a互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する検査対象の電極パターンに、前記複数の電極部に電流が流れるように給電する給電部と、b前記複数の電極部に流れる電流によって生じた磁界の強さに応じた信号を出力する非接触プローブと、c前記非接触プローブを前記複数の電極部に近接させて保持する保持部と、d前記非接触プローブに接続された検査部と、を有する電極パターン検査装置において、イ前記保持部が、前記非接触プローブを前記複数の電極部に対して前記一方向に相対移動可能に保持するように構成され、かつ、ロ前記検査部には、前記非接触プローブによって出力された前記信号に基づいて、前記複数の電極部上における前記磁界の強さの前記一方向に沿う変化態様を取得する取得手段と、前記取得手段によって取得された前記変化態様に基づいて、前記複数の電極部のそれぞれが正常か否かを判定する判定手段と、が設けられていることを特徴とする電極パターン検査装置。前記電極パターンが、円筒状の基体の外周面上に前記複数の電極部を周方向に並列配置するように設けられ、かつ、前記電極パターン検査装置が、前記基体の軸芯を中心として当該基体を回転可能に支持する基体支持部をさらに有していることを特徴とする請求項1に記載の電極パターン検査装置。前記保持部が、前記非接触プローブを前記基体の半径方向上に位置づけて保持するように構成されていることを特徴とする請求項2に記載の電極パターン検査装置。前記電極パターンが、前記基体の軸芯と導通して設けられ、かつ、前記基体支持部が、前記基体の軸芯を回転可能に支持する導体からなる支持部材を有していることを特徴とする請求項2又は3に記載の電極パターン検査装置。上述の現像剤担持体103が有する外側電極34は、例えば、フォトリソ工法、スクリーン印刷工法、インクジェット工法、フレキソ印刷工法、オフセット印刷工法、グラビア印刷工法、エッチング、メッキ処理など、多様な方法又はこれら方法の組み合わせによって基体上に形成される。しかしながら、外側電極34の複数の電極部34aは、非常に微細なものであるので、所望の形状を得ることが難しく、そのため、断線や、隣接する電極部との短絡、電極幅の変動にじみ、欠け、などの異常形状に形成されてしまうことがある。そして、このような異常形状の電極部34aにおいては、正常形状に対してインピーダンスなどの電気特性が変化してしまうので、当該電極部を流れる電流に異常が生じてしまう。そのため、上記電界にも異常が生じて所望のフレアを発生することができなくなり、これにより、感光体に供給するトナー量が変動して、形成された画像に濃度ムラなどを生じさせるおそれがあるという問題があった。そのため、上述したような異常形状の電極部34aを含む外側電極34即ち、電極パターンを有する現像剤担持体103を検査によって排除する必要があった。従来、このような電極パターンの検査方法として、例えば、複数の電極部のそれぞれの両端に一対のプローブピンを接触させて給電し、各電極部に流れる電流値又は各電極部の抵抗値を測定することにより検査する方法があった。しかしながら、複数の電極部を1本ずつ検査するので、効率が非常に悪いという問題があった。また、複数の電極部を同時に検査するプローブピンアレイを作製して検査を行うようにすることで効率を改善できるが、電極パターンの形状毎にプローブピンアレイを用意する必要があるので、多品種に対応することができないという別の問題があった。また、これら方法では、電極部にプローブピンを直接接触させるので、電極部にストレスを与えてしまうことがあり、電極部の電気特性などが変化してしまうおそれがあるという問題もあった。また、上記方法では、複数の電極部のそれぞれが互いに電気的に独立している必要があるので、上述したような複数の電極部の一端部同士及び他端部同士が互いに短絡された電極パターンを検査することができなかった。また、非接触電圧センサを用いて複数の電極部を検査する方法が、特許文献2に開示されている。しかしながら、特許文献2の検査方法は、一端部同士のみが互いに短絡された櫛歯形状の複数の電極部において、互いに短絡されていない他端部における電圧を測定して検査するものであるので、この方法でも、上述したような電極パターンを検査することができなかった。また、非接触の電界測定プローブを用いて、複数の電極部のそれぞれから発せられる電界を測定することで、上述したような電極パターンを検査する方法が考えられる。しかしながら、このような方法では、電界測定プローブが電極部の異常箇所近傍を走査しないと当該異常を検出できないので、複数の電極部全体を走査しなければならず、そのため、検査に長時間を要してしまうという問題があった。また、複数の電界測定プローブを用いて、1つのプローブ当たりの走査範囲を小さくすることで検査時間を短縮できるが、装置コストが上昇してしまうという別の問題があった。本発明は、かかる問題を解決することを目的としている。即ち、本発明は、互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する電極パターンを、短時間で安価に検査することができる電極パターン検査装置を提供することを目的としている。請求項1に記載された発明は、上記目的を達成するために、a互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する検査対象の電極パターンに、前記複数の電極部に電流が流れるように給電する給電部と、b前記複数の電極部に流れる電流によって生じた磁界の強さに応じた信号を出力する非接触プローブと、c前記非接触プローブを前記複数の電極部に近接させて保持する保持部と、d前記非接触プローブに接続された検査部と、を有する電極パターン検査装置において、イ前記保持部が、前記非接触プローブを前記複数の電極部に対して前記一方向に相対移動可能に保持するように構成され、かつ、ロ前記検査部には、前記非接触プローブによって出力された前記信号に基づいて、前記複数の電極部上における前記磁界の強さの前記一方向に沿う変化態様を取得する取得手段と、前記取得手段によって取得された前記変化態様に基づいて、前記複数の電極部のそれぞれが正常か否かを判定する判定手段と、が設けられていることを特徴とする電極パターン検査装置である。請求項2に記載された発明は、請求項1に記載された発明において、前記電極パターンが、円筒状の基体の外周面上に前記複数の電極部を周方向に並列配置するように設けられ、かつ、前記電極パターン検査装置が、前記基体の軸芯を中心として当該基体を回転可能に支持する基体支持部をさらに有していることを特徴とするものである。