"予め定められたサイクルで波形パターンが繰り返される被測定信号を測定する測定装置であって、前記被測定信号をコヒーレントサンプリングするサンプリング部と、前記サンプリング部が取得したサンプリングデータのうち、前記波形パターンの一部の区間に対応する前記サンプリングデータを、予め定められた順番で配列することで、前記波形パターンのうち、前記一部の区間に対応する部分波形だけを再構成する波形再構成部とを備える測定装置。前記波形再構成部は、前記一部の区間を指定する情報に基づいて、前記サンプリングデータから、前記一部の区間に対応する前記サンプリングデータを選択し、選択した前記サンプリングデータを、予め定められた順番で配列する請求項1に記載の測定装置。前記波形再構成部は、再構成した場合の各サンプリングデータの順番を示すインデックスを、再構成前の各サンプリングデータの順番を示すインデックスに変換する逆変換情報に基づいて、前記一部の区間に対応する前記サンプリングデータの再構成前のインデックスを算出し、算出したインデックスに対応する前記サンプリングデータを選択する請求項2に記載の測定装置。前記波形再構成部は、前記波形パターンのエッジ部分を含む前記部分波形を再構成する請求項1から3のいずれか一項に記載の測定装置。前記波形再構成部は、前記波形パターンのエッジ部分を含まない前記部分波形を再構成する請求項1から3のいずれか一項に記載の測定装置。前記波形再構成部は、前記サンプリング部が取得したサンプリングデータに基づいて、前記サイクル内における前記波形パターンの前記エッジ部分の位置を検出する請求項4に記載の測定装置。前記波形再構成部は、前記サンプリング部が取得した前記サンプリングデータの一部を用いて、前記一部の区間よりも長い区間にわたる前記波形パターンを再構成して、前記波形パターンのエッジ部分の位置を検出するエッジ位置検出部と、前記エッジ位置検出部が検出した位置を含む前記一部の区間に対応する前記サンプリングデータを、前記サンプリング部が取得した前記サンプリングデータから選択し、前記一部の区間に対応する部分波形だけを再構成する部分波形再構成部とを有する請求項6に記載の測定装置。前記波形再構成部は、前記エッジ位置検出部が検出した位置を含み、且つ、前記被測定信号に含まれるジッタ値の測定範囲に応じた長さを有する前記一部の区間を設定する区間設定部を更に有する請求項7に記載の測定装置。複数の前記部分波形における前記エッジ部分の位置の分布に基づいて、前記エッジ部分のタイミングジッタを算出するジッタ算出部を更に備える請求項4および6から8のいずれか一項に記載の測定装置。前記ジッタ算出部は、複数の前記部分波形を加算した加算波形に基づいて、前記エッジ部分の位置の分布を算出する請求項9に記載の測定装置。前記サンプリング部は、前記被測定信号が並列に入力される複数のフリップフロップと、前記複数のフリップフロップに対応して設けられ、且つ、縦続接続されて設けられ、入力されるサンプリングクロックを順次遅延させて伝播し、それぞれ対応するフリップフロップに入力する複数の遅延素子とを有する請求項1から10のいずれか一項に記載の測定装置。予め定められたサイクルで波形パターンが繰り返される被測定信号を測定する測定方法であって、前記被測定信号をコヒーレントサンプリングするサンプリング段階と、前記サンプリング段階で取得したサンプリングデータのうち、前記波形パターンの一部の区間に対応する前記サンプリングデータを、予め定められた順番で配列することで、前記波形パターンのうち、前記一部の区間に対応する部分波形だけを再構成する波形再構成段階とを備える測定方法。被試験デバイスを試験する試験装置であって、前記被試験デバイスを動作させる試験信号を、前記被試験デバイスに入力する信号入力部と、前記被試験デバイスが出力する前記被測定信号を測定する、請求項1から11のいずれか一項に記載の測定装置と、前記測定装置における測定結果に基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置。測定装置を機能させるためのプログラムであって、前記測定装置を、予め定められたサイクルで波形パターンが繰り返される被測定信号を測定する請求項1から11のいずれか一項に記載の測定装置として機能させるためのプログラム。