"中性子センサにて測定された中性子レベルが第1の所定値を越えたとき電気装置本体にSEUシングルイベントアップセット対策実施状態にて動作するように開始指令を発するSEU対策指令装置。上記中性子レベルが上記第1の所定値よりも小さい第2の所定値以下になったとき上記電気装置本体にSEU対策実施状態にて動作するのを停止するように停止指令を発するものである請求項1に記載のSEU対策指令装置。上記電気装置本体においてSEUが予め決められた時間の間発生しなかったとき、上記第1の所定値を大きくするものである請求項1または請求項2に記載のSEU対策指令装置。上記電気装置本体がSEU対策実施状態にて動作していないときであってかつ上記電気装置本体において原因不明のエラーが発生したとき上記第1の所定値を小さくするものである請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のSEU対策指令装置。請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載された中性子センサとSEU対策指令装置と電気装置本体との3者を備えた電気装置。上記中性子センサは、上記電気装置本体と対向するようにして配置され、上記電気装置本体に入射する中性子レベルを検出するものである請求項5に記載の電気装置。請求項6に記載の電気装置の上記中性子センサに照射する中性子レベルを変化させ上記照射する中性子レベルと上記電気装置本体におけるSEU発生件数との相関関係に基づいて上記第1の所定値を決定する電気装置の動作レベル設定方法。従来の電気装置は以上のように構成され、SEUエラー発生頻度を放射線強度の変化として捕える方式では、実際の放射線強度は不明であり確実性に欠ける問題点があった。また、環境観測の結果によりパリティの付加状態やECCの付加状態を変化させる方式では、より信頼度の高い多数決回路方式に対して考慮がされていないという問題点があったり、装置によってSEU耐性が異なることに対する考慮がされていないという問題点があったりした。また、SEUが発生しにくいハードウェアを利用して、装置内にSEUが発生した場合にリセットを行う方式では、SEU発生後の事後対策となっており根本的な解決とはなっていない。従って、消費電力が増加するものの、上記のような定期的にCRCチェックを実施してSEU発生を検出する方式や、メモリにパリティビットやECCを付加してデータ化けを検出する方式や、回路自体を3重化してデータ化けを多数決により検出する多数決回路方式などをとらざるを得なかった。この発明は上記のような問題点を解決するためになされたものであり、消費電力を低減できるSEU対策指令装置及び電気装置を得ることを目的とする。また、個々のSEU対策対象装置に対応して適切にSEU対策を行うことができる電気装置の動作レベル設定方法を提供することを目的とする。この発明に係るSEU対策指令装置においては、中性子センサにて測定された中性子レベルが第1の所定値を越えたとき電気装置本体にSEUシングルイベントアップセット対策実施状態にて動作するように開始指令を発するものである。また、この発明に係る電気装置においては、中性子センサとSEU対策指令装置と電気装置本体との3者を備えたものである。さらに、この発明に係る電気装置の動作レベル設定方法は、電気装置の中性子センサに照射する中性子レベルを変化させ照射する中性子レベルと電気装置本体におけるSEU発生件数との相関関係に基づいて第1の所定値を決定するものである。この発明に係るSEU対策指令装置は、中性子センサにて測定された中性子レベルが第1の所定値を越えたとき電気装置本体にSEUシングルイベントアップセット対策実施状態にて動作するように開始指令を発するものであるので、電気装置の消費電力の低減を図ることができる。また、この発明に係る電気装置は、中性子センサとSEU対策指令装置と電気装置本体との3者を備えたものであるので、消費電力を低減できる。さらに、この発明に係る電気装置の動作レベル設定方法は、電気装置の中性子センサに照射する中性子レベルを変化させ照射する中性子レベルと電気装置本体におけるSEU発生件数との相関関係に基づいて第1の所定値を決定するものであるので、個々のSEU対策対象装置に対応して適切にSEU対策を行うことができる電気装置の動作レベル設定方法を提供できる。