光軸と略直交する方向に移動可能な補正レンズ群と、前記補正レンズ群の位置を検出するレンズ位置検出装置と、前記レンズ位置検出装置が前記補正レンズ群の位置を検出するための磁界を発生させる永久磁石と、角度振れを検出する角度振れ検出装置と、前記永久磁石の磁力を用いて前記補正レンズ群を移動するレンズ駆動装置と、前記角度振れ検出装置により検出された振れの信号から算出された前記補正レンズ群の目標位置と、前記レンズ位置検出装置により検出された前記補正レンズ群の現在位置から、前記補正レンズ群の目標位置までの差分を算出し、PID制御により前記レンズ駆動装置を制御する像振れ補正制御装置と磁気回路を構成する第1と第2のヨークとを備え、前記第2のヨークは前記レンズ位置検出装置の位置検出範囲の1倍から1.8倍の長さを一辺とする略正方形の穴を有し、前記穴の中心は、前記補正レンズ群が、前記レンズ移動装置によって移動させられていない定常時の位置にある状態において、前記レンズ位置検出装置の中心と対向する位置であることを特徴とする光学式像振れ補正機構。しかしながら、引用文献1に記載された発明においては、リニアリティ向上のために検討されているのが、お互い離れて配置される2つで1組である磁石のお互いの距離についてのみであり、他の構成要素の位置関係、構成、距離、位置検出精度については未検討であった。第1の発明は、光軸と略直交する方向に移動可能な補正レンズ群と、前記補正レンズ群の位置を検出するレンズ位置検出装置と、前記レンズ位置検出装置が前記補正レンズ群の位置を検出するための磁界を発生させる永久磁石と、角度振れを検出する角度振れ検出装置と、前記永久磁石の磁力を用いて前記補正レンズ群を移動するレンズ駆動装置と、前記角度振れ検出装置により検出された振れの信号から算出された前記補正レンズ群の目標位置と、前記レンズ位置検出装置により検出された前記補正レンズ群の現在位置から、前記補正レンズ群の目標位置までの差分を算出し、PID制御により前記レンズ駆動装置を制御する像振れ補正制御装置と磁気回路を構成する第1と第2のヨークとを備え、前記第2のヨークは前記レンズ位置検出装置の位置検出範囲の1倍から1.8倍の長さを一辺とする略正方形の穴を有し、前記穴の中心は、前記補正レンズ群が、前記レンズ駆動装置によって移動させられていない定常時の位置にある状態において、前記レンズ位置検出装置の中心と対向する位置であることを特徴とする光学式像振れ補正機構とした。高いリニアリティを確保でき、また、位置検出誤差が少ない、精度の高い像振れ補正制御が可能な光学式像振れ補正機構を提供する。まず、像振れ補正機構が搭載された光学装置と撮像装置の構成について説明する。図1は、像振れ補正機構を搭載したカメラシステム撮像装置と光学装置の構成を示すブロック図である。図1において、200は撮像装置、100は光学装置である。まず、光学装置100の構成要素について説明する。101は光学系、103は絞りユニット、105は絞りユニットを駆動する絞り駆動回路、117はフォーカスレンズ群、119はフォーカスレンズ群117を駆動するフォーカスレンズ駆動装置である。更に、121は補正レンズ群、123は角度振れ検出装置、125はレンズ位置検出装置、127はレンズ駆動装置、129は像振れ補正CPUである。角度振れ検出装置123は、光学装置100内に2つ備えられており、光学装置100のピッチ方向とヨー方向の回転を検知する。前述の通り、これらの角度振れ検出装置123から検出された情報は、像振れ補正CPU129に入力される。角度振れ検出装置123としては例えばジャイロセンサなどが用いられる。また、レンズ駆動装置127は補正レンズ群121を移動させるためのアクチュエータである。かかるレンズ駆動装置127として、本実施例ではボイスコイルモータVCMが用いられる。かかるVCMは一対のコイルと永久磁石から成る。本実施例におけるコイルと永久磁石について詳しくは後述する。また、レンズ位置検出装置125は、レンズ駆動装置127を構成する永久磁石の磁束密度から補正レンズ群121の現在位置を検出する。前述の通り、レンズ位置検出装置125から出力された情報は、像振れ補正CPU129に入力される。本実施例においてはレンズ位置検出装置125として、後述するホール素子10が3つ用いられる。すなわち、本実施例におけるレンズ位置検出装置125は3つのホール素子から成る。また、像振れ補正CPU129は、角度振れ検出装置123の情報を取得し、かかる情報を用いて補正レンズ群121を移動させる方向と距離の情報である目標位置を算出し、レンズ位置検出装置125から補正レンズ群121の位置情報を取得し、かかる情報を用いてPID制御を行う。更に、131はロック機構、133はロック駆動回路、135はロック検出装置、137は像振れ補正スイッチである。