"画像のテクスチャ方向を判定するテクスチャ方向判定部と、複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出し、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する欠陥画素検出部と、前記テクスチャ方向判定部において判定したテクスチャ方向に等しい画素集合配列方向の差分情報に基づいて検出された欠陥画素位置を補正対象として補正する補正部を有する画像処理装置。前記欠陥画素検出部は、画素値の読み出し回路を共有する複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出し、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する請求項1に記載の画像処理装置。前記欠陥画素検出部は、同じ配列方向にある隣接する複数配列中、複数の画素集合単位の平均値の差分が小さい平坦領域における複数の画素集合単位の平均値を基準値safe_mWとして、該基準値との差分値に応じて欠陥画素であるか否かを判定する請求項1に記載の画像処理装置。前記テクスチャ方向判定部は、水平、垂直、右上がり、右下がりの4方向のいずれがテクスチャ方向であるかを判定する処理を実行し、前記欠陥画素検出部は、水平、垂直、右上がり、右下がりの4方向について、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する請求項1に記載の画像処理装置。前記テクスチャ判定部は、注目画素を中心とする近傍領域に含まれる所定方向の画素値に基づく微分値を複数算出し、該複数の微分値をソートし、値の小さいデータのみを複数選択して統計量を算出し、該統計量の比較に基づいてテクスチャ方向を判定する請求項1に記載の画像処理装置。前記補正部は、前記欠陥画素位置の画素値をテクスチャ方向にある近傍画素を参照画素として、該参照画素の画素値に基づいて決定する処理を実行する請求項1に記載の画像処理装置。前記欠陥画素検出部は、前記テクスチャ方向判定部において判定したテクスチャ方向に等しい画素集合配列方向のみを処理対象として、複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出し、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する請求項1に記載の画像処理装置。画像処理装置において実行する画像処理方法であり、テクスチャ方向判定部が、画像のテクスチャ方向を判定するテクスチャ方向判定ステップと、欠陥画素検出部が、複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出し、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する欠陥画素検出ステップと、補正部が、前記テクスチャ方向判定部において判定したテクスチャ方向に等しい画素集合配列方向の差分情報に基づいて検出された欠陥画素位置を補正対象として補正する補正ステップを実行する画像処理方法。画像処理装置において画像処理を実行させるプログラムであり、テクスチャ方向判定部に、画像のテクスチャ方向を判定させるテクスチャ方向判定ステップと、欠陥画素検出部に、複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出させ、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出させる欠陥画素検出ステップと、補正部に、前記テクスチャ方向判定部において判定したテクスチャ方向に等しい画素集合配列方向の差分情報に基づいて検出された欠陥画素位置を補正対象として補正させる補正ステップを実行させるプログラム。しかしながら、前述の従来技術において、欠陥画素が連続して発生した場合や、複数の画素で共有している回路例えば、トランジスタ部分に欠陥が生じ、複数の画素に欠陥が発生している場合には、テクスチャ方向を正しく求めることができずに、十分に欠陥画素を補正することができなくなるという問題があった。また、前記の従来技術に開示された補正処理を適用した場合、補正対象となる画素は、欠陥補正に使用する近傍領域のうちの中央画素だけであり、例えば、欠陥補正のために使用した近傍領域を使って後段の信号処理を行う場合、中央画素以外に欠陥が含まれてしまうと、補正されていない欠陥画素の影響が発生し、補正の効果を得ることができない。そのために、前記の従来手法では、一度、全ての画素について欠陥補正を行ってから後段の信号処理を行う必要があり、回路規模の増大や、処理速度の遅延が生じる問題があった。本発明は、例えばこれらの問題を解決する画像処理装置、および画像処理方法、並びにプログラムを提供する。本発明は、テクスチャの方向判定の際に欠陥の影響を減少させた判定処理を実行し、近傍領域の中に複数の欠陥画素が存在する場合にも欠陥検出と補正を効率的に実行することができる画像処理装置、および画像処理方法、並びにプログラムを提供する。本発明の第1の側面は、画像のテクスチャ方向を判定するテクスチャ方向判定部と、複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出し、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する欠陥画素検出部と、前記テクスチャ方向判定部において判定したテクスチャ方向に等しい画素集合配列方向の差分情報に基づいて検出された欠陥画素位置を補正対象として補正する補正部を有する画像処理装置にある。さらに、本発明の画像処理装置の一実施態様において、前記欠陥画素検出部は、画素値の読み出し回路を共有する複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出し、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する。さらに、本発明の画像処理装置の一実施態様において、前記欠陥画素検出部は、同じ配列方向にある隣接する複数配列中、複数の画素集合単位の平均値の差分が小さい平坦領域における複数の画素集合単位の平均値を基準値safe_mWとして、該基準値との差分値に応じて欠陥画素であるか否かを判定する。さらに、本発明の画像処理装置の一実施態様において、前記テクスチャ方向判定部は、水平、垂直、右上がり、右下がりの4方向のいずれがテクスチャ方向であるかを判定する処理を実行し、前記欠陥画素検出部は、水平、垂直、右上がり、右下がりの4方向について、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する。