絶縁部と半導電部からなるゴム状弾性を有する筒状のプレモールド絶縁体の部分放電試験を行う部分放電試験装置であって、内部に前記プレモールド絶縁体が複数配置される試験容器と、前記試験容器内の下部に配置され、課電装置により電圧が印加される課電プレートと、前記課電プレートに着脱可能に立設されるとともに、前記プレモールド絶縁体が、前記絶縁部を下部側に、前記半導電部を上側に位置した状態で、それぞれ装着される複数の絶縁電極治具と、前記絶縁電極治具に装着される前記プレモールド絶縁体の前記半導電部側に配置され、複数の前記プレモールド絶縁体における前記半導電部のそれぞれと電気的に接続される低電圧側端子を備えた導電性の低電圧側カバーと、を有する、部分放電試験装置。前記低電圧側端子は、直動機構部を介して前記低電圧側カバーに上下方向に移動自在に設けられ、前記低電圧側端子は、前記絶縁電極治具の上端部に接続して、前記絶縁電極治具を介して前記プレモールド絶縁体に接続する、請求項1記載の部分放電試験装置。前記課電プレートは、複数の取付孔を有し、前記絶縁電極治具は、前記取付孔に挿入される治具接続部を有し、且つ、前記プレモールド絶縁体の中空部に挿入される棒状体であり、前記低電圧側端子は、前記取付孔と同一軸上に配置され、前記プレモールド絶縁体の前記半導電部に接続する、請求項2記載の部分放電試験装置。前記治具接続部は、前記取付孔内に設けられたロック機構部を介して、前記取付孔に取り付けられる、請求項3記載の部分放電試験装置。前記低電圧側カバーは、前記試験容器の上方に取り付けられ、前記低電圧側端子は、前記低電圧側カバーを前記試験容器に取り付けた際に、前記取付孔と同一軸上に配置される、請求項3記載の部分放電試験装置。絶縁部と半導電部からなるゴム状弾性体であって、内部に中空部を備える筒状のプレモールド絶縁体の部分放電試験を行う部分放電試験方法であって、前記中空部に絶縁電極治具を挿入し、当該絶縁電極治具が挿入された複数のプレモールド絶縁体を、当該プレモールド絶縁体の一端部側である前記絶縁部側を試験容器内の下部に配置された課電プレートに接続して設置するステップと、前記プレモールド絶縁体の他端部側である前記半導電部側に、低電圧側カバーの低電圧側端子を接続するステップと、前記低電圧側カバーを接地線と接続するステップと、課電装置より前記試験容器底部から前記課電プレートに電圧を印加するステップと、電圧印加による前記プレモールド絶縁体からの部分放電の有無を試験装置で検出するステップと、を有する、プレモールド絶縁体の部分放電試験方法。ところで、これら特許文献1から3に示す従来の試験装置は、いずれの試験装置でも、プレモールド絶縁体1体を試験容器内に設置して電気試験が行われる。すなわち、プレモールド絶縁体の部分放電試験時では、試験容器内に、プレモールド絶縁体1体を配置し、課電用の電極や電線を取り付けて行う。従い、電気試験を行なうプレモールド絶縁体が複数ある場合、1体毎に電気試験を行なう必要があり、煩雑で時間がかかってしまう。また、電気試験を行なうプレモールド絶縁体の数に対応して試験装置を複数台備えることは、設備的なコストや設置スペースの問題が生じる。さらに、課電時において、課電用の電極部は高電圧で危険であるため、試験に際して課電用の電極部は絶縁ガス、または絶縁油等の絶縁性液体中に置かれている。よって試験毎に絶縁ガスで試験容器内を充満させたり、試験終了後には絶縁ガスの回収する作業や、あるいは、プレモールド絶縁体を絶縁性液体に浸したり、取り出したりする作業が必要となる。このような試験をプレモールド絶縁体1体毎に実施した場合、その作業は煩雑なものとなる。このように従来の試験装置を用いたプレモールド絶縁体の部分放電試験は、プレモールド絶縁体1体毎に電極や電線を取り付け、さらに絶縁ガスや絶縁性液体を充填して実施するため煩雑な試験となっている。このため、複数のプレモールド絶縁体を一括して同時に測定できる試験装置が望まれる。ここで、従来の1体毎に課電する構成を適用して複数のプレモールド絶縁体の電気試験を一括して同時に実施する場合について説明する。