少なくとも1つの被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスとの間で信号を伝送して当該被試験デバイスを試験する複数の試験部を有する試験モジュールと、前記複数の試験部を制御する複数の試験制御部と、を備え、前記試験モジュールは、前記複数の試験部のそれぞれが前記複数の試験制御部のうちいずれの試験制御部による制御を受けるかを、前記複数の試験部のそれぞれに対して独立に設定可能である、試験装置。前記試験モジュールは、前記複数の試験部と、前記複数の試験部のそれぞれを、前記複数の試験制御部のうちいずれの試験制御部に対応付けるかの設定を記憶する設定記憶部と、前記複数の試験部に接続され、前記複数の試験制御部のうち一の試験制御部から前記試験モジュールへのアクセス要求を、前記複数の試験部のうち前記一の試験制御部に対応付けられた一の試験部に与えるインターフェイス部と、を有する請求項1に記載の試験装置。前記設定記憶部は、前記複数の試験部のそれぞれについて、前記複数の試験制御部のうち対応付けられた試験制御部を識別する識別番号を記憶し、前記一の試験制御部は、当該一の試験制御部を識別する識別番号を前記アクセス要求に付加して送信し、前記インターフェイス部は、受信した前記アクセス要求に付加された識別番号に対応付けられた前記一の試験部を前記設定記憶部から読み出して、前記一の試験部に前記アクセス要求を与える請求項2に記載の試験装置。前記インターフェイス部は、前記アクセス要求に応じた前記一の試験部のアクセス結果に前記一の試験制御部の識別番号を付加して送信し、前記複数の試験制御部のそれぞれは、前記一の試験部の前記アクセス結果を受信し、受信した前記アクセス結果に付加された識別番号が当該試験制御部の識別番号と一致しない場合に前記アクセス結果を破棄し、一致する場合に前記アクセス結果に応じて前記試験モジュールを制御する請求項2または3に記載の試験装置。前記インターフェイス部は、前記一の試験部から前記一の試験制御部への割込要求に、前記一の試験制御部を識別する識別番号を付加して送信し、前記複数の試験制御部のそれぞれは、前記一の試験部の前記割込要求を受信し、受信した前記割込要求に付加された識別番号が当該試験制御部の識別番号と一致しない場合に前記割込要求を破棄し、一致する場合に前記割込要求を処理する請求項2から4の何れか1項に記載の試験装置。前記試験モジュールは、前記複数の試験部のそれぞれの排他使用権を制御する排他制御部を更に備え、前記一の試験制御部は、前記インターフェイス部を介して前記排他制御部へと排他要求を送信して、排他使用権を確保できたことを条件として前記一の試験部を使用する請求項2から5の何れか1項に記載の試験装置。前記試験モジュールは、前記複数の試験部のうち少なくとも2つにより共用される共用リソースと、前記共用リソースの排他使用権を制御する排他制御部と、を有し、前記一の試験制御部は、前記インターフェイス部を介して前記排他制御部へと排他要求を送信して、排他使用権を確保できたことを条件として前記共用リソースを前記一の試験制御部が制御する前記一の試験部に接続させ、前記一の試験部に接続された前記共用リソースは、前記一の試験部と協働して被試験デバイスを試験する請求項2から6の何れか1項に記載の試験装置。複数の前記試験モジュールと、前記試験制御部および前記複数の試験モジュールの間を接続する接続部と、を更に備え、前記複数の試験モジュールの一の前記試験モジュールが有する前記一の試験部は、前記インターフェイス部および前記接続部を介して、他の前記試験モジュールが有する他の試験部に対するメッセージを前記一の試験制御部へと送信し、前記一の試験制御部は、前記接続部を介して前記メッセージを前記他の試験モジュール内の前記他の試験部へと転送する請求項2から7の何れか1項に記載の試験装置。請求項1から8の何れか1項に記載の試験装置における試験モジュール。少なくとも1つの被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスの試験を制御する試験制御部と、被試験デバイスとの間で信号を伝送して試験する複数の試験モジュールと、前記試験制御部および前記複数の試験モジュールの間を接続する接続部と、を備え、前記試験制御部は、前記被試験デバイスの試験を制御するためのプログラムを実行する制御プロセッサと、前記制御プロセッサの制御に応じて前記試験制御部および前記接続部の間の通信を処理すると共に、前記複数の試験モジュールのうち一の試験モジュールから、他の試験モジュールに対して転送されるべきメッセージを受信した場合に、当該メッセージを前記接続部を介して前記他の試験モジュールへと転送する通信インターフェイスと、を有する試験装置。前記通信インターフェイスは、前記一の試験モジュールから、前記複数の試験モジュールにブロードキャストすべきメッセージを受信した場合に、当該メッセージを、前記接続部を介して前記複数の試験モジュールへと転送する請求項10に記載の試験装置。