"光学式位置測定機構であって、光源、空間内で可動の測定リフレクタ、検知ユニットおよび光源から発光された少なくとも一つの光束を測定リフレクタの方向に向けることができる光線偏向ユニットを有しており、光線偏向ユニットに二つのカルダンフレームを備えたカルダン構造を含んでおり、その内の第一カルダンフレームは第一回転軸を中心に変位自在であり、第一カルダンフレーム内にある第二カルダンフレームは、第一回転軸に対して直角に向いた第二回転軸を中心に変位自在であり、二つの回転軸は、参照リフレクタが配設されている位置固定された参照点で交差している、光学式位置測定機構において、カルダンフレーム41,42に多数のミラー45.1~45.4が固定して配設されており、複数のミラー45.1~45.4を介することにより光束SMが、測定リフレクタ50へ向けられる時に位置固定された参照点Rを中心に旋回自在であることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項1に記載の光学式位置測定機構において、-光束SMが、第一カルダンフレーム41の第一回転軸A1に沿って入射し、-光路にある最初のミラー45.1により、第一回転軸A1から離れるように光束SMを偏向し、-第一回転軸A1と関連する光路にある最後のミラー45.2により、それに入射する光束SMを第二カルダンフレーム42の第二回転軸A2の方向へ偏向し、そして-第二回転軸A2と関連する光路にある最後のミラー45.4により、それに入射する光束SMを位置固定された参照点Rの方向へ偏向することを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項1に記載の光学式位置測定機構において、光源10が静止状態で配設されており、そして光源10から発光された光束SMを、光線偏向ユニット40を介して測定リフレクタ50に送ることができることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項1または3に記載の光学式位置測定機構において、検知ユニット60が静止状態で配設されており、そして参照リフレクタ30および測定リフレクタ50により逆反射された光束SR,SMを、検知ユニット60に送ることができることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項1に記載の光学式位置測定機構において、参照リフレクタ30が、球対称の逆反射リフレクタまたは三角プリズムまたは三角ミラーとして構成されていることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項1に記載の光学式位置測定機構において、第一カルダンフレーム41が第一駆動部43と連結されており、第二カルダンフレーム42が第二駆動部44と連結されていることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項6に記載の光学式位置測定機構において、駆動部43,44がそれぞれ、ピエゾ直接駆動部として構成されていることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項1に記載の光学式位置測定機構において、-第一ミラー45.1が、光線偏向ユニット40の入光範囲において、第一回転軸A1上で第一カルダンフレーム41に配設されており、-第二ミラー45.2が、第二カルダンフレーム42の支承範囲において、第二回転軸A2に対して同心で第一カルダンフレーム41に配設されており、-第三ミラー45.3が、第二回転軸A2に対して同心で、第二カルダンフレーム42に配設されており、そして-第四ミラー45.4が、第二回転軸A2の外側で第二カルダンフレーム42に配設されていることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項1に記載の光学式位置測定機構において、-第一カルダンフレーム41に少なくとも二つのミラー45.1,45.2が配置されており、最初のミラー45.1が、光路において第一回転軸A1上に配設されており、そして最後のミラー45.2が、光路において第一回転軸A1の外側で第二回転軸A2上に配設されており、そして-第二カルダンフレーム42に少なくとも二つのミラー45.3,45.4が配置されており、最初のミラー45.3が、光路において第二回転軸A2上に配設されており、そして最後のミラー45.4が、光路において第二回転軸A2の外側に配設されていることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