しかし、サンプリングデータを並べ替えるには、コヒーレントなサンプリングクロックで取得したサンプリングデータが、再構成後の波形パターンのどの位置のデータになるかを、各サンプリングデータについて計算しなければならない。このため、波形パターンを再構成するのに時間がかかってしまう。特に、測定の時間分解能を上げると、取得されるサンプリングデータ数が増大するので、波形パターンを再構成する時間が増大する。本発明の第1の態様においては、予め定められたサイクルで波形パターンが繰り返される被測定信号を測定する測定装置であって、被測定信号をコヒーレントサンプリングするサンプリング部と、サンプリング部が取得したサンプリングデータのうち、波形パターンの一部の区間に対応するサンプリングデータを、予め定められた順番で配列することで、波形パターンのうち、一部の区間に対応する部分波形だけを再構成する波形再構成部とを備える測定装置、ならびに、当該測定装置に係る測定方法を提供する。本発明の第2の態様においては、被試験デバイスを動作させる試験信号を、被試験デバイスに入力する信号入力部と、被試験デバイスが出力する被測定信号を測定する、第1の態様の測定装置と、測定装置における測定結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。本発明の第3の態様においては、測定装置を機能させるためのプログラムであって、測定装置を、予め定められたサイクルで波形パターンが繰り返される被測定信号を測定する、第1の態様の測定装置として機能させるためのプログラムを提供する。なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。図1は、半導体チップ等の被試験デバイス300を試験する試験装置200の構成例を示す。試験装置200は、測定装置100、信号入力部210、ジッタ算出部220および判定部230を備える。信号入力部210は、被試験デバイス300を動作させる試験信号を、被試験デバイス300に入力する。本例の信号入力部210は、被試験デバイス300に試験信号を入力して、予め定められたサイクルで波形パターンが繰り返される被測定信号を出力させる。例えば信号入力部210は、被試験デバイス300にサイン波の被測定信号を出力させる。また信号入力部210は、複数のビットで示される波形パターン一例として、1011等の指定されるビットパターン、または、PRBSパターンが繰り返される被測定信号を、被試験デバイス300に出力させてよい。なお試験信号は、被試験デバイス300に被測定信号の出力を開始させるトリガ信号であってよい。測定装置100は、予め定められたサイクルで波形パターンが繰り返される被測定信号を測定する。本例の測定装置100は、被試験デバイス300が出力する被測定信号を測定する。測定装置100は、サンプリング部110および波形再構成部120を有する。サンプリング部110は、被測定信号をコヒーレントサンプリングする。ここで、被測定信号において波形パターンが繰り返される周期をT、サンプリング周期をTsとする。また、被測定信号のM周期が、N回のサンプリングにより等間隔に標本化されるとする。すなわち、T×M=Ts×Nとする。このとき、MおよびNが互いに素な整数であれば、サンプリング部110は、被測定信号をコヒーレントサンプリングする。なお、サンプリング部110は、被測定信号をアンダーサンプリングしてよく、オーバーサンプリングしてもよい。測定装置100は、被測定信号のレベルが、所定の参照値以下から、参照値より大きい値に遷移するタイミングを検出するコンパレータを有してよい。サンプリング部110は、当該コンパレータが被測定信号のレベルの遷移を検出したタイミングを基準として、サンプリングを開始してよい。波形再構成部120は、サンプリング部110が取得したサンプリングデータのうち、波形パターンの一部の区間に対応するサンプリングデータだけを、予め定められた順番で再配列した部分波形を生成する。これにより波形再構成部120は、被測定信号において繰り返される波形パターンのうち、一部の区間に対応する部分波形だけを再構成する。波形再構成部120は、当該部分波形を複数回、再構成してよい。この場合、信号測定装置100は、被測定信号に対するT×Mの期間にわたる測定を、複数回実行してよい。波形再構成部120は、波形パターンの所定のエッジ部分を含む部分波形を再構成してよい。これにより、当該エッジ部分のタイミングジッタを解析することができる。