"光干渉断層撮影opticalcoherencetomography、すなわちOCTのための装置100a、100b、100cであって、可干渉光の、入力パルス幅τ0を有する入力パルスの一群202、204、206を発生させるように適合された光発生器110と、前記光発生器に光学的に接続された入力部122及び複数の出力パルス302、304、306のための出力部124を有し、波長分散によって前記入力パルス幅τ0をそれぞれの前記出力パルスの出力パルス幅τpまで引き伸ばすように適合された分散性の媒質120と、前記出力パルスを前記出力部から参照アーム160及びサンプルアーム170へと接続し、前記参照アーム及び前記サンプルアームから戻ってきた光を重畳するように適合された光カプラ130と、前記出力パルス幅τpの分割間隔δtgateの時間分解能で前記重畳された光の干渉の強度を検出するように適合された検出器140とを具備する装置。前記一群の中の前記入力パルスのそれぞれは、少なくとも本質的に時間非依存性の入力スペクトル範囲Δλ及び/又は少なくとも本質的に時間非依存性の入力中心波長λ0を有するものであることを特徴とする請求項1に記載の装置。前記出力パルスのそれぞれは、時間依存性の瞬間的な出力ピーク波長λt及び時間依存性の瞬間的な出力スペクトル範囲λt-δλ/2...λtδλ/2のうち少なくとも1つを有するものであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の装置。前記入力スペクトル範囲Δλは、前記瞬間的な出力スペクトル範囲δλより数倍広いことを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の装置。前記分散性の媒質120は、光ファイバーを含むものであることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の装置。前記分散性の媒質中で、前記入力部から前記出力部に至る光の伝達路Lは、1kmより長く、及び/又は10km若しくは20kmより短いものであることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の装置。前記分散性の媒質120は、前記光の伝達路上の異なる位置に複数のタップを有するものであり、前記装置は、前記タップのうち1つを前記入力部として選択的に前記光発生器と接続する及び/又は前記タップのうち1つを前記出力部として選択的に前記光カプラと接続するように適合された光スイッチをさらに有するものであることを特徴とする請求項6に記載の装置。前記分散性の媒質120の分散パラメータDが10000ps/kmnmより大きいことを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の装置。前記媒質に対して作用する外部の場を生成するように適合された場生成器をさらに有し、前記媒質の前記分散パラメータDが前記外部の場によって制御される又は制御されることができるものであることを特徴とする請求項8に記載の装置。前記検出器140は、1つの前記出力パルス幅τpに対応する複数の連続する分割間隔δtgateの間、前記強度をサンプリングするようにさらに適合されたものであることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の装置。前記サンプリングされた複数の分割間隔の数は、少なくとも500、1000又は10000であることを特徴とする請求項10に記載の装置。前記分割間隔δtgateは、200ns、100ns、1ns又は100psよりも短いものであることを特徴とする請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の装置。前記検出器140は、光ダイオード及びバランス型検出器のうち少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の装置。前記検出器140は、前記光ダイオードに接続されて前記分割間隔のそれぞれの間、前記強度を読み出すように適合されたゲートユニットをさらに含むものであることを特徴とする請求項13に記載の装置。前記光発生器110は、パルスチタンサファイアレーザー又はパルススーパーコンティニューム光源を含むものであることを特徴とする請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の装置。前記光発生器110は、前記入力パルスの一群を1つの繰り返し周波数fRで発生させ、前記検出器140は前記繰り返し周波数で前記サンプリングを開始するものであることを特徴とする請求項10又は請求項11に記載の装置。前記光発生器110は、連続波光源を含み、また、該連続波光源と前記分散性の媒質120の前記入力部122との間で機能するように設置されたシャッターを含むものであることを特徴とする請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の装置。前記光カプラ130は、ビームスプリッター132、光ファイバーカプラ、サーキュレーター134及び1対2カプラ136のうち少なくとも1つを含むものであることを特徴とする請求項1から請求項17のいずれか1項に記載の装置。光干渉断層撮影、すなわちOCTのための方法であって、可干渉光の、入力パルス幅τ0を有する入力パルスの一群202、204、206を発生させる工程と、分散性の媒質120中で波長分散させることによって、それぞれの前記入力パルスの入力パルス幅τ0を複数の出力パルス302、304、306の出力パルス幅τpまで引き伸ばす工程と、前記出力パルスを参照アーム160及びサンプルアーム170へと接続し、前記参照アーム及び前記サンプルアームから戻ってきた光を重畳する工程と、前記出力パルス幅τpの分割間隔δtgateの時間分解能で前記重畳した光の干渉の強度を検出する工程を含む方法。