互いに異なる光周波数を有し、かつ光周波数の間隔が一定である複数の光を、位相同期して出射する光源と、前記光源が出射する前記複数の光である光信号を、移動物体を経由する測定用光信号と、前記移動物体を経由しない参照用光信号とに分岐する分岐手段と、前記移動物体を経由した前記測定用光信号と、前記移動物体を経由しない前記参照用光信号とを統合して共通の光電変換面へ導く統合手段と、前記光電変換面へ入射した光信号を電気信号へと変換する光電変換手段と、前記光電変換面へ入射する前記測定用光信号と前記光電変換面へ入射する前記参照用光信号との間のビート干渉強度を調整するための調整手段と、前記光電変換手段が生成する電気信号の時間変化に基づき、前記移動物体の振動周波数を算出する演算手段とを備えることを特徴とするドップラー振動計測装置。請求項1に記載のドップラー振動計測装置において、前記調整手段には、前記測定用光信号と前記参照用光信号との間の光路長差を調整する調整機構が備えられることを特徴とするドップラー振動計測装置。請求項2に記載のドップラー振動計測装置において、前記調整手段には、前記光電変換面へ入射する前記測定用光信号と前記光電変換面へ入射する前記参照用光信号との間のビート干渉強度を監視する監視手段と、前記監視手段が監視した前記ビート干渉強度に応じて前記調整機構を駆動する制御手段と、が備えられることを特徴とするドップラー振動計測装置。請求項1~請求項3の何れか一項に記載のドップラー振動計測装置において、前記光電変換面へ入射する前記測定用光信号と前記光電変換面へ入射する前記参照用光信号との間の周波数差を所定周波数だけ拡大する周波数シフト手段を更に備えることを特徴とするドップラー振動計測装置。請求項4に記載のドップラー振動計測装置において、前記周波数シフト手段には、前記測定用光信号の単独光路に配置され、その測定用光信号の光周波数を第1シフト量だけシフトさせる第1シフト手段と、前記参照用光信号の単独光路に配置され、その参照用光信号の光周波数を前記第1シフト量とは異なる第2シフト量だけシフトさせる第2シフト手段とが含まれることを特徴とするドップラー振動計測装置。互いに異なる光周波数を有し、かつ光周波数の間隔が一定である複数の光を、位相同期して出射する光源を用意する用意手順と、前記光源が出射する前記複数の光である光信号を、移動物体を経由する測定用光信号と、前記移動物体を経由しない参照用光信号とに分岐する分岐手順と、前記移動物体を経由した前記測定用光信号と、前記移動物体を経由しない前記参照用光信号とを統合して共通の光電変換面へ導く統合手順と、前記光電変換面へ入射した光信号を電気信号へと変換する光電変換手順と、前記光電変換面へ入射する前記測定用光信号と前記光電変換面へ入射する前記参照用光信号との間のビート干渉強度を調整する調整手順と、前記光電変換手順で生成される電気信号の時間変化に基づき、前記移動物体の振動周波数を算出する演算手順と、を含むことを特徴とするドップラー振動計測方法。しかしながらこの振動計では、測定光の単独光路の媒質揺らぎが測定誤差となるので、移動物体までの距離を長く設定することが難しいという問題があった。そこで本発明は、移動物体までの距離を長く設定するのに適した構成のドップラー振動計測装置及びドップラー振動計測方法を提供することを目的とする。本発明のドップラー振動計測装置の一態様は、互いに異なる光周波数を有し、かつ光周波数の間隔が一定である複数の光を、位相同期して出射する光源と、前記光源が出射する前記複数の光である光信号を、移動物体を経由する測定用光信号と、前記移動物体を経由しない参照用光信号とに分岐する分岐手段と、前記移動物体を経由した前記測定用光信号と、前記移動物体を経由しない前記参照用光信号とを統合して共通の光電変換面へ導く統合手段と、前記光電変換面へ入射した光信号を電気信号へと変換する光電変換手段と、前記光電変換面へ入射する前記測定用光信号と前記光電変換面へ入射する前記参照用光信号との間のビート干渉強度を調整するための調整手段と、前記光電変換手段が生成する電気信号の時間変化に基づき、前記移動物体の振動周波数を算出する演算手段とを備える。