"投影手段によりエピポーララインと略平行な方向のラインパターンが投影された撮像対象物を撮像する撮像手段と、前記撮像された画像からラインの方向を算出するライン方向算出手段と、前記ラインの方向と、前記投影手段と前記撮像手段との相対的な位置関係を示す幾何配置に基づいて決定されるエピポーラライン方向との角度差に基づいて多重反射光領域を検出する検出手段と、を備えることを特徴とする画像処理装置。前記検出手段は、前記角度差の閾値判定を行うことにより多重反射光領域を検出することを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。前記検出手段は、前記多重反射光領域について、多重反射光領域らしさを表す多重反射光領域度を算出する多重反射光領域度算出手段をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。前記多重反射光領域度算出手段は、前記角度差と前記画像の画像輝度情報とに基づいて前記多重反射光領域度を算出することを特徴とする請求項3記載の画像処理装置。前記多重反射光領域度算出手段は、前記角度差と前記画像の空間周波数情報とに基づいて前記多重反射光領域度を算出することを特徴とする請求項3記載の画像処理装置。請求項3に記載の画像処理装置と、前記撮像対象物までの距離を計測する計測手段と、を備えることを特徴とする距離計測装置。前記計測手段は、前記検出手段により前記多重反射光領域ではないとして検出された領域に対して前記撮像対象物までの距離を計測することを特徴とする請求項6に記載の距離計測装置。前記計測手段は、前記多重反射光領域度算出手段により算出された多重反射光領域度に基づいて距離計測結果の信頼度を出力することを特徴とする請求項6に記載の距離計測装置。前記ライン方向算出手段は、エッジ検出フィルタを用いて前記ラインの方向を算出することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。前記ライン方向算出手段は、空間周波数解析を用いて前記ラインの方向を算出することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。撮像手段と、ライン方向算出手段と、検出手段と、を備える画像処理装置の制御方法であって、前記撮像手段が、投影手段によりエピポーララインと略平行な方向のラインパターンが投影された撮像対象物を撮像する撮像工程と、前記ライン方向算出手段が、前記画像からラインの方向を算出するライン方向算出工程と、前記検出手段が、前記ラインの方向と、前記投影手段と前記撮像手段との相対的な位置関係を示す幾何配置に基づいて決定されるエピポーラライン方向との角度差に基づいて多重反射光領域を検出する検出工程と、を有することを特徴とする画像処理装置の制御方法。請求項11に記載の画像処理装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。特許文献1に記載の方法では、偶数回の多重反射による計測誤りは検出可能だが、奇数回の多重反射による計測誤りは検出できない。また、1次反射光と多重反射光が混在する領域の判定に誤りを生じる可能性もある。さらに、階段状の計測対象物の場合、反射が生じなくてもライン番号の増減が逆向きとなるケースも起こり得る。上述のように、計測対象間で生じる多重反射が発生する領域を効果的に検出可能な距離計測技術は提案されていないという課題がある。上記の課題に鑑み、本発明は、パターン投影と簡便な画像処理で多重反射光領域の検出を行うことにより、多重反射によるノイズの影響を低減することを目的とする。上記の目的を達成する本発明に係る画像処理装置は、投影手段によりエピポーララインと略平行な方向のラインパターンが投影された撮像対象物を撮像する撮像手段と、前記撮像された画像からラインの方向を算出するライン方向算出手段と、前記ラインの方向と、前記投影手段と前記撮像手段との相対的な位置関係を示す幾何配置に基づいて決定されるエピポーラライン方向との角度差に基づいて多重反射光領域を検出する検出手段と、を備えることを特徴とする。