"一つの半導体チップ上に形成された二次元センサからなる少なくとも一対の測距センサと、前記半導体チップ上に形成された二次元センサからなる測光センサと、前記少なくとも一対の測距センサに対応させてそれぞれ設けられかつ各測距センサにそれぞれ被写体像を結像させる一対の測距レンズと、前記測光センサに前記被写体像を結像させる測光レンズと、前記測光センサに結像された前記被写体像に基づき被写体の明るさを測光する測光手段と、前記少なくとも一対の測距センサと前記測光センサとのそれぞれの露光状態を設定する露光状態設定手段と、前記測距センサにより測距を行う測距手段とを有し、前記露光状態設定手段は、前記測光手段の測光結果に応じて前記少なくとも一対の測距センサの露光状態を変更することを特徴とする測光測距装置。前記測光センサが前記半導体チップに複数個設けられ、該複数個の測光センサにそれぞれ対応させて前記測光レンズが複数個設けられ、該複数個の測光レンズは互いに画角が異なっていることを特徴とする請求項1に記載の測光測距装置。前記測距手段は、前記少なくとも一対の測距センサを複数個のエリアに分割しかつ前記少なくとも一対の測距センサの互いに対応するエリア毎に視差ずれを比較して被写体までの距離を演算することを特徴とする請求項1に記載の測光測距装置。前記測光手段は、前記被写体の照明環境がフリッカが生じている照明環境条件下であるか否かを判断するフリッカ検知手段を有し、該フリッカ検知手段が前記フリッカが生じている照明環境条件であると判断した場合に、前記露光状態設定手段が前記少なくとも一対の測距センサの露光量を変更することを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の測光測距装置。前記フリッカ検知手段がフリッカが生じている照明環境条件下であると判断した場合に、前記露光状態設定手段は露光時間を100分の1秒に固定してセットすることを特徴とする請求項4に記載の測光測距装置。前記測光手段が前記被写体の照明環境条件が第1所定値以下の輝度であると判断した場合、前記露光状態設定手段は前記測距センサのフレームレートを下げることを特徴とする請求項5に記載の測光測距装置。前記露光状態設定手段は、前記フリッカ検知手段が前記フリッカが生じていない照明環境条件下であると判断した場合で、かつ、前記被写体の照明環境条件が前記第1所定値以下の輝度であると前記測光手段が判断した場合には前記フレームレートを下げ、前記被写体の照明環境条件が前記第1所定値よりも高い第2所定値以上の輝度であると前記測光手段が判断した場合には前記フレームレートを上げることを特徴とする請求項6に記載の測光測距装置。一つの半導体チップ上に形成された二次元センサからなる少なくとも一対の測距センサと、前記半導体チップ上に形成された二次元センサからなる測光センサと、前記少なくとも一対の測距センサに対応させてそれぞれ設けられかつ各測距センサにそれぞれ被写体像を結像させる少なくとも一対の測距レンズと、前記測光センサに前記被写体像を結像させる測光レンズとを備えた測光測距装置を用いて測光測距を行う測光測距方法であって、前記測光センサに結像された前記被写体像に基づき被写体の明るさを測光する測光処理ステップと、前記測光処理ステップの測光結果に応じて前記少なくとも一対の測距センサのそれぞれの露光状態を変更する露光状態設定処理ステップと、前記露光状態設定処理ステップに基づき設定された露光量に基づき測距センサにより測距を実行する測距処理ステップと、を有することを特徴とする測光測距方法。前記測光センサが前記半導体チップに複数個設けられ、該複数個の測光センサにそれぞれ対応させて前記測光レンズが複数個設けられ、該複数個の測光レンズは互いに画角が異なっていることを特徴とする請求項8に記載の測光測距方法。前記測距処理ステップにおいて、前記少なくとも一対の測距センサを複数個のエリアに分割しかつ前記少なくとも一対の測距センサの互いに対応するエリア毎に視差ずれを比較して前記被写体までの距離を演算することを特徴とする請求項8に記載の測光測距方法。前記測光処理ステップは、前記被写体の照明環境がフリッカが生じている照明環境条件下であるか否かを判断するフリッカ検知処理ステップを有し、該フリッカ検知処理ステップにおいて前記フリッカが生じる照明環境条件であると判断された場合に、前記露光状態設定処理ステップにおいて前記測距センサの露光量が変更されることを特徴とする請求項8ないし請求項10のいずれか1項に記載の測光測距方法。前記フリッカ検知処理ステップにおいてフリッカが生じている照明環境条件下であると判断された場合に、前記露光状態設定処理ステップにおいて、露光時間が100分の1秒に固定してセットされることを特徴とする請求項11に記載の測光測距方法。前記測光処理ステップにおいて前記被写体の照明環境条件が第1所定値以下の輝度であると判断された場合、前記露光状態設定処理ステップにおいて前記測距センサのフレームレートを下げることを特徴とする請求項12に記載の測光測距方法。前記フリッカ検知処理ステップにおいて前記フリッカが生じていない照明環境条件下であると判断された場合で、かつ、前記被写体の照明環境条件が前記第1所定値以下の輝度であると前記測光処理ステップにおいて判断された場合には、前記露光状態設定処理ステップにおいて前記フレームレートを下げ、前記被写体の照明環境条件が前記第1所定値よりも高い第2所定値以上の輝度であると前記測光処理ステップにおいて判断された場合には前記露光状態設定処理ステップにおいて前記フレームレートを上げることを特徴とする請求項13に記載の測光測距方法。請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載の測光測距装置を有する撮像機器。しかしながら、特許文献1、特許文献2に開示の技術は、いずれもラインセンサを用いて測距を行う構成であるため、視野の中心部だけしか測距を行うことができず、撮像画面全体にわたっての広範囲な測距を行うことはできないものである。