"試験片が設置される一つ以上の通気路を有し、周囲環境中の腐食性を前記試験片の腐食状態から測定する腐食環境モニタ装置であって、一つの前記通気路内に、前記測定に係わる領域が同一の金属材料を用いて形成される前記試験片を設置し、前記通気路が複数の場合、前記通気路を並列に配置したことを特徴とする腐食環境モニタ装置。試験片が設置される一つ以上の通気路を有し、周囲環境中の腐食性を前記試験片の腐食状態から測定する腐食環境モニタ装置であって、前記各試験片は、前記測定に係わる領域が同一の金属材料を用いて形成され、前記各通気路内に設置される前記試験片の測定に係わる領域の長手方向が、前記通気路内を流れる前記周囲環境中の腐食性物質の流れ方向に対して平行または沿う方向となるように配置したことを特徴とする腐食環境モニタ装置。請求の範囲第1項または第2項に記載の腐食環境モニタ装置において、前記通気路内の前記試験片の測定に係わる領域に前記周囲環境中の腐食性物質を供給するための供給手段を有したことを特徴とする腐食環境モニタ装置。請求の範囲第3項に記載の腐食環境モニタ装置において、前記供給手段は、ファンであり、前記通気路における前記試験片の前記腐食性物質の流れの下流に設けられることを特徴とする腐食環境モニタ装置。請求の範囲第1項または第2項または第4項に記載の腐食環境モニタ装置において、前記金属材料は、銅または銀であることを特徴とする腐食環境モニタ装置。請求の範囲第1項または第2項または第4項に記載の腐食環境モニタ装置において、前記試験片の測定に係わる領域における前記腐食性物質の流れ方向に沿った2か所以上で腐食度合いを測定し、その腐食度合いの分布から前記周囲環境での腐食性を求めることを特徴とする腐食環境モニタ装置。請求の範囲第1項または第2項または第4項に記載の腐食環境モニタ装置において、一つの前記通気路内の前記試験片は、複数であり、前記試験片の測定に係わる領域を、他の前記試験片の測定に係わる領域に対して、対向または隣接させて配置したことを特徴とする腐食環境モニタ装置。請求の範囲第1項または第2項または第4項に記載の腐食環境モニタ装置において、前記試験片の測定に係わる領域の前記周囲環境に晒される暴露面を鉛直方向に沿って配置したことを特徴とする腐食環境モニタ装置。試験片が設置される一つ以上の通気路を有し、周囲環境中の腐食性を前記試験片の腐食状態から測定する腐食環境モニタ方法であって、単数または複数並列に設けた前記各通気路内に、前記測定に係わる領域が同一の金属材料を用いて形成される前記試験片を配置してモニタを行うことを特徴とする腐食環境モニタ方法。試験片が設置される一つ以上の通気路を有し、周囲環境中の腐食性を前記試験片の腐食状態から測定する腐食環境モニタ方法であって、前記各通気路内に、前記測定に係わる領域が同一の金属材料を用いて形成される前記試験片を、前記測定に係わる領域の長手方向が前記通気路内を流れる前記周囲環境中の腐食性物質の流れ方向に対して平行または沿う方向となるように配置してモニタを行うことを特徴とする腐食環境モニタ方法。請求の範囲第9項または第10項に記載の腐食環境モニタ方法において、前記通気路内に配置した前記試験片の測定に係わる領域に、前記周囲環境中の腐食性物質を強制的に供給することを特徴とする腐食環境モニタ方法。請求の範囲第11項に記載の腐食環境モニタ方法において、前記周囲環境中の腐食性物質を前記試験片の当該腐食性物質の流れの下流から吸い込んで、当該試験片の測定に係わる領域に供給することを特徴とする腐食環境モニタ方法。請求の範囲第9項または第10項または第12項に記載の腐食環境モニタ方法において、前記金属材料は、銅または銀であることを特徴とする腐食環境モニタ方法。請求の範囲第9項または第10項または第12項に記載の腐食環境モニタ方法において、前記試験片の測定に係わる領域における前記腐食性物質の流れ方向に沿った2か所以上で腐食度合いを測定し、その腐食度合いの分布から前記周囲環境での腐食性を求めることを特徴とする腐食環境モニタ方法。