"アクセプタ元素を含むガラス粉末と、ケイ素粒子と、分散媒と、を含有するp型拡散層形成組成物。前記アクセプタ元素が、Bほう素、Alアルミニウム及びGaガリウムから選択される少なくとも1種である請求項1に記載のp型拡散層形成組成物。前記アクセプタ元素を含むガラス粉末が、B2O3、Al2O3及びGa2O3から選択される少なくとも1種のアクセプタ元素含有物質と、SiO2、K2O、Na2O、Li2O、BaO、SrO、CaO、MgO、BeO、ZnO、PbO、CdO、V2O5、SnO、ZrO2、及びMoO3から選択される少なくとも1種のガラス成分物質と、を含有する請求項1又は請求項2に記載のp型拡散層形成組成物。半導体基板上に、請求項1~請求項3のいずれか1項に記載のp型拡散層形成組成物を塗布する工程と、熱拡散処理を施す工程と、を有するp型拡散層の製造方法。半導体基板上に、請求項1~請求項3のいずれか1項に記載のp型拡散層形成組成物を塗布する工程と、熱拡散処理を施して、p型拡散層を形成する工程と、形成されたp型拡散層上に電極を形成する工程と、を有する太陽電池素子の製造方法。しかしながら、特許文献1に記載のペースト組成物を用いた場合でも充分に反りを抑制することができない場合があった。本発明は、以上の従来の問題点に鑑みなされたものであり、半導体基板を用いた太陽電池素子の製造工程において、基板表面の粗面化を抑制しつつ、基板中の内部応力、基板の反りを発生させることなくp型拡散層を形成することが可能なp型拡散層形成組成物、p型拡散層の製造方法、及び太陽電池素子の製造方法の提供を課題とする。前記課題を解決する手段は以下の通りである。<1>アクセプタ元素を含むガラス粉末と、ケイ素粒子と、分散媒と、を含有するp型拡散層形成組成物。<2>前記アクセプタ元素が、Bほう素、Alアルミニウム及びGaガリウムから選択される少なくとも1種である前記<1>に記載のp型拡散層形成組成物。<3>前記アクセプタ元素を含むガラス粉末が、B2O3、Al2O3及びGa2O3から選択される少なくとも1種のアクセプタ元素含有物質と、SiO2、K2O、Na2O、Li2O、BaO、SrO、CaO、MgO、BeO、ZnO、PbO、CdO、V2O5、SnO、ZrO2、及びMoO3から選択される少なくとも1種のガラス成分物質と、を含有する前記<1>又は<2>に記載のp型拡散層形成組成物。<4>半導体基板上に、前記<1>~<3>のいずれか1項に記載のp型拡散層形成組成物を塗布する工程と、熱拡散処理を施す工程と、を有するp型拡散層の製造方法。<5>半導体基板上に、前記<1>~<3>のいずれか1項に記載のp型拡散層形成組成物を塗布する工程と、熱拡散処理を施して、p型拡散層を形成する工程と、形成されたp型拡散層上に電極を形成する工程と、を有する太陽電池素子の製造方法。本発明によれば、半導体基板を用いた太陽電池素子の製造工程において、基板表面の粗面化を抑制しつつ、基板中の内部応力、基板の反りを発生させることなくp型拡散層を形成することが可能となる。まず、本発明のp型拡散層形成組成物について説明し、次にp型拡散層形成組成物を用いるp型拡散層及び太陽電池素子の製造方法について説明する。尚、本明細書において工程との語は、独立した工程だけではなく、他の工程と明確に区別できない場合であってもその工程の所期の作用が達成されれば、本用語に含まれる。また本明細書において~は、その前後に記載される数値をそれぞれ最小値および最大値として含む範囲を示すものとする。さらに本明細書において組成物中の各成分の量について言及する場合、組成物中に各成分に該当する物質が複数存在する場合には、特に断らない限り、組成物中に存在する当該複数の物質の合計量を意味する。本発明のp型拡散層形成組成物は、少なくともアクセプタ元素を含むガラス粉末以下、単にガラス粉末と称する場合があると、ケイ素粒子と、分散媒とを含有し、更に塗布性などを考慮してその他の添加剤を必要に応じて含有してもよい。ここで、p型拡散層形成組成物とはアクセプタ元素を含むガラス粉末を含有し、シリコン基板に塗布した後にこのアクセプタ元素を熱拡散することでp型拡散層を形成することが可能な材料をいう。アクセプタ元素をガラス粉末中に含むp型拡散層形成組成物を用いることで、p型拡散層形成工程とオーミックコンタクト形成工程とを分離でき、オーミックコンタクト形成のための電極材の選択肢が広がるとともに、電極の構造の選択肢も広がる。例えば銀等の低抵抗材を電極に用いれば薄い膜厚で低抵抗が達成できる。また、電極も全面に形成する必要はなく、櫛型等の形状のように部分的に形成してもよい。以上のように薄膜あるいは櫛型形状等の部分的形状にすることで、シリコン基板中の内部応力、基板の反りの発生を抑えながらp型拡散層を形成することが可能となる。