"第1の照射方向からX線源110からのX線放射で対象物120を照射するステップ230と、前記第1の照射方向のそれぞれの空間的に分解可能な透過経路毎に、少なくとも1つの選択された物質のそれぞれのための伝搬吸収情報を生成するために、少なくとも1つの選択されたエネルギー範囲430に関して前記対象物120によるX線放射の伝搬吸収を決定するステップ240と、前記少なくとも1つの選択された物質に応じて前記伝搬吸収データセットのエントリを吸収係数データセットのエントリとそれぞれにマッピングすることにより、前記第1の照射方向の少なくとも1つの空間的に分解可能な透過経路に対して前記少なくとも1つの選択された物質のための積分密度を決定するステップ250と、を含む、前記対象物120の組成を決定する方法であって、区別可能な依存性が、前記少なくとも1つの選択された物質の各原子番号に対するスペクトル吸収特性と前記選択されたエネルギー範囲との間に存在するように、前記少なくとも1つの選択された物質が少なくとも1つの物質選択規準に応じて選択され、前記選択されたエネルギー範囲が少なくとも1つのエネルギー選択規準に応じて選択されることを特徴とする、方法。前記少なくとも1つのエネルギー選択規準は、前記選択されたエネルギー範囲430の下限550及び上限560を定義する、請求項1に記載の方法。前記上限560は、前記少なくとも1つの選択された物質の全質量減衰効果に関する散乱効果の最大割合を定義するスレッショルドに応じて決定される、請求項2に記載の前記対象物120の元素組成を同定する方法。前記少なくとも1つのエネルギー選択規準は、全質量減衰係数のうちの最大で10~90が散乱効果によって引き起こされることを定義する、請求項1から3のいずれか一項に記載の前記対象物120の元素組成を同定する方法。前記選択されたエネルギー範囲430の下限550は、光子の確実な検出が保証される最低エネルギー値に応じて選択される、請求項1から4のいずれか一項に記載の前記対象物120の元素組成を同定する方法。前記少なくとも1つのエネルギー選択規準は、蛍光ピークの場合のエネルギーと、電子励起ピークが起こる場合のエネルギーとのうちの少なくとも一方の照射エネルギーの除外を定義する、請求項1から5のいずれか一項に記載の前記対象物120の元素組成を同定する方法。前記少なくとも1つのエネルギー選択規準は、請求項1に記載のステップを実行するため使用される組成決定システム100によって利用された物質により放射されたエネルギーの観点で影響を受ける照射エネルギーの除外を定義する、請求項1から6のいずれか一項に記載の前記対象物120の元素組成を同定する方法。前記少なくとも1つの物質選択規準は、EaZZbEにおける指数aZの値が前記少なくとも1つの選択された物質の元素のすべての出現する原子番号Zに対し一意であることを定義する、請求項1から7のいずれか一項に記載の前記対象物120の元素組成を同定する方法。前記少なくとも1つの物質選択規準は、Z1及びZ2が2つの異なる原子番号のうちのいずれか一方である場合に、最小限の差|aZ1-aZ2|を定義する、請求項1から8のいずれか一項に記載の前記対象物120の元素組成を同定する方法。前記最小限の差は、0.001~0.010の範囲に入る、請求項9に記載の前記対象物120の元素組成を同定する方法。ステップ250の後に、前記対象物120の中の少なくとも1つの空間的に分解可能な位置に対し、前記少なくとも1つの選択された物質の局所密度を決定するステップ260をさらに含む、請求項1から10のいずれか一項に記載の対象物120の組成を決定する方法。ステップ230の前に、前記第1の照射方向から前記X線源110によってX線で前記対象物120を照射するステップと、前記少なくとも1つの物質選択規準に応じて、少なくとも1つの選択された物質を獲得するために前記対象物120の分析が実行される少なくとも1つの物質を選択するステップ210と、選択されたエネルギー範囲430を獲得するために前記少なくとも1つのエネルギー選択規準に応じて、照射エネルギー範囲のうちのエネルギー範囲を選択するステップ215と、前記少なくとも1つの選択されたX線エネルギー範囲に対して前記少なくとも1つの選択された物質の吸収係数を決定するステップ220と、をさらに含む、請求項1から11のいずれか一項に記載の対象物120の元素組成を同定する方法。