測定対象の太陽電池を照明し、光量がそれぞれ異なる複数の照射光を照射する光源部と、前記複数の照射光を受けたときの、前記太陽電池のそれぞれの短絡電流とそれぞれの分光感度とを測定する測定部と、前記それぞれの分光感度を用いて、予め定められている所定の分光放射照度の光を前記太陽電池に照射した場合のそれぞれの短絡電流を算出する算出電流算出部と、前記測定部で測定された少なくとも2つの短絡電流と、当該短絡電流が測定されたときの分光感度を用いて前記算出電流算出部が算出したそれぞれの短絡電流とに基づいて、前記所定の分光放射照度の光を前記太陽電池に照射した場合の短絡電流を算出する短絡電流算出部とを備えることを特徴とする短絡電流測定装置。前記光源部は、ある光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した分光感度と前記所定の分光放射照度とを用いて前記算出電流算出部が算出した短絡電流と、当該ある光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した短絡電流とに基づいて求められた光量の照射光を照射することを特徴とする請求項1記載の短絡電流測定装置。前記光源部は、ある光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した第1短絡電流と、当該ある光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した第1分光感度と前記所定の分光放射照度とを用いて前記算出電流算出部が算出した第2短絡電流と、当該ある光量と微小量異なる光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した第3短絡電流と、当該ある光量と微小量異なる光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した第2分光感度と前記所定の分光放射照度とを用いて前記算出電流算出部が算出した第4短絡電流と、に基づいて求められた光量の照射光を照射することを特徴とする請求項1記載の短絡電流測定装置。前記短絡電流算出部は、前記所定の分光放射照度の光を前記太陽電池に照射した場合の短絡電流として、前記測定部が測定した短絡電流と前記算出電流算出部が算出した短絡電流とに基づいた補間式を用いて、前記測定部が測定した短絡電流と前記算出電流算出部が算出した短絡電流とが等しくなるような短絡電流を算出することを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の短絡電流測定装置。請求項1ないし4のいずれかに記載の短絡電流測定装置によって、予め定められている所定の短絡電流が測定されるときの、太陽電池の分光感度を測定する分光感度測定部と、ある分光放射照度の照射光を照射する光源部と、前記ある分光放射照度と前記分光感度測定部で測定した分光感度とから求めた短絡電流と、前記所定の短絡電流とが近似するように、前記光源部が照射する照射光の分光照射照度を変更する調整部とを備えることを特徴とする太陽電池評価装置。ある分光放射照度の照射光を照射する光源部と、前記ある分光放射照度の照射光が照射されたときの、複数の短絡電流を測定する短絡電流測定部と、前記短絡電流測定部が測定したそれぞれの短絡電流が測定されるときのそれぞれの分光感度を測定する分光感度測定部と、前記分光感度測定部が測定したそれぞれの分光感度と前記ある分光放射照度とから、それぞれの短絡電流を算出する算出電流算出部と、短絡電流測定部が測定した短絡電流と前記算出電流算出部が算出した短絡電流値とに基づいて、予め定められている分光放射照度の照射光を前記太陽電池に照射した場合の短絡電流を算出する短絡電流算出部と、前記短絡電流算出部が算出した短絡電流と、予め定められている短絡電流とに基づいて、前記光源部が照射する照射光の分光照射照度を変更する調整部とを備えることを特徴とする太陽電池評価装置。測定対象の太陽電池を照明する光源から、光量がそれぞれ異なる複数の照射光を照射する光源部を備える短絡電流測定装置で用いられる短絡電流測定方法であって、前記複数の照射光を受けたときの、前記太陽電池のそれぞれの短絡電流とそれぞれの分光感度とを測定する測定ステップと、前記それぞれの分光感度を用いて、予め定められている所定の分光放射照度の光を前記太陽電池に照射した場合のそれぞれの短絡電流を算出する算出電流算出ステップと、前記測定ステップで測定された少なくとも2つの短絡電流と、当該短絡電流が測定されたときの分光感度を用いて前記算出電流算出ステップで算出したそれぞれの短絡電流とに基づいて、前記所定の分光放射照度の光を前記太陽電池に照射した場合の短絡電流を算出する短絡電流算出ステップとを備えることを特徴とする短絡電流測定方法。ある分光放射照度の照射光を照射する光源部を備える太陽電池評価装置で用いられる太陽電池評価方法であって、請求項1ないし4のいずれかに記載の短絡電流測定装置によって、予め定められている所定の短絡電流が測定されるときの、太陽電池の分光感度を測定する分光感度測定ステップと、前記ある分光放射照度と前記分光感度測定ステップで測定した分光感度とから求めた短絡電流と、前記所定の短絡電流とが近似するように、前記光源部が照射する照射光の分光照射照度を変更する調整ステップとを備えることを特徴とする太陽電池評価方法。ある分光放射照度の照射光を照射する光源部を備える太陽電池評価装置で用いられる太陽電池評価方法であって、前記ある分光放射照度の照射光が照射されたときの、複数の短絡電流を測定する短絡電流測定ステップと、前記短絡電流測定ステップが測定したそれぞれの短絡電流が測定されるときのそれぞれの分光感度を測定する分光感度測定ステップと、前記分光感度測定ステップで測定したそれぞれの分光感度と前記ある分光放射照度とから、それぞれの短絡電流を算出する算出電流算出ステップと、短絡電流測定ステップで測定した短絡電流と前記算出電流算出ステップで算出した短絡電流値とに基づいて、予め定められている分光放射照度の照射光を前記太陽電池に照射した場合の短絡電流を算出する短絡電流算出ステップと、前記短絡電流算出ステップで算出した短絡電流と、予め定められている短絡電流とに基づいて、前記光源部が照射する照射光の分光照射照度を変更する調整ステップとを備えることを特徴とする太陽電池評価方法。