"光ファイバに光学的に接続されるレーザ光源と、前記光ファイバ内で後方散乱した光を検出する光検出器と、前記光検出器の出力から得られる仮の測定温度分布に対し伝達関数を用いた補正計算を行って真の測定温度分布とする温度分布測定部とを有し、前記温度分布測定部は、前記光ファイバの全長毎及び長さ方向の位置毎に設定された伝達関数のデータを記憶していることを特徴とする温度分布測定装置。前記温度分布測定部は、前記レーザ光源に接続される前記光ファイバの全長が変更されると、前記伝達関数のデータを用いて前記補正計算に使用する伝達関数を変更することを特徴とする請求項1に記載の温度分布測定装置。前記補正計算に使用する伝達関数は、線形近似により算出することを特徴とする請求項2に記載の温度分布測定装置。前記温度分布測定部は、前記仮の測定温度分布に対し前記伝達関数の逆関数を用いて前記真の測定温度分布を算出することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の温度分布測定装置。レーザ光源から光ファイバにレーザ光を出力し、前記光ファイバ内で後方散乱した光を検出して前記光ファイバの長さ方向の仮の測定温度分布を取得し、前記仮の測定温度分布に対し伝達関数を用いた補正計算を行って真の測定温度分布とする温度分布測定装置の温度分布測定方法であって、前記温度測定装置は、前記光ファイバの全長毎及び長さ方向の位置毎に設定された伝達関数のデータを記憶し、前記レーザ光源に光学的に接続された光ファイバの長さが変更されると前記伝達関数のデータを用いて前記補正計算に使用する伝達関数を変更することを特徴とする温度分布測定方法。前記補正計算に使用する伝達関数は、線形近似により算出することを特徴とする請求項5に記載の温度分布測定方法。前記レーザ光源に光学的に接続された光ファイバは、温度が一定に維持される場所に一定長さ以上巻回した巻回部を有することを特徴とする請求項5又は6に記載の温度分布測定方法。前記レーザ光源に光学的に接続された光ファイバは、計算機が収納されたラック内に敷設されることを特徴とする請求項5乃至7のいずれか1項に記載の温度分布測定方法。前記温度分布測定装置は、入力された光ファイバの全長及び長さ方向の位置に応じて前記補正計算に使用する伝達関数を変更することを特徴とする請求項5乃至8のいずれか1項に記載の温度分布測定方法。前記温度分布測定装置は、前記レーザ光源から出射されたレーザ光が前記光ファイバの端部に到達するまでの時間又は前記後方散乱光が検出されなくなるまでの時間から前記光ファイバの全長を取得して前記補正計算に使用する伝達関数を変更することを特徴とする請求項5乃至8のいずれか1項に記載の温度分布測定方法。前記温度分布測定装置は、前記仮の測定温度分布に対し前記伝達関数の逆関数を用いて前記真の測定温度分布を算出することを特徴とする請求項5乃至10のいずれか1項に記載の温度分布測定方法。光ファイバの全長の変化に応じて適切な伝達関数を容易に設定できる温度分布測定装置及び温度分布測定方法を提供することを目的とする。開示の技術の一観点によれば、光ファイバに光学的に接続されるレーザ光源と、前記光ファイバ内で後方散乱した光を検出する光検出器と、前記光検出器の出力から得られる仮の測定温度分布に対し伝達関数を用いた補正計算を行って真の測定温度分布とする温度分布測定部とを有し、前記温度分布測定部は、前記光ファイバの全長毎及び長さ方向の位置毎に設定された伝達関数のデータを記憶している温度分布測定装置が提供される。開示の技術の他の一観点によれば、レーザ光源から光ファイバにレーザ光を出力し、前記光ファイバ内で後方散乱した光を検出して前記光ファイバの長さ方向の仮の測定温度分布を取得し、前記仮の測定温度分布に対し伝達関数を用いた補正計算を行って真の測定温度分布とする温度分布測定装置の温度分布測定方法であって、前記温度測定装置は、前記光ファイバの全長毎及び長さ方向の位置毎に設定された伝達関数のデータを記憶し、前記レーザ光源に光学的に接続された光ファイバの長さが変更されると前記伝達関数のデータを用いて前記補正計算に使用する伝達関数を変更する温度分布測定方法が提供される。