テストパターンが入力される複数のシフトレジスタと、前記テストパターンに応じた前記複数のシフトレジスタの出力応答に対するマスク情報として適用される擬似乱数を生成する生成部と、第一の制御信号の入力に応じ、該第一の制御信号が示す前記シフトレジスタに関して前記マスク情報を反転させる反転部と、前記擬似乱数の初期値を記憶する記憶部とを有し、前記生成部が生成する前記擬似乱数は、第二の制御信号の入力に応じて前記記憶部が記憶する前記初期値によって初期化される半導体集積回路。前記記憶部は、前記シフトレジスタに含まれるフリップフロップのうち、前記テストパターンに応じて不定値が出力されるフリップフロップの一部又は全部に係る出力応答をマスクする前記擬似乱数を前記生成部に生成させる前記初期値を記憶する請求項1記載の半導体集積回路。請求項1又は2記載の半導体集積回路の試験装置が、テストデータに基づいて、前記第一の制御信号を前記半導体集積回路に入力し、前記テストパターンごとに前記第二の制御信号を前記半導体集積回路に入力して、前記擬似乱数を初期化させる試験方法。請求項1又は2記載のシフトレジスタに含まれるフリップフロップの中で、不定値が出力されるフリップフロップの一部又は全部の出力応答をマスク可能な前記擬似乱数の初期値を探索する探索部を有する情報処理装置。前記探索部は、不定値が出力される前記フリップフロップの全部又は該フリップフロップの中で不定値の出力回数が上位である一部の出力応答をマスク可能な前記擬似乱数の初期値を探索する請求項4記載の情報処理装置。請求項1又は2記載のシフトレジスタに含まれるフリップフロップの中で、不定値が出力されるフリップフロップの一部又は全部の出力応答をマスク可能な前記擬似乱数の初期値を探索する処理をコンピュータに実行させるプログラム。マスク情報の反転回路に対するマスク情報の反転命令は、テストデータに格納される。したがって、マスク情報の反転回数が多くなれば、テストデータ量を増加させてしまう。そこで、一つの側面では、テストパターンに対する出力応答に適用されるマスク情報の反転回数を削減することのできる半導体集積回路、試験方法、情報処理装置、及びプログラムの提供を目的とする。一つの案では、半導体集積回路は、テストパターンが入力される複数のシフトレジスタと、前記テストパターンに応じた前記複数のシフトレジスタの出力応答に対するマスク情報として適用される擬似乱数を生成する生成部と、第一の制御信号の入力に応じ、該第一の制御信号が示す前記シフトレジスタに関して前記マスク情報を反転させる反転部と、前記擬似乱数の初期値を記憶する記憶部とを有し、前記生成部が生成する前記擬似乱数は、第二の制御信号の入力に応じて前記記憶部が記憶する前記初期値によって初期化される。テストパターンに対する出力応答に適用されるマスク情報の反転回数を削減することができる。以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。図3は、本発明の実施の形態におけるLSI試験の概要を説明するための図である。まず、テストデータ生成装置10は、テストデータ50を生成するS1。テストデータ50は、試験対象の半導体集積回路LSI30に対して試験用に入力される制御信号を示す情報が入力順に配列されたデータである。また、テストデータ50には、試験の実行によってLSI30より出力される値に対する期待値等も含まれる。生成されたテストデータ50は、LSIテスタ20に設定されるS2。LSIテスタ20は、設定されたテストデータ50に基づいて、LSI30に対して制御信号を入力するS3。LSIテスタ20は、制御信号の入力に応じてLSI30より出力される値を、テストデータ50に含まれている期待値と比較し、LSI30の製造不良を検出するS4。すなわち、出力される値が期待値と一致しない場合、LSI30は不良であると判定される。なお、LSIテスタ20は、例えば、一般的に市販されているLSIテスタである。但し、コンピュータをLSIテスタとして機能させるプログラムがインストールされた情報処理装置が、LSIテスタ20として用いられてもよい。図4は、本実施の形態におけるLSIの構成例を示す図である。同図において、LSI30は、テストパターン生成部31、複数のシフトレジスタのスキャンパスSP、出力検証部32、不定マスク部33、及び初期値記憶部34等を有する。テストパターン生成部31は、試験実行時において、スキャンパスSPに入力されるテストパターンとして、擬似乱数を生成又は出力する回路である。テストパターン生成部31は、PRPGPseudoRandomPatternGeneratorとも呼ばれる。テストパターンの入力により、各スキャンパスSPソフトレジスタに含まれる各フリップフロップFFには、テストパターンに応じた値が記録される。各スキャンパスSPは、試験対象の回路の一部を構成する回路である。テストパターンが入力された後、クロック信号がLSI30に印加されると、非図示の論理回路からのテストパターンに対する出力応答出力値が各フリップフロップに出力記録される。不定マスク部33は、各スキャンパスSPより出力される出力応答のうち、テストデータ50においてマスク対象に指定されたスキャンパスSPの出力応答をマスクする回路である。マスクとは、出力応答を0又は1の固定値に修正することをいう。すなわち、不定マスク部33によって、出力応答より不定値が除去される。マスク対象を示す情報マスク情報は、擬似乱数に基づいて生成される。不定マスク部33は、擬似乱数に基づくマスク情報を補正するため、マスク情報の一部のビットを必要に応じて反転させる。