複数の導体層と、前記導体層の層間に設置され、前記導体層を絶縁する絶縁層と、前記導体層の少なくとも1つに接続されたプローブピンと、を備えることを特徴とする、プローブバー。被測定対象の電流を測定する電流測定プローブと、前記被測定対象の電圧を測定する電圧測定プローブとを備え、前記電流測定プローブのプローブピンを接続する第1の導体層と、前記電圧測定プローブのプローブピンを接続する第2の導体層と、を含むことを特徴とする、請求項1に記載のプローブバー。前記導体層および前記絶縁層は、プリント基板で構成されていることを特徴とする、請求項1又は請求項2に記載のプローブバー。前記プローブピンの一部又は全部は、外部回路と電気的に接続されるコネクタを備えることを特徴とする、請求項1ないし請求項3のいずれかに記載のプローブバー。前記プローブバーの表面の一部又は全体が絶縁体で覆われていることを特徴とする、請求項1ないし請求項4のいずれかに記載のプローブバー。前記プローブバーの表面の一部又は全体は、光反射率が表面処理により調整されていることを特徴とする、請求項1ないし請求項5のいずれかに記載のプローブバー。ところで、従来のプローブバーにはプローブピンの絶縁、プローブピンの配線、プローブバーの反り、固定、質量、結線および光反射率に以下の課題がある。プローブピンの絶縁図12は従来のプローブバーの要部断面を示している。このプローブバー200では、電流測定プローブ202のプローブピン203が、金属で形成されているプローブバー本体204に接続している。このため、電圧測定プローブ206では、プローブバー本体204とプローブピン208の間を絶縁する必要がある。プローブバー本体204は金属でできているので、電圧測定プローブ206のプローブピン208とプローブバー本体204の間には絶縁体210の介在など、電気的絶縁のための特別な構造が必要となるという課題がある。なお、プローブバー本体から絶縁された電圧測定プローブ206は、当該プローブピン208から電線を通じてプローブバー200外部の電圧測定手段等に接続される。これは非特許文献2や、特許文献2の図11、図12に記載されている。プローブピンの配線従来のプローブバーでは、特許文献2の図4に示すように、複数のプローブピンで複数の電位を測定する場合には、各プローブピンの電位を個別に電圧測定手段に接続するための電線が必要であり、配線数が増える。この配線数が増加し、電線がバスバー電極よりも厚くなると、被測定物である太陽電池セルの発電部分への太陽光を配線が遮り、発電能力に影響を与え、電気的特性が正確に測定できないという課題がある。プローブバーの反り等従来技術のプローブバーでは、プローブバー本体が金属でできており、金属は塑性変形しやすいという性質を有する。このため、プローブバーが反りや歪みなどの変形を生じると、その変形を修正できず、プローブピンをバスバー電極に正確に当接させることができなくなるという課題がある。プローブバーの固定従来のプローブバーでは、プローブバー本体が金属でできているため、プローブバーを試験装置等に装着する際、試験装置等とプローブバー本体を電気的に絶縁する必要がある。即ち、この絶縁の必要により、プローブバー固定のための方法や材料の選択が制限されるため、設計の自由度が低いという課題がある。プローブバーの質量従来のプローブバーの質量は、プローブバー本体が金属であるため、重い。このため、自動試験装置などに組み込む際、プローブバーを移動させるには多くの駆動力が必要となる。このため、装置の小型化が妨げられ、省エネルギー化やコストダウンができないという課題がある。プローブバーの結線従来のプローブバーは、プローブバー本体が金属で形成されているため、プローブバー本体への結線には、圧着端子を装着した電線をプローブバーにネジ止めしたり、電線をプローブバーの金属部に直接はんだ付けしたりする必要がある特許文献4の使用状態を示す参考図1や、非特許文献2の写真、参照。このような結線方法では、プローブバーを交換する場合に、電線の取り外しや装着のために手間がかかるという課題がある。プローブバーの光反射率従来のプローブバーは、プローブバー本体が金属で形成されていることは既述の通りである。金属は一般的に、光を反射しやすい性質を有する。また、太陽電池セルに照射する太陽光は、完全な平行光とは限らない。このため、被測定物である太陽電池セルに照射した太陽光のうち、プローブバー本体部分に照射された太陽光は反射し、プローブバーが当接されているバスバー電極周辺の、発電可能部分に反射光が追加照射される。