"回路保護システムとともに使用するハブ106であって、光源206および少なくとも1つの光センサ204を含む少なくとも1つのセンサデバイス102に通信可能に結合するように構成された第1の入力ポート218と、少なくとも1つの制御装置124に通信可能に結合するように構成された第1の出力ポート226と、前記第1の入力ポート218および前記第1の出力ポート226に通信可能に結合された処理装置236であり、前記光源206が発射した試験パルスに応答したセンサステータス信号を、前記第1の入力ポート218を経由して、前記少なくとも1つの光センサ204から受け取り、前記センサステータス信号に少なくとも部分的に基づくハブステータス信号を、前記第1の出力ポート226を経由して、前記少なくとも1つの制御装置124に送信するように構成された処理装置236とを備えるハブ106。前記少なくとも1つのセンサデバイス102が複数のセンサデバイス102を含み、前記第1の入力ポート218が複数の第1の入力ポート218を備え、前記複数の第1の入力ポート218がそれぞれ、前記複数のセンサデバイス102のうちのそれぞれのセンサデバイス102に通信可能に結合するように構成された、請求項1記載のハブ106。前記処理装置236がさらに、対応する光センサ204を試験するために、前記複数のセンサデバイス102のうちのそれぞれのセンサデバイス102のそれぞれの光源206を活動化し、前記複数のセンサデバイス102のうちのそれぞれのセンサデバイス102からセンサステータス信号を受け取るように構成された、請求項2記載のハブ106。前記処理装置236がさらに、前記複数のセンサデバイス102のうちのそれぞれのセンサデバイス102から、前記センサステータス信号を表す電流を受け取り、前記電流に基づいて、前記複数のセンサデバイス102のうちのそれぞれのセンサデバイス102に対するセンサステータスを決定するように構成された、請求項2記載のハブ106。前記処理装置236がさらに、前記複数のセンサデバイス102のうちのそれぞれのセンサデバイス102の前記センサステータスに少なくとも部分的に基づいて、前記ハブステータスを決定するように構成された、請求項4記載のハブ106。前記処理装置236がさらに、前記センサステータス信号および前記ハブ106の動作ステータスに少なくとも部分的に基づいて、前記ハブ106のハブステータスを決定するように構成されており、前記ハブステータス信号が前記ハブステータスを表す、請求項1記載のハブ106。前記ハブ106がさらに、ペアード冗長ハブ106に通信可能に結合するように構成された第2の出力ポート228を備え、前記処理装置236がさらに、前記ハブステータスを、前記第2の出力ポート228を経由して、前記ペアード冗長ハブ106に送信するように構成された、請求項1記載のハブ106。前記ハブ106がさらに、ペアード冗長ハブ106に通信可能に結合するように構成された第2の入力ポート220を備え、前記処理装置236がさらに、前記第2の入力ポート220を経由して、前記ペアード冗長ハブ106のハブステータスを受け取るように構成された、請求項1記載のハブ106。光源206および少なくとも1つの光センサ204をそれぞれが備える複数のセンサデバイス102と、回路保護デバイスを活動化するように構成された少なくとも1つの制御装置124と、前記複数のセンサデバイス102および前記少なくとも1つの制御装置124に通信可能に結合された少なくとも1つのハブ106とを備え、前記少なくとも1つのハブ106が、前記複数のセンサデバイス102のうちのそれぞれのセンサデバイス102の前記少なくとも1つの光センサ204からセンサステータス信号を受け取り、前記センサステータス信号に少なくとも部分的に基づくハブステータス信号を、前記少なくとも1つの制御装置124に送信し、前記複数のセンサデバイス102のうちの1つのセンサデバイス102からアーク閃光検出信号を受け取り、前記回路保護デバイスを活動化する際に使用するため、前記アーク閃光検出信号を、前記少なくとも1つの制御装置124に送信するように構成された冗長光感知システム100。前記少なくとも1つのハブ106が第1のハブ112および第2のハブ114を備え、前記第1のハブ112が、第1の複数のセンサデバイス120に通信可能に結合され、前記第2のハブ114が、第2の複数のセンサデバイス122に通信可能に結合された、請求項9記載の冗長光感知システム。光センサを使用して、アーク閃光時に発せられた光の存在を検出することができる。しかしながら、このようなセンサはしばしば低い光レベルに対して感度を有し、そのため、アーク閃光以外の光も検出し、回路保護デバイスの不快なnuisanceトリップをトリガする。