少なくとも一定の条件化で、軸方向の分解能及び/又は走査深度に対する制限を改善する光干渉断層撮影の技術が必要とされている。本発明の一つの態様によると、請求項1に記載の光干渉断層撮影、すなわちOCTのための装置が提供される。この装置は、可干渉光の、入力パルス幅を有する入力パルスの一群を発生させるように適合された光発生器と、光発生器に光学的に接続された入力部及び複数の出力パルスのための出力部を有し、波長分散によって入力パルス幅をそれぞれの出力パルスの出力パルス幅まで引き伸ばすように適合された分散性の媒質と、出力パルスを出力部から参照アーム及びサンプルアームへと接続し、参照アーム及びサンプルアームから戻ってきた光を重畳するように適合された光カプラと、出力パルス幅の分割間隔の時間分解能で前記重畳された光の干渉の強度を検出するように適合された検出器とを具備する。一群の入力パルスのそれぞれは、入力スペクトル範囲とも呼ばれる全帯域幅Δλを有することができる。光カプラはビームスプリッター、例えばファイバー型ビームスプリッター又はフリースペース型ビームスプリッターでもよい。出力パルス幅の分割間隔をδtgateによって示すことができる。ここで使用する光という用語には、真空で600nmから1500nm、好ましくは650nmから1050nm、又は850nmから1250nm、又は1100nmから1500nmの範囲内の波長を有する電磁波を含んでもよい。いくつかの態様では、光発生器に関するパラメータ例えば、入力スペクトル範囲とも呼ばれる、光発生器の帯域幅を変化させることによってOCTの軸方向の分解能を変化させることを可能にしてもよい。その態様又は別の態様では、分散性の媒質に関するパラメータ例えば分散性の媒質の1つ以上の分散パラメータ、分散性の媒質中の光の伝達路の長さと方向を変化させること、及び/又は検出器に関するパラメータ例えば分割間隔の持続時間を変化させることによってOCTの軸方向の走査深度を変化させることを可能にしてもよい。さらに、いくつかの態様では、軸方向の分解能と軸方向の走査深度をそれぞれ独立して変化させることができる。ある態様では、スペクトロメーター及び/又は広くチューニング可能例えば全帯域幅Δλでチューニング可能で同時に非常に狭い瞬間帯域幅δλによって示されるを発生させることが可能な光発生器を省略することができる。一群の入力パルスのそれぞれ又は一群全体は、少なくとも本質的に時間非依存性の入力スペクトル幅を有してもよい。その代わりに、又はそれに加えて、一群の入力パルスのそれぞれ又は一群全体は、少なくとも本質的に時間非依存性の入力中心波長を有してもよい。出力パルスのそれぞれは、入力スペクトル範囲に少なくとも本質的に対応する時間平均出力スペクトル範囲を有してもよい。出力パルスのそれぞれは瞬間的な出力ピーク波長符号λtによって示されるを有してもよい。瞬間的な出力ピーク波長は、時間依存性であってもよく、及び/又は出力パルス幅の異なる分割間隔によって異なってもよい。瞬間的な出力ピーク波長は、出力パルス幅に対応する長さの時間とともに単調に変化してもよい。これに変わって、又はこれに加えて、出力パルスのそれぞれは瞬間的な出力スペクトル範囲これは符号δλによって示されるを有してもよい。瞬間的な出力スペクトル範囲は、瞬間的な帯域幅、瞬間的な線幅又は瞬間的な出力スペクトル間隔とも呼ばれる。瞬間的な出力スペクトル範囲は時間依存性であってもよく、及び/又は出力パルス幅の異なる分割間隔によって異なってもよい。瞬間的な出力スペクトル範囲は出力パルス幅に対応する長さの時間とともに単調にシフトしてもよい。入力スペクトル範囲は、瞬間的な出力スペクトル範囲の1つ又はそれぞれより数倍広くてもよい。分散性の媒質は、光ファイバー又は導波路を含んでもよい。導波路は回折格子の構造、例えば分散ブラッググレーティングDBGを含んでもよい。光ファイバーは回折格子の構造、例えばチャープファイバーブラッググレーティングチャープFBGを含んでもよい。分散性の媒質中での光の伝達路は本質的に直線であってもよい。これに代わって、又はこれに加えて、光の伝達路は折れ曲がっていてもよい。折れ曲がった伝達路には、媒質の接触面又は境界での反射を含んでもよい。分散性の媒質中で、入力部から出力部に至る光の伝達路は、例えばファイバー中で少なくとも1kmであり、及び/又は10km、60km、100kmにのぼってもよい。さらに、伝達路は例えば導波路又はブラッグ結晶中で少なくとも1cm若しくは2cm、及び/又は20cm若しくは50cmにのぼる長さを有してもよい。入力パルスは伝達路に沿ってスペクトル拡散してもよい。スペクトル拡散によって、波長と出力時間の間の比例関係が生まれることがある。出力パルスの瞬間的な出力ピーク波長は出力時間に比例していてもよい。出力時間は、光発生器の入力パルス発生時間に対して相対的に定義されてもよい。出力時間は波長λ又は波数について線形であってもよい。分散性の媒質は、光の伝達路上の異なる位置に複数のタップを有してもよい。本発明の装置は、タップのうち1つを前記入力部として選択的に前記光発生器と接続するように適合された光スイッチをさらに有するものであってもよい。これに代わって、又はこれに加えて、光スイッチはタップのうち1つを出力部として選択的に光カプラと接続するように適合されていてもよい。分散性の媒質による波長分散は、線形分散であってもよい。すなわち、分散パラメータは本質的に入力スペクトル範囲の波長と独立であるか、波数k=2π/λについて線形であってもよい。分散は、群速度分散であってもよい。