発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する方法であって、以下の評価工程Bを含む、光束制御部材の評価方法。[評価工程B]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記光拡散部材の出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と、前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する方法であって、以下の評価工程Aおよび評価工程Fを含む、光束制御部材の評価方法。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記光拡散部材の出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と、前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する方法であって、以下の評価工程A、評価工程B、評価工程C、評価工程D、評価工程Eおよび評価工程Fからなる群から選択される少なくとも1つの評価工程を含む、光束制御部材の評価方法。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記光拡散部材の出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と、前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程B]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と、前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程C]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記多項式近似関数を算出する工程と、前記近似曲線の所定の範囲内における1階微分値の分布および2階微分値の分布に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程D]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布において、前記光軸と前記出射面との交点を中心とする円上の輝度の分布に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程E]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記多項式近似関数を算出する工程と、前記近似曲線上の2点間を結ぶ直線の傾斜に基づいて、前記配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価装置であって、前記光拡散部材の出射面を撮像して、前記出射面における輝度分布を得る撮像部と、前記撮像部を制御するとともに、前記撮像部により得られた前記輝度分布に基づき、以下の評価工程Bを実施する処理部と、を有する、光束制御部材の評価装置。[評価工程B]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と、前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価装置であって、前記光拡散部材の出射面を撮像して、前記出射面における輝度分布を得る撮像部と、前記撮像部を制御するとともに、前記撮像部により得られた前記輝度分布に基づき、以下の評価工程Aおよび評価工程Fを実施する処理部と、を有する、光束制御部材の評価装置。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と、前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価装置であって、前記光拡散部材の出射面を撮像して、前記出射面における輝度分布を得る撮像部と、前記撮像部を制御するとともに、前記撮像部により得られた前記輝度分布に基づき、以下の評価工程A、評価工程B、評価工程C、評価工程D、評価工程Eおよび評価工程Fからなる群から選択される少なくとも1つの評価工程を実施する処理部と、を有する、光束制御部材の評価装置。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と、前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程B]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と、前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程C]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記多項式近似関数を算出する工程と、前記近似曲線の所定の範囲内における1階微分値の分布および2階微分値の分布に基づいて、前記配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程D]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布において、前記光軸と前記出射面との交点を中心とする円上の輝度の分布に基づいて、前記配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程E]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記多項式近似関数を算出する工程と、前記近似曲線上の2点間を結ぶ直線の傾斜に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価プログラムであって、撮像部を接続されたコンピュータに以下の評価工程Bを実行させる、光束制御部材の評価プログラム。