"Cuの含有量がCuO換算で1モル以上10モル以下であり、Fe,Zn,Ni,CuおよびOを含むスピネル構造の結晶が主相として存在するとともに、平均粒径が0.5μm以上10μm以下であるCu化合物の粒子が結晶粒界に存在することを特徴とするフェライト焼結体。前記主相に含まれるCuの濃度Xと、前記Cu化合物に含まれるCuの濃度Yとの比率X/Yが0.1以上0.33以下であることを特徴とする請求項1に記載のフェライト焼結体。前記Cu化合物がCu2Oとして存在することを特徴とする請求項1または2に記載のフェライト焼結体。前記Cu化合物の粒子の50以上が前記Cu2Oとして存在することを特徴とする請求項3に記載のフェライト焼結体。前記主相を構成する成分100質量に対し、Ca,SiおよびPの酸化物をそれぞれCaO,SiO2およびP2O5に換算した値の合計で0.005質量以上0.1質量以下含むことを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載のフェライト焼結体。前記主相を構成するCu以外の成分組成が、FeをFe2O3換算で40モル以上50モル以下、ZnをZnO換算で15モル以上35モル以下およびNiをNiO換算で10モル以上30モル以下であることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載のフェライト焼結体。前記主相を構成する成分100質量に対し、TiをTiO2換算で0.5質量以下0質量を含まず含むことを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載のフェライト焼結体。前記結晶粒界にZn化合物が存在することを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれかに記載のフェライト焼結体。請求項1乃至請求項8のいずれかに記載のフェライト焼結体に金属線を巻きつけてなることを特徴とするノイズフィルタ。特許文献1は、損失コアロスが小さく、比抵抗の大きいフェライト焼結体について記載されているものであり、今般の電子機器の小型化や薄型化に対応するために、フェライト焼結体に求められる強度向上について記載されたものではなかった。また、車載用のノイズフィルタに用いるフェライト焼結体には、樹脂モールド後の硬化の際に加わる外部応力により、焼結体の一部に欠けや亀裂が生じて破損することの少ないことが求められている。本発明は、強度の向上したフェライト焼結体およびこれを備えるノイズフィルタを提供することを目的とするものである。本発明のフェライト焼結体は、Cuの含有量がCuO換算で1モル以上10モル以下であり、Fe,Zn,Ni,CuおよびOを含むスピネル構造の結晶が主相として存在するとともに、平均粒径が05μm以上10μm以下であるCu化合物の粒子が結晶粒界に存在することを特徴とするものである。また、本発明のノイズフィルタは、上記の構成のフェライト焼結体に金属線を巻きつけてなることを特徴とするものである。本発明のフェライト焼結体によれば、Cuの含有量がCuO換算で1モル以上10モル以下であり、Fe,Zn,Ni,CuおよびOを含むスピネル構造の結晶が主相として存在するとともに、平均粒径が05μm以上10μm以下であるCu化合物の粒子が結晶粒界に存在することにより、主相である結晶の粒成長を抑制し微細結晶からなる組織形態とすることができるとともに、結晶粒界の破壊の伝播を抑制することができるため、強度の向上したフェライト焼結体とすることができる。また、本発明のノイズフィルタによれば、上記の構成のフェライト焼結体に金属線を巻き付けてなることにより、優れたノイズ除去性能を有するノイズフィルタとすることができる。以下、本実施形態のフェライト焼結体およびこれを用いたノイズフィルタの一例について説明する。