分散性の媒質の分散パラメータは10000ps/kmnm以上であってもよく、約13200ps/kmnm以上であることが好ましい。分散パラメータは、媒質の屈折率の、波長に関する2次導関数に比例してもよい。分散は正の分散であってもよい。正の分散は、負の分散パラメータに対応してもよい。出力パルス中の長い波長は、出力パルス中の短い波長よりも時間的に早くてもよい。分散性の媒質は、それぞれの出力パルスの中で長い波長を最初に出力してもよい。それぞれの出力パルスの瞬間的なピーク波長は長い波長から短い波長に向かって掃引してもよいすなわち正の方向にチャープしてもよい。入力パルスはチャープしなくてもよい。出力パルスはアップチャープしてもよい正の分散の場合。これに代わって、出力パルスはダウンチャープしてもよい負の分散の場合。本発明の装置は、外部の場を生成するように適合された場生成器をさらに有してもよい。その外部の場は、分散性の媒質に対して作用してもよい。媒質の分散パラメータは、外部の場の強さによって制御される又は制御されることができるものであってもよい。分散性の媒質は、光発生器の利得媒質とは異なるものであってもよい。分散性の媒質は、光発生器の利得媒質の外側にあってもよい。検出器は、時間依存性の瞬間的な出力ピーク波長λt及び時間依存性の瞬間的な出力スペクトル範囲λt-δλ/2...λtδλ/2のうち少なくとも1つの強度を検出することができる。検出器は、複数の連続する分割間隔の間、その強度をサンプリングするようにさらに適合されていてもよい。各分割間隔の間検出された強度のそれぞれはスペクトル分解される必要がない。サンプリングされた複数の分割間隔は、本質的に出力パルス幅又は出力パルス幅に相当する時間にわたってもよい。分散性の媒質は、出力パルスを提供するように構成される。出力パルスは、時間の関数として変化する、瞬間的な出力ピーク波数ktを有してもよい。瞬間的な出力ピーク波数ktは時間について線形的に変化してもよい。出力パルスは、波長λtについて非線形及び/又はktについて線形のチャープk線形チャープとも呼ばれるを有してもよい。波数について線形であるチャープは、フォトニック結晶ファイバーPCFによって提供される。検出器は時間的に均一に、例えば等間隔で、又は周期的に分割間隔の間サンプリングを行うように適合されてもよい。これに代わって、分散性の媒質は、波数ktについて非線形のチャープを提供するように構成されてもよい。チャープは波長λt又は周波数ωtについて線形であってもよい。検出器は波数kについて線形に分割間隔の間サンプリングを行うように適合されることができる。検出器は波数ktの線形変化すなわち本質的に線形な時間の関数に対して又は波数ktの非線形変化非線形な時間の関数に対して較正されてもよい。検出器は光クロック、例えばkクロックを用いて較正してもよい。光クロックはマッハツェンダー干渉計を含んでもよい。光クロックは波数の変化をリアルタイムで追う又は追跡する。これに代わって、又はこれに加えて、検出器は較正表をエンコードできる記憶機構を含んでもよい。較正表は波数及び時間に関係してもよい。較正表は作表された関数ktを含む又は表すことができる。較正表は本発明の装置を製造する際に又はOCTを行う前に決定される及び/又はエンコードされることができる。ほかのいずれの較正方法も適用することができる。検出器は、較正表によって定義された時間に、分割間隔の間、干渉の強度をサンプリングすることができる。波数について線形であるように、分割間隔の間、干渉の強度をサンプリングすることで、干渉についての信号変調信号とも呼ばれるの損失、特に感度及び/又は信号対雑音比SNRの減少を防ぐことができる。さらに、波数について線形なデータを生成するという中間処理工程が必要ないため、処理ユニットに課す必要条件を減らすことができる。分割間隔、又はそれぞれの分割間隔は、出力パルス幅の1/500、1/1000又は1/10000以下であってもよく、又は出力パルス幅の1/10000と1/500の間の持続時間を有してもよい。サンプリングされた複数の分割間隔は出力パルスごとに少なくとも500、少なくとも1000、又は少なくとも10000であってもよい。これに代わって、又はこれに加えて、分割間隔のそれぞれは200nsより短くてもよく、100nsより短いことが好ましい。検出器は光ダイオード又はデュアルバランス型検出器ユニットを含む。デュアルバランス型検出器ユニットは、光発生器の相対強度雑音を低減することを可能にする。検出器は、光ダイオードに接続されたゲートユニットゲートエレクトロニクスとも呼ばれるをさらに含んでもよい。ゲートユニットは強度の信号を分割間隔に従って細断し、及び/又はサンプリングされたそれぞれの分割間隔の間の強度を読み出すように適合されてもよい。検出器は、サンプリングされた複数の分割間隔の間の強度の記録を保存するように適合された緩衝記憶装置を有してもよい。検出器は、1つの出力パルスに対応する強度の記録をフーリエ変換するように適合された処理装置及び/又は別の信号処理機能を含んでもよい。光発生器は広帯域光発生器であってもよい。光発生器は、広帯域スペクトルに渡る入力パルスを発生させるように適合されてもよい。光発生器はチタンサファイアレーザーTiサファイアレーザー又はTiSレーザーとも呼ばれる又は他のいずれの短パルスレーザー又は超短パルスレーザーを含んでもよい。中心波長は750nmから850nmの範囲内であってもよく、約800nmであることが好ましい。入力スペクトル範囲はおおよそ200nm以上例えば300nm又は400nmであってもよい。チタンサファイアレーザーはパルス状であってもよい。これに代わって、又はこれに加えて、光発生器はスーパールミネセントダイオードSLD又は他のいずれの広帯域光源、例えば増幅自然放出光源ASE光源又はパルススーパーコンティニューム光源を含んでもよい。