"光ディスク検査装置であって、前記光ディスクは少なくとも第1の層及び第2の層を備える多層光ディスクであり、前記第1の層のデータを再生する第1再生手段と、前記第1の層のデータ再生時に再生エラー又はエラー率の悪化が生じたことを検出する第1検出手段と、前記再生エラー又はエラー率の悪化が生じた場合に、同一半径位置における第2の層のデータを再生する第2再生手段と、前記第2の層のデータ再生時に再生エラー又はエラー率の悪化が生じたことを検出する第2検出手段と、前記第2検出手段で再生エラー又はエラー率の悪化を検出した場合に前記光ディスクに物理的な欠陥があると判定し、前記第2検出手段で検出しない場合に前記光ディスクに物理的な欠陥がないと判定する判定手段と、を備えることを特徴とする光ディスク検査装置。光ディスク検査装置であって、前記光ディスクは少なくとも第1の層及び第2の層を備える多層光ディスクであり、前記第1の層のデータを再生する第1再生手段と、前記第1の層のデータ再生時に再生エラー又はエラー率の悪化が生じたことを検出する第1検出手段と、前記再生エラー又はエラー率の悪化が生じた場合に、その位置を記憶する記憶手段と、前記第1の層のデータ再生が終了した後に、前記記憶手段に記憶された位置に対応する前記第2の層のデータを再生する第2再生手段と、前記第2の層のデータ再生時に再生エラー又はエラー率の悪化が生じたことを検出する第2検出手段と、前記第2検出手段で再生エラー又はエラー率の悪化を検出した場合に前記光ディスクに物理的な欠陥があると判定し、前記第2検出手段で検出しない場合に前記光ディスクに物理的な欠陥がないと判定する判定手段と、を備えることを特徴とする光ディスク検査装置。請求項1、2のいずれかに記載の光ディスク検査装置において、前記第1の層はレイヤー0L0層であり、前記第2の層はレイヤー1L1層であることを特徴とする光ディスク検査装置。請求項1、2のいずれかに記載の光ディスク検査装置において、前記第1の層はレイヤー1L1層であり、前記第2の層はレイヤー0L0層であることを特徴とする光ディスク検査装置。光ディスク検査方法であって、前記光ディスクは少なくとも第1の層及び第2の層を備える多層光ディスクであり、前記第1の層あるいは前記第2の層のいずれか一方の層においてデータを再生し、再生エラー又はエラー率の悪化が生じるか否かを検出する第1検出ステップと、前記第1の層あるいは前記第2の層のいずれか他方の層の同一半径位置において再生エラー又はエラー率の悪化が生じるか否かを検出する第2検出ステップと、前記第2検出ステップで再生エラー又はエラー率の悪化が生じた場合に、前記光ディスクに物理的な欠陥があると判定し、生じない場合に物理的な欠陥がないと判定する判定ステップと、を備えることを特徴とする光ディスク検査方法。しかしながら、近年において、光ディスクの違法コピーを防止するためにいわゆるコピーガードを施した光ディスクが市場に供給されるようになっている。コピーガードは、例えば特許第3449804号に開示されているように、誤り訂正符号による誤り訂正処理を実行してユーザデータを再生して得られる再生データと、誤り訂正符号による誤り訂正処理を実行しないでユーザデータを再生して得られる再生データとの比較により検出できるように、記録データ列の論理レベルを部分的に切り換えて、誤り訂正符号で誤り訂正できるビット誤りを発生させ、ユーザデータ以外のデータを記録するものである。このようなコピーガードが施された光ディスクを検査装置で検査すると、コピーガード部分においても再生データのエラーが発生するため、再生データのエラー数又はエラー率で欠陥の有無を判定する検査装置では、本来的に検出すべき傷や汚れ等の物理的な欠陥がなくても欠陥のある光ディスクと誤判定してしまう。特に、映画等のコンテンツを記録したDVD等の光ディスクは、レンタル店に搬入された際に光ディスクの欠陥の有無を検査装置で検査する場合があり、欠陥がないにもかかわらず欠陥ありと誤判定したのでは、検査装置の信頼性に影響する。本発明の目的は、コピーガードが施された光ディスクであっても、コピーガードと欠陥とを確実に識別して光ディスクを検査できる装置及び方法を提供することにある。