放射線源から所定の幅を有する被測定物に放射線を照射し、前記被測定物を透過した放射線の強度をラインセンサにより前記幅方向に測定し、前記被測定物と同一材質で厚さが既知の複数の参照物体の測定で予め求められた透過放射線強度特性を参照して前記被測定物の厚さ若しくは坪量を測定する放射線測定装置において、前記放射線源と前記被測定物間に介在させた、坪量若しくは厚さが予め別の測定により既知の校正サンプルを、前記ラインセンサの検出部に沿って移動させる校正サンプル移動手段と、前記校正サンプルの移動位置における前記ラインセンサによる透過放射線強度信号に基づいて補正値を演算し、前記透過放射線強度特性を補正する校正処理手段と、を備えることを特徴とする放射線測定装置。前記校正処理手段は、前記校正サンプルの移動位置における前記ラインセンサによる透過放射線強度測定信号の瞬時情報に基づいて前記透過放射線強度特性をリアルタイムに補正することを特徴とする請求項1に記載の放射線測定装置。前記校正処理手段は、前記校正サンプルの移動位置における前記ラインセンサによる透過放射線強度測定信号のトレンド情報に基づき、前記透過放射線強度特性の中長期特性を演算して補正することを特徴とすることを特徴とする請求項1に記載の放射線測定装置。前記校正処理手段は、前記トレンド情報の移動平均演算または運転周期変動演算により前記中長期特性を演算して前記周透過放射線強度特性を補正することを特徴とする請求項3に記載の放射線測定装置。前記校正処理手段は、前記校正サンプルの移動位置端部において前記被測定物を介在させない状態で前記校正サンプルからの透過放射線強度を前記ラインセンサで測定した信号に基づいて前記透過放射線強度特性を補正することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の放射線測定装置。前記校正サンプルの移動位置情報ならびに前記校正処理手段による補正情報を表示する表示手段を備えることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の放射線測定装置。前記校正サンプルは、前記被測定物と材質が同一もしくは前記被測定物と原子番号が同程度の材質であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の放射線測定装置。前記校正サンプルは、前記被測定物より坪量もしくは厚さが数倍程度大きなものであって、前記被測定物と同一材質の場合は複数枚の重ね合わせたもの、前記被測定物と原子番号が同程度の材質の場合は坪量または厚さが数倍程度大きな材質であることを特徴とする請求項7に記載の放射線測定装置。前記校正サンプルは、前記被測定物より十分小さく、その移動により前記被測定物と重なる領域は、前記被測定物のサイズ対して十分狭い範囲であることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載の放射線測定装置。従来構成のX線測定装置では、被測定物20の脇X線照射位置近傍に校正サンプル70を設置して補正を行っているが、ラインセンサ30の一端部での校正サンプルの透過強度測定値により測定系全体に補正をかける手法である。この手法では、校正サンプル70の置かれた近傍ラインセンサ30の端部周辺での補正および短期的な線源変動に関しては正確に補正できる。一方で、ラインセンサ30の端部周辺と中央部で確実に同じ補正結果が得られるかは不明であり、端部周辺の測定と中央部での測定で同一性を保証することができない。図11は、X線源、ラインセンサ、被測定物の相対関係を示す斜視図である。X線源10から被測定物20まで距離は、中央部距離L1と周端部L2距離では異なる。また、ラインセンサ30までの距離及び照射角度が異なることで、X線の投影面積もS1とS2とで異なる。この面積比に応じて中央部と周辺部ではX線の透過強度が異なる。また、照射距離が変わることで大気温度、湿度、気圧などの影響を受ける。0000また、周端部ではビームハードニングの影響を受ける。更に、周端部では被検査物シート20を斜めに通過するため被測定物20の厚さが同一であっても、ラインセンサ30の出力はフラックスの入射角によって透過後線量は小さくなる。例えば、測定範囲が線源から左右に45°に開いた扇状ビームで被検査物20の全幅測定を行う場合を想定すれば、cos45°=0707と30近くも変化を生じてしまう。