"動かされる線状供試品9の容量による検査装置であって、異なる幾何学的寸法を持ちかつ供試品9が正確に1つの通過口102.2を通って供試品の長手軸線に沿って移動可能であるように相対配置されている少なくとも2つの通過口102.1~102.4、少なくとも2つの通過口102.1~102.4のうち正確に1つの選ばれた1つの通過口102.1を通って正確に1つの供試品9を搬送する搬送装置91、及び容量による測定回路1を持ち、容量による測定回路1が、供試品9を受入れるようにそれぞれ設計されている少なくとも2つの測定コンデンサ2.1~2.4、少なくとも1つの交流信号を少なくとも2つの測定コンデンサ2.1~2.4へ印加するように構成されている発生器手段4.1,4.2、及び測定コンデンサ2.1~2.4のうち少なくとも1つの測定コンデンサの出力信号を出力する少なくとも1つの導線5,5.1~5.4を含み、少なくとも2つの測定コンデンサ2.1~2.4の各々が、少なくとも2つの通過口102.1~102.4のうち1つの通過口に付属して、その容量C2が関係する通過口102.2にある供試品9の影響を受けることができるものにおいて、容量による測定回路1が電気的に操作可能な選択手段7,8.1~8.8,8.11~8.14を持ち、これらの手段により、すべての測定コンデンサ2.1~2.4の集合のうち真部分集合2.2が選択されて、選択された部分集合2.2のみが測定に寄与することができることを特徴とする装置。各測定コンデンサ2.1~2.4に、測定を妨げる影響を補償する補償コンデンサ3.1~3.4が付属し、各測定コンデンサ2.2とそれに付属する補償コンデンサ3.2が、直列接続されるコンデンサ対2.2,3.2を形成している、請求項1に記載の装置。導線5,5.2が、コンデンサ対2.2,3.2を形成する測定コンデンサ2.2と補償コンデンサ3.2との間で出力信号を取出す、請求項2に記載の装置。選択手段が開閉器8.1~8.8として構成され、これらの開閉器により、発電手段4.1,4.2と各測定コンデンサ2.1~2.4との間の電気接続が、個々に確立可能又は遮断可能である、先行する請求項の1つに記載の装置。発電手段4.1,4.2が同じ大きさただし逆位相の交流信号を少なくとも2つの測定コンデンサ2.1~2.4又は少なくとも2つの補償コンデンサ3.1~3.4へ印加するように構成され、選択手段が、発生器手段4.1と各測定コンデンサ2.1~2.4との接続を個々に確立又は遮断可能にする開閉器8.1~8.4として、また発生器手段4.2と各補償コンデンサ3.1~3.4との電気接続を個々に確立又は遮断可能にする開閉器8.5~8.8として、構成されている、請求項4に記載の装置。各測定コンデンサ2.2に少なくとも1つの開閉器8.2,8.6が付属し、すべての測定コンデンサ2.1~2.4が出力信号を出力する共通な導線5に接続可能である、請求項4又は5に記載の装置。選択手段が、発生器手段4.1,4.2と各測定コンデンサ2.1~2.4との電気接続を確立又は遮断可能な開閉器8.1~8.8として、かつ各コンデンサ2.1~2.4と共通な導線5との電気接続を個々に確立又は遮断可能な開閉器8.11~8.14として構成されている、請求項6に記載の装置。各測定コンデンサ2.1~2.4に、その出力信号を出力する個々の導線5.1~5.4が付属し、選択手段が、測定コンデンサ2.1~2.4の選択された部分集合2.2から発する出力信号のみを選択可能なマルチプレクサ7として構成されている、先行する請求項の1つに記載の装置。先行する請求項の1つに記載の装置における線状供試品9の容量による検査方法であって、供試品9が少なくとも2つの通過口102.1~102.4のうち正確に1つの通過口102.2へ導入され、この通過口を通って供試品の長手軸線に沿って移動され、他の通過口102.1,102.3,102.4には供試品がなく、供試品9が、関係する通過口102.2に付属する測定コンデンサ2.2の容量C2に影響を及ぼし、関係する通過口102.2に付属する測定コンデンサ2.2に、発生器手段4.1,4.2から少なくとも1つの交流信号が印加され、少なくとも1つのコンデンサ2.1~2.4の出力信号が出力されるものにおいて、すべての測定コンデンサ2.1~2.4の集合の真部分集合2.2が、電気的に操作可能な選択手段7,8.1~8.8により選択されて、選択された部分集合2.2のみが測定に寄与することを特徴とする方法。