"被測定物を載置するテーブルと、前記被測定物の表面性状に応じた信号を発する検出手段と、前記テーブルおよび前記検出手段を相対移動させる相対移動機構と、前記検出手段からの信号を取り込み、この取り込んだ信号を処理して被測定物の表面性状を求める処理装置とを備えた表面性状測定機において、前記検出手段は、複数の検出器を含んで構成され、前記処理装置は、前記複数の検出器からの信号を順番に取り込んで処理する、ことを特徴とする表面性状測定機。請求項1に記載の表面性状測定機において、前記各検出器毎に、増幅器、アンチエイリアスフィルタおよびアナログデジタル変換器が設けられ、前記処理装置は、前記アナログデジタル変換器からの信号を順番に取り込んで処理する、ことを特徴とする表面性状測定機。請求項2に記載の表面性状測定機において、前記複数のアナログデジタル変換器に代えて、多チャンネルアナログデジタル変換器が設けられている、ことを特徴とする表面性状測定機。請求項1に記載の表面性状測定機において、前記各検出器からの信号を選択的に取り出すスイッチ手段が設けられ、このスイッチ手段の出力側に、増幅器、アンチエイリアスフィルタおよびアナログデジタル変換器が設けられ、前記処理装置は、前記スイッチ手段を切り換えて、前記各検出器からの信号を順番に増幅器へ取り込むとともに、前記アナログデジタル変換器からの信号を取り込んで処理する、ことを特徴とする表面性状測定機。請求項1~請求項4のいずれかに記載の表面性状測定機において、前記検出手段は、第1検出器と第2検出器を含んで構成され、前記第1検出器に対して、前記第2検出器の位置を調整可能な位置調整機構を備えている、ことを特徴とする表面性状測定機。測定機を使う者にとっては、同じ時間でより多くの測定をしたいという要求がある。その要求に応えるには、測定時間を短縮することが必要である。従来の真円度測定機では、スタイラスの先端を被測定物の外周面に接触させた状態において回転テーブルを1回転させると、1測定要素分のデータしか取得することができない。つまり、1回のトレースで1測定要素分のデータしか取得することができないそのため、2測定要素以上のデータを必要とする解析の場合、例えば、円筒度の解析の場合、スタイラスの先端を被測定物の外周面に接触させ、この状態において回転テーブルを1回転させて1測定要素分のデータを取得したのち、スタイラスの先端を被測定物の軸方向へ移動させて、スタイラスの先端を被測定物の外周面に接触させ、この状態において回転テーブルを1回転させて1測定要素分のデータを取得しなければならない。従って、必要とする測定要素の回数分の測定時間がかかる。本発明の目的は、このような課題に対し、測定時間の短縮が図れる表面性状測定機を提供することにある。本発明の表面性状測定機は、被測定物を載置するテーブルと、前記被測定物の表面性状に応じた信号を発する検出手段と、前記テーブルおよび前記検出手段を相対移動させる相対移動機構と、前記検出手段からの信号を取り込み、この取り込んだ信号を処理して被測定物の表面性状を求める処理装置とを備えた表面性状測定機において、前記検出手段は、複数の検出器を含んで構成され、前記処理装置は、前記複数の検出器からの信号を順番に取り込んで処理する、ことを特徴とする。ここで、検出器としては、スタイラスを被測定物に接触させて検出する接触式検出器であってもよく、あるいは、被測定物の表面までの距離を光、磁気、静電容量などで検出する非接触式検出器であってよい。このような構成によれば、複数の検出器を備えているから、これら複数の検出器を被測定物に関与させた状態において、例えば、接触式検出器ではスタイラスを被測定物に接触させた状態において、相対移動機構によりテーブルと検出器とを相対移動させると、複数の検出器からの信号が処理装置に順番に取り込まれ、処理される。従って、1回の相対移動により、検出器の個数分の測定データを一度に取得することができるから、測定時間を短縮することができる。