粒子の優勢なスピン配向を有する粒子線T中において優勢なスピンベクトルのベクトル成分を検出するためのスピン検出器構成であって、-切替え可能なコイル5を有するスピン回転子1であって、前記切替え可能なコイル5が、軸方向を有しており、前記軸方向に沿って前記切替え可能なコイル5を前記粒子線Tが通過するように位置合わせされている、スピン回転子1と、-前記スピン回転子1の下流に接続されて、前記粒子線Tの経路を偏向角だけ静電的に偏向させる偏向デバイス7と、-前記偏向デバイス7の下流に接続されて、前記粒子線Tの動きの方向に垂直な、前記粒子線T中において優勢なスピンベクトルのベクトル成分の検出を可能にするスピン検出器9と、-前記切替え可能なコイル5に接続されて、前記コイル5の励起状態の切替えを可能にする切替えユニット15とを備えるスピン検出器構成。前記スピン回転子1が、前記切替え可能なコイル5によって囲まれた静電レンズ3を備えている、請求項1に記載のスピン検出器構成。前記スピン回転子1の下流に接続された前記偏向デバイス7が、電界偏向を引き起こす偏向デバイスである、請求項1または2に記載のスピン検出器構成。前記スピン回転子1の下流に接続された前記偏向デバイス7が、前記粒子線Tの前記経路を静電的に90°偏向させる偏向デバイスである、請求項1から3のうちのいずれか一項に記載のスピン検出器構成。前記切替え可能なコイル5を通って流れる電流強度および/または電流の符号を、前記切替えユニット15を用いて調整することができる、請求項1から4のうちのいずれか一項に記載のスピン検出器構成。前記スピン回転子1の前記切替え可能なコイル5をヨーク17が囲んでいる、請求項1から5のうちのいずれか一項に記載のスピン検出器構成。前記検出器9が、互いに直交する2つのベクトル成分を同時に検出する検出器である、請求項1から6のうちのいずれか一項に記載のスピン検出器構成。前記検出器9がモット検出器である、請求項6に記載のスピン検出器構成。請求項1から8のうちのいずれか一項に記載のスピン検出器構成を使用して、粒子線T中において優勢なスピンベクトルのすべてのベクトル成分を検出するための方法であって、検出器9が、切替えユニット15を用いてスピン回転子1のコイル5を一方の測定では第1の励起状態に、他方の測定では第2の励起状態に切り替えて、優勢なスピンベクトルの2つのベクトル成分のそれぞれを連続して測定する、方法。前記コイルの前記第1の励起状態と前記第2の励起状態とは、前記コイルを通って流れる電流強度および/または電流の符号が異なっている、請求項9に記載の方法。特定の電流強度の電流が前記第1の励起状態の前記コイル5を通って流れ、前記第2の励起状態では、電流強度は前記第1の励起状態と同じであるが、前記第1の励起状態とは符号が逆である電流が前記コイルを通って流れる、請求項10に記載の方法。前記第1の励起状態では、特定の電流強度の電流が0よりも大きい量で前記コイル5を通って流れ、前記第2の励起状態では、前記コイルを通って電流が流れない、請求項10に記載の方法。図1を参照して、本発明によるスピン検出器構成の一実施形態について以下に記載する。必須の要素として、この構成は、図示の実施形態では切替え可能なコイル5をもつ静電レンズ3を備えるスピン回転子1と、本例ではスピン回転子の下流に接続され、静電的にのみ動作する偏向デバイス7と、本実施形態では静電偏向デバイスの下流に接続され、マイクロモット検出器として展開されるスピン検出器9とを備える。さらに、本発明によるスピン検出器構成は、図示の実施形態のように、追加の静電エレメントまたは磁気エレメント11を備えることができる。たとえば、これらは、スピン検出器構成を通過する荷電粒子の粒子線の経路を操作するために使用することができる追加の静電レンズ、ドリフトチューブまたはコンデンサとしてもよい。上述のように、本例では、スピン回転子1は静電レンズを備える。ただし、静電レンズの存在は、スピン回転子の動作のための要件でない。最も単純なケースでは、スピン回転子はコイル5のみを備え、当該コイルの磁界によりスピン回転が引き起こされる。スピン回転子が、コイル5に加えて他のエレメントを備えている場合、静電レンズ3の代わりに、または、静電レンズ3に加えて、磁界レンズ、ドリフトチューブなどのような他の静電エレメントおよび/または磁気エレメントが存在していることもある。粒子線Tは、入射孔13を通ってスピン検出器構成に入り、スピン回転子1および静電偏向エレメント7を連続して通過して、最終的に、マイクロモット検出器9に達する。粒子線Tには、スピンしている粒子が含まれており、粒子線中の粒子のスピンの配向は好適な方向である。この好適な方向は、3つのスピンベクトル成分によって判断されるスピンベクトルによって表される。ただし、これは、粒子線Tのすべての粒子のスピンの配向が好適な方向であるという意味ではない。