測定対象物に互いに波長の異なる複数種類の測定光を切り替えて照射することにより前記測定対象物から生じる散乱光をそれぞれ検出する散乱光検出装置であって、前記測定対象物を支持する支持部と、前記支持部に支持された前記測定対象物に前記複数の測定光をそれぞれ照射可能な、互いに異なる位置に配置された複数の光源と、前記測定光により照射された前記測定対象物から生じる散乱光を検出する複数の検出器と、前記複数の検出器のうち、前記測定光の前記測定対象物への光路を含まない領域であって、前記散乱光を検出可能な領域である測定領域に配置されている検出器のみにより前記散乱光を検出するように前記検出器を制御する制御部と、を備えたことを特徴とする散乱光検出装置。前記支持部が前記測定対象物を支持する支持面を備えるものであり、前記複数の光源が、前記測定対象物を通り、前記支持面に垂直な軸を中心とした同心円状に配置されて、前記複数種類の測定光を前記測定対象物ごとに交互に切り替えて照射可能なものであり、前記複数の検出器が、前記軸を中心とした同心円状に配置されたものであることを特徴とする請求項1記載の散乱光検出装置。前記複数の検出器が、所定の2次元領域内に各検出器を2次元アレイ状に配置した2次元アレイ型検出器であり、前記制御部が、前記2次元アレイ型検出器の前記所定の2次元領域内に設定された複数の部分領域のうち、前記測定領域に含まれる前記部分領域内に位置する検出器のみにより前記散乱光を検出するように前記検出器を制御するものであることを特徴とする請求項1記載の散乱光検出装置。前記支持部が前記測定対象物を支持する支持面を備えるものであり、前記複数の光源が、前記測定対象物を通り、前記支持面に垂直な軸を中心とした同心円状に配置されて、前記複数種類の測定光を前記測定対象物ごとに交互に切り替えて照射可能なものであり、前記部分領域が、前記軸の半径方向に延びる形状であることを特徴とする請求項3記載の散乱光検出装置。前記制御部が、前記測定領域内に位置する前記検出器が複数存在する場合に、前記入射光と前記測定対象物とが交差する領域に最も近い検出器のみを用いて前記散乱光を検出するものであることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項記載の散乱光検出装置。前記測定領域は、前記光源から前記測定対象物に照射される入射光と、該照射された入射光が前記測定対象物の表面である反射面により反射された反射光とを含む入射面領域を除いた領域であることを特徴とする請求項1から5のいずれか1項記載の散乱光検出装置。前記制御部が、前記測定領域内に位置する前記検出器が複数存在する場合に、前記入射面領域から最も離れた位置に位置する検出器のみを用いて前記散乱光を検出するものであることを特徴とする請求項6項記載の散乱光検出装置。互いに異なる位置に配置された複数の光源から測定対象物に互いに波長の異なる複数種類の測定光を切り替えて照射することにより前記測定対象物から生じる散乱光をそれぞれ検出する散乱光検出方法であって、前記測定対象物に前記測定光を照射し、前記測定光の光路を含まない領域であって、散乱光を検出可能な領域である測定領域内に位置する前記検出器のみを用いて、前記測定光により照射された前記測定対象物から生じる散乱光を検出することを特徴とする散乱光検出方法。しかしながら、測定対象物に互いに波長の異なる複数種類の測定光を切り替えて照射することにより測定対象物から生じる散乱光をそれぞれ検出する場合には、複数種類の測定光の光路がそれぞれ異なるため、測定光の全てに対して特許文献1乃至4に記載された方法を適用可能な装置構成を実現することは容易ではない。また、特許文献5の方法は、蛍光やラマン散乱光などの測定光と散乱光とで波長が異なっている場合には有効であるが、測定光と波長シフトがない散乱光を検出する場合には適用することができない。本発明はかかる点に鑑み、互いに異なる位置に配置された複数の光源から互いに異なる波長を有する複数種類の測定光を切り替えて用いる場合に、測定光と散乱光の波長シフトの有無に拘わらず散乱光を常に精度良く検出可能な散乱光検出装置および散乱光検出方法を提供することを目的とするものである。本発明による散乱光検出装置は、測定対象物に互いに波長の異なる複数種類の測定光を切り替えて照射することにより前記測定対象物から生じる散乱光をそれぞれ検出する散乱光検出装置であって、前記測定対象物を支持する支持部と、前記支持部に支持された前記測定対象物に前記複数の測定光をそれぞれ照射可能な、互いに異なる位置に配置された複数の光源と、前記測定光により照射された前記測定対象物から生じる散乱光を検出する複数の検出器と、前記複数の検出器のうち、前記測定光の前記測定対象物への光路を含まない領域であって、前記散乱光を検出可能な領域である測定領域に配置されている検出器のみにより前記散乱光を検出するように前記検出器を制御する制御部と、を備えたことを特徴とするものである。本発明による散乱光検出方法は、互いに異なる位置に配置された複数の光源から測定対象物に互いに波長の異なる複数種類の測定光を切り替えて照射することにより前記測定対象物から生じる散乱光をそれぞれ検出する散乱光検出方法であって、前記測定対象物に前記測定光を照射し、前記測定光の光路を含まない領域であって、散乱光を検出可能な領域である測定領域内に位置する前記検出器のみを用いて、前記測定光により照射された前記測定対象物から生じる散乱光を検出することを特徴とするものである。上記測定光の光路は、測定光が測定対象物を透過するものである場合には、測定対象物に対する入射光および透過光の光路を意味し、測定光を測定対象物により全反射するものである場合には、測定対象物に対する入射光および反射光の光路を意味する。本発明の散乱光検出装置において、前記支持部が前記測定対象物を支持する支持面を備えるものであり、前記複数の光源が、前記測定対象物を通り、前記支持面に垂直な軸を中心とした同心円状に配置されて、前記複数種類の測定光を前記測定対象物ごとに交互に切り替えて照射可能なものであり、前記複数の検出器が、前記軸を中心とした同心円状に配置されたものであることが好ましい。