"予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される測定装置が搭載された信号入力回路であって、前記測定装置の内部に設けられると共に、測定経路を介して前記信号入力端子に接続され、該測定経路の電圧を読み取る読取手順と、読み取った電圧の値を示す測定値データを生成する生成手順を順次行う測定処理を実行することで、該信号入力端子に入力された前記入力信号の電圧値を測定する測定部と、一端が前記測定経路に、他端が基準電位に接続される検査コンデンサと、前記測定装置内部に設けられ、前記検査コンデンサと前記測定経路とを結ぶ検査経路を導通,遮断する検査スイッチと、前記測定装置内部に設けられ、前記検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を前記変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、前記測定装置内部に設けられ、前記測定部による前記測定処理に並行して、前記信号入力端子、或いは、該信号入力端子に接続される経路上の異常である端子異常を検出するための測定時異常検出処理を実行する制御部と、を備え、前記制御部は、前記測定時異常検出処理において、当該処理と並行して実行される前記測定処理の開始後から前記読取手順が終了するまでの間において、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断させ、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、該測定処理の前記読取手順の終了前に前記検査スイッチにより前記検査経路を導通させる導通手順と、を順次行い、前記測定時異常検出処理と並行して実行される前記測定処理にて生成されたデータに基づき、前記端子異常を検出すること、を特徴とする信号入力回路。請求項1に記載の信号入力回路において、前記制御部は、前記端子検査電圧値を第1端子検査電圧値とした前記測定時異常検出処理と、前記端子検査電圧値を、該第1検査電圧値とは異なる第2端子検査電圧値とした前記測定時異常検出処理とを実行し、これらの測定時異常検出処理と並行して実行される前記測定処理にて生成されたデータに基づき、前記端子異常を検出すること、を特徴とする信号入力回路。請求項1に記載の信号入力回路において、前記測定時異常検出処理における前記端子検査電圧値は、該測定時異常検出処理と並行して実行される前記測定処理の対象となる前記入力信号を対象として、直前に実行された前記測定処理にて測定された電圧値である前回値に基づき設定されること、を特徴とする信号入力回路。請求項3に記載の信号入力回路において、前記変動範囲内の電圧値である閾値が設定されていると共に、前記変動範囲内の電圧値であって、前記閾値を越える電圧値である第1端子検査電圧値と、前記変動範囲内の電圧値であって、前記閾値を下回る電圧値である第2端子検査電圧値とが設定されており、前記制御部は、前記前回値が前記閾値を越える場合には、前記端子検査電圧値を前記第2端子検査電圧値とした前記測定時異常検出処理を実行し、該前回値が前記閾値を下回る場合には、前記端子検査電圧値を前記第1端子検査電圧値とした前記測定時異常検出処理を実行すること、を特徴とする信号入力回路。請求項1から請求項4のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、前記検査コンデンサは、前記測定装置の外部に設けられていること、を特徴とする信号入力回路。請求項1から請求項5のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、前記検査コンデンサの容量は、前記測定装置内部に生じる寄生容量よりも十分大きいこと、を特徴とする信号入力回路。請求項1から請求項6のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、一端が前記信号入力端子に接続されると共に、他端が基準電位に接続された入力側コンデンサをさらに備えること、を特徴とする信号入力回路。請求項7に記載の信号入力回路において、前記入力側コンデンサの容量は、前記検査コンデンサの容量よりも大きいこと、を特徴とする信号入力回路。請求項7または請求項8に記載の信号入力回路において、予め定められた期間において、前記測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知する電圧変化検知部をさらに備え、前記制御部は、前記測定時異常検出処理において、さらに、前記電圧変化検知部により、前記導通手順が行われる前の第1時点から、該導通手順が行われた後の第2時点にかけて、前記測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知し、該測定時異常検出処理にて検知された前記測定経路の電圧値の変化に基づき、当該測定時異常検出処理にて検出される前記端子異常に係る前記信号入力端子に接続された前記入力側コンデンサについての異常を検出すること、を特徴とする信号入力回路。請求項9に記載の信号入力回路において、前記電圧変化検知部は、前記測定経路の電圧値を保持する電圧値保持回路と、前記測定経路の電圧値と、前記電圧値保持回路に保持された電圧値との差分を検知し、該差分を保持する差分保持回路と、を備え、前記制御部は、前記測定時異常検出処理において、前記電圧値保持回路により前記第1時点の前記測定経路の電圧値を保持させると共に、前記差分保持回路により、前記電圧値保持回路に保持された電圧値と、前記第2時点の前記測定経路の電圧値の差分を保持させることで、前記第1時点と前記第2時点との間で前記測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知すること、を特徴とする信号入力回路。請求項2を引用する請求項9または請求項10に記載の信号入力回路において、前記制御部は、前記第1端子検査電圧値での前記電圧印加を伴う前記測定時異常検出処理において検知された前記測定経路の電圧値の変化と、前記第2端子検査電圧値での前記電圧印加を伴う前記測定時異常検出処理において検知された前記測定経路の電圧値の変化とに基づき、前記入力側コンデンサについての異常を検出すること、を特徴とする信号入力回路。請求項1から請求項11のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、前記測定装置には、異なる前記入力信号が入力される複数の前記信号入力端子が設けられており、それぞれの前記信号入力端子と前記測定経路との間を導通,遮断する選択スイッチをさらに備え、前記測定部は、いずれか一つの前記信号入力端子から入力された前記入力信号を測定対象とし、前記選択スイッチにより、該測定対象の前記入力信号が入力される前記信号入力端子と前記測定経路との間が導通されると共に、他の前記信号入力端子と前記測定経路との間が遮断された状態で、前記測定処理を実行し、前記制御部は、前記測定対象の前記入力信号が入力される前記信号入力端子についての前記測定時異常検出処理を実行すること、を特徴とする信号入力回路。請求項7を引用する請求項12に記載の信号入力回路において、前記信号入力端子に接続され、該信号入力端子に接続された前記入力側コンデンサと共にフィルタ回路をなす入力側抵抗をさらに備え、前記制御部は、いずれか一つの前記信号入力端子に接続された前記入力側抵抗を検査対象として、該入力側抵抗についての異常である抵抗異常を検出するための抵抗異常検出処理をさらに実行し、前記抵抗異常検出処理において、前記検査スイッチと前記選択スイッチとにより、前記検査コンデンサと、検査対象の前記入力側抵抗に接続される前記信号入力端子との間を遮断させた後、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた抵抗検査電圧値に設定し、その後、前記選択スイッチ及び前記検査スイッチにより、前記検査コンデンサと該信号入力端子との間を導通させる手順を複数回にわたり行い、同一の前記入力側抵抗を検査対象として、前記抵抗検査電圧値を第1抵抗検査電圧値とした前記抵抗異常検出処理と、前記抵抗検査電圧値を、前記第1抵抗検査電圧値とは異なる第2抵抗検査電圧値とした前記抵抗異常検出処理とを実行し、各抵抗異常検出処理を実行した後に前記測定処理により測定された電圧値に基づき、前記抵抗異常を検出すること、を特徴とする信号入力回路。請求項12または請求項13に記載の信号入力回路において、前記制御部は、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断させた後に、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定し、前記測定部に前記測定処理を実行させる検査スイッチ異常検出処理をさらに実行し、該検査スイッチ異常検出処理での前記測定処理により測定された電圧値に基づき、前記検査スイッチの異常を検出すること、を特徴とする信号入力回路。請求項12から請求項14のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、前記制御部は、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断した状態で、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定し、その後、前記選択スイッチにより全ての前記信号入力端子と前記測定経路との間を遮断させた状態で、前記検査スイッチにより前記検査経路を導通させ、さらにその後、前記測定部に前記測定処理を実行させる充放電部異常検出処理をさらに実行し、該充放電部異常検出処理での前記測定処理により測定された電圧値に基づき、前記充放電部と、前記選択スイッチと、前記検査スイッチと、前記検査コンデンサとのうちの少なくともいずれか一つについての異常を検出すること、を特徴とする信号入力回路。請求項1から請求項15のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、前記測定装置を二つ備えると共に、前記測定装置での前記測定処理にて測定された電圧値に基づき処理を行う処理装置をさらに備え、前記処理装置は、いずれか一方の前記測定装置にて実行された前記異常検出処理にて異常が検出された場合には、他方の前記測定装置での前記測定処理にて測定された電圧値に基づき処理を行うこと、を特徴とする信号入力回路。請求項1から請求項16のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、前記測定装置内部に設けられ、前記測定処理にて生成された前記測定値データと、該測定処理と並行して実行された前記測定時異常検出処理にて検出された異常を示すデータとを並行して送信する送信部をさらに備えること、を特徴とする信号入力回路。請求項1から請求項16のうちのいずれか1項に記載の信号入力回路において、前記測定値データと、該測定値データを生成した前記測定処理と並行して実行された前記測定時異常検出処理にて検出された前記端子異常の有無を示すデータとを保存する保存部をさらに備えること、を特徴とする信号入力回路。