図1は、従来の一体毎に課電する構成を用いて、複数のプレモールド絶縁体を一括して同時に試験する場合の試験装置を示す。図1に示す試験装置1Aでは、試験容器2内において、プレモールド絶縁体5は、その中空部内に棒状の金属棒9aを絶縁材9bで被覆してなる治具9を挿入した状態で複数設置されている。これらプレモールド絶縁体5は、高電圧課電端3と、接地線4aに接続された支持台4との間に、半導電層5aを下側にして設置される。この設置したプレモールド絶縁体5毎に高電圧課電端3から高電圧を印加して部分放電を検査する。この構成では、プレモールド絶縁体5のそれぞれに課電用の電線6を接続する必要がある。よって、その取り付け作業や取り外し作業が煩雑である。また、この構成では、課電用の電線6が複数配線されるため、部分放電試験の際に邪魔になるという問題がある。さらに、図示しない課電装置の課電端を複数設けて課電用の電線6を接続する必要があり、課電装置も大掛かりになってしまう。次に、試験装置1Aの構成において複数配線される課電用の電線6を省略するために、図2、図3に示すように、板状の課電用プレート7を複数のプレモールド絶縁体5の上部に配置して、複数のプレモールド絶縁体5を一括で接続させる構成の試験装置1B、1Cが考えられる。この場合、課電装置からの課電を一つの課電用プレート7とすることができ、課電用の電線6を各プレモールド絶縁体5に接続する煩雑さは低減できる。しかし、図2のように3個以内のプレモールド絶縁体5を接続する場合図2では2つのプレモールド絶縁体5を接続しているは、板状の課電用プレート7と各治具9が均等に接触でき良好に測定ができるが、4個以上のプレモールド絶縁体5を一括で接続しようとすると、治具9の高さ寸法が揃っていても、一部の治具9が板状の課電プレート7の課電端部7aと良好に接触できないという問題が生じる。具体的には、図3に示すように治具9と課電端部7aに僅かな隙間が生じ、放電や閃絡が生じる虞がある。さらに、課電端部7aと治具9の界面に大きな隙間が生じると、界面との間に絶縁油等の絶縁性液体が回り込み導通不良となることも考えられる。また、治具9の高さ寸法のばらつきが大きい場合では、2個又は3個のプレモールド絶縁体5を接続しても隙間が生じる可能性がある。課電用プレート7は、高電圧が印加されるため感電等の虞があり非常に危険である。よって、試験装置内は、課電用プレート7まで絶縁性液体で浸されており、試験後の課電用プレート7の清掃も必要となる。また、絶縁性液体の代わりに絶縁ガスとした場合、複数のプレモールド絶縁体5を一括して測定するため試験容器も大型化しており、絶縁ガスの使用量も増え、充填や回収の時間を要する。さらに、絶縁ガスに空気が混入すると絶縁特性を維持できなくなるので、空気が混入しないような充填、回収システムが必要となり、絶縁ガス自体を使い捨てとした場合はガスの処理費用等の問題がある。なお、絶縁性液体を削減している事例として、特許文献1には、導電性の押しパイプの内部に絶縁油が投入され、加圧することによってプレモールド絶縁体から絶縁銅棒の間の放電を防ぐ構成が開示されている。しかし、当該構成を引用し、一つの課電用カバー上に複数の押しパイプを設け、それぞれの押しパイプを適切に加圧して調整することは容易ではない。本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、複数のプレモールド絶縁体の部分放電試験を、簡単、且つ、確実に一括して測定を行うことができるプレモールド絶縁体の部分放電試験装置及びプレモールド絶縁体の部分放電試験方法を提供することを目的とする。さらに簡単な装置構成で試験装置内の絶縁油等の絶縁性液体も削減できる。本発明の部分放電試験装置の一つの態様は、絶縁部と半導電部からなるゴム状弾性を有する筒状のプレモールド絶縁体の部分放電試験を行う部分放電試験装置であって、内部に前記プレモールド絶縁体が複数配置される試験容器と、前記試験容器内の下部に配置され、課電装置により電圧が印加される課電プレートと、前記課電プレートに着脱可能に立設されるとともに、前記プレモールド絶縁体が、前記絶縁部を下部側に、前記半導電部を上側に位置した状態で、それぞれ装着される複数の絶縁電極治具と、前記絶縁電極治具に装着される前記プレモールド絶縁体の前記半導電部側に配置され、複数の前記プレモールド絶縁体における前記半導電部のそれぞれと電気的に接続される低電圧側端子を備えた導電性の低電圧側カバーと、を有する構成を採る。