イメージシステムであり:X線ビームを放射するX線源と;2次元X線検出器と;試料位置と;前記X線源、X線検出器及び試料を、前記試料位置でお互いに相対的に位置させるゴニオメーターと;前記2次元検出器からのインプットを処理し、前記2次元検出器からのインプットと、X線源、X線検出器及び試料の前記相対的位置に基づいて、試料の情報をアウトプットするコンピュータとを含み;当該イメージシステムが、前記X線検出器を用いて回折角度2θの関数として、前記X線回折を測定して前記試料の角度分散X線回折を実行するX線回折モードで操作するように、及び試料の吸収を、2次元X線検出器を用いて前記試料に亘り位置の関数として試料の吸収を測定するコンピュータトモグラフィモードで操作するように、配置される、イメージシステム。前記X線源が、4.5keVから25keVの範囲のエネルギーバンドにおけるX線の少なくとも1つの線における強度が全放射X線の強度の少なくとも30を有するX線を放射する、請求項1に記載のイメージシステム。前X線源が、Cr、Co、Cu、Mo又はAgターゲットを用いる、請求項1又は2のいずれか1項に記載のイメージシステム。前記X線検出器が、2次元光子計数検出器である、請求項1乃至3のいずれか1項に記載のイメージシステム。前記イメージシステムが、前記CTモードでの操作が、前記X線源及び前記検出器に関して前記試料を回転することで、前記試料の前記吸収の複数の吸収測定を、前記試料に亘る位置の関数として取得し、及び前記複数の測定された吸収測定を組み合わせてCTイメージを生成するように、配置される、請求項1乃至4のいずれか1項に記載のイメージシステム。前記検出器から5cm内に前記試料を載せるための回転試料台を含む、複合装置をさらに含む、請求項1乃至5のいずれか1項に記載のイメージシステム。前記複合装置が、前記CTモードでCT測定のために複数の異なる方向に前記回転試料台を回転させるため、前記試料台に連結された回転駆動装置をさらに含む、請求項6に記載のイメージシステム。前記X線源に隣接して設けられた、ピンホール、スリット又はX線ミラーであるビームコンディショナーをさらに含む、請求項1乃至7のいずれか1項に記載のイメージシステム。モノクロメーターをさらに含む、請求項1乃至8のいずれか1項に記載のイメージシステム。前記XRDモード前記試料の後の前記X線ビームの直接ラインに置かれ、CTモードでは取り外されるビームストップをさらに含む、請求項1乃至9のいずれか1項に記載のイメージシステム。イメージシステムの操作方法で:X線源、X線検出器及び試料位置の試料をお互いに相対的に位置させ;前記試料に向けて前記X線源からX線ビームを放射し;2次元X線検出器を用いて試料と相互作用した後の前記ビームを検出することを含み;前記方法は、前記2次元検出器からのインプットを処理し、前記2次元検出器からのインプットと、X線源、X線検出器及び試料の前記相対的位置に基づいて、試料の情報をアウトプットし;前記イメージシステムが、前記X線検出器を用いて回折角度2θの関数として、前記X線回折を測定して前記試料の角度分散X線回折を実行するX線回折モードで操作するように、及び試料の吸収を、2次元X線検出器を用いて前記試料に亘り位置の関数として試料の吸収を測定するコンピュータトモグラフィモードで操作するように、配置する、イメージシステムの操作方法。前X線源が、Cr、Co、Cu、Mo又はAgターゲットにより照射される、請求項11に記載の方法。前記ビームの検出が、2次元光子計数X線検出器を用いる、請求項11又は12のいずれか1項に記載の方法。前記CTモードでの操作が、前記X線源及び前記検出器に関して前記試料を回転することで、前記試料の前記吸収の複数の吸収測定を、前記試料に亘る位置の関数として取得するように操作すること、及び前記複数の測定された吸収測定をCTイメージを生成するように組み合わせることを含む、請求項11、12又は13のいずれか1項に記載のイメージシステム。前記2次元X線検出器と、前記検出器から5cm内に前記試料を載せるための回転試料台を含む、複合装置に試料を載せ、及び前記複数の吸収測定を得るために前記回転試料台の上の前記試料を回転させることをさらに含む、請求項14に記載のイメージシステム。本発明の目的は、X線回折XRD及びコンピュータトモグラフィCTを組み合わせた装置及び方法を提供することである。本発明のひとつの側面において、イメージングシステムは、試料につき、X線検出器を用いて回折角2θの関数としてX線回折を測定することによる角度分散X線回折を実行するXRDモードと、及び2次元X線検出器を用いて試料に亘る位置の関数として試料の吸収を測定するCTモードとで操作されることができる。