画像を生成するための画素値を生成する画像生成画素と位相差検出による合焦判定を行うための画素値を生成する一対の位相差検出画素とのそれぞれを複数備える撮像素子により生成される画像データに含まれる画素値のうち前記画像生成画素の画素値により形成される第1像と、前記位相差検出画素の画素値により形成される第2像とのそれぞれのエッジを検出する検出部と、前記一対の位相差検出画素に欠陥画素が含まれる場合において、前記検出されたエッジに基づいて、前記欠陥画素を前記一対のうちの一方とした場合における他方の位相差検出画素に係る第2像と、前記第1像との間のズレ量を算出し、前記算出されたズレ量および前記他方の位相差検出画素の画素値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する補正部とを具備する画像処理装置。前記検出部は、前記ズレ量を検出するための一定範囲を設定して、前記一定範囲における前記他方の位相差検出画素のエッジと、前記一定範囲に近接する画像生成画素のエッジとをそれぞれ検出し、前記補正部は、前記検出された他方の位相差検出画素のエッジと画像生成画素のエッジとの間のズレ量を算出し、前記算出されたズレ量および前記他方の位相差検出画素の画素値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する請求項1記載の画像処理装置。前記補正部は、前記画像生成画素のエッジの位置を基準として、前記欠陥画素の位置と前記他方の位相差検出画素のエッジの位置とが点対称となる場合には、前記他方の位相差検出画素のエッジに係る画素値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する請求項2記載の画像処理装置。前記補正部は、前記欠陥画素の位置が前記点対称とならない場合には、前記欠陥画素に近接する前記一方の位相差検出画素の画素値の平均値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する請求項3記載の画像処理装置。前記補正部は、前記検出された画像生成画素のエッジに対応する前記他方の位相差検出画素のエッジが前記一定範囲において検出されない場合には、前記欠陥画素に近接する前記一方の位相差検出画素の画素値の平均値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する請求項3記載の画像処理装置。前記画像生成画素は、赤を示す波長領域以外の光を遮光する赤フィルタによって覆われている赤画素と、青を示す波長領域以外の光を遮光する青フィルタによって覆われている青画素と、緑を示す波長領域以外の光を遮光する緑フィルタによって覆われている緑画素とにより構成され、前記画像生成画素のエッジは、前記緑画素の画素値により形成される像におけるエッジであり、前記補正部は、前記他方の位相差検出画素のエッジと前記緑画素のエッジとの間のズレ量を算出し、前記算出されたズレ量および前記他方の位相差検出画素の画素値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する請求項1記載の画像処理装置。画像を生成するための画素値を生成する画像生成画素と位相差検出による合焦判定を行うための画素値を生成する一対の位相差検出画素とのそれぞれを複数備える撮像素子と、前記撮像素子により生成される画像データに含まれる画素値のうち前記画像生成画素の画素値により形成される第1像と、前記位相差検出画素の画素値により形成される第2像とのそれぞれのエッジを検出する検出部と、前記一対の位相差検出画素に欠陥画素が含まれる場合において、前記検出されたエッジに基づいて、前記欠陥画素を前記一対のうちの一方とした場合における他方の位相差検出画素に係る第2像と、前記第1像との間のズレ量を算出し、前記算出されたズレ量および前記他方の位相差検出画素の画素値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する補正部と、前記補正された位相差検出画素の画素値に基づいて、合焦対象物に合焦しているか否か判定する判定部と、前記判定部による判定結果に基づいて、レンズの駆動を制御する制御部とを具備する撮像装置。画像を生成するための画素値を生成する画像生成画素と位相差検出による合焦判定を行うための画素値を生成する一対の位相差検出画素とのそれぞれを複数備える撮像素子により生成される画像データに含まれる画素値のうち前記画像生成画素の画素値により形成される第1像と、前記位相差検出画素の画素値により形成される第2像とのそれぞれのエッジを検出する検出手順と、前記一対の位相差検出画素に欠陥画素が含まれる場合において、前記検出されたエッジに基づいて、前記欠陥画素を前記一対のうちの一方とした場合における他方の位相差検出画素に係る第2像と、前記第1像との間のズレ量を算出し、前記算出されたズレ量および前記他方の位相差検出画素の画素値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する補正手順とを具備する画像処理方法。画像を生成するための画素値を生成する画像生成画素と位相差検出による合焦判定を行うための画素値を生成する一対の位相差検出画素とのそれぞれを複数備える撮像素子により生成される画像データに含まれる画素値のうち前記画像生成画素の画素値により形成される第1像と、前記位相差検出画素の画素値により形成される第2像とのそれぞれのエッジを検出する検出手順と、前記一対の位相差検出画素に欠陥画素が含まれる場合において、前記検出されたエッジに基づいて、前記欠陥画素を前記一対のうちの一方とした場合における他方の位相差検出画素に係る第2像と、前記第1像との間のズレ量を算出し、前記算出されたズレ量および前記他方の位相差検出画素の画素値に基づいて前記欠陥画素の画素値を補正する補正手順とをコンピュータに実行させるプログラム。上述の従来技術では、位相差検出画素と画像生成画素との両方の画素を1つの撮像素子に備えるため、焦点検出用の撮像素子と撮像画像用の撮像素子との2つの撮像素子を撮像装置に別々に設ける必要がない。また、上述の従来技術では、位相差検出画素に欠陥画素がある場合には、その欠陥画素に近接する位相差検出画素欠陥画素と同方向の瞳分割された光を受光する位相差検出画素の画素値の平均値から欠陥画素の画素値を補正する。しかしながら、高周波の画像におけるエッジの位置に欠陥画素がある場合や、欠陥画素が密集している領域がある場合も想定される。この場合には、高周波成分や欠陥画素による影響により適切に補正を行うことができず、補正の精度が低下することとも想定される。