"複数の測定プローブ30を有する測定ヘッド20を含み、パルスレーザー放射を提供するレーザー装置12のパルスエネルギーを較正する試験装置の使用方法であって、複数の試験切除を、試験表面に対し、前記複数の測定プローブの相対的な空間配置に対応する位置で、前記レーザー放射により実施し、前記試験切除の深度を、前記測定ヘッドの前記複数の測定プローブを同時に使用して、測定することを特徴とする使用方法。前記測定ヘッド20は、好ましくはかつ少なくとも前記測定プローブ30を合計で3個含むことを特徴とする請求項1に記載の使用方法。前記試験表面は、円形の外形を有する試験円盤28により形成され、前記測定プローブ30は、仮想の円弧に沿って等角度間隔で分布して、前記測定ヘッド20に配置されることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の使用方法。前記試験円盤28と前記測定ヘッド20の両方に、互いに対して回転角を調整するためのインデックスマーキング46,48を実装することを特徴とする請求項3に記載の使用方法。前記インデックスマーキング46,48を、形状及び/又は色のマーキングとして実装することを特徴とする請求項4に記載の使用方法。前記測定ヘッド20は、前記試験円盤28を収容するための収容領域40を有し、前記試験円盤及び前記測定ヘッドの前記インデックスマーキング46,48は、前記測定ヘッドに対する少なくとも1つの所定の回転角の位置でのみ、前記試験円盤を前記収容領域に収容することを可能にすることを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の使用方法。前記試験円盤28は、前記試験円盤の縁の円弧を遮る形状のマーキング46を有し、前記収容領域40は、前記試験円盤の前記形状のマーキングと相補的な形状のマーキング48を有することを特徴とする請求項6に記載の使用方法。前記試験表面は、試験薄膜28により形成され、前記測定ヘッド20は、前記試験薄膜を収容するために該試験薄膜の外周の形状に適合した収容領域40を有し、前記収容領域に通じる排気経路システム50は、真空ポンプ34と接続するために前記測定ヘッド内を通ることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の使用方法。前記試験装置は、前記試験切除が適用される際に前記試験表面を形成する試験用物体を保持するために、患者の検査台10に据えられる又は取り付けられる物体搬送装置22,24を含み、該物体搬送装置及び/又は前記試験用物体には、光学的に検出可能で互いに離れている少なくとも2つのマーク80,82,84が配置され、該マークの配置は、カメラシステム86を用いて捕捉され、前記マークの配置に関する方位情報は、前記カメラシステムの画像データから確定され、前記試験切除を生成する前記レーザー装置12の発射位置は、前記確定した方位情報に応じて定められることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の使用方法。前記物体搬送装置22,24は、基礎キャリア22と補助キャリア24とを含み、前記基礎キャリアには、前記補助キャリアを前記基礎キャリアに対して再移動可能に位置決めするための第1の位置決め構成物62,64が実装され、前記補助キャリアには、前記試験用物体を前記補助キャリアに対して再移動可能に位置決めするための第2の位置決め構成物56,58が実装されることを特徴とする請求項9に記載の使用方法。前記試験切除が実行された後、前記試験用物体が置かれている状態で前記補助キャリア24が、前記基礎キャリア22から取り外され、前記測定ヘッド20に運ばれ、該測定ヘッドにおいて前記試験用物体は、吸引力により前記補助キャリアから前記測定ヘッドに吸引されることを特徴とする請求項10に記載の使用方法。前記物体搬送装置22,24は、前記検査台10のヘッド部14におけるヘッド凹部の輪郭線に適合しているフット部26を含み、使用時に前記フット部は、前記検査台のヘッド凹部内に対して正面にして挿入されることを特徴とする請求項9から請求項11のいずれか1項に記載の使用方法。