コア及び該コアの外周に設けられたクラッドから構成された光ファイバの、少なくとも前記コアに該光ファイバの光軸に非対称に、伝送する光の漏洩源となる欠陥がフェトム秒レーザで形成され、前記光の漏洩量が当該光ファイバセンサの曲げ方向に依存することを特徴とする光ファイバセンサ。前記欠陥が、前記光ファイバの光軸に対して平行に延在するように形成されていることを特徴とする請求項1に記載の光ファイバ曲げセンサ。コア及び該コアの外周に設けられたクラッドから構成された光ファイバに対して、少なくとも前記コアに該光ファイバの光軸に非対称に、伝送する光の漏洩源となる欠陥をフェトム秒レーザで形成することを特徴とする光ファイバセンサの製造方法。しかしながら、上記へテロコア光ファイバセンサは、短いヘテロコア部を融着により設けている。そのため、1本のヘテロコア光ファイバセンサを製作するために、融着と切断とをそれぞれ2回行う必要があり、製造が困難であるという問題がある。また、ヘテロコア部は同軸心にコア径の異なるコアを設けているので、光の漏洩に曲げ方向の依存性がない。を一方、非特許文献1に開示されたLPFGは、伸縮により引張は検出可能であるが、微小な曲げ変化は検出することが非常に困難である。本発明は、以上の点に鑑み、製造が容易であり、微小な曲げ変化を検出することが可能な光ファイバセンサ及びその製造方法を提供することを目的とする。本発明の光ファイバセンサは、コア及び該コアの外周に設けられたクラッドから構成された光ファイバの、少なくとも前記コアに該光ファイバの光軸に非対称に、伝送する光の漏洩源となる欠陥がフェトム秒レーザで形成され、前記光の漏洩量が当該光ファイバセンサの曲げ方向に依存することを特徴とする。本発明の光ファイバセンサによれば、少なくともコアに光ファイバの光軸に非対称に、伝送する光の漏洩源となる欠陥がフェトム秒レーザで形成されており、光の漏洩量が光ファイバセンサの曲げ方向に依存する。よって、本光ファイバセンサを伝送する光の漏洩量を求めることにより、当該光ファイバセンサの曲げ方向を検出することができる。従って、本光ファイバセンサは、曲げ方向を検知可能な曲げセンサとして好適なものとなる。さらに、本光ファイバセンサは、曲率半径30mm程度周辺の緩やかな曲げ変化であっても、光の漏洩量が大きく変化することが分かった。よって、上記へテロコア光ファイバセンサと同様に、微小な曲げ変化を精度良く検出することができるとともに、PDやCCDなどの受光素子を有する市販の受光装置を用いた安価に検出システムを構成することが可能となる。また、フェトム秒レーザで欠陥を形成するので、所望の位置に所望の形状の欠陥を精度良く形成することができ、周辺領域への熱影響も非常に小さい。さらに、フェトム秒レーザを光ファイバに照射するだけで製造でき、上記へテロコア光ファイバセンサと比較して、製造が非常に容易になる。なお、本発明において欠陥とは、フェトム秒レーザの集光照射によって非線形光学効果が発生して屈折率が上昇した領域を意味する。ところで、光ファイバの光軸に対する欠陥の非対称性が大きいほど、光の漏洩量の曲げ方向依存性が高まると考えられる。しかし、1箇所に大きな欠陥を形成すると、その部分で折損し易くなる。そこで、本発明の光ファイバセンサにおいて、前記欠陥が、前記光ファイバの光軸に対して平行に延在するように形成されていることが好ましい。これにより、ファイバの光軸に対して欠陥が形成された方向に本光ファイバセンサを曲げたとき、他の方向に曲げたときに比べて、光の漏洩量が明確に大きくなる。本発明の光ファイバセンサの製造方法は、コア及び該コアの外周に設けられたクラッドから構成された光ファイバに対して、少なくとも前記コアに該光ファイバの光軸に非対称に、伝送する光の漏洩源となる欠陥をフェトム秒レーザで形成することを特徴とする。本発明の製造方法によれば、本発明の光ファイバセンサを製造することができる。本発明の実施形態に係る光ファイバセンサ10について図1を参照して説明する。光ファイバセンサ10は、コア11と、その外周部に設けられたクラッド12とを有するガラス製のシングルモード光ファイバから構成されている。コア11の屈折率は、クラッド12の屈折率よりも、僅か、例えば0.2程度高い。