"樹脂成分Aに、黒色顔料B及び平均粒子径3~10μmの不定形シリカCを含有させた厚み25μm以下の遮光フィルムであって、黒色顔料Bの含有量が、樹脂成分100重量部に対し、3~20重量部で、不定形シリカCの含有量が15~40重量部であり、表面に凹凸が形成され、かつ周囲を打ち抜いたとき端面に表面粗さ算術平均高さRaが1μm以上の凹凸が形成されることを特徴とする遮光フィルム。前記遮光フィルムの表面粗さ算術平均高さRaが0.2~0.7μmであることを特徴とする請求項1に記載の遮光フィルム。波長380~780nmにおける平均正反射率が0.4以下、平均光学濃度が4以上であることを特徴とする請求項1又は2に記載の遮光フィルム。樹脂成分Aが、ポリアミドイミド、ポリイミド、ポリフェニレンサルファイド、アラミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエステル、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルエーテルケトン又はポリエーテルサルフォンから選ばれた1種類以上の樹脂であることを特徴とする請求項1に記載の遮光フィルム。前記黒色顔料Bがカーボンブラックであり、その含有量が樹脂成分100重量部に対し、3~20重量部であることを特徴とする請求項1に記載の遮光フィルム。前記黒色顔料Bが導電性カーボンブラックであり、その含有量が樹脂成分100重量部に対し、5~20重量部であることを特徴とする請求項5に記載の遮光フィルム。前記遮光フィルムの表面抵抗が1×1010Ω/□以下であることを特徴とする請求項6に記載の遮光フィルム。樹脂成分A100重量部に対し、黒色顔料Bを20重量部以下、平均粒子径が3~10μmの不定形シリカCを15~40重量部添加混合し、次に、得られたスラリーを支持体に厚さが25μm以下となるように塗工した後、加熱乾燥させ、引き続き、必要により両表面をサンドマット加工処理して凹凸を形成することを特徴とする請求項1~7のいずれかに記載の遮光フィルムの製造方法。黒色顔料Bとして、導電性カーボンブラックを樹脂成分A100重量部に対し、5~20重量部添加混合することを特徴とする請求項8に記載の遮光フィルムの製造方法。請求項1~7のいずれかに記載の遮光フィルムを打ち抜き加工して得られる絞りであって、得られた絞りの端面が低反射性であることを特徴とする絞り。請求項1~7のいずれかに記載の遮光フィルムを打ち抜き加工して得られる羽根材であって、得られた羽根材の端面が低反射性であることを特徴とする羽根材。本発明では、上記の問題点に鑑み、表面及び端面が低反射性で且つ遮光性に優れた遮光フィルムとその製造方法、及び用途を提供することを目的とする。本発明者らは、上記の問題を解決するため鋭意研究を行ったところ、樹脂フィルム基材に黒色顔料と不定形シリカを含有する遮光フィルムにおいて、不定形シリカとして平均粒径が3~10μmを用い、樹脂フィルム基材の原料樹脂に特定量配合することで、打ち抜き時に端面に均一に凹凸が形成され、それにより端面反射を抑制できることを見出し、本発明を完成するに至った。すなわち、本発明の第1の発明によれば、樹脂成分Aに、黒色顔料B及び平均粒子径3~10μmの不定形シリカCを含有させた厚み25μm以下の遮光フィルムであって、黒色顔料Bの含有量が、樹脂成分100重量部に対し、3~20重量部で、不定形シリカCの含有量が15~40重量部であり、表面に凹凸が形成され、かつ周囲を打ち抜いたとき端面に表面粗さ算術平均高さRaが1μm以上の凹凸が形成されることを特徴とする遮光フィルムが提供される。また、本発明の第2の発明によれば、第1の発明において、前記遮光フィルムの表面粗さ算術平均高さRaが0.2~0.7μmであることを特徴とする遮光フィルムが提供される。また、本発明の第3の発明によれば、第1または第2の発明において、波長380~780nmにおける平均正反射率が0.4以下、平均光学濃度が4以上であることを特徴とする遮光フィルムが提供される。また、本発明の第4の発明によれば、第1の発明において、樹脂成分Aが、ポリアミドイミド、ポリイミド、ポリフェニレンサルファイド、アラミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエステル、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルエーテルケトン又はポリエーテルサルフォンから選ばれた1種類以上の樹脂であることを特徴とする遮光フィルムが提供される。また、本発明の第5の発明によれば、第1の発明において、黒色顔料Bがカーボンブラックであり、その含有量が樹脂成分100重量部に対し、3~20重量部であることを特徴とする遮光フィルムが提供される。また、本発明の第6の発明によれば、第1の発明において、黒色顔料Bが導電性カーボンブラックであり、その含有量が樹脂成分100重量部に対し、5~20重量部であることを特徴とする遮光フィルムが提供される。また、本発明の第7の発明によれば、第6の発明において、遮光フィルムの表面抵抗が1×1010Ω/□以下であることを特徴とする遮光フィルムが提供される。一方、本発明の第8の発明によれば、第1~第7のいずれかの発明において、樹脂成分A100重量部に対し、黒色顔料Bを20重量部以下、平均粒子径が3~10μmの不定形シリカCを15~40重量部添加混合し、次に、得られたスラリーを支持体に厚さが25μm以下となるように塗工した後、加熱乾燥させ、引き続き、必要により両表面をサンドマット加工処理して凹凸を形成することを特徴とする遮光フィルムの製造方法が提供される。