"M=2NNは2以上の整数である差動M相位相シフト変調方式によって変調された光信号を受信する光受信装置であって、受信した光信号をM/2個に分岐する分岐部と、前記分岐部で分岐された光信号が個別に入力され、各々が、入力された光信号を2つの分岐成分に分岐し、分岐した一方の分岐成分を他方の分岐成分に対して1シンボル遅延させるとともにいずれか一方の分岐成分の位相を設定された位相だけシフトさせ、その後、両分岐成分を結合して出力するM/2組の遅延干渉計と、前記M/2組の遅延干渉計にそれぞれ対応し、各々が対応の遅延干渉計の出力を検波するM/2組のバランス検波器と、前記M/2組のバランス検波器の出力に基づいて、Nビットのデータを順次再生する再生部と、前記再生部によって順次再生されたNビットのデータの誤り訂正を行なう誤り訂正部と、少なくとも一部のビットパターンについて、各ビットパターンが別の1または複数のビットパターンに誤って識別される確率である誤識別率を、前記誤り訂正部の訂正結果に基づいて検出し、検出したビットパターンの誤識別率に基づいて、前記M/2組の遅延干渉計のうち少なくとも1つの位相の設定値を補正する位相補正部とを備えた光受信装置。前記位相補正部は、少なくとも一部のビットパターンについて各ビットパターンの誤識別率を検出し、検出した複数の誤識別率を相互に比較する識別精度比較部と、位相の設定値が最適値からずれている可能性のある遅延干渉計について、位相の設定値を増加させるのか減少させるのかを、前記識別精度比較部の比較結果に基づいて判別する判別部とを含む、請求項1に記載の光受信装置。前記識別精度比較部は、前記少なくとも一部のビットパターンについて、前記再生部の再生データの誤り率が最小のときに検出された誤識別率と、現在の誤識別率との偏差を算出し、算出した複数の偏差を相互に比較する、請求項2に記載の光受信装置。前記位相補正部は、前記再生部の再生データから得られた各ビットパターンの出現頻度と、検出したビットパターンの誤識別率との両方に基づいて、前記M/2組の遅延干渉計のうち少なくとも1つの位相の設定値を補正する、請求項1に記載の光受信装置。M=2NNは2以上の整数である差動M相位相シフト変調方式によって変調された光信号を受信する光受信装置であって、受信した光信号をM/2個に分岐する分岐部と、前記分岐部で分岐された光信号が個別に入力され、各々が、入力された光信号を2つの分岐成分に分岐し、分岐した一方の分岐成分を他方の分岐成分に対して1シンボル遅延させるとともにいずれか一方の分岐成分の位相を設定された位相だけシフトさせ、その後、両分岐成分を結合して出力するM/2組の遅延干渉計と、前記M/2組の遅延干渉計にそれぞれ対応し、各々が対応の遅延干渉計の出力を検波するM/2組のバランス検波器と、前記M/2組のバランス検波器の出力に基づいて、Nビットのデータを順次再生する再生部と、前記再生部の再生データから得られた各ビットパターンの出現頻度に基づいて、前記M/2組の遅延干渉計のうち少なくとも1つの位相の設定値を補正する位相補正部とを備えた光受信装置。前記位相補正部は、各ビットパターンの出現頻度または所定数のビットパターンによって構成される複数のグループの各々の出現頻度を検出し、検出した複数の出現頻度を相互に比較する出現頻度比較部と、位相の設定値が最適値からずれている可能性のある遅延干渉計について、位相の設定値を増加させるのか減少させるのかを、前記出現頻度比較部の比較結果に基づいて判別する判別部とを含む、請求項5に記載の光受信装置。前記出現頻度比較部は、各ビットパターンまたは前記複数のグループの各々について、前記再生部の再生データの誤り率が最小のときに検出された出現頻度と、現在の出現頻度との偏差を算出し、算出した複数の偏差を相互に比較する、請求項6に記載の光受信装置。ところで、遅延干渉計の位相制御量は、光信号の波長レベルで精密に調整する必要があるため、適切な値に調整するまでには時間がかかる。上記の特開2008-72555号公報特許文献1に記載された光受信装置の場合には、記憶部に記憶された過去の設定値または他のチャネルの設定値などを利用することによって、適切な値に設定するまでの時間短縮が図られている。しかしながら、最も近い波長のチャネルの設定値を初期値として利用できたとしても、その後は、誤り率が最小となるように試行錯誤的に位相を調整するので、最適値に位相を調整するまでに比較的長時間を要することになってしまっていた。さらには、位相調整中の段階では、かえって誤り率を劣化させる場合もあり得た。この発明の目的は、遅延干渉計の位相を最適値に調整する時間を従来よりも短縮することが可能な光受信装置を提供することである。この発明は一局面において、M=2NNは2以上の整数である差動M相位相シフト変調方式によって変調された光信号を受信する光受信装置であって、分岐部と、M/2組の遅延干渉計と、M/2組のバランス検波器と、再生部と、誤り訂正部と、位相補正部とを備える。