計算機により構成され、上記計算機に接続されたデバイスの診断を行うデバイス診断装置であって、上記デバイスへのアクセスを要求するデバイスアクセス要求手段、周期的に上記デバイスの診断要求を行う診断要求手段、この診断要求手段による上記診断要求に応じて、上記デバイスの診断処理を行うデバイスドライバ、及び上記デバイスアクセス要求手段のアクセス要求に応じて最後に上記デバイスにアクセスした時刻に対応して、上記デバイスが使用状態であるか否かを判断するデバイス使用状態判断手段を備え、上記デバイスドライバは、上記デバイス使用状態判断手段により上記デバイスが使用状態であると判断された場合には、上記デバイスの診断処理を実施しないようにすることを特徴とするデバイス診断装置。上記デバイス使用状態判断手段は、上記デバイスアクセス要求手段のアクセス要求に応じて最後に上記デバイスにアクセスした時刻と、上記診断要求手段により診断要求された時刻との差が、別途決められたデバイス使用状態判断時間以内であれば、上記デバイスは使用状態であると判断することを特徴とする請求項1記載のデバイス診断装置。上記デバイス使用状態判断時間を変更するデバイス使用状態判断時間変更手段を備えたことを特徴とする請求項2記載のデバイス診断装置。上記デバイス使用状態判断時間は、フラッシュメモリに記憶されていることを特徴とする請求項2または請求項3記載のデバイス診断装置。上記診断要求手段が行う診断要求の周期を変更する診断周期変更手段を備えたことを特徴とする請求項1~請求項4のいずれかに記載のデバイス診断装置。上記診断周期変更手段によって変更される診断要求の周期は、フラッシュメモリに記憶されることを特徴とする請求項5記載のデバイス診断装置。従来のデバイス診断方式は、デバイス診断に割り込み不可の診断処理がある場合に、本来の計算機処理であるデバイスアクセス処理が遅延するという問題があった。この割り込み不可の診断処理の例としては、ハードディスク診断中にそのハードディスクへのアクセスが行えないというものがある。この発明は、上述のような課題を解決するためになされたものであり、デバイスを使用した本来の計算機の処理への影響を無くして、デバイスの診断処理を行うデバイス診断装置を得ることを目的としている。この発明に係わるデバイス診断装置においては、計算機により構成され、計算機に接続されたデバイスの診断を行うデバイス診断装置であって、デバイスへのアクセスを要求するデバイスアクセス要求手段、周期的にデバイスの診断要求を行う診断要求手段、この診断要求手段による診断要求に応じて、デバイスの診断処理を行うデバイスドライバ、及びデバイスアクセス要求手段のアクセス要求に応じて最後にデバイスにアクセスした時刻に対応して、デバイスが使用状態であるか否かを判断するデバイス使用状態判断手段を備え、デバイスドライバは、デバイス使用状態判断手段によりデバイスが使用状態であると判断された場合には、デバイスの診断処理を実施しないようにするものである。この発明は、以上説明したように、計算機により構成され、計算機に接続されたデバイスの診断を行うデバイス診断装置であって、デバイスへのアクセスを要求するデバイスアクセス要求手段、周期的にデバイスの診断要求を行う診断要求手段、この診断要求手段による診断要求に応じて、デバイスの診断処理を行うデバイスドライバ、及びデバイスアクセス要求手段のアクセス要求に応じて最後にデバイスにアクセスした時刻に対応して、デバイスが使用状態であるか否かを判断するデバイス使用状態判断手段を備え、デバイスドライバは、デバイス使用状態判断手段によりデバイスが使用状態であると判断された場合には、デバイスの診断処理を実施しないようにするので、デバイスが使用状態であるときにデバイスを診断しないことにより、デバイスアクセスが遅延することが無くなる。実施の形態1.以下、この発明の実施の形態1を図1に基づいて説明する。図1は、この発明の実施の形態1によるデバイス診断装置の構成を示すブロック図である。図1において、デバイス診断装置を構成する計算機1000は、SCSIケーブル1020を介して、デバイスであるハードディスク1010と接続されている。計算機1000は、次のように構成されている。定周期診断要求プログラム1001診断要求手段は、ハードディスク1010に対する診断要求を定周期に行う。デバイスドライバ1002は、診断要求を受けてハードディスク1010への診断処理を行う。デバイスアクセス判断プログラム1003デバイス使用状態判断手段は、デバイスドライバ1002に設けられ、ハードディスク1010へのアクセス中かどうかを判断する。デバイスアクセス要求プログラム1006デバイスアクセス要求手段は、ハードディスク1010へのアクセスを要求するプログラムである。アクセス中判断時間1004デバイス使用状態判断時間は、ハードディスク1010がアクセス中かどうかを判断するために予め定められた時間である。デバイスアクセス時刻1005最後にデバイスにアクセスした時刻は、デバイスアクセス要求プログラム1006の要求に応じて、ハードディスク1010へアクセスした最後の時刻である。アクセス中判断時間1004とデバイスアクセス時刻1005は、記憶装置に格納されている。なお、実施の形態1の説明では、デバイスとしてハードディスクを用いているが、デバイスとしてはハードディスクに限らず、他のデバイスであっても同様に本実施の形態1を提供することができる。図2は、この発明の実施の形態1によるデバイス診断装置の動作を示すフローチャートである。次に、デバイス診断装置の動作について、図2を用いて説明する。