。閾値選択モジュール366は、ディジタル信号とすることができる、選択閾値信号366aを生成するように構成されている。回路モジュール358は、選択閾値信号366aを受け取るように、そして閾値信号356aを受け取るように結合することができる。回路モジュール358は、差分回路360、2:1アナログマルチプレクサ362、および閾値誤差補正モジュール364を含むことができ、これらは、図5の差分モジュール312、2:1アナログマルチプレクサ314、および閾値誤差補正モジュール316と同じように結合され、同一または同様の機能を有する。しかしながら、回路モジュール358は、アナログ回路を有する図5の回路モジュール310とは異なり、デジタル回路を有する。回路350は、デジタル比較器354を含むことができる。デジタル比較器354は、閾値誤差補正モジュール364からの出力信号を受け取るように結合され、更にデジタル化されたDIFF信号352aを受け取るように結合されている。デジタル比較器354は、図5のPosComp信号308aと同一または同様とすることができる、PosComp信号354aを生成するように構成されている。尚、回路350の機能の多くは、図5の回路300のアナログ回路と同一または同様の機能を実行するデジタル回路で実現されることは認められよう。これより図7を参照すると、図5と同様のエレメントには同様の参照符号が付けられて示されており、回路400は、閾値信号320aを生成するように構成されている、図5の閾値生成回路320を含む。閾値選択モジュール404は、閾値信号320aを受け取るように結合され、閾値信号320aのアナログサンプル、例えば、サンプル408を格納するように構成されている。このアナログサンプルは、バケツリレー素子BBD:bucketbrigatedevice306等に格納することができる。BBDは、離散アナログサンプルを格納およびシフトすることができるアナログシフトレジスタであることは、分かっているであろう。閾値選択モジュール404は、M×N:xアナログマルチプレクサ412を含むことができる。M×N:xアナログマルチプレクサ412は、前述のアナログサンプルから選択されたもの406aを受け取るように結合され、出力信号412aを生成するように構成されている。出力信号412aは、アナログサンプルから選択された1つ以上に対応する1つ以上のアナログ信号を有することができる。アナログ機能回路414は、出力信号412aを受け取るように結合することができ、そして出力信号412aに対して機能を実行するように構成することができる。アナログ機能モジュール414によって実行される機能は、図5の機能プロセッサに関連して先に説明した機能と同一または同様とすることができる。しかしながら、アナログ機能回路414は、アナログ回路によってその機能を実行することができる。閾値選択モジュール404は、選択閾値信号404aを生成するように構成されている。選択閾値信号404aは、図5の選択閾値信号326aと同一または同様とすることができる。回路400は、比較器308を含むことができる。比較器308は、選択閾値信号404を受け取るように結合され、DIFF信号306aを受け取るように結合され、そしてPosComp信号402を生成するように構成されている。PosComp信号402は、図5のPosComp信号308aと同一または同様とすることができる。これより図8を参照すると、図5と同様のエレメントには同様の参照符号が付けられて示されており、回路450は、閾値選択モジュール454を含むことができる。閾値選択モジュール454は、図5および図7の閾値選択モジュール346、404それぞれと同一または同様とすることができる。この閾値選択モジュールは、PosComp信号452および閾値信号320aを受け取るように結合され、選択閾値信号454aを生成するように構成されている。選択閾値信号454aは、図5の選択閾値信号326aまたは図6の選択閾値信号404aと同一または同様とすることができる。選択閾値信号454aは、第1および第2スイッチ460、462によってそれぞれ受け取られる。第1スイッチ460は、PosComp信号452によって制御され、第2スイッチ462は、PosComp信号466を反転させたバージョンによって制御され、その結果、2つのスイッチ460、462は交互に開閉する。第1電圧源456は、第1スイッチ460からの出力信号をその負ノードにおいて受け取るように結合されており、第2電圧源458は、第2スイッチ462からの出力信号をその正ノードにおいて受け取るように結合されている。閾値信号464は、図2の閾値信号138と同じように、2つの信号レベル間で交互する。比較器308は、閾値信号464およびDIFF信号306aを受け取るように結合され、PosComp信号452を生成するように構成されている。これより図9を参照すると、図5と同様のエレメントには同様の参照符号が付けられて示されており、回路500は、図8の2つの交互する閾値を得ることができるが、異なる方法によってである。