質量分析計のイオンガイド内の汚染影響を低減するイオンレンズであって、該イオンレンズは、所与の半径のオリフィスを備える構造部材であって、該構造部材は、該イオンガイドの出口領域において該イオンレンズを支持する、構造部材と該構造部材から延在する円錐部材であって、該円錐部材は、中空であり、所与のテーパ角度と該所与の半径の底面とを備える、円錐部材とを備え、該底面の周縁は、該オリフィスの周縁に接続され、該円錐部材は、該円錐部材の頂部を通る開口をさらに備え、該開口は、該イオンガイドから該開口を通してイオンを受容する、イオンレンズ。前記所与の半径および前記所与のテーパ角度は、前記頂部を含む前記円錐部材の少なくとも一部が、前記イオンガイドの前記出口領域内に存在することを可能にする、請求項1に記載のイオンレンズ。前記オリフィスは、前記構造部材の中心部分に位置し、前記円錐部材は、該中心部分から延在する、請求項1に記載のイオンレンズ。前記テーパ角度は、10°と80°との間、40°と50°との間、および45°のうちの少なくとも1つである、請求項1に記載のイオンレンズ。前記円錐部材は、円錐、凸状円錐、および凹状円錐のうちの少なくとも1つを含む、請求項1に記載のイオンレンズ。前記円錐部材は、前記イオンガイドの出口領域に相補的であり、該イオンガイドの該出口領域は、該円錐部材と逆の形状を備える、請求項1に記載のイオンレンズ。前記イオンガイドの前記出口領域は、斜角が付けられている、請求項6に記載のイオンレンズ。前記構造部材は、前記イオンガイドの端面に相補的であること、平面であること、円筒断面であること、および球断面であることのうちの少なくとも1つである、請求項1に記載のイオンレンズ。質量分析計であって、該質量分析計は、イオン源と、該イオン源からのイオンを受容する複数のイオンガイドであって、該複数のイオンガイドの各々は、入口領域と、出口領域と、その間にある通路であって、該イオン源からのイオンが通過する通路とを備える、複数のイオンガイドと、該複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの端面に位置する少なくとも1つのイオンレンズであって、該少なくとも1つのイオンレンズは、所与の半径のオリフィスを備える構造部材であって、該構造部材は、該複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの出口領域において該イオンレンズを支持する、構造部材と、該構造部材から延在する円錐部材であって、該円錐部材は、中空であり、所与のテーパ角度と該所与の半径の底面とを備え、該底面の周縁は、該オリフィスの周縁に接続され、該円錐部材は、該円錐部材の頂部を通る開口をさらに備え、該開口は、該複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つから、該開口を通してイオンを受容する、円錐部材とを備える、少なくとも1つのイオンレンズと該イオンを検出する検出器であって、該検出器は、該複数のイオンガイドおよび該少なくとも1つのイオンレンズの後に位置する、検出器とを備える、質量分析計。前記所与の半径および前記所与のテーパ角度は、前記頂部を含む前記円錐部材の少なくとも一部が前記複数のイオンガイドのうちの前記少なくとも1つの前記出口領域内に存在することを可能にする、請求項9に記載の質量分析計。前記オリフィスは、前記複数のイオンガイドのうちの前記少なくとも1つの中心部分に位置し、前記円錐部材は、該中心部分から延在する、請求項9に記載の質量分析計。前記テーパ角度は、10°と80°との間、40°と50°との間、および45°のうちの少なくとも1つである、請求項9に記載の質量分析計。前記円錐部材は、円錐、凸状円錐、および凹状円錐のうちの少なくとも1つを備える、請求項9に記載の質量分析計。前記円錐部材は、前記複数のイオンガイドのうちの前記少なくとも1つの前記出口領域に相補的であり、該イオンガイドの出口領域は、該円錐部材と逆の形状を備える、請求項9に記載の質量分析計。前記複数のイオンガイドのうちの前記少なくとも1つの前記出口領域は、斜角が付けられている、請求項14に記載の質量分析計。前記構造部材は、前記複数のイオンガイドのうちの前記少なくとも1つの端面に相補的であること、平面であること、円筒断面であること、および球断面であることのうちの少なくとも1つである、請求項9に記載の質量分析計。