スーパーコンティニューム光源は、ピコ秒レーザー、ナノ秒レーザー及びレーザーに接続された非線形ファイバーのうち少なくとも1つを含んでもよい。非線形ファイバーは、非線形な光学効果によって、広く、本質的に連続的なスペクトルを発生させるように構成されてもよい。検出器と光発生器は同期されてもよい。光発生器及び検出器に接続された制御器が同期的に制御を行うように適合されていてもよい。同期は固定された時間シフトを含んでもよい。この時間シフトは、複数の分割間隔での強度のサンプリングと入力パルスの発生との間の時間的遅延であってもよい。入力パルスの一群は周期的であってもよい。光発生器は入力パルスの一群を1つの繰り返し周波数で発生させてもよい。サンプリングはその同じ繰り返し周波数で開始され、又は誘発されてもよい。繰り返し周波数は、OCTのAライン取得速度を定めてもよい。光発生器は、連続波光源CW光源及び光シャッターを含んでもよい。シャッターは、CW光源と分散性の媒質の入力部との間で機能するように設置されてもよい。シャッターはCW光源からの光を周期的に細断又は遮断するように適合されていてもよい。シャッターは、繰り返し周波数に対応するシャッター度数で機能してもよい。シャッター度数は少なくとも10kHz、20kHz又は50kHzであってもよい。シャッター度数は、100kHz、500kHz、1MHz又は3MHzに上ってもよい。光カプラは、ビームスプリッター及び光ファイバーカプラのうち少なくとも1つを含んでもよい。光カプラは、出力部をサンプルアームと参照アームに同じ強度で接続してもよい。これに代わって、光カプラは、サンプルアーム中の強度を増加させるように、出力部を異なる強度でサンプルアームと参照アームに接続してもよい。サンプルアームは後方散乱光を提供してもよい。後方散乱光はサンプルによって散乱されたものであってもよい。ビームスプリッターは、部分的に透過的なミラー、例えば半透明のミラーを含んでもよい。光カプラは光ファイバーカプラであってもよい。光ファイバーカプラは、融着ファイバーカプラであるか、ファイバーテーパリングを含んでもよい。光カプラは2対2カプラであってもよい。光カプラは50-50分割カプラであるか、他のいずれの分割割合を提供してもよい。これに代わって、又はこれに加えて、光カプラはサーキュレーターを含んでもよい。サーキュレーターは3つのポートを有するサーキュレーターであってもよい。サーキュレーターの1つ目のポートは出力部に接続されてもよい。サーキュレーターの回転の方向に2つ目のポートは1対2カプラに接続されてもよい。サーキュレーターの回転の方向に3つ目のポートは検出器に接続されてもよい。本発明の別の態様によると、請求項19の、光干渉断層撮影、すなわちOCTのための方法が提供される。この方法は、可干渉光の、入力パルス幅を有する入力パルスの一群を発生させる工程と、分散性の媒質中で波長分散させることによって、それぞれの前記入力パルスの入力パルス幅を複数の出力パルスの出力パルス幅まで引き伸ばす工程と、出力部からの出力パルスを参照アーム及びサンプルアームへと接続し、参照アーム及びサンプルアームから戻ってきた光を重畳する工程と、出力パルス幅の分割間隔の時間分解能で前記重畳した光の干渉の強度を検出する工程を含む。本発明の方法は本発明の装置によって実行することができる。この方法は、装置の態様の文脈で記載されたいずれの特徴又は工程をも含むこともできる。現在の光干渉断層撮影OCTでは、従来のタイムドメインOCTTD-OCTと比べてよりよい信号対雑音比SNRが得られる、いわゆるフーリエドメインOCTFD-OCTが主流となっている。FD-OCTでは、さらに、機械的なz走査すなわち光路長を機械的に変化させる参照アームを避けることによって、顕著に高い、例えばfR>100kHzの走査速度が実現可能である。FD-OCTはスペクトラルドメインOCTSD-OCT又は掃引光源OCTSS-OCTとして実施される。現在のSD-OCTシステムが、JournalofBiomedicalOptics2009年、第14巻5、ページセット050501のJ.Jungwirthetal.による記事Extendedinvivointerioreye-segmentimagingwithfull-rangecomplexspectraldomainopticalcoherencetomographyで説明されている。走査深度の本来の限界と、いわゆるフルレンジコンプレックスFRC技術を用いて走査深度の限界値を二倍にする方法が議論されている。SS-OCTシステムが、OpticsExpress第11巻第22号、2953-2963頁のS.H.Yunetal.による記事High-speedopticalfrequency-domainimagingで図2を参照して説明されている。以下で詳細に説明するように、走査速度の他に、OCT装置の光源によって放出される光の帯域幅Δλと、放出帯域幅Δλの瞬間的な線幅δλが、軸方向の分解能δzmin及び軸方向の走査深度Δzmaxを含むOCT装置の性能に顕著な影響を与える。軸方向の分解能δzminはSD-OCT及びSS-OCTの両方において、以下の式に従って、光源の帯域幅Δλによって決定される。式中、nは、例えば組織などの、サンプルの屈折率を示す。例えば、眼球の角膜はn=1.37である。λ0は光源の半値全幅FWHMの帯域幅によって定義される帯域幅Δλにおける中心波長を示す。軸方向の走査深度の限界Δzmaxは、以下の式に従って、SD-OCTでは検出のスペクトル分解能δλによって、SS-OCTでは掃引レーザーの瞬間的な線幅によって決定される。式中λ0は中心波長を、nは屈折率を示す。線状検出器アレイを有するスペクトロメーターを用いるSD-OCTの場合、横方向に分解された光のスペクトルが照射される線状検出器アレイのピクセルの大きさによってスペクトル分解能δλが制限される。