さらに、本発明の画像処理装置の一実施態様において、前記テクスチャ判定部は、注目画素を中心とする近傍領域に含まれる所定方向の画素値に基づく微分値を複数算出し、該複数の微分値をソートし、値の小さいデータのみを複数選択して統計量を算出し、該統計量の比較に基づいてテクスチャ方向を判定する。さらに、本発明の画像処理装置の一実施態様において、前記補正部は、前記欠陥画素位置の画素値をテクスチャ方向にある近傍画素を参照画素として、該参照画素の画素値に基づいて決定する処理を実行する。さらに、本発明の画像処理装置の一実施態様において、前記欠陥画素検出部は、前記テクスチャ方向判定部において判定したテクスチャ方向に等しい画素集合配列方向のみを処理対象として、複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出し、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する。さらに、本発明の第2の側面は、画像処理装置において実行する画像処理方法であり、テクスチャ方向判定部が、画像のテクスチャ方向を判定するテクスチャ方向判定ステップと、欠陥画素検出部が、複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出し、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する欠陥画素検出ステップと、補正部が、前記テクスチャ方向判定部において判定したテクスチャ方向に等しい画素集合配列方向の差分情報に基づいて検出された欠陥画素位置を補正対象として補正する補正ステップを実行する画像処理方法にある。さらに、本発明の第3の側面は、画像処理装置において画像処理を実行させるプログラムであり、テクスチャ方向判定部に、画像のテクスチャ方向を判定させるテクスチャ方向判定ステップと、欠陥画素検出部に、複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出させ、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出させる欠陥画素検出ステップと、補正部に、前記テクスチャ方向判定部において判定したテクスチャ方向に等しい画素集合配列方向の差分情報に基づいて検出された欠陥画素位置を補正対象として補正させる補正ステップを実行させるプログラムにある。なお、本発明のプログラムは、例えば、様々なプログラムコードを実行可能な汎用システムに対して、コンピュータ可読な形式で提供する記憶媒体、通信媒体によって提供可能なプログラムである。このようなプログラムをコンピュータ可読な形式で提供することにより、コンピュータシステム上でプログラムに応じた処理が実現される。本発明のさらに他の目的、特徴や利点は、後述する本発明の実施例や添付する図面に基づくより詳細な説明によって明らかになるであろう。なお、本明細書においてシステムとは、複数の装置の論理的集合構成であり、各構成の装置が同一筐体内にあるものには限らない。本発明の一実施例構成によれば、撮像画像に発生する欠陥画素の検出と補正を実行する構成が実現される。具体的には、画像のテクスチャ方向を判定し、複数画素の画素集合単位で画素値平均を算出し、画素集合の配列方向に応じた画素値平均の差分情報に基づいて欠陥画素位置を検出する。テクスチャ方向に等しい画素集合配列方向において検出された欠陥画素を補正対象として補正する。テクスチャ方向に沿った位置で、例えば読み出し回路共有画素集合単位での欠陥画素検出を実行することで効率的な欠陥画素位置の検出が可能となる。以下、図面を参照しながら本発明の画像処理装置、および画像処理方法、並びにプログラムの詳細について説明する。ここで説明する実施例は、本発明を内部に実装した撮像装置システムの例である。はじめにシステム全体の構成と動作について説明し、その後、本発明に関連深い処理の部分について詳細に説明する。説明は以下の項目に従って行う。1.画像処理装置の構成例について2.本発明に従った画像処理の詳細について3.欠陥補正手段の構成と処理の詳細について4.欠陥補正手段内の近傍領域抽出手段の実行する処理の詳細について5.欠陥補正手段内のテクスチャ方向判定手段の実行する処理の詳細について6.欠陥補正手段内の欠陥画素検出手段の実行する処理の詳細について7.欠陥画素補正手段の処理について[1.画像処理装置の構成例について]図1は本発明の画像処理装置の一実施例である撮像装置デジタルビデオカメラの全体図である。この撮像装置は、大別して光学系、信号処理系、記録系、表示系、および、制御系から構成される。レンズ等から構成される光学系を通過して例えばCMOS等の撮像素子101に到達した入射光は、まずCMOS撮像面上の各受光素子に到達し、受光素子での光電変換によって電気信号に変換される。さらに、相関2重サンプリング回路CDS102によってノイズ除去され、A/Dコンバータ103によるデジタイズ処理によりデジタルデータに変換された後、DSP104中の画像メモリに一時格納され、DSP104内で各種の信号処理が行われる。撮像中の状態においては、一定のフレームレートによる画像取り込みを維持するようにタイミングジェネレータTG114が信号処理系を制御するようになっている。A/Dコンバータ103は、DSP104へ一定のレートで画素ストリームを出力し、DSP104において各種の画像処理を実行した後、画像データはLCDドライバ112もしくはCODEC105あるいはその両方に送られる。LCDドライバ112はDSP104から送られる画像データをアナログ信号に変換し、それをLCD113に出力表示させる。このLCD113は例えばカメラのファインダの役割を担っている。また、CODEC105はDSP104から送られる画像データの符号化を行い、符号化された画像データはメモリ106に記録される。ここで、メモリ106は半導体、磁気記録媒体、光磁気記録媒体、光記録媒体などを用いた記録装置などであってよい。CPU115は、例えば予め記憶部に格納されたプログラムに従って撮影処理、画像処理全般の処理制御を実行する。入力部116はユーザによる操作部である。以上が本実施例のデジタルビデオカメラのシステム全体の説明である。図1に示す撮像装置において、本発明に関する処理を実行するのは例えば主にDSP104である。以下、本発明の画像処理について詳細に説明する。なお、以下の実施例では、本発明の画像処理をDSP104において実行するものとして説明するが、本発明の処理は、DSP104に限らず、その他のハードウェアやソフトウェアを利用した処理として実行可能である。例えばCMOS101において実行するなど、他の構成要素において実行することも可能である。[2.本発明に従った画像処理の詳細について]前述のように、本発明に従った画像処理は、例えばDSP104で実行可能である。