入力信号を受信し、前記入力信号を用いて1つ以上の動作を行い、前記信号及び前記1つ以上の動作に少なくとも部分的に基づいて出力信号を供給するように構成された電子装置8を較正する際に用いる較正検出システム4であって、プロセッサ48及びストレージ52を含むプロセッサ装置32と、前記プロセッサと通信状態にあり、少なくとも第1の信号発生器56及び少なくとも第1の測定デバイス60を含む評価装置36と、複数のリード80A~80Jを含む接続装置40であって、前記リードの少なくとも一部がそれぞれ前記少なくとも第1の信号発生器及び前記少なくとも第1の測定デバイスの少なくとも一方に接続され、且つ前記電子装置と接続されるように構成された接続装置と、を含み、前記ストレージが1つ以上のルーチンを格納しており、前記ルーチンが前記プロセッサで実行されると、前記少なくとも第1の信号発生器から少なくとも第1の入力信号を第1の数の前記リードを通じて前記電子装置に入力することと、前記少なくとも第1の測定デバイスによって少なくとも第1の出力信号を第2の数の前記リードを通じて前記電子装置から検出することと、前記少なくとも第1の入力信号及び前記少なくとも第1の出力信号に少なくとも部分的に基づいて、前記電子装置の少なくとも一部が適当に較正されているか否かの判定を行うことと、を含む動作を前記較正検出システムに実行させる、較正検出システム。前記動作が、前記第1の数の前記リード及び前記第2の数の前記リードが接続される前記電子装置の多数の場所を表す命令を出力することを更に含む、請求項1に記載の較正検出システム。前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納し、前記動作が、前記電子装置の識別子を表す入力を検出することと、前記電子装置の前記識別子を用いて前記試験プロトコルの少なくとも一部を前記ストレージから検索することと、前記試験プロトコルの前記少なくとも一部から、前記第1の数の前記リード及び前記第2の数の前記リードが接続される前記電子装置の前記多数の場所を取得することと、を更に含む、請求項2に記載の較正検出システム。前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納し、前記動作が、前記判定を行う際に前記試験プロトコルの少なくとも一部を用いることを更に含む、請求項1に記載の較正検出システム。前記動作が、前記判定及び前記試験プロトコルの少なくとも一方に少なくとも部分的に基づいて、前記電子装置の特定のコンポーネントを交換するべきであることと、前記電子装置の特定のコンポーネントを調整するべきであること、前記電子装置の特定のコンポーネントを一新するべきであること、の少なくとも1つである指示を出力することを更に含む、請求項4に記載の較正検出システム。前記動作が、前記命令が実行されたことを表す入力を検出することと、検出したことに応答して、前記入力、前記検出、及び前記判定を再び行うことと、を更に含む、請求項5に記載の較正検出システム。前記動作が、前記少なくとも第1の入力信号として複数の入力信号を入力すること、前記少なくとも第1の出力信号として、少なくとも一部がそれぞれ前記複数の入力信号の少なくとも1つに応答する複数の出力信号を検出すること、前記判定として、前記複数の入力信号の少なくとも一部及び前記複数の出力信号の少なくとも一部に少なくとも部分的に基づいて判定を行うこと、を含む、請求項1に記載の較正検出システム。前記動作が、前記複数の入力信号の少なくとも2つを同時に入力することと、前記複数の出力信号の少なくとも2つを同時に検出すること、の少なくとも一方を更に含む、請求項7に記載の較正検出システム。前記評価装置が前記プロセッサと通信状態にある複数の測定デバイスを更に含み、前記動作が、前記複数の測定デバイスの1つの測定デバイス60によって前記複数の出力信号の1つの出力信号と、前記複数の測定デバイスの別の測定デバイス64によって前記複数の出力信号の別の出力信号と、を同時に検出することを更に含む、請求項8に記載の較正検出システム。前記接続装置が、前記リードの少なくとも一部と前記評価装置の少なくとも一部との間に接続された切り換え装置76を更に含み、前記動作が、前記少なくとも第1の信号発生器及び前記少なくとも第1の測定デバイスの前記少なくとも一方の間で、前記リードの前記少なくとも一部のうち少なくとも第1のリードの接続を、前記切り換え装置により、前記プロセッサ装置からの多数の信号に応答して、切り換えることを更に含む、請求項1に記載の較正検出システム。