"第1の方向に対して並設された複数の第1の電極と、前記第1の方向と異なる第2の方向に対して並設された複数の第2の電極と、前記複数の第1の電極と前記複数の第2の電極をスキャンして、前記第1の電極のセンサ出力値と前記第2の電極のセンサ出力値をそれぞれ検出する検出部と、前記検出部で検出されるセンサ出力値に基づいて演算処理を行う演算処理部と、を備え、前記検出部は、前記第1の電極と前記第2の電極の双方のセンサ出力値が第1の閾値以上となるピーク領域が複数ある場合に、前記ピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値を検出し、前記演算処理部は、前記ピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値と、前記ピーク領域における第1の電極の座標と第2の電極の座標と、に基づいて、検出対象の座標を算出することを特徴とする座標検出装置。前記演算処理部は、前記複数の第1の電極のセンサ出力値と前記複数の第2の電極のセンサ出力値の少なくとも一方に、センサ出力値が第1の閾値以上となるピークが複数ある場合に前記ピーク領域が複数あると判断し、前記第1の電極と前記第2の電極の双方のセンサ出力値が第1の閾値以上となる領域を前記ピーク領域に設定することを特徴とする請求項1に記載の座標検出装置。前記演算処理部は、前記複数のピーク領域毎に第1の電極と第2の電極の交点の出力値の合計値を算出し、複数のピーク領域の中から前記合計値が大きいピーク領域を選択し、選択したピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値と、前記選択したピーク領域における第1の電極の座標と第2の電極の座標と、に基づいて、検出対象の座標を算出することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の座標検出装置。前記演算処理部が選択するピーク領域の数は、前記複数の第1の電極又は前記複数の第2の電極のセンサ出力値のピーク数のうち相対的に数が多い方と同じ数であることを特徴とする請求項3に記載の座標検出装置。前記演算処理部は、各ピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値が第2の閾値以下であるセンサ出力値を無効として、前記ピーク領域毎に前記合計値を算出することを特徴とする請求項3又は請求項4に記載の座標検出装置。前記演算処理部は、検出対象の座標の算出を連続して行う場合に、n-1回目の座標の算出において特定された座標から最も近い第1の電極及び前記第2の電極と、当該第1の電極及び第2の電極に隣接する電極における交点に対して、n回目の座標の算出において前記第2の閾値を相対的に低く設定することを特徴とする請求項5に記載の座標検出装置。前記演算処理部は、検出対象の座標の算出を連続して行う場合に、n-1回目の座標の算出で得られた座標と、n回目の座標の算出において設定された複数のピーク領域の座標とを比較し、n-1回目の座標の算出で得られた座標との距離が最も近いピーク領域の座標を、n回目の座標の算出における検出対象の座標とすることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の座標検出装置。前記検出部は、前記複数の第1の電極のセンサ出力値と前記複数の第2の電極のセンサ出力値の少なくとも一方に、センサ出力値が第1の閾値以上となるピークが3つ以上ある場合には、前記ピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値の検出を行わないことを特徴とする請求項1から請求項7のいずれかに記載の座標検出装置。前記演算処理部は、前記ピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値と、前記ピーク領域における第1の電極の座標と第2の電極の座標と、に基づいて、重心計算法を適用して前記検出対象の座標を算出することを特徴とする請求項1から請求項8のいずれかに記載の座標検出装置。請求項1から請求項9のいずれかに記載の座標検出装置を用いて座標の入力を制御する座標入力装置。しかし、特許文献1の方法を適用する場合、検出対象のタッチ位置とゴースト現象が発生する位置とが近い場合には、検出対象を正確に検出できないおそれがある。