[評価工程B]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と、前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価プログラムであって、撮像部を接続されたコンピュータに以下の評価工程Aおよび評価工程Fを実行させる、光束制御部材の評価プログラム。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と、前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価プログラムであって、撮像部を接続されたコンピュータに以下の評価工程A、評価工程B、評価工程C、評価工程D、評価工程Eおよび評価工程Fからなる群から選択される少なくとも1つの評価工程を実行させる、光束制御部材の評価プログラム。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と、前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程B]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と、前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程C]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記多項式近似関数を算出する工程と、前記近似曲線の所定の範囲内における1階微分値の分布および2階微分値の分布に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程D]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布において、前記光軸と前記出射面との交点を中心とする円上の輝度の分布に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程E]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記多項式近似関数を算出する工程と、前記近似曲線上の2点間を結ぶ直線の傾斜に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と、前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程と、を有する、評価工程。面光源装置には、被照射部材を均一に照射することが要求される。面光源装置の照射ムラを低減するためには、光束制御部材の配光特性が非常に重要である。光束制御部材の配光特性に応じて、発光素子の数および配置、光拡散部材の光学特性などを選択することで、照射ムラの少ない面光源装置を製造することができる。しかしながら、これまで、発光素子を光源とする面光源装置に使用されることを前提とした光束制御部材の配光特性の評価方法はなかった。このため、面光源装置に使用するための部品として、光束制御部材が良品であるか否かを効率よく評価することもできなかった。本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、発光素子を光源とする面光源装置に使用される光束制御部材の配光特性を個別に評価することができる、光束制御部材の評価方法、評価装置および評価プログラムを提供することを目的とする。本発明の光束制御部材の評価方法は、発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する方法であって、以下の評価工程Bを含むことを特徴とする。[評価工程B]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記光拡散部材の出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と;前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。本発明の光束制御部材の評価方法は、発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する方法であって、以下の評価工程Aおよび評価工程Fを含むことを特徴とする。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記光拡散部材の出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と;前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。