"データ記憶装置内部の媒体の上のヘッドの浮上高を制御するために使用できる方法であって、aリードバックモードにおいて、前記データ記憶装置の読取りパスによって受け取られる第1の信号に基づいて第1の値例えば、RRBを求めること例えば、602~608であって、前記第1の信号が、前記媒体から読み取られるあらかじめ記録されたデータに対応して、少なくとも1つの周期的パターンによって特徴付けられ、前記第1の値が、第1のサンプリング周波数で前記第1の信号をサンプリングすることによって生成されることと、bループバックモードにおいて、前記データ記憶装置の書込みパスから直接に読取りパスによって受け取られる第2の信号に基づいて第2の値例えば、RLB求めること例えば、610~620であって、前記第2の信号は前記媒体をバイパスし、前記少なくとも1つの周期的パターンによって特徴付けられ、前記第2の値が、前記第1のサンプリング周波数とは異なる第2のサンプリング周波数で前記第2の信号をサンプリングすることによって生成されることと、c前記第1および第2の値に基づいて第3の値例えば、Rtを生成すること例えば、622であって、前記第3の値は、前記浮上高を制御する例えば、624、626ために使用できることとを含む、方法。d前記第3の値に基づいて前記浮上高を制御することをさらに含む、請求項1に記載の方法。前記第1の値を求める前に、最初の浮上高に対応する最初の値例えば、R0を求めることをさらに含み、ステップdにおいて前記浮上高を制御することがさらに、前記最初の値に基づく例えば、624、請求項2に記載の方法。ステップdが、d1前記第3の値と前記最初の値との差を計算することと、d2前記差に基づいて前記浮上高を調整することとを含む、請求項3に記載の方法。前記少なくとも1つの周期的パターンが、第1および第2の周期的パターンを含み、ステップbが、b1前記第2の信号をサンプリングして例えば、514、それぞれ前記第1および第2の周期的パターンに対応する第1および第2の組の第2の信号のサンプルを生成することと、b2前記第1および第2の組の第2の信号のサンプルを平均して、それぞれ前記第1および第2の組の第2の信号のサンプルの平均を生成すること例えば、524、612と、b3前記第1および第2の組の第2の信号のサンプルの前記平均値に基づいて前記第2の値を生成すること例えば、620とを含む請求項1に記載の方法。ステップaが、a1前記第1の信号をサンプリングして例えば、514、前記第1および第2の周期的パターンに対応する第1および第2の組の第1の信号のサンプルを生成することと、a2それぞれ前記第1および第2の組の第1の信号のサンプルに基づいて第1および第2の高調波強度を測定すること例えば、522、606と、a3前記第1および第2の高調波強度に基づいて前記第1の値を生成すること例えば、608とを含む、請求項5に記載の方法。ステップb2がさらに、それぞれ前記第1および第2の組の第2の信号のサンプルの前記平均値に基づいて第3および第4の高調波強度を求めること例えば、526、618を含み、ステップb3が、前記第3および第4の高調波強度に基づいて前記第2の値を生成することを含む請求項5に記載の方法。ステップb2が、i前記第1の組の第2の信号のサンプルの前記平均値に基づいて第1の組の実数成分および虚数成分を求めることと、ii前記第1の組の実数成分および虚数成分に基づいて前記第1の高調波強度を求めることと、iii前記第2の組の第2の信号のサンプルの前記平均値に基づいて第2の組の実数成分および虚数成分を求めることと、iv前記第2の組の実数成分および虚数成分に基づいて前記第2の高調波強度を求めることとを含む、請求項7に記載の方法。