ロック機構131は補正レンズ群121を機械的に捕捉し、ロック駆動回路133はロック機構131を駆動する。ロック検出装置135はロック機構が正常に補正レンズ群121を捕捉しているか否か検出する。像振れ補正スイッチ137は外部より操作可能な像振れ補正スイッチであり、像振れ補正を行うか否か、また複数の像振れ補正の制御方法のうちいずれの制御を用いるかを撮影者の操作によって切り替えることができる。本発明の像振れ補正機構は、補正レンズ群121、角度振れ検出装置123、レンズ位置検出装置125、レンズ駆動装置127、像振れ補正CPU129、ロック機構131、ロック駆動回路133、ロック検出装置135、像振れ補正スイッチ137を有している。本発明の像振れ補正機構の詳しい構成については後述する。更に、139はレンズCPU、141はレンズ接点、143はレンズマウントである。レンズCPU139は光学装置100内の種々の回路の動作を制御すると共に、撮像装置200の装着時にはレンズ接点141と後述するカメラ接点245が接続されて、後述するカメラCPU201との通信を行うものである。143はレンズマウントであり、後述するカメラマウント243と結合して撮像装置200と光学装置100とを機械的に連結する。次に、撮像装置200の構成要素について説明する。201はカメラCPUである。カメラCPU201は、撮像装置200内の種々の回路の動作を制御すると共に、光学装置100の装着時にはレンズ接点141とカメラ接点245が接続されて、レンズCPU139との通信を行う。203は外部より操作可能な電源スイッチであり、カメラCPU201を立ち上げてシステム内の各アクチュエータやセンサ等への電源供給及びシステムの動作を可能な状態とするためのスイッチである。205は外部より操作可能な2段ストローク式のレリーズスイッチ、207はカメラ本体の各種設定を切り替えるモードダイヤル、209はカメラシステム全体の動作に供する電源、211はカメラ本体の各種設定や撮影した画像を表示するためのLCD等を有する表示装置である。221はオートフォーカスセンサ219から出力された信号から焦点を検出する焦点検出回路、225は光学装置100から入射される光線をファインダ光学系237に導くためのミラーユニット、227はミラーユニットを駆動するためのミラー駆動装置、229はミラー駆動装置を制御するミラー駆動回路である。231はシャッタユニット233を駆動するシャッタ駆動回路である。235はミラーユニット225によって導かれた光線をファインダ光学系237に導くペンタダハプリズムである。239は測光センサである。測光センサ239は測光を行うために複数の測光領域を有しており、各分割測光領域に導かれる被写体光の照度に応じた測光データを出力する。測光演算回路241は測光センサ239から出力される測光データを処理する測光演算回路である。243はカメラマウントである。カメラマウント243は、レンズマウント143と結合して撮像装置200と光学装置100とを機械的に連結する。247はフィルムカメラにおけるフィルムあるいはデジタルカメラにおける固体撮像素子が位置する撮像面である。次に、本実施例の光学装置100中の像振れ補正機構について、詳しく説明する。図2は本発明に係る実施例の像振れ補正機構の分解斜視図である。まず、図2を用いて、像振れ補正機構の各部材について説明する。1はベース部材、2は補正レンズ群121を保持するレンズ保持部材、3は後述する支持部材6が移動できる範囲を制限するための凹部を有し、後述する第1のフレキシブルプリント基板4の取り付けのための座面を有したガイド部材である。4は後述するコイル9及びホール素子10が取り付けられる第1のフレキシブルプリント基板、5は透磁率の高い鋼板で形成された第2のヨーク部材、6は金属製または硬質な樹脂製の球状で、レンズ保持部材2を像面側および被写体側から挟み、支持する支持部材である。7は第2のヨーク部材5と同様に透磁率の高い鋼板で形成された第1のヨーク部材、8は互いに離れた位置に固定された6つの永久磁石、9は導線を巻き重ねて形成されたコイルである。第1のフレキシブルプリント基板4のコイル9が取り付けられている面と反対側の面には不図示のホール素子10が取り付けられている。かかるホール素子10は永久磁石8の磁束密度を検出する。11はレンズ保持部材2から延出されたロック軸およびスイング軸を捕捉するための溝部を有したロック部材、12はベース部材1に固定され、ロック部材の光軸方法における移動を制限するためのカバー部材である。