この広範囲な測距を実現するためには、二次元センサを用いることが必要となるが、この二次元センサを用いる場合、撮像画面全体にわたって広範囲に測距するためには、従来の一次元ラインセンサを用いての測距精度以上の測距精度が要求される。というのは、二次元ライセンサの場合、その物理的特性上、被写体の照明環境がどのような状態にあるかによって、測距結果が異なることになるからである。特に、測距精度は、照明光源による影響を受け、被写体の照明環境が蛍光灯を光源とする照明環境のもとでは、その影響が大きい。下記の表1は、世界各国において用いられている商用電源の周波数の相違を示している。商用電源の周波数は、大別して、50Hz,60Hzとに分類される。二次元センサを使用した場合、その露光タイミングは、例えば、30フレームパーセント30fpsのように一定のフレームレートで露光されており、その露光タイミングによっては連続的に明暗が繰り返される。一般的に、この現象はフリッカ現象と呼ばれている。フリッカが生じる照明環境下で、一対の二次元センサを用いて測距を行う場合、露光タイミングよっては一対の二次元センサの一方に形成される被写体像が暗くなったり、明るくなったりして露光むらが生じ、一対の二次元センサに形成された各被写体像の輝度がアンバランスとなる可能性がある。たとえ、一対の二次元センサを互いに同期させて測距を行ったとしても、若干の露光タイミングのズレが発生するのが現状である。また、光源が暗くなった場合、電荷蓄積量、すなわち、露光量を増加させる必要があるが、二次元センサのように各ラインとの同期、転送が必要な撮像素子の場合、一定のフレームレート分の露光しかできない場合があり、被写体に対応した露光量、フレームレートを可変にする技術が必要とされる。本発明は、上記の事情に鑑みて為されたもので、二次元センサからなる少なくとも一対の測距センサと二次元センサからなる少なくとも1個以上の測光センサとを有し、この二次元センサからなる測光センサを用いてフリッカが生じている被写体照明環境条件にあるか否かを検知させ、その検知結果に基づいて、測距センサのフレームレート、シャッタースピード等の露光条件を変更することにより、露光ムラの発生を防止し、正確に測距できる測光測距装置、測光測距方法及び測光測距装置を有する撮像機器を提供することにある。また、フリッカが生じていない被写体照明環境条件下では、フレームレートを上げることによって測距速度を向上させ、また、フリッカが生じていない被写体照明環境でも、低輝度照明環境の場合には、フレームレートを下げることによって、測距精度を向上させることにより、多様な照明環境条件下で測距可能な測光測距装置、測光測距方法及び測光測距装置を有する撮像機器を提供することにある。請求項1に記載の測光測距装置は、一つの半導体チップ上に形成された二次元センサからなる少なくとも一対の測距センサと、前記半導体チップ上に形成された二次元センサからなる測光センサと、前記少なくとも一対の測距センサに対応させてそれぞれ設けられかつ各測距センサにそれぞれ被写体像を結像させる一対の測距レンズと、前記測光センサに前記被写体像を結像させる測光レンズと、前記測光センサに結像された前記被写体像に基づき被写体の明るさを測光する測光手段と、前記少なくとも一対の測距センサと前記測光センサとのそれぞれの露光状態を設定する露光状態設定手段と、前記測距センサにより測距を行う測距手段とを有し、前記露光状態設定手段は、前記測光手段の測光結果に応じて前記少なくとも一対の測距センサの露光状態を変更することを特徴とする。請求項2に記載の測光測距装置は、前記測光センサが前記半導体チップに複数個設けられ、該複数個の測光センサにそれぞれ対応させて前記測光レンズが複数個設けられ、該複数個の測光レンズは互いに画角が異なっていることを特徴とする。請求項3に記載の測光測距装置は、前記測距手段は、前記少なくとも一対の測距センサを複数個のエリアに分割しかつ前記少なくとも一対の測距センサの互いに対応するエリア毎に視差ずれを比較して被写体までの距離を演算することを特徴とする。請求項4に記載の測光測距装置は、前記測光手段は、前記被写体の照明環境がフリッカが生じている照明環境条件下であるか否かを判断するフリッカ検知手段を有し、該フリッカ検知手段が前記フリッカが生じている照明環境条件であると判断した場合に、前記露光状態設定手段が前記少なくとも一対の測距センサの露光量を変更することを特徴とする。請求項5に記載の測光測距装置は、前記フリッカ検知手段がフリッカが生じている照明環境条件下であると判断した場合に、前記露光状態設定手段は露光時間を100分の1秒に固定してセットすることを特徴とする。請求項6に記載の測光測距装置は、前記測光手段が前記被写体の照明環境条件が第1所定値以下の輝度であると判断した場合、前記露光状態設定手段は前記測距センサのフレームレートを下げることを特徴とする。請求項7に記載の測光測距装置は、前記露光状態設定手段は、前記フリッカ検知手段が前記フリッカが生じていない照明環境条件下であると判断した場合で、かつ、前記被写体の照明環境条件が前記第1所定値以下の輝度であると前記測光手段が判断した場合には前記フレームレートを下げ、前記被写体の照明環境条件が前記第1所定値よりも高い第2所定値以上の輝度であると前記測光手段が判断した場合には前記フレームレートを上げることを特徴とする。請求項8に記載の測光測距方法は、一つの半導体チップ上に形成された二次元センサからなる少なくとも一対の測距センサと、前記半導体チップ上に形成された二次元センサからなる測光センサと、前記少なくとも一対の測距センサに対応させてそれぞれ設けられかつ各測距センサにそれぞれ被写体像を結像させる少なくとも一対の測距レンズと、前記測光センサに前記被写体像を結像させる測光レンズとを備えた測光測距装置を用いて測光測距を行う測光測距方法であって、前記測光センサに結像された前記被写体像に基づき被写体の明るさを測光する測光処理ステップと、前記測光処理ステップの測光結果に応じて前記少なくとも一対の測距センサのそれぞれの露光状態を変更する露光状態設定処理ステップと、前記露光状態設定処理ステップに基づき設定された露光量に基づき測距センサにより測距を実行する測距処理ステップとを有することを特徴とする。