FD-OCTの基礎となる物理原則によって、走査深度Δzmaxと軸方向の分解能δzminの限界は以下の式に従った関係を有する。結果として、SD-OCTシステムの条件としては、全スペクトル幅を検出することすなわち大きいΔλを得ることを目標としてもよく、同時に、高いスペクトル分解能すなわち小さいδλを得ることを目標としてもよい。しかしながら、スペクトル分解能δλと検出器によってカバーされる帯域幅Δλは独立ではなく、線状検出器アレイの中のピクセル数を介して関係している。線状検出器アレイに照射される分解されたスペクトルの横方向の拡散を増大させることによってスペクトル分解能δλを向上させると、線状検出器アレイによってカバーされる帯域幅Δλが減少する可能性がある。色消しレンズ及び回折格子の開口数とともに、スペクトロメーターの線状検出器アレイ中に製造可能なピクセルの大きさと数によって、軸方向の分解能δzmin及び走査深度Δzmaxを独立に向上させることの技術的限界が定められる。この技術的限界によってSD-OCTシステムの性能が制限され、一定の適用例が除外されることがある。例として、現在のSD-OCTシステムは、以下の数値例に示すように、比較的高い軸方向の分解能δzminを達成することができるが、走査深度Δzmaxが比較的低くなる。大きなピクセル数N=4096を用いると共に、光源として、中心波長λ0=800nm及び比較的大きい帯域幅Δλ=200nmを有するチタンサファイアレーザーを用いることで、n=1.37の組織において、良好な分解能δzmin=1.0μm及び走査深度Δzmax=2.1mmを得ることが可能である。この例において、ピクセル数の制限によって必然的にスペクトル分解能が次式のように制限される。このスペクトル分解能の制限によって走査深度Δzmaxが制限される。このように、軸方向の分解能が高ければ走査深度を大きくすることができず、逆もまた同じである。SS-OCTの場合、放出可能な全帯域幅Δλを通じて迅速にレーザー光源のチューニングが行われ、結果、チューニングの時間tにおいてレーザー光源は瞬間的な線幅δλで発振する。しかしながら、瞬間的な帯域幅δλはレーザー光源の空洞のクォリティファクター又はQ値及び発振の整定時間によって制限される。また、SS-OCTに求められるチューニング可能な光源の帯域幅Δλは典型的には120nmより小さく、そのためSS-OCTではしばしばSD-OCTと比べて軸方向の分解能δzminが低く、走査深度Δzmaxがわずかに大きい。さらに、現在、λ0=800nmをカバーするスペクトル範囲で、チューニング可能な帯域幅Δλを十分に有するSS-OCTのためのレーザー光源は存在しない。そしてδzminはλ0の2乗に比例するため、軸方向の分解能は著しく低下する。非常に進歩した掃引レーザー光源を使用すれば、SS-OCTシステムは以下の数値例のような性能を達成することができる。掃引光源が中心波長λ0=1060nm、全帯域幅Δλ=120nmを有し、瞬間的な線幅δλ=0.06nmを提供すると推定すれば、結果として、軸方向の分解能δzmin=3.0μm角膜組織で又はδzmin=4.1μm空気中で及び走査深度Δzmax=3.0mm角膜組織で又はΔzmax=4.1mm空気中でが得られる。上記のFD-OCTについての原理の考察及び対応する数値例から明らかになったように、高い軸方向の分解能δzmin及び大きな走査深度Δzmaxを同時に実現することはできない。図1は、光干渉断層撮影のための装置100aの第1の態様による光学部品の配置及びそれらの相互の接続を概略的に示す。装置100aは光発生器110と、入力部122及び出力部124を有する分散性の媒質120と、光カプラ130と、検出器140とを具備する。光発生器110は入力部122に光学的に接続されている。光発生器110及び分散性の媒質120は、装置100aの光源150を構成する。光カプラ130は、光源150から出力された光を受け、半透明のミラー132を用いて、サンプルアーム170及びミラー162で終わる参照アーム160に等分する。参照アーム160及びサンプルアーム170内を光カプラ130に向けて伝達される光は、光カプラ130によって検出アーム180内で重畳される。検出器140は、光ダイオード142、ゲートユニット144、緩衝記憶装置146、データ取得ユニット143、処理ユニット145、保存ユニット147及び画面148を有する。光ダイオード142は検出アーム180上に設置されている。光ダイオード142は50psより短く、好ましくは35ps台又は40ps台、又はその間である応答時間を有する。時間分解能は、約100psである光ダイオードの不動時間にも左右されることがあり、この不動時間は、連続的に2つ以上の光ダイオード142又は2つ以上の検出器140を用いることで削減又は回避することができる。ゲートユニット144は光ダイオード142に電気的に接続されている。ゲートユニット144は、時間の分割間隔δtgate順に、光ダイオード142からの強度の信号を配列する。緩衝記憶装置146は、配列された強度の信号のサンプルを一時的に保存する。それぞれのサンプルは、分割順に1つの分割間隔を表す。緩衝記憶装置146は、それぞれの分割間隔での強度を、分割間隔の連続番号、検出時間、又は時間依存的な波長に関連づけて保存する図5及び図7を参照して詳細に示す。データ取得ユニット143はインターフェースであり、これを介して処理ユニット145が出力パルス302、304、306のうち1つに対応するそれぞれの分割間隔でのデータを回収する。処理ユニットは、データ取得ユニット143を介して、緩衝記憶装置146からの1つの配列中の強度のサンプルを読み出し、フーリエ変換を行うように適合されている。