"第1のコネクタを有するテストヘッドと、第1の方向に沿って前記第1のコネクタに嵌合する第2のコネクタを有し、前記テストヘッドの内部に収容される基板と、前記テストヘッドに前記基板を固定する固定装置と、を備えており、前記固定装置は、前記テストヘッドの凹部に係合するフックと、前記フックを前記凹部に対して相対的に進退させる進退手段と、前記第1の方向における前記凹部に対する前記フックの相対位置を調整する調整手段と、前記進退手段と前記調整手段とを操作する単一の操作部と、を有することを特徴とする電子部品試験装置。請求項1に記載の電子部品試験装置であって、前記進退手段は、前記第1の方向を中心とした第1の回転運動を、前記第1の方向に対して実質的に直交する第2の方向を中心とした第2の回転運動に変換することで、前記フックを前記第2の方向を中心として回動させ、前記調整手段は、前記第1の回転運動を、前記第1の方向に沿った直線運動に変換することで、前記フックを前記第1の方向に沿って直動させ、前記操作部は、前記進退手段及び前記調整手段に前記第1の回転運動を入力することを特徴とする電子部品試験装置。請求項1又は2に記載の電子部品試験装置であって、前記固定装置は、前記基板と前記フックとの間に介在し、前記第1の方向に沿った弾性力を持つ弾性体を有することを特徴とする電子部品試験装置。第1のコネクタを有するテストヘッドと、第1の方向に沿って前記第1のコネクタに嵌合する第2のコネクタを有し、前記テストヘッドの内部に収容される基板と、前記テストヘッドに前記基板を固定する固定装置と、を備え、前記固定装置は、前記テストヘッドの凹部に係合するフックと、第1のカム及び第2のカムを側面に有すると共に、前記第1の方向に沿った軸心を中心として回転可能であるカムスリーブと、前記第1のカムに案内される第1のカムフォロアを有すると共に、前記第1の方向に沿って直動可能である第1の伝達部材と、前記第2のカムに案内される第2のカムフォロアを有すると共に、前記第1の方向に沿って直動可能である第2の伝達部材と、前記第1の方向に対して実質的に直交する第2の方向に沿って配置され、前記フックを前記第1の伝達部材に回動可能に連結する第1のピンと、前記第2の方向に沿って配置され、前記フックを前記第2の伝達部材に回動可能に連結する第2のピンと、前記基板に固定されていると共に、前記第1の方向に沿って前記第1のピンを案内する第3のカムと、前記第1の方向に沿って前記第2のピンを案内する第4のカムと、を有するハウジングと、を有し、前記カムスリーブは、前記カムスリーブを回転操作するための操作部を有しており、前記第1及び第2のカムは、前記第1の方向において、前記第1の伝達部材が停止しつつ、前記第2の伝達部材が直動する第1の区間と、前記第1の方向において、前記第1の伝達部材及び前記第2の伝達部材が直動する第2の区間と、を有することを特徴とする電子部品試験装置。請求項4に記載の電子部品試験装置であって、前記第1又は第2のカムの少なくとも一方は、前記第2の区間の終点近傍に、前記第1又は第2のカムフォロアの少なくとも一方が乗り越える突起を有することを特徴とする電子部品試験装置。請求項4又は5に記載の電子部品試験装置であって、前記操作部は、前記カムスリーブを回転させる操作具が嵌合する操作嵌合部と、前記操作嵌合部と実質的に同軸状に形成され、インタロック用ネジが螺合する雌ネジ部と、を有しており、前記雌ネジ部に螺合した前記インタロック用ネジは、前記第1の伝達部材に当接することを特徴とする電子部品試験装置。請求項4~6の何れかに記載の電子部品試験装置であって、前記固定装置は、前記ハウジングと前記フックとの間に介在し、前記第1の方向に沿った弾性力を持つ弾性体を有することを特徴とする電子部品試験装置。請求項1~7の何れかに記載の電子部品試験装置であって、前記基板は、前記第1の方向に沿って突出するガイドピンを有し、前記テストヘッドは、前記ガイドピンが挿入可能なガイド穴が形成された受け部を有し、前記ガイドピンは、前記ガイド穴に挿入される挿入部と、前記受け部に当接する当接部と、を有することを特徴とする電子部品試験装置。基板を電子部品試験装置に固定する固定装置であって、前記電子部品試験装置の凹部に係合するフックと、前記フックを前記凹部に対して相対的に進退させる進退手段と、第1の方向における前記凹部に対する前記フックの相対位置を調整する調整手段と、前記進退手段と前記調整手段とを操作する単一の操作部と、を有することを特徴とする固定装置。基板を電子部品試験装置に固定する固定装置であって、フックと、第1の方向を中心とした第1の回転運動を、前記第1の方向に対して実質的に直交する第2の方向を中心とした第2の回転運動に変換することで、前記フックを前記第2の方向を中心として回動させる第1の変換機構と、前記第1の回転運動を、前記第1の方向に沿った直線運動に変換することで、前記フックを前記第1の方向に沿って直動させる第2の変換機構と、前記第1の変換機構及び前記第2の変換機構に前記第1の回転運動を入力する単一の操作部と、を備えたことを特徴とする固定装置。