前記少なくとも1つのイオンレンズの前記開口は、前記複数のイオンガイドのうちの前記少なくとも1つの前記出口領域と整列させられ、前記構造部材は、該複数のイオンガイドのうちの該少なくとも1つの前記端面に実質的に平行である、請求項9に記載の質量分析計。前記円錐部材および前記出口領域は、少なくとも1つのチャネルを形成し、該少なくとも1つのチャネルは、前記複数のイオンガイドのうちの前記少なくとも1つから流出するガスを自身を通過させる、請求項9に記載の質量分析計。前記複数のイオンガイドのうちの前記少なくとも1つを囲む外筒をさらに備え、該外筒は、前記ガスが前記少なくとも1つのチャネルに到達するまで該ガスを含有する、請求項18に記載の質量分析計。前記円錐部材が前記イオンによって汚染されるとき、結果として生じる電場と前記複数のイオンガイドのうちの前記少なくとも1つの長手軸との角度は、ゼロよりも大きい、請求項9に記載の質量分析計。本明細書の第1の側面は、質量分析計のイオンガイド内の汚染の影響を低減させるためのイオンレンズを提供する。イオンレンズは、所与の半径のオリフィスを備えている構造部材であり、イオンレンズを支持するための構造部材をイオンガイドの出口領域に備えている。イオンレンズは、構造部材から延在する円錐部材をさらに備え、円錐部材は中空であり、所与のテーパ角度coneangleと、所与の半径の底面とを備え、底面の周縁はオリフィスの周縁に接続されており、円錐部材は、円錐部材の頂部を通る開口をさらに備え、開口は、そこを通してイオンガイドからイオンを受容する。所与の半径および所与のテーパ角度は、頂部を含む、円錐部材の少なくとも一部をイオンガイドの出口領域内に存在させることができる。オリフィスは、構造部材の中心部分に位置することができ、円錐部材は、中心部分から延在することができる。テーパ角度は、10°と80°との間、40°と50°との間、および45°のうちの少なくとも1つであることができる。円錐部材は、円錐、凸状円錐、および凹状円錐のうちの少なくとも1つを備えることができる。円錐部材は、イオンガイドの出口領域に相補的であることができ、イオンガイドの出口領域は、円錐部材と逆の形状を備えることができる。イオンガイドの出口領域は、斜角が付けられていることができる。構造部材は、イオンガイドの端面に相補的であること、平面であること、円筒断面であること、および球断面であることのうちの少なくとも1つであることができる。本明細書の第2の側面は、質量分析計を提供する。質量分析計は、イオン源を備える。質量分析計はさらに、イオン源からのイオンを受容するための複数のイオンガイドであって、それぞれ、入口領域と、出口領域と、イオン源からのイオンがそこを通って通過するためのその間の通路とを備える複数のイオンガイドを備える。質量分析計はさらに、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの端面に位置する少なくとも1つのイオンレンズを備える。少なくとも1つのイオンレンズは、所与の半径のオリフィスを備える構造部材であって、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの出口領域において、イオンレンズを支持するための構造部材を備える。少なくとも1つのイオンレンズは、所与の半径のオリフィスを備える構造部材であって、イオンガイドの出口領域において、イオンレンズを支持するための構造部材と、構造部材から延在する円錐部材であって、円錐部材は、中空であり、所与のテーパ角度と、所与の半径の底面とを備え、底面の周縁は、オリフィスの周縁に接続され、円錐部材は、円錐部材の頂部を通る開口をさらに備え、開口は、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つから、そこを通してイオンを受容する円錐部材を備える。質量分析計は、イオンを検出するために、複数のイオンガイドおよび少なくとも1つのイオンレンズの後に位置する検出器をさらに備える。所与の半径および所与のテーパ角度は、頂部を含む円錐部材の少なくとも一部を複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの出口領域内に存在させることができる。オリフィスは、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの中心部分に位置することができ、円錐部材は、中心部分から延在し得る。