予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される集積回路であって、測定経路を介して前記信号入力端子に接続され、該測定経路の電圧を読み取る読取手順と、読み取った電圧の値を示す測定値データを生成する生成手順を順次行う測定処理を実行することで、該信号入力端子に入力された前記入力信号の電圧値を測定する測定部と、一端が前記測定経路に接続されると共に他端が基準電位に接続された状態で当該集積回路の外部に設けられた検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を前記変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、前記検査コンデンサと前記測定経路とを結ぶ検査経路を導通,遮断する検査スイッチと、前記測定部による前記測定処理に並行して、前記信号入力端子、或いは、該信号入力端子に接続される経路上の異常である端子異常を検出するための測定時異常検出処理を実行する制御部と、を備え、前記制御部は、前記測定時異常検出処理において、当該処理と並行して実行される前記測定処理の開始後から前記読取手順が終了するまでの間において、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断させ、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、該測定処理の前記読取手順の終了前に前記検査スイッチにより前記検査経路を導通させる導通手順と、を順次行い、前記測定時異常検出処理と並行して実行される前記測定処理にて生成されたデータに基づき、前記端子異常を検出すること、を特徴とする集積回路。予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される集積回路であって、測定経路を介して前記信号入力端子に接続され、該測定経路の電圧を読み取る読取手順と、読み取った電圧の値を示す測定値データを生成する生成手順を順次行う測定処理を実行することで、該信号入力端子に入力された前記入力信号の電圧値を測定する測定部と、一端が前記測定経路に接続されると共に他端が基準電位に接続された検査コンデンサと、前記検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を前記変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、前記検査コンデンサと前記測定経路とを結ぶ検査経路を導通,遮断する検査スイッチと、前記測定部による前記測定処理に並行して、前記信号入力端子、或いは、該信号入力端子に接続される経路上の異常である端子異常を検出するための測定時異常検出処理を実行する制御部と、を備え、前記制御部は、前記測定時異常検出処理において、当該処理と並行して実行される前記測定処理の開始後から前記読取手順が終了するまでの間において、前記検査スイッチにより前記検査経路を遮断させ、前記充放電部により前記検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、該測定処理の前記読取手順の終了前に前記検査スイッチにより前記検査経路を導通させる導通手順と、を順次行い、前記測定時異常検出処理と並行して実行される前記測定処理にて生成されたデータに基づき、前記端子異常を検出すること、を特徴とする集積回路。特許文献1に記載の断線検出装置によれば、入力端子のオープンの検出が可能となるが、一定期間にわたりコンデンサに負の電圧を印加して該コンデンサに負の電圧を設定した後にAD変換を開始する必要があり、入力信号の電圧値の検知が遅延してしまう。本願発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、入力信号の電圧値の検知を遅延させること無く、入力信号が入力される信号入力端子のオープンや、入力信号を伝達させる伝達経路上の断線を検出することができる信号入力回路等を提供することを目的とする。上記課題に鑑みてなされた請求項1に記載の発明は、予め定められた変動範囲内で電圧値が変動する入力信号が信号入力端子を介して入力される測定装置が搭載された信号入力回路に関するものである。この信号入力回路は、測定装置の内部に設けられると共に、測定経路を介して信号入力端子に接続され、該測定経路の電圧を読み取る読取手順と、読み取った電圧の値を示す測定値データを生成する生成手順を順次行う測定処理を実行することで、該信号入力端子に入力された入力信号の電圧値を測定する測定部と、一端が測定経路に、他端が基準電位に接続される検査コンデンサと、測定装置内部に設けられ、検査コンデンサと測定経路とを結ぶ検査経路を導通,遮断する検査スイッチと、を備える。また、測定装置内部に設けられ、検査コンデンサを充放電することで、該検査コンデンサの両端を変動範囲内の電圧に設定する充放電部と、測定装置内部に設けられ、測定部による測定処理に並行して、信号入力端子、或いは、該信号入力端子に接続される経路上の異常である端子異常を検出するための測定時異常検出処理を実行する制御部と、を備える。そして、制御部は、測定時異常検出処理において、当該処理と並行して実行される測定処理の開始後から読取手順が終了するまでの間において、検査スイッチにより検査経路を遮断させ、充放電部により検査コンデンサの両端を予め定められた端子検査電圧値に設定する充放電手順と、該測定処理の読取手順の終了前に検査スイッチにより検査経路を導通させる導通手順と、を順次行い、測定時異常検出処理と並行して実行される測定処理にて生成されたデータに基づき、端子異常を検出する。なお、端子異常とは、例えば、信号入力端子のオープンや、測定経路や検査経路等といった、該入力信号を伝達させる伝達経路上の断線を意味する。まず、端子異常の検出について説明する。請求項1に記載の測定時異常検出処理では、充放電手順にて検査コンデンサが端子検査電圧値に設定され、その後、導通手順により、検査コンデンサと信号入力端子との間が導通される。このとき、端子異常が生じている場合には、検査コンデンサは測定装置の外部に導通されず、検査コンデンサの充放電が行われないため、測定経路の電圧値は、検査コンデンサにより生成される端子検査電圧値、或いはその付近の電圧値となる。一方、端子異常が生じていない場合には、検査コンデンサの充放電が行われ、測定経路の電圧値は、一時的に検査コンデンサにより生成される端子検査電圧値付近の値となるが、その後、入力信号の電圧値となる。したがって、測定部により測定された電圧値が端子検査電圧値或いはその付近の値かどうかを判定することで、端子異常の発生を検出することができる。なお、導通手順を行った後の測定経路の電圧値が端子検査電圧値周辺である場合には、端子異常が生じているとみなすことができる。このため、仮に、測定処理にて逐次変換方式のAD変換により電圧値が測定されている場合には、測定値データの生成の完了を待つ必要は無く、AD変換の途中で得られる所定ビット数分のデータに基づき端子異常の有無について判定することができる。したがって、端子異常の検出に係るデータとは、測定処理にて生成された測定値データ、或いは、AD変換の途中で得られる所定ビット数分のデータを意味し、該所定ビット数分のデータを用いることで、AD変換の完了を待つことなく、早期に端子異常を検出することができる。また、請求項1に記載の信号入力回路では、測定部と信号入力端子とが測定経路を介して接続されていると共に、検査コンデンサは検査経路を介して測定経路に接続されており、検査経路は検査スイッチにより導通,遮断される。このため、測定部と信号入力端子との間の接続状態を維持したまま検査経路を導通,遮断することができ、信号入力端子,測定経路を介して測定部に入力信号を入力させつつ、検査コンデンサの充放電を行うことができる。すなわち、測定処理の読取手順による入力信号の電圧の読み取りと、検査コンデンサの電圧の設定との同時進行が可能な構成となっており、制御部は、遅くとも読取手順の完了までに、検査コンデンサを端子検査電圧値に設定して検査コンデンサと測定経路とを導通させることで、測定処理と測定時異常検出処理とを並行して実行するのである。このように、請求項1に記載の信号入力回路では、入力信号の電圧値を測定する測定処理と並行して、端子異常を検出する測定時異常処理が実行される。したがって、該信号入力回路によれば、入力信号の電圧値の検知を遅延させること無く、信号入力端子のオープンや、該入力信号を伝達させる伝達経路上の断線を検出することができる。一方、仮に入力信号の電圧値が端子検査電圧値付近である場合には、端子異常が発生していなくても、測定時異常検出処理の導通手順を経た後の測定経路の電圧値は端子検査電圧値付近となる。そこで、請求項2に記載の信号入力回路では、制御部は、端子検査電圧値を第1端子検査電圧値とした測定時異常検出処理と、端子検査電圧値を、該第1検査電圧値とは異なる第2端子検査電圧値とした測定時異常検出処理とを実行し、これらの測定時異常検出処理と並行して実行される測定処理にて生成されたデータに基づき、端子異常を検出する。こうすることにより、第1端子検査電圧値での測定時異常検出処理を実行した後の測定経路の電圧値が第1端子検査電圧値の付近であり、尚且つ、第2端子検査電圧値での測定時異常検出処理を実行した後の測定経路の電圧値が第2端子検査電圧値の付近である場合に、端子異常が生じているとみなすことができる。このため、仮に、端子異常が生じていない場合に、入力信号の電圧値が第1端子検査電圧値付近、或いは第2端子検査電圧値付近となっていたとしても、端子異常が誤検出されてしまうことを防ぐことができる。また、入力信号の電圧値が緩やかに変動する場合には、現在の入力信号の電圧値を、直前の入力信号の測定値付近とみなすことができる。そこで、請求項3に記載の信号入力回路では、制御部は、端子検査電圧値を第1端子検査電圧値とした測定時異常検出処理と、端子検査電圧値を、該第1検査電圧値とは異なる第2端子検査電圧値とした測定時異常検出処理とを実行し、これらの測定時異常検出処理と並行して実行される測定処理にて生成されたデータに基づき、端子異常を検出する。こうすることにより、現在の入力信号の電圧値と端子検査電圧値との差分を十分な大きさにすることができ、1回の測定時異常検出処理で端子異常を検出することができる。なお、具体的には、請求項4に記載されているように、変動範囲内の電圧値である閾値が設定されていると共に、変動範囲内の電圧値であって、閾値を越える電圧値である第1端子検査電圧値と、変動範囲内の電圧値であって、閾値を下回る電圧値である第2端子検査電圧値とが設定されていても良い。そして、制御部は、前回値が閾値を越える場合には、端子検査電圧値を第2端子検査電圧値とした測定時異常検出処理を実行し、該前回値が閾値を下回る場合には、端子検査電圧値を第1端子検査電圧値とした測定時異常検出処理を実行しても良い。こうすることにより、現在の入力信号の電圧値と端子検査電圧値との差分を、確実に十分な大きさにすることができる。なお、請求項5に記載されているように、検査コンデンサは、測定装置の外部に設けられていても良い。