データ記憶装置内部の媒体の上のヘッドの浮上高を制御するために使用できる装置であって、前記データ記憶装置が、i前記媒体から読み取られたあらかじめ記録されたデータに対応して、少なくとも1つの周期的パターンによって特徴付けられる第1の信号を受け取るためのリードバックモード、およびii前記媒体をバイパスし、前記少なくとも1つの周期的パターンによって特徴付けられる第2の信号を、前記データ記憶装置の書込みパスから直接に受け取るためのループバックモードで設定可能である読取りパスを有し、i前記リードバックモードで、第1のサンプリング周波数で前記第1の信号をサンプリングし、ii前記ループバックモードで、前記第1のサンプリング周波数とは異なる第2のサンプリング周波数で前記第2の信号をサンプリングする、アナログ-デジタルコンバータと、前記リードバックモードで、前記第1の信号のサンプルに基づいて第1の値例えば、RRBを求め例えば、602~608、ループバックモードで、前記第2の信号のサンプルに基づいて第2の値例えば、RLBを求め例えば、610~620、前記第1および第2の値に基づいて、前記浮上高を制御する例えば、624~626ために使用できる第3の値例えば、Rtを生成する例えば、622デジタルプロセッサとを含む、装置。前記装置が前記データ記憶装置であり、前記装置が、前記第3の値に基づいて前記浮上高を制御する、請求項9に記載の方法。図1の方法に関する1つの問題は、Btk1,k2がB0k1,k2に等しくない可能性があることである。Btk1,k2およびB0k1,k2は、例えばHDDシステムの読取りパスの中の電子機器に影響を及ぼす環境の変化に基づいて変わる可能性がある。Btk1,k2とB0k1,k2とのずれは、式4および5のΔRを不正確なものにし、その結果、測定された浮上高の変化Δdを不正確なものにする。浮上高の精度を求める比較的厳しい要求に対処するために、ΔRは、好ましくは、例えば環境状態例えば、電圧および温度の変化の全範囲で10分の数dB内でのみ変動すべきである。これらの不正確な点を克服するために、環境状態のこうした変化に影響を受けない、浮上高の変化Δdを測定するための方法が必要とされる。1つの実施形態では、本発明は、データ記憶装置内部の媒体の上のヘッドの浮上高を制御するために使用できる方法である。この方法は、リードバックモードにおいて、データ記憶装置の読取りパスによって受け取られた第1の信号に基づいて第1の値を求めることを含む。第1の信号は、媒体から読み取られる、あらかじめ記録されたデータに対応し、少なくとも1つの周期的パターンによって特徴付けられる。第1の値は、第1のサンプリング周波数で第1の信号をサンプリングすることによって生成される。さらにこの方法は、ループバックモードにおいて、データ記憶装置の書込みパスから直接に読取りパスによって受け取られた第2の信号に基づいて第2の値を求めることを含む。第2の信号は媒体をバイパスし、少なくとも1つの周期的パターンによって特徴付けられる。第2の値は、第1のサンプリング周波数とは異なる第2のサンプリング周波数で第2の信号をサンプリングすることによって生成される。この方法はさらにまた、第1および第2の値に基づいて第3の値を生成することを含み、第3の値は、浮上高を制御するために使用できる。別の実施形態では、本発明は、データ記憶装置内部の媒体の上のヘッドの浮上高を制御するために使用できる装置である。データ記憶装置は、媒体から読み取られるあらかじめ記録されたデータに対応し、少なくとも1つの周期的パターンによって特徴付けられる第1の信号を受け取るように、リードバックモードで設定可能な読取りパスを有する。読取りパスはまた、媒体をバイパスし、少なくとも1つの周期的パターンによって特徴付けられる第2の信号をデータ記憶装置の書込みパスから直接に受け取るように、ループバックモードで設定可能である。この装置は、アナログ-デジタル変換器、およびデジタルプロセッサを含む。リードバックモードでは、アナログ-デジタル変換器は、第1のサンプリング周波数で第1の信号をサンプリングする。ループバックモードでは、アナログ-デジタル変換器は、第1のサンプリング周波数とは異なる第2のサンプリング周波数で第2の信号をサンプリングする。リードバックモードでは、デジタルプロセッサは、第1の信号のサンプルに基づいて第1の値を求める。ループバックモードでは、デジタルプロセッサは、第2の信号のサンプルに基づいて第2の値を求める。さらにデジタルプロセッサは、第1および第2の値に基づいて第3の値を生成し、第3の値は、浮上高を制御するために使用できる。本発明の他の態様、特徴、および利点は、次の詳細な説明、添付の特許請求の範囲、および同様の参照符号が同様または同一の要素を識別する添付の図面から、さらに十分に明らかになるであろう。