実施の形態1.図1~図3は、この発明を実施するための実施の形態1を示すものであり、図1は電気装置の構成を示す構成図、図2は動作を説明するための動作特性図、図3は動作を説明するためのフローチャートである。図1において、中性子センサ100の下方右側にSEU対策指令装置101が、左方に電気装置本体としてのSEU対策対象装置102が配置されている。なお、これらを接続し、信号の送受信を行うケーブルは、図示を省略している。このような配置において、中性子センサ100は、SEU対策対象装置102に対して中性子照射のおそれがある面、この実施の形態においてはSEU対策対象装置102及びSEU対策指令装置101の上方に設置されている。SEU対策を要する例えばコンピュータなどのSEU対策対象装置102は、中性子が照射される環境に置かれた場合、中性子レベルC1が図2に示すように変化した場合、第1の所定値としての所定のSEU発生危険中性子レベル閾値以下、レベル閾値と称すD1を越える時間t1からt2の間の期間T1いわゆるSEU発生危険期間T1において、SEU発生の危険性が高くなる。本実施の形態においては、中性子レベルC1がレベル閾値D1を越えた場合、SEU対策対象装置102をSEU対策実施状態が入にて動作するように設定することによりSEUによる誤動作や損傷などの影響を極力軽減できるようにするものである。ここで、SEU対策対象装置102は、この実施の形態においてはコンピュータであり、例えば特開平5-282168号公報に記載されたものと同様のいずれも図示しないがコンピュータ内の記憶回路または演算回路の誤りを検出するための符号を生成し誤りの発生を検査する符号生成検査手段と、該検出回路の使用の有無を切り替える切り替え手段と、平常時はコンピュータ内の記憶回路または演算回路を上記符号なしで動作させ、環境条件検知手段の検知出力すなわち中性子レベルに応じてコンピュータ内の記憶回路または演算回路を上記符号付で動作させるよう切り替え手段を制御する制御手段とを備えている。次に、SEU対策指令装置101の動作について図3aのフローチャートにより説明する。図3において、SEU対策指令装置101は、電源入にするなどにより動作を開始するが、ステップS101において初期状態として、中性子レベルフラグの初期値を1に設定する。次に、ステップS102において、中性子センサ100から通知される中性子レベルを受信し、ステップS103において受信した中性子レベルとSEU対策指令装置101内に設定されているレベル閾値D1とを比較する。ステップS103において、中性子レベルがレベル閾値D1を越えている場合、ステップS104において中性子レベルフラグを1に設定し、ステップS106においてSEU対策対象装置102に開始指令としての中性子レベルフラグ1を通知送信する。ステップS103において、中性子レベルがレベル閾値D1以下の場合、ステップS105において中性子レベルフラグを0に設定し、ステップS106においてSEU対策対象装置102に停止指令としての中性子レベルフラグ0を通知する。その後、ステップS102に戻り、上記フローを繰り返す。一方、SEU対策対象装置102は図3bのフローチャートのように動作する。SEU対策対象装置102の電源を入にするなどによる動作開始に当たり、まずステップS201において、SEU対策対象装置102のSEU対策実施状態を入すなわち動作状態に設定する。これは、起動直後の中性子レベルが不明であるため安全側に設定しておく必要があるからである。次に、ステップS202にてSEU対策指令装置101から通知される中性子レベルフラグ通知を受信し、ステップS203において通知されてきた中性子レベルフラグが1ならば、ステップS204に進み、SEU対策対象装置102のSEU対策実施状態を入にする。ステップS203において、中性子レベルフラグが0ならば、ステップS205においてSEU対策対象装置102のSEU対策実施状態を切にする。その後、ステップS202へ戻り、同様の処理を繰り返す。