光輝尽性結晶から放出される光を計測するための受光部とを有し、前記光輝尽性結晶にレーザー光源からのレーザー光が照射されるものであって、前記受光部から伝送される前記光輝尽性結晶から放出された光を計測する計測装置を備えた放射線強度計測装置において、光輝尽性結晶の励起に起因しない光成分を計測する計測装置を備えたことを特徴とする放射線強度計測装置。請求項1に記載の放射線強度計測装置において、前記受光部で得られた光の出力に応じた信号を増幅する増幅器を備えたことを特徴とする放射線強度計測装置。請求項1に記載の放射線強度計測装置において、前記レーザー光は光ファイバを介して前記光輝尽性結晶に照射され、前記光輝尽性結晶から放出される光は光ファイバを介して前記受光部に伝送されるものであり、光輝尽性結晶の励起に起因しない信号から光ファイバの劣化の影響や光の曲げ損失による光強度の変化を解析する解析装置を備えたことを特徴とする放射線強度計測装置。請求項3に記載の放射線強度計測装置において、光輝尽性結晶の励起に起因した信号を解析する装置が、光輝尽性結晶の励起に起因しない信号の解析から演算された補正値によって補正される機能を有することを特徴とする放射線強度計測装置。請求項1に記載の放射線強度計測装置において、光輝尽性結晶の励起に起因しない光および光輝尽性結晶の励起に起因した光の強度の時刻分布を解析する解析装置を備えたことを特徴とする放射線強度計測装置。請求項5に記載の放射線強度計測装置において、光輝尽性結晶の励起に起因しない光の時間分布を用いて光輝尽性結晶の励起に起因した光が受光部に到達する時間の広がりの変化を解析する解析装置を備えたことを特徴とする放射線強度計測装置。請求項5に記載の放射線強度計測装置において、光輝尽性結晶の励起に起因しない光の時間分布を用いて光輝尽性結晶の励起に起因した光が受光部に到達する時間の遅れを解析する解析装置を備えたことを特徴とする放射線強度計測装置。請求項5から請求項7に記載の放射線強度計測装置において、光輝尽性結晶の励起に起因した信号を解析する装置が、光輝尽性結晶の励起に起因した光の時間分布の変化から演算された補正値によって補正される機能を有することを特徴とする放射線強度計測装置。請求項1に記載の放射線強度計測装置において、光輝尽性結晶としてBaFBrを用いたことを特徴とする放射線強度計測装置。請求項1に記載の放射線強度計測装置において、光輝尽性結晶としてAl2O3を用いたことを特徴とする放射線強度計測装置。請求項1から請求項9のいずれかに記載の放射線強度計測装置において、光輝尽性結晶の代わりに光輝尽性物質を塗布した支持板を用いることを特徴とする放射線強度計測装置。複数の光輝尽性結晶と、レーザー光源と、前記レーザー光源の光を分配する光分配装置と、前記分配された光を前記複数の光輝尽性結晶に伝送する複数の光ファイバと、前記光輝尽性結晶から放出されて光ファイバを介して伝送された光を計測するための共通の受光部と、前記受光部からの光を計測する計測装置と光輝尽性結晶の励起に起因しない光成分を計測する計測装置を備えた放射線強度計測装置において、光輝尽性結晶の励起に起因しない光の強度の差異から、光輝尽性結晶間の感度差を補正する演算装置を備えたことを特徴とする放射線強度計測装置。光輝尽性結晶から放出される光を受光部で計測し、前記受光部からの光輝尽性結晶から放出された光を計測装置で計測し、光分析装置と光輝尽性結晶の励起に起因しない光成分を計測する放射線強度計測方法。光輝尽性結晶と光ファイバによる放射線強度計測では、光輝尽性結晶や光ファイバが劣化する。劣化の原因には放射線照射に起因するものと経年劣化によるものがある。劣化が起こった場合、受光部で得られる光強度と光輝尽性結晶に照射された放射線強度の相関が変化するため、正しい放射線強度計測ができなくなる。同様に、光ファイバの設置環境の変化により、光の曲げ損失が変化した場合も受光部で得られる光強度と光輝尽性結晶に照射された放射線強度の相関が変化するため、正しい放射線強度計測ができなくなる。また、光ファイバを介して離れた位置で制御している場合、光輝尽性結晶の設置位置での変化を直接観測できず、光輝尽性結晶の変化に気づき難い。この時、物理的な変化が光輝尽性結晶に発生していたとしても、気づくことができず、正しい放射線強度計測ができなくなる。さらに、先行文献のように複数の光輝尽性結晶を用いる場合、光ファイバの設置環境によって、光の曲げ損失が発生し、受光部で得られる光強度に差異が生じるため、放射線強度と計測された光強度の相関が光輝尽性結晶の設置位置ごとに異なる。この問題は設置した時に光輝尽性結晶ごとに補正を行うことで初期の段階では問題とならないが、長期間の使用の間に、設置場所の環境や光ファイバの敷設に変化が発生した場合、補正値が正しくなくなるため、正しい放射線強度計測ができなくなる。同様に、光ファイバの劣化も光輝尽性結晶ごとに異なるタイミング、程度で起こるため、補正値が正しくなくなり、正しい放射線強度計測ができなくなる。これらの原因により、光輝尽性結晶と光ファイバによる放射線強度計測装置は長期間使用した場合や複数箇所に設置した場合等で信頼性が低下する問題があった。本発明は、劣化や環境の変化による発光強度の変化に可能な放射線強度計測装置及び放射線強度計測方法を提供する事を目的とする。