"投影型容量タッチセンサであって、基板と、前記基板の対応する区域に結合された検出電極の組であって、該区域が、互いに対して重なっておらず、該電極の組が、該区域内の第1の縦列の高さに沿って延びる水平検出電極と、該区域内の少なくとも1つの縦列の該高さに沿って部分的に延びる垂直検出電極とを含み、該少なくとも1つの縦列が、互いに対して物理的に分離されて互いから絶縁した少なくとも2つの垂直検出電極を含み、検出電極の該組の1つにおける該垂直検出電極の少なくとも1つが、検出電極の該組の異なる1つ内の少なくとも1つの対応する垂直検出電極に電気的に接続された前記検出電極の組と、を含み、検出電極の前記組の少なくとも1つのうちの前記垂直検出電極は、第2の縦列に沿って延びて互いに対して物理的に分離され、互いに対してかつ前記対応する区域内の他の縦列における前記水平及び垂直検出電極と電気的に分離された2つの垂直検出電極、及び第3の縦列に沿って延びて互いに対して物理的に分離された少なくとも3つの垂直検出電極部分であって、該少なくとも3つの垂直検出電極部分のうちの2つが、互いに電気的に接続され、該少なくとも3つの垂直検出電極部分が、前記対応する区域内の他の縦列における前記水平及び垂直検出電極に対して電気的に分離された前記少なくとも3つの垂直検出電極部分、を更に含む、ことを特徴とするタッチセンサ。前記少なくとも2つの垂直検出電極は、前記対応する区域の上縁からある一定の距離に位置する間隙によって互いから物理的に分離され、前記対応する区域内の少なくとも1つの他の縦列における前記垂直及び水平検出電極のうちの少なくとも1つが、該区域の前記上縁から前記距離にわたって延びる、ことを特徴とする請求項1に記載のタッチセンサ。第1の区域における前記検出電極の組は、縦列において互いに対して物理的に分離された少なくとも第1及び第2の垂直検出電極を更に含み、前記第1の区域に隣接する第2の区域における前記検出電極の組は、縦列において互いに対して物理的に分離された少なくとも第3及び第4の垂直検出電極を更に含み、前記第1、第2、第3、及び第4の垂直検出電極は、互いに対して電気的に切断され、該第1及び第2の垂直検出電極は、前記第1の区域に隣接する第3の区域における対応する垂直検出電極に電気的に接続され、該第3及び第4の垂直検出電極は、前記第2の区域に隣接する第4の区域における対応する垂直検出電極に電気的に接続される、ことを更に含むことを特徴とする請求項1に記載のタッチセンサ。投影型容量タッチセンサシステムであって、基板と、前記基板の対応する区域に結合された検出電極の組であって、該区域が、互いに対して重なっておらず、該検出電極の組が、該区域内の第1の縦列の高さに沿って延びる水平検出電極と、該区域内の少なくとも1つの縦列の該高さに沿って部分的に延びる垂直検出電極とを含み、該少なくとも1つの縦列が、互いに対して物理的に分離されて互いに電気的に接続された少なくとも2つの垂直検出電極部分を含む前記検出電極の組と、前記検出電極の組からの前記基板上の少なくとも1つのタッチに関連付けられた信号レベルを検出するように構成されたコントローラであって、前記水平検出電極に関連付けられた該信号レベルが、該少なくとも1つのタッチの前記対応する区域を判断するのに使用され、前記垂直検出電極に関連付けられた該信号レベルが、該少なくとも1つのタッチの該対応する区域内の垂直位置を判断するのに使用される前記コントローラと、を含むことを特徴とするシステム。前記コントローラは、電子チャンネルを更に含み、前記水平検出電極は、該電子チャンネルの異なるものに接続されることを特徴とする請求項4に記載のタッチセンサシステム。前記区域のうちの1つ内の前記垂直検出電極のうちの少なくとも1つが、該区域のうちの別の1つ内の該垂直検出電極のうちの少なくとも1つに電気的に接続されることを特徴とする請求項4に記載のタッチセンサシステム。前記垂直位置は、前記垂直検出電極に関連付けられた前記信号レベルの比に基づいて更に判断されることを特徴とする請求項4に記載のタッチセンサシステム。タッチセンサシステムであって、複数の非重複区域を定める基板であって、各非重複区域が、第1の縦列の実質的に高さ全体に沿って延びる水平検出電極を有する非重複縦列に配置された複数の検出電極と、互いから絶縁された少なくとも2つの垂直検出電極の少なくとも第2の縦列とを有する前記基板と、前記水平検出電極と所定の区域における前記少なくとも2つの垂直検出電極の各々との間の相互インピーダンスを測定するように構成された測定回路と、変更された相互インピーダンスを有する水平検出電極及び垂直検出電極組合せを判断するように構成され、該判断された水平検出電極及び垂直電極組合せの位置に基づいてタッチ位置を判断するように更に構成された処理論理と、を含むことを特徴とするシステム。最高相互インピーダンスの判断が、変更された相互抵抗を判断することを含むことを特徴とする請求項8に記載のシステム。最高相互インピーダンスの判断が、変更された相互キャパシタンスを判断することを含むことを特徴とする請求項8に記載のシステム。タッチセンサシステムであって、複数の検出電極を各区域が有する複数の非重複区域を定める基板、を含み、前記複数の検出電極は、区域の実質的に高さ全体に沿って延びる水平検出電極、及び互いから絶縁された垂直検出電極のP個の対であって、Pが、少なくとも2であり、垂直検出電極の該P個の対が、前記区域における2P個の非重複垂直検出区画を定める前記垂直検出電極のP個の対、を有する、ことを特徴とするタッチセンサシステム。前記複数の非重複区域の各々を個々に選択し、かつタッチが各選択された区域に発生したか否かとそうである場合にタッチ位置とを判断し、それによって各区域の個々の選択が1つよりも多い同時タッチ位置の検出を可能にするように構成されたコントローラを更に含むことを特徴とする請求項11に記載のタッチセンサシステム。第1のパルスを用いて少なくとも2つの垂直検出電極のうちの第1のものを駆動し、該少なくとも2つの垂直検出電極のうちの該第1のものと前記水平検出電極との間に形成された第1の相互キャパシタンスを通じて第1の電流フローを発生させることにより、かつ同時に第2のパルスを用いて該少なくとも2つの垂直検出電極のうちの第2のものを駆動し、該少なくとも2つの垂直検出電極のうちの該第2のものと該水平検出電極の間に形成された第2の相互キャパシタンスを通じて第2の電流フローを発生させることにより、該水平検出電極と該少なくとも2つの垂直検出電極の各々との間の相互キャパシタンスを測定するように構成されたコントローラを更に含み、前記第2のパルスは、前記第1のパルスと同じ形状を有し、かつ該第1のパルスと180°位相がずれている、ことを特徴とする請求項11に記載のタッチセンサシステム。前記水平検出電極は、第1の縦列にあり、第2の縦列における少なくとも1つの垂直検出電極と第3の縦列における少なくとも1つの垂直検出電極との間の相互キャパシタンスを測定するように構成されたコントローラ、を更に含むことを特徴とする請求項11に記載のタッチセンサシステム。各対の前記垂直検出電極は、同じ縦列にはないことを特徴とする請求項11に記載のタッチセンサシステム。従って、2つ又はそれよりも多くの同時タッチを検出することができる投影型容量タッチシステムのような低価格及びより高いノイズ耐性の電極タッチセンサシステムの必要性が存在する。一実施形態では、投影型容量タッチセンサは、基板と、基板の対応する区域に結合された検出電極の組とを含み、これらの区域は、互いに対して重なっておらず、電極の組は、区域内の第1の縦列の高さに沿って延びる水平検出電極と、区域内の少なくとも1つの縦列の高さに沿って部分的に延びる垂直検出電極とを含み、この少なくとも1つの縦列は、互いに対して物理的に分離され、かつ互いから絶縁した少なくとも2つの垂直検出電極を含み、検出電極の組のうちの1つにおける垂直検出電極の少なくとも1つは、検出電極の組の異なる1つ内の少なくとも1つの対応する垂直検出電極に電気的に接続される。検出電極の組のうちの少なくとも1つのうちの垂直検出電極は、第2の縦列に沿って延びて互いに対して物理的に分離され、かつ互いに対して及び対応する区域内の他の縦列内にある水平及び垂直検出電極と電気的に分離された2つの垂直検出電極と、第3の縦列に沿って延び、かつ互いに対して物理的に分離された少なくとも3つの垂直検出電極部分とを更に含み、少なくとも3つの垂直検出電極部分のうちの2つは、互いに電気的に接続され、少なくとも3つの垂直検出電極部分は、対応する区域内の他の縦列における水平及び垂直検出電極に対して電気的に分離している。別の実施形態では、投影型容量タッチセンサシステムは、基板と、互いに対して重なっていない基板の対応する区域に結合され、区域内の第1の縦列の高さに沿って延びる水平検出電極及び互いに対して物理的に分離されかつ互いに電気的に接続された少なくとも2つの垂直検出電極部分を含む区域内の少なくとも1つの縦列の高さに沿って部分的に延びる垂直検出電極を含む検出電極の組と、検出電極の組からの基板上の少なくとも1つのタッチに関連付けられた信号レベルを検出するように構成されたコントローラとを含み、水平検出電極に関連付けられた信号レベルは、少なくとも1つのタッチの対応する区域を判断するのに使用され、垂直検出電極に関連付けられた信号レベルは、少なくとも1つのタッチの対応する区域内の垂直位置を判断するのに使用される。更に別の実施形態では、タッチセンサシステムは、複数の非重複区域を定める基板を有する。各非重複区域は、非重複縦列に配置された複数の検出電極を有する。縦列は、第1の縦列の実質的に高さ全体に沿って延びる水平検出電極と、互いから絶縁された少なくとも2つの垂直検出電極の少なくとも第2の縦列とを有する。システムは、水平検出電極と所定の区域内の少なくとも2つの垂直検出電極の各々との間の相互インピーダンスを測定するように構成された測定回路を更に有する。システムの処理論理回路は、変更された相互インピーダンスを有する水平検出電極及び垂直検出電極組合せを判断するように構成される。処理論理は、判断された水平検出電極及び垂直電極組合せの位置に基づいてタッチ位置を判断するようにも構成される。更に別の実施形態では、タッチセンサシステムは、複数の非重複区域を定める基板を有する。各非重複区域は、複数の検出電極を有する。複数の検出電極は、実質的に区域の高さ全体に沿って延びる水平検出電極を有する。電極はまた、垂直検出電極のP個の対を有する。垂直検出電極は、互いから絶縁される。Pは、少なくとも2であり、垂直検出電極のP個の対は、区域内の2P個の非重複垂直検出区画を定める。上述の概要、並びに特定の本発明の実施形態の以下の詳細説明は、添付の図面に関連して読まれるとより良く理解されると考えられる。図が様々な実施形態の機能ブロックの図を示す範囲で、機能ブロックは、ハードウエア回路間の分割を必ずしも示すというわけではない。従って、例えば、機能ブロック例えば、プロセッサ又はメモリの1つ又はそれよりも多くは、ハードウエア例えば、汎用信号プロセッサ又はランダムアクセスメモリ、ハードディスクのようなの単品内で実行することができる。同様に、プログラムは内蔵型プログラムとすることができ、オペレーティングシステム内のサブルーチンとして組み込むことができ、インストールされたソフトウエアパッケージ内の機能とすることができる。様々な実施形態は、必ずしも尺度通りに描かれたものでもなく、図面に示す構成及び手段に限定されるというわけではないことを理解すべきである。本明細書で使用されるように、単数形に説明されかつ単語a又はanがその前にある要素又は段階は、排除が明示的に説明されていない限り、上述の要素又は段階の複数形を除外しないことを理解すべきである。更に、本発明の一実施形態への言及は、説明された特徴を同じく組み込む付加的な実施形態の存在を除外すると解釈されることを意図していない。更に、明示的に反対の記載がない限り、特定の特性を有する要素又は複数の要素を含む又は有する実施形態は、その特性を有していない付加的なこのような要素を有する場合がある。図1は、本発明の特定的な実施形態によるタッチセンサシステム100内に使用することができる投影型容量タッチセンサ10の側面図を全体的に示している。単一層上の複数の電極26は基板12に取り付けられ、かつ相互接続トレース16を通じて撓みケーブル14に結合することができ、相互接続トレース16は、金属化トレース又は他の導電トレース及び導電接着剤18とすることができ、導電接着剤18は、異方性導電フィルムACFとすることができる。例えば、相互接続トレース16内の終端パッドは、異方性導電フィルムを通じて撓みケーブル14内の終端パッドに電気的に接続することができる。撓みケーブル14は、タッチセンサ電子機器又はコントローラ110にも結合され、感知されたタッチ又はセンサへのタッチに基づいて電極の駆動及び感知、並びにタッチ座標の判断を制御する。タッチ面20を形成するガラス、ポリカーボネート、又は他の適切な材料の耐久性のある透明な層は、粘着層22などにより機械的に電極26に結合することができる。タッチ面20に触れる指から生じているキャパシタンスの変化は、測定することができ、関連のタッチ座標を判断することができる。一実施形態では、遮蔽又は保護電極24は、任意的に基板12の外縁の周りで基板12の底面上に堆積され、及び/又は電極26と同じ基板12の平面又は表面に形成することができる。