"一般式Ba1xyCaxReyTi1zMzO3但し、ReはLa、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu及びYの中から選択された少なくとも一種以上の元素、MはMg、Mn、Al、Cr及びZnの中から選択された少なくとも一種以上の元素で表されると共に、0≦x≦0.2、0.002≦y≦0.1、0.001≦z≦0.05の範囲である化合物を主成分として含み、結晶粒子の平均粒径が20nm以上かつ150nm以下である誘電体セラミック。前記平均粒径が20nm以上かつ100nm未満である、請求項1に記載の誘電体セラミック。積層されている複数の誘電体層と、前記誘電体層間の界面に沿って形成されている複数の内部電極と、を有する積層体と、前記積層体の外表面に形成され、前記内部電極と電気的に接続されている複数の外部電極と、を備える積層セラミックコンデンサにおいて、前記誘電体層は、請求項1または2に記載の誘電体セラミックからなることを特徴とする積層セラミックコンデンサ。一般式Ba1xyCaxReyTi1zMzO3但し、ReはLa、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu及びYの中から選択された少なくとも一種以上の元素、MはMg、Mn、Al、Cr及びZnの中から選択された少なくとも一種以上の元素で表されると共に、0≦x≦0.2、0.002≦y≦0.1、0.001≦z≦0.05の範囲である化合物を主成分として含む、セラミック粉末を用意する工程と、前記セラミック粉末を成形し、成形体を得る工程と、前記成形体を焼成し、結晶粒子の平均粒径が20nm以上かつ150nm以下である誘電体セラミックを得る工程と、を備える、誘電体セラミックの製造方法。前記平均粒径が20nm以上かつ100nm未満である、請求項4に記載の誘電体セラミックの製造方法。請求項4または5の誘電体セラミックの製造方法を備えることを特徴とする、積層セラミックコンデンサの製造方法。ところが、特許文献1には誘電体層を薄層化した場合についての記載がない。したがって、特許文献1に記載の誘電体セラミックが、誘電体層の厚みを1μm程度にまで薄層化した場合に、電圧印加時における信頼性が高いかどうかは不明である。本発明はかかる課題に鑑みてなされたものであって、誘電体層がより一層薄層化し、高電界強度の電圧が印加されても、良好な誘電特性を有し、高温負荷試験の寿命特性の優れた積層セラミックコンデンサを提供することを目的とする。本発明に係る誘電体セラミックは、一般式Ba1xyCaxReyTi1zMzO3但し、ReはLa、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu及びYの中から選択された少なくとも一種以上の元素、MはMg、Mn、Al、Cr及びZnの中から選択された少なくとも一種以上の元素で表されると共に、0≦x≦0.2、0.002≦y≦0.1、0.001≦z≦0.05の範囲である化合物を主成分として含み、結晶粒子の平均粒径が20nm以上かつ150nm以下であることを特徴としている。また、本発明に係る誘電体セラミックは、平均粒径が20nm以上かつ100nm未満であることが好ましい。また、本発明は、積層されている複数の誘電体層と、誘電体層間の界面に沿って形成されている複数の内部電極と、を有する積層体と、積層体の外表面に形成され、内部電極と電気的に接続されている複数の外部電極と、を備える積層セラミックコンデンサにおいて、誘電体層は、上記の誘電体セラミックからなることを特徴とする積層セラミックコンデンサにも向けられる。また、本発明は、一般式Ba1xyCaxReyTi1zMzO3但し、ReはLa、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu及びYの中から選択された少なくとも一種以上の元素、MはMg、Mn、Al、Cr及びZnの中から選択された少なくとも一種以上の元素で表されると共に、0≦x≦0.2、0.002≦y≦0.1、0.001≦z≦0.05の範囲である化合物を主成分として含む、セラミック粉末を用意する工程と、セラミック粉末を成形し、成形体を得る工程と、成形体を焼成し、結晶粒子の平均粒径が20nm以上かつ150nm以下である誘電体セラミックを得る工程と、を備える、誘電体セラミックの製造方法にも向けられる。また、本発明に係る誘電体セラミックの製造方法では、平均粒径が20nm以上かつ100nm未満であることが好ましい。また、本発明は、上記の誘電体セラミックの製造方法を備えることを特徴とする、積層セラミックコンデンサの製造方法にも向けられる。この発明に係る誘電体セラミックによれば、上記のような組成を有しつつ、結晶粒子の粒径を上記のように規定することにより、誘電体層がより一層薄層化し、高電界強度の電圧が印加されても、良好な誘電特性を有し、高温負荷試験の寿命特性の優れた積層セラミックコンデンサを提供することが可能である。以下において、本発明を実施するための形態について説明する。