波形再構成部120は、当該エッジ部分の位置を中心として、且つ、測定すべきジッタ値の大きさに応じた長さの区間に含まれる部分波形を再構成することが好ましい。また、波形再構成部120は、波形パターンの所定のエッジ部分を含まない部分波形を再構成してもよい。また、波形再構成部120は、波形パターンの複数のエッジを含む部分波形を再構成してもよい。例えば波形再構成部120は、連続する立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジを含む部分波形を再構成する。この場合、立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジ間のアイ開口を測定することができる。また、波形再構成部120は、波形パターンのうち、離間した二つの部分波形を再構成してもよい。例えば波形再構成部120は、離間した二つのエッジ部分のそれぞれについて、部分波形を再構成する。ジッタ算出部220は、複数の部分波形におけるエッジ部分の位置の分布に基づいて、被測定信号のエッジ部分のタイミングジッタを算出する。例えばジッタ算出部220は、エッジ部分の位置の分布のピークツゥピーク値、標準偏差等を算出する。判定部230は、ジッタ算出部220が算出したジッタ値に基づいて、被試験デバイス300の良否を判定する。判定部230は、ジッタ算出部220が算出したジッタ値が予め定められた許容範囲内か否かに基づいて、被試験デバイス300の良否を判定してよい。本例における測定装置100によれば、コヒーレントサンプリングにより取得したサンプリングデータのうち、測定対象の一部の区間に対応するサンプリングデータのみを用いて、当該一部の区間の部分波形を再構成することができる。このため、被測定信号を効率よく測定することができる。また、測定装置100は、一定周期のサンプリングクロックを用いるので、サンプリングクロックのタイミング誤差を低減することができる。つまり、可変遅延回路における遅延量を動的に制御してサンプリングクロックを生成せずともよいので、サンプリングクロックのタイミング誤差を低減することができる。また、N個のサンプリングデータが、周期Tの波形パターンに対応するので、時間分解能がT/Nの波形を取得することができる。従って、測定装置100によれば、高分解能且つ低誤差の部分波形を、短時間で算出することができる。図2は、被測定信号のサンプリングデータxkおよび再構成後の波形ylの例を示す。なお図2においては、被測定信号xkの全てのサンプリングデータを用いて、被測定信号の波形パターンylの全区間に渡る波形を再構成した波形を示す。本例では、サイン波の被測定信号xkを例として説明する。また本例では、被測定信号xkの5周期が、16回のサンプリングにより等間隔に標本化される。すなわち、M=5、N=16とする。インデックスkは、サンプリング部110が取得するサンプリングデータの、時間軸における順番を示す。ただし、kは0からN-1の間の整数が循環して与えられる。インデックスlは、各サンプリングデータの、再構成後の時間軸における順番を示す。なお、図2における再構成後の波形ylの各データの隣には、再構成前のインデックスkが表示されている。再構成前の各サンプリングデータxkが、再構成後の波形ylのいずれのデータに対応するかは、下記の式で与えられる。なお、σkは、再構成後の波形ylのインデックスlに対応する。σk=l=k×MmodN式1すなわち、σkは、集合{0、1、、N-1}から集合{0、1、、N-1}への全単射写像となる。式1を用いることで、再構成前の各サンプリングデータが、再構成後のいずれのデータに対応するかを計算できる。このため、再構成前の各サンプリングデータに対して、式1の変換を順次適用することで、再構成後の波形パターンylを得ることができる。しかし、再構成後の波形パターンylのエッジ部分等の部分波形だけを取得したい場合にも、全てのサンプリングデータを式1を用いて再配列すると、演算時間が長くなってしまう。本例の波形再構成部120は、波形パターンの一部の区間10に含まれるサンプリングデータ本例では、k=2、15、12、9、6だけを選択的に再配列することで、演算時間を短縮する。図3は、被測定信号のサンプリングデータxkおよび再構成後の部分波形ylの例を示す。なお図3においては、再構成後の波形ylの各データの隣に、再構成後のインデックスlが表示されている。