保護電極24を使用して、タッチセンサ10の後部に配置されたベゼルに関連付けられた金属、他の支持構造体、又は表示デバイス全てが示されているわけではないのようなタッチセンサ10の周囲の周りの物体へ浮遊キャパシタンスの影響を最小にし、かつ電極26の間の浮遊キャパシタンスの影響を最小にすることができる。代替的に、保護電極24、粘着層22、及びタッチ面20はない場合があり、検出電極26を用いて、電極26と反対側にある基板12の表面に印加されるタッチを検出することができる。一部の実施形態では、タッチセンサ10は、ディスプレイから分離している場合があり、従って、基板12及び電極26は、不透明又は半透明である場合がある。図2a及び図2bは、本発明の特定的な実施形態によるタッチセンサ50の単一層上の電極26の全体構成を示す上面68を示している。上面68は、基板12の上面とすることができる。図2bの特定的な実施例では、説明上、4つの区域70~76があるが、異なる実施形態では、区域は、4つより少ない又は多い場合があり図2aの実施例において分るような、図2aでは、区域は4つより遥かに多く及びタッチ円により図示は、複数の水平検出電極上でかつ1つよりも多い区域で行われる。簡潔さを期すために、説明を図2bに関連して行う。図2aと比較して拡張部分図とすることができる図2bで分るように、タッチセンサ50は、各々が少なくとも1つの水平検出電極及び複数の垂直検出電極を有する複数の区域70~76に分割することができる。一部の実施形態では、水平検出電極に関連付けられた信号レベルを使用し、タッチセンサ50上でタッチの水平位置を識別する。垂直検出電極に関連付けられた信号レベルは、水平検出電極の測定値に基づいて判断される水平位置に関連してタッチの垂直位置を識別するのに使用される。一実施形態では、区域70、72、74、及び76の各々は、それぞれ、1つの水平検出電極52、54、56、及び58を含み、水平検出電極52~58の各々は、以下に説明するように、異なる電子チャンネルに接続される。他の実施形態では、1つよりも多い水平検出電極52~58を単一の電子チャンネルに接続することができる。矩形ブロック60、62、64、及び66は、全体的に複数の垂直検出電極を有する区域を示し、1つのブロック60内の垂直検出電極は、他の区域ブロック62~66内の同じ全体的な位置に位置する垂直検出電極に接続される。異なるブロック60~66内の電極パターンは、同じ電極パターン又は異なる電極パターンの組合せとすることができる。複数の異なる電極パターンを本明細書に説明するが、他の電極パターンも考えられることを理解すべきである。垂直検出電極を感知するのに使用される電子チャンネルの数は、垂直検出電極の数、望ましい精度、電極パターンなどに基づくことができる。図2aでは、区域70、72、74、76...は説明されておらず、その代わりに水平検出電極52、54、56、58...が説明され、ブロック60、62、64、66...が全体的に示されていることに注意されたい。図3は、特定的な実施形態によりタッチセンサシステム100に使用することができる投影型容量タッチセンサ10を示している。タッチセンサ10は、基板12の表面上の対応する区域に結合された電極の組を有し、電極の各組は、水平検出電極及び複数の垂直検出電極を有する。図示及び説明するのに、第1、第2、及び第3の区域104、106、及び108を示している。区域104~108は、重なっておらず、かつ同一平面に位置する。図示していないが、区域104~108は、図2a及び図2bと同様に間近とすることができ、基板12のタッチ表面積の全ては、区域により包含される。タッチセンサ10は、図3に示す区域が3つよりも大きい場合があることを理解すべきである。区域104~108は矩形であり、かつタッチセンサ10の使用可能なタッチ区域の1つの寸法の全体に沿って延びるように示されているが、区域104~108は、他の形状及び寸法とすることができることを理解すべきである。基板12は、ガラス、ポリエチレンテレフタレートPETのようなポリマーフィルム、アルミニウムのような金属、又は他の適切な材料とすることができる。電極は、基板12上に形成される。電極の一部は、形状が実質的に正方形である場合があり、一方、一部の電極は、矩形である場合がある。他の形状を使用することもできることを理解すべきである。個々の電極の重なりはなく、電極の全ては、基板12の上面のような単一平面又は表面上に形成することができる。図示の実施形態では、電極の組は、区域104~108の各々内で同じ電極パターンを形成する。他の実施形態では、電極の組は、区域104~08の各々内で同じ電極パターンを形成することができず、区域104~108の部分集合内で同じ電極パターンを形成することができる。電極は、電極区域の全体を覆う導電フィルム、メッシュパターン、S字曲線パターン又は他のパターンのような不完全に区域を満たす導電フィルムとして製造することができる。例えば、電極は、密接に位置し、かつ互いに電気的に接続した導電フィルムの1つよりも多い区域で形成することができる。電極の各々は、各電極の輪郭を埋めるために微細な金属線を使用してS字曲線パターンを形成するなどにより導電材料の連続ループで形成することができる。金属線は、例えば、10マイクロメートルと25マイクロメートルの間の厚みとすることができる。別の実施形態では、電極は、スクリーン印刷法、写真法、又は他の処理を使用するなどにより望ましいパターンで堆積させることができる堆積導電コーティングで形成することができる。導電コーティングは、インジウムスズ酸化物ITO、アンチモン酸化錫ATO、フッ素ドープ酸化錫、炭素-ナノチューブ含有フィルム、銀ナノトレース含有フィルム、及び本質的に導電性のポリマーなどとすることができる。タッチセンサ10は、Y又は縦軸114及びX又は横軸116を有する。指示子の上部228、底部230、左232、及び右234は、単に参考のためにタッチセンサ10に対して示されている。第1の区域104を参照すると、電極の組は、水平検出電極118及び垂直検出電極120~148を含む。水平検出電極118は、第1の区域104内の縦列152の高さ150に沿って延びる。一部の実施形態では、縦列152の高さ150は、縦軸114に沿って第1の区域104の高さに対応し、かつタッチセンサ10の使用可能なタッチ区域の高さに対応することができる。垂直検出電極120は、別の縦列154の高さ150に沿って部分的に延びる。垂直検出電極122及び124は、縦列156の高さ150に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離されている。間隙162は、垂直検出電極122及び124を分離する。垂直検出電極126、128130及び132は、縦列158の高さ150に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離されている。垂直検出電極134、136、138、140、142、144、146、及び148は、縦列160の高さ150に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離されている。例えば、間隙及び/又は別の電極により分離されるような互いに対して物理的に分離された電極は、トレースを通じて互いに電気的に接続することができる。更に、電極は、図示の縦列構成に限定されない。例えば、縦列152は、第1の区域104内のあらゆる縦列位置に位置することができる。同様に、縦列154~160は、あらゆる順序に位置することができる。本明細書に説明するいずれの他の電極パターン内の縦列の順序も、同様にあらゆる順序に配置することができる。また、水平検出電極の縦列の数の増加、及び垂直検出電極の縦列の数の増加又は低減を行うことができる。特定的な実施形態により、第2の区域106内の電極の組は、第1の区域104内の同じパターンを形成する。電極は、区域106内の164~172で縦列内に形成される。水平検出電極174は、縦列164に沿って延び、一方、垂直検出電極は、縦列166、168、170、及び172に沿って部分的に延びる。第1の区域104内の垂直検出電極は、同じ相対的な縦列内及び実質的に縦軸114に沿った同じ位置に位置する第2及び第3の区域106及び108の垂直検出電極に対応する。例えば、区域104内の垂直検出電極120は、区域106内の垂直検出電極176に対応し、区域104内の垂直検出電極122及び124は、それぞれ、区域106内の垂直検出電極178及び180などに対応する。電極の全てに個別の品目番号を与えているわけではない。一実施形態では、1つの区域内の電極は、同じ相対的な位置に位置しない別の区域内の電極に対応する場合がある。明瞭さを期すために、図3に示す電極パターンは縮尺通りではない。例えば、区域104~108は、間の空間が狭いほど互いに接近して位置決めすることができる。一実施形態では、各縦列152~160及び164~172は、縦列がどの区域にあるかに関わらず、隣接縦列から等距離に離間させることができる。例えば、縦列158及び160は、縦列160及び164と同じ距離だけ分離させることができる。更に、電極の寸法は、図示のものと異なる場合がある。一実施形態では、第1の区域104は、横軸116に沿った幅5ミリメートルmmとすることができる。別の実施形態では、水平検出電極118の左側は、水平検出電極174の左側から5mm離間させることができる。また、縦軸114に沿った垂直検出電極134の高さは、5mmとすることができる。他の寸法を使用することもできることを理解すべきである。コントローラ110は、12個の電子チャンネルのような所定の数のキャパシタンス測定電子チャンネルを提供する。1つ又はそれよりも多くの電極は、電子チャンネルの各々に取り付けることができる。一実施形態では、水平検出電極118が、電子チャンネル190に接続される唯一の電極であり、水平検出電極174が、電子チャンネル200に接続される唯一の電極であり、第3の区域108内からの水平検出電極182が、電子チャンネル202に接続される唯一の電極である。一実施形態では、1つの区域内の垂直検出電極は、電極の異なる区域又は組内の対応する垂直検出電極及び同じ電子チャンネルに電気的に接続される。例えば、垂直検出電極120、176、及び184は、互いにかつ電子チャンネル192に電気的に接続される。垂直検出電極122、124、178、180、186、及び188は、互いにかつ電子チャンネル194に電気的に接続される。同様に、垂直検出電極126~132は、第2及び第3の区域106及び108内の対応する電極及び電子チャンネル196に電気的に接続される。垂直検出電極134~148は、第2及び第3の区域106及び108内の対応する電極及び電子チャンネル198に電気的に接続される。一実施形態では、トレース204、206、208、210、212、214、216、218、220、222、224、及び226全てのトレースが品目番号に示されているわけではないは、基板12上の電極を電気的に接続するために導線、銀フリット、堆積金属フィルム、導電インク、及び導電コーティングの不完全削除線分離などのような材料で形成することができる。トレース204~226は、個々の又は複数の電極とケーブル又はケーブルコネクタ図1に示すような間に信号及び電力を伝えることができる。一部の実施形態では、対応する電極は、基板12上で互いに電気的に接続することができ、一方、他の実施形態では、対応する電極は、撓みケーブル又はコントローラ110又はそのあらゆる組合せで互いに電気的に接続することができる。図示のように、図3の構成は、7つの電子チャンネル190~202を利用し、分離した電子チャンネルに各電極を接続するか又は設定された数のチャンネルに同じ区域内の電極を割り当てるシステムと比較すると電子チャンネルの所要の数を低減する。更に、電子ノイズの影響を低減することができ、その理由は、走査速度を上げることができ、各電子チャンネルに対して特定の期間における信号平均化を通じてノイズ抑圧に向けてより多くの個別の測定が行われるからである。他の特定的な実施形態により、異なる数の電子チャンネルを使用して、より多くの電極図示せずを含み、より多くの区域に対応し、及び/又はタッチセンサ10の大型化をもたらすことができることを理解すべきである。電子チャンネルは、コントローラ110内の分離したチップ図示せず上に設けることができる集積回路内に設けることができる。付加的なチップを付加的な電子チャンネルを供給するためにコントローラ110内に含めることができる。電極は、電極の少なくとも一部に重なる指又は他の十分に導電物体接触に容量的に結合し、コントローラ110は、基板12又は他のタッチ面例えば、図1のタッチ表面20上のタッチに関連付けられた信号レベルを検出する。例えば、タッチにより、タッチ区域下にある電極に関連付けられたキャパシタンスのレベルが上がる。生成される信号の量は、少なくともタッチの全体的なサイズ及び使用されるタッチ面の厚み及び誘電率に依存する。従って、タッチ面が厚いほど、指又は他の物体から電極118~148及び174~188まで向う電界の向きの線の横方向の広がりのために感知されるタッチ区域が広くなる可能性がある。図4は、特定的な実施形態によるタッチセンサ10上のタッチの座標位置を判断する方法を示す流れ図である。500で、コントローラ110は、各電子チャンネルに対して基線キャパシタンスレベルを確立する。これは、システム100が最初に電源を投入されてタッチがタッチセンサ10に存在しない時に達成することができる。