上記目的を達成するために本発明では、受光部で計測された光のうち光輝尽性結晶の励起に起因しない成分を計測する計測装置を備えている。本発明の装置では、劣化や環境の変化による発光強度の変化に対応できる。以下本発明の実施例を図面を用いて説明する。本発明の好適な一実施例である実施例1の放射線強度計測装置を、図1を用いて説明する。ここで、本実施例の基本的な考え方を説明する。光輝尽性結晶の励起に起因しない成分は光源から受光部に至る過程での光の散乱や反射に起因しており、その強度は光ファイバの劣化や光の曲げ損失に依存する。従って、これらの成分を計測することで、光ファイバの劣化や光の曲げ損失の影響をモニタすることが可能である。また、受光部で得られる最初の光の成分は光輝尽性結晶の励起に起因しない光または、光輝尽性結晶の励起に起因しない光と光輝尽性結晶の励起に起因する光の混合成分となる。いずれにせよ、光強度の時間分布の立ち上がりには光輝尽性結晶の励起に起因しない光の成分が含まれる。光輝尽性結晶の励起に起因しない光の立ち上がり時間と光輝尽性結晶の励起に起因する光のピークの時間差は通常一定であるが、光輝尽性結晶の構造の変化によって、時間差に変化が生じる。このような現象は放射線照射による光輝尽性結晶の劣化や光輝尽性結晶の物理的な変化によって発生する。従って、光輝尽性結晶の励起に起因しない光の時間分布と光輝尽性結晶の励起に起因した光の時間分布を計測することで、光輝尽性結晶の変化をモニタすることが可能である。ここで言う時間差とは光輝尽性結晶の励起による光の発生の時間幅が長くなることも含んでいる。実施例1の放射線強度計測装置は、光輝尽性結晶1、レーザー光源2、受光部3、増幅器4、光分析装置5、励起光計測装置6、励起光解析装置7、非励起光計測装置8、非励起光解析装置9、出力用光ファイバ10、入力用光ファイバ11で構成される。放射線照射により光輝尽性結晶1中の電子が励起される。前記励起された前記光輝尽性結晶1にレーザー光源2から入力用光ファイバ11を介してレーザー光が入射する。前記レーザー光は前記光輝尽性結晶1内の電子を基底状態に戻し、その時、励起光が前記光輝尽性結晶1から放出される。前記放出された励起光は出力用光ファイバ10を介して受光部3に入射し、電気信号に変換される。一方、前記レーザー光の成分の一部は前記レーザー光源2から前記受光部3に至る過程の前記入力用光ファイバ11、前記光輝尽性結晶1、前記出力用光ファイバ10で散乱および反射され、前記受光部3に入射し、電気信号に変換される。励起光に基づく電気信号および励起光に基づかない電気信号は共に増幅器4で増幅され光分析装置5で前記光輝尽性結晶1の励起に起因する信号と、前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない信号とに分けられる。前記光輝尽性結晶1の励起に起因した信号は励起光計測装置6で計測され、励起光解析装置7で光強度の時間分布や波高分布が解析される。また、前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない信号は非励起光計測装置8で計測され、非励起光解析装置9で解析される。実施例1の放射線強度計測装置を運用する際には、あらかじめ前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない光の計測データを取得、解析し、該データと実測時の前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない光の計測データと比較する。前記光ファイバに劣化や光の曲げ損失による光の減衰量の増加があった場合、前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない光および前記光輝尽性結晶1の励起に起因した光の強度が減衰する。この時、前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない光の減衰量から前記光輝尽性結晶1の励起に起因した光の減衰量を推定できる。前記あらかじめ取得した前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない光の成分のデータはデータベース化して前記非励起光解析装置9の内部に組み込んでおいても良い。環境の変化としては、前記出力用光ファイバ10または前記入力用光ファイバ11の敷設状況の変化による光の曲げ損失の増減や前記出力用光ファイバ10または前記入力用光ファイバ11の放射線劣化、経年劣化が考えられる。また、あらかじめ前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない光の成分のデータを取得していなかったとしても、測回ごとの前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない信号を比較することで、相対的な環境の変化をモニタすることは可能である。さらに、前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない信号から環境の変化による計測値の増減を演算して前記光輝尽性結晶1の励起に起因した信号の計測値に補正をかけることにより、環境の変化に依存することなく、放射線強度計測を行うことができる。