一方で、ゴースト現象の発生を回避するために、複数の電極の交点のセンサ出力値を全て検出する方法も考えられるが、電極のスキャン回数が大幅に増加することにより、検出対象の座標の検出速度が低下する問題が考えられる。本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、検出対象が同時に複数箇所に接触する場合であっても、検出対象の座標を高い精度で検出すると共に、検出速度の低下を抑制できる座標検出装置を提供することを目的とする。本発明の座標検出装置は、第1の方向に対して並設された複数の第1の電極と、前記第1の方向と異なる第2の方向に対して並設された複数の第2の電極と、前記複数の第1の電極と前記複数の第2の電極をスキャンして、前記第1の電極のセンサ出力値と前記第2の電極のセンサ出力値をそれぞれ検出する検出部と、前記検出部で検出されるセンサ出力値に基づいて演算処理を行う演算処理部と、を備え、前記検出部は、前記第1の電極と前記第2の電極の双方のセンサ出力値が第1の閾値以上となるピーク領域が複数ある場合に、前記ピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値を検出し、前記演算処理部は、前記ピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値と、前記ピーク領域における第1の電極の座標と第2の電極の座標と、に基づいて、検出対象の座標を算出することを特徴とする。この構成によれば、検出対象が同時に複数箇所に接触する場合であっても、複数の電極のセンサ出力値に基づいて設定されたピーク領域の電極の交点のセンサ出力値を選択的に検出するため、スキャン回数を低減することができる。その結果、検出速度の低下を抑制すると共に、検出対象の座標を高い精度で検出することができる。また、本発明の座標検出装置において、前記演算処理部は、前記複数の第1の電極のセンサ出力値と前記複数の第2の電極のセンサ出力値の少なくとも一方に、センサ出力値が第1の閾値以上となるピークが複数ある場合に前記ピーク領域が複数あると判断し、前記第1の電極と前記第2の電極の双方のセンサ出力値が第1の閾値以上となる領域を前記ピーク領域に設定することができる。また、本発明の座標検出装置において、前記演算処理部は、前記複数のピーク領域毎に第1の電極と第2の電極の交点の出力値の合計値を算出し、複数のピーク領域の中から前記合計値が大きいピーク領域を選択し、選択したピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値と、前記選択したピーク領域における第1の電極の座標と第2の電極の座標と、に基づいて、検出対象の座標を算出することができる。また、本発明の座標検出装置において、前記演算処理部が選択するピーク領域の数は、前記複数の第1の電極又は前記複数の第2の電極のセンサ出力値のピーク数のうち相対的に数が多い方と同じ数であることができる。また、本発明の座標検出装置において、前記演算処理部は、各ピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値が第2の閾値以下であるセンサ出力値を無効として、前記ピーク領域毎に前記合計値を算出することができる。また、本発明の座標検出装置において、前記演算処理部は、検出対象の座標の算出を連続して行う場合に、n-1回目の座標の算出において特定された座標から最も近い第1の電極及び前記第2の電極と、当該第1の電極及び第2の電極に隣接する電極における交点に対して、n回目の座標の算出において前記第2の閾値を相対的に低く設定することができる。また、本発明の座標検出装置において、前記演算処理部は、検出対象の座標の算出を連続して行う場合に、n-1回目の座標の算出で得られた座標と、n回目の座標の算出において設定された複数のピーク領域の座標とを比較し、n-1回目の座標の算出で得られた座標との距離が最も近いピーク領域の座標を、n回目の座標の算出における検出対象の座標とすることができる。また、本発明の座標検出装置において、前記検出部は、前記複数の第1の電極のセンサ出力値と前記複数の第2の電極のセンサ出力値の少なくとも一方に、センサ出力値が第1の閾値以上となるピークが3つ以上ある場合には、前記ピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値の検出を行わないことができる。