複数の強磁性粒子1を分析する方法であって、a前記複数の粒子1を、前記各粒子が同じ方向に実質的に配向されるように配列するステップと、b前記配列において前記複数の粒子1を固定するステップと、cこのように配列された前記粒子1の内部領域をさらすステップと、d前記各粒子1の性質を決定し、それらの性質に応じてカテゴリー別に前記粒子をグループ化するステップと、e各カテゴリーにおいて、前記粒子1の1つ以上の冶金学的構造および化学組成を決定するステップとを含むことを特徴とする、方法。ステップaにおいて、すべての粒子が、単一ステップにおいて配列されることを特徴とする、請求項1に記載の複数の粒子を分析する方法。ステップcにおいて、前記粒子1の内部領域が、単一ステップにおいてさらされることを特徴とする、請求項1または2に記載の複数の粒子を分析する方法。前記各粒子1が、主面Pに延び、ステップaにおいて、前記主面は、すべて実質的に配列されることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の複数の粒子1を分析する方法。ステップaにおいて、前記粒子が、磁界の力線Lが平行である場の領域の磁界に粒子を置くことによって配列されることを特徴とする、請求項1から4のいずれか一項に記載の複数の粒子1を分析する方法。前記磁界に前記粒子を置くために、前記粒子が、磁石30上に置かれた非磁性容器10内に置かれることを特徴とする、請求項5に記載の複数の粒子1を分析する方法。非磁性スペーサー20が、前記磁石30と前記容器10との間に介在されることを特徴とする、請求項6に記載の複数の粒子1を分析する方法。ステップaに先立って、前記粒子が、容器10内に置かれ、ステップbにおいて、前記粒子は、前記容器内に材料40を注ぐことによって所定の位置に固定され、材料は、前記粒子が材料に埋め込まれるように前記粒子を被覆し、凝固時に前記粒子を配列位置に固定することを特徴とする、請求項1から7のいずれか一項に記載の複数の粒子1を分析する方法。ステップcにおいて、前記各粒子1の内部領域が、それらの配列方向に垂直な平面で粒子を切断することによってさらされることを特徴とする、請求項1から8のいずれか一項に記載の複数の粒子1を分析する方法。ステップaにおいて、前記粒子1が、配列される前に距離をあけて配置されることを特徴とする、請求項1から9のいずれか一項に記載の複数の粒子1を分析する方法。前記粒子1が、それらを距離をあけて配置するために、脱磁装置内に置かれることを特徴とする、請求項10に記載の複数の粒子1を分析する方法。ステップdにおいて、1つ以上の化学試薬が、前記各粒子の性質を明らかにするために前記粒子1に適用されることを特徴とする、請求項1から11のいずれか一項に記載の複数の粒子1を分析する方法。ステップdにおいて、前記各粒子1の性質を決定するように、前記化学試薬を適用した後に、光学顕微鏡が使用されることを特徴とする、請求項12に記載の複数の粒子1を分析する方法。ステップeにおいて、各カテゴリーにおいて、前記粒子1の1つ以上の冶金学的構造および化学組成を決定するために、電子顕微鏡および分光計が使用されることを特徴とする、請求項1から13のいずれか一項に記載の複数の粒子1を分析する方法。その方法は、次の欠点を示す。分析された粒子が、それらの表面外観から金属合金タイプを決定することは可能ではないので、止むを得ず偶然選択される。大体の場合、粒子は、多数の別個の部品から由来し、このように分析さえされない。したがって、現在用いられている分析法は、磨耗または破損される金属部品のカテゴリーを決定することは完全には可能ではない。SEBおよびEDSを使用して、所定の粒子の表面を調べることは、粒子の冶金学的状態に関する、および、特にその冶金学的履歴以前の熱処理またはその微構造の変化に関する表示を付与せず、それは限界となっている。粒子の表面が、粒子例えば、粒子が摩擦の結果、別の部品から由来する異物で被覆されるので、または、粒子が酸化されるので、または、粒子が、表面処理を本来受けた部品の表面に由来するのでの残りとは異なる場合には、そのとき、SEBおよびEDSによって粒子の表面を調べることは、粒子の残りの性質、つまり、その本来の性質を明らかにしない。現在使用される方法によって行われる分析の正確さにおけるこれらの欠点は、破損部品が正確に識別されていない結果、航空エンジンが不適切に多額の費用で取り外されることを既にもたらしており、または不良部品が間に合うように変更されなかったのでエンジン故障をもたらしている。本発明は、フィルタまたは磁気プラグによって回収された強磁性粒子の分析をより信頼できるようにすることを可能にする方法を提案することを追求する。上記の目的は、次のことによって達成される:a前記複数の粒子を、前記各粒子が同じ方向に実質的に配向されるように配列すること、b前記配列において複数の粒子を固定すること、cこのように配列された粒子の内部領域をさらすこと、d各粒子の性質を決定し、それらの性質に応じてカテゴリー別に粒子をグループ化すること、および、e各カテゴリーにおいて、粒子の1つ以上の冶金学的構造および化学組成を決定すること。