"X線を照射するX線照射手段と、チャンネル方向及び列方向に複数のX線検出素子を有するX線検出手段と、被検体を載置可能な載置手段と、前記載置手段を挟んで前記X線照射手段及び前記X線検出手段を対向配置させ、前記X線照射手段及び前記X線検出手段を一体として回転可能なように支持する支持手段と、前記X線照射手段を制御して前記X線の焦点を前記載置手段の進退方向に振動させながら、ヘリカルスキャンを実行させる制御手段と、前記ヘリカルスキャンによって得られたデータを用いて再構成画像を生成する画像処理手段を備え、前記制御手段は、前記ヘリカルスキャンにおけるデータ収集の軌跡が重ならないように、前記X線の焦点の振動幅を設定するよう制御することを特徴とするX線CT装置。前記制御手段は、前記X線の焦点と前記回転の中心との距離をSODと、前記X線の焦点と前記X線検出手段との距離をSDDと、前記X線検出素子間のピッチをdとすると、前記X線の焦点の振動幅Dを、を満たすよう設定することを特徴とする請求項1に記載のX線CT装置。前記制御手段は、前記X線検出素子間のピッチを前記X線照射手段及び前記X線検出手段の回転中心軸に投影したピッチをdcとし、nを整数としたとき、ヘリカルピッチn0.5dcでヘリカルスキャンを行うよう制御することを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。前記制御手段は、ヘリカルピッチ2.5dcでヘリカルスキャンを行うよう制御することを特徴とする請求項3に記載のX線CT装置。前記画像処理手段は、前記ヘリカルスキャンによって得られた実データを用いて再構成画像を生成し、前記制御手段は、前記X線の焦点の振動幅Dを、を満たすよう設定することを特徴とする請求項3に記載のX線CT装置。前記画像処理手段は、前記ヘリカルスキャンによって得られた実データと対向データの双方を用いて再構成画像を生成し、前記制御手段は、前記X線の焦点の振動幅Dを、を満たすよう設定することを特徴とする請求項3に記載のX線CT装置。前記制御手段は、前記X線検出素子間のピッチを前記X線照射手段及び前記X線検出手段の回転中心軸に投影したピッチをdcとし、nを整数としたとき、ヘリカルピッチ2n1dcでヘリカルスキャンを行うよう制御することを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。前記画像処理手段は、前記ヘリカルスキャンによって得られた実データと対向データの双方を用いて再構成画像を生成し、前記制御手段は、前記X線の焦点の振動幅Dを、を満たすよう設定することを特徴とする請求項7に記載のX線CT装置。前記制御手段は、ヘリカルピッチ3dcでヘリカルスキャンを行うよう制御することを特徴とする請求項7に記載のX線CT装置。しかしながら、マルチスライスX線CT装置を用いて、体軸方向に高分解能とすることを目的として整数0.5倍のヘリカルピッチでヘリカルスキャンを行なう場合、サンプリングピッチを細かくしようと従来のフライング焦点±σを採用したz-FFS法によると、フライング焦点σdf/4での実データの軌跡と、フライング焦点-σ-df/4の対向データの軌跡とが重なってしまう。よって、上記式に示す従来のフライング焦点±σを採用したz-FFS法によってヘリカルスキャンを実行する場合、サンプリングピッチは、z-FFSによらないヘリカルスキャンを実行する場合と変化がなく、z-FFS法による効果が得られない。本発明は、上述のような事情を考慮してなされたもので、z-FFS法によってヘリカルスキャンを実行する場合に、サンプリングピッチを細かくすることができ、高密度なデータ収集が可能となるX線CT装置を提供することを目的とする。