"形状を測定する被測定物の鏡面を撮像して得られる撮像画像であって前記被測定物の周辺に配置されたパターンの反射像が撮像されている撮像画像に基づいて、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記被測定物の鏡面上の一の位置の傾斜角度を算出し、前記被測定物を所定量移動させた後に同様に得られる他の前記撮像画像に基づいて、同一の高さ方向座標を仮定したときの同一位置の傾斜角度を算出する算出部と、前記被測定物の前記位置の前記所定量移動前後における両傾斜角度を比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記位置における高さ方向座標として決定する決定部と、を備える形状測定装置。形状を測定する被測定物の鏡面を撮像して得られる撮像画像であって前記被測定物の周辺に配置されたパターンの反射像が撮像されている撮像画像に基づいて、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記被測定物の鏡面上の一の位置の傾斜角度と前記一の位置の近傍の他の位置の傾斜角度とを算出する算出部と、前記被測定物の前記一の位置と前記他の位置における両傾斜角度を比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記一の位置における高さ方向座標として決定する決定部と、を備える形状測定装置。固定位置に配置された撮像装置によって撮像された鏡面を有する被測定物の移動前後の撮像画像であって、固定位置に配置されたパターンが前記被測定物の鏡面に反射して撮像された撮像画像を用いて前記被測定物の形状を測定する形状測定装置であって、移動前の前記撮像画像である移動前撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第1画素領域に撮像された前記パターン上の位置である移動前撮像パターン位置を特定する移動前パターン位置特定部と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定し、前記一の高さ方向座標と前記第1画素領域とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の移動前の鏡面上の位置であって前記第1画素領域に撮像される位置である移動前撮像位置を算出する移動前撮像位置算出部と、前記第1画素領域と前記移動前撮像パターン位置と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置における傾斜角度である移動前傾斜角度を算出する移動前傾斜角度算出部と、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の移動後の鏡面上の位置であって前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置に該当する位置である移動後撮像位置を算出する移動後撮像位置算出部と、前記撮像装置の画素領域であって、移動後の前記撮像画像である移動後撮像画像において前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置を撮像する第2画素領域を特定する第2画素領域特定部と、前記移動後撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記第2画素領域に撮像された前記パターン上の位置である移動後撮像パターン位置を特定する移動後パターン位置特定部と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置と前記第2画素領域と前記移動後撮像パターン位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置における傾斜角度である移動後傾斜角度を算出する移動後傾斜角度算出部と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前傾斜角度と前記移動後傾斜角度とを比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記移動前撮像位置における高さ方向座標として決定する高さ方向座標決定部と、を備える形状測定装置。前記高さ方向座標決定部によって決定された前記移動前撮像位置毎の高さ方向座標に基づいて、前記被測定物の鏡面の形状情報を出力する出力部をさらに備える請求項1に記載の形状測定装置。固定位置に配置された撮像装置によって撮像された鏡面を有する被測定物の撮像画像であって、固定位置に配置されたパターンが前記被測定物の鏡面に反射して撮像された撮像画像を用いて前記被測定物の形状を測定する形状測定装置であって、前記撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第1画素領域に撮像された前記パターン上の位置である第1撮像パターン位置を特定する第1パターン位置特定部と、前記撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第2画素領域に撮像された前記パターン上の位置である第2撮像パターン位置を特定する第2パターン位置特定部と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定し、前記一の高さ方向座標と前記第1画素領域とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の鏡面上の位置であって前記第1画素領域に撮像される位置である第1撮像位置を算出する第1撮像位置算出部と、前記第1画素領域と前記第1撮像パターン位置と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置における傾斜角度である第1傾斜角度を算出する第1傾斜角度算出部と、前記第2画素領域と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置および前記第1傾斜角度とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の鏡面上の位置であって前記第2画素領域に撮像される位置である第2撮像位置を算出する第2撮像位置算出部と、前記第2画素領域と前記第2撮像パターン位置と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記第2撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第2撮像位置における傾斜角度である第2傾斜角度を算出する第2傾斜角度算出部と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1傾斜角度と前記第2傾斜角度とを比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記第1撮像位置における高さ方向座標として決定する高さ方向座標決定部と、を備える形状測定装置。前記高さ方向座標決定部によって決定された前記第1撮像位置毎の高さ方向座標に基づいて、前記被測定物を加工する加工情報を出力する出力部を更に備える請求項1に記載の形状測定装置。