マスク情報のビット反転マスク情報の反転は、テストデータ50に基づいてLSIテスタ20より入力される制御信号に応じて実行される。すなわち、マスク情報の反転命令はテストデータ50に含まれている。出力検証部32は、スキャンパスSPより出力され、不定マスク部33によってマスクが施された不定値が除去された出力応答を圧縮する。圧縮された出力応答は、LSIテスタ20に出力され、テストパターンに対する期待値と比較される。期待値は、予めテストデータ生成装置10によって回路シミュレーションに基づいて生成され、テストデータ50に格納される。当該回路シミュレーションでは、テストパターン生成部31によって生成されるテストパターンと同じテストパターンが用いられる。すなわち、テストパターン生成部31によって生成されるテストパターンは擬似乱数であるから、値の発生順に再現性が有る。したがって、回路シミュレーションにおいても、テストパターン生成部31によって生成されるテストパターンと同じテストパターンを再現させることができる。当該テストパターンに応じた回路シミュレーションの出力応答が、期待値としてテストデータ50に格納される。初期値記憶部34は、不定マスク部33が生成する擬似乱数の初期値として、マスク情報の反転の回数が少なくなるような値を記憶する。当該初期値は、テストデータ生成装置10によって探索又は算出され、テストデータ50に格納される。マスク情報の反転の回数が少なくなるということは、テストデータ50において、当該反転に関する命令が削減されることを意味する。すなわち、初期値記憶部34が記憶する初期値によって、テストデータ50の削減が可能となる。不定マスク部33について更に詳しく説明する。図5は、不定マスク部の構成例を示す図である。同図において、不定マスク部33は、マスク情報生成部331、マスク反転部332、及びスキャンパスSPごとのOR回路333等を含む。マスク情報生成部331は、擬似乱数を生成する回路PRPGである。当該擬似乱数が、マスク情報である。マスク情報は、スキャンパスSPがN本であるとすると、Nビットの情報である。各ビットは、それぞれ一つのスキャンパスSPに対応する。マスク情報生成部331は、初期値記憶部34が記憶する値を擬似乱数マスク情報の初期値とする。各OR回路333は、それぞれが対応するスキャンパスSPからの出力応答出力値と、マスク反転部332からの出力値との論理和を出力する。したがって、マスク反転部332からの出力値が、1である場合、スキャンパスSPからの出力応答がいかなる値であっても、当該スキャンパスSPに関して出力検証部32に入力される値は1となるすなわち、マスクされる。。マスク反転部332は、スキャンパスSPごとに、フリップフロップFF3321及びEXOR回路3322等を含む。フリップフロップ33213321には、0又は1が格納される。フリップフロップ3321に0が格納されているスキャンパスSPに関して、マスク情報生成部331から0が入力された場合、EXOR回路3322からは0が出力される。また、フリップフロップ3321に0が格納されているスキャンパスSPに関して、マスク情報生成部331から1が入力された場合、EXOR回路3322からは1が出力される。すなわち、フリップフロップ3321に0が記録されている状態では、マスク情報通りの値がマスク反転部332より出力される。一方、フリップフロップ3321に1が格納されているスキャンパスSPに関して、マスク情報生成部331から0が入力された場合、EXOR回路3322からは1が出力される。また、フリップフロップ3321に1が格納されているスキャンパスSPに関して、マスク情報生成部331から1が入力された場合、EXOR回路3322からは0が出力される。すなわち、フリップフロップ3321に1が記録された状態では、マスク情報が反転された値が出力される。したがって、LSIテスタ20は、テストデータ50に基づいて、マスク情報を反転させたいスキャンパスSPのフリップフロップ3321に1を記憶させる。続いて、初期値記憶部34及びマスク情報生成部331の構成例について説明する。図6は、初期値記憶部及びマスク情報生成部の構成例を示す図である。同図には、LSI30のスキャンパスSPが4本である場合の構成例が示されている。同図において、マスク情報生成部331は、スキャンパスSPの本数分のフリップフロップFF3311a~3311d以下、それぞれを区別しない場合フリップフロプ3311という。を含む。したがって、同図のマスク情報生成部331によって生成されるマスク情報擬似乱数は、4ビットの情報となる。4個のフリップフロップ3311a~3311dは、シフトレジスタを構成している。すなわち、各フリップフロップに記憶されている値が、シフトしていくようにカスケード接続されている。当該シフトレジスタにおいて、前段入力側のフリップフロップ3311と、後段出力側のフリップフロップ3311との間には、マルチプレクサ3312が接続されている。マルチプレクサ3312は、前段のフリップフロップ3311からの出力値、又は初期値記憶部34のフリップフロップ341a~341dからの出力値を選択的に出力する。いずれの出力値がマルチプレクサ3312より出力されるかは、マルチプレクサ3312に入力される選択信号に応じて選択される。マスク情報生成部331は、また、EXOR回路3313を含む。EXOR回路3313は、フリップフロップ3311aの出力値と、フリップフロップ3311dの出力値との排他的論理和を出力する。EXOR回路333の出力値は、フリップフロップ3311aに入力される。