また、本発明の散乱光検出装置に係る前記複数の検出器は、所定の2次元領域内に各検出器を2次元アレイ状に配置した2次元アレイ型検出器であり、前記制御部が、前記2次元アレイ型検出器の前記所定の2次元領域内に設定された複数の部分領域のうち、前記測定領域に含まれる前記部分領域内に位置する検出器のみにより前記散乱光を検出するように前記検出器を制御するものであることが好ましい。また、上記場合に、前記支持部が前記測定対象物を支持する支持面を備えるものであり、前記複数の光源が、前記測定対象物を通り、前記支持面に垂直な軸を中心とした同心円状に配置されて、前記複数種類の測定光を前記測定対象物ごとに交互に切り替えて照射可能なものであり、前記部分領域が、前記軸の半径方向に延びる形状であってもよい。また、本発明にかかる散乱光検出装置における前記制御部が、前記測定領域内に位置する前記検出器が複数存在する場合に、前記入射光と前記測定対象物とが交差する領域に最も近い検出器のみを用いて前記散乱光を検出するものであることが好ましい。また、本発明にかかる前記測定領域は、前記光源から前記測定対象物に照射される入射光と、該照射された入射光が前記測定対象物の表面である反射面により反射された反射光とを含む入射面領域を除いた領域であることが好ましい。上記入射面は、測定光の光軸上の光線または相対的光強度分布のピーク位置の光線に基づいて定義される。また、入射面領域は、測定光が所定の幅を持った光である場合、上記入射面を中心に前記所定の幅の厚みを持つ領域を意味する。また、上記の場合、本発明にかかる散乱光検出装置における前記制御部が、前記測定領域内に位置する前記検出器が複数存在する場合に、前記入射面領域から最も離れた位置に位置する検出器のみを用いて前記散乱光を検出するものであることが好ましい。上記のような本発明による散乱光検出装置および散乱光検出方法によれば、測定対象物に測定光を照射し、測定光の光路を含まない領域であって、散乱光を検出可能な領域である測定領域内に位置する検出器のみを用いて、測定光により照射された測定対象物から生じる散乱光を検出することにより、測定光と波長シフトがない散乱光を検出する場合や複数種類の測定光がそれぞれ切り替えられて照射される場合においても、常に測定光の入り込まない測定領域内で精度よく散乱光を検出することができる。以下、本発明の実施の形態を図面に沿って説明する。この実施形態では本発明を適用した生化学分析装置散乱光検出装置について説明する。図1は、第1の実施形態による生化学分析装置の概略構成を示す部分断面正面図、図2は、図1の生化学分析装置の素子搬送位置での点着機構を除く要部機構の平面図、図3は、第1の実施形態の生化学分析装置の点着部を含む乾式分析素子の搬送経路部分の要部を示す断面正面図、図5は、第1の実施形態における測定部の概略図、図6は、図5の測定部の光源と検出器の配置を示す平面図である。図1~図3、図5および図6により生化学分析装置1の全体構成を説明する。この生化学分析装置1の測定機構は、サンプルトレイ2、点着部3、第1のインキュベータ4、第2のインキュベータ5、点着機構6、素子搬送機構7、移送機構8、チップ廃却部9、素子廃却機構10および各種機構を制御する制御部不図示などを備えてなる。図2に示すようにサンプルトレイ2は円形で、検体を収容した検体容器11、未使用の乾式分析素子12比色タイプの乾式分析素子および電解質タイプの乾式分析素子を収容した素子カートリッジ13、消耗品ノズルチップ14、希釈液容器15、混合カップ16および参照液容器17を搭載する。なお、検体容器11は検体アダプタ18を介して搭載され、ノズルチップ14はチップラック19に多数収納されて搭載される。点着部3は、サンプルトレイ2の中心線の延長上に配置され、搬送された乾式分析素子12に血漿、全血、血清、尿などの検体の点着が行われるもので、点着機構6によって比色測定タイプの乾式分析素子12には検体を、電解質タイプの乾式分析素子12には検体と参照液を点着する。この点着部3に続いてノズルチップ14が廃却されるチップ廃却部9が配置されている。第1のインキュベータ4は円形で、チップ廃却部9の延長位置に配置され、比色タイプの乾式分析素子12を収容して所定時間恒温保持し、比色測定を行う。第2のインキュベータ5図2参照は、点着部3の側方における隣接位置に配設され、電解質タイプの乾式分析素子12を収容して所定時間恒温保持し、電位差測定を行う。素子搬送機構7図3参照は、詳細は示していないが、前記サンプルトレイ2の内部に配設され、このサンプルトレイ2の中心と第1のインキュベータ4の中心とを結び、点着部3およびチップ廃却部9を通る直線状の素子搬送経路R図2に沿って、乾式分析素子12をサンプルトレイ2から点着部3へ、さらに第1のインキュベータ4へ搬送する素子搬送部材71搬送バーを備える。素子搬送部材71はガイドロッド38により摺動自在に支持され、不図示の駆動機構によって往復移動操作され、先端部は縦板34のガイド穴34aに挿入され、このガイド穴34aを摺動する。移送機構8は点着部3を兼ねて設置され、点着部3から第2のインキュベータ5へ、素子搬送経路Rと直交する方向に、電解質タイプの乾式分析素子12を移送する。点着機構6は上部に配設され、昇降移動する点着ノズル45が前述の素子搬送経路Rと同一直線上を移動し、検体および参照液の点着、希釈液による検体の希釈混合を行う。点着ノズル45は、先端にノズルチップ14を装着し、該ノズルチップ14内に検体、参照液等を吸引し吐出するもので、その吸引吐出を行う不図示のシリンジ手段が付設され、使用後のノズルチップ14はチップ廃却部9で外されて落下廃却される。素子廃却機構10図2参照は第1のインキュベータ4に付設され、測定後の比色タイプの乾式分析素子12を第1のインキュベータ4の中心部に押し出して落下廃棄する。なお、前記素子搬送機構7によって廃却することもできる。また、第2のインキュベータ5で測定した後の電解質タイプの乾式分析素子12は、前記移送機構8によって廃却穴69に廃棄される。また、サンプルトレイ2の近傍には、血液から血漿を分離する不図示の血液濾過ユニットが設置されている。上記各部の機構を、以下に具体的に説明する。まず、サンプルトレイ2は、正転方向および逆転方向に回転駆動される円盤状の回転ディスク21と、その中央部の円盤状の非回転部22とを有する。