配線経路中のハーネス80、300の端子嵌合部50、302における接触不良の有無を測定する接触不良測定方法であって、測定対象のハーネス80、300に近接させて磁気センサ70、230を配置し、前記測定対象のハーネス80、300の端子嵌合部50、302に外力を作用させ、この外力が作用したときの前記ハーネス80、300の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記磁気センサ70、230により検出して前記端子嵌合部50、302の接触状態の良否の指標として表示することを特徴とする接触不良測定方法。請求項1記載の接触不良測定方法において、前記外力を作用させたときの前記ハーネス80、300の周囲における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、接触不良の発生を判定するための閾値を超えているかどうかを判定し、その判定結果を前記接触状態の良否の指標として表示することを特徴とする接触不良測定方法。請求項2記載の接触不良測定方法において、前記磁気センサ70、230は、前記ハーネス80、300の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを連続的に検出して、この値が前記閾値を超えるかどうかを判定し、前記閾値を超えたとき、その判定結果を前記接触状態の良否の指標として表示装置102、150、222に表示することを特徴とする接触不良測定方法。請求項3記載の接触不良測定方法において、前記磁気センサ232が連続的に検出した前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを一時的記憶手段278に記憶し、前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが前記閾値を超えたと判定したとき、前記一時的記憶手段278に記憶されている、当該判定時の前後における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを保存手段280に保存することを特徴とする接触不良測定方法。請求項1記載の接触不良測定方法において、前記磁気センサ232は、前記ハーネス300を把持状態に固定することを特徴とする接触不良測定方法。請求項1記載の接触不良測定方法であって、前記測定対象のハーネス80の端子嵌合部50に付与される外力を検出する外力検出センサ90を用いて、前記外力が付与されたタイミングを検出し、前記外力を付与させたときの前記ハーネス80の周囲での誘導磁界の過渡応答変動の大きさを用いて接触不良の発生状態を表示部102、150に表示することを特徴とする接触不良測定方法。請求項6記載の接触不良測定方法において、前記磁気センサ70、230は、前記ハーネス80、300の周囲における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを連続的に検出し、前記端子嵌合部50、302に前記外力を作用させたときの前記過渡応答変動の大きさが、接触不良の発生を判定するための閾値を超えているかどうかを判定部154、252により判定し、その判定結果を接触状態の良否の指標として前記表示部102、150、222に表示することを特徴とする接触不良測定方法。請求項6記載の接触不良測定方法において、前記ハーネス80の端子嵌合部50に前記外力を作用させる加振ツール120を設け、この加振ツール120に前記外力検出センサ90を取り付けたことを特徴とする接触不良測定方法。請求項6記載の接触不良測定方法において、前記外力検出センサ90は加速度センサであることを特徴とする接触不良測定方法。配線経路中のハーネス80、300の端子嵌合部50、302における接触不良の有無を測定する接触不良測定装置14、14A、14B、212であって、測定対象のハーネス80、300に近接する位置に着脱自在に固定可能な磁気センサ70、230と、前記測定対象のハーネス80、300の端子嵌合部50、302に外力を作用させた時に前記磁気センサ70、230の出力が示す前記ハーネス80、300の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記測定対象のハーネス80、300の端子嵌合部50、302の接触状態の良否の指標として表示する表示部102、150、222とを有することを特徴とする接触不良測定装置14、14A、14B、212。請求項10記載の接触不良測定装置14B、212において、前記磁気センサ70、230の出力が示す前記ハーネス80、300の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、前記端子嵌合部50、302における接触不良の発生を判定するための閾値を超えたかどうかを判定する判定部154、252を有し、前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが前記閾値を超えたとき、その旨を前記表示部102、150、222に表示することを特徴とする接触不良測定装置14B、212。請求項10記載の接触不良測定装置212において、前記接触不良測定装置212は、さらに、前記磁気センサ232の出力信号のうち、前記接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域の成分以外の成分を除去する周波数フィルタ160、270と、前記周波数フィルタ270からの出力信号が示す値のピーク値をホールドするピークホールド回路272とを備え、前記表示部222は、前記ピーク値が前記閾値を超えたとき、その旨を表示することを特徴とする接触不良測定装置212。請求項11記載の接触不良測定装置212において、前記磁気センサ232の出力を連続的且つ一時的に記憶する一時的記憶手段278と、前記磁気センサ232の出力を保存する保存手段280とを有し、前記磁気センサ232が連続的に検出した前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記一時的記憶手段278に記憶し、前記ピーク値が前記閾値を超えたとき、前記一時的記憶手段278に記憶されている、その前後における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記保存手段280に保存することを特徴とする接触不良測定装置212。配線経路中のハーネス80の端子嵌合部50における接触不良の有無を測定する接触不良測定装置14、14A、14Bであって、測定対象のハーネス80の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出する磁気センサ70と、前記測定対象のハーネス80の端子嵌合部50に外力を作用させたタイミングを検出する外力検出センサ90と、前記外力検出センサ90が検出した前記外力を作用させたタイミングと前記磁気センサ70の出力が示す前記ハーネス80の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを表示する表示部102とを有することを特徴とする接触不良測定装置14、14A、14B。配線経路中のハーネス80の端子嵌合部50における接触不良の有無を測定する接触不良測定装置14Bであって、測定対象のハーネス80の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出する磁気センサ70と、前記測定対象のハーネス80の端子嵌合部50に外力を作用させたタイミングを検出する外力検出センサ90と、前記磁気センサ70の出力が示す前記ハーネス80の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、前記端子嵌合部50における接触不良の発生を判定するための閾値を超えたかどうかを判定する判定部154と、前記外力検出センサ90が検出した前記外力を作用させたタイミングに基づいて、前記判定部154の判定結果を表示する表示部150とを有することを特徴とする接触不良測定装置14B。