"測定対象物にレーザ光を照射したときに発せられる蛍光を測定する蛍光測定装置であって、レーザ光を前記測定対象物に照射するレーザ光源と、前記測定対象物に前記レーザ光を照射したときの散乱光を受光する第1受光部と、前記測定対象物に前記レーザ光を照射したときの蛍光を受光する第2受光部と、第1受光部が受光した前記散乱光の強度に応じて、第2受光部が受光した前記蛍光の信号に重み付けを行う信号処理部と、を備えることを特徴とする蛍光測定装置。前記信号処理部は、前記レーザ光の強度を変調する変調信号と、第2受光部が受光した前記蛍光の信号と、の位相差に基づいて、蛍光寿命を求める、請求項1に記載の蛍光測定装置。前記信号処理部は、第1受光部が受光した前記散乱光の強度を規格化し、規格化された前記散乱光の強度を、第2受光部が受光した前記蛍光の信号に乗じる、請求項1又は2に記載の蛍光測定装置。測定対象物にレーザ光を照射したときに発せられる蛍光を測定する蛍光測定方法であって、レーザ光を前記測定対象物に照射する工程と、前記測定対象物に前記レーザ光を照射したときの散乱光を受光する第1受光工程と、前記測定対象物に前記レーザ光を照射したときの蛍光を受光する第2受光工程と、第1受光工程で受光された前記散乱光の強度に応じて、第2受光工程で受光された前記蛍光の信号に重み付けを行う信号処理工程と、を有することを特徴とする蛍光測定方法。前記信号処理工程は、前記レーザ光の強度を変調する変調信号と、第2受光工程で受光された前記蛍光の信号と、の位相差に基づいて、蛍光寿命を求める、請求項4に記載の蛍光測定方法。前記信号処理工程は、第1受光工程で受光された前記散乱光の強度を規格化する規格化工程と、前記規格化工程で規格化された前記散乱光の強度を、第2受光工程で受光された前記蛍光の信号に乗じる、請求項4又は5に記載の蛍光測定方法。測定対象物が発する蛍光を受光する蛍光測定装置が、測定対象物にレーザ光を照射したときに発せられる蛍光を測定する場合、測定される蛍光のデータには、ある程度の分散がある。蛍光緩和時間などをより高い精度で測定するために、測定される蛍光のデータの分散を低減することができる蛍光測定装置が求められている。本発明は、測定対象物にレーザ光を照射したときに発せられる蛍光の測定精度を従来よりも高めることができる蛍光測定装置及び蛍光測定方法を提供することを目的とする。本発明の蛍光測定装置は、測定対象物にレーザ光を照射したときに発せられる蛍光を測定する蛍光測定装置であって、レーザ光を前記測定対象物に照射するレーザ光源と、前記測定対象物に前記レーザ光を照射したときの散乱光を受光する第1受光部と、前記測定対象物に前記レーザ光を照射したときの蛍光を受光する第2受光部と、第1受光部が受光した前記散乱光の強度に応じて、第2受光部が受光した前記蛍光の信号に重み付けを行う信号処理部と、を備えることを特徴とする。また、前記信号処理部は、前記レーザ光の強度を変調する変調信号と、第2受光部が受光した前記蛍光の信号と、の位相差に基づいて、蛍光寿命を求めることが好ましい。また、前記信号処理部は、第1受光部が受光した前記散乱光の強度を規格化し、規格化された前記散乱光の強度を、第2受光部が受光した前記蛍光の信号に乗じることが好ましい。本発明の蛍光測定方法は、測定対象物にレーザ光を照射したときに発せられる蛍光を測定する蛍光測定方法であって、レーザ光を前記測定対象物に照射する工程と、前記測定対象物に前記レーザ光を照射したときの散乱光を受光する第1受光工程と、前記測定対象物に前記レーザ光を照射したときの蛍光を受光する第2受光工程と、第1受光工程で受光された前記散乱光の強度に応じて、第2受光工程で受光された前記蛍光の信号に重み付けを行う信号処理工程と、を有することを特徴とする。また、前記信号処理工程は、前記レーザ光の強度を変調する変調信号と、第2受光工程で受光された前記蛍光の信号と、の位相差に基づいて、蛍光寿命を求めることが好ましい。