したがって、本発明のp型拡散層形成組成物を適用すれば、従来広く採用されている方法、つまりアルミペーストを印刷し、これを焼成してn型拡散層をp型拡散層にするのと同時にオーミックコンタクトを得る方法では発生してしまう基板中の内部応力及び基板の反りの発生が抑制される。さらにガラス粉末中のアクセプタ成分は焼成中でも揮散しにくいため、揮散ガスの発生によって所望の領域以外にまでp型拡散層が形成されるということが抑制される。さらに本発明のp型拡散層形成組成物にはケイ素粒子が含まれるため、溶融したガラス層と半導体基板との接触面積が低減する。これにより溶融したガラスと半導体基板表面の反応による表面の粗面化を抑制でき、ガラス層除去において優れたエッチング特性を示す。さらにアクセプタ元素の拡散性に優れる。本発明に係るアクセプタ元素を含むガラス粉末について、詳細に説明する。アクセプタ元素とは、シリコン基板中にドーピングさせることによってp型拡散層を形成することが可能な元素である。アクセプタ元素としては第13族の元素が使用でき、例えばBほう素、Alアルミニウム、Gaガリウム等が挙げられる。アクセプタ元素をガラス粉末に導入するために用いるアクセプタ元素含有物質としては、B2O3、Al2O3、及びGa2O3が挙げられ、B2O3、Al2O3及びGa2O3から選択される少なくとも1種を用いることが好ましい。また、アクセプタ元素を含むガラス粉末は、必要に応じて成分比率を調整することによって、溶融温度、軟化温度、ガラス転移温度、化学的耐久性等を制御することが可能である。更に以下に記す、ガラス成分物質を含むことが好ましい。ガラス成分物質としては、SiO2、K2O、Na2O、Li2O、BaO、SrO、CaO、MgO、BeO、ZnO、PbO、CdO、V2O5、SnO、ZrO2、WO3、MoO3、MnO、La2O3、Nb2O5、Ta2O5、Y2O3、TiO2、GeO2、TeO2及びLu2O3等が挙げられ、SiO2、K2O、Na2O、Li2O、BaO、SrO、CaO、MgO、BeO、ZnO、PbO、CdO、V2O5、SnO、ZrO2及びMoO3から選択される少なくとも1種を用いることが、好ましい。アクセプタ元素を含むガラス粉末の具体例としては、前記アクセプタ元素含有物質と前記ガラス成分物質の双方を含む系が挙げられ、B2O3-SiO2系アクセプタ元素含有物質-ガラス成分物質の順で記載、以下同様、B2O3-ZnO系、B2O3-PbO系、B2O3単独系等のアクセプタ元素含有物質としてB2O3を含む系、Al2O3-SiO2系等のアクセプタ元素含有物質としてAl2O3を含む系、Ga2O3-SiO2系、系等のアクセプタ元素含有物質としてGa2O3を含む系などのガラス粉末が挙げられる。また、Al2O3-B2O3系、Ga2O3-B2O3系等のように、2種類以上のアクセプタ元素含有物質を含むガラス粉末でもよい。上記では1成分ガラスあるいは2成分を含む複合ガラスを例示したが、B2O3-SiO2-Na2O等、3成分以上の物質を含むガラス粉末でもよい。ガラス粉末中のガラス成分物質の含有比率は、溶融温度、軟化温度、ガラス転移温度、化学的耐久性を考慮して適宜設定することが望ましく、一般には、0.1質量以上95質量以下であることが好ましく、0.5質量以上90質量以下であることがより好ましい。ガラス粉末の軟化温度は、拡散処理時の拡散性、液だれの観点から、200°C~1000°Cであることが好ましく、300°C~900°Cであることがより好ましい。ガラス粉末の形状としては、略球状、扁平状、ブロック状、板状、および鱗片状等が挙げられ、p型拡散層形成組成物とした場合の基板への塗布性や均一拡散性の点から略球状、扁平状、または板状であることが望ましい。ガラス粉末の粒径は、50μm以下であることが望ましい。50μm以下の粒径を有するガラス粉末を用いた場合には、平滑な塗膜が得られやすい。更に、ガラス粉末の粒径は10μm以下であることがより望ましい。なお、下限は特に制限されないが、0.01μm以上であることが好ましい。ここで、ガラスの粒径は、体積平均粒子径を表し、レーザー散乱回折法粒度分布測定装置等により測定することができる。アクセプタ元素を含むガラス粉末は、以下の手順で作製される。最初に原料を秤量し、るつぼに充填する。るつぼの材質としては白金、白金―ロジウム、イリジウム、アルミナ、石英、炭素等が挙げられるが、溶融温度、雰囲気、溶融物質との反応性等を考慮して適宜選ばれる。次に、電気炉でガラス組成に応じた温度で加熱し融液とする。このとき融液が均一となるよう攪拌することが望ましい。続いて得られた融液をジルコニア基板やカーボン基板等の上に流し出して融液をガラス化する。最後にガラスを粉砕し粉末状とする。