対象画素についてキズ補正を実施するキズ補正部を有し、前記キズ補正部は、前記対象画素が検出する色光と同じ色光を検出するための画素であって前記対象画素の周辺に位置する複数の同色周辺画素の信号値と、前記対象画素とは異なる色光を検出するための画素であって前記対象画素の周辺に位置する複数の異色周辺画素の信号値と、をそれぞれ抽出する画素抽出部と、前記対象画素の信号値と前記複数の同色周辺画素の信号値との比較により、前記対象画素がキズであるか否かのキズ判定を実施するキズ判定部と、前記キズ判定部でキズと判定された前記対象画素に対する前記キズ補正を解除するか否かのキズ補正解除判定を実施するキズ補正解除判定部と、を有し、前記キズ補正解除判定部は、前記複数の異色周辺画素のうち、前記対象画素を中心とする第1の範囲に位置する第1異色周辺画素の信号値と、前記第1の範囲の外側の第2の範囲に位置する第2異色周辺画素の信号値と、の比較結果に応じて、前記キズ補正解除判定を実施することを特徴とする画像処理装置。前記キズ補正解除判定部は、前記第1異色周辺画素の信号値と前記第2異色周辺画素の信号値との差分が、前記キズ補正解除判定の基準とするキズ補正解除判定レベルより大きい場合に、前記キズ補正を解除する旨の判定をなすことを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。前記キズ補正解除判定部は、被写体像の撮像におけるアナログゲイン、前記被写体像を撮像するイメージセンサの温度、及び前記イメージセンサにおける光量の蓄積時間の少なくともいずれかに応じた前記キズ補正解除判定レベルを算出することを特徴とする請求項2に記載の画像処理装置。前記対象画素と、前記複数の同色周辺画素と、前記複数の異色周辺画素とは、第1の方向と、前記第1の方向に垂直な第2の方向とに配列され、前記キズ補正解除判定部は、前記第1の方向及び前記第2の方向に対し斜め方向について、前記第1異色周辺画素の信号値と前記第2異色周辺画素の信号値とを比較することを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の画像処理装置。前記キズ補正解除判定部は、第1の斜め方向について前記第1異色周辺画素の信号値と前記第2異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果と、前記第1の斜め方向とは異なる第2の斜め方向について前記第1異色周辺画素の信号値と前記第2異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果と、に応じて、前記キズ補正解除判定を実施することを特徴とする請求項4に記載の画像処理装置。本発明の一つの実施形態は、適切なキズ補正により高品質な画像を得ることを可能とする画像処理装置を提供することを目的とする。本発明の一つの実施形態によれば、画像処理装置は、キズ補正部を有する。キズ補正部は、対象画素についてキズ補正を実施する。キズ補正部は、画素抽出部、キズ判定部及びキズ補正解除判定部を有する。画素抽出部は、複数の同色周辺画素の信号値と、複数の異色周辺画素の信号値と、をそれぞれ抽出する。同色周辺画素は、対象画素が検出する色光と同じ色光を検出するための画素である。同色周辺画素は、対象画素の周辺に位置する。異色周辺画素は、対象画素とは異なる色光を検出するための画素である。異色周辺画素は、対象画素の周辺に位置する。キズ判定部は、対象画素の信号値と複数の同色周辺画素の信号値との比較により、対象画素がキズであるか否かのキズ判定を実施する。キズ補正解除判定部は、キズ判定部でキズと判定された対象画素に対するキズ補正を解除するか否かのキズ補正解除判定を実施する。キズ補正解除判定部は、第1異色周辺画素の信号値と、第2異色周辺画素の信号値と、の比較結果に応じて、キズ補正解除判定を実施する。第1異色周辺画素は、対象画素を中心とする第1の範囲に位置する。