パルス光を光ファイバ15内に出射し、当該パルス光によって前記光ファイバ15内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、当該戻り電気信号の全区間を繰り返してサンプリングし、A/DAnalogtoDigital変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する全区間記録ステップと、パルス光を前記光ファイバ15内に出射し、当該パルス光によって前記光ファイバ15内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、前記全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔より狭いサンプリング間隔で、当該戻り電気信号の一部の区間を繰り返してサンプリングし、A/D変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する部分区間記録ステップと、を順に備える光パルス試験方法。前記全区間記録ステップで、過去に記録した時間波形と新たに記録した時間波形との間に差のある領域を検出すると、前記部分記録ステップで、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングすることを特徴とする請求項1に記載の光パルス試験方法。前記全区間記録ステップで、時間波形に不連続な領域を検出すると、前記部分記録ステップで、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングすることを特徴とする請求項1に記載の光パルス試験方法。前記全区間記録ステップで生成した全区間の時間波形を表示する全区間表示ステップを、前記全区間記録ステップと前記部分区間記録ステップの間に、さらに有し、前記全区間表示ステップで、生成した時間波形一部の領域を表示するよう変更すると、前記部分記録ステップで、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングすることを特徴とする請求項1に記載の光パルス試験方法。前記部分記録ステップで、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング間隔を設定することを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の光パルス試験方法。前記部分記録ステップで、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング数を設定することを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の光パルス試験方法。パルス光を出射するタイミングを指示するタイミング制御部11と、前記タイミング制御部11からの指示によって、光ファイバ15内にパルス光を出射する光源12、13と、前記パルス光によって光ファイバ15内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換する受光部16、17と、前記受光部16、17の出力する戻り電気信号の全区間及び当該全区間におけるサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔で一部の区間を、繰り返してサンプリングするよう指示するサンプリング制御部22と、前記サンプリング制御部22の指示に応じて、前記受光部16、17の出力する戻り電気信号の全区間及び一部の区間を繰り返してサンプリングし、A/DAnalogtoDigital変換するA/D変換部18と、前記A/D変換部18のA/D変換した戻り電気信号の全区間及び一部の区間をアベレージングして前記戻り電気信号の全区間及び一部の区間の時間波形を生成する加算部19と、前記加算部19の生成した全区間及び一部の区間の時間波形を記録する波形記録部20と、を備える光パルス試験装置。前記サンプリング制御部22が、前記波形記録部20の記録した時間波形と前記加算部19が新たに生成した時間波形との間に差のある領域を検出すると、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングするよう前記A/D変換部18に指示することを特徴とする請求項7に記載の光パルス試験装置。前記サンプリング制御部22が、前記波形記録部20の記録した時間波形に不連続な領域を検出すると、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングするよう前記A/D変換部18に指示することを特徴とする請求項7に記載の光パルス試験装置。前記波形記録部20の記録した全区間及び一部の区間の時間波形を表示する表示部21をさらに備え、前記表示部21で一部の領域を表示するよう変更すると、前記サンプリング制御部22が、当該領域を前記一部の区間として繰り返してサンプリングするよう前記A/D変換部18に指示することを特徴とする請求項7に記載の光パルス試験装置。前記サンプリング制御部22が、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング間隔を設定することを特徴とする請求項7から10のいずれかに記載の光パルス試験装置。前記サンプリング制御部22が、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング数を設定することを特徴とする請求項7から10のいずれかに記載の光パルス試験装置。微小な距離間隔で複数の不連続点が存在しても、サンプリング間隔が広いままでは、これら複数の不連続点を1つの不連続点と判断してしまう可能性がある。