入力信号を受信し、前記入力信号を用いて1つ以上の動作を行い、前記信号及び前記1つ以上の動作に少なくとも部分的に基づいて出力信号を供給するように構成された電子装置8を較正するに当たって較正検出システム4を動作させる方法であって、前記較正検出システムが、プロセッサ48及びストレージ52を含むプロセッサ装置32と、前記プロセッサと通信状態にあり、少なくとも第1の信号発生器56及び少なくとも第1の測定デバイス60を含む評価装置36と、複数のリード80A~80Jを含み、前記リードの少なくとも一部がそれぞれ前記少なくとも第1の信号発生器及び前記少なくとも第1の測定デバイスの少なくとも一方に接続され、且つ前記電子装置と接続されるように構成された接続装置と、を含み、前記方法が、前記少なくとも第1の信号発生器からの少なくとも第1の入力信号を第1の数の前記リードを通じて前記電子装置に入力することと、前記少なくとも第1の測定デバイスによって少なくとも第1の出力信号を第2の数の前記リードを通じて前記電子装置から検出することと、前記少なくとも第1の入力信号及び前記少なくとも第1の出力信号に少なくとも部分的に基づいて、前記電子装置の少なくとも一部が適当に較正されているか否かの判定を行うことと、を含む、方法。前記第1の数の前記リード及び前記第2の数の前記リードが接続される前記電子装置の多数の場所を表す命令を出力することを更に含む、請求項11に記載の方法。前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納しており、前記電子装置の識別子を表す入力を検出することと、前記電子装置の前記識別子を用いて前記試験プロトコルの少なくとも一部を前記ストレージから検索することと、前記試験プロトコルの前記少なくとも一部から、前記第1の前記リード及び前記第2の数の前記リードが接続される前記電子装置の前記多数の場所を取得することと、を更に含む、請求項12に記載の方法。前記ストレージが前記電子装置に関連する試験プロトコルを格納しており、前記判定を行う際に前記試験プロトコルの少なくとも一部を用いることを更に含む、請求項11に記載の方法。前記判定及び前記試験プロトコルの少なくとも一方に少なくとも部分的に基づいて、前記電子装置の特定のコンポーネントを交換するべきであること、前記電子装置の特定のコンポーネントを調整するべきであること、前記電子装置の特定のコンポーネントを一新するべきであること、の少なくとも1つである指示を出力することを更に含む、請求項14に記載の方法。前記命令が実行されたことを表す入力を検出することと、検出したことに応答して、前記入力、前記検出、及び前記判定を再び行うことと、を更に含む、請求項15に記載の方法。前記少なくとも第1の入力信号として複数の入力信号を入力することと、前記少なくとも第1の出力信号として、少なくとも一部がそれぞれ前記複数の入力信号の少なくとも1つに応答する複数の出力信号を検出することと、前記判定として、前記複数の入力信号の少なくとも一部及び前記複数の出力信号の少なくとも一部に少なくとも部分的に基づいて判定を行うこと、を更に含む、請求項11に記載の方法。前記複数の入力信号の少なくとも2つを同時に入力することと、前記複数の出力信号の少なくとも2つを同時に検出すること、の少なくとも一方を更に含む、請求項17に記載の方法。前記評価装置が前記プロセッサと通信状態にある複数の測定デバイスを更に含み、前記複数の測定デバイスの1つの測定デバイス60によって前記複数の出力信号の1つの出力信号と、前記複数の測定デバイスの別の測定デバイス64によって前記複数の出力信号の別の出力信号と、を同時に検出することを更に含む、請求項18に記載の方法。前記接続装置が、前記リードの少なくとも一部と前記評価装置の少なくとも一部との間に接続された切り換え装置76を更に含み、前記少なくとも第1の信号発生器及び前記少なくとも第1の測定デバイスの前記少なくとも一方の間で、前記リードの前記少なくとも一部のうち少なくとも第1のリードの接続を、前記切り換え装置により、前記プロセッサ装置からの多数の信号に応答して、切り換えることを更に含む、請求項11に記載の方法。