"被測定光の光軸左右方向に一列に配置した複数の受光素子を当該被測定光の光源からの10m近似面に配置し、この受光素子を前記被測定光の光軸上下方向に移動させる機構と、当該移動中の前記受光素子の出力に基づいて前記被測定光の10m近似面における配光パターンを測定する回路とを備えた配光パターン測定装置。前記受光素子を備えた受光回路ユニットと、前記配光パターンを測定する回路を備えた計測表示回路ユニットとを分離し、前記受光素子の出力に基づくデータを光通信により前記受光回路ユニットから前記計測表示回路ユニットに送信するように構成した請求項1に記載の配光パターン測定装置。前記複数の受光素子の感度のバラツキを示す値を、等光度光源を受光した前記複数の受光素子の出力値に基づいて取得し、メモリに記憶し、前記配光パターンを測定する回路が、前記受光素子の感度のバラツキを示す値に基づいて前記複数の受光素子の出力値を等感度に補正する機能を備えた請求項1又は2に記載の配光パターン測定装置。請求項1乃至3のいずれかの配光パターン測定装置を備えたヘッドライトテスタ。本発明は、かかる従来例の有する不都合を改善し、特に、従来よりも安価なヘッドライトテスタを提供し得る配光パターン測定装置の実現を課題とする。この課題を解決するため、本発明は以下の構成を採る。被測定光の光軸左右方向に一列に配置した複数の受光素子を当該被測定光の光源からの10m近似面に配置し、この受光素子を前記被測定光の光軸上下方向に移動させる機構と、当該移動中の前記受光素子の出力に基づいて前記被測定光の10m近似面における配光パターンを測定する回路とを備えた配光パターン測定装置。本発明によれば、10m近似面において、ヘッドライトの光軸左右方向に整列した一列の受光素子を光軸上下方向に移動させて配光をスキャンするので、光線を10m先で受光する大型で高価な装置や、配光をCCDカメラで撮像し画像処理を行う装置に比べ、コンパクトで安価な配光パターン測定装置を実現することができる。以下、本発明の一実施形態を図面を参照しつつ説明する。図1は、本発明の一実施形態である配光パターン測定装置配光PTN測定装置100を備えたヘッドライトテスタの概略構成図である。図中右側に正面図を示し、左側に左側面から見たテスタ内部の概略構成を図示した。ヘッドライトテスタの正面下段には、車両のヘッドライトの光線を入射させるフレネルレンズ101を備えている。また、正面中段には、10m近似面における当該光線の光度と光軸の振れ具合とを表示する表示部102と、表示を制御するスイッチ群104と、配光パターン測定装置の電源スイッチ105とを備えている。また、正面上段には、光線の配光パターンを投影するスクリーン106が設けられている。フレネルレンズ101に入射した光線は、ビームスプリッタハーフミラー107において分光され、その反射光はスクリーン106へ向かい当該スクリーン106に配光パターンを投影する。一方、ビームスプリッタ107を透過した光線は、ミラー108に反射され、ヘッドライトテスタ内部の上方に配置された配光パターン測定装置100に入射する。図中の矢印は光線の光路を示している。フレネルレンズ101、ビームスプリッタ107およびミラー108は、配光パターン測定装置100の受光素子が配置された面に、10m近似面を構成するように、それぞれ配置されている。10m近似面とは、ヘッドライトの光線を光学系を通さずに10m先で受光したのと同じ配光を、光学系を通すことによってより近距離で得られる面をいう。ただし、光学系を通すことにより配光パターンは縮小される。表示部102は、光軸の振れを表す十字に配置された発光素子群102aと、光軸の左右方向の振れと上下方向の振れと光度とを数値であらわす表示器102bとを備えている。また、スイッチ群104は、ヘッドライトテスタによって測定する光線を走行用前照灯またはすれ違い用前照灯から選択する前照灯種別選択スイッチを含んでいる。図2は、配光パターン測定装置100の概略構成図である。