本発明の光束制御部材の評価方法は、発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する方法であって、以下の評価工程A、評価工程B、評価工程C、評価工程D、評価工程Eおよび評価工程Fからなる群から選択される少なくとも1つの評価工程を含むことを特徴とする。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記光拡散部材の出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と;前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程B]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と;前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程C]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記多項式近似関数を算出する工程と;前記近似曲線の所定の範囲内における1階微分値の分布および2階微分値の分布に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程D]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布において、前記光軸と前記出射面との交点を中心とする円上の輝度の分布に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程E]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記多項式近似関数を算出する工程と;前記近似曲線上の2点間を結ぶ直線の傾斜に基づいて、前記配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。本発明の光束制御部材の評価装置は、発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価装置であって、前記光拡散部材の出射面を撮像して、前記出射面における輝度分布を得る撮像部と、前記撮像部を制御するとともに、前記撮像部により得られた前記輝度分布に基づき、以下の評価工程Bを実施する処理部とを有することを特徴とする。[評価工程B]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と;前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。本発明の光束制御部材の評価装置は、発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価装置であって、前記光拡散部材の出射面を撮像して、前記出射面における輝度分布を得る撮像部と、前記撮像部を制御するとともに、前記撮像部により得られた前記輝度分布に基づき、以下の評価工程Aおよび評価工程Fを実施する処理部とを有することを特徴とする。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と;前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。本発明の光束制御部材の評価装置は、発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価装置であって、前記光拡散部材の出射面を撮像して、前記出射面における輝度分布を得る撮像部と、前記撮像部を制御するとともに、前記撮像部により得られた前記輝度分布に基づき、以下の評価工程A、評価工程B、評価工程C、評価工程D、評価工程Eおよび評価工程Fからなる群から選択される少なくとも1つの評価工程を実施する処理部とを有することを特徴とする。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と;前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程B]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と;前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程C]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記多項式近似関数を算出する工程と;前記近似曲線の所定の範囲内における1階微分値の分布および2階微分値の分布に基づいて、前記配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程D]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布において、前記光軸と前記出射面との交点を中心とする円上の輝度の分布に基づいて、前記配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程E]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記多項式近似関数を算出する工程と;前記近似曲線上の2点間を結ぶ直線の傾斜に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。