"光ピックアップとトラッキング制御部とを備える光ディスク装置に使用される集積回路装置であって、前記光ピックアップから得られる受光信号に基づいて指紋の有無を検知する指紋検出部を備えている集積回路装置。前記指紋検出部は、所定期間を計測するタイマーと前記所定期間内において、前記光ピックアップから得られる受光信号に基づいて生成されたディフェクト検出信号に含まれるパルスの数をカウントするカウンタと、を備え、前記所定時間内における前記パルスのカウント数に基づいて、指紋の有無を検知する、請求項1に記載の集積回路装置。前記所定期間は光ディスクの再生速度に応じて調整される請求項2に記載の集積回路装置。従来、高密度大容量の光ディスクとして、DVDDigitalVersatileDisc-ROM、DVD-RAM、DVD-RW、DVD-R、DVDRW、DVDR等の光ディスクが実用化されてきた。また、CDCompactDiscは今も普及している。光ディスクの記録密度を高めるためには、光ディスクのデータ面上に集束された光ビームのスポット径を小さくすることが好ましい。光ビームスポット径は、光ビームを集束するために用いられる対物レンズの開口数NAに反比例するため、対物レンズの開口数NAを高くすることにより、光ビームのスポット径を縮小することが可能である。現在は、上述の光ディスクよりも更に高密度化大容量化されたブルーレイディスクBlurayDisc;BDやHD-DVDなどの次世代光ディスクの開発実用化が進められつつある。BDでは、対物レンズNAをDVDに比べて高い値に設定するとともに、情報層の表面を薄い光透過層厚さ:100μm程度で覆う構成を採用している。BDのように高密度でデータが記録される光ディスクでは、従来の光ディスクでは問題にならなかった新しい課題が発生しつつある。例えば、BDを作製する際、光透過層をBDの基板上に形成するときに、光透過層と基板本体との間に空気が混入し、気泡が形成されることがある。このような気泡が存在すると、光透過層は湾曲し、平坦性が局所的に失われる。図7aおよびbは、気泡が形成されたBDを用いて実際に測定されたディスク表面光透過層の表面の凸部形状を示す図である。典型的な気泡の大きさ直径は、500μm~1000μm程度である。BDの情報層と光透過層との間に気泡が形成されると、光透過層が薄い厚さ:約100μmため、図7に示すように光透過層の表面が局所的に盛り上がっている。気泡の中心部核の部分では、反射光が殆ど戻ってこないが、気泡の周囲において盛り上がった部分でも、光ビームの透過に異常が生じる。BDの記録再生に用いられる対物レンズのNAは高く、ディスク表面から浅い位置の情報層に焦点を結ぶため、光透過層の僅かな歪みに対しても、球面収差が大きく変化し、反射光強度が変動しやすい。図8aは、気泡によるディスク表面の凹凸を示す図であり、図8bは、光ビームが気泡を横切るときに測定されるTE信号および駆動信号の波形図である。光ビームがトラックの中心線上を追従しているとき、TE信号の振幅はゼロレベルにあるが、光ビームがトラックの中心線からディスク径方向にシフトすると、TE信号にはゼロではない振幅成分が現れる。このとき、トラックの中心線に対する光ビームの位置ズレオフトラックを解消するように、光ピックアップ内の対物レンズのディスク径方向位置が調整される。対物レンズのディスク径方向位置は、光ピックアップ内のレンズアクチュエータの働きによって調整され、図8bに示す駆動信号は、レンズアクチュエータに供給される駆動電流の波形を示している。図8に示すように、BDの気泡を光ビームが通過するとき、擬似的にオフトラックを示す波形がTE信号に現れる。このような波形は、光ビームがトラックの中心線上にあっても気泡に起因して出現するため、TE信号の擬似オフトラック成分と称することにする。このような擬似オフトラック成分がTE信号に現れると、擬似オフトラック成分に応答してトラッキング制御が行われるため、光ビームスポットが目的トラックから外れてしまうという問題がある。なお、DVDは、2枚の基材各々の厚さは約600μmを貼り合わせることによって製造されるため、2枚の基材間には気泡が形成されにくい。また、仮に基材間に気泡が形成されたとしても、光透過層として機能する一方の基材が600μmと厚いため、光ディスクの表面が気泡によって盛り上がることはない。更に、DVDでは、BDに比べてNAが低く、球面収差の感度がBDの場合に比べて約1/10と低いため、TE信号や光量信号は気泡によって殆ど影響されない。このような気泡を検知することにより、未然に擬似オフトラック成分によるトラック外れを防止することが求められるが、前述した特許文献1、特許文献2に記載されている技術をBDに適用すると、正常に動作しない場合がある。以下、この問題を説明する。まず、気泡は、従来の光ディスクで問題になっていたダストや傷などのディフェクトとは異なり、反射光量の低下が緩やかに進行し、また低下量そのものも相対的に小さい。このため、気泡によるトラック外れを回避するには、反射光量が僅かに低下したときだけでも、気泡を光ビームが横切っていると判断し、トラッキング制御信号をホールドする必要がある。しかしながら、光ディスクの表面には、指紋が広範囲に付着していることがあり、指紋によっても反射光量が低下する。指紋による反射光量の低下は、ディスク表面に傷やダストが存在する場合に比べて小さく、気泡による場合に近い。このため、反射光量の低下に基づいて気泡を検知し、トラッキング制御信号をホールドしようとすると、指紋に対してもトラッキング制御をホールドしてしまうことになる。上述のように、指紋は、気泡や光ディスク表面の傷に比べて広い範囲に存在していることが多く、上記方法によると、トラッキング制御信号をホールドする時間が長くなりすぎ、却ってトラック外れが生じやすくなってしまう。このように従来の技術では、反射光量の低下に基づいて気泡と指紋とを判別することができないため、光ディスクのディフェクトによるトラック外れを適切に防止することができないという問題があった。特に、この問題は、DVDに比べて薄い光透過層で情報層の表面を覆うBDにおいて顕著であり、BDの普及のために解決することが強く望まれている。本発明は、上記問題を解決するためになされたものであり、その主たる目的は、光ディスクに気泡や指紋が存在する場合でも適切に動作する光ディスク装置を提供することにある。本発明の光ディスク装置は、光ディスクの情報層に対して光ビームを集束させる少なくとも1つの対物レンズと、前記光ディスクからの反射光に基づいて受光信号を生成する光検出器と、前記対物レンズを前記光ディスクの半径方向に駆動するトラッキングアクチュエータと、前記受光信号に基づいてトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差検出部と、前記トラッキング誤差信号に基づいて前記トラッキングアクチュエータを駆動し、前記光ビームに前記ディスク上のトラックを追従させるトラッキング制御部と、前記受光信号に基づいて前記光ディスクの反射光強度が低下した部分をディフェクトとして検出し、ディフェクト検出信号を出力するディフェクト検出部と、前記ディフェクトによるトラッキング外れの生じやすさに影響する追従条件を設定する追従条件設定部とを備え、前記追従条件設定部は、前記光ディスクに形成される複数種類のディフェクトであって大きさが相対的に小さな第1のディフェクトと大きさが相対的に大きい第2のディフェクトを含む複数種類のディフェクトのうち、前記第1のディフェクトによるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を最初に設定し、再生時においてトラッキング異常が生じた場合、前記追従条件設定部は、前記第2のディフェクトによるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を変更する。好ましい実施形態において、前記第1のディフェクトのサイズは、前記光ビームによって前記光ディスクの表面に形成される光スポットの直径よりも小さく、前記第2のディフェクトのサイズは、前記光スポットの直径よりも大きい。好ましい実施形態において、前記第1のディフェクトは前記光ディスクの表面に形成される指紋ドットであり、前記第2のディフェクトは、前記光ディスクの内部に形成される気泡である。好ましい実施形態において、前記追従条件設定部は、前記トラッキング誤差信号をディフェクト直前における値にホールドするためのホールド信号を前記ディフェクト検出信号に基づいて生成するホールド信号生成部を備え、前記追従条件設定部は、最初の追従条件でトラッキング外れが生じた場合、前記ホールド信号が規定するホールド時間を、前記トラック外れが生じる前より長くするように前記ホールド信号生成部の設定を変更する。好ましい実施形態において、前記追従条件設定部はトラッキング制御のゲインを制御するゲイン設定部を備え、前記追従条件設定部は、トラッキング異常が生じた場合、前記ゲインの値を小さくする。好ましい実施形態において、前記追従条件設定部は光ディスクの回転速度を制御する回転速度設定部を備え、前記追従条件設定部は、トラッキング異常が生じた場合、前記回転速度を高くする。好ましい実施形態において、再生時に所定値以上のトラックずれまたは再生エラーが発生した場合にリトライ再生を行うか否かを決定するリトライ決定部を備える。好ましい実施形態において、再生時に所定値以上のトラックずれまたは再生エラーが発生した場合、前記追従条件設定部は、現実にトラック外れが生じる前に、前記第2のディフェクトによるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を変更する。好ましい実施形態において、前記トラック外れが生じた場合において、前記ディフェクト検出信号が生成されていなかったとき、前記追従条件設定部は、リトライ再生時においても追従条件の設定を変更しない。好ましい実施形態において、前記ディフェクトが指紋か否かを検知する指紋検出手段を更に備え、前記ディフクトに起因してトラック外れが発生した場合において、前記ディフェクトが指紋であると判定されたとき、前記追従条件設定部は、追従条件の設定を変更することなく、リトライ再生を行う。