"粉体または粒体を含む材料を貯留する貯留装置であって、材料を貯留する貯留容器と、前記貯留容器に接続された材料供給管と、前記材料供給管内の所定位置における材料の有無を検出する検出手段と、前記材料供給管へ材料を供給する材料供給機構と、前記検出手段の検出結果に基づいて、前記材料供給機構を制御する制御手段と、を備え、前記制御手段は、前記貯留容器の内部と前記材料供給管の内部とに、材料が連続的に貯留され、当該材料の上面が前記材料供給管内に存在する状態を維持するように、前記材料供給機構を制御する貯留装置。請求項1に記載の貯留装置であって、乾燥媒体となる気体を、前記貯留容器の内部へ供給する気体供給手段を、さらに備える貯留装置。請求項1に記載の貯留装置であって、不活性ガスを、前記貯留容器の内部へ供給する気体供給手段を、さらに備える貯留装置。請求項1から請求項3までのいずれかに記載の貯留装置であって、前記材料供給管は、前記貯留容器の蓋部に設けられた供給口から、上方へ向けて延びている貯留装置。請求項4に記載の貯留装置であって、前記貯留容器の蓋部の下面は、前記供給口から下方へ向かうにつれて広がるように傾斜した傾斜面を含んでいる貯留装置。請求項1から請求項5までのいずれかに記載の貯留装置であって、前記材料供給管より上流側において、前記材料に含まれる微粉末を分離除去する粉分離手段を、さらに備える貯留装置。請求項1から請求項6までのいずれかに記載の貯留装置であって、前記材料供給管より上流側において、前記材料にイオン化された気体を供給するイオンガス供給手段を、さらに備える貯留装置。しかしながら、特許文献1の除湿乾燥システムでは、粉粒体材料のホッパ本体への投入が、ホッパ本体に配設された材料センサの信号に基づいて、なされている段落0026。このため、特許文献1の図1のように、貯留された粉粒体材料の上面は、ホッパ本体の内部に位置している。したがって、特許文献1の材料投入バルブを開くと、ホッパ本体に既に貯留された粉粒体材料の上面へ向けて、粉粒体材料が勢いよく落下自由落下すると考えられる。そうすると、粉粒体材料自体または粉粒体材料に含まれる微粉末が舞い上がり、ホッパ本体の内側面に付着する。また、ホッパ本体の内側面に付着した粉粒体材料または微粉末は、次第に大きな塊となり、落下する場合がある。当該塊は、製品の不良や、装置トラブルの原因となり得る。本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、貯留容器の内側面に、粉体または粒体が付着することを抑制できる貯留装置を提供することを、目的とする。上記課題を解決するため、本願の第1発明は、粉体または粒体を含む材料を貯留する貯留装置であって、材料を貯留する貯留容器と、前記貯留容器に接続された材料供給管と、前記材料供給管内の所定位置における材料の有無を検出する検出手段と、前記材料供給管へ材料を供給する材料供給機構と、前記検出手段の検出結果に基づいて、前記材料供給機構を制御する制御手段と、を備え、前記制御手段は、前記貯留容器の内部と前記材料供給管の内部とに、材料が連続的に貯留され、当該材料の上面が前記材料供給管内に存在する状態を維持するように、前記材料供給機構を制御する。本願の第2発明は、第1発明の貯留装置であって、乾燥媒体となる気体を、前記貯留容器の内部へ供給する気体供給手段を、さらに備える。本願の第3発明は、第1発明の貯留装置であって、不活性ガスを、前記貯留容器の内部へ供給する気体供給手段を、さらに備える。本願の第4発明は、第1発明から第3発明までのいずれかの貯留装置であって、前記材料供給管は、前記貯留容器の蓋部に設けられた供給口から、上方へ向けて延びている。本願の第5発明は、第4発明の貯留装置であって、前記貯留容器の蓋部の下面は、前記供給口から下方へ向かうにつれて広がるように傾斜した傾斜面を含んでいる。本願の第6発明は、第1発明から第5発明までのいずれかの貯留装置であって、前記材料供給管より上流側において、前記材料に含まれる微粉末を分離除去する粉分離手段を、さらに備える。本願の第7発明は、第1発明から第6発明までのいずれかの貯留装置であって、前記材料供給管より上流側において、前記材料にイオン化された気体を供給するイオンガス供給手段を、さらに備える。本願の第1発明~第7発明によれば、貯留容器の内部において、材料が勢いよく落下することを、防止できる。したがって、貯留容器の内部における粉体または粒体の舞い上がりを、抑制できる。その結果、貯留容器の内側面に、粉体または粒体が付着することを、抑制できる。