"ピーク期間中のピーク電流及びベース期間中のベース電流を通電してアークを発生させ、CCDカメラによって前記アークの発生部を撮影し、この撮影された画像データを処理して磁気吹きの発生を判別するパルスアーク溶接の磁気吹き判別方法において、前記ピーク期間中の前期画像データから前記アークの中心位置を算出し、前記ベース期間中の前記画像データから前記アークの中心位置を算出し、これら両アークの中心位置のズレ量が基準値以上になったことを判別して磁気吹きの発生を判別する、ことを特徴とするパルスアーク溶接の磁気吹き判別方法。前記磁気吹きの発生を判別したときは警報を発する、ことを特徴とする請求項1記載のパルスアーク溶接の磁気吹き判別方法。前記磁気吹きの発生を判別したときは前記ベース電流を増加させる、ことを特徴とする請求項1又は2記載のパルスアーク溶接の磁気吹き判別方法。上述した従来技術では、ベース電圧の上昇によって磁気吹きによるアークの偏向を判別してベース電流を200A以上に増加させることによって、アーク切れの発生を防止している。しかし、ベース電圧の上昇による磁気吹き判別方法では、磁気吹きによってアークが大きく偏向してアーク長が長くなった状態を判別していることになる。これは、ベース電圧は磁気吹きによるアークの偏向が発生していなくても、送給速度の変動、ワイヤ突出し長さの変動、溶融池の不規則な運動等の種々な外乱によってアーク長が変動することに伴ってベース電圧も変動する。このような外乱によるベース電圧の上昇とは区別して磁気吹きの発生を判別するためには、上述した基準電圧値Vtを大きな値に設定する必要がある。この結果、磁気吹きによってアークが大きく偏向した状態で溶接を行うことになるために、ビード外観が悪くなる場合が生じる。すなわち、従来技術では、磁気吹きによるアーク切れに伴うビード外観の著しい悪化を防止することができるが、ビード外観がある程度悪くなることは避けられなかった。そこで、本発明では、磁気吹きによるアークの偏向状態が小さいときでも磁気吹きの発生を正確に判別することができるパルスアーク溶接の磁気吹き判別方法を提供することを目的とする。上述した課題を解決するために、請求項1の発明は、ピーク期間中のピーク電流及びベース期間中のベース電流を通電してアークを発生させ、CCDカメラによって前記アークの発生部を撮影し、この撮影された画像データを処理して磁気吹きの発生を判別するパルスアーク溶接の磁気吹き判別方法において、前記ピーク期間中の前期画像データから前記アークの中心位置を算出し、前記ベース期間中の前記画像データから前記アークの中心位置を算出し、これら両アークの中心位置のズレ量が基準値以上になったことを判別して磁気吹きの発生を判別する、ことを特徴とするパルスアーク溶接の磁気吹き判別方法である。請求項2の発明は、前記磁気吹きの発生を判別したときは警報を発する、ことを特徴とする請求項1記載のパルスアーク溶接の磁気吹き判別方法である。請求項3の発明は、前記磁気吹きの発生を判別したときは前記ベース電流を増加させる、ことを特徴とする請求項1又は2記載のパルスアーク溶接の磁気吹き判別方法である。本発明によれば、ピーク期間中の画像データからアークの中心位置を算出し、ベース期間中の画像データからアークの中心位置を算出し、これら両アークの中心位置のズレ量偏向量が基準値以上になったことを判別して磁気吹きの発生を判別する。このようにアークの偏向を直接画像データから判別するために、磁気吹きによるアークの偏向状態が小さいときでも磁気吹きの発生を正確に判別することができる。磁気吹きが判別されたときには、溶接条件の見直し、母材側ケーブルの接続位置の見直し等によって磁気吹きの発生が生じないようにすることができる。このために、良好な溶接品質を得ることができる。以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図1は、本発明の実施の形態に係るパルスアーク溶接の磁気吹き判別方法を実施するための溶接装置のブロック図である。以下、同図を参照して、各ブロックについて説明する。溶接電源PSは、一般的な消耗電極式パルスアーク溶接用の溶接電源であり、インバータ制御方式のものが使用される。溶接トーチ4から溶接ワイヤ1が定速で送給される。溶接トーチ4内の給電チップ図示は省略と母材2との間に溶接電源PSからの出力が供給されて、溶接電圧Vwが印加される。