光干渉断層撮影OCTの原理に従って、生体組織140、特に人間の目の前表面部の深さプロファイルを記録する装置100、200であって、所定帯域幅Δλを有する所定の波長範囲内の波長で、かつ動作波長λ0を有する光線束102を生成する光源101と、前記光源101により生成された前記光線束を、参照ビーム104、204および前記生体組織140に向かう測定ビーム106に空間的に分離するビームスプリッター装置120と、前記参照ビーム104、204を偏向する参照ビーム偏向装置130、230と、前記偏向された参照ビーム104、204を前記生体組織140によって偏向された前記測定ビーム106上に空間的に重ね合わせて重畳ビーム108、208とするビーム重畳装置150を有する干渉計装置と、前記参照ビーム104、204と前記測定ビーム106の光路長の差に関連する前記重畳ビーム108、208の情報を検出する検出装置160、170、270とを具備し、前記所定の波長範囲は、300nmから500nmの範囲であることを特徴とする装置。前記所定の波長範囲は、350nmから450nm、好ましくは395nmから415nmの範囲であることを特徴とする請求項1に記載の装置。前記光源101は、窒化ガリウムGaNi半導体発光ダイオードであり、前記所定の波長範囲は、前記窒化ガリウム半導体発光ダイオードの発光波長の範囲に応じた405nmに最も近い範囲であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の装置。前記干渉計装置および前記検出装置は、前記所定の波長範囲内の波長を用いて動作するように設計されたものであることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の装置。前記装置100は、フーリエドメイン光干渉断層撮影の、特にパラレルフーリエドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作することを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の装置。前記参照ビーム104は、実質上、空間的に一定に進み、前記検出装置は、波長に応じて前記重畳ビーム108を異なる波長を有する複数の部分ビーム110に空間的に分離する分光計160、特にプリズムまたは光学格子と、波長を選択するようにして前記部分ビーム110の強度を測定する空間的分解検出器配列170を有するものであることを特徴とする請求項5に記載の装置。前記装置200は、タイムドメイン光干渉断層撮影の、特にパラレルタイムドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作することを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の装置。前記参照ビーム204の光路長は、時間的に、特に前記参照ビーム偏向装置230の周期運動232によって調整され、前記検出装置は、前記参照ビーム204の調整によって時間的に調整される前記重畳ビーム208の強度を時間的に分解するようにして測定する検出器270を有するものであることを特徴とする請求項7に記載の装置。前記検出装置170、270での前記生体組織のコヒーレント結像のために、前記測定ビーム106に対する測定ビーム光学システム180、280と、前記重畳ビーム108、208に対する第1の重畳ビーム光学システム190、290が設けられたものであることを特徴とする請求項1ないし請求項8のいずれか1項に記載の装置。前記測定ビーム106の前記生体組織104内の部分における光路長によって起こる、前記参照ビーム104、204と前記測定ビーム106との間の位相変化を補正するための参照ビーム光学システム182、282が、前記参照ビーム104、204に対して設けられたものであることを特徴とする請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載の装置。前記測定ビーム106内に配置された前記目の前表面部のような前記生体組織140の所定の基礎形状の中の、基礎アーチ形状によって生じる結像誤差を補正するための第2の重畳ビーム光学システム192、292が、前記重畳ビーム108、208に対して設けられたものであることを特徴とする請求項1ないし請求項10のいずれか1項に記載の装置。光干渉断層撮影OCTの原理に従って、生体組織140の、特に人間の目の前表面部の深さプロファイルを測定する方法であって、所定帯域幅Δλを有する所定の波長範囲内の波長で、かつ動作波長λ0を有する光を用い、前記所定の波長範囲を、300nmより大きく500nm以下の範囲とすることを特徴とする方法。請求項1ないし請求項11のいずれか1項に記載の装置100、200を用いることを特徴とする請求項12に記載の方法。本発明は、高い軸方向分解能を、複雑な構成を用いることなく得ることができる光干渉断層撮影測定装置を提供することを目的とする。この目的は、請求項1の装置および請求項12の方法によって達成される。