X線を放射するために動作するX線源110と、第1の照射方向に関する対象物120によるX線の伝搬吸収を決定することを可能にするX線検出器130と、を備え、前記X線検出器130は、コントローラ131と、命令133のセットを含む記憶装置132と、電源134と動作的に連結され、前記コントローラ131は、前記命令133を実行するとき、前記決定された伝搬吸収に基づいて、少なくとも1つの選択された物質及び少なくとも1つの選択されたエネルギー範囲に対し、第1の照射方向のそれぞれの透過経路に関する前記対象物120中の積分密度を決定するステップ250を実行するために少なくとも動作する、前記対象物120の組成を同定するために動作する組成決定システム100であって、区別可能な依存性が、前記少なくとも1つの選択された物質の各原子番号に対するスペクトル吸収特性と前記選択されたエネルギー範囲との間に存在するように、前記少なくとも1つの選択された物質は、少なくとも1つの物質選択規準に応じて選択され、前記選択されたエネルギー範囲は、少なくとも1つのエネルギー選択規準に応じて選択されることを特徴とする、組成決定システム100。前記コントローラ131は、前記対象物中の空間的に分解可能な位置に対し、前記少なくとも1つの選択された物質の局所密度を決定するために動作する、請求項13に記載の前記対象物120の組成を同定するために動作する組成決定システム100。請求項13又は14に記載の組成決定システム100の使用。例示の簡単さ及び明瞭さのため、図面に表された要素は必ずしも正しい縮尺で描かれていないことが認められるであろう。例えば、一部の要素の寸法は、明瞭さのため他の要素より誇張されることがある。さらに、適切であると考えられる場合、参照符号及び/又は参照文字は、同一の要素又は類似した要素を示すために図面の間で繰り返されることがあるが、すべての図面の説明中で参照されるとは限らないことがある。発明の実施形態の詳細な説明本明細書中で用いられる用語3次元モデルは、3次元対象物の2次元表現と、3次元対象物の断面とを指す。従って、3次元モデルは、例えば、当技術分野において知られているように、コンピュータ断層撮影法によって生成された画像を含むことがある。ここで図1Aを参照する。組成決定システム100は、X線源110と、例えば、分光計によって具現化されることがあるX線検出器130とを含む。X線源110は、X線ビーム115を放射するために動作し、対象物120及びX線検出器130は、X線ビーム115の伝搬経路内にある。X線検出器130は、コントローラ131、命令のセット133を含む記憶装置132、及び、電源134と共に動作する。コントローラ131は、命令133を実行するとき、本明細書中に概要が示された方法を実施する手順のうちの少なくとも1つを実行する。なお、コントローラ131、記憶装置132、命令133、及び、電源134は、本明細書中では、X線検出器130の中に組み込まれているものとして例示されているが、このことは、決して限定として解釈されるべきではない。従って、コントローラ131及び電源134は、例えば、X線検出器130に外付けされてもよく、又は、X線検出器130と動作的に連結されてもよい。本明細書中で詳細に概要が示されるように、選択されたエネルギー範囲及び選択された物質に関して、別個又は区別可能な依存性が、選択された物質の各原子番号に対するスペクトル吸収特性と選択された物質に照射するため使用される選択されたエネルギー範囲との間に存在する。その結果として、対象物の物質再構成は、例えば、3つ以上、4つ以上、又は、5つ以上の物質に対して可能である。物質選択:次に図2及び図3をさらに参照する。この方法は、本発明の実施形態によれば、ボックス210によって示されるように、少なくとも1つの選択された物質を獲得するために少なくとも1つの物質選択規準に応じて、対象物120を分析するために使われる少なくとも1つの物質を選択する手順を含む。本発明の実施形態によれば、少なくとも1つの物質選択規準は、対象物120中の元素組成の明瞭な決定を行うため、純粋な元素の選択に関して、指数aZの値がすべての出現するZに対して一意であることを定義する。