"測定対象である帯電物体の表面までの距離を計測する距離センサと、帯電物体の表面電位であって、帯電物体との距離に応じて減衰する減衰曲線に沿った電位を検出する電位検出手段と、演算手段とを備え、上記演算手段は、距離L、定数a,bとするとともに予め設定された基準距離Lbにおいて1となり、上記減衰曲線の距離依存性をなくすための補正係数αを算出する演算式としてα=a×Lbを記憶し、上記距離センサで検出した距離Lに基づいて上記補正係数αを演算し、上記電位検出手段で検出した電位に、上記補正係数αを乗算してこの乗算結果を上記帯電物体の表面電位として出力する表面電位測定装置。上記従来の表面電位測定装置は、正確な測定値を得るために、距離センサを利用して、測定対象と検出電極との距離を予め決められた距離にしなければならない。このように、距離を合わせてから電位を測定する装置では、帯電物体の帯電状態が変化したり、移動したりするような場合には対応できず、正確な測定値を得ることができなかった。この発明の目的は、帯電物体との測定距離の依存性がなく、正確な測定ができる表面電位測定装置を提供することである。この発明は、測定対象である帯電物体の表面までの距離を計測する距離センサと、帯電物体の表面電位であって、帯電物体との距離に応じて減衰する減衰曲線に沿った電位を検出する電位検出手段と、演算手段とを備え、上記演算手段は、距離L、定数a,bとするとともに予め設定された基準距離Lbにおいて1となり、上記減衰曲線の距離依存性をなくすための補正係数αを算出する演算式としてα=a×Lbを記憶し、上記距離センサで検出した距離Lに基づいて上記補正係数αを演算し、上記電位検出手段で検出した電位に、上記補正係数αを乗算してこの乗算結果を上記帯電物体の表面電位として出力することを特徴とする。この発明によれば、電位検出手段と帯電物体との距離が異なっても、基準距離で測定したときの値に換算して出力されるため、測定値が測定距離に依存しない。また、測定時に、距離を合わせる必要がないので、移動する帯電物体や、帯電状況が変化する帯電物体についても、測定が可能である。図1は、この発明の実施形態の表面電位測定装置の構成図である。この実施形態の表面電位測定装置は、本体1内に、この発明の演算手段である演算部2と、これに接続した電位検出手段3と、距離センサ4と、出力部7とからなる。電位検出手段3は、従来装置と同様に、電位を検出するための検出電極5と、この検出電極5の電位に基づいて帯電物体Tの表面電位を出力する検出部6とを備えている。検出部6は、具体的には、上記検出電極5の電位を計測するとともに、その計測値と予め設定された定数とを乗算して、表面電位の計測値Vmをとして演算部2に対して出力する。上記定数は、表面電位が分かっている帯電物体Tを、上記検出電極5からの距離を予め設定した基準距離Lbに保った状態で計測したときの、検出電極の電位の値に対する上記表面電位の比率である。つまり、上記検出部6は、従来の表面測定装置と同様に構成され、上記検出電極5と帯電物体Tとの距離を基準距離Lbに維持して測定したときには、この検出部6から出力される検出値Vmが帯電物体Tの表面電位の値となる。しかし、実際には測定距離が基準距離Lbからずれることがあり、その場合には上記検出値Vmは帯電物体Tの正しい表面電位とならない。そのため、この実施形態では上記演算部2において、上記検出値Vmを補正するようにしている。この補正については、後で説明するが、上記演算部2は、上記距離センサ4によって計測した帯電物体までの距離に応じて検出値Vmを補正し、表面電位測定値の距離依存性をなくす機能を備えている。また、距離センサ4は、測定対象である帯電物体Tの表面から上記検出電極5までの測定距離Lmを測定するセンサであり、その計測値Lmを上記演算部2へ入力するものである。なお、この距離センサ4の距離の測定原理は、例えば、超音波の反射を利用したものや、光学的なものなどどのようなものでもよい。さらに、上記出力部7は、演算部2で補正された電位測定値を出力するための、ディスプレイなどである。但し、この出力部7を外部のプリンターやディスプレイに接続して、これら外部装置に測定値を表示させるようにしてもよい。次に、上記演算部2の機能について説明する。この演算部2は、上記検出部6から入力された検出値Vmを、実際の測定距離に応じて補正する機能を備えている。このように、測定距離に応じた補正が必要な理由は以下の理由による。上記検出部6は、検出電極5の電位を測定するが、この検出電極5の電位は、帯電物体Tの表面電荷量と、検出電極5と帯電物体Tの表面との間の静電容量C1によって決まる。この静電容量C1は、帯電物体Tと検出電極5間の距離L、誘電率ε0、電極面積Sのとき、C1=ε0S/Lとなる。すなわち、静電容量C1は、測定距離Lに反比例し、検出電極の電位も測定距離Lに反比例する。従って、検出電極5の電位に、定数をかけた検出値Vmも、測定距離Lに反比例する減衰曲線を描く。そのため、上記検出値Vmをそのまま帯電物体Tの表面電位Vとした場合、その測定距離が予め設定された基準距離Lbのときにだけ、正しい値となる。図2は検出値Vmと測定距離Lとの関係を示した減衰曲線である。このグラフに示すように、基準距離Lbで測定したときの検出値V0が、帯電物体Tの表面電位を表す値であるとき、測定距離が基準距離Lbよりも大きいL1のとき、検出値V1は上記検出値V0よりも小さくなり、基準距離Lbよりも小さいL2のとき、検出値V2は上記検出値V0よりも大きくなる。これら検出値V1やV2を、基準測定距離Lbで測定した場合のV0に補正する必要がある。演算部2は、上記補正のための補正係数αを算出する下記の演算式1を記憶している。但し、a,bは定数、Lmは距離センサ4が計測した測定距離である。α=aLmb1上記演算式1は、測定距離Lmが基準距離Lbのときに、α=1となる直線で表すことができる。なお、上記定数a、bは、表面電位の減衰曲線から、実験的に求めた値である。上記補正係数αは、図3に示すように、基準距離Lbのときにα=1であり、測定距離L>基準距離Lbのときにはα<1、測定距離L<基準距離Lbのときにはα>1となる。そして、演算部2は、上記演算式1に上記距離センサ4から入力された測定距離を代入して補正係数αを算出し、検出部6から入力された検出値Vmに上記補正係数αを乗算してその値を帯電物体Tの表面電位として出力部7へ出力する。上記のように、この実施形態の表面電位測定装置では、表面電位を測定するときに、同時に計測した測定距離に基づいて補正係数αを算出し、この補正係数αによって電位の検出値を補正している。そのため、上記検出電極5と帯電物体Tとの距離、すなわち測定距離を厳密に合わせなくても、正確な表面電位測定ができる。特に、測定距離を合わせることが難しい、移動する帯電物体や、状況が変化する帯電物体についても、正確な表面電位測定が可能である。なお、上記実施形態では、上記検出部6において、検出電極5の電位に定数を乗算して表面電位に換算する演算を実行するようにしているが、この演算処理を上記演算部2で行うようにしてもよい。そして、上記補正係数αを乗算してから上記定数を乗算するようにしてもよいし、上記補正αに上記定数値を含むようにしてもよい。"