このため、プローブバーがない場合よりも太陽電池セルの発電量が増加することがある。逆に、プローブバーが当接されているバスバー電極周辺の発電可能部分にプローブバーの影が生じて光量が低下し、プローブバーがない場合よりも太陽電池セルの発電量が減少することもある。このようにプローブバーの存在により、照射した太陽光の強度と太陽電池セルの発電量の関係が変化するため、太陽電池セルの発電効率を正確に測定できないという課題がある。本発明のプローブバーの目的は、上記課題を鑑み、プローブピンの絶縁構造を簡略化することにある。上記課題を解決するための構成は以下の通りである。複数の導体層と、前記導体層の層間に設置され前記導体層を絶縁する絶縁層と、前記導体層の少なくとも1つに接続されたプローブピンとを備えることを特徴とする、プローブバー。被測定対象の電流を測定する電流測定プローブと、前記被測定対象の電圧を測定する電圧測定プローブとを備え、前記電流測定プローブのプローブピンを接続する第1の導体層と、前記電圧測定プローブのプローブピンを接続する第2の導体層とを含むことを特徴とする、に記載のプローブバー。前記導体層および前記絶縁層は、プリント基板で構成されていることを特徴とする、又はに記載のプローブバー。前記プローブピンの一部又は全部は、外部回路と電気的に接続されるコネクタを備えることを特徴とする、ないしのいずれかに記載のプローブバー。前記プローブバーの表面の一部又は全体が絶縁体で覆われていることを特徴とする、ないしのいずれかに記載のプローブバー。前記プローブバーの表面の一部又は全体は、光反射率が表面処理により調整されていることを特徴とする、ないしのいずれかに記載のプローブバー。本発明のプローブバーによれば、次のいずれかの効果が得られる。プローブピンの絶縁に関し、本発明のプローブバーでは、絶縁体層を挟んだ複数の導体層から構成されており、電流測定プローブを接続する導体層と電圧測定プローブを接続する導体層が互いに絶縁されているので、電圧測定プローブのプローブピンを個別に絶縁することが不要である。これにより、組立工数を低減でき、また歩留まりを向上させることができる。プローブピンからの配線に関し、電圧測定プローブは、電圧測定プローブに接続される導体層を通じて、プローブバー外部の電圧測定手段に接続されるので、電圧測定プローブ接続用の配線が不要である。複数のプローブピンで複数の電位を測定する場合は、複数の導体層を備えているので、各ピンに導体層を対応させ、絶縁層を介して積層することができる。また、プリント基板を使用する場合には、各ピンに対応するプリントパターンや複数の導体層を対応させることもできる。いずれの構成を取っても、プローブバー外部の配線が不要であるので、プローブバーの厚さを薄くでき、太陽電池セルのバスバー電極の幅以下に設定できる。つまり、プローブバー外部の電線による、太陽電池セルの発電部に照射すべき太陽光の遮光を防止できるので、電気的特性の測定の測定精度を高めることができる。プローブバーの反りなどに関し、プリント基板を使用すれば、プリント基板が持つ平面度が良好であるという性質を利用できる。また、プリント基板の弾力性を利用することができるので、プリント基板に引っ張り応力を加えて試験装置に装着、固定すれば、反り矯正をすることもできる。また、導体層よりも厚い絶縁層を備えた場合にも、その絶縁層が持つ弾力性を利用でき、同様の効果が得られるプローブバーの固定に関し、プリント基板を使用すれば、または、厚い絶縁体を挟んだ薄い導体による構成とすれば、絶縁体部分で試験装置に装着することができ、つまり、プローブバーを固定する際の電気的絶縁が不要である。これにより、プローブバー固定方法や固定材料の選択に制限を受けることがなく、設計の自由度が広がる。プローブバーの質量に関し、プリント基板や、厚い絶縁体を挟んだ薄い導体層による構成とすれば、プローブバー本体を金属で形成するものに比較し、質量を軽量化できる。これにより、自動試験装置などに組み込む際に、プローブバーを移動させるための駆動力が少なくて済み、装置の小型化、省エネルギー、コストダウンを図ることができる。プローブバーの結線に関し、外部接続にプリント基板用のコネクタを用いれば、電線の着脱は、コネクタの挿抜によって容易に行うことができる。これにより、プローブバー交換に要する作業時間や手間を削減できる。