"光導電性の感光体に、帯電と光ビームによるドット露光を行なって静電潜像を形成し、形成された静電潜像をトナー像として可視化する電子写真プロセスの、画像形成評価を行なう画像形成評価装置であって、静電潜像を形成する静電潜像形成手段と、該静電潜像形成手段により形成された静電潜像の、静電潜像プロファイルを測定する静電潜像測定手段と、上記静電潜像をトナー像として可視化するトナー像形成手段と、該トナー像形成手段により形成されたトナー像の、トナー像プロファイルを測定するトナー像測定手段と、上記静電潜像測定手段により測定される静電潜像プロファイルと、上記トナー像測定手段により測定されるトナー像プロファイルとの間に介在する現像劣化関数を、逆畳み込み演算を用いて導出する現像劣化関数導出手段とを有することを特徴とする画像形成評価装置。光導電性の感光体に、帯電と光ビームによるドット露光を行なって静電潜像を形成し、形成された画像をトナー像として可視化する電子写真プロセスの、画像形成評価を行なう画像形成評価装置であって、光導電性の感光体に静電潜像を形成する静電潜像形成手段と、上記静電潜像形成手段が放射する露光ビームのビームプロファイルを測定するビームプロファイル測定手段と、上記露光ビームにより形成される静電潜像の静電潜像プロファイルを測定する静電潜像測定手段と、上記静電潜像をトナー像として可視化するトナー像形成手段と、該トナー像形成手段により形成されたトナー像の、トナー像プロファイルを測定するトナー像測定手段と、上記ビームプロファイルと静電潜像プロファイルとの間に介在する露光劣化関数を、逆畳み込み演算を用いて導出する露光劣化関数導出手段と、上記静電潜像プロファイルとトナー像プロファイルとの間に介在する現像劣化関数を、逆畳み込み演算を用いて導出する現像劣化関数導出手段とを有することを特徴とする画像形成評価装置。請求項1記載の画像形成評価装置において、画像形成によって形成すべきトナー像の、トナー像プロファイルを実現しうる、静電潜像プロファイルを、求められた現像劣化関数に基づき求める手段を有することを特徴とする画像形成評価装置。請求項2記載の画像形成装置において、画像形成によって形成すべきトナー像のトナー像プロファイルを実現しうるビームプロファイルを、求められた露光劣化関数と現像劣化関数とに基づき求める手段を有することを特徴とする画像形成評価装置。請求項1~4の任意の1に記載の画像形成評価装置において、静電潜像形成手段の光ビームによる露光で、1ドットの静電潜像を、1以上形成し、トナー像測定装置により、上記1ドットの静電潜像によるトナー像を3次元的に測定し、トナー像の高さを等高線として表現し、上記等高線から上記トナー像のトナー像プロファイルを求めるものであることを特徴とする画像形成評価装置。光導電性の感光体に、光書込み手段によるドット露光により静電潜像を形成し、形成された静電潜像をトナー像として可視化する電子写真プロセスの、画像形成評価を行なう方法であって、静電潜像を形成する静電潜像形成工程と、該静電潜像形成工程で形成された静電潜像の静電潜像プロファイルを、関数:gとして特定する静電潜像プロファイル特定工程と、上記静電潜像プロファイルを特定された静電潜像をトナー像として可視化するトナー像形成工程と、該トナー像形成工程により形成されたトナー像のトナー像プロファイルを、関数:kとして特定するトナー像プロファイル特定工程と、上記特定された関数:gと関数:kとを用いる逆畳み込み演算を用いて、現像劣化関数:pを求める現像劣化関数演算工程と、を有することを特徴とする画像形成評価方法。光導電性の感光体に、光書込み手段によるドット露光により静電潜像を形成し、形成された静電潜像をトナー像として可視化する電子写真プロセスの、画像形成評価を行なう方法であって、ドット露光を行なうビームの露光面上におけるビームプロファイルを、関数:fとして特定するビームプロファイル特定工程と、上記関数:fを与える光ビームによるドット露光により、感光体に静電潜像を形成する静電潜像形成工程と、形成された静電潜像のプロファイルを、関数:gとして特定する静電潜像プロファイル特定工程と、上記関数:gを特定された静電潜像をトナー像として可視化するトナー像形成工程と、該トナー像形成工程により形成されたトナー像の、トナー像プロファイルを、関数:kとして特定するトナー像プロファイル特定工程と、上記関数:fと関数:gとを用いる逆畳み込み演算を用いて、露光劣化関数:hを求める露光劣化関数演算工程と、上記関数:gと関数:kとを用いる逆畳み込み演算を用いて、現像劣化関数:pを求める現像劣化関数演算工程と、を有することを特徴とする画像形成評価方法。請求項6または7記載の画像形成評価方法において、画像形成によって形成すべきトナー像のトナー像プロファイル:k0を実現しうる、静電潜像プロファイル:g0を、求められた現像劣化関数:pに基づき定める静電潜像プロファイル決定工程を有することを特徴とする画像形成評価方法。請求項7記載の画像形成評価方法において、画像形成によって形成すべきトナー像のトナー像プロファイル;k0を実現しうるビームプロファイル:f0を、求められた露光劣化関数:hと現像劣化関数:pとに基づき求めるビームプロファイル決定工程を有することを特徴とする画像形成評価方法。この発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、上記逆方向的な設計手法を実現可能とする画像形成評価装置および画像形成評価方法の提供を課題とする。請求項1の画像形成評価装置は光導電性の感光体に、帯電と、光ビームによるドット露光を行なって静電潜像を形成し、形成された静電潜像をトナー像として可視化する電子写真プロセスの、画像形成評価を行なう装置であって、静電潜像形成手段と、静電潜像測定手段と、トナー像形成手段と、トナー像測定手段と、現像劣化関数導出手段とを有する。静電潜像形成手段は、静電潜像を形成する手段である。静電潜像を感光体に形成する場合であれば、静電潜像形成手段は、感光体を均一帯電する帯電手段と、光ビームによるドット露光を行なう露光手段を有する。帯電手段としては、公知の適宜のもの、例えば、各種のコロナ帯電器や、接触型や非接触型の帯電ローラや帯電ブラシを用いることが可能である。勿論、帯電手段は、これらのものに限定されない。また、露光手段としては、光ビームによるドット露光を行なうものが用いられる。このような露光手段としては、先に説明した光走査方式の走査光学系や、LED光源とレンズの組み合わせによるものを用いることができる。即ち、帯電手段、露光手段は、電子写真方式の画像形成装置に関連して広く知られたものを適宜用いることができる。請求項1記載の画像形成評価装置においては、静電潜像の形成は、必ずしも光導電性の感光体の帯電と露光によらなくてもよい。例えば、誘電体表面を持つ静電潜像担持体に対して、電子ビーム等による描画で、帯電分布を形成して静電潜像としてもよい。静電潜像測定手段は、静電潜像形成手段により形成された静電潜像の静電潜像プロファイルを測定する手段である。静電潜像の測定は、基本的には形成された静電潜像を保持する静電潜像担持体の表面電位分布を測定することによって行なうことができる。このような測定を行なう具体的なものとしては、前述した特許文献1に記載のものを挙げることができる。静電潜像プロファイルについては後述する。トナー像形成手段は、感光体や、誘電性の潜像担持体に形成された静電潜像にトナー粒子を付着させてトナー像として可視化する手段であり、電子写真技術において知られた各種の乾式現像装置を利用できる。トナー像測定手段は、トナー像形成手段により形成されたトナー像の、トナー像プロファイルを測定する手段である。トナー像の測定には、前述の汎用の光学顕微鏡を用いることができ、3次元的な測定が容易に実施できるものを好適に用いることができる。トナー像プロファイルについては後述する。現像劣化関数導出手段は、静電潜像測定手段により測定される静電潜像プロファイルと、トナー像測定手段により測定されるトナー像プロファイルとの間に介在する現像劣化関数を、逆畳み込み演算を用いて導出する手段である。このように、請求項1の画像形成評価装置では、静電潜像測定手段により測定される静電潜像プロファイルと、トナー像測定手段により測定されるトナー像プロファイルとの間に介在する現像劣化関数が、現像劣化関数導出手段により逆畳み込み演算により導出される。現像劣化関数については後述する。例えば、特許文献1記載の装置で測定される静電潜像、即ち静電潜像の電位分布は、それ自体をデータとして演算処理を行い難い。トナー像測定によって得られるトナー像も、その測定データそのままでは演算処理を行い難い。そこで、上記静電潜像の電位分布を、演算で取り扱い易い関数により近似する。このように関数として近似された電位分布が静電潜像プロファイルである。同様に、トナー像の測定データを、演算で取り扱い易い関数で近似したものがトナー像プロファイルである。上記関数による近似の方法は、種々の方法が可能である。例えば多項式による近似や既存の関数、例えば、正弦関数等にフィットさせる方法が考えられる。有効な関数としては、ガウス分布関数のパラメータを調整して、トナー像データや電位分布にフィットさせることが考えられる。従って、静電潜像測定手段が静電潜像の静電潜像プロファイルを測定するとは、静電潜像の電位分布を測定し、この電位分布を良好に近似する静電潜像プロファイルを得ることを意味する。同様に、トナー像測定手段がトナー像の、トナー像プロファイルを測定するとは、トナー像を測定し、その測定データを良好に近似するトナー像プロファイルを得ることを意味する。静電潜像測定手段やトナー像測定手段は、測定を行なって測定データを得る測定部と、この測定部により得られた測定データを関数近似する演算部とを有する。演算部はコンピュータあるいはマイクロプロセッサ、CPU等により構成できる。逆畳み込み演算については、後述する。