ここで、太陽電池は、図4に示すように、太陽電池に照射される照射強度が増えて、短絡電流が増加するに従い、長波長の分光感度が増加する。この様子を、図5に示す。参照符号F0で示されるグラフは、図4を模式化したグラフであり、参照符号F1、F2、F3等で示されるグラフはそれぞれ、図4の照射強度毎の分光感度を示すグラフである。これらのF1、F2、F3等のグラフを、照射強度を横軸に、短絡電流を縦軸に変換すると、照射強度がΔEだけ変化した場合に短絡電流がΔI変化するグラフとなる。ここで、線形特性の太陽電池の場合、短絡電流の変化は照射強度に依存せずに一定の値となるため、照射強度と短絡電流との関係を示すグラフは直線になる。しかし、太陽電池が非線形特性を持つ場合には、短絡電流の変化は照射強度により異なることになるため、照射強度と短絡電流との関係を示すグラフは、参照符号Faで示すような曲線のグラフになる。この例では、照射光エネルギーが増えるに従い、長波長側の感度が増えて、ΔI/ΔEの値が大きくなっている。従って、上述の技術では、非常に弱いバイアス光から略15ESTC相当の強いバイアス光範囲で細かくバイアス光強度を変えて、そのときのSを測定し、上記式Aを満足するISTCを求めなければならない。このため、短絡電流ISTCを得る為に、多くの測定と多くの演算を行わなければならず、長時間を要することとなる。また、非線形性の強い太陽電池では、ESTC∫0ISTC1sdIを満たすISTCでは誤差を生じる場合がある。更に、バイアス光強度の変化を細かく、すなわち、Nを大きくしないと積分誤差を生じることがあるので、積分∫SEAM15λdλ∫EAM15λdλをN1回計算するために、能力の高い演算処理装置が必要となる。また、安定したバイアス光が必要な放射照度範囲が狭いので、バイアス光源の駆動制御部が複雑とならざるを得ず、高価になってしまうという問題がある。本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、より少ない演算量と時間とで標準試験条件の光による太陽電池の短絡電流を容易に求め、ソーラーシミュレータの光量調整を容易に行うことを目的とする。本発明の一態様に係る短絡電流測定装置は、測定対象の太陽電池を照明し、光量がそれぞれ異なる複数の照射光を照射する光源部と、前記複数の照射光を受けたときの、前記太陽電池のそれぞれの短絡電流とそれぞれの分光感度とを測定する測定部と、前記それぞれの分光感度を用いて、予め定められている所定の分光放射照度の光を前記太陽電池に照射した場合のそれぞれの短絡電流を算出する算出電流算出部と、前記測定部で測定された少なくとも2つの短絡電流と、当該短絡電流が測定されたときの分光感度を用いて前記算出電流算出部が算出したそれぞれの短絡電流とに基づいて、前記所定の分光放射照度の光を前記太陽電池に照射した場合の短絡電流を算出する短絡電流算出部とを備えることを特徴とする。また、上述の短絡電流測定装置において、前記光源部は、ある光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した分光感度と前記所定の分光放射照度とを用いて前記算出電流算出部が算出した短絡電流と、当該ある光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した短絡電流とに基づいて求められた光量の照射光を照射することを特徴とする。また、上述の短絡電流測定装置において、前記光源部は、ある光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した第1短絡電流と、当該ある光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した第1分光感度と前記所定の分光放射照度とを用いて前記算出電流算出部が算出した第2短絡電流と、当該ある光量と微小量異なる光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した第3短絡電流と、当該ある光量と微小量異なる光量の照射光を照射した場合に前記測定部が測定した第2分光感度と前記所定の分光放射照度とを用いて前記算出電流算出部が算出した第4短絡電流と、に基づいて求められた光量の照射光を照射することを特徴とする。また、上述の短絡電流測定装置において、前記短絡電流算出部は、前記所定の分光放射照度の光を前記太陽電池に照射した場合の短絡電流として、前記測定部が測定した短絡電流と前記算出電流算出部が算出した短絡電流とに基づいた補間式を用いて、前記測定部が測定した短絡電流と前記算出電流算出部が算出した短絡電流とが等しくなるような短絡電流を算出することを特徴とする。そして、本発明の他の一態様に係る短絡電流測定方法は、測定対象の太陽電池を照明する光源から、光量がそれぞれ異なる複数の照射光を照射する光源部を備える短絡電流測定装置で用いられる短絡電流測定方法であって、前記複数の照射光を受けたときの、前記太陽電池のそれぞれの短絡電流とそれぞれの分光感度とを測定する測定ステップと、前記それぞれの分光感度を用いて、予め定められている所定の分光放射照度の光を前記太陽電池に照射した場合のそれぞれの短絡電流を算出する算出電流算出ステップと、前記測定ステップで測定された少なくとも2つの短絡電流と、当該短絡電流が測定されたときの分光感度を用いて前記算出電流算出ステップで算出したそれぞれの短絡電流とに基づいて、前記所定の分光放射照度の光を前記太陽電池に照射した場合の短絡電流を算出する短絡電流算出ステップとを備えることを特徴とする。このような構成の短絡電流測定装置では、分光放射照度Eでの照射光を太陽電池に照射した場合の短絡電流と推定される短絡電流の近傍の短絡電流を用いるので、その短絡電流の時の分光感度Sを測定すればよい。