"記録媒体に形成した複数のラインから成るテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段とを有する読み取り手段と、少なくとも2色のテストパターンが反射する反射光の極小値同士の差が、描画密度が同じ場合よりも小さくなるように液滴の色ごとに描画密度が調整されたテストパターンのパターンデータを記憶するパターンデータ記憶手段と、前記パターンデータを読み出して描画密度が異なる少なくとも2色のテストパターンを前記記録媒体に形成する画像形成手段と、前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させる相対移動手段と、テストパターン上を前記光が移動している間、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の強度データを取得する強度データ取得手段と、前記強度データにライン位置決定演算を施し前記ラインの位置を検出する位置検出手段と、を有することを特徴とする画像形成装置。前記画像形成手段は、2色の液滴のうち前記光の反射率の大きい液滴のテストパターンの描画密度を、反射率の小さい液滴のテストパターンの描画密度よりも大きくする、ことを特徴とする請求項1記載の画像形成装置。前記画像形成手段は、2色の液滴のうち前記光の反射率の小さい液滴のテストパターンの描画密度を、反射率の大きい液滴のテストパターンの描画密度よりも小さくする、ことを特徴とする請求項1又は2記載の画像形成装置。前記画像形成手段は、副走査方向の液滴の解像度を変更することで、テストパターンの描画密度を変更する、ことを特徴とする請求項2又は3記載の画像形成装置。前記画像形成手段は、主走査方向の液滴の解像度を変更することで、テストパターンの描画密度を変更する、ことを特徴とする請求項2又は3記載の画像形成装置。前記画像形成手段は、ほぼ同じ位置に液滴を複数回吐出するテストパターンを形成することで、テストパターンの描画密度を大きくする、ことを特徴とする請求項2記載の画像形成装置。前記画像形成手段は、主走査方向に最高解像度で液滴を吐出した後、同じ副走査位置のまま、最高解像度の液滴間の距離よりも短い距離だけ主走査方向の位置をずらして、最高解像度で再度、液滴を吐出する、ことを特徴とする請求項5記載の画像形成装置。前記画像形成手段は、主走査方向に液滴を吐出した後、副走査方向の最高解像度の液滴間の距離よりも短い距離だけ副走査方向に紙送りされた前記記録媒体に対し、主走査方向に液滴を吐出する、ことを特徴とする請求項4記載の画像形成装置。前記位置検出手段は、予め定められた上限閾値から下限閾値に含まれる前記強度データに前記ライン位置決定手段を施す、ことを特徴とする請求項1~8いずれか1項記載の画像形成装置。前記テストパターンが形成される前に、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の第2の強度データを取得する第2の強度データ取得手段と、前記テストパターンが形成された後に、前記走査位置と略同じ走査位置の前記テストパターンを前記光が移動する際に前記受光手段が受光した前記反射光の第1の強度データを取得する第1の強度データ取得手段と、前記第1の強度データと前記第2の強度データのそれぞれから前記第1の強度データの極小値と同程度の値を減じる減算処理手段と、減算処理された前記第2の強度データに対する前記第1の強度データの割合を算出して、前記第1の強度データの極大値を略一定に揃える信号補正手段と、を有することを特徴とする請求項1~8いずれか1項記載の画像形成装置。記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段を有する読み取り手段と、少なくとも2色のテストパターンが反射する反射光の極小値同士の差が、描画密度が同じ場合よりも小さくなるように液滴の色ごとに描画密度が調整されたテストパターンのパターンデータを記憶するパターンデータ記憶手段とを有し、前記記録媒体に形成した複数のラインから成るテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置のパターン位置検出方法であって、画像形成手段が、前記パターンデータを読み出して描画密度が異なる少なくとも2色のテストパターンを前記記録媒体に形成するステップと、相対移動手段が、前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させるステップと、強度データ取得手段が、テストパターン上を前記光が移動している間、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の強度データを取得するステップと、位置検出手段が、予め定められた上限から下限内に含まれる前記強度データにライン位置決定演算を施し前記ラインの位置を検出するステップと、を有することを特徴とするパターン位置検出方法。記録媒体に形成した複数のラインから成るテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成システムであって、前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段とを有する読み取り手段と、描画密度が異なる少なくとも2色のテストパターンを前記記録媒体に形成する画像形成手段と、前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させる相対移動手段と、テストパターン上を前記光が移動している間、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の強度データを取得する強度データ取得手段と、を備える画像形成装置と、少なくとも2色のテストパターンが反射する反射光の極小値同士の差が、描画密度が同じ場合よりも小さくなるように液滴の色ごとに描画密度が調整されたテストパターンのパターンデータを記憶するパターンデータ記憶手段と、前記強度データにライン位置決定演算を施し前記ラインの位置を検出する位置検出手段と、を有し、前記画像形成手段は、前記パターンデータ記憶手段に記憶された前記テストパターンに基づいてテストパターンを形成する、ことを特徴とする画像形成システム。しかしながら、吐出タイミングの調整は各インク色ごとノズルごとに行う必要があるが、色によって反射光の強度が変わってしまうため、次のような問題がある。図1aは、ブラックのテストパターンを読み取る受光素子を模式的に説明する図の一例である。LEDが照射したスポット光がテストパターンを矢印方向に走査すると、スポット光の走査位置の濃度に応じた反射光が受光素子にて検出される。よく知られているように光は黒い物体によく吸収されるので、例えばシート材が白でテストパターンがブラックであれば、テストパターンを走査した時のスポット光は反射されにくい。受光素子が受光する反射光を電圧で表せば、図示するように、スポット光がテストパターンと重畳した際の電圧は、テストパターン以外を走査している際の電圧よりも大きく低下する。図1bはブラックのテストパターンから得られた電圧の変化を拡大して示す図の一例である。横軸は、例えば時間又はスポット光の走査位置である。細長い円は電圧が急激に変化している領域を示す。テストパターンを構成するラインのエッジはこの領域内にあることが推測され、例えば、検出電圧が変曲点を示す時にスポット光の重心がテストパターンのエッジを走査していると判定される。図1cはブラックとマゼンダのテストパターンを読み取る受光素子を模式的に説明する図の一例を、図1dはブラックとマゼンダのテストパターンから得られた電圧の変化を拡大して示す図の一例である。マゼンダのラインから反射される検出電圧の極小値はブラックよりも大きくなっている。すなわち、発光素子が単一波長であるのに対しテストパターンのラインの色が異なると、スポット光がライン上を通過した際の反射光の強度が色によって変わるため、反射光の信号波形から各色のテストパターン間の距離を精度良く求めることが困難になる。より具体的には、ブラックのラインから得られた検出電圧の変曲点は正しく求められても、マゼンダのラインから得られた検出電圧の変曲点を正しく求めることが困難になる。これは、画像形成装置が検出電圧に対し予め変曲点の算出範囲を設定してためであるが、マゼンダではこの算出範囲に変曲点が入らなくなるため得られるエッジ位置の誤差が大きくなってしまう。テストパターン通過時の信号波形が同程度になるように、各色に対応した発光素子を画像形成装置に搭載するとコスト増を招き、また、搭載スペースを用意する必要があるという不都合を生じさせる。本発明は、上記課題に鑑み、テストパターンを読み取って液的吐出タイミングを調整する画像形成装置において、テストパターンのインク色が異なっても精度よく位置ずれを検出する画像形成装置を提供することを目的とする。上記課題に鑑み、本発明は、記録媒体に形成した複数のラインから成るテストパターンを読み取って、液滴の吐出タイミングを調整する画像形成装置であって、前記記録媒体に光を照射する発光手段及び前記記録媒体からの反射光を受光する受光手段とを有する読み取り手段と、少なくとも2色のテストパターンが反射する反射光の極小値同士の差が、描画密度が同じ場合よりも小さくなるように液滴の色ごとに描画密度が調整されたテストパターンのパターンデータを記憶するパターンデータ記憶手段と、前記パターンデータを読み出して描画密度が異なる少なくとも2色のテストパターンを形成する画像形成手段と、前記記録媒体又は前記読み取り手段を相対的に等速で移動させる相対移動手段と、テストパターン上を前記光が移動している間、前記受光手段が前記光の走査位置から受光した前記反射光の強度データを取得する強度データ取得手段と、予め定められた上限から下限内に含まれる前記強度データにライン位置決定演算を施し前記ラインの位置を検出する位置検出手段と、を有することを特徴とする。