"成分毎に分離された試料をイオン化し、イオントラップ部に導入して電界中に保持し、前記イオンの質量に応じて排出されたイオンを検出してMSスペクトルマススペクトルを生成する質量分析方法において、前記試料の第一のMSスペクトルを生成し、前記第一のMSスペクトル中の選択されたターゲットピークイオンのMS/MS分析を行って第二のMSスペクトルを生成し、前記第二のMSスペクトル中の選択されたターゲットピークイオンのMS分析を行って第三のMSスペクトルを生成し、前記第一のMSスペクトルと前記第三のMSスペクトルとから第四のMSスペクトルを生成し、前記第四のスペクトルと前記第二のMSスペクトルとの差からフラグメント情報のみを含む第五のMSスペクトルを生成することを特徴とする質量分析方法。成分毎に分離された試料をイオン化するイオン化部と、前記イオン化部でイオン化された前記イオンを電界中で保持するとともに、該イオンの質量に応じて排出するイオントラップ部と、前記イオントラップ部から排出された前記イオンを検出する検出部と、前記検出部で検出されたデータに基づいてMSスペクトルマススペクトルを生成する処理部とを備え、前記処理部は、前記試料の第一のMSスペクトルを生成し、前記第一のMSスペクトル中の選択されたターゲットピークイオンのMS/MS分析を行って第二のMSスペクトルを生成し、前記第二のMSスペクトル中の選択されたターゲットピークイオンのMS分析を行って第三のMSスペクトルを生成し、前記第一のMSスペクトルと前記第三のMSスペクトルとから第四のMSスペクトルを生成し、前記第四のスペクトルと前記第二のMSスペクトルとの差からフラグメント情報のみを含む第五のMSスペクトルを生成することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。本発明は、MS/MS分析において、フラグメント情報だけのMSスペクトルを得るようにして、短時間で分析が可能なイオントラップ質量分析装置を得ることを目的とする。上記課題を解決するために、本発明の実施態様は、MS/MS分析の前後に実行されたMS分析で得られたMSスペクトルと、MS/MS分析におけるMSスペクトルとの差から、目的イオンのフラグメント情報だけのMSスペクトルを得るように構成する。本発明によれば、通常のMS/MS分析における選択および衝突乖離のステップを含まず、MS分析と同じ手順でMS/MSスペクトルを得ることができる。これにより、フラグメント情報だけのMSスペクトルを得るようにして、短時間で分析が可能なイオントラップ質量分析装置を得ることができる。本発明の実施形態を、図面を参照しながら説明する。図1は、イオントラップ質量分析装置の概略構成を示す構成図である。分析対象の試料は、液体クロマトグラフの分離カラム等の分離装置101で性質の異なる成分毎に分離され、イオン化部102においてイオン化され、質量分析計のイオントラップ部103に導入される。導入されたイオンは、イオントラップ部103において電界中に保持される。制御部104は、イオントラップ部103にイオンをトラップするためのエネルギーを電圧の形で印加する。このエネルギーの調整により、イオントラップ部103からイオンを排出させることができる。排出されたイオンは、検出部105において検出される。検出されたイオンのデータは、処理部106において所望のデータに加工処理される。また本構成において、イオントラップ部の前後に1つまたは複数の、イオンを分離または収束する分析部を設ける構成をとることもできる。図2は、イオントラップ部103における分析制御タイミングを示すタイムチャートであり、横軸は時間t、縦軸は電圧vである。また、上から順に、現在の分析の場合の、トラップ部の電極またはQポールにイオンをトラップするために印加する電圧とイオンを排出するために印加する電圧、本実施例におけるイオンをトラップするために印加する電圧とイオンを排出するために印加する電圧である。通常のMS/MS分析においては、イオントラップ部103内にイオンを導入するアキュムレーション区間201を実行し、目的イオン以外のイオンを排出するアイソレーション区間202を実行し、CID区間203で衝突乖離を行い、イジェクション区間204においてイオントラップ部103から排出される。アイソレーション区間202とCID区間203のタイミングにおいて、エネルギー区間205を加え、イオントラップ部103からイオンを排出し乖離させる。イオントラップ部の後段に分析部を設けた構成とする場合は、インジェクション区間204において、イオンをトラップするために印加する電圧を一定とし、別の電圧をトラップ部に印加することで排出することもできる。