本発明のドップラー振動計測方法の一態様は、互いに異なる光周波数を有し、かつ光周波数の間隔が一定である複数の光を、位相同期して出射する光源を用意する用意手順と、前記光源が出射する前記複数の光である光信号を、移動物体を経由する測定用光信号と、前記移動物体を経由しない参照用光信号とに分岐する分岐手順と、前記移動物体を経由した前記測定用光信号と、前記移動物体を経由しない前記参照用光信号とを統合して共通の光電変換面へ導く統合手順と、前記光電変換面へ入射した光信号を電気信号へと変換する光電変換手順と、前記光電変換面へ入射する前記測定用光信号と前記光電変換面へ入射する前記参照用光信号との間のビート干渉強度を調整する調整手順と、前記光電変換手順で生成される電気信号の時間変化に基づき、前記移動物体の振動周波数を算出する演算手順とを含む。本発明によれば、移動物体までの距離を延長するのに適した構成のドップラー振動計測装置及びドップラー振動計測方法が実現する。[第1実施形態]以下、本発明の第1実施形態としてドップラー振動計測装置を説明する。図1Aは、本実施形態のドップラー振動計測装置100の全体構成図である。ドップラー振動計測装置100の計測対象は、移動物体200の振動周波数の時間変化である。因みに、移動物体200の振動周波数の時間変化が既知となれば、移動物体200の速度の時間変化、ひいては計測中における移動物体200の変位量を既知とすることも可能である。ビームスプリッタ13から移動物体200までの距離は、例えば5m以上である。図1Aに示すとおりドップラー振動計測装置100には、光源11と、ビームスプリッタ12と、ビームスプリッタ13と、全反射ミラー14と、光周波数シフタ15と、ビームスプリッタ16と、フォトディテクタ17と、回路部18と、ステージ19とが備えられる。光源11は、互いに異なる光周波数を有し、かつ光周波数の間隔モード間隔が一定である複数の光モードを位相同期して出射する光源である。このような光源11としては、例えばフェムト秒光周波数コム光源、アト秒光周波数コム光源などの光周波数コム光源を使用することが可能であり、これらの光周波数コム光源は、複数のモードを含み、かつパルス幅がフェムト秒又はアト秒と狭められた光パルスを、一定のパルス発振周期Tで繰り返し発振する。なお、図2に示したのは、光源11から発振される光パルス列光パルス信号Sの波形を模式的に示す図である。この光パルス信号Sをフーリエ変換したものである光周波数コムは、図3に示すとおり一定のモード間隔繰り返し周波数frepを有している。その繰り返し周波数frepは、パルス発振周期Tの逆数1/Tであって、予め決められた値、例えば100MHzに設定されている。また、図3中にf0で示したのは、光源11の中心光周波数であり、予め決められた値、例えば200THzに設定されている。図1Aにおいて、光源11から発振された光パルス信号Sは、ビームスプリッタ12へ入射し、ビームスプリッタ12を透過する光とビームスプリッタ12で反射する光とに分岐される。ここでは、ビームスプリッタ12を透過した光が測定用光パルス信号とて使用され、ビームスプリッタ12で反射した光が参照用光パルス信号として使用されると仮定する。ビームスプリッタ12を透過した測定用光パルス信号Smは、ビームスプリッタ13を透過し、移動物体200に向かう。なお、移動物体200のうちビームスプリッタ13に正対する位置には予めレトロリフレクタが固定されており、移動物体200に向かった測定用光パルス信号Smは、そのレトロリフレクタで反射した後、ビームスプリッタ13へ戻る。ここで、測定用光パルス信号Smの進行方向に亘って移動物体200が或る速度で変位していたならば、その移動物体200は、その方向に亘って或る振動周波数で振動していたとみなせる。この振動周波数をfDとおくと、測定用光パルス信号Smの反射後の光周波数は、反射前の光周波数と比較してfDだけシフトするドップラーシフト。