本発明によれば、パターン投影と簡便な画像処理で多重反射光領域の検出を効果的に行うことにより、多重反射によるノイズの影響を低減できる。以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。第1実施形態まず、図1を参照して、第1実施形態に係る画像処理装置距離計測装置の概略構成図を示す。距離計測装置は、投影部1と、撮像部2と、制御計算処理部3とを備える。投影部1はパターン光、例えばラインパターン光を計測対象物5に投影する。撮像部2はパターン光が投影された計測対象物5を撮像する。制御計算処理部3は、投影部1と撮像部2とを制御し、撮像された画像データを計算処理して計測対象物5までの距離を計測する。投影部1は、光源11と、照明光学系12と、表示素子13と、投影光学系14とを備える。光源11は、例えばハロゲンランプ、LEDなど各種の発光素子である。照明光学系12は、光源11から出射された光を表示素子13へと導く機能を有する。光源から出射された光が表示素子13に入射する際に、入射輝度が均一である方がよい。そのため、照明光学系12には、例えば、ケーラー照明や拡散板など輝度の均一化に適した光学系が用いられる。表示素子13は、例えば透過型LCDや反射型のLCOSDMDなどである。表示素子13は、照明光学系12からの光を投影光学系14に導く際に、透過率、または、反射率を空間的に制御する機能を有する。投影光学系14は、表示素子13を計測対象物5の特定位置に結像させるように構成された光学系である。本実施形態では表示素子と投影光学系とを備える投影装置の構成を示したが、スポット光と2次元走査光学系とを備える投影装置を用いることも可能である。撮像部2は、撮像レンズ21と、撮像素子22とを備える。撮像レンズ21は、計測対象物5の特定位置を撮像素子22上に結像させるよう構成された光学系である。撮像素子22は、例えばCMOSセンサ、CCDセンサなど各種光電変換素子である。なお、図1では投影部1と撮像部2とが略平行に配置されている構成が示されている。制御計算処理部3は、投影パターン制御部31と、画像取得部32と、多重反射領域検出部33と、距離算出部34と、パラメータ記憶部35とを備える。制御計算処理部3のハードウェアは、CPU、メモリ、ハードディスクなどの記憶装置、入出力用の各種インタフェース等を具備する汎用のコンピュータハードウェアから構成される。また、制御計算処理部3のソフトウェアは、本発明に係る距離計測方法をコンピュータに実行させる距離計測プログラムを備える。CPUが距離計測プログラムを実行することにより、投影パターン制御部31、画像取得部32、多重反射領域検出部33、距離算出部34、およびパラメータ記憶部35の各部を実現している。投影パターン制御部31は、後述する投影パターンを生成して、記憶装置に予め記憶する。また、必要に応じて記憶した投影パターンのデータを読み出し、例えば、DVIのような汎用的なディスプレイ用インタフェースを介して投影パターンデータを投影部1に伝送する。さらにRS232CやIEEE488などの汎用の通信インタフェースを介して投影部1の動作を制御する機能を有する。なお、投影部1では、伝送された投影パターンデータに基づいて表示素子13に投影パターンを表示する。画像取得部32は、撮像部2で標本化ならびに量子化されたデジタルの画像信号を取り込む。さらに、取り込んだ画像信号から各画素の輝度濃度値で表される画像データを取得してメモリに記憶する機能を有する。なお、画像取得部32は、RS232CやIEEE488などの汎用の通信インタフェースを介して撮像部2の動作撮像のタイミングなどを制御する機能を有する。画像取得部32と投影パターン制御部31とは互いに連携して動作する。表示素子13へのパターン表示が完了すると、投影パターン制御部31は、画像取得部32に信号を送信する。画像取得部32は、投影パターン制御部31から信号を受信すると撮像部2を動作させ、画像撮像を実施する。