本願発明は、狭いサンプリング間隔であっても、処理時間の短縮とメモリ容量の削減を図ることの可能な光パルス試験方法及び光パルス試験装置を提供することを目的とする。上記目的を達成するために、本願発明の光パルス試験方法は、戻り電気信号の全区間をサンプリングして時間波形を生成し、全区間の時間波形のうち一部の区間について、全区間でのサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔でサンプリングして時間波形を生成する。具体的には、本願発明の光パルス試験方法は、パルス光を光ファイバ15内に出射し、当該パルス光によって前記光ファイバ15内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、当該戻り電気信号の全区間を繰り返してサンプリングし、A/DAnalogtoDigital変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する全区間記録ステップと、パルス光を前記光ファイバ15内に出射し、当該パルス光によって前記光ファイバ15内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、前記全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔で、当該戻り電気信号の一部の区間を繰り返してサンプリングし、A/D変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する部分区間記録ステップと、を順に備える。本願発明によれば、狭いサンプリング間隔であっても、処理時間の短縮とメモリ容量の削減を図ることの可能な光パルス試験方法を提供することができる。本願発明には、前記全区間記録ステップで、過去に記録した時間波形と新たに記録した時間波形との間に差のある領域を検出すると、前記部分記録ステップで、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングすることを含んでもよい。過去に全区間の時間波形を測定したときと、新たに全区間の時間波形を測定したときの間に発生した光ファイバでの異常、例えば、破断等を、高分解能かつ短縮した処理時間と小容量のメモリで把握することができる。本願発明には、前記全区間記録ステップで、時間波形に不連続な領域を検出すると、前記部分記録ステップで、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングすることを含んでもよい。時間波形の不連続な領域を観測する際に、接続点や破断点の様子を高分解能かつ短縮した処理時間と小容量のメモリで把握することができる。本願発明には、前記全区間記録ステップで生成した全区間の時間波形を表示する全区間表示ステップを、前記全区間記録ステップと前記部分区間記録ステップの間に、さらに有し、前記全区間表示ステップで、生成した時間波形一部の領域を表示するよう変更すると、前記部分記録ステップで、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングすることを含んでもよい。表示する区間に合わせて適切な分解能で、接続点や破断点の様子を高分解能かつ短縮した処理時間と小容量のメモリで把握することができる。本願発明には、前記部分記録ステップで、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング間隔を設定することを含んでもよい。このような設定をすることにより、パルス光のパルス幅に適したサンプリング間隔とすることができる。本願発明には、前記部分記録ステップで、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング数を設定することを含んでもよい。このような設定をすることにより、パルス光のパルス幅に適したサンプリング間隔とすることができる。上記目的を達成するために、本願発明の光パルス試験装置は、戻り電気信号の全区間をサンプリングして時間波形を生成し、全区間の時間波形のうち一部の区間について、全区間でのサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔でサンプリングして時間波形を生成する。具体的には、本願発明の光パルス試験装置は、パルス光を出射するタイミングを指示するタイミング制御部11と、前記タイミング制御部11からの指示によって、光ファイバ15内にパルス光を出射する光源12、13と、前記パルス光によって光ファイバ15内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換する受光部16、17と、前記受光部16、17の出力する戻り電気信号の全区間及び当該全区間におけるサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔で一部の区間を、繰り返してサンプリングするよう指示するサンプリング制御部22と、前記サンプリング制御部22の指示に応じて、前記受光部16、17の出力する戻り電気信号の全区間及び一部の区間を繰り返してサンプリングし、A/DAnalogtoDigital変換するA/D変換部18と、前記A/D変換部18のA/D変換した戻り電気信号の全区間及び一部の区間をアベレージングして前記戻り電気信号の全区間及び一部の区間の時間波形を生成する加算部19と、前記加算部19の生成した全区間及び一部の区間の時間波形を記録する波形記録部20と、を備える。本願発明によれば、狭いサンプリング間隔であっても、処理時間の短縮とメモリ容量の削減を図ることの可能な光パルス試験装置を提供することができる。