項9に記載の光学式位置測定機構において、第一カルダンフレーム41で光路にある最後のミラー45.2が、第二カルダンフレーム42の第二回転軸A2上の位置に配設されており、それに入射する光束SMを第二回転軸A2に沿って偏向するように方向を向けられていることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項10に記載の光学式位置測定機構において、-第二カルダンフレーム42にある最後のミラー45.4を除いて光路にある全てのミラー45.1~45.3が、それに入射する光束SMを光路においてそれぞれ後続するミラーの方向へそれぞれ偏向するように、方向を向けて配設されており、そして-第二カルダンフレーム42にある最後のミラー45.4が、それに入射する光束SMを位置固定された参照点Rの方向へ偏向するように、方向を向けて配設されていることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項6または11に記載の光学式位置測定機構において、-第一駆動部43が、第一回転軸A1を中心にして第一カルダンフレーム41の少なくとも360°の回転を、そして-第二駆動部44が、第二回転軸A2を中心にして第二カルダンフレーム42の少なくとも90°の回転を可能にすることを特徴とする、光学式位置測定機構。請求項6に記載の光学式位置測定機構において、-検知ユニット60にセンサユニットを含んでおり、それが位置固定された参照点Rからの、測定リフレクタ50により逆反射された光束SMの横方向偏差を検出して、偏差信号に変換し、そして-制御演算ユニット70が、偏差信号を介して第一および第二駆動部43,44用の制御信号を生成できるように構成されており、それにより第一および/または第二回転軸A1,A2を中心にして第一および/または第二カルダンフレーム41,42を変位することにより、横方向偏差を最小化することを特徴とする、光学式位置測定機構。本発明の課題は、光束を測定リフレクタの方向に向けるために備えている光線偏向ユニットを、出来るだけ簡単且つコンパクトに構成した光学式位置測定機構を得ることである。この課題を本発明により、請求項1の特徴を備えた光学式位置測定機構により解決する。本発明による光学式位置測定機構の利点ある実施方法は、従属請求項に記載の対応により得られる。本発明による光学式位置測定機構は、光源、空間内で可動の測定リフレクタ、検知ユニットおよび、光源から発光された少なくとも一つの光束を測定リフレクタの方向に向けることができる光線偏向ユニットを有している。光線偏向ユニットに二つのカルダンフレームを備えたカルダン構造を含んでおり、その内の第一カルダンフレームは第一回転軸を中心に動作的に変位自在であり、第一カルダンフレーム内にある第二カルダンフレームは、第一回転軸に対して直角に向いた第二回転軸を中心に動作的に変位自在である。二つの回転軸は、参照リフレクタが配設されている位置固定された参照点で交差している。カルダンフレームに多数のミラーが固定して配設されているので、複数のミラーを介することにより光束が、測定リフレクタへ向けられる時に位置固定された参照点を中心に旋回自在である。本発明による機構の可能性ある実施形態では、-光束が、第一カルダンフレームの第一回転軸に沿って入射し、-光路にある最初のミラーにより、第一回転軸から離れるように光束を偏向し、-第一回転軸と関連する光路にある最後のミラーにより、それに入射する光束を第二カルダンフレームの第二回転軸の方向へ偏向し、そして-第二回転軸と関連する光路にある最後のミラーにより、それに入射する光束を位置固定された参照点の方向へ偏向するようになっている。光源が静止状態で配設されており、そして光源から発光された光束を、光線偏向ユニットを介して測定リフレクタに送ることができると利点がある。検知ユニットが静止状態で配設されており、そして参照リフレクタおよび測定リフレクタにより逆反射された光束を、検知ユニットに送ることができると同じく利点がある。参照リフレクタが、球対称の逆反射リフレクタまたは三角プリズムまたは三角ミラーとして構成されていることもある。利点ある実施形態では、第一カルダンフレームが第一駆動部と連結されており、第二カルダンフレームが第二駆動部と連結されている。そのとき駆動部がそれぞれ、ピエゾ直接駆動部として構成されているようにする場合がある。本発明による機構の別の実施形態では、-第一ミラーが、光線偏向ユニットの入光範囲において、第一回転軸上で第一カルダンフレームに配設されており、-第二ミラーが、第二カルダンフレームの支承範囲において、第二回転軸に対して同心で第一カルダンフレームに配設されており、-第三ミラーが、第二回転軸に対して同心で、第二カルダンフレームに配設されており、そして-第四ミラーが、第二回転軸の外側で第二カルダンフレームに配設されているようにしていることがある。