基板を電子部品試験装置に固定する固定装置であって、フックと、第1のカム及び第2のカムを側面に有すると共に、第1の方向に沿った軸心を中心として回転可能であるカムスリーブと、前記第1のカムに案内される第1のカムフォロアを有すると共に、前記第1の方向に沿って直動可能である第1の伝達部材と、前記第2のカムに案内される第2のカムフォロアを有すると共に、前記第1の方向に沿って直動可能である第2の伝達部材と、前記第1の方向に対して実質的に直交する第2の方向に沿って配置され、前記フックを前記第1の伝達部材に回動可能に連結する第1のピンと、前記第2の方向に沿って配置され、前記フックを前記第2の伝達部材に回動可能に連結する第2のピンと、前記第1の方向に沿って前記第1のピンを案内する第3のカムと、前記第1の方向に沿って前記第2のピンを案内する第4のカムと、を有するハウジングと、を備え、前記カムスリーブは、前記カムスリーブを回転操作するための操作部を有しており、前記第1及び第2のカムは、前記第1の方向において、前記第1の伝達部材が停止しつつ前記第2の伝達部材が直動する第1の区間と、前記第1の方向において、前記第1の伝達部材及び前記第1の伝達部材が直動する第2の区間と、を有することを特徴とする固定装置。請求項11に記載の固定装置であって、前記第1又は第2のカムの少なくとも一方は、前記第2の区間の終点近傍に、前記第1又は前記第2のカムフォロアの少なくとも一方が乗り越える突起を有することを特徴とする固定装置。請求項11又は12に記載の固定装置であって、前記操作部は、前記カムスリーブを回転させる操作具が嵌合する操作嵌合部と、前記操作嵌合部と実質的に同軸状に形成され、インタロック用ネジが螺合する雌ネジ部と、を有しており、前記雌ネジ部に螺合した前記インタロック用ネジは、前記第2の伝達部材に当接することを特徴とする固定装置。請求項11~13の何れかに記載の固定装置であって、前記ハウジングと前記フックとの間に介在して、前記第1の方向に沿った弾性力を有する弾性体を備えていることを特徴とする固定装置。上記の技術では、ピンエレクトロニクスカードのコネクタがテストヘッド側のコネクタに対して下方から嵌合している。そのため、ピンエレクトロニクスカードの自重やコネクタの反力等によってピンエレクトロニクスカードが下方に移動して、コネクタの嵌合が弱くなるおそれがある。特に、高周波信号を用いた試験では、コネクタの嵌合が弱まると、試験精度が低下してしまう。本発明が解決しようとする課題は、基板を迅速に固定することが可能な電子部品試験装置及び固定装置を提供することである。[1]本発明に係る電子部品試験装置は、第1のコネクタを有するテストヘッドと、第1の方向に沿って前記第1のコネクタに嵌合する第2のコネクタを有し、前記テストヘッドの内部に収容される基板と、前記テストヘッドに前記基板を固定する固定装置と、を備えており、前記固定装置は、前記テストヘッドの凹部に係合するフックと、前記フックを前記凹部に対して相対的に進退させる進退手段と、前記第1の方向における前記凹部に対する前記フックの相対位置を調整する調整手段と、前記進退手段と前記調整手段とを操作する単一の操作部と、を有することを特徴とする。[2]上記発明において、前記進退手段は、前記第1の方向を中心とした第1の回転運動を、前記第1の方向に対して実質的に直交する第2の方向を中心とした第2の回転運動に変換することで、前記フックを前記第2の方向を中心として回動させ、前記調整手段は、前記第1の回転運動を、前記第1の方向に沿った直線運動に変換することで、前記フックを前記第1の方向に沿って直動させ、前記操作部は、前記進退手段及び前記調整手段に前記第1の回転運動を入力してもよい。[3]上記発明において、前記固定装置は、前記基板と前記フックとの間に介在し、前記第1の方向に沿った弾性力を持つ弾性体を有してもよい。[4]本発明に係る電子部品試験装置は、第1のコネクタを有するテストヘッドと、第1の方向に沿って前記第1のコネクタに嵌合する第2のコネクタを有し、前記テストヘッドの内部に収容される基板と、前記テストヘッドに前記基板を固定する固定装置と、を備え、前記固定装置は、前記テストヘッドの凹部に係合するフックと、第1のカム及び第2のカムを側面に有すると共に、前記第1の方向に沿った軸心を中心として回転可能であるカムスリーブと、前記第1のカムに案内される第1のカムフォロアを有すると共に、前記第1の方向に沿って直動可能である第1の伝達部材と、前記第2のカムに案内される第2のカムフォロアを有すると共に、前記第1の方向に沿って直動可能である第2の伝達部材と、前記第1の方向に対して実質的に直交する第2の方向に沿って配置され、前記フックを前記第1の伝達部材に回動可能に連結する第1のピンと、前記第2の方向に沿って配置され、前記フックを前記第2の伝達部材に回動可能に連結する第2のピンと、前記基板に固定されていると共に、前記第1の方向に沿って前記第1のピンを案内する第3のカムと、前記第1の方向に沿って前記第2のピンを案内する第4のカムと、を有するハウジングと、を有し、前記カムスリーブは、前記カムスリーブを回転操作するための操作部を有しており、前記第1及び第2のカムは、前記第1の方向において、前記第1の伝達部材が停止しつつ、前記第2の伝達部材が直動する第1の区間と、前記第1の方向において、前記第1の伝達部材及び前記第2の伝達部材が直動する第2の区間と、を有することを特徴とする。