"ガラス基板を通すためのスリットを有する回収補助治具を用いてガラス基板を回収容器に回収する回収工程を含む磁気記録媒体用ガラス基板の回収方法であって、回収工程では、スリットの長手方向の側縁部の少なくとも一部が、スリットを通過するガラス基板の主面から離間する側に湾曲する凸弧状である回収補助治具を用いることを特徴とする磁気記録媒体用ガラス基板の回収方法。スリットの長手方向の中心軸線から、スリットを通過するガラス基板の外周端部の面取面と外周端面との間の角部に対応する位置までの距離だけ離間したスリット周縁部の点において、接線が前記中心軸線に平行な線に対してなす接線角度θ’が、前記面取面の面取角θよりも大きいことを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の回収方法。前記接線角度θ’は45°~80°であることを特徴とする請求項2に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の回収方法。スリット周縁部は面取りされていることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の磁気記録媒体用ガラス基板の回収方法。そこで、本発明の目的は、ガラス基板を回収補助治具のスリットに通すときに、ガラス基板の主面がスリットに接触しないようにして、ガラス基板を回収容器に回収することができる磁気記録媒体用ガラス基板の回収方法を提供することである。本発明者は、スリットの形状が矩形状であると、スリットとガラス基板の主面とが相互に平行になって面接触し易いことに着目し、本発明を完成した。すなわち、本発明は、ガラス基板を通すためのスリットを有する回収補助治具を用いてガラス基板を回収容器に回収する回収工程を含む磁気記録媒体用ガラス基板の回収方法であって、回収工程では、スリットの長手方向の側縁部の少なくとも一部が、スリットを通過するガラス基板の主面から離間する側に湾曲する凸弧状である回収補助治具を用いることを特徴とする磁気記録媒体用ガラス基板の回収方法である。この構成によれば、スリットの長手方向の側縁部の少なくとも一部が、スリットを通過するガラス基板の主面から離間する側に湾曲する凸弧状であるから、このスリットにガラス基板を通すときに、ガラス基板の主面がスリットに面で接触してキズがつくという問題が低減される。そのため、ガラス基板の表面品質が高められ、ガラス基板の収率が向上する。本発明においては、スリットの長手方向の中心軸線から、スリットを通過するガラス基板の外周端部の面取面と外周端面との間の角部に対応する位置までの距離だけ離間したスリット周縁部の点において、接線が前記中心軸線に平行な線に対してなす接線角度θ’が、前記面取面の面取角θよりも大きいことが好ましい。この構成によれば、ガラス基板がスリットを通過するときに、ガラス基板の外周端部の面取面と主面との間の角部便宜上主面角部ということがあるはスリットに接触せず、ガラス基板の外周端部の面取面と外周端面との間の角部同じく端面角部ということがあるがスリットに接触する。そのため、特に発生し易い外周端面近傍へのキズによる主面の表面品質の低下という問題が抑制される。その結果、ガラス基板の主面全体の表面品質が高められ、ガラス基板の収率が向上する。本発明においては、前記接線角度θ’は45°~80°であることが好ましい。主面角部のスリットへの接触がより確実に抑制されるからである。本発明においては、スリット周縁部は面取りされていることが好ましい。ガラス基板のスリットへの投入が円滑化するからである。本発明によれば、ガラス基板を回収補助治具のスリットに通すときに、ガラス基板の主面がスリットに面で接触しないようにして、ガラス基板を回収容器に回収することができる。ガラス基板がスリットに接触する場合は、ガラス基板の角部がスリットに点で接触する。そのため、ガラス基板の表面品質が高められて、磁気記録媒体に格納される情報の高密度化に寄与することができる。以下、図面を参照しつつ、本発明の実施形態を説明する。図1は、本実施形態に係る磁気記録媒体用ガラス基板の斜視図、図2は、本実施形態に係る磁気記録媒体用ガラス基板の製造工程図である。本実施形態では、ガラス基板50は、主たる工程として、円盤加工工程、ラップ工程、1次研磨粗研磨工程、2次研磨精密研磨工程、化学強化工程、最終洗浄工程、検査工程等を経て製造される。ガラス基板50に用いられるガラス素材は、二酸化ケイ素SiO2を主成分とするガラス組成物で構成される。ガラス組成物は、マグネシウム、カルシウム及び/又はセリウムを含んでも含まなくてもよい。代表的なガラス組成物は、例えば、SiO2、Al2O3、B2O3、Li2O、Na2O、K2O、MgO、CaO、BaO、SrO、ZnO等を含む。円盤加工工程では、溶融したガラス素材を金型に流し込んでプレス成形することにより円盤状のガラス基板を作製する。このときのガラス基板の大きさとしては、例えば、外径が2.5インチ、1.8インチ、1.0インチ、0.8インチ等、板厚が、2mm、1mm、0.63mm等である。