従って、測定回数が少なく、演算量も少なくなるので、容易に短絡電流を求めることが可能となる。本発明の一態様に係る太陽電池評価装置は、上記の短絡電流測定装置によって、予め定められている所定の短絡電流が測定されるときの、太陽電池の分光感度を測定する分光感度測定部と、ある分光放射照度の照射光を照射する光源部と、前記ある分光放射照度と前記分光感度測定部で測定した分光感度とから求めた短絡電流と、前記所定の短絡電流とが近似するように、前記光源部が照射する照射光の分光照射照度を変更する調整部とを備えることを特徴とする。また、本発明の一態様に係る太陽電池評価装置は、ある分光放射照度の照射光を照射する光源部と、前記ある分光放射照度の照射光が照射されたときの、複数の短絡電流を測定する短絡電流測定部と、前記短絡電流測定部が測定したそれぞれの短絡電流が測定されるときのそれぞれの分光感度を測定する分光感度測定部と、前記分光感度測定部が測定したそれぞれの分光感度と前記ある分光放射照度とから、それぞれの短絡電流を算出する算出電流算出部と、短絡電流測定部が測定した短絡電流と前記算出電流算出部が算出した短絡電流値とに基づいて、予め定められている分光放射照度の照射光を前記太陽電池に照射した場合の短絡電流を算出する短絡電流算出部と、前記短絡電流算出部が算出した短絡電流と、予め定められている短絡電流とに基づいて、前記光源部が照射する照射光の分光照射照度を変更する調整部とを備えることを特徴とする。そして、本発明の他の一態様に係る太陽電池評価方法は、ある分光放射照度の照射光を照射する光源部を備える太陽電池評価装置で用いられる太陽電池評価方法であって、上記短絡電流測定装置によって、予め定められている所定の短絡電流が測定されるときの、太陽電池の分光感度を測定する分光感度測定ステップと、前記ある分光放射照度と前記分光感度測定ステップで測定した分光感度とから求めた短絡電流と、前記所定の短絡電流とが近似するように、前記光源部が照射する照射光の分光照射照度を変更する調整ステップとを備えることを特徴とする。また、本発明の他の一態様に係る太陽電池評価方法は、ある分光放射照度の照射光を照射する光源部を備える太陽電池評価装置で用いられる太陽電池評価方法であって、前記ある分光放射照度の照射光が照射されたときの、複数の短絡電流を測定する短絡電流測定ステップと、前記短絡電流測定ステップが測定したそれぞれの短絡電流が測定されるときのそれぞれの分光感度を測定する分光感度測定ステップと、前記分光感度測定ステップで測定したそれぞれの分光感度と前記ある分光放射照度とから、それぞれの短絡電流を算出する算出電流算出ステップと、短絡電流測定ステップで測定した短絡電流と前記算出電流算出ステップで算出した短絡電流値とに基づいて、予め定められている分光放射照度の照射光を前記太陽電池に照射した場合の短絡電流を算出する短絡電流算出ステップと、前記短絡電流算出ステップで算出した短絡電流と、予め定められている短絡電流とに基づいて、前記光源部が照射する照射光の分光照射照度を変更する調整ステップとを備えることを特徴とする。このような構成の太陽電池評価装置では、分光放射照度Eでの照射光を太陽電池に照射した場合の短絡電流及び分光感度を容易に算出できるので、容易にソーラーシミュレータの光量を調整することが可能となる。本発明に係る太陽電池評価装置は、標準試験条件の光による太陽電池の短絡電流を短時間で容易に求めることができ、ソーラーシミュレータの光量調整を短時間で容易に行うことが可能となる。<実施形態>本発明は、上記式Aを演算することなく、標準試験条件の光EAM15λによる短絡電流ISTCを算出し、ソーラーシミュレータの光量調整を行うものである。従って、実施形態では、標準試験条件の光による太陽電池の短絡電流を求める短絡電流測定装置と、この短絡電流を用いてソーラーシミュレータの光量調整を行う太陽電池評価装置とを例に説明する。<短絡電流測定装置><構成>図1は、短絡電流測定装置100の構成を示すブロック図である。この短絡電流測定装置100は、バイアスの光の照射を行いつつ、単色光実際には、数nmの狭波長帯域を持つ波長の光を照射し、太陽電池11からの電流を逐次求めることで分光感度を測定し、EAM15λの光による太陽電池11の短絡電流を算出するものである。短絡電流測定装置100は、光源2、分光光源駆動制御部1、光学系3a、光学系3b、光学系3c、光学系3d、モノクロメータ4、モノクロメータ制御部5、サーボモータ6、光ブレード6a、チョッピングモータ駆動制御部7、ハーフミラー20、ハーフミラー21、光源9、バイアス光源駆動制御部8、放射照度測定部10、太陽電池11、ロックインアンプ12、DCアンプ13、DCアンプ14、演算制御部15、データ入出力部16、データ記憶部17、設定部18、及び、表示部19で構成される。光源2は、太陽電池11に光を照射するキセノンランプ等であり、分光光源駆動制御部1は、光源2の出力光の強度を制御する装置である。光学系3a、光学系3b、光学系3c、光学系3dは、その用途に応じて光を集中、又は、コリメート平行光化させるためのレンズ等の光学素子である。モノクロメータ4は、広範囲の波長の光を空間的に分散させ、それをスリット等で狭い範囲の波長のみを取り出す分光器である。モノクロメータ4は、例えば、入射スリット、第1反射鏡、回折格子、第2反射鏡、及び、出射スリットを備えて構成され、入射スリットを介して入射された入射光束を第1反射鏡で回折格子へ反射し、回折格子で回折された入射光束の回折光を第2反射鏡で出射スリットへ反射する装置である。回折格子等を回転させてスリットの位置に到達する光の波長を選択させ、所望の範囲の波長のみを取り出す。モノクロメータ制御部5は、前記所望する範囲の波長を取り出すようにモノクロメータ4を制御する機能部である。光ブレード6aは、所定の幅で径方向にのびる切欠き部が周方向に一定間隔に並んでいる円板状の部材であり、サーボモータ6は、サーボ機構において光ブレード6aをその中心を回転軸として回転させるモータである。