例えば、コア11の直径は9μmであり、クラッド12の直径は125μmである。光ファイバセンサ10には、図示しないフェトム秒レーザ加工装置を用いてフェトム秒レーザを集光照射することにより、点状の欠陥13が形成されている。ここでは、欠陥13は、光ファイバの光軸中心軸に沿って、複数形成されている。この欠陥13は、図1bに示すように、コア11とクラッド12とに亘るように形成されるものであっても、図1cに示すように、コア11の内部にのみ形成されるものであってもよい。フェトム秒レーザ加工装置は、10-15~10-13秒程度のパルス幅を有する超短パルスレーザ光を照射する。フェトム秒レーザ光は、パルス幅が非常に短いので非常に高いエネルギ密度を有する。そのため、集光点近傍のみで非線形光学効果が発生し、その結果、周囲への熱影響を極めて抑制されつつ、屈折率上昇領域である欠陥13が形成される。光ファイバセンサ10の一端に、半導体発光ダイオードLEDや半導体レーザなどの発光素子を有する光源を接続し、他端に、フォトダイオードPDや電荷結合素子CCDなどの受光素子を有する受光部を接続する。さらに、この受光部にCPUやメモリ等を備えた検出部を接続する。そして、光源から一定強度の光を出射し、光ファイバセンサ10を伝送されて、受光部で計測した受光量を検出部で検出する。光ファイバセンサ10を光軸に沿って直線状に延ばした状態で検出される受光量は、欠陥13を形成する前に比べて、減少していることが分かった。これは、屈折率上昇領域である欠陥13が光の漏洩源となって、光ファイバセンサ10外に光が漏洩したことによると考えられる。さらに、光ファイバセンサ10を曲げたとき、曲げ方向に応じて、検出される受光量が変化することが分かった。これは、光ファイバの光軸に非対称に且つ該光軸に沿って複数の欠陥13を形成したので、欠陥13が形成された側の方向に光ファイバセンサ10を曲げたとき、欠陥13から漏洩する光量以下、漏洩光量というが増加し、欠陥13が形成された側と反対方向に光ファイバセンサ10を曲げたとき、漏洩光量が減少することによると考えられる。よって、受光部で受光される光量を検出部で検出することにより、光ファイバセンサ10の曲げ方向を検出することができる。さらに、欠陥13が形成された側の方向に光ファイバセンサ10を曲げたとき、曲げが大きくなるほど受光量が減少することが分かった。これは、欠陥13を介してコア11内から一旦クラッド12に漏洩した光がコア11内に再び戻る量が、曲げが大きくなるほど減少することによると考えられる。よって、受光部で受光される光量を検出部で検出することにより、光ファイバセンサ10の曲げの程度を検出することができる。なお、光ファイバセンサ10を曲率半径30mm程度に緩やかに曲げた場合であっても、微小な曲げ変化に応じて、検出される受光量が大きく変化することが分かった。これは、コア5μm、長さ2.0mm程度のコアをコア径9μmのコアの間に同軸に融着させたヘテロコア光ファイバセンサと同等である。ヘテロコア光ファイバセンサのように、コア径を大きく変化させて、隣接する領域間で屈折率が変化する部分を大きくさせることなく、局所的な欠陥13を形成するだけで、緩やかに曲げであっても、漏洩光量が変化することが分かった。これは、例えば、コア6μm、長さ2.0mm程度のコアをコア径9μmのコアの間に同軸に融着させたヘテロコア光ファイバセンサを用いると、曲率半径30mm程度周辺の微小な曲げ変化では、検出される受光量の変化がほとんど変化しないことを考慮すると、驚嘆すべきことである。なお、本発明は実施形態に限定されるものではない。例えば、実施形態では、光ファイバの光軸に沿って1列に点状の欠陥13が複数形成される場合について説明したが、欠陥は光ファイバの光軸に非対称に形成されるものであれば、これに限定されない。例えば、また、光ファイバの光軸に沿って線状の欠陥を、1又は複数形成してもよい。また、光ファイバの光軸に沿って複数列あるいはランダム状に点状や線状等の欠陥を所定の領域内に複数形成してもよい。特に、欠陥の形状は点状に限定されず、線、三角形、矩形、多角形、星型など任意の形状であってもよく、異なる形状の欠陥が混在していてもよい。