測定光を被測定物に向かって出射する発光部と、前記被測定物から反射される反射光を受光する受光部と、前記測定光が出射されたときから前記反射光の受光レベルがピークを示す時点までの経過時間に基づいて前記被測定物までの距離を求める距離算出部と、前記受光レベルが飽和状態となり前記ピークの時点が特定できないときには、前記受光レベルが飽和している時間の長さに応じて前記被測定物までの距離の値を補正する距離補正部とを備えることを特徴とする距離測定装置。請求項1に記載の距離測定装置において、前記発光部は、前記測定光を複数回出射することを特徴とする距離測定装置。請求項2に記載の距離測定装置において、前記距離算出部は、前記測定光を複数回出射したときに、前記受光部が閾値を超える受光量を計測した時点をそれぞれカウントし、カウントした度数を積算して各時点での前記受光レベルを求めるカウント部をさらに備え、前記距離算出部は、前記度数の積算数がピークを示す時点での経過時間に基づいて前記被測定物までの距離を求め、前記距離補正部は、前記度数の積算数が飽和状態となった時点が連続しているときに、前記飽和状態となった時点が連続する時間の長さに応じて前記被測定物までの距離の値を補正することを特徴とする距離測定装置。請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の距離測定装置において、前記距離補正部は、前記受光レベルが飽和している時間が長いほど、前記距離の値を補正する補正量を多くすることを特徴とする距離測定装置。しかし、従来の距離測定装置では、例えば反射光の受光レベルが飽和状態となる場合に測距精度が悪化していた。上記事情に鑑み、反射光の受光レベルが飽和状態となるときでも精度良く距離を測定できる距離測定装置を提供する。一の態様の距離測定装置は、発光部と、受光部と、距離算出部と、距離補正部とを備える。発光部は、測定光を被測定物に向かって出射する。受光部は、被測定物から反射される反射光を受光する。距離算出部は、測定光が出射されたときから反射光の受光レベルがピークを示す時点までの経過時間に基づいて被測定物までの距離を求める。距離補正部は、受光レベルが飽和状態となりピークの時点が特定できないときには、受光レベルが飽和している時間の長さに応じて被測定物までの距離の値を補正する。一の態様の距離測定装置において、発光部は、測定光を複数回出射してもよい。一の態様の距離測定装置において、距離算出部は、測定光を複数回出射したときに、受光部が閾値を超える受光量を計測した時点をそれぞれカウントし、カウントした度数を積算して各時点での受光レベルを求めるカウント部をさらに備えていてもよい。また、距離算出部は、度数の積算数がピークを示す時点での経過時間に基づいて被測定物までの距離を求めてもよい。また、距離補正部は、度数の積算数が飽和状態となった時点が連続しているときに、飽和状態となった時点が連続する時間の長さに応じて被測定物までの距離の値を補正してもよい。一の態様の距離測定装置において、距離補正部は、受光レベルが飽和している時間が長いほど、距離の値を補正する補正量を多くしてもよい。本発明によれば、反射光の受光レベルが飽和状態となるときでも精度良く距離を測定できる距離測定装置を提供できる。<第1実施形態の説明>図1は、第1実施形態の距離測定装置の構成例を示すブロック図である。第1実施形態の距離測定装置は、例えばスポーツ、狩猟等の測距で使用される。第1実施形態の距離測定装置1は、筐体2と、発光部3と、受光部4と、操作ボタン5と、コントローラ6と、距離表示部7とを有する。発光部3、受光部4、操作ボタン5、および距離表示部7は、それぞれコントローラ6と接続される。発光部3、受光部4、コントローラ6、および距離表示部7は、筐体2の内側に配置される。また、操作ボタン5は、筐体2の外側に露出するように筐体2に実装される。また、筐体2には、ファインダ窓2a、出射窓3a、受光窓4aが形成されている。ファインダ窓2aおよび出射窓3aは、距離測定装置1の光学ファインダを構成する。出射窓3aとファインダ窓2aとの間の光路上には、図1の左側から順に、コリメートレンズ31と、ハーフミラー21とが配置されている。出射窓3aから入射する光束の一部は、コリメートレンズ31とハーフミラー21とを透過してファインダ窓2aに導かれる。これにより、操作者は、ファインダ窓2aおよび出射窓3a越しに被測定物を目視できる。発光部3は、被測定物に照射される測定光パルス状のレーザ光を出力する。この発光部3は、例えば発光素子レーザダイオードと、発光素子の駆動回路とで構成される。ここで、発光部3から出射された測定光は、ハーフミラー21で反射されてコリメートレンズ31および出射窓3aに導かれる。このため、操作者が光学ファインダを覗いた状態で発光部3から測定光が出射されると、測定光は操作者の目視している被測定物に向かって図1の矢印A方向出射されることとなる。