第1の波長可変レーザ光源と、第2の波長可変レーザ光源と、波長固定レーザ光源と、前記第1の波長可変レーザ光源からの光と前記波長固定レーザ光源からの光を合波することにより得られる光ビート信号を電磁波に変換する第1のフォトミキサと、前記第1の波長可変レーザ光源からの光と前記第2の波長可変レーザ光源からの光を合波することにより得られる光ビート信号を電磁波に変換する第2のフォトミキサと、前記第1のフォトミキサからの電磁波を照射された被測定物を経た電磁波と前記第2のフォトミキサからの電磁波とを混合する手段と、前記混合された電磁波から前記波長固定レーザ光源からの光の周波数と前記第2の波長可変レーザ光源からの光の周波数の差に等しい周波数を有する電磁波である中間周波信号を抽出する受信用ミキサと、前記第1の波長可変レーザ光源からの光の波長が一定の期間において前記第2の波長可変レーザ光源からの光の波長を、該波長が予め定められた複数の波長のそれぞれに等しくなる期間が離散的になるように、変化させる手段と、前記第2の波長可変レーザ光源からの光の波長の離散的な変化に伴い前記中間周波信号が有することとなる複数の周波数について当該中間周波信号から当該各周波数の成分を分離して抽出する手段と、を備えることを特徴とする分光システム。前記第2の波長可変レーザ光源からの光の波長を変化させる手段は、前記複数の波長のそれぞれに対応する周波数に等しくなる期間が離散的になるように変化する周波数を有する参照信号を出力する参照信号発生器と、前記波長固定レーザ光源からの光と前記第2の波長可変レーザ光源からの光を合波することにより得られる光ビート信号を電磁波に変換する手段と、前記参照信号の周波数と当該電磁波の周波数との差を検出し当該差がなくなるように前記第2の波長可変レーザ光源を制御する手段とを備えることを特徴とする請求項1記載の分光システム。請求項1記載の分光システムの制御方法であって、前記第1の波長可変レーザ光源からの光の波長が一定の期間において前記第2の波長可変レーザ光源からの光の波長を、該波長が前記複数の波長のそれぞれに等しくなる期間が離散的になるように、変化させることを特徴とする分光システムの制御方法。請求項1記載の分光システムの制御方法であって、前記第1のフォトミキサからの電磁波が前記受信用ミキサに到達するまでの到達時間の2倍の周期で前記第1の波長可変レーザ光源からの光の前記一定の波長の値を切り替えることを特徴とする分光システムの制御方法。図5に示すような装置においては、電磁波の多重反射が問題となることがある。例えば、被測定物Sで反射した一部の電磁波は、送信部24に戻り、そこで再び反射され、もう一度被測定物Sに向かう。また、被測定物Sを透過して受信部25に到達した電磁波の一部は、受信部25で反射され、被測定物Sに戻り、そこで再び反射され、もう一度受信部25に向かう。いずれの場合にしても、光伝導スイッチで電気信号に変換される電磁波は、単純に送信部24から発せられ受信部25に直接到達した信号だけではなく、被測定物Sと送信部24を何回か往復した信号、受信部25と被測定物Sを何回か往復した信号、などの重ね合わせである。この場合、反射物の間隔が電磁波の波長の1/2の整数倍のとき、受信部25に到達する電磁波の強度が強くなるという効果が生じるため、本来測定されるべき、被測定物Sに対する電磁波の透過特性が正確に測定できなくなってしまう。本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、反射しないで受信される信号と反射してから受信される信号を分離できる分光システムおよびその制御方法を提供することにある。上記の課題を解決するために、第1の本発明は、第1の波長可変レーザ光源と、第2の波長可変レーザ光源と、波長固定レーザ光源と、前記第1の波長可変レーザ光源からの光と前記波長固定レーザ光源からの光を合波することにより得られる光ビート信号を電磁波に変換する第1のフォトミキサと、前記第1の波長可変レーザ光源からの光と前記第2の波長可変レーザ光源からの光を合波することにより得られる光ビート信号を電磁波に変換する第2のフォトミキサと、前記第1のフォトミキサからの電磁波を照射された被測定物を経た電磁波と前記第2のフォトミキサからの電磁波とを混合する手段と、前記混合された電磁波から前記波長固定レーザ光源からの光の周波数と前記第2の波長可変レーザ光源からの光の周波数の差に等しい周波数を有する電磁波である中間周波信号を抽出する受信用ミキサと、前記第1の波長可変レーザ光源からの光の波長が一定の期間において前記第2の波長可変レーザ光源からの光の波長を、該波長が予め定められた複数の波長のそれぞれに等しくなる期間が離散的になるように、変化させる手段と、前記第2の波長可変レーザ光源からの光の波長の離散的な変化に伴い前記中間周波信号が有することとなる複数の周波数について当該中間周波信号から当該各周波数の成分を分離して抽出する手段と、を備えることを特徴とする分光システムをもって解決手段とする。