従って、以下において説明する実施例の構成においては、画像処理は、DSP104内部の演算ユニットが、DSP104に入力された画像信号のストリームに対して、所定のプログラムコードに従って演算を順次実行することで行う例について説明する。以下に説明する実施例では、プログラム中の各処理単位を機能ブロックとして説明し、また各処理が実行される順序をフローチャートで説明する。しかしながら、本発明は本実施例で説明するようなプログラムという形態以外にも、以降で説明する機能ブロックと同等の処理を実現するハードウェア回路を実装してハードウェアによって実行することも可能である。図2は本発明の画像処理を実行する画像処理部の構成例を説明するブロック図である。前述したように、この画像処理部は例えば図1に示すDSP104に構成される。なお、本図において、平行な水平2本線で示される図形モザイク画像117、Y画像124、C画像125はデータあるいはデータを格納するメモリを表し、その他の構成欠陥補正手段118~YC変換手段123は画像処理部内で実行する処理や処理手段を示している。図2に示すように、画像処理部は、欠陥補正手段118、ホワイトバランス手段119、デモザイク手段120、マトリックス手段121、ガンマ補正手段122、YC変換手段123を有する。モザイク画像117は画像処理部への入力画像をあらわし、これはすなわち図1で図示したA/Dコンバータ103によってデジタイズされDSP104へ入力される画像信号である。モザイク画像117は図1に示す撮像素子101の各画素にR、G、Bのどれかの色に対応する強度信号画素値を格納しており、その色配列は、例えば原色系ベイヤー配列である。Y画像124およびC画像125は画像処理部からの出力画像である。これは図1で示したDSP104から出力されCODEC105へ入力されるYCbCr画像信号に相当する。図2に示す画像処理部の各手段の実行する処理について説明する。欠陥補正手段118は、図1に示すA/Dコンバータ103から入力するモザイク画像117に対して、欠陥画素位置の画素値を正しい値に補正する。ホワイトバランス手段119は、欠陥補正されたモザイク画像に対して、無彩色の被写体領域の色バランスが無彩色になるように、各画素強度の持つ色に応じて適切な係数をかける。デモザイク手段120はホワイトバランスの調整がなされたモザイク画像の各画素位置にR,G,Bすべての強度をそろえる補間処理をおこなう。デモザイク手段120からの出力は、各画素位置にR,G,Bの3つの色の画素値が個別に設定された3つの画像となる。マトリックス手段121はあらかじめ係数が設定された3行3列のリニアマトリックスをデモザイク手段120の出力の各画素[R,G,B]に適用し、3原色の画素値強度値[R_m,G_m,B_m]に変換する。リニアマトリックスの係数は、最適な色再現を発揮するために重要な設計項目であるが、本発明は欠陥補正処理に関するものであり、マトリックス処理は欠陥補正処理後に適用されるので、リニアマトリックス係数の具体値は本発明と関係なく設計してかまわない。マトリックス手段121の出力は、色補正されたR_m,G_m,B_mの3つの色に対応する3つの画像となる。マトリックス処理後、ガンマ補正手段122が色補正された3チャネル画像に対してガンマ補正をおこなう。YC変換手段123はガンマ補正された3チャネル画像にYCマトリックス処理およびクロマ成分に対する帯域制限を行うことでY画像124およびC画像125を生成する。次に、図2に示す画像処理部において実行する処理のシーケンスについて、図3に示すフローチャートを参照して説明する。画像処理部はまずステップS101において、撮像素子101の出力信号に基づくモザイク画像を取得する。図2に示すモザイク画像117である。次にステップS102において、欠陥補正手段118がモザイク画像に対して欠陥補正処理をおこなう。次に、ステップS103において、ホワイトバランス手段119が欠陥補正されたモザイク画像に対してホワイトバランス処理をおこなう。次にステップS104において、デモザイク手段120がホワイトバランス処理が施されたモザイク画像の各画素位置にR,G,Bすべての強度画素値を設定するデモザイク処理を行う。次にステップS105において、マトリックス手段121が3チャネル画像の各画素にリニアマトリックスを適用し、RGB3チャネル画像を得る。次にステップS106において、ガンマ補正手段122がマトリックス処理で色補正された3チャネル画像の各画素にガンマ補正をおこなう。次にステップS107において、YC変換手段123が、ガンマ補正された3チャネル画像にYC変換をおこないY画像124およびC画像125を生成する。最後にステップS108において、生成されたY画像124およびC画像125を出力する。以上で画像処理部の動作を終了する。[3.欠陥補正手段の構成と処理の詳細について]次に、本発明の本質部分である欠陥補正手段118において実行する画像補正処理の詳細について説明する。図4に欠陥補正手段118の内部構成を説明するブロックダイアグラムを示す。図4に示すように、欠陥補正手段118は大きく分けて近傍領域抽出手段201、テクスチャ方向判定手段202、欠陥画素検出手段203、欠陥画素補正手段204から構成される。近傍領域抽出手段201は、欠陥補正手段118への入力であるモザイク画像117、すなわち、図1に示す撮像素子101の出力信号に基づくモザイク画像117から、注目画素位置周囲の決まった大きさの近傍領域211を切り出す。本実施例においては、近傍領域211は、注目画素位置を中心とした7x7画素の矩形領域とする。テクスチャ方向判定手段202は7x7画素の矩形領域の中心位置に設定された注目画素位置について、複数の方向の中から、欠陥画素の検出処理を行う方向を決定する。本実施例では、テクスチャ方向判定手段202の判定する複数の方向は、水平方向H方向、垂直方向V方向、右上がり斜め方向A方向、右下がり斜め方向D方向、これらの4方向とする。欠陥画素検出手段203は、テクスチャ方向判定手段202が決定した欠陥画素の検出処理を行う方向に従って、欠陥画素の検出を行う。欠陥画素補正手段204は、欠陥画素検出手段203が検出した欠陥画素位置の画素値を、近傍領域211の画素を用いて補正する。欠陥補正手段118では、このような一連の処理により、欠陥画素の補正を実行する。以下、欠陥補正手段118を構成する各処理手段の具体的な処理例について、順次説明する。[4.欠陥補正手段内の近傍領域抽出手段の実行する処理の詳細について]まず、欠陥補正手段118内の近傍領域抽出手段201の実行する処理の詳細について説明する。近傍領域抽出手段201は、注目画素位置近傍の7x7の矩形領域内の画素情報へのアクセスを確保する動作を行う。その具体的な方法としては様々な手法が適用可能である。例えば本発明をソフトウェアとして実現する場合は、注目画素位置を中心とした近傍7x7の矩形領域内の画素値を例えば座標位置と対応づけた配列の形でメモリ上に確保する動作をすればよい。