受光部4は、受光窓4aから入射する光例えば、被測定物で反射された測定光を受光する。受光部4は、例えば受光素子フォトダイオードと、受信回路とで構成される。なお、受光窓4aと受光部4との間には、集光レンズ41が配置される。受光窓4aから入射する光図1の矢印B方向からの光は、集光レンズ41により集光されて受光素子により光電変換される。そして、受光素子の出力受光信号は、受信回路で増幅処理された後にコントローラ6に送られる。操作ボタン5は、測距を開始するスイッチの役割を持つ。また、操作ボタン5は、単位モード切換スイッチ距離表示部7の単位メートル/ヤード等の選択や、距離表示部7のバックライトを点灯/消灯するためのスイッチとしての役割も持つ。コントローラ6は、距離測定装置1の動作を制御する回路であって、例えばFPGA等が使用される。コントローラ6は、被測定物までの距離を算出するための距離算出部10と、パルス発生部20とを有する。距離算出部10は、測定光が出射されたときから反射光の受光レベルがピークを示す時点までの経過時間に基づいて被測定物までの距離を求める。また、距離算出部10は、カウント部11と、度数測定部12と、距離補正部13とを有する。なお、カウント部11、度数測定部12および距離補正部13についての説明は後述する。パルス発生部20は、距離測定装置の動作タイミングを規定するパルス信号を発生させる。パルス発生部20からのパルス信号に応じて、発光部3の発光素子からパルス状のレーザ光測定光が出射される。また、上記のパルス信号を用いて、測定光が出射されたときから受光部4で受光信号が出力されるまでの経過時間を求めることができる。距離表示部7は、コントローラ6からの表示指示を受けてファインダ窓2aの内部において距離表示を行う。距離表示部7は、例えば、光学ファインダの像の外縁に情報を点灯表示するものや、光学ファインダの像に情報をオーバレイ表示するものでもよい。なお、距離表示部7は、例えば筐体2の外側に配置された液晶表示器等でもよい。第1実施形態の動作の説明以下、第1実施形態での距離測定装置1の動作を説明する。図2は、第1実施形態の距離測定装置1の動作例を示すフローチャートである。ステップS1:操作者がファインダ窓2aを通して被測定物を見た状態で操作ボタン5が操作されると、コントローラ6は、操作ボタン5からの入力測距開始の指示を受け付ける。ここで、第1実施形態の距離測定装置は、1回の測距S1での1回分の操作ボタン5の操作につき測定光を複数回例えば550回出射する。後述のS2~S5の処理測定動作は、測定光が出射される回数分だけ繰り返される。なお、測定動作の回数は、コントローラ6によって管理される。ステップS2:コントローラ6は、発光部3を作動させて、発光素子からパルス状のレーザ光を被測定物に向けて出射させる。なお、発光部3から出射した測定光の一部は、被測定物での反射によって、受光窓4aおよび集光レンズ41を介して受光部4に導かれる。ステップS3:コントローラ6は、測定光が出射された時点を起点として時間のカウントを開始する。ステップS4:受光部4は、受光窓4aから入射する光を受光する。ステップS5:距離算出部10のカウント部11は、受光部4が閾値を超える受光量を計測した時点例えば、受光信号の値が所定の強度閾値を超える場合で度数をカウントする。時点ごとにカウントされる度数は、コントローラ6内のメモリ不図示に記憶される。一例として、測定光の出射からXm秒経過後に強度閾値以上の受光信号が計測された場合に、カウント部11はXm秒の時点に対応する度数を1つカウントする。上記の強度閾値は、例えば定常光の示す信号よりも十分大きく、かつ測定光の信号強度よりは小さくなるように設定される。これにより、測定光の反射光のように、定常光よりも十分に強い光が入射した場合のみ度数のカウントが行われることとなる。また、上記の度数のカウントは、複数回繰り返される測定動作S2~S5において積算されてゆく。例えば第2回目の測定動作を行うときに、前回の測定動作で度数がカウントされた時点と同一時点で再び度数がカウントされた場合、その時点に対応する度数は積算されて2となる。この度数の積算数の上限は、測定光の出射回数と同じ回数例えば550回となる。なお、第1実施形態では、各時点において複数回の測定動作で得られた度数の積算値を、各時点での受光レベルとして扱う。図3は、測定光が出射されたときからの経過時間と、測定動作で積算された度数との度数分布の例を示す図である。図3の度数分布において、縦軸は各時点での度数の積算値受光レベルを表し、横軸は測定光が出射されたときからの経過時間を示す。一例として、度数分布での経過時間の刻みは12.5nsである。なお、1回の測定動作において、被測定物での反射光と強い外乱光とが異なる時点で入射した場合、それぞれの光が入射した時点でカウント部11は度数のカウントを行う。つまり、1回の測定動作において複数の時点で度数がカウントされる場合もある。