画像撮像が完了すると、画像取得部32は投影パターン制御部31に信号を送信する。投影パターン制御部31は画像取得部32から信号を受信すると、表示素子13に表示する投影パターンを次の投影パターンに切り替える。これを順次繰り返すことで、全ての投影パターンの撮像を実施する。多重反射領域検出部33は、投影部1により投影された多重反射領域検出用パターンの撮像画像に基づいて多重反射領域を検出する。多重反射とは、例えば撮像対象物において複数回反射が生じることをいう。詳細は後述する。距離算出部34では、距離計測用パターンの撮像画像、パラメータ記憶部35に格納されているパラメータ、および、多重反射領域検出部33での検出結果、を用いて計測対象物5までの距離を算出する。パラメータ記憶部35は、三次元的な距離を算出するのに必要なパラメータを格納する。パラメータとしては、投影部1と撮像部2との機器パラメータ、投影部1と撮像部2との内部パラメータ、投影部1と撮像部2との外部パラメータ、投影パターンのパラメータがある。投影部1と撮像部2との機器パラメータは、表示素子の画素数、撮像素子の画素数である。投影部1と撮像部2との内部パラメータは、焦点距離、画像中心、ディストーションによる画像歪みの係数などである。投影部1と撮像部2との外部パラメータは、投影部1と撮像部2との相対位置関係を表す並進行列と回転行列である。投影パターンのパラメータは、距離計測用パターン、多重反射領域検出用パターンに関する情報である。本実施形態では、投影部1、撮像部2ともにピンホールカメラモデルで近似されるものとして説明する。ただし、本発明が適用できるカメラモデルはピンホールカメラに限られるものではない。図2を参照して、三角測量法による距離計測の原理を説明する。撮像部のレンズ中心をCc、画像平面をIc、焦点距離をfc、画像中心ccのピクセル座標をuco、vco、撮像素子の画素サイズをPscとすると、撮像部の内部行列Acは以下の式1のように記述される。また、投影部のレンズ中心をCp、画像平面をIp、焦点距離をfp、画像中心cpのピクセル座標をupo、vpo、表示素子の画素サイズをPspとすると、投影部の内部行列Apは以下の式2のように記述される。撮像部の内部行列Acと投影部の内部行列Apは公知の技術である内部パラメータのキャリブレーション方法を用いることで算出される。撮像部のカメラ座標系XYZと投影部のカメラ座標系XpYpZp間の相対位置関係を表す外部パラメータは回転行列Rと並進行列Tである。回転行列Rは3×3の行列であり、並進行列Tは3×1の行列である。回転行列Rと並進行列Tとは公知の技術である外部パラメータのキャリブレーション方法を用いることにより算出される。撮像部のカメラ座標系を原点とする3次元空間中の点Mの座標をX、Y、Zとする。点Mを撮像部の画像平面Icに射影した点mcのピクセル座標をuc、vcとする。その対応関係は以下の式3で記述される。sはスカラーである。また、同一点Mを投影部の画像平面Ipに射影した点mpのピクセル座標をup、vpとする。その対応関係は以下の式4で記述される。s’はスカラーである。上記を式3、式4を展開すると以下の式5で示す4つの連立方程式となる。点mcのピクセル座標uc、vcと点mpのピクセル座標up、vpとは、背景技術で説明した種々のパターン投影法を用いることで求められる。また、Ciji=1~3j=1~3、Piji=1~3j=1~3は、内部行列と外部パラメータとから算出されるため、予めキャリブレーションにより求められている。式5において点Mの座標値X、Y、Zのみが未知数であり、連立方程式を解くことでこれを求めることができる。なお、求める未知数である点Mの座標値はX、Y、Zの3つであるため、投影部のピクセル座標値up、vpのいずれか一方を求めれば、点Mの座標値を算出することができる。以上が三角測量法に基づく距離計測の原理である。多重反射光が発生しない、あるいは、発生しても影響が顕在化しない場合には、上述の三角測量法で計測対象物の距離計測を行うことができる。しかし、多重反射光が発生して影響が顕在化すると計測誤差を生じる。