測定を妨げる影響が、各測定コンデンサ2.1~2.4に付属する補償コンデンサ3.1~3.4によって補償される、請求項9に記載の方法。選択のため、少なくとも1つの交流信号が、選択された部分集合2.2のみに印加され、選択された部分集合2.2に対する補集合2.1,2.3,2.4から遮断される、請求項9又は10に記載の方法。すべての測定コンデンサ2.1~2.4の出力信号が一緒に出力される、請求項11に記載の方法。選択された部分集合2.2の出力信号のみが出力され、選択された部分集合2.2に対する補集合2.1,2.3,2.4の出力信号は棄却される、請求項9~11の1つに記載の方法。選択のため、少なくとも1つの交流信号が選択された部分集合2.2へのみ印加され、他方この交流信号は、選択された部分集合2.2に対する補集合2.1,2.3,2.4からは切離され、選択された部分集合2.2の出力信号のみが出力され、他方選択された部分集合2.2に対する補集合2.1,2.3,2.4の出力信号は棄却される、請求項11又は13に記載の方法。少なくとも1つの交流信号がすべての測定コンデンサ2.1~2.4へ印加され、選択された部分集合2.2の出力信号のみが出力される、請求項13に記載の方法。本発明の課題は、欧州特許出願公開第0924518号明細書に記載の装置及び方法を改良することである。特に測定感度が高められ、負荷容量が減少されるようにする。通過口の数が減少され、同時に非常に細い供試品を測定する可能性が与えられるようにする。信号対雑音比が高められるようにする。測定回路の作動電圧が低下され、それにより消費電力が減少されるようにする。安価な部品の使用により製造費が低減されるようにする。通過口の埃まみれの影響が少なくなるようにする。これら及び他の課題は、独立請求項に規定されているような本発明による装置及び本発明による方法によって解決される。有利な実施形態は従属請求項に示されている。本発明は、測定の際、ちょうど供試品が存在する測定コンデンサのみを考慮し、すべての他の測定コンデンサは考慮されないままである、という考えに基いている。それにより自然数であるで、すべてのコンデンサが同じ容量を持っていると仮定して、本発明による測定回路の感度は、公知の測定回路に対して理論的に係数nだけ高められることを、計算が示している。これは全く著しい改善を表している。感度が高められることの利点は、測定回路の若干複雑な構成の欠点によってあがなわれる。即ち考慮すべき測定コンデンサの選択のために、電気的に操作可能な選択手段例えばマルチプレクサ又は複数の開閉器が必要になる。本発明により動かされる線状供試品の容量による検査装置は、異なる幾何学的寸法を持ちかつ供試品が正確に1つの通過口を通って供試品の長手軸線に沿って移動可能であるように相対配置されている少なくとも2つの通過口を持っている。更に装置は、少なくとも2つの通過口のうち正確に1つの選ばれた1つの通過口を通って正確に1つの供試品を搬送する搬送装置を持っている。最後に装置は、容量による測定回路を備えている。測定回路が、供試品を受入れるようにそれぞれ設計されている少なくとも2つの測定コンデンサを含み、少なくとも2つの測定コンデンサの各々が、少なくとも2つの通過口のうち1つの通過口に付属して、その容量が関係する通過口にある供試品の影響を受けることができるようになっている。測定回路が少なくとも1つの交流電気信号を少なくとも2つの測定コンデンサへ印加するように構成されている発生器手段も含んでいる。測定回路が更に測定コンデンサのうち少なくとも1つの測定コンデンサの出力信号を出力する少なくとも1つの導線を含んでいる。容量による測定回路が電気的に操作可能な選択手段を持ち、これらの手段により、すべての測定コンデンサの集合のうち真部分集合が選択されて、選択された部分集合のみが測定に寄与することができる。