異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造は、第一規格に符合するプローブカード、第二規格に符合する強化部品、及び両者間に装置する規格変更インターフェース装置により構成し、前記規格変更インターフェース装置の一側面上には、プローブカードに向かい、第一種規格に符合する内部電気的連接部を形成し、反対の一側面上には、強化部品方向に向かい、第二種規格に符合する外部電気的連接部を形成することを特徴とする異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記規格変更インターフェース装置は、少なくとも規格変更回路板を備え、前記規格変更回路板の一側面は、強化部品に向かい組合せを形成し、反対の一側面は、プローブカードに向かい組合せを形成することを特徴とする請求項1に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記規格変更回路板は、強化部品の側面上に向かい、第二種規格に符合する外部電気的連接部を設置し、別にプローブカードの側面に向かい、第一種規格に符合する内部電気的連接部を設置し、前記内、外電気的連接部の間には、電気的連接を形成することを特徴とする請求項2に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記規格変更回路板上には、プローブカードの方向に向かい、第一種規格に基づき、外周定位リングを形成し、前記外周定位リングの外周に近い位置には、プローブカード突起に向かうフランジを設置することを特徴とする請求項2或いは3に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記外周定位リングは中空に形成し、中空の内周に対応する規格変更回路板上には、別に内周定位リングを設置することを特徴とする請求項4に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記外周定位リングの上には、プローブカード方向に向かい、プローブ台を結合することを特徴とする請求項4に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記外周定位リングの上には、プローブカード方向に向かい、プローブ台を結合することを特徴とする請求項5に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記外周定位リング上には、第一種規格に符合する接続回路或いは接点を形成することを特徴とする請求項4に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記外周定位リング上には、第一種規格に符合する接続回路或いは接点を形成することを特徴とする請求項5に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記外周定位リング及びプローブ台上には共に、第一種規格に符合する接続回路或いは接点を形成することを特徴とする請求項6に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記外周定位リング及びプローブ台上には共に、第一種規格に符合する接続回路或いは接点を形成することを特徴とする請求項7に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記プローブカード上には、規格変更インターフェース装置の方向に向かい、配線回路板を形成し、前記配線回路板上には、第一種規格に符合する外部電気接点を形成することを特徴とする請求項1或いは2或いは3に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記プローブカード上には、規格変更インターフェース装置の方向に向かい、配線回路板を形成し、前記配線回路板上には、第一種規格に符合する外部電気接点を形成することを特徴とする請求項4に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記プローブカード上には、規格変更インターフェース装置の方向に向かい、配線回路板を形成し、前記配線回路板上には、第一種規格に符合する外部電気接点を形成することを特徴とする請求項5に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記プローブカード上には、規格変更インターフェース装置の方向に向かい、配線回路板を形成し、前記配線回路板上には、第一種規格に符合する外部電気接点を形成することを特徴とする請求項6に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記プローブカード上には、規格変更インターフェース装置の方向に向かい、配線回路板を形成し、前記配線回路板上には、第一種規格に符合する外部電気接点を形成することを特徴とする請求項7に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記プローブカード上には、規格変更インターフェース装置の方向に向かい、配線回路板を形成し、前記配線回路板上には、第一種規格に符合する外部電気接点を形成することを特徴とする請求項8に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記プローブカード上には、規格変更インターフェース装置の方向に向かい、配線回路板を形成し、前記配線回路板上には、第一種規格に符合する外部電気接点を形成することを特徴とする請求項9に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。前記プローブカード上には、規格変更インターフェース装置の方向に向かい、配線回路板を形成し、前記配線回路板上には、第一種規格に符合する外部電気接点を形成することを特徴とする請求項10に記載の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造。本発明が解決しようとする課題は、第一種規格プローブカードの配線回路板において、第二種規格テスターの機台上の強化部品との間に、規格変更インターフェース装置を設置し、規格変更インターフェース装置中には、規格変更回路板を設置し、規格変更回路板は強化部品の一側面上に向かい、第二種規格に対応する外部電気的連接部を設置し、配線回路板の一側面上に向かい、配線回路板の各外部電気接点に相対する第一種規格内部電気的連接部を設置し、これにより規格変更インターフェース装置を利用し、もともとはテスターとは異なる規格であるプローブカードを、規格変更回路板の規格転換を通して、テスター上に直接装置し使用し、これにより単一規格のプローブカードは、プローブカードがもともと適用する規格のテスターに適用可能である他に、規格変更インターフェース装置を通して、別の異なる規格のテスター上に兼用可能で、これによりプローブカードが適用可能な機種を広げ、各異なる規格プローブの運用率を高めることができる異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造を提供することである。