放射線の入射量に応じた電気信号を蓄積する複数の画素がマトリクスに配列され、放射線源による放射線の照射を受けて放射線画像を検出する画像検出手段と、照射中の前記放射線の単位時間当たりの線量を表す放射線の強度を測定する強度測定手段と、前記強度測定手段の測定結果に基づいて、前記放射線の強度が下降を開始したか否かを判定して、下降を開始したと判定したときに前記放射線の照射が終了したことを検出する照射終了検出手段と、前記照射終了を検出後、前記画素に前記電気信号を蓄積させる蓄積動作を終了させて、前記画素から前記電気信号を読み出す読み出し動作を開始させる制御手段と、前記放射線の強度が下降するときの曲線の傾きに基づいて、前記制御手段が前記読み出し動作を開始させる読み出し開始タイミングを決定する読み出し開始タイミング決定手段とを備えていることを特徴とする放射線画像検出装置。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記強度測定手段の前記測定結果から、前記曲線の傾きを算出し、算出した前記傾きに応じて前記読み出し開始タイミングを決定することを特徴とする請求項1記載の放射線画像検出装置。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記照射終了が検出された時点における前記曲線の傾きを算出することを特徴とする請求項2記載の放射線画像検出装置。前記照射終了検出手段は、前記放射線の強度が第1閾値以下になったときに、前記放射線の強度が下降を開始したと判定することを特徴とする請求項2又は3に記載の放射線画像検出装置。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記傾きに応じて前記読み出し動作を開始させるまでの遅延時間を決定し、前記制御手段は、前記遅延時間経過後に前記読み出し動作を開始させることを特徴とすることを特徴とする請求項4に記載の放射線画像検出装置。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記傾きに応じて前記第1閾値よりも低い第2閾値を決定し、前記制御手段は、前記放射線の強度が前記第2閾値以下になったときに前記読み出し動作を開始させることを特徴とする請求項4に記載の放射線画像検出装置。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記強度測定手段の測定結果から得られる、照射された前記放射線の総線量又は強度のピーク値に基づいて、前記遅延時間又は前記第2閾値を調整することを特徴とする請求項5又は6に記載の放射線画像検出装置。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記曲線の傾きと相関を有する情報を取得して、取得した情報に基づいて読み出し開始タイミングを決定することを特徴とする請求項1記載の放射線画像検出装置。前記曲線の傾きと相関を有する情報は、前記放射線源が照射を開始して前記放射線の強度が上昇するときの曲線の傾きであることを特徴とする請求項8記載の放射線画像検出装置。前記曲線の傾きと相関を有する情報は、前記放射線源を駆動するための管電圧の情報であることを特徴とする請求項8記載の放射線画像検出装置。前記複数の画素の一部は、前記電気信号を読み出すための信号線と常時短絡し、前記放射線の入射量に応じた電気信号を前記信号線に常時出力する短絡画素であり、前記強度測定手段は、前記信号線を通じて前記短絡画素の電気信号の出力値を監視して前記放射線の強度を測定することを特徴とする請求項1~10のいずれか1項に記載の放射線画像検出装置。複数の前記短絡画素がそれぞれ接続された複数の前記信号線を有しており、前記強度測定手段は、前記複数の信号線のうち、前記出力値が最大の信号線を選択して、前記放射線の強度を測定することを特徴とする請求項11に記載の放射線画像検出装置。放射線の入射量に応じた電気信号を蓄積する複数の画素がマトリクスに配列され、放射線源による放射線の照射を受けて放射線画像を検出する放射線画像検出装置の制御方法において、照射中の前記放射線の単位時間当たりの線量を表す放射線の強度を測定する強度測定ステップと、測定された前記放射線の強度に基づいて、前記放射線の強度が下降を開始したか否かを判定して、下降を開始したと判定したときに前記放射線の照射が終了したことを検出する照射終了検出ステップと、前記照射終了検出後、前記画素に前記電気信号を蓄積させる蓄積動作を終了させて、前記画素から前記電気信号を読み出す読み出し動作を開始させる制御ステップと、前記制御ステップにおいて、前記放射線の強度が下降するときの曲線の傾きに基づいて、読み出し動作を開始させる読み出し開始タイミングを決定する読み出し開始タイミング決定ステップとを有することを特徴とする放射線画像検出装置の制御方法。しかしながら、特許文献1に記載のFPDのように、照射終了の検出時点を基準に読み出し開始タイミングが一律に設定されていると、次のような問題があった。X線源は、停止指令に対する応答が緩慢であり、停止指令を受けると、X線の強度が徐々に下降するが、下降を開始してからX線の強度が0になる完全停止状態までのタイムラグが長く、いわゆるX線の尾引を生じる。X線の尾引の長さは、X線源を駆動するための管電圧によって変化する。管電圧が低い場合には、停止指令を受けた後のX線の強度の下降曲線は比較的急峻であり、X線の尾引は短い。一方、管電圧が高い場合には、X線の強度の下降曲線が緩やかであり、X線の尾引は長くなる。管電圧は撮影毎に異なるので、X線の尾引の長さも撮影毎に変化する。そのため、照射終了の検出時点から読み出し開始タイミングまでの時間が一定であると、X線の尾引の長短によって、X線の尾引終了タイミングと読み出し開始タイミングが大きくずれてしまう場合がある。例えば、X線の尾引が短い場合管電圧が低い場合に合わせて読み出し開始タイミングまでの時間を短くすると、X線の尾引が長い場合管電圧が高い場合には、尾引途中に読み出し動作が開始されることになり、一方、X線の尾引が長い場合に合わせて読み出し開始タイミングまでの時間を長くすると、X線の尾引が短い場合には、尾引終了からかなり遅れて読み出し動作が開始されることになる。