測定コンデンサの選択される部分集合が、なるべく正確に1つの測定コンデンサ、即ち供試品が導入される測定コンデンサを含んでいる。この明細書において使用される表現真部分集合及び補集合は、カントールの集合論の意味で理解すべきである。即ちBの各要素がAにも含まれており、Aが更にBに含まれていない別の要素を含んでいる場合、集合Bは超集合Bの真部分集合であるB⊂A。Bに対する補集合A\Bは、Bに含まれていないAの要素を含んでいる。更に本発明の意味において選択される部分集合は空ではなく、即ち少なくとも1つの測定コンデンサを含んでいるようにする。好ましい実施形態では、少なくとも2つの測定コンデンサが互いに並列接続されている。各測定コンデンサに1つの補償コンデンサが付属している。補償コンデンサは、局部的湿度変化又はコンデンサ形状の変形のように測定を妨げる影響を補償するために使用されるが、供試品を受入れるためには使用されない。各補償コンデンサの容量は、それが付属している測定コンデンサの容量と同じ大きさであるようにする。各測定コンデンサとそれに付属する補償コンデンサが、直列接続されるコンデンサ対を形成しているのがよい。測定コンデンサとそれに付属する補償コンデンサが直列接続されていると、導線が測定コンデンサとそれに付属する補償コンデンサとの間で出力信号を取出す。本発明による測定回路における選択手段の構成に関して、あるやり方で互いに相補的な次の2つの実施形態が好まれる。a第1の実施形態によれば、選択手段が開閉器として構成され、これらの開閉器により、交流信号発生器と各測定コンデンサとの間の電気接続が、個々に確立可能又は遮断可能である。各測定コンデンサに少なくとも1つの開閉器が付属し、すべての測定コンデンサが出力信号を出力する共通な導線に接続されている。b第2の実施形態によれば、選択手段が、測定コンデンサの選択された部分集合から発する出力信号のみを選択可能なマルチプレクサとして構成されている。すべての測定コンデンサが少なくとも1つの交流信号発生器に接続され、各測定コンデンサに、それぞれの出力信号を出力する個々の導線が付属している。これらの実施形態は、その相補性にもかかわらず、必要な場合互いに組合わせることができる。本発明による方法は、本発明による装置において線状供試品の容量による検査に用いられる。その際供試品が少なくとも2つの通過口のうち正確に1つの通過口へ導入され、この通過口を通って供試品の長手軸線に沿って移動され、他の通過口には供試品がない。供試品が、関係する通過口に付属する測定コンデンサの容量に影響を及ぼす。関係する通過口に付属する測定コンデンサに、発生器手段から少なくとも1つの交流信号が印加される。少なくとも1つのコンデンサの出力信号が出力される。すべての測定コンデンサの集合の真部分集合が、電気的に操作可能な選択手段により選択されて、選択された部分集合のみが測定に寄与する。選択された部分集合の補集合はこうして棄却されるので、測定に寄与しない。好ましい実施形態では、測定を妨げる影響が、各測定コンデンサに付属する補償コンデンサによって補償される。本発明による方法も、実質的に本発明による測定回路の実施形態に相当する2つの好ましい実施形態を持っている。a少なくとも1つの交流信号が、選択された部分集合のみに印加され、選択された部分集合に対する補集合から遮断される。すべての測定コンデンサの出力信号が一緒に即ちただ1つの共通な導線上に出力される。b選択された部分集合の出力信号のみが出力され、選択された部分集合に対する補集合の出力信号は棄却される。少なくとも1つの交流信号がすべての測定コンデンサへ印加される。ここでも両方の実施形態の組合わせが可能である。本発明と国際公開第2005/003697号及び米国特許出願公開第3731069号明細書の教示との若干の相違が以下にリストアップされる。国際公開第2005/003697号及び米国特許出願公開第3731069号明細書は、同じ通過口を開示している。