特に、本願の第2発明によれば、貯留容器の内部と材料供給管の内部とに、連続的に材料が貯留されている。このため、貯留容器から材料供給管側への乾燥媒体の漏れ出しが、抑制される。したがって、貯留容器の内部における材料の乾燥効率を、向上させることができる。特に、本願の第3発明によれば、貯留容器の内部と材料供給管の内部とに、連続的に材料が貯留されている。このため、貯留容器から材料供給管側への不活性ガスの漏れ出しが、抑制される。したがって、貯留容器内の酸素濃度を、効率よく低下させることができる。特に、本願の第4発明によれば、貯留容器の上部付近に形成される空隙を、小さくすることができる。このため、貯留容器の内側面のうち、空隙に面する部分を小さくして、当該部分に対する粉体または粒体の付着を、より低減できる。特に、本願の第5発明によれば、貯留容器の上部付近に形成される空隙を、より小さくすることができる。このため、貯留容器の内側面のうち、空隙に面する部分をより小さくして、当該部分に対する粉体または粒体の付着を、より低減できる。特に、本願の第6発明によれば、貯留容器の内部へ供給される微粉末の量自体を、低減できる。したがって、貯留容器の内側面に対する微粉末の付着を、より抑制できる。特に、本願の第7発明によれば、貯留容器の内側面に対する粉体または粒体の帯電付着を、抑制できる。以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照しつつ説明する。<1.一実施形態に係る乾燥装置>図1は、本発明に係る貯留装置の一例となる乾燥装置1の縦断面図である。この乾燥装置1は、光学レンズ等の樹脂製品を成型する射出成形機2の上部に、設置される。乾燥装置1は、粒状の樹脂ペレット9を貯留容器10に一旦貯留し、貯留容器10内で樹脂ペレット9を乾燥させて、射出成形機2へ供給する装置である。図1に示すように、本実施形態の乾燥装置1は、貯留容器10、材料供給部20、気体供給部30、および制御部40を備えている。貯留容器10は、略円筒状の側壁11と、側壁11の下端部から下方へ向けて漸次に収束する底部12と、貯留容器10の上部を覆う蓋部13と,を有している。貯留容器10の内部には、樹脂ペレット9を貯留するための空間が、形成されている。貯留容器10は、例えば、ステンレスや鉄などの金属からなる。また、貯留容器10の底部12には、下方へ向けて延びる排出管50が、接続されている。排出管50の下流側の端部は、射出成形機2に接続されている。射出成形機2において成形処理が進行すると、それに応じて、貯留容器10から排出管50を通って射出成形機2へ、樹脂ペレット9が供給される。材料供給部20は、一次供給管21、一次ホッパ22、二次供給管23、イオンガス供給管24、および吸引管25を有している。二次供給管23は、一次ホッパ22の底部と、貯留容器10の蓋部13に設けられた供給口131との間で、上下に延びている。一次供給管21および吸引管25は、一次ホッパ22に、それぞれ連通接続されている。一次供給管21の他端部は、樹脂ペレット供給源26に、接続されている。また、吸引管25の他端部は、真空ポンプ27に接続されている。一次ホッパ22と二次供給管23との間には、開閉可能なバルブ28が設けられている。バルブ28を閉鎖した状態で、真空ポンプ27を動作させると、樹脂ペレット供給源26から一次供給管21を通って一次ホッパ22へ、樹脂ペレット9が輸送され、一次ホッパ22に樹脂ペレット9が貯留される。その後、真空ポンプ27を停止させて、バルブ28を開放すると、一次ホッパ22から二次供給管23へ、樹脂ペレット9が供給される。すなわち、本実施形態のバルブ28は、一次ホッパ22から、材料供給管である二次供給管23へ、樹脂ペレット9を供給するための材料供給機構を構成している。ここで、樹脂ペレット供給源26から供給される樹脂ペレット9には、樹脂ペレット9の生成や搬送の過程で発生する微粉末が、含まれている。本実施形態では、これらの微粉末を除去するために、一次ホッパ22の上部に、フィルタ221が設けられている。フィルタ221には、例えば、複数の貫通孔を有する金属板が使用される。樹脂ペレット9が一次ホッパ22に供給されると、樹脂ペレット9に含まれる微粉末は、空気とともに、フィルタ221を通って吸気管25へ排出される。これにより、樹脂ペレット9に含まれる微粉末の量が、低減される。すなわち、本実施形態では、フィルタ221が、二次供給管23より上流側において、樹脂ペレット9から微粉末を分離除去する粉分離手段を、構成している。