本明細書における1つの実施形態または一実施形態への言及は、その実施形態に関連して説明する特定の機能、構造、または特性を、本発明の少なくとも1つの実施形態に含むことができることを意味する。明細書中の様々な場所での1つの実施形態ではという語句の出現は、必ずしもすべて同じ実施形態に言及しておらず、別個の実施形態または代替的実施形態は、必ずしも他の実施形態を互いに排除しない。同じことは、実行という用語にもあてはまる。図2は、ハードディスクドライブHDDシステム200の1つの実行の少なくとも一部の簡略化したブロック図を示す。HDDシステム200は、媒体例えば、1つまたは複数のプラッタの上の1つまたは複数のヘッドの浮上高を制御するために使用することができる構成要素を有する。一般にHDDシステム200は、浮上高を制御するために2つのモード、すなわちリードバックモードとループバックモードを使用する。リードバックモードでは、ヘッド206およびプリアンプ208がインラインに接続され、書込み事前補償回路202は切断されて、記憶媒体から読み取られるデータに基づいて高調波強度を測定できるようにする。次に測定された高調波強度の1つを別の1つで割ることによって、リードバックモードの高調波比が生成される。ループバックモードでは、書込み事前補償回路202がインラインに接続され、ヘッド206したがって媒体およびプリアンプ208は切断され、書込み事前補償回路202によって提供されるデータに基づいて高調波強度を測定できるようにする。次に、測定された高調波強度の1つを別の1つで割ることによって、ループバックモードの高調波比が生成される。対数領域において、リードバックモードの高調波比からループバックモードの高調波比を引き、以下にさらに説明するように、リードチャネルにおける環境状態の変化の影響を取り除く。浮上高制御動作をHDDシステム200によってどのように行うことができるかをさらに理解するために、図3の流れ図と関連してHDDシステム200について説明する。図3は、図2のHDDシステム200によって行うことができる浮上高制御動作の1つの実行の簡略化された流れ図300を示す。浮上高制御動作は、図1のアクション106に関連して上述したもののような、任意の好適なトリガイベントを使用して開始されることが可能である。開始されるとHDDシステム200は、すでにリードバックモードで構成されていない場合、ヘッド206およびプリアンプ208がインラインに接続され、書込み事前補償回路202が切断されるように、スイッチ204を位置aとbの間で動かし、かつスイッチ210を閉じることによって、リードバックモードで構成されるアクション302。次に、第1の周波数f1を有する第1の周期的パターンおよび第2の周波数f2を有する第2の周期的パターンが、媒体から読み取られるアクション304。2つの周期的パターンは、一般に製造中にプラッタの指定された領域にあらかじめ記録されるが、これらは図1のアクション102に関連して上述したように、第1および第2の周期的パターンを結合することにより1つの記録パターンとして、または2つの別個の記録パターンとして記録されることが可能である。2つの周期的パターンを記録するために、スイッチ204は位置aに動かされ、スイッチ210は開き、パターンは書込み事前補償回路202によってプリアンプ208に提供され、プリアンプがパターンを増幅して、パターンをヘッド206に提供し、ヘッドがパターンを記憶媒体に書き込むことに注意する。2つの周期的パターンをリードバックすると、パターンはプリアンプ208によって増幅され、ハイパスフィルタリング、可変利得の調整、磁気抵抗ヘッド非対称MRA補償、および連続時間ローパスフィルタリングのような、信号を調整するための好適な処理を行うことができるリードチャネルRCのアナログフロントエンドAFE212によって処理される。次に2つの調整された周期的パターンは、ボーレートサンプリングを行うすなわち、ビットあたり1サンプルのレートでサンプリングするRCアナログ-デジタル変換器ADC214を使用してアナログフォーマットからデジタルフォーマットに変換される。RCデジタルプロセッサ216は、第1の周期的パターンの第1の高調波強度VRB,tk1、および第2の周期的パターンの第2の高調波強度VRB,tk2を測定しアクション306、これらはそれぞれ式2に示すように表すことができる。