X線の尾引途中においては、強度は徐々に低下するもののX線の照射は継続しているので、X線の尾引途中に蓄積動作を終了して読み出し動作が開始されると、蓄積動作終了後に照射されるX線は画像信号に反映されない無駄なX線となってしまう。無駄なX線が多いと画像のS/N比は低下する。また、X線の尾引途中に読み出し動作が開始されると、シェーディング状のアーチファクトを発生させる原因にもなる。シェーディング状のアーチファクトは、画像内の一方向に生じる濃度勾配として現れる。読み取り動作は、ライン単位でTFTを順次オンして1画面分の画像を読み取る方式であるため、1行目のラインの読み取りから最終行のラインの読み取りまでの間には時間差があり、1行目のラインよりも最終行のラインに向かうほど蓄積時間が長い。そのため、1画面の読み取り動作中にX線が照射されていると、最終行のラインに向かうほど線量が高くなり、画像の濃度が高くなる。これにより、画像内の読み取り方向ラインと直交する列方向にシェーディング状のアーチファクトが発生する。一方、フォトダイオードはX線が照射されていない間も暗電流を発生するため、X線の尾引終了後、X線の照射が無い状態で読み出し動作を開始させずに蓄積動作を継続していると、暗電流に起因する暗電流ノイズが増加するため、これも画像のS/N比が低下する原因となる。したがって、画像のS/N比を向上するためには、読み出し開始タイミングと、X線の強度がほぼ0になるX線の尾引終了タイミングが一致するのが理想的である。こうした問題の解決策として、読み出し開始タイミングと尾引終了タイミングが一致するように、照射終了を検出するための閾値を、X線の強度がほぼ0になるレベルに低く設定することが考えられる。しかし、上述のとおり、フォトダイオードが発生する暗電流による誤検出の懸念があるため、照射終了を検出するための閾値を低くすることは採用し難い。特許文献1には、上記課題やその解決策について明示も示唆もない。本発明は、上記課題に鑑みてなされたもので、その目的は、X線の尾引の長さが変化してもS/N比が高い画像を得ることにある。本発明の放射線画像検出装置は、放射線の入射量に応じた電気信号を蓄積する複数の画素がマトリクスに配列され、放射線源による放射線の照射を受けて放射線画像を検出する画像検出手段と、照射中の前記放射線の単位時間当たりの線量を表す放射線の強度を測定する強度測定手段と、前記強度測定手段の測定結果に基づいて、前記放射線の強度が下降を開始したか否かを判定して、下降を開始したと判定したときに前記放射線の照射が終了したことを検出する照射終了検出手段と、前記照射終了を検出後、前記画素に前記電気信号を蓄積させる蓄積動作を終了させて、前記画素から前記電気信号を読み出す読み出し動作を開始させる制御手段と、前記放射線の強度が下降するときの曲線の傾きに基づいて、前記制御手段が前記読み出し動作を開始させる読み出し開始タイミングを決定する読み出し開始タイミング決定手段とを備えていることを特徴とする。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記強度測定手段の前記測定結果から、前記曲線の傾きを算出し、算出した前記傾きに応じて前記読み出し開始タイミングを決定することが好ましい。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記照射終了が検出された時点における前記曲線の傾きを算出することが好ましい。前記照射終了検出手段は、前記放射線の強度が第1閾値以下になったときに、前記放射線の強度が下降を開始したと判定することを特徴とすることが好ましい。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記傾きに応じて前記読み出し動作を開始させるまでの遅延時間を決定し、前記制御手段は、前記遅延時間経過後に前記読み出し動作を開始させることが好ましい。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記傾きに応じて前記第1閾値よりも低い第2閾値を決定し、前記制御手段は、前記放射線の強度が前記第2閾値以下になったときに前記読み出し動作を開始させてもよい。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記強度測定手段の測定結果から得られる、照射された前記放射線の総線量又は強度のピーク値に基づいて、前記遅延時間又は前記第2閾値を調整してもよい。前記読み出し開始タイミング決定手段は、前記曲線の傾きと相関を有する情報を取得して、取得した情報に基づいて読み出し開始タイミングを決定してもよい。前記曲線の傾きと相関を有する情報は、前記放射線源が照射を開始して前記放射線の強度が上昇するときの曲線の傾き、又は前記放射線源を駆動するための管電圧の情報である。前記複数の画素の一部は、前記電気信号を読み出すための信号線と常時短絡し、前記放射線の入射量に応じた電気信号を前記信号線に常時出力する短絡画素とし、前記強度測定手段は、前記信号線を通じて前記短絡画素の電気信号の出力値を監視して前記放射線の強度を測定してもよい。複数の前記短絡画素がそれぞれ接続された複数の前記信号線を有しており、前記強度測定手段は、前記複数の信号線のうち、前記出力値が最大の信号線を選択して、前記放射線の強度を測定することが好ましい。本発明の放射線画像検出装置の制御方法は、放射線の入射量に応じた電気信号を蓄積する複数の画素がマトリクスに配列され、放射線源による放射線の照射を受けて放射線画像を検出する放射線画像検出装置の制御方法において、照射中の前記放射線の単位時間当たりの線量を表す放射線の強度を測定する強度測定ステップと、測定された前記放射線の強度に基づいて、前記放射線の強度が下降を開始したか否かを判定して、下降を開始したと判定したときに前記放射線の照射が終了したことを検出する照射終了検出ステップと、前記照射終了検出後、前記画素に前記電気信号を蓄積させる蓄積動作を終了させて、前記画素から前記電気信号を読み出す読み出し動作を開始させる制御ステップと、前記制御ステップにおいて、前記放射線の強度が下降するときの曲線の傾きに基づいて、読み出し動作を開始させる読み出し開始タイミングを決定する読み出し開始タイミング決定ステップとを有することを特徴とする。