溶接ワイヤを母材へ近づく方向に前進移動し、前記溶接ワイヤおよび前記母材間の電圧検出値と所定の短絡判定電圧値とに基づいて前記溶接ワイヤが前記母材と接触したか否かを判定し、接触したと判定した後に前記溶接ワイヤを前記母材から引き離す方向に後退移動してアークを発生させるアークスタート制御方法において、前記前進移動中に前記電圧検出値の低下開始を検出し、この検出後に前記短絡判定電圧値を所定の増加成分だけ徐々に増加させつつ前記電圧検出値と前記短絡判定電圧値との比較を行い、前記電圧検出値が前記短絡判定電圧値以下になったときに接触したと判定することを特徴とするアークスタート制御方法。前記増加成分は、0.1~0.5V/msecであることを特徴とする請求項1記載のアークスタート制御方法。前記短絡判定電圧値の上限値は、10V以下であることを特徴とする請求項1または請求項2記載のアークスタート制御方法。前記短絡判定電圧値の初期設定値は0Vであることを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載のアークスタート制御方法。前記初期設定値、前記増加成分のどちらか一方または両方は、可変であることを特徴とする請求項1~4のいずれか1項に記載のアークスタート制御方法。溶接ワイヤを母材へ近づく方向に前進移動し、前記溶接ワイヤおよび前記母材間の電圧検出値と所定の短絡判定電圧値とに基づいて前記溶接ワイヤが前記母材と接触したか否かを判定し、接触したと判定した後に前記溶接ワイヤを前記母材から引き離す方向に後退移動してアークを発生させるアークスタート制御方法において、前記短絡判定電圧値を溶接箇所毎に予め定めておき、前記前進移動中に前記電圧検出値の低下開始を検出し、所定間隔毎に前記電圧検出値と前記短絡判定電圧値との比較を行い、前記電圧検出値が前記短絡判定電圧値以下になったときに接触したと判定することを特徴とするアークスタート制御方法。上記時刻t2のタイミングにおいては、ワイヤ先端が母材2に接触したときに、溶接電圧Vwが即座に低下する様子を示した。しかしながら、以下のような場合では、溶接電圧Vwが即座に低下しない。1直前の溶接の影響により、ワイヤ先端が絶縁物質の皮膜で覆われている。2溶接開始位置が直前の溶接箇所と接近しており、母材2上に絶縁物質の皮膜スラグが存在している。3母材2が絶縁物質に覆われている。上記のような場合、ワイヤ先端が母材2に接触した後に、その押し付け力によって絶縁物が徐々に破壊されるのに伴って接触抵抗が軽減されていくため、溶接電圧Vwは、徐々に減少していくことになる。図5は、上記1~3のように絶縁物が付着している場合におけるリトラクトスタート制御時のタイミングチャートである。以下、図4との相違部分について説明する。1時刻t1’~t2の期間時刻t1’において、同図H2に示すように、ワイヤ先端が母材2に接触すると、付着した絶縁物が徐々に破壊されて接触抵抗が軽減されていくので、溶接電圧Vwもまた、徐々に低下していく。この場合、同図Bのように溶接ワイヤ1はスローダウン送給速度Wiで前進送給され続けられるために、同図H3に示すように、ワイヤ先端が母材2に強く押し付けられる。同図では、強く押し付けられる様子を撓んだワイヤで表現しているが、実際は撓みに加えて、溶接トーチ4内の送給経路内に強く押し込まれることになる。2時刻t2~t3の短絡期間時刻t2において、ワイヤ先端を覆っている絶縁物質の皮膜や母材2上の絶縁物の皮膜が溶接ワイヤ1の押し付け力によって破壊されると、電気的な接触が得られることにより、短絡/アーク判別信号SaがHighレベル短絡となる。この後、図4の場合と同様に溶接トーチ4の後退移動を開始する。ちなみに、この時刻t1’~t2の期間は、1秒間にも及ぶ場合があることが実験等により分かっている。