ここで添え字RBは、リードバックモードを示す。次に、RCデジタルプロセッサ216は、式6に示すように、第1の測定された高調波VRB,tk1を第2の測定された高調波VRB,tk2で割ってアクション308リードバックモードの高調波比RRB,tk1,k2を得る。ここで、RRB,tk1,k2の値は、iヘッド206および媒体、ならびにiiアナログ信号のパスすなわち、プリアンプ208、RCAFE212、および様々なブロック間の伝送線路の相互接続において、環境により引き起こされる変化によって影響を受ける。式6は、式3の解釈に類似した解釈を有する。次にHDDシステム200は、スイッチ204を位置bに動かし、かつスイッチ210を開放することによってループバックモードで構成されアクション310、i書込み事前補償回路202がインラインに接続され、iiヘッド206およびプリアンプ208が切断されるようにする。媒体から2つの周期的信号をリードバックするのではなく、媒体に書き込まれた同じ2つの周期的信号は、書込み事前補償ブロック202によってRCAFE212に提供されるアクション312。2つの周期的信号は、上述のようにRCAFE212、RCADC214、およびRCデジタルプロセッサ216によって処理されて、第1の周期的パターンの第1の高調波強度VLB,tk1、および第2の周期的パターンの第2の高調波強度VLB,tk2を生成するアクション314。ここで添え字LBはループバックモードを示す。RCデジタルプロセッサ216は、式7に示すように、第1の測定された高調波VLB,tk1を第2の測定された高調波VLB,tk2で割ってアクション316、ループバックモードの高調波比RLB,tk1,k2を得る:ここで、RLB,tk1,k2の値は、アナログ信号パスすなわち、RCAFE212では環境により引き起こされる変化によって影響を受けるが、プリアンプ208、ヘッド206、記憶媒体、および関連する相互接続では、これらの構成要素が切断されているので環境により引き起こされる変化によって影響を受けない。RCデジタルプロセッサ216は、リードバックモードの高調波比RRB,tk1,k2からループバックモードの高調波比RLB,tk1,k2を引いて、時間tにおける高調波比Rtk1,k2を得るアクション318。高調波比RRB,tk1,k2から高調波比RLB,tk1,k2を引くと、RCAFE212の環境により引き起こされる変化が取り除かれる。結果として生じる高調波比Rtk1,k2は、式3の高調波比Rtk1,k2に類似しており、RCAFE212において環境により引き起こされる変化がない。ループバックモードの高調波比RLB,tk1,k2およびリードバックモードの高調波比RRB,tk1,k2が対数の形態で表されない場合、リードバックモードの高調波比RRB,tk1,k2をループバックモードの高調波比RLB,tk1,k2で割ることに注意する。RCデジタルプロセッサ216は、式4に示すように、図1のアクション104に関して上述した方法に類似した方法で、例えば製造中に決定される最初の高調波比R0k1,k2を高調波比Rtk1,k2から引いて、最初の高調波比R0k1,k2がどれだけ変化したかを求めるアクション320例えば、ΔRを求める。最初の高調波比R0k1,k2を測定する際に従う手順は、高調波比R1k1,k2の測定に関して上述したものと、t=0で行われる以外同じものとすることができることに注意する。浮上高の変化Δdは、ΔRに基づいて求めることができ、浮上高の変化ΔdまたはΔRは、浮上高コントローラ図示せずによって使用されて、図1のアクション114に関して上述した方法のような好適な方法で、浮上高を調整することができるアクション322。図4は、浮上高を制御するために使用することができるHDDシステム400の別の実行の少なくとも一部の簡略化したブロック図である。HDDシステム400は、書込み事前補償回路402、ヘッド406、プリアンプ408、RCAFE412、RCADC414、およびRCデジタルプロセッサ416を有し、これらは図2のHDDシステム200の類似の構成要素の動作と同様の動作を行う。