分岐部は、受信した光信号をM/2個に分岐する。各遅延干渉計は、分岐部で分岐された光信号が個別に入力され、入力された光信号を2つの分岐成分に分岐し、分岐した一方の分岐成分を他方の分岐成分に対して1シンボル遅延させるとともにいずれか一方の分岐成分の位相を設定された位相だけシフトさせ、その後、両分岐成分を結合して出力する。M/2組のバランス検波器は、M/2組の遅延干渉計にそれぞれ対応し、各々が対応の遅延干渉計の出力を検波する。再生部は、M/2組のバランス検波器の出力に基づいて、Nビットのデータを順次再生する。誤り訂正部は、再生部によって順次再生されたNビットのデータの誤り訂正を行なう。位相補正部は、少なくとも一部のビットパターンについて、各ビットパターンが別の1または複数のビットパターンに誤って識別される確率である誤識別率を、誤り訂正部の訂正結果に基づいて検出し、検出したビットパターンの誤識別率に基づいて、M/2組の遅延干渉計のうち少なくとも1つの位相の設定値を補正する。この発明によれば、誤り訂正部の訂正結果に基づいて検出されたビットパターンの誤識別率に基づいて、遅延干渉計の位相の設定値が補正されるので、各遅延干渉計の位相を最適値に調整する時間を従来よりも短縮することができる。以下、この発明の実施の形態について図面を参照して詳しく説明する。なお、同一または相当する部分には同一の参照符号を付して、その説明を繰返さない。<実施の形態1>この発明は、差動M相位相シフト変調方式M=2Nであって、Nは2以上の自然数を用いて、Nビットの送信データで変調された光信号を受信する光受信装置に適用可能である。以下では、M=4N=2の場合、つまりDQPSK変調方式を用いて、2ビットの送信データで変調された光信号を受信する場合について説明する。[光受信装置の構成]図1は、本発明の実施の形態1による光受信装置100の構成を示すブロック図である。図1を参照して、光受信装置100は、平面光回路1と、バランス検波器4A,4Bと、トランスインピーダンスアンプ5-1,5-2と、クロックデータリカバリCDR:ClockDataRecovery回路6-1,6-2と、再生部7と、誤り訂正部8と、出現頻度比較部9と、判別部10と、制御部11とを含む。出現頻度比較部9、判別部10、および制御部11によって、遅延干渉計3-1,3-2のうち少なくとも1つの位相の設定値を調整する位相補正部15Aが構成される。なお、再生部7、誤り訂正部8、出現頻度比較部9、および判別部10は、たとえば、マイクロコンピュータを用いて実現することができる。平面光回路1は、分岐部2と、遅延干渉計3-1,3-2とを含む。平面光回路1において、光受信装置100に入力された光信号LSは分岐部2において2分岐され、2分岐された光信号は遅延干渉計3-1,3-2にそれぞれ入力される。なお、一般の差動M相位相シフト変調方式用の光受信装置の場合には、分岐部2において光信号LSはM/2個に分岐され、分岐後の信号光はM/2組の遅延干渉計に個別に入力される。バランス検波器は、遅延干渉計にそれぞれ対応してM/2組設けられる。遅延干渉計3-1に入力された光信号は、第1のアームと第2のアームとに分岐される。第1のアームの光路長は第2のアームの光路長よりも光信号のパルス時間間隔1シンボルに相当するτだけ長い。さらに、第2のアームに分岐された光信号成分の位相は、移相器フェーズシフタ12-1によって規定値であるπ/4だけシフトされる。移相器12-1の位相は、π/4に等しくなるように制御部11によって設定される。その後、第1アームと第2のアームとが近接することによって、両アームを通過する光信号成分は結合し、相互に干渉する。なお、移相器12-1を第1のアームに設けてもよく、この場合には、移相器12-1を通過する光信号の位相は、-π/4だけシフトされる。遅延干渉計3-2の構成は、遅延干渉計3-1の構成と同様である。ただし、遅延干渉計3-2の場合には、第2のアームに設けられた移相器12-2によって、第2のアームに分岐された光信号成分の位相は-π/4だけシフトされる。なお、移相器12-2を第1のアームに設けてもよく、この場合には、移相器12-2を通過する光信号の位相は、π/4だけシフトされる。遅延干渉計3-1の出力はバランス検波器4Aに入力される。バランス検波器4Aは、直列接続されたフォトダイオードPD:PhotoDiode4-1,4-2ツインフォトダイオードとも称するを含む。フォトダイオード4-1,4-2は逆バイアスされている。これらのフォトダイオード4-1,4-2の差動出力がトランスインピーダンスアンプ5-1に入力される。同様に、遅延干渉計3-2の出力は、フォトダイオード4-3,4-4によって構成されるバランス検波器4Bに入力される。