また、光ファイバの光軸と交差するように延びる欠陥を、該光軸に沿って複数形成してもよい。欠陥を多数形成するほど、又、欠陥をコア11の内部に深く形成するほど、漏洩光量が増加し、曲げ感度が向上する。ただし、漏洩光量が過大であると、光ファイバセンサ10を通信経路として使用することができないという不都合がある。よって、使用用途に応じた曲げ感度が得られるように、適宜欠陥を形成すればよい。また、光ファイバとしてシングルモード光ファイバを用いたが、これに限定されず、マルチモード光ファイバを用いてもよい。ただし、シングルモード光ファイバであれば、外部からの影響がより受け難いので好ましい。以下、光ファイバセンサ10の実施例について説明する。実施例1実施例1では、直径9μmのコア11の外周部に直径125μmのクラッド12を設けた光ファイバに対して、サイバーレーザ株式会社製のフェトム秒レーザ加工装置製品名IFRITイフリートを用いて集光照射し、53箇所の欠陥13を形成した。加工パラメータは、照射エネルギ40μJ/パルス、繰り返し周波数100Hz、パルス数10、照射位置間隔10μm、波長400nmである。光ファイバセンサ10の一端から、波長400nmの可視光を入射し、欠陥13を形成した部分の光ファイバセンサ10から外部に透過される透過光強度をファイバの一端に接続した受光素子で測定した。光軸を直線状にした光ファイバセンサ10の透過光強度を受光素子で測定したところ、-5.79dBmであった。欠陥13を形成する前の透過光強度は-4.79dBmであった。これより、欠陥13の形成によって、透過光強度が1.0dBm減少していることが分かった。すなわち、漏洩光量が増加していることが分かった。次に、図2に示すように、光ファイバセンサ10をA~Dの各方向が内側になるようにそれぞれの曲率半径Rで曲げた状態で、欠陥13を形成した部分の光ファイバセンサ10から外部に透過される透過光強度を、受光素子を用いて測定した。このときに測定した透過光強度を表1に示す、なお、曲率半径の単位はmmであり、透過光強度の単位はdBmである。表1の測定結果より、A方向とB方向が内側になるように曲げたとき、透過光強度が減少し、C方向とD方向が内側になるように曲げたとき、透過光強度が増加することが分かる。このように、欠陥13を形成したことにより、漏洩光量が曲げ方向に依存することが分かる。欠陥13は、図2に示すように、A方向とB方向との間に形成されていると考えられる。また、表1の測定結果から、A方向とB方向が内側になるように曲げたとき、曲率半径Rが減少するほど透過光強度が減少し、C方向とD方向が内側になるように曲げたとき、曲率半径Rが減少するほど透過光強度が増加することが分かる。特に、B方向が内側になるように曲げたとき、曲率半径Rが無限大と25.0mmとの間で-0.06dBm、曲率半径Rが25.0mmと21.5mmとの間で-0.06dBm、曲率半径Rが21.5mmと14.5mmとの間で-0.10dBmと、各曲率半径R間において透過光強度に明確な差が生じている。実施例2実施例2では、直径9μmのコア11の外周部に直径125μmのクラッド12を設けた光ファイバに対して、サイバーレーザ株式会社製のフェトム秒レーザ加工装置製品名IFRITイフリートを用いて集光照射し、101個の欠陥13を形成した。加工パラメータは、照射エネルギ40μJ/パルス、繰り返し周波数100Hz、波長800nmである。各欠陥13は、光軸方向の長さLが10μm、幅が1.1~1.35μmであり、光軸方向に連続するように形成した。図3に示すように、各欠陥13は、コア11とクラッド12との境界に、円弧状に形成されていることが分かった。光ファイバセンサ10の一端から、波長800nmの可視光を入射し、図2に示すように、欠陥13を形成した部分の光ファイバセンサ10から外部に透過される透過光強度をファイバの一端に接続した受光素子で測定した。光軸を直線状にした光ファイバセンサ10の透過光強度を受光素子で測定したところ、欠陥13を形成する前と比較して透過光強度が1.06dBm減少しており、漏洩光量が増加していることが分かった。