請求項9に記載の測光測距方法は、前記測光センサが前記半導体チップに複数個設けられ、該複数個の測光センサにそれぞれ対応させて前記測光レンズが複数個設けられ、該複数個の測光レンズは互いに画角が異なっていることを特徴とする。請求項10に記載の測光測距方法は、前記測距処理ステップにおいて、前記少なくとも一対の測距センサを複数個のエリアに分割しかつ前記少なくとも一対の測距センサの互いに対応するエリア毎に視差ずれを比較して前記被写体までの距離を演算することを特徴とする。請求項11に記載の測光測距方法は、前記測光処理ステップは、前記被写体の照明環境がフリッカが生じている照明環境条件下であるか否かを判断するフリッカ検知処理ステップを有し、該フリッカ検知処理ステップにおいて前記フリッカが生じる照明環境条件であると判断された場合に、前記露光状態設定処理ステップにおいて前記測距センサの露光量が変更されることを特徴とする。請求項12に記載の測光測距方法は、前記フリッカ検知処理ステップにおいてフリッカが生じている照明環境条件下であると判断された場合に、前記露光状態設定処理ステップにおいて、露光時間が100分の1秒に固定してセットされることを特徴とする。請求項13に記載の測光測距方法は、前記測光処理ステップにおいて前記被写体の照明環境条件が第1所定値以下の輝度であると判断された場合、前記露光状態設定処理ステップにおいて前記測距センサのフレームレートを下げることを特徴とする。請求項14に記載の測光測距方法は、前記フリッカ検知処理ステップにおいて前記フリッカが生じていない照明環境条件下であると判断された場合で、かつ、前記被写体の照明環境条件が前記第1所定値以下の輝度であると前記測光処理ステップにおいて判断された場合には、前記露光状態設定処理ステップにおいて前記フレームレートを下げ、前記被写体の照明環境条件が前記第1所定値よりも高い第2所定値以上の輝度であると前記測光処理ステップにおいて判断された場合には前記露光状態設定処理ステップにおいて前記フレームレートを上げることを特徴とする。請求項15に記載の撮像機器は、請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載の測光測距装置を有することを特徴とする。本発明に係る測光測距装置、測光測距方法及び測光測距装置を有する撮像機器によれば、被写体照明環境条件に柔軟に対応して、測距を行うことができるという効果を奏する。特に、請求項2、請求項9に記載の発明によれば、ワイドからテレまでの撮影画角に対応させて測光することが可能となるので、測距精度の向上を図ることができる。また、請求項3、請求項10に記載の発明によれば、測距センサを複数個の領域に分割して測距するので、測距精度のより一層の向上を図ることができる。請求項4ないし請求項7、請求項11ないし請求項14に記載の発明によれば、測光センサ、測距センサの各露光状態フレームレート、シャッタースピードを各々設定できるので、フリッカが生じている照明環境条件においても正確に測距が可能であり、また、明時には測距センサのフレームレートを上げることによって、測距速度の高速化を図ることができ、暗時にはフレームレートを下げることによって測距精度の向上を図ることができる。以下、図面を参照しながら、本発明を実施するための形態を説明する。図1aは本発明の共通実施例の測光測距装置の光学系の断面構成図を示している。その図1において、11はレンズアレイ部材、12は回路基板、13は撮像素子である。レンズアレイ部材11には、複数個のレンズ、ここでは、測距レンズ11a、11b、測光レンズ11cが一体に形成されている。測距レンズ11a、11bの光軸O2、O3、測光レンズ11cの光軸O1は互いに平行とされ、その光軸の延びる方向をZ方向、このZ軸に直交する平面をXY座標面として、ここでは、測距レンズ11a、11bはY方向に間隔を開けて測光レンズ11cの光軸O1を基準として対称位置に配設されている。視差Δの生じる方向はY方向である。測距レンズ11a、11bは、同一形状、同一の焦点距離を有する。光軸O1と光軸O2の間隔が基線長Dである。測光レンズ11cは測距レンズ11a、11bとは異なる形状とされている。撮像素子13は二次元センサとしてのCMOS、CCD等からなり、ウェハ上に半導体プロセスにより多数の受光素子画素を形成して構成される。この実施例ではCCDを用いて説明する。撮像素子13上には、測距レンズ11aを用いて被写体像が結像される少なくとも一対の測距センサとして機能する撮像領域13aと、測距レンズ11bを用いて被写体像が結像される少なくとも一対の測距センサとして機能する撮像領域13bと、測光レンズ11cを用いて被写体の明るさを検知するための光束が導かれる測光センサとして機能する撮像領域13cとが形成されている。なお、この実施例では、撮像領域13a、13bは一対とされているが、二対以上であっても良く、また、撮像領域13cもこの実施例では1個であるが、撮像領域13a、13bが二対以上の場合には、各一対の撮像領域13a、13bにそれぞれ対応させて撮像領域13cを少なくとも1個ずつ設けても良い。また、測光センサとしての撮像領域13cを半導体チップ上に複数個設ける構成とした場合には、この複数個の撮像領域13cにそれぞれ対応させて測光レンズを複数個設け、この複数個の測光レンズの画角を互いに異なる構成とすることもできる。このように構成すれば、ワイドからテレまでの撮影画角に対応させて測光することが可能となるので、測距精度の向上を図ることができる。