"半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置であって、前記光走査装置に設けられた反射ミラーの反射面の方向を所定の方向に調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査実施部を有し、前記所定の方向は、前記反射面で反射したレーザ光が、前記光走査装置を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向であることを特徴とする光走査装置。レーザ光の前記被走査体上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する検知センサを備え、前記反射ミラーは、前記検知センサに向かうレーザ光の光路に影響しない位置であって、且つ前記検知センサに向かうレーザ光の光路より後段に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。前記反射ミラーは、ステッピングモータにより前記反射面の方向が調整可能に設けられていることを特徴とすることを特徴とする請求項1又は2に記載の光走査装置。ポリゴンミラーを有し、前記反射ミラーは、前記ポリゴンミラーより後段に設けられていることを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の光走査装置。ポリゴンミラーを有し、前記反射ミラーは、前記ポリゴンミラーより前段に設けられていることを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の光走査装置。請求項1~5のいずれか1項に記載の光走査装置を備えた画像形成装置であって、前記検査実施部は、ユーザ操作により若しくは設定されたタイミングで、前記発光検査を実施することを特徴とする画像形成装置。半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置における半導体レーザ検査方法であって、前記光走査装置に設けられた反射ミラーの反射面の方向を所定の方向に調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査工程を有し、前記所定の方向は、前記反射面で反射したレーザ光が、前記光走査装置を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向であることを特徴とする半導体レーザ検査方法。ところで、半導体レーザは、静電気に対して非常に弱く、最終形態の製品化までの間に静電気が加わると寿命が大きく変動してしまう。そのため、光走査装置や光走査装置を備えた画像形成装置においても、製品組上げ後の最終状態画像形成装置に搭載した状態で半導体レーザの検査を行って、不良である場合には交換することが望まれる。しかしながら、特許文献1では、検査試験を実施できるように光送信モジュール用プリント基板を改良することについて提案されているが、製品組上げ後の最終形態での検査の実施を行うものではない。また、特許文献2に記載の半導体レーザは、製品組上げ後の最終形態での検査の実施を想定したものではない。なお、特許文献3には、半導体レーザのスクリーニングの実施について記載されていない。本発明は、上述のような実状に鑑みてなされたものであり、その目的は、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置において、不用意に画像形成装置における感光体にレーザ光を照射して感光体を露光及び劣化させることなく、画像形成装置に搭載した最終状態での半導体レーザの検査を実施できるようにすることにある。上記課題を解決するために、本発明の第1の技術手段は、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置であって、前記光走査装置に設けられた反射ミラーの反射面の方向を所定の方向に調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査実施部を有し、前記所定の方向は、前記反射面で反射したレーザ光が、前記光走査装置を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向であることを特徴としたものである。第2の技術手段は、第1の技術手段において、レーザ光の前記被走査体上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する検知センサを備え、前記反射ミラーは、前記検知センサに向かうレーザ光の光路に影響しない位置であって、且つ前記検知センサに向かうレーザ光の光路より後段に配置されていることを特徴としたものである。第3の技術手段は、第1又は第2の技術手段において、前記反射ミラーは、ステッピングモータにより前記反射面の方向が調整可能に設けられていることを特徴としたものである。