固定位置に配置された撮像装置によって撮像された鏡面を有する被測定物の移動前後の撮像画像であって、固定位置に配置されたパターンが前記被測定物の鏡面に反射して撮像された撮像画像を用いて前記被測定物の形状を測定する測定方法であって、移動前の前記撮像画像である移動前撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第1画素領域に撮像された前記パターン上の位置である移動前撮像パターン位置を特定する工程と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定し、前記一の高さ方向座標と前記第1画素領域とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の移動前の鏡面上の位置であって前記第1画素領域に撮像される位置である移動前撮像位置を算出する工程と、前記第1画素領域と前記移動前撮像パターン位置と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置における傾斜角度である移動前傾斜角度を算出する工程と、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の移動後の鏡面上の位置であって前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置に該当する位置である移動後撮像位置を算出する工程と、前記撮像装置の画素領域であって、移動後の前記撮像画像である移動後撮像画像において前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置を撮像する第2画素領域を特定する工程と、前記移動後撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記第2画素領域に撮像された前記パターン上の位置である移動後撮像パターン位置を特定する工程と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置と前記第2画素領域と前記移動後撮像パターン位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置における傾斜角度である移動後傾斜角度を算出する工程と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前傾斜角度と前記移動後傾斜角度とを比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記移動前撮像位置における高さ方向座標として決定する工程と、を有する形状測定方法。固定位置に配置された撮像装置によって撮像された鏡面を有する被測定物の撮像画像であって、固定位置に配置されたパターンが前記被測定物の鏡面に反射して撮像された撮像画像を用いて前記被測定物の形状を測定する測定方法であって、前記撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第1画素領域に撮像された前記パターン上の位置である第1撮像パターン位置を特定する工程と、前記撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第2画素領域に撮像された前記パターン上の位置である第2撮像パターン位置を特定する工程と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定し、前記一の高さ方向座標と前記第1画素領域とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の鏡面上の位置であって前記第1画素領域に撮像される位置である第1撮像位置を算出する工程と、前記第1画素領域と前記第1撮像パターン位置と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置における傾斜角度である第1傾斜角度を算出する工程と、前記第2画素領域と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置および前記第1傾斜角度とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の鏡面上の位置であって前記第2画素領域に撮像される位置である第2撮像位置を算出する工程と、前記第2画素領域と前記第2撮像パターン位置と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記第2撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第2撮像位置における傾斜角度である第2傾斜角度を算出する工程と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1傾斜角度と前記第2傾斜角度とを比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記第1撮像位置における高さ方向座標として決定する工程と、を有する形状測定方法。ガラスの原材料を溶融して溶融ガラスを得る溶融工程と、前記溶融ガラスを連続した板状のガラスリボンに成形する成形工程と、前記ガラスリボンを移動させながら徐々に冷却する徐冷工程と、ガラスリボンを切断する切断工程と、を有するガラス板の製造方法であって、前記徐冷工程と前記切断工程との間でガラスリボンの基準面からの高さ方向座標を請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の形状測定装置で測定する測定工程と、前記測定工程で得られた高さ方向座標に基づいて前記徐冷工程での徐冷条件を制御する制御工程と、を有するガラス板の製造方法。しかしながら、物体が鏡面である場合には、2方向から鏡面上の同一点を認識できないため従来のステレオ法を適用することが困難である。従って、従来のステレオ法では、鏡面を有する物体例えば、ガラスの3次元形状の測定が不可能であるという問題がある。本発明は、このような事情を考慮してなされたものであり、鏡面を有する物体であってもステレオ法を応用し3次元形状を測定することができる技術を提供する。上記問題を解決するために、本発明の一態様である形状測定装置は、形状を測定する被測定物の鏡面を撮像して得られる撮像画像であって前記被測定物の周辺に配置されたパターンの反射像が撮像されている撮像画像に基づいて、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記被測定物の鏡面上の一の位置の傾斜角度を算出し、前記被測定物を所定量移動させた後に同様に得られる他の前記撮像画像に基づいて、同一の高さ方向座標を仮定したときの同一位置の傾斜角度を算出する算出部と、前記被測定物の前記位置の前記所定量移動前後における両傾斜角度を比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記位置における高さ方向座標として決定する決定部と、を備える。上記問題を解決するために、本発明の他の態様である形状測定装置は、形状を測定する被測定物の鏡面を撮像して得られる撮像画像であって前記被測定物の周辺に配置されたパターンの反射像が撮像されている撮像画像に基づいて、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記被測定物の鏡面上の一の位置の傾斜角度と前記一の位置の近傍の他の位置の傾斜角度とを算出する算出部と、前記被測定物の前記一の位置と前記他の位置における両傾斜角度を比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記一の位置における高さ方向座標として決定する決定部と、を備える。