本発明の表面性状測定機において、前記各検出器毎に、増幅器、アンチエイリアスフィルタおよびアナログデジタル変換器が設けられ、前記処理装置は、前記アナログデジタル変換器からの信号を順番に取り込んで処理する、ことが好ましい。このような構成によれば、各検出器で検出された信号は、増幅器で増幅され、続いて、アンチエイリアスフィルタで折り返し雑音が除去され、アナログデジタル変換器でデジタル信号に変換されたのち、処理装置に順番に取り込まれるから、高精度な測定が保証できる。本発明の表面性状測定機において、前記複数のアナログデジタル変換器に代えて、多チャンネルアナログデジタル変換器が設けられている、ことが好ましい。このような構成によれば、複数のアナログデジタル変換器に代えて、多チャンネルアナログデジタル変換器が用いられているから、部品点数を削減できる。本発明の表面性状測定機において、前記各検出器からの信号を選択的に取り出すスイッチ手段が設けられ、このスイッチ手段の出力側に、増幅器、アンチエイリアスフィルタおよびアナログデジタル変換器が設けられ、前記処理装置は、前記スイッチ手段を切り換えて、前記各検出器からの信号を順番に増幅器へ取り込むとともに、前記アナログデジタル変換器からの信号を取り込んで処理する、ことが好ましい。このような構成によれば、各検出器毎に、増幅器、アンチエイリアスフィルタおよびアナログデジタル変換器を備えなくてもよいので、経済的に構成できる。本発明の表面性状測定機において、前記検出手段は、第1検出器と第2検出器を含んで構成され、前記第1検出器に対して、前記第2検出器の位置を調整可能な位置調整機構を備えている、ことが好ましい。このような構成によれば、第1検出器に対して、第2検出器の位置を調整可能な位置調整機構を備えているから、第1検出器と第2検出器との相対位置を被測定物の表面形状に合わせて調整することにより、一度に異なる測定面を同時に測定することができる。例えば、被測定物の径の異なる軸部を一度に同時に測定することができる。<真円度測定機の説明>図1は、本発明の表面性状測定機の実施形態の真円度測定機を示す斜視図である。本実施形態の真円度測定機は、同図に示すように、ベース10と、このベース10上の一側に垂直軸線Lを中心に回転可能に設けられ上面に被測定物Wを載置するテーブルとしての回転テーブル20と、検出手段30と、この検出手段30を垂直軸線L方向Z軸方向および垂直軸線Lに対して直交する方向X軸方向でかつ回転テーブル20に対して接近、離間する方向へ駆動させる相対移動機構としての検出器駆動機構40と、処理装置60とを備える。回転テーブル20は、回転駆動機構23図2参照によって垂直軸線Lを中心に回転駆動される構造である。回転駆動機構23は、回転テーブル20を回転駆動するモータ、あるいは、モータからの回転を減速器を介して回転テーブル20に伝達する機構などで構成されている。検出手段30は、第1検出器31と、第2検出器32とを備える。これら検出器31,32は、接触式検出器であって、被測定物Wに接するスタイラス33と、このスタイラス33の基端を揺動可能に支持し先端の変位スタイラス33の長手方向に対して直交する方向の変位を電気信号として検出し出力する検出器本体34とを有する。検出器駆動機構40は、ベース10上の他側に立設されたコラム41と、このコラム41に沿って昇降スライダ42を上下方向Z軸方向へ昇降駆動させる昇降駆動機構43と、昇降スライダ42に対してスライドアーム44を垂直軸線に対して直交する方向でかつ回転テーブル20に対して接近、離間する方向X軸方向へ駆動させるスライド駆動機構45と、スライドアーム44の先端に設けられ第1検出器31および第2検出器32を上下に間隔を隔てて保持する保持部材46とを備える。昇降駆動機構43は、図示省略したが、昇降スライダ42を上下方向へ駆動できる機構であれば、どのような構造でもよい。例えば、コラム41に上下方向へ立設されたボールねじ軸と、このボールねじ軸を回転させるモータと、ボールねじ軸に螺合され昇降スライダ42に連結されたナット部材とを有する送り機構などでもよい。