電子装置に必要な較正の量又は頻度にかかわらず、かかる較正操作はしばしば時間がかかり、労働集約的であり、エラーが生じやすい。例えば、原子力発電所に用いられるアナログ構成の電子装置において、技術者は、典型的には、電子装置の電子コンポーネントの所定の場所にデジタルマルチメータを接続し、電子装置の他のコンポーネントのある特定の場所に電圧源を接続し、信号を発生させ、検出した電圧又は他の検出パラメータに注目して、その値を記録シートに記録することを含む試験プロトコルに従わなければならない。原子力発電所では、かかる較正プロトコルは、関与する機器の多様性及び運転の安全上の余裕を確保するために設ける機器の冗長度のため、極めて煩雑であり得る。任意の所与の電子装置について、試験プロトコルは一般的に詳細かつ複雑であるので、エラーを生じやすい。例えば、第1のステップでは技術者が、電子装置のいくつかのコンポーネントにある特定の機器を接続し、電子装置にある特定の入力信号を供給し、測定デバイスで検出される出力に注目し、それを記録することが必要な場合がある。次いで、試験プロトコルで指定された方法で、電子装置と試験機器との間の接続部の1つ以上を電子装置の他のコンポーネントに再接続しなければならない。かかる多様な接続及び再接続が、その複雑さのためにエラーを招く。更に、かかる操作は労働集約的であると共に時間がかかる。このため、既知の試験方法におけるこれら及び他の欠点を克服する改良されたシステムを提供することが望まれる。電子装置を較正する際に用いられる改良された較正検出システムは、プロセッサ装置、評価装置、及び接続装置を含む。評価装置は、1つ以上の信号発生器及び例えば電圧計である1つ以上の測定デバイスを含む。接続装置は複数のリードを含み、内部で様々なリードを切り換えて評価装置の様々な要素と接続するようにプロセッサ装置によって作動される。最初にリードの全てを電子装置に接続可能な状態にし、リードと評価装置の様々な要素との間の接続を内部で切り換えることによって、較正検出システムは試験プロトコルを実行する際の時間を節約し、エラーを回避する。従って、本発明の一態様によると、改良された較正検出システムが提供される。本発明の別の態様によると、かかる改良された較正検出システムを用いて電子装置に試験プロトコルを実行する改良された方法が提供される。本発明のこれら及び別の態様によると、電子装置を較正する際に用いられる改良された較正検出システムが提供される。この電子装置は、入力信号を受信し、入力信号を用いて1つ以上の動作を実行し、入力信号及び1つ以上の動作に少なくとも部分的に基づく出力信号を供給するように構成されている。較正検出システムの一般的な性質は、プロセッサ及びストレージを含むプロセッサ装置と、プロセッサと通信状態にあり、少なくとも第1の信号発生器及び少なくとも第1の測定デバイスを含む評価装置と、複数のリードを含み、リードの少なくとも一部がそれぞれ少なくとも第1の信号発生器及び少なくとも第1の測定デバイスの少なくとも一方に接続され、且つ電子装置と接続されるように構成された接続装置と、を含むとして説明できる。ストレージは1つ以上のルーチンを格納しており、このルーチンがプロセッサで実行されると、較正検出システムに、その一般的な性質が、少なくとも第1の信号発生器から少なくとも第1の入力信号を第1の数のリードを通じて電子装置に入力することと、少なくとも第1の測定デバイスによって少なくとも第1の出力信号を第2の数のリードを通じて電子装置から検出することと、少なくとも第1の入力信号及び少なくとも第1の出力信号に少なくとも部分的に基づいて、電子装置の少なくとも一部が適当に較正されているか否かの判定を行うことと、を含むものとして説明できる動作を行わせる。本発明の別の態様によると、電子装置を較正する際に較正検出システムを操作させる改良された方法が提供される。この電子装置は、入力信号を受信し、入力信号を用いて1つ以上の動作を実行し、入力信号及び1つ以上の動作に少なくとも部分的に基づく出力信号を供給するように構成されている。