"被圧延材を圧延する圧延ラインにおけるプロセス値を第1のプロセス値として測定する第1の測定部と、前記圧延ラインにおける前記第1のプロセス値と同種のプロセス値を第2のプロセス値として測定する第2の測定部と、前記第1の測定部の異常を検出する異常検出部と、前記第1のプロセス値と、前記第2のプロセス値と、前記第1のプロセス値及び前記第2のプロセス値が測定された時点を示す測定時点情報と、前記異常検出部により異常が検出された時点を示す異常検出時点情報と関連付けて、プロセス情報として記憶するプロセス情報記憶部と、前記プロセス情報に基づいて、前記第2のプロセス値を前記第1のプロセス値に近づけるように補正するための学習項を算出する学習項算出部と、前記学習項算出部により算出された学習項を記憶する学習項記憶部と、前記プロセス情報に基づいて、前記第2のプロセス値を前記学習項記憶部により記憶された学習項で補正することにより補正プロセス値を生成する補正部と、前記プロセス情報に基づいて、前記異常検出部により異常が検出された時点以前における前記第1のプロセス値と、前記異常検出部により異常が検出された時点以降における前記補正プロセス値とを選択する選択部と、前記選択部により選択されたプロセス値及び補正プロセス値に基づいて、前記圧延ラインの制御を行う機器制御部と、を備えたことを特徴とする制御装置。前記学習項算出部は、前記プロセス値記憶部に記憶されたプロセス情報に基づいて、前記第1のプロセス値と前記第2のプロセス値との差を算出し、前記算出された差と前記学習項記憶部に記憶された前回の圧延時における前記学習項とに基づいて、指数平滑法により新たな前記学習項を算出し、前記算出された新たな学習項を前記学習項記憶部に記憶させることを特徴とする請求項1記載の制御装置。前記異常検出部は、前記第1のプロセス値の標準偏差を算出し、この標準偏差が所定の範囲を超えた場合又はゼロである場合に、前記第1の測定部に異常が発生したと判定することを特徴とする請求項1記載の制御装置。前記学習項算出部は、前記第1の測定部及び第2の測定部により、互いに前記被圧延材に対する位置関係が略同一の箇所において測定された第1のプロセス値及び第2のプロセス値の差に基づいて、前記第2のプロセス値を前記第1のプロセス値に近づけるように補正するための学習項を算出することを特徴とする請求項1~3のうちいずれか1項記載の制御装置。被圧延材を圧延する圧延ラインにおけるプロセス値を第1のプロセス値として測定する第1の測定ステップと、前記圧延ラインにおける前記第1のプロセス値と同種のプロセス値を第2のプロセス値として測定する第2の測定ステップと、前記第1の測定ステップの異常を検出する異常検出ステップと、前記第1のプロセス値と、前記第2のプロセス値と、前記第1のプロセス値及び前記第2のプロセス値が測定された時点を示す測定時点情報と、前記異常検出ステップにより異常が検出された時点を示す異常検出時点情報と関連付けて、プロセス情報としてプロセス情報記憶部に記憶させるプロセス情報記憶ステップと、前記プロセス情報に基づいて、前記第2のプロセス値を前記第1のプロセス値に近づけるように補正するための学習項を算出する学習項算出ステップと、前記学習項算出ステップにより算出された学習項を学習項記憶部に記憶させる学習項記憶ステップと、前記プロセス情報に基づいて、前記第2のプロセス値を前記学習項記憶ステップにより記憶された学習項で補正することにより補正プロセス値を生成する補正ステップと、前記プロセス情報に基づいて、前記異常検出ステップにより異常が検出された時点以前における前記第1のプロセス値と、前記異常検出ステップにより異常が検出された時点以降における前記補正プロセス値とを選択する選択ステップと、前記選択ステップにより選択されたプロセス値及び補正プロセス値に基づいて、前記圧延ラインの制御を行う機器制御ステップと、を有することを特徴とする制御方法。前記学習項算出ステップは、前記プロセス値記憶部に記憶されたプロセス情報に基づいて、前記第1のプロセス値と前記第2のプロセス値との差を算出し、前記算出された差と前記学習項記憶部に記憶された前回の圧延時における前記学習項とに基づいて、指数平滑法により新たな前記学習項を算出し、前記算出された新たな学習項を前記学習項記憶部に記憶させることを特徴とする請求項5記載の制御方法。前記異常検出ステップは、前記第1のプロセス値の標準偏差を算出し、この標準偏差が所定の範囲を超えた場合又はゼロである場合に、前記第1の測定部に異常が発生したと判定することを特徴とする請求項5記載の制御方法。