"多層光ディスクからデータを再生する光ディスク装置であって、前記光ビームを放射する光源と、前記光ビームを集束させる対物レンズと、前記多層光ディスクで反射された光ビームを検知する光検知部と、を備え、前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、前記記録層の少なくとも1つに対する再生パワーを、他の記録層に対する再生パワーよりも低くする、光ディスク装置。前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を同一種類の光ディスクに対して固定する、請求項1に記載の光ディスク装置。前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクに応じて変化させる、請求項1に記載の光ディスク装置。前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅の比率に応じて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる、請求項3に記載の光ディスク装置。前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅が、予め設定された範囲に含まれるように、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる、請求項4に記載の光ディスク装置。前記記録層の1つにフォーカスの引込みを行う際、再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる、請求項5に記載の光ディスク装置。前記記録層の1つから他の1つにフォーカスジャンプを行う際、再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる、請求項5に記載の光ディスク装置。装填された光ディスクが有する記録層の数を検出する動作を実行する、請求項1に記載の光ディスク装置。装填された光ディスクが有する記録層の数を検出し、前記記録層の数に基づいて、3層以上の記録層を有する多層光ディスクか否かを判別する動作を実行する、請求項8に記載の光ディスク装置。装填された光ディスクが有する記録層の数を検出するとき、各記録層に対する再生パワーの最大値よりも高いパワーの光ビームで前記光ディスクを照射しながら前記光ビームのフォーカス位置を変化させ、フォーカシングエラー信号のS字カーブの検出回数をカウントする、請求項8または9に記載の光ディスク装置。装填された多層光ディスクが有する記録層の数を検出するときに得られた前記多層ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅に基づいて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を決定する、請求項10に記載の光ディスク装置。多層光ディスクからデータを再生する光ディスクの再生方法であって、多層光ディスクが3層以上の記録層を有するか否かを判定するステップSAと、前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、前記記録層の少なくとも1つに対する再生パワーを、他の記録層に対する再生パワーよりも低くするステップSBと、を含む、光ディスクの再生方法。ステップSBでは、前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を同一種類の光ディスクに対して固定する、請求項12に記載の光ディスクの再生方法。ステップSBでは、前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクに応じて変化させる、請求項12に記載の光ディスクの再生方法。ステップSBでは、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅の比率に応じて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる、請求項14記載の光ディスクの再生方法。ステップSBでは、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅が、予め設定された範囲に含まれるように、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる、請求項15に記載の光ディスクの再生方法。前記記録層の1つにフォーカスの引込みを行うステップSCを含み、ステップSCでは、再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる、請求項16に記載の光ディスクの再生方法。前記記録層の1つから他の1つにフォーカスジャンプを行うステップSDを含み、ステップSDでは、フォーカスジャンプ後の再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる、請求項16に記載の光ディスクの再生方法。3層、4層あるいはそれ以上の多層ディスクでは、基板側に位置する奥の層に到達する入射光の量入射光量を確保するために、ディスク表面側に位置する層の透過率を上げる必要がある。また、基板側の層からの戻ってくる光の量反射光量も確保する必要がある。このため、適切な反射率および透過率を示すように、各層の記録膜の設計がより難しくなる。よって多層ディスクでは、各層の反射率は低くなり、かつ、そのばらつきも大きくなってしまう。そのため、再生性能のみならず、フォーカスやトラッキング制御においても不安定となってしまう。特許文献1には、単層、2層のみで各ディスクの種類毎に最適な再生パワーを求めるためにジッタ値を計測するような方法が記述されているのみある。このジッタ測定を行うためには、フォーカス、トラッキング制御を安定にかける必要がある。従来の技術では、多層ディスクの各層での最適な再生パワーを求めることができない。これを解決するためには、多層ディスクの規格や検査スペックを厳しくする必要がある。しかし、それによって光ディスクの歩留まりが悪くなって、生産コストが高くなるためにその普及を阻害してしまうという課題がある。本発明は、前記従来の課題を解決するもので、多層ディスクの各記録層に適した再生パワーを設定することで安定な起動ができる光ディスク装置および光ディスクの再生方法を提供することを目的とする。本発明の光ディスク装置は、多層光ディスクからデータを再生する光ディスク装置であって、前記光ビームを放射する光源と、前記光ビームを集束させる対物レンズと、前記多層光ディスクで反射された光ビームを検知する光検知部とを備え、前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、前記記録層の少なくとも1つに対する再生パワーを、他の記録層に対する再生パワーよりも低くする。ある実施形態において、前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を同一種類の光ディスクに対して固定する。ある実施形態において、前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクに応じて変化させる。ある実施形態において、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅の比率に応じて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。ある実施形態において、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅が、予め設定された範囲に含まれるように、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。ある実施形態において、前記記録層の1つにフォーカスの引込みを行う際、再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる。ある実施形態において、前記記録層の1つから他の1つにフォーカスジャンプを行う際、再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる。ある実施形態において、装填された光ディスクが有する記録層の数を検出する動作を実行する。ある実施形態において、装填された光ディスクが有する記録層の数を検出し、前記記録層の数に基づいて、3層以上の記録層を有する多層光ディスクか否かを判別する動作を実行する。