"接地電位部から絶縁した直流電源の電源電圧に応じた電荷量で充電されるフライングキャパシタの放電回路上に設けられた、前記フライングキャパシタの一端を該フライングキャパシタの充電電圧の測定手段に接続する第1スイッチ及び前記フライングキャパシタの他端を前記接地電位部に接続する第2スイッチの故障状態を、前記直流電圧の電源電圧に応じた電荷量で前記フライングキャパシタが充電されているときの、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチのいずれか一方がオン状態で他方がオフ状態のときの前記測定手段による測定電圧値と、故障判定閾値との比較結果に基づいて検出する、絶縁検出ユニットの故障検出装置において、前記直流電圧の電源電圧に応じた電荷量で前記フライングキャパシタが充電されているときの、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチが共にオン状態のときの前記測定手段による測定電圧値を、予め定められた割合まで低くした電圧値を、前記故障判定閾値とし、その後、前記直流電圧の電源電圧に応じた電荷量で前記フライングキャパシタを再び充電する前に行った前記比較結果に基づいて、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチの故障状態を検出する故障検出手段を備える、ことを特徴とする絶縁検出ユニットの故障検出装置。前記測定手段は、前記フライングキャパシタの一端の電位に応じた電荷量で充電されるコンデンサと、該コンデンサを前記第1スイッチを介して前記フライングキャパシタの一端に接続する第3スイッチとを有しており、かつ、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチが共にオン状態のときに前記第3スイッチを所定期間オン状態として前記コンデンサに充電した充電電荷に応じた電圧値を、測定電圧値として取得するように構成されており、前記故障検出手段はさらに、前記フライングキャパシタの充電電圧に応じた電荷量で前記コンデンサが充電されているときの、前記第3スイッチがオフ状態のときの前記測定手段による測定電圧値を、予め定められた割合まで低くした電圧値を、前記第3スイッチの故障判定閾値とし、その後、前記第3スイッチのオンによる前記コンデンサの放電前に行った前記第3スイッチの故障判定閾値と前記測定手段による測定電圧値との比較結果、及び、前記第3スイッチのオンによる前記コンデンサの放電後に行った前記第3スイッチの故障判定閾値と前記測定手段による測定電圧値との比較結果のうち、少なくとも一方の比較結果に基づいて、前記第3スイッチの故障状態を検出する、ことを特徴とする請求項1記載の絶縁検出ユニットの故障検出装置。上述した従来のスイッチの故障検出に際しては、フライングキャパシタの充電電圧と故障検出用の閾値との比較を行う。このとき、フライングキャパシタの充電電圧の測定値にはノイズ成分が含まれることがある。ノイズ成分の存在に起因する故障検出の誤判定を避けるためには、ノイズ成分の電圧値よりも高い値を故障検出用の閾値とするのが有利である。しかし実際には、例え稀にしか起こらなくてもスイッチのレアショート状態まで故障として検出することが望まれるので、レアショート状態を検出対象に含められるように低い値を故障検出用の閾値とせざるを得ない。このような値に設定された閾値を用いた故障検出では、ノイズ成分の存在により誤って故障検出してしまう確率が高くなってしまう。本発明は前記事情に鑑みなされたもので、本発明の目的は、レアショート状態を故障検出範囲に含めつつ、充電電圧の測定値に含まれるノイズ成分により誤って故障検出してしまうことを抑制し、精度よく故障検出することができる絶縁状態検出ユニットの故障検出装置を提供することにある。上記目的を達成するため、請求項1に記載した本発明の絶縁検出ユニットの故障検出装置は、接地電位部から絶縁した直流電源の電源電圧に応じた電荷量で充電されるフライングキャパシタの放電回路上に設けられた、前記フライングキャパシタの一端を該フライングキャパシタの充電電圧の測定手段に接続する第1スイッチ及び前記フライングキャパシタの他端を前記接地電位部に接続する第2スイッチの故障状態を、前記直流電圧の電源電圧に応じた電荷量で前記フライングキャパシタが充電されているときの、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチのいずれか一方がオン状態で他方がオフ状態のときの前記測定手段による測定電圧値と、故障判定閾値との比較結果に基づいて検出する、絶縁検出ユニットの故障検出装置において、前記直流電圧の電源電圧に応じた電荷量で前記フライングキャパシタが充電されているときの、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチが共にオン状態のときの前記測定手段による測定電圧値を、予め定められた割合まで低くした電圧値を、前記故障判定閾値とし、その後、前記直流電圧の電源電圧に応じた電荷量で前記フライングキャパシタを再び充電する前に行った前記比較結果に基づいて、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチの故障状態を検出する故障検出手段を備える、ことを特徴とする。請求項1に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットの故障検出装置によれば、故障検出直前の測定手段による測定電圧値フライングキャパシタの充電電圧を予め定められた割合まで低くした故障判定閾値が決定される。したがって、故障検出直前の測定手段による測定電圧値が高ければ故障判定閾値も高い値となり、故障検出直前の測定手段による測定電圧値が低ければ故障判定閾値も低い値となる。ところで、第1スイッチ又は第2スイッチに故障が発生している場合、故障検出時に測定手段が測定する第1スイッチ及び第2スイッチの一方がオン、他方がオフ時のフライングキャパシタの充電電圧は、故障検出直前の測定手段による測定電圧値が高ければ高く、測定電圧値が低ければ低い。