請求項14又は15記載の接触不良測定装置14、14A、14Bにおいて、さらに、前記ハーネス80の端子嵌合部50に前記外力を作用させる加振ツール120を備え、この加振ツール120に前記外力検出センサ90を取り付けたことを特徴とする接触不良測定装置14、14A、14B。請求項14又は15記載の接触不良測定装置14、14A、14Bにおいて、前記外力検出センサ90は加速度センサであることを特徴とする接触不良測定装置14、14A、14B。配線経路中のハーネス80の端子嵌合部50における接触不良の有無を測定する接触不良測定方法であって、測定対象のハーネス80の周囲における誘導磁界の強度を磁気センサ70により検出し、前記測定対象のハーネス80の端子嵌合部50に付与される外力を外力検出センサ90により検出し、前記磁気センサ70の出力波形及び前記外力検出センサ90の出力波形を表示部102に同時に表示し、前記外力が付与される前の前記磁気センサ70の出力波形に対する前記外力が付与された直後の前記磁気センサ70の出力波形の変動の大きさ、又は前記外力が付与された直後の前記磁気センサ70の出力波形の傾きに基づいて接触不良の発生状態を測定することを特徴とする接触不良測定方法。配線経路中のハーネス80の端子嵌合部50における接触不良の有無を測定する接触不良測定方法であって、測定対象のハーネス80の周囲における誘導磁界の強度を磁気センサ70により検出して判定部154に出力し、前記測定対象のハーネス80の端子嵌合部50に付与される外力を外力検出センサ90により検出して前記判定部154に出力し、前記判定部154において、前記外力が付与される前の前記誘導磁界の強度に対する前記外力が付与された直後の前記誘導磁界の強度の変化量、又は前記外力が付与された直後の前記誘導磁界の強度の変化率に基づいて接触不良の発生状態を測定することを特徴とする接触不良測定方法。A.第1実施形態1.構成1接触不良測定装置14及びその周辺の全体構成図1は、この発明の一実施形態に係る接触不良測定装置14以下測定装置14とも称する。とその周辺の概略的な構成を示すブロック図である。図1では、測定装置14に加え、測定対象としての車両10と、車両10の検査を行うテスタ12とが示されている。なお、図1では、車両10、テスタ12及び測定装置14をそれぞれ1つのみ示しているが、それぞれ複数設けることができる。2車両10車両10は、電子制御装置20以下ECU20という。と、ECU20のオンオフを制御するイグニションスイッチ22以下IGSW22という。と、各種センサ24とを有する。ECU20は、エンジン、トランスミッション、ブレーキなどの制御を行うものであり、図1に示すように、入出力部30と、演算部32と、記憶部34とを有する。3テスタ12テスタ12は、販売店、整備工場等において車両10のECU20に接続して車両10のデータを読み出したりするための通信用インターフェースとして各部の検査に用いるものである。テスタ12は、ケーブル40を介してECU20に接続され、故障診断の際に必要となる故障コードをECU20から読み出すことができる。4接触不良測定装置14a測定装置14の全体構成図2は、測定装置14を用いて接触不良測定を行う際の概略的な様子を示す図である。測定装置14は、車両10における複数のカプラ50端子嵌合部における一時的な接触不良を測定する。図1及び図2に示すように、測定装置14は、磁界検出部60と、外力検出部62と、オシロスコープ64とを有する。b磁界検出部60磁界検出部60は、検出コイル70と、信号増幅回路72と、リング状のフェライトコア74と、第1ケーブル76とを有する。検出コイル70は、ハーネス80の周囲における誘導磁界の過渡応答変動を検出するものであり、フェライトコア74に1回巻きされたコイル線から構成される。信号増幅回路72は、検出コイル70の出力信号磁界変化率信号Smを所定の増幅率例えば、10倍で増幅して、第1ケーブル76を介してオシロスコープ64に送信する。磁界変化率信号Smは、直接的には、検出コイル70の検出値D1誘導磁界の強度を示すが、当該検出値D1が連続することで過渡応答変動磁界変化率をも示す。フェライトコア74は、2つの分割コアからなり、両者を組み合わせた状態でその内部にハーネス80を貫通させるように配置され、検出コイル70に対する外乱ノイズの侵入を好適に防止することができる。c外力検出部62外力検出部62は、加速度センサ90と、加速度センサ90用の駆動回路92と、加速度センサ90と駆動回路92を連結する第2ケーブル94と、駆動回路92とオシロスコープ64を連結する第3ケーブル96とを有する。加速度センサ90は、測定対象のカプラ50に取り付けられ、当該カプラ50における振動を検出する。加速度センサ90は、外力を付与する方向の加速度を検出可能なものであり、少なくとも1軸方向の加速度を検出する。複数の軸の加速度を検出する場合、当該複数の軸の検出値を加算又は乗算して出力してもよい。なお、加速度センサ90の取り付けについて、図2ではカプラ50に貼り付けた状態で示しているが、クリップ部材と一体に設けることでカプラ50の側面を挟持するように取り付ける等、いろいろな公知手段が適用可能である。駆動回路92は、加速度センサ90に電力を供給すると共に、加速度センサ90の出力信号加速度信号Saを増幅してオシロスコープ64に出力する。dオシロスコープ64オシロスコープ64は、市販のものであり、複数の入力端子100と、表示部102と、操作部104とを有する。また、オシロスコープ64は、複数の入力端子100からの入力信号を同じ時間軸で上下平行に表示することができる例えば、図7参照。2.修理作業の流れ1全体の流れ図3には、第1実施形態における修理作業全体のフローチャートが示されている。ステップS1において、車両10に異常が発生すると、ECU20は、メータの警告灯図示せずを点灯させると共に、故障コードDTC:DiagnosticTroubleCodeを保存する。当該点灯を見た顧客は、異常の発生を認識し、車両10を販売店等の修理拠点に持ち込む。故障コードは、故障事象例えば、あるセンサの出力値に異常が発生している場合、その異常の内容を示す。ステップS2において、修理拠点の修理担当者ユーザは、ケーブル40を介してテスタ12をECU20に接続し、図示しない操作部を操作して故障コードを読み出す。ステップS3において、ユーザは、読み出した故障コードに対応する診断作業及び修理作業に関する記載をサービスマニュアルから探し出し、これから行う診断作業を行う部位故障部位を特定する。例えば、ステップS2で読み出した故障コードが、エアフローメータの電圧が低いとの故障事象を示すP0102である場合、サービスマニュアルには、図4に示すような記載110が存在する。図4において、DTCP0102:エアフローメータの電圧が低いとの記載が故障コードの説明であり、注記:故障診断を始める前に~を確認する及び再現テスト-1.イグニションスイッチを~テスタで確認するとの記載が診断作業及び故障部位の詳細であり、約0.1V以下を示すか~一時的な接触不良との記載が診断結果に応じたその後の処理を示す。ステップS4において、ユーザは、当該記載110に基づいて再現テストを行う。続くステップS5において、ユーザは故障が再現するか=約0.1V以下を示すか否かを確認する。例えば、図4の記載110に従って、IGSW22をオンにし、データリスト内のエアフローセンサ図1の各種センサ24に含まれるをテスタ12で確認する。そして、テスタ12の出力が、約0.1V以下を示さない場合、故障が再現していないので、ECU20とエアフローメータ図示せず間のカプラ50の一時的な接触不良の可能性があると判定する。ステップS5において、故障が再現している場合=約0.1V以下を示している場合S5:YES、ステップS6において、再現している故障症状に対応する、通常の更なる診断作業及び修理作業を、測定装置14を用いずに実行する。ユーザによる再現テストの結果、故障が再現していない場合S5:NO、ステップS7において、ユーザは、測定装置14を用いて、一時的な接触不良の発生の有無を確認する。