リファレンス用ファイバとしてシングルモードファイバを用い、リファレンス用ファイバの透過光パワーの波長特性と、被測定ファイバの透過光パワーの波長特性とをそれぞれ測定し、被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーとの比の波長依存性に基づいて被測定ファイバのカットオフ波長を算出するカットオフ波長測定方法において、前記リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバの透過光パワー測定時の条長を、被測定ファイバの条長より長く、かつ被測定ファイバの予想カットオフ波長においてそのリファレンス用ファイバが基底モードのみを伝搬するような長さに調整することを特徴とする、石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法。請求項1に記載の石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法において;前記リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバの透過光パワー測定時の条長を、その条長でのリファレンス用ファイバのカットオフ波長が、被測定ファイバの予想カットオフ波長よりも少なくとも10nm短くなるように調整することを特徴とする、石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法。請求項1、請求項2のいずれかの請求項に記載の石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法において;前記リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバの透過光パワー測定時の条長を、その対数値常用対数と被測定ファイバの条長の対数値常用対数との差が0.5以上となるように調整することを特徴とする、石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法。請求項1~請求項3のうちのいずれかの請求項に記載の石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法において;前記リファレンス用ファイバとして、被測定ファイバと同一の母材から紡糸された素線からなるものを使用することを特徴とする、石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法。請求項1~請求項3のうちのいずれかの請求項に記載の石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法において;前記リファレンス用ファイバとして、被測定ファイバとは異なる素線からなるものを使用することを特徴とする、石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法。請求項1~請求項5のうちのいずれかの請求項に記載の石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法において;被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーとの比の波長依存性に基づいて被測定ファイバのカットオフ波長を算出するにあたり、被測定ファイバの透過光パワーをPsigλ、リファレンス用ファイバの透過光パワーをPrefλとし、次式Aλ=10×log10{Psigλ/Prefλ}で求められる透過光パワーとの比Aλのスペクトル上における、被測定ファイバの規定モードのみを伝搬する波長領域のスペクトルを直線近似してなる基準線を、0.1dBだけ平行にシフトしてなる直線と、前記透過光パワーとの比Aλのスペクトルとの交点の波長を、被測定ファイバのカットオフ波長とすることを特徴とする、石英系光ファイバのカットオフ波長測定方法。本発明は、以上のような事情に鑑みてなされたもので、非特許文献2の提案のシングルモードファイバ参照法をベースとし、その問題点を解決したカットオフ波長測定方法を提供することを課題としている。本発明者等は、測定によって求められるシングルモードファイバのカットオフ波長が、測定の際のファイバの条長によって変化すること、すなわちファイバの条長が長くなるほど、カットオフ波長が短くなることに着目した。この点について次に図1を参照して説明する。図1は、通信用として使用される一般的なシングルモードファイバを被測定ファイバとし、マルチモード励振法によって、被測定ファイバとリファレンス用ファイバの透過光パワーの比Aλを測定したときの、Aλの波長依存性を模式的に示すグラフであり、図1中の実線18Aは、短尺のシングルモードファイバを被測定ファイバとしたときの透過光パワーから算出した比Aλの波長特性を、図1中の破線18Bは、長尺のシングルモードファイバを対象としたときの透過光パワーから算出した比Aλの波長特性を、それぞれ示す。ここで、長波長側から短波長側に向かってAλが急峻に立ち上がる部分がカットオフ波長λ-A、λ-Bに相当するが、ファイバの条長が長くなるにしたがって、カットオフ波長が短くなることが分かる。