"複数の測定器を有し、前記測定器を制御して被試験器に対して試験を行う本体部と、前記本体部に接続される1つ以上の増設部とを有する測定試験装置であって、前記本体部は、前記増設部から、前記測定器の使用要求を受けて、前記使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定部と、前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記使用を要求された測定器から、前記増設部までの接続経路を制御する第1の経路制御部とを備え、前記増設部は、前記本体部に対して、前記本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求部と、前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記第1の経路制御部に制御された接続経路から、この増設部に接続された被試験器までの接続経路を制御する第2の経路制御部と、前記本体部に対して、前記使用を要求された測定器を制御して、前記第1の経路制御部および前記第2の経路制御部により制御された接続経路を用いて、この増設部に接続された被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求部とを備える測定試験装置。複数の測定器を有し、前記測定器を制御して被試験器に対して試験を行う本体部と、前記本体部に接続される1つ以上の増設部とを有する測定試験装置における測定試験方法であって、前記本体部のコンピュータに、前記増設部から、前記測定器の使用要求を受けて、前記使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定ステップと、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記使用を要求された測定器から、前記増設部までの接続経路を制御する第1の経路制御ステップとを実行させ、前記増設部のコンピュータに、前記本体部に対して、前記本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求ステップと、前記使用可否判定ステップにおいて、使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記本体部により制御された接続経路から、この増設部に接続された被試験器までの接続経路を制御する第2の経路制御ステップと、前記本体部に対して、前記使用を要求された測定器を制御して、前記第1の経路制御ステップおよび前記第2の経路制御ステップにおいて制御された接続経路を用いて、この増設部に接続された被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求ステップとを実行させる測定試験方法。測定試験装置は、試験の対象となる被試験器を接続するための接続部、被試験器の試験信号を計測するための複数の測定器群、被試験器と、被試験器の試験信号を測定する測定器との接続経路を構築する信号切替器、測定器では入出力できない特別な計測信号を有する専用試験器群、および、これらの機器を制御する制御コントローラから構成される。測定装置試験は、これらの構成部分により、被試験器に対して試験を行うが、被試験器との接続部を1つしか有さないので、試験対象の被試験器が複数の場合、同時に複数の被試験器を試験することができない。そのため、同時に複数の被試験器を試験するためには、測定試験装置が有するすべての構成部分を、試験対象となる被試験器の数に応じて追加する必要があり、追加に要するコストや、使用していない測定器の数などが増大する場合がある。本発明は、上述のような背景からなされたものであり、測定試験装置を構成する測定器群および専用試験器群のうち、使用されていない測定器および専用試験器を利用し、測定器および専用試験器を別途追加することなく、複数の被試験器に対して、同時に効率良く試験を行うよう改良された測定試験装置および測定試験方法を提供する。