検体保持部に保持された検体の像を撮像光学系により撮像素子に投影する撮像装置において、前記撮像光学系の光軸に対して交差する方向から前記検体保持部を撮像し、前記撮像により得られた情報に基づいて、前記検体保持部の前記撮像光学系側にある透明板の厚さを計測する厚さ計測手段と、前記厚さ計測手段の計測結果に基づいて前記透明板によって発生する収差と焦点位置ずれの少なくとも一方を補正する補正手段と、を有することを特徴とする撮像装置。前記検体保持部の表面形状を計測する表面形状計測手段を有し、前記制御手段は、前記厚さ計測手段の計測結果と前記表面形状計測手段の計測結果とに基づいて前記検体保持部によって発生する収差または焦点位置ずれを補正する制御を行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記厚さ計測手段は、撮像光学系の光軸に対して交差する方向から前記検体保持部を撮影する厚さ計測用カメラと、前記厚さ計測用カメラで取得した情報から前記検体保持部の厚さを演算する演算部と、を有することを特徴とする請求項1または2に記載の撮像装置。前記厚さ計測手段は、前記光軸に直交する平面に対して前記厚さ計測用カメラの傾きを調整する調整手段を有し、前記厚さ計測用カメラの光軸方向から見たときの前記検体保持部の厚さが最大になるように前記厚さ計測用カメラの傾きを調整することを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。前記光軸に直交する平面に対する前記検体保持部の傾きを検出する傾き検出手段を有し、前記厚さ計測手段は、前記傾き検出手段の検出結果と前記厚さ計測用カメラで取得した情報とに基づいて前記検体保持部の厚さを演算することを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。複数の撮像素子を有し、前記複数の撮像装置をそれぞれ駆動可能であり、前記制御手段は、前記検体の像が前記複数の撮像素子にそれぞれ合焦するように前記厚さ計測手段の計測結果に基づいて前記複数の撮像素子を駆動することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。前記制御手段は、前記厚さ計測手段の計測結果に基づいて前記撮像光学系の光学素子を光軸方向に移動させることで前記検体保持部によって発生する収差または焦点位置ずれを補正する制御を行うことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。前記制御手段は、前記厚さ計測手段の計測結果に基づいて前記検体保持部と前記撮像素子との間に補正レンズまたは補正プレートを挿入することで前記検体保持部によって発生する収差または焦点位置ずれを補正する制御を行うことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。前記検体保持部は、スライドガラスとカバーガラスとを含み、前記厚さ計測手段により、前記スライドガラスまたは前記カバーガラスの厚さを計測することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像装置。前記厚さ計測用カメラは、前記撮像光学系の光軸方向から前記検体保持部を見た場合の前記スライドガラスの端と前記カバーガラスの端との距離以上の被写界深度を有することを特徴とする請求項9に記載の撮像装置。前記撮像装置は顕微鏡であることを特徴とする請求項1乃至10に記載の撮像装置。特許文献3のようにレーザ測距計を用いた方法では、撮像光学系での撮像面と平行方向からのカバーガラスの厚み情報を得ることができる。しかし、カバーガラスやスライドガラスには幅があるため、全ての端面での厚さ計測を行おうとすると時間が掛かる。そのため、撮像全体としても時間がかかってしまう。また、カバーガラスとスライドガラスの屈折率差が小さいため、光を用いてカバーガラスやスライドガラスの厚さを計測しようとしても正確に計測するのは難しい。そのため、光を用いて計測するためには、時間が掛かったり、複雑な装置を用いたりする必要がある。そこで、本発明は簡単な構成で検体保持部の透明板の厚さを高速で計測し、その計測結果に基づいて撮像光学系の収差と焦点位置の少なくとも一方を補正することで、高速に良好な画像を取得することが可能な撮像装置を提供することを目的とする。本発明は、検体保持部に保持された検体の像を撮像光学系により撮像素子に投影する撮像装置において、前記撮像光学系の光軸に対して交差する方向から前記検体保持部を撮像し、前記撮像により得られた情報に基づいて、前記検体保持部の前記撮像光学系側にある透明板の厚さを計測する厚さ計測手段と、前記厚さ計測手段の計測結果に基づいて前記透明板によって発生する収差と焦点位置ずれの少なくとも一方を補正する補正手段と、を有することを特徴とする。