13は後述するアクチュエータ14及びフォトインタラプタ15を固定するためのモータベース部材、14は通常ステッピングモータやDCモータが用いられ、ロック部材11を駆動するアクチュエータ、15はロック部材11の位置を検出するためのフォトインタラプタ、16はレンズ鏡筒とアクチュエータ14並びにフォトインタラプタ15とを電気的に接続するための第2のフレキシブルプリント基板である。17~21は先述した各部材を締結する、締結部材である。次に、ホール素子10が検出する磁気回路を構成する、第1のヨーク部材7、第2のヨーク部材5、永久磁石8と、永久磁石8の発生させる磁界で推力を発生するコイル9について説明する。永久磁石8はホール素子10の位置検出用及び、コイル推力の磁界を発生させる。前述の通り、本実施例の像振れ補正機構は、6つの永久磁石を有している。かかる永久磁石は2つで一組となり、2つの永久磁石は互いに一定の間隔を持って配置される。コイル9及び、ホール素子10は第1のフレキシブルプリント基板4に固定され、また、これらは電気的に接続されている。第1のヨーク部材7、第2のヨーク部材5は外部への磁束の漏れを防ぎ、磁気回路を構成する。また、コイルに鎖交する磁束を増やす。次に、2つの永久磁石の配置間隔と、ホール素子10の位置検出範囲について説明する。特許文献1にもある通り、2つの永久磁石の配置間隔は、広ければ広いほど位置検出範囲が広くなる。ただし、2つの永久磁石の間隔を広く取りすぎれば、像振れ補正機構のサイズの増大を招き、好ましくない。本実施例においては、レンズ保持部材2の移動量、すなわちホール素子10の位置検出範囲は3.2mmに設定されている。これをうけ、本実施例では2つの永久磁石の間隔を移動量の半値以上の2mmに設定している。これは、永久磁石8の間隔が移動量の半値以下の間隔であると、前記移動量が最大となった場合に、推力が低下するためである。2つの永久磁石の間隔が狭いために推力が低下する現象について、図3を用いて以下に説明する。図3は、像振れ補正時に働く推力と、2つの永久磁石の間隔の関係を示す模式図である。図3のBは十分に2つの永久磁石の間隔が1.6mm以上離れている場合を示しており、B’はレンズ保持部材2を大きく移動させた状態を示している。B’からわかる通り、2つの永久磁石の間隔が離れていれば、推力は正常に働く。一方、Aは2つの永久磁石の間隔が1.6mm以下の場合を示しており、A’はレンズ保持部材2を大きく移動させた場合を示している。A’からわかる通り、レンズ保持部材2を大きく移動させた場合、コイル9が永久磁石8bの一部である斜線部分の逆側の磁界を受けることにより、逆側の推力が発生する。これにより、推力が低下してしまうため、2つの磁石の間隔は狭すぎても好ましくない。ただし、コイルの大きさによってはこの限りではない。例えば、コイル9が小さい場合には永久磁石8aと8bの間隔が1.6mm以上であったとしても、レンズ保持部材2が大きく移動された際にコイル9が永久磁石8bの一部である斜線部分の逆側の磁界を受けることはなく、逆側の推力が発生することがないという場合が考えられる。次に、本実施例において、第2のヨーク部材5に設けられた穴とその位置について説明する。図4は本発明に係る実施例の像振れ補正機構の第2のヨーク部材5の斜視図であり、図5は本発明に係る実施例の像振れ補正機構を像面側から見た斜視図である。図4と図5が示す通り、第2のヨーク部材5には3つの穴が設けられている。かかる穴は、ホール素子10が第2のヨーク部材5から受ける磁界の影響を小さくするために設けられたものである。そのため、図5が示す通り、かかる穴は第2のヨーク部材5上のホール素子10と対向する位置に、それぞれ1つずつ設けられる。また、かかる穴の中心は、補正レンズ群を保持するレンズ保持部材2がVCMによって移動させられていない定常時の位置にある状態において、ホール素子10の中心と光軸方向に対向する位置に設定される。次に、かかる穴の必要性について詳しく説明する。まず、磁束密度の変化について図6を用いて説明する。図6は第2のヨーク部材5に穴を設けた場合の例と穴を設けなかった場合の例の磁束密度の変化を比較する模式図である。図6において、縦軸は磁束密度であり、横軸はストロークである。ここでホール素子の出力は磁束密度に比例するので、磁束密度の値をホール素子の出力、すなわち検出位置と考えて良い。図6が示す通り、第2のヨーク部材5に穴を設けなかった場合の例の方が、穴を設けた例より、磁束密度の変化が急峻であり、リニアリティが低い。次に、位置検出誤差について図7を用いて説明する。図7は第2のヨーク部材5に穴を設けた場合の例と穴を設けなかった場合の例の位置検出誤差を比較する模式図である。図7において、縦軸は位置検出誤差であり、横軸はストロークである。単位はそれぞれ、縦軸はμm、横軸はmmである。図7が示すとおり、穴を設けた場合の方が穴を設けなかった場合に比べ、位置検出誤差が小さい。