[5]上記発明において、前記第1又は第2のカムの少なくとも一方は、前記第2の区間の終点近傍に、前記第1又は第2のカムフォロアの少なくとも一方が乗り越える突起を有してもよい。[6]上記発明において、前記操作部は、前記カムスリーブを回転させる操作具が嵌合する操作嵌合部と、前記操作嵌合部と実質的に同軸状に形成され、インタロック用ネジが螺合する雌ネジ部と、を有しており、前記雌ネジ部に螺合した前記インタロック用ネジは、前記第1の伝達部材に当接してもよい。[7]上記発明において、前記固定装置は、前記ハウジングと前記フックとの間に介在し、前記第1の方向に沿った弾性力を持つ弾性体を有してもよい。[8]上記発明において、前記基板は、前記第1の方向に沿って突出するガイドピンを有し、前記テストヘッドは、前記ガイドピンが挿入可能なガイド穴が形成された受け部を有し、前記ガイドピンは、前記ガイド穴に挿入される挿入部と、前記受け部に当接する当接部と、を有してもよい。[9]本発明に係る固定装置は、基板を電子部品試験装置に固定する固定装置であって、前記電子部品試験装置の凹部に係合するフックと、前記フックを前記凹部に対して相対的に進退させる進退手段と、第1の方向における前記凹部に対する前記フックの相対位置を調整する調整手段と、前記進退手段と前記調整手段とを操作する単一の操作部と、を有することを特徴とする。[10]本発明に係る固定装置は、基板を電子部品試験装置に固定する固定装置であって、フックと、第1の方向を中心とした第1の回転運動を、前記第1の方向に対して実質的に直交する第2の方向を中心とした第2の回転運動に変換することで、前記フックを前記第2の方向を中心として回動させる第1の変換機構と、前記第1の回転運動を、前記第1の方向に沿った直線運動に変換することで、前記フックを前記第1の方向に沿って直動させる第2の変換機構と、前記第1の変換機構及び前記第2の変換機構に前記第1の回転運動を入力する単一の操作部と、を備えたことを特徴とする。[11]本発明に係る固定装置は、基板を電子部品試験装置に固定する固定装置であって、フックと、第1のカム及び第2のカムを側面に有すると共に、第1の方向に沿った軸心を中心として回転可能であるカムスリーブと、前記第1のカムに案内される第1のカムフォロアを有すると共に、前記第1の方向に沿って直動可能である第1の伝達部材と、前記第2のカムに案内される第2のカムフォロアを有すると共に、前記第1の方向に沿って直動可能である第2の伝達部材と、前記第1の方向に対して実質的に直交する第2の方向に沿って配置され、前記フックを前記第1の伝達部材に回動可能に連結する第1のピンと、前記第2の方向に沿って配置され、前記フックを前記第2の伝達部材に回動可能に連結する第2のピンと、前記第1の方向に沿って前記第1のピンを案内する第3のカムと、前記第1の方向に沿って前記第2のピンを案内する第4のカムと、を有するハウジングと、を備え、前記カムスリーブは、前記カムスリーブを回転操作するための操作部を有しており、前記第1及び第2のカムは、前記第1の方向において、前記第1の伝達部材が停止しつつ前記第2の伝達部材が直動する第1の区間と、前記第1の方向において、前記第1の伝達部材及び前記第2の伝達部材が直動する第2の区間と、を有することを特徴とする。[12]上記発明において、前記第1又は第2のカムの少なくとも一方は、前記第2の区間の終点近傍に、前記第1又は前記第2のカムフォロアの少なくとも一方が乗り越える突起を有してもよい。[13]上記発明において、前記操作部は、前記カムスリーブを回転させる操作具が嵌合する操作嵌合部と、前記操作嵌合部と実質的に同軸状に形成され、インタロック用ネジが螺合する雌ネジ部と、を有しており、前記雌ネジ部に螺合した前記インタロック用ネジは、前記第1の伝達部材に当接してもよい。[14]上記発明において、前記固定装置は、前記ハウジングと前記フックとの間に介在して、前記第1の方向に沿った弾性力を有する弾性体を備えてもよい。本発明では、フックを凹部に対して進退させる進退手段と、第1の方向における凹部に対するフックの相対位置を調整する調整手段と、を単一の操作部によって操作する。このため、単一の操作部を操作することでフックの進退動作と調整動作の両方を行うことができるので、基板を迅速に固定することができる。