ワインダー工程で形成された巻取の端面の状態を検査する巻取の端面検査装置において、前記巻取の搬送路の近傍に、該搬送路を搬送される巻取の端面に臨ませた照明手段と、前記照明手段により照明された前記端面を撮影する撮影手段と、前記撮影手段により取得された端面画像により端面の状態を検査する画像解析処理装置とを備えていることを特徴とする巻取の端面検査装置。前記照明手段と撮影手段とを前記搬送路の近傍に一対ずつ配設し、一方の対の照明手段と撮影手段とで巻取の一方の端面の検査に供し、他方の対の照明手段と撮影手段とで巻取の他方の端面の検査に供することを特徴とする巻取の端面検査装置。前記巻取の端面に臨ませてラインレーザー装置を設け、前記ラインレーザー装置からラインレーザーを照射し、該ラインレーザーの投影像を前記撮影手段により撮影し、この撮像を前記画像解析処理装置に供して端面の凹凸を検査することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の巻取の端面検査装置。しかしながら、特許文献1に開示された凹凸測定装置では、走査装置を昇降させると共に、走査装置に沿って測距装置を移動させながら、該測距装置から鏡面までの距離を測定し、この距離の変化から凹凸を検出するものである。このため、測定時間が長くなってしまい、ワインダー工程での処理速度の上昇に十分に追随できないおそれがある。また、特許文献2に開示された紙の裁断面の品質を検査する方法では、所定の寸法に裁断された平判紙が山積みされた紙山の裁断面である側面をCCDカメラで撮影し、その撮像を画像処理して裁断面の良否の判定を行うようにしたものである。平判紙の紙山を形成する際のレイボーイにより側面が揃えられた状態となるため、側面に凹凸が形成されることがない。このため、平判紙の紙山では毛羽立ちの状態を検査して当該紙山の良否の判定を行うのみである。そこで、この発明は、巻取の端面の状態を極力迅速に検査して、該巻取の良否の判定を迅速に行えるようにした巻取の端面検査装置を提供することを目的としている。前記目的を達成するための技術的手段として、この発明に係る巻取の端面検査装置は、ワインダー工程で形成された巻取の端面の状態を検査する巻取の端面検査装置において、前記巻取の搬送路の近傍に、該搬送路を搬送される巻取の端面に臨ませた照明手段と、前記照明手段により照明された前記端面を撮影する撮影手段と、前記撮影手段により取得された端面画像により端面の状態を検査する画像解析処理装置とを備えていることを特徴としている。前記搬送路中を搬送されている巻取の端面の検査を行えるようにしたものである。前記撮影手段により端面の画像を捕捉し、該画像に基づいて前記画像解析処理装置で端面の検査を行うようにしたものである。また、請求項2の発明に係る巻取の端面検査装置は、前記照明手段と撮影手段とを前記搬送路の近傍に一対ずつ配設し、一方の対の照明手段と撮影手段とで巻取の一方の端面の検査に供し、他方の対の照明手段と撮影手段とで巻取の他方の端面の検査に供することを特徴としている。巻取の端面の前側と後側のそれぞれの画像を個別に取得できるよう、照明手段と撮影手段とを、前側端面用と後側端面用のそれぞれに配設したものである。また、請求項3の発明に係る巻取の端面検査装置は、前記巻取の端面に臨ませてラインレーザー装置を設け、前記ラインレーザー装置からラインレーザーを照射し、該ラインレーザーの投影像を前記撮影手段により撮影し、この撮像を前記画像解析処理装置に供して端面の凹凸を検査することを特徴としている。ラインレーザーは物体の表面に直線等をほぼ正確に照射することができるため、この直線の画像から端面の凹凸を検査するようにしたものである。この発明に係る巻取の端面検査装置によれば、ワインダー工程で形成された巻取を、次工程である巻取包装工程等へ搬送する搬送路の途中において、端面の検査を行うことができるから、全ての巻取について検査を行う場合でも、ワインダー工程の処理速度の上昇に追随することができ、巻取の生産効率の向上に貢献する。また、請求項2の発明に係る巻取の端面検査装置によれば、巻取の両方の端面について迅速な検査を行うことができる。また、請求項3の発明に係る巻取の端面検査装置によれば、平面であれば直線として現れるラインレーザーの投影像を画像処理によって該直線に対する変化を測定するから、端面に形成された凹凸を確実に検出することができる。以下、図示した好ましい実施の形態に基づいて、この発明に係る巻取の端面検査装置を具体的に説明する。図1は、この発明に係る端面検査装置1を巻取Rの搬送路Tの近傍に配置した状態の概略の平面図である。搬送路Tは、例えばスラットコンベヤ等によるコンベヤにより形成されており、図上矢標Qで示す方向に巻取Rを搬送するようにしてあり、巻取Rは軸方向が搬送方向と一致する状態で搬送されるようにしてある。