回転ディスク21には、図2に示すように、各検体を収容した採血管等の検体容器11を検体アダプタ18を介して保持するA~Eの5つの検体搭載部23と、これに隣接して各検体の測定項目に対応して通常複数の種類が必要とされる未使用の乾式分析素子12を積み重ねた状態で収容した素子カートリッジ13を保持する5つの素子搭載部24と、多数のノズルチップ14を保持孔に並んで収容したチップラック19を保持する2つのチップ搭載部25と、希釈液を収容した3つの希釈液容器15を保持する希釈液搭載部26と、希釈液と検体とを混合するための混合カップ16多数のカップ状凹部が配置された成形品を保持するカップ搭載部27とが円弧状に配置されている。また、非回転部22には、素子搬送経路Rの延長上で点着ノズル45の移動範囲に、参照液を収容した参照液容器17を保持する筒状の参照液搭載部28が設けられ、この参照液搭載部28には、参照液容器17の開口部を開閉する蒸発防止蓋35図1が設置されている。蒸発防止蓋35は、下端が非回転部22に揺動可能に枢支された揺動部材37に保持され、閉方向に付勢されている。揺動部材37の上端係止部37aが点着機構6の移動フレーム42の下端角部42aと当接可能であり、参照液の吸引時に近接移動した移動フレーム42により揺動部材37が開方向に揺動され、蒸発防止蓋35が参照液容器17を開口して点着ノズル45による参照液吸引が可能となる。その他の状態では蒸発防止蓋35が参照液容器17の開口部を閉塞して参照液の蒸発を防止し、その濃度変化による測定精度の低下を阻止する。前記回転ディスク21は、外周部が支持ローラ31で支持され、中心部が不図示の支持軸に回転自在に保持されている。また、回転ディスク21の外周には、不図示のタイミングベルトが巻き掛けられ、駆動モータによって正転方向または逆転方向に回転駆動される。非回転部22は上記支持軸に回転不能に取り付けられている。前記素子カートリッジ13は、図3に示すように、上方から未使用の乾式分析素子12が混在状態で通常複数枚重ねられて挿入される。前記素子搭載部24に装填されると、下端部が素子搭載部24の底壁24aに保持され、素子搬送面と同一高さに最下端部の乾式分析素子12が位置し、最下端部の前面側には1枚の乾式分析素子12のみが通過し得る開口13aが、後面側には素子搬送部材71が挿通可能な開口13bが形成されている。また、乾式分析素子12の下面に付与された素子情報を素子カートリッジ13の下方から読み取れるように、素子カートリッジ13の底面には窓部13cが、素子搭載部24の底壁24aにも窓部24bがそれぞれ形成されている。そして、サンプルトレイ2の下方に、乾式分析素子12の不図示のドット配列パターンによる素子情報を読み取る読取機33が設置されている。この読取機33は、図3に示す素子搬送位置から、サンプルトレイ2の作動により、回転ディスク21が回動し、図5に示すように、検体容器11検体搭載部23が点着ノズル45の移動経路素子搬送経路R上の吸引位置に移動したときに、その検体の測定に使用する乾式分析素子12を収容した素子カートリッジ13素子搭載部24が移動した位置の下方に設置されている。つまり、図示の場合、読取機33は、検体搭載部23と素子搭載部24との位相ピッチだけ素子搬送経路Rからずれた位相角度で、素子搭載部24の回転位置に設置されている。なお、図3では回転ディスク21を一部切除して読取機33を示し、図3では読取機33を便宜的に素子搬送経路Rにある素子搭載部24の下方に示している。上記読取機33は、ドット記録方式に対応してCCDカメラで構成される。この読取機33による乾式分析素子12の素子情報の読み取りは、対応する検体容器11からの検体吸引および乾式分析素子12の搬送に先行して行う。そして、乾式分析素子12に付与された素子情報の読み取りによって得られた6桁または4桁の数字から試薬種別情報、試薬ロット情報等を求めることができ、さらに、記録パターン等から、表裏および前後方向が認識できる。これにより、セット不良が検出でき、ワーニングを発することが可能である。また、前記検体アダプタ18は筒状に形成され、上部から検体容器11が挿入される。この検体アダプタ18は、不図示の識別部を有し、検体の種類処理情報、検体容器11の種類サイズ等の情報が設定され、測定の初期時点でサンプルトレイ2の外周部に配設された識別センサ30図2によってその識別が読み取られ、検体の希釈の有無、血漿濾過の有無などが判別されると共に、検体容器11のサイズに伴う液面変動量が算出され、それに応じた処理制御が行われる。血漿濾過が必要な検体容器11に対しては、アダプタ18に検体容器11を挿入した上に、濾過フィルターを備えたホルダーがスペーサいずれも不図示を介して装着される。点着部3および移送機構8は、サンプルトレイ2と第1のインキュベータ4との間に素子搬送経路Rと直交する方向に長い支持台61を備え、その上に移動可能に摺動枠62が設置されている。この摺動枠62には、点着用開口63a図3が形成された第1素子押え63および第2素子押え64が隣接して一体に移動可能に装着されている。第1素子押え63第2素子押え64も同様は、支持台61に面する底面に、前記素子搬送経路Rに沿って乾式分析素子12が通過する凹部63bを有する。また、摺動枠62は、一端部がガイドバー65に案内され、他端部側の長溝62aにピン66が係合され、さらに、ラックギヤ62bに駆動モータ68の駆動ギヤ67が噛合して移動される。支持台61には、第2のインキュベータ5および廃却穴69が設置されている。図2のように、第1素子押え63が点着部3に位置している際には、点着後の比色タイプの乾式分析素子12は素子搬送機構によって押し出されて第1のインキュベータ4に移送される。一方、電解質タイプの乾式分析素子12への点着が行われると、摺動枠62が移動されて点着後の乾式分析素子12は第1素子押え63に保持されたまま支持台61上を滑るように第2のインキュベータ5に移送され、電位差測定が行われる。その際には、第2素子押え64が点着部3点着位置に移動し、その後に搬送される比色タイプの乾式分析素子12に対する検体の点着および第1のインキュベータ4への搬送が可能である。第2のインキュベータ5での測定が完了すると、摺動枠62がさらに移動されて測定後の乾式分析素子12を廃却穴69に移送して落下廃却する。