"位相差イメージングのための格子配置であって、第1の格子素子G1と、第2の格子素子G2とを有し、前記第1の格子素子と前記第2の格子素子の少なくとも一つが第1の格子ピッチp1,q1を持つ第1の面積A1、及び前記第1の格子ピッチp1,q1と異なる第2の格子ピッチp2,q2を持つ第2の面積A2を有する、格子配置。複数の検出器ピクセル素子を有するX線検出器素子をさらに有し、各検出器ピクセル素子がピクセル面積Aを持ち、前記第1の面積A1及び前記第2の面積A2が隣接して配置され、前記第1の面積A1及び前記第2の面積A2のサイズが単一検出器ピクセル素子の前記ピクセル面積Aに対応する、請求項1に記載の格子配置。前記第1の面積と前記第2の面積が同程度のサイズである、請求項1又は2に記載の格子配置。前記第1の格子素子と前記第2の格子素子の少なくとも一つが、各ピクセル素子について前記第1の格子ピッチp1,q1を持つ前記第1の面積、及び前記第1の格子ピッチp1,q1と異なる前記第2の格子ピッチp2,q2を持つ前記第2の面積を有する、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の格子配置。位相差イメージングのための装置であって、X線源と、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の格子配置とを有し、撮像対象が前記X線源と前記X線検出器素子の間に配置可能であり、前記第1の格子素子と前記第2の格子素子が前記X線源と前記X線検出器素子の間に配置可能であり、前記X線源、前記第1の格子素子、前記第2の格子素子、及び前記X線検出器素子が前記対象の位相差画像の収集のために動作可能に結合する、装置。前記X線源が規定波長を持つ設計エネルギーレベルを持つX線放射を放出し、前記第1の格子素子と前記第2の格子素子が距離dだけ間隔をあけ、距離dが前記規定波長の前記第1の格子ピッチp1及び前記第2の格子ピッチp2の一つの分数タルボット距離に対応する、請求項5に記載の装置。前記距離dが前記第1の格子ピッチp1と前記第2の格子ピッチp2の両方に対する分数タルボット距離に対応する、請求項6に記載の装置。前記第1の格子ピッチp1と前記第2の格子ピッチp2がによって関連し、距離dが前記ピッチp1に対する2m-1次分数タルボット距離であり、距離dが前記ピッチp2に対する2n-1次分数タルボット距離である、請求項5乃至7のいずれか一項に記載の装置。前記距離dが前記第1の格子ピッチp1の一次及び三次分数タルボット距離並びに前記第2の格子ピッチp2の三次及び五次分数タルボット距離の一つである、請求項5乃至8のいずれか一項に記載の装置。前記第1の格子素子と前記第2の格子素子がほぼ平行に配置され、前記第1の格子素子と前記第2の格子素子が位相ステッピングを提供するために互いに対して可動である、請求項5乃至9のいずれか一項に記載の装置。請求項5乃至10のいずれか一項に記載の装置を有するX線システム。X線システム及びCTシステムの少なくとも一つにおける請求項5乃至10のいずれか一項に記載の装置の使用。従って、より詳細な画像情報を得るために、微分位相差投影の収集画像情報の改良された若しくは増強された空間分解能が有益であり得る。X線位相差イメージングはWeitkampT.,DiazA.,DavidC.etal.:X‐rayphaseimagingwithagratinginterferometer;OpticsExpress6296,8.August2005,Vol.13,No.16及びBartlP.,DurstJ.,HaasW.etal.SimulationofX‐rayphase‐contrastcomputedtomographyofamedicalphantomcomprisingparticleandwavecontributions,ProcofSPIE,Volume7622,76220Q‐1の両方に記載されている。本発明の態様は、検出器ピクセル素子の物理的サイズに直接依存する空間分解能の制限を克服し、従って検出器ピクセル素子の実際のサイズを超えて空間分解能を増加するための手段を提供するものとして見られ得る。これは現在のX線検出器を利用しながら微分位相差投影の空間分解能を改善すること、若しくは例えば個々の検出器ピクセル素子の個々のピクセル面積を増加することによって微分位相差投影の空間分解能を維持しながら検出器の空間分解能の要件を緩和することを可能にし得る。