すなわち、光干渉断層撮影の原理に従って、生体組織、特に、人間の目の前表面部の深さプロファイルを記録する装置が提供される。この装置は、所定の波長範囲内の波長で、かつ動作波長を有する光線束を生成する光源と、干渉計装置と、参照ビームと測定ビームの光路長の差に関連する重畳ビームの情報を検出する検出装置とを具備し、干渉計装置は、光源により生成された光線束を、参照ビームおよび生体組織に向かう測定ビームに空間的に分離するビームスプリッター装置と、参照ビームを偏向する参照ビーム偏向装置と、偏向された参照ビームを生体組織によって偏向された測定ビーム上に空間的に重ね合わせて重畳ビームとするビーム重畳装置を有する。本発明によれば、上記所定の波長範囲は、300nmより大きく500nm以下の範囲である。300nmより大きく500nm以下の範囲内の波長を用いれば、従来の光干渉断層撮影測定装置で用いられる波長を用いた場合と比較して、同じ帯域幅でより高い軸方向分解能が得られると共に、非常に低い帯域幅の光源を用いても、同等の軸方向分解能が得られる。本発明は、特に人間の目の角膜における組織の散乱特性により、比較的低い強度の入射光で用いられた波長に対して高い信号強度を得ることができるという発見に基づいている。本発明においては、スーパールミネセントダイオードを光源として用いることが好ましい。これにより、適度な価格で安定した信頼性の高い光源を有すると共に、全体的に簡素な測定装置の構成が可能となる。上記所定の波長範囲は、350nmから450nmの範囲が好ましく、395nmから415nmの範囲がより好ましく、405nmに近い範囲が特に好ましい。これらの波長範囲内で用いる光源として、半導体レーザーダイオード、特に、窒化ガリウムGaNi半導体発光ダイオードが好ましい。干渉計装置および検出装置は、上記所定の波長範囲内の波長を用いて動作するように設計されたものであることが好ましい。例えば、参照ビーム偏向装置の偏向層は、上記範囲内で用いる波長に対して特に高い反射性を有するように構成される。同様に、ビームスプリッター装置および/またはビーム重畳装置も、用いる波長に対して特に高い透過率を示すように構成されたものとすることができる。最後に、検出装置も、用いる波長に対して光の検出感度が特に高くなるように設計されたものとすることができる。本発明の装置は、フーリエドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作するように設計されたものとすることができる。このために、参照ビームは、実質上、空間的に一定に進み、検出装置は、波長に応じて重畳ビームを異なる波長を有する複数の部分ビームに空間的に分離する分光計、特にプリズムまたは光学格子と、波長を選択するようにして部分光線の強度を測定する空間的分解検出器配列を有するものとすることができる。このように設計された装置は、移動する光学部品を有さず、すなわち、ビーム方向に影響を与える移動部材を有さず、時間的に安定した測定感度を得ることができる。或いは、本発明の装置は、タイムドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作するように設計されたものとすることができる。このために、参照ビームの光路長は、時間的に、特に参照ビーム偏向装置の周期運動によって調整され、検出装置は、参照ビームの調整によって時間的に調整される重畳ビームの強度を測定する検出器を有するものとすることができる。これにより、検出装置のサンプリング速度が参照ビームの調整頻度よりも、好ましくは2倍、特には10倍大きくなる。このように構成された装置は、空間的に制限された光線束を受け取る、より簡素に構成された検出装置を有するものとすることができ、すなわち、検出装置が、フーリエドメイン光干渉断層撮影装置の場合のような分光計を必要としない。パラレルタイムドメイン光干渉断層撮影の原理に従って動作する装置が特に好ましい。このような装置は、幅が拡大された光の平行ビームを生成する、関連するコリメーターレンズを有する光源を有し、光のビームの幅は、例えば2mmから10mmの範囲内、好ましくは、4mmから8mm、より好ましくは5mmから7mmである。特に、ビーム幅は、調査する生体組織の領域全体例えば、人間の目の角膜やカルスcallusの領域全体が平行光で照射されるように選択されることができる。パラレルタイムドメイン光干渉断層撮影装置で用いられるのに適した検出装置は、結像レンズと2次元検出器配列を有し、結像レンズは、ビーム重畳装置から検出装置の光軸に対して直角に配置された検出面への平行光の結像集光を行うように、ビーム重畳装置と検出器配列の間の光路上に配置される。このような構成の利点は、調査される生体組織の比較的大きい、特に全体の領域が同時に捕捉されることである。これにより、測定時間の短縮を可能とし、調査される生体組織の表面領域に亘って測定ビームをスキャンさせる、すなわち、測定ビームの光軸に対して直角な方向にビームを偏向する必要をなくすことが可能となる。光源の光生成部品の構成に応じて、光源は、例えば焦点ビームや平行光ビームなどの適切なビーム形状を有する光線束を生成する結像レンズを有しても良い。