"サンプルを画像化する方法であって、単一取得イベント中に、第1の点のための第1の深さ符号化電磁EM場および第2の点のための第2の深さ符号化EM場を備えるサンプル上の複数の点から、複数の深さ符号化EM場を受けるステップと、前記単一取得イベント中に、第1の所定の方向に沿った前記第1の深さ符号化EM場の方向を、分散再結像部上の第1の位置の方向に変更するとともに、第2の所定の方向に沿った前記第2の深さ符号化EM場の方向を、前記分散再結像部上の第2の位置の方向に変更するステップとを備え、前記方法は、第1のスペクトルを取得するために、前記第1の深さ符号化EM場をスペクトル的に分散するステップと、前記第1のスペクトルを検出器上の第1の位置に再結像するステップと、第2のスペクトルを取得するために、前記第2の深さ符号化EM場をスペクトル的に分散するステップと、前記第2のスペクトルを前記検出器上の第2の位置に再結像するステップと、前記第1の再結像スペクトルおよび前記第2の再結像スペクトルを検出するステップとをさらに備える、方法。前記第1の深さ符号化EM場は、前記第1の点について前記サンプル内でz方向に沿って広がる複数のEM場を備える、請求項1に記載の方法。システムであって、単一取得イベント中に、第1の点のための第1の深さ符号化電磁EM場および第2の点のための第2の深さ符号化EM場を備えるサンプル上の複数の点から、複数の深さ符号化EM場を受けて、第1の所定の方向に沿った前記第1の深さ符号化EM場の方向を、分散再結像部上の第1の位置の方向に変更するとともに、第2の所定の方向に沿った前記第2の深さ符号化EM場の方向を、前記分散再結像部上の第2の位置の方向に変更するように構成されたイメージマッピング部と、第1のスペクトルを取得するために、前記第1の深さ符号化EM場をスペクトル的に分散して、前記第1のスペクトルを検出器上の第1の位置に再結像するとともに、第2のスペクトルを取得するために、前記第2の深さ符号化EM場をスペクトル的に分散して、前記第2のスペクトルを前記検出器上の第2の位置に再結像するように構成された分散再結像部と、前記第1の再結像スペクトルおよび前記第2の再結像スペクトルを検出するように構成された検出器とを備える、システム。前記複数の深さ符号化EM場を発生させるととともに、前記複数の深さ符号化EM場を前記イメージマッピング部に供給するスペクトルドメイン光干渉断層spectraldomainopticalcoherencetomographySD-OCTシステムをさらに備える、請求項3に記載のシステム。前記SD-OCTと前記イメージマッピング部との間に設けられて、前記SD-OCTからの前記複数の深さ符号化EM場を受けるように構成された視野レンズをさらに備える、請求項4に記載のシステム。前記第1の深さ符号化EM場は、前記第1の点について前記サンプル内でz方向に沿って広がる複数のEM場を備える、請求項3に記載のシステム。前記イメージマッピング部は、屈折特性を有する、請求項3に記載のシステム。前記分散再結像部は、前記イメージ再マッピング部からの前記複数の深さ符号化EM場を受けるように構成されるとともに、前記複数の深さ符号化EM場の各々を、取得された複数のシフト後の深さ符号化EM場にシフトするように構成された視野補正部アレイを備える、請求項7に記載のシステム。前記分散再結像部は、前記複数のシフト後の深さ符号化EM場を受けるように構成されるとともに、前記第1のスペクトルおよび前記第2のスペクトルを備える前記複数のスペクトルの各々をスペクトル的に分散するように構成された分散要素アレイをさらに備える、請求項8に記載のシステム。前記分散再結像部は、前記複数のスペクトルに対して、前記検出器上に前記複数のスペクトルを再結像するように構成された再結像レンズアレイをさらに備える、請求項9に記載のシステム。前記検出器は、EM照射検出器の2次元2Dアレイを備える、請求項3に記載のシステム。前記検出器は、電荷結合素子である、請求項11に記載のシステム。概要一般に、ある態様において、本発明はサンプルを画像化するための方法に関する。この方法は、単一取得イベント中に、第1の点のための第1の深さ符号化depthencodedEM場および第2の点のための第2の深さ符号化EM場を含むサンプル上の複数の点から、複数の深さ符号化電磁EM場を受けるステップと、第1の所定の方向に沿った第1の深さ符号化電磁場の方向を分散再結像部上の第1の位置の方向に変更するとともに、第2の所定の方向に沿った第2の深さ符号化電磁場の方向を分散再結像部上の第2の位置の方向に変更するステップとを含む。