本願発明には、前記サンプリング制御部22が、前記波形記録部20の記録した時間波形と前記加算部19が新たに生成した時間波形との間に差のある領域を検出すると、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングするよう前記A/D変換部18に指示することを含んでもよい。過去に全区間の時間波形を測定したときと、新たに全区間の時間波形を測定したときの間に発生した光ファイバでの異常、例えば、破断等を、高分解能かつ短縮した処理時間と小容量のメモリで把握することができる。本願発明には、前記サンプリング制御部22が、前記波形記録部20の記録した時間波形に不連続な領域を検出すると、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングするよう前記A/D変換部18に指示することを含んでもよい。時間波形の不連続な領域を観測する際に、接続点や破断点の様子を高分解能かつ短縮した処理時間と小容量のメモリで把握することができる。本願発明には、前記波形記録部20の記録した全区間及び一部の区間の時間波形を表示する表示部21をさらに備え、前記表示部21で一部の領域を表示するよう変更すると、前記サンプリング制御部22が、当該領域を前記一部の区間として繰り返してサンプリングするよう前記A/D変換部18に指示することを含んでもよい。表示する区間に合わせて適切な分解能で、接続点や破断点の様子を高分解能かつ短縮した処理時間と小容量のメモリで把握することができる。本願発明には、前記サンプリング制御部22が、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング間隔を設定することを含んでもよい。このような設定をすることにより、パルス光のパルス幅に適したサンプリング間隔とすることができる。本願発明には、前記サンプリング制御部22が、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング数を設定することを含んでもよい。このような設定をすることにより、パルス光のパルス幅に適したサンプリング間隔とすることができる。本願発明によれば、狭いサンプリング間隔であっても、処理時間の短縮とメモリ容量の削減を図ることの可能な光パルス試験方法及び光パルス試験装置を提供することができる。添付の図面を参照して本願発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本願発明の実施の例であり、本願発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。各実施形態は可能な限り組み合わせることができる。実施形態1実施形態1に係る光パルス試験方法では、パルス光を光ファイバ内に出射し、当該パルス光によって光ファイバ内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、当該戻り電気信号の全区間を繰り返してサンプリングし、A/DAnalogtoDigital変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する全区間記録ステップと、前記全区間記録ステップで生成した全区間の時間波形を表示する全区間表示ステップと、パルス光を光ファイバ内に出射し、当該パルス光によって光ファイバ内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、前記全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔で、当該戻り電気信号の一部の区間を繰り返してサンプリングし、A/D変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する部分区間記録ステップと、前記部分区間記録ステップで生成した一部の時間波形を表示する部分区間表示ステップと、を順に備える。図1に、実施形態1に係る光パルス試験装置の一例を示す。実施形態1に係る光パルス試験装置は、タイミング制御部11、光源の一部としてのLDドライバ12、光源の一部としてのLD13、合波分波部14、受光部の一部としてのAPD16、受光部の一部としての増幅部17、サンプリング制御部22、A/D変換部18、加算部19、波形記録部20及び表示部21を備える。合波分波部14には、被測定物である光ファイバ15が接続されている。近年、アクセスネットワークに導入が進んでいるPONの構成例を図2に示す。図2において、1本の光ファイバ151から光スプリッタ154によって、複数の光ファイバ152に分岐され、さらに、光スプリッタ155によって、複数の光ファイバ153に分岐されている。光パルス試験装置が、図2に示す光ファイバ151の端部図上左側にパルス光を出射して時間波形を観測する動作を説明する。図2では、光ファイバ151から光スプリッタ154で分岐され、分岐された光ファイバ152から、さらに、光スプリッタ155で16分岐されている。全区間記録ステップでは、タイミング制御部11は、被測定物である光ファイバの長さに応じて、パルス光を出射する繰り返し周期を決定する。即ち、パルス光を出射する繰り返し周期が、被測定物である光ファイバを光が伝搬する時間よりも長く、例えば、1~10倍程度となるように、パルス光を出射するタイミングを制御する。LDドライバ12は、タイミング制御部11からの指示によってLD13を駆動する。LD13は、合波分波部14を介してパルス光を被測定物である光ファイバ15内に出射する。APD16は、パルス光によって光ファイバ15内で発生する戻り光を、合波分波部14を介して検出し、戻り電気信号に変換する。増幅部17は、戻り電気信号を増幅する。