そうではなく、個々の粒子のスピン配向の分布が存在し、当該分布は、スピン配向が好適な方向に対応するときに最大値となる。最大値の先鋭度、すなわち、高さ対幅は、粒子線中の偏光度に依存し、つまり、偏光を生じるプロセスに依存している。マイクロモット検出器では、ターゲット平面の粒子の偏光方向に依存する散乱が生じ、粒子線の基準配向に直交して進むターゲット平面を有する平坦なターゲットの助けをかりて、粒子線Tの動きの方向に直交して進む粒子線T中において優勢なスピンベクトルのベクトル成分が判断することができる。たとえば、粒子線の粒子のスピンに結合された座標系において、粒子線Tが入射孔13を通ってスピン検出器構成に入る方向を図1のZ方向として定義した場合、X方向とY方向とが直交する方向である。図示の実施形態では、静電偏向エレメント7は、そのスピンの配向を変更することなく、粒子線の方向を90°偏向させる。したがって、本実施形態では、その動きの方向は、偏向エレメント7を通過した後に、参照符号Aで標示された座標軸によって示されるように、X方向とは反対に進む。次いで、スピン回転子1が粒子線中の粒子のスピンを回転させない限り、優勢なスピン配向を表すスピンベクトルのY成分およびZ成分が、マイクロモット検出器9において検出される。スピン回転子1がスピンを回転させない限り、粒子線におけるスピンの好適な方向、したがって、それに結合された座標系の配向には影響がない。本実施形態では、スピン回転子1は、静電レンズ3に加えて、粒子線が軸方向にコイルを通過するように粒子線Tの動きの方向に対して配向された切替え可能なコイル5も有しており、すなわち、本実施形態では、コイルの軸方向は、粒子線のスピンベクトルに結合された座標系のZ方向に進んでいる。コイル5を切り替えるために、スピン検出器構成は、スピン回転子1のコイル5に接続された切替えユニット15を有する。本実施形態においてコイル5をオンに切り替えた場合、コイル5を通る電流の流れはコイルの内側に磁界を発生させる。磁束密度Bの磁界線を備えるコイル5が図2に示されている。さらに、図2には、コイル5を通過する粒子線Tの動きの方向Zと、動きの方向Zに直交して進むスピンベクトル成分sとが示されている。粒子線の動きの方向Zに対して平行にコイル5の内部を進む磁界線を有する本実施形態の磁界では、スピンベクトル成分sには、歳差運動、たとえば、粒子線Tの動きの方向Zを中心する回転が生じる。スピン成分sが回転する角度は、磁界の強度ならびに磁界を通って進む経路に依存する。所与の経路で磁界がより強くなると、スピンの回転はより高速に回転し、磁界を通過した後の回転角はより大きくなる。本実施形態では、コイル5の内部における磁界が均一磁界として示されている。ただし、コイル5の内部における均一磁界の存在は、スピン回転子の機能のための要件ではない。スピンの回転は、均一磁界だけでなく、不均一磁界を用いても引き起こすことができる。コイルが不均一磁界を使用して粒子線光学関数を実行することもできるときには、たとえば、磁気レンズとして、粒子線のフォーカシングまたはデフォーカシングを引き起こすことができる。本実施形態では、磁界を通過した後に、スピンベクトル成分sが動きの方向を中心として90°回転するように、粒子線Tが磁界を通って進まなければならない経路と磁界の強度とを調整する。スピンベクトルに結合された座標系では、これは、Z軸を中心として座標系を90°回転させることを意味する。したがって、スピンベクトルは、座標系Aにおける特定の配向を有する場合、スピン回転子を通過した後に磁界がオンになったとき、座標系Bにおいてその配向を有することになる。換言すると、スピンベクトルは、依然として、同じ値のX座標とY座標とZ座標によって表されるが、それに結合された座標系は、Z座標を中心として90°回転している。本実施形態では、スピン回転子1の磁界を通過した後に電界偏向しか生じないので、粒子線Tの動きの方向は、スピンベクトルの配向に影響を与えず、静電偏向エレメント7を通過した後のスピンベクトルにリンクされた座標系のY方向に対応する。したがって、マイクロモット検出器9において、X成分およびZ成分が測定される。スピンベクトルの配向に対していかなる影響もないことにより、特に、本発明の説明が単純になるが、影響がないことは本発明の働きのために必要ではない。磁気偏向または粒子線に対する他の影響が、スピン回転子1を通過した後の配向に対して影響を与える場合であっても、スピン回転子1によって引き起こされた回転が再び完全に補償される磁気効果において、スピンが元の動きの方向を中心として遠くまで回転しない限り、依然として本発明を実施することができる。ただし、スピン回転子1を通過した後、粒子線上で動きの元の方向図1のZ方向を中心としてスピンを回転させることができる磁気効果がもはやない場合が有利である。