ところで、試験装置は、複数のサイトコントローラのそれぞれが制御する試験部を試験モジュール単位で割り当てていた。しかし、試験モジュール単位で試験部をサイトコントローラに割り当てた場合、いずれのサイトコントローラにも使用されない試験部が生じる可能性があった。例えば、12個のアナログ試験部を有する試験モジュールを用いて8個のアナログ入出力端子を有するDUTを試験した場合、当該試験モジュールは、12個のうち4個のアナログ試験部が使用されない。このように従来の試験装置では、試験モジュールが有するリソースを有効に使用できない場合があった。上記課題を解決するために、本発明の第1の態様においては、少なくとも1つの被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスとの間で信号を伝送して当該被試験デバイスを試験する複数の試験部を有する試験モジュールと、前記複数の試験部を制御する複数の試験制御部と、を備え、前記試験モジュールは、前記複数の試験部のそれぞれが前記複数の試験制御部のうちいずれの試験制御部による制御を受けるかを、前記複数の試験部のそれぞれに対して独立に設定可能である、試験装置、および、当該試験装置における試験モジュールを提供する。また、本発明の第2の態様においては、少なくとも1つの被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスの試験を制御する試験制御部と、被試験デバイスとの間で信号を伝送して試験する複数の試験モジュールと、前記試験制御部および前記複数の試験モジュールの間を接続する接続部と、を備え、前記試験制御部は、前記被試験デバイスの試験を制御するためのプログラムを実行する制御プロセッサと、前記制御プロセッサの制御に応じて前記試験制御部および前記接続部の間の通信を処理すると共に、前記複数の試験モジュールのうち一の試験モジュールから、他の試験モジュールに対して転送されるべきメッセージを受信した場合に、当該メッセージを前記接続部を介して前記他の試験モジュールへと転送する通信インターフェイスと、を有する試験装置を提供する。なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。図1は、本実施形態に係る試験装置100の機能構成を複数の被試験デバイスDUT10とともに示す。試験装置100は、少なくとも1つの被試験デバイス10を試験する。即ち、試験装置100は、1つの被試験デバイス10を試験するものであっても、複数の被試験デバイス10を並行して試験するものであってもよい。試験装置100は、システム制御部110と、1または複数の試験モジュール120と、複数の試験制御部130と、接続部140とを備える。システム制御部110は、複数の試験制御部130と接続され、当該試験装置100の全体を制御する。システム制御部110と複数の試験制御部130との間は、一例として、汎用または専用の高速シリアルバス等により接続される。1または複数の試験モジュール120のそれぞれは、例えばテストヘッド内に装填される基板である。1または複数の試験モジュール120のそれぞれは、複数の試験部210を有する。複数の試験部210のそれぞれは、当該試験装置100の試験対象である全ての被試験デバイス10のうちのいずれか1つの被試験デバイス10の端子に接続される。そして、複数の試験部210のそれぞれは、接続された被試験デバイス10との間で信号を伝送して当該被試験デバイス10を試験する。複数の試験制御部130のそれぞれは、当該試験装置100の試験対象である少なくとも1つの被試験デバイス10のうちのいずれか1または複数の被試験デバイス10に対応付けられる。複数の試験制御部130のそれぞれは、システム制御部110から与えられる制御命令および試験プログラム等に応じて、対応付けられた被試験デバイス10に接続された1または複数の試験部210を制御して、対応付けられた被試験デバイス10の試験を制御する。即ち、複数の試験制御部130のそれぞれは、1または複数の試験部210をリソースとして用いて、対応する被試験デバイス10の試験を制御する。接続部140は、試験制御部130および1または複数の試験モジュール120の間を接続する。ここで、1または複数の試験モジュール120のそれぞれは、当該試験モジュール120が有する複数の試験部210のそれぞれが複数の試験制御部130のうちいずれの試験制御部130による制御を受けるかを、複数の試験部210のそれぞれに対して独立に設定可能である。これにより、例えば、1または複数の試験モジュール120のそれぞれは、複数の試験部210のうち一部を第1の試験制御部130による制御を受け、複数の試験部210の他の一部を第2の試験制御部130による制御を受けるように設定することができる。このように試験装置100は、一の試験モジュール120が有する複数の試験部210が制御を受ける試験制御部130を、それぞれ独立に任意に設定することができる。