上記問題を解決するために、本発明の他の態様である形状測定装置は、固定位置に配置された撮像装置によって撮像された鏡面を有する被測定物の移動前後の撮像画像であって、固定位置に配置されたパターンが前記被測定物の鏡面に反射して撮像された撮像画像を用いて前記被測定物の形状を測定する形状測定装置であって、移動前の前記撮像画像である移動前撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第1画素領域に撮像された前記パターン上の位置である移動前撮像パターン位置を特定する移動前パターン位置特定部と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定し、前記一の高さ方向座標と前記第1画素領域とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の移動前の鏡面上の位置であって前記第1画素領域に撮像される位置である移動前撮像位置を算出する移動前撮像位置算出部と、前記第1画素領域と前記移動前撮像パターン位置と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置における傾斜角度である移動前傾斜角度を算出する移動前傾斜角度算出部と、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の移動後の鏡面上の位置であって前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置に該当する位置である移動後撮像位置を算出する移動後撮像位置算出部と、前記撮像装置の画素領域であって、移動後の前記撮像画像である移動後撮像画像において前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置を撮像する第2画素領域を特定する第2画素領域特定部と、前記移動後撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記第2画素領域に撮像された前記パターン上の位置である移動後撮像パターン位置を特定する移動後パターン位置特定部と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置と前記第2画素領域と前記移動後撮像パターン位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置における傾斜角度である移動後傾斜角度を算出する移動後傾斜角度算出部と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前傾斜角度と前記移動後傾斜角度とを比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記移動前撮像位置における高さ方向座標として決定する高さ方向座標決定部と、を備える。上記形状測定装置において、前記高さ方向座標決定部によって決定された前記移動前撮像位置毎の高さ方向座標に基づいて、前記被測定物の鏡面の形状情報を出力する出力部をさらに備えるようにしてもよい。上記問題を解決するために、本発明の他の態様である形状測定装置は、固定位置に配置された撮像装置によって撮像された鏡面を有する被測定物の撮像画像であって、固定位置に配置されたパターンが前記被測定物の鏡面に反射して撮像された撮像画像を用いて前記被測定物の形状を測定する形状測定装置であって、前記撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第1画素領域に撮像された前記パターン上の位置である第1撮像パターン位置を特定する第1パターン位置特定部と、前記撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第2画素領域に撮像された前記パターン上の位置である第2撮像パターン位置を特定する第2パターン位置特定部と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定し、前記一の高さ方向座標と前記第1画素領域とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の鏡面上の位置であって前記第1画素領域に撮像される位置である第1撮像位置を算出する第1撮像位置算出部と、前記第1画素領域と前記第1撮像パターン位置と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置における傾斜角度である第1傾斜角度を算出する第1傾斜角度算出部と、前記第2画素領域と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置および前記第1傾斜角度とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の鏡面上の位置であって前記第2画素領域に撮像される位置である第2撮像位置を算出する第2撮像位置算出部と、前記第2画素領域と前記第2撮像パターン位置と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記第2撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第2撮像位置における傾斜角度である第2傾斜角度を算出する第2傾斜角度算出部と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1傾斜角度と前記第2傾斜角度とを比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記第1撮像位置における高さ方向座標として決定する高さ方向座標決定部と、を備える。上記形状測定装置は、前記高さ方向座標決定部によって決定された前記第1撮像位置毎の高さ方向座標に基づいて、前記被測定物を加工する加工情報を出力する出力部を更に備えるようにしてもよい。上記問題を解決するために、本発明の他の態様である形状測定方法は、固定位置に配置された撮像装置によって撮像された鏡面を有する被測定物の移動前後の撮像画像であって、固定位置に配置されたパターンが前記被測定物の鏡面に反射して撮像された撮像画像を用いて前記被測定物の形状を測定する測定方法であって、移動前の前記撮像画像である移動前撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第1画素領域に撮像された前記パターン上の位置である移動前撮像パターン位置を特定する工程と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定し、前記一の高さ方向座標と前記第1画素領域とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の移動前の鏡面上の位置であって前記第1画素領域に撮像される位置である移動前撮像位置を算出する工程と、前記第1画素領域と前記移動前撮像パターン位置と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置における傾斜角度である移動前傾斜角度を算出する工程と、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の移動後の鏡面上の位置であって前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前撮像位置に該当する位置である移動後撮像位置を算出する工程と、前記撮像装置の画素領域であって、移動後の前記撮像画像である移動後撮像画像において前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置を撮像する第2画素領域を特定する工程と、前記移動後撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記第2画素領域に撮像された前記パターン上の位置である移動後撮像パターン位置を特定する工程と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置と前記第2画素領域と前記移動後撮像パターン位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動後撮像位置における傾斜角度である移動後傾斜角度を算出する工程と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記移動前傾斜角度と前記移動後傾斜角度とを比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記移動前撮像位置における高さ方向座標として決定する工程と、を有する。