また、本発明では、操作部を介してカムスリーブを回転操作することで、第1及び第2のカムの第1の区間では、フックが第1のピンを支点として回動するのに対し、第1及び第2のカムの第2の区間では、フックが第1の方向に沿って直動する。このため、カムスリーブの一回の回転操作で、フックの進退動作と調整動作を連続して行うことができるので、基板を迅速に固定することができる。また、本発明では、単一の操作部を介して第1の変換機構と第2の変換機構に第1の回転運動を入力して、第1の変換機構によって当該第1の回転運動を第2の回転運動に変換することでフックを回動させると共に、第2の変換機構によって当該第1の回転運動を直線運動に変換することでフックを直動させる。このため、単一の操作部を操作することで、フックの進退動作と調整動作の両方を行うことができるので、基板を迅速に固定することができる。以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は本実施形態における電子部品試験装置を示す断面図、図2は図1のIIII線に沿ったテストヘッドの断面図、図3は図2のIIIIII線に沿ったテストヘッドの断面図である。本実施形態における電子部品試験装置1は、図1に示すように、被試験電子部品DUT:DeviceUnderTestが電気的に接続されるテストヘッド10と、ケーブル41を介してテストヘッド10に電気的に接続された制御装置メインフレーム40と、を備えている。テストヘッド10は、ハンドラ50の下部に形成された空間51に交換可能に配置されている。このテストヘッド10の上部には、テスト時にDUTが電気的に接続されるソケット11が設けられている。このソケット11は、ハンドラ50に形成された開口52を介して、ハンドラ50の内部に入り込んでいる。ハンドラ50は、テストヘッド10上にDUTを順次搬送し、当該DUTをソケット11に押し付け、電子部品試験装置1はこの状態でDUTの試験を実行する。因みに、試験後のDUTはハンドラ50によって試験結果に従って分類される。ハンドラ50は、DUTに高温又は低温の熱ストレスを印加することが可能となっており、電子部品試験装置1は、DUTに熱ストレスを印加した状態或いは常温の状態で、当該DUTの試験を実行する。ハンドラ50としては、例えば、ヒートプレートタイプやチャンバタイプ等の公知のハンドラを用いることができる。なお、本実施形態では、テストヘッド10が下方からハンドラ50に装着されているが、テストヘッドをハンドラに装着する方向は特に限定されない。例えば、テストヘッドを側方からハンドラに装着してもよいし、テストヘッドを上方からハンドラに装着してもよい。また、本実施形態における電子部品試験装置1は本発明における電子部品試験装置の一例に過ぎず、本発明における電子部品試験装置は、テストヘッド10、制御装置40、又はハンドラ50の少なくとも一つを含む概念である。ソケット11は、DUTの端子に電気的に接触するコンタクトピン不図示を多数有しており、図2及び図3に示すように、ソケットボード12に実装されている。そして、このソケットボード12は、ケーブル13等を介してマザーボード14に電気的に接続されている。なお、マザーボード14に代えて、複数の第1のコネクタ15を枠状のコネクタホルダ141によって保持してもよく、この場合には、それぞれの第1のコネクタ15に、ケーブル13が直接接続されている。また、本実施形態では、例えば10個のソケット11がテストヘッド10上に2行5列に配置されているが、ソケットの数や配置は特に限定されない。テストヘッド10の内部には、DUTを試験する複数のピンエレクトロニクスカード20が収容されている。このピンエレクトロニクスカード20は、第1及び第2のコネクタ15,23等を介して、上述のマザーボード14に電気的に接続されている。このピンエレクトロニクスカード20は、ソケット11やマザーボード14を介して、DUTとの間で試験信号を授受することで、DUTを試験する。なお、テストヘッド10内に収容されているピンエレクトロニクスカード20の枚数や配置は特に限定されない。また、本実施形態におけるピンエレクトロニクスカード20が本発明における基板の一例に相当する。また、ピンエレクトロニクスカード20は、下側コネクタ25を介して、テストヘッド10の底部に設けられたバックボード17に電気的に接続されており、このバックボード17は、ケーブル41を介して制御装置40に接続されている。なお、バックボード17に代えて、ピンエレクトロニクスカード20の下側コネクタ25を、ケーブル41の端部のコネクタに嵌合させることで、ピンエレクトロニクスカード20を制御装置40に電気的に接続してもよい。制御装置40は、例えば、プログラムを実行するコンピュータであって、電子部品試験装置1の全体を制御する。