サンプリング制御部22は、タイミング制御部11の繰り返し周期に対応して、戻り電気信号の全区間を繰り返してサンプリングするよう、A/D変換部18に指示する。A/D変換部18は、サンプリング制御部22の指示に応じて、戻り電気信号の全区間を繰り返してサンプリングし、A/D変換する。加算部19は、A/D変換部18のA/D変換した全区間の戻り電気信号をアベレージングして戻り電気信号の全区間の時間波形を生成する。波形記録部20は、加算部19の生成した全区間の時間波形を記録する。全区間表示ステップでは、表示部21は、波形記録部20の記録した全区間の時間波形を表示する。全区間の時間波形の例を図3に示す。図3において、縦軸は光ファイバからの戻り光の強度を示し、横軸は光パルス試験装置からのパルス光の往復伝搬時間を示す。往復伝搬時間は、光パルス試験装置から光ファイバ内で戻り光の発生する場所までの距離に相当する。光ファイバの遠端でフレネル反射が生じていることが分かる。A/D変換部18のサンプリングするサンプリング間隔が狭ければ、図3に示すフレネル反射の部分を拡大して表示すると、その部分を細かく観測することができる。しかし、サンプリング間隔を狭くすると、サンプリング数が増大して、処理時間が増大し、大容量のメモリを必要とする。そのため、表示の程度に合わせて、サンプリング間隔を広くせざるを得ない。図3に示す全区間の時間波形の一部図3において、部分サンプリング範囲と表示した部分を拡大表示した時間波形を図4aに示す。図4bには、後述する部分区間表示ステップで表示する一部の区間の時間波形も併せて示す。図4aに示すように、サンプリング間隔が同じで、全区間の時間波形の一部の表示を単に拡大しただけでは、その領域での戻り光の状況が不明確である。そこで、全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔で、戻り電気信号の一部の区間をサンプリングする。部分区間記録ステップでは、タイミング制御部11は、被測定物である光ファイバの長さに応じて、パルス光を出射する繰り返し周期を決定する。繰り返し周期は、全区間記録ステップで決定した周期と同じでもよい。LDドライバ12は、タイミング制御部11からの指示によってLD13を駆動する。LD13は、合波分波部14を介してパルス光を被測定物である光ファイバ15内に出射する。APD16は、パルス光によって光ファイバ15内で発生する戻り光を、合波分波部14を介して検出し、戻り電気信号に変換する。増幅部17は、戻り電気信号を増幅する。サンプリング制御部22は、タイミング制御部11の繰り返し周期に対応して、全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔より狭いサンプリング間隔で、戻り電気信号の一部の区間を繰り返してサンプリングするよう、A/D変換部18に指示する。A/D変換部18は、サンプリング制御部22の指示に応じて、戻り電気信号の一部の区間を繰り返してサンプリングし、A/D変換する。加算部19は、A/D変換部18のA/D変換した一部の区間の戻り電気信号をアベレージングして戻り電気信号の一部の区間の時間波形を生成する。波形記録部20は、加算部19の生成した一部の区間の時間波形を記録する。部分区間表示ステップでは、表示部21は、波形記録部20の記録した一部の区間の時間波形を表示する。図4bに、部分区間表示ステップで表示する一部の区間の時間波形を示す。全区間の時間波形の一部の表示を単に拡大した図4aと比較して、部分区間記録ステップで生成した時間波形では、高分解能で時間波形を観測できることが分かる。全区間記録ステップで生成した時間波形では、その領域での戻り光の状況が不明確であったが、全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔より狭いサンプリング間隔で、戻り電気信号の一部の区間をサンプリングして表示した部分区間記録ステップでは、その領域での戻り光の状況が高分解能で観測することができる。即ち、最初の反射点では、3箇所からの反射点に分離され、次の反射点では、10箇所を超える反射点に分離されていることが分かる。この結果、図2に示す実際の光ファイバの接続状況を高分解能で把握することができる。最初からサンプリング間隔を狭くしてサンプリングすると、長大な処理時間と大容量のメモリを要してしまう。本願発明のように、最初は、広いサンプリング間隔で戻り電気信号の全区間を処理する全区間記録ステップを実行し、次に狭いサンプリング間隔で戻り電気信号の所望の一部の区間を処理する部分区間記録ステップを実行することによって、処理時間の短縮とメモリ容量の削減を図ることができる。実施形態2時間波形に差のある領域の検出について説明する。全区間記録ステップで、戻り電気信号の全区間をサンプリングして処理し、全区間の時間波形を記録した際に、新たに記録した全区間の時間波形と過去に記録した全区間の時間波形との間に差のある領域を検出すると、部分記録ステップでは、差のある領域を一部の区間に含ませてサンプリングする。過去に全区間の時間波形を測定したときと、新たに全区間の時間波形を測定したときの間に発生した光ファイバでの異常、例えば、破断等を高分解能かつ短縮した処理時間で把握することができる。時間波形に差のある領域を検出するには、測定者が目視で確認してもよいし、ディジタル処理で2つの時間波形の差分をとることによって、差が設定した閾値を超えた領域を自動検出してもよい。実施形態3時間波形で不連続な領域の検出について説明する。全区間記録ステップで、戻り電気信号の全区間をサンプリングして処理し、全区間の時間波形を記録した際に、不連続な領域を検出すると、部分記録ステップでは、不連続な領域を一部の区間に含ませてサンプリングする。