この実施例では、撮像領域13a、13b、13cは、図1bに示すように、同じ大きさの矩形とされている。これらの各撮像領域13a、13b、13cの対角中心Q1、Q2、Q3と、各レンズ11a、11b、11cの各光軸O2、O3、O1はほぼ一致する位置関係となるように、各撮像領域13a、13b、13cは、レンズ11a、11b、11cの離間距離に対応して、Y方向に間隔を開けて配置されている。ここでは、撮像領域13cは撮像領域13a、13bの間に配設され、これにより、基線長Dが大きく確保可能とされている。この光学系は、後述する構造の回路基板12と共に測光測距モジュールとしてモジュール化されているが、撮像領域13a、13b、13cがそれぞれ離間されているので、モジュール化した場合であっても、互いに隣接する撮像領域13a、13cについては撮像領域13cに対応するレンズ11cによる像形成光束が撮像領域13aに入射しかつ撮像領域13aに対応するレンズ11aによる像形成光束が撮像領域13cに入射すること、互いに隣接する撮像領域13b、13cについては撮像領域13cに対応するレンズ11cによる像形成光束が撮像領域13bに入射しかつ撮像領域13bに対応するレンズ11bによる像形成光束が撮像領域13cに入射することを、遮光壁を各撮像領域13a、13b、13cの間に設けることなく防止できる。回路基板12には、デジタル信号プロセッサDSPを含む回路が配設されている。撮像素子13はこの回路基板12の上面に配置されている。図2はその回路基板12に配設された回路ブロック図を示している。撮像素子13の出力はプロセッサ105によって処理される。プロセッサ105は、CCD信号処理ブロック1051、CPUブロック1052、メモリコントローラブロック1053、外部I/Fブロック1054を有している。これらの各ブロック1051-1054は相互にバスラインで接続されている。プロセッサ105の外部には、YUV画像データを保存するSDRAM106、制御プログラムが格納されたROM107が配置され、SDRAM106、ROM107はプロセッサ105にバスラインによって接続されている。撮像領域13aは、図2に示す測距センサとしてのCCD1011に対応し、撮像領域13bは測距センサとしてのCCD1012に対応し、撮像領域13cは測光センサとしてのCCD1013に対応し、回路基板12にはこれらの各センサに対応して、それぞれ各回路F/E-ICが設けられている。CCD1011-1013に結像された被写体像は光電変換されて、画像信号として各回路F/E-ICにそれぞれ入力される。CCD1012からの画像信号は回路F/E-IC102に入力され、CCD1013からの画像信号は回路F/E-IC103に入力され、CCD1011からの画像信号は回路F/E-IC104に入力される。回路F/E-IC102-104は周知の構成であり、回路F/E-IC102-104はCDS1021、1031、1041、ADC1022、1032、1042、A/D変換部1023、1033、1043を有し、回路F/E-IC102-104はそれぞれアナログ形式の画像信号をデジタル信号に変換して、プロセッサ105のCCD信号処理ブロック1051に出力する。これらの信号処理は、プロセッサ105の信号処理ブロック1051から出力されるVD/HD/CLK信号により、タイミングジェネレータTG1024、1034、1035を介して実行される。ROM107に格納された制御プログラムは、CCD信号処理ブロック1051がこれらの制御を測距センサとしてのCCD1011、CCD1012、測光センサとしてのCCD1013のそれぞれに対して実行することができるようにプログラムされている。CCD1011-1013の画像信号の取り込みタイミングは、垂直同期信号VDに同期して制御されるが、その取り込みタイミング以後、フレームレートというは、この実施例では、120fps、60fps、30fpsとのうちからいずれかを選択できるものとされている。図3はフレームレートと露光量Qとの関係を示すタイミングチャートであり、垂直同期信号VDの間隔と、電子シャッタパルスとを設定することにより、各フレームレートと露光量Qを制御することができる。次に、本発明の実施例に係る測光測距装置、測光測距方法について説明する。最初に測距の基本原理を説明する。図4、図5はステレオ式の測距装置の測距の基本原理の説明図であり、ここでは、受像素子としてのラインセンサを用いて測距原理を説明するが、二次元センサに適用した場合にもこの基本原理は同じである。その図4において、1は被写体、2は測距装置、符号A’は被写体1から測距装置2までの距離より厳密には、被写体1から後述する測距用レンズの主点までの距離である。測距装置2は、第1測距光学系3と第2測距光学系4とからなる。第1測距光学系3は、測距レンズ3Aと測距受像素子3Bとから概略なり、第2測距光学系4は、測距レンズ4Aと測距受像素子4Bとからなる。その第1測距光学系3と第2測距光学系4とは、固定台ステージ5に固定して配設される。その測距受像素子3B、4Bは図5に示すように、所定ピッチ間隔で配置された多数の画素からなる。その第1測距光学系3の光軸O2とその第2測距光学系4の光軸O3とは互いに平行とされ、光軸O2と光軸O3との距離を基線長といい、この図4においては、この基線長が符号Dで示されている。ここで、被写体1をこの測距装置2を用いて測距する場合、すなわち、被写体1を第1測距光学系3、第2測距光学系4を用いて撮像する場合を考える。被写体1からの像形成光束P1は、第1測距光学系3の測距レンズ3Aを通して、測距受像素子3Bの受像画素3Cに結像する。被写体1からの像形成光束P2は、第2測距光学系4の測距レンズ4Aを通して、測距受像素子4Bの受像画素4Cに結像する。その受像画素3C、4Cに結像された画像は光電変換されて、次段の測距手段としての測距演算回路図示を略すに入力される。