配光パターン測定装置100は、ヘッドライトからの光線を受光素子によって受光する受光回路ユニット200と、この受光回路ユニット200から光通信によりデータを取得し、ヘッドライトからの光線の配光パターンを計測し、その計測結果に基づいて光軸の振れ具合や光度を表示器に表示する計測回路ユニット300とを備えている。図3および図4は、受光回路ユニット200の構成図である。ここでは、図3の中央に示した図を正面図とし、図3の上方に示した図を平面図、図3の下方に示した図を底面図とする。また、図4を右側面図とする。実際には、受光回路ユニットの正面図は、ヘッドライトテスタの筺体の上側から見た状態を示している。同底面図は、ヘッドライトテスタの正面側から見た状態を示している。受光回路ユニット200の固定ベース板10は、入射する光線に略直交する平面に沿って配置され、ヘッドライトテスタの筺体内側に固定されている。固定ベース板10の略中央にはロ字状の開口11が設けられ、光線は正面図の奥から手前に向かってこの開口11を通過する。この開口11を通過した光線の光路上には、受光回路基板20が配置されている。受光回路基板20は、当該光線の光軸の左右方向における幅が開口11の幅と同程度に設定され、光軸の左右方向において開口11の全幅と受光回路基板20の全幅とがほぼ重なるように配置されている。この受光回路基板20は、可動ベース板30に固定されている。受光回路基板20および可動ベース板30は、固定ベース板10との平行を保持しながら、光軸の上下方向にスライド運動できるようになっている。受光回路基板20は、可動ベース板30の上にスペーサを介して載置され固定されている。可動ベース板30は、受光回路基板20の一端側と他端側において、ガイド機構40,50に支持され、固定ベース板10との平行を保っている。また、可動ベース板30および受光回路基板20は、このガイド機構40,50に支持されながら、固定ベース板10と平行なスライド運動をできるようになっている。受光回路基板20の一端側に配置されたガイド機構40は、ガイドレール41とローラー42とで構成されている。ガイドレール41は、固定ベース板10に固定され光軸の上下方向に直線状に設けられている。ローラー42は、回転軸を可動ベース板30に固定され、ガイドレール41に当接しながら回転するようになっている。ガイドレール41には、光軸の左右方向に突き出たV字状の山が光軸の上下方向に直線状に形成され、このV字状の山を常に咥えるようにローラー42の側面にはV字状の溝が一周設けられている。このV字状の山と溝とが常に当接しながらローラー42が回転する。一方、受光回路基板20の他端側に配置されたガイド機構50は、ガイドシャフト51とスライド部材52,52とによって構成されている。ガイドシャフト51は、可動ベース板30上を光軸の上下方向に直線状に掛け渡され、両端をシャフトホルダ53,53によって固定ベース板10に固定されている。スライド部材52,52は、可動ベース板30に固定されると共にガイドシャフト51に挿通され、ガイドシャフト51に沿って可動ベース板30および受光回路基板20のスライド運動を案内する。このようなガイド機構40,50により、固定ベース板10に対する受光回路基板20および可動ベース板30の平行と光軸左右方向の位置決め並びに光軸上下方向へのスライド運動を実現することができ、かつ、組み付け精度を維持しながらガイド機構40,50を構成する部品点数を削減することで、装置の低価格化に寄与する。可動ベース板30は、光軸左右方向において一端部がガイド機構50の外側に延設されており、その端部にはロータリーエンコーダ31が固定されている。ロータリーエンコーダ31の回転軸は可動ベース板30がスライドする面の法線方向に向けられ、回転軸には当該回転軸を中心として回転するギア32が固定されている。固定ベース板10には、光軸上下方向に沿う直線状のギア歯33が固定されており、このギア歯33とロータリーエンコーダ31に固定されたギア32とが常に噛み合うように構成されている。これにより、固定ベース板10に対して可動ベース板20が光軸上下方向にスライドすると、その変位をロータリーエンコーダ31の出力に基づいて得られるようになっている。可動ベース板30は、往復スライダクランク機構によって、スライド運動を付勢される。