第4の技術手段は、第1~第3のいずれか1の技術手段において、ポリゴンミラーを有し、前記反射ミラーは、前記ポリゴンミラーより後段に設けられていることを特徴としたものである。第5の技術手段は、第1~第3のいずれか1の技術手段において、ポリゴンミラーを有し、前記反射ミラーは、前記ポリゴンミラーより前段に設けられていることを特徴としたものである。第6の技術手段は、第1~第5のいずれか1の技術手段における光走査装置を備えた画像形成装置であって、前記検査実施部は、ユーザ操作により若しくは設定されたタイミングで、前記発光検査を実施することを特徴としたものである。第7の技術手段は、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置における半導体レーザ検査方法であって、前記光走査装置に設けられた反射ミラーの反射面の方向を所定の方向に調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査工程を有し、前記所定の方向は、前記反射面で反射したレーザ光が、前記光走査装置を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向であることを特徴としたものである。本発明によれば、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置において、半導体レーザの劣化判定等の検査のためにレーザ光を点灯させる場合に、画像形成装置における感光体にレーザ光が照射しないように反射ミラーの角度を調整するので、不用意に感光体にレーザ光を照射して感光体を露光及び劣化させることなく、画像形成装置に搭載した最終状態での半導体レーザの検査を実施することが可能になる。以下、本発明に係る光走査装置、並びにそれを備えた画像形成装置について、図面を参照しながら説明する。図1は、本発明に係る光走査装置の一構成例を示す図、図2は、その詳細な構成例を示す図、図3は、図1及び図2の光走査装置を備えた画像形成装置の主要部の構成例を示す図である。本発明に係る光走査装置は、図1及び図2で例示する光走査装置2のように、半導体レーザ20を有し、半導体レーザ20から出射したレーザ光は、画像形成装置に設けられた被走査体としての感光体ドラム1を走査するようになっている。半導体レーザ20を用いた光走査装置2は、レーザスキャニングユニットLSU、レーザ露光ユニットとも言い、以下、LSUとして説明する。LSU2は、ポリゴンミラー回転多面鏡22を有し、画像データに応じて発せられたレーザ光レーザビームが、ポリゴンミラー22に取り付けられたモータポリゴンモータが回転することにより、ポリゴンミラー22の回転周面上に設けられた反射面例えば6つの反射面で反射し、被走査体としての感光体ドラム1上に走査される。このレーザ光はポリゴンミラー22の回転に従い主走査方向Aに走査され、また感光体ドラム1のB方向又はその逆方向への回転によって副走査方向に走査される。LSU2は、ポリゴンミラー22の他、画像データに応じて半導体レーザ20から出射された光ビームをポリゴンミラー22に導くためのレンズやミラー等の光学要素や、ポリゴンミラー22によって反射された光ビームを感光体ドラム1に導くためのレンズやミラー等の光学要素が配置されている。前者の光学要素としては、例えば半導体レーザ20からのレーザ光を入射するコリメータレンズ21や、図示しないが、コリメータレンズ21の出射側に設けられた開口板、開口板の開口部分から出射した光を入射するシリンドリカルレンズ、及び、シリンドリカルレンズから出射した光を入射しポリゴンミラー22の反射面に向けて反射させるミラーなどが挙げられる。後者の光学要素としては、ポリゴンミラー22から出射されたレーザ光を通過させ、感光体ドラム1の結像面上で等速走査させるf-θレンズ23や、f-θレンズ23から出射されたレーザ光を反射して感光体ドラム1側に導く反射ミラー30、反射ミラー30で反射したレーザ光を透過させる開口部である防塵ガラス26などが挙げられる。ここで、反射ミラー30は、レーザ光の光軸光路を変えるために設けられたミラーである。また、反射ミラー30に付属の各構成要素31~33については、本発明の主たる特徴の一つであり、後述する。また、LSU2は、画像形成装置に、このLSU2を含めた画像形成装置の全体を制御する制御部と共に設けられる。この制御部は、図3で例示するようにLSU本体2aを制御するための制御部LSUコントローラ2bと、それを制御する主制御部図示せずなどに分け構成してもよい。ここで、LSU本体2aは、半導体レーザレーザダイオード20や反射ミラー30など、図2で図示した各構成要素を有する。LSUコントローラ2bは、半導体レーザ20の駆動を行うレーザ駆動部40、本発明の主たる特徴の一つである、反射ミラー30の角度を制御するミラー制御部41などを備える。