被写体1の同一点1Aは、視差が存在するために、測距受像素子3Bにおける受像画素3Cと測距受像素子4Bにおける受像画素4Cとの受像位置が異なる。その視差は光軸O2、O3を含む平面内で両光軸O2、O3に対する垂直方向のずれとして生じる。ここで、両測距レンズ3A、4Aの焦点距離をfとし、距離A’が測距レンズ3A、4Aの焦点距離fよりも非常に大きく、数学的に、A’≫fの関係があるときには下記の数1の関係式が成り立つ。数1A’=D×f/Δ基線長D、及び両測距レンズ3A、4Aの焦点距離fは既知であるので、上記数1の関係式から、視差Δを求めれば、被写体1から測距装置2までの距離A’を算出できる。視差Δは、図5a、図5bに示すように、受像画素3C、4Cの位置を演算により求めることによって得られる。その図5a、図5bにおいて、○印はそれぞれ、その受像画素3C、4Cの位置に結像された被写体1の同一点の画像を示している。なお、測距受像素子4Bにおける破線のまる印は、測距受像素子3Bに形成された被写体の画像を仮想的に示している。視差Δは、測距受像素子3Bの画素の中心Oから受像画素3Cまでの横方向のずれ量ΔY1と、測距受像素子4Bの画素の中心Oから受像画素4Cまでの横方向のずれ量ΔY2との和として求められる。このように、2つの画像の視差Δから距離A’を算出する方式が三角測量方式である。この実施例に係る測光測距装置は、二次元センサからなる測距センサを用いている。三角測量の原理を二次元に展開することにより、視差を検出している。ここでは、測距用二次元センサを複数個のエリアに分割して、各エリア毎の視差を検出して全エリアの視差の平均値により視差のずれ量を求めている。図6には、測距センサとしてのCCD1012、CCD1011撮像領域13a、13bを5×3の正方形のエリアに分割した例が示されている。視差のずれ量は、測距手段により、例えば、以下に説明するようにして求められる。図6に示す測距センサとしてのCCD1012のエリアa1に対応する測距センサとしてのCCD1011のエリアA1とを図7に示すように水平方向としてのY方向に相対的に数画素ずつずらしながら、その画素の輝度の差分を求め、その差分が最も小さい位置をそのエリアa1A1の視差とする。他のエリアa2~a15、A2~A15についても同様にして視差を求め、各視差の総和を分割個数で除すことにより、視差の平均値を求める。この視差の平均と上記数式1とから測距手段により被写体までの距離が求められる。測光は、視野全体に対応する測光センサとしてのCCD1013を複数個の正方形の分割エリアに分割して、各分割エリア内の輝度を測定することにより行う。図8は測光センサとしてのCCD1013を16×16の正方形に分割した例が示されている。その測光センサとしてのCCD1013の分割エリアには、符号Y1から符号Y256が付されている。このCCD1013からの画像出力は回路F/E-IC103を介してCCD信号処理ブロック1051に入力され、いったんSDRAM106に格納される。そして、SDRAM106に格納されたYUV信号から分割エリア内の輝度値Yを求め、この分割エリア内の輝度値Yを加算し、対象画素数で乗算することによって、評価値を求める。その評価値から得られた輝度分布により適正露光量を算出し、被写体の明るさを検知する。その結果、明るすぎる場合又は暗すぎる場合に、露光状態設定手段によりタイミングジェネレータTGを制御し、これにより、電子シャッタパルスを変化させ、露光量を変更する。次に本発明に係る測光測距装置の実施例の詳細について説明する。<実施例1>この実施例1では、測光センサとしてのCCD1013、測距センサとしてのCCD1012、CCD1011のフレームレートは60fpsであり、このフレームレートは固定であるとする。ROM107には、以下に説明する動作を実行させるための制御プログラムが格納されている。図9はこの実施例1の測光測距処理のフローチャートを示している。プロセッサ105は、回路F/E-IC103と協働して測光手段として機能すると共に、測光センサと少なくとも一対の測距センサとの露光状態を設定する露光状態設定手段として機能するもので、図9に示すように、測光処理ステップS.1を実行後、この測光処理ステップS.1の測光結果に基づき露光条件を設定して、測距処理ステップS.2を実行する。図10はその測光処理ステップの処理内容を示すフローチャート図である。プロセッサ105は、フレーム毎の露光のタイミングを決定するため、垂直同期信号VD待ちを行うS.11。プロセッサ105は、垂直同期信号VDが発生すると、測光VDカウント値に1を加算するS.12。この実施例1の測光測距装置は、回路F/EIC102と回路F/EIC102とは独自に別々に設けられているので、垂直同期信号VDが別々の時刻に発生する。このため、垂直同期信号VDの発生タイミングは測光センサとしてのCCD1013と測距センサとしてのCCD1012、1011とで異なっている。そこで、この実施例1では、測光センサとしてのCCD1013のみの垂直同期信号VDに基づいて、測光VDカウント値をカウントする。測光VDカウント値をカウントする理由は、フリッカ現象が生じているか否かを判断するためには、垂直同期信号VDの発生に基づき連続して得られる少なくとも3つの輝度値Yが必要だからである。その詳細については、後述する。その露光により得られた画像信号はCCD信号処理ブロック1051に入力され、CCD信号処理ブロック1051によりYUV変換される。プロセッサ105は、このYUV変換された画像信号に基づいて既述の評価値を演算するS.13。プロセッサ105は、その評価値から被写体の輝度値Yを求め、輝度値Yが適正露光に対応する値になるように、測光センサとしてのCCD1013の露光量シャッタースピード又は露光時間を設定するS.14。ついで、プロセッサ105は、フリッカ現象が生じている照明環境下に被写体があるか否かを検出するフリッカ検知処理S.15を実行する。