これにより、試験装置100によれば、試験モジュール120内のリソースを効率良く用いて試験することができる。図2は、複数の試験制御部130のうちの一の試験制御部130の構成、および、1または複数の試験モジュール120のうちの一の試験モジュール120の構成を示す。試験モジュール120は、複数の試験部210と、設定記憶部220と、インターフェイス部230とを有する。複数の試験部210のそれぞれは、何れか一の被試験デバイス10の端子に接続される。複数の試験部210のそれぞれは、試験プログラムを実行するプロセッサまたはシーケンサ等を有する。そして、複数の試験部210のそれぞれは、対応する試験制御部130から与えられた試験プログラムに応じた信号を、接続された被試験デバイス10との間で授受して、当該被試験デバイス10を試験する。設定記憶部220は、複数の試験部210のそれぞれを、複数の試験制御部130のうちいずれの試験制御部130に対応付けるかの設定を記憶する。本例においては、設定記憶部220は、複数の試験部210のそれぞれについて、複数の試験制御部130のうち試験部210対応付けられた試験制御部130を識別する識別番号を記憶する。即ち、設定記憶部220は、複数の試験部210のそれぞれについて、当該試験部210に接続された被試験デバイス10の試験を制御する試験制御部130の識別番号を記憶する。このような設定は、試験に先立って例えばシステム制御部110により書き込まれる。インターフェイス部230は、複数の試験部210に接続される。さらに、インターフェイス部230は、接続部140を介して複数の試験制御部130との間で、アクセス要求、割込要求およびメッセージ等を送受信する。例えば、インターフェイス部230は、複数の試験制御部130のうち一の試験制御部130から当該試験モジュール120へのアクセス要求およびメッセージを、接続部140を介して受信する。そして、インターフェイス部230は、受信した一の試験制御部130から当該試験モジュール120へのアクセス要求およびメッセージを、設定記憶部220に記憶された設定に基づいて、複数の試験部210のうち一の試験制御部130に対応付けられた一の試験部210に与える。また、例えば、インターフェイス部230は、複数の試験部210のうち一の試験部210から一の試験制御部130へ与える、アクセス要求に応じたアクセス結果および割込要求を、接続部140を介して複数の試験制御部130のそれぞれに送信する。また、例えば、インターフェイス部230は、複数の試験部210のうち一の試験部210から他の試験モジュール120が有する試験部210へ与えるメッセージを、接続部140を介して複数の試験制御部130のそれぞれに送信する。試験制御部130は、制御プロセッサ240と、通信インターフェイス250とを有する。制御プロセッサ240は、被試験デバイス10の試験を制御するためのプログラムを実行する。通信インターフェイス250は、制御プロセッサ240の制御に応じて試験制御部130および接続部140の間の通信を処理する。例えば、通信インターフェイス250は、一の試験モジュール120に含まれる一の試験部210へのアクセス要求を、接続部140を介して一の試験モジュール120へと送信する。また、例えば、通信インターフェイス250は、一の試験モジュール120に含まれる一の試験部210から当該試験制御部130へと送信されたアクセス結果およびメッセージを受信する。また、例えば、通信インターフェイス250は、複数の試験モジュール120のうち一の試験モジュール120から他の試験モジュール120に対して転送されるべきメッセージを、一の試験モジュール120から受信する。通信インターフェイス250は、このようなメッセージを受信した場合に、当該メッセージを接続部140を介して他の試験モジュール120へと転送する。図3は、一の試験制御部130から当該一の試験制御部130に対応付けられた被試験デバイス10に接続された試験部210へアクセス要求を送信する場合における、アクセス要求の流れの一例を示す。一の試験制御部130は、当該一の試験制御部130に対応付けられた被試験デバイス10に接続される一の試験部210を制御する場合、当該一の試験部210に対してアクセス要求を送信する。この場合、一の試験制御部130は、当該一の試験制御部130を識別する識別番号をアクセス要求に付加して、接続部140を介して一の試験モジュール120へ送信する。そして、一の試験モジュール120が有するインターフェイス部230は、一の試験制御部130からのアクセス要求を受信する。一の試験モジュール120が有するインターフェイス部230は、受信したアクセス要求に付加された識別番号に対応付けられた各一の試験部210を設定記憶部220から読み出す。そして、一の試験モジュール120が有するインターフェイス部230は、読み出した各一の試験部210に受信したアクセス要求を与える。インターフェイス部230からアクセス要求が与えられた各一の試験部210は、与えられたアクセス要求が自分宛の要求であるか否かを判断する。