複数のフリップフロップを有し、前記複数のフリップフロップのうち、それぞれのフリップフロップが保持しているデータを先頭方向から後尾方向に対してシフトするスキャンチェーン回路であって、前記複数のフリップフロップは、前記スキャンチェーン回路の先頭方向から後尾方向に対して、保持しているデータの遷移回数が少ない方から昇順となるように配置される、スキャンチェーン回路。前記複数のフリップフロップは、論理値として0又は1を保持し、前記スキャンチェーン回路の先頭方向から後尾方向に対して、それぞれのフリップフロップが0を保持する確率が高い方から順に降順となるように、又は、それぞれのフリップフロップが1を保持する確率が高い方から順に降順となるように配置される、請求項1記載のスキャンチェーン回路。前記複数のフリップフロップは、前記スキャンチェーン回路の先頭方向から後尾方向に対して、隣り合うフリップフロップが同一のデータを保持する確率が高い方から順に降順となるように配置される、請求項1記載のスキャンチェーン回路。前記複数のフリップフロップは、1を保持する確率が所定の閾値より大きい複数のフリップフロップを有する第1のスキャンチェーンと、1を保持する確率が所定の閾値より小さい複数のフリップフロップを有する第2のスキャンチェーンとに分類され、前記第1のスキャンチェーンは、前記それぞれのフリップフロップが1を保持する確率が高い方から順に降順となるように配置され、前記第2のスキャンチェーンは、前記それぞれのフリップフロップが1を保持する確率が低いほうから順に昇順となるように配置される、請求項2記載のスキャンチェーン回路。複数のフリップフロップを有し、前記複数のフリップフロップのうち、それぞれのフリップフロップが保持している0又は1の論理値を先頭方向から後尾方向に対してシフトするスキャンチェーンを構築するスキャンチェーン構築方法であって、前記スキャンチェーンの先頭方向から後尾方向に対して、保持しているデータの遷移回数が少ない方から昇順となるように前記複数のフリップフロップを配置する、スキャンチェーン構築方法。前記複数のフリップフロップを配置する際に、前記複数のフリップフロップがそれぞれ論理値1を保持する確率、又は、前記複数のフリップフロップがそれぞれ論理値0を保持する確率を算出し、前記複数のフリップフロップを、論理値1を保持する確率又は論理値0を保持する確率が高い方から順に降順となるように配置する、請求項5記載のスキャンチェーン構築方法。前記複数のフリップフロップを配置する際に、前記スキャンチェーン回路の先頭方向から後尾方向に対して、隣り合うフリップフロップが同一のデータを保持する確率を算出し、前記複数のフリップフロップを、前記同一のデータを保持する確率が高い方から順に降順となるように配置する、請求項5記載のスキャンチェーン構築方法。前記算出された確率が所定の閾値より大きい複数のフリップフロップを有する第1のグループと、前記算出された確率が所定の閾値より小さい複数のフリップフロップを有する第2のグループとに分類し、前記第1のグループにおいては、前記算出された確率が高い方から順に降順となるようにスキャンチェーンを構築し、前記第2のグループにおいては、前記算出された確率が低い方から順に昇順となるようにスキャンチェーンを構築する、請求項6記載のスキャンチェーン構築方法。複数のフリップフロップを有し、前記複数のフリップフロップのうち、それぞれのフリップフロップが保持しているデータを先頭方向から後尾方向に対してシフトするスキャンチェーン回路を構築する試験装置であって、前記複数のフリップフロップのそれぞれにおいて保持しているデータが遷移する回数に関する情報を算出する演算部と、前記データの遷移回数が少ない方から昇順となるように前記複数のフリップフロップを配置するようにスキャンチェーンの構築情報を生成するスキャンチェーン生成部と、前記スキャンチェーンの構築情報を、スキャンチェーン回路を挿入する回路へ通知する実行部と、を備える試験装置。特許文献1に開示されているスキャンチェーンは、論理値が1をとる確率が0.5程度のスキャンF/Fをグルーピングしたスキャンチェーンでは隣り合うスキャンF/Fが異なるキャプチャ値を持つ頻度を削減することができない。そのため、このようなスキャンチェーンでは消費電力を削減することができないという問題がある。また、非特許文献1に開示されているスキャンチェーンは、キャプチャ値が遷移する確率が高いスキャンF/Fがスキャンイン側に配置された場合に、スキャンアウト時に遷移を起こすスキャンF/Fが増加し、スキャンシフト動作時の消費電力が増大するという問題がある。また、特許文献2に開示されているスキャンチェーンは、パワー大FFにおいてキャプチャされた値が遷移する可能性が高い場合に、スキャンアウト時のシフト動作により後段のスキャンF/Fが遷移し、消費電力が増大するという問題がある。