被測定粒子群を媒体中に含有する試料を収容するセルと、電圧を印加する電源と、前記電源の一端部に接続される第一端部と、前記電源の他端部に接続される第二端部と、当該第一端部と当該第二端部とを電気的に接続した接続電熱線とを有し、前記電源からの電圧印加によりセル内に空間周期的に変化する温度分布を形成する電熱線と、前記温度分布により媒体中で被測定粒子群を熱泳動現象で移動させた状態で、前記試料に測定光を照射する光源と、前記試料に測定光を照射することにより発生する回折光による回折光強度を検出する検出器と、前記電源から電熱線に印加する電圧を停止することにより、前記媒体中で被測定粒子群に拡散を生じさせることで、前記回折光に変化を生じさせる印加電圧制御部と、前記電圧を停止したときである拡散開始時間の回折光強度からの回折光強度の時間変化に基づいて、前記被測定粒子群の粒子径の分布を算出する粒子径算出部とを備える粒子径測定装置であって、前記印加電圧制御部は、前記電源から電熱線にパルス状の電圧を印加させることにより、前記媒体中で被測定粒子群に熱泳動を生じさせることを特徴とする粒子径測定装置。前記電熱線は、上下方向に直線状となり、水平方向に一定距離を空けて平行に並べられている複数の接続電熱線を有することを特徴とする請求項1に記載の粒子径測定装置。ところで、熱拡散型強制レイリー散乱法では、検出用のレーザ光測定光が密度回折格子表面においてブラッグ反射することにより生じる散乱回折光を検出しているので、2分割した干渉用レーザ光を互いに干渉させることで、三次元に空間周期パターンを有する温度分布温度勾配を発生させている。つまり、検出用のレーザ光測定光を出射するレーザ光源と、温度分布温度勾配を形成するための干渉用レーザ光を出射する干渉用レーザ光源との合計2種類のレーザ光源が必要になり、その結果、レーザ光を照射するための光学系に複雑な調整が必要となった。さらに、熱拡散型強制レイリー散乱法では、干渉させた干渉用レーザ光を試料中に照射して温度勾配を形成するために、干渉させた干渉用レーザ光を吸収し熱に変換するものが試料中に存在する必要がある。このため、試料中に光エネルギー吸収用の色素を分散させており、光エネルギー吸収用の色素を混合できない溶液系には粒子径解析技術として適用することができなかった。本件発明者らは、上記課題を解決するために、様々な試料における粒子径dの分布を容易に算出することができる方法について検討を行った。そこで、試料キュベット内に空間周期的に変化する電界分布を形成するのではなく、温度分布を形成することにした。よって、粒子径測定装置100に形成する電極対102を電熱線に変更することにした。ここで、電熱線表面近傍に形成される温度勾配について伝熱シミュレーションにより求めた結果を図2~6を用いて説明する。図2は、電熱線2が形成された試料キュベットセルの一例を示す斜視図である。図3は、電熱線2が形成された側壁の一例を示す平面図であり、図4は、電熱線2が形成された試料キュベットの断面の一部を示した図である。ここでは、電熱線2の形状は、幅Lを2μmとし、厚さMを500nmとし、密度回折格子の格子間隔Λを10μmとし、電熱線2の材質を白金とし、側壁11の材質を石英とした。なお、図示していないが、電熱線2の表面に絶縁膜としてSiO2膜を形成した。また、媒体を水とし、媒体初期温度Tを300Kとした。そして、与える熱量は、電熱線1mmあたり2mWとし、自然対流による伝熱は無視した。図5a~eは、電熱線2近傍の温度分布の計算結果を示す。図5aは加熱開始3μsec後、図5bは加熱開始10μsec後、図5cは加熱開始30μsec後、図5dは加熱開始100μsec後を示す。図5b~dに示すように、0.08K/μm程度の周期的な温度勾配が形成されることがわかった。この温度勾配の値は、文献GeelhoedPFetalChemEngResDes84370等で報告されている粒子泳動条件を上回る値であることがわかった。しかし、熱拡散速度は非常に早いため、密度回折格子が形成される前に試料キュベット1内の溶媒が全体的に温度上昇しすぎると、粒子の拡散挙動が溶液粘度変化や対流の影響を受けて変化するため、正しい粒子径分布が得られない恐れが生じる。ここで、図5eは、図5dに示す温度勾配が形成された後に加熱を停止し、加熱停止後1msecが経過した後の電熱線2近傍の温度分布の計算結果を示す。加熱後、電熱線2表面付近での最高温度は0.87Kであったが、加熱停止後1msecでは最高温度が0.08Kまで下がっており、温度勾配が緩和していることがわかった。