予め準備された校正データをアナログ校正信号に変換し、このアナログ校正信号に応じて駆動信号を生成するデータ駆動部と、第1及び第2電源の供給を受ける電源端の間に連結された有機発光ダイオードを含み、予め設定されたプログラミング区間では前記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電すると共に劣化検出のために前記駆動信号を検出し、予め設定されたホールディング区間では前記プログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードに電流が流れるようにする画素部と、前記プログラミング区間で、前記画素部の有機発光ダイオードの劣化情報を有する前記駆動信号を劣化電圧として検出するADCとを含むアクティブ有機発光ディスプレイ。前記画素部は、前記第1電源の供給を受ける電源端と有機発光ダイオードの間に直列に連結された第1及び第2MOSトランジスタと、前記第1及び第2MOSトランジスタ間の第1接続ノードと前記データ駆動部の間に連結された第3MOSトランジスタと、前記第2MOSトランジスタのゲートと前記第1接続ノードの間に連結された充電キャパシタと、前記第2MOSトランジスタのドレインに連結されたドレインと前記第2MOSトランジスタのゲートに連結されたソースを有する第4MOSトランジスタとをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のアクティブ有機発光ディスプレイ。前記画素部は、前記プログラミング区間では、前記第2、第3及び第4MOSトランジスタがターンオンされ、前記第1MOSトランジスタがターンオフされ、前記ホールディング区間では、前記第1及び第2MOSトランジスタがターンオンされ、前記第3及び第4MOSトランジスタがターンオフされるようになされることを特徴とする請求項2に記載のアクティブ有機発光ディスプレイ。前記画素部は、前記プログラミング区間では、前記データ駆動部の駆動信号が第2及び第3MOSトランジスタを経て前記有機発光ダイオードに流れ、前記充電キャパシタに校正データに相応する値を保存し、前記ホールディング区間では、前記充電キャパシタに保存された値に応じて電流が前記第1電源端から第1及び第2MOSトランジスタを経て前記有機発光ダイオードに流れるようになされることを特徴とする請求項2または3に記載のアクティブ有機発光ディスプレイ。前記ADCは、前記プログラミング区間で、前記データ駆動部の駆動信号が入力される前記画素部の入力ノードから前記有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出するようになされることを特徴とする請求項1から4の何れか1項に記載のアクティブ有機発光ディスプレイ。前記ADCからのデジタル劣化電圧を利用して劣化補償のための劣化補償信号を生成する補償部と、前記劣化補償信号を利用して入力データを劣化が補償された校正データに変換し、前記データ駆動部に提供する変換部とをさらに含むことを特徴とする請求項1から5の何れか1項に記載のアクティブ有機発光ディスプレイ。本発明の目的は上述した従来技術の問題点を解決するためのものであり、本発明は、プログラミング区間で劣化検知を行うことにより、より迅速な劣化検知が可能となり、これによって劣化補償も迅速に行うことができるアクティブ有機発光ディスプレイを提供することにある。上述した本発明の課題を解決するための本発明の第1技術的な側面は、予め準備された校正データをアナログ校正信号に変換し、このアナログ校正信号に応じて駆動信号を生成するデータ駆動部と、第1及び第2電源の供給を受ける電源端の間に連結された有機発光ダイオードを含み、予め設定されたプログラミング区間では上記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電すると共に劣化検出のために上記駆動信号を検出し、予め設定されたホールディング区間では予め設定されたプログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードに電流が流れるようにする画素部と、上記プログラミング区間で、上記画素部の有機発光ダイオードの劣化情報を有する上記駆動信号を劣化電圧として検出するADCAnalog-DigitalConverterとを含むアクティブ有機発光ディスプレイを提案することにある。また、本発明の第1技術的な側面において、上記画素部は、上記第1電源の供給を受ける電源端と有機発光ダイオードの間に直列に連結された第1及び第2MOSトランジスタと、上記第1及び第2MOSトランジスタ間の第1接続ノードと上記データ駆動部の間に連結された第3MOSトランジスタと、上記第2MOSトランジスタのゲートと上記第1接続ノードの間に連結された充電キャパシタと、上記第2MOSトランジスタのドレインに連結されたドレインと上記第2MOSトランジスタのゲートに連結されたソースを有する第4MOSトランジスタとをさらに含むことを特徴とする。