コンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムにおいて、CTビーム送出部100、ディテクター200、及び試料回転手段310が設置構成される本体700と、前記本体の一側に設置構成される第1支持部材710に設置構成されて、CTビームを送出させるCTビーム送出部100と、前記本体の他側に設置構成される第2支持部材720に設置構成されて、前記CTビーム送出部を通じて送出されるCTビームを獲得するディテクター200と、前記CTビーム送出部とディテクターとの間に設置構成されて、標準試料及び測定試料を回転させる試料回転手段310と、前記本体に設置構成されて、前記試料回転手段を回転させるために動作する試料回転モーター420と、前記試料回転モーターに動作信号を送り、前記CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させ、前記ディテクターによって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得して標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を獲得した後、断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して、測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して、測定試料の空隙率を計算する中央制御手段500と、を含むことを特徴とするコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム。CTビーム送出部100及びディテクター200が設置構成される本体700と;前記本体の一側に設置構成される第1支持部材710に設置構成されて、CTビームを送出させるCTビーム送出部100と;前記本体の他側に設置構成される第2支持部材720に設置構成されて、前記CTビーム送出部を通じて送出されるCTビームを獲得するディテクター200と;を含んで構成されるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムにおいて、前記本体内の前記CTビーム送出部とディテクターとの間に設置構成されて、標準試料及び測定試料を回転させる試料回転手段310と、前記本体に設置構成されて、前記試料回転手段を回転させるために動作する試料回転モーター420と、前記試料回転モーターに動作信号を送り、前記CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させ、前記ディテクターによって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得して、標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を獲得した後、断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して、測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して、測定試料の空隙率を計算する中央制御手段500と、を含むことを特徴とするコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム。前記試料回転手段310は、標準試料300aと測定試料300bを収容するために内部空間が形成された収容部330が結合されている試料ホルダー320が、上側に設置構成されている請求項1または2に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム。前記試料回転手段310は、標準試料300aと測定試料300b中でいずれか一つを収容するために下部に形成される下部試料室331と、標準試料300aと測定試料300b中で前記下部試料室に収容されなかった他の一つを収容するために上部に形成される上部試料室332と、前記下部試料室と上部試料室との間に形成されて、上部と下部を分離させるための隔膜330aとで成り立った収容部330が結合されている試料ホルダー320が、上側に設置されている請求項1または2に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム。前記収容部で、標準試料が収容される空間の内径は、測定試料が収容される空間の内径より広い請求項3または4に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム。前記中央制御手段500は、前記試料回転モーターに動作信号を送り、前記CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させる動作信号送出部510と、前記ディテクター200によって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得するイメージ獲得部520と、前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージを保存するイメージ保存部530と、標準試料及び測定試料の空隙を測定するためにカウント範囲を獲得するカウント範囲獲得部540と、標準試料及び測定試料の断面イメージ内の特定部分の空隙グレイレベル範囲を獲得するための空隙グレイレベル範囲獲得部550と、前記カウント範囲獲得部540によって獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部550によって獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて、標準試料及び測定試料の断面イメージのカウント範囲内の空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数をカウントする空隙ピクセル数カウント部560と、前記空隙ピクセル数カウント部560によってカウントされた空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数とカウント範囲内のピクセル数を参照して、空隙率を計算する空隙率計算部570と、前記イメージ獲得部によって獲得された標準試料の断面イメージから空隙率を計算するためにカウント範囲獲得部を通じて獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部を通じて獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて、測定試料の断面イメージから空隙率を計算するようにカウント範囲獲得部と空隙グレイレベル範囲獲得部に獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を再び送出させ、空隙ピクセル数カウント部にピクセル数をカウントするようにカウント信号を送出してカウントされたピクセル数を再び空隙計算部に送出して空隙率を計算するようにするための測定試料進行処理部580と、前記それぞれの部間の信号流れを制御する中央制御部590と、を含む請求項1または2に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム。前記中央制御手段500は、前記試料回転モーターに動作信号を送り、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させる動作信号送出部510と、前記ディテクター200によって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得するイメージ獲得部520と、前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージを保存するイメージ保存部530と、標準試料及び測定試料の空隙を測定するためにカウント範囲を獲得するカウント範囲獲得部540と、標準試料及び測定試料の断面イメージ内の特定部分の空隙グレイレベル範囲を獲得するための空隙グレイレベル範囲獲得部550と、前記カウント範囲獲得部540によって獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部550によって獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて標準試料及び測定試料の断面イメージのカウント範囲内の空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数をカウントする空隙ピクセル数カウント部560と、前記空隙ピクセル数カウント部560によってカウントされた空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数とカウント範囲内のピクセル数を参照して、空隙率を計算する空隙率計算部570と、前記イメージ獲得部によって獲得された標準試料の断面イメージから空隙率を計算するためにカウント範囲獲得部を通じて獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部を通じて獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて、測定試料の断面イメージから空隙率を計算するようにカウント範囲獲得部と空隙グレイレベル範囲獲得部に獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を再び送出させ、空隙ピクセル数カウント部にピクセル数をカウントするようにカウント信号を送出してカウントされたピクセル数を再び空隙計算部に送出して空隙率を計算するようにするための測定試料進行処理部580と、事前に計算された標準試料の空隙グレイレベル範囲と空隙率が保存されている事前標準試料空隙率保存部595と、前記空隙率計算部によって計算された標準試料の空隙率と前記事前標準試料空隙率保存部595に事前に保存された標準試料の空隙率が誤差範囲にあたらない場合に、空隙グレイレベル範囲を再算定するように再算定信号を生成させるグレイレベル再算定部596と、前記それぞれの部間の信号流れを制御する中央制御部590と、を含む請求項1または2に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム。前記中央制御手段500は、カウント範囲内のピクセル数を計算して、グレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して前記計算されたピクセル数を参照して空隙率を各断面イメージごとに計算する請求項1または2に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム。前記事前標準試料空隙率保存部595に、保存された空隙率は浸水法、ガス法、水銀法によって事前に計算された値打ちである請求項7に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム。前記標準試料は、測定試料と等しい成分の物質である請求項1または2に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム。コンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法において、動作信号送出部510によって試料回転モーターに動作信号を送って試料回転手段310を回転させ、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させる動作信号送出段階S100と、イメージ獲得部520によってディテクターから分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得する断面イメージ獲得段階S200と、前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージを、イメージ保存部530に保存する断面イメージ保存段階S300と、前記イメージ保存部に保存された標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を中央制御手段で獲得した後、中央制御手段によって断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して、測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して、測定試料の空隙率を計算する測定試料空隙率計算段階S400と、を含むことを特徴とするコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法。コンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法において、動作信号送出部510によって試料回転モーターに動作信号を送って試料回転手段310を回転させ、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させる動作信号送出段階S100と、イメージ獲得部520によってディテクターから分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得する断面イメージ獲得段階S200と、前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージを、イメージ保存部530に保存する断面イメージ保存段階S300と、前記イメージ保存部に保存された標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を中央制御手段で獲得した後、中央制御手段によって断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して、測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して、測定試料の空隙率を計算する測定試料空隙率計算段階S400と、中央制御手段によって計算された標準試料の空隙率と事前標準試料空隙率保存部595に事前に保存された標準試料の空隙率が誤差範囲にあたらない場合に、中央制御手段で空隙グレイレベル範囲を再算定するように再算定信号を生成させるグレイレベル再算定段階S500と、を含むことを特徴とするコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法。前記測定試料空隙率計算段階S400は、カウント範囲獲得部540によって標準試料の空隙を測定するためにカウント範囲を獲得するカウント範囲獲得段階S410と、空隙グレイレベル範囲獲得部550によって標準試料の断面イメージ内の特定部分の空隙グレイレベル範囲を獲得する空隙グレイレベル範囲獲得段階S420と、カウント範囲獲得部540によって獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部550によって獲得された空隙グレイレベル範囲を空隙ピクセル数カウント部560で受けて、標準試料の断面イメージのカウント範囲内の空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数を、空隙ピクセル数カウント部によってカウントする標準試料空隙ピクセル数カウント段階S430と、空隙率計算部570によって空隙ピクセル数カウント部560からカウントされた空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数とカウント範囲内のピクセル数を参照して、標準試料の空隙率を計算する標準試料空隙率計算段階S440と、測定試料進行処理部580によってイメージ獲得部で獲得された標準試料の断面イメージから空隙率を計算するためにカウント範囲獲得部を通じて獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部を通じて獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて、測定試料の断面イメージから空隙率を計算するようにカウント範囲獲得部と空隙グレイレベル範囲獲得部に獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を再び送出させ、空隙ピクセル数カウント部にピクセル数をカウントするようにカウント信号を送出してカウントされたピクセル数を再び空隙計算部に送出して、測定試料の空隙率を計算する測定試料空隙率計算段階S450と、を含む請求項11または12に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法。