測定用光パルス信号Smの反射前の中心光周波数はf0であるが、反射後の中心光周波数は、f0fDとなる。以下、ドップラーシフトによる光周波数のシフト量fDをドップラーシフト周波数と称す。このドップラーシフト周波数fDの時間変化が、ドップラー振動計測装置100の計測対象である。因みに、ドップラーシフト周波数fDは、光パルス信号Sの中心光周波数f0や繰り返し周波数frepよりも低い。例えば、ドップラーシフト周波数fDは、30MHz程度である。移動物体200からビームスプリッタ13へ戻った測定用光パルス信号Smは、ビームスプリッタ13で反射した後、ビームスプリッタ16で反射し、フォトディテクタ17の光電変換面へ入射する。なお、図1Bに示したのは、測定用光パルス信号Smの経路の模式図である。図1Bにも示したとおり、測定用光パルス信号Smが光電変換面へ入射する時点で有している中心光周波数は、f0fDである。一方、ビームスプリッタ12で反射した参照用光パルス信号Srは、全反射ミラー14で反射してから、光周波数シフタ15を通過する。光周波数シフタ15は、入射光の光周波数を、その光周波数によらず予め決められたシフト量だけシフトさせる機能がある。このような光周波数シフタ15としては、例えば音響光学素子AOMを適用することができる。なお、図1Aでは、光周波数シフタ15に対する参照用光パルス信号Srの入射角度と射出角度とが同じに描かれているが、同じになるとは限らない後述する図5、図6、図7も同様。。例えば、光周波数シフタ15としてAOMを使用した場合は、AOMに入射した参照用光パルス信号Srは、AOMで回折され、その回折光のうち特定の次数の回折光のみが、シフト後の参照用光パルス信号Srとして使用されるので、AOMに対する参照用光パルス信号Srの入射角度と射出角度とは異なる。以下、光周波数シフタ15による光周波数のシフト量Δfを基準シフト周波数と称す。この基準シフト周波数Δfは、ドップラーシフト周波数fDより高く、繰り返し周波数frepより低く設定される。例えば、基準シフト周波数Δfは、40MHzに設定される。よって、光周波数シフタ15を通過した参照用光パルス信号Sr図4は、光源11から発振された光パルス信号S図3と比較して、基準シフト周波数Δfだけ横シフトしている。よって、参照用光パルス信号Sr図4の中心光周波数は、f0Δfとなっている。図1Aにおいて、光周波数シフタ15を通過した参照用光パルス信号Srは、ビームスプリッタ16を透過すると、ビームスプリッタ16で反射した測定用光パルス信号Smと統合され、フォトディテクタ17の光電変換面へ入射する。なお、図1Cに示したのは、参照用光パルス信号Srの経路の模式図である。図1Cにも示したとおり、参照用光パルス信号Srが光電変換面へ入射する時点で有している中心光周波数は、f0Δfである。フォトディテクタ17は、フォトダイオードなどの光電変換素子であって、一定のサンプリング周波数で繰り返し光電変換を行うことにより、入射した光信号を電気信号S’に変換する。フォトディテクタ17のサンプリング周波数は、繰り返し周波数frepより高い適正値に設定される。この設定により、フォトディテクタ17の出力する電気信号S’には、その光電変換面へ入射した測定用光パルス信号Sm中心光周波数f0fDと、同じ光電変換面へ入射した参照用光パルス信号Sr中心光周波数f0Δfとの間のビート干渉信号のみが現れることになる。よって以下では、フォトディテクタ17の出力する電気信号S’をビート信号と称す。このビート信号S’の時間周波数は、測定用光パルス信号Smの光周波数と参照用光パルス信号Srの光周波数との差、すなわちΔf-fDに一致する。このうちΔf基準シフト周波数は、不変40MHzである。したがって、ビート信号S’の時間周波数は、基準シフト周波数Δf=40MHzの近傍で時間変化し、その時間変化が、ドップラーシフト周波数fDの時間変化を表すことになる。