基線キャパシタンスレベルが有効と考えられる所定の限界がある場合がある。一部の実施形態では、ITOの有限抵抗のような影響を補正するためなどに他の調節を提供することができる。図3も参照すると、502で、コントローラ110は、各電子チャンネル190~202上のキャパシタンスレベルを検出する。一実施形態では、キャパシタンスレベルは、信号振幅とすることができる。504で、コントローラ110は、同じチャンネルに対して前に検出されたキャパシタンスレベルと現在のキャパシタンスレベルを比較する。例えば、電子チャンネル190上で検出されたキャパシタンスレベルは、最初に基線とすることができる電子チャンネル190上の以前に検出されたキャパシタンスレベルと比較される。506で、コントローラ110は、差が所定の限界値未満であるか否かを判断する。所定の限界値未満であった場合に、508で、コントローラ110は、最新の検出されたキャパシタンスレベルに基づいて基線キャパシタンスレベルを更新する。一実施形態では、基線を最新の検出されたキャパシタンスレベルに等しいように変更することができ、一方、別の実施形態では、差に基づいて、巡回フィルタなどにより基線を変更することができる。本方法は、時間と共に変えることができる動的基線を生成するために508から502に戻る。506に戻って、コントローラ110が少なくとも一部の電子チャンネル190~202が所定の限界よりも大きいと判断した場合に、本方法は、510に進む。510で、コントローラ110は、502で検出された全てのキャパシタンスレベルの合計が範囲であるか否かを判断する。合計は、z座標に示すことができる。範囲は、低め又は第1の閾値、及び高め又は第2の閾値を有することができる。第1の閾値は、有効なタッチとして適格であるためのキャパシタンスの有意に十分な増加があることを確認するレベルで判断される。第2の材料を使用して、手の掌がタッチセンサ10と接触した時のような不要なタッチを拒否することができる。従って、合計又はz座標が範囲でなかった場合に、本方法は、502に戻り、基線は更新されない。合計又はz座標が範囲であった場合に、有効なタッチが検出され、512で、コントローラ110は、電子チャンネル190~202の各々に対して正味測定値を計算し、正味測定値は、最新の測定値502で検出と基線の間の差である。次に、514で、コントローラ110は、水平座標を判断又は計算する。例えば、それぞれ、水平検出電極118、174及び182に対応する電子チャンネル190、200、及び202からのキャパシタンス信号を使用する。一実施形態では、水平検出電極から信号を検出する電子チャンネルの全てにわたって加重和を計算することができる。一例としてのみ、以下の式、すなわち、X=ΣXiSi/ΣSiを用いて水平座標の加重和を計算することができ、ここで、電極番号iは、X座標X及びタッチ信号Siを有する。別の実施形態において、コントローラ110は、電子チャンネル190、200、及び202のうちのどれが最大キャパシタンス値又は信号を有するかを判断する。この測定値は、水平位置を計算するために2つの隣接水平検出電極からのキャパシタンス値に関連して使用される。例えば、電子チャンネル200水平検出電極174に対応するが最大キャパシタンス値を有し、電子チャンネル190及び202のキャパシタンス値が実質的に同じことである場合に、コントローラ110は、タッチが水平検出電極174に中心があると判断することができる。電子チャンネル190のキャパシタンス値が、電子チャンネル200未満であるが電子チャンネル202を上回った場合に、タッチは、水平検出電極118及び174の間に、かつ水平検出電極174に向けて接近して位置決めすることができる。コントローラ110は、次に、垂直座標位置を判断する。図3に示す電極パターンは、単一の電子チャンネルが各縦列内の垂直検出電極に接続される実施形態を示している。以下で更に説明するように、1つよりも多い電子チャンネルは、各縦列内の垂直検出電極の異なる1つに接続することができる。516で、コントローラ110は、いくつの電子チャンネルが特定的な実施形態により縦列当たりに接続されるかを判断するように構成することができる代替的に、他の実施形態に対して、コントローラ110は、、いくつの電子チャンネルが縦列当たりに接続されるか既知である。縦列当たりに1つの電子チャンネルがある場合に、本方法は、段階518に進むか、又は縦列当たりに2つの電子チャンネルがある場合に、本方法は、段階530に進む。518で、コントローラ110は、垂直検出電極に接続した電子チャンネルの正味測定値を閾値と比較する。520で、正味測定値が閾値を上回った場合に、コントローラ110は、チャンネルに2進数の1を割り当てることができる。正味測定値が閾値未満であった場合に、コントローラ110は、チャンネルに2進数の0を割り当てることができる。522で、コントローラ110は、520で割り当てられた2進コードに基づいて垂直座標位置を判断する。例えば、2進コード236は、図3ではタッチセンサ10の左側寄りに示されており、第1の区域104に関して以下に説明する。2進コード236内の縦列に対応する電子チャンネル190~198は、2進コード236より上方に示される。10000の2進コードが生成された場合に、一番左の1は、水平検出電極が閾値を上回ったことを示している。図示の実施例では、一番左の1は、区域104の縦列152及び電極118からの信号を検出する電子チャンネル190に対応する。電子チャンネル200及び202、従って、水平検出電極174及び182に関連付けられた2進コード及び/又は2進数の値の各々は示されていない。4つのゼロ0000は、閾値より上方の信号を生成しなかった垂直検出電極120~148の4つの縦列に対応する。図3では、区域104、106、及び108の各々内の垂直検出電極の対応する縦列は互いに結びつけられ、従って、閾値より上方の信号を生成したタッチセンサ10上の垂直検出電極はない。例えば、電子チャンネル192が0の2進値を割り当てられた場合に、タッチは、タッチセンサ10の上半分に位置する。電子チャンネル194が0の2進値を割り当てられた場合に、タッチは、タッチセンサ10の上の区域又は下側中間の区域に位置する。電子チャンネル196に割り当てられた2進コードは、タッチがタッチセンサ10の垂直1/8位のどの組に位置するかを識別し、電子チャンネル198に割り当てられた2進コードは、タッチがタッチセンサ10の垂直1/16位のどの組に位置するかを識別する。すなわち、チャンネル196及び198は、タッチが電極を有する区域上か又は電極がないブランクの区域上にあるかを判断し、垂直位置は、全ての垂直のチャンネル情報を結合することによって判断することができる。2進コードが10000である実施例では、1は、タッチセンサ10の上で水平位置を識別するものであり、垂直位置は、タッチセンサ10の上部1/16位内にある。従って、図4に戻ると、524で、コントローラ110は、2進コード236に基づいてタッチの座標位置を判断する。垂直検出電極134の一部を覆うタッチセンサ10上のごく僅かに弱いタッチが、10001の2進コードが生成する場合がある。従って、コントローラ110により判断される2進コードは、2進コードを生成するタッチの垂直位置と平行に又はそれに沿って図3に示されている。上部228、底部230、左232、及び右234と同様に、図を指す時に、タッチセンサ10に対して使用される上半分、下半分、及び上部1/4などのような説明が便宜上使用され、システム100とのタッチセンサ10の使用及び/又は実施は、そのように限定されたものではないことを理解すべきである。第1の区域104の電極パターンの実施例では、16個の個別の2進コードは、電子チャンネル190~198で上で検出された信号レベルに基づいて生成することができる。換言すると、タッチは、16個の垂直検出区画の1つにおけるものであると判断することができる。一般的に、所定の区域内の垂直検出区画の数は、垂直検出電極の縦列の数に基づくことができる。例えば、垂直検出電極の4つの隣接縦列により、16個の垂直検出区画の1つ内のタッチの検出が容易にされる。概説すると、タッチを検出することができる垂直検出区画の数は2Nに等しく、ここで、Nは、隣接垂直電極の縦列の数に等しい。所定の区域内の垂直電極は、特定的な実施形態では実質的に水平電極と平行であるが、他の実施形態は、このような垂直電極を水平電極から角度量だけオフセットさせることができ、かつ本発明の範囲であることには変わりはない。特定の垂直検出電極例えば、図5内の6とラベル付けされるようなは、電気的に接続された1つよりも多い電極又は電極部分例えば、図5では308及び312とラベル付けされるようなで製造することができることに注意すべきである。以下でより詳細に説明するように、他の実施形態では、垂直検出区画の数は、垂直検出電極のいくつかの対に基づくことができる。例えば、図5は垂直検出電極の4つの対、すなわち、8,7とラベル付けされる垂直検出電極の対、6、5とラベル付けされる垂直検出電極の対、4、3とラベル付けされる垂直検出電極の対、及び2、1とラベル付けされる垂直検出電極の対を示している。この場合に、垂直検出電極の4つの対により区域内で16個の垂直検出区画が得られる。概説すると、タッチを検出することができる垂直検出区画の数は、2Pに等しく、ここで、Pは、所定の区域内にある垂直直検出電極の対の数に等しい。以下で更に説明するように、比率及び/又は補間を使用すると、より細かい垂直の精度をもたらすことができる。図5は、特定的な実施形態により図3の電極パターンと比較して区域300内により多くの数の電極を有する電極パターンを示している。1つの区域300のみが示されているが、タッチセンサは、電極パターンがタッチセンサにわたって繰り返された多くの類似の区域を有することができる。図3及び図4に関して説明するように、水平検出電極からの信号を使用してタッチセンサ上のタッチの水平位置を識別し、垂直検出電極からの信号を使用してタッチセンサ上のタッチの垂直位置を識別する。2進コード396も示されている。この実施形態では、垂直検出電極に対しては縦列当たりに2つの電子チャンネルがある。水平検出電極302は、縦列364の高さ374に沿って延びる。垂直検出電極304及び306は、実質的に等しくサイズ設定され、縦列366の高さ374に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離されている。間隙376により、垂直検出電極304及び306が分離される。垂直検出電極308~314は、実質的に等しくサイズ設定され、縦列368の高さ374に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離され、すなわち、間隙品目番号で図示せずにより分離される。垂直検出電極316~330は、実質的に等しくサイズ設定されて、縦列370の高さ374に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離されており、かつ垂直検出電極332~362は、実質的に等しくサイズ設定されて、縦列372の高さ374に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離されている。他の実施形態では、各区域内に含むことができるのは4つの縦列366~372よりも多いか又は少ない場合があり、かつ異なる区域は、垂直検出電極の異なる数の縦列を有する場合があることを理解すべきである。水平検出電極302は、コントローラ110の電子チャンネル378に電気的に接続されている図3に示すように。垂直検出電極304及び306は、それぞれ、電子チャンネル380及び382に接続される。垂直検出電極308及び312は、電子チャンネル384に接続され、一方、垂直検出電極310及び314は、電子チャンネル386に接続される。垂直検出電極316、320、324、及び328は、電子チャンネル388に接続される。垂直検出電極318、322、326、及び330は、電子チャンネル390に接続される。垂直検出電極332、336、340、344、348、352、356、及び360は、電子チャンネル392に接続される。垂直検出電極334、338、342、346、350、354、358、及び362は、電子チャンネル394に接続される。従って、縦列内の2つの電子チャンネルとの接続は、隣接垂直検出電極の間で交替する。図3に関して説明するように、水平検出電極302は、電子チャンネル378に接続した唯一の電極とすることができる。タッチセンサ上の他の水平検出電極の各々は、固有の電子チャンネルに接続することができる。垂直検出電極304~362は、必要とされる電子チャンネルの数を最小にするために、他の区域図示せず内の対応する電極に電気的に接続することができる。図5の実施例では、9つの電子チャンネル378~394が示されており、各付加的な区域により、結果として水平検出電極に接続される付加的な電子チャンネルが得られることになる。図4に戻ると、516で、コントローラ110は、図5に示す実施形態に対して縦列366~372の少なくとも1つ内の垂直検出電極が2つの電子チャンネルに接続されたと判断するか又はその他の方法で見出すように構成され、本方法は、516から530に進む。一実施形態では、縦列366372の1つ又はそれよりも多く内の垂直検出電極が、図3に関して説明したような単一の電子チャンネルに接続されていた場合に、518~524を適用可能なチャンネルに使用することができる。