粉砕にはジェットミル、ビーズミル、ボールミル等公知の方法が適用できる。p型拡散層形成組成物中のアクセプタ元素を含むガラス粉末の含有比率は、塗布性、アクセプタ元素の拡散性等を考慮し決定される。一般には、p型拡散層形成組成物中のガラス粉末の含有比率は、0.1質量以上95質量以下であることが好ましく、1質量以上90質量以下であることがより好ましく、1.5質量以上85質量以下であることがさらに好ましく、2質量以上80質量以下であることが特に好ましい。次に、ケイ素粒子について説明する。前記p型拡散層形成組成物はケイ素粒子を含む。前記ケイ素粒子はp型拡散層形成組成物中で均一に分散されていることが好ましい。ケイ素粉末を含むことで熱拡散処理におけるアクセプタ元素の拡散効率が向上し、半導体基板表面の粗面化を抑制できる。これは例えば以下のように考えることができる。前記p型拡散形成組成物がケイ素粒子を含むことで、後述する熱拡散処理時にアクセプタ元素を含むガラス粉末が溶融したとき、溶融していないケイ素粒子が半導体基板上に接することで、溶融したガラスが半導体基板上の全面を覆ってしまうことを抑制できる。これにより、溶融ガラスからのアクセプタ元素含有物質の生成割合が増加し、シリコン基板へのアクセプタ元素の拡散量が増加すると考えられる。またこれにより熱拡散処理後に半導体基板上に形成されたガラス層のエッチング除去性が向上し、半導体基板表面における粗面化を抑制できると考えることができる。また後述するように、前記p型拡散層形成組成物がバインダーを含む場合、熱拡散処理時にこのバインダーが燃焼分解する場合がある。このとき溶融ガラス層が密な状態で存在すると、高温においてもバインダーが十分に分解されず、樹脂分解物残渣となって半導体基板上に残る場合がある。この残渣は後のエッチング工程で除去できる場合が殆どではあるが、中には半導体基板上に付着物残渣という形で残り、太陽電池素子としたときに入射光の取り込みを阻害する一因となる場合がある。しかし、前記p型拡散層形成組成物がケイ素粒子を含むことで、熱拡散処理時にガラス粉末が溶融したとき、ケイ素粒子が半導体基板上に接して存在するため、溶融ガラス層が密な状態となることを抑制でき、半導体基板上に付着物残渣が残ることを抑制できると考えられる。ここで半導体基板上の付着物残渣は、光学顕微鏡、もしくは走査型電子顕微鏡でp型拡散層が形成された半導体基板の表面の100μm×100μmの領域を観察した場合に、大きさが1.0μm以上の異物として認められるものである。なお、異物の大きさが1.0μm以上であるとは異物の投影像の外縁に接するように一対の平行線で挟んだ場合に平行線間の距離の最小値が1.0μm以上であることを意味する。また半導体基板表面の粗面化とは、シリコン基板表面の100μm×100μmの領域を観察した場合に、表面が1μm以上の大きさで凹状に削られている状態として観察されるものを意味し、光学顕微鏡、もしくは走査型電子顕微鏡を用いて評価することができる。なお、凹状部分の大きさが1.0μm以上であるとは凹状部分の外縁に接するように一対の平行線で挟んだ場合に平行線間の距離の最小値が1.0μm以上であることを意味する。前記ケイ素粒子を構成するケイ素原子の含有率純度は、熱拡散処理時に溶融しない限り特に制限されない。例えば99質量以上であることが好ましく、99.999質量以上であることがより好ましい。前記ケイ素粒子の形状は特に制限されず、略球状、扁平状、ブロック状、板等のいずれであってもよい。中でも、アクセプタ原子の拡散性と基板表面の粗面化抑制の観点から、略球状、及び扁平状の少なくとも1種であることが好ましく、略球状であることがより好ましい。ここで前記ケイ素粒子が略球状であるとは、ケイ素粒子の投影像の円形度が0.85以上であること意味し、0.90以上であることが好ましい。なおケイ素粒子投影像の円形度は、投影面積の等しい円の周長を、投影像から計測されるケイ素粒子の周長で除した数値として算出されるものであり、50個のケイ素粒子の算術平均値として算出される。前記ケイ素粒子の粒子径は特に制限されない。アクセプタ元素の拡散性と基板表面の粗面化抑制の観点から、体積平均粒子として0.1μm以上50μm以下であることが好ましく、0.5μm以上20μm以下であることがより好ましい。ここで、ケイ素粒子の粒子径は、レーザー散乱回折法粒度分布測定装置等により体積平均粒子径をとして測定することができる。また前記ケイ素粒子とガラス粉末の粒子径の比は特に制限されない。アクセプタ原子の拡散性と基板表面の粗面化抑制の観点から、ケイ素粒子の粒子径に対するガラス粉末粒子の粒子径の比ガラス粉末粒子/ケイ素粒子として、0.05~1000であることが好ましく、0.1~500であることがより好ましい。