また、溶接ワイヤ1は時刻t1’で即座に短絡/アーク判別信号SaがHighレベル短絡に変化する場合に比べ、溶接ワイヤ1は押し付けられるために、送給経路上に撓んで押し込められた状態で存在することになる。この押し込み長さは、大凡、スローダウン送給速度Wi×t2-t1’で計算される値となる。3時刻t3以降の期間溶接トーチ4の後退移動によってワイヤ先端と母材2との間に隙間ができると、同図H4に示すように初期アーク3aが発生するはずである。しかしながら、溶接トーチ4を後退移動させる距離には制限を設けているために、制限距離まで溶接トーチ4を後退移動させても、溶接ワイヤ1の送給経路上に押し込まれた溶接ワイヤ1が、溶接トーチ4の後退移動に併せて徐々に出てくる。このため、溶接ワイヤ1と母材2が離れず、初期アーク3aが発生しないことがある。あるいは、初期アーク3aが発生した場合でも、溶接トーチ4の後退移動に伴って母材2への溶接ワイヤ1の過度な押し付け力が解消されるために、送給経路内に押し込まれていた溶接ワイヤ1が一気に飛び出したり、溶接ワイヤ1が一瞬母材2から離れた後に、押し付け力の反力で持ち上げられていた溶接トーチ4が一気に元に戻ったりすることにより、同図H5に示すように、時刻t3’の時点で、再短絡が発生することがある。アークが発生しなかった場合は、溶接ロボットは停止状態となってしまい、生産効率に悪影響を与えてしまう。また、再短絡が発生した場合は、初期アークによってワイヤ先端の表面は溶融状態にあるので、ワイヤ先端が母材2に溶着することになる。一旦溶着が生じると、これを解除するためには数百Aの溶着解除電流Iyを通電する必要があり、スパッタが多く発生する不良なアークスタートとなる。また、この溶着解除に失敗した場合には、アークは発生せずにアークスタートに失敗したものと見なされ、溶接ロボットが停止状態となるため、この場合もまた、生産効率に影響を与えてしまう。再短絡の問題を防止するために、特許文献2に、再短絡防止電流を通電することによって、再短絡を防止することができる技術が開示されている。しかしながら、この特許文献2の技術を適用したとしても、ワイヤ先端または母材2が絶縁物質の皮膜で覆われている場合には、短絡/アーク判別信号Saが即座に短絡にならずに、溶接ワイヤ1が過度に母材2に押し付けられることになる。このために、溶接ロボットを後退移動させて初期アーク3aを発生させ、再短絡防止電流を通電させても、送給経路内に押し込まれていた溶接ワイヤ1が、再短絡防止電流による溶接ワイヤ溶融速度よりも速い速度で母材2の方向に飛び出したり、または押し上げられていた溶接トーチ4が一気に戻ったりすることによって再短絡が発生し、溶接ロボットが停止状態となって生産効率に悪影響を及ぼすという課題を、依然有している。そこで、本発明は、ワイヤ先端または母材に付着した絶縁皮膜が原因で、十分な電気的接触を得られるまでに時間を要してしまう場合であっても、溶接ロボットの異常停止を防止することができるアークスタート制御方法を提供することを目的としている。上記目的を達成するために、請求項1の発明は、溶接ワイヤを母材へ近づく方向に前進移動し、前記溶接ワイヤおよび前記母材間の電圧検出値と所定の短絡判定電圧値とに基づいて前記溶接ワイヤが前記母材と接触したか否かを判定し、接触したと判定した後に前記溶接ワイヤを前記母材から引き離す方向に後退移動してアークを発生させるアークスタート制御方法において、前記前進移動中に前記電圧検出値の低下開始を検出し、この検出後に前記短絡判定電圧値を所定の増加成分だけ徐々に増加させつつ前記電圧検出値と前記短絡判定電圧値との比較を行い、前記電圧検出値が前記短絡判定電圧値以下になったときに接触したと判定することを特徴とするアークスタート制御方法である。請求項2の発明は、前記増加成分は、0.1~0.5V/msecであることを特徴とする請求項1記載のアークスタート制御方法である。