請求の範囲第9項または第10項または第12項に記載の腐食環境モニタ方法において、一つの前記通気路内の前記試験片は、複数であり、前記試験片の測定に係わる領域を、他の前記試験片の測定に係わる領域に対して、対向または隣接させて配置してモニタを行うことを特徴とする腐食環境モニタ方法。請求の範囲第9項または第10項または第12項に記載の腐食環境モニタ方法において、前記試験片の測定に係わる領域の前記周囲環境に晒される暴露面を鉛直方向に沿って配置してモニタを行うことを特徴とする腐食環境モニタ方法。ところで、電気電子装置では、制御対象の機器を安定に稼動させる目的のため、長期にわたる信頼性が要求されている。また、制御の高速化や占有容積の省スペース化のために高密度実装構造が採用され、微細配線構造や薄膜めっき構造からなる電気電子部品が数多く電気電子装置に実装されている。これらの電気電子部品では、わずかな腐食損傷が電気特性または磁気特性を変動させて故障や誤動作の原因となるため、その腐食損傷を抑制することが電気電子装置の信頼性を保つための課題に挙げられている。そこで、環境の腐食性の程度に応じた防食対策を、電気電子装置の設計および保守に反映させるため、電気電子装置の設置環境の腐食性を簡便かつ短期間で精度良く評価することが求められている。従来の特許文献1の技術では、測定対象の設置環境に所定の期間暴露した金属試験片の腐食度合いからの腐食性を評価するにあたり、腐食度合いを過小評価するという問題がある。従来の特許文献1では、図11A、図11Bに示すように、一つの容器の保護ケース112内に複数の試験片111を取付けて所定の期間測定対象の大気環境中に試験片111を暴露することで、試験片111の腐食状態を検査して各種の腐食性ガスの影響を一度に評価する。測定対象の大気環境の腐食評価に用いられる試験片111の金属材料としては、銅、銀、アルミニウム、鉄、亜鉛などがIEC規格、ISO規格、ISA規格に示されている。銅、銀、アルミニウム、鉄、亜鉛は、影響度合いは異なるがSO2,NO2,H2Sのいずれかの腐食性ガスで腐食することが知られている。従来の環境モニタ装置100では、保護ケース112の開口部112kから測定対象の外気に含まれる腐食性ガス106が、短冊状の試験片111に向けて流れまたは拡散して送給される。ここで、それぞれの試験片111は、腐食性ガス106が流れる方向または拡散方向に直列に並べて取付けてあるため、開口部112kに近接した上流側の試験片111で腐食性ガス106が消費される。そのため、開口部112kから離隔した下流側の試験片111に到達する腐食性ガス106の濃度は周囲雰囲気の腐食性ガス106の濃度に比べて低下する。つまり、各々の試験片111に注目すると、同じ試験片111上でも、試験片111の上流側端部では腐食度合いが大きく、下流側では腐食度合いが小さくなる。保護ケース112における試験片111の表面の場所により、腐食性ガス106によって生成されている腐食生成物の厚さは数10異なることが推定される。そのため、容器の保護ケース112内の試験片111の並べ方により、その腐食度合いがばらつくことが推測される。以下、試験片111が腐食性ガス106の流れに直列に並べられた場合の影響を定性的に調べた結果を述べる。試験片111に用いられる銅、銀、アルミニウム、鉄、鉄ニッケル合金のうち、銀を例示して述べる。3mm間隔で5枚配置した各々の銀の試験片111図11Bの紙面左右方向の長さ5mmの腐食性物質の厚さを、試験片111の上流側端部での腐食生成物の厚さでもって腐食生成物の厚さを規格化した結果を説明する。図12に後記の式の移流拡散方程式による従来の環境モニタ装置での解析結果の一例、すなわち試験片の上流側端部での腐食生成物の厚さでもって腐食生成物の厚さを規格化した結果を示す。図12の横軸は、試験片111の最上流側端部からの距離s1である。