本例の波形再構成部120は、区間10を指定する情報に基づいて、サンプリングデータxkから、区間10に対応するサンプリングデータを選択する。区間10を指定する情報は、再構成後のインデックスlの範囲を指定する情報であってよい本例では、l=10から14。波形再構成部120は、再構成前のサンプリングデータxkから、区間10に対応するサンプリングデータを選択して、選択したサンプリングデータを、予め定められた順番で配列する。波形再構成部120は、再構成後のインデックスlを、再構成前のインデックスkに変換する逆変換情報σ-1に基づいて、区間10に対応するサンプリングデータylの再構成前のインデックスkを算出して、算出したインデックスkに対応するサンプリングデータxkを選択する。当該逆変換情報σ-1は、以下のように与えられる。kl=M-1×lmodN式3つまり、逆変換情報σ-1は、第1行に示されるインデックスlを、第2行に示されるインデックスklに変換する。このとき、klは式3で与えられる。なお、M-1は、法Nに対するMの乗法的逆元を示す。ここで、ある元cに対して、bc=1modnを満たすbは、法nに関するcの乗法的逆元と呼ばれる。ただし、上式のイコールは、合同を示す。このとき、GCDc、n=1であれば、nを法とするcの逆元が常に存在する。ただし、GCDc、nは、cおよびnの最大公約数を示す。本例では、MおよびNが互いに素、すなわちGCDM、N=1なので、法Nに関するMの乗法的逆元M-1は常に存在する。このため、インデックスlをインデックスkに全単写で変換する逆変換情報σ-1は常に存在する。従って、波形再構成部120は、逆変換情報σ-1に基づいて、区間10に対応する再構成前のサンプリングデータxkを選択することができる。なお、法Nに対する元Mの乗法的逆元M-1は、M×pN×q=1となる整数p、qから算出することができる。本例では、M=5、N=16であるので、例えばユークリッドの互除法を用いて、1=16×15×-3が得られる。これにより、本例の乗法的逆元M-1として、-316=13が算出される。波形再構成部120には、乗法的逆元M-1が使用者等から予め与えられてよい。また波形再構成部120は、MおよびNが使用者等から与えられ、当該MおよびNから、乗法的逆元M-1を算出してもよい。波形再構成部120は、式2および3に基づいて、区間10に含まれる再構成後のサンプリングデータのインデックスl本例では、l=10から14を、再構成前のサンプリングデータのインデックスk本例では、k=2、15、12、9、6に変換する。これにより、再構成前のサンプリングデータのうち、測定対象の部分波形に対応するサンプリングデータだけを選択的に再配列できるので、演算時間を短縮することができる。図4は、波形再構成部120の構成例を示す。本例の波形再構成部120は、エッジ位置検出部122、区間設定部124、部分波形再構成部126および逆変換情報格納部128を有する。エッジ位置検出部122は、サンプリング部110が取得したサンプリングデータxkに基づいて、被測定信号における波形パターンのエッジ部分の、サイクル内における位置を検出する。エッジ位置検出部122は、サンプリング部110が取得したサンプリングデータxkの一部を用いて、区間10よりも長い区間にわたる波形パターンを再構成する。本例のエッジ位置検出部122は、波形パターンの全体を再構成してよい。例えばエッジ位置検出部122は、サンプリングデータxkにおける最初のN個のデータに基づいて、所定のエッジ部分の位置を検出する。またエッジ位置検出部122は、サンプリングデータxkの最初のN×S個但し、Sは1以上の整数のデータに基づいて、所定のエッジ部分の位置を検出してもよい。このとき、エッジ位置検出部122は、N×S個のデータを、式1に基づいて再配列してよい。エッジ位置検出部122は、S個の波形パターンのエッジ位置をそれぞれ検出して、その平均位置を算出してよい。区間設定部124は、エッジ位置検出部122が検出した位置を含む区間10を設定する。本例の区間設定部124は、エッジ位置検出部122が検出した位置を含み、且つ、被測定信号に含まれるジッタ値の測定範囲に応じた長さを有する区間10を設定する。例えばエッジ位置検出部122は、エッジ位置検出部122が検出した位置を中心として、ジッタ値のピークツゥピーク値またはRMS値の測定範囲に応じた長さの区間10を設定する。