本発明の他の光ディスク装置は、BD規格による第1の光ディスクおよびHD-DVD規格による第2の光ディスクを含む複数の種類の光ディスクからデータを再生することが可能な光ディスク装置であって、前記複数種類の光ディスクから選択され、前記光ディスク装置に装填された光ディスクの情報層に対して光ビームを集束させる少なくとも1つの対物レンズと、前記光ディスクからの反射光に基づいて受光信号を生成する光検出器と、前記対物レンズを前記光ディスクの半径方向に駆動するトラッキングアクチュエータと、前記受光信号に基づいてトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差検出部と、前記トラッキング誤差信号に基づいて前記トラッキングアクチュエータを駆動し、前記光ビームに前記ディスク上のトラックを追従させるトラッキング制御部と、前記受光信号に基づいて前記光ディスクの反射光強度が低下した部分をディフェクトとして検出し、ディフェクト検出信号を出力するディフェクト検出部と、前記ディフェクトによるトラッッキング外れの生じやすさに影響する追従条件を設定する追従条件設定部とを備え、前記追従条件設定部は、装填された光ディスクが前記第1の光ディスクか前記第2の光ディスクかに応じて追従条件を変更する。好ましい実施形態において、前記追従条件設定部は、前記ディフェクトによるトラッキング外れが生じてリトライ動作を実行するとき、装填された光ディスクが前記第1の光ディスクの場合には追従条件を変更するが、装填された光ディスクが前記第2の光ディスクの場合には追従条件を変更しない。好ましい実施形態において、前記第1の光ディスクが装填されている場合、前記追従条件設定部は、前記光ディスクに形成される複数種類のディフェクトであって大きさが相対的に小さな第1のディフェクトと大きさが相対的に大きい第2のディフェクトを含む複数種類のディフェクトのうち、前記第1のディフェクトによるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を最初に設定し、再生時においてトラッキング異常が生じた場合、前記追従条件設定部は、前記第2のディフェクトによるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を変更する。好ましい実施形態において、前記第1のディフェクトは前記光ディスクの表面に形成される指紋ドットであり、前記第2のディフェクトは、前記光ディスクの内部に形成される気泡である。好ましい実施形態において、前記第2の光ディスクが装填されている場合、前記追従条件設定部は、前記光ディスクに形成される複数種類のディフェクトであって大きさが相対的に小さな第1のディフェクトと大きさが相対的に大きい第2のディフェクトを含む複数種類のディフェクトのうち、前記第1のディフェクトによるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を最初に設定し、再生時においてトラッキング異常が生じた場合、前記追従条件設定部は、追従条件を変更することなくリトライ動作を行う。本発明の集積回路装置は、光ピックアップとトラッキング制御部とを備える光ディスク装置に使用される集積回路装置であって、前記光ピックアップから得られる受光信号に基づいて指紋の有無を検知する指紋検出部を備えている。好ましい実施形態において、前記指紋検出部は、所定期間を計測するタイマーと、前記所定期間内において、前記光ピックアップから得られる受光信号に基づいて生成されたディフェクト検出信号に含まれるパルスの数をカウントするカウンタとを備え、前記所定時間内における前記パルスのカウント数に基づいて、指紋の有無を検知する。好ましい実施形態において、前記所定期間は光ディスクの再生速度に応じて調整される。本発明の集積回路装置は、光ピックアップとトラッキング制御部とを備える光ディスク装置に使用される集積回路装置であって、前記光ピックアップから得られる受光信号に基づいて光ディスクの反射光強度が低下した部分をディフェクトとして検出し、ディフェクト検出信号を出力するディフェクト検出部と、前記ディフェクトによるトラッキング外れの生じやすさに影響する追従条件を設定する追従条件設定部とを備え、前記追従条件設定部は、前記光ディスクに形成される複数種類のディフェクトであって大きさが相対的に小さな第1のディフェクトと大きさが相対的に大きい第2のディフェクトを含む複数種類のディフェクトのうち、前記第1のディフェクトによるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を最初に設定し、再生時においてトラック外れが生じた場合、前記追従条件設定部は、前記第2のディフェクトによるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を変更する。好ましい実施形態において、前記追従条件設定部は、前記トラッキング誤差信号をディフェクト直前における値にホールドするためのホールド信号を前記ディフェクト検出信号に基づいて生成するホールド信号生成部を備え、前記追従条件設定部は、最初の追従条件でトラッキング外れが生じた場合、前記ホールド信号が規定するホールド時間を、前記トラック外れが生じる前より長くするように前記ホールド信号生成部の設定を変更する。好ましい実施形態において、前記追従条件設定部はトラッキング制御のゲインを制御するゲイン設定部を備え、前記追従条件設定部は、トラック外れが生じた場合、前記ゲインの値を小さくする。好ましい実施形態において、前記追従条件設定部は光ディスクの回転速度を制御する回転速度設定部を備え、前記追従条件設定部は、トラック外れが生じた場合、前記回転速度を高くする。本発明の光ディスク装置は、最初、光ディスクの表面に相対的に小さな第1のディフェクト例えば指紋が存在していても適切に再生を実行できる設定で動作させ、もしも相対的に大きな第2のディフェクト例えば気泡が存在しているときは、あえてトラック外れなどのトラッキング異常が生じるようにしている。そして、光ディスクの再生中に、ディフェクトによるトラック外れが生じたときは、初期設定を変更し、今度は相対的に大きな第2のディフェクト例えば気泡に対してトラック外れが生じにくい条件で再生のリトライを実行する。以下、本発明による光ディスク装置の実施形態を説明する前に、BDのディスク表面に形成された指紋、および光ディスクの光透過層下に形成された気泡について更に詳細に説明する。まず、図9および図10を参照する。図9aは、指紋が付着したBDのディスク表面の顕微鏡写真である。図9は、それぞれ、指紋が存在する領域でのTE信号を示す波形図である。図9aには、多数の白い点ドットが観察される。これらのドットが指紋を構成しているため、以下、指紋ドットと称することにする。指紋ドット12の平均サイズは65~75μmである。図10aは、指紋ドット12の模式的な配列を示す平面図であり、図10b、c、およびdは、それぞれ、光ビームが指紋ドット12を横切るときに得られるTE信号、反射光量、およびホールド信号を示す波形図である。実際の指紋ドットは、図9aに示されるようにランダムに位置しているが、各指紋ドットの大きさや間隔は、大きくばらついていないため、図10aに示すモデルに基づいて分析を進めることが可能である。BDでは、約405nmの短波長光ビームが高NA対物レンズによって充分に細く絞られるため、ディスク表面における検出分解能がDVDに比べ格段に向上している。DVDの場合における情報層における有効なビームスポットのサイズ有効断面積は、図10aに示される光ビームスポット10のサイズの約4~5倍で、直径にすると約2倍程度約1μmである。よってDVDは、NAが0.6であっても光透過層基板の厚さが0.6mmとBDに比べ6倍も厚いため、その表面におけるスポット径は、0.5mm以上に拡大される。通常、指紋のドット間のピッチは0.2mm~0.3mmぐらいであり、このため、DVDでは、1つのビームスポット内に複数の指紋ドット12が含まれることになり、反射光量に基づいて個々の指紋ドット12を検知することはできない。よってDVDのスポットサイズでは指紋を検出できない。これに対して、BDでは、図10aに示されるように情報層での光ビームスポット10の直径が約0.4μm以下であり、また、光透過層カバー層の厚さが0.1mmと極めて小さい。このため、ディスク表面におけるスポット径も僅か約0.15mmであり、指紋ドット12のピッチ程度の大きさである。従って、分解能が高く、BDのディスク表面に指紋が付着していると、図10cに示すように、個々の指紋ドット12に対応して反射光量が高い周波数で変動することになる。この結果、BD用の光ビームスポット10がBDのディスク表面において指紋の形成された領域を走査するとき、指紋ドット12の間の領域反射光量が低下していない領域からは、指紋ドット12に影響されない正常なTE信号を得ることができる。図12aおよび図12bは、それぞれ、BDの情報層およびDVDの情報層に光ビームが集光している様子を示す模式断面図である。図示されている例では、BD用の対物レンズNA:0.85とDVD用の対物レンズNA:0.6が一体的にレンズアクチュエータ不図示によって支持されている。このような光ディスク装置では、装填された光ディスクがBDの場合は、BD用の光源から発せられた光ビーム波長:約405nmがBD用対物レンズによってBDの情報層に集光され、装填された光ディスクがDVDの場合は、DVD用の光源から発せられた光ビーム波長:約650nmがDVD用対物レンズによってDVDの情報層に集光される。上述したように、BDのディスク表面に形成される光ビームスポットのサイズは指紋ドット間から反射光を検出することが可能な大きさを有している図12a。一方、DVDのディスク表面に形成される光ビームスポットのサイズは指紋ドット間の平均距離よりも充分に大きいため、指紋ドット間からの反射光を検出することができない図12b。上述のように、反射光量の低下に基づいて個々の指紋ドット12を検知すれば、図10dに示すように、BD用の光ビームスポット10が個々の指紋ドット12を横切るタイミングでホールド信号を生成することが可能になる。このように個々の指紋ドット12を検知して反射光量が低下した時間だけTE信号をホールドすれば、BD表面の広い範囲に多数の指紋が付着していても、トラック外れを抑制することが可能になる。しかしながら、指紋に加えて前述した気泡がBDに存在していると、反射光量の低下に基づいて指紋ドット12と気泡の核とをリアルタイムで識別することは極めて難しい。