時間波形の不連続な領域を観測する際に、接続点や破断点の様子を高分解能かつ短縮した処理時間で把握することができる。時間波形の不連続な領域を検出するには、測定者が目視で確認してもよいし、ディジタル処理で微分することによって、微係数が設定した閾値を超えた領域を自動検出してもよい。ディジタル処理で、時間波形の時間軸方向で差の大きさが設定した閾値を超えた領域をディジタル検出してもよい。実施形態4時間波形で一部の領域を表示するときの処理について説明する。全区間記録ステップで、戻り電気信号の全区間をサンプリングして処理し、全区間表示ステップで、全区間の時間波形を表示した際に、一部の領域を表示するように変更すると、部分記録ステップでは、当該一部の領域を一部の区間に含ませてサンプリングする。表示する区間に合わせて適切な分解能で、接続点や破断点の様子を高分解能かつ短縮した処理時間で把握することができる。表示領域を検出して、その表示領域に合わせてサンプリングの対象とする区間として設定すれば、自動的に部分区間記録ステップを実行することができる。実施形態5部分区間記録ステップでの一部の区間の設定方法について説明する。拡大観測する一部の区間は、1サンプリング開始位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定2サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング間隔を指定3サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング数を指定4サンプリング終了位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定5サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング間隔を指定6サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング数を指定のいずれでもよい。部分区間記録ステップでの一部の区間の設定方法を図5から図10に示す。図5から図10において、縦軸は光ファイバからの戻り光の強度を示し、横軸は光パルス試験装置からのパルス光の往復伝搬時間を示す。図5は1サンプリング開始位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定する設定方法である。図5に示すように、サンプリング開始位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定すれば、サンプリング終了位置は決まってしまう。図6は、2サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング間隔を指定する設定方法である。図6に示すように、サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング間隔を指定すれば、サンプリング数は決まってしまう。図7は、3サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング数を指定する設定方法である。図7に示すように、サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング数を指定すれば、サンプリング間隔は決まってしまう。図8は、4サンプリング終了位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定する設定方法である。図8に示すように、サンプリング終了位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定すれば、サンプリング開始位置は決まってしまう。図9は、5サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング間隔を指定する設定方法である。図9に示すように、サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング間隔を指定すれば、サンプリング数は決まってしまう。図10は、6サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング数を指定する設定方法である。図10に示すように、サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング数を指定すれば、サンプリング間隔は決まってしまう。部分記録ステップでのサンプリング間隔及びサンプリング数の設定について説明する。光ファイバ内に出射するパルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング間隔を設定するか、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング数を設定することが望ましい。サンプリング間隔はパルス光のパルス幅の二分の一以下であることが望ましく、より好適には、十分の一以下が望ましい。LD13の出射するパルス光のパルス幅が、予め、設定されている場合、サンプリング間隔をパルス幅の十分の一程度に設定すれば、充分な分解能が得られる。直接的にサンプリング間隔を設定してもよいし、サンプリング間隔がパルス幅の二分の一程度になるようにサンプリング数を設定してもよい。このような設定をすることにより、パルス光のパルス幅に適したサンプリング間隔とすることができる。本願発明には、コンピュータに、全区間記録ステップ及び部分区間記録ステップを順に実行させるためのプログラムも含まれる。また、部分区間表示ステップを全区間記録ステップと部分区間記録ステップとの間に実行させるためのプログラムも含まれる。