更に、-第一カルダンフレームに少なくとも二つのミラーが配置されており、この最初のミラーが、光路において第一回転軸上に配設されており、そしてこの最後のミラーが、光路において第一回転軸の外側で第二回転軸上に配設されており、そして-第二カルダンフレームに少なくとも二つのミラーが配置されており、この最初のミラーが、光路において第二回転軸上に配設されており、そしてこの最後のミラーが、光路において第二回転軸の外側に配設されていることがある。この場合に第一カルダンフレームで光路にある最後のミラーが、第二カルダンフレームの第二回転軸上の位置に配設されており、それに入射する光束を第二回転軸に沿って偏向するように方向を向けられていることがある。ここで更に、-第二カルダンフレームにある最後のミラーを除いて光路にある全てのミラーが、それに入射する光束を光路においてそれぞれ後続するミラーの方向へそれぞれ偏向するように、方向を向けて配設されており、そして-第二カルダンフレームにある最後のミラーが、それに入射する光束を位置固定された参照点の方向へ偏向するように、方向を向けて配設されているようにしていることがある。利点があるのは、-第一駆動部43が、第一回転軸A1を中心にして第一カルダンフレーム41の少なくとも360°の回転を、そして-第二駆動部44が、第二回転軸A2を中心にして第二カルダンフレーム42の少なくとも90°の回転を可能にする時である。最後にあげるのは、本発明による機構において、-検知ユニットにセンサユニットを含んでおり、それが位置固定された参照点からの、測定リフレクタにより逆反射された光束の横方向偏差を検出して、偏差信号に変換し、そして-制御演算ユニットが、偏差信号を介して第一および第二駆動部用の制御信号を生成できるように構成されており、それにより第一および/または第二回転軸を中心にして第一および/または第二カルダンフレームを変位することにより、横方向偏差を最小化することがある。本発明による光学式位置測定機構の特別な利点として、光線偏向ユニットの動作部品の質量を著しく低減できることが挙げられる。設けられたカルダン構造の可動カルダンフレームを共に旋回せねばならないのは、小さい構造で軽量のミラーのみである。ここでは、価格的に有利に入手できる簡単な平面ミラーを使用することができる。よって、動作質量が小さいことにより、光線偏向ユニットで可動の部品に対する要求も著しく低下する。その結果は、本発明による機構にとって低減された製造コストである。更に、光線偏向ユニットまで乃至から光束を伝送するために、光ファイバを使用する必然性がなくなる。それに関連する構造サイズの制限が、本発明による機構を使うことにより回避される、即ち、これをコンパクトな構成で実施することができる。本発明の別の利点と詳細は、添付図面を使った以下における実施例の説明から分かる。図1においては本発明による光学式位置測定機構の実施例を、非常に概略化した形態で示している。図で示しているのは、機構全体における幾つかの機能ブロックのみであり、詳細には残りの図を使い、以下において特に光線偏向ユニットを説明する。本発明による光学式位置測定機構が図示の実施例で含んでいるのは、光源10、分光ユニット20、位置固定された参照リフレクタ30、光線偏向ユニット40、空間内で可動の測定リフレクタ50、検知ユニット60、および制御演算ユニット70である。例えばレーザとして構成された光源10から発光された光束Sは変化することなく、まず分光ユニット20を通過する。これは例えば、λ/4位相差プレートを備えた偏光分光器として構成されていることがある。引き続き光束Sは光線偏向ユニット40において、そこで中心に配設された参照リフレクタ30に当たる。入射する光束Sの一部が、即ち光束SRとして、参照リフレクタ30により入射方向とは逆に、再び分光ユニット20に向かって逆反射される。よって、逆反射された光束SRを介して、意図する干渉計方式距離測定用の参照分岐光路が構成される。参照リフレクタ30は、図1において好ましい実施形態で示しているように、逆反射特性を備えた球対称の参照リフレクタとして実施されている。そこで参照リフレクタに入射する光束Sの一部が、反射するボール内面で焦点が合い、そこから参照光束SRとして、入射する光束Sの方向に逆反射される。そのとき球状の参照リフレクタ30の中心は、位置固定された参照点Rと一致している。