また、本発明の座標検出装置において、前記演算処理部は、前記ピーク領域における第1の電極と第2の電極の交点のセンサ出力値と、前記ピーク領域における第1の電極の座標と第2の電極の座標と、に基づいて、重心計算法を適用して前記検出対象の座標を算出することができる。本発明の座標検出装置は、検出対象が接触した座標を用いて操作制御を行う座標入力装置に適用することができる。本発明によれば、検出対象が同時に複数箇所に接触する場合に、複数の電極のセンサ出力値に基づいてピーク領域を設定し、ピーク領域における電極の交点のセンサ出力値に基づいて検出対象の座標を決定するため、検出対象の座標を高い精度で検出すると共に、検出速度が低下することを抑制できる。まず、複数の電極からそれぞれ出力されるセンサ出力値に基づいて検出対象の座標を決定する場合と、複数の電極の交点のセンサ出力値に基づいて検出対象の座標を決定する場合について説明する。なお、本実施の形態において、電極から検出されるセンサ出力値は、操作面に対する検出対象の接触により変化する数値であればよく、例えば、静電容量方式の場合には、検出対象の接触により変化する静電容量の変化量を数値化した値とすることができる。複数の電極からそれぞれ出力されるセンサ出力値に基づいて検出対象の座標を決定する場合図2参照は、各電極から出力されるセンサ出力値が所定の値第1の閾値以上となる電極の組み合わせを特定する。図2Aに示す構成では、X軸電極X0~X4と、Y軸電極Y0~Y4の中からセンサ出力値が第1の閾値以上となるX軸電極とY軸電極の組み合わせを選択する。この場合、それぞれ5つのX軸電極X0~X4とY軸電極Y0~Y4をスキャンスキャン回数10回して得られるセンサ出力値に基づいて、座標を特定することができる。しかし、図2Aに示すように、検出対象が同時に2箇所に接触する場合、センサ出力値が第1の閾値以上となるX軸電極とY軸電極の組み合わせを選択すると、実際に検出対象が接触している領域に加えて、実際に接触していない領域も検出されることとなるゴースト現象図2B参照。図2Bは、X軸電極及びY軸電極のセンサ出力値が第1の閾値以上となる組み合わせを1とした場合のXY判定結果のマップテーブルを示している。図2Bに示すように、実際に検出対象が接触している座標領域X1,Y3、X3,Y1に加えて、検出対象が接触していない座標領域X1,Y1、X3,Y3も1と判定されている。複数の電極の各交点のセンサ出力値に基づいて検出対象の座標を決定する場合図3参照には、全ての電極の交点のセンサ出力値を検出して比較する。図3Aに示す構成では、X軸電極X0~X4とY軸電極Y0~Y4の全ての交点についてセンサ出力値を検出する。例えば、X1とY3との交点のセンサ出力値を検出する場合には、X軸電極について、X1のみ励起ドライブしてエネルギーを与えた状態で、Y軸電極について、Y3のみ動作させてセンサ出力値を検出する。この場合、5つのX軸電極X0~X4とY軸電極Y0~Y4の各交点について同様の工程でスキャンスキャン回数25回して得られるセンサ出力値に基づいて、座標を特定することができる。図3に示す方法を適用する場合、検出対象が同時に2箇所に接触しても、全ての電極の交点のセンサ出力値が得られるため、検出したセンサ出力値に基づいて実際に検出対象が接触している座標領域X1,Y3、X3,Y1を特定することができる図3B参照。図3Bは、X軸電極とY軸電極の各交点におけるセンサ出力値を表したXY判定結果のマップテーブルを示している。しかし、図3に示す方法を適用する場合、X軸電極とY軸電極の全ての交点のセンサ出力値を求める必要があるため、スキャン回数が増大してしまう。例えば、X軸電極20本×Y軸電極15本で構成される座標検出装置においては、上記図2に示す方法では電極のスキャン回数が35回であるが、図3に示す方法では300回のスキャンが必要となる。スキャン回数が増加すると、座標の検出速度が低下する問題や、検出速度の低下を避けるためにスキャン速度を向上させるための回路が新たに必要となってしまう。また、図3に示す方法を適用する場合には、検出対象の接触箇所が1箇所である場合にも、全ての電極の交点のセンサ出力値を算出しなければならなくなる。本発明者が鋭意検討した結果、検出対象の接触領域が1つである例えば、1本の指でタッチする場合には、複数の電極からそれぞれ出力されるセンサ出力値に基づいて検出対象の座標を決定し、検出対象の接触領域が複数ある例えば、2本の指でタッチする場合には、複数の電極の交点のセンサ出力値に基づいて検出対象の座標を決定することが有効となることを見出した。