上記問題を解決するために、本発明の他の態様である形状測定方法は、固定位置に配置された撮像装置によって撮像された鏡面を有する被測定物の撮像画像であって、固定位置に配置されたパターンが前記被測定物の鏡面に反射して撮像された撮像画像を用いて前記被測定物の形状を測定する測定方法であって、前記撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第1画素領域に撮像された前記パターン上の位置である第1撮像パターン位置を特定する工程と、前記撮像画像において撮像された前記パターン上の位置であって、前記撮像装置の所定の第2画素領域に撮像された前記パターン上の位置である第2撮像パターン位置を特定する工程と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定し、前記一の高さ方向座標と前記第1画素領域とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の鏡面上の位置であって前記第1画素領域に撮像される位置である第1撮像位置を算出する工程と、前記第1画素領域と前記第1撮像パターン位置と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置における傾斜角度である第1傾斜角度を算出する工程と、前記第2画素領域と、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1撮像位置および前記第1傾斜角度とから、前記一の高さ方向座標と仮定した前記被測定物の鏡面上の位置であって前記第2画素領域に撮像される位置である第2撮像位置を算出する工程と、前記第2画素領域と前記第2撮像パターン位置と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記第2撮像位置とから、前記一の高さ方向座標と仮定したときの前記第2撮像位置における傾斜角度である第2傾斜角度を算出する工程と、前記被測定物の高さ方向座標を一の高さ方向座標と仮定したときの前記第1傾斜角度と前記第2傾斜角度とを比較し、一致するときの高さ方向座標を前記被測定物の前記第1撮像位置における高さ方向座標として決定する工程と、を有する。上記問題を解決するために、本発明の他の態様であるガラス板の製造方法は、ガラスの原材料を溶融して溶融ガラスを得る溶融工程と、前記溶融ガラスを連続した板状のガラスリボンに成形する成形工程と、前記ガラスリボンを移動させながら徐々に冷却する徐冷工程と、ガラスリボンを切断する切断工程と、を有するガラス板の製造方法であって、前記徐冷工程と前記切断工程との間でガラスリボンの基準面からの高さ方向座標を上記の形状測定装置で測定する測定工程と、前記測定工程で得られた高さ方向座標に基づいて前記徐冷工程での徐冷条件を制御する制御工程と、を有する。本発明によれば、鏡面を有する物体であってもステレオ法を応用し3次元形状を測定することができるようになる。また、本発明の形状測定装置又は測定方法を用いれば、ガラス製品の形状品質、具体的には反り等のより少ないガラス板を製造できるようになる。第1の実施形態以下、本発明の第1の実施形態を、図面を参照して説明する。図1は、本発明の第1の実施形態による形状測定装置1の機能ブロック図の一例である。図1において、形状測定装置1の測定対象鏡面を有する物体であるガラス材3は、その表面が曲面で構成された3次元形状を有している。ガラス材3の上部には、所定の模様例えば格子状の模様などを有するパターン4が配置されており、このパターン4の模様がガラス材3の上記表面に反射して映り込んでいる。本実施形態の形状測定装置1は、このガラス材3表面の反射模様を、ガラス材3を移動させる前後で撮像装置2により撮影し、移動前後で得られた2つの画像を用いて、ガラス材3表面のある測定点における高さ方向図1に示すz方向の座標高さ方向座標を算出する。また、形状測定装置1は、算出した各測定点の座標に基づいて、ガラス材3表面の3次元形状を表す図9のような形状情報を生成し、外部に出力する。なお、ガラス材3を移動させる方法は、従来技術を利用すればよく、一般的に利用される搬送設備や、移動テーブルなどを利用すればよい。ここで、図1に示す形状測定装置1の各部の機能を説明する前に、図2および図3を参照して、形状測定装置1による3次元形状の測定原理を説明する。まず、撮像装置2により、ガラス材3の表面に反射したパターン4の模様を撮像し、得られた画像内の予め定めた位置画素領域P0にパターン4のどの部分が写っているかを調べる。例えば、パターン4が格子状の模様である場合、画像中の格子の本数を数えることによりパターン4内の位置を特定できる。画素領域P0に写っているパターン4の一部分の位置をX0とする図2上。このとき、パターン4の位置X0を発した光がガラス材3の表面で反射されて、撮像画像内の画素領域P0の像を形成していることになるが、ガラス材3の表面形状が未知であるため、真のガラス材3上の反射点は一意に定まらない反射点は、撮像装置2から見て画素領域P0の方向を向いた直線L0上のどこかにある。図2では、高さ図中に示す基準面Mから測ったz方向の座標値が異なる3つの反射点の候補A01,A02,A03を示している。各反射点A01,A02,A03の高さを、それぞれH1,H2,H3H1<H2<H3とする。以下、高さ方向座標を単に高さと呼ぶ場合もある。ここで、高さH1の反射点A01を仮定した場合、この反射点A01におけるガラス材3表面の仮定上の接平面は、パターン4の位置X0を発して反射点A01へ入射する光を撮像装置2の画素領域P0へ向けて反射させる反射面S1と等しい傾斜角Θ01を有しているはずである。反射点A02又はA03を仮定した場合のこれら反射点におけるガラス材3表面の仮定上の各接平面も、同様に、それぞれ対応する反射面S2,S3と等しい傾斜角Θ02,Θ03を有している。このとき、反射点が高いほど即ち、A01よりA02の方が、更にA02よりA03の方がパターン4の位置X0から各反射面S1,S2,S3への入射角が浅くなるため、Θ01<Θ02<Θ03の関係が成り立っているここでは傾斜角を、図中に示すx軸負方向と各反射面の図中上側を向く法線とのなす角度で定義するものとする。この関係を図3のグラフに曲線C0として表した。このように、傾斜角Θ0nは反射点の高さHnの関数となっている。但し、上述したとおり、真の反射点がこの曲線C0上のどの点に対応するものであるかは、一意に定めることができない。さて、次に、ガラス材3を距離Lだけ移動させて、移動後に、再び撮像装置2によりガラス材3の表面に反射したパターン4の模様を撮像する図2下。ガラス材3を移動させたことにより、上記仮定した高さH1の反射点A01は、高さH1を維持したまま元の位置から距離Lだけ離れた位置AL1へと移動している。距離Lは撮像装置2の撮像範囲内であれば任意に設定される。ここで、撮像装置2の撮像方向撮像装置2が向けられている方向が既知であるとすると、ガラス材3と撮像装置2の位置関係から、ガラス材3移動後の撮像画像内において位置AL1を捉えている画素領域PL1が分かる。そして、この画素領域PL1にパターン4のどの部分が写っているかを、ガラス材3移動前と同様に調べる。画素領域PL1に写っているパターン4の一部分の位置をXL1とする。