請求項3に記載された発明は、請求項2に記載された発明において、前記保持部が、前記非接触プローブを前記基体の半径方向上に位置づけて保持するように構成されていることを特徴とするものである。請求項4に記載された発明は、請求項2又は3に記載された発明において、前記電極パターンが、前記基体の軸芯と導通して設けられ、かつ、前記基体支持部が、前記基体の軸芯を回転可能に支持する導体からなる支持部材を有していることを特徴とするものである。請求項1に記載された発明によれば、互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する電極パターンについて、給電部によって前記複数の電極部に電流を流して、保持部に保持された非接触プローブを上記一方向、即ち、複数の電極部の並列方向に相対移動させる。そして、検査部によって、非接触プローブから出力された信号に基づき、複数の電極部上における磁界の強さの前記一方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部のそれぞれが正常か否かを判定する。例えば、複数の電極部が同一間隔で同一形状に形成されている場合、複数の電極部にはそれぞれ同一電流値の電流が流れるので、複数の電極部上における磁界の強さの前記一方向に沿う変化態様は、一定周期かつ一定範囲内で変化するものとなる。ここで、一部の電極部に断線や短絡などの異常が生じると、当該一部の電極部におけるインピーダンスなどの電気特性が変化するので、当該一部の電極部に流れる電流値が他の電極部に流れる電流値に対して変化し、そのため、当該一部の電極部の生じる磁界の強さが変化する。また、複数の電極部のうち任意の一の電極部を流れる電流は、当該一の電極部の長手方向のどの部分でも同一電流値となるので、当該電流によって生じる磁界の強さも長手方向に同一となる。したがって、複数の電極部の長手方向の一箇所についてのみ、磁界の強さの前記一方向複数の電極部の並列方向に沿う変化態様を取得して、当該変化態様に基づいて当該複数の電極部のそれぞれが正常か否かを判定することができる。請求項2に記載された発明によれば、前記電極パターンが、円筒状の基体の外周面上に前記複数の電極部を周方向に並列配置するように設けられ、かつ、前記電極パターン検査装置が、前記基体の軸芯を中心として当該基体を回転可能に支持する基体支持部をさらに有しているので、円筒状の基体を回転可能に支持して、当該基体を回転させながらその外周面上に設けられた電極パターンの検査を行うことができる。請求項3に記載された発明によれば、前記保持部が、前記非接触プローブを前記基体の半径方向上に位置づけて保持するように構成されているので、当該非接触プローブと任意の一の電極部とが半径方向に相対されたときに、当該一の電極部を非接触プローブに最も近接させることができる。請求項4に記載された発明によれば、前記電極パターンが、前記基体の軸芯と導通して設けられ、かつ、前記基体支持部が、前記基体の軸芯を回転可能に支持する導体からなる支持部材を有しているので、給電部において電力を出力する一対の電極端子部のうち一方の電極端子部にのみ前記電極パターンに接続する接続端子を設け、他方の電極を支持部材に接続することにより、当該支持部材を通じて電極パターンに給電することができる。以上より、請求項1に記載された発明によれば、互いに間隔をあけて一方向に並列配置された複数の線状の電極部と当該複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の短絡部とを有する電極パターンについて、給電部によって前記複数の電極部に電流を流して、保持部に保持された非接触プローブを上記一方向、即ち、複数の電極部の並列方向に相対移動させ、そして、検査部によって、非接触プローブから出力された信号に基づき、複数の電極部上における磁界の強さの前記一方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部のそれぞれが正常か否かを判定するので、複数の電極部全体を走査することなく、複数の電極部の長手方向の一箇所について当該複数の電極部が並列された一方向に走査するのみで検査を行うことができ、そのため、電極パターンの検査を効率よく安価に行うことができる。請求項2に記載された発明によれば、前記電極パターンが、円筒状の基体の外周面上に前記複数の電極部を周方向に並列配置するように設けられ、かつ、前記電極パターン検査装置が、前記基体の軸芯を中心として当該基体を回転可能に支持する基体支持部をさらに有しているので、円筒状の基体を回転可能に支持して、当該基体を回転させながらその外周面上に設けられた電極パターンの検査を行うことができ、そのため、例えば、ローラ状の現像剤担持体が備える電極パターンなど、円筒状の基体の外周面上に設けられた電極パターンの検査を効率よく安価に行うことができる。請求項3に記載された発明によれば、前記保持部が、前記非接触プローブを前記基体の半径方向上に位置づけて保持するように構成されているので、当該非接触プローブと任意の一の電極部とが半径方向に相対されたときに、当該一の電極部が非接触プローブに最も近接され、そのため、他の電極部による磁界の影響が小さくなって、当該一の電極部による磁界の強さを正確に検出することができる。請求項4に記載された発明によれば、前記電極パターンが、前記基体の軸芯と導通して設けられ、かつ、前記基体支持部が、前記基体の軸芯を回転可能に支持する導体からなる支持部材を有しているので、給電部において電力を出力する一対の電極端子部のうち一方の電極端子部にのみ前記電極パターンに接続する接続端子を設け、他方の電極端子部を支持部材に接続することにより、当該接続端子と当該支持部材とを通じて電極パターンに給電することができる。そのため、基体支持部により基体の支持と電極パターンへの給電とを同時に実現でき、上記接続端子と対をなす他の接続端子を他方の電極端子部に設けた場合に必要となる、当該他の接続端子を電極パターンに接触させる工程を省略することができる。よって、検査をより高速に行うことができる。以下に、A:検査対象となる電極パターンを備えた現像剤担持体B1:本発明の電極パターン検査装置の第1の実施形態B2:本発明の電極パターン検査装置の第2の実施形態C:本発明の効果の検証について順に説明する。A:検査対象となる電極パターンを備えた現像剤担持体本発明の電極パターン検査装置では、例えば、図1a、bに示すような現像剤担持体が有する電極パターンの検査を行うものである。