したがってこのような観点から、シングルモードファイバからなるリファレンス用ファイバを用いてシングルモードファイバ参照法によりカットオフ波長を測定する際には、条長が被測定ファイバより十分に長いシングルモードファイバをリファレンス用ファイバに選び出すことにより、リファレンス用ファイバとしてカットオフ波長が被測定ファイバより確実に短いものを選定し得ると考えられる。被測定ファイバのカットオフ波長は、その測定以前の段階で、被測定ファイバの測定により得られる屈折率分布や被測定ファイバの紡糸前母材の測定により得られる屈折率分布を用いた計算により、ファイバの条長とカットオフ波長の関係がある程度は予想できる。そこで、測定を実施するファイバ条長における予想値を被測定ファイバの予想カットオフ波長とし、その被測定ファイバの予想カットオフ波長においてリファレンス用ファイバが基底モードのみを伝搬するようにリファレンス用ファイバの条長を選定すれば、被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーの透過光パワーの比Aλの変化に基づいて、被測定ファイバのカットオフ波長の算出が可能となると考えられる。但し、リファレンス用ファイバを選定するにあたって、そのカットオフ波長のみを考慮し、ファイバ条長が被測定ファイバと同一で、被測定ファイバと異なるファイバからカットオフ波長が短いファイバを選定した場合には、カットオフ波長が短波長側にばらつきが生じた場合、被測定ファイバの予想カットオフ波長付近で、被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーの比Aλに急峻な変化が得られず、正確なカットオフ波長の算出ができなくなる。これに対し、ファイバ条長とカットオフ波長の関係を考慮して、同一の素線から、ファイバ条長を調整したリファレンス用ファイバと被測定ファイバとを準備することにより、被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーの比Aλを明確に得ることができ、その結果正確なカットオフ波長の測定が可能となる。また、上記計算により得られるファイバ条長とカットオフ波長の関係を考慮し、被測定ファイバと同種で異なる素線をリファレンス用ファイバとして準備することも可能となる。さらにこれらの場合、ファイバの条長調整によってリファレンス用ファイバとして適切なものを得ることができることから、リファレンス用ファイバの選択の自由度が大きくなって、実際の測定現場でも有利となることを見出し、本発明をなすに至った。具体的には、本発明の基本的な態様第1の態様によるカットオフ波長測定方法は、リファレンス用ファイバとしてシングルモードファイバを用い、リファレンス用ファイバの透過光パワーの波長特性と、被測定ファイバの透過光パワーの波長特性とをそれぞれ測定し、被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーとの比の波長依存性に基づいて被測定ファイバのカットオフ波長を算出するカットオフ波長測定方法において、前記リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバの透過光パワー測定時の条長を、被測定ファイバの条長より長く、かつ被測定ファイバの予想カットオフ波長においてそのリファレンス用ファイバが基底モードのみを伝搬するような長さに調整することを特徴とするものである。このようなカットオフ波長測定方法においては、リファレンス用ファイバとしてシングルモードファイバを用いているため、マルチモード励振法の場合のような、透過パワーの比の波長特性の長波長側のうねりによって、カットオフ波長算出のための基準線決定に不正確さが生じて算出カットオフ波長にばらつきが生じてしまうことが回避される。また、リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバの透過光パワー測定時の条長を上述のように調整することによって、被測定ファイバの予想カットオフ波長付近で、被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーとの間に明確な違いを得て、それらの透過光パワーの比Aλに急峻な変化を得ることにより、正確なカットオフ波長の測定が可能となる。さらに、条長の調整によってリファレンス用ファイバのカットオフ波長を被測定ファイバの予想カットオフ波長より短くしているため、リファレンス用ファイバとしては、規格による2mカットオフ波長もしくは22mカットオフ波長が被測定ファイバよりも短いものを選び出す必要がなく、規格による2mカットオフ波長もしくは22mカットオフ波長が、被測定ファイバと同等のもの、あるいは長いもの、短いものでも、リファレンス用ファイバとして適宜使用可能であり、そのため、リファレンス用ファイバの選択の自由度が、カットオフ波長のみを考慮して選定していた従来方法より格段に高くなり、実際の測定現場でも、手元にある適宜のファイバをリファレンス用ファイバに使用して、容易にカットオフ波長の測定を行なうことが可能となった。