複数の電圧測定プローブの各々の電位を外部に取り出す場合、複数の電線等を個別に接続する必要がなく、複数の接点を備えたコネクタを用いれば、たとえば、単一のコネクタだけで容易に着脱できる。プローブバーの光反射率に関し、表面処理によってプローブバー表面の光反射率を調整すれば、プローブバーによる太陽電池セルの発電量の低下や変化を防止でき、これにより、太陽電池セルの発電効率を正確に測定できる。第1の実施の形態図1は第1の実施の形態に係るプローブバーを示している。図1のAはプローブバーの片側平面を示している。図1のBは図1のAのIB-IB断面を示している。図1のCは他のプローブバーの断面を示している。このプローブバー2は長方形状である。このプローブバー2には第1および第2の導体層4-1、4-2と絶縁層6とが備えられている。この例では、2枚の導体層4-1、4-2の間に絶縁層6が備えられている。導体層4-1、4-2は電気抵抗の低い銅板などの良導体材料で形成され、絶縁層6は絶縁体材料で形成されている。この例では、導体層4-1、4-2が最も少ない2枚の構成を例示しているが、これに限定されない。3層以上の導体層を備えてもよい以下も同様。さらに、プローブピンを備えていない導体層を絶縁層を介して設置してもよい。このような導体層は、導体層4-1、4-2のたとえばシールドに用いることができる。導体層4-1、4-2間にプローブピンを備えない導体層でシールドを形成すれば、導体層4-1、4-2間の電気的干渉などを防止できる。また、導体層4-1、4-2の外側に導体層でシールドを形成すれば、導体層4-1、4-2に対する外部雑音などの影響を低減できる以下も同様。各導体層4-1、4-2は、絶縁層6よりも厚く設定されている。プローブピン8-1、8-2の直径がたとえば、0.5mmであれば、導体層4-1、4-2の厚さはたとえば0.5mm程度とし、絶縁層6の厚さはたとえば、0.1mm未満に設定すればよいが、これらの数値に限定されるものではない。図1のBに示すように、図中の上側の導体層4-1には電流測定プローブ10の複数のプローブピン8-1が接続され、図中の下側の導体層4-2には電圧測定プローブ12の複数のプローブピン8-2が接続されている。各プローブピン8-1と各プローブピン8-2とが交互に配置されている。図1のBの電流測定プローブ10側では、導体層4-2と絶縁層6を残して導体層4-1を部分的に除去している。この除去部分に電流測定プローブ10のプローブピン8-1が設置されている。このプローブピン8-1は、導体層4-1の内側壁面に接続されている。この接続にはたとえば、はんだ11を用いればよい。電圧測定プローブ12側では、導体層4-1と絶縁層6を残して導体層4-2を部分的に除去している。この除去部分に電圧測定プローブ12のプローブピン8-2が設置されている。このプローブピン8-2は導体層4-2の内側壁面に接続されている。第1の実施の形態では、各プローブピン8-1、8-2は完全に直線上に配置されず、各プローブピン8-1、8-2の位置にプローブピン8-1、8-2の直径程度のずれが生じる。しかし、この程度のずれは実用上、問題にならない。各導体層4-1、4-2および絶縁層6の積層体には複数の固定用孔14が形成されている。各導体層4-1、4-2の端部には各々独立した電流測定端子接続部16-1、電圧測定端子接続部16-2が形成されている。電流測定端子接続部16-1には、太陽電池セルの電流測定端子に接続される接続孔18-1が形成されている。電圧測定端子接続部16-2には、接続孔18-2が形成されている。したがって、導体層4-1には太陽電池セルの電流測定端子が接続される。導体層4-2には太陽電池セルの電圧測定端子が接続される。これらの接続には、圧着端子を装着した電線をネジ止めする等の方法が用いられる。各導体層4-1、4-2には、電流測定端子接続部16-1や電圧測定端子接続部16-2を介して、外部電源や測定器などが接続される。この実施の形態では、太陽電池セルの電気的測定四端子法によるI-V特性の測定に用いられるプローブバー2を構成しているが、これに限定されない。太陽電池セル以外の電子素子の測定に用いてもよい。プローブピン8-1と導体層4-1との接続は、図1のCに示すように、導体層4-2の除去部分における導体層4-1の露出面に接続してもよく、またプローブピン8-2と導体層4-1の除去部分における導体層4-2の露出面との接続も同様にしてもよい。また、図1のBの接続方法と図1のCの接続方法を併用してもよい。