例えば、一般的なアーク閃光事象は、アーク閃光事象から3から4フィート離れたところで100,000ルクス程度の光束を有する光を生成しうるが、知られている光センサは一般に700ルクス以下で飽和する。トリップ時の回路遮断器、空間照明または直射日光によって発せられた光によって、光センサが、アーク閃光事象を誤って検出することがある。さらに、光センサの故障が、開閉装置区画内の機器を、アーク閃光に対して無防備にすることがある。したがって、アーク閃光に関連した光の冗長検出のために、各区画内で多数のセンサを使用することが望ましい。さらに、1つまたは複数の構成要素の故障に起因する配電機器の大きな損傷をアーク閃光が引き起こす可能性をさらに低減させるために、冗長通信ハブおよび/または冗長システムコントローラを使用することが望ましい。一態様では、回路保護システムとともに使用するハブが提供される。このハブは、光源および少なくとも1つの光センサを含む少なくとも1つのセンサデバイスに通信可能に結合するように構成された第1の入力ポートを含む。このハブはさらに、少なくとも1つの制御装置に通信可能に結合するように構成される第1の出力ポートと、第1の入力ポートおよび第1の出力ポートに通信可能に結合された処理装置とを含む。この処理装置は、光源が発射した試験パルスに応答したセンサステータス信号を、第1の入力ポートを経由して、前記少なくとも1つの光センサから受け取り、センサステータス信号に少なくとも部分的に基づくハブステータス信号を、第1の出力ポートを経由して、前記少なくとも1つの制御装置に送信するように構成されている。他の態様では、冗長光感知システムが、光源および少なくとも1つの光センサをそれぞれが有する複数のセンサデバイスと、回路保護デバイスを活動化するように構成された少なくとも1つの制御装置とを含む。この冗長光感知システムはさらに、センサデバイスおよび制御装置に通信可能に結合された少なくとも1つのハブを含む。このハブは、それぞれのセンサデバイスの光センサからセンサステータス信号を受け取り、センサステータス信号に少なくとも部分的に基づくハブステータス信号を制御装置に送信し、1つのセンサデバイスからアーク閃光検出信号を受け取り、回路保護デバイスを活動化する際に使用するため、アーク閃光検出信号を制御装置に送信するように構成されている。他の態様では、方法が、複数の各センサデバイス内の光源を活動化すること、および複数の各センサデバイスからセンサステータス信号を受け取ることを含み、センサステータス信号は、各センサデバイス内のそれぞれの光センサが、対応する光センサが発射した試験パルスを検出したかどうかを表す。この方法はさらに、センサステータス信号に基づいて、各センサデバイスのセンサステータスを決定すること、各センサデバイスのセンサステータスに少なくとも部分的に基づいてハブステータスを決定すること、ならびにハブステータスを表すハブステータス信号を、冗長ハブおよび少なくとも1つの制御装置に送信することを含む。以上に、光学センサベースの冗長アーク閃光検出システムで使用するシステム、方法および装置の例示的な実施形態を説明した。これらの実施形態は、アーク閃光検出システム内における偽陽性の読みfalsepositivereadingの可能性を低減させるのに役立つ。例えば、これらの実施形態は、アーク閃光検出システム全体が意図されたとおりに機能しているとの誤った指示を生じさせうる故障モードの数を減らす。さらに、システムが配電機器を監視し続けている間に、欠陥のあるセンサ、ハブおよび/または制御装置を修理し、かつ/または取り替えることができるため、これらの実施形態は、アーク閃光検出システムのアベイラビリティを向上させる。本明細書に記載した実施形態は、ある開閉装置配列内の全ての潜在的な閃光点をカバーする光センサのネットワークを含むアーク閃光検出システムを提供する。これらのセンサは、センサ診断を実行し、アーク閉じ込めcontainmentデバイスを活動化するために使用される冗長制御装置に対する入力/出力I/O要件を低減させるハブと通信する。図1は、アーク閃光事象を検出し、緩和する際に使用する、本発明の一実施形態としての例示的な冗長感知システム100の概略ブロック図である。図1の例示的な実施形態では、感知システム100が、開閉装置104のスタックの区画内にそれぞれ配置された複数の光センサデバイス102を含む。感知システム100はさらに、ハブの第1のセット108およびハブの第2のセット110を含む複数のハブ106を含む。例えば、ハブの第1のセット108は、第1のハブ112および第2のハブ114を含み、ハブの第2のセット110は、第1のハブ112と冗長ハブ対を形成する第3のハブ116、および第2のハブ114と冗長ハブ対を形成する第4のハブ118を含む。