例えば、反射光量の低下が生じたときに気泡の核を検知したと判断し、光ビームが気泡の核を通過するために要する必要充分な所定時間だけTE信号をホールドするように設定すると、反射光量の低下は気泡の核によるものではなく、実は指紋ドットによるものであったという場合が生じ得る。指紋は、気泡に比べて遥かに広い範囲に広がっていることが多く、また高密度で分布している。このため、反射光量低下を検出した場合に所定時間だけTE信号をホールドする設定では、指紋ドット12が存在する広い領域でTE信号が継続的にホールドされ、ホールド時間は4ミリ秒を超える長いものとなる。そのように長いホールド時間中はトラックに追従しないため、高い確率でトラック外れが生じてしまうことになる。すなわち、気泡に対応するためにホールド時間を長めに設定すると、ディフェクトが気泡ではなく指紋ドットであった場合に、図10dに示す個々のホールド期間が連続し、多数の指紋ドットが存在する広い範囲でTE信号を得ることができなくなる。一方、反射光量の低下が生じたときに指紋ドットを検知したと判断し、光ビームが指紋ドットを通過するために必要な充分に短い時間だけTE信号をホールドするように設定すると、反射光量の低下は指紋ドットによるものではなく、実は気泡によるものであったという場合が生じ得る。この場合、個々のホールド時間は気泡通過時間に比べて極めて短いため、短いホールド時間の経過後、TE信号には気泡による擬似オフトラック成分が現れ、トラック外れが生じることになる。すなわち、指紋に適したトラッキング制御を行う設定では、気泡によるトラック外れを阻止することできない。気泡によるトラック外れを防止するには、光ビームが気泡を通過するために必要充分な時間だけ、TE信号をホールドする必要がある。前述したように、指紋ドットと気泡の核とをリアルタイムで識別することは難しいため、ディフェクトが検出されたときのTE信号のホールド時間を指紋ドットおよび気泡の一方のみに適した値に設定することになる。しかし、ホールド時間を指紋ドットに適した値に設定した場合は、気泡の存在によってトラック外れが発生しやすくなるが、ホールド時間を気泡に適した値に設定した場合には、指紋によってトラック外れが発生しやすくなってしまう。以下、気泡によってトラック外れが発生しにくい条件にした場合、指紋の存在によってトラック外れが発生しやすくなる理由を説明する。気泡によってトラック外れが発生しにくくするためには、反射光量が低下している時間だけTE信号をホールドするだけでは不充分である。反射光量の低下は主として気泡の核によって生じるが、気泡の核の周囲にはTE信号に歪みを発生される領域が存在している。このため、反射光量低下の時間に対して所定の時間を付加した期間だけ、TE信号をホールドする必要がある。この所定の時間は、指紋ドット間を光ビームスポットが横切る時間に比べて充分に長いため、指紋ドット間もTE信号がホールドされ、指紋ドットから適正なTE信号を得ることはできくなくなる。また、指紋ドットが分布する領域は、気泡よりも広いため、ホールド時間が経過してTE信号のホールドが解除されたとき、光ビームスポットは未だ指紋ドットを横切りつつあるため、直ぐまたTE信号のホールドが開始されてしまう。このように、気泡に適したTE信号のホールドを行う設定では、指紋の存在により、指紋ドット間からTE信号を得ることができず、また、指紋が存在する広い領域でTE信号がホールドされる結果、トラック外れが発生しやすくなる。なお、気泡は、指紋とは異なり、BDの製造工程の種類により、形成されやすい場合と、形成されにくい場合がある。スピンコート法によって光透過層が形成されたBDは、気泡を多く含む傾向にあるが、貼り合わせ法によって光透過層保護シートが貼り付けられたBDには気泡が少ない傾向にある。このように、気泡の有無はBDの製造方法や材料によっても大きくばらつくが、人の指紋における指紋ドット12の大きさは大凡決まっている。また、カートリッジ内に収められた状態で使用されないベアディスクでは、ディスク表面に指紋の付く可能性が極めて高い。以上のことから、本発明では、まず、BD表面に指紋が存在していても適切に再生を実行できる初期設定で光ディスク装置を動作させ、もしも気泡が存在しているときは、あえてトラック外れなどのトラッキング異常が生じるようにしている。そして、BDの記録再生中に、気泡によるトラッキング異常が生じたときは、初期設定を変更し、今度は気泡を含むBDに対してトラッキングを適切に実行できる条件で再生のリトライ動作を実行する。このような設定の変更は、本発明による光ディスク装置が備える追従条件設定部の働きによって行うことができる。追従条件設定部は、ディフェクトによるトラッキング外れの生じやすさに影響する追従条件を設定し、また、この設定を変更することができる。本発明の好ましい実施形態では、この追従条件設定部が、起動後1回目の再生時においては、指紋によるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を設定する。そして、1回目の再生時においてトラック外れが生じて2回目以降のリトライ再生を行う場合は、気泡によるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を変更する。追従条件設定部によって行う初期設定は、指紋に強い設定であり、例えばTE信号のホールド時間を短くしホールド時間ゼロの場合を含む、指紋ドットの間でTE信号に基づくトラッキング制御を可能にしている。このため、指紋がディスク表面の広い範囲に存在していても、指紋ドットの間に位置する領域からトラッキング誤差に関する情報を適切に得ることができ、トラック外れが生じにくい動作を実現できる。このような初期設定では、気泡が存在していた場合、TE信号中に生じる擬似オフトラック成分により、トラック外れが発生しやすいが、本発明の第1の態様では、そのようなトラック外れの発生を許容する。すなわち、トラック外れが生じた場合は、その原因となる光ディスクのディフェクトを指紋ではなく気泡であると推定した上で、初期設定を指紋に適したものから気泡に適したものに変更する。本発明では、指紋に適した設定から気泡に適した追従条件の設定変更を行う場合、下記のパラメータ追従条件の少なくとも1つを変更する。1トラッキング制御のホールド時間2トラッキング制御のサーボゲイン3光ディスクの回転速度単位時間あたりの回転数例えば上記1の追従条件の設定変更を行う場合、起動後1回目の再生時においてトラック外れが生じたとき、2回目以降のリトライ再生時においては、気泡に対してトラッキング制御部からの信号をホールドする。すなわち、1回目の再生時においては、指紋または気泡により反射光量が低下しても、トラッキング制御のホールドは行わず、指紋ドットのようにビームスポット径よりも小さなディフェクト第1のディフェクトに対してトラッキング制御を適切に実行する。その結果、トラック外れなどのトラッキング異常が生じた場合は、その後の再生時においては、ディフェクト反射光量低下を検知すると、トラッキング制御のホールドを行う。このときのホールド時間を、気泡に対応する充分な長さ光ビームが気泡を横切る時間以上の長さに設定し、気泡のようにビームスポット径よりも大きなディフェクト第2のディフェクトに起因して擬似オフトラック成分が発生しても、トラック外れなどのトラッキング異常が生じないようにする。一方、ディフェクト反射光量低下の原因が指紋か否かを判別する指紋検出手段を光ディスク装置が備える場合、起動後1回目の再生時においてトラック外れが生じたとき、その原因が指紋にあると判定した場合は、2回目以降のリトライ再生時において、トラッキング制御のサーボゲインや光ディスクの回転速度を変更し、それによってリトライ再生時における気泡に起因するトラック外れを抑制する。なお、本明細書におけるトラック外れとは、ビームスポットが追従しているトラックとは異なるトラック上に移動するトラック飛びが生じた場合のみならず、トラッキング誤差が予め設定された許容範囲を超えて大きくなった場合をも含むものとする。上記の説明からわかるように、本発明の効果は、光ディスクの表面における光ビームスポットのサイズに比べて小さなディフェクト典型的には指紋ドット、および上記サイズに比べて大きなディフェクト典型的には気泡が光ディスク上に形成され得る場合に効果を奏する。ディフェクトは、指紋や気泡に必ずしも限定されず、同様の性質を有する2種類のディフェクトが形成され得る場合にも本発明の効果を奏することが可能である。なお、多様な規格に基づく複数の種類の光ディスクが1つの光ディスク装置に任意に装填され得る場合、複数種類の光ディスクの中に、指紋や気泡が形成され得る光ディスクが含まれる場合にも本発明は効果を奏する。一般に、反射光量低下は、指紋ドットや気泡以外のディフェクトによっても生じる場合がある。例えば、埃などのダストや傷が光ディスクの表面に存在している場合も、反射光量は低下する。ただし、ダストや傷による反射光量の低下の程度は、指紋や気泡に比べて格段に大きい。このため、反射光量の低下量に基づいて、ダストや傷を検知することができる。このような反射光量の大幅な低下を引き起こすディフェクトは、本明細書では第3のディフェクトと称する。光ディスクの表面に第3のディフェクトが存在すると、第1または第2のディフェクトが存在する場合に比べて、反射光量は大きく低下する。このため、第3のディフェクトは、第1または第2のディフェクトから区別して検知することができる。第3のディフェクトを検知した場合の動作は、公知の光ディスク装置における動作と同様である。以下、図面を参照しながら、本発明による光ディスク装置の実施形態を説明する。実施形態1まず、図1を参照して、本発明による光ディスク装置の第1の実施形態の機能ブロックの構成を説明する。本実施形態の光ディスク装置100は、図1に示されるように、フォーカス誤差検出部106、フォーカス制御部107、トラッキング誤差検出部108、およびトラッキング制御部109を備えている。図1の光ディスク装置100は、光ディスク102の情報層に対して光ビームを集束させる光ピックアップ104、光ビームを光ディスク102の半径方向に移動させることのできる駆動部105、フォーカス誤差検出部106、フォーカス制御部107、トラッキング誤差検出部108、およびトラッキング制御部109などを備えている。光ディスク102に対してデータの再生または記録を行うとき、フォーカス誤差検出部106は、光ピックアップ104から出力される信号に基づいてFE信号を生成する。同様に、トラッキング誤差検出部108は、TE信号を生成する。