そして、各一の試験部210は、与えられたアクセス要求が自分宛の要求であれば、当該アクセス要求に応じた処理を実行する。これにより、複数の試験制御部130のそれぞれは、当該試験制御部130に対応付けられた被試験デバイス10に接続された試験部210を制御することができる。図4は、一の試験制御部130からアクセス要求を受けた一の試験部210から、一の試験制御部130へアクセス結果を送信する場合における、アクセス結果の流れの一例を示す。一の試験制御部130からアクセス要求を受けた一の試験部210は、当該アクセス要求に応じた処理を実行する。そして、この一の試験部210は、実行した処理に応じたアクセス結果を一の試験制御部130へ送信する。この場合、一の試験部210は、与えられたアクセス要求に応じたアクセス結果をインターフェイス部230に与える。インターフェイス部230は、一の試験部210に対応付けられた試験制御部130を識別する識別番号を設定記憶部220から読み出す。インターフェイス部230は、アクセス要求に応じた一の試験部210のアクセス結果に一の試験制御部130を識別する識別番号を付加する。そして、インターフェイス部230は、識別番号を付加したアクセス結果を、接続部140を介して複数の試験制御部130のそれぞれに送信する。複数の試験制御部130のそれぞれは、接続部140を介してアクセス結果を受信する。複数の試験制御部130のそれぞれは、受信したアクセス結果に付加された識別番号が、当該試験制御部130の識別番号と一致するか否かを判断する。複数の試験制御部130のそれぞれは、受信したアクセス結果に付加された識別番号が当該試験制御部130の識別番号と一致しない場合に、受信したアクセス結果を破棄する。また、複数の試験制御部130のそれぞれは、受信したアクセス結果に付加された識別番号が当該試験制御部130の識別番号と一致する場合に、受信したアクセス結果に応じて試験モジュール120を制御する。これにより、一の試験部210へアクセス要求を送信した一の試験制御部130は、アクセス結果を一の試験部210から受け取り、受け取ったアクセス結果に応じた次の処理を実行することができる。図5は、一の試験部210から、当該一の試験部210に接続された被試験デバイス10に対応する一の試験制御部130へ割込要求を送信する場合における、割込要求の流れの一例を示す。一の試験部210は、当該一の試験部210に接続された被試験デバイス10に対応する一の試験制御部130へ割込要求を送信することができる。この場合、一の試験部210は、割込要求をインターフェイス部230に与える。インターフェイス部230は、一の試験部210に対応付けられた試験制御部130を識別する識別番号を設定記憶部220から読み出す。インターフェイス部230は、一の試験部210から一の試験制御部130への割込要求に、一の試験制御部130を識別する識別番号を付加する。そして、インターフェイス部230は、識別番号を付加した割込要求を、接続部140を介して複数の試験制御部130のそれぞれに送信する。複数の試験制御部130のそれぞれは、接続部140を介して割込要求を受信する。複数の試験制御部130のそれぞれは、受信した割込要求に付加された識別番号が、当該試験制御部130の識別番号と一致するか否かを判断する。複数の試験制御部130のそれぞれは、受信した割込要求に付加された識別番号が当該試験制御部130の識別番号と一致しない場合に、受信した割込要求を破棄する。また、複数の試験制御部130のそれぞれは、受信した割込要求に付加された識別番号が当該試験制御部130の識別番号と一致する場合に、受信した割込要求を処理する。これにより、複数の試験制御部130のそれぞれは、対応する試験部210からの割込要求を処理することができる。図6は、複数の試験モジュール120のうちの一の試験モジュール120が有する試験部210が、他の試験モジュール120の試験部210へメッセージを送信する場合における、メッセージの流れの一例を示す。複数の試験モジュール120のそれぞれのうちの一の試験モジュール120が有する一の試験部210は、処理の結果に応じて、他の試験モジュール120内の試験部210へメッセージを送信することができる。この場合、一の試験モジュール120内の一の試験部210は、メッセージを一の試験モジュール120内のインターフェイス部230に与える。インターフェイス部230は、一の試験部210に対応付けられた試験制御部130を識別する識別番号を設定記憶部220から読み出す。インターフェイス部230は、一の試験部210から一の試験制御部130へのメッセージに、一の試験制御部130を識別する識別番号を付加する。そして、インターフェイス部230は、識別番号を付加したメッセージを、接続部140を介して複数の試験制御部130のそれぞれに送信する。このようにして、複数の試験モジュール120の一の試験モジュール120内に設けられた一の試験部210は、インターフェイス部230および接続部140を介して、他の試験モジュール120が有する他の試験部210に対するメッセージを一の試験制御部130へと送信する。