各ハブ106は、開閉装置104のスタック内に配置されており、同じスタック104内に配置されたそれぞれの光センサデバイス102に結合されており、同じスタック104内に配置されたそれぞれの光センサデバイス102と双方向通信するように構成されている。例えば、第1のハブ112は、光センサデバイス102の第1の部分120に結合される。同様に、第3のハブ116は、光センサデバイス102の第2の部分122に結合される。感知システム100はさらに、第1の制御装置126および第2の制御装置128を含む複数の制御装置124を含む。通信冗長性を助長するため、各制御装置124はそれぞれのハブ106に結合されている。各制御装置124は、低電圧DC電力などの電力をハブ106に供給する電源に結合されており、あるいは低電圧DC電力などの電力をハブ106に供給する電源を含む。例えば、第1の制御装置126は、ハブの第1のセット108に電力を供給する第1の電源130を含み、またはハブの第1のセット108に電力を供給する第1の電源130に結合され、第2の制御装置128は、ハブの第2のセット110に電力を供給する第2の電源132を含み、またはハブの第2のセット110に電力を供給する第2の電源132に結合される。図1の例示的な実施形態では、感知システム100が、スタック104内の配電機器に結合されている。例えば、図1は、シッピングスプリットshippingsplit138によって分離された第1のスタック134と第2のスタック136とを含む、メイン-タイ-メインmain-tie-main構成の2つの開閉装置スタックを示している。第1のスタック134は、第1の制御装置126、ハブ108の第1のセットの一部、およびハブの第2のセット110の一部を含む。第1のスタック134はさらに、第1のアーク閃光閉じ込めデバイス140、第1の主回路遮断器142、1つまたは複数の第1のフィーダfeeder回路遮断器144、ならびに第1のスタック134と第2のスタック136を選択的に接続するタイtie回路遮断器146を含む。第2のスタック136は、第2の制御装置128、ハブの第1のセット108の一部、およびハブの第2のセット110の一部を含む。第2のスタック136はさらに、第2のアーク閃光閉じ込めデバイス148、第2の主回路遮断器150、および1つまたは複数の第2のフィーダ回路遮断器152を含む。図2は、感知システム100図1に示すの一実施形態である例示的なディジタル冗長感知システム200の概略図である。図2の例示的な実施形態では、各光センサデバイス202が、光センサ204と、光センサ204が応答するように配置された光源206を含む。ある実施形態では、アーク閃光事象に関係した光を検出する際の冗長性を助長するために、各光センサデバイス202が複数の光センサ204を含む。光源206は、発光ダイオードLED、有機LEDOLED、近赤外LED、あるいは光または放射エネルギーを発射する他の適当なデバイスとすることができる。光センサ204は、光学検出器、光導電セル、フォトダイオード、フォトトランジスタ、発光するようにではなく光を検出するように逆バイアスされたLED、光を検出する他の適当なデバイスなどの光検出器とすることができる。さらに、各光センサデバイス202は、ハブ210から電力を受け取る電力入力ポート208、試験信号入力ポート212、試験信号出力ポート214およびセンサステータス出力ポート216を含む。図2の例示的な実施形態では、光源206が、直列に、すなわちデイジーチェーン構成で接続されており、光源206は、ハブ210から受け取った電流によって駆動される。ハブ210が光源206を個別に制御することができるように、代替実施形態では光源206がハブ210に別々に結合される。各ハブ210は、光センサ204に結合してセンサステータスを受け取る複数の第1の入力ポート218を含む。各ハブ210はさらに、ペアードpaired冗長ハブからハブステータスを受け取る第2の入力ポート220を含む。例えば、第1のハブ222は、第2のハブ224からハブステータス信号を受け取る第2の入力ポート220を含む。各ハブ210はさらに、1つまたは複数の制御装置図2には示されていないにペアードハブステータス信号を送信する際に使用する複数の第1の出力ポート226を含む。各ハブ210はさらに、ペアード冗長ハブにハブステータスを送信する第2の出力ポート228を含む。例えば、第1のハブ222は、第2のハブ224の第2の入力ポート220にハブステータス信号を送信する第2の出力ポート228を含む。