環境を光学的に走査し測定する方法であって、レーザスキャナ10が、発光素子17を用いて、照射光ビーム18を照射し、光検出器21を用いて、受光ビーム20を受け取り、反射光ビームが、前記レーザスキャナ10の環境中にある物体Oから反射されるかまたは拡散され、制御および評価装置22を用いて、多数の測定点Xについて、少なくとも前記物体Oから前記レーザスキャナ10の中心C10までの距離dを決定し、少なくとも複数の測定点Xを、ディスプレイ装置30に表示し、このために、前記測定点Xを平面Eの画素Pに割り当て、前記測定点Xの前記平面Eまでの距離を各奥行きz0、z1、z2、に割り当て、少なくとも前記測定点Xに割り当てられた前記画素Pの間の画素Pを値で充填し、画素P0を選択し、前記選択画素P0に隣接し、より小さい奥行きz1、z2、を有する画素P1、P2、を検索することによって、前記充填対象の画素Pを、奥行きz0、z1、z2、に応じて、前記隣接画素P1、P2、の値とその奥行きz1、z2、に従って充填する、方法。請求項1に記載の方法であって、表示対象である各測定点Xを、平面E上の前記測定点Xの投影に対応する前記画素Pに割り当て、前記画素Pを、最初は割り当てられた前記測定点Xの値で充填し、最初に充填された前記画素Pに割り当てられる奥行きzを、割り当てられた前記測定点Xの平面Eまでの距離に設定する、方法。請求項1または2に記載の方法であって、すでに充填された選択画素P0を、変更せずに維持する、方法。前述の請求項のうちいずれかに記載の方法であって、前記選択画素P0に対する前記隣接画素P1、P2、を連続的に検索し、画素Pがまだ充填されていない場合および/またはその奥行きz1、z2、が前記選択画素P0の奥行きz0よりも大きい場合には、その画素Pをスキップする、方法。請求項4に記載の方法であって、いずれかの検索方向において、すでに充填された隣接画素P1であって、その奥行きz1が前記選択画素P0の奥行きz0よりも小さい隣接画素P1が発見された場合、まだ検索が行われていない方向へ方向の変更を行う、方法。前述の請求項のうちいずれかに記載の方法であって、すでに充填されかつ奥行きが前記選択画素P0の奥行きz0よりも小さい、前記選択画素P0の前記隣接画素P1、P2が発見された後、前記隣接画素P1、P2の奥行きz1、z2間の差分が、奥行きの閾値zcrit未満であるかを確認する、方法。請求項6に記載の方法であって、発見された前記隣接画素P1、P2の奥行きz1、z2間の差分が、奥行きの閾値zcrit未満の場合、前記選択画素P0を、前記隣接画素P1、P2の値の間を補間する値で充填し、前記選択画素P0の奥行きz0を、発見された前記隣接画素P1、P2の奥行きz1、z2間を補間する前記奥行きzに設定する、方法。請求項6または7に記載の方法であって、発見された前記隣接画素P1、P2の奥行きz1、z2間の差分が、奥行きの閾値zcrit未満の場合、前記選択画素P0を、奥行きz1、z2がより大きい前記隣接画素P1、P2の値で充填し、前記選択画素P0の奥行きz0を、奥行きz1、z2がより大きい前記隣接画素P1、P2の奥行きzに設定する、方法。前述の請求項のうちいずれかに記載の方法であって、前記選択対象の画素P0を、時間的に並行して選択し、および/または、充填を少なくとも2回行う、方法。前述の請求項のうちいずれかに記載の方法を実行する装置であって、前記装置は、レーザスキャナ10であって、発光素子17と、できれば回転ミラー16と、光検出器21と、制御および評価装置22と、を備えるレーザスキャナ10と、ディスプレイ装置30と、を有し、前記ディスプレイ装置30は、前記制御および評価装置22とスクリーン34とに接続されるグラフィックカード32を有し、前記グラフィックカード32は、画素P0を選択し、より小さい奥行きz1、z2、を有する前記選択画素P0の隣接画素P1、P2、を検索し、前記選択画素P0を前記隣接画素P1、P2、の値およびその奥行きz1、z2、に従って充填する役割を果たす、装置。