"パイプ形状を含む丸棒の外形寸法を測定する丸棒外形寸法測定装置において、該丸棒の径よりも大きな径のレーザ光を照射するレーザ光源と、複数の受光素子を有して該レーザ光源からのレーザ光を受光する受光センサを有する受光部とを備え、該レーザ光源が、該レーザ光源と該受光部との間の位置で軸方向が前記レーザ光の光軸と直交する方向に配置された丸棒に、該レーザ光を照射し、該受光センサの複数の受光素子が、該丸棒の外形方向にライン状に配置され、該丸棒の外形の外側を通過した該レーザ光の強度を、該受光センサの受光素子毎に連続的に測定し、該丸棒の外形寸法を算出することを特徴とする丸棒外形寸法測定装置。前記受光部が、前記丸棒の外形の外側を通過したレーザ光を、該丸棒の外形側毎に分割するレーザ光分割手段を有すると共に、前記受光センサを該丸棒の外側毎に有することを特徴とする請求項1記載の丸棒外形寸法測定装置。前記受光部が、前記丸棒の外形の外側を通過したレーザ光を拡大するレーザ光拡大手段を有し、該レーザ光拡大手段で拡大されたレーザ光を前記受光センサで測定することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の丸棒外形寸法測定装置。前記受光センサが、ラインセンサで構成されていることを特徴とする請求項1~請求項3のいずれかに記載の丸棒外形寸法測定装置。前記受光センサの受光素子のうち、どの受光素子で前記丸棒の外形の外側を通過したレーザ光を受光したかを峻別し、該丸棒の外側付近を通過したレーザ光を受光した該受光素子で検出した該レーザ光の強度により該丸棒の外形寸法を算出することを特徴とする請求項1~請求項4のいずれかに記載の丸棒外形寸法測定装置。前記受光センサの受光素子のライン状の配置位置が異なる前記受光部を、前記丸棒の軸方向に所定間隔隔てて複数配置したことを特徴とする請求項1~請求項5のいずれかに記載の丸棒外形寸法測定装置。しかしながら、従来の寸法測定器は、測定対象物の影の映像をCCDで撮影し、その上で演算処理していることから、サンプリング速度を高速にすることができない。その結果として、移動する測定対象物の測定には不向きで、加工中の測定対象物を測定することが困難であった。本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、測定の応答遅れを考慮する必要のない高速サンプリングが可能で、測定の瞬時値から算出することで測定精度を向上させることができる丸棒外形寸法測定装置を提供することにある。請求項1記載の丸棒外形寸法測定装置は、丸棒の径よりも大きな径のレーザ光を照射するレーザ光源と、複数の受光素子を有して該レーザ光源からのレーザ光を受光する受光センサを有する受光部とを備え、レーザ光源が、レーザ光源と受光部との間の位置で軸方向がレーザ光の光軸と直交する方向に配置された丸棒に、レーザ光を照射し、受光センサの複数の受光素子が、丸棒の外形方向にライン状に配置され、丸棒の外形の外側を通過したレーザ光の強度を、受光センサの受光素子毎に連続的に測定し、丸棒の外形寸法を算出することを特徴とする。請求項2記載の丸棒外形寸法測定装置は、受光部が、丸棒の外形の外側を通過したレーザ光を、丸棒の外側毎に分割するレーザ光分割手段を有すると共に、受光センサを丸棒の外形側毎に有することを特徴とする。請求項3記載の丸棒外形寸法測定装置は、受光部が、丸棒の外形の外側を通過したレーザ光を拡大するレーザ光拡大手段を有し、レーザ光拡大手段で拡大されたレーザ光を受光センサで測定することを特徴とする。請求項4記載の丸棒外形寸法測定装置は、受光センサが、ラインセンサで構成されていることを特徴とする。請求項5記載の丸棒外形寸法測定装置は、受光センサの受光素子のうち、どの受光素子で丸棒の外形の外側を通過したレーザ光を受光したかを峻別し、丸棒の外側付近を通過したレーザ光を受光した受光素子で検出したレーザ光の強度により丸棒の外形寸法を算出することを特徴とする。