本発明は、光ディスク検査装置であって、前記光ディスクは少なくとも第1の層及び第2の層を備える多層光ディスクであり、前記第1の層のデータを再生する第1再生手段と、前記第1の層のデータ再生時に再生エラー又はエラー率の悪化が生じたことを検出する第1検出手段と、前記再生エラー又はエラー率の悪化が生じた場合に、同一半径位置における第2の層のデータを再生する第2再生手段と、前記第2の層のデータ再生時に再生エラー又はエラー率の悪化が生じたことを検出する第2検出手段と、前記第2検出手段で再生エラー又はエラー率の悪化を検出した場合に前記光ディスクに物理的な欠陥があると判定し、前記第2検出手段で検出しない場合に前記光ディスクに物理的な欠陥がないと判定する判定手段とを備えることを特徴とする。また、本発明は、光ディスク検査装置であって、前記光ディスクは少なくとも第1の層及び第2の層を備える多層光ディスクであり、前記第1の層のデータを再生する第1再生手段と、前記第1の層のデータ再生時に再生エラー又はエラー率の悪化が生じたことを検出する第1検出手段と、前記再生エラー又はエラー率の悪化が生じた場合に、その位置を記憶する記憶手段と、前記第1の層のデータ再生が終了した後に、前記記憶手段に記憶された位置に対応する前記第2の層のデータを再生する第2再生手段と、前記第2の層のデータ再生時に再生エラー又はエラー率の悪化が生じたことを検出する第2検出手段と、前記第2検出手段で再生エラー又はエラー率の悪化を検出した場合に前記光ディスクに物理的な欠陥があると判定し、前記第2検出手段で検出しない場合に前記光ディスクに物理的な欠陥がないと判定する判定手段とを備えることを特徴とする。また、本発明は、光ディスク検査方法であって、前記光ディスクは少なくとも第1の層及び第2の層を備える多層光ディスクであり、前記第1の層あるいは前記第2の層のいずれか一方の層においてデータを再生し、再生エラー又はエラー率の悪化が生じるか否かを検出する第1検出ステップと、前記第1の層あるいは前記第2の層のいずれか他方の層の同一半径位置において再生エラー又はエラー率の悪化が生じるか否かを検出する第2検出ステップと、前記第2検出ステップで再生エラー又はエラー率の悪化が生じた場合に、前記光ディスクに物理的な欠陥があると判定し、生じない場合に物理的な欠陥がないと判定する判定ステップとを備えることを特徴とする。本発明によれば、光ディスクのコピーガードと欠陥とを確実に識別して光ディスクを検査することができる。以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。図1に、本実施形態における光ディスク検査装置の全体構成を示す。検査対象の光ディスク10は、スピンドルモータSPM12により駆動される。SPM12は、ドライバ14で駆動され、ドライバ14はサーボプロセッサ30により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。光ピックアップ16は、レーザ光を光ディスク10に照射するためのレーザダイオードLDや光ディスク10からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタPDを含み、光ディスク10に対向配置される。光ピックアップ16はステッピングモータで構成されるスレッドモータ18により光ディスク10の半径方向に駆動され、スレッドモータ18はドライバ20で駆動される。ドライバ20は、ドライバ14と同様にサーボプロセッサ30によりサーボ制御される。また、光ピックアップ16のLDは、ドライバ22により駆動され、ドライバ22は、オートパワーコントロール回路APC24により、駆動電流が所望の値となるように制御される。APC24及びドライバ22は、システムコントローラ32からの指令によりLDの発光量を制御する。図ではドライバ22は光ピックアップ16と別個に設けられているが、ドライバ22を光ピックアップ16に搭載してもよい。光ディスク10の欠陥を検査する際には、光ピックアップ16のLDから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がPDで電気信号に変換されて出力される。光ピックアップ16からの再生信号はRF回路26に供給される。RF回路26は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ30に供給する。