なお、比色タイプの乾式分析素子12を搬送する際には第2素子押え64を点着部3に移動させておき、電解質タイプの乾式分析素子12が搬送されるときのみ、第1素子押え63を点着部3に移動させるようにしてもよい。また、上記撮像部材33は、ドット配列パターンの読み取りのほか、他の情報の読み取りを行うようになっている。そのために、不図示の追加光源が設置されている。この追加光源としては、赤外用光源、劣化検出用光源、など特定波長を有する光源が検出態様に応じて設置される。この情報読取機による点着情報、その他の読み取りについては後述する。点着機構6図1は、固定フレーム40の水平ガイドレール41に、横方向に移動可能に保持された移動フレーム42を備え、この移動フレーム42に昇降移動可能に2本の点着ノズル45が設置されている。移動フレーム42には中央に縦ガイドレール43が固着され、この縦ガイドレール43の両側に2つのノズル固定台44が摺動自在に保持されている。ノズル固定台44の下部には、それぞれ点着ノズル45の上端部が固着され、上部に上方に延びる軸状部材が駆動伝達部材47に挿通されている。ノズル固定台44と駆動伝達部材47との間に介装された圧縮バネにより、ノズルチップ14の嵌合力を得るようになっている。ノズル固定台44は駆動伝達部材47と一体に上下移動可能であると共に、点着ノズル45の先端部にノズルチップ14を嵌合する際に、圧縮バネの圧縮でノズル固定台44に対して駆動伝達部材47が下降移動可能である。上記駆動伝達部材47は、上下のプーリ49に張設されたベルト50に固定され、不図示のモーターによるベルト50の走行に応じて上下移動する。なお、ベルト50の外側部位には、バランスウェイト51が取り付けられ、非駆動時の点着ノズル45の下降移動が防止される。また、移動フレーム42は不図示のベルト駆動機構によって横方向に駆動され、2つのノズル固定台44は独自に上下移動するように、その横移動および上下移動が制御され、2つの点着ノズル45は、一体に横移動すると共に、独自に上下移動するようになっている。例えば、一方の点着ノズル45は検体用であり、他方の点着ノズル45は希釈液用および参照液用である。両点着ノズル45は棒状に形成され、内部に軸方向に延びるエア通路が設けられ、下端にはピペット状のノズルチップ14がシール状態で嵌合される。この点着ノズル45にはそれぞれ不図示のシリンジポンプ等に接続されたエアチューブが連結され、吸引吐出圧が供給される。また、この吸引圧力の変化に基づき検体等の液面検出が行えるようになっている。チップ廃却部9は、搬送経路Rを上下方向に交差して設けられ、上部材81および下部材82を備える。このチップ廃却部9における支持台61には、楕円形に開口された落下口83が形成されている。上部材81は支持台61の上面に固着され、落下口83の直上部位には係合切欠き84が設けられ、下部材82は支持台61の下面に落下口83の下方を囲むように筒状に形成され、落下するノズルチップ14をガイドするようになっている。そして、ノズルチップ14が装着されている点着ノズル45を、上部材81内に下降させてから横方向に移動させ、その係合切欠き84にノズルチップ14の上端を係合してから、点着ノズル45を上昇移動させてノズルチップ14を抜き取り、外れたノズルチップ14は落下口83を通して落下廃却される。比色測定を行う第1のインキュベータ4は、外周部に円環状の回転部材87を備え、この回転部材87は内周下部に固着された傾斜回転筒88が下部のベアリング89に支持されて回転自在である。回転部材87の上部に上位部材90が一体に回転可能に配設されている。上位部材90の底面は平坦であり、回転部材87の上面には円周上に所定間隔で複数図1の場合13個の凹部が形成されて両部材87、90間にスリット状空間による素子室91が形成され、この素子室91の底面の高さは搬送面の高さと同一に設けられている。また、傾斜回転筒88の内孔は測定後の乾式分析素子12の廃却孔92に形成され、素子室91の乾式分析素子12がそのまま中心側に移動されて落下廃却される。上位部材90には図示しない加熱手段が配設され、その温度調整によって素子室91内の乾式分析素子12を所定温度に恒温保持する。また上位部材90には、図4に示すように、素子室91に対応して乾式分析素子12のマウントを上から押えて検体の蒸発防止を行う押え部材93が配設されている。上位部材90の上面には保温カバー94が配設される一方、この第1のインキュベータ4は全体が遮光カバー95によって覆われる。さらに、回転部材87の各素子室91の底面中央には測光用の開口91aが形成され、この開口91aを通して図2に示す長孔の下方に配設された測定部96による乾式分析素子12の散乱光の濃度の測定が行われる。第1のインキュベータ4の回転駆動は、不図示のベルト機構により行われ、往復回転駆動される。ここで、図4を用いて散乱光の測定領域の概念を説明する。図4は、測定領域の例を示す斜視図である。図4においては、測定光の光路がxz平面に含まれ、測定対象物本実施形態においては乾式分析素子12の表面の、測定光を反射する反射面RPがxy平面に含まれるようにxyz座標系により光路の概略を示す。図4では、説明のために光源LAから照射された測定光の光路CA、CA’、光源LBから照射された測定光の光路CB、CB’を示し、光源LAから照射された測定光の光軸上の光線をlaで示す。図4に示すように、光源LAから照射された測定光は、乾式分析素子12の下面反射面RPに入射光として入射し、乾式分析素子12の下面反射面RPにおいて反射されて、反射光として進む。すると、反射面RP上の入射光が照射された照射領域Aから散乱光が各方向に広がる。検出器は、照射領域Aにより散乱された散乱光のみを検出することが好ましい。このため、散乱光測定の際に、測定光が測定対象物に入射する入射光の光路CAまたは測定光が測定対象物により反射した反射光の光路CA’に検出器が位置すると、測定光と散乱光の両方を検出してしまい、測定光がノイズとして検出されてしまうため、精度よく測定を行うことができない。このため、測定光が測定対象物に入射する入射光の光路CAまたは測定光が測定対象物により反射した反射光の光路CA’を除いた領域で、散乱光測定を行うことが好ましい。また、測定光は、測定対象物を集中的に照射する光強度分布を有するものであれば、いかなる光強度分布を示すものであってもよい。