対応して、少なくとも1つの物質規準は、純粋な元素に関して、選択された純粋な元素の1つずつが、これらの指数aZの値の間に最小限の差,例えば、0.005を提示すべきことを定義する。同様に、化合物に関して、少なくとも1つの物質選択規準は、少なくとも1つの選択された化合物のうちの各元素の指数aZが互いに対して最小限の差、例えば、0.005を有するべきであることを定義する。さらに、純粋な元素及び化合物を含む選択された物質に対して、少なくとも1つの選択された化合物の各元素のaZの値は、少なくとも1つの選択された純粋な元素の値aZに関する最小限の差を提示しなければならない。例えば、化合物のいずれかの元素の値aZと、いずれかの純粋な元素の値aZとの間の最小限の差Dは、差、例えば、0.005を提示するように定義されることがある。要約すると、|aZ1-aZ2|の最小限の差の条件は、選択された複数の純粋な元素及び/又は複数の化合物に関するすべてのaZの値に対し充足されるべきである。なお、aZの値は、単調に又は非単調に増加又は減少しうる。最小限の差0.005は、単に例示の目的に過ぎない。対応して、本発明のそれぞれの実施形態では、少なくとも1つの物質選択規準は、例えば、0.001~0.010の範囲に入り、例えば、0.002、0.003、0.004、0.005、0.006、0.007、0.008、又は、0.009でもよい最小限の差|aZ1-aZ2|を定義する。Z1及びZ2は、2つの異なる原子番号のうちのいずれか一方でもよい。本発明の実施形態によれば、少なくとも1つの物質選択規準は、対象物120中に存在すると思われる物質にさらに関係することがある。例えば、13より下の原子番号を有する純粋な元素が対象物120の中に存在しないこと、又は、X線放射が対象物120による影響を受ける全体的な伝搬吸収に関して無視できる量の中に存在することが仮定されることがある。少なくとも1つの物質についての結果として生じる選択候補は、選択物質領域320によって概略的に示され、位置331及び332によってそれぞれ概略的に示されるように、少なくともほぼ等しい値をaZに与えるので、例えば、原子番号22及び23を有する純粋な元素を除外する物質除外領域330によってさらに定義される。さらに、選択物質領域320は、例えば、13より下の原子番号を有する純粋な元素を除外する。換言すると、物質除外領域330は、例えば、13のような所定のスレッショルド値を下回る原子番号を有する元素を包含する。なお、図3を参照して本明細書中で例示される選択された少なくとも1つの物質は、単に例示の目的に過ぎず、決して限定として解釈されるべきでない。従って、少なくとも1つの物質のため行われた選択は、他のシステム構成及び/又は用途のため異なることがある。少なくとも1つの選択されたX線エネルギー範囲のエネルギーチャネルの数は、少なくとも1つの選択された物質の数以上でなければならない。より具体的には、選択されたエネルギー範囲のチャネルは、組成決定システム100によって解決可能である伝搬吸収値に対応する。エネルギー範囲選択:ボックス215によって示されるように、この方法は、本発明の実施形態によれば、少なくとも1つのエネルギー選択規準に応じて照射エネルギー範囲のエネルギー範囲を選択する手順と、選択されたエネルギー範囲を生成する手順とをさらに含む。構成要素元素に関する対象物120の分析は、本明細書中で以下に詳細に概略が示されるように、選択されたエネルギー範囲に応じて実行される。図4は、離散的な放射ピークを有しているX線源110の放射曲線keV単位のエネルギーの関数として任意単位の照射強度を例示するグラフ400を概略的に示す。X線源110によって照射される全物質は、離散的な蛍光放射ピーク410を放射することができる。その上、X線源110は、X線源110の中の電子励起によって生成されるピーク420を放射することがある。ピーク410及び/又は420のエネルギーは、X線源110の中の物質に依存する。さらに、斜線領域は、例示された選択されたエネルギー範囲430を概略的に示す。