"光を出射する光源と、前記光源から出射した光を0次回折光ビーム、-1次回折光ビーム、および1次回折光ビームを含む複数の光ビームに分岐するグレーティング素子と、前記グレーティング素子から出た前記0次回折光ビームおよび前記±1次回折光ビームをそれぞれ光ディスクに集光する対物レンズと、前記3つの回折光ビームの光ディスクによる反射光をそれぞれ受光する複数の光検出器を有する受光素子と、を備え、前記グレーティング素子は、前記±1次回折光ビームの各々によって前記光ディスク上に形成されるサブ光スポットが、前記0次回折光ビームによって前記光ディスク上に形成されるメイン光スポットよりも、前記光ディスクのトラックに直交する方向に大きくなるように構成されている、光ピックアップ。前記サブ光スポットは、前記ディスクのランド部およびグルーブ部の両方にまたがる大きさを有している請求項1に記載の光ピックアップ。前記グレーティング素子は、第1方向に配列された複数の分割領域を有しており、前記複数の分割領域の各々は、入射光を回折する周期構造を有しており、前記周期構造の周期は分割領域の前記第1方向における位置によらずに一定であり、かつ、前記周期構造の位相は前記分割領域の前記第1方向における位置に応じて段階的に変化している、請求項1に記載の光ピックアップ。前記複数の分割領域の各々は、前記第1方向に垂直な第2方向に延びる帯状の形状を有している、請求項3に記載の光ピックアップ。前記複数の分割領域の各々における前記周期構造の位相は、前記帯状の形状を有する各分割領域の内部で変化していない、請求項4に記載の光ピックアップ。前記複数の分割領域の前記周期構造は、前記グレーティング素子の中心部を通る前記第2方向に平行な直線に関して、対称である請求項5に記載の光ピックアップ。前記複数の分割領域の各々における前記周期構造は、各分割領域内で同心円状の曲線の一部を構成している請求項5に記載の光ピックアップ。前記複数の分割領域の各々の幅は均一でない請求項4に記載の光ピックアップ。前記複数の分割領域の各々は、前記第2方向に交互に配列された第1領域および第2領域を有しており、前記複数の分割領域に含まれる複数の前記第1領域は、前記第1方向に沿って並んでおり、かつ、その周期構造の位相は、前記第1方向に沿って階段状に変化しており、前記複数の分割領域に含まれる複数の前記第2領域は、前記第1方向に沿って並んでおり、かつ、その周期構造の位相は、前記第1方向に沿って階段状に変化しており、前記第1領域の周期構造が示す位相の変化の極性は、前記第2領域の周期構造が示す位相の変化の極性と反対である、請求項4に記載の光ピックアップ。前記複数の分割領域の各々の幅は均一でない請求項9に記載の光ピックアップ。光を出射する第2光源と、前記第2光源から出射した光を0次回折光ビーム、-1次回折光ビーム、および1次回折光ビームを含む複数の光ビームに分岐する第2グレーティング素子と、前記第2グレーティング素子から出た前記0次回折光ビームおよび前記±1次回折光ビームをそれぞれ光ディスクに集光する第2対物レンズと、前記3つの回折光ビームの光ディスクによる反射光をそれぞれ受光する複数の光検出器を有する第2受光素子とを備える、請求項1に記載の光ピックアップ。光ピックアップと、光ディスクを回転させるモータと、前記光ピックアップによって生成されるトラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制御を行う制御部とを備え、前記光ピックアップは、光を出射する光源と、前記光源から出射した光を0次回折光ビーム、-1次回折光ビーム、および1次回折光ビームを含む複数の光ビームに分岐するグレーティング素子と、前記グレーティング素子から出た前記0次回折光ビームおよび前記±1次回折光ビームをそれぞれ光ディスクに集光する対物レンズと、前記3つの回折光ビームの光ディスクによる反射光をそれぞれ受光する複数の光検出器を有する受光素子と、を備え、前記グレーティングは、前記±1次回折光ビームの各々によって前記光ディスク上に形成されるサブ光スポットが、前記0次回折光ビームによって前記光ディスク上に形成されるメイン光スポットよりも、前記光ディスクのトラックに直交する方向に大きくなるように構成されている、光ディスク装置。前記制御部は、前記メイン光スポットから生成されるメイントラッキングエラー信号のDC成分を、前記サブ光スポットから生成されるサブトラッキングエラー信号のDC成分によってキャンセルする、請求項12に記載の光ディスク装置。前記対物レンズの位置は、前記光ディスクの中心を通る直線であって前記光ピックアップの移送方向に平行な直線から、前記直線に垂直な方向にシフトしている、請求項12に記載の光ディスク装置。前記光ピックアップは、前記光ディスクの中心を通る直線であって前記光ピックアップの移送方向に平行な直線上に位置する他の対物レンズを更に備える、請求項12に記載の光ディスク装置。近年、光ディスク等の光ディスク装置として、例えばCDやDVD、BD等のように記録密度、記録容量や基材厚仕様等、異なる規格の記録媒体に1台の装置で対応した製品が増えつつある。BD,DVD,CDはそれぞれ使用する光源の波長や記録密度、ディスクの基材厚などが異なるため、1つの対物レンズで各々の光ディスクの記録層上に最適な集光スポットを形成するのは困難である。このため、このような異なる規格の記録媒体に全て対応した光ピックアップは、少なくとも2つの対物レンズを備えている。図6は、2つの対物レンズを用いた光ピックアップの光学系の構成の例を示す図である。DVDおよびCDの記録再生に用いる2つの異なる波長の光を出射する光源111からの光は、グレーティング素子112により0次光、±1次光に回折分岐され光学部品を経て反射ミラー106で反射される。