第2異色周辺画素は、第1の範囲の外側の第2の範囲に位置する。以下に添付図面を参照して、実施形態にかかる画像処理装置を詳細に説明する。なお、この実施形態により本発明が限定されるものではない。実施形態図1は、実施形態の画像処理装置を適用したデジタルカメラの構成を示すブロック図である。デジタルカメラ1は、固体撮像装置2、記憶部3及び表示部4を有する。固体撮像装置2は、被写体像を撮像する。記憶部3は、固体撮像装置2により撮影された画像を格納する。表示部4は、固体撮像装置2により撮影された画像を表示する。表示部4は、例えば、液晶ディスプレイである。固体撮像装置2は、被写体像の撮像により、記憶部3及び表示部4へ画像信号を出力する。記憶部3は、ユーザの操作等に応じて、表示部4へ画像信号を出力する。表示部4は、固体撮像装置2あるいは記憶部3から入力される画像信号に応じて、画像を表示する。固体撮像装置2は、レンズユニット5、CMOScomplementarymetaloxidesemiconductorセンサ6及びデジタルシグナルプロセッサdigitalsignalprocessor;DSP7を有する。レンズユニット5は、被写体からの光を取り込み、CMOSセンサ6にて被写体像を結像させる。CMOSセンサ6は、レンズユニット5により取り込まれた光を信号電荷に変換し、被写体像を撮像する。CMOSセンサ6は、赤R、緑G、青Bの信号値をベイヤー配列に対応する順序で取り込むことにより、画像信号を生成する。画像処理装置であるDSP7は、CMOSセンサ6からの画像信号に対して、種々の画像処理を施す。DSP7は、後述するキズ補正回路の他、例えば、画像信号のホワイトバランスを調整するためのホワイトバランス調整回路等を備える。図2は、キズ補正回路の構成を示すブロック図である。ラインメモリ10及びキズ補正回路11は、DSP7図1参照に設けられている。ラインメモリ10は、4ラインの画像信号を保持する。ラインメモリ10は、保持している4ラインと本線の1ラインとの、合計5ライン0H~4Hの画像信号を出力する。キズ補正回路キズ補正部11は、対象画素についてキズ補正を実施する。図3は、対象画素、同色周辺画素及び異色周辺画素を説明する図である。ベイヤー配列は、Gr、R、Gb、Bの4画素を単位として構成されている。R画素は、R光を検出するための画素である。B画素は、B光を検出するための画素である。Gr画素及びGb画素は、G光を検出するための画素である。Gr画素は、ラインにてR画素と並列している。Gb画素は、ラインにてB画素と並列している。画像信号は、ラインごとGr/Rライン、Gb/Bラインの信号としてキズ補正回路11へ入力される。キズ補正回路11は、垂直方向に5ライン0H~4H、水平方向に5画素のマトリクスをなす25画素のうち中心の画素を、対象画素と設定する。同色周辺画素は、マトリクスのうち、対象画素が検出する色光と同じ色光を検出するための画素である。異色周辺画素は、マトリクスのうち、対象画素が検出する色光とは異なる所定の色光を検出するための画素である。同色周辺画素及び異色周辺画素は、対象画素の周辺に位置する。図示する例では、R画素R22が対象画素であって、8個のR画素R00、R02、R04、R20、R24、R40、R42、R44が同色周辺画素である。また、12個のG画素Gr01、Gr03、Gb10、Gb12、Gb14、Gr21、Gr23、Gb30、Gb32、Gb34、Gr41、Gr43が異色周辺画素である。マトリクスには、1個の対象画素、8個の同色周辺画素及び12個の異色周辺画素が含まれる。キズ補正回路11は、画素抽出部21、キズ判定部22、白キズ補正解除判定部23、黒キズ補正解除判定部24、白キズ補正解除部25、黒キズ補正解除部26及び出力画素選択部27を有する。画素抽出部21は、5ライン0H~4Hの画像信号から、マトリクスをなす25画素の信号値を同時化させる。