例えば、選択されたエネルギー範囲430のようなエネルギー範囲を選択するエネルギー選択規準は、本明細書中で以下に詳細に概略が示される。次に図5をさらに参照する。一般に、物質中のX線放射の質量減衰係数は、少なくとも一部が光吸収及び散乱である様々な物理現象の関数である。それぞれの減衰係数の合計は、元素アルミニウムに関して図5に概略的に示されるように、全体の達成吸収効果である。より具体的には、破線510及び点線520は、光子吸収及び散乱にそれぞれに起因して放射された光子エネルギーの関数として質量減衰係数を概略的に示す。光子吸収効果及び散乱効果の合計は、連続線530で概略的に示される。少なくとも1つのエネルギー選択規準は、照射された物質によるX線光子の伝搬吸収の特性に基づき、そして、反対側の散乱の増加する寄与によって決定される選択されたエネルギー範囲430の上限を指す。より具体的には、散乱及び光吸収のそれぞれの吸収係数の値は元素に依存するので、照射エネルギーが高くなるほど、散乱は光吸収効果に関して徐々に優勢になる。本発明の実施形態によれば、選択されたエネルギー範囲430の上限は、全質量減衰効果に関する散乱効果の最大割合を定義するスレッショルドに応じて決定される。最大割合のためのスレッショルドは、1~90の範囲に入るべきであり、典型的に、少なくとも約8、9、10、11、12、13、14又は15である。図5に関して、斜線領域の下限550及び上限560は、それぞれ、選択されたエネルギー範囲430の下限及び上限を概略的に表す。エネルギー範囲の下限550は、十分な光子がX線検出器130によって検出可能である最低エネルギー値に応じて、即ち、光子の確実な検出が保証されるように選択される。このエネルギー値は、システム構成及び検査されるべき対象物の伝搬吸収特性に依存する。X線源によって放射されたある一定の照射エネルギーより下で、透過X線光子の数は、X線検出器による確実な検出のため十分ではないことがある。X線放射のためのより低い検出可能なエネルギー限界は、X線源の出口窓のサイズと、X線伝搬媒体と、例えば、10cmから100cmまで変化するX線源からX線検出器までの伝搬経路の長さとに依存することがある。伝搬媒体が空気だけである場合、X線検出器による確実な検出を保証するX線源によって放射されるべきX線放射のエネルギー下限は、例えば、少なくとも約4keVである。対象物がX線放射の伝搬経路の中にある場合、減衰が増加され、放射されるべきX線放射のエネルギー下限の増加を対応して要求する。例えば、対象物120が厚さ1mmを有するセルロースである場合、下限は少なくとも約8keVまで増加する。対応して、最低エネルギー値は、例えば、少なくとも4keV、5keV、又は、6keVでもよく、最大で、例えば、7keV、8keV、9keV、又は、10keVでもよく、よって、有用なエネルギー範囲は、例えば、4keVから10keVまででもよい。選択されたエネルギー範囲430の上限560は、散乱が選択された物質の全質量減衰係数の、例えば、1~10を占めるエネルギーに応じて選択される。なお、光吸収損失が支配的である即ち、全減衰の50未満を占めるエネルギー値は、物質毎に異なることがあり、元素の原子番号が増大すると共に増加する。例えば、伝搬吸収の50が光吸収を原因とする点は、水素Z=1に対して2.4keVであり、タングステンZ=74に対して420.8keVである。選択されたエネルギー範囲430を獲得するため除外されることがあるさらなるエネルギー範囲は、X線蛍光ピークを有するエネルギー値である。このようなX線蛍光ピークは、X線源110の外側で生成された蛍光光子に起因して生じることがある。よって、これらの蛍光光子の経路は、未知であり、対象物120とは独立であることが可能である。可能である場合、対象物120とは独立であるエネルギー範囲又はピークは、対象物120だけに依存する選択されたエネルギー範囲を獲得するため除外されるべきである。明らかに、選択されたエネルギー範囲は、種々のシステム構成に対し異なることがあり、対象物120及び対象物の周囲を含む照射された媒体に応じて少なくとも決定される。さらに、対象物120に依存しないため除外されることがあるエネルギー範囲は、組成決定システム100において利用される物質による影響を受けるエネルギー範囲である。