複数の試験制御部130のそれぞれは、接続部140を介してメッセージを受信する。複数の試験制御部130のそれぞれは、受信したメッセージに付加された識別番号が、当該試験制御部130の識別番号と一致するか否かを判断する。複数の試験制御部130のそれぞれは、受信したメッセージに付加された識別番号が当該試験制御部130の識別番号と一致しない場合に、受信したメッセージを破棄する。また、複数の試験制御部130のそれぞれは、受信したメッセージに付加された識別番号が当該試験制御部130の識別番号と一致する場合に、接続部140を介してメッセージを他の試験モジュール120内の他の試験部210へと転送する。メッセージが転送された他の試験モジュール120が有するインターフェイス部230は、一の試験制御部130からのメッセージを受信する。他の試験モジュール120が有するインターフェイス部230は、受信したメッセージに付加された識別番号に対応付けられた各試験部210を設定記憶部220から読み出す。そして、一の試験モジュール120が有するインターフェイス部230は、読み出した各試験部210に受信したメッセージを与える。インターフェイス部230からメッセージが与えられた各試験部210は、与えられたメッセージが自分宛の要求であるか否かを判断する。そして、各試験部210は、与えられたメッセージが自分宛の要求であれば、当該メッセージに応じた処理を実行する。これにより、一の試験モジュール120内の一の試験部210は、他の試験モジュール120内の試験部210へメッセージを送信することができる。図7は、複数の試験モジュール120のうちの一の試験モジュール120が有する試験部210が、複数の他の試験モジュール120の試験部210へメッセージをブロードキャストする場合における、メッセージの流れの一例を示す。複数の試験モジュール120のそれぞれのうちの一の試験モジュール120が有する一の試験部210は、複数の他の試験モジュール120内の試験部210にメッセージをブロードキャストしてもよい。この場合、複数の試験制御部130のそれぞれが一の試験モジュール120からメッセージを受信するまでは、図6の処理と同様である。受信したメッセージに付加された識別番号が当該試験制御部130の識別番号と一致しない試験制御部130は、受信したメッセージを破棄する。受信したメッセージに付加された識別番号が当該試験制御部130の識別番号と一致する一の試験制御部130は、一の試験モジュール120から複数の試験モジュール120にブロードキャストすべきメッセージを受信した場合には、当該メッセージを接続部140を介して複数の試験モジュール120へと転送する。即ち、一の試験制御部130は、受信したメッセージを複数の試験モジュール120にブロードキャストする。そして、メッセージが転送された複数の他の試験モジュール120のそれぞれが有するインターフェイス部230は、一の試験制御部130からブロードキャストされたメッセージを受信する。複数の他の試験モジュール120のそれぞれが有するインターフェイス部230は、受信したメッセージに付加された識別番号に対応付けられた各試験部210を設定記憶部220から読み出す。そして、複数の他の試験モジュール120のそれぞれが有するインターフェイス部230は、読み出した各試験部210に受信したメッセージを与える。インターフェイス部230からアクセス要求が与えられた各試験部210は、与えられたアクセス要求が自分宛の要求であるか否かを判断する。そして、各試験部210は、与えられたアクセス要求が自分宛の要求であれば、当該アクセス要求に応じた処理を実行する。これにより、一の試験モジュール120が有する一の試験部210は、複数の他の試験モジュール120内の試験部210に、メッセージをブロードキャストすることができる。図8は、本実施形態の変形例に係る試験モジュール120の構成を示す。本変形例に係る試験モジュール120は、図2に示される試験モジュール120と略同一の構成および機能を採るので、図2に示される部材と略同一の構成および機能の部材に同一の符号を付け、以下相違点を除き説明を省略する。本変形例に係る試験モジュール120は、共用リソース310と、排他制御部320とを更に有する。共用リソース310は、被試験デバイス10を試験するために使用されるリソース例えば、回路、シーケンサ等であって、複数の試験部210のうち少なくとも2つにより共用される。排他制御部320は、共用リソース310の排他使用権を制御する。即ち、排他制御部320は、複数の試験制御部130のそれぞれからの排他使用の要求に応じて、何れか1つの試験制御部130に共用リソース310を排他使用させる。このような変形例において、一の試験制御部130は、インターフェイス部230を介して排他制御部320へと排他要求を送信する。そして、一の試験制御部130は、排他使用権を確保できたことを条件として一の共用リソース310を一の試験制御部130が制御する一の試験部210に接続させる。