これらの条件によって、各粒子の内部領域は、露出され、続いて直接分析されることができ、それによって、先行技術の方法における分析を誤らせる問題粒子上の表面被膜または処理の有無、異物による粒子の表面汚染、を解決する。さらに、金属粒子のカテゴリーを数え、分析し、関連性から、いくつかの粒子が由来し関与する部品を正確に決定することが可能である。例えば、ステップaにおいて、粒子は、力線が平行である領域の磁界に粒子を置くことによって配列される。これは、同じ方向、すなわち、磁界Bの力線の方向に、強磁性粒子を容易に繰り返し配列することを可能にする。非限定的な実施例によって示された実施形態の次の詳細な説明を読んで、本発明は、よく理解されることができ、その利点は鮮明になる。説明は添付図面を参照する。強磁性粒子1は、フィルタおよび/または磁気プラグによって回収され、それらは、複数の粒子を形成するように集められる。各粒子1が同じ方向に実質的に配向されるように、複数の粒子1は、すべて単一ステップにおいて配列される。例えば、各粒子1は、主面Pに延び、ステップaにおいて、主面Pは、すべて実質的に配列される。粒子1の用語主面Pは、粒子が主として延びる面を指定するために使用され、つまり、粒子が、粒子に接する2つの平行面間に置かれる場合、そのとき、それらの2つ面は、最小距離だけ距離をあけて配置される場合に面Pに平行である。図1Aは、任意の形状の粒子1についての面Pを示す。この配列は、以下に説明されるように、磁石を使用して付与されてもよい。本発明の方法の配列ステップaに粒子1を置くために、粒子1は、非磁性容器10の底に置かれる。容器10は、次いで、磁石30上に置かれる。粒子1は、このように、磁石30によって発生される磁界に入れられ、それらは、磁界の力線Lに沿って実質的にそれら自身を配列しながら分散される。粒子1が置かれる容器10の底で、力線Lは、粒子1が容器10の底に垂直に配列されるように、実質的に互いに平行であり、容器10の底に垂直である。図1Aで示されるように、粒子1は、このように容器の底に垂直に立っている。例えば、各粒子1の主な特徴のうちの1つが、容器の底に実質的に垂直なように、粒子1は配列されてもよい。必要ならば、非磁性スペーサー20が、容器10の底での力線Lが互いに実質的に平行で容器10の底に垂直なように、容器10を磁石30から間隔をあけるように磁石30と容器10との間に介在される。一例として、使用される磁石30は、約50アンペア/メーターA/mの強さの磁界を有する。方法は、単一ステップにおいて多くの粒子を配列することを容易にする。したがって、本発明の方法は、先行技術の方法より速く、したがって高価ではない。有利には、容器10は透明であり、したがって、粒子1が実際に配列されていることを確認することを可能にする。発明者らは、粒子1を含む容器が、磁石20の磁界に粒子を置く前に脱磁装置に置かれる場合、そのとき、有利には、粒子1は、互いから離れて動く傾向にあることが分かり、それによって、それらの間の重なりを回避し、その後のその冶金学的分析を容易にする。または、粒子1を配列する前に粒子1を距離をあけて配置するために磁気手段以外の手段を使用することが可能である。粒子1を単に配列するための磁界の使用は、この配列が達成されることを可能にする手段のうちの1つを構成する。その後、それらの直立位置配列でで粒子1を保持するために、図1Bで示されるように、材料40が容器10に注がれて、粒子1がポッティングされるように粒子1を覆う。材料40は、粒子1の位置を修正することなく、各粒子1を完全に覆うのに十分に液体であり、凝固に適切である。一例として、材料40は、樹脂である。一旦粒子1が材料40に完全に被覆されれば、凝固プロセスの終わりに、粒子1が直立位置で恒久的に保持されるように、材料40が凝固される。本発明の方法のこのステップbは、図1Bで示される。被覆操作の時間にわたって、および樹脂40が完全に凝固するまで、粒子1は、粒子1が直立位置で保持されるように、磁界に入れられたままとされる。有利には、粒子1の位置を見ることができるように透明または半透明の樹脂40が使用される。例えば、樹脂40は、透明エポキシ樹脂であってもよい。その後、凝固された樹脂40は、容器10から取り除かれる。樹脂40のブロックは、次いで、粒子1の配列方向に垂直な平面で切り取られ研磨される。本発明の方法のこのステップcは、図1Cで示されている。粒子1が被覆される場合に、粒子1がすべて容器10の底に立っているならば、粒子1はすべて、樹脂40のブロックの同じ領域容器10の底に接する領域に位置している。この領域で樹脂40のブロックを切断することによって、粒子1のこの位置あわせは、粒子1のすべてを通ってスライスすることを単一ステップにおいて可能にし、それによって、時間の節約を達成する。さらに、粒子1がすべてスライス面に垂直に配列されるので、切断面45ブロック40がスライスされる面、図1D参照は、各粒子1の中央部を通って切断され、それによって、それらのそれぞれの内側領域をさらすそれらの芯を露出させる。