しかし、複数回の測定動作で被測定物での反射光はほぼ同じ時点で計測されるが、複数回の測定動作で外乱光は同じ時点で計測されることはない。そのため、複数回の測定動作全体でみたときには、両者を区別することができる。ステップS6:コントローラ6は、S2~S5の所定回数の処理上記の例であれば550回分の測定動作が終了したか否かを判定する。上記要件を満たすときYes側には、コントローラ6は処理をステップS7に移行させる。一方、上記要件を満たさないときNo側には、コントローラ6は測定動作の回数を1回分カウントするとともに、処理をステップS2に移行させて、上記動作を繰り返す。ステップS7:コントローラ6は、被測定物での反射光に対応した受光レベルのピークの時点が特定できたか否かを判定する。上記の要件を満たすときYes側には、コントローラ6は処理をステップS8に移行させる。一方、上記の要件を満たさないときNo側には、コントローラ6は処理をステップS9に移行させる。一例として、距離算出部10の度数測定部12は、各時点での受光レベル度数の積算値を参照する。そして、度数測定部12は、受光レベルがピークを示す時点のうち、その受光レベルが最大となる時点最大ビンを、被測定物での反射光に対応した受光レベルのピークとして特定すればよい。一方、受光レベルが上限値に達して飽和状態となる時点が時間軸方向に連続する場合図4参照、コントローラ6は、上記のピークの時点が特定できないと判定する。ステップS8:距離算出部10は、受光レベルがピークを示す時点S7で特定した最大ビンの時点での経過時間を用いて被測定物までの距離を算出する。なお、上記の経過時間は、公知のレーザ光の空間伝播速度を用いて被測定物までの距離に換算できる。その後、S11に処理が移行する。ステップS9:距離測定部10は、被測定物までの仮の距離を算出する。一例として、S9での距離測定部10は、受光レベルが上記の飽和状態となっている期間の近傍において、受光レベルの変化量が時間軸方向で最も大きく増加する時点通常、度数分布で受光レベルの波形が立ち上がる時点を基準として、被測定物までの仮の距離を算出すればよい。ステップS10:距離補正部13は、受光レベルが飽和状態となっている時点の連続時間に応じて仮の距離S9の値を補正し、被測定物までの距離を推定する。一例として、距離補正部13は、上記の飽和状態の連続時間に応じて決定される補正量を仮の距離に加算して、被測定物までの距離を推定する。この補正量は、上記の飽和状態の連続時間の長さに比例して多くなる。一般に、度数分布上で受光レベルの波形がなす山は、ピーク時での受光レベルの大きさに比例して大きなものとなる。受光レベルが飽和状態にある時点が連続する場合、度数分布の波形から直接に受光レベルの波形のピークを特定することができない。しかし、飽和状態にある時点の連続時間が既知であれば、受光レベルの波形がなす山の大きさを推定できるので、飽和状態で埋もれている受光レベルのピーク時点を推定することも可能となる。図4は、距離測定装置での仮の距離に対する補正の例を示す説明図である。図4の縦軸は受光レベル度数を表し、図4の横軸は測定光が出射されたときからの経過時間を示す。また、図4において、受光レベルの波形を実線で示し、飽和状態で埋もれている受光レベルの本来の波形を破線で示す。図4aは、受光レベルが飽和状態にある時点の連続時間が長い場合を模式的に示している。この場合は、受光レベルの本来の波形がなす山が大きく、S9で求めた仮の距離と本来の波形のピーク距離の真値との乖離が大きくなる。そのため、この場合の距離補正部13は、仮の距離に対する補正量を大きくする。図4bは、受光レベルが飽和状態にある時点の連続時間が短い場合を模式的に示している。この場合は、図4aと比べて受光レベルの本来の波形がなす山が小さく、S9で求めた仮の距離と本来の波形のピーク距離の真値との乖離も相対的に小さくなる。そのため、この場合の距離補正部13は、図4aと比べて仮の距離に対する補正量を小さくする。なお、受光レベルが飽和状態にある時点の連続時間と上記の補正量との対応関係は、例えば、予め実験等で求めた結果に基づいて決定すればよい。ステップS11:コントローラ6は、距離算出部10が算出した距離S8又は距離補正部13で推定した距離S10を距離表示部7に表示させる。これにより、操作者は、被測定物までの距離をファインダ窓2aの表示によって確認できる。以上で、本フローチャートの説明を終了する。第1実施形態の効果まず、比較例として、従来の距離測定装置での測定例を簡単に説明する。従来の距離測定装置では、被測定物との距離が長い場合には、反射光の受光レベルが小さくなるため測定値が長めに算出される傾向がある。逆に、上記の距離が短い場合には、反射光の受光レベルが大きくなるため測定値が短めに算出される傾向がある。