テストパターンを読み取って液的吐出タイミングを調整する画像形成装置において、テストパターンのインク色が異なっても信号波形が同程度になる画像形成装置を提供することができる。以下、本発明を実施するための形態について図面を参照しながら説明する。図2は、本実施例のテストパターンの印刷方法の概略を説明する図の一例である。図2aはインク色の違いにより極小値が異なる検出電圧の一例を示す。このため、変曲点の位置電圧値が色によって大きく異なっている。本実施例の画像形成装置は、色が異なっても変曲点の位置が同程度になるように、テストパターンの形成時、インク色ごとに描画密度を変更して印字濃度を変更する。これにより、各色K:ブラック、M:マゼンダ、C:シアン、Y:イエローのラインから得た検出電圧の変曲点の位置を近づけることができる。なお、以下では、テストパターンとテストパターンを構成するラインとを厳密には区別せずに説明する。図2bはマゼンダの描画密度を従来よりも大きくした場合のテストパターンとその検出電圧を、図2cはブラックの描画密度を従来よりも小さくした場合のテストパターンとその検出電圧をそれぞれ示す。マゼンダの描画密度を従来よりも大きくすることで、スポット光がより多く吸収されるため、ブラックとマゼンダの検出電圧の極小値が同程度になり、変曲点の位置を近づけることができる。同様に、ブラックの描画密度を従来よりも小さくすることで、スポット光が吸収されにくくなり、ブラックとマゼンダの検出電圧の極小値が同程度になり、変曲点の位置を近づけることができる。なお、描画密度は、ブラックとマゼンダの検出電圧の極小値が同程度になるようにすることが好ましく、同程度になることで変曲点の位置が近づくことになる。しかしながら、少なくとも描画密度を変更しない場合よりも変更した方が検出電圧の極小値の差が小さくなり、変曲点の位置が近づけば精度よくテストパターンのエッジ位置を検出することができる。構成例図3は、シリアル方式の画像形成装置100の概略斜視図の一例を示す。画像形成装置100は、本体フレーム70により支持されている。画像形成装置100の長手方向にはガイドロッド1及び幅ガイド2が掛け渡され、ガイドロッド1及び副ガイド2にキャリッジ5が矢印A方向主走査方向に往復移動可能なように保持されている。また、主走査方向には無端ベルト状のタイミングベルト9が、駆動プーリ7と加圧コロ15に張架されており、タイミングベルト9の一部がキャリッジ5に固定されている。また、駆動プーリ7は主走査モータ8により回転駆動され、これによりタイミングベルト9が主走査方向に移動し、連動してキャリッジ5も往復移動する。タイミングベルト9には加圧コロ15によって張力が掛けられており、タイミングベルト9はたるむことなくキャリッジ5を駆動させることができる。また画像形成装置100は、インクを供給するカートリッジ60と記録ヘッドを維持クリーニングする維持機構26を有する。シート材150はキャリッジ5の下側にあるプラテン40上を、不図示のローラにより矢印B方向副走査方向に間欠的に搬送される。シート材150は、紙などの普通紙、光沢紙、フィルム、電子基板など液滴が付着可能な記録媒体であればよい。シート材150の搬送位置毎に、キャリッジ5は主走査方向に移動し、キャリッジ5が搭載している記録ヘッドが液滴を吐出する。吐出が終わるとシート材150が再度、搬送され、キャリッジ5が主走査方向に移動して液滴を吐出する。これを繰り返すとシート材150の全面に画像が形成される。キャリッジ5、キャリッジ5に搭載された記録ヘッド21~24は画像形成手段の一例である。図4は、キャリッジ5の動作をより詳細に説明する図の一例である。上記のガイドロッド1及び副ガイド2は左側板3と右側板4の間に掛け渡され、キャリッジ5は軸受け12と副ガイド受け部11によりガイドロッド1及び副ガイド2を摺動自在に保持され、矢印X1X2方向主走査方向に移動可能となっている。キャリッジ5にはブラックKの液滴を吐出する記録ヘッド21,22、シアンC、マゼンタM、イエローYの各色のインク滴を吐出する記録ヘッド2324が搭載されている。記録ヘッド21はブラックがよく使用されるために配置したものであり、省略することもできる。なお、記録ヘッド21~24としては、インク流路内圧力発生室のインクを加圧する圧力発生手段アクチュエータ手段として圧電素子を用いてインク流路の壁面を形成する振動板を変形させてインク流路内容積を変化させてインク滴を吐出させるいわゆるピエゾ型のもの、発熱抵抗体を用いてインク流路内でインクを加熱して気泡を発生させることによる圧力でインク滴を吐出させるいわゆるサーマル型のもの、又は、インク流路の壁面を形成する振動板と電極とを対向配置し、振動板と電極との間に発生させる静電力によって振動板を変形させることで、インク流路内容積を変化させてインク滴を吐出させる静電型のもの、などを用いることができる。キャリッジ5を移動走査する主走査機構32は、主走査方向の一方側に配置される主走査モータ8と、主走査モータ8によって回転駆動される駆動プーリ7と、主走査方向の他方側に配置された加圧コロ15と、駆動プーリ7と加圧コロ15との間に掛け回されたタイミングベルト9とを備えている。なお、加圧コロ15は、図示しないテンションスプリングによって外方駆動プーリ7に対して離れる方向にテンションが作用させられている。タイミングベルト9は、キャリッジ5の背面側に設けたベルト保持部10に一部分が固定保持されていることで、タイミングベルト9の無端移動に伴い主走査方向にキャリッジ5を牽引する。また、キャリッジ5の主走査方向に沿うようにエンコーダシート41が配置されており、キャリッジ5に設けたエンコーダセンサ42によって当該エンコーダシート42のスリットを読取ることで、キャリッジ5の主走査方向の位置を検知することができる。このキャリッジ5が主走査領域のうち記録領域に存在する場合、シート材150が図示しない紙送り機構によってキャリッジ5の主走査方向と直交する矢示Y1Y2方向副走査方向に間欠的に搬送される。以上説明した、本実施形態に係る画像形成装置100では、キャリッジ5を主走査方向に移動し、シート材150を間欠的に送りながら、記録ヘッド21~24を画像情報に応じて駆動して液滴を吐出させることによってシート材150に所要の画像を形成することができる。キャリッジ5の一側面には、着弾位置のずれを検出テストパターンの読取りするための印字位置ずれセンサ30が搭載されている。印字位置ずれセンサ30は、LEDなどの発光素子及び反射型フォトセンサで構成した受光素子によって、シート材150に形成された着弾位置検出用のテストパターンを読み取る。この印字位置ずれセンサ30は記録ヘッド21用のものなので、記録ヘッド22~24の液滴吐出タイミングを調整するため記録ヘッド22~24と並列に別の印字位置ずれセンサ30を搭載することが好ましい。また、印字位置ずれセンサ30を記録ヘッド22~24と並列になるようにスライドさせる機構がキャリッジ5に搭載されていれば、一台の印字位置ずれセンサ30で記録ヘッド22~24の液滴吐出タイミングを調整できる。または、画像形成装置100がシート材150を逆方向に送っても、一台の印字位置ずれセンサ30で記録ヘッド22~24の液滴吐出タイミングを調整できる。図5は、画像形成装置100の制御部300のブロック図の一例である。制御部300は、主制御部310及び外部I/F311を有する。主制御部310は、CPU301と、ROM302、RAM303、NVRAM304、ASIC305、及び、FPGAFieldProgrammableGateArray306を有する。CPU301はROM302に記憶されたプログラム3021を実行して、画像形成装置100の全体を制御する。ROM302にはこのプログラム3021の他、初期値や制御のためのパラメータなど固定データが格納されている。RAM303は、プログラムや画像データ等を一時的に格納する作業メモリであり、NVRAM304は、装置の電源が遮断されている間も設定条件などのデータを保持するための不揮発性メモリである。ASIC305は画像データに対する各種信号処理、並び替え等を行なったり、各種のエンジンを制御する。FPGA306は、装置全体を制御するための入出力信号を処理する。主制御部310は、この装置全体の制御を司るとともにテストパターンの形成、テストパターンの検出、着弾位置の調整補正などに関わる制御を司る。後述するように、本実施例では主にCPU301がROM302に記憶されたプログラム3021を実行してエッジ位置の検出を行うが、一部又は全てをFPGA306やASIC305など、LSIが行ってもよい。外部I/F311は、ネットワークに接続された他の機器と通信するための通信装置、USB、IEEE1394、と接続するためのバスやブリッジであり、外部からのデータを主制御部310に送出する。また、外部I/F311は主制御部310が生成したデータを外部に出力する。外部I/F311には脱着可能な記憶媒体320が装着可能であり、プログラム3021は記憶媒体320に記憶された状態や、外部からの通信装置を介して配信される。また、制御部300は、ヘッド駆動制御部312、主走査駆動部313、副走査駆動部314、給紙駆動部315、排紙駆動部316、及び、スキャナ制御部317を有する。ヘッド駆動制御部312は、記録ヘッド21~24のそれぞれの吐出有無、吐出する場合の液滴吐出タイミング及び吐出量を制御する。ヘッド駆動制御部312は、記録ヘッド21~24を駆動制御するためのヘッドデータ生成配列変換用ASICを有しヘッドドライバ、印刷データディザ処理などが施されたドットデータに基づき、液滴の有無と液滴の大きさを示す駆動信号を生成して、記録ヘッド21~24に供給する。