なお、前述したサンプリング周波数の適正値は、このような時間周波数を有したビート信号S’40MHzの近傍を、十分な精度で生成できるような値とされる。よって、例えば、サンプリング周波数は、12GHzに設定される。回路部18は、フォトディテクタ12の出力するビート信号S’を取り込み、そのビート信号S’の時間周波数を算出し、その時間周波数の値をリアルタイムで出力する。この値の時間変化が、ドップラーシフト周波数fDの時間変化計測結果である。このような回路部18としては、例えば、FFTアナライザなどの周波数分析器や、周波数/電圧コンバータなどが適用される。ここで、本実施形態のドップラー振動計測装置100は、光源11として光周波数コム光源を使用したので、移動物体200を経由する測定用光信号と移動物体200を経由しない参照用光信号との各々が定在波ではなくパルス波となっている。この場合、測定用光信号の或るパルスが光電変換面へ到達するタイミングと、参照用光信号の或るパルスが光電変換面へ到達するタイミングとを一致させない限りは、測定用光信号と参照用光信号との間のビート干渉強度が低下し、ビート信号S’のコントラストが低下する虞がある。そして、ビート信号S’のコントラストが低下すると、回路部18がドップラーシフト周波数fDを正しく算出できず、計測精度の低下する可能性が高まる。この問題に対応するべく、本実施形態のドップラー振動計測装置100はステージ19を備える。ステージ19は、全反射ミラー14と、光周波数シフタ15と、ビームスプリッタ16と、フォトディテクタ17とを保持し、これら全反射ミラー14、光周波数シフタ15、ビームスプリッタ16、フォトディテクタ17の位置関係を維持したまま、図1Aの矢印の方向へと移動可能である。そして、ステージ19の矢印方向の位置が調整されると、参照用光パルス信号Srと測定用光パルス信号Smとの間の光路長差が調整される。そこで、本実施形態のドップラー振動計測装置100のユーザは、計測に先立ちステージ19の位置調整を行いつつ、フォトディテクタ17の出力するビート信号S’のコントラストピーク強度又は時間積分値を参照する。そして、ユーザは、ビート信号S’のコントラストが最大或いは予め決められた閾値以上となった時点で、ステージ19の位置を固定する。この状態では、参照用光パルス信号Srの何れかのパルスがフォトディテクタ17の光電変換面へ入射するタイミングと、測定用光パルス信号Smの何れかのパルスがフォトディテクタ17の光電変換面に入射するタイミングとが一致しているはずである。この場合、ビート信号S’のコントラストは高くなるので、ドップラーシフト周波数fDの計測精度は高まる。以上、本実施形態のドップラー振動計測装置100は、互いに異なる光周波数を有し、かつ光周波数の間隔が一定である複数の光を、位相同期して射出する光源11と、光源11が出射する複数の光である光信号光パルス信号Sを、移動物体200を経由する測定用光信号測定用光パルス信号Smと、移動物体200を経由しない参照用光信号参照用光パルス信号Srとに分岐する分岐手段ビームスプリッタ12と、移動物体200を経由した測定用光信号測定用光パルス信号Smと、移動物体200を経由しない参照用光信号参照用光パルス信号Srとを統合して共通の光電変換面へ導く統合手段ビームスプリッタ13、16と、光電変換面へ入射した光を電気信号へと変換する光電変換手段フォトディテクタ17と、光電変換面へ入射する測定用光信号測定用光パルス信号Smと光電変換面へ入射する参照用光信号参照用光パルス信号Srとの間のビート干渉強度を調整するための調整手段ステージ19と、光電変換手段フォトディテクタ17が生成する電気信号の時間変化に基づき、移動物体200の振動周波数を算出する演算手段回路部18とを備える。このように、光源11として、互いに異なる光周波数を有し、かつ光周波数の間隔が一定である複数の光を、位相同期して射出する光源光周波数コム光源を使用すれば、測定用光信号測定用光パルス信号Smには、光周波数の異なる複数の光が含まれることになる。