試験片111の測定面からの通気路112rの高さH=10mm、Vdの堆積速度=0.01mm/sとする。後記の式を用いて図12の関係が求められ、銀の各試験片111の腐食生成物の平均厚さは、下流側端部での腐食生成物の厚さは、上流側端部での厚さの約60に減少している。すなわち、試験片111の上流側端部の腐食生成物の厚さが厚く、下流側に向かうに従い腐食生成物の厚さが薄くなる傾向が認められる。そのため、従来の環境モニタ装置100では、通気路112rの下流にいくに従って、測定対象の周囲環境中の腐食性物質を過小評価していることになる。図13に、従来の環境モニタ装置で試験片を一定期間測定対象の周囲環境中に暴露した場合の試験片の腐食度合いの測定例を示す。図13の上図は、通気路112rに直列に並べた試験片111a~111eを上方視した状態を示し、図13の下図は、各試験片111a~111eの腐食生成物の厚さを示している。図13の下図の横軸は、試験片111aの上流側端部からの距離s1であり、図13の下図の縦軸は、各試験片111a~111eの腐食生成物の厚さである。試験片111が、保護ケース112の開口部112kから離隔するに従って、腐食生成物の厚さが薄くなることが明らかである。上述した如く、腐食生成物の厚さとして下流側の比較的薄い領域を分析した場合、すなわち開口部112kから離隔して試験片111を設置した場合、例えば図11A、図11Bの試験片111eの場合、試験片111の腐食度合いが低下し、試験片111の腐食生成物の厚さを本来の環境腐食性より過小評価するという第1の問題がある。さらに、従来技術では一つの試験片111に注目した場合、試験片111の両端部の腐食度合いが大きく、中央部に向かうに従い腐食度合いが小さくなる傾向が認められる。そのため、腐食度合いを中央部近傍の比較的小さい領域を分析した場合、試験片の腐食度合いを過小評価するという第2の問題がある。加えて、試験片111の腐食度合いは、重量法、蛍光X線による腐食性ガス元素の定量分析法、定電流電解による膜厚測定法により測定されるが、これらの評価では、試験片111の全体の平均値、または中心部近傍の比較的腐食度合いの小さい個所での値であるため、試験片111の腐食度合いを過小評価するという第3の問題がある。本発明は上記実状に鑑み、周囲環境の腐食性を簡便かつ短期間で精度良く評価できる腐食環境モニタ装置およびその方法の提供を目的とする。本発明の請求の範囲第1項に関わる腐食環境モニタ装置は、試験片が設置される一つ以上の通気路を有し、周囲環境中の腐食性を前記試験片の腐食状態から測定する腐食環境モニタ装置であって、一つの前記通気路内に、前記測定に係わる領域が同一の金属材料を用いて形成される前記試験片を設置し、前記通気路が複数の場合、前記通気路を並列に配置している。本発明の請求の範囲第2項に関わる腐食環境モニタ装置は、試験片が設置される一つ以上の通気路を有し、周囲環境中の腐食性を前記試験片の腐食状態から測定する腐食環境モニタ装置であって、前記各試験片は、前記測定に係わる領域が長い形状であるとともに同一の金属材料を用いて形成され、前記各通気路内に設置される前記試験片の測定に係わる領域の長手方向が、前記通気路内を流れる前記周囲環境中の腐食性物質の流れ方向に対して平行または沿う方向となるように配置している。本発明の請求の範囲第9項に関わる腐食環境モニタ方法は、試験片が設置される一つ以上の通気路を有し、周囲環境中の腐食性を前記試験片の腐食状態から測定する腐食環境モニタ方法であって、単数または複数並列に設けた前記各通気路内に、前記測定に係わる領域が同一の金属材料を用いて形成される前記試験片を配置してモニタを行う。本発明の請求の範囲第10項に関わる腐食環境モニタ方法は、試験片が設置される一つ以上の通気路を有し、周囲環境中の腐食性を前記試験片の腐食状態から測定する腐食環境モニタ方法であって、前記各通気路内に、前記測定に係わる領域が長い形状であるとともに同一の金属材料を用いて形成される前記試験片を、前記測定に係わる領域の長手方向が前記通気路内を流れる前記周囲環境中の腐食性物質の流れ方向に対して平行または沿う方向となるように配置してモニタを行う。