この方法は、第1のスペクトルを取得するために、第1の深さ符号化電磁場をスペクトル的に分散するステップと、第1のスペクトルを検出器上の第1の位置に再結像するステップと、第2のスペクトルを取得するために、第2の深さ符号化EM場をスペクトル的に分散するステップと、第2のスペクトルを検出器上の第2の位置に再結像するステップと、第1の再結像スペクトルおよび第2の再結像スペクトルを検出するステップとをさらに含む。一般に、ある態様において、本発明は、イメージマッピング部と、分散再結像部と、検出部とを含むシステムに関する。イメージマッピング部は、単一取得イベント中に、第1の点のための第1の深さ符号化EM場および第2の点のための深さ符号化EM場を備えるサンプル上の複数の点から、複数の深さ符号化電磁EM場を受けるように構成される。イメージマッピング部は、第1の所定の方向に沿った第1の深さ符号化EM場の方向を分散再結像部上の第1の位置の方向に変更するとともに、第2の所定の方向に沿った第2の深さ符号化EM場の方向を分散再結像部上の第2の位置の方向に変更するように構成される。分散再結像部は、第1のスペクトルを取得するために、第1の深さ符号化EM場をスペクトル的に分散して、第1のスペクトルを検出装置上の第1の位置に再結像するとともに、第2のスペクトルを取得するために、第2の深さ符号化EM場をスペクトル的に分散して、第2のスペクトルを検出装置上の第2の位置に再結像するように構成される。検出部は、第1の再結像スペクトルおよび第2の再結像スペクトルを検出するように構成される。本発明の他の態様は、以下の説明および添付の特許請求の範囲から明らかになるであろう。詳細な説明本発明の特定の実施の形態は、添付図面を参照してこれから詳細に説明されるであろう。整合性のために、異なる図中の同様の構成要素には同様の参照符号が付されている。また、図面中の図Figの使用は、明細書中の図Figureの用語の使用と同等である。以下の本発明の実施の形態の詳細な説明において、本発明のより深い理解を与えるために多数の具体的詳細が説明される。しかしながら、当業者にとってこれら具体的詳細がなくとも本発明が実現可能であることは明らかであろう。他の例では、説明が不必要に複雑化するのを避けるために、周知の特徴は詳細には説明されていない。一般に、本発明の実施の形態はイメージマップimagemapped光断層干渉法に関する。より特定的には、本発明の実施の形態は、イメージマッピング分光器を用いるスペクトルドメイン光断層干渉法spectraldomainopticalcoherencetomographySD-OCTに関する。本発明の1以上の実施の形態は、単一のスナップショットまたは単一取得イベントでサンプルの3次元画像を生成するためのシステムおよび方法に関する。本発明では、サンプルは、画像化され得る任意の生体もしくは非生体材料、物体または試料である。本発明のある実施の形態において、サンプルは多数のサンプル点を含む。サンプル点は、サンプル内の特定のx,y,z位置に存在し得る。サンプル点は、後方散乱電磁EM照射のための点源としての役割をさらに果たし得る。本発明のある実施の形態において、単一取得イベントは、照射されているサンプルのxy平面内の表面上の複数の点から広がる多数のEM場を検出部が同時に検出したときに起こり得る。複数の点の各々から広がるEM場は、xy平面内のx,y位置にある点について、z方向に沿ったさまざまな位置から広がるEM場に対応し得る。本発明のある実施の形態において、広がるemanatingとは、サンプル上のある位置から反射、散乱、後方散乱あるいは放射されるEM波について用いられる。本発明のある実施の形態において、取得イベントの開始および終わりは、検出器がEM照射の検出を開始したとき、およびEM照射の検出を終えたときにそれぞれ対応する。以下の詳細な説明において、電磁照射EMradiation、電磁波EMwaveおよび電磁場EMfieldは同義語と見なされ、交換可能に用いられ得る。広帯域電磁場は、多くの異なる波長または周波数を含むEM場として定義され得る。