"複数の撮像素子と、前記撮像素子上に測距対象物像をそれぞれ結像させる複数の光学系と、前記測距対象物像が結像された前記撮像素子から出力される撮像データに基づいて測距対象物までの距離を算出する距離算出手段とを備え、前記距離算出手段は、一方の前記撮像素子から出力される撮像データから得たある領域での基準像に対して、他方の前記撮像素子から出力される撮像データ内において前記基準像と相関性の高い比較像の位置を前記基線長と同じ方向で探索し、前記撮像データ内における前記基準像と前記比較像との間の相対位置差を算出して、算出した相対位置差に基づいて三角測距方式により測距対象物までの距離を算出する測距装置において、前記距離算出手段は、前記基準像に対して他方の撮像データ内の相関性の高い前記比較像を探索する際に、前記基線長に対して垂直方向に所定位置だけずらして前記基線長と同じ方向で探索を行い、この検索により算出された前記撮像データ内における前記基準像と前記比較像との間の相対位置差が所定値より小さいか否かを判定し、この相対位置差が所定値より小さいと判定した場合には算出した相対位置差を測距演算に使用し、この相対位置差が所定値より大きいと判定した場合には算出した相対位置差を測距演算に使用しないことを特徴とする測距装置。前記距離算出手段は、前記基準像に対して他方の撮像データ内の相関性の高い前記比較像を探索する際に、前記基線長に対して垂直方向に所定位置毎に順にずらして前記基線長と同じ方向で複数探索を行い、算出した前記基準像と前記比較像との間の相対位置差の値が最も小さくなる位置を判定することを特徴とする測距装置。撮影レンズを通して被写体像が結像される撮影用撮像素子と、該撮影用撮像素子から出力される信号に基づいて画像データを生成する撮像装置において、前記撮像装置は、被写体までの距離を測定するための測距装置を搭載しており、前記測距装置が、請求項1又は2に記載の測距装置であることを特徴とする撮像装置。ところで、前記特許文献1のような外光式の三角測距方式を適用した測距装置は、一般に一対の測距用レンズと一対の測距用撮像素子がそれぞれ一体化されたユニットとして形成され、これらのユニットを組付けて作製されている。このため、基線長一対の測距用レンズの光軸間の距離方向のずれは発生しないが、基線長方向に対して直交する方向に僅かにずれが発生することがある。例えば、一対の測距用レンズを有するレンズアレイを筐体に位置決めして接着剤で接着固定した製造後において、温度環境が大きく変化した場合や衝撃が作用した場合等に、この接着固定部分がずれて、一対の測距用レンズレンズアレイが基線長方向に対して直交する方向にずれることがある。このように、一対の測距用レンズレンズアレイが所定位置から基線長方向に対して直交方向にずれると、誤差の大きい測距データを出力することになる、そこで、本発明は、一対の測距用レンズレンズアレイが基線長方向に対して直交方向にずれが生じた場合に、誤差の大きい測距データを出力することがないようにすることができる測距装置及び撮像装置を提供することを目的とする。前記目的を達成するために請求項1に記載の発明は、複数の撮像素子と、前記撮像素子上に測距対象物像をそれぞれ結像させる複数の光学系と、前記測距対象物像が結像された前記撮像素子から出力される撮像データに基づいて測距対象物までの距離を算出する距離算出手段とを備え、前記距離算出手段は、一方の前記撮像素子から出力される撮像データから得たある領域での基準像に対して、他方の前記撮像素子から出力される撮像データ内において前記基準像と相関性の高い比較像の位置を前記基線長と同じ方向で探索し、前記撮像データ内における前記基準像と前記比較像との間の相対位置差を算出して、算出した相対位置差に基づいて三角測距方式により測距対象物までの距離を算出する測距装置において、前記距離算出手段は、前記基準像に対して他方の撮像データ内の相関性の高い前記比較像を探索する際に、前記基線長に対して垂直方向に所定位置だけずらして前記基線長と同じ方向で探索を行い、この検索により算出された前記撮像データ内における前記基準像と前記比較像との間の相対位置差が所定値より小さいか否かを判定し、この相対位置差が所定値より小さいと判定した場合には算出した相対位置差を測距演算に使用し、この相対位置差が所定値より大きいと判定した場合には算出した相対位置差を測距演算に使用しないことを特徴としている。