本発明によれば、電気電子装置などの周囲環境の腐食性を簡便かつ短期間で精度良く評価できる。以下、本発明の実施形態について添付図面を参照して説明する。図1は本発明に係る実施形態の腐食環境モニタ装置の外観を示す斜視図である。図2Aは実施形態の腐食環境モニタ装置の内部構成を示す側面図であり、図2Bは実施形態の腐食環境モニタ装置の内部構成を示す上面図である。実施形態では、主に電気電子装置の設置環境の雰囲気中に存在する腐食性ガスによる電気電子装置の腐食度合いを測定する腐食環境モニタ装置1およびその方法の例を説明する。電気電子装置とは、例えば、機械を制御するような精密機器、コンピュータなどがある。腐食環境モニタ装置1には、矩形状の横断面を有し長手方向に延在し貫通する通気スペースが形成される通気路3が3つ形成されている。通気路3の下流側には、各通気路3の通気の流れを促進するファン4がそれぞれ配設されている。ファン4は電源5によって電圧が印加されて駆動される。腐食環境モニタ装置1の各通気路3には、それぞれ長方形の平板状の試験片2が、その長手方向が通気路3の長手方向に沿う姿勢で、取付けられている。試験片2は、それぞれ異なる同一の金属材料で形成されている。測定対象の周囲環境での腐食性の評価は、各通気路3を流れる周囲環境の通気中に含有される腐食性物質6の流れ方向または拡散方向に沿った各試験片2の表面の腐食度合い腐食生成物の厚さを測定し、その腐食生成物の厚さ分布を推定することにより、行われる。腐食性物質6としては、腐食性ガス、飛来した海塩、塵埃などが挙げられるが、以下腐食性ガスを代表例として述べる。<試験片2>試験片2の形状は、試験片2の表面に形成される腐食生成物の厚さ分布を精度よく測定できる長い長方形状の薄い厚さの短冊状が好ましい。そして、各々の通気路3内に同一金属材料からなる各試験片2の長手方向が、周囲環境中の腐食性ガスが通気路3内を流れる方向または拡散する方向に平行または沿う方向となるように、試験片2を腐食環境モニタ装置1に取付けるのが好ましい。短冊状の試験片2の縦横比は、通気の流れ方向または拡散方向に対して腐食生成物厚さの分布を測定できるならば、いずれの値でも構わない。図2A、図2Bでは、例えば銅、銀、金めっき銅下地でそれぞれ形成される試験片2a、2b、2cを各々の通気路3に収容したものである。銅、銀、金めっき銅下地は、電気電子部品の材料として多用される上、電気電子装置の設置環境の調査で使用される。各試験片2の材料は、屋外大気の環境調査で使用される鉄、鉄ニッケル合金、アルミニウム、亜鉛などを用いてもよい。このように、試験片2としては、銅、銀以外の純金属や合金でもよい。各通気路3内には、それぞれ一種類の金属からなる試験片2を取付ける。図2Bに示すように、複数の試験片2を雰囲気中に暴露する場合は、複数の通気路3を用意して、一つの通気路3の内部に一種類の金属からなる試験片2を取付ける。また、一種類の金属であれば、図3A、図3Bに示すように、小片に切断した小片試験片22を使用してもよい。後記する腐食厚さの測定上の理由から、隣り合う小片試験片22同士は、小片試験片22の間に通気の乱流が発生して小片試験片22の表面への腐食生成物の堆積に影響するのを抑制するため、隙間なく配置するのが好ましい。通気路3の横断面は矩形、円形、多角形などの任意の形で構成される。腐食環境モニタ装置1の製作の難易や後記する腐食度合いの測定し易さなどの理由から、通気路3の横断面の形状は、簡単な構造である矩形構造が好ましい。<ファン4>通気路3内には、通気路3中の試験片2、22に周囲環境中の腐食性ガスを供給するための手段としてファン4が設置され、設置環境の空気はファン4により強制的に通気路3を流れ、ファン4を介して腐食環境モニタ装置1の外部に排出される。