この技術は可視光のEMスペクトル外でも使用可能であるため、本発明のスペクトルドメインを単に光の波長または周波数に限定するために光干渉断層法との用語を用いてはならないことが理解されるであろう。本発明のある実施の形態において、深さ符号化EM場はサンプル点から発生し得る。サンプル点では、サンプル点におけるEM場の伝播方向に沿ったサンプルの深さプロファイルに関する情報が、EM場の広帯域スペクトル内で符号化される。図1は、本発明の1以上の実施の形態に従うシステムを示す図である。このシステムは、深さ符号化広帯域EM場104を出力し得るSD-OCT干渉計102を含む。深さ符号化広帯域EM場104は、その周波数スペクトルの深さ情報内で、画像化されるサンプルに関して符号化される。イメージマッピング分光器106は、深さ符号化広帯域EM場104を受けるように構成される。イメージマッピング分光器106は、深さ符号化広帯域EM場104を生画像データキューブ108に変換するように構成される。生画像データキューブ108は、3次元データセットx,y,Dx,y,λの形式であってもよい。Dx,y,λは、サンプルの画像化に用いられる光学システムの視野内に位置する各サンプル点x,yにおいて取得されるスペクトル干渉縞interferogramの値である。コンピュータシステム110は、生画像データキューブ108を含むデータを受けるように構成される。本発明のある実施の形態において、コンピュータ110は、プロセッサと、メモリと、1以上の出力装置たとえばディスプレイ、プリンタなどと、1以上の入力装置たとえばキーボード、マウスなどと、メモリ内に格納されたソフトウェアとを含む。ソフトウェアは、プロセッサによって実行されたとき、生画像データキューブ108を処理するように構成される。コンピュータシステム110は、複数のスペクトル干渉縞Dx,y,λを処理するとともに、サンプルの深さz方向に沿った後方散乱強度を抽出するようにさらに構成され得る。したがって、コンピュータシステム110は、3次元データセットを、その後ディプレイに出力され得るサンプルの3次元画像に変換してもよい。当業者は、SD-OCTの周知の方法に従ってスペクトル情報を深さ情報に変換するために、いくつかの異なる方法が用いられ得ることを理解するであろう。たとえば、スペクトル干渉縞Dx,y,λの各々におけるデータは、数値的にDx,y,kに再マッピングされて、その後フーリエ変換されてもよい。また、データ処理は、標準イメージマッピング分光器による再マッピングおよび/または撮像センサの画素から波数kへの直接マッピングを含み得る。またこの処理は、システム内の分散を補償するための標準技術を実装してもよい。さらに、当業者は、イメージマッピング分光器106に統合され得るハードウェアによってデータ処理が実行されてもよいことを理解するであろう。また、ユーザフィードバック112は、イメージマッピング分光器106およびSD-OCT干渉計102のうちのいずれか一方または双方へのさまざまな動作を実行するために、コンピュータシステム110によって受けられてもよい。たとえばサンプルは、ユーザに対象領域regionofinterestROIの観察を可能にするために移動され得る。あるいはユーザは、サンプルの対象領域のズームインまたはズームアウトを望むことがある。ズームは、空間的および/またはスペクトル的に実行され得る。図2は、本発明の1以上の実施の形態に従う、深さ符号化広帯域EM場を発生させるように構成されたSD-OCT干渉計の概略図である。SD-OCT干渉計202は、入力アーム234と、参照アーム214と、サンプルアーム216と、出力アーム236とを含み得る。入力アーム234は、光源ビーム206を出力するように構成された広帯域EM照射の光源204を含む。本発明のある実施の形態に従うと、光源204は、超発光ダイオードsuperluminescentdiodeSLDまたは、たとえば増幅自発放射amplifiedspontaneousemissionASEファイバ光源、超蛍光光源、フォトニック結晶ファイバ光源、熱源などこの分野で周知の任意の他の適切な広帯域光源であってもよい。光源ビーム206は、必要に応じて出力コリメータ226で平行にされ得る。ビームスプリッタ208は、光源ビーム206を2つのビームに分割するように構成される。