一方、初期値記憶部34は、スキャンパスSPの本数分4個のフリップフロップFF341a~341d以下、それぞれを区別しない場合フリップフロップ341という。を含む。フリップフロップ341a~341dのそれぞれは、マスク情報生成部331の各マルチプレクサ3312に接続される。図6を参照しつつ、初期値記憶部34とマスク情報生成部331との動作について説明する。初期値記憶部34の各フリップフロップ341には、試験開始時にLSIテスタ20からの制御信号によって値が記録される。記録される値は、テストデータ50に格納されている初期値である。同図の例において、当該初期値は、4ビットの情報である。その後、各フリップフロップ341の値は、変更されない。各フリップフロップ341に対して初期値が記録された後、所定の時期に、LSIテスタ20は、テストデータ50に基づく制御信号をマスク情報記憶部331に入力する。すなわち、各フリップフロップ341の値をそれぞれに対応するフリップフロップ3311に入力させるための選択信号がマスク情報生成部331に入力される。当該選択信号に応じ、各マルチプレクサ3312は、それぞれの入力側のフリップフロップ341からの出力値を、それぞれの出力側のフリップフロップ3311に出力する。その結果、各フリップフロップ341の値は、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311に記録される。マスク情報擬似乱数を変更する場合、LSIテスタ20は、テストデータ50に基づいて、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値をシフトさせるための選択信号をマスク情報生成部331に入力する。当該選択信号に応じ、各マルチプレクサ3312は、マスク情報生成部331において、前段のフリップフロップ3311からの出力値を後段のフリップフロップ3311に出力する。その結果、マスク情報生成部331に含まれる各フリップフロップ3311が示すマスク情報が更新される。一つのテストパターンを利用した試験が完了すると、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値は、初期値記憶部34の各フリップフロップ341の値によって再び初期化される。例えば、新たなテストパターンが各スキャンパスSPに入力された後、又は各スキャンパスSPのフリップフロップに記録された出力応答が出力される前に当該初期化が行われる。したがって、各テストパターンの開始時において、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値すなわち、マスク情報は同じとなる。上記したように、初期値記憶部34が記憶する初期値は、マスク情報の反転回数が少なくなるような値である。換言すれば、当該初期値は、マスク情報の反転回数が少なくなるようなマスク情報をマスク情報生成部331に生成させる値である。したがって、斯かる初期値によってマスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値がテストパターンごとに初期化されることにより、各テストパターンに関して、マスク情報の反転回数が少なくなるようなマスク情報が生成されるようになる。続いて、テストデータ生成装置10について説明する。図7は、本発明の実施の形態におけるテストデータ生成装置のハードウェア構成例を示す図である。図7のテストデータ生成装置10は、それぞれバスBで相互に接続されているドライブ装置100、補助記憶装置102、メモリ装置103、及びCPU104等を有する。テストデータ生成装置10での処理を実現するプログラムは、記録媒体101によって提供される。プログラムを記録した記録媒体101がドライブ装置100にセットされると、プログラムが記録媒体101からドライブ装置100を介して補助記憶装置102にインストールされる。但し、プログラムのインストールは必ずしも記録媒体101より行う必要はなく、ネットワークを介して他のコンピュータよりダウンロードするようにしてもよい。補助記憶装置102は、インストールされたプログラムを格納すると共に、必要なファイルやデータ等を格納する。メモリ装置103は、プログラムの起動指示があった場合に、補助記憶装置102からプログラムを読み出して格納する。CPU104は、メモリ装置103に格納されたプログラムに従ってテストデータ生成装置10に係る機能を実行する。なお、記録媒体101の一例としては、CD-ROM、DVDディスク、又はUSBメモリ等の可搬型の記録媒体が挙げられる。また、補助記憶装置102の一例としては、HDDHardDiskDrive又はフラッシュメモリ等が挙げられる。記録媒体101及び補助記憶装置102のいずれについても、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に相当する。また、テストデータ生成装置10には、液晶ディスプレイ等の表示装置や、キーボード及びマウス等の入力装置が接続されてもよい。図8は、本発明の実施の形態におけるテストデータ生成装置の機能構成例を示す図である。同図において、テストデータ生成装置10は、設計データ記憶部11、初期値探索部12、初期値データ記憶部13、及びテストデータ生成部14等を有する。初期値探索部12及びテストデータ生成部14は、テストデータ生成装置10にインストールされたプログラムがCPU104に実行させる処理により実現される。