また、得られたガラス基板の中心部に、例えばダイヤモンドコアドリル等を用いて円孔を形成し、環状のガラス基板とする。さらに、ガラス基板50の主面51と外周端面との間の角部を面取り加工して、ガラス基板50の外周端部に面取面を形成する。ラップ工程は、第1ラップ工程と第2ラップ工程とを含む。第1ラップ工程では、ガラス基板の表裏両面を研削し、ガラス基板の全体形状、すなわちガラス基板の平行度、平坦度及び厚み等を予備調整する。第2ラップ工程では、第1ラップ工程に続いて、ガラス基板の表裏両面を再び研削し、ガラス基板の全体形状、すなわちガラス基板の平行度、平坦度及び厚み等をさらに微調整する。ラップ工程では、例えばダイヤモンドペレットが貼り付けられた研削板を備える両面研削装置が用いられる。1次研磨工程では、次の2次研磨工程で最終的に求められる表面粗さRaが効率よく得られるように、ガラス基板の表裏両面を粗研磨する。この1次研磨工程では、例えば研磨パッドとして発泡ウレタンパッドが貼り付けられた上下一対の定盤を備える両面研磨装置が用いられ、研磨液として例えば酸化セリウムを研磨砥粒として含む研磨液スラリーが用いられる。ただし、これに限定されるものではない。2次研磨工程では、1次研磨工程に続いて、最終的に求められる表面粗さが得られるように、ガラス基板の表裏両面を精密研磨する。この2次研磨工程では、例えば研磨パッドとしてポリウレタン製のスウェードパッドが貼り付けられた上下一対の定盤を備える両面研磨装置が用いられ、研磨液として例えばコロイダルシリカを研磨砥粒として含む研磨液スラリーが用いられる。ただし、これに限定されるものではない。2次研磨工程で用いる研磨砥粒としては、従来一般にガラス研磨の分野で採用されているものを用いることができる。例えば、コロイダルシリカの他、酸化セリウム、炭化ケイ素、ジルコニア、アルミナ等も使用できる。2次研磨工程で用いる研磨砥粒の粒径は、得られるガラス基板の表面粗さや平滑性等の観点から、平均粒子径が1~100nmのものが好ましく、1~80nmのものがより好ましく、1~50nmのものがさらに好ましく、1~20nmのものが特に好ましい。化学強化工程では、ガラス基板の表面に化学強化層を形成する。例えば、ガラス基板をナトリウムイオンやカリウムイオンの存在する化学強化液に浸漬することにより、ガラス基板の表層に存在するリチウムイオンやナトリウムイオンが化学強化液中のナトリウムイオンやカリウムイオンと置換され、ガラス基板の表層が化学強化層となる。化学強化層には圧縮応力がかかっている。このような化学強化層を形成することにより、最終的に得られるガラス基板50の耐衝撃性、耐振動性及び耐熱性等が向上する。最終洗浄工程では、ガラス基板に付着している異物を、例えば、フィルタリングした純水、イオン交換水、超純水、酸性洗剤、中性洗剤、アルカリ性洗剤、有機溶剤、界面活性剤を含んだ各種洗浄剤等を用いて、洗浄し、除去する。検査工程では、ガラス基板の平坦度や厚みあるいは表面粗さや表面品質等を検査する。そして、検査に合格したガラス基板のみが、ハードディスク等の磁気記録媒体の製造に用いられ、主面に磁気層等が形成される。そして、本実施形態では、例えばラップ工程や1次研磨工程あるいは2次研磨工程が終了すると、回収工程が行われる。すなわち、図3に示すように、ガラス基板50はプロセスキャリアと称される回収容器10に入れられ、次の工程に移される。このとき、複数のガラス基板50を相互に接触させずに整列させて回収容器10に投入できるように、ガラス基板50を通すためのスリット21が複数並設された回収補助治具20が回収容器10の上に被せられて用いられる。ガラス基板50を1枚づつスリット21に通して回収容器10に投入することにより、ガラス基板50を回収容器10に形成された保持溝図示略にそれぞれ正確にセットすることができる。そして、本実施形態では、図5a、図5bに示すように、回収工程では、スリット21の長手方向の側縁部の少なくとも一部が、スリット21を通過するガラス基板50の主面51から離間する側に湾曲する凸弧状である回収補助治具20を用いる。これにより、スリット21の長手方向の側縁部の少なくとも一部が、スリット21を通過するガラス基板50の主面51から離間する側に湾曲する凸弧状であるから、このスリット21にガラス基板50を通すときに、ガラス基板50の主面51がスリット21に面で接触してキズがつくという問題が低減される。そのため、ガラス基板50の表面品質が高められ、ガラス基板50の収率が向上する。本実施形態によれば、ガラス基板50を回収補助治具20のスリット21に通すときに、ガラス基板50の主面51がスリット21に面で接触しないようにして、ガラス基板50を回収容器10に回収することができる。ガラス基板50がスリット21に接触する場合は、ガラス基板50の角部がスリット21に点で接触する。そのため、ガラス基板50の表面品質が高められて、磁気記録媒体に格納される情報の高密度化に寄与することができる。