2つのビームとは、参照アーム214を通って伝播する参照ビーム210およびサンプルアーム216を通って伝播するサンプルビーム212aである。参照アーム214は、参照対物レンズ224およびミラー230をさらに含む。参照ビーム210は、参照対物レンズ224を通過し、ミラー230で反射して、入射する参照ビーム210と実質的に重なり合う光路に沿って参照対物レンズ224を通って伝播して戻るように構成される。サンプルアーム216は、サンプル対物レンズ222およびサンプル218をさらに含む。また、ある例示的実施の形態において、サンプルアームは、たとえば体内のある箇所などの離れたサンプル位置に、または離れたサンプル位置から光を伝播するために、コヒーレント光ファイバ束図示せずを含み得る。サンプル対物レンズ222は、サンプル218の空間的広がり部分を照射するように構成され得る。ある例示的実施の形態において、サンプル218におけるサンプルビーム212aは、サンプル対物レンズ222の視野228全体を含む体積を照射し得る。サンプルビーム212aの後方散乱部分212b明瞭化のためにサンプルアーム216内でサンプルビーム212aとは区別して示されているは、サンプルビーム212aと実質的に重なり合う光路に沿ってサンプル対物レンズ222を通って伝播して戻るように構成される。ビームスプリッタ208は、参照ビーム210と、サンプルビーム212aの後方散乱部分212bとを再結合するようにさらに構成される。その結果として、深さ符号化広帯域EM場104を生成するために、参照ビーム210が後方散乱部分212bと干渉する。深さ符号化広帯域EM場104は、深さ符号化広帯域EM場104の空間的広がりの全域で符号化された、サンプルのx,y反射率に関する2次元空間情報を含む。深さ符号化広帯域EM場104は、周波数スペクトル内で符号化された1次元空間情報または深さ情報をさらに含む。空間情報または深さ情報は、サンプルビーム212aによって照射される各x,y点についてサンプルの深さ方向zに沿った反射率に関する。当業者は、本発明の範囲から逸脱することなく、あらゆる周知の干渉計の配置を用いてもよいことを理解するであろう。たとえば、リニックまたは広視野リニック干渉計の構成を用いてもよい。あるいは、単一のミロー対物レンズを採用する共通光路干渉計を用いてもよい。さらに、ある例示的実施の形態において、参照対物レンズ224はサンプル対物レンズ222と設計上同一であってもよい。図3は、本発明の1以上の実施の形態に従うイメージマッピング分光器の概略図である。イメージマッピング分光器300は、集束レンズ304と、イメージマッピング部306と、分散再結像部308と、検出器アレイ310とを含む。イメージマッピング分光器300は、SD-OCT干渉計202から発生する深さ符号化広帯域EM場104を受けて、マッピングし、スペクトル的に分散して、かつ深さ符号化広帯域EM場104を検出器310に再結像するように構成される。集束レンズ304は、深さ符号化広帯域EM場104をイメージマッピング部306に集束するように構成される。したがって、イメージマッピング部306にはサンプル218の像イメージ312が形成される。イメージマッピング部306は、像312の複数の部分の方向を、分散再結像部308の前面420上の複数の位置の方向に変更つまりマッピングするように構成される。明瞭化のために、図3では単一の光線で表される3つのマップイメージ部分314,316,318のみが示されている。分散再結像部308は、マップイメージ部分314,316,318を集光およびスペクトル的に分散するように構成されている。これにより、スペクトル320,322,324が生成される。明瞭化のために、図3は、イメージ部分314,316,318の各々が2つの異なる波長のみを含む場合に生じるであろうスペクトル分散を示す。また、分散再結像部308は、スペクトル320,322,324を検出器310上に再結像するように構成される。検出器310は、たとえば電荷結合素子chargecoupleddeviceCCDチップまたはCCDチップアレイの形式でEM照射検出器の2次元アレイを含み得る。図4Aは、本発明の1以上の実施の形態に従うイメージマッピング部の概略図である。イメージマッピング部306は、8つの細長い反射表面1~8を含む。反射表面1~8の各々の方向は、y軸およびx軸についてのそれぞれの回転角θy,θxに従って合わせられる。