入射する光束Sで参照リフレクタ30により反射されない部分は、光束SMとして測定リフレクタ50の方向に更に進み、それにより干渉計方式距離測定用の測定分岐光路を構成する。可能性のある変形例においては本発明による機構の球状参照リフレクタ30が、片側を反射性材料でコーティングした透明なボールで出来ており、そのボール材料は屈折率n=2を有している。これに関しては、刊行物レーザトラッカーターゲットとしての全視野角キャッツアイリフレクタ、トシユキタカツジ他、1999年、測定科学技術、10N87を参照されたい。可能性がある別の実施形態では、参照リフレクタ30が三角ミラーまたは三角プリズムとして構成されていることもある。参照リフレクタ30に対しては更に、勿論別の構成の可能性も考慮できる。参照リフレクタ30の光学的機能に関して必要なことは、入射する光束Sの一部がそれを介して再び分光ユニット20の方向に逆反射されるということのみである。参照リフレクタ30の当該中心は、既に上記で述べたように、以下においても位置固定された参照点Rとしても表すことになる。測定分岐光路を構成する光束SMは光線偏向ユニット40を介して、空間内で可動の測定リフレクタ50の方向に偏向される乃至向けられる。そのために行われる光線偏向ユニット40の具体的な構成は、続く説明経過の中で更に詳細に説明する。測定リフレクタ50に光束SMを向けることは、光束SMが常に位置固定された参照点Rを中心にして旋回するように、光線偏向ユニットを介して行う。測定リフレクタ50により、それに入射する光束SMが入射方向とは反対に逆反射され、光線偏向ユニット40を介して再び分光ユニット20に到達する。そのとき測定リフレクタ50は、本発明による光学式位置測定機構を介して位置を測定する空間内の点に配置されている。測定リフレクタ50としては参照リフレクタ30の場合のように、逆反射する光学要素で同じ変形例、即ち例えば球状測定リフレクタ、三角ミラーまたは三角プリズム等が考慮される。測定分岐光路の測定光束SMは、最終的に同じく分光ユニット20に逆反射される参照分岐光路からの光束SRと一緒に、検知ユニット60の方向に進む。そこで得られるのは、相対測定する干渉計方式の場合には、位置固定された参照リフレクタ30ないし参照点Rと空間内で可動の測定リフレクタ50間の距離が変化する時に、変化した距離の量を表す干渉信号である。検知ユニット60に含まれるのは、検知のために好ましくは多数の光電式検知要素であり、それを介して位相がずれた多数の干渉信号を検出することができる。検知ユニット60を介して生成された干渉信号は、後に配設された制御演算ユニット70により更に処理される。これは例えば、適切なコンピュータとして構成されていることがあり、それを介して干渉信号の計算と距離の特定、および/または参照リフレクタ30ないし参照点Rと測定リフレクタ50間における距離変化の特定を行う。本発明による機構においては基本的に、異なった干渉計方式測定原理を使用することができる。例えば距離変化のみを検出する相対測定原理にも、或いは参照リフレクタ30ないし参照点Rと測定リフレクタ50の距離の直接特定を可能にする絶対測定原理も適している。制御演算ユニット70を使うことにより、多数の距離、距離変化、および/または角度の測定結果から、測定リフレクタないし必要とする空間ポイントの三次元位置を特定することができる。更に制御演算ユニット70は、距離および場合により位置を特定する他に、光線偏向ユニット40の-図1で示していない-駆動部のコントロールを行い、それにより測定分岐光路における測定光束SMを、空間内で可動の測定リフレクタ50に追随させる。そのために検知ユニット60には、少なくとも一つの-図示していない-センサ要素を含んでおり、それが、測定リフレクタ50により逆反射された光束SMの位置固定された参照点Rからの、場合により現れる横方向偏差を検出して偏差信号に変換する。検出された横方向偏差を最小化して測定分岐光路における光束SMを空間内の測定リフレクタ50に追随させるために、制御演算ユニット70は、偏差信号を介して光線偏向ユニット40の駆動部用の制御信号を生成できるように構成されている。以下においては別の図を使い、本発明による光学式位置測定機構の光線偏向ユニットで利点ある例を説明する。図2aと2bはそれぞれ、図1における本発明による光学式位置測定機構で使用できるような、当該形式光線偏向ユニット40の立体部分外観を示している。ここで二つの図2aと2bの違いは、それにより偏向される測定分岐光路の光束SMの方向であり、その光束が-この図では図示していない-測定リフレクタの方向に進む。本発明による機構の光線偏向ユニット40には、第一カルダンフレーム41と第二カルダンフレーム42を備えたカルダン構造を含んでいる。