テーパ角度は、10°と80°との間、40°と50°との間、および45°のうちの少なくとも1つであり得る。円錐部材は、円錐、凸状円錐、および凹状円錐のうちの少なくとも1つを備え得る。円錐部材は、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの出口領域に相補的であることができる。出口領域は、円錐部材と逆の形状を備えている。複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの出口領域は、斜角が付けられ得る。構造部材は、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの端面に相補的であること、平面であること、円筒断面であること、および球断面であることのうちの少なくとも1つであり得る。少なくとも1つのイオンレンズの開口は、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの出口領域と整列させられることができる。構造部材は、実質的に、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの端面に平行であり得る。円錐部材および出口領域は、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つから流出するガスをそこを通して通過させるための少なくとも1つのチャネルを形成し得る。質量分析計は、外筒をさらに備え得、外筒は、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つを囲むことにより、ガスが少なくとも1つのチャネルに到達するまでガスを含有する。実装に関して、以下の図を参照して説明される。円錐部材がイオンによって汚染されると、結果として生じる電場と、複数のイオンガイドのうちの少なくとも1つの長手軸との角度がゼロよりも大きいことがあり得る。汚染イオンおよび粒子クラスタおよび/または液滴等に起因する、質量分析計の光学要素、例えば、イオンガイドの汚染は、イオンガイドの伝送効率を低減させ、質量分析計の感度に影響を及ぼし、汚染された表面の帯電による再現不能性をもたらすので問題である。このことは、事実上、質量分析計内の全イオン光学要素に対する共通の問題である。衝突冷却を採用するイオンガイドの場合、汚染に最も敏感な領域は、概して、イオンガイドの出口近傍の領域である。衝突集束においては、イオンは、イオンガイド内の緩衝ガス分子との衝突によって、減速および集束される。したがって、イオンがイオンガイドの出口端に到達するとき、その速度はほぼ熱的である。いくつかのイオンガイドにおいて、圧力は、ガス動態が有意な役割を果たす程に十分に高い。先行技術による一般的なイオンガイド装置が、図1に図示されており、図1は、第1のイオンガイド120、第2のイオンガイド130、四重極140、衝突セル150例えば、フラグメンテーションモジュール、および検出器160ToF飛行時間検出器を含むが、それらに限定されない、任意の好適な検出器を備えるを備えている質量分析計100を図示する。四重極140および衝突セル150はまた、イオンガイドとして構成することができることに留意されたい。質量分析計100は、イオン源110からのイオンビーム165を通して検出器160まで伝送することを可能にされる。第1のイオンガイド120、第2のイオンガイド130、四重極140、および衝突セル150はそれぞれ、イオンがそこを通って通過するイオンガイドとして作用することがわかる。イオンレンズ170a、170b、170c、170d集合的にイオンレンズ170、および総称的にイオンレンズ170は、第1のイオンガイド110、第2のイオンガイド130、四重極140、および衝突セル150のうちの1つ以上の出口に位置する。いくつかのイオンガイド、例えば、第1のイオンガイド120内の圧力は、ガス動態が、有意な役割を果たすことができるように、十分に高くあり得るが、これは、汚染問題を悪化させ得ることがわかる。先行技術において、各イオンレンズ170は、図1に図示されるように、イオンビーム165が通過するオリフィスを有するフラットプレートを備えている。