前記p型拡散層形成組成物中のケイ素粒子の含有率は、塗布性、アクセプタ元素の拡散性、バインダーの燃焼分解等を考慮し決定される。一般には、p型拡散層形成組成物中のケイ素粒子の含有率は、3質量以上65質量以下であることが好ましく、5質量以上60質量以下であることがより好ましい。ケイ素粒子の含有率を3質量以上とすることで、半導体基板中に効率よくアクセプタ元素を拡散させることができ、優れた特性を有するp型拡散層を形成することができる。またケイ素粒子の含有比率を65質量以下とすることで、アクセプタ元素の拡散を十分に行いながら、粘度調整が可能となり半導体基板への付与性が向上する。また前記ケイ素粒子とガラス粉末の含有量の比は特に制限されない。アクセプタ元素の拡散性と基板表面の粗面化抑制の観点から、ガラス粉末粒子の含有量に対するケイ素粒子の含有量の比ケイ素粒子/ガラス粉末粒子として、0.05~500であることが好ましく、0.1~300であることがより好ましい。次に、分散媒について説明する。分散媒とは、組成物中において上記ガラス粉末を分散させる媒体である。具体的に分散媒としては、バインダーや溶剤などが採用される。バインダーとしては、例えば、ポリビニルアルコール、ポリアクリルアミド類、ポリビニルアミド類、ポリビニルピロリドン、ポリエチレンオキサイド類、ポリスルホン酸、アクリルアミドアルキルスルホン酸、セルロースエーテル類、セルロース誘導体、カルボキシメチルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、エチルセルロース、ゼラチン、澱粉及び澱粉誘導体、アルギン酸ナトリウム類、キサンタン、グア及びグア誘導体、スクレログルカン、トラガカントまたはデキストリン誘導体、メタアクリル酸樹脂、メタアクリル酸エステル樹脂例えば、アルキルメタアクリレート樹脂、ジメチルアミノエチルメタアクリレート樹脂等、ブタジエン樹脂、スチレン樹脂及びこれらの共重合体、シロキサン樹脂などを適宜選択しうる。これらは1種類を単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。バインダーの分子量は特に制限されず、組成物としての所望の粘度を鑑みて適宜調整することが望ましい。溶剤としては、例えば、例えば、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、メチル-n-プロピルケトン、メチル-iso-プロピルケトン、メチル-n-ブチルケトン、メチル-iso-ブチルケトン、メチル-n-ペンチルケトン、メチル-n-ヘキシルケトン、ジエチルケトン、ジプロピルケトン、ジ-iso-ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、メチルシクロヘキサノン、2,4-ペンタンジオン、アセトニルアセトン等のケトン系溶剤;ジエチルエーテル、メチルエチルエーテル、メチル-n-プロピルエーテル、ジ-iso-プロピルエーテル、テトラヒドロフラン、メチルテトラヒドロフラン、ジオキサン、ジメチルジオキサン、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールジ-n-プロピルエーテル、エチレングリコールジブチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールメチル-n-プロピルエーテル、ジエチレングリコールメチル-n-ブチルエーテル、ジエチレングリコールジ-n-プロピルエーテル、ジエチレングリコールジ-n-ブチルエーテル、ジエチレングリコールメチル-n-ヘキシルエーテル、トリエチレングリコールジメチルエーテル、トリエチレングリコールジエチルエーテル、トリエチレングリコールメチルエチルエーテル、トリエチレングリコールメチル-n-ブチルエーテル、トリエチレングリコールジ-n-ブチルエーテル、トリエチレングリコールメチル-n-ヘキシルエーテル、テトラエチレングリコールジメチルエーテル、テトラエチレングリコールジエチルエーテル、テトラジエチレングリコールメチルエチルエーテル、テトラエチレングリコールメチル-n-ブチルエーテル、ジエチレングリコールジ-n-ブチルエーテル、テトラエチレングリコールメチル-n-ヘキシルエーテル、テトラエチレングリコールジ-n-ブチルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールジ-n-プロピルエーテル、プロピレングリコールジブチルエーテル、ジプロピレングリコールジメチルエーテル、ジプロピレングリコールジエチルエーテル、ジプロピレングリコールメチルエチルエーテル、ジプロピレングリコールメチル-n-ブチルエーテル、ジプロピレングリコールジ-n