"パルスが印加されるQ値測定用コイルと、前記Q値測定用コイル及び一以上のコンデンサを含む共振回路と、前記パルスに対して前記共振回路が出力する応答波形を検出する応答波形検出部と、前記応答波形検出部で検出された応答波形から前記共振回路のQ値を測定するQ値測定部と、を備える検知装置。前記応答波形検出部が検出する応答波形は、時間領域の応答波形である請求項1に記載の検知装置。前記Q値測定部は、前記時間領域の応答波形の第1の時間における振幅値と前記第1の時間から所定時間経過後の第2の時間における振幅値を用いて、前記共振回路のQ値を測定する請求項2に記載の検知装置。前記共振回路の共振周波数をf、前記時間領域の応答波形の前記第1の時間t1における第1の振幅値をV1、前記第2の時間t2における第2の振幅値をV2としたとき、前記Q値は次式により求められるQ=πft2-t1/lnV1/V2請求項3に記載の検知装置。前記Q値測定部は、前記時間領域の応答波形の前記第2の振幅値が、前記第1の振幅値の所定範囲内であるとき前記Q値を測定する請求項4に記載の検知装置。前記Q値測定部は、前記時間領域の応答波形の前記第2の振幅値が、設定時間内に前記第1の振幅値の所定範囲内とならないとき、前記設定時間が経過した時点の前記第2の振幅値を検出して前記Q値を測定する請求項4に記載の検知装置。前記所定範囲内は、前記時間領域の応答波形の前記第2の振幅値が、前記第1の振幅値に対して40~25である請求項5に記載の検知装置。前記時間領域の応答波形の所定期間における振動数をカウント数、前記所定期間の開始時点における振幅値をV1、前記所定期間の終了時点における振幅値をV2としたとき、前記Q値は次式により求められるQ=πカウント数/lnV1/V2請求項2に記載の検知装置。前記Q値測定部により測定されたQ値を、予め設定された基準値と比較することにより、Q値測定用コイルと外部との電磁結合状態を判定する判定部を、さらに備える請求項1に記載の検知装置。前記Q値測定用コイルと前記外部との電磁結合状態とは、前記Q値測定用コイルと前記外部との間における導体又は任意のコイルを含む回路の存在の有無である請求項9に記載の検知装置。前記応答波形検出部が検出する応答波形は、周波数領域の応答波形である請求項1に記載の検知装置。前記Q値測定部は、前記Q値測定用コイルと前記一以上のコンデンサを含む直列共振回路の共振周波数における、前記周波数領域の応答波形の振幅値に対して1/√2倍となる2つの周波数の帯域幅を用いてQ値を測定する請求項11に記載の検知装置。前記Q値測定部は、前記Q値測定用コイルと前記一以上のコンデンサを含む並列共振回路の共振周波数における、前記周波数領域の応答波形の振幅値に対して√2倍となる2つの周波数の帯域幅を用いてQ値を測定する請求項11に記載の検知装置。前記共振回路に印加されるパルスは、単一のパルスである請求項1に記載の検知装置。前記パルスを発生させて前記共振回路に印加するパルス発生器、をさらに備える請求項1に記載の検知装置。前記Q値測定用コイルと外部との間に導体又は任意のコイルを含む回路ありと判定した場合、前記外部からの送電信号の出力を停止させるための制御を行う制御部を、さらに備える請求項に10記載の検知装置。外部と電磁的に結合する受電コイルと、前記受電コイルを介して外部から電力を受電する受電部と、パルスが印加されるQ値測定用コイルと、前記Q値測定用コイル及び一以上のコンデンサを含む共振回路と、前記パルスに対して前記共振回路が出力する応答波形を検出する応答波形検出部と、前記応答波形検出部で検出された応答波形から前記共振回路のQ値を測定するQ値測定部と、を備える受電装置。電力を非接触で送電する送電装置と、該送電装置からの電力を受電する受電装置を含んで構成され、前記受電装置は、前記送電装置の送電コイルと電磁的に結合する受電コイルと、前記受電コイルを介して前記送電装置から電力を受電する受電部と、パルスが印加されるQ値測定用コイルと、前記Q値測定用コイル及び一以上のコンデンサを含む共振回路と、前記パルスに対して前記共振回路が出力する応答波形を検出する応答波形検出部と、前記応答波形検出部で検出された応答波形から前記共振回路のQ値を測定するQ値測定部と、を備える非接触電力伝送システム。Q値測定用コイル及び一以上のコンデンサを含む共振回路にパルスを印加することと、応答波形検出部により、前記パルスに対して前記共振回路が出力する応答波形を検出することと、Q値測定部により、前記応答波形検出部で検出された応答波形から前記共振回路のQ値を測定することを含む検知方法。しかしながら、特許文献1,2により提案された手法は、受電側の金属筺体の影響が加味されていない。一般的な携帯機器への充電を考えた場合、携帯機器に何らかの金属金属筐体、金属部品等が使われている可能性が高く、パラメータの変化が金属筺体等の影響によるものか、あるいは金属異物が混入したことによるものなのかの切り分けが困難である。特許文献2を例に挙げると、渦電流損が携帯機器の金属筺体で発生しているのか、それとも送電側と受電側との間に金属異物が混入して発生しているのかがわからない。このように、特許文献1,2で提案された手法は、金属異物を精度よく検知できているとは言えなかった。本開示は、上記の状況を考慮してなされたものであり、送電側と受電側との間に存在する金属異物の検出精度を向上させるものである。