較正検出システムは、プロセッサ及びストレージを含むプロセッサ装置と、プロセッサと通信状態にあり、少なくとも第1の信号発生器及び少なくとも第1の測定デバイスを含む評価装置と、複数のリードを含み、リードの少なくとも一部がそれぞれ少なくとも第1の信号発生器及び少なくとも第1の測定デバイスの少なくとも一方に接続され、且つ電子装置と接続されるように構成された接続装置と、を含むものとして説明できる。この方法の一般的な性質は、少なくとも第1の信号発生器から少なくとも第1の入力信号を第1の数のリードを通じて電子装置に入力することと、少なくとも第1の測定デバイスによって少なくとも第1の出力信号を第2の数のリードを通じて電子装置から検出することと、少なくとも第1の入力信号及び少なくとも第1の出力信号に少なくとも部分的に基づいて、電子装置の少なくとも一部が適当に較正されているか否かの判定を行うことと、を含むものとして説明できる。添付図面と関連付けて以下の説明を読むことから、本発明の更なる理解が得られる。本明細書全体を通して、同様の番号は同様の部分を指す。図1に、本発明による改良した較正検出システム4を、電子装置8に接続された状態で概略的に示す。電子装置8は多種多様な機器の任意のものとすることができ、本明細書に示す例示的な実施形態では、原子力発電所等の施設に用いられるカードラックである。例示的な電子装置8は、12A~12Gで示す例示的な7個の機能カードを含むが、これらは本明細書に示す実施形態では、性質上アナログであり、コンデンサ、抵抗器、トランジスタ等の様々な露出した電子コンポーネントを含む。しかしながら他の実施形態では、本発明から逸脱することなく1つ以上のデジタルカードを使用可能であることに留意されたい。電子装置8は、カード12A~12Gの全てが接続されているコネクタ16を更に含む。電子装置8には、例えば圧力センサーであるセンサー20が接続されており、電子装置8と制御室24との間にも接続が存在する。関連技術において理解されるように、電子装置8は、センサー20からの信号を検出し、例えば、ある時間に亘るセンサー20からの圧力値を示す信号を検出し、その所与の時間の平均圧力値を制御室24に伝達するような、この信号に対するある特定の機能を実行する。用途の要請に応じて、他の機能もしくは追加の機能又はそれら双方を電子装置8によって提供することも可能である。図1に略示し、図2により詳細に示す改良された較正検出システム4は、プロセッサ32、評価装置36、接続装置40、及び入出力装置44を含む。プロセッサ装置32はプロセッサ48を含むが、これは多種多様なプロセッサの任意のものとすることができ、マイクロプロセッサμP又は他のタイプのプロセッサとすることも可能である。ストレージは、データ、ルーチン、及び他の電子的資料を格納するためにストレージデバイスとして機能する、RAM、ROM、EPROMのようなメモリ等であるが、これらに限定されない、様々なタイプの電子ストレージデバイスの任意のものとすることができる。ストレージ52に格納されるルーチンの1つはオペレーティングシステムルーチンであり、これによってプロセッサ48は、評価装置36、接続装置40、及び入出力装置44の様々な要素を制御する。オペレーティングシステムルーチンは、較正検出システムに合うように標準化され、一般に、較正検出システム4が配備される環境にかかわらず不変である。ルーチンの別のものは、較正検出システム4が配備される施設に固有のカスタマイズされた較正ルーチンであり、その施設の電子装置8に付随する、様々なカスタマイズされた試験プロトコルを含む。プロセッサ48で様々なルーチンを実行することで、較正検出システム4は様々な動作を行う。これらの動作については本明細書の他の箇所でより詳細に説明する。プロセッサ48は、評価装置36、接続装置40、及び入出力装置44に接続され、これらを制御する。評価装置36は、1つ以上の信号発生器56及び1つ以上の測定デバイス60、64を含む。本明細書に記載する実施形態において、測定デバイス60、64は電圧計であり、更に具体的にはデジタルマルチメータであるが、本発明から逸脱することなく他の及び/又は追加の測定デバイスを用いることも可能である。信号発生器56は、電圧源68及び関数発生器72を含み、これらは相互に接続されている。関数発生器72は、ランプ関数、階段関数、鋸歯関数、正弦波関数等の様々な関数を発生し、電圧源と連携して、関数発生器72から前述の関数に従った電圧信号を発生する。