一の試験部210に接続された共用リソース310は、一の試験部210と協働して、一の試験部210に接続された被試験デバイス10を試験する。これにより、複数の試験制御部130のそれぞれは、1つの共用リソース310を時分割で共用して使用することができる。また、更に、排他制御部320は、複数の試験部210のそれぞれの排他使用権を制御してもよい。即ち、排他制御部320は、複数の試験制御部130のそれぞれからの排他使用の要求に応じて、複数の試験部210のそれぞれを何れか1つの試験制御部130に排他使用させる。この場合、一の試験制御部130は、インターフェイス部230を介して排他制御部320へと、複数の試験部210のそれぞれについての排他要求を送信する。そして、一の試験制御部130は、排他使用権を確保できたことを条件として複数の試験部210のそれぞれを、当該一の試験制御部130に対応付けさせる被試験デバイス10に接続する。そして、一の試験制御部130に対応付けられた被試験デバイス10に接続された試験部210は、一の試験制御部130からの制御に従い、被試験デバイス10を試験する。これにより、複数の試験制御部130のそれぞれは、試験モジュール120内の複数の共用リソース310のそれぞれを時分割で共用して使用することができる。図9は、本実施形態に係る試験部210の構成の一例を示す。なお、試験部210は、このような構成に限らず、他の構成であってもよい。試験部210は、一例として、送信側ブロック12と、受信側ブロック14とを備える。試験部210は、送信側ブロック12または受信側ブロック14の一方のみを備える構成であってもよい。送信側ブロック12は、パケットリストにより指定された順序でパケットを被試験デバイス10に送信する。受信側ブロック14は、被試験デバイス10からパケットを受信して、パケットリストに指定されたパケットと受信したパケットと比較して、被試験デバイス10の良否を判定する。まず、送信側ブロック12について説明する。送信側ブロック12は、パケットリスト記憶部20と、パケットリスト処理部22と、パケット命令列記憶部24と、パケットデータ列記憶部26と、下位シーケンサ28と、データ処理部32と、データ変換部34と、送信部36とを含む。パケットリスト記憶部20は、供給された複数のパケットリストを記憶する。パケットリスト処理部22は、パケットリスト記憶部20に記憶された複数のパケットリストのうち外部から指定されたパケットリストを実行して、被試験デバイス10と通信する各パケットを順次指定する。パケットリスト処理部22は、一例として、外部から受信したアドレスからパケットリストを実行して、被試験デバイス10に送信するパケットを順次指定する。パケットリスト処理部22は、一例として、指定したパケットを発生するための命令列が記憶されたパケット命令列記憶部24上のアドレスを指定する。更に、パケットリスト処理部22は、一例として、被試験デバイス10との間で通信するパケットについて、パケットデータ列記憶部26内における当該パケットに含まれるデータ列のアドレス例えばデータ列の先頭アドレスを指定する。このようにパケットリスト処理部22は、パケットを発生させるための命令列のアドレスと、当該パケットに含まれるデータ列のアドレスを個別に指定する。なお、この場合において、パケットリスト中において、2以上のパケットに対して共通する命令列またはデータ列が指定されている場合に、パケットリスト処理部22は、当該2以上のパケットについて同一の命令列のアドレスまたは同一のデータ列のアドレスを指定してもよい。パケット命令列記憶部24は、複数種類のパケットのそれぞれを発生するための命令列を、パケットの種類毎に記憶する。パケット命令列記憶部24は、一例として、ライトパケットを発生するための命令列、リードパケットを発生するための命令列、および、アイドルパケットを発生するための命令列等を記憶する。パケットデータ列記憶部26は、複数種類のパケットのそれぞれに含まれるデータ列を、パケットの種類毎に記憶する。パケットデータ列記憶部26は、一例として、ライトパケットに含まれるデータ列、リードパケットに含まれるデータ列、および、アイドルパケットに含まれるデータ列等を含んでよい。また、パケットデータ列記憶部26は、一例として、パケット毎に変更される個別データ、および、パケットの種類毎に共通の共通データを別個の記憶領域に区別して記憶してもよい。更に、送信側のパケットデータ列記憶部26は、受信側ブロック14内のデータ変換部34から、受信側ブロック14内の受信部82が受信したパケットに含まれる受信データを受け取る。そして、送信側のパケットデータ列記憶部26は、受信側ブロック14内の受信部82が受信したパケットに含まれる受信データを記憶する。下位シーケンサ28は、パケットリスト処理部22により指定されたパケットの命令列、即ち、パケットリスト処理部22によりアドレスが指定された命令列をパケット命令列記憶部24から読み出して、読み出した命令列に含まれる各命令を順次に実行する。