したがって、故障検出直前の測定手段による測定電圧値から故障判定閾値を決定する際の割合を適切に設定することで、故障判定閾値を故障検出直前の測定手段による測定電圧値に応じた変動値としても、第1スイッチや第2スイッチのレアショート状態を含む故障の検出を行える。そして、故障検出直前の測定手段による測定電圧値が高い程、その測定電圧値に含まれるノイズ成分の電圧値を故障判定閾値が上回る可能性が高くなり、あるいは、ノイズ成分の電圧値を故障判定閾値が上回る度合いも大きくなる。そのため、故障検出直前の測定手段による測定電圧値が高いほど、これに基づいて決定される故障判定閾値に、ノイズ成分に対するマージンを多く確保できるようになる。これにより、レアショート状態を故障検出範囲に含めつつ、故障検出時の測定手段による測定電圧値フライングキャパシタの充電電圧に含まれるノイズ成分により誤って故障検出してしまうことを抑制し、精度よく故障検出することができる。また、請求項2に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットの故障検出装置は、請求項1に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットの故障検出装置において、前記測定手段が、前記フライングキャパシタの一端の電位に応じた電荷量で充電されるコンデンサと、該コンデンサを前記第1スイッチを介して前記フライングキャパシタの一端に接続する第3スイッチとを有しており、かつ、前記第1スイッチ及び前記第2スイッチが共にオン状態のときに前記第3スイッチを所定期間オン状態として前記コンデンサに充電した充電電荷に応じた電圧値を、測定電圧値として取得するように構成されており、前記故障検出手段がさらに、前記フライングキャパシタの充電電圧に応じた電荷量で前記コンデンサが充電されているときの、前記第3スイッチがオフ状態のときの前記測定手段による測定電圧値を、予め定められた割合まで低くした電圧値を、前記第3スイッチの故障判定閾値とし、その後、前記第3スイッチのオンによる前記コンデンサの放電前に行った前記第3スイッチの故障判定閾値と前記測定手段による測定電圧値との比較結果、及び、前記第3スイッチのオンによる前記コンデンサの放電後に行った前記第3スイッチの故障判定閾値と前記測定手段による測定電圧値との比較結果のうち、少なくとも一方の比較結果に基づいて、前記第3スイッチの故障状態を検出する、ことを特徴とする。請求項2に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットの故障検出装置によれば、請求項1に記載した本発明の絶縁状態検出ユニットの故障検出装置において、測定手段がフライングキャパシタの充電電圧に対応する測定電圧値を測定するために用いる第3スイッチにも、オン状態やオフ状態にロックする故障が生じる可能性がある。ところで、フライングキャパシタの充電電圧に応じた電荷量でコンデンサが充電されている場合、第3スイッチがオフ状態のときには、コンデンサは放電回路から遮断された状態にある。したがって、測定手段による測定電圧値は、本来ならコンデンサの充電電圧に応じた値となるべきである。しかし、オフ状態であるはずの第3スイッチに故障が生じてオン状態となっていると、コンデンサが第3スイッチを介して接続された放電回路により放電するので、測定手段による測定電圧値はゼロとなる。また、フライングキャパシタの充電電圧に応じた電荷量でコンデンサが充電されている場合、第3スイッチがオン状態のときには、コンデンサが第3スイッチを介して放電回路に接続され、充電した電荷を放電する状態にある。したがって、測定手段による測定電圧値は、本来ならゼロであるべきである。しかし、オン状態であるはずの第3スイッチに故障が生じてオフ状態となっていると、コンデンサが放電を行わずフライングキャパシタの充電電圧に応じた電荷量で充電されたままの状態になるので、測定手段による測定電圧値はゼロよりも高い値となる。そのため、第3スイッチの故障判定閾値は、測定電圧値の方が第3スイッチの故障判定閾値よりも低いときに第3スイッチがオン状態にロックする故障を起こしていると判断し、測定電圧値の方が第3スイッチの故障判定閾値よりも高いときに第3スイッチがオフ状態にロックする故障を起こしていると判断するような、ゼロよりも高い値に設定される。よって、測定手段が有する第3スイッチについても故障判定閾値を用いた故障検出を行うことができる。しかも、故障検出直前の測定手段による測定値が高いときには、それに応じて第3スイッチの故障判定閾値も高くして、ノイズ成分のせいで故障検出時の測定手段による測定値が第3スイッチの故障判定閾値を超えて第3スイッチに故障が生じていると誤って判断されてしまうのを、防止することができる。これにより、測定手段が有する第3スイッチについても、レアショート状態を故障検出範囲に含めつつ、故障検出時の測定手段による測定電圧値フライングキャパシタの充電電圧に含まれるノイズ成分により誤って、第3スイッチがオフ状態にロックする故障を起こしている、と判断してしまうのを防ぐことができる。本発明の絶縁状態検出ユニットの故障検出装置によれば、レアショート状態を故障検出範囲に含めつつ、充電電圧の測定値に含まれるノイズ成分により誤って故障検出してしまうことを抑制し、精度よく故障検出することができる。以下、本発明の実施形態を、図面を参照しながら説明する。図1は本発明の一実施形態に係る故障検出装置を有する絶縁状態検出ユニットを示す回路図である。本実施形態の絶縁状態検出ユニットは、車両図示せずの車体等の接地電位部から絶縁された直流電源Bの正端子側の主回路配線1pや負端子側の主回路配線1nにおける絶縁状態を検出するユニットである。図1中引用符号RLpは正端子側の地絡抵抗、RLnは負端子側の地絡抵抗であり、それぞれ、正端子側の主回路配線1pや負端子側の主回路配線1nに地絡が発生した場合の仮想抵抗である。主回路配線1p,1nの絶縁状態を検出する絶縁状態検出ユニット10は、フライングキャパシタC1を含む地絡検出回路11と、フライングキャパシタC1の充電電圧や放電電圧をサンプルホールドするサンプルホールド回路13と、サンプルホールド回路13のホールド値を検出してフライングキャパシタC1の充電電圧や放電電圧を測定するマイクロコンピュータ以下、マイコンと略記する。