チョッピングモータ駆動制御部7は、光ブレード6aが所望の速度で回転するようにサーボモータ6を制御する装置である。ハーフミラー20、及び、ハーフミラー21は、入射した光の一部を反射し、一部を透過する光学素子であり、入射した光を2つに分配する光学素子である。光源9は、太陽電池11に光を照射するキセノンランプ等であり、バイアス光源駆動制御部8は、光源9の出力光の強度を制御する装置である。放射照度測定部10は、ハーフミラー20による反射光モノクロメータ4から射出された単色光の放射照度を測定する装置であり、DCアンプ14は、放射照度測定部10で測定された、図5で示す放射照度ΔEを出力する。太陽電池11は、測定対象の太陽電池である。ロックインアンプ12、及び、DCアンプ13は太陽電池11の光電流を取り出す装置である。ここで、図6は、太陽電池11が出力する光電流のグラフの例を示す図である。太陽電池11には、後述のように、光源9から射出された光バイアス光と、光ブレード6aによって所定周期周期TでON/OFFされたパルスの単色光単色光パルス、変調光とが重畳された光が照射される。そのため、このグラフで示すように、太陽電池11が出力する光電流には、バイアス光による光電流と、所定周期Tで入射される単色光パルスによる光電流とを含んでいる。ロックインアンプ12は、図4に示す単色光パルスによる光電流を所定周期Tと同期することで検出し、図5で示すΔIを出力する。また、DCアンプ13は、図4に示すバイアス光による光電流、すなわち、図5に示す参照符号Faのグラフの縦軸で示す太陽電池11の短絡電流の値を出力する。光源2から射出された光は、光学系3aを介してモノクロメータ4に入射し、モノクロメータ4で所定波長の光が切り出されて、モノクロメータ4から単色光が射出される。モノクロメータ4から射出された単色光は、光学系3bを介してハーフミラー20に入射し、入射した単色光の一部が反射されて放射照度測定部10に入射する。残余の単色光は透過して、光ブレード6aに入射する。光ブレード6aに入射した単色光は、光ブレード6aの周方向に並ぶ切欠き部によって透過又は遮光されることで所定周期TでON/OFFされてパルス化され、光学系3cを介し、ハーフミラー21を介して太陽電池11に入射する。一方、光源9から射出された光は、光学系3dを介してハーフミラー21に入射し、ハーフミラー21で反射されたバイアス光は太陽電池11に入射する。すなわち、光源9から射出されたバイアス光は、モノクロメータ9から射出された単色光パルスと重畳されて、太陽電池11に入射する。演算制御部15は、ロックインアンプ12から取得したΔIと、DCアンプ14から取得したΔEと、DCアンプ13から取得した短絡電流Iとから、太陽電池11のEAM15λの光による短絡電流ISTCを算出し、分光光源駆動制御部1等を制御して短絡電流測定装置100全体を制御する。短絡電流ISTCの算出方法は、<短絡電流の算出方法>の項で説明する。データ入出力部16は、外部の機器とデータをやり取りするための、USBポート等のいわゆる外部インタフェースであり、データ記憶部17は、その用途に応じて、例えば、RAMRandomAccessMemory等の揮発性の記憶素子、ROMReadOnlyMemoryや書換え可能なEEPROMElectricallyErasableProgrammableReadOnlyMemory等の不揮発性の記憶素子、ハードディスク等により構成され、演算制御部15が動作するのに必要なプログラムや、データを記憶している。設定部18は、短絡電流測定処理を開始するコマンドや、処理を行う上で必要な分光光源駆動制御部1等の制御部に対するパラメータ等の各種データを、短絡電流測定装置100に入力する機器である。例えば、キーボードやマウス等である。表示部19は、設定部18から入力されたコマンドやデータ、及び、演算制御部15が算出した短絡電流値等を出力提示する機器である。例えばCRTディスプレイ、LCD、有機ELディスプレイ、及び、プラズマディスプレイ等の表示装置やプリンタ等の印刷装置等である。短絡電流測定装置100の演算制御部15、データ入出力部16、データ記憶部17、設定部18、及び、表示部19等は、例えば、マイクロプロセッサ、メモリおよびその周辺回路を備えるコンピュータによって構成される。前記マイクロプロセッサは、いわゆるCPUCentralProcessingUnit等であり、メモリに記憶されているプログラムを実行することにより、短絡電流測定装置100は、機能的に、演算制御部15~表示部19等を備えることになる。<短絡電流の算出方法>本実施形態での短絡電流の算出方法を説明する。実施形態では、I∫SEAM15λdλを満足する短絡電流Iを算出し、それを所望する短絡電流ISTCとするものである。具体的には、測定で求めた短絡電流Iiと、演算で求めた短絡電流Kiとから、Ki∫SEAM15λdλriIiKiを算出する。ここで、分光感度Sは、ロックインアンプ12から取得したΔIと、DCアンプ14から取得したΔEとから、SΔIΔEを用いて求める。また、短絡電流Iは、DCアンプ13から取得したものである。そして、N1組のKiとIiとから補間式fを求める。そして、r1のときのfから、短絡電流を求め、それを所望する短絡電流ISTCとする。図7を用いて、短絡電流の算出方法の考え方を説明する。測定で求めた短絡電流Iと、演算で求めた短絡電流Kには差があるので、図7に示すように、例えば、I0とK0とはずれており、I1とK1もずれている。従って、r0、r1は1ではない。ここで、Faで示されるグラフは、グラフ上にある1点のごく近傍では直線に限りなく近いと考えて、I0K0とI1K1とから補間式fを求め、r1のfから求めた短絡電流が、所望する短絡電流ISTCであると推定する。尚、図7では、r>1となるI0K0と、r<1となるI1K1とを例に示してしているが、ともにr<1又はr>1となるであってもよい。実際には、補間式fから求めた短絡電流と、所望する短絡電流ISTCとはずれが生じ得る。