また、RF回路26は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路28に供給し、再生RF信号を2値化回路34に供給する。サーボプロセッサ30は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ16をサーボ制御し、光ピックアップ16をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。アドレスデコード回路28は、アドレス信号から光ディスク10のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ30やシステムコントローラ32に供給する。2値化回路34は、再生信号を2値化し、得られた信号をデコード回路36に供給する。デコード回路36では、2値化信号を復調及びエラー訂正して再生データを得、当該再生データをバッファメモリ38に一旦蓄積する。バッファメモリ38に蓄積された再生データは適宜、読み出されてシステムコントローラ32に供給される。また、デコード回路36は、エラー数又はエラー率をシステムコントローラ32に出力する。システムコントローラ32は、システム全体の動作を制御し、サーボプロセッサ30を介してスレッドモータ18を駆動し、光ピックアップ16の位置を制御する。また、システムコントローラ32は、デコード回路36から供給されたエラー数又はエラー率に基づいて、光ディスク10の欠陥の有無を判定し、判定結果を外部のディスプレイに出力する。但し、上記のように、光ディスク10がコピーガードを施された光ディスクである場合、コピーガード部分においても再生エラー又はエラー率の悪化が生じるため、そのままではコピーガードによる再生エラー又はエラー率の悪化であるか、本来検出すべき物理的な欠陥による再生エラー又はエラー率の悪化であるかを識別することができない。そこで、本実施形態では、光ディスク10が2層あるいはその他の多層光ディスクである場合、コピーガードによる再生エラー又はエラー率の悪化は特定の層だけに生じる一方、物理的な欠陥の場合には特定の層だけでなく他の層全ての層においても同様に生じるとの事実に着目し、この事実を利用してコピーガードによる再生エラー又はエラー率の悪化と物理的欠陥による再生エラー又はエラー率の悪化とを識別するものである。図2に、多層光ディスクの一例として、2層光ディスクの物理的及び論理的層構成を示す。図2aは、レイヤー0層L0とレイヤー1層L1のセクタ順序が同一方向内周から外周に向かうの光ディスクPTP:ParallelTrackPathDiscを示し、図2bは、レイヤー0層L0とレイヤー1層L1のセクタ順序が互いに反対レイヤー0層は内周から外周に向かい、レイヤー1層は外周から内周に向かうの光ディスクOTP:OppositeTrackPathDiscを示す。いずれの光ディスクにおいても、各層は一つの盤面上に重なって配置されているために、光ディスク検査装置は、レイヤー0層L0のみを再生して再生エラーを測定し、物理的な欠陥の有無を判定する。コピーガードが施された光ディスクでは、通常、レイヤー0層L0に再生できないデータのセクタを埋め込んでいるので、このセクタを再生する際に再生エラー又はエラー率の悪化が生じて物理的な欠陥と誤判定してしまう。ところが、レイヤー1層L1にはコピーガードは存在していないので、レイヤー0層において再生エラーが発生しても、当該セクタに対応するレイヤー1層L1のセクタでは再生エラー又はエラー率の悪化は発生せず、問題なく再生できる。他方、物理的な欠陥が存在する場合には、レイヤー0層において再生エラー又はエラー率の悪化が生じるとともに、当該セクタに対応するレイヤー1層のセクタにおいても同様に再生エラー又はエラー率の悪化が生じる。そこで、本実施形態のシステムコントローラ32は、レイヤー0層の再生において再生エラー又はエラー率の悪化が生じた場合に、レイヤー1層にジャンプし、再生エラー又はエラー率の悪化が生じたセクタに対応するレイヤー1層のセクタの再生を試み、問題なく再生できた場合にはレイヤー0層の再生エラーはコピーガードによるものであるとして物理的な欠陥とみなさない。