前記試験装置は、前記試験表面を形成する試験用物体の識別コード92を読み取るための読み取り装置90を含み、前記識別コードは前記試験切除が実行される前の使用中に読み取られることを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の使用方法。前記試験装置は、前記試験表面を形成する試験用物体に前記試験切除に関する情報を保持するマーキングをつけるためのマーキング装置96を含むことを特徴とする請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の使用方法。本発明の目的は、時間及び作業に関する支出を比較的少なくして、ユーザにレーザー装置のパルスエネルギーを較正する方法を示すことである。この目的を達成するために、本発明は、複数の測定プローブを有する測定ヘッドを含み、パルスレーザー放射を提供するレーザー装置のパルスエネルギーを較正する試験装置の使用方法を提供する。本発明において、複数の試験切除を、試験表面に対し、複数の測定プローブの相対的な空間配置に対応する位置で、レーザー放射により実施する。試験切除の深度を、測定ヘッドの複数の測定プローブを同時に使用して、測定する。WO2010/022754A1において提案されるように、試験切除を、レーザー放射の異なるパルスエネルギーにより各々生成することが好ましい。特に、各試験切除を、複数のレーザー放射パルス、例えば、数百又は数千のパルスを用いて生成することができる。測定された切除深度から、例えば、パルスエネルギーと切除深度との線形関係を定めることができるので、特定された設定点の切除深度と関連した設定点のパルスエネルギーを決定することができる。この適合方法の詳細及びこの適合により定められる切除深度とパルスエネルギーとの関係からレーザー装置に設定される設定点のパルスエネルギーの決定は、この点について明確に参照されるWO2010/022754A1から採用されることができる。例えば、特定のパルスエネルギーの場合に、切除効果がどの程度大きいかという知識は、例えば、エキシマレーザーにより発生するUVレーザー放射を用いて人間の角膜組織の切除手術を行うために必要である。矯正される患者の屈折異常症に応じて、画定された患者特有の切除プロファイルが算出され、角膜上のどこで角膜組織をどの程度取り除くかを示す。レーザー装置のいかなるエネルギー設定において、どの程度切除されることになるかがわかる場合にのみ、手術は成功することが可能である。これに対応する試験は試験表面で実施され、試験表面はレーザー放射に対して、人間の角膜組織と同様に、あるいは、少なくとも周知の比率で人間の角膜組織と同様に作用する材料から成ることが有益である。特に、プラスチック材料PMMAポリメタクリル酸メチルは、この目的に適切であることが証明されている。本発明において、単一の測定プローブではなく複数の測定プローブを備える測定ヘッドを使用するため、試験表面の複数の試験切除のクレータの深度を同時に測定することが可能である。しかしながら、測定ヘッドにおける測定プローブが各々に対して固定の空間位置をとることを想定すると、試験表面の対応する試験切除は、測定ヘッドの測定プローブの配置に対応して、同じ配置で生成されることに注意されなければならない。複数の測定プローブを有する測定ヘッドは、時間及び作業を節約しながら試験切除を測定することが可能である。測定ヘッドは、合計で3個の測定プローブを含むことが好ましい。しかしながら、本発明においてこの測定プローブの数に制限されることはなく、別の実施例において、代わりに2個又は4個又はさらに多くの測定プローブが測定ヘッドに存在し得ることが理解されよう。通常ここで考慮される測定プローブは、偏向可能な測定チップを有し、この測定チップは、測定される切除クレータ内に入れることができ、クレータ深度に従って多少偏向する。測定チップは、例えば、電磁誘導的に、あるいは、静電容量的に偏向されることができる。好適な実施形態において、試験表面は円形の外形を有する試験円盤により形成され、測定プローブは、仮想の円弧に沿って等角度間隔で分布して、測定ヘッドに配置される。