15とを有している。フライングキャパシタC1は、本実施形態では、セラミックスコンデンサを用いている。地絡検出回路11は、フライングキャパシタC1の他、フライングキャパシタC1を直流電源Bの正極及び負極にそれぞれ選択的に接続するスイッチS1,S2と、フライングキャパシタC1をマイコン15及び接地電位部に選択的に接続するスイッチS3,S4請求項中の第1スイッチ及び第2スイッチに相当とを有している。フライングキャパシタC1とスイッチS1,S2との間には、抵抗R1,R2がそれぞれ直列に接続されている。なお、後述するマイコン15によってフライングキャパシタC1の充電電圧や放電電圧を測定する際の直流電源Bに対する絶縁性を確保するために、抵抗R1,R2には、同じ値の高い抵抗値の抵抗が使用される。サンプルホールド回路13は、図2の回路図に示すように、マイコン15の第1A/D変換ポートA/D1に一端が接続されたスイッチSa請求項中の第3スイッチに相当と、このスイッチSaの一端と接地電位部との間に接続された読込用コンデンサCa請求項中のコンデンサに相当と、スイッチSaの他端とスイッチS3との間に直列接続される抵抗Raとを有している。読込用コンデンサCaは、スイッチSaが閉じている間、抵抗R5を介してスイッチSaの一端に現れる電位で充電される。マイコン15は直流電源Bよりも低い低圧系の電源図示せずによって動作するもので、直流電源Bはマイコン15の接地電位からも絶縁されている。地絡検出回路11の各スイッチS1~S4,Saとサンプルホールド回路13のスイッチSaとは、例えば光MOSFETで構成されており、直流電源Bから絶縁してマイコン15によりオンオフ制御できるようになっている。マイコン15の第1A/D変換ポートA/D1はサンプルホールド回路13を介してスイッチS3と接続されている。サンプルホールド回路13とスイッチS3との接続点は、抵抗R4を介して接地されており、スイッチS4と接地電位部との間には、抵抗R5が接続されている。また、フライングキャパシタC1の一端図1中上方の極側のスイッチS1,S3は直列接続されており、両者の接続点とフライングキャパシタC1の一端との間には、電流方向切替回路Xが接続されている。電流方向切替回路Xは並列回路であり、その一つは、スイッチS1からフライングキャパシタC1の一端に向けて順方向となるダイオードD0と抵抗R1の直列回路で構成され、他の一つは、スイッチS3からフライングキャパシタC1の一端に向けて順方向となるダイオードD1で構成され、最後の一つは、フライングキャパシタC1の一端からスイッチS3に向けて順方向となるダイオードD2と抵抗R3の直列回路で構成されている。そして、本実施形態では、上述したサンプルホールド回路13及びマイコン15によって、請求項中の測定手段が構成されている。次に、上述した絶縁状態検出ユニット10において、絶縁状態を検出する際の手順について説明する。まず、マイコン15の制御により、予め決定しておいた予定時間に亘って、スイッチS1,S2をオンさせると共にスイッチS3,S4,Saをオフさせる。ここで、予定時間とは、フライングキャパシタC1が完全に充電されるのに要する時間よりも短い時間である。これにより、直流電源Bの正極から、正端子側の主回路配線1p、スイッチS1、ダイオードD0、抵抗R1、フライングキャパシタC1の一端図1中上方の極、他端同下方の極、抵抗R2、スイッチS2、及び、負端子側の主回路配線1nを経て、直流電源Bの負極に至る充電回路を形成する。以後、この充電回路を第1充電回路と称する。そして、この第1充電回路において、フライングキャパシタC1を直流電源Bの電圧に応じた電荷量で充電する。この充電により、フライングキャパシタC1の一端が正極、他端が負極となる。続いて、マイコン15の制御により、スイッチS1,S2をオフさせると共にスイッチS3,S4をオンさせる。これにより、フライングキャパシタC1の正極が、ダイオードD2、抵抗R3、及び、スイッチS3を介してサンプルホールド回路13に接続され、負極がスイッチS4、及び、抵抗R5を介して接地電位部に接続される。これにより、フライングキャパシタC1を放電させる。また、図3のタイムチャートに示すように、スイッチS3,S4のオンと同時T1の時点に、マイコン15の制御により、サンプルホールド回路13のスイッチSaを短時間T1~T2の期間、例えば、200~300μsオンさせる。これにより、フライングキャパシタC1の充電電圧を抵抗R3,R4で分圧したうちの、抵抗R3の両端電圧の差に相当する電位で、読込用コンデンサCaが充電される。ところで、フライングキャパシタC1の放電開始時には、直流電源Bの電圧に応じた電荷量でフライングキャパシタC1が充電された状態にある。そのため、フライングキャパシタC1の放電開始直後にその放電電圧で充電される読込用コンデンサCaには、直流電源Bの電圧に応じた電荷量のうち、抵抗R4,R5の分圧比に応じた電荷量が蓄積されることになる。そして、マイコン15の制御によりサンプルホールド回路13のスイッチSaをオフさせるとT2の時点、読込用コンデンサCaの充電電圧を分圧した電位が、サンプルホールド回路13を介してマイコン15の第1A/D変換ポートA/D1に入力されて測定される。そこで、この測定値と、抵抗R3,R4の分圧比と、抵抗R4,R5の分圧比とから、直流電源Bの電圧に応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1をマイコン15で測定させる。なお、サンプルホールド回路13のスイッチSaをオフさせた後、フライングキャパシタC1の充電電圧Vc1を測定している間も、スイッチS3,S4はオンされたままであるので、フライングキャパシタC1は引き続き放電状態にある。さらに、フライングキャパシタC1の充電電圧Vc1の測定終了後T3の時点、マイコン15の制御により、サンプルホールド回路13のスイッチSaをオンさせる。これにより、フライングキャパシタC1と読込用コンデンサCaとを放電状態とする。