これに応じて、検出装置は、光検出器上で平行な拡大された重畳ビームの結像集光を行う結像部品を有しても良い。本発明の装置は、検出装置での生体組織のコヒーレント結像のために、測定ビームに対する測定光学システムと、重畳ビームに対する第1の重畳ビーム光学システムを有することができる。本発明の装置は、さらに測定ビームの生体組織内の部分における光学波長によって起こる、参照ビームと測定ビームとの間の位相変化を補正するための、参照ビームに対する参照ビーム光学システムを有することができる。本発明の装置は、さらに測定ビーム内に設けられた目の前表面部のような生体組織の、基礎アーチ形状のような所定の基礎形状フォームによって生じる結像誤差を補正するための、重畳ビームに対する第2の重畳ビーム光学システムを有することができる。上記した装置は、人間の目の角膜下層を測定、透視するのに適している。本発明の装置は、10μm、好ましくは5μm、より好ましくは2μmの軸方向分解能を有することができる。光干渉断層撮影の原理に従って、生体組織、特に人間の目の前表面部の深さプロファイルを測定する方法において、所定帯域幅を有する所定の波長範囲内の波長で、かつ動作波長を有する光が用いられる。本発明の方法によれば、上記所定の波長範囲内は、300nmより大きく、500nm以下の範囲である。本発明の方法は、上記のような装置を用いることができる。上記した本発明の装置および方法は、波面の測定やそこに含まれる位相情報の評価に用いることもできる。上記した装置および方法は、治療によって変わる生体組織の深さプロファイルを測定し、望ましい深さプロファイルとなるように治療装置や治療方法を制御するために、生体組織の治療手術のための装置および方法と組み合わせて共に用いられても良い。本発明の態様について、図を参照しながら以下により詳細に示す。図1は、人間の目の角膜の光が通過する度合い、すなわち透過率が、約325nmより大きい波長範囲内で60を超え、それより小さい波長で吸収バンドの発生により大幅に減少していることを示している。そのため、約300nm以下の波長の使用は制限される。300nmより大きく500nm以下の範囲における角膜の散乱特性が特に好ましく、生体組織によって偏向散乱された測定ビームの高い信号強度が得られることが見出された。図2は、光干渉断層撮影測定装置の軸方向分解能Δz、中心波長λ0、および光放射の波長スペクトルのスペクトル幅Δλの間の数式1によって表される関係を示している。図2に示すように、従来の光干渉断層撮影測定装置で用いられている800nmより大きい範囲内の波長の場合と比べ、同等のスペクトル帯域幅で、300nmから500nmの範囲内の波長λ0で、より高い軸方向分解能軸方向分解能Δzのより小さい値が得られる。また図2は、300nmから500nmの範囲内の波長の場合、光源によって生成された波長スペクトルにおいてより小さいスペクトル幅Δλで、800nmより大きい波長の場合と同等の軸方向分解能が得られるということも示している。図3に示す、フーリエドメイン光干渉断層撮影の原理に従った光干渉断層撮影測定装置100は、光線束102を生成する光源101と、マイケルソン干渉計装置を有し、マイケルソン干渉計装置は、光線束のビームを、参照ビーム104および測定ビーム106に分離し、またそれぞれ逆方向に偏向された参照ビーム104および測定ビーム106を重畳ビーム108に重ね合わせる装置120、150と、参照ビーム偏向装置として機能し、ビームスプリッター装置120によって伝導された参照ビーム104を実質的に自身で反射し、ビームスプリッター装置120によって偏向された測定ビーム106を調査する生体組織、すなわち、人間の目の角膜140に向け、その生体組織が測定ビーム106を逆方向に自身に向けて反射する、空間的に固定されたミラー130を有する。光干渉断層撮影測定装置100は、さらにプリズムとして構成される分光計160と、検出器配列を有し、分光計160は、図3の矢印112によって示される角度方向に重畳ビーム108を波長に応じて部分放射の束110に空間的に分離し、検出器配列は、波長に応じて選択的に偏向される部分光線110を受けることができ、それに応じた部分光線の束110の強度の空間的分布を検出できるような分解方向を有して配置される。調査される生体組織140角膜は、装置120、150に対して測定ビーム106の光路長が参照ビーム104の光路長にほぼ等しくなるような距離の位置に配置される。生体組織140角膜上の測定ビーム106の入射位置における深さプロファイルは、入射領域に浸入する波長スペクトルが分光計160で波長を選択するようにして部分光線110に空間的に分離されるので、測定可能になる。これにより、測定ビーム106と参照ビーム104の光路差が丁度無くなるゼロになる、またはそれぞれの波長の整数倍になる場合、全ての部分光線110全体の中のそのような部分光線に対してのみ、測定ビーム106と参照ビーム104の強め合う干渉によって最大強度が得られる。