また本発明の第2の態様によるカットオフ波長測定方法は、前記第1の態様のカットオフ波長測定方法において、前記リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバの透過光パワー測定時の条長を、その条長でのリファレンス用ファイバのカットオフ波長が、被測定ファイバの予想カットオフ波長よりも少なくとも10nm短くなるように調整することを特徴とするものである。このような第2の態様のカットオフ波長測定方法によれば、リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバの透過光パワー測定時の条長を、その条長でのリファレンス用ファイバのカットオフ波長が、ファイバの屈折率分布から事前に算出されるカットオフ波長と条長の関係を考慮して、被測定ファイバの予想カットオフ波長よりも少なくとも10nm短くなるように調整することによって、被測定ファイバの予想カットオフ波長付近で、被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーとの間に、より明確な違いを得て、より正確なカットオフ波長の算出が可能となる。但し、リファレンス用ファイバのカットオフ波長と被測定ファイバのカットオフ波長の違いは、実際に測定される被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーの比の波長依存性をグラフ化したときに確認できる急峻な傾斜の傾きにより、70nm以上の幅を持つこともある。この違いはファイバの屈折率分布により生じるため、被測定ファイバの屈折率分布よりカットオフ波長と条長の関係を求めることにより推定が可能となる。また本発明の第3の態様によるカットオフ波長測定方法は、前記第1もしくは第2の態様のカットオフ波長測定方法において、前記リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバの透過光パワー測定時の条長を、その対数値常用対数と被測定ファイバの条長の対数値常用対数との差が0.5以上となるように調整することを特徴とするものである。このような第3の態様のカットオフ波長測定方法によれば、ファレンス用ファイバの条長を、その対数値と被測定ファイバの条長の対数値との差が0.5以上となるように調整することにより、測定しようとする通信用として一般的なシングルモードファイバや低曲げ損失ファイバについて、予想カットオフ波長と実際のカットオフ波長との間に大きな誤差があった場合でも、リファレンス用ファイバの透過光パワー測定時の条長を、被測定ファイバの予想カットオフ波長においてそのリファレンス用ファイバが基底モードのみを伝搬するような長さに調整するという条件を確実に満たすことが可能となり、かつリファレンス用ファイバの条長を、その条長でのリファレンス用ファイバのカットオフ波長が、被測定ファイバの予想カットオフ波長よりも少なくとも10nm短くなるように調整するという条件をも、確実に満たすことが可能となり、その結果、カットオフ波長作成の正確さをより一層向上させることができる。但し、リファレンス用ファイバと被測定ファイバの各測定時の条長の違いは、実際に測定される被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーの比の波長依存性をグラフ化したときに確認できる急峻な傾斜の傾きにより、ファイバ条長の対数値の差で1.3以上となることもある。この違いはファイバの屈折率分布により生じるため、被測定ファイバの屈折率分布よりカットオフ波長と条長の関係を求めることにより推定が可能となる。また本発明の第4の態様によるカットオフ波長測定方法は、前記第1~第3の態様のうちのいずれかの態様のカットオフ波長測定方法において、前記リファレンス用ファイバとして、被測定ファイバと同一の母材より紡糸された素線からなるものを使用することを特徴とするものである。このような第4の態様のカットオフ波長測定方法によれば、測定しようとするファイバと同一の母材より紡糸された素線から、条長だけ変えてリファレンス用ファイバを切り出せばよいため、リファレンス用ファイバの選定の手間を省くことができるとともに、実際の測定現場でも極めて簡単にリファレンス用ファイバを用意することが可能となる。また本発明の第5の態様によるカットオフ波長測定方法は、前記第1~第3の態様のうちのいずれかの態様のカットオフ波長測定方法において、前記リファレンス用ファイバとして、被測定ファイバとは異なる素線からなるものを使用することを特徴とするものである。このような第5の態様のカットオフ波長測定方法においては、実際の測定現場において、被測定ファイバと同一の母材から紡糸された素線からなるものが手元に存在しない場合でも、リファレンス用ファイバを用意することができる。さらに、異なる素線を続けて測定する場合には、マルチモード励振法等の従来方法と同様に一度のリファレンス用ファイバの測定により、繰り返し測定を実施することが可能である。