平均粒子径が10nm以下のダイヤモンド粒子を含有する凝集構造体からダイヤモンド粒子を得るための方法であって、前記ダイヤモンド粒子は場合によってはグラファイト表面を有し、前記凝集構造体をガス雰囲気下で加熱することにより当該凝集構造体から前記ダイヤモンド粒子を得る方法において、前記凝集構造体は少なくとも80の割合の水素ガスを含む反応性ガスのガス雰囲気下で加熱されることを特徴とする方法。前記凝集構造体は少なくとも90、好ましくは少なくとも99、さらに好ましくは少なくとも99.9の割合の水素ガスを含む反応性ガスのガス雰囲気下で加熱されることを特徴とする請求項1に記載の方法。上記凝集構造体は酸化ガスの割合が5以下、好ましくは3以下、特に1以下の反応性ガスのガス雰囲気下で加熱されることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。前記凝集構造体は400°C~1000°Cの温度、好ましくは400°C~600°Cの温度、特に約500°Cの温度に加熱されることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の方法。前記凝集構造体は1時間~24時間、好ましくは1時間~10時間、特に約5時間加熱されることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の方法。ガス雰囲気下の前記加熱は5mbar~20barの圧力、好ましくは5mbar~2bar、特に約10mbarの圧力で行われることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載の方法。ガス雰囲気下の前記加熱は反応ルーム内で行われ、その際、前記反応ルーム内には先ず10-7mbar以下の圧力、好ましくは10-6mbar以下、特に10-5mbar以下の圧力の真空が形成され、続いて、ガス雰囲気下での前記加熱が1mbar以上の圧力で行われることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の方法。ガス雰囲気下の前記加熱は反応ルーム内で行われ、前記凝集構造体の加熱中連続的に水素ガスが前記反応ルーム内を導通され、好ましくは、水素ガスは10sccm~100sccmの流速、好ましくは30sccm~60sccm、特に約50sccmの流速で前記反応ルーム内を導通されることを特徴とする請求項1から7のいずれか1項に記載の方法。水素ガス導通の間、前記反応ルーム内の圧力はほぼ不変に保たれることを特徴とする請求項8に記載の方法。前記ガス雰囲気を生成するために、少なくとも99.9の純度、好ましくは少なくとも99.99999、特に好ましくは少なくとも99.999999の純度の水素ガスが使用され、その際必要に応じて水素ガスはパラジウム膜によって浄化されることを特徴とする請求項1から9のいずれか1項に記載の方法。前記凝集構造体がガス雰囲気下で加熱されるステップAと、前記方法ステップAで得られたダイヤモンド粒子が液体中に分散されるステップBとを含むことを特徴とする請求項1から10のいずれか1項に記載の方法。前記ステップBにおいて、前記ステップAで得られたダイヤモンド粒子は脱イオン水に分散されることを特徴とする請求項11に記載の方法。前記ステップBにおいて、前記ダイヤモンド粒子は超音波の作用によって分散されることを特徴とする請求項11または12に記載の方法。前記ダイヤモンド粒子を含む前記液体の遠心分離が行われる方法ステップCが含まれることを特徴とする請求項1から13のいずれか1項に記載の方法。前記ステップCにおいて、前記遠心分離は5000回転/分~15000回転/分の回転速度、好ましくは少なくとも10000回転/分の回転速度で行われることを特徴とする請求項14に記載の方法。前記ダイヤモンド粒子は8nm以下の平均粒子径、好ましくは2nm~5nmの平均粒子径を有することを特徴とする請求項1から15のいずれか1項に記載の方法。