試料を結像する対物レンズと、該対物レンズにより結像された前記試料を撮像する撮像素子と、前記試料を保持して移動可能なステージと、を備え、前記ステージを前記対物レンズの光軸方向に移動して、該光軸方向の異なる複数の位置で前記試料を撮像することにより、前記試料の複数の画像を取得する顕微鏡装置であって、前記複数の画像のうちの、前記試料の像を含む試料画像と前記試料の像を含まない非試料画像とを識別する画像認識手段と、前記非試料画像の枚数の変動量を取得する非試料画像記録手段と、を有しており、前記変動量に基づいて前記ステージの撮像開始位置を調整することを特徴とする顕微鏡装置。前記試料の厚さ情報に応じた前記ステージの移動量である試料分ストロークと、前記試料に対する予備撮像範囲に応じた前記ステージの移動量である予備分ストロークと、を設定する条件設定手段を有しており、前記ステージを前記予備分ストロークおよび前記試料分ストロークに基づいて前記光軸方向に移動して、前記複数の画像を取得することを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡装置。前記変動量に基づいて予備分補正値を算出する予備撮像調整手段を有し、前記条件設定手段は、前記予備分補正値に基づいて前記予備分ストロークを設定することを特徴とする請求項2に記載の顕微鏡装置。前記試料の厚さ情報を取得する計測器を有し、前記条件設定手段は、該計測器で取得した前記試料の厚さ情報に基づいて前記試料分ストロークを設定することを特徴とする請求項2または3に記載の顕微鏡装置。前記画像認識手段が、前記複数の画像のうち前記試料の表面位置または裏面位置の画像を識別した時に、撮像動作を終了させる撮像停止手段を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の顕微鏡装置。前記画像認識手段は、前記複数の画像の夫々のコントラストに基づいて、前記試料画像と前記非試料画像とを識別することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の顕微鏡装置。試料を結像する対物レンズと、該対物レンズにより結像された前記試料を撮像する撮像素子と、前記試料を保持して移動可能なステージと、を備え、前記ステージを前記対物レンズの光軸方向に移動して、該光軸方向の異なる複数の位置で前記試料を撮像することにより、前記試料の複数の画像を取得する顕微鏡装置であって、前記複数の画像のうちの、前記試料の像を含む試料画像と前記試料の像を含まない非試料画像とを識別する画像認識手段と、前記非試料画像の枚数の変動量を取得する非試料画像記録手段と、を有しており、前記変動量に基づいて前記ステージの撮像開始位置の調整の要否を決定することを特徴とする顕微鏡装置。しかしながら、特許文献1に記載の構成では、焦点誤差検出光学系を新たに設けるためのスペースが必要になる上、この焦点誤差検出光学系自体が熱変形してしまう可能性がある。また、特許文献2に記載の構成において、対物レンズに対する高精度な温度管理が要求される場合は大量の温調空気が必要となるため、装置全体の大型化およびコストアップを招いてしまう。ここで、周囲環境の温度変動等により生じる焦点位置のずれ量を考慮して、対物レンズの光軸方向に予備撮像範囲を設けてステージの駆動量を大きくすることで、試料の計測範囲を広げる方法が考えられる。しかし、温度変動等による対物レンズの焦点位置のずれ量は、試料の光軸方向の厚さに対して大きいため、予備撮像範囲を多く設ける必要がある。よって、この方法では、観察に必要なスライス画像と比較して、予備撮像範囲に対するスライス画像の枚数が非常に多くなり、画像データ量や撮像時間が増大してしまう。そこで本発明は、対物レンズの焦点位置のずれが生じた場合においても、装置全体の大型化および画像データ量や撮像時間の増大を抑制しつつ、試料の観察領域全体の三次元立体画像を取得することができる顕微鏡装置を提供することを目的とする。