本開示の一側面では、パルス発生器からQ値測定用コイル及び一以上のコンデンサキャパシタともとも呼ばれるを含む共振回路にパルスを印加し、パルスに対して共振回路が出力する応答波形を応答波形検出部により検出する。そして、検出された応答波形からQ値測定部により共振回路のQ値を測定する。本開示の一側面によれば、共振回路にパルスを印加し、印加されたパルスに応じて共振回路が出力する応答波形に基づいて、Q値が測定される。応答波形は、時間領域または周波数領域のいずれでもよい。本開示によれば、簡易な構成により、送電側と受電側との間に存在する金属異物の検出精度を向上させることができる。以下に添付図面を参照しながら、本開示を実施するための形態の例について説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能又は構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複する説明を省略する。なお、説明は以下の順序で行う。1.導入説明2.第1の実施形態信号源:パルス発生器を用いた例3.第2の実施形態検知回路:受電装置に適用した例4.第3の実施形態検知回路:包絡線検波回路を設けた例5.第4の実施形態Q値測定:振動数を用いてQ値を測定する例6.第5の実施形態Q値測定:電圧V2が所定範囲内のときQ値を測定する例7.第6の実施形態Q値測定:電圧V2が所定範囲内でなくても時間制限によりQ値を測定する例8.その他<1.導入説明>[Q値測定による金属異物検知]送電側と受電側との間に存在する金属異物を高精度に検出するため、外部と電磁的に結合するコイルを含む回路のQ値Qualityfactorを測定し、Q値の測定結果に基づいてコイルの近くの金属異物の有無を判定する方法が考えられる。これは金属が接近すると共振回路のQ値が低下することを利用したものである。Q値は、エネルギーの保持と損失の関係を表す指標であり、一般的に共振回路の共振のピークの鋭さ共振の強さを表す値として用いられる。金属異物は、送電側と受電側の間に存在する金属などの導体や意図しないコイルを含む回路が対象となる。本明細書でいう導体には、広義の導体すなわち半導体も含まれる。以下、金属などの導体やコイルを含む回路を検知することを、導体等を検知するともいう。以下、Q値測定により金属異物を検知する検知回路の一例を説明する。図1は、Q値測定により金属異物を検知する検知回路の一例を示す概略回路図である。検知回路1は、Q値測定用コイル11と、コンデンサ12と、信号源13と、アナログ-デジタル変換器以下、ADCと称する16を備えている。この図1に示した回路は、Q値測定による金属異物検知の概要を説明するための概略的なものである。検知回路1は、Q値測定用コイル11とコンデンサ12が直列接続されて共振回路破線部分を形成し、測定周波数共振周波数において共振するように、Q値測定用コイル11のインダクタンスの値L値、及びコンデンサ12のキャパシタンスの値C値が調整されている。このQ値測定用コイル11とコンデンサ12で構成される共振回路に信号源13が接続され、信号源13の周波数可変の正弦波発振器14で発生した正弦波信号が共振回路に供給される。信号源13内の抵抗素子15は、正弦波発振器14の内部抵抗出力インピーダンスを図示化したものである。正弦波信号が供給された共振回路の各測定点に得られる信号が、ADC16に入力され、アナログ信号からデジタル信号に変換される。そして、ADC16で変換された出力信号を用いてQ値が測定される。なお、検知回路1は、図示しない電源部を有しており、この電源部から検知回路1内の信号源13やADC16などに電力が供給される。共振回路のQ値を測定するには、まず共振回路に印加する正弦波信号を周波数掃引して出力電圧が最大となる点である共振周波数f0を求める。そして、共振周波数f0におけるQ値測定用コイル11の両端、及びQ値測定用コイル11とコンデンサとの両端の電圧を測定してQ値を算出する。共振回路のQ値測定は、測定器LCRメータでも用いられている手法である。Q値測定用コイル11とコンデンサ12の両端の電圧をVI、Q値測定用コイル11の両端の電圧をVCとすると、共振回路のQ値は、式1で表される。Rは、共振周波数f0における直列抵抗値である。電圧VIが約Q倍されて電圧Vcが得られる。式1に示す直流抵抗値Rやインダクタンス値Lは金属が近づくことや、金属に発生する渦電流の影響により変化することが知られている。例えば、Q値測定用コイル11に金属片が近づくと実効抵抗値Rが大きくなり、Q値が下がる。すなわちQ値測定用コイル11の周りに存在する金属の影響によって共振回路のQ値や共振周波数は大きく変化するので、この変化を検知することにより、Q値測定用コイル11の近くに存在する金属片を検知できる。本開示では、このQ値測定を1次側と2次側の間に挿入された金属異物の検知に適用する。上述したQ値の変化を用いて金属異物を検出することにより、電磁誘導方式又は磁界共鳴方式によらず高精度で金属異物を取り除くことが可能である。特に受電側2次側の機器内に設けられたコイルのQ値は、受電側の機器の金属筐体と該コイルとの位置関係がほぼ固定であるため、コイルに対する金属筐体の影響を取り除くことができ、金属異物に対して感度のよいパラメータとなり得る。