"干渉する2光束を合波してその光強度に応じた電気信号を光検出器から出力する2光束合波回路において、干渉する2光束を集光する集光レンズと、この集光レンズで集光された前記2光束をその一端に入射して合波する光導波路と、この光導波路の他端からの出射光を入射する光検出器とを備えたことを特徴とする2光束合波回路。前記光検出器の受光面を前記光導波路の前記他端に貼り付けたことを特徴とする請求項1記載の2光束合波回路。前記光導波路の出射光を反射するミラーを備え、このミラーの反射光が前記光検出器に入射されることを特徴とする請求項1記載の2光束合波回路。斜めに研磨された前記光導波路の端面において全反射条件で反射された光が前記光検出器に入射することを特徴とする請求項1記載の2光束合波回路。斜めに研磨された前記光導波路の端面に反射ミラーが蒸着され、この反射ミラーで反射された光が前記光検出器に入射することを特徴とする請求項1記載の2光束合波回路。前記光導波路は前記2光束の蛇行が収束するに十分な長さを有することを特徴とする請求項1-5のいずれかに記載の2光束合波回路。前記光導波路として光ファイバを用いたことを特徴とする請求項1-6のいずれかに記載の2光束合波回路。前記光ファイバを曲げ、その前記一端に前記2光束が垂直に入射するようにしたことを特徴とする請求項7記載の2光束合波回路。差動位相変調された光信号を復調する復調器において、前記光信号に基づいて干渉する2光束を出射する遅延干渉計と、この遅延干渉計から出射された前記2光束を集光する集光レンズと、この集光レンズで集光された前記2光束をその一端に入射して合波する光導波路と、この光導波路の他端からの出射光を入射する光検出器とを備えたことを特徴とする復調器。前記光導波路として光ファイバを用いたことを特徴とする請求項9記載の復調器。特許文献1の図4のように構成するためには、DPSK遅延干渉計では2チャンネル、DQPSK遅延干渉計では4チャンネルの出力チャンネル間の光ファイバの光路長を揃え、同様にPDモジュール側の入力光ファイバのチャンネル間の光路長を揃える必要がある。チャンネル間の光路長差は通常200μm程度と極めて小さなレベルでの調整が必要となる。すなわち、光ファイバの光路長をそろえるための特別な設計および製造方法が必要となる。また、モジュールとモジュールを融着接続するためには、通常、融着のやり直し、光ファイバの曲げ半径を考慮した余長が必要となり、その長さはおおよそ1m程度となる。このような長さの光ファイバの光路長は、光ファイバの屈折率、屈折率の温度依存性、光弾性、コア径のばらつきなどによって変化し、光ファイバ長を揃えても、チャンネル間の光路長差が大きくなる問題があった。特許文献1の図2の復調器のように干渉計の出力光を直接光検出器に出力する構造では、干渉計の短路側と長路側の2光束すなわち、第3の反射光S11aaと第5の透過光S11bbとの合波、第3の透過光S11abと第5の反射光S11baとの合波、第4の反射光S12aaと第6の透過光S12bbとの合波、第4の透過光S12abと第6の反射光S12baとの合波の場合の光軸を揃えて光検出器に入射させることは困難である。製造上の制約から、光線の角度ずれ、光軸ずれがある状態で光検出器に入力される。このため、干渉光の損失、消光比が劣化し、また、角度ずれにより光検出器面上に干渉縞の明暗が発生し、干渉光の光パワーが変化する問題があった。本発明は上記従来技術の課題を解決するためになされたもので、干渉計モジュールとPDモジュールの間の接続に光ファイバの融着が不要で、角度ずれや光軸ずれによる干渉光の損失、消光比の劣化および干渉縞の明暗の発生が少ない2光束合波回路を提供することを目的としている。このような課題を達成するために、本発明のうち請求項1記載の発明は、干渉する2光束を合波してその光強度に応じた電気信号を光検出器から出力する2光束合波回路において、干渉する2光束を集光する集光レンズと、この集光レンズで集光された前記2光束をその一端に入射して合波する光導波路と、この光導波路の他端からの出射光を入射する光検出器とを備えたことを特徴とする。このような課題を達成するために、本発明のうち請求項2記載の発明は、請求項1記載の2光束合波回路において、前記光検出器の受光面を前記光導波路の前記他端に貼り付けたことを特徴とする。請求項3記載の発明は、請求項1記載の2光束合波回路において、前記光導波路の出射光を反射するミラーを備え、このミラーの反射光が前記光検出器に入射されることを特徴とする。請求項4記載の発明は、請求項1記載の2光束合波回路において、斜めに研磨された前記光導波路の端面において全反射条件で反射された光が前記光検出器に入射することを特徴とする。請求項5記載の発明は、請求項1記載の2光束合波回路において、斜めに研磨された前記光導波路の端面に反射ミラーが蒸着され、この反射ミラーで反射された光が前記光検出器に入射することを特徴とする。請求項6記載の発明は、請求項1-5のいずれかに記載の2光束合波回路において、前記光導波路は前記2光束の蛇行が収束するに十分な長さを有することを特徴とする。