フリッカ検知処理の内容を説明するために、フリッカ現象が生じている照明環境条件下において、得られる輝度値Y輝度レベルと垂直同期信号VDとの関係を説明する。図12は蛍光灯の発光周期と垂直同期信号VDとの関係を示す模式図である。その図12aにおいて、三角形TAは60Hzで発光している蛍光灯の発光状態を模式的に示し、符号TApはその最大発光ピークを示している。その図12bにおいて、三角形TA’は50Hzで発光している蛍光灯の発光状態を模式的に示し、符号TAp’はその最大発光ピークを示している。蛍光灯は、周知のように、その電源周波数の2倍の発光周期を有しており、電源周波数が60Hzの場合、点灯と消灯とを1秒間に120回繰り返しており、電源周波数が50Hzの場合、点灯と消灯とを1秒間に100回繰り返している。なお、その図12では、垂直同期信号VDの発生タイミングと蛍光灯の消灯タイミングとが一致して示されているが、測光開始のタイミングによって、垂直同期信号VDの発生タイミングに対して蛍光灯の消灯タイミングは時間的にずれているのが一般的である。フリッカが生じている被写体照明環境下では、測光によって得られた輝度値輝度レベルYは高い場合と低い場合とが交互に繰り返され、測光開始のタイミングと、蛍光灯の発光周期と、フレームレートと、測光時間との関係によって、輝度値Yが高い場合と低い場合とが交互に表れるパターンには、下記の表2に示す3つがある。その表2は、現在の輝度値Yを基準にして、前回の輝度値Yと前々回の輝度値Yとの変化パターンを示している。パターン1は、前々回の輝度値Yと前回の輝度値Yと現在の輝度値Yとが、小、小、大のパターンである。パターン2は、前々回の輝度値Yと前回の輝度値Yと現在の輝度値Yとが小、大、小のパターンである。パターン3は、前々回の輝度値Yと前回の輝度値Yと現在の輝度値Yとが大、小、小のパターンである。図13は、測光センサとしてのCCD1013によって得られた画像信号の輝度値Yの輝度レベルと輝度値Yの取得回数との関係を示し、横軸は輝度値Yの取得回数、縦軸は輝度値輝度レベルYの大きさを示している。その図13には、取得回数1から6までに得られた各画像信号の輝度レベルがドットで示されている。現在の取得回数が3であるとすると、現在の輝度値Yは小であり、前回得られた輝度値Yは大であり、前々回得られた輝度値は小であり、前々回、前回、現在の輝度値は、小、大、小のパターン2となる。現在の取得回数が4であるとすると、現在の輝度値Yは小であり、前回の輝度値Yは小、前々回の輝度値Yは大となり、前々回、前回、現在の輝度値は、大、小、小のパターン3となる。現在の取得回数が5であるとすると、現在の輝度値Yは大であり、前回の輝度値Yは小、前々回の輝度値Yは小となり、前々回、前回、現在の輝度値は、小、小、大のパターン1となる。現在の取得回数が6であるとすると、現在の輝度値Yは小であり、前回の輝度値Yは大、前々回の輝度値Yは小となり、前々回、前回、現在の輝度値は、小、大、小のパターン2となる。このように、測光によって得られる輝度値Yの変化パターンには、三種類あり、少なくとも3つの輝度値を用いてパターンを判定する必要があるので、測光中に、垂直同期信号VDの発生個数をカウントする。なお、ここでは、所定値は輝度レベルを例えば256のグレイスケールで表現した場合に30とし、30を超えた場合に、輝度値Yに変化があったと判定する。プロセッサ105は、フリッカ検知処理では、まず、図11に示すように、測光センサCCD1013の垂直同期信号VDの測光VDカウント値が3以上であるか否かを判定するS.21。測光VDカウント値が3未満のときには、変化パターンの判定ができないので、強制的にフリッカカウントを0に設定するS.27。ここで、フリッカカウント0は、フリッカが発生していないことを意味する。測光VDカウント値が3以上のときには、YESと判断して、S.22に移行して、前回輝度値Yと現在輝度値Yとの差分の絶対値を演算により求め、その絶対値が所定値よりも大きいか否かを判定する。S.22において、NOのときには、S.23に移行して、前々回の輝度値Yと前回輝度値Yとの差分の絶対値を演算により求め、その絶対値が所定値よりも大きいか否かを判定する。S.23において、NOのときには、S.27に移行して、フリッカカウント値を0にセットする。S.23において、YESのときには、S.28に移行して、フリッカカウント値に1を加算する。1は、所定値以上の明暗の変化が1回生じたことを意味する。そのS.22、S.23の判定処理は、パターン3のフリッカの判定に対応している。S22において、YESのときには、S.24に移行して、前回の輝度値Yと現在の輝度値Yとの差を演算し、その差分が0以下であるか否かを判断する。S.24において、NOのときには、S.25に移行して、前々回の輝度値Yと前回の輝度値Yとの差を演算し、その絶対値が所定値以上か否かを判断する。S.25において、NOのときには、S.27に移行して、フリッカカウント値を0にセットする。S.25において、YESのときには、S.28に移行して、フリッカカウント値に1を加算する。そのS.24、S.25の判定処理は、パターン2のフリッカの判定に対応している。S24において、YESのときには、S.26に移行して、前々回の輝度値Yと前回の輝度値Yとの差を演算し、その絶対値が所定値以上か否かを判断する。S.26において、NOのときには、S.27に移行して、フリッカカウント値を0にセットする。S.26において、YESのときには、S.28に移行して、フリッカカウント値に1を加算する。そのS.24、S.26の判定処理は、パターン1のフリッカの判定に対応している。次に、プロセッサ105は、S.29に移行して、連続してフリッカが生じているか否かを判断し、フリッカの発生個数が2以上のときには、フリッカ発生処理を実行しS.30、フリッカの発生個数が2未満のときには、フリッカ非発生処理を実行するS.31。