請求項2記載の画像形成評価装置は光導電性の感光体に、帯電と光ビームによるドット露光を行なって静電潜像を形成し、形成された画像をトナー像として可視化する電子写真プロセスの、画像形成評価を行なう装置であって、静電潜像形成手段と、ビームプロファイル測定手段と、静電潜像測定手段と、トナー像形成手段と、トナー像測定手段と、露光劣化関数導出手段と、現像劣化関数導出手段とを有する。静電潜像形成手段は、光導電性の感光体に静電潜像を形成する手段である。静電潜像の形成は、光導電性の感光体の、均一帯電と、光ビームによるドット露光により行なわれる。ビームプロファイル測定手段は、静電潜像形成手段が放射する露光ビームのビームプロファイルを測定する手段である。ビームプロファイルは、例えば、前述の市販の汎用のビームプロファイル測定装置によりプロファイル形状を測定し、測定データを関数により近似する。この近似された関数がビームプロファイルである。即ち、ビームプロファイル測定手段は、プロファイル形状を測定する測定部と、この測定部により得られた測定データを関数近似する演算部とを有する。演算部はコンピュータあるいはマイクロプロセッサ、CPU等により構成できる。静電潜像測定手段は、露光ビームにより形成される静電潜像の静電潜像プロファイルを測定する手段であり、静電潜像の電位分布を測定する測定部例えば、特許文献1に記載の測定装置と、この測定部により得られた測定データを関数近似して静電潜像プロファイルとする演算部とを有する。演算部はコンピュータあるいはマイクロプロセッサ、CPU等により構成できる。即ち、静電潜像測定手段は、請求項1におけるものと同様のものである。トナー像形成手段は、静電潜像形成手段により感光体上に形成された静電潜像をトナー像として可視化する手段であり、感光体に形成された静電潜像にトナー粒子を付着させて、トナー像として可視化する手段であり、電子写真技術において知られた各種の乾式現像装置を利用できる。トナー像測定手段は、トナー像形成手段により形成されたトナー像の、トナー像プロファイルを測定する手段であって、トナー像に対する測定を行なって測定データを得る測定部と、この測定部により得られた測定データを関数近似する演算部とを有する。演算部はコンピュータあるいはマイクロプロセッサ、CPU等により構成できる。即ち、トナー像測定手段は、請求項1におけるものと同様のものである。露光劣化関数導出手段は、ビームプロファイルと静電潜像プロファイルとの間に介在する露光劣化関数を、逆畳み込み演算を用いて導出する手段である。露光劣化関数については後述する。現像劣化関数導出手段は、静電潜像プロファイルとトナー像プロファイルとの間に介在する現像劣化関数を、逆畳み込み演算を用いて導出する手段であり、請求項1におけるものと同様のものである。現像劣化関数については後述する。請求項1、2における現像劣化関数導出手段、請求項2における露光劣化関数導出手段は、演算を行なうものであり、コンピュータあるいはマイクロプロセッサ、CPU等により構成できる。請求項1における、静電潜像測定手段やトナー像測定手段における関数近似演算を行なう部分や上記現像劣化関数導出手段は、1つのコンピュータで総合的に実現できる。同様に、請求項2におけるビームプロファイル測定手段、静電潜像測定手段やトナー像測定手段における関数近似演算を行なう部分や、現像劣化関数導出手段、露光劣化関数導出手段も、1つのコンピュータで総合的に実現できる。請求項1の画像形成評価装置は、さらに画像形成によって形成すべきトナー像の、トナー像プロファイルを実現しうる静電潜像プロファイルを、求められた現像劣化関数に基づき求める手段を有することができる。また、請求項2記載の画像形成装置は、さらに画像形成によって形成すべきトナー像のトナー像プロファイルを実現しうるビームプロファイルを、求められた露光劣化関数と現像劣化関数とに基づき求める手段を有することができる。請求項6の画像形成評価方法は光導電性の感光体に、光書込み手段によるドット露光により静電潜像を形成し、形成された静電潜像をトナー像として可視化する電子写真プロセスの、画像形成評価を行なう方法であって、静電潜像形成工程と、静電潜像プロファイル特定工程と、トナー像形成工程と、トナープロファイル特定工程と、現像劣化関数特定工程と、を有する。静電潜像形成工程は、静電潜像を形成する工程である。この静電潜像形成工程は、光導電性の感光体の帯電とドット露光により行なうこともできるし、誘電性基板の表面を電子ビームにより走査する描画方式で行うこともできる。静電潜像プロファイル特定工程は、静電潜像形成工程で形成された静電潜像の、静電潜像プロファイルを、関数:gとして特定する工程である。トナー像形成工程は、静電潜像プロファイルを特定された静電潜像をトナー像として可視化する工程である。トナー像プロファイル特定工程は、トナー像形成工程により形成されたトナー像のトナー像プロファイルを、関数:kとして特定する工程である。現像劣化関数演算工程は、特定された関数:gと関数:kとを用いる逆畳み込み演算を用いて、現像劣化関数:pを求める工程である。静電潜像形成工程は前記静電潜像形成手段により実行され、静電潜像プロファイル特定工程は静電潜像測定手段により実行される。また、トナー像形成工程は前記トナー像形成手段により実行され、トナー像プロファイル特定工程はトナー像測定手段により実行され、現像劣化関数演算工程は前記現像劣化関数導出手段により実行される。請求項7の画像形成評価方法は光導電性の感光体に、光書込み手段によるドット露光により静電潜像を形成し、形成された静電潜像をトナー像として可視化する電子写真プロセスの、画像形成評価を行なう方法であって、ビームプロファイル特定工程と、静電潜像形成工程と、静電潜像プロファイル特定工程と、トナー像形成工程と、トナー像プロファイル特定工程と、露光劣化関数演算工程と、現像劣化関数演算工程と、を有する。ビームプロファイル特定工程は、ドット露光を行なうビームの露光面上におけるビームプロファイルを、関数:fとして特定する工程である。静電潜像形成工程は、関数:fを与える光ビームによるドット露光により、感光体に静電潜像を形成する工程である。静電潜像プロファイル特定工程は、形成された静電潜像のプロファイルを、関数:gとして特定する工程である。トナー像形成工程は、関数:gを特定された静電潜像を、トナー像として可視化する工程である。トナー像プロファイル特定工程は、トナー像形成工程により形成されたトナー像の、トナー像プロファイルを、関数:kとして特定する工程である。露光劣化関数演算工程は、関数:fと関数:gとを用いる逆畳み込み演算を用いて、露光劣化関数:hを求める工程である。現像劣化関数演算工程は、関数:gと関数:kとを用いる逆畳み込み演算を用いて、現像劣化関数:pを求める工程である。ビームプロファイル特定工程は、前述のビームプロファイル測定手段により実行される。静電潜像形成工程は、前述の静電潜像形成手段により実行される。静電潜像プロファイル特定工程は、前述の静電潜像測定手段により実行される。トナー像形成工程は、前述のトナー像形成手段により実行される。トナー像プロファイル特定工程は、前述のトナー像測定手段により実行される。露光劣化関数演算工程は、前述の露光劣化関数演算手段により実行される。現像劣化関数演算工程は、前述の現像劣化関数演算手段により実行される。請求項6または7記載の画像形成評価方法は画像形成によって形成すべきトナー像のトナー像プロファイル:k0を実現しうる、静電潜像プロファイル:g0を、現像劣化関数:pに基づき定める静電潜像プロファイル決定工程を有することができる。請求項7記載の画像形成評価方法はまた画像形成によって形成すべきトナー像のトナー像プロファイル:k0を実現しうるビームプロファイル:f0を、求められた露光劣化関数:hと現像劣化関数:pとに基づき求めるビームプロファイル決定工程を有することができる。上記の如く、この発明によれば、新規な画像形成評価装置および画像形成評価方法を提供できる。請求項1の画像形成評価装置および請求項6の画像形成評価方法によれば、測定される静電潜像プロファイルとトナー画像プロファイルとを関連付ける現像劣化関数を求めることができる。求められた現像劣化関数は、現像手段の現像特性を与えるものであり、画像形成プロセスにおける現像工程を評価できる。請求項2の画像形成評価装置および請求項7の画像形成評価方法によれば、測定される静電潜像プロファイルとトナー画像プロファイルとを関連付ける現像劣化関数に加えて、ビームプロファイルと静電潜像プロファイルとを関連付ける露光劣化関数を求めることができる。求められた現像劣化関数は、現像手段の現像特性を与えるものであり、露光劣化関数は、静電潜像形成手段の露光特性を与えるものである。従って、これらの劣化関数により、画像形成プロセスにおける静電潜像形成工程現像工程を評価できる。さらに、請求項3の画像形成評価装置、請求項8の画像形成評価方法によれば、形成すべきトナープロファイルを実現するために形成すべき静電潜像を定めることができる。また、請求項4の画像形成評価装置、請求項9の画像形成評価方法によれば、形成すべきトナープロファイルを実現するために形成すべきビームプロファイルを定めることができる。以下、実施の形態を説明する。まず、図3を参照して、トナー像測定を説明する。図3は、トナー像測定手段を概念的に説明図として示している。図3において、符号3A1は光導電性の感光体を示す。感光体3A1の感光面に、電位分布による静電潜像RIが形成されている。静電潜像RIは、図3においては、ドット露光により形成される1ドットの静電潜像が3個形成された状態を示している。勿論、静電潜像RIは肉眼では見えない。これら3個の静電潜像RIにトナー粒子が付着して、トナー像TIを構成している。図3は概念図であるから、各部のサイズは実際とは異なる。例えば、感光体3A1のサイズは数cm~数十cmであり、トナー像TIを構成するトナー粒子の大きさは十数μm~数μmのオーダである。トナー像TIを、顕微鏡3A2を用いて測定し、測定データをコンピュータ3A3によりデータ処理する。