長手方向に複数の空孔を有する空孔構造光ファイバのモードフィールド径を測定する方法であって、被測定空孔構造光ファイバの一端に入射するための所定の測定波長の光波を発生する送信部と、被測定空孔構造光ファイバの他端から出射される光波の開口角を任意に設定する可変開口角部と、前記可変開口角部を介して被測定空孔構造光ファイバの他端から出射される光波を受光し、その光パワーに応じた電気信号に変換する受光器と、受光器から出力される電気信号を記録して処理する信号処理部とを少なくとも用い、前記信号処理部により、送信部で発せられた所定の測定波長の光波を被測定空孔構造光ファイバの一端に入射し、可変開口角部における開口角の最大値を20°以上として、0°から当該最大値まで逐次変化させた時に受光器から出力される光パワーに応じた電気信号を記録し、これより被測定空孔構造光ファイバのモードフィールド径を算出することを特徴とする空孔構造光ファイバのモードフィールド径測定方法。前記空孔構造光ファイバが単一モード動作するものであり、前記可変開口角部の開口角の最大値θmaxと、前記空孔構造光ファイバに係る空孔間ピッチΛとが下記式θmax≧37.348Λ02696を満たすように設定されることを特徴とする請求項1に記載の空孔構造光ファイバのモードフィールド径測定方法。前記可変開口角部の開口角の最大値θmaxと、前記空孔構造光ファイバに係るコア領域を取り囲む複数の空孔に内接する円の直径2a0とが下記式θmax≧42.9352a002823を満たすように設定されることを特徴とする請求項1に記載の空孔構造光ファイバのモードフィールド径測定方法。長手方向に複数の空孔を有する空孔構造光ファイバのモードフィールド径を測定する装置であって、被測定空孔構造光ファイバの一端に入射するための所定の測定波長の光波を発生する送信部と、被測定空孔構造光ファイバの他端から出射される光波の開口角を任意に設定する可変開口角部と、前記可変開口角部を介して被測定空孔構造光ファイバの他端から出射される光波を受光し、その光パワーに応じた電気信号に変換する受光器と、受光器から出力される電気信号を記録して処理する信号処理部とを少なくとも備え、前記信号処理部は、送信部で発せられた所定の測定波長の光波を被測定空孔構造光ファイバの一端に入射し、可変開口角部における開口角の最大値を20°以上として、0°から当該最大値まで逐次変化させた時に受光器から出力される光パワーに応じた電気信号を記録し、これより被測定空孔構造光ファイバのモードフィールド径を算出することを特徴とする空孔構造光ファイバのモードフィールド径測定装置。前記空孔構造光ファイバが単一モード動作するものであり、前記可変開口角部の開口角の最大値θmaxと、前記空孔構造光ファイバに係る空孔間ピッチΛとが下記式θmax≧37.348Λ02696を満たすように設定されることを特徴とする請求項4に記載の空孔構造光ファイバのモードフィールド径測定装置。前記可変開口角部の開口角の最大値θmaxと、前記空孔構造光ファイバに係るコア領域を取り囲む複数の空孔に内接する円の直径2a0とが下記式θmax≧42.9352a002823を満たすように設定されることを特徴とする請求項4に記載の空孔構造光ファイバのモードフィールド径測定装置。前述したように、一般的なMFD測定方法では、空孔構造光ファイバのMFDを決定することができないという課題があった。また、相加平均を用いてMFDを取得する方法においては、最大値と最小値を決定するために相当数の回数で測定を行う必要があるため、手順が煩雑であるとともに多大な測定時間を要するといった課題があった。さらに、最大値を抽出する際と最小値を抽出する際とで測定の精度が変化し、結果として得られるMFDの精度が劣化するといった課題があった。本発明の目的は、空孔構造光ファイバのMFDを、煩雑な測定手順をかけることなく、1度の測定で精度良く、かつ一意に測定可能とすることにある。本発明では、可変開口角部を用い、その開口角を適切に制御することにより、前記課題を解決する。本発明によれば、空孔構造光ファイバのMFDを1度の測定で精度良く、かつ一意に測定でき、空孔構造光ファイバの接続性を従来の光ファイバの接続性と同様に評価することが可能となる。以下、図面を参照して発明の実施の形態を説明する。図1は本発明の空孔構造光ファイバのモードフィールド径測定装置の実施の形態の一例を示すもので、図中、1は広帯域光源、2は分光器、3は可変開口角VariableAngularAperture部、4は受光器、5は信号処理部、6は表示部、7は高次モード除去器、8は調芯台、9はレンズである。広帯域光源1は、比較的広い波長帯に亘る光波を発生するもので、白色光源、LED、SLD、SC光などが利用できる。分光器2は、広帯域光源1で発せられた光波から被測定空孔構造光ファイバ、例えばAの一端に入射する所定の測定波長の光波を取り出す。なお、広帯域光源1および分光器2により、被測定空孔構造光ファイバAの一端に入射するための所定の測定波長の光波を発生する送信部が構成されるが、前記所定の測定波長の光波をそのまま発生可能な単一の光源に置き換えることもできる。