本実施形態のフェライト焼結体は、Cuの含有量がCuO換算で1モル以上10モル以下であり、Fe,Zn,Ni,CuおよびOを含むスピネル構造の結晶が主相として存在するとともに、平均粒径が05μm以上10μm以下であるCu化合物の粒子が結晶粒界に存在することを特徴とする。これにより、主相である結晶の粒成長を抑制し微細結晶からなる組織形態とすることができるとともに、外部応力による結晶粒界の破壊の伝播を抑制することができるため、強度の向上したフェライト焼結体とすることができる。また、Cu化合物の粒子は、結晶粒界の中でも3重点に存在すると、結晶粒界の破壊の伝播をさらに効果的に抑制することができる。また、主相の粒成長を抑制してさらに微細結晶からなる組織形態とし、結晶粒界の破壊の伝播をさらに抑制するには、Cu化合物の平均粒径が1μm以上5μm未満の範囲とすることが好ましい。ここで、フェライト焼結体中に、Fe,Zn,Ni,CuおよびOを含むスピネル構造の結晶が存在しているか否かについては、X線回折装置XRDを用いて測定し、得られたX線回折チャートからJCPDSカードを用いて同定すればよい。また、エネルギー分散型X線回折装置EDS付き走査型電子顕微鏡SEMによっても同定可能である。また、透過型電子顕微鏡TEMによりフェライト焼結体の任意の表面を観察し、エネルギー分散型X線回折装置を用いた制限視野電子回折法によっても同定することが可能である。また、Cu化合物の粒子の平均粒径については、エネルギー分散型X線回折装置付き走査型電子顕微鏡によって、任意の表面において特定した複数例えば10個のCu化合物の粒径を測定し、得られた10個の粒径の平均値を算出することで求めることができる。なお、粒径は、対象粒子の内接円と外接円との直径の平均値を対象粒子の粒径とする。また、エネルギー分散型X線回折装置付き透過型電子顕微鏡を用いても求めることができる。また、本実施形態のフェライト焼結体において、主相に含まれるCuの濃度Xと、Cu化合物に含まれるCuの濃度Yとの比率X/Yが01以上033以下であることが好ましい。比率X/Yが01以上033以下であるときには、さらにフェライト焼結体の強度を向上させることができる。なお、主相に含まれるCuの濃度Xと、Cu化合物に含まれるCuの濃度Yとの比率X/Yは、例えば、波長分散型X線マイクロアナライザ装置WDX-EPMAを用いることによって算出することができる。具体的には、フェライト焼結体の任意の表面のCu元素の分布状態を波長分散型X線マイクロアナライザ装置により測定したカラーマッピング画像から、検出される特性X線の強度のカウント値の大きい箇所をCu化合物とみなし、任意で選択した複数のCu化合物におけるCuのカウント値の平均値をCuの濃度Y、Cu化合物の存在していない主相部分の複数箇所におけるCuのカウント値の平均値をCuの濃度Xとし、比率X/Yを算出する。そして、上述した算出方法におけるCu化合物が結晶粒界に存在しているか否かの確認については、カラーマッピング画像と同様の箇所を撮影したSEM写真を用いて行なうことができる。また、本実施形態のフェライト焼結体はCu化合物がCu2Oとして存在することが好ましい。フェライト焼結体は、その一部に電極部を形成する際に、酸性めっき液、例えばリン酸系水溶液などに所定時間浸漬し、その後Niめっき、Znめっき、Snめっき、Ni-ZnめっきまたはSn-Znめっきなどから適宜選択されためっき処理が行なわれる。このとき、フェライト焼結体において、Cu化合物がCu2Oとして存在するときには、Cu2Oは酸性めっき液に対する耐食性に優れているため、酸性めっき液浸漬後においてもフェライト焼結体の強度を維持することができる。また、本実施形態のフェライト焼結体は、Cu化合物の粒子の50以上がCu2Oとして存在することがより好ましい。