これに反し本発明によれば、通過口は異なる供試品直径に対して異なる幾何学的寸法を持っている。国際公開第2005/003697号及び米国特許出願公開第3731069号明細書によれば、複数の糸の同時測定が行われ、これらの糸の各々が固有の通過口を通して動かされる。これに反し本発明によれば、正確に1つの供試品のみが一度に検査されるようにする。複数の通過口は、供試品のできるだけ大きい直径範囲をカバーするために、使用可能にされるだけである。国際公開第2005/033697号及び米国特許出願公開第3731069号明細書によれば、容量測定信号は連続的に又は逐次共通な評価電子装置へ供給される。これらの連続は、できるだけ速く1秒当たりしばしば反復されて、すべての糸からできるだけ多くの測定データが得られるようにする。これに反し本発明によれば、個々の測定コンデンサの測定信号の順次読取りは行われない。測定コンデンサの部分集合の本発明による選択は、一度行われた選択は供試品の測定中に変わらない。このような供試品は少なくとも10mの長さであり、同じ供試品における測定期間は例えば少なくとも10Sである。本発明は欧州特許出願公開第924518号明細書に対して一連の利点を伴い、その若干を以下にあげる。感度の改善。供試品によって生じる測定コンデンサの容量変化は、測定回路の出力信号へ直接入り込み、並列接続される他の測定スリットにより今までのようには弱められない。同じ容量のn個の測定コンデンサでは、感度が理論的に係数nだけ高まる。信号対雑音比の上昇。上述したように、感度が高まる。しかし測定回路の雑音は同じままである。従って信号対雑音比の同じ容量のn個の測定コンデンサにおいて係数nだけの上昇が生じる。非常に細い繊維供試品の測定。一層高い感度は、例えば非常に細い糸を測定するために使用される。この局面は特に化学繊維において関心を引くであろう。測定スリットの数の減少。今まで非常に細い繊維供試品は、非常に小さい電極間隔を持つ測定スリットで測定せねばならなかったが、本発明により、同じ供試品をもっと幅の広い測定スリットにおいて測定できる。一層高い感度のため、一層幅の広い測定スリットからの信号でもまだ十分である。発生器電圧の低下。一層高い感度は、測定回路を一層低い発生器電圧で作動させるのを可能にする。これにより消費電力の減少及び一層少ない加熱が行われる。更に測定回路を構成するために、出力段の要求を満たしかつ一層安価な多くの部品を使用できる。負荷容量の減少。本発明は測定回路の全容量を減少する。それにより一層少ない負荷の能動出力段は一層少なく加熱され、有害な振動の傾向が少なくなる。塵埃形成問題の緩和。特に高い引出し速度では、ある種の糸が多くの塵埃を発生することがある。塵埃は現在使用される測定スリットに堆積するが、他の測定スリットにも堆積し、それにより出力信号のドリフトが生じる。このドリフトは、本発明により、現在使用されない測定スリットが出力信号へあまり影響を及ぼさないことによって、少なくとも弱められる。本発明の好ましい実施例が、図面により以下に詳細に説明される。比較のため従来技術も示されている。図3は本発明による測定回路1の第1実施例の概略図を示す。この測定回路1は、平らな板コンデンサとして形成できる例えば4つの測定コンデンサ2.1~2.4を持っている。例えば図1に示すように、各測定コンデンサ2.1~2.4は通過口102.1~102.4に付属している。図1に記入されている電極103.1,103.2は、例えば図3の測定コンデンサ2.2の電極であってもよい。異なる幅の通過口102.1~102.4に応じて、それらに付属する測定コンデンサも異なる電極間隔を持っている。図3に示すように、通過口又は測定コンデンサ2.1~2.4は、繊維供試品9がそれぞれ正確に1つの測定コンデンサ2.2へ導入可能であるように設けられている。この目的のため、測定コンデンサ2.1~2.4は、そのコンデンサ板に対して直角な方向に互いにずらされている。これに反しコンデンサ板に対して平行な方向におけるずれは必要でなく、測定回路1の素子をわかり易く示すことができるようにするためにのみ図3に記入されている。