本発明は、前書きに記載されたタイプの方法を改善するという目的に基づく。この目的は、請求項1の特徴を備える方法による発明によって達成される。従属請求項は効果的な構成に関する。本発明によれば、画素の充填は事実上3次元で行われ、そのため、2次元での充填と比べると、利用可能な奥行き情報をより優れた表現のために使用することができる。選択された画素の充填が、奥行き、すなわち、スクリーンに相当する平面までの距離に応じて行われる。各選択画素に割り当てられた奥行きとは別に、各隣接する画素に割り当てられた奥行きも考慮される。したがって、すでに充填された画素であって選択画素に隣接する画素が検索されるが、これは、特に、それらが測定点に割り当てられているためであり、選択画素をこのように測定点に割り当てられた画素の表面に統合すること、またはエッジを用いて選択画素を分離させるという目的のためである。したがって、覆われている表面および覆われているエッジは、見えない状態のままとなる。選択、検索、充填の全体の処理は、計算処理時間の時間が短縮されるように、グラフィックカード上で並行して、つまりすべての画素に対して同時に行われるのが好ましい。レーザスキャナ10は、レーザスキャナ10の環境を光学的に走査し、測定する装置として提供される。レーザスキャナ10は、測定ヘッド12とベース14とを有する。測定ヘッド12は、垂直軸を中心として回転可能なユニットとしてベース14に装着される。測定ヘッド12は、水平軸を中心として回転可能な回転ミラー16を有する。2つの回転軸の交差点は、レーザスキャナ10の所定の中心C10とする。測定ヘッド12は、さらに照射光ビーム18を照射する発光素子17を有する。照射光ビーム18は、波長の範囲が約300~1600nmのレーザビームであり、例えば、790nm、905nm、または400nm未満であるレーザ光であることが好ましいが、より波長の大きいその他の電磁波などを使用することも原理上可能である。照射光ビーム18は、正弦波変調信号または方形波変調信号などにより振幅変調されている。照射光ビーム18は、発光素子17から回転ミラー16へ通過し、そこで偏向されて環境へと放出される。物体Oから反射されるかまたは拡散された受光ビーム20は、回転ミラー16によって再び捉えられ、偏向されて光検出器21へと伝えられる。照射光ビーム18および受光ビーム20の方向は、回転ミラー16および測定ヘッド12の角度位置によるものであり、これらの角度位置は、それぞれの回転ドライブの位置に依存しており、これらの位置は、各エンコーダによって順次検出される。制御および評価装置22は、測定ヘッド12において発光素子17と光検出器21とへのデータリンク接続を有し、その部品は、例えば、ベース14に接続されたコンピュータなどとして、測定ヘッド12の外側にも配置される。制御および評価装置22は、多数の測定点Xに対して、物体Oの照射点からレーザスキャナ10の距離dを、照射光ビーム18と受光ビーム20との伝搬時間から決定するように設計されている。この目的のために、2つの光ビーム18、20間の位相シフトを決定し、評価することが可能である。ミラー16の高速回転を利用して、走査が輪状線に沿って実行される。測定ヘッド12のベース14に対する低速回転を利用して、空間全体が輪状線を伴って徐々に走査される。こうした測定の測定点Xの全体は、スキャンとして表される。レーザスキャナ10の中心C10が、そのようなスキャンに局所固定基準システムの基点を規定する。この局所固定基準システムにおいてベース14は、静止している。レーザスキャナ10の中心C10までの距離dに加えて、各測定点Xは、輝度値を備え、この輝度値もまた制御および評価装置22によって決定される。輝度は、濃淡値であり、帯域制限されかつ増幅された受光器21の信号を、当該測定点Xに割り当てられた測定期間にわたって統合することなどによって決定される。