測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて該被検眼の断層画像を取得する眼科撮像装置であって、前記測定光を前記被検眼上で走査する走査手段と、前記走査手段の前記被検眼上の走査位置に応じて前記走査手段の走査回数を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする眼科撮像装置。前記走査位置で前記走査回数分だけ取得された前記被検眼の断層画像を加算して平均化する加算平均処理手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の眼科撮像装置。前記走査位置は、前記被検眼における前記走査手段の複数の走査領域の位置であり、前記制御手段は、前記被検眼における前記複数の走査領域の位置に基づいてそれぞれの走査領域に対する前記走査手段による前記走査回数を決定する決定手段と、前記決定手段により決定された走査回数分の断層画像を前記走査領域ごとに取得する取得手段と、を備え、前記加算平均処理手段は、前記取得手段により取得された前記断層画像を前記走査領域ごとに加算して平均化することを特徴とする請求項2に記載の眼科撮像装置。前記決定手段は、前記複数の走査領域のうち、前記被検眼における中央から遠い走査領域ほど走査回数を少なく決定することを特徴とする請求項3に記載の眼科撮像装置。前記取得手段により前記走査領域ごとに取得された前記断層画像のそれぞれに対して信号レベルとノイズレベルとの比を示すSN比を算出する算出手段と、前記取得手段により前記走査領域ごとに取得された前記断層画像のうち、前記加算平均処理手段により加算して平均化される対象となる断層画像を、前記算出手段により算出された前記SN比に基づいて前記走査領域ごとに抽出する抽出手段と、をさらに備え、前記加算平均処理手段は、前記取得手段により前記走査領域ごとに取得された前記断層画像のうち、前記抽出手段により抽出された断層画像のみを前記走査領域ごとに加算して平均化することを特徴とする請求項3に記載の眼科撮像装置。前記抽出手段は、前記算出手段により算出された前記SN比が所定値を超える場合には、前記SN比が所定値以下である場合よりも前記断層画像の抽出枚数を少なく抽出することを特徴とする請求項5に記載の眼科撮像装置。前記加算平均処理手段は、前記複数の走査領域のうち、前記被検眼における中央から遠い走査領域ほど加算平均処理に使用する断層画像の数を少なくすることを特徴とする請求項3乃至6の何れか1項に記載の眼科撮像装置。前記取得手段により前記走査領域ごとに取得された前記断層画像のそれぞれに対して信号レベルとノイズレベルとの比を示すSN比を算出する算出手段をさらに備え、前記決定手段は、前記算出手段により算出された前記SN比に基づいて前記走査手段による前記走査回数を前記走査領域ごとに決定することを特徴とする請求項3に記載の眼科撮像装置。前記決定手段は、前記算出手段により算出された前記SN比が所定値を超える場合には、前記SN比が所定値以下である場合よりも前記走査手段による前記走査回数を少なく決定することを特徴とする請求項8に記載の眼科撮像装置。前記被検眼を照明する照明手段と、前記照明手段により照明された前記被検眼からの反射光を被検眼像として撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された前記被検眼像に対して信号量とノイズの比を示すSN比を算出する算出手段と、をさらに備え、前記決定手段は、前記算出手段により算出された前記SN比に基づいて前記走査手段による前記走査回数を前記走査領域ごとに決定することを特徴とする請求項3に記載の眼科撮像装置。前記決定手段は、前記算出手段により算出された前記SN比が所定値を超える場合には、前記SN比が所定値以下である場合よりも前記走査手段による前記走査回数を少なく決定することを特徴とする請求項10に記載の眼科撮像装置。前記被検眼を照明する照明手段と、前記照明手段により照明された前記被検眼からの反射光を被検眼像として撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された前記被検眼像から病変部を検出する検出手段と、をさらに備え、前記決定手段は、前記検出手段により検出された前記病変部の位置に基づいて前記走査手段による前記走査回数を前記走査領域ごとに決定することを特徴とする請求項3に記載の眼科撮像装置。