とはいえ、補間式fから求めた短絡電流は、所望する短絡電流ISTCにかなり近い値であるので、後述する具体例のように、バイアス光の強度を変えて、所望する短絡電流ISTCを求めることが望ましい。この場合、所望する短絡電流ISTCの近傍の短絡電流Kを算出するために分光感度を測定することになる。従って、分光感度Sは所望する短絡電流ISTCの近傍の複数個の短絡電流について測定されていれば十分であることになるので、より少ない回数のSの測定で所望する短絡電流ISTCを得ることができることになるようになる。すなわち、より少ない演算量と時間とで標準試験条件の光による太陽電池の短絡電流を容易に求めることが可能となる。以下、短絡電流測定装置100を用いて上記方法で短絡電流を求める具体例及び変形例を説明する。<具体例1>具体例1は、今回測定した分光感度Sを用いて、短絡電流Ki∫SEAM15λdλを求め、短絡電流Ki、及び、その時点以前の同様の値、すなわち、分光感度S、短絡電流Ki1等から短絡電流ISTCを推定する。そして、次にバイアス光を更新してSを測定する際のIi1が、推定したISTCになるようにバイアス光を更新する。これを繰り返すことで、前記推定したISTCが短絡電流ISTCに漸近するので、少ないバイアス光の変更回数で短絡電流ISTC、及び、そのときの分光感度Sを求めることができる。すなわち、測定した分光感度Sを用いて、所望する短絡電流ISTCに近い値が得られる次に設定すべきバイアス光強度を決定するので、少ない分光感度Sの測定回数で所望する短絡電流ISTCを得ることができることになる。図8は、具体例1のISTC測定処理を示すフローチャートである。測定を開始する前に、標準試験条件の分光放射照度EAM15λから、照射光エネルギーESTC∫EAM15λdλを算出し、EAM15λとESTCとをデータ記憶部17に記憶しておく。まず、光源9から照射されるバイアス光の放射照度Ebが略標準試験条件の光EAM15λになるように、光源9の制御パラメータの値β0が求められてバイアス光源駆動制御部8に設定されるステップS20。ここでいう光源9の制御パラメータとは光源9の電流、電圧など光源9の光量を制御するパラメータである。太陽電池11がセットされ、測定開始コマンドが設定部18から入力されると、演算制御部15は、インデックスiに0ゼロを設定するステップS21。次に、短絡電流Iiが測定されステップS22、演算制御部15は、短絡電流Ki∫SEAM15λdλと、riIiKiとを算出するステップS23。具体的には、演算制御部15は、上述の<短絡電流の算出方法>で説明したように、Kiとriとを算出する。ここで、算出された短絡電流K0以下、算出短絡電流という。が測定された短絡電流I0以下、測定短絡電流という。に一致する場合は、測定短絡電流I0及び算出短絡電流K0は、標準試験条件における被試験セルの短絡電流といえる。従って、riと1との差の絶対値が許容誤差ε内であればステップS24:Y、算出短絡電流Kiを所望の短絡電流ISTCとしステップS25、演算制御部15は、求めたISTCを、表示部19に表示して処理を終了する。一方、riと1との差の絶対値が許容誤差ε内でない場合はステップS24:N、iの数、すなわち何回目の測定であるかに応じて、バイアス光の調整を行う。算出短絡電流K0が測定短絡電流I0に一致しない場合、分光分布が略標準試験条件の光EAM15λに相似な照射光EAM15λを考えると、∫SEAM15λdλI0∫SEAM15λdλ∫SEAM15λdλI0である。これは、分光感度Sが、照射光EAM15λを被試験セルに照射したときの微分分光応答であることを意味している。被試験セルの応答がほぼ線形なら、バイアス光を倍すれば、略標準試験条件の光EAM15λを照射したときの短絡電流とほぼ同じの短絡電流が得られるはずである。従って、最初の測定i0の場合はステップS26:Y、K0I0倍となるようにバイアス光源のパラメータを調整してステップS34、2度目の測定をステップS22から開始する。ステップS27でiに1足してi1となり、ステップS28でIiにKi1、すなわち、K0を代入していることから、IiIi1は、K0I0となる。次に、2度目の測定では、測定短絡電流Iiが測定されステップS22、算出短絡電流Ki∫SEAM15λdλと、riIiKiとを算出するステップS23。ここで、算出短絡電流K1が測定短絡電流I1に一致する場合は、測定短絡電流I1及び算出短絡電流K1は標準試験条件における被試験セルの短絡電流である。従って、riと1との差の絶対値が許容誤差ε内であればステップS24:Y、算出短絡電流Kiを所望の短絡電流ISTCとしてステップS25、処理を終了する。一方、riと1との差の絶対値が許容範囲ε内でない場合はステップS24:N、ステップS26:N、ステップS29:Y、分光分布が略標準試験条件の光EAM15λに相似な照射光EAM15λを考えると、I0のときと同様に∫SEAM15λdλI1∫SEAM15λdλ∫SEAM15λdλI1だから、分光感度Sが、照射光EAM15λを被試験セルに照射したときの微分分光応答である。被試験セルの応答がI0、I1の近傍でほぼ線形なら、を通る次の直線rK0I0を求める。そして、r1になる短絡電流Iを求める。この短絡電流Iが所望の短絡電流ISTCとなる。直線rK0I0の解を求めると、ステップS30でiに1足してi2としているので、IiIi2となるステップS31。IiIi1倍となるようにバイアス光源のパラメータを調整してステップS34、3度目の測定をステップS22から開始する。尚、2度目の測定の時は、ステップS34において、バイアス光を倍になるようにしてもよい。また、r1になる短絡電流II2を求め、この短絡電流I2を所望の短絡電流ISTCとしてもよい。次に、3度目の測定では、測定短絡電流Iiが測定されステップS22、算出短絡電流Ki∫SEAM15λdλと、riIiKiとを算出するステップS23。ここで、riと1との差の絶対値が許容誤差ε内であればステップS24:Y、算出短絡電流Kiを所望の短絡電流ISTCとしてステップS25、処理を終了する。