請求項1から16のいずれか1項に記載の方法によって得られたダイヤモンド粒子であって、前記ダイヤモンド粒子は液体中に分散され、10nm以下の平均粒子径、好ましくは8nm以下、特に2nm~5nmの平均粒子径を有することを特徴とするダイヤモンド粒子。前記ダイヤモンド粒子は、ガス雰囲気中での処理の結果、30mV以上のゼータ電位、好ましくは50mV以上のゼータ電位を有することを特徴とする請求項17に記載のダイヤモンド粒子。したがって、本発明の目的は、10nm以下の平均粒子径を有するダイヤモンド粒子および、この種のダイヤモンド粒子を得るための、上記公知の方法に比較して技術的にシンプルかつ低コストで実現可能で上記の短所のない方法を提供することである。上記課題は、平均粒子径が10nm以下のダイヤモンド粒子を含有する凝集構造体からダイヤモンド粒子を得るために、前記ダイヤモンド粒子は場合によってはグラファイト表面を有し、少なくとも80の割合の水素ガスを含む反応性ガスのガス雰囲気下で加熱された前記凝集構造体から得る方法、及びこの方法によって得られたダイヤモンド粒子によって解決される。本発明による方法及びこの方法により得られるダイヤモンド粒子の好適な実施態様は従属請求項に記載したとおりである。本発明による方法は、10nm以下の平均粒子径を有するダイヤモンド粒子を含有する凝集構造体からダイヤモンド粒子を得るために使用される。その際、凝集構造体をガス雰囲気下で加熱することにより当該凝集構造体から上記のダイヤモンド粒子が得られる。重要な点は、凝集構造体は少なくとも80の割合の水素ガスを含む反応性ガスのガス雰囲気下で加熱されるということである。ここでは、および以下の記述において、ダイヤモンド粒子なる用語はダイヤモンド状粒子ならびにグラファイト表面で覆われたダイヤモンドコアを有する粒子を包含している。この場合および以下において、反応性ガスなる用語は上記凝集構造体または上記ダイヤモンド粒子あるいはそれらの両方と反応するガスを意味している。従来、凝集構造体からのダイヤモンド粒子の取り出しは必要とならば酸素雰囲気中で狭い範囲の温度による熱作用下で可能であるとのことが技術的出発点であった。とくに、表面処理剤での純湿式化学法によっては凝集構造体からのダイヤモンド粒子の取り出しにいかなる成果も得られず、その達成が不能であるとみなされていた。本発明による方法は、驚くべきことに、一定の大きさ以下のダイヤモンド粒子においては、水素ガスを含むガス雰囲気下で水素ガスの水素分子H2との間に、2つの好適な効果をもたらす化学反応が可能であるという本出願人の知見を基礎としている。第一に、10nm以下の平均粒子径を有するダイヤモンド粒子が凝集構造体から得られる。さらに、H2分子との反応により、湿潤特性、摩擦特性および電子的特性に関して有利な特性をもたらすダイヤモンド粒子の表面処理も行われる。したがって、本発明の方法における水素ガスを含むガス雰囲気下での凝集構造体の加熱により、一方で凝集構造体からダイヤモンド粒子が得られると共に、他方でダイヤモンド粒子の表面に好適な変化がもたらされる。本出願人の実験によれば、市販の100nm以上の大きさの凝集構造体を含有するUDD粉末から、本発明の方法によって得られたダイヤモンド粒子を液体中に分散させ、続いて、遠心分離を行った後、10nm以下の平均粒子径を有する単分散ダイヤモンド粒子が得られることが明らかとなった。加えて、一連の測定から、本発明による方法で得られたダイヤモンド粒子は少なくとも3~7の範囲のpH値に対して30mV以上のゼータ電位を有することが明らかとなった。懸濁液中を浮動する粒子の電位を表す尺度としてのゼータ電位は、ダイヤモンド粒子との関連で言えば、特に、遠心分離後の液体中におけるダイヤモンド粒子の安定性を示す指標である。未処理の、市販のUDD粉末は、一般に、負のゼータ電位を有している。ところが、本発明による方法で得られたダイヤモンド粒子は遠心分離後の液体中で30mV以上の高い正のゼータ電位を有しており、これは得られた分散ダイヤモンド粒子の高度な安定性と、それゆえに、再加工への広範な可用性とを裏付けるものである。