そこで、このような場合でも位相差検出画素の欠陥画素を適切に補正することが重要である。本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、位相差検出画素における欠陥画素の画素値の補正の精度を向上させることを目的とする。本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その第1の側面は、画像を生成するための画素値を生成する画像生成画素と位相差検出による合焦判定を行うための画素値を生成する一対の位相差検出画素とのそれぞれを複数備える撮像素子により生成される画像データに含まれる画素値のうち上記画像生成画素の画素値により形成される第1像と、上記位相差検出画素の画素値により形成される第2像とのそれぞれのエッジを検出する検出部と、上記一対の位相差検出画素に欠陥画素が含まれる場合において、上記検出されたエッジに基づいて、上記欠陥画素を上記一対のうちの一方とした場合における他方の位相差検出画素に係る第2像と、上記第1像との間のズレ量を算出し、上記算出されたズレ量および上記他方の位相差検出画素の画素値に基づいて上記欠陥画素の画素値を補正する補正部とを具備する画像処理装置およびその画像処理方法ならびに当該方法をコンピュータに実行させるプログラムである。これにより、画像生成画素の第1像と、欠陥画素を一方とした場合における他方の位相差検出画素に係る第2像との間のズレ量および他方の位相差検出画素の画素値に基づいて欠陥画素の画素値を補正させるという作用をもたらす。また、この第1の側面において、上記検出部は、上記ズレ量を検出するための一定範囲を設定して、上記一定範囲における上記他方の位相差検出画素のエッジと、上記範囲に近接する画像生成画素のエッジとをそれぞれ検出し、上記補正部は、上記検出された他方の位相差検出画素のエッジと画像生成画素のエッジとの間のズレ量を算出し、上記算出されたズレ量および上記他方の位相差検出画素の画素値に基づいて上記欠陥画素の画素値を補正するようにしてもよい。これにより、ズレ量を検出するための一定範囲に配置されている欠陥画素の画素値が補正されるという作用をもたらす。また、この場合において、上記補正部は、上記画像生成画素のエッジの位置を基準として、上記欠陥画素の位置と上記他方の位相差検出画素のエッジの位置とが点対称となる場合には、上記他方の位相差検出画素のエッジに係る画素値に基づいて上記欠陥画素の画素値を補正するようにしてもよい。これにより、画像生成画素のエッジの位置を基準として、欠陥画素の位置と他方の位相差検出画素のエッジの位置とが点対称となる場合には、他方の位相差検出画素のエッジに係る画素値に基づいて欠陥画素の画素値が補正されるという作用をもたらす。また、この場合において、上記補正部は、上記欠陥画素の位置が上記点対称とならない場合には、上記欠陥画素に近接する上記一方の位相差検出画素の画素値の平均値に基づいて上記欠陥画素の画素値を補正するようにしてもよい。これにより、欠陥画素の位置が点対称とならない場合には、欠陥画素に近接する一方の位相差検出画素の画素値の平均値に基づいて欠陥画素の画素値が補正されるという作用をもたらす。また、この場合において、上記補正部は、上記検出された画像生成画素のエッジに対応する上記他方の位相差検出画素のエッジが上記一定範囲において検出されない場合には、上記欠陥画素に近接する上記一方の位相差検出画素の画素値の平均値に基づいて上記欠陥画素の画素値を補正するようにしてもよい。これにより、検出された画像生成画素のエッジに対応する他方の位相差検出画素のエッジが一定範囲において検出されない場合には、欠陥画素に近接する一方の位相差検出画素の画素値の平均値に基づいて欠陥画素の画素値が補正されるという作用をもたらす。また、この第1の側面において、上記画像生成画素は、赤を示す波長領域以外の光を遮光する赤フィルタによって覆われている赤画素と、青を示す波長領域以外の光を遮光する青フィルタによって覆われている青画素と、緑を示す波長領域以外の光を遮光する緑フィルタによって覆われている緑画素とにより構成され、上記画像生成画素のエッジは、上記緑画素の画素値により形成される像におけるエッジであり、上記補正部は、上記他方の位相差検出画素のエッジと上記緑画素のエッジとの間のズレ量を算出し、上記算出されたズレ量および上記他方の位相差検出画素の画素値に基づいて上記欠陥画素の画素値を補正するようにしてもよい。これにより、他方の位相差検出画素のエッジと緑画素のエッジとの間のズレ量を算出し、算出されたズレ量および他方の位相差検出画素の画素値に基づいて欠陥画素の画素値が補されるという作用をもたらす。また、本発明の第2の側面は、画像を生成するための画素値を生成する画像生成画素と位相差検出による合焦判定を行うための画素値を生成する一対の位相差検出画素とのそれぞれを複数備える撮像素子と、上記撮像素子により生成される画像データに含まれる画素値のうち上記画像生成画素の画素値により形成される第1像と、上記位相差検出画素の画素値により形成される第2像とのそれぞれのエッジを検出する検出部と、上記一対の位相差検出画素に欠陥画素が含まれる場合において、上記検出されたエッジに基づいて、上記欠陥画素を上記一対のうちの一方とした場合における他方の位相差検出画素に係る第2像と、上記第1像との間のズレ量を算出し、上記算出されたズレ量および上記他方の位相差検出画素の画素値に基づいて上記欠陥画素の画素値を補正する補正部と、上記補正された位相差検出画素の画素値に基づいて、合焦対象物に合焦しているか否か判定する判定部と、上記判定部による判定結果に基づいて、レンズの駆動を制御する制御部とを具備する撮像装置である。これにより、画像生成画素の第1像と、欠陥画素を一方とした場合における他方の位相差検出画素に係る第2像との間のズレ量および他方の位相差検出画素の画素値に基づいて欠陥画素の画素値を補正させ、この補正された画素値に基づいて合焦判定を行わせるという作用をもたらす。本発明によれば、位相差検出画素における欠陥画素の画素値の補正の精度を向上させるという優れた効果を奏し得る。以下、本発明を実施するための形態以下、実施の形態と称するについて説明する。<1.第1の実施の形態>[撮像装置の機能構成例]図1は、本発明の実施の形態における撮像装置100の機能構成の一例を示すブロック図である。撮像装置100は、被写体を撮像して画像データ撮像画像を生成し、生成された画像データを画像コンテンツ静止画コンテンツまたは動画コンテンツとして記録する撮像装置である。なお、以下では、画像コンテンツ画像ファイルとして静止画コンテンツ静止画ファイルを記録する例を主に示す。