本発明の第1の態様にかかるスキャンチェーン回路は、複数のフリップフロップを有し、前記複数のフリップフロップのうち、それぞれのフリップフロップが保持しているデータを先頭方向から後尾方向に対してシフトするスキャンチェーン回路であって、前記複数のフリップフロップは、前記スキャンチェーン回路の先頭方向から後尾方向に対して、保持しているデータの遷移回数が少ない方から昇順となるように配置されるものである。このようなスキャンチェーン回路を用いることにより、フリップフロップが保持しているデータの遷移回数に応じてスキャンチェーンを構築することができる。そのため、スキャンチェーンを伝搬するデータによって、フリップフロップにおけるキャプチャ値が遷移する確率を低くすることができる。本発明の第2の態様にかかるスキャンチェーン構築方法は、複数のフリップフロップを有し、前記複数のフリップフロップのうち、それぞれのフリップフロップが保持している0又は1の論理値を先頭方向から後尾方向に対してシフトするスキャンチェーンを構築するスキャンチェーン構築方法であって、前記スキャンチェーンの先頭方向から後尾方向に対して、保持しているデータの遷移回数が少ない方から昇順となるように前記複数のフリップフロップを配置するものである。このようなスキャンチェーン構築方法を用いることにより、フリップフロップが保持しているデータの遷移回数に応じてスキャンチェーンを構築することができる。そのため、スキャンチェーンを伝搬するデータによって、フリップフロップにおけるキャプチャ値が遷移する確率を低くすることができる。本発明の第3の態様にかかる試験装置は、複数のフリップフロップを有し、前記複数のフリップフロップのうち、それぞれのフリップフロップが保持しているデータを先頭方向から後尾方向に対してシフトするスキャンチェーン回路を構築する試験装置であって、前記複数のフリップフロップのそれぞれにおいて保持しているデータが遷移する回数に関する情報を算出する演算部と、前記データの遷移回数が少ない方から昇順となるように前記複数のフリップフロップを配置するようにスキャンチェーンの構築情報を生成するスキャンチェーン生成部と、前記スキャンチェーンの構築情報を、スキャンチェーン回路を挿入する回路へ通知する実行部と、を備えるものである。このような試験装置を用いることにより、フリップフロップが保持しているデータの遷移回数に応じてスキャンチェーンを構築することができる。そのため、スキャンチェーンを伝搬するデータによって、フリップフロップにおけるキャプチャ値が遷移する確率を低くすることができる。本発明により、スキャンF/Fの遷移する回数を抑えて消費電力を削減することができるスキャンチェーン回路、スキャンチェーン構築方法及び試験装置を提供することができる。実施の形態1以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。はじめに、図1を用いて本発明の実施の形態1にかかるスキャンチェーンを挿入した回路の構成例について説明する。スキャンチェーンを挿入した回路は、フリップフロップ以下、F/Fと称する21~26と、組み合わせ回路30~32と、スキャンイン端子40と、スキャンアウト端子50とを備えている。F/F21は、入力されるクロック信号に応じてシフト動作を行う。また、F/F21は、スキャンイン端子40もしくは組み合わせ回路31から出力される信号のいずれか一方を選択して保持キャプチャする。F/F21は、スキャンテストを実行するためのテストパタンを保持する場合は、スキャンイン端子40から出力される信号をキャプチャする。また、F/F21は、テストパタンを保持する場合以外は、組み合わせ回路31から出力される信号をキャプチャする。F/F21は、キャプチャした値を、クロック信号によるタイミング制御に応じて、F/F22及び組み合わせ回路30へ出力する。F/F22は、F/F21もしくは組み合わせ回路31から出力される信号のいずれか一方を選択してキャプチャする。F/F22は、スキャンテストを実行するためのテストパタンを保持する場合、又は、テスト結果をスキャンアウト端子50へ出力する動作を実行する場合は、F/F21から出力される信号をキャプチャする。また、F/F22は、スキャンテストを実行するためのテストパタンを保持する場合、又は、テスト結果をスキャンアウト端子50へ出力する動作を実行する場合以外は、組み合わせ回路31から出力される信号をキャプチャする。F/F22は、キャプチャした値を、クロック信号によるタイミング制御に応じて、F/F23及び組み合わせ回路30へ出力する。F/F23~25は、F/F22と同様の動作を行うため、詳細な説明を省略する。