ある実施形態において、装填された光ディスクが有する記録層の数を検出するとき、各記録層に対する再生パワーの最大値よりも高いパワーの光ビームで前記光ディスクを照射しながら前記光ビームのフォーカス位置を変化させ、フォーカシングエラー信号のS字カーブの検出回数をカウントする。ある実施形態において、装填された多層光ディスクが有する記録層の数を検出するときに得られた前記多層ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅に基づいて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を決定する。本発明の光ディスクの再生方法は、多層光ディスクからデータを再生する光ディスクの再生方法であって、多層光ディスクが3層以上の記録層を有するか否かを判定するステップSAと、前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、前記記録層の少なくとも1つに対する再生パワーを、他の記録層に対する再生パワーよりも低くするステップSBとを含む。ある実施形態において、ステップSBでは、前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を同一種類の光ディスクに対して固定する。ある実施形態において、ステップSBでは、前記多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクに応じて変化させる。ある実施形態において、ステップSBでは、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅の比率に応じて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。ある実施形態において、ステップSBでは、前記多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅が、予め設定された範囲に含まれるように、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。ある実施形態において、前記記録層の1つにフォーカスの引込みを行うステップSCを含み、ステップSCでは、引込み後の再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる。ある実施形態において、前記記録層の1つから他の1つにフォーカスジャンプを行うステップSDを含み、ステップSDでは、フォーカスジャンプ後の再生パワーを、各記録層に対する再生パワーの前記比率に基づいて変化させる。ある実施形態において、ステップSAでは、装填された光ディスクが有する記録層の数を検出し、前記記録層の数に基づいて、3層以上の記録層を有する多層光ディスクか否かを判別する。ある実施形態において、ステップSAでは、装填された光ディスクが有する記録層の数を検出するとき、各記録層に対する再生パワーの最大値よりも高いパワーの光ビームで前記光ディスクを照射しながら前記光ビームのフォーカス位置を変化させ、フォーカシングエラー信号のS字カーブの検出回数をカウントする。ある実施形態において、ステップSBでは、装填された多層光ディスクが有する記録層の数を検出するときに得られた前記多層ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅に基づいて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を決定する。本発明によれば、多層ディスクの各記録層に適した再生パワーを設定することにより、安定な起動を実現し得る。本発明の好ましい実施形態によれば、多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号の振幅を所定の範囲内とするように再生パワーを設定するので、フォーカス、トラッキング制御を安定に動作させ、さらに各層毎に再生性能を向上することができる。また、本発明のある実施形態によれば、光ディスクを装填した時点で各記録層の最適パワーを求め、そのテーブルを作成するので、その後に起動をかけたときのフォーカス、トラッキング制御を安定に動作させ、さらに各層毎に再生性能を向上することができる。さらに本発明の好ましい実施形態によって、反射率の余裕度を広げることもできるので、各層の設計マージン、特に表面に近い層の設計マージンを大きくすることができる。その結果、材料の選択範囲が広がり、また光ディスクの歩留まり向上することができるため、多層光ディスクのコストを低減することが可能となる。本発明の光ディスク装置は、光ビームを放射する光源と、光ビームを集束させる対物レンズと、多層光ディスクで反射された光ビームを検知する光検知部とを備える。そして、本発明の光ディスク装置は、多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、記録層の少なくとも1つに対する再生パワーを、他の記録層に対する再生パワーよりも低くするように構成されている。ここで、再生パワーとは、記録層からデータを読み出すときに光源から放射する光ビームの光学パワーである。従来、最も再生光劣化しやすい記録層に合わせて再生パワーを決定し、その再生パワーでいずれの記録層に対する再生動作を実行していた。本発明によれば、3層以上の多層ディスクである場合は、すくなくとも1つの記録層で再生パワーを低下させるため、再生光劣化を避けながら、各記録層から所望の反射光量を得ることができる。本発明では、例えばディスク判別により、装填された光ディスクが3層以上の記録層を有する多層ディスクであることを検知する。その後、各記録層にあった再生パワーでデータの再生を行うが、そのようなデータの再生を行う前、例えばディスク判別を行うときは、規格で定められた最大の再生パワーで光ビームを光ディスクに照射してもよい。ディスク判別を行うとき、再生光劣化は生じにくいからである。光ディスク装置に装填された多層光ディスクが3層以上の記録層を有するとき、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクの種類が同一であれば、固定しておいてもよいし、各記録層に対する再生パワーの比率を前記多層光ディスクに応じて変化させてもよい。ここで、同一種類の多層光ディスクとは、ROM/RE/Rなどのディスク種別と記録層の層数によって定義される物理的構造が等しい光ディスクを意味するものとする。後述する好ましい実施形態では、多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅の比率に応じて、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。この場合、ある実施形態では、多層光ディスクの各記録層でのフォーカシングエラー信号のS字カーブの振幅が、予め設定された範囲に含まれるように、各記録層に対する再生パワーの前記比率を変化させる。以下に、本発明の光ディスク装置、再生パワーの設定方法、多層ディスク判別方法、フォーカスの引込み、フォーカスジャンプ方法について、好ましい実施形態を説明する。実施形態13層ディスク及び4層ディスク図1は、本発明による光ディスク装置の実施形態で使用され得る多層ディスクの例である3層ディスク及び4層ディスクの断面構造を示す概念図である。図1aは、3層のBD-REディスクのL0,L2層における光スポット位置を示す断面図である。図1cは、4層のBD-REディスクのL0,L3層における光スポット位置を示す断面図である。光ディスク装置の光ピックアップは、光ビームを放射する光源と、光ビームを集束させる対物レンズと、多層光ディスクで反射された光ビームを検知する光検知部とを備える。対物レンズの位置を光ディスクに近づけたり、光ディスクから遠ざけることより、対物レンズの焦点位置が光軸上を移動する。光スポット位置とは、対物レンズによって集束された光ビームの焦点位置に相当する。目的とする記録層にデータを書き込んだり、その記録層からデータを読み出すには、その目的とする記録層上に光スポット位置を一致させるようにフォーカシングを行う必要がある。多層光ディスクに含まれる、ある記録層から他の記録層に光スポット位置を移動させることをフォーカスジャンプと称する。図1aに示すように、最も奥に位置するL0層に光スポット位置を合わせているとき、すなわち、L0層にフォーカスしているとき、L0層よりも手前に位置するL1層およびL2層を光ビームは透過する必要がある。