"画像データの各画素に対応するクロックを用いて、2値の画像データに応じた出力信号を生成する信号処理装置であって、前記クロックを該クロックの1パルスの時間内で複数段階に遅延させる複数段の遅延素子を有する遅延素子群と、前記画像データに応じて1画素単位のパルス信号を生成すると共に、信号値補正指示を受けて1画素未満の補正用パルス信号を生成し、該補正用パルス信号を前記パルス信号に付加又は削除して出力信号を生成する処理部と、を備え、前記処理部は、前記信号値補正指示を適用する範囲としての着目画素を決定すると共に着目画素数を算出し、前記信号値補正指示と前記着目画素数とから、前記着目画素の1画素あたりの単位補正パルス幅を算出し、前記遅延素子群の遅延素子M段目の遅延時間TDmと遅延素子M1段目の遅延時間TDm1とが、前記単位補正パルス幅に相当する時間を挟むようにMを決定し、前記着目画素の範囲全体では単位補正パルス幅による信号値補正指示と等しくなるように、前記着目画素の範囲内のN画素毎に、前記遅延素子群の前記M段目と前記M1段目とを選択して、1画素未満の補正用パルス信号を生成する、ことを特徴とする信号処理装置。前記処理部は、前記信号値補正指示が信号値増加の指示である場合には、出力信号として出力すべき画素に隣接するように前記着目画素の位置を定め、前記着目画素の位置において、補正用パルス信号として、上記PWM信号による1画素未満の画素を生成し、前記信号値補正指示が信号値減少の指示である場合には、出力信号として出力すべき画素の端部を前記着目画素の位置として定め、前記着目画素の位置において、補正用パルス信号として、上記PWM信号による1画素未満の画素を生成する、ことを特徴とする請求項1記載の信号処理装置。前記処理部は、指定若しくは予め定められた条件に基づいて、着目画素の範囲を決定する、ことを特徴とする請求項1-2に記載の信号処理装置。前記処理部は、前記遅延素子群の遅延素子1段あたり遅延時間TDと、前記着目画素の1画素あたりの単位補正パルス幅Pwtと、に基づいて、前記着目画素の1画素あたりの単位遅延段数Mmについて、Mm=Pwt/TDとして求め、ここでMは整数部分でありmは小数点以下部分とした場合に、N=1/mにより処理単位画素を求め、前記着目画素の範囲内において前記処理単位画素N毎に1回は前記M1段目を選択すると共に残りは前記M段目を選択する、ことを特徴とする請求項1-3のいずれか一項に記載の信号処理装置。前記遅延素子群を構成するx段目の前記遅延素子の遅延時間TDxについて、前記遅延素子群を構成するx段目の前記遅延素子の出力を連続して繰り返し出力する状態に保ち、前記クロックとは非同期の測定クロックを用意して、前記遅延素子の出力と前記測定クロックとの比較を繰り返し、該比較による一致と不一致との比率により、前記遅延素子群を構成するx段目の前記遅延素子の遅延時間TDxを測定し、各段のTDxの平均により遅延時間TDを算出する測定部を備える、ことを特徴とする請求項4記載の信号処理装置。測定クロックの周波数f2は、前記クロックの周波数f1をした場合に、05f1<f2<f1、である、ことを特徴とする請求項5記載の信号処理装置。請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の信号処理装置を備え、画像データに応じて前記信号処理装置で生成された出力信号により画像を形成する、ことを特徴とする画像形成装置。上記の各特許文献では、2値オン/オフや多値複数階調の処理が示されているものの、本件出願の発明者が検討している高解像度高クロック周波数の画像形成装置では多値の出力を実現することはできない。なお、このような高解像度を実現して高クロック周波数で動作する画像形成装置において、既に説明したように、256段階に細かく制御したPWM信号はクロック周波数や各回路の処理能力から極めて困難であるが、1画素を数段階に区切る程度の処理であれば可能と考えられる。しかし、1画素を数段階に分割できる処理能力では、上述した1未満の精度で濃度補正を行うことができず、結局は図16や図17のような1画素単位のドット追加/除去に頼らざるを得なくなり、画像の輪郭の滑らかさを損なうことは避けられないという結論に達する。なお、以上は画像形成装置の画像濃度を具体例に説明してきたが、画像濃度は信号処理装置における信号値と読み替えることが可能である。本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、その目的は、画像の輪郭部分の滑らかさを損なうことなく、1画素の範囲内での処理能力よりも高い精度で信号値補正が可能な信号処理装置及び画像形成装置を実現することにある。すなわち、課題を解決する手段としての本発明は以下に説明するようなものである。この発明は、画像データの各画素に対応するクロックを用いて、2値の画像データに応じた出力信号を生成する信号処理装置であって、前記クロックを該クロックの1パルスの時間内で複数段階に遅延させる複数段の遅延素子を有する遅延素子群と、前記画像データに応じて1画素単位のパルス信号を生成すると共に、信号値補正指示を受けて1画素未満の補正用パルス信号を生成し、該補正用パルス信号を前記パルス信号に付加又は削除して出力信号を生成する処理部と、を備え、前記処理部は、前記信号値補正指示を適用する範囲としての着目画素を決定すると共に着目画素数を算出し、前記信号値補正指示と前記着目画素数とから、前記着目画素の1画素あたりの単位補正パルス幅を算出し、前記遅延素子群の遅延素子M段目の遅延時間TDmと遅延素子M1段目の遅延時間TDm1とが、前記単位補正パルス幅に相当する時間を挟むようにMを決定し、前記着目画素の範囲全体では単位補正パルス幅による信号値補正指示と等しくなるように、前記着目画素の範囲内のN画素毎に、前記遅延素子群の前記M段目と前記M1段目とを選択して、1画素未満の補正用パルス信号を生成する、ことを特徴とする信号処理装置、また、この信号処理装置を備えて画像データに応じて前記信号処理装置で生成された出力信号により画像を形成する画像形成装置である。