請求項3の発明は、前記短絡判定電圧値の上限値は、10V以下であることを特徴とする請求項1または請求項2記載のアークスタート制御方法である。請求項4の発明は、前記短絡判定電圧値の初期設定値は0Vであることを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載のアークスタート制御方法である。請求項5の発明は、前記初期設定値、前記増加成分のどちらか一方または両方は、可変であることを特徴とする請求項1~4のいずれか1項に記載のアークスタート制御方法である。請求項6の発明は、溶接ワイヤを母材へ近づく方向に前進移動し、前記溶接ワイヤおよび前記母材間の電圧検出値と所定の短絡判定電圧値とに基づいて前記溶接ワイヤが前記母材と接触したか否かを判定し、接触したと判定した後に前記溶接ワイヤを前記母材から引き離す方向に後退移動してアークを発生させるアークスタート制御方法において、前記短絡判定電圧値を溶接箇所毎に予め定めておき、前記前進移動中に前記電圧検出値の低下開始を検出し、所定間隔毎に前記電圧検出値と前記短絡判定電圧値との比較を行い、前記電圧検出値が前記短絡判定電圧値以下になったときに接触したと判定することを特徴とするアークスタート制御方法である。本発明によれば、ワイヤ先端または母材に付着した絶縁皮膜が原因で、十分な電気的接触を得られるまでに時間を要してしまう場合であっても、早期に接触を検出するようにしたことによって、溶接ロボットの異常停止を防止することができる。[実施の形態1]図1は、本発明の実施の形態1に係るリトラクトアークスタート制御時のタイミングチャートである。同図Aは溶接開始信号Stの、同図Bは送給速度設定信号Frの、同図Cは溶接電圧Vwの、同図Dは短絡/アーク判別信号Saの、同図Eは溶接電流Iwの、同図Fはチップ母材間距離Ltの、同図Gはワイヤ先端母材間距離Lw=アーク長Laの時間変化をそれぞれ示している。使用する溶接装置については上述した図3の構成と同一である。また、同図は上述した図5と対応しており、時刻t1’までと、時刻t3以降の動作は同一なので説明は省略する。以下、時刻t1’~t3の制御について説明する。1時刻t1’~t2の期間時刻t1’において、ワイヤ先端が母材2に物理的に接触すると、溶接電圧Vwが低下を開始する。この溶接電圧Vwの低下開始を検出し、検出と同時に、短絡判定電圧値Vfsを一定の増加成分により徐々に増加させる演算を行う。この間、同図Bのように溶接ワイヤ1はスローダウン送給速度Wiで前進送給され続けられる。溶接電圧Vwは、付着した絶縁物が徐々に破壊されて接触抵抗が軽減されることに伴って低下を続ける。また、この期間の間は、低下を続ける溶接電圧Vwと一定の増加成分で増加させる短絡判定電圧値Vfsとを所定周期毎に比較演算する。2時刻t2~t3時刻t2は、低下を続ける溶接電圧Vwが短絡判定電圧値Vfsに等しくなる時刻である。この時刻t2において、接触したと判定し、短絡/アーク判別信号SaをHighレベル短絡に設定する。これに応動して、上述した図4と同様に、送給速度設定信号Frはゼロになり、送給は停止する。同時に、20~80A程度の小電流値の短絡電流Itが通電する。さらに、同時に、溶接トーチ4が母材2から引き離される方向への移動後退移動を開始し、チップ母材間距離Ltが徐々に長くなる。なお、短絡判定電圧値Vfsの増加演算は、時刻t2で終了する。時刻t3以降の動作は、上述した図4と同様である。ところで、上記した短絡判定電圧値Vfsの増加成分は、0.1~0.5V/msecが望ましい。実験の結果、増加成分が0.1V/msec未満の場合は、接触判定に要するまでの時間が長くなるために、溶接ワイヤ1の押し込み量が多くなる恐れがあることが分かっている。