本発明によれば、X線の強度が下降するときの曲線の傾きに基づいて、読み出し開始タイミングを決定するから、X線の尾引の長さが変化してもS/N比が高い画像を得ることができる。図1において、X線撮影システム10は、X線発生装置11と、X線撮影装置12とからなる。X線発生装置11は、X線源13と、X線源13を制御する線源制御装置14と、照射スイッチ15とで構成される。X線源13は、X線を放射するX線管13aと、X線管13aが放射するX線の照射野を限定する照射野限定器コリメータ13bとを有する。X線管13aは、熱電子を放出するフィラメントからなる陰極と、陰極から放出された熱電子が衝突してX線を放射する陽極ターゲットとを有している。照射野限定器13bは、例えば、X線を遮蔽する複数枚の鉛板を井桁状に配置し、X線を透過させる照射開口が中央に形成されたものであり、鉛板の位置を移動することで照射開口の大きさを変化させて、照射野を限定する。線源制御装置14は、X線源13に対して高電圧を供給する高電圧発生器と、X線源13が照射するX線の線質エネルギースペクトルを決める管電圧、単位時間当たりの線量を決める管電流、およびX線の照射時間を制御する制御部とからなる。高電圧発生器は、トランスによって入力電圧を昇圧して高圧の管電圧を発生し、高電圧ケーブルを通じてX線源13に駆動電力を供給する。管電圧、管電流、照射時間といった撮影条件は、線源制御装置14の操作パネルを通じて放射線技師などのオペレータにより手動で設定される。照射スイッチ15は、放射線技師によって操作され、線源制御装置14に信号ケーブルで接続されている。照射スイッチ15は二段階押しのスイッチであり、一段階押しでX線源13のウォームアップを開始させるためのウォームアップ開始信号を発生し、二段階押しでX線源13に照射を開始させるための照射開始信号を発生する。これらの信号は信号ケーブルを通じて線源制御装置14に入力される。線源制御装置14は、照射スイッチ15からの制御信号に基づいて、X線源13の動作を制御する。照射スイッチ15から照射開始信号を受けると、線源制御装置14は、X線源13に対して開始指令を発して電力供給を開始する。これによりX線源13は照射を開始する。線源制御装置14は、電力供給の開始とともに、タイマを作動させてX線の照射時間の計測を開始する。そして、撮影条件で設定された照射時間が経過すると、線源制御装置14は、X線源13に対して停止指令を発して電力供給を停止する。X線源13は、停止指令を受けるとX線の照射を停止させる。X線の照射時間は、撮影条件に応じて変化するが、静止画撮影の場合には、X線の最大照射時間が約500msec~約2s程度の範囲に定められている場合が多く、照射時間はこの最大照射時間を上限として設定される。X線撮影装置12は、電子カセッテ21、撮影台22、撮影制御装置23、およびコンソール24から構成される。電子カセッテ21は、FPD36図2参照と、FPD36を収容する可搬型の筐体とからなり、X線源13から照射されて被検者被写体Hを透過したX線を受けて被検者HのX線画像を検出する、可搬型の放射線画像検出装置である。電子カセッテ21は、平面形状が略矩形の偏平な筐体を有し、平面サイズはフイルムカセッテやIPカセッテと略同様の大きさである。撮影台22は、電子カセッテ21が着脱自在に取り付けられるスロットを有し、X線が入射する入射面がX線源13と対向する姿勢で電子カセッテ21を保持する。電子カセッテ21は、筐体のサイズがフイルムカセッテやIPカセッテと略同様の大きさであるため、フイルムカセッテやIPカセッテ用の撮影台にも取り付け可能である。なお、撮影台22として、被検者Hを立位姿勢で撮影する立位撮影台を例示しているが、被検者Hを臥位姿勢で撮影する臥位撮影台でもよい。撮影制御装置23は、有線方式や無線方式により電子カセッテ21と通信可能に接続されており、電子カセッテ21を制御する。具体的には、電子カセッテ21に対して撮影条件を送信して、FPD36の信号処理の条件を設定させるとともに、X線源13の照射タイミングとFPD36の蓄積動作を同期させるための同期信号をX線発生装置11から受信して、これを電子カセッテ21に送信することにより、X線源13とFPD36の同期制御を行う。また、撮影制御装置23は、電子カセッテ21が出力する画像データを受信してコンソール24に送信する。コンソール24は、患者の性別、年齢、撮影部位、撮影目的といった情報が含まれる検査オーダの入力を受け付けて、検査オーダをディスプレイに表示する。検査オーダは、HIS病院情報システムやRIS放射線情報システムといった患者情報や放射線検査に係る検査情報を管理する外部システムから入力されるか、放射線技師などのオペレータにより手動入力される。オペレータは、検査オーダの内容をディスプレイで確認し、その内容に応じた撮影条件をコンソール24の操作画面を通じて入力する。コンソール24は、撮影制御装置23に対して撮影条件を送信するとともに、撮影制御装置23から送信されるX線画像のデータに対して、ガンマ補正、周波数処理等の各種画像処理を施す。画像処理済みのX線画像はコンソール24のディスプレイに表示される他、そのデータがコンソール24内のハードディスクやメモリ、あるいはコンソール24とネットワーク接続された画像蓄積サーバといったデータストレージデバイスに格納される。図2において、FPD36は、TFTアクティブマトリクス基板を有し、この基板上にX線の入射量に応じた信号電荷を蓄積する複数の画素37を配列してなる撮像領域38を有する検出パネルと、画素37を駆動して信号電荷の読み出しを制御するゲートドライバ39と、画素37から読み出された信号電荷をデジタルデータに変換して出力する信号処理回路40と、ゲートドライバ39と信号処理回路40を制御して、FPD36の動作を制御する制御部41とを備えている。複数の画素37は、所定のピッチで二次元にn行x方向×m列y方向のマトリクスに配列されている。FPD36は、X線を可視光に変換するシンチレータ図示せずを有し、シンチレータによって変換された可視光を画素37で光電変換する間接変換型である。シンチレータは、画素37が配列された撮像領域38の全面と対向するように配置されている。シンチレータは、CsIヨウ化セシウムやGOSガドリニウムオキシサルファイドなどの蛍光体からなる。