上記画素部は、上記プログラミング区間では、上記第2、第3及び第4MOSトランジスタがターンオンされ、上記第1MOSトランジスタがターンオフされ、上記ホールディング区間では、上記第1及び第2MOSトランジスタがターンオンされ、上記第3及び第4MOSトランジスタがターンオフされるようになされることを特徴とする。上記画素部は、上記プログラミング区間では、上記データ駆動部の駆動信号が第2及び第3MOSトランジスタを経て上記有機発光ダイオードに流れ、上記充電キャパシタに校正データに相応する値を保存し、上記ホールディング区間では、上記充電キャパシタに保存された値に応じて電流が上記第1電源端から第1及び第2MOSトランジスタを経て上記有機発光ダイオードに流れるようになされることを特徴とする。上記ADCは、上記プログラミング区間で、上記データ駆動部の駆動信号が入力される上記画素部の入力ノードから上記有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出するようになされることを特徴とする。また、本発明の第1技術的な側面によるアクティブ有機発光ディスプレイは、上記ADCからのデジタル劣化電圧を利用して劣化補償のための劣化補償信号を生成する補償部と、上記劣化補償信号を利用して入力データを劣化が補償された校正データに変換し、上記データ駆動部に提供する変換部とをさらに含むことを特徴とする。また、本発明の第2技術的な側面は、予め準備された校正データをアナログ校正信号に変換し、このアナログ校正信号に応じて駆動信号を生成するデータ駆動部と、第1及び第2電源の供給を受ける電源端の間に連結された有機発光ダイオードを含み、予め設定されたプログラミング区間では上記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電すると共に劣化検出のために上記駆動信号を検出し、上記ホールディング区間では予め設定されたプログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードに電流が流れるようにする画素部と、上記ホールディング区間で、上記画素部の有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出し、デジタル劣化電圧に変換するADCと、上記ADCからのデジタル劣化電圧を利用して劣化補償のための劣化補償信号を生成する補償部と、上記劣化補償信号を利用して入力データを劣化が補償された校正データに変換し、上記データ駆動部に提供する変換部とを含むアクティブ有機発光ディスプレイを提供することにある。本発明の第2技術的な側面において、上記画素部は、上記第1電源の供給を受ける電源端と有機発光ダイオードの間に直列に連結された第1及び第2MOSトランジスタと、上記第1及び第2MOSトランジスタ間の第1接続ノードと上記データ駆動部の間に連結された第3MOSトランジスタと、上記第2MOSトランジスタのゲートと上記第1接続ノードの間に連結された充電キャパシタと、上記第2MOSトランジスタのドレインに連結されたドレインと上記第2MOSトランジスタのゲートに連結されたソースを有する第4MOSトランジスタとをさらに含むことを特徴とする。上記画素部は、上記プログラミング区間では、上記第2、第3及び第4MOSトランジスタがターンオンされ、上記第1MOSトランジスタがターンオフされ、上記ホールディング区間では、上記第1及び第2MOSトランジスタがターンオンされ、上記第3及び第4MOSトランジスタがターンオフされるようになされることを特徴とする。上記画素部は、上記プログラミング区間では、上記データ駆動部の駆動信号が第2及び第3MOSトランジスタを経て上記有機発光ダイオードに流れ、上記充電キャパシタに校正データに相応する値を保存し、上記ホールディング区間では、上記充電キャパシタに保存された値に応じて電流が上記第1電源端から第1及び第2MOSトランジスタを経て上記有機発光ダイオードに流れるようになされることを特徴とする。上記ADCは、上記プログラミング区間で、上記データ駆動部の駆動信号が入力される上記画素部の入力ノードから上記有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出し、デジタル劣化電圧に変換するようになされることを特徴とする。本発明によると、プログラミング区間で劣化検知を行うことにより、より迅速な劣化検知が可能となり、これによって劣化補償も迅速に行うことができる効果がある。以下、本発明の実施例を添付した図面を参照して説明する。本発明は以下に説明する実施例に限定されず、本発明の実施例は本発明の技術的思想に対する理解を容易にするために用いられる。本発明に参照された図面において、実質的に同一の構成と機能を有した構成要素は、同一の符号を用いる。図1は本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイのブロック図である。