また、本発明の第9の発明によれば、第1~第7の発明のいずれかの遮光フィルムを打ち抜き加工して得られる絞りであって、得られた絞りの端面が低反射性であることを特徴とする絞りが提供される。さらに、本発明の第10の発明によれば、第1~第7のいずれかの遮光フィルムを打ち抜き加工して得られる羽根材であって、得られた羽根材の端面が低反射性であることを特徴とする羽根材が提供される。本発明の遮光フィルムは、表面及び打ち抜き端面の反射性が低く、遮光性に優れているため、カメラ、ビデオカメラ、複写機、現象機等の各種光学機器の遮光部材として有用である。本発明では、黒色顔料と特定の不定形シリカを含有しているので、打ち抜き時に端面が均一に凸凹になることで端面反射が低くなり、光学機器の高性能化を促進することができる。また、特定量の黒色顔料や不定形シリカを添加し、不定形シリカが特定の粒子径であるため、フィルム全体の厚みが25μm以下と光学機器の薄型化小型化の要求を満たすことが可能となる。さらに、黒色顔料として導電性カーボンブラックを用いることで、遮光フィルムの打ち抜き工程でプレス加工に用いる金型にフィルム表面に付着していた埃や打ち抜き時に発生したカスが付着しにくく、打ち抜き後の製品にバリが発生しなくなり、安定した光学部材を提供することができる。本発明の遮光フィルムは、従来の金属薄板上に黒色潤滑塗装した遮光板のような、所定の形状に加工後、加工端面を黒染め処理する工程が不要であり、製造工程が少ないため、より低コストで遮光部材を製造することができる。以下、本発明の遮光フィルムとその製造方法、及び用途について説明する。1.遮光フィルム本発明の遮光フィルムは、樹脂成分Aに、黒色顔料B及び平均粒子径3~10μmの不定形シリカCを含有させた厚み25μm以下の遮光フィルムであって、黒色顔料Bの含有量が、樹脂成分100重量部に対し、3~20重量部で、不定形シリカCの含有量が15~40重量部であり、表面に凹凸が形成され、かつ周囲を打ち抜いたとき端面に表面粗さ算術平均高さRaが1μm以上の凹凸が形成されることを特徴とする。本発明の遮光フィルムは、樹脂フィルム基材Aが、黒色顔料B及び平均粒子径3~10μmの不定形シリカCを含有している。遮光フィルムの厚さは25μm以下でなければならない。25μmより厚くなると、遮光フィルムの薄型化、小型化の要求特性を満たすことができない。また、遮光フィルムの表面粗さ算術平均高さRaは0.2~0.7μmであることが好ましい。ここで算術平均高さとは、算術平均粗さとも言われ、粗さ曲線からその平均線の方向に基準長さだけ抜き取り、この抜き取り部分の平均線から測定曲線までの偏差の絶対値を合計して平均した値である。表面粗さが、0.2μm未満であるとフィルム表面の平均正反射率が0.4より高くなるため好ましくない。また、表面粗さが0.7μmを超えるとフィルム表面の正反射率を低く出来るが、サンドマット加工処理時にフィルムに折れシワなどが発生する場合があり、安定的に遮光フィルムを作製することができず、好ましくない。本発明の遮光フィルムは、遮光フィルムを打ち抜いたときに端面に凹凸が形成され、その端面の表面粗さ算術平均高さRaが1μm以上でなければならない。1μm未満では、端面の凹凸が小さいため端面の反射を十分に抑えることが出来ない。本発明の遮光フィルムは、樹脂成分Aが、黒色顔料B及び平均粒子径3~10μmの不定形シリカCを特定量含有しており、所定の厚さ、表面凹凸を有し、かつ周囲を打ち抜いたとき端面に表面粗さ算術平均高さRaが1μm以上の凹凸が形成されるために、光学的用途に要求される波長380~780nmにおける平均正反射率が0.4以下、平均光学濃度が4以上であるという特性を有している。<樹脂成分A>本発明の遮光フィルムにおいて、樹脂成分の種類は、特に限定されないが、安価に入手できるものや取り扱いが容易なものが好ましい。その中で、ポリアミドイミド、ポリイミド、ポリフェニレンサルファイド、アラミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエステル、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルエーテルケトン又はポリエーテルサルフォンから選ばれた1種類以上の樹脂であることが好ましい。ポリエステルとしては、ポリエチレンテレフタレート、ポリトリメチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリブチレンナフタレートなどが挙げられるが、特にポリエチレンテレフタレートやポリエチレンナフタレートは入手しやすく、好ましい。樹脂成分は、取り扱いを容易にするため溶媒を添加し適度な粘度とした後、そこに黒色顔料、不定形シリカ粒子を添加し、黒色樹脂溶液して遮光フィルムの製造に用いられる。<黒色顔料B>本発明の遮光フィルムにおいて、黒色顔料は、種類によって制限されるわけではないが、例えば、カーボンブラック、アニリンブラック、チタンブラック、無機顔料ヘマタイト、又はペリレンブラックから選ばれた1種または2種以上の黒色顔料を用いることができる。黒色顔料の含有量は、遮光フィルムに含まれる樹脂成分100重量部に対して3~20重量部でなければならない。