対応して、除外されることがある個別のエネルギー範囲の実施例は、例えば、6.4keVでの鉄からのKα線及び7.1keVでの鉄からのKβ線であるか、又は、10.5keVでの鉛からのLα線及び12.6keVでの鉛からのLβ線である。このため、スチール及び鉛がX線設備の構築のため使用されることがよくある。なお、前述の点から見て、用語選択されたエネルギー範囲は、いくつかの実施形態では、単一の連続するエネルギー範囲を指すことがある。代替的に、用語選択されたエネルギー範囲は、いくつかの実施形態では、1つずつの個別のエネルギー範囲自体は連続しているが、中間にギャップを含む複数の連続しない個別のエネルギー範囲を指すことがある。エネルギー範囲全体に亘って吸収を測定するためのセットアップ種々のセットアップ及び方法がX線検出器130で光子とそれぞれのエネルギー範囲とを測定するため利用されることがある。本発明の実施形態では、X線検出器130は、スペクトル感度が高く即ち、X線検出器が分光計によって具現化される、そして、例えば、少なくとも1keVの分解能で入射光子のエネルギー値を分解するため動作することがある。別の実施形態では、X線検出器130は、スペクトル感度が低く、一方、X線源110は、波長可変であり、かつ、選択されたエネルギー範囲を網羅するために動作する狭帯域X線源である。後者の実施形態によるX線源110の最大エネルギー帯域幅は、例えば、1keV以下である。原子番号Zの関数としてのスペクトル吸収特性のモデリング:一般に、伝搬吸収を原因とする放射線強度の低下は、例えば、ランベルトベールの法則:によって特徴付けることが可能であり、式中、I0は入射放射線強度を表現し、μは吸収係数を表現し、xは放射線が伝搬する対象物120の厚さを表現し、Iは距離xに亘る伝搬後の放射線強度を表現する。光子伝搬吸収のため、選択されたエネルギー範囲が位置しボックス215、原子番号Zをもつ化学元素の吸収係数μは、以下の依存性:を有し、式中、ρは物質の密度を表現し、cは定数を表現し、Eは放射線のエネルギーを表現し、Zは原子番号を表現する。数学的項の指数は一定ではない。より具体的には、原子番号のそれぞれの指数は、エネルギーに依存し、逆もまた同様である。その結果、乗算の両方の部分が放射線エネルギーE及び原子番号Zに依存する。なお、指数が一定である場合、様々な元素からのμの合計は、2つの因子の積に書き直すことができ、第1の因子だけがエネルギー依存性であり、第2の因子Zは合計であり、合計の各部分は原子番号だけに依存している。よって、第2の因子は、エネルギー依存性測定を用いて元素成分に分離できないことがある。従って、元素組成は、スペクトル伝搬吸収の関数として決定できない。しかし、式3に表されるように、エネルギーEと原子番号Zの乗算は相互依存性であるため、各元素の相対密度は、様々な吸収係数μEに基づいて決定することが可能であり、即ち、異なるエネルギーEを用いる複数の測定量は、関連する原子番号Zに分離することが可能である。その結果として、選択されたエネルギー範囲430の吸収係数μに対する対象物120の各元素の寄与は、決定することが可能である。吸収係数μの決定:ボックス220によって概略的に示されるように、対象物120の元素組成を決定する方法は、本発明の実施形態によれば、選択されたX線照射エネルギーの中で元素物質のX線吸収係数μを決定する手順を含む。本発明の実施形態による対象物の吸収係数μを決定する方法が本明細書中で例示される。しかし、これらの方法は、決して限定であると解釈されるべきでない。従って、吸収係数μを決定する付加的又は代替的な方法は、例えば、当技術分野において知られているように、利用することができる。吸収係数μを決定するため、EMエネルギーの2回の測定:対象物に入射する前にEM放射線エネルギーを獲得する第1の測定と、対象物を透過したエネルギーの第2の測定とが必要とされる。本発明の実施形態によれば、第1の測定及び第2の測定は、同時に第1の伝搬経路及び第2の伝搬経路のため並列に実行されることがあり、第1の伝搬経路は対象物を含まず、第2の伝搬経路は対象物を含む。別の実施形態では、第1の測定及び第2の測定は、異なる時点で別々に実行されることがある。