そして、散乱光検出装置が、複数の異なる種類の測定光を照射する複数の光源LA、LBを備えている場合には、光源LAにより測定光を照射している場合には、測定光の光路である入射光の光路CAおよび反射光の光路CA’を除いた領域において散乱光の検出を行い、光源LBにより測定光を照射している場合には、測定光の光路である入射光の光路CBおよび反射光の光路CB’を除いた領域において散乱光の検出を行うことが好ましい。このため、互いに異なる複数種類の波長の測定光を切り替えて用いて測定対象物の散乱光を検出する場合に、全ての散乱光の光路に含まれない位置に検出器を配置して散乱光の検出を行うことが考えられる。しかしながら、多数の種類の光源を設けた散乱光検出装置においては、どこに検出器を配置しても、いずれかの測定光の光路に含まれてしまう可能性がある。また、全ての測定光に対してそれぞれ特許文献1乃至4の方法を適用するような装置構成を実現することは容易ではない。本発明では、上記事情に鑑み、光源LAを用いて散乱光測定を行う際には、測定光の入射光の光路CAおよび反射光の光路CA’からなる光路を含まない領域に位置する検出器SAを用いて散乱光の測定を行い、光源LBを用いて散乱光測定を行う際には、測定光の入射光の光路CBおよび反射光の光路CB’からなる光路CBを含まない領域Bである測定領域内に位置する検出器SBを用いて散乱光の測定を行う。もし、光源LA、LB以外にさらに光源を備えた場合であっても、測定光の照射に応じて、その測定光の光路を含まない領域である測定領域に位置する検出器を用いて散乱光の検出を行う。上記の方法によれば、互いに異なる種類の測定光を切り替えて照射して散乱光の測定を行う場合においても、常にその測定光の光路を含まない領域である測定領域内において散乱光の測定を行うことができる。このため、多数の光源からそれぞれ異なる種類の測定光が照射される場合であっても、測定光がノイズとして検出されることを好適に回避することができ、高いSN比で散乱光を精度よく検出することができる。また、測定光の光路を含まない領域Bのうち、入射光と反射面とが交差する照射領域Aにできるだけ近い位置で散乱光を検出することがさらに好ましい。測定対象である散乱光が照射領域Aにより散乱されるため、照射領域Aの近傍で散乱光を検出することにより、ノイズに対する測定対象である散乱光の割合をさらに高めることができ、より高SN比で精度よく散乱光の測定を行うことができるからである。また、照射領域Aのうち、測定光の光軸と反射面RPとの交点、または、測定光の光強度分布のピークと反射面RPの交点にできるだけ近い位置で散乱光を検出することが好ましい。測定光の光軸または測定光の光強度分布のピークと反射面RPとの交点付近においては、照射領域Aのうち、特に測定光の相対的光強度分布の強い部分が集中して照射される領域であるため測定対象である散乱光の割合がさらに高く、より好適に散乱光の測定を行うことができる。なお、測定光の光路を算出する際に、測定光が裾の広がった光強度分布を有するものである場合には、相対的光強度が所定値以上となる測定光の主要部分に基づいて算出する。例えば、レーザ光の場合には、相対的光強度が1/e2以上となる部分を測定光の主要部分とし、LED光の場合には、所定値は1/10以上となる部分を測定光の主要部分として光路を算出することができる。測定に用いる検出器は、光路を含まない領域B内に位置するものであれば、任意に選択してよい。1種類の測定光に対して1つの検出器のみを用いてもよく、領域Bに位置する複数の検出器の全てまたは任意の組合せを用いてもよい。また、検出器の種類は、装置の用途に応じた任意の種類を用いることができる。例えば、2次元位置検出器2次元PSDなどの個々に駆動可能なセンサを複数備えて独立駆動してもよく、CCDなどの固体撮像素子による部分領域ごとに駆動可能なイメージセンサを1つ備えてイメージセンサの部分領域ごとに駆動してもよい。また、1つの種類の測定光に対して複数の検出器で測定を行ってもよい。この場合には、散乱光が弱い場合などでも、より精度よく散乱光を検出することができる。さらに、本実施形態では、測定領域を、さらに、光源から前記測定対象物に照射される入射光と、照射された入射光が測定対象物の表面である反射面により反射された反射光とを含む入射面領域Eを除いた領域とする。図4に示すように、測定対象物が配置された面である反射面RPに入射する光軸上の入射光線laと、この入射光線laが反射面RPから反射した反射光線la’を含む面が入射面EPである。入射面領域Eは、測定光が所定の幅Wを有する光である場合、入射面EPを中心とした所定の幅W分の厚みを持つ領域である。図4では、入射光線laがxz平面に含まれるため、入射面EPはxz平面に平行な平面であり、入射面領域Eは、入射面EPを中心としてy方向に厚みWを持った領域である。本実施形態では、測定光の光路を含まない領域Bから入射面領域Eをさらに除いた領域B1を測定領域とする。例えば、測定光が周縁部分において光強度が徐々に減少するような裾の広がった強度分布を示している場合、測定光の周縁部分光強度分布の裾の部分が、反射面RPのうち、測定対象物以外の部分非測定対象領域に反射または散乱される場合があり、このような非測定対象領域により反射または散乱された光は、ノイズとして検出器Sに検出される可能性がある。本実施形態における乾式分析素子12を用いた散乱光の検出においては、乾式分析素子12のうち、検体が乾式分析素子12に備えられた試薬層に展開された領域から生じる散乱光を検出対象としており、それ以外の領域における反射光または散乱光はノイズとなる。このような非測定対象領域により生じた反射光または散乱光ノイズを低減するために、先述の測定光の光路を含まない領域Bから入射面領域Eをさらに除いた領域B1を測定領域とすることが有効である。入射面領域Eは、測定光の周縁部分が通過する領域を多く含むため、上記のような非測定対象領域により反射または散乱された測定光がノイズとして入り込みやすいからである。また、素材や表面形状の違いにより、測定対象物に散乱された散乱光と非測定対象領域において散乱された散乱光が広がる領域が互いに異なっている場合もある。