530で、コントローラ110は、同じ縦列に位置する垂直検出電極からの信号を検出する2つのチャンネルの正味測定値を互いと比較する。垂直検出電極に対して、最上位ビットMSBは、垂直検出電極304及び306の測定値により判断され、最下位ビットLSBは、垂直検出電極332、334、336、338、340、342、344、346、348、350、352、354、356、358、360、及び362の測定値により判断される。532で垂直検出電極により判断された2進コード396この実施例ではMSBからLSBまでの4桁コードは、タッチがタッチセンサ上でどこに垂直に位置するかを判断するために534でコントローラ110によって使用され、一方、水平検出電極は、タッチがタッチセンサ上のどこで水平に位置するかを判断するのに使用される例えば、水平検出電極302には、信号が関連の水平座標に対してタッチを示すと検出された場合に、段階514で1の2進値が割り当てられる。従って、タッチがタッチセンサの上半分に位置する場合に、電子チャンネル380の正味測定値は、電子チャンネル382の正味測定値より大きい。タッチがタッチセンサの下半分に位置する場合に、電子チャンネル382の正味測定値は、電子チャンネル380の正味測定値より大きい。電子チャンネル380の正味測定値がより大きく、タッチセンサの上半分に位置するタッチを示す時に、電子チャンネル380及び382に関連付けられた2進コード396の縦列366内の2進値に0が割り当てられ、電子チャンネル382の正味測定の方が大きく、タッチがタッチセンサの下半分に位置する場合、2進値は1である。同様に、縦列368内の最上部垂直検出電極308及び中間-下側垂直検出電極312に接続された電子チャンネル384がタッチを検出した場合従って、電子チャンネル386より大きな正味測定値を有する、2進コード396内の縦列368内の2進値には0が割り当てられる。中間-上側垂直検出電極310及び最下部垂直検出電極314に接続した電子チャンネル386がタッチを検出した場合例えば、電子チャンネル386の正味測定値が、電子チャンネル384の正味測定値より大きい、縦列内の2進値368には、1が割り当てられる。2進コード396内の右寄りの次の縦列縦列370は、2つの電子チャンネル388及び390上で正味測定値により判断され、2つの電子チャンネル388及び390は、タッチがタッチセンサの垂直1/8位のどの組に位置するかを判断する。図示の実施例では、電子チャンネル388が最高正味測定値を有する時に、0の2進値が縦列370に割り当てられ、電子チャンネル390が最高の正味測定値を有する時に、1の2進値が割り当てられる。LSBである2進コード396内の一番右の縦列372は、2つの電子チャンネル392及び394上の正味測定値により判断され、2つの電子チャンネル392及び394は、タッチがタッチセンサの垂直1/16位のどの組に位置するかを判断する。この実施例では、電子チャンネル392が最高の正味測定値を有する時に0の2進値が割り当てられ、電子チャンネル394が最高の正味測定値を有する時に1の2進値が割り当てられる。従って、図4に戻ると、534で、コントローラ110は、2進コードに基づいてタッチの垂直座標位置を判断する。536で、コントローラ110は、以前に判断された水平及び垂直座標位置に基づいてタッチの座標位置を判断する。従って、タッチの個別の位置は、2進コード396に基づいて迅速に識別することができる。水平及び垂直座標位置は、あらゆる順序で判断することができ、又は同時に判断される場合があることを理解すべきである。更に別の比較、比率、及び/又は補間を用いて、垂直座標位置を更に精緻化することができる。例えば、上述のように、比較を行うことに加えて電子チャンネル正味測定値間の比率を計算することにより以下で更に説明するように、16個の個別の垂直の位置を超えてより細かい解像度をもたらすことができる。例えば、垂直検出電極からの信号の比率を用いて、2つの個別の垂直位置間により正確な垂直位置を補間することができる。更に、タッチのサイズを判断することができる。5mmのような最小サイズを予め定めることができ、サイズが5mm未満であると判断されたタッチは排除させる。これは、例えば、タッチセンサ上の互いに隣接する電極の5つの縦列にタッチを示すキャパシタンスレベルを生成するように求めることによって判断することができる。他の最小及び/又は最大寸法を使用することができる。解像度を微調節する比率を決める時に、タッチのサイズを考慮することができる。例えば、比率補正曲線をタッチのサイズに基づいて選択することができる。複数の比率補正曲線を使用することができる。更に、あらゆる数のフィルタ、処理、及びオフセット補正などを適用することができる。例えば、少なくとも3回の連続走査に対してタッチが報告された場合に限り、タッチを検証することができる。他の実施形態では、区域300内に含めることができる電極が小さいほど及び/又は電極の縦列が多いほど精度が上がる。更に、垂直解像度は、1つのみ又は複数のチャンネルを追加することによって倍加するか又はその他の方法で上げることができる。図6aは、別の特定的な実施形態による図5の電極パターンと同数の電子チャンネルを利用する電極パターンを示している。しかし、電極の寸法、位置、及び数量は異なる。1つの区域400のみが示されているが、タッチセンサは、図示のパターンがタッチセンサにわたって繰り返された多くの類似の区域を有することができる。ここでもまた、水平検出電極402及び他の水平検出電極図示せずからの信号を使用してタッチセンサ上のタッチの水平位置を識別することができる。垂直検出電極404~440及び他の垂直検出電極図示せずからの信号を使用してタッチセンサ上のタッチの垂直位置を識別することができる。水平検出電極402は、縦列462の高さ460に沿って延びる。垂直検出電極404及び406は、縦列464の高さ460に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離されている。間隙472により垂直検出電極404及び406が分離される。垂直検出電極408~412は、縦列466の高さ460に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離され、すなわち、間隙474及び476により分離される。垂直検出電極414~422は、縦列468の高さ460に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離され、すなわち、間隙品目番号で図示せずにより分離される。垂直検出電極424~440は、縦列470の高さ460に沿って部分的に延び、かつ互いに対して物理的に分離され、すなわち、ここでもまた間隙により分離される。上述のように、縦列462470は、区域400内にあらゆる順序に配置することができる。間隙472、474、及び476、並びに品目番号に示されていない他の間隙は、互いに対して異なる区域400の上部478から隔てて位置する。図6aで分るように、様々な垂直検出電極を互いから垂直に分離する間隙が15個あり、これらの間隙は、上部478からの異なる距離にある。例えば、間隙472、474、及び476は、上部478からそれぞれ距離D1、D2、及びD3に位置する。間隙472に関し、他の縦列466、468、及び470内の垂直検出電極410、418、及び432は、それぞれ、距離D1を通って延びる。間隙472~476、並びに電極パターン内の他の間隙をオフセットさせることにより、1つの個別の垂直位置の2進コード及び隣接垂直位置の2進コードは、1ビットのみだけ異なる。1ビットのみが位置間の状態を変化させせるので、状態変化中に発生する可能性がある特定のデータエラーが防止され、従って、データは、信頼性がより高いものである。例えば、図5では、タッチが区域300の中間よりも僅かに上方に位置して僅かに下方に移動した場合に、2進コードは、10111から11000に変化する。この場合に、全ての垂直4ビットは、誤った垂直の位置の報告を回避するために同時に変化すべきである。しかし、図6aにおいて、指が区域400を通じて下方に移動した時に、一度に1つの電子チャンネルのみが状態又は2進値を変えることになる。図5の電極パターンの場合と同様に、水平検出電極402は、コントローラ110図3に示すようなの電子チャンネル442に電気的に接続することができる。垂直検出電極404及び406は、それぞれ、電子チャンネル4440及び446に接続される。垂直検出電極408及び412は、電子チャンネル448に接続され、一方、垂直検出電極410は、電子チャンネル450に接続される。従って、各縦列は、チャンネルの各々に接続した等しい数の電極を有することができるわけではない。垂直検出電極414、418、及び422は、電子チャンネル452に接続され、電子チャンネル454に接続された垂直検出電極416及び420で交替する。垂直検出電極424、428、432、436、及び440は、電子チャンネル456に接続され、電子チャンネル458に接続された垂直検出電極426、430、434、及び438で交替する。ここでもまた、水平検出電極402は、電子チャンネル442に接続した唯一の電極とすることができる。垂直検出電極404~440は、必要とされる電子チャンネルの数を最小にするために、他の区域図示せず内の対応する電極に電気的に接続することができる。例示的な2進コード480は、区域400の隣に示されている。垂直検出電極404に関連付けられた電子チャンネル444が垂直検出電極406に関連付けられた電子チャンネル446より大きな信号を有する場合に、タッチは、区域400の上部半分にあり、0の2進値を2進コード480の対応する縦列に割り当てることができる。電子チャンネル446が電子チャンネル444より大きな信号を有する場合に、タッチは、区域400の下半分にあり、1の2進値を割り当てることができる。タッチの個別の垂直の位置は、2進コード480、比率及び/又は同じ縦列縦列464内の隣接電極404及び406のような内の隣接電極の間の比較、隣接縦列の電極の間の比較、補間、及び/又は更に別の処理に基づいて迅速に識別することができる。他の実施形態では、より小さい電極、付加的な電子チャンネル、及び/又は電極のより多くの縦列を区域400内に含めて精度を上げることができる。例えば、図4に関して上述したように、比較を行うことに加えて特定の電子チャンネル正味測定値間の比率を計算することにより、16個の個別の垂直の位置を超えてより細かい解像度をもたらすことができる。例えば、図6aの電極パターンを参照すると、1つの縦列内の2つの信号間の比率は、別の縦列内の2つの信号間の比率と共に使用することができる。図6bは、特定的な実施形態によるY軸に沿って移動する区域400の上部478から底部のようにタッチの関数としての8つの垂直検出電極の全ての信号、並びに4つの縦列464、466、468及び470の各々内の2つの信号間の比率を示している。数字1~8は、図6aの垂直検出電極404~440数字1~8ででも示されているに関連付けられた信号を示すために使用される。縦列464、466、468、及び470は、図6aに関して上述したように図の左側に示されている。垂直位置の各々の2進コードは、図の上部に示されている。2進コードの水平ビットが除外され、かつ矢印482は垂直方向を示すことに注意すべきである。垂直の位置A、B、及びCを示す線も示されている。各縦列464~470に対して示されている2つの信号は、能動タッチが各2進コードに対応する各垂直位置で存在することを反映する。すなわち、信号は、振幅又は山及び谷を有する。タッチセンサの1つの区域にわたってかつ区域の高さ全体460に沿って能動タッチを反映する信号が本明細書に説明しやすいように示されているが、タッチセンサの適用を反映していない。例えば、図示のような信号1~8の信号振幅を捕捉して区域400の上部478から底部にドラッグされた指タッチを反映することができる。タッチが特定の垂直/水平位置で存在しない時に、信号の振幅は、ゼロ又は他の定数又は最小限度に変化する値である。縦列内の信号間の比率を使用して個別の垂直位置の範囲のより正確な垂直位置を補間することができる。信号の通過点は、縦列内の電極間の間隙に対応する。例えば、信号7と8の通過点484は、間隙472に対応し、信号5と6間の通過点486は、間隙474に対応する。例えば、2進コード0111に対応する最初に判断された個別の垂直位置488は、個別の垂直位置の範囲の又は垂直位置A及びB間の垂直位置に更に精緻化することができる。換言すると、補間に使用される信号比率は、判断された個別の垂直位置の垂直な両側の電極間の間隙を含む2つの縦列内の信号から判断される。この実施例では、縦列470は、個別の垂直位置488の上部で電極1及び2間の間隙を含み、間隙は、垂直位置Aで信号1及び2の交差に対応する。同様に、縦列468は、個別の垂直位置488の底部で電極3及び4間の間隙を含み、間隙は、垂直位置Bで信号3及び4の交差に対応する。垂直位置Aで、縦列470の信号1及び2の勾配は、比較的急であり、従って、信号1及び2の比率曲線は、この垂直位置の近くでも急である。この実施例では、信号1及び2は、縦列470内の電極が図示の実施形態ではサイズで最も小さいので最初に検査することができる。