F/F26は、保持した値をスキャンアウト端子50及び組み合わせ回路32へ出力する。それ以外の動作については、F/F22と同様の動作を行うため、詳細な説明を省略する。F/F21~26は、直列に接続され、シフトレジスタとして動作するスキャンチェーンを構成する。スキャンチェーンは、スキャンイン端子40からスキャンインされるテストパタンデータを、シフト動作により組み合わせ回路30又は32へ出力する。また、スキャンチェーンは、組み合わせ回路30又は31からデータを取り込み、取り込んだデータをシフト動作により、スキャンアウト端子50へ出力する。スキャンテストでは、スキャンチェーンのシフト動作によって、テストパタンデータを組み合わせ回路に入力し、キャプチャ動作によって組み合わせ回路の出力データがフリップフロップに取り出される。次に、フリップフロップに取り出された出力データは、シフト動作によってスキャンアウト端子50へ出力される。スキャンアウト端子50へ出力されたデータと、その期待値とを比較することにより、組み合わせ回路が正常に動作しているか否かを判定することができる。組み合わせ回路30~32は、複数の論理素子を用いて構成されている。つまり、組み合わせ回路30~32は、F/Fから受け取ったデータを演算し、演算した結果をそれぞれのF/Fへ出力する。スキャンイン端子40は、F/F21に接続されており、F/F21を介してテストパタンデータをF/F21~26へ出力する。また、スキャンアウト端子50は、F/F26に接続されており、F/F26を介してF/F21~26がキャプチャしたデータを受け取る。続いて、図2を用いて本発明の実施の形態1にかかる試験装置60の構成例について説明する。試験装置60は、スキャンチェーンを挿入した回路を有する装置とは異なる装置である。試験装置60は、スキャンチェーンを挿入した回路における試験の実行を制御するために用いられる。試験装置60は、ネットリスト61と、セルライブラリ62と、演算部63と、スキャンチェーン生成部64と、実行部65とを備えている。ネットリスト61は、スキャンF/Fが挿入された回路における、スキャンF/F及び組み合わせ回路の接続構成パターンを保持している。ここでは、スキャンチェーンに用いられるF/Fを、スキャンF/Fと称する。以下の記述においても同様である。セルライブラリ62は、特定の機能を有する複数のプログラムを保持している。処理を実行する内容に応じて、試験装置内のCPU図示せずが、セルライブラリ62に保持されているプログラムを用いて処理を実行することができる。演算部63は、ネットリスト61及びセルライブラリ62に保持されている情報を用いて、それぞれのスキャンF/Fがキャプチャする値が遷移する回数に関する情報を算出する。それぞれのスキャンF/Fがキャプチャする値が遷移する回数に関する情報とは、例えば、それぞれのスキャンF/Fが0を保持する確率もしくは1を保持する確率である。また、その他の例として、スキャンF/Fのペアがそれぞれ0を保持する確率もしくは1を保持する確率を示す相関であってもよい。スキャンチェーン生成部64は、演算部63において算出された情報に基づいて、スキャンチェーンの接続構成を決定する。スキャンチェーンの接続構成の決定処理については、後に詳述する。実行部65は、スキャンチェーン生成部64において決定されたスキャンチェーンの接続構成をスキャンチェーンが挿入された回路に通知し、その回路におけるスキャンチェーンを構築させる。続いて、図3を用いて、スキャンチェーンを構築する処理の流れについて説明する。図3において説明するスキャンチェーンを構築する処理の流れは、上述した試験装置60を用いてスキャンチェーンの構築を行う例について説明する。はじめに、演算部63は、ネットリスト61及びセルライブラリ62における回路情報等を用いて、それぞれのスキャンF/Fが論理値1をキャプチャする確率を求めるS11。演算部63は、ネットリスト61から回路内のスキャンF/F及び組み合わせ回路の接続構成例を抽出し、セルライブラリ62からスキャンF/Fに設定するスキャンパタンテストパタン等を抽出する。演算部63は、抽出したデータを用いて、想定し得る接続構成にスキャンパタンを適用し、テストを実行した場合のスキャンF/Fがキャプチャする値についてシミュレーションを行う。これにより、試験装置は、スキャンF/Fが論理値1をキャプチャする確率を求める。ここで、試験装置は、スキャンF/Fが論理値0をキャプチャする確率を求めてもよい。次に、スキャンチェーン生成部64は、それぞれのスキャンF/Fが論理値1をキャプチャする確率を用いて、スキャンチェーンを構築するS12。スキャンチェーン構築の具体例について、図4及び図5を用いて説明する。