ここで、前記処理部は、前記信号値補正指示が信号値増加の指示である場合には、出力信号として出力すべき画素に隣接するように前記着目画素の位置を定め、前記着目画素の位置において、補正用パルス信号として、上記PWM信号による1画素未満の画素を生成する、ことを特徴とする。また、前記処理部は、前記信号値補正指示が信号値減少の指示である場合には、出力信号として出力すべき画素の端部を前記着目画素の位置として定め、前記着目画素の位置において、補正用パルス信号として、上記PWM信号による1画素未満の画素を生成する、ことを特徴とする。また、前記処理部は、指定若しくは予め定められた条件に基づいて、着目画素の範囲を決定する、ことを特徴とする。また、前記処理部は、前記遅延素子群の遅延素子1段あたり遅延時間TDと、前記着目画素の1画素あたりの単位補正パルス幅Pwtと、に基づいて、前記着目画素の1画素あたりの単位遅延段数Mmについて、Mm=Pwt/TDとして求め、ここでMは整数部分でありmは小数点以下部分とした場合に、N=1/mにより処理単位画素を求め、前記着目画素の範囲内において前記処理単位画素N毎に1回は前記M1段目を選択すると共に残りは前記M段目を選択する、ことを特徴とする。また、前記遅延素子群を構成するx段目の前記遅延素子の遅延時間TDxについて、前記遅延素子群を構成するx段目の前記遅延素子の出力を連続して繰り返し出力する状態に保ち、前記クロックとは非同期の測定クロックを用意して、前記遅延素子の出力と前記測定クロックとの比較を繰り返し、該比較による一致と不一致との比率により、前記遅延素子群を構成するx段目の前記遅延素子の遅延時間TDxを測定し、各段のTDxの平均により遅延時間TDを算出する測定部を備える、ことを特徴とする。ここで、測定クロックの周波数f2は、前記クロックの周波数f1をした場合に、05f1<f2<f1、である、ことを特徴とする。本発明では、信号値補正指示と着目画素数とから、着目画素の1画素あたりの単位補正パルス幅を算出し、遅延素子群の遅延素子M段目の遅延時間TDmと遅延素子M1段目の遅延時間TDm1とが、単位補正パルス幅に相当する時間を挟むようにMを決定し、着目画素の範囲全体では単位補正パルス幅による信号値補正指示と等しくなるように、着目画素の範囲内のN画素毎に、遅延素子群のM段目とM1段目とを選択して、1画素未満の補正用パルス信号を生成し、以上の1画素単位のパルス信号に1画素未満の補正用パルス信号を付加又は削除して出力信号を生成する。これにより、画像の輪郭部分の滑らかさを損なうことなく、1画素の範囲内での処理能力よりも高い精度で、信号値補正が可能な信号処理装置及び画像形成装置を実現することができる。なお、着目画素の範囲内において遅延素子のM段目とM1段目とを選択しているため、遅延素子群において前記クロックを該クロックの1パルスの時間内で複数段階に遅延させる場合にも、所望の精度の細かな遅延素子を用意する必要が無く、所望の精度よりも粗い精度を実現する複数段階で良く、各部の処理能力よりも高い精度での信号値補正が可能になる。以下、図面を参照して本発明の信号処理装置及び画像形成装置を実施するための形態実施形態を詳細に説明する。なお、ここでは、2値の出力により画像を形成する画像形成装置に用いられる信号処理装置を具体例にする。信号処理装置、画像形成装置の構成ここで、図1に基づいて、画像形成に使用可能な信号処理装置100の構成を詳細に説明する。なお、信号処理装置100として既知であって、本実施形態の特徴的な動作や制御に直接に関係しない一般的な部分についての説明は省略してある。図1に示す信号処理装置100は、各部を制御する制御部101、画素クロック及び測定クロックを生成するクロック生成部105、画像データに応じて1画素単位のパルス信号を生成するパルス信号生成部110、画素クロックを該画素クロックの1パルスの時間内で複数段階に遅延させる複数段の遅延素子を有する遅延素子群120、補正情報MNを生成する補正情報生成部130、補正情報MNに基づいて遅延素子群120の出力を選択部150で選択する際のセレクト信号を生成するセレクト信号生成部140、遅延素子群120の各遅延素子からの遅延信号を受けてセレクト信号に応じた遅延信号を出力する選択部150と、制御部101からの測定時有効信号とパルス生成部110からのパルス信号と選択部150からの遅延信号とを受けて1画素単位のパルス信号に1画素未満の補正用パルス信号を付加又は削除して出力信号を生成する出力信号生成部160、制御部101からの測定時有効信号に応じてクロック生成部105からの測定クロックと出力信号生成部160からの出力信号とを比較して各遅延素子の遅延信号の遅延時間の測定を行う測定部170、とを有して構成されている。ここで、制御部101は、信号処理装置100の各部を制御すると共に、測定時にアクティブ状態になる測定時有効信号を発生して、この測定時有効信号をセレクト信号生成部140と、出力信号生成部160と、測定部170とに供給する。なお、この制御部101は、信号処理装置100専用の制御部であっても良いし、画像形成装置の制御部と兼用であっても良い。クロック生成部105は、画像データの各画素に対して1クロックパルスが対応する画素クロック、及び、前記画素クロックとは非同期の測定クロックを生成する。ここで、測定クロックの周波数f2は、画素クロックの周波数f1をした場合に、05f1<f2<f1、である。すなわち、非同期とは、画素クロックの周波数と測定クロックの周波数とが整数比の関係にないことを意味している。また、非同期として更に望ましくは、画素クロックの周波数と測定クロックの周波数とが整数比の関係になく、かつ、立ち上がりと立ち下がりの位相ができるだけ一致しない状態であることを意味している。パルス信号生成部110は、オア回路110aと、フリップフロップ110bと、フリップフロップ110cと、を備えて構成されている。