垂直位置Aでの信号1及び2間の比率は、より正確な垂直位置を判断するのに十分な情報を提供するのに十分に変化中である場合がある。しかし、垂直位置Bの近くでは、信号1及び2の勾配は、比較的平坦であり、従って、信号1及び2の比率曲線は、この垂直位置付近でも平坦である。信号1及び2の比率は、この比率に単に基づいてより正確な垂直位置を正確に判断するほど十分に垂直位置B付近で変化中ではない。しかし、縦列468の信号3及び4間の比率は、垂直位置Bで比較的有意に変化中であり、従って、この比率は、より正確な垂直位置を補間するために信号1及び2の比率と組み合わせて使用することができる。例えば、2つの比率は、最初に判断された個別の垂直位置例えば、図4の方法を使用して判断することができるようなと隣接位置間の補間された垂直位置を計算するのに使用されるマグニチュードを判断するために分割することができる。例えば、2進コード0111に対応する最初に計算された個別の垂直位置488は、2つの比率に対応し、すなわち、信号1及び2の比率間、及び信号3及び4の比率間のマグニチュードに基づいて垂直に調節することができる。垂直位置C又は2進コード0100及び1100に関連付けられた個別の垂直位置の間に存在する垂直中心線では、縦列468及び470の信号1、2、3、及び4の勾配、従って、関連の比率曲線は、全て比較的平坦である。従って、これらの2つの縦列だけの間には、垂直位置Cの近くで垂直位置を正確に判断するのに十分な情報がない。しかし、縦列464の信号7及び8間の比率は、垂直位置Cで有意に変化中であるので、この比率を信号1及び2間の比率と組み合わせて用いて、より正確な垂直位置を計算することができる。一実施形態では、単独で又は別の比率と組み合わせて信号1及び2の比率を使用することが望ましい場合がある。信号の第2の組が異なる区域内にある場合があることを理解すべきである。一部の実施形態では、補間に使用する信号の組を2進コードに基づいて予め決めることができる。図示していないが、タッチは、1つよりも多い区域にわたる場合がある。一部の実施形態では、信号1及び2又は1つよりも多い区域からの信号の他の組を用いてタッチ位置を補間することができる。補間の使用は、望ましい解像度に依存する場合があることを理解すべきである。例えば、LSBに関連付けられた縦列内の最小の電極のサイズにより望ましい垂直の解像度が得られる場合は補間を用いることができない。図7は、別の特定的な実施形態による別の電極パターンを示している。区域600は、縦列602、604、606、608、及び610を含む。縦列602~608内の電極は、図5に示すのと同じ構成であり、従って、改めて説明はしない。しかし、縦列610内の垂直検出電極は、三角形であり、1に示されている垂直検出電極は、全て1つの電子チャンネルに接続され、2に示されている垂直検出電極は、全て別の電子チャンネルに接続される。縦列604~608内の垂直検出電極は、タッチがどの垂直1/8位にあるかを判断する。縦列610内の三角形電極1及び2の対の測定値間の比率を用いて、その対に関連付けられた個別の垂直1/8位内のより正確な位置を補間することができる。すなわち、縦列608内の信号が本質的に全て1つの電極例えば、電極3内であるようにタッチが垂直に位置する場合に、電極1及び2内の縦列610内の信号の比率により、縦列608内の触れた電極3の長さ内のタッチの垂直位置の細かい測定値が得られる。これとは対照的に、縦列608内の信号が2つの電極3とラベル付けされた一方及び4とラベル付けされた他方間に共有された時に、縦列610内の信号のこの比率は、タッチの垂直位置の細かい測定値が得られるように使用され、又は縦列610から信号は、使用することができない。従って、他の実施形態では、図7と同様に、様々な特定的な実施形態による2進値の電極パターンを別の電極パターンと共に利用することができる縦列610に見られるように。図8は、特定的な実施形態による1つよりも多い水平検出電極が同じ電子チャンネルに接続することができるタッチセンサ650を示している。図2a及び図2bに関して上述したように、矩形ブロック652、654、656、658、660、662、664、666、668、及び670は、一般的に、上述の電極パターン又は異なる電極パターンの1つ又はそれよりも多くに配置することができる垂直検出電極を示している。1つのブロック652内の垂直検出電極は、上述のように、他のブロック654~670内の対応する垂直検出電極に接続することができる。可能な電子チャンネル割当ては、タッチセンサ650の関連の水平検出電極の上方に示されている。一実施形態では、それぞれ、水平検出電極672、674、676、及び678は、電子チャンネル9、10、11、及び12に割り当てられる。従って、区域704、706、708、及び710内の電極の組の各々は、1つの水平検出電極及び複数の垂直検出電極を有する。タッチセンサ650のサイズは、水平方向に区域の数を増大させることにより、かつ同じ電子チャンネルに関して1つよりも多い水平検出電極を感知することにより、必要な電子チャンネルの数を増大させる又は必要な付加的な電子チャンネルの数を最小にすることなく増大させることができる。区域712~722内の電極の組の各々は、2つの水平検出電極及び複数の垂直検出電極を有する。例えば、区域712内の水平検出電極680及び682は、それぞれ、電子チャンネル9及び10により感知される。区域714内の水平検出電極684及び686は、それぞれ、電子チャンネル9及び11により感知される。区域716は、それぞれ、電子チャンネル9及び12により感知された2つの水平検出電極688及び690を有し、区域718は、それぞれ、電子チャンネル10及び11により感知された水平検出電極692及び694を有し、区域720は、それぞれ、電子チャンネル10及び12により感知された水平検出電極696及び698を有し、区域722は、それぞれ、電子チャンネル11及び12により感知された水平検出電極700及び702を有する。区域は、1つ又は2つの水平検出電極を用いて示されているが、1つ又はそれよりも多くの区域は、2つよりも多い水平検出電極を有する場合がある。区域712~722内の2つの水平検出電極は、互いに対して隣接するように示されている。すなわち、水平検出電極680及び682は隣接し、水平検出電極684及び686は隣接する等々である。他の実施形態では、区域内の2つの水平検出電極は、互いに隣接する必要はない。例えば、水平検出電極の1つは、垂直検出電極の縦列に対して散在する場合があり、又は垂直検出電極の縦列の群の片側又は両側に位置決めされる場合がある。更に、図8に示すもの以外の異なる電子チャンネル割当てを用いることができることを理解すべきである。図9は、特定的な実施形態により2つの同時タッチを検出することができるタッチセンサ750を示している。電極パターンは、図5に説明したものと類似のものである。4つの区域752、754、756、及び758の各々は、それぞれ、1つの水平検出電極760、762、764、及び766を含む。一実施形態では、水平検出電極760、762、764、及び766は、それぞれ、異なる電子チャンネル9、10、11、及び12に接続される。タッチセンサ750は、上部768、底部770、左772、及び右774の名称に関して説明するが、それに限定されない。異なる区域752、754、756、及び758内の垂直検出電極は、図示されているのと同じ電子チャンネルに接続される。例えば、6に示されている垂直検出電極は、全て、同じチャンネルに接続される。タッチセンサ750の左側の上半分内の垂直検出電極は、電子チャンネル8に接続され、タッチセンサ750の左側の下半分内の2つの垂直検出電極は、電子チャンネル7に接続される。しかし、タッチセンサ750の右の側の上半分内の区域756及び758内の2つの対応する垂直検出電極は、電子チャンネル8ではなく、電子チャンネル13に接続される。同様に、タッチセンサ750の右側の下半分内の区域756及び758内の2つの対応する垂直検出電極は、電子チャンネル7ではなく、電子チャンネル14に接続される。従って、1つのタッチは、タッチセンサの半分右上の第2のタッチと同時に、タッチセンサの左半分上で検出することができる。タッチセンサの右半分上のタッチの水平座標は、電子チャンネル11及び12に接続した水平検出電極に関連付けられた比較信号レベルにより計算することができる。同様に、タッチセンサの左半分上の同時タッチの水平座標は、電子チャンネル9及び10に接続した水平検出電極に関連付けられた比較信号レベルにより計算することができる。この特定的な実施例では、各タッチの垂直位置は、タッチセンサの上半分又は下半分だけに解像することができる。電子チャンネル13及び14に接続した垂直検出電極は、タッチセンサの左半分上の垂直電極から電気的に切断されたタッチセンサの右半分上の唯一の垂直電極である。従って、電子チャンネル13及び14は、タッチセンサの右半分上のタッチの垂直位置を計算するのに使用される唯一の垂直電極である。同様に、電子チャンネル7及び8は、タッチセンサの左半分上のタッチの垂直位置を計算するのに使用される唯一の垂直電極である。図示していないが、他の垂直電極は、他の区域内の2つの同時タッチの更に別の垂直の解像度が得られるように、又は2つよりも多い同時タッチを検出するために異なる電子チャンネルに接続することができる。例えば、別々の区域752~758内の2つのタッチに関連付けられた垂直座標を最大に解像するために、タッチセンサの各区域内の垂直検出電極を他の区域内の垂直検出電極から電気的に切り離すことができる。換言すると、一部の実施形態により、区域の縦列内の垂直検出電極は、同じ区域内の電子チャンネルのみを共有することができる。図10は、別の特定的な実施形態による撓みケーブル832に相互接続区域802で接続されるタッチセンサ800を示している。タッチセンサ800は、図6aに説明した電極パターンと類似の電極パターンを有する区域804、806、808、810、812、814、816、818、820、及び822を有し、電極間の間隙は、タッチセンサ800の上部828から異なる距離に位置する。遮蔽又は保護電極824は、タッチセンサ800の周囲の周りに延びるが、上述のように電極に対して基板の反対側に位置することができる。相互接続区域802は、タッチセンサ800の下縁830の近くに位置する複数の相互接続タッチ拒否電極826を含む。相互接続タッチ拒否電極の全てが、品目番号に示されているわけではない。タッチが相互接続タッチ拒否電極826のいずれかにより検出される場合に、タッチを拒否することができる。例えば、相互接続タッチ拒否電極826がないと、タッチセンサ800の近くの相互接続区域802上のタッチにより、誤ったタッチが、一部の電子チャンネルにより検出されるキャパシタンスの増加に基づいて検出される場合がある。相互接続タッチ拒否電極826は、同じ電子チャンネルに接続することができ、又は相互接続タッチ拒否電極826の一部を異なる電子チャンネルに接続することができる。撓みケーブル832は、電極とチャンネル間に必要とされる相互接続に適合する2つ又はそれよりも多くの層とすることができる。更に、バイア図示しないを使用することができる。他の実施形態では、ホバリング及び/又は力を判断することができる。例えば、コントローラ110は、z値を計算することができ、z値は、タッチの区域又は指がタッチ面20より上方に代替的に、そこから離れる方向にある距離に対応することができる。例えば、指がタッチ面20に近づく時に、タッチに対応する信号信号1~8のようなは、マグニチュードが増大する。計算されたz値を使用し、指がセンサ上をホバリングしているか、又はセンサと物理的接触しているかを判断することができる。タッチ座標は、本明細書で上述のものと同様に計算される。z値は、水平検出電極上のみの信号又は水平で垂直検出電極組合せを合計することによって計算することができる。例えば、z値は、3つの水平検出電極全ての水平電極及び2つの隣接水平電極の最大信号を有する水平検出電極の信号の合計とすることができる。タッチ中にセンサに印加された力は、別の特定的な実施形態により、この力の関数であるz値を計算することによって判断することができる。力がセンサに印加された時に、基板は変形し、電極は、下にある接地面に近づき、タッチ位置の近くの電極だけではなく全ての電極上の信号のマグニチュードが事実上増加する。このz値は、水平電極の全ての信号の合計とすることができる。ホバリング及び力検出の組合せを用いて、別の実施形態により、それぞれ、ディスプレイ上のアイコンを励起及び選択することができる。例えば、指がタッチ面20より上方0.5インチ又はそれ未満のようなキーボード上のアイコン又は文字の上での距離を行き来している場合に、文字を強調表示することができる。コントローラ110が、所定の量の力が同じタッチ区域に対応するタッチ面20に印加されたと判断した時に、アイコン又は文字を選択又は起動することができる。上述の単層電極パターンをタッチセンサとして利用し、上述の実施形態により自己キャパシタンスを測定し、及び/又は更に以下に説明する実施形態により相互キャパシタンスを測定することができる。図11は、特定的な実施形態によりタッチ位置を判断するために上述の電極パターンの1つ又はそれよりも多くに関連して利用することができる所定の検出電極区域に結合された例示的な回路の概念上の回路図である。