Cu2Oは上述したように、酸性めっき液に対して高い耐食性を有しており、Cu2Oが存在する割合を高めることで、より酸性めっき液への耐食性が向上し、フェライト焼結体の強度をより高く維持できる。なお、Cu化合物がCu2Oとして存在しているか否かの確認については、例えば、フェライト焼結体の一部を機械研磨し、その表面をイオンミリング装置により加工し、結晶粒界に存在するCu化合物の粒子の化合物構造について、透過型電子顕微鏡を用いた制限視野電子回折法によって確認すればよい。そして、Cu化合物の50以上がCu2Oとして存在しているか否かについては、結晶粒界に存在が確認される少なくとも10個のCu化合物ついて上述した化合物構造の確認を繰り返すことによって確認することができる。また、本実施形態のフェライト焼結体において、主相を構成する成分100質量に対し、Ca,SiおよびPの酸化物をそれぞれCaO,SiO2およびP2O5に換算した値の合計で0005質量以上01質量以下含むことが好ましい。Ca,SiおよびPの酸化物を上述した範囲で含むときには、Ca,SiおよびPの酸化物が焼結助剤として作用し、焼結を促進させ組織を緻密化できるために、フェライト焼結体の強度を向上させることができる。また、本実施形態のフェライト焼結体は、主相を構成するCu以外の成分組成が、FeをFe2O3換算で40モル以上50モル以下,ZnをZnO換算で15モル以上35モル以下およびNiをNiO換算で10モル以上30モル以下それぞれ含有することが好ましい。ここで、FeをFe2O3換算で40モル以上50モル以下としたのは、この範囲でFeを含有すれば、電気抵抗値が高くなり、良好な絶縁性を示す傾向となるからである。また、ZnをZnO換算で15モル以上35モル以下としたのは、この範囲でZnを含有すれば、キュリー温度Tcが高くなる傾向にあるからである。また、NiをNiO換算で10モル以上30モル以下としたのは、この範囲でNiを含有すれば、キュリー温度と透磁率μとが高くなる傾向にあるからである。これにより、強度に優れるとともに、良好な透磁率およびキュリー温度を示すフェライト焼結体とすることができる。また、強度に優れるとともに、より良好な透磁率およびキュリー温度を示すフェライト焼結体とするには、主相を構成する成分は、FeをFe2O3換算で49モル以上50モル以下,ZnをZnO換算で25モル以上35モル以下、NiをNiO換算で10モル以上20モル以下およびCuをCuO換算で4モル以上7モル以下であることが好ましい。さらに、本実施形態のフェライト焼結体は、主相を構成する成分100質量に対し、TiをTiO2換算で05質量以下0を含まず含むことが好ましい。主相を構成する成分100質量に対し、TiをTiO2換算で05質量以下0を含まず含むときには、透磁率を向上させることができるとともに透磁率の温度変化率を抑えることができる。そして、Ti成分は、凝集することなく結晶粒界に分散して存在していることが好ましい。なお、Ti成分の結晶粒界への分散性については、例えば、フェライト焼結体の任意の表面のTi元素の分布状態を波長分散型X線マイクロアナライザ装置を用いて測定し、カラーマッピングした画像を観察することで確認することができる。観察の結果、分散性が悪いものは結晶粒界に相当する部分にTi元素が局所的に高濃度、すなわちカウント値が大きいことから、カラーマッピングした画像では他の結晶粒界に相当する部分よりも異なる色調で表示される。また、本実施形態のフェライト材料は不可避不純物として例えば、S,Cr2O3,ZrO2等をいずれも005質量以下の範囲で含んでもよい。そして、フェライト焼結体の主相を構成する成分組成については、ICPInductivelyCoupledPlasma発光分光分析装置または蛍光X線分析装置を用いて、Fe,Zn,NiおよびCuの金属元素量を求めてそれぞれFe2O3,ZnO,NiOおよびCuOに換算し、得られた換算値とそれぞれの分子量からモルを算出すればよい。