設計データ記憶部11及び初期値データ記憶部13は、例えば、補助記憶装置102を用いて実現可能である。設計データ記憶部11は、LSI30の設計データを記憶する。設計データとは、LSI30を製造するためのデータである。本実施の形態の設計データには、回路シミュレーションを実行するために必要な情報が含まれていればよい。初期値探索部12は、マスク情報について、スキャンパスSPに含まれるフリップフロップの中で不定値が出力されるフリップフロップの一部又は全部の出力応答をマスク可能な初期値を探索又は算出する。初期値データ記憶部13は、初期値探索部12によって探索された初期値を記憶する。テストデータ生成部14は、設計データ及び初期値データ記憶部13が記憶する初期値等を用いてテストデータ50を生成する。以下、テストデータ生成装置10が実行する処理手順について説明する。図9は、テストデータの生成処理の処理手順の一例を説明するためのフローチャートである。テストデータ生成部14は、設計データに基づいて、仮想的なLSI30をテストデータ生成装置10の仮想空間に構築又は生成する。テストデータ生成部14等は、仮想的なLSI30を利用した回路シミュレーションにおいて、図9の処理手順を実行する。なお、同図の説明におけるLSI30の構成要素は、回路シミュレーションによって構築される仮想的なものである。ステップS101において、テストデータ生成部14は、初期値データ記憶部13に記録されている初期値を、初期値記憶部34に設定する。すなわち、初期値記憶部34の各フリップフロップに値が記録される。テストデータ生成部14は、当該初期値を初期値記憶部34に記録するための制御信号を示すデータをテストデータ50に記録する。当該初期値の生成方法については、後述される。続いて、テストデータ生成部14は、初期値記憶部34に記録されている初期値を、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311に転記記録するS102。テストデータ生成部14は、当該初期値の転記を実行させるための制御信号を示すデータをテストデータ50に記録する。続いて、テストデータ生成部14は、テストパターンの生成をテストパターン生成部31に実行させ、当該テストパターンを各スキャンパスSPに入力するS103。当該ステップの実行によって、各スキャンパスSPに含まれる各フリップフロップに、テストパターンを構成する値1又は0が記録される。すなわち、当該ステップは、一つのテストパターンに関して、1列分スキャンパスSPの本数分のビット数分ずつ生成される擬似乱数が、各スキャンパスSPをシフトし、各スキャンパスSPに含まれる全てのフリップフロップに値が記録されるまでの処理が含まれる。なお、テストデータ生成部14は、テストパターン生成部31に擬似乱数を生成させると共にスキャンパスSPのシフトを示す制御信号等を示すデータを、それぞれの制御信号の発生順にテストデータ50に記録する。テストデータ生成部14は、一つのテストパターンの入力が完了した状態で、クロック信号をLSI30に印加する。その結果、スキャンパスSPの各フリップフロップには、テストパターンに対する出力応答出力値が出力記録されるS104。続いて、テストデータ生成部14は、出力応答をシフトさせるS105。続いて、テストデータ生成部14は、マスク情報の生成をマスク情報生成部331に実行させ、当該マスク情報を用いた出力応答のマスクを不定マスク部33に実行させるS106。テストデータ生成部14は、出力応答のシフト及びマスク情報生成部331に対するマスク情報の生成命令等を示す制御信号をテストデータ50に記録する。なお、テストデータ50の生成時の回路シミュレーションにおいては、マスク反転部332の各フリップフロップには0が記録されている。したがって、ここでは、マスク情報の反転は行われない。続いて、テストデータ生成部14は、不定マスク部33から不定値が出力されているスキャンパスSPの有無を判定するS107。不定値が出力されているスキャンパスSPが有る場合S107でYes、テストデータ生成部14は、不定値が出力されているスキャンパスSPをマスクするための制御信号を示すデータを生成するS108。当該スキャンパスSPをマスクするための制御信号とは、マスク情報において当該スキャンパスSPに対応する部分を反転させる制御信号である。不定値が出力されているスキャンパスSPが無い場合S107でNo、又はステップS108に続いて、テストデータ生成部14は、マスク前の出力応答とマスク情報とを比較し、故障値がマスクされているスキャンパスSPの有無を判定するS109。故障値とは、LSI30の正常時と不良時とにおいて値が異なる可能性の有る出力応答をいう。すなわち、故障値は、LSI30の不良を検出可能な出力応答であるといえる。故障値がマスクされているスキャンパスSPが有る場合S109でYes、テストデータ生成部14は、故障値が出力されているスキャンパスSPのマスクを解除するための制御信号を示すデータを生成するS110。当該スキャンパスSPのマスクを解除するための制御信号とは、マスク情報において当該スキャンパスSPに対応する部分を反転させる制御信号である。続いて、テストデータ生成部14は、ステップS108又はS110において生成された、マスクを反転させるための制御信号を示すデータを、出力応答のシフトのタイミングに関連付けてテストデータ50に記録するS111。なお、ステップS102以降は、予定されているテストパターンの数だけ繰り返される。この際、ステップS101は実行されないため、初期値記憶部34の各フリップフロップ341の値は書き換えられない。