記録ヘッド21~24はノズル毎にスイッチを有しており、駆動信号に基づきオンオフすることで、記録ヘッド21~23は印刷データにより指定されるシート材150の位置に指定されるサイズの液滴を着弾させる。なお、ヘッド駆動制御部312のヘッドドライバは記録ヘッド21~24側に設けられてもよいし、ヘッド駆動制御部312と記録ヘッド21~24が一体になっていてもよい。図示する構成は一例である。主走査駆動部モータドライバ313は、キャリッジ5を移動走査する主走査モータ8を駆動する。主制御部310には、前述したキャリッジ位置を検出するエンコーダセンサ42が接続されており、主制御部310はこの出力信号に基づいてキャリッジ5の主走査方向の位置を検出する。そして、主走査駆動部313を介して主走査モータ8を駆動制御することでキャリッジ5を主走査方向に往復移動させる。副走査駆動部モータドライバ314は紙送りするための副走査モータ132を駆動する。主制御部310には、副走査方向の移動量を検出するロータリエンコーダセンサ131からの出力信号パルスが入力され、主制御部310はこの出力信号に基づいて紙送り量を検出し、副走査駆動部314を介して副走査モータ132を駆動制御することで図示しない搬送ローラを介してシート材150を紙送りする。給紙駆動部315は給紙トレイからシート材150を給紙する給紙モータ133を駆動する。排紙駆動部316は、印刷されたシート材150をプラテン上に排紙するローラを駆動する排紙モータ134を駆動する。なお、排紙駆動部316は、副走査駆動部314により代用してもよい。スキャナ制御部317は、画像読取部135を制御する。画像読取部135は、原稿を光学的に読み取り画像データを生成する。また、主制御部310には、テンキー、プリントスタートキーなどの各種キー及び各種表示器を含む操作/表示部136が接続されている。主制御部310は、操作/表示部136を介してユーザが操作したキー入力の受け付け、メニューの表示などを行う。その他図示しないが、維持機構26を駆動する維持回復モータを駆動するための回復系駆動部、各種のソレノイドSOL類を駆動するソレノイド類駆動部ドライバ、電磁クラック類などを駆動するクラッチ駆動部、を有していてもよい。また、主制御部310には、その他の図示しない各種センサの検出信号も入力されるが図示を省略している。主制御部310は、シート材上にテストパターンを形成する処理を行い、形成したテストパターンに対し、キャリッジ5に搭載した印字位置ずれセンサ30の発光素子を発光させる発光駆動制御を行う。そして、受光素子の出力信号を取得しテストパターンの反射光を電気的に読取り、この読取り結果から着弾位置ずれ量を検出し、更に着弾位置ずれ量に基づいて記録ヘッド21~24の液滴吐出タイミングを着弾位置ずれがなくなるように補正する制御を行う。着弾位置ずれの補正図6は、印字位置ずれセンサ30がテストパターンのエッジ位置を検出するための構成を模式的に示す図の一例である。図6は、図4の記録ヘッド21と印字位置ずれセンサ30を右側面板4から見た図になっている。印字位置ずれセンサ30は、主走査方向と直交する方向に並ぶ、発光素子402と受光素子403を有している。発光素子402と受光素子403の配置は逆でもよい。発光素子401は、後述するスポット光をテストパターン400に投光して、受光素子403はシート材150に反射した光、プラテン40からの反射光、その他の散乱光などを受光する。発光素子402と受光素子403は筐体の内側に固定され、印字位置ずれセンサ30のプラテン40に対向する面は、レンズ405により外部から遮蔽されている。このように、印字位置ずれセンサ30はパッケージ化されており、単体で流通することができる。印字位置ずれセンサ30内において、発光素子402及び受光素子403は、キャリッジ5の走査方向に対して直交する方向に配置している副走査方向に並行に配置されている。これにより、キャリッジ5の移動速度変動による検出結果への影響を低減することができる。発光素子402は、例えばLEDであり、ピークの発光波長は緑色に相当する563ナノmである。また、受光素子403は、発光素子に合わせて560ナノmにピーク受光感度波長を有する。このような波長を採用した理由は、テストパターンのインク色はKMCであるが、MとCインクの反射率が共に小さくなる吸収されやすい波長が、560ナノm周辺のためである。このため、インク色が上記以外K、M、Cの場合、必要であれば発光素子402の波長も設計すればよい。また、発光素子402が形成するスポット径は、高精度のレンズを使用せずに安価なレンズを使用するためにmmオーダーとなっている。このスポット径は、テストパターンのエッジの検出精度と関係するが、mmオーダーでも本実施形態のエッジ位置の求め方であれば十分に高精度にエッジ位置を検出できる。ただし、スポット径をより小さくすることも可能である。CPU301は、所定のタイミングになると着弾位置ずれ補正を開始する。このタイミングは、例えば、ユーザが操作/表示部136から着弾位置ずれ補正を指示したタイミング、CPU301がインク吐出前に発光素子402が発光しその時の反射光の強度が所定値以下であることから特定のシート材150であると判定したタイミング、最後に着弾位置ずれ補正を行った際の温度と湿度を記憶しておき温度又は湿度のいずれかが閾値以上ずれたと判定したタイミング、定期的毎日、毎週、毎月等なタイミング、等がある。テストパターンの形成について説明する。CPU301は主走査制御部313にキャリッジ5を往復移動させ、予め定められたテストパターンのパターンデータに基づきヘッド駆動制御部312に液滴の吐出を指示する。主走査制御部313は、シート材150に対して、キャリッジ5を主走査方向に往復移動させるとともに、ヘッド駆動制御部312は記録ヘッド21から液滴を吐出させて、少なくとも2本以上の独立したラインを含むテストパターンを形成する。また、CPU301は、シート材150に形成したテストパターンを印字位置ずれセンサ30にて読取るための制御を行う。具体的には、CPU301によって発光制御手段511に印字位置ずれセンサ30の発光素子402を駆動するためのPWM値が設定され、この発光制御手段511の出力が平滑回路512で平滑化されて駆動回路513に与えられる。駆動回路513は発光素子402を発光駆動して、シート材150のテストパターンに対して発光素子402からスポット光が照射される。なお、発光制御手段511、平滑回路512、駆動回路513、光電変換回路521、ローパスフィルタ522、A/D変換回路523、及び、補正処理実行部526は主制御部310又は制御部300に搭載されている。共有メモリ525は例えばRAM303である。シート材上のテストパターンに発光素子402からのスポット光が照射されることで、テストパターンから反射される反射光が受光素子403に入射する。受光素子403は反射光の強度信号を光電変換回路521に出力する。具体的には、光電変換回路521は、強度信号を光電変換して、この光電変換信号をローパスフィルタ回路522に出力する。ローパスフィルタ回路522は高周波のノイズ分を除去した後、A/D変換回路523に光電変換信号を出力する。A/D変換回路523は、光電変換信号をA/D変換し、信号処理回路FPGA306に出力する。信号処理回路FPGA306は、A/D変換された検出電圧のデジタル値である検出電圧データを共有メモリ525に格納する。補正処理実行部526は共有メモリ525に記憶された検出電圧データを読み出し、着弾位置ずれ補正を行い、ヘッド駆動制御部312に設定する。すなわち、補正処理実行部526は、テストパターンのエッジ位置を検出して、2本のライン間の適正距離と比較することで、着弾位置ずれ量を算出する。補正処理実行部526は着弾位置ずれがなくなるように記録ヘッド21を駆動するときの液滴吐出タイミングの補正量を算出して、この算出した液滴吐出タイミング補正量をヘッド駆動制御部312に設定する。これにより、ヘッド駆動制御部312は、記録ヘッド21を駆動する際に、補正量に基づいて液滴吐出タイミングを補正した上で記録ヘッド21を駆動するので、液滴の着弾位置ずれを低減することができる。図7は、補正処理実行部526の機能ブロック図の一例である。補正処理実行部526は、テストパターン印刷部617及び吐出タイミング補正部616を有する。テストパターン印刷部617は、テストパターン記憶部618からインク色ごとにテストパターンのパターンデータを読み出し、ヘッド駆動制御部312を駆動する。これにより、記録ヘッド22~24が吐出するインクの液滴の描画密度がインク色毎に変更される。吐出タイミング補正部616は、テストパターンのエッジ位置から求めた着弾位置ずれ量に基づき液滴吐出タイミングを補正する。これらの処理の詳細は後述する。スポット光の位置とエッジ位置続いて、図8、9を用いてスポット光とエッジ位置の関係について説明する。図8は、スポット光とテストパターンの一例を示す図である。スポット光はテストパターンを構成する複数のライン上図では1本をキャリッジ5の移動方向と同一方向に一定速度等速で横切るように移動する。移動する際の速度は可変でもよいが、移動中は等速である。用紙などのシート材150は紙送りによりラインの長手方向に移動しているため、スポット光はライン上をラインのエッジに対して斜めに移動するが、シート材150が停止してもエッジ位置の特定方法は同じである。一般的な波長のスポット光とシート材150ではテストパターンの重複面積が大きいほど、スポット光の反射光が低下するとしてよい。なお、図8,9ではスポット径dテストパターンのライン幅Lとする。実際にはスポット光は若干の楕円になるが、楕円はテストパターンに並行に長軸を持つのでスポット光の形状はエッジ位置の精度にほとんど影響しない。