フーリエ変換の結果は永久に保存ユニット147に保存され、及び/又は使用者に向けて画面148に表示される。サンプルアーム170は、xy走査器172及び走査器レンズ174を有する。xy走査器172は、サンプルアーム170中のカプラ130からレンズ174へ、又は反対の方向へ伝達される光を、第1の横方向に偏向する回旋可能なミラー176及び第1の横方向に垂直な第2の横方向に偏向する回旋可能なミラー178を含む。走査器レンズ174は、ビームウエストが眼球の角膜又は網膜などのサンプル190内に集光される、ガウシアンビームスポットに近いものを作る。図2は、光干渉断層撮影のための装置100bの第2の態様を概略的に示す。上記した100aの態様の説明と同じ構成部分及び特徴については同じ符号で示す。装置100bは、光カプラ130が2対2融着ファイバーカプラを含む点で異なる。融着ファイバーの第1の接合ペアは、分散性の媒質120の出力部124と検出器148にそれぞれ光学的に接続されている。融着ファイバーの第2の接合ペアは、xy走査器172と参照アーム160にそれぞれ光学的に接続されている。図3は、光干渉断層撮影のための装置100cの第3の態様を概略的に示す。装置100cは、図1又は図2を参照した上記の説明と同じ符号によって示す構成部分及び特徴を含む。装置100cは、光カプラ130がサーキュレーター134及び1対2カプラ136を含む点で異なる。サーキュレーター134は3つのポートを有し、いずれのポートに入ったパワーも、矢印138で示す回転方向で次に位置するポートに伝達するように適合されている。サーキュレーター134の1つ目のポートは、分散性の媒質120の出力部124に光学的に接続されている。サーキュレーター134の2つ目のポート上記回転方向で1つ目のポートの次に位置するは、1対2カプラ136の単独のポートに光学的に接続されている。サーキュレーター134の3つ目のポート上記回転方向で2つ目のポートの次に位置するは、検出アーム180を構成する。1対2カプラ136は、サーキュレーター134の2つ目のポートからの光を参照アーム160とサンプルアーム170の両方に出力する。参照アーム160及び/又はサンプルアーム170から戻ってきた光は1対2カプラの単独のポートに合わされて、サーキュレーター134の2つ目のポートに入る。参照アーム160及びサンプルアーム170のいずれか又は両方は任意で偏波コントローラーを含む。光発生器110は広帯域のTiSレーザー又はパルススーパーコンティニューム光源SC光源である。光発生器110は、パルス繰り返し周波数fR=1/TRで中心波長λ0=800nm、1050nm又は1300nmを有するパルスを発生させる。パルスの一群202、204、206の短い一部分の、時間T1、T2、T3でのスペクトル-時間パワー分布SINを図4のグラフ200aに概略的に示す。時間はグラフ200aの横軸に示され、波長は縦軸に示される。スペクトル-時間パワー分布は、時間と波長の両方の関数であるスペクトル-時間密度として概略的に示される。図6のグラフ200bは、入力部122におけるスペクトル-時間パワー分布SINの変更例を概略的に示す。光発生器110によって、本質的にパルスの全幅τ0にわたって、広いスペクトル範囲Δλ中の極限の波長が提供される。閉じている線は同じパワー密度の線を模式的に示す。それぞれの装置100a、100b、100cの変更例では、光発生器110が広帯域の連続波CW光源、例えばスーパールミネセントダイオードSLD又は増幅自然放出ASE光源を含む。CW光源は高い強度を有し、又は強いルミネセンスを示す。CW光源は、入力スペクトル範囲Δλに対応する広帯域のスペクトルを提供する。CW光源は、高速シャッターを用いて光学的に細断される。シャッターはおよそfR=1MHzの度数で動作する。細断された光は分散性の媒質120に入力される。図6のグラフ200bはシャッターによって提供されるスペクトル-時間パワー分布SINを概略的に例えば図4のグラフ200aより現実的に示すことができる。パルスの一群の中のそれぞれのパルス202、204、206は、そのパワー分布に関して、時間、周波数又は波長において本質的に等しい。TiSレーザーパルスは200nm台の入力スペクトル範囲Δλを有する。TiSレーザーの例がOpticsLetters2003年、第28巻、第11号、905-907頁のA.Unterhuberetal.による記事Compact,low-costTi:Al2O3laserforinvivoultrahigh-resolutionopticalcoherencetomographyに記載されている。入力パルス幅τ0は、パワーピークに対して1/e2レベルより大きいパワーを有する時間として定義されるパルス持続時間である別の定義では-3dBレベル、すなわち時間の半値全幅を用いる。入力パルス幅τ0は10fsから10nsの範囲内であり、好ましくは1psから1ns又は2nsの範囲内である。入力スペクトル範囲Δλは半値全幅帯域幅として、すなわちスペクトルの-3dBレベルで定められる。別の定義では、複素スペクトルに-10dBレベルすなわちスペクトル範囲が10レベルで定められる、又はまれに1/e2レベルが用いられることがある。以下で図5及び図7を参照して説明するように、入力スペクトル範囲Δλは、分散性の媒質120による有効な掃引スペクトルを定める。広帯域の入力パルス202、204又は206は、高度に分散性の媒質120中をパルスが通過する際に時間的に引き伸ばされる。それぞれ図1、2及び3に示される態様100a、100b、100cで、分散性の媒質120は光ファイバーである。入力パルスは群速度の線形分散に従う。これに代わるものとして、非線形な群速度分散が、以下で図8を参照して議論される。