本発明に係るX線CT装置は、上述した課題を解決するために、X線を照射するX線照射手段と、チャンネル方向及び列方向に複数のX線検出素子を有するX線検出手段と、被検体を載置可能な載置手段と、前記載置手段を挟んで前記X線照射手段及び前記X線検出手段を対向配置させ、前記X線照射手段及び前記X線検出手段を一体として回転可能なように支持する支持手段と、前記X線照射手段を制御して前記X線の焦点を前記載置手段の進退方向に振動させながら、ヘリカルスキャンを実行させる制御手段と、前記ヘリカルスキャンによって得られたデータを用いて再構成画像を生成する画像処理手段を備え、前記制御手段は、前記ヘリカルスキャンにおけるデータ収集の軌跡が重ならないように、前記X線の焦点の振動幅を設定するよう制御することを特徴とする。本発明に係るX線CT装置によると、z-FFS法によってヘリカルスキャンを実行する場合に、サンプリングピッチを細かくすることができ、高密度なデータ収集が可能となる。本発明に係るX線CT装置の実施形態について、添付図面を参照して説明する。本実施形態のX線CT装置には、X線源とX線検出器とが1体として被検体の周囲を回転する回転/回転ROTATE/ROTATEタイプと、リング状に多数の検出素子がアレイされ、X線源のみが被検体の周囲を回転する固定/回転STATIONARY/ROTATEタイプ等様々なタイプがあり、いずれのタイプでも本発明を適用可能である。ここでは、現在、主流を占めている回転/回転タイプとして説明する。また、入射X線を電荷に変換するメカニズムは、シンチレータ等の蛍光体でX線を光に変換し更にその光をフォトダイオード等の光電変換素子で電荷に変換する間接変換形と、X線による半導体内の電子正孔対の生成及びその電極への移動すなわち光導電現象を利用した直接変換形とが主流である。加えて、近年では、X線源とX線検出器との複数のペアを回転リングに搭載したいわゆる多管球型のX線CT装置の製品化が進み、その周辺技術の開発が進んでいる。本実施形態のX線CT装置では、従来からの一管球型のX線CT装置であっても、多管球型のX線CT装置であってもいずれにも適用可能である。ここでは、一管球型のX線CT装置として説明する。図1は、本実施形態のX線CT装置を示すハードウェア構成図である。図1は、本実施形態のX線CT装置1を示す。X線CT装置1は、大きくは、スキャナ装置11及び画像処理装置12から構成される。X線CT装置1のスキャナ装置11は、通常は検査室に設置され、被検体人体Oの撮影部位に関するX線の透過データを生成するために構成される。一方、画像処理装置12は、通常は検査室に隣接する制御室に設置され、透過データを基に投影データを生成して再構成画像の生成表示を行なうために構成される。X線CT装置1のスキャナ装置11は、X線源としてのX線管21、X線検出器22、絞り23、DASdataacquisitionsystem24、回転部25、コントローラ26、高電圧電源27、絞り駆動装置28、回転駆動装置29、天板30、及び天板駆動装置寝台装置31を設ける。X線管21は、高電圧電源27から供給された管電圧に応じて金属製のターゲットに電子線を衝突させることで制動X線を発生させ、X線検出器22に向かって照射する。X線管21から照射されるX線によって、ファンビームX線やコーンビームX線が形成される。X線管21は、高電圧電源27を介したコントローラ26による制御によって、X線の照射に必要な電力が供給される。また、X線管21は、コントローラ26による制御によって、z-FFS法によるz軸方向への振幅を行なう。X線検出器22は、X線検出器22は、マトリクス状、すなわち、チャンネル方向に複数チャンネル、スライス方向に複数列のX線検出素子を有する2次元アレイ型のX線検出器22マルチスライス型検出器ともいう。である。X線検出器22のX線検出素子は、X線管21から照射されたX線を検出する。絞り23は、絞り駆動装置28によって、X線管21から照射されるX線のスライス方向の照射範囲を調整する。すなわち、絞り駆動装置28によって絞り23の開口を調整することによって、スライス方向のX線照射範囲を変更できる。DAS24は、X線検出器22の各X線検出素子が検出する透過データの信号を増幅してデジタル信号に変換する。