これらのフォトダイオード4-3,4-4の差動出力がトランスインピーダンスアンプ5-2に入力される。図2は、ツインフォトダイオード4A,4Bの出力について説明するための図である。DQPSK方式では、隣接シンボル間の位相差が0,π/2,π,3π/2の4通りあり、これらの位相差に対して2ビットのビットパターン0,00,11,11,0がそれぞれ割当てられる。図2を参照して、遅延干渉計3-1の場合には、隣接シンボル間の位相差に対してπ/4が加えられるので、加算後の位相差Δφは、π/4,3π/4,5π/4,7π/4となる。PD4-1に生成される光電流はcos2Δφ/2に比例し、PD4-2に生成される光電流はsin2Δφ/2に比例する。ツインPD4Aの差動出力はそれらの差、すなわち、sin2Δφ/2-cos2Δφ/2...に比例する。遅延干渉計3-2の場合には、隣接シンボル間の位相差に対して-π/4が加えられるので、加算後の位相差Δφは、-π/4,π/4,3π/4,5π/4となる。ツインPD4Bの差動出力は、加算後の各位相差Δφを上式1に代入することによって得られる値に比例する。ここで、たとえばツインPD4A,4Bの差動出力がマイナスの場合を0、プラスの場合を1として、遅延干渉計3-2,遅延干渉計3-1の順に出力データを並べるとすなわち、遅延干渉計3-2の出力を上位ビットとし、遅延干渉計3-1の出力を下位ビットとすると、隣接シンボル位相差0,π/2,π,3π/2に対して0,00,11,11,0のビットパターンがそれぞれ復調されることになる。再び図1を参照して、各ビットパターンを実際に復調するために、トランスインピーダンスアンプ5-1,5-2は、ツインPD4A,4Bから出力された電流信号を電圧信号に変換し、変換後の電圧信号をCDR回路6-1,6-2にそれぞれ入力する。CDR回路6-1,6-2は、入力された電気信号からクロック信号を抽出し、当該クロック信号に同期して、電気信号を1か0に識別する。再生部7は、CDR回路6-1,6-2での識別結果に基づいて2ビットのデータを順次再生して出力する。誤り訂正部8は、CDR回路6-1,6-2での識別結果の誤りを、公知の誤り訂正技術を適用して訂正する。[遅延干渉計3-1,3-2の位相の設定値がずれた場合の出力変化]図3は、遅延干渉計3-2に設けられた移相器12-2によるシフト量と、ツインPD4Bの差動出力との関係を示す図である。図4は、遅延干渉計3-1に設けられた移相器12-1によるシフト量と、ツインPD4Aの差動出力との関係を示す図である。図3、図4では、送信された2ビットのビットパターン0,00,11,11,0隣接シンボル間の位相差0,π/2,π,3π/2にそれぞれ対応するの各々に対してツインPDの出力の計算結果が示される。図1、図3を参照して、遅延干渉計3-2に設けられた移相器12-2の位相が-π/4に正確に設定されているとする。この場合、送信されたデータが0,00,1隣接シンボル間の位相差が0,π/2のときには、ツインPD4Bの出力はマイナスとなるので、送信データの上位ビットは0と識別される。送信データが1,11,0隣接シンボル間の位相差がπ,3π/2のときには、ツインPD4Bの出力はプラスとなるので、送信データの上位ビットは1と識別される。これに対して、遅延干渉計3-2に設けられた移相器12-2の位相の設定値が-π/4よりもプラス側へずれた場合には図3のA、各送信データの上位ビットが0または1に識別される確率は次のように変化する。すなわち、送信データが0,0位相差が0のときにはツインPD4Bの差動出力はよりマイナスに変化するために、送信データの上位ビットは0と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが0,1位相差がπ/2のときにはツインPD4Bの差動出力はプラス方向に変化するために、送信データの上位ビットは1と誤って識別される確率が高くなる。送信データが1,1位相差がπのときにはツインPD4Bの差動出力はよりプラスに変化するために、送信データの上位ビットは1と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが1,0位相差が3π/2のときにはツインPD4Bの差動出力はマイナス方向に変化するために、送信データの上位ビットは0と誤って識別される確率が高くなる。上記の結果、本来、2ビットのビットパターン0,00,11,11,0が等確率で現れるのに対して、遅延干渉計3-2に設けられた移相器12-2の位相が-π/4よりもプラス側へずれた場合には、0,01,1の現れる確率が高くなる。同様に、遅延干渉計3-2に設けられた移相器12-2の位相が-π/4よりもマイナス側へずれた場合には図3のB、各送信データの上位ビットが0または1に識別される確率は次のように変化する。