また本発明の第6の態様によるカットオフ波長測定方法は、前記第1~第5の態様のうちのいずれかの態様のカットオフ波長測定方法において、被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーとの比の波長依存性に基づいて被測定ファイバのカットオフ波長を算出するにあたり、被測定ファイバの透過光パワーをPsigλ、リファレンス用ファイバの透過光パワーをPrefλとし、次式Aλ=10×log10{Psigλ/Prefλ}で求められる透過光パワーとの比Aλのスペクトル上における、被測定ファイバの規定モードのみを伝搬する波長領域のスペクトルを直線近似してなる基準線を、0.1dBだけ平行にシフトしてなる直線と、前記透過光パワーとの比Aλのスペクトルとの交点の波長を、被測定ファイバのカットオフ波長とすることを特徴とするものである。このような第6の態様のカットオフ波長測定方法によれば、実際的にシングルモードファイバのカットオフ波長を算出することができる。本発明のカットオフ波長測定方法によれば、カットオフ波長算出のための基準線決定に不正確さが生じて算出カットオフ波長にばらつきが生じてしまうような事態を回避できるばかりでなく、リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバの透過光パワー測定時の条長を適切に調整することによって、被測定ファイバのカットオフ波長付近で、被測定ファイバの透過光パワーとリファレンス用ファイバの透過光パワーとの間に明確な違いを得て、それらの透過光パワーの比Aλに急峻な変化を得ることにより、正確なカットオフ波長の算出が可能となる。さらに、条長の調整によってリファレンス用ファイバのカットオフ波長を被測定ファイバの予想カットオフ波長より短くしているため、リファレンス用ファイバとしては、規格によるファイバカットオフ波長もしくはケーブルカットオフ波長が、被測定ファイバよりも短いものを選び出す必要がなく、規格によるファイバカットオフ波長もしくはケーブルカットオフ波長が被測定ファイバと同等のもの、あるいは長いもの、短いものでも、リファレンス用ファイバとして適宜使用可能となり、しかもリファレンス用ファイバとして被測定ファイバと異なる素材、異なるファイバ構成のものをも使用可能となり、その結果、リファレンス用ファイバの選択の自由度が従来よりも格段に高くなり、実際の測定現場でも、手元にある適宜のファイバをリファレンス用ファイバに使用して、簡単かつ容易にカットオフ波長の測定を行なうことが可能となった。以下、本発明の実施形態について、図2~図10を参照して詳細に説明する。図2は、本発明のカットオフ波長測定方法を実施するにあたって、リファレンス用ファイバおよび被測定ファイバの各透過光パワーを測定するための測定系の構成を示すもので、リファレンス用ファイバ32の透過光パワーPrefλを測定する状況と、被測定ファイバ12の透過光パワーPsigλを測定する状況とを、同じ図中に示している。図2において、白色光源および分光器などからなる光源部10からの光は、マルチモードファイバからなる励振用ファイバ34を経てリファレンス用ファイバ32もしくは被測定ファイバ12に導かれ、これらを透過した光は、受光器14によって受光され、それぞれの透過光パワーが測定される。ここで、光源部10および受光部14は、要は光ファイバの損失波長依存性、したがって透過光パワーの波長依存性を測定可能であれば、特に限定されるものではなく、従来のカットオフ波長測定方法で使用されているものと同様であればよい。また図示の例では、リファレンス用ファイバ32、被測定ファイバ12のいずれも、80mmφの曲げ部分B3、B4を付与しているが、これは、次に改めて述べるように、被測定ファイバ12のケーブルカットオフ波長測定の場合、マルチモード励振法など従来の一般的なカットオフ波長測定方法を用いて、80mmφの曲げを被測定ファイバの両端に1周ずつ入れることが規格にて定められているからであり、被測定ファイバ12のファイバカットオフ測定の場合には、これらの曲げ部分B3、B4は入れないことが規格で定められている。なお図示の例における80mmφの曲げは、被測定ファイバ12、リファレンス用ファイバ32の両者に入れているが、リファレンス用ファイバ32については80mmφの曲げを必ずしも入れる必要はない。さらに、図示の例では、光源部10とリファレンス用ファイバ32もしくは被測定ファイバ12との間に励振用ファイバ34としてのマルチモードファイバを接続しているが、励振のための構成としては、マルチモードファイバに限らず、例えば集光レンズなど、シングルモードファイバ励振のための公知の構成を任意に適用可能である。カットオフ波長測定対象の被測定ファイバ12は、石英系のシングルモードファイバであり、予め定めた条長とされている。ここで、マルチモード励振法など、従来の一般的なカットオフ波長測定方法では、規格によって、ファイバカットオフ波長測定の場合はサンプル条長が2m、ケーブルカットオフ波長測定の場合はサンプル条長が22mと定められており、そこで本発明によるカットオフ波長の場合も、被測定ファイバ12の条長は、2mもしくは22mとすることが望ましい。