-プロピルエーテル、ジプロピレングリコールジ-n-ブチルエーテル、ジプロピレングリコールメチル-n-ヘキシルエーテル、トリプロピレングリコールジメチルエーテル、トリプロピレングリコールジエチルエーテル、トリプロピレングリコールメチルエチルエーテル、トリプロピレングリコールメチル-n-ブチルエーテル、トリプロピレングリコールジ-n-ブチルエーテル、トリプロピレングリコールメチル-n-ヘキシルエーテル、テトラプロピレングリコールジメチルエーテル、テトラプロピレングリコールジエチルエーテル、テトラジプロピレングリコールメチルエチルエーテル、テトラプロピレングリコールメチル-n-ブチルエーテル、ジプロピレングリコールジ-n-ブチルエーテル、テトラプロピレングリコールメチル-n-ヘキシルエーテル、テトラプロピレングリコールジ-n-ブチルエーテル等のエーテル系溶剤;酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸n-プロピル、酢酸i-プロピル、酢酸n-ブチル、酢酸i-ブチル、酢酸sec-ブチル、酢酸n-ペンチル、酢酸sec-ペンチル、酢酸3-メトキシブチル、酢酸メチルペンチル、酢酸2-エチルブチル、酢酸2-エチルヘキシル、酢酸2-2-ブトキシエトキシエチル、酢酸ベンジル、酢酸シクロヘキシル、酢酸メチルシクロヘキシル、酢酸ノニル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、酢酸ジエチレングリコールメチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジプロピレングリコールメチルエーテル、酢酸ジプロピレングリコールエチルエーテル、ジ酢酸グリコール、酢酸メトキシトリグリコール、プロピオン酸エチル、プロピオン酸n-ブチル、プロピオン酸i-アミル、シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジ-n-ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n-ブチル、乳酸n-アミル、エチレングリコールメチルエーテルプロピオネート、エチレングリコールエチルエーテルプロピオネート、エチレングリコールメチルエーテルアセテート、エチレングリコールエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールプロピルエーテルアセテート、γ-ブチロラクトン、γ-バレロラクトン等のエステル系溶剤;アセトニトリル、N-メチルピロリジノン、N-エチルピロリジノン、N-プロピルピロリジノン、N-ブチルピロリジノン、N-ヘキシルピロリジノン、N-シクロヘキシルピロリジノン、N,N-ジメチルホルムアミド、N,N-ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド等の非プロトン性極性溶剤;メタノール、エタノール、n-プロパノール、i-プロパノール、n-ブタノール、i-ブタノール、sec-ブタノール、t-ブタノール、n-ペンタノール、i-ペンタノール、2-メチルブタノール、sec-ペンタノール、t-ペンタノール、3-メトキシブタノール、n-ヘキサノール、2-メチルペンタノール、sec-ヘキサノール、2-エチルブタノール、sec-ヘプタノール、n-オクタノール、2-エチルヘキサノール、sec-オクタノール、n-ノニルアルコール、n-デカノール、sec-ウンデシルアルコール、トリメチルノニルアルコール、sec-テトラデシルアルコール、sec-ヘプタデシルアルコール、フェノール、シクロヘキサノール、メチルシクロヘキサノール、ベンジルアルコール、エチレングリコール、1,2-プロピレングリコール、1,3-ブチレングリコール、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレングリコール、トリプロピレングリコール等のアルコール系溶剤;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノ-n-ブチルエーテル、ジエチレングリコールモノ-n-ヘキシルエーテル、エトキシトリグリコール、テトラエチレングリコールモノ-n-ブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、トリプロピレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールモノエーテル系溶剤;α-テルピネン、α-テルピネオール、ミルセン、アロオシメン、リモネン、ジペンテン、α-ピネン、β-ピネン、ターピネオール、カルボン、オシメン、フェランドレン等のテルペン系溶剤;水が挙げられる。