本発明の光束制御部材の評価プログラムは、発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価プログラムであって、撮像部を接続されたコンピュータに以下の評価工程Bを実行させることを特徴とする。[評価工程B]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と;前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。本発明の光束制御部材の評価プログラムは、発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価プログラムであって、撮像部を接続されたコンピュータに以下の評価工程Aおよび評価工程Fを実行させることを特徴とする。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と;前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。本発明の光束制御部材の評価プログラムは、発光素子と、前記発光素子から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材と、前記光束制御部材から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材とを有する面光源装置における、前記光束制御部材の配光特性を評価する光束制御部材の評価プログラムであって、撮像部を接続されたコンピュータに以下の評価工程A、評価工程B、評価工程C、評価工程D、評価工程Eおよび評価工程Fからなる群から選択される少なくとも1つの評価工程を実行させることを特徴とする。[評価工程A]前記光束制御部材を前記発光素子の上に配置した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第1の輝度分布を得る工程と;前記光束制御部材を取り外した状態で、前記出射面を撮像し、前記出射面における第2の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布の所定の点における輝度と、前記第1の輝度分布の所定の点に対応する前記第2の輝度分布の所定の点における輝度とを比較して、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程B]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布について、前記発光素子の光軸と前記出射面との交点を通り、かつ前記出射面と平行な直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する工程と;前記多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程C]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記多項式近似関数を算出する工程と;前記近似曲線の所定の範囲内における1階微分値の分布および2階微分値の分布に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程D]前記第1の輝度分布を得る工程と;前記第1の輝度分布において、前記光軸と前記出射面との交点を中心とする円上の輝度の分布に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程E]前記第1の輝度分布を得る工程と前記多項式近似関数を算出する工程と前記近似曲線上の2点間を結ぶ直線の傾斜に基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。[評価工程F]前記第1の輝度分布を得る工程と前記第1の輝度分布において輝度が所定値以上である領域の径と、前記第1の輝度分布における前記発光素子の光軸および前記出射面の交点と最大輝度の点との間隔とに基づいて、前記光束制御部材の配光特性を評価する工程とを有する、評価工程。本発明によれば、発光素子を光源とする面光源装置に使用される光束制御部材の配光特性を個別に評価することができる。したがって、本発明によれば、光束制御部材が良品であるか否かを効率よく評価することもできる。以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発明の一実施の形態に係る光束制御部材の評価装置20の模式図である。まず、本実施の形態の光束制御部材の評価装置20について説明する前に、評価対象である光束制御部材12が組み込まれた面光源装置を模した模擬装置10について説明する。模擬装置10は、発光素子11と、発光素子11から出射された光の進行方向を制御する光束制御部材12と、光束制御部材12から出射された光を拡散させつつ透過させる光拡散部材13と、発光素子11、光束制御部材12および光拡散部材13を所定の位置に位置決めする筐体14とを有する。筐体14は、上面が開放された箱形の部材である。筐体14の底面の中央には、発光素子11を位置決めするための第1凹部が形成されている。また、第1凹部の周囲には、光束制御部材12を位置決めするための第2凹部が形成されている。また、筐体14の開口部には、光拡散部材13を位置決めするための第3凹部が形成されている。まず、発光素子11を第1凹部に嵌めることで、発光素子11を筐体14の底面の中央に固定する。