一方、リファレンス用ファイバ32としては、本発明のカットオフ波長測定方法では、基本的には、被測定ファイバ12と同一の母材から紡糸した素線からなるもの同一素材で、屈折率分布等のファイバ構成が同一のもの、すなわち同種のもののシングルモードファイバを用いても、あるいは被測定ファイバ12とは異なる素線からなるもの、すなわち被測定ファイバ12とはファイバ素材もしくはファイバ構成が異なるシングルモードファイバを用いてもよいが、被測定ファイバ12と異なる素線からなるシングルモードファイバを用いる場合については後に改めて説明することとし、ここでは、説明の煩雑さを避けるため、被測定ファイバ12と同一の母材から紡糸した素線からなるシングルモードファイバを用いることとして説明を進める。リファレンス用ファイバ32としては、その条長が、被測定ファイバ12の条長よりも十分に長いものを用意する。ここで、十分に長いとは、基本的には、単に被測定ファイバ12の条長よりも絶対的に長いだけではなく、被測定ファイバ12のカットオフ波長においてそのリファレンス用ファイバ32が基底モードのみを伝搬するような長さを意味している。すなわち、既に述べたように、シングルモードファイバにおいては、その条長が長くなればカットオフ波長が短くなるが、リファレンス用ファイバ32の条長を、被測定ファイバ12のカットオフ波長においてそのリファレンス用ファイバ32が基底モードのみを伝搬するような長さに調整することによって、被測定ファイバ12のカットオフ波長付近で、被測定ファイバ12の透過光パワーとリファレンス用ファイバ32の透過光パワーとの間に明確な違いを得ることが可能となる。そこで本発明では、リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバの透過光パワー測定時の条長を、単純に被測定ファイバの条長より長くするのではなく、予め被測定ファイバ12のカットオフ波長を予想しておきその予想されるカットオフ波長を本明細書では予想カットオフ波長と称している、ファイバ条長とカットオフ波長との関係に基づいて、被測定ファイバの予想カットオフ波長においてリファレンス用ファイバが基底モードのみを伝搬するような長さに調整することとしている。ここで、被測定ファイバ12の予想カットオフ波長とは、そのファイバの素材の材質やファイバ構成などによって経験的あるいは計算によって予想されるカットオフ波長を意味するが、実際の光ファイバの製造にあたっては、製造条件の変動や、径、膜厚の変動などによって、実際のカットオフ波長にある程度のばらつきが生じることは避け得ない。そこで、実際に予想カットオフ波長を定めるに当たっては、ファイバ条長とカットオフ波長との関係を事前に屈折率分布等より推測しておくことが望ましい。さらにリファレンス用ファイバ32の条長については、その条長でのリファレンス用ファイバのカットオフ波長が、被測定ファイバ12の予想カットオフ波長よりも少なくとも10nm短くなるように調整することが望ましい。すなわち、本発明者等の実験によれば、被測定ファイバとしてのシングルモードファイバのカットオフ波長と、リファレンス用ファイバとしてのシングルモードファイバのカットオフ波長とが、10nm以上離れていれば、それらのカットオフ波長付近においてその2本のシングルモードファイバの透過光パワーに明確な違いが生じ、そのためそれらの比の波長特性としても、急峻な立ち上がりが明確に現れ、被測定ファイバのカットオフ波長を、より確実かつ容易に求めることが可能となる。ここで、具体的なリファレンス用ファイバ32の条長は、その対数値常用対数と、被測定ファイバ12の条長の対数値常用対数との差が少なくとも0.5となるように定めることが望ましい。このようにリファレンス用ファイバ32の条長の対数値と被測定ファイバ12の条長の対数値との差が0.5以上であれば、測定しようとする通信用として一般的なシングルモードファイバや低曲げ損失ファイバについて、予想カットオフ波長と実際のカットオフ波長との間に大きな誤差があった場合でも、リファレンス用ファイバの透過光パワー測定時の条長を、被測定ファイバの予想カットオフ波長においてそのリファレンス用ファイバが基底モードのみを伝搬するような長さに調整するという条件を確実に満たすことが可能となり、かつリファレンス用ファイバの条長を、その条長でのリファレンス用ファイバのカットオフ波長が、被測定ファイバの予想カットオフ波長よりも10nm以上短くなるように調整するという条件をも、確実に満たすことが可能となる。以上のようにリファレンス用ファイバ32の条長を調整して、被測定ファイバ12のカットオフ波長を測定する実際の手順について説明する。先ず第1段階としては、ファイバ条長とカットオフ波長との関係を考慮し、被測定ファイバ12の予想カットオフ波長を決定する。これは、既に述べたように、ファイバ素材やファイバ構成、製造方法などに応じて推定すればよく、また製造条件などのばらつきを考慮して定めることが望ましい。次に第2段階として、リファレンス用ファイバ32の条長を、被測定ファイバ12の条長より長く、かつ被測定ファイバ12の予想カットオフ波長においてそのリファレンス用ファイバ32が基底モードのみを伝搬するような長さに調整する。ここで、条長を調整するとは、実作業上は、上述のような条長条件を満たす長さのシングルモードファイバを選び出す、あるいは手持ちのシングルモードファイバから上述のような条長条件を満たす長さのものを切り出す、などの作業を意味する。さらに第3段階として、図2に示したような測定系により、リファレンス用ファイバ32および被測定ファイバ12の透過光パワーPrefλ、Psigλをそれぞれ測定する。