フラットプレートおよび対応するオリフィスは、多くの場合、異なる圧力によって差動ポンプシステムの要素として作用して、イオンビーム165を次のチャンバ内を通過させる一方、次のチャンバ内へのガスの流動が制限される。一部の場合には、隣接するチャンバ内の圧力は、用途に応じて、より低くあり得る一方、他の場合には、圧力をより高くすることができる。衝突セル150は、前のイオンガイドすなわち、四重極140からのイオンが、より高い圧力のガスを含有する次のチャンバ衝突セル150に流入するチャンバの例である。大気圧イオン化API源のための種々の界面は、後続チャンバが、前のものより低い圧力にある場合を代表する。いかなる場合も、イオンガイドから流出するイオンがイオンレンズ170の開口に接近するとき、概して、比較的低い運動エネルギー、例えば、単位電荷当たり約1ボルトを有する。約1ボルト以上の電位を発生させる開口近傍のいずれの汚染された表面も、イオンの軌道を大幅に改変し、伝送の損失または望ましくないイオンビーム165の妨害をもたらし得る。したがって、イオンガイドの出口近傍の領域第1のイオンガイド120、第2のイオンガイド130、四重極140、および衝突セル150等、ならびに各イオンレンズ170の開口近傍の領域は、汚染に対して、最も敏感な領域となる。状況は、いくつかのイオン源が、着目イオンに加え、液滴およびクラスタを生成することによってさらに複雑になり得る。そのような液滴およびクラスタは、例えば、イオン源110の領域において、ガスの動的流動によって加速され、イオンガイドの出口領域近傍の領域内に真っすぐに飛行し得る。したがって、イオンガイド近傍の領域は衝突され、最終的に、検体材料を含有する液滴およびクラスタによって被膜され得る。この影響は、非伝導性およびチャージアップであり得る薄膜を生成し、前述のように、伝送およびイオン妨害に関する問題をもたらす。これらの汚染問題は、非限定的実装による、図2に図示されるような質量分析計200において解決される。質量分析計200は、質量分析計100に類似し、第1のイオンガイド220、第2のイオンガイド230、四重極240、衝突セル250例えば、フラグメンテーションモジュール、および検出器260ToF飛行時間検出器を含むが、それらに限定されない任意の好適な検出器を備える。検出器260は、特に、限定と見なされるべきではないことがわかるを備える。質量分析計200は、イオン源210からのイオンビーム265を検出器260を通して伝送することを可能にされる。第1のイオンガイド220、第2のイオンガイド230、四重極240、および衝突セル250はそれぞれ、イオンが通過するイオンガイドとして作用することがわかる。質量分析計100と対照的に、質量分析計200は、イオンレンズ270a、270b、270c、270d集合的にイオンレンズ270、および総称的にイオンレンズ270を備え、それぞれ、構造部材および円錐部材を備え、円錐部材は、個々のイオンガイド例えば、第1のイオンガイド220、第2のイオンガイド230、四重極240、または衝突セル250の出口に位置する。イオンレンズ270およびその代替は、図3から11に関連して、以下に詳述される。いくつかの実装では、質量分析計200が、イオン源210を制御してイオン性材料をイオン化すること、および質量分析計200のモジュール間のイオンの伝送を制御することをさらに含むが、それらに限定されない質量分析計200の動作を制御するためのプロセッサ285を備えることができる。動作時、イオン性材料は、イオン源210の中に導入される。イオン源210は、概して、イオン性材料をイオン化し、第1のイオンガイド220また、QJetとして識別されるに転送されるイオンビーム265を生成する。イオンビーム265は、イオンレンズ270aを通して第2のイオンガイド230また、Q0として識別されるに転送される。イオンビーム265は、第2のイオンガイド230から、イオンレンズ270bを通して、質量フィルタとして動作することができる四重極240また、Q1として識別されるに転送される。フィルタリングされたか否かに関わらず、イオンビーム265は、イオンレンズ270cを通って四重極240から流出し、衝突セル250また、q2として識別されるに流入する。いくつかの実装では、イオンビーム265内のイオンは、衝突セル250内でフラグメント化することができる。