スライド駆動機構45についても、図示省略したが、スライドアーム44を垂直軸線Lに対して直交する方向でかつ回転テーブル20に対して接近、離間する方向へ駆動できる機構であれば、どのような構造でもよい。例えば、スライドアーム44の長手方向に沿ってラックを形成し、このラックに噛み合うピニオンおよびこのピニオンを回転させるモータなどを昇降スライダ42内に設けた構成であってもよい。<制御システムの説明>図2は、制御システムを示すブロック図である。第1検出器31および第2検出器32毎に、検出信号を増幅する増幅器51A,51B、増幅器51A,51Bからの出力信号のうち折り返し雑音サンプリング周波数の半分を超える周波数成分を遮断するアンチエイリアシングフィルタ52A,52B、アナログデジタル変換器53A,53Bが備えられ、アナログデジタル変換器53A,53Bからの信号が順番にCPUからなる処理装置60に取り込まれるようになっている。処理装置60には、回転テーブル20の回転駆動機構23、昇降スライダ42の昇降駆動機構43、スライドアーム44のスライド駆動機構45、表示装置61などのほかに、記憶装置62が接続されている。記憶装置62には、測定プログラムを記憶したプログラム記憶部、および、測定時に取り込んだ測定データなどを記憶するデータ記憶部などが設けられている。<測定動作の説明>記憶装置62のプログラム記憶部に記憶された測定プログラムによって、測定指令が処理装置60に与えられると、検出器駆動機構40が駆動される。つまり、昇降駆動機構43およびスライド駆動機構45の駆動により、第1検出器31および第2検出器32が被測定物Wに接近する方向へ移動され、これら第1検出器31および第2検出器32のスタイラス33が被測定物Wの外周面に接触される。第1検出器31および第2検出器32のスタイラス33が被測定物Wの外周面に接触された状態において、回転テーブル20が回転駆動されると、被測定物Wの表面形状に応じて、第1検出器31および第2検出器32のスタイラス33が変位される。すると、そのスタイラス33の変位が検出器本体34によって電気信号として検出される結果、第1検出器31および第2検出器32からスタイラス33の変位に基づく検出信号が出力され、その検出信号が処理装置60に順番に取り込まれる。つまり、第1検出器31および第2検出器32から検出信号が、増幅器51A,51B、アンチエイリアシングフィルタ52A,52B、アナログデジタル変換器53A,53Bを経てデジタル信号として、処理装置60に順番に取り込まれる。処理装置60は、取り込んだ測定データを記憶装置62のデータ記憶部に記憶したのち、こられのデータから解析処理を行い、その結果を表示装置61に表示し、かつ、必要に応じてプリントアウトする。例えば、図3に示すように、被測定物W1の円筒度を測定する場合、被測定物W1の軸方向の異なる複数位置において、被測定物W1の外周面をトレースする必要がある。このような場合でも、本実施形態の測定機によれば、被測定物W1の軸方向の異なる2箇所位置に第1検出器31および第2検出器32のスタイラス33を接触させ、この状態で被測定物W1の外周面を同時にトレースすることができるから、測定時間を1/2に短縮することができる。また、図4に示すように、被測定物W2の径の異なる軸部J1,J2の同軸度を測定する場合、各軸部J1,J2の軸方向の異なる複数位置において、軸部J1,J2の外周面をトレースする必要がある。このような場合でも、本実施形態の測定機によれば、各軸部J1,J2の軸方向の異なる2箇所位置に第1検出器31および第2検出器32のスタイラス33を接触させ、この状態で軸部J1,J2の外周面を同時にトレースすることができるから、測定時間を1/2に短縮することができる。また、図5に示すように、フランジ部Fに対して軸部J3が直角に起立した被測定物W3の直角度を測定する場合、フランジ部Fの平面を測定するとともに、軸部J3の軸方向の異なる複数位置において、軸部J3の外周面をトレースする必要がある。