したがって、反射表面1~8の各々は、図3に示すように、像312の一部分の方向を分散再結像部308の前面420上の位置の方向に変更つまりマッピングしてもよい。図4Aに示すイメージマッピング部306は、2つの繰返しグループ401に配置された8つの反射表面のために、4つの異なる角度を含む。図4Bは、本発明の1以上の実施の形態に従う分散再結像部308の前面420の概略図である。前面420は、4つの領域402,404,406,408に分割され得る。各領域は、4つの異なる角度のうちの1つを有する反射表面から生じる像312の一部分1’~8’を受ける。領域402は、各々が同一の傾きθy1,θx1を有する反射表面1,5からそれぞれ生じるイメージ部分1’,5’に対応する。領域404は、各々が同一の傾きθy2,θx1を有する反射表面4,8からそれぞれ生じるイメージ部分4’,8’に対応する。領域406は、各々が同一の傾きθy1,θx2を有する反射表面2,6からそれぞれ生じるイメージ部分2’,6’に対応する。領域408は、各々が同一の傾きθy2,θx2を有する反射表面3,7からそれぞれ生じるイメージ部分3’,7’に対応する。当業者は、イメージマッピング部306が任意の角度または任意のサイズの反射表面を任意の数だけ有するように製造されてもよいこと、およびイメージマッピング部306が角度に従ってグループ化または非グループ化されてもよいことを理解するであろう。一般に、M個の角度xおよびN個の角度yの例は、分散再結像部308の前面420上のM×N個の別個の領域にマッピングされるM×N個の別個のイメージマッピング部表面を生じる。しかしながら、L個の繰返しグループにグループ化されるM個の角度xおよびN個の角度yを用いることによって、分散再結像部308の前面420上のM×N個の別個の領域にのみマッピングされるM×N×L個の別個のイメージマッピング部表面を有するシステムが可能になる。たとえば、図4Aおよび図4Bに示す実施の形態に従うと、M=2、N=2、L=2である。したがって、イメージマッピングのために8つの別個のイメージマッピング部表面が使用可能であるが、検出器上への再結像のためには、分散再結像部308の前面420上の4つの別個の領域各々が像312の1対のマップ部分を受けるのみが必要である。これにより、角度によるグループ化を用いないイメージマッピング部と比較したときに、より小型で単純な再結像光学系およびより小型で単純な検出器がもたらされ得る。当業者は、開示の範囲を逸脱することなく、イメージマッピング部が反射光学要素ではなく屈折光学要素または回折光学要素であってもよいことを理解するであろう。また、EM照射のビーム経路に適切な角度の偏向を生じさせ得る、この分野で周知のすべての光学要素を用いることができる。たとえば、プリズムが偏向を生じさせるために用いられ得る。あるいは、光ファイバまたは任意の他の適切な導波管が、像の方向を分散再結像部の方向に変更するために用いられ得る。また、イメージマッピング部は、たとえば光学ズームのような動的操作を可能にするための動的構成要素を含み得る。たとえば、動的微小電気機械システムmicroelectromechanicalsystemMEMSのミラーアレイが、上記に開示された静的ミラー表面に代えて用いられ得る。さらに、液晶変調器または微小流体ベースの屈折液体変調器が採用され得る。また、当業者は、望遠鏡telescopeまたはビームエクスパンダ図示せずがイメージマッピング分光器106に任意選択的に挿入され得ることを認めるであろう。望遠鏡またはビームエクスパンダは、像点広がり関数のサイズ回折限界のスポットサイズを、イメージマッピング部306の単一反射表面1~8の幅と一致させることによって像分解能を維持するために、たとえば集束レンズ304の前に挿入され得る。本発明の他の実施の形態において、ビームエクスパンダは、像空間および物体空間の双方においてテレセントリックに構成されてもよい。図5は、本発明の1以上の実施の形態に従う分散再結像部の概略図である。明瞭化のために、各々が3つの光線のグループで表される3つのマップイメージ部分314,316,318のみが図示されている。分散再結像部308は、集光レンズ502と、分散要素504と、再結像レンズアレイ506とを含む。集光レンズ502は、マップイメージ部分314,316,318を平行にするように構成される。