一方、riと1との差の絶対値が許容範囲ε内でない場合はステップS24:N、ステップS26:N、ステップS29:N、ステップS32に移る。分光分布が略標準試験条件の光EAM15λに相似な照射光EAM15λを考えると、I0のときと同様に∫SEAM15λdλI1∫SEAM15λdλ∫SEAM15λdλI1だから、Sが、照射光EAM15λを被試験セルに照射したときの微分分光応答である。を通る以下の2次式rを求め、r1の解Iiを求めるステップS33。そして、IiIi1倍となるようにバイアス光源のパラメータを調整してステップS34、4度目の測定をステップS22から開始する。尚、3度目の測定の時は、r1になる短絡電流II3を求め、この短絡電流I3を所望の短絡電流ISTCとしてもよい。また、ステップS34において、バイアス光を倍になるようにしてもよい。さらに、バイアス光を倍になるようにしてもよい。4度目以降は、3度目と同様にステップを繰り返し実行し、riと1との差の絶対値が許容誤差ε内になったとき、算出短絡電流Kiを所望の短絡電流ISTCとして処理を終了する。尚、実施形態では略標準試験条件の光EAM15λを用いて説明するが、これに限定されるものではなく、任意の分光放射照度Eλを仮想的に照射したときであってもよい。その時の短絡電流を算出できる。また、直線補間または2次式による補間の例を示したが、より高次の補間式を用いてもよい。多項式以外の任意の補間式でもよい。<具体例2>具体例2では、最初に複数の分光感度を測定し、その中から短絡電流ISTCに近い短絡電流を出力する分光感度を選択し、標準試験条件の光EAM15λによる短絡電流ISTCを算出する。図9は、具体例2のISTC測定処理を示すフローチャートである。測定を開始する前に、次の2つの準備を行っておく。1つ目は、標準試験条件の分光放射照度EAM15λから、放射光エネルギーESTC∫EAM15λdλを算出し、EAM15λとESTCとをデータ記憶部17に記憶しておく。2つ目は、光源9から照射されるバイアス光の放射照度Ebが略標準試験条件EAM15λになるように、光源9の制御パラメータの値β0を求めてバイアス光源駆動制御部8に設定しておく。尚、2つ目の準備は必須ではないが、バイアス光の変更回数を少なくするためには有効である。太陽電池11がセットされ、測定開始コマンドが設定部18から入力されると、複数、すなわちN1個の分光感度微分分光応答Sと測定短絡電流Iiとが測定されるステップS10。次に、N1個の計算上の短絡電流である算出短絡電流Ki∫SEAM15λdλを算出しステップS11、N1個のriIiKiを算出するステップS12。そして、1の前後のrjを適切な数、例えば3つ選択するステップS13。次に、ステップS13において選択されたrに関する、、を通る補完式fを求めるステップS14。そして、r1のときのfから、所望の短絡電流ISTCを求めるステップS15。演算制御部15は、求めた短絡電流ISTCを、表示部19に表示する。<具体例3>具体例3は、最初に放射照度Ebが略標準試験条件EAM15λになるように設定されたバイアス光源下で短絡電流と分光感度とを測定してから、その短絡電流に近似の短絡電流が測定される場合の分光感度を測定し、略標準試験条件の光EAM15λによる短絡電流ISTCを算出する。図10は、具体例3のISTC測定処理を示すフローチャートである。まず、測定を開始する前に、略標準試験条件の光EAM15λ、及び、その照射エネルギーESTCがデータ記憶部17に記憶され、光源9から照射されるバイアス光の放射照度Ebが略標準試験条件EAM15λになるように、光源9の制御パラメータの値β0が求められてバイアス光源駆動制御部8に設定される。太陽電池11がセットされ、測定開始コマンドが設定部18から入力されると、演算制御部15は、インデックスiに0ゼロを設定し、測定短絡電流I0を測定し、Iiに代入するステップS40。太陽電池11の短絡電流、すなわち、DCアンプ13から出力される短絡電流が略Iiとなるように、バイアス光を調整し、再度、短絡電流を測定してIiに代入しステップS41、分光感度Sを測定するステップS42。次に、短絡電流が測定短絡電流Iiより少し大きくIiΔIになるようバイアス光の強度を調整して、短絡電流IiΔIを測定してIiとしステップS43、分光感度Sを測定するステップS44。次に、分光感度Sと略標準試験条件の光の分光放射照度EAM15λとから、算出短絡電流Kiを算出し、バイアス光の強度を調整した後の分光感度Sと略標準試験条件の光の分光放射照度EAM15λとから算出短絡電流Kiを算出する。更に、riKiIi、riKiIiを算出しステップS45、riと1との差の絶対値が許容誤差ε内であればステップS46:Y、算出短絡電流Kiを所望の短絡電流ISTCとしてステップS47、処理を終了する。一方、riと1との差の絶対値が許容誤差ε内でない場合はステップS46:N、riKiIi、riKiIiを求め、とを通る直線を求める。そして、これからr1になる短絡電流Iを求めステップS48、求めた短絡電流IをIi1に代入し、インデックスiに1加算してステップS49、ステップS41からの処理を繰り返す。riIi∫SEAM15λdλを算出し、求めた算出短絡電流Kiから次の短絡電流Ii1を定め、その短絡電流Ii1が測定されるときの分光感度Sを測定する、というサイクルを繰り返すことで、分光感度Sを測定する回数が少なくて、所望の短絡電流ISTCを求めることが可能となる。すなわち、短絡電流がIi、IiΔIのときのそれぞれの分光感度SとSとを用いて、所望の短絡電流ISTCに近い値が得られる次に設定すべきバイアス光強度を決定するので、少ない回数の分光感度Sの測定で所望の短絡電流ISTCを得ることができるようになる。<変形例>従来技術では、s∫SEAM15λESTCdλから、微分方程式dEdI1sにより、次の積分方程式E∫0I1sdIを導き、これよりE=ESTCの解ISTCを求めている。