その後、0次光、±1次光の3つの光ビームは、DVDおよびCD共用の対物レンズ107により、ディスク108上に集光される。ディスク108で反射された光ビームは、ビームスプリッタ103を透過し、受光素子101に至る。その後、各々図4に示した光検出器32、34、36によってメインTE、サブTE信号が生成される。具体的には、受光素子101の光検出器32によってメインTE信号が生成され、光検出器34、36によってサブTE信号が生成される。式1による演算により、DCオフセットのないTE信号DPP信号が生成される。一方、BDの記録再生に用いる波長の光は、光源121から出射され、DVD,CD用の反射ミラー106を透過してBD用反射ミラー116で反射される。その後、BD専用の対物レンズ117によってディスク118上に集光される。ディスク118で反射された光は、ビームスプリッタ103を透過する。その後、ホログラム120によって光束分割され、受光素子101に至り、必要な信号が生成される。ビームスプリッタ103から対物レンズまでの光学系の往路の一部、および対物レンズから検出器までの光学系の復路の一部がBDとDVD,CDとで共通化できる。このため、複数の波長の光を用いて複数の異なるディスクに対応する光ピックアップとしてコンパクトな光学構成が実現できる。図7は光ディスクと光ピックアップの配置をディスク上面より見た図である。図において光ピックアップはディスク中心Oを通るX軸方向に沿って移送される。ここでDVD/CD用対物レンズ107はX軸上にその中心がある。光ピックアップをディスクの中心側内周側から外周側へ、あるいは外周側から中心側へ移送した場合、対物レンズ107はX軸上を動くことになる。このため、DVD/CD用対物レンズ107から見たディスクの溝方向点Oを中心とする同心円の接線方向は、光ピックアップの位置が光ディスクの内周側であっても外周側であっても、常にy軸方向である。このため、固定されたグレーティング素子によって形成されるサブ光スポットとメイン光スポットとの位置関係は、光ピックアップのディスク半径方向位置に応じて変わらない。したがって、2つの対物レンズを備える光ピックアップを用いる場合でも、DVD、CD光学系に従来どおりDPPが適用できる。一方、図7に示されるように、BD用対物レンズ117はX軸上にない。このため、光ピックアップをX軸に平行に移送したとき、BD用対物レンズ117からみた光ディスクの溝方向各々の位置での同心円接線方向は光ピックアップのディスク半径方向位置に応じて連続的に変化する。このため、従来のDPP法をBDにそのまま適用すると、メインTEとサブTEとの位相ずれが発生し、DPP信号振幅が大きく変動してしまう。このため、X軸からオフセットした対物レンズこの例ではBD用の対物レンズ117のTE検出には、3ビーム方式が採用できず、BDとDVD/CDとで3ビーム検出器を共用することができないという問題点があった。本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、対物レンズの位置がトラック方向にずれていてもTEオフセットのないTE信号を安定に得ることができる光ピックアップを提供することを目的とする。本発明の光ピックアップは、光を出射する光源と、前記光源から出射した光を0次回折光ビーム、-1次回折光ビーム、および1次回折光ビームを含む複数の光ビームに分岐するグレーティング素子と、前記グレーティング素子から出た前記0次回折光ビームおよび前記±1次回折光ビームをそれぞれ光ディスクに集光する対物レンズと、前記3つの回折光ビームの光ディスクによる反射光をそれぞれ受光する複数の光検出器を有する受光素子とを備え、前記グレーティングは、前記±1次回折光ビームの各々によって前記光ディスク上に形成されるサブ光スポットが、前記0次回折光ビームによって前記光ディスク上に形成されるメイン光スポットよりも、前記光ディスクのトラックに直交する方向に大きくなるように構成されている。ある実施形態において、前記サブ光スポットは、前記ディスクのランド部およびグルーブ部の両方にまたがる大きさを有している。ある実施形態において、前記グレーティングは、第1方向に配列された複数の分割領域を有しており、前記複数の分割領域の各々は、入射光を回折する周期構造を有しており、前記周期構造の周期は分割領域の前記第1方向における位置によらずに一定であり、かつ、前記周期構造の位相は前記分割領域の前記第1方向における位置に応じて段階的に変化している。ある実施形態において、前記複数の分割領域の各々は、前記第1方向に垂直な第2方向に延びる帯状の形状を有している。ある実施形態において、前記複数の分割領域の各々における前記周期構造の位相は、前記帯状の形状を有する各分割領域の内部で変化していない。ある実施形態において、前記複数の分割領域の前記周期構造は、前記グレーティングの中心部を通る前記第2方向に平行な直線に関して、対称である。ある実施形態において、前記複数の分割領域の各々における前記周期構造は、各分割領域内で同心円状の曲線の一部を構成している。ある実施形態において、前記複数の分割領域の各々の幅は均一でない。ある実施形態において、前記複数の分割領域の各々は、前記第2方向に交互に配列された第1領域および第2領域を有しており、前記複数の分割領域に含まれる複数の前記第1領域は、前記第1方向に沿って並んでおり、かつ、その周期構造の位相は、前記第1方向に沿って階段状に変化しており、前記複数の分割領域に含まれる複数の前記第2領域は、前記第1方向に沿って並んでおり、かつ、その周期構造の位相は、前記第1方向に沿って階段状に変化しており、前記第1領域の周期構造が示す位相の変化の極性は、前記第2領域の周期構造が示す位相の変化の極性と反対である。