前記学習項算出ステップは、前記第1の測定ステップ及び第2の測定ステップにより、互いに前記被圧延材に対する位置関係が略同一の箇所において測定された第1のプロセス値及び第2のプロセス値の差に基づいて、前記第2のプロセス値を前記第1のプロセス値に近づけるように補正するための学習項を算出することを特徴とする請求項5~7のうちいずれか1項記載の制御方法。これまでは測定器はメンテナンスが必要なことから、圧延ライン上の同一箇所に複数台設置されることは、測定器自体が安価な場合を除いて、あまり行われて来なかった。しかし近年、複数の測定器が設けられ、これらの測定器を切り替えて用いることができる場合が出てきた。例えば、CCDカメラによりエッジを検出して板幅を測定する幅測定器や、X線ディテクタを板幅方向に多数配置してX線透過量からエッジ検出を行う幅測定器など複数の測定方式の幅測定器が設けられ、これらを切り替えて用いられる場合がある。しかしながら、幅測定器の測定方式の違いによって、測定された板幅値が異なる場合がある。また、ライン構成によっては、例えば仕上圧延機出側など同一又は近接する品質管理ポイントに同一の測定方式の幅測定器が複数配置される場合もある。例えば、常用系メインとして用いられる第1の幅測定器と、非常用系バックアップとして用いられる第2の幅測定器とを備え、第1の幅測定器が故障した場合に、第2の幅測定器に切り替えることにより幅測定を継続するものもある。しかしながら、同一の測定方式の測定器である第1の幅測定器と第2の幅測定器とが、被圧延材の同一の測定対象点を測定した場合においても、測定値が異なる場合がある。これは、測定点が若干ずれてしまい、結果的に測定点が異なること、及び測定器自体に個体差があること、などに起因すると考えられている。これらを機差と呼ぶ。この機差があると、第1の幅測定器が故障した場合に、第2の幅測定器に切り替えたとしても、測定値が異なることが考えられる。これにより、測定値が突然変化するので、熱間圧延装置の制御に影響を及ぼし、結果的に製品の品質が変動する。同様に、特許文献1に記載の板幅制御方法を用いても、幅測定器を切り替えて用いる場合、切り替えたときに測定値が突然変化するので、熱間圧延装置の制御に影響を及ぼし、結果として製品の品質が変動する。本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、一方の測定器から他方の測定器へ切り替えられた場合においても、測定値を突然変化させることなく熱間圧延装置の制御を適切に継続する制御装置及び制御方法を提供することにある。上記目的を達成するため、本発明に係る制御装置の第1の特徴は、被圧延材を圧延する圧延ラインにおけるプロセス値を第1のプロセス値として測定する第1の測定部と、前記圧延ラインにおける前記第1のプロセス値と同種のプロセス値を第2のプロセス値として測定する第2の測定部と、前記第1の測定部の異常を検出する異常検出部と、前記第1のプロセス値と、前記第2のプロセス値と、前記第1のプロセス値及び前記第2のプロセス値が測定された時点を示す測定時点情報と、前記異常検出部により異常が検出された時点を示す異常検出時点情報と関連付けて、プロセス情報として記憶するプロセス情報記憶部と、前記プロセス情報に基づいて、前記第2のプロセス値を前記第1のプロセス値に近づけるように補正するための学習項を算出する学習項算出部と、前記学習項算出部により算出された学習項を記憶する学習項記憶部と、前記プロセス情報に基づいて、前記第2のプロセス値を前記学習項記憶部により記憶された学習項で補正することにより補正プロセス値を生成する補正部と、前記プロセス情報に基づいて、前記異常検出部により異常が検出された時点以前における前記第1のプロセス値と、前記異常検出部により異常が検出された時点以降における前記補正プロセス値とを選択する選択部と、前記選択部により選択されたプロセス値及び補正プロセス値に基づいて、前記圧延ラインの制御を行う機器制御部とを備えたことにある。上記目的を達成するため、本発明に係る制御装置の第2の特徴は、前記学習項算出部は、前記プロセス値記憶部に記憶されたプロセス情報に基づいて、前記第1のプロセス値と前記第2のプロセス値との差を算出し、前記算出された差と前記学習項記憶部に記憶された前回の圧延時における前記学習項とに基づいて、指数平滑法により新たな前記学習項を算出し、前記算出された新たな学習項を前記学習項記憶部に記憶させることにある。