上記目的を達成するための、本発明の一側面としての顕微鏡装置は、試料を結像する対物レンズと、該対物レンズにより結像された前記試料を撮像する撮像素子と、前記試料を保持して移動可能なステージと、を備え、前記ステージを前記対物レンズの光軸方向に移動して、該光軸方向の異なる複数の位置で前記試料を撮像することにより、前記試料の複数の画像を取得する顕微鏡装置であって、前記複数の画像のうちの、前記試料の像を含む試料画像と前記試料の像を含まない非試料画像とを識別する画像認識手段と、前記非試料画像の枚数の変動量を取得する非試料画像記録手段と、を有しており、前記変動量に基づいて前記ステージの撮像開始位置を調整することを特徴とする。なお、本発明の更なる目的またはその他の特徴は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施の形態によって明らかにされる。本発明によれば、対物レンズの焦点位置のずれが生じた場合においても、装置全体の大型化および画像データ量や撮像時間の増大を抑制しつつ、試料の観察領域全体の三次元立体画像を取得することができる顕微鏡装置を提供することができる。以下、本発明の好ましい実施例について図面を用いて説明する。[実施例1]図1に示すブロック図を用いて、本発明の実施例1に係る顕微鏡装置1により観察対象の試料3を撮像する動作を説明する。試料3は開口が設けられたステージ5上に配置および固定されており、その開口を通して光源不図示からの光が試料3に照射される。試料3を透過した光6は、対物レンズ4を介して撮像素子12の撮像面上に結像され、撮像素子12によって試料3の像が電気信号に変換される。そして、この電気信号は画像処理手段15に送られ、画像処理が施されることにより画像として形成される。なお、撮像素子12による撮像動作は、撮像素子制御手段13によって制御できるものとしている。本実施例では、上述した撮像動作を試料におけるZ方向対物レンズ4の光軸方向の複数の位置で行う方法Zスタックを用いることにより、試料3のスライス画像を取得する。具体的には、ステージ制御手段14により、ステージ5をZ方向にステップ駆動することによって、Z方向の異なる複数の位置で試料3を撮像してスライス画像を取得することができる。そして、取得した複数のスライス画像を画像処理手段15により合成して、試料3全体の三次元立体画像を形成することができる。また、取得した各スライス画像および三次元立体画像は、画像データベース16に保存され、不図示のPCモニタに表示することができる。なお、このようなZスタックを行う場合は、顕微鏡装置1として共焦点顕微鏡を用いることが望ましい。ここで、周囲環境の温度変動等により、対物レンズ4における光学素子の屈折率変化や、光学素子を保持する鏡筒の熱変形などが生じ、焦点位置が変動してしまう場合がある。そこで、本実施例では、温度変動等により生じる焦点位置のずれ量を考慮して、Z方向に予備撮像範囲を設けている。すなわち、ステージ5のステップ駆動における予備分ストロークを設定することで、試料3におけるZ方向の計測範囲を広げている。このことにより、焦点位置のずれ量を検出するための光学系や、対物レンズ4を温調するための構成が不要となるため、装置全体の大型化を招くことなく、試料の観察領域全体の三次元立体画像を取得することができる。しかし、エアコン等の空調機器により温度管理された部屋においても、一般的に2~3°C程度の温度変動が生じ、この程度の温度変動による対物レンズ4の焦点位置のずれ量は試料3の厚さに対して大きい。よって、焦点位置のずれ量に応じて予備撮像範囲を多く設ける必要がある。例えば、3°Cの温度変動が生じた時の対物レンズ4の焦点位置のずれ量が7.5μmであるとし、厚さ5μmの細胞のスライス画像を、0.5μmの等間隔のサンプリングピッチで取得する場合を考える。この場合、細胞全体の三次元立体画像を取得するためには、細胞の厚さ5μmに対して11枚のスライス画像が必要となる。一方で、細胞の表面側および裏面側に対して、焦点位置のずれ量7.5μm分の予備分ストロークを設定した場合、その予備分ストロークで撮像して得られるスライス画像の予備撮像枚数は30枚となる。よって、この方法では、観察に必要なスライス画像と比較して、予備撮像範囲に対するスライス画像の枚数が非常に多くなり、画像データ量や撮像時間が増大してしまうという問題が生じる。