図9は、本実施形態のエッジ位置の特定の概略を説明する図の一例である。図9aの数字I~Vは時刻の経過を表し、下のスポット光ほど時間経過が長い。時刻I:スポット光とテストパターンは重複していない。時刻II:スポット光の半分がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の減少率が最も大きくなる重畳している面積が単位時間に最も大きく正に変化する。時刻III:スポット光の全体がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の強度が最も小さくなる。時刻IV:スポット光の半分がテストパターンと重畳している。この瞬間、反射光の増加率が最も大きくなる重畳している面積が単位時間に最も大きく負に変化する。時刻V:スポット光がテストパターンを通過し、スポット光とテストパターンは重複していない。スポット光の重心がテストパターンのラインのエッジ位置と一致するのは、時刻II及びIVである。したがって、スポット光とラインとが時刻II及びIVの関係にあることを反射光から検出できれば、エッジ位置を精度よく特定できる。図9bは受光素子の検出電圧の一例を、図9cは吸収面積スポット光とテストパターンの重畳面積の一例を、図9dは図9cの吸収面積を微分した吸収面積の増加率の一例を、それぞれ示す。なお、図9dは、図9bの出力波形を微分しても同等の情報が得られる。また、吸収面積は例えば検出電圧から算出されるが、絶対値である必要はないので、図9cの吸収面積は所定値から図9bの検出電圧を減算することで吸収面積と同様の波形が得られる。上述したように、時刻IIにおいて反射光の減少率が最も大きくなり重畳している面積が単位時間に最も大きく正に変化する、時刻IVにおいて反射光の増加率が最も大きくなる重畳している面積が単位時間に最も大きく負に変化する。そして、図9dに示すように、増加率が増加傾向から減少傾向に変化する点は、時刻IIと一致しており、増加率が減少傾向から増加傾向に変化する点は、時刻IVと一致している。増加傾向から減少傾向又はその逆に変化する点は、平面上の曲線において曲がる方向が変わる点、すなわち変曲点である。以上から、出力信号が変曲点を示せば、スポット光がテストパターンのエッジ位置と一致していることになる。したがって、変曲点が精度よく検出されれば、エッジ位置も精度よく特定できる。エッジ位置の特定図10は、エッジ位置の特定方法を説明する図の一例である。図10aは、検出電圧の概略図を、図10bは検出電圧の拡大図をそれぞれ示す。変曲点のおよその値は、吐出タイミング補正処理実行部526又は開発者が実験的に求めることができる。上述したように、例えば、検出電圧や吸収面積を微分して傾きがゼロに最も近い位置が変曲点となる。この変曲点が含まれるように、検出電圧の上限閾値Vruと下限閾値Vrdが予め定められている。後述するように、CPU301はテストパターンのない領域に対し検出電圧がほぼ同じ一定値後述する4Vになるように発光素子402の出力と受光素子403の感度をキャリブレーションする。本実施例の描画密度の補正により、検出電圧の極大値はほぼ同じ一定値にすることができるので、上限閾値Vruと下限閾値Vrdの間に変曲点が含まれる。吐出タイミング補正部616は、検出電圧の立下り部分について、矢示Q1方向に探索して、検出電圧が下限閾値Vrd以下になる点を点P2として記憶する。次に、点P2より矢示Q2方向に探索して、検出電圧が上限閾値Vruを超える点を点P1として記憶する。そして、点P1と点P2の間の複数の検出電圧データを用いて回帰直線L1を算出し、回帰直線L1と上下閾値の中間値Vcとの交点を算出し交点C1とする。同様にして、吐出タイミング補正部616は、検出電圧の立上がり部分について、矢示Q3方向に探索して、検出電圧が下限閾値Vru以上になる点を点P4として記憶する。次に、点P4より矢示Q4方向に探索して、検出電圧が上限閾値Vrd以下になる点を点P3として記憶する。そして、点P3と点P4の間の複数の検出電圧データを用いて回帰直線L2を算出し、回帰直線L2と上下閾値の中間値Vcとの交点を算出し交点C2とする。交点C1と交点C2が二本のラインのエッジ位置なので、交点C1とC2の中央がラインセンタである。この後、吐出タイミング補正部616は、複数のラインのラインセンタを求め、テストパターンの2本のライン間の理想的な距離と、ラインセンタ間の距離との差分を算出する。この差分は、理想的なラインの位置に対する実際のラインの位置のずれなので、着弾位置ずれ量になる。吐出タイミング補正部616は、算出した着弾位置ずれ量に基づいて、記録ヘッド21から液滴を吐出させるタイミング液滴吐出タイミングを補正する補正値を算出し、補正値をヘッド駆動制御部312に設定する。これにより、ヘッド駆動制御部312は補正された液滴吐出タイミングで記録ヘッド21を駆動するので、着弾位置ずれが低減することになる。精度低下要因このように、上限閾値と下限閾値の間の検出電圧データを用いてエッジを検出する場合、上限閾値と下限閾値の間に少なくとも変曲点が含まれていなければ、エッジを検出できない。上限閾値と下限閾値2つのスレッシュホールドが形成する幅を、以下、スレッシュ領域という。スレッシュ領域は検出電圧を単位とするが、検出電圧に対応する吸収面積でも定義できる。図11は、吸収面積と吸収面積の増加率の一例をそれぞれ示す図である。図11のAのスレッシュ領域に変曲点があれば、図8で説明したように、吐出タイミング補正部616はエッジ位置を精度よく検出することができる。これに対し、図11のBのスレッシュ領域に変曲点がある場合、Aのスレッシュ領域から回帰直線を求めても、吐出タイミング補正部616は正確なエッジ位置を検出することはできない。また、変曲点がBのスレッシュ領域にあることが分かっていれば、スレッシュ領域をAからBの位置に移動して吐出タイミング補正部616が回帰直線を求めることもできるが、変曲点の位置が大きくずれることは、検出電圧や吸収面積のカーブが変形している可能性がある。例えば、カーブの傾きが大きくなったスレッシュ領域から、吐出タイミング補正部616が回帰直線を求めると、交点C1、C2も大きくずれる可能性がある。このことは、図11の下図で、Aのスレッシュ領域では頂点付近を含む位置の幅を十分に狭い範囲で推定できるに対し、Bのスレッシュ領域では変曲点図11ではスレッシュ領域B内にはないが付近を含む位置の幅を狭い範囲で推定しにくいことによって示されている。したがって、検出電圧の振幅が、変曲点がスレッシュ領域Aに入らないほどに変動した場合、スレッシュ領域Aからエッジ位置を特定したり、変曲点そのものを求めてスレッシュ領域を移動してエッジ位置を決定することは好適ではないことがわかる。そこで、本実施形態の補正処理実行部526は、色が異なっても受光素子403が同程度の検出電圧を検出するように、液滴の描画密度を変更することで、変曲点の位置電圧値がスレッシュ領域に入るようする。これにより、エッジ位置を精度よく検出できる。スポット光の径とテストパターンの線幅図8ではスポット径dテストパターンのライン幅Lとしたが、スポット径d>テストパターンのライン幅L又は、スポット径d<テストパターンのライン幅Lでも、エッジ位置は検出可能である。図12aは、スポット径d>テストパターンのライン幅Lの関係にあるスポット光とテストパターンの一例を示す。ここではd/2<L<dであるとする。図12bは受光素子の検出電圧の一例を、図12cは吸収面積の一例を、図12dは図12cの吸収面積を微分した吸収面積の増加率の一例を、それぞれ示す。スポット径d>テストパターンのライン幅Lであることは、スポット光とテストパターンが完全には重畳しないことを意味するので、図12dの吸収面積の増加率から明らかなように、スポット光の右端がテストパターンを乗り越えた時点で吸収面積が減少に転じ、増加率が急激に減少する。しかしながら、本実施形態では変曲点の近傍の検出電圧データが得られていれば、交点C1、C2を求めることができるので、スポット光の径dはd/2<Lであればよい。すなわち、スポット径dがテストパターンのライン幅Lに比べて極端に大きくなければよい。図13aは、スポット径d<テストパターンのライン幅Lの関係にあるスポット光とテストパターンの一例を示す。図13bは受光素子の検出電圧の一例を、図13cは吸収面積の一例を、図13dは図13cの吸収面積を微分した吸収面積の増加率の一例を、それぞれ示す。スポット径d<テストパターンのライン幅Lであることは、スポット光とテストパターンが完全に重畳した状態が継続することを意味するので、図13bcに示すように検出電圧や吸収面積が一定の領域が生じる。また、図13dに示すように、吸収面積の増加率がゼロとなる領域が生じる。その後、スポット光の右端がテストパターンを乗り越えた時点で吸収面積が減少に転じ、増加率が緩やかに減少する減少率が増加。このような場合、図8と同様に、変曲点近傍の検出電圧データが十分に得られるので、吐出タイミング補正部616は十分に交点C1、C2を求めることができる。ライン方式の画像形成装置の場合本実施形態では、図3,4のシリアル方式の画像形成装置100を例にして説明したが、ライン方式の画像形成装置100においても同様の方法で着弾位置ずれ量を補正できる。ライン方式の画像形成装置100について簡単に説明する。図14は、ライン方式の画像形成装置100のヘッドの配置とテストパターンを模式的に説明する図の一例である。ヘッド固定ブラケット160はシート材搬送方向と直交する主走査方向の端から端まで掛け渡されるように固定されている。ヘッド固定ブラケット160には、上流側からKCMYのインクの記録ヘッド180がそれぞれ主走査方向の全域に配置されている。各色の記録ヘッド180は端部が重複するように千鳥状に配置されている。