第2の実施の形態第2の実施の形態は、導体層4-1、4-2や絶縁層6の厚さを異ならせたプローブバーや、電圧測定プローブとして導体層の異なるプローブピンを備えるプローブバーを示している。図2は、第2の実施の形態に係るプローブバーの断面を示している。図2のAに示すプローブバー2は、導体層4-1、絶縁層6および導体層4-2の3層構造である。導体層4-1は、絶縁層6および導体層4-2より厚く形成されている。図2のBに示すプローブバー2は、導体層4-1、絶縁層6-1、導体層4-2、絶縁層6-2および導体層4-3の5層構造である。導体層4-1は、他の4層の各々よりも厚く形成されている。プローブピン8-1は導体層4-1に接続されている。プローブピン8-2は導体層4-2に接続されている。また、プローブピン8-3は導体層4-3に接続されている。つまり、電圧測定プローブ12は、導体層4-2、4-3に対応して複数のプローブピン8-2、8-3が設置されている。図2のAに示す構成では、プローブピン8-2を一括接続して使用することができる。図2のBに示す構成では、複数の電圧測定プローブ12のプローブピン8-2、8-3の各々の電位を外部に取り出すことができる。より多数の電位を外部に取り出すには、取り出す電位数に応じて導体層4-2、4-3の数を増やせばよい。その際、導体層4-2、4-3の厚さを薄くしてもよい。電流測定プローブ10のプローブピン8-1にはたとえば、数Aの電流が流れる。このため、電流測定プローブ10のプローブピン8-1が接続される導体層4-1は、電気抵抗を下げるために厚く形成することが望ましい。電圧測定プローブ12のプローブピン8-2、8-3にはほとんど電流が流れないので、電圧測定プローブ12のプローブピン8-2、8-3が接続される導体層4-2、4-3は薄く形成すればよい。このため、電流測定プローブ10のプローブピン8-1が接続されている導体層4-1は厚いので、圧着端子を装着した電線をその導体層にネジ止めするなどにより、外部の測定器などに接続される。電圧測定プローブ12が接続される導体層4-2、4-3のそれぞれは共に薄い。そこで、これらの接続にはたとえば、プリント基板用コネクタなどの接続手段を用いればよい。第3の実施の形態第3の実施の形態は、導体層よりも厚い絶縁層を備えるプローブバーを示している。図3は第3の実施の形態に係るプローブバー2の断面を示している。図3のAないしCに示すプローブバー2では、導体層4-1、絶縁層6および導体層4-2の3層構造とし、絶縁層6が導体層4-1、4-2に対して厚く設定されている。導体層4-1は電流測定プローブ10側に設定され、導体層4-2は電圧測定プローブ12側に設定されている。図3のAに示すプローブバー2では、電流測定プローブ10側で導体層4-1を残し絶縁層6および導体層4-2を部分的に除去している。この除去部分に電流測定プローブ10のプローブピン8-1が設置されている。このプローブピン8-1が導体層4-1の内側にはんだ11により接続されている。また、電圧測定プローブ12側では、導体層4-2を残して絶縁層6および導体層4-1を部分的に除去している。この除去部分には、電圧測定プローブ12のプローブピン8-2が設置されている。このプローブピン8-2が導体層4-2の内側にはんだ11により接続されている。図3のBに示すプローブバー2では、除去された絶縁層6の部分で導体層4-1に切り込みを入れ、この導体層4-1を絶縁層6の窪み部分に折り込み、電流測定プローブ10のプローブピン8-1を接続している。電圧測定プローブ12側においても同様に、除去された絶縁層6の部分で導体層4-2に切り込みを入れ、この導体層4-2を絶縁層6の窪み部分に折り込み、電圧測定プローブ12のプローブピン8-2を接続している。図3のCに示すプローブバー2では、絶縁層6および導体層4-2の除去部分に、導体層4-1の絶縁層6の除去間隔内にプレス加工などにより溝20が形成され、この溝20内に電流測定プローブ10のプローブピン8-1を配置し、導体層4-1にはんだ11により接続している。電圧測定プローブ12側においても同様であり、絶縁層6および導体層4-1の除去部分に、導体層4-2の絶縁層6の除去間隔内にプレス加工などにより溝20が形成され、この溝20部分に電圧測定プローブ12のプローブピン8-2を配置し、導体層4-2にはんだ11により接続している。この場合、電流測定プローブ10と電圧測定プローブ12の各プローブピン8-1、8-2はプローブバー2の各々異なる面から接続する必要があるが、適宜に図3のAまたはBに示す構成を併用し、プローブバー2の片面から接続してもよい。