"真空遮断器の真空度を試験する真空遮断器試験装置であって、前記真空遮断器の電極間に電圧を印加する電圧印加部と、前記電圧印加部により電圧を印加された状態の前記真空遮断器に投入指令を出力する指令出力部と、前記真空遮断器の投入が開始されてから完了するまでの間における前記真空遮断器の電極間の閃絡を検出する閃絡検出部と、前記真空遮断器の投入が開始されてから前記閃絡検出部により前記真空遮断器の閃絡が検出されるまでの時間を計測する閃絡時間計測部と、前記閃絡時間計測部により計測された時間に基づいて、前記真空遮断器の真空度の異常の有無を判定する判定部と、を備える真空遮断器試験装置。前記判定部は、前記計測部により計測された時間が閾値より短い場合に、前記真空遮断器の真空度を異常と判定する請求項1に記載の真空遮断器試験装置。前記真空遮断器の投入が開始されてから完了するまでの時間を計測する完了時間計測部を備え、前記判定部は、前記完了時間計測部により計測された時間と前記閃絡時間計測部により計測された時間との差が閾値より長い場合に、前記真空遮断器の真空度を異常と判定する請求項1又は請求項2に記載の真空遮断器試験装置。前記真空遮断器の投入が開始されてから完了するまでの時間を計測する完了時間計測部を備え、前記判定部は、前記完了時間計測部により計測された時間が所定の範囲外の場合、前記真空遮断器の真空度の異常判定を中止する請求項1に記載の真空遮断器試験装置。真空遮断器の真空度を試験する真空遮断器試験方法であって、前記真空遮断器の電極間に電圧を印加する電圧印加ステップと、前記電圧印加ステップにおいて電圧を印加された状態の前記真空遮断器に投入指令を出力する指令出力ステップと、前記真空遮断器の投入が開始されてから完了するまでの間における前記真空遮断器の電極間の閃絡を検出する閃絡検出ステップと、前記真空遮断器の投入が開始されてから前記閃絡検出ステップにおいて前記真空遮断器の閃絡が検出されるまでの時間を計測する閃絡時間計測ステップと、前記閃絡時間計測ステップにおいて計測された時間に基づいて、前記真空遮断器の真空度の異常を判定する判定ステップと、を備える真空遮断器試験方法。ところで、特別高圧の真空遮断器は、高圧の真空遮断器と比して、開極距離が長いことから開極間に高電圧を印加することを要する。このため、特別高圧の真空遮断器では、高圧の真空遮断器と比して、大型で高価な耐圧試験装置を要する。また、特別高圧の真空遮断器において、高圧の真空遮断器と同様の耐圧試験装置を用いる場合には、専用治具を用いて開極距離を縮める作業が必要となることから、作業工数及び作業時間が増える。本発明は、上記事情を鑑みてなされたものであり、真空遮断器の真空度を試験する装置のコストを低減し、かつ、真空遮断器の真空度試験の作業工数及び作業時間を低減することを課題とする。上記課題を解決するために、本発明に係る真空遮断器試験装置は、真空遮断器の真空度を試験する装置であって、前記真空遮断器の電極間に電圧を印加する電圧印加部と、前記電圧印加部により電圧を印加された状態の前記真空遮断器に投入指令を出力する指令出力部と、前記真空遮断器の投入が開始されてから完了するまでの間における前記真空遮断器の電極間の閃絡を検出する閃絡検出部と、前記真空遮断器の投入が開始されてから前記閃絡検出部により前記真空遮断器の閃絡が検出されるまでの時間を計測する閃絡時間計測部と、前記閃絡時間計測部により計測された時間に基づいて、前記真空遮断器の真空度の異常の有無を判定する判定部と、を備える。上記真空遮断器試験装置において、前記判定部は、前記計測部により計測された時間が閾値より短い場合に、前記真空遮断器の真空度を異常と判定してもよい。上記真空遮断器試験装置において、前記真空遮断器の投入が開始されてから完了するまでの時間を計測する完了時間計測部を備えてもよく、前記判定部は、前記完了時間計測部により計測された時間と前記閃絡時間計測部により計測された時間との差が閾値より長い場合に、前記真空遮断器の真空度を異常と判定してもよい。上記真空遮断器試験装置において、前記真空遮断器の投入が開始されてから完了するまでの時間を計測する完了時間計測部を備えてもよく、前記判定部は、前記完了時間計測部により計測された時間が所定の範囲外の場合、前記真空遮断器の真空度の異常判定を中止してもよい。