電位を有する蓄電素子に交流電流を通電する交流電流発生器と、前記交流電流発生器により通電された交流電流によって前記蓄電素子に発生する交流電圧を計測する交流電圧計とを備えて構成される内部抵抗計測器により計測される前記蓄電素子の内部抵抗計測値を校正する、前記交流電流発生器および前記交流電圧計に校正用の基準抵抗器が並列に接続されて構成される計測値校正回路において、前記内部抵抗計測器により前記蓄電素子の内部抵抗を計測する際に前記蓄電素子および前記交流電圧計間に接続される交流結合素子が前記基準抵抗器および前記交流電圧計間に接続され、前記蓄電素子が有する電位と同等の電位を前記交流結合素子に与える電位付与手段を備えたことを特徴とする計測値校正回路。前記蓄電素子が有する電位と同等の電位を前記交流電流発生器に与える電位付与手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の計測値校正回路。前記電位付与手段は、電圧設定信号に応じた直流定電圧を発生する直流定電圧回路によって構成されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の計測値校正回路。しかし、実際の計測器3における、交流電圧vを計測する回路は、交流成分のみを通過させるように、図3に示すように、蓄電素子4および交流電圧計2間にコンデンサ6が交流結合素子として接続される場合が多い。なお、同図において、図1と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。このような、コンデンサ6により交流電圧計2が蓄電素子4に交流結合される計測器3は、交流結合に用いるコンデンサ6の種類によっては、蓄電素子4からコンデンサ6への印加電圧によりコンデンサ6の静電容量値が変化し、測定値が蓄電素子4そのものの値とずれる場合がある。例えば、図4のグラフに示すように、コンデンサ6としてアルミ電解コンデンサやタンタル電解コンデンサを用いた場合は、印加電圧が変化してもその静電容量値は変化しないが、積層セラミックコンデンサを用いた場合は、印加電圧によってその静電容量値が大きく変化してしまう。なお、同グラフにおいて、横軸はコンデンサへの印加電圧V、縦軸は百分率で表したコンデンサの静電容量変化率を示す。また、測定点が黒丸印でプロットされた実線で示される特性線はアルミ電解コンデンサの特性、×印でプロットされた点線で示される特性線はタンタル電解コンデンサの特性、黒三角印でプロットされた一点鎖線で示される特性線は積層セラミックコンデンサB特性の特性、黒四角印でプロットされた二点鎖線で示される特性線は積層セラミックコンデンサF特性の特性を表す。このため、図3に示す内部抵抗計測回路において、コンデンサ6としてアルミ電解コンデンサやタンタル電解コンデンサを用いればよいのだが、これらのコンデンサは、容量の経年変化が大きいとか、寿命が短いなどの問題がある。一方、積層セラミックコンデンサは、これらの問題もなく、経年変化が少なく、周波数特性や低発熱、耐電圧等総合的に優れた特性を有しているので好ましい。しかし、積層セラミックB特性や積層セラミックF特性等を用いた場合、コンデンサ6の静電容量値変化により回路のインピーダンスが変化し、内部抵抗計測器3で計測される蓄電素子4の内部インピーダンスは変化してしまう。従って、このような回路で蓄電素子4の内部インピーダンスを計測する内部抵抗計測器3を、基準抵抗器5を用いた図2に示す計測値校正回路で校正した場合には、内部抵抗計測器3で計測される蓄電素子4の内部抵抗値が実際の内部抵抗値と異なり、誤差が生じてしまう問題が起きる。本発明はこのような課題を解決するためになされたもので、電位を有する蓄電素子に交流電流を通電する交流電流発生器と、交流電流発生器により通電された交流電流によって蓄電素子に発生する交流電圧を計測する交流電圧計とを備えて構成される内部抵抗計測器により計測される蓄電素子の内部抵抗計測値を校正する、交流電流発生器および交流電圧計に校正用の基準抵抗器が並列に接続されて構成される計測値校正回路において、内部抵抗計測器により蓄電素子の内部抵抗を計測する際に蓄電素子および交流電圧計間に接続される交流結合素子が基準抵抗器および交流電圧計間に接続され、蓄電素子が有する電位と同等の電位を交流結合素子に与える電位付与手段を備えたことを特徴とする。