そこで、顕微鏡装置1において、周囲環境の温度変動等により生じる焦点位置のずれ量を考慮して予備撮像範囲を設ける場合に、予備撮像枚数を減らし、撮像時間を短縮するための構成を以下に説明する。図1に示すように、顕微鏡装置1は前述した構成の他に、条件設定手段2と、画像認識手段17と、非試料画像記録手段18と、補正量算出手段19と、を有している。なお、これらの各手段や撮像素子制御手段13および画像処理手段15としてはCPUを用いることができる。また、ステージ制御手段14としては、CPUの他にステージを駆動させるためのアクチュエータや、ステージ位置検出器例えばエンコーダ等を含む構成とすることができる。条件設定手段2によって、Zスタックを行う際の初期設定を以下のように行う。まず、予め取得しておいた試料3の厚さ情報に基づいて、図2aに示すように、試料撮像分のステージ移動量である試料分ストローク7を設定する。この試料分ストローク7と、ユーザーが任意に設定したサンプリングピッチと、により試料撮像枚数を求める。また、試料分ストローク7に加えて予備分ストローク8aおよび8bをそれぞれ設定し、試料撮像枚数と同様にサンプリングピッチから予備撮像枚数を求める。ここで、図2aでは、予備分ストローク8aおよび8bは、試料分ストローク7の上側および下側に設定されており、これらを含めて撮像ストローク9としている。そして、条件設定手段2において、撮像ストローク9に応じて撮像する撮像範囲を設定するために、ステージ5の撮像開始位置を決定し、かつ試料撮像枚数および予備撮像枚数から撮像回数を算出する。このように、条件設定手段2によって求めた各初期設定情報が、ステージ制御手段14および撮像素子制御手段13に送られることにより、試料3の撮像が開始される。前述した各設定情報に基づいて取得した複数のスライス画像は、画像データベース16に保存される。ここで、画像認識手段17は、取得した各スライス画像のコントラストに基づいて、試料3の像を含む試料画像と試料3の像を含まない非試料画像とを識別する。この時、試料3の表面位置および裏面位置のそれぞれにおけるスライス画像表面画像および裏面画像を検出することができる。そして、非試料画像記録手段18により、画像認識手段17の識別結果に基づき、試料3の表面側および裏面側のそれぞれにおける非試料画像枚数を取得および記録する。非試料画像記録手段18は、同じ試料3を複数回観察したり、複数の試料3を連続して観察したりする場合など、三次元立体画像の取得毎に非試料画像枚数を随時記録していく。なお、表面画像および裏面画像は、試料画像から非試料画像に切り替わる境界の画像であるため、画像認識手段17により表面画像および裏面画像を検出しておけば、非試料画像の枚数を容易に検出することができる。ここで、図2bでは、撮像範囲の最上端と対物レンズ4の焦点位置とが一致する位置をステージ5の撮像開始位置として設定しており、対物レンズ4の焦点位置のずれが発生していない場合を示している。なお、ここでは、試料3の表面側から裏面側の順に撮像する場合を想定しているが、試料3の裏面側から表面側の順に撮像するようにステージ5の撮像開始位置を設定してもよい。また、撮像ストローク9に対して撮像される撮像範囲のうち、試料3が撮像される範囲を試料撮像範囲10、試料3が撮像されない範囲を非試料撮像範囲11aおよび11bとしている。すると、対物レンズ4の焦点位置のずれが生じていないため、条件設定手段2で設定した試料分ストローク7は、試料撮像範囲10に一致することになる。すなわち、予備分ストローク8aおよび8bと、試料3の表面側の非試料撮像範囲11aおよび裏面側の非試料撮像範囲11bとがそれぞれ一致し、かつ非試料撮像範囲11aおよび11bにおける非試料画像枚数が予備撮像枚数と等しくなる。一方、試料3を連続して観察していくうちに周囲環境の温度変動等が生じ、対物レンズ4の焦点位置がずれていった場合、非試料画像記録手段18により随時記録される非試料画像枚数が変動してしまう。例えば、図2cに示すように、焦点位置が対物レンズ4側に移動した場合、条件設定手段2により設定していた撮像範囲も焦点位置のずれ量と同じ分だけ移動する。