撮像装置100は、レンズ部110と、操作受付部120と、制御部130と、撮像素子200と、信号処理部140と、画像生成部150と、表示部151と、記憶部152とを備える。また、撮像装置100は、欠陥画素情報保持部310と、欠陥補正部330と、位相差検出部161と、駆動部162とを備える。レンズ部110は、被写体からの光被写体光を集光するためのものである。このレンズ部110は、ズームレンズ111と、絞り112と、フォーカスレンズ113とを備える。ズームレンズ111は、駆動部162の駆動により光軸方向に移動することにより焦点距離を変動させて、撮像画像に含まれる被写体の倍率を調整するものである。絞り112は、駆動部162の駆動により開口の度合いを変化させて、撮像素子200に入射する被写体光の光量を調整するための遮蔽物である。フォーカスレンズ113は、駆動部162の駆動により光軸方向に移動することによりフォーカスを調整するものである。操作受付部120は、ユーザからの操作を受け付けるものである。この操作受付部120は、例えば、シャッターボタン図示せずが押下された場合には、その押下に関する信号を、操作信号として制御部130に供給する。制御部130は、撮像装置100における各部動作を制御するものである。なお、図1では、主要な信号線のみを示し、他は省略する。例えば、この制御部130は、シャッターボタンが押下されて、静止画像の記録を開始するための操作信号を受け付けた場合には、静止画像の記録実行に関する信号を、信号処理部140に供給する。撮像素子200は、受光した被写体光を電気信号に光電変換するイメージセンサである。この撮像素子200は、例えば、CMOSComplementaryMetalOxideSemiconductorセンサやCCDChargeCoupledDeviceセンサなどにより実現される。撮像素子200には、受光した被写体光に基づいて撮像画像を生成するための信号を生成する画素画像生成画素と、位相差検出を行うための信号を生成する画素位相差検出画素とが配置される。ここで、位相差検出とは、撮像レンズを通過した光を瞳分割して1対の像を形成し、その形成された像の間隔像の間のズレ量を計測位相差を検出することによって合焦の度合いを検出する焦点検出の方法である。また、撮像素子200には、画像生成画素として、赤色Rの光を透過するカラーフィルタにより赤色の光を受光する画素R画素と、緑色Gの光を透過するカラーフィルタにより緑色の光を受光する画素G画素とが配置される。また、撮像素子200には、R画素およびG画素の他に、画像生成画素として、青色Bの光を透過するカラーフィルタにより青色の光を受光する画素B画素が配置される。なお、撮像素子200については、図2を参照して説明する。撮像素子200は、光電変換により発生した電気信号画像信号を信号処理部140に供給する。信号処理部140は、撮像素子200から供給された電気信号に所定の信号処理を施して画像信号を補正するものである。この信号処理部140は、例えば、撮像素子200から供給された電気信号をデジタルの電気信号画素値に変換した後に、黒レベル補正、欠陥補正、シェーディング補正、混色補正等を行う。ここで、黒レベル補正とは、常に遮光されている領域の画素において生成される画素値を各画素値から減算することにより、受光量が0なら画素値の値は0となるよう黒レベルを合わせる補正する処理である。また、欠陥補正とは、撮像素子200に配置されている画像生成画素のうちの正常に機能しない画素欠陥画素の画素値を、欠陥画素の周囲の画素における画素値から推定して補正する処理である。なお、信号処理部140が行う欠陥補正では、画像生成画素のうちの欠陥画素は補正するが、位相差検出画素のうちの欠陥画素については補正を行わない。また、シェーディング補正とは、画素の位置が撮像素子200の中心から周辺部にずれるに従って生じる輝度の低下シェーディングを、画像全体の画素値に対して像高に応じたゲインをそれぞれかけることにより補正する処理である。また、混色補正とは、隣接する画素から漏れ込んだ光による画素値の増加混色を、この混色による増加量を推定して減算することにより補正する処理である。信号処理部140は、これらの補正処理を施した画像信号のうち位相差検出画素により生成された画像信号位相差検出画素画像信号を、欠陥補正部330に供給する。また、信号処理部140は、これらの補正処理を施した画像信号のうち画像生成画素により生成された画像信号画像生成画素画像信号を、欠陥補正部330および画像生成部150に供給する。画像生成部150は、信号処理部140から供給された画像生成画素により生成された画像信号に所定の信号処理を施して、表示部151に表示させる画像データまたは記憶部152に記憶させる画像データを生成するものである。この画像生成部150は、例えば、画像信号にホワイトバランス補正、γ補正、デモザイク処理、画像圧縮処理等を行う。画像生成部150は、表示部151に表示させる画像データを表示部151に供給し、表示部151に表示させる。また、画像生成部150は、記憶部152に記憶させる画像データを記憶部152に供給し、記憶部152に記憶させる。表示部151は、画像生成部150から供給された画像データに基づいて、画像を表示するものである。この表示部151は、例えば、カラー液晶パネルにより実現される。記憶部152は、画像生成部150から供給された画像データを画像コンテンツ画像ファイルとして記録するものである。例えば、この記憶部152として、DVDDigitalVersatileDisk等のディスクやメモリカード等の半導体メモリ等のリムーバブルな記録媒体1または複数の記録媒体を用いることができる。また、これらの記録媒体は、撮像装置100に内蔵するようにしてもよく、撮像装置100から着脱可能とするようにしてもよい。欠陥画素情報保持部310は、撮像素子200における位相差検出画素のうちの欠陥画素の位置に関する情報欠陥画素情報を保持するものである。欠陥画素情報保持部310は、例えば、撮像装置100の製造過程における撮像素子200の機能チェック過程で検出された位相差検出画素の欠陥画素の位置を、欠陥画素情報として保持する。この欠陥画素情報保持部310は、欠陥画素情報を、欠陥補正部330に供給する。欠陥補正部330は、欠陥画素情報保持部310から供給される欠陥画素情報と、信号処理部140から供給される位相差検出および画像生成画素の画素値とに基づいて、位相差検出画素のうちの欠陥画素の画素値を補正するものである。この欠陥補正部330は、まず、一対の位相差検出画素の画素値を比較する範囲比較範囲における欠陥画素の有無を、欠陥画素情報に基づいて検出する。そして、欠陥画素が検出された場合には、比較範囲に近接する画像生成画素の画素値からの分布データと、欠陥画素の対の位相差検出画素の画素値からの分布データとからエッジを検出する。