ここで、ステップS204において、SEU対策対象装置102のSEU対策実施状態を入にすると、SEU対策対象装置102コンピュータ内の記憶回路または演算回路が誤りを検出するための符号付で動作する。また、ステップS205においてSEU対策対象装置102のSEU対策実施状態を切にすると、SEU対策対象装置102内の記憶回路または演算回路を上記符号なしで動作させる。なお、この実施の形態においては、中性子センサ100とSEU対策指令装置101とSEU対策対象装置102とを個別に分離して設けるものを示したが、中性子センサ100とSEU対策指令装置101とSEU対策対象装置102とを一体化したり、あるいは一つの筐体に収容したり、またSEU対策指令装置101とSEU対策対象装置102とを一体化するなど、適宜組み合わせることができる。以上のように、中性子レベルC1が所定のレベル閾値D1を越える場合これを検出してSEU対策対象装置102のSEU対策実施状態を入にして動作させることにより、すなわち中性子レベルC1が高くSEU対策が必要なときにのみSEU対策対象装置102をSEU対策実施状態にて動作させることによりSEU対策が必要でないときの消費電力を削減して全体としての消費電力を低減できるとともに誤動作や誤動作による損傷などを防止し信頼性を向上させることができる。実施の形態2.図4~図7は、実施の形態2を示すものであり、図4は電気装置の構成を示す構成図、図5、図6は動作を説明するための説明図、図7は動作を説明するためのフローチャートである。例えば中性子センサ100の測定した中性子レベルC2が図5に示すように変化した場合、期間T3,T4,T5においてレベル閾値D1を越え、SEU発生危険期間が細切れになり、SEU対策対象装置102においてSEU対策実施状態の入/切を頻繁に切り替える状況が発生してしまう。このような頻繁な切り替えの状態になることにより、SEU対策対象装置102の消費電力や負荷変動が激しくなり、SEU対策対象装置102自体に悪影響を与えるおそれがある。この実施の形態においては、このような時間t3からt4までの間に、中性子レベルC2がレベル閾値D1を越える期間T3,T4,T5が小刻みに発生する場合の上記のような悪影響を防止できるものである。この実施の形態においては、中性子センサ100とSEU対策対象装置102は、実施の形態1に示したものと同様のものであるが、SEU対策指令装置201の動作が異なる。以下、SEU対策指令装置201の動作を図7のフローチャートについて説明する。第1の所定値としての所定のSEU発生危険中性子レベル上限閾値以下、レベル上限閾値と称するDUと、第2の所定値としての所定のSEU発生危険中性子レベル下限閾値以下、レベル下限閾値と称するDLとの2つの閾値をあらかじめ設定しておく。ここで、この実施の形態においては、SEU発生危険期間ではない時に、中性子センサ100から通知された中性子レベルC2が、レベル上限閾値DUを越えた時にSEU発生危険期間が始まったとみなす。また、SEU発生危険期間ではない時に、中性子センサ100から通知された中性子レベルC2が、レベル下限閾値DLを越えても、SEU発生危険期間が開始したとはみなさない。SEU発生危険期間中は、中性子センサ100から通知された中性子レベルC2がレベル下限閾値DL以下の時、SEU発生危険期間が終了したとみなす。さらに、SEU発生危険期間中に中性子センサ100から通知された中性子レベルC2がレベル上限閾値DUを下回ってもSEU発生危険期間が終了したとはみなさない。これにより、図6に示すように時間t3からt4までの期間T6が実質的にSEU発生危険期間として扱われることになり、SEU対策対象装置102のSEU対策実施状態の入/切を頻繁に繰り返すことを防止できる。上記動作を図7のフローチャートについて詳細に説明する。まず、図7aにより、SEU対策指令装置201の動作を説明する。SEU対策指令装置201は電源入にするなどにより、動作を開始する。ステップS401では、SEU対策対象装置102に通知する中性子レベルフラグの初期値を1に設定する。ステップS402において、SEU対策指令装置201は中性子センサ100から中性子レベルC2の通知を受ける。