本発明によれば、撮像光学系側にある透明板の厚さを速く計測できる。そして、得られた厚さに基づいて撮像光学系の収差と焦点位置の少なくとも一方を補正するため、良好な画像信号を速く取得することができる撮像装置を提供することが可能となる。以下、本発明の構成を、図を用いて説明する。図1は、本実施形態の撮像装置の概略図である。撮像装置100は、検体等の撮像対象物を含んだプレパラートを広視野、高解像度で撮像する撮像部101と、撮像光学系40で良好な画像を取得するために、撮像前にプレパラートの計測を行う計測部102で構成される。撮像部101は撮像用照明光学系10、撮像光学系40、撮像素子部50で構成される。撮像用照明光学系10は、ステージ20に載せたプレパラート30を照明するための光学系である。ステージ20は、プレパラート30を撮像部101と計測部102との間で移動させるためのものであり、XY方向に移動させるための不図示の駆動機構を備えている。更にプレパラートをZ方向やXYZ軸回りに回転させるための駆動機構を備えてもよい。撮像用照明光学系10からの照明光をプレパラート30に照射するために、ステージ20は、例えばプレパラート30をその周縁部で支える構造になっている。プレパラート30は、図2に示す様にカバーガラス透明板301、検体302、スライドガラス透明板303で構成され、撮像対象物である検体302を検体保持部であるカバーガラス301とスライドガラス303で保持する。撮像光学系40は、検体302を撮像素子部50で撮像するための光学倍率β倍の結像光学系である。撮像光学系40に対してプレパラート30と撮像素子部50は、それぞれ物体と像面の関係となるように配置される。また、撮像素子部50は駆動機構を備えており、駆動機構に計測部102の計測結果情報が入力されることによって、撮像素子を合焦位置まで光軸方向へ移動させることができる。撮像素子部50は、平面状に配置された複数の撮像素子を含む構成であってもよいし、1つの撮像素子からなる構成であってもよい。複数の撮像素子を含む構成の場合は、複数の撮像素子にそれぞれ駆動機構を設けてそれぞれ光軸方向に駆動可能にすることで、撮像素子ごとに合焦動作を行うことができる。また、撮像素子部50が複数の撮像素子を含む構成の場合は、ステージ20によってプレパラート30を所定量ずつ複数回移動させながら複数回の撮像を行い、それにより得られた画像情報を繋ぎあわせて1つの画像情報を得ることになる。計測部102は、図1で示すように計測用照明光学系70、撮像範囲計測装置80、面形状計測装置90表面形状計測手段、厚さ計測用カメラ601で構成される。計測用照明光学系70は、平行光すなわち平面波を射出する。ビームスプリッタ701は入射した平行光の一部を反射してプレパラート30へ入射させる。そして、プレパラート30に入射した平行光が反射光と透過光に分けられる。反射光は、カバーガラス301の表面形状により波面が歪む。波面歪みを有した反射光はビームスプリッタ701を透過し、面形状計測部90へ入射する。面形状計測部90で計測されたカバーガラス301の表面形状情報は演算部602で処理され、プレパラート30の焦点位置情報が取得される。そして、プレパラート30の撮像を行う際には、その焦点位置情報を用いて撮像素子部50の撮像素子を合焦位置へ移動させる。面形状計測部90は、シャックハルトマン型波面センサを用いることで高速に面形状計測ができる。面形状計測部90は、変倍光学系901とシャックハルトマン型波面センサ902を備える。シャックハルトマン型波面センサ902は、図6に示すように、マイクロレンズアレイ912、受光素子922を備えうる。図6において、カバーガラス301からの波面歪みを有した反射光がマイクロレンズアレイ912に入射すると、レンズアレイ912により受光素子922上に複数の点像が形成される。このとき各点像は、波面歪み無しの場合の結像点からずれた位置に結像する。この位置ずれ量の情報を演算部602に入力し、演算処理することでカバーガラス301の表面形状情報を取得する。図1に戻りプレパラート30を透過した光は、撮像範囲計測部80へ入射する。撮像範囲計測部80で計測された撮像範囲計測情報は演算部602に入力され、演算部602により撮像範囲情報が得られる。厚さ計測用カメラ601は、プレパラート30のカバーガラス301の厚さの計測に用いられる。厚さ計測用カメラ601は、少なくともプレパラート30の側面を撮影可能な位置に取付けられる。