第2の出力ポート228は、通常動作時には開いている継電器230に結合されている。各ハブ210はさらに、光センサデバイス202に電力を出力し、さらに、光センサデバイス202を試験する際に使用する光源204を活動化する試験信号を出力する複数の第3の出力ポート232を含む。各ハブ210はさらに、光センサ204からセンサステータスを受け取る複数の電流-ディジタル比較器234を含む。このセンサステータス信号は、2つの電流レベルのうちの一方の電流レベルを有する電流である。下電流レベルは、光センサ204のセンサレディsensorreadyステータスに関連し、上電流レベルは、光センサ204のライトデテクテッドlightdetectedステータスに関連する。また、比較器234がセンサステータス信号を受け取らない場合、比較器234は、機能していない光センサ204を検出する。各ハブ210はさらに、ハブステータスを決定し、そのハブステータスをペアードハブに送信する処理装置236を含む。処理装置236はさらに、ペアードハブステータスを決定し、ペアードハブステータス信号を1つまたは複数の制御装置に送信する。ペアードハブステータス信号は、冗長ハブ210の対のステータスを表し、各ハブ210のハブステータスに基づく。各ハブ210のハブステータスは、ハブ210に結合された各光センサデバイス202のセンサステータス、およびハブ210が実行する内部試験の結果に基づく。例えば、第1のハブ222がその内部自己試験中にエラーを検出せず、光センサデバイス202内のエラーまたはセンサ故障を検出しないとき、処理装置236は、継電器230の継電器コイルを閉じさせ、その結果、第2のハブ224に正のハブステータス信号が送信される。処理装置236がエラーまたは電力の損失を検出した場合、処理装置236は、継電器230の継電器コイルを開いたままにし、それを第2のハブ224が検出する。次いで、第2のハブ224は、第1の出力ポート226のうちの1つの第1の出力ポート226を経由して、第1のハブ222に対する保守が必要であることを指示するペアードハブステータス信号を制御装置に送信する。しかしながら、第1のハブ222と第2のハブ224の両方が、エラーまたは電力の損失を検出した場合には、第1のハブ222と第2のハブ224の両方が、第1の出力ポート226のうちの1つの第1の出力ポート226を経由して、ペアードハブステータス信号を制御装置に送信する。各ハブ210は、3つの信号のうちの1つの信号を制御装置に送信するように構成されており、これらの3つの信号は、エラーまたは電力の損失が検出されていないことを制御装置に指示する第1のステータス信号、ペアードハブ内でエラーまたは電力の損失が検出されたことを指示する第2のステータス信号、および両方のハブ内でエラーまたは電力の損失が検出されたことを指示する第3のステータス信号を含む。これらの可能な信号はそれぞれ、対応する第1の出力ポート226に関連づけられている。処理装置236は、制御装置に送る信号を決定し、関連する線を低レベルに引き下げる電界効果トランジスタFET238を活動化する。図3は、アーク閃光事象を検出し、緩和する際に使用するアナログ冗長感知システム300の一実施形態の概略図である。図3の例示的な実施形態では、感知システム300が複数の光センサデバイス302を含み、各光センサデバイス302は、ヒューズ304、リニアレギュレータlinearregulator306、タイマ308、光源310および冗長光センサ312を含む。各光センサデバイス302はさらに、対応する光センサ312に結合された演算増幅器314、および対応する演算増幅器314に結合された電圧-電流変換器316を含む。各光センサデバイス302はさらに、ハブ320から電力を受け取る第1の入力ポート318、およびハブ320からセンサ試験コマンドを受け取る第2の入力ポート322を含む。各光センサデバイス302はさらに、第1の出力ポート324および第2の出力ポート326を含み、これらの出力ポート324および326はそれぞれ、センサステータス信号をハブ320に送信する。具体的には、第1の出力ポート324は、第1の光センサに関連した第1のセンサステータス信号を送信し、第2の出力ポート326は、第2の光センサに関連した第2のセンサステータス信号を送信する。図3の例示的な実施形態では、感知システム300がさらに、第1のハブ328および第2のハブ330を含む複数のハブ320を含む。さらに、各ハブ320は別個の開閉装置スタック内に配置されている。例えば、第1のハブ328は、第1のスタック332内でのアーク閃光事象を検出し、緩和するように配置され、第2のハブ330は、第2のスタック334内でのアーク閃光事象を検出し、緩和するように配置される。