ある実施形態において、前記複数の分割領域の各々の幅は均一でない。ある実施形態において、光を出射する第2光源と、前記第2光源から出射した光を0次回折光ビーム、-1次回折光ビーム、および1次回折光ビームを含む複数の光ビームに分岐する第2グレーティング素子と、前記第2グレーティング素子から出た前記0次回折光ビームおよび前記±1次回折光ビームをそれぞれ光ディスクに集光する第2対物レンズと、前記3つの回折光ビームの光ディスクによる反射光をそれぞれ受光する複数の光検出器を有する第2受光素子とを備える。本発明の光ディスク装置は、光ピックアップと、光ディスクを回転させるモータと、前記光ピックアップによって生成されるトラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制御を行う制御部とを備え、前記光ピックアップは、光を出射する光源と、前記光源から出射した光を0次回折光ビーム、-1次回折光ビーム、および1次回折光ビームを含む複数の光ビームに分岐するグレーティング素子と、前記グレーティング素子から出た前記0次回折光ビームおよび前記±1次回折光ビームをそれぞれ光ディスクに集光する対物レンズと、前記3つの回折光ビームの光ディスクによる反射光をそれぞれ受光する複数の光検出器を有する受光素子とを備え、前記グレーティングは、前記±1次回折光ビームの各々によって前記光ディスク上に形成されるサブ光スポットが、前記0次回折光ビームによって前記光ディスク上に形成されるメイン光スポットよりも、前記光ディスクのトラックに直交する方向に大きくなるように構成されている。ある実施形態において、前記制御部は、前記メイン光スポットから生成されるメイントラッキングエラー信号のDC成分を、前記サブ光スポットから生成されるサブトラッキングエラー信号のDC成分によってキャンセルする。ある実施形態において、前記対物レンズの位置は、前記光ディスクの中心を通る直線であって前記光ピックアップの移送方向に平行な直線から、前記直線に垂直な方向にシフトしている。ある実施形態において、前記光ピックアップは、前記光ディスクの中心を通る直線であって前記光ピックアップの移送方向に平行な直線上に位置する他の対物レンズを更に備える。本発明の光ピックアップは、これにより、光ピックアップの移動により対物レンズから見たディスクの溝方向が連続して変化するような場合であっても3ビーム方式でオフセットキャンセルされた安定なトラッキング信号を得ることができる。このため、光ピックアップの検出器構成が簡素化される。また、グレーティング素子の回転調整が不要になり、光ピックアップの製造工程が簡略化できる。更に、グレーティング素子の経時的な回転位置ずれに対する特性変動も抑制され得る。本発明の光ピックアップでは、サブビームによって生成するサブTE信号のAC成分ではなく、DC成分を検出することにより、メインビームによって生成するメインTE信号のDC成分をキャンセルする。本発明では、サブビームの光スポットの形状および大きさを工夫することにより、サブTE信号がAC成分を実質的に有しないようにする。例えば、サブビームが光ディスク上に形成する光スポットのトラックに垂直なサイズが、トラックピッチ程度またはそれ以上の大きさを持つようにサブビームを形成する。このようなサブビームは、回折によって光ビームを3つのビームに分岐させるグレーティング素子を改良することによって形成される。より詳細には、回折によって形成するサブビームの位相波面を平面以外の形状に調整することにより、集光状態を制御して光スポットの形状を変化させることが可能になる。以下、本発明に係る光ピックアップおよび当該光ピックアップを備える光ディスク装置の実施形態を説明する。実施形態1まず、図8Aを参照して、本発明による光ディスク装置の実施形態を説明する。本実施形態の光ディスク装置は、光ピックアップ30と、光ディスク15を回転させるスピンドルモータ43と、光ピックアップ30の位置を制御する移送モータ42と、これらの動作を制御する制御手段とを備えている。光ピックアップ30は、信号処理を行う前処理回路36と、光ピックアップ30の動作を制御する駆動回路41と接続され、これらとの間で電気信号の授受を行う。光ピックアップ30の構成は、後に詳しく説明する。なお、本実施形態の光ディスク装置は、光ピックアップ30の構成を除いて、他の実施形態における光ディスク装置と同一の構成を備えている。このため、実施形態2、3では、光ディスク装置の構成の全体については、その説明を繰り返さない。光ディスク15から光学的に読み出されるデータは、光ピックアップ30の受光素子で電気信号に変換される。この電気信号は、図示しない信号接続手段を経由して、前処理回路36に入力される。前処理回路36は、光ピックアップ30から得た電気信号に基づいて、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を含むサーボ信号の生成、ならび再生信号の波形等価、2値化スライス、同期データなどのアナログ信号処理を行う。前処理回路36で生成されたサーボ信号は、制御回路37に入力される。制御回路37は、駆動回路41を介して、光ピックアップ30の光スポットを光ディスク15に追従させる。駆動回路41は、光ピックアップ30、移送モータ42、およびスピンドルモータ43に接続されている。駆動回路41は、集光レンズ107,117のフォーカス制御およびトラッキング制御、移送制御、スピンドルモータ制御など一連の制御をデジタルサーボで実現する。駆動回路41の働きにより、集光レンズ107,117のアクチュエータ不図示の駆動を行うほか、光ピックアップ30を光ディスク15の内周や外周へ移送させる移送モータ42の駆動や、光ディスク15を回転させるスピンドルモータ43の駆動が適切に行われる。