他方、レイヤー1層においても再生エラー又はエラー率の悪化が生じた場合には、レイヤー0層の再生エラー又はエラー率の悪化は確かに物理的な欠陥によるものであると判定する。このように、本実施形態では、多層光ディスクにおける特質を利用して、レイヤー0層のみで再生エラー又はエラー率の悪化が生じた場合には物理的な欠陥であるとみなさず、物理的な欠陥のない正常な光ディスクであると判定するので、コピーガードが施された光ディスクを誤って物理的な欠陥のある光ディスクと誤判定することを有効に防止できる。なお、エラー率の悪化が生じたか否かは、エラー率を所定のしきい値と大小比較することで判定でき、所定のしきい値を超えてエラー率が増大した場合にエラー率の悪化が生じたと判定する。図3に、本実施形態における検査処理のフローチャートを示す。まず、レイヤー0層L0:Layer0の検査チェックを内周側より開始するS101。次に、システムコントローラ32は、デコード回路36からの信号に基づいて、再生エラーが生じたか否か、あるいはエラー率が許容値を超えて悪化したか否かを判定するS102。再生エラーが生じた場合エラー数が所定値を越えた場合を含む、あるいはエラー率が悪化した場合には、システムコントローラ32は、光ピックアップ16を駆動してレーザ光の照射位置をレイヤー0層からレイヤー1層に移動し、同一半径位置のレイヤー1層L1:Layer1を再生するS103。そして、レイヤー1層においても再生エラーが生じたか、あるいはエラー率が悪化したかを判定するS104。レイヤー1層においてもレイヤー0層と同様に再生エラーが生じた場合、あるいはエラー率が悪化した場合、システムコントローラ32は、検査対象の光ディスク10には欠陥ディフェクトがあると判定するS105。欠陥があると判定された場合、検査はその時点で終了する。一方、レイヤー1層において再生エラーが生じない場合、システムコントローラ32は、レイヤー0層での再生エラーは物理的な欠陥ではなくコピーガードによるものとみなし、物理的な欠陥がないものとして再び光ピックアップ16を駆動してレーザ光の照射位置をレイヤー1層からレイヤー0層に移動する。そして、レイヤー0層の全周の検査が終了したか否かを判定しS106、全周の検査が終了していない場合には、レイヤー0層の再生及びチェックを再開しS107,全周が検査されるまでS102以降の処理を繰り返す。全周の検査が終了した場合、検査対象の光ディスク10には物理的な欠陥がないものとして正常に終了する。本実施形態では、レイヤー0層の再生時に再生エラーが生じた場合に、その時点でレイヤー1層に移動してレイヤー1層を再生しているが、レイヤー0層の再生時に再生エラーが生じても、その再生エラーが生じた半径位置を記憶しておいてそのままレイヤー0層の全周の検査を行い、その後にレイヤー1層の対応する半径位置の再生を行ってもよい。図4及び図5に、この場合の検査処理のフローチャートを示す。まず、レイヤー0層L0の検査を内周側より開始するS201。次に、システムコントローラ32は、デコード回路36からの信号に基づいて、再生エラーが生じたか否か、あるいはエラー率が許容値を超えて悪化したか否かを判定するS202。再生エラーが生じた場合エラー数が所定値を越えた場合を含む、あるいはエラー率が悪化した場合には、システムコントローラ32は、その位置のアドレスをメモリに保持しておくS203。そして、レイヤー0層の全周の検査が終了したか否かを判定しS204、全周の検査が終了していない場合には、レイヤー0層の再生及びチェックを再開しS210、全周の検査が終了するまでS202以降の処理を繰り返す。レイヤー0層の全周の検査が完了した後、レイヤー0層の再生エラーが存在するか否かを判定するS205。再生エラーが生じた場合にはそのアドレスがメモリに保持されているから、メモリにアドレスが保持されていない場合にはレイヤー0層において再生エラーが生じなかったものとして正常に検査を終了する。すなわち、検査対象の光ディスク10は欠陥のない正常な光ディスクと判定する。レイヤー0層に再生エラーが生じている場合には、図5の処理に移行する。図5において、システムコントローラ32は、メモリに保持されたアドレスを用いて、レイヤー0層と同一半径のレイヤー1層のアドレスを計算し、光ピックアップ16を駆動してレーザ光の照射位置をレイヤー0層からレイヤー1層に移動して再生を再開するS206。