請求項2に記載の発明は、前記距離算出手段は、前記基準像に対して他方の撮像データ内の相関性の高い前記比較像を探索する際に、前記基線長に対して垂直方向に所定位置毎に順にずらして前記基線長と同じ方向で複数探索を行い、算出した前記基準像と前記比較像との間の相対位置差の値が最も小さくなる位置を判定することを特徴としている。請求項3に記載の発明は、撮影レンズを通して被写体像が結像される撮影用撮像素子と、該撮影用撮像素子から出力される信号に基づいて画像データを生成する撮像装置において、前記撮像装置は、被写体までの距離を測定するための測距装置を搭載しており、前記測距装置が、請求項1又は2に記載の測距装置であることを特徴としている。本発明に係る測距装置及び撮像装置によれば、基準像に対して他方の撮像データ内の相関性の高い比較像を探索する際に、基線長に対して垂直方向に所定位置だけずらして基線長と同じ方向で探索を行い、この検索により算出された撮像データ内における基準像と比較像との間の相対位置差が所定値より小さいか否かを判定し、この相対位置差が所定値より小さいと判定した場合には算出した相対位置差を測距演算に使用し、この相対位置差が所定値より大きいと判定した場合には算出した相対位置差を測距演算に使用しないことにする。これにより、温度環境が大きく変化した場合や衝撃が作用した場合等において、対の測距用光学系が基線長方向に対して垂直方向にずれが生じた場合でも、誤差の大きい測距データを出力することがないようにすることができる。以下、本発明を図示の実施形態に基づいて説明する。実施形態1図1は、本発明の実施形態1に係る測距装置を備えた撮像装置の一例としてのデジタルカメラを示す正面図、図2は、図1に示したデジタルカメラのシステム構成の概要を示すブロック図、図3aは、測距装置を示す概略縦断面図、図3bは、測距装置の測距用撮像素子を示す平面図である。デジタルカメラの外観構成図1に示すように、本実施形態に係るデジタルカメラ1の正面前面側には、撮影レンズ2、測距装置3の前面側のレンズアレイ4等が配置されている。レンズアレイ4の表面には、所定の間隔で左右方向に設けた一対2つの測距用レンズ5a,5bが一体に形成されている測距装置3の詳細については後述する。撮像レンズ2と各測距用レンズ5a,5bの各光軸は平行である。また、デジタルカメラ1の上面には、レリーズボタン6、撮影モード切換ボタン7等が配置されている。デジタルカメラ1のシステム構成図2に示すように、このデジタルカメラ1は、複数のレンズ群を有する撮影レンズ2、シャッタ機能を有する絞りユニット10、撮影レンズ2を通して入射される被写体像が受光面上に結像する固体撮像素子としてのCCDイメージセンサ11、CCDイメージセンサ11から出力される画素出力信号電気信号をデジタル処理して取り込み、表示や記録が可能な画像データに変換処理する信号処理部12、操作部レリーズボタン6、撮影モード切換ボタン7図1参照等13からの操作入力情報に基づき、ROM不図示に記憶された制御プログラムに基づいてデジタルカメラ1全体のシステム制御等を行う制御部14、信号処理部12で生成された画像データを表示する液晶モニタLCD15、撮影レンズ2のフォーカスレンズ群を駆動するフォーカスレンズ駆動部16、絞りユニット10を駆動する絞りユニット駆動部17、及び被写体までの距離を測距する外光式の前記測距装置3等を備えている。信号処理部12で生成された画像データは、着脱自在なメモリカード18に記録される。液晶モニタLCD15は、デジタルカメラ1の背面側に設けられている。測距装置3の構成図3a,bに示すように、本実施形態の測距装置3は、前面側図3aの上側が開口した筐体20と、この筐体20の前面側に一対の測距用レンズ5a,5bが一列デジタルカメラ1の左右方向に一体に形成された透明樹脂材からなるレンズアレイ4と、レンズアレイ4と対向する筐体20内の背面側図3aの下側に配置された薄板状の撮像素子基板21と、撮像素子基板21上に所定の間隔で一体に形成された平面状2次元状の一対2つの測距用撮像素子22a,22bと、撮像素子基板21の背面に配置された回路基板23を備えている。2つの測距用撮像素子22a,22bは、各測距用レンズ5a,5bとそれぞれ対向するようにして配置されている。測距用撮像素子22a,22bの各撮像領域受光面22a1,22b1は同じサイズである。各撮像領域受光面22a1,22b1には、多数の受光素子画素が格子状に配列されている。図3bにおいて、Bは、各測距用撮像素子22a,22b各撮像領域22a1,22b1間の基線長である。