顕微鏡3A2は、対物レンズ3A21とCCDカメラ3A22とを有し、対物レンズ3A21によるトナー像TIの像を、CCDカメラ3A22により撮像するようになっている。トナー像TIの照明は、例えば、対物レンズ3A21の近傍に設けた白色光源図示されずから照明光を照射することにより行なう。顕微鏡3A2は、固定焦点距離であり、対物レンズ3A21の光軸方向へ移動可能となっている。顕微鏡3A2の移動は、コンピュータ3A3により制御される。トナー像TIは、説明中の例ではトナー粒子が円錐状に集合した形状である。勿論円錐状は、トナー粒子の集合状態を大雑把に表現するものであって正確なものではない。先ず、顕微鏡3A2を感光体3A1の表面トナー像TIの形成されている面近傍に合焦させ、1個のトナー像の拡大像をCCDカメラ3A32の受光面に結像させる。このとき、顕微鏡3A2は感光体表面近傍に合焦しているので、上記受光面上に結像するのは、円錐状のトナー像TIにおける底面部分を構成するトナーの2次元像であり、この状態で、上記円錐状の底面部分の輪郭を得ることができる。この輪郭をCTR1とする。CCDカメラ3A22の撮像データから、上記輪郭を得る処理はコンピュータ3A3のデータ処理により行う。次に、顕微鏡3A2を、対物レンズ3A21の光軸方向において、所定の微少量仮にHとする。Hは、トナー粒子の大きさ十数μm~数μmと同程度としておく。このようにすると、CCDカメラ3A22の受光面に結像するのは、トナー像TIの上記底面部から高さ:Hの部分である。従って、この部分の輪郭を得ることができる。この輪郭をCTR2とする。さらに、顕微鏡3A2を、対物レンズ3A21の光軸方向において、所定の微少量Hだけ変位させると、トナー像TIの底面部から高さ:2Hの部分の輪郭が得られる。この輪郭をCTR3とする。このプロセスをi回繰り返せば、i個の輪郭CTRii=1~iが得られる。このプロセスの繰り返しによって、トナー像TIの底面部から頂部までを高さ:Hごとの平行な仮想平面で切断した断面の輪郭を得ることができる。上記底面部から頂部までの間に、顕微鏡3A2をN回変位させたとすれば、得られる輪郭CTRjj=1~Nは、トナー像TIの円錐状の形状を高度差:Hの等高線で表したものとなる。顕微鏡3A2の高さ方向光軸の分解能は、顕微鏡の機械精度により決定されるが、トナー像を測定する目的には用の顕微鏡で問題ないレベルである。このようにして、汎用の顕微鏡3A2を用いて、トナー像TIの形状を3次元的に測定できる汎用の顕微鏡装置としては、例えば、株式会社キーエンス社製の形状測定レーザマイクロスコープVK-9500などを用いることができる。。等高線の決定については後述する。図3において、感光体3A1は円筒形であり、トナー像TIの形成されている面は曲率を有しているが、トナー像TIは小さいので、感光体表面の曲率は無視できる。コンピュータ3A3内で画像処理を行ない、トナー像TIの形状を等高線で現し、これに基づいて、トナー像プロファイルを抽出する。感光体3A1上の静電潜像RIへのトナー粒子の付着は、電子写真プロセスでの現像であり、静電潜像RIに帯電トナー粒子を静電的に付着させる。従って、トナー像形成は、通常の複写機やレーザプリンタのような電子写真装置を用いて実行することができるが、これらの装置をそのまま使うのは不便であり、感光体にトナー粒子を付着させた時点でプロセスを止めるように、電気的制御あるいは制御ソフトウエアを調整した装置を用いる。トナー粒子によりトナー像が形成された感光体を装置から取り外し、トナー像が崩れ落ちないよう注意して顕微鏡3A2にセットし、上記の如くしてトナー像測定を行なう。なお、電子写真装置に顕微鏡を入れるスペースを確保して、装置内で、顕微鏡による測定が行なわれるようにしても良い。図1および図2を参照して、トナー像プロファイルの導出を説明する。図1a左図は、図3に即して説明したトナー像測定で得られたトナー像を、高さ方向から見た状態を概念的に示している。トナー粒子の形状は理想的な球形で、直径が5μmであるものとする。勿論、実際のトナー粒子は、球形に限らず、球形から歪んだ形状をしており、直径も全ての粒子が5μmというわけでなく、粒径分布に従って粒径が分布している。図1a左図では、トナー像中のトナー粒子の高さを濃さで表しており、右図のように、高さ方向に5μm間隔で濃さを変化させている。図1では、単純化して、トナー像の高さを[5μm刻みで4段階]としているが説明の便宜上のことであり、実際がこのとおりである訳では必ずしもない。高さ方向の分解能は、上記5μmよりもさらに細かくてもよい。図1bは、上に説明した如くして、トナー像の高さを5μmごとに輪切りにした輪郭群を示している。輪郭を抽出するに当たっては、適宜スムージングなどの画像処理を行い輪郭が滑らかになるようにする。このスムージング処理の説明図を図26に示す。直線的に抽出された輪郭をスムージング処理により破線のように滑らかにしている。図1cは、このように抽出された輪郭による等高線を示している。隣接等高線間の高度差は5μmである。図1cにおけるx、y方向は感光体表面において互いに直交する方向であり、x方向は主走査方向、y方向は副走査方向である。このように等高線により表されたトナー像に基づき、トナー像プロファイルを導出する。図2は、図1cの等高線表示から得られるトナー像のx方向およびy方向のトナー像プロファイルを示している。x、y方向以外の異なる方向例えばx、y軸の原点を中心とする放射状の方向について、プロファイルを求めれば、3次元的なプロファイルを得ることもできる。上に説明した工程は、静電潜像形成手段の光ビームによる露光で、1ドットの静電潜像を、1以上形成し、トナー像想定装置により、1ドットの静電潜像によるトナー像を3次元的に測定し、トナー像の高さを等高線として表現し、等高線から上記トナー像のトナー像プロファイルを求めるものである。図26を参照して、トナー像の輪郭抽出の詳細を説明する。まず、得られたトナー像の中心位置を決める図中の×印。次に、この中心位置から放射状に、同じ高さ図は最下層の場合を示す。にあるトナー粒子に向かって直線を引く。この直線とトナー粒子の外側とが交わった点を結んで行けばトナー像の輪郭を抽出できる実線。そして、適宜スムージングを用いれば輪郭は滑らかになる破線。トナー像の中心からトナー粒子に向かって直線を引く場合、例えばトナー粒子の中心を通るようにする。上側のトナー粒子に遮られ見えないところは無視して良い。同様に、上側にあるトナー粒子に関しても輪郭を抽出できる。このようにして輪郭から求められる等高線に基づくトナー像プロファイルの抽出を、図27、図28を参照して説明する。上記の如く求めた等高線に、図27に示す如く正方格子を重ねる。正方格子のピッチはCCDカメラの画素ピッチで、等間隔である。重ねられた正方格子の各升目に等高線に対応する高さを当てはめる。格子ピッチはCCDカメラの画素ピッチの整数倍に設定することもできる。1つの升目において、複数の等高線が重なるときは、升目を占有する面積の大きいほうの値を入れるなどする。図27に示された正方格子を底面とし、升目の数値を高さ方向に表せば、図28に示す如きトナー像プロファイルが得られる。図28に示すプロファイルはやや荒削りであり、これは格子のピッチが粗いことに対応する。このような場合は、適切な関数を用いてカーブフィティングを行う。図30は、上に説明したことを機能ブロックとして示している。機能ブロックは、大別するとビーム測定手段、静電潜像測定手段、トナー測定手段を有する。これらの測定手段により得られた結果を、プロファイルとして表す演算手段がある。ビームプロファイルは、例えば、図7、図8や、後述の式1、式2で示すようなものであり、静電潜像プロファイルは、例えば、図21や、後述の式3で示すようなものであり、トナー像プロファイルは、図2や図28に例示する如きものである。このようにして、各種のプロファイルが得られると、逆畳み込み演算手段及び劣化関数導出手段により劣化関数を求めることができる。逆畳み込み演算の例は、図11、図12、式4に示す如きものである。劣化関数導出手段は、例えば、図11で得られた劣化関数を適切な近似関数を用いてフィッティングしたものである。図30に示す機能ブロック図では、ビームプロファイルと静電潜像プロファイルとの間に介在する劣化関数と、静電潜像プロファイルとトナー像プロファイルとの間に介在する劣化関数との比較を行う比較演算手段がある。これは2つの劣化関数について、電子写真プロセス画像形成への影響度を把握するためのものである。例えば劣化関数の半値幅を用い、2つの劣化関数の半値幅の大小を比較することにより、定性的のみならず、定量的に電子写真プロセスへの影響の度合いを知ることができる。図31には、ビームプロファイルと静電潜像プロファイルの間の劣化関数BSと、静電潜像プロファイルとトナー像プロファイルとの間の劣化関数STとが描かれている。この例では、劣化関数STが劣化関数BSよりも幅が広くなっている。これらプロファイルST、BSの比較により、光ビームによるドット露光、トナーによる可視化のプロセスへの影響度を定性的に知ることができる。2つに劣化関数ST、BSの半値幅FWHMを求める。この半値幅は長さの単位を有する。2つの半値幅1、半値幅2の差商を取ることにより、プロセスへの影響度を定量化できる、なお、2つの劣化関数の高さは適宜規格化しているが、半値幅は規格化せずとも求めることができる。この発明の画像形成評価装置は、このように、劣化関数BS、STの比較演算を行なう演算手段を有することができる。劣化関数BSは、感光体に光ビームによる露光を行なう光ビームのビームプロファイルと、露光により形成された静電潜像の静電潜像プロファイルとの間に介在するものである。感光体が特定されている状態で、この感光体を露光する光ビームのビームプロファイルが定まっていれば、ドット露光により形成される静電潜像は、感光体の特性に応じて定まる。従って、劣化関数BSは感光体の特性を表すものである図30の感光体特性値。