本発明によれば、複数のプレモールド絶縁体の部分放電試験を、簡単、且つ、確実に一括して測定を行うことができる。以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。本実施の形態の部分放電試験装置では、主に試験容器の上部側から課電する従来の試験装置と異なり、高電圧側となる課電を試験容器の底部から行うとともに低電圧側となる接地側を試験容器の上部としている。図4に示すように、部分放電試験装置100は、下部に課電プレート110が配置された試験容器120と、測定対象となるプレモールド絶縁体50を試験容器120内に設置するための絶縁電極治具130と、試験容器120を上方で閉塞する低電圧側カバー140とを有する。なお、低電圧側カバー140には、接地線70が接続され、低電圧側カバー140と接地線70の間には測定装置80が接続されている。測定装置80は、プレモールド絶縁体50から発生する部分放電を検出する。試験容器120は、例えば、塩ビ樹脂、エポキシ樹脂等の絶縁性の樹脂により形成される。この試験容器120内の下部、ここでは底面部分に、課電プレート110が布設されている。なお、試験容器120をアルミ等の金属容器とし、課電プレート110を試験容器120の底部や側面から離間するように配置して絶縁性を保ち、さらに課電装置20と課電プレート110の接続部外周も試験容器120と絶縁させる構成としても良い。試験容器120の内部には、絶縁電極治具130を介して課電プレート110に取り付けられた複数のプレモールド絶縁体50が配置されている。また、試験容器120内部には、プレモールド絶縁体50の絶縁部54が浸漬するように、試験容器120の中ほどまで、絶縁性液体60として、ここではフッ素系不活性液体例えばフロリナート登録商標が充満されている。筒状のプレモールド絶縁体50は、EPゴム等のゴム状弾性を有する半導電部52と、半導電部52に連続する絶縁部54とを備える。絶縁電極治具130は、電力ケーブルを模擬して形成されたものであり、プレモールド絶縁体50の中空部に挿入される棒状体をなしている。プレモールド絶縁体50は絶縁電極治具130に装着され、試験体150を構成する。図5は試験体の要部構成を示す図であり、図5Aは試験体の要部断面図、図5Bは同試験体における絶縁電極治具130の治具接続部132aを示す図5AのA-A線断面図であり、図5Cは同治具接続部132aの拡大側面図である。図5に示すように、絶縁電極治具130では、銅等の金属棒からなる治具電極部132の外周上に、例えばエポキシ樹脂が治具絶縁部134として形成されている。治具絶縁部134は、当該治具絶縁部134の一端部134a側から治具電極部132の一端部を治具接続部132aとして突出させた状態で、治具電極部132を被覆している。治具絶縁部134の一端部134aには、フランジ135が形成されている。治具絶縁部134の一端部134aから突出する治具電極部132の一端部は、課電プレート110に接続される治具接続部132aとして機能する。具体的には、治具接続部132aを課電プレート110に形成された取付孔112図4参照に挿入する。これにより、治具電極部132と課電プレート110とが電気的に接続されるとともに、プレモールド絶縁体50は試験体150として課電プレート110に取り付けられる。プレモールド絶縁体50は、課電プレート110側に絶縁部54が位置するよう、絶縁部54側を治具絶縁部134のフランジ135側に向けて治具絶縁部134の他端部134bから挿入される。このとき、治具絶縁部134の他端部134bが半導電部52の他端部より突出するまで挿入される。この状態で、治具絶縁部134の外周面とプレモールド絶縁体50の内周面との界面で所定の面圧が保たれる。