また、Ca,Si,PおよびTiについても、同様にICP発光分光分析装置または蛍光X線分析装置を用いて、Ca,Si,PおよびTiの金属元素量を求めてそれぞれCaO,SiO2,P2O5およびTiO2に換算し、主相を構成する成分100質量に対する質量割合を算出すればよい。また、本実施形態のフェライト焼結体において、結晶粒界にZn化合物が存在することがより好ましい。Zn化合物が結晶粒界に存在するときには、主相間における磁力の相互作用が抑制され、透磁率の温度変化率を小さくすることができる。特に、このZn化合物は、結晶粒界の中でも3重点に存在していることが好ましい。なお、本実施形態において、Zn化合物とは、Znの酸化物およびZnとOとFe,Ni,CuおよびTiの少なくとも1種とを含む化合物のいずれかのことである。また、Zn化合物は、フェライト焼結体の一部を機械研磨し、その表面をイオンミリング装置により加工し、結晶粒界に存在する粒子の化合物構造について、透過型電子顕微鏡を用いたにより、制限視野電子回折法によって確認すればよい。次に、本実施形態のフェライト焼結体の製造方法について以下に詳細を示す。まず、Fe,Zn,Ni,Cuの酸化物あるいは焼成により酸化物を生成する炭酸塩、硝酸塩等の金属塩からなる1次原料を用い、これらを所定の割合で調合する。このとき、Cuの酸化物あるいは焼成により酸化物を生成する炭酸塩、硝酸塩などのCu源となる1次原料については、その粒径が15μm以上15μm以下と比較的大きな粒径のものを用いることが好ましい。より好ましくは、粒径が3μm以上10μm以下である。また、Ca,SiおよびPの酸化物をCaO,SiO2およびP2O5に換算した値の合計で0005質量以上01質量以下含むには、1次原料100質量に対し、0005質量以上01質量以下添加すればよい。そして、各1次原料を調合後、ボールミルや振動ミル等で粉砕混合した後、700°C以上900°C以下の最高温度で仮焼して仮焼粉体を得る。このとき最高温度までの昇温速度としては、50°C/hr以上とすることが好ましい。最高温度までの昇温速度が50°C/hr以上であると、主相へのCuの固溶を抑制することができ、05μm以上10μm以下の平均粒径のCu化合物が結晶粒界に存在しやすくなる。次に、得られた仮焼粉体に所定量のバインダを加えたスラリーを噴霧造粒装置スプレードライヤにて球状顆粒に造粒し、得られた球状顆粒を用いてプレス成形して所定形状の成形体を得る。その後、成形体を脱脂炉にて400~800°Cの範囲で脱脂して脱脂体とした後、これを焼成炉にて1000~1200°Cの最高温度で焼成することにより本実施形態のフェライト焼結体を得ることができる。このとき焼成工程における700°Cから最高温度までの昇温速度を50°C/hr以上300°C/hr以下とする。この範囲の温度で昇温することにより、主相へのCuの固溶を抑制し、05μm以上10μm以下の平均粒径のCu化合物が結晶粒界に存在しやすくなるので、フェライト焼結体の強度を向上させることができる。また、上記成形体の焼成工程において、焼成時の最高温度を所定時間保持後に、300°Cまでの降温速度を400°C/h以上として降温すれば、Cu化合物をCu2Oとして存在させることができる。さらに、300°Cまでの降温速度を500°C/h以上とすることで結晶粒界に存在するCu化合物の50以上をCu2Oとすることができる。また、焼成後のフェライト焼結体を800°C以上1200°C以下の温度で、3分以上30分以下の時間で熱処理することで、主相に含まれるCu成分が移動しやすくなり、結晶粒界に存在するCu化合物の濃度を高めることができる。すなわち、上記温度で熱処理することにより、主相に含まれるCuの濃度Xと、Cu化合物に含まれるCuの濃度Yとの比率X/Yの値は小さくなり、比率X/Yを01以上033以下とすることができる。