0000坪量測定の測定精度は、一般に0数程度を期待されるため、被検査物20が無い状態で校正を一時的に正確にできたとしても、中長期的に周辺と中央が初期状態を保てているかは保証することができない。本発明の目的は、ラインセンサを用いた全幅測定において、中央部及び周端部のリアルタイム補正ならびに中長期の補正を可能とする放射線測定装置を実現することにある。このような課題を達成するために、本発明は次の通りの構成になっている。1放射線源から所定の幅を有する被測定物に放射線を照射し、前記被測定物を透過した放射線の強度をラインセンサにより前記幅方向に測定し、前記被測定物と同一材質で厚さが既知の複数の参照物体の測定で予め求められた透過放射線強度特性を参照して前記被測定物の厚さ若しくは坪量を測定する放射線測定装置において、前記放射線源と前記被測定物間に介在させた坪量若しくは厚さが予め別の測定により既知の校正サンプルを、前記ラインセンサの検出部に沿って移動させる校正サンプル移動手段と、前記校正サンプルの移動位置における前記ラインセンサによる透過放射線強度信号に基づいて補正値を演算し、前記透過放射線強度特性を補正する校正処理手段と、を備えることを特徴とする放射線測定装置。2前記校正処理手段は、前記校正サンプルの移動位置における前記ラインセンサによる透過放射線強度測定信号の瞬時情報に基づいて前記透過放射線強度特性をリアルタイムに補正することを特徴とする1に記載の放射線測定装置。3前記校正処理手段は、前記校正サンプルの移動位置における前記ラインセンサによる透過放射線強度測定信号のトレンド情報に基づき、前記透過放射線強度特性の中長期特性を演算して補正することを特徴とすることを特徴とする1に記載の放射線測定装置。4前記校正処理手段は、前記トレンド情報の移動平均演算または運転周期変動演算により前記中長期特性を演算して前記周透過放射線強度特性を補正することを特徴とする3に記載の放射線測定装置。5前記校正処理手段は、前記校正サンプルの移動位置端部において前記被測定物を介在させない状態で前記校正サンプルからの透過放射線強度を前記ラインセンサで測定した信号に基づいて前記透過放射線強度特性を補正することを特徴とする1乃至4のいずれかに記載の放射線測定装置。6前記校正サンプルの移動位置情報ならびに前記校正処理手段による補正情報を表示する表示手段を備えることを特徴とする1乃至5のいずれかに記載の放射線測定装置。7前記校正サンプルは、前記被測定物と材質が同一もしくは前記被測定物と原子番号が同程度の材質であることを特徴とする1乃至6のいずれかに記載の放射線測定装置。8前記校正サンプルは、前記被測定物より坪量もしくは厚さが数倍程度大きなものであって、前記被測定物と同一材質の場合は複数枚の重ね合わせたもの、前記被測定物と原子番号が同程度の材質の場合は坪量または厚さが数倍程度大きな材質であることを特徴とする7に記載の放射線測定装置。9前記校正サンプルは、前記被測定物より十分小さく、その移動により前記被測定物と重なる領域は、前記被測定物のサイズ対して十分狭い範囲であることを特徴とする1乃至8のいずれかに記載の放射線測定装置。本発明によれば、次のような効果を期待することができる。1ラインセンサの中央部と周端部で同じ測定精度を得ることができる。2運転周期生産ロット単位の周期、朝晩のデイリーな周期変動などの補正ができる。3測定環境温度、湿度、気圧などの影響を補正することができる。4リアルタイムに校正サンプルの測定値をオペレータウィンドウに表示することで、オペレータに常時測定精度を明示することができる。5校正サンプルの測定値をトレンド管理することで、線量低下や検出器感度の安定性など保守情報の収集が可能である。6定期的に被測定物の無い領域において校正サンプルのみで校正することにより、装置全体を引き出して校正サンプルを検証する長期的数ヶ月で煩雑な保証作業も不要になる。以下、図面を用いて本発明を詳細に説明する。図1は、本発明を適用したX線測定装置の一実施例を示す機能ブロック図である。図2は、図1におけるX線源、ラインセンサ、被測定物、校正サンプルの相対関係を示す斜視図である。図3は、X線源、ラインセンサ、被測定物、校正サンプルの相対関係を示す縦断面図である。図1、図2、図3において、図10、図11で説明した従来構成と同一要素には同一符号を付して説明を省略する。