次に、光ファイバセンサ10を直線状に50mmの間隔で保持した状態から、欠陥13が形成された側がそれぞれ湾曲の内側、外側になるようにした状態で、保持間隔を徐々に最大5mmだけ狭くなるように狭めていき、その後、保持間隔を徐々に広げて元の状態に戻した。この過程で、刻み幅0.05mmごとに光ファイバセンサ10から外部に透過される透過光強度を、受光素子を用いて測定した。往復7回測定した。測定結果をプロットしたグラフを図4に示す。図4中に菱形でプロットした測定結果から分かるように、欠陥13が形成された側を内側にして曲げたとき、透過光強度が増加した。そして、図4中に三角形でプロットした測定結果から分かるように、欠陥13が形成された側を外側にして曲げたとき、透過光強度が減少した。このように、光軸方向に連続した欠陥13を形成したことにより、漏洩光量が曲げ方向に依存することが分かった。また、図4の測定結果から、欠陥13が形成された側を内側にして曲げたとき、保持間隔の変位量が大きくなるほど、すなわち曲率半径Rが減少するほど透過光強度が増加し、加工損失は平均で最大0.11dBm増加した。一方、欠陥13が形成された側を外側にして曲げたとき、保持間隔の変位量が大きくなるほど、すなわち曲率半径Rが減少するほど透過光強度が減少し、加工損失は平均で最大0.13dBm減少した。そして、これらの透過光強度の変化は、曲率半径Rが減少する過程にあるか減少する過程にあるかに依存せず、曲率半径Rの値に依存しており、且つ略線形であることが分かった。以上より、実施例2の光ファイバセンサ10は、曲げ方向を検知するセンサとして好適なものであることが理解される。実施例3実施例3では、直径9μmのコア11の外周部に直径125μmのクラッド12を設けた光ファイバに対して、サイバーレーザ株式会社製のフェトム秒レーザ加工装置製品名IFRITイフリートを用いて集光照射し、41個の欠陥13を形成した。加工パラメータは、照射エネルギ40μJ/パルス、繰り返し周波数100Hz、長800nmである。各欠陥13は、光軸方向の長さLが10μm、幅が1.0~1.6μmであり、欠陥13中心の間隔が25μmとなるように、光軸方向に沿って点線状に並ぶように形成した。実施例2と同様に、各欠陥13は、コア11とクラッド12との境界に、円弧状に形成されていることが分かった。光ファイバセンサ10の一端から、波長800nmの可視光を入射し、図2に示すように、欠陥13を形成した部分の光ファイバセンサ10から外部に透過される透過光強度をファイバの一端に接続した受光素子で測定した。光軸を直線状にした光ファイバセンサ10の透過光強度を受光素子で測定したところ、欠陥13を形成する前と比較して透過光強度が0.41dBm減少しており、漏洩光量が増加していることが分かった。次に、実施例2と同様にして、往復7回測定した。測定結果をプロットしたグラフを図5に示す。図5中に菱形でプロットした測定結果から分かるように、欠陥13が形成された側を内側にして曲げたとき、透過光強度が少し増加した。そして、図5中に三角形でプロットした測定結果から分かるように、欠陥13が形成された側を外側にして曲げたとき、透過光強度が減少した。このように、光軸方向に連続した欠陥13を形成したことにより、漏洩光量が曲げ方向に依存することが分かった。また、図5の測定結果から、欠陥13が形成された側を内側にして曲げたとき、保持間隔の変位量が大きくなっても、すなわち曲率半径Rが減少しても、透過光強度は然程増加せず、加工損失は平均で最大0.03dBmだけ増加した。一方、欠陥13が形成された側を外側にして曲げたとき、保持間隔の変位量が大きくなるほど、すなわち曲率半径Rが減少するほど透過光強度が減少し、加工損失は平均で最大0.10dBm減少した。そして、欠陥13が形成された側を外側にして曲げたとき、透過光強度の変化は、曲率半径Rが減少する過程にあるか減少する過程にあるかに依存せず、曲率半径Rの値に依存しており、且つ略線形であることが分かった。以上より、実施例3の光ファイバセンサ10は、曲げ方向を検知するセンサとして適するものの、実施例2の光ファイバセンサ10と比較して、曲げ感度が劣ることが理解される。これより、欠陥13が多いほど、曲げ感度が優れたものとなると考えられる。