前記中央制御手段500は、カウント範囲内のピクセル数を計算し、グレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して前記計算されたピクセル数を参照して、空隙率を各断面イメージごとに計算する請求項11または12に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法。前記事前標準試料空隙率保存部595に、保存された空隙率は浸水法、ガス法、水銀法によって事前に計算された値打ちである請求項12に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法。前記標準試料は、測定試料と等しい成分の物質である請求項11または12に記載のコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法。そこで、本発明は、前記のような従来の問題に鑑み、コンピューター断層撮映技法を標準試料と測定試料に同時適用して信頼性が高いコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム及びその方法の提供を課題とする。本発明の他の目的は、まず試料の断層撮映映像の一断面で試料を構成する粒子と粒子との間の間隙または内部割れ目で発生した間隙の面積に対してコンピューター演算方式の便宜性を活用してその量を效果的に計算することができるし、等しい演算方式を接する映像断面にずっと適用して結局試料の一定の嵩内に存在する空隙率を求めることができるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム及びその方法の提供にある。本発明のさらに他の目的は、標準試料の映像断面から判読される数値資料を利用して測定試料の空隙率測定値の正確度と精密度を画期的に高めることができるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム及びその方法の提供にある。上記課題を解決するため、本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムは、CTビーム送出部100、ディテクター200、試料回転手段310が設置構成される本体700と前記本体の一側に設置構成される第1支持部材710に設置構成されてCTビームを送出させるCTビーム送出部100と前記本体の他側に設置構成される第2支持部材720に設置構成されてCTビーム送出部を通じて送出されるCTビームを獲得するディテクター200と前記CTビーム送出部とディテクターとの間に設置構成されて標準試料及び測定試料を回転させる試料回転手段310と前記本体に設置構成されて試料回転手段を回転させるために動作する試料回転モーター420と試料回転モーターに動作信号を送り、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させ、前記ディテクターによって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得して標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を獲得した後、断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して測定試料の空隙率を計算する中央制御手段500とを含んで構成されて本発明の課題を解決するようになる。本発明によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム及びその方法を通じてコンピューター断層撮影装置を利用して標準試料と測定試料に対する断面イメージを獲得した後、標準試料の断面イメージから空隙に判読される部分のグレイレベル範囲を獲得した後、該当の範囲を測定試料に適用して測定試料の空隙率を信頼性が高く測定することができる效果がある。本発明で採択する空隙率測定方法は、もし断面イメージの間隔が無限に狭ければ、理論的に非常に正確な空隙率を求めることができるので、他の信頼度の高い方法により求めた隙率測定値の場合、二つの空隙率値打ちが誤差範囲内で一致するようになることを期待することができる。特に、本発明が提示するシステム及び方法は、既存の空隙率を測定する浸水法、ガス法、水銀法などに比べてコンピューター断層撮映と空隙率演算に必要な位のとても短い時間を必要としながらも、既存方法に比べて等しいか、またはよりもっと高いネームバリューの空隙率を期待することができて多量の試料を処理するのに非常に有利な效果を提供するようになる。以下、添付された図面を参照して、本発明であるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システム及びその方法の望ましい実施例を、詳細に説明するようにする。本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムは、コンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムにおいて、CTビーム送出部100、ディテクター200、試料回転手段310が設置構成される本体700と、前記本体の一側に設置構成される第1支持部材710に設置構成されてCTビームを送出させるCTビーム送出部100と、前記本体の他側に設置構成される第2支持部材720に設置構成されてCTビーム送出部を通じて送出されるCTビームを獲得するディテクター200と、前記CTビーム送出部とディテクターとの間に設置構成されて標準試料及び測定試料を回転させる試料回転手段310と、前記本体に設置構成されて試料回転手段を回転させるために動作する試料回転モーター420と、前記試料回転モーターに動作信号を送り、前記CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させ、前記ディテクターによって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得して標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を獲得した後、断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して測定試料の空隙率を計算する中央制御手段500と、を含んで構成されることを特徴とする。一方、他の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムは、CTビーム送出部100、ディテクター200が設置構成される本体700と;前記本体の一側に設置構成される第1支持部材710に設置構成されてCTビームを送出させるCTビーム送出部100と;前記本体の他側に設置構成される第2支持部材720に設置構成されてCTビーム送出部を通じて送出されるCTビームを獲得するディテクター200;を含んで構成されるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムにおいて、前記本体内の前記CTビーム送出部とディテクターとの間に設置構成されて標準試料及び測定試料を回転させる試料回転手段310と、前記本体に設置構成されて試料回転手段を回転させるために動作する試料回転モーター420と、前記試料回転モーターに動作信号を送り、前記CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させ、前記ディテクターによって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得して標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を獲得した後、断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して測定試料の空隙率を計算する中央制御手段500と、を含んで構成されることを特徴とする。この時、前記試料回転手段310は、標準試料300aと測定試料300bを収容するために内部空間が形成された収容部330が結合されている試料ホルダー320が上側に設置構成されていることを特徴とする。