このとき、パターン4の位置XL1を発した光が移動後のガラス材3表面の反射点AL1で反射されて、移動後に撮像した画像内の画素領域PL1の像を形成していることになる。この反射点AL1におけるガラス材3表面の接平面パターン4の位置XL1を発して反射点AL1へ入射する光を撮像装置2の画素領域PL1へ向けて反射させる反射面SL1の傾斜角を、ΘL1とする。このようにして、ガラス材3移動後においても、反射点AL1における高さH1と傾斜角ΘL1とが関係付けられる。反射点AL2における高さH2と反射面SL2の傾斜角ΘL2、反射点AL3における高さH3と反射面SL3の傾斜角ΘL3についても同様である。ここで、ガラス材3を移動させる前の反射点A01,A02,A03は、そのうちのいずれが真の反射点であるかが不定であったが、真の反射点であれば、ガラス材3の移動前後において、当該反射点におけるガラス材3表面の接平面の傾斜角は等しいはずである移動前後で当該反射点は物理的に同一の点であるため。図3のグラフに、ガラス材3移動後のΘLnとHnの関係を表す曲線CLが曲線C0と一点で交わる様子を示した。したがって、ΘLn=Θ0nとなるようなHnを見つければ、その反射点A0nが真の反射点であり、当該反射点における傾斜角Θ0nと高さHnが求められたことになる。こうして、与えられた画素領域P0に対してガラス材3上の一点A0nの3次元座標値が決定される。以上の測定は、画素領域P0に対応するガラス材3上の一点についての測定であるが、同様の測定を撮像した全ての画素領域について行うことで、ガラス材3の表面上の全ての点における真の傾斜角Θ0nと真の高さHn、即ちガラス材3の表面の3次元形状を求めることができる。次に、図1に戻って、上述の測定原理に基づいた形状測定装置1の各部の機能を説明する。形状測定装置1は、パターン位置特定部20移動前パターン位置特定部、移動後パターン位置特定部、反射点候補選択部30移動前撮像位置算出部、移動後撮像位置算出部、画素領域特定部40第2画素領域特定部、傾斜角度算出部50移動前傾斜角度算出部、移動後傾斜角度算出部、高さ方向座標決定部60、および出力部80を備える。なお、これらの各部は、CPUが所定のプログラムを読み込んで実行することによって実現されるものである。パターン位置特定部20は、撮像装置2から、ガラス材3表面に反射しているパターン4の模様をガラス材3の移動前に撮像した画像以下、移動前撮像画像と称するを取得する。そして、パターン位置特定部20は、当該取得した移動前撮像画像内の画素領域P0に、パターン4上のどの部分が写っているかを特定する以下、パターン4の当該特定された部分をパターン位置X0と表す。具体的には、パターン位置特定部20は、移動前撮像画像上の画素領域P0に撮像されている模様を画像処理により認識して、その認識した模様がパターン4のどの部分に該当する模様であるかを調べるパターン4の模様は既知であることにより、当該認識した模様に対応するパターン4上のパターン位置X0を特定する。また同様に、パターン位置特定部20は、撮像装置2から、ガラス材3表面に反射しているパターン4の模様をガラス材3の移動後に撮像した画像以下、移動後撮像画像と称するを取得する。さらに、パターン位置特定部20は、画素領域特定部40から画素領域PL1,PL2,PL3,...を示す情報を取得する。そして、パターン位置特定部20は、上述と同様にして、移動後撮像画像内の各画素領域PLnに、パターン4上のどの部分が写っているかを特定する以下、パターン4の当該特定された部分をパターン位置XLnと表す。反射点候補選択部30は、画素領域P0に基づいて、ガラス材3の表面の高さを様々な値と仮定した場合の各高さについて、パターン位置X0を発した光を反射して画素領域P0へと向かわせる反射点の候補A01,A02,A03,...を算出する。図2に示されるように、これらの反射点の候補A0nは、撮像装置2から画素領域P0の方向へ引いた直線L0が、仮定された各高さのガラス材3表面を貫く位置として求めることができる。また、反射点候補選択部30は、各反射点候補A0nに基づいて、ガラス材3を距離Lだけ移動させた時にこれら各反射点候補A0nの移動先となる位置AL1,AL2,AL3,...を算出する。これらの各位置ALnは、図2に示されるように、ガラス材3の移動後において、パターン位置XLnからの光を反射して画素領域PLnへと向かわせる反射点の候補である。なお、これらの反射点候補ALnは、ガラス材3移動前の反射点候補A0nを距離Lだけ平行移動させることによって求めることができる。画素領域特定部40は、ガラス材3を移動させた後の各反射点候補ALnに基づいて、撮像装置2の画素領域の中から、当該反射点候補ALnの位置を捉えている画素領域PLnをそれぞれ特定する。図2に示されるように、これら画素領域PLnは、撮像装置2とガラス材3の位置関係撮像装置2の撮像方向は既知であるに基づいて、すなわち、撮像装置2と各反射点候補ALnを結んだ直線が、撮像装置2から画素領域PLnの方向へ引いた直線に一致するという条件から、求めることができる。傾斜角度算出部50は、ガラス材3が移動する前の各反射点候補A0nについて、パターン4上のパターン位置X0を発して当該反射点候補A0nへ入射する光を撮像装置2の画素領域P0へ向けて反射させる反射面をそれぞれ求め、これら各反射面の傾斜角度Θ0nを算出する。図2に示されるように、上記反射面の傾斜角度は、パターン位置X0と各反射点候補A0nを結んだ直線の当該反射面の法線となす角度反射点候補A0nへ入射する光の入射角が、各反射点候補A0nと撮像装置2の画素領域P0を結んだ直線が当該反射面の法線となす角度反射点候補A0nから反射される光の反射角に等しいという条件から、求めることができる。また、同様にして、傾斜角度算出部50は、ガラス材3を移動させた後の各反射点候補ALnについて、パターン4上のそれぞれ対応するパターン位置XLnを発して当該反射点候補ALnへ入射する光を撮像装置2の対応する画素領域PLnへ向けて反射させる反射面をそれぞれ求め、これら各反射面の傾斜角度ΘLnを算出する。高さ方向座標決定部60は、ガラス材3の上記仮定した各高さとその高さに応じて定まる反射点候補A0nについて、ガラス材3を移動させる前の傾斜角度として求められたΘ0nとガラス材3を移動させた後の傾斜角度として求められたΘLnとを比較する。そして、高さ方向座標決定部60は、Θ0nとΘLnの両者の値が一致するときの反射点候補A0nおよび高さの仮定値を、画素領域P0に対応するガラス材3の真の反射点A0および当該反射点A0におけるガラス材3の真の高さとして決定する。実際には、測定上の誤差などによりΘ0nとΘLnが厳密には一致しない場合もあるため、Θ0nとΘLnの差の2乗が最小となるようなガラス材3の高さを求めるようにしてもよい図10参照。このようにして、撮像装置2から画素領域P0を臨んだ方向におけるガラス材3上の一点反射点A0の3次元座標値水平方向の位置および高さ方向の位置が決定される。出力部80は、高さ方向座標決定部60によって決定されたガラス材3上の点の位置の座標値水平方向の位置座標および高さ方向の位置座標を出力する。また、出力部80は、ガラス材3上の多数の点について同様の測定を行って求められた各座標値に基づいて、ガラス材3の表面形状を表す図9のような形状情報を生成し出力する。図4は、形状測定装置1の動作の一例を示すフローチャートである。以下、図4に示すフローチャートを用いて形状測定装置1の動作を説明する。本フローチャートは、パターン位置特定部20が移動前撮像画像を撮像装置2から取得することにより開始される。図4において、移動前撮像画像を取得したパターン位置特定部20は、移動前撮像画像上の画素領域P0に撮像されている模様から、その模様に対応するパターン4上のパターン位置X0を特定するステップS1。次に、反射点候補選択部30は、n=1として反射点候補A0nを算出するステップS2,ステップS3。