ここで、EAM15λは、エアーマス1.5AM15の太陽光の分光放射照度を示し、ESTCは、標準試験条件の光の放射照度を示し、ISTCは、標準試験条件での太陽電池の短絡電流を示す。本変形例では、非線形性が強い場合はではなくdEdI1IdsdIss1ESTCdsdIsであることを見出し、E∫0I1IdsdIssdIESTCまたはE∫0I1ESTCdsdIsdIESTCの解ISTCを求めることにより、精度の高い短絡電流を計算する。また、、の積分下限は0にすると、バイアス光を変更する回数が多くなり、その回数分の分光感度を測定しなければならない。そこで、EE0∫I0I1sdIESTCまたはEE0∫I0I1IdsdIssdIESTCもしくはEE0∫I0I1ESTCdsdIsdIESTCを満足するIを求めてそれをISTCとする。E0∫0I01IdsdIssdIまたはE0∫0I01ESTCdsdIsdIであるが、分光感度Sのパラメータの値I0が得られるAM15の分光放射照度に比例した光の放射照度E0は、上述の考え方からE0I0∫EAM15λdλ∫SEAM15λdλにより算出できる。尚、本変形例は、標準試験条件での短絡電流の算出に限定するものではなく、任意の分光放射照度で照射したときの短絡電流を求める場合にも適用できる。従って、ソーラーシミュレータ調整時に、測定された分光放射照度における短絡電流の算出にも適用できることになる。図11は、本変形例の標準試験条件の光EAM15λによる短絡電流ISTCを算出するISTC測定処理を示すフローチャートである。まず、標準試験条件の分光放射照度EAM15λから、照射光エネルギーESTC∫EAM15λdλを算出し、EAM15λとESTCとをデータ記憶部17に記憶しておく。太陽電池11がセットされ、測定開始コマンドが設定部18から入力されると、演算制御部15は、光源9から照射されるバイアス光の放射照度Ebが、標準試験条件の分光放射照度の略2分の1、すなわち、0.5EAM15λになるように、光源9を調整しステップS50、短絡電流I0を測定するステップS51。次に、光源9から照射されるバイアス光の放射照度Ebが、標準試験条件の分光放射照度の略1.5倍、すなわち、1.5EAM15λになるように、光源9を調整しステップS52、短絡電流IN1を測定するステップS53。そして、微分分光応答Sを測定しステップS54、s∫SEAM15λESTCdλを算出するステップS55。ただしI00とする。次に、の3点から、以下の2次補間式giを求め、giαiI2βiIγi係数αiβiγiを1~Nのiについて算出するステップS56。非線形性が強い場合にはステップS57:Y、fi1IidgidIgigiを算出するステップS59。一方、非線形性がさほど強くない場合にはステップS57:N、fi1giを算出するステップS58。次に、の3点から、以下の2次補間式fiを求め、fiaiI2biIci係数aibiciを1~Nのiについて算出し、Ficiを1~Nのiについて算出するステップS60。Fiは∫Ii1IifidIに対応する値である。次に、SFΣi1jFi≧となるまでjを1から順次増やしてこの不等式を満たす最小のjを求めステップS62~65、SFSFFjを算出するステップS66。次に、3次方程式SFcjESTCE0を満たすIを求め、それをISTCとするステップS67。尚、ステップS58、又は、ステップS59における補間は、2次補間に限定するものではない。その場合は、ステップS67において、その補間に応じた方程式を解くことになる。また、多項式以外の任意の補間式でもよい。また、短絡電流Iについての積分において、非線形性に応じて上記を用いるかもしくはを用いるか使い分けてもよい。<太陽電池評価装置><構成>図12は、太陽電池評価装置200の構成を示すブロック図である。太陽電池評価装置200は、ソーラーシミュレータの照射光の強度を調整するものである。太陽電池評価装置200では、上述した短絡電流測定装置100と同様の方法で短絡電流Iを求め、その短絡電流が目標となる短絡電流ISTCとなるように、ソーラーシミュレータを調整する。太陽電池評価装置200は、光源32、光源駆動制御部31、光学系33、基準白色板34、分光放射照度測定部35、光ファイバー35a、演算制御部36、データ入出力部37、データ記憶部38、設定部39、及び、表示部40で構成される。光源32は、太陽電池11に光を照射するキセノンランプ等であり、光源駆動制御部31は、光源32の出力光の強度を制御する装置である。光学系33は、その用途に応じて光を集中、又は、コリメートさせるためのレンズ等の光学素子である。基準白色板34は、入射した光を、分散反射する装置である。光ファイバー35aは、石英ガラス等を使用した、光を導光する光路である。分光放射照度測定部35は、分光放射照度を測定する装置である。光源32から照射された光は、光学系33を介して、基準白色板34に入射する。そして、基準白色板34からの反射光の一部は、光ファイバー35aを介して分光放射照度測定部35に導光され、分光放射照度測定部35は光源32の分光放射照度を算出する。演算制御部36は、分光放射照度測定部35が算出した分光放射照度に基づいて、光源駆動制御部31を制御し、また、太陽電池評価装置200全体を制御する。データ入出力部37は、外部の機器とデータをやり取りするための、USBポート等のいわゆる外部インタフェースであり、データ記憶部38は、その用途に応じて、例えば、RAM等の揮発性の記憶素子、ROMや書換え可能なEEPROM等の不揮発性の記憶素子、ハードディスク等により構成され、演算制御部36が動作するのに必要なプログラムや、データを記憶している。設定部39は、ソーラーシミュレータ調整処理を開始するコマンドや、処理を行う上で必要な光源駆動制御部31等の制御部に対するパラメータ等の各種データを、太陽電池評価装置200に入力する機器である。例えば、キーボードやマウス等である。表示部40は、設定部39から入力されたコマンドやデータ、及び、演算制御部36が算出した短絡電流値等を出力提示する機器である。