それぞれを完全に放電させた時点でT4の時点、マイコン15の制御により、スイッチS3,S4,Saをオフさせる。そして、フライングキャパシタC1と読込用コンデンサCaとを完全に放電させた後、マイコン15の制御により、上述した予定時間に亘って、スイッチS1,S4をオンさせると共にスイッチS2,S3をオフさせる。これにより、直流電源Bの正極から、正端子側の主回路配線1p、スイッチS1、ダイオードD0、抵抗R1、フライングキャパシタC1の一端、他端、スイッチS4、抵抗R5、接地電位部、負端子側の地絡抵抗RLn、及び、負端子側の主回路配線1nを経て、直流電源Bの負極に至る充電回路を形成する。以後、この充電回路を第2充電回路と称する。そして、この第2充電回路において、フライングキャパシタC1を、負端子側の地絡抵抗RLnに応じた電荷量で充電する。この充電により、フライングキャパシタC1の一端が正極、他端が負極となる。続いて、マイコン15の制御により、スイッチS1,S2をオフさせると共にスイッチS3,S4をオンさせ図3のT1の時点、かつ、サンプルホールド回路13のスイッチSaを短時間図3のT1~T2の期間、例えば、200~300μsオンさせる。その後、マイコン15の制御によりサンプルホールド回路13のスイッチSaを再びオンさせるまでの間図3のT2~T3の期間、直流電源Bの電圧に応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1の測定の際と同様にして、負端子側の地絡抵抗RLnに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1-をマイコン15で測定させる。そして、フライングキャパシタC1と読込用コンデンサCaとを完全に放電させた後、マイコン15の制御により、上述した予定時間に亘って、スイッチS2,S3をオンさせると共にスイッチS1,S4をオフさせる。これにより、直流電源Bの正極から、正端子側の主回路配線1p、正端子側の地絡抵抗RLp、接地電位部、抵抗R4、スイッチS3、ダイオードD1、フライングキャパシタC1の一端、他端、抵抗R2、スイッチS2、及び、負端子側の主回路配線1nを経て、直流電源Bの負極に至る充電回路を形成する。以後、この充電回路を第3充電回路と称する。そして、この第3充電回路において、フライングキャパシタC1を、正端子側の地絡抵抗RLpに応じた電荷量で充電する。この充電により、フライングキャパシタC1の一端が正極、他端が負極となる。続いて、マイコン15の制御により、スイッチS1,S2,S5をオフさせると共にスイッチS3,S4をオンさせ図3のT1の時点、かつ、サンプルホールド回路13のスイッチSaを短時間図3のT1~T2の期間、例えば、200~300μsオンさせる。その後、マイコン15の制御によりサンプルホールド回路13のスイッチSaを再びオンさせるまでの間図3のT2~T3の期間、直流電源Bの電圧に応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1の測定の際や、負端子側の地絡抵抗RLnに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1-の測定の際と同様にして、正端子側の地絡抵抗RLpに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1をマイコン15で測定させる。そして、フライングキャパシタC1と読込用コンデンサCaとを完全に放電させる。ところで、直流電源Bの電圧に応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1、負端子側の地絡抵抗RLnに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1-、及び、正端子側の地絡抵抗RLpに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1と、正端子側の地絡抵抗RLpと負端子側の地絡抵抗RLnとの並列合成抵抗値R=RLpRLn/RLp×RLnとの間には、下記関係式RLpRLn/RLp×RLn={Vc1Vc1-}/Vc1なる関係がある。そこで、マイコン15は、上記の関係式を用いて正端子側と負端子側の地絡抵抗RLp,RLnの並列合成抵抗値を算出し、直流電源Bの絶縁状態を検出することができる。なお、本実施形態の地絡検出回路11でフライングキャパシタC1として用いているセラミックスコンデンサは、DCバイアスによって静電容量が大きく変わる。また、絶縁状態検出ユニット10の環境温度やフライングキャパシタC1として用いているセラミックスコンデンサの特性の個体差等によっても、静電容量が大きく変わる。そこで、これらの静電容量変化の影響を排除するために、マイコン15による各充電電圧Vc1,Vc1-,Vc1の測定手順を変更してもよい。以下、その測定手順について説明する。フライングキャパシタC1の静電容量が正常時よりも下がると、フライングキャパシタC1を一定時間充電した場合の充電量が正常時よりも高くなり、フライングキャパシタC1の放電量が、放電開始からしばらくの間は高くなる。一方、フライングキャパシタC1の静電容量が正常時よりも上がると、フライングキャパシタC1を一定時間充電した場合の充電量が正常時よりも低くなり、フライングキャパシタC1の放電量が、放電開始からしばらくの間は低くなる。放電開始からしばらく経過すると、フライングキャパシタC1の放電が飽和に近づくので、フライングキャパシタC1の静電容量が正常時より上下していても、それ以降のフライングキャパシタC1の放電量には大きな差は生じない。即ち、フライングキャパシタC1の静電容量特性のばらつきによる充電量の変動は大きいが、フライングキャパシタC1の放電開始からしばらくの間経過した時点における放電電圧のばらつきは小さくなる。