例えば、ECU20とエアフローメータ図示せず間のカプラ50の一時的な接触不良の可能性がある場合図4参照、ECU20とエアフローメータとの間に存在する複数のカプラ50それぞれについて、一時的な接触不良の発生の有無を確認する一時的な接触不良の発生の有無を確認する方法については後述する。。ステップS7の作業の結果、いずれかのカプラ50において一時的な接触不良が再現した場合S8:YES、ステップS9において、ユーザは、一時的な接触不良が再現したカプラ50の端子を修理又は交換する。ステップS10において、ユーザは、正常動作一時的な接触不良が解消されたことを確認する。なお、ステップS9において修理又は交換をしたにもかかわらず、故障事象が解消しない場合又は他の故障事象がある場合には、ステップS2から作業をやり直す。また、ステップS8において、いずれのカプラ50でも一時的な接触不良が再現しなかった場合S8:NO、測定装置14による診断作業を終了してステップS6に進み、通常の他の診断作業を実行する。2一時的な接触不良の発生の有無の確認方法図5は、一時的な接触不良の発生を確認するためのユーザの作業及び接触不良測定装置14の処理のフローチャートである。換言すると、図5に示される各作業及び各処理は、図3のステップS7に対応する作業及び処理である。図6は、一時的な接触不良の発生を確認するために、測定装置14を車両10に取り付けた状態を示す図である。ステップS11において、ユーザは、一時的な接触不良の発生を確認するための事前準備として測定装置14を設置する。具体的には、図2及び図6に示すように、磁界検出部60の検出コイル70及びフェライトコア74を、例えば、測定対象となる配線経路が含まれているハーネス80のいずれかの位置に選択的に配置する。換言すると、検出コイル70及びフェライトコア74の配置は、測定対象の配線と電気的に接続されている位置であれば、ハーネス80のいずれの位置であってもよい。また、フェライトコア74を配置する際、フェライトコア74の中にハーネス80を通すようにする。さらに、ユーザは、加速度センサ90を測定対象のカプラ50に固定する。さらにまた、ユーザは、第1ケーブル76及び第3ケーブル96を、オシロスコープ64の入力端子100に接続する。ステップS12において、ユーザはIGSW22をオンにする。これにより、車両10の各回路ECU20及びハーネス80を含む。が通電される。但し、エンジン図示せずは始動させない。これにより、接触不良による一時的な断線、或いは再接触の瞬間には過渡応答電流による磁界が、検出コイル70周辺のハーネス80においても発生可能となる。ステップS13において、ユーザは、信号増幅回路72及び駆動回路92の図示しない電源スイッチを操作して検出コイル70及び加速度センサ90をオンさせると共に、オシロスコープ64の図示しない電源スイッチを操作してオシロスコープ64をオンさせる。続くステップS14において、磁界検出部60は、ハーネス80の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさ直接的には、誘導磁界の強度の検出を開始すると共に、外力検出部62は、測定対象のカプラ50の加速度の検出を開始する。その結果、磁界検出部60からオシロスコープ64に対し、ハーネス80の周囲における誘導磁界の過渡応答変動を示す信号磁界変化率信号Smが出力されると共に、外力検出部62からオシロスコープ64に対し、測定対象のカプラ50の加速度を示す信号加速度信号Saが出力される。そして、オシロスコープ64の表示部102には、磁界変化率信号Sm及び加速度信号Saの波形が表示される。ここで、ハーネス80において正常な信号伝達又は完全な断線状態であれば、ハーネス80における誘導磁界の強度が略一定であり、過渡応答変動はほとんど生じない。また、特段の振動が付与されていなければ、加速度センサ90は静止状態にある。このため、この時点における磁界変化率信号Sm及び加速度信号Saの波形は、例えば、図7のようになる。図7では、磁界変化率信号Sm及び加速度信号Saはいずれも比較的変動が小さい。磁界変化率信号Smの変動が比較的小さいのは、上記のように、ハーネス80における誘導磁界の強度が略一定であるためである。なお、加速度信号Saの変動が比較的小さいのは、上記のように、測定対象のカプラ50が静止しているためである。ステップS15において、ユーザは、測定対象のカプラ50に対してウィグルテストを行う。この際、1つの故障コードに対応して、測定対象となる配線経路中に接触不良の可能性があるカプラ50が複数ある場合、測定対象となるカプラ50を順次切り替えてウィグルテストを行う。ウィグルテストとは、カプラ50又はハーネス80を振動させて接触不良を再現させるテストを意味する図8参照。第1実施形態では、振動を発生させるために、ユーザが手でカプラ50又はハーネス80を叩くが、後述するように、樹脂ハンマー等の手動器具又はアクチュエータを用いた自動機器により振動を発生させることもできる。ウィグルテストにおいてカプラ50に振動を与えても接触不良が発生しない場合一時的な接触不良が生じていない場合、カプラ50は変位するが、ハーネス80の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさはほとんど変わらない。このため、カプラ50に振動を付与した時点における磁界変化率信号Sm及び加速度信号Saの波形は、例えば、図9のようになる。図9では、加速度信号Saの過渡応答変動は大きくなるが、磁界変化率信号Smの過渡応答変動は小さいままである。一方、ウィグルテストにおいてカプラ50に振動を与えることで接触不良が発生再現した場合、カプラ50が変位すると共に、ハーネス80の周囲における誘導磁界の強度が大きく変動する。このため、カプラ50に振動を付与した時点における磁界変化率信号Sm及び加速度信号Saの波形は、例えば、図10のようになる。図10では、磁界変化率信号Sm及び加速度信号Saのいずれも一時的に過渡応答変動が大きくなる。従って、ユーザは、ウィグルテストにより加速度信号Saの過渡応答変動の大きさ{ここでは、例えば、振幅、ピーク値、ボトム値、波形例えば、平均値又は包絡線の傾き及び波形の形状自体の少なくとも1つ}が大きく変動した時点における磁界変化率信号Smの過渡応答変動の大きさ{ここでは、例えば、振幅、ピーク値、ボトム値、波形例えば、平均値又は包絡線の傾き及び波形の形状自体の少なくとも1つ}を見ることで一時的な接触不良の有無を判定することができる。図5に戻り、ステップS15のウィグルテストによりいずれかのカプラ50で接触不良が再現した場合S16:YES、今回の処理を終え、図3のS9に進む。ステップS15のウィグルテストにより測定対象のカプラ50で接触不良が再現しなかった場合S16:NO、ステップS17において、ユーザは、接触不良の発生の有無を確認すべき全てのカプラ50について確認作業が終了したかどうかを判定する。未確認のカプラ50が存在する場合S17:NO、ステップS18において、ユーザは、測定対象のカプラ50を切り替える。より具体的には、ユーザは、加速度センサ90を、新たに測定対象となったカプラ50に取り付ける。そして、ステップS15に戻る。なお、測定対象のカプラ50を切り替える場合、加速度センサ90は移動させる必要があるが、検出コイル70は移動させる必要がない。これは、検出コイル70が近接しているハーネス80が、測定対象のカプラ50と電気的につながってさえいれば、測定対象のカプラ50で接触不良が再現した際、当該ハーネス80の周囲における誘導磁界の強度も変化し、過渡応答変動が大きくなるためである。ステップS17において、接触不良の発生の有無を確認すべき全てのカプラ50について確認作業が終了した場合S17:YES、今回の処理を終え、図3のS6に進む。3.第1実施形態の効果以上のように、第1実施形態によれば、異常が発生したときの接続状態のままで、カプラ50端子嵌合部における接触不良の有無を測定することができる。