前処理回路36で生成された同期データについては、システムコントローラ40でデジタル信号処理を行い、図示しないインターフェイス回路を介して記録再生データをホストに転送する。前処理回路36、制御回路37、およびシステムコントローラ40は、中央演算処理部38に接続されており、中央演算処理部38の指令により動作する。光ディスク15を回転させ、光ピックアップ30を目標の位置へ移送させ、光ディスク15の目標のトラックに光スポットを形成し、追従させるといった制御動作を含む一連の動作を規定するプログラムは、予めファームウエアとして不揮発性メモリ39などの半導体装置に記憶される。このようなファームウエアは、中央演算処理部38により、必要な動作の形態に応じて、不揮発性メモリ39から読み出される。なお、本明細書では、前処理回路36、制御回路37、中央演算処理部38、不揮発性メモリ39、およびシステムコントローラ40を、全体として制御手段と称することとする。次に、本実施形態における光ピックアップ30の構成を説明する。図8Bは、本実施形態における光ピックアップ30の構成を模式的に示した図である。この光ピックアップ30は、BD用の光ビームを出射する半導体レーザ素子121、DVD用およびCD用の2つの波長の光ビームを出射する半導体レーザ素子111、半導体レーザ121から出射した光を0次光以下メインビームと±1次光以下サブビームに回折分岐させるグレーティング素子110、半導体レーザ素子111から出射した光を0次光以下メインビームと±1次光以下サブビームに回折分岐させるグレーティング素子112、これらの光ビームを受けトラックを有するBD118またはDVD/CD108上へ収束して集光スポットを形成する集光学系、光学系の往路と復路とで偏光状態を変える波長板104、光学系の往復路で光路を切り替えるビームスプリッタ103、光ディスク108または118で反射された光ビームを受光する受光素子101を備える。また、上記の集光学系は、コリメートレンズ105、BD用対物レンズ117、およびDVD,CD用対物レンズ107を有している。図8Cは、グレーティング素子110によって入射光が回折され、0次光以下メインビームと±1次光以下サブビームに分岐される様子を示している。こうして分岐した光が、光ディスク上に3つの光スポットを形成することになる。この光ピックアップ30は対物レンズ107、117の光軸方向z方向及び光ディスク10のラジアル方向図8Bの紙面垂直方向;x方向に対物レンズ107、117を駆動変位させるレンズ駆動機構図示せずを備えている。図8Dは、光ディスクのトラックと光ピックアップとの配置関係を模式的に示している。本実施形態における光ピックアップ30は、BD用対物レンズ117と、DVD,CD用対物レンズ107とを備える2レンズ構成の光ピックアップ30である。以降、特に断りのない限り、図中の表記のように、集光学系の光軸方向をZ軸方向とし、光ディスク15の径方向ラジアル方向をX軸方向とし、光ディスク15のトラック方向タンジェンシャル方向をY軸方向と称する。なお、光ピックアップの光学系において、ミラーやプリズムなどで光軸を折り曲げた場合も、光軸および光ディスクの写像を基準に方向を定義する。まず実施形態1の光ピックアップのDVD/CD用2波長半導体レーザ素子111からの出射光線について説明する。半導体レーザ素子111から出射するDVD用の光あるいはCD用の光はグレーティング素子112を透過し、メインビームとサブビームに回折分岐され、ビームスプリッタ102で反射して光路が折り曲げられ、偏光ビームスプリッタ103を透過後、コリメートレンズ105と対物レンズ107により光ディスク108の情報記録層上に集光され、記録層上に3つの光スポットメイン光スポットおよび2つのサブ光スポットを形成する。光ディスク108からの反射光は対物レンズ107およびコリメートレンズ105により収束光へ変換される。この光はビームスプリッタ103,102を透過し、検出レンズ122により非点収差を受け、受光素子101に入射し信号検出される。なお、ここで対物レンズ107は光ディスクの中心軸を通り光ピックアップ30の移送方向に一致する直線上に配置されているものとする。図9は、受光素子101の検出器群を示す図である。検出器はDVD用の光のメインビームを受光する検出器1、DVD用の光の2つのサブビームを検出する検出器2A,2B、CD用の光のメインビームを受光する検出器3、CD用の光の2つのサブビームを検出する検出器4A,4Bを有している。なお、DVD用の検出器とCD用の検出器とを異なる位置に設けている理由は、DVD用とCD用との間において、2波長レーザ光源での発光点位置の違いと、同一のグレーティングにより回折する場合の波長の違いによる回折角の差があるためである。これらの光検出器1、2A、2B、3、4A、4Bは、それぞれ、2分割されている。この分割領域の光量差により、トラッキングエラー信号が生成される。従来例について説明したように、DVD用の光からは、検出器1により得られるメインTEと検出器2A,2Bによって得られるサブTEとの式1による演算により、DCオフセットのないDPP信号が得られる。またCD用の光からは、検出器3により得られるメインTEと検出器4A,4Bによって得られるサブTEとの式1による演算により、DCオフセットのないDPP信号が得られる。これらのDVDまたはCD用の光については、対物レンズ107が、上述したように、光ディスクの中心を通り光ピックアップ30の移送方向に一致する直線上に配置されているため、光ディスクの内外周にピックアップ30が移送されても常に安定なDPP信号が得られる。