"光周波数を時間に対して掃引する光源からの出力光を二分岐して参照干渉計及び測定干渉計にそれぞれ入射し、前記測定干渉計では前記光源からの出力光と該出力光を測定対象に入射させることにより得られる後方散乱光及び反射光との測定ビート信号を検出し、前記参照干渉計では前記光源からの出力光と該出力光を前記測定対象と同等の波長分散係数を持つ遅延手段で遅延させた光とのモニタビート信号を検出し、前記モニタビート信号の波形のサンプリングデータから、前記モニタビート信号の波形において0より大きくπ以下の範囲で任意に選定された一定の位相変化が生じる毎にその時間を求め、前記測定ビート信号の波形のサンプリングデータから前記測定ビート信号の前記一定の位相変化が生じる毎に求められた時間における値を数列として求め、当該数列に対してフーリエ変換を施し、測定対象における光波伝播方向の反射率を測定することを特徴とする光周波数領域反射測定方法。光周波数を時間に対して掃引する光源と、前記光源からの出力光が入射され、入射された出力光と出力光を測定対象に入射させることにより得られる後方散乱光及び反射光との測定ビート信号を検出する測定干渉計と、前記光源からの出力光が入射され、入射された出力光と該出力光を前記測定対象と同等の波長分散係数を持つ遅延手段で遅延させた光とのモニタビート信号を検出する参照干渉計と、前記モニタビート信号及び前記測定ビート信号をそれぞれサンプリングするサンプリング手段と、前記サンプリング手段でサンプリングされたモニタビート信号の波形のサンプリングデータからこのモニタビート信号の波形において0より大きくπ以下の範囲で任意に選定された一定の位相変化が生じる毎にその時間を求め、前記測定ビート信号の波形のサンプリングデータからこのモニタビート信号の前記一定の位相変化が生じる毎に得られる時間における値を数列として求め、前記数列に対しフーリエ変換を施し、前記測定対象における光波伝播方向の反射率を測定する解析手段とを具備することを特徴とする光周波数領域反射測定装置。前記遅延手段には、光ファイバを用いることを特徴とする請求項2記載の光周波数領域反射測定装置。以上のように、従来のC-OFDR測定方法では、高分解能、長距離かつフェーディング雑音を低減した測定を実現するためには、極めて広帯域な試験光を用いることになるが、既存の技術においてはこのような広帯域な試験光を用いた場合、測定対象が持つ波長分散によって、各測定にて得られる反射点の位置がずれてしまい、それらを加算平均した際に波形広がりとなり、フェーディング雑音は低減するが分解能は劣化してしまうという問題があった。本発明は、上記の事情を鑑みてなされたもので、広帯域な試験光を用いた際の波長分散による反射点のずれを補償することができ、低フェーディング雑音と高分解能性を両立した測定を行うことが可能な光周波数領域反射測定方法及びこの方法を用いた光周波数領域反射測定装置を提供することを目的とする。上記目的を達成するために本発明に係る光周波数領域反射測定方法は以下のような態様の構成とする。1光周波数を時間に対して掃引する光源からの出力光を二分岐して参照干渉計及び測定干渉計にそれぞれ入射し、前記測定干渉計では前記光源からの出力光と該出力光を測定対象に入射させることにより得られる後方散乱光及び反射光との測定ビート信号を検出し、前記参照干渉計では前記光源からの出力光と該出力光を前記測定対象と同等の波長分散係数を持つ遅延手段で遅延させた光とのモニタビート信号を検出し、前記モニタビート信号の波形のサンプリングデータから、前記モニタビート信号の波形において0より大きくπ以下の範囲で任意に選定された一定の位相変化が生じる毎にその時間を求め、前記測定ビート信号の波形のサンプリングデータから前記測定ビート信号の前記一定の位相変化が生じる毎に求められた時間における値を数列として求め、当該数列に対してフーリエ変換を施し、測定対象における光波伝播方向の反射率を測定する。また、本発明に係る光周波数領域反射測定装置は以下のような態様の構成とする。2光周波数を時間に対して掃引する光源と、前記光源からの出力光が入射され、入射された出力光と出力光を測定対象に入射させることにより得られる後方散乱光及び反射光との測定ビート信号を検出する測定干渉計と、前記光源からの出力光が入射され、入射された出力光と該出力光を前記測定対象と同等の波長分散係数を持つ遅延手段で遅延させた光とのモニタビート信号を検出する参照干渉計と、前記モニタビート信号及び前記測定ビート信号をそれぞれサンプリングするサンプリング手段と、前記サンプリング手段でサンプリングされたモニタビート信号の波形のサンプリングデータからこのモニタビート信号の波形において0より大きくπ以下の範囲で任意に選定された一定の位相変化が生じる毎にその時間を求め、前記測定ビート信号の波形のサンプリングデータからこのモニタビート信号の前記一定の位相変化が生じる毎に得られる時間における値を数列として求め、前記数列に対しフーリエ変換を施し、前記測定対象における光波伝播方向の反射率を測定する解析手段とを具備する。