このような場合、測定プローブが正確に試験切除の上に位置するように、試験円盤を回転角の正しい方位で測定ヘッドへ導くことを確実にするために、試験円盤と測定ヘッドの両方に、互いに対して回転角を調整するためのインデックスマーキングを実装することが好ましい。インデックスマーキングを、形状及び/又は色のマーキングとして実装することができる。特に、試験円盤は、その円盤の縁に少なくとも1つの形状のマーキングを有することができ、このような形状のマーキングは、例えば、斜角、切欠き又は溝で形成されることができる。色のマーキングとして、試験表面の隣接する領域と色が異なるいかなる光学的に知覚可能なマーキングも問題となる。試験円盤及び測定ヘッドのインデックスマーキングにもかかわらず、試験円盤を測定ヘッドに配置することができる誤った回転角の設定が起こり得ることが想像される。このような状況においては、正しい回転角の方位で測定ヘッドへ試験円盤を導くように、インデックスマーキングを観察しながら較正することが、ユーザに任せられる。しかしながら、これは、測定ヘッドが、試験円盤を収容するための収容領域を有し、試験円盤及び測定ヘッドのインデックスマーキングが、測定ヘッドに対する少なくとも1つの所定の回転角の位置でのみ、試験円盤を収容領域に収容することが可能である場合、ユーザにとって特に簡単になる。例えば、一つの可能性として、試験円盤及び測定ヘッドに設けられている2つの形状のマーキングを、所定の回転角の位置でのみ互いに係合させることができ、その結果、試験円盤をこの所定の回転角の位置でのみ測定ヘッドの収容領域に配置することができる。例えば、試験円盤は、試験円盤の縁の円弧を遮る形状のマーキングを有することができ、測定ヘッドの収容領域は、試験円盤の形状のマーキングと相補的な形状のマーキングを有することができる。例えば、このような円盤の縁の円弧を遮る形状のマーキングは、試験円盤の円周上の一部で、円盤の縁が円の弧ではなく、円の弦の形状に沿うすなわち、概念的に円盤の完全な円形の一部を切り欠くような形になり得る。本発明の更なる開発によれば、試験表面を試験薄膜により形成することができ、測定ヘッドは、試験薄膜を収容するために試験薄膜の外周の形状に適合した収容領域を有する。収容領域に通じる排気経路システムは、真空ポンプと接続するために測定ヘッド内を通ることができる。真空ポンプを測定ヘッド自体に収容することができる、あるいは、測定ヘッドは外部真空ポンプへの接続を可能とする適切な接続部品を有することができる。負圧を排出経路システムに加えることにより、試験薄膜を、測定ヘッドの収容領域に吸引することができ、そこで安全に保持することができる。試験装置は、試験切除が適用される際に試験表面すなわち試験薄膜、特に試験円盤を形成する試験用物体を保持するために、患者の検査台に据えられる又は取り付けられる物体搬送装置を含む。試験用物体に関する位置及び方位について特定の配置をとる試験用物体に、試験切除を適用することを可能とするために、物体搬送装置及び/又は試験用物体には、光学的に検出可能で互いに離れている複数少なくとも2つ、好ましくは少なくとも3つのマークが配置される場合が有利である。本発明において、このマークの配置は、カメラシステムを用いて捕捉され、マークの配置に関する方位情報をカメラシステムの画像データから確定することができ、試験切除を生成するレーザー装置の発射位置は、確定した方位情報に応じて定められる。物体搬送装置は、基礎キャリアと補助キャリアとを含み、基礎キャリアには、補助キャリアを基礎キャリアに対して再移動可能に位置決めするための第1の位置決め構成物が実装され、補助キャリアには、試験用物体を補助キャリアに対して再移動可能に位置決めするための第2の位置決め構成物が実装される。このような2つの部分からなる物体搬送装置を利用することができ、特に、試験切除が実行された後、試験用物体が置かれている状態で、補助キャリアは、基礎キャリアから取り外され測定ヘッドに運ばれる。そして測定ヘッドにおいて試験用物体を、吸引力により補助キャリアから測定ヘッドに吸引することができる。その後、ユーザは、試験切除が生成される場所から測定位置まで試験用物体を持ってくるために、直接手で試験用物体を運ぶ必要はない。