3重量部未満であると完全遮光性が得られず、表面と端面の反射が高くなり、十分な光学特性を得ることができない。ここで、得られた遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均光学濃度は4以上であることが好ましい。また、黒色顔料の含有量が20重量部を超えるとフィルムの粘性が高くなり、シリカ粒子の凝集による表面欠陥が発生しやすくなるため、遮光フィルムを作製することができない。なお、黒色顔料の含有量は3~10重量部であることが好ましい。これは、黒色顔料の含有量が多くなると、耐熱性が若干劣る場合があるためである。本発明において、黒色顔料としては、カーボンブラックが好ましく、特に導電性カーボンブラックが好ましい。導電性カーボンブラックを用いると、得られる遮光フィルムが導電性を持つことで、遮光フィルムが静電気により帯電することが抑制され、ゴミや埃などが付着しなくなるという効果がある。ここで用いられる導電性カーボンブラックは、一般に市販されているものを用いることができ、例えば東海カーボン製トーカブラック5500などを挙げることができる。本発明の遮光フィルムは、その表面抵抗によって制限されるわけではないが、1×1010Ω/□以下が好ましく、特に1×109Ω/□以下であることがより好ましい。遮光フィルムの表面抵抗値は、配合する黒色顔料の種類によって変化するが、導電性カーボンブラックを用いると、表面抵抗を1×1010Ω/□以下にしやすい。表面抵抗が1×1010Ω/□以下であれば、帯電防止の効果が十分に得られ、遮光フィルムの打ち抜き工程でプレス加工に用いる金型にフィルム表面に付着していた埃や打ち抜き時に発生したカスが付着しにくくなり、打ち抜き後の製品にバリが発生せず、安定した光学部材を提供することができるようになる。また、導電性カーボンブラックの含有量は、樹脂成分100重量部に対し、5~20重量部であることが好ましく、さらに5~10重量部であることがより好ましい。導電性カーボンブラックの含有量が少なくて5重量部未満では、十分な帯電防止効果が得られないことがある。ちなみに、導電性カーボンブラックの含有量が3重量部であると、表面抵抗は8×1011Ω/□程度となり、帯電防止効果を得にくくなる。一方、導電性カーボンブラックの含有量が増えるほど帯電防止効果が大きくなるが、10重量部を超えると耐熱性が若干劣る場合があり、20重量部を超えるとフィルムの粘性が高くなり、シリカ粒子の凝集による表面欠陥が発生しやすくなって、遮光フィルムの作製が困難になる。<不定形シリカC>本発明の遮光フィルムにおいて、樹脂成分に配合されるシリカは、平均粒子径3~10μmの不定形シリカである。ここで言う不定形とは、粒子形状が球状ではなく角のある不定形であることを意味する。シリカ粒子の形状が球状であると、凝集してフィルムの片方に偏ってしまうため、端面にシリカ粒子のない部分が出来てしまい、打ち抜き端面が平坦となるせん断面が多く形成され、その結果、端面の反射が十分に低反射にならず、さらに、球状シリカでは、含有量が増大すると球状シリカ粒子がより凝集しやすくなるため、さらに平滑な端面ができやすくなる。また、不定形シリカの平均粒子径は3~10μmでなければならない。不定形シリカの平均粒子径が3μm未満であると、フィルム表面の表面粗さが小さくなり、フィルム表面の反射が高くなる。さらにフィルム端面の表面粗さ算術平均高さRaも1μm未満となり、端面の反射も低反射とならない。逆に平均粒子径が10μmを超えるとフィルム厚み25μmに対してシリカ粒子が大きいため、フィルムにピンホールなどの外観欠陥が形成され、遮光性を確保できず、遮光部材を提供することができない。なお、ここで言う平均粒子径は、レーザー回折散乱法により測定されたものを言う。このような不定形シリカは、沈降法やゲル法などによって製造される。球状のシリカであっても、上記よりも大きな粒子径のものであれば、所定の大きさになるまで粉砕し、篩い分けして上記平均粒径のものを得てもよい。市販品として、例えば富士シリシア製サイロホービックなどが挙げられ、好ましく使用できる。不定形シリカの含有量は、樹脂成分100重量部に対して15~40重量部でなければならない。シリカの含有量が15重量部未満であるとフィルム表面の凹凸が小さくなるため、遮光フィルムの平均正反射率が高くなる。また、端面の表面粗さも1μm未満となり、端面の凹凸が小さくなるため、端面の反射が高くなってしまう。また、シリカの含有量が40重量部を超えると遮光フィルムの樹脂成分に対してシリカ量が増大するため、フィルムにピンホールなどが形成され、遮光部材を提供することができない。2.遮光フィルムの製造方法本発明の遮光フィルムは、その製造方法によって限定されないが、例えば、以下の手順により製造される。まず、樹脂成分に溶媒を添加して樹脂溶液とし、そこに黒色顔料、不定形シリカ粒子を添加し、ローラーミルを用いて混合することで、黒色樹脂溶液を作製する。すなわち、樹脂成分A100重量部に対し、黒色顔料Bを3~20重量部、平均粒子径が3~10μmの不定形シリカCを15~40重量部添加混合する。用いる溶媒は、樹脂を溶解できればよく、例えば各種アルコール、テトラヒドロフラン、ジグライムなどのエーテル系溶剤、N-メチル-2-ピロリドン、N,N’-ジメチルアセトアミドなどのアミド系溶剤、シクロヘキサン、メチルエチルケトンなどのケトン系溶剤、γ-ブチロラクトンやテトラメチルウレアなどの有機溶媒を使用できる。有機溶媒は2種類以上を混合して使用しても良い。