上記一観点によれば、光ファイバの全長の変化に応じて適切な伝達関数を容易に設定できる。これにより、温度分布を高精度に測定することができる。以下、実施形態について説明する前に、実施形態の理解を容易にするための予備的事項について説明する。光ファイバを温度センサとして使用する場合、位置分解能が低いため、温度測定箇所測定ポイントが密に存在する場所では温度分布を精度よく且つ効率的に測定することは困難である。そこで、本願発明者らは、特許文献1特開2009-265077号公報及び特許文献2特開2010-160081号公報等において、温度分布測定装置により取得した光ファイバの長さ方向の温度分布を、伝達関数を用いて補正することを提案した。これにより、密に配置された測定ポイントの温度を精度よく且つ効率的に測定することが可能になる。ところで、伝達関数は、光源からの距離光ファイバの長さ方向に沿った距離や光ファイバの全長により変化する。一方、データセンターでは、需要に応じてサーバラックの増設や撤去が行われ、それにともなって光ファイバの敷設経路が変更されたり、光ファイバの全長が変化したりする。従って、それらの工事にともなって、新たに伝達関数を設定することが重要になる。以下の実施形態では、光ファイバの全長の変化に応じて適切な伝達関数を容易に設定できる温度分布測定装置及び温度分布測定方法について説明する。実施形態図1は、実施形態に係る温度分布測定装置の構成を示す模式図である。また、図2は後方散乱光のスペクトルを示す図である。図1のように、本実施形態に係る温度分布測定装置20は、レーザ光源21と、レンズ22a,22bと、ビームスプリッタ23と、波長分離部25と、光検出器26と、温度分布測定部27とを有し、光ファイバ24に接続して使用する。レーザ光源21からは、所定のパルス幅のレーザ光が一定の周期で出力される。このレーザ光は、レンズ22a、ビームスプリッタ23及びレンズ22bを通って光ファイバ24の光源側端部から光ファイバ24内に進入する。なお、図1において、24aは光ファイバ24のクラッドを示し、24bは光ファイバ24のコアを示している。光ファイバ24内に進入した光の一部は、光ファイバ24を構成する分子により後方散乱される。後方散乱光には、図2のように、レイリーRayleigh散乱光と、ブリルアンBrillouin散乱光と、ラマンRaman散乱光とが含まれる。レイリー散乱光は入射光と同一波長の光であり、ブリルアン散乱光及びラマン散乱光は入射波長からシフトした波長の光である。ラマン散乱光には、入射光よりも長波長側にシフトしたストークス光と、入射光よりも短波長側にシフトした反ストークス光とがある。ストークス光及び反ストークス光のシフト量はレーザ光の波長や光ファイバ24を構成する物質等に依存するが、通常50nm程度である。また、ストークス光及び反ストークス光の強度はいずれも温度により変化するが、ストークス光は温度による変化量が小さく、反ストークス光は温度による変化量が大きい。すなわち、ストークス光は温度依存性が小さく、反ストークス光は温度依存性が大きいということができる。これらの後方散乱光は、図1のように、光ファイバ24を戻って光源側端部から出射する。そして、レンズ22bを透過し、ビームスプリッタ23により反射されて、波長分離部25に進入する。波長分離部25は、ビームスプリッタ31a,31b,31cと、光学フィルタ33a,33b,33cと、集光レンズ34a,34b,34cとを有する。ビームスプリッタ31a,31b,31cは、波長に応じて光を透過又は反射する。光学フィルタ33a,33b,33cは特定の波長の光のみを透過し、集光レンズ34a,34b,34cは光学フィルタ33a,33b,33cを透過した光をそれぞれ光検出器26の受光部26a,26b,26cに集光する。波長分離部25に入射した光は、ビームスプリッタ31a,31b,31c及び光学フィルタ33a,33b,33cによりレイリー散乱光、ストークス光及び反ストークス光に分離され、光検出器26の受光部26a,26b,26cに入力される。その結果、光検出器26からは、レイリー散乱光、ストークス光及び反ストークス光の強度に応じた信号が出力される。温度分布測定部27は、コンピュータを含んで構成される。