このような場合には、測定対象物に散乱された散乱光が測定可能な光強度を維持しつつ広がっている領域であって、かつ、入射面領域Eに含まれない領域で散乱光を測定することにより、測定対象物に散乱された散乱光に対して非測定対象領域において散乱された散乱光ノイズの割合を低減することができる。測定対象物に散乱された散乱光の広がる領域に対して、非測定対象領域において散乱された散乱光の広がる領域から相対的に離れた位置で測定することになるからである。なお、測定対象物に散乱された散乱光の広がる領域として、例えば、照射領域Aを中心として反射面RPから半球状に広がる領域が考えられる。また、先述の領域B1のうち、入射面領域Eからできるだけ離れた位置で散乱光を検出することが好ましい。この場合には、入射面領域Eから離れた位置で散乱光を測定することにより、入射面領域Eに含まれるノイズを検出しにくくなるため、測定光が照射される照射領域Aから測定対象である散乱光に対する、ノイズの割合を低減することができ、より高SN比で精度よく散乱光の測定を行うことができる。図2、図5および図6を用いて、本実施形態の測定部96の構成を具体的に説明する。図5は、本実施形態の測定部96の断面を表す部分拡大図であり、図6は、測定部96の光源と検出器の配置を示す概略図である。図5に示すように、測定部96には、図2に示す長孔および乾式分析素子12が載置される素子室91の下面支持面の開口91aを介して、乾式分析素子12の下面に対して、それぞれ波長の異なる測定光を入射させるLED等からなる複数の光源L1、L2、L3、...、L8と、軸Fを中心軸とする同心円状にこれらの光源L1、L2、L3、...、L8を配置した下方ほど径が狭くなるような円錐管形状の光源支持部111と、乾式分析素子12から生ずる散乱光を受光するための検出器S1、S2、...、S8と、上記検出器S1、S2、...、S8を、軸Fを中心軸として同心円状に固定した円盤状の検出器配置部112aを有する検出器支持部材112とを備えている。なお、各検出器S1、S2、...、S8は、いずれも試験データなどにより得られた、散乱光を好適に検出可能な散乱光検出可能領域内に配置されているものとする。なお、軸Fは、素子室91の下面に直交し、乾式分析素子12の検体が点着された領域を通る位置に位置する。回転軸Fに対して対向する光源は、それぞれ同じ波長の測定光を照射する光源であり、それぞれの測定項目に応じて、ペアで用いられる。例えば、測定項目I1の際には、光源L1とL5とが同時に測定対象物である乾式分析素子12の下面RPに対して測定光を照射する。また、測定光を照射する一対の光源は、測定対象物の下面である反射面RPに対してほぼ同じ角度で同じ領域が照射領域となるように固定されている。このように、これらの一対の光源をそれぞれ軸Fに対して対称に設けているので、一対の光源による各光路光源L1の入射光l1および光源L5の反射光l5’、光源L1の入射光l1’および光源L5の反射光l5は、逆向きであるがほぼ一致し、一対の光源L1、L5による入射面領域Eもほぼ同じ領域となる。本第1の実施形態では、測定光に応じて、測定光の光路と測定光に対応する入射面領域を除いた領域である測定領域に位置する全ての検出器を用いて散乱光を検出する。例えば、光源L1およびL5により測定光を照射する場合には、光源L1およびL5の光路と、光源L1およびL5の測定光にそれぞれ対応する入射面領域E以外の領域である測定領域に位置する検出器S2、S3、S4、S6、S7およびS8を用いて検出を行い、光源L2およびL6により測定光を照射する場合には、光源L2およびL6の光路と、光源L1およびL5の測定光にそれぞれ対応する入射面領域E以外の領域である測定領域に位置する検出器S1、S3、S4、S5、S7およびS8を用いて検出を行う。具体的には、散乱光検出処理に先立って、測定光ごとに、用いられる一対の光源の各位置および反射面に対する入射角度から光路および入射面領域Eを算出し、散乱光を好適に検出可能な散乱光検出可能領域のうち、これらを含まない測定領域をそれぞれ算出する。そして、算出された測定領域ごとに、測定領域内に位置する全ての検出器をそれぞれ特定する。そして、測定項目に応じて、使用する光源と、光源に対応する測定領域に位置する全ての検出器とをそれぞれ対応づけて検出器決定情報として生化学分析装置1の制御部に備えられたメモリに記憶しておく。そして、測定項目が決定すると、制御部は検出器決定情報に基づいて、測定光の種類に応じて対応する検出器を切り替えて測定光の検出を行う。なお、検出器S1、S2、...、S8は、浜松ホトニクス社製のS1880をそれぞれ用いる。なお、散乱光検出可能領域として、予め測定した試験データに基づいて照射領域Aの近傍の領域が設定されているものとする。廃却機構10は、外周側から中心方向に素子室91内に進退移動する廃却バー101を備えている。この廃却バー101は後端部が水平方向に走行するベルト102に固定され、駆動モータ103の駆動によるベルト102の走行に応じ、素子室91から測定後の乾式分析素子12を押し出して廃却する。なお、廃却孔92の下方には測定後の乾式分析素子12を回収する回収箱が配設される。また、イオン活量を測定する第2のインキュベータ5は、前述の摺動枠62の第1素子押え63が上位部材となり、その底部の凹部によって測定本体97の上面との間に1つの素子室が形成される。この第2のインキュベータ5には、図示しない加熱手段が配設され、その温度調整によって乾式分析素子12のイオン活量を測定する部分を所定温度に恒温加熱する。さらに、測定本体97の側辺部にはイオン活量測定のための3対の電位測定用プローブ98が出没して乾式分析素子12のイオン選択電極に接触可能に設けられている。なお、不図示の血漿濾過ユニットは、サンプルトレイ2に保持された検体容器11採血管の内部に挿入され上端開口部に取り付けられたガラス繊維からなるフィルターを有する不図示のホルダーを介して血液から血漿を分離吸引し、ホルダー上端のカップ部に濾過された血漿を保持するようになっている。上記のような生化学分析装置1の動作、測定条件の設定等は、不図示の筐体20に設置された不図示の操作パネル55からの入力によって行われる。この操作パネル55インターフェースは、表示画面、スタートキー、ストップキー、検体キー、消耗品キー、手動キー、緊急キー、キャリブレーションキー、テンキー、印刷キーなど、指先で押して各種の指示操作を行う操作キーが配設されている。