各導体層4-1、4-2は各々独立して、圧着端子を装着した電線を絶縁体層6と共にプローブバー2にネジ止めするなどの方法で、外部の測定器などに接続することができる。また、コネクタを装着することによって、外部の測定器などに接続してもよい。第1の実施の形態ないし第3の実施の形態に基づけば、導体層や絶縁層の各々の厚さを組み合わせることや、導体層または絶縁層の層数、プローブピンの配置などの種々の組み合わせは、本発明のプローブバーに含まれるものである。第4の実施の形態第4の実施の形態は、厚い絶縁層と薄い導体層とを備える、プリント基板を用いたプローブバーを示している。複数のプローブピンのうち、中央の1本を電圧測定プローブとし、他を電流測定プローブとして複数のプローブピンを備えている。図4および図5は、第4の実施の形態に係るプローブバーを示している。図4のAは一方の面から見たプローブバーを示している。図4のBは、他方の面から見たプローブバーを示している。図5は、図4のAのV-V線断面を示している。図4および図5において、図1と同一部分には同一符号を付してある。このプローブバー2は、両面基板で構成されている。必要に応じて、多層基板を用いることもできる。また、パターン間を接続するジャンパーなどを併用すれば、片面基板でも同様の機能を実現しうる。図4のAおよびBに示すように、プリント基板21の基板部22の表面には、既述の導体層として銅箔パターン24や銅箔パターン25が設置されている。基板部22は絶縁層である。この銅箔パターン24は、プリント基板21の端部に形成された電流測定端子接続部16-1と、複数の電流測定プローブ10のプローブピン8-1が接続されている。また、銅箔パターン25は、プリント基板21の端部の電圧測定端子接続部16-2と、基板中央部の電圧測定プローブ12のプローブピン8-2に接続されている。電流測定端子接続部16-1、電圧測定端子接続部16-2は各々電線をネジ止めされる。プリント基板21の四隅に形成された固定穴14の周辺には、銅箔が存在しておらず、絶縁された基板部22の部分で試験装置などに直接固定される。プローブピン8-1、8-2は図5に示すように、基板部22の切欠き部にはんだ11によって接続される。プローブピン8-1、8-2をより確実かつ強固に接続するため、基板部22の切欠き部にはスルーホールめっき26が施されている。このスルーホールめっき26は一例であり、これに限定するものではない。この実施の形態では、大電流が流れる電流測定プローブ10への銅箔パターン24は、抵抗を下げるために広いパターンを構成している。さらに抵抗を下げるために、多層基板を用いて、内層を図4のAと同様のパターンにして複数の導体層とすることも可能である。第5の実施の形態第5の実施の形態は、プリント基板を用いてプローブバーを構成している。電流測定プローブと電圧測定プローブの各プローブピンが交互に配置され、電流測定プローブと電圧測定プローブは、各々共通に接続されている。図6は、第5の実施の形態に係るプローブバーを示している。図6のAは一方の面から見たプローブバーを示している。図6のBは、他方の面から見たプローブバーを示している。図7は、図6のAのVII-VII線断面を示している。このプローブバー2では、電流測定プローブ10や電圧測定プローブ12を外部と接続するために、プリント基板用コネクタ283極のリード部品を用いている。既述のように、電流測定プローブ10には一例として数Aの電流が流れるが、電圧測定プローブ12にはほとんど電流が流れない。このプローブバー2では、図6のAに示すように、銅箔パターン24に加え、図6のBに示す3分の1程度の銅箔パターン24も電流測定プローブ10への接続に割り当てている。表裏面の銅箔パターン24は、スルーホール26によって接続しており、さらに抵抗を下げて大電流を流すことができるように構成している。この場合、3極のプリント基板用コネクタ28のうち2極を割り当てているのも、同様の理由である。電圧測定プローブ12に接続している銅箔パターン25には、ほとんど電流が流れないため細目のパターンとし、3極のプリント基板用コネクタ28のうち1極のみを割り当てている。図7に示すように、プローブピン8-1、8-2がはんだ11によって接続されている。接続手段ははんだ11以外の接続手段でもよい。プローブピン8-1、8-2と接続される銅箔パターン24、銅箔パターン25の接続部の物理的強度を保つために、プローブピン8-1、8-2の接続部の周辺には広い銅箔パターン24、銅箔パターン25が配置されている。