以下でより詳細に説明するように、電極の対間の相互キャパシタンスは、発振信号で対のうちの1つの電極を駆動して積算器回路のような感知回路を通じて対の他のメンバ上の得られる信号を感知することによって測定される。感知回路の出力は、電極の間の相互キャパシタンスの尺度である。指が駆動電極及び感知電極を接続する電界の向きの線の数を低減するので、電極の近くのタッチにより電極間の相互キャパシタンスの低減が発生する。ある一定の実施形態を開示したが、他の変形が存在する。例えば、全ての駆動電極が同時に必ずしも駆動されるというわけではないので、一部の実施形態では、非駆動電極は、接地されるか又は浮動状態に置かれる場合がある。更に、電極の駆動及び感知が逆転される場合がある。すなわち、代替的に、感知された電極が駆動される場合があり、駆動された電極が感知される場合がある。例えば、例示的な回路図1100では、所定の区域内の垂直電極は駆動中であり、その区域のための水平電極は、タッチから生じる相互キャパシタンスの変化を測定するのに使用される。特定の垂直電極縦列において、1つのチャンネルの垂直電極は、特定的な実施形態により、第1の位相を有するパルスで駆動され、第2のチャンネルの他の垂直電極は、第1の位相の逆相を有するパルスで駆動される。他の実施形態では、区域内の水平電極が駆動される場合があり、区域内の垂直電極は、タッチから生じる相互キャパシタンス変化を測定するのに使用される。各区域は、次に、同様に駆動され、キャパシタンス測定は、センサにわたって連続して行われる。更に、類似の回路を各感知区域すなわち、水平及び垂直検出電極の各群に利用することができる。追加的又は代替的に、マルチプレクサなどを利用し、回路における冗長性を低減するように区域間で本明細書に説明する回路を切り換えることができる。図11を参照すると、回路図1100は、パルス発生器1105、一群のパルスドライバ1110a~d、電極回路均等物1115、積算器1120、アナログ/デジタル変換器ADC1125、プロセッサ1130、及びメモリ1135を含む。パルス発生器は、50の負荷サイクルで、例えば、方形波パルスのような周期的な波形を生成するように構成される。サイン波、のこぎり歯、三角形、又は異なる形状を有するもののような波形の他の実施例を生成することができ、負荷サイクルは、異なる場合がある。パルスの周波数は、数百kHz例えば、200kHz台とすることができる。一部の実施形態では、パルス発生器の出力は、周波数及び負荷サイクルが変わることがあるという点で周期的な波形ではない場合がある。例えば、電力を節約するために、周波数は、低電力作動モード中に低減される場合がある。パルス発生器1105の出力は、パルスドライバ1110a~dの群に結合される。パルス発生器1105は、独立型発振器のような個別の回路に対応することができる。代替的に、パルス発生器1105は、パルス波形を生成するように構成されたプロセッサ1130の出力に対応することができる。各パルスドライバ1110a~dは、パルス発生器1105によって生成されたパルスと同相である第1のパルス、及びパルス発生器1105によって生成されたパルスと180°の位相のずれがある第2のパルスを生成するように構成される。例えば、第2のパルスは、パルス発生器1105によって生成されたパルスをインバータに通すことによって生成することができる。一部の実施形態では、パルスドライバの第1及び第2の出力1112abは、C1、C2、...C8のあらゆる線形結合である水平電極1210と垂直電極間の相互キャパシタンスのあらゆる線形結合をADC1125により測定及びデジタル化することができるように浮動スイッチ設定及び/又は接地スイッチスイッチ設定を有することができる。他の実施形態では、C1、C2、...C8の組合せの線形組合せをglC1g2C2g3C3...g8C8として重み付けすることができるようにパルス発生器1105とスイッチ間に任意的な利得要素図示せずを設けることができ、ここで、g1、g2、...g8は、挿入された利得に対応する。水平電極1210が駆動され、垂直電極が感知される実施形態では、可変利得g1、g2、...g8は、ADC1125の上流に感知回路内の可変利得要素、又はマイクロプロセッサ内のデジタル信号処理内の乗法の定数として実施することができる。このような可変又はプログラマブル利得は、相互キャパシタンスを形成する極間距離の差のために相互キャパシタンスC1及びC2に対して相互キャパシタンスC3及びC4の小さい方の値を補正するのに使用することができる。各パルスドライバ1110a~dのセレクタ1114により、第1の出力1112aが第1及び第2のパルスの1つを出力するように選択可能であるように、それぞれのパルスドライバ1110a~dの出力状態を設定することができ、第2の出力1112bは、他のパルスを出力する。例えば、第1及び第2の出力1112a及び1112bは、それぞれ、第1のパルス及び第2のパルスを出力することができ、第1のパルス及び第2のパルスは、それぞれ、第1及び第2の出力1112a及び1112bを出力することができる。一部の実施例では、セレクタ1114は、特定の出力1112abに同じ信号を出力するように構成することができる。例えば、セレクタは、第1及び第2の出力1112abに同相信号及び位相のずれた信号のあらゆる組合せを選択的に出力する4つの選択状態が可能な2ビット幅のデータ線に対応することができる。4つのパルスドライバ1110a~dの場合に、パルスドライバ1110a~dの出力状態は、4ビット2進数により集合的に表すことができ、最上位ビットD3は、第1のパルスドライバ1110aの出力状態を表し、D2は、第2のパルスドライバ1110b及び他の出力状態を表している。例えば、特定のパルスドライバ1110a~dの1の値は、パルスドライバ1110a~dの第1の出力1112aが同相のパルスを出力し、第2の出力1112bが位相のずれたパルスを出力することを示すことができる。0の値は、反対の配列を示すことができる。得られる2進数は、16個の異なる組合せを有する。すなわち、4つのパルスドライバ1110a~dの場合に、パルスドライバ出力状態の組合せが16個ある。例示上、区域内の4つの垂直電極縦列を有する4ビットバイナリの実施形態に対しては4つのパルスドライバがあるが、他の実施形態では、縦列内の2つの電極は両方とも同じ位相で駆動され、又は一方又は両方の電極が接地される時のような異なる数のパルスドライバ及び関連の回路を使用することができることは認められるものとする。それぞれのパルスドライバ1110a~dのセレクタ1114は、プロセッサ1130の対応する出力を通じて制御することができる。一部の実施例では、セレクタ1114は、出力状態の16個の組合せの全てを通じて周期的にパルスドライバ1110a~dを循環させるように構成された4ビットカウンタ図示せずに結合することができる。それぞれのパルスドライバ1110a~dは、パルス発生器1105に結合された1つ又はそれよりも多くの個別構成要素に対応することができる。代替的に、パルスドライバ1110a~dは、プロセッサ1130の出力に対応することができる。電極回路均等物1115は、それぞれの検出電極の間かつ検出電極から接地までに形成された様々なキャパシタンスを表している。C9~C16とラベル付けされたコンデンサ1122の各々は、対応する垂直検出電極と接地面の間に測定されたキャパシタンスである対応する垂直検出電極の自己キャパシタンスを表している。C1~C8とラベル付けされたコンデンサ1124a~hの各々は、対応する垂直検出電極と区域の水平検出電極間の相互キャパシタンスを表している。コンデンサC17~24の各々は、水平検出電極と接地面間の自己キャパシタンスを表している。図12は、相互キャパシタンス1124a~hC1~C8の各々と、この場合は図6aの電極パターンに対応する例示的な電極パターン1200との関係を示している。しかし、同じ原理は、本明細書に説明する他の電極パターンに適用される。図12を参照すると、電極パターン1200は、所定の区域に向けて非重複縦列内に配置された一群の検出電極に分割される。第1の縦列は、水平検出電極1210を含む。第2の縦列は、互いから絶縁されかつ異なるチャンネルに電気的に接続された第1及び第2の垂直検出電極1215a及び1215bを含む。第3、第4、及び第5の縦列は、縦列内の垂直検出電極が電極パターンで導電トレースを通じて電気的に接続された電極群を含む。第3の縦列は、3つの垂直検出電極1220a及び1220bを含む。第1及び第3の垂直検出電極1220aは、電気的に接続され、かつ第2の垂直検出電極1220bの両側上に位置決めされる。第1及び第3の垂直検出電極1220aは、第2の垂直検出電極1220bから絶縁される。同様に、第4の縦列は、特定の縦列内の1つ置きの垂直検出電極が2つの群1225a及び1225bの1つに属する垂直検出電極の2つの群を含む。異なる群1225a及び1225bの垂直検出電極は、絶縁される。第5の縦列は、上述のように、2つの群1230a及び1230bで構成されたより多くの垂直電極を有する。特定の縦列内の垂直検出電極の数は、必要に応じて、タッチ位置の望ましい解像度に依存して増加又は低減することができる。相互キャパシタンス1124aC1及び1124bC2は、それぞれ、水平検出電極1210と第2の縦列内の第1及び第2の垂直検出電極1215a間のキャパシタンス及び1215bに対応する。相互キャパシタンス1124dC4は、水平検出電極1210と第3の縦列内の第3及び第4の垂直検出電極1220a間のキャパシタンスに対応し、相互キャパシタンス1124cC3は、電極1210と第3の縦列内の第2の垂直検出電極1220b間のキャパシタンスに対応する。同様に、相互キャパシタンス1124eC5は、水平検出電極1210と第4の縦列内の垂直検出電極の第1の群1225b間のキャパシタンスに対応し、相互キャパシタンス1124fC6は、第4の縦列内の垂直検出電極の第2の群1225aに対応する。相互キャパシタンス1124gC7は、水平検出電極1210と第5の縦列内の垂直検出電極の第1の群1230b間のキャパシタンスに対応し、相互キャパシタンス1124hC8は、それぞれ、第5の縦列内の垂直検出電極の第2の群1230aに対応する。一般的に、垂直検出電極のN個の縦列に対して、2N個のこのような相互キャパシタンスがある。図12は、Nが4でありすなわち、4つの縦列、所定の区域内の1つの特定の水平検出電極と8つの垂直検出電極との間に8つの相互キャパシタンスがある事例を示している。垂直感知電極及び水平感知電極の使用は上述の引用により組み込まれた2010年5月14日出願の米国特許出願第12/780,077号明細書に開示されるような、様々な実施形態により、このような電極が感知、駆動、又は測定であるかに関わらず、検出電極という用語により包含されるすなわち、垂直検出電極及び水平検出電極は、検出以外に他の目的に供される遮蔽又は保護電極とは対照的に検出電極という用語により包含することができることを目的とすることに注意すべきである。図11に戻ると、第1のパルスドライバ1110aの出力1112a及び1112bは、それぞれ、第1の縦列内の第1及び第2の垂直検出電極1215a及び1215bに結合される。第2のパルスドライバ1110bの出力1112a及び1112bは、それぞれ、第3の縦列内の第1及び第3の垂直検出電極1220b及び第2の垂直検出電極1220aに結合される。同様に、第3のパルスドライバ1110cの出力1112a及び1112bは、それぞれ、第4の縦列内の垂直検出電極の第1の群1225b及び第2の群1225aに結合される。第4のパルスドライバ1110dの出力1112a及び1112bは、それぞれ、第5の縦列内の垂直検出電極の第1の群1230b及び第2の群1230aに結合される。水平検出電極1210は、以下に説明するそれぞれの垂直検出電極と及び水平検出電極1210間に形成された様々な相互キャパシタンス1124a~hを通る電流を積分するように構成された積分器回路1120のようなキャパシタンス/電圧変換器に結合される。積分器回路1120の出力は、積分器回路1120のアナログ出力をデジタルタイプに変換するアナログ/デジタル変換器ADC1125に結合され、それによってプロセッサ1130は積分器回路1120の出力を解析することができる。プロセッサ1130は、一連の演算を行うように構成されたあらゆる論理に対応する。プロセッサは、ゲートアレイ集積回路又は特定用途向け集積回路ASIC内に埋め込まれた状態論理の集合に対応することができる。追加的又は代替的に、プロセッサ1130は、コンピュータメモリ1135のような持続性タイプの媒体に記憶された1組の命令を実行するように構成された中央演算コアCPUを含むことができる。メモリ1135は、フラッシュメモリ、ランダムアクセスメモリRAM、又は異なるタイプのメモリに対応することができる。図13は、タッチ位置の判断を可能にする例示的な作動を示している。これらの作動は、上述の概念上の回路図1100又は異なる回路により行うことができる。これらの作動の一部又は全ては、プロセッサ1130をして単独で又は他の回路及び/又はプロセッサに関連してこれらの作動の全て又は部分集合を行わせる命令コードで表すことができる。この点に関して、命令は、本明細書に説明するあらゆる形態の持続性タイプの媒体例えば、メモリ1135に記憶することができる。図13を参照すると、ブロック1300で、第1の電極区域を選択する。