オア回路110aは、入力される画像データと、測定部170が測定時に生成する測定用データとを通過させる入力部であり、スイッチング素子などを用いることも可能である。フリップフロップ110bは、画素クロックに同期して画像データに基づいた1画素単位のパルス信号を生成する。フリップフロップ110cは、画素クロックに同期して、フリップフロップ110bの出力に基づいた1画素単位のパルス信号を生成して、パルス信号として出力する。なお、フリップフロップ110bは、各部の処理に要する時間を考慮し、フリップフロップ110cのパルス信号よりも画素クロック1パルス分早いパルス信号を、補正情報生成部130に供給する。遅延素子群120は、画素クロックを該画素クロックの1パルスの時間内で複数段階に遅延させる遅延素子の集合体であり、所望の精度よりも粗い精度を実現する複数段の遅延素子で構成される。例えば、この遅延素子群120は、画素クロックの1パルスの時間内で該画素クロックを100~200段階に細かく遅延させる精度が必要である場合にも、所望の精度よりも粗い精度として2~10段程度に遅延させる遅延素子で構成される。この実施形態では、5素子の遅延素子により1クロックパルスを4~5段階程度に遅延させる場合を具体例にしている。補正情報生成部130は、信号値補正指示を適用する範囲としての着目画素を決定すると共に着目画素数を算出し、信号値補正指示と着目画素数とから、着目画素の1画素あたりの単位補正パルス幅を算出し、遅延素子群120の遅延素子M段目の遅延時間TDmと遅延素子M1段目の遅延時間TDm1とが、単位補正パルス幅に相当する時間を挟むようにMを決定し、着目画素の範囲全体では単位補正パルス幅による信号値補正指示と等しくなるように、着目画素の範囲内のN画素毎に、遅延素子群120の前記M段目と前記M1段目とを選択するためのMとNとを補正情報として生成する。なお、補正情報生成部130は、MとN以外に、信号値補正指示が増加信号値補正か減少信号値-補正かを示す/-の符号情報も補正情報としてセレクト信号生成部140に供給する。セレクト信号生成部140は、補正情報MNに基づいて着目画素の範囲内のN画素毎に遅延素子群120の前記M段目と前記M1段目とを選択することで、1画素未満の補正用パルス信号を生成するのに必要な遅延信号を、選択部150が遅延素子群120の出力の中から選択するためのセレクト信号を生成する。選択部150は、遅延素子群120の各遅延素子からの遅延信号を受けて、セレクト信号生成部140で生成されたセレクト信号に応じた遅延信号を出力するもので、オンからオフに変化する遅延信号を選択するセレクタ150aと、オフからオンに変化する遅延信号を選択するセレクタ150bとを備えて構成される。出力信号生成部160は、1画素単位のパルス信号に1画素未満の補正用パルス信号を付加又は削除して出力信号を生成するもので、補正用パルス信号生成部160aと、合成部160bと、出力許可部160cと、を備えて構成される。ここで、補正用パルス信号生成部160aは、パルス生成部110からのパルス信号と選択部150からの遅延信号立ち下がり信号と立ち上がり信号とを受けて、1画素未満のパルス幅の補正用パルス信号を生成する。合成部160bは、パルス信号生成部110からの1画素単位のパルス信号と補正用パルス信号生成部160aからの1画素未満の補正用パルス信号とを合成することで出力信号を生成する。出力許可部160cは、制御部101からの測定時有効信号を受けて出力信号を外部に出力させずに測定用出力信号として測定部170に供給するか外部に出力信号を供給するかを切り替える。なお、以上の補正用パルス信号生成部160aと合成部160bとは、図2のようにオア回路とアンド回路とによる論理回路160Aにより構成することが可能である。また、出力許可部160cは、図2のように、測定時有効信号を反転入力として、出力信号を他方の入力とするアンド回路により構成することが可能である。なお、このような論理回路については、各種の変形が可能である。測定部170は、制御部101からの測定時有効信号がアクティブである期間に遅延信号の測定を行うもので、クロック生成部105からの測定クロックと、出力信号生成部160からの測定用出力信号とを比較して、各遅延素子の遅延信号の遅延時間の測定を行うものである。この測定の際には、測定部170から1画素単位の測定用データをパルス生成部110に供給し、セレクト信号生成部140が1画素未満の測定時補正用パルス信号を生成するためのセレクト信号を生成する。この結果、このセレクト信号により選択された遅延信号によって測定時補正用パルス信号が生成され、測定用データに基づくパルス信号と測定時補正用パルス信号が合成された測定用出力信号が出力信号生成部160から出力される。そして、この測定用出力信号が測定部170において、測定クロックと比較されることで測定される。なお、以上のパルス生成部110、補正情報生成部130、セレクト信号生成部140、選択部150、出力信号生成部160が、請求項における処理部を構成している。信号処理装置、画像形成装置の動作以下、図3のフローチャート、図4~図5のタイムチャート、図6以降の説明図を参照して、信号処理装置100の動作、及びこの信号処理装置100を備える画像形成装置の動作を説明する。動作測定用出力信号生成制御部101は、信号処理装置100が画像形成のための信号処理を実行中であるか否かを調べ図3中のステップS101、信号処理中でなければ図3中のステップS101でNO、測定処理を行うよう各部を制御する。なお、信号処理中でない期間の全てで測定処理を行う必要はなく、信号処理中でない場合であって、前回の測定から一定時間経過した場合に測定処理に進むように、制御部101が制御してもい。ここで、制御部101は、測定時有効信号をオン、すなわちアクティブ状態にして、この測定時有効信号をセレクト信号生成部140と出力許可部160cと測定部170に供給する図3中のステップS102。