この時、前記試料回転手段310は、標準試料300aと測定試料300b中でいずれか一つを収容するために下部に形成される下部試料室331と、標準試料300aと測定試料300b中で前記下部試料室に収容されなかった他の一つを収容するために上部に形成される上部試料室332と、前記下部試料室と上部試料室との間に形成されて上部と下部を分離させるための隔膜330aとで成り立った収容部330が結合されている試料ホルダー320が上側に設置構成されていることを特徴とする。この時、前記収容部で、準試料が収容される空間の内径は、測定試料が収容される空間の内径より広いことを特徴とする。この時、前記中央制御手段500は、前記試料回転モーターに動作信号を送り、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させる動作信号送出部510と、前記ディテクター200によって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得するイメージ獲得部520と、前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージを保存するイメージ保存部530と、標準試料及び測定試料の空隙を測定するためにカウント範囲を獲得するカウント範囲獲得部540と、標準試料及び測定試料の断面イメージ内の特定部分の空隙グレイレベル範囲を獲得するための空隙グレイレベル範囲獲得部550と、前記カウント範囲獲得部540によって獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部550によって獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて標準試料及び測定試料の断面イメージのカウント範囲内の空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数をカウントする空隙ピクセル数カウント部560と、前記空隙ピクセル数カウント部560によってカウントされた空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数とカウント範囲内のピクセル数を参照して空隙率を計算する空隙率計算部570と、前記イメージ獲得部によって獲得された標準試料の断面イメージから空隙率を計算するためにカウント範囲獲得部を通じて獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部を通じて獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて、測定試料の断面イメージから空隙率を計算するようにカウント範囲獲得部と空隙グレイレベル範囲獲得部に獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を再び送出させ、空隙ピクセル数カウント部にピクセル数をカウントするようにカウント信号を送出してカウントされたピクセル数を再び空隙計算部に送出して空隙率を計算するようにするための測定試料進行処理部580と、前記それぞれの部間の信号流れを制御する中央制御部590と、を含んで構成されることを特徴とする。この時、付加的な様相による前記中央制御手段500は、前記試料回転モーターに動作信号を送り、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させる動作信号送出部510と、前記ディテクター200によって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得するイメージ獲得部520と、前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージを保存するイメージ保存部530と、標準試料及び測定試料の空隙を測定するためにカウント範囲を獲得するカウント範囲獲得部540と、標準試料及び測定試料の断面イメージ内の特定部分の空隙グレイレベル範囲を獲得するための空隙グレイレベル範囲獲得部550と、前記カウント範囲獲得部540によって獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部550によって獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて標準試料及び測定試料の断面イメージのカウント範囲内の空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数をカウントする空隙ピクセル数カウント部560と、前記空隙ピクセル数カウント部560によってカウントされた空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数とカウント範囲内のピクセル数を参照して空隙率を計算する空隙率計算部570と、前記イメージ獲得部によって獲得された標準試料の断面イメージから空隙率を計算するためにカウント範囲獲得部を通じて獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部を通じて獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて、測定試料の断面イメージから空隙率を計算するようにカウント範囲獲得部と空隙グレイレベル範囲獲得部に獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を再び送出させ、空隙ピクセル数カウント部にピクセル数をカウントするようにカウント信号を送出してカウントされたピクセル数を再び空隙計算部に送出して空隙率を計算するようにするための測定試料進行処理部580と、事前に計算された標準試料の空隙グレイレベル範囲と空隙率が保存されている事前標準試料空隙率保存部595と、前記空隙率計算部によって計算された標準試料の空隙率と前記事前標準試料空隙率保存部595に事前に保存された標準試料の空隙率が誤差範囲にあたらない場合に空隙グレイレベル範囲を再算定するように再算定信号を生成させるグレイレベル再算定部596と、前記それぞれの部間の信号流れを制御する中央制御部590と、を含んで構成されることを特徴とする。この時、前記中央制御手段500は、カウント範囲内のピクセル数を計算して、グレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して前記計算されたピクセル数を参照して空隙率を各断面イメージごとに計算することを特徴とする。この時、前記事前標準試料空隙率保存部595に、保存された空隙率は浸水法、ガス法、水銀法によって事前に計算された値打ちであることを特徴とする。この時、前記標準試料は、測定試料と等しい成分の物質であることを特徴とする。一方、本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法は、コンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法において、動作信号送出部510によって試料回転モーターに動作信号を送って試料回転手段310を回転させ、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させる動作信号送出段階S100と、イメージ獲得部520によってディテクターから分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得する断面イメージ獲得段階S200と、前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージをイメージ保存部530に保存する断面イメージ保存段階S300と、前記イメージ保存部に保存された標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を中央制御手段で獲得した後、中央制御手段によって断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して測定試料の空隙率を計算する測定試料空隙率計算段階S400と、を含んで成り立つことを特徴とする。