したがって、該巻取Rは、端面F、Bが搬送方向の前後を指向した状態で搬送路T上を搬送される。なお、端面検査装置1のうちの端面Fについて検査するものを端面検査装置1fとし端面Bについて検査するものを端面検査装置1bで示してある。搬送路Tを挟んで一方の側には照明手段21とラインレーザー装置31とを備えた一対の投光機器2f、2bが配設され、他方の側には一対の撮影手段4f、4bが配設されている。前記投光機器2fと撮影手段4fとは搬送路T上を搬送される巻取Rが前端面測定位置Pfに位置した際に、前側の端面Fを臨むように配されており、前記投光機器2bと撮影手段4bとは同じく巻取Rが後端面測定位置Pbに位置した際に、後側の端面Bを臨むように配されている。図2は、前記撮影手段4f、4bとラインレーザー装置31との関係を示している概略の斜視図である。前記撮影手段4f、4bは巻取Rの端面の全域を撮影範囲としてあり、この範囲における画像を取得できるものとしてある。また、前記ラインレーザー装置31から照射されるラインレーザーLは、鉛直方向に沿った直線であって巻取Rのほぼ中心を通過するようにしてある。また、図3に示すように、前記撮影手段4f、4bの光軸4fo、4boは端面F、Bに対する角度がほぼ60度となるように設置され、前記照明手段21の21o光軸は、巻取Rの中心軸を対称軸として、前記撮影手段4f、4bの光軸4fo、4boと対称となるようにしてある。すなわち、照明手段21の光軸21oも端面F、Bに対する角度がほぼ60度であり、巻取Rの中心軸を挟んで撮影手段4f、4bと反対側に配されている。また、図4に示すように、前記ラインレーザー装置31の光軸31oは、端面F、Bに対してほぼ30度の角度となるようにしてある。前記照明手段21やラインレーザー装置31、撮影手段4f、4bはこれらの動作の制御や取得された撮像等の情報の処理を行う画像解析処理装置としての管理装置5に接続されている。この管理装置5と撮影手段4、ラインレーザー装置31、照明手段21との関係のブロック図を図5に示してある。端面検査装置1f、1bの撮影手段4f、4bは、前記管理装置5とLANにより接続されている。前記管理装置5には、画像解析処理を担当する操作監視用パソコン51と画像解析表示パソコン52とが含まれている。これらそれぞれのパソコンにはキーボードやマウス等の入力装置とモニター装置による表示装置51a、52aが接続されている。前記操作監視用パソコン51にはPLCProgrammableLogicControllerシーケンス装置53が接続されている。前記PLCシーケンス装置53は、前記搬送路Tを形成する巻取搬送装置54に対し、検査に係る一連の動作信号、製品情報等の巻取データ55を取り合っている。また、PLCシーケンス装置53には警報装置56が接続されており、検査対象である巻取Rの端面F、Bに不良がある場合には、警報の吹鳴と、警告灯等の点灯や点滅によって作業者に不良品の存在を知らしめるようにしてある。以上により構成されたこの発明に係る巻取の端面検査装置の作用を、図6に示すフローチャートを参照して以下に説明する。アプリケーションソフトを起動させて、この端面検査装置1による検査を行える状態とする。これは、端面F、Bの測定に供される巻取Rの径や長さ等の寸法、良否の判定の基準となるしきい値等のデータを登録するものである。この状態で検査の準備が完了する。前記搬送路Tを、ワインダー工程で形成された巻取Rが搬送され、前側の端面Fが前端面測定位置Pfに位置したならば、前記ラインレーザー装置31を作動させてラインレーザーを、巻取Rの端面Fに対する測定位置に照射し処理範囲が設定されるステップ607。なお、この処理範囲は、ステップ602で登録設定された情報に基づいているものである。すなわち、端面Fの画像のデータ分析を行うに際して、全体を像として見るのではなく、限られた領域単位で分析されるようにしてある。次いで、GAIN処理を行って画像の輝度の補正を行うと共にステップ608、光学系や撮像系の特性による輝度ムラに対して一様な明るさの画像になるよう補正するためのシェーディング処理を行って画像の輝度ムラを補正するステップ609。次いで、エッジフィルター処理を行って画像中の検査に係る対象物の輪郭を明確にするステップ610。また、画像を適宜数の領域に分割し、各領域ごとに濃度ヒストグラムを調べ、当該領域にエッジが含まれていると判断された場合は、その領域の性質に最も適したしきい値を設定する、エッジ処理または動的しきい値処理を行うステップ611。動的しきい値処理ステップ611が完了したならば、画像データの二値化を行ってグレースケール処理を行う。次いで、クロージング処理ブロブ検出を行いステップ613、二値化された白黒画像に対して膨張収縮処理を行うことによって、画像をより鮮明にする。