画素抽出部21は、25画素の信号値から、対象画素及び8個の同色周辺画素の信号値31を抽出し、キズ判定部22へ出力する。画素抽出部21は、25画素の信号値から、12個の異色周辺画素の信号値32を抽出し、白キズ補正解除判定部23及び黒キズ補正解除判定部24へ出力する。キズ判定部22は、対象画素の信号値と、8個の同色周辺画素の信号値との比較により、対象画素が白キズであるか否かの白キズ判定と、対象画素が黒キズであるか否かの黒キズ判定とを実施する。白キズは、画素が正常に機能する場合に比べて高い輝度が検出されるようなキズとする。黒キズは、画素が正常に機能する場合に比べて低い輝度が検出されるようなキズとする。キズ判定部22は、対象画素が白キズである旨の白キズ判定をした場合の白キズフラグ33と、対象画素が黒キズである旨の黒キズ判定をした場合の黒キズフラグ34とを出力する。キズ判定部22は、例えば、対象画素の信号値が8個の同色周辺画素の信号値の最大値より大きい場合に、対象画素が白キズであると判定する。キズ判定部22は、例えば、対象画素の信号値が8個の同色周辺画素の信号値の最小値より小さい場合に、対象画素が黒キズであると判定する。キズ判定部22は、いずれの手法により白キズ判定及び黒キズ判定を実施するものであっても良いものとする。キズ判定部22は、白キズ置き換え信号値35と黒キズ置き換え信号値36とを、8個の同色周辺画素の信号値の中から選択し、出力する。白キズ置き換え信号値35は、対象画素が白キズであるとキズ判定部22が判定した場合に、対象画素の信号値との置き換えに使用される信号値とする。黒キズ置き換え信号値36は、対象画素が黒キズであるとキズ判定部22が判定した場合に、対象画素の信号値との置き換えに使用される信号値とする。白キズ置き換え信号値35は、例えば、8個の同色周辺画素の信号値の最大値とする。黒キズ置き換え信号値36は、例えば、8個の同色周辺画素の信号値の最小値とする。白キズ置き換え信号値35及び黒キズ置き換え信号値36は、8個の同色周辺画素の信号値のいずれであっても良く、また8個の同色周辺画素の信号値のうち少なくともいずれかを使用して算出されたものであっても良いものとする。白キズ補正解除判定部23は、キズ判定部22で白キズと判定された対象画素に対するキズ補正を解除するか否かのキズ補正解除判定を実施する。白キズ補正解除判定部23は、対象画素が、被写体像のうちの高輝度部分、例えば、白い線の一部や白い点に含まれているか否かを、異色周辺画素の信号値の比較により判別する。白キズ補正解除判定部23は、被写体像のうちの高輝度部分に対象画素が含まれていると判別した場合に、キズ補正を解除する旨の判定をする。白キズ補正解除判定部23は、キズ補正を解除する旨の判定により、白キズ補正解除フラグ37を出力する。黒キズ補正解除判定部24は、キズ判定部22で黒キズと判定された対象画素に対するキズ補正を解除するか否かのキズ補正解除判定を実施する。黒キズ補正解除判定部24は、対象画素が、被写体像のうちの低輝度部分、例えば、黒い線の一部や黒い点に含まれているか否かを、異色周辺画素の信号値の比較により判別する。黒キズ補正解除判定部24は、被写体像のうちの低輝度部分に対象画素が含まれていると判別した場合に、キズ補正を解除する旨の判定をする。黒キズ補正解除判定部24は、キズ補正を解除する旨の判定により、黒キズ補正解除フラグ38を出力する。白キズ補正解除部25は、キズ判定部22からの白キズフラグ33と、白キズ補正解除判定部23からの白キズ補正解除フラグ37とが入力された場合であって、キズ補正解除コマンド44におけるキズ補正解除が有効である場合、白キズフラグ33のマスクにより白キズ補正を解除する。白キズ補正解除部25は、キズ判定部22からの白キズフラグ33の入力があり、かつ白キズ補正解除判定部23からの白キズ補正解除フラグ37の入力がなかった場合、白キズフラグ33をそのまま出力する。