放射線と反応するターゲットと、前記ターゲットから放出された荷電粒子を計測する荷電粒子センサと、前記放射線の入射方向を制限するコリメータを備えた計測器と、前記荷電粒子センサからの出力を処理し前記放射線を分析する処理分析部と、を備えた放射線スペクトロメータにおいて、前記ターゲットから放出された前記荷電粒子のうち所定の方向に放出された前記荷電粒子を収束させることなく、またエネルギーを変化させることなく透過させる荷電粒子コリメータを備えたことを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記ターゲットから放出された前記荷電粒子が前記計測器内に発生させた磁場によって、前記荷電粒子のエネルギーごとに異なる軌道を描きながら、前記荷電粒子センサで計測されることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項2に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記磁場はコイルを用いて電気的に発生させることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項2又は請求項3に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記磁場の強度が可変であることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項2に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記磁場は永久磁石を用いて発生させることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1又は請求項2に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記荷電粒子センサを複数列状に配置し、前記荷電粒子のエネルギー群ごとに異なる前記荷電粒子センサで前記荷電粒子を計測することを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1又は請求項2のいずれかに記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記処理分析部は、前記荷電粒子センサごとに得られる波高値から前記荷電粒子のエネルギー弁別を行うことを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項2に記載の放射線スペクトロメータにおいて、散乱線や遮蔽を透過した前記放射線に起因して前記電粒子センサに入射した想定されたエネルギー群の範囲以外のエネルギーを持つ成分をカットオフすることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項6に記載の放射線スペクトロメータにおいて、複数列状に配置された前記荷電粒子センサは、荷電粒子センサごとに異なったサイズを有していることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1又は2に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記計測器の外壁は内部を覆うように遮蔽体で構成されていることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項10に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記放射線が前記ターゲットを直線的に通過し衝突する位置にある遮蔽体は、他の位置にある遮蔽体より薄くすることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1又は請求項11に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記放射線が前記ターゲットを直線的に通過し衝突する位置にある遮蔽体の外部に透過放射線コリメータを設けたことを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1又は請求項11或いは請求項12に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記放射線が前記ターゲットを直線的に通過し衝突する位置にある遮蔽体の内側にコリメータ状の散乱線ポケットを設けたことを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項13に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記散乱線ポケットのサイズは、計