前記決定手段は、前記検出手段により前記病変部が検出されていない位置に対応する走査領域において、前記病変部が検出されていない位置に対応する走査領域よりも、前記走査手段による前記走査回数を少なく決定することを特徴とする請求項12に記載の眼科撮像装置。前記走査位置は、前記被検眼における前記走査手段の複数の走査領域の位置であり、前記制御手段は、前記複数の走査領域のそれぞれに対する前記走査手段の走査回数の入力を受け付ける受付手段と、前記受付手段により入力された走査回数分の断層画像を前記走査領域ごとに取得する取得手段と、を備え、前記加算平均処理手段は、前記取得手段により取得された前記断層画像を前記走査領域ごとに加算して平均化することを特徴とする請求項2に記載の眼科撮像装置。走査手段と、制御手段と、を備え、測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて該被検眼の断層画像を取得する眼科撮像装置の制御方法であって、前記走査手段が、前記測定光を前記被検眼上で走査する走査工程と、前記制御手段が、前記走査手段の前記被検眼上の走査位置に応じて前記走査手段の走査回数を制御する制御工程と、を備えることを特徴とする眼科撮像装置の制御方法。コンピュータに請求項15に記載の眼科撮像装置の制御方法を実行させるためのプログラム。しかしながら、特許文献1に記載のOCT装置は、撮像画像を複数の領域に分解して複数の領域を走査するスキャンパターンを有しているが、加算平均処理は行っておらず、取得した断層像が不規則に発生するノイズの影響を受けてしまうという課題がある。また、特許文献2に記載のOCT装置は、不規則に発生するノイズの影響を軽減するために同一領域で撮像された複数枚の撮像画像を加算処理し、画素値に加算平均をとる処理が行われている。この加算平均処理を行うために取得する断層像の枚数は一律で固定である。加算平均処理を行うためには、同一領域において複数枚の画像を撮像する必要があり、画質の良い断層像を得るためには、より多くの枚数の断層像を取得する必要がある。また、撮像画像を複数の領域に分解しているが、撮像領域毎に加算平均処理は行っておらず、実際には必要でない断層像も取得してしまう可能性がある。その結果として、撮像に時間がかかり、被検者に負担をかけてしまうという課題がある。上記の課題に鑑み、本発明は、診断に必要な高画質の断層像を得るための画像取得枚数を低減して、撮像に要する時間を短縮し、患者への負担を軽減することを目的とする。上記の目的を達成する本発明に係る眼科撮像装置は、測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて該被検眼の断層画像を取得する眼科撮像装置であって、前記測定光を前記被検眼上で走査する走査手段と、前記走査手段の前記被検眼上の走査位置に応じて前記走査手段の走査回数を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。本発明によれば、診断に必要な高画質の断層像を得るための画像取得枚数を低減して、撮像に要する時間を短縮し、患者への負担を軽減することができる。第1実施形態図1乃至図5を参照して、本発明の第1実施形態について説明する。図1は、第1実施形態に係るOCT装置眼科撮像装置の構成を示す。OCT装置は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被検眼に照射したときに被検眼から戻される戻り光と、参照光との干渉光の波長スペクトルに基づいて被検眼の断層像を取得する。101は光源、104は出射光、105は参照光、106は測定光、142は合波された光、107は被検眼、108は戻り光である。130-1乃至130-4はシングルモードファイバ、120-1乃至120-2と135-1乃至135-4とはレンズ、114はミラーである。115は分散補償用ガラス、117は電動ステージ、119はXYスキャナ、125はパソコン、124はモニタである。126は角膜、127は網膜、131は光カプラ、139はラインカメラ、140はフレームグラバ、141は透過型回折格子、153-1乃至153-4は偏光コントローラである。本実施形態のOCT装置は、全体としてマイケルソン干渉系を構成している。光源101から出射された光である出射光104は、偏光コントローラ153-1を通過し、光カプラ131により参照光105と測定光106とに50:50の強度比で分割される。測定光106は、観察対象である被検眼107における網膜127等によって反射あるいは散乱された戻り光108となって戻され、光カプラ131によって、ミラー114により反射された参照光105と合波される。