白キズ補正解除部25は、キズ補正解除コマンド44におけるキズ補正解除が無効である場合も、白キズフラグ33をそのまま出力する。黒キズ補正解除部26は、キズ判定部22からの黒キズフラグ34と、黒キズ補正解除判定部24からの黒キズ補正解除フラグ38とが入力された場合であって、キズ補正解除コマンド44におけるキズ補正解除が有効である場合、黒キズフラグ34のマスクにより黒キズ補正を解除する。黒キズ補正解除部26は、キズ判定部22からの黒キズフラグ34の入力があり、かつ黒キズ補正解除判定部24からの黒キズ補正解除フラグ38の入力がなかった場合、黒キズフラグ34をそのまま出力する。黒キズ補正解除部26は、キズ補正解除コマンド44におけるキズ補正解除が無効である場合も、黒キズフラグ34をそのまま出力する。出力画素選択部27は、対象画素に適用する信号値を、ラインメモリ10から読み出した信号値40、白キズ置き換え信号値35及び黒キズ置き換え信号値36の中から選択する。信号値40は、キズ補正前の対象画素の信号値とする。出力画素選択部27は、白キズ補正解除部25からの白キズフラグ33の入力があった場合、白キズ置き換え信号値35を選択する。出力画素選択部27は、黒キズ補正解除部26からの黒キズフラグ34の入力があった場合、黒キズ置き換え信号値36を選択する。出力画素選択部27は、白キズフラグ33及び黒キズフラグ34のいずれも入力されなかった場合、信号値40を選択する。キズ補正回路11は、出力画素選択部27で選択された信号値を出力信号39とする。ここで、白キズ補正解除判定部23によるキズ補正解除判定について説明する。図4は、白キズ補正解除判定部におけるキズ補正解除判定のための信号処理の手順を説明する図である。図5及び図6は、キズ補正解除判定において参照する異色周辺画素の組み合わせについて説明する図である。白キズ補正解除判定部23は、第1の方向である水平方向と、第1の方向に垂直な第2の方向である垂直方向とに並列している画素のうち、所定の第1異色周辺画素の信号値と第2異色周辺画素の信号値とを使用する演算を行う。第1異色周辺画素は、12個の異色周辺画素のうち、対象画素に近い第1の範囲に位置する画素とする。第2異色周辺画素は、12個の異色周辺画素のうち、対象画素から離れた第2の範囲に位置する画素とする。第1の範囲は、対象画素を中心とする3×3画素に含まれる範囲とする。第2の範囲は、対象画素を中心とする5×5画素のうち、第1の範囲の外側の範囲とする。第1異色周辺画素は、対象画素に近接している。第2異色周辺画素は、5×5画素の範囲のうち、対象画素から離れた位置にある。白キズ補正解除判定部23は、図5において右下がりの斜め方向以下、第1の斜め方向と称するについて、第1異色周辺画素の信号値と、第2異色周辺画素の信号値とを比較する。白キズ補正解除判定部23は、図5にて破線で囲んで示すように、右上がりの斜め方向以下、第2の斜め方向と称するにおいて互いに隣接する第1異色周辺画素同士Gr21及びGb12、Gb32及びGr23について、それぞれ信号値の和を求める。また、白キズ補正解除判定部23は、図5にて破線で囲んで示すように、第2の斜め方向において互いに隣接する第2異色周辺画素同士Gb10及びGr01、Gr43及びGb34について、それぞれ信号値の和を求める。白キズ補正解除判定部23は、第1の斜め方向について、第1異色周辺画素Gr21及びGb12の信号値と、第2異色周辺画素Gb10及びGr01の信号値とを比較する。ここでは、白キズ補正解除判定部23は、第1異色周辺画素Gr21及びGb12の信号値の和Gr21Gb12と、第2異色周辺画素Gb10及びGr01の信号値の和Gb10Gr01とについて、以下の式1を満たすか否かを判断する。Gr21Gb12>Gb10Gr01WCL1また、白キズ補正解除判定部23は、第1の斜め方向について、第1異色周辺画素Gb32及びGr23の信号値と、第2異色周辺画素Gr43及びGb34の信号値とを比較する。