また、前記信号処理工程は、第1受光工程で受光された前記散乱光の強度を規格化する規格化工程と、前記規格化工程で規格化された前記散乱光の強度を、第2受光工程で受光された前記蛍光の信号に乗じることが好ましい。本発明の蛍光測定装置、蛍光測定方法によれば、測定対象物にレーザ光を照射したときに発せられる蛍光の測定精度を従来よりも高めることができる。以下、本発明の蛍光測定装置、蛍光測定方法を適用したフローサイトメータについて、実施形態に基づいて説明する。<実施形態>フローサイトメータの構成まず、図1を参照して、本実施形態のフローサイトメータの構成について説明する。図1は、本実施形態のフローサイトメータの一例を示す概略構成図である。フローサイトメータは、測定対象物にレーザ光を照射し、レーザ光を照射された測定対象物が発する蛍光を受光することにより、測定対象物の情報を取得することができる。図1に示されるように、本実施形態のフローサイトメータは、フローセル10と、レーザ光源20と、第1受光部30と、第2受光部32と、制御部40と、信号処理部50と、出力部70と、を備える。以下、各構成について詳細に説明する。細胞12などの測定対象物は、シース液に囲まれてフローセル10の内部を流れる。後述するように、レーザ光源20が測定対象物にレーザ光を照射し、その際に発せられる蛍光から測定対象物の情報を取得するため、細胞12には、予め蛍光色素14が付与されている。蛍光色素14は、例えば、CFPCyanFluorescentProtein、YFPYellowFluorescentProteinなどが用いられる。フローセル10の内部では、シース液に囲まれた測定対象物は流体力学的絞り込みを受け、細い液流となってフローセル10の内部を流れる。レーザ光源20は、所定の周波数で強度変調したレーザ光を測定対象物に照射する。レーザ光源20は、例えば、半導体レーザを用いることができる。レーザ光の出力は、例えば、5~100mWである。レーザ光の波長は、例えば、350nm~800nmである。レーザ光源20が照射するレーザ光の強度は、後述する制御部40から出力される変調信号によって変調される。第1受光部30は、フローセル10にレーザ光が照射される位置を基準として、レーザ光源20と反対側に配置される。第1受光部30は、測定対象物にレーザ光が照射されたときに生じる前方散乱光を受光する。第1受光部30は、例えば、フォトダイオードなどの光電変換器を備える。第1受光部30は、受光した前方散乱光を電気信号に変換する。第1受光部30によって変換された電気信号は信号処理部50へ出力され、フローセル10にレーザ光が照射される位置を測定対象物が通過するタイミングを知らせるトリガ信号として用いられる。第2受光部32は、フローセル10にレーザ光が照射される位置を基準として、レーザ光源20からレーザ光が照射される方向とフローセル10内を測定対象物が流れる方向の相互に垂直な方向に配置される。第2受光部32は、測定対象物にレーザ光が照射されたときに発せられる蛍光を受光する。第2受光部32は、例えば、光電子倍増管などの光電変換器を備える。第2受光部32は、受光した蛍光を電気信号蛍光信号に変換する。第2受光部32によって変換された電気信号は信号処理部50へ出力され、フローセル10にレーザ光が照射される位置を通過する測定対象物の情報として用いられる。次に、制御部40について説明する。制御部40は、レーザ光源20が照射するレーザ光の変調周波数を制御する。ここで、図2を参照して、制御部40の構成について説明する。図2は、制御部40の一例を示す図である。図2に示されるように、制御部40は、発振器42と、パワースプリッタ44と、アンプ46,48と、を備える。発振器42は、所定の周波数の正弦波信号を出力する。発振器42から出力される正弦波信号は、レーザ光源20から出力されるレーザ光の強度を変調するための変調信号として用いられる。正弦波信号の周波数は、例えば、1~50MHzである。