一方、本発明の他の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法は、コンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法において、動作信号送出部510によって試料回転モーターに動作信号を送って試料回転手段310を回転させ、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させる動作信号送出段階S100と、イメージ獲得部520によってディテクターから分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得する断面イメージ獲得段階S200と、前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージをイメージ保存部530に保存する断面イメージ保存段階S300と、前記イメージ保存部に保存された標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を中央制御手段で獲得した後、中央制御手段によって断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して測定試料の空隙率を計算する測定試料空隙率計算段階S400と、中央制御手段によって計算された標準試料の空隙率と事前標準試料空隙率保存部595に事前に保存された標準試料の空隙率が誤差範囲にあたらない場合に中央制御手段で空隙グレイレベル範囲を再算定するように再算定信号を生成させるグレイレベル再算定段階S500と、を含んで成り立つことを特徴とする。この時、前記測定試料空隙率計算段階S400は、カウント範囲獲得部540によって標準試料の空隙を測定するためにカウント範囲を獲得するカウント範囲獲得段階S410と、空隙グレイレベル範囲獲得部550によって標準試料の断面イメージ内の特定部分の空隙グレイレベル範囲を獲得する空隙グレイレベル範囲獲得段階S420と、カウント範囲獲得部540によって獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部550によって獲得された空隙グレイレベル範囲を空隙ピクセル数カウント部560で受けて標準試料の断面イメージのカウント範囲内の空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数を空隙ピクセル数カウント部によってカウントする標準試料空隙ピクセル数カウント段階S430と、空隙率計算部570によって空隙ピクセル数カウント部560からカウントされた空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数とカウント範囲内のピクセル数を参照して標準試料の空隙率を計算する標準試料空隙率計算段階S440と、測定試料進行処理部580によってイメージ獲得部で獲得された標準試料の断面イメージから空隙率を計算するためにカウント範囲獲得部を通じて獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部を通じて獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて、測定試料の断面イメージから空隙率を計算するようにカウント範囲獲得部と空隙グレイレベル範囲獲得部に獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を再び送出させ、空隙ピクセル数カウント部にピクセル数をカウントするようにカウント信号を送出してカウントされたピクセル数を再び空隙計算部に送出して測定試料の空隙率を計算する測定試料空隙率計算段階S450と、を含んで成り立つことを特徴とする。図2は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムの本体を簡単に現わした構成図である。図3は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムの本体を現わした断面図である。図2ないし3に図示したように、従来の医療用CTの場合には、CTビーム送出部10とディテクター20が回転しながら対象物30のコンピューター断層撮映を遂行したが、本発明の場合には、地質資源分野の試料を回転させる方式なので、これによってCTビーム送出部100、ディテクター200、及び試料回転手段310が設置構成される本体700が設置構成されるようになる。この時、CTビーム送出部100は、本体の一側に設置構成される第1支持部材710に設置構成されて、CTビームを送出させるようになり、ディテクター200が本体の他側に設置構成される第2支持部材720に設置構成されて、CTビーム送出部を通じて送出されるCTビームを獲得するようになる。この時、前記試料回転手段310がCTビーム送出部とディテクターとの間に設置構成されて標準試料及び測定試料を回転させるようになる。前記本体に設置構成されて試料回転手段を回転させるために、本体の内部には試料回転モーター420が設置構成される。動作過程を説明すれば、CTビーム送出部によって送出されたCTビームが、対象物である地質資源を含んでいる試料を経ってディテクターから検出して、これを使用者に出力させるようになる。本発明の核心中の一つである試料を回転させる理由は、試料内に存在する空隙を測定するために多様な角度から検出されたイメージを持っていると、もっと精密な空隙と空隙率を測定することができるからである。一方、本発明の他の一実施例によって本体のいずれか一側に設置構成される第1支持部材710に設置構成されるが、前記CTビーム送出部移動部材110と繋がれてCTビーム送出部移動部材の上下移動時、上下に移動され、CTビームを送出させるCTビーム送出部100と;前記本体の他側に設置構成される第2支持部材720に設置構成されるが、ディテクター移動部材210と繋がれて、ディテクター移動部材210によって上下に移動され、CTビーム送出部を通じて送出されるCTビームを獲得するディテクター200と;前記CTビーム送出部移動部材110を上下に移動させるために動作するCTビーム送出部動作モーター410と;ディテクター移動部材210を上下に移動させるために動作するディテクター動作モーター430と;をもっと含んで構成することもできる。この時、中央制御手段は、CTビーム送出部動作モーター、ディテクター動作モーター、試料回転モーターに動作信号を送り、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させるが、前記CTビーム送出部動作モーターに送出される動作信号と同期される動作信号をディテクター動作モーターに送出してCTビーム送出部とディテクターを同時に上下に移動させる機能を遂行するようになる。また、使用者に便利性を提供するためにCTビーム送出部及びディテクターを上下に移動させるか、または試料を回転させ、CTビームを送出させる動作を使用者の選択するようにする操作部と、ディテクターによって検出されたデータをディスプレーするディスプレー部とを含んで構成することもできる。図4は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムの試料ホルダーと収容部を簡単に現わした例示図である。図4に示したように、試料回転手段310は標準試料300aと測定試料300bを収容するために内部空間が形成された収容部330が結合されている試料ホルダー320が上側に設置構成されていることを特徴としている。もうちょっと具体的に説明すれば、前記試料回転手段310は、標準試料300aと測定試料300b中でいずれか一つを収容するために下部に形成される下部試料室331と、標準試料300aと測定試料300b中で前記下部試料室に収容されなかった他の一つを収容するために上部に形成される上部試料室332と、前記下部試料室と上部試料室との間に形成されて上部と下部を分離させるための隔膜330aで成り立った収容部330が結合されている試料ホルダー320が上側に設置構成されていることを特徴としている。試料ホルダーの上部には収容部が設置構成されるようになり、望ましくは、円筒状になっていて前記円筒は隔膜で上部と下部が分離しているようになる。上部には、上部試料室が形成されているし、下部には下部試料室が形成されるようになる。この時、望ましくは、上部試料室には測定試料が収容され、下部試料室には標準試料が収容されるが、場合によって反対に測定試料と標準試料を配置することもできる。図4に示されたように、標準試料は測定試料に似た成分の物質で構成されて、浸水法、ガス法、水銀法などで空隙率がもう測定されて知られているのである。調査対象である測定試料の空隙に空気以外の液体や気体で満たされているし、その成分が知られている場合には、標準試料の空隙にもまったく同じ成分の液体や気体を満たして使うこともできる。