つまり、送電側と比較して受電側の共振回路のQ値は、金属異物を高精度に検知するのにより適している。また、半値幅法により共振回路のQ値を算出してもよい。半値幅法では、共振回路に印加する正弦波信号の周波数掃引を行い、出力電圧振幅が最大となる周波数共振周波数f0と、出力電圧がピーク値から3dB×1/√2だけ低下する周波数fL,fHを利用する。共振周波数f0と、出力電圧がピーク値から3dB×1/√2だけ低下する周波数の帯域幅fH-fL図2参照を用いて、式2によりQ値が求められる。なお、上述例は直列共振回路の例であるが、並列共振回路の場合は上記説明と逆になる。出力電圧振幅が最小となる周波数共振周波数f0と、出力電圧が最小値から3dB×√2だけ増加する周波数fL,fHを利用する。共振周波数f0と、出力電圧が最小値から3dB×√2だけ増加する周波数の帯域幅fH-fLを用いて、式2によりQ値が求められる。しかし、いずれのQ値測定方法においても、Q値測定にあたり周波数掃引するので、周波数分解能の高い周波数可変の正弦波発振器が必要である。また、掃引作業を行うことから測定に時間を要する。さらに、前者の方法においては、電圧VIは、電圧VCの約1/Qと低いレベルのために正確なQ値測定が困難であり、Q値測定の精度を低くしている。そこで、共振回路にパルス波を印加して演算処理することにより、共振回路のQ値を測定する。パルス波を用いた場合、周波数分解能の高い周波数可変の正弦波発振器が不要となる。<2.第1の実施形態>[検知回路の構成例]図3は、本開示の第1の実施形態に係る検知装置が適用された検知回路の一例を示す概略回路図である。この図3に示した検知回路は、Q値測定による金属異物検知の概要を説明するための概略的なものである。図3において、図1と実質的に同一の機能又は構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複する説明を省略する。本実施形態に係る検知回路10は、図1に示した検知回路1の信号源13に代えて信号源21を備え、信号源21がQ値測定用コイル11及びコンデンサ12を含む共振回路破線部分に接続している。信号源21は、パルス発生器22を有し、パルス発生器22は所定周期でパルス波を発生する。信号源21内の抵抗素子23は、パルス発生器22の内部抵抗出力インピーダンスを図示化したものである。また、検知回路10は、パルス信号に対して共振回路が出力する応答波形を検出するADC16応答波形検出部の一例と、該ADC16が出力するデジタル信号が入力されるマイクロコンピュータ以下、マイコンと称する17を備える。その他の構成は、検知回路1の構成と同じである。なお、検知回路10は、検知回路1と同様に図示しない電源部を有しており、この電源部から検知回路10内の信号源21やADC16、マイコン17などの各部に電力が供給される。検知回路10の動作を簡単に説明する。信号源21パルス発生器22からパルス波を出力して共振回路へ印加する。共振回路のQ値測定用コイル11又はコンデンサ12の両端に掛かる電圧を取り出してADC16でその電圧を随時読み込み、アナログ信号からデジタル信号に変換して共振回路のパルス波に対する時間応答波形を得る。この例では、コンデンサ12の両端電圧を取り出している。そして、得られた時間応答波形をマイコン17において演算処理することによりQ値を算出する。マイコン17は、算出したQ値に基づいて金属異物の検知も行うことができる。以下、本実施形態に係るマイコン17の金属異物の検知に関わる構成及び動作について説明する。図4は、マイコン17の内部構成例を示すブロック図である。本実施形態のマイコン17は、Q値測定部17Aと、判定部17Bと、メモリ17Cと、制御部17Dを備えて構成される。マイコン17は、演算処理装置の一例であり、共振回路のQ値測定や検知回路若しくは該検知回路が設けられた機器全体の制御を行う。Q値測定部17Aは、Q値測定部の一例であり、ADC16から入力されるデジタルの電圧信号を用いて後述する演算によってQ値を求め、求めたQ値を判定部17Bへ出力する。ADC16から入力される電圧信号の振幅すなわち振動は、時間的に推移減衰する。Q値測定部17Aでは、この電圧信号の振動の時間的推移に基づいてQ値を計算する。判定部17Bは、判定部の一例であり、Q値測定部17Aにより求められたQ値を、予め設定された基準値と比較することにより、Q値測定用コイル11の近くに金属異物が存在するか否かを判定し、判定結果を制御部17Dへ出力する。このようにQ値測定用コイル11のQ値と基準値を比較することにより、Q値測定用コイル11と外部との電磁結合している状態を推定できる。よって、基準値を適切な値に設定することにより、Q値測定用コイル11と外部との間における金属異物の有無を高精度に判定することできる。メモリ17Cは、不揮発性の記憶部の一例であり、Q値測定用コイル11の近傍に何もない、もしくはQ値測定用コイル11と外部コイルとの間に何も存在しない状態で予め設定された周波数毎のQ値測定用コイル11のQ値の基準値を保存している。また、検知回路10を搭載する機器ごとに割り当てられたID番号識別情報や、外部機器から取得したID番号等を保存していてもよい。制御部17Dは、制御部の一例であり、判定部17Bから入力される判定結果に応じた制御信号を生成し、検知回路10全体の制御や外部コイルを搭載している機器と通信を行い非接触電力伝送等の制御を行う。