測定対象12を計測する座標測定機46の測定過程を制御する方法10であって、前記座標測定機46が制御装置64と探触ピン18を備えたプローブ60とを有し、前記探触ピン18と前記測定対象12の表面14との間の相対運動が前記制御装置64によって制御されるものにおいて、前記表面14は測定対象表面13に一致した少なくとも1つの実際部分24と少なくとも1つの仮想部分26とを有することを特徴とする方法。前記少なくとも1つの仮想部分26が少なくとも1つの仮想表面22によって形成されており、前記少なくとも1つの仮想表面22が多数のベクトル23として形成されており、前記ベクトルがその値および方向をそれぞれ1つの特定空間座標に割り当てられていることを特徴とする請求項1記載の方法。前記プローブ60が能動測定プローブ60であり、前記制御装置64が前記探触ピンの測定力Fを制御し、前記少なくとも1つの仮想部分26内への前記探触ピン18の沈み込み深さに比例して前記能動測定プローブ60の測定力変換器90に対して対向力が付加されることを特徴とする請求項1または2記載の方法。前記プローブ60が受動測定プローブ60であり、前記制御装置64が前記探触ピン18の変位量を制御し、前記少なくとも1つの仮想部分26内への前記探触ピン18の沈み込み深さDに比例して前記探触ピン18の目標変位量に対して仮想変位量が付加されることを特徴とする請求項1または2記載の方法。前記仮想変位量が前記目標変位量とは逆向きであり、前記少なくとも1つの仮想部分26における前記探触ピン18の特定沈み込み深さDにおいて前記目標変位量と前記仮想変位量との間に均衡が生じることを特徴とする請求項4記載の方法。前記少なくとも1つの実際部分24に沿った測定過程中に前記測定対象12の既知目標幾何学形状の位置ずれが検知され、前記位置ずれに基づいて前記少なくとも1つの仮想部分26の配置が適合されることを特徴とする請求項1~5のいずれか1項記載の方法。前記仮想表面22の幾何学形状が平面または円筒体または球体に一致していることを特徴とする請求項1~6のいずれか1項記載の方法。測定対象12を計測する座標測定機46であって、制御装置64とプローブ60とを有し、前記プローブが探触ピン18を有し、前記探触ピン18と前記測定対象12の表面14との間の相対運動が前記制御装置64によって制御されるものにおいて、前記表面14は測定対象表面13に一致した少なくとも1つの実際部分24と少なくとも1つの仮想部分26とを有することを特徴とする座標測定機。前記少なくとも1つの仮想部分26が少なくとも1つの仮想表面22によって形成されており、前記少なくとも1つの仮想表面22が多数のベクトル23として形成されており、前記ベクトルがその値および方向をそれぞれ1つの特定空間座標に割り当てられていることを特徴とする請求項8記載の座標測定機。前記プローブ60が能動測定プローブ60であり、前記制御装置64が前記探触ピン18の測定力を制御し、前記少なくとも1つの仮想部分内への前記探触ピン18の沈み込み深さXに比例して前記能動測定プローブ60の測定力変換器90に対して対向力が付加されることを特徴とする請求項8または9記載の座標測定機。前記プローブ60が受動測定プローブ60であり、前記制御装置64が前記探触ピン18の変位量を制御し、前記少なくとも1つの仮想部分内への前記探触ピン18の沈み込み深さに比例して前記探触ピン18の目標変位量に対して仮想変位量が付加されることを特徴とする請求項8または9記載の座標測定機。前記仮想変位量が前記目標変位量とは逆向きであり、前記少なくとも1つの仮想部分26における前記探触ピン18の特定沈み込み深さDにおいて前記目標変位量と前記仮想変位量との間に均衡が生じることを特徴とする請求項11記載の座標測定機。前記少なくとも1つの実際部分24に沿った測定過程中に前記測定対象12の既知目標幾何学形状の位置ずれが検知され、前記位置ずれに基づいて前記少なくとも1つの仮想部分26の配置が適合されることを特徴とする請求項8~12のいずれか1項記載の座標測定機。前記仮想表面22の幾何学形状が平面または円筒体または球体に一致していることを特徴とする請求項8~13のいずれか1項記載の座標測定機。