すなわち、送信データが0,0位相差が0のときにはツインPD4Bの差動出力はプラス方向に変化するために、送信データの上位ビットは1と誤って識別される確率が高くなる。送信データが0,1位相差がπ/2のときにはツインPD4Bの差動出力はよりマイナスに変化するために、送信データの上位ビットは0と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが1,1位相差がπのときにはツインPD4Bの差動出力はマイナス方向に変化するために、送信データの上位ビットは0と誤って識別される確率が高くなる。送信データが1,0位相差が3π/2のときにはツインPD4Bの差動出力はよりプラスに変化するために、送信データの上位ビットは1と正しく識別される確率がより高くなる。上記の結果、本来、2ビットのビットパターン0,00,11,11,0が等確率で現れるのに対して、遅延干渉計3-2に設けられた移相器12-2の位相が-π/4よりもマイナス側へずれた場合には、0,11,0の現れる確率が高くなる。次に図1、図4を参照して、遅延干渉計3-1に設けられた移相器12-1の位相がπ/4に正確に設定されているとする。この場合、送信されたデータが0,01,0隣接シンボル間の位相差が0,3π/2のときには、ツインPD4Aの出力はマイナスとなり、送信データの下位ビットは0と識別される。送信データが0,11,1隣接シンボル間の位相差がπ/2,πのときには、ツインPD4Aの出力はプラスとなり、送信データの下位ビットは1と識別される。これに対して、遅延干渉計3-1に設けられた移相器12-1の位相がπ/4よりもプラス側へずれた場合には図4のC、各送信データの下位ビットが0または1に識別される確率は次のように変化する。すなわち、送信データが0,0位相差が0のときにはツインPD4Aの差動出力はプラス方向に変化するために、送信データの下位ビットは1と誤って識別される確率が高くなる。送信データが0,1位相差がπ/2のときにはツインPD4Aの差動出力はよりプラスに変化するために、送信データの下位ビットは1と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが1,1位相差がπのときにはツインPD4Aの差動出力はマイナス方向に変化するために、送信データの下位ビットは0と誤って識別される確率が高くなる。送信データが1,0位相差が3π/2のときにはツインPD4Aの差動出力はよりマイナスに変化するために、送信データの下位ビットは0と正しく識別される確率がより高くなる。上記の結果、本来、2ビットのビットパターン0,00,11,11,0が等確率で現れるのに対して、遅延干渉計3-1に設けられた移相器12-1の位相がπ/4よりもプラス側へずれた場合には、0,11,0の現れる確率が高くなる。同様に、遅延干渉計3-1に設けられた移相器12-1の位相がπ/4よりもマイナス側へずれた場合には図4のD、各送信データの下位ビットが0または1に識別される確率は次のように変化する。すなわち、送信データが0,0位相差が0のときにはツインPD4Aの差動出力はよりマイナスに変化するために、送信データの下位ビットは0と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが0,1位相差がπ/2のときにはツインPD4Aの差動出力はマイナス方向に変化するために、送信データの下位ビットは0と誤って識別される確率が高くなる。送信データが1,1位相差がπのときにはツインPD4Aの差動出力はよりプラスに変化するために、送信データの下位ビットは1と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが1,0位相差が3π/2のときにはツインPD4Aの差動出力はプラス方向に変化するために、送信データの下位ビットは1と誤って識別される確率が高くなる。上記の結果、本来、2ビットのビットパターン0,00,11,11,0が等確率で現れるのに対して、遅延干渉計3-1に設けられた移相器12-1の位相がπ/4よりもマイナス側へずれた場合には、0,01,1の現れる確率が高くなる。図5は、移相器12-1,12-2の位相がそれぞれπ/4,-π/4からずれた場合における各ビットパターンの識別精度の変化および出現頻度の変化をまとめたものである。図5を参照して、移相器12-1,12-2によって設定される位相のずれ方は、図3に示したA,Bの場合と図4に示したC,Dの場合との4通りある。A,Dの場合には0,01,1のビットパターンが現れる確率が増加し、B,Cの場合には0,11,0のピットパターンが現れる確率が増加する。[出現頻度比較部9、判別部10および制御部11の動作]図6は、図1の出現頻度比較部9、判別部10および制御部11による遅延干渉計3-1,3-2の位相調整手順を示すフローチャートである。