測定部170は、測定時有効信号がオンになると、測定用出力信号のモードsを意味するsを1と設定し図3中のステップS103、モードsの測定用出力信号の元になる測定用データを生成してパルス信号生成部110に供給する図3中のステップS104。なお、測定部170での測定対象となる測定用出力信号は1画素未満のパルス信号を含んだ状態であって、出力信号と同等の信号であり、予め定められたパターンで繰り返すパルス信号を含むことで、測定が容易になるように構成されている。また、測定部170が生成する測定用データは、測定用出力信号の元になる信号であり、1画素未満のパルス信号が付加される前の、1画素単位のパルス信号の元になるデータである。ここで、モードsとは、遅延素子群120の各段の遅延時間を測定するための、異なる状態の測定用出力信号を指定するものである。ここで、具体例としている遅延素子群120は5素子の遅延素子を有しているため、スルーも含めて6段の出力を有している。そして、選択部150では、セレクタ150aでオンからオフに変化する立ち下がり信号と、セレクタ150bでオフからオンに変化する立ち上がり信号とを、それぞれ選択して出力するため、遅延素子群120から選択部150間では合計で12段の遅延信号が存在していることに相当する。このため、この実施形態では、sは1から12までとなる。すなわち、sは、遅延素子群120の出力段の2倍の数値をとりうることになる。また、ここでは、モード1~6はセレクタ150aで選択される立ち下がり信号により1画素未満のパルス信号が1画素のパルス信号に付加されて出力信号とされるモードとする。このため、モード1~6における測定用データは、4画素単位の2画素目をオン1とする、繰り返しのデータである図4b参照。なお、図4aは画素クロックであり、図4bの4画素単位の測定用データの1画素目と4画素目は繰り返しの際の識別のためにオフ0としている。図4cは測定用データによりパルス信号生成部110で生成される1画素単位のパルス信号であり、画素クロック図4aに同期しつつ、測定用データ図4bに基づいた信号になっている。なお、パルス信号生成部110から出力されるパルス信号図4cは、測定用データ図4bと比較して、パルス信号生成部110の2段のフリップフロップの動作によって画素クロック2パルス分の遅れが生じている。測定時有効信号がオンになると、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150aで0段目遅延なしを選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図4d0参照。一定時間経過後に、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150aで1段目遅延素子1段を選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図4d1参照。また、一定時間経過後に、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150aで2段目遅延素子2段を選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図4d2参照。また、一定時間経過後に、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150aで3段目遅延素子3段を選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図4d3参照。また、一定時間経過後に、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150aで4段目遅延素子4段を選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図4d4参照。また、一定時間経過後に、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150aで5段目遅延素子5段を選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図示略。なお、測定を所定回数実行とは、後述する測定クロックの所定パルス数分、例えば、1000パルス分との比較による測定を行うことを意味する。ここで、セレクト信号生成部140から出力されたセレクト信号により、遅延素子群120の中の1段目の遅延素子の立ち下がり信号図4d1が出力信号生成部160に供給された場合には、図4cのパルス信号と図4d1の遅延状態のパルス信号とがオア処理される。この結果、図4eに示すように、1画素単位のパルス信号に、遅延に応じた1画素未満の補正用パルス信号が付加された状態のパルス信号が生成され、図4fに示す測定用出力信号が生成される。なお、この測定時には、測定時有効信号により出力許可部160cがオフ状態であるため、外部に出力信号は出力されず、測定用出力信号が測定部170の入力に供給される。なお、ここでは、セレクタ150aで1段目の遅延素子の立ち下がり信号が選択された場合のみを示したが、セレクタ150aで他の段が選択された場合にも同様にして、1画素単位のパルス信号に、1画素未満の補正用パルス信号が付加された状態のパルス信号が、測定用出力信号として生成される。また、セレクト信号生成部140は、測定時有効信号がオンになってから、上述のモード1~6のセレクト信号を一定時間ずつ発生した後に、以下のモード7~12の動作に移る。このモード7~12は、セレクタ150bで選択される立ち上がり信号により、2画素のパルス信号から1画素未満のパルス信号が減じられて出力信号とされるモードとする。このため、測定部170も、以上のモード1~6での所定時間が経過した時点で、測定用データをモード7~12用に切り替える。モード7~12における測定用用データは、4画素単位の2画素目と3画素目をオン1とする、繰り返しのデータである図5b参照。なお、図5aは画素クロックであり、図5bの4画素単位の測定用データの1画素目と4画素目は繰り返しの際の識別のためにオフ0としている。