例えば、前記第2の波長可変レーザ光源からの光の波長を変化させる手段は、前記複数の波長のそれぞれに対応する周波数に等しくなる期間が離散的になるように変化する周波数を有する参照信号を出力する参照信号発生器と、前記波長固定レーザ光源からの光と前記第2の波長可変レーザ光源からの光を合波することにより得られる光ビート信号を電磁波に変換する手段と、前記参照信号の周波数と当該電磁波の周波数との差を検出し当該差がなくなるように前記第2の波長可変レーザ光源を制御する手段とを備える。第2の本発明は、第1の本発明に係る分光システムの制御方法であって、前記第1の波長可変レーザ光源からの光の波長が一定の期間において前記第2の波長可変レーザ光源からの光の波長を、該波長が前記複数の波長のそれぞれに等しくなる期間が離散的になるように、変化させることを特徴とする分光システムの制御方法をもって解決手段とする。第3の本発明は、第1の本発明に係る分光システムの制御方法であって、前記第1のフォトミキサからの電磁波が前記受信用ミキサに到達するまでの到達時間の2倍の周期で前記第1の波長可変レーザ光源からの光の前記一定の波長の値を切り替えることを特徴とする分光システムの制御方法をもって解決手段とする。本発明によれば、反射しないで受信される信号と反射してから受信される信号を分離することができる。以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は、本実施の形態に係る分光システムの構成を示すブロック図である分光システムは、ミリ波やテラヘルツ波の電磁波の透過スペクトルを測定するものである。図中101は波長掃引可能な波長可変レーザ光源、102は波長固定レーザ光源、103は波長可変レーザ光源101と波長固定レーザ光源102とは別の波長で発振している発振波長の微調整が可能な波長可変レーザ光源、104は波長可変レーザ光源101からの光と波長固定レーザ光源102の光の合波、波長可変レーザ光源101からの光と波長可変レーザ光源103からの光の合波、波長固定レーザ光源102と波長可変レーザ光源103からの光の合波を行う光合分波回路、105は波長可変レーザ光源101からの光と波長固定レーザ光源102からの光の合波により得られる光ビート信号をビート周波数に一致する周波数を有する電磁波に変換して放射するためのフォトミキサ、106は波長可変レーザ光源101からの光と波長可変レーザ光源103からの光の合波により得られる光ビート信号をビート周波数に一致する周波数を有する電磁波に変換して放射するためのフォトミキサ、107は波長固定レーザ光源102と波長可変レーザ光源103からの光の合波により得られる光ビート信号をビート周波数に一致する電気信号に変換するためのフォトダイオード、108は波長可変レーザ光源103の発振波長を微調整するための参照信号を与えるための参照信号発生器、109はフォトダイオード107からの電気信号と参照信号発生器108からの参照信号を混合するためのミキサ、110はフォトダイオード107と参照信号発生器108からの参照信号の周波数差を検出し、波長可変レーザ光源103の発振波長を微調整するための制御信号を出力するための周波数差検出回路、111はフォトミキサ105から放射される、被測定物の特性評価に用いる電磁波を平行ビームにコリメートするためのコリメート鏡、112は被測定物透過特性が評価される物質、113はフォトミキサ106から放射される電磁波この電磁波は、ヘテロダイン受信器を励起する局部発振信号として用いられるを平行ビームにコリメートするためのコリメート鏡、114は被測定物112の特性評価に用いる電磁波とヘテロダイン受信器を励起する局部発振信号として用いられる電磁波を混合するためのハーフミラー、115は被測定物112を透過してきた電磁波の強度を測定するための受信用ミキサ、116は被測定物112の特性評価に用いる電磁波とヘテロダイン受信器を励起する局部発振信号として用いられる電磁波を受信用ミキサ115に導入するためのコリメート鏡、117は受信用ミキサ115により中間周波信号に変換された信号の強度を増幅するための受信用増幅器、118は狭帯域フィルタ各狭帯域フィルタの透過特性は互いに異なっている、119は検波器、120はADアナログディジタル変換器、121は制御装置である。