一方、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値は、初期値記憶部34の各フリップフロップ341の値によって初期化されるS102。すなわち、複数のテストパターンにおいて、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の初期値は同じとなる。続いて、図9の処理によってテストデータ50に記録される制御信号を示すデータのうち、スキャンパスSP等のシフト又はマスク情報の反転のための制御信号を示すデータ例について説明する。図10は、シフト又はマスク情報の反転のための制御信号を示すデータ例を説明するための図である。同図のデータ例は、LSI30のスキャンパスSPが、128本である場合に対応する。同図において、一つの行は、一つの制御信号を示すデータ以下、制御データという。である。一つの制御データは、CTL0とCTL1~7とを含む8ビットの情報である。CTL0は、シフト用の項目である。すなわち、CTL0の値が0の制御データは、CTL1~7の値に拘わらず、スキャンパスSP、テストパターン生成部31、マスク情報生成部331、及び出力検証部32等のシフト命令を示す。ここで、テストパターン生成部31又はマスク情報生成部331のシフトとは、擬似乱数テストパターン又はマスク情報の生成及び出力に相当する。一方、CTL0が1である場合において、CTL1~7は、マスク情報の反転用の項目であり、CTL1~7の7ビットによって、マスクを反転させるスキャンパスSPが示される。したがって、例えば、10000000は、マスク反転部332において1番目のスキャンパスSPに対応するフリップフロップ3321に1を記録することを示す。当該フリップフロップ3321に1が記録されることで、当該スキャンパスSPのマスク情報は反転する。すなわち、マスク情報において、当該スキャンパスSPがマスク対象となっていればマスクは解除され、マスク対象となっていなければ、マスクされる。なお、図10は、シフト又はマスク情報の反転のための制御データの一覧を示すものであり、必ずしも、図10に示される全ての制御データがテストデータ50に記録されるわけではない。また、図10では、スキャンパスSPが128本である場合の例を示したが、スキャンパスSPがN本である場合、シフト又はマスク情報の反転のための制御信号を示すデータのビット数は、1[log2N]となる。図9のステップS105以降について、具体例に基づいて説明する。図11は、マスク情報の反転の要否の判定を説明するための具体例を示す図である。図11中、図4、図5、又は図6と同一部分には同一符号を付している。なお、同図において、マスク情報生成部331については、便宜上、フリップフロップのみが示されている。また、初期値記憶部34は、便宜上省略されている。同図は、各スキャンパスSPの各フリップフロップに、テストパターンに応じた出力応答が出力された後ステップS105実行後の状態を示す。この状態において、スキャンパスSP0からの出力は、不定値Xであるとする。また、スキャンパスSP1からの出力は、故障値0/1であるとする。更に、スキャンパスSP2及びSP3からの出力は、それぞれ固定値1であるとする。そして、マスク情報生成部331によって生成されたマスク情報は、スキャンパスSP0、SP1、SP2、及びSP3のそれぞれに関して、0、1、0、1であるとする。すなわち、スキャンパスSP1及びSP3からの出力がマスク対象とされている。ここで、スキャンパスSP0からの出力に関しては、不定値Xであるにも拘わらずマスクされていない。また、スキャンパスSP1からの出力は、故障値であり、マスクされてしまうと不良の検出が出来なくなくなってしまう。なお、スキャンパスSP3からの出力に関しては、固定値である。固定値とは、不良の有無に拘わらず固定的な出力応答をいう。したがって、固定値の出力は、不良検出とは無関係なため、マスクされても問題は無い。なお、上記したように、テストデータ50の生成時の回路シミュレーションにおいては、マスク反転部332の各フリップフロップ3321には0が記録されている。すなわち、いずれのスキャンパスSPに関しても、マスク情報の反転対象とされていない。上記より明らかなように、図11の状態では、スキャンパスSP0の出力がマスクされ、スキャンパスSP1の出力に対するマスクが解除される必要がある。すなわち、スキャンパスSP0及びSP3に関してマスク情報が反転される必要がある。そこで、テストデータ生成部14は、同図のシフト時に関して、スキャンパスSP0及びSP1のマスクを反転させる制御データをテストデータ50に記録する。ここでテストデータ50に記録される制御データは、例えば、図12に示される通りとなる。図12は、テストデータ50に記録されるマスク情報の反転のための制御データの具体例を示す図である。同図において1行目の制御データの値CTL0~7は10000000である。したがって、1行目の制御データは、マスク反転部332においてスキャンパスSP0に対応するフリップフロップに1を記録することを示す。また、2行目の制御データの値は、1000001である。したがって、2行目の制御データは、マスク反転部332においてスキャンパスSP1に対応するフリップフロップに1を記録することを示す。上記のように生成されるテストデータ50を用いて、LSIテスタ20が行う実際のLSI30の試験について説明する。図13は、本実施の形態におけるLSIテスタの機能構成例を示す図である。