この温度分布測定部27は、光検出器26から出力される信号に基づいて、光ファイバ24の長さ方向の温度分布を取得する。また、温度分布測定部27は、後述するように光ファイバ24の全長と各領域光ファイバ24の長さ方向に分割された領域毎の伝達関数のデータベースを記憶しており、光ファイバ24の敷設状態が変更されたときに、伝達関数の補正計算を行う。図3は、横軸に時間をとり、縦軸に光検出器26の受光部26a,26b,26cから出力される信号強度をとって、ラマン散乱光の強度の時系列分布の一例を示す図である。光ファイバ24にレーザパルスを入射した直後から一定の間、光検出器26にはストークス光及び反ストークス光が検出される。光ファイバ24の全長にわたって温度が均一の場合、レーザパルスが光ファイバ24に入射した時点を基準とすると、信号強度は時間の経過とともに減少する。この場合、横軸の時間は光ファイバ24の光源側端部から後方散乱が発生した位置までの距離を示しており、信号強度の経時的な減少は光ファイバ24による光の減衰を示している。光ファイバ24の長さ方向にわたって温度が均一でない場合、例えば長さ方向に沿って高温部及び低温部が存在する場合は、ストークス光及び反ストークス光の信号強度は一様に減衰するのではなく、図3のように信号強度の経時変化を示す曲線に山及び谷が現れる。図3において、ある時間tにおける反ストークス光の強度をI1、ストークス光の強度をI2とする。図4は、図3のラマン散乱光の強度の時系列分布を基にI1/I2比を時間毎に計算し、且つ図3の横軸時間を距離に換算し、縦軸信号強度を温度に換算した結果を示す図である。この図4のように、反ストークス光とストークス光との強度比I1/I2を計算することにより、光ファイバ24の長さ方向における温度分布を測定することができる。なお、後方散乱が発生した位置におけるラマン散乱光ストークス光及び反ストークス光の強度は温度により変化するが、レイリー散乱光の強度は温度に依存しないと考えられる。従って、レイリー散乱光の強度から後方散乱が発生した位置を特定し、その位置に応じて光検出器26で検出したストークス光及び反ストークス光の強度を補正することが好ましい。以下、図5,図6を参照して最小加熱長について説明する。レーザ光源21から出力されるレーザ光のパルス幅t0を10nsec、真空中の光の速度cを3×108m/sec、光ファイバ24のコア24bの屈折率nを1.5とする。この場合、光ファイバ24内におけるレーザ光のパルス幅Wは、下記1式のように約2mとなる。このパルス幅分のレーザ光の後方散乱光は光検出器26に1つの信号として取り込まれ、光検出器26はこのパルス幅分の信号の積算値から温度を検出する。そのため、光ファイバのうちパルス幅Wに相当する長さに均一に熱を加えないと正確な温度計測ができない。以下、正確な温度計測に必要な最小加熱長をLminという。図5aに示す実温度分布で光ファイバ24を加熱した場合、すなわち光ファイバ24のうち長さLの部分のみを均一に加熱した場合、計測温度分布は図5bのようにガウシアン正規分布的な曲線を描く。以下、図5aのような温度分布を、ステップ型温度分布という。図6は、横軸に光ファイバの長さ方向の位置をとり、縦軸に温度をとって、温度が25°Cの環境に光ファイバを配置し、光源から5mの位置を中心に80°Cの熱をステップ型温度分布となるように印加した場合の計測温度分布を示す図である。ここで、加熱部の長さはそれぞれ40cm、1m、1.6m、2.2mとしている。この図6からわかるように、加熱部の長さが2m最小加熱長Lminよりも短い場合は計測温度分布のピークは実温度よりも低く観測され、加熱部の長さが2m以上の場合は計測温度分布のピークと実温度とがほぼ一致する。図7は、横軸に加熱中心からの距離をとり、縦軸に相対強度をとって、図6の温度分布における伝達関数温度計測系の伝達関数を示す図である。図7の伝達関数を図6のステップ型温度分布に対し畳み込みコンボリューションすることで、図6の計測温度分布となる。逆に、計測温度分布に対し伝達関数の逆関数逆補正関数を用いて補正デコンボリューションを行うと、実温度分布に近似の温度分布補正後の計測温度分布が得られる。