参照光105と戻り光108とは合波された後、透過型回折格子141によって波長毎に分光され、ラインカメラ139に入射される。ラインカメラ139は、位置波長毎に光強度を電圧に変換し、その電圧信号を用いて、被検眼107の断層像が構成される。次に、光源101の周辺について説明する。光源101は、代表的な低コヒーレント光源であるSLDSuperLuminescentDiodeである。波長は830nm、バンド幅50nmである。ここで、バンド幅は、得られる断層像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメータである。また、光源の種類は、ここではSLDを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ASEAmplifiedSpontaneousEmission等も用いることができる。また、眼を測定することを鑑みると、近赤外光波長が適する。さらに波長は、得られる断層像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長が適しており、ここでは830nmとする。観察対象の測定部位によっては、他の波長が選択されてもよい。次に、参照光105の光路について説明する。光カプラ131によって分割された参照光105は偏光コントローラ153-2を通過し、レンズ135-3により直径1mmの略平行光として出射される。次に、出射された参照光105は分散補償用ガラス115を通過し、レンズ135-4によりミラー114に集光される。次に、参照光105はミラー114により方向が変更され、同様の経路をたどって再び光カプラ131へ向かう。次に、ミラー114により方向が変更された参照光105は、光カプラ131を通過し、ラインカメラ139へ導かれる。ここで、分散補償用ガラス115は被検眼107の中を測定光106が往復した時の分散を、参照光105に対して補償するものである。ここでは、日本人の平均的な眼球の直径として代表的な値を想定し、L1=23mmとする。さらに、電動ステージ117-1は、矢印で図示される方向に移動可能であり、ミラー114の位置を調整制御することができる。これにより参照光105の光路長を調整制御することができる。また、電動ステージ117-1はパソコン125により高速に制御される。<測定光路の構成>次に、測定光106の光路について説明する。光カプラ131によって分割された測定光106は、偏光コントローラ153-4を通過し、レンズ148にて、直径1mmの略平行光となって出射され、XYスキャナ119のミラーに入射される。ここでは、簡単のため、XYスキャナ119は一つのミラーとして記したが、実際にはXスキャン用ミラーとYスキャン用ミラーとの2枚のミラーが近接して配置され、網膜127上を光軸に垂直な方向にラスタスキャンするものである。また、測定光106の中心がXYスキャナ119のミラーの回転中心と一致するようにレンズ120-1、レンズ120-2等が調整されている。レンズ120-1およびレンズ120-2は測定光106が網膜127を走査するための光学系であり、角膜126の付近を支点として、網膜127をスキャンする役割がある。測定光106は網膜127に結像するように構成されている。また、電動ステージ117-2は、矢印で図示される方向に移動可能であり、付随するレンズ120-2の位置を、調整制御することができる。レンズ120-2の位置を調整することにより、被検眼107の網膜127の所望の層に測定光106を集光し、観察することが可能になる。また、被検眼107が屈折異常を有している場合にも対応できる。測定光106は被検眼107に入射すると、網膜127からの反射や散乱により戻り光108となる。戻り光108は、同様の経路をたどって光カプラ131を通過し、ラインカメラ139に導かれる。ここで、電動ステージ117-2はパソコン125により高速に制御される。<分光部の構成>次に、本実施形態に係るOCT装置の測定系の構成について説明する。網膜127により反射や散乱された光である戻り光108と参照光105とは、光カプラ131により合波される。そして、合波された光142はファイバ端から射出され、偏光コントローラ153-3を通過し、レンズ135-2によって略平行な光にされる。この略平行光は、透過型回折格子141に照射され、波長毎に分光される。分光された光は結像レンズ135-1により集光され、ラインカメラ139により光の強度が位置波長毎に電圧に変換される。