可変開口角部3は、被測定空孔構造光ファイバAの他端と受光器4との間に設置され、被測定空孔構造光ファイバAの他端から出射される光波の開口角を任意に設定する。なお、開口角は、光ファイバの光軸を基準とする角度で表され、その設定可能な範囲は0°~90°である。受光器4は、可変開口角部3を介して被測定空孔構造光ファイバAの他端から出射される光波を受光し、その光パワーに応じた電気信号に変換する。信号処理部5は、受光器4から出力された電気信号を記録し、後述する如く処理してMFDの測定を行う。表示部6は、信号処理部5で処理された結果を表示する。高次モード除去器7は、前記測定波長において送信部の出射光が単一モードではなく、かつ被測定空孔構造光ファイバAが単一モード動作しない場合に、高次モードの測定結果への影響を低減するためのもので、被測定空孔構造光ファイバAの前段、つまり分光器2と被測定空孔構造光ファイバAの一端との間に挿入され、分光器2の出力光から高次モード光を除去する。なお、高次モード除去器7としては、測定波長帯で単一モード動作が可能な単一モード光ファイバなどが利用できる。調芯台8は、被測定空孔構造光ファイバAの他端の中心軸を可変開口角部3の中心に位置合わせするためのものであり、また、レンズ9は可変開口角部3を通過した光波を受光器4に集光するためのものである。前記構成において、広帯域光源1から発せられた光波は分光器2により所定の測定波長、例えばλの光波が取り出された後、被測定空孔構造光ファイバAの一端に入射される。被測定空孔構造光ファイバAを伝搬し、その他端から出射された光波は可変開口角部3により任意の開口角、例えばθに絞られ、受光器4に受光され、このときの光パワーPθに応じた電気信号の値が信号処理部5で記録される。可変開口角部3における開口角θを0°からθmaxまで逐次変化させ、それぞれの開口角における光パワーPθを取得し、これらに基づき、信号処理部5で下記式によって波長λにおけるMFD2Wを算出する。ここで、θmaxは、可変開口角部3における開口角の最大値を表す。このとき、被測定空孔構造光ファイバAのFFPを2次元的に取得できるため、空孔構造光ファイバのような非軸対照構造であっても、その設置方向を考慮する必要なく、MFDを測定できる。従って、非特許文献2に示されるように、光ファイバ断面内の軸方向に依存するMFDの最大値と最小値を探索する必要がないため、装置構成および測定手順が簡単になるとともに測定精度が向上し、好ましい。図2は任意の開口角における受光パワーおよび式によって計算したMFDを示す。図中の実線および破線は一般的な単一モードファイバSMFにおける値を、一点鎖線および二点差線はPCFにおける値を表す。ここで、SMFにおいてはコア直径および比屈折率差をそれぞれ84μmおよび035とし、PCFにおいては空孔間ピッチΛおよび規格化空孔直径空孔直径dと空孔間ピッチΛとの比d/Λをそれぞれ76μmおよび043とした。また、可変開口角部3における開口角の最大値θmaxは30°とした。受光パワーについては、開口角10°前後でSMFとPCFに波形の違いが出ていることが確認できる。また算出したMFDについては、SMFとPCFのどちらも開口角を大きくするに伴い一定の値に収束し、θmaxにおいてSMF、PCFに対してそれぞれ88μm、85μmである。SMFとPCFのMFDは比較的近い値であるにも拘わらず、MFDの開口角に対する依存性は大きく異なる。即ち、SMFに対しては開口角12°以下で急激にMFDが増加するのに対し、PCFでは17°以下で急激にMFDが増加した。これらの受光パワーおよびMFDの開口角に対する変化の違いは、PCFが有する光ファイバ構造の非軸対称性によるものと考えられる。図3に、MFDの開口角に対する依存性を示す。ここで縦軸は各開口角におけるMFDの、θmaxにおけるMFDに対する比、即ちMFDの真値からの相対誤差を表す。実線はSMFにおける値を、破線、点線、一点鎖線はそれぞれΛが10μm、5μm、3μmの場合のPCFにおける値である。但し、d/Λは05とした。どの光ファイバであっても、開口角を大きくすることで一定の値MFDθmaxに収束する。ここで非特許文献1によれば、SMFのMFD測定における測定誤差を1以下とするためには開口数を025以上、即ち開口角を15°以上まで測定する必要がある旨が記載されている。図3において測定誤差を1以下とする場合、SMFについては16°以上の開口角が必要となり、非特許文献1における条件と良く一致する。一方、PCFの場合、コア領域が大きい場合、例えばΛが10μmのときは20°以上の開口角が必要となるが、コア領域が小さい場合、例えばΛが3μmのときは27°以上の開口角が必要となる。従って、空孔構造光ファイバのMFDを測定する場合、少なくとも従来の光ファイバを測定する場合よりも大きな開口角が必要であり、さらにはコア領域の大きさに応じて開口角の最大値を適切に設定する必要がある。図4は、PCFにおいて誤差1以下でMFDを測定するために必要となる開口角とPCFの空孔間ピッチおよび空孔直径との関係を示す。横軸は空孔間ピッチΛであり、縦軸は前記開口角の最大値θmax=30°におけるMFDに対して誤差が1となる開口角である。