請求項7記載の発明は、請求項1-6のいずれかに記載の2光束合波回路において、前記光導波路として光ファイバを用いたことを特徴とする。請求項8記載の発明は、請求項7記載の2光束合波回路において、前記光ファイバを曲げ、その前記一端に前記2光束が垂直に入射するようにしたことを特徴とする。請求項9記載の発明は、差動位相変調された光信号を復調する復調器において、前記光信号に基づいて干渉する2光束を出射する遅延干渉計と、この遅延干渉計から出射された前記2光束を集光する集光レンズと、この集光レンズで集光された前記2光束をその一端に入射して合波する光導波路と、この光導波路の他端からの出射光を入射する光検出器とを備えたことを特徴とする。請求項10記載の発明は、請求項9記載の復調器において、前記光導波路として光ファイバを用いたことを特徴とする。本発明によれば以下のような効果がある。すなわち、干渉する2光束を光導波路で合波することにより、光検出器の位置決めが容易となり、2光束を軸ずれ角度ずれを起こさずに光検出器に入射できるので、干渉光の損失、消光比の劣化および干渉縞の明暗の発生が少ない2光束合波回路を実現することができる。また、光導波路の開口数NAによって、入力光の角度ずれによる損失が低減される。以下本発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。図1は本発明の実施の形態に係る2光束合波回路の一実施例を示す構成斜視図である。図1の2光束合波回路は、遅延干渉計から出射された2光束干渉光を入射する集光レンズ3、この集光レンズ3から出射された光をその第1の端面41のコア部42に入射する光ファイバ4、この光ファイバ4の第2の端面43に貼り付けられ、端面43から出射された光を入射するPDチップ面5とから構成されている。PDチップ面5は図示しない光検出器の一部を示している。光ファイバ4は集光レンズ3から入射する2光束の蛇行が収束するに必要な長さとして、最短でも2mm~4mm程度を有する。図1の2光束合波回路の動作を以下に説明する。差動位相変調された光信号に基づいて遅延干渉計から出射された干渉する2つの光束は集光レンズ3に入射される。集光レンズ3で集光された2つの光束1,2は光ファイバ4の一端41のコア部42に入射される。2つの光束1,2は、光ファイバ4内を伝播して合波された後、他端43から出射され、PDチップ面5に垂直に入射される。PDチップ面5で検出された光強度に応じた電気信号が前述の差動位相変調された光信号の復調信号として光検出器から出力される。特許文献1の図2の復調器の場合は、PDチップの受光面に2光線を合わせるために、調整を1光線ずつ2回行う必要があり、困難であったが、図1の2光束合波回路を使用した場合は、2光束合波回路の集光レンズ3と光ファイバ4の軸を調整するという比較的容易な作業で済む。また、PDチップ面5の位置決めも、図1の光ファイバ4の出力端の1光線で合わせるだけでよいので、光検出器の実装が容易となる。上記のような構成の2光束合波回路によれば、干渉する2光束を光ファイバで合波することにより、光検出器の位置決めが容易となり、2光束を軸ずれ角度ずれを起こさずに光検出器に入射させることが容易となるので、干渉光の損失、消光比の劣化および干渉縞の明暗の発生が少ない2光束合波回路を実現することができる。すなわち、2光束の重なり合いが完全になるので完全な干渉が行われるようになり、S/Nが向上する。また、開口数NAの大きな光ファイバを用いることによって、入力光の角度ずれによる損失が低減される。また、光ファイバ4で絞られた光を光ファイバ径よりも相対的に大きな光検出器で検出するので、光ファイバ4からの全ての出射光を検出することができ、位置決め誤差の影響が少ない。また、光ファイバ4としてシングルモードの光ファイバを使用すれば、遅延干渉計の出力光が光ファイバ4に入射する際の角度ずれによって発生した多モードの光波は、放射モードとなって拡散されるので、光検出器には到達しない。その結果、光検出器にはシングルモードの光が入力されることとなり、安定した位相を実現することができる。また、干渉計からの2光束干渉光は空間に出射されるので、出射端で光ファイバの融着を行ったり、光路長を揃えたりする必要がない。また、光ファイバを用いているので、コア断面が円であり、TM波磁界とTE波電界の進行速度のずれがないので、干渉のずれが生じない。なお、特定の偏光状態で使用する干渉計の場合は、光ファイバに限らず、光導波路を用いることができる。また、偏波依存性がない光導波路、例えばシングルモードに設計された光導波路を光ファイバ4の代わりに用いてもよい。また、DPSK遅延干渉計、DQPSK遅延干渉計など各種の遅延干渉計と組み合わせることができる。図2は2光束合波回路の変形例で、入射する2光束の光軸が光検出器の受光面に対して垂直ではない場合に、光ファイバを曲げることによって、容易に2光束を光検出器の受光面に対して垂直に入射させることができるようにしたものを示す構成斜視図である。図2の2光束合波回路が図1の2光束合波回路と異なるのは、くの字に曲がった光ファイバ4aを備え、斜めに配設された集光レンズ3が光ファイバ4aの一端41aと対向している点である。