"物体の単位重量当りの放射能量を測定する物体の放射能濃度測定方法であって、前記物体の測定試料の厚さを変化させるとともに、放射能表面汚染密度計を用いて、各厚さにおける前記測定試料の表面からの透過放射線数を測定して、前記測定試料の各厚さにおける見かけの放射能量を算出し、前記測定試料の厚さと前記見かけの放射能量との関係を1次減衰式で近似し、前記測定試料の厚さと前記見かけの放射能量のデータから、前記測定試料の放射能濃度を推定することを特徴とする物体の放射能濃度測定方法。前記測定試料の厚さを、前記測定試料の密度、表面積を用いて、前記測定試料の重量に変換し、前記測定試料の重量と前記見かけの放射能量との関係を1次減衰式で近似することを特徴とする請求項1に記載の物体の放射能濃度測定方法。前記測定試料が、粒体又は粉体とされていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の物体の放射能濃度測定方法。ところで、特許文献1,2に記載された半導体放射線検出器においては、構成が複雑であって装置自体が非常に高価であった。また、放射能濃度の測定に多くの時間と労力とが必要であった。例えば、Ge半導体放射線検出器においては、外部からの放射線を遮蔽する遮蔽体鉛容器等にGe検出器が配置されており、Ge結晶を液体窒素で冷却しながら、試料の放射能濃度の測定を実施することになる。このため、物体の放射能濃度の測定を低コストで簡単に実施することができなかった。また、物体の放射能濃度の測定を効率的に行うことができないといった問題があった。また、特許文献3,4に記載された放射能表面汚染密度計サーベイメータにおいては、上述の半導体放射線検出器に比べて非常に構造が簡単であり、低コストで簡単に放射線量を測定することができるが、物体自体の放射能濃度を測定することは困難であった。なお、物体表面からの放射線量から、測定点までの距離減衰と物体の内部減衰とを考慮して3次元モデル計算を行うことにより、物体の放射能濃度を推定することも考えられる。しかしながら、3次元モデル計算を実施する際に用いられる物体の密度分布や吸収係数等の設定値によって、放射能濃度の推定値が大きく変動することになる。特に、粒体や粉体等においては、粒度及び密度分布のばらつきが大きいことから、上述の3次元モデル計算では、精度良く放射能濃度を推定することは不可能であった。本発明は、前述した状況に鑑みてなされたものであって、物体の放射能濃度を精度良く測定でき、かつ、低コストで簡単に実施することが可能な物体の放射能濃度測定方法を提供することを目的とする。上記課題を解決するために、本発明に係る物体の放射能濃度測定方法は、物体の単位重量当りの放射能量を測定する物体の放射能濃度測定方法であって、前記物体の測定試料の厚さを変化させるとともに、放射能表面汚染密度計を用いて、各厚さにおける前記測定試料の表面からの透過放射線数を測定して、前記測定試料の各厚さにおける見かけの放射能量を算出し、前記測定試料の厚さと前記見かけの放射能量との関係を1次減衰式で近似し、前記測定試料の厚さと前記見かけの放射能量のデータから、前記測定試料の放射能濃度を推定することを特徴としている。本発明者らが鋭意検討した結果、測定試料の厚さと放射能表面汚染密度計の測定値から算出される見かけの放射能量との関係について1次減衰式を用いて近似することができることを見出した。そこで、前記測定試料の厚さと前記見かけの放射能量との関係を1次減衰式で近似して、この近似式の未知パラメータを、前記測定試料の厚さと前記見かけの放射能量のデータから求めることにより、物体の放射能濃度を推定することが可能となる。よって、簡単に測定が可能な放射能表面汚染密度計を用いて、物体の放射能濃度を精度良く測定することができる。ここで、前記測定試料の厚さを、前記測定試料の密度、表面積を用いて、前記測定試料の重量に変換し、前記測定試料の重量と前記見かけの放射能量との関係を1次減衰式で近似することとしてもよい。この場合、測定試料の重量を用いているので、測定試料の厚さを測定する必要がなく、さらに簡単に放射能濃度を測定することが可能となる。また、粒体の粒径が大きく、厚さの測定が困難な場合であっても、放射能表面汚染密度計を用いて、物体の放射能濃度を精度良く測定することができる。