ステップS403において、SEU対策指令装置201は、中性子センサ100から通知される中性子レベルC2と、SEU対策指令装置201内に設定されているレベル下限閾値DLとを比較する。ステップS403において、中性子レベルC2がレベル下限閾値DL以下の場合、ステップS404に進み、中性子レベルフラグを0に設定し、ステップS405において中性子レベルフラグ0をSEU対策対象装置102に通知し、ステップS402へ戻り、ステップS402以下の動作を繰り返す。ステップS403において、中性子レベルC2がレベル下限閾値DLを越える場合は、ステップS406へ行き、中性子レベルC2とレベル上限閾値DUとを比較する。中性子レベルがレベル上限閾値DUを越えている場合、ステップS407に進み、中性子レベルフラグを1に設定し、ステップS408においてステップS407で変化させた中性子レベルフラグ1を、SEU対策対象装置102に通知送信する。その後、ステップS402へ戻り、ステップS402以下の動作を繰り返す。中性子レベルがレベル上限閾値DU以下の場合は、何もしないでステップS402へ戻る。なお、SEU対策対象装置102の動作は、図7bのフローチャートに示すように実施の形態1と同じである。以上のように、この実施の形態によれば、SEU対策対象装置102のSEU対策実施状態の入/切動作にヒステリシス特性を持たせることにより入/切動作を頻繁に繰り返すことを防止して、SEU対策対象装置102の消費電力が増大したり負荷変動が激しくなったりしないようにしSEU対策対象装置102自体に悪影響を与えないようにできる。実施の形態3.図8~図10は実施の形態3を示すものであり、図8は電気装置の構成を示す構成図、図9はSEU対策対象装置の動作を示すフローチャート、図10はSEU対策指令装置の動作を示すフローチャートである。図8において、SEU対策指令装置301及びSEU対策対象装置302が、実施の形態1に示したSEU対策指令装置101及びSEU対策対象装置102とは異なる。この実施の形態では、実運用上でレベル閾値D1を変化させる。まず、SEU対策対象装置302の動作を図9のフローチャートについて説明する。図9において、SEU対策対象装置302の電源を入にするなどの起動により、SEU対策対象装置302は動作を開始する。ステップS601にて初期値のSEU対策実施状態を入すなわち動作状態に設定する。これは、起動直後の中性子レベルがわからないため安全側に設定しておく必要があるからである。次にステップS602にて、SEU対策指令装置301から通知されてくる中性子レベルフラグを受信する。ステップS603にて、通知されてきた中性子レベルフラグの内容を判定し、通知されてきた中性子レベルフラグが1ならば、ステップS604へ進み、SEU対策実施状態を入にする。ステップS603において、中性子レベルフラグが0ならば、ステップS605へ進み、SEU対策実施状態を切にする。ステップS606では、SEU対策実施状態が入であってSEU発生件数が零である時間をカウントしておき、充分に長い所定の時間以上SEU発生件数が零であったか否かを判定する。そして、所定の時間以上SEU発生件数が零であった場合はレベル閾値D1を引き上げてもよいとしてS607へ進み、SEU対策指令装置301におけるレベル閾値D1の引き上げ指令をSEU対策指令装置301に発信する。ステップS607まで進んだ後は、ステップS602に戻る。これにより、SEU対策対象装置302がSEU対策実施状態入の状態で動作する頻度が減少し、ひいては動作する時間が短くなるので、一層SEU対策対象装置302の消費電力を低減することができる。ステップS606において、所定の期間の間にSEUが1件でも発生した場合はレベル閾値D1を変更することなく、ステップS602に戻る。なお、上記ステップS606において、SEU対策実施状態が入であってSEU発生件数が零である期間をカウントするとしたが、この実施の形態においては、SEU対策実施状態が入でないとSEU発生件数を計数できないためである。しかし、SEU対策実施状態が入でなくともSEU発生件数を計数できる場合は、この条件は不要である。