具体的には、フライングキャパシタC1を一定時間t1充電した後に放電した場合の放電開始時点における放電電圧VD1と、フライングキャパシタC1の放電開始から時間t2が経過した時点における放電電圧VD2とは、下式VD1=V0×1-exp-{t1/C1×a×RC}VD2=V0×exp-{t2/C1×a×RD}但し、V0:充電電圧C1:フライングキャパシタC1の静電容量RC:充電抵抗値RD:放電抵抗値a:フライングキャパシタC1の静電容量のばらつき係数正常時の静電容量に対する比によって表される。上式から明らかなように、フライングキャパシタC1の静電容量が下がる方向にばらつきが生じた場合、放電開始時点の放電電圧VD1は高くなる。また、放電開始から時間t2が経過した時点の放電電圧VD2も高くなる。反対に、フライングキャパシタC1の静電容量が上がる方向にばらつきが生じた場合、放電開始時点の放電電圧VD1は低くなる。また、放電開始から時間t2が経過した時点の放電電圧VD2も低くなる。このように、フライングキャパシタC1の静電容量が正常時に対して上下したときに、フライングキャパシタの充電量が正常時に対して高低した分は、フライングキャパシタC1の放電量が放電開始からしばらくの間高低することで打ち消されるものと考えられる。したがって、フライングキャパシタC1の放電電圧からフライングキャパシタC1を一定時間充電した際の充電電圧を求める場合、放電電圧VD2を用いた下式V0=VD2/{t2とC1×RDとによる放電割合×t1とC1×RCとによる充電割合}式1但し、放電割合:放電後の電荷残存率充電割合:充電後の電荷残存率によって充電電圧V0を求める方が、放電電圧VD1を用いた下式V0=VD1/t1とC1×RCとによる充電割合式2によって充電電圧V0を求めるよりも、精度が高くなる。そこで、フライングキャパシタC1の放電開始からしばらくの間経過した後に、マイコン15の制御により、スイッチS1,S2をオフさせると共にスイッチS3,S4,Saをオンさせる図3のT1の時点。そして、短時間後にマイコン15の制御によりスイッチSaをオフさせるまでの間図3のT1~T2の期間に充電された読込用コンデンサCaの充電電圧を分圧した電位を、マイコン15の第1A/D変換ポートA/D1の入力から測定し、これに基づいて、フライングキャパシタC1の充電電圧をマイコン15で測定する。このようにして、フライングキャパシタC1の各充電電圧Vc1,Vc1-,Vc1を、フライングキャパシタC1の放電開始からしばらくの間経過した後に測定した放電電圧VD2から求めるようにしてもよい。また、直流電源Bの電源電圧に応じた電荷量で充電されたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1を、上述した放電電圧VD2から求め、負端子側の地絡抵抗RLnに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1-や、正端子側の地絡抵抗RLpに応じたフライングキャパシタC1の充電電圧Vc1を、放電開始時点における放電電圧VD1から求めるようにしてもよい。なお、フライングキャパシタC1の放電が飽和に近づくペースは、フライングキャパシタC1の静電容量によって異なる。したがって、静電容量が正常ではないフライングキャパシタC1の放電量が正常な静電容量のフライングキャパシタC1の放電量と大きく変わらなくなる時点放電開始からしばらくの間経過した時点は、静電容量が正常であるときよりも上か下かによって異なる。そこで、静電容量が正常ではないフライングキャパシタC1の放電量が正常な静電容量のフライングキャパシタC1の放電量と大きく変わらなくなる時点の、静電容量が正常であるときよりも上である場合と下である場合との平均を求めて、その平均した時点を、放電電圧VD2を測定する時点とするようにしてもよい。ところで、地絡検出回路11の各スイッチS1~S4がオン状態にロックされる故障を起こすと、上述した手順による直流電源Bの絶縁状態を正しく検出することができなくなる。そこで、上述したマイコン15は、直流電源Bの絶縁状態の検出と並行して、スイッチS1~S4の故障検出を行う。スイッチS1~S4の故障検出は、本来はオンとするスイッチS1~S4を1つずつオフ状態とし、オフ状態としたスイッチS1~S4がオン状態のときにしか生じない状態をフライングキャパシタC1の充電状態から検出することで行う。スイッチS1~S4の故障検出に際しては、フライングキャパシタC1の充電電圧に相当するサンプルホールド回路13の読込用コンデンサCaの充電電圧Va請求項中の測定電圧値に相当と、故障検出用の閾値故障判定閾値との比較を行う。ここで、従来のように、故障判定閾値を固定値とする場合について、図4を参照して説明する。スイッチの故障には、デッドショート状態とレアショート状態とがある。絶縁状態検出ユニット10においてスイッチの故障が発生した場合、フライングキャパシタC1の充電電圧に対応する値としてマイコン15が測定する読込用コンデンサCaの充電電圧Va測定電圧値は、デッドショート状態のときの方が、レアショート状態のときよりも高い値となる。したがって、例えば、マイコン15による測定電圧値の50を故障判定閾値とする場合、スイッチにデッドショート状態の故障が生じた場合における測定電圧値の想定範囲内の最大値図4の測定電圧値max時のデッドショートの棒グラフに示すレベルを、故障判定閾値の基準とすれば、故障判定閾値は最も高い値となる図4の故障判定閾値1。一方、スイッチにデッドショート状態の故障が生じた場合における測定電圧値の想定範囲内の最小値図4の測定電圧値min時のデッドショートの棒グラフに示すレベルを、故障判定閾値の基準とすれば、故障判定閾値は最も低い値となる図4の故障判定閾値2。故障判定閾値を最も高い図4の故障判定閾値1にすると、スイッチにレアショート状態の故障が生じた際、マイコン15による測定電圧値が想定範囲内の最小値図4の測定電圧値min時のレアショートの棒グラフに示すレベルである場合には、故障を検出することができない。これに対し、故障判定閾値を最も低い図4の故障判定閾値2にすれば、スイッチにレアショート状態の故障が生じた際、マイコン15による測定電圧値が想定範囲内の最小値図4の測定電圧値min時のレアショートの棒グラフに示すレベルであっても、故障を検出することができる。