これは、試験用物体が手で触れられることにより試験切除が汚染されるかもしれない、あるいは、回避不能な切除塵が手でこすることにより切除クレータの中へ意図せずに入るという測定結果の誤りが生じる危険を減らす。患者の検査台に物体搬送装置を配置するために、物体搬送装置は、検査台のヘッド部におけるヘッド凹部の輪郭線に適合しているフット部を含み、使用時に、フット部は、検査台のヘッド凹部内に対して正面にして挿入される。このように、物体搬送装置を十分に安定した状態で取付けることができる。物体搬送装置がアルコール水準器を備えている場合、ユーザは、アルコール水準器を観察することにより、物体搬送装置においてある一定の微細な調整を行うことができる。これらのマーキングが取得された位置及び方位に応じて、物体搬送装置及び/又はカメラを基にしたアイトラッカーにより物体搬送装置に配置された試験用物体の特定のマーキングを捕捉することにより、かつ、レーザー装置の制御装置により自動的に調整されている試験切除を生成するためのレーザー放射の発射位置により、残りの位置決めにおける不正確さを補償することが可能である。更なる開発によれば、試験装置は、試験表面を形成する試験用物体の識別コードを読み取るための読み取り装置を含み、識別コードは試験切除が実行される前の使用中に読み取られる。識別コードは、例えば、バーコードの形をとることができ、試験用物体の、あるいは、全く同一の試験用物体が複数の試験表面を提供し、その試験表面の数に応じた回数が使用可能な場合に試験表面の、固有の識別を含むことができる。レーザー装置のエネルギー較正が行われ、かつ、試験切除が試験表面に生成されるたびに、読み取り装置により関連した識別コードを読み、格納することができる。そして、ユーザが試験切除するために2回同じ試験表面を使用しようとしてしまう場合、読み取り装置又はそれに接続した外部制御装置は、識別コードの読み取りに基づいてこれを認識することができ、例えば、光学及び/又は音響警告信号を出力することができる。同一の識別コードを繰り返し読み取ることに対する、代わりの、又は、追加の応答としては、例えば、読み取り装置がレーザー放射の放出に対して一時的にブロックされ、新しい識別コードが読み取られるとき、すなわち、未使用の試験表面が使用されるとき、再び解放されるだけのことになり得る。あるいは、又は、加えて、試験装置は、試験表面を形成する試験用物体のマーキングをするためのマーキング装置を含むことができる。このようなマーキングにより適切な情報、例えば、試験切除が試験用物体に生成された瞬間例えば、日付、時間に関する情報及び/又は試験切除、試験切除毎のパルス数及び/又はこのように生成されたクレータ深度のために使用されるパルスエネルギーに関する情報が、試験用物体に永久的に格納される。このような情報を、例えばバーコード又は他の記号体系の形で試験用物体に付すことができる。マーキング装置により作られたマーキングは、必ずしも試験切除に関する情報を有する必要があるというわけではない。マーキング装置が試験切除を生成する前後に、試験用物体上の単純な形状及び色のマーキングのみを作り、唯一の情報として作られたマーキングは、関連する試験用物体又は関連する試験表面が一度既に使用されているので、再び使用されてはならないことを基本的に示してしていると考えられる。例えば、本来試験用物体に設けられておらずマーキング装置により生成される切欠きは、この情報内容を保持することができる。このような切欠きあるいは他の形状又は色のマーキングは、適切なセンサにより直ちに捕捉することができる。本発明を、添付の図面を基にして、以下に更に詳細に説明する。最初に図1を参照する。これは、簡略図として、眼科的にレーザー装置12を使用して患者を治療するための検査台10を示し、別に示されていない患者がそこで横になる。検査台10はヘッド部14を有し、ヘッド部は例えば旋回することにより調節可能であり、患者の頭部を支える。図1に示すように、レーザー装置12は、機能ブロックとしてのみ示され、レーザー源、集束光学素子、レーザー装置12が発するレーザー放射の少なくとも横方向、かつ必要であれば縦方向の位置制御を行う走査部品等のような機能的な構成要素を含む。