撮像素子基板21上に一体に設けられた一対の測距用撮像素子22a,22bとして、例えば、半導体ウェハ上に周知の半導体プロセスによって一体に形成されたCCDやCMOS等の撮像素子を切り分けして使用することができる。この場合は、例えば半導体ウェハ上に形成された複数の撮像素子のうちから一列に並んだ2連の撮像素子を切り分けし、切り分けした2つの撮像素子を一対の測距用撮像素子として用いることができる。また、半導体ウェハ上に形成された複数の撮像素子のうちから一列に並んだ3連以上の撮像素子を切り分けした場合は、その両側の2つの撮像素子を一対の測距用撮像素子として用いることができる。このように、半導体ウェハ上に形成された2連以上の撮像素子を切り分けしたものを、一対の測距用撮像素子22a,22bとして用いることにより、各測距用撮像素子22a,22bは精度よく位置決めされた状態で保持されている。一対の測距用レンズ5a,5bの各光軸は平行であり、測距用撮像素子22a,22bの各撮像領域22a1,22b1の対角中心と各測距用レンズ5a,5bの光軸が略一致するように位置決めされている。各測距用レンズ5a,5bは、各測距用レンズ5a,5bに入射する被写体光が各撮像領域22a1,22b1に結像するような焦点距離を有している。なお、一対の測距用レンズ5a,5bは、透明樹脂材からなるレンズアレイ4と一体に形成されているので、各測距用レンズ5a,5bは精度よく位置決めされた状態で保持されている。回路基板23には測距用演算部24等が設けられており、測距用演算部24は、測距用撮像素子22a,22bの各撮像領域22a1,22b1から出力される画素出力信号を取り込み、各撮像領域にそれぞれ結像された被写体像間のずれ視差を算出して、三角測距方式により被写体までの距離を算出する。測距用演算部24で算出された距離情報は制御部14に出力される。制御部14は、入力された距離情報に基づいて被写体に合焦するようにフォーカスレンズ駆動部16に駆動制御信号を出力する。ここで、測距装置3による三角測距方式の原理について、図4を参照して簡単に説明する。図4に示すように、一対の測距用レンズ5a,5b一対の撮像領域22a1,22b1間の間隔を基線長B、各測距用レンズ5a,5bの焦点距離をfとして、左側の測距用レンズ5aによって撮像領域22a1上に結像した被写体像に係る画像データ上の位置と基線長基準からの距離をdLとし、右側の測距用レンズ5bによって撮像領域22b1上に結像した被写体像に係る画像データ上の位置と基線長基準からの距離をdRとした場合、各測距用レンズ5a,5bと被写体xとの間の距離Lは、以下の式1で算出される。L=B×f/dLdR...式1よって、基線長Bと各測距用レンズ5a,5bの焦点距離fは既知であるので、基線長基準からの距離dL及びdRを測定することで、被写体xまで距離Lを算出することができる。以下、基線長基準からの距離dL及びdRを特定する方法について説明する。なお、以下の説明では、左側の測距用レンズ5aよる画像を基準像といい、右側の測距用レンズ5bよる画像を比較像という。先ず、基準像内の測距したい像ブロックを、例えば8画素×8画素の基準ブロックS1として抜き出す。次に、比較像内で、基準ブロックS1として同じ位置から比較ブロックS2を抽出すする。そして、比較ブロックS2の左端から、基準ブロックS1と同じサイズ8画素×8画素のブロックに対してマッチング演算を行う。このマッチング演算によるマッチング値Mは、以下の式2で算出される。M=ΣΣ|A[x][y]-B[x][y]|...式2なお、式2において、xは0~7、yは0~7である。また、Aは基準ブロックS1の8×8の画像配列、Bは比較ブロックS2から抽出した8×8の画像ブロックである。比較ブロックS2内で水平に右方向へ1画素分をずらした位置で、式2を用いたマッチング演算を行う。式2に示すように、マッチング演算は各画素の差の総和であり、相関が高い場合はそのマッチング値が小さくなる。1画素分をずらしながら式2を用いたマッチング演算を繰り返して行った結果、マッチング値Mが最小になった位置を、領域mとする。前記式2を用いたマッチング演算において、基準ブロックS1を開始位置からシフトさせた量とマッチング値の関係の一例を、図5に示す。なお、図5において、横軸はシフト量、縦軸はマッチング値である。マッチング値Mが最小になるシフト量は、画素ブロック間を補完して算出する。