上記目的を達成するため、本発明に係る制御装置の第3の特徴は、前記異常検出部は、前記第1のプロセス値の標準偏差を算出し、この標準偏差が所定の範囲を超えた場合又はゼロである場合に、前記第1の測定部に異常が発生したと判定することにある。上記目的を達成するため、本発明に係る制御装置の第4の特徴は、前記学習項算出部は、前記第1の測定部及び第2の測定部により、互いに前記被圧延材に対する位置関係が略同一の箇所において測定された第1のプロセス値及び第2のプロセス値の差に基づいて、前記第2のプロセス値を前記第1のプロセス値に近づけるように補正するための学習項を算出することにある。上記目的を達成するため、本発明に係る制御方法の第1の特徴は、被圧延材を圧延する圧延ラインにおけるプロセス値を第1のプロセス値として測定する第1の測定ステップと、前記圧延ラインにおける前記第1のプロセス値と同種のプロセス値を第2のプロセス値として測定する第2の測定ステップと、前記第1の測定ステップの異常を検出する異常検出ステップと、前記第1のプロセス値と、前記第2のプロセス値と、前記第1のプロセス値及び前記第2のプロセス値が測定された時点を示す測定時点情報と、前記異常検出ステップにより異常が検出された時点を示す異常検出時点情報と関連付けて、プロセス情報としてプロセス情報記憶部に記憶させるプロセス情報記憶ステップと、前記プロセス情報に基づいて、前記第2のプロセス値を前記第1のプロセス値に近づけるように補正するための学習項を算出する学習項算出ステップと、前記学習項算出ステップにより算出された学習項を学習項記憶部に記憶させる学習項記憶ステップと、前記プロセス情報に基づいて、前記第2のプロセス値を前記学習項記憶ステップにより記憶された学習項で補正することにより補正プロセス値を生成する補正ステップと、前記プロセス情報に基づいて、前記異常検出ステップにより異常が検出された時点以前における前記第1のプロセス値と、前記異常検出ステップにより異常が検出された時点以降における前記補正プロセス値とを選択する選択ステップと、前記選択ステップにより選択されたプロセス値及び補正プロセス値に基づいて、前記圧延ラインの制御を行う機器制御ステップと、を有することにある。上記目的を達成するため、本発明に係る制御方法の第2の特徴は、前記学習項算出ステップは、前記プロセス値記憶部に記憶されたプロセス情報に基づいて、前記第1のプロセス値と前記第2のプロセス値との差を算出し、前記算出された差と前記学習項記憶部に記憶された前回の圧延時における前記学習項とに基づいて、指数平滑法により新たな前記学習項を算出し、前記算出された新たな学習項を前記学習項記憶部に記憶させることにある。上記目的を達成するため、本発明に係る制御方法の第3の特徴は、前記異常検出ステップは、前記第1のプロセス値の標準偏差を算出し、この標準偏差が所定の範囲を超えた場合又はゼロである場合に、前記第1の測定部に異常が発生したと判定することにある。上記目的を達成するため、本発明に係る制御方法の第4の特徴は、前記学習項算出ステップは、前記第1の測定ステップ及び第2の測定ステップにより、互いに前記被圧延材に対する位置関係が略同一の箇所において測定された第1のプロセス値及び第2のプロセス値の差に基づいて、前記第2のプロセス値を前記第1のプロセス値に近づけるように補正するための学習項を算出することにある。本発明の制御装置及び制御方法によれば、一方の測定器から他方の測定器へ切り替えられた場合においても、測定値を突然変化させることなく熱間圧延装置の制御を適切に継続することができる。本発明に係る一実施形態に係る制御装置の構成について説明する。≪熱間圧延装置の構成≫図1は、本発明に係る一実施形態に係る制御装置により制御される熱間圧延装置の構成を示した構成図である。図1中の矢印は、熱間圧延装置熱間圧延ラインにおいて圧延される被圧延材200が搬送される搬送方向を示している。一般的に、被圧延材200は、熱間圧延装置において圧延される過程において、スラブ、バー、コイルとも呼ばれるが、ここでは、被圧延材200という呼称で統一するものとする。図1に示すように、熱間圧延装置100は、加熱炉101と、プライマリデスケーラ103と、粗エッジャ105と、粗圧延機107と、粗出側板幅計109と、粗出側温度計111と、仕上入側温度計113と、クロップシャー115と、セカンダリデスケーラ117と、仕上圧延機119と、仕上出側板厚計121と、マルチゲージ123と、仕上出側温度計125と、平坦度計127と、ランアウトラミナースプレー冷却部129と、コイラ入側温度計131と、コイラ入側板幅計133と、コイラ135とを備える。