このように、続いて分析される各粒子1についてステップdおよびe、粒子1上の任意の被膜または表面材料上ではなく、その粒子の芯を構成する材料したがって、粒子が由来する部品を構成する材料上で分析が良好に対象とされることは確かである。さらに、樹脂40は、切断工程中に粒子1を堅く保持する役目をし、それによって、いずれの粒子1が配列から外れることを回避する。あるいは、各粒子の内部領域がさらされるまで、樹脂40のブロックは削られてもよい。このように、本発明では、粒子1の内部領域は、すべて単一ステップにおいてさらされる。ステップc後に、各粒子1を構成する合金の性質、つまり、各合金が属するカテゴリーを明らかにする最初の分析が行われるステップd。所定の粒子1があるカテゴリーに属するかどうかを判断するために、そのカテゴリーを識別する役目をするテスト、つまり、そのカテゴリーを表すテストが行われる。本発明の方法によって、粒子1のすべての内部領域は、樹脂40のブロックの切断面45において同時にアクセス可能で視認できる。このように、カテゴリーの特性である各テストは、単一ステップにおいて、そのカテゴリーに属する粒子をすべて明らかにすることを可能にし、それによって、時間を節約する。複数のテストを連続して行うことによって、各テストが合金カテゴリーを表す場合には、各粒子が属するカテゴリーが決定される。例えば、テストは、各粒子1の性質を明らかにする役目をする化学試薬を使用して行われてもよい。図1Dは、樹脂ブロック40の切断面45上で3つの公知の試薬:試薬No.1Nital2、試薬No.2Nital6、および試薬No.315/15を使用して行われたテストの結果の例を示す図である。これらの名前は、当業者に知られている。非合金鋼は、試薬No.1図1Dで101で参照された粒子と反応し、低合金鋼図1Dで参照102は、試薬No.2と反応し、高合金鋼図1Dで103で参照された粒子は、試薬No.3と反応する。これらの試薬のいずれかによってエッチングされない粒子図1Dで104で参照された粒子は、他の鋼または他の合金からなる。各試薬に関連した各カテゴリーが、特有のカテゴリーの部品例えば、軸受鋼のカテゴリーに対応する材料をカバーするように試薬が選択される。このように、所定の試薬と反応する粒子がすべて、必ずそのカテゴリーの部品から由来することが分かる。有利には、化学試薬が各粒子1の性質をより正確に決定するために適用された後に、光学顕微鏡が、ステップdにおいて使用される。いくつかの粒子の由来をより正確に識別するために、第2の分析が、第1の分析の間に識別された各カテゴリーから選択された1つ以上の粒子上で行われるステップe。有利には、第1の分析の結果、所定のカテゴリーに属する粒子は、実質的に同一であることが既に公知であるので、各カテゴリーの粒子をすべて分析する必要はない。この第2の分析の目的は、選択された各粒子の冶金学的構造および化学組成を決定することである。これは、分析粒子が由来するエンジンまたは機械装置における部品を正確に決定することを可能にし、結果、この第2の分析は、分析された粒子が回収されたフィルタまたは磁気プラグの位置と組み合わせられ、部品が、そのフィルタまたは磁気プラグを通る流体回路の経路上に存在することが分かる。有利には、電子顕微鏡が、各カテゴリーに関して、粒子1の1つ以上の冶金学的構造および機械的組成を決定するために分光計と一緒に使用される。先行技術の方法では、EDSによる分析が、金属合金中の炭素を定量することができず、その結果、分析は、非常に異なる炭素含有量を有するが合金元素の組成は類似または近い2つの合金を識別することができない。例えば、その分析は、ボルト等級鋼と軸受鋼を識別することができず、したがって、粒子の実際の由来に関する誤った結論に結びつく可能性がある。対照的に、本発明の方法では、第1の分析ステップaが、所定の粒子の組成例えば、その炭素含有量に関して、既に少なくとも一部分、定性的情報を提供したとすれば、第2の分析の間に電子顕微鏡および分光計図1Eを使用して行われる分析は、その粒子の化学組成および微構造に関する信頼できる結論を引き出すことを可能にする。例えば、粒子は、それらの化学組成およびそれらの微構造を決定するために、EDSおよびSEBを使用して分析される。図2は、ステップeにおいて検査された後に、本発明の方法を使用して分析された粒子1の写真である。この粒子1の表面は、銀の被膜3で被覆される。このように、先行技術の方法によるこの粒子の分析は、その表面を光学的に分析し、粒子が銀からなる粒子であると誤って結論を出すことになる。粒子1の芯2は、本発明の方法によって露出させる。電子顕微鏡およびEDSでの芯2の分析は、芯が低合金鋼からなり、強化焼入れ状態でマルテンサイト微構造を有することを明らかにする。粒子1が、軸受ケージ用の40NCD7鋼に由来することがそこから結論が出される。この粒子1の存在は、粒子1が回収された磁気プラグを介して通る流体回路の一部上にある軸受に破損があったと結論を出すことが可能となる。したがって、軸受を取り除き、変更することが必要である。