よって、温度勾配が緩和した状態で再度加熱を行えば、溶媒の不必要な温度上昇を抑制することができることになる。つまり、加熱と加熱停止とを繰り返すことで、不必要な温度上昇を抑制しながら、熱泳動による粒子群の捕集を行うことができる。なお、図6は、パルス状の加熱による粒子群の捕集を示す図である。すなわち、本発明の粒子径測定装置は、被測定粒子群を媒体中に含有する試料を収容するセルと、電圧を印加する電源と、前記電源の一端部に接続される第一端部と、前記電源の他端部に接続される第二端部と、当該第一端部と当該第二端部とを電気的に接続した接続電熱線とを有し、前記電源からの電圧印加によりセル内に空間周期的に変化する温度分布を形成する電熱線と、前記温度分布により媒体中で被測定粒子群を熱泳動現象で移動させた状態で、前記試料に測定光を照射する光源と、前記試料に測定光を照射することにより発生する回折光による回折光強度を検出する検出器と、前記電源から電熱線に印加する電圧を停止することにより、前記媒体中で被測定粒子群に拡散を生じさせることで、前記回折光に変化を生じさせる印加電圧制御部と、前記電圧を停止したときである拡散開始時間の回折光強度からの回折光強度の時間変化に基づいて、前記被測定粒子群の粒子径の分布を算出する粒子径算出部とを備える粒子径測定装置であって、前記印加電圧制御部は、前記電源から電熱線にパルス状の電圧を印加させることにより、前記媒体中で被測定粒子群に熱泳動を生じさせるようにしている。ここで、測定光としては、レーザ光が好ましいが、これに限らず、LEDによる光、分光器で分光された光、干渉フィルタやバンドパスフィルタ等で波長範囲が制限された光を用いてもよい。また、媒体としては、内部で被測定粒子群が泳動できるものであればよく、例えば、水や油やアルコール等の液体や、ゲルや、固体や、高い導電率例えば、400μS毎cm以上の溶媒等が挙げられる。さらに、パルス状の電圧とは、セル内に収容された試料の温度が不必要に上昇しないようにするための断続的に印加する電圧のことであり、例えば、デューティ比が25以上50以下であり、パルス幅が30μsec以上100μsec以下である電圧等が挙げられる。本発明の粒子径測定装置では、まず、被測定粒子群を媒体中に含有する試料をセル内に収容する。このとき、媒体中で被測定粒子群は均一に分散しているので、回折光強度Itは、非常に弱い回折光強度Isとなる。次に、電圧を電熱線に印加することにより、セル内の空間に対して空間周期的に変化する温度分布を形成する。すると、被測定粒子群に熱泳動が生じることで、温度分布の空間周期に対応するように密な領域と疎な領域とが周期的に並ぶ空間周期的な濃度変化が発生していく。そして、媒体が不必要な温度上昇をする前に、1回目の電圧の印加を停止する。電熱線に電源からの電圧が印加されなくなると、セル内の温度分布が緩和される。次に、セル内で温度分布が緩和されて被測定粒子群が拡散する前に、電熱線に電源からの2回目の電圧が印加されることにより、セル内に温度分布が形成される。すると、被測定粒子群に熱泳動が生じることで、温度分布の空間周期に対応するように密な領域と疎な領域とが周期的に並ぶ空間周期的な濃度変化がさらに発生していく。そして、溶媒が不必要な温度上昇をする前に、2回目の電圧の印加を停止する。電熱線に電源からの電圧が印加されなくなると、セル内の温度分布が緩和される。このように電熱線に印加する電圧をパルス状にしながら、熱泳動によって被測定粒子群を段階的に凝集させることで、密度回折格子が形成される。その結果、最終的に密度回折格子が安定して形成されるので、回折光強度Itは、非常に強い回折光強度I0となる。そして、印加電圧制御部は、電熱線へ印加する電圧を完全に停止すると、空間周期的に変化する温度分布が消失するので、被測定粒子群は徐々に拡散していくことになる。つまり、密度回折格子が崩れてぼやけるようになる。このとき、回折光強度Itの時間的変化を検出する。その結果、電圧を停止した拡散開始時間t0からの時間tと回折光強度Iとの関係が得られる。なお、回折光強度Itは、式1に従って減衰する。そして、粒子径算出部は、回折光強度Itの時間的変化に基づいて、粒子径dの分布を算出する。以上のように、本発明の粒子径測定装置によれば、干渉用レーザ光源や光エネルギー吸収用の色素を用いることなく熱泳動現象を利用して被測定粒子群による密度回折格子を形成することができる。