これらは1種類を単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。p型拡散層形成組成物とした場合、基板への塗布性の観点から、α-テルピネオール、ジエチレングリコールモノ-n-ブチルエーテル、酢酸2-2-ブトキシエトキシエチルが好ましい。p型拡散層形成組成物中の分散媒の構成及び含有比率は、塗布性、アクセプタ濃度を考慮し決定される。次に、本発明のp型拡散層及び太陽電池素子の製造方法について説明する。まず、p型半導体基板であるシリコン基板にアルカリ溶液を付与してダメージ層を除去し、テクスチャー構造をエッチングにて得る。詳細には、インゴットからスライスした際に発生するシリコン表面のダメージ層を20質量苛性ソーダで除去する。次いで1質量苛性ソーダと10質量イソプロピルアルコールの混合液によりエッチングを行い、テクスチャー構造を形成する。太陽電池素子は、受光面表面側にテクスチャー構造を形成することにより、光閉じ込め効果が促され、高効率化が図られる。次に、オキシ塩化リンPOCl3、窒素、酸素の混合ガス雰囲気において800°C~900°Cで数十分の処理を行って一様にn型拡散層を形成する。このとき、オキシ塩化リン雰囲気を用いた方法では、リンの拡散は側面及び裏面にも及び、n型拡散層は表面のみならず、側面、裏面にも形成される。そのために、側面のn型拡散層を除去するために、サイドエッチングが施される。そして、p型半導体基板の裏面すなわち受光面ではない面のn型拡散層の上に、上記p型拡散層形成組成物を塗布する。本発明では、塗布方法には制限がないが、例えば、印刷法、スピン法、刷毛塗り、スプレー法、ドクターブレード法、ロールコーター法、インクジェット法などがある。上記p型拡散層形成組成物の塗布量としては特に制限は無いが、例えば、ガラス粉末量として0.01g/m2~100g/m2とすることができ、0.1g/m2~10g/m2であることが好ましい。なお、p型拡散層形成組成物の組成によっては、塗布後に、組成物中に含まれる溶剤を揮発させるための乾燥工程が必要な場合がある。この場合には、80°C~300°C程度の温度で、ホットプレートを使用する場合は1分~10分、乾燥機などを用いる場合は10分~30分程度で乾燥させる。この乾燥条件は、p型拡散層形成組成物の溶剤組成に依存しており、本発明では特に上記条件に限定されない。前記p型拡散層形成組成物を塗布した半導体基板を、600°C~1200°Cで熱処理する。この熱処理により、半導体基板中へアクセプタ元素が拡散し、p型拡散層が形成される。熱処理には公知の連続炉、バッチ炉等が適用できる。また熱処理の時間はp型拡散層形成組成物に含まれるアクセプタ元素の含有率等に応じて適宜選択することができる。例えば1分~60分間とすることができ、2分~30分間であることが好ましい。p型拡散層の表面には、ガラス層が形成されているため、このガラス層をエッチングにより除去する。エッチングとしては、ふっ酸等の酸に浸漬する方法、苛性ソーダ等のアルカリに浸漬する方法など公知の方法が適用できる。前記p型拡散層形成組成物はケイ素粒子を含むことからガラス層のエッチング除去性に優れる。また、従来の製造方法では、裏面にアルミペーストを印刷し、これを焼成してn型拡散層をp型拡散層にするのと同時に、オーミックコンタクトを得ている。しかしながら、アルミペーストから形成されるアルミ層の導電率は低く、シート抵抗を下げるために、通常裏面全面に形成したアルミ層は焼成後において10μm~20μmほどの厚みを有していなければならない。さらに、シリコンとアルミでは熱膨張率が大きく異なることから、焼成および冷却の過程で、シリコン基板中に大きな内部応力を発生させ、反りの原因となる。この内部応力は、結晶の結晶粒界に損傷を与え、電力損失が大きくなるという課題があった。また、反りは、モジュール工程における太陽電池素子の搬送や、タブ線と呼ばれる銅線との接続において、太陽電池素子を破損させ易くしていた。近年では、スライス加工技術の向上から、シリコン基板の厚みが薄型化されつつあり、更に太陽電池素子が割れ易い傾向にある。しかし本発明の製造方法によれば、上記本発明のp型拡散層形成組成物によってn型拡散層をp型拡散層に変換した後、別途このp型拡散層の上に電極を設ける。そのため裏面の電極に用いる材料はアルミニウムに限定されず、例えばAg銀やCu銅などを適用することができ、裏面の電極の厚さも従来のものよりも薄く形成することが可能となり、さらに全面に形成する必要もなくなる。そのため焼成および冷却の過程で発生するシリコン基板中の内部応力及び反りを低減できる。上記形成したn型拡散層の上に反射防止膜を形成する。