固体撮像素子131と、固体撮像素子からの出力を画像データに変換する演算処理回路203と、欠陥画素情報を有する記憶装置204と、欠陥画素の補正処理手段S304と、欠陥画素情報から補正に必要な範囲を判定する手段S304、S504と、画像合成処理手段S506とを有する撮像装置101において、通常撮影では、前記欠陥画素情報に基づく欠陥画素の補正をしS304、補正に使用しなかった欠陥画素の情報を現像した画像に添付しS307、画像合成時には、前記画像に添付された欠陥画素情報に基づいて、欠陥画素の追加補正を実施するS505ことを特徴とする、撮影装置の制御方法。前記の通常撮影時での欠陥画素情報の添付は、合成時の追加補正に必要となる範囲の欠陥画素情報を判定しS304、判定された範囲の欠陥画素情報を添付するS307ことを特徴とする、請求項1に記載の撮像装置の制御方法。前記の合成時の追加補正に必要となる範囲の欠陥画素情報の判定は、欠陥画素の程度に対するしきい値に基づいて判定することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の撮像装置の制御方法。前記の画像合成時の欠陥画素の追加補正は、合成時のゲイン乗算量に基づいて、補正が必要な欠陥画素の程度に対するしきい値を変更するS504ことを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか1項に記載の撮像装置の制御方法。前記の画像合成時の欠陥画素の追加補正は、合成枚数に基づいて、補正が必要な欠陥画素の程度に対するしきい値を変更するS504ことを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか1項に記載の撮像装置の制御方法。しかしながら、上述の特許文献に開示された従来の画像合成時の欠陥画素の追加補正技術では、他の撮像装置で撮影した画像を合成するような場合には、適用できないことがある。上記の欠陥画素補正は、図8のcに示すように、欠陥画素情報座標、大きさなどの情報を有していることが前提であるが、他の撮像装置で撮影した画像に対する欠陥画素情報が、合成に使用する撮像装置内には存在しないため、合成時の欠陥画素の追加補正が実施できないからである。これに対し、欠陥画素情報を添付するという方法もあるが、欠陥画素情報は数100KB~1MB程度のデータ容量があるため、全ての情報を単純に添付してしまうと外部記録媒体の記録可能枚数や連続撮影枚数を圧迫してしまう。そこで、本発明の目的は、画像のデータ容量を著しく増加させることなく、他の撮像装置で取得した画像を合成する際にも、欠陥画素の追加補正を実施することを可能にした撮像装置を提供することである。上記目的を達成するために、本発明は、画像には、最初の現像時に補正の必要がないと判断した軽度の欠陥の欠陥画素情報のみを添付し、画像合成時には、画像に添付された欠陥画素情報を参照して、欠陥画素の追加補正を実施することを特徴とする。本発明によれば、画像には撮像素子固有の欠陥画素情報が添付されているため、他の撮像装置で撮影された画像を使用して合成を行う際も、欠陥画素情報をもとにした欠陥画素の追加補正が可能な撮像装置を提供することができる。また、添付する欠陥画素情報を、追加補正に必要なもののみに限定することで、画像のデータ量の増加を最小限に抑えることができる。以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。[実施例1]以下、図1~7を参照して、本発明の第1の実施例による、画像合成時の欠陥画素の追加補正制御について説明する。図1は、本発明に係る第1の実施形態の撮像装置の断面図および背面図である。図1に示すように、101は撮像装置、102はマウント機構であり、不図示の撮影レンズ内部に絞りと結像光学系を有して取り外し可能は、このマウント機構102を介して撮像装置101本体に電気的及び機械的に接続される。131は固体撮像素子である。固体撮像素子131で捉えられた物体像は、プリント基板141に実装される演算処理回路203によって画像データに変換され、表示装置142に表示される。