また、ハードウェアで実現する場合は、通常撮像装置の信号処理系ではセンサからの信号は水平ライン順次の画素強度の1次元系列としてデータを流すように実装することが多く、その場合は通常、1水平ライン分の画素強度画素値を保持できるディレイラインを用いて上下に隣接する水平ラインの画素へのアクセスを確保する。7x7の矩形領域へのアクセスを確保するには、最低個6のディレイラインを用意すればよい。[5.欠陥補正手段内のテクスチャ方向判定手段の実行する処理の詳細について]次に、欠陥補正手段118内のテクスチャ方向判定手段202の実行する処理の詳細について説明する。図5は、テクスチャ方向判定手段202の詳細構成と動作を説明する図である。テクスチャ方向判定手段202は、注目画素の近傍領域本例では7x7画素領域の画素値解析を行う以下の微分値算出手段を有している。1水平方向の微分値を算出する水平方向微分値算出手段311、2垂直方向の微分値を算出する垂直方向微分値算出手段312、3右上がり斜め方向の微分値を算出する右上がり方向微分値算出手段313、4右下がり斜め方向の微分値を算出する右下がり方向微分値算出手段314、なお、本実施例では、近傍領域は、注目画素を中心とした7x7画素の領域であり、この近傍領域に対して解析を実行する。テクスチャ方向判定手段202は、さらに前記の4つの各方向に沿って算出された微分値から統計量を算出する統計量算出手段312a~312dと、前記各方向の統計量を比較して、近傍領域211のテクスチャの方向を決定する統計量比較手段331を有している。水平方向の微分値を算出する水平方向微分値算出手段311の処理について、図を参照して説明する。図6は、水平方向微分値算出手段311の処理を説明する図である。図6には注目画素を中心とした7x7画素の近傍領域を示している。水平方向をx、垂直方向をy座標としている。7x7画素の近傍領域の中心、すなわち、x,y=4,4が注目画素位置に対応する。テクスチャ方向判定に用いる画素はWで示してある。画素位置x,yにおける、水平方向の微分値gradHx,yは、gradHx,y=abswx-1,y-wx1,y上記式に従って求める。ここで、absは、絶対値を求める関数である。wx-1,yは、座標位置x-1,yにおけるWの画素値強度、wx1,yは、座標位置x1,yにおけるWの画素値強度、である。水平方向微分値算出手段311は、図6中に○で示した画素位置において微分値gradHを求める。例えば、x,y=2,1の位置の○印の位置では、水平方向両隣のWの画素値強度に基づいて、微分値gradHを求める。すなわち、x,y=1,1と、x,y=3,1の2つのW画素の画素値を用いて、微分値gradH2,1を算出する。図6に示す○で示した18個の画素位置において微分値gradHが求められる。次に垂直方向の微分値を算出する垂直方向微分値算出手段312の処理について説明する。図7は、垂直方向微分値算出手段312の処理を説明する図である。図7には注目画素を中心とした7x7画素の近傍領域を示している。水平方向をx、垂直方向をy座標としている。7x7画素の近傍領域の中心、すなわち、x,y=4,4が注目画素位置に対応する。テクスチャ方向判定に用いる画素をWで図示してある。画素位置x,yにおける、垂直方向の微分値gradVx,yは、gradVx,y=abswx,y-1-wx,y1上記式に従って求める。ここで、absは、絶対値を求める関数である。wx,y-1は、座標位置x,y-1におけるWの画素値強度、wx,y1は、座標位置x,y1におけるWの画素値強度、である。垂直方向微分値算出手段312は、図7中に○で図示した画素位置において微分値gradVを求める。例えば、x,y=1,2の位置の○印の位置では、垂直方向両隣のWの画素値強度に基づいて、微分値gradVを求める。すなわち、x,y=1,1と、x,y=1,3の2つのW画素の画素値を用いて、微分値gradV1,2を算出する。図7に示す○で示した18個の画素位置において微分値gradVが求められる。次に右上がり方向の微分値を算出する右上がり方向微分値算出手段313の処理について説明する。図8は、右上がり方向微分値算出手段313の処理を説明する図である。図8には注目画素を中心とした7x7画素の近傍領域を示している。水平方向をx、垂直方向をy座標としている。7x7画素の近傍領域の中心、すなわち、x,y=4,4が注目画素位置に対応する。テクスチャ方向判定に用いる画素をWで図示してある。画素位置x,yにおける、右上がり方向の微分値gradAx,yは、gradAx,y=abswx,y-wx1,y-1上記式に従って求める。ここで、absは、絶対値を求める関数である。wx,yは、座標位置x,yにおけるWの画素値強度、wx1,y-1は、座標位置x1,y-1におけるWの画素値強度、である。右上がり方向微分値算出手段313は、図8中の点線内に存在するW画素位置において微分値gradAを求める。例えば、x,y=1,3の位置のW印の位置では、自画素と、右上方向隣接のWの画素値強度に基づいて、微分値gradAを求める。すなわち、x,y=1,3と、x,y=2,2の2つのW画素の画素値を用いて、微分値gradA1,3を算出する。図8に示す点線内に存在する18個のW画素位置において微分値gradAが求められる。次に右下がり方向の微分値を算出する右下がり方向微分値算出手段314の処理について説明する。図9は、右下がり方向微分値算出手段314の処理を説明する図である。図9には注目画素を中心とした7x7画素の近傍領域を示している。水平方向をx、垂直方向をy座標としている。7x7画素の近傍領域の中心、すなわち、x,y=4,4が注目画素位置に対応する。テクスチャ方向判定に用いる画素をWで図示してある。画素位置x,yにおける、右下がり方向の微分値gradDx,yは、gradDx,y=abswx,y-wx1,y1上記式に従って求める。ここで、absは、絶対値を求める関数である。wx,yは、座標位置x,yにおけるWの画素値強度、wx1,y1は、座標位置x1,y1におけるWの画素値強度、である。右下がり方向微分値算出手段314は、図9中の点線内に存在するW画素位置において微分値gradDを求める。例えば、x,y=1,1の位置のW印の位置では、自画素と、右下方向隣接のWの画素値強度に基づいて、微分値gradDを求める。すなわち、x,y=1,1と、x,y=2,2の2つのW画素の画素値を用いて、微分値gradD1,1を算出する。図9に示す点線内に存在する18個のW画素位置において微分値gradDが求められる。次に、統計量算出手段321a~dの処理について説明する。