図中の○、□、△はそれぞれd/Λが03、05、07に対して得られた開口角、実線は近似曲線である。即ち、図4の実線より上の領域において、PCFのMFDに対する測定誤差を1未満とすることができる。図4より、空孔間ピッチΛが大きくなり、または空孔直径dが小さくなるとき、PCFのMFDを誤差1以下で測定するために最小限必要な開口角は小さくなることがわかる。ここで非特許文献3より、通信波長帯で単一モード動作を得るためにはPCFの規格化空孔直径d/Λが約05またはそれ以下の値である必要がある。また、図4より、d/Λが小さくなると必要な開口角も小さくなるため、開口角を図4の破線即ち、d/Λ=05のとき以上の値とすることで、いかなる単一モードPCFについても測定誤差を1以下とすることができる。ここで、破線は、べき乗近似により、θmax=37.348Λ02696として得られる。従って、単一モードPCFについては、測定前または測定と同時に空孔間ピッチを取得し、可変開口角の最大値を式によって設定することで、PCFのMFDを精度良く測定することが可能である。図5は、PCFにおいて誤差1以下でMFDを測定するために必要となる開口角とPCFの空孔内接円直径との関係を示す。横軸は空孔内接円直径、つまりコア領域を取り囲む1層目の空孔に内接する円の直径2a0=2Λ-dであり、縦軸は前記開口角の最大値θmax=30°におけるMFDに対して誤差が1となる開口角である。図中の○、□、△は図4に示した値であり、実線はこれらをべき乗近似により近似した曲線である。即ち、図5の実線より上の領域において、PCFのMFDに対する測定誤差を1未満とすることができる。図5より内接円直径2a0が大きくなるほど、PCFのMFDを誤差1以下で測定するために最小限必要な開口角は小さくなることがわかる。また、内接円直径2a0が15μm以下であるPCFについては、MFDの測定誤差を1以下とするためには開口角の最大値を少なくとも20°以上に設定する必要がある。また図3~5より、必要な開口角はコア領域の大きさ、即ち空孔に内接する円の大きさに応じて減少することから、内接円直径が15μm以上においても開口角が20°以上であれば、測定誤差は1未満となる。また図5における近似曲線は、内接円直径2a0に対して、θmax=42.9352a002823であった。このときの近似精度を表すR2値は097であり、必要な開口角は内接円直径2a0に対して式を用いて良く表せることがわかる。従って、被測定光ファイバがPCFのとき、測定前または測定と同時に空孔構造に係る幾何学的なパラメータを取得し、可変開口角の最大値を式によって設定することで、PCFのMFDを精度良く測定することが可能である。表1に本発明のMFD測定方法および装置を用いて測定したMFDの値を示す。被測定光ファイバにはSMFと、空孔構造の異なる3種類のPCF、および空孔構造の異なる3種類のHAFを用いた。また比較のため、従来のFFP法を用いて光ファイバに回転を与えながら複数回測定を行って得られたMFDの最大値、最小値、平均も示している。その結果、SMFについては、従来のFFP法では回転量によらず一定の値が得られており、その平均値、最大値、最小値は同等の値となっている。また本発明の測定方法による測定結果もFFP法と同等の値が得られており、本発明の測定方法がSMF等の従来のSMFに適用できることがわかる。また全てのPCFおよびHAFについては、本発明の測定方法によるMFDと従来のFFP法における平均値との間で、大きな差分はなく同等の結果が得られた。また従来のFFP法では、最大値および最小値を求めるためにファイバの回転を与えながら相当回数の測定を行わなければならず、測定手順の煩雑化や測定時間の増大、さらには測定器内にファイバの回転を与える機構が必要となる。一方、本発明の測定方法および装置によればファイバの回転機構は必要なく1度の測定で十分な精度のMFDが得られ、好ましい。次に、本発明の空孔構造光ファイバのMFD測定方法および装置で得られるMFDの測定結果と接続損失との関係について説明する。MFDがそれぞれ2W1、2W2である2つの光ファイバを接続する際、軸ずれ量dを伴う場合、結合効率ηは式で得られる。ここで、接続損失は、-10logηによって、dB単位で得られる。図6に、軸ずれを与えたときに起因する損失の測定結果と式により計算した軸ずれ損失を示す。図中の○、□、△はそれぞれ、表1に示したSMF、PCF-1、HAF-1における接続損失変化量の測定結果を表し、また、図中の実線、破線、点線はそれぞれ、表1に示したSMF、PCF-1、HAF-1における本発明の測定方法によって得たMFDを用いて式によって計算した接続損失を表している。SMF、PCF-1、HAF-1の全てに対し、測定結果と計算値が良く一致していることがわかる。従って、本発明の測定方法で得られたMFDは接続性に対して、従来の光ファイバにおけるMFDと接続性との関係と同じ関係を有することが確認できる。即ち、本発明の測定方法および装置によって得られた空孔構造光ファイバのMFDを用いて、従来の光ファイバと全く同様に同種および異種光ファイバ間の接続性を評価することができる。