対象物を含まない状態に伝搬を維持することにより第1の測定を実行した後、第2の測定は、例えば、対象物を伝搬経路の中へ移動させることにより実行されることがある。長時間に亘る電力安定性及びエネルギー分布の観点で長時間に亘るX線源及びX線検出器の安定性に依存して、第1の測定と第2の測定との間で必要とされる遅延は変化することがある。純粋な元素のための吸収係数は、純粋な元素のデータを特定の光子エネルギーでの吸収係数と関連付けるルックアップテーブルLUTに応じて決定することができる。化合物のための吸収係数は、純粋な元素を含むことから決定することができるか、又は、LUTに応じて決定されることもある。このようなLUTは、例えば、文献:C.T.Chantleretal,X-RayFormFactor,Attenuation,andScatteringTablesJ.Phys.Chem.Ref.Data,Vol.29,No.4,pp.597-1048,2000、及び、J.Phys.Chem.Ref.Data,Vol.24,No.1,pp.71-643,1995に基づいている。付加的又は代替的に、少なくとも1つの選択された物質の1つずつの吸収係数、及び、選択されたエネルギー範囲を決定する方法は、少なくとも1つの選択された物質を用いてスペクトル基準測定を実行することを含むことがある。従って、少なくとも1つの選択された物質に対する吸収係数は、LUTによって、及び/又は、基準測定を実行することによって決定することができ、又は、物質の選択に対する吸収係数は、LUTに応じて決定することができるが、残りの物質に対して、吸収係数は実行される測定に応じて決定されることがある。いずれの場合も、選択されたエネルギー範囲430内の選択された物質の1つずつに対する吸収係数μは、別々に決定される。元素Si及びAlのための基準測定の値は、本明細書中では、それぞれに以下の表1及び表2に例示される。基準測定は、以下の設備、即ち、X線源:HamamatsuL10101、X線検出器:AmptekX-123、部品番号ZY-FS082MD-G3SPを用いて実行された。選択された物質のための吸収係数データセットの決定物質の吸収係数の一覧表にされたデータに基づいて、及び/又は、選択されたエネルギー範囲430において実行された物質の吸収係数を決定するこれらの基準測定に基づいて、吸収係数データセットは、対象物120の構成要素であると思われる物質に対し導出できる。吸収係数データセットは、本明細書中では、係数行列Bによって具現化され、ここで、各行列エントリは、式に基づき、式中、jは物質の列インデックスであり、即ち、各列はそれぞれの物質を表現し、iはエネルギーチャネルの行インデックスであり、即ち、各行が様々なエネルギ-チャネルを表現し、μは吸収係数であり、ρは構成要素物質の密度である。以下の表3は、Siのための基準測定表1及びAlのための基準測定表2から決定された行列Bを例示する。ボックス230によって示されるように、この方法は、続いて、第1の複数の様々な放射方向からのX線放射で対象物120を照射する手順と、続いて、ボックス240によって示されるように、第1の照射方向に関して、空間的に分解可能な透過経路毎に、選択されたX線エネルギー範囲に亘る対象物120によるX線照射の伝搬-吸収を決定する手順とを含む。選択されたエネルギー範囲は、本明細書中に概略が示されたエネルギー選択規準に応じて選択される。具体的には、波長可変照射源又はエネルギー分解X線検出器を利用することにより、本明細書中ではベクトルとして具現化された伝搬-吸収データセットを構築することが可能であり、ベクトルの各エントリが、1つの透過経路のための選択されたエネルギー範囲に亘るエネルギーチャネルに対する対象物120によるX線ビーム115の伝搬-吸収を表現する。例えば、第1の照射方向の透過経路を考慮すると、ベクトルの第1の要素m1は、例えば、11.54keVのような選択されたエネルギー範囲の第1のエネルギーチャネルの伝搬-吸収を表現し、ベクトルの第2の要素m2は、同じ透過経路のための選択されたエネルギー範囲のそれぞれの第2のエネルギーチャネルに対する伝搬-吸収11.58keVを表現しうる。元素Al及びSiに関するこのような測定の結果が本明細書では以下の表4に一覧される。