反射防止膜は公知の技術を適用して形成される。例えば、反射防止膜がシリコン窒化膜の場合には、SiH4とNH3の混合ガスを原料とするプラズマCVD法により形成する。このとき、水素が結晶中に拡散し、シリコン原子の結合に寄与しない軌道、即ちダングリングボンドと水素が結合し、欠陥を不活性化水素パッシベーションする。より具体的には、上記混合ガス流量比NH3/SiH4が0.05~1.0、反応室の圧力が13.3Pa0.1Torr~266.6Pa2Torr、成膜時の温度が300°C~550°C、プラズマの放電のための周波数が100kHz以上の条件下で形成される。表面受光面の反射防止膜上に、表面電極用金属ペーストをスクリーン印刷法で印刷塗布乾燥させ、表面電極を形成する。表面電極用金属ペーストは、金属粒子とガラス粒子とを必須成分とし、必要に応じて樹脂バインダー、その他の添加剤などを含む。次いで、上記裏面のp型拡散層上にも裏面電極を形成する。前述のように、本発明では裏面電極の材質や形成方法は特に限定されない。例えば、アルミニウム、銀、又は銅などの金属を含む裏面電極用ペーストを塗布し、乾燥させて、裏面電極を形成してもよい。このとき、裏面にも、モジュール工程における太陽電池素子間の接続のために、一部に銀電極形成用銀ペーストを設けてもよい。上記電極を焼成して、太陽電池素子を完成させる。600°C~900°Cの範囲で数秒~数分間焼成すると、表面側では電極用金属ペーストに含まれるガラス粒子によって絶縁膜である反射防止膜が溶融し、更にシリコン表面も一部溶融して、ペースト中の金属粒子例えば銀粒子がシリコン基板と接触部を形成し凝固する。これにより、形成した表面電極とシリコン基板とが導通される。これはファイアースルーと称されている。表面電極の形状について説明する。表面電極は、バスバー電極、及び該バスバー電極と交差しているフィンガー電極で構成される。このような表面電極は、例えば、上述の金属ペーストのスクリーン印刷、又は電極材料のメッキ、高真空中における電子ビーム加熱による電極材料の蒸着などの手段により形成することができる。バスバー電極とフィンガー電極とからなる表面電極は受光面側の電極として一般的に用いられていて周知であり、受光面側のバスバー電極及びフィンガー電極の公知の形成手段を適用することができる。なお上述のp型拡散層及び太陽電池素子の製造方法では、p型半導体基板であるシリコン基板にn型拡散層を形成するのに、オキシ塩化リンPOCl3、窒素および酸素の混合ガスを用いているが、n型拡散層形成組成物を用いてn型拡散層を形成してもよい。n型拡散層形成組成物にはPリンやSbアンチモンなどの第15族の元素がドナー元素として含有される。n型拡散層の形成にn型拡散層形成組成物を用いる方法では、まず、p型半導体基板の表面である受光面にn型拡散層形成組成物を塗布し、裏面に本発明のp型拡散層形成組成物を塗布し、600~1200°Cで熱処理する。この熱処理により、表面ではp型半導体基板中へドナー元素が拡散してn型拡散層が形成され、裏面ではアクセプタ元素が拡散してp型拡散層が形成される。この工程以外は上記方法と同様の工程により、太陽電池素子が作製される。以下、本発明の実施例をさらに具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に制限するものではない。なお、特に記述が無い限り、薬品は全て試薬を使用した。または断りがない限り質量を意味する。<実施例1>粒子形状が略球状で、平均粒子径が4.9μm、軟化温度561°CのB2O3-SiO2-R2OR:Na,K,Li系ガラス粉末商品名:TMX-404、東罐マテリアルテクノロジー株社製20gと、ケイ素粒子高純度化学研究所社製、体積平均粒子径10μm、略球状10g、エチルセルロース0.5gと、酢酸2-2-ブトキシエトキシエチル10gとを、自動乳鉢混練装置を用いて混合してペースト化し、p型拡散層形成組成物を調製した。なお、ガラス粒子形状は、株日立ハイテクノロジーズ製TM-1000型走査型電子顕微鏡を用いて観察して判定した。ガラスの平均粒子径はベックマンコールター株製LS13320型レーザー散乱回折法粒度分布測定装置測定波長:632nmを用いて算出した。ガラスの軟化温度は株島津製作所製DTG-60H型示差熱熱重量同時測定装置を用いて、示差熱DTA曲線により求めた。次に、調製したペーストをスクリーン印刷によって表面にn型層が形成されたp型シリコン基板表面に塗布し、150°Cのホットプレート上で5分間乾燥させた。続いて、1000°Cに設定した電気炉で30分間熱拡散処理を行い、その後ガラス層を除去するため基板をふっ酸に5分間浸漬し、流水洗浄を行った。表面を光学顕微鏡にて観察したところ、表面に付着物などはなく、そのまま乾燥を行った。