同図において、LSIテスタ20は、テストデータ記憶部21、及び試験実行部22等を有する。テストデータ記憶部21は、テストデータ生成装置10によって生成されるテストデータ50を記憶する記憶装置である。試験実行部22は、テストデータ記憶部21が記憶するテストデータ50を解釈して、LSI30に制御信号等の信号を入力することにより、LSI30の不良検出のための試験を行う。試験実行部22は、また、出力検証部32より出力される、圧縮された出力応答を期待値と比較することにより、LSI30の不良を検出する。基本的に、試験実行部22が実行する処理は、テストデータ生成部14が生成したテストデータ50に従ったものとなる。したがって、試験実行部22が実行する処理手順は、図9においてテストデータ生成部14が実行した処理手順と同様である。但し、実際の試験実行時にはマスク情報の反転が行われる点がテストデータ50の生成時と異なる。そこで、ここでは、マスク情報の反転について説明する。図14は、実際の試験時におけるマスク情報の反転の例を説明するための図である。図14中、図11と同一部分には同一符号を付している。図14は、図12に示される制御データを含むテストデータ50を用いた実際の試験時において、図11において示したタイミングで実行される、マスク情報の反転の例を示す。図14において、マスク情報生成部331によって生成されたマスク情報は、スキャンパスSP0、SP1、SP2、及びSP3のそれぞれに関して、0、1、0、1であり、図11と同じである。マスク情報生成部331によって生成される擬似乱数マスク情報の発生順生成順は、再現性が有るため、回路シミュレーション時と実際の試験時とにおいて、同じタイミングのマスク情報は一致するからである。但し、図14では、テストデータ50に含まれる制御データ図12に基づく制御信号が、LSIテスタ20よりLSI30に入力される。すなわち、マスク反転部332においてスキャンパスSP0に対応するフリップフロップ3321と、スキャンパスSP1に対応するフリップフロップとに1が記録される。したがって、スキャンパスSP0及びSP2に係るマスク情報は反転する。よって、スキャンパスSP0からの出力は1となる。また、スキャンパスSP1からの出力は故障値となる。その結果、出力検証部32への不定値の入力は回避される。また、出力検証部32に故障値を入力することができる。図12及び図14等より明らかなように、マスク情報の反転のための制御データは、マスク情報の反転の回数に応じて増減する。すなわち、マスク情報の反転の回数が多ければ、当該制御データは増加し、マスク情報の反転の回数が少なければ、当該制御データは減少する。そして、当該制御データは、テストデータ50に格納されるものである。したがって、当該制御データの増減は、テストデータ50の増減に影響する。他方において、スキャンパスSPに含まれる各フリップフロップに関して、不定値が出力される回数不定値の出現頻度は、一様ではなく、偏りがある。これは、不定値を出力する順序回路素子に偏りが有るからである。そこで、テストデータ生成装置10の初期値探索部12は、不定値の出力箇所の遍在化という性質を利用し、マスク情報生成部331の初期値について、マスク情報の反転の回数が少なくなるような値を、例えば、図15に示される処理手順によって生成する。図15は、マスク情報の初期値の生成処理の処理手順の一例を説明するためのフローチャートである。図15の処理手順は、テストデータ50の生成処理図9の実行前に実行されていればよい。ステップS201において、初期値探索部12は、LSI30の回路シミュレーションにおいて、各スキャンパスSPに含まれる各フリップフロップの中から、不定値が1回以上出力されるフリップフロップを抽出する。当該各フリップフロップに関して、不定値の出力回数は、ステップS201の前に実行される回路シミュレーションにおいて計数カウントされればよい。係数された回数は、各フリップフロップの識別子に関連付けてメモリ装置103又は補助記憶装置102に記録されていればよい。なお、ステップS201において抽出されたフリップフロップ群を、以下フリップフロップ群g1という。続いて、初期値探索部12は、フリップフロップ群g1の中から、不定値の出力回数の多い順に所定数のフリップフロップを抽出するS202。すなわち、不定値の出力回数が上位NNは0より大きい整数番目までのフリップフロップが抽出される。ステップS202において抽出されたフリップフロップ群を、以下フリップフロップ群g2という。続いて、初期値探索部12は、フリップフロップ群g2に含まれる全てのフリップフロップをマスク可能な、マスク情報生成部331の初期値を算出するS203。斯かる初期値は、例えば、連立方程式を解くことで求める又は探索することができる。図16は、特定のフリップフロップ群の全てをマスク可能な初期値の探索方法の一例を説明するための図である。同図では、スキャンパスSPは4本であり、一つのスキャンパスSPは、4つのフリップフロップを含む例が示されている。ここでは、各スキャンパスSPの方向を行方向と呼び、スキャンパスSPと直行する方向を列方向と呼ぶ。したがって、同図には4行4列のフリップフロップが示されているといえる。行番号は、図面上側から順に1、2、3、4とする。列番号は、図面右側出力検証部32側から順に、1、2、3、4とする。まず、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311に対して初期値を示す変数が割り当てられる。