例えばCRTディスプレイ、LCD、有機ELディスプレイ、及び、プラズマディスプレイ等の表示装置やプリンタ等の印刷装置等である。太陽電池評価装置200の演算制御部36、データ入出力部37、データ記憶部38、設定部39、及び、表示部40等は、例えば、マイクロプロセッサ、メモリおよびその周辺回路を備えるコンピュータによって構成される。前記マイクロプロセッサは、いわゆるCPU等であり、メモリに記憶されているプログラムを実行することにより、太陽電池評価装置200は、機能的に、演算制御部36~表示部40等を備えることになる。以下、太陽電池評価装置200を用いて、ソーラーシミュレータ分光光源32の照射光の強度を調整する具体例を説明する。<具体例1>具体例1では、目標とする短絡電流Itになるように照射光の強度を調整するものであって、Itにおける微分分光応答Sを用いて、riIt∫SEiλdλを算出し、riが1になるようにEiλを調整する。図13は、具体例1のソーラーシミュレータ調整処理を示すフローチャートである。まず、<短絡電流測定装置>で説明した方法で、標準試験条件の光EAM15λによる太陽電池の短絡電流がISTCのときの分光感度Sを求め、例えば、データ記憶部38に記憶するステップS70。具体的には、分光感度Sから、補間によりSを求める。ソーラーシミュレータ調整開始コマンドが設定部39から入力されると、演算制御部36は、インデックスiに0ゼロを設定しステップS71、分光放射照度測定部35が測定した光源32の分光放射照度E0SSλを取得するステップS72。次に、r0ISTC∫SE0SSλdλを算出するステップS73。r01<ε、すなわち、r0と1との差の絶対値が許容誤差ε内であればステップS74:Y、調整を終了する。一方、r0と1との差の絶対値が許容誤差ε内でなければステップS74:N、光源32の放射照度が略r0倍になるように、光源駆動制御部31に調整させステップS75、iに1加算するステップS76。そして、光源32の分光放射照度E1SSλを分光放射照度測定部35から取得しステップS72、r1ISTC∫SE1SSλdλを算出するステップS73。そして、r1と1との差の絶対値が許容誤差ε内でなければステップS74:N、光源32の分光放射照度がr1E1SSλになるように光源駆動制御部31に調整させるステップS75。このように、ステップS72~ステップS76を繰り返し、rj1<εになれば、ソーラーシミュレータの調整処理を完了する。<具体例2>具体例2は、基準太陽電池の標準試験条件での短絡電流ISTC、及び、分光感度Sが測定、算出されているときに、ソーラーシミュレータの放射照度を、基準太陽電池の短絡電流Iが標準試験条件での短絡電流ISTCになるように短時間で調整する。図14は、具体例2のソーラーシミュレータ調整処理を示すフローチャートである。ソーラーシミュレータが分光放射照度ESSλを照射したときに得られる短絡電流Iを、∫SESSλdλから補間などで算出し、短絡電流Iと標準試験条件での短絡電流ISTCを比較することでソーラーシミュレータを調整する。まず、ソーラーシミュレータ調整開始コマンドが設定部39から入力されると、演算制御部36は、インデックスiに0ゼロを設定しステップS80、分光放射照度測定部35が測定した光源32の分光放射照度E0SSλを取得するステップS81。次に、kが0とNの2つの短絡電流、すなわち、I0SS0∫SE0SSλdλと、I0SSN∫SE0SSλdλとを算出するステップS82。応答が線形ならは、S∫Sなので、I0SS0I0SSNである。しかし、応答が非線形ならば、I0SS0≠I0SSNなので、通常はI0SS0≠I0、I0SSN≠INとなる。次に、I0SS0I0、I0SSNINを算出しステップS83、ととを通る直線yでy1になるI0を、以下の式で算出するステップS84。I0IN1次に、Ij1<Ij<I0≦Ij1<Ij2を満たすIj1IjIj1Ij2を求めステップS85、それぞれ以下の式でr0を算出するステップS86。r0j1Ij1∫SE0SSλdλr0jIj∫SE0SSλdλr0j1Ij1∫SE0SSλdλr0j2Ij2∫SE0SSλdλ次に、の4点から、3次補間式fを求めるステップS87。そして、分光放射照度E0SSλを照射したときの短絡電流I0SSfを算出するステップS88。I0SSとISTCとがほぼ等しければ、具体的には、1<εが成り立てばステップS89:Y、処理を終了する。一方、I0SSとISTCとがほぼ等しくなければステップS89:N、光源32の分光放射照度が倍になるように光源駆動制御部31に調整させるステップS90。そして、iに1加算して、ステップS81~ステップS91を繰り返す。具体的には、光源32の分光放射照度E1SSλを測定しステップS81、ステップ。I1SS0∫SE1SSλdλ、I1SSN∫SE1SSλdλを算出しステップS82、I1SS0I0、I1SSNINを算出するステップS83。次に、とを通る直線yでy1になるI1を、I1IN1を用いて算出するステップS84。次に、Ij1<Ij<I1≦Ij1<Ij2を満たすIj1IjIj1Ij2を求めステップS85、r1j1Ij1∫SE1SSλdλr1jIj∫SE1SSλdλr1j1Ij1∫SE1SSλdλr1j2Ij2∫SE1SSλdλを求めるステップS86。次に、から、3次補間式fを決定しステップS87、E1SSλを照射したときの短絡電流ISSfを算出するステップS88。そして、1<εでない場合には、光源32の分光放射照度が倍になるように光源駆動制御部31に調整させる。このように、ステップS81~ステップS91を繰り返し、1<εになれば、ソーラーシミュレータの調整処理を終了する。尚、標準試験条件での短絡電流が得られるように調整することに限定するものではなく、所定の短絡電流が得られるように調整する場合にも適用できる。本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および/または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。