L0層にフォーカスしているとき、L1層およびL2層を横切る光ビームのL1層およびL2層における断面のサイズは、L0層上における光スポットのサイズよりも十分に大きい。図1bは、3層ディスクのBD-REの基板側ディスク表面から奥側のL0層に光スポットを形成する場合の反射光を模式的に示す。この場合は、光ピックアップ内の対物レンズから出た光ビームは、実線、破線、一点破線矢印によって示されるように、ディスク表面側に近いL2層からL1層、L0層を透過しL0層上に光スポットが形成される。よって記録層を通過する毎にその透過率に応じて光量が低下する。すなわち光ピックアップからみて、基板に近い記録層ほど、入射光量が低下していくことになる。したがって、L2層に比べて、L0層の再生パワーを大きくすることが好ましい。逆にディスク表面側のL2層に光スポットを形成する場合は、透過するのはカバー層のみで光量低下がほとんどない。このため、反射光量は確保しやすいが、透過率をあげて基板側のL0層に到達するまで光ビームを効率よく通過させなければならない。透過率をあげると反射率は下がってしまうが、上記のように元々手前の層による光量の減衰がほとんどないため、表面側L2と基板側L0、L1とで反射率の差が小さく収まるように設計している。同様に図1dは、4層ディスクのBD-Rの基板側のL0層に光スポットを形成する場合を示す。この場合も、光ピックアップ内の対物レンズより出射された光ビームは、表面側の層L3層からL2、L1、L0層と順次積層された記録層を透過させていくため、記録層を通過毎に光量が低下する。よってL3層に比べて、L0層の再生パワーを大きくすることが好ましい。逆に、L3層は光量低下が少ないので反射光量は確保しやすいが、L0層まで光ビームを効率よく通過させなければならない。記録層の透過率をあげると、その記録層自体の反射率は下がってしまうことを利用して、同様に表面側のL3、L2層と基板側のL1、L0層とで反射率の差が小さく収まるようにしている。多層光ディスクにおいて各記録層の反射率が適切に調整されていれば、光ディスク装置の再生パワーを記録層に応じて調整する必要はない。したがって、現在まで、光ディスク装置の再生パワーを記録層ごとに変化させる必要はなかった。しかし、多層光ディスクの各記録層の反射率を厳密に調整しようとすると、多層光ディスクの製造コストが上昇する。また、現実の多層光ディスクでは、記録層の反射率が目標値から外れ、ばらつく可能性がある。そこで、本発明では、光ディスク装置で再生パワーを調整することにより、多層ディスクの記録層の反射率が設計値からずれても適切にデータ再生を可能することにした。図2は、3層の光ディスクについて、各記録層の反射率と再生パワーとの関係を示すテーブルである。なお、本明細書および請求の範囲における各記録層の反射率とは、各記録層単独の反射率ではなく、光ディスクに入射する光強度Pinに対する、着目する記録層から反射される光の強さPoutの比率Pout/Pinである。このように定義される反射率は、着目する記録層から光ピックアップ光検出器に戻る光の強度の比率を意味する。図2のテーブルにおけるTL標準とは、各記録層の反射率が等しく設定された光ディスクを意味する。また、TLばらつき調整前とは、各記録層の反射率が異なる光ディスクを意味する。TL標準の各記録層に対する再生パワーとTLばらつき調整前の各記録層に対する再生パワーは、一致している。一方、TLばらつき調整後の各記録層に対する再生パワーは、調整後の値を有している。図2の例によれば、TL標準に示す標準的な反射率の光ディスクにおいては、再生パワーを、L0層で1.44mW、L1層で1.44mW、L2層で1.1mWに設定する。この場合、各記録層から得られるフォーカスエラー信号のS字振幅は、図3Aに示すように、各記録層で等しくなる。ディスク表面に最も近い最近層であるL2層は、他の記録層よりも強い光が入射する。そのように強い光の照射を受けてもL2層が劣化しないようにするため、L2層の再生パワーは、L0層およびL1層の再生パワーよりも小さな値に設定することが好ましい。このため、図2の例では、L0層およびL1層の再生パワーは1.44mWに設定しているのに、L2層の再生パワーは1.1mWに設定している。ディスク表面から最も遠い位置にある最遠層であるL0層は、光を透過する必要がない。L0層の反射光強度を高くするため、L0層には反射膜を配置することも可能である。従って、L0層については、反射率のばらつきを抑え、必要な反射光量を確保することが容易である。なお、最近層と最遠層との間に位置するL1層の場合は、最遠層であるL0層に比べて、反射率がばらつきやすく、最近層の反射率よりもばらつくことがある。各記録層の反射率が、標準的な3層ディスクの記録層の反射率3からシフトした光ディスクに対して、標準的な3層ディスクのための再生パワーで光を照射すると、以下の問題が生じることがわかった。図3Bは、図2に示す調整前の再生パワーによって得られたS字波形と、図2に示す調整後の再生パワーによって得られたS字波形を示している。この例では、調整前の再生パワーによる場合、各記録層のS字振幅がばらついている。このままでは、S字振幅の検出がうまく行かず、フォーカスの引き込みを行う場合、あるいは、他の記録層からフォーカスジャンプを行う場合に失敗が生じる可能性がある。一方、適切な調整を行った再生パワーによる場合、各記録層から略同じ大きさのS字振幅を持つ信号を得ることができるため、各記録層でフォーカス引き込みまたはフォーカスジャンプの失敗が生じる可能性が低くなる。また、調整後の再生パワーによれば、品質のよい再生信号を得ることもできる。各記録層のS字振幅がばらついている場合、各記録層の再生パワーは、規格を満たす再生パワーであり、かつ、できるだけ大きなS字振幅に揃えることができる再生パワーに調整する。そのためには、以下に示すS字振幅を揃える手順でS字振幅のばらつきを修正する。まず、最も大きなS字振幅に揃えるために、S字振幅が相対的に小さな記録層に対する再生パワーを、規格を満たす範囲で上げる。再生パワーを上げてS字振幅を大きい方に揃えることができれば終了する。しかし規格を満たす範囲の上限まで再生パワーを上げても、最も大きなS字振幅に揃えることができない場合、2番目の大きなS字振幅に揃えるための動作を実行する。以上がS字振幅を揃える手順である。上記の手順を図2に例示する記録層を有する光ディスクについて適用して、各記録層から略同じ大きさのS字振幅を持つ信号を得るように再生パワーを調整した。図2に示す例では、L2層に対する調整前の再生パワーが、既に規格範囲の上限値であった。このため、図3Bに示すように、L2層に対する再生パワーを、調整前より大きくすることはできない。このため、調整前において最も小さなS字振幅に揃えるように、再生パワーの調整が行われた。その結果、調整後の再生パワーは、L0層で0.55mW、L1層で1.1mW、L2層で1.1mWに設定されている。図3Cは、他の例を模式的に示す図である。この例では、調整前、L0層で最も大きなS字振幅が得られた。また、L1、L2層での再生パワーを規格範囲内で上昇させて、L0層のS字振幅に揃えることができた。図3Dは、更に他の例を模式的に示す図である。この例では、調整前、L2層で最も大きなS字振幅が得られた。しかし、L2層のS字振幅に揃えるためには、L0層またはL1層での再生パワーを規格範囲の上限よりも大きな値に上昇させる必要があったため、2番目に大きなS字振幅、すなわち、L0層のS字振幅に揃えるように、L1層の再生パワーを上昇させた。この例では、L1層の再生パワーを規格範囲内で上昇させてL1層のS字振幅をL0層のS字振幅に一致させることができた。また、L2層の再生パワーを規格範囲内で下降させてL2層のS字振幅をL0層のS字振幅に一致させることもできた。このように、どの記録層のS字振幅に一致させるかは、各記録層の再生パワーが規格で定められた範囲から外れないように、そして、一致させるS字振幅ができる限り大きくなるように決定される。図4は、単層、2層、3層のBD-REについて、各記録層の反射率と再生パワーとの関係を示すテーブルである。図5は、単層、2層、3層、4層のBD-Rについて、各記録層の反射率と再生パワーとの関係を示すテーブルである。これらのテーブルに記載されている再生パワーの値は、標準的に光ディスクについて設定された値であり、以下、標準再生パワーと称することにする。図4および図5に示されるSL、DL、TL、QLは、それぞれ、単層ディスク、2層ディスク、3層ディスク、4層ディスクを意味する。