ラインカメラ139上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。以下、分光部分について具体的に述べる。OCT装置の一般的な特性として、分光幅を大きくするとOCTの解像度が上がり、分光における波長分解能を上げると深さ方向の測定可能幅が広くなることが知られている。それらは、以下の式1および式2により表すことができる。ここで、RはOCTの解像度、ΔKはラインカメラで取得する波数幅、DはOCTにおける深さ方向の測定可能幅、Nはラインカメラの画素数である。ただし、分光幅とは、ラインカメラのN画素に入射する光の波長の範囲であり、最大波長λmaxと最小波長λminとの差λmax-λminである。波数幅ΔKは、ΔK=1/λmin-1/λmaxで表される。また、OCTの解像度は、一般的にコヒーレンス長の半分と定義される。これからΔKが大きくなるとRは小さくなりOCTの解像度が上がり、Nを一定とするとΔKを小さくするほど分光における波長分解能を上げるほどDが大きくなる深さ方向の測定可能幅が広くなる。ここで言う波長分解能とは、分光幅をラインカメラの画素数で割った、1画素あたりに取得する波長幅のことである。ただし、レンズの光学的収差により、実際の波長分解能はここで定義される波長分解能よりも大きくなるのが一般的である。ラインカメラ139で光の強度から電圧に変換された電圧信号群は、フレームグラバ140によりデジタル値に変換されて、パソコン125によりデータ処理がなされ、断層像が形成される。ここでは、ラインカメラ139は1024画素を有し、合波された光142の波長毎の強度を得ることができる。<断層像の取得方法>次に、図4を参照して、OCT装置を用いた網膜127の断層像光軸に平行な面の取得方法について説明する。図4aは被検眼107がOCT装置によって観察されている様子を示す。図1で説明した構成要素と同一または対応する構成要素には同一の符号が付されており、重複部分についての説明は省略する。図4aに示されるように、測定光106は角膜126を通して、網膜127に入射する。その後様々な位置における反射や散乱により戻り光108となる。戻り光108は、それぞれの位置での時間遅延を伴って、ラインカメラ139に到達する。ここでは、光源101のバンド幅が広く、空間コヒーレンス長が短いので、参照光路の光路長と測定光路の光路長とが略等しい場合に、ラインカメラ139により干渉縞が検出される。上述したように、ラインカメラ139により取得されるのは波長軸上のスペクトル領域の干渉縞である。次に、波長軸上の情報である該干渉縞を、ラインカメラ139と透過型回折格子141との特性を考慮して、合波された光142毎に、光周波数軸の干渉縞に変換する。さらに、変換された光周波数軸の干渉縞を逆フーリエ変換することにより、深さ方向の情報が得られる。さらに、図4bに示されるように、XYスキャナ119のX軸を駆動しながら、該干渉縞を検知すれば、各X軸の位置毎に干渉縞が得られる。つまり、各X軸の位置毎の深さ方向の情報を得ることができる。結果として、XZ面での戻り光108の強度の2次元分布が得られる。この2次元分布は、図4cに示されるようにすなわち断層像132である。本来は、断層像132は、上述したように、戻り光108の強度をアレイ状に並べたものであり、例えば該強度をグレースケールに当てはめて、表示されるものである。ここでは得られた断層像の境界のみが強調して表示されている。次に、図2を参照して、本実施形態に係るOCT装置を用いた断層像の取得方法の処理手順について説明する。図2は、パソコン125のCPUによる処理動作を示すフローチャートである。なお、図3に示されるように、測定光の被検眼への照射位置として、被検眼上の複数の走査領域である各走査部位L1乃至L5の5本についてBスキャンを行う場合を例として説明していく。ステップS201において、操作者は、図5に示される入力画面501において各走査部位における断層像の取得枚数の設定を行う。この断層像の取得枚数の設定は、走査回数の設定に対応する。最初、断層像の取得枚数は予め定められた枚数に設定されており、操作者は走査部位毎にこの断層像取得枚数を変更可能になっている。本実施形態では、L1:N枚、L2、L3:N-n1枚、L4、L5:N-n2枚に設定されている。すなわち、検眼部107上の複数の走査領域のうち、検眼部の中心位置例えば、中央部分の走査位置に近いL1では断層像取得枚数が多く設定されており、検眼部の周辺位置例えば、走査中心から遠い周辺位置に近いL4、L5では断層像取得枚数が少なく設定されている。