そして、欠陥画素の対の位相差検出画素のエッジの画素値から欠陥画素の画素値を補正できる場合には、欠陥画素の対の位相差検出画素のエッジの画素値に基づいて欠陥画素の画素値を補正する。なお欠陥補正部330による補正については、図3乃至図6を参照して説明する。この欠陥補正部330は、補正した後のデータ位相差検出画素画像信号を、位相差検出部161に供給する。なお、欠陥補正部330は、特許請求の範囲に記載の検出部および補正部の一例である。位相差検出部161は、欠陥補正部330から供給された位相差検出画素画像信号に基づいて、フォーカスを合わせる対象の物体合焦対象物に対してフォーカスが合っているか否かを位相差検出により判定するものである。なお、本発明の実施の形態では説明の便宜上、位相差検出部161は、1つの比較範囲における位相差検出画素の位相差検出画素画像信号に基づいて判定を行うこととする。この位相差検出部161は、比較範囲における一対の位相差検出画素の画素値から1対の像を形成し、その形成された像の間隔から合焦判定を行う。位相差検出部161は、フォーカシングを行う領域フォーカスエリアにおける物体合焦対象物に対して合焦している場合には、合焦していることを示す情報を合焦判定結果情報として、駆動部162に供給する。また、この位相差検出部161は合焦対象物にフォーカスが合っていない場合には、フォーカスのズレの量デフォーカス量を算出し、その算出したデフォーカス量を示す情報を合焦判定結果情報として、駆動部162に供給する。なお、位相差検出部161は、特許請求の範囲に記載の判定部の一例である。駆動部162は、ズームレンズ111、絞り112およびフォーカスレンズ113を駆動させるものである。例えば、駆動部162は、位相差検出部161から出力された合焦判定結果情報に基づいて、フォーカスレンズ113の駆動量を算出し、その算出した駆動量に応じてフォーカスレンズ113を移動させる。この駆動部162は、フォーカスが合っている場合には、フォーカスレンズ113の現在の位置を維持させる。また、駆動部162は、フォーカスがズレている場合には、デフォーカス量を示す合焦判定結果情報およびフォーカスレンズ113の位置情報に基づいて駆動量移動距離を算出し、その駆動量に応じてフォーカスレンズ113を移動させる。なお、駆動部162は、特許請求の範囲に記載の制御部の一例である。[イメージセンサにおける画素の配置例]図2は、本発明の実施の形態における撮像素子200に備えられる画素の配置の一例を示す模式図である。同図では、左右方向をX軸とし、上下方向をY軸とするXY軸を想定して説明する。また、同図において、左下隅をXY軸における原点とし、下から上へ向かう方向をY軸の側とし、左から右へ向かう方向をX軸の側とする。なお、撮像素子200における信号の読み出し方向は、X軸方向行単位で読み出されるであるものとする。同図では、説明の便宜上、撮像素子200を構成する各画素のうちの一部の画素18行×18列の画素の領域領域210を用いて説明する。なお、撮像素子200における画素の配置は、領域210において示す画素配置を1つの単位として、この単位に対応する画素配置領域210に対応する画素配置が、X軸方向およびY軸方向に繰り返される配置である。同図では、1つの画素を1つの正方形で示す。画像生成画素については、備えられるカラーフィルタを表す符号R、G、Bを内に示した正方形により示す。すなわち、画像生成画素のR画素は同図におけるR画素211として示され、画像生成画素のB画素は、同図におけるB画素214として示されている。また、G画素については、R画素R画素211を含む行ラインにおけるG画素がGr画素Gr画素212として示され、B画素B画素214を含む行ラインにおけるG画素がGb画素Gb画素213として示されている。また、位相差検出画素については、白色の長方形が付与された灰色の正方形により示す。なお、位相差検出画素における白色の長方形については、入射光が遮光層に遮光されないで受光素子により受光される側遮光層に開口部分がある側を示す。ここで、同図において示す位相差検出画素右開口位相差検出画素215、左開口位相差検出画素216について説明する。右開口位相差検出画素215は、受光素子の右半分が開口し、受光素子の左半分が遮光するように遮光層が形成される位相差検出画素である。すなわち、右開口位相差検出画素215は、右開口位相差検出画素215のマイクロレンズに入射する被写体光のうち射出瞳の右半分X軸方向の側を通過した被写体光を遮光する。また、右開口位相差検出画素215は、右開口位相差検出画素215のマイクロレンズに入射する被写体光のうち射出瞳の左半分X軸方向の-側を通過した被写体光が受光素子に受光される。左開口位相差検出画素216は、受光素子の左半分が開口し、受光素子の右半分が遮光するように遮光層が形成される位相差検出画素である。すなわち、左開口位相差検出画素216は、左開口位相差検出画素216のマイクロレンズに入射する被写体光のうち射出瞳の左半分X軸方向の-側を通過した被写体光を遮光する。また、左開口位相差検出画素216は、左開口位相差検出画素216のマイクロレンズに入射する被写体光のうち射出瞳の右半分X軸方向の側を通過した被写体光が受光素子に受光される。また、左開口位相差検出画素216は、右開口位相差検出画素215と対に用いられることで、1対の像を形成する。ここで、撮像素子200における画素の配置について説明する。撮像素子200では、画像生成画素が配置される複数の行ラインと、位相差検出画素が配置される1つの行ラインとが、読み出し方向に対して直行する方向本発明の実施の形態では列方向とするに交互に配置される。図2では、連続する画像生成画素の行の数が5行である例が示されている。なお、連続する画像生成画素の行において、画像生成画素は、ベイヤー配列で位置されている。また、同図では、位相差検出画素の行に隣接する画像生成画素の行は、R画素およびGr画素が配置される行である例が示されている。次に、同図において示した画素のうちの一部の位相差検出画素に欠陥画素がある場合を想定し、欠陥補正部330による欠陥画素の画素値の補正について、同図において示す2行×14列領域220を用いて説明する。[欠陥補正部におけるエッジの検出例]図3は、本発明の実施の形態における欠陥補正部330によるエッジの検出の一例が示されている。同図aには、撮像対象を示す領域撮像領域410が模式的に示されている。また、撮像領域410では、エッジを模式的に示す白色の領域領域411が示されている。同図では、領域411のみが光を放っている撮像領域410における他の部分は暗闇ことを想定して説明する。