上述のように、電極パターンは、異なる非重複区域に分割することができ、各区域は、縦列内に配置された水平検出電極1210及び垂直検出電極を有する。区域の選択は、パルスドライバ1110a~d及び/又は積分器回路1120を選択区域内のそれぞれの電極に切り換えることを含む場合がある。この点に関して、プロセッサ1130は、所定の区域を選択する選択論理に結合された1つ又はそれよりも多くの出力を含むことができる。一度に1つの区域の選択により、1つよりも多いタッチ位置を判断することができる。換言すれば、2つ又はそれよりも多くの異なる区域に及ぶ複数のタッチを検出することができ、それぞれの位置を判断することができる。ブロック1302で、パルスドライバ1110a~dを既知の出力状態に初期化する。パルスドライバ1110a~dの出力状態は、2進シーケンス0000により設定することができ、各ビットは、上述のように、所定のパルスドライバ1110a~dの出力状態に対応する。ブロック1305で、様々な相互キャパシタンス1124a~hを測定することができる。例示的な実施形態では、特定の電極区域すなわち、水平検出電極及び一群の垂直検出電極を有する区域内の様々な垂直検出電極に関連付けられた全て相互キャパシタンス1124a~hの結合キャパシタンスは、各々の相互コンデンサ1124a~h及び水平検出電極を通る電流を測定することによって同時に測定することができる。この概念を図14a~図14cに示している。図14a~図14cは、相互キャパシタンスが判断することができる原理を示している。簡潔さを期すために、これらの原理は、第1及び第2の垂直検出電極1215a及び1215bを参照して説明する。しかし、これらの原理は、上述の他の垂直検出電極に等しく十分に適用される。図14aを参照すると、パルスドライバ1110aは、第1の出力状態例えば、ゼロ0内で形成することができ、それによってパルスドライバ1110aは、同相のパルス1405aを第1の垂直検出電極1215aに、かつ位相のずれたパルス1405bを第2の垂直検出電極1215bに出力する。上述のように、それぞれ、C11124a及びC21124bは、第1の垂直検出電極1215aと水平検出電極1210間のかつ第2の垂直検出電極1215bと水平検出電極1210間の相互キャパシタンスに対応する。パルス1405a及び1405bにより、対応する量の電流1410a及び1410bは、それぞれの相互キャパシタンス1124a及び1124bを通る。電流1410a及び1410bの位相は、互いに180°位相がずれている。この実施例では、電流フロー1410a及び1410bは、マグニチュードが等しい。従って、水平検出電極1210で測定された結合電流フロー1415は、ゼロであることになる。実際には、それぞれの電流は、必ずしも正確に同じになるわけではなく、従って、何らかの量の電流すなわち、背景電流が測定される場合がある。しかし、この電流は、測定された電流と比較すると小さいか、又は以下に説明するようにタッチが発生した時に一定のオフセットとして減算される場合がある。図14bは、タッチが第1の垂直検出電極1215aの近くに発生する事例を示している。この場合に、第1の垂直検出電極1215aに関連付けられた相互キャパシタンス/1124aは、第2の垂直検出電極1215bの相互キャパシタンス1124bに対して減少する。この変化により、第1の垂直検出電極1215aの相互キャパシタンス1410aを通る電流1410aの対応する減少が生じる。すなわち、第1の垂直検出電極1215aを通る電流1410aは、第2の垂直検出電極1215bを通る電流1410bよりも小さい。この場合に、結合電流フロー1415の測定可能な差は、水平検出電極1210で検出される。水平検出電極1210で測定された結合電流フロー1415は、従って、パルス発生器1105によって生成されたパルスと位相がずれている。図11に示すような一部の実施形態では、タッチが第1の垂直検出電極1215aの近くに発生した時にデジタル化されたADC値が増加するように反転積分増幅器1120がADC1125の前にある。しかし、パルスドライバ1110aの出力状態を変更すると例えば、ゼロ0から1に、それぞれのパルス1405aの位相及びパルスドライバ1110aから出力された1405bが逆転され、従って、水平検出電極1210で測定された同相の結合電流フロー1415により、振幅1120を逆転した後に、デジタル化されたADC値が減少する。要約すると、検出電極1215aの近くのタッチは、第1の垂直検出電極1215aのY座標範囲がゼロ0の2進ビット値に関連するようにパルスドライブ1110aがゼロ0に設定された時にADC値を増大させ、1に設定された時にADC値を低減する。図14cは、タッチが第2の垂直検出電極1215bの近くに発生する逆の状況を示している。この場合に、第2の垂直検出電極1215bを通る電流1410bは、第1の垂直検出電極1215aを通る電流1410aよりも小さい。パルスドライバ1110aのゼロ0設定に対して、結合電流フロー1415の位相は、パルス発生器1105によって生成されるパルスの位相に適合し、反転増幅器1120がADC1125の前にある場合に、第2の垂直検出電極1215bの近くのタッチにより、デジタル化されたADC値が減少することになる。これとは対照的に、パルスドライバの1110aの1の設定に対して、デジタル化されたADC値の増加があることになる。要約すると、検出電極1215bの近くのタッチは、第1の垂直検出電極1215bのY座標範囲が1の2進ビット値に関連するようにパルスドライブ1110aが1に設定された時にADC値を増加させ、ゼロ0に設定された時にADC値を低減する。上述の測定は、それぞれの縦列内の全ての垂直検出電極に対して同時に行われる。それぞれのパルスドライバ1110a~dは、特定の電極区域の全ての縦列内の垂直検出電極を同時に駆動する。特定のパルスドライバ出力状態に対して、特定の縦列内の垂直検出電極の各対は、パルス発生器1105によって生成されたパルスと同相又は位相がずれた水平検出電極1210に至る正味電流フローを発生させることになる。それぞれの正味電流フローは、水平検出電極1210で互いに結合される。従って、パルスドライバ出力状態の固有の組合せにより、その得られるデジタル化されたADC値を最大化した様々な垂直検出電極を通る正味電流フローが生じる。パルスドライバ出力状態の固有の組合せのバイナリビットは、タッチの直近にある垂直電極に対応するバイナリビットである。ブロック1310に戻ると、試験すべき付加的な出力状態がある場合に、ブロック1315で、パルスドライバ1110a~dの出力状態の次の組合せを選択する。例えば、前の出力状態組合せが0000に対応した場合に、次の出力状態組合せは、0001に対応することができる。処理は、次に、ブロック1305で繰り返され、それによってキャパシタンスが、パルスドライブ1110a~dの全ての16個の出力状態組合せに対して測定される。ブロック1310で全ての状態が試験された場合に、ブロック1320で、選択された区域内にタッチがあるかどうかに関してプロセッサ1130により判断を提供する。例えば、全ての状態のキャパシタンス測定値が、全て背景キャパシタンス閾値又はそれ未満である場合に、タッチが発生しなかったと考えられる。それに反して、所定のキャパシタンス測定値が背景キャパシタンス閾値より上にある場合に、タッチは発生している。タッチ位置は、最大測定キャパシタンスをもたらしたパルスドライバ状態を判断して決まる状態に関連付けられた電極位置を判断することによって決めることができる。タッチが発生していたか否かを判断し、発生していた場合は、タッチ位置を判断した後に次に電極区域を選択し、タッチセンサ内の各電極区域に対して処理が行われるまで処理はブロック1300で続く。上述の作動は、図15を参照してより良く理解される。図15を参照すると、タッチ1510は所定の区域内の電極上に発生する。この場合に、タッチ1510は、9とラベル付けされた水平検出電極1210及び7、5、3、及び2とラベル付けされた垂直検出電極の近くにある。可能な接触位置の出力状態図1505a~pが電極の横に示されている。出力状態図内の各ビットは、パルスドライバ1110a~dの位相を表している。例えば、最も左の又は最上位ビットは、第1のパルスドライバ1110aの位相を表し、次のビットビット3は、第2のパルスドライバ1110bのような位相を表している。ビット値は、位相を示している。例えば、ゼロ0は、第2の縦列内の第1の垂直検出電極1215aに結合されたパルスドライバ1110aの出力状態がパルス発生器1105の出力と同相であることを示している。1は、第1の垂直検出電極1215bに結合されたパルスドライバ1110aの出力状態がパルス発生器1105の出力と位相がずれていることを示している。所定の位置で発生するタッチ1510は、パルスドライバがタッチ位置に関連付けられた出力状態パターンで構成された時に、測定されたキャパシタンスの最大ADC値をもたらす。例えば、この場合は、パルスドライバ1110a~dが出力状態パターン00011505bにより設定された時に、タッチ1510は、測定されたキャパシタンスの最大ADC値をもたらす。このパターンは、第1、第2、及び第3のパルスドライバ1505a~cが、7、5、及び3とラベル付けされた電極に同相のパルス、及び8、6、及び4とラベル付けされた電極に位相のずれたパルスを出力することを示している。第4のパルスドライバ1505dは、1とラベル付けされた電極に位相のずれたパルス、及び2とラベル付けされた電極に同相のパルスを出力する。換言すると、タッチ1510付近の垂直検出電極は、全て、パルス発生器1105によって生成されたパルスと同相であるパルスにより駆動される。従って、この組合せすなわち、全ての同相のパルスにより、測定されたキャパシタンスの最大ADC値が発生し、タッチ位置がその後に判断される。図16aは、2つのタッチタッチA1605a及びタッチB1605bが異なるY座標であるが同じX座標を有する事例を図示の例で示している。すなわち、それぞれのタッチは、同じ水平電極1210であるが異なる垂直電極の近くである。タッチA1605aは、コード0011に関連付けられたY位置を有する。タッチB1605は、コード1100に関連している。従って、タッチA1605aの存在により、図12の相互キャパシタンスC1、C4、C5、及びC7の変化が発生し、C2、C3、C6、及びC8に対しては残りの相互キャパシタンスは変化しない。タッチB1605bが存在しなかった場合に、変化した相互キャパシタンスのこのパターンは、Y2進コード0011及び従ってタッチA1605aのy座標を示している。タッチB1605bが存在するがタッチ1605aは存在しない場合に、相互キャパシタンスC1、C4、C5、及びC7ではなく、相互キャパシタンスC2、C3、C6、及びC8が変化する。しかし、タッチ1605a及び1605bが同時に存在する場合に、全てのキャパシタンスC1、C2...C8が変化する。タッチが等しい強度であり、上述の回路を利得g1、g2,g8が全ての相互キャパシタンスに対して感度を等しくすべきである場合、測定された相互キャパシタンスC1、C2...C8の変化は、全て同じになる。タッチA1605a及びタッチB1605bが0000及び1111、又は0001及び1110のYコード又は互いに論理的補完であるコードのあらゆる他の対に対応する位置にある場合は同じ結果が得られる。従って、相互キャパシタンスC1、C2...C8の等しい信号をもたらす垂直二重タッチの解釈には、8倍の曖昧さがもたらされる。より一般的には、タッチA1605a及びタッチB1605bが、Mビットが論理的補完であるY2進コードに対応する場合に、2M1倍の曖昧さがある。相互キャパシタンスC1、C2...C8の値が解釈に曖昧であり、すなわち、結果的に同じ測定値になる垂直二重タッチ結果の対の位置を識別する異なる方法が2つ又はそれよりも多くある時に、図11に示す回路により行われるようにC1、C2...C8の値の線形組合せを単に測定又は計算することによって曖昧さを除去することは困難である。タッチA1605a及びタッチB1605bが異なる強度を有することを可能にすることにより、水平及び垂直電極の間の相互キャパシタンス測定値の解釈においてより多くの曖昧さをもたらす付加的な複雑性が追加される。しかし、垂直に整列したタッチ1605a及び1605bに関連付けられたいずれの曖昧さも、異なる縦列にある他のタッチに適用されることに注意すべきである。上述の曖昧さを解決する1つの手法は、垂直電極の対間、及び特に異なる縦列内の垂直電極の対間の相互キャパシタンスを測定することを伴っている。Cjk及びΔCjkをそれぞれ垂直電極jと垂直電極kの間の相互キャパシタンス、及び相互キャパシタンスのタッチ誘発変化とする。垂直に整列したY2進コード0011及び1100に対応するタッチA1605a及びタッチB1605bの事例を再度考える。従って、タッチA1605aだけにより、ゼロ以外の値ΔC75でのタッチ信号のゼロ以外の値が発生するが、ΔC76、ΔC85、及びΔC86のゼロ値が発生する。従って、タッチB1605bだけにより、ゼロ以外の値ΔC86でのタッチ信号のゼロ以外の値が発生するが、ΔC75、ΔC76、及びΔC85のゼロ値が発生する。タッチA1605a及びタッチB1605bが同時に存在する時に、ΔC75及びΔC86はゼロ以外の値を有し、ΔC76及びΔC85はゼロ値である。