さらに必要に応じて、スルーホール26を適宜配置し、表裏面の銅箔パターン24を接続することにより、プローブピン接続部の銅箔パターン24の物理的強度を強化してもよい。この実施の形態では、プローブピン8-1、8-2を片面に接続しているが、これに限定されない。このように、プリント基板21の片面にプローブピン8-1、8-2を接続する方法は、フレキシブルプリント基板FPCのような薄い基板を使用し、絶縁体材料でプリント基板21を覆い、これにより、プローブピン8-1、8-2を支持してプローブバー2の本体に固定するような場合にも利用可能である。第6の実施の形態第6の実施の形態は、プリント基板を用いた他のプローブバーを示している。複数の電流測定プローブと電圧測定プローブが交互に配置されている。電流測定プローブは共通接続しているが、電圧測定プローブは各々独立して外部に接続できる。図8は、第6の実施の形態に係るプローブバーを示している。図8のAは一方の面から見たプローブバーを示している。図8のBは、他方の面から見たプローブバーを示している。この実施の形態では、大電流を扱う電流測定プローブ10のプローブピン8-1を外部と接続する部分は、電流測定端子接続部16-1に電線をネジ止めできるように構成されている。電圧測定プローブ12のプローブピンの8-2は、各々独立して外部と接続するために、プリント基板用コネクタ29多極の表面実装部品を用いている。接続手段はこれに限定されない。この実施の形態では、電圧測定プローブ12の各プローブピン8-2の各々とプリント基板用コネクタ29の間を銅箔パターン25で接続している。多層基板を使用する場合は、これらの銅箔パターン25の一部又は全部を必要に応じて内層の導体層で構成してもよい。第7の実施の形態第7の実施の形態はプリント基板を用いた他のプローブバーを示している。プローブバーの表面が絶縁体材料で覆われている。図9は、第7の実施の形態に係るプローブバーを示している。図9のAはプローブバーの側面を示している。図9のBはプローブバーの平面を示している。図9のCは図9のBの側面を示している。図9のDは図9のBのIXB部の内部を示している。この実施の形態では、プリント基板21を絶縁体材料で形成されたケース30内に設置している。ケース30は外装部材の一例であり、プリント基板21はケース30内に注入された封止樹脂32によって封入している。このようなケース30および封止樹脂32を用いることにより、プリント基板21を外部と絶縁すると共に、プローブピン8-1、82を適正な位置に位置決めし、固定している。このプローブバー2には、図9のCに示すように、ケース30内に設置されたプリント基板21に、プローブピン8-1、8-2が接続されている。このように構成されたプローブバー2によれば、絶縁体材料で形成されたケース30で試験装置などに取り付けることができ、プリント基板21の表面を絶縁できる。プローブバー2に設置されたプリント基板用コネクタ34は、一例として2極のリード部品である。電流測定プローブおよび電圧測定プローブの各々のプローブピン8-1、8-2は、既述のプリント基板用コネクタ34を介して外部接続が可能である。プリント基板21を絶縁体材料で形成されたケース30に装着する以外に、プリント基板21の外面に絶縁性を持つフィルムやシートを接着してもよいし、また、絶縁性樹脂によるラミネート加工により、プリント基板21の表面を絶縁してもよい。なお、第7の実施の形態で示した構成つまり、その表面を絶縁体材料で覆うプローブバー2は、既述の第4の実施の形態~第6の実施の形態のみならず、第1の実施の形態~第3の実施の形態にも適用可能である。第8の実施の形態第8の実施の形態は、前述の各実施の形態のプローブバー2において、表面処理によってプローブバー表面の光反射率を調整する。第1ないし第3の実施の形態のプローブバー2は、表面を金属で構成している。金属は一般的に、光を反射しやすいし、また、その表面の酸化等により光反射率や色が経年変化する。第4ないし第6の実施の形態のプローブバー2はプリント基板21で構成され、その表面をソルダーレジストで被覆している場合も多い。このソルダーレジストでも、材質固有の色を有し、ある程度光を反射する性質を有する。このソルダーレジストで被覆されたプリント基板21は、銅箔パターンがある部分とない部分とでは、外観色が異なる。