DAS24の出力データは、画像処理装置12に供給される。回転部25は、スキャナ装置11の架台図示しないに収容され、X線管21、X線検出器22、絞り23及びDAS24を一体として保持する。回転部25は、X線管21とX線検出器22とを対向させた状態で、X線管21、X線検出器22、絞り23及びDAS24を一体として被検体Oの周りに回転できるように構成されている。なお、回転部25の回転中心軸と平行な方向をz軸方向、そのz軸方向に直交する平面をx軸方向、y軸方向で定義する。コントローラ26は、CPUcentralprocessingunit、及びメモリによって構成される。コントローラ26は、画像処理装置12から入力された制御信号に基づいて、X線管21、DAS24、高電圧電源27、絞り駆動装置28、回転駆動装置29、及び天板駆動装置31等の制御を行なって、z-FFS法によるヘリカルスキャン等のスキャンを実行させる。z-FFS法では、1ビュー毎に、すなわち、奇数番目のビューと偶数番目のビューとの各焦点を、フライング焦点±σとする。絞り駆動装置28は、コントローラ26による制御によって、絞り23におけるX線のスライス方向の照射範囲を調整する。回転駆動装置29は、コントローラ26による制御によって、回転部25がその位置関係を維持した状態で空洞部の周りを回転するように回転部25を回転させる。天板30は、被検体Oを載置可能である。天板駆動装置31は、コントローラ26による制御によって、天板30をz軸方向に沿って移動させる。回転部25の中央部分は開口を有し、その開口部の天板30に載置された被検体Oが挿入される。X線CT装置1の画像処理装置12は、コンピュータをベースとして構成されており、病院基幹のLANlocalareanetwork等のネットワークNと相互通信可能である。画像処理装置12は、図示しないが、CPU、メモリ、HDDharddiscdrive、入力装置及び表示装置等の基本的なハードウェアから構成される。画像処理装置12は、スキャナ装置11のDAS24から入力された生データに対して対数変換処理や、感度補正等の補正処理前処理を行なって投影データを生成する。また、画像処理装置12は、前処理された投影データに対して散乱線の除去処理を行なう。画像処理装置12は、X線照射範囲内の投影データの値に基づいて散乱線の除去を行なうものであり、散乱線補正を行なう対象の投影データ又はその隣接投影データの値の大きさから推定された散乱線を、対象となる投影データから減じて散乱線補正を行なう。画像処理装置12は、補正された投影データを基に再構成画像を生成する。図2は、従来のフライング焦点を採用したz-FFS法によってコンベンショナルスキャンを実行する場合のX線パスを示す図である。図2は、z-FFS法を採用しない場合のX線の焦点Fと、X線の焦点を中心にX線の焦点をz軸方向に振動させるz-FFS法を採用する場合のフライング焦点±σとを示す。また、図2は、スライス方向に4列のX線検出素子を有するX線検出器102と、回転中心Rと、各焦点F,±σと各X線検出素子X線検出素子間のピッチ:dの開口中央とを結ぶX線パス投影データ位置とを示す。なお、焦点Fに対応するX線パスを破線で示し、各フライング焦点±σに対応するX線パスをそれぞれ実線で示す。ここで、X線の焦点と回転中心RアイソセンタIとの距離をSODとし、X線の焦点とX線検出器102の中心位置との距離をSDDとし、X線検出器22のピッチX線検出素子間のピッチを回転中心RアイソセンタIに投影したピッチをdc以下、投影検出器ピッチというとすると、従来のフライング焦点±σは、次の式1から求められる。また、X線検出素子間のピッチをdとすると、ピッチdcとピッチdとの関係は、次の式2のようになる。上記式1及び2に基づくと、従来のフライング焦点±σは、ピッチdを用いて次の式3のように表せる。