また、治具絶縁部134の他端部134bの外面には、導電材料が塗布されることにより導電部136が形成されている。具体的には、導電部136は、治具絶縁部134の他端部134bの端面からプレモールド絶縁体50の半導電部52の内周面と接触する部位までの治具絶縁部134外周面に形成されている。ここでは、導電部136は、治具絶縁部134の他端部134b側の外面に銀塗料をコーティングすることで形成されている。銀塗料より形成される導電部136が、低電圧側端子160図4参照に接続されることによって、プレモールド絶縁体50の半導電部52と低電圧側端子160とが電気的に接続導通される。図5B及び図5Cに示すように、絶縁電極治具130における治具接続部132aの外周には、同一円周上に溝部137が形成されている。この溝部137内には、当該溝部137の底面よりも深い底面を有する凹部138が所定間隔を空けて複数形成されている。言い換えれば、複数の凹部138は、凹部138よりも深さの浅い溝部137で連絡されている。ここでは、絶縁電極治具130における治具接続部132aの溝部137内に4箇所の凹部138が形成され、それぞれ断面円弧状をなしている。これら凹部は、治具接続部132aを図6に示す課電プレート110の取付孔112に挿入した際に、ロック機構部170のロック片部172図7参照と係合する。これら凹部138とロック片部172図7参照との係合によって試験体150図4参照は課電プレート110に脱着可能に固定されている。なお、これら凹部138は、ロック片部172と対応して形成されている。課電プレート110は導電材から形成されており、ここでは金属製の円盤状にて形成されている。なお、本実施の形態における円盤状の課電プレート110は、試験容器120内に設置される複数の試験体150の一端部治具接続部132aが一括で接続される構成であれば、どのように形成されてもよい。例えば、課電プレート110を試験容器120内の底部に設けた構成としたが、課電プレート110をT字状の台座として試験容器の底部上に配置した構成としてもよい。課電プレート110には、課電装置20が接続されており、この課電装置20から試験電圧が印加される。この課電プレート110には、絶縁電極治具130の治具接続部132aが挿入される取付孔112が複数設けられている。これら取付孔112にはロック機構部170が設けられている。取付孔112に、プレモールド絶縁体50が挿入された絶縁電極治具130の治具接続部132aを挿入して、ロック機構部170により嵌合する。図7に示すロック機構部170では、課電プレート110における取付孔112の内周面に形成されたロック片部収容部111内に、ロック片部172が、取付孔112の内周面から出没可能に取り付けられている。ロック機構部170は、ここでは、ロック片部172と、付勢部材として圧縮コイルバネ174とを有する。なお、図7に示すロック片部172はピン形状としているが、球状としてもよい。ロック片部172は、付勢部材、ここでは圧縮コイルバネ174によって、ロック片部172における断面円弧状の先端部172aをロック片部収容部111内から取付孔112内に突出するように付勢されている。なお、図示しないが、ロック片部収容部111内には、ロック片部172を係止して抜け止めする係止機構が設けられている。これにより、ロック片部172は、先端部172aを取付孔112内周面から突出させた状態で保持されている。このように構成された取付孔112に、棒状の治具接続部132aが挿入されると、ロック片部172の先端部172aは、治具接続部132aの外面により、ロック片部収容部111の奥側に押圧されて後退する。更に、治具接続部132aが挿入されると、ロック片部172は、治具接続部132aに形成された溝部137内で押圧状態が開放されて、溝部137と係合する。これにより、取付孔112に対する治具接続部132aの高さ位置、つまり、凹部138と嵌合可能な高さ位置の位置決めが行われる。その後、治具接続部132aを、治具接続部132aの軸治具電極部132の軸、或いは、試験体150の軸に相当を中心に周方向に回動することによって、ロック片部172の先端部172aは、溝部137内を摺動して凹部138と係合する。