この補完演算の方法は、図5において、マッチング値Mが最小となるx方向の位置とその前後x-1、及びx1の傾きを用いる。図5において、x-1からxへの傾きを太い実線A1で示し、xからx1への傾きは破線A2で示している。実線A1の傾きと破線A2の傾きを比較し、より急峻な傾き傾きが大きいに対して、-マイナス1を乗じた値を傾きとする直線を、緩慢な傾きを示したシフト量のx方向の位置図5においてはx1に当てはめる実線A3。実線A1と実線A3の交差位置を、補完されたマッチング値Mの最小値とする。以上のような補完処理によれば、画素間隔は例えば2μm程度である。このように、補完処理を行って画素間隔以上の精度確保を行なうことができるので、もともとの2つの撮像素子画像の相互の物理的な位置の誤差も1μmオーダーで保たれる必要がある。よって、図3aの示した本実施形態の測距装置3では、一対の測距用撮像素子22a,22b各撮像領域22a1,22b1間の位置関係を1μmオーダーの精度で保つために、前記したように半導体ウェハ上に形成された2連以上の撮像素子を切り分けしたものを、一対の測距用撮像素子22a,22bとして用いている。また、一対の測距用レンズ5a,5bも、前記したように透明樹脂材からなるレンズアレイ4と一体に形成されている。そして、一対の測距用レンズ5a,5bを有するレンズアレイ4と一対の測距用撮像素子22a,22bを有する撮像素子基板21は、筐体20に接着剤を介して所定位置に接着固定されている。これにより、基線長方向に対してはずれが生じることはない。しかしながら、温度環境が大きく変化した場合や衝撃が作用した場合等に、この接着固定部分が僅かにずれて、一対の測距用レンズ5a,5bを有するレンズアレイ4が基線長方向に対して垂直方向にずれることがある。一対の測距用レンズ5a,5bレンズアレイ4が基線長方向に対して垂直方向にずれると、一対の測距用撮像素子22a,22b各撮像領域22a1,22b1上にそれぞれ結像される左右の像は基線長方向に対して垂直方向に相互にずれる。基線長方向に対して垂直方向のずれは、例えば、斜め形状斜め方向にコントラストがある斜めコントラストの被写体を測距した場合に、測距誤差を与える。例えば、図6a,bに示すように、左側の撮像領域22a1内の基準ブロックS1付近に斜め形状の画像cが結像している場合、右側の撮像領域22b1内の同じ位置の比較ブロックS2を矢印方向基線長方向にシフトさせながらマッチング演算を行い、マッチング値の最小値を求める。このマッチング演算は上記のようにして行う。ところで、仮に左側の撮像領域22a1と右側の撮像領域22b1の各画像斜め形状の画像cに基線長方向に対して垂直方向のずれがない場合は、右側の撮像領域22b1にも、左側と同じ斜め形状の画像cが破線で示したように同じ位置に結像される。これにより、マッチング値の最小値も破線で示した位置になるので、正確なシフト量が求まる。しかしながら、例えば、図6bに示すように、右側の撮像領域22b1において、基線長方向に対して垂直方向に1画素ラインずれている場合には、斜め形状の画像cは実線の位置になる。このため、マッチング演算を行い、マッチング値の最小値を求め場合、正しい位置から1画像ずれた実線で示した位置になる。これに対して、例えば、図7a,bに示すように、左側の撮像領域22a1内の基準ブロックS1付近に縦形状の画像cが結像している場合には、右側の撮像領域22b1において、同様に基線長方向に対して垂直方向に1画素ラインずれていても、実線と破線示した位置が略同じになり、マッチング値の最小値の誤差は非常に小さい。そして、本実施形態の測距装置3においては、測距用演算部24は、基準像に対して他方の撮像データ内の相関性の高い比較像を探索する際に、基線長に対して垂直方向に所定位置だけずらして基線長と同じ方向で探索を行い、この検索により算出された撮像データ内における基準像と比較像との間の相対位置差が所定値より小さいか否かを判定し、この相対位置差が所定値より小さいと判定した場合には算出した相対位置差を測距演算に使用し、この相対位置差が所定値より大きいと判定した場合には算出した相対位置差を測距演算に使用しないようにする。例えば、図8aは、人物の顔の頭部A1と頬部分B1を測距対象とした場合の、左側の撮像領域22a1内に結像した画像基準像である。