浮上高を制御するために、HDDシステム400は、例えば、図3に関して上述したようにHDDシステム200の方法に類似した方法で動作することができる。しかしながら、ループバックモードでは、書込み事前補償回路402とプリアンプ408の両方がスイッチ404を閉じることによってインラインに接続され、ヘッド406したがって媒体は、スイッチ418および410を開放することによって切断される。これは、ループバックモード中にプリアンプ208を切断するHDDシステム200と対照的である。リードバックモード中には、1つまたは複数のヘッド406の読取り要素したがって記憶媒体は、スイッチ418を閉じることによってインラインに接続され、ヘッド406の書込み要素は、スイッチ410を開放することによって切断され、書込み事前補償回路402は、スイッチ404を開放することによって切断される。上述のループバックモードは、RCADCにおける量子化誤差および周波数エイリアシングによって影響を受ける可能性がある。ループバックモードでは、一般に記憶媒体からデータを読み取る間に取り込まれるノイズは、RCADCへの入力では存在しないまたは、弱い。量子化誤差を平均するノイズがないまたは、ノイズが非常に弱いので、量子化誤差は、決定論的歪みのように作用する。量子化誤差を正すには、RCAFEによって可変利得調整VGAディザリングを使用して、RCADCの入力にノイズを効果的に送り込むことができる。ループバックモードでVGAディザリングを行うために、上述のように、第1および第2の周期的パターンをリードバックして、測定し、第1および第2の測定した高調波強度VLB,tk1およびVLB,tk2を生成する。このプロセスを繰り返して、第1および第2の周期的パターンのそれぞれに複数の測定値を生成し、繰り返し毎に、VGA値は変更される。第1の周期的パターンの複数の測定値は平均され、同様に第2の周期的パターンの複数の測定値も平均される。次に、第1の周期的パターンの平均を第2の周期的パターンの平均で割って、ループバックモードの高調波比RLB,tk1,k2を得ることができる。測定が繰り返されるために、このVGAディザリング手法は、比較的時間がかかる可能性がある。さらに、一般には、使用できるVGA値の数は限られており、VGAディザリングによって達成できるノイズ平均化の量は限られる可能性がある。ループバックモードでは、RCADCの前にくるRCAFEのロールオフ特性が、帯域外高調波を阻止するほど著しくないため、周波数エイリアシングが起きる。一般に、ロールオフ特性が著しくないすなわち、カットオフ周波数後に大幅に減衰する場合、帯域外高調波は、エイリアシングによって帯域内に折り返されるCTFによって重み付けされたスペクトル。ナイキスト周波数に近い高調波の測定は、エイリアシングによって著しく影響を受ける可能性がある。エイリアシングを最小にするために、RCAFEの連続時間型ローパスフィルタCTFのカットオフ周波数を下げることができる。しかしながら、カットオフ周波数を下げると、第1および第2の周期的パターンの高調波の周波数をより低い値に制限する可能性がある。さらに、一般により低い高調波周波数を使用すると、浮上高の変化に対するRC高調波センサの感度が下がる。VGAディザリングを使用し、カットオフ周波数を下げる代わりとして、RCADCにおいて非同期サンプリングを使用して、ループバックモードを実行することができる。図5に関して以下に説明するように、非同期サンプリングは、ループバックモードにある量子化誤差および周波数エイリアシングの両問題に対処するために使用することができる。この非同期サンプリング手法は、わずか1回の測定を必要とするだけであり、したがって、VGAディザリング手法よりも少ない時間で行うことができる。サンプリングの非同期の性質は、i量子化誤差の平均化にも、ii周波数エイリアシングの影響の最小化にも役立つ。さらに、非同期サンプリング手法により、VGAディザリング手法よりも高い高調波周波数を使用することが可能になり、さらにはiRC高調波センサが浮上高の変化に対してより高い感度を有することができる、ii高調波の測定における許容誤差の量を増大させて所与の浮上高の精度を満たす。