本発明では、樹脂成分に溶媒を添加した樹脂溶液に黒色顔料、不定形シリカ粒子が均一に分散するので、従来のように樹脂基材の表面に黒色顔料、不定形シリカ粒子などを含有する塗工液を塗布する場合と異なり、フィルムに黒色顔料、不定形シリカ粒子が偏在せず、フィルムの厚みも薄くできる。そのため、フィルム表面だけでなく打ち抜き端面の反射も低減するだけでなく、小型化薄型化への用途が広がるという顕著な効果が期待できる。次に、加熱乾燥後のフィルム厚みが25μmとなるように、作製した黒色樹脂溶液を支持体に塗工する。塗工方法は、例えばブレードコート、バーコート、ロールコート、グラビアコートなどを用いることが出来る。支持体に塗工した黒色樹脂溶液は、大気中、室温で固化させ、支持体から剥離する。支持体としては、ポリエチレンテレフタレートPET、ポリカーボネートPCフィルムなどが使用される。その後、剥離した黒色樹脂フィルムは、100~200°Cで0.5~2時間加熱し、さらに200~300°Cで加熱乾燥する。例えば、樹脂成分がポリアミドイミドの場合、剥離した黒色樹脂フィルムを150°Cで1時間加熱し、さらに250°Cで加熱乾燥することにより遮光フィルムが製造される。本発明では、上記のようにスラリーを支持体に厚さが25μm以下となるように塗工した後、加熱乾燥させ、引き続き、必要により両表面をサンドマット加工処理して凹凸を形成することができる。遮光フィルムは、樹脂成分が基材となって不定形シリカ粒子を含むことで、表面の一方に凹凸が形成された状態になるが、さらに表面加工工程を行うことで、両表面に凹凸が形成される。その方法には、エッチング加工、コロナ放電処理などの方法があるが、中でもサンドブラスト加工の採用が好ましい。ここで、サンドブラスト加工とは、ショット材に珪砂などの無機微粒子を使用し、マット処理後のフィルムは、洗浄してショット材を除去した後、乾燥する加工方法である。凹凸の大きさは、サンドブラスト加工中のフィルム搬送速度、搬送回数とショット材の種類、大きさ、射出圧力に依存するため、所望の凹凸となるように条件を設定する。遮光フィルムの表面粗さ算術平均高さRaは0.2~0.7μmであることが好ましい。3.遮光フィルムの用途本発明の遮光フィルムは、前記のとおり、波長380~780nmにおける平均正反射率が0.4以下、平均光学濃度が4以上という特性を有している。そのためデジタルカメラ、カメラ付き携帯電話、デジタルビデオカメラの固定絞り、機械式シャッター羽根として利用できる。本発明の遮光フィルムは、そのまま特定の形状に打ち抜き加工を行って、デジタルカメラ、カメラ付き携帯電話、デジタルビデオカメラの固定絞り、機械式シャッター羽根に加工される。打ち抜き加工した後の加工端面は、レンズユニット内の光の光路上に位置するが、打ち抜き加工した後の加工端面には凹凸があるため、端面に光が入射した時に、端面での反射が抑えられ、CCD、CMOSなどの撮像素子へ入射する光を遮光することができ、ゴーストやフレアなどによる撮像不良の発生を防止することができる。また、フィルム厚みが25μm以下に抑えられているので、カメラ付き携帯電話へ利用すると、大幅な薄型化小型化を実現できる。次に、本発明を実施例により具体的に説明する。なお、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、得られた遮光フィルムの評価は以下の方法で行った。遮光フィルムの正反射率と平行光透過率得られた遮光フィルムの、波長380~780nmにおける正反射率と平行光透過率は、分光光度計日本分光社製V-570にて測定した。測定した平行光透過率Tから、以下の式に従って、光学濃度ODと記すを算出した。OD=log100/T遮光フィルムの光の正反射率とは、反射光が反射の法則に従い、入射光の入射角に等しい角度で表面から反射していく光の反射率を言う。入射角は5°で測定した。また、平行光透過率とは、遮光フィルムを透過してくる光線の平行な成分を意味しており、次式で表される。T=I/I0×100ここで、Tはパーセントで表わした平行光透過率、I0は試料に入射した平行照射光強度、Iは試料を透過した光のうち前記照射光に対して平行な成分の透過光強度である。得られた波長380~780nmにおける正反射率と光学濃度の算術平均を計算することで、波長380~780nmにおける平均正反射率、平均光学濃度とした。端面反射は、作製したフィルムをプレス加工で打ち抜き、得られた打ち抜き端面を金属顕微鏡Nikon社製:ME600で観察した。端面の表面粗さ算術平均高さRaは、オプティカルプロファイラーZygo社製:NewView6200でフィルムの厚さ方向の幅全体を測定した。フィルムの外観作製した遮光フィルムは、シワやピンホールなどの表面欠陥があるかないか、外観を目視で確認した。フィルムの導電性作製した遮光フィルムの表面抵抗は、抵抗率計三菱化学製:MCP-HT260を用いて測定した。フィルムの表面抵抗は、1×1010Ω/□以下であれば良好と評価される。実施例1まず、ポリアミドイミドをN-メチル-2-ピロリドンにより溶解した樹脂溶液、平均粒径1μmのカーボンブラック、平均粒径5μmの不定形シリカを用意し、次に、このポリアミドイミド樹脂溶液の固形物100重量部に対して、カーボンブラックを5重量部、不定形シリカ30重量部となるように添加、ローラーミルを用いて混合し、黒色ポリアミドイミド樹脂溶液を作製した。