測器の入り口にある放射線コリメータの寸法から算出される入射放射線の広がりの範囲にカバーするサイズであることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1又は2に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記荷電粒子センサをポケット状の窪み有する荷電粒子ポケットに設置することを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項15に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記荷電粒子センサを前記荷電粒子ポケットの窪みに傾けて設置したことを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記荷電粒子コリメータは遮蔽能力の高い物質で構成することを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項17に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記荷電粒子コリメータを鉛又はタングステンで構成することを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1又は請求項2に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記放射線がガンマ線であることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項19に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記ターゲットと前記ガンマ線の相互作用として、コンプトン散乱を利用することを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1又は請求項2に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記計測器内を、前記荷電粒子コリメータで、前記荷電粒子センサを有するセンサ領域と前記ターゲットが存在するターゲット領域とに分割し、前記センサ領域は前記磁場を有する領域であることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項21に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記ターゲット領域は前記磁場を有する領域であることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項21に記載の放射線スペクトロメータにおいて前記ターゲット領域は前記磁場のない領域であることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項21に記載の放射線スペクトロメータにおいて荷電粒子コリメータが前記磁場のない領域であることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項1又は請求項2に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記放射線が中性子であることを特徴とする放射線スペクトロメータ。請求項25に記載の放射線スペクトロメータにおいて、前記ターゲットと前記中性子の相互作用として弾性散乱を利用することを特徴とする放射線スペクトロメータ。放射線スペクトロメータは、放射線を検出するセンサおよび後段の回路系等で構成される。その検出限界はセンサの飽和または回路系の飽和で起こる。センサの飽和とは、センサで発生した信号の波高がベースレベルに落ちる前に次に信号が入ってくる時に起こる。これはパイルアップと呼ばれ、信号が重畳するため、正しい計数を得られない現象である。回路系の飽和は、センサでの飽和と同様の現象が起こるか、回路の処理能力が追いつかず、計数を受け付けない不感時間が発生することである。放射線計測は確率的な事象を扱うため、瞬間的にこのような現象が起こる可能性は常に秘めている。従って、上記、検出限界の現象が瞬間的に起こる事はやむを得ない。しかしながら、連続的、あるいは断続的に検出限界となる事象が起こるのであれば、それは正しい計測が不可能であることを意味する。このような検出限界は、高放射線場で起こる。放射線の発生源が特定されているか、観測方向が特定されている場合には、計測器を鉛製のコリメータで覆い、入射する放射線料を制限する。コリメータサイズは放射線の量によって決まる。しかし、ある程度の大きさをもった範囲を観測対象とする場合、コリメータのサイズをある程度までしか制限することができない。