そして、光束制御部材12の裏面に形成された脚部を第2凹部に嵌めることで、光束制御部材12を発光素子11の上に配置する。また、光拡散部材13を第3凹部に嵌めることで、光拡散部材13を光束制御部材12の上に配置する。これにより、各部材の位置が固定されるため、毎回同じ条件で光束制御部材12の評価を行うことができる。次に、本実施の形態に係る光束制御部材の評価装置20について説明する。図1に示されるように、本実施の形態に係る光束制御部材の評価装置20は、撮像部21と、撮像部21に接続された処理部22とを有する。処理部22は、例えば、本発明の光束制御部材の評価プログラムがインストールされた、ワークステーションやパーソナルコンピュータなどの汎用コンピュータである。撮像部21は、模擬装置10の光拡散部材13の出射面撮像部21側の面を撮像して、出射面における輝度分布を入力する。入力された輝度分布は、電子データに変換され、処理部22に出力される。撮像部21は、例えば、処理部22と通信可能なカメラなどである。処理部22は、撮像部21を制御するとともに、撮像部21から入力した電子データ光拡散部材13の出射面の輝度分布を利用して各評価工程後述を実行する。処理部22は、入力部23、記録部24、演算部25、制御部26および表示部27を有する。入力部23は、例えば、キーボードやマウス、タッチパネル、各種スイッチなどである。入力部23は、ユーザによる入力に応じた操作信号を制御部26に出力する。記録部24は、例えば、記録媒体およびその読み取り装置から構成される。記録媒体の例には、ROMやRAMなどのICメモリや、内蔵または外部接続されたハードディスク、メモリーカードやUSBメモリなどの可搬型記録媒体などが含まれる。記録部24には、評価装置20を動作させるためのプログラムや、光束制御部材12を評価するための基準データなどが記録される。また、記録部24には、撮像部21から入力した電子データ光拡散部材13の出射面の輝度分布を利用して評価工程を実行する評価プログラムも記録される。演算部25は、例えばCPUなどにより実現される。演算部25は、撮像部21より入力した電子データ光拡散部材13の出射面の輝度分布に関する様々な演算を実行する。たとえば、演算部25は、多項式近似関数の算出後述や、多項式近似関数の1階微分関数および2階微分関数の算出後述などを行う。制御部26は、例えばCPUなどにより実現される。制御部26は、入力部23から入力した操作信号や、記録部24に記録されているプログラムなどに基づいて、評価装置20を構成する各部への指示やデータの転送を行い、評価装置20の全体の動作を統括的に制御する。表示部27は、例えば液晶ディスプレイや有機ELディスプレイなどの表示装置である。たとえば、表示部27には、図2に示される画面が表示される。図2は、表示部27に表示される測定画面30の一例を示す図である。測定画面30には、評価プログラムの起動状態や測定結果、評価結果などが表示される。また、測定画面30の表示内容に基づいてユーザが適宜入力を行うことで、ユーザは評価装置20に各種指示を出すことができる。図2に示されるように、測定画面30は、測定対象切り替え領域31、単一画像取得ボタン32、画像表示領域33、連続画像取得ボタン34、中心位置調整ボタン35、測定開始ボタン36、データ表示領域37、出力選択領域38、近似曲線表示領域39、微分値表示領域40、評価結果表示領域41、表示色切り替え領域42を含む。測定対象切り替え領域31は、測定対象が基準マスターとなる光束制御部材12であるのか、評価対象ターゲットとなる光束制御部材12であるのかを切り替えるための領域である。単一画像取得ボタン32は、光拡散部材13の出射面の画像を1枚取得するためのボタンである。画像表示領域33は、取得した出射面の画像輝度分布を表示する領域である。連続画像取得ボタン34は、光拡散部材13の出射面の画像を連続で取得するためのボタンである。中心位置調整ボタン35は、取得する出射面の画像の中心位置を調整するためのボタンである。測定開始ボタン36は、光束制御部材12に対する測定および評価を開始するためのボタンである。データ表示領域37は、測定結果の数値などを表示する領域である。出力選択領域38は、保存するデータの内容を選択する領域である。近似曲線表示領域39は、測定データから算出された多項式近似関数に対応する近似曲線を表示する領域である。微分値表示領域40は、前記多項式近似関数を微分1階微分または2階微分して得られる微分関数導関数に対応する曲線を表示する領域である。評価結果表示領域41は、光束制御部材12の評価結果を表示する領域である。表示色切り替え領域42は、画像表示領域33の表示色を切り替えるための領域である。次に、本実施の形態に係る光束制御部材の評価装置20の一連の動作について説明する。光束制御部材の評価装置20の主な動作は、1撮像部21の初期設定を行う初期設定工程と、2評価の基準となる基準データを取得する基準データ取得工程と、3光束制御部材12の評価を行う評価工程とに大別される。以下、各工程について説明する。1初期設定工程初期設定工程では、撮像部21の設定を調整する。具体的には、筐体14に発光素子11のみを設置した状態光束制御部材12および光拡散部材13を設置しない状態で、連続画像取得ボタン34をクリックして、撮像部21により発光素子11の発光面を撮像する。そして、撮像データにおける最大輝度および最小輝度を求め、これらの値が所定の範囲内に入るように、撮像部21の感度および露光時間を調整する。また、発光素子11の発光面の中心位置最大輝度の点を撮像データから決定し、中心位置調整ボタン35により発光素子11の発光面の中心と撮像部21の撮像領域の中心を一致させる。