以下、図1、図6を参照して、出現頻度比較部9、判別部10および制御部11の動作について詳しく説明する。まずステップS110で、再生部7によって、受信した光信号LSから2ビットのデジタルデータが再生される。通常の信号では、遅延干渉計3-1,3-2の位相が最適値に設定されているときには、2ビットのビットパターン0,00,11,11,0の各々は等確率で現れる。実際の信号に代えて、0,00,11,11,0の各ビットパターンが等確率で現れるテストデータを用いてもよい。次に、出現頻度比較部9は、再生部7によって順次再生されたデータを、0,01,1のビットパターンからなる第1グループと、0,11,0のビットパターンからなる第2グループとに分類する。そして、出現頻度比較部9は、いずれのグループの出現頻度のほうが大きいのか、グループごとの出現頻度を比較するステップS120,S130,S140。なお、各ビットパターンの出現頻度を個別に比較して、4つのビットパターンのうち出現頻度の大きい2個のビットパターンを選択するようにしても構わない。判別部10は、出現頻度比較部9による比較結果に基づいて、現在の位相の設定値が最適値よりもずれている可能性のある遅延干渉計について、位相ずれを補正するために、現在の位相の設定値よりも増加するのか減少するのかを判別する。具体的な手順は以下のとおりである。なお、上記の第1、第2グループの出現頻度を比較するだけでは、遅延干渉計3-1,3-2のうち、どちらの遅延干渉計の位相がずれているのかまでは特定することができない。0,01,1の出現頻度のほうが大きい場合にはステップS130でYES、図5A,Dのいずれかの場合に該当する。そこで、判別部10は、遅延干渉計3-1,3-2の一方を選択する。判別部10は、遅延干渉計3-1を選択した場合には、移相器12-1の位相をプラス側にずらすように制御部11に指令する。判別部10は、遅延干渉計3-2を選択した場合には、移相器12-2の位相をマイナス側にずらすように制御部11に指令する。制御部11は、判別部10からの指令に従って、判別部10によって選択された遅延干渉計の位相の設定値を、現在の設定値から増加または減少させるステップS150。逆に0,11,0の出現頻度のほうが大きい場合にはステップS140でYES、図5B,Cのいずれかの場合に該当する。そこで、判別部10は、遅延干渉計3-1,3-2の一方を選択する。判別部10は、遅延干渉計3-1を選択した場合には、移相器12-1の位相をマイナス側にずらすように制御部11に指令する。判別部10は、遅延干渉計3-2を選択した場合には、移相器12-2の位相をプラス側にずらすように制御部11に指令する。制御部11は、判別部10からの指令に従って、判別部10によって選択された遅延干渉計の位相の設定値を、現在の設定値から増加または減少させるステップS160。ステップS150またはS160が実行された後に、ステップS110からの手順が再び実行される。前回のステップS150で遅延干渉計3-1の位相をプラス側にずらすように調整したにも拘らず、0,01,1の出現頻度がさらに増加した場合には、判別部10は、今回のステップS150では、もう一方の遅延干渉計3-2を選択し、移相器12-2の位相をマイナス側にずらずように制御部11に指令する。逆に、前回のステップS150で遅延干渉計3-2の位相をマイナス側にずらすように調整したにも拘らず、0,01,1の出現頻度がさらに増加した場合には、判別部10は、今回のステップS150では、もう一方の遅延干渉計3-1を選択し、移相器12-1の位相をプラス側にずらずように制御部11に指令する。同様に、前回のステップS160で遅延干渉計3-1の位相をマイナス側にずらすように調整したにも拘らず、0,11,0の出現頻度がさらに増加した場合には、判別部10は、今回のステップS160では、もう一方の遅延干渉計3-2を選択し、移相器12-2の位相をプラス側にずらずように制御部11に指令する。逆に、前回のステップS160で遅延干渉計3-2の位相をプラス側にずらすように調整したにも拘らず、0,11,0の出現頻度がさらに増加した場合には、判別部10は、今回のステップS160では、もう一方の遅延干渉計3-1を選択し、移相器12-1の位相をマイナス側にずらずように制御部11に指令する。上記の一連の手順による遅延干渉計3-1,3-2の位相の調整は、0,11,0の出現頻度と0,01,1の出現頻度とが等しくなるまでステップS130でNOかつステップS140でNOとなるまで繰返される。こうして遅延干渉計3-1,3-2の位相の設定値が最適値にロックされる。出現頻度比較部9によってグループごとの出現頻度を相互に比較しない場合には、図5に示したA~Dの4通りを順次試していく必要がある。