この表示装置142は、この撮像装置101の背面に取り付けられている。ハーフミラー121は、結像光学系からの光路L1を分割して光学ファインダに供給するための可動型のミラーである。フォーカシングスクリーン111は、物体像の予定結像面に配置されている。112はペンタプリズムである。レンズ113は、撮影時、ユーザが光学ファインダ像を観察するためのレンズであり、実際には複数のレンズで構成されている。フォーカシングスクリーン111、ペンタプリズム112、レンズ113、ファインダ114はファインダ光学系を構成している。ハーフミラー121の背後には可動型のサブミラー122が設けられており、ハーフミラー121を透過した光束の内、光路L1の光軸に近い光束を焦点検出部123に偏向している。サブミラー122は、ハーフミラー121の保持部材不図示に設けられた回転軸を中心に回転し、ハーフミラー121の動きに連動して移動する。尚、この焦点検出部123は、位相差検出方式により焦点検出を行う。ハーフミラー121とサブミラー122からなる光路分割系は以下の2つの状態を持つ。1つは上述のファインダ光学系に光を導くための第1の光路分割状態。もう1つは、不図示の結像レンズからの光束をダイレクトに固体撮像素子131に導くために撮影光路L1から退避した第2の光路分割状態図1の破線で示した位置:121a及び122aである。フォーカルプレンシャッタ124は先幕124aと後幕124bによって構成される。先幕124aと後幕124bはそれぞれ複数枚の薄膜遮光素材によって構成され、これらを開閉動作させることにより固体撮像素子131への露光量を制御する。125は測光部であり、光電変換素子によって構成される。マウント側からの入射光の一部がハーフミラー121によって分離されて測光部に入射しており、測光部の出力から固体撮像素子131表面の輝度を間接的に知覚することができる。141は電子回路基板を示す。電子回路基板の詳細の回路構成については、図2のブロック図で示す。142は液晶表示装置を示す。液晶表示装置は、液晶パネル部、およびバックライトによって構成され、制御回路202および203によってバックライトの輝度の変更が可能である。液晶表示部に表示される内容には、撮像装置の設定を選択するメニュー画面や撮影した画像の再生画面などがある。レリーズボタン151はボタンの押下げ位置により、撮影準備状態SW1と撮影開始SW2の2つの状態をもつ。操作部152は、複数のボタンによって構成され、それぞれ異なる機能を持つ。例えば、液晶表示装置のON/OFFの制御ボタン、メニュー画面での機能選択ボタン、画像再生画面で機能選択ボタンおよび画像選択ボタン等がある。操作部153は、152以外の操作部であり、ダイヤル、十字ボタン等である。機能は152と同様、メニュー画面での機能選択や画像再生画面で機能選択および画像選択に使用する。図2は、本発明に係る第1の実施形態の撮像装置のブロック図である。図2において、141はプリント基板で、撮像装置の動作を主として制御する制御回路202が搭載されている。また、プリント基板141には、固体撮像素子131に蓄積された電気信号から画像データを生成したり、撮影した画像を表示装置142に表示するための信号処理をしたりする演算処理回路203と、生成された画像データを一時的に保存する記憶回路204が搭載されている。211はシャッター及びミラーの駆動回路で、固体撮像素子131を適正に露光させる為にシャッター124の開閉制御や、ハーフミラー121およびサブミラー122のアップ/ダウンの制御を行う。212はスイッチ回路で、撮像装置を撮影準備状態とするスイッチ、撮影動作を開始するスイッチ、撮影条件を選択する為のスイッチ等がある。213は操作検出回路で、図1の152、153で示した撮像装置内に設けられたダイアルを含む多数の操作部材の信号を制御回路202に伝達する。221は電池222の電圧を撮像装置を構成する各回路ユニットが必要とする電圧に変換して供給する電源回路である。図3は、本発明に係る第1の実施形態の撮像装置の、最初の画像現像における現像処理および欠陥画素情報の添付処理を示す図である。本処理は、図2に記載の演算処理回路203にて実行される。