図1を参照すると、本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイは、予め準備された校正データをアナログ校正信号Scorに変換し、このアナログ校正信号Scorに応じて駆動信号を生成するデータ駆動部120を含むことができる。また、本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイは、第1電源ELVDD及び第2電源ELVSSの供給を受ける電源端の間に連結された有機発光ダイオードOLEDを有し、上記プログラミング区間P1では上記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電すると共に劣化検出のために上記駆動信号を検出し、上記ホールディング区間P2では予め設定されたプログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードOLEDに電流が流れるようにする画素部150を含むことができる。本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイは、上記プログラミング区間P1で、上記画素部150の有機発光ダイオードOLEDの劣化情報を有する駆動信号に該当される劣化電圧Vdを検出し、デジタル劣化電圧に変換するADCAnalog-DigitalConverter160を含むことができる。上記画素部150は、上記第1電源ELVDDの供給を受ける電源端と有機発光ダイオードOLEDの間に直列に連結された第1及び第2MOSトランジスタPM1、PM2と、上記第1及び第2MOSトランジスタ間の第1接続ノードNC1と上記データ駆動部120の間に連結された第3MOSトランジスタPM3と、上記第2MOSトランジスタPM2のゲートと上記第1接続ノードNC1の間に連結された充電キャパシタCchaと、上記第2MOSトランジスタPM2のドレインに連結されたドレインと上記第2MOSトランジスタPM2のゲートに連結されたソースを有する第4MOSトランジスタPM4とをさらに含むことができる。上記画素部150は、上記プログラミング区間P1では、上記第2、第3及び第4MOSトランジスタPM2、PM3、PM4がターンオンされ、上記第1MOSトランジスタPM1がターンオフされ、上記ホールディング区間P2では、上記第1及び第2MOSトランジスタPM1、PM2がターンオンされ、上記第3及び第4MOSトランジスタPM3、PM4がターンオフされるようになされることができる。また、上記画素部150は、上記プログラミング区間P1では、上記駆動信号が第2及び第3MOSトランジスタPM2、PM3を経て上記有機発光ダイオードOLEDに流れ、上記充電キャパシタCchaに校正データに相応する値を保存するようになされることができる。そして、上記画素部150は、上記ホールディング区間P2では、上記充電キャパシタCchaに保存された値に応じて電流が上記第1電源端から第1及び第2MOSトランジスタPM1、PM2を経て上記有機発光ダイオードOLEDを経て、第2電源端に流れるようになされることができる。上記ADC160は、上記プログラミング区間P1で、上記データ駆動部120の駆動信号が入力される上記画素部150の入力ノードNinから上記有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出するようになされることができる。有機発光ダイオードの劣化に応じて、有機発光ダイオードのインピーダンスは変化する。また、有機発光ダイオードのインピーダンスの変化に応じて、画素部150の入力ノードNinにおける電圧は変化する。したがって、有機発光ダイオードの劣化に応じて、画素部150の入力ノードNinにおける電圧が変化する。つまり、画素部150の入力ノードNinの電圧駆動信号Vdは、画素部160の有機発光ダイオードの劣化情報を含んでいる。したがって、ADC160で検出される電圧は画素部160の有機発光ダイオードの劣化情報を含んでおり、劣化電圧であると理解できる。また、本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイは、上記ADC160からのデジタル劣化電圧VDdを利用して劣化補償のための劣化補償信号Sconを生成する補償部170と、上記劣化補償信号Sconを利用して入力データDinを劣化が補償された校正データに変換し、上記データ駆動部120に提供する変換部110とをさらに含むことができる。図2は本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイの動作フローチャートである。図2において、S100はプログラミング区間P1を開始する段階を示し、S200は劣化検知動作を行う段階を示し、S300はプログラミング区間P1を終了し、ホールディング区間P2を開始する段階を示す。そして、S400はホールディング区間P2で上記劣化検知に基づいて劣化補償を行う段階を示す。