図5cは測定用データによりパルス信号生成部110で生成される2画素単位のパルス信号であり、画素クロック図5aに同期しつつ、測定用データ図5bに基づいた信号になっている。なお、パルス信号生成部110から出力されるパルス信号図5cは、測定用データ図5bと比較して、パルス信号生成部110の2段のフリップフロップの動作によって画素クロック2パルス分の遅れが生じている。測定時有効信号がオンであって以上のモード1~6が完了したタイミングになると、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150bで0段目遅延なしを選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図5d0参照。一定時間経過後に、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150bで1段目遅延素子1段を選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図5d1参照。また、一定時間経過後に、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150bで2段目遅延素子2段を選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図5d2参照。また、一定時間経過後に、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150bで3段目遅延素子3段を選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図5d3参照。また、一定時間経過後に、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150bで4段目遅延素子4段を選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図5d4参照。また、一定時間経過後に、セレクト信号生成部140は、後述する測定を所定回数実行できるようにセレクタ150bで5段目遅延素子5段を選択するセレクト信号を一定時間にわたって出力し続ける図示略。なお、測定を所定回数実行とは、後述する測定クロックの所定パルス数分、例えば、1000パルス分との比較による測定を行うことを意味する。ここで、セレクト信号生成部140から出力されたセレクト信号により、遅延素子群120の中の1段目の遅延素子の立ち上がり信号図5d1が出力信号生成部160に供給された場合には、図5cのパルス信号と図5d1の遅延状態のパルス信号とがアンド処理される。この結果、図5eに示すように、2画素単位のパルス信号から、遅延状態に応じた1画素未満の補正用パルス信号が削除された状態のパルス信号あるいは、1画素未満の所定範囲が削除された補正用パルス信号と1画素のパルス信号があわされたパルス信号が生成され、図5fに示す測定用出力信号が生成される。なお、この測定時には、測定時有効信号により出力許可部160cがオフ状態であるため、外部に出力信号は出力されず、測定用出力信号が測定部170の入力に供給される。なお、ここでは、セレクタ150aで1段目の遅延素子の立ち上がり信号が選択された場合のみを示したが、セレクタ150aで他の段が選択された場合にも同様にして、2画素単位のパルス信号から、1画素未満の補正用パルス信号が削除された状態のパルス信号あるいは、1画素未満の所定範囲が削除された補正用パルス信号と1画素のパルス信号があわされたパルス信号が、測定用出力信号として生成される。動作測定以上のようにして測定用出力信号を生成して測定部170の入力端子に供給しつつ、測定部170に測定クロックを供給する。クロック生成部105では、画素クロックとは非同期の測定クロックを生成している。この非同期としては、画素クロックの周波数と測定クロックの周波数とが、整数比の関係にないこと意味しており、例えば、画素クロック=800MHz、測定クロック=571MHz等である。測定部170は、制御部101からの測定時有効信号がアクティブである期間に、クロック生成部105からの測定クロックと、出力信号生成部160からの測定用出力信号とを比較する図3中のステップS105。ここで、測定クロックの立ち上がり又は立ち下がりのいずれか一方のタイミングで、測定用出力信号がハイかローかのサンプリングを、所定回数、例えば、1000回繰り返して実行する。これにより、測定クロックが画素クロックより低い周波数であっても、非同期であるためランダムな位相のサンプリングが可能になり、さらに回数を増やすことで誤差を小さくすることができる。なお、571MHzの測定クロックは1パルス1.75ナノ秒であり、1000パルスの測定を繰り返しても1.75ミリ秒である。そして、これをモード1~12まで繰り返しても、21ミリ秒であるため、大幅な時間がかかるわけではない。図6aはセレクタ150aで0段目遅延なしを選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号であり、図6bはセレクタ150aで1段目遅延素子1段を選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号であり、図6cはセレクタ150aで2段目遅延素子2段を選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号であり、図6dはセレクタ150aで3段目遅延素子3段を選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号であり、図6eはセレクタ150aで4段目遅延素子4段を選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号であり、図6fはセレクタ150aで5段目遅延素子5段を選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号である。