図3を参照して、多重反射光による計測誤差発生のメカニズムを説明する。図3では、簡単のためにX軸とZ軸の2次元断面図の形式で説明する。投影部1のレンズ中心Cpから画像平面Ip上の点up1を通過する方向に出射した光線L1は計測対象物5上の点P1に入射する。点P1で反射された光は撮像部2の画像座標と点uc1で交わり、レンズ中心Ccへと入射する。投影部1のレンズ中心Cpから画像平面Ip上の点up2を通過する方向に出射した光線L2は計測対象物5上の点P2に入射する。点P2で反射された光は点P1で2次反射される。その後、撮像部2の画像座標上の点uc1で交わり、撮像部1のレンズ中心Ccへと入射する。2次反射が起こると、本来は投影部1のレンズ中心Cpから出射した光が、点P2から出射したかのように振舞う。被写体の光沢性が低く、多重反射の影響が少ない場合には、撮像部2で観測される輝度はL1による反射光が支配的となる。ピクセル座標値がup1であると正しく検出されるため、距離計測結果も正しいZtとなる。一方、被写体の光沢性が高く、多重反射の影響が大きい場合には、L2による反射光が支配的となる。このとき、ピクセル座標値がup2であると誤検出されるため、計測点がPeにあるものとして計測されてしまう。距離計測結果はZeとなり、ΔZ=Zt-Zeだけの誤差を生じる。実際には、図3で示した2次反射光だけでなく、3次以上の反射光も存在し、より複雑な計測誤差が発生することある。以上が多重反射光による計測誤差発生のメカニズムの説明である。これに対し本発明では、エピポーラ幾何の性質を利用したパターンの投影により、多重反射光が発生する領域の検出を行う。図4を参照して、エピポーラ幾何について説明する。図4では、エピポーラ幾何の性質がわかりやすいように、投影部1と撮像部2との各配置が図1に比べて傾けて示されている。3次元空間中の点M、投影部1のレンズ中心Cp、撮像部2のレンズ中心Ccは1つの平面上にある。この平面をエピポーラ平面EPという。エピポーラ平面EPとそれぞれの画像平面Ic、Ipとの交線をそれぞれのエピポーララインELc、ELpという。また、画像平面Icと画像平面Ipにおいてエピポーララインが交わる点をエピポールec、epという。エピポーラ幾何には次の性質がある。投影部1と撮像部2と撮像対象物との相対的な位置関係を示す幾何配置が既知の場合、撮像部2の画像平面Ic上の点を1点決めると、投影部1の画像平面Ip上のエピポーララインELpが決まる。同様に、投影部1の画像平面Ip上の点を1点決めると、撮像部2の画像平面Ic上のエピポーララインELcが決まる。そこで、投影部1の画像平面Ip上のエピポーララインELpと略平行なラインパターンを計測対象物5に投影する。すると、撮像部2においては、撮像部2の画像平面Ic上のエピポーララインELcと平行なラインパターンが撮像される。ここで、エピポーララインELpと略平行なラインパターンとは、エピポーララインELpと平行な方向または当該平行な方向から所定の角度範囲である方向のライン成分を有するパターン光である。図5を参照して、この性質を利用して多重反射光領域を検出する原理を説明する。図5aは計測装置、計測対象物5、および、投影部1により投影されるラインパターンの位置関係を示す。また、図5bは撮像部2による撮像画像を示す。投影部1からは投影部1のエピポーララインELpと略平行な方向のラインパターンLPを投影している。計測対象物5としては、散乱性物体51、光沢性物体52、背景板53の3つである。なお、背景板53の散乱性は高いものとする。散乱性物体51では、投影されたラインパターンの1次反射光が観測されるため、エピポーラ幾何が成立し、撮像部2のエピポーララインELcと略平行なラインLPsが観測される。光沢性物体52では、図5aに示した配置のとき、投影部1から投影されたラインパターンの反射光よりも背景板53からの反射光による光の方が強くなる。背景板53からの反射光においては、エピポーラ幾何が成立しないため、撮像部2のエピポーララインELcと略平行ではない方向のラインLPrが観測される。