また、コリメータサイズにも制作上制限があるため、制作上、最小のコリメータサイズでも検出限界となってしまうような高放射線場には対応出来ない。この他にセンサを薄くして、物質との相互作用の確率を下げるという方法がある。この方法によるガンマ線計測の場合、ガンマ線がセンサ中の物質と相互作用を起こし、発生した荷電粒子である電子を計測する。電子がセンサ中で全てのエネルギーを失うのであれば、正しいエネルギーを計測できるが、センサが薄くなると、エネルギーが全て吸収される前に電子がセンサを飛び出る可能性がある。この時、放射線のエネルギー分析は誤った結果を導く。以上の説明したように、高放射線場においての放射線計測では、エネルギー分析を行う時に検出限界が発生し得る。従って、本発明は、高放射線場において、エネルギー分析を実施可能な放射線スペクトロメータを提供することを目的とする。センサ、回路いずれの検出限界もセンサで相互作用する放射線が多いことに起因する。言い換えれば、センサで相互作用する放射線量を低減し、その上でエネルギースペクトルが取得可能であれば、高放射線場においてエネルギー分析が可能となる。一般的にセンサは、上述したように放射線との相互作用によって荷電粒子を放出し、放出された荷電粒子がセンサ内でそのエネルギーを失うことで電流又は蛍光を出力する機能のほか、入射した荷電粒子がセンサ内でそのエネルギーを失うことで電流又は蛍光を出力する機能がある。本発明では、上述した機能を以下のように二通りに用いる。第一は、ターゲットとして用いる。即ち、放出された荷電粒子がターゲット内でそのエネルギーを失わない程度に薄くし、ターゲット外に荷電粒子を放出する役目を果たす。第二は、ターゲットから放出された荷電粒子が入射し、荷電粒子のエネルギーに応じて電流又は蛍光等を出力するセンサとして用い、本発明では荷電粒子センサという。以下に、高放射線場において、荷電粒子センサと相互作用をする荷電粒子量を、またはその荷電粒子量を減らす放射線量を低減する解決手段を順に述べる。本発明は、必ずしも以下に述べる解決手段を全て有することを必要としない。また、最初に述べた解決手段が発明を最も表す手段とは限らない。なお、放射線スペクトロメータ10は、後述する図1に示すように、計測器1と、荷電粒子センサからの計測出力を処理し分析する処理分析部2を有する。本発明は、第1に、計測器への放射線の入射口を放射線コリメータで覆う。放射線コリメータは入射する放射線がターゲットに対して垂直に入射するように設置する。入射した放射線は検出位置に設置されたターゲットと相互作用をする。第2に、このターゲットを薄く制作する。その結果、反応確率は低く、また相互作用によって放出された電子や陽子などの荷電粒子はターゲット内ではほとんど吸収されず、ターゲットの外部に放出される。計測器内部は真空であり、放出された荷電粒子は計測器内の何らかの物質と衝突するまで飛行し続ける。第3に、放出された荷電粒子を荷電粒子センサに導くために、計測器内部に一定方向に働く磁場が発生するように構成する。磁場が存在する場合、荷電粒子は電荷を持つため、その軌道が変化する。一定の方向の磁場であるため、荷電粒子の軌跡は円弧上となる。この円運動によって、計測器内に設置してある荷電粒子センサに荷電粒子が入射する。荷電粒子センサに入射した荷電粒子のエネルギーを計測することで、エネルギー分析を行う。第4に、ターゲットから所定の方向に放出される荷電粒子のみを計測できるように荷電粒子用の荷電粒子コリメータを設ける。計測器に一定方向から入射した放射線がターゲットに入射し、弾性散乱に基づく相互作用が起こると、荷電粒子が放出される。後述する式1に示すように、この放出される荷電粒子の方向とエネルギーがわかると、入射した放射線のエネルギーがわかる。従って、荷電粒子コリメータを通過した所定の方向を有する荷電粒子のエネルギーを計測することで、入射放射線のエネルギーは求められる。第5に、複数の荷電粒子センサを並べて設置する。荷電粒子コリメータを通過した荷電粒子は磁場の影響でエネルギーごとに異なった軌道を描く。従って、複数の荷電粒子センサを並べて設置することで、エネルギーごとに異なった荷電粒子センサに荷電粒子が入射することになる。荷電粒子センサは点では無く、体積を持つため厳密に言えば一定のエネルギー群を持った荷電粒子ごとに、それぞれ異なる荷電粒子センサに入射する。荷電粒子コリメータを通過した荷電粒子を単一の荷電粒子センサでエネルギー分析しても入射放射線のエネルギー計測は可能であるが、磁場を用いてエネルギー群ごとに異なる荷電粒子センサを用い、荷電粒子センサ1個あたりに入射する荷電粒子の数を低減することで、荷電粒子センサが飽和することなく、より高い放射線場においても適用可能となる。また、荷電粒子センサが飽和しない限り、それぞれの荷電粒子センサは、得られる波高値から荷電粒子毎のエネルギー弁別が可能である。エネルギー群ごとに入射した荷電粒子をエネルギー弁別することで、高いエネルギー分解能を確保することが可能となる。