その代わり、スイッチにデッドショート状態やレアショート状態の故障が起こっていない場合にマイコン15による測定電圧値に含まれるノイズ成分図4のノイズマージンワーストのレベルと故障判定閾値とのレベル差がなくなる。そのため、スイッチに故障が起こっていないのに、測定電圧値に含まれるノイズ成分のせいで、故障検出の誤判定が発生しやすくなってしまう。なお、図4の故障判定閾値1,2の中間値図4の故障判定閾値3を、故障判定閾値とすることも考えられる。しかし、そうすると、スイッチにレアショート状態の故障が生じた際、マイコン15による測定電圧値が想定範囲内の最小値図4の測定電圧値min時のレアショートの棒グラフに示すレベルかそれに近い値であるときには、故障を検出することができなくなる。そこで、本実施形態の絶縁状態検出ユニット10では、故障判定閾値を、故障検出の直前にマイコン15で測定される、直流電圧Bの電源電圧に応じた電荷量でフライングキャパシタC1が充電されているときの、サンプルホールド回路13の読込用コンデンサCaの充電電圧Vaマイコン15による測定電圧値の50の電圧値請求項中の予め定められた割合まで低くした電圧値に相当を、故障判定閾値としている。例えば、図5に示すように、故障検出の直前におけるマイコン15による測定電圧値が、スイッチにデッドショート状態の故障が生じた場合の想定範囲内の最大値図5の測定電圧値max時のデッドショートの棒グラフに示すレベルである場合は、故障判定閾値はその半分の、図5のケース1の線で示すレベルとなる。このときには、フライングキャパシタC1の充電状態やマイコン15による測定電圧値に含まれるノイズ成分のボリュームの状況等から、マイコン15による測定電圧値が想定範囲内の最大のレベルにある。したがって、スイッチにレアショート状態の故障が発生したときにも、マイコン15による測定電圧値は、想定範囲内の最大値図5の測定電圧値max時のレアショートの棒グラフに示すレベルに達するはずである。スイッチにレアショート状態の故障が発生したときのマイコン15による測定電圧値の最大値図5の測定電圧値max時のレアショートの棒グラフに示すレベルは、図5のケース1の線で示す故障判定閾値のレベルよりも明らかに高い。また、マイコン15による測定電圧値に含まれるノイズ成分の想定範囲の最大値図5のノイズマージンワーストのレベルは、故障判定閾値よりも明らかに低い。また、故障検出の直前におけるマイコン15による測定電圧値が、スイッチにデッドショート状態の故障が生じた場合の想定範囲内の最小値図5の測定電圧値min時のデッドショートの棒グラフに示すレベルである場合は、故障判定閾値はその半分の、図5のケース2の線で示すレベルとなる。このときには、フライングキャパシタC1の充電状態から、マイコン15による測定電圧値が想定範囲内の最小のレベルにある。したがって、スイッチにレアショート状態の故障が発生したときにも、マイコン15による測定電圧値は、想定範囲内の最小値図5の測定電圧値min時のレアショートの棒グラフに示すレベル程度となるはずである。スイッチにレアショート状態の故障が発生したときのマイコン15による測定電圧値の最小値図5の測定電圧値min時のレアショートの棒グラフに示すレベルは、図5のケース2の線で示す故障判定閾値のレベルよりも明らかに高い。また、マイコン15による測定電圧値に含まれるノイズ成分の想定範囲の最大値図5のノイズマージンワーストのレベルは、故障判定閾値よりも明らかに低い。したがって、故障検出の直前における、直流電圧Bの電源電圧に応じた電荷量でフライングキャパシタC1が充電されているときの、マイコン15による測定電圧値を基準にして、変動値による故障判定閾値を決定することで、スイッチに故障が起こっている場合に、レアショート状態の検出範囲を狭めることなく、精度よく検出することができるようになる。また、故障判定閾値が高い値であるほど、フライングキャパシタC1の充電電圧に含まれるノイズ成分の電圧値を故障判定閾値が上回る可能性が高くなり、あるいは、ノイズ成分の電圧値を故障判定閾値が上回る度合いも大きくなる。そのため、故障検出直前のマイコン15による測定電圧値が高いほど、これに基づいて決定される故障判定閾値に、ノイズ成分に対するマージンを多く確保して、レアショート状態を故障検出範囲に含めつつ、マイコン15の測定電圧値に基づき故障検出を精度よく行うことができる。次に、上述した変動値による故障判定閾値を決定する際の具体的な手順について説明するのに先立ち、絶縁状態検出ユニット10に存在する地絡検出回路11の各スイッチS1~S4やサンプルホールド回路13のスイッチSaの故障検出手順について説明する。直流電源Bの正極及び負極とフライングキャパシタC1とをそれぞれ接続するスイッチS1,S2については、フライングキャパシタC1を放電した後に、スイッチS1,S2をそれぞれ一方ずつオン状態とし、その後にフライングキャパシタC1が充電されているか否かを確認することで、故障を検出することができる。即ち、スイッチS1をオン状態としスイッチS2をオフ状態としたときに、スイッチS2にオン状態にロックされる故障が発生していれば、本来は充電されないはずのフライングキャパシタC1が直流電源Bによって充電される。同様に、スイッチS1をオフ状態としスイッチS2をオン状態としたときに、スイッチS1にオン状態にロックされる故障が発生している場合にも、本来は充電されないはずのフライングキャパシタC1が直流電源Bによって充電される。よって、その後にフライングキャパシタC1の充電電圧に相当するサンプルホールド回路13のコンデンサCaの充電電圧測定電圧値をマイコン15で測定し、これが故障判定閾値よりも下である故障なしか、上である故障ありかを確認することで、スイッチS1,S2の故障を検出することができる。ここで、スイッチS1,S2の故障判定閾値を、故障検出の直前における、直流電圧Bの電源電圧に応じた電荷量でフライングキャパシタC1が充電されているときの、マイコン15による測定電圧値を基準にした変動値として決定するには、次のような手順が必要になる。