標準試料と測定試料を収容する試料ホルダーの上部試料室及び下部試料室の直径及び外壁厚さは、測定試料の大きさと標準試料を保存している試料室の厚さを勘案して設定するのが望ましい。すなわち、図4に示されたように、円筒状試料ホルダーの上部試料室に測定試料が収容され、下部試料室に標準試料が収容される場合、下部試料室の内径は収容される標準試料保存筒の厚さを勘案して上部試料室の内径よりちょっと大きく設定されなければならないし、結局標準試料が収容された状態での下部試料室の外壁厚さは、上部試料室の外壁厚さと一致するのが望ましい。その理由は標準試料と測定試料ができるだけ類似の条件で撮影されて標準試料で設定された空隙のグレイレベル範囲が測定試料に無難に適用されることができるようにするためである。図5は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムの標準試料と測定試料を撮影した映像の垂直断面イメージ及び水平断面イメージ上に空隙を計算するためのカウント範囲を設定した例を現わした例示図である。図6は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムの標準試料と測定試料を撮影した映像の断面イメージの特定部位を指定する場合に該当の地点に対するグレイレベルを獲得する例を現わした例示図である。図4を参照して説明した方式で標準試料と測定試料が試料ホルダーに挿入されてコンピューター断層撮映を遂行するようになれば、図5に図示したように、等しい撮影条件での標準試料と測定試料の断面イメージを確保することができる。図5で、上部の垂直、水平断面イメージは測定試料であり、下部の垂直、水平断面イメージは標準試料である。前記標準試料と測定試料のそれぞれの断面イメージは、もう断層撮映によって導出されたことであり、各断面イメージを構成するそれぞれのピクセルは固有のグレイレベルの情報を持っているので、図6に図示されたように、断面イメージ上の特定地点に対してもその地点の位置値と該当のグレイレベルを把握し出すことができる。特に、標準試料の場合には、試料を構成する粒子の粒子と粒子間の間隙部位を比較的明らかに認識することができるので、該当の断面イメージから空隙を現わすグレイレベルの範囲を比較的易しく把握することができる。すなわち、標準試料から空隙にあたるグレイレベルの範囲を定めるようになれば、該当の空隙のグレイレベル範囲を測定試料イメージから空隙を識別するグレイレベル範囲値でそのまま活用することができるようになる。図5では、カウンター範囲獲得部によって獲得される標準試料や測定試料の断面イメージから空隙を計算する範囲を設定した例示を見せてくれている。図5の右側水平断面イメージによく図示されている。各断面イメージから空隙をカウントする範囲を設定する時、最外郭部位はできるだけ計算から排除した方が良い。なぜなら、断面イメージからカウンター範囲を設定した後、そのカウンター範囲を連続される隣接断面イメージに対してもそのまま適用すれば便利なので、最初断面イメージで設定されたカウント範囲が後続断面のイメージの外で脱しないように通察してカウンター範囲を指定する必要がある。図6に示されたように、標準試料断面イメージからカウンター範囲が指定されば、空隙グレイレベル範囲獲得部では前記与えられた範囲内からコンピューターマウスで空隙を現わす代表的地点を指摘しながら該当の地点のグレイレベル値打ちを判読する方式で該当の断面イメージから空隙を現わすグレイレベル値打ちを一次的に獲得するようになる。この時、空隙を現わすグレイレベル値打ちは、周辺粒子の配列形態などに影響を受けてお互いに違うことができるし、結局空隙を現わすグレイレベル値打ちは単数値打ちではなく、どんな範囲の値打ちで現われるようになる。図7は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムの標準試料の断面映像から空隙を指示するグレイレベルの範囲を獲得した後、グレイレベル範囲を測定試料の空隙測定に活用するために範囲を演算過程に入力する例示図である。図8は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムのカウント範囲獲得部、空隙グレイレベル範囲獲得部によって断面イメージ上で空隙にあたる部分を識別して該当の部分を着色して図示した例示図である。図7に示したように、空隙を指示するグレイレベル範囲は結局グレイレベル入力部を通じてグレイレベルを入力するようになれば、空隙グレイレベル範囲獲得部で入力されたグレイレベル範囲を獲得するようになり、空隙ピクセル数カウント部で該当のグレイレベル範囲にあたるピクセル数がカウントされ、結局空隙率計算部で指定されたカウント範囲内の全体ピクセル数を対比して、空隙に認識されたピクセル数の割合として空隙率が算出される。前記の過程を通じてまず標準試料の空隙率を計算する。即ち、図8の左側絵は標準試料断面イメージ上でもう指定されたグレイレベル範囲によって空隙部分が識別されて着色図示されたものである。前記該当の部分を着色する技術は当業者に知られた技術なので、これに対する具体的な説明は略しても無関係だろう。すなわち、カウンター範囲内で着色された部分のピクセルを皆計算し、該当の範囲全体を構成するピクセル数に対する割合を求めれば、それが正しく該当の断面での空隙率になる。図9は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムのある一断面イメージから空隙を識別する方式を接する断面イメージにも皆適用して各断面イメージから空隙にあたるピクセル数を計算して空隙率を計算する過程を現わす例示図である。図9に示したように、等しい方式を隣接断面イメージに対しても適用すれば、試料内の決まった嵩範囲内での空隙率を求めることができる。もし接した断面イメージの間隔が無限が狭い場合なら、非常に正確な空隙率の導出を期待することができる。このように導出された空隙率は、もう他の測定法を通じて分かっていた標準試料の空隙率値打ちと似たり寄ったりか必ず確認しなければならない必要がある。もし、新たに導出された空隙率が予め保存された空隙率と相当な差を見せたら、初期設定されたグレイレベル範囲に間違いがあるので、グレイレベルの範囲をより拡大または縮小しながら、空隙率をまた計算して二つの空隙率が誤差範囲内にいるようにグレイレベル範囲を導出しなければならない。前記の方式により標準試料から空隙を指示するグレイレベル範囲が正確に導出されば、該当のグレイレベル範囲を測定試料断面イメージから空隙を現わすグレイレベル範囲ですぐ適用し、標準試料とまったく同じな方式で残り演算過程を遂行して測定試料の空隙率を正確に求めることができる。図9は断面イメージ別カウント範囲内の総ピクセル数と該当のカウント範囲内の空隙にあたるピクセル数と空隙率を計算した結果を現わした図面として、下端に断面イメージのすべて空隙率を計算する数式を現わした。すなわち、中央制御部ではそれぞれの断面イメージ上で計算された空隙率を獲得してトータル空隙率ここでは34.6に計算されられるを計算するようになる。図10は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定システムの制御ブロック図である。図10に示したように、中央制御手段500は、試料回転モーターに動作信号を送り、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させ、前記ディテクターによって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得して標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を獲得した後、断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して測定試料の空隙率を計算するようになる。