なお、X線を直接電荷に変換する変換層アモルファスセレン等を用いた直接変換型のFPDを用いてもよい。画素37は、可視光の入射によって電荷電子-正孔対を発生する光電変換素子であるフォトダイオード42、フォトダイオード42が発生した電荷を蓄積するキャパシタ図示せず、およびスイッチング素子として薄膜トランジスタTFT43を備える。フォトダイオード42は、a-Siアモルファスシリコンなどの半導体層例えばPIN型を有し、その上下に上部電極および下部電極が配されている。フォトダイオード42は、下部電極にTFT43が接続され、上部電極にはバイアス線図示せずが接続される。バイアス線を通じて、撮像領域38内の全画素37に対して、フォトダイオード42の上部電極にバイアス電圧が印加される。バイアス電圧の印加によりフォトダイオード42の半導体層内に電界が生じ、光電変換により半導体層内で発生した電荷電子-正孔対は、一方がプラス、他方がマイナスの極性を持つ上部電極と下部電極に移動し、キャパシタに電荷が蓄積される。TFT43は、ゲート電極が走査線47に、ソース電極が信号線48に、ドレイン電極がフォトダイオード42にそれぞれ接続される。走査線47と信号線48は格子状に配線されている。走査線47は撮像領域38内の画素37の行数分n行分設けられ、各走査線47は各行の複数の画素37に接続される共通配線である。信号線48は画素37の列数分m列分設けられ、各信号線48は各列の複数の画素37に接続される共通配線である。各走査線47はゲートドライバ39に接続され、各信号線48は信号処理回路40に接続される。ゲートドライバ39は、TFT43を駆動することにより、X線の入射量に応じた信号電荷を画素37に蓄積する蓄積動作と、画素37から信号電荷を読み出す読み出し動作と、画素37に蓄積される電荷をリセットするリセット動作とを行わせる。制御部41は、ゲートドライバ39によって実行される上記各動作の開始タイミングを制御する。蓄積動作ではTFT43がオフ状態にされ、その間に画素37に信号電荷が蓄積される。読み出し動作では、ゲートドライバ39から同じ行のTFT43を一斉に駆動するゲートパルスG1~Gnを順次発生して、走査線47を一行ずつ順に活性化し、走査線47に接続されたTFT43を一行分ずつオン状態とする。一行分のTFT43がオン状態になると、一行分の画素37のそれぞれに蓄積された信号電荷が、各信号線48を通じて信号処理回路40に入力される。信号処理回路40において、一行分の信号電荷は電圧に変換されて出力され、各信号電荷に応じた出力電圧が、電圧信号D1~Dmとして読み出される。アナログの電圧信号D1~Dmはデジタルデータに変換されて、一行分の各画素の濃度を表すデジタルな画素値である画像データが生成される。画像データは、電子カセッテ21の筐体に内蔵されるメモリ56に出力される。フォトダイオード42の半導体層には、X線の入射の有無に関わらず暗電流が発生する。暗電流に応じた電荷である暗電荷はバイアス電圧が印加されているためにキャパシタに蓄積される。暗電荷は、画像データに対してはノイズ成分となるので、これを除去するためにリセット動作が行われる。リセット動作は、画素37において発生する暗電荷を、画素37から信号線48を通じて掃き出す動作である。リセット動作は、例えば、一行ずつ画素37をリセットする順次リセット方式で行われる。順次リセット方式では、信号電荷の読み出し動作と同様、ゲートドライバ39から走査線47に対してゲートパルスG1~Gnを順次発生して、画素37のTFT43を一行ずつオン状態にする。TFT43がオン状態になっている間、画素37から暗電荷が信号線48を通じて信号処理回路40に入力される。リセット動作では、読み出し動作と異なり、信号処理回路40において、暗電荷に応じた出力電圧の読み出しは行われない。リセット動作では、各ゲートパルスG1~Gnの発生と同期して、制御部41から信号処理回路40にリセットパルスRSTが出力される。信号処理回路40においてリセットパルスRSTが入力されると、後述する積分アンプ49のリセットスイッチ49aがオンされて、入力された暗電荷がリセットされる。順次リセット方式に代えて、配列画素の複数行を一グループとしてグループ内で順次リセットを行い、グループ数分の行の暗電荷を同時に掃き出す並列リセット方式や、全行にゲートパルスを入れて全画素の暗電荷を同時に掃き出す全画素リセット方式を用いてもよい。並列リセット方式や全画素リセット方式によりリセット動作を高速化することができる。信号処理回路40は、積分アンプ49、MUX50およびA/D変換器51等からなる。積分アンプ49は、各信号線48に対して個別に接続される。積分アンプ49は、オペアンプとオペアンプの入出力端子間に接続されたキャパシタとからなり、信号線48はオペアンプの一方の入力端子に接続される。積分アンプ49のもう一方の入力端子図示せずはグランドGNDに接続される。積分アンプ49は、信号線48から入力される信号電荷を積算し、電圧信号D1~Dmに変換して出力する。各列の積分アンプ49の出力端子は、電圧信号D1~Dmを増幅する増幅器図示せずや、電圧信号D1~Dmを保持するサンプルホールド部図示せずを介して、MUX50に接続されている。MUX50は、パラレルに接続される複数の積分アンプ49から1つを選択し、選択した積分アンプ49から出力される電圧信号D1~DmをシリアルにA/D変換器51に入力する。A/D変換器51は、アナログの電圧信号D1~Dmをそれぞれの信号レベルに応じたデジタルな画素値に変換する。蓄積動作後、信号電荷を読み出す読み出し動作においては、ゲートパルスによってTFT43が一行ずつオン状態にされ、一行内の各列の画素37のキャパシタに蓄積された信号電荷が信号線48を介して積分アンプ49に入力される。積分アンプ49から一行分の電圧信号D1~Dmが出力されると、制御部41は、積分アンプ49に対してリセットパルスリセット信号RSTを出力し、積分アンプ49のリセットスイッチ49aをオンする。これにより、積分アンプ49に蓄積された一行分の信号電荷がリセットされる。積分アンプ49がリセットされると、ゲートドライバ39から次の行のゲートパルスが出力され、次の行の画素37の信号電荷の読み出しを開始させる。これらの動作を順次繰り返して全行の画素37の信号電荷を読み出す。全行の読み出しが完了すると、一画面分のX線画像を表す画像データがメモリ56に記録される。