こうした高いゼータ電位は、本発明の方法における、ダイヤモンド粒子の表面とガス雰囲気中の水素ガスのH2分子との反応に帰することができる。したがって、水素ガスを含むガス雰囲気下での技術的にシンプルかつ低コストで実施可能な凝集構造体の加熱により、10nm以下の平均粒子径を有すると同時に、有利に変化させられた表面とりわけ30mV以上のゼータ電位少なくとも、得られたダイヤモンド粒子を液体中に分散させて遠心分離した後の測定時を有するダイヤモンド粒子を凝集構造体から得ることは本発明の方法によって初めて可能である。上記公知の方法とは異なり、ダイヤモンド粒子の獲得は加熱中における水素ガスの作用によって行われる。そのため、加熱中のガス雰囲気は反応ガスのうちに少なくとも80の割合を占める水素ガスを含んでいる。ここではおよび以下の記載において、この百分率による割合は百分率による粒子数に関係している。さらに、水素ガスの作用による所望のダイヤモンド粒子獲得以外の反応を回避すべく、ガス雰囲気は反応性ガスのうちに少なくとも90、好ましくは少なくとも99、さらに好ましくは少なくとも99.9の割合の水素ガスを含んでいる。特に好ましくは、純粋なもしくはほぼ純粋な水素ガス雰囲気下での加熱が好適である。上記公知の方法とは異なり、本発明の方法においては、特に、酸素ガスまたはその他の酸化ガスあるいはそれら両方による凝集構造体ないしダイヤモンド粒子の酸化は回避されなければならない。したがって、ガス雰囲気において、反応性ガスに占める酸化ガスの割合は5以下、好ましくは3以下、とりわけ1以下であるのが好適である。その際、反応性ガスに酸素ガスが占める割合は5以下、好ましくは3以下、とりわけ1以下であるのが好ましい。本発明の方法において、凝集構造体は400°C~1000°Cの範囲の温度、特に400°C~600°C、好ましくは約500°Cの温度に加熱されるのが好適である。これにより、凝集構造体からダイヤモンド粒子を得るのに最適なプロセス条件が生ずる。本出願人の実験によれば、本発明の方法においては特に、酸素ガス雰囲気下で凝集構造体を処理する上記公知の方法に比較して、もっと広い温度範囲が可能であることが明らかとなった。好ましくは、本発明の方法において、凝集構造体は1時間~24時間、好ましくは1時間~10時間、特に好ましくは約5時間加熱される。これによって、一方では本方法の高い効率、他方では相対的に短いプロセス時間を達成するための最適化が生ずる。ガス雰囲気下での加熱は好ましくは5mbar~20barの範囲の圧力で、好ましくは5mbar~2bar、好適には約10mbarの圧力で実施される。したがって、圧力範囲に関しても、本発明の方法においては相対的に広い範囲の圧力パラメータが可能であり、それゆえ、この場合でも、非常に正確な圧力制御が必要とされる方法に比較して、本発明の方法を実施するための装置コストは低くなることが明らかとなった。好ましくは、本発明の方法において、ガス雰囲気下での加熱は反応ルーム内で行われる。とりわけ好ましくは、反応ルーム内に先ず10-7mbar以下、好ましくは10-8mbar以下、好適には10-5mbar以下の圧力の真空が形成され、続いて、ガス雰囲気下での加熱が1mbar以上の圧力、特に好ましくは上述した圧力範囲内の圧力で行われる。上記真空の生成により、本発明による方法の実施にあたり反応ルーム内のガス雰囲気中に無視し得るほどわずかな不純物しか存在しないようにすることができる。好ましくは、ガス雰囲気下での加熱は上述したように反応ルーム内で行われ、その際、凝集構造体の加熱中連続的に水素ガスが反応ルーム内を導通される。本出願人の実験により明らかになったことは、水素ガスは10sccmstandardccmin~100sccmの範囲の流速で、好適には30sccm~60sccmとくに約50sccmの流速で反応ルーム内を流されることである。コンスタントなプロセス条件を保証するため、好ましくは水素ガスが流れている間、反応ルーム内の圧力はほぼ一定に保たれる。