当該測定範囲は、使用者等が設定してよい。逆変換情報格納部128は、逆変換情報σ-1または乗法的逆元M-1を格納する。逆変換情報格納部128は、使用者等から与えられるMおよびNに基づいて、乗法的逆元M-1を算出してよい。部分波形再構成部126は、逆変換情報σ-1に基づいて、区間10に対応するサンプリングデータxkを、サンプリング部110が取得したサンプリングデータxkから選択する。そして、選択したサンプリングデータxkを、対応するインデックスlに応じて再配列することで、波形パターンのうち、区間10に対応する部分波形だけを再構成する。部分波形再構成部126における波形再構成の方法は、図1から図3において説明した波形再構成部120と同様である。図5は、ジッタ算出部220の構成例を示す。本例のジッタ算出部220は、加算波形生成部222、差分波形生成部224および値算出部226を有する。加算波形生成部222は、複数の部分波形を加算した加算波形を生成する。差分波形生成部224は、加算波形に応じた差分波形を算出する。差分波形は、例えば加算波形を微分した波形である。値算出部226は、差分波形に基づいて、ジッタ値を算出する。図6は、複数の部分波形YP[m]の一例を示す。本例においては、立ち上がりエッジ部分を含む8個の部分波形Y1[m]~Y8[m]を示す。なお図6においては、部分波形の再構成後のインデックスを、m=0、1、2、、9としている。なお、本例のサンプリング部110は、1ビットの電圧コンパレータである。図7は、複数の部分波形YP[m]を加算した加算波形YSUM[m]の一例を示す。加算波形YSUM[m]は、各インデックスmについて、複数の部分波形YP[m]の値を加算することで算出することができる。本例のサンプリング部110は、2値系列を出力するので、加算波形生成部222は、インデックス毎に、部分波形YP[m]の論理値1を計数することで、加算波形YSUM[m]を生成できる。加算波形YSUM[m]は、被測定信号のエッジタイミングの累積分布関数CDFに対応する。図8は、差分波形YDIFF[m]の一例を示す。差分波形生成部224は、インデックスmにおける加算波形YSUM[m]の値と、インデックスm-1における加算波形YSUM[m]の値との差分を、それぞれのインデックスについて算出することで、差分波形YDIFF[m]を生成してよい。このような処理により、エッジ部分のタイミング分布を示す差分波形YDIFF[m]を得ることができる。値算出部226は、差分波形YDIFF[m]の標準偏差、ピークツゥピーク値等を算出してよい。値算出部226は、差分波形YDIFF[m]の標準偏差に基づいて、被測定信号のランダムジッタを算出してよい。値算出部226は、差分波形YDIFF[m]のピークツゥピーク値に基づいて、被測定信号の確定ジッタを算出してよい。差分波形YDIFF[m]は、被測定信号のエッジタイミングの確率密度関数PDFに対応する。このように、2値の電圧コンパレータによるコヒーレントサンプリングと、波形再構成法を組み合わせることで、短い試験時間で高品質の測定を行うことができる。図9は、サンプリング部110の構成例を示す。サンプリング部110は、複数のフリップフロップ112および複数の遅延素子114を有する。複数の遅延素子114は、複数のフリップフロップ112に対応して設けられる。また、複数の遅延素子114は、縦続接続されて設けられ、所定の周期のサンプリングクロックを順次遅延して伝播する。それぞれの遅延素子114は、遅延させたサンプリングクロックを、対応するフリップフロップ112に入力する。複数のフリップフロップ112には、被測定信号が並列に入力され、入力されるサンプリングクロックのエッジタイミングに応じて、被測定信号をサンプリングする。それぞれのフリップフロップ112に入力されるサンプリングクロックは、遅延素子114により順次遅延されているので、それぞれのフリップフロップ112は、被測定信号に対してそれぞれ異なるタイミングでサンプリングする。なお図9では、フリップフロップ112-1から112-3を示すが、サンプリング部110は、フリップフロップ112-3の後段に更にフリップフロップ112を有してよい。サンプリング部110は、N個図2参照のフリップフロップ112を有してよい。