つまり、撮像部2のエピポーララインELcと略平行でない方向のラインの有無を判定すれば、多重反射光領域の有無の検出が可能になる。以上が、本発明のエピポーラ幾何を利用した多重反射光領域の検出方法の説明である。図6のフローチャートを参照して、第1実施形態に係る多重反射光領域の検出処理の流れを説明する。S1では、投影部1が多重反射光領域検出用パターンを計測対象物5に投影する。多重反射光検出用パターンは、投影部1の画像平面Ipにおけるエピポールepを求めることにより決定される。エピポーララインはエピポールを通過するという性質を持つため、投影部1の画像平面Ipにおけるエピポールepを求めることにより、エピポーララインELpの方向を決定できる。エピポールepはF行列fundamentalmatrixFから求められる。F行列Fは投影部1の内部行列Ap、撮像部2の内部行列Ac、投影部1と撮像部2との間の回転行列R、並進行列Tから以下の式6で求められる。なお、式6の×は以下の式7の変換を表す。投影部1のエピポールepはFFTの最も小さい固有値に対応する固有ベクトルとして算出される。図7に多重反射光領域検出用パターンの例を示す。図7aは、エピポールが無限遠方に存在するときのパターンである。図1に示す投影部1と撮像部2とが平行配置された状態のとき、このようなパターンになる。図7bは、エピポールが画像平面の下方に存在するときの例であり、図7cは、エピポールが画像平面の上方に存在するときの例である。投影部1と撮像部2とが平行配置でない場合には、このようなパターンになる。S2では、撮像部2が、多重反射光領域検出用パターンが投影された計測対象物5を撮像する。S3では、画像取得部32がS2で撮像された画像を取得し、多重反射領域検出部33が当該画像からライン方向を算出するライン方向算出処理。この際、図8aに示すように画像を特定サイズの小領域SRに区切り、それぞれの小領域でライン方向を検出する。また、図8aの点線矢印のように小領域SRを画面上で2次元的に走査する。第1実施形態ではエッジ検出フィルタによるライン方向の検出を行う。次に図8b、図8c、および図8dを参照して、エッジ検出フィルタによるライン方向検出の原理を説明する。図8bはエッジ検出フィルタの例である。エッジ検出フィルタは特定の角度刻みで複数用意する。図8bでは15°刻みのフィルタを図示したが、これに限られるものではない。また、図中では3×3ピクセルのエッジ検出フィルタの例を示した。画像中の投影ラインの幅が1ピクセルの場合、3×3のフィルタサイズが最適となる。画像中の投影ラインの幅が1ピクセルよりも大きい場合には、それに合わせてフィルタのサイズを大きくすると良い。エッジ検出フィルタを用いると、小領域SRのライン方向とフィルタのライン方向の角度が近い場合に、高い出力値が出力される。散乱性物体51上の小領域SR1では、図8cに示すように、0°のときの出力が最大となる。一方、光沢性物体52上の小領域SR2では、図8dに示すように、-30°のとき出力が最大となる。S3では、出力が最大となる角度をライン方向として出力する。S4では、多重反射領域検出部33が、S3で検出された小領域SRごとのライン方向と、その小領域SRに対応する撮像部2の画像平面上のエピポーラライン方向とを比較する。S3で検出されたライン方向とエピポーラライン方向との差が所定値以下であると判定された場合S4;YES、S5に進む閾値判定処理。S5において、多重反射領域検出部33は、その小領域が多重反射光非存在領域パターン光が1回のみ反射された1次反射光領域;第一の領域であるとラベル付けする。一方、S3で検出されたライン方向とエピポーラライン方向との差が所定値よりも大きいと判定された場合S4;NO、S5’に進む。S5’において、多重反射領域検出部33は、その小領域が多重反射光存在領域第二の領域であるとラベル付けする。撮像部2のエピポーララインELcの方向は撮像部2のエピポールecを求めることにより算出される。撮像部2のエピポールecはFTFの最も小さい固有値に対応する固有ベクトルとして算出される。