好ましくは、図1で示した座標軸を用いて表現すると、XY平面に平行な方向からプレパラート30を撮影する位置に取り付けられ、厚さ計測用カメラ601の光軸がプレパラート30もしくはステージ20の側面に交差するような位置に取付けられていればよい。なお図1では、厚さ計測用カメラ601によりY方向から撮影を行っているが、X方向から撮影してもよい。以下、この座標系を用いて説明する。厚さ計測用カメラ601は、図2bに示したカメラ側カバーガラス端とスライドガラス端の距離DxY方向から撮影するときはDy以上の被写界深度を有するカメラであることが望ましい。カバーガラス端とスライドガラス端の距離以上の被写界深度を有することで、カバーガラス301とスライドガラス303の境界が判別し易くなり、カバーガラス301の厚さを計測し易くなる。また、高倍率カメラを用いた方が一般には精度が高い距離測定をすることができるが、高倍率にしすぎると、カバーガラス厚のばらつき、プレパラート30の作成精度、ステージ20上への設置精度によって、撮影したい範囲を網羅できない可能性がある。想定されるカバーガラス厚のばらつき、カバーガラス製造誤差、プレパラート作成精度、ステージ設置精度を加味した画角で撮影できるカメラを選択する必要がある。上述した機能を備えた厚さ計測用カメラ601で撮影したプレパラートの端部の画像の一例を図3に示す。この端部の画像が厚さ計測用の画像である。この撮影した画像情報を演算部602で画像処理することで、カバーガラス端面の厚さであるカバーガラス厚Tcを得ることができる。Tcの値はY座標上の位置によって異なる可能性がある。取得した厚さ計測用画像を演算処理すれば、所望のY位置での厚み情報を何点でも得ることが可能となる。また、撮影範囲をずらして全域を計測することも可能である。画像処理によってカバーガラス厚を計測するには、公知の寸法計測方法を用いる。この方法として、例えば特開平8-35813号公報に開示されるような方法がある。これは、画像にノイズ除去、エッジ協調などのフィルタリング処理を施して、この処理後の画像を適当な閾値で0と1の2値化を行い、この2値化された画像情報に対して、値が1である画素を計測点として指定し、それら計測点同士の座標から寸法を求めるものである。制御部603は、得られたカバーガラス厚情報に基づいて、撮像部101に対し、カバーガラス厚に因った収差制御を施すことで良好な検体画像を取得することができる。カバーガラスの厚さに起因して発生する収差や焦点位置を補正するための方法として、例えば以下のような方法が考えられる。第1の方法として、カバーガラス厚に応じて、撮像光学系40のレンズやミラーなどの光学素子を移動させて収差を補正する方法が考えられる。第2の方法として、補正レンズや補正プレートを用いる方法がある。この場合、撮像光学系40はカバーガラス厚が特定の厚みであることを想定して設計されている。厚さ計測により、想定と異なるカバーガラス厚を有したプレパラートを撮影することがわかったとき、撮像光学系に補正レンズや補正プレートを挿入する。厚さや、場合によっては屈折率が異なる補正レンズや補正プレートをいくつか用意しておけば、撮像するプレパラートのカバーガラス厚情報に対応して適切な補正レンズや補正プレートを選択して挿入することができる。このように、補正レンズや補正プレートを用いることで焦点位置と球面収差を補正することができる。また、複数の撮像素子にそれぞれ駆動機構が設けられている場合は、カバーガラス厚に応じて複数の撮像素子の位置を動かすことで焦点位置を補正してもよい。いずれの場合においても、予めカバーガラスの光学特性やカバーガラスの厚さに対する収差や焦点位置ずれの発生量等を計算や実験によって取得しておくことで、適切に収差や焦点位置を補正することができる。また、図4に示すように、ステージ20とプレパラート30の間にごみ等の付着物により、プレパラート30が厚さ計測用カメラ601の光軸回り図中ではX軸回りに傾く場合が想定される。厚さ計測用カメラ601の水平が保たれているとすれば、例えばステージ20上面と平行な面を基準面と想定することで、基準面とプレパラートの傾き量情報を得ることが出来る。この傾き量を加味して、カバーガラス厚を計測するようにすれば良い。次に、図5に示すようにプレパラート30が厚さ計測用カメラ601の光軸に対して傾いている図中ではY軸回りに傾いている場合を考える。図5aは、Y軸方向からプレパラート30を見た図で、図5bは、厚さ計測用カメラ601でプレパラート30を見た図である。プレパラート30の傾き量θxによって、見た目のカバーガラス厚Tc’は変化する。TcとTc’の間には、θxを用いれば1Tc’=Tc×cosθxという関係がある。