同図bには、同図aにおいて示した撮像領域410を撮像する画素を示す領域画素領域420が示されている。この画素領域420には、1行に配置された14個の位相差検出画素と、1行に配置された14個の画像生成画素とが示されている。また、画素領域420には、位相差検出画素の行の左から3列目の右開口位相差検出画素右開口位相差検出画素430が欠陥画素欠陥画素460であることが示されている。なお、同図bでは、左開口位相差検出画素左開口位相差検出画素440に欠陥画素が無いことを想定する。さらに、画素領域420には、欠陥補正部330によるエッジの検出対象の画像生成画素G画素450が、細かい点を付加した正方形により示されている。なおG画素450については、同図cにおいて説明する。同図cには、同図aにおいて示した撮像領域410を同図bの画素領域420が撮像する場合における欠陥補正部330が検出するエッジが模式的に示されている。なお、同図cでは、同図bにおいて示す画素領域420の1行の位相差検出画素の領域範囲が、合焦対象物に対するフォーカスのズレを検出するために一対の位相差検出画素の画素値を比較する範囲比較範囲であることを想定して説明する。同図cにおいて示す各グラフは、縦軸を各画素の画素値の強度出力階調とし、横軸を各画素の位置画素位置として、欠陥補正部330が検出するエッジを模式的に示す。同図cには、画素領域420におけるG画素G画素450の画素値から生成される画素値の分布データ分布データ451と、画素領域420における左開口位相差検出画素の画素値から生成される分布データ分布データ441とが示されている。また、同図cには、右開口位相差検出画素の画素値から生成される分布データ分布データ431が示されている。ここで、欠陥補正部330によるエッジ検出について、同図cを参照して説明する。欠陥補正部330は、まず、比較範囲に欠陥画素があるか否かを、欠陥画素情報に基づいて検出する。そして、欠陥画素がある場合には、欠陥補正部330は、比較範囲に隣接する画像生成画素の画素値からエッジを検出する。なお、本発明の実施の形態では、画像生成画素の画素値として、G画素同図bのG画素450の画素値を想定する。すなわち、欠陥補正部330により、G画素の画素値の分布データ分布データ451が生成され、その分布データ451におけるエッジ出力階調が突出している箇所が検出される。そして、G画素の画素値からエッジが検出された場合には、欠陥画素欠陥画素460の対となる位相差検出画素の画素値からエッジを検出する。なお、同図bに示すように、右開口位相差検出画素が欠陥画素460であることを想定しているため、左開口位相差検出画素左開口位相差検出画素440の画素値からエッジを検出する。すなわち、欠陥補正部330により、左開口位相差検出画素の分布データ分布データ441が生成され、その分布データ441におけるエッジ出力階調が突出している箇所が検出される。続いて、欠陥補正部330は、欠陥画素の対の位相差検出画素の分布データからエッジが検出された場合には、このエッジとG画素のエッジとの間の位置のズレ量間隔間隔A1を測定する。そして、欠陥補正部330は、G画素のエッジの位置に対して、欠陥画素の位置と、欠陥画素の対の位相差検出画素のエッジの位置とが対象位置点対称になるか否か検出する。すなわち、右開口位相差検出画素の分布データ分布データ431が生成され、欠陥画素の画素値の位置分布データ431における太線が無い箇所と、G画素のエッジとの間の間隔間隔A2が、間隔A1と同じか否かが検出される。次に、間隔A2が間隔A1と同じであると検出された場合における欠陥画素460の画素値の補正について、図4を参照して説明する。[欠陥補正部による欠陥画素の画素値の補正例]図4は、本発明の実施の形態における欠陥補正部330による欠陥画素の画素値の補正の一例を示す模式図である。なお、同図では、図3において示したものと同じものについては、同一の符号を付して、ここでの説明を省略する。図4aには、図3cにおいて示した間隔A2が間隔A1と同じである場合における欠陥画素欠陥画素460の画素値の補正が図3bにおいて示した画素配置画素領域420ともに模式的に示されている。また、図4aでは、図3cにおいて示した分布データ451におけるエッジを検出した画素が、太枠で囲まれた画像生成画素Gr画素470により示されている。また、図3cにおいて示した分布データ441におけるエッジを検出した画素が、太枠の円形が付与された位相差検出画素位相差検出画素442により示されている。また、図4aでは、欠陥画素460の画素値が、位相差検出画素442の画素値に基づいて補正されることが、矢印481により模式的に示されている。ここで、間隔A2が間隔A1と同じ距離である場合における欠陥補正部330による欠陥画素の画素値の補正について説明する。まず、欠陥補正部330による補正の原理について説明する。位相差検出画素の画素値は、フォーカスが一致している場合には、一対の位相差検出画素のエッジの位置が同じ位置になる図3cにおいて示した分布データ441のエッジの位置と、分布データ431のエッジの位置とが重なる。一方、フォーカスがズレると、撮像物に対するフォーカスのズレ量デフォーカス量に従い、2つエッジの位置が一致した位置を対称軸として、2つのエッジの位置がズレる。なお、2つエッジにおける画素値出力階調は、お互いに同じ大きさの画素値になる。すなわち、欠陥画素の画素値がエッジとなる場合において、一対の位相差検出画素のエッジが重なる位置を検出すれば、欠陥画素の対の位相差検出画素のエッジにおける画素値から欠陥画素の画素値を補正することができる。そこで、欠陥補正部330は、画像生成画素G画素の画素値におけるエッジを、2つエッジが重なる位置として検出する。そして、この検出したエッジの位置と、欠陥画素と対となる位相差検出画素のエッジの位置とから欠陥画素がエッジであるか否か解析する。そして、欠陥画素がエッジである場合には、欠陥補正部330は、欠陥画素と対となる位相差検出画素のエッジにおける画素値を欠陥画素の画素値とすることにより、欠陥画素の画素値を補正する。図4bには、欠陥画素と対となる位相差検出画素のエッジの画素値を欠陥画素の画素値とする補正が、図3cにおいて示した分布データ441および分布データ431を用いて模式的に示されている。また、図4bでは、欠陥画素460と対となる位相差検出画素のエッジの画素値に基づいて欠陥画素460の画素値が補正されるコピーされることが、矢印482により模式的に示されている。さらに、同図bでは、矢印482が示す画素値のコピーにより補正された欠陥画素460の画素値が、枠432の内の分布データにより示されている。