この操作パネル55は、不図示の制御部に接続され、そこに登録されている制御プログラムに基づく測定演算処理が設定され、自動測定動作、手動測定動作、緊急測定動作、キャリブレーション動作、印刷動作などが選択実行され、測定値に基づき前記素子情報に対応する分析情報によって分析結果を成分濃度を算出するようになっている。そして、測定結果を出力記録するため、設定値の確認などのために、これらのデータをプリンタ57によって印刷する。次いで、前述の生化学分析装置1の全体動作について説明する。まず、分析を行う前に、サンプルトレイ2の各搭載部23~28に、各検体を収容した検体容器11、乾式分析素子12を装填した素子カートリッジ13、ノズルチップ14を収容したチップラック19、混合カップ16、希釈液容器15および参照液容器17を搭載して、測定準備を行う。その後、分析処理をスタートする。まず、血漿濾過が必要な検体の場合には、血液濾過ユニットにより、検体容器11内の全血を濾過して血漿成分を得る。次に、回転ディスク21を回転させて測定する検体の素子カートリッジ13を点着部3に対応する素子取り出し位置に停止させ、乾式分析素子12を素子搬送機構によって素子カートリッジ13から取り出して点着部3に搬送する。なお、点着部3に搬送される前に、乾式分析素子12に付与された分析情報が読み取られ、その後の動作が制御される。そして、測定項目が比色測定の場合は、素子押え64が点着部に位置している状態で、乾式分析素子12の搬送を行い、続いてサンプルトレイ2を回転させて点着ノズル45の下方にチップラック19のノズルチップ14を移動させ、点着ノズル45に装着する。続いて検体容器11を移動させ、点着ノズル45を下降してノズルチップ14に検体を吸引し、点着ノズル45を点着部3に移動して、乾式分析素子12に検体を点着する。次に、素子室91を回転して、所定時間恒温保持した後、挿入された乾式分析素子12を順次測光部96による測定位置に移動させ、乾式分析素子12の反射光学濃度の測定が行われる。ここでは、光源L1およびL5を用いる測定項目が決定したものとすると、制御部は、メモリに記憶された検出器決定情報を参照して、測定項目に対応づけられた、検出器S2、S3、S4、S6、S7およびS8を特定する。次いで、光源L1およびL5から同時に測定光が照射され、照射領域Aから発生した散乱光を検出器S2、S3、S4、S6、S7およびS8で検出する。測定終了後、測定済みの乾式分析素子12は中心側に押し出して廃却する。測定結果を出力し、使用済みのノズルチップ14をチップ廃却部9で点着ノズル45から外して下方に落下廃却し、処理を終了する。この比色測定の間は、第2のインキュベータ5においては、前述のように、下ブロック71を上昇させて上ブロック63を予熱している。次いで、検査項目が希釈依頼の場合、例えば血液の濃度が濃すぎて正確な検査を行うことができないような場合には、その乾式分析素子12を点着位置に搬送した後、ノズルチップ14を点着ノズル45に装着し、点着ノズル45を下降してノズルチップ14に検体を吸引する。吸引した検体をノズルチップ14から混合カップ16に分注した後、使用済みのノズルチップ14を外す。次いで、新しいノズルチップ14を点着ノズル45に装着し、希釈液容器15からノズルチップ14に希釈液を吸引する。吸引した希釈液をノズルチップ14から混合カップ16に吐出する。そして、ノズルチップ14を混合カップ16内に挿入して吸引と吐出とを繰り返して撹拌を行う。撹拌を行った後、希釈した検体をノズルチップ14に吸引し、その点着ノズル45を点着部3に移動して、乾式分析素子12に検体を点着する。以下同様に、恒温保持、測光、素子廃却、結果出力およびチップ廃却を行って処理を終了する。次いで、イオン活量の測定の場合は、前述のように上ブロック63を点着部3へ移動させて、電解質タイプの乾式分析素子12を点着位置へ搬送した後、まず、一方の点着ノズル45にノズルチップ14を装着し、検体を吸引する。次に、他方の点着ノズル45にノズルチップ14を装着し、参照液容器17から参照液を吸引する。次いで、一方の点着ノズル45により検体を乾式分析素子12の一方の液供給孔に点着し、さらに、他方の点着ノズル45により参照液を乾式分析素子12の他方の液供給孔に点着する。そして、検体および参照液が点着された乾式分析素子12が、点着部3から上ブロック63と共に摺動枠62の移動によって第2のインキュベータ5に移送され、下ブロック71の上昇で恒温保持しつつ電位測定用プローブ78によってイオン活量の測定を行う。測定終了後、測定後の乾式分析素子12を摺動枠62の移動によって廃却穴69に移送して廃却する。そして測定結果を出力し、両方の使用済みのノズルチップ14を両点着ノズル45から外して廃却し、処理を終了する。上記の実施形態によれば、測定光と波長シフトがない散乱光を検出する場合や複数種類の測定光がそれぞれ切り替えられて照射される場合においても、常にその測定光の光路を含まない領域である測定領域内において散乱光の測定を行うことができる。このため、多数の光源からそれぞれ異なる種類の測定光が照射される場合であっても、測定光がノイズとして検出されることを好適に回避することができ、散乱光のみを精度よく検出して高いSN比を維持することができる。また、検出器を複数備えて、各検出器を切り替えて制御することにより、比較的簡易な機構により上記効果を奏することができるため、コンパクトな装置サイズで、低コストに装置を製造することができる。また、測定領域が入射面領域Eを除いた領域であるため、非測定対象領域により反射または散乱された光によるノイズをさらに抑制でき、さらに高いSN比を実現することができる。また、測定領域内の複数の検出器で散乱光を検出することにより、散乱光が微弱なものである場合にも、検出器が1つである場合より好適に散乱光を検出することができる。なお、本第1の実施形態に限定されず、測定領域内に位置する検出器が複数ある場合、任意に使用する検出器を選択してよい。例えば、測定領域内に位置する複数の検出器のうち、入射面領域Eから最も離れた位置に位置する検出器のみにより、散乱光の検出を行ってもよい。