また、上記課題を解決するために、本発明に係る真空遮断器試験方法は、真空遮断器の真空度を試験する方法であって、前記真空遮断器の電極間に電圧を印加する電圧印加ステップと、前記電圧印加ステップにおいて電圧を印加された状態の前記真空遮断器に投入指令を出力する指令出力ステップと、前記真空遮断器の投入が開始されてから完了するまでの間における前記真空遮断器の電極間の閃絡を検出する閃絡検出ステップと、前記真空遮断器の投入が開始されてから前記閃絡検出ステップにおいて前記真空遮断器の閃絡が検出されるまでの時間を計測する閃絡時間計測ステップと、前記閃絡時間計測ステップにおいて計測された時間に基づいて、前記真空遮断器の真空度の異常を判定する判定ステップと、を備える。上記真空遮断器試験装置及び方法によれば、真空遮断器の真空度を試験する装置のコストを低減でき、かつ、真空遮断器の真空度試験の作業工数及び作業時間を低減できる。以下、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態を説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る真空遮断器100の試験装置10の概略構成を示す図である。この図に示すように、真空遮断器100は、特別高圧例えば、72kVの真空遮断器である。この真空遮断器100は、真空バルブ110を備える。真空バルブ110は、真空容器112と、真空容器112内に互いに対向して配された固定接点114及び可動接点116と、固定接点114に接続された固定導体118と、可動接点116に接続された可動導体120とを備えている。また、真空遮断器100は、固定導体118及び可動導体120にそれぞれ接続された主回路導体124を備えている。また、真空遮断器100は、絶縁フレーム122により覆われている。また、真空遮断器100は、操作器130と、補助開閉器140と、遮断器制御部150を備えている。操作器130は、例えば、電磁操作器であり、絶縁ロッド132を介して可動導体120及び可動接点116を往復動させることにより、固定接点114と可動接点116との距離を変化させ、真空遮断器100を開極又は閉極させる。また、補助開閉器140は、真空遮断器100の投入状態又は遮断状態を検出するスイッチである。また、遮断器制御部150は、投入指令端子152と、遮断指令端子154とを備えており、投入指令又は遮断指令が入力されると操作器130を作動させる。ここで、特別高圧の真空遮断器100は、開極した固定接点114と可動接点116との距離以下、開極距離というが、高圧例えば、7.2kVの遮断器よりも長く設定されている。例えば、高圧の真空遮断器7.2kVの開極距離は6~8mmであるのに対し、特別高圧の真空遮断器72kVの開極距離は40~60mmである。試験装置10は、電圧印加部としての高圧発生装置20と、判定部としての判定装置30とを備えている。高圧発生装置20は、試験電圧を真空遮断器100の電極間に印加する。また、判定装置30は、高圧発生部20を制御する機能、遮断器制御部150に操作指令を出力する機能を有しており、高圧発生部20等から取得した情報に基づいて真空遮断器100の真空度を判定する。なお、高圧発生装置20と判定装置30とは本実施形態のように分離してもよく、一体化してもよい。高圧発生装置20は、直流高電圧発生器22と、分圧器24と、制御装置26とを備えている。直流高電圧発生器22は、高圧端子22Aと接地端子22Bとを備えている。高圧端子22Aは、電圧印加線22Cにより真空遮断器100の一方の主回路導体124に接続されている。また、接地端子22Bは、電圧印加線22Dにより真空遮断器100の他方の主回路導体124と大地とに接続されている。この直流高電圧発生器22は、真空遮断器100の電極間に試験電圧としての直流の高電圧を印加する。なお、真空遮断器100が投入状態となり真空遮断器100に閃絡が発生した場合、直流高電圧発生器22は、閃絡電流を検出して電圧の出力を停止する。分圧器24は、直流高電圧発生器22により真空遮断器100の電極間に印加される試験電圧を、判定装置30に入力可能な電圧へと変換して判定装置30に入力させる。制御装置26は、判定装置30からの指令に基づいて、直流高電圧発生器22が発生する試験電圧の調整と、直流高電圧発生器22による試験電圧の発生のオン/オフとを実行する。