S301において、固体撮像素子131から出力される電気信号をADし、S302において固体撮像素子の仕様に基づいて2次元の画像データとなるように配列させる。次に、S302で生成した画像データに対し、最初の欠陥画素補正を実施する。S303において、記憶回路204に保存された欠陥画素情報を読み出し、S304において、読み出した欠陥画素情報を基に、欠陥画素を抽出し補正する。補正にあたっては、すべての欠陥画素について補正をするのではなく、撮影条件に応じて、欠陥の程度についての補正対象範囲を変更する。ここで、撮影条件とは、露出時間、ISO感度、温度などであり、一般的に長秒、高ISO、高温になる程、軽度の欠陥も補正することとなる。S305、S306では、欠陥画素補正以外の補正を実施する。S305では、固体撮像素子固有の電気的特性、または光学的特性に対するオフセットゲイン補正を実施し、S306では、WBなどの現像設定に応じて、ゲイン補正などを実施する。S307において、撮影条件現像設定などメタデータを添付して、S308において、圧縮前の画像ファイルを生成する。本実施例では、S307において、欠陥画素情報を添付する処理を実施する。ここで添付される欠陥画素情報は、S304において補正の必要がないと判断された軽度の欠陥のみとする。以降、S309では、現像設定に応じて画像の圧縮処理などを実施し、S310においてJPEG画像を生成する。以上が、最初の現像時における現像処理および欠陥画素情報の添付処理である。図4は、本発明に係る第1の実施形態の、欠陥画素情報の添付処理のイメージ図である。401は、欠陥画素情報の要素のうち、欠陥の程度と個数をパラメーターとしてグラフ化したヒストグラムである。横軸は欠陥の程度を示し、右へ行くほど欠陥の程度が重度であることを示している。縦軸は欠陥画素の個数を示している。402は、図3のS304における欠陥画素の補正処理において、補正の要否判定をした際の境界線であり、402よりも右側の斜線領域403aにある欠陥がS304での補正対象となっている。図3のS307での欠陥画素情報の添付処理では、境界線402より左側の縦線領域403bにある、304では補正不要と判断された軽度の欠陥の情報のみを添付する。410~412は、図3のS301~S307までの処理によって形成される画像のイメージ図である。411では、重度の欠陥が補正され、補正が不要と判断された軽度の欠陥は残っている。412では、補正が不要と判断された軽度の欠陥情報座標、欠陥の程度、etcが画像ファイルに添付される。また、添付される欠陥画素情報は、補正が不要と判断されたものすべてを添付する必要はなく、撮影条件や想定される合成条件を考慮して、さらに限定をかけても良い。例えば、極めて軽微な欠陥画素など、合成時のゲイン乗算によっても画質への影響の恐れがないと考えられる欠陥画素の情報は、添付しないとしても良い。図5は、本発明に係る第1の実施形態の、撮像装置内での合成処理における欠陥画素の追加検出補正処理を示すシーケンスと、各処理によって生成される画像のイメージ図である。本シーケンスは、図2に記載の演算処理回路203にて実行される。S501では、合成に使用する画像の読み込みを行う。ここでは、3枚の画像501a~cを合成する場合を例として解説する。S502では、合成対象となる画像に添付された欠陥画素情報を抽出する。画像501a~cから抽出した欠陥画素情報をヒストグラム化したものが、図の502a~cである。S503では、合成対象となる画像に対し、合成のためにそれぞれの画像にゲインを乗算する。S504では、欠陥画素の追加補正に先立ち、S503で決定された各画像に対するゲインに応じて、追加補正の対象範囲を決定する。図の503a~cは、合成前の画像に添付された欠陥画素情報のヒストグラムに、追加補正対象範囲を斜線領域で追記したものである。ここでは、画像501aおよびcにプラス方向のゲインを乗算する場合を例としている。S505では、S504で補正の必要があると判断された欠陥画素に対し、追加の補正を実施する。S506では、S505で欠陥画素の追加補正を実施した各画像を基に、合成処理を実施する。