図4には、3層ディスクのL0層について、反射率が1.5-4と記載されている。これは、3層ディスクは、そのL0層の反射率が1.5-4の範囲内にあるように設計され、製造されることを意味している。本実施形態では、3層ディスクおよび4層ディスクについて、それらの最近層ディスク表面に最も近い記録層の再生パワーがその他の層の再生パワーと異なるように光ディスク装置が動作する。本発明は、このような場合に限定されず、各層でそれぞれ標準再生パワーが異なってもよい。光ディスク装置の構成次に本実施形態における光ディスク装置の構成を説明する。図6は、本実施形態の光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。本光ディスク装置は、光ビームを光ディスク100上に集束させる光学系、光ディスクからの反射光を検出する光検出器、および光源としてレーザダイオードを有する光ピックアップ103と、光ディスクモータ101を駆動して所定のモータ回転数とするモータ駆動回路102と、光ピックアップ103の動作を制御するサーボ制御回路106と、光ピックアップ103で検出した光ディスク100上の情報信号を再生する再生回路110と、記録する情報に基づいて所定の変調方式でレーザダイオードをレーザ駆動回路107によってパルス状に発光させることにより、前記情報を光ディスク100に書き込む記録回路123とを備えている。光ピックアップ103は、光ディスクモータ101上に装填された光ディスク100に対し、集束されたレーザ光を照射する。RFサーボアンプ104は、光ディスク100から反射された光に基づいて電気信号を生成する。サーボ制御回路106は、光ディスクモータ101に装填された光ディスク100にフォーカス制御およびトラッキング制御を実施する。またサーボ制御回路106は、光ディスク100に対して光源およびレンズを用いて光ビームを照射することによって光ディスク100がBDディスクであるかのディスク判別、単層もしくは2層か、あるいは2層より多い記録層をもつ多層判別を行うディスク判別部260図7参照を含む。再生回路110は、RFサーボアンプ104から出力された電気信号を波形等価回路などでイコライジングしてアナログ再生信号を生成する。生成された再生信号はデジタル化された後、PLLによってリードクロック基準クロックと同期し、データ抽出がなされる。その後、所定の復調、エラー訂正をなされた後、システムコントローラ130に入力される。システムコントローラ130は、I/F回路131を介してホスト140へと転送される。記録再生回路123は、ヘッダやエラー訂正のための冗長ビットなどが付加されて、所定の変調パターン変調方式に変調した後、レーザ駆動回路107によって、ホスト140からI/F回路131を介して送られてくる情報を光ディスク100に記録するため、光ピックアップ103の中のレーザダイオードをパルス状に発光させる。光ディスク100に入射するレーザ光の強度変調に応じて、光ディスク100の記録材料たとえば有機材料や相変化材料の反射率を変えることで、1または0の情報の記録を行う。光ピックアップの構成図7は、図6の光ピックアップ103、サーボ制御回路106とその周辺部分をより詳細に記載したブロック図である。図7を用いてさらに説明する。まず光ピックアップの構成を説明する。光ピックアップ103は、光源222と、カップリングレンズ224と、偏光ビームスプリッタ226と、球面収差補正装置228、対物レンズ230と、トラッキングアクチュエータ231と、フォーカスアクチュエータ232と、集光レンズ234と、光検出器236とを有している。光源222は、光ビームを放射する半導体レーザダイオードから構成される。簡単のため、図7には単一の光源222が示されているが、実際の光源は、異なる波長の光ビームを放射する例えば3つの半導体レーザから構成される。具体的には、1つの光ピックアップがCD、DVD、およびBD用に異なる波長の光ビームを放射する複数の半導体レーザを備える。カップリングレンズ224は、光源222から放射された光ビームを平行光にする。偏光ビームスプリッタ226は、カップリングレンズ224からの平行光を反射する。光ディスクの種類に応じて光源222における半導体レーザの位置や、放射される光ビームの波長が異なるため、光ディスク100の種類に応じて最適な光学系の構成は異なる。このため、実際の光ピックアップ103の構成は、図示されているものに比べて複雑である。対物レンズ230は、偏光ビームスプリッタ226で反射された光ビームを集束する。対物レンズ230の位置は、アクチュエータ232がFE信号およびTE信号に基づいて所定の位置に制御する。光ディスク100の記録層からデータを読み出し、あるいは記録層にデータを書き込むとき、対物レンズ230によって集束された光ビームの焦点は、記録層上に位置し、記録層上に光ビームのスポットが形成される。図7には、1つの対物レンズ230が記載されているが、現実には複数の対物レンズ230が備えられており、光ディスク100の種類に応じて異なる対物レンズ230が用いられることになる。データの記録/再生時は、光ビームの焦点が記録層における所望のトラックを追従するようにフォーカスサーボおよびトラッキングサーボが動作し、対物レンズ230の位置が高精度に制御される。本実施形態は、BDの多層判別方法に特徴を有している。図7に示す光ピックアップは、簡易な構成を有するように記載されているが、現実の光ディスクピックアップは、BD用のレーザダイオード222およびレンズ230以外のレーザダイオードおよびレンズを備えていてもよい。BDディスク100が装填された後、データの記録/再生動作を行なう前に、装填されたBDが多層ディスクか否か、また多層光ディスクの場合は、その多層光ディスクが何層の記録層を有しているかを判別するために、ディスク判別の動作を実行する。ディスク判別動作が行われるとき、対物レンズ230は、フォーカスアクチュエータ232の働きにより、光軸方向に沿って大きく位置を変化させることになる。また、ディスク判別は、BDディスク100を回転させることなく行うことができる。球面収差補正素子228は、例えば光軸方向に位置を変化させることのできる補正用レンズ図8参照を備え、補正用レンズの位置を調節することにより、球面収差の状態補正量を変化させることができるビームエキスパンダ方式構成を備えている。球面収差補正部228の構成は、このようなビームエキスパンダ方式の構成を備えている必要は無く、液晶素子やヒンジなどによって収差を補正する構成を備えていても良い。BDディスク100の記録層で反射された光ビームは、対物レンズ230、球面収差補正部228、および偏光ビームスプリッタ226を通過し、集光レンズ234に入射する。集光レンズ234は、対物レンズ230および偏光ビームスプリッタ226を通過してきた、光ディスク100からの反射光を光検出器236上に集束させる。光検出器236は、集光レンズ234を通過した光を受け、その光信号を各種の電気信号電流信号に変換する。光検出器236は、例えば4分割の受光領域を有している。光ピックアップ103は、トラバースモータ363により、光ディスク100の半径方向に広い範囲で移動することができる。サーボ制御回路の構成図7のサーボ制御回路106は、フォーカス制御部240、トラッキング制御部241、球面収差制御部242、およびトラバース駆動回路243を備えており、これらを介してCPU246が光ピックアップ103の各種動作を制御する。サーボ制御回路106は、FE信号生成部250と、S字検出部252、TE信号検出部261、振幅検出部262、およびディスク判別部260を備えている。フォーカス制御部240は、CPU246の指示に従ってフォーカスアクチュエータ232を駆動し、対物レンズ230を光軸方向に沿って任意の位置に移動させることができる。フォーカス制御部240は、FE信号生成部250から出力されたFEによって、光ディスク100上の光スポットが所定の収束状態になりようにフォーカス制御を行う。またトラッキング制御部241は、トラッキングアクチュエータ231を駆動し、対物レンズ230を光ディスク100の半径方向に沿って任意の位置に移動させることができる。トラッキング制御部241は、TE信号生成部261から出力されたTE信号によって、光ディスク100上の光スポットがトラックを走査するようにトラッキング制御を行う。トラバース制御回路243は、CPU246およびTE信号生成部261の出力に応じてトラバースモータ363を制御し、光ピックアップ103を光ディスク100の半径方向における目的の位置に移動させる。