これに対して本発明では、イオントラップ部103内にイオンを導入するアキュムレーション区間201において、エネルギー区間205を加えて試料からターゲットイオンを乖離させ、イジェクション区間204を行って、イオントラップからイオンを排出する。乖離させるエネルギー区間205は、アキュムレーション区間201と同時に印加されるが、この時間の最初から印加されるようにしてもよい。図3は、フラグメントスペクトルを取得する手順を示すフローチャートである。最初にMS/MSを行うターゲットイオンを決定するため、MS分析ステップ301を行い、MSスペクトル302を取得する。ここで得られたMSスペクトル302から、分析者は、指定された条件下にてターゲットピークイオンを選択し、決定する。次に、決定したターゲットピークイオンに従ってMS/MS分析ステップ303を実行する。ここで得られたMSスペクトル304は、MSにおけるピーク情報とMS/MS分析におけるピーク情報を含んでいるため、ここからMSスペクトル302を差し引くことでフラグメント情報のみを含むMSスペクトル305を得ることができる。以降、この流れを繰り返すことで、連続してMS/MS分析のMSスペクトルを取得することができる。このように、直前に実行されたMS分析のMSスペクトルを差し引いた例を示したが、連続するMSスペクトル取得動作に対してイオン量の変化が大きい場合は、直前のMS分析で得たMSスペクトルからの変化が大きいため、単純に差し引くだけでは大きな誤差を含むことが考えられる。この様な場合には、フラグメント情報を含むMSスペクトルの前後に取得したMS分析のMSスペクトルから、フラグメント情報を含むMSスペクトルにおけるMS分析のMSスペクトルを予測し、フラグメント情報を含むMSスペクトルから差し引くことで、フラグメント情報のみのMSスペクトルを取得することができる。図4は、フラグメントスペクトルを取得する手順を示すフローチャートである。はじめに、MS/MSを行うターゲットイオンを決定するため、MS分析を行いステップ401、MSスペクトル402を取得する。ここで得られたMSスペクトル402から、分析者は指定された条件下にてターゲットピークを決定する。次に、決定されたターゲットに従ってMS/MS分析を実行するステップ403。ここで得られたMSスペクトル404は、MSにおけるピーク情報と、MS/MSにおけるピーク情報とを含んでいる。さらに次のターゲットイオンを選択するため、MS分析を行いステップ405、MSスペクトル406を取得する。次に、処理部106のコンピュータで、MSスペクトル402とMSスペクトル406とからMSスペクトル407を生成し、MS/MSスペクトル404からMSスペクトル407を差し引くことで、フラグメント情報のみを含むMSスペクトル408を得ることができる。以降この手順を繰り返すことで、連続してMS/MS分析のMSスペクトルを取得することができる。図5は、処理部106のディスプレイに表示される画面の一例を示す画面図である。図3,図4において説明したMSスペクトル取得において、直前のMS分析のMSスペクトルを差し引くか、前後のMS分析から差し引くかは、イオンの変動状態によって決められる。そのため、状況に応じて分析者が切り替えることも想定できる。図5に示す画面で、分析者は、直前のMS分析のMSスペクトルを差し引くか、前後のMS分析から差し引くかを選択することができる。図6,図7は、処理部106に保持されるデータファイルの構成の一部を示す概念図である。MS/MSスペクトル分析は、データ取得と同時に行われる場合と、データ取得後に行われる場合とがある。図6に、データ取得と同時にMS/MSスペクトル分析を行う場合のデータファイルの構成を示す。この場合には、取得したデータファイルには、MS/MSスペクトルとしてフラグメント情報のみが保存される。図7に、データ取得後にMS/MSスペクトル分析を行う場合のデータファイルの構成を示す。この場合には、取得したデータファイルには、MSスペクトルとフラグメントスペクトルが混在したスペクトルがデータファイルに保存される。このデータと、直前のMSスペクトル、もしくは前後のMSスペクトルから差し引きを行うことで、図4に示したMSスペクトル408を得ることができる。図8は、処理部106のディスプレイに表示される画面の一例を示す画面図であり、図6および図7に示したような、MS/MSスペクトル分析を、データ取得と同時に行うかデータ取得後に行うかを、分析者が選択することができる。以上述べたように、本発明の実施例によれば、通常のMS/MS分析における選択および衝突乖離のステップを含まず、MS分析と同じ手順でMS/MSスペクトルを得ることができる。これにより、フラグメント情報だけのMSスペクトルを得るようにして、短時間で分析が可能なイオントラップ質量分析装置を得ることができる。"