よって、試料3の表面側の非試料撮像範囲11a非試料画像枚数は増加し、試料3の裏面側の非試料撮像範囲11b非試料画像枚数は減少することになる。そこで、非試料画像記録手段18は、記録した非試料画像枚数に基づいて、試料3の三次元立体画像の取得毎に、または試料3を変更する毎に非試料画像枚数の変動量を算出および記録する。この時、条件設定手段2により設定した予備撮像枚数を非試料画像枚数の基準としてその基準からの変動量を取得したり、試料3の観察毎に記録した非試料画像枚数の差分を取得したりすることで、焦点位置のずれ量20を算出してもよい。さらに、補正量算出手段19により、非試料画像枚数の変動量に基づいて、対物レンズ4の焦点位置のずれ量20を算出することができる。なお、補正量算出手段19により、予め焦点位置のずれ量20の許容範囲に対応する非試料画像枚数の許容変動量非試料画像の許容枚数を設定しておくことができる。そして、試料3の表面側または裏面側の非試料画像枚数が、その許容変動量の分だけ変動して許容枚数と一致した時に、ステージ5の撮像開始位置の調整が必要であると判定される。具体的には、焦点位置のずれ量20を、撮像範囲補正量21としてステージ制御手段14にフィードバックし、試料3の非試料撮像範囲11aおよび非試料撮像範囲11bが等しくなるように、ステージ5の撮像開始位置を調整する。その結果、焦点位置のずれ量20の影響が相殺され、撮像範囲が補正される。具体例として、試料3の厚さを5μm、スライス画像のサンプリングピッチを0.5μmとし、3°Cの温度変動が生じた時の対物レンズ4の焦点位置のずれ量が7.5μmである場合を考える。この場合、条件設定手段2により、試料3の厚さ情報に基づき試料分ストローク7を5μmと設定でき、この時算出される試料撮像枚数は11枚となる。ここで、本発明を用いない場合は、焦点位置のずれ量が7.5μmであることを考慮すると、予備分ストローク8aおよび8bのそれぞれを7.5μmに設定する必要があり、その時の予備撮像枚数30枚となる。しかし本実施例では、上述したように、焦点位置のずれに応じて随時ステージ5の撮像開始位置を調整することができるため、予備分ストローク8aおよび8bのそれぞれを小さい値例えば2μmに設定することができる。予備分ストローク8aおよび8bをそれぞれ2μmとした時の予備撮像枚数は8枚各4枚となり、本発明を適用せずに予備分ストロークを設けた場合に対して予備撮像枚数を削減することができる。なお、周囲環境の温度変動等が少ない場合には、予備分ストローク8aおよび8bをさらに小さな値にすることができる。対物レンズ4の焦点位置のずれが発生していない場合は、図2bに示したように、試料3の表面側および裏面側の非試料画像枚数は、設定した予備撮像枚数各4枚と等しくなる。しかし、図2cに示したように、対物レンズ4の焦点位置が経時的に上方にずれていく場合、試料3の表面側の非試料画像枚数は4枚から5枚、6枚と増加していき、試料3の裏面側の非試料画像枚数は4枚から3枚、2枚と減少していく。ここで、補正量算出手段19により非試料画像枚数の許容変動量を2枚に設定した場合、試料3の表面側および裏面側の非試料画像の許容枚数はそれぞれ6枚および2枚となる。よって、非試料画像記録手段18が取得する非試料画像枚数がこの許容枚数に一致した時点で、撮像範囲の補正が必要であると判定される。そして、補正量算出手段19により、スライス画像のサンプリングピッチ0.5μmと、非試料画像枚数の変動量2枚とに基づき、対物レンズ4の焦点位置のずれ量20が1μmとして算出される。よって、このずれ量20が撮像範囲補正量21としてステージ制御手段14に送られることで、ステージ5の撮像開始位置に対するフィードバック調整が行われる。その結果、焦点位置のずれ量20に対して撮像範囲が補正され、試料3の表面側および裏面側の非試料画像枚数をそれぞれ4枚に戻すことができる。以上、本実施例に係る顕微鏡装置1によれば、対物レンズ4の焦点位置のずれが生じた場合でも、随時記録される非試料画像枚数の変化から算出した補正量に基づきステージ5をフィードバック調整し、撮像範囲を補正することができる。