スキャンパスSPは4本であるから、同図のマスク情報生成部331のフリップフロップ3311は4個である。同図では、フリップフロップ3311a、3311b、3311c、3311dの順に、a、b、c、dが、初期値を示す変数として割り当てられている。続いて、現在のマスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値が、当該フリップフロップ3311に対応するスキャンパスSPにおいて1列目のフリップフロップに割り当てられる。したがって、1列目のフリップフロップに関して、1行目から順に、a、b、c、dが割り当てられる。続いて、マスク情報生成部331のフリップフロップ3311に関してシフトが行われる。すなわち、初期値の次の擬似乱数が生成される。同図では、時計回りに各フリップフロップ3311の値がシフトされる。但し、フリップフロップ3311aには、フリップフロップ3311aとフリップフロップ3311dとの排他的論理和がEXOR回路3313より出力される。その結果、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値は、フリップフロップ3311a、3311b、3311c、3311dの順に、ad、a、b、dとなる。なお、図16において、排他的論理は、便宜上によって表現されている。例えば、adは、aとdとの排他的論理和を示す。続いて、現在のマスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値が、当該フリップフロップ3311に対応するスキャンパスSPにおいて2列目のフリップフロップに割り当てられる。したがって、2列目のフリップフロップに関して、1行目から順に、ad、b、c、dが割り当てられる。続いて、マスク情報生成部331のフリップフロップに関してシフトが行われる。その結果、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値は、フリップフロップ3311a、3311b、3311c、3311dの順に、adc、ad、a、bとなる。続いて、現在のマスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値が、当該フリップフロップに対応するスキャンパスSPにおいて3列目のフリップフロップに割り当てられる。したがって、3列目のフリップフロップに関して、1行目から順に、adc、ad、a、bが割り当てられる。続いて、マスク情報生成部331のフリップフロップに関してシフトが行われる。その結果、マスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値は、フリップフロップ3311a、3311b、3311c、3311dの順に、adcb、adc、ad、aとなる。続いて、現在のマスク情報生成部331の各フリップフロップ3311の値が、当該フリップフロップに対応するスキャンパスSPにおいて4列目のフリップフロップに割り当てられる。したがって、4列目のフリップフロップに関して、1行目から順に、adcb、adc、ad、aが割り当てられる。各スキャンパスSPに含まれる全てのフリップフロップに対する値の割り当てが完了すると、フリップフロップ群g2に含まれている各フリップフロップに割り当てられている値に関して連立方程式が解かれる。図16では、フリップフロップ51、フリップフロップ52、フリップフロップ53、及びフリップフロップ54が、フリップフロップ群g2に含まれるとする。この場合、フリップフロップ群g2に含まれる全てのフリップフロプをマスク可能な初期値の条件は、以下の連立方程式によって表現される。adcb=1ad=1c=1a=1当該連立方程式が解かれると、以下の解が得られる。a=1b=1c=1d=0図9のステップS203では、このようにして、フリップフロップ群g2に含まれる全てのフリップフロップをマスク可能な初期値が算出される。すなわち、上記に示される解が、フリップフロップ群g2に含まれる全てのフリップフロップをマスク可能な初期値である。なお、スキャンパスSPの本数が5本以上である場合、又はスキャンパスSPが5列以上のフリップフロップを含む場合も同様の方法で、初期値を探索することができる。ステップS203に続いて、初期値探索部12は、フリップフロップ群g2に含まれる全てのフリップフロップをマスク可能な初期値は存在するか否かを判定する。当該判定は、上記連立方程式の解の有無の判定に相当する。図16の例では、連立方程式の解は得られた。したがって、ステップS205に進む。ステップS205において、初期値探索部12は、得られた解を初期値候補としてメモリ装置103又は補助記憶装置102に記録する。後述より明らかなように、ステップS203以降は繰り返される。したがって、既に初期値候補が記録されている場合は、新たに得られた解によって初期値候補が更新置換される。なお、ここで、初期値が確定されないのは、フリップフロップ群g2に含まれるフリップフロップよりも更に多くのフリップフロップのマスクが可能な初期値が存在する可能性があるからである。続いて、初期値探索部12は、フリップフロップ群g1に含まれるがフリップフロップ群g2には含まれないフリップフロップの有無を判定するS206。すなわち、フリップフロップ群g1の方がフリップフロップ群g2に対してより多くのフリップフロップを含むか否かが判定される。該当するフリップフロップが有る場合S206でYes、初期値探索部12は、当該フリップフロップのうち、不定値が出力される回数が最多のフリップフロップをフリップフロップ群g2に追加するS207。