フォーカス制御部107は、FE信号に対してゲイン補償および位相補償を行った後、更にPWM変調または電流増幅を行うことにより、駆動部105を駆動する。トラッキング制御部109は、TE信号に対してゲイン補償や位相補償を行った後、PWM変調または電流増幅を行うことにより、駆動部105を駆動する。駆動部105は、フォーカス制御部107およびトラッキング制御部109の出力に基づき、光ピックアップ104内の対物レンズ不図示をディスク表面に垂直な方向およびディスク半径方向に駆動し、フォーカス制御およびトラッキング制御を実現する。光ディスク102上に記録されている信号は、光ピックアップ104によって読み出され、RF信号加算部113を介して、ハイパスフィルタHPF120およびローパスフィルタLPF123に入力される。HPF120を透過したRF加算信号は、イコライザ部121を介して、再生部122に送られる。再生部122では、2値化、PLL、エラー訂正、復調などの処理が行われ、処理後の再生信号は、所定のインターフェース不図示を経由してホストコンピュータ不図示へ出力される。一方、LPF123を透過したRF加算信号は、ディフェクト検出部124に入力される。ディフェクト検出部124は、LPF123の出力に基づいて、光ディスク102に存在する指紋や気泡などの有無に応じた波形を有するディフェクト検出信号を生成し、出力することができる。具体的には、ディフェクト検出部124は、LPF123の出力が基準レベルよりも低下したとき、光ビームが光ディスク102上の何らかのディフェクトを通過していると判定する。光ビームが光ディスク102上の何らかのディフェクトを通過しているとき、光ディスクからの反射光量が低下するため、LPF123の出力の低下に基づいてディフェクトを検出することが可能になる。ディフェクト検出部124の出力は、コントローラ101内の追従条件設定部400に入力される。追従条件設定部400は、ホールド信号生成部410、ゲイン設定部420、および回転速度設定部430を備えている。ホールド信号生成部410は、ホールド信号をスイッチ128a、128bに送出し、スイッチ128a、128bを制御することにより、端子A-C間、端子B-C間、および端子D-E間の接続/非接続状態を切り換えることができる。より詳細には、ホールド信号がLowのとき、端子A-C間は接続状態、端子B-C間は非接続状態、端子D-E間は接続状態にある。これに対して、ホールド信号がHighのとき、端子A-C間は非接続状態、端子B-C間は接続状態、端子D-E間は非接続状態にある。通常のトラッキング制御を行うとき、ホールド信号はLowとし、端子A-C間を接続状態、端子B-C間を非接続状態にする。このとき、トラッキング制御部109の出力は、ゲイン調整部129を介して駆動部105に与えられるため、トラッキング誤差を小さくするようにトラッキング制御が実行されることになる。本実施形態では、ディフェクトが検出されても、ホールド信号はLowのままとなるように初期設定が行われる。この設定は、指紋に適した追従条件を実現する。すなわち、指紋ドットによる反射光量低下が生じても、トラッキング制御がホールドされない追従条件ホールド時間=0が初期的に設定される。光ビームが個々の指紋ドット第1のディフェクトを横切る時間は短く、また、光ビームのスポットサイズが指紋ドットの平均ピッチと比べて大差ないため、TE信号をホールドしない設定でも、指紋ドット間で適正なTE信号を得ることができる。一方、指紋に適した追従条件を変更して、気泡に適した追従条件を選択する場合、ディフェクト検出に応答して所定期間だけホールド信号をHighとすることにより、その期間、端子A-C間を非接続状態、端子B-C間を接続状態、端子D-E間を非接続状態に変化させる。これにより、光ビームが気泡を通過する間、トラッキング制御をホールドし、気泡によるトラック外れを防止することができる。ゲイン設定部420は、ゲイン切換信号をゲイン調整部129に送出し、トラッキング制御のサーボゲインを変化させることができる。気泡に適した追従条件を選択する場合、ゲインを低下させて気泡による過渡応答を小さくし、気泡の存在によってトラック外れが生じにくい設定を実現することができる。回転速度設定部430は、ディスクモータ200に回転数切換信号を送出し、光ディスク102の回転速度を変化させることができる。気泡に適した追従条件を選択する場合、光ディスク102の回転速度を高めることにより、光ビームが気泡を通過する時間を短縮し、気泡の存在によってトラック外れが生じにくい設定を実現することができる。なお、リトライの実行を決定した場合において、追従条件設定部400にディフェクト検出信号が入力されない場合は、リトライ再生時における追従条件を変更しないようにすることが好ましい。コントローラ101は、追従条件設定部400とは別に、再生部122の出力を受けるエラー検出部310と、リトライ決定部320とを有している。エラー検出部310は、再生信号の品質が悪く、エラー訂正不能であったり、PLLやサーボが外れたりした場合に再生エラーを検出し、ホストコンピュータ不図示に通知する。このとき、リトライ決定部320は、ホストコンピュータ不図示からの要求と光ディスク装置の状態に基づいて、リトライ再生を実行するか否かを決定する。リトライ決定部320によってリトライ再生を実行することが決定された場合、リトライの指令が追従条件設定部400へ入力される。リトライ再生の実行が決定され、かつ、ディフェクト検出信号が追従条件設定部400に入力された場合は、リトライ再生時の追従条件を変更する。具体的には、追従条件設定部400内にあるホールド信号生成部410、ゲイン設定部420、および回転速度設定部430の各々によって設定されている少なくとも1つの設定値をリトライ再生のために変更する。次に、図2Aを参照しながら、図1における各機能ブロックを実現するハードウェア構成の例を説明する。図1における光ピックアップ104は、図2Aに示す光源204、カップリングレンズ205、偏向ビームスプリッタ206、対物レンズ203、集光レンズ207、光検出器208を備えている。光源204は、好適には半導体レーザであり、本実施形態では波長415nm以下の光ビームを放射する。光源204から放射された光ビームは直線偏光であり、その偏光方向は、放射される光ビームの光軸に関して光源204の向きを回転させることにより任意に調整することができる。カップリングレンズ205は、光源204から放射された光ビームを平行光に変換し、偏光ビームスプリッタ206に入射させる。偏向ビームスプリッタ206は、特定方向に偏光した直線偏光は反射するが、その特定方向に対して垂直な方向に偏光した直線偏光は透過する特性を有している。本実施形態の偏光ビームスプリッタ206は、カップリングレンズ205で平行光に変換された光ビームは対物レンズ203に向けて反射するよう構成されている。対物レンズ203は、偏向ビームスプリッタ206で反射された光ビームを集束し、光ディスク102の情報層上に光ビームスポットを形成する。ディスクモータ200によって所定速度で回転している光ディスク102の情報層上において所望のトラックを光ビームスポットが追従するためには、光ディスク102で反射された光ビームに基づいて、トラッキングずれおよびフォーカスずれを示すTE信号およびFE信号を検出する必要がある。光ディスク102で反射された光ビームは、対物レンズ203で平行な光ビームに変換された後、偏向ビームスプリッタ206に入射する。このときの光ビームは、その偏光方向が光ディスク102に入射するときの光ビームの偏光方向から90°回転したものになるため、偏向ビームスプリッタ206を透過し、そのまま集光レンズ207を経て光検出器208に入射することになる。光検出器208は、集光レンズ207を通過してきた光を受け、その光を電気信号電流信号に変換する。図示されている光検出器208は、受光面上で4分割された領域A、B、C、Dを有しており、領域A~Dの各々が、受けた光に応じた電気信号を出力する。プリアンプ209a、209b、209c、209dは、光検出器208から出力された電流信号を電圧信号に変換する。加算回路144,146は、プリアンプ209a、209b、209c、209dから出力された電圧信号を、光検出器208の対角位置ごとに加算する。加算回路144は、領域Aの出力と領域Dの出力とを合計した大きさに相当する信号ADを出力し、加算回路146は、領域Bの出力と領域Cの出力とを合計した大きさに相当する信号BCを出力する。加算の仕方を変更することにより、他の信号を生成することも可能である。差動増幅器158は、加算回路144,146からの信号を入力してFE信号を出力する。FE信号は、光ビームが光ディスク102の情報層上で所定の集束状態になるように制御するための信号である。FE信号の検出法は特に限定されず、非点収差法を用いたものでもよいし、ナイフエッジ法を用いたものであってもよいし、SSDスポットサイズドディテクション法を用いたものであってもよい。検出法に応じて回路構成を適宜変更することになる。ゲイン切換回路164は、FE信号を所定の振幅に調整する。AD変換器168は、ゲイン切換回路164から出力されるFE信号をデジタル信号に変換する。一方、コンパレータ152,154は、それぞれ、加算回路144,146からの信号を2値化する。位相比較器156は、コンパレータ152,154からの信号の位相比較を行う。差動増幅器160は、位相比較器156からの信号を入力してTE信号を出力する。TE信号は、光ビームが光ディスク102のトラック上を正しく走査するように制御するための信号である。TE信号の検出法は特に限定されず、位相差法を用いたものでもよいし、プッシュプル法を用いたものであってもよいし、3ビーム法を用いたものであってもよい。検出法に応じて回路構成を適宜変更することになる。ゲイン切換回路166は、TE信号を所定の振幅に調整する。ADアナログディジタル変換器170は、ゲイン切換回路166から出力されたTE信号をデジタル信号に変換する。上述した回路により生成されたFE信号およびTE信号は、図1のコントローラ101に相当するプロセッサDSP:デジタルシグナルプロセッサ111に入力される。プロセッサ111は、図2Aに示すように、フォーカス制御部107、トラッキング制御部109、HOLDフィルタ112、再生部122、ディフェクト検出部124、スイッチ128a、128b、ゲイン調整部129、制御部300、および追従条件設定部400を備えている。