ここでは、閾値生成モジュール320は、図5の1つの閾値信号320aの代わりに、2つの閾値信号320b、320cを生成するように構成されている。第1閾値選択モジュール506は、閾値信号320bを受け取るように結合されており、第2閾値選択モジュール508は、閾値信号320cを受け取るように結合されている。また、第1閾値選択モジュール506は、PosComp信号502も受け取るように結合されており、第2閾値選択モジュール508も、反転PosComp信号504を受け取るように結合されている。これらのPosComp信号は、図5のPosComp信号308aが図5の閾値選択モジュール326を駆動するのと同じように、それぞれ第1および第2閾値選択モジュール504、506を駆動する。閾値選択モジュール506、508は、それぞれ、図5および図7の閾値選択モジュール326および404と同一または同様とすることができる。第1閾値選択モジュール506は、第1選択閾値信号506aを生成するように構成されており、第2閾値選択モジュール508は、第2選択閾値信号508aを生成するように構成されている。これらの信号は、各々、図5の選択閾値信号326aと同一または同様とすることができる。第1スイッチ510は、第1選択閾値信号504aを受け取るように結合されており、第2スイッチ512は、第2選択閾値信号508aを受け取るように結合されている。第1スイッチ512は、PosComp信号502によって制御され、第2スイッチ512は、反転PosComp信号504によって制御される。したがって、図8のスイッチ460および462と同様、スイッチ510、512は、交互に動作して閾値信号514を生成する。閾値信号514は、図2の閾値信号138と同じように、2つの信号レベル間で交互する。比較器308は、閾値信号514およびDIFF信号306aを受け取るように結合され、PosComp信号502を生成するように構成されている。これより図10を参照すると、図5と同様のエレメントには同様の参照符号が付けられて示されており、図5の閾値生成回路320が、閾値生成回路554と置き換えられている。具体的には、図5の閾値識別回路324が、閾値識別回路557と置き換えられている。閾値検出器である図5の閾値生成回路326とは異なり、閾値生成回路554は、ピーク検出器である。閾値識別回路557は、追跡信号322aを受け取るように結合されている第1電圧源と、追跡信号322bを受け取るように結合されている第2電圧源560とを含む。第1電圧源558は、第1閾値信号554aを生成するように構成されており、第2電圧源560は、第2閾値信号554bを生成するように構成されている。第1および第2閾値選択モジュール556、558は、図9の第1および第2閾値選択モジュール506、508と同一または同様とすることができ、それぞれ、第1および第2閾値信号554a、554bを受け取るように結合されている。また、第1閾値選択モジュール556は、PosComp信号552を受け取るようにも結合されており、第2閾値選択モジュール508も、反転PosComp信号566を受け取るように結合されている。これらの信号は、図5のPosComp信号308aが図5の閾値選択モジュール326を駆動するのと同じように、それぞれ第1および第2閾値選択モジュール556、558を駆動する。第1および第2閾値選択モジュール556、558は、それぞれ、第1および第2選択閾値信号556a、558aを生成するように構成されており、第1および第2選択閾値信号556a、558aは、それぞれ、第1および第2スイッチ560、562に結合されている。第1スイッチ560は、PosComp信号552によって制御され、第2スイッチ562は、反転PosComp信号556によって制御される。したがって、図8のスイッチ460および462と同様に、スイッチ560、562は交互に動作して、閾値信号564を生成する。閾値信号564は、図2の閾値信号138と同じように、2つの信号レベル間で交互する。比較器308は、閾値信号564およびDIFF信号306aを受け取るように結合され、PosComp信号552を生成するように構成されている。図5の回路モジュール310は、図7~図10には示されていないが、他の実施形態では、図7~図10の回路400、450、500、および550は、回路モジュール310と同じまたは同様の回路モジュールを含むことができる。尚、図5~図10の回路の一部は、互いに交換できることは認められてしかるべきである。例えば、図7の閾値選択モジュール404のようなアナログ閾値選択モジュールは、図5~図10の回路の内いずれにおいても用いることができる。本明細書において引用した全ての参考文献は、本明細書において引用したことにより、その内容全体が本願にも含まれるものとする。以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、その概念を組み込んだ他の実施形態も使用できることは、当業者には今や明白となるであろう。したがって、これらの実施形態は、開示した実施形態に限定されるのではなく、添付した請求項の主旨および範囲によってのみ限定されてしかるべきである。"