エックス線断層撮影を用いた材料内部の密度を分析する方法であって、aエックス線発生装置とエックス線検出器との間に円柱形状の冶具を設けるステップと、b前記円柱形状の冶具内部に、分析対象の材料、および密度が既知である複数の標準試料を挿入するステップと、c前記円柱形状の冶具を360度回転させながらエックス線断層撮影を行なうステップと、d前記エックス線断層撮影された映像に表われたエックス線強度を利用して、前記分析対象の材料内部の密度分析を計算するステップとを備える、方法。前記複数の標準試料の個数は、3~20個である、請求項1に記載の方法。前記複数の標準試料は、一様な内部密度を有している、請求項1に記載の方法。前記複数の標準試料は、全て互いに異なる密度を有している、請求項1に記載の方法。前記複数の標準試料は、前記分析対象の材料よりも密度が高いものと、低いものとを含んでいる、請求項1に記載の方法。前記分析対象の材料内部の密度分布の計算は、前記標準試料の密度、および前記エックス線断層撮影された映像に存在する標準試料の領域におけるエックス線強度に基づいて、次式を用いて行なわれるものであり、Xは分析対象材料内部の一領域におけるエックス線強度、DXは当該領域の密度、Diは各標準試料の密度、Aiは、エックス線断層撮影された映像において標準試料に対応する領域のエックス線強度平均、DMは全てのDiの平均、AMは全てのAiの平均、Nは標準試料の個数を表す、請求項1に記載の方法。本発明は以上のような事項を鑑み創出されたものであって、材料内部の密度分布を定量的に分析することができる、エックス線断層撮影を用いて材料内部の密度を分析する方法を提供することを目的とする。上記の目的を達成するために、本発明によるエックス線断層撮影を用いて材料内部の密度を分析する方法は、aエックス線発生装置とエックス線検出器との間に円柱形状の冶具を設けるステップと、b前記円柱形状の冶具内部に、分析対象の材料、および密度が既知である複数の標準試料を挿入するステップと、c前記円柱形状の冶具を360度回転させながらエックス線断層撮影を行なうステップと、d前記エックス線断層撮影された映像に表われたエックス線強度を利用して、前記分析対象の材料内部の密度分析を計算するステップとを備える。前記ステップbにおける標準試料の個数は、3~20個であることが好ましい。また前記複数の標準試料は、一様な内部密度を有していることが好ましい。また前記複数の標準試料は、全て互いに異なる密度を有していることが好ましい。また前記複数の標準試料は、前記分析対象の材料よりも密度が高いものと、低いものとを含んでいることが好ましい。前記ステップdにおいて、前記分析対象の材料内部の密度分布の計算は、前記標準試料の密度、および前記エックス線断層撮影された映像に存在する標準試料の領域におけるエックス線強度に基づいて、次式を用いて行なわれる。ここで、Xは分析対象材料内部の一領域におけるエックス線強度、DXは当該領域の密度、Diは各標準試料の密度、Aiは、エックス線断層撮影された映像において標準試料に対応する領域のエックス線強度平均、DMは全てのDiの平均、AMは全てのAiの平均、Nは標準試料の個数を表す。本発明によれば、エックス線断層撮影された映像を材料内部の密度分布映像に変換することができる。よって、エックス線断層撮影された映像に対する肉眼を通じた判読による定性的な判断方式を改善して、定量的な判断を提供できる。添付の図面を参照しつつ、本発明の実施形態について以下詳細に説明する。図1は、本発明に係るエックス線断層撮影を用いて材料内部の密度を分析する方法の実行過程を示すフローチャートである。図1に示す本発明に係るエックス線断層撮影を用いた材料内部の密度分析方法によれば、図2に示すように、エックス線発生装置10とエックス線検出器11との間に円柱形状の冶具30が配置されるステップS101。冶具30は、後述する分析対象の材料20と標準試料21、22、23の全てを挿入できる構造であり、冶具30の外面は角がない円柱形状を有することが好ましい。角が存在すると、角によるエックス線の屈折と回折が発生しエックス線断層撮影された映像に不必要なノイズを発生させるからである。上記冶具30の設置後、上記円柱形状の冶具30の内部に分析対象の材料20と密度が既知である複数の標準試料21、22、23を挿入するステップS102。次いで上記冶具30を支えているターンテーブル12を回転させ、上記円柱形状の冶具30を360度回転させながらエックス線断層撮影を行なうステップS103。最後に、図3に示す上記エックス線断層撮影された映像に表れたエックス線強度を利用して、上記分析対象の材料20の内部の密度分布を計算するステップS104。