メモリ56に記録された画像データに対しては、FPD36の個体差や環境に起因して生じる固定パターンノイズであるオフセット成分を除去するオフセット補正や、各画素37のフォトダイオード42の感度のばらつきや信号処理回路40の出力特性のばらつきなどを補正するための感度補正といった画像補正処理が施される。画像データは、メモリ56から読み出されて撮影制御装置23に出力され、コンソール24に送信される。こうして被検者HのX線画像が検出される。また、FPD36は、X線源13との間で同期信号の遣り取りをすることなく、X線源13の照射タイミングを自己検出することが可能である。図2においてハッチングで示すように、FPD36の撮像領域38内には、X線の照射開始及び照射終了の各タイミングを検出するための検出素子として短絡画素62が設けられている。画素37は、TFT43のオンオフによって信号線48との電気的な接続のオンオフが切り替えられるのに対して、短絡画素62は、信号線48と常時短絡している。短絡画素62は、構造は画素37とほぼ同様であり、フォトダイオード42とTFT43とを有しており、フォトダイオード42はX線の入射量に応じた信号電荷を発生する。短絡画素62において、画素37との構造上の相違点は、TFT43のソースとドレインが結線により短絡している点であり、短絡画素62のTFT43のスイッチング機能は失われている。これにより、短絡画素62のフォトダイオード42が発生する信号電荷が常時信号線48に流出し、積分アンプ49に入力される。なお、短絡画素62のTFT43のソースとドレインを結線する代わりに、短絡画素62についてはTFT43そのものを設けずに、フォトダイオード42と信号線48を直接接続してもよい。制御部41は、短絡画素62の出力に基づいて、X線源13からFPD36に照射されるX線の強度X線の単位時間当たりの線量を測定して、X線の強度変化を監視する。制御部41は、MUX50によって、短絡画素62からの信号電荷が入力される積分アンプ49を選択して、積分アンプ49の電圧信号を、短絡画素62の出力電圧Voutとして読み出す。制御部41は、出力電圧Voutを1回読み出すと、積分アンプ49をリセットする。制御部41は、照射中のX線の強度変化を監視できるように、蓄積動作中において、出力電圧Voutを読み出す動作をX線の照射時間に対して非常に短い間隔で繰り返す。制御部41は、出力電圧Voutの値をデジタルデータに変換してメモリ56に記録する。制御部41は、メモリ56に記録された出力電圧Voutの経時変化に基づいて、X線源13から照射されるX線の強度変化を監視して、X線の照射開始及び照射終了を検出する。図3に示すように、横軸に時間、縦軸にX線の強度出力電圧Voutをとったグラフにおいて、1回の撮影で照射されるX線の強度変化を表す曲線はほぼ台形状になる。照射スイッチ15の押下によってX線源13が開始指令を受けると、X線源13は照射を開始し、X線の強度は徐々に立ち上がる。そして、撮影条件として設定された管電流に応じたピーク値まで上昇して、停止指令を受けるまでの間、ピーク値付近でほぼ定常な状態を保つ。停止指令は、撮影条件として設定された照射時間が経過すると、線源制御装置14からX線源13に対して入力される。停止指令を受けると、X線の強度は徐々に下降してやがて0になり、X線の照射が完全に停止する。制御部41は、撮影準備指示が入力されると、FPD36を待機状態に移行させる。待機状態においては、制御部41は、FPD36にリセット動作を実行させる。また、待機状態において、制御部41は、短絡画素62が発生する信号電荷に相当する出力電圧Voutに基づいて、X線の強度を測定して、X線の強度変化の監視を開始する。制御部41は、出力電圧Voutと予め設定された閾値Vthとを比較して、出力電圧Voutが閾値Vthを上回ったときにX線の照射が開始されたことを検出する。X線の照射開始が検出されると、制御部41は、画素37のTFT43をオフして待機状態から蓄積動作に移行させる。TFT43がオフされるため、画素37には照射されたX線の線量に応じた信号電荷が蓄積される。画素37のTFT43がオフされても、短絡画素62は信号線48と常時短絡しているので、制御部41は、X線が照射されている間、信号線48に流出する短絡画素62の出力に基づいて、X線の強度変化の監視を継続する。X線源13に停止指令が入力されると、X線の強度が下降を開始する。制御部41は、出力電圧Voutが閾値Vth以下になったときに、X線の強度が下降を開始したと判定し、X線の照射終了を検出する。フォトダイオード42はX線の入射の有無に関わらず暗電流を発生するので、短絡画素62の出力電圧Voutにも暗電流に相当する電圧分が重畳される。そのため、X線が照射されていない場合でも、出力電圧Voutは完全に0にはならない。暗電流に相当する電圧は、誤検出の原因となるノイズとなるので、暗電流ノイズの影響を受けないように閾値Vthは高めに設定されている。また、制御部41は、X線の強度の下降状況を表す下降曲線の傾きSに応じて、蓄積動作を終了して読み出し動作を開始させる読み出し開始タイミングを決定する。X線源13は、停止指令に対する応答が緩慢であり、停止指令を受けると、X線の強度は下降を開始するが、X線の強度が0になってX線の照射が完全な停止状態となる尾引終了タイミングTeまでにタイムラグがあり、X線の尾引が生じる。下降曲線の傾きSは、X線源13に与えられる管電圧と相関を有しており、図3に示すように、X線源13に与えられる管電圧が低い場合には比較的急峻になる一方、図4に示すように、X線源13に与えられる管電圧が高い場合には比較的緩やかになる。そのため、X線の尾引は、X線源13に与えられる管電圧が低い場合図3に比べて、図4に示すように、管電圧が大きいほど長い。このため、傾きSに応じて、尾引終了タイミングTeが変化する。制御部41は、傾きSに応じて、照射終了の検出時点T1から読み出し開始タイミングT2までの遅延時間Tdを決める。具体的には、傾きSが大きくX線の尾引が短い場合図3には短くし、一方、傾きSが小さくX線の尾引が長い場合図4には長くする。これにより、制御部41は、X線の尾引の長さが変化した場合でも、読み出し動作開始タイミングを、X線の強度が0になる尾引終了タイミングTeに近付ける。