次に、傾斜角度算出部50は、反射点候補A0nを反射点として有する反射面を求めてその傾斜角度Θ0nを算出するステップS4。続いて傾斜角度算出部50は、nが予め定めた最大値になったか否か全ての反射点候補A0nと傾斜角度Θ0nを算出したか否かを判断するステップS5。nが最大値でない場合ステップS5:Noは、nが1インクリメントされてステップS6、ステップS3からステップS5が繰り返される。nが最大値である場合ステップS5:Yes、パターン位置特定部20は、移動後撮像画像を撮像装置2から取得する。そして、反射点候補選択部30は、m=1、n=m,m1,m2として3点の反射点候補A0nから対応する3点のガラス材3の移動後の反射点候補ALnをそれぞれ算出するステップS7,ステップS8。以下、3点それぞれについて実施する。次に、画素領域特定部40は、撮像装置2の画素領域の中から反射点候補ALnに対応する画素領域PLnを特定するステップS9。次に、パターン位置特定部20は、移動後撮像画像上の画素領域PLnに撮像されている模様から、その模様に対応するパターン4上のパターン位置XLnを特定するステップS10。次に、傾斜角度算出部50は、反射点候補ALnを反射点として有する反射面を求めてその傾斜角度ΘLnを算出するステップS11。次に、高さ方向座標決定部60は、上記で算出した3点の傾斜角度Θ0nと対応する3点の傾斜角度ΘLnのそれぞれの差の2乗を求め、これらの差を比較して極小値であるか否かを判断するステップS12。これらのΘ0nとΘLnの差の2乗の中に極小値がない場合ステップS12:Noは、mが1インクリメントされてステップS13、すなわちnが1インクリメントされた3点について、ステップS8からステップS12が繰り返される。Θ0nとΘLnの差の2乗の中に極小値がある場合ステップS12:Yes、高さ方向座標決定部60は、そのときのΘ0nに対応する反射点候補A0nを、撮像装置2から画素領域P0を見た方向におけるガラス材3の真の反射点と決定し、反射点候補A0nの高さと仮定した値Hnを、真の反射点A0の高さ方向座標と決定するステップS14。以上で、本フローチャートは終了する。なお、真の高さ方向座標の探索に当たっては、上記に限定されず、また必ずしもnの最小値から最大値まで全てを計算する必要はない。このような解の探索方法には、公知の種々の高速化アルゴリズムを必要に応じて利用することができる。第2の実施形態次に、本発明の第2の実施形態を、図面を参照して説明する。図5は、本発明の第2の実施形態による形状測定装置100の機能ブロック図の一例である。図5において、形状測定装置100の測定対象鏡面を有する物体であるガラス材3は、その表面が曲面で構成された3次元形状を有している。ガラス材3の上部には、所定の模様例えば格子状の模様などを有するパターン4が配置されており、このパターン4の模様がガラス材3の上記表面に反射して映り込んでいる。本実施形態の形状測定装置100は、このガラス材3表面の反射模様を撮像装置2により撮影し、ガラス材3表面のある測定点における高さ方向図5に示すz方向の座標高さ方向座標を、撮影により得られた1つの画像内の2点に着目することで算出する。また、形状測定装置100は、算出した各測定点の座標に基づいて、ガラス材3表面の3次元形状を表す図9のような形状情報を生成し、外部に出力する。ここで、図5に示す形状測定装置100の各部の機能を説明する前に、図6および図7を参照して、形状測定装置100による3次元形状の測定原理を説明する。まず、撮像装置2により、ガラス材3の表面に反射したパターン4の模様を撮像し、得られた画像内の予め定めたある1点画素領域P1にパターン4のどの部分が写っているかを調べる。例えば、パターン4が格子状の模様である場合、画像中の格子の本数を数えることによりパターン4内の位置を特定できる。画素領域P1に写っているパターン4の一部分の位置をX1とする。このとき、パターン4の位置X1を発した光がガラス材3の表面で反射されて、撮像画像内の画素領域P1の像を形成していることになるが、ガラス材3の表面形状が未知であるため、真のガラス材3上の反射点は一意に定まらない反射点は、撮像装置2から見て画素領域P1の方向を向いた直線L1上のどこかにある。図6では、高さ図中に示す基準面Mから測ったz方向の座標値が異なる3つの反射点の候補A11,A12,A13を示している。各反射点A11,A12,A13の高さを、それぞれH1,H2,H3H1<H2<H3とする。ここで、高さH1の反射点A11を仮定した場合、この反射点A11におけるガラス材3表面の仮定上の接平面は、パターン4の位置X1を発して反射点A11へ入射する光を撮像装置2の画素領域P1へ向けて反射させる反射面S1と等しい傾斜角Θ11を有しているはずである。反射点A12又はA13を仮定した場合のこれら反射点におけるガラス材3表面の仮定上の各接平面も、同様に、それぞれ対応する反射面S2,S3と等しい傾斜角Θ12,Θ13を有している。このとき、反射点が高いほど即ち、A11よりA12の方が、更にA12よりA13の方がパターン4の位置X1から各反射面S1,S2,S3への入射角が浅くなるため、Θ11<Θ12<Θ13の関係が成り立っているここでは傾斜角を、図中に示すx軸負方向と各反射面の図中上側を向く法線とのなす角度で定義するものとする。この関係を図7のグラフに曲線C1として表した。このように、傾斜角Θ1nは反射点の高さHnの関数となっている。但し、上述したとおり、真の反射点がこの曲線C1上のどの点に対応するものであるかは、一意に定めることができない。なお、ここまでの考え方は、第1の実施形態と同じである。次に、上記と同じ画像内において、画素領域P1とは別の予め定めたある1点画素領域P2にパターン4のどの部分が写っているかを、上記と同様にして調べる。但し、画素領域P1とP2は、互いに近傍の画素領域であるとする。画素領域P2に写っているパターン4の一部分の位置をX2とすると、上記と同様に、パターン4の位置X2を発した光を撮像装置2の画素領域P2へ向けて反射するガラス材3上の反射点は、撮像装置2から見て画素領域P2の方向を向いた直線L2上のどこかに存在している一意に定まらない。さて、本実施形態では、先述した各反射点の候補A11,A12,A13,...を通る上記の仮定上の各接平面反射面S1,S2,S3,...が、直線L2と交わる交点A21,A22,A23,...に着目する。画素領域P1とP2が近傍の領域であるから、各点A1nとこれに対応する点A2nも近傍の点であるn=1,2,...。ここで、ガラス材3の形状の変化が十分に緩やかであるという前提を設けることにする。すると、ガラス材3表面上の互いに近傍の2点において、これら2点のそれぞれを通る各接平面は、同一の平面と見做すことができる。なお、近傍とはガラス材3の形状の変化が無視できるほど小さい範囲のことを意味しており、この範囲内において近傍の2点が任意に設定される。したがって、上記反射点の候補のうちある点A1kがガラス材3上の真の反射点であるならば、この点A1kを通るガラス材3の接平面反射面Sk上に存在する点A2kもまた、ガラス材3上の点であることになる。そして、この点A2kを反射点としてパターン4の位置X2からの光を撮像装置2の画素領域P2へ向けて反射する反射面Sk’を考えると、当該反射面即ち点A2kにおけるガラス材3の接平面は、点A1kにおけるガラス材3の接平面反射面Skに一致することになり、その傾斜角Θ2kは、傾斜角Θ1kと等しいはずであることが分かる。図6では、点A12がガラス材3上の真の反射点である状況が描かれている。一方、ガラス材3上の真の反射点でない点A1j但し、j≠kであり、図6では点A11とA13が相当するについては、この点A1jを通る仮定上のガラス材3の接平面反射面Sj上に存在する点A2jはガラス材3上の点ではなく、この点A2jでパターン4の位置X2からの光を撮像装置2の画素領域P2へ向けて反射する反射面の傾斜角Θ2jは、傾斜角Θ1jと異なることになる。