選択された物質の積分密度の決定ボックス250によって示されるように、この方法は、次に、第1の照射方向に関する空間的に分解可能な透過経路毎に少なくとも1つの選択された物質の積分密度を決定する手順を含む。具体的には、ベクトル及び行列Bは、エネルギーチャネルの行位置がベクトルのエネルギーチャネルの行位置と一致するように構築されるべきであり、その結果、測定されたベクトルは、の通りに行列Bの1つずつの純粋な要素と対応してマッピングすることができ、ここで、ベクトルの各要素は、であり、即ち、選択された物質のうちの1つの固有密度と対象物120の中だけの同じ透過経路又は伝搬経路の長さとの積に等しい。換言すると、の各要素は、所定の画素Xmnに対して、それぞれの物質の積分密度を表現する。しかし、行列Bをベクトルとマッピングできるようにするため、式4は、以下の通り、式5:に操作されるべきである。対象物120中の積分密度が実際に選択された物質で構成されるかどうかを決定し、そして、肯定である場合に、対象物120中でのこれらの相対位置を決定するため、対象物がX線ビーム115で照射され、前述の概要が示された手順に応じて、例えば、2つの異なる物質、即ち、密度ρ1を有する第1の物質121と、密度ρ2を有する第2の物質122とで構成される対象物120を概略的に示す図6の構成を可能にさせ、第1の物質121及び第2の物質122は、選択された純粋な元素又は選択された化合物のいずれか一方である。具体的には、対象物120がX線ビーム115で照射され、前述の概要が示された手順に応じて、ベクトルの構築を可能にする。軸Xは、X線ビーム115の伝搬方向を概略的に示し、対象物120を通る透過経路ΔXをさらに定義する。以下の検討を簡略化するため、対象物120の中の積分密度は、透過経路ΔxA及びΔxBに関して概略が示されるが、他の透過経路が対象物120の中に存在しても構わないので、このことは、決して限定するものとして解釈されるべきではない。透過経路ΔxAに沿って存在する積分密度は、典型的にX線検出器130に投影され、画素xA,mnによって可視化される。測定されたベクトルは、画素xmn毎に対象物120の中の第1の物質121の積分密度及び第2の物質122の積分密度の決定を可能にする。図6に例示された対象物120の中の透過経路XAmnに関して、選択された物質の積分密度の値は、以下の数学的項:によって定義され、透過経路XBmnに関して、選択された物質の積分密度は、として定義されることになり、ここで、Z1及びZ2は、第1の物質121及び第2の物質122のそれぞれの原子番号である。例えば、対象物120の第1の物質121が鉄であること、及び、第2の物質122がアルミニウムであることと、例えば、X1=0.03m、X2=0.05m、X3=0.08m及びX4=0.12mとを考慮すると、XAに関する積分密度は、鉄に対して0.24kg/m2となり、アルミニウムに対して0.35kg/m2となり、XBに関する積分密度は、アルミニウムに対して0.32kg/m2となる。明らかに、式5において概要が示された線形問題は、X線検出器130によって空間的に分解可能である透過経路毎に解くことができるので、画素xm,nによって描かれた画像を獲得し、対応する透過経路に関して、対象物120の中に存在すると仮定される選択された物質の積分密度が決定される。Si及びAlのための表1~4に関して、線形問題の解は以下の通りである表5。局所密度の決定ボックス260によって示されるように、この方法は、次に、少なくとも1つの空間的に分解可能な位置に関して、対象物120の中の少なくとも1つの選択された物質の局所密度ρnを決定する手順を含む。具体的には、例えば、当技術分野において知られた断層撮影走査を利用することにより、例えば、断面毎に対象物120の中の選択された物質の位置に関する情報を与える対象物120の断面画像を提供するコンピュータ化モデルを描くことができる。図6に例示された対象物120に関して、第1の物質121及び第2の物質122のそれぞれの各構造体の2次元又は3次元を、空間内での構造体の相互の相対位置と共に決定することができる。従って、第1の物質121及び第2の物質122のそれぞれの構造体の形状が決定されることがある。