ガス雰囲気下での凝集構造体の加熱中に異物による障害を回避すべく、本発明の方法においては、好ましくは、少なくとも99.9の純度の水素ガス、好適には少なくとも99.99999の純度、さらに好適には少なくとも99.999999の純度の水素ガスが使用される。好ましくは、反応ルーム内への導入前に、パラジウム膜による水素ガスの浄化が行われる。凝集構造体の加熱によってガス雰囲気中に生じたダイヤモンド粒子は、好ましくは続いて、液体中に分散される。特に好ましくは、ダイヤモンド粒子は脱イオン水に分散される。上記の分散は好ましくは超音波の作用によって行われる。この場合、それ自体公知の方法ならびに装置を使用することができる。とりわけ、好ましくは200W以上、とりわけ250W以上の出力を有する高性能超音波装置による分散が有利である。超音波による処理時間は1~20時間、好ましくは3~7時間が好適である。さらに、好ましくは、ダイヤモンド粒子を液体中に分散させた後、ダイヤモンド粒子を含む当該液体の遠心分離が行われる。とりわけ、5000回転/分~15000回転/分、好ましくは少なくとも10000回転/分の回転速度による遠心分離を実施するのが好適である。本発明の方法によって得られたダイヤモンド粒子は好ましくは液体中に分散され、好ましくは10nm以下の平均粒子径、好ましくは8nm以下、好適には2nm~5nmの範囲の平均粒子径を有する。その際、本発明の方法によって得られたダイヤモンド粒子は、好ましくはガス雰囲気中での処理により、とりわけ3~7のpH域において30mV以上、好適には50mV以上のゼータ電位を有する。以下、実施例ならびに図面を参照して、本発明のその他の好適な実施態様及びその特徴を説明する。実施例を行なうにあたって、市販のG01GradeタイプのUDD粉末がPlasmachemGmbH社から購入された。上記UDD粉末0.4gが真空炉として形成された反応チャンバ内に装入され、1×10-6mbar以下の真空が形成された。続いて、水素ガスが導入され、その際、パラジウム膜によって99.999999の純度の水素ガスがつくり出された。水素ガスは50sccmstandardccminで反応チャンバ内を流され、その際、10mbarの圧力が保持された。上記UDD粉末凝集構造体は抵抗加熱によって500°Cに加熱され、その際、温度は単一波長高温計によって測定された。上記パラメータによるガス雰囲気下での加熱は5時間行われた。続いて、上記水素ガス流量の維持下で室温への冷却が行われ、続いて新たに、真空10-3mbar以下の生成と反応チャンバの通気が行われた。続いて、本発明の方法により上述したように処理されたUDD粉末を一方とし、未処理のUDD粉末を他方とし、それぞれ0.1gの粉末が200mlの脱イオン水に混入され、続いて、それぞれ高性能超音波装置SonicsVibraCellVCX500による分散が実施されて、水性コロイドが作られた。この分散のパラメータは、液体を不断に冷却しつつ、5時間にわたりデューティーサイクル3:2on:offにて出力250Wで実施されるというものであった。この場合、液体の温度は20°C以下に保たれた。上記双方の液体試料は続いて、沈殿とそれに続く不純物たとえば超音波ホーン材料とくにチタン合金による不純物のデカンテーションを可能とするために、24時間静置された。デカンテーション後、上記双方の液体は、90分にわたって、汎用型遠心分離機320Rを使って5000~15000回転/分の種々異なる転速度で遠心分離された。分散されたダイヤモンド粒子の粒子サイズおよびゼータ電位の測定は、それぞれ、後方散乱173°構成によるMalvernZetasicerNanoZSApparaturによる動的光散乱BLSによって行われた。その際、粒子サイズは30秒間に100回の測定プロセスによって平均化され、ゼータ電位の測定は300回の測定プロセスの平均化によって行われた。ダイヤモンドの屈折率2.4は、数量測定された強度/粒度分布を粒子数/粒度分布に換算するために使用された。