そこで、画素領域P1に対応する反射点候補A11,A12,A13,...を通る仮定上の各接平面反射面S1,S2,S3,...と画素領域P2により決まる直線L2との上述の各交点A21,A22,A23,...について、それぞれ仮定上の接平面反射面S1’,S2’,S3’,...の傾斜角Θ21,Θ22,Θ23,...を求め、Θ2k=Θ1kとなるような反射点候補A1kを見つければ、その反射点A1kが真の反射点であり、当該反射点における傾斜角Θ1kと高さHkが求められたことになる。こうして、与えられた画素領域P1に対してガラス材3上の一点A1kの3次元座標値が決定される。図7のグラフに、上述した曲線C1に加えて、上記の各交点A2nの高さH’nと各交点A2nにおける接平面の傾斜角Θ2nの関係を表す曲線C2が表されている。このグラフにおいて、Θ1nの値とΘ2nの値が等しくなる点A12が、ガラス材3上の真の反射点である。以上の測定は、画素領域P1に対応するガラス材3上の一点についての測定であるが、同様の測定を撮像した全ての画素領域について行うことで、ガラス材3の表面上の全ての点における真の傾斜角Θ1nと真の高さHn、即ちガラス材3の表面の3次元形状を求めることができる。次に、図5に戻って、上述の測定原理に基づいた形状測定装置100の各部の機能を説明する。形状測定装置100は、パターン位置特定部120、反射点候補選択部130、傾斜角度算出部150、高さ方向座標決定部160、および出力部180を備える。なお、これらの各部は、CPUが所定のプログラムを読み込んで実行することによって実現されるものである。パターン位置特定部120は、撮像装置2から、ガラス材3表面に反射しているパターン4の模様を撮像した画像以下、撮像画像と称するを取得する。そして、パターン位置特定部120は、当該取得した撮像画像内の画素領域P1に、パターン4上のどの部分が写っているかを特定する以下、パターン4の当該特定された部分をパターン位置X1と表す。具体的には、パターン位置特定部120は、撮像画像上の画素領域P1に撮像されている模様を画像処理により認識して、その認識した模様がパターン4のどの部分に該当する模様であるかを調べるパターン4の模様は既知であることにより、当該認識した模様に対応するパターン4上のパターン位置X1を特定する。また、同様にして、パターン位置特定部120は、上記撮像画像同じ画像内の画素領域P2画素領域P1の近傍にパターン4上のどの部分が写っているかを特定する以下、パターン4の当該特定された部分をパターン位置X2と表す。反射点候補選択部130は、画素領域P1に基づいて、ガラス材3の表面の高さを様々な値と仮定した場合の各高さについて、パターン位置X1を発した光を反射して画素領域P1へと向かわせる反射点の候補A11,A12,A13,...を算出する。図6に示されるように、これらの反射点の候補A1nは、撮像装置2から画素領域P1の方向へ引いた直線L1が、仮定された各高さのガラス材3表面を貫く位置として求めることができる。また、反射点候補選択部130は、傾斜角度算出部150から、上記算出した各反射点候補A11,A12,A13,...に対応する各反射面の傾斜角度Θ11,Θ12,Θ13,...の値を得る。そして、反射点候補選択部130は、画素領域P2と反射点候補A11とこの反射点候補A11における反射面の傾斜角度Θ11とに基づいて、反射点候補A1nにおける反射面ガラス材3の接平面と図6の直線L2との交点A21を算出する。同様に、反射点候補選択部130は、反射点候補A12,A13,...のそれぞれにおける反射面ガラス材3の接平面と図6の直線L2との交点A22,A23,...を算出する。傾斜角度算出部150は、各反射点候補A1nについて、パターン4上のパターン位置X1を発して当該反射点候補A1nへ入射する光を撮像装置2の画素領域P1へ向けて反射させる反射面をそれぞれ求め、これら各反射面の傾斜角度Θ1nを算出する。図6に示されるように、上記反射面の傾斜角度は、パターン位置X1と各反射点候補A1nを結んだ直線の当該反射面の法線となす角度反射点候補A1nへ入射する光の入射角が、各反射点候補A1nと撮像装置2の画素領域P1を結んだ直線が当該反射面の法線となす角度反射点候補A1nから反射される光の反射角に等しいという条件から、求めることができる。また、同様にして、傾斜角度算出部150は、各反射点候補A1nのそれぞれに対応する各点A2nについて、パターン4上のパターン位置X2を発して各点A2nへ入射する光を撮像装置2の画素領域P2へ向けて反射させる反射面をそれぞれ求め、これら各反射面の傾斜角度Θ2nを算出する。高さ方向座標決定部160は、各反射点候補A1nにおける反射面の傾斜角度Θ1nと、当該反射点候補A1nに対応する点A2nにおける反射面の傾斜角度Θ2nとを比較する。そして、高さ方向座標決定部160は、Θ1nとΘ2nの両者の値が一致するときの反射点候補A1nを、直線L1方向におけるガラス材3の真の反射点A1として決定する。実際には、測定上の誤差などによりΘ1nとΘ2nが厳密には一致しない場合もあるため、Θ1nとΘ2nの差の2乗が最小となるように真の反射点A1を決定してもよい。このようにして、撮像装置2から画素領域P1を臨んだ方向におけるガラス材3上の一点反射点A1の3次元座標値水平方向の位置および高さ方向の位置が決定される。出力部180は、高さ方向座標決定部160によって決定されたガラス材3上の点の位置の座標値水平方向の位置座標および高さ方向の位置座標を出力する。また、出力部180は、ガラス材3上の多数の点について同様の測定を行って求められた各座標値に基づいて、ガラス材3の表面形状を表す図9のような形状情報を生成し出力する。図8は、形状測定装置100の動作の一例を示すフローチャートである。以下、図8に示すフローチャートを用いて形状測定装置100の動作を説明する。本フローチャートは、パターン位置特定部120が撮像画像を撮像装置2から取得することにより開始される。図8において、撮像画像を取得したパターン位置特定部120は、撮像画像上の画素領域P1および画素領域P2に撮像されている模様から、これら各模様に対応するパターン4上のパターン位置X1およびパターン位置X2を特定するステップS21。次に、反射点候補選択部130は、m=1、n=m,m1,m2として3点の反射点候補A1nを算出するステップS22,ステップS23。次に、傾斜角度算出部150は、反射点候補A1nを反射点として有する反射面を求めてその傾斜角度Θ1nを3点それぞれについて算出するステップS24。次に、反射点候補選択部130は、画素領域P2と反射点候補A1nとこの反射点候補A1nにおける反射面の傾斜角度Θ1nとに基づいて、反射点候補A1nにおける反射面ガラス材3の接平面と図6の直線L2との交点A2nを3点それぞれについて算出するステップS25。次に、傾斜角度算出部150は、交点A2nを反射点として有する反射面を求めてその傾斜角度Θ2nを3点それぞれについて算出するステップS26。次に、高さ方向座標決定部160は、上記で算出した3点の傾斜角度Θ1nと対応する3点の傾斜角度Θ2nのそれぞれの差の2乗を求め、これらの差を比較して極小値であるか否かを判断するステップS27。これらのΘ1nとΘ2nの差の2乗の中に極小値がない場合ステップS27:Noは、mが1インクリメントされてステップS28、すなわちnが1インクリメントされた3点について、ステップS23からステップS27が繰り返される。Θ1nとΘ2nの差の2乗の中に極小値がある場合ステップS27:Yes、高さ方向座標決定部160は、そのときのΘ1nに対応する反射点候補A1nを、撮像装置2から画素領域P1を見た方向におけるガラス材3の真の反射点と決定し、反射点候補A1nの高さと仮定した値Hnを、真の反射点A1の高さ方向座標と決定するステップS29。