発振器42から出力された所定の周波数の正弦波信号変調信号は、パワースプリッタ44により、2つのアンプ46,48に分配される。アンプ46で増幅された変調信号は、レーザ光源20へ出力される。また、アンプ48で増幅された変調信号は、信号処理部50へ出力される。アンプ48で増幅された変調信号を信号処理部50へ出力するのは、後述するように、第2受光部32から出力される信号を検波するための参照信号として用いるためである。次に、信号処理部50について説明する。信号処理部50は、第1受光部30が受光した前方散乱光の強度に応じて、第2受光部32が受光した蛍光の信号に重み付けを行う。また、信号処理部50は、レーザ光の強度を変調する変調信号と、第2受光部32が受光した蛍光の信号との位相差に基づいて、蛍光寿命を求める。ここで、図3を参照して、信号処理部50の構成について説明する。図3は、信号処理部50の一例を示す図である。図3に示されるように、信号処理部50は、IQミキサ52と、アンプ54と、ローパスフィルタ56と、A/D変換器58と、演算部60と、を備える。IQミキサ52は、アンプ54によって増幅された、第2受光部32から出力された蛍光信号の入力を受ける。また、IQミキサ52は、制御部40のアンプ48から出力された参照信号の入力を受ける。IQミキサ52は、蛍光信号と参照信号とを乗算することにより、蛍光信号のcos成分と、高周波成分とを含む信号を生成する。また、IQミキサ52は、蛍光信号と、参照信号の位相を90度シフトさせた信号と、を乗算することにより、蛍光信号のsin成分と、高周波成分とを含む信号を生成する。この信号に基づいて、変調信号参照信号と蛍光信号との位相差を求めることができる。IQミキサ52によって生成された信号の高周波成分は、ローパスフィルタ56によって除去される。ローパスフィルタ56によって高周波成分が除去された信号は、A/D変換器58によってデジタル信号後述するcosθ、sinθに変換される。また、第1受光部30から出力された前方散乱光の信号は、A/D変換器58によってデジタル信号に変換される。A/D変換器58によってデジタル信号に変換された信号は、演算部60へ出力される。演算部60は、第1受光部30が受光した前方散乱光の強度に応じて、第2受光部32が受光した蛍光の信号蛍光信号に重み付けを行う。また、演算部60は、第1受光部30が受光した前方散乱光の強度を規格化し、規格化された前方散乱光の強度を蛍光信号に乗じる。また、演算部60は、A/D変換器58によってデジタル信号に変換された信号を用いて、蛍光寿命を求める。演算部60が行う詳細な処理については、後述する。演算部60が演算した結果は、出力部70へ出力される。図1に戻り、出力部70は、信号処理部50によって求められた情報を出力する。出力部70は、例えば、表示装置やプリンタである。出力部70は、例えば、信号処理部50によって求められた蛍光寿命を出力する。以上が本実施形態のフローサイトメータの概略構成である。信号処理の流れ次に、信号処理部50による信号処理の流れを説明する。まず、レーザ光の強度を変調するための変調信号が、制御部40から信号処理部50へ参照信号として出力される。信号処理部50に入力される参照信号の時間変化の一例を図4aに示す。図4aに示される例の参照信号は、所定の周波数の正弦波信号である。また、測定対象物にレーザ光が照射されたときに発せられる蛍光を第2受光部32が受光する。第2受光部32から出力される蛍光信号の時間変化の一例を図4bに示す。参照信号に対して蛍光信号には位相差θが生じる。ここで、変調信号の角周波数をω、測定対象物の蛍光寿命をτとすると、以下の式1により、位相差θから蛍光寿命τを求めることができる。また、図4bに示されるように、蛍光信号の振幅は一定ではない。蛍光信号の振幅が変化することについて、図5を参照して説明する。図5は、フローセル10にレーザ光が照射される領域を細胞12などの測定対象物が通過する様子を示す図である。