図1は、本発明に係る積層セラミックコンデンサの断面図である。積層セラミックコンデンサ1は、積層体5を備えている。積層体5は、積層されている複数の誘電体層2と、複数の誘電体層2間の界面に沿って形成されている複数の内部電極3及び4と、を備えている。内部電極3及び4の材質としては、例えばNiを主成分とするものが挙げられる。積層体5の外表面上の互いに異なる位置には、外部電極6及び7が形成されている。外部電極6及び7の材質としては、例えばAg又はCuを主成分とするものが挙げられる。図1に示した積層セラミックコンデンサでは、外部電極6及び7は、積層体5の互いに対向する各端面上に形成されている。内部電極3及び4は、それぞれ外部電極6及び7と電気的に接続されている。そして、内部電極3及び4は、積層体5の内部において誘電体層2を介して交互に積層されている。なお、積層セラミックコンデンサ1は、2個の外部電極6及び7を備える2端子型のものであっても、多数の外部電極を備える他端子型のものであっても良い。誘電体層2は、一般式Ba1xyCaxReyTi1zMzO3但し、ReはLa、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu及びYの中から選択された少なくとも一種以上の元素、MはMg、Mn、Al、Cr及びZnの中から選択された少なくとも一種以上の元素で表されると共に、0≦x≦0.2、0.002≦y≦0.1、0.001≦z≦0.05の範囲である化合物を主成分として含む誘電体セラミックで構成されている。そして、誘電体セラミックの結晶粒子の平均粒径は20nm以上かつ150nm以下となるようにされる。また、平均粒径が20nm以上かつ100nm未満である場合には、高温負荷試験の寿命特性のより一層優れた積層セラミックコンデンサを提供することが可能である。なお、Ba,Ca,ReとTi,Mのモル比は適宜設定され、好ましくは0.98~1.05の範囲で選ばれる。セラミック粉末は、例えば、固相合成法で作製される。具体的には、まず、主成分の構成元素であるBa、Ca、Re、Ti、Mをそれぞれ含む酸化物、炭酸物、塩化物、金属有機化合物等の化合物粉末を所定の割合で混合し、仮焼する。なお、固相合成法の他に、水熱合成法や加水分解法等を適用しても良い。積層セラミックコンデンサは、例えば、以下のように作製される。上記のようにして得られたセラミック粉末を用いてセラミックスラリーを作製する。そして、シート成形法等でセラミックグリーンシートを成形する。そして、複数枚のセラミックグリーンシートを積層した後圧着して、成形体を得る。そして、成形体を焼成する。この焼成する工程で、セラミック粉末が焼成され、誘電体セラミックで構成される誘電体層が得られる。その後、積層体の端面に外部電極を焼き付け等で形成する。次に、この発明に基づいて実施した実験例について説明する。[実験例1]Aセラミック粉末の作製出発原料として、微粒のBaCO3、CaCO3、TiO2、ReReはLa、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu及びY、MMはMg、Mn、Al、Cr及びZnの各粉末を用意した。Reの粉末としては、La2O3、Ce2O3、Pr2O3、Nd2O3、Sm2O3、Eu2O3、Gd2O3、Tb2O3、Dy2O3、Ho2O3、Er2O3、Tm2O3、Yb2O3、Lu2O3及びY2O3の各粉末を用意した。また、Mの粉末としては、MgCO3、MnCO3、Al2O3、Cr2O3、ZnOの各粉末を用意した。そして、これらの粉末をBa1xyCaxReyTi1zMzO3の表1の組成となるように秤量した後、ボールミルで80時間混合した。その後、上記の混合粉末を1000°Cの熱処理で仮焼合成することにより、Ba1xyCaxReyTi1zMzO3の主成分粉末を得た。その後、主成分粉末100モル部に対して、BaCO3を1.5モル部、SiO2を2モル部添加して、セラミック粉末を得た。得られたセラミック粉末の平均粒径は10nm程度であった。また、XRDによると、セラミック粉末における未反応物は検出レベルを下回った。すなわち、このセラミック粉末は、非常に微粒であるにもかかわらず、合成度の高い粉末であることが確認された。B積層セラミックコンデンサの作製まず、誘電体層となるべきセラミックグリーンシートを形成した。具体的には、上述したセラミック粉末に、ポリビニルブチラール系バインダ及びエタノールを加えて、ボールミルにより24時間湿式混合した。その後、フィルターでフィルタリングを行い、所定の範囲内の粒径以外の粒径を有する粉末を排除したスラリーを作製した。そして、このスラリーをリップ方式によりシート上に成形して、セラミックグリーンシートを得た。セラミックグリーンシートの厚さは、後述するように、焼成後に表2の誘電体層厚に示す厚さになるようにした。次に、成形体を作製した。具体的には、特定のセラミックグリーンシート上に、Niを主成分として含む導電性ペーストをスクリーン印刷し、内部電極となるべき導電性ペースト膜を形成した。