まず、このような現像剤担持体の構成の一例について説明する。図1a、bに示すように、現像剤担持体としてのトナー担持ローラ17は、円筒状の基体からなる内側電極25と、絶縁層24と、電極パターンとしての外側電極26と、表層23と、軸芯27と、を有している。内側電極25は、SUSやアルミニウム等の導電性材料を円筒状に成型した金属ローラ基体である。この内側電極25の外周面には、当該内側電極25の一端部25aを除いた部分にポリカーボネートやアルキッドメラミン等で形成された絶縁層24が密に重ねて形成されている。絶縁層24の層厚は、3μm~50μmの範囲内に設定されている。絶縁層24の上には外側電極26が形成されている。外側電極26は、アルミニウム、銅、銀などの金属で形成されている。外側電極26は、内側電極25の軸方向に平行な均一幅の直線状に形成されるとともに互いに同一間隔をあけて内側電極25の周方向請求項中の一方向に相当に並列配置された複数の電極部26aと、複数の電極部26aの一端部同士を連接する一方の被給電部26bと、複数の電極部26aの他端部同士を連接する他方の被給電部26cと、を有している。複数の電極部26aは、それぞれが同一形状に形成されている。これら複数の電極部26a、一方の被給電部26b及び他方の被給電部26cは一体に形成されており、全体として1つの梯子形状の外側電極26を構成している。外側電極26は、例えば、絶縁層24の上にメッキや蒸着によって金属膜を形成し、フォトレジストエッチングによって梯子形状に形成されている。または、外側電極26は、インクジェット方式やスクリーン印刷によって導電ペーストを絶縁層24の上に付着させて形成されていてもよく、本発明の目的に反しない限り、その形成方法は任意である。被給電部26b、26cは、請求項中の一対の短絡部に相当する。外側電極26の複数の電極部26a及び絶縁層24は、表層23により覆われている。これにより、内側電極25の一端部25a及び外側電極26の一対の被給電部26b、26cが露出された状態となる。表層23の材料として、シリコーン、ポリアミド、ウレタン、アルキッドメラミン、ポリカーボネート等が使用される。表層23の層厚としては、3μm~40の範囲内に設定されている。なお、図1aにおいて、説明の便宜上、表層23は記載を省略している。軸芯27は、硬質の導電性金属を用いて内側電極25より外径の小さい円柱棒状に形成されており、内側電極25の両端面から当該内側電極25と同軸に突出して設けられている。内側電極25と軸芯27とは導通されている。また、外側電極26の一方の被給電部26bには、内側電極25の一端部25aまで伸びる片部26dが設けられており、この片部26dによって、外側電極26と内側電極25とが導通されている。つまり、外側電極26と軸芯27とについても導通されている。この片部26dは、後述する電極パターン検査装置による検査終了後に取り除かれて、外側電極26と内側電極25とが絶縁される。トナー担持ローラ17では、内側電極25と外側電極26との間で作られる電界、より詳しくは、内側電極25の外側電極26とは対向していない部分外側電極26の複数の電極部26a間に位置する内側電極25の部分と外側電極26の複数の電極部26aとの間で作られる電界が、表層36の外側に形成されることで、トナー担持ローラ17上のトナーをホッピングさせ、これによりトナーをクラウド化させる。このとき、トナー担持ローラ17上のトナーは、内側電極25に絶縁層24を介して対向した表層23上の部分Aと、これに隣接する外側電極26の電極部26aに対向した表層23上の部分Bとの間を、飛翔しながら往復移動するように、ホッピングすることになる。トナーを安定してクラウド化させるためには、相応する大きさのフレア用電界を形成することが重要となるが、このような大きなフレア用電界を形成するためには内側電極25と外側電極26との間に大きな電位差を形成する必要がある。しかし、このような大きな電位差を安定して形成するためには、各電極の形状、特に、外側電極26の複数の電極部26aの形状を精度良く形成する必要がある。例えば、外側電極26の複数の電極部26aの一部に、図2aに示すような断線、図2bに示すような短絡、図2cに示すようなにじみ、図2dに示すような欠け、などの異常形状が生じると、当該異常形状の電極部26aの電気特性が変化する。これにより、当該異常形状の電極部26aを流れる電流と他の正常な電極部26aを流れる電流とに差異が生じてしまうので、当該異常形状の電極部26aにより生じる電界に異常が生じて適正なフレア用電界を形成することができなくなり、画像シロ抜けや濃度ムラなどの異常発生原因となる。本発明に係る電極パターン検査装置では、このような異常形状の電極の有無等について検査することができる。また、現像剤担持体として、上述したトナー担持ローラ17以外にも、例えば、図3a、bに示すトナー担持板18のように構成されたものであってもよい。このトナー担持板18は、内側電極25が矩形板状の基体であること、複数の電極部26aが内側電極25の幅方向図3aの上下方向であり、請求項中の一方向に相当に並列配置されていること、及び、軸芯27を有しないこと以外は、上述したトナー担持ローラ17と同様に構成されている。B1:本発明の電極パターン検査装置の第1の実施形態次に、電極パターン検査装置の第1の実施形態について、図4~図8を参照して説明する。この電極パターン検査装置は、図1a、bに示すトナー担持ローラ17の外側電極26の検査に用いられる。図4に示すように、電極パターン検査装置図中、符号500で示すは、ベース部505と、給電部510と、非接触プローブ520と、保持部530と、基体支持部540と、検査部550と、を有している。ベース部505は、例えば、鋼鉄などの金属で平板状に形成されており、工場のフロアや作業台などに設置される。このベース部505の上面には、保持部530及び基体支持部540が設けられている。給電部510は、例えば、周知のシグナルジェネレータなどで構成されており、任意の波形、任意の周波数でかつ任意の大きさの電力即ち、電流を出力する。この給電部510には、当該電力を出力する図示しない一対の電極端子部が設けられており、これら電極端子部には、導体片からなる一対の接続端子511a、511bが電線を介して接続されている。つまり、給電部510は、接続端子511a、511b間に所定の電力を出力することができる。一方の接続端子511aは、後述する基体支持部540に支持されたトナー担持ローラ17の外側電極26の他方の被給電部26cに当接され、他方の接続端子511bは、トナー担持ローラ17の軸芯27に当接される。