また、本実施形態の他の製造方法としては、仮焼粉体に1μm以上12μm以下のCuOを加える方法を適用することも可能である。なお、この製造方法を用いる場合は、仮焼粉体に加えるCuOの量の分だけ、1次原料として調合するときの量を減少させる。仮焼粉体に加えるCuOの添加量については、モル比率でCuOの全含有量の30以下とするのがよい。なお、仮焼粉体に、必要に応じてTiO2、あるいは焼成によりTiO2を生成する炭酸塩,硝酸塩等の金属塩を、仮焼粉体を100質量としたとき05質量以下の範囲内となるように加えれば、透磁率を向上させるとともに透磁率の温度変化率を低下させることができる。また、仮焼粉体に2μm以上4μm以下のZnOを加えることにより、フェライト焼結体の結晶粒界にZn化合物を存在させることができる。なお、仮焼粉体へのZnOの添加量は、ZnO換算で0001モル以上003モル以下であることが好ましい。そして、このような製造方法により得られた本実施形態のフェライト焼結体は、強度に優れていることから、部材の小型化や薄型化に対応可能なものとすることができる。また、本実施形態のフェライト焼結体は、金属線を巻きつけてなることにより、電気回路のノイズ除去に用いられるノイズフィルタとして用いることができる。さらに、主相を構成する成分組成の調整によっては、優れた強度に加えて、透磁率およびキュリー温度が高く、透磁率の温度変化率の絶対値の小さいフェライト焼結体とすることができるので、これに金属線を巻き付けてなるノイズフィルタは、優れたノイズ除去性能を有するものとなる。図1は、本実施形態のフェライト焼結体の一例を示す、aはトロイダルコアの斜視図であり、bはボビンコアの斜視図である。そして、本実施形態のノイズフィルタは、図1aに示す例のようなリング状のトロイダルコア1、あるいは、図1bに示す例のようなボビン状のボビンコア2のそれぞれ巻き線部1a,2aに金属線を巻き付けてコイルを形成してなるものである。次に、本実施形態のフェライト焼結体の特性の評価方法について説明する。3点曲げ強度については、JISR1601-2008に準拠した試験片形状および測定方法により求めることができる。透磁率については、例えば外形寸法が、外径13mm、内径7mm、厚み3mmの図1aに示すリング状トロイダルコア1の形状のフェライト焼結体に、線径02mmの被膜導線を、巻き線部1aの全周にわたって均一に10回巻き、LCRメータにおいて周波数100kHzの条件で測定することにより求めることができる。また、透磁率の温度変化率は、同様の試料を用いて、恒温槽内の測定治具に接続する。なお、測定治具はLCRメータに接続されており、100kHzの周波数で測定し、25°Cでの透磁率をμ25、25°Cから-40°Cまで降温したときにおける最も低い透磁率をμ-40、25°Cから150°Cまで昇温したときにおける最も高い透磁率をμ150とし、低温側の透磁率の温度変化率X-40~25をμ-40-μ25/μ25×100の計算式で、高温側の透磁率の温度変化率X25~150をμ150-μ25/μ25×100の計算式で求めることができる。さらに、キュリー温度は、同様の試料を用いて、LCRメータを用いたブリッジ回路法により求めることができる。以下、本発明の実施例を具体的に説明するが、本発明はこの実施例に限定されるものではない。表1に示すFe2O3,NiO,ZnOの総量比率は同じとし、CuOの添加量や粒径、また仮焼時および焼成時の条件を異ならせたフェライト焼結体を作製し、結晶粒界に存在するCu化合物の平均粒径および3点曲げ強度の測定を実施した。まず、粒径05μm以上3μm以下のFe2O3,ZnOおよびNiO粉末と、1μm~17μmの粒径のCuO粉末とを表1に示す割合となるように秤量し、ボールミルで粉砕混合した後、表1に示す昇温速度で昇温して最高温度800°Cで仮焼した。