電源および負荷が設けられるように構成された回路内の電圧保護デバイスをテストする方法であって、前記保護デバイスと並列に検出器を設けるステップと、前記回路内に設けられたスイッチングデバイスを開路するステップと、前記スイッチングデバイスを開路することによって生じる回路インダクタンス内の電流の変化率によって引き起こされる電圧スパイクの特性を検出して、前記保護デバイスの状態を決定するステップとを含む方法。前記保護デバイスの状態が、前記電圧スパイクの前記検出された特性が期待される所定の範囲内であるかどうかを判定することによって決定される、請求項1記載の方法。前記保護デバイスの状態が、前記電圧スパイクの前記検出された特性と、期待される所定の値との間の差を求めることによって決定される、請求項1または請求項2記載の方法。前記保護デバイスの状態が、前記電圧スパイクの前記検出された特性が期待される所定の値または期待される所定の範囲より高いまたは低いかどうかに基づいて決定される、請求項1乃至3のいずれか1項記載の方法。前記電圧スパイクのピークが検出される、請求項1乃至4のいずれか1項記載の方法。前記スイッチングデバイスを開路する前に、前記回路の出力に跨がって短絡回路が適用される、請求項1乃至5のいずれか1項記載の方法。前記スイッチングデバイスを開路したときに、前記電圧保護デバイスをテストするのに十分に大きな電圧スパイクを発生するために、前記回路内に追加のインダクタを設けるステップを含む、請求項1乃至6のいずれか1項記載の方法。電源および負荷を有する回路内の保護デバイスをテストするための保護デバイステスタであって、前記回路内に設けられたスイッチングデバイスを開路することによって生じる電圧スパイクの特性を検出するために、前記保護デバイスと並列に設けられた検出器と、前記スイッチングデバイスを開路することによって生じる前記電圧スパイクの前記検出された特性に基づいて、前記保護デバイスの状態を決定するためのコントローラとを備える、保護デバイステスタ。前記コントローラは、前記スイッチングデバイスを開路することによって生じる前記電圧スパイクの前記検出された特性が、所定の範囲内であるかどうかに基づいて前記保護デバイスの状態を決定する、請求項7記載の保護デバイステスタ。前記コントローラは、前記スイッチを開路することによって生じる前記電圧スパイクの前記検出された特性が、所定の値より高いまたは低いかどうかに基づいて前記保護デバイスの状態を決定するように構成される、請求項8または請求項9記載の保護デバイステスタ。前記コントローラは、前記スイッチを開路することによって生じる前記電圧スパイクの前記検出された特性が、所定の値または範囲よりどれだけ高いかまたは低いかに基づいて前記保護デバイスの状態を決定するように構成される、請求項8乃至10のいずれか1項記載の保護デバイステスタ。前記検出器が、前記電圧スパイクのピーク電圧を検出するように構成される、請求項8乃至11のいずれか1項記載の保護デバイステスタ。前記スイッチングデバイスが複数のスイッチを備える、請求項8乃至12のいずれか1項記載の保護デバイステスタ。前記スイッチングデバイスが、並列に接続され、個々に開路または閉路されるように構成された半導体デバイスである、請求項13記載の保護デバイステスタ。前記スイッチングデバイスを開路する前に、前記回路の出力に跨がって適用されるように構成された短絡回路を含む、請求項8乃至14のいずれか1項記載の保護デバイステスタ。図1は、回路内に設けられた電圧保護デバイステスタの一実施例を示す。回路10は、電圧源20、負荷30、およびそれらの間に設けられたスイッチング手段40を有する。回路10は、たとえば航空機上に設けることができ、それにより電圧源20はエンジン発電機によって供給することができ、負荷30はフラップまたは着陸装置などの航空機の構成要素を作動させるためなどの航空機上の構成要素、あるいは機器または機内娯楽などの航空機内の構成要素とすることができる。スイッチング手段40は、個別のスイッチ、複数のスイッチ、またはたとえば固体電力コントローラなどの電力スイッチング回路とすることができる。固体電力コントローラは、たとえば1つまたは複数の並列接続された半導体デバイスを備えることができる。スイッチング回路40は、電力源20を負荷30に接続するために用いられる。電圧源20およびその関連するケーブルまたは配線は、固有インダクタンス21を有することになる。同様に負荷30およびその関連するケーブルおよび配線は、固有インダクタンス31を有することになる。保護デバイス50は、この実施例では過渡電圧保護デバイスであり、電圧源20の両端に設けられる。検出器60は、スイッチングデバイス40を開路することによって生じる電圧スパイクの特性を検出するために、保護デバイス50と並列に設けられる。ハードウェアまたはソフトウェアとして設けることができる検出器60は、保護デバイス50が満足に動作しているかどうかなど、保護デバイス50の状態を決定するために用いられる電圧スパイクのピーク電圧、持続時間、傾斜などの特性を検出する。検出された特性はまた、保護デバイス50または回路10の一部において、何らかの非理想的または潜在的な問題が起きているかどうかを判定するために用いられる。