統計量算出手段321a~dは、前述の1水平方向微分値算出手段311、2垂直方向微分値算出手段312、3右上がり方向微分値算出手段313、4右下がり方向微分値算出手段314、これらの各微分値算出手段において算出された、微分値gradH、gradV、gradA、gradDそれぞれについて、微分値の大きさに基づいてソート並び替えを行い、小さい方から順にn番目までの微分値を用いて平均値mHgrad、mVgrad、mAgrad、mDgradを算出する。先に、図6~図9を参照して説明したように、1つの注目画素を中心とした7x7の近傍領域の画素解析によって、以下の微分値を算出している。1水平方向微分値算出手段311は18個の水平方向微分値gradH、2垂直方向微分値算出手段312は18個の垂直方向微分値gradV、3右上がり方向微分値算出手段313は18個の右上がり方向微分値gradA、4右下がり方向微分値算出手段314は18個の右下がり方向微分値gradD、統計量算出手段321a~dは、これら複数の微分値に基づく統計量として、微分値の大きさに基づいてソート並び替えを行い、小さい方から順にn番目までの微分値を用いて、それぞれの平均値mHgrad、mVgrad、mAgrad、mDgradを算出する。ここで、nはソートされた微分値の長さN以下の値である。上記の例ではN=18である。nの値は近傍領域211に存在することが想定される連続欠陥の大きさによって決定される。例えば、近傍画素内に存在する連続欠陥画素が2x2画素であった場合、欠陥の影響を受けて正しく求められない微分値は、最大で4画素であるので、n=N-4を用いれば良い。次に、統計量比較手段331の処理について説明する。統計量算出手段331は、前記の各方向、すなわち水平、垂直、右上がり、右下がり各方向について、統計量算出手段321a~dで算出された統計量mHgrad、mVgrad、mAgrad、mDgradの比較を行い、最も統計量が小さい方向をテクスチャ方向であると判定する。例えば、mHgradが最も小さい値だった場合、近傍領域211のテクスチャ方向は、水平方向であると判定する。欠陥補正手段118内のテクスチャ方向判定手段202は、このようにしてテクスチャ方向を判定し、判定情報としてのテクスチャ方向情報dirを欠陥画素検出手段203に出力する。なお、テクスチャ方向情報dirとは、輝度変化や画素値変化のもっとも小さい方向に対応する。[6.欠陥補正手段内の欠陥画素検出手段の実行する処理の詳細について]次に、欠陥補正手段118内の欠陥画素検出手段203の実行する処理の詳細について図10を参照して説明する。図10は欠陥画素検出手段203の実行する処理および構成を説明する図である。欠陥画素検出手段203は、近傍領域211本例では注目画素を中心とした7x7画素の領域を構成する画素について、画素出力読み出し回路を共有FD共有している複数画素からなる共有画素集合単位で処理を実行する。なお、共有画素集合は読み出し回路を共有する画素の集合である。共有画素統計量算出手段411は、画素出力読み出し回路を共有FD共有している複数画素からなる共有画素集合単位の統計量を算出する。さらに、共有画素統計量算出手段411で算出された統計量を用いて近傍領域211における各方向の欠陥画素と推定される画素を検出する以下の手段を有する。すなわち、1水平方向に欠陥検出を行う水平方向欠陥検出手段421、2垂直方向に欠陥検出を行う垂直方向欠陥検出手段422、3右上がり方向に欠陥検出を行う右あがり方向欠陥検出手段423、4右下がり方向に欠陥検出を行う右下がり方向欠陥検出手段424、これらの4方向対応の欠陥検出手段を有する。さらに、前述のテクスチャ方向判定手段202で判定されたテクスチャ方向情報dirを入力し、テクスチャ方向情報dirに従って、前段の欠陥検出手段421~424で欠陥画素として推定された画素から、補正対象とすべき補正対象欠陥画素位置を選択する欠陥画素位置選択手段431を有する。例えば、固体撮像装置の共有画素構成としては、図11に示される8画素単位の共有画素構成がある。図11は、実線で結ばれた8画素を共有画素とする構成例を示している。すなわち、図11に示す例は、1つの画素出力読み出し回路を8画素単位で利用した共有画素集合FD共有構成を示している。図11に示した共有画素パターンの場合、注目画素を含む共有画素8画素の画素集合をFD01とする。注目画素を含む共有画素FD01の左、左下、下、右下、右方向の隣合う共有画素を順にFD00、FD10、FD11、FD12、FD022で表す。すなわち、注目画素を中心とした7x7画素領域に、上段左側から、FD00,FD01,FD02、下段左側から、FD10,FD11,FD12,これらの8画素単位の共有画素8画素の画素集合が設定される。共有画素集合単位で画素出力読み出し回路が共有されると、その集合中の1つの画素が欠陥である場合、あるいは読み出し回路の不具合等により、出力値が正常値と離れた値に設定される場合がある。例えば図11に示す画素集合FD00の構成画素の全てが欠陥画素となる可能性もある。以下、1つの処理例として、FD01とFD11のいずれかが欠陥である場合の処理例について説明する。まず、共有画素統計量算出手段411は、近傍領域211内の共有画素集合単位でW画素の画素値平均値を算出する。なお、近傍領域211は、本例では注目画素を中心画素とする7x7画素領域である。例えば、図11に示す7x7画素からなる画素領域中の、中心の点線で囲まれた画素を含む共有画素集合FD01に含まれるW画素の平均値をmW00とする。なお、共有画素集合は前述したように読み出し回路を共有する画素の集合である。同様に、画素共有集合FD00に含まれるW画素の平均値をmW00とする。画素共有集合FD01に含まれるW画素の平均値をmW01とする。画素共有集合FD02に含まれるW画素の平均値をmW02とする。画素共有集合FD10に含まれるW画素の平均値をmW10とする。画素共有集合FD11に含まれるW画素の平均値をmW11とする。画素共有集合FD12に含まれるW画素の平均値をmW12とする。なお、上記の共有画素集合単位の平均値mW00~mW12の6個の平均値からなる平均値群を平均値群1とする。すなわち、平均値群1は、注目画素図11に示す7x7画素領域中の中心の点線で囲まれた画素を含む画素共有集合FD01と、その左FD00、左下FD10、下FD11、右下FD12、右方向FD02の隣合う共有画素集合単位の計2x3個の平均値群1である。この平均値群1は、図11に示す6個の共有画素集合FD00~FD12に対応して算出される。この他、注目画素を含む共有画素集合FD01と、その左FD00、左上図示なしFD00の上、上図示なしFD01の上、右上図示なしFD02の上、右方向FD02の隣合う共有画素集合の計2x3個の平均値群2を利用する構成としてもよい。平均値群1か、平均値群2のどちらを用いるかは、注目画素の位相と、共有画素のパターンによって決定する。つまり、FD00を共有しているW画素の平均値をmW00で表し、その他のFDについても同様に表す。水平方向欠陥検出手段421の処理について説明する。