こうすることで、記録ヘッド180の端部でも十分な解像度が得られる液滴が吐出されるので、主走査方向の全域に1つの記録ヘッド180を配置する必要がなくコスト増を抑制できる。なお、インク色ごとに主走査方向の全域に1つの記録ヘッド180を配置してもよいし、各色の記録ヘッド180の主走査方向の重複領域をより長くしてもよい。ヘッド固定ブラケット160よりも下流にはセンサ固定ブラケット170が、シート材搬送方向と直交する主走査方向の端から端まで掛け渡されるように固定されている。センサ固定ブラケット170には、印字位置ずれセンサ30がヘッドの数だけ配置されている。すなわち、1つの印字位置ずれセンサ30は、1つの記録ヘッド180と、主走査方向に少なくとも一部が重複するように配置されている。また、1つの印字位置ずれセンサ30は、1対の発光素子402と受光素子403を有する。発光素子402と受光素子403は、主走査方向にほぼ並行に並列配置されている。このような形態の画像形成装置100は、テストパターンを構成する各ラインを、ラインの長手方向が主走査方向と並行になるように形成する。Kを基準に他の色の液滴の着弾位置ずれを補正する場合、画像形成装置100は、シート材150を搬送しながらKのラインとMのライン、KのラインとCのライン、KのラインとYのラインを形成する。その後、シート材150を搬送することで、印字位置ずれセンサとシート材150の位置を相対的に等速で移動させる。そして、シリアル方式の画像形成装置100と同様に、CMYKのテストパターンのエッジ位置を検出し、その位置ずれ量から液滴吐出タイミングを補正する。以上のように、ライン方式の画像形成装置100においても、適切に印字位置ずれセンサ30を配置することで着弾位置ずれを補正できる。描画密度の補正図15は、各インク色が同じ描画密度で形成された場合のテストパターンを模式的に示す図の一例である。テストパターンとしては、画像形成装置が吐出可能な全てのインク色のテストパターンが形成されるが、図15ではブラックとマゼンダを例示する。ブラックとマゼンダを同じ描画密度例えば、主走査600×副走査300dpiとした場合、ブラックは反射率が低いため、検出電圧の極大値と極小値の差が大きくなり検出電圧が大きくなる。これに対し、マゼンダはブラックよりも反射率が大きいため、ブラックよりも検出電圧が小さくなる。波形と交差した-のマークは変曲点を示しており、ブラックの検出電圧とマゼンダの検出電圧では変曲点の位置が離れており、エッジ位置の精度が低下してしまう。図16は、反射率の大きいインクマゼンダだけ描画密度を大きくした場合のテストパターンを模式的に示す図の一例である。ブラックとマゼンダではマゼンダの方が反射率が高い吸収率が低いため、マゼンダの描画密度が図15よりも大きくなっている。図では一例として副走査方向の解像度を600dpi主走査方向と同じとして、描画密度を大きくしている。このように副走査方向の解像度を増やすことは比較的制御が容易である。マゼンダの描画密度が大きくなり反射率が低くなったため、マゼンダの検出電圧の極大値と極小値の差が大きくなり、図15よりも検出電圧の振幅が大きくなる。この結果、ブラックの検出電圧とマゼンダの検出電圧の変曲点の位置を近づけることができ、エッジ位置の精度の低下を抑制できる。つまり、マゼンタの描画密度を大きくしてブラックとマゼンタの極小値の差を近づけることで、変曲点の位置を近づけることが出来る。図16のように反射率の大きいインクの描画密度を大きくするのでなく、反射率の小さいインクの描画密度を小さくしても同様の効果が得られる。図17は、反射率の小さいインクブラックだけ描画密度を小さくした場合のテストパターンを模式的に示す図の一例である。ブラックとマゼンダではブラックの方が反射率が小さい吸収率が大きいため、ブラックの描画密度が図15よりも小さくなっている。図では一例として副走査方向の解像度を150dpi図15の半分として、濃度を小さくしている。このように副走査方向の解像度を減らすことは比較的制御が容易である。ブラックの描画密度が小さくなり反射率が大きくなったため、ブラックの検出電圧の極大値と極小値の差が小さくなる。この結果、ブラックの検出電圧とマゼンダの検出電圧の変曲点の位置がを近づけることができ、エッジ位置の精度の低下を抑制できる。つまり、ブラックの描画密度を小さくしてブラックとマゼンタの極小値の差を近づけることで、変曲点の位置を近づけることができる。また、この場合、ブラックのインクの使用量を低減できる。図16、17では副走査方向の解像度を変えることで描画密度を変更したが、主走査方向の解像度を変えることで描画密度を変更してもよい。図18aは各インク色が同じ描画密度で形成された場合のテストパターンを模式的に示す図の一例である。ここでもブラックとマゼンダを例示するが、インク色については限定されない。ブラックとマゼンダは共に同じ描画密度例えば、主走査300×副走査600dpiである。図15と同様、ブラックは反射率が低いため、検出電圧の極大値と極小値の差が大きくなり検出電圧の振幅が大きくなる。これに対し、マゼンダはブラックよりも反射率が大きいため、ブラックよりも検出電圧の振幅が小さくなる。図18bは、反射率の大きいインクマゼンダだけ描画密度を大きくした場合のテストパターンを模式的に示す図の一例である。マゼンダの描画密度が図18aよりも大きくなっている。図では主走査方向の解像度を600dpi副走査方向と同じとして、濃度を大きくしている。最高解像度の範囲で主走査方向の解像度を増やすことは比較的制御が容易である。マゼンダの描画密度が大きくなり反射率が低くなったため、マゼンダの検出電圧の極大値と極小値の差が大きくなり、図18aよりも検出電圧の振幅が大きくなる。この結果、ブラックの検出電圧とマゼンダの検出電圧の変曲点の位置を近づけることができ、エッジ位置の精度の低下を抑制できる。つまり、マゼンタの描画密度を大きくしてブラックとマゼンタの極小値の差を近づけることで、変曲点の位置を近づけることが出来る。また、主走査方向と副走査方向の両方の解像度を変更してもよい。図19は、反射率の大きいインクマゼンダの描画密度を大きくし、反射率の小さいインクブラックの描画密度を小さくした場合のテストパターンを模式的に示す図の一例である。マゼンダの描画密度が図18aよりも大きくなっており、ブラックの描画密度が図18aよりも小さくなっている。反射率の低い吸収率の高いブラックの解像度は300×300bpiであり、反射率の高い吸収率の低いマゼンダの解像度は600×600bpiである。マゼンダの描画密度が大きくなったためマゼンダの検出電圧の極大値と極小値の差が大きくなり、ブラックの描画密度が小さくなったためブラックの検出電圧の極大値と極小値の差が小さくなっている。この結果、ブラックの検出電圧とマゼンダの検出電圧の変曲点の位置を近づけることができ、エッジ位置の精度の低下を抑制できる。つまり、マゼンタの描画密度を大きくしブラックの描画密度を小さくしてブラックとマゼンタの極小値の差を近づけることで、変曲点の位置を近づけることが出来る。各インク色K,C、M,Y毎のテストパターンは、各色のテストパターンの変曲点が近づくように実験的に定められ、液滴の位置を規定する各色のテストパターンのパターンデータとしてテストパターン記憶部618に記憶されている。テストパターン印刷部617は、テストパターン記憶部618のパターンデータに従い図16~図19のいずれかの態様のテストパターンをシート材150に形成する。反射率は紙質や色によっても変わるので、普通紙用、光沢紙用、トレーシングペーパ用、各種の色紙用など、シート材150の種類毎に各パターンデータを用意しておくことも好適である。なお、KとM、KとC,KとYのように、ブラックと各インク色との組合せでテストパターンを形成するのであれば、KとM、KとC,KとYのそれぞれの組み合わせで反射率が同程度になるように、テストパターン記憶部618に複数のKのパターンデータを定めておくことができる同じ色だから同じ描画密度である必要はない。また、Yのように反射率が高いインク色の場合、Kと組み合わせるのでなく、次に反射率が高いMと組み合わせて、テストパターンの描画密度を決定すると変曲点の位置を合わせやすい。次に、液滴の吐出制御を工夫して描画密度を大きくする手法について説明する。ここでも反射率の高いインク色としてマゼンダを例示しているが、インク色は限定されるものではない。描画密度を大きくする方法には大きく以下の3つの方法がある。複数回、液滴をほぼ同じ位置に重ねながらテストパターンを形成する方法主走査方向に液滴の吐出位置を画素単位未満ずらしながらテストパターンを形成する方法副走査方向に液滴の吐出位置を画素単位未満ずらしながらテストパターンを形成する方法図20aは複数回、液滴がほぼ同じ位置に重ねられた場合のテストパターンを模式的に示す図の一例である。なお、図では液滴の位置が少しずつずれているが、これは複数の液滴があることを描写するためであり、実際は各液滴はほぼ同じ位置に吐出される。ヘッド駆動制御部は、エンコーダセンサ42によりキャリッジ5が主走査方向のある決まった位置に存在することを検出すると、液滴を吐出する。これを決まった回数だけ繰り返す。同じ印字動作を複数回繰り返すだけなので制御が容易である。なお、画像形成装置が液滴を同じ位置に吐出しても、描画面積が増えるわけではないので描画密度を大きくしたことにはならないが、吐出位置のインク量が増えるのでインクがスポット光を吸収しやすくなる。特に、イエローのように反射率が高い色材の場合、同じ位置に吐出を繰り返すことは有効である。また、他の2つの方法と併用することでさらに大きな反射率を得やすくなる。図20bは、主走査方向に液滴の吐出位置を画素単位未満ずらしながら形成されたテストパターンを模式的に説明する図の一例である。