その他、画像形成装置におけるLSU2以外の構成要素については、感光体ドラム1を有し、画像形成を行うプロセス部10をはじめとする様々な構成要素が設けられているが、既存の技術を適用して構成すればよいため、その説明を省略する。そして、LSU2は、帯電された感光体ドラム1を入力された画像データに応じたレーザ光で露光することにより、その表面に、その画像データに応じた静電潜像を形成する機能を有する。なお、感光体ドラム1上に形成された静電潜像は現像器でトナーにより顕像化される。画像形成装置は、例えばブラック、シアン、マゼンタ、イエローの4色など、複数色により画像を形成する装置であってもよく、その場合、各色用に半導体レーザ20及び感光体ドラム1を設け、これらをタンデム方式で画像形成するように構成しておけばよい。このような構成の場合、ポリゴンミラー22は各色で共有させてもよいし、各色用にそれぞれ設けてもよい。また、画像形成装置は、図1及び図2で例示するようにレーザ光の感光体ドラム1上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する同期用検知センサ24を備える。同期用検知センサ24は、感光体ドラム1に対して主走査方向に走査することを妨害しない位置に設けられており、通常、図1及び図2で示すようにLSU2に設けられる。同期用検知センサ24について、感光体ドラム1上での主走査の開始のためにレーザ光を検知するセンサであるものとして説明する。ここで、ポリゴンミラー22で反射して感光体ドラムへ向かうレーザ光には、感光体ドラム1上での画像形成に使用されるレーザ光、すなわち主走査方向Aに走査するための光ビーム主走査ビームとも言うがある。なお、レーザ光の光路はLで示している。この主走査ビームが走査する際に通過する空間領域を画像領域とし、画像領域以外の領域を非画像領域とする。レーザ光が感光体ドラム1を走査するとき、レーザ光は主走査方向Aのラインを定期的に走査する。このとき感光体ドラム1は回転しているので、感光体ドラム1は一定期間毎に異なる場所を走査されることになる。但し、走査ラインの書き始めの位置は、レーザ光が走査される毎に同一である必要がある。この走査ラインの書き始めの位置を検出するために、LSU2には同期検出装置が設けられている。この同期検出装置は、上述の同期用検知センサ24と、同期用検知センサ24に同期検出ビームを導く案内手段である同期検出ビームの折り返しミラー同期ミラー25とを備える。同期用検知センサ24は、上記非画像領域の光ビームを同期検出ビームとして検出するためのセンサであり、ビーム検出用のBDBeamDetectセンサである。なお、同期用検知センサ24と同期ミラー25との間には、同期用検知センサ24に同期検出ビームを集光するレンズを設けてもよい。上記同期検出ビームは、各主走査ビームの最初の照射位置との同期をとるための信号であり、ポリゴンミラー22を出射した光ビームが、f-θレンズ23を通過した後に、同期ミラー25で反射された光ビームである。但し、同期用検知センサ24及び同期ミラー25は、図2において点線で図示して他の構成と区別したように、通常印刷時やスクリーニング時のf-θレンズ23と反射ミラー30との間の光路上には設けられておらず、紙面奥側に設けられている。同期検出ビームは、同期ミラー25により折り返され、同期用検知センサ24に到達する。この同期用検知センサ24は受光量に応じたセンサ信号を出力する。そして、LSUコントローラ2bのレーザ駆動部40は、同期用検知センサ24からのセンサ信号に基づいて、画像書き込み開始位置を決定するための同期信号を生成する。具体的には、同期用検知センサ24の受光量が、少なくともそのレーザ光が感光体ドラム1を露光して静電潜像を形成するのに必要な光量以上の場合に、同期信号が生成される。このように、同期信号は主走査方向Aの走査開始基準信号として用いられ、この信号を基準として各ラインの主走査方向Aの書出し開始位置の同期が取られる。このような同期を行うため、同期ミラー25は、図2のようにLSU2内ではなく、主走査方向Aにおいて、印字エリアの直ぐ近くの非印字エリアを通るレーザ光が当たるように感光体ドラム1の直ぐ近くに設けられていてもよい。また、同期検出装置は、同期用検知センサ24で光ビームが検出できない場合にエラー信号を出力する。LSU2が組み込まれた画像形成装置では、装置の運転を停止するとともに、例えば所定のサービスコードをその表示画面に表示させることで、走査方向の書き始めの位置の不具合をユーザに知らせる。4色で画像形成する場合を例に挙げると、主走査方向Aの書き出し位置を検出する同期用検知センサ24は、例えばブラック用光ビームの光路上のみに備えられ、4つの光ビームのうちのブラック用の光ビームのみに対応させ、他の色用の光ビームには、これを参照させることにより、予め決定された画像データの書き出し開始タイミングによって走査を開始させるようにしておけばよい。そして、上述した画像形成装置の制御部は、次に説明する検査実施部における発光検査の実行の制御も行う。