"放射線源から放射され、シート状の試料を透過してくる放射線を前記試料の流れ方向に対して直角に配置されたライン状放射線検出器により検出し、坪量の測定を行う放射線検査装置において、前記放射線源またはライン状放射線検出器または試料の少なくとも一つを一時的に移動させ、前記放射線源とライン状放射線検出器の間から前記試料を除去した後、前記放射線源とライン状放射線検出器の少なくとも一つを移動させた場合は元の位置に移動させ、放射線源とライン状放射線検出器間の空気層を測定するように構成したことを特徴とする放射線検査装置。前記ライン状放射線検出器の片側に回動機構を設けるとともに前記シート状の試料を前記放射線源に対して垂直方向に移動させる移動手段を設けたことを特徴とする請求項1記載の放射線検査装置。前記シート状の試料を前記放射線源に対して垂直方向に移動させるに際しては前記シート状の試料の幅に直行し、かつ前記ライン状放射線検出器を挟んで配置された一対の試料支持手段により移動させることを特徴とする請求項2記載の放射線検査装置前記回動機構は前記試料支持手段により垂直方向に移動したシート状の試料が少なくとも前記ライン状放射線検出器に接触しない程度の角度まで回動し、前記シート状の試料が移動した後はもとの位置に戻り、前記放射線源と前記ライン状放射線検出器の間の空気層を測定するように構成したことを特徴とする請求項2記載の放射線検査装置。前記ライン状放射線検出器を前記シート状の試料に対して直角方向に水平に移動させる移動機構と、前記試料を前記放射線源に対して垂直方向に移動させる移動手段を設けたことを特徴とする請求項1記載の放射線検査装置。前記シート状の試料を前記放射線源に対して垂直方向に移動させるに際しては前記シート状の試料の幅に直行し、かつ前記ライン状放射線検出器を挟んで配置された一対の試料支持手段により移動させることを特徴とする請求項5記載の放射線検査装置。前記ライン状放射線検出器を前記試料に対して直角方向に水平に移動させるに際しては前記試料の全幅に渡って移動させ、試料支持手段により垂直方向に移動した試料が少なくとも前記ライン状放射線検出器に接触しない程度まで移動させると共に試料が移動した後はもとの位置に戻り、前記放射線源と前記ライン状放射線検出器の間の空気層を測定するように構成したことを特徴とする請求項5または6記載の放射線検査装置。ところで、短期-中期にかけての測定精度に一番影響を与える空気層の変化に対して、通常は、数時間おきに退避校正動作を行えば大きな問題は生じない。しかし、図3bに示すような全面測定型の場合には、設置面積が大きくなることから退避動作そのものが行い難いと言う状況がある。連続的に流れる試料を扱う生産ラインの全長は数十m~百mを超えるものもあり生産現場では、品種替えの際には繋ぎのダミーシートによりライン内の各装置から一時的であっても試料が途切れることが無いようにして、品種替えの作業性を向上させている。そのため、測定装置側の都合装置校正やメンテナンスで容易に試料を取り除くことが出来ない。このため現実的には、図3aに示すように装置内に待避位置を設けるなど行われている。一方、図3bに示すような全面測定装置では全長の長い一体のラインカメラであるため、スキャン型センサと同様に校正動作を行おうとした場合、これらのフレーム構造そのものを試料から外れた位置まで線源と検出器を一体で引き出して試料の無い空間を確保する必要がある。生産工程は、工場のフットプリントを少なくするために、極力装置間の間隔を詰めてレイアウトしてあり、生産ラインと生産ラインの間の通路であっても最小限にしたい。ところが、全長の長いラインカメラ以上の約2.5倍装置を通路側に引き出さねばならず、よほど通路が広くない限り、通路を塞いでしまったり、隣のラインと干渉してしまうといった問題がある。したがって本発明の目的は、連続試料を扱う生産ラインの全面測定装置において、フットプリントをなるべく増大させずに、校正動作を行えるようにして厚さ測定の精度安定性を向上させることを目的とする。このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の放射線検査装置の発明は、放射線源から放射され、シート状の試料を透過してくる放射線を前記試料の流れ方向に対して直角に配置されたライン状放射線検出器により検出し、坪量の測定を行う放射線検査装置において、前記放射線源またはライン状放射線検出器または試料の少なくとも一つを一時的に移動させ、前記放射線源とライン状放射線検出器の間から前記試料を除去した後、前記放射線源とライン状放射線検出器の少なくとも一つを移動させた場合は元の位置に移動させ、放射線源とライン状放射線検出器間の空気層を測定するように構成したことを特徴とする。請求項2においては、請求項1記載の放射線検査装置において、前記ライン状放射線検出器の片側に回動機構を設けるとともに前記シート状の試料を前記放射線源に対して垂直方向に移動させる移動手段を設けたことを特徴とする。請求項3においては、請求項2記載の放射線検査装置において、前記シート状の試料を前記放射線源に対して垂直方向に移動させるに際しては前記シート状の試料の幅に直行し、かつ前記ライン状放射線検出器を挟んで配置された一対の試料支持手段により移動させることを特徴とする。請求項4においては、請求項2記載の放射線検査装置において、前記回動機構は前記試料支持手段により垂直方向に移動したシート状の試料が少なくとも前記ライン状放射線検出器に接触しない程度の角度まで回動し、前記シート状の試料が移動した後はもとの位置に戻り、前記放射線源と前記ライン状放射線検出器の間の空気層を測定するように構成したことを特徴とする。請求項5においては、請求項1記載の放射線検査装置において、前記ライン状放射線検出器を前記シート状の試料に対して直角方向に水平に移動させる移動機構と、前記試料を前記放射線源に対して垂直方向に移動させる移動手段を設けたことを特徴とする。請求項6においては、請求項5記載の放射線検査装置において、前記シート状の試料を前記放射線源に対して垂直方向に移動させるに際しては前記シート状の試料の幅に直行し、かつ前記ライン状放射線検出器を挟んで配置された一対の試料支持手段により移動させることを特徴とする。請求項7においては、請求項5または6記載の放射線検査装置において、前記ライン状放射線検出器を前記試料に対して直角方向に水平に移動させるに際しては前記試料の全幅に渡って移動させ、試料支持手段により垂直方向に移動した試料が少なくとも前記ライン状放射線検出器に接触しない程度まで移動させると共に試料が移動した後はもとの位置に戻り、前記放射線源と前記ライン状放射線検出器の間の空気層を測定するように構成したことを特徴とする。本発明によれば以下のような効果がある。連続試料を扱う生産ラインの全面測定装置において、フットプリントをなるべく増大させずに、校正動作を行うことができ、大気変動を由来として生じる測定信号の変動を補償する事により、厚さ測定の精度安定性を向上させることができる。また、線源変動や大気変動、ダスト等にまつわる変動を補正する際にフレーム全てをシート上から退避する必要が無く、設置上のフットプリントを減じることができる。また、試料と検出器の位置関係を変えるのみで、校正が可能になり、操業を停止させる必要が無く、通常測定に用いる検出器と線源をそのまま利用することにより、校正処理の精度を向上させることができる。以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図1a,bは本発明の実施形態の一例を示す構成図で、aはライン状放射線検出器以下、ラインセンサというの片側に回動機構を設け、シート状の試料以下、試料というを放射線源に対して垂直方向に移動させる移動手段を設けた状態の斜視図、bはラインセンサを試料に対して直角方向に水平に移動させる移動機構と、試料を放射線源に対して垂直方向に移動させる移動手段を設け状態を示す斜視図である。図1a-1は、試料を挟んだ放射線検査装置が試料の測定が可能な状態として設置されている様子を示す。この図において、試料は矢印の何れかの方向に進行する。図において、放射線源部2aと示した位置から試料1に向かって照射を行い、試料を通過して減衰した放射線量をラインセンサで測定している。