また、電界を用いない粒子泳動法を採用することで、電気化学反応の発生を抑止することが可能となり、腐食や粒子の溶解、再析出の発生を抑止できる。さらに、誘電泳動が適用できない電解質溶液や無極性溶媒に対しても有効である。よって、様々な試料における粒子径dの分布を容易に算出することができる。その他の課題を解決するための手段および効果また、本発明の粒子径測定装置においては、前記電熱線は、上下方向に直線状となり、水平方向に一定距離を空けて平行に並べられている複数の接続電熱線を有するようにしてもよい。本発明の粒子径測定装置によれば、自然対流による粒子の流れが密度回折格子列と平行になるため、自然対流の影響をより小さくすることができ、その結果、安定した密度回折格子を形成し、粒子径dの分布の計算結果の再現性向上を実現することができる。以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。図1は、本発明の一実施形態である粒子径測定装置の全体構成を示す概略構成ブロック図である。なお、粒子径測定装置100と同様のものについては、同じ符号を付している。本実施形態は、被測定粒子群を媒体中に分散させた試料を測定することにより、被測定粒子群の粒子径dの分布を算出するものである。また、媒体の粘度μは既知であるものを使用している。そして、直流電圧を印加して温度分布により被測定粒子群を媒体中で熱泳動させるものとする。粒子径測定装置10は、試料が収容される試料キュベット1と、試料キュベット1に設けられている電熱線2に対して直流電圧を印加する直流電源3と、試料キュベット1に対してレーザ光を照射するレーザ光源4と、第1次の回折光強度Itを検出するための検出光学系150と、増幅器6と、粒子径測定装置10全体を制御する制御部7とを備える。なお、本明細書では、垂直方向上下方向をY方向とし、Y方向と垂直な方向をX方向とし、Y方向およびX方向と垂直な方向をZ方向とする。試料キュベット1は、長方形状の底面12と、4個の側壁11とを有するガラス製のものであり、光透過性を有する。そして、試料キュベット1の内部には、試料が収容されるようになっている。試料キュベット1の一つの側壁11の表面内面には、電熱線2が形成されており、さらに、電熱線2の表面には絶縁膜としてSiO2膜図示せずが形成されている。電熱線2は、左側電熱線21と右側電熱線22と複数の接続電熱線23と複数の非接続電熱線24とからなる。左側電熱線21は、上下方向垂直方向に直線状となる接続部21bと、接続部21bの下部で右側に伸びる水平部21cと、接続部21bの上部で右側に伸びる水平部21aとが設けられている。そして、水平部21aには直流電源3が接続される。右側電熱線22は、上下方向に直線状となる接続部22bと、接続部22bの下部で左側に伸びる水平部22cと、接続部22bの上部で左側に伸びる水平部22aとが設けられている。そして、水平部22aには直流電源3が接続される。複数の接続電熱線23は、上下方向に直線状となり、水平方向に幅L例えば、2μmの接続電熱線23が一定距離S例えば、10μmを空けて平行に並べられている。そして、これらの接続電熱線23の上側が水平部22cと電気的に接続されるとともに、これらの接続電熱線23の下側が水平部21cと電気的に接続される。つまり、水平部21aから水平部22aまで、途切れることなく電気的に接続されている。複数の非接続電熱線24は、上下方向に直線状となり、水平方向に幅L例えば、2μmの非接続電熱線24が一定距離S例えば、10μmを空けて平行に並べられている。そして、非接続電熱線24は、1個の接続電熱線23と1個の接続電熱線23との間にそれぞれ設けられている。なお、これらの非接続電熱線24は、水平部21cと水平部22cとに電気的に接続されていない。このような電熱線2の材料としては、例えば、白金、チタン、ニクロム線等が挙げられる。直流電源3には、粒子群に熱泳動を引き起こすことができる電圧値Vnと印加時間Δtnとの直流電圧が印加できる直流電源が用いられる。具体的には、電圧値1~100V程度のうちから自由に選択して、選択した直流電圧を印加できる直流電源等を使用する。制御部7は、CPU30とメモリ40とを備え、さらにモニタ画面等を有する表示装置図示せずと、キーボードやマウス等を有する入力装置図示せずとが連結されている。また、CPU30が処理する機能をブロック化して説明すると、直流電源3の制御を行う印加電圧制御部31と、レーザ光源4の制御を行うレーザ光源制御部32と、光強度Itを取り込む光強度取得制御部36と、粒子径dの分布を算出する粒子径算出部35とからなる。