具体的な制御手順は次のとおりである。制御部41は、X線強度の測定結果に基づいて、検出時点T1における下降曲線の傾きS出力電圧Voutの時間微分値ΔVout/Δtを算出する。制御部41は、傾きSの大きさに基づいて遅延時間Tdの長さを決定する。傾きSが小さいほど、X線の強度が0になるまでのタイムラグは長いので、制御部41は、傾きSが小さいほど、遅延時間Tdを長くする。本例においては、図3に示すように、傾きSが大きい管電圧が低い場合には、遅延時間TdをTd1に決定し、図4に示すように、傾きSが小さい管電圧が高い場合には、遅延時間TdをTd1より長いTd2に決定している。メモリ56には、図5に示すように、下降曲線の傾きSの大きさと、遅延時間Tdの長さの対応関係を記録したテーブルデータが記憶される。制御部41は、メモリ56にアクセスしてテーブルデータを参照して、算出した傾きSの値に対応する遅延時間Tdの値を読み出す。そして、制御部41は、検出時点T1からタイマにより計時を開始し、検出時点T1から遅延時間Tdが経過した時点T2において、蓄積動作を終了させて読み出し動作を開始させる。テーブルデータに記録される上記対応関係図5は、X線源13の管電圧を変化させることにより、照射されたX線の強度が下降するときの下降曲線の傾きSの値を変化させて、それぞれの値に対応する尾引の長さを測定し、測定値に基づいて適切な遅延時間Tdが設定される。こうしたテーブルデータのキャリブレーションは、製造時や定期メインテナンス時に行われる。放射線源によって尾引の特性が変化するので、メモリ56のテーブルデータは、キャリブレーションを実行する毎に更新できるようにしておくことが好ましい。図6のフローチャートを参照して、上記構成による作用を説明する。電子カセッテ21がセットされた撮影台22に対して、被検者Hの撮影部位とX線源13の照射位置を位置合わせする。X線源13及び電子カセッテ21には、管電圧、管電流、照射時間などの撮影条件が設定される。電子カセッテ21の制御部41に撮影準備指示が入力されると、FPD36は待機状態に移行するステップS101。待機状態に移行すると、FPD36はリセット動作を開始するとともに、X線の強度測定を開始するS102。短絡画素62の出力に応じた出力電圧Voutのメモリ56への記録が開始される。照射スイッチ15の押下によってX線源13に対して照射開始指令が入力されると、X線源13は、被検者Hに向けてX線の照射を開始する。FPD36は、出力電圧Voutと閾値Vthを比較して、X線の強度変化を監視するS103。そして、X線の強度が上昇して、出力電圧Voutが閾値Vthを超えたときにX線の照射が開始されたことを検出するS104。FPD36は、照射開始を検出すると、画素37のTFT43をオフ状態にして、蓄積動作を開始するS105。FPD36は、蓄積動作中も、出力電圧Voutと閾値Vthを比較して、X線の強度変化を監視するS106。X線源13は、撮影条件として設定された照射時間が経過すると、X線源13には停止指令が入力されて、X線の強度が下降を開始する。FPD36は、出力電圧Voutが閾値Vth以下になったときに、X線の強度が下降を開始したと判定して、照射終了を検出するS107。FPD36は、X線強度の測定結果から、照射終了を検出した時点T1における下降曲線の傾きSを算出するS108。そして、傾きSに基づいて、検出時点T1から読み出し開始タイミングT2までの遅延時間Tdを決定するS109。遅延時間Tdは、傾きSが大きい管電圧が低い場合には短く、傾きSが小さい管電圧が大きい場合には長くなるように決定される。FPD36は、照射終了の検出時点T1から、決定した遅延時間Tdの経過をタイマにより計時してS110、遅延時間Tdが経過した時点T2において、蓄積動作を終了し、読み出し動作を開始させるS111。読み出されたX線画像は、メモリ56に記録され、コンソール24に送信される。傾きSに応じて読み出し開始タイミングT2を決定する本発明は、X線の尾引の長さに関わらず、照射終了の検出時点を基準として一律に読み出し開始タイミングが決定される従来技術と異なり、X線の尾引の長さの変化に応じて、読み出し開始タイミングT2を、X線の強度がほぼ0になる尾引終了タイミングTeに近付けることができる。検出時点T1のようにX線の強度が下降を開始する尾引の初期において、蓄積動作が終了されて読み出し動作が開始されると、蓄積動作終了後に照射されるX線は信号電荷として蓄積されないため、画像信号に反映されずに無駄になってしまう。照射されるX線を無駄にすることは、信号電荷の減少を意味するので、X線画像のS/N比の低下を招く。また、読み出し動作中にX線が照射されると、シェーディング状のアーチファクトの原因にもなる。一方、X線の強度が0になる尾引終了以後において蓄積動作が継続されると、暗電流ノイズが増加するため、X線画像のS/N比が悪化する。本発明では、X線の尾引の長さが変化した場合でも、読み出し開始タイミングT2を、X線の尾引終了タイミングTeに近付けることができるので、X線画像のS/N比を向上することができる。近年においては、被検者Hの被曝量のさらなる低減を目的として、少ない線量で高画質のX線画像を得ることがこれまで以上に求められている。高いS/N比を実現できる本発明はこうした要請にも合致する。また、本例のように、照射終了を検出するための閾値Vthを高めに設定し、照射終了の検出時点T1からの遅延時間Tdの経過により読み出し動作を開始させることで、検出時点T1以後においては、出力電圧Voutの変化とは無関係に読み出し開始タイミングを決定できる。そのため、出力電圧Voutを低いレベルで監視しなくて済むので、暗電流ノイズによって生じる、誤検出や照射終了の検出時間が長くなるといった問題を回避できる。本例においては、傾きSの大きさと遅延時間Tdの長さの対応関係をテーブルデータとして記憶しているが、テーブルデータの代わりに図5に示す対応関係を表す関数をメモリ56に記憶しておき、傾きSに基づく演算により遅延時間Tdを求めてもよい。選択できる遅延時間Tdの長さは、少なくとも長さが異なる2つの値があればよく、2つの値のいずれかを、傾きSが基準以上か否かで選択してもよい。