従って、独立請求項にかかる、サンプリングを改善した位相差イメージングのための装置、本発明にかかる装置を有するX線システム、並びにX線システム及びCTシステムの少なくとも一つにおける本発明にかかる装置の使用が提供される。好適な実施形態は従属請求項から得られる。特に、個々のピクセル素子の面積をさらに縮小することなく位相差イメージングのための装置の分解能を増加することが有益であり得る。本発明のこれらの及び他の態様は以下に記載の実施形態から明らかとなり、これらを参照して解明される。本発明の実施形態例は以下の図面を参照して以下に記載される。図面における説明図は略図である。異なる図面において、同様の若しくは同一の要素は同様の若しくは同一の参照数字を与えられる。図面は縮尺通りに描かれないが、定性的比率を描き得る。本発明の一態様は、各検出器ピクセルに対して不均一な若しくは変動するピッチ構造を持つ位相格子と分析器格子を利用するものとして見られ得る。特に、位相格子と分析器格子の各々は2つの個別面積に分割され、各個別面積はX線検出器の単一検出器ピクセル素子の面積及び/又はサイズに対応するものとして見られ得る。単一検出器ピクセル素子に対応する各面積内で、位相格子と分析器格子の格子構造は不均一格子構造であり得る。不均一格子構造は各検出器ピクセル素子に対し少なくとも2つの個別格子ピッチを利用するものと見られ得る。各格子素子の格子構造は個別バリア素子を有し、その各々がバリア領域を形成し、互いに間隔をあけ、従ってバリア素子間にトレンチ領域を形成するものと見られ得る。好適には、トレンチ領域とバリア領域は両方とも同じ幅を有し、従ってトレンチ領域とバリア領域若しくはバリア素子は実質的に同じ寸法である。互いに隣接して配置される二つのバリア素子間の距離は格子のピッチと呼ばれ得る。従って、格子構造のピッチはトレンチ領域の幅プラスバリア領域の幅であるか、又は、バリア領域とトレンチ領域が好適には同じ幅を有するので、格子構造のピッチはトレンチ領域若しくはバリア領域の幅いずれかの2倍にも等しい。格子のピッチは格子の周期性とも呼ばれ得る。好適には、単一検出器ピクセル素子の面積若しくはサイズに対応する格子の面積若しくはサイズは二分割され、単一検出器ピクセル素子に対応する面積の各半分は個々の格子ピッチを持つ個々の格子構造を有する。言い換えれば、一つの検出器ピクセル素子の面積の第1の半分は第1の格子ピッチを持つ格子構造によってカバーされ、一つの検出器ピクセル素子の面積の第2の半分は第1の格子ピッチと異なる第2の格子ピッチを持つ格子構造によってカバーされる。特定の実施形態において、位相格子G1に対して2つの異なる格子ピッチp1及びp2が利用され、各々は各面積A1,A2、すなわち単一検出器ピクセル素子のピクセル面積Aの半分をカバーする。第1の格子素子、位相格子G1、及び第2の格子素子、分析器格子G2の間の距離dは例示的にピッチ例えばピッチp1に関連する一次分数タルボット距離firstfractionalTalbotdistanceとして選択され得る。n次分数タルボット距離は次式を利用することによって決定され得る。λはX線源の規定設計エネルギーにおける波長であり、nは正の整数である。球面波が利用される場合、従来技術で既知のさらなる修正が要求され得る。従って、一次分数タルボット距離は次式に等しい。正確な波長λが利用される場合、ぼやけのない輪郭の明瞭な干渉パターンが分数タルボット距離において得られる。第2の格子ピッチp2は次式のように選択され得る。かかる第2の格子ピッチを利用することで同様に距離dに等しくなるようピッチp2に関連するさらなる分数タルボット距離をもたらす。言い換えれば、距離dはピッチp1に対する分数タルボット距離であるとともに、さらにp2に対する異なる分数タルボット距離である。n=2の式2と式3の場合、距離dは同じ設計エネルギーにおいてピッチp1に対する一次分数タルボット距離とピッチp2に対する三次分数タルボット距離を構成する。分析器格子G2も個々のピッチq1及びq2を持つ面積A1及びA2を有する。p1及びq1並びにp2及びq2の各ピッチは好適には式4によって関連付けられ得る。各個別面積A1,A2は物理的検出器ピクセル素子上に個別仮想ピクセルを作り出すとみなされ得る。