また、劣化関数STは、静電潜像プロファイルとトナー像プロファイルとの間に介在するものであり、静電潜像プロファイルを特定された静電潜像が、トナー粒子によりどのように可視化されるかを特徴付けている。従って、可視化のための条件が定まっていれば、劣化関数STはトナー粒子の可視化特性を表すものである図30のトナー特性値。例えば、感光体を特定し、走査光学系による露光の条件を設定し、静電潜像を可視化する現像の条件を設定して、光ビームによるドット露光で静電潜像を形成し、形成された静電潜像をトナー像として可視化する画像形成プロセスを実行する場合を考える。この場合、予め、劣化関数BS、STが知られていれば、ドット露光を行なう光ビームのビームプロファイルを与えることにより、最終的にえられるトナー像のトナー像プロファイルを知ることが出来るわけであり、ドット露光を行なう光ビームのビームプロファイルに応じて、どのようなトナー像が得られるかを知ることができる。即ち、この場合には、光ビームを特定することにより得られるトナー像の画像評価が可能になる。逆に、画像形成プロセスで形成すべき好ましいトナー画像を、予めトナー像プロファイルにより特定できれば、このようなトナー像を実現するためにどのようなビームプロファイルを持った光ビームでドット露光を行なうべきかを知ることができる。即ち、劣化関数BS、STを知ることにより、ドット露光からトナー像形成に至る画像形成の評価が可能となる。次に、ビームプロファイルの測定について説明する。図4に、ビームプロファイル測定手段であるビームプロファイル測定装置を、説明図的に示す。図の繁雑を避けるため、走査光学系8を簡略化して、レーザ光源1とレンズ2のみを描いてある。走査光学系の実際の構成は、例えば図5に示す如きものである。図4において、ビームプロファイル測定装置は、検出部3、インタフェース4、ディスプレイ及びコンピュータ5からなる。ビームプロファイル測定装置は、市販された汎用のもので良い例えば、前述の、PHOTONinc.社製のBeamScanやNanoScan。また、測定されたビームプロファイル6を拡大して示しているのが、図4左下図の符合7で示す部分である。ビームプロファイル6は、メインローブ9とサイドローブ11を有し、メインプローブ9の最大を1に規格化するとき、その13.5となるメインプローブ9の幅がビーム径である。図4の測定装置においてデフォーカスは、走査光学系8と検出部3との距離を変えることにより行う。ビームプロファイルの測定は、走査光学系において光を偏向させるポリゴンミラーを静止した状態で行う。この状態での光ビームを静止光と呼ぶ。走査光学系により静電潜像を形成するときは、ポリゴンミラーを回転して、光ビームを偏向する。このようにして偏向される光ビームを走査光と呼ぶ。走査光は書き込むべき情報により変調されるパルス光である。ビームプロファイル測定の際に用いられる静止光は、連続発光したレーザ光である。ビームプロファイル測定を走査光で行なうと、光走査が高速で、且つ光量が微弱であるため測定装置が応答できず、測定が困難となる。走査光学系の一例を図5に示す。走査光学系はレーザ光源131、コリメートレンズ132、シリンドカルレンズ133、第1のミラー134、ポリゴンミラー135、第1の走査レンズ136、第2の走査レンズ137、第2のミラー138を有する。図5の走査光学系は、あくまで1例であり、構成、配置はこれに限られるものではなく、公知の適宜のものであってよい。ポリゴンミラー135は、回転軸1351を中心に1万~数万rpmroundperminuteの高速で回転し、入射光を偏向させる。この偏向により走査される方法を主走査方向と呼ぶ。図5において、走査方向は感光体139の長手方向である。感光体139は、回転軸1391の回りに回転する。回転に伴う感光体周面の移動方向を副走査方向と呼ぶ。感光体自体は走査光学系に含まれなくとも良い。また、光源131の直前に開口1393アパーチャを設け、感光体上におけるビーム径の調整を行なう。開口サイズが大きくなるほどビーム径を小さくすることができるが、収差や回折の影響も大きくなる。開口形状は矩形や正方形が一般的であるが、円形、楕円形、多角形でもよい。開口のサイズにより感光体上のビーム径が決まる。静電潜像は、感光体139上に、ドットdotであれば、ドット潜像1392のように形成される。また、上記各部は筐体に収納されてモジュール化されている。この場合、感光体139はモジュールと別体であり走査光学系に含まれない。ビームプロファイル測定の測定条件の1例を挙げると、レーザ光源131としては波長λが650nmのレーザダイオードLD:LaserDiodeを用い、ポリゴンミラー135として偏向反射面数:6、回転数:約37000rpmのものを用いた。ビームプロファイル測定装置により測定した像面でのビーム径は45.8μm×52.3μm主走査方向×副走査方向であった。このビーム径は、前述のように、ビームプロファイルの最大値を1100とし、その13.5でメインローブの幅の値である。像面は、感光体の被走査位置に相当する。走査光学系は、解像度:600dpidotperinchで、1ドットの大きさは約42μmである。上記45.8μm×52.3μm主走査方向×副走査方向のビーム径を持つビームプロファイルの1例を図6に示す。図6のaが主走査方向、bが副走査方向のプロファイルであり、ビームプロファイル測定装置として、前述のNanoScanを用いて測定したものである。測定は、図5に示したポリゴンミラー135を停止させて静止光による光ビームについて行った。ポリゴンミラーを回転させて走査ビームに対してビーム径の測定を行なうことも、高速度カメラなどの使用により可能ではあるが、1ドット形成の時間は数~数十ナノ秒と短いのでS/N比シグナルノイズ比の良い結果を得るのは難しい。静止光による光ビームを用いれば、精度の高い結果を得ることができる。上記の如く、ビーム径は、ビームプロファイルの最大値の135メインローブをガウス分布で近似したとき1/e2に相当する。でのプロファイルの幅と定義されるが、光ビームによるドット露光で形成された静電潜像の径が、光ビームのビーム径と同一である保証はない。用いる感光体の種類、光源の発光強度などにより静電潜像の径は変化する。なお、ビーム径の定義として半値全幅FWHM:FullWidthHalfMaximumを用いることもある。図6のビームプロファイルで、中心にある強度最大のピームがメインローブで、その両側にサイドローブが出ている。これは、走査光学系における回折によるものである。レーザ光源を用いているため、回折強度をある程度以下にすることは難しい。サイドローブを無視すると、ビームプロファイルメインローブは、ガウス関数で良く近似できる。図6のビームプロファイルをガウス関数で近似した結果を図7に示す。ガウス関数は、主走査方向:xについて2次元の場合は、a、σxをパラメータとして、次式1で表される。fx=aexp{-x2/σx2}1また、主走査方向:x、副走査方向:yについて3次元の場合には、a、σx、σyをパラメータとして、次式2で表される。fx,y=aexp[-{x2/σx2x2/σx2}]22次元の場合式1では、横軸が主走査方向の距離、縦軸が光強度である。3次元の場合式2は、横軸が主副操作方向の距離、縦軸が光強度である。実測されたビームプロファイルを、これらの式1等を用いて適宜フィッティングを行い、このようにして求められた図7、bから、式2のσx,σyを求めると、以下の如き値になった。a=1σx=0.000016σy=0.000018。これらの値を、式2に代入すると、ビームプロファイル:fx,yは、f=exp-として近似されている。解析関数:f1は例えば、前述のガウス関数である。図92、3におけるOPCとあるのは、感光体として用いられる有機光半導体による感光体の感光面を意味する。静電潜像もトナー像も、感光体の感光面に形成される。また、静電潜像プロファイルは解析関数:f2で近似され、トナー像プロファイルは解析関数:f3により近似されている。即ち、ビームプロファイル:f1は、先に関数:fとして説明したものであり、静電潜像プロファイル:f2r、トナー像プロファイル:f3は、それぞれ先に関数:g、関数:kとして説明したものである。図94は劣化関数:g1を示している。この劣化関数:g1は、ビームプロファイル:f1と静電潜像プロファイル:f2との間に介在するものであり、以下の畳み込み積分コンボリューション積分により、これらプロファイル:f1、f2を結びつけるものである。f2=∫f1g1dr3。図95は劣化関数:g2を示している。劣化関数:g2は、静電潜像プロファイル:f2とトナー像プロファイル:f3との間に介在するものであり、以下の畳み込み積分コンボリューション積分により、これらプロファイル:f2、f3を結びつけるものである。f3=∫f2g2dr4式3、4において積分の範囲は何れも-∞から∞である。ビームプロファイル:f1の縦軸である光強度は、測定装置により異なり、ワットW、ジュールJなどの物理単位を用いることができるが、最大値を1に規格化することにより任意単位とすることができる。横軸は距離長さで表される。トナー像プロファイル図9の3は、感光体上に形成された静電潜像を可視化したトナー像トナー粒子の集合を、前述したように顕微鏡株式会社キーエンス製のVK―9500等により測定して得られる等高線に基づき得られる。トナー像プロファイルの縦軸はトナーの積み重なりの高さ、横軸は感光体上における距離である。トナー像プロファイル:f3は、静電潜像プロファイル:f2を可視化したものと言える。静電潜像を評価する際にトナー粒子により可視化する方法は、現在、良く用いられる方法である。上記3つのプロファイル:f1、f2、f3は、横軸距離、長さの単位が共通であり、縦軸の物理量は異なるが、プロファイルとして表される点において類似している。縦軸の物理量を無視するとき、ビームプロファイル:f1、静電潜像プロファイル:f2、トナー像プロファイル:f3の形状が同一もしくは相似形であることが理想的であるが、これら3つのプロファイルの形状は、一般的には、同一もしくは相似形とはならず、三者の関係は線形では表せない。