このように絶縁電極治具130の治具接続部132aが、取付孔112に挿入されることによって、治具電極部132は課電プレート110に取り付けられる。これにより、治具電極部132は課電装置20と電気的に接続する。また、絶縁電極治具130を取り外す際には、ロック片部172が凹部138と嵌合している状態では、絶縁電極治具130の治具電極部132を、軸方向に引っ張っても抜けにくい。しかしながら、治具電極部132を回動してロック片部172を溝部137と嵌合させた状態にした後で、絶縁電極治具130の治具電極部132を、軸方向に引っ張れば、治具電極部132を取付孔112から抜いて取り外すことができる。また、ロック片部172と凹部138との係合によって、例えば、フッ素系不活性液体のような比重の大きい絶縁性液体60でも浮力に抗して試験体150図4参照を保持できる。なお、課電プレート110における取付孔112に、治具電極部132を挿入して着脱自在に固定する構造は、どのような構造であってもよい。例えば、取付孔112の内周面から突出するロック片部172は、内周面に固定されたものとし、これに対して、図8に示すように、治具接続部132aの外周面に下端から軸方向に延在する縦スリット部139aと、この縦スリット部139aの上端部に連続して、縦スリット部139aの延在方向と直交する横スリット部139bとを設けた構成としても良い。この構成によれば、取付孔112に治具接続部132aを挿入する際に、ロック片部172を縦スリット部139a内に、当該縦スリット部139aの下端部から挿入する。そして、ロック片部172が縦スリット部139aの上端部に位置した際に、治具接続部132aを治具接続部132aの軸を中心に回動させて、横スリット部139b内に位置させる。これにより、治具電極部132が取付孔112から挿入方向に抜けることを防止する。このように、課電プレート110には、プレモールド絶縁体50及び絶縁電極治具130からなる試験体150が固定されている。この試験体150は、図4に示すように、試験体150の上端部、つまり、治具絶縁部134の他端部134bには、低電圧側カバー140に配置された低電圧側端子160が接続されている。低電圧側カバー140は、金属材により形成されたカバー本体部142と、アクリル樹脂等の絶縁性の材料からなり、カバー本体部142を、試験容器120に取り付けるカバー枠部144とを有する。カバー本体部142は、課電プレート110と対向する位置で、カバー枠部144を介して試験容器120において上方に開口する開口縁部124に、蓋をするように取り付けられる。なお、カバー枠部144は、図4に示すように、カバー本体部142と、試験容器120とが接触しないように設けられている。カバー本体部142は、接地線70に接続されており、且つ、低電圧側端子160を介して試験体150の上端部に接続される。これにより試験体150は、上端部側で接地されている。なお、カバー本体部142と接地線70の間には、測定装置80が接続されている。図9及び図10に示すように、カバー本体部142は、ここでは、板状をなしており、軽量化のために、カバー中央部142aから放射状に延在する複数の延出片部142bが形成された形状をなしている。このように、カバー本体部142の形状はどのような形状でもよく、例えば、矩形板状、円盤状形等の平板形状をなしてもよい。カバー枠部144は、ここでは円環板状をなし、その外周部具体的には、延出片部142bの先端部に、樹脂製の調整用の板材146を介してボルト等の止着材148により固定されている。カバー枠部144の外縁には、下方に垂下した垂下部144a図4参照が形成されている。カバー枠部144は、図4に示すように、その下面において、垂下部144aと板材146との間の部位で、試験容器120の開口縁部124を覆っている。すなわち、低電圧側カバー140では、カバー枠部144の外周部に形成された垂下部144aと板材146との間の部位を、試験容器120の開口縁部124に掛止させることで、カバー本体部142は、課電プレート110の上方で対向するように位置する。