狭帯域フィルタ118、検波器119、AD変換器120を囲む点線は、このブロックがそれぞれ異なる周波数をもつ信号の強度を測定するための信号強度検出回路であることを示している。波長固定レーザ光源102、波長可変レーザ光源103には、例えば、半導体単一モードレーザが用いられる。フォトミキサ105からは、波長可変レーザ光源101からの光の周波数と波長固定レーザ光源102からの光の周波数の差に等しい周波数を有する電磁波が出力される。フォトミキサ106からは、波長可変レーザ光源101からの光の周波数と波長可変レーザ光源103からの光の周波数の差に等しい周波数を有する電磁波が出力される。分光システムの動作波長可変レーザ光源101、波長可変レーザ光源103は当初は、消光状態であり、一方、波長固定レーザ光源102は発光しており、その光の波長はλFLS1に固定されている。波長λFLS1は、例えば、1.5479340μmである。この状態で、制御装置121は、波長可変レーザ光源101に制御信号を送信し、図2aに示すように、波長可変レーザ光源101からの光の波長を時間的に変化させる。波長可変レーザ光源101は、例えば、外部共振器型のレーザを用い、この場合、外部共振器を構成しているミラーや回折格子をモーターなどにより回転や移動させることにより、波長可変レーザ光源101からの光の波長を高速で掃引させることができる。また、波長可変レーザ光源101は、外部共振器を用いるため、光の波長を広範囲で掃引させることができる。波長λTLS1、λTLS2、λTLS3は、例えば、それぞれ1.5500000μm、1.5500080μm、1.5500160μmである。波長可変レーザ光源101は、波長λTLS1でΔtだけ発光したあと、Δtだけ消光し、次にλTLS2でΔtだけ発光し、Δtだけ消光する、というパターンを繰り返しながら波長が掃引される。Δtは、フォトミキサ105から放射された電磁波が受信用ミキサ115に到達するまでの時間の長さである。つまり、制御装置121は、波長可変レーザ光源101からの光の波長の値をΔtの2倍の周期で切り替える。また、制御装置121は、参照信号発生器108に制御信号を送信し、図2bに示すように、参照信号の周波数を変化させる。参照信号の周波数は、1つのパターンを有し、これをΔtの時間が経過するごとに繰り返す。また、1つのパターンの中において、参照信号の周波数は、周波数f1、f2、f3、f4のそれぞれに等しくなる期間が離散的になるように変化する。参照信号の周波数は、例えば、ステップ状に変化する。周波数f1、f2、f3、f4は、例えば、それぞれ150MHz、300MHz、450MHz、600MHzである。このような参照信号が出力されると、波長可変レーザ光源103からの光の波長は、図2cに示すように時間的に変化する。波長λFLS21、λFLS22、λFLS23、λFLS24は、例えば、それぞれ1.5479328μm、1.5479316μm、1.5479304μm、1.5479292μmである。つまり、フォトダイオード107は、波長固定レーザ光源102からの光の周波数と波長可変レーザ光源103からの光の周波数の差に等しい周波数を有する電磁波を出力し、そして、ミキサ109は、フォトダイオード107からの電磁波の周波数と参照信号の周波数の差に等しい周波数を有する信号を出力し、周波数差検出回路110は、この信号の周波数がゼロになるように、波長可変レーザ光源103を制御するからである。この制御において、周波数差検出回路110は、例えば、波長可変レーザ光源103の注入電流量やデバイスの温度を変える。なお、波長固定レーザ光源102からの光の周波数と、波長可変レーザ光源103からの光の周波数を高い精度10桁かそれ以上で測定し、これら周波数の差が、参照信号の周波数に代わる目標値に一致するように、波長可変レーザ光源103を制御してもよい。この場合、フォトダイオード107、参照信号発生器108、ミキサ109、周波数差検出回路110は不要である。波長可変レーザ光源103からの光の波長が、図2cに示すように変化した場合、受信用ミキサ115では、図2dに示すように、波長可変レーザ光源101の点灯からΔtだけ遅れて周波数c1/λTLS1―1/λFLS1の電磁波が到達し、更に波長可変レーザ光源101の点灯から3Δtだけ遅れて周波数c1/λTLS2―1/λFLS1の電磁波が到達し、波長可変レーザ光源101の点灯から5Δtだけ遅れて周波数c1/λTLS3―1/λFLS1の電磁波が到達する、というパターンを繰り返しながら受信する電磁波の周波数が変化していく。cは光速である。