判定装置30は、指令出力部、閃絡検出部、閃絡時間計測部、及び判定部としてのマイクロプロセッサ以下、MPUという32と、メモリ34と、リアルタイムクロック以下、RTCという36と、入出力インターフェース以下、IOという38と、閃絡検出部としてのコンパレータ40と、直流高電圧発生部の電圧検出部としてのA/D変換器41と、表示器42と、操作スイッチ44と、電源46とを備えている。MPU32は、コンパレータ40やRTC36等から入力されるデータを演算したり、真空遮断器100や表示器42や高圧発生装置20の制御装置26等に指令を出力したりする。メモリ34は、後述の閃絡時間の閾値T2 ́等の各種情報を記憶しており、また、RTC36により計測される時間等を記憶する。また、RTC36は、電源46のオン/オフの如何に関わらず、現在時刻を刻み続ける。MPU32は、RTC36の時刻データに基づいて、真空遮断器100の投入開始から完了までの時間T3や、後述の真空遮断器100の投入開始から閃絡するまでの時間T2等を計測する。また、IO38には、高圧発生装置20の制御装置26とコンパレータ40とA/D変換器41とMPU32と表示器42と操作スイッチ44とが接続されている。また、IO38には、遮断器制御線39を介して、真空遮断器100の投入指令端子152、遮断指令端子154及び補助開閉器140に接続されている。また、コンパレータ40は、分圧器24から入力された試験電圧信号を、所定の閾値例えば、試験電圧の80と比較して、該所定の閾値以下となった場合にはIO38を通じて、MPU32に電圧低下信号を高速に出力する。表示器42は、真空遮断器100の真空度の試験結果や、試験の失敗を理由とする再試験の通知等を表示する。また、操作スイッチ44は、試験開始の際にオンになるスイッチであり、該操作スイッチ44がオンになると、試験装置10は、自動で真空遮断器100の真空度の試験を実行する。また、電源46は、高圧発生装置20と判定装置30とに電力を供給する。次に、試験装置10による真空遮断器100の真空度の試験方法について説明する。まず、試験装置10を真空遮断器100に接続する。この際、真空遮断器100を投入状態にして、電圧印加線22Cにより高圧端子22Aを真空遮断器100の一方の主回路導体124に接続し、電圧印加線22Dにより接地端子22Bを真空遮断器100の他方の主回路導体124と大地とに接続する。また、遮断器制御線39によりIO38を真空遮断器100の投入指令端子152と遮断指令端子154と補助開閉器140とに接続する。次に、操作スイッチ44をオンにすることにより、試験装置10による真空遮断器100の真空度の試験を開始させる。図2は、試験装置10の動作を説明するためのフローチャートである。このフローチャートに示すように、操作スイッチ44がオンになると試験装置10の動作が開始されてステップ100へ移行する。ステップ100では、MPU32が、遮断器制御部150に遮断指令を出力する。遮断器制御部150は、該遮断指令を受けて操作器130を作動させ、真空遮断器100を遮断状態に変化させる。次に、ステップ101では、MPU32が、遮断指令を出力してから所定時間例えば、30秒経過したか否かを判定し、判定が肯定されるとステップ102へ移行する。ここで、ステップ101では、真空遮断器100を所定時間だけ遮断状態に維持することにより、真空遮断器100の状態を安定させている。次に、ステップ102では、MPU32が、遮断器制御部150に投入指令を出力する。遮断器制御部150は、該投入指令を受けて操作器130を作動させ、真空遮断器100を投入状態に変化させる。次に、ステップ103では、MPU32が、投入指令を出力してから補助開閉器140により真空遮断器100の投入完了が検出されるまでの時間T3-1を、RTC36の時刻データに基づいて計測する。次に、ステップ104では、MPU32が、遮断器制御部150に遮断指令を出力する。遮断器制御部150は、該遮断指令を受けて操作器130を作動させ、真空遮断器100を遮断状態に変化させる。次に、ステップ105では、MPU32が、高圧発生装置20の制御装置26に電圧出力指令を出力する。