図9に撮像画像上のエピポーラライン方向の例を示す。図9aはエピポールが無限遠方に存在するときの画像である。図1に示す投影部1と撮像部2とが平行に配置された状態のとき、このようになる。図9bはエピポールが画像平面の下方に存在するときの例であり、図9cはエピポールが画像平面の上方に存在するときの例である。投影部1と撮像部2とが平行配置でない場合には、このようなパターンになる。図10aは、エピポーララインELcを点線で示し、検出されたライン方向LDを実線で示した図である。散乱性物体51と背景板53においては、検出ライン方向LDとエピポーラライン方向ELcとが一致する。従って、散乱性物体51と背景板53とは、多重反射光非存在領域である。一方、光沢性物体52においては、検出ライン方向LDとエピポーラライン方向ELcとが一致しない。従って、光沢性物体52は多重反射光領域である。図10bは、多重反射光非存在領域と多重反射光領域との各ラベル付け後の結果を示す。多重反射光非存在領域を左下がりの斜線で、多重反射光領域を右下がりの斜線で示す。S6では、投影パターン制御部31が投影部1および撮像部2を制御し、投影部1および撮像部2が距離計測用パターンの投影および撮像を行う。第1実施形態ではパターン投影法としてグレーコード法を用いた例を示すが、本発明に適用できるパターン投影法はグレーコード法に限られるものではない。S6の詳細なフローを図11aに示す。また、距離計測用パターンを図11bに示す。ここでは、符号化のビット数を10ビットであるものとして説明する。S61では、投影パターン制御部31が制御変数iを1に設定する。S62では、投影部1がiビットのポジティブ距離計測用パターンを計測対象物5へ投影する。S63では、撮像部2がiビットのポジティブ画像を撮像する。S64では、投影部1がiビットのネガティブ距離計測用パターンを計測対象物5へ投影する。S65では、撮像部2がiビットのネガティブ画像を撮像する。S66では、投影パターン制御部31が、制御変数iがNよりも小さいか否かを判定する。制御変数iが整数Nよりも小さいと判定された場合S66;YES、S67へ進む。S67では、投影パターン制御部31が制御変数iに1を加算する。Nは符号化のビット数に対応する整数である。今回の場合、N=10である。一方、制御変数iがNよりも小さいという関係が成立しないと判定された場合すなわちi=10の場合S66;NO、S6の処理を終了して、S7に進む。S7では、多重反射領域検出部33が、S4、S5、S5’で付与された撮像画像小領域ごとの多重反射光領域ラベルに基づいて、小領域が多重反射光領域であるか否かを判定する。小領域が多重反射光領域であると判定された場合にはS7;YES、S8’へ進み、距離算出部34は距離計測処理を行わない。一方、小領域が多重反射光非存在領域であると判定された場合にはS7;NO、S8へ進み、距離算出部34は距離計測処理を行う。距離計測処理では、距離算出部34はi=1~10のポジティブ画像とネガティブ画像とを用いて投影部1のピクセル座標値を求める。その具体的な方法を説明する。距離算出部34は、撮像画像の全ピクセルで、ビットごとにポジティブ画像とネガティブ画像との輝度値の大小比較を行う。ポジティブ画像の輝度値がネガティブ画像の輝度値よりも大きい場合1とし、ポジティブ画像の輝度値がネガティブ像の輝度値よりも小さい場合0とする。この0または1の値をi=1からi=10まで順番に並べたものがグレーコード符号値であり、これを空間コード値に変換したものが投影部1のピクセル座標となる。撮像部2のピクセル座標も撮像画像から判明するため、前述した三角測量法が適用できる。以上で処理が終了する。第1実施形態によれば、多重反射光領域を検出し、その領域には距離計測処理を適用しないため、多重反射光により生じる誤差の無い距離計測結果を得ることができる。第1実施形態では、エピポーラライン方向以外の様々な方向のエッジ検出フィルタを用いてライン方向を検出後、エピポーラライン方向のラインの有無を判定する例を紹介した。