この場合、計測期間中、測定用光信号の単独光路に媒質揺らぎが生じたとしても、複数の光の各々が受ける影響は、互いに同じにはならない。具体的には、測定用光信号の単独光路に媒質揺らぎが生じると、複数の光の幾何学的光路長が不変であるにも拘わらず、複数の光の光学的光路長が変化する。しかし、光周波数の異なる複数の光の間では、同じ媒質揺らぎの下であっても光学的光路長の変化量は互いに異なる。その結果、それら複数の光の各々に与えられる光学的光路長の変化量は、その大部分が相殺され、複数の光の全体に与えられる光学的光路長の変化量は、小さくなると考えられる。したがって、本実施形態のドップラー振動計測装置100は、移動物体200までの距離を長くしたとしても、計測精度を高く維持することができる。しかも、本実施形態のドップラー振動計測装置100は、光源11として光周波数コムを使用したので、ビート信号S’のコントラストが低下するという問題も生じうるが、調整手段ステージ19を備えるので、この問題を確実に回避することができる。さらに、本実施形態のドップラー振動計測装置100は、光電変換面へ入射する測定用光信号と光電変換面へ入射する参照用光信号との間の周波数差を所定周波数基準シフト周波数Δfだけ拡大する周波数シフト手段光周波数シフタ15を備えるので、ビート信号S’の時間周波数を所定周波数基準シフト周波数Δfの近傍にすることができる。したがって、本実施形態のドップラー振動計測装置100は、ビート信号S’の時間周波数の時間変化を安定的に検出することができる。[第2実施形態]以下、本発明の第2実施形態としてドップラー振動計測装置を説明する。第2実施形態は第1実施形態の変形例であるので、ここでは第1実施形態との相違点のみを説明する。図5Aは、本実施形態のドップラー振動計測装置100’の全体構成図である。図5Aに示すとおり、本実施形態のドップラー振動計測装置100’は、光周波数シフタの挿入先を、参照用光パルス信号Srの単独光路と、測定用光パルス信号Smの単独光路との双方としている。図5Aにおいて符号15’で示したのが、測定用光パルス信号Smの単独光路に挿入された光周波数シフタである。光周波数シフタ15’は、光周波数シフタ15と同様、入射光の光周波数を、その光周波数によらず予め決められたシフト量だけシフトさせる機能がある。このような光周波数シフタ15としては、例えば音響光学素子AOMを適用することができる。但し、光周波数シフタ15’による光周波数のシフト量基準シフト周波数Δf’は、光周波数シフタ15による光周波数のシフト量基準シフト周波数Δfとは若干だけ異なる値に設定される。例えば、Δf=40MHzに設定され、Δf’=39.9MHzに設定される。この場合、測定用光パルス信号Smの光周波数は、図5Bに示すとおり、移動物体200へ入射する時点でf0Δf’となり、移動物体200で反射した後にf0Δf’fDとなり、その状態で光電変換面へ入射する。一方、参照用光パルス信号Srの光周波数は、図5Cに示すとおり、光電変換面へ入射する時点でf0Δfとなる。したがって、フォトディテクタ17の出力するビート信号S’の時間周波数は、Δf-Δf’-fDとなる。すなわち、本実施形態のビート信号S’の時間周波数は、2つの基準シフト周波数の差Δf-Δf’=100KHzの近傍で時間変化し、その時間変化が、ドップラーシフト周波数fDの時間変化を表すことになる。したがって、本実施形態におけるサンプリング周波数の適正値は、このような時間周波数を有したビート信号S’100KHzの近傍を、十分な精度で生成できるような値とされる。よって、例えば、サンプリング周波数は、100MHzに設定される。したがって、本実施形態のドップラー振動計測装置100では、フォトディテクタ17として、第1実施形態のそれよりもサンプリング周波数の低いもの安価なフォトディテクタを使用することができる。[第3実施形態]以下、本発明の第3実施形態としてドップラー振動計測装置を説明する。第3実施形態は第1実施形態の変形例であるので、ここでは第1実施形態との相違点のみを設定する。