コンピュータプログラムが座標測定機46内で実行されるとき請求項1~7のいずれか1項記載の方法10の全ステップを実行するように形成された、コンピュータコード手段を備えたコンピュータプログラム。本発明の課題は、測定位置にそもそも工作物がないときにも例えば窪みに基づいて走査を可能とする窪み付き工作物表面を走査する可能性を提供することである。その際、公知の測定法、走査法および補間法はすべて変更なしに応用可能なままでなければならず、存在する窪みを承知していないときでも探触ピンが窪み内で動かなくなるのを防止しなければならない。さらに、把握された測定値が実際に走査された工作物表面に由来しているか否かが認識可能なままでなければならない。そこで本発明の第1観点によれば、測定対象表面に一致した少なくとも1つの実際部分と少なくとも1つの仮想部分とを表面が有するように冒頭で言及した方法を改良することが提案される。本発明の第2観点によれば、測定対象表面に一致した少なくとも1つの実際部分と少なくとも1つの仮想部分とを表面が有するように冒頭で言及した座標測定機を改良することが提案される。本発明の第3観点によれば、座標測定機の制御装置内でコンピュータプログラムが実行されるとき本発明の第1観点による方法の全ステップを実行するように形成された、プログラムコード手段を有するコンピュータプログラムが提案される。つまり制御プロセスにおいて実際には工作物に存在しない仮想表面が考慮され、これらの仮想表面は座標測定機の利用者によって予め規定され、例えば好適なユーザソフトウェアを頼りに設定することができる。これらの仮想表面はその形状および位置をほぼ任意にして測定空間内に配置することができ、例えば平坦面、円筒体または球体で構成することができる。仮想表面は実際に存在する工作物表面を補足および/または変更するものであり、こうして工作物および実際工作物表面に対して相対的な探触ピンの運動軌道を決定する。被計測工作物の目標幾何学形状は基本的に既知であるので、有利なことに、実工作物表面の窪みが穴埋めされるように仮想表面を規定しかつ測定空間内に配置することが可能となる。その場合探触ピンは、制御に基づいて仮想表面に沿って案内されることによって窪みを跳び越す。幾つかの事例では、仮想表面が工作物内に、つまり実際工作物表面の下にあると有利である。例えば球体を走査する場合、仮想表面は半径が多少小さい球体とすることができよう。ところで例えば溝等の窪みが実際工作物表面にある場合、これらの窪みもしくは溝は仮想表面によって覆われる。その場合探触ピンの探触玉がこれらの仮想表面に当ると、実際表面のものに一致した制御量および測定量が生成される。同様に、制御装置は仮想表面が実際表面であるかのように探触玉もしくはプローブの位置を制御する。それゆえに探触玉は窪みの底にまで沈み込むのでなく、仮想表面上をそれに沿って移動する。こうして克服すべき高低差が小さくなり、実際窪みの末端で探触玉もしくは探触ピンは問題なく再び実際工作物表面に達することができる。歯車の幾何学形状を走査する場合、有利な仮想表面は想定された膜のように個々の歯の先端に張り渡した包絡体を形成することができる。制御装置がこのような仮想表面に沿って探触ピンを動かすときプローブは実際に存在する歯の間に探触ピンの自由端を入り込ませない。探触玉もしくは探触ピンがそれに沿って制御下に動かされた表面が座標測定機によって計測され、従ってこの表面は、被計測工作物表面に一致した工作物に実際に存在する実部分と、例えば幾何学形状データの態様で制御装置に設定されるが実表面としては存在しない仮想部分とから成る。主に、制御装置とプローブの制御アルゴリズムとに何ら変更はない。こうして仮想表面は座標測定機の既に存在する制御ソフトウェアおよび補間ソフトウェアでもって問題なく利用できるので、仮想表面は走査し、実工作物表面もしくは実際工作物表面と組合せることができる。探触ピンもしくはプローブが固定表面を走査しもしくは固定測定対象に沿って動かされるのか、または表面もしくは測定対象が固定探触ピンもしくはプローブに沿って動かされるのかは、基本的に区別されない。探触ピンもしくはプローブを動かすことも表面もしくは測定対象を動かすことも可能である。