例えば、上記実施形態においては、光源L1、L5により測定光を照射する場合に、光源L1、L5に対応する入射面領域から最も離れた検出器S3およびS7で検出を行ってもよい。この場合には、非測定対象領域により反射または散乱された光によるノイズをさらに抑制でき、さらに高いSN比を実現することができる。また、回転部材87支持部が乾式分析素子12を支持する支持面を備えるものであり、複数の光源が、乾式分析素子12の検体が点着された部分を通り、支持面に垂直な軸Fを中心とした同心円状に配置されて、複数の測定光を乾式分析素子12に交互に切り替えて照射可能なものであるため、光源から測定対象物までの距離が一定となり、測定条件を均一化できるため好ましい。また、複数の検出器S1、S2、...、S8を備え、複数の検出器S1、S2、...、S8が、軸Fを中心とした同心円状に配置されたものであるため、どの測定光を用いている場合であっても測定対象物から各検出器までの距離が略同一となり測定条件を均一化できるため好ましい。また、比較的簡易な機構により、測定領域内に複数の検出器を配置できるため、コンパクトな装置サイズで、低コストに装置を製造することができる。また、複数の光源を波長の種類ごとのグループに分けて、測定光ごとに各光源のグループを切り替えて用いる場合、同時に用いられる光源の光路の一部又は全部が重複するようにしたため、同時に用いられる光源がそれぞれ異なる光路を有する場合よりも測定光の光路を小さくできるため、装置内に限られたスペースしかない場合であっても、測定領域を確保しやすい。以下、本発明の第2の実施形態について説明する。第2の実施形態は、第1の実施形態における独立駆動タイプの検出器S1、S2、...、S8に替えて、領域ごとに分割して駆動可能な正方形状の2次元アレイ型検出器S9を用いた点が第1の実施形態と異なる。以下、第1の実施形態と異なる点を中心に説明し、第1の実施形態と同じ点については説明を省略する。図7を用いて、第2の実施形態の測定部96の構成を具体的に説明する。図7は、第2の実施形態における測定部96の光源と検出器の配置を示す概略図である。第2の実施形態では、検出器配置部112aに、複数の検出器S1、S2、...、S8に変えて検出器9を配置した点を除いて、測定部96の各構成部分の配置は図5に示すものと同じである。第2の実施形態による測定部96には、乾式分析素子12が載置される素子室91の下面支持面の開口91a不図示および図2に示す長孔を介して、乾式分析素子12の下面に対して、それぞれ波長の異なる測定光を入射させるLED等からなる複数の光源L1、L2、L3、...、L8と、これらの光源が軸Fを中心として同心円状に配置された下方ほど径が狭くなるような円錐管形状の光源支持部111と、乾式分析素子12から生ずる散乱光を受光するための2次元アレイ状の検出器S9と、上記検出器S9を載置した円盤状の検出器配置部112aを有する検出器支持部材112とを備えている。図7に示すように、第2の実施形態では、検出器S9に、軸Fを中心として同心円状にS91、S92、...、S98の8つの矩形の部分領域を設け、これらを個々に駆動する。また、測定光に応じて、測定光の光路と測定光に対応する入射面領域Eを含まない領域である測定領域に位置する検出器S9の全ての部分領域を用いて散乱光を検出する。例えば、光源L1およびL5により測定光を照射する場合には、光源L1およびL5の光路と、光源L1およびL5の測定光にそれぞれ対応する入射面領域Eを含まない領域である測定領域に位置する部分領域S92、S93、S94、S96、S97およびS98を用いて検出を行い、光源L2およびL6により測定光を照射する場合には、光源L2およびL6の光路と、光源L2およびL6の測定光にそれぞれ対応する入射面領域Eを含まない領域である測定領域に位置する部分領域S91、S93、S94、S95、S97およびS98を用いて検出を行う。具体的には、散乱光検出処理に先立って、測定光ごとに、用いられる一対の光源の各位置および反射面に対する入射角度に基づいて、光路および入射面領域Eを算出し、これらを含まない領域を測定領域としてそれぞれ算出する。そして、算出された測定領域ごとに、測定領域内に位置する検出器S9の全ての部分領域をそれぞれ特定する。そして、測定項目に応じて、使用する光源と、光源に対応する測定領域に位置する検出器S9の全ての部分領域とをそれぞれ対応づけて検出器決定情報として生化学分析装置1の制御部に備えられたメモリに記憶しておく。そして、測定項目が決定すると、制御部は検出器決定情報に基づいて、測定光の種類に応じて対応する検出器S9の部分領域を切り替えて測定光の検出を行う。なお、ここでは、検出器9として、CCDによるイメージセンサを用いる。第2の実施形態によれば、2次元アレイ状の検出器を適用した場合も、第1の実施形態における上述の各効果と同等の効果を奏することができる。また、2次元アレイ状の検出器を分割して部分領域ごとに分割して用いることにより、比較的簡易な機構により上記効果を奏することができるため、コンパクトな装置サイズで、低コストに装置を製造することができる。また、2次元アレイ状の検出器を分割して部分領域ごとに分割して用いる際に、2次元アレイ型検出器における部分領域を任意の形状に設定することができる。例えば、第2実施形態における部分領域の形状を、図7に破線で示すように、複数の光源の配置された同心円の軸Fから半径方向に延びる形状に形成してもよい。また、部分領域の形状を、軸Fを中心とするドーナツ型領域を周方向に8つの領域に同形状に分割した形状としてもよい。検出器の部分領域を半径方向に延びる形状とすることにより測定領域内で領域散乱光を検出可能な面積を大きくすることができ、微弱な散乱光も精度良く検出できる。なお、上記第2の実施形態において、散乱光を検出可能な2次元アレイ状の検出器であればいかなる種類のセンサを用いてもよく、CCD以外の固体撮像素子によるイメージセンサを適用してもよい。なお、上述した各実施形態は、あくまでも本発明の一態様を示すものであり、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で任意に変形および応用が可能である。また、測定光を測定対象物に照射し、測定対象物から生じる散乱光を測定する装置であれば、いかなる種類の測定装置に対しても本発明を適用可能である。