その後、ブレードコーターを用いて、加熱乾燥後のフィルム厚みが25μmとなるように、作製した黒色ポリアミドイミド樹脂溶液を支持体のポリエチレンテレフタレートPETフィルム上に塗工し、大気中、室温で固めた。引き続き、固めた黒色ポリアミドイミド樹脂を支持体から剥がした後、150°Cで1時間加熱後、さらに250°Cで加熱乾燥し、黒色ポリアミドイミドフィルムを作製した。次に、黒色ポリアミドイミドフィルム両表面について、ショット材として7号硅砂を用い、まず黒色ポリアミドイミドフィルム片面について、5m/分の速度でフィルムを搬送しながら、20kg/m2の硅砂をショットした後、水で3分間水洗し、80°Cで2分間乾燥した。次に、片面を処理した黒色ポリアミドイミドフィルムを裏返し、同様のマット処理加工を施し、表面凹凸を加工して、算術平均高さRaが0.4μmの表面凹凸を形成し、遮光フィルムを得た。作製した遮光フィルムの外観は、シワやピンホールなどの表面欠陥はなく、良好であった。表面に凹凸形成後の遮光フィルムは、波長380~780nmにおける平均正反射率が0.2、平均光学濃度が4以上となり、低反射で完全遮光性を有しており、外観も表面欠陥はなく良好であった。また表面抵抗は、9.9×1012Ω/□以上測定限界であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムをプレス加工で打ち抜き、得られた打ち抜き端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面の反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の算術平均高さRaを測定すると1.1μmであった。実施例2実施例1における黒色顔料としてカーボンブラックの代わりに、平均粒径0.1μmのチタンブラックを用いた以外は、不定形シリカや黒色顔料の平均粒子径、含有量は実施例1と同様にして、遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、低反射で完全遮光性を有しており、外観も表面欠陥はなく、良好であった。また表面抵抗は、9.9×1012Ω/□以上測定限界であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.1μmであった。実施例3実施例1において、ポリアミドイミド樹脂溶液の固形物100重量部に対して、カーボンブラックを3重量部添加した以外は、シリカの含有量、平均粒子径とカーボンブラックの種類、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.4、平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有していた。また、外観も表面欠陥はなく、良好であった。また表面抵抗は、9.9×1012Ω/□以上測定限界であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.1μmであった。実施例4実施例1において、ポリアミドイミド樹脂溶液の固形物100重量部に対して、カーボンブラックを20重量部添加した以外は、シリカの含有量、平均粒子径とカーボンブラックの種類、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有していた。また、外観も表面欠陥はなく、良好であった。また表面抵抗は、9.9×1012Ω/□以上測定限界であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.1μmであった。実施例5実施例1において、ポリアミドイミド樹脂溶液の固形物100重量部に対して、不定形シリカの含有量を15重量部とした以外は、シリカの種類と平均粒子径、カーボンブラックの種類、含有量、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.3、平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有していた。また、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.0μmであった。実施例6実施例1において、ポリアミドイミド樹脂溶液の固形物100重量部に対して、不定形シリカの含有量を40重量部とした以外は、シリカの種類と平均粒子径、カーボンブラックの種類、含有量、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有していた。また、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると1.3μmであった。実施例7実施例1において、不定形シリカの平均粒子径を3μmに変えた以外は、シリカの種類とカーボンブラックの種類、含有量、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.4、平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有していた。また、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.0μmであった。実施例8実施例1において、不定形シリカの平均粒子径を10μmに変えた以外は、シリカの種類とカーボンブラックの種類、含有量、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有していた。