第6に、複数の荷電粒子センサの設置位置ごとに入射する荷電粒子のエネルギー群を決定する。荷電粒子の軌道は、荷電粒子コリメータの向きと磁場の強度が一定であれば、エネルギーごとに決定できるため、荷電粒子センサの設置位置ごとに入射する荷電粒子のエネルギー群は決定される。この結果、想定されたエネルギー群の範囲以外のエネルギーを持つ成分を荷電粒子センサ又はその出力処理でカットオフすることでノイズ成分を除去することが可能であり、エネルギー分析の精度が向上する。第7に、複数の荷電粒子センサのサイズを全ての荷電粒子センサに入射する荷電粒子の量が等しくなるように設定する。荷電粒子センサに入射するエネルギー群のエネルギー範囲は荷電粒子センサのサイズによって決まる。このため、荷電粒子センサの種類や用途によって適当な荷電粒子センササイズを用いることが出来る。この時、並べられた複数の荷電粒子センサが全て同じサイズである必要は無く、例えば、低エネルギー部を担当する荷電粒子センサは小さく、高エネルギー部を担当する荷電粒子センサは大きくなるように、段階的に荷電粒子センササイズを変えても良い。最も効率的な荷電粒子センサの構成は、全ての荷電粒子センサに入射する荷電粒子の量が等しい時である。ある所定の荷電粒子のエネルギー範囲において、荷電粒子センサ全長は一定であるが、入射する荷電粒子の量が少なければ荷電粒子センササイズを大きく、多ければ荷電粒子センササイズを小さく調節し、荷電粒子の量が同じになるようにし、各荷電粒子センサが飽和になる確率を低く抑える。このことは、本発明の目的とする高放射線場で計測を行う時は特に有効である。高放射線場での環境は低エネルギーから高エネルギーまで複数の放射線が存在する環境であり、特に低エネルギーの放射線が多かったとすると、全ての荷電粒子センササイズを等しくした場合、低エネルギー範囲を担当する荷電粒子センサが計測する荷電粒子の方が高エネルギーの荷電粒子センサが計測する荷電粒子よりも多くなる。このような計測量の偏りを改善するために、担当する荷電粒子の量が多くなる位置に存在する荷電粒子センサを小さくすることにより、1個の荷電粒子センサあたりに入射する荷電粒子の量を低減することが出来る。このような構成は、低エネルギー部のエネルギー分布を細かくエネルギー分析するような場合にも有用である。この他にも磁場の強度を可変とすることで、状況に応じて対象とするエネルギー範囲を変更することが出来る。第8に、薄いターゲットを用いた場合、ターゲットを透過した放射線にもたらさせる散乱線低減手段を設ける。入射した放射線は薄いターゲットで相互作用せずに透過する可能性が高い。この時、透過した放射線はターゲット後方の、即ち放射線が前記ターゲットを直線的に通過し衝突する計測器を覆う遮蔽体によって散乱線を発生させる。この散乱線を低減するために、ターゲットを透過した放射線が直接相互作用を起こす位置にある遮蔽体の厚さ薄くし、放射線を計測器外へ透過しやすくし、散乱線を低減する。このような構成でも計測器の壁や遮蔽体と入射放射線が相互作用を起こして散乱線は発生するため、この散乱線を低減させるために、散乱線を閉じ込める散乱線ポケットを設置する。散乱線ポケットは、計測器の放射線の入射口にある放射線コリメータの寸法から想定される入射放射線の広がり範囲をカバーするサイズを有し、コリメータ状となっている。散乱線ポケットの位置は、放射線の入射口に対峙する計測器の内側対峙位置に設置する。遮蔽体を薄くした部分には外部から遮蔽体を透過して入射する放射線が増加する。これを防ぐために、遮蔽体を薄くした位置の計測器の外部にも透過放射線コリメータを設置する。この透過放射線コリメータの主な役割は、放射線の入射口から入射した放射線を入射口に対峙した位置から計測器外部へ通過することにある。また、透過放射線コリメータは、計測器1に斜め方向から入射する放射線を低減する。さらに、透過放射線コリメータの中心部を通過して計測器1に入射した放射線は、多くは放射線の入射口へと抜けていく。一部は計測器の壁や計測器の遮蔽体或いはターゲットと相互作用を起こし、散乱線や荷電粒子を発生させる。この過程で発生した散乱線の多くは荷電粒子コリメータで遮蔽される。第9に、荷電粒子センサ付近の散乱線を防ぐために、荷電粒子センサ用のポケット状の窪みである荷電粒子ポケットを設ける。荷電粒子センサ付近の散乱線の起源は、入射ガンマ線がターゲットで散乱した場合や、入射ガンマ線が散乱線ポケットで散乱した場合、外部の放射線が透過放射線コリメータを通過し、遮蔽体を透過して計測器内の壁やターゲットで散乱した場合である。これらの散乱線は荷電粒子コリメータを通過または透過して荷電粒子センサが存在する領域に入る。これらの散乱線は様々な方向ベクトルを有しているが、荷電粒子ポケットを設置した場合、荷電粒子センサに対して斜めに入射する成分の散乱線を低減する効果がある。