そして、図8bに示すように、右側の撮像領域22b1内の前記頭部A1と頬部分B1とそれぞれ同じ位置A2とB2から、矢印方向基線長方向にシフトさせながら探索を行い、この検索により算出された撮像データ内における基準像と比較像との間の相対位置差以下、マッチング値の最小値というが所定値より小さいか否かを判定するための演算を行い、マッチング値の最小位置A2sとB2sを求める。この際、図9a,b,c,dに示すように、ブロックA2とブロックB2に対して、1画素ライン下のA3とB3のブロックからシフトをして、マッチング値の最小位置A3sとB3sを求める。この場合、頭部A1のような斜め形状の被写体では、マッチング特性のように最小になるA2sとB2sの位置に大きなずれが生じる。一方、頬部分B1のような縦方向の形状の被写体では、マッチンググラフBのように最小になるB2sとB3sの位置のずれは非常に小さい。このように、温度環境が大きく変化した場合や衝撃が作用した場合等において、一対の測距用レンズ5a,5bレンズアレイ4が基線長方向に対して垂直方向にずれが生じた場合でも、人物の顔の頭部A1と頬部分B1を測距対象とした場合に、縦方向の形状の被写体である頬部分B1の方の誤差の小さい測距結果を採用し、斜め方向の形状の被写体である頭部A1の方の誤差の大きい測距結果は採用しないようにすることができる。実施形態2前記実施形態では、例えば、図6に示したように、比較ブロックを、基準ブロックと同じ画像ライン位置と、基線長方向に対して直交方向で1ライン下の比較ブロックの2種類で行なったが、本実施形態では、比較ブロックを、基線長方向に対して直交方向で1画素ライン上下、2画素ライン上下、3画素ライン上下といったように更にずらしながら増やしてもよい。他の構成は実施形態1と同様である。このように、比較ブロックをずらした各ライン位置の探索によって、例えば、図10に示すようなマッチングの最小値が求まる。そして、図11に示すように、これを各ライン位置でマッチング最小値の大きさをプロットする。そして、仮に左側の撮像領域と右側の撮像領域に結像した各画像に基線長方向に対して直交方向のずれがない場合は、被写体が縦形状、斜め形状にかかわらず図11のように、本来の比較ブロックのライン位置でのマッチング最小値が最小になる。このような演算処理が撮像領域の分割された各画像エリアで行なわれるので、マッチング最小値が最も小さくなる比較ブロックのライン位置の度数をとると、図12に示すように、本来の比較ブロックのライン位置でマッチング最小値をとる画像エリア数が最も多くなる。これに対して、左側の撮像領域と右側の撮像領域に結像した各画像に基線長方向に対して直交方向のずれがあった場合について説明する。左側の撮像領域と右側の撮像領域に結像した各画像に基線長方向に対して直交方向のずれがあった場合でも、縦形状の被写体部では図11に示したようなマッチング特性になる。よって、マッチング極値が最も小さくなる比較ブロックのライン位置の度数では、基線長方向に対する直交方向のずらし量がゼロに位置にカウントされる。しかしながら、縦形状でない被写体部に対しては、ブロックをずらした各ライン位置の探索においてマッチング極値が最も小さくなるのは、図13に示すように、基線長方向に対する直交方向のずれに相等するライン位置となる。図13の例では、1画素ラインでのマッチングの極値が最も小さくなる。そして、撮像領域の分割された各画像エリアでマッチング極値が最も小さくなる比較ブロックのライン位置の度数をとると、例えば、図14に示すように、縦形状の被写体による基線長方向に対する直交方向のずらし量ゼロ位置の度数、及び斜め形状の被写体では基線長方向に対する直交方向のずれに相等する1位置の度数が大きくなる。なお、基線長方向に対する直交方向のずらし量ゼロ位置の度数は無視して、それ以外で度数が予め設定した所定個数より高い垂直ラインずらし量があれば、それを左右像の垂直ずらし量として、カメラ側の記憶部に記憶させる。そして、以降の視差探索では、基準ブロックに対して、新たに記憶した垂直ずらし量をずらした比較ブロックを、ベースの探索ラインとする。また、画像ラインが異なったブロックによるマッチング探索は、ソフトウェアによって順番に行なってもよく、またはハードウェア化で同時に行なってもよい。なお、前記した各実施形態のデジタルカメラは、外光式の測距装置で得られた測距情報に基づいた合焦動作を行う構成であったが、外光式の測距装置で得られた測距情報に基づいた合焦動作を行うとともに、撮影レンズ系を通して撮像素子から取り込まれる撮像信号から自動合焦制御を行う構成を備えたデジタルカメラにおいても、同様に本発明を適用することができる。"