そして、得られた仮焼粉体にバインダを加えたスラリーを噴霧造粒装置スプレードライヤで球状顆粒に造粒し、得られた球状顆粒を用いてプレス成形して縦が40mm、横が55mm、長さが65mmの角柱形状の成形体を得た。なお、各試料ともにそれぞれ複数成形した。その後、成形体を脱脂炉にて600°Cの最高温度で5時間保持して脱脂して脱脂体を得た。しかる後、脱脂体を焼成炉に入れて大気雰囲気中で700°Cから最高温度1150°Cまでを表1に示す昇温速度で昇温して最高温度1150°Cで3時間保持して焼結体を得た。その後、得られた焼結体である各試料に研削加工を施し、厚さが3mm、幅が4mm、全長が45mmの試験片形状を得た。そして、この試験片を用いてJISR1601-2008に準拠して3点曲げ強度を測定した。また、3点曲げ強度の測定後の試料について、エネルギー分散型X線回折装置付き走査型電子顕微鏡によって、任意の表面における各試料につき10個のCu化合物の粒径を測定し、得られた10個の粒径の平均値を算出することにより、平均粒径を求めた。なお、フェライト焼結体中に、Fe,Zn,Ni,CuおよびOを含むスピネル構造の結晶が存在していることについては、X線回折装置XRDを用いて測定し、得られたX線回折チャートからJCPDSカードを用いて同定することにより確認した。また、フェライト焼結体の主相を構成する成分組成については、ICP発光分光分析装置を用いて、Fe,Zn,NiおよびCuの金属元素量を求めてそれぞれFe2O3,ZnO,NiOおよびCuOに換算し、得られた換算値とそれぞれの分子量からモルを算出し、表1の添加量通りの組成となっていることを確認した。表1の結果から、試料No.2~5,8~13,16,17および19~24は、3点曲げ強度が150MPa以上であったことから、CuOが1モル以上10モル以下であり、Cu化合物の平均粒径が05μm以上10μm以下であることにより、フェライト焼結体の強度向上が図れることがわかった。また、Cu化合物の平均粒径が1μm以上5μm未満である試料No.4,5,9,10,17,20~22の3点曲げ強度は175MPa以上となり、特に高いことがわかった。また、フェライト焼結体に平均粒径が05μm以上10μm以下のCu化合物を結晶粒界に存在させるには、CuO添加量が1モル以上10モル以下、CuO1次原料の粒径が15μm以上15μm以下、仮焼時の昇温速度が50°C/hr以上、焼成時の昇温速度が50°C/hr以上300°C/hr以下が好ましいことがわかった。次に、仮焼粉体にCuOを添加する方法を用いてフェライト焼結体を作製し、結晶粒界に存在するCu化合物の平均粒径および3点曲げ強度の測定を実施した。なお、試料の作製は、仮焼後の粉体にCuOを表2に示す添加量および粒径で添加すること以外は実施例1の表1の試料No.19と同様の製造方法により行なった。また、結晶粒界に存在するCu化合物の平均粒径の測定および3点曲げ強度の測定については実施例1と同様の方法で行なった。また、CuOの添加量は、いずれの試料も調合時と仮焼粉体添加時と併せて5モルである。結果を表2に示す。表2の結果から、試料No.39~41および44~46は、3点曲げ強度が150MPa以上であったことから、仮焼粉体に1μm以上12μm以下のCuOを添加することによっても、結晶粒界に存在するCu化合物の平均粒径が05μm以上10μm以下であれば、フェライト焼結体の強度向上が図れることがわかった。また、試料No.38~42と43~47の強度の結果から、仮焼粉体へのCuO添加量は、モル比率でCuOの全添加量の30以下であることが好ましいことがわかった。次に、表1の試料No.4と同様の製造方法にて作製した試料を用いて、表3に示す温度で5分間熱処理した試料No.48~54を得た。また、試料No.55は、熱処理を行なっていない試料No.4と同様のものである。