これにより、撮像部21の撮像領域の中心と、発光素子11の光軸とが一致する。2基準データ取得工程基準データ取得工程では、基準となる光束制御部材12マスターの配光特性を測定して、光束制御部材12を評価するための基準値を取得する。具体的には、測定対象切り替え領域31をマスターに切り替えるとともに、筐体14に発光素子11、基準となる光束制御部材12および光拡散部材13を設置する。そして、測定開始ボタン36をクリックして、基準値となる各パラメータを取得する。得られた各パラメータは、記録部24に記録される。3評価工程評価工程では、評価対象の光束制御部材12ターゲットの配光特性を測定して、光束制御部材12の配光特性を評価する。具体的には、測定対象切り替え領域31をターゲットに切り替えるとともに、筐体14に発光素子11、評価対象の光束制御部材12および光拡散部材13を設置する。そして、測定開始ボタン36をクリックして、各測定値を取得するとともに、対応する基準値と比較して、光束制御部材12の配光特性を評価する。評価工程では、評価基準となる基準値を、基準データ取得工程で得られた基準値、または別途設定された基準値から選択することができる。本実施の形態に係る光束制御部材の評価装置20は、以下の評価工程A、評価工程B、評価工程C、評価工程D、評価工程Eおよび評価工程Fによる評価を行うことができる。本実施の形態に係る光束制御部材の評価装置20では、これらの6つの評価工程を自由に組み合わせることができる。たとえば、光束制御部材の評価装置20は、評価工程Bのみを実行してもよいし、評価工程Aおよび評価工程Fを実行してもよい。したがって、ユーザは、任意の評価工程を用いて光束制御部材12を評価することができる。[評価工程A]評価工程Aでは、光束制御部材12を装着していない状態における、模擬装置10の光拡散部材13の出射面の輝度と、光束制御部材12を装着している状態における、模擬装置10の光拡散部材13の出射面の輝度とを比較する。評価工程Aを行うことで、光束制御部材12の透過率異常の有無について評価することができる。すなわち、ロット間で光束制御部材12の透過率が異なる場合、正規化無次元化を行った後の波形ではロット間の透過率の差異を認識することができないが、評価工程Aを行うことで、発光素子11単体から出射される光量に対する光束制御部材12を透過した光量を把握することが可能となり、その結果、ロット間の透過率の差異を評価することができる。評価工程Aは、光束制御部材12を発光素子11の上に配置した状態における第1の輝度分布を得るA1工程と、光束制御部材12を取り外した状態における第2の輝度分布を得るA2工程と、第1の輝度分布の所定の点における輝度と第2の輝度分布の所定の点における輝度を比較するA3工程とを有する。A1工程では、模擬装置10に光束制御部材12を装着した状態で、光拡散部材13の出射面を撮像部21で撮像し、光拡散部材13の出射面における第1の輝度分布を得る。A2工程では、模擬装置10から光束制御部材12を取り外した状態で、光拡散部材13の出射面を撮像部21で撮像し、光拡散部材13の出射面における第2の輝度分布を得る。A3工程では、A1工程で得られた第1の輝度分布の任意の点と、A2工程で得られた第2の輝度分布の任意の点第1の輝度分布の任意の点に対応する点の輝度とを比較する。比較する点の数は、1つであってもよいし、2つ以上であってもよい。たとえば、第2の輝度分布の任意の点に対する、第1の輝度分布の任意の点の輝度の比が所定の範囲内の場合は、光束制御部材12は適合と評価され、評価結果表示領域41には適合と表示される。一方、輝度の比が所定の範囲外の場合は、光束制御部材12は警告と評価され、評価結果表示領域41には警告と表示される。ここで適合とは、光束制御部材12を面光源装置に組み込んだ場合に、被照射部材を面状に均一に照射することができることを示す。また、警告とは、光束制御部材12を面光源装置に組み込んだ場合に、被照射部材を面状に均一に照射することができないおそれがあること、または光束制御部材12を再評価する必要があることを示す。[評価工程B]評価工程Bでは、光拡散部材13の出射面の任意の点における輝度変化について評価する。評価工程Bを行うことで、任意の点における輝度変化が所定の値の範囲内にあるか否か、または任意の点における輝度変化とマスターの対応部位における輝度変化との差異がどの程度かを評価することができる。図3は、評価工程Bを説明するための図である。図3Aは、多項式近似関数後述に対応する近似曲線を示すグラフである。図3Aにおいて、横軸は、撮像領域の中心発光素子11の光軸と光拡散部材13の出射面との交点からの距離を示している。縦軸は、最大輝度を100としたときの相対輝度を示している。図3Bは、図3Aに示される多項式近似関数の微分関数1階微分および2階微分に対応する曲線を示すグラフである。図3Bにおいて、曲線Aは、1階微分関数に対応する曲線であり、曲線Bは、2階微分関数に対応する曲線である。図3Aに示されるグラフは、近似曲線表示領域39に表示される。また、図3Bに示されるグラフは、微分値表示領域40に表示される。評価工程Bは、第1の輝度分布を得るB1工程と、第1の輝度分布について多項式近似関数を算出するB2工程と、多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の点における1階微分値および2階微分値に基づいて、光束制御部材12の配光特性を評価するB3工程とを有する。