このレーザー放射は、好ましくはパルス放射であって、例えば約193ナノメートルのUV範囲の波長を有する。このような波長のレーザー放射は、例えばLASIK手術LASIK:レーザー角膜切削形成術の一環として、人間の眼球の角膜組織の切除に使用される。レーザー装置12が発するレーザー放射は、集束した光線束16として、図1に図示される。レーザー装置12は電子制御装置18によって制御され、示された実施例において測定ヘッド20から測定信号を受け取り、これらの測定信号を分析し、測定結果に応じて、レーザー装置12が発する放射パルスのパルスエネルギーを調整する。測定ヘッド20は、試験装置の一部であり、その試験装置は、基礎キャリア22及び補助キャリア24の2つの部分からなる物体搬送装置をさらに含む。基礎キャリア22は、検査台10に載置される。この目的のために、図1において詳細に示されていないヘッド凹部くぼみ又は穴が使用され、このヘッド凹部は、概して、患者が通常その後頭部をのせる場所であるヘッド部14に存在する。フット部26を有する基礎キャリア22はこのヘッド凹部に配置され、フット部26の輪郭線は上述のヘッド凹部の輪郭に適合しているため、基礎キャリア22は検査台10上でいくらか安定性を得る。基礎キャリア22は、補助キャリア24を配置することができる台座の形を成す。補助キャリア24自体は、試験薄膜試験プレート28のためのキャリア及び保持具として作動し、この試験薄膜28は、例えばPMMAから作られ、レーザー装置12のパルスエネルギーを較正するために、この試験薄膜28上で、複数の試験切除が、レーザー放射により実施される。例えば、試験薄膜28は、円形の外形を有する試験円盤として実装される。試験切除を行うために、補助キャリア24は、試験薄膜28が置かれている状態で、基礎キャリア22に配置され、基礎キャリア22自体は、検査台10のヘッド部14のヘッド凹部に挿入される。試験切除が試験薄膜28に生成された後、補助キャリア24は、基礎キャリア22から、離れて据え置かれた測定ヘッド20へ運ばれる試験薄膜28と共に、取り外される。ここで、試験薄膜28上の試験切除の深度を、測定ヘッド20の測定プローブ30を使用して測定することができるまで、例えば、補助キャリア24は、測定ヘッド20の測定インターフェースへ下方から導かれる。測定プローブ30は、偏向可能な測定チップ32を有し、この測定チップ32は、測定ヘッド20の測定インターフェースに突設している。試験薄膜28が測定ヘッド20上に移動するとき、測定チップ32は試験薄膜28と接触する。負圧は、測定ヘッド20に接続することができる負圧源34により発生し、試験薄膜28は、測定インターフェースに加わった負圧から生じる吸入力により、測定インターフェースにしっかりと保持される。この目的のために、測定ヘッド20は接続ピース36を有してもよく、この接続ピース36に対して真空源34につながる真空ラインを接続してもよい。試験薄膜28が測定され真空スイッチが切られたあと、試験薄膜28は再び補助キャリア24により持ち上げられ、保管される場所である適切な保管位置に運ばれることが有益である。そして新しい試験薄膜は補助キャリア24を占有することができ、較正手順は再開される。レーザー装置は、ダウンタイムの間、運転中ではなく、このような較正手順が、レーザー装置12の比較的長いダウンタイムの後、常に実行されることが有益である。例えば、レーザー装置12のパルスエネルギーを、規則的な周期で、あるいは、各レーザー処理の前にさえ、較正することができる。図1に関して試験装置の詳細を説明する前に、図2から図6に基づいて、測定ヘッド20、試験薄膜28、補助キャリア24、及び基礎キャリア22の好ましい実施形態について説明する。最初に図2及び図3を参照する。そこで示される実施例によれば、測定ヘッド20は、合計3個の測定プローブ30を備えており、測定プローブ30は、ハウジング38にはめ込まれ、それらの測定チップ32を、試験薄膜28の輪郭線に適合した試験薄膜28のための収容領域40内に延ばす。