図7aはセレクタ150bで0段目遅延なしを選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号であり、図7bはセレクタ150bで1段目遅延素子1段を選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号であり、図7cはセレクタ150bで2段目遅延素子2段を選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号であり、図7dはセレクタ150bで3段目遅延素子3段を選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号であり、図7eはセレクタ150bで4段目遅延素子4段を選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号であり、図7fはセレクタ150bで5段目遅延素子5段を選択した場合に出力信号生成部160で生成される測定用出力信号である。なお、セレクト信号生成部140と測定部170とは、測定時有効信号がオンになってから、以上のような測定クロックの測定回数パルス分の時間に応じて、モード1~12の測定を同期した状態で実行すればよい。なお、ここでは図示しないが、制御部101から、モードsを示すモード信号のようなものをセレクト信号生成部140と測定部170とに供給して同期させてもよい。そして、測定部170は、測定用出力信号と測定クロックとの比較を行い図3中のステップS105、該比較による一致と不一致との比率により、遅延素子群120を構成するx段目の遅延素子の遅延時間TDxを測定し、各段のTDxの平均により遅延時間TDを算出する図3中のステップS106。ここで、4画素中の1画素単位のパルス信号に1画素未満の遅延信号を付加した状態の図4fの測定用出力信号を測定クロックと比較して、1000回中H回がハイであったとすると、H/1000×4=Yが、画素クロック1パルスに対する測定用出力信号の時間であり、Y-1が画素クロック1パルスに占める遅延時間の割合である。具体例を挙げると、図4fの測定用出力信号を測定クロックと比較して、1000回中250回がハイであったとすると、250/1000×4=1.000が、画素クロック1パルスに対する測定用出力信号の時間であり、0.000が画素クロック1パルスに占める遅延時間の割合である。また、4画素中の1画素単位のパルス信号に1画素未満の遅延信号を付加した状態の図4fの測定用出力信号を測定クロックと比較して、1000回中313回がハイであったとすると、313/1000×4=1.252が、画素クロック1パルスに対する測定用出力信号の時間であり、0.252が画素クロック1パルスに占める遅延時間の割合である。また、4画素中の2画素単位のパルス信号に1画素未満の遅延信号を削除した状態の図5fの測定用出力信号を測定クロックと比較して、1000回中H’回がハイであったとすると、H’/1000×2=Y’が、測定用出力信号の時間であり、2-Y’が画素クロック1パルスに占める遅延時間の割合である。具体例を挙げると、4画素中の2画素単位のパルス信号に1画素未満の遅延信号を削除した状態の図5fの測定用出力信号を測定クロックと比較して、1000回中874回がハイであったとすると、874/1000×2=1.748が、測定用出力信号の時間であり、2-1.748=0.252が画素クロック1パルスに占める遅延時間の割合である。なお、立ち下がり信号用にセレクタ150aを使用し、立ち上がり信号用にセレクタ150bを使用しているため、セレクタの個体差による誤差の可能性があるため、立ち下がり信号と立ち上がり信号とを分けて測定している。以上のようにして、セレクト信号生成部140からのセレクト信号に応じて選択部150で遅延素子群120の各段の遅延信号を選択して、所定回数の測定と遅延時間の算出図3中のステップS104~S106を、s=1から始めてs=12になるまで合計で12段分について所定回数ずつ繰り返す図3中のステップS104~S109。ここでは、遅延素子群120に含まれる遅延素子の段数1×2=Sとして、sがSになるまで、以上の処理を繰り返す図3中のステップS109。以上のようにして、選択部150で選択された遅延素子群の各段の遅延信号の所定回数の遅延時間の測定と算出が完了すると、測定部170は測定結果である遅延時間TDを補正情報生成部130に通知する図3中のステップS110。なお、x段目の遅延素子の遅延時間TDxの算出については、画素クロック1パルスの時間を参照して絶対値として求めても良いし、画素クロック1パルスに対する相対値であってもよい。なお、立ち下がり信号用にセレクタ150aとセレクタ150bの個体差による誤差の可能性を考慮して立ち下がり信号と立ち上がり信号とを分けて測定しているが、いずれか一方のみの測定としてもよい。また、遅延素子群120を構成する遅延素子の遅延時間が温度などによって変化せず、かつ、予め正確な遅延時間が判明している場合には、この測定動作図3中のステップS102~S110を省略することも可能である。動作着目画素決定画像データが入力される図3中のステップS111と、補正情報生成部130は、画像データに応じたパルス信号から信号値補正指示濃度補正指示を適用する範囲としての着目画素を決定すると共に、この着目画素についての画素数着目画素数を算出する図3中のステップS112。なお、この着目画素の決定と着目画素数の算出とについては、この信号処理装置100の前段などの図示されない画像メモリに画像データが蓄積された時点で、図示されない画像処理部や制御部101が実行しても良い。また、着目画素の決定に際しては、濃度補正の対象となる画素群の右端部、左端部、長辺、一定以上の直線と見なせる辺など、予め定めた基準に沿って決定すればよい。