加熱炉101は、被圧延材200を加熱するための炉である。プライマリデスケーラ103は、加熱炉101の加熱により被圧延材200表面に形成された酸化膜を、被圧延材200の上下方向から高圧水を噴射することにより除去する。粗エッジャ105は、熱間圧延ライン上面方向から見て、被圧延材200の幅方向の圧延を行う。粗圧延機107は、単数又は複数スタンドを備え、被圧延材200の上下方向の圧延を行う。また、粗圧延機107は、温度低下防止等の観点から、ライン長を短くする必要があり、さらに複数パス搬送方向に対する往復運動による圧延が必要であることから、可逆式圧延機を含んで構成される場合が多い。また、粗圧延機107は、半製品である被圧延材200に高圧水を噴射し、表面の酸化膜を除去するためのデスケーラを備えている。圧延は、高温で行われるため、酸化膜が形成されやすく、このような酸化膜を除去するための装置を適宜用いる必要がある。粗出側板幅計109は、圧延中の半製品である被圧延材200の板幅を測定する。粗出側温度計111は、圧延中の半製品である被圧延材200の表面温度を測定する。仕上入側温度計113は、粗圧延機107と仕上圧延機119の間の距離が長いため、仕上圧延機119の入口における被圧延材200の表面温度を測定する。クロップシャー115は、被圧延材200の先尾端部を切断する。セカンダリデスケーラ117は、粗圧延機107と仕上圧延機119の間の距離が長いため、仕上圧延機119の入口に設けられ、仕上圧延後の被圧延材200の表面性状を良くするため、粗圧延された被圧延材200表面に形成される酸化膜を、被圧延材200の上下方向から高圧水を噴射することにより除去する。仕上圧延機119は、スタンドと呼ばれる圧延ロールが複数列設置されたタンデム式が採用されており、複数の圧延ロールで上下方向に圧延することにより、目標板厚の被圧延材200を得ることができる。この仕上圧延機119のスタンドおよびスタンド間には、酸化膜形成を抑制するため、及び温度制御を行うために、スプレーが備えられている。仕上出側板厚計121は、仕上圧延機119により圧延された被圧延材200の板厚を測定する。被圧延材200の板厚を目標範囲内に制御するために、この仕上出側板厚計121により測定された板厚の値をプロセス値として仕上圧延機119の圧下位置のフィードバック制御に用いられる。X線測定器の一種であるマルチゲージ123は、X線の検出器を被圧延材200の幅方向に並べた形態をしており、幅方向における板厚分布が測定できることから、板厚、クラウン、板幅など複数の種類のプロセス値を1台で測定できる複合型測定器である。仕上出側温度計125は、仕上圧延機119による圧延後の被圧延材200の表面温度を測定する。被圧延材200の温度は、製品の金属組織の形成や材質と密接に関連しており、適切な温度に管理される必要がある。平坦度計127は、仕上圧延機119による圧延後の被圧延材200の平坦度を測定する。また、平坦度計127は、複数のCCDカメラを備えており、被圧延材200の板幅を測定することも可能である。平坦度計127はマルチゲージ123より測定精度が高いので、仕上圧延機119出側の板幅値としては、平坦度計127により測定された板幅値が用いられる場合が多い。ランアウトラミナースプレー冷却部129は、被圧延材200の温度を制御するために、冷却水により被圧延材200を冷却する装置である。これらには、通常のランナウトテーブル冷却装置に加えて、前後に強制冷却装置が備えられることもある。コイラ入側温度計131は、ランアウトラミナースプレー冷却部129により冷却された被圧延材200の表面温度を測定する。被圧延材200の温度は、圧延製品の金属組織の形成や材質と密接に関連しており、適切な温度に管理される必要がある。コイラ入側板幅計133は、ランアウトラミナースプレー冷却部129により冷却された被圧延材200の板幅を測定する。通常の圧延では、オーステナイト域まで加熱された被圧延材200は、ランアウトラミナースプレー冷却部129においてフェライトやパーライトなどの組織に変態するため変態後の板幅を測定する。また、仕上圧延機119出側で約860°C前後、コイラ135入側で約600°C前後であることから、より室温に近い状態で測定することにより、線膨張による室温との誤差がより少ない状態で板幅を測定することができる。コイラ135は、被圧延材200を搬送するために巻き取る。