すなわち、カプラ50の接続状態が不安定であるものの、一時的に接触不良が収まっている場合においては、カプラ50に外力を加える前はカプラ50に電流が流れていても、外力を加えることによって接続状態が不安定な部分で接触不良が再現して瞬間的に電流が流れなくなると、カプラ50を含むハーネス80の周囲における誘導磁界の強度が一時的に大きく変動する過渡応答変動が大きくなる。第1実施形態によれば、外力を作用させたときのハーネス80の周囲における誘導磁界の過渡応答変動を検出し、オシロスコープ64の表示部102に磁界変化率信号Smの波形を表示する。このため、カプラ50を分離せずに、すなわち、異常が発生したときの接続状態のままで、当該表示を用いてカプラ50における接触不良の有無を測定することが可能となる。また、上記のように誘導磁界の過渡応答変動が一時的に大きくなる現象は、カプラ50から多少離れたハーネス80の部分の周囲においても検出することができる。このため、例えば、車両10のエンジンルーム内のように配線機器が込み入った場所でも、磁界検出部60の検出コイル70及びフェライトコア74を取り付けやすい場所を選んで測定することもできるので、測定作業を容易に行うことが可能となる。さらに、第1実施形態では、磁界変化率信号Smの波形に加えて、加速度信号Saの波形も表示部102に表示する。このため、カプラ50に外力を作用させたときのハーネス80の周囲における誘導磁界の過渡応答変動を確実に識別することが可能となる。加えて、外乱ノイズ、光束パルス信号による磁場ノイズ等の影響を排除することが可能となる。第1実施形態において、カプラ50に対する外力を検出するセンサとして、加速度センサ90を用いる。これにより、外力付与の瞬間における振動を検出し易くなるため、カプラ50への外力付加の有無を好適に検出することが可能となる。B.第2実施形態1.構成図11は、この発明の第2実施形態に係る接触不良測定装置14A以下測定装置14Aとも称する。を用いて接触不良測定を行う際の概略的な様子を示す図である。以下では、第1実施形態と同一の構成要素には同一の参照符号を付して説明を省略する。第1実施形態と第2実施形態の相違点として、第1実施形態ではユーザの指を用いてカプラ50に外力を付与したのに対し図8参照、第2実施形態では加振ツール120を用いてカプラ50に外力を付与する。また、第1実施形態では加速度センサ90をカプラ50に固定したのに対し図2参照、第2実施形態では加速度センサ90を加振ツール120に固定する。加振ツール120は、一般的な樹脂ハンマーを小さくしたような形状であり、ユーザが把持するための把持部122と、その先端に配置され、カプラ50と接触する頭部124とからなる。図11に示すように、加速度センサ90は、頭部124の一端に固定されているその他の位置であってもよい。また、加振ツール120は軽量プラスチックから構成される。このため、加振ツール120の頭部124をカプラ50に衝突させると、加振ツール120の把持部122がしなり、頭部124は比較的大きく振動する。これにより、加速度センサ90は、加振ツール120による外力の付与を高精度に検出することが可能となる。2.第2実施形態の効果以上のような第2実施形態によれば、第1実施形態による効果に加え、さらに以下の効果を奏することができる。すなわち、第2実施形態では、加速度センサ90を取り付けた加振ツール120を用いてカプラ50に外力を付与する。このように、加振ツール120に加速度センサ90を取り付けたことにより、カプラ50又はハーネス80側の変位に関係なしに、カプラ50に外力を作用させるタイミングを検出することが可能になり、測定作業が簡単になる。C.第3実施形態1.構成1第1実施形態及び第2実施形態との相違図12は、この発明の第3実施形態に係る接触不良測定装置14B以下測定装置14Bとも称する。を用いて接触不良測定を行う際の概略的な様子を示す図である。以下では、第1実施形態又は第2実施形態と同一の構成要素には同一の参照符号を付して説明を省略する。第1実施形態及び第2実施形態と第3実施形態との相違点として、第1実施形態及び第2実施形態では表示部102の波形図9及び図10参照に基づいて、ユーザが接触不良の発生の有無を判定したのに対し、第3実施形態では測定装置14B自身が行う。測定装置14Bは、第1実施形態と同様の磁界検出部60及び外力検出部62に加え、コントローラ130を有する。2コントローラ130図13は、コントローラ130及びその周辺のブロック構成図である。コントローラ130は、磁界検出部60検出コイル70及び信号増幅回路72からの磁界変化率信号Sm及び外力検出部62加速度センサ90及び駆動回路92からの加速度信号Saを処理して所定の出力を行うと共に、磁界検出部60及び外力検出部62の動作を制御する。図12及び図13に示すように、コントローラ130は、電源140と、電源スイッチ142と、リセットスイッチ144と、ノイズ調整用ボリューム146以下ボリューム146ともいう。と、電源LED148LED:LightEmittingDiodeと、判定LED150表示部と、オシロスコープ接続端子152a、152bと、判定制御部154と、消磁制御部156とを有する。電源スイッチ142は、シーソー式であり、コントローラ130のオンオフを切り替えるために用いる。リセットスイッチ144は、プッシュ式であり、判定制御部154及び消磁制御部156に対するリセット信号Srを出力する。ノイズ調整用ボリューム146は、ロータリ式であり、後述する閾値TH_Smを手動調整するために用いる。電源LED148は、測定装置14Bがオンのとき点灯し、測定装置14Bがオフのとき消灯する。判定LED150は、磁界検出部60の検出状態等に応じて点灯又は消灯する詳細は後述する。。オシロスコープ接続端子152a、152bは、コントローラ130の出力をオシロスコープ64に伝搬するための端子である。図13に示すように、判定制御部154は、ローパスフィルタLPFとハイパスフィルタHPFを組み合わせたことで過渡応答周波数帯のみを通過させるフィルタ160と、信号増幅回路162と、閾値設定部164と、比較器166と、第1ワンショット回路168以下第1OSC168という。と、第2ワンショット回路170以下第2OSC170という。と、論理積回路172と、第1所定値発生回路174と、第1フリップフロップ回路176とを有する。フィルタ160は、一時的な接触不良の発生に伴って発生する可能性がある磁界変化率信号Smの周波数帯過渡応答周波数帯以外の周波数をカットする。信号増幅回路162は、フィルタ160からの出力を増幅する。閾値設定部164は、ボリューム146の回転角度に応じて閾値TH_Smを設定して比較器166に出力する。なお、この閾値設定部164は、図13中に破線矢印で記入しているようにフィルタ160又は信号増幅回路162からの出力を入力させ、フィルタ160又は信号増幅回路162の出力のノイズレベルを検知して自動的に閾値TH_Smを設定するように構成してもよい。この場合、閾値設定部164は、ノイズレベルを検知して自動的に閾値TH_Smを設定する。例えば、所定期間、当該出力の振幅を監視し、その中の最大振幅に所定値一時的な接触不良が発生した場合にのみ超える値を加えた値を閾値TH_Smとして設定する。また、判定制御部154には第2フリップフロップ回路180及び第2所定値発生回路182を設けておく。閾値設定部164が閾値TH_Smの設定を終えた際、そのことを通知するオン信号Sonを閾値設定部164から第2フリップフロップ回路180のトリガ端子Tに入力する。また、第2フリップフロップ回路180のデータ端子Dには、第2所定値発生回路182から所定値P2が入力されており、トリガ端子Tにオン信号Sonが入力されると、第2フリップフロップ回路180の出力端子Qから出力Sff2所定値P2が送出される。出力Sff2は、比較器166及び準備完了通知LED184に送信される。出力Sff2を受信した比較器166は、その時点で閾値設定部164から受信した値を新たな閾値TH_Smとして設定する出力Sff2を受信していない状態では、比較器166は閾値TH_Smを更新しない。。また、出力Sff2を受信している準備完了通知LED184は、点灯し続ける。これにより、ユーザは、閾値TH_Smの更新が終了したことを知ることができる。