水平方向欠陥検出手段421は、まず、前段の共有画素統計量算出手段411が算出した共有画素集合単位の2x3個の平均値mW00~mW12に基づいて、以下の共有画素集合単位の水平方向差分値グラディエント:gH00~gH11を算出する。すなわち、gH00=absmW00-mW01、gH01=absmW01-mW02、gH10=absmW10-mW11、gH11=absmW11-mW12、を算出する。なお、これらの差分値グラディエントは一次微分値に相当する。さらに、水平方向欠陥検出手段421は、共有画素集合単位の水平方向差分値グラディエント:gH00~gH11に基づいて、以下の差分平均値を算出する。上段の水平方向差分値グラディエント:gH00,gH01の平均値gH0=gH00gH01/2、下段の水平方向差分値グラディエント:gH10,gH11の平均値gH1=gH10gH11/2、さらに、水平方向欠陥検出手段421は、上段の水平方向差分値グラディエントの平均値である差分平均値gH0=gH00gH01/2と、下段の水平方向差分値グラディエントの平均値である差分平均値gH1=gH10gH11/2と、これらを比較して、比較結果に応じて、以下のように水平方向欠陥検出用平均値safe_mWを算出する。agH0<gH1ならば、safe_mW=mW00mW01mW02/3、bgH0>gH1ならば、safe_mW=mW10mW11mW12/3、上記a,bのいずれかによって、水平方向欠陥検出用平均値safe_mWを求める。この処理は、上段と下段から、より画素値変化の少ない平坦な領域を選択してその平均値を水平方向欠陥検出用平均値safe_mWとして算出する処理である。次に、水平方向欠陥検出手段421は、欠陥判定対象の共有画素集合FD01を含む上段の水平方向差分値グラディエントの差分平均値gH0の値が、予め規定した閾値threshold以上であり、かつ、下記条件式、absmW01-safe_mW>absmW00-safe_mW上記式を満たす場合は、FD01が欠陥であると判定する。上記判定処理は、欠陥判定対象の共有画素集合FD01を含む上段の水平方向差分値グラディエントの差分平均値gH0が所定の閾値以上であり、かつ、欠陥判定対象の共有画素集合FD01の画素値平均mW01と水平方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分が、共有画素集合FD01の水平方向に隣接する左隣の共有画素集合FD00の画素値平均mW00と水平方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分より大きいときに、欠陥判定対象の共有画素集合FD01が欠陥であると判定する処理である。さらに、欠陥判定対象の共有画素集合FD11を含む下段の水平方向差分値グラディエントの差分平均値gH1の値が、予め規定した閾値threshold以上であり、かつ、下記条件式、absmW11-safe_mW>absmW10-safe_mWである場合は、FD11が欠陥であると判定する。上記判定処理は、下段の水平方向差分値グラディエントの差分平均値gH1が所定の閾値以上であり、かつ、欠陥判定対象の共有画素集合FD11の画素値平均mW11と水平方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分が、共有画素集合FD11の左隣の共有画素集合FD10の画素値平均mW10と水平方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分より大きいときに、欠陥判定対象の共有画素集合FD11が欠陥であると判定する処理である。次に、垂直方向欠陥検出手段422の処理について説明する。垂直方向欠陥検出手段422は、前段の共有画素統計量算出手段411が算出した共有画素集合単位の2x3個の平均値mW00~mW12に基づいて、以下の共有画素集合単位の垂直方向差分値グラディエント:gV0~gV1を算出する。すなわち、左列FD00,FD10の共有画素集合単位の垂直方向差分値グラディエント:gV0gV0=absmW00-mW10、右列FD01,FD11の共有画素集合単位の垂直方向差分値グラディエント:gV1gV1=absmW01-mW11、これらを算出する。さらに、垂直方向欠陥検出手段422は、これら2つの共有画素集合単位の垂直方向差分値グラディエント:gV0,gV1を比較して、比較結果に基づいて、以下の垂直方向欠陥検出用平均値safe_mWを算出する。agV0<gV1ならば、safe_mW=mW00mW10/2、bgV0>gV1ならば、safe_mW=mW01mW11/2、上記a,bのいずれかによって、垂直方向欠陥検出用平均値safe_mWを求める。この処理は、2つの隣接する垂直列にある共有画素集合の列、すなわち左列FD00,FD10と右列FD01,FD11から、より画素値変化の少ない平坦な領域を選択してその平均値を垂直方向欠陥検出用平均値safe_mWとして算出する処理である。次に、垂直方向欠陥検出手段422は、欠陥判定対象の共有画素集合FD01を含む垂直向差分値グラディエントgV1の値が、予め規定した閾値threshold以上であり、かつ、下記条件式、absmW01-safe_mW>absmW11-safe_mW上記式を満たす場合は、FD01が欠陥であると判定する。上記判定処理は、欠陥判定対象の共有画素集合FD01を含む垂直方向の列の垂直方向差分値グラディエントgV1が所定の閾値以上であり、かつ、欠陥判定対象の共有画素集合FD01の画素値平均mW01と垂直方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分が、共有画素集合FD01の垂直方向に隣接する下隣の共有画素集合FD11の画素値平均mW11と垂直方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分より大きいときに、欠陥判定対象の共有画素集合FD01が欠陥であると判定する処理である。次に、垂直方向欠陥検出手段422は、欠陥判定対象の共有画素集合FD11を含む垂直向差分値グラディエントgV1の値が、予め規定した閾値threshold以上であり、かつ、下記条件式、absmW11-safe_mW>absmW01-safe_mWである場合は、FD11が欠陥であると判定する。上記判定処理は、欠陥判定対象の共有画素集合FD11を含む垂直方向の列の垂直方向差分値グラディエントgV1が所定の閾値以上であり、かつ、欠陥判定対象の共有画素集合FD11の画素値平均mW11と垂直方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分が、共有画素集合FD11の垂直方向に隣接する上隣の共有画素集合FD01の画素値平均mW01と垂直方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分より大きいときに、欠陥判定対象の共有画素集合FD11が欠陥であると判定する処理である。