給電部510は、後述する検査部550に接続されており、当該検査部550からの制御信号によって制御される。非接触プローブ520は、磁界中に位置づけられると当該磁界の強さに応じた信号を出力する部材である。本実施形態において、非接触プローブ520は、周知のループアンテナで構成されており、マクスウェルの電磁誘導則によりループ内の磁場即ち、磁界の強さの変化量に応じた電流信号を出力する。非接触プローブ520は、後述する検査部550に接続されており、検査部550に対して上記信号を出力する。保持部530は、非接触プローブ520を保持する。保持部530は、ベース部505の上面に設けられた直線棒状のスライダ531と、スライダ531上を当該スライダ531の長手方向図中矢印X方向に水平移動可能に設けられた台部532と、台部532から上方に立設された柱部533と、柱部533の側面から上記X方向に直交するように水平方向に立設された第1保持部分534と、第1保持部分534に水平方向図中矢印Y方向及び鉛直方向図中矢印Z方向に移動可能に設けられた第2保持部分535と、を有している。第2保持部分535には、非接触プローブ520が固定して取り付けられる。このとき、非接触プローブ520のループ開口が上記Y方向に向けられている。これにより、ループ開口が、上記複数の電極部26aによる磁界の向きと直交するように配置されるので、磁界の検出効率を向上できる。台部532及び第1保持部分534には、アクチュエータが設けられている。保持部530は、後述する検査部550に接続されており、当該検査部550からの制御信号によって台部532及び第1保持部分534に設けられたアクチュエータが制御されて、第2保持部分535に取り付けられた非接触プローブ520を、上記XYZ方向に移動させて任意の位置に位置づける。基体支持部540は、トナー担持ローラ17を回転可能に支持するとともに、トナー担持ローラ17を回転駆動する部材である。基体支持部540は、回転駆動部541と、従動部542と、を有している。回転駆動部541は、駆動本体部541aと、チャック541bと、を有している。駆動本体部541aは、箱状に形成されてベース部505の上面に配設されたケース内に、サーボモータ及び当該サーボモータの回転軸に接続された歯車などからなる回転伝達部を収容して構成されている。チャック541bは、円筒状に形成されており、一端が駆動本体部541aから水平方向に突出するように配置され、他端が回転伝達部に接続されている。また、チャック541bは、トナー担持ローラ17の軸芯27が内側に挿入されて、当該軸芯27を把持するように構成されている。回転駆動部541は、サーボモータを備えていることにより、チャック541bの回転角度、即ち、トナー担持ローラ17の回転角度を正確に制御することができる。即ち、チャック541bは、トナー担持ローラ17即ち、基体としての内側電極25の軸芯27を回転可能に支持するとともに、トナー担持ローラ17を回転駆動する。従動部542は、従動本体部542aと、支持部材542b、542cと、を有している。従動本体部542aは、箱状に形成されてベース部505の上面に、駆動本体部541aと間隔をあけて上記X方向に対向するように配設されている。一対の支持部材542b、542cは、例えば、銅などの導電性の金属などを用いて円柱形状に形成されており、それらの回転軸が上記X方向に平行になるように、互いに若干の間隔をあけて近接して従動本体部542aの上面に回転自在に設けられている。支持部材542b、542cは、それぞれの外周面にトナー担持ローラ17の軸芯27が当接するように、支持部材542b、542cの間に当該軸芯27が載置される。これにより、支持部材542b、542cと軸芯27とが導通される。即ち、導体からなる支持部材542b、542cは、トナー担持ローラ17即ち、基体としての内側電極25の軸芯27を回転可能に支持する。トナー担持ローラ17は、回転駆動部541及び従動部542によって支持されると、その軸方向が上記X方向に平行に配置される。また、基体支持部540即ち、回転駆動部541は、後述する検査部550に接続されており、当該検査部550からの制御信号によって制御される。検査部550は、周知のマイクロコンピュータなどで構成されている。検査部550は、CPU、ROM、RAM、記憶装置、入力装置、表示装置などを有している。CPUは、電極パターン検査装置500における各種制御を司り、ROMに記憶されている各種制御プログラムにしたがって本実施形態に係る制御を含む各種の処理を実行する。ROMは、前記制御プログラムやこの制御プログラムに参照されるパラメータなどの各種情報を記憶している。特に、ROMは、CPUを、取得手段、判定手段、などの各種手段として機能させるための制御プログラムを記憶している。そして、CPUは、この制御プログラムを実行することで前述した各種手段として機能する。RAMは、CPUが各種の処理を実行する上において必要なデータ、プログラム等が適宜記憶される。記憶装置は、例えば、ハードディスク装置やフラッシュメモリカードなどが用いられており、電源断となってもデータを保持できるように構成されている。この記憶装置には、後述する電極パターン検査処理で用いられる各種パラメータ等が記憶されている。入力装置は、周知のキーボード、マウスなどで構成されており、各種操作が入力される。表示装置は、液晶ディスプレイ装置、プリンタ装置などで構成されており、操作メニューや電極パターンの検査結果などが表示される。検査部550には、図示しない外部インタフェース部などを通じて、給電部510、保持部530、及び、基体支持部540、が接続されており、所定の制御信号を送受信することによりこれら各部位を制御するように構成されている。また、検査部550には、図示しないアナログ信号入力部に非接触プローブ520が接続されており、非接触プローブ520によって出力された信号がアナログ信号入力部で量子化されて、CPUに磁界の強さを示す数値情報として伝えられる。次に、検査部550のCPUによって実行される本発明に係る処理電極パターン検査処理1の一例を、図5のフローチャートを参照して説明する。始めに、電極パターン検査装置500の基体支持部540に、検査対象のトナー担持ローラ17をセットする。そして、一方の接続端子511aを、外側電極26の他方の被給電部26cに当接するように配置し、他方の接続端子511bを、軸芯27に当接するように配置する。これら一対の接続端子511a、511bは、トナー担持ローラ17が回転されると、他方の被給電部26c及び軸芯27に摺動して当接される。