溶接ワイヤ1と母材2との間には、溶接電流Iwが通電するアーク3が発生して、溶接が行われる。溶接電流Iw及び溶接電圧Vwの波形は、図4で上述したとおりである。すなわち、ピーク期間Tp中はピーク電流Ipが通電してピーク電圧Vpが印加し、ベース期間Tb中はベース電流Ibが通電してベース電圧Vbが印加する。CCDカメラCMは、溶接方向前方からアーク発生部が撮影できるように溶接トーチ4に取り付けられている。このCCDカメラCMは、後述する撮影開始信号Gsが入力Highレベルされると、アーク発生部を1コマだけ撮影して、その画像データCmを出力する。このときのシャッター速度は、ピーク期間及びベース期間の長さを考慮して、0.5~2ms程度に設定される。このCCDカメラCMのレンズにはフィルタが装着されている。このフィルタは、非常に強いアーク光を減衰させて、アーク発生状態を鮮明に撮影するために装着される。電流検出回路IDは、上記の溶接電流Iwを検出して、電流検出信号Idを出力する。期間判別回路STは、この電流検出信号Idの値がしきい値未満のときはLowレベルベース期間となり、以上のときはHighレベルピーク期間となる期間判別信号Stを出力する。しきい値は300A程度に設定される。撮影開始回路GSは、この期間判別信号Stを入力として、期間判別信号StがHighレベルに変化すると短時間Highレベルになり、Lowレベルに変化すると短時間Highレベルになる撮影開始信号Gsを出力する。画像処理回路GCは、上記の期間判別信号St及び上記の画像データCmを入力として、期間判別信号StがHighレベルのときは画像データCmを第1画像メモリに保存し、期間判別信号StがLowレベルのときは画像データCmを第2画像メモリに保存し、下記の画像処理を行い、磁気吹き判別信号Adを出力する。1第1画像メモリに保存されている画像データを図2で後述するように処理して、ピーク期間中のアークの中心位置を算出する。2第2画像メモリに保存されている画像データを図3で後述するように処理して、ベース期間中のアークの中心位置を算出する。3ピーク期間中のアークの中心位置とベース期間中のアークの中心位置との偏向量ズレ量が基準値未満のときは磁気吹きが発生していないと判別してLowレベルとなる磁気吹き判別信号Adを出力し、偏向量が基準値以上のときは磁気吹きが発生していると判別してHighレベルとなる磁気吹き判別信号Adを出力する。警報回路ARは、上記の磁気吹き判別信号Adを入力として、磁気吹き判別信号AdがHighレベルのときは表示灯、ブザー等によって警報を発する。この警報によって、オペレータは磁気吹きの発生を早期に確実に認識することができる。また、磁気吹き判別信号Adを、ロボット溶接にあってはロボット制御装置又はネットワークを介して溶接工程を管理しているコンピュータに送信するようにしても良い。磁気吹き判別信号AdがHighレベル磁気吹き発生になった場合には、溶接条件の見直し、母材側ケーブルの接続位置の見直し等を行い、磁気吹きが発生しないようにする。さらには、磁気吹き判別信号AdがHighレベルになったときは、溶接を停止するようにする場合もある。上記の溶接電源PSは、上記の磁気吹き判別信号Adを入力として、磁気吹き判別信号AdがHighレベル磁気吹き発生のときは溶接電流Iwを形成するベース電流Ibの値を増加させるようにしても良い。増加されたベース電流Ibの値は、80~100A程度である。本発明では、従来技術に比べてアークの偏向が小さい状態を早期に判別することができる。このために、アークの偏向を修正するためのベース電流の増加値を小さくすることができる。この結果、ベース電流の増加によるビードへの影響は小さくなる。上記の撮影開始回路GS及び上記の画像処理回路GCと同等の処理を、パーソナルコンピュータによって行うようにしても良い。また、両回路を、上記の溶接電源PS又はロボット溶接にあってはロボット制御装置に内蔵しても良い。図2は、上述した画像処理回路GCにおいて、第1画像メモリに保存されているピーク期間中の画像データからアークの中心位置を算出する処理を説明するための図である。同図において、画像データは、X軸方向左右方向に510画素、Y軸方向上下方向に510画素から形成されている。したがって、左上の画素の座標は0,0となり、右下の画素の座標は510,510となる。画素の座標は、x,yによって特定することができる。