"希ガスが封入された筒状のガラスバルブと、ビードガラスを介してガラスバルブの両端部に封着された一対の主電極とを備え、各主電極における少なくともビードガラスが溶着される領域の外周面が凹凸面で構成され、ビードガラスの外周面とガラスバルブの内周面とが加熱溶着されるとともに、ビードガラスが主電極の凹凸面に加熱溶着されてガラスバルブ内が密閉された閃光放電管において、前記凹凸面上に硬質微粒体が分布するとともに、該硬質微粒体が前記凹凸面に対して減り込んでいることを特徴とする閃光放電管。硬質微粒体は、酸化アルミニウムの微粒であることを特徴とする請求項1に記載の閃光放電管。硬質微粒体は、主電極の凹凸面に対する付着率が1.03~2.34であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の閃光放電管。しかしながら、上記構成の閃光放電管1においても、ビードガラス3,4と主電極5,6との間の封止性能は十分ではなく、ガラスバルブ2内の希ガスがビードガラス3,4と主電極5,6との間からリークしまうことがある。すなわち、上記構成の閃光放電管1は、主電極5,6の外周面を凹凸面9にして主電極5,6とビードガラス3,4との密着面積の拡大が図られているが、主電極5,6の外周面上の凹凸面9特に凹面が比較的滑らかでビードガラス3,4と主電極5,6との接続強度が十分でない場合がある。そのため、外周面を凹凸面9にした主電極5,6を採用した閃光放電管1においても、ビードガラス3,4と主電極5,6との間を確実に封止できない場合がある。そこで、本発明は、斯かる実情に鑑み、ビードガラスと主電極との接続強度を高めてビードガラスと主電極との間を確実に封止することのできる閃光放電管を提供することを課題とする。本発明に係る閃光放電管は、希ガスが封入された筒状のガラスバルブと、ビードガラスを介してガラスバルブの両端部に封着された一対の主電極とを備え、各主電極における少なくともビードガラスが溶着される領域の外周面が凹凸面で構成され、ビードガラスの外周面とガラスバルブの内周面とが加熱溶着されるとともに、ビードガラスが主電極の凹凸面に加熱溶着されてガラスバルブ内が密閉された閃光放電管において、前記凹凸面上に硬質微粒体が分布するとともに、該硬質微粒体が前記凹凸面に対して減り込んでいることを特徴とする。上記構成の閃光放電管によれば、各主電極における少なくともビードガラスが溶着される領域の外周面凹凸面上に硬質微粒体が分布するとともに、該硬質微粒体が前記凹凸面に対して減り込んでいるため、ビードガラスが主電極の外周面に対して該外周面の形態に即した状態で密着することになる。すなわち、ビードガラスは、主電極の凹凸面及び該凹凸面上で分布して該凹凸面に対して減り込んだ硬質微粒体に沿った状態でこれらに密着する。これにより、ビードガラスが硬質微粒体の周囲に回り込んだり、硬質微粒体がビードガラス側に突出して該ビードガラスに対してアンカーとして機能したりすることになる。従って、上記構成の閃光放電管は、主電極に対するビードガラスの接続強度が高まって主電極に対するビードガラスの密着性及び接着性が向上し、ビードガラスと主電極との間を確実に封止することができる。本発明の一態様として、前記硬質微粒体は、酸化アルミニウムの微粒であることが好ましい。このようにすれば、ビードガラスが硬質微粒体になじみ易くなり、これらの接着性や密着性をより高めることができる。本発明の他態様として、硬質微粒体は、主電極の凹凸面に対する付着率が1.03~2.34であることが好ましい。このようにすれば、ビードガラスと主電極との接続強度を好適なものにすることができる。以上のように、本発明に係る閃光放電管によれば、ビードガラスと主電極との接続強度を高めてビードガラスと主電極との間を確実に封止することができるという優れた効果を奏し得る。以下、本発明の一実施形態に係る閃光放電管について添付図面を参照しつつ説明する。