また、前記測定試料が、粒体又は粉体としてもよい。測定試料の厚さ又は重量と前記見かけの放射能量との関係から放射能濃度を測定していることから、粒度及び密度の分布の影響が少なく、精度良く放射能濃度を測定することができる。本発明によれば、物体の放射能濃度を精度良く測定でき、かつ、低コストで簡単に実施することが可能な物体の放射能濃度測定方法を提供することが可能となる。以下に、本発明の一実施形態である物体の放射能濃度測定方法について、添付した図面を参照して説明する。本実施形態である物体の放射能濃度測定方法は、土壌土や砂等の粒体の放射能濃度を測定するものである。本実施形態である物体の放射能濃度測定方法では、測定対象である土壌土や砂等の粒体から測定試料10のサンプリングを行い、試料容器15内に測定試料10を配置する。ここで、本実施形態では、図1及び図2に示すように、有底円筒状をなす試料容器15内に測定試料10を配置しており、測定試料10の表面積sは、試料容器15の開口面積と同一とされている。そして、本実施形態である物体の放射能濃度測定方法では、図1に示すサーベイメータ20を用いて測定試料10の表面からの透過放射線数を測定する。このサーベイメータ20は、測定プローブ21と、測定器本体25と、を備えている。測定プローブ21は、円状をなす測定面22を備えており、この測定面22に入射される放射線量をカウントするものである。本実施形態では、図1に示すように、測定試料10の表面試料容器15の開口面を全て覆うように、測定プローブ21が配設されている。まず、測定試料10の厚さtを変化させ、サーベイメータ20を用いて、各厚さtにおける測定試料10の表面からの透過放射線数を測定して、測定試料10の各厚さtにおける見かけの放射能量Iを算出する。すなわち、サーベイメータ20でカウントされた放射線量Bq/cm2に測定試料10の表面積scm2を掛けることにより、見かけの放射能量IBqを算出しているのである。ここで、測定試料10の厚さtと見かけの放射能量Iとの関係は、下記の1式で表される。すなわち、測定試料10の厚さと見かけの放射能量Iとの関係を1次減衰式で近似しているのである。I=c×A×1-exp-b×ρ×s×t1A:測定試料10の放射能濃度Bq/g、b,c:未知パラメータρ:測定試料10の密度ここで、本実施形態では、測定試料10の厚さtを、測定試料10の密度ρ、表面積sを用いて、測定試料10の重量wに変換し、測定試料10の重量wを変化させ、サーベイメータ20を用いて、各重量wにおける測定試料10の表面からの透過放射線数を測定して、測定試料10の各重量wにおける見かけの放射能量Iを算出している。測定試料10の重量wと見かけの放射能量Iとの関係を図3に示す。また、上述の1式は、次の2式で表現される。すなわち、測定試料10の重量wと見かけの放射能量Iとの関係を1次減衰式で近似しているのである。I=c×A×1-exp-b×w22式から、未知パラメータであるb,cを求めることで、測定試料10の放射能濃度Aを算出することが可能となる。そこで、まず、2式をwで微分する。dI/dw=c×A×b×exp-b×w3ここで、w→0すなわちt→0とすると、測定試料10の内部減衰が0とみなせることから、測定試料10の単位重量増分当たりの放射能量増分、すなわち、図3における傾きdI/dwが、測定試料10の放射能濃度Aになる。そこで、3式において、w=0、dI/dw=Aとすると、4式の関係を得ることができる。dI/dw=c×A×b×exp-b×0=A→c×A×b=A→c=1/b4この4式から、上記2式は次のように表される。I=A/b×1-exp-b×w5すなわち、未知パラメータbと、求める測定試料10の放射能濃度Aと、の2つの未知数で測定試料10の重量wと見かけの放射能量Iとの関係を表現できるのである。次に、w→∞すなわちt→∞とし、測定試料10の厚さtを十分に厚くした場合の見かけの放射能量I=αを求める。すると、図3のグラフからαを求めることができる。α=A/b×1-exp-b×∞=A/b6次に、5式を変換して、対数をとると、以下の7式を得る。I=A/b×1-exp-b×w→1-I/A/b=exp-b×w→Ln1-I/A/b=-b×w→Ln1-I/α=-b×w77式から、Ln1-I/αは、測定試料10の重量wに比例することになる。