制御部300は、エラー検出部310およびリトライ決定部320を含んでいる。プロセッサ111の動作は、後に詳しく説明する。プロセッサ111から出力されるフォーカス制御のための制御信号FEPWMおよびトラッキング制御のための制御信号TEPWMは、それぞれ、駆動回路148および駆動回路150に送られる。駆動回路148は、制御信号FEPWMに応じてフォーカスアクチュエータ201を駆動する。フォーカスアクチュエータ201は、対物レンズ203を光ディスク102の情報層と略垂直な方向に移動させる。駆動回路150は、プロセッサ111から出力される制御信号TEPWMに応じてトラッキングアクチュエータ202を駆動する。トラッキングアクチュエータ202は、対物レンズ203を光ディスク102の情報層と略平行な方向に移動させる。光検出器208と、プリアンプ209a~209dと、加算回路144,146と、コンパレータ152,154と、位相比較器156と、差動増幅器160と、ゲイン切換回路166と、AD変換器170と、プロセッサ111と、駆動回路150と、トラッキングアクチュエータ202とは、トラッキング制御を行うトラッキング制御装置を構成する。一方、光検出器208と、プリアンプ209a~209dと、加算回路144,146と、差動増幅器158と、ゲイン切換回路164と、AD変換器168と、プロセッサ111と、駆動回路148と、フォーカスアクチュエータ201とは、フォーカス制御を行うフォーカス制御装置を構成する。図2Aの光検出器208と、プリアンプ209a~209bと、加算回路144,146と、差動増幅器158とは、図1のフォーカス誤差検出部106に対応し、駆動回路148およびフォーカスアクチュエータ201は、図1の駆動部105に対応する。光検出器208の領域A,B,C,Dの全光量和信号ABCDは、加算回路144の出力ADと加算回路146の出力BCとを、RF加算部113で加算することによって生成される。全光量和信号ABCDは、RF加算信号としてLPF123に入力される。LPF123で高周波成分が除去されたRF加算信号は、プロセッサ111内のディフェクト検出部124に入力される。ディフェクト検出部124は、全光量和信号の振幅レベルと予め設定された基準レベルとを比較し、2値化整形を行う。例えば、全光量和信号の振幅レベルが基準レベルよりも低下したときはHigh、全光量和信号の振幅レベルが基準レベル以上のときはLowとなるように二値化される。全光量和信号の振幅レベルは、光ビームが指紋のドット12や気泡を横切るときに低下するため、基準レベルを適切な大きさに設定しておけば、指紋のドット12や気泡を検知することができる。ディフェクト検出部124から出力されたディフェクト検出信号は、プロセッサ111内の追従条件設定部400に入力される。以下、図2Bを参照しながら、プロセッサ111の構成および動作をより詳しく説明する。前述したように、本発明では、指紋に適した設定から気泡に適した追従条件の設定変更を行う場合、1トラッキング制御のホールド時間、2トラッキング制御のサーボゲイン、および/または3光ディスクの回転速度単位時間あたりの回転数の設定を変更する。このような設定およびその変更は、図2Bに示す構成を有する追従条件設定部400の働きによって実現される。以下、追従条件設定部400によりトラッキング制御のホールド時間を変更する場合を最初に説明する。追従条件設定部400は、図2Bに示すように、図1のホールド信号生成部410として機能する波形整形部126と波形整形設定部127とを有している。波形整形設定部127は、ホールド信号の波形を規定するため、xHOLD信号を生成し、波形整形部126に入力する。また、波形整形設定部127はLEVEL信号を生成し、ディフェク検出部124に入力する。波形整形部126は、ディフェクト検出信号に基づいて、トラッキング制御のホールド信号を生成し、出力する。波形整形部126で生成されるホールド信号がLowからHighに立ち上がると、Highの期間だけ、トラッキング制御用の制御信号TEPWMが一定レベルにホールドされる。ホールド信号がHighからLowに立ち下がると、ホールドが停止され、通常のトラッキング制御が再開される。以下、この点をより詳しく説明する。本実施形態では、ホールド信号がスイッチ128a、128bを制御し、ホールド信号がHighのとき、HOLDフィルタ112がTE信号をホールドする。ホールド信号がLow無効のとき、スイッチ128aが端子Aと端子Cとを接続するため、通常のトラッキング制御が実行される。このとき、スイッチ128bが端子Eと端子Dとを接続しているため、図1に示すトラッキング誤差検出部108の出力TE信号が、スイッチ128bを介してHOLDフィルタ112に入力されている。HOLDフィルタ112は、通常、光ディスクの回転周波数の帯域で制限され、偏心などの回転による誤差成分を抽出する。こうして、ホールド信号がHighのときには、TE信号が所定レベルに維持され、トラッキング制御のホールド処理が実現される。なお、本実施形態の光ディスク装置は、トラッキング誤差検出部108にスイッチ128a、128bおよびHOLDフィルタ112を接続し、トラッキング誤差検出部108から出力されるTEをホールドする構成を備えているが、本発明は、このような場合に限定されない。例えば、ゲイン調整部129と駆動回路105との間にスイッチ128a、128bおよびHOLDフィルタ112を配置してもよい。この場合、HOLDフィルタ112の特性を適切に調節することにより、図2Aに示すトラッキングアクチュエータ202に与える駆動信号をホールドする構成を採用し、同等の効果を実現することができる。従って、本明細書においてトラッキング誤差信号をホールドするとは、トラッキング誤差信号そのものをホールドする場合のみならず、トラッキング誤差信号に依存して変化する他の信号のうち、トラッキングアクチュエータ202の駆動を制御する信号をホールドする場合を広く含むものとする。本実施形態の光ディスク装置によれば、追従条件設定部400の働きにより、LPF123の出力に指紋ドットや気泡を示す信号が含まれていても、ホールド信号がLowのままとなるように初期設定が行われる。すなわち、光ディスク102に指紋や気泡が存在しても、光ビームが最初にそれらのディフェクトを横切るときは、トラッキング制御信号TEPWMはホールドされない。その結果、トラッキングが外れるなどの異常が発生した場合は、次にリトライ再生を行うとき、ホールド信号がディフェクト検出部124の出力に応じてHighとなるようにする。波形整形部126は、ディフェクト検出部124の出力に対して、波形整形設定部127の設定値に基づく種々の波形整形を行うことにより、上述のホールド信号を生成することができる。波形整形設定部127から波形整形部126に送る設定値をxHOLD信号により変更すると、波形整形部126は、同一波形のディフェクト検出信号から異なる種々の波形を有するホールド信号を生成することが可能になる。本実施形態では、このようなディフェクト検出部124、波形整形部126、および波形整形設定部127の働きにより、同じディフェクトに対してトラッキング制御をホールドするか否かを1回目の再生時と2回目以降のリトライ再生時との間で速やかに変更することが可能になる。次に、図3を参照しながら、本実施形態の光ディスク装置で光ビームがBDの指紋または気泡を通過したときに生成される各種信号の波形を説明する。図3aは、光ビームスポット10が指紋ドット12を通過するときのRF加算部113の出力RF加算信号の波形を示している。図3bはLPF123の出力、図3cはディフェクト検出部124によって2値化整形された信号ディフェクト検出信号、図3dは波形整形部126から出力されるホールド信号の各波形を示している。一方、図3eは、光ビームスポット10が気泡14およびその核14aを通過するときの加算部113の出力RF加算信号の波形を示している。図3fは、ローパスフィルタLPF123の出力、図3gはディフェクト検出部124によって2値化整形された信号ディフェクト検出信号、図3hは、波形整形部126から出力されるホールド信号の各波形を示している。また、図3iは、光ビームスポット10が指紋を通過するときのTE信号、図3jは、初期設定的におけるTE信号、図3kは、気泡に適した設定に変更した後のTE信号を示している。BDの光ビームスポット10の直径は、DVDの光ビームスポットの直径の約1/4~1/5の大きさであり、前述したように、この大きさは指紋ドット12のサイズやドット間隔に近い。このため、光ビームスポット10が指紋を横切るとき、図3aに示すように、反射光のRF加算信号の振幅に変化が生じる。RF加算出力の振幅低下は、指紋を構成する個々の指紋ドット12を光ビームスポット10が横切るときに反射光量が低下するために発生する。なお、光ビームスポット10の直径がDVDのように大きいと、1つの光ビームスポット10の中に複数の指紋ドット12が常に含まれるため、図3aに示されるような個々の指紋ドット21に対応したRF加算信号の振幅低下を検出することはできない。図3bは、図3aの信号がLPF123を通過した後のLPF出力を示している。LEVEL信号によって規定される基準検出レベルとLPF出力とを比較して2値化すれば、図3cに示すように、指紋ドット12に応じた波形を有するディフェクト検出信号を得ることができる。このディフェクト検出信号は、ディフェクト検出部124から波形整形部126に入力される。本実施形態における波形整形部126は、図3cのディフェクト検出信号の波形を整形して、図3dに示すホールド信号を生成する。すなわち、波形整形設定部127から波形整形部126に送るxHOLD信号により、ディフェクト検出信号のパルス幅ホールド時間に対応がゼロとなるように波形整形を行っている。本実施形態では、このように光ビームスポット10が指紋を横切るときに生成されるディフェクト検出信号から、指紋ドット12に対応するパルス信号を除去した波形のホールド信号が生成される。このことは、波形整形部126が指紋ドット12を無視することを意味しており、指紋ドット12に対しては、トラッキング制御のホールドを実行しない。その結果、図3iに示すように、通常のトラッキング誤差信号が生成され、これに基づくトラッキング制御が継続される。一方、気泡14は指紋ドット12に比べて大きいため、図3eに示すように、気泡14の核14aを中心としてRF加算信号の振幅が相対的に長い期間にわたり深く低下する。