ファン4は試験片2、22が配置される通気路3の上流側、下流側いずれに設置してもよいが以下の点に留意する。試験片2、22の上流側にファン4を設置した場合、ファン4により試験片2、22に向かう腐食性ガスの流れが乱されたり、またファン4に腐食性物質6が付着したりする怖れがある。そのため、試験片2、22の下流側にファン4を設置するのが好ましい。なお、ファン4を停止した状態で、ファン4による空気の流れによらず拡散により腐食性ガスを通気路3内に侵入させてもよい。測定対象の周囲環境中に在在する腐食性ガスを腐食環境モニタ装置1の内部の通気路3に強制的に取込むことで試験片2、22の腐食が促進される。そのため、腐食性ガスを強制的に取込むことは、腐食性ガスに起因する腐食生成物の厚さ測定の精度を向上させるのに有効な手段である。通気路3内での流速分布のばらつき、経時的な流速変動は、試験片2の腐食速度の測定誤差となる。そこで、環境の腐食性を短期間に精度良く測定することを可能とするため、通気路3内での流速分布のばらつき、経時的な流速変動の少ないファン4を選択することが好ましい。<試験片2の通気路3内の位置>図4Aは腐食環境モニタ装置の通気路のインレット部から離隔した位置に試験片を配置した状態を示す内部構成の側面図、図4Bは腐食環境モニタ装置の通気路のインレット部から離隔した位置に試験片を配置した状態を示す内部構成の上面図である。図4A、図4Bに示すように、通気路3内での流速分布のばらつきを除去するため、インレット部3iから離隔した位置に試験片2を配置するとよい。環境モニタ装置1においては、短冊状の試験片2は、その上流側端部が環境モニタ装置1の通気路3の上流側端部の流れの乱れが終息した個所より下流部に取り付けている。これにより、試験片2の表面上への安定な腐食生成物の堆積を行うことができる。<設置環境の雰囲気の腐食性の評価>以下、測定対象の設置環境の雰囲気の腐食性を評価する方法について述べる。図5に測定対象の周囲環境の雰囲気の腐食性の評価方法の手順を示す。一つの試験片2の上流側で腐食性ガスを消費した場合、その分、腐食性ガスの量が減少するので、試験片2の下流側に到達する腐食性ガスの濃度は測定対象の周囲環境に比べて低下する。そのため、従来の技術では、前記したように、試験片における測定位置に依存する腐食生成物の厚さの面内変動により、設置環境の腐食性評価の精度が低下することが懸念される。逆に、この試験片の腐食厚さの面内変動を利用すれば、周囲環境の腐食性を精度よく評価できる。腐食環境モニタ装置1では、まず、試験片2を一定期間測定対象の雰囲気中に暴露させた後に回収し、試験片2上での流れ方向または拡散方向に沿って2か所以上腐食生成物の厚さを測定する。この測定値を用いて後記する移流拡散方程式の解析により、試験片2上での腐食性ガスの流れ方向または拡散方向に沿った箇所での腐食性ガスに含まれる腐食性物質6の堆積速度腐食反応により腐食生成物が形成される速度分布を求める。そして、この堆積速度と試験時間から、試験片2上での腐食生成物の厚さを求める。この腐食厚さ分布の解析データと試験片2上で測定した腐食性ガスの流れ方向または拡散方向の2か所以上の腐食厚さから、試験片2の上流側端部の腐食生成物の厚さ測定対象の周囲環境に暴露した試験片2に形成される腐食生成物の厚さの最大値を逆に推定する。簡易的に試験片2上で流れ方向または拡散方向に2か所以上の腐食生成物の厚さの測定値から、試験片2の上流側端部の腐食生成物の厚さを外挿してもよい。なお、試験片2の腐食度合いは、従来技術と同様に、重量法、蛍光X線による腐食性ガス元素の定量分析法、定電流電解による膜厚測定法などを用いる。電気抵抗の変化による腐食センサ、水晶振動子微量天秤法による腐食センサを用いてもよい。このようにして求めた試験片2の端部の腐食生成物の厚さをIEC654-4規格、ISO11844-1規格、ISO9223規格、ISA71.04規格で評価することにより、周囲環境の腐食性を分類する。