ハニカム構造体の検査方法であって、前記ハニカム構造体の表面に対して第1の角度から光を照射しつつ前記ハニカム構造体の表面を検査する第1工程と、前記ハニカム構造体の表面に対して前記第1の角度とは異なる第2の角度から光を照射しつつ前記ハニカム構造体の表面を検査する第2工程とを含む、ハニカム構造体の検査方法。前記第1の角度は、前記ハニカム構造体の表面の法線に対して±5°以内の角度であり、前記第2の角度は、前記第1の角度に対して40°~50°回転した角度である、請求項1に記載のハニカム構造体の検査方法。前記第1工程は、柱状の前記ハニカム構造体の側面に対して前記第1の角度から光を照射しつつ前記ハニカム構造体の表面を検査し、前記第2工程は、柱状の前記ハニカム構造体の側面に対して前記第2の角度から光を照射しつつ前記ハニカム構造体の表面を検査する、請求1に記載のハニカム構造体の検査方法。前記第1の角度は、前記ハニカム構造体の側面の法線に対して前記ハニカム構造体の長手方向周りに±5°以内の角度であり、前記第2の角度は、前記第1の角度に対して前記ハニカム構造体の長手方向周りに40°~50°回転した角度である、請求項3に記載のハニカム構造体の検査方法。前記請求項1~4のいずれか1項に記載のハニカム構造体の検査方法によって前記セルについての検査が行なわれた前記ハニカム構造体について、所定の検査基準を満たす前記ハニカム構造体を選別する選別工程を備えたハニカム構造体の製造方法。ハニカム構造体の検査装置であって、前記ハニカム構造体の表面に対して、第1の角度と、前記第1の角度とは異なる第2の角度とから光を照射することが可能な光源と、前記光源により前記第1の角度から光を照射された前記ハニカム構造体の表面と、前記光源により前記第2の角度から光を照射された前記ハニカム構造体の表面とを検査する検査手段とを備えたハニカム構造体の検査装置。前記第1の角度は、前記ハニカム構造体の表面の法線に対して±5°以内の角度であり、前記第2の角度は、前記第1の角度に対して40°~50°回転した角度である、請求項6に記載のハニカム構造体の検査装置。前記光源は、柱状の前記ハニカム構造体の側面に対して、第1の角度と、前記第1の角度とは異なる第2の角度とから光を照射することが可能であり、前記検査手段は、前記光源により前記第1の角度から光を照射された柱状の前記ハニカム構造体の側面と、前記光源により前記第2の角度から光を照射された柱状の前記ハニカム構造体の側面とを検査する、請求項6に記載のハニカム構造体の検査装置。前記第1の角度は、前記ハニカム構造体の側面の法線に対して前記ハニカム構造体の長手方向周りに±5°以内の角度であり、前記第2の角度は、前記第1の角度に対して前記ハニカム構造体の長手方向周りに40°~50°回転した角度である、請求項8に記載のハニカム構造体の検査装置。しかしながら、従来の方法では、欠陥の検出精度が十分では無い。本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、より高精度でハニカム構造体の検査を行なうことができるハニカム構造体の検査方法及びハニカム構造体の検査装置を提供することを目的とする。ハニカム構造体の検査方法であって、ハニカム構造体の表面に対して第1の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査する第1工程と、ハニカム構造体の表面に対して第1の角度とは異なる第2の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査する第2工程とを含むハニカム構造体の検査方法である。この構成によれば、ハニカム構造体の検査方法において、ハニカム構造体の表面に対して第1の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査する第1工程と、ハニカム構造体の表面に対して第1の角度とは異なる第2の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査する第2工程とを含む。ハニカム構造体の表面に生じたクラックや凹みや欠け等の欠陥は、ハニカム構造体の表面に対する光の照射角度によって、その測定のし易さがそれぞれ大きく異なる。そのため、上記構成により、より高精度でハニカム構造体の検査を行なうことができる。