即ち、上述したように、フライングキャパシタC1を放電した後、スイッチS1,S2を交互にオンさせるまでの間に、スイッチS1,S2を両方ともオンさせて直流電源Bの電源電圧によりフライングキャパシタC1を充電するステップを介在させる必要がある。しかし、そのようなステップを介在させることは手順上不可能である。そのため、スイッチS1,S2の故障検出に用いる故障判定閾値については、本実施形態の適用外とし、従来通り固定値を故障判定閾値に用いることにする。次に、サンプルホールド回路13とフライングキャパシタC1とを接続するスイッチS3については、フライングキャパシタC1が充電されており、サンプルホールド回路13のコンデンサCaが放電されている状態で、スイッチS4,Saをオン状態とし、スイッチS3をオフ状態として、その後にコンデンサCaが充電されているか否かを確認することで、故障を検出することができる。また、接地電位部とフライングキャパシタC1とを接続するスイッチS4については、フライングキャパシタC1が充電されており、サンプルホールド回路13のコンデンサCaが放電されている状態で、スイッチS3,Saをオン状態とし、スイッチS4をオフ状態として、その後にコンデンサCaが充電されているか否かを確認することで、故障を検出することができる。ここで、スイッチS1,S2の故障判定閾値を、故障検出の直前における、直流電圧Bの電源電圧に応じた電荷量でフライングキャパシタC1が充電されているときの、マイコン15による測定電圧値を基準にした変動値として決定するには、次のような手順が必要になる。即ち、上述したような、フライングキャパシタC1が充電されており、サンプルホールド回路13のコンデンサCaが放電されている状態に至る前に、スイッチS1,S2を両方ともオンさせて直流電源Bの電源電圧によりフライングキャパシタC1を充電するステップと、フライングキャパシタC1の充電電圧に応じた電荷量でサンプルホールド回路13のコンデンサCaを充電するステップと、充電したコンデンサCaを放電させるステップとを実行する必要がある。これらのステップを事前に実行することは、手順上可能である。そのため、スイッチS3,S4の故障検出については、本実施形態の適用対象とし、変動値を故障判定閾値に用いることにする。なお、サンプルホールド回路13のスイッチSaについては、コンデンサCaが充電されている状態でスイッチSaをオフ状態として、その後にコンデンサCaが充電されているか否かを確認することで、故障を検出することができる。また、コンデンサCaが放電されている状態でスイッチSaをオン状態として、その後にコンデンサCaが充電されているか否かを確認することで、故障を検出することができる。ここで、スイッチSaをオフ状態とする前にコンデンサCaを充電させることや、スイッチSaをオン状態とする前にコンデンサCaを放電させることは、手順上可能である。そのため、スイッチSaの故障検出についても、本実施形態の適用対象とし、変動値を故障判定閾値に用いることにする。次に、変動値を故障判定閾値に用いてスイッチS3,S4,Saの故障検出を行う際の手順を、図6及び図7のタイミングチャートを参照して説明する。まず、図6に示すように、スイッチS1,S2をオン状態とし、スイッチS3,S4,Saをオフ状態として、フライングキャパシタC1を直流電源Bの電源電圧により充電させる。これにより、フライングキャパシタC1の充電電圧Vcが上昇する。続いて、スイッチS1,S2をオフ状態とした後、スイッチS3,S4をオン状態とし、一瞬遅れてスイッチSaをオン状態として、フライングキャパシタC1の充電電荷によりサンプルホールド回路13のコンデンサCaを充電させる。これにより、コンデンサCaの充電電圧Vaが上昇する。そこで、コンデンサCaの充電に十分な時間が経過したら、スイッチS3,S4,Saをオフ状態とした後、コンデンサCaの充電電圧Vaをマイコン15により測定し、これを測定電圧値として取得する[通常計測1]。なお、ここで測定電圧値として取得するコンデンサCaの充電電圧Vaは、先に説明した、フライングキャパシタC1を一定時間t1充電した後に放電した場合の放電開始時点における放電電圧VD1を求めるのに用いることができる。そして、[通常計測1]における測定電圧値の50の電圧値を、スイッチS3,S4の故障検出に用いる故障判定閾値請求項中の第1スイッチ及び第2スイッチの故障判定閾値に相当の値とする。次に、スイッチSaをオン状態としてコンデンサCaの放電を開始させ、少し遅れてスイッチS4をオン状態とする。スイッチSaのオンからコンデンサCaの時定数に応じた時間が経過すると、コンデンサCaが放電し尽くすはずであるが、スイッチS3にオン状態にロックする故障が発生していると、スイッチS4がオン状態となった以降に、フライングキャパシタC1の充電電荷によりコンデンサCaが充電される。そこで、スイッチS4のオンからしばらく経過した後に本来ならコンデンサCaが放電し尽くすはずの時点で、コンデンサCaの充電電圧Vaを測定電圧値としてマイコン15により測定し、これを、上述した故障判定閾値=[通常計測1]/2と比較する図6のaの期間。そして、[通常計測1]/2よりも測定電圧値コンデンサCaの充電電圧Vaの方が高い場合には、スイッチS3にオン状態にロックする故障が発生していると判定する。続いて、スイッチS4をオフ状態とした後、少し遅れてスイッチS3をオン状態とする。ここで、スイッチS4をオフ状態とする前に、[通常計測1]/2よりも測定電圧値コンデンサCaの充電電圧Vaの方が高くなかった場合には、その状態が少なくともスイッチS3をオンする時点まで継続されているはずである。そこで、スイッチS3のオンからしばらく経過した後に、図7に示すように、コンデンサCaの充電電圧Vaを測定電圧値としてマイコン15により測定し、これを、上述した故障判定閾値=[通常計測1]/2と比較する図7のbの期間。そして、[通常計測1]/2よりも測定電圧値コンデンサCaの充電電圧Vaの方が高い場合には、スイッチS4にオン状態にロックする故障が発生していると判定する。次に、スイッチS4をオン状態とすると同時にスイッチSaをオフ状態とし、フライングキャパシタC1を放電回路により放電させ始め、それから程なくスイッチSaをオン状態として、フライングキャパシタC1の充電電圧Vcに応じた電荷量でサンプルホールド回路13のコンデンサCaを充電させる。