そして、レイヤー1層においても再生エラーが生じたか、あるいはエラー率が悪化したかを判定するS207。レイヤー1層においてもレイヤー0層と同様に再生エラーが生じた場合、あるいはエラー率が悪化した場合、検査対象の光ディスク10には欠陥があると判定して検査処理を終了するS209。レイヤー1層において再生エラーが生じない場合には、メモリに他のアドレスが保持されているかを確認し、保持されている場合には、レイヤー0層のエラー検出アドレスを取得しS211、同様の処理を繰り返す。S206~S211の処理は、メモリに保持されている全てのアドレスについてチェックが終了するまで繰り返す。全てのアドレスについて、レイヤー1層において再生エラーが生じない場合には、レイヤー0層の再生エラーはコピーガードによるもので物理的な欠陥によるものでないとして、物理的な欠陥なしとして正常に終了する。以上説明したように、本実施形態では、レイヤー0層において再生エラーが生じても、レイヤー1層の該当する位置において再生エラーが生じていない場合には、物理的な欠陥でないと判定することにより、コピーガードと物理的な欠陥を確実に識別することが可能となる。なお、既述したように、コピーガードはレイヤー0層のみに埋め込まれている場合が多いため、検査装置でレイヤー1層から検査することも考えられる。図6に、この場合の検査処理のフローチャートを示す。まず、システムコントローラ32は、検査対象の光ディスク10がPTPあるいはOTPのいずれであるかを判定するS301。OTPである場合には、レイヤー1層L1の外周から内周にむけてセクタが配列しているからレイヤー1層L1の外周より検査を開始しS302、PTPである場合には、内周から外周に向けてセクタが配列しているからレイヤー1層L1の内周より検査を開始するS303。検査するアドレスを順次更新して検査しS304、再生エラーが生じたか、あるいはエラー率が悪化したか否かを判定するS305。再生エラーが生じたか、あるいはエラー率が悪化した場合には、システムコントローラ32は光ピックアップ16を駆動してレーザ光の照射位置をレイヤー1層からレイヤー0層に移動し、レイヤー0層の同一半径位置を再生しS306、レイヤー0層においても再生エラーが生じたか、あるいはエラー率が悪化したか否かを判定するS307。レイヤー1層及びレイヤー0層の両方において再生エラーが生じたか、あるいはエラー率が悪化した場合には、検査対象の光ディスク10には欠陥があると判定し、検査を終了するS308。一方、レイヤー1層において再生エラーが生じていない場合、及びレイヤー1層において再生エラーが生じていてもレイヤー0層の同一半径位置において再生エラーが生じていない場合には、物理的な欠陥ではないとみなす。以上の処理をレイヤー1層の全周について繰り返し実行するS309。レイヤー1層の全周を検査した結果、再生エラーが生じていないか、あるいは再生エラーが生じていてもレイヤー0層の同一半径位置において再生エラーが生じていない場合には、物理的な欠陥のない正常な光ディスクと判定し、検査を終了する。以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、図6の検査フローチャートでは、レイヤー1層において再生エラーが生じた場合にレイヤー0層に移動して再生エラーが生じるか否かを判定しているが、図4、図5の場合と同様に、レイヤー1層のデータ再生が全周において終了した後に、レイヤー0層の対応する半径位置のデータを再生して再生エラーが生じるか否かを判定してもよい。要するに、2層の光ディスクを第1の層と第2の層とし、第1の層から検査を開始するものとして、第1の層をレイヤー0層L0としてもよく、あるいは第1の層をレイヤー1層L1としてもよい。また、本実施形態においては、2層光ディスクを特に例示したが、3層あるいはそれ以上の多層光ディスクにおいても同様に検査することができる。例えば3層光ディスクの場合、レイヤー0層において再生エラーが生じた場合、同一半径位置のレイヤー1層あるいはレイヤー3層、又は、同一半径位置のレイヤー1層及びレイヤー3層を再生し、再生エラーが生じなければコピーガードによるものであり欠陥ではないと判定することができる。"