決定的なことは測定対象とプローブとの間の相対運動だけである。被計測測定対象に応じて好適な配置を設けることができる。例えば異なる形状を有するさまざまな測定対象が頻繁に計測されねばならない場合、測定対象を定置に配置して探触ピンを動かすのが有利である。それに対して、ほぼ同一に成形された回転対称な測定対象、例えば歯車を計測しなければならない場合、探触ピンを定置で保持して測定対象を回転させるのが有利なこともある。動かすべき質量はこうして小さく抑えることができる。冒頭に掲げた課題はこうして完全に解決される。本発明の好ましい一構成によれば、少なくとも1つの仮想部分内で把握される測定値がマーキングされる。仮想部分内で把握された測定値は実工作物表面の実際測定値に一致しないので、把握した空間座標の評価時にそれらを考慮しないことが有利である。有利には、少なくとも1つの仮想部分内で把握される測定値がマーキングされる。マーキングされたこれらの測定値は次に例えば遮蔽もしくはマスキングすることができ、再処理時または評価時にそれらは利用されない。さらに、プローブが能動測定プローブであり、制御装置が探触ピンの測定力を制御し、少なくとも1つの仮想部分内への探触ピンの沈み込み深さに比例して、能動測定プローブの測定力変換器に対向力が付加されるようにすることができる。こうして能動プローブでは、利用者によって確定された仮想表面または自動的に確定された仮想表面をプローブの制御装置内への実際的入力に変換することが可能である。仮想表面は三次元ベクトル場として生成され、このベクトル場は仮想表面の位置決めに応じて測定空間内の特定位置を占める。それから、この位置に基づいて、測定空間のうち仮想表面のある空間座標が既知である。それから、各空間座標について、仮想力のベクトルはその値と方向が確定されている。方向は仮想平面の表面から法線方向で離れる方を向いている。値は仮想表面内での深さが増すのに伴って上昇する。すなわち、値は表面では小さく、それから深さが増すのに伴って増加する。こうしてここで利用される仮想力はそれらに割り当てられた空間座標に応じて異なる値を有する。こうして仮想表面は仮想体と称することもできよう。ところで、仮想表面に属する空間座標を有する1点へと探触玉が動くと、これらの空間座標について格納されている仮想力は目標接触力とは逆向きで目標接触力に付加される。このことは、座標測定機の制御装置にとって、探触玉が仮想表面に触れるや仮想表面によって探触ピンの探触玉に力が加えられるかのような印象を与える効果を有する。こうして制御装置によって測定力変換器の目標値に対向力が付加される。仮想表面を形成する仮想力の値は仮想表面内への沈み込み深さが増すのに伴って増加するので、一定の沈み込み深さにおいて目標接触力と仮想力との間に均衡が生じる。この均衡に達したなら、探触玉が仮想平面内にさらに沈み込むことはない。こうしてプローブは仮想表面内にごく僅かに入り込むだけである。その場合、探触玉の沈み込み深さが溝の末端で溝エッジのよじ登りを可能とするように仮想平面の位置は適宜選択されている。上述のやり方は特に、技術の現状に比べて、測定対象の実際表面にある溝もしくは窪みの位置が既知でなければならないのではないという利点を有する。探触ピンが入り込むことのできない絶対的に規定された領域または測定対象に対して相対的に規定された領域を仮想表面によって測定空間内で選択的に生成することができる。測定領域内の仮想表面によって規定されたこれらの禁止帯域に基づいて、走査過程中、溝内への探触ピンの落下を防止するいわば安全ネットが接触ピンに与えられている。選択的に本発明の第1観点に係る方法でも本発明の第2観点に係る座標測定機でも適用できることとして、プローブが受動測定プローブであり、制御装置が探触ピンの変位量を制御し、少なくとも1つの仮想部分内への探触ピンの沈み込み深さに比例して探触ピンの目標変位量に対して仮想変位量が付加されてよい。その際好ましくは、仮想変位量が目標変位量とは逆向きであり、少なくとも1つの仮想部分における探触ピンの特定沈み込み深さにおいて目標変位量と仮想変位量との間に均衡が生じ、もしくは制御器設定値の間に均衡が生じるようにすることができる。