なお、Q値測定部17A、判定部17B、制御部17Dを1つのマイコン17に格納した例を示したが、これらのうち1以上の組み合わせを他の演算処理装置に格納する等して分散処理を行う構成としてもよい。パルス波は時間領域で見ると単純な矩形波であるが、周波数領域に変換すると広帯域なスペクトラムとなっている。パルス波の波形を適当に選ぶことによって共振周波数付近に振幅がほぼ同一の櫛状のスペクトラムを生成できる。よってパルス波を共振回路に印加し、その応答を観測することにより共振回路のインピーダンスの周波数特性を得ることができる。また、時間領域で演算を行ってQ値を算出することも可能である。[シミュレーション結果]ここで、検知回路10についてシミュレーションを実行して得られた結果を説明する。図5は、検知回路10をモデル化したシミュレーション回路である。図5に示すシミュレーション回路は、パルス波を100Hzで共振するLC共振回路破線部分に印加する例としている。第1条件として、Q値測定用のコイル31とコンデンサ32からなるLC共振回路のQ値を100とし、パルス発生器33において振幅1V及びパルス幅1μsecのパルス波を2msec周期で発生すると設定する。コイル31のインダクタンスをLs[H]、コンデンサ32のキャパシタンスをCs[F]とし、LC共振回路の実効抵抗値Rは√Ls/Cs/Qsに設定している。QsはLC共振回路のQ値である。第1条件の場合図6は、第1条件Q値=100、繰り返し周期=2msにおいて金属異物がないときにシミュレーション回路の各測定点に得られた波形の一例を示しており、Aはパルス発生器のパルス波形1パルスを拡大、Bはパルス発生器のパルス列、Cはパルス列の周波数応答、Dはパルス列の周波数応答の拡大図、Eは図5の符号32で示されるコンデンサの両端の電圧の周波数応答波形である。図6Bに示すように、パルス発生器33が発生するパルス列は、1パルスの振幅が1V、パルス幅が1μsecであり、その周期は2msecである。図6Aは、図6Bのパルス列の時間軸をmsecオーダーからμsecオーダーに拡大し、1パルスの波形を示している。そして図6Aに示す時間領域のパルス波形を周波数領域へ変換すると、図6Cに示すような周波数応答が現れる。これを拡大すると、図6Dに示すように、共振周波数100kHz付近に振幅が1mVでほぼ同一の櫛状のスペクトラムが得られる。このようなスペクトラムを持つパルス波をLC共振回路に印加し、コンデンサ32の両端に掛かる電圧の時間応答波形を周波数領域へ変換して得られたものが、図6Eに示す周波数応答波形である。時間-周波数変換処理は、検知回路10のADC16で行う。またはマイコン17のQ値測定部17Aが行ってもよい。第1条件Q値=100、繰り返し周期=2msのパルス波の場合、パルス間隔が小さく、周波数解析後の振幅値平均パワーが大きく、周波数分解能が低い。第2条件の場合図7は、第2条件Q値=100、繰り返し周期=10msにおいて金属異物がないときにシミュレーション回路の各測定点に得られた波形の一例を示しており、Aはパルス発生器のパルス波形1パルスを拡大、Bはパルス発生器のパルス列、Cはパルス列の周波数応答、Dはパルス列の周波数応答Cの拡大図、Eは図5の符号32で示されるコンデンサの両端の電圧の周波数応答波形である。図7Bに示すように、パルス発生器33が発生するパルス列は、1パルスの振幅が1V、パルス幅が1μsecであり、その周期は10msecである。図7Aは、図7Bのパルス列の時間軸をmsecオーダーからμsecオーダーに拡大し、1パルスの波形を示している。そして図7Aに示す時間領域のパルス波形を周波数領域へ変換すると、図7Cに示すようなパルス列が現れる。これを拡大すると、図7Dに示すように、共振周波数100kHz付近に振幅が200μVでほぼ同一の櫛状のスペクトラムが得られる。このようなスペクトラムを持つパルス波をLC共振回路に印加し、コンデンサ32の両端に掛かる電圧の時間応答波形を周波数領域へ変換して得られたものが、図7Eに示す周波数応答波形である。第2条件Q値=100、繰り返し周期=10msのパルス波の場合、パルス間隔が大きく、周波数解析後の振幅値平均パワーが小さく、周波数分解能が高い。このように、パルス波の振幅だけではなくパルス間隔周期によっても、周波数解析後の振幅値と周波数分解能が変化し、両者はトレードオフの関係にある。測定者が測定対象に応じて適宜選択することが望ましい。第1条件と第2条件のいずれも、Q値を100に設定している。図6E及び図7Eの周波数応答波形において振幅値がピーク値から1/√2=0.7071だけ低下する帯域幅より、Q=100kHz/100.5kHz-99.5kHz=100となり、金属異物がないものとして想定したとおりの結果が得られている。[解析結果に基づくQ値測定]以下、上述したパルスを図5のLC共振回路に印加して時間領域と周波数領域で解析した結果から、Q値を測定する方法を説明する。図8は、コンデンサ32の両端電圧の波形例Q値=100、繰り返し周期=10msを示しており、Aは時間応答波形、Bは周波数応答波形である。解析に用いたLC共振回路は金属異物が存在しないという想定でのQ値が100、印加するパルス列の1パルスの振幅が1V、パルス幅が1μsecであり、折り返し周期が10msecである。