各ハブ320は、光センサ312に結合してセンサステータスを受け取る複数の第1の入力ポート336を含む。より具体的には、各ハブ320は、光センサデバイス302の第1の出力ポート324および第2の出力ポート326のそれぞれに対応する第1の入力ポート336を含む。各ハブ320はさらに、ペアード冗長ハブからハブステータスを受け取る第2の入力ポート338を含む。例えば、第1のハブ328は、第2のハブ330からハブステータス信号を受け取る第2の入力ポート338を含む。各ハブ320はさらに、1つまたは複数の制御装置図3には示されていないにペアードハブステータス信号を送信する際に使用する複数の第1の出力ポート340を含む。各ハブ320はさらに、ペアード冗長ハブにハブステータスを送信する第2の出力ポート342を含む。例えば、第1のハブ328は、第2のハブ330の第2の入力ポート338にハブステータス信号を送信する第2の出力ポート342を含む。第2の出力ポート342は、通常動作時には開いているが、閉じたときに通常動作ステータスを指示する2つの継電器344に結合されている。各ハブ320はさらに、光センサデバイス302に電力を出力し、さらに、光センサデバイス302を試験する際に使用する光源310を活動化する試験信号を出力する複数の第3の出力ポート346を含む。各ハブ320はさらに、光センサ312からセンサステータス信号を受け取る複数の抵抗器348を含む。このセンサステータス信号は、2つの電流レベルのうちの一方の電流レベルを有する電流である。下電流レベルは、光センサ312のセンサレディステータスに関連し、上電流レベルは、光センサ312のライトデテクテッドステータスに関連する。また、抵抗器348がセンサステータス信号を受け取らない場合、抵抗器348は、機能していない光センサ312を検出する。抵抗器348は、センサステータス信号を、センサステータスを表す電圧へ変換する。例えば、下電圧レベルは、下電流レベルによって生み出され、光センサ312のセンサレディステータスに関連し、上電圧レベルは、上電流レベルによって生み出され、光センサ312のライトデテクテッドステータスに関連する。各ハブ320はさらに、ハブステータスを決定し、そのハブステータスをペアードハブに送信する処理装置350を含む。処理装置350はさらに、ペアードハブステータスを決定し、ペアードハブステータス信号を制御装置に送信する。ペアードハブステータス信号は、冗長ハブ320の対のステータスを表し、各ハブ320のハブステータスに基づく。各ハブ320のハブステータスは、ハブ320に結合された各光センサデバイス302のセンサステータス、およびハブ320が実行する内部試験の結果に基づく。例えば、第1のハブ328がその内部自己試験中にエラーを検出せず、光センサデバイス302内のエラーまたはセンサ故障を検出しないとき、処理装置350は、各継電器344のそれぞれの継電器コイルを閉じさせ、その結果、第2のハブ330に正のハブステータス信号が送信される。処理装置350がエラーまたは電力の損失を検出した場合、処理装置350は、各継電器344のそれぞれの継電器コイルを開いたままにし、それを第2のハブ330が検出する。次いで、第2のハブ330は、第1の出力ポート340のうちの1つの第1の出力ポート340を経由して、第1のハブ328に対する保守が必要であることを指示するペアードハブステータス信号を制御装置に送信する。しかしながら、第1のハブ328と第2のハブ330の両方が、エラーまたは電力の損失を検出した場合には、第1のハブ328と第2のハブ330の両方が、第1の出力ポート340のうちの1つの第1の出力ポート340を経由して、ペアードハブステータス信号を制御装置に送信する。各ハブ320は、3つの信号のうちの1つの信号を制御装置に送信するように構成されており、これらの3つの信号は、エラーまたは電力の損失が検出されていないことを制御装置に指示する第1のステータス信号、ペアードハブ内でエラーまたは電力の損失が検出されたことを指示する第2のステータス信号、および両方のハブ内でエラーまたは電力の損失が検出されたことを指示する第3のステータス信号を含む。これらの可能な信号はそれぞれ、対応する第1の出力ポート340に関連づけられている。処理装置350は、制御装置に送る信号を決定し、関連する線を低レベルに引き下げる電界効果トランジスタFET352を活動化する。図3の例示的な実施形態では、処理装置350が、複数のアナログ-ディジタルA/D変換器図示せずを含む。図4は、アーク閃光事象を検出し、緩和する際に使用する代替アナログ冗長感知システム400の概略図である。