スキャンチェーンには、スキャンF/F1~12が用いられる。試験装置は、複数のスキャンF/Fを、論理値1をキャプチャする確率が0.5より大きいスキャンF/Fを含むグループと、論理値1をキャプチャする確率が0.5より小さいスキャンF/Fを含むグループと、に分類する。ここで、論理値1をキャプチャする確率が0.5となるスキャンF/Fについては、どちらのグループに分類されてもよい。また、図4及び図5において閾値として用いたれている確率は、0.5に制限されるものではなく、他の値を用いてもよい。図4におけるスキャンチェーンは、論理値1をキャプチャする確率が0.5より大きいスキャンF/Fにより構築されるスキャンチェーンである。図5におけるスキャンチェーンは、論理値1をキャプチャする確率が0.5より小さいスキャンF/Fにより構築されるスキャンチェーンである。図4におけるスキャンチェーンは、スキャンイン端子とスキャンアウト端子との間に、スキャンF/Fが直列に接続されている構成を示している。さらに、スキャンイン端子からスキャンアウト端子に向かって、それぞれのスキャンF/Fにおける論理値が1となる確率が高い方から順に降順に接続されるようにする。図5におけるスキャンチェーンは、スキャンイン端子とスキャンアウト端子との間に、スキャンF/Fが直列に接続されている構成を示している。さらに、スキャンイン端子からスキャンアウト端子に向かって、それぞれのスキャンF/Fにおける論理値が1となる確率が低い方から順に昇順に接続されるようにする。このような手法によって構成された図4及び図5のスキャンチェーンの後方スキャンアウト端子に近い順番には、論理値1がキャプチャされる確率が0.5程度のスキャンF/Fが接続されている。論理値1がキャプチャされる確率が0.5程度のスキャンF/Fにキャプチャされている値をスキャンアウトした場合、スキャンF/Fにおいてキャプチャする値が遷移する確率が高くなる。つまり、スキャンF/Fがキャプチャする論理値が1から0もしくは0から1に変化する確率が高くなる。しかし、論理値1がキャプチャされる確率が0.5程度のスキャンF/Fは、スキャンチェーンの後方に配置されている。そのため、スキャンシフトにより、キャプチャされる値の遷移が伝搬するスキャンF/Fの数は少ない。従って、スキャンF/Fが論理値1をキャプチャする確率が0.5程度のスキャンF/Fがスキャンチェーンの前方スキャンイン端子に近い順番に接続している場合に比べて、遷移が伝搬するスキャンF/Fの数を抑えることができる。これにより、スキャンチェーン回路の消費電力を削減することができる。また、このような手法によって構成されたスキャンチェーンの前方スキャンイン端子に近い順番には、論理値1をキャプチャする確率が1又は0に近いスキャンF/Fが接続されている。論理値1をキャプチャする確率が1又は0に近いスキャンF/Fにキャプチャされている値をスキャンアウトした場合、スキャンF/Fにおいてキャプチャする値が遷移する確率が低くなる。つまり、スキャンF/Fがキャプチャする論理値が変化する確率が低くなる。このスキャンF/Fがスキャンチェーンの前方に配置されているため、スキャンシフト動作が行われた場合においても、キャプチャされる値が遷移するスキャンF/Fの数が少なくなる。従って、スキャンF/Fが論理値1をキャプチャする確率が1又は0に近いスキャンF/Fがスキャンチェーンの後方に接続している場合に比べて、遷移するスキャンF/Fの数が少なくなる。これにより、スキャンチェーン回路の消費電力を削減することができる。図3に戻り、スキャンチェーン生成部64は、新たに構築されたスキャンチェーンの接続情報を反映させるため、ネットリストの更新を行うS13。更新されたネットリストは、ネットリストD1に保存される。また、実行部65は、スキャンチェーン生成部64において生成されたスキャンチェーンの接続情報を、スキャンチェーンを挿入した回路において適用させる。次に、スキャンチェーン生成部64もしくは試験装置内のCPUは、セルライブラリD2に格納されているプログラム情報に基づいて、スキャンパタンを生成するS14。さらに、実行部65は、repeatfill機能を用いて、スキャンF/Fにスキャンパタンを設定するS15。ここで、repeatfill機能について説明する。repeatfill機能とは、スキャンパタンのドントケアビットに設定される論理値を直前のケアビットと同一の値に設定する機能である。たとえば、8ビットからなるスキャンパタンにおいて、1ビット目にケアビットとして論理値1を設定し、4ビット目にケアビットとして論理値0を設定する例について説明する。この場合、2及び3ビット目に、ドントケアビットとして1ビット目と同じ論理値1を設定する。さらに、5~8ビット目に、ドントケアビットといて4ビット目と同じ論理値0を設定する。