本発明の第1観点に係る方法と本発明の第2観点に係る座標測定機は特に能動測定プローブに適しもしくは能動測定プローブの使用に適しているのではあるが、受動測定プローブにも適用することができる。そこでは特定空間座標に割り当てられた仮想力によって仮想表面が転換されているのでなく、仮想変位量が目標変位量に付加される。仮想変位量のベクトル値はやはり沈み込み深さの増加に伴って上昇する。仮想変位量のベクトルの方向が目標変位量の方向とは逆向きであり、特定沈み込み深さにおいて当該仮想変位量と目標変位量との間に均衡が生じる。ここでも仮想表面に沿ってプローブの制御が達成される。従って、能動プローブと受動プローブとについて上で述べた両方の実施形態に共通する点として、仮想部分は少なくとも1つの仮想表面によって形成されており、少なくとも1つの仮想表面はそれらの値および方向がそれぞれ1つの特定空間座標に割り当てられた多数のベクトルとして形成されている。本発明の第1観点に係る方法の他の構成でも、本発明の第2観点に係る座標測定機の他の構成でも、測定過程の間に測定対象もしくは被計測表面の既知の目標幾何学形状が少なくとも1つの実際部分に沿って位置ずれすることが検知され、少なくとも1つの仮想部分の配置が位置ずれに基づいて適合されるようにすることができる。こうして少なくとも1つの仮想表面の位置の動的ずれを設けておくことができる。このことは特に、既知の目標幾何学形状、例えば平面または円筒を有する工作物を走査するときに有利である。その際、例えば穴の既知の位置ずれは-すなわち、穴の中心点は仮定された箇所にはない-、補間法の再調整用に変更されるだけでなく-すなわち、目標幾何学形状の位置は使用された補間法に適合される-、同時に仮想表面の位置もしくは配置の再調整用にも変更される。仮想表面の適合もしくは再調整を行うことができるのは、当然に、探触ピンが実際表面もしくは実表面上にあり、実際表面上でも把握された測定値が援用される場合にのみである。こうして測定過程中に仮想要素もしくは仮想表面の位置を実際工作物形状に適合させることが可能である。最後に本発明の第1観点に係る方法でも、本発明の第2観点に係る座標測定機でも、仮想表面の幾何学形状が平面または円筒体または球体に一致するようにすることができる。こうして少なくとも1つの仮想表面の形状を実際工作物に好適に適合させることが可能である。前記特徴および以下でなお説明する特徴は当然にその都度明示した組合せにおいてだけでなく、別の組合せや単独でも、本発明の枠から逸脱することなく応用可能である。以下、添付図面を参考に本発明の実施例を説明する。図1は例示した測定対象12について実施することのできる1実施形態の方法10の経過を示す。この例において測定対象12は、それが実際に平らであるか否かを点検される板である。このため測定対象表面13を計測しなければならない。得られた測定点に基づいて、評価の枠内で、測定対象12の測定対象表面13が実際に平らであるか否かを点検することができる。そのことを達成するために表面14が計測され、表面の構成は以下で詳しく述べられる。測定対象表面13が幾つかの箇所に溝16を有する。溝16は測定対象表面13の考えられる凸凹、特に窪みの例として示してあるにすぎない。測定過程を損ない得るような別の種類の障害物も考えられる。設けられている探触ピン18はその一端に探触玉20を有し、この探触玉で表面14が探触される。探触ピン18が図1ではさまざまな位置A~Eで示してある。測定過程の枠内で探触ピン18は位置A~Eをアルファベット順に通過し、すなわちAから始めてEで終了する。ところで探触ピン18が測定対象表面13に沿って移動してこれを走査し、探触玉20が測定対象表面13と接触しているとき、探触ピン18は溝16を横切らねばならない。方法10の実施中に制御装置が探触ピン18を溝16に過度に深く入り込ませて探触ピン18の探触玉20が場合によって溝16内で動かなくなることのないように、仮想表面22が設けられており、この仮想表面は実際に計測すべき測定対象表面13に対応して配置されている。本例では、測定対象表面13が実際に平らもしくは平坦であるか否かを確認しなければならない。同様にここでも、仮想表面22が測定対象表面13の数ミリメートル下でこの表面と平行に延びているようにすることができる。