第1の輝度分布を得るB1工程は、前述のA1工程と同じ工程であるので説明を省略する。B2工程では、第1の輝度分布について、発光素子11の光軸と光拡散部材13の出射面との交点を通り、かつ光拡散部材13の出射面と平行な直線すなわち撮像領域の中心を通る任意の直線上の各点における輝度を抽出する。そして、抽出された各点の輝度の値を用いて最小二乗法を行い、前記直線上の輝度に対応する多項式近似関数を算出する。B3工程では、B2工程で算出された多項式近似関数の任意の点について、1階微分および2階微分を行う。算出された1階微分値および2階微分値が所定の値の範囲内の場合、光束制御部材12は適合と評価され、評価結果表示領域41には適合と表示される。一方、1階微分値または2階微分値のうち少なくとも一方が所定の値の範囲外の場合、光束制御部材12は警告と評価され、評価結果表示領域41には警告と表示される。[評価工程C]評価工程Cでは、光拡散部材13の出射面の任意の範囲における輝度変化について評価する。評価工程Cを行うことで、光拡散部材13の出射面における輝度変化の滑らかさ急激な変化があるか否かについて評価することができる。評価工程Cは、第1の輝度分布を得るC1工程と、第1の輝度分布について多項式近似関数を算出するC2工程と、多項式近似関数に対応する近似曲線の所定の範囲内における1階微分値および2階微分値の分布に基づいて、光束制御部材12の配光特性を評価するC3工程と、を有する。第1の輝度分布を得るC1工程は、前述のA1工程と同じ工程であるので説明を省略する。多項式近似関数を算出するC2工程は、前述のB2工程と同じ工程であるので説明を省略する。C3工程では、近似曲線の任意の範囲内における1階微分値傾斜の分布および2階微分値傾斜の変化度の分布を求める。得られた1階微分値傾斜の分布および2階微分値傾斜の変化度の分布が所定の値の範囲内であれば、光束制御部材12は適合と評価され、評価結果表示領域41には適合と表示される。一方、傾斜の分布および傾斜の変化度の分布のうち少なくとも一方が、所定の値の範囲外であった場合には、光束制御部材12は警告と評価され、評価結果表示領域41には警告と表示される。図4は、評価工程Cにおいて適合と評価された光束制御部材12と、警告と評価された光束制御部材12とを比較するための図である。図4Aは、適合と評価された光束制御部材12についての第1の輝度分布を示す画像である。図4Bは、図4Aに示されるB-B線上の輝度を示すグラフである。図4Cは、図4Bに示される曲線の近似曲線を示すグラフである。図4Dは、図4Cに示される近似曲線の1階微分値および2階微分値を示すグラフである。図4Eは、警告と評価された光束制御部材12についての第1の輝度分布を示す画像である。図4Fは、図4Eに示されるB-B線上の輝度を示すグラフである。図4Gは、図4Fに示される曲線の近似曲線を示すグラフである。図4Hは、図4Gに示される近似曲線の1階微分値および2階微分値を示すグラフである。図4B~Dおよび図4F~Hにおいて、横軸は、撮像領域の中心からの距離を示しており、縦軸は、相対輝度または微分値を示している。図4Eに示されるように、警告と評価される光束制御部材12を使用した場合、第1の輝度分布を示す画像において、リング状に明るい部分または暗い部分が現れることがある図4Aと比較参照。このような輝度ムラの発生は、好ましくない。そして、第1の輝度分布において中心点を通る直線上の輝度を比較すると、図4Gのグラフにおいて円で示されるように、警告と評価される光束制御部材12を使用した場合、輝度が急激に変化する点があることがわかる図4Cと比較参照。また、図4Eと図4Fを比較すると、輝度の急激な変化とリングの境界とが一致することがわかる。したがって、輝度の急激な変化の有無を調べることで、輝度ムラの発生の有無を知ることができる。本発明者は、輝度の急激な変化の有無を調べる方法として、輝度変化を示す多項式近似関数を1階微分および2階微分する方法を考案した。微分関数を算出する前に、多項式近似関数を算出するのは、輝度の実測値に含まれるノイズを除去するためである。ノイズを除去する方法としては、移動平均法などさまざまな方法があるが、輝度の変化点が失われてしまう方法は好ましくない。そこで、本発明者は、最小二乗法を用いて多項式近似関数を算出し、この多項式近似関数を微分することで、輝度の急激な変化の有無を調べることとした。前述の通り、図4Cおよび図4Gは、最小二乗法を用いて算出した多項式近似関数に対応する近似曲線である。また、図4Dおよび図4Hは、図4Cおよび図4Gに示される近似曲線の1階微分値および2階微分値を示すグラフである。図4Dおよび図4Hにおいて、曲線Aは、1階微分関数に対応する曲線であり、曲線Bは、2階微分関数に対応する曲線である。これらのグラフからわかるように、輝度の急激な変化点で、2階微分値傾斜変化度が大きく変化していることがわかる図4H参照。したがって、2階微分値傾斜変化度が所定の範囲内になければ、図4Eに示されるような輝度ムラが発生する可能性が高いと判断して、光束制御部材12は警告と評価される。[評価工程D]評価工程Dでは、光拡散部材13の出射面において発光素子11の光軸と出射面との交点を中心とする任意の円上の輝度変化について評価する。評価工程Dを行うことで、配光特性の回転対称性について評価することができる。図5は、評価工程Dを説明するための図であり、第1の輝度分布における任意の円上の輝度変化を示すグラフである。図5に示されるグラフでは、任意の円上の各点の輝度を中心原点からの距離で示している。