往復スライダクランク機構は、固定ベース板10に固定された駆動モータ12と、この駆動モータ12の回転に伴って回動するクランク13と、このクランク13と可動ベース板30とを繋ぐロッド14とにより構成されている。この往復スライダクランク機構は、可動ベース板30がスライドする面と直交する面のうち光軸上下方向の面に沿って運動するように構成されている。本実施形態において、クランク13と可動ベース板30とを繋ぐロッド14には板バネ状の比較的薄い材料を用いている。スライダクランク機構の組み付け誤差をロッド14の多少の変形により吸収するためである。この往復スライダクランク機構により、可動ベース板30および受光回路基板20が光軸上下方向にスライドし往復動作を行う。受光回路基板20には、光軸左右方向に沿って16個の受光素子21が等間隔を隔てて一列に配置され固定されている。各受光素子の受光面は、開口11の側を向いており、開口11を通過した光線を各受光素子21に受光できるように、可動ベース板30の中央部にも開口が設けられているものとする図示略。これらの一列の受光素子21は、光軸上下方向において、開口11の一端部から他端部までスライドされるようになっている。前述のとおり、この受光素子21のスライドする面が光学系によって10m近似面に設定されており、この10m近似面における光線の配光を、16個の受光素子により平面的にスキャンすることが可能となる。イメージとしては、例えば図6や図7に示す配光パターンの光度を1から16の数字で示す各受光素子によりスキャンすることが可能となる。図6は、すれ違い用前照灯の一例を等光度曲線で示したものである。図7は、走行用前照灯の一例を等光度曲線で示したものである。図5は、配光パターン測定装置100の信号処理ブロック図である。受光回路ユニット200において、前述のとおりモータ12によってスライダクランク機構が駆動されると、光軸左右方向に一列に並んだ各受光素子21は、光軸上下方向にスライドしながら受光している配光の光度を表す信号光度信号を出力する。この間、ロータリーエンコーダ31からはスライドによる移動量を示すパルスが出力される。受光回路ユニット200の第1プロセッサDSPDigitalSignalProcessor201は、各受光素子21から出力された光度信号を所定周期でサンプリングして光度データに変換すると同時に、各周期毎にロータリーエンコーダの出力に基づいて受光素子21の光軸上下方向の位置を演算し、各周期毎に各受光素子21の光度データと位置データとを関連付けてメモリ202に蓄積する。そして、第1プロセッサ201は、配光パターンの測定に必要なデータ配光パターン測定用データが揃うごとに、受光回路ユニット200の光通信インターフェース光通信IF203と、計測表示回路ユニット300の光通信インターフェース301とが対向するタイミングで、赤外線通信により配光パターン測定用データを計測表示回路ユニット300に送信する。両者の光通信IF203,301が対向する位置において、ロータリーエンコーダ31の出力に基づく可動ベース板30の位置を予めメモリ202に記憶しておくことにより、ロータリーエンコーダ31の出力に基づいて両者の光通信IF203,301が対向する位置を判定することができる。配光パターン測定用データに含まれる光度データDは、各受光素子21の配置に基づく光軸左右方向の位置をXii=1~16の正数、受光素子の個数、光軸上下方向の周期的な各サンプリング位置をYjj=正数、可動ベース板のスライド往路または復路における周期的なサンプリング回数とすると、DXi,Yjの配列で示される。即ち、配光パターン測定用データは、10m近似面における配光の光度を格子状に取得したものである。光軸上下方向のサンプリング頻度を上げることにより光軸上下方向の解像度を向上することが可能である。図2に示すように、計測表示回路ユニット300は、受光回路ユニット200の上方に間隔を隔てて配置されている。計測表示回路ユニット300は、ヘッドライトテスタ筺体内の天板付近に固定されている。