図8Aに示すように、LC共振回路にパルスを印加後、時間領域におけるコンデンサ32の両端電圧の値は徐々に減衰している。また図8Bに示すように、時間領域におけるコンデンサ32の両端電圧の値は、共振周波数のときの値をピークとして、周波数が共振周波数から遠ざかるにつれて徐々に減衰している。[時間領域]ここで、共振回路の共振周波数をf、コンデンサ32の両端電圧の波形上の計測点m4時間t1における電圧の値をV1、同様に計測点m4から時間経過後の計測点m5時間t2における電圧の値をV2とおく。このときのLC共振回路のQ値は、式3により求められる。以下、共振周波数と、時間応答波形の2つの時刻における振幅電圧値からQ値を求める式の導出過程を簡単に説明する。まず共振回路に与えるエネルギーを式4とする。次に、パワーを考えるが、振動項は簡単のために以降省略し、式5とする。式5は包絡線項のみを表している。ここで、パワーPは単位時間に使用されるエネルギーであるので、パワーPを式7のように表すことができる。Q値を共振系の内部エネルギー/1周期の間に共振系が失うエネルギーと定義すると、先の式7で示したパワーPから以下の式を導くことができる。さらに、式10より式11~13が導かれ、式3が得られる。図8Aの時間応答波形の計測点m4t1=3.010μsec,V1=0.616V、m5t2=443.1μsec,V2=0.154Vのデータを、式3に適用してLC共振回路のQ値を計算すると、Q値=99.71が得られる。Q値=π100×1033.010×10-6-443.1×10-6/ln0.616/0.154=99.71[周波数領域]次に、図8Bの周波数応答波形からQ値を計算する。図8Bより、ピーク値及びそのピーク値から1/√2=0.7071だけ低下する計測点として、計測点m1周波数1000.0kHz,電圧0.020V、m2周波数:99.50kHz,電圧:0.014V、m3周波数:100.5kHz,電圧:0.014Vが得られている。このときのLC共振回路のQ値は、式2により求められる。Q値=100/100.5-99.5=100時間領域の応答波形から求めたQ値もほぼ同じ値が得られている。なお、図8の解析結果との比較のため、共振回路へ印加するパルスのQ値を変更して同様に時間領域と周波数領域において解析を行った。図9は、コンデンサの両端電圧の波形例Q値=50、繰り返し周期=10msであり、Aは時間応答波形、Bは周波数応答波形を示している。解析に用いたLC共振回路は金属異物が存在しないという想定でのQ値が50であり、印加するパルスの仕様は図8の場合と同じである。図9Aに示すように、LC共振回路にパルスを印加後、時間領域におけるコンデンサ32の両端電圧の値は、図8Aの場合よりも早く減衰している。また図9Bに示すように、時間領域におけるコンデンサ32の両端電圧の値は、共振周波数のときの値をピークとして、周波数が共振周波数から遠ざかるにつれて徐々に減衰しているが、図8Bの場合より尖鋭ではない。以上説明した第1の実施形態によれば、共振回路にパルスを印加して、時間領域及び周波数領域のいずれの応答波形からもQ値を正確に測定することができる。それゆえ、高精度な金属異物の検知が可能である。また、周波数分解能の高い周波数可変の正弦波発振器が不要となり、固定のパルス波を発生するパルス発生器で済むため構成を簡単にすることができる。また、パルス波の周波数領域での分解能、波形取り込みの分解能が十分高ければ、パルス波形の精度は要求されない。また、周波数掃引の様な繰り返し作業が不要なため、測定時間が大幅に短縮される。さらに、リアクタンス素子の両端の電圧からQ値を測定し、共振回路全体に掛かる微小な電圧を測定する必要がないため、高精度の測定が可能である。時間応答からの演算と周波数応答からの演算を併用したり、場合により使い分けたりしてもよい。使い分けの例としては、平板状の給電台に一度セットされた後の受電装置の共振周波数は殆ど変化しないと考えられるので、初回の給電のみ周波数応答から共振周波数を求め、その後は時間応答からQ値のみを求める等が考えられる。ところで、時間応答から算出する場合、時間応答波形に共振周波数以外の信号も含まれてしまうが、上述したように算出されるQ値の精度は高い。これは共振回路自身のフィルタリングにより共振周波数成分が支配的なためであると考えられる。<3.第2の実施形態>第2の実施形態は、第1の実施形態に係る検知回路を受電装置に適用した例である。図10は、本開示の第2の実施形態における、検知回路が適用された受電装置を備える非接触電力伝送システムの一例を示す概略回路図である。図10において、図3と対応する部分には同一符号を付して示し、詳細な説明を省略する。本実施形態に係る非接触電力伝送システムは、送電装置40と受電装置60検知装置の一例を備えて構成される。この図1に示した回路は、Q値測定による金属異物検知の概要を説明するための概略的なものである。送電装置40は、正弦波を発生させる正弦波発振器44及び抵抗素子45を含む信号源43と、コンデンサ41と、送電コイル421次側コイルを備えている。抵抗素子45は、正弦波発振器44の内部抵抗出力インピーダンスを図示化したものである。本例では、信号源43に対しコンデンサ41と送電コイル42が直列共振回路を形成するように接続されている。