衝突セル250ならびに第1のイオンガイド220および第2のイオンガイド230は、四重極、六重極、八重極、あるいはリングガイド、イオン漏斗、または同等物等の任意の他の好適なイオンガイドを含むが、それらに限定されない任意の好適な多極を備えることができることがわかる。いくつかの実装では、衝突セル250は、四重極240に機械的に類似している四重極を備える。イオンビーム265は、次いで、質量スペクトルの生成のために、イオンレンズ270dを介して検出器260に転送される。さらに、図示されていないが、質量分析計200は、任意の適切な数のコネクタ、電源、RF無線周波数電源、DC直流電源、ガス源例えば、イオン源210および/または衝突セル250用、および質量分析計200の動作を可能にするための任意の他の好適な構成要素をさらに備えることができる。図示されていないが、質量分析計200は、任意の好適な数の真空ポンプを備え、イオン源210、第1のイオンガイド220、第2のイオンガイド230、四重極240、衝突セル250、および/または検出器260の中に好適な真空を提供することができる。いくつかの実装では、真空差を質量分析計200の特定の要素間に生成することができることがわかる:例えば、真空差は、概して、イオン源210が大気圧であり、第2のイオンガイド230が真空下例えば、約10mTorrまたは任意の他の好適な圧力であり、第1のイオンガイド220がその間のある圧力例えば、約1Torrまたは任意の他の好適な圧力を有するように、イオン源210、第1のイオンガイド220、および第2のイオンガイド230間に適用される。各イオンレンズ270は、質量分析計200の要素間に真空差を生成する補助をすることができる。さらに、各イオンレンズ270は、後述のように、その個々のイオンガイド例えば、第1のイオンガイド220、第2のイオンガイド230、四重極240、および衝突セル250のそれぞれの中の汚染の影響を低減させる補助をする。さらに、以下の説明では、用語イオンガイドは、別様に記載がない限り、イオンガイド220、第2のイオンガイド230、四重極240、および衝突セル250のうちの1つ以上を指し得ることがわかる。それぞれ、非限定的実装による、イオンレンズ270の斜視正面図、イオンレンズ270の斜視背面図、およびイオンレンズ270の断面図を図示する図3、4、および5を参照する。イオンレンズ270は、構造部材305を備える。いくつかの実装では、構造部材305は、イオンガイドの端面に相補的であることができる。これらの実装のいくつかにおいて、各イオンガイドの端面は、図2に図示されるように、概してフラットであり、故に、構造部材305は、図示されるように、概して平面である。しかしながら、構造部材305は、断面、円筒断面、球断面、または任意の他の好適な形状を備えることができる。図4および図5におけるイオンガイド270の後方斜視図から分かるように、構造部材は、所与の半径rのオリフィス410を備えることがわかる。オリフィス410は、実質的に、円形であることができるが、円形開口部に限定されない。実際、オリフィス410は、楕円形を含むが、それらに限定されない任意の好適な形状であることができる。イオンレンズ270は、構造部材305から延在する円錐部材320をさらに備える。円錐部材320は、中空であることがわかる。さらに、円錐部材320は、テーパ角度θによって画定することができ図5に図示されるように、円錐部材320の底面の半径は、構造部材305のオリフィス410と同一の所与の半径rであることがわかる。円錐部材320の底面の周縁は、円錐部材320と構造部材305とが、一体型構造を形成するように、オリフィス410の周縁に接続される。円錐部材320はさらに、半径raの円錐部材320の頂部を通る開口330を備え、開口330は、イオンガイドからそこを通してイオンを受容するためのものである。さらに、イオンレンズ270は、質量分析計200内のイオンガイドの端面に相応したサイズであることがわかる。例えば、イオンガイド640の出口領域635における適所にあるイオンレンズ270の断面を図示する図6を参照する第1のイオンガイド220、第2のイオンガイド230、四重極240、および/または衝突セル250に類似し得るが、出口領域635は半径Rを有する。出口領域635は、イオンガイド640の端領域であり、イオンは、そこを通ってイオンガイド640から流出することがわかる。さらに、半径Rはまた、イオンガイド640の内接半径を指し得ることがわかる。