この補正は、前記非励起光解析装置9の結果を前記励起光計測装置6にフィードバックさせることによって、自動的に行っても良い。本発明の好適な一実施例である実施例2の放射線強度計測装置を、図2を用いて説明する。実施例2の放射線強度計測装置は、光輝尽性結晶1、レーザー光源2、受光部3、増幅器4、光分析装置5、励起光計測装置6、励起光解析装置7、非励起光計測装置8、非励起光解析装置9、出力用光ファイバ10、入力用光ファイバ11で構成される。光輝尽性結晶1の励起に起因する光と起因しない光を分けて解析する過程に関しては実施例1と同じである。実施例2の放射線強度計測装置は、前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない信号をタイミング信号として取り扱う。レーザー光源2から放出されたレーザー光の成分のうち最短で受光部3に入射する成分と前記光輝尽性結晶1の励起に起因する信号の最短で前記受光部3に入射する成分のタイミング差は装置の構成を変えない限り同じである。従って、前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない信号の立ち上がり時刻を基準のタイミングとし、前記光輝尽性結晶1の励起に起因した成分の光強度の時間分布を計測することで、前記光輝尽性結晶1の励起に起因した成分の光強度の時間分布の変化を観測することができる。図2では、前記光輝尽性結晶1に変化が無い時の光強度分布光強度の時間分布101と前記光輝尽性結晶1に変化があった時の光強度分布光強度の時間分布102を示している。前記光輝尽性結晶1に変化があった場合、時刻に対する光強度分布が相対的に遅い時刻に放出される。ここで言う遅いとは、立ち上がりタイミングが遅くなること、または励起光の放出時間が長くなることを意味している。また、ここで言う前記光輝尽性結晶1の変化とは、前記光輝尽性結晶1の劣化および物理的な変化である。従って、前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない光による時間分布の立ち上がり時間を基準とした前記光輝尽性結晶1の励起に起因した光強度の時間分布の変化を解析することにより、前記光輝尽性結晶1の劣化および物理的な変化をモニタすることができる。この時、非励起光解析装置9によって前記光輝尽性結晶1の励起に起因しない信号の立ち上がり時刻を解析し、得られたタイミング信号を元に励起光解析装置7により前記光輝尽性結晶1の励起に起因した信号の時間分布を解析している。また、励起した前記光輝尽性結晶1から放出される光強度の時間分布の変化に伴い、前記光輝尽性結晶1の光強度が減少する。従って、励起光解析算装置7で、光強度の時間分布の変化に伴った光強度の補正値を算出し、励起光解析算装置7での計数値を補正する機能を有しても良い。本発明の好適な一実施例である実施例3の放射線強度計測装置を、図3を用いて説明する。実施例3の放射線強度計測装置は、複数の光輝尽性結晶1、レーザー光源2、受光部3、増幅器4、光分析装置5、励起光計測装置6、励起光解析装置7、非励起光計測装置8、非励起光解析装置9、複数の出力用光ファイバ10、複数の入力用光ファイバ11、入力用光分配装置21、出力用光分配装置22、非励起光演算装置31、放射線強度演算装置32で構成される。光輝尽性結晶1の励起に起因する光と起因しない光を分けて解析する過程に関しては実施例1と同じである。実施例3の放射線強度計測装置は複数箇所の放射線強度を計測する構成である。放射線強度を計測する位置は光輝尽性結晶1の設置位置で決まる。本実施例では、光輝尽性結晶1、出力用光ファイバ10、入力用光ファイバ11以外は光輝尽性結晶1によらず共通のものを使用している。レーザー光源2から放出されるレーザー光は入力用光分配装置21によりそれぞれの光輝尽性結晶1にそれぞれの入力用光ファイバ11を介して順次伝送される。受光部3へ入射する光は出力用光分配装置22により、それぞれの光輝尽性結晶1ごとにそれぞれの出力用光ファイバ10を介して順次伝送される。二つの前記光分配装置は光輝尽性結晶1ごとに決まったチャンネルを持っているため、片方の前記光分配装置のチャンネルが切り替わるのと同時にもう一方の前記光分配装置のチャンネルが切り替わるように制御されている。共通の前記受光部3に光が入射する際に、他の光輝尽性結晶1に影響を与えない、または影響が無視できるほど軽微なのであれば、前記出力用光分配装置22は設けなくても良い。本実施例のように光輝尽性結晶1が複数設置されている場合、それぞれの光輝尽性結晶1を設置する際の敷設の仕方や、設置後の環境の変化により、入力に対する出力の感度差が発生する可能性がある。この感度差を補正するために全ての光輝尽性結晶1の励起に起因しない信号を比較し、非励起光の信号強度が同等となるように補正値を非励起光演算装置31で演算して放射線強度演算装置32で全ての光輝尽性結晶1の励起に起因した計測値に対して補正する。ここで言う感度差とは、光の曲げ損失や光ファイバの劣化を含んだ光の伝送ロスのことである。