図3は本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイのタイムチャートである。図3において、P1はプログラミング区間を意味し、P2はホールディング区間を意味して、Sscanは上記画素部150の第3MOSトランジスタPM3のゲートに印加されるゲート信号であり、は第1MOSトランジスタのゲートに供給される上記Sscanの反転信号である。そして、VDdは上記ADC160から出力されるデジタル劣化電圧である。図4は本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイに対するプログラミング区間での動作説明図であり、図5は本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイに対するホールディング区間での動作説明図である。図4でPHiは、本発明のアクティブ有機発光ディスプレイにおいて、プログラミング区間P1での電流経路を意味し、PHdetは劣化検出経路を意味する。図5でPHiは、本発明のアクティブ有機発光ディスプレイにおいて、ホールディング区間P2での電流経路を意味する。以下、本発明の作用及び効果を添付した図面に基づいて説明する。図1から図5を参照して本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイに対して説明するにあたり、予め設定されたプログラミング区間P1とホールディング区間P2とに区分して説明する。まず、本発明のアクティブ有機発光ディスプレイのプログラミング区間P1での動作を説明する。図1及び図2を参照すると、本発明のデータ駆動部120は、プログラミング区間に該当する動作を開始し、予め準備された校正データをアナログ校正信号Scorに変換し、このアナログ校正信号Scorに応じて駆動信号を生成して画素部150に供給する図2のS100。この際、画素部150で、上記プログラミング区間P1では上記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電することができる。即ち、上記画素部150で、上記プログラミング区間P1では、上記第2、第3及び第4MOSトランジスタPM2、PM3、PM4がターンオンされ、上記第1MOSトランジスタPM1がターンオフされる。これにより、上記画素部150は図4に図示されたように、上記プログラミング区間P1では、上記駆動信号が第2及び第3MOSトランジスタPM2、PM3を経て上記有機発光ダイオードOLEDに流れ、結局、上記充電キャパシタCchaに校正データに相応する値を保存することができる。これと同時に、図2及び図3に図示したように本発明のADC160は、上記プログラミング区間P1で、上記データ駆動部120の駆動信号が入力される上記画素部150の入力ノードNinから上記有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出することができる。次いで、本発明の補償部170は、上記ADC160からのデジタル劣化電圧VDdを利用して劣化補償のための劣化補償信号Sconを生成し、変換部110に提供することができる。この際、上記変換部110は、上記劣化補償信号Sconを利用して入力データDinを劣化が補償された校正データに変換し、上記データ駆動部120に提供する。これにより、上述したように、上記データ駆動部120は、上記校正データをアナログ校正信号Scorに変換し、このアナログ校正信号Scorに応じて駆動信号を生成することができる。一方、本発明の変換部110は、入力データDinを劣化が補償された校正データに変換し、上記データ駆動部120に提供することができる。以下、本発明のアクティブ有機発光ディスプレイのホールディング区間P2での動作を説明する。図1を参照すると、まず、本発明の画素部150で、上記ホールディング区間P2では予め設定されたプログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードOLEDに電流が流れるようにする。即ち、上記画素部150で、上記ホールディング区間P2では、上記第1及び第2MOSトランジスタPM1、PM2がターンオンされ、上記第3及び第4MOSトランジスタPM3、PM4がターンオフされる。これにより、上記画素部150は、上記ホールディング区間P2では、上記充電キャパシタCchaに保存された値に応じて電流が上記第1電源端から第1及び第2MOSトランジスタPM1、PM2を経て上記有機発光ダイオードOLEDに流れるようになる。上述のような本発明によると、出力に対するトランジスタの移動度と閾値電圧の劣化などの影響を受けずに、エージングAgingと温度、工程上の劣化を補償することができる。また、補償電流駆動方式を利用して、OLEDを駆動する電流に対するトランジスタの移動度と閾値電圧の劣化の影響を除去することができ、さらに、OLEDの劣化程度を検知する区間を別途設けなくてもプログラミング区間で劣化検知がなされるため、画面をディスプレイしながら劣化を補償することができる。