本発明はこの例に限られるものでなく、エピポーラライン方向のみのエッジ検出フィルタの出力値でエピポーラライン方向のラインの有無を判定しても良い。以上が、本発明の第1実施形態に係る距離計測装置の説明である。第2実施形態第2実施形態に係る距離計測装置の概略構成は、第1実施形態で説明した図1と同様であるため、説明を省略する。図12のフローチャートを参照して、第2実施形態に係る距離計測装置の処理の流れを説明する。S1からS7までの各処理は第1実施形態の対応する各処理と同一であるため、説明を省略する。第1実施形態の場合には、多重反射光非存在領域に対してのみ、S8の距離計測処理を適用したが、第2実施形態の場合には、多重反射光領域にも距離計測処理を適用する。ただし、小領域が多重反射光非存在領域である場合には、S8の後にS9に進み、計測結果の信頼度を高信頼度とする。一方、小領域が多重反射光存在領域である場合には、S8’の後にS9’に進み、計測結果の信頼度を低信頼度とする。第2実施形態によれば、多重反射光領域の検出結果に基づいた信頼度を与えることで、計測結果を渡された後段の処理で各信頼度に基づいて計測結果を取捨選択できる。以上が、本発明の第2実施形態に係る距離計測装置の説明である。第3実施形態第3実施形態に係る距離計測装置の概略構成は、第1実施形態で説明した図1と同様であるため、説明を省略する。第3実施形態に係る距離計測装置の処理の流れは、第1実施形態の図6で説明したS1からS7までの各処理と同様である。ただし、S3のライン方向の検出に適用される処理に、空間周波数解析を用いる点、およびそれに伴うS4の処理が異なっている。図13を参照して、空間周波数解析に基づくライン方向検出の詳細を説明する。図13aに示すように、空間周波数解析を用いる場合も、撮像画像を特定サイズの小領域SRに区切り、それぞれの小領域でライン方向を検出する。第1実施形態と同様に、画像中の小領域SRを画面上で2次元的に走査し、それぞれでライン方向を検出する。第3実施形態では、小領域SRに対して2次元離散フーリエ変換を施す。図13b、cに、それぞれ小領域SR1の拡大図と小領域SR1に対する2次元離散フーリエ変換の結果とを示す。同様に、図13d、eにそれぞれ小領域SR2の拡大図と小領域SR2に対する2次元離散フーリエ変換の結果とを示す。図13c、eは画像を空間周波数領域で表現したもので、横軸がu方向の空間周波数成分、縦軸がv方向の空間周波数成分である。また、グラフ上の点は2次元離散フーリエ変換の絶対値のピーク点を表している。図13bの拡大図で示すように、縦方向のラインが大部分を占める小領域SR1では、図13cのように、原点Oと、u軸上にピーク点F1、F1’とが現れる。すなわちピーク点と原点Oとのなす角θ1は0となる。一方、図13dの拡大図で示すように、斜め線が大部分を示す小領域SR2では、図13eのように、原点Oと、原点Oを中心に角度θ2だけ回転させた直線上にピーク点F2、F2’が現れる。空間周波数解析に基づくライン方向検出では、このピーク点と原点とを結ぶ直線と、横軸とのなす角をライン方向として出力する。S4においては、エピポーララインELc方向の空間周波数領域におけるピーク点と原点とを結ぶ直線と、横軸とのなす角を予め算出しておく。そして、S3で出力されたライン方向とエピポーラライン方向との差が所定値以下であるか否かを判定する。なお、第1実施形態および第2実施形態では、エッジ検出フィルタによるライン方向検出の例を示し、第3実施形態では、空間周波数解析によるライン方向検出の例を示したが、本発明に適用できるライン方向検出法は上記2つの方法に限られるものではない。以上が、第3実施形態に係る距離計測装置の説明である。第4実施形態第4実施に係る距離計測装置の概略構成は、第1実施形態で説明した図1と同様であるため、説明を省略する。第4の実施形態では、ライン方向とエピポーラライン方向の角度差と画像輝度情報に基づいて多重反射光領域度を算出する例を示す。第4実施形態に係る画像処理装置の処理の流れを図14に示す。