このような散乱線が荷電粒子センサに入射する割合が小さくなるように、荷電粒子センサを荷電粒子計測用のポケットを設けて、そこに設置する。本発明の装置では高放射線場において、飽和のリスクを低減し、高いエネルギー分解能で放射線を計測することができる。本発明の好適な一実施例である実施例1の放射線スペクトロメータを、図1を用いて説明する。ここでは、入射放射線をガンマ線101とする。なお、分析処理部2は、図2以下において省略する。実施例1の放射線スペクトロメータ10は、計測器1と、計測器内の荷電粒子センサ14から検出出力を処理し分析する処理分析部2を有する。計測器1は、放射線コリメータ11、ターゲット12、荷電粒子コリメータ13、放射線検出荷電粒子センサ14、計測器全体を覆う遮蔽体15、散乱線ポケット16、透過放射線コリメータ17で構成される。計測器1内は、荷電粒子コリメータ13によって、ターゲットの存在するターゲット領域1tと荷電粒子センサが存在するセンサ領域1sとに分かれている。ガンマ線101は放射線コリメータ11を通過してターゲット12で相互作用を起こす。相互作用のうちコンプトン散乱では、入射ガンマ線と放出電子の間には式1の関係がある。Ee=Eg2mc21ここで、Ee:放出される電子のエネルギーEg:ターゲットに入射するガンマ線のエネルギーΦ:電子の放出角度m:電子の質量定数c:光速定数式1からわかるように、放出される電子のエネルギーEeと放出角度Φを決定することが出来れば、入射ガンマ線エネルギーEgを算出することが出来る。Eeは電子のエネルギーを荷電粒子センサ14で計測すれば求めることが出来る。従って、計測器の構造によって電子の放出角度Φを制限し、電子のエネルギースペクトルを計測すれば、入射ガンマ線のエネルギーを求めることが出来る。電子の放出角度Φを制限する構造として、荷電粒子コリメータ13に所定の放出角度を有する貫通孔13aを設け、所定の放出角度で放出された電子102のみが通過するように設置する。貫通孔13aの断面形状は、円形、四角形などがよい。また、貫通孔13aでも磁場によって放出された電子102の軌道は、そのエネルギーごとに異なるために、貫通孔13aの断面形状の径は荷電粒子センサ側の出力口に向かって徐々に大きくなるようにするのが望ましい。電子102をエネルギー群ごとに異なる荷電粒子センサ14で計測するために、計測器内には、永久磁石を用いて、荷電粒子コリメータ13の両側で紙面に垂直で手前向きに磁場18を発生させ、センサ14を複数設置する。磁場18は、計測器内全域即ち、ターゲット領域1t、センサ領域1s及び荷電粒子コリメータ13に亘って発生している。これらの各荷電粒子センサ14は、各荷電粒子センサで得られる波高値から荷電粒子毎のエネルギー弁別を行うことが出来る。電子102の軌道はエネルギーごとに異なるため、荷電粒子センサの位置ごとに対応するエネルギー群が異なる。従って、設置した位置で計測が想定されるエネルギー範囲以外の成分については荷電粒子センサ14又はその出力処理でカットオフしても問題が無いため、精度を向上することが出来る。荷電粒子センサ14ごとに計測する電子102のエネルギー範囲が決まっているため、当該エネルギー範囲で出力される電圧の範囲が飽和しないように荷電粒子センサ14の出力を調整することが可能であり、細かいエネルギービンでの計測が可能となり、分解能の計測精度が向上する。一方、実施例1のターゲット12は電子102を放出できるほど薄いため、入射ガンマ線101がターゲット12を透過する割合が大きい。ターゲット12を透過したガンマ線101は散乱線の原因となる。散乱線は計測時にノイズの原因となるので、低減させることで計測の精度が向上する。散乱線を低減させる方法として、ターゲット12の後方、即ち放射線がターゲットを直線的に通過し衝突する位置に散乱線ポケット16を設置し、散乱線ポケット16内で多重散乱させ、エネルギーを減少させる。散乱線ポケット16はコリメータ状であり、その径は入射放射線コリメータ11を通過して装置に入射した入射放射線の広がりを考慮したサイズとする。この他にも散乱線を低減する方法として、ターゲット12の後方、即ち放射線がターゲットを直線的に通過し衝突する位置にある遮蔽体15aを薄くする。遮蔽体15aを薄くすると、ターゲット12を透過したガンマ線101が外部に透過する割合が大きくなる。この時、遮蔽体15aを薄くした部分には計測器1の外部から入射する放射線を低減するため、コリメータ状の透過放射線コリメータ17を設置する。透過放射線コリメータ17の設置により、計測器1の外部から斜め方向に入射する放射線量を低減することが出来る。上記のような対策を講じた上で、尚残る散乱線が荷電粒子センサ14に入射しないようにするため、荷電粒子コリメータ13をガンマ線101に対する遮蔽能力が高い材料で構成し、例えば鉛製又はタングステン製とする。