すなわち、中心の相対輝度は0であり、外周側の相対輝度は100である。また、図5に示されるグラフでは、原点に対する角度が、第1の輝度分布の中心に対する角度と一致する。評価工程Dは、第1の輝度分布を得るD1工程と、第1の輝度分布において、発行素子11の光軸と出射面との交点を中心とする任意の円上の輝度の分布に基づいて、配光特性を評価するD2工程とを有する。第1の輝度分布を得るD1工程は、前述のA1工程と同じ工程であるので説明を省略する。D2工程では、発行素子11の光軸と出射面との交点を中心とする任意の円上の輝度を抽出する。そして、任意の円について、抽出された輝度の分布が所定の値の範囲内の場合は、光束制御部材12は適合と評価され、評価結果表示領域41には適合と表示される。一方、抽出された輝度の分布が所定の値の範囲外の場合は、光束制御部材12は警告と評価され、評価結果表示領域41には警告と表示される。図5のグラフには、第1の輝度分布における任意の円例えば、中心から半径40mmの円上の輝度を示す実線Cが示されている。この実線Cは、ほぼ円形であるが、一部に欠けている箇所がある。これは、第1の輝度分布における当該円上において、特定箇所の輝度が小さいことを示している。輝度変化が無い場合は、真円となり、輝度変化が大きいほど真円ではなくなる。上記D2工程は、この実線Cがどの程度真円に近いかを評価しているとも考えられる。[評価工程E]評価工程Eでは、光拡散部材13の出射面における任意の2点間の輝度変化について評価する。光拡散部材13の出射面における輝度変化の大きさについて評価することができる。図6は、評価工程Eを説明するための図である。図6において、横軸は、撮像領域の中心発光素子11の光軸と光拡散部材13の出射面との交点からの距離を示している。縦軸は、最大輝度を100としたときの相対輝度を示している図3Aと同様。評価工程Eは、第1の輝度分布を得るE1工程と、多項式近似関数を算出するE2工程と、近似曲線上の2点間の輝度変化に基づいて、光束制御部材12の配光特性を評価するE3工程とを有する。第1の輝度分布を得るE1工程は、前述のA1工程と同じ工程であるので説明を省略する。多項式近似関数を算出するE2工程は、前述のB2工程と同じ工程であるので説明を省略する。E3工程では、任意の2点間における輝度変化の割合が、所定の値の範囲内であれば、光束制御部材12は適合と評価され、評価結果表示領域41には適合と表示される。すなわち、図6に示されるグラフにおいて、任意の2点間におけるΔyをΔxで除した値2点間の傾斜に相当するが所定の値の範囲内の場合は、光束制御部材12は適合と評価され、評価結果表示領域41には適合と表示される。一方、任意の2点間におけるΔyをΔxで除した値が所定の値の範囲外であった場合は、光束制御部材12は警告と評価され、評価結果表示領域41には警告と表示される。[評価工程F]評価工程Fでは、光拡散部材13の出射面において輝度が所定値以上である領域の径と、光拡散部材13の出射面と発光素子11の光軸との交点と最大輝度の点との間隔について評価する。評価工程Fを行うことで、光束制御部材12の配光角度および配光方向の位置ずれについて評価することができる。図7は、評価工程Fを説明するための図である。図7において、横軸は、撮像領域の中心発光素子11の光軸と光拡散部材13の出射面との交点からの距離を示している。縦軸は、最大輝度を100としたときの相対輝度を示している図3Aと同様。評価工程Fは、第1の輝度分布を得るF1工程と、第1の輝度分布において、光拡散部材13の出射面において輝度が所定値以上である領域の径と、光拡散部材13の出射面と発光素子11の光軸との交点撮像領域の中心と最大輝度の点との間隔とに基づいて、光束制御部材の配光特性を評価するF2工程とを有する。第1の輝度分布を得るF1工程は、前述のA1工程と同じ工程であるので説明を省略する。F2工程では、第1の輝度分布において、光拡散部材13の出射面において輝度が所定値以上である領域の径Lを算出する図7参照。また、F2工程では、撮像領域の中心と最大輝度の点との間隔Dを算出する図7参照。そして、算出された径Lおよび間隔Dが所定の値の範囲内の場合は、光束制御部材12は適合と評価され、評価結果表示領域41には適合と表示される。一方、径Lおよび間隔Dのうち少なくとも一方が、所定の値の範囲外の場合は、光束制御部材12は警告と評価され、評価結果表示領域41には警告と表示される。光束制御部材の評価装置20は、記録部24に記録されたデータ例えば、第1の輝度分布に基づいて光束制御部材12の配光特性を評価することができる。したがって、光束制御部材の評価装置20は、過去に入力したデータや、遠隔地から転送されたデータを利用して光束制御部材12の配光特性を評価することができる。また、光束制御部材の評価装置20は、測定結果や評価結果などを任意のルールファイル名やフォルダ名などに基づき自動で保存することもできる。また、光束制御部材の評価装置20では、表示色切り替え領域42を利用して画像表示領域33の色彩を変更することができる。たとえば、予め各表示色モードのカラーパレット256階調を複数種類作製しておくことで、表示画像の色彩を瞬時に切り替えることができる。また、評価結果に伴う効果音の設定およびメッセ-ジも任意に設定することができる。効果音は、予め組み込まれた音でなくでも、自由に登録することができる。メッセージの文字、文字色および背景色も自由に設定することができる。[効果]以上のように、本実施の形態の光束制御部材の評価方法、評価装置および評価プログラムは、光束制御部材の配光特性を個別に評価することができる。