球面収差制御部242は、CPU246の指示に従って球面収差補正部228を所定の設定状態に制御する。具体的には、図8に示すステッピングモータ8が球面収差制御部242からの制御信号に基づいて動作し、例えば2層ディスクの場合には、収差補正レンズ228を1層目、2層目のカバー厚に対応した所定の位置に移動させる。収差補正レンズ228の位置光軸方向の位置を変えることにより、光ビームの球面収差状態を調節することができる。これは4層~16層、20層まで全て同じような動作、機能を有するものである。FE信号生成部250は、光検出部236に含まれる複数の受光領域から出力される電気信号に基づいてFE信号を生成する。FE信号の生成法は、特に限定されず、非点収差法を用いたものでもよいし、ナイフエッジ法を用いたものでもよい。また、SSDスポットサイズドディテクション法を用いたものでもよい。FE信号生成部250から出力されるFE信号は、CPUからの指令で所定の検出閾値が設定されるS字検出部252に入力される。TE信号生成部261は、光検出部236に含まれる複数の受光領域から出力される電気信号に基づいてTE信号を生成する。TE信号の生成法は、一般的にはBD-RやBD-REに代表される記録光ディスクのように凸凹のトラックを有するものはプッシュプル検出法、BD-ROMに代表される再生専用光ディスクのようにエンボス形状の情報プリピットを有するものは位相差検出法が主に用いられるが、特にトラッキングの方式で限定はされない。TE信号生成部261から出力されるTE信号は、トラックを横断するときに正弦波状に現れる信号振幅を、所定の球面収差の設定値において測定、検出する振幅検出部262に入力される。S字検出部252は、フォーカスサーチ動作によって対物レンズ230が光軸方向に移動している間において、FE信号の振幅が所定の閾値を越えたかどうかでS字信号の検出を行う。ディスク判別部260は、S字検出部252で検出されるS字信号をカウントして多層光ディスクの層判別を行う。またCPU246は、メモリ回路501に格納された再生パワーテーブル501aを読み出し、それが最適になるように再生パワーテーブル501bとして更新あるいは追加する。更新された再生パワーテーブル501bにしたがって、光ピックアップ103中の半導体レーザ222によって所定のパワーが出力されるようにレーザ駆動回路502の電流あるいは電圧を切り換える。具体的には、光ディスク装置の製造工程などで、標準光ディスクで調整した多層光ディスクの各層での標準パワーを、EEPROM、あるいはフラッシュROMなどで構成された標準再生パワーテーブル501aに書き込み、ユーザが使用するため実際に光ディスク装置にディスクを装填したとき、S字検出回路252によって、各層毎のS字信号の振幅を測定し、その測定振幅に応じてパワーを決定して、各層の再生パワーをテーブルとして、DRAMなどで構成された再生パワーテーブル501b側を更新に追記する。その後、CPU246は、その再生パワーテーブル501bを読み出し、それに応じた再生パワーとなるようにレーザ駆動回路502の目標電流を切り換える。それにより多層ディスクの所定の層での起動や、起動後のデータ再生を行う。再生パワーテーブルの生成、再生パワーの設定次に再生パワーの設定方法について、図11を参照して説明する。図11は、多層ディスクにおける各層の再生パワーの設定を行うフローチャートである。ここでは、3層ディスクが装填された場合を例にとる。この再生パワーの設定方法は、光ディスク装置の工程調整時あるいは起動時に多層ディスクにおける各記録層でFEが所定振幅となる再生パワーテーブルの作成方法を含む。3層BD-REでは、図4に示すように、L0、L1層に対する標準パワーが1.44mW、L2層に対する標準パワーは1.1mWと規定されている。まず、ステップS91では、図4で示した3層BD-REにおける各記録層のうち最も低い標準パワーである1.1mWに再生パワーを設定する。ステップS92では、1.1mWの再生パワーで光ビームをレーザダイオードから出射した状態のまま、フォーカスアクチュエータ232を駆動する。その結果、対物レンズ230は、光ディスクに接近または光ディスクから離間するように任意に位置に移動する。このようにして対物レンズ230が光軸上を移動することにより、対物レンズ230によって収束する光ビームの焦点位置が光ディスクの表面に対して垂直の方向に移動することになる。光ビームの焦点位置が光ディスクの記録層を横切るとき、FE信号上に図9に示すS字信号が現れる。3層ディスクからは、通常表面、L2、L1、L0層で4個のS字信号が検出される。多層ディスクの設計では、各記録層の反射率が等しくなることが目標である。しかし、製造ばらつき、材料のロットばらつきなどにより、図4の表に記載の範囲で反射率に変動が生じ得る。反射率がばらつくと、同じ再生パワー1.1mWの光ビームで光ディスクを照射したときに、各記録層から得られるS字信号の振幅は、図9bに示すように、記録層毎に異なってくる。ステップS93では、この振幅値を測定するため、FE信号をADコンバータでDSPS字検出部252に取り込み、ピーク検出を行う。閾値によるFE信号の検出方法は、FE信号の片振幅だけでなく、FE信号の極大値および極小値の両方を比較することにより行う。絶対値回路などを用いてFE信号の極性を正のみにすることで、極小値、極大値のいずれか一方が検出できたとき、S字信号を検出したと判断する。S字信号の極小値および極大値の一方に基づいてS字信号の検出を行うと、球面収差や非点収差の影響によってS字信号が非対称になったときでもS字信号を検出することができる。なお、現在の2~4層ディスクでは、球面収差によるS字信号の振幅低下は小さく、再生パワーテーブル作成には影響はない。このため、球面収差の切り換えに要する時間を省略するため、フォーカスを最初に引き込む層に球面収差を最小化する位置を合わせるようにすればよい。しかし、今後、光ディスクの多層化が進んで最近層と最遠層との間で球面収差によるS字信号振幅差がより大きくなったり、光ディスク装置や光ピックアップの小型化が進んで光検出器が小さくなったりすると、球面収差を特定の記録層の位置で最小化することの影響は無視できなくなる。その場合には、球面収差を最近層と最遠層の中間にあたる位置に合わせて、S字振幅を測定することで球面収差の影響を軽減することが可能である。また、後述するように、層別に球面収差を切り換えてS字振幅を測定するようにしてもよい。図9、図10は、フォーカスサーチ時の対物レンズ230と、光スポットが多層BDディスクの各層を通過したときのS字信号を表した模式図である。図11のステップS94では、各記録層のS字信号の振幅が測定できた後、その振幅値が等しくなるような再生パワーテーブルを作成する。本実施形態では、例えば図9bに示すように、L2層=1v、L1層=1.1v、L0層=0.8vであった場合は、L2層のS字振幅1v、再生パワー1.1mwを基準に、L1の再生パワーを1.1×1/1.1=1mWL0の再生パワーを1.1×1/0.8=1.375mWとし、各層から得られるS字振幅の値が1vになるようにする。CPU246は、メモリ部501にある再生パワーテーブル501bに格納する。またメモリ部501は、図4に示すL0、L1、L2層の再生光劣化しない最大再生パワーも標準パワーテーブル501aに格納している。上記したS字信号の測定で、この標準的な最大パワーよりも大きくなる場合は、標準パワーテーブル501aに格納した再生パワーを上限値として制限してもよい。こうすることにより、再生光劣化によるデータ破壊を防止する。ステップS95では、再生パワーテーブル501bの再生パワーを参照して、光ディスクの所定層に対応する再生パワーに設定する。こうして設定された再生パワーは、以下に説明するフォーカスの引込み、多層ディスク判別、フォーカスジャンプ時に使用される。再生パワーテーブル501bの再生パワーで層毎に切り換えた場合のS字信号は、図9cに示すようになる。次に4層BD-Rの場合を説明する。4層BD-Rでは、図5に示すようにL0、L1、L2の標準パワーが1.2mW、L3の標準パワーは1.1mWと規定されている。まず、ステップS91では図5で示した4層BD-Rにおける各記録層のうち最も低い標準パワーである1.1mWを設定する。ステップS92では1.1mWでフォーカスアクチュエータ232を駆動し、対物レンズ230を上下すると、FE信号上に図10のようなS字信号が現れる。4層ディスクにおいては、通常表面、L3、L2、L1、L0で5個のS字信号が検出される。