例えば、構造部材305の長さ、幅、および広さは、構造部材305をイオンガイド640の出口領域635および、質量分析計200の中にに搭載することを可能にする任意の好適なサイズであることができる。イオンガイド640の要素とイオンレンズ270の要素との間の距離は、動作電圧における絶縁破壊を回避するように選択することができる。しかしながら、イオンガイド640の要素とイオンレンズ270の要素との間の距離はまた、イオン損失を回避するように選択することができる。成果を挙げた非限定的プロトタイプでは、イオンガイド640とイオンレンズ270との間の距離は、約数ミリメートルであり得る。さらに、円錐部材320のサイズは、出口領域635に相応することがわかる。非限定的実装では、所与の半径rは、イオンガイド640の出口領域635の半径Rに類似することができるが、所与の半径rは、Rより小さいかまたはRより大きくあり得る。さらに、半径rおよびテーパ角度θは、頂部を含む円錐部材320の少なくとも一部を、出口領域635内に存在させることができる。テーパ角度θは、約45°であることができる。しかしながら、いくつかの実装では、テーパ角度θは、約40°と約50°との間であることができる。なおもさらなる実装では、テーパ角度θは、約10°と約80°との間であることができる。テーパ角度θが小さいほど、円錐部材270は、出口領域635の中により深く貫通することができることがわかる。さらに、開口330の半径raは、イオンガイド640から流出するイオンビームを受容するためのサイズであることがわかる。開口330の半径raは、イオンビーム265の効率的な伝送を提供するために選択されることができる。いくつかの実装では、半径ra対半径Rであるra/Rの比率は、約20であるが、しかしながら、約0.2であるra/Rの比率は、過度の限定として見なされるべきではなく、ra/Rの任意の好適な比率が、この実装の範囲内にあることがわかる。一般に、しかしながら、比率ra/Rが小さ過ぎる場合、イオンビーム265の損失が生じ得、比率ra/Rが大き過ぎる場合、多量のガスが開口330を通して差動ポンプの次の段階に転送されるであろうことがわかる。成果を挙げた非限定的成果のプロトタイプにおいて、開口330は、約0.75mmの半径raまたは、1.5mmの直径2raを有する。さらに、イオンガイド640の端面645は、実質的に、構造部材305と平行であることがわかる。加えて、出口領域635と円錐部材320とは、イオンガイド640から流出するガスが通過するための少なくとも1つのチャネル650を形成する。さらに、イオンガイド640は、ガスが、少なくとも1つのチャネル650に遭遇することに先立って漏出することを防止する好適な外筒図示せず内に封入されることができることがわかる。これらの実装では、外筒は、端領域635に向かってガス流を向けることを可能にできる。図2から6に図示される実装において、円錐部材320は、開口330から構造部材305まで延在するストレートサイドを有することがわかる。しかしながら、図7は、断面で図示される、イオンレンズ270aの代替の非限定的実装を図示する。イオンレンズ270aは、イオンレンズ270に類似し、イオンレンズ270aは、構造部材305aと、構造部材305aから延在する円錐部材320aとを備え、頂部に、そこを通る開口330aを伴っている。構造部材305a、円錐部材320a、および開口330aはそれぞれ、構造部材305、円錐部材320、および開口330にそれぞれ類似しているが、しかしながら、円錐部材320aは、開口330aから構造部材305aに延在する凹状壁を有する。故に、これらの実装では、円錐部材320aは、凹状円錐を備えている。凹状円錐の壁の曲率は、任意の好適な曲率であることができる。同様に、図8は、断面で図示される、イオンレンズ270bの代替の非限定的実装を図示する。イオンレンズ270bは、イオンレンズ270に類似しており、イオンレンズ270bは、構造部材305bと、構造部材305bから延在する円錐部材320bとを備え、頂部に、そこを通る開口330bを伴っている。構造部材305b、円錐部材320b、および開口330bはそれぞれ、構造部材305、円錐部材320、および開口330bにそれぞれ類似しているが、しかしながら、円錐部材320bは、開口330bから構造部材305bに延在する凸状壁を有する。故に、これらの実装では、円錐部材320bは、凸状円錐を備える。