特に、本実施形態では、一次ホッパ22へ供給される樹脂ペレット9に対して、イオンガス供給管24から、イオン化された気体が供給される。これにより、樹脂ペレット9および微粉末が、除電される。樹脂ペレット9および微粉末が除電されると、樹脂ペレット9と微粉末とが、互いに分離しやすくなる。したがって、樹脂ペレット9から微粉末が、より効率よく除去される。二次供給管23の経路途中には、サイトガラス部231が設けられている。サイトガラス部231は、透明な筒状ガラスにより構成されている。また、サイトガラス部231の外周面の近傍には、検出手段としてのセンサ29が、設けられている。センサ29は、サイトガラス部231内の所定の高さ位置における樹脂ペレット9の有無を、検出する。センサ29には、例えば、光電管を利用した反射型または透過型の光センサが使用される。ただし、光電管に代えて、静電容量式の近接センサが使用されていてもよい。また、樹脂ペレット9に直接接触して、抵抗や振動を検知する機械式のセンサが、使用されていてもよい。気体供給部30は、気体供給管31と加熱機構32とを有している。気体供給管31は、上述した二次供給管23とは別の供給経路を構成している。気体供給管31の上流側の端部は、窒素ガス供給源33に接続されている。窒素ガス供給源33から供給される窒素ガスは、気体供給管31を通って、貯留容器10の内部へ導入される。また、気体供給管31の経路途中において、窒素ガスは、加熱機構32のヒータ321により、加熱される。気体供給管31の下流側の端部は、貯留容器10の内部に貯留された樹脂ペレット9に、埋もれた状態となっている。気体供給管31から吐出される高温の窒素ガスは、樹脂ペレット9の隙間を通って、貯留容器10の内部に充填される。これにより、樹脂ペレット9から水分が蒸発し、樹脂ペレット9が乾燥する。また、貯留容器10の蓋部13には、排気管60が接続されている。貯留容器10の内部に窒素ガスが供給されるとともに、貯留容器10から排気管60へ気体が排出されると、貯留容器10内の気体が、徐々に窒素ガスに置換される。その結果、貯留容器10内の酸素濃度が低下する。これにより、樹脂ペレット9の酸化が抑制される。すなわち、本実施形態では、窒素ガスが、樹脂ペレット9を乾燥させる乾燥媒体としての役割と、樹脂ペレット9の酸化を抑制する不活性ガスとしての役割と、の双方を果たしている。なお、気体供給部30から供給される気体は、乾燥媒体としての役割と、不活性ガスとしての役割と、のいずれか一方のみを果たすものであってもよい。例えば、乾燥媒体として、高温の窒素ガスに代えて、高温の空気を供給するようにしてもよい。また、不活性ガスとして、常温の窒素ガスを供給するようにしてもよい。図1に概念的に示すように、制御部40は、バルブ28およびセンサ29と、電気的に接続されている。制御部40は、CPU等の演算処理部やメモリを有するコンピュータにより構成されていてもよく、あるいは、電子回路により構成されていてもよい。制御部40は、センサ29が発する検出信号を受信し、当該検出信号に基づいて、バルブ28の開閉動作を制御する。図2は、制御部40の動作シーケンスの一例を示すフローチャートである。なお、本実施形態では、センサ29が、樹脂ペレット9を検出しているときに、検出信号を発するものとする。図2に示すように、制御部40は、センサ29からの検出信号の有無を監視するステップS1。制御部40は、センサ29から検出信号を受信している場合ステップS1においてありの場合には、引き続き、センサ29からの検出信号の有無を監視する。射出成形機2において成形処理が進行すると、排出管50から射出成形機2へ、樹脂ペレット9が排出される。そうすると、二次供給管23内の樹脂ペレット9の上面の高さ位置が、低下する。センサ29からの検出信号が途絶えるとステップS1においてなしの場合、制御部40は、バルブ28を開放するステップS2。これにより、一次ホッパ22に貯留された樹脂ペレット9が、二次供給管23へ供給される。そして、一定時間バルブ28を開放した後、制御部40は、バルブ28を再び閉鎖するステップS3。その後、ステップS1に戻って、制御部40は、センサ29からの検出信号の有無を、再び監視する。上記の制御により、貯留容器10の内部と二次供給管23の内部とに、樹脂ペレット9が連続的に貯留された状態が、維持される。樹脂ペレット9の上面は、センサ29の検出位置を、一時的に下回るものの、貯留容器10の内部まで低下することはない。すなわち、樹脂ペレット9の上面は、継続的に二次供給管23の内部に位置することとなる。