任意で、カラーカメラを用いて、写真を生成することも可能であり、カラーカメラを利用すれば、色R、G、Bを当該測定点Xに対する輝度に追加する、または輝度である値として割り当てることができる。ディスプレイ装置30は、制御および評価装置22に接続されている。ディスプレイ装置30は、レーザスキャナ10の、例えば、測定ヘッド12またはベース14に組み込まれてもよいし、あるいは、ベース14に接続されたコンピュータの一部など外部装置であってもよい。ディスプレイ装置30は、グラフィックカード32およびスクリーン34を有し、それらは、互いに離間して配置されてもよいし、1つの構造ユニットとして配置されてもよい。制御および評価装置22は、スキャンの3Dデータを提供する。グラフィックカード32は、3Dデータをスクリーン34に表示される2Dデータに変換レンダリングする。3Dデータは、測定ポイントXであって、この3Dデータにおいては、レーザスキャナ10の様々な位置からのいくつかのスキャンが、1つのシーンに集成されることが可能である。2Dデータを表現するためには、一方では、画素P、すなわち隣接し合う小さな多角面例えば、四角形または六角形があり、それらは二次元平面Eスクリーン34に相当するに配置されている。最初に、ある観測点Vにおいて視聴者目、カメラのある状態で、測定点Xを平面Eに投影する。投影は、透視的観測点Vは有限または垂直観測点Vは無限のように見える。投影された測定点Xは、複数の単独の画素Pに割り当てられる。他方では、Zバッファが、画素Pの2Dデータ、すなわち、2次元補助フィールドを表現する役割を果たす。このZバッファでは、フィールド要素奥行きzは、各画素Pに割り当てられる。投影された各測定点Xの奥行きzは、観測点Vに関して測定点Xの平面Eまでの距離に相当する。画素PのフィールドとZバッファは、画像として同様に取り扱われるのが好ましい。観測点Vは、それ自体任意であり、通常は、スキャンおよび/またはシーンの度に数回変化する。測定点Xは、間に間隙を有する点状であり、画素Pは、通常物体Oの近くにある場合は、測定点Xの投影よりも平面Eにおいて高密度を有するため、表現を改善するために、できるだけ多くの画素Pを充填するべく、いわゆる間隙充填が実施される。グラフィックカード32は、3Dデータおよび観測点Vおよび平面Eの表示を使用して、これを並行して実施する。初めに、1つの測定点の投影が割り当てられた画素P、すなわち、1つの測定点Xをきっちり覆っている画素Pのみが充填される。これらの画素Pは、割り当てられた測定点Xの値、すなわち、輝度および必要に応じて色で充填される。測定点Xの投影にきっちり一致しない、その他のすべての画素P、すなわち、間隙にある画素Pは、最初は、例えば、ゼロに設定されるなど、空になっている。最初に充填された画素Pに割り当てられた奥行きz、すなわち、Zバッファのフィールド要素は、各々、割り当てられた測定点Xの平面Eまでの距離に相当するその奥行きz0、z1、z2に設定されている。Zバッファ奥行きzのその他のすべてのフィールド要素は、無限などの極値に設定される。測定点Xの投影が行われたときに、1つの画素Pに対して2つの測定点Xが利用可能になった場合には、小さい奥行きzを有する測定点が選択されて、他方は拒否され、そのため、覆われている表面および覆われているエッジは見えないままとなる。本発明によれば、間隙充填は、奥行きz0、z1、z2、に応じて、すなわち平面Eへの距離に応じて行われる。グラフィックカード32は、時間に関して画素Pすべてを並行して選択する。一例として、1つの選択された画素P0を見ていく。割り当てられた奥行きz、すなわち、Zバッファのフィールド要素は、奥行きz0を含んでいる。各選択画素P0に関して、隣接する画素、P1、P2、が連続的に、すなわち、左および右へとそして上および下へ検索される。