図6Aは、本実施形態のドップラー振動計測装置100の全体構成図である。図6Aに示すとおり、本実施形態のドップラー振動計測装置100は、ビート信号S’のコントラストを調整するためのステージ19の代わりに、ビート信号S’のコントラストを制御する制御系19’が備えられる。先ず、制御系19’以外の光学系を説明する。制御系19’以外の光学系は、第1実施形態のそれと基本的に同じである。すなわち、図6Aに示すとおり、光源11から発振された光パルス信号Sは、ビームスプリッタ12へ入射し、ビームスプリッタ12を透過する光測定用光パルス信号Smとビームスプリッタ12で反射する光参照用光パルス信号Srとに分岐される。ビームスプリッタ12を透過した測定用光パルス信号Smは、制御系19’のビームスプリッタ20を透過した後、ビームスプリッタ13を透過し、移動物体200に向かう。移動物体200で反射した測定用光パルス信号Smは、ビームスプリッタ13へ戻る。ビームスプリッタ13へ戻った測定用光パルス信号Smは、ビームスプリッタ13で反射した後、全反射ミラー14で反射し、ビームスプリッタ16を透過した後、フォトディテクタ17の光電変換面へ入射する。なお、図6Bに示したのは、測定用光パルス信号Smの経路の模式図である。一方、ビームスプリッタ12で反射した参照用光パルス信号Srは、ビームスプリッタ16を透過してから、光周波数シフタ15を通過する。光周波数シフタ15を通過した参照用光パルス信号Srは、制御系19’の全反射ミラー25へ正面から入射し、その全反射ミラー25で反射した後、光周波数シフタ15へ再入射し、その光周波数シフタ15を再通過する。なお、光周波数シフタ15が入射光に与える光周波数のシフト量は、Δf/2に設定されており、光周波数シフタ15を往復した参照用光パルス信号Srは、トータルでΔfだけ光周波数をシフトさせる。本実施形態では、このトータルのシフト量Δfを基準シフト周波数と称す。光周波数シフタ15を往復した参照用光パルス信号Srは、ビームスプリッタ16を反射すると、ビームスプリッタ16を透過した測定用光パルス信号Smと統合され、フォトディテクタ17の光電変換面へ入射する。なお、図1Cに示したのは、参照用光パルス信号Srの経路の模式図である。次に、制御系19’を説明する。図7Aは、図6Aと基本的に同じ図であるが、制御系19’で生成される測定光sm及び参照光srを明示してある。図7Aに示すとおり、制御系19’には、ビームスプリッタ20、全反射ミラー21、フォトディテクタ22、回路部23、ピエゾ素子24、可動の全反射ミラー25が備えられる。この制御系19’は、移動物体200の側からビームスプリッタ13へ戻った測定用光パルス信号Smの一部具体的にはビームスプリッタ13を透過した成分を、測定光smとして使用する。この測定光smは、ビームスプリッタ20を反射し、フォトディテクタ22の光電変換面へ入射する。なお、図7Bに示したのは、測定光smの経路の模式図である。また、制御系19’は、ビームスプリッタ12の側からビームスプリッタ20へ入射した測定用光パルス信号Smの一部具体的にはビームスプリッタ20にて反射した成分を、参照光srとして使用する。この参照光srは、全反射ミラー21へ正面から入射すると、全反射ミラー21で反射し、ビームスプリッタ20へ戻る。ビームスプリッタ20へ戻った参照光srは、ビームスプリッタ20を透過し、ビームスプリッタ20を反射した測定光smと統合され、フォトディテクタ22の光電変換面へ入射する。なお、図7Cに示したのは、参照光srの経路の模式図である。制御系19’のフォトディテクタ22は、フォトダイオードなどの光電変換素子であって、一定のサンプリング周波数で繰り返し光電変換を行うことにより、入射した光を電気信号Sに変換する。フォトディテクタ22のサンプリング周波数は、前述した繰り返し周波数frepよりも低い適正値に設定される。この設定により、フォトディテクタ22の出力する電気信号Sには、その光電変換面へ入射した測定光smと、同じ光電変換面へ入射した参照光srとの間のビート干渉強度が現れることになる。