また、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.3μmであった。実施例9サンドマット加工で遮光フィルムの算術平均高さRaを0.2μmとした以外は、実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.3、平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有していた。また、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.1μmであった。実施例10サンドマット加工で遮光フィルムの算術平均高さRaを0.7μmとした以外は、実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有していた。また、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.1μmであった。比較例1シリカの種類を不定形シリカの代わりに、球状シリカを用いた以外は、シリカの含有量、平均粒子径とカーボンブラックの種類、含有量、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの表面には欠陥はなく、良好であったが、波長380~780nmにおける平均正反射率は1.5となり高反射であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面の反射や光沢は強かった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面は部分的に平滑であることが観察された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると算術平均高さRaは、0.6μmであった。したがって、フィルム表面の正反射率や打ち抜き端面の反射が高く、遮光性が不十分な比較例1の遮光フィルムは、カメラ、ビデオカメラなどの光学機器用の遮光部材には使用できない。比較例2不定形シリカの平均粒子径を2μmに変えた以外は、シリカの種類とカーボンブラックの種類、含有量、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの表面には欠陥はなく、良好であったが、波長380~780nmにおける平均正反射率は0.6となり、高反射であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面の反射や光沢は強かった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、実施例に比べ端面の凹凸は小さいことが観察された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると算術平均高さRaは、0.6μmであった。したがって、フィルム表面の正反射率や打ち抜き端面の反射が高く、遮光性が不十分な比較例2の遮光フィルムは、カメラ、ビデオカメラなどの光学機器用の遮光部材には使用できない。比較例3不定形シリカの平均粒子径を15μmに変えた以外は、シリカの種類とカーボンブラックの種類、含有量、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有し、また平均正反射率は0.2と低反射であった。しかし、作製した遮光フィルムの表面にはピンホールやシワが発生し、遮光フィルムとして提供できないことがわかった。結果を表1に示す。比較例4不定形シリカの含有量を10重量部とした以外は、シリカの種類と平均粒子径、カーボンブラックの種類、含有量、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの表面には欠陥はなく、良好であったが、波長380~780nmにおける平均正反射率は1.5となり、高反射であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面の反射や光沢は強かった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、実施例に比べ端面の凹凸は小さいことが観察された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると算術平均高さRaは、0.7μmであった。したがって、フィルム表面の正反射率や打ち抜き端面の反射が高く、遮光性が不十分な比較例4の遮光フィルムは、カメラ、ビデオカメラなどの光学機器用の遮光部材には使用できない。比較例5不定形シリカの含有量を45重量部に変えた以外はシリカの種類と平均粒子径、カーボンブラックの種類、含有量、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有した。また、平均正反射率は0.2となり、低反射であった。しかし、作製した遮光フィルムの表面にはピンホールやシワが発生し、遮光フィルムとして提供できないことがわかった。結果を表1に示す。