X線源10、被測定物20、ラインセンサ30の構成は、図10および図11と同一であり、X線源10に対しラインセンサ30が正対して設置され、被測定物20は線源から離れた位置で且つ、ラインセンサ30の近傍に置かれている。この被測定物20をX線の照射方向に対してほぼ直角方向図2では水平方向に移動してラインセンサ30で測定すれば被測定物の全幅測定が可能である。この構成に加えて、X線源10の直下にビーム整形用のコリメータを設けてもよい。ラインセンサ30の上空で且つ被測定物20のわずかに上空には、ラインセンサ30の検出範囲の全域に渡って移動走査可能な校正サンプル移動手段200が設けられている。この校正サンプル移動手段200には、校正サンプル100を保持する保持具201が設けられ、校正サンプル100をラインセンサ300に対して平行に移動でき、移動範囲の端部では折り返す連続反復移動が可能な構成となっている。この校正サンプル100が、被測定物20の測定中にこれを横切るようにして移動走査し、校正サンプル100と被検査物20を連続して透過した透過線量がラインセンサ30で測定される。校正サンプル100の移動形態は、前記の連続反復移動の他、間欠移動、一時停止を含む。一般的な校正サンプルとしては、予め既知の面積に正確に切り出したアルミ板や樹脂プレートなどで実現可能であり、これを電子天秤で正確に重量測定して坪量が既知のものを用いる。本発明では、この一般的な校正サンプルを用いてもよいが、最適は、被測定物20と同じ材質コーティングを施した複合材料であっても良いで、同様に既知の面積に正確に切り出して、電子天秤で正確に重量測定したものがより好ましい。この校正サンプルを、複数枚3~7枚重ねて保持具201にセットする。X線源10はラインセンサ30から距離を離して配置しなければならないため、X線源10のエネルギー強度は空気の影響を比較的受けないように高いエネルギー帯15~25KeVが用いられる。被測定物20が薄い樹脂シート、金属箔、電池電極シートなどの場合では、10~15KeVが測定には適当であるが、高いエネルギー帯15~25KeVを用いれば、被測定物20に対して十分過ぎる透過力があり、複数枚を透過させることが可能である。図4は、ラインセンサ30の出力特性図であり、被測定物20の幅方向に対するラインセンサ30の測定値を示す。校正サンプル100が通過する重なり箇所W以外では、ラインセンサ30の測定値Xiを入力する坪量算出手段300は、透過X線強度特性保持手段50を参照して幅方向の坪量のプロファイルWiを算出し、外部出力手段60に渡す。この坪量算出手法は、従来構成と同一である。重なり部分Wのラインセンサ30の測定値Xi ́を入力する校正処理手段400は、この測定値から補正値Mを演算して、透過X線強度特性保持手段50に出力し、校正サンプル100が通過中の領域を除く全領域の透過X線強度特性を補正する。校正処理手段400は、リアルタイムの補正値を算出する瞬時補正値算出手段401、トレンドデータ保持手段402、トレンド情報に基づいた中長期の補正値を算出する中長期補正値算出手段403を備える。中長期補正値算出手段403は、所定期間のトレンド情報の移動平均演算または運転周期変動演算を実行し中長期補正値Mを演算し、透過X線強度特性保持手段50に出力して透過X線強度特性を補正する。トレンド情報に基づく解析手法として、校正サンプル100の通過位置毎に、その通過位置を考慮して過去のデータと現在のデータに基づくトレンド解析を実行する。補正値Mは、校正サンプル100の枚数との枚数比に応じて補正量を換算して求めるが、実際に被測定物20の坪量が重くなったのか、外乱によって変化が出たかは定かでないため、直接的にその差分で補正することはせず、具体的には下記のように行う。校正サンプル枚数を4枚とした場合の測定精度への影響は、重なり部には坪量が不明な1枚分被測定物の透過減衰と既知の坪量4枚分の透過減衰の和となる。被測定物の坪量が200gm2として、規定値より2=4gm2重くなった場合には、4200200×4=04gm2変化として重なり部の測定値が高くなる。この変化の要因が、実際に被測定物の坪量が重くなったものか、外乱によって2の変化が出たかは瞬時的には定かではないが、中長期補正値算出手段403移動平均演算と組み合わせることにより、短期的に変化があったものか、長期的に現れているかの推測は可能である。