図では、画素単位の半分の長さをずらして、液滴が吐出されている。すなわち、主走査方向の1回目の走査においてヘッド駆動制御部は例えば最高解像度で液滴を吐出し、主走査方向の2回目の走査において同じ解像度だが液滴の吐出タイミングを画素単位の半分程度遅らせて液滴を吐出する。このような方法は、光沢紙のような最高密度画素時も白地が残るシート材150に対しても、効果的に白地を埋めることができる。なお、画素単位とは、一回の走査で得られる主走査方向の最高解像度の液滴間の距離、又は、キャリッジがこの距離を移動する時間である。吐出タイミングの遅延量は、画素単位の半分の長さに限られず、ヘッド駆動制御部に取って可能な遅延制御量の範囲に応じて可変である。例えば、3回目の走査では画素単位の1/4遅延させ、4回目の走査では画素単位の3/4遅延させることもできる。また、キャリッジ5の走査速度を遅くすれば、吐出位置はさらに自由に変更できる。なお、ライン型の画像形成装置では主走査方向の吐出タイミングを変更することは困難であるので、ライン型の画像形成装置には、記録ヘッドの主走査方向の位置を画素単位未満で可変とする機構又はシート材150を主走査方向に画素単位未満で移動させる機構を設けることが考えられる。図20cは、副走査方向に液滴の吐出位置を画素単位未満ずらしながら形成されたテストパターンを模式的に説明する図の一例である。ヘッド駆動制御部が主走査方向に1回目の走査をした後、テストパターン印刷部617は副走査駆動部に画素単位未満の紙送りを要求する。副走査駆動部は画素単位未満、シート材150を紙送りする。この状態で、ヘッド駆動制御部が主走査方向に2回目の走査をすることで、液滴の吐出位置を副走査方向に画素単位未満ずらすことができる。この方法も、光沢紙のような最高密度画素時も白地が残るシート材150に対しても、効果的に白地を埋めることができる。なお、副走査方向の画素単位は、副走査方向のノズル間の距離、又は、キャリッジがこの距離を移動する時間であるとする。以上の図20a~cのテストパターンのパターンデータもテストパターン記憶部618に記憶されており、テストパターン印刷部617はパターンデータに応じてキャリッジ5、ヘッド駆動制御部及び副走査駆動部等を制御する。また、テストパターン記憶部618を静的なファイルとして用意するのでなく、例えばKとMであれば、テストパターン印刷部617が両者の検出電圧の極小値が同程度になるようにフィードバック制御して、K又はMの少なくとも一方の描画密度を動的に変更してもよい。この方法は、シート材150の紙質が不定の場合に有効である。動作手順図21aは、補正処理実行部526が液滴吐出タイミングを補正する手順の一例を示すフローチャート図である。まず、CPU301が、着弾位置ずれ補正を開始するよう主制御部310に指示する。この指示により、主制御部310は副走査駆動部314を介して副走査モータ132を駆動しシート材150を記録ヘッド21の真下まで搬送させるS1。次に、主制御部310は主走査駆動部313を介して主走査モータ27を駆動して、キャリッジ5をシート材150上に移動し、シート材150上の特定の箇所にて発光素子と受光素子のキャリブレーションを実施するS2。図21bはS2の処理を説明するフローチャート図の一例である。キャリブレーションは、発光素子の検出電圧が所望の範囲内例えば4V±04Vの範囲内に調整している。になるように発光素子の光量を調整する処理である。CPU301によって発光制御手段511に印字位置ずれセンサ30の発光素子402を駆動するためのPWM値が設定され、平滑回路512で平滑化された後、駆動回路513に与えられることで、駆動回路513が発光素子402を発光駆動するS21。印字位置ずれセンサ30の受光素子403が検出した強度信号は共有メモリ525に記憶され、CPU301が所望の電圧値になっているかチェックするS22。所望の電圧値になっていればS22のOK、図21bの処理は終了する。所望の電圧値になっていなければS22のNo、CPU301はPWM値を変更することでS23、光量の再調整を行う。図21aに戻り、主制御部310は、シート材150の副走査位置はそのままで紙送りせずに、主走査制御部313が主走査駆動モータ27を介してキャリッジ5を移動させると共に、ヘッド駆動制御部312がパターンデータに基づき記録ヘッド21~24を駆動してテストパターンを形成するS6。例えば、補正処理実行部526がブラックを基準にマゼンダの着弾位置ずれを調整する場合は、描画密度の異なるブラックとマゼンダを交互にテストパターンを形成する。その他の色も同様である。次に、吐出タイミング補正部616は、検出電圧データからテストパターンのエッジ位置を検出し、液滴の着弾位置ずれを補正するS12。すなわち、吐出タイミング補正部616は各ライン間の距離を適正距離と比較して着弾位置ずれ量を算出し、着弾位置ずれがなくなるように液滴吐出タイミングの補正量を算出し、ヘッド駆動制御部312に設定する。以上説明したように、本実施例の画像形成装置は、インク色ごとに反射率が同程度になるように描画密度を変更するのでインク色が異なっても変曲点の位置を近づけることができエッジ位置を精度良く検出することができる。この結果、液滴吐出タイミングを高精度に調整できる。実施例1では、インク色ごとの描画密度を変更することで変曲点の位置を近づけたが、変曲点の位置を乱す要因はインク色だけではないため、予め記憶しておいたように描画密度を変更しても、十分に変曲点の位置が近づかない場合がある。このような場合、実施例1に加えて本実施例を実行することで精度良く検出を行うことが出来る。精度低下要因図10にて説明したように、上限閾値と下限閾値の間の検出電圧データを用いてエッジを検出する場合、上限閾値と下限閾値の間に少なくとも変曲点が含まれていなければ、エッジを検出できない。図22aは振幅が不安定な検出電圧の一例を、図22bは振幅の補正後の検出電圧の一例をそれぞれ示す。図22aのような検出電圧は一般には得られないが、印字位置ずれセンサ30がトレーシングパーパーのように透過率の高いシート材150に形成されたテストパターンを読み取ると、用紙の透きムラ透過率変動や受光素子の感度の増幅等により、検出電圧の振幅がバラつくことが知られている。図示するように振幅が不安定になることで、変曲点がスレッシュ領域から外れてしまう。元のスレッシュ領域のまま、補正処理実行部526が交点C1,C2を求めると、変曲点が含まれない検出電圧から交点C1,C2を求めることになるので、エッジ位置は正確でないことになる。これに対し、図22bに示すように、振幅の極大値を同レベルに近づけることで、変曲点をスレッシュ領域に含ませること、及び、スレッシュ領域の中心付近に集中させることが可能になる。そこで、本実施例では、実施例1の描画密度の変更に加え、特殊なシート材150でも検出電圧の振幅を補正可能な画像形成装置について説明する。なお、本実施形態ではトレーシングパーパーを例に説明するが、透過率の高いシート材150であれば同様の課題が生じる。例えば、トレーシングパーパー以外の普通紙でも十分に紙が薄い場合には本実施形態のエッジ位置の検出方法が有効である。したがって、本実施形態の液滴吐出タイミングの補正処理は特定の材質や種類、厚みを有するシート材150に限定されない。また、厚みが十分にある普通紙に適用することもできる。図23は、本実施例の補正処理実行部526の機能ブロック図の一例である。図23において図7と同一部の説明は省略する。本実施例の補正処理実行部526は、印字前前処理部611、印字後前処理部612、同期処理部613、パターン非存分除外処理部614、振幅補正処理部615及び吐出タイミング補正部616を有する。印字前前処理部611は、テストパターンが形成される前の検出電圧データに前処理を施し、印字後前処理部612は、テストパターンが形成された後の検出電圧データに前処理を施す。同期処理部613は、テストパターンの形成前と形成後の検出電圧データを同期させる位置を合わせる。パターン非存分除外処理部614は、検出電圧データから後述するVpを減算する。振幅補正処理部615は、振幅補正処理を行うことでエッジ位置を演算するための検出電圧zを生成する。信号補正以下、本実施例の検出電圧の信号補正について説明する。本実施例の信号補正は、パターン非存分除外処理振幅補正処理の2つの補正を有している。また、信号補正するために、前処理が必要とされる。よって、処理手順は以下のようになる。1前処理2信号補正21パターン非存分除外処理、22振幅補正処理<前処理>以下、前処理について説明する。前処理は前処理Aと前処理Bに分けることができる。前処理Aは、テストパターン形成前の白紙状態バックグラウンドの検出電圧データに対する以下の処理により構成される。前処理An回スキャン同期処理平均化フィルタ処理前処理Bは、インク色ごとに描画密度を変更したテストパターン形成後の検出電圧データに対する以下の処理により構成される。前処理Bn回スキャン同期処理平均化<前処理A>前処理A-図24は、Aのn回スキャンの測定結果の一例を示す図である。n回スキャンに先立ち、n回スキャン部はシート材ex、普通紙、トレーシングペーパに対するセンサキャリブレーションを行う。n回スキャン部は、受光素子が検出し最終的にA/D変換回路523が変換した反射光の検出電圧が、ある一定値になるようにCPU301に要求する。CPU301は、検出電圧がある範囲に入るようにフィードバック制御する。例えば、検出電圧が4.4Vより大きければ発光制御手段511の発光量を低減し、検出電圧が4.0V未満であれば発光制御手段511の発光量を増大する。図24abに示すように、センサキャリブレーションにより、検出電圧は4.0~4.4Vの範囲に入るようになる。なお、目標値を4.0~4.4Vに設定したPI制御やPID制御によりセンサキャリブレーションしてもよい。