凸状円錐の壁の曲率は、任意の好適な曲率であることができる。次に、非限定的実装による、イオンガイド640aの出口領域635aに搭載されるイオンガイド270を図示する図9を参照する。図9は、図6に類似しているが、しかしながら、イオンガイド640は、イオンガイド640aと置換されている。イオンガイド640aは、イオンガイド640に類似しているが、しかしながら、イオンガイド640の出口領域635aは、円錐部材320が、その中に嵌合することができるように、円錐部材320に類似している断面を有する。言い換えると、出口領域635aは、円錐部材320と略逆の形状を備える。故に、いくつかの実装では、円錐部材320の壁と出口領域635aの壁とは、実質的に相互に平行である。さらに、イオンガイド640aの端面645aは、実質的に、構造部材305に平行であることがわかる。なおもさらに、イオンガイド640aの出口領域635aは、斜角が付けられていることがわかる。故に、出口領域635aと円錐部材320とは、イオンガイド640aから流出するガスがそこを通って通過するための少なくとも1つのチャネル650aを形成する。次に、チャネル650aの上側部分、イオンガイド640aの一部、およびイオンレンズ270の一部を含む、図9の一部を詳細に図示する図10を参照するが、同一要素は、同一番号を有する。しかしながら、図10はまた、円錐部材320のイオンガイドに対向する側面1003上の汚染1001を図式的に図示する。汚染1001は、いくつかの実装では、チャネル650aを通ってイオンガイド640aから流出する緩衝ガスを介して、チャネル650aに搬送され得る。さらに、汚染1001が帯電されると、結果として生じる電場Eは、イオンガイド640aの長手軸と角度φを形成し、角度φは、0°よりも大きい。実際に、これらの実装では、円錐部材320の壁が出口領域635aの壁と平行であるチャネル650aの領域内において、角度φは、テーパ角度θに類似していることがわかる。さらに、類似電場は、図6に図示される配列内に形成され得、そのような電場は、円錐部材320と出口領域635の壁との間に向くことがわかる。いかなる場合も、いずれの配列すなわち、図6の配列または図9および10の配列においても、汚染によって形成される電場は、図1のイオンレンズ170上の汚染によって形成される電場よりも、個々のイオンガイドを通過するイオンビームにほとんど影響をもたらさないであろう。実際、図1において、イオンレンズ170は、フラットプレートを備えるので、汚染によって形成される電場は、個々のイオンガイドの長手軸に平行となるであろうことがわかる。故に、円錐部材320上に汚染によって形成される電場は、電場が個々の長手軸から離れる方向を向くことによって、イオンビームにほとんど影響を及ぼさないであろう。次に、図11を参照すると、図11は、フラットイオンレンズ170と比較して45°のテーパ角度θを有するイオンレンズ270の成果を挙げたプロトタイプの試験の結果を図示している。図11は、上記のような、イオンガイドの後の適所にあるイオンレンズ270およびイオンレンズ170を有するそれぞれの類似のイオンガイドを通過するイオンビームの正規化されたイオン電流強度の変動を経時的に図示しており、45Vおよび35Vの電圧がイオンガイドに対するDC直流オフセットとして印加され、40Vの電圧が、個々のイオンレンズに印加されている。イオン強度は、イオンガイドオフセットおよびレンズ電圧が、各構成に対して、同一イオンガイドおよびそれぞれのイオンレンズの各々に対して40V/40Vであるように設定されたときに記録された強度に対して正規化される。故に、経時的なイオン電流密度は、40V/40V正規化に加えて4つの異なる試験条件下において測定された。1.図11において白丸によって表され、Std45/40と名称が付けられている、45ボルトのイオンガイドオフセットイオンガイドの出口領域に対して5ボルトの差を有する40Vにおけるイオンレンズ170。2.図11において黒丸によって表され、Std35/40と名称が付けられている、35ボルトのイオンガイドオフセットイオンガイドの出口領域に対して-5ボルトの差を有する40Vにおけるイオンレンズ170。3.図11において黒菱形によって表され、円錐45/40と名称が付けられている、45ボルトのイオンガイドオフセットイオンガイドの出口領域に対して5ボルトの差を有する40Vにおけるイオンレンズ270。