3前記遅延手段には、光ファイバを用いる。以上のように、本発明は、C-OFDR測定において、広帯域な試験光を用いた際の波長分散による反射点のずれを補償するものである。具体的には、被測定対象例えば光ファイバと同等の波長分散係数を有する遅延手段例えば光ファイバからなる参照干渉計を用いて測定信号をリサンプリングすることで、波長分散による反射点位置のずれ加算平均後の反射波形広がりを補償するものである。これにより、低フェーディング雑音と高分解能を両立したC-OFDRを行うことが可能となる。したがって、本発明によれば、広帯域な試験光を用いた際の波長分散による反射点のずれを補償することができ、低フェーディング雑音と高分解能性を両立した測定を行うことが可能な光周波数領域反射測定方法及びこの方法を用いた光周波数領域反射測定装置を提供することができる。以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は、本発明に係るC-OFDR測定法によるC-OFDR測定装置の一実施形態の構成を示すブロック図である。図1において、波長可変光源11からの出力光は、初段の光方向性結合器12により2分岐される。一方の出力光は測定干渉計に入射される。この測定干渉計では、次段の光方向性結合器13により2分岐され、一方はローカル光として用いられ、他方は被測定対象14に試験光として入射される。被測定対象14の内部で後方散乱された反射光は光方向性結合器13により取り出され、光方向性結合器15によりローカル光と合波された後、光受信器16により検波される。このとき、サンプリング装置17により、2光波の干渉により生じる干渉ビート信号をサンプリングし、測定したデータを光周波数解析装置18にて解析することにより、被測定対象14内の後方散乱光強度分布が測定される。一方、初段の光方向性結合器12により分岐された出力光は、参照干渉計に入射される。この参照干渉計では、光方向性結合器19により2分岐される。このうち、一方の出力光は参照光として光方向性結合器20に送られ、他方の出力光は被測定対象14と同等のCD係数を持つ遅延ファイバ21に通され、光方向性結合器20により参照光と合波された後、光受信器22により検波される。このとき、上記サンプリング装置17により、2光波の干渉により生じる干渉ビート信号をサンプリングし、測定したデータを光周波数解析装置18にて解析し、被測定対象14内の後方散乱光強度分布の測定結果の比較対象とする。上記実施形態において、まず、図2乃至図4を参照して、通常、波長の異なる試験光にて測定を実施した場合、同一地点からの反射光を観測しているにもかかわらず、CDによって反射波形の位置がずれることを説明する。図2は図1に示す測定装置の測定干渉計、すなわち次段の光方向性結合器13以降の構成を示すもので、ここでは波長可変光源11からの出力光が試験光としてある一つの反射点を有する被測定対象14に入射されるものとし、異なる波長λ1およびλ2で2回の測定を実施する場合を考える。尚、図2において、aは測定波長λ1でのCDによる遅延時間τCDFUTλ1、bは測定波長λ2でのCDによる遅延時間τCDFUTλ2、cは測定波長λ1で得られるビート周波数fbλ1、dは測定波長λ2で得られるビート周波数fbλ2示している。C-OFDRでは、波長可変光源11において、出力光の光周波数を図3に示すように周波数掃引し、光方向性結合器13で、ローカル光と被測定対象14に入射する試験光に分岐し、被測定対象14内の後方散乱された反射光を光方向性結合器13で取り出し、光方向性結合器15でローカル光と反射光を合波して光受信器16で検波する。このとき、検波出力にはローカル光と反射光の合波によりビート信号が生じている。そのビート信号を時間方向にサンプリングして周波数解析した後、その周波数を測定距離に換算して反射率分布を得る。ここで、被測定対象14がCDを持つ場合、図4に示すように、測定波長λによって合波されまでの遅延時間が異なる。これは、同一地点からの反射光を観測していても測定波長λによって得られるビート周波数fbλ1,fbλ2が異なることを意味する。