そのため、予備分ストローク8aおよび8bを小さく設定しても、試料3の観察領域全体の三次元立体画像を取得することができるため、装置全体の大型化および画像データ量や撮像時間の増大を抑制することができる。[実施例2]以下、図3を参照して、本発明の別の実施例について説明する。なお、以下の説明において、実施例1と同一または同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略もしくは省略する。本実施例に係る顕微鏡装置1は、実施例1の構成に加えて予備撮像調整手段22を備えている。例えば、周囲環境の温度変動等の量が当初想定していたよりも少なかった場合、図2cに示したような対物レンズ4の焦点位置のずれ量20に対して、条件設定手段2で設定した予備分ストローク8aおよび8bに不要分が生じることになる。そこで、予備撮像調整手段22は、非試料画像記録手段18で取得される非試料画像枚数の変動量から、非試料画像枚数の不要分不要枚数を取得し、その不要枚数より予備分補正値を算出する。そして、その予備分補正値を条件設定手段2にフィードバックすることにより、以降の測定において条件設定手段2により設定される予備分ストローク8aおよび8bを減らすことができ、画像データ量および撮像時間の増大を抑制することができる。ここで、実施例1において説明した具体例に基づき、本実施例の予備撮像調整手段22について説明する。例えば、予備撮像調整手段22が非試料画像枚数の不要分を検出すると、対物レンズ4の焦点位置のずれ量20に対して、予備分ストローク8aおよび8b各2μmが大きすぎると判断する。そして、予備撮像調整手段22は、予備分ストローク8aおよび8bに対応する予備撮像枚数各4枚のうちの不要枚数例えば各1枚を求め、算出した予備分補正値を条件設定手段2にフィードバックする。そして、この予備分補正値に基づき、条件設定手段2により予備分ストローク8aおよび8bを新たに設定することで、予備撮像枚数を各1枚ずつ削減することができる。なお、予備撮像調整手段22により、対物レンズ4の焦点位置のずれ量20に対して、予備分ストローク8aおよび8bが小さすぎると判断した場合には、予備撮像枚数の不足分に基づき予備分ストロークを増やすようにすることができる。[実施例3]以下、図4を参照して、本発明の別の実施例について説明する。なお、以下の説明において、上述した他の実施例と同一または同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略もしくは省略する。実施例1では、撮像ストローク9に対するスライス画像を全て取得した後に、画像認識手段17により試料3の表面位置および裏面位置のそれぞれにおけるスライス画像表面画像および裏面画像を検出する場合について説明した。一方、本実施例では、試料3のZ方向の各位置における撮像中に、画像処理手段15によって形成されるスライス画像を画像認識手段17により順次識別して、表面画像および裏面画像を検出する場合を考える。本実施例に係る顕微鏡装置1は、画像認識手段17が表面画像または裏面画像を検出した時点で、ステージ制御手段14および撮像素子制御手段13に指令を与え、撮像動作を停止させることができる撮像停止手段23を備えている。例えば図2で示したように、試料3の表面側の非試料撮像範囲11aから撮像を開始した場合、画像認識手段17により裏面画像が検出された時点で、撮像停止手段23により撮像動作を終了させる。これにより、試料3の裏面側の非試料画像は取得されなくなるため、非試料画像記録手段18は、試料3の表面側の非試料画像枚数の変動量のみを記録しておけばよく、画像データ量および撮像時間の増大の抑制を実現することができる。[実施例4]以下、図5を参照して、本発明の別の実施例について説明する。なお、以下の説明において、上述した他の実施例と同一または同等の構成部分については同一の符号を付し、その説明を簡略もしくは省略する。実施例1では、予め外部で取得された試料3の厚さ情報に基づき、条件設定手段2により試料分ストローク7を設定している。ここで、一般的な試料3生体組織などは、例えば5μm程の厚さにスライスされたものを用いるが、実際は試料3毎の厚さに対して数μmのばらつきが生じてしまう。