このような場合でも、本実施形態の測定機によれば、はじめに、フランジ部Fの平面度を第1検出器31で測定したのち、軸部J3の軸方向の異なる2箇所位置に第1検出器31および第2検出器32のスタイラス33を接触させ、この状態で軸部J3の外周面を同時にトレースすることができるから、測定時間を大幅に短縮することができる。<実施形態の効果>第1検出器31と第2検出器32とを備えているから、これらの検出器31,32を被測定物Wに接触させた状態において、回転テーブル20を回転させると、これら第1検出器31,第2検出器32からの信号が処理装置60に順番に取り込まれ、処理される。従って、1回の相対移動により、検出器の個数分の測定データを取得することができるから、測定時間を短縮することができる。第1検出器31および第2検出器32毎に、増幅器51A,51B、アンチエイリアスフィルタ52A,52Bおよびアナログデジタル変換器53A,53Bが設けられているから、第1検出器31および第2検出器32で検出された信号は、増幅器51A,51Bで増幅され、続いて、アンチエイリアスフィルタ52A,52Bで折り返し雑音が遮断され、続いて、アナログデジタル変換器53A,53Bでデジタル信号に変換されたのち、処理装置60に取り込まれる。従って、高精度な測定が保証できる。<変形例>本発明は、前述の実施形態に限定されるものでなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良などは本考案に含まれる。前記実施形態では、2つの検出器31,32を備えた例を示したが、検出器の数は3つ以上であってもよい。前記実施形態では、第1検出器31および第2検出器32毎に、増幅器51A,51B、アンチエイリアスフィルタ52A,52Bおよびアナログデジタル変換器53A,53Bを設けるようにしたが、これに限られない。例えば、図6に示すように、複数のアナログデジタル変換器53A,53Bに代えて、多チャンネルアナログデジタル変換器53Cを設けるようにしてもよい。このようにすれば、部品点数を削減できる。また、図7に示すように、第1検出器31および第2検出器32の出力側にスイッチ手段54を設け、このスイッチ手段54の出力側に、増幅器51、アンチエイリアスフィルタ52およびアナログデジタル変換器53を設けるとともに、処理装置60からのスイッチ切替指令により、スイッチ手段54を切り替えて第1検出器31および第2検出器32からの信号を順番に増幅器51へ取り込むとともに、処理装置60がアナログデジタル変換器53からの信号を取り込んで処理するようにしてもよい。このようにすれば、第1検出器31および第2検出器32毎に、増幅器、アンチエイリアスフィルタおよびアナログデジタル変換器を備えなくてもよいので、経済的に構成できる。また、図8に示すように、第1検出器31に対して、第2検出器32の位置を調整可能な位置調整機構70を設けてもよい。位置調整機構70は、スライドアーム44の先端に設けられ第1検出器31を保持した保持部材71に対して、Z軸方向へ昇降可能な昇降軸72と、この昇降軸72の上端にX軸方向へスライド可能に設けられ先端に第2検出器32を保持したスライド軸73とを含んで構成されている。従って、第2検出器32の位置を、第1検出器31に対して、Z軸方向およびX軸方向へ位置調整することができるから、第1検出器31と第2検出器32との位置を、被測定物Wの表面形状に合わせて調整することにより、一度に異なる測定面を同時に測定することができる。例えば、被測定物の径の異なる軸部を一度に同時に測定することができる。また、図8において、スライドアーム44の先端と保持部材71との間にX軸を中心として旋回する旋回機構を設ければ、第1検出器31および第2検出器32の姿勢を水平に倒した姿勢にできるから、水平面において複数の測定、つまり、平面度の測定を効率的に行うことができる。また、前記実施形態では、真円度測定機について説明したが、本発明は、これに限られない。例えば、スタイラスを有する接触式検出器、あるいは、非接触式検出器を被測定物の表面に沿って相対移動させながら、被測定物の形状や粗さなどを測定する形状測定機、粗さ測定機などにも適用できる。"