なお、伝達関数は、温度計測系温度分布測定装置光ファイバのインパルス応答特性にほぼ等しいものとなる。温度計測系の伝達関数は、光ファイバ24が群遅延特性を有しているため、距離に応じて変化する。そのため、光ファイバ24の全長にわたって伝達関数を一義的に定義することはできない。しかし、短い距離範囲であれば、光信号の損失や遅延は一様であるとみなして伝達関数を定義することができる。従って、予め光ファイバ24の長さ方向の一定の領域毎例えば1000m毎に、補正計算に使用する伝達関数を設定しておくことが重要である。一方、温度測定ポイント以下、単に測定ポイントというは最小加熱長と関係なく、測定装置のサンプリング周波数等を考慮して決定することができる。測定装置において平均化に要する時間等の実用的な計測時間を考慮すると、測定ポイントの間隔は10cm~50cm程度にすることが可能である。図8は、データセンターの計算機ルームを示す模式図である。この図8のように、計算機ルームの室内は、機器設置エリア10aと、フリーアクセスフロア10bとに分離されている。機器設置エリア10aには複数のラックサーバラック11が配置されており、各ラック11にはそれぞれ複数の計算機ブレードサーバ等が収納されている。また、機器設置エリア10aには、管理者が通行するための通路や計算機の管理に必要な管理スペースが設けられている。フリーアクセスフロア10bは、機器設置エリア10aの床下に設けられている。このフリーアクセスフロア10bには、各ラック11に接続される電力ケーブルや通信ケーブル等が配置されている。フリーアクセスフロア10bの温度は、空調機19から供給される冷風により一定に維持される。機器設置エリア10aの床には通風口グリル12が設けられており、この通風口12を介してフリーアクセスフロア10bからラック11の前面側吸気面側に冷風を送り、ラック11内の計算機を冷却する。図9は、光ファイバ24の敷設例を示す図である。この例では、各ラック11毎に、光ファイバ24を最小加熱長Lmin又はそれ以上の長さで巻回した第1の巻回部24x及び第2の巻回部24yを設け、それらの第1の巻回部24x及び第2の巻回部24yをフリーアクセスフロア10bに配置している。そして、第1の巻回部24xと第2の巻回部24yとの間の光ファイバ24を、ラック11内を下から上に往復するように敷設している。このように各ラック11間のフリーアクセスフロア10bに最小加熱長Lminの2倍以上の長さの光ファイバ24を配置した場合、温度分布測定装置20は、ラック11内の温度の影響を受けることなく、フリーアクセスフロア11の実温度を測定することができる。また、ラック11内の温度はフリーアクセスフロア10bの温度よりも低くなることはない。このような条件下では、フリーアクセスフロア10bの測定温度を基準とし、ラック11内の各測定ポイントの測定温度を補正することで、ラック11内の温度分布を精度よく取得することができる特許文献1,2参照。図10に、実温度分布、仮の測定温度分布及び真の測定温度分布を示す。ここで、実温度分布は各測定ポイントにおける実温度であり、仮の測定温度分布はストークス光及び反ストークス光の比から得られる温度分布補正前の温度分布である。また、真の測定温度分布は、伝達関数を用いて仮の測定温度分布に対し補正計算を行った後の温度分布である。この図10から、真の測定温度分布は、実温度分布とほぼ一致していることがわかる。なお、図10において、縦軸の温度は基準温度フリーアクセスフロア10bの温度との差である。ところで、仮の測定温度分布を補正して真の測定温度分布を得るために伝達関数を使用するが、前述したように伝達関数は光ファイバの全長や長さ方向の位置により変化する。図11a,b及び図12a,bは、全長が7115mの光ファイバの各位置106.75m、4100.25m、4873.75m、6028.25mにおける伝達関数を例示した図である。また、図13a,b及び図14は、全長が2347mの光ファイバの各位置105.75m、1086.25m、2241.75mにおける伝達関数を例示した図である。これらの図11~図14から、光ファイバの全長や長さ方向の位置により、伝達関数が変化することがわかる。