上記課題を解決するため、本発明は下記の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造を提供する。異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造は、規格変更回路板をプローブカードの一側面上に向かわせ、外周定位リングを設置し、該外周定位リングの外周に近い位置には、軸方向フランジを備え、これによりプローブ台の外縁を精密に限定し、該外周定位リング外の内縁内には、内周定位リングを結合させ、これによりプローブカードの配線回路板は、簡単、かつ正確に外周定位リングのフランジ内に設置され、該プローブ台及び該外周定位リングを通して、該規格変更回路板上の各内部電気的連接部が設置する接続回路或いは接点は、該配線回路板の各外部接点と電気的連接を形成し、これによりもともとプローブカード規格とは異なるテスターは、該規格変更インターフェース装置の転換を通して、異なる規格のプローブカードも直接設置して対応し、相互に対応するICに対してテストを行うことができる。本発明の異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造は、規格変更インターフェース装置を利用し、もともとはテスターとは異なる規格であるプローブカードを、規格変更回路板の規格転換を通して、テスター上に直接装置し使用し、これにより単一規格のプローブカードは、プローブカードがもともと適用する規格のテスターに適用可能である他に、規格変更インターフェース装置を通して、別の異なる規格のテスター上に兼用可能で、これによりプローブカードが適用可能な機種を広げ、各異なる規格プローブの運用率を高めることができる。以下に図面を参照しながら本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明する。図2~7に示すように、本発明は、第一種規格に符合するプローブカードの配線回路板10と第二種規格テスターの機台上に装置する強化部品40との間に、規格変更インターフェース装置5を設置する。プローブカードの構造は、図に示す型式で、配線回路板10、固定リング20及びプローブ固定装置30を備える。規格変更インターフェース装置5は、規格変更回路板50、外周定位リング51、内周定位リング52及びプローブ台53により構成する。規格変更回路板50は、第二種規格に符合する強化部品40の一側面501上に向かい、第二種規格テスターに対応して設置する第二種規格の外部電気的連接部502を設置する。また、配線回路板10の一側面503上に向かい、第一種規格に符合する配線回路板10上の各外部電気接点101に対応する内部電気的連接部504を設置する。しかも、内、外電気的連接部502、504の間には、電気的連接505を形成する。側面503上には、配線回路板10の方向に向かい、外周定位リング51を装置する。外周定位リング51の外周に近い位置には、プローブカード突起に向かうフランジ510を設置する。しかも、外周定位リング51全体の上は、規格変更回路板10上の第一種規格に対応する内部電気的連接部504で、相互に対応する第一種規格に符合する接続回路或いは接点511を設置する。別に、外周定位リング51に形成する中空の内周位置には、内周定位リング52を設置する。プローブ台53は、その外縁531により、フランジ510の内周に対応し、外周定位リング51において配線回路板10の一側面512上に向かい設置する。しかも、プローブ台53上には、第一種規格に符合する接続回路或いは接点511に対応し、相互に対応する第一種規格を備える接続回路或いは接点532を設置する。これにより、強化部品40の下方において、規格変更回路板50、外周定位リング51、内周定位リング52及びプローブ台53が共同で形成する規格変更インターフェース装置5を結合する。図6~図8に示すように、上記した規格転換インターフェース装置5により、規格転換回路板50の下方において、使用者は、乃得配線回路板10の外部電気接点101の規格を、符合する規格変更回路板50の内部電気的連接部504或いはプローブ台53の接続回路或いは接点532の第一種規格に設定する。さらに、配線回路板10の外周縁により、外周定位リング51のフランジ510の内縁に対応させて、嵌めて組合せる。これにより、配線回路板10の各外部電気接点101は、内部電気的連接部504或いは各接続回路或いは接点532と、相互に対応する電気的連接を形成する。こうして、プローブカードと規格変更インターフェース装置5の連結を完成する。使用者は、上記に対応して結合した強化部品40を、規格変更回路板50上方の外部電気的連接部502に符合する第二種規格のテスター上に装置するだけで、第二種規格テスター上において、規格変更インターフェース装置により、そのテスト条件を変更でき、第一種規格に符合するICのテストを行うことができる。すなわち、本発明の、配線回路板10により構成する第一種規格プローブカードは、図1に示すように、相同規格の強化部品40を直接対応させ相同規格のテスター上に装置し、テスト作業を行うことができる。さらに本発明は、図7に示すように、第一種規格のプローブカードを、第一種規格を第二種規格に変更する規格変更インターフェース装置5を通して、さらに第二種規格に符合する強化部品40を対応させ、第二種規格のテスター上に装置し、第一種規格に符合するICのテストを行うことができる。こうして、第二種規格のテスターは、上記した2種規格のICテストを行う機能を兼ね備え、第一種規格プローブカードは、規格変更インターフェース装置5を組み合わせることで、2種の異なる規格のテスターにおいてそれぞれテストを行うことができる。これにより、極めて便利に応用ででき、テスター或いはプローブカードの運用と組合せはよりフレキシブルになり、相互の稼働率を向上させることができる。また、処理能力が比較的小さい旧型機の使用寿命を延長することができる。上記したように本発明のプローブカード構造は、単一規格プローブカードの適用範囲を大幅に拡大し、プローブカードを繰り返し設定することによるコストと時間の浪費を確実に節減することができる。上記の本発明名称と内容は、本発明技術内容の説明に用いたのみで、本発明を限定するものではない。本発明の精神に基づく等価応用或いは部品構造の転換、置換、数量の増減はすべて、本発明の保護範囲に含むものとする。