この制御装置40は、プログラムに応じてテストヘッド10内のそれぞれのピンエレクトロニクスカード20と通信して、それぞれのピンエレクトロニクスカード20を制御する。以下に、ピンエレクトロニクスカード20の構成について、図4~図7を参照しながら詳細に説明する。図4及び図5は本実施形態におけるテストヘッドの内部を示す断面図、図6は図4のVIVI線に沿った断面図、図7は図5のVIIVII線に沿った断面図である。本実施形態におけるピンエレクトロニクスカード20は、図4及び図5に示すように、試験用デバイス21と、ボード本体22と、を備えている。このピンエレクトロニクスカード20は、図4及び図5に示すように、テストヘッド10の下方からテストヘッド10内に挿入されることで、テストヘッド10内に収容されるようになっている。試験用デバイス21の具体例としては、例えば、試験信号を発生したりDUTからの出力信号を期待値と比較するためのLSI等が組み込まれた高周波回路や、試験用の電力をDUTに供給するためのスイッチングレギュレータ等が組み込まれた電源回路等を例示することができる。この試験用デバイス21は、ボード本体22の両面に実装されている。なお、ボード本体22に実装される試験用デバイス21の数や配置は特に限定されない。ボード本体22は、例えば、ガラスエポキシ樹脂、ガラス、セラミックス等から構成されるプリント配線板を例示することができる。なお、特に図示しないが、ボード本体22の両側にはボードガイドが取り付けられており、このボードガイドをテストヘッド10内に設けられた案内溝不図示内でスライドさせることで、図4及び図5に示すように、テストヘッド10内にピンエレクトロニクスカード20を挿入する。ボード本体22の上部には、第2のコネクタ23が実装されていると共に、ガイドピン24が取り付けられている。第2のコネクタ23は、ケーブル13を介してソケットボード12に電気的に接続された第1のコネクタ15に嵌合可能となっている。一方、ガイドピン24は、第1及び第2のコネクタ15,23の嵌合方向第1の方向、図中のZ方向に沿って突出しており、図6及び図7に示すように、テーパ状の先端を有する挿入部241と、当該挿入部241よりも大径の当接部242と、を有している。テストヘッド10において第1のコネクタ15を保持するコネクタホルダ141には、ガイド穴142が形成されており、ガイドピン24の挿入部241は、このガイド穴142に挿入可能となっている。これに対し、当接部242は、ガイド穴142の内径よりも大きな外径を有しており、コネクタホルダ141の下面143に当接可能となっている。ピンエレクトロニクスカード20がテストヘッド10内に挿入されると、ガイドピン24の挿入部241がガイド穴142に挿入されることで、第2のコネクタ23が第1のコネクタ15に対して位置決めされる。さらに、ピンエレクトロニクスカード20がテストヘッド10内に押し込まれると、第2のコネクタ23が第1のコネクタ15に嵌合すると共に、ガイドピン24の当接部242がコネクタホルダ141の下面143に当接して、第1及び第2のコネクタ15,23の適切な嵌合長が確保される。さらに、本実施形態では、図4及び図5に示すように、ピンエレクトロニクスカード20の下部の両端に、固定装置30が取り付けられている。以下に、図8~図14を参照しながら固定装置について詳細に説明する。図8~図10は本実施形態における固定装置を示す図、図11は図9のXIXI線に沿った断面図、図12及び図13は本実施形態における固定装置の分解斜視図、図14は本実施形態における第1及び第2のカムの展開図、図15A及び図15Bは本実施形態における固定装置のインタロック機構を示す断面図である。本実施形態における固定装置30は、図8~図13に示すように、ハウジング31と、フック32と、第1のピン33と、第2のピン34と、第1の伝達部材35と、第2の伝達部材36と、カムスリーブ37と、コイルバネ38と、インタロック用ネジ39と、を備えている。この固定装置30は、カムスリーブ37を回転操作することで、フック32を出し入れさせる動作と、Z方向におけるフック32の位置を調整する動作と、を行うことが可能となっている。なお、ボルト不図示等によってハウジング31がボード本体22の下側の両端に固定されることで、固定装置30がボード本体22に取り付けられている。フック32は、図12及び図13に示すように、一対の爪部321と、本体部322と、を有している。爪部321は、本体部322から突出しており、テストヘッド10のフレーム16の溝161図5及び図16C参照に係合することが可能となっている。また、本体部322には、2つの貫通孔323,324が形成されている。第1の貫通孔323には第1のピン33がX方向第2の方向に沿って挿入され、第2の貫通孔324には第2のピン34がX方向に沿って挿入されている。