なお、付着物の有無は、シリコン基板のp表面を株日立ハイテクノロジーズ製TM-1000型走査型電子顕微鏡を用いて100μm×100μmの任意の領域について観察し、大きさが1μm以上の付着物の有無として判断した。p型拡散層形成組成物を塗布した側の表面のシート抵抗は98Ω/□であり、Bほう素が拡散しp型拡散層が形成されていた。なお、シート抵抗は、三菱化学株製Loresta-EPMCP-T360型低抵抗率計を用いて四探針法により測定した。p型拡散層が形成されたシリコン基板の表面の粗面化を評価したところ、基板表面の粗面化は認められなかった。なお、シリコン基板の表面の粗面化は株日立ハイテクノロジーズ製TM-1000型走査型電子顕微鏡を用いて100μm×100μmの任意の領域について観察し、大きさが1μm以上の窪みの有無として評価した。またシリコン基板に反りは発生していなかった。<実施例2>熱拡散処理の温度を1100°Cとしたこと以外は、実施例1と同様にp型拡散層形成を行った。フッ酸処理、及び流水洗浄後の基板表面を光学顕微鏡にて観察したところ、表面に付着物などはなかった。p型拡散層形成組成物を塗布した側の表面のシート抵抗は76Ω/□であり、Bほう素がかくさんしp型拡散層が形成されていた。p型拡散層が形成されたシリコン基板の表面の粗面化を走査型電子顕微鏡を用いて評価したところ、基板表面の粗面化は認められなかった。またシリコン基板に反りは発生していなかった。<実施例3>粒子形状が略球状で、平均粒子径が3.2μm、軟化温度815°CのB2O3-SiO2-ROR:Mg,Ca,Sr,Ba系ガラス粉末商品名:TMX-603、東罐マテリアルテクノロジー株社製を用いた以外は実施例1と同様にして、p型拡散層形成組成物を調製し、これを用いてp型拡散層形成を行った。フッ酸処理、及び流水洗浄後の表面を光学顕微鏡にて観察したところ、表面に付着物などはなかった。p型拡散層形成組成物を塗布した側の表面のシート抵抗は38Ω/□であり、Bホウ素が拡散しp型拡散層が形成されていた。p型拡散層が形成されたシリコン基板の表面の粗面化を走査型電子顕微鏡を用いて評価したところ、基板表面の粗面化は認められなかった。またシリコン基板に反りは発生していなかった。<実施例4>ケイ素粒子の配合量を30gとしたこと以外は実施例1と同様にしてp型拡散層形成組成物を調製し、これを用いてp型拡散層形成を行った。フッ酸処理、及び流水洗浄後の表面を光学顕微鏡にて観察したところ、表面に、付着物などはなかった。p型拡散層形成組成物を塗布した側の表面のシート抵抗は84Ω/□であり、Bほう素が拡散しp型拡散層が形成されていた。p型拡散層が形成されたシリコン基板の表面の粗面化を走査型電子顕微鏡を用いて評価したところ、基板表面の粗面化は認められなかった。またシリコン基板に反りは発生していなかった。<実施例5>ケイ素粒子の配合量を2gとしたこと以外は実施例1と同様にしてp型拡散層形成組成物を調製し、これを用いてp型拡散層形成を行った。フッ酸処理、及び流水洗浄後の表面を光学顕微鏡にて観察したところ、表面に、付着物などはなかった。p型拡散層形成組成物を塗布した側の表面のシート抵抗は103Ω/□であり、Bほう素が拡散しp型拡散層が形成されていた。p型拡散層が形成されたシリコン基板の表面の粗面化を走査型電子顕微鏡を用いて評価したところ、基板表面の粗面化は認められなかった。またシリコン基板に反りは発生していなかった。<実施例6>ケイ素粒子の体積平均粒子径を5.0μmとしたこと以外は実施例1と同様にして、p型拡散層形成組成物を調製し、これを用いてp型拡散層形成を行った。フッ酸処理、及び流水洗浄後の表面を光学顕微鏡にて観察したところ、表面に付着物などはなかった。p型拡散層形成組成物を塗布した側の表面のシート抵抗は92Ω/□であり、Bホウ素が拡散しp型拡散層が形成されていた。<比較例1>p型拡散層形成組成物の組成を粒子形状が略球状で、平均粒子径が4.9μm、軟化温度561°CのB2O3-SiO2-R2OR:Na,K,Li系ガラス粉末商品名:TMX-404、東罐マテリアルテクノロジー株社製20gと、エチルセルロース0.5g、酢酸2-2-ブトキシエトキシエチル10gとしたこと以外は、実施例1と同様にして、p型拡散層形成組成物を調製し、これを用いてp型拡散層形成を行った。洗浄後のシリコン基板の表面を光学顕微鏡にて観察したところ、表面に若干の付着物があった。p型拡散層形成組成物を塗布した側の表面のシート抵抗は93Ω/□であり、Bほう素が拡散しp型拡散層が形成されていた。p型拡散層が形成されたシリコン基板の表面の粗面化を走査型電子顕微鏡を用いて評価したところ、基板表面に粗面化の発生が認められた。またシリコン基板に反りは発生していなかった。"