CT装置にXRD機能を追加するというよりはむしろXRD装置にCT機能を追加することにより、本発明者は、正確なXRD測定とCT機能を組み合わせることが可能となることを見出した。特に、X線源は、少数のピーク、例えば4.5eVから25keVの範囲のエネルギーバンドで2個のピークを持つX線を放射するX線源が可能である。この2個のピークは接近して位置するKα及びKβ線であってよい。X線源はまた、例えば制動輻射のような広スペクトル放射を放射することもできる。ひとつの実施態様においては、単色X線がこれよりもずっと狭いバンド幅、特に名目エネルギーの1又はそれ以上である。イメージングシステムを、CTモードでの操作において、X線源と検出器につき試料を回転させて試料に亘る位置の関数として、試料の吸収につき複数の吸収測定を取得し、複数の測定された吸収測定を組み合わせてCTイメージを作るように、設けることが可能である。ひとつの実施態様において、装置は、2次元X線検出器と、試料を検出器から5cm以内に置くための回転試料台を含む複合装置を含む。他の実施態様においては、本発明は、CTモード及び角度分散XRDモードでの装置の操作方法に関する。本発明のよりよい理解のために、添付の図が参照される。これらの図は模式的であり、寸法を正確に表したものではない。図1によれば、本発明において使用されるXRD装置は、角度分散XRD装置であって、X線源4を載せたゴニオメータ2、試料8を載せた試料台6及び2次元光子計数X線検出器10を含む。ゴニオメータは、X線源4、試料及びX線検出器の相対角度を変えることができる。以下で示される測定のために使用される特定の検出器10は、PanalyticalPixcel2次元検出器である。使用に際して、X線源は、特定の波長及びエネルギーで、単色X線ビームを提供する。このエネルギーは、便宜上5.4keVから25keVの範囲であり、5.4keVではCrターゲットを用いて、25keVではAgターゲットを用いて達成することができる。Co、Cu又はMoターゲットは、中間的なX線エネルギーのために使用され得る。放射は、1又はそれ以上の線とともに制動輻射を含んでいてよい。これについては以下説明する。モノクロメータ12を場合により、真の単色放射線を提供するために使用してもよい。これにより、名目エネルギーの1未満の変動のみのエネルギーを有する高単色性放射線が使用され得る。例えばモノクロメータ12は、Cuターゲットを用いてCuKα二重線から単一線を選んで使用することができる。さらに、コリメータ13は、X線源と試料間に又は示されるように試料と検出器10の間に設けられることができる。コリメータ13が、試料と検出器の間に置かれる場合、2次元コリメータが使用されてもよい。ビームコンディショナー11がまた、以下説明するように設けられてもよい。散乱放射線が検出器に入射することを抑制するために、直接ビーム吸収体14-即ちビームストップーを、X線ビームの直接ラインにおいて試料の後に設けることができる。これは、小さな角度2θ約5°又は10°より小さいが用いられる場合に特に有効である。放射線は試料8に入射し、角度2θで回折される。2次元検出器が、平行して複数の2θでの回折されたX線を検出する。角度2θの広い範囲を得るために、X線源、試料及び検出器の配置がゴニオメータを用いて変更される。当該X線回折技術分野の熟練者により理解されるように、追加の結晶が、さらなる単色化のために及び又は追加の角度選択装置がより高い分解能のために、必要ならば設けられてよい。これまでは、XRD測定について議論してきた。本発明者は、そのようなXRDシステムが、CT測定のために使うことができることを見出した。CT測定を実行するために、2次元光子計数検出器10が試料の直接の吸収イメージ、即ち試料領域に亘る吸収、を測定するために使用される。直接ビーム吸収体14は、この測定では除かれる。試料はそれから異なる位置に回転されることができ、さらに直接の吸収イメージが取得される。試料を回転することと等しいが、X線源及び検出器を試料の周りに回転させることもできる。この配置では、ビームコンディショナー11は、適切なビームを供するためにX線源4の出口側に設けることができる。ビームコンディショナーは、ピンホール、スリット、X線ミラー、X線レンズ又は例えばキャピラリ又はフレネルレンズのような焦点部品であってよい。