ここで、上記ステップS102における複数の標準試料21、22、23の個数は、3~20個であることが好ましい。また上記複数の標準試料21、22、23は、一様な内部密度を有していることが好ましい。また上記複数の標準試料21、22、23は、全て互いに異なる密度を有することが好ましい。また上記複数の標準試料21、22、23は、上記分析対象の材料20よりも密度が高いものと、低いものとを含んでいることが好ましい。上記ステップS104において、上記分析対象の材料20内部の密度分布の計算は、上記標準試料21、22、23の密度、および図3の上記エックス線断層撮影された映像に存在する標準試料の領域のエックス線強度に基づいて、次式を用いて行なわれる。ここで、Xは分析対象材料内部の一領域におけるエックス線強度、DXは当該領域の密度、Diは各標準試料の密度、Aiは、エックス線断層撮影された映像において標準試料に対応する領域のエックス線強度平均、DMは全てのDiの平均、AMは全てのAiの平均、Nは標準試料の個数を表す。上記の一連の処理について、より詳細に説明する。エックス線発生装置10から発生されたエックス線40は、分析対象材料20と標準試料21、22、23を収容している冶具30を通過してエックス線検出器11に到達する。このときエックス線40が通過した部位の密度に従ってエックス線吸収係数が変わり、これによるエックス線透過強度の差異はエックス線検出器11によって記録される。冶具30、分析対象の材料20、および標準試料21、22、23は、ターンテーブル12の回転に従って360度回転される。ターンテーブル12の一定角度の回転ごとに再びエックス線を照射して、エックス線吸収係数の差異によるエックス線強度の差異を記録する。図3は、上記複数の映像におけるエックス線強度を再構成して得られた材料内部断面のエックス線断層撮影像を示している。冶具30の中央には分析対象材料20の映像が、そしてその周辺には標準試料21、22、23の映像が表れている。標準試料21、22、23は分析対象材料20の密度を分析するための基準であって、特定の素材に限定されるものではない。換言すると、金属、セラミック、プラスチック等のいずれの素材によっても製作が可能であるが、内部の密度が均質な単一物質のものが好ましい。標準試料21、22、23の密度に変化があれば、これを基準にした分析対象材料20の密度分析結果にも変化が発生するからである。さらに、各標準試料21、22、23の密度は互いに異なるべきであり、好ましくは、分析すべき材料20の密度より高い密度を有する標準試料と、低い密度を有する標準試料とを含むようにする。分析すべき材料20の密度が標準試料21、22、23の密度の中間に位置する場合、エックス線強度と密度の相関関係の信頼性が高くなるからである。標準試料21、22、23の個数は変更が可能であるが、3個から20個の範囲であることが好ましい。標準試料が2個以下の場合、正確な密度基準とするには個数が不足であり、標準試料が21個以上の場合、密度分析の正確性の向上幅の割に、分析時間が長くなってしまうからある。標準試料21、22、23のそれぞれの密度をDiとし、エックス線断層撮影された映像における標準試料に対応する領域図3において21、22、23で示す領域のエックス線強度の平均をAiとすれば、前述の数式を用いて材料内部の密度を定量的に計算することができる。図4は上記の式を分析対象の材料20内部の全ての領域に適用して得られた、内部密度DXの定量的分析結果を示している。図4において、分析対象の材料20の内部の密度は、5.3~1.8g/cm2の範囲とされている。赤色で示した高密度領域は、材料内部の正常部分50であり、中央に青色で示した領域は、材料の亀裂や気泡の発生によりもたらされる、密度が低い欠陥部分51である。以上の説明におけるように、本発明によるエックス線断層撮影を用いた材料内部の密度分析方法は、エックス線断層撮影された映像を材料内部の密度分布映像に変換することができるため、エックス線断層撮影された映像に対する肉眼判読による定性的な判断方式を改善して、定量的な判断を提供することができる。以上、好ましい実施形態を参照して本発明について詳しく説明したが、本発明は、これに限定されるものでなく、本発明の技術的思想を逸脱しない範囲で多様に変形、応用され得ることは当業者にとって明らかである。よって本発明の真正な保護範囲は、添付した請求の範囲に基づいて解釈されるべきであり、それと均等な範囲内にある全ての技術的思想は本発明の権利範囲に含まれるものと解釈されるべきである。