図5は、浮上高を制御するために非同期サンプリングを使用する本発明の1つの実施形態によるHDDシステム500の簡略化したブロック図を示す。HDDシステム500は、書込み事前補償回路502、ヘッド506、プリアンプ508、RCAFE512、およびRCADC514を有し、これらは図2の類似の処理の動作と同様の動作を行う。浮上高制御動作がシステム500によってどのように行われることが可能であるかをさらに理解するために、図6の流れ図と関連してシステム500について説明する。図6は、図5のHDDシステム500によって行われることが可能である本発明の別の実施形態による浮上高制御動作の簡略化した流れ図600を示す。浮上高制御動作は、図3に関して上述したもののような、任意の好適なトリガイベントを使用して開始されることが可能である。開始されるとコントローラ528は、すでにリードバックモードで構成されていない場合、スイッチ504を位置aとbの間で動かし、かつスイッチ510を閉じることによってリードバックモードでHDDシステム500を構成しアクション602、ヘッド506およびプリアンプ508がインラインに接続され、書込み事前補償回路502が切断されるようにする。また、コントローラ528は、サンプリング周波数のオフセットを例えばスイッチ518を開くことによって無効にし、スイッチ520をaの位置に動かして、デジタルプロセッサ516のRC高調波センサ522がインラインに接続されるようにする。リードバックモードで接続されると、HDDシステム500は、図3のアクション304、306、および308に類似したアクション604、606、および608を行って、上記の式6に示すようにリードバックモードの高調波比RRB,tk1,k2を計算する。アクション606は、RC高調波センサ522によって行われ、アクション608は、図示していない処理を使用してデジタルプロセッサ516によって行われる。アクション304と同様に、アクション604は、一般に製造中にあらかじめ記録される2つの周期的パターンをリードバックすることに注意する。この2つの周期的パターンを記録するために、スイッチ504は位置aに動かされ、スイッチ510は開放される。次にコントローラ528が、スイッチ504を位置bに動かし、かつスイッチ510を開放することによってループバックモードでHDDシステム500を構成しアクション610、書込み事前補償回路502がインラインに接続され、ヘッド506およびプリアンプ508が切断されるようにする。さらに、コントローラ528は、例えば、スイッチ518を閉じることによってサンプリング周波数のオフセットを有効にし、かつスイッチ520をbの位置に動かし、1デジタルプロセッサ516のコンポーネント計算ブロック524および高調波計算ブロック526がインラインに接続され、2デジタルプロセッサ516のRC高調波センサ522が切断されるようにする。HDDシステム200のループバックモードと同様に、書込み事前補償ブロック502は、媒体に書き込まれた同じ2つの周期的信号をRCAFE512に提供する。2つの周期的信号は、RCAFE512によって好ましくはCTFのカットオフ周波数を下げることなく処理され、2つの調節された周期的信号が、RCADC514に提供される。RCADC514は、2つの調節された周期的信号に非同期サンプリングを行って、2つのサンプリングされた周期的信号を生成する。非同期サンプリングは、正または負のサンプリング周波数オフセットリードバックモードのサンプリング周波数からのオフセットを使用して、2つの信号をサンプリングすることによって行われる。サンプリング周波数のオフセットを用いると、サンプリングレートは、正のオフセットが適用されるとき、リードバックモードのサンプリングレートよりも早くなり、負のオフセットが適用されるとき、リードバックモードのサンプリングレートよりも遅くなる。サンプリング周波数のオフセットを適用することにより、各周期的パターンの各サイクルの位相は、周期的パターンの次のサイクルの位相と異なるものとなる。例えば、第1の周期的パターンすなわち、k1に対応するについては、第1の周期的サイクルの位相は、第2の周期的サイクルの位相とは異なり、第2の周期的サイクルの位相は、第3の周期的サイクルの位相とは異なり、その他同様である。