分散要素504は、平行マップイメージ部分314,316,318をスペクトル的に分散するように構成される。分散要素504は、たとえば単一のプリズムまたは単一の回折格子のように、分散特性を有する、この分野で周知の任意の光学要素を含み得る。また、分散要素504は、プリズムアレイまたは回折格子アレイを含み得る。明瞭化のために、図5では2つのスペクトル構成要素のみを含むマップイメージ部分について、2組の分散光線のみが示されている。図5に示すように、分散要素504は、イメージマップスペクトル508,510,512を形成するために、平行マップイメージ部分314,316,318のスペクトル構成要素を空間的に分離するように構成される。再結像レンズアレイ506は、検出器平面514上へのイメージマップスペクトル508,510,512を再結像するように構成される。当業者は、望遠鏡またはビームエクスパンダ図示せずが分散再結像部308に任意選択的に挿入され得ることを認めるであろう。望遠鏡またはビームエクスパンダは、必要に応じて、再結像レンズアレイ506の空間的広がりを一致させるために、平行マップイメージ部分314,316,318の空間的広がりを調整するため、たとえば集光レンズ502と分散要素504との間に挿入され得る。また、当業者は、分散要素504がスペクトル的な対象領域したがって深さの光学ズームを可能にする動的または調整可能な分散部を含み得ることを認めるであろう。また、当業者は、本明細書に開示された本発明の範囲から逸脱することなく、分散結像部308の個々の要素を並び換えてもよいことを認めるであろう。たとえば再結像レンズアレイ506は、分散要素504の前に来てもよい。図6は、本発明の1以上の実施の形態に従う小型高分解能イメージマッピング分光器の概略図である。小型高分解能イメージマッピング分光器601は、図1に示すイメージマップ光干渉断層法のためのシステムの一部として、イメージマッピング分光器106の代わりに動作し得る。小型高分解能イメージマッピング分光器601は、集束レンズ600と、視野レンズ602と、屈折イメージマッピング部604と、分散再結像部606と、検出器608とを含む。また、検出器608は、たとえばCCDチップまたはCCDチップアレイの形式で光検出器の2次元アレイを含み得る。集束レンズ600は、深さ符号化広帯域EM場104の焦点を屈折イメージマッピング部604に合わせるように構成される。これにより、屈折イメージマッピング部604にサンプル218の像612が形成される。視野レンズ602は、集束レンズ600の射出瞳603を分散再結像部606に再結像することにより、高い光スループットおよび分光器601小型化を維持するように構成される。屈折イメージマッピング部604は、像612の複数の部分の方向を、分散再結像部606の前面620上の複数の位置の方向に変更つまりマッピングするように構成される。明瞭化のために、図6では単一の光線で表される3つのマップイメージ部分614,616,618のみが示されている。視野レンズ602は、屈折イメージマッピング部604に近接して配置される。これにより、マップイメージ部分614,616,618の方向の分散再結像部606の方向への変更が、分厚く直径の大きい集光レンズたとえば図5に示す集光レンズ502がなくとも、比較的近い距離で容易になる。分散再結像部606は、マップイメージ部分614,616,618を集光するとともにスペクトル的に分散するように構成され、これによりスペクトル621,622,632が生成される。明瞭化のために、図6は、イメージ部分614,616,618の各々が2つの異なる波長のみを含む場合に生じるであろうスペクトル分散を示す。また、分散再結像部606は、再結像スペクトル621,622,632を検出器608上に再結像するように構成される。本発明の1以上の実施の形態に従うと、屈折イメージマッピング部604は、プリズムアレイを含み得る。また、屈折イメージマッピング部604は、硫化亜鉛のような機械加工可能な光学材料から、たとえばダイアモンドラスターフライカット方式などの方法を用いて製造することができる。また、屈折イメージマッピング部604は、刻線ruling、射出成形、ガラスプレス成形、熱エンボス加工またはこの分野で周知の任意の他の方法によって製造することができる。