こうすることにより、測定装置内部の寄生容量等に応じて、検査コンデンサの容量を容易に変更することができる。また、請求項6に記載されているように、検査コンデンサの容量は、測定装置内部に生じる寄生容量よりも十分大きくても良い。こうすることにより、端子検査電圧値が設定された検査コンデンサと測定経路とを導通させるに際して、寄生容量の影響による測定経路の電圧値の変化を抑えることができる。このため、端子異常が生じた場合に、測定時異常検出処理の導通手順により高い精度で測定経路を端子検査電圧値にすることができ、端子異常の検出精度を高めることができる。また、請求項7に記載されているように、一端が信号入力端子に接続されると共に、他端が基準電位に接続された入力側コンデンサをさらに備えていても良い。こうすることにより、端子異常が生じていない場合において、測定経路と基準電位との間の容量を大きくすることができ、導通手順を行うことによる測定経路の電圧値の変動を抑えることができる。このため、測定時異常検出処理の影響による入力信号の電圧値の測定誤差を抑えることができる。なお、請求項8に記載されているように、入力側コンデンサの容量は、検査コンデンサの容量よりも大きくても良い。こうすることにより、信号入力端子の電圧値の変化を抑えることができ、測定時異常検出処理の影響による入力信号の電圧値の変動を抑えることができる。ところで、入力側コンデンサが設けられていない場合には、端子検査電圧値に設定された検査コンデンサと測定経路とを導通させることで、測定経路の電圧値は一時的に端子検査電圧値付近まで変動する。一方、入力側コンデンサが設けられている場合には、測定経路と基準電位との間の容量が大きくなり、端子検査電圧値に設定された検査コンデンサと測定経路とを導通させた際の測定経路の電圧値の変動幅は、入力側コンデンサが設けられていない場合に比べ小さくなる。そこで、請求項9に記載の信号入力回路は、予め定められた期間において、測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知する電圧変化検知部をさらに備える。そして、制御部は、測定時異常検出処理において、さらに、電圧変化検知部により、導通手順が行われる前の第1時点から、該導通手順が行われた後の第2時点にかけて、測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知し、該測定時異常検出処理にて検知された測定経路の電圧値の変化に基づき、当該測定時異常検出処理にて検出される端子異常に係る信号入力端子に接続された入力側コンデンサについての異常を検出する。なお、測定経路の変動幅を検知する電圧変化検知部は、次のように構成されていても良い。すなわち、請求項10に記載されているように、電圧変化検知部は、測定経路の電圧値を保持する電圧値保持回路と、測定経路の電圧値と、電圧値保持回路に保持された電圧値との差分を検知し、該差分を保持する差分保持回路と、を備えても良い。そして、制御部は、測定時異常検出処理において、電圧値保持回路により第1時点の測定経路の電圧値を保持させると共に、差分保持回路により、電圧値保持回路に保持された電圧値と、第2時点の測定経路の電圧値の差分を保持させることで、第1時点と第2時点との間で測定経路の電圧値がどの程度変化したかを検知しても良い。こうすることにより、導通手順の前後で測定経路の電圧値がどの程度変動するかを検知すると共に、検知された変動幅が一定値以上である場合には入力側コンデンサの端子のオープンが生じているとみなすことができ、測定処理に並行して入力側コンデンサのオープンを検出することができる。しかしながら、入力信号の電圧値が端子検査電圧値に近い値である場合には、入力側コンデンサのオープンが生じていても、導通手順の前後で測定経路の電圧値が十分に変動せず、入力側コンデンサのオープンを検出することができない。そこで、請求項11に記載の信号入力回路では、制御部は、第1端子検査電圧値での電圧印加を伴う測定時異常検出処理において検知された測定経路の電圧値の変化と、第2端子検査電圧値での電圧印加を伴う測定時異常検出処理において検知された測定経路の電圧値の変化とに基づき、入力側コンデンサについての異常を検出する。こうすることにより、第1端子検査電圧値と第2端子検査電圧値のうちの一方については、入力信号の電圧値との差分を十分なものとすることができる。このため、入力側コンデンサのオープンが生じている場合には、第1端子検査電圧値での測定時異常検出処理と、第2端子検査電圧値での測定時異常検出処理のうちの少なくとも一方の導通手順の前後で、測定経路の電圧値を十分に変動させることができる。したがって、これらの測定時異常検出処理により検知された測定経路の電圧値の変化に基づき入力側コンデンサのオープンが生じているかについて判定することで、確実に入力側コンデンサのオープンを検出することができる。また、信号入力回路は、複数の入力信号が入力される多チャンネルの回路として構成されていても良い。すなわち、請求項12に記載されているように、測定装置には、異なる入力信号が入力される複数の信号入力端子が設けられており、それぞれの信号入力端子と測定経路との間を導通,遮断する選択スイッチをさらに備えても良い。そして、測定部は、いずれか一つの信号入力端子から入力された入力信号を測定対象とし、選択スイッチにより、該測定対象の入力信号が入力される信号入力端子と測定経路との間が導通されると共に、他の信号入力端子と測定経路との間が遮断された状態で、測定処理を実行し、制御部は、測定対象の入力信号が入力される信号入力端子についての測定時異常検出処理を実行しても良い。こうすることにより、測定装置に設けられた各信号入力端子についての端子異常等を検出することができる。ところで、検査コンデンサの電圧値を予め定められた検査電圧値に設定した後に、いずれかの信号入力端子と検査コンデンサとの間を導通させると、該信号入力端子に設けられた入力側コンデンサと検査コンデンサとの間で電荷の移動が生じ、該信号入力端子の電圧変化が生じる。ここで、測定装置の各信号入力端子には、入力側コンデンサと共にフィルタ回路を構成する入力側抵抗が設けられていても良く、このような入力側抵抗のオープンが生じていない場合には、検査コンデンサや入力側コンデンサと外部との間で電荷が移動するため、上記電圧変化が生じた後、信号入力端子の電圧値は入力信号の電圧値に戻る。これに対し、入力側抵抗のオープンが生じている場合には、外部との間で電荷の移動が生じず、変化後の電圧が維持される。このため、入力側抵抗のオープンが生じている場合に、検査コンデンサに検査電圧値を設定する処理と、該検査コンデンサといずれかの信号入力端子との間を導通させる処理とを繰り返すと、該信号入力端子の電圧が段階的に変化し、検査電圧値に近づく。したがって、これらの処理を繰り返した後の信号入力端子の電圧値を検知することで、入力側抵抗のオープンを検出することができる。しかしながら、入力信号の電圧値が検査電圧値付近である場合には、入力側抵抗のオープンが生じていない場合であっても、上記処理を繰り返した後には、信号入力端子は検査電圧値付近の電圧値となる。そこで、請求項13に記載の信号入力装置は、信号入力端子に接続され、該信号入力端子に接続された入力側コンデンサと共にフィルタ回路をなす入力側抵抗をさらに備え、制御部は、いずれか一つの信号入力端子に接続された入力側抵抗を検査対象として、該入力側抵抗についての異常である抵抗異常を検出するための抵抗異常検出処理をさらに実行する。そして、制御部は、抵抗異常検出処理において、検査スイッチと選択スイッチとにより、検査コンデンサと、検査対象の入力側抵抗に接続される信号入力端子との間を遮断させた後、充放電部により検査コンデンサの両端を予め定められた抵抗検査電圧値に設定し、その後、選択スイッチ及び検査スイッチにより、検査コンデンサと該信号入力端子との間を導通させる手順を複数回にわたり行う。さらに、制御部は、同一の入力側抵抗を検査対象として、抵抗検査電圧値を第1抵抗検査電圧値とした抵抗異常検出処理と、抵抗検査電圧値を、第1抵抗検査電圧値とは異なる第2抵抗検査電圧値とした抵抗異常検出処理とを実行し、各抵抗異常検出処理を実行した後に測定処理により測定された電圧値に基づき、抵抗異常を検出する。こうすることにより、第1抵抗検査電圧値での抵抗異常検出処理を実行した後の信号入力端子の電圧値が第1抵抗検査電圧値の付近であり、尚且つ、第2抵抗検査電圧値での抵抗異常検出処理を実行した後の信号入力端子の電圧値が第2抵抗検査電圧値の付近である場合に、入力側抵抗のオープンが生じているとみなすことができる。このため、仮に入力信号の電圧値が第1抵抗検査電圧値付近、或いは第2抵抗検査電圧値付近であったとしても、入力側抵抗のオープンが誤検出されてしまうことを防ぐことができる。ところで、検査スイッチのON固着が生じている場合には、検査コンデンサと検査経路とは同じ電圧値となる。そこで、請求項14に記載の信号入力回路では、制御部は、検査スイッチにより検査経路を遮断させた後に、充放電部により検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定し、測定部に測定処理を実行させる検査スイッチ異常検出処理をさらに実行し、該検査スイッチ異常検出処理での測定処理により測定された電圧値に基づき、検査スイッチの異常を検出する。こうすることにより、検査スイッチのON固着の検出が可能となる。また、請求項15に記載の信号入力回路では、制御部は、検査スイッチにより検査経路を遮断した状態で、充放電部により検査コンデンサの両端を予め定められた検査電圧値に設定し、その後、選択スイッチにより全ての信号入力端子と測定経路との間を遮断させた状態で、検査スイッチにより検査経路を導通させ、さらにその後、測定部に測定処理を実行させる充放電部異常検出処理をさらに実行する。そして、充放電部異常検出処理での測定処理により測定された電圧値に基づき、充放電部と、選択スイッチと、検査スイッチと、検査コンデンサとのうちの少なくともいずれか一つについての異常を検出する。すなわち、充放電部異常検出処理により検査経路が導通されると、正常時には、測定経路は検査電圧値となる。しかしながら、そもそも検査コンデンサに検査電圧値が設定されていない場合すなわち、充放電部や検査コンデンサに異常が生じている場合や、測定経路と外部入力端子とが導通されており、測定経路に入力信号が入力されている場合すなわち、選択スイッチのON固着が生じている場合には、測定経路は検査電圧値とならない。また、検査スイッチのOFF固着により検査コンデンサと測定経路とが導通されない場合においても、測定経路は検査電圧値とならない。このため、請求項15に記載の信号入力回路によれば、充放電部異常検出処理での測定処理により測定された電圧値と検査電圧値とを比較する等して、充放電部と、選択スイッチと、検査スイッチと、検査コンデンサとのうちの少なくともいずれか一つについての異常を検出することができる。また、端子異常等の検出機能を備えていない従来のADコンバータにより入力信号の電圧を高精度で測定するためには、例えば、一つの入力信号を少なくとも3つのADコンバータに入力して同時に3つ以上の測定値を取得し、これらの測定値から乖離した測定値を除くと共に、残った測定値の平均値を算出する等といった方法を採る必要がある。