図8に示す具体例では、横方向に各画素を走査していった場合に、補正の対象となる画素群において、画素がオフからオンに変化する最初にオンになった画素図中の黒丸位置の画素を1画素未満の補正用パルス信号を削除する画素と定め、画素がオンからオフに変化する最初にオフになった画素図中の黒星位置の画素を1画素未満の補正用パルス信号を付加する画素と定める。また、この図8の場合には、着目画素数は16画素になる。動作補正情報MN生成補正情報生成部130は、対象となる画像データの総画素数PixAllとオン画素数PixOnとを算出する。なお、この総画素数PixAllとオン画素数PixOnの算出については、この信号処理装置100の前段などの図示されない画像メモリに画像データが蓄積された時点で、図示されない画像処理部や制御部101が実行しても良い。また、補正情報生成部130は、着目画素数をJ画素、信号値補正指示による補正をKとした場合、着目画素の1画素あたりの補正パルス幅である単位補正パルス幅Pwtについて、Pwt=PixOn×K/100/Jと算出する。これは、信号値補正指示Kにより増加する画素数PixOn×K/100を、着目画素数Jに振り分けたものである。このため、補正情報生成部130は、遅延素子群の遅延素子1段あたり遅延時間TDと、着目画素の1画素あたりの単位補正パルス幅Pwtと、に基づいて、着目画素の1画素あたりの単位遅延段数Mmについて、Mは整数部分でありmは小数点以下部分とした場合に、Mm=Pwt/TDとして求める。ここで、補正情報生成部130は、遅延素子群120の遅延素子M段目の遅延時間TDmと遅延素子M1段目の遅延時間TDm1とが、単位補正パルス幅Pwtに相当する時間を挟むように、Mを決定する。また、補正情報生成部130は、着目画素の範囲J画素全体では単位補正パルス幅Pwtによる信号値補正指示Kと等しくなるように、着目画素の範囲内のN画素毎に、遅延素子群120の前記M段目と前記M1段目とを選択するためのMとNとを補正情報として生成する図3中のステップS113。例えば、オン画素数PixOnが336画素であり、K=1.6の濃度補正を行うのであれば、336×0.016=5.376画素となり、着目画素数Jが16画素であるため、単位補正パルス幅Pwtは、5.376/16=0.336となる。ここで、遅延素子群120の遅延素子1段あたり遅延時間TD=0.252であるとすると、Mm=0.336/0.252=1.333となる。よって、1.333を挟むように、M=1,M1=2と決定する。そして、処理単位画素数Nについて、N=1/mとして求める。この場合、N=1/0.333=3となるため、処理単位画素N=3となる。なお、以上の補正情報としてのMとNとの生成については、図示されない画像メモリに画像データが蓄積された時点、すなわち画像形成の実行前に補正情報生成部130が実行しても良い。動作出力信号生成以下、画像形成時における出力信号生成に関する動作説明を行う。なお、ここでは、図8の最上段の横方向の6オン画素の部分を中心に、図9のタイムチャートと図10の出力信号説明図、図11のタイムチャートと図12の出力信号説明図、を用いて説明を行う。パルス信号生成部110は、画像データに基づいて1画素単位のパルス信号を生成する図3中のステップS114。ここでは、2値の画像データの0または1図9bまたは図11bに基づいて、パルス生成部110内のフリップフロップにより、画素クロック図9aまたは図11aに同期したパルス信号を生成する図9cまたは図11c。なお、パルス生成部110は、画像データに対して画素クロック1パルス分遅れたパルス信号図示せずを補正情報生成部130に供給し、画像データに対して画素クロック2パルス分遅れたパルス信号を出力信号生成部160に供給している図9cまたは図11c。これは、補正情報生成部130でのMとNの出力、MとNとを受けたセレクト信号生成部のセレクト信号の生成、セレクト信号を受けた選択部150での遅延信号の選択による立ち下がり信号と立ち上がり信号の出力の処理に要する時間を考慮し、1画素単位のパルス信号と1画素未満の補正用パルス信号とが同期したタイミングで出力信号生成部160において合成されるようにしているためである。セレクト信号生成部140は、補正情報生成部130からのMとNと/-の補正情報に基づいて、信号値補正の場合には、1画素未満の補正用パルス信号を付加するのに必要な遅延信号として、N画素単位のN画素目以外ではMに相当するMoff信号、N画素単位のN画素目ではM1に相当するM1off信号を、セレクト信号としてセレクタ150aに供給する。図9の例では、図8における最上段であり、N画素目以外であるので、セレクト信号生成部140はMoff信号をセレクト信号としてセレクタ150aに供給する。これにより、M=1とすると、遅延素子群120の中の1段目の遅延素子の立ち下がり信号図9d1が出力信号生成部160に供給され、図9cの1画素単位のパルス信号に対して、図9d1の遅延状態のパルス信号とがオア処理される。すなわち、図9eに示すように、1画素単位のパルス信号に、遅延に応じた1画素未満の補正用パルス信号図3中のステップS115が付加されて合成された状態のパルス信号が生成され、図9fに示す出力信号が生成される図3中のステップS116。なお、画像形成中には、測定時有効信号がオフにより出力許可部160cがオン状態であるため、図9fに示す信号値補正された状態の出力信号が出力される。また、M=1でN=3の場合には、図8の上から3段目の横方向10オン画素の右端部で、セレクト信号生成部140からのセレクト信号によりM1である遅延素子群120の中の2段目の遅延素子の立ち下がり信号図9d2が出力信号生成部160に供給され、図9cの1画素単位のパルス信号に対して、図9d2の遅延状態のパルス信号とがオア処理されて、信号値補正された出力信号が生成される。このように、着目画素の範囲内のN画素毎に、遅延素子群120のM段目とM1段目とを選択して、1画素未満の補正用パルス信号を生成して1画素単位のパルス信号に付加することで、着目画素の範囲全体では単位補正パルス幅Pwtによる信号値補正指示Kと等しい状態になる。