図1に示す如く、本実施形態に係る閃光放電管1は、ストロボ装置の光源に採用されるもので、希ガスが封入された筒状のガラスバルブ2と、ビードガラス3,4を介してガラスバルブ2の両端部に封着された一対の主電極5,6とを備えている。ガラスバルブ2は、ガラス製の管体で構成されたもので、外周面上にトリガー電極7が配置されている。本実施形態のトリガー電極7は、ガラスバルブ2の外周面に形成された導電性を有する透明被膜で構成されており、高周波電圧が印加されることでガラスバルブ2内の希ガスを励起するようになっている。前記ビードガラス3,4は、ガラスバルブ2前記管体の端部に封止し、ガラスバルブ2内に希ガスを封入している。該ビードガラス3,4は、ガラスバルブ2の軸心上を通るように主電極5,6後述するタングステンピン5a,6aが液密に挿通されている。前記一対の主電極5,6のそれぞれは、導電性を有する金属材料で構成されており、一方向に延びる棒状に形成されている。本実施形態に係る主電極5,6は、異種の金属棒を軸線方向に連結することで形成されている。具体的には、各主電極5,6は、タングステン製の棒材以下、タングステンピンという5a,6aと、ニッケル製の棒材以下、ニッケルピンという5b,6bとで構成されており、タングステンピン5a,6aとニッケルピン5b,6bとが同心になるように配置された上で互いの端部が連結されることで形成されている。本実施形態においては、タングステンピン5a,6a及びニッケルピン5b,6bは、互いの端部同士を付き合わせた状態で加熱溶着されており、ニッケルピン5b,6bの端部にタングステンピン5a,6aの端部が減り込んだ状態になっている。これにより、各主電極5,6は、ニッケルピン5b,6bの端部が拡径した状態になっており、軸線方向の途中位置に大径部5c,6cが形成された態様となっている。そして、各主電極5,6は、タングステンピン5a,6aがビードガラス3,4に対して液密に挿通されている。これにより、各主電極5,6は、タングステンピン5a,6aの先端部がガラスバルブ2内に位置する一方、ニッケルピン5b、6bが外部に延出して配線等が接続される外部端子を構成している。本実施形態において、主電極5,6は、軸心方向の途中位置にある大径部5c,6cがビードガラス3,4と当接することで、ビードガラス3,4に挿通されたタングステンピン5a,6aの先端部がガラスバルブ2内の所定位置に位置するように位置決めされている。そして、一対の主電極5,6のうちの一方の主電極5は、ガラスバルブ2内にある先端部に焼結金属体8が取り付けられている。すなわち、一対の主電極5,6のうち、一方の主電極5は、金属製の棒材タングステンピン5a,6a及びニッケルピン5b,6bに焼結金属体8が取り付けられたアノード電極とされ、他方の主電極6は、金属製の棒材タングステンピン5a,6a及びニッケルピン5b,6bで構成されたカソード電極とされている。各主電極5,6は、少なくともビードガラス3,4が溶着される領域の外周面が凹凸面9で構成されている。本実施形態において、各主電極5,6は、タングステンピン5a,6a及びニッケルピン5b,6bで構成されてタングステンピン5a,6aがビードガラス3,4に挿通されているため、該タングステンピン5a,6aの少なくとも一端側ニッケルピン5b,6bと連結される側の外周面本実施形態にいおいては外周全面上が凹凸面9になっている。そして、本実施形態に係る主電極5,6のそれぞれは、少なくともビードガラス3,4との接着の対象となる領域にある凹凸面9上に多数の硬質微粒体10が分布し、各硬質微粒体10は、凹凸面9凹面9aに対して減り込んでいる。本実施形態に係る主電極5,6は、タングステンピン5a,6aをビードガラス3,4に対して液密に挿通するようにしているため、タングステンピン5a,6aの外周上の凹凸面9に対して硬質微粒体10が減り込むようにして分布している。