第7の実施の形態のプローブバー2は、表面を絶縁層で覆っているが、絶縁体の材質や色、表面状態などで異なるものの、光を反射し得る。太陽電池セルの電気的特性を測定する場合、プローブバー2は、太陽電池セルのバスバー電極上に当接される。このバスバー電極にプローブバー2を設置するのは、プローブバー2で太陽光を遮っても太陽電池セルの電気的特性に影響を及ぼさないからである。しかし太陽光や擬似太陽光は完全な平行光ではない。このような太陽光や疑似太陽光がプローブバー2で反射すると、この反射光がバスバー電極の周辺に照射される。また、バスバー電極の周辺にプローブバー2の影を生じる場合も生じる。反射による光量増大や影による光量低下は、太陽電池セルの発電効率照射する太陽光の強度と、太陽電池セルの発電出力の比に影響する。これにより測定の誤差を生じる。斯かる課題を解決するには、プローブバー2に表面処理を施して、プローブバー2表面の光反射率を調整すればよい。この表面処理には塗装処理、メッキ処理、黒化処理、その他の表面処理が含まれる。塗装処理プローブバー2の表面に塗料を塗装し、プローブバー2の表面の光反射率を調整する。より具体的には、プローブバー2の有無による太陽電池セルの発電出力の変化を監視する。そして、プローブバー2の有無によって発電出力の増加または減少が生じず、発電出力に影響のないような塗料を選択すればよい。光の反射によって、プローブバー2が存在している場合にプローブバー2のない場合に比較して太陽電池セルの発電出力が増加すれば、塗料は光反射率の低いものを選択する。光反射を抑制するには、暗色のつや消し塗料が好ましい。より高度に光反射を抑制するには、たとえば、黒体塗料を選択してもよい。プローブバー2の存在で太陽電池セルの発電出力が減少する場合には、光反射率を高める塗装を行う。この場合、光反射を高めるには、つや消しでない明色の塗料を選択すればよい。なお、塗装による表面処理で光反射率を調整する対象は、上記実施の形態のいずれであってもよい。メッキ処理第1ないし第3の実施の形態のプローブバー2において、その表面が金属の場合には、その金属表面にメッキ処理を施し、光反射率を向上させてもよいし、光反射率を低下させてもよい。またメッキの色によって反射光の色を変化させてもよい。光反射率等を調整するために、メッキ処理を施す場所として、金属表面の適当な領域や導体パターンを選択してもよい。黒化処理第1ないし第3の実施の形態のプローブバー2において、その表面が金属の場合は、その金属表面に黒化処理を施すことによって光反射率を低下させてもよい。この黒化処理においても、光反射率を調整するために、黒化処理を施す場所を、金属表面の適当な領域や導体パターンを選択することができる。その他の表面処理第4ないし第6の実施の形態のプローブバー2のようにプリント基板21を用いている場合には、ソルダーレジストの着色など光反射率を考慮した選択をすればよい。光反射率を低下させるためには黒色レジストや暗色のソルダーレジストが適し、光反射率を向上させるためには明色のソルダーレジストが適する。第7の実施の形態のプローブバー2では、その表面を覆うケース30、フィルム、樹脂シートなどの絶縁体の色、材質、表面の平滑度、凹凸の有無などを選択して光反射率を調整すればよい。また、上記実施の形態のいずれにおいても、表面を粗面化処理や平滑化処理することにより、光反射率を調整してもよい。このように塗装処理、メッキ処理、黒化処理、その他の表面処理のいずれかの表面処理を施せば、プローブバー2の表面の光反射率を調整できる。つまり、プローブバー2の有無による太陽電池セルの出力電力量への影響を回避でき、太陽電池セルの出力などの測定精度を高めることができる。なお、この実施の形態において、プローブバー2を太陽電池セルのバスバー電極に当接した際に太陽電池セルからはみ出る部分は、表面処理しても影響がない又は少ないので、必ずしもプローブバー2全体に表面処理を施す必要はない。プローブバー2の表面処理の光反射率を調整して、プローブバー2の有無によって太陽電池セルの発電出力が変化しないようにすればよい。太陽電池セルに照射する擬似太陽光の波長が限られている場合は、それらの限られた波長に注目して、色を考慮した表面処理による光反射率の調整を行なってもよい。他の実施の形態上記実施の形態では、太陽電池セルの測定に用いるプローブバーについて説明したが、本発明はこのプローブバーに限定されない。本発明のプローブバーは、太陽電池セル以外の電子素子の測定に広く用いることができる。