第一カルダンフレーム41は、駆動部43を介して第一回転軸A1を中心に動作的に変位自在であり、或いは旋回自在である。第二カルダンフレーム42は、駆動部44を介して第二回転軸A2を中心に動作的に変位自在である。カルダンフレーム41,42と連結された二つの駆動部43,44は、ピエゾ直接駆動部として構成されていると好ましい。二つのカルダンフレーム41,42の回転軸A1,A2は互いで直角方向を向いており、見て分かるように位置固定された参照点Rで交差し、上記したようにその参照点に参照リフレクタが配設されている。図2a,2bにおいて参照リフレクタは、光路における小さなボールとして概略的に図示している。呈示の例ではカルダンフレーム41,42に、簡単な平面ミラーとして構成された合計4個のミラー45.1~45.4が固定して配設されている。それを正確に配置するためには以下の説明を参照されたい。図2aにおいて左側から第一回転軸A1に沿って入射する光束SMは、この光束SMが測定リフレクタ50に向けられる時に常に、位置固定された参照点Rを中心に旋回するように、光線偏向ユニット40の種々ミラー45.1~45.4を介して方向転換される。それにより空間内における測定リフレクタの位置に関係なく、それに向けられた光束SMは、光線偏向ユニット40の選択された構成により位置固定された参照点Rに常に重なる。光束SMが空間内でそれぞれ異なった位置に向けられている二つの図2aと2bを使って、このことを明らかにすることにする。二つのケースで光束SMは、測定リフレクタの異なった空間位置へ向けられる時に、図から分かるように位置固定された参照点Rを中心にして旋回する。従って、二つの回転軸A1,A2を中心にして二つのカルダンフレーム41,42を規定量変位ないし旋回することを介して、空間内で可動の測定リフレクタの方向に光束SMを向け、これに追随させることができる。このような形式と方法により、空間内の任意点と位置固定された参照点R間で、高精密な干渉計方式距離測定が可能である。光線偏向ユニット40の構成に基づき、-図2a,2bで図示していない-光源を検知ユニットとしても、静止状態ないし固定して配設できる場合がある。参照リフレクタ30において問題なく光束SR,SMに分離され、続いて参照リフレクタと測定リフレクタで光束SM,SRが逆反射された後に、これらは最終的に光線偏向ユニット40を介して検知ユニットに送られる。偏向ユニット40に向かって光束SM,SRを送ることも、反射された光束SM,SRを固定された検知ユニットに向かって送ることも、図2a,2bで分かるように第一カルダンフレーム41の第一回転軸A1に沿って行われる。光源および検知ユニットが静止状態で配設されていることにより、本発明による機構では光線偏向ユニット40内にある可動部品の質量を著しく削減できる。理解し易くする理由から光線偏向ユニット40の内部では、測定分岐光路を構成すると共に測定リフレクタに向けられる光束SMの光路のみを図示している。従って光線偏向ユニット40の内部で、少なくとも光束SMが以下で説明する偏向作用を受ける。光束SM,SRは、-図2a,2bで分かるように-図示している実施例では、第一カルダンフレーム41の第一回転軸A1に沿って光線偏向ユニット40に入射する。光線偏向ユニット40の入光範囲において、第一ミラー45.1が第一カルダンフレーム41に第一回転軸A1上で固定して配設されている。光路にある第一ミラー45.1を介して、それに入射する光束SM,SRが第一回転軸A1から離れるように、第一回転軸A1の外側にある第二ミラー45.2の方向へ偏向する。第二ミラー45.2は第二カルダンフレーム42の支承部分で、第二回転軸A2に対して同心で第一カルダンフレーム41に固定して配設されている。従ってミラー45.2は、第二カルダンフレーム42が旋回する時に、第二回転軸A2を中心に回転しない。第二ミラー45.2を介することにより、それに入射する光束SM,SRが、第二回転軸A2の方向ないし第三ミラー45.3の方向へ偏向される。第一カルダンフレーム41において光路で最後のミラー45.2は基本的に、第二カルダンフレーム42の第二回転軸A2上の位置に配設されていると共に、それに入射する光束SM,SRを第二回転軸A2に沿って偏向するように方向が向けられている。第三ミラー45.3は、第二回転軸A2に対して同心で第二カルダンフレーム42に配設されている。従って、第二カルダンフレーム42が第二回転軸A2を中心に回転する場合には、第三ミラー45.3は第二回転軸A2を中心に一緒に回転する。第三ミラーを介して、それに入射する光束SM,SRが、最終的に第四ミラー45.4の方向に偏向される。