この場合、第1の角度は、ハニカム構造体の表面の法線に対して±5°以内の角度であり、第2の角度は、第1の角度に対して40°~50°回転した角度であることが好適である。この構成によれば、第1の角度は、ハニカム構造体の表面の法線に対して±5°以内の角度であり、第2の角度は、第1の角度に対して40°~50°回転した角度である。ハニカム構造体の表面の法線に対して±5°以内の垂直に近い角度から光を照射した場合、ハニカム構造体表面のクラックを検出し易い。一方、上記第1の角度から40°~50°回転した角度から光を照射した場合、ハニカム構造体表面の凹みや欠けを検出し易い。そのため、上記構成により、様々な種類の欠陥の検査をより高精度で行なうことができる。また、第1工程は、柱状のハニカム構造体の側面に対して第1の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査し、第2工程は、柱状のハニカム構造体の側面に対して第2の角度から光を照射しつつハニカム構造体の表面を検査することが好適である。この構成によれば、特にハニカム構造体の側面に生じたクラックや凹みや欠け等の欠陥は、ハニカム構造体の側面に対する光の照射角度によって、その測定のし易さがそれぞれ大きく異なる。そのため、上記構成により、より高精度でハニカム構造体の検査を行なうことができる。この場合、第1の角度は、ハニカム構造体の側面の法線に対してハニカム構造体の長手方向周りに±5°以内の角度であり、第2の角度は、第1の角度に対してハニカム構造体の長手方向周りに40°~50°回転した角度であることが好適である。特に柱状のハニカム構造体の側面の法線に対してハニカム構造体の長手方向周りに±5°以内の垂直に近い角度から光を照射した場合、ハニカム構造体側面のクラックを検出し易い。一方、上記第1の角度から柱状のハニカム構造体の長手方向周りに40°~50°回転した角度から光を照射した場合、柱状のハニカム構造体側面の凹みや欠けを検出し易い。そのため、上記構成により、様々な種類の欠陥の検査をより高精度で行なうことができる。また、本発明は、上記本発明のハニカム構造体の検査方法によってセルについての検査が行なわれたハニカム構造体について、所定の検査基準を満たすハニカム構造体を選別する選別工程を備えたハニカム構造体の製造方法である。また、本発明は、ハニカム構造体の検査装置であって、ハニカム構造体の表面に対して、第1の角度と第1の角度とは異なる第2の角度とから光を照射することが可能な光源と、光源により第1の角度から光を照射されたハニカム構造体の表面と、光源により第2の角度から光を照射されたハニカム構造体の表面とを検査する検査手段とを備えたハニカム構造体の検査装置である。この場合、第1の角度は、ハニカム構造体の表面の法線に対して±5°以内の角度であり、第2の角度は、第1の角度に対して40°~50°回転した角度であることが好適である。また、光源は、柱状のハニカム構造体の側面に対して、第1の角度と、第1の角度とは異なる第2の角度とから光を照射することが可能であり、検査手段は、光源により第1の角度から光を照射された柱状のハニカム構造体の側面と、光源により第2の角度から光を照射された柱状のハニカム構造体の側面とを検査することが好適である。この場合、第1の角度は、ハニカム構造体の側面の法線に対してハニカム構造体の長手方向周りに±5°以内の角度であり、第2の角度は、第1の角度に対してハニカム構造体の長手方向周りに40°~50°回転した角度であることが好適である。本発明のハニカム構造体の検査方法、ハニカム構造体の製造方法及びハニカム構造体の検査装置によれば、より高精度でハニカム構造体の検査を行なうことができる。以下、図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。本実施形態のハニカム構造体の検査装置は、DPF等に用いられるハニカム構造体の側面の欠陥の有無を検査するためのものである。図1に示すように、本実施形態のハニカム構造体の検査装置は、柱状のハニカム構造体70の側面を撮像することが可能なカメラ100を備えている。また、本実施形態のハニカム構造体の検査装置は、柱状のハニカム構造体70の側面に対して法線方向以下、光源角度0°とすると、柱状のハニカム構造体70の側面の法線方向からハニカム構造体70の長手方向の軸周りに45°回転した方向以下、光源方向45°とするとから光を照射することが可能な光源110を備えている。