しかしながら、請求項1等に記載の測定装置によれば、端子異常等の検出結果に基づき、測定処理により得られた入力信号の電圧値が正確かどうかを判定することができる。そこで、請求項16に記載の信号入力回路は、測定装置を二つ備えると共に、測定装置での測定処理にて測定された電圧値に基づき処理を行う処理装置をさらに備え、処理装置は、いずれか一方の測定装置にて実行された異常検出処理にて異常が検出された場合には、他方の測定装置での測定処理にて測定された電圧値に基づき処理を行う。こうすることにより、一方の測定装置にて端子異常等が生じ、入力信号の電圧の正確な測定ができなくなった場合には、他方の測定装置から測定値を得ることができ、入力信号の電圧値を測定する装置の数を減らしつつ、高精度に入力信号の測定を行うことができる。また、請求項17に記載されているように、信号入力回路は、測定装置内部に設けられ、測定処理にて生成された測定値データと、該測定処理と並行して実行された測定時異常検出処理にて検出された異常を示すデータとを並行して送信する送信部をさらに備えていても良い。こうすることにより、測定値データを受け取る装置は、測定装置にて端子異常等が生じているかを把握することができ、端子異常等の発生の有無に基づき、受け取った測定値データが示す電圧値が正確かどうかを判定することができる。また、請求項18に記載されているように、信号入力回路は、測定値データと、該測定値データを生成した測定処理と並行して実行された測定時異常検出処理にて検出された端子異常の有無を示すデータとを保存する保存部をさらに備えていても良い。このような構成であっても、端子異常等の発生の有無に基づき、測定値データが示す電圧値が正確かどうかを判定することができる。なお、請求項5等に記載の信号入力回路に搭載された測定装置を集積回路として構成し、流通させても良い請求項19し、検査コンデンサが内蔵された請求項1等に記載の測定装置を集積回路として構成し、流通させても良い請求項20。このような集積回路を用いた場合であっても、同様の効果を得ることができる。以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明の実施の形態は、下記の実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の形態を採りうる。[構成の説明]図1は、本実施形態のセンサ信号入力回路100の構成を示すブロック図である。このセンサ信号入力回路100には、温度センサや車両のアクセルの操作状態を検知するスロットルセンサ等のように、測定対象の状態やユーザの操作に応じて0V~5Vの範囲で電圧値が変化するセンサ信号を生成する複数の第1~第Nセンサ200a~200cが接続されている。そして、センサ信号入力回路100は、これらのセンサから入力されたセンサ信号の電圧値をAD変換により検知すると共に、該電圧値に応じて当該回路に接続された外部装置250に各種信号を送信し、これらを制御するよう構成されている。具体的には、センサ信号入力回路100は、第1~第Nセンサ200a~200cや外部装置250を接続するコネクタ120と、コネクタ120を介して第1~第Nセンサ200a~200cから入力されたセンサ信号のノイズを除去するための第1~第Nフィルタ回路140a~140cと、センサ信号のAD変換を行うAD変換IC110と、を備える。また、センサ信号入力回路100は、AD変換IC110からシリアルバス170を介してセンサ信号の電圧値を取得し、該電圧値に基づき各種処理を実行するマイコン160と、マイコン160により生成された各種信号を外部装置250に送信するための出力ドライバ180とを備える。次に、図2のブロック図により、AD変換IC110周辺の構成や、AD変換IC110内部の構成について説明する。センサ信号入力回路100のコネクタ120には、第1~第Nセンサ200a~200cにそれぞれ接続された第1~第N外部入力端子120a~120cが設けられていると共に、AD変換IC110には、第1~第N外部入力端子120a~120cにそれぞれ接続された第1~第N信号入力端子111a~111cが設けられており、これらの端子を介してAD変換IC110にセンサ信号が入力される。また、第1フィルタ回路140aは、第1外部入力端子120aと第1信号入力端子111aとを結ぶライン上に設けられた入力側抵抗140a-1と、第1信号入力端子111aと基準電位との間に設けられた入力側コンデンサ140a-2を有しており、他のフィルタ回路もこれと同様に構成されている。なお、第1~第N外部入力端子120a~120cに接続された入力側コンデンサ,入力側抵抗を、それぞれ、C1x或いは、C11~C1N,R2x或いは、R21~R2Nとも記載する。また、センサ信号入力回路100は、一端がAD変換IC110の端子に、他端が基準電位に接続され、第1~第N信号入力端子111a~111c等の検査詳細については後述するに用いられる検査コンデンサ150を有している。また、AD変換IC110は、第1~第N信号入力端子111a~111cと信号ライン119dとの接続状態をそれぞれ制御する第1~第Nスイッチ114a~114c等から構成されるマルチプレクサ114MPXとも記載と、AD変換により0~5Vの範囲で信号ライン119dの電圧値を検知するADコンバータ116と、を有している。なお、ADコンバータ116には、信号ライン119dに接続されるサンプリングコンデンサ図示なしが設けられており、信号ライン119dを伝達する信号によりチャージされたサンプリングコンデンサの電圧値を逐次変換方式のAD変換により検知することで、信号ライン119dの電圧値が検知される。また、AD変換IC110は、サージ電流から回路を保護するため、第1信号入力端子111aとマルチプレクサ114との間に設けられた第1サージ保護回路119a-1を有している。第1サージ保護回路119a-1は、第1信号入力端子111aとマルチプレクサ114とを結ぶ第1入力ライン119aにアノードが接続され、5V電源にカソードが接続されたダイオードと、第1入力ライン119aにカソードが接続され、基準電位にアノードが接続されたダイオードとから構成されている。また、他の信号入力端子とマルチプレクサ114との間にも、同様に構成されたサージ保護回路が設けられている。また、AD変換IC110は、信号ライン119dと上述の検査コンデンサ150とを結ぶ検査ライン119e上に設けられ、該検査ライン119eを導通,遮断する検査スイッチ118と、検査コンデンサ150に電圧を印加する検査用電源117と、所定期間において信号ライン119dで電圧値がどの程度変化したかを検知する電圧変化検知回路112と、マルチプレクサ114,ADコンバータ116,検査用電源117,検査スイッチ118,電圧変化検知回路112を制御する制御回路115とを有している。なお、検査用電源117は、5V電源との接続状態を設定する5Vスイッチ117aと、基準電位との接続状態を設定する0Vスイッチ117bとから構成されており、これらのスイッチの一方をONすることで、5V或いは0Vの電圧が検査コンデンサ150に印加される。また、電圧変化検知回路112は、制御回路115からの判定電圧保持信号に応じて信号ライン119dの電圧値を保持するラッチ回路として構成された判定電圧保持回路112aと、判定電圧保持回路112aに保持された電圧値と信号ライン119dの電圧値との差分を検知する判定回路112bと、制御回路115からの判定結果保持信号に応じて判定回路112bにより検知された差分を判定結果保持値として保持する判定結果保持回路112cとを有している。また、AD変換IC110は、シリアルバス170を介してマイコン160と通信を行う通信部113が設けられている。通信部113は、ADコンバータにより検知されたセンサ信号の電圧値や、制御回路115により検出された各種異常詳細は後述するをマイコン160に送信する。また、AD変換IC110の内部では、第1~第N信号入力端子111a~111cと基準電位との間や、信号ライン119dと基準電位との間等に、5pF程度の容量の寄生容量110a~110dが生成される。なお、各信号入力端子に設けられた入力側コンデンサの容量は検査コンデンサ150の容量よりも大きく、一例として、入力側コンデンサの容量が0.1μF、検査コンデンサ150の容量が0.01μFであっても良い。また、第1~第N信号入力端子111a~111cをch1~chNとも記載する。[動作の説明][第1実施形態]次に、第1実施形態におけるセンサ信号入力回路100のAD変換IC110の動作について説明する。1概要についてAD変換IC110は、マイコン160からの指示に応じてch1~chNに入力されたセンサ信号の電圧値をAD変換により測定し、得られた測定値をマイコン160に送信するよう構成されている。また、AD変換IC110は、マイコン160からの指示に応じて行われるAD変換に並行して、AD変換の対象となるch信号入力端子のオープン、或いは該chから検査スイッチ118までの経路上の断線である端子異常の検出や、該chに設けられた入力側コンデンサのオープンC1x異常を検出するよう構成されている。また、AD変換の開始前や終了後に、マルチプレクサ114,検査用電源117,検査スイッチ118,基準電位,5V電源の異常SW等異常や、入力側抵抗のオープンR2x異常を検出するよう構成されている。以下では、これらの異常を検出する処理について説明する。2マイコン-AD変換IC間の通信についてまず、図3に記載のタイミングチャートを用いて、マイコン160とAD変換IC110との間の通信処理について説明する。図3のタイミングチャートは、AD変換IC110が、マイコン160から、AD変換等を指示するコマンド301を受信するタイミングと、AD変換IC110がこれらのコマンドに応じてAD変換等の処理302を実行するタイミングと、AD変換IC110からマイコン160に対し、AD変換で得られた測定値等を示す応答データ303を送信するタイミングとを示している。マイコン160は、AD変換IC110に対し、ch1~chNについてのAD変換を要求すると共に、R2x異常の検出を指示するコマンド301を4ms周期で送信する。なお、マイコン160は、各コマンド301においていずれか一つの入力側抵抗についてのR2x異常の検出を指示し、対象となる入力側抵抗は、R21~R2Nの順に循環的に切り替えられる。また、一例として、図3に記載されているように、R21異常の検出を指示するコマンド301aは、ch1~chNのAD変換を指示する測定指示コードからなるブロック301a-1と、R21異常の検出を指示するR2x異常検出指示コード301a-2から構成されており、他のコマンドもこれと同様に構成されている。また、AD変換IC110は、コマンド301の受信を開始すると、最初にSW等異常を検出するSW等異常検出処理を実行する図中ではSW等checkと記載。そして、各chについての測定指示コードを順次受信すると、受信した測定指示コードに対応するchのAD変換を行う図中ではchx測定と記載と共に、該AD変換に並行して、該chについての端子異常と、該chに設けられた入力側コンデンサについてのC1x異常を検出する測定時異常検出処理を実行する。