4.図11において白菱形によって表され、円錐35/40と名称が付けられている、35ボルトのイオンガイドオフセットイオンガイドの出口領域に対して-5ボルトの差を有する40Vにおけるイオンレンズ170。正規化されたイオン電流が、図11において提供されていることがわかる。0から120時間までにおいて、イオンレンズ170に対して正規化されたイオン電流強度35Vまたは45Vがイオンガイドに印加されているいずれかの試験条件に対するは、汚染がイオンレンズ170上に蓄積するにつれて経時的に変化し、120時間においてイオンレンズ170の清浄化が生じたことがさらにわかる。故に、イオンレンズ170と関連した各曲線すなわち、Std45/40およびStd35/40と名称が付けられたに対する図1のグラフ上の最後の点は、清浄化後の正規化されたイオン電流密度を表しており、性能は5-10時間において観察されたレベルに戻った。さらに、イオンレンズ270に対する正規化されたイオン電流35Vまたは45Vのいずれかがイオンレンズに印加されている試験条件に対するは、概して経時的に一定であり、汚染の影響がレンズ170と比較して低減されていることを示していることがわかる。さらに、清浄化サイクル間の時間は、イオンレンズ270の場合、イオンレンズ170の場合よりも有意に長い。故に、フラットイオンレンズ170と比較して、円錐部材320を備えるイオンレンズ270を有するイオンガイドの使用からもたらされる少なくともいくつかの利点が存在し得る。円錐部材270の円錐形状に起因して、開口330は、拡散する機会を有する前のイオンガイドの出口領域内例えば、イオンガイドとフラットイオンレンズ170との間に設置することができ、そのような拡散は、そこを通って通過するイオンビームがイオンガイドから流出するときに必然的に生じる。故に、イオンレンズ270は、円錐部材320がイオンガイドの出口領域内に設置されると、イオンレンズ170よりも効率的にイオンビームをサンプリングすることができる。イオンガイドが、図9および10におけるように、出口領域において斜角が付けられているとき、開口330は、イオンガイドが図6におけるように斜角が付けられていないときよりも、イオンガイド内にさらに深く設置されることができる。イオンガイドが高圧で動作されるとき、ガス動態は、汚染速度に影響を及ぼし得る。円錐部材320は、円錐部材320とイオンガイド端との間の滑らかなガス流動を可能にし、流動によって汚染を取り除くことができるフラットイオンレンズ170の表面に衝突することと対照的に。したがって、汚染粒子が、表面上に堆積する速度は、低減され得る。さらに、イオンガイドが、図9および10におけるように斜角が付けられているとき、イオンレンズ270とイオンガイドとの間に形成されるチャネルを通って流れるガスは、急に方向および速度を変化させることが少なく、故に、イオンレンズ170の場合に生じるようなガス流から汚染を妨げ、イオンガイドの出口領域またはイオンレンズ270上に沈降させるのではなく、汚染を搬送し続ける。さらに、イオンガイドの長手軸に沿って投射物として飛行する液滴およびクラスタの堆積は、円錐部材320の円錐表面に対してより非効率的になり得る。例えば、円錐部材320は、イオンレンズ170のフラット表面と比較して、汚染が堆積され得るより大きな表面領域を呈し得る。したがって、イオンレンズ170と比較して、汚染被覆が円錐部材270上に発生することにより多くの時間を要し得る。さらに、円錐形状であることに起因して、開口330近傍の円錐部材320上により少ない汚染が堆積され、イオンガイドの出口領域近傍における汚染イオンの運動の影響を低減させ得る。故に、同一電圧に対する正味電場帯電に起因して発生させられたは、より低くなり得る。加えて、汚染に起因して発生する電場は、イオンガイドの長手軸に沿ってではなく、イオンガイドの長手軸から離れる方向にすなわち、角度φで向くであろう。長手軸に沿った方向に向く電場は、長手軸に沿うイオン運動を妨害する一方、長手軸から離れる方向を向く電場は、長手軸近傍のイオンビームの運動に及ぼす影響を低減し得る。当業者であれば、実施例を実装するためのさらに多くの代替実装例および修正例があること、ならびに前述の実装例および実施例は1つ以上の実装例の例証に過ぎないことがわかるであろう。したがって、範囲は、本明細書に添付される特許請求の範囲によってのみ限定される。