請求項6記載の丸棒外形寸法測定装置は、受光センサの受光素子のライン状の配置位置が異なる受光部を、丸棒の軸方向に所定間隔隔てて複数配置したことを特徴とする。請求項1及び請求項4の発明によれば、受光センサの複数の受光素子が丸棒の外形方向にライン状に配置され、丸棒の外形の外側を通過したレーザ光の強度を、受光センサの受光素子毎に連続的に測定し、丸棒の外形寸法を算出することから、測定の応答遅れを考慮する必要のない高速サンプリングが可能で、測定の瞬時値から算出することで測定精度を向上させることができる。請求項2の発明によれば、受光部が、丸棒の外形の外側を通過したレーザ光を、丸棒の外側毎に分割するレーザ光分割手段を有すると共に、受光センサを丸棒の外形側毎に有することから、外側毎に測定を行うことで、より高精度な測定及び算出が可能となる。請求項3の発明によれば、受光部が、丸棒の外形の外側を通過したレーザ光を拡大するレーザ光拡大手段を有し、レーザ光拡大手段で拡大されたレーザ光を受光センサで測定することから、拡大されたレーザ光により、より高精度な測定及び算出が可能となる。請求項5の発明によれば、受光センサの受光素子のうち、どの受光素子で丸棒の外形の外側を通過したレーザ光を受光したかを峻別し、丸棒の外側付近を通過したレーザ光を受光した受光素子で検出したレーザ光の強度により丸棒の外形寸法を算出することから、より高速な測定及び算出が可能となる。請求項6の発明によれば、受光センサの受光素子のライン状の配置位置が異なる受光部を、丸棒の軸方向に所定間隔隔てて複数配置することで、受光素子間で隙間があったり測定できない部分があっても、測定抜けのない正確な測定及び算出が可能となる。以下、本発明の形態について図面を参照しながら具体的に説明する。図1は、本発明に係る丸棒外形寸法測定装置の構成の一例を示す構成図である。図2は、同丸棒外形寸法測定装置の受光部の詳細を示す説明図である。図3は、同丸棒外形寸法測定装置の他の構成を示す構成図である。図における丸棒外形寸法測定装置1は、パイプ形状を含む測定対象物である丸棒Wの外形寸法を測定するためのものである。丸棒外形寸法測定装置1は、図1に示すように基本的には、レーザ投光部10、受光部20及び電子計算機50とから構成されている。レーザ投光部10は、内部にレーザ光源12を有しており、固定台16に固定されている。また、受光部20は、内部に、レーザ投光部10から発射されたレーザ光を受光する受光センサ40を備え、必要に応じてレンズ22を介して受光するように構成されている。さらに、受光センサ40からの信号は、増幅器52を介してデジタル変換されて、電子計算機50に取り込まれるように構成されている。尚、電子計算機50は、大型コンピュータやパーソナルコンピュータ等の演算が可能な装置であればよく、コンピュータに限らず専用の電子回路のみで構成されているようなものでもよく、その形態により制限されるものではない。測定対象物である丸棒Wは、レーザ投光部10と受光部20との間の位置で軸方向がレーザ光の光軸と直交する方向に配置されて測定される。尚、図では、丸棒Wが水平に配置されて測定されるように図示されているが、必ずしも水平である必要はなく、後述の受光センサ40との位置関係が維持できていればよい。受光部20における受光センサ40は、具体的には図2に示されるような受光センサ42,44である。すなわち、受光センサ42,44は、複数の受光素子42a~42f,44a~44fで構成されている。そして、図2に示すように、受光センサ42,44の複数の受光素子42a~42f,44a~44fは、丸棒Wの外形方向にライン状に配置されている。丸棒Wの外形方向とは、丸棒Wの軸方向に直角な方向でもあり、丸棒Wの外周の上側の辺部を外側上部Wuとし、外周の下側の辺部を外側下部Wdとした場合、外側上部Wuと外側下部Wdとを結ぶラインに並ぶライン状となる。