そして、導電性ペースト膜が形成されたセラミックグリーンシートを、導電性ペースト膜の引き出されている側が互い違いになるように複数枚を積層した後に圧着して、成形体を得た。次に、成形体を焼成した。具体的には、まず、還元雰囲気で300°Cの温度に加熱して、バインダを燃焼させた。その後、酸素分圧が1010MPaのH2-N2-H2Oガスからなる還元性雰囲気中にて、1200°Cの温度で1時間焼成した。次に、外部電極を形成した。具体的には、積層体の両端面にB2O3-Li2O-SiO2-BaO系ガラスフリットを含有するCuペーストを塗布した。その後、窒素雰囲気中で800°Cの温度で加熱して、Cuペーストを焼き付けた。このようにして内部電極と電気的に接続された外部電極を形成した。以上のようにして積層セラミックコンデンサを作製した。積層セラミックコンデンサの外形寸法は、長さ1.0mm、幅0.5mm、厚さ0.5mmであり、有効誘電体層の層数は100層であり、誘電体層1層あたりの内部電極の対向面積は0.3mm2であった。また、内部電極間に介在する誘電体層の厚みは、表2の誘電体層厚に示すとおりであった。C特性評価得られた積層セラミックコンデンサについて、各種特性を評価した。[平均粒径]平均粒径は以下のように算出した。まず、各試料に係る積層セラミックコンデンサを破断し、1000°Cの温度でサーマルエッチングを行い、破断面を走査型顕微鏡を用いて観察した。そして、この観察像について画像解析を行い、結晶粒子の円相当径を粒径として、結晶粒子の粒径を測定した。そして、各試料につき、300個の結晶粒子の粒径を測定し、その平均値を平均粒径として算出した。[高温負荷寿命試験]高温負荷寿命試験は、下記のように実施した。各試料に係る積層セラミックコンデンサに、温度125°Cにて、6.3kV/mm及び12.6kV/mmの各電界強度となるようにDC電圧を印加した。そして、100個の試料で高温負荷寿命試験を実施し、1000時間経過するまでに、絶縁抵抗値が100kΩ以下になった試料を不良と判定し、試料100個中の不良個数を求めた。表2に、平均粒径、誘電体層厚及び高温負荷寿命試験後の不良個数を示す。なお、表1及び表2において、試料番号にを付したものは、この発明の範囲外の試料である。D考察試料番号1、10、14はBa,ReTi,MO3が主成分であり、DC電圧が6.3kV/μm、12.6kV/μm共に、良好な信頼性を示した。また、試料番号2~9、11~13、15~17はBa,Ca,ReTi,MO3が主成分であり、DC電圧が6.3kV/μm、12.6kV/μm共に、良好な信頼性を示した。なお、試料番号1~3、5、7、8、10~14、16は平均粒径が20nm以上かつ100nm未満であり、DC電圧が12.6kV/μmの試験条件でも不良が発生せず、良好な信頼性を示した。これらに対して、試料番号18は平均粒径が20nm未満であり、信頼性が低い結果であった。また、試料番号19は平均粒径が150nmより大きく、信頼性が低い結果であった。試料番号19では、平均粒径が大きく、積層体中で局所的な電界集中が生じたためと考えられる。試料番号20でも信頼性が低い結果であった。これは、Ca量xが0.02より大きく、緻密化しづらくなり、機械的強度が劣ったためと考えられる。試料番号21では、Re量yが0.002より小さく、信頼性が低い結果となった。また、試料番号22でも信頼性が低い結果となった。これは、Re量yが0.1より大きく、焼成後に偏析が生じたためと考えられる。試料番号23では、M量zが0.001より小さく、信頼性が低い結果となった。また、試料番号24でも信頼性が低い結果となった。これは、M量zが0.05より大きく、焼成後に偏析が生じたためと考えられる。[実験例2]実験例2では、不純物の影響を評価した。積層セラミックコンデンサの原料作製工程等において、Sr、Zr、Hf、Zn、Na、Ag、Pd及びNi等が不純物として混入する可能性がある。これらは結晶粒子内及び結晶粒子間を占める結晶粒界に存在する可能性がある。また、積層セラミックコンデンサの焼成工程等において、内部電極成分が誘電体セラミック中の結晶粒界及び結晶粒子間を占める結晶粒界に拡散して存在する可能性がある。実験例2は、これらの不純物の影響を評価しようとするものである。Aセラミック粉末の作製実験例1の試料番号13の組成に、表3に示した不純物成分を加えたことを除いて、実験例1と同様の方法でセラミック粉末を作製した。B積層セラミックコンデンサの作製上記セラミック粉末を用いて、実験例1と同様の方法で積層セラミックコンデンサを作製した。C特性評価得られた積層セラミックコンデンサについて、実験例1と同様の方法で各種特性を評価した。表4に高温負荷寿命試験の結果を示す。D考察表4から分かるように、不純物が混入した試料31~40のいずれにおいても、電界強度が6.3kV/mm及び12.6kV/mmの双方において、高温負荷寿命試験での不良個数が0であり、高い信頼性を示した。また、試料31~40のいずれにおいても、平均粒径は20nm以上かつ150nm以下であった。"