さらに、chNのAD変換が終了すると、受信したR2x異常検出指示コードにて指示された入力側抵抗についてのR2x異常を検出する入力側抵抗異常検出処理を実行する。なお、SW等異常検出処理,測定時異常検出処理,入力側抵抗異常検出処理の詳細は後述する。そして、AD変換IC110は、各chについてのAD変換を終える度に、該chについての測定値データ等から構成される2バイトの測定データ図中ではchx測定と記載を生成し、ch1~chNの測定データを、応答データ303としてマイコン160に送信する。各測定データには、対応するchについての端子異常の有無とC1x異常の有無を示すデータが含まれると共に、AD変換の開始前に検出されたSW等異常の有無を示すデータと、以前に受信したコマンドに応じて実行された入力側抵抗異常検出処理で検出された該chについてのR2x異常の有無を示すデータが含まれている。また、今回受信したコマンドにより検出されたR2x異常の有無については、次に受信するコマンドに応じて送信される測定データに反映される。なお、一例として、応答データ303aにおけるch1に対応する測定データは、12ビットの測定値データ303a-1を有すると共に、ch1についての端子異常の有無を示す端子異常ビット303a-2と、C11異常の有無を示すC11異常ビット303a-3とを有する。また、SW等異常の有無を示すSW等異常ビット303a-5と、以前に受信したコマンドに応じて検出されたR21異常の有無を示すR21異常ビット303a-4とを有する。そして、他のchの測定データや、他の応答データを構成する測定データもまた、これと同様に構成されている。3端子異常及びC1x異常の検出について次に、第1実施形態における端子異常とC1x異常の検出について説明する。検査コンデンサ150を全てのchから遮断した状態で、検査コンデンサ150に対し、センサ信号の変動範囲内の検査電圧値を印加し、検査コンデンサ150の両端を検査電圧値に設定したチャージ処理と記載後に、検査コンデンサ150といずれかのchとを導通状態とする。このとき、信号ライン119dの電圧値が、検査コンデンサ150により生成される検査電圧値付近で保持される場合には、検査コンデンサ150の充放電が行われておらず、端子異常が生じていると考えられる。しかしながら、センサ信号自体が検査電圧値付近である場合には、端子異常が生じていなくても信号ライン119dが検査電圧値付近となるため、端子異常と断定することはできない。そこで、第1実施形態では、5Vと0Vの2種類の電圧値にてチャージ処理を実行した後に、検査コンデンサ150といずれかの対象chを導通状態とし、信号ライン119dの電圧値を検知する。そして、5Vでのチャージ処理の後と、0Vでのチャージ処理の後の双方において、信号ライン119dが検査電圧値となった場合には、端子異常が生じたものとみなすのである。また、チャージ処理の実行後に、検査コンデンサ150と対象chとを導通状態とすると、検査コンデンサ150の電荷の充放電が生じ、対象chの電圧が一時的に変動する。そして、C1xのオープンが生じている時には、正常時に比べて対象chの電圧の変動幅が大きくなるため、該変動幅に基づきC1x異常を検出することができる。しかしながら、センサ信号の電圧値が検査電圧値に近い場合には、C1xのオープンが生じていても十分な変動が生じず、C1x異常を検出することができない。そこで、第1実施形態では、5Vと0Vの2種類の電圧値にてチャージ処理を実行すると共に、各チャージ処理の実行後に、検査コンデンサ150と対象chを導通状態に設定し、該設定の前後における信号ライン119dの電圧値の変動幅を検出する。そして、変動幅が閾値を超える場合には、C1x異常が生じたものとみなすのである。既に述べたように、第1実施形態のAD変換IC110では、上述の端子異常の検出とC1x異常の検出を、AD変換と並行して実行する。図4に記載のタイミングチャートが示すように、AD変換IC110は、マイコン160からのコマンドの受信開始後、最初にSW等異常検出処理図中ではSW等checkと記載を実行する。その後、ch1~chNのAD変換図中ではchx測定と記載を順次行うと共に、AD変換に並行して、対象chについての端子異常とC1x異常を検出する測定時異常検出処理を実行する。第1実施形態では、この測定時異常検出処理として、5Vのチャージ処理を伴う第1測定時異常検出処理と、0Vのチャージ処理を伴う第2測定時異常検出処理とが実行される。AD変換IC110は、コマンド301を新たに受信する度に、第1測定時異常検出処理と第2測定時異常検出処理とを交互に切り替え、ch1~chNについての端子異常とC1x異常を検出する。そして、第1,第2測定時異常検出処理により2回連続して端子異常の可能性ありと判定された場合には、端子異常が生じているとみなす。一方、C1x異常に関しては、1回の測定時異常検出処理により検出される。4測定時異常検出処理について4-1概要について次に、第1,第2測定時異常検出処理の概要について、図5,6に記載のタイミングチャートを用いて説明する。図5には、第1測定時異常検出処理についてのタイミングチャートが記載されている。AD変換IC110は、マイコン160からのコマンドを受信すると、ADコンバータ116によりch1~chNのAD変換を行う。AD変換は、ADコンバータ116の内部に設けられたサンプリングコンデンサの電圧を0Vに設定する初期化と、マルチプレクサ114によりAD変換の対象chとサンプリングコンデンサを導通させ、サンプリングコンデンサを対象chの電圧値に設定するサンプリングと、逐次変換方式によりサンプリングコンデンサの電圧値を示す測定値データ12ビットを生成する比較の三つの手順により行われる。第1測定時異常検出処理では、AD変換における初期化の開始と共に一定期間にわたり検査用電源117の5Vスイッチ117aがONされ、検査コンデンサ150に5Vの電圧を印加する5Vチャージ処理が実行される詳細は後述する。そして、マルチプレクサ114における対象chに対応するスイッチがONされ、サンプリングが開始されると、その後、検査スイッチ118がONされ、検査コンデンサ150と信号ライン119dが導通される。さらに、サンプリングの終了と共に検査スイッチ118がOFFされ、検査コンデンサ150と信号ライン119dとが遮断される。ここで、端子異常が生じていない場合には、検査スイッチ118のONにより、検査コンデンサ150の電荷が放電されて信号ライン119dの電圧が一時的に上昇し、その後、該電圧は対象chから入力されるセンサ信号の電圧値となる。このため、サンプリングコンデンサは、センサ信号の電圧値となる。一方、端子異常が生じている場合には、検査コンデンサ150により信号ライン119dの電圧値は5V或いは5V付近となり、サンプリングコンデンサは5V或いは5V付近に設定される。このため、比較において5V或いは5V付近の電圧値が検知された場合には、端子異常の可能性有りと判定し、対象chについて直前に実行された第2測定時異常検出処理において既に端子異常の可能性有りと判定されている場合には、端子異常が生じているものとみなされる。なお、端子異常の有無について判定する上では、サンプリングコンデンサの電圧値が少なくとも5V近辺であることを検知すれば良い。このため、比較により12ビット分の測定値データが生成されるのを待つ必要は無く、6ビット分の測定値データが生成された時点で端子異常の可能性について判定される。一方、検査スイッチ118がONされる直前に、制御回路115から電圧変化検知回路112に対し判定電圧保持信号が出力されると共に、検査スイッチ118がONされた直後に、制御回路115から電圧変化検知回路112に対し判定結果保持信号が出力され、電圧変化検知回路112により、検査スイッチ118がONされる前後で変化した信号ライン119dの電圧値判定結果保持値が検知される。そして、この判定結果保持値が閾値一例として2.5Vを超えるか否かにより、対象chについてのC1x異常が検出される。また、図6には、第2測定時異常検出処理についてのタイミングチャートが記載されている。第2測定時異常検出処理では、AD変換の初期化の開始と共に一定期間にわたり検査用電源117の0VSW117bがONされ、検査コンデンサ150に0Vの電圧を印加する0Vチャージ処理が実行される。その後、同様にして端子異常の可能性について判定されると共に、第1測定時異常検出処理と同様にしてC1x異常が検出される。4-2詳細についてまず、検査コンデンサ150に5V或いは0Vの電圧を印加することで、検査コンデンサ150の電圧値を5V或いは0Vに設定する5Vチャージ処理,0Vチャージ処理について、図7a,bに記載のフローチャートを用いて説明する。これらの処理は、異常検出を行う際にAD変換IC110の制御回路115により実行される処理である。a5Vチャージ処理についてS305では、AD変換IC110の制御回路115は、マルチプレクサ114のスイッチを全てOFFとし、全chと信号ライン119dとの間の接続状態を遮断状態に設定する。そして、S310に処理を移行する。S310では、制御回路115は、検査スイッチ118をOFFとし、信号ライン119dと検査コンデンサ150との間の接続状態を遮断状態に設定する。そして、S315に処理を移行する。S315では、制御回路115は、検査用電源117の5Vスイッチ117aをON、0Vスイッチ117bをOFFとし、検査コンデンサ150に5Vの電圧を印加する。そして、S320に処理を移行する。S320では、制御回路115は、電圧の印加の開始後、所定時間が経過したか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS320:Yes、S325に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS320:No、S320に処理を移行する。S325では、制御回路115は、5Vスイッチ117aをOFFとして検査コンデンサ150への電圧の印加を終了し、本処理を終了する。b0Vチャージ処理について0Vチャージ処理は5Vチャージ処理と類似した処理であるので、5Vチャージ処理との相違点を中心に説明する。0Vチャージ処理では、5Vチャージ処理のS305~S325にそれぞれ相当するS330~S350が行われる。5Vチャージ処理のS315に相当するS340では、制御回路115は、検査用電源117の5Vスイッチ117aをOFF、0Vスイッチ117bをONとし、検査コンデンサ150に0Vの電圧を印加する。そして、S345に処理を移行する。また、5Vチャージ処理のS325に相当するS350では、制御回路115は、0Vスイッチ117bをOFFとして検査コンデンサ150への電圧の印加を終了し、本処理を終了する。なお、S340,S350以外では、5Vチャージ処理における対応するステップと同様の処理が行われる。c第1測定時異常検出処理の詳細について次に、第1測定時異常検出処理の詳細について、図8aに記載のフローチャートを用いて説明する。既に述べたように、本処理は、AD変換に並行して制御回路115により実行される処理である。