そのあと、電極パターン検査装置500に電源を投入すると、CPUは所定の初期化処理を実行する。CPUは、初期化処理が終了したあとに入力装置に所定の電極パターン検査処理開始操作が入力されると、電極パターン検査処理1を開始する。電極パターン検査処理1において、まず、非接触プローブを複数の電極部に近接する位置に移動するステップS110。具体的には、CPUは、保持部530を制御して、非接触プローブ520の先端がトナー担持ローラ17の外周面即ち、複数の電極部26aに0.1mm~0.5mm程度の間隔をあけて近接する位置に当該非接触プローブ520を移動する。このとき、上記接続端子511a、511bからの磁界の影響を回避するため、非接触プローブ520が移動される上記位置は、上記磁界の影響を受けない程度に接続端子511a、511bから離れた位置が望ましい。このように、保持部530は、非接触プローブ520を複数の電極部26aに近接させる。そして、この状態でトナー担持ローラ17が回転されることにより、非接触プローブ520は複数の電極部26aに対してトナー担持ローラ17の周方向に相対移動される。保持部530は、本検査処理が終了するまで、非接触プローブ520を上記位置に固定したまま保持する。次に、給電部510による外側電極26への給電を開始するステップS120。具体的には、CPUは、給電部510を制御して、一対の接続端子511a、511b間に所定の電力を出力する。本実施形態において、給電部510は、正弦波交流波形、周波数10MHz~100MHzの範囲、大きさ0dBm~10dBmの範囲の電力を出力する。これにより、複数の電極部26aに交流電流が流れて、当該複数の電極部26a上に磁界が生じる。次に、トナー担持ローラ17を回転させながら、磁界の強さを取得するステップS130。具体的には、CPUは、基体支持部540を制御して、トナー担持ローラ17を、複数の電極部26aの間隔より小さい所定角度回転させ、そして、この回転位置において非接触プローブ520が出力した信号を取得して、当該信号によって示される磁界の強さを当該回転位置と関連づけて記憶装置に記憶する。この動作をトナー担持ローラ17が1回転を超えて回転するまで繰り返す。このようにして、トナー担持ローラ17の回転に伴って周方向に沿って取得した磁界の強さを、上記回転位置順に並べることで複数の電極部26a上における磁界の強さの周方向に沿う変化態様となる。CPUは、上記信号の取得が終了すると、給電部510を制御して給電を停止し、基体支持部540を制御してトナー担持ローラ17の回転を停止する。次に、複数の電極部26a上における磁界の強さのトナー担持ローラ17の周方向の変化態様を判定するステップS140。具体的には、CPUは、記憶装置に記憶された磁界の強さと当該磁界の強さを取得した回転位置とに基づいて、磁界の強さが一定の基準範囲K例えば、上限から下限までの幅が1dB内で回転位置に沿って推移しているか否かを判定する。図6a~cに、回転位置と当該回転位置における磁界の強さとの関係、即ち、複数の電極部26a上における磁界の強さの周方向に沿う変化態様を模式的に示す。図6aは、複数の電極部26aに不具合が無い場合を示している。このような場合、複数の電極部26aのそれぞれには同一の電流値となる電流が流れるので、磁界の強さは、電極部26aの間隔に対応して一定周期で変化するとともに強さ大きさが一定の基準範囲K内に収まる。図6bは、一部の電極部26aが断線している場合を示している。このような場合、断線した電極部26aに電流が流れない又は小さい電流値の電流が流れるので、磁界の強さは、当該断線した電極部26a対応した回転位置において、周期が乱れるとともに強さ大きさが極端に小さくなって基準範囲Kを下回る。図6cは、一部の電極部26aが隣接する他の電極部26aと短絡している場合を示している。このような場合、短絡した電極部26aに多くの電流が流れるので、磁界の強さは、当該短絡した電極部26aに対応した回転位置において、周期が乱れるとともに強さ大きさが極端に大きくなって基準範囲Kを上回る。このように、CPUは、トナー担持ローラ17の周方向の磁界の強さが、回転位置全体に亘って基準範囲K内に収まっているとき、即ち、磁界の強さの最大値と最小値との差が基準範囲K以下であれば、複数の電極部26aが正常であると判定する。または、トナー担持ローラ17の周方向の磁界の強さのうち、一部が基準範囲Kからはみ出したとき、基準範囲Kの下側にはみ出していれば断線若しくは欠け等の異常が生じていると判定し、基準範囲Kの上側にはみ出していれば短絡若しくはにじみ等の異常が生じていると判定する。または、上記判定に代えて又は上記判定とともに、上記磁界の強さの周期変化が一定であるか否かによって、複数の電極部26aが正常又は異常かを判定しても良い。そして、CPUは、判定結果即ち、検査結果を表示装置に出力して、電極パターン検査処理1を終了する。上述したステップS130が、請求項中の取得手段に相当し、ステップS140が、請求項中の判定手段に相当する。以上より、本実施形態によれば、互いに間隔をあけてトナー担持ローラ17の周方向に並列配置された複数の電極部26aと当該複数の電極部26aの一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の被給電部26b、26cとを有する外側電極26について、給電部510によって複数の電極部26aに電流を流して、保持部530に保持された非接触プローブ520を周方向、即ち、複数の電極部26aの並列方向に相対移動させる。そして、検査部550によって、非接触プローブ520から出力された信号に基づき、複数の電極部26a上における磁界の強さの周方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部26aのそれぞれが正常か否かを判定する。上述したように複数の電極部26aが同一間隔で同一形状に形成されている場合、複数の電極部26aにはそれぞれ同一電流値の電流が流れるので、複数の電極部26a上における磁界の強さの周方向に沿う変化態様は、一定周期かつ一定範囲内で変化するものとなる。ここで、一部の電極部26aに断線や短絡などの異常が生じると、当該一部の電極部26aにおけるインピーダンスなどの電気特性が変化するので、当該一部の電極部26aに流れる電流値が他の電極部26aに流れる電流値に対して変化し、そのため、当該一部の電極部26aの生じる磁界の強さが変化する。