図4の実施形態は、感知システム400が、複数の光センサデバイス302および複数のハブ320を含む点で、図3の実施形態と同様である。さらに、各ハブ320は別個の開閉装置スタック内に配置されている。例えば、第1のハブ328は、第1のスタック332内でのアーク閃光事象を検出し、緩和するように配置され、第2のハブ330は、第2のスタック334内でのアーク閃光事象を検出し、緩和するように配置される。しかしながら、感知システム400は、光センサデバイス302とハブ320の間の冗長接続を含まない。さらに、各ハブ320は、2つの信号のうちの一方の信号を1つまたは複数の制御装置図4には示されていないに送信するように構成されており、これらの2つの信号は、エラーまたは電力の損失が検出されていないことを制御装置に指示する第1のステータス信号、およびペアードハブ内でエラーまたは電力の損失が検出されたことを指示する第2のステータス信号を含む。図5は、アーク閃光事象を検出し、緩和する際に使用する他の代替アナログ冗長感知システム500の概略図である。図5の実施形態は、感知システム500が、複数の光センサデバイス302および複数のハブ320を含む点で、図4の実施形態と同様である。しかしながら、各開閉装置スタックが、第1と第2の両方のハブ328、330、およびそれぞれのハブに結合された光センサデバイス302を含む。したがって、感知システム500は、十分に冗長なアプローチが、アーク閃光事象を検出し、緩和することを可能にする。図6は、図1~5に示した冗長感知システムなどの冗長感知システムの自己試験を実行する例示的な一方法を示す流れ図600である。簡単にするため、ここで説明する動作は、ディジタル機能とアナログ機能とを区別することを除き、ディジタル冗長感知システム200図2に示されているに関するが、ディジタル機能とアナログ機能とを区別するときには、ここで説明する動作が、ディジタル冗長感知システム200の代わりに、またはディジタル冗長感知システム200に加えて、アナログ冗長感知システム300図3に示すに関する。図6の例示的な実施形態では、各ハブ210が、各光センサデバイス202内の光源206を活動化する602。例えば、各ハブ210は、第3の出力ポート232を経由して各光源206に活動化信号を送信する。この活動化信号に応答して、各光源206は、対応する光センサ204に向かって光を発射する。光センサ204はその光を検出し、指定された電流レベルのセンサステータス信号をハブ210に送信する。例えば、下電流レベルは、光センサ204のセンサレディステータスに関連し、上電流レベルは、光センサ204のライトデテクテッドステータスに関連する。また、機能していない光センサ204は、センサステータス信号を送信せず、このことはハブ210によって検出される。各ハブ210は、光センサ204からセンサステータス信号を受け取り604、各光センサデバイス202のセンサステータスを決定する606。図2のディジタル実施形態では、各ハブ210が、光センサ204からセンサステータス信号を受け取り、その電流レベルに基づいてセンサステータスを決定する電流-ディジタル比較器234を含む。図3~5のアナログ実施形態では、各ハブ320が、センサステータス信号を電圧に変換する抵抗器348を含み、この電圧が次いで、複数のアナログ-ディジタルA/D変換器によって、各光センサデバイス302のセンサステータスを決定する際に処理装置350が使用するディジタル値に変換される。さらに、図6の例示的な実施形態では、各ハブ210が、各光センサデバイス202のセンサステータスおよび1つまたは複数の内部試験の結果に基づいて、ハブステータスを決定する608。各ハブ210内の処理装置236は、ハブステータスを決定し、そのハブステータスをペアードハブに送信する610。処理装置236はさらに、ペアードハブからハブステータス信号を受け取り612、ペアードハブステータスを決定する614。処理装置236は次いで、ペアードハブステータス信号を1つまたは複数の制御装置124図1に示されているに送信する616。ペアードハブステータス信号は、冗長ハブ210の対のステータスを表し、各ハブ210のハブステータスに基づく。各ハブ210のハブステータスは、ハブ210に結合された各光センサデバイス202のセンサステータス、およびハブ210が実行する内部機器試験の結果に基づく。以上に、アーク閃光を防止し、緩和するシステムの冗長センサ/ハブ構成で使用するシステム、方法および装置の例示的な実施形態を詳細に説明した。これらのシステム、方法および装置は、本明細書に記載した特定の実施形態に限定されず、これらの方法の動作、ならびに/またはこれらのシステムおよび/もしくは装置の構成要素を独立に利用し、本明細書に記載した他の動作および/または構成要素とは別個に利用することができる。