S401では、制御回路115は、5Vチャージ処理を実行して検査コンデンサ150の電圧を5Vに設定する。なお、本ステップは、AD変換の初期化の開始時に行われる。そして、S402に処理を移行する。S402では、制御回路115は、本処理と並行して行われるAD変換の対象chに接続されたマルチプレクサ114のスイッチをONとして対象chと信号ライン119dとの間の接続状態を導通状態に設定し、AD変換におけるサンプリングが開始される。そして、S403に処理を移行する。S403では、制御回路115は、判定電圧保持信号を出力し、判定電圧保持回路112aに信号ライン119dの電圧値を保持させる。そして、S404に処理を移行する。S404では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S405に処理を移行する。S405では、制御回路115は、判定結果保持回路112cに対して判定結果保持信号を出力し、判定回路112bにより検知された信号ライン119dの電圧値と判定電圧保持回路112aに保持された電圧値との差分判定結果保持値を、判定結果保持回路112cに保持させる。そして、S406に処理を移行する。S406では、制御回路115は、判定結果保持回路112cに保持された判定結果保持値が、予め定められた閾値を超えるか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS406:Yes、S407に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS406:No、S408に処理を移行する。S407では、制御回路115は、対象chのC1xのオープンが生じているとみなし、S408に処理を移行する。S408では、制御回路115は、検査スイッチ118,マルチプレクサ114の全スイッチをOFFし、S409に処理を移行する。なお、本処理は、ADコンバータ116でのAD変換のサンプリングが終了するタイミングで行われる。S409では、制御回路115は、ADコンバータ116でのAD変換の比較において、6ビット分の測定値データが生成されたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS409:Yes、S410に処理を移行し、否定判定が得られた場合にS409:No、S409に処理を移行する。S410では、制御回路115は、ADコンバータ116から6ビット分の測定値データを取得し、S411に処理を移行する。S411では、制御回路115は、取得した測定値データに基づき、信号ライン119dの電圧値が5V付近か否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS411:Yes、対象chについての端子異常の可能性有りとみなし、S412に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS411:No、本処理を終了する。S412では、制御回路115は、直前に実行された対象chについての第2測定時異常検出処理において、端子異常の可能性有りと判定されたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS412:Yes、S413に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS412:No、本処理を終了する。S413では、制御回路115は、端子異常、或いは、対象chに接続されるマルチプレクサ114のスイッチのOFF固着が発生したものとみなし、本処理を終了する。d第2測定時異常検出処理の詳細について次に、第2測定時異常検出処理の詳細について説明する。第2測定時異常検出処理は、図8bに記載のフローチャートが示すように、第1測定時異常検出処理とほぼ同様の処理となっているため、相違点を中心に説明する。第2測定時異常検出処理では、第1測定時異常検出処理のS401~S413にそれぞれ相当するS421~S433が行われる。第1測定時異常検出処理のS401に相当するS421では、制御回路115は、0Vチャージ処理を実行して検査コンデンサ150の電圧を0Vに設定する。なお、本ステップは、AD変換の初期化の開始時に行われる。そして、S422に処理を移行する。第1測定時異常検出処理のS411に相当するS431では、制御回路115は、取得した測定値データに基づき、信号ライン119dの電圧値が0V付近か否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS431:Yes、対象chについての端子異常の可能性有りとみなし、S432に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS431:No、本処理を終了する。第1測定時異常検出処理のS412に相当するS432では、制御回路115は、直前に実行された対象chについての第1測定時異常検出処理において、端子異常の可能性有りと判定されたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS432:Yes、S433に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS432:No、本処理を終了する。5SW等異常検出処理について次に、マルチプレクサ114,検査用電源117,検査スイッチ118,基準電位,5V電源の異常であるSW等異常を検出するSW等異常検出処理について、図9に記載のフローチャートを用いて説明する。既に述べたように、本処理は、マイコン160からのコマンドを受信した後に、AD変換IC110の制御回路115により実行される処理である。S501では、制御回路115は、5Vチャージ処理を実行し、S502に処理を移行する。S502では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S503に処理を移行する。S503では、制御回路115は、検知した電圧値が5V或いは5V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS503:Yes、S504に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS503:No、S508に処理を移行する。S504では、制御回路115は、0Vチャージ処理を実行し、S505に処理を移行する。S505では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S506に処理を移行する。S506では、制御回路115は、検知した電圧値が0V或いは0V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS506:Yes、S507に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS506:No、S508に処理を移行する。S507では、制御回路115は、検査スイッチ118のON固着が生じているとみなし、本処理を終了する。S508では、制御回路115は、5Vチャージ処理を実行し、S509に処理を移行する。S509では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S510に処理を移行する。S510では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S511に処理を移行する。S511では、制御回路115は、検知した電圧値が5V或いは5V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS511:Yes、S512に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS511:No、S517に処理を移行する。S512では、制御回路115は、0Vチャージ処理を実行し、S513に処理を移行する。S513では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S514に処理を移行する。S514では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S515に処理を移行する。S515では、制御回路115は、検知した電圧値が0V或いは0V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS515:Yes、本処理を終了し、否定判定が得られた場合にはS515:No、S516に処理を移行する。S516では、制御回路115は、検査用電源117の異常5Vスイッチ117aのON固着,0Vスイッチ117bのOFF固着,基準電位の異常のうちの少なくとも一つが生じているとみなし、本処理を終了する。S511にて否定判定が得られた場合に移行するS517では、制御回路115は、0Vチャージ処理を実行し、S518に処理を移行する。S518では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S519に処理を移行する。S519では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S520に処理を移行する。S520では、制御回路115は、検知した電圧値が0V或いは0V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS520:Yes、S521に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS520:No、S522に処理を移行する。S521では、制御回路115は、検査用電源117の異常5Vスイッチ117aのOFF固着,0Vスイッチ117bのON固着,5V電源の異常のうちの少なくとも一つが生じているとみなし、本処理を終了する。一方、S522では、制御回路115は、検査スイッチ118のOFF固着,検査コンデンサ150のオープン,マルチプレクサ114のスイッチのON固着のうちの少なくとも一つが生じているとみなし、本処理を終了する。6入力側抵抗異常検出処理について次に、入力側抵抗のオープンR2x異常を検出する入力側抵抗異常検出処理について説明する。センサ信号入力回路100のAD変換IC110では、5Vチャージ処理或いは0Vチャージ処理を実行した後に、いずれかのchと検査コンデンサ150との間を導通状態に設定する処理導通処理と記載が実行されると、該chに接続されたC1xと検査コンデンサ150との間で電荷の移動が生じ、該chの電圧が変化する。そして、正常時にはセンサ信号入力回路100の外部との間で電荷が移動するため、該chの電圧値はセンサ信号の電圧値となるが、R2x異常が生じている場合には、外部との間で電荷の移動が生じず、変化後の電圧が維持される。このため、R2x異常が生じている場合に5Vチャージ処理等と導通処理とを繰り返すと、chの電圧値が段階的に変化し、5V或いは0Vに近づく。