そして、給電したい周波数において共振するように、コンデンサ41のキャパシタンス静電容量とも呼ばれるの値C値、及び送電コイル42のインダクタンスの値L値が調整されている。信号源43とコンデンサ41を含んで送電部が構成され、送電部から供給される送電信号が送電コイル42を通じて無線により非接触で外部へ伝送される。受電装置60は、送電装置40から非接触により受電する受電回路50受電部の一例と、送電装置40との間にある金属異物を検知するための検知回路10検知部の一例の2つの機能に分けられる。受電回路50は、受電コイル51と、その受電コイル51と共振回路を構成するコンデンサ52と、交流信号を直流信号に変換する整流回路53と、バッテリー542次電池とを備えている。整流回路53は、整流処理に加えて平滑処理をするように構成してもよい。バッテリー54は、パルス発生器22を有する信号源21を始めとして受電装置60内の各部に電力を供給する。図10では、バッテリー54と信号源21との接続を実線で記載し、その他については記載を省略している。さらに受電回路50は、受電コイル51とコンデンサ52の直列接続に対して並列に接続された負荷変調部55を備える。負荷変調部55は、一例として抵抗等の負荷とスイッチの直列接続回路から構成される。マイコン17の制御部13Dの制御の下、スイッチのオンオフにより負荷を切り替え、送電装置40と受電装置60の間の電磁結合の状態を変化させて送電装置40へ情報を通信する。スイッチは、一例としてトランジスタやMOSFET等のスイッチング素子を適用することができる。本実施形態の受電回路50は、受電コイル51とコンデンサ52が直列共振回路を形成するように接続され、給電周波数において共振するように、受電コイル51のインダクタンスの値L値、及びコンデンサ52のキャパシタンスの値C値が調整されている。上記構成の受電装置60において、検知回路10によりQ測定を行った際にマイコン17の判定部17B図4参照が受電装置60と送電装置40の間に金属異物が存在すると判定した場合、マイコン17の制御部17Dは、送電装置40による送電を停止すべく制御を行う。すなわち、マイコン17の制御部17Dは、負荷変調部55の動作を制御し、送電装置40による送電を停止するための停止信号を、受電コイル51を通じて受電装置60から送電装置40へ送る。送電装置40の図示しない制御部は、受電装置60から受信した停止信号に基づいて、正弦波発振器44を停止させる制御を行う。なお、本実施形態では、検知回路10を受電装置60へ適用したが、送電装置40へ適応してもよい。そして、送電装置と受電装置の間に金属異物ありと検知した場合は、送電装置からの送電を停止する。<4.第3の実施形態>第1及び第2の実施形態において、Q値を時間領域の応答波形から計算する場合、共振回路のリアクタンス素子に得られた電圧信号の包絡線を、ADC16により信号処理で算出していたが、ハードウェア、即ち、包絡線検波回路により変換してもよい。図11は、本開示の第3の実施形態に係る検知回路の一例を示す概略回路図である。図11において、図3と対応する部分には同一符号を付して示し、詳細な説明を省略する。本実施形態の検知回路70は、図3の検知回路10のコンデンサ12とADC16の間に、ダイオード71とコンデンサ72と抵抗素子73を有する包絡線検波回路破線部分を設けた構成としている。ダイオード71とコンデンサ72の直列接続を、コンデンサ12の両端に接続し、また、コンデンサ73及びADC16に対して抵抗素子73を並列に接続する。第3の実施形態のように、ハードウェアで包絡線検波を行った場合、後段での測定及び演算処理は極めて単純になる。共振回路のリアクタンス素子に得られた電圧信号から包絡線を算出する処理が不要であり、2つの時刻に電圧を測定するだけでよい.<5.第4の実施形態>ハードウェアで包絡線検波を行った場合、後段での測定及び演算処理は極めて単純になるが、Q値の算出には時間的な要素が必要となる。例えば共振周波数と測定を行った2つの時刻における時間応答波形の振幅値といった情報が必要である。ところで、測定により共振周波数を求める場合には振動数をカウントして共振周波数を求める手法が適用できる。共振周波数は、一例として規定振動数に要した時間から、若しくは、規定時間内の振動数から求められる。これは比較的容易な処理である。そのためには別途その様な経路及び回路を設けるか、包絡線検波回路を回避する経路を用意する必要がある。図12は、本開示の第4の実施形態に係る検知回路の一例を示す概略回路図である。図12において、図11と対応する部分には同一符号を付して示し、詳細な説明を省略する。図12に示した検知回路80は、図11の検知回路70に対し、リミッタアンプ81と、カウンタ82を設けた構成である。リミッタアンプ81は、共振回路と包絡線検波回路の間から入力された信号振幅の異なる入力信号を一定振幅の信号に増幅し波形整形する。カウンタ82は、入力信号の振動数をかぞえ、マイコン17及びADC16へ振動数を通知する。これにより、ADC16は、規定振動数に要した時間や規定時間内の振動数などの情報をマイコン17へ出力する。上記検知回路80と並行して、計算式について検討する。共振周波数をf、規定振動数count数に要した時間Tの逆数、若しくは、規定時間T内の振動数count数とすると、式3は、式14のように変形でき、最終的に式15が得られる。