また、シェーディング状のアーチファクトを防止しつつ、S/N比を向上するためには、遅延時間Tdの長さは、読み出し開始タイミングT2が尾引終了タイミングよりも前にならない範囲で、短めに決めることが好ましい。すわなち、読み出し開始タイミングT2を尾引終了タイミングTeよりも前にすると、シェーディング状のアーチファクトが発生するので、読み出し開始タイミングT2は、尾引終了タイミングTe以後であることが好ましい。しかし、S/N比を向上するためには、尾引終了タイミングTe以後であっても、尾引終了タイミングTeとの時間差はできるだけ少ない方が好ましい。理由は次のとおりである。画素37には蓄積動作中も暗電流ノイズが発生し、X線による信号電荷とともに暗電流ノイズも蓄積されていく。X線の強度が0に近づくほど、X線による信号電荷に対する暗電流ノイズの割合が高くなり、尾引終了後においては暗電流ノイズのみになる。このため、尾引終了後において蓄積動作を継続させることは、暗電流ノイズが増加するだけなので好ましくない。したがって、読み出し開始タイミングT2を、尾引終了タイミングTeよりも前にならない範囲で短めにしておくことで、シャーディング状のアーチファクトを防止しつつ、S/N比を向上できる。なお、本例において、照射開始と照射終了を同じ閾値Vthで検出しているが、それぞれに異なる閾値を設定してもよい。[第2実施形態]図7のフローチャートに示すように、下降曲線の傾きSに応じて遅延時間Tdを決定することS209に加えて、遅延時間Tdを、照射されるX線の総線量に基づいて調整S210してもよい。図7のフローチャートにおいて、遅延時間Tdの調整ステップS210が追加されていること以外は、図6のフローチャートと同様である。図8に示すように、遅延時間Tdを調整する具体例としては、X線の総線量が多い場合は、決定した遅延時間Tdから調整値αを減算して遅延時間Tdを短くして、読み出し開始タイミングT2を早める。この場合には、読み出し開始タイミングT2を尾引終了タイミングTeよりも前にしてもよい。というのは、X線の総線量が多い場合は、総線量に対する尾引部分の線量の割合が少ないので、尾引部分の線量を画像信号に反映させるよりも、蓄積時間が延びることによる暗電流ノイズの影響を減少させることを優先した方が、S/N比を向上できる場合があること、さらに、総線量に対する尾引部分の線量の割合が少ないため、シェーディング状のアーチファクトも目立たないためである。反対に、X線の総線量が少ない場合には、決定した遅延時間Tdに調整値αを加算して、遅延時間Tdを長くして、読み出し開始タイミングT2を遅らせてもよい。こうすることで、X線の無駄を少なくすることができる。もちろん、上述のとおり、暗電流ノイズを考慮すると、読み出し開始タイミングT2は、尾引終了タイミングTeよりもあまり後ろにならないことが好ましいので、遅延時間Tdを遅らせる場合でも、読み出し開始タイミングT2が尾引終了タイミングTeをあまり超えない範囲で、調整値αが決定されることが好ましい。X線の総線量は、X線の強度変化を表す曲線の積分値で求められる。制御部41は、メモリ56に記録した出力電圧Voutの履歴に基づいてX線の総線量を求める。また、X線の総線量は、管電流mAに照射時間Sを乗じたmAs値で概算を求めることができるので、撮影条件として設定された管電流と照射時間に基づいて総線量を算出してもよい。また、X線の総線量の代わりに、X線の強度のピーク値に応じて調整値αを求めてもよい。照射時間を一定とすれば、X線の総線量はX線の強度のピーク値に比例するからである。[第3実施形態]上記実施形態では、照射終了の検出時点T1における下降曲線の傾きSに基づいて、照射終了の検出時点T1から読み出し開始タイミングT2までの遅延時間Tdを決定しているが、図9及び図10に示すように、出力電圧Voutが第1閾値Vth1以下になったときに照射終了を検出し、検出時点T1における傾きSに基づいて、読み出し開始タイミングT2を決定するための第2閾値Vth2を決定してもよい。図11のフローチャートは、S309及びS310を除いて、図6のフローチャートとほぼ同様である。図11のフローチャートに示すように、制御部41は、S306において、出力電圧Voutが第1閾値Vth1以下になったときにX線の強度が下降を開始したと判定して、照射終了を検出するS307。S308において、検出時点T1における、傾きSを求める。S309において、傾きSに応じて第2閾値Vth2を決定する。S310において、出力電圧Voutを監視し、第2閾値Vth2以下になったときに読み出し動作を開始させるS311。図9に示すように、傾きSが大きい管電圧が低い場合には、X線の尾引が短く、停止指令から尾引終了タイミングTeまでのタイムラグは短い。この場合には、読み出し開始タイミングT2の判定基準となる第2閾値Vth2を、Vth2Aのように低く設定する。タイムラグが短い場合には、暗電流ノイズによる誤検出が発生したとしても、尾引終了タイミングと読み出し開始タイミングT2の誤差は小さい。そのため、傾きSが大きい場合には、第2閾値Vth2を低く設定することで、読み出し開始タイミングT2を、尾引終了タイミングTeに限りなく近付けることができる。一方、図10に示すように、傾きSが小さい管電圧が高い場合には、停止指令から尾引終了タイミングTeまでのタイムラグが長いので、第2閾値Vth2を低くし過ぎると、暗電流ノイズによる誤検出が発生したときの誤差が大きい。そのため、傾きSが小さい場合には、傾きSが大きい管電圧が低い場合の第2閾値Vth2Aと比べて、高めの第2閾値Vth2Bに決定する。なお、所定時間を経過しても出力電圧Voutが第2閾値Vth2以下に達したと判定されない場合に備えて、照射終了の検出時点T1からの時間を、制御部41のタイマで監視して、所定時間を経過した場合には読み出し動作を開始させるようにしてもよい。また、本実施形態と上記第2実施形態と組み合わせて、決定した第2閾値Vth2を、X線の総線量やピーク値に応じて調整してもよい。上記実施形態では、照射終了の検出時点T1における下降曲線の傾きSを求めて、読み出し開始タイミングT2を決定しているが、照射開始時においてX線の強度が上昇するときの上昇曲線の傾きに応じて、読み出し開始タイミングT2を決定してもよい。上述のとおり、下降曲線の傾きSは、X線源13に与えられる管電圧との間に相関を有するが、上昇曲線の傾きも管電圧によって変化するので、上昇曲線の傾きと下降曲線の傾きSの間にも相関がある。