隣接ビューでの投影角度の違いを無視すると、すなわち、極めて近い角度で投影データを取得するので投影角度方向の違いによる投影データの違いは殆ど無いと仮定する。その場合、奇数ビューと偶数ビューの両方を合わせてみれば、図2に示す回転中心Rにおける実線同士の間隔は、回転中心における破線同士の間隔と比較して、等価的に1/2になっている。すなわち、z-FFS法によってコンベンショナルスキャンにおいて、上記式3によって求められる従来のフライング焦点±σからのX線パスによると、z-FFS法を採用しない焦点FからのX線パスと比較して、サンプリングピッチを等価的に1/2にすることができる。よって、従来のフライング焦点±σを採用したz-FFS法によってコンベンショナルスキャンを実行すると、z-FFS法を採用しない場合と比較してサンプリングピッチを等価的に1/2にすることができる。次にヘリカルスキャンにおけるサンプリングピッチについて説明する。まず、ヘリカルスキャンのヘリカルピッチは投影検出器ピッチX線検出素子幅を回転中心アイソセンタに投影した幅:図2に示されるdcを単位として設定される。このヘリカルピッチを、投影検出器ピッチの幅の整数倍として、実データのみを考慮する場合、サンプリングピッチは投影検出器ピッチの幅と変わりない。そこで一般的には、サンプリングピッチを向上させるため、へリカルピッチを投影検出器ピッチの整数0.5倍、例えば、2.5倍としている。この場合、異なる回転周期における実データが重ならない結果、サンプリングピッチがdc/2となる領域が現れる。すなわち、ヘリカルピッチを投影検出器ピッチの2.5倍とすることで、高分解能なヘリカルスキャンが可能となる。これを具体的に図を用いて説明する。まず図3に、ヘリカルピッチが2.5dcの際の4列のX線検出素子の収集データの1回転分の軌跡を示す。図3においては横軸が収集データのZ方向位置に対応し、縦軸が収集データの回転角度位置に対応する。さらにこれを繰り返し複数回転繰り返すと、図3に示される収集軌跡が2.5dcずつずれて重ねあわされることになる。この複数回転の軌跡を図4に表す。その結果、図4に示されるように、各収集軌跡の間隔は1/2dcとdcの部分が規則的に現れる形となる。図5は、従来のフライング焦点を採用したz-FFS法によるヘリカルスキャンにおける4列のX線検出素子の収集データの軌跡を示す。この図においては、簡単のため、データ収集初期と終期を含まない、規則的な収集データの軌跡が現れる領域のみを示している。以後も、収集データ軌跡の図において、図5のようにデータ収集初期のデータ軌跡が現れていない場合は、規則的な収集データの軌跡を有する領域のみを抜き出して示すものと理解されたい。上記式3に示す従来のフライング焦点±σを採用したz-FFS法によってヘリカルスキャンを実行する場合、ヘリカルピッチを投影検出器ピッチの2.5倍とすると、距離1/2dcで隣り合う収集データの軌跡において、一方のフライング焦点σdf/4の軌跡と、他方のフライング焦点-σ-df/4の軌跡とが重なってしまう。図5では、このように重複している軌跡を実線、重複していない軌跡を破線で示している。上記式3に示す従来のフライング焦点±σを採用したz-FFS法によってヘリカルスキャンを実行する場合、サンプリングピッチは、z-FFSによらないヘリカルスキャンを実行する場合図4に図示と大きな変化がなく、z-FFS法による効果が少ない。続いて、z-FFS法によってヘリカルスキャンを実行する場合に、高密度なデータ収集が可能な本実施形態のX線CT装置1について説明する。図6は、X線CT装置1における、z-FFS法を採用しない場合のX線の焦点Fと、X線の焦点を中心にX線の焦点をz軸方向に振動させるz-FFS法を採用する場合のフライング焦点±σとを示す。また、図6は、X線CT装置1における、スライス方向に4列のX線検出素子を有するX線検出器22と、回転中心Rと、各フライング焦点±σと各X線検出素子X線検出素子間のピッチ:dの開口中央とを結ぶX線パス投影データ位置とを示す。