その後、ユーザがリセットスイッチ144を押すと、第2フリップフロップ回路180のリセット端子RSTにリセット信号Srが入力され、出力Sff2の送出が終了され、準備完了通知LED184が消灯する。比較器166は、信号増幅回路162からの出力値磁界変化率信号Smをフィルタ160及び信号増幅回路162で信号処理したものと閾値設定部164からの閾値TH_Smとを比較し、両者の差がゼロ未満であるとき、出力をL論理0とし、両者の差がゼロ以上であるとき、出力をH論理1とする。第1OSC168及び第2OSC170は、いわゆるワンショットパルス発生器である。具体的には、第1OSC168は、比較器166からの出力がLであるとき、その出力Sosc1をLとし、比較器166からの出力がHになったとき、その出力を所定時間tosc1、Hにする。第2OSC170は、駆動回路92からの出力加速度信号Saの振幅が閾値TH_Sa未満であるとき、その出力Sosc2をL論理0とし、駆動回路92からの出力が閾値TH_Sa以上になったとき、その出力Sosc2を所定時間tosc2、Hにする。所定時間tosc1と所定時間tosc2は、磁界検出部60が一時的な断線による変動を検出するタイミングと、外力検出部62が振動を検出するタイミングとのずれを十分吸収できる長さに設定する。所定時間tosc1と所定時間tosc2は同一の長さに設定してもよい。論理積回路172は、第1OSC168の出力Sosc1及び第2OSC170の出力Sosc2がいずれもHになったときにその出力SandがHとなり、それ以外のときは出力SandがLとなる。所定値発生回路174は、判定LED150をオンにするための値P1固定値を出力する。第1フリップフロップ回路176は、トリガ端子Tに所定値以上の電圧が入力されると、その時点におけるデータ端子Dの入力値を出力端子Qから出力する。従って、論理積回路172の出力SandがHになった場合、データ端子Dの入力値すなわち、所定値発生回路174からの値P1が出力端子Qから出力される。これにより、第1フリップフロップ回路176は、磁界検出部60が一時的な断線による磁界の変動過渡応答変動を検出し且つ加速度センサ90が振動を検出した場合にのみ、所定値発生回路174からの値P1を出力する。第1フリップフロップ回路176から値P1が出力されると、判定LED150が点灯する。従って、カプラ50に外力を加えた際に自動的に一時的な断線による磁界の変動過渡応答変動を検出し、ユーザは、判定LED150の点灯により一時的な断線の発生を特定することが可能となる。加えて、磁界検出部60とコントローラ130を結ぶ第1ケーブル76にノイズが発生しても、誤検出を防止することができる。消磁制御部156は、検出コイル70の着磁が検出性能に影響を来たす場合に消磁する。2.一時的な接触不良の発生を確認するためのユーザの作業及び接触不良測定装置14Bの処理図14は、一時的な接触不良の発生を確認するためのユーザの作業及び接触不良測定装置14Bの処理のフローチャートである。換言すると、図14に示される各作業及び各処理は、第1実施形態の図3のステップS7に対応する作業及び処理である。図15は、一時的な接触不良の発生を確認するために、接触不良測定装置14Bを車両10に取り付けた状態を示す図である。なお、図15に示すように、必要に応じて、コントローラ130とオシロスコープ64とをケーブル190で接続し、コントローラ130からの出力波形磁界変化率信号Sm及び加速度信号Saをオシロスコープ64の表示部102に表示することもできる。ステップS21において、ユーザは、一時的な接触不良の発生を確認するための事前準備として測定装置14Bを設置する。具体的には、図12及び図15に示すように、磁界検出部60の検出コイル70及びフェライトコア74を、例えば、測定対象となるカプラ50が連結されているハーネス80のいずれかの位置に選択的に取り付ける。また、ユーザは、必要に応じて、コントローラ130のオシロスコープ接続端子152a、152bと、オシロスコープ64の入力端子100とをケーブル190で接続することができる。ステップS22において、ユーザは、IGSW22をオンにする。これにより、車両10の各回路ECU20及びハーネス80を含む。が通電される。但し、エンジン図示せずは始動させない。これにより、検出コイル70周辺のハーネス80においても磁界が発生する。ステップS23において、ユーザは、コントローラ130の電源スイッチ142を操作して測定装置14Bをオンさせる。その結果、測定装置14Bでは、電源140から電源LED148に電力が供給されて電源LED148が点灯する。また、判定制御部154は、磁界検出部60からの磁界変化率信号Smと外力検出部62からの加速度信号Saを受信し、判定結果を判定LED150に出力する。なお、判定制御部154の比較器166で用いる閾値TH_Smは、ノイズ調整用ボリューム146を介して適宜手動調整することができる。また、第2フリップフロップ回路180、第2所定値発生回路182及び準備完了通知LED184を設けること等により、閾値TH_Smを自動調整することもできる。さらに、測定装置14Bとオシロスコープ64とを接続している場合、磁界変化率信号Sm及び加速度信号Saがオシロスコープ接続端子152a、152bからオシロスコープ64に送信される。そして、磁界変化率信号Sm及び加速度信号Saの波形が、オシロスコープ64の表示部102に表示される。この際、ユーザは、オシロスコープ64の操作部104を操作して、表示部102に出力される表示時間軸、振幅などを適宜調整することができる。ステップS24において、ユーザは、各カプラ50にウィグルテストを行う。第3実施形態では、ユーザが加振ツール120を操作して、測定対象のカプラ50に振動を発生させる外力を付与する。これにより、外力検出部62からの加速度信号Saは、例えば、図16のようになり、閾値TH_Saを超える図16の時点t2。このため、第2OSC170は、閾値TH_Saを超えたとき時点t2から所定期間tosc2だけ出力Sosc2をHにする。ここで、ユーザが加振ツール120を操作して測定対象のカプラ50に振動を発生させても、一時的な接触不良断線が再現しなかった場合、磁界検出部60からの磁界変化率信号Smの振幅に大きな変化はなく、磁界変化率信号Smの振幅フィルタ160によりフィルタ処理され且つ信号増幅回路162により増幅されたものは閾値TH_Smを超えない。このため、比較器166の出力はLのままであり、第1OSC168の出力Sosc1もLのままである。従って、論理積回路172の出力SandはLのままであり、フリップフロップ回路176からの出力SffがLであるため、判定LED150は消灯したままである。これにより、ユーザは、接触不良が再現していないことを知ることができる。一方、ユーザが加振ツール120を操作して、測定対象のカプラ50に振動を発生させる外力を付与することにより、一時的な接触不良断線が再現すると、磁界検出部60からの磁界変化率信号Smは、例えば、図16のようになり、閾値TH_Smを超える図16の時点t1。このため、第1OSC168は、閾値TH_Smを超えたとき時点t1から所定期間tosc1だけ出力Sosc1をHにする。論理積回路172は、第1OSC168の出力Sosc1と第2OSC170の出力Sosc2の両方がHになっているとき、その出力SandをHにする図16の時点t2~t3。論理積回路172の出力SandがHになると、フリップフロップ回路176のトリガ端子Tに所定値以上の電圧信号が入力される。その結果、フリップフロップ回路176の出力SffはH値P1となり、判定LED150が点灯する。これにより、ユーザは、接触不良が再現したことを知ることができる。判定LED150が点灯している状態でリセットスイッチ144を押すと、フリップフロップ回路176の出力SffがLとなり、判定LED150が消灯する時点t4。第1実施形態で説明したように、ウィグルテストの対象となるカプラ50又はハーネス80を順次切り替えていくことで、複数のカプラ50について接触不良の発生を確認することができる。3.