ここでは、白キズ補正解除判定部23は、第1異色周辺画素Gb32及びGr23の信号値の和Gb32Gr23と、第2異色周辺画素Gr43及びGb34の信号値の和Gr43Gb34とについて、以下の式2を満たすか否かを判断する。Gb32Gr23>Gr43Gb34WCL2WCLは、キズ補正解除判定の基準とする白キズ補正解除判定レベルであるものとする。式1及び2が共に成立するとき、すなわち、第1異色周辺画素の信号値と第2異色周辺画素の信号値との差分がWCLより大きい場合、白キズ補正解除判定部23は、対象画素が、被写体像のうちの高輝度部分に含まれているものと判別する。白キズ補正解除判定部23は、白キズ補正解除判定コマンド41において予め設定された固定値にMPを乗算することにより、MPに応じたWCLを算出する。白キズ補正解除判定部23は、WCLを大きい値とするほど、式1及び2が成立するケースを少なくさせ、白キズ補正解除の頻度を低下させる。キズ補正回路11は、WCLを大きい値とするほど、キズ補正解除の判定を少なくさせ、積極的な白キズ補正が可能となる。MPは、例えば、被写体像の撮像におけるアナログゲイン43に連動する係数とする。撮影環境が低照度である場合、熱雑音等によるキズは生じ易くなることから、キズの誤補正の影響よりもキズ補正の積極性を重視するほうが効果的である場合が多くなる。キズ補正回路11は、アナログゲイン43が大きいほどMPを小さい値とすることで、より厳格な白キズ補正解除判定の実施により、キズ補正の効果を強めることが可能となる。MPは、アナログゲイン43に連動する係数である場合に限られず、例えば、CMOSセンサ6の温度、CMOSセンサ6における光量の蓄積時間等に連動するものとしても良い。CMOSセンサ6の温度が高いほど、MPは小さい値とする。また、CMOSセンサ6における光量の蓄積時間が長いほど、MPは小さい値とする。この場合も、キズ補正回路11は、熱雑音等によるキズは生じ易い状況下では、より厳格なキズ補正解除判定を実施可能とし、キズ補正の効果を強めることが可能となる。白キズ補正解除判定部23は、第2の斜め方向について、第1異色周辺画素の信号値と、第2異色周辺画素の信号値とを比較する。白キズ補正解除判定部23は、図6にて破線で囲んで示すように、第1の斜め方向において互いに隣接する第1異色周辺画素同士Gr23及びGb12、Gb32及びGr21について、それぞれ信号値の和を求める。また、白キズ補正解除判定部23は、図6にて破線で囲んで示すように、第1の斜め方向において互いに隣接する第2異色周辺画素同士Gb14及びGr03、Gr41及びGb30について、それぞれ信号値の和を求める。白キズ補正解除判定部23は、第2の斜め方向について、第1異色周辺画素Gr23及びGb12の信号値と、第2異色周辺画素Gb14及びGr03の信号値とを比較する。ここでは、白キズ補正解除判定部23は、第1異色周辺画素Gr23及びGb12の信号値の和Gr23Gb12と、第2異色周辺画素Gb14及びGr03の信号値の和Gb14Gr03とについて、以下の式3を満たすか否かを判断する。Gr23Gb12>Gb14Gr03WCL3また、白キズ補正解除判定部23は、第2の斜め方向について、第1異色周辺画素Gb32及びGr21の信号値と、第2異色周辺画素Gr41及びGb30の信号値とを比較する。ここでは、白キズ補正解除判定部23は、第1異色周辺画素Gb32及びGr21の信号値の和Gb32Gr21と、第2異色周辺画素Gr41及びGb30の信号値の和Gr41Gb30とについて、以下の式4を満たすか否かを判断する。Gb32Gr21>Gr41Gb30WCL4WCLは、式1及び2の場合と同様、MPの乗算を経た白キズ補正解除判定レベルとする。式3及び4が共に成立するとき、すなわち、第1異色周辺画素の信号値と第2異色周辺画素の信号値との差分がWCLより大きい場合、白キズ補正解除判定部23は、対象画素が、被写体像のうちの高輝度部分に含まれているものと判別する。