3層同様、4層ディスクの設計では各記録層の反射率が等しくなるようにすることが目標であるが、その製造ばらつき、材料のロットばらつきなどにより、図5に記載の範囲で反射率に変動が生じる。反射率がばらつくと、同じ再生パワー1.1mWの光ビームで光ディスクを照射したときに、各記録層から得られるS字信号の振幅は、図10bに示すように、記録層毎異なってくる。この振幅値を測定するため、FE信号をADコンバータでDSPS字検出部252に取り込み、ピーク検出を行う。球面収差の影響が大きく、S字信号の振幅の測定精度が低い場合は、各層のS字振幅を、球面収差を切り換えながら測定する。例えば3層ディスクの場合は、最初に基板側のL0層の深さ100μmに球面収差を合わせ、レンズを移動させL0層のS字振幅を測定する。次にL1層の深さ75μmに合わせて、レンズを移動させL1層のS字振幅を測定する。最後にL2層の深さ57μmに合わせて、レンズを移動させL2層のS字振幅を測定する。また、4層ディスクの場合は、最初に基板側のL0層の深さ100μmに球面収差を合わせ、レンズを移動させL0層のS字振幅を測定する。次にL1層の深さ84.5μmに合わせて、レンズを移動させL1層のS字振幅を測定する。続けてL2層の深さ65μmに合わせて、レンズを移動させL2層のS字振幅を測定する。最後にL3層の深さ53.5μmに合わせて、レンズを移動させL3層のS字振幅を測定する。すなわち3層ディスクであれば球面収差を各層の値に切り換えて3回、4層ディスクであれば球面収差を各層の値に切り換えて4回、レンズを移動させることによって各層のS字の振幅測定を行い、その値を記録する。これにより、各層で合致した球面収差で、S字振幅を測定できるので、各層の深さばらつきなどで現れる球面収差の影響を排除して、反射率のばらつきのみで現れるS字の振幅ばらつきを吸収することができる。よって、以下のS94で作成されるより正確な再生パワーテーブル作成が可能である。ステップS94では、各記録層のS字の振幅が測定できた後、その振幅値が等しくなるような再生パワーテーブルを作成する。例えば図10bのようにL3層=1v、L2層=0.9v、L1層=1.1v、L0層=0.8vであった場合は、L3層のS字振幅1v、再生パワー1.1mWを基準に、L2の再生パワーを1.1×1/0.9=1.22mW→1.2mW、L1の再生パワーを1.1×1/1.1=1mW、L0の再生パワーを1.1×1/0.8=1.375mW→1.2mWとし、CPU246は、メモリ部501にある再生パワーテーブル501bに格納する。メモリ部501は、図5に示すL0、L1、L2、L3の再生光劣化を起こさない最大再生パワーも標準パワーテーブル501aに格納している。上記したS字の測定で、この最大パワーよりも大きくなる場合は、標準パワーテーブル501aに格納した再生パワーを上限値として制限してもよい。こうすることにより、再生光劣化によるデータ破壊を防止する。図10bの例では、L0、L2層の再生パワーは、実際には高い値が最適であるが、1.2mWで制限されている。ステップS95では、再生パワーテーブル501bの再生パワーを参照して、光ディスクの所定層に対応する再生パワーに設定する。こうして設定された再生パワーは、以下に説明するフォーカスの引込み、多層ディスク判別、フォーカスジャンプ時に使用される。テーブル値の再生パワーで層毎に切り換えた場合のS字信号は、図10cに示すようにL1、L3では振幅が1vとなるが、L0、L2では振幅が0.91vになる。上記したようにドライブ光ディスク装置、具体的にはドライブに搭載された光ピックアップ内の半導体レーザのばらつき特に波長ばらつきで再生光劣化に対する耐性に差異が発生する。またそのレーザ光を光ディスクに出射するまでに通過する光学系の効率のばらつき等でディスク側からみたパワーが異なる。このため、STEP1として、図5に示すような規格書による規格値で標準的な再生パワーテーブルを作成し、それをEEPROMで構成された標準パワーテーブル部501aに格納することは大きな効果がある。ドライブの製造工程で、標準的な規格書の規格値内で各層の反射率のわかっている多層ディスクを用いて、FE信号のS字振幅を測定し、その光ディスクでS字振幅が一定となる再生パワーの標準テーブルを作成してもよい。この場合、個別のドライブ、光ピックアップに合わせたリファレンスを持たすように構成すれば、光ピックアップ個別のばらつきを吸収することができる。その結果、以下に示すSTEP2でのディスク毎の再生パワーテーブルを作成する際に、より正確な値を算出することができる。光ディスクメーカの使用する記録膜材料、反射膜材料により、多層ディスクの層毎の反射率が異なってくる。このため、STEP2として、多層ディスクが装填され、装置が起動するときに、その多層ディスクの層毎の反射率に応じて変動するS字信号から、ディスク毎、層毎にマッチした最適な再生パワーテーブルを作成してもよい。この場合、このようなテーブルをEEPROMあるいはDRAMで構成された再生パワーテーブル501bとして保持することで、さらに再生性能と再生光劣化耐性を向上することができる。なお、光ディスク装置の出荷時には、再生パワーテーブル501bに、標準パワーテーブル501aの値と同じ値を入れておき、その値を更新するようにしてもよい。こうすれば、万が一、規格外あるいは粗悪なディスクを装填して再生パワーテーブル501bの作成に失敗したときには、図7のメモリ回路501上の再生パワーテーブルの更新をやめればよい。また、再生パワーテーブル501bの作成に成功すれば、更新すればよい。再生パワーテーブル501bを、DRAMのような揮発性メモリ内に格納する場合は、装置の起動毎に再生パワーテーブルを生成すればよい。標準パワーテーブル、再生パワーテーブルのフォーマット上記説明した4層BD-Rにおける標準パワーテーブル、再生パワーテーブルのフォーマットの一例を図12に示す。再生パワーテーブルは、光ディスク装置内のメモリに格納するのではなく、光ディスクに記録してもよい。この場合、図13に示すように、光ディスクの最内周にある記録ストラテジを格納するためのInformationAreaの所定の領域の近傍に、再生パワーテーブル用の格納領域を設け、ここに再生パワーテーブルを格納してもよい。こうすれば、多数の光ディスクに応じた多くの再生パワーテーブルを光ディスク装置のメモリ内に格納しておく必要がなくなる。したがって、EEPROMの容量や書き換え回数を心配することがなくなる。また別な光ディスク装置でそのディスクを使用するときに、そのディスク毎の再生パワーテーブルを参照するように構成すれば、再生パワーテーブルを作成する必要もなく、安価なプレーヤでの互換再生の性能をあげることが可能となる。図12、図13に示すように、再生パワーテーブルには、再生パワーだけでなく、その再生パワーテーブルを作成した日時、作成した装置No.を格納してもよい。その場合、ある期間以上経過したら、再生パワーテーブルをつくり直すような処理ができる。それによって光ピックアップや半導体レーザの経時変化や光ディスクの経時変化にも対応することが可能となる。さらに作成した装置No.から、例えば同機種、同ロットの場合は、作成格納された再生パワーテーブルを参照し、異機種、ロット違いの場合は再生パワーテーブルを再度作成図12aから図12bに更新、あるいは追加図12aに加えて図12bを作成することができ、装置の世代間のばらつきや、ロットばらつきにも柔軟に対応することができる。なお、上記再生パワーテーブルの最適パワーは、最近層であるL3層、あるいはL2層を基準に算出したが、反射率の最も低い、すなわちS字振幅の最も小さい層を基準に算出してもよい。こうすることにより、他の層の再生パワーは下がる方向に調整され、多層の各層でS字信号すなわち反射光量のそろった状態となるので、さらに起動時の安定性が増す。BDの場合は、単層、2層、3層、4層ディスクとも、基準層は最も基板側のL0層で統一されている。これらの光ディスクでは、基準層の深さも一致しているため、基準層における球面収差も同じ値である。このため、光ディスク装置の製造工程では、図8における球面収差補正レンズ228の球面収差100μmのレンズ位置のキャリブレーションがなされることが多い。よって多層ディスクで再生パワーテーブルを作成する場合も、球面収差を深さ0.1mmで最小になるようにし、L0層の再生パワーを基準に他の層の再生パワーを求めるようにしてもよい。こうすることにより、球面収差によってS字信号の振幅ばらつきが生じることを抑制でき、よりテーブル値の精度がアップする。以上のように本実施形態で示す再生パワーの設定方法を用いれば、3層あるいは4層以上の多層ディスクの各層の最適な再生パワーを容易にかつ、速やかに設定することができる。