つまり、本発明者は、座標検出装置が組み込まれる電子機器において、ユーザの操作内容に応じて1本の指でタッチする場合と2本の指でタッチする場合の複数の操作内容を想定し、それぞれの使用態様に適した検出方法を適用することを着想した。さらに本発明者は、検出対象の接触領域が複数ある場合であっても、複数の電極の全ての交点のセンサ出力値を検出するのでなく、複数の電極からそれぞれ出力されるセンサ出力値に基づいて所定の領域ピーク領域を設定し、当該ピーク領域における電極の交点のセンサ出力値に基づいて検出対象の座標を決定することを着想した。つまり、本実施の形態の座標検出装置は、複数の電極からそれぞれ出力されるセンサ出力値に基づいて検出対象の接触領域数を判断し、接触領域数が1つである場合には、検出した各電極のセンサ出力値に基づいて座標を決定する。そして、接触領域数が複数例えば、2つの場合には、ピーク領域を設定し、当該ピーク領域に限定して電極の交点のセンサ出力値をさらに検出して検出対象の座標を決定する。なお、ピーク領域は、各電極から出力されるセンサ出力値が第1の閾値以上となるX軸電極とY軸電極の組み合わせとなる領域とすることができる。この場合、上記図2Bで1と判定される領域がピーク領域となる。つまり、接触領域数が複数例えば、2つの場合に、ピーク領域には、実際に検出対象が接触する領域図2のX1,Y3、X3,Y1と、検出対象が実際には接触していない領域図2のX1,Y1、X3,Y3が含まれる。そのため、ピーク領域に限定して、複数の電極の交点のセンサ出力値をさらに検出して座標を決定することにより、検出対象の座標を高い精度で決定すると共に、電極のスキャン回数を低減することが可能となる。以下に、本発明の実施の形態の座標検出装置の構成及び検出座標の算出方法について添付図面を参照して詳細に説明する。図1は、本実施の形態に係る座標検出装置の主要な構成を示すブロック図である。図1に示す座標検出装置10は、センサ基板11と、センサ基板11に設けられた電極X軸電極12、Y軸電極13と、各電極のセンサ出力値例えば、静電容量を検出する検出部X軸側検出部14、Y軸側検出部15と、検出したセンサ出力値等を記憶する記憶部17と、検出した各電極のセンサ出力値等を用いて演算処理を行う演算処理部18とを有している。センサ基板11には、X軸方向図1の横方向のセンサ出力値を検出するための複数のX軸電極12と、Y軸方向図1の縦方向のセンサ出力値を検出するための複数のY軸電極13とがマトリクス状に並設されている。本実施の形態の座標検出装置10は、操作面にユーザの指等の検出対象が接触した際に変化する静電容量の変化量に基づいて接触位置を特定する方式静電容量方式を採用することができる。この場合、座標検出装置10は、検出対象が接触していない状態の電極の静電容量の値を基準として、検出対象が接触した際に変化する量静電容量変化量に基づいて座標領域を決定する。静電容量方式として、電極とグランドGND間に形成される自己容量を検出対象とする自己容量検出方式、2つの電極間に形成される相互容量を検出対象とする相互容量検出方式、基準電極と2つのセンサ電極の間に形成される相互容量の差として定義される容量を検出対象とする差動型相互容量検出方式があるが、座標検出装置10はいずれの方式を適用してもよい。なお、自己容量検出方式では、接触部分の静電容量が増加プラス方向に変化し、相互容量検出方式では、接触部分の静電容量が減少マイナス方向に変化する。なお、本実施の形態の座標検出装置では、X軸電極12とY軸電極13が互いに直交して並設される場合を示しているが、電極の配置や数等は図1に示した構成に限られない。また、座標検出装置の構造は、操作面に対する検出対象の接触により変化するセンサ出力値を利用して座標を検出する構造であれば特定の構造に限られない。X軸側検出部14は、X軸方向に対して並設されたX軸電極12のセンサ出力値を検出し、Y軸側検出部15は、Y軸方向に対して並設されたY軸電極13のセンサ出力値を検出する。また、X軸電極12、Y軸電極13の交点のセンサ出力値を検出する場合には、X軸電極12とY軸電極13から特定の電極をそれぞれ1つずつ選択して、一方の電極を励起ドライブしてエネルギーを与えた状態で、他方の電極を動作させてセンサ出力値を検出する。