上記目的を達成するために、本発明に係る測定試験装置1は、複数の測定器14を有し、前記測定器を制御して被試験器18に対して試験を行う本体部と、前記本体部に接続される1つ以上の増設部とを有し、前記本体部は、前記増設部から、前記測定器の使用要求を受けて、前記使用を要求された測定器が使用可能か否かを判定する使用可否判定部306と、前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記使用を要求された測定器から、前記増設部までの接続経路を制御する第1の経路制御部304とを備え、前記増設部は、前記本体部に対して、前記本体部が有する測定器のうち、この増設部に接続された被試験器の試験に使用する測定器の使用を要求する使用要求部322と、前記使用可否判定部により、前記使用を要求された測定器が使用可能であると判定された場合、前記第1の経路制御部に制御された接続経路から、この増設部に接続された被試験器までの接続経路を制御する第2の経路制御部324と、前記本体部に対して、前記使用を要求された測定器を制御して、前記第1の経路制御部および前記第2の経路制御部により制御された接続経路を用いて、この増設部に接続された被試験器に対して試験を行うよう要求する試験要求部320とを備える。なお、ここで付された符号は、本願発明の理解を助けることを意図するものであり、本願発明の技術的範囲を限定することを意図するものではない。本発明に係る測定試験装置および測定試験方法によれば、測定器および専用試験器を別途追加することなく、複数の被試験器に対して、同時に効率良く試験を行うことができる。[測定試験装置1]図1は、本発明に係る測定試験装置1の構成を例示する図である。図1に示すように、測定試験装置1は、制御コントローラ12と、n個の測定器14-1~14-nn≧1;ただし、全てのnが常に同数を示すとは限らないと、n個の専用試験器16-1~16-nと、試験の対象となる被試験器18-1とが、LANなどのネットワークや接続ケーブルなどにより接続され、被試験器18-1と、被試験器18-1の出力計測信号の測定に使用される測定器および専用試験器とが、信号切替器20および接続部22とを介して接続される本体部と、被試験器18-1とは別の被試験器18-2と、被試験器18-2の計測信号の測定に使用される測定器および専用試験器とが、増設用制御コントローラ24により制御される増設用信号切替器26、増設用接続部28および信号切替器20を介して接続される増設部とから構成される。測定器14-1~14-nは、被試験器18-1,18-2の出力計測信号を測定する汎用的な機器を示し、専用試験器16-1~16-nは、被試験器やモジュールごとに異なる専用の試験を行う機器を示す。なお、以下の説明においては、被試験器18-1,18-2の計測信号を、試験信号と記述する。また、被試験器18-1,18-2は、測定試験装置1において、試験対象となり得る複数の被試験器から選択されるものであり、被試験器の数は、2つに限定されるものではない。また、図1において、説明の明確化具体化のために、本体部と被試験器18-1とが接続され、増設部と被試験器18-2とが接続されている場合を具体例としているが、このような接続状態に限定されるものではない。また、測定試験装置1は、試験を行う被試験器の数に応じて、本体部に複数の増設部を接続することができる。なお、以下、測定器14-1~14-nなど、複数ある構成部分のいずれかを示すときは、単に、測定器14と記載することがある。以下、各図において、実質的に同じ構成部分処理には、同じ符号が付される。測定試験装置1は、これらの構成部分により、本体部と増設部において、異なる被試験器に対して、同時に試験を実行する。[ハードウェア構成]以下、図1に示した制御コントローラ12および増設用制御コントローラ24のハードウェア構成を説明する。図2は、制御コントローラ12および増設用制御コントローラ24のハードウェア構成を例示する図である。図2に示すように、制御コントローラ12および増設用制御コントローラ24は、メモリ122およびCPU124などを含む情報処理装置120、キーボードおよび表示装置などを含む外部入出力装置126、データ通信を行うための通信装置128、および、ハードディスクなどの記録媒体132に対してデータの記録を行う記録装置130などから構成される。つまり、制御コントローラ12および増設用制御コントローラ24は、情報処理、測定試験装置1の各構成部分の制御、および、データ通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。[制御プログラム]以下、測定試験装置1の制御コントローラ12および増設用制御コントローラ24図1上で実行される制御プログラム30,32を説明する。図3は、制御コントローラ12および増設用制御コントローラ24上で実行される制御プログラム30,32の構成を例示する図である。