一方、偏向デバイス7を通過した後の粒子線の新しい動きの方向コイルがオフにされたときに座標系Aに示すX方向、およびコイルがオンされたときに座標系Bに示すY方向を中心とするスピンの回転は、その平面における動きの方向に直交する平面上にあるスピンベクトル成分を残すので重要ではない。ただし、スピンの配向に対する磁界の望ましくない影響を確実に除外することができるように、粒子線が、検出器9までの経路上で静電的にのみ影響されると特に有利である。したがって、スピン回転子1のコイル5がオフにされたときに本実施形態にしたがってスピンベクトルのY成分およびZ成分を最初に検出することによって、本実施形態に示されるスピン検出器構成の助けをかりて、粒子線T中において優勢なスピンベクトルの3つの成分すべてを判断することができる。次いで、切替えユニット15を用いてコイル5の磁界をオンにし、スピンベクトルのX成分およびZ成分を検出する。本実施形態では、コイル5をヨーク17が囲んでいる。これにより、スピン回転子の粒子光学特性に悪影響を与え得る散乱界が低減される。さらに、コイルの内部における磁界の密度の増加につながり、したがって、より低い強度の電流をコイル5を通して流すことで、コイルの内部において規定値の磁束密度を取得することができる。具体的には、粒子線は電子線とすることができる。しかし、荷電粒子から構成される粒子線におけるスピン配向の好適な方向、特に、イオンビームにおけるスピン配向の好適な方向は、3つの成分すべてを備える上述のスピン検出器構成を用いて検出することもできる。図3を参照して、スピン検出器構成の特定の実施形態について以下に説明する。図に示した計器は、典型的には、半球形の光電子スペクトロメータの出口において電子のスピンを測定する。電子は、x方向、y方向およびz方向の成分を備えるスピン偏極スピンで、入射孔13を通って検出器に入る。90°ディフレクタ7を含む静電レンズシステムは、電子をマイクロモット検出器9に誘導する。ここで、3つのスピンベクトル成分のうちの2つが測定される。回転子のない完全に静電界、あるいは回転子のある追加の規定された磁界のいずれかであるスピン回転子レンズとして使用されるレンズエレメント1を適用することができる。この追加の磁界の場合、電子スピンは、z軸を中心として90°の量だけ回転する。スピン回転子1における磁界がオフにされた回転子のない場合、マイクロモット検出器は、スピンのy成分およびz成分を判断することができる。スピン回転子1における磁界がオンにされた回転子がある場合、マイクロモット検出器は、スピンのx成分およびz成分を判断することができる。したがって、スピン回転子をオン/オフすることによって、電子スピンの3つの成分すべてを連続して判断することができる。スピン回転子1がない場合、y成分およびz成分のみを判断することができる。スピン検出器構成全体は、真空チャンバに配列される。マイクロモット検出器は、平坦な散乱ターゲットと、4つのチャネルトロンとを有する。スピン回転子1により、マイクロモット検出器9を用いて検出されるスピンベクトル成分間での迅速な切替えが可能になる。スピン検出器構成は、Ek空間中の正確な1つの点からの粒子スピン、詳細には電子スピンを測定する。異なるスピン成分の検出におけるエネルギーシフトがなくなる。例示のために、特定の実施形態を使用して、本発明について説明した。しかしながら、当業者には、前記実施形態からの変更が可能であるということが分かるであろう。たとえば、これらの実施形態では、1つの切替え状態では、90°のスピンの回転を引き起こす磁界を発生させ、別の切替え状態では、磁界を発生しないように、コイル5の切替え状態が選択された。しかしながら、代替的には、1つの切替え状態では、45°のスピンの回転を引き起こす磁界を発生させ、別の切替え状態では、-45°のスピンの回転を引き起こす磁界を発生させるように、切替え状態を選択することも可能である。この実施形態には、符号によってではなく、コイル中を流れる電流によってのみ影響を受けるレンズ効果は、両方の切替え状態で同じであるという利点がある。しかしながら、全体として、両方の切替え状態における重要なクリテリアは、スピンが異なる角度すなわち、1つの切替え状態ではほぼ0°で、他の切替え状態では90°、あるいは1つの切替え状態では45°で、他の切替え状態では-45°について回転されるということであるだけである。2つの回転角の差が90°であることも必要ではない。ただし、90°の角度差は、3つの成分を最も簡単に検出するという利点を有する。同様に、偏向エレメント7は、必ずしも、粒子線を90°偏向させなければならないわけではなく、より小さい偏向もまた十分である。しかしながら、ここでは、角度90°も、3つの成分を最も簡単に検出する利点を有する。