ΔC75及びΔCのゼロ以外の値は、1つのタッチが、形式00xxのコードを有する水平電極1210に重なることを示しており、ここで、xは、0又は1に等しい可能性があるコード桁を表し、第2のタッチは、形式11xxのコードを有する水平電極1210に重なる。ΔC76及びΔC85の値のゼロ値は、タッチが、形式01xx及び10xxのコードを有する水平電極1210には非重複であることを示しており、ここで、xは、0又は1に等しい可能性があるコード桁を表している。それによって図16bに示すように、1つのタッチがタッチ区域の上部1/41610a内にあり、別のタッチがタッチ区域の第2から底部1/4の区域1610c内にあり、タッチ区域の底部1/4及びタッチ区域の上部1/4から第2の区域1610bにはタッチはないことを示すことによって部分的に垂直の二重タッチ曖昧さが排除される。同様に、垂直電極縦列の次の対に対応する相互キャパシタンスの測定値、すなわち、ΔC53、ΔC54、ΔC63、及びΔC64により、形式x00x又はx11xではなく形式x01x及びxl0xのY2進コードに対応するタッチがあるという判断が可能である。垂直電極縦列の全ての対の間の相互キャパシタンスに対してこの解析を繰り返すことにより、タッチA1605a及びタッチB1605bのY2進コードが明瞭に判断され、従って、二重垂直タッチ曖昧さの問題を解決するのに十分な情報が生成される。図10及び図12に示すもののような相互接続トレースの存在により何らかの複雑性が追加される。例えば、電極1220b図6aの電極6及び電極1225a図6aの電極3に重なるタッチにより、電極1225bのセグメント間の相互接続トレースのために電極1220b図6aの電極6と電極1225b図6a及び図12の電極4間の相互キャパシタンスの変化が発生し、同様に、電極1220a図6a及び図12の電極5のセグメント間の相互接続トレースは、電極1220a電極5と電極1225a電極3間の相互キャパシタンスのゼロ以外の変化をもたらす。このような影響は、以下の方程式により表すことができる。ここで、Tlmは、電極l及びMに重なるタッチの強度であり、Mjklmは、測定された相互キャパシタンスの変化ΔCjkにタッチ強度Tlmを関連させる係数の行列である。理想的な場合には、Mjklmは、j=l及びk=mの時に限りゼロ以外の要素を有する対角行列である。図10及び図12に示す相互接続トレースは、係数Mjklmの行列においてゼロ以外の非対角要素を導入することによって物事が複雑化する。行列表記を簡素化すると、上述の方程式は、以下のように書くことができ、ここで、ΔCは、成分ΔCjkを有するベクトルであり、Tは、成分Tlmを有するベクトルであり、Mは、要素Mjklmを有する行列である。行列要素Mjklmは、測定、シミュレーション、又は他の方法により判断することができる。M-1を行列Mの逆行列とする。次に、上述の方程式は、以下の形態に逆転することができる。又はより明示的に指標表記で以下の通りである。行列Mが対角ではない理想的でない事例に対して、測定された相互キャパシタンスΔCjkは、最初に、より理想化された事例に対応するタッチ信号Tjkに変換され、次に、生の測定された相互キャパシタンスΔCjkではなく正しいタッチ信号Tjkに適用された上述の方法を続ける。上述の方程式において、指標の範囲はまた、水平電極を有することができ、従って、この公式は、垂直電極間の相互キャパシタンスの利用に限定されない。このようにして、相互接続トレースの相互キャパシタンス効果を説明することができる。図6aを参照すると、タッチがない場合には、相互キャパシタンスは、以下の意味で不均衡である可能性がある。縦列464において、電極4047及び4068は、それぞれ、C7,9及びC8,9の電極4029に対して相互キャパシタンスを有する。電極7及び8が、例えば、図11に示す回路で反対の極性で駆動された場合に、相互キャパシタンス信号が電極4029で感知されないように、C7,9=C8,9であるようにこれらの2つの相互キャパシタンスの均衡を取れば望ましいと考えられる。しかし、例えば、電極4068と4029間に通る電極4047からの接続線444は、C7,9がC8,9より大きいように電極4047と4029間の相互キャパシタンスを増大させる。同様に、電極4029に対する電極4085及び4106間の相互キャパシタンスは、不均衡状態であり、C5,9は、C6,9と異なる。同様に、これは、電極4029と縦列468及び470内の電極との間の相互キャパシタンスにも当て嵌まることである。一部の実施形態では、このような不均衡は、電子ハードウエア又はソフトウエアにおける様々なオフセット補正により補正することができる。しかし、図17a~17cに示すような他の実施形態では、検出電極パターンは、水平電極電極4029のような及び垂直電極の各縦列内の電極の対に関連付けられたタッチなしの相互キャパシタンスの均衡を取るようになっている。オフセット及び対応する補正を最小にすることにより、このような実施形態では信号対ノイズ及びダイナミックレンジ性能を改善することができる。図17a及び図17bでは、8、6、4、及び2とラベル付けされた垂直検出電極1705a~dは、9とラベル付けされた水平検出電極1710の左に移動する。図17aでは、電極パターンは水平に圧縮されない。図17b及び図17cでは、所定の電極のパッドが完全に整列した垂直縦列にもはや閉じ込められず、かつ電極パッドが時には剪断され及び分割されることを意味する時でも、パターンは、死空間を最小にするために水平で圧縮される。図6aに関してこの変更された電極形状により、C19=C29、C39=C49、C59=C69、及びC79=C89であるような相互キャパシタンスの均衡が可能である。図17bにあるギザギザの左右の境界は、最初は問題であるように思われる。しかし、左の境界の形状は、望ましいタッチ区域を満たすように8、6、4、2とラベル付けされた垂直検出電極1705a~dが極左タイルに向けて垂下され、7、5、3、1とラベル付けされた垂直検出電極1710a~dが極右タイルから垂下されるパターンを簡単にタイル張りすることができるように右の境界の形状に相補的なものであることに注意されたい。図17cに示すように、上述のような垂直検出区画の数は、垂直検出電極のいくつかの対に基づくことができる。例えば、図17a~17cは、垂直検出電極の4つの対、すなわち、8,7とラベル付けされた垂直検出電極の対、6、5とラベル付けされた垂直検出電極の対、4、3とラベル付けされた垂直検出電極の対、及び2、1とラベル付けされた垂直検出電極の対を示している。図17a~17cに示す実施形態では、垂直検出電極の4つの対により、区域内の16個の垂直検出区画が得られる。ここでもまた、タッチを検出することができる垂直検出区画の数は2Pに等しく、ここで、Pは、所定の区域図17bに図示内にある垂直直検出電極の対の数に等しい。図17a~17cの実施形態では、所定の対内の垂直検出電極は、同じ縦列内に整列せず例えば、図5のように、異なる縦列にある場合がある。類似の原理に従って他の均衡が取れた2進検出電極パターンを他の実施形態内に設けることができる。以上の説明は、例示的であり、制限的でないように意図していることを理解すべきである。例えば、以上の説明した実施形態及び/又は態様は、互いと組み合わせて使用することができる。異なる回路構成を利用し、タッチ位置を判断することができる。例えば、上述の概念上の回路は、水平検出電極がパルス発生器により駆動され、電流測定値が垂直検出電極から取られるように逆に作動させることができる。相互キャパシタンスは、違った測定の方法を取ることができる。例えば、相互キャパシタンス差C1-C2、C3-C4、C5-C6、及びC7-C8は、いくつかの方法で測定することができる。8個の相互キャパシタンスC1、C2、C3、C4、C5、C6、C7、及びC8を個々に測定かつデジタル化し、C1-C2のような差をマイクロプロセッサのソフトウエアで計算することができる。個々の相互キャパシタンスは、図11の駆動回路1110aのような駆動回路に水平検出電極1210を接続することにより、かつ図11の感知回路11201125のような感知回路に選択された垂直検出電極12151220、1225、1230a又はbのうちの1つを接続することによって測定することができる。代替的に、駆動回路は、水平電極1210に接続した選択されたY電極及び感知回路に接続することができる。図11に示すように以下でより詳細に説明、アナログ電子機器の相互キャパシタンスの差を実行することも選択肢である。一部の実施形態において単一タッチのX座標測定を可能にするために、電極1210のような各水平電極は、固有の別々の電子チャンネルと共に設けることができる。図11の回路の複数の例は、図2aの水平電極52、54、56、58のようなそれぞれの水平電極に結合することができる。回路経費を最小にするために、一部の実施形態では、図2aの全ての垂直電極区域60、62、64、66などに向けて電子チャンネルの共通の組がある場合があり、図に示す実施例において、11個のスイッチング回路1110a、1110b、1110c、及び1110dは、図2aに示すタッチ区域全体を駆動するのに十分である。更に、図2a及び図6aに示すように、バイナリ電極パターンの使用は、更に別の特定的な実施形態によりキャパシタンス感知入力デバイスに限定する必要はない。これは、本発明の特定的な実施形態によるバイナリタッチ入力システム1800のピエゾ抵抗性変形体の積み重ねの断面詳細である図18に見ることができる。例えば、バイナリ検出電極1801は、ガラス製基板1803上のパターン化されたインジウムスズ酸化物ITO又は他の適切に透明な導電材料で形成するか、又はFR4のような絶縁ガラスの補強されたエポキシ積層板の基板1803上の導電銅製トレースによって形成することができる。電極パターン1801は、上述の容量型実施形態の場合と少しも異ならない。しかし、容量型実施形態のような検出電極1801より上方の絶縁誘電体層の代わりに、ピエゾ抵抗材料1805の層が、検出電極1801より上方にかつ検出電極1801と電気的接触して設けられる。任意的に、接地電極1807は、ピエゾ抵抗層1805より上方にかつピエゾ抵抗層1805と電気的接触して含めることができる。検出電極と同様に、この接地電極1807は、ITO、炭素ナノチューブ、銀ナノトレース、又はあらゆる他の導電材料で形成することができる。耐久性のある耐スクラッチタッチ面が得られるように、上部タッチ表面層1809を含めることができる。タッチ表面層1809は、任意的に、ハードコート、ガラス薄層、又はディスプレイ例えば、エレクトロフォレテイックディスプレイ又はOLED有機発光ダイオードディスプレイのような更に別の機能性を有するより複雑な構造体を伴うポリエステルフィルムのようなポリエチレンテレフタラートPETフィルムとすることができる。しかし、タッチ表面層上のタッチにより結果として圧力がピエゾ抵抗材料層1805に印加されるように、タッチ表面層1809は十分な可撓性を有することが必要である。透明又は不透明とすることができるピエゾ抵抗材料1805は、圧力が印加された時に電気抵抗が変化する材料である。ピエゾ抵抗材料1805の例は、米国特許第7,196,358号明細書に説明されているように、又は例えば米国公開特許出願第2009/0237374号明細書に説明されているように、Peratechにより開発された量子トンネリング複合QTC材料である。適切な電子機器を用いて、ピエゾ抵抗バイナリ入力デバイス1800は、上述のバイナリ電極パターン作動の自己容量かつ相互容量モードと同様に自己抵抗モード又は相互抵抗モードで作動させることができる。自己抵抗モードにおいて、抵抗は、選択された電極と接地以前の図の任意的な接地電極又は一時的に接地される他の電極間で測定される。相互抵抗モードにおいて、抵抗は、選択された電極の対間で測定される。この場合に、例えば、容量型実施形態に関連して図12に示す相互キャパシタンスC1、C2...C8は、相互抵抗R1、R2...R8で置換される。抵抗は、あらゆるタッチ活動の前に及びタッチの後に測定される。抵抗を測定する回路は、十分に公知であり、ここに説明しない。抵抗の変化により、容量型実施形態におけるキャパシタンスの変化と同様の方法で処理されるタッチ信号が得られる。更に、本発明の教示に対してその範囲から逸脱することなく特定の状況又は材料を適応化させるように多くの修正を行うことができる。ここに記載の説明では、最良の実施形態を含む本発明を開示するために、かつあらゆるデバイス又はシステムを製作かつ使用してあらゆる統合された方法を実行することを含むあらゆる当業者が本発明を実施することを可能にするために実施例を使用している。本明細書に説明する材料の寸法及びタイプは、本発明のパラメータを定めることを意図しているが、決して制限的ではなく、例示的な実施形態である。多くの他の実施形態が、以上の説明を考慮すると当業者に明らかであろう。本発明の範囲は、従って、特許請求の範囲を参照してそのような特許請求の範囲が授権される均等物の完全な範囲と共に判断すべきである。特許請求の範囲において、用語including及びinwhichは、それぞれ、用語comprising及びwhereinの分かりやすい英語の均等物として使用している。更に、以下の特許請求の範囲において、用語第1、第2、及び第3などは、単にラベルとして使用しており、それらの対象物の数字上の要件を課すことを意図していない。"