このような境界条件によって仮想表面22は自動的にもしくは計算機支援式に配置することもできる。仮想表面22は、その値および方向がそれぞれ1つの特定空間座標X、Y、Zに割り当てられた多数のベクトル23として形成されている。ベクトルはプローブの種類に応じて仮想力または仮想ベクトルとすることができる。仮想表面22は、方法10の実施中、測定対象12の実際測定対象表面13もしくは実測定対象表面として扱われる。同様に、探触玉20を有する探触ピン18は、仮想表面22が実際測定対象表面13であるかのように制御される。こうして、探触玉20が溝16に過度に深く入り込むのを防止することができる。こうして方法10の間に探触玉20によって走査される表面14は実際測定対象表面13と仮想表面22とで構成される。こうして表面14は実際部分24と仮想部分26とを有する。従って測定結果を評価するとき、実際測定対象表面13の探触中に把握された測定結果のみが援用されることに注意しなければならない。仮想表面22の探触時にも表面16の仮想部分26内で測定値が獲得されるが、しかしこれらの測定値は当然に実体に合致しておらず、従って評価時に遮蔽されねばならない。こうして方法10の測定過程の経過は探触ピン18の位置Aで始まり、この位置において探触玉20が実際測定対象表面13を探触する。探触玉20は表面14の実際部分24内にある。次に探触玉20が送り方向28に沿って動かされ、送り方向28は常に被計測測定対象表面13の目標幾何学形状にほぼ従う。探触玉20は法線方向30で、すなわち送り方向28に垂直に、測定対象表面13を加圧する。これにより探触玉20と測定対象表面13との間で接触力Fが働く。探触ピン18の停止時に接触力Fは図1に例示しただけのように法線方向30から相違することができる。その場合、接触力Fは探触玉20と測定対象表面13との間の接触点の静摩擦円錐の内部に位置することができる。しかし探触玉20が測定対象表面13に沿って動かされ、静摩擦が滑り摩擦に移行するや、通常の力平行四辺形によって接触力Fの方向は法線方向30の力と測定対象表面13の方向の滑り摩擦力とから判定することができる。探触玉20と測定対象表面13との間に僅かな摩擦係数が存在する場合に滑り摩擦力の値が法線方向の力の値に比べてごく小さいと前提すると、僅かな摩擦係数が存在する場合接触力Fの方向は法線方向30と実質的に一致する。ところで探触玉20が測定対象表面13から溝16内に入ると、探触玉20は仮想表面22に衝突するまで溝内で一定程度動く。探触玉20はいまや表面14の仮想部分26内にある。この方法にとって、探触玉20が実測定対象表面もしくは実際測定対象表面13上にあるのか仮想表面22上にあるのかで基本的に違いはない。探触ピン18を制御する制御装置への入力は同じである。探触玉20が仮想表面22に当たると、法線方向30で探触玉20の方向を向く対向力は制御装置への入力として生じる。対向力の値は仮想表面22への探触玉20の沈み込み深さDに比例して生成しておくことができる。仮想表面22はいわば多数の仮想力ベクトルを有する空間領域として形成されており、仮想表面内に深く入り込めば込むほど力ベクトルの値は増加する。その結果、仮想対向力が目標接触力に一致するまで探触玉20は一定-僅かな-程度だけ仮想表面内に沈み込むことになる。こうして探触玉20は溝16内に完全に沈み込むのでなく、-仮想ベース上で-仮想表面22を走査するだけである。こうして探触玉20は図示位置Bにおいて仮想部分26を横切る。仮想表面22は測定対象表面13の図1に示した向きで単に数ミリメートル下に配置されているので、仮想表面22と測定対象表面13との間の距離が僅かであり、探触ピン18が送り方向28で位置Bから位置Cに移動するとき探触玉20は仮想表面22から測定対象表面13への段階を問題なく進むことができる。引き続き、位置Bの溝16についても位置Dの溝16についても同じ過程が繰り返される。探触玉20は新たに表面14の実際部分24から表面14の、仮想表面22によって形成される仮想部分26へと移行する。こうして探触玉20が位置Dにおいて完全に溝16に沈み込みことは防止され、この溝16も危険なく通過することができる。