コンピュータ16は、XRD及びCTの両装置で検出器により記録されたイメージデータを受け入れ、そのデータを処理するように設けられる。記載される実施態様では、X線源は、ターゲットとしてー好ましい実施態様ではCr、Co、Cu、Mo、又はAgを用いるものであるーこれらは通常5から25keVの範囲でKα及びKβ線を有する。これらのX線源は、広バンドスペクトル制動輻射放射とともにKα及びKβ線を放射する。しかし一般的には、放射エネルギーの大部分はKα及びKβ線であり通常二重線である。このエネルギーは、例えば通常のCT測定での主に制動輻射による100keV付近のエネルギーと比較され得る。実際、CT測定は、100keVよりも高いエネルギーさえ使うことができる例えばUS2009213989では2から20MeVの範囲である。注意すべきは、試料の低原子番号の元素へ適用する際には、X線の試料での吸収又は散乱はエネルギーに依存するということである。例として試料中の元素としての炭素による散乱を取り上げる。低エネルギーでは散乱は主に光電効果により生じる。光電効果は原子の電子とX線とが相互作用することにより生じる。高エネルギーでは散乱は主に非コヒーレント散乱による。コヒーレント散乱もまたX線吸収には寄与するが主な機構ではない。減衰に対する光電効果による寄与と、非コヒーレント散乱による寄与との分岐点は、炭素については20keVのすぐ上にある。つまり20keVより大きい場合には非コヒーレント散乱が光電効果よりも主流であり、それより小さい場合には、光電効果のほうが主流である。本発明者は、光電効果が主流である5から25keVのエネルギーでCTを用いて物質を検査することで、軽い元素を含む試料をイメージングし、及び元素間のコントラストを検出することがより容易になるということを見出した。言い換えると、25keVよりも小さいエネルギーを用いることは、CT測定を行うために特に有益である。なぜなら、低原子番号の元素の散乱には異なる機構が主流となり、より高いコントラストを与えることができるからである。このように、従来のCTと比べて、本発明は低エネルギーで、相対的に単色のX線を用いる。低エネルギーX線の使用は又、軟X線として知られているが、さらにCTに有益である。特に、コントラストが向上すると同様に、よりよいシグナル対ノイズが得られる。なぜなら、高エネルギーX線は、コヒーレント又は非コヒーレント散乱又は両方から、より多くの散乱を生じるからである。さらに、低エネルギーX線の使用は、通常のCTエネルギー範囲である100keV又はそれ以上の硬X線に必要な検出器とは異なる検出器の使用を可能とする。2次元光子計数低ノイズ固体検出器が使用可能である。これは電荷結合型検出器とは異なり本質的にノイズなしである。特に本発明の実施態様では、PanalyticalPixcel検出器を用いる。これは非常に低ノイズ検出器であり5から25keVエネルギー範囲に適している。単色化部品を用いて照射することも有益である。CT測定の特に問題となる点は、ビーム硬化として知られる効果である。これは、X線が試料を通過した後、より硬X線となるというものである。これは、異なるX線エネルギーの非均一な減衰によるもので、エネルギー範囲でより高い減衰係数すなわちより低い透過性を持つX線が優先的に吸収される結果である。これがCT計算において問題となる。記載された実施態様は、少数の線特にKα及びKβで、大部分のエネルギー30又はそれ以上、50又はそれ以上を放出するX線源を使用する。本発明者は、このX線源のために、非常に高い単色性の線を発生するが非常に高価である、シンクロトロンを用いるという困難と費用を考える必要がないことを見出した。その代わりに、Cr、Co、Cu、Mo又はAgターゲットを用いるXRDのために使用されるX線のタイプは、CT測定で通常使用される高エネルギーによるビーム硬化に関しては十分単色性である。場合によりCT測定が実行される際によりよい分解能を供するために、X線源のサイズ、検出器の画素サイズ及びX線源、検出器及び試料の間の距離との関係が使用されてもよい。特に、本発明者は、最善のCT測定のためには、試料と検出器との間の距離を画素サイズで割った値が、試料とX線源との間の距離をX線源の効果的サイズで割った値に等しいことと決定した。他の比も、一般的に解決にかける費用で配置空間を考慮するような必要がある場合用いられてもよい。従って、0.4mmx12mmの効果的サイズのX線源を用いて、回折面の12mmで、しかし多分50μm画素のより高分解能画素検出器を用いた場合、検出器は試料に非常に近接して位置されねばならない。