二次供給管23の内部に樹脂ペレット9の上面があれば、貯留容器10の内部において、樹脂ペレット9が勢いよく落下自由落下することはない。このため、貯留容器10の上部付近に空隙101があったとしても、当該空隙101における微粉末の舞い上がりは、抑制される。したがって、貯留容器10の内側面のうち、空隙101に面する部分側壁11の上端部付近の内側面や、蓋部13の下面に対する微粉末の付着が、抑制される。特に、本実施形態では、一次ホッパ22において、樹脂ペレット9に含まれる微粉末が、分離除去されている。これにより、二次供給管23および貯留容器10へ供給される微粉末の量自体が、低減されている。その結果、貯留容器10の内側面への微粉末の付着量が、より低減されている。また、本実施形態では、イオンガス供給管24から供給されるイオン化された気体によって、樹脂ペレット9および微粉末が、除電されている。これにより、微粉末が効率よく分離除去されるようになっている。また、分離除去されずに貯留容器10内に供給された微粉末も、帯電が抑えられた状態となっている。したがって、貯留容器の内側面に対する微粉末の帯電付着が、抑制される。貯留容器10の内側面に対する微粉末の付着が抑制されれば、微粉末が塊となって落下し、樹脂ペレット9に再び混入する問題も、抑制される。したがって、微粉末の塊に起因する樹脂製品の成形不良を、抑制できる。また、この乾燥装置1では、貯留容器10の供給口131が、樹脂ペレット9で塞がれた状態となる。このため、バルブ28の開放時にも、貯留容器10から二次供給管23側へ、窒素ガスが漏れ出しにくい。したがって、貯留容器10の内部に窒素ガスをより効率よく充填させることができる。その結果、樹脂ペレット9の乾燥効率を、向上させることができる。また、貯留容器10内の酸素濃度を、より効率よく低下させて、樹脂ペレット9の酸化を抑制することができる。<2.変形例>以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではない。図3は、一変形例に係る乾燥装置1Aの縦断面図である。図3の例では、貯留容器10Aの側壁11Aに設けられた供給口111Aから外側へ向けて、二次供給管23Aが延びている。そして、二次供給管23Aの経路途中に、センサ29Aが設けられている。このような構造であっても、センサ29Aの検出結果に基づいてバルブ28Aの開閉動作を制御すれば、樹脂ペレット9Aの上面が二次供給管23Aの内部に位置する状態を、維持できる。図3の構造は、図1の構造に比べて、装置全体の高さを抑制できる点で、好ましい。ただし、図1のように、貯留容器10の蓋部13に供給口131を設ける方が、貯留容器10の上部に形成される空隙101を、より小さくすることができる。貯留容器10の内側面のうち、空隙101に面する部分を小さくして、当該部分に対する微粉末の付着を、より低減させる点においては、図1の構造の方が好ましい。図4は、他の変形例に係る乾燥装置1Bの縦断面図である。図4の例では、貯留容器10Bの蓋部13Bが、供給口131Bから下方へ向かうにつれて、漸次に広がるように傾斜している。このようにすれば、貯留容器10Bの内部における樹脂ペレット9Bの上面と、蓋部13Bの下面とが接近する。したがって、貯留容器10Bの上部に形成される空隙101Bが、より低減される。その結果、貯留容器10の内側面のうち、空隙101Bに面する部分が、より小さくなり、当該部分に対する微粉末の付着の問題が、さらに低減される。なお、図4の例では、蓋部13Bの上面と下面との双方を傾斜させているが、蓋部13Bの上面は、水平に広がっていてもよい。すなわち、蓋部13Bの下面のみを、供給口131Bから下方へ向かうにつれて広がるように、傾斜させてもよい。また、上記の実施形態では、乾燥装置について説明したが、本発明の貯留装置は、乾燥機能をもたない装置であってもよい。また、上記の実施形態では、樹脂ペレットに含まれる微粉末の付着を問題としたが、樹脂ペレット自体がより細かい粉状または粒状である場合には、樹脂ペレット自体の付着が問題となる場合もあり得る。そのような場合にも、本発明を適用すれば、貯留容器の内側面に対する樹脂ペレットの付着を、抑制できる。また、本発明の貯留装置は、粉体または粒体を含む材料であれば、樹脂ペレット以外の材料を貯留するものであってもよい。また、貯留装置の細部の形状については、本願の各図に示された形状と、相違していてもよい。また、上記の実施形態や変形例に登場した各要素を、矛盾が生じない範囲で、適宜に組み合わせてもよい。"