第1の伝達部材35は、図13に示すように、連結部351と、連結部351から-Z方向に延在するシャフト部353と、シャフト部353に先端に取り付けられたヘッド部354と、を有している。連結部351には、第1のピン33が挿入された貫通孔352が形成されており、フック32は、第1のピン33を介して、第1の伝達部材35の連結部351に回動可能に連結されている。第2の伝達部材36も、連結部361と、連結部361から-Z方向に延在する筒部363と、を有している。連結部361には、第2のピン34が挿入された貫通孔362が形成されており、フック32は、第2のピン34を介して、第2の伝達部材36の連結部361に回動可能に連結されている。図12に示すように、フック32と第1及び第2の伝達部材35,36の連結部351,361は、ハウジング31の第1の収容部311に収容されている。第1のピン33は第1の収容部311の第1のスリット312内に摺動可能に挿入され、第2のピン34も第1の収容部311の第2のスリット313内に摺動可能に挿入されている。これらの第1及び第2のスリット312,313は、Z方向に沿って形成されている。一方、第1の伝達部材35のシャフト部353は、図11~図13に示すように、第2の伝達部材36の筒部363の内孔364を貫通しており、そのシャフト部353の先端に取り付けられたヘッド部354は、筒部363から露出してカムスリーブ37の内孔371内に位置している。このヘッド部354は、径方向に突出した一対の第1のカムフォロア355を有している。第2の伝達部材36の筒部363の先端部分も、カムスリーブ37の内孔371内に位置しており、径方向に突出した一対の第2のカムフォロア365を有している。なお、第1の伝達部材35は、Z方向において第2の伝達部材36に対して相対的に移動することが可能となっており、第2の伝達部材36もZ方向においてカムスリーブ37に対して相対的に移動することが可能となっている。カムスリーブ37は、Z方向に沿った軸心を中心として回転可能な有底の円筒部材であり、その側面372には第1のカム373と第2のカム375が形成されている。また、このカムスリーブ37の底部には、当該カムスリーブ37を回転させるための工具例えば六角レンチ等が嵌合する操作嵌合孔377が形成されている。さらに、本実施形態では、図8や図11に示すように、操作嵌合孔377を横断する予備溝371aが形成されている。カムスリーブ37を回転させるための専用の工具がなくても、この予備溝377aにドライバやコイン等を嵌合させることで、カムスリーブ37を回転させることが可能となっている。カムスリーブ37の第1のカム373には、第1の伝達部材35の第1のカムフォロア355が摺動可能に挿入されている。一方、カムスリーブ37の第2のカム375には、第2の伝達部材36の第2のカムフォロア365が摺動可能に挿入されている。本実施形態における第1及び第2のカム373,375は、図14に示すように、2つの区間SC1,SC2を有している。第1の区間SC1では、第1のカム373が周方向に沿って延在しているのに対し、第2のカム375は周方向に対してZ方向に向かって傾斜している。このため、この第1の区間SC1においてカムスリーブ37を同図中の矢印方向に回転させると、第1のカムフォロア355はZ方向に変位しないため、第1の伝達部材35はZ方向に移動しないのに対し、第2のカムフォロア365はZ方向に変位するため、第2の伝達部材36はZ方向に移動する。これにより、フック32が第1のピン33を支点として回動して、爪部321がハウジング31から突き出る。これに対し、第2の区間SC2では、第1のカム331も第2のカム332も-Z方向に向かって実質的に平行に傾斜している。このため、この第2の区間SC2においてカムスリーブ37を同図中の矢印方向に回転させると、第1及び第2のカムフォロア355,365が-Z方向に変位して、第1及び第2の伝達部材35,36が-Z方向に移動するので、爪部321を突き出したままフック32が-Z方向に移動する。また、本実施形態では、第1のカム373における第2の区間SC2の終点近傍に、-Z方向第1のコネクタ15と第2のコネクタ23とを取り外す方向に突出した突起374が形成されており、この突起374で第1のカム373が屈曲している。第1のカム373において第2の区間SC2の終点に達した第1のカムフォロア355は、この突起374を乗り越えるので、第2の区間SC2を戻ろうとする第1のカムフォロア355をロックすることができる。また、作業者は、第1のカムフォロア355が突起374を乗り越えた際の感覚で、第1のカムフォロア355が第2の区間SC2の終点に達したことを把握することができる。同様に、第2のカム375における第2の区間SC2の終点近傍にも、-Z方向に突出した突起376が形成されており、第2のカムフォロア365がこの突起376を乗り越えることで、第2の区間SC2を戻ろうとする第2のカムフォロア365をロックすることができる。