≪制御装置1の機能構成≫図2は、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1の機能構成を示した構成図である。なお、図2では、マルチゲージ123を第1の測定部とし、平坦度計127を第2の測定部とした場合を例に挙げて説明する。図2に示すように、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1は、プロセス情報記憶部2と、学習項記憶部3と、制御部4と、実績補正プロセス情報記憶部5とを備えており、上述したマルチゲージ123により測定された板幅値が供給されると共に、平坦度計127により測定された板幅値が供給される。プロセス情報記憶部2は、マルチゲージ123により測定された第1のプロセス値である板幅値と、平坦度計127により測定された第2プロセス値である板幅値と、これらの板幅値を測定した時点を示す測定時点情報と、後述する異常検出部12により異常が検出された時点を示す異常検出時点情報と関連付けて、プロセス情報として記憶する。図3は、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1が備えるプロセス情報記憶部2に記憶されたプロセス情報の一例を示した図である。図3に示すように、測定時刻t符号201毎に、マルチゲージ123により測定された第1のプロセス値である板幅値符号202と、平坦度計127により測定された第2のプロセス値である板幅値符号203と、後述する異常検出部12により異常が検出されたか否かを示すエラーコード異常検出時点情報符号204とが関連付けられて、プロセス情報として記憶されている。ここでは、エラーコード異常検出時点情報が1の場合、異常検出部12により異常が検出されたことを示し、0の場合、異常検出部12により異常が検出されていないことを示している。学習項記憶部3は、後述する学習項算出部13により算出された学習項を記憶する。図4は、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1が備える学習項記憶部3に記憶された学習項の一例を示した図である。図4に示すように、学習項記憶部3には、鋼種A~鋼種C毎に、学習項テーブル300~500が記憶されている。学習項テーブル300~500は、それぞれ、目標板幅X1Xm、及び目標板厚Y1Ynに対応する学習項Zが記憶されている。例えば、鋼種Aの学習項テーブル300では、目標板幅Xm及び目標板厚Y1に対応する学習項として、学習項ZAm1が記憶されている。実績補正プロセス情報記憶部5は、プロセス情報に、異常検出部12により異常が検出されたことを示すエラーコードが含まれていない場合、マルチゲージ123により測定された板幅値を実績補正プロセス情報として記憶し、異常検出部12により異常が検出されたことを示すエラーコードが含まれている場合、異常検出部12により異常が検出された時点以前におけるマルチゲージ123により測定された板幅値と、異常検出部12により異常が検出された時点以降における後述する補正部14により生成された補正板幅値とを選択し、実績補正プロセス情報として記憶する。制御部4は、制御装置1の中枢的な制御を行う。また、制御部4は、プロセス情報記憶制御部11と、異常検出部12と、学習項算出部13と、補正部14と、選択部15と、機器制御部16とを備える。プロセス情報記憶制御部11は、第1のプロセス値と、第2のプロセス値と、第1のプロセス値及び第2のプロセス値が測定された時点を示す測定時点情報と、異常検出部12により異常が検出された時点を示す異常検出時点情報と関連付けて、プロセス情報としてプロセス情報記憶部2に記憶させる。異常検出部12は、マルチゲージ123第1の測定部の異常を検出する。具体的には、異常検出部12は、被圧延材200の1本分の定時間または定長プロセス値の標準偏差を算出し、この標準偏差がある値よりも大きい、又はゼロである場合、マルチゲージ123第1の測定部に異常が発生したと判定する。学習項算出部13は、プロセス情報に基づいて、第2のプロセス値を第1のプロセス値に近づけるように補正するための学習項を算出する。補正部14は、プロセス情報に基づいて、第2のプロセス値を学習項記憶部3により記憶された学習項Zで補正することにより補正板幅値補正プロセス値を生成する。