これにより、電気電子装置の設置環境の腐食性を簡便かつ短期間で精度良く分類できるので、その環境の腐食性の程度に応じた防食対策を設計および保守に反映させることができる。<試験片2の腐食度合いの測定>図6に、試験片の長手方向に沿った腐食度合いの測定例を示す。図6の上図の上方視の試験片2における点線は便宜的な測定箇所の区切り線であり、図6の下図のプロットは点線の区切り線で区切られた測定箇所の測定結果を示している。図6の下図のグラフの横軸は、試験片2の上流側端部からの距離s1であり、図6の下図のグラフの縦軸は、試験片2の表面に堆積した腐食生成物の厚さである。なお、試験片2の表面に堆積した腐食生成物の厚さは、上流側端部の腐食生成物の厚さで規格化して示している。環境モニタ装置1で試験片2を一定期間測定対象の周囲環境の雰囲気に暴露させた後の試験片2の腐食度合いは、図6に示すように、一定の間隔に区切った後に重量法、蛍光X線による腐食性ガス元素の定量分析法、定電流電解などによる膜厚測定法により測定される。試験片2の上流側端部から離れるに従い、腐食生成物の厚さが薄くなる。これは、上流側の試験片2の表面で腐食性物質6が消費されるために腐食性物質6の量が減少し、試験片2の下流側に到達する腐食性物質6の濃度が低下するためである。この傾向は、気流の流速が遅いほど腐食性物質6が消費される時間が延伸し、また通気路3の試験片2の測定表面からの高さが狭くなるほど腐食性物質6が試験片2の測定表面に接触する機会が増加するので、顕著になる。<流れのある環境での腐食性物質6の拡散の解析>流れのある環境での物質の拡散は、下式の移流拡散方程式により定式化できる。CorrosionScienceVol29、11791187、1989、TheAtmosphericSulfidationofSilverinaTubularCorrosionReactorには、円管における移流拡散方程式についての記載がある。これを矩形断面の二次元問題について示す。腐食性物質6の濃度をC、腐食性ガスの流れ方向をx軸、それに直交する方向をy軸として、二次元の移流拡散方程式は次式で与えられる。物質が拡散する速さを示す拡散係数をD、矩形断面内の平均流速をvとして、その流速分布をと仮定すると、DgradC-2v1-y2/H2δC/δx=0と与えられる。境界条件として、C=Cix=0δC/δy=0y=0-DδC/δy=VdCy=H/2ここで、Ciは周囲環境の腐食性物質6の濃度、換言すれば通気路3の入り口の腐食性物質6の濃度である。δC/δy=0y=0は、通気路3の中心における腐食性物質6の濃度勾配は0を表す。Vdは、試験片2の表面への腐食性ガスの堆積速度である。試験片2の表面に衝突した腐食性物質6のうち、一部の腐食性物質6が試験片2の表面で反応し堆積する。試験片2の表面への腐食性物質6の堆積速度Vdは、反応確率試験片2の表面に衝突した腐食性物質6のうち反応する確率γを用いて以下の式で表わされる。Vd=γRgT/2πM0.5Rgはガス定数、Tは絶対温度、Mは腐食性物質6の分子の質量である。図7に、移流拡散方程式による解析結果の一例の試験片上流側端部での腐食生成物の厚さで腐食生成物の厚さを規格化した結果を示す。図7では、長さ47mmの銀の試験片2、試験片2の上の通気路3の高さ面からの高さH=10mm、Vd=0.01mm/sとする。試験片2の下流側端部近くでの腐食生成物の厚さは、上流側端部での腐食生成物の厚さの約50に減少している。本実施形態では、試験片2の上で腐食性ガスの流れ方向または拡散方向に沿って低下する2か所以上の腐食生成物の厚さから、腐食生成物の厚さ分布を解析、または、外挿を用いて試験片2の上流側端部の腐食生成物の厚さを推定する。この方法によれば、試験片2が設置されている通気路3の構造に依存しないので、測定対象の周囲環境の腐食性を過小評価することはない。<腐食環境モニタ装置1の別の構成例>測定対象の周囲環境が強腐食性環境で、例えば試験片2の腐食が進行し過ぎて腐食生成物が剥離した場合、腐食生成物の厚さを精度良く評価することが不可能である。