ここで、センサ信号の電圧値が5V付近或いは0V付近である場合には、R2x異常が生じていない場合であっても、上記処理を繰り返した後のchの電圧値は、5V付近或いは0V付近となる。そこで、センサ信号入力回路100は、5Vチャージ処理と導通処理とを複数回にわたり実行した後の信号入力端子の電圧値が5V付近であり、尚且つ、0Vチャージ処理と導通処理とを複数回にわたり実行した後に信号入力端子の電圧値が0V付近である場合に、R2x異常が発生したものとみなす入力側抵抗異常検出処理を実行する。次に、入力側抵抗異常検出処理の詳細について、図10に記載のフローチャートを用いて説明する。なお、既に述べたように、本処理は、マイコン160からのコマンドに応じてch1~chNのAD変換が行われた後に、該コマンドにより指定された入力側抵抗を検査対象としてAD変換IC110の制御回路115により実行される処理である。S605では、制御回路115は、5Vチャージ処理を実行し、S610に処理を移行する。S610では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S615に処理を移行する。S615では、制御回路115は、検査対象の入力側抵抗に繋がるchに接続されたマルチプレクサ114のスイッチをONとし、S620に処理を移行する。S620では、制御回路115は、5Vチャージ処理の実行回数が予め定められた閾値を超えたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS620:Yes、S625に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS620:No、S605に処理を移行する。S625では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S630に処理を移行する。S630では、制御回路115は、検知した電圧値が5V或いは5V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS630:Yes、S635に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS630:No、S670に処理を移行する。S635では、制御回路115は、0Vチャージ処理を実行し、S640に処理を移行する。S640では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S645に処理を移行する。S645では、制御回路115は、検査対象の入力側抵抗に繋がるchに接続されたマルチプレクサ114のスイッチをONとし、S650に処理を移行する。S650では、制御回路115は、0Vチャージ処理の実行回数が予め定められた閾値を超えたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS650:Yes、S655に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS650:No、S635に処理を移行する。S655では、制御回路115は、ADコンバータ116にAD変換を行わせ、信号ライン119dの電圧を検知する。そして、S660に処理を移行する。S660では、制御回路115は、検知した電圧値が0V或いは0V付近の値であるかを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS660:Yes、S665に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS660:No、S670に処理を移行する。S665では、制御回路115は、検査対象の入力側抵抗のオープンR2x異常が生じているとみなし、本処理を終了する。一方、S670では、制御回路115は、検査対象の入力側抵抗の異常は無いものとみなし、本処理を終了する。[第2実施形態]次に、第2実施形態におけるセンサ信号入力回路100のAD変換IC110の動作について説明する。1概要についてまず、第2実施形態におけるAD変換IC110の動作の概要について、図11に記載のタイミングチャートを用いて説明する。第2実施形態においても、マイコン160は、AD変換IC110に対し、4ms周期で第1実施形態と同様のコマンドを送信する。そして、コマンドを受信したAD変換IC110は、第1実施形態と同様に、最初にSW等異常検出処理を実行し図中ではSW等checkと記載、その後、各chについての測定指示コードを順次受信すると、対応するchのAD変換を行う図中ではchx測定と記載する。そして、chNのAD変換が終了すると、コマンドの一部を構成するR2x異常検出指示コードにて指定された入力側抵抗についての入力側抵抗異常検出処理を実行する。なお、SW等異常検出処理,入力側抵抗異常検出処理は、第1実施形態と同様の処理となっており、詳細な説明は省略する。また、AD変換IC110では、第1実施形態と同様、またch1~chNのAD変換に並行して、AD変換の対象chについての端子異常と、対象chに設けられた入力側コンデンサについてのC1x異常を検出する測定時異常検出処理が実行されるが、第2実施形態の測定時異常検出処理は、第1実施形態と相違点を有している。第1実施形態では、センサ信号の電圧値が、5Vチャージ処理等により検査コンデンサ150に設定される電圧値付近である場合に端子異常が誤検出されるのを防ぐため、5Vチャージ処理を伴う第1測定時異常検出処理と、0Vチャージ処理を伴う第2測定時異常検出処理とが交互に実行されていた。そして、2回連続して端子異常の可能性ありと判定された場合に端子異常が生じたものとみなされていた。これに対し、第2実施形態では、現在のセンサ信号は、直前に実行された対象chについてのAD変換で得られた測定値前回値近辺の電圧値を有しているとみなし、前回値とは異なる電圧値を検査コンデンサ150に設定することで、1回の測定時異常検出処理で端子異常を検出しており、この点において第1実施形態と相違している。2測定時異常検出処理についてa概要について第2実施形態の測定時異常検出処理の概要について、図12に記載のタイミングチャートを用いて説明する。第2実施形態では、既に述べたように、直前に行われたAD変換で得られた対象chの測定値に応じて、5Vチャージ処理或いは0Vチャージ処理の一方が実行され、1回の測定時異常検出処理により端子異常が検出される。すなわち、第2実施形態の測定時異常検出処理は、第1実施形態と同様のAD変換に並行して実行され、第1実施形態と同様のタイミングで、マルチプレクサ114,検査スイッチ118が設定される。また、5Vスイッチ117aと0Vスイッチ117bの一方が第1実施形態と同様に初期化の開始タイミングでONされ、比較で生成された測定値データに基づき、対象chの端子異常が検出される。ここで、第2実施形態では、直前に実行された対象chのAD変換での測定値前回値が2.5V未満である場合には、5Vスイッチ117aがONされるすなわち、5Vチャージ処理が実行されると共に、前回値が2.5V以上である場合には、0Vスイッチ117bが選択されるすなわち、0Vチャージ処理が実行される。つまり、現在のセンサ信号の電圧値は前回値付近であるとみなし、前回値との間に十分な差分を有する電圧値を検査コンデンサ150に設定することで、1回の測定時異常検出処理による端子異常の検出を可能としたのである。また、これにより、現在のセンサ信号の電圧値と検査コンデンサ150に設定される電圧値との差分が2.5V以上となるため、C1xのオープンが生じている際には、検査スイッチ118をONした際に信号ライン119dの電圧値が十分に変動する。このため、第1実施形態と同様にして、検査スイッチ118をONする前後の信号ライン119dの電圧値の変化が閾値以上である場合に、C1x異常が生じたとみなされる。b詳細について次に、第2実施形態の測定時異常検出処理の詳細について、図13に記載のフローチャートを用いて説明する。既に述べたように、本処理は、AD変換に並行して制御回路115により実行される処理である。S701では、制御回路115は、AD変換の対象chに関して、前回値が2.5V未満か否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS701:Yes、S702に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS701:No、S722に処理を移行する。S702では、制御回路115は、5Vチャージ処理を実行する。なお、本ステップは、AD変換の初期化の開始時に行われる。そして、S703に処理を移行する。S703では、制御回路115は、AD変換の対象chに接続されたマルチプレクサ114のスイッチをONとし、AD変換におけるサンプリングが開始される。そして、S704に処理を移行する。S704では、制御回路115は、判定電圧保持信号を出力し、判定電圧保持回路112aに信号ライン119dの電圧値を保持させる。そして、S705に処理を移行する。S705では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S706に処理を移行する。S706では、制御回路115は、判定結果保持回路112cに対して判定結果保持信号を出力し、判定回路112bにより検知された信号ライン119dの電圧値と判定電圧保持回路112aに保持された電圧値との差分判定結果保持値を、判定結果保持回路112cに保持させる。そして、S707に処理を移行する。S707では、制御回路115は、判定結果保持回路112cに保持された判定結果保持値が、予め定められた閾値を超えるか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS707:Yes、S708に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS707:No、S709に処理を移行する。S708では、制御回路115は、対象chの入力側コンデンサのオープンC1x異常が生じているとみなし、S709に処理を移行する。S709では、制御回路115は、検査スイッチ118,マルチプレクサ114の全スイッチをOFFし、S710に処理を移行する。なお、本処理は、ADコンバータ116でのAD変換のサンプリングが終了するタイミングで行われる。S710では、制御回路115は、ADコンバータ116でのAD変換の比較において、6ビット分の測定値データが生成されたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS710:Yes、S711に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS710:No、S710に処理を移行する。S711では、制御回路115は、ADコンバータ116から6ビット分の測定値データを取得し、S712に処理を移行する。