制御装置26は、該電圧出力指令を受けて直流高電圧発生器22を作動させ、真空遮断器100の電極間に試験電圧を印加させる。また、制御装置26は、該試験電圧を所定の電圧値となるように調整する。なお、試験電圧の調整方法は、MPU32が、分圧器24から入力される電圧信号フィードバック信号に基づいて調整する方法であってもよく、高圧発生装置20の制御装置26が調整する方法であってもよい。次に、ステップ106では、MPU32が、A/D変換器41の出力に基づいて、試験電圧が規定の電圧値まで上昇したか否かを判定する。判定が肯定された場合にはステップ107へ移行する一方、判定が否定された場合にはステップ105へ移行する。ステップ107では、MPU32が、電圧出力指令を出力してから所定時間経過したか否かを判定し、判定が肯定されるとステップ108へ移行する。ここで、ステップ107では、真空遮断器100を所定時間だけ遮断状態且つ電圧を印加した状態に維持することにより、真空遮断器100の状態を安定させている。ステップ108では、MPU32が、遮断器制御部150に投入指令を出力する。遮断器制御部150は、投入指令を受けて操作器130を作動させ、真空遮断器100を投入状態に変化させる。次に、ステップ109では、MPU32が、RTC36の時刻に基づいて、投入指令を出力してからコンパレータ40から電圧低下信号が出力されるまでの時間T2と、投入指令を出力してから補助開閉器140により投入完了が検出されるまでの時間T3とを計測する。次に、ステップ110では、MPU32が、高圧発生装置20の制御装置26に電圧出力停止指令を出力する。制御装置26は、該電圧出力停止指令を受けて直流高電圧発生器22を停止させる。次に、ステップ111では、MPU32が、ステップ109において計測した時間T3が、所定範囲T3-1‘<T3<T3-1内であるか否かを判定する。判定が肯定された場合にはステップ112へ移行する一方、判定が否定された場合にはステップ120へ移行する。ここで、上記所定範囲の下限値T3-1‘と上限値T3-1は、ステップ103において計測した時間T3-1の近似値例えば、T3-1‘はT3-1の99、T3-1はT3-1の101である。MPU32は、ステップ103において計測したT3-1に所定の係数例えば、0.99や1.01を乗じることによりT3-1‘、T3-1を算出する。即ち、ステップ111では、MPU32が、ステップ109において計測した時間T3とステップ103において計測した時間T3-1とが近似しているか否かT3≒T3-1であるか否かを判定する。ステップ120では、MPU32が、表示器42に再試験の通知を表示する指令を出力する。即ち、投入開始から投入完了までの時間T3が時間T3-1と近似しない場合には、計測が失敗したと判断されて再試験が通知される。一方、ステップ112では、MPU32が、ステップ109において計測した時間T2がメモリ34に記憶されている閾値T2 ́以下であるか否かを判定する。判定が否定された場合にはステップ113へ移行する一方、判定が肯定された場合にはステップ130へ移行する。ここで、閾値T2 ́は、真空度が基準値以上の状態において投入が開始されてから閃絡が開始するまでの時間であり、例えば、予め試験で求めた値、あるいは、前回の試験で得られメモリ34に記憶されている値である。ステップ113では、MPU32が、ステップ109において計測した時間T3と時間T2との差T3-T2を算出して、算出した値T3-T2が、メモリ34に記憶されている閾値T3-T2 ́以上であるか否かを判定する。判定が否定された場合にはステップ114へ移行する一方、判定が肯定された場合にはステップ130へ移行する。ここで、閾値T3-T2 ́は、時間T3の基準値と時間T2の基準値との差であり、例えば、予め試験で求めた値、あるいは、前回の試験で得られメモリ34に記憶されている値である。ステップ114では、MPU32が、ステップ109において計測した時間T2、T3をメモリ34に記憶する。次に、ステップ115では、MPU32が、表示器42に真空度が正常である旨の表示を表示させる。以上で試験装置10による試験動作が終了する。一方、ステップ130では、MPU32が、ステップ109において計測した時間T2、T3をメモリ34に記憶する。次に、ステップ131では、MPU32が、表示器42に真空度が異常である旨の表示を表示させる。