比較例6黒色顔料のカーボンブラックの含有量を2重量部に変えた以外は、シリカの種類、平均粒子径、含有量とカーボンブラックの種類、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの表面には欠陥はなく、良好であったが、波長380~780nmにおける平均光学濃度は3となり、完全遮光性は得られなかった。また、平均正反射率は0.6となり、実施例1に比べ高反射であった。また表面抵抗は、9.9×1012Ω/□以上測定限界であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面の反射や光沢は強かった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、実施例に比べ端面の凹凸は小さいことが観察された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると算術平均高さRaは、0.9μmであった。したがって、フィルム表面の正反射率や打ち抜き端面の反射が高く、遮光性が不十分な比較例6の遮光フィルムは、カメラ、ビデオカメラなどの光学機器用の遮光部材には使用できない。比較例7黒色顔料のカーボンブラックの含有量を25重量部に変えた以外は、シリカの種類、平均粒子径、含有量とカーボンブラックの種類、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2と低反射であった。また、平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有していた。しかし、作製した遮光フィルムの表面にはシワが発生し、遮光フィルムとして提供できないことがわかった。また表面抵抗は、9.9×1012Ω/□以上測定限界であった。結果を表1に示す。比較例8フィルムの厚みを30μmに変えた以外は、シリカの種類、平均粒子径、含有量とカーボンブラックの種類、平均粒子径は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、低反射で完全遮光性を有していた。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムをプレス加工で打ち抜き、得られた打ち抜き端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面の反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面高さRaを測定すると算術平均粗さは、1.1μmであった。しかし、比較例8の遮光フィルムは、フィルムの厚みが実施例1に比べると厚いため、特に市場から薄型化小型化の要望が強いカメラ付き携帯電話への利用はできない。実施例11樹脂として、ポリイミドを用いた以外は、不定形シリカやカーボンブラックの種類、平均粒子径、含有量は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。作製した遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、完全遮光性を有しており、外観も表面欠陥もなく、良好であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面の反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には微細な凹凸が均一に観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.1μmであった。実施例12実施例1において、樹脂フィルムの原料をポリアミドイミド樹脂からポリエチレンナフタレート樹脂に変えた以外は、原料を溶解する溶媒、黒色顔料の種類、平均粒子径と含有量、不定形シリカの平均粒子径と含有量、フィルムの厚み、さらにサンドマット加工は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。また、フィルム作製において、支持体から剥離した後の乾燥温度は、150°Cで実施した。作製した実施例12の遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率と平均光学濃度はいずれも実施例1と同様となり、低反射で完全遮光性を有していた。また表面には欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.3μmであった。実施例13実施例1において、樹脂フィルムの原料をポリアミドイミド樹脂からポリエーテルサルフォン樹脂に変えた以外は、原料を溶解する溶媒、黒色顔料の種類、平均粒子径と含有量、不定形シリカの平均粒子径と含有量、フィルムの厚み、さらにサンドマット加工は実施例1と同様にして遮光フィルムを作製した。また、フィルム作製において、支持体から剥離した後の乾燥温度は、150°Cで実施した。作製した実施例13の遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率と平均光学濃度はいずれも実施例1と同様となり、低反射で完全遮光性を有していた。また表面には欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.2μmであった。実施例14実施例1における黒色顔料としてカーボンブラックの代わりに、平均粒径1μmの導電性カーボンブラックを用いた以外は、不定形シリカの平均粒子径、含有量は実施例1と同様にして、導電性遮光フィルムを作製した。