ここで位相ステッピングが行われる場合、第1の仮想ピクセル上の強度変動はピッチp1の周期を有するとみなされ得るが、一方第2の仮想ピクセルの強度変動はピッチp2の周期を有する。従って、各二つの仮想ピクセルの位相勾配は異なる周波数において符号化されているとして見られ、従ってこれらは両方とも位相ステッピングから回復され得る。しかしながら、位相ステッピングフェーズ中に取得される投影の最小数は両仮想ピクセルに対して要求される独立パラメータの取得を可能にするために増加される必要があり得る。例えば、二つの異なる格子ピッチp1及びp2では、投影の最小数は三つの異なる位相ステッピング状態から五つの位相ステッピング状態へ増加されることが要求され得る。言い換えれば、単一ピッチのみを利用するときは、互いに対する位相格子G1と分析器格子G2の三つの個別整列位置が画像情報を得るために十分であるとみなされ得るが、二つの異なる格子ピッチを利用するときは、五つの独立投影が取得される必要があり得る。例示的に、面積A1における強度変調は次式によってモデル化され得る。χは位相格子G1の変位であり位相φ1は次式に従って面積A1におけるx線波面の平均勾配∂Φ/∂χA1に関連付けられる。さらに、C1は位相ステッピング中の平均強度に関連し、この量は従来のX線透過像に関連する。V1はいわゆる視感度関数に関連し、これはX線源の帯域幅、X線ビームの空間コヒーレンス、対象内の散乱、及び他の効果によって影響される。対応して、面積A2における強度変調が次式によってモデル化されることができる。その後、個々の検出器ピクセル素子によって測定される総強度が次式から得られる。関心のある二つの位相勾配∂Φ/∂χA1,∂Φ/∂χA2は、異なる周波数1/p1及び1/p2において符号化されるので、こうして位相ステッピング中に取得され得る。位相ステッピングから二つの位相勾配を回復するために、格子G1は少なくともp1及びp2の長い方の長さにわたって動かされるべきである。本発明の概念は二つの仮想ピクセルへの物理的ピクセル素子の分割のみに限定されない。むしろさらに異なる格子ピッチ、例えば単一検出器ピクセル素子の面積内で三つの異なる格子ピッチを利用することによって、例えば三つの仮想ピクセルが生成され得る。この場合七つの個別投影が取得されることが要求され得る。従って、距離dが特定分数タルボット距離若しくは利用される全格子ピッチp1,p2,p3,...pnの距離と等しく、一方複数の仮想ピクセルを再構成するために取得される必要がある個別画像の数は2n1であり得ることが有益であり得る。さらに、仮想ピクセルに対し異なる分数タルボット距離を選択することもまた考えられる。特に、距離dは例えばピッチp1に対する三次分数タルボット距離、及び例えばピッチp2に対する五次分数タルボット距離であり得る。しかしながら、位相勾配へのシステムの感度は分数タルボット次数と線形に増加するとみなされ得る。異なる仮想ピクセルについて同様の感度を得るために、異なる仮想ピクセルに対し同様の分数タルボット次数を利用することが有益であり得る。ここで図1を参照すると、本発明にかかるX線システムの実施形態例が描かれる。図1において、X線システム2はX線源4、及びX線検出器6とX線源4両方の軸まわりの回転を可能にするようガントリ10に取り付けられるX線検出器6を有するCTシステム2として描かれる。X線源4はX線源4から発してその後X線検出器6に達するX線放射20を発生させる。支持台12は検査対象14を支持するためにCTシステム2のガントリ10内に配置される。対象14はX線検出器6によるその個々の検出器ピクセル素子8によるX線画像情報の取得を可能にするようX線放射20の経路内に配置可能である。X線検出器6は例示的に検出器ピクセル素子8の二次元アレイとして表示される。ディスプレイ18を有する制御システム16は画像収集プロセスを制御するため、また収集及び再構成された画像情報のディスプレイ18でのその後の表示のための手段を提供するために、X線システム2に通信可能に結合する。微分位相差画像収集のための個別格子素子は図1に描かれない。しかしながら、X線管4から検出器素子6へのX線放射20の経路の詳細な図が図2から得られる。ここで図2を参照すると、本発明にかかる位相差イメージングのための配置の実施形態例が描かれる。