言い換えれば、低電圧側カバー140は、その外周部分を、試験容器120において上方に開口する開口部を囲む開口縁部124に引っ掛けるだけで、試験容器120に容易に取り付けることができる。このようにカバー枠部144を介して試験容器120に取り付けられるカバー本体部142には、試験体150の上端部に接続される複数の低電圧側端子160が設けられている。低電圧側カバー140は、複数の低電圧側端子160を介して、複数の試験体150の上端部絶縁電極治具130の他端部134bに相当と一括して接続されている。図9及び図10に示すように、本実施の形態の低電圧側カバー140では、低電圧側端子160は、延出片部142bの先端側の部位と、カバー中央部142aとにそれぞれ配設されている。これら低電圧側端子160は、低電圧側カバー140を試験容器120の上方から取り付けた際に、対向する課電プレート110に設けた取付孔112と同一軸上に配置されるように設けられている。つまり、低電圧側端子160は、低電圧側カバー140を試験容器120に取り付けた際に、課電プレート110に設置した試験体150の真上に位置するように低電圧側カバー140に設けられている。低電圧側端子160は、図11に示すように、端子本体部162の一端部に接触部164、他端部に突出片部166が形成されている。低電圧側端子160は、低電圧側カバー140に、直動機構部180を介して、取付孔112と同一軸上を上下方向、つまり、鉛直方向にスライド自在に取り付けられている。直動機構部180としては、例えば、THK製のリニアブッシュや日本ベアリング製のスライドブッシュ等が挙げられる。ここでは、直動機構部180は、軸受け本体部182及びフランジ184で構成される。直動機構部180は、フランジ184を介してカバー本体部142に固定されている。また、軸受け本体部182の内周部には端子本体部162が挿通されている。軸受け本体部182の内周面182aには、複数のボール182bが設けられている。これらボール182bが端子本体部162の外周面と接触し、端子本体部162の軸方向を案内軸として、端子本体部162の外周面と軸受け本体部182との間で転がり運動する。これにより、低電圧側端子160は、直動機構部180及びカバー本体部142に対して鉛直方向に滑らかで摩擦の少ないスライドが可能となる。なお、直動機構部180は鉛直方向にスライドする機構であれば、図11に示した構成以外でもよい。さらに、端子本体部162には、外周面の軸方向にボール転がり溝を設けた構成としてもよい。端子本体部162が挿通されているカバー本体部142の貫通孔143の径は、端子本体部162の外周面が貫通孔143に接触しないよう、端子本体部162の外径より大きくすることが好ましい。但し、後述するように接触部164及び突出片部166の外径よりは小さく形成する。端子本体部162の一端部には、試験体150の上端部に接触される接触部164が、端子本体部162の軸から放射状に張り出すように形成されている。接触部164において、試験体150の上端部と接触する端面部位は、ここでは対向面を平面としている。一方、端子本体部162の他端部には、端子本体部162の外周から直交する方向に突出する突出片部166が形成されている。カバー本体部142を試験容器120に取り付けた際、低電圧側端子160は、カバー本体部142に対して、自重によって下方側に移動する。なお、接触部164及び突出片部166の外径は、貫通孔143の径よりも大きい。このため、低電圧側端子160自体がカバー本体部142から抜けることがない。この構成により、低電圧側カバー140を、試験体150が配置された試験容器120に取り付けることによって、低電圧側端子160はそれぞれ自重のみで下降し、低電圧側端子160の各試験体150と対向する接触部164の面が接触し、電気的に接続される。低電圧側接地側となるので、低電圧側端子160の自重で試験体150と接触する構成でも問題はない。次に、部分放電試験装置100を用いた複数のプレモールド絶縁体50の部分放電試験方法について説明する。