図5aは、レーザ光が照射される領域に測定対象物が入り始める瞬間を示す図である。図5bは、測定対象物が完全にレーザ光に照射される瞬間を示す図である。図5cは、レーザ光が照射される領域から測定対象物が出始める瞬間を示す図である。図5a~cのいずれの瞬間においても、測定対象物にレーザ光が照射されることにより蛍光が発せられるが、その蛍光の強度は一定ではない。具体的には、図5bの瞬間に発せられる蛍光の強度は、図5a,cの瞬間に発せられる蛍光の強度よりも強い。そのため、図4bに示されるように、蛍光信号の振幅は時間的に変化する。また、測定対象物にレーザ光が照射されたときに生じる前方散乱光を第1受光部30が受光する。第1受光部30が受光する前方散乱光の強度の時間変化の一例を図6に示す。フローセル10にレーザ光が照射される領域を測定対象物が1つ通過すると、前方散乱光のピークが1つ測定される。前方散乱光の強度が最大となる瞬間は、前述した図5bの瞬間に相当する。前方散乱光の信号はA/D変換器58でデジタル信号に変換され、演算部60に入力される。なお、上述したように、正弦波信号の周波数は、例えば、1~50MHzである。また、フローセル10にレーザ光が照射される位置を測定対象物が通過するのに要する時間は、20μ秒程度である。そのため、図4に示される信号には、実際には1つの測定対象物が通過する間に、20~1000周期程度の信号が含まれる。図4においては、説明の便宜上、実際よりも低い周波数の信号を用いて説明を行っている。IQミキサ52は、図4bに示される蛍光信号と図4aに示される参照信号とを乗算することにより、蛍光信号のcos成分と高周波成分とを含む信号を生成する。その後、ローパスフィルタ56によって高周波成分が除去された蛍光信号のcos成分の一例を図7aに示す。また、IQミキサ52は、図4bに示される蛍光信号と、図4aに示される参照信号の位相を90度シフトさせた信号と、を乗算することにより、蛍光信号のsin成分と高周波成分とを含む信号を生成する。その後、ローパスフィルタ56によって高周波成分が除去された蛍光信号のsin成分の一例を図7bに示す。本実施形態の演算部60は、図6に示される前方散乱光の強度に応じて、図7a,bに示される蛍光信号のcos成分、sin成分の各々の信号に重み付けを行う。具体的には、演算部60は、図6に示される前方散乱光の強度の最大値が1となるように前方散乱光の強度を規格化し、規格化された前方散乱光の強度を図7a,bに示される蛍光信号のcos成分、sin成分の各々の信号に乗じる。規格化された前方散乱光の強度を、図7a,bに示される蛍光信号のcos成分、sin成分に乗じた結果を、図8a,bに示す。図8a,bに示されるように、前方散乱光の強度が小さい部分の蛍光信号の値は、図7a,bに示される値よりも小さくなる。図5bのように蛍光の強度が強い瞬間に発せられる蛍光には、図5a,cのように蛍光の強度が弱い瞬間に発せられる蛍光よりも精度の高い情報が含まれているためである。そのため、規格化された前方散乱光の強度を蛍光信号のcos成分、sin成分に乗じることにより、精度の高い情報を用いて、位相差θを求めることができる。その後、演算部60は、図8a,bに示される蛍光信号のcos成分、sin成分のそれぞれの時間平均を算出する。時間平均された蛍光信号のcos成分、sin成分は、図9に示される図にプロットされる。1つの測定対象物に対して上述した信号処理を行うことにより、図9に示される図のプロットが1つなされる。演算部60は、複数の測定対象物に対して、時間平均された蛍光信号のcos成分、sin成分をプロットする。また、演算部60は、時間平均された蛍光信号のcos成分、sin成分の複数のプロットから、参照信号に対する蛍光信号の位相差を求める。例えば、図9に示される複数のプロットを、原点を通る直線で近似した直線の傾きから、演算部60は参照信号に対する蛍光信号の位相差θを求めることができる。