ついで、プロセッサ105は、フリッカ検知処理を抜け出し、図10に示すフリッカの有無判断処理ステップS.16に移行する。そのS.16において、フリッカがある場合には、プロセッサ105は測距センサCCD1012、1011の露光時間シャッタスピードを100分の1秒に固定してセットするS.17。蛍光灯の電源周波数が50Hzであっても60Hzであっても、露光時間露光量を100分の1秒に固定してセットすると、蛍光灯のフリッカの影響を受けないことが知られているからである。図12cは蛍光灯の電源周波数が50Hzの場合で露光時間露光量を100分の1秒に固定してセットした状態を示している。この実施例1では、測光センサとしてのCCD1013のフレームレートは60fpsであるので、そもそも蛍光灯の電源周波数が60Hzの場合にはフリッカは発生しないが、蛍光灯の電源周波数が50Hzの場合でも露光時間の100分の1秒が蛍光灯の発光周期と同じであるため、フリッカは発生しない。従って、原理的に、露光時間を100分の1秒、すなわち、電源周波数が50Hzの場合の蛍光灯の発光周期と同周期で測光することによって、いずれの電源周波数帯の地域においても、蛍光灯によるフリッカ、又は、蛍光灯に類する光源体によるフリッカの発生が生じないようにすることができる。よって、プロセッサ105は、露光状態設定手段として機能する場合、測光手段の測光結果に応じて測距センサCCD1012、1011の露光状態を変更する。ついで、プロセッサ105は、S.18に移行し、タイミングジェネレータ設定処理を実行し、図10の測光処理を終了し、図9の測距処理S.2に移行する。測距処理ステップS.2では、プロセッサ105は、回路F/E-IC102、104と協働して測距手段として機能し、測光処理ステップS.1により設定された露光時間に基づき、測距センサとしてのCCD1012、1011を用いて測距を行う。図14はその測距処理のフローチャートであり、プロセッサ105は、同期信号VDの発生待ちを各測距センサとしてのCCD1012、1011に対して実行しS.31、これにより、プロセッサ105は、各測距センサとしてのCCD1012、1011から露光により得られた1フレーム分の画像信号を取得する。次に、CCD信号処理ブロック1051は、露光により得られた各画像信号をYUV変換し、プロセッサ105はこのYUV変換された画像信号に基づいて視差演算処理を実行するS32。プロセッサ105はその視差演算処理により得られた結果に基づき、数1を用いて距離演算を行うS.33。この距離演算を図6に示す各エリアa1、A1~a15、A15に対して実行し、被写体までの距離を算出する。この一連の処理を測光測距装置が起動されている間、行うことによって、常時、被写体の照明環境を判断し、被写体までの距離を得ることができる。このように、測光時フリッカを検知することにより、測距時の露光ムラを解消できるため、測距時の視差演算の精度を向上させることができる。<実施例2>次に、本発明の実施例2に係る測光測距装置について説明する。この実施例2の測光センサとしてのCCD1013、測距センサとしてのCCD1012、1011のフレームレートは、初期状態が60fpsであるとする。ROM107に格納されている制御プログラムは、以下の動作が実行可能なものとする。測光測距装置は、実施例1と同様に、まず、測光センサとしてのCCD1013を用いて、図9に示す測光処理S.1を実行し、この測光により得られた露光時間に基づいて、測距センサとしてのCCD1012、1011によって測距処理S.2を実行する。測距処理S.2については、実施例1と全く同一であるので、その詳細な説明は省略する。以下に、実施例2の測光処理について、図15に示すフローチャートを参照しつつ説明する。まず、露光タイミングを合わせるため、垂直同期信号VD待ちを行うS.41。次に、測光VDカウント値に1を加算するS.42。この実施例の測光測距装置についていえば、測光と測距とでそれぞれ独自のF/E開始/終わりを有しているので、それぞれ垂直同期信号VDが発生する。従って、垂直同期信号VDの発生タイミングフレームレート等が異なっている。このため、ここでは、実施例1と同様に、測光センサとしてのCCD1013の垂直同期信号VDに基づいてカウントしている。次に、その露光により得られた画像信号がCCD信号処理ブロック1051に入力されてYUV変換され、プロセッサ105はこのYUV変換された画像信号に基づいて、測光演算処理としての評価値を演算するS.43。次に、その評価値から被写体の輝度値Yを確認し、適正露光になるような露光量シャッタースピードを設定するS.44。次に、被写体照明環境がフリッカが生じている環境にあるか否かを確認するフリッカ検知処理S.45を実行する。このフリッカ検知処理は、実施例1と同様であり、図11を用いて既述したので、その詳細な説明は省略する。プロセッサ105は、フリッカ検知処理S.45の実行後、S.46において、フリッカの有無を判断する。プロセッサ105は、フリッカがあると判断した場合、測距センサとしてのCCD1012、1011のフレームレートが120fpsであるか否かを判断するS.47。測距センサとしてのCCD1012、1011のフレームレートが120fpsであった場合、露光時間が最長で120分の1秒であるため、フリッカの発生を防止できない。そこで、プロセッサ105は、測距センサとしてのCCD1012、1011のフレームレートを120fpsから60fpsに変更するS.48。プロセッサ105は、S.47において、フレームレートが120fpsでない場合、S.49に移行して、輝度値Yが第1所定値ここでは、Ev5よりも大きいか否かを判断する。