これら三者が線形の関係にあれば、電子写真プロセスによる画像形成において、トナー像プロファイルはビームプロファイルを忠実に再現することになるので、ビームプロファイル以外の評価は不要となる。しかしながら、各プロセスにおいて、理想的なプロファイルの再現を妨げる劣化関数が介在し、各種の評価が必要となる。ビームプロファイルに関する劣化の主要因は、感光体において、電荷発生層電荷輸送層などの各層内での光散乱や、電荷輸送層における電荷の拡散などがあるためである。これらの原因により静電潜像プロファイルは、ビームプロファイルと同一もしくは相似の形状にならず、ビームプロファイルが劣化したプロファイル形状となる。図9における劣化関数:g1が、ビームプロファイル:f1を静電潜像プロファイル:f2へと劣化させる劣化関数であり、先に露光劣化関数:hと呼んだものである。同様に、静電潜像がトナー像として可視化される際、静電潜像プロファイル:f2は劣化されてトナー像プロファイル:f3となる。静電潜像の可視化に際しての、静電潜像プロファイル:f2の劣化を特徴付けるのが、劣化関数:g2であり、これが先に現像劣化関数:pと呼んだものである。先に述べたように、ビームプロファイル、静電潜像プロファイル、トナー像プロファイルは、適当な関数により近似されたものであり、図9のような場合であれば、何れもガウス関数により良好に近似できる。トナー像プロファイル:f3に関しては、静電潜像プロファイル:f2の忠実な再現が難しいことは容易に分る。その理由は、トナー粒子が、小さいものでもμm単位の大きさをもち、トナー粒子の大きさが静電潜像プロファイルの再現性における解像度を決定するからである。ビームプロファイルを形成する光子や、静電潜像プロファイルを形成する電荷電子や正孔等は、トナー粒子と比べると、その大きさを無視できる。図10に、同一の静電潜像プロファイルを、トナー粒子の粒径を大中小に異ならせて可視化した場合のトナー像プロファイルによる、静電潜像プロファイルの再現性を概念的に示す。個々のトナー粒子は球形としている。トナー粒子の粒径が大きいほど解像度が低く、静電潜像プロファイル形状の再現性が悪くなる。静電潜像プロファイルとトナー像プロファイルとに介在する劣化関数現像劣化関数には、トナー粒径が関与する。トナー粒径が大きいほど、劣化関数の幅は広くなりやすい。また、現像劣化関数に関与する他の要因として粒径の不均一粒度分布や粒子形状、形状のばらつき、感光体の帯電不均一、及びこれらの組合せが考えられ、現像劣化関数はこれらを反映したものと考えられる。従って、現像劣化関数を知ることができれば、静電潜像をトナー像として可視化する際に、上記の種々の要因の影響を総合的に知ることができる。図9に示した、ビームプロファイル:f1、静電潜像プロファイル:f2、トナー像プロファイル:f3と、劣化関数:g1、g2との間には、上述のコンボリューションの関係3、4がある。従って、プロファイル:f1~f3、劣化関数:g1、g2が知られれば、関係3、4により、トナー像プロファイル:f3から、静電潜像プロファイル:f2を経て、ビームプロファイル:f1まで遡ることが可能となる。式3、式4で実験的に求められるのは、ビームプロファイル:f1、静電潜像プロファイル:f2、トナー像プロファイル:f3の3つである。プロファイル:f1とf2との間には、コンボリューション積分3が成り立ち、プロファイル:f2とf3との間には、コンボリューション積分4が成り立つ。従って、コンボリューション演算の逆演算である逆畳み込み演算デコンボリューション演算を行なうことにより、劣化関数g1、g2を求めることができる。畳み込み演算コンボリューションや逆畳み込み演算デコンボリューションは、特別なものではなく、これらを実行する汎用のソフトウェアが市販されており、これを適宜用いて行うことができる。あるいは、適宜にプログラミングすることもできる。逆畳み込み演算の代表的なアルゴリズムとして、繰り返し計算を用いたリチャードソン-ルーシーによるものが知られているWHRichardsonJournalOfTheOpticalSocietyOfAmericaVolume62Number11971LBLucyTheAstronomicalJournalVolume79Number61974。例えば、1次元の場合につき、静電潜像プロファイルをh、ビームプロファイルをfとし、これらプロファイル:h、fから、露光劣化関数:gを求めるデコンボリューションの繰り返し演算は、次式5の如きものである。gk1=[{hk[×]f]gk5この式において、記号:[×]は、コンボリューション演算畳み込み演算を表す。式5の右辺におけるgkとして適当な初期値を与え、5式の演算を行なって、左辺のgk1を演算し、得られたgk1を5式の右辺におけるgkとして、gk2を求める。この演算プロセスを繰り返し、5式の右辺のgjと、左辺のgj1が実質的に等しくなったときのgjが、露光劣化関数:gこれは、上の説明でg1として説明したものである。が得られる。式5において、fとしてトナー像プロファイル:f3を用い、hとして静電潜像プロファイル:f2を用いれば、現像劣化関数:g2を得ることができ、式5で、変数を2変数:x、yにすれば、3次元の劣化関数:gが得られる。ビームプロファイルと静電潜像プロファイルとに介在する劣化関数露光劣化関数の導出の1例を図11に示す。図11aは、ビームプロファイル図7、図8に示したものを示し、同図bは静電潜像プロファイル図13に示したものを示す。図11cは、露光劣化関数に対する繰り返し演算における初期値k=1における露光劣化関数、dはk=10に対する劣化関数、eはk=30に対する劣化関数を示している。図11bに示す静電潜像プロファイルと、同図aに示すビームプロファイルを用い、繰り返し回数:kにおける劣化関数の畳み込みの結果との残差2乗和をとり、繰り返し計算の収束の様子を図12に示す。繰り返し回数:kの増大とともに、残差2条和が小さくなり良好に収束していることが分る。このようにして露光劣化関数が求まる。図12に示す例では、k=1~30について30回計算を行い、充分に収束したとしたが、繰り返し回数はこれに限定されるものではない。また計算のアルゴリズムもこれに限られるものではなく他の方法であっても良い。同様にして、トナー像プロファイルと潜像プロファイルとに介在する現像劣化関数を演算で求めることが可能である。各プロファイルを関数で近似せずに、測定データそのものを用いて演算を行なうことも可能ではあるが、計算量が多くなって計算時間が長くなったりすることを鑑みると、適当な関数により近似しておくのが良い。電子線プローブを用いて真空中で行う静電潜像測定装置においては、感光体の帯電状態及び静電潜像の測定が可能であるが、トナー像の測定までは行えないので、トナー像の測定は別個に行う必要があり、このとき、帯電電位、ビーム径、光ビームの強度などの条件を揃えておく必要がある。図14を参照して、各プロファイルの測定条件を説明する。ビームプロファイル、静電潜像プロファイル、トナー像プロファイルの3つのプロファイルを測定するには、3つの独立した測定が必要となる。まず、ビームプロファイルの測定に際しては、光ビーム径、発光強度、発光時間これらを条件1と言う。等を、3つのプロファイルの測定で揃える必要がある。また、静電潜像プロファイルの測定と、トナー像プロファイルの測定では、感光体、帯電電位これらを条件2と呼ぶ。を揃える必要がある。さらに、トナー像プロファイルの測定では、用いるトナー粒子、現像バイアス等の条件これらを条件3と呼ぶ。を揃える必要がある。静電潜像プロファイルの測定は、真空中で電子線を用いて行う。トナー像の形成は、通常の電子写真装置を基本とした装置を用いる。通常の装置は大気中で感光体を帯電させる。装置上の違いはあるが、用いる感光体、及び帯電電位を揃えれば、個別の測定でも統一性のある実験結果を得ることができる。条件を揃えるのは、図16に示した測定のフローチャートに最初において行う。具体的にはコンピュータ上に条件を入力しておく。画像形成評価装置の一例を図15に説明図として示す。測定制御及び劣化関数導出を行なう制御演算手段1500により劣化関数を導出する。制御演算手段1500における劣化関数導出は1例として、図16に示すフローチャートに従って行なわれる。このフローチャートの内容を、適宜アルゴリズム化してプログラミングすればよい。制御演算手段1500は、エレキボードのようなハードウェアでもコンピュータ内のソフトウェアでも良い。図16のフローチャートを説明すると、測定1は、ビームプロファイルと静電潜像プロファイルの測定に関し、測定2は、トナー像プロファイルの測定に関する。測定1と測定2は、並行して行っても良いし、順次行ってもよい。いずれの場合も、図14に示したように実験の条件を揃えることが重要である。測定1、2を並行して行なう場合、測定1と測定2とも繰り返し回数:nは同じであり、繰り返しn回毎に同期して、測定1の結果を測定2に転送することが好ましい。リアルタイム処理でなくとも、一定のデータをコンピュータの記憶装置に蓄積し、その後にデータ演算処理しても良い。露光劣化関数:g1は、感光体の特性を表しており、これには感光体の各層での光散乱や電荷輸送層での電荷の拡散などの情報が含まれている。ビームプロファイルを一定として、即ち、ドット露光条件を同じにして、感光体の種類を変えて測定を行うと、感光体毎に異なる露光劣化関数が得られる。この露光劣化関数は感光体の種類による特性特徴量を表すものとしても用いることができる。これらの情報を用いることにより感光体の評価を行うことも可能となる。劣化関数:g1の縦軸の単位は、例えば電位/光強度などと表されるが、電位の代わりに電界強度あるいはこれらに比例する量を用いても良い。例えば、露光劣化関数:g1の半値幅が5μmで、用いた感光体の電荷輸送層の厚みが30μmであるとすると露光劣化関数の度合いを、角度:tan-15/309.5°により表すことができる。