また、増加成分が0.5V/msecを越えると、溶接電圧Vwが高い状態で接触を検出してしまうことがあり、この場合は、溶接ワイヤ1と母材2の間の接触抵抗値が高いために、短絡電流Itの通電時に溶着する可能性が高くなることが分かっている。以上説明したように、本発明によれば、ワイヤ先端または母材に付着した絶縁皮膜により、十分な電気的接触を得られるまでに時間を要してしまう場合であっても、早期に接触を検出するようにした。こうすることによって、送給経路内での溶接ワイヤの撓みを可久的に短くすることができるので、後退送給時に溶接ワイヤが一気に飛び出ることがなくなる。また、押し付け力に対する反力により、後退送給時に溶接トーチが母材側に接近することがなくなる。すなわち、溶接ロボットの異常停止を防止することができる。[実施の形態2]図2は、本発明の実施の形態2に係るリトラクトアークスタート制御時のタイミングチャートである。実施の形態1との相違は、短絡電流Itを一気に通電することによる溶着を防止するために、短絡判定電圧値Vfsに上限値Vfeを設けると共に、この上限値以下であれば短絡電流Itをスロープ状に増加させる点である。以下、実施の形態1との相違部分について説明する。1時刻t1’~t2の期間時刻t1’において、ワイヤ先端が母材2に物理的に接触すると、溶接電圧Vwが低下を開始する。この溶接電圧Vwの低下開始を検出し、検出と同時に、短絡判定電圧値Vfsを一定の増加成分により徐々に増加させる。目標値は予め定めた上限値Vfeである。この上限値Vfeは、10V以下が望ましい。それ以上は接触抵抗値が大きいため、短絡電流Itをスロープ状に増加させても溶着を回避することが困難になる。2時刻t2~t3時刻t2は、実施の形態1と同様に、低下を続ける溶接電圧Vwが短絡判定電圧値Vfsに等しくなる時刻であるから、接触したと判定し、短絡/アーク判別信号SaをHighレベル短絡に設定する。これに応動して、短絡電流Itの通電制御を開始する。このとき、短絡電流Itをスロープ状に増加させ、時刻t2’のタイミングで短絡電流Itの目標値に到達させるようにする。スロープ時間t2~t2’の時間は、溶着が発生しない程度の値を実験により予め求めておき、設定しておくとよい。また、時刻t3において、短絡判定電圧値Vfsは、初期設定値に戻す。短絡判定電圧値Vfsの初期設定値は、0Vが望ましい。短絡判定電圧値Vfsは小さければ小さいほど、溶接ワイヤ1と母材2の間の接触抵抗値が低くなり、短絡電流Itの通電による溶着を防止し、確実にアークを発生することが可能となる。以上説明したように、接触状態が不完全な状態であれば、短絡電流Itの通電時に瞬間的なアークが発生して溶着してしまう可能性があるが、本発明の実施の形態2によれば、短絡電流Itの通電をスロープ状に行うようにしたことによって、溶着が発生するのを防止することができる。上述した短絡判定電圧値Vfsの初期設定値および増加成分等は、どちらか一方または両方を、ティーチペンダントTPにより可変設定できるように構成しておくことが望ましい。こうしておくことにより、溶接ワイヤ1の材質や径の種類によるバラツキを吸収することができる。なお、上述した各実施形態においては、短絡判定電圧値Vfsを増加させることによって、できるだけ早期に接触判定を行うようにしたが、これに代えて、短絡判定電圧値Vfsを一定とし、溶接箇所毎にその値を設定できるように構成してもよい。このように構成する理由は、一般的に、アークスタート時における溶接トーチ4の姿勢、溶接ワイヤ1の狙い位置や突き出し長等は溶接箇所毎に異なるため、上述した短絡判定処理結果にバラツキを与えてしまうことがあるからである。したがって、予め実験等により、溶接箇所毎に短絡判定電圧値Vfsを一定値に定めておき、溶接箇所毎のくせを吸収できるように構成してもよい。