セル室の内壁に固着された放射性同位元素の線源と、セル室の頂部から挿入され、先端がセル室内に突き出した状態で支持される棒状のコレクタ電極と、セル室の底部に形成され、メイクアップガスをセル室内に流入するとともにガスクロマトグラフ用カラムの終端をセル室内に挿入するガス導入孔と、セル室内のガスを排出する排気口とを備えた電子捕獲検出器であって、セル室内に挿入されるカラムの軸線延長上に排気口が設けられるとともに、カラムの軸線延長上から外れたオフセット位置にコレクタ電極が取り付けられることを特徴とする電子捕獲検出器。セル室の内壁に固着された放射性同位元素の線源と、セル室の頂部から挿入され、先端がセル室内に突き出した状態で支持される棒状のコレクタ電極と、セル室の底部に形成され、ガスクロマトグラフ用カラムから流出する試料ガスとともにメイクアップガスをセル室内に流入するガス導入孔と、セル室内のガスを排出する排気口とを備えた電子捕獲検出器であって、ガス導入孔の中心軸の延長上に排気口が設けられるとともに、ガス導入孔の中心軸の延長上から外れたオフセット位置にコレクタ電極が取り付けられることを特徴とする電子捕獲検出器。前記コレクタ電極は、セル室の頂部に設けた挿入孔を介してセル室内に挿入されるとともに、前記挿入孔にコレクタ電極表面を覆うパージガスを供給するためのパージガス供給流路を設けた請求項1または請求項2に記載の電子捕獲検出器。前記メイクアップガス流量を前記パージガス流量よりも大きくする請求項3に記載の電子捕獲検出器。前記排気口と前記ガス導入孔とは、セル室の中心線に沿って設けられる請求項1~請求項4のいずれかに記載の電子捕獲検出器。特許文献2に開示されているような、ガス導入孔の中心軸の延長上から外れたオフセット位置にコレクタ電極を配置するようにした構造のECD検出器では、ガス導入孔からセル室内に流入する被検ガスが、直接、コレクタ電極に接触することがなくなる点で、コレクタ電極の軸線とガス導入孔の中心軸の延長線とが一致するように配置されているECD検出器より、汚染されにくい構造になっている。しかしながら、ガス導入孔からセル室内に流入したガスの流れは、乱流や拡散を伴うことから、一部がコレクタ電極に接触し、汚染が生じることになる。そこで、本発明はこれまでのECD検出器の構造よりも、さらにコレクタ電極の汚染が生じにくい構造のECD検出器を提供することを目的とする。上記課題を解決するためになされた第一の発明のECD検出器は、セル室の内壁に固着された放射性同位元素の線源と、セル室の頂部から挿入され、先端がセル室内に突き出した状態で支持される棒状のコレクタ電極と、セル室の底部に形成され、メイクアップガスをセル室内に流入するとともにガスクロマトグラフ用カラムの終端をセル室内に挿入するガス導入孔と、セル室内のガスを排出する排気口とを備えた電子捕獲検出器であって、セル室内に挿入されるカラムの軸線延長上に排気口が設けられるとともに、カラムの軸線延長上から外れたオフセット位置にコレクタ電極が取り付けられるようにしている。上記構成にすることにより、カラムから流出する試料ガスはメイクアップガス18と混合されて上方に向けて流れる。セル室の排気口が、カラムの軸線の延長上に設けられているので、被検ガスの流れはほぼまっすぐ排気口に向かうことになる。コレクタ電極は、カラムと排気口とを結ぶ線上から離れたオフセット位置にあるので、被検ガス中の汚染成分が、直接、吹き付けられることがなくなる。また、上記課題を解決するためになされた第二の発明のECD検出器は、セル室の内壁に固着された放射性同位元素の線源と、セル室の頂部から挿入され、先端がセル室内に突き出した状態で支持される棒状のコレクタ電極と、セル室の底部に形成され、ガスクロマトグラフ用カラムから流出する試料ガスとともにメイクアップガスをセル室内に流入するガス導入孔と、セル室内のガスを排出する排気口とを備えた電子捕獲検出器であって、ガス導入孔の中心軸の延長上に排気口が設けられるとともに、ガス導入孔の中心軸の延長上から外れたオフセット位置にコレクタ電極が取り付けられるようにしている。上記構成にすることにより、試料ガスとメイクアップガスとの混合ガス被検ガスがガス導入孔からセル室内に流入し、上方に向けて流れる。セル室の排気口が、ガス導入孔の中心軸の延長上に設けられているので、被検ガスの流れはほぼまっすぐ排気口に向かうことになる。コレクタ電極は、ガス導入孔と排気口とを結ぶ線上から離れたオフセット位置にあるので、被検ガス中の汚染成分が、直接、吹き付けられることがなくなる。本発明のECD検出器によれば、カラム終端と排気口、または、ガス導入孔と排気口とが、直線上に配置されるので、被検ガスがほぼまっすぐ排気口に向かうスムーズな流れが形成され、コレクタ電極の汚染が低減できる。上記発明において、コレクタ電極は、セル室の頂部に設けた挿入孔を介してセル室内に挿入されるとともに、挿入孔にコレクタ電極表面を覆うパージガスを供給するためのパージガス供給流路を設けるようにしてもよい。