その後、第4段階として、リファレンス用ファイバ32および被測定ファイバ12の透過光パワーPrefλ、Psigλの比Aλを、前記式にしたがって計算する。この透過光パワーの比Aλについて、図3に、波長を横軸にとって模式的に示す。図3において、太い実線40がAλの波長特性を示す。ここで、透過光パワーの比Aλの値は、被測定ファイバ12のカットオフ波長とリファレンス用ファイバ32のカットオフ波長との間の波長領域付近において、長波長側から短波長側に向け急峻に増大し、さらに短波長側に向け急峻に減少し、図3中に符号48で示すようなピークが現れる。さらに第5段階として、図3に示した透過光パワーの比Aλの波長特性に基づいて、被測定ファイバのカットオフ波長λを求める。これは、既に述べたマルチモード励振法およびシングルモードファイバ参照法と同様に、被測定ファイバ12のシングルモード伝搬領域、すなわち基底モードのみを伝搬する領域のスペクトルを直線近似した直線を基準線42図3の細い実線とし、その基準線42を平行に0.1dBだけシフトさせた直線44図3の1点鎖線と、過光パワーの比Aλのスペクトル線との交点46に相当する波長をもって、被測定ファイバ12のカットオフ波長λと決定すればよい。なお以上のところにおいて、一般にカットオフ波長の測定では、被測定ファイバ測定において、被測定ファイバが十分に励振されていることが求められる。そこで図2に示した測定系では、光源部10と被測定ファイバ12との間に励振用ファイバ34としてマルチモードファイバを接続しているが、十分に励振可能であれば、励振のための構成はマルチモードファイバ接続に限定されないことは、既に述べた通りである。ここで、従来の曲げ法、マルチモード励振法においては、被測定ファイバが十分に励振されていることの指標として、透過光パワーの比被測定ファイバ透過光パワーの比Aλのスペクトル上のピークが2dB以上であることが要求されており、本発明の場合も、図3におけるピーク48が、2dB以上であることが望まれる。但し、本発明法の場合、被測定ファイバのカットオフ波長とリファレンス用ファイバのカットオフ波長が近い場合には、十分に励振されていても、透過光パワーの比Aλのスペクトルに十分な高さのピーク2dB以上のピークが現れないこともある。このような場合は、励振状態について、確認実験を行なうことが望ましい。すなわち、従来の通常のマルチモード励振法により、被測定サンプルと本発明法におけるリファレンス用ファイバ長尺ファイバのそれぞれについて透過光パワーを測定し、マルチモード励振法による透過光パワーの比Aλに2dB以上のピークが現出していれば、たとえ本発明法で2dB以上のピークが現れていなくても、十分に励振されているとみなすことができる。なお本発明法によって被測定ファイバのカットオフ波長を測定する際にリファレンス用ファイバとして用いるファイバは、シングルモードファイバであれば、被測定ファイバと同一の母材から紡糸した素線からなるものに限られない。すなわち、リファレンス用ファイバとして、被測定ファイバとは異なる素線材質やファイバ構成が異なるものからなるシングルモードファイバを用いてもよい。その場合、そのリファレンス用ファイバの規格長さ2mもしくは22mでのカットオフ波長が、被測定ファイバと同等であるファイバに限らず、規格長さでのカットオフ波長が、被測定ファイバのカットオフ波長より長いファイバ、あるいは短いファイバをも、リファレンス用ファイバとして使用可能である。例えば、規格長さでのカットオフ波長が被測定ファイバの予想カットオフ波長より長いファイバであっても、その条長を被測定ファイバよりも十分に長く調整して、既に述べたような条長条件を満足させれば、本発明法によって被測定ファイバのカットオフ波長を測定することができるのである。さらに、本発明法は、曲げ法とは異なり、低曲げ損失光ファイバに適用可能であるが、低曲げ損失光ファイバに限らず、通信用として使用される一般的なシングルモードファイバにも適用し得ることはもちろんである。次に、本発明の前提として行なった実験例、および本発明の効果を検証するために行なった実験例について、図4~図10を参照して説明する。なお以下の各実験例の記載が本発明の技術的範囲を限定するものでないことはもちろんである。[実験例1]測定によって求められるシングルモードファイバのカットオフ波長が、測定の際のファイバの条長によって変化すること、すなわちファイバの条長が長くなるほど、カットオフ波長が短くなることについての実証実験を行なった結果を図4に示す。この実験では、通信用として使用される一般的なシングルモードファイバを被測定ファイバとし、マルチモード励振法によって、種々の異なる条長2m~200mのシングルモードファイバ素線からなる被測定ファイバの透過光パワーPsigλと、一定長さのリファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλとを測定し、それらの比Aλを測定したときの、Aλの波長特性のファイバ条長依存性を図4に示した。この図4において、長波長側から短波長側に向かって1250nm付近~1150nm付近でAλが急峻に立ち上がる部分がカットオフ波長に相当するが、ファイバの条長が長くなるにしたがって、カットオフ波長が短くなることが分かる。