隣接する画素P1がまだ充填されていないか、またはその奥行きzが選択画素P0の奥行きz0より大きい場合には、その隣接する画素はスキップされ、2番目に隣接する画素Pが、必要に応じて反復的に、隣接画素P1としてみなされる。隣接する画素P1であって、その奥行きz1が選択画素P0の奥行きz0よりも小さい画素P1が、複数の方向の1つにおいて見つかった場合、次の方向への変更が行われ、隣接する画素P2が探索される画素P2の奥行きz2は、選択画素P0の奥行きZ0より小さい。スキップされる画素の最大数は定義することができる。つまり、そのスキップされる画素の最大数をスキップしてもなお隣接する画素P1またはP2が見つからない場合は、P1またはP2の検索は中止される。選択画素P0に隣接する画素P1およびP2が、それぞれ反対方向において発見された場合は、その隣接する画素P1、P2の奥行きz1、z2は、奥行きz0よりも小さいので、P1、P2が同一平面上にあるか、すなわち、z2とz1との差分が、奥行きzcritの閾値未満か、が確認される。すなわち、|z2-z1|<zcirtが適用される。このような場合、選択画素P0は、P1とP2との間を補間する値、すなわち、輝度および必要に応じて色で充填される。同様に、Zバッファの割り当てられたフィールド要素が、z1とz2との間の補間奥行きに設定される。補間は、平面Eにおける選択画素P0の画素P1とP2とからの距離に依存する。奥行きの差が大きすぎる場合、すなわち、条件として|z2-z1|>zcirtが適用される場合には、P1とP2が異なる平面上に位置すると想定される。そして、選択画素P0は、例えば、より遠隔にある画素P1およびP2の値、すなわち、輝度および必要に応じて色で充填され、より大きい奥行きz2またはz1をもつZバッファの割り当てフィールド要素で充填される。あるいは、より小さい奥行きz1またはz2をもつ画素P1またはP2の値および奥行きが転写される。隣接画素P1、P2が2つより多い場合、大部分の平均値、すなわち、同一平面上に位置する隣接画素P1、P2の平均値を転写することが可能である。すでに測定点の値で充填されている選択画素P0を、隣接画素P1、P2の値を補間することによって上書きするのが好ましい。あるいは、すでに充填されている選択画素P0を変更せずに維持する。画素P1、P2を見つける際に、充填されていないためにあるいは奥行きzが大きすぎるために画素Pがスキップされた場合、画素Pに隣接する画素P1、P2、は、選択画素P0と同一になり、そのため、並行して行われる選択のフレームワーク内でスキップされた画素PおよびZバッファの割り当てフィールド要素は、同様に、画素P1とP2との間を補間する値および/または奥行きz1およびz2平面Eにおける選択画素P0のP1およびP2からの距離によるか、または上記補間する値および/または画素P1またはP2のうちより遠くにある方の奥行きz1またはz2または大部分の平均値によって充填される。選択は並行して行われるので、奥行きの差が大きすぎるために上記値および/または画素P1またはP2のうちより遠くにある方の奥行きz1またはz2で充填すると、より近い方の画素P1またはP2がエッジを形成することになる。選択画素P0の奥行きz0よりも小さい奥行きz1またはz2を有する隣接する画素P1またはP2が見つからない場合でも、選択画素P0がスクリーン34の端になり、こうしたエッジにある選択画素P0は充填されないため、エッジが生成される。さらに画素を充填するため、すなわち、表現をもう一度向上させるためには、間隙充填が再度行われるのが好ましい。間隙充填は、制御および評価装置22においてまたは外部コンピュータのソフトウェアを用いて行われてもよい。並行選択による時間の節約があるので、グラフィックカード32でのハードウェアベースの間隙充填が好ましく、後者のプログラミングインターフェースの使用が推奨される。