本発明によれば、コレクタ電極表面を積極的にパージガスで覆うことにより、コレクタ電極の汚染をさらに低減することができ、洗浄サイクルを大幅に長期化することができる。ここで、メイクアップガス流量をパージガス流量よりも多く供給するようにしてもよい。本発明によれば、パージガスによって生じる被検ガスの流れの乱れを抑えることができる。上記発明において、排気口とガス導入孔とが、セル室の中心線に沿って設けられるようにしてもよい。本発明によれば、セル内壁によって被検ガスの流れが乱れる影響を抑えることができる。以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。図1は、本発明の一実施形態であるECD検出器の断面図である。ECD検出器10は、密閉した円筒型のセル室13が形成され、その内側側壁に放射性同位元素である63Niの線源11が、塗布や蒸着により固着してある。セル室13の頂部13aの中央には、排気口13fが形成してある。排気口13fからは外部に通じる排気流路13cを介してセル室13内のガスが排出される。また、セル室13の頂部13aの排気口13fから偏心した位置に、棒状のコレクタ電極12をセル室13内に挿入するための挿入孔13bが形成してある。コレクタ電極12は、先端をセル室底部13dに向けて支持してある。挿入孔13bには途中で合流するパージガス流路13gが形成してある。パージガス流路13gからは、コレクタ電極12に沿ってこれを覆うようにN2ガスがセル室13内に供給される。セル室13の底部13dの中央には、カラム接続部16と連通するガス導入孔13eが形成してある。ガス導入孔13eは、その中心軸が排気口13fの中心軸に一致するようにしてある。カラム接続部16には、ガスクロマトグラフ用のカラム17が接続され、カラム17はガス導入孔13eを貫通してカラム終端がセル室13の下方に位置するようにしてある。カラム17終端部分の軸線方向は、排気口13fに向けられることになる。また、カラム接続部16にはメイクアップガスN2ガスを供給するメイクアップ流路18が設けられている。メイクアップ流路から供給されるメイクアップガスは、ガス導入孔13eからカラム17に沿ってセル室13内に流入するようにしてある。なお、メイクアップガスの流量は、パージガスの流量より大きくなるようにしてセル室13内での主な流れが、ガス導入孔13eから排気口13fに向かうようにする。そしてセル室13内で、カラム17から流出する試料ガス試料成分およびキャリアガスとメイクアップガスとの混合ガス被検ガスとが、排気口13fに向けてスムーズに流れるようにしてある。次に、ECD検出器10による動作について説明する。まず一般的な測定原理について説明する。メイクアップ流路18からN2ガスメイクアップガスが供給され、ガス導入孔13eからセル室13内に流入すると、線源11からのβ線によって一部が電離し、セル室13内に電子が生成される。この電子は、コレクタ電極12に引き寄せられるので、コレクタ電極12と線源11との間には定常電流が流れる。カラム17から流出する試料ガス試料成分とキャリアガスN2ガス中に、電子親和性物質が存在すると、電子親和性物質は電子を取り込んで、負イオンを形成する。負イオンもコレクタ電極12に引き寄せられるが、電子に比べて移動速度が遅いため、定常電流に変化が生じる。この変化量を信号として測定することにより、カラム17から流出した電子親和性物質の濃度を求めることができる。ECD検出器10による上記測定において、セル室13内に突き出したカラム17終端から流出する試料ガスは、メイクアップガスと混合された被検ガスとなって上方に向けて流れる。セル室13の排気口13fが、カラム17終端部分の軸線の延長線上に設けられているので、被検ガスの流れはほぼまっすぐ排気口13fに向かうことになる。コレクタ電極12は、カラム17と排気口13fとを結ぶ線上から離れたオフセット位置にあるので、被検ガス中の汚染成分が、直接、吹き付けられることがなくなる。さらに、コレクタ電極12は、パージガス流路13gから供給されるN2ガスパージガスの流れによってコレクタ電極表面が覆われるので、汚染成分の付着を積極的に阻止されるので、洗浄サイクルを大幅に長期化することができる。なお、このような構成にしても、線源11のβ線によってN2から放出される電子量は同じであり、コレクタに流れる初期定常電流は変わらず、信号の直線性に変化はなく、親電子性の化合物が電子を取り込むことによる変化を検出できる。図2は、本発明の第二実施形態であるECD検出器10aの構成を示す図である。図1と同じ構成部分については同符号を付すことにより、説明を省略する。本実施形態が図1の検出器と異なる点は、カラム17がガス導入孔13eを貫通せずに、カラム接続部16にカラム終端が留まる点である。この場合、ガス導入孔13eからは試料ガスとメイクアップガスとの混合ガスである被検ガスが流入することになる。この場合も、コレクタ電極12の先端をセル室13内で少し深く挿入する程度の変更を行えば、ガスの流れは基本的には図1の場合と同様である。