これは感光体の層中での光散乱や、電荷輸送時の電荷の拡散によるビームプロファイルの劣化の度合いを表している。露光劣化関数は、定性的にはビームプロファイルと静電潜像プロファイルの差に相当する。現像劣化関数:g2は、トナー粒子の特性を表しており、粒径、形状、粒径のばらつき粒度分布、形状のばらつき等の情報を含み、また、感光体の帯電の不均一性などの情報も含まれている。同一の感光体に静電潜像形成条件を同一にして一定の静電潜像プロファイルを持つ静電潜像を形成し、トナーの種類を変えて評価を行えば、トナーの種類毎に異なる現像劣化関数が得られる。この場合の現像劣化関数は、トナーの種類による特性特徴量を表すものとしても用いることができ、これらの情報を用いることにより、トナー粒子の評価を行うことも可能となる。トナー粒径の違いによるトナー像プロファイルの差異に関しては、図10に即して説明したとおりである。現像劣化関数:g2の縦軸の単位は、例えば、高さ/帯電電位や電界強度あるいはこれらに比例する量等で表される。ビームプロファイルが、露光劣化関数の影響を受けて静電潜像プロファイルになり、静電潜像プロファイルが、現像劣化関数の影響を受けトナー像プロファイルになることを考えると、これは電子写真プロセスによる画像形成におけるプロファイルの伝達伝播と捉えることができる。さらに、電子写真プロセスによる画像形成における感光体上に静電潜像を形成した後のプロセスとして、感光体上にトナー像を形成トナー付着し、トナー像を中間ベルト或いは紙に転写し、最終的に紙上にトナー像を定着する各工程がある。従って、各工程の特性をプロファイルとして捉えれば、電子写真プロセスによる画像形成の全プロセスにおけるプロファイルの伝達という見方ができる。これらのプロファイルはいずれも測定可能である。例えば、紙上に定着したトナー像は光学的に、濃度としてプロファイルを得ることができる。このプロファイルのプロセスにおける伝達を把握していけば、画質の予測、設計仕様、各プロセスでの仕様配分などを決めることが可能となる。プロファイルの伝達は、画像のパターン、空間周波数により、変調或いは劣化の度合いが異なると予測され、光学系におけるMTFModulationTransferFunctionに類するものとして捉えることもでき、上記劣化関数は、プロファイル伝達関数ProfileTransferFunctionと考えることができる。図15に、画像形成評価装置141を模式的に示す。装置の基本的な構成は、電子銃142、コンデンサレンズ143、走査レンズ144、対物レンズ145、走査光学系146、感光体147、試料ステージ1450、電子検出器1430、真空ポンプ149、インタフェース148、電子計算機コンピュータ及びディスプレイ1410で構成される。また、帯電した感光体147上に、ドット露光による静電潜像形成領域を、符号1440として誇張して拡大し手示す。黒丸は、ドット露光により形成された静電潜像を表す。静電潜像の測定結果を電子計算機1410のコンピュータ上でデータ画像処理をしている様子を符号1420で示している。走査光学系146は筐体に収められてユニットとなっている。走査光学系146は画像形成評価装置内部にあるように描いてあるが、取り外し可能である。走査光学系の詳細は、図5に示した如きものである。走査光学系146を画像形成評価装置本体から取り外し、ビームプロファイル測定装置1460を用いてビームプロファイルの測定を行う。ビームプロファイル測定装置1460は、図4に示した如きものである。これらは電子計算機1410と接続され、ビームプロファイル、静電潜像プロファイルの測定結果を、一括してコンピュータ処理解析可能である。トナー像プロファイル測定装置は、図3に即して説明したのと同様で、感光体1440及び顕微鏡システム1510で構成される。顕微鏡システム1510は、インタフェースを介して電子計算機1410のコンピュータに接続されている。感光体は、できれば同じ時期に同じ工程で作製したものが好ましい。コンピュータは、図16に示したチャートに従い、ビームプロファイル、静電潜像プロファイル、トナー像プロファイルの測定を、並行して、或いは順次に行う。揃えるべき実験条件は、図14に示したとおりである。これらの条件を測定開始前に電子計算機1410のコンピュータに入力しておく。なお、図15には図示していないが、感光体1440に形成された静電潜像をトナー粒子で可視化する手段も有している例えば、図23参照。コンピュータは、測定の制御及び劣化関数の導出を行なう制御演算手段1500を有する。制御演算手段1500による測定の制御及び劣化関数の導出演算の内容は、図16に示すチャートで表され、これを適宜プログラミングしたものである。これはハードウェアでもソフトウェアでも良い。静電潜像プロファイル、ビームプロファイル、トナー像プロファイルの測定結果及び演算結果はコンピュータに蓄積される.図15において、感光体147を帯電させるための荷電粒子を発生させる手段は、具体的には電子銃142及び各レンズ143、144、145であり、感光体147にドット露光して静電潜像を形成する手段は、具体的には光書き込み系としての走査光学系146である。感光体上に形成された静電潜像を観察する手段は、具体的には電子銃141、各レンズ143、144、145及び電子検出器1430で構成される。なおLED光源アレイを用いた光書き込み系の場合は、光書き込み系を感光体1440に近接させれば良い。このとき、電子線照射と光書き込みが位置的に干渉しないように、帯電と観察時以外は、光書き込み系は退避させるなどする。光書き込み系は真空槽内に配置しておく。電子銃142は、例えば、走査電子顕微鏡SEM:ScanningElectronMicroscopyに用いられるものでよく、電子銃としては熱フィラメント、フィールドエミッションなど適宜のものを用いて良い。電子銃142を用いて電子で感光体を帯電させるので、電子銃、感光体等は真空中に置く必要があり、SEMと同様である。このため真空ポンプ149を用いて、装置全体を真空状態に減圧する。図15では、真空ポンプ149は便宜的に1つのみ描いてあるが、達成させる真空度に応じてロータリーポンプ、ターボ分子ポンプ、イオンスパッタポンプ等複数を併用し、多段式にできることは言うまでもない。静電潜像観察は2×10-4Paよりも高真空で行うことが好ましい。荷電粒子は負の極性を持つ電子が一般的であるが、FIBFocusedionBeamで用いられているイオン銃の場合のようにGaなどの正イオンで帯電させても良い。FIB装置は、市販されている汎用のものは微細化加工用であるが、図15の装置に転用することは可能である。コンデンサレンズ143、走査レンズ144、対物レンズ145は、何れも、磁界レンズ或いは静電レンズである。走査レンズ144により、荷電粒子ビームを感光体147上で2次元的に走査して、均一に帯電させる。感光体の帯電には、電子ビームを用いるのが好適である。感光体表面の帯電電位は、電子ビームを用いる場合、主として電子の加速電圧と照射時間により定まり、電子の加速電圧が高いほど感光体表面の帯電電位は高くなる。画像形成評価装置においては、帯電電位を電子写真プロセスの場合の帯電電位と同等にする必要がある。このための条件は、加速電圧Vacc:1.0~数kV程度、走査時間:数十秒~数十分程度である。上記条件での帯電電位は、例えば汎用の表面電位計を用いて測定して、-600~-1000V程度の値であり、実際の複写機やプリンタ画像形成装置の画像形成の場合と同等の帯電電位となる。加速電圧:Vaccを変化させる代りに、感光体147にバイアス電圧をかけるなどして帯電電位を調整することもできる。バイアス電圧を印加するのは、静電潜像にオフセットをかける1手段である。始めに、加速電圧:Vaccを一定として、感光体147の帯電電位を所定の値まで高めて静電潜像を形成し、次で、バイアス電圧を定幅刻みで段階的に掛けていくと、感光体表面電位はそれに応じて変化し、形成されている静電潜像の径は、バイアス電圧に応じて変化する。このときの静電潜像径の変化を測定すれば,静電潜像プロファイルを測定できる。図15では、走査光学系146を装置本体の内部に描いてあるが、大気中に設置しても良い。この場合、本体内の真空状態を維持するため、装置本体に透過率の高いガラスなどの透明な窓を設けて内部を密封し、走査光学系からの光を上記窓を介して感光体146まで導けばよい。走査光学系は、図5に具体例として示したように、端面発光レーザや垂直面発光レーザによるレーザ光源を有する。レーザ光源に搭載された発光特性制御用の電子電気回路は、インタフェース148を介して,PCなどの電子計算機1410のコンピュータにより行う。図15において、感光体147は平板或いはシート状として描かれているが、勿論、円筒或いはドラム。図5の139を参照でも良い。試料ステージ1450はx,y,zの3次元方向に移動できるものである。静電潜像の観察には、好適には、電子ビームを用いる。帯電に用いた電子銃142を用い、電流値を微弱化した電子ビームで、感光体147上の静電潜像を2次元的に走査する。電子ビームの電流値は、例えば、帯電の際の値が数nAであるとすれば、観察時の電流値は数pAとし、帯電時の千分の一程度にする。静電潜像を走査する電子ビームの電流値が大きいと、走査される静電潜像が消失してしまう。照射する電子ビームの電流値が大きいほど、静電潜像は速く消失する。電子ビームの走査範囲に応じて、観察領域の大きさ、即ち、倍率が変わることは通常のSEMと同様である。感光体帯電時の倍率を帯電倍率、静電潜像測定時の倍率を観察倍率と呼ぶことにする。帯電倍率と観察倍率とは、電子の加速電圧は同じであるが、電子ビームの照射量が異なる。電子検出器1430は2次電子検出器である。観察用の電子が感光体147表面に到達すると、感光体147から2次電子を放出させる。静電潜像測定は、2次電子が、静電潜像が形成されている部位からはあまり放出されず、静電潜像が形成されていない部位からは良く放出されることを利用している。