また、複数の電極部26aのうち任意の一の電極部26aを流れる電流は、当該一の電極部26aの長手方向のどの部分でも同一電流値となるので、当該電流によって生じる磁界の強さも長手方向に同一となる。したがって、複数の電極部26aの長手方向の一箇所についてのみ、磁界の強さの周方向に沿う変化態様を取得して、当該変化態様に基づいて当該複数の電極部26aのそれぞれが正常か否かを判定することができる。してみると、本実施形態によれば、互いに間隔をあけてトナー担持ローラ17の周方向に並列配置された複数の電極部26aと当該複数の電極部26aの一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の被給電部26b、26cとを有する外側電極26について、給電部510によって複数の電極部26aに電流を流して、保持部530に保持された非接触プローブ520を周方向、即ち、複数の電極部26aの並列方向に相対移動させ、そして、検査部550によって、非接触プローブ520から出力された信号に基づき、複数の電極部26a上における磁界の強さの周方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部26aのそれぞれが正常か否かを判定するので、複数の電極部26a全体を走査することなく、複数の電極部26aの長手方向の一箇所について当該複数の電極部26aが並列された周方向に走査するのみで検査を行うことができ、そのため、電極パターンの検査を効率よく安価に行うことができる。また、外側電極26が、円筒状の内側電極25外周面上に複数の電極部26aを周方向に並列配置するように設けられ、かつ、電極パターン検査装置500が、トナー担持ローラ17の軸芯27を中心として当該トナー担持ローラ17を回転可能に支持する基体支持部540をさらに有しているので、トナー担持ローラ17を回転可能に支持して、当該トナー担持ローラ17を回転させながらその外周面上に設けられた外側電極26の検査を行うことができ、そのため、ローラ状のトナー担持ローラ17が備える外側電極26の検査を効率よく安価に行うことができる。また、保持部530が、非接触プローブ520をトナー担持ローラ17の半径方向上に位置づけて保持するように構成されているので、当該非接触プローブ520と任意の一の電極部26aとが半径方向に相対されたときに、当該一の電極部26aが、非接触プローブ520に最も近接され、そのため、他の電極部26aによる磁界の影響が小さくなって、当該一の電極部26aによる磁界の強さを正確に検出することができる。上述した本実施形態において、給電部510に接続された他方の接続端子511bをトナー担持ローラ17の軸芯27に接続するものであったが、これに限定されるものではない。例えば、図7に示すように、他方の接続端子511bに代えて、基体支持部540の従動部542の支持部材542b、542cを給電部510に接続するようにしてもよい。このようにすることで、給電部510は、一方の接続端子511aと支持部材542b、542cとの間に所定の電力を出力することができ、つまり、支持部材542b、542cを通じて外側電極26に給電することができる。そのため、基体支持部540によりトナー担持ローラ17の支持と外側電極26への給電とを同時に実現でき、一方の接続端子511aを他方の被給電部26cに接続するのみでよく、他方の給電端子511bを軸芯27即ち、電極パターンに接触させる工程を省略することができる。よって、検査をより高速に行うことができる。または、トナー担持ローラ17の外側電極26に片部26dを設けない構成、つまり、外側電極26と内側電極25とが導通されていない構成などにおいては、図8に示すように、他方の接続端子511bを、外側電極26の一方の被給電部26bに接続するようにしてもよい。B2:本発明の電極パターン検査装置の第2の実施形態次に、電極パターン検査装置の第2の実施形態について、図9~図11を参照して説明する。この電極パターン検査装置は、図3a、bに示すトナー担持板18の外側電極26の検査に用いられる。図9に示すように、電極パターン検査装置図中、符号500Aで示すは、ベース部505Aと、給電部510と、非接触プローブ520と、保持部530と、検査部550Aと、を有している。なお、上述した第1の実施形態と同一の構成要素については、同一符号を付して説明を省略する。ベース部505Aは、第1の実施形態と同様に、例えば、鋼鉄などの金属で平板状に形成されており、工場のフロアや作業台などに設置される。このベース部505Aの上面には、保持部530が設けられている。また、ベース部505Aの上面には、上述した第1の実施形態における基体支持部540に代えて平面状の固定領域506が設けられている。この固定領域506には、上記トナー担持板18が載置されて、例えば、ネジなどの図示しない固定手段によって当該トナー担持板18がベース部505A上面に固定される。検査部550Aは、第1の実施形態と同様のハードウェア構成を有し、周知のマイクロコンピュータなどで構成されている。検査部550AのCPUは、上述した電極パターン検査処理1に代えて、以下の電極パターン検査処理2を実行する。次に、検査部550のCPUによって実行される本発明に係る処理電極パターン検査処理2の一例を、図10のフローチャートを参照して説明する。始めに、電極パターン検査装置500Aの固定領域506に、検査対象のトナー担持板18をセットする。このとき、トナー担持板18の幅方向即ち、外側電極26の複数の電極部26aの並列方向が、図中Y方向に平行になるように配置する。そして、一方の接続端子511aを、外側電極26の他方の被給電部26cに当接するように配置し、他方の接続端子511bを、内側電極25の一端部25aに当接するように配置する。そのあと、電極パターン検査装置500Aに電源を投入すると、CPUは所定の初期化処理を実行する。CPUは、初期化処理が終了したあとに入力装置に所定の電極パターン検査処理開始操作が入力されると、電極パターン検査処理2を開始する。電極パターン検査処理2において、まず、非接触プローブを複数の電極部に近接する位置に移動するステップT110。具体的には、CPUは、保持部530を制御して、非接触プローブ520の先端がトナー担持板18の上面における幅方向の一縁部即ち、図9で一番手前の電極部26aに0.1mm~0.5mm程度の間隔をあけて近接する位置に当該非接触プローブ520を移動する。このとき、上記接続端子511a、511bからの磁界の影響を回避するため、非接触プローブ520が移動される上記位置は、上記磁界の影響を受けない程度に接続端子511a、511bから離れた位置が望ましい。