光源110は、光源角度0°の位置と光源角度45°の位置とに2機の光源110が予め配置されているものでも良い。あるいは、光源110は、ハニカム構造体70の長手方向の軸周りに自在に移動することにより、光の照射方向を変更可能なものでも良い。光源110の光の照射角度も、ハニカム構造体70の側面の法線に対してハニカム構造体70の長手方向周りに±5°以内の角度以下、光源角度±5°とすると、光源角度±5°からハニカム構造体70の長手方向軸周りに40°~50°回転した角度以下、光源角度35°~55°とするとの2つの角度に変更できるものであれば、厳密に光源角度0°及び45°に変更するものでなくとも良い。また、光源110は3つ以上の角度からハニカム構造体70に光を照射可能なものでも良い。また、カメラ100も、ハニカム構造体70の長手方向の軸周りに自在に移動可能なものとできる。例えば本実施形態では、カメラ100は、光源角度35°~55°の方向とは反対方向の-45°±5°回転した角度に位置するものとできる以下、カメラ角度-45°±5°とする。ここで検査対象となるハニカム構造体について説明する。図2aに示すように、本実施形態に係るハニカム構造体70は、上面70U、下面70B及び側面70Sを有し、上面70U及び下面70Bに多数の貫通孔セル70aが略平行に配置された円柱体である。貫通孔70aの断面形状は、図2のbに示すように正方形である。これらの複数の貫通孔70aは、ハニカム構造体70において、端面から見て、正方形配置、すなわち、貫通孔70aの中心軸が、正方形の頂点にそれぞれ位置するように配置されている。貫通孔70aの断面の正方形のサイズは、例えば、一辺0.8~2.5mmとすることができる。また、ハニカム構造体70の貫通孔70aが延びる方向の長さは特に限定されないが、例えば、40~350mmとすることができる。また、ハニカム構造体70の外径も特に限定されないが、例えば、10~320mmとすることできる。ハニカム構造体70の材料は特に限定されないが、高温耐性の観点から、セラミクス材料が好ましい。例えば、アルミナ、シリカ、ムライト、コーディエライト、ガラス、チタン酸アルミニウム等の酸化物、シリコンカーバイド、窒化珪素、金属等が挙げられる。なお、チタン酸アルミニウムは、さらに、マグネシウム及びケイ素の少なくともいずれかを含むことができる。このような、ハニカム構造体70は通常多孔質である。ハニカム構造体70は、後で焼成することにより上述のようなセラミック材料となるグリーン成形体未焼成成形体である。グリーン成形体は、セラミクス原料である無機化合物源粉末、メチルセルロース等の有機バインダ及び必要に応じて添加される添加剤を含む。例えば、チタン酸アルミニウムのグリーン成形体の場合、無機化合物源粉末は、αアルミナ粉等のアルミニウム源粉末、及びアナターゼ型やルチル型のチタニア粉末等のチタニウム源粉末を含み、必要に応じて、さらに、マグネシア粉末やマグネシアスピネル粉末等のマグネシウム源粉末及び酸化ケイ素粉末やガラスフリット等のケイ素源粉末の少なくともいずれかを含むことができる。有機バインダとしては、メチルセルロース、カルボキシルメチルセルロース、ヒドロキシアルキルメチルセルロース、ナトリウムカルボキシルメチルセルロースなどのセルロース類;ポリビニルアルコールなどのアルコール類;リグニンスルホン酸塩を例示できる。添加物としては、例えば、造孔剤、潤滑剤および可塑剤、分散剤、溶媒が挙げられる。なお、このようなハニカム構造体70は、例えば、図2abに示したような正方形の貫通孔70aが正方形配置とされているハニカム構造体70であれば、図3abに示すように、図2のbの正方配置された複数の貫通孔70aのうち、互いに上下左右に隣接しない関係にある複数の貫通孔70aのみが封口材により封口される。ハニカム構造体70のもう一方の端面では、一方の端面が封口されていない貫通孔70aのみが同様に封口材により封口される。一般にDPF等に用いられるハニカム構造体70の製造においては、図4に示すような貫通孔70aを封口する前の検査と、貫通孔70aを封口した後の検査とが行なわれる。本実施形態では、図4に示す、ハニカム構造体70の側面のかど欠け、側面へこみ、側面クラック及びIDの刻印等の数字の読み取りの可否の検査が主な検査対象となる。以下、本実施形態の検査装置及び検査方法の手順と作用とについて説明する。まず、図5abに示すように、検査対象となるハニカム構造体70の側面70Sにクラック70crが生じている場合について説明する。