これにより、スキャンパタンとして11100000がスキャンF/Fに設定される。このように、スキャンパタンに同一の論理値が並べられるため、スキャンパタンのシフト動作による遷移を最小限に抑えることができる。このように、repeatfill機能は、スキャンパタンのシフト動作によって生じる、スキャンF/Fがキャプチャする値の遷移を最小限に抑えることができる機能である。以上説明したように本発明の実施の形態1にかかるスキャンチェーン回路を用いることにより、論理値1をキャプチャする確率が0.5程度のスキャンF/Fを含むスキャンチェーンにおいても、このようなスキャンF/Fをスキャンチェーンの後方スキャンアウト端子に近い方に配置することにより、シフト動作による遷移の伝搬を抑えることができる。さらに、論理値1をキャプチャする確率が1又は0に近いスキャンF/Fをスキャンチェーンの前方スキャンイン端子に近い方に配置することにより、さらに、スキャンチェーンを構成するスキャンF/Fの遷移回数を最小限に抑えることができる。実施の形態2続いて、図6を用いて本発明の実施の形態2にかかるスキャンチェーン回路の構築例について説明する。本発明の実施の形態1の図4及び図5においては、それぞれのスキャンF/Fが論理値1をキャプチャする確率に基づいて、スキャンチェーン回路を構築する例について説明した。本発明の実施の形態2の図6においては、2つのスキャンF/F間の相関に基づいて、スキャンチェーン回路を構築する。スキャンF/F間の相関とは、2つのスキャンF/Fが同じ値をキャプチャする確率である。たとえば、図6のスキャンチェーン回路においては、スキャンF/F4とスキャンF/F1とが共に論理値1をとる確率1を100とするは、0.87であり、スキャンF/F1とスキャンF/F2とが共に論理値1をとる確率は、0.63である。本発明の実施の形態2のスキャンチェーンは、スキャンイン端子からスキャンアウト端子に対して、各スキャンF/F間の相関が高い方から順に降順に接続されている。つまり、スキャンイン端子に一番近い場所には、相関が0.87となるスキャンF/F4とスキャンF/F1とが接続されている。また、スキャンアウト端子に一番近い場所には、相関が0.27と一番低いスキャンF/F5とスキャンF/F3とが接続されている。続いて、図7を用いて本発明の実施の形態2にかかるスキャンチェーンを構築する処理の流れについて説明する。はじめに、演算部63は、ネットリストD1及びセルライブラリD2における回路情報等を用いて、スキャンF/F間の相関を算出するS21。例えば、演算部63は、ネットリストD1から回路内のスキャンF/F及び組み合わせ回路の接続構成例を抽出し、セルライブラリD2からスキャンF/Fに設定するスキャンパタンテストパタン等を抽出する。演算部63は、抽出したデータを用いて、想定し得る接続構成にスキャンパタンを適用し、テストを実行した場合に、スキャンF/Fのペアそれぞれが論理値1をキャプチャする確率を算出するためのシミュレーションを行う。これにより、演算部63は、全てのスキャンF/F間の相関を算出する。ここで、演算部63は、スキャンF/Fのペアがそれぞれ論理値0をキャプチャする確率を算出してもよい。ステップS22~ステップS25の処理は、図3におけるステップS12~ステップS15と同様であるため、詳細な説明を省略する。以上説明したように、本発明の実施の形態2にかかるスキャンチェーン回路を用いることにより、スキャンチェーンの後方スキャンアウト端子に近い順番には相関の低いスキャンF/Fが接続されている。これらのスキャンF/Fは、スキャンシフト中にキャプチャする値が遷移する確率が高いが、スキャンF/Fがスキャンチェーンの後方に配置されているため、スキャンシフトにより遷移が伝搬するスキャンF/Fの数が少ない。従って、相関が低いスキャンF/Fがスキャンチェーンの前方スキャンイン端子に近い順番に接続している場合に比べてキャプチャする値の遷移が伝搬するスキャンF/Fの数を削減し、消費電力を削減することができる。また、本発明の実施の形態2にかかるスキャンチェーン回路を用いることにより、スキャンチェーンの前方には相関の高いスキャンF/Fが接続されている。これらのスキャンF/Fはスキャンシフト中にキャプチャする値が遷移する確率が低い。このスキャンF/Fが、スキャンチェーンの前方に配置されているため、スキャンシフト動作が進むにつれ遷移するスキャンF/Fの数が少なくなる。従って、相関が低いスキャンF/Fをスキャンチェーンの前方に接続している場合に比べて遷移するスキャンF/Fの数が少なくなり消費電力を削減することができる。なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。