まず、試験するプレモールド絶縁体50の中空部に、プレモールド絶縁体50の絶縁部54側から、絶縁電極治具130を、治具絶縁部134の他端部134bを先にして挿入する。これにより、プレモールド絶縁体50の試験体150が形成される。なお、絶縁電極治具130では、治具絶縁部134の一端部134aから、治具電極部132の一端部が治具接続部132aとして外部に突出している。この治具接続部132aの外周には溝部137及び凹部138が形成されている。試験体150を構成する絶縁電極治具130において、治具絶縁部134の一端部134aから突出する治具電極部132の治具接続部132aを、試験容器120の底部に配設した課電プレート110の取付孔112に挿入して、凹部138とロック機構部170のロック片部172とを嵌合して固定する。これにより課電プレート110に試験体150が設置される。このとき、プレモールド絶縁体50は、試験容器120内において半導電部52を上側、絶縁部54を下側にした状態で配置される。次いで、試験容器120内に、プレモールド絶縁体50の絶縁部54が浸漬するように、試験容器120の中程まで絶縁性液体60としてフッ素系不活性液体を充填する。試験体150は、課電プレート110にロック機構部170を介して固定されている。このため、フッ素系不活性液体のような比重の大きい絶縁性液体60中にプレモールド絶縁体50が浸漬している状態でも、試験体150が浮き上がることが防止されるとともに、試験体150と課電プレート110との接触不良を防ぐことができる。同様にして、複数の試験体150を課電プレート110上に設置した後、低電圧側カバー140を試験容器120に取り付ける。すなわち、課電プレート110上に設置したプレモールド絶縁体50の半導電部52側に低電圧側カバー140が取り付けられる。なお、低電圧側カバー140が試験体150を設置した試験容器120に取り付けられた後で、試験容器120内に、絶縁性液体フッ素系不活性液体60を投入してもよい。低電圧側カバー140が試験容器120に取り付けられた状態では、低電圧側端子160は課電プレート110の各取付孔112と同一軸上に配置される。また、低電圧側端子160は、各低電圧側端子160毎に軸受け本体部182によって鉛直方向にスライド自在に案内されて各試験体150と接続する。ここでは、各低電圧側端子160は自重によって下降して、真下に位置する試験体150の上端部具体的には、プレモールド絶縁体50に内嵌させた絶縁電極治具130における治具絶縁部134の他端部134bに各々当接する。このように、部分放電試験装置100では、軸受け本体部182からなる直動機構部180によって、4個以上の試験体150を一括で課電する構成としても、低電圧側端子160で接続調整を行うことで均一な電気的接続が可能となっている。これら低電圧側端子160を試験体150の上端部に接続させることで、低電圧側端子160を介して、各試験体150におけるプレモールド絶縁体50の半導電部52が接地線70に接続される。このように、部分放電試験装置100において、試験体150の課電側の接続、つまり、課電プレート110との接続と、接地側低電圧側との接続、つまり、低電圧側端子160との接続が完了した後、課電装置20より試験容器120内の底部に配した課電プレート110に高電圧を印加する。これにより、部分放電試験を行う、つまり、プレモールド絶縁体50の内部の欠陥による部分放電の有無を測定装置80によって検出し、この検出結果に基づいて検査する。なお、図4に示す部分放電試験装置100では、測定装置80によって複数のプレモールド絶縁体50の部分放電有無を一括して測定することが可能である。また、各低電圧側端子160から測定装置80にそれぞれ接続し、接地することにより、個々のプレモールド絶縁体50の部分放電有無を確認することもできる。本実施の形態によれば、4個以上のプレモールド絶縁体の試験体150を一括で課電プレート110に設置した構成であっても、接続調整を低電圧側の低電圧側端子160で行うことにより、接触不良による放電や閃絡の問題を低減できる。