なお、焦点Fに対応するX線パスを省略し、各フライング焦点±σに対応するX線パスをそれぞれ実線で示す。図7は、X線CT装置1のフライング焦点を採用したz-FFS法によるヘリカルスキャンにおける4列のX線検出素子の収集データの軌跡を示す。図7において、データ収集軌跡は実線で表される。破線は、z-FFS法を用いない場合の軌跡を参考のために示している。図7に示す収集データの軌跡は、フライング焦点±σが±df/8の場合を示している。このようにフライング焦点を設定すれば、収集データの軌跡は互いに重なることなく、z-FFS法を用いない場合に比べて高密度であることがわかる。図5に示すように、フライング焦点±σとしての±df/4を採用したz-FFS法によってヘリカルスキャンを実行する場合、フライング焦点σの軌跡と、フライング焦点-σの軌跡とが重なり、サンプリングピッチは、z-FFSを実施しない場合と大きく変化がない。そこで、X線CT装置1では、軌跡が重ならないようにフライング焦点±σを±df/8とすることで、フライング焦点±σが±df/4の場合よりも高い密度でのサンプリングが可能となる。なお、上記では、ヘリカルピッチが2.5dcである場合を中心として説明したが、本実施形態はこれに限られるものではない。1.5dc、3.5dc等のn整数0.5dcのヘリカルピッチであれば、収集データの軌跡の間隔が1/2dcとなる部分が存在しうる。このような場合であれば、フライング焦点±σを±df/8とすることで、ヘリカルピッチ2.5dcの場合と同様に軌跡が重ならないようにすることができることは言うまでもない。さらに、上記ではフライング焦点±σを±df/8とすることを中心として説明したが、これに限られない。軌跡を重ならせないためのフライング焦点±σであればよい。したがって、フライング焦点±σは少なくとも±σ<±df/4を充たせばよい。変形例1次に、本実施形態の変形例1について説明する。上述の実施形態では実データのみを用いる場合を説明したが、変形例1においては、対向データを用いる場合について説明する。まず対向データを用いる場合のデータ軌跡について説明する。まず図8に、ヘリカルピッチが2.5dcの際の4列のX線検出素子の収集データの1回転分の軌跡を示す。実線が実データを示し、破線が対向データを示す。対向データは実データと回転方向でπずれた位置のデータとなる。さらにこれを繰り返し複数回転繰り返すと、図8に示される収集軌跡が2.5dcずつずれて重ねあわされることになる。この複数回転の軌跡を図9に表す。その結果、図9に示されるように、各収集軌跡の間隔は1/4dcと1/2dcの部分が規則的に現れる形となる。ここでは、フライング焦点±σとして±df/8dを採用したz-FFS法によってヘリカルスキャンを実行する場合、距離1/4dcで隣り合う収集データの軌跡において、一方のフライング焦点σdf/8の軌跡と、他方のフライング焦点-σ-df/8の軌跡とが重なってしまう。したがって、対向データを用いる場合には、上述のような実データのみを用いる場合と異なる制御が必要となる。このような条件でヘリカルスキャンを実行する場合に、高密度なデータ収集が可能な本実施形態の変形例1のX線CT装置1について説明する。図10は、変形例1のX線CT装置1のフライング焦点を採用したz-FFS法によるヘリカルスキャンにおける4列のX線検出素子の収集データの軌跡を示す。図10においては、データ収集軌跡のみが実線で表される。図10においては実データも対向データも実線で示され、とくに区別はされていない。図10に示す収集データの軌跡は、フライング焦点±σが±df/16の場合を示している。このようにフライング焦点を設定すれば、収集データの軌跡は互いに重なることなく、z-FFS法を用いない場合に比べて高密度であることがわかる。X線CT装置1では、軌跡が重ならないようにフライング焦点±σを±df/16とすることで、フライング焦点±σが±df/4や±df/8の場合よりも高密度でのサンプリングが可能となる。