ステップS202において、操作者は、入力画面501において断層像の加算平均処理に使用する断層像の枚数を設定する。最初、加算平均処理に使用する断層像の枚数は予め定められた枚数に設定されており、操作者は走査部位毎に走査回数を入力受付部により変更可能になっている。本実施形態では、L1、L2、L3、L4、L5ともにAUTOに設定されており、CPUは、ステップS201で設定された断層像の取得枚数に対して、それぞれの断層像の良否を自動で判定し、必要な断層像のみを使用して加算し平均化する処理行う。ステップS203において、CPUは、走査部位毎の断層像取得枚数の設定、および加算平均処理枚の設定が完了したか否かを判定する。設定が完了したと判定された場合S203;YES、ステップS204へ進む。一方、設定が完了していないと判定された場合S203;NO、設定が完了するまで待機する。ステップS204において、CPUは、操作者による撮像開始を指示する入力の有無を検出して、撮像開始の入力があったか否かを判定する。撮像開始の入力があったと判定された場合S204;YES、ステップS205へ進む。一方、撮像開始の入力がないと判定された場合S204;NO、撮像開始指示が入力されるまで待機する。ステップS205において、CPUは、走査部位L1の断層像を取得する位置に、XYスキャナ119をY軸方向に駆動する。さらにステップS206において、CPUは、XYスキャナ119をX軸方向に駆動して、走査部位L1のX軸方向水平方向の断層像を取得する。ステップS207において、CPUは、走査部位L1での断層像の取得枚数があらかじめ設定されたN枚に達したか否かを判定する。図3bに示されるように、取得枚数がN枚に達していると判定された場合S207;YES、ステップS208へ進む。一方、取得枚数がN枚に達していないと判定された場合S207;NO、ステップS206に戻る。ステップS208において、CPUは、走査部位L2の断層像を取得する位置に、XYスキャナ119をY軸方向に駆動する。さらにステップS209において、CPUは、XYスキャナ119をX軸方向に駆動して、走査部位L2のX軸方向水平方向の断層像を取得する。ステップS210において、CPUは、走査部位L2での断層像の取得枚数があらかじめ設定されたN-n1枚に達したか否かを判定する。図3bに示されるように、取得枚数がN-n1枚に達していると判定された場合S210;YES、ステップS211へ進む。一方、取得枚数がN-n1枚に達していないと判定された場合S210;NO、ステップS209に戻る。ステップS211において、CPUは、走査部位L3の断層像を取得する位置に、XYスキャナ119をY軸方向に駆動する。さらにステップS212において、CPUは、XYスキャナ119をX軸方向に駆動して、走査部位L3のX軸方向水平方向の断層像を取得する。ステップS213において、CPUは、走査部位L3での断層像の取得枚数があらかじめ設定されたN-n1枚に達したか否かを判定する。図3bに示されるように、取得枚数がN-n1枚に達していると判定された場合S213;YES、ステップS214へ進む。一方、取得枚数がN-n1枚に達していないと判定された場合S213;NO、ステップS212に戻る。ステップS214において、CPUは、走査部位L4の断層像を取得する位置に、XYスキャナ119をY軸方向に駆動する。さらにステップS215において、CPUは、XYスキャナ119をX軸方向に駆動して、走査部位L4のX軸方向水平方向の断層像を取得する。ステップS216において、CPUは、走査部位L4での断層像の取得枚数があらかじめ設定されたN-n2枚に達したか否かを判定する。図3bに示されるように、取得枚数がN-n2枚に達していると判定された場合S216;YES、ステップS217へ進む。一方、取得枚数がN-n2枚に達していないと判定された場合S216;NO、ステップS215に戻る。ステップS217において、CPUは、走査部位L5の断層像を取得する位置に、XYスキャナ119をY軸方向に駆動する。さらにステップS218において、CPUは、XYスキャナ119をX軸方向に駆動して、走査部位L5のX軸方向水平方向の断層像を取得する。ステップS219において、CPUは、走査部位L5での断層像の取得枚数があらかじめ設定されたN-n2枚に達したか否かを判定する。図3bに示されるように、取得枚数がN-n2枚に達していると判定された場合S219;YES、ステップS220へ進む。