サンプリングされた周期的パターンの位相を変えることにより、量子化誤差が周期的パターンのサイクル毎に異なるようになる。次に量子化誤差は、コンポーネント計算ブロック524以下に記載によって行われる平均化処理によって縮小することができる。これは、量子化誤差が周期的パターンの1つのサイクルから次のサイクルまで実質的に一定であって、ゆえに量子化誤差が平均されない同期サンプリングと対照的である。さらに、非同期サンプリングにより、スペクトルのエイリアシングによって起こる帯域内高調波の振幅の変化は、周期的パターンのサイクル毎に異なる。結果として、コンポーネント計算ブロック524以下に記載によって行われる平均化処理によって、エイリアシングの影響もまた低減することができる。量子化誤差および周波数エイリアシングを低減するには、およそ1.0から1.5の周波数オフセットで十分である可能性がある。添え字iが第1または第2の周期的信号を示すすなわち、f1についてはi=1、f2についてはi=2とき、2つのサンプリングされた周期的信号xi[n]が、コンポーネント計算ブロック524に提供され、コンポーネント計算ブロック524が、以下の式8に示すように、各周期的信号iについて時間領域のサンプルのブロック毎の平均化を行うアクション612:ただし、は、i番目の周期的信号のj番目のブロックについて、ブロック毎に平均化されたサンプルであり、Pは、周期あたりのサンプル数であり、Nmは、ブロック毎の高調波の計算に使用されるブロックあたりの周期であり、Mは、ビットまたはサンプルの中のブロック長であり、サンプルのインデックスn=0,1,2,......,P-1、およびブロックのインデックスj=0,1,2,......,Nb-1、ここでNbはブロックの総数である。ブロック毎の平均化がNbブロックすべてに行われると決定614、コンポーネント計算ブロック524は、各周期的信号iについて、ブロック毎に平均化されたサンプルに基づいて各ブロックjの高調波強度の実数部および虚数部Hreal[ki,j],Himag[ki,j]を計算しアクション616、これらは次の式9および10のように計算される。各周期的信号iおよび各ブロックjの実数部および虚数部Hreal[ki,j],Himag[ki,j]は、高調波計算ブロック526に提供され、高調波計算ブロック526が、各周期的信号iについて、以下の式11に示すように高調波強度の2乗|H[ki]|2を計算するアクション618。図示しない処理を使用するRCデジタルプロセッサ516は、第1の周期的信号すなわちk1に対応するの高調波強度の2乗|H[ki]|2を、第2の周期的信号すなわちk2に対応するの高調波強度の2乗|H[ki]|2で割って、次のように時間tにおけるループバックモードの高調波比RLB,tk1,k2を得るアクション620。ここで、H[k1]およびH[k2]は、それぞれH[k1]2およびH[k2]2の平方根を利用することによって求められる。次に、RCデジタルプロセッサ516は、リードバックモードの高調波比RRB,tk1,k2からループバックモードの高調波比RLB,tk1,k2を引いて、時間tにおける高調波比Rtk1,k2を得るアクション622。高調波比RRB,tk1,k2から高調波比RLB,tk1,k2を引くと、RCAFE512の環境により引き起こされる変化が取り除かれる。結果として生じる高調波比Rtk1,k2は、式3の高調波比Rtk1,k2に類似しており、RCAFE512において環境により引き起こされる変化がない。RCデジタルプロセッサ516は、式4に示すように、高調波比Rtk1,k2から、例えば図1のアクション104に関して上述した方法に類似した方法で製造中に決定された最初の高調波比R0k1,k2を図示しない処理を使用して引いて、最初の高調波比R0k1,k2がどれだけ変化したかを求めるアクション624例えば、ΔRを求める。最初の高調波比R0k1,k2の測定に続く手順は、t=0で行われること以外、高調波比Rtk1,k2の測定に関して上述した手順と同じものとすることができることに注意する。浮上高の変化Δdは、ΔRに基づいて求められることが可能であり、浮上高の変化ΔdまたはΔRが、浮上高コントローラ図示せずによって使用され、アクション114に関して上述した方法に類似した方法で浮上高を調整することが可能であるアクション626。