2次電子は2次電子検出器1430で検出する。2次電子検出器1430は、電子に照射されるとき光を放出する蛍光体と、導光路、放出された光を増倍する光電子増倍部などを有する。2次電子検出器1430は走査型の検出器で、電子ビームの感光体走査に追随する。上記各手段の制御は、インタフェース148を介してコンピュータ1410で行なう。図15において符号1440で示す部分の静電潜像を観察すると、観察された静電潜像は電子計算機1410のディスプレイ上に表示され図15に符号1420で表示、静電潜像プロファイル測定のための各種データ画像処理、演算がなされる.電子計算機1410のコンピュータにより、前述のデータ処理や演算などを行い、評価対象を求める。データ処理演算グラフ化、関数の近似、畳み込み演算、逆畳み込み演算は特別なものでなく、汎用のデータ画像処理ソフト等を用いても行うことが可能である。画像形成評価装置に関しては装置上の制約がある場合がある。例えば、電子ビームを走査する範囲を広くできない場合とか、感光体147のサイズに制約がある場合などである。電子ビームの走査範囲は、汎用のSEMと比較して数nm程度の分解能を犠牲にすれば、ある程度数mm×数mmの範囲を走査することが可能である。しかし、感光体147は、ドラム状である場合、直径:数cm、長手方向:数十cmのサイズのものが多く、この場合、感光体全面を一度に走査することは難しく、感光体を移動させて部分的な走査を繰り返すことになる。この大きさの感光体を測定対象とすると、試料ステージ1450が大型になり、真空槽も大容量にする必要がある。従って、感光体を切り出して測定するなど工夫が必要になる。この場合の走査はごく狭い範囲で十分である。静電潜像プロファイルの測定を説明する。例えば、SEMにおいて、電子ビームの走査範囲を変えることは観察倍率を変えることであり、観察倍率が高いほど走査範囲は狭くなる。説明中の装置において、観察倍率が例えば1500倍なら、電子ビームの走査範囲は約0.57mm×0.44mmであり、観察倍率が3000倍なら、走査範囲は約0.33mm×0.29mmとなる。これは帯電倍率であっても同様であり、帯電倍率が1500倍よりも3000倍の方が捜査範囲は狭い。このことを利用して、帯電電位,電界強度或いはこれらに比例する量を擬似的に変えることが可能となる。即ち、電子ビームの照射量を一定として、走査範囲を変えることにより、オフセットを掛けることができる。観察倍率を一定にし、帯電倍率を段階的に変化させると、図17に示すように、静電潜像プロファイルが、縦軸方向にずれる。図17において、帯電倍率3<帯電倍率2<帯電倍率1である。帯電倍率が異なっても、静電潜像プロファイルの形状は中心付近縦軸近傍では略保たれる。帯電倍率の変化により縦軸上の閾値での静電潜像の径が、帯電倍率に応じて変わることが分る。これがオフセットの原理である。観察倍率を一定値:3000倍とし、帯電倍率を400、600、1000、1500、2000倍としたときの静電潜像の様子を図18に示す。ドット露光は、図5に示したのと同様の走査光学系を用いて行った。帯電倍率によらず、レーザ光源の発光強度は一定としている。ドット露光は、ポリゴンミラー135の回転数を略37000rpmとし、走査光により1ドットの静電潜像パターンを形成した。電子銃142の加速電圧Vaaは1550Vとしている。感光体147は、主として、UL、CGL、CTLの3層からなり、CGLはチタニルフタロシアニン系の材料を用いたものである。厚みは、ULが3.5μm、CTLが30μmである。帯電電位は-600V前後とした。形成された静電潜像は、図18に示すように、帯電倍率が大きくなる程小さくなっている。図18に示されているのは静電潜像プロファイルの閾値での断面である。従って、これら静電潜像は、静電潜像プロファイルの縦軸に直交する断面をスライスして見ていることに相当する。この状態を図19に説明図的に示す。また、図17に示したグラフから帯電倍率ごとのオフセットを定量的に得ておけば、静電潜像プロファイルの縦軸の情報を推測できる。図20に示すように、静電潜像の径を主走査方向と副走査方向とについて定義し、図18に示した測定データからそれらの値を読み取る。読取った値は、以下の如くである。帯電倍率主潜像径副潜像径40075.7196.1460070.9078.11100057.0864.29150051.6759.48200031.8534.25。この結果を、次の5式:g=baexp[-α]6用いて近似し、静電潜像プロファイルを得る。6式におけるxは走査方向、yは副走査方向に相当する。このように近似された6式のパラメータ:b、c、σx、σy、αは、b=0.01、c=1、σx=0.00002、σy=0.000022、α=1.2である。主走査方向、副走査方向につき、上記近似で得られた2次元の静電潜像プロファイルを図21に示す。次に、6式と上記パラメータとから3次元の静電潜像プロファイルを求めた。図13は、このようにして得られた3次元の静電潜像プロファイルである。以上でビームプロファイル及び潜像プロファイルが得られた。この2つのプロファイルを用いて露光劣化関数を求める。これには、5式に即して説明した逆畳み込み演算デコンボリュ-ションを行えば良い。露光劣化関数も、ビームプロファイル、静電潜像プロファイルと同様に、適当な関数で近似する。次に、露光劣化関数に基づく感光体の評価検査を説明する。感光体は、ドット露光に用いる走査光学系が同じであっても、感光体の層構成や材料設計等に従って、静電潜像の形成性能が異なる。また、感光体を構成する電荷発生層、電荷輸送層の材料や、これら各層の厚さなどによっても静電潜像形成性能が大きく異なる。上に説明した画像形成評価装置を用いて、露光劣化関数を求めると、この露光劣化関数や、露光劣化関数を特定するパラメータが感光体の特徴を表す量となる。同様に、トナー像プロファイルと静電潜像プロファイルとに介在する現像劣化関数から、トナー粒子に関しても、粒径や粒径分布、形状、形状のばらつき、感光体の帯電の不均一性など、トナーの特性、感光体の特性を表すパラメータを用いる評価が可能となる。電子写真プロセスを用いる画像形成装置においては、画像の素は1ドットであり、画像は多数のドットで形成される。走査光学系は、所望の画像に応じてドット群を形成する。従って、1ドットについてのビームプロファイル、静電潜像プロファイル、トナー像プロファイルが分れば、基本的には1ドット以外の複雑なパターン画像の評価も、畳み込み演算を用いて行える。上に説明した例は、静電潜像形成手段の光ビームによる露光で、1ドットの静電潜像を、1以上形成し、トナー像測定装置により1ドットの静電潜像によるトナー像を3次元的に測定し、トナー像の高さを等高線として表現し、上記等高線からトナー像のトナー像プロファイルを求めるものである。例えば、図29に示すようなライン状のパターンの形成は、図29bに示すように1ドットを走査方向に並べることにより行う。並べたドットとドットとの間隔が解像度である。600dpiでは上記間隔は約42μmであり、昨今主流となりつつある1200dpiでは、その半分の約21μmである。走査方向は主副いずれでも良い。レーザ光源のレーザ発光強度などの条件によるが、ビーム径は解像度よりも大きくなることが多く、解像度が高いほど解像度にあわせてビーム径を設計することは困難である。1200dpiにあわせて21μmのビーム径を実現できる走査光学系を設計作製することは難しい。ビーム径が解像度よりも大きいと、ドットを図29bのように並べても同図aのようにライン状のパターンが形成させる。ライン状のパターンは、図29cに示すように、ビームのプロファイルと形成する櫛状の関数との畳み込み演算により表すことができる。このとき、1ドットのプロファイルが素となっている。櫛状の関数はデルタ関数を解像度の間隔で並べたものであり、パターンと解像度により決定される。原理的には、1ドットのプロファイルと、パターン及び解像度により、どのような画像でも形成することが可能である。従って1ドットのプロファイルを把握しておくことが重要である。このことは、静電潜像とトナー像との関係にも当てはまる。通常の走査光学系の設計においては、始めにビーム径を設定し仕様として定め、このように設定されたビーム径を実現する走査光学系を設計する。設計のこの時点では、感光体やトナーは考慮されておれず、走査光学系が実際に作製された後、感光体、トナーとともに画像評価を行う。問題は、この段階で初めて画質が分ることである。評価された画像の画質が要求水準を満たさない場合には、ビーム径の設定走査光学系の設計を見直すことになる。この点は、このような設計をシミュレーションによって行っても同様である。シミュレーションの場は、実際に装置を試作する手間は省けるものの設計の方法方向性は変わらない。上述の如く、ビームプロファイル、静電潜像プロファイル、トナー像プロファイルを測定すると、これから露光劣化関数現像劣化関数が求まる。静電潜像プロファイルはビームプロファイルと露光劣化関数との畳み込みの結果であり、トナー像プロファイルは静電潜像プロファイルと現像劣化関数との畳み込みの結果である。露光劣化関数は、特定のビームプロファイルと静電潜像プロファイルの間でのみ定まるものではなく、現像劣化関数も特定の静電潜像プロファイルとトナー像プロファイルとの間でのみ定まるものではない。即ち、露光劣化関数が定まると、同一の感光体を用いて、同じドット露光を行なうとき、ビームプロファイルが変化しても、この変化したビームプロファイルに露光劣化関数を用いて畳み込み演算を行なえば、変化したビームプロファイルに応じた静電潜像プロファイルが得られる。逆に、静電潜像プロファイルが変化しても、露光劣化関数を用いてデコンボリューション演算を行なえば、変化した静電潜像プロファイルに応じたビームプロファイルが得られる。この関係は、静電潜像プロファイルとトナー像プロファイルおよびこれらの間に介在する現像劣化関数についても同様である。