このように、保持部530は、非接触プローブ520を複数の電極部26aに近接させる。次に、給電部510による外側電極26への給電を開始するステップT120。具体的には、CPUは、給電部510を制御して、一対の接続端子511a、511b間に所定の電力を出力する。本実施形態において、給電部510は、正弦波交流波形、周波数10MHz~100MHzの範囲、大きさ0dBm~10dBmの範囲の電力を出力する。これにより、複数の電極部26aに交流電流が流れて、当該複数の電極部26a上に磁界が生じる。次に、非接触プローブ520を複数の電極部26aの並列方向に移動させながら、磁界の強さを取得するステップT130。具体的には、CPUは、保持部530を制御して、非接触プローブ520を、トナー担持板18の上面との間隔を維持したままトナー担持板18の幅方向即ち、上記並列方向に複数の電極部26aの間隔より小さい所定距離移動させ、そして、この移動位置において非接触プローブ520が出力した信号を取得して、当該信号によって示される磁界の強さを当該移動位置と関連づけて記憶装置に記憶する。この動作を非接触プローブ520が複数の電極部26aのうち他方の端に位置するもの図9で一番奥の電極部26aを超えて移動するまで繰り返す。このようにして、トナー担持板18の幅方向に沿って取得した磁界の強さは、複数の電極部26a上における磁界の強さの当該複数の電極部26a並列方向に沿う変化態様を示す。CPUは、上記信号の取得が終了すると、給電部510を制御して給電を停止する。次に、複数の電極部26a上における磁界の強さの上記並列方向の変化態様を判定するステップT140。具体的には、CPUは、記憶装置に記憶された磁界の強さと当該磁界の強さを取得した移動位置とに基づいて、磁界の強さが一定の基準範囲K例えば、上限から下限までの幅が1dB内で移動位置に沿って推移しているか否かを判定する。具体的には、CPUは、トナー担持板18の上記並列方向の磁界の強さが、移動位置全体に亘って基準範囲K内に収まっているとき、即ち、磁界の強さの最大値と最小値との差が基準範囲K以下であれば、複数の電極部26aが正常であると判定する。または、トナー担持板の上記並列方向の磁界の強さのうち、一部が基準範囲Kからはみ出したとき、基準範囲Kの下側にはみ出していれば断線若しくは欠け等の異常が生じていると判定し、基準範囲Kの上側にはみ出していれば短絡若しくはにじみ等の異常が生じていると判定する。または、上記判定に代えて又は上記判定とともに、上記磁界の強さの周期変化が一定であるか否かによって、複数の電極部26aが正常又は異常かを判定しても良い。そして、CPUは、判定結果即ち、検査結果を表示装置に出力して、電極パターン検査処理2を終了する。上述したステップT130が、請求項中の取得手段に相当し、ステップT140が、請求項中の判定手段に相当する。以上より、本実施形態によれば、互いに間隔をあけてトナー担持板18の幅方向に並列配置された複数の電極部26aと当該複数の電極部26aの一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の被給電部26b、26cとを有する外側電極26について、給電部510によって複数の電極部26aに電流を流して、保持部530に保持された非接触プローブ520を幅方向、即ち、複数の電極部26aの並列方向に移動させる。そして、検査部550によって、非接触プローブ520から出力された信号に基づき、複数の電極部26a上における磁界の強さの幅方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部26aのそれぞれが正常か否かを判定する。上述したように複数の電極部26aが同一間隔で同一形状に形成されている場合、複数の電極部26aにはそれぞれ同一電流値の電流が流れるので、複数の電極部26a上における磁界の強さの幅方向に沿う変化態様は、一定周期かつ一定範囲内で変化するものとなる。ここで、一部の電極部26aに断線や短絡などの異常が生じると、当該一部の電極部26aにおけるインピーダンスなどの電気特性が変化するので、当該一部の電極部26aに流れる電流値が他の電極部26aに流れる電流値に対して変化し、そのため、当該一部の電極部26aの生じる磁界の強さが変化する。また、複数の電極部26aのうち任意の一の電極部26aを流れる電流は、当該一の電極部26aの長手方向のどの部分でも同一電流値となるので、当該電流によって生じる磁界の強さも長手方向に同一となる。したがって、複数の電極部26aの長手方向の一箇所についてのみ、磁界の強さの幅方向に沿う変化態様を取得して、当該変化態様に基づいて当該複数の電極部26aのそれぞれが正常か否かを判定することができる。してみると、本実施形態によれば、本実施形態によれば、互いに間隔をあけてトナー担持板18の幅方向に並列配置された複数の電極部26aと当該複数の電極部26aの一端部同士及び他端部同士を互いに短絡する一対の被給電部26b、26cとを有する外側電極26について、給電部510によって複数の電極部26aに電流を流して、保持部530に保持された非接触プローブ520を幅方向、即ち、複数の電極部26aの並列方向に移動させ、そして、検査部550によって、非接触プローブ520から出力された信号に基づき、複数の電極部26a上における磁界の強さの幅方向に沿う変化態様を取得して、この変化態様に基づいて複数の電極部26aのそれぞれが正常か否かを判定するので、複数の電極部26a全体を走査することなく、複数の電極部26aの長手方向の一箇所について当該複数の電極部26aが並列された幅方向に走査するのみで検査を行うことができ、そのため、電極パターンの検査を効率よく安価に行うことができる。上述した各実施形態において、非接触プローブ520の出力した信号に基づいて取得した磁界の強さが、トナー担持ローラ17の周方向及びトナー担持板18の幅方向、即ち、複数の電極部26aの並列方向全体亘って所定の基準範囲内に収まっているか否かによって、複数の電極部26aの正常異常を判定するものであったが、これに限定されるものではない。例えば、予備計測やシミュレーションなどによって、複数の電極部26aが正常な場合の磁界の強さの変化態様基準変化態様を準備しておき、取得した変化態様とこの基準変化態様とを比較することによって、複数の電極部26aの正常異常を判定するものであってもよい。このようにすることで、互いに形状配置間隔等が異なる複数の電極部を有する電極パターンについて検査を行うことができる。