次に、右上がり方向欠陥検出手段423の処理について説明する。右上がり方向欠陥検出手段423は、前段の共有画素統計量算出手段411が算出した共有画素集合単位の2x3個の平均値mW00~mW12に基づいて、以下の共有画素集合単位の右上がり方向差分値グラディエント:gA0~gA1を算出する。すなわち、右上がり方向に隣接するFD10,FD01の共有画素集合単位の右上がり方向差分値グラディエント:gA0gA0=absmW10-mW01、右上がり方向に隣接するFD11,FD02の共有画素集合単位の右上がり方向差分値グラディエント:gA1gA1=absmW11-mW02、これらを算出する。さらに、右上がり方向欠陥検出手段423は、これら2つの共有画素集合単位の右上がり方向差分値グラディエント:gA0,gA1を比較して、比較結果に基づいて、以下の右上がり方向欠陥検出用平均値safe_mWを算出する。agA0<gA1ならば、safe_mW=mW10mW01/2、bgV0>gV1ならば、safe_mW=mW11mW02/2、上記a,bのいずれかによって、右上がり方向欠陥検出用平均値safe_mWを求める。この処理は、2つの隣接する右上がり方向ライン上の共有画素集合の隣接データ、すなわちFD10,FD01とFD11,FD02から、より画素値変化の少ない平坦な領域を選択してその平均値を右上がり方向欠陥検出用平均値safe_mWとして算出する処理である。次に、右上がり方向欠陥検出手段423は、欠陥判定対象の共有画素集合FD01を含む右上がり直向差分値グラディエントgA0の値が、予め規定した閾値threshold以上であり、かつ、下記条件式、absmW01-safe_mW>absmW10-safe_mW上記式を満たす場合は、FD01が欠陥であると判定する。上記判定処理は、欠陥判定対象の共有画素集合FD01を含む右上がり方向のライン上の右上がり方向差分値グラディエントgA1が所定の閾値以上であり、かつ、欠陥判定対象の共有画素集合FD01の画素値平均mW01と右上がり方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分が、共有画素集合FD01の右上がり上方向ライン上で隣接する左下隣の共有画素集合FD10の画素値平均mW10と右上がり方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分より大きいときに、欠陥判定対象の共有画素集合FD01が欠陥であると判定する処理である。次に、右上がり方向欠陥検出手段423は、欠陥判定対象の共有画素集合FD11を含む右上がり方向差分値グラディエントgA1の値が、予め規定した閾値threshold以上であり、かつ、下記条件式、absmW11-safe_mW>absmW02-safe_mWである場合は、FD11が欠陥であると判定する。上記判定処理は、欠陥判定対象の共有画素集合FD11を含む右上がり方向のライン上の右上がり方向差分値グラディエントgA1が所定の閾値以上であり、かつ、欠陥判定対象の共有画素集合FD11の画素値平均mW11と右上がり方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分が、共有画素集合FD11の右上がり上方向ライン上で隣接する右上隣の共有画素集合FD02の画素値平均mW02と右上がり方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分より大きいときに、欠陥判定対象の共有画素集合FD11が欠陥であると判定する処理である。次に、右下がり方向欠陥検出手段424の処理について説明する。右下がり方向欠陥検出手段424は、前段の共有画素統計量算出手段411が算出した共有画素集合単位の2x3個の平均値mW00~mW12に基づいて、以下の共有画素集合単位の右下がり方向差分値グラディエント:gD0~gD1を算出する。すなわち、右下がりがり方向に隣接するFD00,FD11の共有画素集合単位の右下がり方向差分値グラディエント:gD0gD0=absmW00-mW11、右下がり方向に隣接するFD01,FD12の共有画素集合単位の右下がり方向差分値グラディエント:gD1gD1=absmW01-mW12、これらを算出する。さらに、右下がり方向欠陥検出手段424は、これら2つの共有画素集合単位の右下がり方向差分値グラディエント:gD0,gD1を比較して、比較結果に基づいて、以下の右下がり方向欠陥検出用平均値safe_mWを算出する。agD0<gD1ならば、safe_mW=mW00mW11/2、bgD0>gD1ならば、safe_mW=mW01mW12/2、上記a,bのいずれかによって、右下がり方向欠陥検出用平均値平均値safe_mWを求める。この処理は、2つの隣接する右下がり方向ライン上の共有画素集合の隣接データ、すなわちFD00,FD11とFD01,FD12から、より画素値変化の少ない平坦な領域を選択してその平均値を右下がり方向欠陥検出用平均値safe_mWとして算出する処理である。次に、右下がり方向欠陥検出手段424は、欠陥判定対象の共有画素集合FD01を含む右下がり直向差分値グラディエントgD1の値が、予め規定した閾値threshold以上であり、かつ、下記条件式、absmW01-safe_mW>absmW12-safe_mWである場合は、FD01が欠陥であると判定する。上記判定処理は、欠陥判定対象の共有画素集合FD01を含む右下がり方向のライン上の右下がり方向差分値グラディエントgD1が所定の閾値以上であり、かつ、欠陥判定対象の共有画素集合FD01の画素値平均mW01と右下がり方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分が、共有画素集合FD01の右下がり上方向ライン上で隣接する右下隣の共有画素集合FD12の画素値平均mW12と右上がり方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分より大きいときに、欠陥判定対象の共有画素集合FD01が欠陥であると判定する処理である。次に、右下がり方向欠陥検出手段424は、欠陥判定対象の共有画素集合FD11を含む右下がり方向差分値グラディエントgD0の値が、予め規定した閾値threshold以上であり、かつ、下記条件式、absmW11-safe_mW>absmW00-safe_mWである場合は、FD11が欠陥であると判定する。