更に、下位シーケンサ28は、パケットリスト処理部22により指定されたパケットのデータ列、即ち、パケットリスト処理部22によりアドレスが指定されたデータ列を、命令列の実行に従って順次にパケットデータ列記憶部26から出力させて、被試験デバイス10との間の試験に用いる試験データ列を生成する。また、下位シーケンサ28は、命令の実行毎に、読み出した個別データおよび共通データに対して指定した処理演算またはデータ変換を施すことを指示する制御データをデータ処理部32およびデータ変換部34に与える。これにより、下位シーケンサ28は、パケットリスト処理部22により指定されたパケット中における、指定されたデータ部分を、読み出したデータに対して指定した処理を施したデータとすることができる。また、下位シーケンサ28は、パケットリスト処理部22により指定されたパケットの命令列の実行が完了したことに応じて、終了通知をパケットリスト処理部22に与えてよい。これにより、パケットリスト処理部22は、下位シーケンサ28による命令列の実行の進行に応じて、順次にパケットを指定することができる。また、送信側ブロック12が有する送信側の下位シーケンサ28は、送信部36に対して、被試験デバイス10に対して送信する信号のエッジタイミングを指定する。下位シーケンサ28は、一例として、送信部36に対してタイミング信号を与えて、パケット毎にエッジタイミングを制御する。また、送信側の下位シーケンサ28は、受信側ブロック14が有する受信側の下位シーケンサ28と通信を行う。これにより、送信側の下位シーケンサ28は、受信側の下位シーケンサ28とハンドシェイクを行って、受信側の下位シーケンサ28と同期して命令列を実行することができる。送信側の下位シーケンサ28は、一例として、予め指定されたパケットの試験データ列を被試験デバイス10に送信したことを受信側の下位シーケンサ28に通知する。これにより、送信側の下位シーケンサ28は、受信側の下位シーケンサ28に、送信側の下位シーケンサ28からの通知を受けるまでの間、受信したデータ列の良否判定を禁止させることができる。また、送信側の下位シーケンサ28は、一例として、受信側の下位シーケンサ28から、生成した試験データ列と一致するデータ列を受信したことの通知を受けて、予め指定されたパケットの試験データ列を生成する。これにより、送信側の下位シーケンサ28は、所定のパケットを被試験デバイス10から受信した後に、予め指定されたパケットを被試験デバイス10に送信することができる。データ処理部32は、パケットデータ列記憶部26からパケットリスト処理部22により指定されたパケットのデータ列を読み出して、被試験デバイス10の試験に用いる試験データ列を生成する。この場合において、送信側のデータ処理部32は、被試験デバイス10に対して送信するパケットに応じた試験データ列中に、受信側ブロック14内の受信部82が受信したパケットに含まれる受信データに応じた値を含めてよい。例えば、送信側のデータ処理部32は、送信側のパケットデータ列記憶部26からデータを読み出して、被試験デバイス10に対して送信するパケットのデータ列における予め指定された部分を受信データに応じた値例えば受信データそのままの値または受信データに何らかの処理を施した値とした試験データ列を生成する。このような送信側のデータ処理部32は、被試験デバイス10から受信したパケットに含まれていた受信データに応じた値を、パケットに含めて送信することができる。データ変換部34は、下位シーケンサ28から指定されたタイミングにおいて、データ処理部32から出力した試験データ列をデータ変換する。データ変換部34は、一例として、試験データ列に対して予め設定されたテーブル等により8b-10b変換等を行う。更に、データ変換部34は、一例として、試験データ列に対してスクランブル処理を行ってもよい。そして、データ変換部34は、変換したデータ列を出力する。送信部36は、データ変換部34が生成した試験データ列を、被試験デバイス10に対して送信する。つぎに、受信側ブロック14について説明する。受信側ブロック14は、送信側ブロック12と略同一の構成および機能を有するので、受信側ブロック14については、送信側ブロック12の相違点について説明をする。受信側ブロック14は、パケットリスト記憶部20と、パケットリスト処理部22と、パケット命令列記憶部24と、パケットデータ列記憶部26と、下位シーケンサ28と、データ処理部32と、データ変換部34と、受信部82と、判定部84とを含む。受信部82は、被試験デバイス10からパケットのデータ列を受信する。受信側のデータ変換部34は、受信側の下位シーケンサ28から指定されたタイミングにおいて、受信部82により受信されたデータ列をデータ変換する。受信側のデータ変換部34は、一例として、受信したデータ列に対して予め設定されたテーブル等により8b-10b変換等を行う。更に、受信側のデータ変換部34は、一例として、受信したデータ列に対してデスクランブル処理を行ってもよい。