校正が必要となった場合には、図1a-2で示す様にラインセンサの片側に形成された回動機構図示省略によりラインセンサを矢印A-B方向に回動させて他方の側を上部に跳ね上げた後、ラインセンサ3aの両脇に配置された試料支持手段ローラ、又はバー等以下、ローラという7の位置を上方にHの距離を移動させる事によって試料の通過位置を変更する。試料1とラインセンサ3aが干渉しない位置に達したら、図1a-3に示す様に試料の無い状態で空気層をラインセンサで測定する。そして、この状態における放射線の値を校正用データとして記憶する。校正用データは、主に大気の変動を捉えるが、これ以外にも線源変動、ダストの付着、ラインセンサの劣化等々の試料の減衰以外の測定に及ぼす影響を含んでいる。校正用データを取り終えたら、逆の順序で試料の通過位置を測定位置に戻し、試料の測定を継続する。この際、得られた測定値から先に得られた校正用データを減算して、補正を行なう。ラインセンサに温度センサを含む複数個のセンサが配置されている場合には、夫々の照射分布、ダスト付着量、器差等に合わせて夫々の検出器に適合した校正用データを用いるのが望ましい。そして、必要により温度補償等を適宜行ない、補正後の測定値として出力する。図1bは、処理手順は同様であるが、機構としての動きが異なる例を示す要部斜視図である。ラインセンサの他方を上方に跳ね上げる余裕が無い場合等では、ラインセンサを図1b-1から図1b-2に示すように図示しない駆動装置により矢印D方向に後方に引き出し、ローラ7によって試料1をH’の距離を上方に移動させて通過位置を変更した後に図1b-3に示すようにラインセンサ3aを矢印C方向に元の位置に戻して空気層を測定して校正を行なう。校正のための測定が終了したら、逆の手順で試料の通過位置を元に戻して測定を継続する。校正用データの用い方は、図1aの例で示したものと同様に行なう。図1a,bに示した何れの方法でも、試料の搬送を止める必要は無く試料の通過位置が変更できれば良い。また、ローラを動かす代わりに放射線源やラインセンサ側が動いても構わない。設置場所の状況に応じてラインセンサの動きは、適宜、図1a,bに示す構成を組み合わせた種類のものであっても良い。上述の構成によれば、放射線源変動や大気変動、ダスト等にまつわる変動を補正する際にフレーム全てを試料上から退避する必要が無く、設置上のフットプリントを減じることができる。また、試料とラインセンサの位置関係を変えるのみで、校正が可能になり、操業を停止させる必要が無い。また、通常測定に用いる検出器と線源をそのまま利用することができるので、校正処理の精度が向上する。図2a,bは本発明の放射線検査装置を用いた信号処理の流れを示すフローチャートである。図においてaは試料測定用センサで測定した信号処理の流れ、bは所定時間ごとにラインセンサを一時退避させて試料のない状態にした後、空気層を測定するためのフローである。図2aにおいて、Step1:放射線が試料全面を透過する測定状態でラインセンサにより試料を透過した後の放射線信号を測定する。Step2:検量線を用い、Step3:厚さ坪量を求める。図2bにおいて、Step1’:試料がない状態における放射線源とラインセンサの間の空気層を測定する。Step2’:その信号を用いて検量線を作成する。Step3’:作成した検量線を用いて校正用の坪量を計算する。Step4’:Step3’で計算した坪量を記憶する。図2aに戻り、Step4:Step4’で記憶した校正用の坪量を減算する。ステップ5:補正後の坪量を求め、ステップ6:その他の補正演算を行う。ステップ7:補正された坪量を測定値として出力する。以上のステップにより厚さ測定の補正を行なうことができる。なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。たとえばラインセンサを上方に僅かに移動させ試料に沿う方向に回動させるように構成しても良い。従って本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。"