LSUコントローラ2bには実行の制御のための命令を画像形成装置の主制御部から受け付けるように構成されており、LSU2単独だけでも発光検査を実行できるようにこの命令を検査用の機器に接続することも可能に構成しておけばよい。この検査実施部は、LSU2に設けられた反射ミラー30の反射面の方向を所定の方向に調整してから、半導体レーザ20からレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する。スクリーニング用の検知センサ27は、この出射光を検出するためのビーム検知センサBDであり、発光強度が適切か否かを検知することができる。上記の検査実施部は、反射ミラー30、その調整機構である各構成要素31~33、レーザ駆動部40、ミラー制御部41などで構成される。また、検知センサ27からは受光量に応じたセンサ信号が出力されるため、全く発光しない故障だけでなく、そのセンサ信号のレベルにより、半導体レーザ20の劣化度合いも判定することができる。ここで、上記所定の方向は、上記反射面で反射したレーザ光が、LSU2を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向とする。つまり、検知センサ27は、感光体ドラム1に対して主走査方向に走査することを妨害しない位置、つまり感光体ドラム1へのレーザ光の光路に影響を与えない位置に設けられており、同期用検知センサ24へのレーザ光の光路にも影響を与えないような位置に設けられている。また、最終的に照射するような方向で上記所定の方向を決めることは、調整対象の反射ミラー30の他に光軸を変えるミラー等が設けられていてもよいことを意味する。反射ミラー30の反射面の調整は構成要素31~33で例示したような調整機構ミラー駆動機構をミラー制御部41が制御することで行う。また、複数のミラーの調整によって最終的に非印字エリアに照射するような方向を、上記所定の方向としてもよい。また、可動する反射ミラー30は、図1及び図2で例示したように、同期用検知センサ24に向かうレーザ光の光路に影響しない位置光路に被ることがない位置というだけでなく、同期用検知センサ24に向かうレーザ光の光路より後段に配置されていることが好ましい。さらに、このような構成により、同期用検知センサ24とスクリーニング用の検知センサ27とを共通化するように改良することもでき、共通化することで特別な検知センサを追加することなく、同期用検知センサ24でスクリーニングが実現可能となり部品数の削減になる。但し、本発明では、反射ミラー30の後段に同期ミラー25や同期用検知センサ24が設けられた構成も採用できる。以上のように、本発明では、スクリーニングのために半導体レーザ20を点灯させた時に、図3の光軸Lsで示すように反射ミラー30の反射面で反射したレーザ光が印字エリアに照射せず非印字エリアに照射するような所定の方向になるように反射角度を調整してから、つまり感光体ドラム1にレーザ光を照射しないようにしてから、発光検査を行う。反射角度の調整は、感光体ドラム1の主走査方向又は副走査方向にずらすように実行してもよいし、主走査方向や副走査方向とは無関係な方向にずらすように実行してもよい。検知センサ27は、スクリーニングのために半導体レーザ20を点灯させた時に、反射ミラー30を介して検知センサ27の検知面にレーザ光が常に当たるように、上記反射面が上記所定の方向になるように調整した状態で、反射したレーザ光が最終的に照射する位置に受光部を有するように設置される。一方で、印字時には、図3の光軸Lpで示すように反射ミラー30の反射面で反射したレーザ光が感光体ドラム1の印字エリア若しくは同期用検知センサ24側に出射されるようになっている。また、各色用に半導体レーザ20が設けられるLSU2であって各色用に感光体ドラム1が設けられる画像形成装置については、検査実施部を含むLSU2も各色用に設けておけば各色用の半導体レーザ20のスクリーニングが可能であるが、各色について共通化できる構成要素については共通化しておいてもよい。また、上記検査実施部は、画像形成装置にLSU2を搭載した場合、ユーザ操作により、若しくは設定されたタイミングで、LSU2に設けられた反射ミラー30の反射面の方向を所定の方向に調整してから、半導体レーザ20からレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する。無論、ここでの調整は、ユーザ操作を受けて若しくは設定されたタイミングの到来により、自動で行われる。上記ユーザ操作に関し、ユーザとは画像形成装置を納品する設置者が挙げられ、操作とは操作部から開始指示キーが押下される操作を指す。また、上記設定されたタイミングとしては、出荷状態から最初に電源が投入されたタイミングとしておいてもよいし、最初に電源が投入されたタイミングから所定時間経過したタイミングとしておいてもよい。出荷状態になる手前で今から電源を落として出荷する場面で次回電源が投入されたとき又はそこから所定時間後を上記タイミングとするようにしておけばよい。