接続装置40は切り換え装置76及び複数のリードを含むが、図示する例示的な実施形態においてリードは10本あり、80A~80Jと付番されている。リードは全て、プロセッサ48により制御される切り換え装置76に接続されている。同様に、信号発生器56及び測定デバイス60、64等の評価装置36のコンポーネントからの接続部も切り換え装置76に接続されている。好都合なことに、切り換え装置は、リード80A~80Jの任意のものを評価装置36のコンポーネントの任意のものと内部で接続する。図2は、リード80A及び80Gのみが切り換え装置76を介して信号発生器56及び測定デバイス60、64の接続部の全てと接続可能であることを示すが、切り換え装置76は実際にはリード80A~80Jの任意のものを評価装置36の任意のコンポーネントの任意の接続部へ独立して切り換え可能であることに留意すべきである。多数のリード80A~80Jが設けられているが、好都合なことに、技術者は、すべての接続を較正検出システム4が行う試験動作の最初に行うことができ、試験プロトコルの間に技術者がいずれのリード80A~80Jも再接続する必要はない。上述のように、ストレージ52に格納されカスタマイズされた較正ルーチンは典型的には、較正検出システム4が配備されている施設に存在する様々な電子装置8の全てでなくともその多くに用いる試験プロトコルを含む。試験プロトコルは典型的には、較正検出システム4が配備されている施設で用いられる操作マニュアルに基づいた何らかのカスタマイズされたコードの形態をとる。任意の所与の電子装置のための試験プロトコルは最初に、例えば15秒の間、1秒間隔で1.0ボルトと3.0ボルトとの間を階段状に変化する電圧を必要とし、入力はカード12Cの特定のコンポーネント上の特定場所に供給され、出力電圧はカード12Aの特定のコンポーネント上の特定場所から検出される。従って、図1及び図2から理解されるように、一例として、切り換え装置76は内部でリード80Cを信号発生器56に接続し、リード80Aを電圧計60に接続する。次いで、上述のように、較正検出システム4は、前述の階段関数電圧を電子装置8に入力し、電圧が生じた場合、それを電圧計60で検出する。検出された電圧が電子装置8の第1の部分の較正が適当であることを示すと、プロセッサ48は試験プロトコルの次の部分を実行することができる。これは、カード12Fの特定のコンポーネントの特定場所に1.5ボルトの固定電圧を印加し、カード12Dの特定のコンポーネントの特定場所から及びカード12Gの特定のコンポーネントの特定場所からの電圧を同時に検出することであってよい。このようにするため、切り換え装置76は、内部でリード80Eを信号発生器56に接続し、リード80Dを電圧計60に接続し、リード80Gを電圧計64に接続することにより、内部で様々なリード80を評価装置36の様々なコンポーネントに再接続する。次いで較正検出システム4は、前述の信号を発生し、先に示したように電圧を同時に検出する。このため、技術者に対する指示は、様々なリード80A~80Jの全てを、全ての試験プロトコルの間に評価されるカード12A~12G上の様々な場所の全てに接続することでよく、プロセッサ48により制御される切り換え装置76が、内部で様々なリード80A~80J及び評価装置36のコンポーネントの間の接続を切り換えて、試験プロトコルを構成する様々な試験動作が実行される。このため、較正検出システム4をその格納された試験プロトコルと共に用いることによって、試験プロトコル進行時に、技術者が様々なリード80A~80Jと電子装置8の他の様々なコンポーネントとを定期的に切断及び再接続する必要がなくなるという利点がある。試験プロトコルの前述の例は限定を意図したものではなく、寧ろ試験プロトコルは典型的には、開発されたこれよりもはるかに豊富な命令セットを有することに留意すべきである。例えば、電圧等の固定試験値をその固定予想値と比較する際に、試験プロトコルは典型的には、特定の電子装置8で得られる特定の測定値に特有の許容誤差を用いるが、典型例では、測定信号の或る特定の百分率に測定スケールの或る特定の百分率を加算したものである。一例として、電圧の或る特定の許容誤差は、予想される測定信号例えばボルト単位の±1.00を、スケール例えば0から100ボルトの±4.00と組み合わせたものとすることができる。