配置38において、X線源4は少なくとも部分的に空間的コヒーレントなX線放射20を発生させるために線源格子22の近傍に配置される。線源格子22は距離lだけ位相格子G124から間隔をあけている。対象14はX線源4と位相格子G124の間にX線放射20の経路内に配置される。均一位相を持つ波面28aは対象14に達するように描かれるが、対象14を貫通する間に波面にかかる位相シフトのために波面内で変化した位相関係を持つさらなる位相面28bが描かれる。その後、波面は分析器格子26から距離dだけ間隔をあけて配置される位相格子G124に達する。距離dは格子ピッチpに対する分数タルボット距離であり得る。分析器格子G226は位相差画像の収集のために位相格子G124に対してずらすことができる32。しかしながら分析器格子G226の代わりに線源格子G022若しくは位相格子G124をずらすことも考えられる。位相格子G124と分析器格子G226を通過するX線放射20はその後検出器ピクセル素子8によって検出可能な干渉パターンをX線検出器素子6上に生成する。図2において明確にするために位相格子G124は均一ピッチpを持つように描かれ分析器格子G226は均一ピッチqを持つように描かれる。しかしながら、位相格子G124及び分析器格子G226両方の個別ピッチ配置に関する詳細な図は図3から得られる。ここで図3を参照すると、本発明にかかる格子配置の詳細例が描かれる。図3において格子配置40において、単一検出器ピクセル素子8の面積A並びに対応するサイズの位相格子G124と分析器格子G226が描かれる。図3に描かれる配置は特にX線検出器6の一つ一つの検出器ピクセル素子8について繰り返され得ることが理解される。検出器ピクセル素子8の面積Aは位相格子G124と分析器格子G226に関する異なるピッチの面積に対応する二つの同じくらいのサイズの面積A1及びA2に分割される。特に、A=A1A2である。面積A1において、位相格子G124はピッチp1を有し、分析器格子G226はピッチq1を有し、一方面積A2において位相格子G124はピッチp2を有し分析器格子G226はピッチq2を有する。各ピッチp1,p2,q1,q2のサイズと寸法は上記説明に従って決定され設定され得る。例えばp1とp2はによって関連付けられ、一方piとqiはによって関連付けられ得る。各格子はバリア素子若しくはバリア領域34間のギャップを構成するとみなされ得る中間トレンチ領域36とともにバリア素子若しくはバリア領域34を有する。各バリア領域24及びトレンチ領域36は各バリア領域24及びトレンチ領域36がどの面積内に配置されるかに応じて各ピッチp1,p2,q1,q2の半分を有する。位相格子G124についてトレンチ領域36は実質的に隣接バリア領域34間の間隔若しくはギャップであり得るが、分析器格子G226のトレンチ領域36は例えば電気めっきにより金などの材料で充填され得る。バリア領域34及びトレンチ領域36は等しい幅であり、両方とも位相格子G124と分析器格子G226の各面積A1,A2の各ピッチを構成することになる。例示的に、分析器格子26は位相ステッピングを実行するために位相格子G124に平行にずらすことができる32。現在の位相ステッピング状態に応じて、干渉パターンが検出器ピクセル素子8に仮想ピクセル130a若しくは仮想ピクセル230bいずれかの面積において投影され得る。両仮想ピクセル30a,bは同じ検出器ピクセル素子8上に配置されるので、両仮想ピクセルはまた同じ物理的検出器ピクセル素子8を介して読み出される。従って検出器素子6は変更される必要がない。その後、収集画像情報が個別位相ステッピング状態について、すなわち収集画像情報が仮想ピクセル130a若しくは仮想ピクセル230bに属するとみなされるかどうかについて、ソートされ得る。従って、仮想ピクセル30a,bを考慮して個別検出器ピクセル素子8の複数の読み出し値によって再構成されるべき画像情報は、少なくとも格子構造に垂直な、すなわちバリア領域34とトレンチ領域36に垂直な方向において空間分解能を持ち、これは検出器素子6自体の空間分解能の2倍である。有するという語は他の要素若しくはステップを除外せずa若しくはanは複数を除外しないことが留意されるべきである。また、異なる実施形態と関連して記載される要素は組み合わされ得る。請求項における参照数字は請求項の範囲を限定するものと解釈されてはならないことも留意されるべきである。"