このように、欠陥補正部330は、欠陥画素の位置がエッジを撮像している場合には、欠陥画素と対となる位相差検出画素のエッジの画素値に基づいて欠陥画素の画素値を補正する。これにより、補正の精度を向上させている。ここで、欠陥画素の位置がエッジを撮像していない場合における欠陥補正部330による補正について説明する。位相差検出部161による位相差検出では、比較範囲におけるエッジが重要な情報となる。すなわち、欠陥画素の位置がエッジを撮像していない場合には、欠陥画素の補正の精度を向上させても、位相差検出の精度に与える影響は少ない。そのため、欠陥画素がエッジではない場合には、欠陥補正部330は、従来の補正と同様に、近接する欠陥画素と同じ位相差検出画素の画素値に基づいて、欠陥画素の画素値を補正する。これにより、欠陥画素の位置がエッジを撮像していない場合における補正の速度が速くなる。すなわち、欠陥補正部330は、高い精度が必要な補正のみ補正の精度を向上させることにより、迅速に補正処理を行う。次に、欠陥画素と対となる位相差検出画素のエッジが比較範囲外にある場合について、図5を参照して説明する。[欠陥補正部330による欠陥画素の画素値の補正例]図5は、本発明の実施の形態において欠陥画素と対となる位相差検出画素のエッジが比較範囲の外にある場合における欠陥画素の画素値の補正の一例を示す模式的である。同図aには、同図cにおいて示す画素値に関する被写体撮像対象を示す領域撮像領域510が模式的に示されている。また、撮像領域510には、エッジを模式的に示す白色の領域領域511が示されている。同図bには、同図aにおいて示した撮像領域510を撮像する画素を示す領域画素領域525が示されている。この画素領域525には、1行に配置された24個の位相差検出画素と、1行に配置された24個の画像生成画素とが示されている。また、画素領域525には、欠陥画素560、Gr画素550、右開口位相差検出画素530、および、左開口位相差検出画素540が示されている。なお、欠陥画素560、Gr画素550、右開口位相差検出画素530、および、左開口位相差検出画素540は、図3において示した欠陥画素460、Gr画素450、右開口位相差検出画素430、および、左開口位相差検出画素440に対応するため、ここでの説明を省略する。また、図5bでは、一対の位相差検出画素の画素値を比較する範囲比較範囲520が示されている。この比較範囲520は、位相差検出部161において、比較範囲520に配置されている位相差検出画素の画素値に基づいて像エッジの間隔が検出され、合焦対象物に対するフォーカスのズレが検出される一定の範囲である。すなわち、この比較範囲520の外の位相差検出画素の画素値は位相差検出に使用しないため、欠陥補正部330は、比較範囲520の内の位相差検出画素の画素値についてのみエッジを検出し、補正を行う。また、欠陥補正部330は、比較範囲520に対応近接する画素Gr画素550の画素値に基づいてエッジを検出する。同図cには、同図bの比較範囲520に対応するGr画素550の分布データ分布データ551と、左開口位相差検出画素540の分布データ分布データ541とが、各グラフにおける太い実線により模式的に示されている。さらに、右開口位相差検出画素530の分布データ分布データ531が太い実線により模式的に示されている。なお、分布データ551、分布データ541、および、分布データ531は、図3cにおいて示した分布データ451、分布データ441、および、分布データ431にそれぞれ対応する。また、各分布データの右には、画素領域525における比較範囲520外の画素の画素値による分布データが破線で示されている。ここで、欠陥画素と対となる位相差検出画素のエッジが比較範囲の外にある場合における欠陥画素の画素値の補正について説明する。分布データ541の右の破線におけるエッジ枠542の内の太い点線で示すエッジが示すように、欠陥画素と対となる位相差検出画素のエッジが比較範囲比較範囲520の外にはみ出してしまった場合には、このエッジは欠陥補正部330に検出されない。しかしながら、位相差検出では、比較範囲520に配置されている位相差検出画素の一対の分布データからフォーカスのズレ量が算出される。すなわち、一方のエッジが比較範囲の外にはみ出している場合には、正確に欠陥画素を補正しても対のエッジが無いため、フォーカスのズレ量の算出の精度は向上しない。そこで、本発明の実施の形態では、比較範囲の外の画素の画素値を用いての欠陥画素の補正は行わないことにより、フォーカスのズレ量の算出の精度を低下させずに、算出の速度を向上させている。同図cには、欠陥画素と対となる位相差検出画素のエッジが比較範囲の外にある場合に、欠陥画素に近接する画素の画素値を用いて欠陥画素の画素値を補正する例が同図bにおいて示した画素配置を用いて模式的に示されている。同図cでは、欠陥画素の画素値の補正において画素値が参照される位相差検出画素が、太線の円を付した位相差検出画素右開口位相差検出画素533および右開口位相差検出画素534により示されている。また、同図cでは、欠陥画素460の画素値が、右開口位相差検出画素533および右開口位相差検出画素534の画素値に基づいて補正されることが、矢印581および矢印582により模式的に示されている。同図cに示すように、対となる位相差検出画素のエッジが検出されない場合には、欠陥画素の画素値は、例えば、近接する同じ位相差検出画素右開口位相差検出画素533および右開口位相差検出画素534の画素値の平均値から欠陥画素の画素値を補正する。[位相差検出の一例]図6は、本発明の実施の形態における欠陥画素を補正したデータによる位相差検出の一例および従来の欠陥画素の補正による位相差検出の一例を示す模式図である。なお、同図では、図3aにおいて示した撮像領域410が撮像されることを想定する。同図aおよびbには、従来の欠陥画素の補正による位相差検出の一例が模式的に示されている。同図aには、従来の欠陥画素の補正が、画素配置とともに模式的に示されている。なお、画素領域620、右開口位相差検出画素630、左開口位相差検出画素640、欠陥画素660は、図3bにおいて示した画素領域420、右開口位相差検出画素430、等にそれぞれ対応するため、ここでの説明を省略する。また、図6aでは、欠陥画素の画素値の補正において画素値が参照される位相差検出画素が、太線の円を付した位相差検出画素右開口位相差検出画素633および634により示されている。また、同図aでは、欠陥画素660の画素値が、右開口位相差検出画素633および634の画素値に基づいて補正されることが、矢印681および矢印682により模式的に示されている。同図aに示すように、従来の欠陥画素の補正では、例えば、欠陥画素の画素値は、近接する同じ位相差検出画素右開口位相差検出画素633および634の画素値の平均値から欠陥画素の画素値が補正される。