図8A、図8Bは、実施形態の腐食環境モニタ装置の別の構成図の例であり、図8Aは、腐食環境モニタ装置の通気路において試験片を向かい合う2面に取り付けた場合の内部構成を示す側面図、図8Bは、図8AのA-A線断面図を示す。この場合は、試験片2a、2bは環境モニタ装置1の通気路3の向かい合う2面に取付ける。この際、通気路3の周囲に溝部7a、7bを設け、試験片2a、2bをそれぞれ溝部7a、7bに沿って挿入することで、試験片2a、2bを取付けることができる。これにより、測定対象の周囲環境から通気路3に導入された腐食性物質6を2つの試験片2a、2bに分散することで、各々の試験片2a、2bの腐食度合いを低減できる。この場合、試験片2a、2bの向かい合う2面の距離前記の寸法Hを狭くすることにより、試験片2a、2bの向かい合う2面間の腐食性物質6の量が相対的に減少するので、通気中の腐食的物質6が相対的に大きく試験片2a、2bに付着し、試験片2a、2bの腐食度合いの低減効果が大きくなる。図9A、図9B、図9Cにそれぞれ通気路3において試験片を隣り合う2面、3面、4面に取り付けた場合の腐食環境モニタ装置の横断面図を示す。図9A~図9Cに示す電源5は、前記したように、ファン4に電圧を供給する。試験片2a、2bの取付けは、図9Aに示すように、通気路3を形成する隣り合う2面でもよい。前記と同様、試験片2a、2bをそれぞれ溝部7a、7bに沿って挿入することで、試験片2a、2bを取り付ける。さらに、環境の腐食性の強さにより、図9B、図9Cにそれぞれ示すように、通気路3を形成する3面または4面に試験片2を取付けてもよい。図9Bの例では、試験片2a、2b、2cがそれぞれ通気路3の周囲に設けられた溝部7a、7b、7cに沿って挿入され、試験片2a、2b、2cが通気路3に取り付けられる。同様に、図9Cの例では、試験片2a、2b、2c、2dがそれぞれ通気路3の周囲に設けられた溝部7a、7b、7c、7dに沿って挿入され、試験片2a、2b、2c、2dが通気路3に取り付けられる。図10A、図10Bに通気路において試験片を鉛直方向に沿って1面または向かい合う2面に取り付けた場合の別例の腐食環境モニタ装置の横断面図を示す。図10A、図10Bに示すように、試験片2の測定に係わる面を鉛直方向に沿って配置すれば、測定中の周囲環境に存する腐食性物質の重力の影響が可及的に抑制される状態で評価できるので、より好ましい。なお、腐食環境モニタ装置1における通気路3の溝部7の手前側に試験片2を挿入する切り欠きまたは開口を設けると、試験片2の設置、回収が容易であるのでより好ましい。本構成は、説明した構成全てに適用可能である。上記構成によれば、測定対象の周囲環境中に所定の期間放置し回収した試験片2の腐食度合いを測定することにより、電気電子装置の設置環境の腐食性を簡便かつ短期間で精度良く評価できる。そのため、この評価に基づき環境の腐食性の程度に応じた防食対策を設計および保守に反映できる。従って、設置環境の電気電子装置に対する腐食性を簡便かつ短期間で精度良く評価できる腐食環境モニタ装置およびその方法を実現できる。<<その他の実施形態>>なお、前記実施形態では、試験片2が金属材料からなる場合を例示したが、試験片2は、少なくとも腐食性生成物が形成される箇所が金属材料で形成されていればよく、試験片2の全体が金属材料でなくともよい。例えば、プラスチックの基体に金属を形成してもよい。この場合、全体が金属でないので、低コスト化が可能である。金属層の形成は、メッキ、スパッタリング、蒸着など任意に選択して適用可能である。なお、前記実施形態で説明した腐食性は、強電機器よりは弱電機器が配線パターン、接続端子などが微細構造であるので、どちらかというと問題になる。しかし、本発明は、腐食性が問題になる周囲環境であれば限定されることなく、弱電機器、強電機器などが設置される環境に幅広く適用可能である。"