同図の画像はアーク発生状態を溶接進行方向の前方から撮影したものである。同図において、実線で描かれているアーク3が実際の画像であり、破線で描かれている溶接ワイヤ1及び母材2はアークの発生位置を分かりやすくするために追加している。アーク3は、実際の画像ではその内部も輝度が大きい状態明るい状態であるが、図面を分かりやすくするために、その輪郭のみを描いている。溶接継手は、重ね継手の場合であり、下板に重ねられた上板の端部が非溶接部溶接線位置Pとなる。画像において、アーク3の発生部は、輝度が大きい状態にある。そこで、Y軸方向の各画素の輝度が、予め定めた基準輝度以上であるときはアーク3の発生部であると判別することができる。この判別をY軸方向に1ずつ移動しながら行うと、アーク3の全体の発生部を認識することができる。そして、認識したアーク3の左側輪郭線における一番左下の画素位置をQ1点とする。このQ1点の座標qx1,qy1を算出する。同様に、アーク3の右側輪郭線における一番右下の画素位置をR1点とする。このR1点の座標rx1,ry1を算出する。そして、Q1点とR1点とのX軸方向の真ん中であるアーク3の中心位置C1を、下式で定義する。C1=qx1rx1/2上述したように、ピーク期間中は大電流値のピーク電流が通電しているので、アークの硬直性が大きくなり、アークは変更しにくい。このために、ピーク期間中のアークの中心位置C1は、溶接線位置Pと略一致することになる。図3は、上述した画像処理回路GCにおいて、第2画像メモリに保存されているベース期間中の画像データからアークの中心位置を算出する処理を説明するための図である。同図は、ベース期間中に磁気吹きによってアーク3が左方向に偏向している場合である。同図は、上述した図2と対応しているので、同一事項についての説明は省略する。以下、同図を参照して、図2とは異なる点について説明する。画像において、アーク3の発生部は、輝度が大きい状態にある。そこで、Y軸方向の各画素の輝度が、上記の基準輝度以上であるときはアーク3の発生部であると判別することができる。この判別をY軸方向に1ずつ移動しながら行うと、アーク3の全体の発生部を認識することができる。そして、認識したアーク3の左側輪郭線における一番左下の画素位置をQ2点とする。このQ2点の座標qx2,qy2を算出する。同様に、アーク3の右側輪郭線における一番右下の画素位置をR2点とする。このR2点の座標rx2,ry2を算出する。そして、Q2点とR2点とのX軸方向の真ん中であるアーク3の中心位置C2を、下式で定義する。C2=qx2rx2/2ここで、偏向量ΔCを下式で定義する。ΔC=|C2-C1|そして、この偏向量ΔCが予め定めた基準値以上であるときは、アークが偏向していると判別する。基準値は、ベース期間中のアーク3が偏向していないときの中心位置C2と、偏向しているときの中心位置C2とを比較する実験を行って決定する。継手形状、送給速度、溶接速度等に応じてアークの形状が変化するので、基準値もそれに伴って適正値に変化させる。同図は上述したように、左方向にアーク3が偏向している場合であるので、アークの中心位置C2は、上記のピーク期間中のアークの中心位置C1に比べて小さな値となる。そして、偏向量ΔCが基準値以上となっているために、アークが偏向していると判別される。ピーク期間中のアークの輝度とベース期間中のアークの輝度とは異なるので、上記の基準輝度を両社で異なる値に設定しても良い。上述した実施の形態によれば、ピーク期間中の画像データからアークの中心位置を算出し、ベース期間中の画像データからアークの中心位置を算出し、これら両アークの中心位置のズレ量偏向量が基準値以上になったことを判別して磁気吹きの発生を判別する。このようにアークの偏向を直接画像データから判別するために、磁気吹きによるアークの偏向状態が小さいときでも磁気吹きの発生を正確に判別することができる。磁気吹きが判別されたときには、溶接条件の見直し、母材側ケーブルの接続位置の見直し等によって磁気吹きの発生が生じないようにすることができる。このために、良好な溶接品質を得ることができる。また、警報を発することによって、オペレータに磁気吹きの発生を早期に確実に認識させることができる。さらには、アークの偏向が小さい状態で判別し、ベース電流をビード外観に悪影響がない程度に増加させることで、磁気吹きによるアークの偏向を正常状態に戻すことができる。"