この結果から、被測定ファイバよりも十分に長いシングルモードファイバを、被測定ファイバよりもカットオフ波長が短いリファレンス用ファイバとして使用し得ることが明らかである。またここで、図4から、被測定ファイバ条長2mのデータのみを抜粋して、図5に示す。これは従来のマルチモード励振法によって測定した結果の一部であるが、この図5から、マルチモード励振法によって測定した場合には、透過光パワーの比Aλの波長特性における長波長側の直線近似すべき部分にうねりが生じていることが明らかである。したがってこの場合は、直線近似する領域の取り方やその手法、計算によって、基準線が異なってしまい、カットオフ波長の算出結果にもばらつきが生じてしまうと考えられる。なおこの実験例1において被測定ファイバとして用いたシングルモードファイバとは、具体的には、ITU-TG.652.D準拠のシングルモードファイバである。[実験例2]実験例1で用いたものと同じ母材から紡糸した素線からなるシングルモードファイバの条長2mの被測定ファイバについて、リファレンス用ファイバとして被測定ファイバと同じ母材から紡糸した素線からなる条長200mのファイバを用い、本発明法に従って被測定ファイバの透過光パワーPsigλと、リファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλとを測定し、それらの比Aλを測定した。このときの透過光パワーのAλの波長特性を図6に示す。この場合、図6から明らかなように、透過光パワーの比Aλの波長特性における長波長側の直線近似すべき部分被測定ファイバのシングルモード伝搬領域に、図5に示したマルチモード励振法の場合のようなうねりが生じておらず、そのため直線近似の誤差が生じにくく、基準線を確実かつ容易に決定し得ることが明らかである。なおこの実験例2において、被測定ファイバの予想カットオフ波長としては、1250nm程度を想定した。ここで、条長2mの被測定ファイバと同一母材から紡糸した素線からなる条長200mのリファレンス用ファイバでは、そのカットオフ波長は1200nm程度と見積もられ、したがってリファレンス用ファイバの透過光パワー測定時の条長を、被測定ファイバの予想カットオフ波長においてそのリファレンス用ファイバが基底モードのみを伝搬するような長さに調整するという前述の条件を満たし、しかもリファレンス用ファイバの条長を、その条長でのリファレンス用ファイバのカットオフ波長が、被測定ファイバの予想カットオフ波長よりも10nm以上短くなるように調整するという条件をも満たしていることが明らかである。なおまた、この実験例2によって最終的に算出された被測定ファイバのカットオフ波長は、1242.7nmであった。[実験例3]低曲げ損失ファイバからなるシングルモードファイバの条長22mの被測定ファイバについて、リファレンス用ファイバとして被測定ファイバと同じ母材から紡糸した素線からなる条長200mのファイバを用い、本発明法に従って、被測定ファイバの透過光パワーPsigλと、リファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλとを測定し、それらの比Aλを測定した。このときの透過光パワーのAλの波長特性を図7中の実線で示す。なおこの実験例3において、被測定ファイバの予想カットオフ波長としては、1250nm程度を想定したが、条長22mの被測定ファイバと同一素材からなる条長200mのリファレンス用ファイバでは、そのカットオフ波長は1200nm程度と見積もられ、したがってリファレンス用ファイバの透過光パワー測定時の条長を、被測定ファイバの予想カットオフ波長においてそのリファレンス用ファイバが基底モードのみを伝搬するような長さに調整するという条件を満たし、しかもリファレンス用ファイバの条長を、その条長でのリファレンス用ファイバのカットオフ波長が、被測定ファイバの予想カットオフ波長よりも10nm以上短くなるように調整するという条件をも満たしていることが明らかである。なおこの実験例3において使用した被測定ファイバは、具体的には、ITU-TG.657.A.2準拠のシングルモードファイバからなるものであるまた比較のため、上記と同じ低曲げ損失ファイバからなる条長22mの被測定ファイバについて、リファレンス用ファイバとしてマルチモードファイバを使用し、従来のマルチモード励振法に従って、被測定ファイバの透過光パワーPsigλと、リファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλとを測定し、それらの比Aλを測定した。このときの透過光パワーのAλの波長特性を、カットオフ波長決定のための基準線が0ベースとなるように変換して、図7中に破線で示す。図7から明らかなように、従来のマルチモード励振法による場合破線には、長波長側にうねりが生じているのに対し、本発明法による場合実線にはうねりが実質的に生じていない。ただし、この実験例3で算出されたカットオフ波長は、本発明法では1249.1nm、従来のマルチモード励振法では1249.0nmであって、それらの間に大きな差は認められなかった。