まず、ST1101で、システムが運用状態となり、デバイスアクセス要求プログラム1006が動作し、ハードディスク1010にアクセスした時刻を、デバイスドライバ1002がデバイスアクセス時刻1005に記録する。ST1102で、定周期時間が経過するまで待つ。次いで、ST1103で、定周期診断要求プログラム1001により、ハードディスク1010への診断要求が発生する。ST1104で、デバイスアクセス判断プログラム1003が、デバイスドライバ1002が最後にハードディスク1010にアクセスした時刻であるデバイスアクセス時刻1005と、ハードディスク1010への診断要求時刻を比較し、その差分が、アクセス中判断時間1004以内であれば、ハードディスク1010へアクセス中であると判断し、診断を実施しない診断結果は正常とする。一方、その差分がアクセス中判断時間1004を超えていれば、ハードディスク1010へアクセス中でないと判断し、デバイスドライバ1002経由で、ハードディスク1010へ診断が行われるST1105。ST1106で、システム運用が終了したかどうか確認し、終了していなければ、再度ST1102で、定周期時間の経過を待ち、ST1103で、ハードディスク1010への診断要求が発生する。実施の形態1によれば、ハードディスクへのアクセスとハードディスクへの診断が重なることを防止し、ハードディスクへのアクセス遅延を防止できるようになる。実施の形態2.図3は、この発明の実施の形態2によるデバイス診断装置の構成を示すブロック図である。図3において、1000~1006、1010、1020は図1におけるものと同一のものである。図3では、計算機1000にアクセス中判断時間変更プログラム1007デバイス使用状態判断時間変更手段を設け、アクセス中判断時間1004を、計算機システムの運転中に変更するようにしている。次に、動作について説明する。実施の形態2は、計算機システムの動作中に、アクセス中判断時間変更プログラム1007を使って、アクセス中判断時間1004を変更できるようにしている。これにより、ハードディスク1010の故障を検出しやすくするか、ハードディスク1010のアクセス遅延を少なくするかの調整が可能となる。アクセス中判断時間1004を短くすると、ハードディスク1010を診断する頻度が高くなるため、ハードディスク1010の故障を検出しやすくなる。逆に、アクセス中判断時間1004を長くすると、ハードディスク1010を診断する頻度が低くなり、ハードディスクアクセス遅延が少なくなる。実施の形態2によれば、アクセス中判断時間を変更するアクセス中判断時間変更プログラムを設けたことにより、デバイスの故障を検出しやすくするか、デバイスのアクセス遅延を少なくするかを調整することが可能となる。実施の形態3.図4は、この発明の実施の形態3によるデバイス診断装置の構成を示すブロック図である。図4において、1000~1007、1010、1020は図3におけるものと同一のものである。図4では、アクセス中判断時間1004を不揮発性メモリであるフラッシュメモリ1008に記憶させるようにした。実施の形態3では、アクセス中判断時間1004を不揮発性メモリであるフラッシュメモリ1008に格納するようにしたため、計算機1000の電源断、リセットなどによっても、アクセス中判断時間1004を消失することがなくなる。これにより、アクセス中判断時間1004をシステム立ち上げ時に再調整しなくてもよいことになる。実施の形態3によれば、アクセス中判断時間をフラッシュメモリに格納したため、計算機の電源断、リセットなどでの消失を防ぐことができ、システムの立ち上げ時にアクセス中判断時間を再調整しなくてもよい。実施の形態4.図5は、この発明の実施の形態4によるデバイス診断装置の構成を示すブロック図である。図5において、1000~1007、1010、1020は図3におけるものと同一のものである。図5では、定周期診断要求プログラム1001が診断要求する定周期は、記憶装置に格納された診断周期時間1011診断要求の周期によるものとし、この診断周期時間1011を計算機システム運転中に変更する診断周期変更プログラム1009診断周期変更手段を計算機1000に搭載した。実施の形態4は、計算機システム動作中に、診断周期変更プログラム1009を使って、デバイスの診断周期を決定する診断周期時間1011を変更できるようにしている。これにより、デバイスの診断頻度が調整できるようになり、診断によるCPU負荷と診断によるデバイス故障の検出時間の調整が行えるようになる。実施の形態4によれば、診断周期変更プログラムにより、システム運転中に診断周期時間を変更できるようにしたので、デバイスの診断頻度を調整することができる。実施の形態5.図6は、この発明の実施の形態5によるデバイス診断装置の構成を示すブロック図である。図6において、1000~1007、1009、1010、1011、1020は図5におけるものと同一のものである。図6では、診断周期時間1011をフラッシュメモリ1008に格納するようにしている。実施の形態5は、診断周期時間1011が不揮発性メモリであるフラッシュメモリ1008に格納した。このため、計算機1000の電源断、リセットなどにより、診断周期時間1011が消失することがなくなる。これにより、診断周期時間1011を計算機システム立ち上げ時に再調整しなくてもよくなる。実施の形態5によれば、診断周期時間をフラッシュメモリに格納したため、計算機の電源断、リセットなどによる消失を防ぐことができ、計算機システム立ち上げ時に診断周期時間を再調整しなくてもよい。