なお、本実施の形態におけるセンサ出力値とは、検出対象の接触により変化するセンサ出力の変化量を数値化した値であり、演算処理部18は、センサ出力値として、検出部で出力された値を用いて座標を算出してもよいし、検出部で出力された値と基準値とを比較して得られた値センサ出力変化量を用いて座標を算出してもよい。センサ出力変化量は、検出対象が接触するときに電極から出力される値と、検出対象が接触していないときに電極から出力される値基準値の差をとることにより得ることができる。例えば、静電容量を用いて検出対象の接触を検出する場合には、検出部から出力される各電極の静電容量の値と、検出対象が接触していない状態の電極の静電容量の値基準容量値とを比較することにより静電容量の変化量が得られる。A/Dアナログ/デジタル変換部16は、X軸側検出部14の検出信号X軸電極12のセンサ出力値に関するデータ及びY軸側検出部15の検出信号Y軸電極13のセンサ出力値に関するデータをデジタル信号に変換し、演算処理部18、記憶部17に供給する。記憶部17は、検出された電極のセンサ出力値を記憶するための記憶領域を有している。なお、ここでは、X軸側検出部14、Y軸側検出部15で検出されたセンサ出力値が、演算処理部18を介して記憶部17に供給される構成を示しているが、X軸側検出部14、Y軸側検出部15からA/D変換部16を介して記憶部17に直接センサ出力値が供給される構成としてもよい。演算処理部18は、記憶部17に記憶されたセンサ出力値を用いて演算処理を行うことにより、検出対象が接触した領域数や座標を決定する。具体的に、演算処理部18は、検出部X軸側検出部14、Y軸側検出部15で検出される複数の電極のセンサ出力値に基づいて検出対象の接触領域数を判断し、接触領域数が1つである場合には、既に検出しているセンサ出力値に基づいて座標を決定する。また、接触領域数が複数例えば、2つの場合には、複数のピーク領域を設定し、ピーク領域における電極の交点のセンサ出力値に基づいて座標を決定する。なお、接触領域数は、複数のX軸電極12のセンサ出力値と、複数のY軸電極13のセンサ出力値において、第1の閾値以上となるピーク数に基づいて決定することができる。また、演算処理部18は、記憶部17又は別途設けられるメモリに記憶された座標検出プログラムを利用して、座標領域の決定手順を実行する。座標検出プログラムには、検出対象の接触領域数を判断するステップと、接触領域数が1つである場合に複数の電極のセンサ出力値に基づいて検出対象の座標を決定するステップと、接触領域数が複数である場合に各電極から出力されるセンサ出力値に基づいてピーク領域を設定し、ピーク領域における電極の交点のセンサ出力値を検出するステップと、電極の交点のセンサ出力値が高いピーク領域を選択して、電極の交点のセンサ出力値とピーク電極の座標とに基づいて検出対象の座標を決定するステップ等が含まれている。演算処理部18は、座標検出プログラムにしたがって一連の手順を実行することにより、検出対象の座標を決定することができる。また、演算処理部18は、接触領域数を判断する際に、X軸方向、Y軸方向において、センサ出力値が第1の閾値以上となるピーク数が異なって検出される場合には、多い方のピーク数を検出対象の接触領域数と判断する。例えば、操作面に対して指が2箇所で接触する際に、接触部分の2箇所がX軸方向又はY軸方向に平行に配置される場合には、X軸電極とY軸電極のセンサ出力値において、一方で2つのピーク数が検出され、他方で1つのピーク数しか検出されないためである。このように、単純な判断基準で検出対象が接触した領域数を特定することにより、演算処理に要する時間を短縮することができる。インターフェイス部19は、座標検出装置10と、他の構成を有する回路又は機器等との間でデータの授受を行うための回路である。例えば、本実施の形態の座標検出装置10が、パーソナルコンピュータのタッチパッド等のポインティングデバイス入力装置に適用される場合には、インターフェイス部19を介してパーソナルコンピュータの表示部に座標を出力する機器に接続することができる。また、本実施の形態の座標検出装置が、携帯電話端末やPDA等の携帯機器等の表示画面に組み込まれる場合には、インターフェイス部19を介して演算処理部18で特定された座標に応じた処理操作を行う回路に接続することができる。このように、本実施の形態で示す座標検出装置は、種々の座標入力装置に組み込むことが可能である。