多層ディスク判別方法、フォーカスの引込み方法次に上述した再生パワーの設定方法で作成した再生パワーテーブルを用いて実施する多層ディスク判別層数判別方法、光ディスク装置の起動時のフォーカスの引込みについて説明する。多層ディスク判別方法図14は、本発明の実施形態1における多層光ディスクの層判別を行うフローチャートである。ここでは、簡単のため、多層光ディスクが最大で4つの記録層を有している場合を想定している。本発明は、このような場合に限定されない。ステップS121では、BDディスクが装填されると、まず光ピックアップをBDディスクの最内周付近の所定の位置ここでは最内周のリードインに移動する。この位置では傷も少なく、確実にディスクがある。好ましい実施形態において、光ディスクは回転しておらず、静止した状態にある。ステップS122では、球面収差を単層BDのカバー層に相当する0.1mmに合致するようにセットする。すなわち、単層BDのL0層で球面収差が最小化するように、図7の球面収差補正素子228を調整する。ステップS123では、再生パワーは、装置がサポートしているディスクの種類のうちで最も低い再生パワーで光ビームが照射される光ディスクでも再生光劣化しない値に設定される。本実施形態では、再生パワーを0.3mWに設定する。この値は、単層BDについて規定される再生パワー0.35mWよりも低い。次に、ステップS124では、光ピックアップ内の半導体レーザLD:レーザダイオードをONする。ステップS125で、対物レンズを臨界点まで移動させる。この間、FE信号上に現れるS字信号の振幅測定とカウントを行うステップS126。ステップS127では、そのS字信号のカウント値によって、装填された光ディスクが単層光ディスクか否かを判別する。設定が単層再生の設定であるため、その判別は確実にできる。ステップS127で光ディスクが単層BDであると確定された場合は、ステップS128で、さらに再生品質を確保するために必要なパワーに設定する。ステップS129では、単層BDのための所定の手順に基づき起動を実行する。ステップS127で、光ディスクが単層以外の光ディスクであると判定された場合は、ステップS130で、2層ディスクのための再生パワーである0.7mW以下の値に例えば0.6mWに再生パワーを設定する。ステップS131で、対物レンズを臨界点まで移動させることで、FE信号上に現れるS字信号の振幅測定とカウントを行う。ステップS132では、そのS字のカウント値によって、光ディスクが2層ディスクか3層以上の記録層を有する多層ディスクかを判別する。設定が2層再生の設定であるため、単層、単層以外と同様その判別は確実にできる。ステップS132で光ディスクが2層BDであると確定された場合は、ステップS133で、さらに再生品質を確保するために必要なパワーに設定し、ステップS134で、2層BDのための所定の手順に基づき起動を実行する。ステップS132で、光ディスクが2層BD以外の多層ディスクであると判定された場合、すなわち装填された光ディスクが3層もしくは4層BDの場合は、ステップS135に進む。すなわち、図11に示す手順に基づき、多層光ディスクが有する各記録層に対して規定されている再生パワー値のうちの最小の再生パワー1.1mWの光ビームを用いてS字信号の測定カウントを行う。こうすることによって、各層の再生パワーテーブル501bを生成する。このとき、S字信号の測定カウントを行うので、同時に3層か4層かの判別も可能であるステップS136。再生パワーテーブル501bの生成が完了したら、3層、あるいは4層の各層のうちの最小パワーに再生パワーの設定をする。その後、3層BD、あるいは4層BDのための所定手順に基づき、起動を実行するステップS137、ステップS138。フォーカスの引込み方法次に、再生パワーテーブルを用いて、実際にフォーカスの引込みを行う層のための再生パワーを設定する手順について説明する。これについては4層ディスクを例にとり説明する。3層ディスクにおいても記録層が1つ少ないのみで同様の手順で実施することができる。図12bの再生パワーテーブルによると、4層のそれぞれで最適なパワーはL0:1.2mW、L1:1.0mW、L2:1.2mW、L3:1.1mWとなっている。図15は、4層ディスクのフォーカス引き込み時の動きを示す各波形図であり、各層で現れるS字信号bと、フォーカスを引き込むときのフォーカスの駆動信号cと、各層を通過する毎に切り換えられる再生パワーdを示した図である。図16は、本発明の実施形態1における4層ディスクのフォーカス引き込み方法を示すフローチャートである。まず基板側の最遠層であるL0層で引き込みを行う場合を例として説明する。最初にステップS141では、対物レンズをディスク表面から十分離間させた状態で、CPU制御部246がレーザ駆動回路502を用いて再生パワーテーブル501bに格納されたL3層のための最適パワー1.1mWに合わせる。そして、球面収差制御部242を用いて最遠層であるL0層の深さ100μmに球面収差を合わせる。ステップS142では、フォーカスアクチュエータ232を用いて対物レンズを徐々に光ディスクに接近させる。このとき、再生パワーテーブル501bから引用した値は、ディスクの反射率に対して最適化されている。したがって、どの記録層でも、S字信号の振幅が所定振幅の約1Vに近い出力を示すため、確実に各層のS字信号を検出することができる。フォーカスアクチュエータ232を駆動することにより、対物レンズが光ディスクに接近していくと、ステップS143では最初に表面S字信号が現れる。フォーカスアクチュエータ232を駆動することによりステップS144、更に対物レンズが光ディスクに接近していくと、その表面S字が検出されたことか、またはフォーカスの駆動が所定以上例えば最近層のカバー厚相当の50μmになったことを条件として、その後に検出された次のS字信号がL3層のS字信号である。このL3層のS字信号の極大値または極小値が検出されたタイミングステップS145,S146で、ステップS147ではCPU246はレーザ駆動回路502を用いて再生パワーテーブル501bに格納されたL2層の再生パワー1.2mWに切り換えて、接近を継続していくと、L2層のS字信号が現れる。L2層のS字の極大値または極小値が検出されたタイミングステップS145,S146で、ステップS147ではCPU246はレーザ駆動回路502を用いて再生パワーテーブル501bに格納された次のL1層の再生パワー1.0mWに切り換え、接近を継続していくと、L1層のS字信号が現れる。L1層のS字の極大値または極小値が検出されたタイミングステップS145,S146で、ステップS147ではCPU246はレーザ駆動回路502を用いて再生パワーテーブル501bに格納された次のL0層の再生パワーは1.2mWに切り換えて、そのまま接近を継続していくと、L0層のS字の極大値または極小値が現れる。ステップS145でL0層のS字の極大値または極小値を検出し、ステップS146で引込み層であるL0層を通過したと判定した後、ステップS148では、CPU246がフォーカスアクチュエータを逆駆動して対物レンズ230をゆっくり離間させる。すると、L0層のS字信号が現れるので、その極大値、あるいは極小値を検知する。その後、0クロスZ点付近ステップS149で、フォーカス制御をONして引き込みを行うステップS150。そのときの再生パワーは、L0層で最適な1.2mWとなっているため、再生光劣化やサーボの不安定性による問題の発生を防止することができる。以上のように、本実施形態におけるフォーカスの引込み方法によれば、CPU制御部246が、S字信号の検出極大値または極小値の検出後、再生パワーテーブル506bを参照して次の記録層の再生パワーに切り換える。このため、3層あるいは4層以上の多層ディスクの各層の最適な再生パワーの切り換えは即座に可能である。次に、図16を参照して、表面側の最近層であるL3層で引き込みを行う場合を例として説明する。最初にステップS141では、対物レンズをディスク表面から十分離間させた状態で、再生パワーテーブル501bよりL3層の最適パワー1.1mWに合わせる。そして、球面収差を最近層であるL3層のカバー厚53.5μmに合わせる。そして、ステップS142でフォーカスアクチュエータ232を用いて対物レンズを徐々に光ディスクに接近させる。このとき、再生パワーテーブル501bに基づいて設定された再生パワーは、L3層の反射率に対して最適化されている。対物レンズが光ディスクに接近していくと、ステップS143で最初に表面S字信号が現れるので、その表面S字か、またはフォーカスの駆動が所定以上例えば最近層のカバー厚相当の50μmになった後の条件ステップS144で、次のS字信号がL3層のS字信号である。