測定ガスにレーザ光をスキャンしながら照射する半導体レーザを含む光源ユニットと、前記測定ガスを透過したレーザ光を検出する受光素子とこの受光素子の出力信号が入力されるゲイン可変のアンプとこのアンプの出力信号が入力されるA/D変換器とこのA/D変換器の出力データに基づき前記測定ガスの濃度を演算する演算処理部を含む検出ユニットとで構成されたレーザガス分析装置において、前記半導体レーザのスキャンごとに前記A/D変換器の出力データのピークツーピーク値を検出するピークツーピーク検出器と、このピークツーピーク検出器の出力信号があらかじめ設定されている閾値から外れていたら前記アンプのゲインを閾値内に戻す方向に調整するゲイン調整部、を設けたことを特徴とするレーザガス分析装置。前記ゲイン調整部の閾値は、前記A/D変換器の入力レベルが適切な状態になるように設定されていることを特徴とする請求項1記載のレーザガス分析装置。前記ゲイン調整部は、少なくとも1つのウィンドウコンパレータを含むことを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載のレーザガス分析装置。ところで、図2に示すような構成のレーザガス分析装置では、前述のように、測定信号に含まれるノイズを除去してデータを平滑化するために、A/D変換器33の出力データについて、半導体レーザ11の波長のスキャンに同期して、積算器34とメモリ35との間で数百~数千回の積算とメモリ35への格納が繰り返して行われるが、これら数百~数千回のスキャンと積算と格納が行われる一連の解析処理期間中は、アンプ32のゲインを調整してA/D変換器33の入力レベルを一定に維持する必要がある。ところが、一連の解析処理期間中に突発的な外来ノイズなどの急激な環境の変化が発生すると、CPU36のソフトウェア処理に基づくアンプ32のゲイン調整が対応できなくなって測定データがたとえばクリップしてしまい、その解析処理期間における解析結果は不正データになってしまうという問題がある。本発明は、このような課題を解決するものであり、その目的は、1スキャン毎に適切なゲイン調整が行えるレーザガス分析装置を実現することにある。このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、測定ガスにレーザ光をスキャンしながら照射する半導体レーザを含む光源ユニットと、前記測定ガスを透過したレーザ光を検出する受光素子とこの受光素子の出力信号が入力されるゲイン可変のアンプとこのアンプの出力信号が入力されるA/D変換器とこのA/D変換器の出力データに基づき前記測定ガスの濃度を演算する演算処理部を含む検出ユニットとで構成されたレーザガス分析装置において、前記半導体レーザのスキャンごとに前記A/D変換器の出力データのピークツーピーク値を検出するピークツーピーク検出器と、このピークツーピーク検出器の出力信号があらかじめ設定されている閾値から外れていたら前記アンプのゲインを閾値内に戻す方向に調整するゲイン調整部、を設けたことを特徴とする。請求項2記載の発明は、請求項1に記載のレーザガス分析装置において、前記ゲイン調整部の閾値は、前記A/D変換器の入力レベルが適切な状態になるように設定されていることを特徴とする。請求項3記載の発明は、請求項1または請求項2のいずれかに記載のレーザガス分析装置において、前記ゲイン調整部は、少なくとも1つのウィンドウコンパレータを含むことを特徴とする。これにより、半導体レーザのスキャンごとに、ゲイン可変アンプのゲインを、A/D変換器の入力レベルとして適切な状態になるように調整できる。以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。図1は本発明の一実施例を示すブロック図であり、図2と共通する部分には同一の符号を付けている。図1と図2の相違点は、ゲイン可変のアンプ32のゲインを調整する手段として、CPU36に代えて、A/D変換器33の出力データのP-P値を検出するP-P検出器37と、ゲイン調整部38を設けていることである。図1において、光源ユニット10に設けられている半導体レーザ11は、従来と同様に測定用レーザ光を測定ガス20の雰囲気中に照射出力する。このとき、測定ガス20の測定対象成分の吸収スペクトルの面積を求めるために、吸収波長を含む狭い帯域で半導体レーザ11の波長をスキャンさせる。測定ガス20の雰囲気中を通過した測定用レーザ光は検出ユニット30に設けられている受光素子31で受光され、電気信号に変換される。受光素子31の出力信号はゲイン可変のアンプ32を介してA/D変換器33の入力レベルとして適切な振幅レベルに調整されてA/D変換器33に入力され、デジタル信号に変換される。A/D変換器33の出力データは、半導体レーザ11の波長のスキャンに同期して積算器34とメモリ35との間で所定回数たとえば数百~数千回の積算とメモリ35への格納が繰り返されて測定信号に含まれるノイズが除去されて平滑化された後、CPU36に入力される。CPU36は、ノイズが除去された測定信号に基づき測定ガスの濃度解析などの演算処理を行う。P-P検出器37は、半導体レーザ11のスキャンごとにA/D変換器33の出力データのP-P値をリアルタイムで検出し、検出結果をゲイン調整部38に入力する。具体的には、P-P検出器37は、A/D変換器33のサンプリングタイミングでリアルタイムにデータの比較を行う。ゲイン調整部38は、P-P検出器37の出力信号があらかじめ設定されている閾値から外れていたら、次のスキャンではゲイン可変のアンプ32のゲインを閾値内に戻す方向に調整するための制御信号を、アンプ32に対して出力する。このようなゲイン調整部38としては、たとえばウィンドウコンパレータを含むものを用いる。一連の解析処理期間中に突発的な外来ノイズなどの急激な環境の変化が発生した場合には、P-P検出器37がリアルタイムでA/D変換器33のP-P値を的確に検出してその検出結果をゲイン調整部38に入力する。そして、ゲイン調整部38は、P-P検出器37から入力されるP-P値の検出結果をあらかじめ設定されている閾値に基づいてそのスキャン周期におけるA/D変換器33の出力データのP-P値がA/D変換器33の適正入力レベルに対してオーバーフロー状態なのか極端に低いレベル状態なのかを判断し、次のスキャンではゲイン可変のアンプ32のゲインを閾値内に戻す方向に調整するための制御信号をアンプ32に対して出力する。これにより、一連の解析処理期間中に突発的な外来ノイズなどの急激な環境の変化が発生しても、1スキャンの最終時点でA/D変換器33の出力データのP-P値が決まり、その次のサンプリングではA/D変換器33の適正入力レベルになるようにアンプ32のゲインを変更することができる。このようなゲイン調整を繰り返すことにより、スキャン毎のアンプ32の適正なゲイン調整が可能となり、A/D変換器33の出力データがオーバーフローや極端に低いレベルの状態での解析による不正データが出力されることを防止でき、常に高精度の解析結果を出力できることから、各種プロセス産業におけるプロセスガスの直接測定に好適なレーザガス分析装置を実現できる。なお、ゲイン調整部38には、複数個のウィンドウコンパレータを用いてもよい。そうすることで、A/D変換器33の出力データのP-P値のレベルが著しく変化したときでも、アンプ32のゲインを1段ずつの調整するのではなく、最適なゲインへ一度に変更することができる。また、ゲイン調整部38は、実質的にウィンドウコンパレータと同様な機能を有するものであればよく、ウィンドウコンパレータに限るものではない。以上説明したように、本発明によれば、1スキャン毎に適切なゲイン調整が行えることから、スペクトル面積法の適用とあいまって、長期間にわたって安定に高精度の解析結果をリアルタイムで高速に出力するレーザガス分析装置を実現でき、各種プロセスガスの直接測定に有効である。