以上で試験装置10による試験動作が終了する。図3は、真空度が正常、即ち基準値以上に維持されている場合における、投入開始からの時間と、真空遮断器100の開極距離と、真空遮断器100の極間の電圧との関係を示すタイミングチャートである。また、図4は、真空度が異常、即ち基準値未満に低下している場合における、投入開始からの時間と、真空遮断器100の開極距離と、真空遮断器100の極間の電圧との関係を示すタイミングチャートである。さらに、図5は、真空遮断器100の投入開始開極状態から投入完了閉極状態までの変化と時間T1,T2,T3との関係を模式的に示す図である。図3のタイミングチャートに示すように、真空度が正常に維持されている場合には、投入開始から閃絡するまでの時間T2が、投入開始から投入完了までの時間T3と近似する。一方、図4のタイミングチャートに示すように、真空度が異常に低下している場合には、投入開始から閃絡するまでの時間T2が、真空度が正常に維持されている場合と比して大幅に短くなる。ここで、真空度が基準値以上に維持されている場合と維持されていない場合とでは、開極間の絶縁性が相違する。このため、真空度が基準値以上に維持されている場合には、開極距離がゼロになる直前まで閃絡が発生しないのに対し、真空度が基準値未満まで低下している場合には、開極距離がより長い時点で閃絡が発生する。これにより、真空遮断器100の真空度が低下するにつれて投入開始から閃絡までの時間T2が短くなる。そこで、本実施形態に係る試験装置10では、真空遮断器100の真空度が基準値未満まで低下しているか否かを、投入開始から閃絡するまでの時間T2に基づいて判定する。詳細には、予め、真空遮断器100の真空度が正常に維持されている場合における投入開始から閃絡するまでの時間の下限値である閾値T2 ́を、試験等により取得してメモリ34に記憶しておき、計測した時間T2が閾値T2 ́以下である場合には、真空遮断器100の真空度が基準値未満に低下していると判定する。ここで、真空遮断器の真空度と閃絡電圧との関係について説明する。図6は、真空遮断器の圧力真空度と閃絡電圧との関係を示すグラフである。該グラフでは、圧力の値を横軸にとっており、圧力が増加、即ち、真空度が低下するにつれて横軸にとった値が増加する。また、該グラフでは、閃絡電圧を縦軸にとっており、閃絡電圧が増加するにつれて縦軸にとった値が増加する。また、該グラフでは、特別高圧例えば、72kV、開極距離が50mmの真空遮断器の結果以下、実施例1というを実線で示し、高圧例えば、7.2kV、開極距離が7mmの真空遮断器の結果以下、実施例2というを破線で示している。また、該グラフでは、特別高圧の真空遮断器の開極距離を2mmに縮めて行った実験の結果以下、実施例3というを鎖線で示している。該グラフに示すように、真空遮断器の真空度が一定値以上の場合には、実施例1~3の何れの場合でも、閃絡電圧が所定の耐電圧値例えば、22kV以上の一定値となる。一方、真空遮断器の真空度が上記一定値から低下するにつれて、実施例1~3の何れの場合でも、閃絡電圧が所定の耐電圧値を大幅に下回る値まで一旦低下する。そして、真空遮断器の真空度がさらに低下するにつれて、実施例1~3の何れの場合でも、一旦低下した閃絡電圧が上昇する。ここで、実施例2、3の場合には、圧力が大気圧まで上昇した状態で、閃絡電圧が耐電圧値を超えることはないグラフ中のBの範囲参照。一方、実施例1の場合、圧力が大気圧まで上昇した状態では、開極距離が長いことにより絶縁状態が形成されることから、閃絡電圧が耐電圧値を上回るグラフ中のAの範囲参照。また、真空が破壊され真空容器112に周囲からガスが進入することにより真空度が低下した場合には、絶縁耐力が向上することから、閃絡電圧がより一層上昇するグラフ中の太線参照。これらの理由により、実施例1の場合に閃絡電圧のみに基づいて真空遮断器の真空度を判定しようとすると、真空遮断器の真空度の低下を検出できないということが起こり得る。従って、閃絡電圧のみに基づく真空遮断器の真空度の判定を、耐電圧値を上げることなく、真空遮断器の真空度の誤判定を防ぎつつ行うためには、実施例3のように、真空遮断器の開極距離を縮めて行うことを要する。