また、ユーザ操作の場合も設定されたタイミングの場合も、発光検査だけを行うのではなく、半導体レーザ20の発光検査を少なくとも含むLSU2自体の検査や画像形成装置自体の検査を併せて開始するようにしておいてもよい。以上のように、本発明に係るLSU2は、半導体レーザ20の劣化判定等の検査スクリーニングのためにレーザ光を点灯させる場合に、画像形成装置における感光体ドラム1にレーザ光が照射しないように反射ミラー30の角度を、上記所定の方向に対応する所定の角度に調整するので、LSU2が画像形成装置に搭載された状態で半導体レーザ20のスクリーニングを実施しても、不用意に感光体ドラム1にレーザ光を照射して感光体を露光及び劣化させることない。そして、このように、本発明ではLSU2が搭載された画像形成装置で半導体レーザ20のスクリーニングを実施するので、装置を設置してから比較的初期に発生しているレーザ劣化を防止することができ、またLSU2の運搬時やマシン取り付け時に静電気が加わったとしても、例えば寿命の短くなった半導体レーザや点灯しない半導体レーザなどの不良を検出でき、その半導体レーザをはねて新しい半導体レーザに交換することができる。特に、LSU2の外側にレーザ端子が剥き出しになっているタイプのものは、より静電気が加わりやすいため、効果的である。また、本発明に係る画像形成装置は、上記検査実施部で実施した検査の結果を表示する表示部をさらに備えることが好ましい。この表示部としては、操作パネルが利用できるが、外部に接続された表示装置に表示させるようにしてもよい。後者の場合、その表示装置には画像形成装置に接続されたときに検査開始を指示する信号を送るように構成されていてもよく、その場合、上述の設定されたタイミングとしてその信号を受け取ったタイミングとしておけばよい。その他、検査結果は音によりエラーか正常かを知らせるように構成してもよい。なお、上記所定の方向が防塵ガラス26を透過しない方向とし、その方向に検知センサ27を設けたが、上記所定の方向は防塵ガラス26を透過する方向であっても非印字エリアに向かっていればよい。次に、図4及び図5を参照しながら、反射ミラー30の反射面の調整を行うための構成要素31~33で例示したミラー駆動機構、及びそれを制御するミラー制御部41について説明する。図4は、図2の光走査装置における反射ミラーとその駆動機構の一例を示す図で、図5は、図2の光走査装置における反射ミラーの角度及びレーザ光の光軸を示す図である。図5A、図5Bはそれぞれ通常印字時、スクリーニング時における角度及び光軸を示している。図4で例示するように、反射ミラー30は、ステッピングモータ33により反射面の方向が調整可能に設けられている。より具体的には、反射ミラー30の下部をステンレス板32等で挟み込んで動作起点とし、ステッピングモータ33の回転軸に取り付けられたギア33aから伝達機構31に回転が伝えられる。伝達機構31は、ギア33aと歯合うギア31aと、ギア31aの回転軸となるシャフト31bと、シャフト31bに取り付けられシャフト31bを中心として回転する非円形の柱状のカム部31c,31dとを備える。図4では、カム部31cが反射ミラー30の左端に設けられ、同じシャフト31bに連結されたカム部31dが反射ミラー30の右端に設けられた例を示している。カム部31c,31dは、反射ミラー30のステンレス板32が設けられた端部とは反対側の端部であって、反射面とは反対側の面に当接するように設けられている。なお、反射ミラー30の正確な調整のために、カム部をカム部31c,31dの2箇所に設けた例を示したが、中央位置に1箇所だけ設けるなどしてもよい。このような反射ミラー30及びその駆動機構により、ステッピングモータ33が回転するとカム部31c,31dが回転し、反射ミラー30の角度を調整することが可能となっている。通常印刷時には、図5Aに示したようにレーザ光の光軸Lpが防塵ガラス26を透過するような方向になるように、反射ミラー30の反射面の角度が調整される。一方で、スクリーニング時には、図5Bに示したようにレーザ光の光軸Lsが検知センサ27に向かうような方向になるように、反射ミラー30の反射面の角度が調整される。この例のようにステッピングモータ33を用いる場合、ステッピングモータ33のステップ角で、スクリーニング時の所定の角度までパルス数で角度調整が可能となり、また通常の印字時には同パルスで逆に回転させることで元の位置に戻すこともできる。角度の調整の制御は、上述したようにミラー制御部41が行う。また、検知センサ27での検知を行うときのステップ角を、ミラー制御部41の内部又は外部に別途設けた記憶部に記憶させておけば、上記所定の方向で停止させることや元に戻すことが可能となる。この記憶部としては、EEPROMElectricallyErasableProgrammableReadOnlyMemoryなど、様々な不揮発性メモリが利用できる。無論、反射ミラー30の調整機構はステッピングモータを動力とするものに限らない。