そのため、従来の距離測定装置では、測定値の示す距離が長いときは定型的に測定値が短くなるように補正し、測定値の示す距離が短いときは定型的に測定値が長くなるように補正していた。しかし、従来の距離測定装置では、例えば、被測定物の反射率の高低や被測定物の面積の大小によって同一距離でも反射光の受光レベルに差異が生じる場合には、測定値が大きくばらつくおそれがある。このため、従来の距離測定装置での上記の補正では、必ずしも精度良く距離を求めることが出来なかった。一方、第1実施形態の距離測定装置1では、距離算出部10は、測定光が出射されたときから反射光の受光レベルがピークを示す時点までの経過時間に基づいて被測定物までの距離を求めるS8。また、距離補正部13は、受光レベルが飽和状態となりピークの時点が特定できないときには、受光レベルが飽和している時間の長さに応じて被測定物までの距離の値を補正するS9、S10。このため、第1実施形態の距離測定装置1は、受光レベルが小さく飽和状態にない場合と、受光レベルが飽和状態にある場合との両方で、それぞれ被測定物までの距離を精度良く測定できる。また、第1実施形態の距離測定装置1は、測定光を複数回出射して複数回の測定動作を実行するので、測定時のS/N比を向上させることができる。<第2実施形態の説明>次に、第2実施形態の距離測定装置について説明する。図5は、第2実施形態での距離測定装置を示すブロック図である。第2実施形態での距離測定装置1は、基本構成が第1実施形態のものと共通する。そのため、第2実施形態の説明では、第1実施形態と同一の構成については第1実施形態と同一の符号を用い、重複説明は省略する。第2実施形態での距離測定装置1は、第1実施形態での距離測定装置1の構成に加え、受光部4の出力側に受光レベル測定部8が接続されている。受光レベル測定部8の出力はコントローラ6に接続されている。なお、第2実施形態での距離算出部10は、距離補正部13のみを有している。図6は、受光レベル測定部8の構成を示すブロック図である。受光レベル測定部8は、ピークホールド回路8aとA/D変換部8bとを有する。受光レベル測定部8は、ピークホールド回路8aを用い、受光部4により受光した信号のピークを保持させる。A/D変換部8bは、ピークレベルをディジタル変換してコントローラ6に出力する。すなわち、第2実施形態では、受光量の光量がそのまま受光レベルとして扱われる。第2実施形態の動作の説明以下、第2実施形態での距離測定装置1の動作を説明する。図7は、第2実施形態の距離測定装置1の動作例を示すフローチャートである。第2実施形態では、1回の測距につき測定光を1回出射する例を説明する。なお、図7のS21~S24の処理は、図2のS1~S4の処理と共通し、図7のS27~S30の処理は、図2のS8~S11の処理とほぼ共通する。そのため、上記の各処理については重複説明を省略する。ステップS25:受光レベル測定部8は、受光部4より光の受光を受け付けるとピークホールド回路8aを用い、受光部4により受光した信号のピークを保持する。その後、受光レベル測定部8は、A/D変換部8bによってピークレベルをディジタル変換し、コントローラ6に送出する。ステップS26:コントローラ6は、ディジタル変換された受光レベルのピークの時点が特定できたか否か判定する。上記の要件を満たすときYes側は、コントローラ6は、処理をステップS27に移行させる。一方、上記の要件を満たさないときNo側は、コントローラ6は、処理をステップS28に移行させる。なお、S26でのコントローラ6は、受光レベルが飽和状態となる時点が時間軸方向に連続する場合に、上記のピークの時点が特定できないと判定する。上記の第2実施形態の構成によっても、第1実施形態の場合と同様に、受光レベルが小さく飽和状態にない場合と、受光レベルが飽和状態にある場合との両方で、それぞれ被測定物までの距離を精度良く測定できる。<実施形態の補足事項>1第1実施形態では、受光レベルと経過時間とで度数分布を求めているが、度数分布の横軸の経過時間を予め距離に換算して運用してもよい。2第2実施形態においても、発光部3に測定光を複数回出射させるようにしてもよい。反射光を複数回測定することで1回の測定よりも精度良く距離を測定することができる。この場合、コントローラ6は、ステップS22で出射回数を管理し、第1実施形態におけるステップS6と同様、所定の回数の出射が完了するまでステップS22~ステップS25をループさせればよい。以上の詳細な説明により、実施形態の特徴点および利点は明らかになるであろう。これは、特許請求の範囲が、その精神および権利範囲を逸脱しない範囲で前述のような実施形態の特徴点および利点にまで及ぶことを意図するものである。また、当該技術分野において通常の知識を有する者であれば、あらゆる改良および変更に容易に想到できるはずであり、発明性を有する実施形態の範囲を前述したものに限定する意図はなく、実施形態に開示された範囲に含まれる適当な改良物および均等物によることも可能である。