これは、対物レンズからみた光ディスクの溝方向が光ピックアップ30の半径方向位置によらず一定であるからである。このため、光ディスク装置の製造時に配置が調整された単純なグレーティング素子によって問題の無い信号が得られる。次に、実施形態1の光ピックアップ30におけるBD用半導体レーザ素子121からの出射光線について説明する。再び図8Bを参照する。半導体レーザ素子121から出射されたBD用の光は、後で説明するグレーティング素子110を透過し、図8Cに示すようにメインビームとサブビームに回折分岐される。これらの光ビームは、偏光ビームスプリッタ103で反射されて光路が折り曲げられ、DVD/CD用反射ミラー106を波長選択機能により透過する。その後、コリメートレンズ105と対物レンズ117により光ディスク118の情報記録層上に集光され、記録層上に3つの光スポットメイン光スポットおよび2つのサブ光スポットを形成する。光ディスク118からの反射光は、対物レンズ117およびコリメートレンズ105により収束光へ変換される。この光は、ビームスプリッタ103,102を透過する。その後、検出レンズ122により非点収差を与えられ、受光素子101に入射し信号を生成する。対物レンズ117は、図8Dに示されるように、DVD/CD用対物レンズ107と異なり、光ディスクの中心軸を通り光ピックアップ30の移送方向に一致する直線上からY軸方向にずれている。光ピックアップ30内において、BD用の対物レンズ117の位置は、DVD/CD用対物レンズ107の位置からY軸方向に例えば4~5mm程度シフトしている。再び図9を参照する。BD用の3ビーム検出器は、DVD検出器と共用されている。BD用の光とDVD用の光とで波長は異なるが、DVD用グレーティング112のピッチとBD用グレーティング110のピッチとを互いに異ならせることで検出器面での検出光スポット位置を合わせ込むことが出来る。このため、BD用の光からは、検出器1により得られるメインTEと検出器2A,2Bによって得られるサブTEとの式1による演算により、DCオフセットのないDPP信号が得られる。次に、本実施形態におけるグレーティング素子110について説明する。図10は、本実施形態におけるグレーティング素子110の構成例を示す平面図である。グレーティング素子110の格子パターンは、Y軸にほぼ平行な複数の直線領域分割線によって複数の領域に分割されている。図10では、各分割領域の形状を把握しやすいように、複数の分割領域の1つを太い線で囲んでいる。各分割領域は、Y軸方向に延びる長方形の形状を有している。複数の分割領域は、それぞれ、入射光を回折する周期構造を有している。これらの分割領域がX軸方向に配列されている。図10では、11個の分割領域が記載されているが、現実のグレーティング素子110に含まれる分割領域の個数は、11個に限定されない。グレーティング素子が有する分割領域の個数は、11個より多くてもよいし、11個よりも少なくてもよい。グレーティング素子110のサイズは、入射する光ビームの直径よりも大きければよく、例えば5mm×5mmのサイズを有し得る。厚さは、例えば0.3~1mm程度である。このようなサイズを有するグレーティング素子110では、1つの分割領域の幅Wは、50μm~300μmの範囲内の値に設定され得る。分割領域の幅Wは、1つの光ビームが少なくとも6個の分割領域に入射する大きさに設定されることが好ましい。グレーティング素子110に入射する光ビームの直径が0.5mmの場合、分割領域の幅Wは、例えば50μm~100μmに設定され得る。各分割領域間における周期構造の周期Tは、相互に共通する一定の値を有している。しかし、周期構造の位相は、分割領域のX軸方向における位置に応じて異なっている。具体的には、X軸方向における分割領域の位置に応じて、周期構造の位相が階段状に変化している。図11は、隣接する2つの分割領域における周期構造の位相差を示す図である。図11には、2つの分割領域の断面および正面の形状が記載されている。2つの周期構造は、Y軸方向に周期Tの1/5だけずれている。この位相差は、360°×1/5=72°である。本実施形態では、各分割領域間における周期構造の位相は、グレーティング素子110の中心部を通る軸を中心線として対称である。図10の例では、中心に位置する分割領域の位相を0°と定義すると、中心から左右に遠ざかるにつれて、72°単位で位相差が階段状に変化している。なお、グレーティング素子110の図示されている部分の両端に位置する分割領域の位相は0°に設定されており、この値は360°と等しい。隣接する分割領域の位相差は、グレーティング素子110の全範囲で72°に固定されているが、グレーティング素子110の位置によって位相差が異なっていてもよい。また、位相差も72°に限定されない。グレーティング素子110に入射する光ビームの断面の外形が点線の円で示されている。1本の光ビームは、複数の分割領域を透過し、複数の分割領域によって全体として回折されて3つの光ビームを生じさせる。グレーティング素子110によって回折された光は、X軸方向には球面状の位相波面をもち、Y軸方向には直線状の位相波面を持つ光となる。一般に、周期構造の位相がずれたグレーティングに光が入射すると、そのまま透過する成分すなわち0次光は全く影響を受けない。しかし、回折する成分この場合主に±1次光には、周期構造の位相ずれに応じて位相差が生ずる。図12は、本実施形態におけるグレーティング素子により回折した1次光または-1次光のサブビームが光ディスクの記録層上に形成した光スポットを示す。グレーティング素子110により回折された光は、X軸方向には球面状の位相波面をもち、Y軸方向には直線状の位相波面を持つ。