第四ミラー45.4は、第二回転軸A2の外側で第二カルダンフレーム42に固定して配設されている。第四ミラー45.2を介することにより最終的に、それに入射する光束SM,SRが、位置固定された参照点Rの方向に偏向される。種々のミラー45.1~45.4を二つのカルダンフレーム41,42に配設する時に注意すべきことは、第二カルダンフレーム42にある最後のミラー45.4を除いて、光路における全てのミラー45.1~45.3がそれぞれ、それに入射する光束SM,SRを光路においてそれぞれ後続するミラーの方向に偏向するように向けて配設されていることである。それに対して第二カルダンフレーム42にある最後のミラー45.4は、それに入射する光束SM,SRを位置固定された参照点Rの方向に偏向するように向けて配設されている。図示している実施例では、このように動作的に変位自在である二つのカルダンフレーム41,42に種々のミラー45.1~45.4を配設することを介して、光束SMの方向を測定リフレクタに向ける時に、この光束SMが常に位置固定された参照点Rを中心に旋回することが確保される。よって、光束SMが到達できる測定リフレクタのいずれの空間位置においても、測定分岐光路の光束SMが参照点Rに重なる。そのとき測定リフレクタに関する光束SMの方向と追随は、光線偏向ユニット40において二つの駆動部43,44を使い、二つのカルダンフレーム41,42を規定量変位することにより行う。そのためには駆動部43,44に、制御演算ユニットにより対応する制御信号を与える。以下においては図3と4を使って、どのように二つのカルダンフレーム41,42を規定量変位して、光束SMを空間内で可動の測定リフレクタの方向に向けることができるかを説明することにする。ここで図3は、先に説明した光線偏向ユニット40の立体的図示および、二つのカルダンフレーム41,42を対応して回転することを介して光束SMにより網羅ないし走査できる面を示している。図4では、図2a,2bによる光線偏向ユニット40を使って実現可能な、多数の走査軌道ないし走査模様を有するこの面の二次元外観を示している。図3における参照符号は、図2a,2bでのものと同一で選んでいる。図から分かるように、記載している断面内で円環状走査範囲100に光束SMを向けることは、光線偏向ユニット40により可能である。この走査範囲100にある各位置に測定リフレクタを配設することができ、そして二つの回転軸A1,A2を中心にして二つのカルダンフレーム41,42を対応して変位することにより、光束SMを当該位置に方向を向ける。図4において、第二回転軸A2を中心とした第二カルダンフレーム42の変位角ΔαA2を介して、円環中心Zからのこの面に衝突する光束SMの衝突点の距離が設定される。参照方向に関する面におけるこの衝突点の方位角度位置は、第一回転軸A1を中心とした第一カルダンフレーム41の変位角ΔαA1を介して設定される。よって、第一および第二回転軸A1,A2を中心にして二つのカルダンフレーム41,42を規定量変位することにより、この断面の光束SMを介して円環状走査範囲100の各点に到達できる。この走査範囲を完全にカバーするために利点ある実施形態では、第一駆動部43が、第一回転軸A1を中心にして少なくとも360°の第一カルダンフレーム41の回転を可能にし、そして第二駆動部44が、第二回転軸A2を中心にして少なくとも90°の第二カルダンフレーム42の回転を可能にするようにしている。しかしながら基本的には、カルダンフレーム41,42の別の旋回範囲を設けることもできる;それにより網羅する走査範囲は場合により小さくなる。具体的に説明した実施例の他にも本発明の範疇では勿論、本発明による光学式位置測定機構には代替実施の可能性もある。それで光線偏向ユニットで説明した例では、例えば使用するミラーの数に関して変更することもできる。例えば光束の方向転換のために、カルダンフレーム当たり二つだけではなく多数のミラーを設けることも可能である。この場合に特に、第一カルダンフレーム41にある第一および第二ミラー45.1,45.2の間に、更に別のミラーを配置するようにしていることもある;同じく、第二カルダンフレームにある第三および第四ミラー45.3,45.4間の光路に、更に追加のミラーを配設していることもある。更に、光線偏向のために優先して使用するミラーを、光線偏向に適している代替の光学的構成要素により置き換えることも可能である。考えられるのは例えば、対応して構成されたプリズム、反射透過格子、クサビ状プレート、またはこのような形式の組み合わせであろう。更に、入射する光束の断面を適切に制限する等の絞りを、一つ又は複数のミラーに配設することもある。"