一方、取得枚数がN-n2枚に達していないと判定された場合S219;NO、ステップS215に戻る。ステップS220において、CPUは、各走査部位L1、L2、L3、L4、L5のそれぞれに対して取得された走査回数分の断層像から加算平均処理に使用できる断層像を抽出する。この抽出処理では、各走査部位L1、L2、L3、L4、L5のそれぞれに対して取得された全ての断層像が抽出されてもよい。また、各走査部位L1、L2、L3、L4、L5のそれぞれの断層像から信号量信号レベルとノイズノイズレベルとの比を示すS/NSignal/Noiseを算出してもよい。そして、算出されたS/NSN比に基づいて各走査部位の断層像の一部が抽出されてもよい。S/Nが所定値よりも大きい場合には、つまりノイズが少ない場合には、加算平均処理に用いる断層像の枚数が少なくても画質の良い断層像が得られる。そのため、抽出する断層像の枚数を減らすことが可能である。一方、S/Nが所定値以下である場合、つまりノイズが多い場合には加算平均処理に用いる断層像の枚数が少ないと画質の良い断層像が得られない。そのため、抽出する断層像の枚数を多くすることが必要である。例えば、CPUは、S/Nの値を1~10の10段階に定量化して分類し、この数字に応じて断層像の抽出枚数を決定してもよい。本実施形態での抽出結果は、図3cに示されるように、L1N-a枚、L2N-n1-b枚、L3N-n1-c枚、L4N-n2-d枚、L5N-n2-e枚であるものとする。なお、a、b、c、d、eは、全ての断層像が抽出される場合は、0となる。一方、一部の断層像が抽出される場合は、上述したS/N値に基づいて決定される。ステップS221において、CPUは、L1、L2、L3、L4、L5のそれぞれの走査部位に対してステップS220で抽出された断層像を用いて加算平均処理を行う。ステップS222において、図3dに示されるような最終的な断層像を出力する。以上で処理が終了する。ここで、本実施形態により断層像取得時間を短縮することができることを、具体例を挙げて説明する。ラインカメラ139のデータ取得レートをR=70000データ/sec、取得枚数N=10、各走査部位Lでの走査数をB=1024として、L1、L2、L3、L4、L5の5つに対してすべて同じN枚の断層像を取得した場合、断層像取得処理に要する時間T1は、式3により算出される。一方で、n1=4、n2=6として、本実施形態のように走査部位毎に断層像の取得枚数を変更する場合には、断層像取得に要する時間T2は、式4により算出される。すなわち、本実施形態によれば、断層像取得に要する時間は、T2-T1により算出され、約0.3秒短縮することができる。なお、撮像時間が固定であるものと仮定し、全体の撮像時間と断層像取得時間とがほぼ等しいとして、各走査部位の断層像の取得枚数が決定されてもよい。撮像時間≒断層像取得時間=T3として、T3≦1秒とすると、各走査部位の断層像取得回数を合計した数Mは、当該T3、データ取得レートR、走査数Bを用いて、式5により算出される。式5の算出結果から、最大で68回の測定を各走査部位L1、L2、L3、L4、L5に割り振って、L1:20枚、L2:13枚、L3:13枚、L4:11枚、L5:11枚としてもよい。以上説明したように、本発明によれば、診断に必要な高画質の断層像を得るための画像取得枚数を低減して、撮像に要する時間を短縮し、患者への負担を軽減することができる。第2実施形態図6を参照して、本発明の第2実施形態について説明する。第2実施形態に係るOCT装置の構成は、第1実施形態で説明した図1に示されるOCT装置の構成と同様であるため、説明を省略する。図6は、第2実施形態に係るパソコン125のCPUによる処理動作を示すフローチャートである。図2のフローチャートで説明したステップS201乃至ステップS204の各処理が、ステップS601乃至ステップS621の各処理へ変更されている。ステップS601において、CPUは、走査部位L1の断層像を取得する位置に、XYスキャナ119をY軸方向へ駆動する。さらにステップS602において、CPUは、XYスキャナ119をX軸方向へ駆動して、走査部位L1のX軸方向水平方向の断層像を取得する。ステップS603において、CPUは、ステップS602で取得された走査部位L1の断層像からS/NSignal/Noiseを算出する。ステップS604において、CPUは、ステップS603で算出されたS/Nに基づいて走査部位L1の断層像の取得枚数を決定する。S/Nが所定値よりも大きい場合には、つまりノイズが少ない場合には、加算平均処理に用いる断層像の枚数が少なくても画質の良い断層像が得られる。