選択された少なくとも1つの物質が対象物120の中に存在しない実施形態では、積分密度はゼロに等しい。X線検出器の空間次元に依存して、即ち、0次、1次、2次の空間次X線検出器だけが利用できる場合、X線検出器の付加的な機械的走査が対象物120のより高次の空間次元表現を獲得するために必要であることがある。例えば、対象物120の2次元断面図又は対象物の3次元モデルを獲得するため、断層撮影データ捕捉方法を利用することが必要であることがある。従って、様々な原理が当技術分野においてよく知られている。ステップ230から260は、異なる照射方向に対して、それぞれ、複数回繰り返されることがある。従って、対象物の3次元表現が断面画像の形式で描かれることがある。本発明の一部の実施形態では、ボックス270によって示されるように、この方法は、手順210で行われた少なくとも1つの物質の選択が正しいかどうかを推定する手順を含むことがある。上記手順は手順260の後に限り実行されるものとして例示されているが、このことは、決して限定として理解されるべきでない。従って、手順270は、代替的に手順250の後で、手順260の前に実行されてもよい。式5から、当てはめの質が以下の通り計算できる。測定の精度は、正規化された残余のノルムを定義する項:の関数である確率によって表現することができる。不正確な測定に関する最も重要な課題は、元素の不完全な選択であろう。なお、本明細書中で用いられるような用語少なくとも1つの物質は、本発明のそれぞれの実施形態では、例えば、用語少なくとも2つの物質又は少なくとも3つの物質で置き換えることが可能である。対応して、本発明のそれぞれの実施形態では、本明細書中で概要が示された手順210から270のうちの1つずつは、少なくとも2つの物質、少なくとも3つの物質、少なくとも4つの物質、少なくとも5つの物質、そして、以下同様に、例えば、最大で少なくとも20の物質のため実行することが可能である。従って、手順210は、このようにして、少なくとも4つの選択された物質を獲得するために物体の分析が実行される少なくとも4つの物質を選択するステップを含むことがあり、少なくとも4つの物質は、本明細書中で概要が示された少なくとも1つの物質選択規準に応じて選択される。ステップ215から270は、その後、これらの少なくとも4つの物質のため実行される。例えば、ステップ250は、その後、第1の照射方向に関して空間的に分解可能な透過線毎に少なくとも4つの選択された物質の積分密度を決定する手順を同様に含むであろう。ステップ230から260は、その後、第2の照射方向に関して繰り返されることがある。換言すると、ステップ230から270は、複数の異なる照射方向に関して実行されることがある。ステップ270は、ステップ230から260の完了時にいつでも実行されることがある。例えば、ステップ270は、最初若しくは最後に、又はステップ230から260が完了したときに少なくとも1回実行され、又は、ステップ230から260が完了する度に実行されることがある。なお、本発明の実施形態は、本明細書中では、X線に関する開示に限られるが、このことは、決して、限定として解釈されるべきでない。なお、1つの要素が参照されるとき、このことは、この要素が1つだけ存在することを意味すべきでない。従って、本明細書中で用いられるような1つの要素は、少なくとも1つのこの要素が存在することを同様に意味することがある。状態図、フローチャート、又は、両方が実施形態を説明するため用いられることがあるが、本発明は、これらの図、又は、対応する説明に限定されない。例えば、フローは、図示されたボックス又は状態の1つずつを進む必要がなく、又は、図示かつ説明されている順序と全く同じ順序で進む必要がない。本発明の種々の特徴が単一の実施形態の文脈で説明されることがあるが、特徴は、別個に、又は、いずれかの適当な組み合わせで提供されることもある。逆に、本発明は、本明細書中では、簡単にするため別個の実施形態の文脈で説明されることがあるが、本発明は、単一の実施形態で実施されることもある。開示された技術が、ここまでに特に示され説明された事項に限定されないことは、当業者によって認められるであろう。"