このようなRF加算信号がLPF123を通過すると、図3fに示すLPF出力が得られる。図3fのLPF信号をディフェクト検出部124で2値化すれば、図3gに示すように、気泡14の大きさに応じた波形を有するディフェクト検出信号を得ることができる。このようなディフェクト検出信号を波形整形部126に入力し、所定の波形処理を施すと、図3hに示すホールド信号が生成される。このホールド信号は、光ビームスポット10が気泡14を横切る時間よりも長い期間、Highを保っており、このHighの期間がトラッキング制御のホールド時間を規定する。図3hに示すホールド信号は、波形整形設定部127から波形整形部126に送るxHOLD信号により、ホールド時間を例えば100μ秒~300μ秒に設定することにより得られる。このxHOLD信号がホールド時間をゼロに設定するものであれば、ディフェクト検出信号が図3gに示される波形を有していても、ホールド信号は図3dに示すようにパルス信号を含まないものとなる。上記の説明から明らかなように、本実施形態では、xHOLD信号により、波形整形の仕方を変更し、それによってディフェクト検出に応答してホールド信号を生成したり、生成しなかったりする切り替えを行うことが可能になる。次に、図4Aに示すフローチャートを参照して、本実施形態における再生時の処理を説明する。まず、BDを本実施形態の光ディスク装置にロードした後、ステップS1において、BDの再生動作を開始する。このときは、再生1回目であるので、指紋または気泡からなるディフェクトを検知してもホールド信号を生成しない設定を行うステップS2。具体的には、図2Bに示す波形整形設定部127から波形整形部126にxHOLD信号を入力し、ホールド時間をゼロとする。その結果、図3cまたは図3gに示すようなディフェクト検出信号がディフェクト検出部124から波形整形部126に入力されても、波形整形部127の出力は、図3dに示すように常にゼロとなる。このような設定では、指紋または気泡を検知しても、トラッキング制御はホールドされない状態で光ディスクの再生を行うことになる。本実施形態におけるトラッキングサーボのゲインは、3段階H/M/Lに設定可能であり、ステップS3においては、中間のゲインMに設定する。サーボゲインは、図2Bに示すゲイン切り換え166により、任意の値に設定することが可能である。BDの場合、指紋のドットに対してディスク表面上のビームスポット径が十分に小さいため、各指紋ドットを光ビームスポットが通過する時間は非常に短く、反射光量の変動周波数は高い。このため、光ディスクの偏心や振動に追従させるように、ゲイン調整部129のサーボゲインを初期値に設定した場合、光ビームスポットが指紋を横切るときでも、トラッキングサーボ制御は反射光量の高周波の変化に応答せず、指紋による影響を受けない。このような初期設定の状態では、指紋が存在しても、図3iに示すように正常なTE信号が得られ、問題なくトラックを追従できる。しかし、光ディスクに気泡が存在し、その気泡を光ビームスポットが横切るときは、気泡によってTE信号に生じる擬似オフトラック成分のため、トラックずれが大きくなり、再生エラーが発生する可能性がある。次に、ディスクモータ200により光ディスク102を所定速度で回転させ、光ディスク102の情報層上に光ビームスポットを形成する。ディスクモータ200によって所定速度で回転している光ディスク102の情報層上において所望のトラックを光ビームスポットが追従するように、フォーカス制御およびトラッキング制御が実行される。ステップS4において、1トラックの再生を行い、ステップS5で再生エラーが発生したか否かを判断する。再生エラーが発生したときは、ステップS6において、その再生が2回目の再生か否かを判定する。再生2回目ではないとき、すなわち、1回目の再生でエラーが生じた場合は、2回目の再生リトライを行う前に設定の変更を実行するため、ステップS8で、波形整形の設定を変更する。すなわち、ディフェクトの検出に応答して充分に長い期間、トラッキング制御をホールドするように波形整形部126の設定を調整する。具体的には、波形整形設定部127からxHOLD信号を波形整形部126に送り、図3hに示すように、ディフェクト検出から所定期間だHighとなるホールド信号を生成するようにする。この所定時間は、光ビームスポットが平均的な大きさの気泡大きさ:0.5mm~1mm程度を横切る時間に相当する時間例えば100μ秒~300μ秒に相当する。上記の条件のもとでリトライを行うとき、TE信号には図3jに示すように気泡に起因する擬似オフトラック成分が発生するため、それに追従すると、トラック飛びが発生してしまうが、リトライ時にはディフェクト検出信号に応じてトラッキング制御のホールドが行われるため、図2Aの駆動回路150に入力される信号は、図3kに示すように擬似オフトラック成分が無視されたものとなる。このため、光ビームが気泡を通過するときのトラックずれは小さくなり、正常な再生が可能になる。このように、1回目の再生では、指紋に強い再生を実行し、それでもトラック飛びなどのトラッキング異常が発生した場合には、光ディスクに気泡が存在すると推定し、2回目の再生リトライでは、気泡に適した設定にする。このようなリトライは、光ディスクの再生レートが転送レートに比べて低い場合に、時間的余裕を持って行うことができる。なお、BD-ROMビデオディスクでは、転送レートは72Mbpsであり、再生レートは50Mbps以下である。また、BD-R/REディスクでは、24Mbps程度のレートで記録されたBSデジタル放送コンテンツを36Mbps以上のレートで再生する。このため、これらの光ディスクでは、光ディスクのディフェクトとして気泡が存在する場合にリトライを行うことを前提としても、ユーザの不満を招くような時間的なロスは実質的に生じない。なお、図4AのステップS5で再生エラーが発生していないと判定されたときは、そのまま、再生を継続する。また、ステップS6で再生2回と判定されたときは、ステップS9に進み、再生エラーの表示を行うとともに、再生動作を停止する。上記の実施形態では、トラッキング制御のホールド時間を1回目の再生時とリトライ再生時との間で変更することより、気泡に対応したリトライ再生を可能にしているが、ホールド時間の設定は変更せずに、図3bおよび図3fに示すLEVELを上下させることにより、気泡に適したリトライ再生を実現しても良い。前述したように、波形整形設定部127からディフェクト検出部124に入力されるLEVEL信号は、ディフェクト検出回路124で行う2値化の基準レベルを規定する信号である。このLEVEL信号によって2値化の基準レベルを変化させると、ディフェクト検出部124から出力される信号の時間幅を調整したり、所定時間幅以下のノイズパルスを除去することが可能である。また、1回目の再生時には、指紋や気泡による反射光量の低下は無視するように2値化の基準レベルを設定しておき、2回目以降のリトライ再生時には、その基準レベルを高めることにより、指紋や気泡に応じた波形のディフェクト検出信号を生成させることが可能である。このように、xHOLD信号およびLEVEL信号の少なくとも一方により、反射光量の低下に応じて出力されるホールド信号の波形を調整することができるため、ディフェクトを検知したときにトラッキング制御をホールドするか否かを、1回目の再生時と2回目以降のリトライ再生時との間で変更することが可能である。なお、ディフェクト検出部124、波形整形部126、および波形整形設定部127の働きによれば、指紋ドットか気泡かを識別することは理論的には可能であるが、この識別をリアルタイムで正確に実行することは現実には難しい。このため、本実施形態では、初期設定では指紋や気泡が検出されたとしてもトラッキング制御のホールドは実行しないようにしている。ただし、トラック外れが発生した後、その原因が指紋に起因して生じたのか否かをディフェクト検出信号に基づいて判定することは可能であり、この判定結果を用いてリトライ再生時の設定変更の内容を決定することができる。このような光ディスク装置は、実施形態2において説明する。[ゲイン、回転速度]本実施形態の光ディスク装置では、指紋が存在してもトラッキングを安定して行えるような初期設定を行っている。すなわち、サーボゲインを光ディスクの偏心や振動に追従させる通常の大きさに設定している。このようなサーボゲインでは、光ビームスポットが気泡を横切るときは、光ディスクの光透過層が気泡の核の部分を中心に湾曲しているため、そのままではTE信号の擬似オフトラック成分に応答してしまうことになる。このような応答を防止するため、上述の例では、擬似オフトラック成分が出現する前の状態にトラッキング制御をホールドしているが、トラッキング制御のサーボゲインを小さくしても、擬似オフトラック成分に応答しにくくすることが可能である。本実施形態では、1回目の再生動作時にトラック外れが生じ、それによって気泡の存在を検知した場合は、追従条件設定部400の働きにより、トラッキング制御のホールドに関する設定を切り換えるとともに、サーボゲインの大きさをも変更する。すなわち、1回目の再生では、指紋ドットには応答せず、振動や光ディスクの面ふれに対する追従が可能な大きさにトラッキング制御のサーボゲインを設定しておく。そして、1回目の再生でトラック外れが生じ、リトライ2回目以降の再生を行うときは、図2Bに示すゲイン設定部420がゲイン調整部129にゲイン変更のための指令Gainを送ることにより、トラッキングサーボのゲインを低減し、気泡による擬似オフトラック成分に対して過渡的に応答しないようにする。図4Bは、本実施形態のフローを示している。図4Aのフローと異なる点は、1回目の再生時に再生エラーが発生したときステップS6においてNoと判定されたとき、ステップS7に進み、トラッキング制御のサーボゲインを初期設定値MからLに低下させている点にある。その他の手順は、図4Aを参照して説明した実施形態1における手順と同一であるので、その説明は重複して行わないこととする。本実施形態のように、リトライ動作時にサーボゲインが充分に低い値に設定されていれば、光ディスクに気泡が存在していても、トラッキングサーボは気泡による擬似オフトラック成分に応答せず、光ビームはトラックの略中心付近を走査することが可能になる。図11aは、トラッキングサーボのゲインが相対的に高いときのTE信号の波形を示し、図11bは、ゲインが相対的に低いときのTE信号の波形を示している。