S.49において、輝度値Yが第1所定値よりも大きい場合、プロセッサ105は測距センサとしてのCCD1012、1011のフレームレートを60fpに設定しS.48、S.49において、輝度値Yが第1所定値よりも小さいと判断された場合、測距センサとしてのCCD1012、1011のフレームレートを30fpsに設定するS.50。次に、プロセッサ105は、露光時間を既述したように100分の1秒に設定するS.55。その理由は既述したので、省略する。S.46において、フリッカが生じていないと判断された場合、S.52に移行して、輝度値Yが第1所定値よりも大きい第2所定値ここでは、Ev10よりも大きいか否かを判断する。S.52において、輝度値Yが第2所定値ここでは、Ev10よりも大きいと判断された場合、測距センサとしてのCCD1012、1011のフレームレートを120fpsに設定するS.53。これによって、明るい屋外のような被写体照明環境下において、高速フレームレートを用いて露光できることになり、測距の高速化を図ることができる。次に、S.52において、輝度値Yが第2所定値ここでは、Ev10以下であると判断された場合、S.54に移行して、輝度値Yが第1所定値ここでは、Ev5よりも小さいか否かを判断する。S.54において、輝度値Yが第1所定値ここでは、Ev5よりも小さい場合、測距センサとしてのCCD1012、1011のフレームレートを30fpsに設定するS.55。これによって、被写体照明環境条件が低輝度の時でも、正確な測距が可能となる。S.51、S.53、S.55の処理の実行後、プロセッサ105は、タイミングジェネレータ設定処理TG設定処理を実行するS.56。なお、S.54において、輝度値Yが第1所定値ここでは、Ev5以上の場合には、プロセッサ105は、S.56に直接移行して、タイミングジェネレータ設定処理TG設定処理を実行する。このようにフリッカが生じている照明環境条件下では、測距センサとしてのCCD1012、1011のフレームレートを60fpsに設定し、かつ、露光時間を100分の1秒に設定することによりフリッカの発生を防止し、その一方、フリッカが生じていない照明環境条件のもとでは、明るい照明環境条件のときにより一層早いフレームレートに設定して測距速度を向上させ、暗い照明環境条件のときに遅いフレームレートに設定して測距精度を向上させることができる。図15に示す測光処理の終了後、図15に示す測光処理によって設定された露光時間、フレームレートfpsに基づき、図9に示す測距処理S.2を実行する。この測距処理ステップの処理内容は、実施例1と同様であるので、その詳細な説明は省略する。このように、この実施例によれば、測光センサとしてのCCD1013を用いてフリッカを検知し、このフリッカの有無に応じて測距センサとしてのCCD1012、1011のフレームレート、露光時間を変更し、これによって、測距時の露光ムラの防止、測距の高速化、測距精度の向上を図ることができる。<実施例3>図16は本発明の実施例1、実施例2に係る測光測距装置が適用される撮像機器の一例としてのデジタルカメラを示す正面図である。図17は図16に示すデジタルカメラのシステム構成の概要を示すブロック図である。デジタルカメラの外観構成図16において、符号200はこの実施例1、実施例2に係る測光測距装置が適用される撮像機器としてのデジタルカメラを示している。このデジタルカメラ200は正面側から見て略中央に撮影レンズ部201を有し、その正面側から見て上部左側に操作部214図17参照としてのレリーズボタン202、撮影モード切換ボタン203が設けられている。本発明に係る測光測距装置は撮影レンズ部201の上方部分に設けられている。この測光測距装置を符号204を用いて示す。デジタルカメラ200のシステム構成撮影レンズ部200は撮影レンズ群205、フォーカスレンズ群206、シャッター機能を有する絞りユニット207、固体撮像素子としてのCCDイメージセンサ208から概略構成されている。CCDイメージセンサ208には撮影レンズ群205、フォーカスレンズ群206を通じて入射される被写体像が受光面上に結像される。CCDイメージセンサ208の各画素からの撮像信号電気信号は、図2に示す回路FE-ICと同様のFE-IC回路により同様の処理を受けて、後段の信号処理部209に入力される。信号処理部209は画像表示や記録が可能な画像データに撮像信号を変換する。この信号処理部209は制御部210によって制御される。この制御部210には、操作部214からの操作情報が入力され、図2に示すROM107と同様のROMに記憶された制御プログラムに基づき、操作部214からの操作情報に応じてデジタルカメラ200の全体のシステム制御を行う。制御部210は、例えば、操作部214からの操作情報に基づき、撮影レンズ系2のフォーカスレンズ群206を駆動するフォーカスレンズ駆動部213、絞りユニット207を駆動する絞りユニット駆動部215を駆動制御する。測光測距装置204は、図2、図17に示すように、制御部210に接続されている。レリーズボタン202が半押しされると、制御部210の制御情報に基づいて測光測距が開始され、その測光測距情報が外部IFブロック1054を介して制御部210に出力される。この測光測距情報に基づいて、デジタルカメラ200の被写体の露出条件、合焦距離が設定されて、撮影が実行される。信号処理部209は液晶モニタLCD211とメモリカード212とに接続され、液晶モニタLCD211は信号処理部209により生成された画像を表示する。メモリカード212はデジタルカメラ200に着脱可能とされ、このメモリカード212には信号処理部209により生成された画像データが記録される。なお、この実施例3では、信号処理部209と制御部210とからなる回路を図2に示すプロセッサ105、SDRAM106、ROM107からなる回路とは別体の構成としたが、信号処理部209と制御部210とからなる回路を図2に示すプロセッサ105、SDRAM106、ROM107とからなる回路と一体的に構成することもできる。"