受光回路ユニット200において、受光素子21は、前述のとおり光軸上下方向に往復運動を行うが、この往復運動中の所定の位相において、計測表示回路ユニット300の回路基板に装備された光通信IF301の受光部と、受光回路ユニット200の受光回路基板に装備された光通信IF203の発光部とが対向するようになっている。そのような位置に、光通信IF203,301の受光部と発光部とがそれぞれ配置されている。再び図5に戻り説明する。計測表示回路ユニット300の第2プロセッサDSP302は、計測表示回路ユニット300の光通信IF301によって受信した配光パターン測定用データをメモリ303に一時格納する。メモリ303には、各受光素子21が検出した光度を補正するための補正値が予め格納されている。この補正値は、各受光素子21の感度のバラツキから生じる光度データの誤差を補正するものである。第2プロセッサ302は、メモリ303に格納した配光パターン測定用データに対し光度データの補正値を加算し、光度データの誤差を除去する。そして、第2プロセッサ302は、誤差を除去した配光パターン測定用データ、つまり、10m近似面における格子状の光度データから演算により図6や図7に示すような等光度曲線を推定し、さらに推定した等光度曲線から演算により光軸の振れを算出する。この際、ヘッドライトテスタの正面中段に設けられた前照灯種別選択スイッチの設定に応じて光軸の推定対象がすれ違い用前照灯であるか、走行用前照灯であるかを予め判断する。また、第2プロセッサ302は、算出した光軸位置における光度を演算により算出する。そして、求めた光軸の振れおよび光度をヘッドライトテスタの正面中央に設けられた発光素子群102aおよび表示器102bに表示する。十字に配置された発光素子群102aは、発光により光軸の振れの方向を示すようになっている。前述した各受光素子21の光度補正値は、予め次のように取得しておく。各受光素子21に均一な光度の光線を入射させた状態で、各受光素子21の出力に基づく光度データを受光回路ユニット200から計測表示回路ユニット300に受信し、メモリ303に一時格納する。ここで、設定スイッチ304を操作すると、第2プロセッサ302は、メモリ303に格納された各受光素子21の光度データのバラツキを均一化する補正値を各受光素子21ごとに求め、メモリ303に格納する。この補正値を格納するメモリは不揮発性メモリとすることが好ましい。以上説明した本実施形態によれば、光学系により作り出した10m近似面において、ヘッドライトの光軸左右方向に整列した一列の受光素子21を光軸上下方向にスライドさせて配光をスキャンするので、ヘッドライトの光線を10m先で受光する大型で高価な装置や配光をCCDカメラで撮像し画像処理を行う装置に比べ、コンパクトで安価なヘッドライトテスタを実現することができる。特に、光軸左右方向に並べた受光素子を光軸上下方向にスライドさせて配光をスキャンするので、光軸上下方向の解像度を高くすることができ、例えば、図6に示すすれ違い用前照灯の配光パターンのようにエルボー点付近の光度が光軸上下方向において急な変化を見せる場合でも、光軸上下方向の解像度を高くすることによって、高い精度で等光度曲線を推定することができ、よって、高い精度でエルボー点を検出することが可能となる。また、受光素子21を光軸上下方向にスライドさせるためのスライダクランク機構やガイド機構を構成するメカの構造を工夫し、組み付け精度を維持しながら部品点数の削減を図っているので、これによっても、ヘッドライトテスタの低価格化を図ることができる。また、受光回路ユニット200と計測表示回路ユニット300とを分離し、光通信によりデータの受け渡しを行うようにしたので、受光回路ユニット200の電源と計測表示回路ユニット300の電源とを分けることにより、受光回路ユニット内のノイズを軽減し、測定精度を向上させることができ、低価格でありながら測定精度の高いヘッドライトテスタを提供することができる。ここで、本発明の配光パターン測定装置は、上記実施形態に限られるものではない。例えば、受光素子をスライドさせるための機構は種々変更が可能である。また、受光素子の出力信号に基づいて配光パターンを測定する信号処理も種々変更が可能である。"