すなわち、注目画素の周辺に1画素でも白い画素があれば白に置き換える膨張Dilation処理を行い、周辺に1画素でも黒い画素があれば黒に置き換える収縮Erosion処理を行って、画像の濃淡検査に供する。次に、画素をさらに細分化するサブピクセル処理寸法測定が行われるステップ614。すなわち、対象物の境界や位置を求めるとき、それらの検出計測精度は、二値化処理後の画像では1画素となるが、対象物の境界近傍の輝度勾配を利用することにより1画素以下と高くすることができる。例えば、対象物の寸法計測では、境界近傍の輝度勾配を微分することによって境界を高精度に求めることができるものである。そして、ステップ606からステップ614までに行われた画像処理によって取得された抽出物、いわゆるブロブの面積比率、長さ、幅、グレースケール値等の特徴量の設定を行うブロブの判定が行われるステップ615。この判定を基に、巻取Rの端面Fの良否について判定し、その結果を前記表示装置52aに表示し。次いで、巻取Rを搬送路Tで搬送して、端面Bを後端面測定位置Pbに位置させて、前記ステップ603からステップ617までの手順を実行することによって、後側の端面Bの良否を判定する。次に、前記フローチャートの手順によって巻取Rの端面についての良否判定を具体的に説明する。図7は、前記撮影手段4で取得した巻取Rの端面の表示装置51aに表示された画像であり、例えば図8に認められるように、周方向に沿った凹みが形成されている。この取得された画像のグレースケール処理を行ったものを図9に示してあり、グレースケール処理の前の状態を併せて示してある。このグレースケール処理後の画像について、巻取Rの周方向に沿って全周に渡って検査の対象物が存している場合には、該対象物が凹みであると判定するステップ615。また、図10はラインレーザーLが照射された状態ステップ603を示しており、この画像に対してグレースケール処理を行うステップ612。また、光切断法によりラインレーザーLの輝線形状から断面形状を抽出し、断面形状で凹み部分の量を計測するステップ614。この断面形状に現れた段差が凹凸を形成している部分であり、この軸方向の座標を算出する。この軸座標と図9に認められた対象物の凹み幅の軸座標とが近接している部分を抽出する。そして、凹み量と凹み幅とを予め登録設定された設定値ステップ602と比較して、設定値を越える場合には欠陥としての凹凸が存在していると判定されることになる。図11は巻取Rの端面に切り口不良が形成された状態を示す画像である。この画像からグレースケール処理ステップ612によって得られた二値化画像を図12に示してある。この二値化画像を基に対象物である切り口不良の形状を解析する。切り口不良は円周上の全周に渡っていない場合が殆どであるため、対象物である切り口不良は幅と長さで判別し、判別された凸の幅方向の最大値幅と長さを記録する。この凸の幅が設定された設定値ステップ602を越える場合には該切り口不良は欠陥として判定されることになる。なお、前記ラインレーザーLによって切り口不良を計測可能な場合には、該ラインレーザーLの照射から得られる断面形状で凸部分の量を計測する方法を併用することも可能である。図13は巻取Rの端面に切り口不良が形成された状態を示す画像である。この画像からグレースケール処理ステップ612によって得られた二値化画像を図14に示してある。この二値化画像を基に対象物として切り口不良の形状を解析する。円周上の全周に渡っている対象物を切り口不良と判別し、判別された切り口不良の幅方向の最大値を幅として記録する。この記録された幅が設定された設定値ステップ602を越える場合には該切り口不良は欠陥として判定されることになる。なお、対象物が、切り口不良であるか凹みであるかは、凹み量の有無によって判別する。また、前記ラインレーザーLによって切り口不良を計測可能な場合には、該ラインレーザーLの照射から得られる断面形状で凹凸部分の量の変化を計測する方法を併用することも可能である。図15は巻取Rの端面に汚れが生じた状態を示す芯材の近傍の画像である。この画像がグレースケール処理ステップ612によって得られた二値化画像を図16に示してある。この二値化画像を基に対象物である汚れの形状範囲を解析する。この範囲が設定された設定値ステップ602を越える場合には、該汚れは欠陥として判定されることになる。以上説明した、凹凸や切り口不良等の対象物が欠陥か否かは、紙の銘柄や坪量等の紙質に応じて基準が異なる場合があり、これを登録設定ステップ602の際に、しきい値として設定する。例えば、凹凸の設定値としては、幅:最小01mm、最大3mm長さ:最小100mm、最大4000mm、凹み深さ:最小03mm、最大5mmとする。また、切り口不良の設定値としては、幅:最小5mm、最大200mm、長さ:最小60mm、最大4000mmとする。また、汚れの設定値としては、幅:最小1mm、最大1500mm、長さ:最小1mm、最大4000mm、面積比率:3割以上とする。