測定プローブ30は、ピンの形であり、例えば、MahrGmbH社の型式名MillimarP2000Seriesの測定用インダクティブプローブにより、形成される。測定プローブ30の配置は、それらの測定チップ32が正三角形の角に存在するようなものである。もしそうでなければ、この配置を、仮想の円弧に沿った等角度間隔の測定プローブ30の分布として表すことができる。図3において、下方へ開いている収容領域40は円形壁42により囲まれ、測定チップ32は軸方向に円形壁42を越えて外へすなわち仮想のリング軸の方向に突設しないということが容易にわかる。収容領域40の試験薄膜28の軸方向の挿入深度の限界を定める軸方向に向いた環状に囲む制限停止肩部44は、円形壁42の内周部に形成される。測定チップ32は、この制限停止肩部44を越えて軸方向に延びるため、試験薄膜28が収容領域40に嵌入されるときに、それは測定チップ32を押し、試験薄膜28が制限停止肩部44と接触するまでそれらを押し戻す。測定チップ32の下の試験薄膜28の切除クレータがどの程度深いかにより、測定チップ32は、異なる範囲に偏向する。この偏向は、信号で捕捉され、適切な測定信号の形式で制御装置18に伝わる。試験切除は、各々に対して測定プローブ30の配置に対応するように、制御装置18の管理下であり試験薄膜28上に同じ配置を有するレーザー装置12により、生成される。すなわち、仮想の円弧に沿って等角度間隔で分布する、すなわち二等辺三角形の角にある、合計で3つの試験切除が、試験薄膜28上に生成される。そして、試験薄膜28が測定ヘッド20の収容領域40に嵌入されるときに、試験薄膜28がすべての測定プローブ30に関して正しい回転角の方位を有することを確実にするということが課題であり、そのため切除クレータは正確に測定チップ32の下に存在する。この目的のために、試験薄膜28及び収容領域40には、各々と相補的であり、かつ、単一の相対的な回転角の方位においてのみ収容領域40への試験薄膜28の挿入ができるようにする形状のマーキング46、48が実装されている。対照的に、他の回転角の位置で、試験薄膜28を収容領域40に嵌入することはできない。示された実施例において、試験薄膜28の形状のマーキング48の形状は、概念的には一部分ここでは円の一区分が試験薄膜28の端で切り取られるということである。従って、この概念的に切り取られた一区分の領域で、試験薄膜28の輪郭線は円の弦に沿って動作するが、他の周辺領域で、それは円周に沿って動作する。対照的に、収容領域40の形状のマーキング48は、円形壁42の内周部に設けられている円形断片部により形成され、円形壁42は、概念的には試験薄膜28から切り取られる円形部材に対応する。収容領域40に対する試験薄膜28の特定かつ固有の回転角の方位の所望の表示を得るために、他の相補的な形状のマーキングを試験薄膜28及び収容領域40に設けることができるものと理解されよう。例えば、試験薄膜28において、薄片の中央から外れて配置される穴を、収容領域40の底から突出しているピンまたはジャーナルと結合し、形成することができる。試験薄膜が正しい角度で収容領域40に嵌入されるときに、ピンまたはジャーナルが試験薄膜28の上述の穴と係合する。手動かつ目視で、収容領域40に対する試験薄膜28の正しい回転角の方位を探すために、各々と係合する相補的な形状のマーキングに代わり、ユーザの光学補助として作用する適切な色のマーキングを例えば、円形壁42の試験薄膜28及び測定ヘッド20に適用することが考えられる。図2に示す測定ヘッド20の製図上の理由のためにのみ透明なハウジング38は、排出経路システムの図であり、この排出経路システムは、測定ヘッド20において形成され、接続ピース36から収容領域40の底に形成される開口部52まで走る。開口部52を通じ、負圧源が操作される際に、空気は収容領域40から吸引され、発生する吸入効果は、収容領域40の試験薄膜28をしっかりと保持する。図2及び図3において、合計3本の電気コネクタプラグ54が示され、それらの電気コネクタプラグ54は、測定プローブ30を電気的に接続するために、測定ヘッド20の対応するプラグ接続で制御装置18に接続することができる。ここで、図4及び図5も参照する。