第3実施形態の効果以上のような第3実施形態によれば、第1実施形態及び第2実施形態における効果に加え、以下の効果を奏することができる。すなわち、第3実施形態では、カプラ50に外力を付与する前の誘導磁界の強度を基準として閾値TH_Smを設定した上で、外力を付与させたタイミングでの誘導磁界の強度が閾値TH_Smを超えているかどうかを判定し、その判定結果を判定LED150に表示する。これにより、カプラ50に外力を作用させたタイミングでの誘導磁界の過渡応答変動の大きさを確実に検出することが可能となる。また、第3実施形態では、第2フリップフロップ回路180、第2所定値発生回路182及び準備完了通知LED184を設けること等により、閾値TH_Smを自動的に調整することができる。従って、一時的な接触不良が発生したときにおいて、誘導磁界の過渡応答変動が大きくなったことを精度よく判定することが可能となる。D.第4実施形態1.接触不良診断システム210及びハーネス300の構成1概要図17は、この発明の第4実施形態に係る接触不良測定装置としての診断装置212を備える接触不良診断システム210以下診断システム210ともいう。と、その測定対象としてのハーネス300の外観を簡略的に示す図である。図18は、診断システム210の概略的なブロック構成と、ハーネス300の概略的な内部構成とを示す図である。以下では、第1~第3実施形態と同一の構成要素には同一の参照符号を付して説明を省略する。第4実施形態における診断装置212は、車両用であり、測定対象としてのハーネス300が通電状態であるときに、ハーネス300の周囲における過渡応答変動を検出し、検出した過渡応答変動の大きさに基づいて、ハーネス300のカプラユニット301の端子嵌合部302における端子間の接触不良を判定することができる。なお、他の実施形態にも共通するが、ここにいう端子間の接触不良の原因としては、例えば、酸化被膜の発生、端子を構成するピンの折れ若しくは抜け、油や埃の付着を挙げることができる。また、図17に示すハーネス300は、カプラユニット301に加え、配線束305と、配線束305を被覆する被覆部材307とを有するそれ以外の部位については、図20を参照して後述する。。2診断システム210診断システム210は、基本的に、前記診断装置212と、この診断装置212に対してユニバーサルシリアルバスケーブル216以下USBケーブル216という。により接続されるパーソナルコンピュータ214以下PC214という。とを備える。診断装置212は、ハーネス300の周囲における誘導磁界の過渡応答変動直接的には、誘導磁界の強度を検出するピックアップ部220と、各種の制御及び演算を行う本体部222と、本体部222とピックアップ部220を連結するケーブル224とを有する。ピックアップ部220は、検出素子232及び信号処理部234を有する磁気センサ230と、磁気センサ230を支持するクランプ236とを備える。第4実施形態における検出素子232は、アモルファス磁性体素子であり、ハーネス300の周囲に発生する誘導磁界の過渡応答変動を検出し、その過渡応答変動の大きさに応じた電流を発生させる。信号処理部234は、検出素子232からの出力信号に対して増幅処理等の処理を行って過渡応答変動の大きさを示す信号磁界変化率信号Smを本体部222に出力する。第4実施形態のクランプ236は、例えば、髪の毛を束ねるヘアクリップのような形状をしている。すなわち、クランプ236は、ピン242によりヒンジ結合された2つのクランプ部材240a、240bを有する。ピン242の周囲にはコイルばね244が配置されており、その一端はクランプ部材240aに、他端はクランプ部材240bに連結されている。このため、ユーザがクランプ部材240a、240bのグリップ部246a、246b力点を掴むと、ピン242を支点としてクランプ部材240a、240bのフィンガ248a、248bが拡がる図17参照。そして、ユーザがグリップ部246a、246bを離すと、フィンガ248a、248bが接近する。第4実施形態において、磁気センサ230は、フィンガ248bの内側フィンガ248aと対向する側に固定されている。図19に示すように、第4実施形態で、ハーネス300の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出する際は、フィンガ248a、248bの間にハーネス300を把持する。従って、磁気センサ230は、ハーネス300に接して固定される。なお、図17に示すように、検出素子232の向きは、ハーネス300の軸線に直交するように配置される。これにより、検出素子232は、ハーネス300が通電している際に発生する磁場の方向ハーネス300の同心円の接線方向と一致する又は平行となる。その結果、検出素子232の検出感度が最大となる。また、クランプ236は、上記のような構成であるため、ハーネス300の太さが変化しても対応可能である。図18に示すように、本体部222は、入力部250と、制御部252と、記憶部254と、表示部256と、USBポート258とを備える。入力部250は、例えば、複数のボタン260、262、264図17を備え、接触不良の判定に関するユーザから制御部252への指令を入力することができる。制御部252は、入力部250への入力等に応じて、記憶部254及び表示部256を制御する。また、第4実施形態の制御部252は、フィルタリング機能270、ピークホールド機能272、表示制御機能274及び合否判定機能276を有する。これらの機能については後述する。記憶部254は、揮発性メモリ278及び不揮発性メモリ280を有する。PC214は、制御部290、記憶部292及びUSBポート294を有し、USBケーブル216を介して本体部222との間で通信可能である。これにより、本体部222でデータを取得した後、PC214において当該データの詳細な解析や報告書の作成、データベースの作成等を行うことができる。3ハーネス300及びその周辺図20は、ハーネス300及びハーネス300が接続される部位を簡略的に示す図である。ハーネス300は、例えば、エンジンルーム内に配置され、車両218図21の電子制御装置400以下ECU400という。と車両218のセンサ吸気圧センサ500とを接続する。ハーネス300の一端には上記カプラユニット301が設けられており、他端には、別のカプラユニット301aが設けられている。カプラユニット301、301aは、配線束305を構成する配線322で接続されている。図18に示すように、カプラユニット301、301aは、オス端子側カプラ304とメス端子側カプラ306とからなる防水型のカプラユニットである。オス端子側カプラ304は、オス端子308と、防水ラバー312を介してオス端子308をその内部に固定する樹脂製のハウジング310と、オス端子308をECU400又は吸気圧センサ500に接続する配線314とを有する。同様に、メス端子側カプラ306は、メス端子316と、防水ラバー320を介してメス端子316をその内部に固定するハウジング318と、カプラユニット301のメス端子316とカプラユニット301aのメス端子316との間を接続する配線322とを有する。なお、図20では、ハウジング310、318及び防水ラバー312、320は省略されている。吸気圧センサ500は、インテークマニホールド内の吸気の圧力である吸気圧Ps[kPa]を測定する。吸気圧センサ500は、コンパレータ502及び抵抗器504を有し、電源電圧の5[V]の抵抗器506と分圧回路を構成し、吸気圧Psに対応する電圧Vps[V]をECU400が検出できるようになっている。2.接触不良の測定第4実施形態において、端子嵌合部302での端子間の接触不良を測定するためのユーザの作業手順は、第1実施形態図3と同様である。第4実施形態においても、故障コードに応じた故障が再現するか否かを判定し図3のS5、当該故障が再現しない場合S5:NOに一時的な接触不良の発生の有無を確認する。図21は、一時的な接触不良の発生を確認するために、診断装置212を車両218に取り付けた状態を示す図である。第4実施形態では、一時的な接触不良の発生を確認する際、測定対象のハーネス300の配線束305をクランプ236で把持して配線束305に対して磁気センサ230を固定する図21参照。