繊維供試品9は、測定中にその長手方向に沿って、測定コンデンサ2.1~2.4の正確に1つを通って動かされる。図3の例では、これは第2の測定コンデンサ2.2である。供試品9の移動は搬送装置91によって行われ、移動方向は矢印92で示されている。搬送装置は、例えば公知のように共同作用する2つの搬送ローラを持つローラ供給機構として構成可能で、搬送ローラの少なくとも1つが駆動されている。搬送装置91は、すべての通過口102.1~102.4から選ばれた正確に1つの通過口102.2を通って正確に1つの供試品9を搬送するために設けられている。測定回路1は更に、それぞれ1つの測定コンデンサ2.1~2.4に付属してこれと共にコンデンサ対を形成する4つの補償コンデンサ3.1~3.4を持っている。測定コンデンサ2.1とこれに付属する補償コンデンサ3.1は、できるだけ同じ容量を持つようにされ、直列接続されている。測定コンデンサ2.1~2.4の容量は互いに同じであるか又は相違していてもよい。測定コンデンサ2.1~2.4は縦長の繊維供試品9例えば糸を受入れるように設計され、これに反し補償コンデンサ3.1~3.4はそのように設計されていない。交流信号発生器4.1,4.2は、互いに逆対称の2つの交流信号をコンデンサ対2.1,3.1~2.4,3.4へ印加する。即ち印加される両方の交流信号と一定の基準信号との差は数値的に同じであるが、180°だけ位相が互いにずれている。ただ1つの交流信号発生器又は複数の交流信号発生器4.1,4.2を使用することができる。少なくとも1つの交流信号発生器4.1,4.2は、欧州特許出願公開第0924518号明細書に記載されているように、測定回路1の素子2.1~2.4,3.1~3.4と共に電気振動回路を形成するLC発振器として構成することができる。その代わりに、測定回路1の素子2.1~2.4,3.1~3.4を少なくとも1つの交流信号発生器4.1,4.2とは切離して、国際公開第2010/043064号に記載されているように、少なくとも1つの交流信号発生器4.1,4.2により発生される交流信号のパラメータにあまり影響を及ぼさないようにすることができる。後者の場合少なくとも1つの交流信号発生器4.1,4.1がなるべくシンセサイザとして、即ちアナログ交流信号を発生する混合信号ディジタル及びアナログ装置として構成されている。直接ディジタルシンセサイザDDSが特に有利に使用される。こうして交流信号のパラメータ例えば基本周波数を自由に選ぶことができる。図2による従来技術とは異なり、図3では、出力信号が個々のコンデンサ対2.1,3.1~2.4,3.4の出力信号が個々に取出される。取出しは、測定コンデンサ2.1~2.4とそれに付属する補償コンデンサ3.1~3.4との間の導線5.1~5.4で行われる。4つの導線5.1~5.4はマルチプレクサ7に終わり、このマルチプレクサ7がこれらの導線からただ1つの導線5.2を選んで、その信号を出力導線72へ出力する。マルチプレクサ7は、例えばアナログ高周波マルチプレクサとして構成することができる。1つ又は複数の制御信号71が、マルチプレクサ7に、導線5.1~5.4のどれ又はどの出力信号を選ぶべきかを規定する。制御信号71は、公知のなるべくディジタルの図示しないドライバモジュールから供給することができる。従来技術から公知のように、マルチプレクサ7の前又は後の出力信号を処理例えば増幅しかつ/又は変換することができる。マルチプレクサ7の代わりに、コンデンサ対2.1,3.1~2.4,3.4を共通な導線に接続する個々の開閉器を設けることができる図5参照。次の表は、図2及び3による回路1′,1の特性を比較している。その際次の仮定が行われる。交流信号発生器4.1′,4.2′又は4.1,4.2により印加される交流電圧は、アー供試品9′又は9は、容量C2を持つ第2の測定コンデンサ2.2′又は2.2である。Uはアースに対して取出される出力電圧である。すべてのコンデンサ2.1′~2.4′,3.1′~3.4′は、供試品なしで同じ容量Cを持っている。寄生容量は無視される。