以上、図1~図5では、反射ミラー30が、ポリゴンミラー22より後段に設けられた例を挙げたが、ポリゴンミラー22より前段に設けられていてもよい。その場合、スクリーニング時の反射ミラー30は、その反射面で反射したレーザ光がポリゴンミラー22に入射しないような角度になるように調整すればよい。次に、図6及び図7を参照しながら、画像形成装置で実施される検査方法の一例を説明する。図6は、図1及び図2のLSUを備えた画像形成装置で実施される検査方法の一例を説明するためのフロー図である。また、図7は、図6の検査方法における半導体レーザ検査を実施するタイミングの一例を説明するための図である。まず、ユーザ操作又は設定されたタイミングで、画像形成装置の主制御部がLSUコントローラとの通信チェック、つまりLSUの通信チェックを行うステップS1。より具体的には、ステップS1において、このマシン画像形成装置にLSUが装着されているか否かをチェックする。ステップS1でYESの場合にはステップS3へ進み、NOの場合には表示部にエラー表示1を表示させステップS2、処理を終了する。このチェックでは、LSUの運搬時や取り付け時のLSU基板破損と、画像形成装置への装着時のコネクタ接触不良を想定しており、このエラー表示1としてはこのいずれかに該当するエラーであることを表示しておけばよい。画像形成装置の主制御部の制御により、LSUコントローラは、ステップS3において、ポリゴンモータが正常動作しているか否かの動作チェックを行う。以下、この動作チェック以降については、LSUコントローラが主となって制御を行い、表示部への表示については画像形成装置の主制御部にチェック結果を返せばよい。ステップS3でYESの場合にはステップS5へ進み、NOの場合には表示部にエラー表示2を表示させステップS4、処理を終了する。このチェックでは、LSU運搬時の衝撃によりポリゴンモータが破損してしまうことを想定しており、このエラー表示2としては破損している旨を表示しておけばよい。ステップS5の処理として、LSUコントローラは、反射ミラーを動作させて、光軸をスクリーニング実施位置に変更する。つまり、反射ミラーの反射面を上述した所定の方向への調整を行う。その後、LSUコントローラは、半導体レーザの強制点灯を開始しステップS6、レーザ光をスクリーニング用の検知センサの検知面で検知したか否かを判定するステップS7。ステップS7でYESの場合にはステップS9へ進み、NOの場合には表示部にエラー表示3を表示させステップS8、その後、後述のステップS12へ進む。ステップS7のチェックでは、光軸ケラレ又はレーザ故障があることを想定しており、このエラー表示3としてはそのいずれかに該当するエラーであることを表示しておけばよい。ステップS9の処理として、LSUコントローラは、所定時間経過したか否かを判定する。この所定時間とは、半導体レーザの故障や劣化が後段のステップS10におけるセンサ信号により検知できる期間であればよい。例えば、図7には市場における半導体レーザの劣化トラブル件数と印刷枚数の関係の例を示しているが、5000枚の通常印刷6印字でのレーザ照射時間2分間の連続レーザ照射に相当を境に故障台数が減っていることから、この例ではこの境つまり開始から2分後で故障か否かを判定すればよい。このように、半導体レーザ検査を実施するタイミングの一例として、市場における半導体レーザの劣化トラブル件数と印刷枚数の関係を利用してもよい。次にLSUコントローラは、ステップS9でNOの場合にはYESとなるまで待ち、YESとなった時点で、ステップS7と同様にレーザ光をスクリーニング用の検知センサの検知面で検知したか否かを判定するステップS10。ステップS10でYESの場合、LSUコントローラは、半導体レーザの強制点灯を終了しステップS12、反射ミラーを動作させて光軸を定常位置感光体ドラム側に向かうような位置に戻すステップS13。ステップS10でNOの場合には、表示部にエラー表示4を表示させステップS11、その後、ステップS12へ進む。ステップS10のチェックは、本発明の発光検査の主たる部分に該当し、ここではレーザ故障やレーザ劣化があることを想定しており、このエラー表示4としてはそれに該当するエラーであることを表示しておけばよい。以上、本発明に係る光走査装置、画像形成装置について説明したが、その処理の流れを説明したように、本発明は、光走査装置における半導体レーザ検査方法としての形態も採ることができる。この半導体レーザ検査方法は、光走査装置に設けられた反射ミラーの反射面の方向を所定の方向に調整してから、半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査工程を有する。また、画像形成装置における半導体レーザ検査方法としての形態も採ることができ、その形態では、ユーザ操作により若しくは設定されたタイミングで発光検査を実施する。上記所定の方向について、並びにその他の応用例については、光走査装置、画像形成装置について説明した通りであり、その説明を省略する。"