同図bには、同図aにおいて示した欠陥画素の補正により生成された分布データ分布データ641および分布データ631が示されている。なお、分布データ641は左開口位相差検出画素640の各画素値に基づいて生成された分布データであり、分布データ631は右開口位相差検出画素630の各画素値に基づいて生成された分布データである。また、同図bでは、同図aにおいて示した右開口位相差検出画素633および634の画素値の平均値により補正された欠陥画素660の画素値が、枠632の内の分布データにより示されている。従来の欠陥画素の補正方法による欠陥画素660の画素値の補正では、同図aに示すように、右開口位相差検出画素633および634の画素値出力階調の平均値が欠陥画素660の画素値となる。すなわち、右開口位相差検出画素633および634の出力階調が0である場合には、欠陥画素660の画素値は0となる。欠陥画素660にエッジがある場合において、このような補正が行われると、欠陥画素660の画素値が正確に補正されない。これにより、位相差検出において間隔を測定する2つのエッジが検出されず同図bの間隔A11を参照、位相差検出が正確に行われない問題が生じる。同図cおよびdには、本発明の実施の形態における欠陥補正部330による欠陥画素の補正後の位相差検出の一例が模式的に示されている。なお、同図cは、図4aに対応するため、ここでの説明を省略する。また、図6dは、図3cおよび図4cにおいて示した分布データ451、441および431と、枠432の内の分布データとが示されている。さらに、図6dには、分布データ441のエッジと、分布データ431のエッジとの間の間隔間隔A12が示されている。間隔A12に示すように、本発明の実施の形態の補正によれば、欠陥画素の位置がエッジである場合において、対となる位相差検出画素の画素値を用いて欠陥画素の画素値が補正されることにより、位相差検出を適切に行うことができる。[複数の欠陥画素を含む画素配置の一例]図7は、本発明の実施の形態における補正により位相差を検出することが可能な複数の欠陥画素を含む画素配置の一例を示す模式図である。なお、同図では、図3bにおいて示した画素領域420が複数の欠陥画素を含む場合を示すため、図3bと同じものについては、同一の符号を付してここでの説明を省略する。図7aには、複数の欠陥画素欠陥画素460が集まる一群がある場合の例画素領域710が示されている。このような場合においても、Gr画素450のエッジと、欠陥画素の対の位相差検出画素のエッジとが検出されれば、対となる位相差検出画素の画素値を用いて欠陥画素の画素値が補正される。すなわち、画素領域710に示すように欠陥画素の一群がある場合においても、欠陥補正部330による補正により位相差検出を適切に行うことができる。図7bには、一対の位相差検出画素のうちの一方が欠陥画素である場合の例画素領域720が示されている。このような場合においても、Gr画素450のエッジと、欠陥画素の対の位相差検出画素のエッジとが検出されれば、位相差検出を適切に行うことができる。すなわち、画素領域720に示すように一対の位相差検出画素のうちの一方が欠陥画素である場合においても、欠陥補正部330による補正により位相差検出を適切に行うことができる。[撮像装置の動作例]次に、本発明の実施の形態における撮像装置100の動作について図面を参照して説明する。図8は、本発明の実施の形態における撮像装置100による位相差検出画素の欠陥画素の補正を行う際の撮像処理手順例を示すフローチャートである。まず、画像を撮像するための撮像動作の開始指示がユーザによりされたか否かが、制御部130により判断されるステップS901。そして、画像を撮像するための撮像動作の開始指示がユーザによりされていないと判断された場合にはステップS901、撮像処理手順は終了する。一方、静止画を撮像するための撮像動作の開始指示がユーザによりされていると判断された場合にはステップS901、合焦対象物に対するデフォーカス量を算出するための比較範囲が、位相差検出部161により設定されるステップS902。そして、被写体が撮像され、撮像画像が撮像素子200により取得されるステップS903。続いて、比較範囲における位相差検出画素の画素値および比較範囲に隣接する画像生成画素本発明の実施の形態ではG画素の画素値に基づいて、位相差検出画素の欠陥画素を補正する欠陥補正処理が、欠陥補正部330により行われるステップS910。なお、欠陥補正処理ステップS910については、図9を参照して説明する。なお、ステップS910は、特許請求の範囲に記載の検出手順および補正手順の一例である。その後、位相差検出によりデフォーカス量が算出される位相差検出処理が、位相差検出部161により行われるステップS904。そして、フォーカスレンズ113が駆動部162により駆動され、合焦対象物に対して合焦させる合焦処理が行われるステップS905。次に、操作受付部120におけるシャッターボタンが押下されたか否かが、制御部130により判断されるステップS906。そして、シャッターボタンが押下されていないと判断された場合にはステップS906、ステップS909に進む。一方、シャッターボタンが全押しされたと判断された場合にはステップS906、続いて、静止画が、撮像素子200により撮像されるステップS907。そして、画像生成部150により信号処理された静止画が、記憶部152により記憶されるステップS908。次に、静止画を撮像するための撮像動作の終了指示がユーザによりされたか否かが、制御部130により判断されるステップS909。そして、静止画を撮像するための撮像動作の終了指示がユーザによりされていないと判断された場合にはステップS909、ステップS902に戻る。一方、静止画を撮像するための撮像動作の終了指示がユーザによりされていると判断された場合にはステップS909、撮像処理手順は終了する。図9は、本発明の実施の形態の撮像処理動作における欠陥補正処理ステップS910の処理手順例を示すフローチャートである。まず、位相差を検出する範囲比較範囲における位相差検出画素に欠陥画素があるか否かが、欠陥画素情報保持部310から供給される欠陥画素情報を用いて欠陥補正部330により判断されるステップS911。そして、比較範囲における位相差検出画素には欠陥画素がないと判断された場合にはステップS911、欠陥補正処理手順は終了する。一方、比較範囲における位相差検出画素に欠陥画素があると判断された場合にはステップS911、比較範囲に隣接する画像生成画素例えば、G画素の画素値の分布データが生成されるステップS912。次に、その生成された画像生成画素の分布データにエッジがあるか否かが判断されるステップS913。