白キズ補正解除判定部23は、第1の斜め方向について第1異色周辺画素の信号値と第2異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果式1及び2と、第2の斜め方向について第1異色周辺画素と第2異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果式3及び4と、に応じて、キズ補正解除判定を実施する。ここで、式1及び2が共に成立する場合を条件5、式3及び4が共に成立する場合を条件6とする。白キズ補正解除判定部23は、条件5及び条件6の双方が成立する場合と、条件5及び条件6の一方が成立する場合とにおいて、白キズ補正解除選択コマンド45に従い、白キズ補正解除フラグ37を選択し、出力する。条件5及び条件6が成立する場合とは、対象画素が例えば点状の高輝度部分に含まれる場合である。条件5又は条件6が成立する場合とは、対象画素が例えば線状の高輝度部分に含まれる場合である。例えば、高輝度部分が、対象画素を含めて第2の斜め方向、あるいは第2の斜め方向に近い方向へ延伸している場合、条件5を満たし得る。また、高輝度部分が、対象画素を含めて第1の斜め方向、あるいは第1の斜め方向に近い方向へ延伸している場合、条件6を満たし得る。キズ補正回路11は、白キズ補正解除判定部23によるキズ補正解除判定の実施により、被写体像の高輝度部分に対象画素が含まれている場合における誤補正を抑制させることが可能となる。次に、黒キズ補正解除判定部24によるキズ補正解除判定について説明する。図7は、黒キズ補正解除判定部におけるキズ補正解除判定のための信号処理の手順を説明する図である。黒キズ補正解除判定部24は、白キズ補正解除判定部23と同様、第1異色周辺画素同士の信号値の和と、第2異色周辺画素の信号値の和とを求める。黒キズ補正解除判定部24は、第1の斜め方向について、第1異色周辺画素Gr21及びGb12の信号値と、第2異色周辺画素Gb10及びGr01の信号値とを比較する。ここでは、黒キズ補正解除判定部24は、第1異色周辺画素Gr21及びGb12の信号値の和Gr21Gb12と、第2異色周辺画素Gb10及びGr01の信号値の和Gb10Gr01とについて、以下の式7を満たすか否かを判断する。Gr21Gb12<Gb10Gr01―BCL7また、黒キズ補正解除判定部24は、第1の斜め方向について、第1異色周辺画素Gb32及びGr23の信号値と、第2異色周辺画素Gr43及びGb34の信号値とを比較する。ここでは、黒キズ補正解除判定部24は、第1異色周辺画素Gb32及びGr23の信号値の和Gb32Gr23と、第2異色周辺画素Gr43及びGb34の信号値の和Gr43Gb34とについて、以下の式8を満たすか否かを判断する。Gb32Gr23<Gr43Gb34―BCL8BCLは、キズ補正解除判定の基準とする黒キズ補正解除判定レベルであるものとする。式7及び8が共に成立するとき、すなわち、第1異色周辺画素の信号値と第2異色周辺画素の信号値との差分がBCLより大きい場合、黒キズ補正解除判定部24は、対象画素が、被写体像のうちの低輝度部分に含まれているものと判別する。黒キズ補正解除判定部24は、黒キズ補正解除判定コマンド42において予め設定された固定値にMPを乗算することにより、BCLを算出する。黒キズ補正解除判定部24は、BCLを大きい値とするほど、式7及び8が成立するケースを少なくさせ、黒キズ補正解除の頻度を低下させる。キズ補正回路11は、BCLを大きい値とするほど、キズ補正解除の判定を少なくさせ、積極的な黒キズ補正が可能となる。MPは、白キズ補正の場合と同様、アナログゲイン43、CMOSセンサ6の温度、CMOSセンサ6における光量の蓄積時間等に連動する係数とする。