補助キャリア24は、試験薄膜28を嵌入させることができる窪んだ受け皿56を有する板部品の形状である。受け皿56は、形状のマーキング58を備えており、この形状のマーキング58は、試験薄膜28の形状のマーキング46と相補的であり、試験薄膜28が補助キャリア24に関して単一の回転角の方位のみにおいて受け皿56に嵌入することができるという効果を有する。形状のマーキングに代わるものとして、色のマーキングを補助キャリア24と試験薄膜28に設けることができ、ユーザが肉眼で補助キャリア24に対して受け皿56にある試験薄膜28を調整することを、援助することができるものと理解されよう。形状のマーキング58を有する受け皿56は、本発明の趣旨における第2の位置決め構成物を形成する。基礎キャリア22は、フット部26の反対側のそのヘッド側上部に、補助キャリア24のための支持面60を有する。基礎キャリア22上の適切な位置決め構成物62、64は、補助キャリア24を単一の水平な位置においてのみ確実に支持面60に配置することができる。物体キャリア22上の補助キャリア24を支持する状態を、図5に示す。上述の位置決め構成物62、64は、本発明の趣旨において第1の位置決め構成物を形成する。示された実施例において、位置決め構成物64は、支持面60から上がるフィンにより形成され、補助キャリア24を配置する際に、支持面60は、補助キャリア24の下側に形成される相補的に形成された溝66図3を参照に埋め込まれる。一方では、位置決め構成物62は、横方向の限界を定める壁を実装している。横方向の限界を定める壁は、補助キャリア24の少なくとも一部の縁の外形に続き、基礎キャリア22上の補助キャリア24の確実かつ付加的な位置決めを安定化させる。図6によれば、制御電子装置により制御される送風機ベンチレータ68は、基礎キャリア22に収容され、この制御電子装置は、同じく基礎キャリア22に収容される印刷回路基板70上に配置される。電気プラグ接続72を介して、電流を、印刷回路基板70及び送風機68に供給することができる。送風機68が生成する気流は、換気口74を通って流出する。換気口74は、換気口74から流出する気流が、受け皿56に置かれた試験薄膜28を経て流れるように、配置される。このようにして、試験薄膜28のレーザー処理から生じ得る切除塵を、試験薄膜28から吹き飛ばすことができる。あるいは、換気扇を使用することで、この切除塵を吸引することが考えられる。基礎キャリア22のヘッド側に、アルコール水準器76も設けられ、ユーザは目視で検査台10上の基礎キャリア22を調整することができるため、支持面60及びそれに配置される補助キャリア24の水平状態が定められる。検査台10のヘッド部14のパッド材がつり合いよくしなやかであるため、特定の限度の範囲内で基礎キャリア22を調整することができ、基礎キャリア22はヘッド部14のヘッド凹部に嵌入される。較正手順を行う目的で、アルコール水準器76を用いることにより支持面60を十分に正確に水平化できるにもかかわらず、ヘッド部14のパッド材が上述のようにしなやかであるため、水平面の基礎キャリア22の位置が、場合によって、直進及び/又は回転して変化することは、通常避けられない。この結果として、補助キャリア24及び試験薄膜28は、場合によって、水平面の異なる位置に存在し、かつ異なる方位を有することになる。試験切除により形成された切除パターンを直進及び/又は回転させて調節することにより、基礎キャリア22上の試験薄膜28の、このように場合によって様々に変化する位置及び方位が、補償されない場合、最終的に、測定ヘッド20の測定チップ32を切除クレータ内にもはや正確に入れることができないという結果になる。その結果として、付随して測定エラーが生じるだろう。従って、示された実施例で、基礎キャリア22のヘッド側に、各々が距離をあけて配置される合計3つの光学的に検出可能なアライメントマーク80、82、84のパターンが形成され、補助キャリア24により試験薄膜28が基礎キャリア22に適切に配置される場合、アライメントマーク80は、試験薄膜28の中心に位置する。アライメントマーク80に基づいて、水平面の物体キャリア22の位置を、決定することができる。