図11からわかるように、ゲインを低下させることにより、同じ気泡を追加するときに発生する擬似オフトラック成分の振幅が小さくなっている。なお、リトライ再生時に回転設定部430により、光ディスク回転速度を高めても同様の効果を得ることができる。光ビームスポットが気泡を横切る時間は、光ディスクの回転速度が高いほど、短縮される。例えば標準倍速の1.5倍の線速度で光ディスクが回転しているとき、光ビームが気泡を横切る時間通過時間は、標準速度で回転している場合に比べて、2/3に短縮される。このように通過時間が短縮されると、気泡による擬似オフトラック成分がTE信号に現れても、応答できず、トラック外れの生じる確率を低減できる。実施形態2前述したように、指紋ドット間の領域から得られるトラッキング信号は有効であるため、図3に示すように、個々の指紋ドット12を検知するたびに、パルス状のディフェクト検出信号を生成することができる。ディフェクト検出信号のパルス数指紋ドット検出数をカウントし、一定期間例えば3~10ミリ秒内に所定数例えば10~40個の間の所定値以上のパルスが検出されたか否かに応じて、指紋の有無を検出することが可能である。1回目の再生時にトラック外れが生じたとき、上記方法により指紋が検出されなかったときは、トラック外れの原因が気泡にあると推定し、TE信号に現れる擬似オフトラック成分には応答しないようにサーボのフィルタ設定等を切り換えるようにしてもよい。以下、本実施形態の光ディスク装置を説明する。基本的な構成は実施形態1の光ディスク装置と同じであるため、図2Aおよび図2Bを参照して本実施形態の光ディスク装置を説明する。前述の実施形態では、光ビームスポットがディフェクトを通過した際に大きなトラックずれが生じ、リトライ動作が必要になった場合に、そのディフェクトは気泡であると推定し、リトライ動作を行うに際して気泡に対して最適な設定に切り換えている。言い換えると、大きなトラックずれが生じるか否かにより、気泡の有無を検知している。これに対し、本実施形態では、大きなトラックずれが生じるか否かによって気泡を検出するのではなく、指紋ドットを積極的に検知し、指紋ドットが検出されない場合に、ディフェクトが気泡であると判定する。前述したように、BD上の光ビームスポットのサイズは小さく、指紋を通過するとき指紋ドットとドット間領域との判別が可能である。言い換えると、一定期間内に短時間の反射光量低下を連続して複数回検出したときは、その反射光量の低下が指紋ドットに起因するものであると判定することが可能である。本実施形態でも、初期設定では、図2Bに示す波形整形設定部127が指紋ドットの検出に応答して0レベルのホールド信号を出力する。すなわち、指紋ドットが検出されたときでも、トラッキング制御はホールドされない。また、本実施形態でも、トラッキングサーボのゲインは、3段階H/M/Lに設定可能であり、初期的には、中間のゲインMに設定される。この状態では、指紋ドットが存在しても、問題なくトラッキングが可能である。上記の初期設定のもとで動作している場合、光ディスクに指紋はあるが、気泡が存在しないときでも、振動衝撃やトラックの部分的なうねり等のため、偶然にトラック飛びが発生する場合がある。このような場合、気泡が存在すると誤判定してしまい、その結果、ホールド時間を延長するように設定の切り替えが行われると、指紋のせいでトラック飛びの発生率が増加してしまうことになる。このため、本実施形態では、1回目の再生時にトラック飛びが発生しても、直ちに気泡によって生じたとは決定せず、ディフェクト検出信号の波形から指紋が存在するか否かを判定する。そして、指紋が存在する場合は、リトライ時に設定を気泡に適したものに変更せず、最初の設定のまま、リトライ動作を実行する。本実施形態では、指紋の有無を以下のようにして検知する。すなわち、指紋に起因して図3bに示すようなRF加算信号が得られた場合、ディフェクト検出部124からは、図3cに示すディフェクト検出信号が生成される。このディフェクト検出信号には、多数の指紋ドットに対応する複数のパルスが含まれている点で、気泡が存在する場合のディフェクト検出信号とは異なっている。従って、例えばBDの標準速再生の場合、タイマーによって計測される所定期間例えば5ミリ秒内のパルス数をカウントし、その数が予め設定しておいた基準例えば20個を超えるときは、指紋が存在すると判定し、パルスの数が基準以下のときは、指紋が存在していないと判定することができる。このような基準は、再生倍速に応じて変更することが好ましい。また、タイマーによって個々のパルスの時間幅を計測することにより、その時間幅に基づいて、ディフェクトが気泡か否か判定することもできる。指紋ドットの場合のパルス幅に比べて気泡のパルス幅が充分に大きいためである。このような方式によれば、トラック外れが発生したとき、光ディスクに指紋が存在しているのに、気泡に適した設定に変更してしまうという事態を避けることができ、設定変更により、却ってトラック外れの頻度を高くしてしまうという問題を解決できる。図2Cは、指紋検出部500を含む追従条件設定部400の構成を示すブロック図である。図2Bに示す構成要素と同一の構成要素については、重複した説明は行わず、指紋検出部500の構成および動作を詳しく説明することにする。ディフェクト検出部124で生成されたディフェクト検出信号は、指紋検出部500が有するタイマー530へ入力される。タイマー530はパルス状のディフェクト検出信号の時間幅を計測し、その結果をカウンタバッファ520に入力する。カウンタバッファ520の出力は、比較器510に入力され、比較器510による比較結果を示す信号は、波形整形設定部127、ゲイン設定部420、および回転速度設定部430に入力される。このような指紋検出部500によれば、連続する指紋ドットに対応するパルス数をカウントすることにより指紋を検出することが可能になる。前述したように、人間の指の大きさに著しい差異はなく、また、指紋ドットの大きさも、多少の個人差があるものの、ほぼ同じである。従って、光ビームが指紋を通過する時間や、指紋ドットを横切る時間は、光ディスク上を移動する光ビームの走査速度線速度に依存して決まる。個々の指紋ドットの直径が65μm、配列のピッチが100μmとすると、指紋が付着している領域のサイズ走査方向サイズが例えば2cmであるとすると、光ビームが指紋付着領域を横切る間に最大120個の指紋ドットに対応するパルスがカウントされることになる。線速度5m/秒でBDを再生している場合、光ビームが上記の指紋付着領域を横切るために要する時間は、4ミリ秒となる。従って、指紋か否かの判定は、4ミリ秒程度の区間で可能である。この区間において、指紋ドットに起因して検出されるパルスの数は最大120個であるが、指紋以外の一般的なディフェクトは、気泡にしても塵にしても、上記の区間内で1つまたは数個のパルスしか生成しない。従って、例えば4ミリ秒の区間で10個以上のパルスが連続して検出されたならば、光ビームが指紋付着領域を横切っていると判定できる。好ましい実施形態においては、計測区間および指紋ドットによるパルスの時間幅として、光ディスクの再生速度に応じて異なる値をタイマー530内に記憶しておき、再生速度に応じて異なる計測区間およびパルス基準値を設定する。例えば、線速度5m/秒の再生速度の場合、計測期間を4ミリ秒に設定し、パルス基準値を10個に設定するが、線速度10m/秒の再生速度の場合は、計測期間を2ミリ秒に設定し、パルス基準値を10個のまま維持する。また、一定の時間例えば10ミリ秒が経過する間にディフェクト検出信号のパルスがカウントされなかったときは、タイマー520をリセットし、指紋ドットが検出された時にタイマー520による計数を開始するようにしてもよい。これにより、比較器510がカウンタバッファ520における計数値と基準値とを比較し、その結果に応じて、ディフェクトを指紋か否かを指紋検出部500が判定する。この判定結果は、同じプロセッサ111内のゲイン設定部420と回転速度設定部430にも入力される。このような指紋検出部500によれば、1回目の再生時において光ビームが指紋を通過するときにディフェクトが指紋であるか否かを検知できるため、トラック外れが生じたときに指紋が検出されなかった場合は、2回目リトライ再生時に、気泡に適するように追従条件を適切に変更することができる。追従条件の変更は、実施形態1について説明した通りに行うことができる。なお、本実施形態では、初期の追従条件のもとで再生エラーが発生した場合において、指紋や気泡が検出されなかったならば、外部からの振動や衝撃などの別な要因で再生エラーをおこした可能性が高いので、2回目の設定は変更せず、指紋に最適な設定のままリトライを実施する。このように本実施形態によれば、実施形態1の光ディスク装置では推定で行っていた追従条件の設定変更を、より実際の状況に基づいて確実に行うことができる。従って、トラック外れが発生しても、指紋が検出された場合は、リトライ時の設定を指紋に対して有効な状態に維持することできるので、再生特性に優れた光ディスク装置が実現できる。次に、図5Aに示すフローチャートを参照して、本実施形態における再生時の処理を説明する。まず、BDを本実施形態の光ディスク装置にロードした後、ステップS21において、BDの再生動作を開始する。このとき、図2Cに示す波形整形設定部127がホールド時間をゼロとするように波形整形の設定を行いステップS22、トラッキングのサーボゲインを初期値Mに設定するステップS23。次に、ステップS24において1トラックの再生を行い、ステップS25で再生エラーが発生したか否かを判断する。再生エラーが発生したときは、ステップS26において、一定時間内のディフェクト検出信号に複数のパルスが連続して含まれていたか否かを判定する。図3cに示すような複数のパルスが検出された場合は、光ディスクに指紋が存在していると判定し、初期設定を変更することなく、ステップS27に進み、再生の回数が所定値nに達しているか否かを判定する。再生回数が所定値nに達していると判定された場合は、ステップS28に進み、再生エラーの表示を行うとともに、再生動作を停止する。このとき、光ディスク装置の表示画面に光ディスクから指紋をふき取ってくださいなどの警告メッセージを表示しても良い。ステップS27において、再生の回数が所定値n未満の場合は、ステップS24に進み、再生のリトライを行う。この場合、トラッキング制御のホールド時間やサーボゲインを初期設定のまま維持し、指紋に適した条件でリトライ再生を実行する。