作製した導電性遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、低反射で完全遮光性を有しており、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。また、表面抵抗は2.5×109Ω/□であった。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.1μmであった。実施例15実施例14における導電性カーボンブラックの含有量を10重量部とした以外は、不定形シリカの平均粒子径、含有量は実施例14と同様にして、導電性遮光フィルムを作製した。作製した導電性遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、低反射で完全遮光性を有しており、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。また、表面抵抗は2×105Ω/□であった。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.1μmであった。実施例16実施例14における導電性カーボンブラックの含有量を20重量部とした以外は、不定形シリカの平均粒子径、含有量は実施例14と同様にして、導電性遮光フィルムを作製した。作製した導電性遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、低反射で完全遮光性を有しており、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。また、表面抵抗は5×104Ω/□であった。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.1μmであった。導電性カーボンブラックの含有量が20重量部と多かったため、実施例15と比べて耐熱性が若干小さくなったが、実用上問題にならない程度であった。実施例17実施例14における不定形シリカの含有量を15重量部とした以外は導電性カーボンブラックの平均粒子径や含有量、不定形シリカの平均粒子径は実施例14と同様にして、導電性遮光フィルムを作製した。作製した導電性遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.3、平均光学濃度は4以上となり、低反射で完全遮光性を有しており、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。また、表面抵抗は2.5×109Ω/□であった。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.0μmであった。実施例18実施例14における不定形シリカの含有量を40重量部とした以外は導電性カーボンブラックの平均粒子径や含有量、不定形シリカの平均粒子径は実施例14と同様にして、導電性遮光フィルムを作製した。作製した導電性遮光フィルムの波長380~780nmにおける平均正反射率は0.2、平均光学濃度は4以上となり、低反射で完全遮光性を有しており、外観も表面欠陥はなく、良好であった。その結果を表1に示す。また、表面抵抗は2.5×109Ω/□であった。作製した遮光フィルムを打ち抜き加工し、その端面について金属顕微鏡で反射の程度を観察したところ、端面反射や光沢は弱く、良好であった。その端面をSEM走査型電子顕微鏡で調べた結果、端面には均一に微細な凹凸が観察され、この微細な凹凸の形成によって、端面の反射や光沢が低減された。オプティカルプロファイラーで端面の表面粗さを測定すると、1.3μmであった。評価上記の結果を示す表1から、実施例1~10は、本発明の樹脂成分Aのポリアミドイミドに、黒色顔料B及び平均粒子径3~10μmの不定形シリカCを特定量含有させた、表面に凹凸を有する遮光フィルムであって、特定の厚みで、遮光フィルムを打ち抜いたときに端面に表面粗さ算術平均高さRaが1μm以上の凹凸が形成されているので、表面及び端面が低反射で且つ遮光性に優れている。また、実施例11~13は、樹脂成分が実施例1~10とは異なるが、いずれも耐熱性を有するために、同様に表面及び端面が低反射で且つ遮光性に優れた遮光フィルムが得られている。さらに実施例14~18は、黒色顔料として導電性カーボンブラックを用いることで、上述した遮光フィルムの特性を維持しつつ、さらに表面抵抗が1×1010Ω/□以下となり、導電性を有することから、ゴミや埃等の付着を抑制できる導電性の遮光フィルムが得られている。これに対して、比較例1~8は、得られた遮光フィルムが本発明の要件を満たさないために、表面及び端面の反射性、遮光性が低下するか、外観が不良となったり加工性が低下した。すなわち、比較例1では、球状のシリカを用いたために、フィルム表面の正反射率や打ち抜き端面の反射が高く、遮光性が不十分であった。また、比較例2,3では、シリカの平均粒径が、比較例4,5では、シリカの含有量が、また比較例6,7では、黒色顔料の含有量が本発明の要件を満たさないために、フィルム表面の正反射率や打ち抜き端面の反射が高く、遮光性が不十分であるか、表面にはピンホールやシワが発生した。さらに比較例8では、フィルムの厚さが本発明の要件よりも薄かったために、薄型化小型化したカメラ付き携帯電話への利用はできない。"