その際、クランプ236は、取り付け易い部分に取り付けることができる。そして、IGSW22をオンにして、測定対象のカプラユニット301が連結されたハーネス300対象ハーネスを通電させる。この状態で診断装置212を作動させると共に、ユーザがカプラユニット301や配線束305を揺すったり、叩いたりすることにより直接的又は間接的に端子嵌合部302に外力を加える。例えば、ユーザは、各カプラユニット301図21に対して順番にウィグルテストを行う例えば、図8参照。例えば、異常系統として特定した配線経路中にある各カプラユニット301に対して順番にウィグルテストを行いながら、磁気センサ230により配線束305の周囲における過渡応答変動の大きさを検出し、各カプラユニット301の端子嵌合部302における接触不良の有無を測定する。図22は、診断装置212を用いてユーザが端子嵌合部302に接触不良が発生しているかどうかを測定する際の診断装置212の動作を示すフローチャートである。本体部222の図示しない電源がオンにされた状態で、ステップS31において、診断装置212の制御部252は、ユーザに対し、測定開始の要否を問い合わせる。具体的には、制御部252は、測定の準備ピックアップ部220の位置合わせを含む。が完了した場合、入力部250の所定のボタンを押すことを要求するメッセージを表示部256に表示させる。また、上述の通り、ピックアップ部220の位置合わせに際しては、必ずしもピックアップ部220の検出素子232を端子嵌合部302に位置合わせする必要はなく、測定対象の異常系統として特定された配線322又は配線束305に対して位置合わせできればよい。また、ハーネス300を特定したら、把持しやすい位置を選定して当該場所をクランプ236で把持する。これにより、クランプ236のフィンガ248a、248bの内側に配置された磁気センサ230をハーネス300に対して固定することができる。ステップS32において、制御部252は、測定開始を要するかどうか前記所定のボタンが押されたかどうかを確認する。未だ測定を開始しない場合S32:NO、ステップS31に戻る。測定を開始する場合S32:YES、ステップS33に進む。なお、以後の処理では、任意のタイミングで、ユーザがカプラユニット301や配線束305、クランプ236等に外力を加えることで、端子嵌合部302に外力が加えられる。これにより、当初、端子嵌合部302が正常に接触していても接触状態が不安定な箇所について、当該外力により接触不良が再発した場合を検出することができる。ステップS33において、制御部252は、図示しない電源から磁気センサ230に対して電力を供給させる。そして、磁気センサ230が検出した過渡応答変動の大きさ検出値を示す磁界変化率信号Smを受信し、磁気センサ230の検出値に対して、データのアナログ/デジタルA/D変換を行う。続くステップS34において、制御部252は、フィルタリング機能270を用いて、A/D変換された磁界変化率信号Smに対してフィルタリング処理を行う。ここでのフィルタリング処理は、バンドパス処理であり、通過させる周波数帯域は、端子嵌合部302における接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域である。或いは、フィルタリング処理は、仕様に応じて、ハイパス処理やローパス処理として機能させることもできる。ステップS35において、制御部252は、ピークホールド機能272を用いて、フィルタリング処理後の磁界変化率信号Smに対してピークホールド処理を行う。ここでのピークホールド処理は、磁界変化率信号Smの振幅のピーク値をホールドする処理である。ステップS36において、制御部252は、表示制御機能274を用いて、磁界変化率信号Smの振幅の波形を表示部256に表示させる波形表示処理を行う。この波形表示処理では、1制御周期例えば、数マイクロ秒~数ミリ秒分の振幅の波形を随時更新する。このため、ステップS36の処理を繰り返すことにより、振幅の波形は連続して表示される。また、表示する磁界変化率信号Smの振幅は、A/D変換処理S33後のもの、フィルタリング処理S34後のもの及びピークホールド処理後のものS35の少なくとも1つを選択することができる。当該選択は、入力部250を介して行う。ステップS37において、制御部252は、合否判定機能276を用いて、接触不良の発生の有無を判定する。ここでは、接触不良が発生していなければ合格であり、接触不良が発生していれば不合格である。具体的には、ピークホールド処理後のピーク値P1が、閾値TH_P1以上であるかどうかを判定する。閾値TH_P1は、端子嵌合部302における接触不良の発生を判定するための閾値である。すなわち、接触不良が発生していない場合導通状態から非導通状態に変化しない場合、ハーネス300の誘導磁界強度に変化はないため、ピーク値P1は閾値TH_P1を超えない。一方、接触不良が発生した場合導通状態から非導通状態に変化する場合又はその後に非導通状態から導通状態に変化する場合、ハーネス300における誘導磁界の過渡応答変動が一時的に大きくなるため、ピーク値P1は閾値TH_P1を超える。これにより、接触不良の発生の有無を判定することが可能となる。接触不良が発生していない場合S37:NO、ステップS38において、制御部252は、合否判定機能276を用いて、磁界変化率信号Smの振幅のデータを揮発性メモリ278に一時的に記憶する。ここでの振幅の値は、A/D変換処理S33後のもの、フィルタリング処理S34後のもの及びピークホールド処理後のものS35の少なくとも1つを選択することができる。当該選択は、入力部250を介して行う。また、揮発性メモリ278は、ファーストインファーストアウト方式シリアルインシリアルアウト方式で、当該振幅の値を所定時間例えば、数秒~数十分間記憶する。接触不良が発生しない状態が続く場合、例えば、図23に示すような波形を取得することができる。図23に示す磁界変化率信号Smは、A/D変換処理S33後のものである。ステップS37において接触不良が発生した場合S37:YES、ステップS39において、制御部252は、合否判定機能276を用いて、表示部256を介して接触不良の発生を通知する。例えば、その旨のメッセージを表示部256に表示させる、警告音又は音声を表示部256に出力させる、波形表示処理S36で表示中の磁界変化率信号Smの振幅の波形を示す画面を点滅させる等の処理を行うことができる。ステップS40において、制御部252は、合否判定機能276を用いて、所定時間例えば、数秒間、磁界変化率信号Smの振幅のデータを取得し揮発性メモリ278に記憶し続けた後、揮発性メモリ278に記憶されているデータを不揮発性メモリ280に保存セーブさせるオートトリガ機能。その結果、例えば、図24に示すような波形を取得することができる。図24では、時点t11において端子嵌合部302での接触不良が再発し、これに伴って誘電磁界強度が一時的に大きく変動するため、その後、暫くの間、過渡応答変動が大きくなる。なお、オートトリガ機能の代わりに、ユーザの操作により当該データを消去せずにそのまま保存することもできるマニュアルトリガ機能。また、上記において、本体部222が時計機能を有していた場合、時刻情報も併せて保存セーブさせる。さらに、記憶したデータは、USBケーブル216を介してPC214に転送し、PC214において加工することができる。ステップS38又はステップS40の後、ステップS41において、制御部252は、測定を終了するかどうかを判定する。当該判定は、例えば、入力部250の所定のボタンが押されたかどうかにより行う。測定を終了する場合S41:YES、これまでのデータを記憶部254の不揮発性メモリ280に保存セーブし、測定を終了する。但し、ステップS40直後の場合、当該保存は行わない。測定を終了しない場合S41:NO、ステップS33に戻り、次の制御周期について各処理を行う。ステップS33~S38、S41の処理は、例えば数マイクロ秒~数ミリ秒間で行う。3.第4実施形態の効果以上のような第4実施形態によれば、第1~第3実施形態による効果に加え又はこれに代えて、以下の効果を奏することができる。