上記判定処理は、欠陥判定対象の共有画素集合FD11を含む右下がり方向のライン上の右下がり方向差分値グラディエントgD0が所定の閾値以上であり、かつ、欠陥判定対象の共有画素集合FD11の画素値平均mW11と右下がり方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分が、共有画素集合FD11の右下がり上方向ライン上で隣接する左上隣の共有画素集合FD00の画素値平均mW00と右下がり方向欠陥検出用平均値safe_mWとの差分より大きいときに、欠陥判定対象の共有画素集合FD11が欠陥であると判定する処理である。次に、欠陥画素位置選択手段431の処理について説明する。欠陥画素位置選択手段431は、前述した各方向の欠陥検出手段421~424が検出した画素位置の中から、先に説明したテクスチャ方向判定手段202が判定したテクスチャ方向dirの検出結果を選択する。すなわち、テクスチャ方向判定手段202が判定したテクスチャ方向dirが、水平方向Hである場合、水平方向欠陥検出手段421の検出結果を選択する。すなわち、水平方向欠陥検出手段421が共有画素集合Fxy例えばF01を欠陥画素として判定している場合は、この共有画素集合Fxyを補正対象の欠陥画素として選択する。また、テクスチャ方向判定手段202が判定したテクスチャ方向dirが、垂直方向Vである場合、垂直方向欠陥検出手段422の検出結果を選択する。すなわち、垂直方向欠陥検出手段422が共有画素集合Fxy例えばF01を欠陥画素として判定している場合は、この共有画素集合Fxyを補正対象の欠陥画素として選択する。また、テクスチャ方向判定手段202が判定したテクスチャ方向dirが、右上がり方向Aである場合、右上がり方向欠陥検出手段423の検出結果を選択する。すなわち、右上がり方向欠陥検出手段423が共有画素集合Fxy例えばF01を欠陥画素として判定している場合は、この共有画素集合Fxyを補正対象の欠陥画素として選択する。また、テクスチャ方向判定手段202が判定したテクスチャ方向dirが、右下がり方向Dである場合、右下がり方向欠陥検出手段424の検出結果を選択する。すなわち、右下がり方向欠陥検出手段424が共有画素集合Fxy例えばF01を欠陥画素として判定している場合は、この共有画素集合Fxyを補正対象の欠陥画素として選択する。この欠陥画素位置選択手段431の実行する補正対象欠陥画素の選択処理は、各欠陥検出手段421~424が欠陥であると推定した欠陥画素から、さらに、テクスチャ方向判定手段202が判定したテクスチャ方向dirに対応する方向の位置にあるもののみを実際の欠陥である可能性が高いと判定して、これを補正対象として選択する処理である。この選択処理について説明する。各欠陥検出手段421~424では、各方向に応じて変化の大きい共有画素集合を欠陥画素である可能性があるものとして、これらを欠陥画素として決定している。しかし、これらの各欠陥検出手段421~424が判定した欠陥画素は、補正の必要な欠陥画素でなく真の画素値を出力している場合もある。欠陥画素位置選択手段431は、これらの各欠陥検出手段421~424が欠陥画素であると判定した画素から補正すべき欠陥画素を選択する。この選択処理のためにテクスチャ方向情報dirを適用する。テクスチャ方向は、本来、画素値の変化が少ない方向である。各欠陥検出手段421~424では、各方向に応じて変化の大きい共有画素集合を欠陥画素である可能性が高いとして、これらを欠陥画素として決定している。欠陥画素位置選択手段431は、これらの出力からテクスチャ方向に対応するもののみを補正の必要な本当の欠陥画素として選択する。その他は、実際の画素値を出力している可能性が高いと判定して補正対象から除外する。なお、図10を参照して説明した欠陥画素検出手段203の構成では、水平方向欠陥検出手段421、垂直方向欠陥検出手段422、右上がり方向欠陥検出手段423、右下がり方向欠陥検出手段424、これらの各検出手段において欠陥画素と推定される画素集合を決定した後、欠陥画素位置選択手段431においてテクスチャ方向情報を用いて、各欠陥検出手段421~424の出力から1つの出力のみを補正対象として選択する設定としている。このような設定とせず、例えば、テクスチャ方向情報に従って、各欠陥検出手段421~424から、テクスチャ方向と同じ方向の欠陥検出を実行する欠陥検出手段の実を選択的に動作させる設定としてもよい。例えば図12に示すように、欠陥画素位置選択手段431においてテクスチャ方向情報を用いてスイッチ432を制御して各欠陥検出手段421~424のどの検出手段を動作させるかを決定して、いずれか1つの検出手段のみを動作させる設定としてもよい。また、本実施例では、欠陥検出に一次微分値グラディエントを用いた例を説明するが、一次微分値グラディエントの他、例えば二次微分値ラプラシアンを用いた構成としてもよい。[7.欠陥画素補正手段の処理について]次に、図4に示す欠陥画素補正手段204の処理について説明する。欠陥画素補正手段204は、前述した欠陥画素検出手段203が検出した欠陥画素に対する補正を行う。補正手段は、検出された欠陥画素について、テクスチャ方向判定手段202で判定されたテクスチャ方向に基づき、近傍画素を用いて補正画素値を決定する。補正画素値の決定方法としては、様々な手法、例えば近傍画素の画素値を参照した補正処理が適用可能である。例えばテクスチャ方向に沿って、欠陥画素位置と最も近い位置の画素値と置き換える手法などの補正処理が実行される。また、テクスチャ方向に沿って、共有画素統計量算出手段411が算出した2x3個の平均値から選択する処理を適用してもよい。以上、特定の実施例を参照しながら、本発明について詳解してきた。しかしながら、本発明の要旨を逸脱しない範囲で当業者が実施例の修正や代用を成し得ることは自明である。すなわち、例示という形態で本発明を開示してきたのであり、限定的に解釈されるべきではない。本発明の要旨を判断するためには、特許請求の範囲の欄を参酌すべきである。また、明細書中において説明した一連の処理はハードウェア、またはソフトウェア、あるいは両者の複合構成によって実行することが可能である。ソフトウェアによる処理を実行する場合は、処理シーケンスを記録したプログラムを、専用のハードウェアに組み込まれたコンピュータ内のメモリにインストールして実行させるか、あるいは、各種処理が実行可能な汎用コンピュータにプログラムをインストールして実行させることが可能である。例えば、プログラムは記録媒体に予め記録しておくことができる。記録媒体からコンピュータにインストールする他、LANLocalAreaNetwork、インターネットといったネットワークを介してプログラムを受信し、内蔵するハードディスク等の記録媒体にインストールすることができる。なお、明細書に記載された各種の処理は、記載に従って時系列に実行されるのみならず、処理を実行する装置の処理能力あるいは必要に応じて並列的にあるいは個別に実行されてもよい。また、本明細書においてシステムとは、複数の装置の論理的集合構成であり、各構成の装置が同一筐体内にあるものには限らない。"