図3に示すように、制御コントローラ12上で実行される制御プログラム30は、試験制御部300、経路情報テーブル302、経路制御部304、使用可否判定部306および接続処理部308から構成され、増設用制御コントローラ24上で実行される制御プログラム32は、試験制御部320、使用要求部322、経路情報テーブル302、経路制御部324および接続処理部326から構成される。制御プログラム30,32は、例えば、メモリ122図2に記憶されて制御コントローラ12および増設用制御コントローラ24に供給され、CPU102で実行される。制御プログラム30,32は、試験を行う被試験器の数に応じて、測定試験装置1の本体部と増設部との接続処理を行い、本体部に接続された使用可能な測定器14および専用試験器16を用いて、本体部および増設部に接続された被試験器の試験を実行するよう制御する。なお、以下、制御プログラム30の試験制御部300および制御プログラム32の試験制御部320など、制御プログラム30,32における同一名称の構成部分を、第1の試験制御部300および第2の試験制御部320と記述して区別する。第1の試験制御部300は、外部入出力装置126図2を介して、試験開始要求を受け入れる。また、第1の試験制御部300は、第2の試験制御部320から入力された試験開始要求を受け入れる。試験開始要求には、例えば、測定試験装置1の本体部または増設部に接続された被試験器18の試験信号の測定に使用する測定器14および専用試験器16を指定する情報が含まれる。第1の試験制御部300は、第1の経路制御部304に対して、被試験器18と、被試験器18の試験信号の測定に使用する測定器14および専用試験器16との経路制御指示を出力する。また、第1の試験制御部300は、受け入れた試験開始要求に基づいて、被試験器18の試験信号を測定する測定器14および専用試験器16を制御して、試験を開始する。また、第1の試験制御部300は、本体部に接続された被試験器18の試験結果を、外部入出力装置126図2に表示させ、増設部に接続された被試験器18の試験結果を、第2の試験制御部320に対して出力する。図4は、経路情報テーブル302が記憶する被試験器18に対する経路情報を例示する図である。図4に示すように、経路情報は、被試験器18と、被試験器18の試験信号の測定に使用される測定器14および専用試験器16とを接続するために制御する信号切替器20および接続部22のリレー情報の組合せを示す図5を参照して後述。経路情報テーブル302図3は、図4に示すような経路情報を、被試験器18ごとに、経路制御部304が参照可能に記憶する。なお、増設用制御コントローラ24における経路情報テーブル302は、増設用信号切替器26および増設用接続部28のリレー情報の組合せを示す経路情報を、第2の経路制御部324が参照可能に記憶する。第1の経路制御部304は、第1の試験制御部300から入力された経路制御指示を受け入れると、経路情報テーブル302が記憶する経路情報を参照して、信号切替器20および接続部22図1を制御する図5を参照して後述。使用可否判定部306は、後述する使用要求部322から入力された使用要求の対象となる測定器14および専用試験器16が使用可能か否かを判定し、使用要求部322に対して、使用可否判定結果を出力する図6を参照して後述。第1の接続処理部308は、後述する第2の接続処理部326から入力された本体部への接続要求を受け入れると、信号切替部20図1に対して、増設部との接続処理を行う。具体的には、例えば、第1の接続処理部308は、信号切替部20と、増設用信号切替部26図1とをバイパスするリレーを制御するモジュールを、信号切替器20に追加する。第2の試験制御部320は、外部入出力装置126図2を介して、試験開始要求を受け入れると、使用要求部322に対して、受け入れた試験開始要求の試験に使用される測定器14および専用試験器16の使用要求指示を出力する。また、第2の試験制御部320は、使用要求部322から入力された使用可能通知を受け入れると、第1の試験制御部300に対して、試験開始要求を出力する。また、第2の試験制御部320は、第1の試験制御部300から試験結果を受け入れると、試験結果を、外部入出力装置126図2に表示させる。使用要求部322は、第2の試験制御部320から入力された使用要求指示を受け入れると、使用可否判定部306に対して、試験に使用される測定器14および専用試験器16の使用要求を出力する。また、使用要求部322は、使用可否判定部306から入力された使用可否判定結果を受け入れる。