したがって、本実施例では、ホール素子10が第2のヨーク部材5から受ける磁界の影響を小さくすることで、リニアリティを高く確保し、位置検出誤差を小さくするために第2のヨーク部材5に穴を設けている。また、第2のヨーク部材5の影響を小さくするために第2のヨーク部材5とホール素子を離して配置することが考えられるが、その場合には、永久磁石8と第2のヨーク部材5のギャップが大きくなる事によるVCMの推力低下、及び振れ補正機構のサイズ増加を招き、望ましくない。次に、かかる穴の大きさと形状について説明する。本実施例において、かかる穴は、ホール素子10の位置検出範囲の1倍から1.8倍の長さを一辺とする略正方形と規定されている。前述の通り、本実施例において、ホール素子10の位置検出範囲は3.2mmである。そのため、本実施例においてかかる穴の1辺の長さは3.2mmから5.76mmが望ましい。これは、かかる穴の大きさが小さすぎたり、大きすぎたりする場合に、位置検出誤差が大きくなったりするためである。これについて、図8と図9を用いて次に説明する。図8は第2のヨーク部材5に設けた穴が、1辺が6.5mmの略正方形の場合の例と、1辺が4.5mmの略正方形の場合の例と、1辺が3mmの略正方形の場合の例の磁束密度の変化を比較する模式図である。図8において、縦軸は磁束密度であり、横軸はストロークである。図8が示す通り、磁束密度の変化は1辺が6.5mmの略正方形の場合の例、1辺が4.5mmの略正方形の場合の例、1辺が3mmの略正方形の場合の例の順に緩やかであり、リニアリティが高い。すなわち、第2のヨーク部材5に設けた穴は、大きければ大きいほどリニアリティが高くなる。次に、図9は第2のヨーク部材5に設けた穴が、1辺が6.5mmの略正方形の場合の例と、1辺が4.5mmの略正方形の場合の例と、1辺が3mmの略正方形の場合の例の位置検出誤差の大きさを比較する模式図である。図9において、縦軸は位置検出誤差であり、横軸はストロークである。単位はそれぞれ、縦軸はμm、横軸はmmである。図9が示す通り、位置検出誤差は1辺が6.5mmの略正方形の場合の例、1辺が3mmの略正方形の例の場合、1辺が4.5mmの略正方形の例の場合の順に大きい。すなわち、第2のヨーク部材5に設けた穴は、大きすぎても小さすぎても位置検出誤差が大きくなってしまう。そこで、本実施例は、第2のヨーク部材5に設けた穴の1辺の長さに上限をホール素子10の位置検出範囲の1.8倍、下限をホール素子10の位置検出範囲の1倍と設定することで、リニアリティを高くすることと、位置検出誤差を小さくすることを両立している。また、本実施例では、ホール素子10への第2のヨーク部材5の影響を小さくすることで、リニアリティを高くし、また、位置検出誤差を小さくするために第2のヨーク部材5に穴を設けている。しかしながら、第2のヨーク部材5の影響を小さくするために第2のヨーク部材5に、穴ではなく凹みを設ける構成とすることも考えられる。そこで、本実施例において、第2のヨーク部材5に凹みではなく穴を設けている理由について、次に説明する。図10は、第2のヨーク部材5に1辺が4.5mmの略正方形の穴を設けた場合の例と、1辺が4.5mmの略正方形の凹みを設けた場合の例の磁束密度の変化を比較する模式図である。図10において、縦軸は磁束密度であり、横軸はストロークである。図10が示す通り、磁束密度の変化は1辺が4.5mmの略正方形の穴を設けた場合の例の方が、1辺が4.5mmの略正方形の凹みを設けた場合の例に比べて緩やかであり、リニアリティが高い。すなわち、同じ大きさであれば、凹みを設けるよりも穴を設けた方が、リニアリティが高くなる。次に、図11は第2のヨーク部材5に1辺が4.5mmの略正方形の穴を設けた場合の例と、1辺が4.5mmの略正方形の凹みを設けた場合の例の位置検出誤差の大きさを比較する模式図である。図11において、縦軸は位置検出誤差であり、横軸はストロークである。単位はそれぞれ、縦軸はμm、横軸はmmである。図11が示す通り、位置検出誤差は1辺が4.5mmの略正方形の穴を設けた場合の例の方が、1辺が4.5mmの略正方形の凹みを設けた場合の例に比べて小さい。すなわち、同じ大きさであれば、凹みを設けるよりも穴を設けた方が、位置検出誤差が小さく、精度の高い位置検出が可能となる。以上の結果をふまえ、本実施例では第2のヨーク部材5に、凹みではなく穴を設ける構成としている。以上の通り、本実施例では、3つのアクチュエータを有する像振れ補正機構において、磁気回路を構成するヨークに、ホール素子10の位置検出範囲の1倍から1.8倍の長さを一辺とする略正方形の穴を設けることで、リニアリティが高く、また、位置検出誤差が小さい、精度の高い像振れ補正制御が可能な光学式像振れ補正機構を提供することができる。