このため、対物レンズにより光ディスクの記録層上に集光されたサブ光スポット14,16は、X軸方向には広がり、かつ、Y軸方向には絞られた形状、すなわち楕円形の形状を有することになる。こうして、ランド部22およびグルーブ部20の両方にまたがったサブ光スポット14,16が形成されると、各サブTE信号のAC成分はキャンセルされる。本実施形態のグレーティング素子では、幅Wの等しい短冊状の分割領域がX軸方向に配列されている。その結果、X軸方向の回折が生じ、光ディスクの記録層上でトラック直交方向に光が離散することがあり得る。そのような回折を抑制するため、分割領域の幅Wを位置に応じて少しずつ変化させてもよい。本実施形態では、サブ光スポット14およびサブ光スポット16は、いずれも、グルーブ部20およびランド部22の両方をまたぐような形状およびサイズを有している。したがって、サブ光スポット14の反射光は、従来の小さなサブ光スポットの反射光が複合したものに相当すると考えることができる。従って、サブ光スポット14のうち、図12でグルーブ部20の上に位置する部分、およびランド部22に位置する部分は、それぞれがトラックを横切るとき、位相が反転した強度振幅を持つ反射光を生じさせることになる。ここで、わかりやすさのため、サブ光スポット14のうち、図12でグルーブ部20の上に位置する部分が形成する溝横断信号をTE114とする。また同様に、サブ光スポット14のうち、図12でランド部22の上に位置する部分が形成する溝横断信号をTE214とする。図13Aは、TE114およびTE214の信号波形を示す図である。これらのTE114およびTE214は、別々に検出されるわけではなく、合成された信号TE114TE214が図9における検出器2Aの2分割されたフォトダイオードの出力の差分によって生成される。同様のことがサブ光スポット16についても成立する。サブ光スポット16のうち、図12でグルーブ部20の上に位置する部分が形成する溝横断信号をTE116とし、サブ光スポット16のうち、図12でランド部22の上に位置する部分が形成する溝横断信号をTE216とする。図13Bは、TE116およびTE216の信号波形を示す図である。これらのTE116およびTE216を合成した信号TE116TE216が、図9における検出器2Bの2分割されたフォトダイオードの出力の差分によって生成される。図13Aに示されるように、TE114およびTE214は、DC成分と、位相が180°異なるAC成分とを有している。光ディスク上におけるサブ光スポット14の光強度分布形状およびサイズを調整することにより、TE114におけるAC成分の振幅とTE214におけるAC成分の振幅とを等しくことができる。AC成分の振幅を等しくすれば、位相が180°異なるため、TE114とTE214とを加算することにより、AC成分をキャンセルすることができる。その結果、TE114およびTE214のDC成分を、それぞれ、DC1およびDC2とすると、TE114およびTE214の和は、DC1DC2に等しくなる。図13Bに示されるように、TE116およびTE216も、DC成分と、位相が180°異なるAC成分とを有している。したがって、上述したように、光ディスク上におけるサブ光スポット16の光強度分布形状およびサイズを調整することにより、TE116におけるAC成分の振幅とTE216におけるAC成分の振幅とを等しくすると、TE116とTE216とを加算することにより、AC成分をキャンセルすることができる。この場合、TE116およびTE216のDC成分を、それぞれ、DC3およびDC4とすると、TE116およびTE216の和は、DC3DC4に等しくなる。図13Cは、本実施形態において、サブ光スポット14により得られるTE14=TE114TE214の信号波形、サブ光スポット16により得られるTE16=TE116TE216の信号波形、および、サブTESub-TE=TE14TE16の信号波形を示す図である。図13Cからわかるように、各信号波形は実質的にDC成分のみを有している。なお、図9に示す光検出器によれば、TE114TE214は、検出器2Aからの2つの出力の差分であり、TE116TE216は、検出器2Bからの2つの出力の差分である。これらの信号は、実際には別々に生成されず、合成された信号がサブTESub-TEとして生成される。すなわち、サブTESub-TE=TE114TE214TE116TE216=DC1DC2DC3DC4の関係が成立する。DC1DC2DC3DC4で示される信号は、AC成分がキャンセルされた信号であるが、レンズシフト等によるDCオフセットに相当する。本実施形態における3ビームトラッキング検出方式によれば、AC成分およびDCオフセットを有するメインTEと、AC成分のないDCオフセットを有するサブTEとによる演算により、DCオフセットの無いTE信号が得られる。サブTEにAC成分がないため、対物レンズから見た溝方向各々の位置での同心円接線方向が光ピックアップの半径位置に応じて変化しても、メインTE信号とサブTE信号との溝横断波形の位相ずれが生じず、DPP信号振幅の変動が抑制される。なお、本実施形態のグレーティング素子110は、中心を通りX軸に沿った直線図7上に移送される1つの対物レンズを有する光ピックアップに適用してもよい。その場合、光ピックアップの移送によって対物レンズから見た溝方向が変化する問題は回避されるが、本実施形態によれば、グレーティング素子の回転調整が不要になる利点がある。グレーティング素子の回転調整が不要になれば、光ピックアップの組立精度を緩和する効果がある。この効果を得るため、2レンズ構成の光ピックアップにおいて、グレーティング素子110をDVD/CD用のグレーティングに適用してもよい。