また、使用要求部322は、受け入れた使用状況判定結果が使用可能を示す場合は、第2の試験制御部320に対して、使用可能通知を出力し、第2の経路制御部324に対して、経路制御指示を出力し、それ以外の場合は、使用可否判定部306から使用可能を示す判定結果が入力されるまで待機する。第2の経路制御部324は、使用要求部322から入力された経路制御指示を受け入れると、経路情報テーブル302が記憶する経路情報を参照して、増設用信号切替器26および増設用接続部28図1を制御する。第2の接続処理部326は、外部入出力装置126図2を介して、測定試験装置1の本体部と、増設部との接続処理要求を受け入れると、第1の接続処理部308に対して、接続要求を出力する。[経路制御処理]図5は、第1の経路制御部304図3が、信号切替器20および接続部22図1に対して行う経路制御処理を例示する図である。以下、測定試験装置1が、測定器14-1,14-2および専用試験器16-1を備える場合の経路制御処理を具体例として説明する。図5に示すように、信号切替部20は、リレー1-1,1-2,2-1,2-2,3-1,3-2から構成され、接続部22は、リレー1~6から構成され、各リレーを接続することにより、測定器14および専用試験器16と、被試験器18とが、以下のように接続される。1信号切替器20のリレー1-1および接続部22のリレー1を接続することにより、測定器14-1と、被試験器18-1とが接続される。2信号切替器20のリレー2-1および接続部22のリレー3を接続することにより、測定器14-2と、被試験器18-1とが接続される。3信号切替器20のリレー3-1および接続部22のリレー6を接続することにより、専用試験器16-1と、被試験器18-1とが接続される。4信号切替器20のリレー1-2を用いて、増設用信号切替器26にバイパスすることにより、測定器14-1と、測定試験装置1の増設部に接続された被試験器18-2図1とが接続される。5信号切替器20のリレー2-2を用いて、増設用信号切替器26にバイパスすることにより、測定器14-2と、測定試験装置1の増設部に接続された被試験器18-2とが接続される。6信号切替器20のリレー3-2を用いて、増設用信号切替器26にバイパスすることにより、専用試験器16と、測定試験装置1の増設部に接続された被試験器18-2とが接続される。上記1~3の接続情報は、図4に示した経路情報テーブル302図3が記憶する経路情報に対応する。また、例えば、経路情報テーブル302は、上記1~3の接続情報と同様に、上記4~6の接続情報を図4に示した経路情報に含めてもよい。第1の経路制御部304図3は、このような経路情報を参照して、信号切替部20および接続部22を構成するリレーを制御して、使用する測定器14および専用試験器16と、被試験器18-1とを接続する。図5に示すように、例えば、第1の経路制御部304が、信号切替部20のリレー1-1および接続部22のリレー1を接続するよう制御することにより、測定器14-1が、被試験器18-1の試験信号を測定することができる。なお、第2の経路制御部324もまた、信号切替器20および接続部22と同様なリレー構成を有する増設用信号切替器26および増設用接続部28に対して、第1の経路制御部304と同様な経路制御を行う。ただし、上記4~6の接続情報は、増設用信号切替器26とバイパスする信号切替器20のみに対応し、増設用信号切替器26において対応することはない。また、説明の明確化具体化のために、信号切替器20および接続部22のリレー構成を、図5のように示して説明したが、リレー構成は、これらに限定されるものではない。[使用可否判定部306の処理]図6は、使用可否判定部306図3が、使用要求部322から入力された測定器14および専用試験器16の使用要求に応じて、使用を要求された測定器14および専用試験器16の使用可否を判定する処理を例示するフローチャートである。以下、図6を参照して、使用可否判定部306が、測定器14および専用試験器16の使用可否を判定する処理を説明する。図6に示すように、ステップ400S400において、使用可否判定部306は、使用要求部322から測定器14および専用試験器16例えば、測定器14-2の使用要求を受け入れると、測定器14-2の使用状況を取得する。具体的には、例えば、使用可否判定部306は、第1の試験制御部300や、試験の実行状況を管理するデータベース図示せずなどから、測定器14-2が、被試験器18の試験信号の測定に使用されているか否かを判断する。