実施例で示した構成では、入射したガンマ線101のうち一部がターゲット12で相互作用を起こし、電子102を放出し、放出された電子102のうち一部が荷電粒子コリメータ13を通過し、荷電粒子コリメータ13を通過した電子102がエネルギー群ごとに異なる荷電粒子センサ14で計測されるため、直接入射ガンマ線101を計測するのに比べて、大きく計測される量を低減することが出来る。従って、入射ガンマ線101を直接計測してエネルギー分析を行うことが困難となる高線量場において、本発明はエネルギー分析を行うことが出来る。ターゲット12に入射するガンマ線101のエネルギーが高いほど放出される電子102の量が少ないため、計測された電子の量に対してエネルギーごとに補正を施すための較正をあらかじめ実施することで、入射ガンマ線の正しいエネルギースペクトルを導出することが出来る。実施例2本発明の他の実施例である実施例2の放射線スペクトロメータを、図2を用いて説明する。実施例2と実施例1の構成の違いは荷電粒子センサ14のサイズが荷電粒子センサの位置ごとに異なっていることである。荷電粒子センサ14以外の部分に関しては実施例1と同様である。つまり、実施例2の計測器1は、放射線コリメータ11、ターゲット12、荷電粒子コリメータ13、荷電粒子センサ14a、荷電粒子センサ14b、荷電粒子センサ14c、荷電粒子センサ14d、荷電粒子センサ14e、遮蔽体15、散乱線ポケット16、透過放射線コリメータ17で構成される。ガンマ線101は放射線コリメータ11を通過してターゲット12で相互作用を起こす。ターゲット12で放出された電子102は荷電粒子コリメータ13を通過して、いずれかの荷電粒子センサ14に入射する。小さい円弧軌道を担当する荷電粒子センサ14eは低エネルギーの電子102を計測し、円弧軌道が大きくなるにつれ担当するエネルギーが大きくなる。実施例2は荷電粒子センサ1個あたりに計測する量を低減することを特徴としているが、入射ガンマ線101のエネルギー分布次第では、計測する電子102の量に偏りが生じる。実施例2を用いて最も効率的に高線量場での適用が成される構成は全ての荷電粒子センサに等しい電子102が入射する構成である。実施例2の環境は、幅広いエネルギー範囲にエネルギーを持つガンマ線101が入射し、特に、低エネルギーのガンマ線101の量が多い環境であるとする。入射ガンマ線101のエネルギーが低エネルギー側に偏っているので、ターゲット12で放出される電子102のエネルギーも低エネルギー成分が多くなる。このため、荷電粒子コリメータ13を通過する電子102が描く円弧軌道は比較的半径の小さい円弧軌道である。このため、内側に入射する電子102の密度が相対的に大きくなる。このような状況において、1個の荷電粒子センサあたりに計測する電子102の量を均等にするために、低エネルギーの電子102を計測する荷電粒子センサ14eや荷電粒子センサ14dを小さくしている。実施例3本発明の他の実施例である実施例3の放射線スペクトロメータを、図3を用いて説明する。実施例3と実施例2の構成の違いは荷電粒子ポケット21の存在である。荷電粒子ポケット21以外の部分に関しては実施例2と同様である。つまり、本実施例の計測器1は、放射線コリメータ11、ターゲット12、荷電粒子コリメータ13、荷電粒子センサ14、遮蔽体15、散乱線ポケット16、透過放射線コリメータ17、荷電粒子ポケット21で構成される。ガンマ線101は放射線コリメータ11を通過してターゲット12で相互作用を起こす。ターゲット12で放出された電子102は荷電粒子コリメータ13を通過して、荷電粒子ポケット21内の荷電粒子センサ14で計測される。荷電粒子ポケット21は荷電粒子センサ14に散乱線が入射する割合を低減する。散乱線の起源は入射ガンマ線101がターゲット12で散乱した場合や、入射ガンマ線101が散乱線ポケット16で散乱した場合、外部の放射線が透過放射線コリメータ17を通過し、遮蔽体15を透過して計測器内の壁やターゲット12で散乱した場合である。これらの散乱線は荷電粒子コリメータ13を通過または透過して荷電粒子センサ14が存在する領域に入る。これらの散乱線は様々な方向ベクトルを有しているが、荷電粒子ポケット21を設置した場合、荷電粒子センサ14に対して斜めに入射する成分の散乱線を低減する効果がある。一方、電子102については、エネルギー群ごとに異なる円軌道を描いて荷電粒子センサ14に入射するため、荷電粒子ポケット21が存在していた場合も、荷電粒子センサ14に入射することが出来る。斜めに電子102が入射した場合、電子102が荷電粒子センサ14で吸収される前に入射した荷電粒子センサ14と隣接する荷電粒子センサ14に入射した場合、入射した荷電粒子センサ14に付与されるべきエネルギーの一部が隣接する荷電粒子センサ14に付与されてしまう。これを防ぐために、計測対象のガンマ線101のエネルギーが分かっている場合、荷電粒子センサ14に対して電子102が垂直に入射するように傾けて荷電粒子センサ14を設置する。