このため、遅延干渉計3-1,3-2の位相調整を開始してから最適値にロックするまでに比較的長時間を要することになる。これに対して、実施の形態1による光受信装置100のように、第1グループ0,01,1の出現頻度が大きいのか、第2グループ0,01,1の出現頻度が大きいのかを判別することによって、図5に示したA~Dの4通りの位相の設定値のずれ方を2通りの場合に絞ることができる。この結果、遅延干渉計3-1,3-2の位相調整に要する時間を短縮することができる。[実施の形態1の変形例]上記の実施の形態1では、遅延干渉計3-1,3-2の位相が最適値に設定されたときには、2ビットのビットパターン0,00,11,11,0の各々が等確率で現れることを前提としていた。この変形例では、光受信装置の特性の偏りなどが原因で、遅延干渉計3-1,3-2の位相が最適値に設定されたとしても、0,00,11,11,0の各々の出現頻度が等しくならない場合について説明する。図7は、実施の形態1の変形例による光受信装置において、遅延干渉計3-1,3-2の位相調整手順を示すフローチャートである。図1、図7を参照して、まず始めに、予め再生部7で順次再生されたデータの誤り率が最小になるように遅延干渉計3-1,3-2の位相が調整される。誤り率は、誤り訂正部8に入力されるデータ総数に対する、誤っていたデータ数の割合で表される。この初回の位相調整のみは、従来の方法で行なわれる。出現頻度比較部9は、このように誤り率が最小となるように調整された状態で、第1グループ0,01,1の出現頻度と第2グループ0,11,0の出現頻度とを検出し、これらの出現頻度を基準値として記憶するステップS105。次に、再生部7によって、現時点で受信した光信号LSから2ビットのデジタルデータが再生されるステップS110。出現頻度比較部9は、現在の受信信号から再生されたデータを用いて第1および第2のグループの出現頻度を検出し、グループごとに、現時点での出現頻度と予め記憶された誤り率最小のときの出現頻度との偏差を算出するステップS115。そして、出現頻度比較部9は、第1グループ0,01,1の出現頻度の偏差のほうが大きいのか、第2のグループ0,11,0の出現頻度の偏差のほうが大きいのか、グループごとの出現頻度の偏差を比較するステップS120A,130A,S140A。第1グループ0,01,1の出現頻度の偏差のほうが大きい場合はステップS130AでYES、図5A,Dの場合のいずれかに該当し、第2グループ0,11,0の出現頻度の偏差のほうが大きい場合はステップS140AでYES、図5B,Cの場合のいずれかに該当する。判別部10は、出現頻度比較部9による比較結果に基づいて、現在の位相の設定値が最適値よりもずれている可能性のある遅延干渉計について、位相ずれを補正するために、現在の位相の設定値よりも増加するのか減少するのかを判別する。具体的な手順は、図6のステップS150,S160と同様であるので、説明を繰返さない。なお、上記の第1、第2グループの出現頻度の偏差を比較するだけでは、遅延干渉計3-1,3-2のうち、どちらの遅延干渉計の位相がずれているのかまでは特定することができない。なお、差動M相位相変調方式では、各遅延干渉計で設定する位相がずれると、受信品質が低下し、誤り率の劣化が発生する。このため、各遅延干渉計の位相が精度良く調整された状態を維持しなければならない。各遅延干渉計の位相は、温度変化や経年等により変化するので、位相調整を継続的に行なう必要がある。この位相調整の際、上記のステップS105は初回のときだけ実行すればよいので、2回目以降については、現在の出現頻度のみを検出することによって、従来よりも短時間で遅延干渉計3-1,3-2の位相を調整することができる。<実施の形態2>図8は、本発明の実施の形態2による光受信装置101の構成を示すブロック図である。図8の光受信装置101は、出現頻度比較部9に代えて識別精度比較部13を含む点で図1の光受信装置100と異なる。識別精度比較部13は、全ビットパターン0,00,11,11,0のうち少なくとも一部のビットパターンについて、各ビットパターンが別の1または複数のビットパターンに誤って識別される確率である誤識別率を、誤り訂正部8の訂正結果に基づいて検出する。そして、識別精度比較部13は、検出した複数の誤識別率を相互に比較する。なお、識別精度比較部13、判別部10、および制御部11によって、遅延干渉計3-1,3-2のうち少なくとも1つの位相の設定値を調整する位相補正部15Bが構成される。具体的に、識別精度比較部13は、0,1が1,1と誤って識別される第1の場合の確率と、0,0が1,0と誤って識別される第2の場合の確率と、0,0が0,1と誤って識別される第3の場合の確率と、0,1が0,0と誤って識別される第4の場合の確率とを比較する。遅延干渉計3-1,3-2の位相が最適値に設定されている場合には、原理的にこれら第1~第4の場合の確率は等しくなるはずであるが、位相がずれている場合にはこれらの確率は等しくならない。