本発明による測定回路1は、従来技術による測定回路1′より4倍小さい全容量Ctotことがわかる。この係数n=4だけの感度上昇から、最初に述べた本発明の利点が生じる。の理論的命題は一部実験で既に確認されているが、実験結果は寄生容量のため理論的予測より多少悪い。いずれにせよ本発明に実際の効用は証明されている。1つより多い測定コンデンサの選択は、例えば大きい密度又は大きい誘電定数を持つ供試品において、出力信号の適切な減衰を行うために有利であろう。図4には、同様に4つのコンデンサ対2.1,3.1~2,4,3.4を持つ本発明による測定回路1の第2実施例が示されている。ここではコンデンサ対2.1,3.1~2,4,3.4と交流信号発生器4.1,4.2との電気接続を個々に遮断しかつ行うことができる。これは、適当ななるべくディジタル制御信号により行われる。開閉器8.1~8.8は例えば継電器又はアナログ半導体開閉器として構成することができる。一方のコンデンサ対2.1,3.1に付属する開閉器対8.1,8.5はなるべく連結されて、並列接続され、即ち両方の開閉器8.1,8.5は、両方が開かれるか又は閉じられている。制御信号は、公知のなるべくディジタルの図示しないドライバモジュールから供給することができる。補償により利益を得るため、かつ測定回路1を動作点U=0で作動させるため、コンデンサ対2.2,3.2に付属する開閉器8.2,8.6が両方開かれるか又は両方閉じられるようにする。ちょうど1つのコンデンサ対2.2,3.2例えば第2のコンデンサ対が交流信号発生器4.1,4.2に接続され、すべての他のコンデンサ対2.1,3.1;2.3,3.3;2,4,3.4が交流信号発生器4.1,4.2から遮断されていると、最大の利点が生じる。この第2の実施例では、従来技術の場合のように、ただ1つで導線5がすべてのコンデンサ対2.1,3.1~2,4,3.4を信号処理装置6に接続することができる。この場合マルチプレクサは必要でない。図3の実施例と図4の実施例との間に一種の相補性がある。第1実施例では、すべてのコンデンサ対2.1,3.1~2,4,3.4が交流信号発生器4.1,4.2に接続されたままであり、その代わりに供試品9を通される測定コンデンサ2.2に付属する出力信号用導線5.2のみが接続され、他の導線5.1,5.3,5.4は遮断されている。第2実施例では、測定コンデンサ2.2に供試品9を通されるコンデンサ対2.2,3.2のみが交流信号発生器4.1,4.2に接続され、他のコンデンサ対2.1,3.1;2.3,3.3;2,4,3.4は遮断され、その代わりにコンデンサ対2.1,3.1~2,4,3.4が出力信号用の共通な導線5に接続されたままである。図5は本発明による測定回路1の第3実施例を示す。この第3実施例は図3と図4の実施例の統合を表している。コンデンサ対2.1,3.1~2,4,3.4と共通な導線5との間の開閉器8.11~8.14も、交流信号発生器4.1,4.2とコンデンサ対2.1,3.1~2,4,3.4との間の開閉器8.1~8.8も存在する。コンデンサ対2.1,3.1に付属する3つの開閉器8.1,8.5,8.11は、それらが並行して開閉され、即ち3つの開閉器8.1,8.5,8.11がすべて開かれているか又はすべて閉じられているように連結されているのがよい。これは図5に破線で示されている。開閉器8.1~8.8,8.11~8.14は、例えば継電器として又はアナログ半導体開閉器として構成することができる。選択されないコンデンサ対2.1,3.1;2.3,3.3;2,4,3.4の二重分離のため、寄生結合、負荷容量及び出力容量が減少され、このことが特に有利である。本発明による測定回路1は、供試品なしの零平衡用平衡手段を含むことができる。このような平衡手段は、例えば欧州特許出願公開第0924518号明細書、国際公開第2010/043063号及び国際公開第2010/043065号から公知である。平衡手段は、簡単にするため図面には示してない。本発明が上述した実施例に限定されないことは自明である。本発明を知れば、当業者は本発明の対象に属するそれ以外の変形例を誘導することができる。"