そのため、撮像する試料3毎にその厚さ情報を取得した上で、試料分ストローク7を決定する必要がある。そこで、本実施例では、顕微鏡装置1の内部に厚さ計測エリア25を設けており、厚さ計測エリア25において試料3の厚さ情報を取得する構成となっている。この構成によれば、対物レンズ4および撮像素子12を含む本撮像エリア24において試料3のスライス画像を取得する前に、厚さ計測エリア25において試料3の厚さ情報を取得することができる。この時、試料3を配置したステージ5は、Z方向だけでなくXY方向の位置制御が可能であり、本撮像エリア24と厚さ計測エリア25とのを往復するものとしている。厚さ計測エリア25には、Z方向におけるステージ5の位置を計測するステージ位置計測器26と、Z方向における試料3の位置を計測する試料位置計測器27とが設けられている。このステージ位置計測器26および試料位置計測器27は、互いの相対位置がずれないように同一定盤上に固定されている。試料3の厚さ情報は、ステージ位置計測器26により取得されるステージ高さ情報と、試料位置計測器27により取得される試料3の高さ情報とに基づき、ステージ5上面から試料3表面までの距離として算出される。そして、ステージ5により試料3を本撮像エリア24まで移動し、算出された試料3の厚さ情報に基づいて条件設定手段2により試料分ストローク7を設定する。したがって、本実施例に係る顕微鏡装置1によれば、複数の試料3のそれぞれに対して厚さ情報を取得し、各厚さ情報に基づいて試料分ストローク7を設定することが可能となる。なお、本実施例では厚さ情報を取得するために、ステージ位置計測器26および試料位置計測器27の2つの計測器を設けているが、試料3の厚さ情報の取得方法はこれに限るものではない。例えば、1つの計測器のみを設け、それに対してステージ5をXY方向に移動することにより、試料3およびステージ5の高さ情報をそれぞれ取得してもよい。[その他の実施例]以上、本発明の好ましい実施例について説明したが、本発明はこれらの実施例に限定されないことは言うまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。例えば、実施例1では、スライス画像を取得する際のサンプリングピッチを等間隔に設けているが、本発明はこれに限らない。すなわち、試料分ストローク7のサンプリングピッチを小さく、予備分ストローク8aおよび8bのサンプリングピッチを長くするなど、観察対象の試料3に応じて任意に設定することができるものとする。また、実施例1では、予備分ストローク8aおよび8bの値を互いに等しく設定しているが、本発明はこれに限らず、試料分ストローク7の上側と下側とで異なる値に設定してもよい。また、予備分ストロークを試料分ストローク7の上側または下側のいずれか一方のみに設けてもよい。例えば、実施例1の具体例においては、予備分ストローク8aおよび8bをそれぞれ2μmに設定しているが、予備分ストローク8aまたは8bのいずれか一方のみを設け、その予備分ストロークを4μmに設定することができる。このような場合でも、図2で示した試料撮像範囲10が撮像ストローク9による撮像範囲に収まるようにステージ5の撮像開始位置を設定することで、非試料画像記録手段18により非試料画像枚数の変動量を算出することができる。また、実施例1に係る補正量算出手段19は、非試料画像枚数が予め設定した許容枚数になった時に、撮像範囲の補正を行う構成としている。しかし、ノイズ等急激な温度変動等により非試料画像枚数のばらつきが生じる場合がある。そのため、ノイズ等を考慮して予め補正値を決めてフィルタ処理をおこなうのが望ましく、例えば、連続取得した非試料画像枚数の変動量を移動平均処理した結果を用いて撮像範囲補正量21を求める構成としてもよい。なお、上述した各実施例のそれぞれを組み合わせてもよく、実施例1に係る顕微鏡装置1に対して、予備撮像調整手段22、撮像停止手段23、厚さ計測エリア25のそれぞれを任意に設けることができる。また、実施例3のように撮像停止手段23を備えない場合でも、試料3の撮像中にスライス画像を画像認識手段17により順次認識して、表面画像および裏面画像を検出するようにしてもよい。