そして、画像生成画素の分布データにエッジがないと判断された場合にはステップS913、ステップS918に進む。一方、画像生成画素の分布データにエッジがあると判断された場合にはステップS913、欠陥画素の対の位相差検出画素の画素値の分布データが生成されるステップS914。次に、この生成された対の位相差検出画素の分布データにエッジがあるか否か判断されるステップS915。そして、対の位相差検出画素の分布データにエッジがないと判断された場合にはステップS915、ステップS918に進む。一方、対の位相差検出画素の分布データにエッジがあると判断された場合にはステップS915、画像生成画素のエッジAと、対の位相差検出画素のエッジBとの間の距離が検出されるステップS916。次に、画像生成画素のエッジAを基準とした対の位相差検出画素のエッジBの対象位置に欠陥画素があるか否かが判断されるステップS917。そして、対象位置に欠陥画素がないと判断された場合にはステップS917、欠陥画素に近接する位相差検出画素のうち欠陥画素と同方向の光を受光する位相差検出画素の画素値の平均値により欠陥画素の画素値が補正されるステップS918。そして、ステップS918の後に、欠陥補正処理手順は終了する。一方、対象位置に欠陥画素があると判断された場合にはステップS917、対の位相差検出画素のエッジBの画素値に基づいて欠陥画素の画素値が補正されステップS919、欠陥補正処理手順は終了する。このように、本発明の実施の形態によれば、欠陥画素の画素値を対の側の位相差検出画素の画素値から補正することにより、位相差検出画素における欠陥画素の画素値の補正の精度を向上させることができる。特に、欠陥画素にエッジが検出される場合において対の側の位相差検出画素の画素値から補正することにより、合焦判定に係る欠陥画素のみに対して精度が高い補正を行うことができる。これにより、欠陥画素の画素値の補正に係る処理を軽減することができる。また、欠陥画素がエッジである場合における補正の精度が向上するため、高周波の被写体やコントラストの高い被写体が撮像された場合において、位相差検出に係るエッジの検出の精度が向上する。すなわち、位相差オートフォーカスの性能を向上させることができる。また、従来の撮像装置では、近接する位相差検出画素の画素値を用いて補正するため、複数の欠陥画素が集合している領域がある場合には、欠陥画素の画素値を参照して補正してしまうため、適切に補正をすることができない。本発明の実施の形態では、像の移動量が大きい場合には、欠陥画素の位置から離れている位置の画素値を用いて補正を行うため、複数の欠陥画素が集合している領域がある場合においても、精度が高い補正が行うことができる。すなわち、本発明の実施の形態により、撮像素子の製造段階における歩留まりを向上させることができる。なお、本発明の実施の形態ではG画素について説明したが、R画素およびB画素の画素値を用いても同様に実施することができる。また、G画素、R画素およびB画素の画素値から生成される輝度信号Y信号を用いてもよい。なお、既知の被写体認識アルゴリズムを用いて撮像物のズレ量を算出してもよい。なお、本発明の実施の形態では、画像生成画素のエッジと欠陥画素の対の位相差検出画素のエッジとの間の距離を算出したが、これに限定されるものではない。例えば、欠陥画素の位置と画像生成画素のエッジの位置との間の距離を算出し、それに対応する対側位相差検出画素のエッジの有無を算出するにしても、本発明の実施の形態と同様に実施することができる。なお、本発明の実施の形態では、像の移動量は整数であることを想定したが、像の移動量が整数でない場合も考えられる例えば、右方向に1.5画素分シフト。この場合には、移動前の1画素分左の位置の画素値と、移動前の2画素分左の位置の画素値とから直線補間により1.5画素左の位置における画素値を生成し、この生成した画素値を用いて補正するようにしてもよい。なお、本発明の実施の形態では、欠陥位相差検出画素が1対の位相差検出画素の片側に1つのみの場合を想定して説明したが、これに限定されるものではない。1対の位相差検出画素の両側にある場合にも、それぞれ他方の位相差検出画素の輝度値を対側画素値とし、それぞれ算出することにより、本発明の実施の形態と同様に実施することができる。また、本発明の実施の形態では、画像生成画素に備えられるカラーフィルタが3原色RGBのカラーフィルタであることを想定して説明したが、これに限定されるものではない。例えば、画像生成画素に補色のカラーフィルタが備えられる場合においても、同様に適用できる。また、1つの画素の領域で可視光領域の波長の光を全て検出する画素例えば、青色用の画素、緑色用の画素、赤色用の画素が光軸方向に重ねて配置されている撮像素子が画像生成画素である場合においても、本発明の実施の形態は同様に適用できる。また、本発明の実施の形態では、位相差検出画素は、2つに瞳分割された光の一方を受光することを想定して説明したが、これに限定されるものではない。例えば、2つの受光素子を備え、瞳分割された光をそれぞれの受光素子で受光することができる位相差検出画素を配置する場合においても、本発明の実施の形態を適用することができる。また、本発明の実施の形態では、位相差検出画素について、左右に瞳分割を行う位相差検出画素のみを想定して説明したが、これに限定されるものではなく、上下および斜めなどの位相差検出画素についても、同様に実施することができる。また、図2において示した画素配置のパターンについてもこれに限定されるものではなく、位相差検出が行える配置パターンであれば、同様に実施することができる。なお、本発明の実施の形態は本発明を具現化するための一例を示したものであり、本発明の実施の形態において明示したように、本発明の実施の形態における事項と、特許請求の範囲における発明特定事項とはそれぞれ対応関係を有する。同様に、特許請求の範囲における発明特定事項と、これと同一名称を付した本発明の実施の形態における事項とはそれぞれ対応関係を有する。ただし、本発明は実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において実施の形態に種々の変形を施すことにより具現化することができる。また、本発明の実施の形態において説明した処理手順は、これら一連の手順を有する方法として捉えてもよく、また、これら一連の手順をコンピュータに実行させるためのプログラム乃至そのプログラムを記憶する記録媒体として捉えてもよい。この記録媒体として、例えば、CDCompactDisc、MDMiniDisc、DVDDigitalVersatileDisk、メモリカード、ブルーレイディスクBlurayDisc登録商標等を用いることができる。