このためには、真空遮断器の真空度の試験の準備工程として、専用の治具を用いて真空遮断器の開極距離を縮めるという工程が必要となり、作業工数、作業時間が増加する。次に、耐電圧に対する圧力真空度と開極距離との関係について説明する。図7は、これらの関係を示すグラフである。該グラフでは、圧力の値を横軸にとっており、圧力が増加、即ち、真空度が低下するにつれて横軸にとった値が増加する。また、該グラフでは、開極距離を縦軸にとっており、開極距離が増加するにつれて縦軸にとった値が増加する。また、該グラフでは、耐電圧値の高さが異なる3つの実施例の結果を示している。3つの実施例のうちで耐電圧値が高いものから順に、実線、破線、鎖線で示している。該グラフに示すように、真空遮断器の真空度が一定値以上の場合には、何れの実施例の場合でも、耐電圧に対する開極距離が一定値となる。一方、真空遮断器の真空度が上記一定値から低下するにつれて、何れの実施例の場合でも、耐電圧に対する開極距離が一旦拡がる。そして、真空遮断器の真空度がさらに低下するにつれて、何れの実施例の場合でも、一旦拡がった開極距離が縮む。ここで、該グラフからわかるように、開極距離が拡がるほど、耐電圧値が高くなる。このため、開極距離が大きい真空遮断器の真空度の判定を、開極距離を縮めることなく閃絡電圧のみに基づいて行う場合には、高電圧を発生させることができる大規模で高価な試験装置が必要となる。これに対して、本実施形態に係る試験装置10では、投入開始から閃絡するまでの時間T2に基づいて、真空遮断器100の真空度を判定することが可能である。これによって、特別高圧の真空遮断器100用の高電圧を発生させる試験装置を用いることなく、また、真空遮断器100の開極距離を縮める作業をすることなく、真空遮断器100の真空度の判定を行うことができる。従って、本実施形態に係る試験装置10によれば、真空遮断器100の真空度を試験する装置のコストを低減でき、かつ、真空遮断器100の真空度試験の作業時間及び工数を低減できる。また、本実施形態に係る試験装置10では、さらに、真空遮断器100の真空度が基準値未満まで低下しているか否かを、投入開始から投入完了までの時間T3と投入開始から閃絡するまでの時間T2との差に基づいて判定する。詳細には、予め、真空遮断器100の真空度が正常に維持されている場合における投入開始から閃絡するまでの時間T2 ́と、投入開始から投入完了までの時間の基準値T3 ́との差T3 ́-T2 ́を試験等により取得してメモリ34に記憶しておき、計測値T2、T3に基づいて算出した値T3-T2が閾値T3 ́-T2 ́以上である場合には、真空遮断器100の真空度が基準値未満まで低下していると判定する。ここで、真空遮断器100の投入開始から投入完了までの時間T3は、周囲温度や制御電源電圧等の環境条件の影響を受けて長短の変化をする。一方、真空遮断器100の真空度が正常である場合には、時間T3と時間T2とは近似する。このため、真空遮断器100の真空度が正常である場合には、時間T3の長さに関わらず、時間T3と時間T2との差は一定値以下となるべきである。そこで、本実施形態に係る試験装置10では、投入開始から閃絡するまでの時間T2のみならず、投入開始から投入完了までの時間と投入開始から閃絡までの時間との差T3-T2にも基づいて、真空遮断器100の真空度が基準値未満まで低下している否かを判定している。これにより、真空遮断器100の真空度の試験の信頼性を向上できる。また、本実施形態に係る試験装置10では、MPU32が、投入開始から投入完了までの時間T3が、試験開始前に計測した時間T3-1と近似しない場合には、時間計測を失敗したと判定して真空遮断器100の真空度の判定を中止する。これにより、真空遮断器100の真空度の誤判定を抑制できる。以上、本発明を実施するための形態について説明したが、上記実施の形態は本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明はその趣旨を逸脱することなく変更、改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含まれる。例えば、上記実施の形態では、時間T2に基づく真空遮断器100の真空度の判定と、時間差T3-T2に基づく真空遮断器100の真空度の判定との両方を実施したが、何れか一方のみを実施するだけでもよい。"