n回スキャン部は図24abのような検出電圧データをn個取得する。前処理A図25はAの同期処理を説明する図の一例である。平均化部はn回スキャン部が取得したn個の検出電圧データの平均を算出する。検出電圧データはスポット光がシート材150以外を走査しても検出されるが、必要なのはシート材150上を走査したときに得られた検出電圧のみである。このため、同期化部は、n個の検出電圧データの始まりをシート材150の紙端に揃える。n回の検出電圧データを紙端から始めるため、同期化部は検出電圧データが閾値を最初に越えたところを、シート材150の紙端として検出する。平均化されるための検出電圧データは、閾値を超えた以降のデータである閾値を超えた検出電圧データを先頭1個目のデータとして扱う。閾値はセンサキャリブレーションの目標値を4.0Vとした場合、それよりもやや小さい3.5~3.9V程度である。このような同期方法の他、エンコーダセンサ42が検出した主走査方向の位置情報に検出電圧データを対応づけて記憶しておき、位置情報を一致させてn個の検出電圧データの同期を取ってもよい。前処理A-次に、n個の検出電圧データはシート材150の紙端を走査方向の基準位置位置がゼロとして、位置毎にn個の検出電圧データを有する。この位置は、エンコーダセンサが検出するキャリッジ5の位置であるが、スポット光の重心位置と1対1に対応するので、以下、スポット光の重心位置として説明する。すなわち、平均化部は重心位置毎にn個の検出電圧データの平均を算出する。前処理A図26は、フィルタ処理を説明する図の一例である。フィルタ処理部は、平均化部が平均した重心位置毎の検出電圧データの平均値をフィルタ処理する。具体的には、着目している検出電圧データの前後m個着目しているデータを含めm個とするのデータを抽出して、平均を算出する。これにより、測定ノイズが低減され、同期処理で同期しきれなかった検出電圧データのズレを低減することができる。図26では、実線の波形がフィルタ処理前の検出電圧データであり、点線の波形がフィルタ処理後の検出電圧データである。フィルタ処理前の検出電圧データはA/D変換回路523の分解能の影響を受け階段状の変動を示すが、フィルタ処理によりなだらかになることがわかる。<テストパターンの形成>テストパターン印刷部617は、実施例1にて説明したようにテストパターン記憶部618のパターンデータを用いてテストパターンを形成する。<前処理B>前処理B図27は、Bのn回スキャンを説明する図の一例である。図27aでは、Aのn回スキャンが行われたシート材150にテストパターンが形成されている。図27bはテストパターンが形成されたシート材150からの反射光を受光素子が受光した際の検出電圧データの波形を示す。n回スキャン部はこのようなデータをn回取得する。前処理B図28は同期処理を説明する図の一例である。上段は同期前の検出電圧データを、下段は同期後の検出電圧データをそれぞれ模式的に示す。テストデータの形成前と異なりテストデータの形成後は、n回の検出電圧データの極大値同士、及び、極小値同士を一致させることで、エッジ位置を揃えることができる。図21のような波形データの極大値同士、及び、極小値同士を一致させる完全に一致させることは困難であるがには、いくつか方法がある。比較的簡単な方法は、A-と同様に、n個の検出電圧データの始まりをシート材150の紙端に揃えることである。テストパターンが紙端に対し同じ位置に形成されていれば、複数の検出電圧データの極大値及び極小値も同じ位置に揃えることができる。またA-と同様に、エンコーダセンサ42が検出した主走査方向の位置情報に検出電圧データを対応づけて記憶しておき、位置情報を一致させてn個の検出電圧データの同期を取ってもよい。また、同期化部は、n個の検出電圧データの位置をずらしながら、n個の検出電圧データのズレが最小になるようにn個の検出電圧データの位置を決定することもできる。前処理B-平均化部は同期化したn個の検出電圧データの平均を算出する。n個の検出電圧データは、位置毎にn個の検出電圧データが存在するので、平均化部は重心位置毎にn個の検出電圧データの平均を算出する。<信号補正処理>信号補正の前に同期処理部613が同期処理を行う。同期処理部613は、A~の前処理が施されたテストパターン印字前の検出電圧データと、B~の前処理が施されたテストパターン印字後の検出電圧データの紙端を揃える。揃え方はAと同様に、閾値を最初に越えた検出電圧データを先頭1個目のデータとすることで行う。以下、説明のため、テストパターン印字前の検出電圧データを白紙測定データVsg2、テストパターン印字後の検出電圧データをパターン測定データVsg1という。以下、信号補正処理について説明する。21パターン非存分除外処理パターン非存分除外処理は、検出電圧Vsgからパターンに依存しない検出分を低減する処理を行う。具体的には、VsgからVpを減じる。これにより、シート材150以外に起因する検出電圧を排除することができる。図28は、VsgとVpを説明する図の一例である。受光素子の検出電圧に寄与する要因を説明する。受光素子が受光する光の多くは発光素子がシート材に対し発光した光の反射光であるが、反射光にはシート材の反射分とシート下の板状部材以下、プラテンというの反射分が含まれる。また、反射光以外に、空中散乱光や背景放射などの光も受光素子に受光される。これらを以下のように定義する。Vsg:受光素子が受光した光の全ての検出電圧Vp:テストパターンが形成された部分でも吸収し切れない光による反射光、空中散乱光、暗出力による検出電圧Vs:検出したい検出電圧図28のVsgはテストパターンが形成された場合の検出電圧の波形である。Vsgにおいて、テストパターンが形成された箇所はテストパターンが光を吸収することにより、反射光が低下している。しかしながら、図19におけるVpはテストパターンが形成されている部分においても出力されている。これが、テストパターンの形成によって変動しない検出電圧Vpである。このためテストパターンの形成後において、検出電圧の極小値はインクにより吸収されないパターン非存分によるものとみなせるので、本実施例ではパターン読み取り時の最低電圧Vpをパターン非存分による検出電圧とする。なお、ここでは単一色のテストパターンの場合を例を挙げて説明したが、複数の色のテストパターンの場合にも本処理は適用できる。その場合、最も多くスポット光を吸収する色のテストパターンでの極小値がVpとなる。この場合、他の色のテストパターンの部分では除外しきれない電圧が残るが、若干残った場合にも位置の検出精度は向上する。したがって、パターン測定データVsg1及び白紙測定データVsg2からそれぞれVpを減じれば、インクから反射する以外の検出電圧を除外できる。これにより、受光素子がテストパターンを読み取った際の波形出力の極小値のばらつきが低減される。パターン非存分除外処理部614は、以下を算出する。x ́=Vsg1-Vpy ́=Vsg2-Vp図30aはパターン測定データの出力波形の一例を、図30bはパターン測定データからVpを減じた出力波形の一例を、それぞれ示す。図30aとbを比較すると分かるように、パターン非存分除外処理により約1Vほど全体的にパターン測定データが小さくなっていることが分かる。図30cは白紙測定データの出力波形の一例を、図30dは白紙測定データからVpを減じた出力波形の一例を、それぞれ示す。図30cとdを比較すると分かるように、パターン非存分除外処理により約1Vほど全体的に白紙測定データが小さくなっていることが分かる。22振幅補正処理同期処理によりx ́とy ́は同じ走査位置の検出電圧データになるので、スポット光が、テストパターンがない場所を走査するとx ́とy ́が等しくなり、テストパターンがある場所を走査するとx ́が略ゼロとなる。これは、x ́が、ある位置においてy ́を基準最大としてテストパターンにより吸収しきれずに検出された反射光による検出電圧であることを意味する。すなわち、シート材150の透過率などがもたらす変動が位置毎に異なっても、変動が検出電圧を大きくする位置y ́が大きい位置ではx ́も大きくなり、変動が検出電圧を小さくする位置y ́が小さい位置ではx ́も小さくなる。このことは、換言すると、x ́に含まれる位置に起因する変動は、x ́/y ́という比例補正により適切に補正可能であることを示す。図31は、x ́とy ́から得られる検出電圧zを模式的に説明する図の一例である。図31aではx ́とy ́を1つに重ねて表示しており、図31bでは検出電圧zと固定値を表示している。x ́y ́は、ある位置の変動を含んだx ́がy ́を基準にした場合にどのくらいの比率で含まれるかを表すので、振幅として適切な固定値を定めておけば、固定値×x ́/y ́により振幅が一定の検出電圧データを取得することができる。この検出電圧をzとすると、以上から、振幅補正処理後の検出電圧zは、z=固定値×x ́/y ́で表すことができる。検出電圧zは、シート材150の位置により生じる変動が除去され、テストパターン部で極小に白地で極大になる振幅が一定の検出電圧となる。以上の考え方に基づき、振幅補正処理部615は、固定値×x ́/y ́の演算を行う。x ́とy ́はすでに求められており、固定値はセンサキャリブレーションにより得られた検出電圧の最大値例えば4VからVpを減じた値であるVpを減じるのはx ́とy ́もVpが減じられているため。以上から、振幅補正処理部615は図30bのような振幅が一定の検出電圧zを得ることができる。この後、吐出タイミング補正部616は検出電圧zから上述したように交点C1、C2をエッジ位置に決定する。パターン非存分除外処理と振幅補正処理により、スレッシュ領域の中央付近に変曲点を集中させることができる。なお、固定値は、極大値と相関するVsg2の平均値や中央値からVpを減じた値でもよい。