次に、本実施の形態の座標検出装置において、検出対象の座標を決定する手順について図6のフローチャート図を参照して詳細に説明する。以下の説明では、図4に示すように、10本のX軸電極X0~X9及びY軸電極Y0~Y9がマトリクス状に設けられた操作面に対して、2本の指指1と指2が同時に接触する場合を例にあげて座標の決定手順について説明する。なお、本実施の形態の座標検出装置において、X軸電極12及びY軸電極13の数、検出可能な指の数はこれに限られない。<検出対象の接触領域数判断ステップ>検出対象の接触領域数判断ステップでは、はじめに、検出部X軸側検出部14及びY軸側検出部15が、X軸電極12とY軸電極13をスキャンして、各電極のセンサ出力値をそれぞれ検出するステップST11、ST12。ここでは、10本のX軸電極X0~X9及びY軸電極Y0~Y9に対してそれぞれスキャンを行うスキャン回数20回。次に、演算処理部18は、検出された各電極のセンサ出力値に基づいて、検出対象の接触領域数を判断するステップST13~ST19。例えば、演算処理部18は、複数のX軸方向とY軸方向における各電極のセンサ出力値について、それぞれセンサ出力値の絶対値が第1の閾値以上となるピーク数を検出するON電極情報算出処理ステップST13を行い、検出されたピーク数に基づいて検出対象の接触領域数を判断する。接触領域数は、X軸方向又はY軸方向のセンサ出力値のピーク数のうち相対的に数が多い方と同じ数と判断することができる。なお、この際、XY判定結果のマップテーブルに基づいて検出対象の接触領域数を判断してもよい。演算処理部18は、検出対象の接触が検出されステップST14のNo及びステップST15のNo、複数のX軸電極12のセンサ出力値と複数のY軸電極13のセンサ出力値の少なくとも一方に、センサ出力値の絶対値が第1の閾値以上となるピークが2以上ある場合ステップST16のNo、ステップST17のNoには、検出対象の接触領域を2以上と判断するステップST19。一方、複数のX軸電極12のセンサ出力値と複数のY軸電極13のセンサ出力値の双方において、ピークが1つである場合には、検出対象の接触領域を1つと判断するステップST18。この際、X軸方向における複数のX軸電極12のセンサ出力値の分布において、連続して第1の閾値以上となる電極は一つのピークとしてカウントする。Y軸電極13についても同様である。図4に示す場合、演算処理部18は、X軸方向について、センサ出力値の絶対値が連続して第1の閾値以上となるX2及びX3を1つ目のピークX1と判断し、X5~X7を2つ目のピークX2と判断する。同様に、Y軸方向について、センサ出力値の絶対値が連続して第1の閾値以上となるY2及びY3を1つ目のピークY1と判断し、Y5~Y7を2つ目のピークY2と判断する。つまり、演算処理部18は、検出対象の接触領域数を2以上と判断する。なお、本実施の形態における第1の閾値に一定の幅を持たせてもよい。例えば、図9に示すように、第1の閾値にON閾値とOFF閾値を設定することによりヒステリシス特性を持たせることができる。これにより、第1の閾値付近における入力信号の揺らぎを除去することが可能となる。<イメージスキャンステップ>検出対象の接触領域判断ステップにおいて、検出対象の接触領域数が2以上と判断された場合には、イメージスキャンステップを行うステップST20。イメージスキャンステップでは、演算処理部108は、各電極から出力されるセンサ出力値に基づいてピーク領域を設定し、検出部X軸側検出部14及びY軸側検出部15は、ピーク領域における電極の交点のセンサ出力値を検出する。ピーク領域は、X軸電極12とY軸電極13の双方のセンサ出力値の絶対値が第1の閾値以上となる領域、つまりセンサ出力値が連続して第1の閾値以上となるX軸電極とY軸電極を組み合わせた領域とすることができる。図4に示す場合には、第1のピーク領域X2~X3,Y2~Y3、第2のピーク領域X2~X3,Y5~Y7、第3のピーク領域X5~X7,Y2~Y3、第4のピーク領域X5~X7,Y5~Y7の4つのピーク領域を設定する。この場合、ピーク領域には、実際に検出対象が接触する領域第2のピーク領域X2~X3,Y5~Y7及び第3のピーク領域X5~X7,Y2~Y3と、検出対象が実際には接触していない領域第1のピーク領域X2~X3,Y2~Y3及び第4のピーク領域X5~X7,Y5~Y7が含まれる。次に、検出部は、第1のピーク領域~第4のピーク領域におけるX軸電極12とY軸電極13の交点のセンサ出力値を検出するために、該当する電極を選択的にスキャンするスキャン回数25。