選択部15は、プロセス情報に基づいて、異常検出部12により異常が検出されたことを示すエラーコードが含まれていない場合、マルチゲージ123により測定された板幅値を選択し、異常検出部12により異常が検出されたことを示すエラーコードが含まれている場合、異常検出部12により異常が検出された時点以前における第1のプロセス値と、異常検出部12により異常が検出された時点以降における後述する補正部14により生成された補正板幅値補正プロセス値とを選択する。機器制御部16は、外部から供給された目標板幅、目標板厚、鋼種等の設定条件、選択部15により選択されたプロセス値及び補正プロセス値に基づいて、圧延ラインの制御を行う。具体的には、加熱炉101と、プライマリデスケーラ103と、粗エッジャ105と、粗圧延機107と、クロップシャー115と、セカンダリデスケーラ117と、仕上圧延機119と、ランアウトラミナースプレー冷却部129と、コイラ135とを制御する。また、機器制御部16は、次に圧延する被圧延材200の設定を高精度にするための設定計算、例えば板幅であれば被圧延材200の圧延後の板幅と板幅目標値との幅偏差量を少なくするため、被圧延材200毎に板幅実績値と板幅目標値とを比較することにより、設定計算学習機能である板幅学習を実施する。この設定計算学習機能では通常、圧延後にモデル計算による計算値と、実測値とを比較して、モデル計算誤差の吸収を行う。この設定計算学習機能については、板圧延の理論と実際社団法人日本鉄鋼協会:1984のp291に記載されている。また、機器制御部16は、異常検出部12により異常が検出された場合、第1のプロセス値である板幅値の代わりに、平坦度計127により測定された第2プロセス値である板幅値を用いて、フィードバック制御を行うようにしてもよい。≪制御装置1の作用≫図5は、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1の処理手順を示したフローチャートである。なお、図5では、マルチゲージ123を第1の測定部とし、平坦度計127を第2の測定部とした場合を例に挙げて説明する。図5に示すように、制御部4の学習項算出部13は、被圧延材200の圧延が完了したか否かを判定するステップS101。具体的には、機器制御部16が、1本分の被圧延材200が、熱間圧延装置100に備えられた加熱炉101から順次供給され、コイラ135により巻き取られると、被圧延材200の圧延が完了したと判定する。ステップS101において、被圧延材200の圧延が完了したと判定された場合YESの場合、学習項算出部13は、プロセス情報記憶部2に記憶されたプロセス情報を読み出すステップS103。次に、学習項算出部13は、測定値の差を算出するステップS105。具体的には、学習項算出部13は、ステップS103において読み出されたプロセス情報に基づいて、任意の時点におけるマルチゲージ123により測定された板幅値B1第1のプロセス値と平坦度計127により測定された板幅値B2第2のプロセス値とを算出し、下記の式1を用いて差δを算出する。次に、学習項算出部13は、学習項Zを算出するステップS107。具体的には、学習項算出部13は、ステップS101において圧延が完了した被圧延材200の鋼種、目標板厚X、及び目標板厚Yに対応する学習項を、前回の圧延時に算出された学習項Zn-1として学習項記憶部3から抽出する。そして、学習項算出部13は、ステップS105において算出された差δと、下記の式2とを用いて、指数平滑法により前回の圧延時に算出された学習項Zを平滑化することにより新たな学習項Znを算出する。なお、式2では、Zn-1を前回の圧延時に算出された学習項とし、Znを今回の圧延時に算出する学習項として表記している。ここで、βは、学習ゲインであり0~1.0の範囲である。この学習ゲインβは、1.0に近いほど学習速度が速くなるが異常値の影響を受けやすくなり、通常は0.3~0.4程度にすることが多い。そして、学習項算出部13は、算出された学習項Zを学習項記憶部3に記憶するステップS109。具体的には、学習項算出部13は、学習項記憶部3に記憶された学習項テーブルにおいて、ステップS101において圧延が完了した被圧延材200の鋼種、目標板厚X、及び目標板厚Yに対応する学習項Zn-1を、ステップS107において算出された学習項Znで上書きする。次に、制御部4の補正部14は、補正プロセス値を生成するステップS111。具体的には、補正部14は、プロセス情報記憶部2に記憶されたプロセス情報に基づいて、下記の式3を用いて、平坦度計127により測定された板幅値B2を学習項記憶部3により記憶された学習項Zで補正することにより補正プロセス値である補正板幅値B2COMPを生成する。