上述のようにスイッチングデバイス40は、1つのまたは複数の接続された半導体デバイスを備え得る、固体電力コントローラsolidstatepowercontroller:SSPCを備えることができる。複数の並列接続された半導体デバイスを備える場合は、電圧スパイクを得るためにそれらは個々にまたは任意の組み合わせで動作させることができる。図2は、図1に示されるスイッチングデバイス40を閉路および開路することにより、図1の点Tに生じる電圧スパイクを示す。図から分かるように、約250μsにてスイッチングデバイス40が閉路すなわちオンにされたときは、スイッチングデバイス40を通る電流は、電源20によって供給される電流、この実施例では約100アンペアまで急速に上昇する。また図2から分かるように、スイッチングデバイス40を通る電流が増加するのに従って、検出器60によって第1の負のスパイク101が見られる。この実施例では丁度500μsの前でスイッチングデバイス40が開路すなわちオフにされたときは、検出器60によって正電圧スパイク102が見られる。電圧保護デバイス50は、スイッチングデバイス40が閉路すなわちオンにされるときは導通しない。電圧保護デバイス50は、スイッチングデバイス40が開路すなわちオフにされたときだけ導通する。DC回路の場合は、電圧保護デバイス50の正側が点Tとなるので、スイッチングデバイス40が開路すなわちオフにされて正電圧スパイク102を発生するときに、電圧保護デバイス50は導通する。スイッチングデバイス40が複数のスイッチを備える場合は、スイッチは、電圧スパイクを得るために個々にまたは任意の組み合わせで動作させることができる。図3は、本発明の一実施例に用いることができる電圧保護デバイス50の一実施例を示す。この実施例では電圧保護デバイス50は、DC電源20に適し得るツェナーダイオードと同様なトランゾーブを備える。図4aは、2つの逆接続されたツェナーダイオードと同様な、双方向性トランゾーブを備える電圧保護デバイス50を示す。これは、AC電源20を有する図1の回路内で用いることができる。同じ機能を行う代替のAC電圧保護デバイスは、図4bに示されるような金属酸化物バリスタである。検出器60は、保護デバイスの状態を決定するのに、電圧スパイクの任意の所望の特性を検出することができるが、スパイクのピーク電圧を検出することが、保護デバイス50の状態の信頼性のある指標をもたらし、かつ正確に繰り返し測定できることが分かった。電圧スパイクのピーク電圧は、ソフトウェアまたはハードウェアを用いるなど、任意の適切なやり方で測定することができる。図5は、本発明の一実施例に用いることができる、適切なハードウェアピークスパイク電圧検出器を示す。ピーク電圧検出器は、ダイオード111と、電圧スパイクによって充電されるコンデンサ112とに直列に接続された充電抵抗器110を有する。コンデンサ112上の電荷は、点Pにて測定され、スパイクのピーク電圧の指標をもたらす。次いで、充電されたコンデンサ112は、一般に充電抵抗器110よりずっと大きな抵抗器113を通して放電される。たとえば図1に示す検出器構成60内、または回路10に関連する他の制御電子回路内に設けることができるマイクロプロセッサなどの適切なコントローラを、電圧スパイクの検出された特性に基づいて保護デバイス50の状態を決定するために、用いることができる。たとえば、検出されたピーク電圧を測定するときは、コントローラはルックアップテーブルまたはアルゴリズムを用いて、電圧保護デバイス50は満足に動作していると見なすことができるように検出されたピーク電圧が期待される所定の範囲内にあるかどうか、あるいは検出されたピーク電圧が所定の期待される範囲外にあり電圧保護デバイスは満足に動作していないまたは障害を有することを示すかどうかを判定することができる。測定した特性が所定の範囲または所定の値より低いまたは高いかどうかは、障害の性質を示すことができる。たとえば測定したピーク電圧が、所定の値または範囲より低い場合は、これは電圧保護デバイス50内の部分的短絡を示すことができる。反対に測定したピーク電圧が、所定の値または所定の範囲より高い場合は、これは電圧保護デバイス50内の高インピーダンスまたは開回路を示すことができる。さらにまた、測定した特性が、期待される所定の値または範囲よりどれだけ高いかまたは低いかは、障害がどれだけ重大であるかを示すことができる。図2に示される電圧スパイク102の例では、スパイク102のピークは約90Vである。異なる回路または応用例では、異なる定められた範囲が満足な動作を示すことになる。たとえば検出された電圧ピークが約100Vより高い、または70Vより低い場合は、これは障害の指標となり得る。ピーク電圧が、この場合は90Vである期待値より高いまたは低い場合は、これはピーク電圧が期待される範囲内であっても回路または構成要素の非理想的動作の指標となることができ、したがってさらなる調査を示唆することができる。図1を参照して上述した本発明の実施例は、一般に入力電源20およびそれに関連するケーブルまたは配線内に、ある程度のインダクタンス21を有する。