図7は、浮上高を制御するために非同期サンプリングを使用する本発明の別の実施形態によるHDDシステム700の簡略化したブロック図を示す。HDDシステム700は、書込み事前補償回路702、ヘッド706、プリアンプ708、RCAFE712、RCADC714、およびRCデジタルプロセッサ716を有し、これらは図5の類似の処理の動作と同様の動作を行う。浮上高を制御するために、HDDシステム700は、例えば図6に関して記載したようにHDDシステム500の方法に類似した方法で動作する。しかしながら、ループバックモードでは、コントローラ720は、iスイッチ704を閉じることによって書込み事前補償回路702とプリアンプ708の両方をインラインに接続し、iiスイッチ710および718を開放することによってヘッド706したがって媒体を切断する。これは、ループバックモード中にプリアンプ508を切断するHDDシステム500と対照的である。リードバックモード中には、コントローラ720は、iスイッチ718を閉じることによってヘッド706の読取り要素をインラインに接続し、iiスイッチ710を開放することによってヘッド706の書込み要素を切断し、iiiスイッチ704を開放することによって書込み事前補償回路702を切断する。本発明は、単一の集積回路ASICまたはFPGAなど、マルチチップモジュール、単一のカード、またはマルチカードの回路パックとして可能な実装を含む、回路ベースのプロセスとして実装されることが可能である。当業者には明らかなように、回路要素の様々な機能をソフトウェアプログラムの処理ブロックとして実装することもできる。このようなソフトウェアは、例えばデジタル信号処理装置、マイクロコントローラ、または汎用コンピュータで使用されることが可能である。本発明は、方法およびこれらの方法を実行するための装置の形態で具現化することができる。本発明はまた、磁気記録媒体、光記録媒体、ソリッドステートメモリ、フロッピーディスク、CD-ROM、ハードドライブ、または他の機械可読記憶媒体などの、有形媒体に組み込まれたプログラムコードの形態で具現化することができ、プログラムコードがコンピュータなどの機械によってロードされ、実行されると、この機械は本発明を実行する装置になる。本発明はまた、例えば記憶媒体に格納され、機械にロードされ、かつ/または機械によって実行される、プログラムコードの形態で具現化することができ、プログラムコードがコンピュータなどの機械にロードされて実行されるとき、この機械は本発明を実行する装置になる。汎用プロセッサで実行されるとき、プログラムのコードセグメントがプロセッサで結合して、特定の論理回路と似たように動作する固有の装置を提供する。明示的に別段の記載がない限り、各数値および範囲は、その値または範囲の前に約またはおよそという語が付いた値のように近似であると解釈されるべきである。さらに、本発明の本質を説明するために記載し、図示した部分の細部、材料、および配列の様々な変更が、添付の特許請求の範囲に表す本発明の範囲を逸脱することなく、当業者によって行われる可能性があることを理解されるであろう。諸請求項における図番号および/または参照符号の使用は、諸請求項の理解を容易にするために、請求する対象物の1つまたは複数の可能な実施形態を識別することを目的とする。このような使用は、こうした諸請求項の範囲を、対応する図に示す諸実施形態に必然的に限定するものと解釈されるべきではない。本明細書に示す例示的方法の諸ステップは、必ずしも記載した順序で行われる必要がないことを理解すべきであり、このような方法の諸ステップの順序は、例示にすぎないと理解されるべきである。同様に、このような方法に追加のステップが含まれることが可能であり、ある一定のステップは、本発明の様々な実施形態と矛盾しない方法で、省略される、または結合されることが可能である。次の方法の請求項の中の諸要素は、ある場合は、対応するラベルを有して特定の順番で列挙されているが、請求項の列挙が、こうした諸要素の一部または全部を実行するための特定の順番を意味しない限り、こうした諸要素は、その特定の順番で実行されることに限定されることを必ずしも意図しない。"