なお、規定時間Tの開始時における振幅値をV1、規定時間Tの終了時における振幅値をV2としている。式14からわかるように、計算式より振動数をカウントするだけで時間を計測する必要はないことが分かる。よってADC16に掛かる信号処理の負荷は画期的に下げられる。<6.第5の実施形態>第5の実施形態は、時間領域の応答波形の第2の振幅値が第1の振幅値の所定範囲内のときQ値を測定する例である。振動数count値を用いた式15によりQ値が得られるが、ADCの量子化誤差により、応答波形の減衰量が大き過ぎて電圧V2が零付近に張り付いてしまうと正しいQ値は算出できない振動数の設定値を変えても電圧V2=0のままであるため。また、応答波形の減衰量が小さ過ぎると、やはりADCの量子化誤差の影響が大きい。したがって、時間領域の応答波形の第2の振幅値電圧V2が、第1の振幅値電圧V1の所定範囲内であるとき、マイコン17のQ値測定部17AでQ値を測定する。一例として、場合にもよるが、電圧V2の値が電圧V1の40~25程度の時にQ値の誤差が小さくなる。よって精度を求める場合。測定アルゴリズムとしてはその様な閾値になった時に電圧V2の測定を行う様にするとよい。第5の実施形態によれば、ADCの量子化誤差をなくし、Q値を正確に求めることができるので、金属異物の検出精度が向上する。<7.第6の実施形態>また、Q値が高く、時間領域の応答波形の第2の振幅値が、第5の実施形態で設定した閾値まで減衰するのに時間が掛かり過ぎる様な場合、閾値にならなくても時間制限振動数制限によりQ値測定を行う様にするとよい。すなわち、時間領域の応答波形の電圧V2が、設定時間内に電圧V1の設定した所定範囲内とならないときは、設定時間が経過した時点の電圧V2を検出してQ値を測定する。第6の実施形態によれば、Q値測定に要する時間を一定時間以上長くならないように短縮できる。<8.その他>第1~第5の実施形態において、共振回路に供給するパルスの数は複数でなく、単一孤立波としてもよい。複数のパルスを含む方が大きなエネルギーを持つ為,周波数応答の信号レベルが大きくなるという利点が得られるが、単一のパルス波でもQ値の測定は可能である。また、第1~第5の実施形態において、所望の測定時間に対してADCの取り込み時間が長い場合、2つのADCを並列動作させることで、取り込み時間の問題を回避することができる。また、第1~第5の実施形態では、自機器内の共振回路に対し有線にてパルスを供給しているが、外部機器から磁界結合によりパルスを印加し、これを外部機器で磁界結合により読み取り、Q値を測定してもよい。例えば、図10において、送電装置40から磁界結合により受電装置60へパルスを印加し、このパルスに応じて受電装置60のQ値測定用コイル11が出力する磁束を送電装置40で磁界結合により読み取り、Q値を測定する。また、第1~第5の実施形態に掛かる検波回路検知装置は、電磁共鳴方式の非接触電力伝送システム、または電磁誘導方式の非接触電力伝送システムのいずれにも適用することができる。なお、本開示は以下のような構成も取ることができる。1パルスが印加されるQ値測定用コイルと、前記Q値測定用コイル及び一以上のコンデンサを含む共振回路と、前記パルスに対して前記共振回路が出力する応答波形を検出する応答波形検出部と、前記応答波形検出部で検出された応答波形から前記共振回路のQ値を測定するQ値測定部と、を備える検知装置。2前記応答波形検出部が検出する応答波形は、時間領域の応答波形である前記1に記載の検知装置。3前記Q値測定部は、前記時間領域の応答波形の第1の時間における振幅値と前記第1の時間から所定時間経過後の第2の時間における振幅値を用いて、前記共振回路のQ値を測定する前記2に記載の検知装置。4前記共振回路の共振周波数をf、前記時間領域の応答波形の前記第1の時間t1における第1の振幅値をV1、前記第2の時間t2における第2の振幅値をV2としたとき、前記Q値は次式により求められるQ=πft2-t1/lnV1/V2前記3に記載の検知装置。5前記Q値測定部は、前記時間領域の応答波形の前記第2の振幅値が、前記第1の振幅値の所定範囲内であるとき前記Q値を測定する前記4に記載の検知装置。6前記Q値測定部は、前記時間領域の応答波形の前記第2の振幅値が、設定時間内に前記第1の振幅値の所定範囲内とならないとき、前記設定時間が経過した時点の前記第2の振幅値を検出して前記Q値を測定する前記4に記載の検知装置。7前記所定範囲内は、前記時間領域の応答波形の前記第2の振幅値が、前記第1の振幅値に対して40~25である前記5又は6に記載の検知装置。8前記時間領域の応答波形の所定期間における振動数をカウント数、前記所定期間の開始時点における振幅値をV1、前記所定期間の終了時点における振幅値をV2としたとき、前記Q値は次式により求められるQ=πカウント数/lnV1/V2前記2に記載の検知装置。9前記Q値測定部により測定されたQ値を、予め設定された基準値と比較することにより、Q値測定用コイルと外部との電磁結合状態を判定する判定部を、さらに備える前記1~8のいずれかに記載の検知装置。10前記Q値測定用コイルと前記外部との電磁結合状態とは、前記Q値測定用コイルと前記外部との間における導体又は任意のコイルを含む回路の存在の有無である前記9に記載の検知装置。