そして、受信側のデータ変換部34は、変換したデータ列を判定部84へ供給する。また、受信側のデータ変換部34は、変換したデータ列を、受信側のパケットデータ列記憶部26または送信側のパケットデータ列記憶部26の少なくとも一方に供給してもよい。受信側のパケットリスト処理部22は、外部から指定されたパケットリストを実行して、被試験デバイス10から受信されると期待されるパケットを順次指定する。また、受信側のデータ処理部32は、生成した試験データ列を判定部84に供給する。受信側の下位シーケンサ28は、被試験デバイス10から出力が期待されるパケットのデータ列を、試験データ列として受信側のパケットデータ列記憶部26から出力させる。また、受信側の下位シーケンサ28は、受信部82に対して、被試験デバイス10から出力された信号のデータ値を取り込むストローブタイミングを指定する。判定部84は、受信側のデータ処理部32から試験データ列を受け取るとともに、受信側のデータ変換部34から受信したデータ列を受け取る。判定部84は、受信したデータ列を試験データ列と比較した結果に基づいて、被試験デバイス10との間の通信の良否を判定する。判定部84は、一例として、受信部82が受信したデータ列と試験データ列とが一致するか否かを比較する論理比較部と、比較結果を記憶するフェイルメモリとを含む。また、判定部84は、一例として、受信部82が受信したデータ列が指定されたデータ列と一致したことを受信側の下位シーケンサ28に通知してもよい。また、受信側の下位シーケンサ28は、送信側の下位シーケンサ28と通信を行う。これにより、受信側の下位シーケンサ28は、送信側の下位シーケンサ28とハンドシェイクを行って、送信側の下位シーケンサ28と同期して命令列を実行することができる。受信側の下位シーケンサ28は、一例として、当該受信側の下位シーケンサ28が生成した試験データ列と一致するデータ列を受信したことを送信側の下位シーケンサ28に通知する。これにより、送信側の下位シーケンサ28は、受信側の下位シーケンサ28から、生成した試験データ列と一致するデータ列を受信したことの通知を受けて、予め指定されたパケットの試験データ列を生成することができる。また、受信側の下位シーケンサ28は、一例として、送信側の下位シーケンサ28から、予め指定されたパケットの試験データ列を被試験デバイス10に送信したことの通知を受けるまでの間、判定部84による受信部82が受信したデータ列の良否判定を禁止する。これにより、受信側の下位シーケンサ28は、所定のパケットを被試験デバイス10へ送信した後に、当該所定のパケットに応じた応答が被試験デバイス10から出力されたか否かを判定することができる。受信側のパケットデータ列記憶部26は、受信側ブロック14側のデータ変換部34から受信部82が受信したパケットに含まれる受信データを受け取る。そして、受信側のパケットデータ列記憶部26は、受信部82が受信したパケットに含まれる受信データを記憶する。更に、受信側のデータ処理部32は、被試験デバイス10から出力が期待されるパケットに含まれる試験データ列に、受信部82が既に受信したパケットに含まれる受信データに応じた値を含める。例えば、受信側のデータ処理部32は、受信側のパケットデータ列記憶部26からデータを読み出して、被試験デバイス10からの受信を期待するパケットのデータ列における予め指定された部分を、受信データに応じた値例えば受信データそのままの値又は何らかの処理を施した値とした試験データ列を生成する。例えば、受信側のデータ処理部32は、被試験デバイス10から受信すべき第2のパケットに応じた試験データ列中に、受信部82が既に受信した第1のパケットに含まれる受信データに応じた値を含めてよい。これにより、受信側のデータ処理部32によれば、例えば、被試験デバイス10から受信したパケットに含まれるID等を参照して、次以降のパケットに含まれるべきIDが正しいか否かを判定することができる。以上のように、本実施形態に係る試験装置100によれば、受信したパケットに含まれる受信データに応じた値を次以降のパケット内に含める処理を、被試験デバイス10に比較的に近い位置で行うことができる。これにより、試験装置100によれば、被試験デバイス10とのやり取りの応答を高速にすることができる。また、試験装置100は、比較的に動作周波数の高い演算処理ユニット等により実現されたデータ処理部32を備えることが好ましい。これにより、試験装置100は、受信したパケットに含まれるデータから、次以降のパケットに含めるデータを生成する処理を高速に行うことができる。以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段より前に、先立って等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上まず、、次に、等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。