本実施形態では、図5cに示すように、スリット21の長手方向の中心軸線L1から、スリット21を通過するガラス基板50の外周端部の面取面52と外周端面53との間の端面角部に対応する位置までの距離だけ離間したスリット周縁部の点Pにおいて、接線L2が前記中心軸線L1に平行な線L3に対してなす接線角度θ’が、前記面取面52の面取角θよりも大きくされている。これにより、ガラス基板50がスリット21を通過するときに、ガラス基板50の外周端部の面取面52と主面51との間の主面角部はスリット21に接触せず、ガラス基板50の外周端部の面取面52と外周端面53との間の端面角部がスリット21に接触する。そのため、特に発生し易い外周端面53近傍へのキズによる主面51の表面品質の低下という問題が抑制される。その結果、ガラス基板50の主面51全体の表面品質が高められ、ガラス基板50の収率が向上する。本実施形態では、前記接線角度θ’は45°~80°とされている。これにより、主面角部のスリット21への接触がより確実に抑制される。本実施形態では、スリット周縁部は面取りされている。これにより、ガラス基板50のスリット21への投入が円滑化する。本実施形態では、図5aに示したような回収補助治具20の他に、図6に示すような回収補助治具20を用いてもよい。図5aに示した回収補助治具20は、各スリット21が閉じて独立していたが、図6に示す回収補助治具20は、各スリット21が長手方向の中央部で開いて相互に連通している。回収補助治具20は、分割された回収補助治具20の第1片20aと第2片20bとを対向配置して両端を留め具20cで固定した構造である。回収補助治具20を分割して成形することにより、第1片20a及び第2片20bが成形し易く、ひいてはガラス基板50の回収にかかるコストを低減することができるという利点がある。スリット形状は略楕円形、略長円形等が好適であるが、この限りではない。また、スリット形状は長手方向の中心軸に対して軸対称な形が好ましいが、この限りではない。スリット形状が軸対称な形ではない場合、中心軸は、例えば、スリットの入口面積を長手方向に二等分する軸として定義することができるが、この限りではない。以下、実施例及び比較例を通して、本発明をさらに詳しく説明するが、本発明はこの実施例により限定されるものではない。[ガラス基板の作製]図2に示した製造工程に従い、下記の組成質量のガラス素材を用いて、外径が約65mm2.5インチ、内径円孔の径が約20mm、板厚が1mmの環状のアルミノシリケート製ガラス基板を作製した。ガラス基板の外周端部の面取角θは45°、面取長さは0.15mmとした。ガラス素材の組成SiO2:50~70Al2O3:0.1~20B2O3:0~5ただし、SiO2Al2O3B2O3=50~85であり、また、Li2ONa2OK2O=0.1~20であり、また、MgOCaOBaOSrOZnO=2~20である。[回収工程]表1に示す実施例1~3及び比較例において、2次研磨工程の終了後に回収工程を行った。すなわち、実施例1~3においては、図6に示した回収補助治具20を用い、比較例においては、図4に示した回収補助治具20を用い、2次研磨が終了した1バッチ100枚のガラス基板50...50を両面研磨装置から回収容器10に回収した。なお、表1において、スリット間隔とあるのは、隣接するスリット21,21の長手方向の中心軸線L1,L1間の距離である。[表面品質の評価]各実施例及び比較例において、回収容器10に入れた状態で、化学強化工程、最終洗浄工程、検査工程を行った。そして、検査工程において、ガラス基板50の表面品質を検査し、評価した。主面の検査ガラス基板50の主面51をシステム精工社製のHe-Neレーザ光源を用いた表面検査装置SSI-640を用いて検査した。主面51に、ピット、バンプ、パーティクル、スクラッチ、その他の塵埃又はキズ等の欠陥があるか否かを検査し、サイズが5μm以上の欠陥が検出されたものを不良品とした。不良品の数に基き収率を算出し、下記基準で判定した。結果を表1に示す。判定基準A:収率が90超、100以下B:収率が87超、90以下C:収率が84超、87以下D:収率が84以下主面角部の検査ガラス基板50の主面角部を、光学顕微鏡を用いて検査した。その結果、主面の検査で不良品と判定されたものは、良品と判定されたものに比べて、一部領域の主面角部及びその近傍にキズ等の欠陥が存在していた。[結果の考察]回収補助治具のスリットの側縁部の形状が凸弧状である実施例1~3は、直線状である比較例に比べて、表面品質の評価結果が優れていた。これは、実施例1~3では、回収工程において、ガラス基板を回収容器に投入するときに、ガラス基板の主面が回収補助治具のスリットに接触することが抑制されたためと考察される。実施例1~3のうちでも、接線角度θ’が60°、80°である実施例2、3は、30°である実施例1よりも、表面品質の評価結果がさらに良好であった。これは、実施例2、3では、接線角度θ’が面取角θよりも大きいから、回収工程において、ガラス基板を回収容器に投入するときに、ガラス基板の主面角部が回収補助治具のスリットに接触することが抑制されたためと考察される。"