図7は、小型高分解能イメージマッピング分光器601に用いられる、本発明の1以上の実施の形態に従う分散再結像部606の概略図である。明瞭化のために、3つのマップ像部分614,616,618のみが図示されている。分散再結像部606は、視野補正部アレイ702と、分散要素アレイ704と、再結像レンズアレイ706とを含む。視野補正部702は、分散再結像部606が再結像レンズ706の各々の視野内に確実に位置するように、各再結像レンズ706の視野を横方向にシフトするように構成される。分散要素704は、マップイメージ部分614,616,618をスペクトル的に分散するように構成される。分散要素704は、たとえば単一のプリズム、1対のプリズム、または回折格子のような、分散特性を有する、この分野で周知の任意の光学要素を含み得る。明瞭化のために、図7では2つのスペクトル構成要素のみを含むマップイメージ部分について、2組の分散光線のみが示されている。図7に示すように、分散要素704は、イメージマップスペクトル708,710,712を形成するために、イメージマップ部分614,616,618のスペクトル構成要素を空間的に分離するように構成される。再結像レンズ706は、イメージマップスペクトル708,710,712を検出器平面714上に再結像するように構成される。また、当業者は、本明細書に開示された本発明の範囲から逸脱することなく、分散結像部606の個々の要素を並び換えてもよいことを認めるであろう。たとえば、再結像レンズアレイ706は分散要素704の前に来てもよい。図8は、本発明の1以上の実施の形態に従うイメージマッピング分光器の一部分の斜視図である。イメージマッピング分光器800は、イメージマッピング部802と、集光レンズ804と、分散要素806と、再結像レンズアレイ808とを含む。集光レンズ804は、図5に示すのと同様に、マップイメージの複数の部分を平行にするように構成される。マップイメージの複数の部分は、明瞭化のために複数の光線として示されている。分散要素806は、図5に示すのと同様に、複数の平行マップイメージ部分をスペクトル的に分散するように構成されている図示せず。分散要素806は、たとえば単一のプリズム、1対のプリズム、または回折格子のような、分散特性を有するこの分野で周知の任意の光学要素を含み得る。また、分散要素806は、プリズムアレイまたは回折格子アレイを含み得る。再結像レンズアレイ808は、複数のマップスペクトルを検出器平面810上に再結像するように構成される。図8に示すように、再結像レンズ808は、5×5の結像レンズアレイを含む。したがって、このシステムは、たとえば各々の角度の異なる25個の別個のミラーまたは屈折表面を有するイメージマッピング部802を採用し得る。あるいは、システムは、たとえば100個の別個のミラーまたは屈折表面を有するイメージマッピング部802を採用し得る。100個の別個のミラーまたは屈折表面は4つのグループに分けられ、各グループは角度の異なる25個の別個のミラーまたは屈折表面を有する。図9A~図9Cは、本発明の1以上の実施の形態に従うイメージマップ光干渉断層法の一例を進める図である。図9Aは、たとえばさまざまな生体組織、金属サンプル、薄膜、または単一取得イベントで3次元画像の取得が望まれる任意の他のサンプルを含み得るサンプル902を示す。サンプル902の中間像は、図1~図8を参照する上述の説明に従ってイメージマッピングされ得る。この実施の形態において、イメージマッピング部は、マップイメージを生成するように構成された25個の別個の反射表面を用いる。マップイメージは、25個の別個のイメージスライス1~25を含む。イメージマッピングの1つの効果は、これら25個のスライスの方向を、図4、図5および図7で説明されるように、たとえば分散再結像部の前面上の25個の異なるサブロケーション1~25の方向に変更つまりマッピングすることである。分散再結像部の前面上の25の異なるサブロケーションに位置する像の25個の別個のスライスの例を図9Bに示す。あるいは、L個のグループ化された要素が、図4Aおよび図4Bを参照して説明されるように、イメージマッピング部で用いられてもよい。これにより、各サブロケーションに存在するL個のイメージスライスが生じる。