このことは、後述する他の実施形態でも同様である。実施形態2次に、本発明の実施形態2における光ピックアップについて説明する。図14は、本発明の実施形態2におけるグレーティング素子110を示した平面図である。グレーティング素子110の格子パターンは、Y軸にほぼ平行な複数の直線領域分割線によって複数の領域に分割されている。図14では、各分割領域の形状を把握しやすいように、複数の分割領域の1つを太い線で囲んでいる。各分割領域は、Y軸方向に延びる長方形の形状を有している。複数の分割領域は、それぞれ、入射光を回折する周期構造を有している。これらの分割領域がX軸方向に配列されている。本実施形態では、周期構造の平面構成が異なる2種類の分割領域A,Bが交互に配置されている。各分割領域内は、同心円状の周期構造を有している。分割領域Aは、その中心線L1上のY側に中心を有する同心円の一部が格子状に周期的に配列された構造を有している。一方、分割領域Bは、その中心線L2上のY-側に中心を有する同心円の一部が格子状に周期的に配列された構造を有している。実施形態1のグレーティング素子では、分割領域ごとに回折光の位相波面を段階的にずらす構成を与えてたが、本実施形態では、個々の分割領域が回折光の位相波面を湾曲させる。図15は、本発明の実施形態2におけるグレーティング素子110によって形成されるディスク記録層上の光スポット12、14、16を示す。一般に同心円の回折格子に光が入射すると、同心円中心軸上に回折光が集光される。これは同心円の回折格子が持つレンズ作用による。光ディスク記録層上でX軸方向に長い楕円状の光スポットが得られる。このため、ランド部とグルーブ部との両方にまたがったサブ光スポットができるためサブTE信号のAC成分はキャンセルされる。また、同心円中心が互いに反対である領域を交互に配置することでグレーティングによる1次回折光と-1次回折光とがY軸方向に対称な作用を受けるため1次光と-1次光による2つのサブ光スポットが同じように形成できる。図15に示されるように、本実施形態でも、サブ光スポット14およびサブ光スポット16は、いずれも、グルーブ部20およびランド部22の両方をまたぐような形状およびサイズを有している。従って、サブ光スポット14のうち、図15でグルーブ部20の上に位置する部分、およびランド部22に位置する部分は、それぞれがトラックを横切るとき、位相が反転した強度振幅を持つ反射光を生じさせることになる。サブ光スポット14のうち、図15でグルーブ部20の上に位置する部分が形成する溝横断信号をTE114とし、ランド部22の上に位置する部分が形成する溝横断信号をTE214とする。図16Aは、TE114およびTE214の信号波形を示す図である。同様に、サブ光スポット16のうち、図15でグルーブ部20の上に位置する部分が形成する溝横断信号をTE116とし、サブ光スポット16のうち、図15でランド部22の上に位置する部分が形成する溝横断信号をTE216とする。図16Bは、TE116およびTE216の信号波形を示す図である。実施形態1について説明したように、光ディスク上におけるサブ光スポット14の光強度分布形状およびサイズを調整することにより、TE114におけるAC成分の振幅とTE214におけるAC成分の振幅とを等しくことができる。AC成分の振幅を等しくすれば、位相が180°異なるため、TE114とTE214とを加算することにより、AC成分をキャンセルすることができる。TE114およびTE214のDC成分を、それぞれ、DC1およびDC2とすると、TE114およびTE214の和は、DC1DC2に等しくなる。図16Bに示されるように、TE116およびTE216も、DC成分と、位相が180°異なるAC成分とを有している。したがって、上述したように、光ディスク上におけるサブ光スポット16の光強度分布形状およびサイズを調整することにより、TE116におけるAC成分の振幅とTE216におけるAC成分の振幅とを等しくすると、TE116とTE216とを加算することにより、AC成分をキャンセルすることができる。図16Cは、本実施形態において、サブ光スポット14により得られるTE14=TE114TE214の信号波形、サブ光スポット16により得られるTE16=TE116TE216の信号波形、および、サブTESub-TE=TE14TE16の信号波形を示す図である。図16Cからわかるように、各信号波形は実質的にDC成分のみを有している。本実施形態によっても、実施形態1について説明した効果と同様の効果を得ることができる。以下、本発明の第3の実施形態を説明する。本実施形態における光ディスク装置の構成は、図8Aを参照して説明した実施形態1における光ディスク装置の構成と同一である。また、光ピックアップの構成も、グレーティング素子110の構成を除いて実施形態1における光ピックアップの構成と同一である。図17Aは、本実施形態におけるグレーティング素子110に形成された回折領域を示す平面図である。グレーティング素子110の格子パターンは、基本的には、実施形態1におけるグレーティング素子110と同様に、Y軸にほぼ平行な複数の直線領域分割線によって複数の領域に分割されている。図17Aでも、各分割領域の形状を把握しやすいように、複数の分割領域の1つを太い線で囲んでいる。各分割領域は、Y軸方向に延びる長方形の形状を有している。複数の分割領域は、それぞれ、入射光を回折する周期構造を有している。これらの分割領域がX軸方向に配列されている。さらに、本実施形態におけるグレーティング素子110は、X軸にほぼ平行な複数の直線領域分割線によっても分割されている。その結果、各分割領域は、第1領域Aおよび第2領域BがY軸方向に交互に配置された構成を有している。