予想される測定値が50ボルトである場合、許容誤差は50ボルトの±1.00に等しい0.50ボルトを100ボルトスケールの±4.00に等しい4.00ボルトに加算した合計の±4.50ボルトとなる。しかしながら、試験プロトコルは、電圧入力又は出力がランプ関数、階段関数、鋸歯関数、及び正弦波関数の1つ以上に従う状況のように、入力及び/又は予想出力が時間の関数として変動する場合、及び/又は入力の印加と出力の検出との間に時間遅延が予想される場合に、試験を可能とするように構成されている。かかる状況において、適切な許容誤差は時間の関数として変動し、有利であることには試験プロトコルは、時間の関数として特定の入力の印加に対して固有の正しい許容誤差をリアルタイムで計算し印加する能力を含む。入出力装置44はディスプレイ84及びキーボード88を含み、どちらもプロセッサ48に接続されている。キーボード88は、技術者が電子装置8の識別コード等のデータを入力するために使用することができるが、技術者が入力することによってプロセッサ48は識別コードを用いて、特定の電子装置8と関連して用いるために記述され格納されている関連の試験プロトコルをストレージ52から検索することができる。ディスプレイ84は、様々なリード80A~80Jを電子装置8の様々な要素に接続するための図等の指示を技術者に表示し、更なる指示を技術者に提供することができる。例えば、試験プロトコルの様々な部分を実行する際に、技術者が電子装置8の所与のカード12A~12G等の所与のコンポーネントを交換することが試験プロトコルの一部であってよい。あるいは技術者に対し、所与のカード12A~12Gの利得を調整すること、又はカード12A~12Gを一新することを指示する場合がある。更にディスプレイ84は、試験プロトコルにおける個々の試験ステップの記述を技術者に出力し、そのような個々の試験ステップが実際に実行される前に技術者からの明示の同意、即ち同意の入力を待つことができる。更に、ディスプレイは、発生した入力及び得られた結果をリアルタイムで出力するように構成することができるが、このことは、そのように構成しなければ信号発生器56及び電圧計60、64の個々のディスプレイで提供されるであろう出力を、ディスプレイ84がシミュレートすることができることを意味する。また、ディスプレイ84は最終的に、試験及び較正が電子装置について完了したこと、並びに較正検出システム4を異なる電子装置8に接続可能であることを技術者に指示することができる。好都合なことに、様々な電子装置8間で較正検出システム4を移送するためにプラットフォーム92及び車輪96が設けられている。明確を期すため、ここでは電子装置8のうち1つのみを明示的に図示している。図3に、本発明による改良した方法のいくつかの態様を示すフローチャートが略示されている。104におけるように、機器識別子等の識別コードの入力を較正検出システム4が検出すると、処理が開始される。かかる入力は、技術者が較正対象の特定の電子装置8の識別コードをタイプ入力することによって可能である。次いで108におけるように、較正検出システム4は、104で技術者により識別された特定の電子装置8に関連する試験プロトコルを検索することができる。次いで112におけるように、プロセッサ48はディスプレイ84に接続図を出力させることができるが、この接続図は、108で検索された試験プロトコル全体の試験動作を全て行うために、様々なリード80A~80Jを様々なカード12A~12Gとどのように接続するべきかを技術者に指示する。任意所与の試験プロトコルを実行する際にリード80A~80Jの全てでなく一部を使用するとしてもよいことに留意すべきであり、更に、かかる試験プロトコルの間にカード12A~12Gの全てでなく一部をリード80A~80Jに接続してもよいことに留意すべきである。また、10本のリード80A~80Gは例示の目的にのみ示されており、7枚のカード12A~12Gでもよいことが理解されよう。どちらも、本発明から逸脱することなく、数はより多くてもより少なくてもよいことに留意すべきである。一旦様々なリード80A~80Jが電子装置8上の様々な場所に接続されたら、116におけるように、技術者は<開始>コマンドを与えることにより、かかる接続が行われたことを較正検出システム4に示すことができる。