これは、従来のマルチモード励振法における基準線決定のための直線近似が、たまたま適切であったためと解される。[実験例4]実験例3で用いたものと同種の低曲げ損失ファイバから、条長22mの被測定ファイバを切り出し、リファレンス用ファイバとしては実験例3の本発明法で使用したものと同じものを用い、本発明法に従って、被測定ファイバの透過光パワーPsigλを測定し、またリファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλのデータとしては、実験例3の本発明法によるデータをそのまま使用し、それらの比Aλを算出した。このときの透過光パワーの比Aλの波長特性を図8の実線で示す。なおこの実験例4においても、実験例3の本発明法と同様に、被測定ファイバの予想カットオフ波長は、1230nm程度に想定した。また比較のため、上記と同じ低曲げ損失ファイバからなる条長22mの被測定ファイバについて、リファレンス用ファイバとしてマルチモードファイバを使用し、従来のマルチモード励振法に従って、被測定ファイバの透過光パワーPsigλを測定し、またリファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλのデータとしては、実験例3のマルチモード励振法によるデータをそのまま使用し、それらの比Aλを算出した。このときの透過光パワーのAλの波長特性のグラフを、カットオフ波長決定のための基準線が0ベースとなるように変換して、図8の破線で示す。この実験例4で算出されたカットオフ波長は、本発明法では1238.7nmであったのに対し、従来のマルチモード励振法では1229.7nmであって、実験例3の場合とは異なり、それらの間にかなりの差が生じてしまった。ここで、実験例3図7における本発明法での透過光パワーの比Aλと、従来のマルチモード励振法での透過光パワーとの比Aλの差分Δ1を、図9に実線で示す。また実験例4図8における本発明法での透過光パワーの比Aλと、マルチモード励振法での透過光パワーとの比Aλの差分Δ2を、図9に破線で示す。図9から分かるように、実験例3と実験例4とでは、本発明法での透過光パワーの比とマルチモード励振法での透過光パワーの比との差分Δ1、Δ2に、大きな違いが生じている。実験例3および実験例4では、本発明法におけるリファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλのデータとして同一のデータを使用し、かつ従来のマルチモード励振法による測定におけるリファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλのデータとしても同一のものを使用しており、したがって前述のような差分Δ1と差分Δ2との違いは、マルチモード励振法における基準線決定時に生じた誤差によると考えられる。すなわち、実験例3と実験例4とでは、マルチモード励振法におけるリファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλのデータおよび本発明法におけるリファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλのデータ自体は共通であるが、マルチモード励振法では、透過光パワーの比Aλの波長特性のうち、被測定ファイバの基底モード領域基準線決定に関与する領域に大きなうねりが存在するため、直線近似による基準線決定にばらつきが生じてしまい、その結果、算出カットオフ波長にもばらつきが生じてしまったことが分かる。これに対し、本発明法では、リファレンス用ファイバとしてシングルモードファイバを用いているため、そのようなうねりの発生が回避され、基準線決定にも誤差が少なくなり、より正確なカットオフ波長測定が可能となるのである。[実験例5]実験例3において用いた低曲げ損失ファイバと同種の素線からなるシングルモードファイバの条長22mの被測定ファイバについて、リファレンス用ファイバのシングルモードファイバとして被測定ファイバとは異なる素線、すなわち通信用として一般的に使用されるシングルモードファイバ、具体的にはITU-TG.652.D準拠のシングルモードファイバからなる条長100mのファイバを用い、本発明法に従って、被測定ファイバの透過光パワーPsigλと、リファレンス用ファイバの透過光パワーPrefλを測定し、それらの比Aλを測定した。このときの透過光パワーのAλの波長特性を図10に示す。なおこの実験例5において、被測定ファイバの予想カットオフ波長としては、1250nm程度を想定したが、条長22mの被測定ファイバと異なる屈折率分布の条長100mのリファレンス用ファイバでは、そのカットオフ波長は1200nm程度と見積もられ、したがってリファレンス用ファイバの透過光パワー測定時の条長を、被測定ファイバの予想カットオフ波長においてそのリファレンス用ファイバが基底モードのみを伝搬するような長さに調整するという条件を満たし、しかもリファレンス用ファイバの条長は、その対数値常用対数と、被測定ファイバの条長の対数値常用対数との差が少なくとも0.5となるように調整するという条件をも満たしていることが明らかである。この実験例5で算出されたカットオフ波長は、1248.9nmであった。