以上説明したように、本実施形態の蛍光測定装置、蛍光測定方法では、前方散乱光の強度に応じて、精度の高い情報が含まれている蛍光信号により大きな重み付けを行うように、蛍光信号に重み付けを行う。そのため、測定対象物にレーザ光を照射したときに発せられる蛍光の測定精度を高めることができる。特に、本実施形態の蛍光測定装置、蛍光測定方法では、測定対象物の各々に対して、前方散乱光の強度に応じて、蛍光信号に重み付けを行う。そのため、測定対象物の大きさが一定でないような場合であっても、測定対象物にレーザ光を照射したときに発せられる蛍光の測定精度を高めることができる。比較例以下、上述した実施形態の効果を示すため、比較例について説明する。本比較例のフローサイトメータの構成は、上述した実施形態とほぼ同様である。本比較例のフローサイトメータは、信号処理部50の構成が実施形態とは異なる。以下、本比較例の信号処理部50について説明する。図10は、本比較例の信号処理部50の一例を示す図である。図10に示されるように、本比較例の信号処理部50は、IQミキサ52と、アンプ54と、ローパスフィルタ56と、A/D変換器58と、演算部60と、を備える。IQミキサ52、アンプ54、ローパスフィルタ56、A/D変換器58の構成は上述した実施形態と同様であるため、説明を省略する。本比較例では、第1受光部30から出力された前方散乱光の信号が信号処理部50に入力されない点が、実施形態と異なる。以下、本比較例の信号処理部50による信号処理の流れを説明する。図4aを参照して説明したように、レーザ光の強度を変調するための変調信号が、制御部40から信号処理部50へ参照信号として出力される。また、図4bを参照して説明したように、測定対象物にレーザ光が照射されたときに発せられる蛍光を第2受光部32が受光する。IQミキサ52は、図4bに示される蛍光信号と図4aに示される参照信号とを乗算することにより、蛍光信号のcos成分と高周波成分とを含む信号を生成する。その後、図7aを参照して説明したように、ローパスフィルタ56によって高周波成分が除去された蛍光信号のcos成分が得られる。また、IQミキサ52は、図4bに示される蛍光信号と、図4aに示される参照信号の位相を90度シフトさせた信号と、を乗算することにより、蛍光信号のsin成分と高周波成分とを含む信号を生成する。その後、図7bを参照して説明したように、ローパスフィルタ56によって高周波成分が除去された蛍光信号のsin成分が得られる。本比較例の演算部60は、図7a,bに示される蛍光信号のcos成分、sin成分のそれぞれの時間平均を算出する。時間平均された蛍光信号のcos成分、sin成分は、図11に示される図にプロットされる。また、演算部60は、時間平均された蛍光信号のcos成分、sin成分の複数のプロットから、参照信号に対する蛍光信号の位相差を求める。上述した実施形態から得られる図9と本比較例から得られる図11とを比較すれば明らかなように、実施形態のプロットは本比較例のプロットと比較して、分散が小さい。例えば、図9に示されるプロットの位相差θの分散から求めた標準偏差は0.71[rad]であるのに対し、図11に示されるプロットの位相差θの分散から求めた標準偏差は0.79[rad]である。これは、実施形態の蛍光測定装置、蛍光測定方法では、前方散乱光の強度に応じて、精度の高い情報が含まれている蛍光信号により大きな重み付けを行うように、蛍光信号に重み付けを行ったためである。そのため、実施形態の蛍光測定装置、蛍光測定方法によれば、蛍光寿命をより高い精度で測定することができる。以上、本発明の蛍光測定装置及び蛍光測定方法について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。また、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。"