一方、ステップS608ではSEU対策実施状態が切であって、かつSEU対策対象装置302において原因不明のエラーSEUが原因である可能性が高いと推定されるが発生したか否かを判定し、原因不明のエラーが発生しているならば、ステップS609に進み、レベル閾値D1の引き下げ指令をSEU対策指令装置301に出す。ステップS609まで進んだ後はステップS602に戻り、ステップS602以下のフローを繰り返す。これにより、より低い中性子レベルに対してSEU対策対象装置302がSEU対策実施状態入の状態で動作することになり、SEUによるエラー発生を防止できる。ステップS608において、原因不明のエラーが発生していないならば、レベル閾値D1を変更する必要はないとして、ステップS602に戻る。次に、SEU対策指令装置301の動作を図10のフローチャートについて説明する。図10において、SEU対策指令装置301を電源入にするなどの起動により動作を開始する。まず、ステップS701において、SEU対策対象装置302に通知する中性子レベルフラグの初期値を1に設定する。次に、ステップS702では、SEU対策対象装置302からレベル閾値D1の引き上げ指令または引き下げ指令があれば、その指令に応じてレベル閾値D1を所定幅ΔD1分増減させる。次にステップS703では、中性子センサ100から中性子レベルC1通知を受信し、ステップS704において中性子レベルC1とSEU対策指令装置301内に設定されているレベル閾値D1とを比較する。ステップS704において、中性子レベルC1がレベル閾値D1を越えている場合、ステップS705に進み、中性子レベルフラグを1に設定し、ステップS707へ進む。ステップS704において、中性子レベルC1がレベル閾値D1を越えていない場合、ステップS706に進み、中性子レベルフラグを0に設定し、ステップS707へ進む。ステップS707では、ステップS705またはステップS706で設定した中性子レベルフラグを、SEU対策対象装置302に通知送信する。その後、ステップS702に戻り、ステップS702以下の動作を繰り返す。以上のように、この実施の形態によれば、例えば実際のフィールドにおける中性子レベルとSEU対策対象装置302におけるSEU発生状況との実績データを反映し、的確にSEUを防止できるとともにSEU対策対象装置302の消費電力を低減することができる。実施の形態4.図11、図12は、実施の形態4を示すものであり、図11は電気装置の動作設定方法を説明するための説明図、図12はレベル閾値を決めるための説明図である。この実施の形態においては、実施の形態1あるいは実施の形態2における電気装置において、電気装置を工場から出荷する前に工場にてレベル閾値D1、あるいはレベル上限閾値DUを決定設定するものである。これにより、個々のSEU対策対象装置によってSEU耐性にばらつきを有することに対する柔軟なレベル閾値を決定できる。図11において、実施の形態1に示した中性子センサ100とSEU対策指令装置101とSEU対策対象装置102、あるいは実施の形態2に示した中性子センサ100とSEU対策指令装置101とSEU対策対象装置102と、中性子照射装置103を用意しておく。まず、図11におけるSEU対策対象装置102のSEU対策実施状態を入の状態にし、SEUが発生したことを検出できるようにしておく。次に、中性子照射装置103の照射中性子レベルを変化させ、SEU対策対象装置102でのSEU発生件数をカウントする。この時、照射中性子レベルとSEU発生件数の相関関係から、レベル閾値D1あるいはレベル上限閾値DUを決定する。すなわち、レベル閾値D1あるいはレベル上限閾値DUは、図12におけるSEU発生件数が1件以上の照射中性子レベルよりは低い値に決定する。また、レベル下限閾値DLは、レベル上限閾値DUよりも、一定の値だけ小さい値に決定する。このように、実際に中性子を照射して動作すべきレベル閾値D1あるいはレベル上限閾値DUを決定することにより、個々のSEU対策対象装置102に対応して適切にSEU対策を行うことができる。なお、上記実施の形態では、SEU対策対象装置102,302はコンピュータである例を示したが、これに限定されるものではなく、半導体装置、マイクロプロセッサ、オンボードコンピュータその他の電気装置であっても同様の効果を奏する。"