以上で、本フローチャートは終了する。なお、真の高さ方向座標の探索に当たっては、上記に限定されず、また必ずしもnの最小値から最大値まで全てを計算する必要はない。このような解の探索方法には、公知の種々の高速化アルゴリズムを必要に応じて利用することができる。第3の実施形態以下、ガラス板の製造ラインにおける形状測定装置1または形状測定装置100の適用例について説明する。図11は、形状測定装置1または形状測定装置100を適用したガラス板の製造ラインの概略説明図である。図11に示す製造ラインにおけるガラス板の製造方法は、ガラス原材料を溶融して溶融ガラスを得る溶融工程と、前記溶融ガラスを連続した板状のガラスリボンに成形する成形工程と、前記ガラスリボンを移動させながら徐々に冷却する徐冷工程と、ガラスリボンを切断する切断工程と、を有するガラス板の製造方法において、さらに前記徐冷工程と前記切断工程との間でガラスリボンの基準面からの高さ方向座標を本発明の形状測定装置で測定する測定工程と、前記測定工程で得られた高さ方向座標に基づいて前記徐冷工程での徐冷条件を制御する制御工程と、を有することを特徴とする。図12に、ガラス板の製造方法の工程を示す。具体的には、ガラス板の製造工程の中で、本発明の測定方法で得られる高さのデータの結果から、ガラスリボンのそりが大きいと判断された場合には、そのそりの大きさ、箇所を考慮して、徐冷工程での徐冷条件、例えば冷却速度条件、冷却温度条件を変更する。これによって、そりによる形状不良やそりによる割れを防止し、引いては歩留りよくガラス板を製造できる。成形工程には、フロート法、ロールアウト法、ダウンドロー法、フュージョン法など種々のものがあり、本発明はこれらのうちいずれか、あるいはその他の方法を適宜用いることができる。図11の例では、フロート法を用いる場合を例に説明をする。溶融工程図12のS1では、珪砂、石灰石、ソーダ灰等の原材料をガラス製品の組成に合わせて調合し混合したバッチを溶融窯に投入し、ガラスの種類に応じて約1400°C以上の温度に加熱溶融して溶融ガラスを得る。例えば、溶融窯の一端から溶融窯内へバッチを投入し、重油を燃焼して得られる火炎あるいは天然ガスを空気と混合して燃焼して得られる火炎をこのバッチに吹きつけて、約1550°C以上の温度に加熱してバッチを溶かすことによって溶融ガラスを得る。また、電気溶融炉を用いて溶融ガラスを得てもよい。成形工程図12のS2では、溶融工程で得られた溶融ガラスを溶融窯下流部201から溶融錫浴203へと導入し、溶融錫202上に溶融ガラスを浮かせて図中の搬送方向に進行させることによって連続した板状のガラスリボン204ガラス材3に相当するとする。このとき、所定の板厚のガラスリボン204を成形するために、ガラスリボン204の両サイド部分に回転するロールトップロール205を押圧し、ガラスリボン204を幅方向搬送方向に直角な方向外側に引き伸ばす。徐冷工程図12のS3では、上記成形されたガラスリボン204をリフトアウトロール208によって溶融錫浴203から引き出し、このガラスリボン204を、金属ロール209を用いて徐冷炉210内で図中の搬送方向に移動させて、ガラスリボン204の温度を徐々に冷却し、引き続き徐冷炉210から出て切断工程に至る間でさらに常温近くまで冷却させる。徐冷炉210は、燃焼ガスや電気ヒータによって制御された熱量を供給して徐冷を行うための機構を炉内の必要位置に備えている。徐冷炉210から出た段階のガラスリボン204の温度は、ガラスリボン204のガラスの歪点以下の温度となっており、ガラスの種類にもよるが通常は150~250°Cまで冷却されている。この徐冷工程は、ガラスリボン204内部の残留応力を取り除くことと、ガラスリボン204の温度を下げる目的で実施される。徐冷工程において、ガラスリボン204は測定部211形状測定装置1、形状測定装置100に相当するを通り、さらにその後ガラスリボン切断部212まで搬送される。ガラスリボン切断部212において常温近くまで徐冷されたガラスリボン204が切断される切断工程、図12のS6。なお、ガラスリボン切断部212におけるガラスリボンの温度は、その場所の雰囲気温度~50°Cであることが通例である。測定工程図12のS4におけるガラスリボン204の撮影位置すなわち、測定部211の位置は、ガラスリボン204の温度がそのガラスの歪点以下の温度にある位置である。通常、測定部211は、徐冷炉210のガラスリボン出口から搬送方向下流の位置に設けられ、さらにガラスリボン204の温度が200°C以下にある位置に設けられることが好ましい。また、測定部211は、切断工程の直前に設けることもできるが、測定工程から得られるデータを切断工程に反映させる場合には、ガラスリボン204の移動速度にもよるが、切断位置から30cm以上、特に1m以上離れた位置に測定部211を設けることが好ましい。制御工程図12のS5では、測定工程で得られた高さ方向座標に基づいて、徐冷炉210内の徐冷条件を演算する制御手段図示省略を利用する。この制御手段により、徐冷炉210に受け渡される徐冷条件の指令に応じて、徐冷炉210内に設置してある燃焼ガスや電気ヒータなどの条件を変更する。これにより、ガラスリボン204に部分的に与えるエネルギー、あるいは与えるエネルギーの速度を変えて、反り等の変形を抑制する制御ができる。以上、各実施形態によれば、鏡面を有する物体であってもステレオ法を応用してガラス材の形状を測定することができるようになる。また、形状を測定した結果を利用して、形状に対する品質の高いガラス板を製造できるようになる。なお、形状測定装置1または形状測定装置100の各処理を実行するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、当該記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより、形状測定装置1または形状測定装置100に係る上述した種々の処理を行ってもよい。なお、ここでいうコンピュータシステムとは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものであってもよい。また、コンピュータシステムは、WWWシステムを利用している場合であれば、ホームページ提供環境あるいは表示環境も含むものとする。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、フラッシュメモリ等の書き込み可能な不揮発性メモリ、CD-ROM等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらにコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ例えばDRAMDynamicRandomAccessMemoryのように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。また、上記プログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する伝送媒体は、インターネット等のネットワーク通信網や電話回線等の通信回線通信線のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル差分プログラムであっても良い。以上、この発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。本出願を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明らかである。本出願は、2010年6月7日出願の日本特許出願特願2010130387に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。"