そして、それぞれの試料の主相に含まれるCuの濃度XとCu化合物に含まれるCuの濃度Yについて、波長分散型X線マイクロアナライザ装置を用いてCu元素の分布状態を測定し、得られたカラーマッピング画像からCu化合物の存在を確認し、任意で5個のCu化合物を選択し、これらのCuのカウント値の平均値であるCu化合物に含まれるCuの濃度Yを求めた。また、Cu化合物の存在していない主相部分から任意で5箇所選択し、これらのCuのカウント値の平均値である主相に含まれるCuの濃度Xを求めた。そして、比率X/Yを算出した。結果を表3に示す。なお、上述したCu化合物の選択箇所と同様の箇所を撮影したSEM写真によりCu化合物が結晶粒界に存在していることを確認した。また、3点曲げ強度の測定については、実施例1と同様の方法でおこなった。結果を表3に示す。表3の結果から、熱処理温度が800~1200°Cの範囲とした試料No.49~53は、3点曲げ強度の値が200MPa以上であり、比率X/Yが01以上033以下であることによって強度の向上が図れることがわかった。次に、結晶粒界に存在するCu2Oの影響について確認する試験を実施した。まず、実施例1と同様の製造方法を用いて、表1の試料No.17と同様の試料の脱脂体を準備した。そして、最高温度1150°Cで3時間保持して焼成し、その後の300°Cまでの降温速度を300,400,500,550,600°C/hでそれぞれ降温させた試料No.56~59を得た。なお、降温時はダンパーを開放し、かつ焼成炉内に挿入した金属製パイプから常温の空気を送り込み実施した。その後、各試料についてCu化合物がCu2Oとして結晶粒界に存在しているかを確認した。まず、各試料を機械加工により複数に細かく切断し、切断された試料表面を機械研磨し、その表面をイオンミリング装置により加工した。次に、加工後の試料表面を透過電子顕微鏡を用いた制限視野電子回折法によって、結晶粒界に存在するCu化合物の粒子の化合物構造を確認した。なお、この確認は、各試料につき10個行なった。そして、Cu2Oの存在の有無およびCu2Oの存在割合を算出した。次に、各試料を無電解ニッケルめっきに用いられる酸性めっき液である次亜リン酸水溶液中に5分間浸漬した後、純水中で洗浄し、JISR1601-2008に準拠して3点曲げ強度を測定した。結果を表4に示す。表4の結果から、300°Cまでの降温速度が300°C/hである実施例1の試料No.17については、Cu2Oの存在が確認されず、浸漬していないときの3点曲げ強度190MPaに対し、酸性めっき液浸漬後の3点曲げ強度の値が155MPaまで低下していた。これに対して、300°Cまでの降温速度が400°C/h以上である試料No.56~59は、Cu2Oの存在が確認され、3点曲げ強度の値が160Mpa以上であり、結晶粒界に存在するCu2Oが酸性めっき液に対する耐食性に優れていることにより、フェライト焼結体の強度を維持できることがわかった。また300°Cまでの降温速度が500°C/h以上である試料No.57~59は、Cu2Oが存在する結晶粒界の存在割合が50以上であることにより、3点曲げ強度の値が175MPa以上であり、フェライト焼結体の強度をさらに高く維持できることがわかった。次に、Ca,SiおよびPの酸化物を含む試料を作製し、3点曲げ強度の測定を実施した。表1の試料No.17と同様の組成範囲とし、この成分100質量に対し、CaO,SiO2およびP2O5を表5に示す量で調合時に添加して実施例1と同様の製造方法により、厚さが3mm、幅が4mm、全長が45mmの試験片形状の試料No.60~83を得た。その後、JISR16012008に準拠して3点曲げ強度を測定した。結果を表5に示す。表5の結果から、試料No.67~80は、3点曲げ強度の値が200MPa以上であり、Ca,SiおよびPの酸化物をそれぞれCaO,SiO2およびP2O5に換算した値の合計で0005質量以上01質量以下含むことにより、強度向上が図れることがわかった。