次いで120におけるように、切り換え装置76によって、様々なリード80A~80Jを、第1の試験を実行するために必要な、評価装置36の様々なコンポーネントに接続されるように内部で切り換え、信号発生器56により適切な信号を電子装置8に入力し、電圧計60、64又はこれら双方を適宜用いて出力を検出することによって、試験プロトコルが始動される。試験プロトコルはプロセッサ48に様々な試験パラメータを示す。次いで124におけるように、電子装置8の試験プロトコルのその時点で特定の被試験コンポーネントの較正に問題が検出されたか否かを判定する。かかる較正の問題が検出された場合、処理128におけるように処理が続行し、技術者が実行するためにディスプレイ84に出力される特定の指示を識別するために試験プロトコルが参照される。次いで132におけるように、表示した指示が実行されたことを示す入力が検出され、次いで136におけるように、問題が解決したか否かが判定される。問題が解決していない場合、処理は128におけるように続行し、試験プロトコルが更に参照され、技術者のためにディスプレイ84に更に別の指示が出力される。一方、136におけるように問題が解決したと判定されると、処理が120におけるように続行され、試験プロトコル全体が最初から再実行される。かかる状況において試験プロトコルが再始動されるのは、技術者がアクションを取った結果として電子装置8に何らかのタイプの変化が生じ、これが試験プロトコルのより前の部分で起きたであろうことに影響を及ぼした可能性があるからである。従って、136におけるように問題が解決したからには、試験プロトコルが再始動され電子装置8の要素全てが再評価される。一方、124におけるように、電子装置8の特定の被試験コンポーネントの較正につき問題が検出されなかったと判定された場合、処理は140におけるように続行し、試験プロトコルに未実行の残り部分が存在するか否かが判定される。存在する場合、処理は144におけるように続行し、切り換え装置76は、必要に応じてリードの、評価装置36の様々なコンポーネントとの接続を内部で切り換え、信号発生器により新しい信号を発生し、電圧計60もしくは64又はそれら双方を用いて1つ以上の出力信号がもしあればそれを検出する。次いで、処理は124におけるように続行し、電子装置8の現在試験中のコンポーネントの較正に問題が検出されたか否かが判定される。一方で、140で現在の試験プロトコルに更なる試験が存在しないと判定された場合、ディスプレイ84は、電子装置8の試験が完了したとの表示を出力する。その後、較正検出システム4を電子装置8から切り離して別の電子装置8本明細書では明示していないに車輪で移送し、プロセスを104におけるように繰り返すことが可能である。従って、改良された較正検出システム4及び方法は、これを用いないならば技術者に必要であろう労力の多くを無しで済ますことによって時間を節約することができ、これを用いないならば従来のシステムにとって必要とされる冗漫な再接続を回避することによってエラーを減少させることができる。好都合なことに、較正検出システム4は更に、電圧計60もしくは64又は評価装置36の他のコンポーネントによって検出及び/又は導出された結果を、試験書式の様々な空欄に記入することができる。この点で、本発明から逸脱することなく、評価装置36に任意の数の電圧計、信号発生器、及び他のデバイスを使用可能であることが理解されよう。このため、電圧自体に加えて、較正検出システム4は、検出電圧に到達するまでの時間、カードのストリップ状態、及び取得し記録することが望ましい他のタイプの情報の実質的に全て値を記録することができる。試験プロトコルを多数、即ち施設における多種多様な電子装置8の各々に1つずつ格納することによって、個々の較正検出システム4を用いる個々の技術者が、従前のシステムによりこれまでに可能であったよりも非常に多くの較正及び試験を行うことができる。本発明は、その思想又は本質的な特徴から逸脱することなく他の具体的な形態で具現化することができる。記載した実施形態は、あらゆる点において限定でなく例示にすぎないと見なされるべきである。従って、本開示の範囲は前述の記載によってではなく添付の特許請求の範囲によって示される。特許請求の範囲の均等物の意味及び範囲に該当するあらゆる変更は、特許請求の範囲に包含されるものとする。