そのため、取得する断層像の枚数を減らすことが可能である。一方、S/Nが所定値以下である場合、つまりノイズが多い場合には加算平均処理に用いる断層像の枚数が少ないと画質の良い断層像が得られない。そのため、取得する断層像の枚数を多くすることが必要である。例えば、CPUは、S/Nの値を1~10の10段階に定量化して分類し、この数字に応じて断層像の取得枚数を決定してもよい。また、S/Nが所定値よりも大きければ、断層像の取得枚数を1として、加算平均処理を実施しないことも可能である。以下、走査部位L1の場合と同様に、ステップS605、ステップS609、ステップS613、およびステップS617において、CPUは、それぞれ走査部位L2、走査部位L3、走査部位L4、および走査部位L5の断層像を取得する位置に、XYスキャナ119をY軸方向へ駆動する。さらにステップS616、ステップS610、ステップS614、およびステップS618において、CPUは、XYスキャナ119をX軸方向へ駆動して、それぞれ走査部位L2、走査部位L3、走査部位L4、および走査部位L5のX軸方向水平方向の断層像を取得する。ステップS607、ステップS611、ステップS615、およびステップS619において、CPUは、それぞれステップS616、ステップS610、ステップS614、およびステップS618で取得された走査部位L2、走査部位L3、走査部位L4、および走査部位L5の断層像から、それぞれのS/Nを算出する。ステップS608、ステップS612、ステップS616、およびステップS620において、CPUは、算出されたS/Nに基づいてそれぞれ走査部位L2、走査部位L3、走査部位L4、および走査部位L5の断層像の取得枚数を決定する。ステップS620の処理が完了すると、ステップS621へ進む。ステップS621において、CPUは、操作者による撮像開始を指示する入力の有無を検出して、撮像開始の入力があったか否かを判定する。撮像開始の入力があったと判定された場合S621;YES、処理を終了してステップS205へ進む。一方、撮像開始の入力がないと判定された場合S621;NO、S601へ戻る。なお、ここではS601へ戻る構成を示したが、撮像開始の入力があるまで待機する構成であってもよい。本実施形態ではS/Nを検出し、S/Nの値に応じて断層像の取得枚数を決定した。一方、予め正常眼のデータベースを搭載しておき、S/Nを検出する代わりに被検眼の病変部を検出し、検出された病変部の状態に応じて、それぞれ走査部位L1、L2、L3、L4、L5の断層像の取得枚数を決定してもよい。その場合、例えば、病変部が検出された走査部位では取得枚数を多くするように決定し、病変部が検出されていない走査部位では取得枚数を少なくするように決定してもよい。以上説明したように、本発明によれば、診断に必要な高画質の断層像を得るための画像取得枚数を低減して、撮像に要する時間を短縮し、患者への負担を軽減することができる。第3実施形態図7および図8を参照して、本発明の第3実施形態について説明する。図7は、第3実施形態に係るOCT装置の構成を示す。なお、図1と同様の構成要素には同一の参照番号が付されている。被検眼107に対向して、対物レンズ302が設置されており、光軸上に設けられた孔あきミラー303は、光を光路351と光路352と分岐する。光路352は被検眼107の眼底を照明する照明光学系を形成している。照明光学系として、ハロゲンランプ316と、ストロボ管314と、レンズ309と、レンズ311と、光学フィルタ310と、リングスリット312と、コンデンサレンズ313、コンデンサレンズ315と、ミラー317とが設置されている。ハロゲンランプ316は、被検眼107の位置合わせに用いられる。ストロボ管314は、被検眼107の眼底の撮像に用いられる。ハロゲンランプ316とストロボ管314とからの照明光は、リングスリット312によってリング状の光束となり、孔あきミラー303によって反射され、被検眼107の眼底を照明する。一方、光路351は、被検眼107の眼底の断層画像および眼底画像を撮像する撮像光学系を形成している。図7において孔あきミラー303の右方にはフォーカスレンズ304と結像レンズ305とが設置されている。ここで、フォーカスレンズ304は光軸方向に移動可能に支持されており、パソコン125によってその位置が制御される。次に、クイックリターンミラー318を介して、光路351はエリアセンサ321に導かれている。ここで、クイックリターンミラー318は赤外光の一部を反射および透過し、可視光を反射するように設計されている。