図5Aのように遅延干渉計3-2の位相の設定値が-π/4よりもプラス側にずれている場合には、0,1が1,1と誤って識別される第1の場合の確率が増加する。図5Bのように遅延干渉計3-2の位相の設定値が-π/4よりもマイナス側にずれている場合には、0,0が1,0と誤って識別される第2の場合の確率が増加する。図5Cのように遅延干渉計3-1の位相の設定値がπ/4よりもプラス側にずれている場合には、0,0が0,1と誤って識別される第3の場合の確率が増加する。図5Dのように遅延干渉計3-1の位相の設定値がπ/4よりもマイナス側にずれている場合には、0,1が0,0と誤って識別される第4の場合の確率が増加する。したがって、上記の第1~第4の各場合の確率を比較することによって、図5A~Dのどの場合に該当するか、すなわち、位相の設定値が最適値よりもずれている遅延干渉計を特定するとともに、特定した遅延干渉計の位相の設定値がプラス側にずれているのか、マイナス側にずれているのかを判別することができる。この判別は、図8の判別部10によって行なわれる。図8のその他の点は図1の場合と同じであるので、同一または相当する部分には同一の参照符号を付して説明を繰返さない。図9は、図8の識別精度比較部13、判別部10および制御部11による遅延干渉計3-1,3-2の位相調整手順を示すフローチャートである。図8、図9を参照して、ステップS210で、再生部7によって、受信した光信号LSから2ビットのデジタルデータが順次再生される。再生されたデジタルデータの誤りは、誤り訂正部8によって公知の誤り訂正技術を用いて訂正される。次に、識別精度比較部13は、誤り訂正部8の訂正結果に基づいて、0,1が1,1と誤って識別される第1の場合の確率と、0,0が1,0と誤って識別される第2の場合の確率と、0,0が0,1と誤って識別される第3の場合の確率と、0,1が0,0と誤って識別される第4の場合の確率とを比較するステップS211。0,1が1,1と誤って識別される第1の場合の確率が最も大きい場合にはステップS212でYES、図5Aに該当するので、判別部10は、遅延干渉計3-2の位相を現在の設定値よりもマイナス側にずらずように制御部11に指令する。制御部11は、判別部10の指令に従って、遅延干渉計3-2に設けられた移相器12-2の位相を調整するステップS216。0,0が1,0と誤って識別される第2の場合の確率が最も大きい場合にはステップS213でYES、図5Bに該当するので、判別部10は、遅延干渉計3-2の位相を現在の設定値よりもプラス側にずらずように制御部11に指令する。制御部11は、判別部10の指令に従って、遅延干渉計3-2に設けられた移相器12-2の位相を調整するステップS217。0,0が0,1と誤って識別される第3の場合の確率が最も大きい場合にはステップS214でYES、図5Cに該当するので、判別部10は、遅延干渉計3-1の位相を現在の設定値よりもマイナス側にずらずように制御部11に指令する。制御部11は、判別部10の指令に従って、遅延干渉計3-1に設けられた移相器12-1の位相を調整するステップS218。0,1が0,0と誤って識別される第4の場合の確率が最も大きい場合にはステップS215でYES、図5Dに該当するので、判別部10は、遅延干渉計3-1の位相を現在の設定値よりもプラス側にずらずように制御部11に指令する。制御部11は、判別部10の指令に従って、遅延干渉計3-1に設けられた移相器12-1の位相を調整するステップS219。上記の調整手順は、上記の第1~第4の場合の確率が等しくなるまですなわち、ステップS212~S215の全てでNOとなるまで繰返される。こうして遅延干渉計3-1,3-2の位相の設定値が最適値にロックされる。識別精度比較部13によって第1~第4の場合の誤識別率を相互に比較しない場合には、図5に示したA~Dの4通りを順次試していく必要がある。このため、遅延干渉計3-1,3-2の位相調整を開始してから最適値にロックするまでに比較的長時間を要することになる。これに対して、実施の形態2による光受信装置101のように、第1~第4の場合の誤識別率をそれぞれ検出し、検出した複数の誤識別率を相互に比較することによって、位相が最適値からずれた遅延干渉計を特定することができるとともに、位相ずれを補正するために、特定した遅延干渉計の位相を増加させるのか減少させるのかを判別することができる。この結果、遅延干渉計3-1,3-2の位相調整に要する時間を従来よりも短縮することができる。さらに、各遅延干渉計の位相の設定値が最適値からずれるほど誤り率が増大するため、仮に識別精度比較部13による比較結果に基づいた位相調整を行なわない場合には、位相調整中に誤り率を劣化させる可能性があるが、本実施の形態の光受信装置101によれば誤り率の増加を抑制することができる。