また、図9では遅延素子114-1から114-4を示すが、サンプリング部110は、遅延素子114-4の後段に更に遅延素子114を有してよい。なお、サンプリング部110には、被測定信号が繰り返し入力される。また、サンプリング部110に入力されるサンプリングクロックは、被測定信号に対してコヒーレントな周期を有してよい。例えばサンプリングクロックは、図2に示したサンプリングタイミングのうち、0、3、6、9、12番目のタイミングに応じた周期でパルスを有する。それぞれの遅延素子114が、それぞれのパルスを遅延量Tsで遅延させることで、図2に示したようなコヒーレントサンプリングを、低周波のサンプリングクロックに応じて実行できる。また、それぞれの遅延素子114には、被測定信号を測定する時間分解能Δtサンプリングデータの等価時間間隔に応じた遅延量τが設定されてよい。例えば、図2の例では、Δt=T/Nとなる。遅延量τは、τ=Δt=T/Nであってよく、τ=KTΔt=KTT/NKは0または正の整数であってもよい。これらの場合、波形再構成部120は、サンプリングデータを並べかえなくともよい。図10は、サンプリング部110におけるサンプリングデータxkおよび再構成後の波形ylを示す。本例では、サンプリング部110は、M=6、N=25のコヒーレントサンプリングを行う。遅延素子114の遅延量τは、τ=M×T/Nにより設定されてよい。また、サンプリングクロックの周期は、フリップフロップ112の個数に、遅延量τを乗じた値に応じて設定されてよい。波形再構成部120は、サンプリングデータxkのうち、例えば立ち上がりエッジを含む区間のデータ12、16、20、24を選択して、波形を再構成する。このような構成により、低周波数のサンプリングクロックを用いて、選択的な再構成波形を取得できる。図11は、サンプリング部110の他の構成例を示す。本例のサンプリング部110は、複数のフリップフロップ112を有する。複数のフリップフロップ112には、それぞれタイミングの異なるサンプリングクロックが入力される。それぞれのサンプリングクロックは、図9に示したサンプリングクロックと同様の位相関係を有する。それぞれのサンプリングクロックは、図9と同様に、単一のサンプリングクロックを、複数の遅延素子に伝播させて生成してよく、複数の発振器が出力するクロックの位相を調整して生成してもよい。このような構成によっても、低周波数のサンプリングクロックを用いて、被測定信号を測定することができる。図12は、サンプリング部110の他の構成例を示す。本例のサンプリング部110は、フリップフロップ112およびシフトレジスタ部116を更に有する。フリップフロップ112は、被測定信号を、図2または図10に示したように、コヒーレントサンプリングする。シフトレジスタ部116は、縦続接続された複数のフリップフロップ118を有する。それぞれのフリップフロップ118は、フリップフロップ112が検出したそれぞれのサンプリングデータを、入力されるクロックに応じて順次伝播する。それぞれのフリップフロップ118には、フリップフロップ112と共通のクロックが入力される。波形再構成部120は、シフトレジスタ部116が順次出力するサンプリングデータを受け取り、再構成波形を生成する。波形再構成部120は、a,b,cの並びで入力されるサンプリング結果を、他の並び例えば、c,b,aに再構成して波形を出力する。ただし、波形再構成部120は、入力されるサンプリング結果の並びを変更せずに出力してもよい。波形再構成部120は、入出力の結線を交差することで実現できる。また、波形再構成部120は、各入力端子を、いずれの出力端子に接続するかを切り替え可能であってもよい。図13は、図9に示したサンプリング部110により取得したサンプリングデータの信号ノイズ比SNRを示す。図13の横軸は、測定の時間分解能比Rを示す。横軸において右にいくほど、測定の時間分解能が高い。なお、図13における四角印および丸印は、SNRの実測値を、被測定信号の周波数ごとに示す。図14は、測定装置100を制御するコンピュータ1600のハードウェア構成の一例を示す図である。コンピュータ1600は、CPU周辺部と、入出力部と、レガシー入出力部とを備える。CPU周辺部は、ホストコントローラ1882により相互に接続されるCPU1805、RAM1820、グラフィックコントローラ1875、及び表示装置1880を有する。