最適には、X線源はその距離の約20倍1.2mm0.05mmである。上で示したようにビームコンディショナー11を用いるとX線源の効果的サイズを小さくでき、従って検出器―試料間距離を相対的に大きくできる。よって、ビームコンディショナーは特にCT測定には有用である。ただしこれはXRD測定にも有用であり得る。以下説明する測定において、フィルタ補正逆投影として知られるアルゴリズムが、CT計算で用いられる。しかしCT計算のすべてのアルゴリズムもコンピュータ16で実行されることができる。そのようなアルゴリズムは当該技術分野の熟練者にとって知られておりここでは詳細な説明しない。図2は、複合装置18が示され、検出器の非常に近くに試料を置くことを達成するための特定の実施態様で用いられる。検出器ハウジング24は、2次元画素検出器22及びさらに検出器電子回路図示されないを保持する。試料台24は、モーターハウジング30にあるモーター28で駆動される回転軸26に付けられている。モーターハウジング30は、台板32の上に固定して載せられ、この台板32及び検出器ハウジング20は、共に台34に載せられている。台34はゴニオメータ2に載せられる。台34と台板32はともに開口部36を、矢印で示した位置で有し、X線は、台板を通過することなく直接試料に到達する。スクリュー38は、台34の上の台板32を載せるように示される。これらは元に戻すことができ、台板32をモーターハウジング30、軸26及び試料台24と共に除去して、試料を載せたり取り出したりことを可能とする。複合装置は台34を用いて固定される。この配置で、複合装置18は、ゴニオメータ2の中心に載せられる。ここで試料がXRDのため、検出器22は複合装置に近づけられる。試料の回転は、特にCTのために、ゴニオメータ2によらずに、モーター28で駆動される回転駆動軸26の使用により達成される。他の実施態様において、複合装置18は、ゴニオメータからずっと離された検出器22に載せられている。試料の回転は再び、モーター28で駆動される回転軸26を用いて達成される。このように、複合装置18は、検出器と、複合試料回転機構を持つ試料台装置18である。試料は検出器22の近くに保持されてよい通常5cmより近く、好ましく2cmより近く、さらに1cmより近くに。もちろん、他の実施態様において、多分同じサイズの低分解能検出器及び高分解能X線源を用いる場合、X線源及び検出器は、試料から類似の距離に位置するべきである。提案される方法のいくつかの利点には、試料のXRD及びCTを共に可能とする単一のX線源を持つ単一の装置を持つということからくる節約である。本発明の実施態様は、特に種々の分野への応用である。特に本発明は試料に特定の結晶が存在する場合に有用である。実施態様が有用であるひとつの特別の領域は医薬カプセルである。医薬品の検査のためのCTの使用は、カプセル全容積を見ることができ、試料全容積を分析し検査することができる。本物と偽物のタブレットが試験され、X線回折結果が図3に示される。両方のカプセルは同じ量の活性医薬成分APIを含むことは高性能液体クロマトグラフHPLCで証明された。X線回折のみ使用して偽物のタブレット観察では確かに違いは認められるものの、直接的ではなかった。しかしCTスキャナーを用いた場合、図4に示される結果から、偽物のタブレット上イメージは、本物のタブレット下イメージよりも明らかにより非均一であることが示され、従って即座に同定することができる。他の使用は、医薬タブレットの多孔性の決定である。Avicel登録商標のタブレットが、異なる多孔度空間区分ε3.5、13.1及び41.2で調製された。これらのタブレットの孔は通常分解されるには小さすぎる。これらのタブレットのCTスキャンをとり、全放射線に対するタブレット透過放射線として定義された透過度μが結果から決定された。図5にグラフで示されるようにこの透過度μは、タブレットの多孔度についての優れた尺度である。XRD装置でCTを用いることは、医薬分野に限られない。例えばコンクリートの2つの試料が測定された。ひとつは崩れ易い試料であり、もう一方は硬くて安定な試料である。X線回折結果から、カルサイト及び石英相の組織にいくらかの違いが認められた。しかしこれは明確に試料を区別するには十分ではなかった。CTを用いることで、図6に示されるように、良好なCTイメージが得られ、孔が決定され得ることを示す。本発明の使用は、もちろん、記載されたこれらの特別な応用に限定されるものではなく、当該技術分野の熟練者であれば広範な応用に使用することができるであろう。