S712では、制御回路115は、取得した測定値データに基づき、信号ライン119dの電圧値が5V付近か否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS712:Yes、S713に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS712:No、本処理を終了する。S713では、制御回路115は、対象chについての端子異常、或いは、対象chに接続されるマルチプレクサ114のスイッチのOFF固着が発生したものとみなし、本処理を終了する。一方、S701にて否定判定が得られた場合に移行するS722では、制御回路115は、0Vチャージ処理を実行する。なお、本ステップは、AD変換の初期化の開始時に行われる。そして、S723に処理を移行する。S723では、制御回路115は、AD変換の対象chに接続されたマルチプレクサ114のスイッチをONとし、AD変換におけるサンプリングが開始される。そして、S724に処理を移行する。S724では、制御回路115は、判定電圧保持信号を出力し、判定電圧保持回路112aに信号ライン119dの電圧値を保持させる。そして、S725に処理を移行する。S725では、制御回路115は、検査スイッチ118をONとし、S726に処理を移行する。S726では、制御回路115は、判定結果保持回路112cに対して判定結果保持信号を出力し、判定回路112bにより検知された信号ライン119dの電圧値と判定電圧保持回路112aに保持された電圧値との差分判定結果保持値を、判定結果保持回路112cに保持させる。そして、S727に処理を移行する。S727では、制御回路115は、判定結果保持回路112cに保持された判定結果保持値が、予め定められた閾値を超えるか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS727:Yes、S728に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS727:No、S729に処理を移行する。S728では、制御回路115は、対象chの入力側コンデンサのオープンC1x異常が生じているとみなし、S729に処理を移行する。S729では、制御回路115は、検査スイッチ118,マルチプレクサ114の全スイッチをOFFし、S730に処理を移行する。なお、本処理は、ADコンバータ116でのAD変換のサンプリングが終了するタイミングで行われる。S730では、制御回路115は、ADコンバータ116でのAD変換の比較において、6ビット分の測定値データが生成されたか否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS730:Yes、S731に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS730:No、S730に処理を移行する。S731では、制御回路115は、ADコンバータ116から6ビット分の測定値データを取得し、S732に処理を移行する。S732では、制御回路115は、取得した測定値データに基づき、信号ライン119dの電圧値が0V付近か否かを判定する。そして、肯定判定が得られた場合にはS732:Yes、S733に処理を移行し、否定判定が得られた場合にはS732:No、本処理を終了する。S733では、制御回路115は、対象chについての端子異常が発生したものとみなし、本処理を終了する。[第3実施形態]次に、第3実施形態におけるセンサ信号入力回路100のAD変換IC110の動作について、図14,15に記載のタイミングチャートを用いて説明する。第3実施形態においても、マイコン160は、AD変換IC110に対し、4ms周期でコマンド311を送信する。図14に記載されているように、第3実施形態のコマンド311は、第1,第2実施形態とは異なり、ch1~chNのAD変換を指示する測定指示コード図中ではchx要求と記載から構成されている。そして、コマンド311を受信したAD変換IC110は、処理312を実行する。具体的には、AD変換IC110は、第1,第2実施形態と同様に、最初にSW等異常検出処理を実行し図中ではSW等checkと記載、その後、各chについての測定指示コードを順次受信すると、対応するchのAD変換を行う図中ではchx測定と記載。そして、第1実施形態と同様に、AD変換に並行して第1測定時異常検出処理と第2測定時異常検出処理とを交互に実行すると共に、第1実施形態とは異なり、測定時異常検出処理の終了後に、AD変換の対象chについての入力側抵抗異常検出処理を実行する図15参照。なお、第1測定時異常検出処理,第2測定時異常検出処理,SW等異常検出処理,入力側抵抗異常検出処理は、第1実施形態と同様の処理となっており、詳細な説明は省略する。また、AD変換IC110は、AD変換及び測定時異常検出処理と、対象chについての入力側抵抗異常検出処理を終えると、対象chについての測定値データ等から構成される2バイトの測定データ図中ではchx測定と記載を生成し、ch1~chNの測定データを、応答データ313としてマイコン160に送信する。各測定データには、対応するchについての端子異常の有無,C1x異常の有無,R2x異常の有無を示すデータが含まれると共に、AD変換の開始前に検出されたSW等異常の有無を示すデータが含まれている。なお、一例として、応答データ313aにおけるch1に対応する測定データは、12ビットの測定値データ313a-1を有する。また、ch1についての端子異常の有無を示す端子異常ビット313a-2と、C11異常の有無を示すC11異常ビット313a-3と、R21異常の有無を示すR21異常ビット313a-4を有している。また、AD変換の開始前に検出されたSW等異常の有無を示すSW等異常ビット313a-5を有する。そして、他のchの測定データや、他の応答データを構成する測定データもまた、これと同様に構成されている。[効果]本実施形態のセンサ信号入力回路100に搭載されたAD変換IC110によれば、AD変換と測定時異常検出処理とが並行して実行され、センサ信号の電圧の測定と、端子異常やC1x異常の検出とが同時に行われる。したがって、本実施形態のセンサ信号入力回路100によれば、センサ信号の電圧値の検知を遅延させること無く、端子異常やC1x異常を検出することができる。[他の実施形態]1第1~第3実施形態では、測定時異常検出処理において、AD変換の初期化の期間中に5Vチャージ処理或いは0Vチャージ処理が実行されるが、5Vチャージ処理等の実行タイミングは、これに限定されることは無く、サンプリングの開始時期をまたいで5Vチャージ処理等を実行しても良い。このような場合であっても、同様の効果を得ることができる。2第1~第3実施形態では、検査コンデンサ150がAD変換IC110の外部に設けられているが、検査コンデンサ150をAD変換IC110に内蔵させた場合であっても、同様の効果を得ることができる。また、異常検出を行うために検査コンデンサ150に設定される電圧は0V或いは5Vとなっているが、これに限定されることは無く、センサ信号の変動範囲内で変更することができる。また、C1xの容量は0.1μF、検査コンデンサ150の容量は0.01μFとなっているが、これに限定されることは無く、異なる値が設定されている場合であっても同様の効果を得ることができる。3また、第1~第3実施形態では、N個のセンサ信号が入力される多チャンネルの構成となっているが、これに限定されることは無く、一つの信号が入力されるよう構成されていても良い。このような場合であっても、同様の効果を得ることができる。4端子異常等の検出機能を備えていない従来のADコンバータを用いる場合には、正確な測定値を得るためには、例えば、一つのセンサ信号を少なくとも3つのADコンバータに入力して該センサ信号について同時に三つの測定値を得ると共に、得られた測定値から乖離した測定値を除き、残った測定値の平均値を算出する等といった方法を採る必要がある。しかしながら、本実施形態のAD変換IC110によれば、端子異常等の検出結果に基づき、正確な測定値が得られたかどうかを判定することができる。このため、図16のブロック図に記載されているように、第1~第3実施形態と同様のAD変換IC110を二つ備えると共に、これらのAD変換ICに接続された一つのマイコン160とを備えるセンサ信号入力回路100を構成し、マイコン160にて端子異常等が生じているAD変換IC110から得た測定値を破棄しても良い。こうすることにより、ADコンバータの数を減らしつつ、センサ信号の正確な電圧値を得ることができる。5また、第1~第3実施形態では、AD変換IC110を例に挙げて説明したが、同様の構成をマイコン等に適用しても良い。このような場合であっても、同様の効果を得ることができる。また、一例として、第1~第3実施形態と同様の構成をマイコンに適用した場合には、ch1~chNについてのAD変換により得られた測定値データと、各測定値データの生成の際に検出された端子異常,C1x異常,SW等異常,R2x異常の有無を示すデータとを関連付けてレジスタ請求項18の保存部に相当に保存しても良い。そして、図17のフローチャートに記載されているように、該マイコンのCPUは、特定のchの測定値データを取得するAD変換結果取得処理において、レジスタを参照して該chに対応する端子異常等の有無を判定しS805、端子異常等が発生していない場合には、測定値データをレジスタから読み出すと共にS815、端子異常等が発生している場合には、フェールセーフ処理を実行しても良いS810。こうすることにより、第1~第3実施形態と同様の構成をマイコンに適用した場合に、確実に端子異常等に対処することが可能となる。[特許請求の範囲との対応]上記実施形態の説明で用いた用語と、特許請求の範囲の記載に用いた用語との対応を示す。センサ信号入力回路100が信号入力回路に、AD変換IC110が測定装置,集積回路に、ADコンバータ116が測定部に、制御回路115が制御部に、検査用電源117が充放電部に、マルチプレクサ114が選択スイッチに、マイコン160が処理装置に、通信部113が送信部に相当する。また、電圧変化検知回路112が電圧変化検知部に相当すると共に、判定電圧保持回路112aが電圧値保持回路に、判定回路112b及び判定結果保持回路112cが差分保持回路に相当する。また、信号ライン119dが測定経路に、検査ライン119eが検査経路に、センサ信号が入力信号に相当する。また、AD変換が測定処理に、AD変換における初期化,サンプリングが読取手順に、比較が生成手順に相当する。また、第1実施形態における第1測定時異常検出処理のS401,第2測定時異常検出処理のS421,第2実施形態における測定時異常検出処理のS702,S722が、充放電手順に相当する。また、第1実施形態における第1測定時異常検出処理のS404,第2測定時異常検出処理のS424,第2実施形態における測定時異常検出処理のS705,S725が、導通手順に相当する。また、入力側抵抗異常検出処理が抵抗異常検出処理に相当する。また、SW等異常検出処理S501~S507が検査スイッチ異常検出処理に、S508~S522が充放電部異常検出処理に相当する。また、C1x異常が入力側コンデンサについての異常に、R2x異常が抵抗異常に相当する。"