なお、この突起374,376を、第1又は第2のカム373,375の一方のみに形成してもよい。このカムスリーブ37は、図11に示すように、ハウジング31の連通孔314を介して第2の収容部315内に位置しており、当該第2の収容部315内に収容されたコイルばね38内に挿入されている。また、カムスリーブ37の先端に形成された溝379には、スナップリングC型止め輪381が嵌め込まれており、ワッシャ382を介してコイルばね38の端部がスナップリング381に当接している。このコイルばね38は、例えば、扁平線を素材として用いた圧縮コイルばねであり、第2の収容部315の一方の壁316とワッシャ382との間に圧縮された状態で介装されている。なお、コイルばね38に代えて、ゴム、エラストマ、スポンジ等の弾性体を用いてもよい。なお、フック32がテストヘッド10のフレーム16の溝161に係合していない状態では、コイルばね38の弾性力によって、カムスリーブ37の先端がハウジング31の第2の収容部315の他方の壁317に当接している。この他方の壁317には、操作孔318が形成されており、この操作孔318を介して、カムスリーブ37の操作嵌合孔377に工具を接近させることが可能となっている。これに対し、フック32がテストヘッド10のフレーム16の溝161に係合すると、カムスリーブ37の先端がハウジング31の第2の収容部315の壁317から離れるので、コイルばね38によってZ方向に向かう弾性力がハウジング31を介してピンエレクトロニクスカード20に付与される図16C参照。さらに、本実施形態では、図15A及び図15Bに示すように、カムスリーブ37の操作嵌合孔377と実質的に同軸状に雌ネジ部378が形成されており、この雌ネジ部378には、インタロック用ネジ39が螺合することが可能となっている。なお、このインタロック用ネジ39は、ストラップ391を介してハウジング31に取り付けられている。図15Bに示すように、カムスリーブ37の雌ネジ部378にインタロック用ネジ39を螺合させると、このインタロック用ネジ39が操作嵌合孔377を覆ってしまうため、誤って工具を操作嵌合孔377に嵌合させて操作してしまうことを防止することができる。また、雌ネジ部378に螺合したインタロック用ネジ39は、カムスリーブ37内に位置する第1の伝達部材35の先端面に当接するので、第1及び第2のカムフォロア352,363が突起374,376を乗り越えて第2の区間SC2を戻ってしまうのを防止することもできる。以下に、本実施形態における固定装置の動作について、図4、図5、及び図16A~図16Cを参照しながら説明する。図16A~図16Cは本実施形態における固定装置の動作を示す図である。なお、固定装置の動作の理解を容易にするために、図16A~図16Cにおいて、フック32及び伝達部材35,36と、カム355,356の展開図と、カムスリーブ37及びコイルばね38と、を分けて図示している。先ず、図4に示すように、ピンエレクトロニクスカード20をテストヘッド10内に下方から挿入する。この際、図16Aに示すように、フック32がテストヘッド10のフレーム16と干渉するのを防止するために、フック32をハウジング31内に閉じておく。具体的には、同図に示すように、第1及び第2のカムフォロア355,365を第1の区間SC1の始点にそれぞれ位置させておく。そして、ピンエレクトロニクスカード20のガイドピン24の挿入部241がコネクタホルダ141のガイド孔142に挿入されると、第2のコネクタ23が第1のコネクタ15に対して位置決めされる。さらに、ピンエレクトロニクスカード20をテストヘッド10内に押し込むと、図5に示すように、第2のコネクタ23が第1のコネクタ15と嵌合すると共に、ガイドピン24の当接部242がコネクタホルダ141の下面143に突き当たる。これにより、第1及び第2のコネクタ15,23の適切な嵌合長が確保される。次いで、固定装置30の操作嵌合部377に工具を嵌合させて、工具によってカムスリーブ37を回転させることで、図16Bに示すように、第1及び第2のカムフォロア355,365を第1の区間SC1の終点まで移動させる。これにより、第1の伝達部材35はZ方向に移動しないのに対し、第2の伝達部材36はZ方向に移動して、フック32が第1のピン33を支点として回動するので、爪部321がハウジング31から突き出る。すなわち、本実施形態では、カムスリーブ37に入力されたZ方向を中心とした回転運動を、X方向を中心とした回転運動に変換することで、フック32の爪部321をハウジング31から突出させる。そして、工具によってカムスリーブ37をさらに回転させて、図16Cに示すように、第1及び第2のカムフォロア355,356を第2の区間SC2の終点まで移動させる。これにより、第1及び第2の伝達部材35,36が-Z方向に同時に移動するので、爪部321を突き出したままフック32が-Z方向に移動する。