分散再結像部内に分散要素が存在しない場合、上述以外に、図9Bが検出器アレイ上の焦点が再び合わされた像を示すと解釈され得ることに留意することは有益である。この場合、複数のイメージスライス1~25は、25個の非照射領域または暗領域904によって分割されるであろう。25個のイメージスライスを分割する暗領域は、イメージスライスを構成する各点のスペクトル構成要素を空間的に分離することによって、各スライスがスペクトル的に分散されるための空間を生じさせる。スペクトル構成要素の空間分離は、図2~図8を参照する上述の説明に従って、空間分離方向906に沿って生じる。したがって、その後にスペクトル分散および検出器アレイ910上への再結像が行なわれるイメージマッピングの結果物は、複数のスペクトル干渉縞908である。スペクトル干渉縞908の例は、本発明の1以上の実施の形態に従って図9Cに示される。したがって、検出器アレイ上のサブ検出器またはCCDの場合、画素の各々は、サンプル上の特定の点x,yから発生するスペクトル干渉縞Dx,y,λの値を測定する。当業者は、SD-OCTの周知の方法に従って、スペクトル情報を深さ情報に変換するためにいくつかの異なる方法が用いられ得ることを理解するであろう。たとえば、Dx,y,λをDx,y,kに数値的に再マッピングして、Dx,y,kのフーリエ変換が行なわれる。したがって、検出器アレイの1カラムは、像を通る深さ走査912一式のための情報を含む。その結果、検出器アレイの単一取得イベントは、サンプルの照射に用いられる撮像システムの視野内のサンプルを完全に3次元再構成するために必要とされるすべての情報を取得するのに十分である。図10は、本発明の1以上の実施の形態に従う方法を説明するフローチャートである。フローチャート内の各ステップは順を追って提示かつ説明される。しかし、当業者は、これらステップの一部または全部が異なる順序で実行されたり、組合せまたは省略されたり、これらステップの一部または全部が並行して実行されたりしてもよいことを理解するであろう。ステップ1000において、単一取得イベント中にサンプル上の多数の点について深さ符号化EM場が同時に受けられる。ステップ1002において、さまざまな所定の方向に沿った深さ符号化EM場の方向が分散再結像部の方向に変更される。本発明のある実施の形態において、ステップ1002はイメージマッピング部によって実行される。ステップ1004において、深さ符号化EM場は、スペクトルを生成するためにスペクトル的に分散される。スペクトルは、ステップ1000で参照された多数の点の各々について1つのスペクトルを含む。ステップ1006において、検出器上のさまざまな位置にスペクトルが再結像される。ステップ1008において、検出器上の再結像スペクトルが検出される。この段階でコンピュータまたは他の処理装置は、サンプルの3次元画像を生成するために再結像スペクトルを用いる。本発明の1以上の実施の形態は、光源ビーム位置の走査または光源ビーム波長の調整を必要とすることなく、検出器または検出器アレイの単一取得イベントでサンプルの完全な3次元画像を取得し得るイメージマップSD-OCTシステムを提供することができる。本発明の1以上の実施の形態は、可動部を持たない頑丈な、空間的に小型のシステムを可能にする。これにより、コストが低減されるとともに、たとえば内視鏡のような小面積が要求される応用用途における有用性が向上する。本発明の1以上の実施の形態は、完全な3次元画像の高速取得を可能にする。これにより、サンプルの動きによって引き起こされるアーチファクトが低減される。本発明の1以上の実施の形態は、集光に費やされる3次元画像取得中の時間を増加させること、およびシステム全体の光スループットを向上することによって、既存のSD-OCTシステムに対する信号対ノイズ比の向上を可能にする。当業者は、イメージマップ光干渉断層法が単にSD-OCTに限らず、知り得るすべてのOCTを用いることができることを理解するであろう。たとえば、1以上の実施の形態は、本開示の範囲を逸脱することなく、ドップラーOCTまたは偏光感受型OCTを採用することができる。本発明は限られた数の実施の形態に関して説明されるが、この開示から恩恵を受ける当業者は、本明細書で開示された本発明の範囲を逸脱しない他の実施の形態を考え出すことができることを理解するであろう。したがって、本発明の範囲は添付の特許請求の範囲によってのみ限定されるべきである。"