図15は、横軸に光ファイバの長さ方向の位置をとり、縦軸に温度をとって、仮の測定温度分布と、伝達関数を用いて補正した温度分布とを示す図である。図中一点鎖線は適切な伝達関数を用いて補正した例を示し、破線は不適切な伝達関数を用いて補正した例を示している。ここで、光ファイバの全長は7115mであり、適切な伝達関数として図11aに示す伝達関数を使用した。また、不適切な伝達関数として、図12bに示す伝達関数を使用した。この図15から、不適切な伝達関数を用いると温度分布を精度よく測定できないことがわかる。この例では、不適切な伝達関数を用いて補正した温度分布は、適切な伝達関数を用いて補正した温度分布に対し、ピーク位置が最大50cm程度ずれている。そこで、本実施形態では、予め光ファイバの全長と長さ方向の位置とに対応させて伝達関数を求め、データベースとして温度分布測定部27に記憶しておく。例えば全長が相互に異なる複数の光ファイバを用意し、各光ファイバに対して1000m毎に伝達関数を実験的に求めておく。伝達関数は、前述したようにステップ型温度分布となるように光ファイバを加熱し、そのときに得られる測定温度分布から求めることができる。図16は、そのようにして得た伝達関数のデータベースの一例を示す図である。この図16において、例えばH40003000pは、全長Lが4000mの光ファイバの3000mの位置光ファイバの光源側端部から長さ方向に3000m離れた位置における伝達関数である。また、pは、伝達関数を構成する要素図11~図14中の点を示している。なお、光ファイバの端部の伝達関数を実験的に求めることが困難な場合、端部から所定の距離αだけ離れた位置の伝達関数を求めればよい。ここで、全長がLの光ファイバの位置Xにおける伝達関数を線形近似により求める場合について説明する。まず、図16データベースから、Lに最も近いデータベース中の値L及びL、並びにX及びXを決定する。例えば、変更後の光ファイバの全長Lが3700m、光ファイバの長さ方向の位置Xが2600mの場合、Lは4000m、Lは3000m、Xは3000m、Xは2000mとなる。次に、図16データベース中の伝達関数HLXpと伝達関数HLXpから、下記2式を用いて全長がLの光ファイバの長さ方向の位置Xにおける伝達関数H’LXpを算出する。これと同様に、図16データベース中の伝達関数HLXpと伝達関数HLXpとから、下記3式を用いて全長がLの光ファイバの長さ方向の位置Xにおける伝達関数H’LXpを算出する。次いで、2式及び3式により求めたH’LXpとH’LXpとから、下記4式により全長がLの光ファイバの長さ方向の位置Xにおける伝達関数H’LXpを算出する。このようにして、任意の全長の光ファイバの任意の位置における伝達関数H’LXpを算出することができる。上述の伝達関数の計算は、ラック11の増設や撤去にともなう光ファイバ24の敷設変更工事が完了した後に、作業者の指示により行う。例えば、作業者が、光ファイバ24の全長や変更すべき位置光ファイバの長手方向の位置等のデータを入力装置を介して温度分布測定装置20に入力する。これにより、温度分布測定装置20の温度分布測定部27は、その入力されたデータから所定の領域例えば1000m毎の伝達関数を計算し、その伝達関数を所定の領域の測定温度分布の補正に使用する伝達関数として設定する。また、温度分布測定装置20は、例えばレーザ光が光ファイバの端部に到達するまでの時間や後方散乱光が検出されなくなるまでの時間により光ファイバの全長を知ることができる。従って、作業者により伝達関数の計算が指示されると、温度分布測定装置20が自動的に光ファイバの全長を取得し、所定の領域例えば1000m毎の伝達関数を計算して、所定の領域の温度分布の補正に使用する伝達関数を設定するようにしてもよい。上述したように、本実施形態によれば、ラックの増設や撤去等にともなって光ファイバの全長や測定ポイントが変化した場合に、適切な伝達関数を容易に設定することができる。これにより、精度が高い温度分布測定を継続して行うことができる。なお、本実施形態ではデータセンターの計算機ルームの温度分布測定について説明したが、開示の技術はオフィスビルや工場等の施設の温度分布測定に適用することもできる。"