そのため、X線の強度変化から下降曲線の傾きSを実測する代わりに、上昇曲線の傾きから下降曲線の傾きSを推定して、読み出し開始タイミングT2を決定してもよい。この場合には、上昇曲線の傾きと、遅延時間Tdや第2閾値Vth2の値との対応関係をテーブルデータとしてメモリ56に予め記憶しておく。制御部41は、照射開始時においてX線の強度変化を監視して、X線の強度が立ち上がるときの上昇曲線の傾きを算出する。制御部41は、算出した上昇曲線の傾きに応じて、テーブルデータから遅延時間Tdや第2閾値Vth2の値を読み出すことにより読み出し開始タイミングT2を決定する。また、上述のとおり管電圧と下降曲線の傾きSは相関を有するので、X線の強度変化から下降曲線の傾きSを実測する代わりに、コンソール24から撮影条件として入力される管電圧の情報から、下降曲線の傾きSを推定して、読み出し開始タイミングT2を決定してもよい。この場合には、管電圧の値と、遅延時間Tdや第2閾値Vth2の値との対応関係をテーブルデータとしてメモリ56に記憶しておき、制御部41は、管電圧の値に応じてテーブルデータを参照して読み出し開始タイミングT2を決定する。ただし、上昇曲線の傾きや管電圧を取得して下降曲線の傾きSを推定する方式よりも、上記第1~第3実施形態のように、下降曲線の傾きSを実測する方法が好ましい。というのは、X線源の種類が違えば、管電圧が同じでも、下降曲線の傾きSも変化する。また、同種のX線源に対して同じ管電圧を設定した場合でも、経時劣化によって下降曲線の傾きSも変わることが考えられる。さらに、X線源には、撮影部位などによって照射されるX線のエネルギースペクトルの一部低エネルギー部分などをカットするフイルタなど、照射されるX線の線質を変更するフイルタが使用される場合があるが、フイルタを使用した場合には、X線の線質の変更により下降曲線の傾きSも変化することが考えられる。こうした理由から、上昇曲線の傾きや管電圧が下降曲線の傾きSと相関を持つとはいえ、実際の下降曲線の傾きSを正確に推定することは難しく、下降曲線の傾きSを実測する場合と比べると、精度は低下する。したがって、上記第1~第3実施形態で示したように、下降曲線の傾きSを実測する方法が好ましい。また、上記実施形態の電子カセッテ21のように、X線源13との間で通信を行わないX線画像検出装置においては、同期制御の情報ばかりでなく、X線源13及びX線画像検出装置のそれぞれに設定される撮影条件の相互通信も行われない。そのため、上記電子カセッテ21のようなX線画像検出装置には、X線源13に実際に設定される管電圧の情報を取得できないので、下降曲線の傾きSを実測する方法が適している。また、上記実施形態では、撮像領域内に設けられた短絡画素によって、X線の強度を測定しているが、短絡画素は、通常の画素とほぼ同一構造であり、X線に対する感度もほぼ同一であるため、X線の強度を正確に測定することが可能であり、照射開始、照射終了を精度良く検出することができる。また、構造がほぼ同一であるので、製造もしやすく、製造コストの増加も少ない。また、上記実施形態では、短絡画素を1つ設けた例で説明したが、図12に示すように、複数の短絡画素62を設けてもよい。複数の短絡画素62を設けた場合には、複数の短絡画素62が接続する複数の信号線48のうち、出力電圧Voutが最大の信号線48を選択して、X線の強度を測定することが好ましい。出力電圧Voutが最大ということは、短絡画素62に入射する線量が最も高いことを意味する。線量が高い短絡画素62の出力電圧Voutを使用すれば、X線の強度測定を高い精度で行うことができる。この場合には、制御部41は、複数の短絡画素62の信号線48の出力電圧Voutを比較して、X線の強度測定に使用する信号線48を選択する。その信号線48の出力電圧Voutに基づいて、照射終了の検出や下降曲線の傾きSの算出を行う。また、短絡画素以外の方法でX線の強度を測定してもよい。例えば、画素を構成するフォトダイオードにはバイアス電圧が印加されるが、フォトダイオードで発生する信号電荷の量に応じてバイアス線に流れるバイアス電流も変化する。こうしたバイアス電流を検出して、X線の強度を測定してもよい。また、画素のTFTをオフした状態でも、フォトダイオードで発生する信号電荷の量に応じて、僅かであるが信号線にリーク電流が流れる。このリーク電流を検出して、X線の強度を測定してもよい。また、ガラス基板を使用してTFTマトリックス基板を形成したTFT型のFPDを例に説明したが、半導体基板を使用したCMOSイメージセンサやCCDイメージセンサを使用したFPDでもよい。このうちCMOSイメージセンサを使用すると、次のようなメリットがある。CMOSイメージセンサの場合、画素に蓄積される信号電荷を読み出し用の信号線に流出させることなく、各画素に設けられたアンプを通じて電圧信号として読み出す、いわゆる非破壊読み出しが可能である。これによれば、蓄積動作中においても、撮像領域内の任意の画素を選択して、その画素から信号電荷を読み出すことによりX線の強度測定が可能である。したがって、CMOSイメージセンサを使用する場合には、上記短絡画素のように、X線の強度測定用の専用の検出素子を用いることなく、通常の画素のいずれかを、強度測定用の検出素子として兼用させることが可能となる。さらに、本発明に係るX線画像検出装置は、上記実施形態に限らず、本発明の要旨を逸脱しない限り種々の構成を採り得ることはもちろんである。X線画像検出装置は、病院の撮影室に据え置かれるX線撮影システムに用いられる他、病室を巡回して撮影が可能な回診車に搭載してもよいし、事故、災害等の緊急医療対応が必要な現場や在宅診療を受ける患者の自宅に持ち運んでX線撮影を行うことが可能な可搬型のシステムに適用してもよい。上記例では、X線画像検出装置である電子カセッテと、撮影制御装置を別体で構成した例で説明したが、撮影制御装置の機能を電子カセッテの制御部に内蔵する等、電子カセッテと撮影制御装置を一体化してもよい。上記実施形態では、可搬型のX線画像検出装置である電子カセッテを例に説明したが、据え置き型のX線画像検出装置に本発明を適用してもよい。本発明は、X線に限らず、γ線等の他の放射線を使用する撮影システムにも適用することができる。