また、上述した各実施形態において、給電部510をシグナルジェネレータで構成するものであったが、これに限定されるものではない。給電部510を、例えば、固定周波数でかつ固定電流値の電流を出力することができる正弦波又は矩形波発振回路などで構成してもよく、本発明の目的に反しない限り、給電部510の構成は任意である。また、上述した各実施形態において、非接触プローブ520をループアンテナで構成するものであったが、これに限定されるものではない。例えば、磁気インピーダンス素子などで非接触プローブ520を構成するなど、磁界磁場の強さに応じた信号を出力できるものであれば、本発明の目的に反しない限り、非接触プローブ520の構成は任意である。また、上述した第1の実施形態において、非接触プローブ520をXYZ方向に移動可能なように保持部530を構成するものであったが、これに限定されるものではない。例えば、非接触プローブ520を、基体支持部540によって回転可能に支持されたトナー担持ローラ17の外周面に近接させて固定するものであってもよく、非接触プローブ520を複数の電極部26aに対して少なくとも当該複数の電極部26aの並列方向に相対移動可能に保持するものであれば、本発明の目的に反しない限り、保持部530の構成は任意である。また、上述した各実施形態においては、現像剤担持体に設けられた外側電極電極パターンの検査に用いる場合について説明するものであったが、これに限定されるものではない。上述した電極パターン検査装置を、例えば、プリント基板PWBやフレキシブルプリント基板FPC、フレキシブルフラットケーブルFFCなど、の検査に用いてもよく、本発明の目的に反しない限り、その検査対象は任意である。但し、FPCやFFCの検査に用いる場合、これらFPCやFFCにおいて間隔をあけて互いに並列配置された複数の配線部即ち、複数の電極部の一端部同士及び他端部同士を予め短絡しておき、これら複数の配線部を短絡した状態で検査を行い、検査終了後、短絡部分を取り除くなどして、複数の配線部をそれぞれ独立させる必要がある。C:本発明の効果の検証次に、本発明者らは、上述した電極パターン検査装置500を用いて、本発明の効果について検証を行った。本発明者らは、外径を16mm、長さを360mmとした内側電極25の外周面上に、厚みを20μmとして絶縁層24を形成し、この絶縁層24上に幅を0.1mm、長さを295mmとした電極部26aを内側電極25の周方向に0.15mm間隔で並列配置して外側電極26を形成して、さらに表層23を重ねて形成して、トナー担持ローラ17を作成した。このトナー担持ローラ17において、内側電極25と軸芯27とは導通されている。また、外側電極26の一方の被給電部26bには、内側電極25の一端部25aまで伸びる片部26dが設けられており、この片部26dによって、外側電極26と内側電極25とが導通されている。そして、このトナー担持ローラ17において、一部の電極部26aをそれに隣接する他の電極部26aと故意に短絡させるとともに、他の一部の電極部26aを故意に断線させた。そして、このようなトナー担持ローラ17を、図4に示すように、上述した電極パターン検査装置500にセットして、一方の接続端子511aを、外側電極26の他方の被給電部26cに当接するように配置し、他方の接続端子511bを、他方の被給電部26c寄りの軸芯27に当接するように配置する。そして、非接触プローブ520を、その先端とトナー担持ローラ17の外周面即ち、複数の電極部26aとの間隔が0.2mmとなる位置に移動させて、正弦波交流波形、周波数30MHz、大きさ10dBmの電力を給電して複数の電極部26aに電流を流して、このときのトナー担持ローラ17の回転位置と当該回転位置における磁界強さを取得した。図12に回転位置と当該回転位置における磁界強さとの関係を示すグラフ即ち、磁界強さの周方向に沿う変化態様を示す。図12の実線N=1は、非接触プローブ520をトナー担持ローラ17の他方の被給電部26c寄り図4の左側寄りの位置に配置して取得したグラフであり、破線N=2は、非接触プローブ520をトナー担持ローラ17の一方の被給電部26b寄り図4の右側寄りの位置に配置して取得したグラフである。左側の縦軸が実線グラフN=1の磁界強さを示し、右側の縦軸が破線グラフN=2の磁界強さを示す。図12から、非接触プローブ520による磁界検出位置をトナー担持ローラ17の軸方向に変えて磁界強さを検出したとき、それぞれの磁界強さは異なるものの、取得したグラフ形状が概ね同一になった。つまり、トナー担持ローラ17の軸方向の異なる位置において周方向に亘り磁界の強さを検出したときに、各位置での磁界強さのグラフ形状、即ち、磁界強さの周方向に沿う変化態様が同一であることが判った。なお、磁界検出位置によって磁界強さが異なる理由については、次のように考えられる。このトナー担持ローラ17では外側電極26と内側電極25とが絶縁層24を挟んで近接して配置されているので、擬似的にこれら電極間に微小なコンデンサが分布して配置されている構成とみなすことができる。そのため、図4に示すように、トナー担持ローラ17の一方の端部図4の左側寄りから交流電力を給電すると、他方の端部図4の右側寄りに向かうにしたがって、上記コンデンサを通じて電極間に電流が流れて上記他方の端部に向かう電流が減少してしまい、そのため、給電箇所から離れるにしたがって、磁界強さが弱くなるものと考えられる。また、図12から、磁界の強さは、概ね-75.5dB±0.5dBの範囲内又は-85.5dB±0.5dBの範囲内即ち、基準範囲1dBを推移しており、回転位置が0.25mm~0.5mmのときに磁界の強さが他に比べて大きくなり、回転位置が4.25mm~4.5mmのときに磁界の強さが他に比べて小さくなっていることが判る。そして、トナー担持ローラ17の外周面における回転位置が0.25mm~0.5mmの部分を確認すると、当該部分には短絡された電極部26aが設けられていた。これは、短絡によって電極部26aのインピーダンスが変化して、当該電極部26aを流れる電流値が大きくなり、そのため、当該部分の磁界の強さが大きくなったものと考えられる。また、回転位置が4.25mm~4.5mmの部分を確認すると、当該部分には断線された電極部26aが設けられていた。これは、断線によって電極部26aのインピーダンスが変化して、当該電極部を流れる電流値が小さくなり、そのため、当該部分の磁界の強さが小さくなったものと考えられる。以上より、実動作による検証でも本発明の効果を確認することができた。なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。