結果として、入力パルスの複数のスペクトル構成部分は遅れ方が異なる、又は互いに対して時間的に分散する。遅れは波長の関数であり、正の分散の場合、長い波長の方が分散性の媒質120中でより速く伝達され、結果として図5のグラフ300aに概略的に示されるスペクトル-時間パワー分布SOUTの出力パルス302、304、306が得られる。図6のグラフ200bの入力パルスから、分散性の媒質120の出力部124で得られるスペクトル-時間パワー分布SOUTが図7のグラフ300bに概略的に示される。入力パルス202、204、206の元のスペクトル308は、それぞれの出力パルス302、304及び306の出力パルス幅τpより長い時間スケール上で平均した場合本質的に不変である。より具体的には、パラメトリック利得、第二次高調波発生、恣意的な順序の分散、自己位相変調及び四波混合などの非線形の効果は分散性の媒質120中に存在しないか、無視できる。分散性の媒質120は線形の媒質である。特に、中心波長λ0は維持される。検出器140によって時間的に分解された分割間隔δtgateの明確に短い時間スケール上で、異なる波長のスペクトルの分離によってアップチャープされた出力パルスが生じる。グラフ300aと300bのそれぞれで時間t1及びt2について示されるように、この出力パルスの波長λtは時間の関数である。図5及び図7で時点t1に例示される、瞬間的な出力スペクトル310は、全入力スペクトル範囲Δλ中の瞬間的なスペクトル範囲δλを有する細い線である。媒質120の分散は波長分散又は群速度分散GVDである。分散は少なくとも部分的に分散パラメータDによって表される。関心のあるほとんどすべての所定スペクトル範囲Δλ、特に600nmから1000nmの範囲で大きな分散パラメータを有する、特別に設計されたファイバーが入手可能である。大モード面積ファイバーLMAファイバー、フォトニック結晶ファイバーPCFは、異なるスペクトル成分について|D|>500ps/nmkmの分散パラメータを有するGVDを提供する。図8は、偏波保持大モード面積UVファイバーの分散についてのグラフ400を示す。グラフ400は西ザクセン大学のP.Hartmann教授による測定結果である。LMAUVファイバーは直径125μm、第1モードフィールド径MFDx=2.6μm、第2モードフィールド径MFDy=4.3μmである。長さあたりの遅延τ/Lは符号402によって示され、分散パラメータDは符号404によって示される。PCFの分散パラメータについての対応する結果が、雑誌OpticsExpress、2004年、第12巻、第2号、301頁の図1aに示されている。さらに、装置100a、100b及び100cの各態様の発展的な変更例には、雑誌LaserFocusWorld2011年7月、9頁に報告されているような、-13200ps/nmkm台の分散パラメータDを有するいわゆる同心コアファイバーが用いられる。入力パルス202、204又は206の入力パルス幅τ0は大きく引き伸ばされ、すなわち時間的に延長されて、出力パルス302の出力パルス幅τpとなる。入力パルス幅τ0は1fs台から1ns台である。出力パルス幅τpは100ns台から10μs台である。媒質120の分散は、次の式に従って入力パルス幅τ0と出力パルス幅τpを関係づける。式中、D[ps/nmkm]は分散性の媒質120のスペクトル分散パラメータであり、L[km]は光の伝達路の長さ例えばファイバーの長さであり、Δλ[nm]は入力スペクトル範囲である。以下の数値例で詳述するように、好ましい長さLは1km、10km、又はその間のいずれかの長さを含む。光発生器110のパワーは、例えば出力部124における出力パルス302、304、306のピークパワーが少なくとも1mW、5mW、10mW、20mW、50mW又は5mWから50mWの間であるように選択される。パワーについては分散性の媒質120における減衰を考慮してもよい。このように、入力パルス202、204、206の、広い入力スペクトル範囲Δλ及び短い入力パルス幅τ0を有する広帯域の入力スペクトルSINは、出力部124において時間平均スペクトル範囲Δλを変化させることなく、時間的に大きく引き伸ばされて出力パルス幅τpとなる。図5及び図7のそれぞれに示す正の分散の場合、引き伸ばされた出力パルス302、304又は306の始めには赤色のスペクトル成分が含まれる。続いて、青色のスペクトル成分が出力パルス302、304又は306の時間的に後ろの部分に含まれる。このように異なるスペクトル成分は異なる時間に検出器140に達し、検出器140は、出力パルス幅τpを細分した分割間隔δtgateのそれぞれで、連続的にスペクトル成分を検出する。適用例に応じて分散パラメータDを変化させることによって時間的な広がり、すなわち出力パルス幅τpが選択される。分散パラメータDは、複数の異なる分散性の媒質の中から選択的に分散性の媒質120を切り替えることで変化させられる。装置100a、100b又は100cの部品の光学的な配置の変更を避けるために、態様の一変更例では、外部の電場又は磁場を分散性の媒質120に対して作用させることによって、外部の場に対する感受性を有する分散性の媒質120の分散パラメータDを変化させる。これに代わって、又はこれに加えて、分散性の媒質120の長さLが変化させられる。装置100a、100b又は100cの態様の発展的な変更例では、分散性の媒質120は長さLの所に複数のタブを有する。複数のタブのそれぞれは、長さL上の位置で分散性の媒質120に入るように又は分散性の媒質120から出るように光を接続することを可能にする。少なくとも入力部122と出力部124のどちらか一方が分散性の媒質120の長さL上の位置に選ばれる。