θxの影響を除去する方法として、撮影光学系40の光軸に直交する平面に対して厚さ計測用カメラ601またはステージ20の傾きを調整可能な駆動機構を搭載する方法が考えられる。この駆動機構により、カバーガラス301およびスライドガラス303の端面と厚さ計測用カメラ601の光軸が垂直になるようにして撮影することが可能となる。θxの検出はシャックハルトマンセンサに入射した波面情報から検出することができるため、この検出結果であるθxの情報から厚さ計測用カメラ601またはステージ20の傾き量を決定することができる。ここでは、シャックハルトマンセンサが傾き検出手段として動作する。また、厚さ計測用カメラ601またはステージ20を、Y軸を中心に移動させながら画像を取得し、Tc’の値を演算していく。Tc’が最大値となるのはTc’=Tcのときであり、この位置が撮像光学系の撮像面と平行方向になったときであるとする。実際の装置では、X軸、Y軸両方の傾きが混在していることが想定されるが、上記の方法で、1成分ずつ影響を除去すれば、厚み計測用画像が取得できるためカバーガラス厚を計測することができる。次に、上記のようにして得られたカバーガラス厚Tcからカバーガラス全体の厚さを取得する方向について説明する。図5を用いて説明すると、上記方法によりY方向における所定位置でのカバーガラス厚Tcが取得されているので、そのTcの値をX方向にもそれぞれ反映させることで、カバーガラス全体の厚さ情報として取得する。つまり、Y方向の所定の位置においてX方向のTcの値は一様であると推定することで、カバーガラス全体における厚さ情報を取得する。上記の場合は、厚さ計測用カメラ601の撮影範囲が比較的広い場合に有効であるが、高精度にカバーガラス厚を計測するために、厚さ計測用カメラ601の撮影範囲を狭くしなくてはならない場合がある。この場合は、カバーガラス全ての端面の厚さを計測するのに時間を要する可能性がある。そのため、ある特定の位置でカバーガラス厚Tcを取得しておき、このTcの情報と面形状計測部90で取得した表面形状情報からXY平面の所望の位置のカバーガラスの厚さ情報を取得する。具体的に説明すると、面形状計測部90で取得した表面形状情報からは、ある基準点に対するカバーガラスの表面のうねり光軸方向の凹凸の差が分かる。そのため、基準点として予め取得したカバーガラス厚Tcを用いることで、XY平面のカバーガラスの所望の位置におけるTcからの厚さの差の情報が取得できる。これにより得られた差にTcを足せば、XY平面のカバーガラスの所望の位置におけるカバーガラスの厚さを取得することができる。この方法は、カバーガラスの底面スライドガラス側のうねりが上面撮像光学系側のうねりに比べて小さい場合に特に有効である。以上のような構成で、カバーガラスの厚さ情報を得ることができ、得られたカバーガラス厚さ情報を基にカバーガラスの厚さに起因した収差補正等を行うことにより良好な画像を得ることができる。本実施例では、カバーガラスの厚さを計測することについて説明したが、スライドガラス側から検体の撮像を行う場合も考えられる。その場合は、上記方法を用いてスライドガラスの厚さを計測することができる。また、本発明で想定している画像取得装置においては、撮像部101側で厚さ計測を行うことも可能である。その際は、プレパラート30が撮像光学系40の撮像位置にあるときに撮影できるように、撮像部101に厚さ計測用カメラ601を配置する。計測部102で表面形状と撮像範囲を計測されたプレパラート30は、不図示の駆動機構を備えるステージ20で撮像部101に移動される。そして、撮像部101に移動したプレパラート30の端部を、厚さ計測用カメラ601で撮影し、得られた画像情報に画像処理を行うことでカバーガラス厚を計測することができる。本実施例の構成では、ステージ20を駆動した後にカバーガラス厚を計測するため、ステージ駆動に伴うプレパラートの位置ずれも検出することができる。また、計測部102から撮像部101へプレパラート30を移動させる途中の位置に厚み厚さ計測用カメラ601を配置することで、プレパラート30を移動させている間にカバーガラス厚を計測することができ、移動時間を有効に利用することができる。さらに、例えば図1のように計測部102から撮像部101へX方向にステージ20が移動する場合を考える。このとき、厚さ計測用カメラ601の撮影範囲とカバーガラス301の大きさの関係から一括でカバーガラス30のX方向全体を撮影できない場合、撮像部101や計測部102でカバーガラス30の厚さ計測のためにステージ20を敢えて動かす必要がなくなる。そのため、ステージ20を動かすことによるプレパラート30の位置ずれ等を低減することが可能となる。