また、固定値がいくつでも検出電圧の振幅は一定になるので、スレッシュ領域を調整することを前提に変更することができる。動作手順図32は、補正処理実行部526が信号補正する手順の一例を示すフローチャート図である。まず、CPU301が、着弾位置ずれ補正を開始するよう主制御部310に指示する。この指示により、主制御部310は副走査駆動部314を介して副走査モータ132を駆動しシート材150を記録ヘッド21の真下まで搬送させるS1。次に、主制御部310は主走査駆動部313を介して主走査モータ27を駆動して、キャリッジ5をシート材150上に移動し、シート材150上の特定の箇所にて発光素子と受光素子のキャリブレーションを実施するS2。S2の処理は実施例1と同様なので説明は省略する。次に、印字前前処理部611のn回スキャン部は、キャリッジ5をホームポジションまで移動し、テストパターン形成前のn回スキャンを行い、n個の検出電圧データを共有メモリ525に記憶するS3a。図33bはS3の処理を説明するフローチャート図の一例である。まず、CPU301が発光素子を点灯させるS31。次に、光電変換回路521等が検出電圧データの取り込みを開始するS32。取り込みを開始したら、主走査駆動部313は主走査駆動モータ27によりキャリッジ5を移動させていくS33。つまり、キャリッジ5が移動ながら、光電変換回路521等が検出電圧データを取り込む。データのサンプリングは例えばは20kHz50μs間隔である。キャリッジ5が画像形成装置の端部に到達すると、光電変換回路521等は検出電圧データの取り込みを終了するS34。主制御部310は一連の検出電圧データを共有メモリ525に蓄積する。主制御部310はキャリッジ5をホームポジションで停止させるS35。CPU301は所定の回数、検出電圧データの読み取りをn回完了したか否か確認し、完了している場合は次のS5の処理に進み、完了していない場合はS3の検出電圧データの読み取り処理を再度行うS4。次に、印字前前処理部611は共有メモリ525に蓄積された所定の回数読み取ったテストパターン形成前の検出電圧データを読み出して前処理を実行し、そのデータをRAM303に保存するS5。S5の前処理の内容は図33cに示されるがすでに説明したので省略する。次に、主制御部310は、シート材150の副走査位置はそのままで紙送りせずに、主走査制御部313が主走査駆動モータ27を介してキャリッジ5を移動させると共に、ヘッド駆動制御部312がパターンデータを用いて記録ヘッド21~24を駆動して着弾位置ずれ調整用のテストパターンを形成するS6。次に、印字後前処理部612のn回スキャン部は、キャリッジ5をホームポジションまで移動し、テストパターン形成後のn回スキャンを行い、n個の検出電圧データを共有メモリ525に記憶するS3b。CPU301は所定の回数、検出電圧データの読み取りをn回完了したか否か確認し、完了している場合は次のS8の処理に進み、完了していない場合はS3のパターンデータ読み取り処理を再度行うS7。次に、印字後前処理部612は共有メモリ525に蓄積された所定の回数読み取った検出電圧データを読み出して前処理を実施し、そのデータをRAM303に保存するS8。S8の前処理の内容は図33dに示されるがすでに説明したので省略する。次に、同期処理部613は前処理が施された白紙測定データとパターン測定データをRAM303より読み出して、同期化処理によって位置あわせを行うS9。次に、パターン非存分除外処理部614は、パターン測定データの極小値からVpを求め、白紙測定データとパターン測定データからそれぞれVpを減算するS10。次に、振幅補正処理部615は、式z=固定値×x ́/y ́を用いて振幅補正処理を行い検出電圧zを生成するS11。これにより、変曲点がスレッシュ領域内に収まった検出電圧データが得られた。吐出タイミング補正部616は、検出電圧zによりエッジ位置を検出し、液滴の着弾位置ずれを補正するS12。すなわち、吐出タイミング補正部616は各ライン間の距離を適正距離と比較して着弾位置ずれ量を算出し、着弾位置ずれがなくなるように液滴吐出タイミングの補正量を算出し、ヘッド駆動制御部312に設定する。以上説明したように、本実施形態の画像形成装置100は、インク色ごとにテストパターンの描画密度を変更するだけでなく、透過率が高いシート材150でも検出電圧の振幅をほぼ一定になるように補正することで、変曲点の位置をスレッシュ領域内に収めることができる。よって、エッジ位置を精度よく求めることができ、液滴の着弾位置ずれを精度よく補正することができる。本実施例では、パターン非存分除外処理と振幅補正処理を画像形成装置でなく、サーバが行う画像形成システムについて説明する。図34は、画像形成装置100とサーバ200を有する画像形成システム500を模式的に説明する図の一例である。図34において図3と同一部には同一の符号を付しその説明は省略する。画像形成装置100とサーバ200がネットワーク201を介して接続されている。ネットワーク201は、社内のLAN、LAN同士を接続したWAN,若しくは、インターネット、又は、これらを組み合わせたものである。図34のような画像形成システム500では、画像形成装置100がテストパターンの形成及び印字位置ずれセンサによるテストパターンの走査を行い、サーバ200が液滴吐出タイミングの補正値を算出する。したがって、画像形成装置100の処理負荷を低減でき、サーバ200に液滴吐出タイミングの補正値の算出機能を集約できる。図35は、サーバ200と画像形成装置100のハードウェア構成図の一例を示す図である。サーバ200は、それぞれバスで相互に接続されているCPU51、ROM52、RAM53、記憶媒体装着部54、通信装置55、入力装置56、及び、記憶装置57を有する。CPU51は、OSOperatingSystem、及び、プログラム570を記憶装置57から読み出して、RAM53を作業メモリにして実行する。このプログラム570は、液滴吐出タイミングの補正値を算出する処理を行う。RAM53は必要なデータを一時保管する作業メモリ主記憶メモリになり、ROM52にはBIOSや初期設定されたデータ、ブートストラップローダ等が記憶されている。記憶媒体装着部54は、可搬型の記憶媒体320を装着するインタフェースである。通信装置55は、LANカードやイーサネット登録商標カードと呼ばれ、ネットワーク201に接続して、画像形成装置100の外部I/F311と通信する。なお、画像形成装置100には、少なくともサーバ200のIPアドレス又はドメイン名が登録されている。入力装置56は、キーボード、マウスなど、ユーザの様々な操作指示を受け付けるユーザインターフェイスである。タッチパネルや音声入力装置を入力装置とすることもできる。記憶装置57は、HDDHardDiskDriveやフラッシュメモリなどの不揮発メモリを実体とし、OS、プログラム等を記憶している。プログラム570は、記憶媒体320に記録された状態又は不図示のサーバ200からダウンロードされる態様で配布される。図36は、画像形成システム500の機能ブロック図の一例である。画像形成装置100の補正処理実行部526は印字前後のn回スキャン部、テストパターン記憶部618、及び、テストパターン印刷部617のみ有し、残りの機能はサーバ側が有する。サーバ側の機能を補正処理演算部620と称する。なお、テストパターン記憶部618はサーバ200又は不図示の別のサーバにあってもよく、画像形成装置100がサーバ200からダウンロードしてもよい。補正処理演算部620は印字前の同期化部、平均化部、フィルタ処理部、印字後の同期化部、平均化部、同期処理部613、パターン非存分除外処理部614、振幅補正処理部615、及び、吐出タイミング補正部616を有する。各ブロックの機能は実施例1と同様なので説明は省略する。画像形成システム500では、画像形成装置側のn回スキャン部が印字前と印字後のn個のデータをサーバ200に送信する。サーバ側の補正処理演算部620は、パターン非存分除外処理及び振幅補正処理を行って、液滴吐出タイミングの補正値を算出する。サーバ200は液滴吐出タイミングの補正値を画像形成装置100に送信するので、ヘッド駆動制御部312は吐出タイミングを変更することができる。図37は、画像形成システム500の動作手順を示すフローチャート図の一例である。図示するように図24のS5,S8~S11をサーバ200が行い、これら以外の印字前後のn回のスキャンに必要な処理を画像形成装置100が行う。また、画像形成装置100とサーバ200が通信するため、画像形成装置100は、ステップS41において印字前のn個のスキャン結果を送信する処理、S71において印字後のn個のスキャン結果を送信する処理、を新たに行う。また、画像形成装置100は、S72において液滴吐出タイミングの補正値を受信する処理を新たに行う。これに対し、サーバ200は、S12の後、S13において、液滴吐出タイミングの補正値を画像形成装置100に送信する処理を新たに行う。このように、処理が行われる場所が変わるだけで、画像形成システム500は、実施例1と同様に、シート材150の特性から受ける影響を抑制して、液滴吐出タイミングを高精度に補正することができる。1ガイドロッド2副ガイド5キャリッジ7駆動プーリ8主走査モータ9タイミングベルト21~24記録ヘッド30印字位置ずれセンサ41エンコーダシート42エンコーダセンサ100画像形成装置200サーバ301CPU310主制御部312ヘッド駆動制御部313主走査駆動部314副走査駆動部402発光素子403受光素子500画像形成システム525共有メモリ526補正処理実行部611印字前前処理部612印字後前処理部613同期処理部614パターン非存分除外処理部615振幅補正処理部616吐出タイミング補正処理部617テストパターン印刷部618テストパターン記憶部"