カメラ100の角度は、カメラ角度-45°とする。図5aに示すように、光源角度45°では、クラックcrが段差を有しない場合は、カメラ100で撮像されるクラックcrは不鮮明なものとなる。一方、図5bに示すように、光源角度0°では、クラックcrが段差を有しない場合は、カメラ100で撮像されるクラックcrは極めて鮮明なものとなる。すなわち、クラック70crに対しては、光源角度0°付近で光を照射することにより、段差を有しないクラック70crの検出感度を向上させることができる。逆に、段差を有するクラック70crは光源角度0°で撮影される画像は不鮮明となり、光源角度45°で撮影される画像は鮮明となる。次に、図6a~cに示すように、検査対象となるハニカム構造体70の側面70Sに凹み70dが生じている場合について説明する。カメラ100の角度は、同様にカメラ角度-45°とする。図6bに示すように、光源角度0°では、カメラ100で撮像される凹み70dは不鮮明なものとなる。これは、図6cに示すように、カメラ100の撮像画像を拡大しても同様であることが判る。一方、図6aに示すように、光源角度45°では、カメラ100で撮像される凹み70dは極めて鮮明なものとなる。すなわち、凹み70dに対しては、光源角度45°付近で光を照射することにより、凹み70dの検出感度を向上させることができる。ここで、光源角度45°によりハニカム構造体70の側面70Sの欠陥を検出する作用について説明する。図7aに示すように、光源角度45°により、ハニカム構造体70の側面70Sの画像がカメラ100により撮像される。図7bに示すように、光源角度45°では、凹み70dは撮像画像中で極めて鮮明であり、図7cに示すように撮像画像を拡大することにより、より凹み70dの詳細な状態を検出することができる。また、図7dに示すように、光源角度45°では、欠け70chも撮像画像中で極めて鮮明であり、図7eに示すように撮像画像を拡大することにより、より欠け70chの詳細な状態を検出することができる。本実施形態では、柱状のハニカム構造体70の検査方法において、ハニカム構造体70の側面70Sに対して第1の角度から光を照射しつつハニカム構造体70の側面70Sを検査する工程と、ハニカム構造体70の側面70Sに対して第1の角度とは異なる第2の角度から光を照射しつつハニカム構造体70の側面70Sを検査する工程とを含む。ハニカム構造体70の側面70Sに生じたクラック70crや凹み70dや欠け70ch等の欠陥は、ハニカム構造体70の側面70Sに対する光の照射角度によって、その測定のし易さがそれぞれ大きく異なる。そのため、より高精度でハニカム構造体70の検査を行なうことができる。また、本実施形態では、第1の角度は、ハニカム構造体70の側面70Sの法線に対してハニカム構造体70の長手方向軸周りに±5°以内の角度であり、第2の角度は、第1の角度に対してハニカム構造体70の長手方向軸周りに40°~50°回転した角度である。ハニカム構造体70の側面70Sの法線に対してハニカム構造体70の長手方向軸周りに±5°以内の垂直に近い角度から光を照射した場合、ハニカム構造体70の側面70Sのクラック70crを検出し易い。一方、上記第1の角度からハニカム構造体70の長手方向軸周りに40°~50°回転した角度から光を照射した場合、ハニカム構造体70の側面70Sの凹み70dや欠け70chを検出し易い。そのため、様々な種類の欠陥の検査をより高精度で行なうことができる。なお、本発明は上記実施形態に限定されず、様々な変形態様が可能である。例えば、上記実施形態においては、柱状のハニカム構造体70の側面70Sに対して光源110の角度を第1の角度と第2の角度とに変更して検査を行なう態様を中心に説明したが、本発明はハニカム構造体70の側面70Sを検査する態様に限定されない。例えば、本発明は、ハニカム構造体の上面70U及び下面70Bに対しても、同様に上面70U及び下面70Bの法線に対して±5°以内の第1の角度で光を照射し、第1の角度に対して40°~50°回転した角度である第2の角度で光を照射することにより、検査を行なうことができる。また、上記の工程は、検出精度を向上させるため、側面70S、上面70U及び下面70Bのそれぞれに対して繰り返し行なっても良い。また、上記の工程は、側面70S、上面70U及び下面70Bといった検査対象ごとに分けて行なっても良い。加えて、上記以外の工程が適宜追加されても良い。