ここで、図3aのように受信用ミキサ115に到着した周波数c1/λTLS1―1/λFLS1の電磁波について考えると、受信用ミキサ115に到着し始めた時の信号は、最短コースを通って受信用ミキサ115に到着していることになるから、信号としては、直接波であるといえる。また、それよりも時間的に遅れた信号については、反射などして、長い経路を通ってきた信号と、フォトミキサ105から遅れて出てきた信号の重ね合わせとなるから、直接波と間接波の重ね合わせと考えられる。つまり、電磁波の多重反射があった場合、直接受信された電磁波に比べて、反射波は、長い経路を伝播することになる。そのため反射波間接波は、直接波よりも時間的に遅れて受信用ミキサ115に到達することになる。前述のように、本実施の形態では、参照信号発生器108からの参照信号の周波数をΔtのなかでf1、f2、f3、f4と変化させ、これにより波長可変レーザ光源103のからの光の波長をλFLS21、λFLS22、λFLS23、λFLS24と変化させる。すると、図3bのように受信用ミキサ115から出力される中間周波信号の周波数は、c1/λFLS1―1/λFLS21、c1/λFLS1―1/λFLS22、c1/λFLS1―1/λFLS23、c1/λFLS1―1/λFLS24と時々刻々変化することになる。各狭帯域フィルタ118は、図4に示すように、それぞれ周波数c1/λFLS1―1/λFLS21、c1/λFLS1―1/λFLS22、c1/λFLS1―1/λFLS23、c1/λFLS1―1/λFLS24を中心とした透過帯域を有するように予め設定される。よって、中間周波信号の周波数c1/λFLS1―1/λFLS21の成分は、その周波数を含む透過帯域を有する信号強度検出回路でのみで検出される。中間周波信号の周波数c1/λFLS1―1/λFLS22の成分は、その周波数を含む透過帯域を有する信号強度検出回路でのみで検出される。中間周波信号の周波数c1/λFLS1―1/λFLS23の成分は、その周波数を含む透過帯域を有する信号強度検出回路でのみで検出される。中間周波信号の周波数c1/λFLS1―1/λFLS24の成分は、その周波数を含む透過帯域を有する信号強度検出回路でのみで検出される。つまり、受信用ミキサ115に到達する信号の強度を到達時刻別に測定できる。各AD変換器120は、各検波器119の出力をディジタルのデータに変換する。制御装置121は、データをそのデータが出力された時間のデータとして記録する。これにより、受信用ミキサ115で受信された信号を4つの信号に分離でき、つまり、受信された信号を周波数c1/λFLS1―1/λFLS21をもつ直接波のみからなる信号、と、その他の信号直接波と間接波が混在した信号に分離できる。仮に、このような受信用ミキサ115で受信した電磁波を到来時間別に検出する機能がない場合、遅れてくる反射波を切る分けることができない。しかし、本実施の形態では、波長λFLS2の変化に対応するように、複数ある信号強度検出回路のうち、アクティブなのはいつも一つで、それが時々刻々と変化する、そのため、直接波より遅れて受信用ミキサ115に到達する反射波を切り分けることが可能になる。つまりは、反射波の影響を受けない、言い換えれば、多重反射の影響を受けない被測定物に対するミリ波テラヘルツ波電磁波の透過または反射スペクトルを測定する分光システムが実現できる。制御装置121にて記録されるデータは、フォトミキサ105からの電磁波が被測定物112を透過して、多重反射せずに受信用ミキサ115で直接検出される電磁波の強度の周波数依存を表す関数である。この関数は、本実施の形態に係る分光システム自体の持つ周波数特性と、被測定物112が持つ電磁波の透過特性の積である。また、被測定物112を設置しない状態で、制御装置121にて記録されるデータは、分光システム自体の持つ周波数特性を表す。したがって、予め、被測定物112を設置しないで測定しておいたデータで、被測定物112を設置した状態で測定したデータを除することで、被測定物112が持つ電磁波の透過特性を示すデータを得ることができる。なお、本実施の形態では、時間により離散的に変化する周波数ごとの透過特性を有する信号強度検出回路を複数用いたが、周波数の変化にあわせて透過特性を離散的に変化させることが可能な同一の信号強度検出回路を用いてもよい。また、本実施の形態では、4つの周波数f1~f4を用いたが、周波数の数は、2以上であれば、任意である。よって、信号強度検出回路も周波数の数に応じて設ければよい。また、本実施の形態では、被測定物112の透過特性を求めるのに分光システムを用いたが、これを被測定物112の反射特性を求めるのに用いてもよい。