前記のような動作を遂行するために、試料回転モーターに動作信号を送り、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させる動作信号送出部510と、ディテクター200によって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得するイメージ獲得部520と、前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージを保存するイメージ保存部530と、標準試料及び測定試料の空隙を測定するためにカウント範囲を獲得するカウント範囲獲得部540と、標準試料及び測定試料の断面イメージ内の特定部分の空隙グレイレベル範囲を獲得するための空隙グレイレベル範囲獲得部550と、前記カウント範囲獲得部540によって獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部550によって獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて標準試料及び測定試料の断面イメージのカウント範囲内の空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数をカウントする空隙ピクセル数カウント部560と、前記空隙ピクセル数カウント部560によってカウントされた空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数とカウント範囲内のピクセル数を参照して空隙率を計算する空隙率計算部570と、前記イメージ獲得部によって獲得された標準試料の断面イメージから空隙率を計算するためにカウント範囲獲得部を通じて獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部を通じて獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて、測定試料の断面イメージから空隙率を計算するようにカウント範囲獲得部と空隙グレイレベル範囲獲得部に獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を再び送出させ、空隙ピクセル数カウント部にピクセル数をカウントするようにカウント信号を送出してカウントされたピクセル数を再び空隙計算部に送出して空隙率を計算するようにするための測定試料進行処理部580と、前記それぞれの部間の信号流れを制御する中央制御部590とを含んで構成される。前記動作信号送出部510は試料回転モーターに動作信号を送り、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させるようになる。すなわち、使用者が本発明のシステムを駆動するためにシステムに設置構成されたプログラムを動作させるようになれば、中央制御部で該当の操作信号を受けて動作信号送出部に動作命令を伝達するようになる。それでは、前記動作信号送出部では試料回転モーターに動作信号を送って試料を回転させるようになり、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させてCTビームを該当の試料に送出ようになる。この時、イメージ獲得部520ではディテクター200によって分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得するようになる。前記ディテクターのデータを処理する技術及び動作過程は、もう当業者には広く知られた技術なので、これに対する具体的な説明は略するようにする。前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージは、図9に示したようなイメージを意味する。前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージを中央制御部の制御によってイメージ保存部530に保存するようになる。イメージ保存部に保存された断面イメージを使用者の画面に出力させて使用者がカウント範囲を指定するようにする.この時、前記カウント範囲を指定するようにプログラムを搭載して画面に出力するようになる。カウント範囲を指定するように画面に該当の断面イメージを出力するようになれば、図5のように、例えば、左側上端点と右側下端点を使用者が指定するようになり、これをカウント範囲獲得部540でカウント範囲を獲得するようになる。図5のように、実際写真で指定された範囲を確認することができる。前記カウント範囲を使用者が指定した後、断面イメージ内に空隙のグレイレベル範囲を指定するようになる。この時、使用者がグレイレベルピクセルを観察してグレイレベル領域を指定するようになる。例えば、空隙を測定しようとする標準試料のグレイレベルを0ないし1500の範囲に指定するようになれば、1500を超過するグレイレベルは空隙以外の物体で中央制御部により判断するようになる。この時、空隙グレイレベル範囲獲得部550では指定された特定部分の空隙グレイレベル範囲を獲得するようになる。具体的に、カウント範囲内の断面イメージを使用者の画面に出力させて使用者がグレイレベルを指定するようにプログラムを通じて画面に出力するようになる。前記画面で使用者がグレイレベルを指定するようになれば、空隙グレイレベル範囲獲得部で空隙のグレイレベル範囲を獲得するようになる。前記空隙ピクセル数カウント部560は、カウント範囲獲得部540によって獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部550によって獲得された空隙グレイレベル範囲を中央制御部の処理によって受けて標準試料及び測定試料の断面イメージのカウント範囲内の空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数をカウントするようになる。すなわち、図9に示したように、断面イメージ150の場合には、カウント範囲内のピクセル数Xは中央制御部の計算によって26520であることを分かり、空隙のピクセル数Yは空隙ピクセル数カウント部によって9102であることを分かるようになる。この時、前記空隙率計算部570では、該当の断面イメージの空隙率Z=Y/X100が34.3であることを計算するようになる。図9のすべて断面イメージのカウント範囲内のすべてピクセル数Xは4614480であり、範囲内の空隙のすべてピクセル数Yは1596610である。これは、中央制御部の計算によって分かったし、空隙率Z=Y/X100は34.6であることを分析するようになる。前記の過程は標準試料の測定例を説明したことであり、測定試料進行処理部580でイメージ獲得部によって獲得された標準試料の断面イメージから空隙率を計算するために、カウント範囲獲得部を通じて獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部を通じて獲得された空隙グレイレベル範囲を受けるようになる。これは、前記で説明したように、等しい条件で空隙率を計算すると正確な測定試料の空隙率を計算することができるからである。以後、測定試料の断面イメージから空隙率を計算するようにカウント範囲獲得部と空隙グレイレベル範囲獲得部に獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を再び送出させ測定試料のカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を獲得するようにした後、空隙ピクセル数カウント部にピクセル数をカウントするようにカウント信号を送出してカウントされたピクセル数を再び空隙計算部に送出して空隙率を計算するようにする。前記測定試料の空隙率計算過程は前記の標準試料の空隙率計算過程と等しいので、これに対する詳細な説明は略する。一方、本発明の他の一実施例によって前記中央制御手段は、事前に計算された標準試料の空隙グレイレベル範囲と空隙率が保存されている事前標準試料空隙率保存部595と、前記空隙率計算部によって計算された標準試料の空隙率と前記事前標準試料空隙率保存部595に事前に保存された標準試料の空隙率が誤差範囲にあたらない場合に空隙グレイレベル範囲を再算定するように再算定信号を生成させるグレイレベル再算定部596とをもっと含んで構成することができる。すなわち、事前標準試料空隙率保存部595には、浸水法、ガス法、水銀法によって事前に計算された標準試料の空隙率と空隙グレイレベル範囲が保存されている。前記グレイレベル再算定部596は、空隙率計算部によって計算された標準試料の空隙率と前記事前標準試料空隙率保存部595に事前に保存された標準試料の空隙率が誤差範囲にあたらない場合に空隙グレイレベル範囲を再算定するように再算定信号を生成するようになる。すなわち、前記誤差範囲情報は別途の保存部未図示に保存しているし、事前に保存された標準試料の空隙率と空隙率計算部によって計算された標準試料の空隙率が中央制御部の分析によって誤差範囲にあたらないと分析されば誤差範囲を超過、使用者が空隙グレイレベル範囲を再算定することができるように中央制御部から動作命令を送るようになり、前記グレイレベル再算定部でこれを受けて再算定信号を生成して使用者の画面に送出するようになる。