このような受光センサ42,44に適しているのは、ラインセンサである。そして、実際の測定では、受光センサ42,44は、丸棒Wの外形の外側外側上部Wu及び外側下部Wdを通過したレーザ光の強度を、受光素子42a~42f,44a~44f毎に連続的に測定し、丸棒Wの外形寸法を算出することになる。より具体的には、図2に示す丸棒Wの外側上部Wu及び外側下部Wdの外側の上部通過レーザ光LDu及び下部通過レーザ光LDdの強度を特に詳細に受光センサ42,44で連続的に測定する。次に、上部通過レーザ光LDu及び下部通過レーザ光LDdの測定及び丸棒Wの外形寸法の算出について説明する。基本的な測定及び算出は、受光センサ42,44の受光素子42a~42f,44a~44fの値を所定間隔たとえば10μsで連続的に採取して電子計算機50に取り込み、フィルタリングや平均化の処理を施した後に、取り込んだ数値から、外側上部Wu及び外側下部Wdの位置を求め、丸棒Wの外形寸法φを算出する。すなわち、外側上部Wu及び外側下部Wdの位置を検出し、その位置から丸棒Wの外形寸法を算出している。次に、寸法算出の計算の方法を示す。まず、受光センサ42,44の受光素子42a~42f,44a~44fの受光の様子を把握することで、大まかな寸法を知ることができる。具体的には、図2の受光センサ42でみると、受光素子42a、受光素子42e及び受光素子42fは、大きな受光量があり、この素子の周辺には、外側上部Wu及び外側下部Wdが位置しないことがわかる。また、受光素子42cの光量は極めて小さいことから、この素子の周辺にも外側上部Wu及び外側下部Wdが位置しないことがわかる。そして、受光量が中間的な受光素子42bや受光素子42dの周辺に、外側上部Wu及び外側下部Wdが位置していることがわかる。すなわち、受光素子42bや受光素子42dのそれぞれで測定された丸棒Wの外形上部Wu及び外形下部Wdを通過したレーザ光の強度を用いて、寸法を算出することができる。受光素子42bや受光素子42dでは、測定されたレーザ光の強度によって、素子のどの程度の面積にレーザ光が当たったのかが経験的にわかっており、強度により受光素子42bや受光素子42dのどの位置にレーザ光が当たったかが正確に推定できる。このことにより、受光素子42bや受光素子42dで、丸棒Wの外側上部Wu及び外側下部Wdの位置が算出され、丸棒Wの外形寸法φが算出される。上述のような丸棒外形寸法測定装置1によれば、受光センサ4042,44の複数の受光素子42a~42f,44a~44fが丸棒Wの外形方向にライン状に配置され、丸棒Wの外形の外側を通過したレーザ光の強度を、受光センサ4042,44の受光素子42a~42f,44a~44f毎に連続的に測定し、丸棒Wの外形寸法を算出することから、CCDの測定の場合のような測定の応答遅れを考慮する必要のない高速サンプリングが可能で、また、測定値の平均化が必要な従来の測定方法とは異なり、測定の瞬時値から算出することで測定精度を向上させることができる。このため、移動中や回転中の丸棒Wにおいてもその瞬時の寸法が測定できる。されに、凸凹な形状においても、従来の方法では凸凹が平均化された値になり実際の寸法とは異なった平均化された寸法となってしまうのに対し、本件の丸棒外形寸法測定装置1によれば、その凸部凹部の個々の寸法が測定できる。また、受光センサ42,44の受光素子42a~42f,44a~44fのうち、どの受光素子42a~42f,44a~44fで丸棒Wの外形の外側を通過したレーザ光を受光したかを峻別し、丸棒Wの外側付近を通過したレーザ光を受光した受光素子42a~42f,44a~44fで検出したレーザ光の強度により丸棒Wの外形寸法を算出することで、より高速な測定及び算出が可能となる。