すなわち、トラック外れの原因は、気泡ではなく、外部から装置に加えられた衝撃などにあると推定し、単純にリトライを実行する。なお、ストップS26において、ディフェクト検出信号に多数のパルスが含まれていないことがわかった場合は、光ディスクに指紋はなく、気泡による再生エラーが発生したと推定する。この場合は、ステップS29に進み、トラッキングのサーボゲインを初期設定値MからLに低下させる。また、ステップS30においては、波形整形の設定を変更することにより、トラッキング制御のホールド時間を気泡に対応した値にする。このときのホールド時間も、光ビームスポットが平均的な大きさの気泡を横切る時間よりも長い時間例えば100μ秒~300μ秒に設定することができる。このように、指紋が検出されなかった場合は、気泡に適した設定への変更を行った後、ステップS24に進み、リトライ再生を実行する。なお、ステップS25において再生エラーが発生していないと判定されたときは、そのまま、再生を継続する。上記のフローでは、ステップS30で波形整形の設定変更を行うことにより、トラッキング制御のホールド時間を気泡に対応する大きさに調整しているが、この設定変更は省略してもよい。すなわち、図5Bのフローチャートに示すように、サーボゲインを低下させるだけでも、気泡による擬似オフトラック成分に応答しないようにすることが可能である。前述したように、トラッキング制御のサーボゲインを充分に低下させると、気泡による擬似オフトラック成分がTE信号に現れても、その成分に応答することなく無視することが可能である。図5Bに示す例では、リトライ再生時の設定を気泡に適したものに変更するため、トラッキング制御のサーボゲインを低下させているが、サーボゲインの値を変更する代わりに、光ディスクの回転速度再生速度を上昇させても良い。本実施形態の光ディスク装置では、リトライ再生時にサーボゲインを低減することなく、光ディスクの回転数を増加させる。図6は、本実施形態の動作手順を示すフローチャートである。図5Bに示す動作手順との違いは、ステップS26において指紋が検出されなかった場合に、ステップS40に進み、ディスクモータ200図2Cの回転速度を高める点にある。前述したように、光ビームスポットが気泡を横切る時間は、光ディスクの回転速度が高いほど、短縮される。このように通過時間が短縮されると、気泡による擬似オフトラック成分がTE信号に現れても、応答できず、トラック外れの生じる確率を低減できる。再生1回目でエラーが発生した場合、リトライ再生のために目標トラックへの位置決め動作を行うことが必要になるが、本実施形態のように光ディスクの回転速度を高めることにより、リトライ時間を短縮できるという効果も得られる。上記の各実施形態を組み合わせて本発明を実施することも可能であり、本発明はデータの再生動作時のみならず記録動作時にも適用され得る。なお、ディスク表面に形成された傷などのディフェクト第3のディフェクトは、反射光量が大きく落ちるため、指紋や気泡との判別が容易である。従って、初期設定の段階から、傷などのディフェクトを検出した場合は、トラッキング制御をホールドするように設定することができる。実施形態3本発明は、BD規格による第1の光ディスク以下、単にBDと称するおよびHD-DVD規格による第2の光ディスク以下、単にHD-DVDと称するを含む複数の種類の光ディスクからデータを再生することが可能な光ディスク装置にも適用できる。以下、図13を参照しながら、本発明による光ディスク装置の第3の実施形態を説明する。本実施形態の光ディスク装置は、BDおよびHD―DVDの両方に対応することができるドライブであり、図13は、その構成を模式的に示す図である。図13に示す光ディスク装置は、基本的には図1に示す光ディスク装置と同様の構成を有している。異なる点は、本実施形態の光ディスク装置がディスク判別部330を備えている点と光ピックアップ104がBD用対物レンズおよびHD-DVD用対物レンズを含む複数の対物レンズを備えている点にある。図1に示す実施形態と共通する構成要素およびその動作については、ここでは説明を繰り返さない。HD-DVDに記録されているデータを再生したり、HD-DVDにデータを記録する場合、光ディスクの表面に形成される光ビームスポットのサイズは、BDに比べて大きく、DVDよりも小さい。HD-DVDで使用する光ビームの波長は405nm青紫色半導体レーザであるが、HD-DVD用対物レンズの開口数NAは0.65である。HD-DVDの情報層における有効なビームスポットのサイズ有効断面積は、図10aに示される光ビームスポット10のサイズの約1.7倍であり、直径にすると約1.3倍程度約0.5μmである。さらに、HD-DVDの光透過層の厚さは、DVDの光透過層の厚さに等しく、0.6mmであり、BDの光透過層の厚さに比べて6倍も厚い。このため、HD-DVDのディスク表面におけるスポット径は、約0.5mm以上となり、DVDのディスク表面におけるスポット径と同等または若干拡大している。前述したように、通常、指紋のドット間のピッチは0.2mm~0.3mmぐらいであるため、HD-DVDでも1つのビームスポット内に複数の指紋ドット12が含まれることになる。そのため、現在普及しているDVDと同様、反射光量に基づいて個々の指紋ドット12を検知することはできない図12参照。すなわち、HD-DVDに照射される光ビームにより、HD-DVDの表面に形成された指紋を正しく検出することはできない。HD-DVDは、DVDと同様に、2枚の基材各々の基材の厚さは約600μmを貼り合わせることによって製造されるため、2枚の基材間には気泡が形成されにくい。また、仮に基材間に気泡が形成されたとしても、光透過層として機能する一方の基材が600μmと厚いため、ディスク表面が気泡によって盛り上がることはない。更に、HD-DVDでは、使用する光ビームの波長がBDで使用する光ビームの波長に等しく、開口率NAはDVDの開口率NAに略等しいため、球面収差の感度がBDに比べて約1/6と低い。以上のことから、HD-DVDでは、気泡によってTE信号や光量信号が悪影響を受けることはほとんどない。従って、HD-DVDおよびBDの両方について、データの記録または再生を可能とする本実施形態の光ディスク装置ユニバーサルドライブでは、ディスク判別部330によってBDがドライブに装填されたと判定された場合、その最初の再生時においては、指紋によるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を設定する。この設定は、追従条件設定部400が行う。なお、本実施形態におけるディスク判別部は、種々の方法でディスク判別を行えばよく、判別の方式は特定のものに限定されない。図13に示す例では、ディスク判別部330の機能は、コントローラ101によって実現されており、再生部122の出力から光ディスクの種類を特定する情報を取得している。ディスク判別部330は、フォーカス誤差信号などの光ディスクから得られる他の信号の波形に基づいて光ディスクの種類を判別してもよい。本実施形態では、BDに対するデータの記録または再生を行う場合、光ピックアップ104がBD用対物レンズNA:0.85を介して光ビームを光ディスク102の情報層に集束する。そして、1回目の再生時においてトラック外れが生じて2回目以降のリトライ再生を行う場合、追従条件設定部400は、気泡によるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を変更する。これらの動作については、他の実施形態について説明したとおりである。追従条件設定部によって行う初期設定は、指紋に強い設定であり、例えばTE信号のホールド時間を短くしホールド時間ゼロの場合を含む、指紋ドットの間でTE信号に基づくトラッキング制御を可能にしている。このため、指紋がディスク表面の広い範囲に存在していても、指紋ドットの間に位置する領域からトラッキング誤差に関する情報を適切に得ることができ、トラック外れが生じにくい動作を実現できる。このような初期設定では、気泡が存在していた場合、TE信号中に生じる擬似オフトラック成分により、トラック外れが発生しやすいが、本発明の第1の態様では、そのようなトラック外れの発生を許容する。すなわち、トラック外れが生じた場合は、その原因となる光ディスクのディフェクトを指紋ではなく気泡であると推定した上で、初期設定を指紋に適したものから気泡に適したものに変更する。一方、ディスク判別部330によってHD-DVDが装填されたと判別された場合、HD-DVDはDVDと同様に気泡の影響がないので、追従条件設定部400は、起動後1回目の再生時においては、指紋によるトラック外れが相対的に生じにくい条件に追従条件を設定する。本実施形態における追従条件設定部400は、BDのための追従条件のみならず、HD-DVDのための追従条件も前もって記憶している。また、後述するように、起動時に最初に設定される追従条件の内容は、BDとHD-DVDとの間で異なっている。HD-DVDに対するデータの記録または再生を行う場合、光ピックアップ104はHD-DVD用対物レンズNA:0.65を介して光ビームを光ディスク102の情報層に集束する。HD-DVDが装填されているときは、トラック外れが発生して2回目以降のリトライ再生を行う場合でも、追従条件は変更せず、指紋によるトラック外れが相対的に生じにくい条件でリトライを繰り返す。前述したように、HD-DVDでは、気泡によるトラック外れを考慮する必要がないからである。なお、HD-DVDの場合、指紋によるトラック外れが相対的に生じにくい条件は、BDの場合における指紋によるトラック外れが相対的に生じにくい条件とは異なっている。これは、HD-DVDとBDとの間で、光ディスクの情報層上におけるトラックピッチやビームスポットサイズが異なっているため、指紋によってトラック外れが相対的に生じにくい条件も異なっているからである。具体的には、HD-DVDが装填された場合、BDが装填されている場合に比べて、トラッキングサーボのゲイン交点周波数を低くしたり、あるいは、1kHz付近のゲインを低減することが有効である。本実施形態では、光ピックアップ104がBD用およびHD-DVD用の別々の対物レンズを備えているが、本発明における光ピックアップは、このようなものに限定されない。小型化のため、単一の対物レンズがBDおよびHD-DVDの両方に用いられても良い。また、本発明の光ディスク装置は、BDおよびHD-DVD以外の光ディスクDVDやCDに対してもデータの記録再生を実行し得る構成を備えていても良い。"