荷電粒子センサ14に対して垂直に電子102が入射する場合、電子102が隣接する荷電粒子センサ14にエネルギーを付与する可能性が低減する。本発明の他の実施例である実施例4の放射線スペクトロメータについて図4を用いて説明する。実施例4と実施例3の構成の違いは磁場を永久磁石では無く、コイルを用いて発生させている点である。磁場の発生源以外の部分に関しては実施例3と同様である。つまり、本実施例の計測器1は、放射線コリメータ11、ターゲット12、荷電粒子コリメータ13、荷電粒子センサ14、遮蔽体15、散乱線ポケット16、透過放射線コリメータ17、荷電粒子ポケット21で構成される。コイルを用いて磁場を発生させているため、磁場の強度は電気的に制御することができる。放出される電子102のエネルギーに対して磁場が強かった場合、ターゲット12から放出された電子102は電子軌道201を通る。電子軌道201は電子102が荷電粒子コリメータ13で遮蔽されるため、電子102を計測することが出来ない。入射ガンマ線101のエネルギーが小さければ、放出される電子102のエネルギーも小さくなるので、放出された電子102のエネルギーが小さい時は入射したガンマ線101のエネルギーも小さい。従って、計測するガンマ線101のエネルギーが低エネルギーである場合には、磁場の強度を弱くし、電子102の軌道を電子軌道203とすることでエネルギースペクトルを計測することが出来る。同様に、放出される電子102のエネルギーに対して磁場が弱かった場合、ターゲット12から放出された電子102は電子軌道202を通る。電子軌道202は電子102の軌道が大きいため、荷電粒子センサ14に電子102が入射しない。入射ガンマ線101のエネルギーが大きければ、放出される電子102のエネルギーも大きくなるので、放出された電子102のエネルギーが大きい時は入射したガンマ線101のエネルギーも大きい。従って、計測するガンマ線101のエネルギーが高エネルギーである場合には、磁場の強度を強くし、電子102の軌道を電子軌道203とすることでエネルギースペクトルを計測することが出来る。幅広いエネルギー範囲にわたって複数のエネルギーを持つガンマ線101が存在する環境下では、磁場の強度を変えて複数回計測することによって、幅広いダイナミックレンジでの計測が可能となる。実施例5本発明の他の実施例である実施例5の放射線スペクトロメータについて図5を用いて説明する。実施例5と実施例4の構成の違いは、磁場18が荷電粒子コリメータ13よりも荷電粒子センサ側、即ちセンサ領域1sのみで発生させている点である。磁場18の領域以外の部分に関しては実施例4と同様である。つまり、本実施例の計測器1は、放射線コリメータ11、ターゲット12、荷電粒子コリメータ13、荷電粒子センサ14、遮蔽体15、散乱線ポケット16、透過放射線コリメータ17、荷電粒子ポケット21で構成される。荷電粒子コリメータ13及びターゲット領域1tでは磁場が無いため、ターゲット12から放出された電子102は貫通孔13aの領域を含めて直進する。エネルギーごとに異なる軌道を描かないため、荷電粒子コリメータ13を通過する電子102はエネルギーによらず同一の軌道となる。従って、荷電粒子コリメータ13の貫通孔13aの径が小さくても、想定した角度方向に放出された電子102を磁場領域に誘導することが出来る。本実施例の構成では、荷電粒子コリメータ13の貫通孔13aの径が小さいため、荷電粒子コリメータ13を通過する散乱線の量を低減することができる。本発明の他の実施例である実施例6の放射線スペクトロメータについて図6を用いて説明する。実施例6と実施例5の構成の違いは計測対象の入射放射線が中性子であるという点である。中性子を用いた場合、計測に用いる荷電粒子は陽子となるので、電子とは極性が反対となるため、磁場19の向きも磁場18の向きと逆としている。その他の部分に関しては実施例5と同様である。つまり、本実施例の計測器1は、放射線コリメータ11、ターゲット12、荷電粒子コリメータ13、荷電粒子センサ14、遮蔽体15、散乱線ポケット16、透過放射線コリメータ17、荷電粒子ポケット21で構成される。中性子301は放射線コリメータ11を通過してターゲット12で相互作用を起こす。相互作用のうち弾性散乱では、ターゲット12から入射中性子301のエネルギーと反跳角によって決まったエネルギーを持つ陽子302が放出される。磁場19の向きは紙面に垂直で手前から紙面の裏側に向けて発生している。磁場19の向きがガンマ線101の計測の時とは逆向きであるため、ガンマ線101がターゲットで相互作用を起こし、荷電粒子コリメータ13を通過した電子102は陽子とは反対方向に円弧軌道を描く。従って、本構成では、荷電粒子コリメータ13を通過した電子102が荷電粒子センサ14に入射することはない。従って、本構成では、中性子301とガンマ線101を弁別し、中性子301に起因した信号のみを計測することが出来る。