このことを鑑みれば所望のトナー像に対応するトナー像プロファイル実現するべきトナー像プロファイルを先ず与え、このトナー像プロファイルに対し現像劣化関数を用いるデコンボリューション演算で、静電潜像プロファイルを求めると、求められた静電潜像プロファイルは所望のトナー像を得るために感光体上に形成するべき静電潜像のプロファイルであり、このようにして求めるべきトナー像を得るために、どのような静電潜像を形成するべきかを知ることができる。さらに、このように求められた静電潜像プロファイルと露光劣化関数を用いるデコンボリューション演算を行なって得られるビームプロファイルは、求めている所望のトナー像を実現できるビームプロファイルである。このように、上記のプロセスを用いれば所望のトナー画像を実現するために必要とされるビームプロファイルを特定でき、このビームプロファイルを実現できる光ビームを仕様として、走査光学系を設計できる。図22は、この様子を示すものである。上記プロセスを図25のbに示す。用いるトナー及び感光体は、実際の画像形成装置に用いるものと同種のものを、別途準備して走査光学系を用いて予め画像評価を行い、露光劣化関数および現像劣化関数を導出しておく。このとき用いられる走査光学系はこれから設計しようとしているものとは無関係でよく既存のもので良い。上記の如く、露光劣化関数は特定のビームプロファイルと静電潜像プロファイルの間でのみ定まるのでないからである。ただし、レーザ光源の波長は設計する走査光学系のものに揃え、実験条件を幾つか変えて露光劣化関数を求めておくことが好ましい。所望のトナー像は、電子写真プロセスにおける後の工程で、最終的には紙の上に定着したトナー像から求められるものである。一般的には、例えばトナー像プロファイルの断面が円形であれば、円柱状のプロファイルが良いと考えられている。このようなトナー像からビームプロファイルの仕様を決める方法は、図25bに示すように、画質の良否判定の工程が不要となる利点がある。走査光学系を設計作製し他のちにトナー像の画質が分るのではなく、走査光学系を設計する前に画質を予測できるからである。図16を参照して総括すると、まず、測定1において、始めに測定条件の設定を行う。測定条件は走査光学系におけるレーザ光源の発光強度や、ポリゴンミラーの回転数などである。ビーム径は、ビームプロファイルの最大強度を1に規格化してその13.5のプロファイル幅をビーム径とするのが一般的であるが、これが静電潜像と整合性が取れるか保証の限りではないので、条件設定に当たっては、この値からずらした値を用いる。画像パターンは、基本的に1ドットであるが、ライン状、点線状、格子状であっても良い。次に感光体の帯電電位は、電子ビームの加速電圧として設定する。また、オフセットは帯電倍率であり、これを幾つの段階とするか図18の例では5段階の決定である。以上の組合せから、全測定回数:nが決まる。これらは画像形成評価装置に含まれるコンピュータから設定入力できることが操作性の観点から好ましい。次にビームプロファイルを測定し、静電潜像プロファイルを測定する。これらの測定の順番は逆でも良い。測定したビームプロファイル、静電潜像プロファイルはコンピュータに蓄積される。記録部位は、コンピュータのハードディスクなどが一般的であるが、測定の高速化効率化を図る目的で、これとは別のメモリを設けて蓄積してもよい。ビームプロファイル、静電潜像プロファイルに対しては適切なデータ処理が成される。特に、静電潜像プロファイルは、プロファイルの複数の断面から構成されるためフィッティング、スムージングなどのデータ処理を行うことが好ましい。ビームプロファイル及び静電潜像プロファイルを用いて,逆畳み込み演算により露光劣化関数を導出する。逆畳み込み演算は汎用のデータ処理ソフトなどを用いて行うことができる。これを全測定回数:n回繰り返す。なお、逆畳み込み演算及び劣化関数の導出は、ビームプロファイル及び静電潜像プロファイルの全測定が終った後に行っても良い。このように各工程をアルゴリズム化することにより、画像形成評価装置のハードウェア或いはソフトウェアに評価方法を実装することができる。初期の測定条件の決定は、画像形成評価装置に接続されているコンピュータ上から変更できること、従ってソフトウェア的に実現することが好ましい。これとは別にトナー像の評価を行う図16の測定2。測定条件は測定1と合わせておく。測定2は、測定1と同時的でも順次でも良い。量測定を並列して行う場合には、同期して測定1の結果を測定2に転送する。測定2で劣化関数を導出するのに測定1の静電潜像プロファイルが必要だからである。このようにして、設計、作製された走査系を搭載して、デジタル複写機やレーザプリンタなどの画像形成装置を実現できる。上記走査光学系における仕様はビームプロファイルであるので、光ビーム偏向型の走査光学系に限らず、LEDアレイのような光書き込み系を設計することもできる。以下に、電子写真プロセスを簡単に説明する。電子写真プロセスは一般に、1帯電、2露光、3現像、4トナー像転写、5感光体クリーニング、6トナー像定着の各工程を有する。1の帯電工程では、暗所において帯電器を用いて光半導体である感光体の表面を帯電させる。2の露光工程では、帯電させた感光体に光照射を行い、光が照射された部分の電荷を消失させて静電潜像を形成する。現在、デジタル機器においてはネガ潜像を形成する露光が主流である。3の現像工程では、静電潜像と同極性もしくは逆極性に帯電させた微小なトナー粒子を静電潜像に静電的に付着させて静電潜像を可視化する。4のトナー像転写工程では、記録媒体である転写紙を、感光体上のトナー像に重ね、転写紙裏側から帯電器でトナー粒子と逆極性の電荷を与え、静電力によりトナー像を転写紙に転写する。5のクリーニング工程では、転写されずに感光体に残った残留トナーを、ブレードや磁気ブラシ等のクリーナを用いて除去する。6の定着工程では、トナー像を転写された転写紙を熱ローラ定着機に送り、熱及び圧力でトナー像を定着する。1から6の工程を実行する画像形成装置の1例を図23に示す。図23において、符号151は感光体、符号152は帯電チャージャ、符号153は露光用光源、符号154はトナー、符号155は転写紙、符号156は転写チャージャ、符号157は定着ローラ、符号158はクリーニングブレード、符号159は除電用光源である。上記の工程1~6と対応させると、感光体151の帯電が帯電チャージャ152により行われ帯電工程、露光用光源153による露光が行なわれ露光工程、トナー154を感光体151に付着させることにより、静電潜像がトナー像として可視化され現像工程、転写チャージャ156により、感光体151上のトナー像が転写紙155に転写される転写工程。さらに、クリーニングブレード158により、感光体151上に残ったトナーを取り除くクリーニングが行なわれクリーニング工程、定着ローラ157により転写紙155上のトナー像が定着される定着工程。この発明の画像形成評価装置は、このプロセスの帯電と露光静電潜像形成を部分的に取り入れたものである。さらに、感光体上の静電潜像へのトナーの付着は、上記3の現像工程である。トナー像の形成にはこのプロセスを用いる。通常の電子写真装置では一連のプロセスを途中で止めることはできないが、3の現像工程でプロセスが止るように適宜、装置に改造を施す。以下にトナーについて説明する。3の現像工程の実行には幾つかの方式があり、方式からトナー現像剤を分類すると、乾式と湿式があり、高速性の上で乾式が主流である。乾式には、1成分現像剤を用いる方式と2成分現像剤を用いる方式がある。1成分現像剤には、非磁性トナー、磁性トナーがある。2成分現像剤はトナーとキャリアとからなり、トナーには非磁性トナー、磁性トナーがある。トナー粒子は大部分がポリマーから成り、着色剤等が含まれ、大きさは数μmから十数μmである。キャリアは鉄粉などの金属系材料で、数十から数百μmの粒径を有する。現像剤の種類、トナーの種類材料、着色剤トナーの色は限定されない。感光体上にトナー像が形成できれば良い。現像剤の種類等の条件を変える場合、その条件にあった改造を含む電子写真装置を用いれば良い。感光体を説明する。感光体は光導電材料Photoconductorである。現在、低コスト加工性容易の点から有機電子写真感光体OPC:OrganicPhotoconductorが主として使われている。一般にOPCは層構成で作られ、導電性支持体導電層上に中間層を設け、電荷発生層CGL:ChargeGenerationLayerと電荷輸送層CTL:ChargeTransferLayerを積層する。この積層順層では感光体を負帯電して使用する負帯電方式になる。CGLとCTLとの積層順を上記と逆にした構成では感光体を正帯電して使用する正帯電方式になる。また、電荷発生材料と電荷輸送材料を混合させた材料を用いた単層感光体もある。中間層は、電荷リークなどの防止ために設けられる。上記感光体の層構成及び帯電、光照射の様子を模式的に示す。順層構成の場合である図24において、符号161は導電層、符号162は電荷発生層、符号163は電荷輸送層、符号166は電子、符号167はホール、符号164は照射光、符号165はホールの電荷輸送層中の移動方向を示す。表面を帯電させたOPCに光を照射すると、CGLにおいて光が吸収され、正負の電荷が発生する。発生した正負の電荷は、表面の電荷が形成する電界により、一方の電荷がCTLに、他方の電荷が導電性支持体に注入される。CTLに注入された電荷は、CTLを通り感光体表面に到達して、表面の電荷を打ち消す。照射する光ビームを2次元的に走査して、文字画像のパターンを書き込み、静電潜像を形成する。一般に、CGLの厚みはサブμm程度、CTLの厚みは数十μmである。静電潜像はドットを最小単位とし、ドットの配列により文字画像として形成される。感光体には上記のような積層型以外に、電荷発生と電荷輸送両方の機能を一層で賄う単層感光体もある。この発明において感光体はこれらに限定されるものではない。トナー像を転写されるシート状媒体としては、前述の転写紙のみならず、オーバーヘッドプロジェクタ用のOHPシート等の高分子材料によるシート媒体もある。"