本発明によるオペレーションでは、基本的には短期的な変動に対しては、補正を行わないか軽微な補正に留めるようにし、校正サンプルの走査による周期と一致する変化量や運転周期生産ロット単位の周期、朝晩のデイリーな周期変動などと一致するものについては積極的に補正をかけていく。校正サンプル100の走査周期は、数秒~10秒で、数回~数十回の移動平均情報により補正値のデータを作成する。例えば16回の移動平均値1分間程度であれば、ばらつきは1√16=14になり、前記の04gm2は01gm2まで安定した補正値となり、被測定物が介在しているものの、外乱の値を補正するに十分な補正値Mを得ることができる。図5は、X線透過強度特性の補正手法を説明する特性図である。図10で説明した従来手法と同様に、被測定物20と同一材質で厚さが既知の複数の参照物体の測定で予め求められた透過X線強度特性F1を基礎データとしてテーブルまたは近似関数で保持する。この基礎データは、線源変動が十分抑えられた安定した状態で、厚さの異なる複数の校正用サンプルを測定して求めることもできる。補正サンプル100を被測定物上で移動させて測定した測定した実測値による中長期補正値Mで透過X線強度特性F1の基礎データを補正した特性をF2で示す。測定値Xiの時に補正のない基礎データによる特性F1基づく坪量Wi1は、補正した特性に基づく坪量Wi2に補正され、測定精度が改善される。ラインセンサー30の中央部では前回測定周期の測定値と今回測定値間に変化がなく、周辺だけに変化が認められる場合には、ラインセンサー30のエリアを限定した補正を実行することができる。走査した校正サンプル100が、瞬時的な変動を除く補正結果として、常時規格値内の測定値を表示すことで、ラインセンサ30の中央部と周端部の差や、経時変化に対して十分な測定精度を維持していることをオペレータに明示することができる。図6は、表示手段500の画面構成図である。重なり部の測定値から、被測定物の坪量分を除いて校正サンプル100の坪量をリアルタイムに計算し、補正情報として表示手段500に渡し、オペレーティングウィンドウに表示する。校正サンプル100の位置移動位置情報Pと一緒に表示してもよい。中央の測定部に、時間とともに測定値が更新され、古いデータは上方に消えてゆく。校正サンプルが通過した軌跡は、測定部より厚くなるために黒く表示され、結果的にジグザグのラインとして表示される。ラインの先端には校正サンプルの測定値が坪量で表示され、時々刻々と更新される。校正サンプルの坪量測定値が既知の規程値であることで校正処理が正常に実行されていることが明示される。測定部の平均値も画面右下付近に表示される。厚塗りが発生した場合は、色分けまたはグレースケールレベルで測定結果が表示され、面情報としてグラフ化されてオペレータが認識することができる。画面は、時々刻々と流れて行くが、ログは残るようにし、データ集計することで過去のデータ解析を時系列に行うことができる。校正サンプルが通過した軌跡は、連続したジグザグで示したが、数分、数時間おきに横切るような形態で時々測定して表示することもできる。図7は、校正サンプルの走査軌跡と測定不可能領域を説明する模式図である。校正サンプル100の走査軌跡は、被測定物20の移動によりジグザグのラインとして表示される。校正サンプル100が折り返えされる両端部で被測定物20に重ならない区間を設け、この区間では校正サンプル100のみの坪量を測定し、この測定値に基づき透過X線強度特性を補正することができる。図8は、本発明を適用したX線測定装置の他の実施例を示す機能ブロック図である。図1との相違点は、X線源10からのX線が校正サンプル100のみを透過し、被測定物20を介さないでラインセンサ20に直接入力されている構成である。このように、被測定物20を含まない校正サンプル100のみで周期的に測定する仕組みを組み込むことにより、装置全体を引き出して校正サンプルを検証する長期的数ヶ月で煩雑な保証作業は不要になる。図9は、校正サンプル保持具201の構成例を示す斜視図である。図9Aに示すように、校正サンプル100を支持するリブを狭くするか無くすことで測定できない領域を減らすことができる。図9Bに示すように、校正サンプル100を片持ち支持する構成により、校正サンプル100の端面を正確に重ねられれば、図9Cに示すように校正サンプル通過中であっても測定できない領域を減らす、もしくは無くすことが可能である。