適用例に応じて、光スイッチが自動的に複数のタップのうちの1つを入力部122又は出力部124として使用する。出力パルス302、304又は306が十分に時間的に引き伸ばされたすなわちτpが十分に大きい場合で、十分に速い検出器140すなわち十分に短いδtgateでは、ゲートユニット144によって定められる時間的な分割間隔δtgateで瞬間的なスペクトル範囲δλすなわち瞬間的なスペクトル線幅のみが検出される。このように、瞬間的なスペクトル範囲δλすなわち瞬間的なスペクトル線幅は、軸方向の分解能の2倍である可干渉距離を以下の式に従って定義する。ここで、OCTの信号が-6dBこれは20logAに対応する。Aは信号の強度とするとなる深度が軸方向の分解能を定めると推定される。すなわち、軸方向の分解能Δzmaxは可干渉距離の半分である。検出器140の時間分解能δtgateが一定であっても、分散性の媒質120によって発生させられる出力パルス幅τpを増大させることによって、光発生器110のスペクトル範囲Δλ、及び/又はゲート時間分解能δtgateを減少させることと独立に、スペクトル分解能すなわち瞬間的なスペクトル範囲δλを上昇させられることが指摘されている。独立であることの結果として、軸方向の分解能δzmin1/Δλに比例する及び軸方向の走査深度Δzmax1/δλに比例し、従ってτp/Δλδtgateに比例するは互いに独立に選択することができる。すなわち、パルス引き延ばし掃引光源OCTPSSS-OCTとも呼ぶことができるOCT技術によって、適用例に応じてほとんど自由に軸方向の分解能δzmin及び軸方向の走査深度Δzmaxを選択することができる。スペクトル分解能δλはSD-OCTと対照的にもはやスペクトロメーターの検出器アレイのピクセルの大きさによって制限されず、SS-OCTと対照的にチューニング可能な光源又は掃引光源の瞬間的な帯域幅によって決定されない。PSSS-OCTを利用すれば、光源110によって提供される広い帯域幅Δλと分散性の媒質120によって生じるスペクトル分解能δλの小さな値は相互に排他的ではない。装置100a、100b及び100cのそれぞれの実施例のためのパラメータを要約する。光発生器として使用されるTiSレーザーは、入力パルス幅τ0=1psから1nsで中心波長λ0=800nm及び帯域幅Δλ=200nmを有する。分散性の媒質120は、長さL=2kmのコイルとして構成されたファイバーである。ファイバーは分散パラメータD=-13200ps/nmkmを有する。検出器140は分割間隔δtgate≦100psでサンプリングする時間分解能を有し、そのクロッキングは検出器140の全ての構成部分142から148によって支持されている。従って、出力パルス幅τpは少なくとも第1期、τ0の寄与は無視されるので以下のように求められる。サンプリング間隔δtgate=100psのとき、サンプリングされる分割間隔の1パルスあたりの数Nは、以下のように求められる。瞬間的な出力スペクトル範囲δλ、すなわち時間的な分割間隔δtgateの間光ダイオード142の強度の信号を検出する検出器140のスペクトル分解能は以下のように求められる。このように、装置100a、100b又は100cの実施例によって軸方向の分解能δzmin=1.0μm及び軸方向の走査深度Δzmax=26mmを達成することができる。したがって装置100a、100b又は100cの態様によって、SD-OCTに匹敵する高い軸方向の分解能と併せて、眼球の全長に渡って十分な信号強度、すなわちスペクトルパワーで走査を行うのに十分に大きい軸方向の走査深度を達成することができる。装置100a、100b又は100cの光学的な配置を変えることなく、分割間隔δtgateのサンプリング間隔を変化させることによって、走査深度Δzmaxを自由に調節することができる。これに代わって、又はこれに加えて、非常に短い入力パルス幅τ0の場合に特に適切であるが、出力パルスの出力パルス幅τpを生む入力パルスの時間的な広がりは、以下の関係式によって表してもよい。式中D2=β2Lは群遅延分散である例えば分散性の媒質の具体的な長さLについての群速度分散。符号β2は群速度分散を示す。式中、Dλは分散パラメータ群遅延分散パラメータとも呼ばれるで、単位はps/kmnmであり、例が図8に示される。数値例のセットにおいて、分散パラメータはDλ=-13200ps/kmnmであり、中心波長λ0=800nmの光が発生する。その結果L=2kmの長さに対して出力パルスτpが約1.65μs、L=10kmの長さに対して出力パルスτpが約8.25μs、L=20kmの長さに対して出力パルスτpが約16.5μsとなるようなβ2=4481781fs2/mが生じる。TiSレーザーが発生する光の入力スペクトル範囲Δλをさらに増大させることで、走査深度Δzmaxに負の効果を与えることもなく、軸方向の分解能δzminをさらに上昇させることができる。光干渉断層撮影のための装置の態様の上記の説明から明らかになったように、いくつかの態様によって、軸方向の分解能δzmin及び走査深度Δzmaxのうち少なくとも1つの制限又は相互依存性を克服することができる。出力パルス幅τpは1μsを超えることができる。検出器は100psよりも短い時間的な分割間隔δtgateを分解することができる。分散は入力パルス中のスペクトル成分の波数又は周波数について線形であることができ、これによって、直接フーリエ変換を行うために分割間隔δtgateの間の強度信号を時間的に均一にサンプリングすることが可能になる。本発明の範囲から外れることなく、又はその利点の全てを犠牲にすることなく、上記の態様の例の形態、構成及び配置に多様な変更を加えてもよいことは明らかである。本発明には多様な変更を行うことができるため、本発明は以下の特許請求の範囲によってのみ限定されるものであると認識される。"