図6は、本発明に係る第1の実施形態の、欠陥画素の追加補正における、補正の要否の判断に関する制御の例である。図6のaは、典型的な欠陥ヒストグラムと、撮影条件に応じた補正対象範囲を示す図である。ここで、601~604に、4段階の補正対象範囲を例示する。601は、補正する欠陥の数が最も少なくなる場合で、重度の欠陥のみを補正する。具体的には、短秒露光かつ低ISOでの撮影が該当する。以下、602→603→604と、補正対象範囲を広げ、軽度の欠陥画素も補正の対象とする。図6のbは、撮影条件と601~604に示す補正対象範囲との組み合わせを示す図である。この例では、欠陥の補正要否の判断材料として、露光時間、ISO感度を挙げている。横軸はISO感度を示し、右にいく程ISOが高く、縦軸は露光時間を示し、上にいく程露光時間が長い。表中の611~614は、露出秒時ISO感度に応じて欠陥画素補正範囲を切り替える様子を示し、それぞれ図6のaに示した欠陥画素補正範囲601~604に対応する。一般に高ISOかつ長秒になるほど、軽微なキズも補正対象とすることとなり、図6のaに示す601の補正対象範囲Aを適用することとなる。図6のcは、504での補正の要否を判断するにあたり、多重化の前処理としてのゲイン乗算処理に応じて、補正対象とする欠陥範囲を選定する例である。当然ながら、ゲイン乗算処理において、乗算するゲインが大きい程、欠陥は強調されることとなる。この例では、1段分のゲイン×2が乗算されるたびに、補正対象範囲を1段分広げることとしており、露出時間ISO感度が同じでも、ゲインが大きくなるに従い、補正対象範囲もD→C→B→Aと広がっていくこととなる。以上が、本発明に係る第1の実施形態である。図1~6に記載の制御方法を実施することで、他の撮像装置で撮影した画像を使用して画像合成をする際も、欠陥画素の追加補正が可能となる。また、画像ファイルに添付する欠陥画素情報も必要最低限に抑えられるため、記録可能枚数への影響も小さい。[実施例2]以下、図1~6および8を参照して、本発明の第2の実施例による、画像合成時の欠陥画素の追加補正制御について説明する。本実施形態は、撮像装置の構成、欠陥画素情報の添付処理は第1の実施形態と同じであるが、合成時の欠陥補正処理シーケンス中の、補正適用範囲の判定処理が異なる。以下、本実施例における制御について説明する。撮像装置の構成は、第1の実施形態と同じであり、図1、2で説明したものと同じである。最初の現像時の欠陥補正欠陥情報の添付処理は、図3、4で説明したものと同じである。合成時の欠陥補正処理は、図5で説明したものと同じである。図7のaおよびbは、本発明に係る第2の実施形態の、欠陥画素の追加補正における、補正適用範囲の判定処理の例である。図7のaは、典型的な欠陥ヒストグラムと、撮影条件に応じた補正対象範囲を示す図であり、実施例1と同じである。図7のbは、504での補正の要否を判断するにあたり、多重化枚数に応じて補正対象範囲を切り替える制御を示す。多重化処理により、同じ座標に位置する欠陥画素は重畳されていくため、多重化による欠陥の程度の悪化は多重化枚数に依存する。また、図8のaの例2に示すように、座標の異なる欠陥であっても、多重化によって近い位置に集合してしまうことにより、欠陥が目立ちやすくなることがある。この場合でも、多重化枚数が増えるほど欠陥画素の分布密度は高くなる方向にあるため、多重化枚数に依存する。よって、多重化枚数をパラメーターとして、補正対象範囲を切り替える必要がある。ここでは、仮に多重化枚数が1枚増える毎に、補正対象範囲も1段広げる制御を例としており、露出時間ISO感度が同じでも、多重化枚数が増えるに従い、補正対象範囲もD→C→B→Aと広がっていくこととなる。以上が、本発明に係る第2の実施形態の制御シーケンスである。図1~6および8に記載の制御方法を実施することで、他の撮像装置で撮影した画像を使用して画像合成をする際も、欠陥画素の追加補正が可能となる。また、画像ファイルに添付する欠陥画素情報も必要最低限に抑えられるため、記録可能枚数への影響も小さい。以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。