複数の第1領域Aは、X軸方向に沿って並んでおり、かつ、その周期構造の位相は、X軸方向に沿って階段状に変化している。同様に複数の第2領域BもX軸方向に沿って並んでおり、かつ、その周期構造の位相は、X軸方向に沿って階段状に変化している。図17Bは、X軸方向に沿って並んだ第1領域Aの行と、軸方向に沿って並んだ第2領域Bの行とを抜き出して記載した図である。図17Bからわかるように、位相シフトの方向が第1領域Aと第2領域Bとの間で反対である。一般に、周期構造の位相がずれたグレーティングに光が入射すると、そのまま透過する成分すなわち0次光は全く影響を受けない。しかし、回折する成分この場合主に±1次光には、周期構造の位相ずれに応じて位相差が生ずる。このため、図17Aに示すような構成のグレーティングによって回折した±1次光は、第1領域Aのやや左肩上がりの位相分布の光と、第2領域Bのやや右肩上がりの位相分布の光とに分かれる。図18は、本実施形態におけるグレーティング素子110により形成される、ディスク記録層上の光スポットを示す図である。従来と同様メイン光スポットの上下に1次光の光ビームによるサブ光スポット14および-1次光の光ビームによるサブ光スポット16がそれぞれ形成される。しかし、グレーティング素子110の第1領域Aからの光スポットが例えばランド部22に形成され、第2領域Bからの光スポットがグルーブ部20に形成される。1次光について、第1領域Aからの光スポットと第2領域Bからの光スポットとは近接しているため、2つの光スポットは互いに干渉し、実質的に1つのサブ光スポット14を形成する。同様に、-1次光についても、第1領域Aからの光スポットと第2領域Bからの光スポットとは近接しているため、2つの光スポットは互いに干渉し、実質的に1つのサブ光スポット16を形成する。1次光のサブ光スポット14からの反射光が図9の光検出器で検出されたときの溝横断信号を考える。この溝横断信号は、第1領域Aからの光による溝横断信号TE1と第2領域Bからの光による溝横断信号TE2とが重畳されたものである。図19は、溝横断信号TE1、溝横断信号TE2、および、これらを加算した信号の波形を示している。第1領域Aからの光スポットおよび第2領域Bからの光スポットは、それぞれ、ランド部22およびグルーブ部20に位置しているため、溝横断信号TE1と溝横断信号TE2との間で位相が反転している。その結果、溝横断信号TE1と溝横断信号TE2とを換算した信号では、AC成分がキャンセルされている。図18に示されるように、本実施形態でも、サブ光スポット14およびサブ光スポット16は、全体して、グルーブ部20およびランド部22の両方をまたぐような形状およびサイズを有している。従って、サブ光スポット14のうち、図18でグルーブ部20の上に位置する部分主に領域Bからの光、およびランド部22に位置する部分主に領域Aからの光は、それぞれがトラックを横切るとき、位相が反転した強度振幅を持つ反射光を生じさせることになる。サブ光スポット14のうち、図18でグルーブ部20の上に位置する部分主に領域Bからの光が形成する溝横断信号をTE114とし、ランド部22の上に位置する部分主に領域Aからの光が形成する溝横断信号をTE214とする。図19Aは、TE114およびTE214の信号波形を示す図である。ここで、サブ光スポット14およびサブ光スポット16における領域A及び領域Bからの光はグルーブ部20およびランド部22の両方に位置する部分に照射されている。本実施形態では、グレーティング素子の領域A,Bからの光によるサブ光スポット間隔すなわち領域A,Bの位相傾斜の相対差を適正に選ぶことでちょうど互いに逆相となる。これらを合成した1次光の溝横断信号は、AC成分がキャンセルされた信号となる。レンズシフト等によるDC成分はそのまま残る。領域A,Bからの光によるサブ光スポット間隔が上記したキャンセル関係にあれば、サブ光スポットがディスクのトラック溝のどの位置にあってもよい。同様に、サブ光スポット16のうち、図18でグルーブ部20の上に位置する部分主に領域Bからの光が形成する溝横断信号をTE116とし、サブ光スポット16のうち、図18でランド部22の上に位置する部分主に領域Aからの光が形成する溝横断信号をTE216とする。図19Bは、TE116およびTE216の信号波形を示す図である。図19Cは、本実施形態において、サブ光スポット14により得られるTE14=TE114TE214の信号波形、サブ光スポット16により得られるTE16=TE114TE214の信号波形、および、サブTESub-TE=TE14TE16の信号波形を示す図である。図19Cからわかるように、各信号波形は実質的にDC成分のみを有している。本実施形態の3ビームトラッキング検出方式によれば、AC成分のないDCオフセットを有するサブTEが得られる。このため、AC成分とDCオフセットを有するメインTEからDCオフセットを減算することにより、DCオフセットの無いTE信号が得られる。光ピックアップの光ディスクにおける半径方向位置が変化することにより対物レンズから見た溝方向が連続的に変化しても、サブTEにAC成分が無いため、溝横断波形の位相ずれでDPP信号振幅が変動することがない。本実施形態では、サブ光スポットの片側が2つの光スポットの合成によりトラック直交方向に広がっている。その拡がり範囲は1つのグルーブ部20と1つのランド部22にまたがる程度になっている。反射率の異なる記録部と未記録部とが混在するようなディスクにおいて、その両方の部分の境界を通過するときの変動がメイン光スポットとサブ光スポットとでほぼ同時である。このため、メインTEとサブTEとの演算によって得られるDPP信号の変動も小さくて済むメリットもある。"