なお、上記では、ヘリカルピッチが2.5dcである場合を中心として説明したが、本実施形態はこれに限られるものではない。1.5dc、3.5dc等のn整数0.5dcのヘリカルピッチであれば、収集データの実データと対向データの軌跡の間隔が1/4dcとなる部分が存在しうる。このような場合であれば、フライング焦点±σを±df/16とすることで、ヘリカルピッチ2.5dcの場合と同様に軌跡が重ならなくすることができることは言うまでもない。さらに、上記ではフライング焦点±σを±df/16とすることを中心として説明したが、これに限られない。軌跡を重ならせないためのフライング焦点±σであればよい。したがって、フライング焦点±σは少なくとも±σ<±df/8を充たせばよい。変形例2次に、本実施形態の変形例2について説明する。上述の実施形態ではヘリカルピッチが2.5dcの場合を中心に説明したが、変形例2においては、その他のヘリカルピッチの一例として、ヘリカルピッチが3dcの場合で、かつ対向データも用いる場合について説明する。まず、このような場合のデータ軌跡について説明する。まず図11に、ヘリカルピッチが3dcの際の4列のX線検出素子の収集データの1回転分の軌跡を示す。実線が実データを示し、破線が対向データを示す。対向データは実データと回転方向でπずれた位置のデータとなる。さらにこれを繰り返し複数回転繰り返すと、図11に示される収集軌跡が3dcずつずれて重ねあわされることになる。この複数回転の軌跡を図12に表す。本変形例の場合、一部の収集軌跡は重複することとなるが、この重複を一つの収集軌跡と考えれば、図12に示されるように、収集軌跡の間隔は1/2dcとなっているといえる。ここでは、フライング焦点±σに±df/4を採用したz-FFS法によってヘリカルスキャンを実行する場合、距離1/2dcで隣り合う実データと対向データの収集データの軌跡において、一方のフライング焦点σdf/4の軌跡と、他方のフライング焦点-σ-df/4の軌跡とが重なってしまう。このような条件でヘリカルスキャンを実行する場合に、高密度なデータ収集が可能な本実施形態の変形例1のX線CT装置1について説明する。このような条件においては、距離1/2dcで隣り合う収集データの軌跡が重なりあわないようにすればよい。したがって、ヘリカルピッチ2.5dcで対向データを用いないときと同様に考えればよい。したがって、本変形例のフライング焦点±σは±df/8とする。本変形例のX線CT装置1では、軌跡が重ならないようにフライング焦点±σを±df/8とすることで、フライング焦点±σが±df/4の場合よりも高密度でのサンプリングが可能となる。そのうえ、ヘリカルピッチが2.5dcのときよりも大きい3dcであるため、比較的迅速なヘリカルスキャンが可能となる。なお、上記では、ヘリカルピッチが3dcである場合を中心として説明したが、本実施形態はこれに限られるものではない。1dc、5dc等の2n整数-1dcのヘリカルピッチであれば、収集データの実データと対向データの軌跡の間隔が1/2dcとなる部分が存在しうる。このような場合であれば、フライング焦点±σを±df/8とすることで、ヘリカルピッチ3dcの場合と同様に軌跡を重ならなくすることができることは言うまでもない。さらに、上記ではフライング焦点±σを±df/8とすることを中心として説明したが、これに限られない。軌跡を重ならせないためのフライング焦点±σであればよい。したがって、フライング焦点±σは少なくとも±σ<±df/4を充たせばよい。たとえば、フライング焦点±σが±df/8としている実施例に対しては、その振幅Dがdf/4であればよく、±σ=±df/16としている実施例に対しては、その振幅Dがdf/8であればよい。なお、上述のすべての実施例、変形例において、フライング焦点は基準位置に対して対称に振動しているが、これに限られない。振幅が等しければ、z方向のどちらかに偏った振動をしていても、同様の効果を有する。"