他の2つのアライメントマーク82、84は、例えば、アライメントマーク80と共に共通の直線上にある。それらにより、水平面の基礎キャリア22の方位を決定することができる。図1に示されるカメラ86は、基礎キャリア22のヘッド側の画像を撮るために用いられ、制御装置18の適切な画像分析ソフトウェアは、カメラ86により供給される画像データからアライメントマーク80、82、84を認識し、レーザー装置12の座標系のマーク80、82、84により形成されたパターンの位置及び方位に関する情報を決定する。この決定された位置及び方位の情報に応じて、制御装置18は、レーザー装置12の座標系で、試験切除が発生するレーザー放射パルスの発射位置を定める。ユーザは基礎キャリア22を検査台10に載置する比較的少ない努力を費やすだけで済み、アルコール水準器76を使用している基礎キャリア22を水平方向に最大限に確実に調整するだけで済むため、この機構はユーザのための較正手順を特に単純化させる。基礎キャリア22にはモニタリング及び/又は警告灯88も実装され、示された実施例の警告灯88は、基礎キャリア22のヘッド側にも配置され、異なる目的のために光学的な表示をすることもできる。例えば、ランプ88を、送風機68の動作に接続することができ、それが機能しているか否か、信号を送ることができる。図1において、一般に、物体搬送装置を有する基礎キャリア22に関連して、読み取り装置90が示され、それにより、試験薄膜28に設けられた識別コードが読み取られる。例えば、このような識別コードは、バーコードの形で図2の92に示される。バーコード92は、試験薄膜28の製造業者により前もって印刷されてもよく、独自に試験薄膜28を認識する。試験薄膜28が、両側に使用可能であるとき、すなわち試験切除をするために上側及び下側の両方において適しているとき、バーコード92を試験薄膜28の両面に設けることができ、関連した薄膜側が独自に識別される。試験切除が試験薄膜28に生成される前に、制御装置18は、読み込まれたバーコード92に基づいて、試験薄膜28又はその関連した薄膜側がすでに使用されたかどうか証明することができる。この目的のために、例えば、制御装置18は図において更に詳細に示されないデータベースにアクセスすることができ、データベースには、既に使用されたあらゆる試験薄膜に関する情報が格納される。制御装置18が、ちょうど読み込まれた試験薄膜28が未使用の試験薄膜であると証明する場合、制御装置18はレーザー放射を発するためのレーザー装置12を解除する。一方で、制御装置18が、ユーザが例えば再び使用しようとしただけの既に使用された試験薄膜を含むと証明する場合、制御装置18は、拡声器94又は他の適切な出力装置を介して警告指示を出力することができ、レーザー放射の発射に対してレーザー装置12をブロックすることができる。制御装置18は、測定プローブ30により捕捉され、かつ、測定ヘッド20により出力される測定信号を受信するので、電子的にアーカイブにある関連した試験薄膜の識別コードと共に測定結果を格納することができ、必要であれば、例えば試験の日付及び/又は時間のような付加的情報を格納する。別々のアーカイブでそのように保管する代わりに、又は、加えて、試験装置は、例えば、測定ヘッド20の上、又は、中に設けられているマーキング装置を含むことができ、日付及び/又は時間と共に必要である場合、それにより、測定結果を関連した試験薄膜28にコード化された、あるいは、コード化されていない形式で直接書くことができる。この場合、直接書かれた測定結果は、電子的に保管することなしに、ただ試験薄膜28を保管するには十分となり得る。図1において、基礎キャリア22に関連して示される一般に、物体運搬装置を有するマーキング装置96も図示される。このマーキング装置96は、例えば、レーザー処理の後、試験薄膜28に永続的なマーキングを提供するために用いることがでる、この永続的なマーキングの存在は関連した薄膜が既に使用されたことを示す。読み取り装置90は、試験薄膜28上のこの種の使用マーキングの有無を試験するために、例えば、バーコード又は他のコードを補足することに代わって、あるいは、加えて、組み立てられてもよい。"