本構成によれば、基準抵抗器を用いた内部抵抗計測器の校正時、基準抵抗器および交流電圧計間に接続された交流結合素子に、蓄電素子が有する電位と同等の電位が電位付与手段によって与えられる。従って、内部抵抗計測器を用いた蓄電素子の内部抵抗計測時に交流結合素子に印加される電位と同等の電位が、計測値校正回路における交流結合素子に与えられた状態で、基準抵抗器を用いた内部抵抗計測器の校正が行われる。このため、基準抵抗器を用いた内部抵抗計測器の校正時、交流結合素子への印加電位による交流結合素子の特性値変化は、内部抵抗計測器を用いた蓄電素子の実際の内部抵抗計測時の計測条件と同等となる。この結果、従来のように基準抵抗器のみを用いて内部抵抗計測器を校正する場合と比較して、交流結合素子への電位印加に起因する校正誤差を極めて少なくすることが出来る。また、本発明は、蓄電素子が有する電位と同等の電位を交流電流発生器に与える電位付与手段をさらに備えたことを特徴とする。本構成によれば、基準抵抗器を用いた内部抵抗計測器の校正時、交流電流発生器にも蓄電素子が有する電位と同等の電位が電位付与手段によって与えられることで、計測条件は、内部抵抗計測器を用いた蓄電素子の実際の内部抵抗計測時の計測条件にさらに近いものとなる。このため、蓄電素子が有する電位と同等の電位が交流結合素子にのみ与えられる場合と比較して、校正誤差をさらに少なくすることが出来る。また、本発明は、電位付与手段が、電圧設定信号に応じた直流定電圧を発生する直流定電圧回路によって構成されることを特徴とする。本構成によれば、蓄電素子が有する電位と同等の電位は、電圧設定信号に応じて直流定電圧回路により直流定電圧として生成される。従って、蓄電素子の種類に応じて電圧設定信号が設定されることで、蓄電素子が有する電位と同等の電位は、各蓄電素子が有する固有の電位に応じて直流定電圧回路により生成される。このため、基準抵抗器を用いた内部抵抗計測器の校正は、複数種類の蓄電素子について、同じ直流定電圧回路を用いた同じ計測値校正回路によって行え、校正作業の作業効率が向上する。本発明によれば、上記のように、基準抵抗器のみを用いて内部抵抗計測器を校正する従来の場合と比較して、交流結合素子への電位印加に起因する校正誤差を極めて少なくすることが出来る。次に、蓄電素子の内部抵抗計測器自体の計測値を校正する、本発明の第1の実施形態による計測値校正回路について説明する。図5は、この第1の実施形態による計測値校正回路を示す図である。内部抵抗計測器3は、交流電流発生器1および交流電圧計2から構成され、図示しない蓄電素子の内部抵抗rの計測時には、交流電流発生器1および交流電圧計2に並列に蓄電素子が接続される。蓄電素子は、電池などの電位を有する素子であり、交流電流発生器1により蓄電素子に交流電流iが通電され、この通電により蓄電素子に発生した起電力vが交流電圧計2で計測される。そして、交流電流発生器1により蓄電素子に通電した交流電流i、および交流電圧計2で計測された電圧vの各値から、演算式r=v÷iによって蓄電素子の内部抵抗rが求められるものである。計測値校正回路は、同図に示すように、上記の内部抵抗計測器3を構成する交流電流発生器1および交流電圧計2に並列に基準抵抗器5が接続されて構成されている。基準抵抗器5および交流電圧計2間には一対のコンデンサ6が接続されている。このコンデンサ6は、内部抵抗計測器3により蓄電素子の内部抵抗rが上記のようにして計測される際に、蓄電素子および交流電圧計2間に接続されて、交流電圧計2を蓄電素子に交流結合させる交流結合素子として用いられるものである。また、基準抵抗器5および一方のコンデンサ6間には、直列に直流電圧源7が接続されている。この直流電圧源7は、電池などで構成され、内部抵抗計測器3によって内部抵抗rが計測される蓄電素子が有する電位と同等の直流電位v1を発生し、コンデンサ6に与える電位付与手段を構成している。また、基準抵抗器5および交流電流発生器1間にも、直列に直流電圧源8が接続されている。