以上のように信号値補正された出力信号を生成した様子を図10に示す。この図10を、同様の条件で1画素単位で補正した従来例図16と比較すると、本実施形態が滑らかに補正されている様子が明らかである。なお、この図10では、斜めのクロスハッチングが補正前の画素信号、縦横のクロスハッチングが濃度補正により付加された部分を示している。また、セレクト信号生成部140は、補正情報生成部130からのMとNと/-の補正情報に基づいて、信号値-補正の場合には、1画素未満の補正用パルス信号を付加するのに必要な遅延信号として、N画素単位のN画素目以外ではMに相当するMon信号、N画素単位のN画素目ではM1に相当するM1on信号を、セレクト信号としてセレクタ150bに供給する。図11の例では、図8における最上段であり、N画素目以外であるので、セレクト信号生成部140はMon信号をセレクト信号としてセレクタ150bに供給する。これにより、M=1とすると、遅延素子群120の中の1段目の遅延素子の立ち上がり信号図11d1が出力信号生成部160に供給され、図11cの1画素単位のパルス信号に対して、図11d1の遅延状態のパルス信号とがアンド処理される。すなわち、図11eに示すように、1画素単位のパルス信号から、遅延に応じた1画素未満の補正用パルス信号図3中のステップS115が削除されて合成された状態のパルス信号が生成され、図11fに示す出力信号が生成される図3中のステップS116。なお、画像形成中には、測定時有効信号がオフにより出力許可部160cがオン状態であるため、図11fに示す信号値補正された状態の出力信号が出力される。また、M=1でN=3の場合には、図8の上から3段目の横方向10オン画素の右端部で、セレクト信号生成部140からのセレクト信号によりM1である遅延素子群120の中の2段目の遅延素子の立ち上がり信号図11d2が出力信号生成部160に供給され、図11cの1画素単位のパルス信号に対して、図11d2の遅延状態のパルス信号とがアンド処理されて、信号値補正された出力信号が生成される。このように、着目画素の範囲内のN画素毎に、遅延素子群120のM段目とM1段目とを選択して、1画素未満の補正用パルス信号を生成して1画素単位のパルス信号に付加することで、着目画素の範囲全体では単位補正パルス幅Pwtによる信号値補正指示Kと等しい状態になる。以上のように信号値補正された出力信号を生成した様子を図12に示す。この図12を、同様の条件で1画素単位で補正した従来例図17と比較すると、本実施形態が滑らかに補正されている様子が明らかである。本実施形態によれば、以上の図10や図12に示すように、画像の輪郭部分の滑らかさを損なうことなく、1画素の範囲内での処理能力よりも高い精度で、信号値補正が可能な信号処理装置及び画像形成装置を実現することができる。なお、着目画素の範囲内において遅延素子群120のM段目とM1段目とを選択しているため、遅延素子群120において画素クロックを該クロックの1パルスの時間内で複数段階に遅延させる場合にも、所望の精度の細かな遅延素子を用意する必要が無く、所望の精度よりも粗い精度を実現する複数段階で良く、各部の処理能力よりも高い精度での信号値補正が可能になる。その他の動作なお、セレクト信号生成部140は、N画素単位のいずれかの画素でM1段目のセレクト信号を出力すれば良いため、図10や図12のようにN画素目ではなく、N画素単位の1画素目や2画素目でM1段目のセレクト信号を出力するようにしてもよい。また、補正情報生成部130で生成したNが3.5のような小数点を含む数値になった場合、出力信号生成の際に実際に取り得るNは整数であるため、補正情報生成部130がセレクト信号生成部140に対してN=3とN=4とを交互に繰り返し出力することで着目画素の全体ではN=3.5相当に近づけるようにすれば良い。あるいは、補正情報生成部130で生成したNが3.5のような小数点を含む数値になった場合、補正情報生成部130がN=3.5をセレクト信号生成部140に出力して、セレクト信号生成部140がN=3とN=4とに対応するセレクト信号を生成して、着目画素の全体ではN=3.5相当に近づけるようにしても良い。なお、Nが2未満の数値である場合には、N’=Z×NとしてN’を2以上の数値にしたうえで、着目画素数Jの範囲内において、処理単位画素N’毎にZ回は遅延素子群120のM1段目を選択すると共に、残りのN’-Z回はM段目を選択することで、以上の動作と同様の動作とすることができる。また、熱などの環境条件で遅延素子群120の遅延素子の遅延時間が変化する場合には、信号処理装置100が画像形成のための信号処理を実行していない期間に上述の測定部170による測定処理図3中のステップS102~S110を繰り返し実行することが望ましい。一方、遅延素子群120の遅延素子の遅延時間が変化しない場合には、予め測定した値を用いることで、測定部170や測定動作を省略することも可能である。また、以上の実施形態では、信号値補正の対象となる画素群の左右の一方の端部に画素の増減を行ったが、左右両方の端部や、上下の端部に1画素未満の補正用パルス信号による付加や削除を行うことも可能であり、各種の変形が可能である。また、以上の信号処理装置100は、画像データの各画素に対応するクロックを用いて、2値の画像データに応じた出力信号で画像形成する各種の画像形成装置に用いることが可能である。例えば、レーザビームで感光体上にトナー像を形成する電子写真方式の画像形成装置に使用することで、所望の精度の細かな遅延素子を用意する必要が無く、所望の精度よりも粗い精度を実現する複数段階の遅延素子を用意するだけで良く、各部の処理能力よりも高い精度での信号値補正を伴う画像形成が可能になる。また、以上の信号処理装置100が実行する信号処理方法や信号処理手順や、コンピュータに信号処理方法を実行させる信号処理プログラムも、本実施形態の一部である。"