さらに、コンデンサCaの充電に十分な時間が経過したら、スイッチSaをオフ状態として、コンデンサCaの充電電圧Vaをマイコン15により測定し、これを測定電圧値として取得する[通常計測2]。なお、ここで測定電圧値として取得するコンデンサCaの充電電圧Vaは、先に説明した、フライングキャパシタC1を一定時間t1充電した後に放電した場合の放電開始から時間t2が経過した時点の放電電圧VD2を求めるのに用いることができる。そして、[通常計測2]における測定電圧値の50の電圧値を、スイッチSaの故障検出に用いる故障判定閾値請求項中の第3スイッチの故障判定閾値に相当の値とする。さらにしばらく経過した後スイッチS4のオン及びスイッチSaのオフからフライングキャパシタC1の時定数に応じた時間が経過して、フライングキャパシタC1が放電し尽くすはずのタイミングを過ぎたら、コンデンサCaの充電電圧Vaを測定電圧値としてマイコン15により測定し、これを、上述した故障判定閾値=[通常計測2]/2と比較する図7のcの期間。そして、[通常計測2]/2よりも測定電圧値コンデンサCaの充電電圧Vaの方が低い場合には、スイッチSaにオン状態にロックする故障が発生していると判定する。続いて、スイッチSaをオン状態とする。ここで、スイッチSaをオン状態とする前に、[通常計測2]/2よりも測定電圧値コンデンサCaの充電電圧Vaの方が低くなかった場合には、その状態が少なくともスイッチSaをオンする時点まで継続されているはずである。そこで、スイッチSaのオンからコンデンサCaの時定数に応じた時間が経過して、コンデンサCaが放電し尽くすはずのタイミングを過ぎたら、スイッチS3,S4,Saをオフ状態として、コンデンサCaの充電電圧Vaを測定電圧値としてマイコン15により測定し、これを、上述した故障判定閾値=[通常計測2]/2と比較する図7のdの期間。そして、[通常計測2]/2よりも測定電圧値コンデンサCaの充電電圧Vaの方が高い場合には、スイッチSaにオン状態にロックする故障が発生していると判定する。なお、固定値を故障判定閾値に用いてスイッチS1,S2の故障検出を行う際の手順は、図8のタイミングチャートに示すように、まず、スイッチS1を一定時間オンさせる。このとき図8のeの期間、スイッチS2にオン状態にロックする故障が発生していると、フライングキャパシタC1が直流電源Bの電源電圧に応じた電荷量で充電される。また、スイッチS1を一定時間オンさせてオフ状態とした後、しばらく経過したら、次に、スイッチS2を一定時間オンさせる。このとき図8のfの期間、スイッチS1にオン状態にロックする故障が発生していると、フライングキャパシタC1が直流電源Bの電源電圧に応じた電荷量で充電される。そして、スイッチS2を一定時間オンさせてオフ状態としたあと、しばらく経過したら、次に、スイッチS3,S4を同時にオンさせ、少し遅れてスイッチSaもオンさせる。さらに、コンデンサCaの充電に十分な時間が経過したら、スイッチS3,S4,Saをオフ状態とした後、コンデンサCaの充電電圧Vaをマイコン15により測定し、これを測定電圧値として取得する図8のgの期間。ここで、取得した測定電圧値が予め定められた固定値による故障判定閾値よりも高い場合には、スイッチS1,S2の少なくともどちらかに、オン状態にロックする故障が発生していると判定する。ちなみに、スイッチS2を一定時間オンさせてオフ状態にした後に行った手順を、スイッチS1を一定時間オンさせてオフ状態にした後、しばらく経過してスイッチS2を一定時間オンさせるまでの間にも行って、スイッチS1,S2の故障判定を個別にそれぞれ行うようにしてもよい。その場合は、各スイッチS1,S2をそれぞれ一定時間オンさせる前に、コンデンサCaを放電させるためのスイッチSaの一定時間オンの手順を実行することになる。以上に説明したように、本実施形態の絶縁状態検出ユニット10によれば、スイッチS3,S4,Saの故障検出を、変動値による故障判定閾値を用いて行うものとした。即ち、フライングキャパシタC1が直流電源Bの電源電圧に応じた電荷量で充電されているときの、フライングキャパシタC1の充電電圧Vcに応じた電荷量で充電されたサンプルホールド回路13のコンデンサCaの充電電圧Va[通常計測1]、[通常計測2]を基準に、故障判定閾値を決定するものとした。このため、マイコン15による測定電圧値にノイズ成分が含まれていても、スイッチS3,S4,Saに故障が起こっている場合に、レアショート状態の検出範囲を狭めることなく、精度よく故障を検出することができる。即ち、レアショート状態を検出範囲に含めつつ、マイコン15による測定電圧に含まれるノイズ成分に対するノイズマージンを故障判定閾値中に大きく取って、故障検出を精度よく行うことができる。なお、本実施形態では、サンプルホールド回路13を用いてフライングキャパシタC1の充電電圧Vcに対応する電圧値をマイコン15で測定することから、請求項中の測定電圧値がサンプルホールド回路13のコンデンサCaの充電電圧Vaであるものとした。しかし、サンプルホールド回路13を用いずフライングキャパシタC1の放電時にその充電電圧Vcを直接マイコン15で測定する場合にも、本発明は適用可能である。その場合は、フライングキャパシタC1の充電電圧Vcが請求項中の測定電圧値に相当し、これに基づいて、故障判定閾値が決定されることになる。また、本実施形態では、請求項中の予め定められた割合が50である場合について説明したが、予め定められた割合は50以上であっても以下であってもよい。また、スイッチS3,S4の故障判定閾値とスイッチSaの故障判定閾値とで、請求項中の予め定められた割合に相当する割合を異ならせてもよい。さらに、本実施形態では、スイッチS3,S4の故障検出と共に、サンプルホールド回路13のスイッチSaの故障検出も行う場合について説明したが、サンプルホールド回路13の有無を問わず、スイッチSaの故障検出を行うための構成を省略してもよい。また、フライングキャパシタC1の充電電圧Vcの求め方は、本実施形態の中で説明した方法に限定されず任意である。"