この直流電圧源8も、電池などで構成され、内部抵抗計測器3によって内部抵抗rが計測される蓄電素子が有する電位と同等の直流電位v1を発生し、交流電流発生器1に与える電位付与手段を構成している。内部抵抗計測器3によって内部抵抗rが計測される蓄電素子が、例えば、鉛蓄電池の1セルである場合には、上記の直流電圧源7および8は、蓄電素子が有する電位と同等の直流電位v1として、2.0Vを発生する1セルの鉛蓄電池をそれぞれ用いた。また、基準抵抗器5は例えば1mΩの抵抗値に設定される。このような本実施形態による計測値校正回路によれば、基準抵抗器5を用いた内部抵抗計測器3の校正時、基準抵抗器5および交流電圧計2間に接続されたコンデンサ6に、蓄電素子が有する電位と同等の電位v1が直流電圧源7によって与えられる。従って、内部抵抗計測器3を用いた蓄電素子の内部抵抗計測時にコンデンサ6に印加される電位と同等の電位v1が、計測値校正回路におけるコンデンサ6に与えられた状態で、基準抵抗器5を用いた内部抵抗計測器3の校正が行われる。このため、基準抵抗器5を用いた内部抵抗計測器3の校正時、コンデンサ6への印加電位によるコンデンサ6の特性値変化、つまり、静電容量値変化は、内部抵抗計測器3を用いた蓄電素子の実際の内部抵抗計測時の計測条件と同等となる。この結果、従来のように基準抵抗器5のみを用いて内部抵抗計測器3を校正する場合と比較して、コンデンサ6への電位印加に起因する校正誤差を極めて少なくすることが出来る。また、本実施形態による計測値校正回路によれば、基準抵抗器5を用いた内部抵抗計測器3の校正時、交流電流発生器1にも蓄電素子が有する電位と同等の電位v1が直流電圧源8によって与えられることで、計測条件は、内部抵抗計測器3を用いた蓄電素子の実際の内部抵抗計測時の計測条件にさらに近いものとなる。このため、蓄電素子が有する電位と同等の電位v1がコンデンサ6にのみ与えられる場合と比較して、校正誤差をさらに少なくすることが出来る。次に、蓄電素子の内部抵抗計測器自体の計測値を校正する、本発明の第2の実施形態による計測値校正回路について説明する。図6は、この第2の実施形態による計測値校正回路を示す図である。なお、同図において、図5と同一または相当する部分には同一符号を付してその説明は省略する。本実施形態による計測値校正回路は、内部抵抗計測器3によって内部抵抗rが計測される蓄電素子が有する電位と同等の電位v1が、直流定電圧回路7aおよび8aによって生成される点のみが、上述した第1の実施形態による計測値校正回路と異なる。これ以外の構成は、上述した第1の実施形態による計測値校正回路と同じである。直流定電圧回路7aおよび8aは、電圧設定信号に応じた直流定電圧v1を発生する。この直流定電圧v1は、直流定電圧回路7aおよび8aに入力される電圧設定信号に同期して可変される。例えば、蓄電素子が、鉛蓄電池1セルの2.0Vでなく、3セル直列の6.0Vや、6セル直列の12.0Vなどの、電位の異なる鉛蓄電池である場合、直流定電圧回路7aおよび8aから出力される直流定電圧は、入力される電圧設定信号に同期してこれら蓄電素子が有する電位と同等の電位v1の各値にそれぞれ可変される。このような本実施形態による計測値校正回路によれば、蓄電素子が有する電位と同等の電位v1は、電圧設定信号に応じて直流定電圧回路7aおよび8aにより直流定電圧として生成される。従って、蓄電素子の種類に応じて電圧設定信号が設定されることで、蓄電素子が有する電位と同等の電位v1は、各蓄電素子が有する固有の電位に応じて直流定電圧回路7aおよび8aにより生成される。このため、基準抵抗器5を用いた内部抵抗計測器3の校正は、固有電位の異なる複数種類の蓄電素子について、同じ直流定電圧回路7aおよび8aを用いた同じ計測値校正回路によって行え、校正作業の作業効率が向上する。なお、本実施形態においては、基準抵抗器5と一方のコンデンサ6間および基準抵抗器5と交流電流発生器1間に各々直列に直流電圧源7、8や直流定電圧回路7a、8aを夫々接続した例を示したが、基準抵抗器5に直列に1つの直流電圧源や直流定電圧回路を接続し、これらの両端に交流電流発生器1と交流電圧計2を接続するようにしても良い。