さらに、図12に示す3個の試験体150A、150B、150Cのように試験体150具体的には絶縁電極治具130の高さの寸法ばらつきがあり従来の試験装置では接続調整が困難であった場合でも、本実施の形態によれば、低電圧側の低電圧側端子160で調整することで、均一な電気的接続が可能となっている。なお、本実施の形態では、2個のプレモールド絶縁体の試験体でも、勿論、均一な電気的接続が可能である。また、内部に試験体150が配設された試験容器120の上部に、カバー枠部144を介して、蓋をするように取り付けられたカバー本体部142に、低電圧側端子160が、軸受け本体部182によって上下方向にスライド自在に取り付けられ、試験体150と接続している。このため、低電圧側カバー140を試験容器120に取り付けるだけで、低電圧側カバー140は、試験容器120内に配設された試験体150に接続する。これにより、部分放電試験装置100によれば、試験体150との接続調整を容易に行うことができる。さらに、課電プレート110の取付孔112と、取付孔112に挿入された試験体150における治具接続部132aとが、凹部138に嵌合するロック片部172を有するロック機構部170を介して固定される。このため、試験体150を課電プレート110にワンタッチで取り付けることができる。このように部分放電試験装置100によれば、複数のプレモールド絶縁体50の試験体150と課電端あるいは接地端とを簡易な方法で接続することができる。加えて、試験体150具体的には絶縁電極治具130の高さ寸法にばらつきがあっても、接続調整を低電圧側端子160で行うため、課電むらが生じることがなく、確実に、一括して部分放電試験を行うことができる。また、部分放電試験装置100を用いた部分放電試験方法によれば、試験体150具体的には絶縁電極治具130の高さ寸法にばらつきがある複数のプレモールド絶縁体50であっても一括して測定することができる。また、試験容器120内にフッ素系不活性液体のような比重の重い絶縁性液体60を投入する試験装置の構成では、試験体150自体が浮いてしまう虞がある。しかしながら、本実施の形態では、試験体150は、ロック機構部170を介して課電プレート110に確実に固定される。このため、比重の大きいフッ素系不活性液体を絶縁性液体60として使用しても、試験体150の浮き上がりを防止できる。よって、試験体150と課電側の接続部分における接触不良を解消できる。加えて、部分放電試験装置100では、プレモールド絶縁体50の試験体150に対する課電が、試験容器120の底部から行われる。このため、絶縁性液体フッ素系不活性液体60は、試験容器120内のプレモールド絶縁体50において、半導電部52よりも下側に位置する絶縁部54が浸るよう、試験容器120の中程まで充填させれば、高電圧部分は絶縁性液体中に浸漬される。したがって、本実施の形態の部分放電試験装置100では、低電圧側カバー140及び低電圧側端子160、低電圧側端子160と接続される試験体150の上端部を空気中に配置することができる。これにより、軸受け本体部182による低電圧側端子160の上下スライドが絶縁性液体に浸ることなく自在にでき、試験体150との接続調整を容易に行うことができる。また、試験後に低電圧側カバー140を清掃する手間もなくなる。さらに、絶縁性液体フッ素系不活性液体60の使用量を、課電側の高圧部、具体的には、試験体150においてプレモールド絶縁体50の絶縁部54が浸る程度の量に減らすことができる。従い、試験容器120の上部から課電する従来の試験装置と異なり、課電用の電極部を絶縁するため、絶縁性液体60を試験容器120内全体に充填する必要がなく、従来の試験装置と比較して、絶縁性液体60の使用量を大幅に削減できる。なお、絶縁ガスを充填する場合でも、SF6ガスのように空気より比重の大きいガスを適用すれば、試験容器120の中程まで充填させればよいことになる。なお、上記本発明は、本発明の精神を逸脱しない限り、種々の改変をなすことができ、そして本発明が該改変させたものに及ぶことは当然である。