S101では、投影部1が多重反射光領域検出用パターンを計測対象物5に投影する。S102では、撮像部2が、多重反射光領域検出用パターンが投影された計測対象物5を撮像する。S103では、画像取得部32がS2で撮像された画像を取得し、多重反射領域検出部33が当該画像からライン方向を検出抽出する。この際、図8aに示すように画像を特定サイズの小領域SRに区切り、それぞれの小領域でライン方向を検出する。ライン方向の算出には、第1実施形態で用いたエッジ検出フィルタ、第4実施形態で用いた空間周波数解析などを用いることができる。S104では、多重反射領域検出部33が、S3で検出された小領域SRごとのライン方向と、その小領域SRに対応する撮像部2の画像平面上のエピポーラライン方向との角度差Δθを算出する。検出されたライン方向をθl、エピポーラライン方向をθeとすると角度差Δθは以下の式8で算出される。Δθ=absθl-θe8ここで、absはカッコ内の符号付きの値の絶対値を出力する関数である。S105では、多重反射領域度Drを算出する多重反射光領域度算出処理。多重反射光領域度は多重反射光領域らしさを表す値であり、値が大きいほど、多重反射領域である可能性は高くなる。多重反射領域度Drは以下の式9に示すようにS104で算出された角度差Δθと画像輝度情報Lumの関数である。Dr=gLum,Δθ9関数gLum,Δθとしては例えばLum×Δθを用いることができる。角度差Δθが大きいほど、多重反射光領域である可能性は高いので、それを利用したものである。画像輝度情報Lumとしては小領域の画像輝度の平均値Laveを用いることができる。小領域内の画像輝度平均値が低い場合、ライン方向の検出精度が下がるため、角度差Δθの精度が低下する。多重反射領域度の算出において、画像輝度情報を併用することで、画像輝度の低下に伴うライン方向の検出誤差を補うことができる。画像輝度情報としては平均値以外にも画像輝度の分散Lvar、小領域内の画像輝度の最大値と最小値の差Lmax-min、小領域内のコントラストLconなどを用いることができる。小領域内の分散、最大値―最小値、コントラストの値が大きいほど、ラインが画像中で明瞭に観測され、ライン方向の検出精度は向上する傾向にある。第4実施形態ではライン方向とエピポーラライン方向の角度差以外の情報として画像輝度情報を用いる例を示したが、用いることができる情報はそれに限られない。例えば、画像の空間周波数情報なども同様に用いることができる。ラインの空間周波数情報は画像中でほぼ一定であるため、そのスペクトルが他の周波数スペクトルに比べて大きいほどライン方向の検出精度は向上する。S106では、多重反射領域度Drに基づいて、多重反射光領域を検出する。S107では、投影パターン制御部31が投影部1および撮像部2を制御し、投影部1および撮像部2が距離計測用パターンの投影および撮像を行う。ここでは第1実施形態でS6として示したフローと同様の処理を行う。S108では、距離算出部34が距離計測処理を行う。ここでは第1実施形態でS8として示したフローと同様の処理を行う。S109では、距離計測信頼度を出力する。多重反射領域度はDrの関数hDrで求める。多重反射領域度Drが大きいほど距離計測信頼度は低いので、hDrとしては多重反射領域度Drの逆数1/Drを用いることができる。以上が、第4実施形態に係る距離計測装置の説明である。第1乃至第4実施形態では、距離算出部を持つ距離計測装置として説明したが、距離算出部を持たない構成でも効果がある。つまり、画像中から多重反射光領域を検出し、その検出結果に基づいて計測対象物の認識処理等を適用することで、多重反射光によるノイズの影響を低減した画像処理を行うことができる。その他の実施形態また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアプログラムを、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータまたはCPUやMPU等がプログラムを読み出して実行する処理である。"