さらに、受光センサ42,44の受光素子42a~42f,44a~44fのライン状の配置位置が異なる受光部を、丸棒の軸方向に所定間隔隔てて複数配置することで、受光素子42a~42f,44a~44f間で隙間があったり測定できない部分があっても、測定抜けのない正確な測定及び算出が可能となる。尚、上述の説明では、受光センサの受光素子のライン状の配置位置が異なる受光センサ42及び受光センサ44を設けた場合について説明しているが、1系統でもかまわない。しかし、図2の受光センサ42,44のように、隣接する受光素子と受光素子との間に間が開いていたり受光できない部分があるような場合、受光素子44eで示されるように、丸棒Wの位置や揺れにより、受光素子の位置に丸棒Wの外側が来ないで正確な測定算出ができなくなってしまうケースもあり得る。このような場合に、受光センサ44だけだと、正確な算出ができなくなってしまうため、2系統以上の受光センサを設けることが好ましくなる。このため、その2系統の受光センサ42,44の受光素子42a~42f,44a~44fの位置は、隣り合う受光素子たとえば受光素子42aと受光素子44aとでは、丸棒Wに対しての配置位置が異なる必要がある。このように。受光センサをそれぞれに有する受光部を複数配置することにより、丸棒Wの外形寸法、位置や丸棒Wの揺れに影響されにくく正確な測定が可能になる。尚、受光センサ42と受光センサ44との間隔については、受光素子相互の間隔や、丸棒Wの移動速度や、丸棒Wの揺れの度合い等により適宜定めるようにする。上述の丸棒外形寸法測定装置1では、丸棒Wの脇を通過したレーザ光を、そのまま受光センサ40で受光する場合について説明しているが、他の光学系を介して受光することもできる。その例を示すのが、図3の丸棒外形寸法測定装置2である。丸棒外形寸法測定装置2では、レーザ光源12から発射されたレーザ光が、コリメートレンズユニット14で、より厳格な平行光にされて丸棒Wに照射される。そして、丸棒Wの外側を通り越したレーザ光は、その先に配置されたレーザ光分割手段である表面反射プリズム30で2つに分割される。表面反射プリズム30では、外側上部と外側下部のそれぞれ別々なレーザ光に分割される。そして、分割されたレーザ光は、それぞれに、反射プリズム32a,32bを介して、アモルフィックプリズムペア34a,34bに導かれる。アモルフィックプリズムペア34a,34bは、レーザ光を拡大するレーザ光拡大手段の一種類で、例えば、アモルフィックプリズムペア34a,34bでレーザ光を5倍に拡大する。次に、アモルフィックプリズムペア34a,34bで拡大されたレーザ光を、さらにビームエキスパンダ36a,36bで例えば10倍に拡大する。そして、拡大されたレーザ光を、外側上部と外側下部のそれぞれ別々な受光センサ46a,46bに受光させて、外側上部と外側下部のそれぞれで別々に、外側上部と外側下部の位置を測定し、丸棒Wの外形寸法φが算出させる。この丸棒外形寸法測定装置2によれば、受光部が、丸棒Wの外形の外側を通過したレーザ光を、丸棒Wの外形側毎に分割するレーザ光分割手段である表面反射プリズム30を有すると共に、受光センサ46a,46bを丸棒Wの外形側毎に有することから、外側毎に測定を行うことで、より高精度な測定及び算出が可能となる。また、丸棒外形寸法測定装置2の受光部が、丸棒Wの外形の外側を通過したレーザ光を拡大するレーザ光拡大手段であるアモルフィックプリズムペア34a,34bやビームエキスパンダ36a,36bを有し、レーザ光拡大手段で拡大されたレーザ光を受光センサ46a,46bで測定することから、拡大されたレーザ光により、より高精度な測定及び算出が可能となる。尚、図3の丸棒外形寸法測定装置2では、外側上部と外側下部で、別々の受光センサ46a,46bを用いて測定しているが、途中の光学系に加え、ビームエキスパンダ36a,36bの後段に、2つの拡大されたレーザ光を再び合成する光学系を設け、拡大して合成されたレーザ光を1つの受光部で測定し、丸棒Wの外形寸法φが算出させるようにしてもよい。"