すなわち、本実施形態では、カムスリーブ37に入力されたZ方向を中心とした回転運動を、-Z方向への直動運動に変換することで、フック32を-Z方向に移動させる。この-Z方向の移動によって、先ず、フック32がテストヘッド10のフレーム16の溝161に係合する。そして、フック32が-Z方向にさらに移動することで、図16Cに示すように、カムスリーブ37の先端とハウジング31の第2の壁317との間に若干のクリアランスが生じて、コイルばね38の弾性力によって、第1及び第2のコネクタ15,23が嵌合する方向に向かってピンエレクトロニクスカード20が付勢される。第1及び第2のカムフォロア355,365は、第2の区間SC2の終点に到達すると、突起374,376によってロックされる。次いで、カムスリーブ37の雌ネジ部378にインタロック用ネジ39を螺合させることで、ピンエレクトロニクスカード20の固定作業が完了する。因みに、フック32をハウジング31内に収容する場合には、カムスリーブ37を上記とは反対の方向図16A~図16C中の矢印とは反対の方向に回転させればよい。以上のように、本実施形態では、フック32をテストヘッド10のフレーム16の溝161に対して進退させる動作と、Z方向における溝161に対するフック32の相対位置を調整する動作とを、カムスリーブ37に形成された単一の操作嵌合孔377を介して操作する。このように、単一の操作嵌合孔377を介してフック32の進退動作と調整動作の両方を行うことができるので、ピンエレクトロニクスカード20をテストヘッド10に迅速に固定することができる。また、本実施形態では、単一の嵌合操作孔377を介してカムスリーブ37を回転操作するカムスリーブ37に第1の回転運動を入力することで、第1及び第2のカム373,375の第1の区間SC1では、フック32が第1のピン33を支点として回動するすなわち第1の回転運動を第2の回転運動に変換するのに対し、第1及び第2のカム373,375の第2の区間SC2では、フック32がZ方向に沿って直動するすなわち第1の回転運動を直線運動に変換する。このため、カムスリーブ37の一回の回転操作で、フック32の進退動作と調整動作とを連続して行うことができるので、テストヘッド10にピンエレクトロニクスカード20を迅速に固定することができる。一般に電子部品試験装置のテストヘッド内には数十枚例えば50枚程度のピンエレクトロニクスカードが収容されており、個々のピンエレクトロニクスカードには複数の固定装置が取り付けられている。そのため、それぞれの固定装置の操作時間を短縮することで、テストヘッド一台当たりの作業時間を累積的に大幅に削減することができる。また、本実施形態では、テストヘッド10のフレーム16の溝161にフック32を係合させると共に、当該フック32とピンエレクトロニクスカード20との間にコイルばね38を介在させて、ピンエレクトロニクスカード20を第1及び第2のコネクタ15,23の嵌合方向に付勢する。このため、ピンエレクトロニクスカード20の自重や第1及び第2のコネクタ15,23の反力等によって、第1及び第2のコネクタ15,23の嵌合が弱まるのを防止することができ、第1及び第2のコネクタ15,23の適切な嵌合長を維持することができる。特に、高周波信号を用いた試験では、第1及び第2のコネクタ15,23の適切な嵌合を維持することで、試験の精度向上を図ることができる。また、本実施形態では、フック32とピンエレクトロニクスカード20との間にコイルばね38が介在しているので、テストヘッド10やピンエレクトロニクスカード20の構成部品が有する加工誤差や組立誤差を、コイルばね38によって吸収することができる。また、本実施形態では、ガイドピン24及びガイド孔142が、コネクタ23,15の近傍にそれぞれ設けられており、ガイドピン24の当接部242がガイド孔142の周囲の面143に当接することで、コネクタ23,15の適切な嵌合長を確保している。このため、コネクタ23,15の嵌合長が、テストヘッド10やピンエレクトロニクスカード20の構成部品の加工精度や組立精度から受ける影響を小さくすることができ、第1及び第2のコネクタ15,23の高精度な位置決めが可能となる。なお、以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。上述の実施形態では、テストヘッド10にピンエレクトロニクスカード20を固定する固定装置に本発明を適用した例を説明したが、特にこれに限定されない。例えば、制御装置40内に基板を固定する固定装置に本発明を適用してもよい。或いは、ハンドラ50内に基板を固定する固定装置に本発明を適用してもよい。また、半導体ウェハに作り込まれた電子部品を試験する半導体ウェハ試験装置電子部品試験装置に、本発明を適用してもよい。この場合には、本発明の電子部品試験装置は、テストヘッド、制御装置、又はプローバの少なくとも一つを含む概念である。"