これを確認した使用者は、また空隙のグレイレベル範囲を再算定するようになり、再び空隙率を計算するようになる。なぜなら、誤差範囲を超過する空隙率が計算されたら、最初グレイレベルを誤って指定したものであるので、これによって正確な空隙率計算が不可能だからである。図11は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法を現わした流れ図である。図11に示したように、本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法は、コンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法において、動作信号送出部510によって試料回転モーターに動作信号を送って試料回転手段310を回転させ、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出させる動作信号送出段階S100と;イメージ獲得部520によってディテクターから分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得する断面イメージ獲得段階S200と;前記イメージ獲得部によって獲得された断面イメージをイメージ保存部530に保存する断面イメージ保存段階S300と;前記イメージ保存部に保存された標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を中央制御手段で獲得した後、中央制御手段によって断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して測定試料の空隙率を計算する測定試料空隙率計算段階S400と;を含んで成り立つことを特徴とする。すなわち、動作信号送出部510によって試料回転モーターに動作信号を送って試料回転手段310を回転させ、CTビーム送出部にCTビーム送出信号を送出S100させるようになる。以後、中央制御部の制御によってイメージ獲得部520ではディテクターから分析された標準試料及び測定試料の断面イメージを獲得S200するようになる。以後、イメージ獲得部によって獲得された断面イメージを中央制御部の制御によってイメージ保存部530に保存S300するようになる。以後、前記イメージ保存部に保存された標準試料の断面イメージからカウント範囲と空隙のグレイレベル範囲を中央制御手段で獲得した後、中央制御手段によって断面イメージのカウント範囲と該当の空隙のグレイレベル範囲を参照して測定試料の断面イメージのカウント範囲内のピクセル数と空隙のグレイレベル範囲にあたるピクセル数を計算して測定試料の空隙率を計算S400するようになる。一方、本発明の他の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法は、中央制御手段によって計算された標準試料の空隙率と事前標準試料空隙率保存部595に事前に保存された標準試料の空隙率が誤差範囲にあたらない場合に中央制御手段で空隙グレイレベル範囲を再算定するように再算定信号を生成させるグレイレベル再算定段階S500;を前記測定試料空隙率計算段階S400以後に遂行するようになる。すなわち、前記グレイレベル再算定段階S500は、誤差範囲にあたれば、測定試料の空隙率を計算する過程を遂行するようになり、誤差範囲にあたらない場合には空隙グレイレベル範囲を再算定するように使用者に知らせてくれるようになる。図12は本発明の一実施例によるコンピューター断層撮映装置と標準試料を利用した試料空隙測定方法の測定試料空隙率計算段階を現わした流れ図である。図12に示したように、前記測定試料空隙率計算段階S400は、カウント範囲獲得部540によって標準試料の空隙を測定するためにカウント範囲を獲得するカウント範囲獲得段階S410と、空隙グレイレベル範囲獲得部550によって標準試料の断面イメージ内の特定部分の空隙グレイレベル範囲を獲得する空隙グレイレベル範囲獲得段階S420と、カウント範囲獲得部540によって獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部550によって獲得された空隙グレイレベル範囲を空隙ピクセル数カウント部560で受けて標準試料の断面イメージのカウント範囲内の空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数を空隙ピクセル数カウント部によってカウントする標準試料空隙ピクセル数カウント段階S430と、空隙率計算部570によって空隙ピクセル数カウント部560からカウントされた空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数とカウント範囲内のピクセル数を参照して標準試料の空隙率を計算する標準試料空隙率計算段階S440と、測定試料進行処理部580によってイメージ獲得部で獲得された標準試料の断面イメージから空隙率を計算するためにカウント範囲獲得部を通じて獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部を通じて獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて、測定試料の断面イメージから空隙率を計算するようにカウント範囲獲得部と空隙グレイレベル範囲獲得部に獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を再び送出させ、空隙ピクセル数カウント部にピクセル数をカウントするようにカウント信号を送出してカウントされたピクセル数を再び空隙計算部に送出して測定試料の空隙率を計算する測定試料空隙率計算段階S450とを含んで成り立つようになる。すなわち、カウント範囲獲得部540によって標準試料の空隙を測定するために使用者が指定したカウント範囲を獲得S410するようになり、空隙グレイレベル範囲獲得部550によって標準試料の断面イメージ内の使用者が指定した特定部分の空隙グレイレベル範囲を獲得S420するようになる。以後、カウント範囲獲得部540によって獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部550によって獲得された空隙グレイレベル範囲を空隙ピクセル数カウント部560で受けて標準試料の断面イメージのカウント範囲内の空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数を空隙ピクセル数カウント部によってカウントS430するようになる。以後、空隙率計算部570によって空隙ピクセル数カウント部560からカウントされた空隙グレイレベル範囲にあたるピクセル数とカウント範囲内のピクセル数を参照して標準試料の空隙率を計算S440するようになる。前記段階以後に誤差範囲にあたるかどうかを判断することができるし、判断しないこともある。以後、測定試料進行処理部580によってイメージ獲得部で獲得された標準試料の断面イメージから空隙率を計算するためにカウント範囲獲得部を通じて獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲獲得部を通じて獲得された空隙グレイレベル範囲を受けて、測定試料の断面イメージから空隙率を計算するようにカウント範囲獲得部と空隙グレイレベル範囲獲得部に獲得されたカウント範囲と空隙グレイレベル範囲を再び送出させ、空隙ピクセル数カウント部にピクセル数をカウントするようにカウント信号を送出してカウントされたピクセル数を再び空隙計算部に送出して測定試料の空隙率を計算S450して終了するようになる。前記段階は標準試料の映像断面から判読される数値資料であるカウント範囲と空隙グレイレベル範囲をそのまま利用して測定試料の空隙率測定値の正確度と精密度を画期的に高めることができるようになる。前記のような構成及び動作を通じてコンピューター断層撮影装置を利用して標準試料と測定試料に対する断面イメージを獲得した後、標準試料の断面イメージから空隙に判読される部分のグレイレベル範囲を獲得した後、該当の範囲を測定試料に適用して測定試料の空隙率を信頼性が高く測定する效果を持つ。以上では本発明を実施例によって詳細に説明したが、本発明は実施例によって限定されず、本発明が属する技術分野において通常の知識を有するものであれば本発明の思想と精神を離れることなく、本発明を修正または変更できる。