さらに、記載した動作および/または構成要素を他のシステム、方法および/もしくは装置内に画定し、または他のシステム、方法および/もしくは装置と組み合わせて使用することもでき、記載した動作および/または構成要素は、本明細書に記載したシステム、方法および記憶媒体だけを用いて実施することに限定されない。本明細書に記載した制御装置などの制御装置は、少なくとも1つの処理装置または処理ユニット、およびシステムメモリを含む。制御装置は一般に、少なくとも、ある形態のコンピュータ可読媒体を有する。コンピュータ可読媒体には例えば、限定はされないが、コンピュータ記憶媒体および通信媒体が含まれる。コンピュータ記憶媒体は、コンピュータ可読命令、データ構造、プログラムモジュールまたは他のデータなどの情報を記憶する、任意の方法または技術で実現された揮発性および不揮発性のリムーバブルおよび非リムーバブル媒体を含む。通信媒体は一般に、搬送波または他の輸送機構などの被変調データ信号中のコンピュータ可読命令、データ構造、プログラムモジュールまたは他のデータを具体化し、任意の情報送達媒体を含む。その信号中に情報をコード化するような方法でその信号の1つまたは複数の特性がセットされまたは変更された被変調データ信号を、当業者は熟知している。上記のコンピュータ可読媒体のうちの任意のコンピュータ可読媒体の組合せも、コンピュータ可読媒体の範囲に含まれる。例示的な配電システム環境に関して本発明を説明したが、本発明の実施形態は、他の多くの汎用または専用配電システム環境または構成とともに使用可能である。配電システム環境が、本発明の任意の態様の使用または機能の範囲に関する限定を示唆することは意図されていない。さらに、配電システム環境が、例示的な動作環境に示した構成要素のうちの任意の1つの構成要素または構成要素の任意の組合せに関する依存性または要件を有するとする解釈はすべきではない。本発明の諸態様とともに使用するのに適する可能性がある周知の配電システム、環境および/または構成の例には、限定はされないが、パーソナルコンピュータ、サーバコンピュータ、ハンドヘルドまたはラップトップデバイス、マルチプロセッサシステム、マイクロプロセッサベースのシステム、セットトップボックス、プログラム可能な民生用電子機器、移動電話、ネットワークPC、ミニコンピュータ、メインフレームコンピュータ、上記のシステムまたはデバイスなどのうちの任意のシステムまたはデバイスなどを含む分散コンピューティング環境などがある。特に追記しない限り、本明細書に示し、説明した本発明の実施形態内の動作の実行または実施順は重要ではない。すなわち、特に追記しない限り、それらの動作は任意の順序で実施することができ、本発明の実施形態は、追加の動作または本明細書に開示した動作よりも少ない動作を含むことができる。例えば、特定の動作を、別の動作の前、別の動作と同時に、または別の動作の後に実行または実施することは、本発明の態様の範囲内に含まれることが企図される。ある実施形態では、用語処理装置が一般に、本明細書に記載した機能を実行する能力を有するシステムおよびマイクロコントローラ、縮小命令セット回路reducedinstructionsetcircuitRISC、特定用途向けICApplicaitonspecificintegratedcircuitASIC、プログラマブルロジック回路、および他の任意の回路または処理装置を含む、プログラム可能な任意のシステムを指す。上記の例は単なる例であり、したがって、それらの例が、用語処理装置の定義および/または意味を限定することは意図されていない。本発明または本発明の実施形態の諸態様を提示するとき、冠詞a、an、theおよびsaidは、その要素が1つまたは複数あることを意味することが意図されている。用語備えるcomprising、含むincludingおよび有するhavingは包括語であり、記載された要素以外の追加の要素が存在してもよいことを意味することが意図されている。本発明をその最良の形態を含めて開示するため、ならびに任意の装置またはシステムを製作し、使用すること、および組み込まれた任意の方法を実行することを含め、当業者が本発明を実施することを可能にするために、本明細書はいくつかの例を使用する。本発明の特許を受けられる範囲は下記の特許請求の範囲によって定義され、この範囲が、当業者が思いつくその他の例を含むことがある。このようなその他の例は、それらが特許請求の範囲の文字表現と異ならない構造要素を有する場合、またはそれらが特許請求の範囲の文字表現との差異が実質的にない等価の構造要素を含む場合に、特許請求の範囲に含まれることが意図されている。"