黒キズ補正解除判定部24は、第2の斜め方向について、第1異色周辺画素Gr23及びGb12の信号値と、第2異色周辺画素Gb14及びGr03の信号値とを比較する。ここでは、黒キズ補正解除判定部24は、第1異色周辺画素Gr23及びGb12の信号値の和Gr23Gb12と、第2異色周辺画素Gb14及びGr03の信号値の和Gb14Gr03とについて、以下の式9を満たすか否かを判断する。Gr23Gb12<Gb14Gr03―BCL9また、黒キズ補正解除判定部24は、第2の斜め方向について、第1異色周辺画素Gb32及びGr21の信号値と、第2異色周辺画素Gr41及びGb30の信号値とを比較する。ここでは、黒キズ補正解除判定部24は、第1異色周辺画素Gb32及びGr21の信号値の和Gb32Gr21と、第2異色周辺画素Gr41及びGb30の信号値の和Gr41Gb30とについて、以下の式10を満たすか否かを判断する。Gb32Gr21<Gr41Gb30―BCL10BCLは、式7及び8の場合と同様、MPの乗算を経た黒キズ補正解除判定レベルとする。式9及び10が共に成立するとき、すなわち、第1異色周辺画素の信号値と第2異色周辺画素の信号値との差分がBCLより大きい場合、黒キズ補正解除判定部24は、対象画素が、被写体像のうちの低輝度部分に含まれているものと判別する。黒キズ補正解除判定部24は、第1の斜め方向について第1異色周辺画素の信号値と第2異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果式7及び8と、第2の斜め方向について第1異色周辺画素と第2異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果式9及び10と、に応じて、キズ補正解除判定を実施する。ここで、式7及び8が共に成立する場合を条件11、式9及び10が共に成立する場合を条件12とする。黒キズ補正解除判定部24は、条件11及び条件12の双方が成立する場合と、条件11及び条件12の一方が成立する場合とにおいて、黒キズ補正解除選択コマンド46に従い、黒キズ補正解除フラグ38を選択し、出力する。条件11及び条件12が成立する場合とは、対象画素が例えば点状の低輝度部分に含まれる場合である。条件11又は条件12が成立する場合とは、対象画素が例えば線状の低輝度部分に含まれる場合である。例えば、低輝度部分が、対象画素を含めて第2の斜め方向、あるいは第2の斜め方向に近い方向へ延伸している場合、条件11を満たし得る。また、低輝度部分が、対象画素を含めて第1の斜め方向、あるいは第1の斜め方向に近い方向へ延伸している場合、条件12を満たし得る。キズ補正回路11は、黒キズ補正解除判定部24によるキズ補正解除判定の実施により、被写体像の低輝度部分に対象画素が含まれている場合における誤補正を抑制させることが可能となる。DSP7は、キズ補正回路11においてキズの誤補正を抑制させ、適切なキズ補正を可能とすることで、高品質な画像を得ることが可能となる。キズ補正回路11は、対象画素がB画素である場合、対象画素がR画素である場合と同様に、Gr画素及びGb画素を異色周辺画素として、キズ補正解除判定を実施する。また、キズ補正回路11は、対象画素がGr画素及びGb画素のいずれかである場合、R画素及びB画素を異色周辺画素として、キズ補正解除判定を実施する。これにより、キズ補正回路11は、ベイヤー配列においていずれの色光用の画素が対象画素である場合も、同じ位置の画素を異色周辺画素として、演算処理を行うことができる。キズ補正回路11は、白キズ及び黒キズの双方について、キズ補正解除判定を実施する場合に限られず、白キズ及び黒キズのうちの少なくとも一方についてキズ補正解除判定を実施するものであれば良いものとする。実施形態にかかる画像処理装置は、デジタルカメラ以外の電子機器、例えばカメラ付き携帯電話等に適用しても良い。本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。