最大強度が起こる検出器配列170上の位置は、特定の波長に対応し、従って、測定光が進む光路が参照ビームの既知の一定の光路に一致する場合の参照ビーム104と測定ビーム106の光路長差、すなわち、軸方向分解能の精度内で検出器配列170上の最大強度の位置に関連するその浸入深さに対応する。装置120、150と調査する生体組織140角膜の間の光路上に、図示しない結像光学システムを設けることもできる。装置120、150と生体組織140角膜の間の光路上における結像光学システムの焦点長さ、および/または軸方向位置を変化させることによって、その生体組織140角膜はその深さに関してスキャンされる。結像光学システムの横方向の移動、または傾斜によって、測定ビーム106は生体組織140角膜全体に亘って横方向に導かれスキャンされ、生体組織上で測定ビーム106の入射位置の2次元スキャンが行われる、すなわち、深さプロファイルの2次元スキャンが行われる。図4に示す、タイムドメイン光干渉断層撮影の原理に従った光干渉断層撮影測定装置200は、図3に示す装置100と同様に、光線束102を生成する光源101と、光線束102を、参照ビーム204および測定ビーム106に分離する装置120、150と、調査する生体組織140角膜で構成される。図3に示す装置100とは逆に、光干渉断層撮影測定装置200は、図4の矢印232で示す方向に定期的に軸方向往復方向に動かされる参照ビーム偏向装置としてのミラー230と、それぞれ逆方向に反射された測定ビーム106と参照ビーム204を重ね合わせることによって装置120、150で生成された重畳ビーム208を受け、重畳ビーム208の強度を時間的に分解するようにして測定する空間的に固定された検出装置270を有する。ミラー230の移動によって、参照ビーム204が進む光路長はその長さに関して調整される。この調整によって得られた参照ビーム204のそれぞれの光路長は、測定ビーム106が進む特定の光路長に一致し、これにより参照ビーム204と測定ビーム106の重畳ビーム208への重ね合わせが強め合う干渉を生じ、いずれ最大強度が得られる。従って、重畳ビーム208の強度の測定中の特定のある時点は、測定ビーム106の特定の光路長と関連付けられ、よって生体組織140角膜から反射して戻る光の浸入深さと関連付けられることができる。図3に示す装置100と同様に、図4に示す装置200には、装置120、150と生体組織140角膜との間の光路上に不図示の光学結像装置を設けることができる。結像光学装置は、測定ビーム106を生体組織上で結像集光する。焦点長さを変化させることによって、および/または光学結像装置を測定ビーム106の方向に沿って移動させることによって、生体組織140角膜は測定ビーム106の浸入深さに関してスキャンされる。測定ビーム106の方向光軸に対して横方向に結像装置を移動させることによって、生体組織140角膜の表面全体に亘って2次元スキャンが行われる。図3、図4にそれぞれ示される光干渉断層撮影測定装置100、200は、検出装置170、270での生体組織のコヒーレント結像のために、測定ビーム106に対して設けられた測定ビーム光学システム108、208と、重畳ビーム108、208に対して設けられた第1の参照ビーム光学システム190、290を有することができる。測定ビーム光学システム180、280および第1の重畳ビーム光学システム190、290は、調査する生体組織140を検出装置170、270上で空間的、コヒーレント結像する原理を実現するために有利である。図3、図4にそれぞれ示される光干渉断層撮影測定装置100、200は、さらに測定ビームの生体組織140内の部分における測定ビームの光路長によって起こる、参照ビーム104、204と測定ビーム106、206との間の位相変化を補正するための、参照ビーム104、204に対する参照ビーム光学システム182、282を有することができる。参照ビーム光学システム182、282は、例えば、それぞれ横方向x、y寸法が変化する位相変化があるという利点を有する液晶ディスプレイ、板状LCDシステム、または位相変化を生じさせる他の装置として構成できる。簡単な構成では、参照ビーム光学システム182、282は、調査する生体組織140による所定の位相変化のある、ガラス板またはレンズのような光学部品として構成できる。最後に、図3、図4にそれぞれ示される光干渉断層撮影測定装置100、200は、さらに、可能性のある基礎形状フォームを補償するための、特に、調査のために測定ビーム106内に配置された目の前表面部のような生体組織140の例えば基礎アーチ形状のような基礎形状によって生じる結像誤差を補正するための、重畳ビーム108、208に対する第2の重畳ビーム光学システム192、292を有することができる。上記した本発明の全ての態様において、300nmより大きく500nm以下の波長範囲内の波長を有する放射を用いることによって、従来の光干渉断層撮影測定装置で用いられている800nm以上の波長の場合と比べ、従来の光干渉断層撮影測定装置と比べて同等の分解能を得るためにより低い帯域幅の光源を用いることができ、または、同等の帯域幅でより高い分解能分解能Δzの低い数値を達成できる。