これにより、特定のX軸電極12とY軸電極電14の交点図4の△部分のセンサ出力値が得られる。第1のピーク領域~第4のピーク領域において、X軸電極とY軸電極の交点のセンサ出力値を表したXY判定結果のマップテーブルを図5Aに示す。なお、図5Aにおいて、交点のセンサ出力値の検出を行っていない箇所は0としている。このように、ピーク領域に限定して、複数の電極の交点のセンサ出力値を検出することにより、全ての電極の交点をスキャンする場合スキャン回数100回と比較して、電極のスキャン回数を低減することが可能となる。<座標算出ステップ>上記検出対象の接触領域数判断ステップにおいて、検出対象の接触領域が2以上と判断された場合には、複数のピーク領域における電極の交点のセンサ出力値と、ピーク領域における電極の座標に基づいて、検出対象が接触した領域の座標を算出するステップST21。この場合、複数のピーク領域には、実際に検出対象が接触している領域と、実際には接触していない領域が含まれるため、検出対象が実際に接触しているピーク領域のデータに基づいて座標を決定する。例えば、演算処理部18は、ピーク領域毎に電極の交点のセンサ出力値の絶対値を足し合わせ、その合計値SUMが多いピーク領域を選択する。そして、選択したピーク領域の電極の交点のセンサ出力値とピーク領域の電極の座標例えば、交点の座標に基づいて、重心計算法等の算出方法を適用して検出対象の座標を求めることができる。また、演算処理部18は、複数のピーク領域の中から合計値SUMが多い順に、検出対象の接触領域数と同じ数ここでは2のピーク領域を選択する。つまり、選択するピーク領域の数は、複数のX軸電極又は複数のY軸電極のセンサ出力値のピーク数のうち数が多い方と同じ数となる。各電極のセンサ出力値が図4に示す場合には、第1のピーク領域X2~X3,Y2~Y3における電極交点のセンサ出力値の合計値SUM1は15、第2のピーク領域X2~X3,Y5~Y7の合計値SUM2は76、第3のピーク領域X5~X7,Y2~Y3の合計値SUM3は76、第4のピーク領域X5~X7,Y5~Y7の合計値SUM4は20となる図5A参照。したがって、演算処理部18は、検出対象の接触領域が2と判断されている場合には、センサ出力値の合計値の上位2つ目までのピーク領域第2のピーク領域と第3のピーク領域を選択する。そして、演算処理部18は、第2のピーク領域と第3のピーク領域において、電極の交点のセンサ出力値と電極の座標とに基づいて、重心計算法を適用して検出対象の座標を求めることができる。なお、座標の算出方法は重心計算法に限定されず、曲線近似計算法等の他の方法を適用してもよい。また、演算処理部18は、複数のピーク領域について、電極の交点のセンサ出力値の合計値SUMを比較する前に、交点のセンサ出力値に対して、第2の閾値より大きいデータのみを有効として扱う構成としてもよい。この場合、電極の交点のセンサ出力値の中で第2の閾値以下のセンサ出力値を無効例えば、0とする。そして、ピーク領域における電極の交点のセンサ出力値の合計値SUMが0であるピーク領域は無効と判断することができる。例えば、第2の閾値を5とした場合に、電極の交点のセンサ出力値が5以下である交点について、センサ出力値を無効0とする図5B参照。その結果、実際に検出対象が接触していない第4のピーク領域の合計値SUMは0となり、第4のピーク領域は無効と判断することができる。一方で、実際に検出対象が接触していないピーク領域における交点のセンサ出力値の合計値が0とならない場合例えば、図5Bの第1のピーク領域もあるが、センサ出力値の合計値SUM1が3番目となるため、座標を決定するためのピーク領域としては選択されない。このように第2の閾値以下のセンサ出力値を0とすることにより、実際に検出対象が接触していないピーク領域においてノイズ等により発生するセンサ出力値を排除することができる。また、実際に検出対象が接触していないピーク領域が有効と判断される場合であっても、検出対象が接触しているピーク領域と接触していないピーク領域の合計値の差を大きくし、より明確に区別することが可能となる。なお、演算処理部18は、検出対象の座標の算出を連続して行う場合に、n回目の座標の算出において、直前n-1回目の座標の算出で得られた座標を考慮して、第2の閾値を領域毎に異なる値に設定してもよい。これは、n回目の座標の算出において、n-1回目で特定された座標付近に検出対象がある可能性が高いためである。