[実施の形態2の変形例1]上記の実施の形態1では、遅延干渉計3-1,3-2の位相が最適値に設定されたときには、上記の第1~第4の場合の誤識別率が互いに等しくなることを前提としていた。この変形例では、光受信装置の特性の偏りなどが原因で、遅延干渉計3-1,3-2の位相が最適値に設定されたとしても、第1~第4の場合の誤識別率が互いに等しくならない場合について説明する。図10は、実施の形態2の変形例1による光受信装置において、遅延干渉計3-1,3-2の位相調整手順を示すフローチャートである。図8、図10を参照して、まず始めに、予め再生部7で順次再生されたデータの誤り率が最小になるように遅延干渉計3-1,3-2の位相が調整される。この初回の位相調整のみは、従来の方法で行なわれる。識別精度比較部13は、このように誤り率が最小となるように調整された状態で、0,1が1,1と誤って識別される第1の場合の確率と、0,0が1,0と誤って識別される第2の場合の確率と、0,0が0,1と誤って識別される第3の場合の確率と、0,1が0,0と誤って識別される第4の場合の確率とを検出し、検出したこれらの4パターンの確率を記憶するステップS201。次に、再生部7によって、受信した現時点での光信号LSから2ビットのデジタルデータが再生される遅延干渉計3-1の位相の設定値が3π/8よりも増加した場合、0,0,0に着目すると、ツインPD4Aの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい1,0,0および1,0,1に0,0,0が誤って識別される確率が増加する。遅延干渉計3-1の位相の設定値が3π/8よりも減少した場合、1,1,1に着目すると、ツインPD4Aの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい1,0,0および1,0,1に1,1,1が誤って識別される確率が増加する。遅延干渉計3-2の位相の設定値が-π/8よりも増加した場合、1,0,1に着目すると、ツインPD4Bの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい1,1,1および1,1,0に1,0,1が誤って識別される確率が増加する。遅延干渉計3-2の位相の設定値が-π/8よりも減少した場合、0,1,0に着目すると、ツインPD4Bの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい1,1,1および1,1,0に0,1,0が誤って識別される確率が増加する。遅延干渉計3-3の位相の設定値がπ/8よりも増加した場合、1,0,0に着目すると、ツインPD4Cの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい1,0,1および1,1,1に1,0,0が誤って識別される確率が増加する。遅延干渉計3-3の位相の設定値がπ/8よりも減少した場合、1,1,0に着目すると、ツインPD4Cの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい1,0,1および1,1,1に1,1,0が誤って識別される確率が増加する。遅延干渉計3-4の位相の設定値が-3π/8よりも増加した場合、1,1,1に着目すると、ツインPD4Dの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい1,1,0および0,1,0に1,1,1が誤って識別される確率が増加する。遅延干渉計3-4の位相の設定値が-3π/8よりも減少した場合、0,1,1に着目すると、ツインPD4Dの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい1,1,0および0,1,0に0,1,1が誤って識別される確率が増加する。したがって、上記の~の場合のうち、どの場合の確率が最も増加しているかを識別精度比較部13によって検出することによって、遅延干渉計3-1,3-2,3-3,3-4のうち位相の設定値が最適値よりもずれている遅延干渉計を特定するとともに、特定した遅延干渉計の位相ずれの方向増加または減少を判別することができる。たとえば、上記の場合、すなわち、1,1,0が1,0,1および1,1,1に誤って識別される確率が増加している場合には、図17の判別部10は、遅延干渉計3-2の位相の設定値が-π/8よりも減少していると判別する。今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものでないと考えられるべきである。この発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。"