レーザ光源制御部32は、試料キュベット1にレーザ光を照射ONしたり照射停止OFFしたりするようにレーザ光源4の制御を行う。光強度取得制御部36は、検出器151で検出された第1次の回折光強度Itを検出する制御を行う。印加電圧制御部31は、直流電圧を電熱線2に印加するように直流電源3の制御を行う。このとき、印加電圧制御部31は、電熱線2に印加する直流電圧をパルス状にする。例えば、図6aに示すように、電圧値Vnと印加時間Δtn例えば、30μsecとの電圧を所定の時間間隔Δtm例えば、30μsecごとに複数回、印加する。これにより、電熱線2に直流電源3からの1回目の直流電源が印加されることにより、試料キュベット1内に温度分布が形成される。すると、温度が低くなる非接続電熱線24付近に、熱泳動によって粒子群が凝集していく。一方、温度が高くなる接続電熱線23付近には、熱泳動によって粒子群が存在しなくなる。そして、溶媒が不必要な温度上昇をする前である印加時間Δtn経過後に、1回目の直流電圧の印加を停止する。電熱線2に直流電源3からの直流電圧が印加されなくなると、試料キュベット1内の温度分布が緩和される。次に、試料キュベット1内で温度分布が緩和されて粒子群が拡散する前となる所定の時間Δtm経過後に、電熱線2に直流電源3からの2回目の直流電圧が印加されることにより、試料キュベット1内に温度分布が形成される。すると、温度が低くなる非接続電熱線24付近に、熱泳動によって粒子群がさらに凝集していく。一方、温度が高くなる接続電熱線23付近には、熱泳動によって粒子群がさらに存在しなくなる。そして、溶媒が不必要な温度上昇をする前である印加時間Δtn経過後に、2回目の直流電圧の印加を停止する。電熱線2に直流電源3からの直流電圧が印加されなくなると、試料キュベット1内の温度分布が緩和される。このように電熱線2に印加する直流電圧をパルス状にしながら、熱泳動によって粒子群を段階的に凝集させることで、粒子群が凝集する領域Pは、格子間隔Λとなるように形成される図4a参照。すなわち、粒子群が凝集する領域Pは、他の領域より粒子密度が高くなり、屈折率が異なることから、格子間隔Λの密度回折格子が形成される。その後、電熱線2に直流電源3からの直流電圧が全く所定の時間間隔Δtm以上印加されなければ、試料キュベット1内に温度分布が形成されないので、温度が低くなる領域も温度が高くなる領域もなく、粒子群は媒体中で均一に存在する図4b参照。すなわち、粒子密度が均一になり、屈折率が同じになる。なお、1回目の印加時間Δtnの開始時間が熱泳動作用開始時間tsとなるとともに、最後の印加時間Δtnの終了時間が拡散開始時間t0となり、拡散開始時間t0に検出された回折光強度Itが回折光強度I0となる。粒子径算出部35は、光強度取得制御部36で得られた回折光強度Itの時間変化に基づいて、媒体中における被測定粒子群の粒子径dの分布を算出する制御を行う。例えば、回折光強度Itの時間変化と式1~3とに基づいて、粒子径dの分布を算出する。以上のように、粒子径測定装置10によれば、干渉用レーザ光源や光エネルギー吸収用の色素を用いることなく熱泳動現象を利用して被測定粒子群による密度回折格子を形成することができる。また、電界を用いない粒子泳動法を採用することで、電気化学反応の発生を抑止することが可能となり、腐食や粒子の溶解、再析出の発生を抑止できる。さらに、誘電泳動が適用できない電解質溶液や無極性溶媒に対しても有効である。よって、様々な試料における粒子径dの分布を容易に算出することができる。また、電熱線2に印加する直流電圧をパルス状にすることで、溶媒の不必要な温度上昇を防止して自然対流の発生を抑止することができ、その結果、安定した密度回折格子を形成し、粒子径dの分布の計算結果の再現性向上を実現することができる。他の実施形態1上述した粒子径測定装置10では、温度が低くなる非接続電熱線24付近に、熱泳動によって粒子群が凝集し、温度が高くなる接続電熱線23付近には、熱泳動によって粒子群が存在しなくなるような試料を用いたが、温度が低くなる非接続電熱線24付近に、熱泳動によって粒子群が存在しなくなり、温度が高くなる接続電熱線23付近には、熱泳動によって粒子群が凝集するような試料を用いてもよい。2上述した粒子径測定装置10では、直流電源3を用いたが、交流電源103を用いてもよい。図12は、パルス状の加熱による粒子群の捕集を示す図である。