この固有インダクタンス21が、測定可能な特性を有する電圧スパイクを生じるには小さ過ぎる場合は、電源20に関連するケーブルまたは配線内に適当なインダクタを設けることができる。図6は、本発明の一実施例を示す回路の第2の実施例を示す。この実施例は、電圧保護デバイス50が電源20と出力負荷30との間に設けられるという点で、図1の回路と異なる。図1の実施例のように、スイッチングデバイス40は、単一のスイッチまたは複数のスイッチとすることができる。スイッチングデバイス40が複数のスイッチである場合は、複数のスイッチは並列に設けることができ、たとえば、電源20と負荷30とを接続するのに用いられる固体電力コントローラSSPCなどの、複数の並列接続された半導体デバイスとすることができる。図1の実施例のように、過渡電圧保護デバイス50は、その両端に並列に接続された検出器60を有する。前述同様に保護デバイスは、スイッチングデバイス40を開路することによって、または並列接続された半導体デバイスを個々にまたは任意の組み合わせで開路および閉路することによって生じる、電圧スパイクの特性を測定して保護デバイス50の状態を決定することにより、テストすることができる。図1に示す実施例のように、回路内に存在する固有インダクタンスが、保護デバイスを導通させるのに十分に大きな電圧スパイクを生じるためには不十分である場合は、それに従ってインダクタを追加することができる。本発明の実施例の利点は、生じる電圧スパイクは、通常の負荷電流にて生じるものより大きく、したがって保護デバイスの状態、具体的には保護デバイスが障害を有するかどうか、または障害が起こりそうであるかどうかを判定するのに用いることができる明瞭に測定可能な値をもたらすことである。保護デバイス50の状態を決定するために検出される正電圧スパイク102の大きさは、回路内のインダクタンスLと、スイッチングデバイス40が開路されたときの電流の変化率dI/dtとに依存する。スイッチングデバイス40を開路してすぐの電圧スパイクの大きさは、次式によって得られる。V=L×dI/dt一般に回路内の固有インダクタンスおよびスイッチを開路してすぐの典型的な電流の変化率は、明瞭で再現可能な測定のために十分な大きさの電圧スパイクを生じるのに適していることが見出されている。しかし必要であれば、回路内に追加のインダクタLを含めるか、またはより大きな電流Iを供給するか、またはその両方によって、必要なときにより大きな電圧スパイクを生成することができる。出力に短絡スイッチ120が含められた、図1に対応する図7に示されるように、あらかじめ短絡スイッチ120を閉路した後に、スイッチングデバイス40が閉路されたときは、典型的にはその通常の電流の5から10倍の大きな電流がもたらされ、それにより、回路インダクタンスLが非常に低い場合でも、保護デバイスをテストするための大幅に大きな電圧スパイクを生じる。出力短絡回路120を用いることの顕著な利点は、出力負荷に著しい電圧を印加せずに、テストのために通常の負荷電流よりずっと大きな電流を用いることができることである。図8は、やはり出力に短絡プルダウン120が設けられた、図6と等価な回路を示す。上述の実施例は、スイッチングデバイス40および保護デバイス50を別々の構成要素として示すが、それらは単一の構成要素ブロックに組み合わせることができる。たとえば図9に示されるように、スイッチングデバイス40は、1つまたは複数の電界効果トランジスタまたはMOSFETなどの、1つまたは複数のトランジスタ41を含むことができる。保護機能は、トランジスタ41または各トランジスタ41のゲートGとドレインDの間に接続された、2つの小さな低コストツェナーダイオード51、52によってもたらすことができる。ドレインとソースの間に過電圧が印加されたときは、これらのツェナーダイオードはトランジスタ41を高度に導通させ、それによりこの電圧がトランジスタの降伏電圧を超えるのを防止する。この構成は、ツェナーダイオードを適切に選択することにより、上記の保護デバイス50と同じように、トランジスタ41または各トランジスタ41の両端の過電圧に対する有効な自己保護をもたらし、一方、その周りにドレインDとソースSとに接続された検出器60を用いて、上記の実施例でのように、依然としてテストを受けることができる。トランジスタ41は、トランジスタ41のゲートGに印加される適当な信号によってオンまたはオフにされる。上記では実施例について述べてきたが、本発明から逸脱せずにこれらの実施例に多くの変更を行うことができる。たとえばスイッチングデバイス40は、個別のスイッチまた複数のスイッチとすることができる。複数のスイッチを用いて使用される場合は、これらは並列に設けることができ、各スイッチは、スイッチングデバイス40が固体電力コントローラSSPCとなるように固体デバイスとすることができる。本発明の実施例は、DCシステムまたはACシステムに用いることができる。ACシステムと共に、および複数の半導体デバイスとしてスイッチングデバイス40を用いて使用される場合は、これらの半導体デバイスはACスイッチとなり、電圧保護デバイスは、図4aまたは図4bに示されるような双方向性となり、対称な正および負の保護をもたらすことができる。