続いて、初期値探索部12は、ステップS203以降を繰り返す。すなわち、新たに追加されたフリップフロップをも含むフリップフロップ群g2の全てをマスク可能な初期値が探索される。フリップフロップ群g1に含まれるがフリップフロップ群g2には含まれないフリップフロップが無い場合S206でNo、初期値探索部12は、現在の初期値候補を初期値として初期値データ記憶部13に記録するS209。一方、ステップS203において連立方程式の解が得られなかった場合S204でNo、初期値探索部12は、初期値候補がメモリ装置103又は補助記憶装置102に記録されているか否かを判定するS208。初期値候補が記録されている場合S208でYes、初期値探索部12は、現在の初期値候補を初期値として初期値データ記憶部13に記録するS209。一方、初期値候補が記録されていない場合S208でNo、初期値探索部12は、フリップフロップ群g2に2以上のフリップフロップが含まれているか否かを判定するS210。フリップフロップ群g2に2以上のフリップフロップが含まれている場合S210でYes、初期値探索部12は、フリップフロップ群g2より、不定値が得られる回数が最少のフリップフロップを除外してS211、ステップS203以降を繰り返す。すなわち、連立方程式の対象とされるフリップフロップが削減されて、連立方程式が解かれる。フリップフロップ群g2に一つのフリップフロップしか含まれていない場合S210でNo、初期値探索部12は、初期値は記録せずに、初期値の探索を終了する。以上のように探索又は算出された初期値は、不定値が少なくとも一回は出力されるフリップフロップの中で可能な限り多数のフリップフロップを常にマスク可能なマスク情報擬似乱数を生成させる初期値である。したがって、本実施の形態によれば、不定値が少なくとも一回は出力されるフリップフロップの一部又は全部を常にマスク可能なマスク情報を生成させる初期値が、テストパターンごとにマスク情報生成部331に設定される。その結果、当該フリップフロップの不定値に関してマスク情報を反転させるための制御データは不要となる。よって、不定値に関してマスク情報を反転させるための制御データを削減することができ、ひいては、テストデータ50のデータ量を削減することができる。なお、不定値が出力される割合が5割以下のフリップフロップがマスクされても制御データの削減に寄与できるのは、故障値でない限りマスクが行われても試験結果に対して不都合は無いからである。例えば、10通りのテストパターンにおいて、不定値の出力回数が1回であり、残りの9回は固定値が出力されるフリップフロップの出力応答に関して常にマスクされたとしても、固定値の9回分についても、マスク情報は反転される必要はない。したがって、この場合、不定値が出力される1回分について、マスク情報の反転回数を削減することができる。なお、本実施の形態において、LSI30のマスク情報生成部331は、生成部の一例である。また、マスク反転部332は、反転部の一例である。また、初期値記憶部34は、記憶部の一例である。また、テストデータ生成装置10の初期値探索部12は、探索部の一例である。以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は斯かる特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形変更が可能である。以上の説明に関し、更に以下の項を開示する。付記1テストパターンが入力される複数のシフトレジスタと、前記テストパターンに応じた前記複数のシフトレジスタの出力応答に対するマスク情報として適用される擬似乱数を生成する生成部と、第一の制御信号の入力に応じ、該第一の制御信号が示す前記シフトレジスタに関して前記マスク情報を反転させる反転部と、前記擬似乱数の初期値を記憶する記憶部とを有し、前記生成部が生成する前記擬似乱数は、第二の制御信号の入力に応じて前記記憶部が記憶する前記初期値によって初期化される半導体集積回路。付記2前記記憶部は、前記シフトレジスタに含まれるフリップフロップのうち、前記テストパターンに応じて不定値が出力されるフリップフロップの一部又は全部に係る出力応答をマスクする前記擬似乱数を前記生成部に生成させる前記初期値を記憶する付記1記載の半導体集積回路。付記3付記1又は2記載の半導体集積回路の試験装置が、テストデータに基づいて、前記第一の制御信号を前記半導体集積回路に入力し、前記テストパターンごとに前記第二の制御信号を前記半導体集積回路に入力して、前記擬似乱数を初期化させる試験方法。付記4付記1又は2記載のシフトレジスタに含まれるフリップフロップの中で、不定値が出力されるフリップフロップの一部又は全部の出力応答をマスク可能な前記擬似乱数の初期値を探索する探索部を有する情報処理装置。付記5前記探索部は、不定値が出力される前記フリップフロップの全部又は該フリップフロップの中で不定値の出力回数が上位である一部の出力応答をマスク可能な前記擬似乱数の初期値を探索する付記4記載の情報処理装置。付記6付記1又は2記載のシフトレジスタに含まれるフリップフロップの中で、不定値が出力されるフリップフロップの一部又は全部の出力応答をマスク可能な前記擬似乱数の初期値を探索する処理をコンピュータに実行させるプログラム。付記7前記探索する処理は、不定値が出力される前記フリップフロップの全部又は該フリップフロップの中で不定値の出力回数が上位である一部の出力応答をマスク可能な前記擬似乱数の初期値を探索する付記7記載のプログラム。