よって以下では、フォトディテクタ22の出力する電気信号Sをコントラスト信号と称す。ここで、この制御系19’における測定光smと参照光srとの間の光路長差は、移動物体200までの距離の変化期間中におけるコントラスト信号Sの変化パターンの位相と、同じ期間中におけるビート信号S’のコントラストの変化パターンの位相とが合致するよう予め調整されている。この調整は、全反射ミラー21の光軸方向の位置調整などによって行うことができる。この調整の結果、コントラスト信号Sは、ビート信号S’のコントラストをリアルタイムで表すことになる。制御系19’の回路部23は、フォトディテクタ22の出力するコントラスト信号Sを取り込み、そのコントラスト信号Sに応じた駆動信号をリアルタイムでピエゾ素子24へ出力する。ピエゾ素子24は、与えられた駆動信号に応じた変位量だけ、全反射ミラー25の光軸方向の位置を変位させることにより、参照用光パルス信号Srの光路長、すなわち、参照用光パルス信号Srと測定用光パルス信号Smとの間の光路長差を、調整する。ここで、回路部23がピエゾ素子24に与える駆動信号の値は、コントラスト信号Sが最大に維持されるような値に設定される。その結果、フォトディテクタ17の生成するビート信号S’のコントラストは、最大に維持される。以上、本実施形態のドップラー振動計測装置100は、制御系19’を備え、制御系19’は、フォトディテクタ17の光電変換面へ入射する測定用光パルス信号Sm及び参照用光パルス信号Srのビート干渉強度を監視する監視手段ビームスプリッタ20、全反射ミラー21、フォトディテクタ22と、監視したビート干渉強度コントラスト信号Sに応じて調整機構全反射ミラー25を駆動する制御手段回路部23、ピエゾ素子24とを備える。したがって、本実施形態のドップラー振動計測装置100では、ビート信号S’のコントラストが低下しうる状況であっても、制御系19’がその低下を自動的に抑える。よって、本実施形態のドップラー振動計測装置100は、ドップラーシフト周波数fDの計測精度を高く維持することができる。以下、本実施形態の効果を具体的に説明する。ここでは、移動物体200までの距離が50m程度の所定値に設定され、制御系19’がオフされ、媒質温度が21°Cであるときに、ビート信号S’のコントラストが最大であったと仮定する。図8Aは、移動物体200までの距離が5m程度の所定値に設定され、制御系19’がオフされ、媒質温度が21°Cであるときにおける測定用光パルス信号Sm、参照用光パルス信号Srの光電変換タイミングを示す図である図8Aの上段は、参照用光パルス信号Srの或るパルスが光電変換されるタイミングを示し、図8Aの下段は、測定用光パルス信号Smの或るパルスが光電変換されるタイミングを示している。。図8Aに示すとおり、媒質温度が21°Cであるときには、両者のパルスが光電変換されるタイミングは一致しており、ビート信号S’のコントラストは、図9Aに示すとおり十分に高くなる。図8Bは、図8Aの状態から媒質温度だけが21.1°Cに変化したときのタイミングを示す図である図8Bの上段は、参照用光パルス信号Srの或るパルスが光電変換されるタイミングを示し、図8Aの下段は、測定用光パルス信号Smの或るパルスが光電変換されるタイミングを示している。。図8Bに示すとおり、制御系19’がオフされていた場合は、媒質温度が0.1°C上昇しただけで、両者のパルスの光電変換されるタイミングが大幅にずれてしまい、ビート信号S’のコントラストは、図9Bに示すとおり低下する。しかし、媒質温度が0.1°C上昇したとしても、制御系19’をオンしたならば、ビート信号S’に対して図9Cに示すとおり十分なコントラストを付与することができる。これによって、両者のパルスの光電変換されるタイミングは、図8Aに示すとおり互いに一致する。[その他]なお、第3実施形態は、第1実施形態の変形例であったが、第2実施形態を同様に変形してもよい。