例えば、n-1回目の座標の算出において特定された座標から最も近い電極X軸電極とY軸電極と、当該電極に隣接する電極における交点に対して、n回目の座標の算出において第2の閾値を相対的に低く設定してもよい。n-1回目の座標の算出において特定された座標から最も近い電極がX2,Y6である場合図8参照には、各電極に隣接する電極X1,X3,Y5,Y7も含めたX軸電極及びY軸電極の交点この場合、9箇所において、第2の閾値を相対的に低く設定する。なお、n-1回目の座標の算出において特定された座標から最も近い電極は、当該座標の値と電極分解能に基づいて決定することができる。これにより、前回の座標の算出で補足していた指の接触面積が、指の移動に伴って一時的に減少する場合であっても、ピーク領域を有効と判断することができる。その結果、検出対象が移動している場合に、一時的に接触面積が減少してセンサ出力値が減少した場合であっても、直前に補足していた検出対象を見失うこと未検出となるを抑制することが可能となる。また、演算処理部18は、検出対象の座標の算出を連続して行う場合に、n回目の座標の算出において、直前n-1回目の座標の算出で得られた座標を考慮して、座標を決定してもよい。例えば、n-1回目の座標の算出で得られた座標と、n回目の座標の算出において設定された複数のピーク領域の座標とを比較し、n回目に設定されたピーク領域の座標の中から、n-1回目の座標との距離が最も近いピーク領域の座標を、n回目の座標の算出における検出対象の座標とすることができる。具体的には、下記式1に示すように、√XOLD-X2YOLD-Y2が最小となるX座標とY座標を算出することにより、検出対象の座標を決定することができる。なお、n回目の座標の算出において設定された複数のピーク領域の座標は、重心計算法等により電極の交点のセンサ出力値と電極の座標とに基づいて算出しておけばよい。式1MIN√XOLD-X2YOLD-Y2XOLD:直前のX軸の出力座標YOLD:直前のY軸の出力座標X:各ピーク領域のX軸の重心座標Y:各ピーク領域のY軸の重心座標なお、検出対象の接触領域数判断ステップにおいて、検出対象の接触領域数が1つと判断された場合には、演算処理部18は、各電極のセンサ出力値に基づいて検出対象の座標領域を算出するステップST22。この場合、X軸電極12及びY軸電極13のセンサ出力値が第1の閾値以上となるピーク領域は1つとなるため、ピーク領域の電極のセンサ出力値と電極の座標に基づいて、検出対象の座標を算出する。検出対象の座標を算出した後、演算所処理部18は、得られた座標やON電極情報を出力するステップST23。また、上述した説明では、検出対象の接触領域数が複数の場合にイメージスキャンステップを行う場合を示したが、本実施の形態の座標検出装置は、検出対象の接触領域が2と判断された場合にのみ、イメージスキャンステップを行う構成としてもよい。つまり、複数のX軸電極12のセンサ出力値と複数のY軸電極13のセンサ出力値の少なくとも一方に、センサ出力値の絶対値が第1の閾値以上となるピークが3つ以上ある場合には、X軸電極とY軸電極の交点のセンサ出力値の検出を行わない構成とすることができる。この場合、検出対象の接触領域数判断ステップにおいて、検出対象の接触領域数が3以上と判断された場合図7のステップST31~ST33には、イメージスキャンステップを行わず、検出対象の接触領域数が1の場合と同様の手順を行う構成とすることができる。なお、検出対象の接触領域数が3以上と判断された場合に、座標の検出を行わない構成としてもよい。一般に、マルチタッチを行う場合に、ユーザにとって有効な操作は2本の指で操作を行う場合であると考えられる。これは、3本以上の指のタッチは、ユーザにとって複雑であり直感的な動作でないためである。したがって、検出対象の接触領域数が2である場合にのみ、スキャン数が増加するイメージスキャンステップを行って電極の交点のセンサ出力値を検出し、検出対象の接触領域数が1又は3以上であると判断した場合には、イメージスキャンステップを行わないことが好ましい。これにより、不要なスキャンを抑制し、使用状態に応じて最適なスキャン回数を適用して、座標を検出することが可能となる。本発明は上述した実施の形態に限定されるものではない。その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能である。"