11前記応答波形検出部が検出する応答波形は、周波数領域の応答波形である前記1に記載の検知装置。12前記Q値測定部は、前記Q値測定用コイルと前記一以上のコンデンサを含む直列共振回路の共振周波数における、前記周波数領域の応答波形の振幅値に対して1/√2倍となる2つの周波数の帯域幅を用いてQ値を測定する前記11に記載の検知装置。13前記Q値測定部は、前記Q値測定用コイルと前記一以上のコンデンサを含む並列共振回路の共振周波数における、前記周波数領域の応答波形の振幅値に対して√2倍となる2つの周波数の帯域幅を用いてQ値を測定する前記11に記載の検知装置。14前記共振回路に印加されるパルスは、単一のパルスである前記1~13のいずれかに記載の検知装置。15パルスを発生させて前記共振回路に印加するパルス発生器、をさらに備える前記1~14のいずれかに記載の検知装置。16前記Q値測定用コイルと外部との間に導体又は任意のコイルを含む回路ありと判定した場合、前記外部からの送電信号の出力を停止させるための制御を行う制御部を、さらに備える前記10に記載の検知装置。17外部と電磁的に結合する受電コイルと、前記受電コイルを介して外部から電力を受電する受電部と、パルスが印加されるQ値測定用コイルと、前記Q値測定用コイル及び一以上のコンデンサを含む共振回路と、前記パルスに対して前記共振回路が出力する応答波形を検出する応答波形検出部と、前記応答波形検出部で検出された応答波形から前記共振回路のQ値を測定するQ値測定部と、を備える受電装置。18電力を非接触で送電する送電装置と、該送電装置からの電力を受電する受電装置を含んで構成され、前記受電装置は、前記送電装置の送電コイルと電磁的に結合する受電コイルと、前記受電コイルを介して前記送電装置から電力を受電する受電部と、パルスが印加されるQ値測定用コイルと、前記Q値測定用コイル及び一以上のコンデンサを含む共振回路と、前記パルスに対して前記共振回路が出力する応答波形を検出する応答波形検出部と、前記応答波形検出部で検出された応答波形から前記共振回路のQ値を測定するQ値測定部と、を備える非接触電力伝送システム。19Q値測定用コイル及び一以上のコンデンサを含む共振回路にパルスを印加することと、応答波形検出部により、前記パルスに対して前記共振回路が出力する応答波形を検出することと、Q値測定部により、前記応答波形検出部で検出された応答波形から前記共振回路のQ値を測定することを含む検知方法。なお、上述した実施形態例における一連の処理は、ハードウェアにより実行することができるが、ソフトウェアにより実行させることもできる。一連の処理をソフトウェアにより実行させる場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータ、または、各種の機能を実行するためのプログラムをインストールしたコンピュータにより、実行可能である。例えば汎用のパーソナルコンピュータなどに所望のソフトウェアを構成するプログラムをインストールして実行させればよい。また、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記録媒体を、システムあるいは装置に供給してもよい。また、そのシステムあるいは装置のコンピュータまたはCPU等の制御装置が記録媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても、機能が実現されることは言うまでもない。この場合のプログラムコードを供給するための記録媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、CD-ROM、CD-R、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROMなどを用いることができる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、上述した実施の形態の機能が実現される。加えて、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているOSなどが実際の処理の一部又は全部を行う。その処理によって上述した実施の形態の機能が実現される場合も含まれる。また、本明細書において、時系列的な処理を記述する処理ステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理例えば、並列処理あるいはオブジェクトによる処理をも含むものである。以上、本開示は上述した各実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された要旨を逸脱しない限りにおいて、その他種々の変形例、応用例を取り得ることは勿論である。すなわち、上述した各実施形態の例は、本開示の好適な具体例であるため、技術的に好ましい種々の限定が付されている。しかしながら、本開示の技術範囲は、各説明において特に本開示を限定する旨の記載がない限り、これらの形態に限られるものではない。例えば、以下の説明で挙げる使用材料とその使用量、処理時間、処理順序および各パラメータの数値的条件等は好適例に過ぎず、また説明に用いた各図における寸法、形状および配置関係も概略的なものである。"