よって最近層のL3の極大極小が検出ステップS145された後、ステップS146で引込み層であるL3層を通過したと判定した時、ステップS148でゆっくりと対物レンズを離間させる。その後、L3層のS字信号が現れるので、その0クロスZ点付近ステップS149で、フォーカス制御をONして引き込みを行うステップS150。L3層で最適な再生パワーとなっているため、再生光劣化やサーボの不安定性による問題の発生を防止することができる。最遠層、最近層で引き込みを行う場合を説明したが、任意の層で上記のフォーカス引き込みを適用することが可能である。所定の層でフォーカス引き込みを行ったあと、トラッキング制御をONする。その後、球面収差、サーボのゲイン学習を行う。次に、光ビームが位置するトラックのアドレスをリードして、内周のインフォメーションエリアなどの所定のディスクデータを読みに行く。さらに起動処理シーケンスにしたがって他の層での学習や情報をとるため、次の層へとフォーカスジャンプする。以上のように、再生パワーテーブル501bを用いれば、再生光劣化のリスクを確実に低減でき、かつ安定なフォーカス引き込みとその後の起動処理が実現できる。フォーカスジャンプ方法図17Aおよび図17Bを参照しながら、多層光ディスクの各記録層間移動を、再生パワーを切換えながら行うフォーカスジャンプを説明する。図17Aおよび図17Bは、本発明の実施形態1におけるフォーカスジャンプ方法を示すフローチャートである。一般に、球面収差の切り換えのほうが、再生パワーの切り換えよりも遅い。このため、本実施形態では、まず球面収差を目的層に合わせた後、再生パワーテーブルに基づいて目的層で再生光劣化を起こさない再生パワーの決定を行う。その後、速やかにフォーカスジャンプを実行して、目的層に到達したことを確認してから、再生パワーをその層に最適な値に切り換える。ステップS151において、まずホスト140から層間移動の指令がきたら、CPU制御部246は球面収差制御部242を用いて目的の記録層の深さに対応する球面収差をセットする。たとえば3層ディスクのL0層からL2層に移動する場合は、球面収差を深さ0.1mmから、深さ0.057mm相当に合致するように設定する。ステップS152では、CPU246は一旦トラッキング制御をOFFにする。次にステップS153では、CPU246はレーザ駆動回路502を用いてメモリ回路501上にある再生パワーテーブル501bに格納された最小のパワーに設定する。最小とする理由は、外部からの衝撃やディスクの面ふれの影響で、誤って目的に記録層を行き過ぎて、意図せず1つ先の記録層に引き込んでしまったり、1つ手前の記録層の戻って引き込んでしまったりした場合の再生光劣化に対してデータの保証をするためである。次に、ステップS154ではCPU246はフォーカス制御部240に加速パルス、減速パルスを印加してフォーカスジャンプを実行する。フォーカスジャンプの駆動に関する詳細な方式、方法については様々なものが提案されている。フォーカスジャンプを完了減速パルスを完了後、そこでTE信号の出力があれば引き込みが成功したことがわかる。ステップS155でTE信号の出力がなければ、最下点、あるいはストッパに衝突してフォーカス制御が外れており、フォーカスジャンプエラーとなるステップS156。TE信号の出力があってフォーカス引き込みが成功した場合は、引き続き、ステップS157でトラッキングONを実行し、ステップS158でTE信号の出力が収束しTROKのフラグにて引き込みが確認できたら、ステップS159でTトラックをウォブルして変調させたアドレスをリードする。ステップS158でアドレスが読めない、トラッキングが引き込めない場合は、目的の層以外の他層に誤って引き込んでいるので、フォーカスジャンプエラーとするステップS161。アドレスリードが成功ステップS160したら、ステップS162でその値から目的層かどうか確認する。OKであれば、ステップS163ではCPU246はレーザ駆動回路502を用いて再生パワーテーブル506bに格納されたその層の最適パワーをセットして、完了する。ステップS162で目的層でないと判定された場合は再度フォーカスジャンプをリトライする。フォーカスジャンプエラーの場合は、2種類のうち何れかで処理が分かれる。ステップS164でフォーカスが外れてしまったと判定した場合は、ステップS165でCPU246は球面収差制御部242を用いて再度L0もくしは目的層に球面収差を合致させ、ステップS166でCPU246はメモリ回路501上にある生成した再生パワーテーブル501bを参照して最小のパワーを設定し、ステップS167でL0もしくは目的層へフォーカスを引き込み、ステップS168でトラッキングON、ステップS169でアドレスリードと一連に実行する。ステップS164で他層に誤って引き込んだと判定した場合は、ステップS170ではその層で球面収差の調整を行う。球面収差の調整はTE振幅が最大あるいは所定の振幅以上になるように調整すればよい。なぜならばアドレス信号もトラックウォブル変調で入っているので、TE信号と同様回折光をもとに読み取るためである。球面収差の調整が完了したら、フォーカス外れの場合と同様にステップS168でトラッキングON、ステップS169でアドレスリードと一連に実行する。アドレスがリードできれば、現在の層がどこか確認できるので、再度フォーカスジャンプをリトライすればよい。以上の説明では、外部からの衝撃やディスクの面ふれの影響で、誤って目的の記録層を行き過ぎて、意図せず1つ先の記録層に引込んだり、1つ手前の記録層に戻って引込んだりした場合の再生光劣化に対してデータの保証をするために、再生パワーテーブル501bを参照して最小のパワーを設定する構成で説明した。次に図17Aおよび図17Bのフォーカスジャンプ方法とは別のフォーカスジャンプ方法について説明する。図18Aおよび図18Bは、他のフォーカスジャンプ方法を示すフローチャートである。図18Aおよび図18Bのフォーカスジャンプ方法は、図17Aおよび図17Bのフローと大部分が同じであるが、以下の点で両者は異なる。1ステップS153の再生パワーテーブル501bを参照して最小の再生パワーに設定する点を、ステップS171の再生パワーテーブル501bを参照して目的層の再生パワーに設定する点に変更したこと、2目的層にフォーカスジャンプしたときにステップS163の再生パワーテーブル501bを参照して目的層の再生パワーに設定する点を、再生パワーの設定を行わずに終了させる点に変更したこと、3ステップS164の前にステップS172の再生パワーテーブル501bを参照して最小の再生パワーに設定する点を追加したこと4ステップS169のアドレスリードの後に、ステップS173の目的層であるかの判断すること、および5ステップS174の再生パワーテーブル501bを参照して目的層の再生パワーに設定する点を追加したこと。最初から目的層の球面収差、再生パワー再生パワーテーブル501bを参照して目的層の再生パワーを設定を設定した直後ステップS151、152、171に、フォーカスジャンプを実行ステップS154する。トラッキング、アドレスリードを実行ステップS157、158、159して目的層に到達ステップS160、162したら終了する。一方、ステップS161でフォーカスジャンプに失敗して他層に引込みを行ったと判定されたときに、再生パワーテーブル501bを参照して再生パワーを最小値に切り換えるステップS172。その層の球面収差を調整ステップS170し、球面収差の調整値から何層にいるか、あるいはトラッキングを引き込んでアドレスリードステップS168,169を行って何層にいるかを検出して、再生パワーテーブル501bを参照してその層の再生パワーを再設定ステップS173,174する構成を採用する。この方法により正常処理がより安定でかつ迅速になる。以上のように再生パワーテーブルを用いれば、再生光劣化のリスクを確実に低減でき、かつ安定なフォーカスジャンプが実現できる。上記の実施形態では、光ディスクが3層以上の記録層を有する光ディスクであるか否かの判定を、光ディスク装置が行うディスク判別動作によって実行しているが、このようなディスク判別動作は本発明に不可欠なものではない。例えば、ユーザがディスク装置に装填する光ディスクが3層以上の記録層を有する光ディスクであるか否かを示す情報を、ユーザ自身が光ディスク装置に入力してもよい。このような入力情報に基づいて、光ディスク装置は、装填された光ディスクが3層以上の記録層を有する光ディスクか否かを認識できる。"