次に、制御部4の選択部15は、ステップS101において圧延完了した被圧延材200の圧延中に、マルチゲージ123第1の測定部に異常があったか否かを判定するステップS113具体的には、選択部15は、プロセス情報記憶部2に記憶された、ステップS101において圧延完了した被圧延材200に対応するプロセス情報に含まれるエラーコード異常検出時点情報に1を示しているデータが存在する場合、マルチゲージ123に異常があったと判定する。ステップS113において、マルチゲージ123に異常がなかったと判定された場合NOの場合、選択部15は、マルチゲージ123第1の測定部により測定された板幅値を選択する。具体的には、選択部15は、プロセス情報記憶部2に記憶された、ステップS101において圧延完了した被圧延材200に対応するプロセス情報の中から、マルチゲージ123により測定された板幅値を選択するステップS115。一方、ステップS113において、マルチゲージ123第1の測定部に異常があったと判定された場合YESの場合、選択部15は、異常が検出された時点以前におけるマルチゲージ123により測定された板幅値と、異常が検出された時点以降における補正部14により生成された補正板幅値とを選択するステップS117。例えば、図3の例において、時刻t201が、00:10:10の時点において、エラーコード204の値が0から1になったとすると、選択部15は、時刻t201が、00:10:00の時点までのマルチゲージ123により測定された板幅値202を選択すると共に、時刻t201が、00:10:10の時点以降における補正部14により生成された補正板幅値とを選択する。次に、選択部15は、ステップS115において選択されたマルチゲージ123により測定された板幅値、又はステップS117において選択された異常が検出された時点以前におけるマルチゲージ123により測定された板幅値及び異常が検出された時点以降における補正部14により生成された補正板幅値を、実績補正プロセス情報として実績補正プロセス情報記憶部5に記憶するステップS119。図6は、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1において、プロセス情報記憶部2に記憶されたプロセス情報と、実績補正プロセス情報記憶部5に記憶された実績補正プロセス情報とを説明した図である。図6に示す601は、マルチゲージ123により測定された板幅値を示しており、602は、平坦度計127により測定された板幅値を示しており、603は、補正部14により生成された補正板幅値を示している。図6に示すように、任意の時点であるt1時点におけるマルチゲージ123及び平坦度計127それぞれ測定された板幅値の差に基づいて、平坦度計127により測定された板幅値を補正するための学習項Zが算出される。そして、t2時点において、マルチゲージ123により測定された板幅値が一定値となっているので、標準偏差がゼロであると判定し、t2時点以降マルチゲージ123に異常があったと判定される。そのため、制御部4の選択部15は、異常検出部12により異常が検出されたt2時点以前におけるマルチゲージ123により測定された板幅値601と、異常検出部12により異常が検出されたt2時点以降における補正部14により生成された補正板幅値603とを選択し、実績補正プロセス情報として実績補正プロセス情報記憶部5に記憶させる。これにより、マルチゲージ123に異常が発生した場合においても、測定値を突然変化させることなく記憶することができる。以上のように、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1によれば、被圧延材200を圧延する圧延ライン熱間圧延装置における板幅値プロセス値を第1のプロセス値として測定するマルチゲージ123第1の測定部と、圧延ライン熱間圧延装置における第1のプロセス値と同種のプロセス値である板幅値を第2のプロセス値として測定する平坦度計127第2の測定部と、マルチゲージ123第1の測定部の異常を検出する異常検出部12と、第1のプロセス値と、第2のプロセス値と、第1のプロセス値及び第2のプロセス値が測定された時点を示す測定時点情報と、異常検出部12により異常が検出された時点を示す異常検出時点情報と関連付けて、プロセス情報として記憶するプロセス情報記憶部2と、プロセス情報に基づいて、第2のプロセス値を第1のプロセス値に近づけるように