次に、Fe2O3,NiO,ZnOおよびCuOの組成を異ならせた試料を作製し、これら試料の透磁率、キュリー温度および透磁率の温度変化率について評価する試験を実施した。なお、試料の製造方法については、焼成後の試料サイズを外径13mm、内径7mm、厚み3mmのトロイダルコアの形状とした以外は、実施例1の試料No.16と同様の製造方法で作製した。そして、得られた試料に線径02mmの被膜銅線を10ターン巻き付けてLCRメータを用いて100kHzの周波数の条件で透磁率を測定した。また、透磁率の測定に用いた試料と同様の試料を用いて、LCRメータを用いたブリッジ回路法によりインダクタンスを測定し、キュリー温度を求めた。また、透磁率μの測定に用いた試料と同様の試料を用いて、-40°C,25°C,150°Cの透磁率μ-40,μ25,μ150をそれぞれ測定し、-40°Cから25°Cの透磁率の温度変化率X-40~25をμ-40/μ25×100の計算式で、25°Cから150°Cの透磁率の温度変化率X25~150をμ150/μ25×100の計算式で求めた。結果を表5に示す。表6の結果から、FeをFe2O3換算で40モル以上50モル以下、ZnをZnO換算で15モル以上35モル以下、NiをNiO換算で10モル以上30モル以下およびCuをCuO換算で1モル以上10モル以下であることにより、透磁率およびキュリー温度が高いとともに、透磁率の温度変化率の小さいフェライト焼結体とできることがわかった。また、FeをFe2O3換算で49モル以上50モル以下、ZnをZnO換算で25モル以上35モル以下、NiをNiO換算で10モル以上20モル以下およびCuをCuO換算で4モル以上7モル以下であることにより、透磁率およびキュリー温度がより高く、透磁率の温度変化率の小さいフェライト焼結体とできることがわかった。次に、Fe2O3,NiO,ZnOおよびCuOの組成と、TiO2の添加量とを異ならせた試料を作製し、これら試料の透磁率、キュリー温度および透磁率の温度変化率について評価する試験を実施した。なお、仮焼粉体100質量に対し、表7に示す範囲でTiO2を添加すること以外は、実施例1の試料No.16と同様の製造方法により試料を作製し、測定方法については、実施例6と同様の方法で行なった。また、実施例6の試料No.84~103と実施例7の試料No.104~123は、TiO2の含有の有無のみが異なるものである。表7の結果から、TiをTiO2換算で05質量以下含むことにより、透磁率向上させるとともに透磁率の温度変化率を低下できることがわかった。特に、FeをFe2O3換算で49モル以上50モル以下、ZnをZnO換算で25モル以上35モル以下、NiをNiO換算で10モル以上20モル以下およびCuをCuO換算で4モル以上7モル以下であり、TiをTiO2換算で05質量以下含むときには、さらに透磁率およびキュリー温度が高く、透磁率の温度変化率の小さいフェライト焼結体とできることがわかった。次に、Fe2O3を50モル、NiOを15モル、CuOを5モル、TiO2を03質量とし、ZnOについては、平均粒径が3μmのものを用い、調合時および仮焼粉体への添加量を表8に示すようにしたこと以外は、実施例7の試料No.120と同様の製造方法により試料を作製した。そして、実施例4と同様の方法でZn化合物の確認を行なった。また、透磁率、キュリー温度および透磁率の温度変化率の測定方法については、実施例6と同様の方法で行なった。結果を表8に示す。なお、キュリー温度については、変化が見られなかったため記載を省略した。表8の結果から、Zn化合物が結晶粒界に存在することにより、透磁率の温度変化率を小さくできることがわかった。また、仮焼粉体に添加するZn化合物の添加量が、0005モル以上003モル以下であれば、透磁率を維持もしくは向上させるとともに、透磁率の温度変化率を小さくできることがわかった。"