方法10の測定過程は次に探触ピン18の位置Eにおいて終了する。以上述べた方法10によって、測定対象12の溝16を横切ることが問題なく可能である。さらに、探触玉20を実際測定対象表面13から持ち上げて探触玉20にいわば溝16を飛び越えさせることは必須でない。それゆえに被計測測定対象表面13全体が走査される。他の実施形態が図2に例示してある。この場合計測されるのは歯車の態様の測定対象12’、ここでは歯の歯先円である。それとともに被計測表面14は測定対象12’の歯先32の態様の実際部分と測定対象12’の周りに設けられる円筒形仮想表面22’とを有する。こうして単に歯先円もしくは歯先32を計測することができる。探触玉20を有する探触ピン18は、歯溝が仮想表面22’によって覆われるので歯溝に沈み込む必要がない。この場合送り方向28’は円形である。図3aと図3bに第3実施形態が示してある。この場合に計測されるのは測定対象12’’のダブテール34の幅である。ダブテール34の幅を確認するために仮想表面22’’が設けられており、探触玉20がダブテール34の下に入り込んで動かなくなることはない。仮想表面22’’はダブテール34の測定対象表面13’’に対して単に僅かな距離で設けられており、探触玉20は仮想表面22’’から実際表面13’へと上ることができる。測定過程のとき探触ピン18は位置A’から送り方向28’’に沿って位置B’へと適宜動かされ、こうしてダブテール34の幅が把握される。図4a~図4cは、その刃部が計測される鋸歯36を有する鋸刃の態様の測定対象12’’’を示している。このため、歯車の歯先円の計測時と同様に円筒形仮想表面22’’’が設けられている。これにより、探触玉20’’’が鋸歯36の間の空隙に沈み込んで刃部の背後で動かなくなることは防止される。それとともに仮想表面22’’’によって、送り方向28’’’で鋸歯36の刃部を走査することも可能となる。図4aと図4bから明らかとなるように複数の仮想表面22’’’を配置することができる。上側切れ刃37も下側切れ刃38も円補間を頼りに把握することがこうして可能となる。他の実施形態の図5に示す例でも事情は同じである。この場合測定対象12’’’において穴40もしくはその内径が計測される。但しこの穴40はフライス加工されたキー溝42を有する。探触ピン18がこのキー溝42内で動かなくなるのを防止するために、仮想表面22’’’’がキー溝42上に設けられ、こうして探触ピン18もしくは探触玉20がキー溝42内に過度に深く沈み込むのが防止される。こうして、穴40を一気に走査してその内径を円補間によって判定することが可能となる。他の例が図6aと図6bに示してある。この場合、プロペラシャフトの内部部品44の球形状が計測される。探触玉20が内部部品44の穴45内で動かなくなることのないように、球形状を有する仮想表面22’’’’が内部部品内に設けられる。こうして、例えば外側球体の態様の内部部品44の測定対象表面13’’’’を計測しかつ球面補間によって判定することが可能となる。図7は本発明の1実施形態における座標測定機46を示す。座標測定機46が測定表面48を有し、この測定表面上に測定対象12が配置されている。測定表面48上で門50がY方向に運動可能に支承されている。門50でキャリッジ52がX方向に運動可能に支承されている。さらにキャリッジ52内でスピンドル54がZ方向に摺動可能に支承されている。スピンドル54の一端にあるプローブ60は探触玉20を備えた探触ピン18をそれ自身受容している。こうして探触ピン18は任意方向で測定対象12に接近することができ、測定対象12は探触玉20で探触することができる。目盛56、57、58が設けられており、これらの目盛に沿って門50、キャリッジ52、スピンドル54が動かされる。こうして好適なセンサ装置によって目盛56、57、58に基づいて門50、キャリッジ52およびスピンドル54の位置は判定することができる。プローブ60は、能動的または受動的に測定するように形成しておくことのできる他の図示しないセンサ装置を有する。このセンサ装置によってプローブ60もしくはスピンドル54に対して相対的な探触ピン18の変位量は判定することができ、こうして探触玉20の位置も既知である。