該主電極5,6タングステンピン5a,6aの外周面を凹凸面9にするとともに凹面9aに対して硬質微粒体10を分布させるには、例えば、硬質微粒体10となる硬質材料例えば、硬質な粒状物を主電極5,6タングステンピン5a,6aの外周面の高圧で吹き付けることで達成できる。すなわち、本実施形態においては、硬質な粒状物を処理の対象となる主電極5,6又は主電極5,6になる前の金属棒タングステンピン5a,6aに対してショットブラストによる表面処理を行うことで主電極5,6の外周面を凹凸面9にしつつ該凹凸面9に対して硬質微粒体10を減り込んだ態様で分布させている。このような表面処理を行うことで、硬質な粒状物が主電極5,6又は主電極5,6になる前の金属棒の外周面に衝突して該外周面が凹凸面9となり、また、粒状物に混入した微粒体硬質微粒体10や外周面に対する衝突による衝撃で粒状物が粉砕して微粒化した微粒体硬質微粒体10が主電極5,6又は主電極5,6になる前の金属棒の外周面凹凸面9の凹面9aに突き刺さって該外周面に減り込んだ状態で分布することになる。本実施形態では、酸化アルミニウムをタングステンピン5a,6aに吹き付けるようにして主電極5,6タングステンピン5a,6aの外周面を凹凸に形成している。従って、本実施形態に係る主電極5,6は、タングステンピン5a,6aの外周面凹面9aに酸化アルミニウムからなる多数の硬質微粒体10が減り込んだ状態になっている。すなわち、多数の硬質微粒体10は、全体がタングステンピン5a,6aの外周面より奥まった位置に減り込んでいたり、一部がタングステンピン5a,6aの外周面から外方に突出させつつ残りの部分がタングステンピン5a,6aの奥まった位置に減り込んだりしている。本実施形態に係る主電極5,6は、凹凸面9上に硬質微粒体10が1.03~2.34の割合で存在している。すなわち、前記多数の硬質微粒体10は、主電極5,6の外周面である凹凸面9上で1.03~2.34の付着率で分布している。これにより、本実施形態に係る閃光放電管1は、ビードガラス3,4が主電極5,6タングステンピン5a,6aの外周形状に即した状態で密着している。すなわち、ビードガラス3,4は、上述の如く、加熱溶融されることで、ガラスバルブ2管体の開口部及び主電極5,6と溶着しているため、主電極5,6の凹凸面9及び該凹凸面9に対して減り込むようにして分布した硬質微粒体10に沿った状態でこれらに密着している。すなわち、本実施形態に係る閃光放電管1は、ビードガラス3,4が硬質微粒体10の周囲に回り込んだり、ビードガラス3,4側に硬質微粒体10が突出してビードガラス3,4に対してアンカーとして機能したりしており、主電極5,6の外周面に対するビードガラス3,4の接続強度が高まって主電極5,6の外周面に対するビードガラス3,4の密着性及び接着性が向上している。従って、本実施形態に係る閃光放電管1は、ビードガラス3,4と主電極5,6との間が確実に封止されることになり、ガラスバルブ2内の希ガスのリークが防止される。以上のように、本実施形態に係る閃光放電管1は、主電極5,6における少なくともビードガラス3,4が溶着される領域の外周面が凹凸面9で構成され、該凹凸面9に対して硬質微粒体10が減り込むような態様で分布しているため、ビードガラス3,4と主電極5,6との接続強度を高めてビードガラス3,4と主電極5,6との間を確実に封止することができるという優れた効果を奏し得る。また、本実施形態に係る閃光放電管1は、硬質微粒体10が酸化アルミニウムの微粒とされているため、ビードガラス3,4が硬質微粒体10になじみ易くなり、これらの接着性や密着性をより高いものにすることができる。さらに、硬質微粒体10は、主電極5,6の凹凸面9に対して1.03~2.34の付着率で分布しているため、製造時の不良品の発生を抑えつつビードガラス3,4と主電極5,6との接続強度を好適なものにすることができる。なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更を加え得ることは勿論のことである。上記実施形態において、主電極5,6タングステンピン5a,6aに対してショットブラストを行うことで、主電極5,6の外周面を凹凸面9にしつつ該外周面凹凸面9に硬質微粒体10を減り込ませた状態にして分布させるようにしたが、これに限定されるものではなく、例えば、主電極5,6となる金属材料同士或いは主電極5,6となる金属材料と他の素材とを擦り合わせたり押し付けたりすることで、該主電極5,6の外周面に凹凸面9を形成した後に、硬質微粒体10を主電極5,6の凹凸面9に押し付けて減り込ませるようにしてもよい。上記実施形態において、タングステンピン5a,6aとニッケルピン5b,6bとを付き合わせて主電極5,6を形成したが、これに限定されるものではなく、例えば、主電極5,6を単一な金属材料で構成してもよい。すなわち、主電極5,6を一本のタングステンピン5a,6aで構成したり、他の金属材料で構成したりしてもよい。但し、主電極5,6は、少なくともビードガラス3,4の溶着する領域がビードガラス3,4と熱膨張係数が等しい又は近似する材料で構成することが好ましいことは言うまでもない。上記実施形態において、硬質微粒体10を酸化アルミニウムとしたが、これに限定されるものではなく、その他の金属材料であってもよい。また、硬質微粒体10は、金属に限定されるものではなく、工業用ダイヤモンドやセラミック等の無機質材料であってもよい。すなわち、硬質微粒体10は、該主電極5,6の表面に押し付けたり吹き付けたりすることで主電極5,6の外周面に減り込むことのできる硬度を有するものであればよい。本発明者は、硬質微粒体の分布状態付着率と希ガスのリーク主電極とビードガラスとの間からの漏れの発生状況との関係を把握するための確認試験を行った。より具体的に説明すると、本発明者は、主電極のビードガラスと密着させる部分をタングスピンとし、該タングステンピンの外周面が凹凸面をなして該凹面に酸化アルミニウムアルミナからなる硬質微粒体が減り込んで分布したもの試料とした。そして、高温高湿試験により上記試料主電極を備えた閃光放電管を対象に、高温高湿試験温度65°C、湿度95、時間1000hでビードガラスと試料主電極との間からの希ガスの漏れリークの確認を行った。そして、走査型電子顕微鏡を用いたエネルギー分散型X線分析SEM-EDS法により、一本の試料主電極の外周面上の5カ所のそれぞれでの硬質微粒体の付着率を測定し、さらにその5カ所での付着率の平均値を一本の試料における硬質微粒体の単位面積当りの付着率として算出した。かかる表面分析を行うに当り、各箇所に対する測定対象の深さは、約1μmとし、各箇所の測定範囲を3000μm22000倍拡大とした。試料の表面分析硬質微粒体の付着率は、表1及び表2の通りである。そして、上述の如く高温高質試験を行った結果、表1に示す試料No1~10を備えた閃光放電管では希ガスのリークが一切認められなかったが、表2に示す試料No11~20を主電極として備えた閃光放電管の35がビードガラスと試料主電極との間から希ガスの漏れが発生した。すなわち、主電極の表面に硬質微粒体が減り込んだ状態で存在すれば、主電極とビードガラスとの間からの希ガスの漏れを防止でき、硬質微粒体の単位面積当りの付着率を1.03~2.34にすれば製造時の不良品ビードガラスと主電極との間から希ガスが漏れるものの発生を確実に防止でき、硬質微粒体の単位面積当りの付着率を0.5~1にすれば製造時に不良品が僅かながら発生した。従って、上記確認試験により、ビードガラスと主電極との間から希ガスの漏れが発生することを防止する観点では、主電極の外周面に硬質微粒体が減り込んだ状態で存在すればよいが、製造時の不良品の発生を防止する観点を考慮すれば、硬質微粒体の単位面積当りの付着率を1.03~2.34の主電極を採用することがよいことを確認できた。"