つまり、測定波長が異なる場合、同一反射点を観測しているにも関わらず、反射位置がずれてしまい、それを加算平均すると波形広がりになる。上記の問題について、数式を用いて詳細に説明する。C-OFDR測定において周波数掃引された光波の電界Eは以下のように表される。ここで、E0は光波の電界複素振幅、ω0は初期角周波数、γは光周波数掃引率、θ時刻tにおける光波のランダムな位相である。この光波は二分岐されたローカル光及び被測定対象ここでは被測定光ファイバを想定する。以下、FUT14に入射する試験光となる。次に、FUT14内のある一点からの反射光とローカル光のビート信号について考える。この時、反射光はFUT14からの往復時間τFUTとは別に、FUT14のCDによる遅延τCDFUTを受けるとすると、ビート信号は以下の式で表される。ここで、Rは反射率、CFUTは定数である。また、FUT14のCD係数DFUTはスロープDFUTの波長依存性を持たず、かつ、一度のC-OFDR測定中においてはτCDFUTが一定であると仮定すると、τCDFUTは以下のように表される。ここで、Δλは試験光の波長差、vgは群速度である。式、より、得られるビート周波数fbFUTは以下のように表される。式よりビート周波数はΔλに依存することは明らかである。これは、フェーディング雑音低減のために異なる波長で複数回の測定を実施した際に、同一地点からの反射光を観測したにも関わらず、得られるビート信号周波数が異なってしまうことを意味する。従って、C-OFDRでは、ビート周波数が距離に対応するため、反射点の位置がずれて測定され、それらを加算平均すると波形の広がりとなり、分解能の劣化を引き起こす。以上、通常のC-OFDRにて、フェーディング雑音を低減するためにFSAVを用いた場合、CDによって反射波形が広がることを数式を用いて説明した。次に、参照干渉計を用いてC-OFDR測定を実施した場合に、CDによるビート周波数のずれが補償されることを数式を用いて説明する。図1に示すように、通常のC-OFDRに参照干渉計を追加した構成にてC-OFDR測定を実施することを考える。参照干渉計によって得られるビート信号は以下のように表される。ここで、τAUXは参照干渉計での遅延ファイバによる遅延時間、τCDAUXは遅延ファイバのCDによる遅延時間であり、以下の式で表される。式において、Mを自然数とし、例えば位相がπただし、0より大きくπ以下であれば任意に選択してよい変化する毎の時間tMを考えると、以下のようになる。上記の時間tMにて式に示したビート信号をリサンプリングすると、得られる信号波形IFUTは以下のように表される。ここで、Φはランダムな位相の揺らぎであるため、Φと同等であり、以下の式で表される。また、得られるビート周波数fbFUTは以下の式で表される。ここで、式に式、を代入すると、得られるビート周波数fbFUTは以下の式で表される。式において、DFUT=DAUXのとき、Δλに依存する項は消失し、同一地点からの反射光におけるビート周波数は測定波長に依存せず一定となる。つまり、FUTと同等のCD係数を有する遅延ファイバ21を備える参照干渉計の測定信号をリサンプリングすることで、FSAVを適用するために異なる波長での測定を実施した場合においても、CDによる反射点位置のずれ加算平均後の反射波形広がりを補償することが可能となり、分解能を維持したままフェーディング雑音を低減することが可能となる。したがって、本実施形態によるC-OFDR測定装置によれば、広帯域な試験光を用いた際の波長分散による反射点のずれを補償することができ、低フェーディング雑音と高分解能性を両立した測定を行うことができる。尚、上記実施形態では、参照干渉計の遅延手段および被測定対象として光ファイバを例に挙げたが、被測定対象と参照干渉計の遅延手段におけるCD係数が同一であれば、光ファイバに限らず、上記の効果が得られることは自明である。また、非特許文献2にあるような、光源位相雑音の補償手段として参照干渉計を用いる際においても、本手法を適用可能であることは自明である。その他、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組合せにより種々の発明を形成できる。また、実施形態に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除しても良い。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。"