よって、図4に示すように、縦軸をLn1-I/α、横軸を測定試料10の重量wとして、データをプロットする。すると、このデータを1次式で近似した際の傾きが、-bとなる。そして、6式から、求める測定試料10の放射能濃度Aは、次の8式で表現されることになる。A=αb8ここで、α、bは、図3及び図4から求められていることから、測定試料10の放射能濃度Aを算出することが可能となる。このような手順により、サーベイメータ20を用いて、測定試料10土壌の放射能濃度Bq/gを測定することができるのである。本実施形態である物体の放射能濃度測定方法によれば、土壌からサンプリングされた測定試料10を、試料容器15内に配置して、この試料容器15の開口面から放射させる放射線量をサーベイメータ20によって測定していることから、測定試料10の表面積sは、試料容器15の開口面積と同一となる。よって、測定試料10の厚さtを、測定試料10の密度ρ、表面積sを用いて、測定試料10の重量wに変換することができる。そして、測定試料10の重量wを変化させ、サーベイメータ20を用いて、各重量wにおける測定試料10の表面からの透過放射線数を測定して、測定試料10の各重量wにおける見かけの放射能量Iを算出している。ここで、図3に示すように、測定試料10の重量wと見かけの放射能量Iとの関係は、1次減衰式で近似することが可能となる。この近似式の未知パラメータb,cを、測定試料10の重量wと見かけの放射能量Iのデータから求めることにより、測定試料10の放射能濃度Aを推定することができるのである。よって、簡単に測定が可能なサーベイメータ20を用いて、物体の放射能濃度Aを精度良く測定することができるのである。これにより、数多くの物体に関して、効率的に放射能濃度Aを測定することが可能となる。また、本実施形態では、測定試料10の重量wを用いているので、測定試料10の厚さtを測定する必要がなく、さらに簡単に放射能濃度を測定することが可能となる。さらに、本実施形態では、測定試料10の重量wと見かけの放射能量Iとの関係から放射能濃度Aを測定していることから、粒度及び密度の分布の影響が少なく、精度良く放射能濃度Aを測定することができる。以上、本発明の実施形態である物体の放射能濃度測定方法について説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、その発明の技術的思想を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。例えば、土壌を測定対象として説明したが、これに限定されることはなく、固体や液体等を対象としてもよい。また、試料容器やサーベイメータの構造は、本実施形態に例示されるものに限定されることはなく、他の構造のものを用いてもよい。さらに、データの数についても、本実施形態に例示されるものに限定されることはなく、1次減衰式で近似できる程度のデータ数があればよい。以下に、本発明の効果を確認すべく実施した確認実験の結果について説明する。測定試料として土壌サンプルを用いた。表1に示すように、測定試料の重量を4段階に変えて、各重量における測定試料の表面からの透過放射線数をサーベイメータ日立アロカメディカル株式会社製TGS-146Bを用いて測定し、測定試料の各重量における見かけの放射能量Iを算出した。なお、重量wを65.1g厚さ3.0cmとした場合の見かけの放射能量Iを、w→∞すなわちt→∞とし、測定試料の厚さtを十分に厚くした場合の見かけの放射能量I=αとした。見かけの放射能量Iの算出結果を表1に示す。また、測定試料の重量wと見かけの放射能量Iとの関係を図5に示す。また、縦軸をLn1-I/α、横軸を測定試料の重量wとしたグラフを図6に示す。これらの結果から、α=2.9Bq、-b=-0.141/gとなる。よって、土壌サンプルの放射能濃度Aは、A=α×b=2.9×0.14=0.40Bq/gとなる。ここで、この土壌サンプルの放射能濃度をGe半導体放射線検出器によって測定した結果、0.44Bq/gであった。以上のことから、本発明の物体の放射能濃度測定方法によれば、簡単な放射能表面汚染密度計サーべメータを用いて、Ge半導体放射線検出器と同等の精度で、物体の放射能濃度を測定可能であることが確認された。"