第4実施形態によれば、外力を作用させたときにおけるピーク値P1が閾値TH_P1を超えているかどうかの判定結果を出力する。より具体的には、ピーク値P1が閾値TH_P1を超えていない場合、表示部256において磁界変化率信号Smの波形を更新し続けることでそのことをユーザに通知する。また、ピーク値P1が閾値TH_P1を超えた場合、表示部256にその旨のメッセージを表示させること等によりそのことをユーザに通知する。このため、端子嵌合部302を分離せずに、すなわち、異常が発生したときの状態のままで、当該判定結果を用いて端子嵌合部302における接触不良の有無を測定することが可能となる。さらに、接触不良を判定するための誘導磁界の強度の閾値として、外力を作用させる前後で端子嵌合部302に電流が流れ続けた場合には発生し得ないほど大きな誘導磁界の変動の値を閾値TH_P1として設定しておくことで、仮に、端子嵌合部302の周囲に定常的なノイズ又は磁界を発生させるものが存在したとしても、当該ノイズ又は磁界の影響をほとんど受けることなく、接触不良の有無を測定することが可能となる。従って、車両のエンジンルーム等の配線機器が込み入った場所でも測定が可能となる。さらにまた、カプラユニット301が防水性であるために気密性が高い場合であっても、カプラユニット301の分解を要することがないので、防水性を損なうことがない。第4実施形態において、磁気センサ230は、通電状態にあるハーネス300の周囲における誘導磁界の過渡応答変動を連続的に検出し、その間、診断装置212は、外力を作用させたときにおけるピーク値P1が閾値TH_P1を超えているかどうかを判定し続け、ピーク値P1が閾値TH_P1を超えたとき、診断装置212は、その旨を示す表示を表示部256に表示させる。従って、ユーザは、当該表示により接触不良の発生を容易に確認することが可能となる。第4実施形態では、磁気センサ230が連続的に検出した誘導磁界の過渡応答変動を揮発性メモリ278に一時的に記憶し、制御部252が、外力を作用させたときにおけるピーク値P1が閾値TH_P1を超えていると判定したとき、その前後における誘導磁界の過渡応答変動のデータを不揮発性メモリ280に記憶する。これにより、不揮発性メモリ280の記憶容量を過度に大きくせずに、接触不良があった際の前後における誘導磁界の過渡応答変動のデータを効果的に記憶することが可能となる。磁気センサ230は、検出素子232としてアモルファス磁性体素子を有する磁気インピーダンス効果形であり、且つハーネス300を把持するクランプ236に固定され、検出素子232が測定対象のハーネス300に対して直交するようにクランプ236がハーネス300を把持した状態で、ピックアップ部220に誘導磁界の過渡応答変動を検出させる。これにより、検出素子232の感度が最大となる状態で、クランプ236を介して検出素子232とハーネス300の相対位置関係を固定したまま、誘導磁界の過渡応答変動を検出することが可能となる。従って、端子嵌合部302に外力を作用させても安定的に誘導磁界の過渡応答変動を検出することが可能となる。診断装置212の制御部252は、磁界変化率信号Smのうち、接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域の成分のみを通過させるフィルタリング機能270を備える。従って、磁界変化率信号Smのうち、端子嵌合部302における接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域の成分のみが抽出され、当該成分におけるピーク値P1に基づいて記憶部254での記憶や表示部256での表示を行う。このため、接触不良以外の要因に起因した誤判定を避けることが可能となり、配線が込み入った場所や磁気ノイズが大きな環境下であっても、端子嵌合部302における接触不良の発生に伴うその旨の表示やデータの記憶を確実に行うことが可能となる。E.変形例なお、この発明は、上記各実施形態に限らず、この明細書の記載内容に基づき、種々の構成を採り得ることはもちろんである。例えば、以下に示す構成を採ることができる。上記第1~第3実施形態では、接触不良測定装置14、14A、14Bを車両用に用いたが、これに限らず、カプラ50を用いるその他の用途に適用してもよい。同様に、上記第4実施形態では、診断装置212を車両用に用いたが、これに限らず、カプラユニット301、301aを用いるその他の用途に適用してもよい。上記第1~第3実施形態では、1回巻きの検出コイル70を用い、上記第4実施形態では、磁気センサ230を用いたが、過渡応答変動の検出素子はこれに限らない。例えば、1回巻きの検出コイル70の代わりに、巻き数を増加させた検出コイルを用いることもできる。また、上記第1~第3実施形態では、リング状のフェライトコア74を用いたが、これに限らず、フェライトコア74の代わりに、フェライト棒を用いてもよい。この場合、検出コイルをフェライト棒に巻き付けた上、フェライト棒の軸線方向がハーネス80と垂直になるようにフェライト棒を配置する。或いは、フェライトコア74を用いず、複数回巻いた検出コイルを空芯コイルとしてハーネス80に隣接配置することもできる。さらに、フェライトコア74の大きさを調整することにより、検出コイル70の検出感度を高めることもできる。上記第1~第3実施形態では、IGSW22をオンにし、測定対象のカプラ50が連結されたハーネス80対象ハーネスを通電した。しかし、対象ハーネスを通電せずとも、隣接するハーネス80を通電することで対象ハーネスが帯電した状態である場合でも、測定対象のカプラ50の接触不良を測定することが可能である。同様に、暗電流ある程度一定のノイズにより対象ハーネスが帯電した状態でも同様である。さらに、対象ハーネスの外部に対象ハーネスを帯電させる装置を配置し、これにより、対象ハーネスを帯電させた状態であっても同様である。さらにまた、空中イオンにより、対象ハーネスが自然帯電した場合であっても同様である。上記第4実施形態も同様である。第1実施形態ではカプラ50への外力の付与をユーザの指で行い、第2及び第3実施形態では、カプラ50への外力の付与を加振ツール120により行い、第4実施形態ではカプラユニット301、301aへの外力の付与をユーザの指等で行った。しかし、これに限らず、例えば、ハーネス80を自動的に振動させる振動付与機構を設け、当該振動付与機構により直接的又は間接的にカプラ50を振動させながら、外力が作用するタイミングと磁界検出部60の検出値D1を連続的に監視することにより、接触不良の発生を確認してもよい。このような用途は、特に自動車などの生産ラインでの完成検査に有用である。上記第1~第3実施形態ではカプラ50への外力の付与を加速度センサ90により検出したが、別の方法により検出することもできる。例えば、加速度センサ90の変わりに圧力センサを設け、当該圧力センサにも外力が加わるように外力を付与してもよい。第3実施形態では、接触不良の判定に誘電磁界の強度ピーク値に関する閾値TH_Smを用いたが、これに限らず、例えば、磁界変化率信号Smの振幅、ボトム値、平均値又は包絡線に関する閾値を用いることもできる。また、検出値D1と閾値TH_Smを比較することで接触不良の発生の有無を判定したが、これに限らず、例えば、検出値D1の移動平均が単位時間当たりに所定割合変化した場合すなわち、磁界変化率信号Smの変化率又は傾きが所定値を超える場合に接触不良が発生していると判定することもできる。第4実施形態の閾値TH_P1も同様である。上記第3実施形態では、一時的な接触不良が発生した場合、判定LED150からの出力を行い、上記第4実施形態では、一時的な接触不良が発生した場合、表示部256からの出力を行ったが、その他の方法で接触不良の発生を通知してもよい。例えば、測定装置14B又は診断装置212を自動化システムに搭載する場合、当該接触不良の発生を通知する電気信号を当該システムの制御部に出力し、これを受けた制御部が、システムの停止等をすることもできる。上記以外にも第1~第4実施形態の構成又は方法を相互に適用することができる。