ゼータ電位の測定はpH値9.2のポリマー微小球の水性懸濁液によってキャリブレーションされ、その際、標準NIST1980を参照した。図1および図2には、それぞれ左下に、50nmの長さを表す尺度として白いバーが示されている。図1の透過電子顕微鏡撮影像は、未処理のUDD粉末には大きさ100nm以上の細密充填凝集体が存在することを示している。個別に分布しているダイヤモンド粒子は観察不可であった。これに対し、図2に示した透過電子顕微鏡撮影像に示された本発明の方法によって処理されたUDD粉末は、明らかに、より小さな粒子サイズを示しているが、この場合、図2に示した撮影像においては、撮影を行うための乾燥プロセス中に水の表面張力に起因して粒子のわずかな団結が生じた旨指摘しておかなければならない。ただしそれにもかかわらず、すでに図2から、同図に示された凝集構造体は図1のそれに比較して遥かに小さく、さらに、個々のダイヤモンド粒子が可視であることが理解できる。したがって、凝集密度は顕著に低下している。図3には、測定されたゼータ電位ZetapotentialmVがpH値との相関で表されている。この場合、中央の水平線より上方の測定点は本発明の方法によって処理HydrogenatedされたUDD粉末の正のゼータ電位を示しており、他方、中央の水平線より下方の測定点は未処理UntreatedのUDD粉末の負のゼータ電位を示している。したがって、未処理のUDD粉末は測定されたpH範囲の全体にわたって負のゼータ電位を有し、その際、pH値が増加するにつれゼータ電位の負性も同じく強まる。市販の、酸で浄化されたUDD粉末について、このことは公知である。他方、本発明の方法によって処理されたUDD粉末は測定されたpH範囲の全体にわたって正のゼータ電位を示し、その際、pH範囲3~7においては連続的に40mV以上のゼータ電位が測定された。pH値が高い場合のゼータ電位の測定値は低下を示したが、この場合、測定プロセスの間に測定電極の分解が生じた結果、pH値が高い場合の測定値はおそらくエラーに起因していると考えられることは考慮されなければならない。さらに、遠心分離直後には、本発明の方法によって処理されたUDD粉末の場合、70mVまでに達するゼータ電位が測定された。図3に示した本発明の方法によって処理されたUDD粉末の上記よりも低い値は、おそらく、分散ダイヤモンド粒子を含む液体を詰め替える間のわずかな汚損および空気への曝露に帰着される。ダイヤモンド粒子の大きさSizeは図4aおよび4bにnmで表されている。この場合、図4aは、未処理のUDD粉末の遠心分離前NoCFの粒度分布と、それぞれ回転速度/分RPMによって表記された種々異なる回転速度による複数回に及ぶ遠心分離後の未処理のUDD粉末の粒度分布とを示している。図4aからは、粒子サイズは基本的に遠心分離とは無関係であることが読み取れる。この場合、主たる粒子サイズは100nm以上であり、それを下回る粒子の存在を示す証拠は見出されない。他方、図4bは、本発明の方法によって処理されたUDD粉末に関する種々異なる遠心分離プロセスと相関した粒度分布を示しており、その際、個々の測定曲線には、遠心分離時の回転数U/minRPMならびに遠心分離時間分mが表記されている。図4bからは、遠心分離前NoCFでさえ平均粒子径は100nm以下約58nmであり、したがって、未処理のUDD粉末の平均粒子サイズをすでに顕著に下回っていることが読み取れる。遠心分離後、測定された粒子サイズの平均値は著しく小さい。たとえば、5000回転/分での遠心分離後の粒子サイズの平均値はおおよそ28nm~32nmであり、75000回転/分での遠心分離後はおおよそ16nmであり、続いて、この値はさらに低下し、10000回転/分以上の回転数での遠心分離後は2nm~4nmにまで減少する。これによって、少なくとも90分にわたり、10000回転/分以上の回転数での遠心分離が実施された場合には、完全に単分散したコロイドが得られると推定し得ることが明らかである。