入出力部は、入出力コントローラ1884によりホストコントローラ1882に接続される通信インターフェイス1830、ハードディスクドライブ1840、及びCD-ROMドライブ1860を有する。レガシー入出力部は、入出力コントローラ1884に接続されるROM1810、フレキシブルディスクドライブ1850、及び入出力チップ1870を有する。ホストコントローラ1882は、RAM1820と、高い転送レートでRAM1820をアクセスするCPU1805、及びグラフィックコントローラ1875とを接続する。CPU1805は、ROM1810、及びRAM1820に格納されたプログラムに基づいて動作して、各部の制御をする。グラフィックコントローラ1875は、CPU1805等がRAM1820内に設けたフレームバッファ上に生成する画像データを取得して、表示装置1880上に表示させる。これに代えて、グラフィックコントローラ1875は、CPU1805等が生成する画像データを格納するフレームバッファを、内部に含んでもよい。入出力コントローラ1884は、ホストコントローラ1882と、比較的高速な入出力装置であるハードディスクドライブ1840、通信インターフェイス1830、CD-ROMドライブ1860を接続する。ハードディスクドライブ1840は、CPU1805が使用するプログラム、及びデータを格納する。通信インターフェイス1830は、通信ネットワークに接続してプログラムまたはデータを送受信する。CD-ROMドライブ1860は、CD-ROM1895からプログラムまたはデータを読み取り、RAM1820を介してハードディスクドライブ1840、及び通信インターフェイス1830に提供する。入出力コントローラ1884には、ROM1810と、フレキシブルディスクドライブ1850、及び入出力チップ1870の比較的低速な入出力装置とが接続される。ROM1810は、測定装置100が起動時に実行するブートプログラム、あるいはジッタ算出器10のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスクドライブ1850は、フレキシブルディスク1890からプログラムまたはデータを読み取り、RAM1820を介してハードディスクドライブ1840、及び通信インターフェイス1830に提供する。入出力チップ1870は、フレキシブルディスクドライブ1850、あるいはパラレルポート、シリアルポート、キーボードポート、マウスポート等を介して各種の入出力装置を接続する。CPU1805が実行するプログラムは、フレキシブルディスク1890、CD-ROM1895、またはICカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。記録媒体に格納されたプログラムは圧縮されていても非圧縮であってもよい。プログラムは、記録媒体からハードディスクドライブ1840にインストールされ、RAM1820に読み出されてCPU1805により実行される。CPU1805により実行されるプログラムは、測定装置100を、図1から図13に関連して説明したいずれかの測定装置100の各構成要素として機能させてよい。また、プログラムは、コンピュータ1600を、波形再構成部120として機能させてよい。以上に示したプログラムは、外部の記憶媒体に格納されてもよい。記憶媒体としては、フレキシブルディスク1890、CD-ROM1895の他に、DVDまたはPD等の光学記録媒体、MD等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ICカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークあるいはインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスクまたはRAM等の記憶装置を記録媒体として使用して、ネットワークを介してプログラムを測定装置100に提供してもよい。以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段より前に、先立って等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上まず、、次に、等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。"