赤外光の一部を反射および透過するよう設計しているため、固視灯とエリアセンサ321とOCT撮像部とを同時に使用することが可能になっている。また、ミラー319は、反射光をエリアセンサ321に結像するように設計されている。次に、光路351を通る光、ミラー306、フィールドレンズ322、ミラー307、リレーレンズ308を介して、ダイクロイックミラー405へ導かれる。エリアセンサ321は、パソコン125に接続されており、眼底像がパソコン125へ取り込まれる。ダイクロイックミラー405は、光路351を、断層画像撮像用の光路351-1と眼底画像撮像用の光路351-2とに分割する。ここで、リレーレンズ406およびリレーレンズ407は移動可能に保持され、細かな位置調整を行うことにより、光路351-1と光路351-2との光軸を調整することができる。ここでは、簡単のため、XYスキャナ408は一つのミラーとして記したが、実際にはXスキャン用ミラーとYスキャン用ミラーとの2枚のミラーが近接して配置され、被検眼107の網膜127上を光軸に垂直な方向にラスタスキャンするものである。また、XYスキャナ408はパソコン125によって制御される。また、光路351-1の光軸はXYスキャナ408の2つのミラーの回転中心と一致するように調整されている。カメラ部500は、眼底画像を撮像するためのデジタル一眼レフカメラであり、エリアセンサ501の表面に眼底像が形成される。コリメートレンズ409は、シングルモードファイバ130-4に接続されている。その他の構成は、図1と同様の構成であるのでここでは説明を省略する。ハロゲンランプ316からの照明光は、コンデンサレンズ315、コンデンサレンズ3313を通過し、ミラー317で反射される。そして、リングスリット312によってリング状の光束となり、ミラー309、ミラー311を通過し、孔あきミラー303によって反射され、対物レンズ302を通過して、被検眼107の眼底を照明する。被検眼107の網膜127からの反射光は、対物レンズ302を通過し、孔あきミラー303の孔の部分を通過する。そして、クイックリターンミラー318、ミラー319で反射してフォーカスレンズ304、結像レンズ305を通過して、エリアセンサ321に被検眼像として結像される。エリアセンサ321に結像された眼底像は、パソコン125に取り込まれる。次に、図8のフローチャートを参照して、第3実施形態に係るパソコン125の動作を説明する。図2のフローチャートで説明したステップS201乃至ステップS204の各処理が、ステップS801乃至ステップS803の各処理へ変更されている。ステップS801において、CPUは、パソコン125に取り込まれ、エリアセンサ321により出力された眼底画像から、各走査部位L1、L[2]、L[3]、L[4]、およびL[5]に相当する位置でのS/Nを算出する。ステップS802において、CPUは、算出されたS/Nに基づいて走査部位L1、L[2]、L[3]、L[4]、およびL[5]の各断層像の取得枚数を決定する。決定する際の判断基準は第2実施形態と同様である。ステップS803において、CPUは、操作者による撮像開始を指示する入力の有無を検出して、撮像開始の入力があったか否かを判定する。撮像開始の入力があったと判定された場合S803;YES、ステップS205へ進む。一方、撮像開始の入力がないと判定された場合S803;NO、S801へ戻る。以上で図8に示される処理は終了する。本実施形態ではS/Nを検出し、S/Nの値に応じて断層像の取得枚数を決定した。一方、予め正常眼のデータベースを搭載しておき、S/Nを検出する代わりに被検眼の病変部を検出し、検出された病変部の状態に応じて、それぞれ走査部位L1、L2、L3、L4、L5の断層像の取得枚数を決定してもよい。その場合、例えば、病変部が検出された走査部位では取得枚数を多くするように決定し、病変部が検出されていない走査部位では取得枚数を少なくするように決定してもよい。以上説明したように、本発明によれば、診断に必要な高画質の断層像を得るための画像取得枚数を低減して、撮像に要する時間を短縮し、患者への負担を軽減することができる。その他の実施形態また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアプログラムを、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータまたはCPUやMPU等がプログラムを読み出して実行する処理である。