その他の部分は図1の場合と同様であり、光ファイバ4aの他端43aにはPDチップ面5aが貼り付けられ、PDチップ面5aは図示しない光検出器の一部を示しており、光ファイバ4aは集光レンズ3から入射する2光束の蛇行が収束するように最短でも2mm~4mm程度の長さを有する。ここでは、差動位相変調された光信号に基づいて遅延干渉計から出射された、干渉する2つの光束は、PDチップ面5と斜めの方向から集光レンズ3に入射される。集光レンズ3で集光された2つの光束1,2は光ファイバ4aの一端41aのコア部42aに入射され、光ファイバ4a内のくの字に曲がった光路を伝播した後、合波光が他端43aから出射され、PDチップ面5aに垂直に入射される。図示しない光検出器からは、PDチップ面5aで検出された光強度に応じた電気信号が、前述の差動位相変調された光信号の復調信号として、出力される。上記のような構成の2光束合波回路によれば、図1の2光束合波回路における利点を有する外、光検出器受光面に対して垂直に2光束を入射させるために入射後の光路の方向を変更する、いわゆる光路変更をする必要がある場合は、光ファイバを曲げることで簡易に実現できる。したがって、光路変更反射板用プリズム等の部品点数を減らすことができ、製造が容易になるので、コストダウンを図ることができる。図3Aは2光束合波回路の第2の実施例で、光ファイバからの出射光をミラーで反射させて光検出器に入射させる構造のものを示す構成斜視図である。図3Aの2光束合波回路は、図1と同様の集光レンズ3図示せずと、この集光レンズ3からの2光束干渉光を入射する光ファイバ4b、この光ファイバ4bが載置、固定される三角溝9を有する三角溝ブロック7、この三角溝ブロック7に設けられ、三角溝9の終端に光ファイバ4bの光軸方向と45°の角度をなして光ファイバ4bの他端からの出射光を反射するミラー6図示せず、このミラー6で反射された光を集光するレンズ8図示せず、このレンズ8で集光された光を入射するPDチップ面5bとから構成されている。PDチップ面5bは図示しない光検出器の一部を示している。光ファイバ4bは、集光レンズ3から入射する2光束の蛇行が収束するに必要な長さ、2mm~4mm程度を最短でも有する。図3Aの構成斜視図で示される2光束合波回路のうち2つの変形例を図3BCに示す。図3Aの各部と対応する構成要素にはそれぞれ符号1、2を付加している。図3Bで示される2光束合波回路では、三角溝ブロック71上の三角溝91の終端に光ファイバ4b1の光軸方向と45°の角度をなしてミラー61が設けられ、光ファイバ4b1の他端からの出射光を上方に反射するように構成されている。差動位相変調された光信号に基づいて遅延干渉計から出射された干渉する2つの光束1,2は集光レンズ3に入射される。集光レンズ3で集光された2つの光束1,2は光ファイバ4b1の一端のコア部に入射され、光ファイバ4b1内を伝播して合波された後、他端から出射され、ミラー61で上方向に反射された後、レンズ8で集光され、PDチップ面5に垂直に入射される。PDチップ面5で検出された光強度に応じた電気信号が前記差動位相変調された光信号の復調信号として光検出器から出力される。図3Cで示される2光束合波回路は、三角溝ブロック72の三角溝92上の光ファイバ4b2の他端が光軸方向と45°の角度をなすように研磨され、研磨面の全反射条件により、または研磨面に蒸着によって形成された反射ミラーにより、光ファイバ4b2内を伝播して来た合波光を上方に反射するように構成されている。差動位相変調された光信号に基づいて遅延干渉計から出射された干渉する2つの光束1,2は図3Bの場合と同様に光ファイバ4b2内に導かれ、光ファイバ4b2他端の研磨面で上方向に反射された後、レンズ8で集光され、PDチップ面5bに垂直に入射される。その他の動作は図3Bの場合と同様である。図3のような構成の2光束合波回路によれば、図1、図2の場合と同様の特徴を有するほか、光路変更の際に光ファイバの曲率の制限を受けないので、光ファイバの長さを短くすることができ、小型化が容易となる。ただし、光ファイバ4bは集光レンズ3から入射する2光束の蛇行が収束するに必要な最短の長さとして2mm~4mm程度は有していたほうがよい。また、電気信号の配線方法によって図3の構成のほうが有利な場合があるほか、配線基板の面とPDチップの配線する面が平行になるためワイヤーボンディングが容易となる。なお、図3の実施例において、ミラーが光軸方向となす角度は45°に限らず、光ファイバ4bの光軸方向とPDチップ面5bとがなす角度に応じて任意の斜めの角度をとることができる。また、特定の偏光状態で使用する干渉計の場合は、光ファイバ4bに限らず、光導波路を用いることができる。また、偏波依存性がない光導波路、例えばシングルモードに設計された光導波路を光ファイバ4bの代わりに用いてもよい。また、DPSK遅延干渉計、DQPSK遅延干渉計など各種の遅延干渉計と組み合わせることができる。また、本発明は、上記実施例や変形例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。"