座標測定機46がさらに制御装置64を有し、この制御装置は例えば通常のコンピュータとして形成しておくことができる。その場合通常の構成において制御装置64は出力装置66と入力装置67とを有し、利用者は出力装置66で計測結果を読み取ることができ、または例えば測定過程用シーケンスプログラムをスタートさせることができる。入力装置67によって例えば測定過程の速度、探触すべき表面等に関してさまざまな変更を行うことができる。このため制御装置64は、上記方法に従って測定対象12を計測することができる。このため制御装置64は被計測測定対象表面13に基づいて、例えば被計測実際測定対象表面13に対して仮想表面を一定程度離間させかつ平行に配置することによって、仮想表面22を自動的に適宜配置することができる。例えば、球体表面を計測する場合、被計測球体表面の窪みに探触ピンが落下するのを防止するために、半径の多少小さい仮想球体表面を同じ中心点で自動的に配置するようにすることができる。それとともに窪みへの落下は実際に存在する窪みもしくは溝を承知しなくとも起きることがある。選択的にまたは付加的に、測定過程を手動で実施するために操作装置69を設けておくことも当然に可能である。例えば特定測定過程を学習することができ、または制御装置64の故障時に座標測定機46の制御を手動で引き受けることができる。制御装置64は、図示したように座標測定機46の残りの諸要素に至るケーブル接続部を有することができ、しかしワイヤレスで接続しておくこともできる。制御装置64が残りの諸要素の一体な構成要素であり、例えば測定表面48または門50内に配置しておくことも当然に可能である。そこに出力装置66または入力装置67を配置しておくこともできる。図8はプローブ60の基本的機能様式を略図で示す。このプローブ60は能動プローブとして実施されている。プローブ60が固定部分72と可動部分74とを有し、両方の部分は2つの板ばね42、44を介して互いに結合されている。板ばね76、78は、矢印80の方向で部分74の運動を可能とするばね平行四辺形を形成する。こうして探触ピン18はその静止位置から距離Tだけ変位することができる。符号18’ではプローブ60が変位位置で略示してある。固定部分72に対して相対的な探触ピン18の変位量は測定対象12の探触の結果とすることができる。探触ピン18の変位量は探触玉20の空間座標を判定する際に考慮される。さらに、能動プローブ60において探触ピン18の変位量は測定力発生器を頼りに生成することができる。固定部分72と可動部分74とにそれぞれ脚部82、84が配置されている。脚部82、84は板ばね76、78と平行かつ互いに平行である。脚部82、84の間にセンサ86ここでは目盛88付きで図示と測定力発生器もしくは測定力変換器90が配置されている。センサ86は可動コイル、ホールセンサ、ピエゾ抵抗センサまたは別のセンサとすることができ、これらを頼りに固定部分72に対して相対的な探触ピン18の空間的変位量を判定することができる。測定力発生器90は、例えば両方の脚部82、84を互いに引き寄せまたは互いに押し離すことのできる可動コイルとすることができる。同様に、制御装置64が一方で変位量、接触力等の変量を読み取ることができかつ他方で測定力発生器90を制御できるように、プローブ60は制御装置とも接続されている。図8の略図においてプローブ60は探触ピン18の変位を矢印46の方向で可能とするだけである。しかしながら当該技術の専門家に知られているように、このようなプローブ60は代表的には2つの他の直交する空間方向で当該変位を可能とする。このようなプローブ60の1実施例が例えば印刷物DE4424225A1に述べられており、その開示内容は参照することによってここに含められる。しかし本発明はこの特殊なプローブ60に限定されているのでなく、別の測定系の別の測定するプローブまたは切り換えるプローブおよびセンサヘッド、特に受動プローブでもって実現することもできる。当該技術の専門家に知られているように、図8に概略示した種類のプローブ60もしくはセンサヘッドは一般に受容部を有し、この受容部に探触ピン18もしくは別のセンサが交換可能に固着されている。