補正するための学習項を算出する学習項算出部13と、学習項算出部13により算出された学習項Zを記憶する学習項記憶部3と、プロセス情報に基づいて、第2のプロセス値を学習項記憶部3により記憶された学習項Zで補正することにより補正板幅値補正プロセス値を生成する補正部14と、プロセス情報に基づいて、異常検出部12により異常が検出された時点以前における第1のプロセス値と、異常検出部12により異常が検出された時点以降における補正板幅値補正プロセス値とを選択する選択部15と、選択部15により選択されたプロセス値及び補正プロセス値に基づいて、圧延ラインの制御を行う機器制御部16とを備えるので、マルチゲージ123第1の測定部に異常が発生した場合においても、測定値を突然変化させることなく熱間圧延装置100の制御を適切に継続するなお、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1では、指数平滑法により新たな学習項Zを算出したが、これに限らない。例えば、目標板厚、目標板幅、合金種などを層別キーとする層別学習法や,同種類の測定値と差δを教示データとするニューラルネットによる学習法を用いることができる。また、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1では、マルチゲージ123を第1の測定部とし、平坦度計127を第2の測定部としたがこれに限らない。例えば、平坦度計127を第1の測定部とし、マルチゲージ123を第2の測定部としてもよいし、平坦度計127を第1の測定部とし、コイラ入側板幅計133を第2の測定部としてもよい。さらに、測定するプロセス値は板幅には限らず、粗出側温度計111、仕上入側温度計113、仕上出側温度計125、又はコイラ入側温度計131により測定された温度をプロセス値としてもよいし、仕上出側板厚計121により測定された板厚値をプロセス値としてもよい。即ち、第1の測定部と第2の測定部とは、熱間圧延装置100圧延ライン上に設けられ、同種のプロセス値を測定する測定器であればよい。また、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1では、任意の時点におけるマルチゲージ123及び平坦度計127それぞれ測定された板幅値の差を算出したが、これに限らない。例えば、マルチゲージ123により測定された板幅値の平均と平坦度計127により測定された板幅値の平均との差を算出するようにしてもよい。さらに、2つの温度計を備え、被圧延材200に対する位置関係が略同一の箇所における2つの温度計それぞれ測定された温度の差を算出するようにしてもよい。図7は、2つの温度計が備えられた熱間圧延装置を模式的に示した図である。図7に示すように、第1の仕上出側温度計140と第2の仕上出側温度計141とが備えられている。そして、学習項算出部17は、第1の仕上出側温度計140及び第2の仕上出側温度計141により被圧延材200に対する位置関係が略同一の箇所において測定したそれぞれの温度に基づいて、差を算出する。例えば、学習項算出部17は、圧延材200の搬送速度に基づいて、被圧延材200の先端から被圧延材200上の所定距離Sだけ離れた地点における温度に基づいて差を算出する。そして、学習項算出部13は、算出された差に基づいて、第2の仕上出側温度計141により測定された温度を補正するための学習項Zを算出するようにしてもよい。また、本発明に係る一実施形態に係る制御装置1では、マルチゲージ123及び平坦度計127それぞれ測定された板幅値の差を算出したが、これに限らず、比を算出するようにしてもよい。具体的には、学習項算出部13は、マルチゲージ123により測定された板幅値B1と平坦度計127により測定された板幅値B2とに基づいて、下記の式4を用いて比φを算出する。そして、学習項算出部13は、比φを算出した場合、学習項算出部13は、算出された比φを、下記の式5を用いて、指数平滑法により前回の圧延時に算出された学習項Zを平滑化することにより新たな学習項Znを算出する。なお、式5では、Zn-1を前回の圧延時に算出された学習項とし、Znを今回の圧延時に算出する学習項として表記している。さらに、制御部4の補正部14は、プロセス情報記憶部2に記憶されたプロセス情報に基づいて、下記の式6を用いて、平坦度計127により測定された板幅値B2を学習項記憶部3により記憶された学習項Zで補正することにより補正プロセス値である補正板幅値B2COMPを生成する。"