ステップ402S402において、使用可否判定部306は、S400において取得した測定器14-2の使用状況が、使用中つまり、増設部に接続された被試験器18の試験信号の測定に使用不可であるか否かを判断する。測定器14-2の使用状況が、使用中であると判断した場合、使用可否判定部306は、S404の処理に進み、それ以外の場合、S406の処理に進む。ステップ404S404において、使用可否判定部306は、測定器14-2の使用不可通知を、使用要求部322に対して出力する。ステップ406S406において、使用可否判定部306は、測定器14-2の使用可能通知を、使用要求部322に対して出力し、処理を終了する。ステップ408S408において、使用可否判定部306は、測定器14-2の使用状況を取得する。ステップ410S410において、使用可否判定部306は、S408において取得した測定器14-2の使用状況が、使用中であるか否かを判断する。測定器14-2の使用状況が、使用中であると判断した場合、使用可否判定部306は、S408の処理に進み、それ以外の場合、S406の処理に進む。なお、本説明においては、使用可否判定部306が、使用要求された測定器14および専用試験器16が使用可能になるまで、繰返し使用状況を取得しているが、使用可否判定部306が、繰返し使用状況を取得するのではなく、以下のような構成としてもよい。使用可否判定部306は、使用要求部322に対して、使用不可通知を出力して処理を終了する。使用要求部322は、使用可否判定部306から使用可能通知を受けるまで、使用可否判定部306に対して、繰返し使用要求を出力する。[測定試験装置1の動作例]図7は、図1に示した測定試験装置1の動作例を示すシーケンス図であり、図8は、測定試験装置1の動作に従い制御された測定器14と被試験器18とを接続する経路を例示する図である。以下、図7,図8を参照して、測定試験装置1の動作をさらに説明する。なお、本説明において用いられる測定器の数や、増設部の数は、説明の明確化具体化のための例示であり、これらの数に限定されるものではない。ステップ500S500において、制御コントローラ12は、信号切替器20を制御して、被試験器18-1図8の試験信号を、測定器14-1を使用して測定する。具体的には、図8に示すように、制御コントローラ12は、信号切替部20において、測定器14-1から接続部22までの経路を構築し、被試験器18-1の試験信号を測定できるよう制御する。ステップ502S502;図7において、増設用制御コントローラ24は、制御コントローラ12に対して、測定器14-2の使用要求を通知する。ステップ504S504において、制御コントローラ12は、測定器14-2の使用状況を判定する。具体的には、制御コントローラ12は、測定器14-1が使用されているが、測定器14-2は使用されていないと判断する。ステップ506S506において、制御コントローラ12は、増設用制御コントローラ24に対して、測定器14-2の使用可能通知を出力する。ステップ508S508において、増設用制御コントローラ24は、測定器14-2を使用して測定するために、増設用信号切替器26の経路制御処理を行う。ステップ510S510において、増設用信号切替器26は、増設用制御コントローラ24に対して、経路制御が完了したことを通知する。ステップ512S512において、制御コントローラ12は、信号切替器20と増設用信号切替器26とをバイパスして、測定試験装置1の増設部に接続された被試験器18-2図8の試験信号を、測定器14-2を使用して測定できるよう、信号切替器20の経路制御処理を行う。ステップ514S514において、信号切替器20は、制御コントローラ12に対して、経路制御が完了したことを通知する。具体的には、図8に示すように、制御コントローラ12は、信号切替器20において、測定器14-2から増設用信号切替器26までをバイパスする経路を構築するよう制御し、増設用制御コントローラ24は、増設用信号切替器26において、測定器14-2からバイパスされた経路を介した増設用接続部28までの経路を構築するよう制御する。ステップ516S516;図7において、増設用制御コントローラ24は、制御コントローラ12に対して、測定器14-2を使用した試験要求を通知する。ステップ518S518において、制御コントローラ12は、被試験器18-2の試験信号を、測定器14-2を使用して測定する。ステップ520S520において、制御コントローラ12は、増設用制御コントローラ24に対して、S518における測定結果を、試験結果として通知する。"