放射ビームが放射源から検査さるべき試料を介して放射検出器に判る光学路に沿って走り、上記光学路中に視準素子を有するコリメータが存在し、上記コリメータは、放射ビームを通るように動く結果、上記放射ビームの開口角を変化させることを可能にする、検査さるべき試料の放射分析用装置であって、上記コリメータは、放射ビームにさらされる視準素子の長さが結果として変化されるように放射ビームを通るように変動可能で、上記視準素子はそれ自体閉じた断面を有し相互に異なった長さを有するチャネルの形を有し、上記動きはチャネルの長手方向に対し横方向に変位する、ことを特徴とする放射分析用装置。上記チャネルはX線光ファイバーで実現される、請求項1記載の放射分析用装置。視準素子を有し、放射ビームによる放射分析用装置に用いられ、上記放射ビームを通るような動きを与える動き機構を有し、上記放射ビームに対する可変開口角を示すコリメータであって、上記動き機構は上記視準素子の可変の長さを上記放射ビームにさらすよう設けられ、結果として上記放射ビームに対する可変開口角が得られ、かつ上記視準素子はそれ自体閉じた断面を有するチャネルの形をしており、該チャネルは相互に異なった長さを有し、上記動き機構はチャネルの長手方向に対し横方向にコリメータを変位させるよう配置されている、ことを特徴とするコリメータ。上記チャネルはX線光ファイバーで実現される、請求項3記載のコリメータ。本発明の目的は、放射ビーム開口角が連続的に可変であり、比較的簡単な方法で製造されうる放射分析用装置を提供することにある。この目的を達成するため、本発明による装置は、放射ビームにさらされた視準素子の長さが結果として変えられる様に、コリメータが放射ビーム中で動けるようにしたことを特徴とする。本発明は、寸法の差が、あらゆる種類の装置で屡々固有のものであるが、開口角の上記変化をもたらす様に、開口角の意図した変化は動きによって得られうることの認識に基づいている。しかしながら、これらの固有の寸法の差が用いられることは必ずしも必要ではない。代りに、製造するのに容易な寸法の差を適用することが可能である。本発明の一実施例においては、視準素子はそれ自体閉じた断面を有するチャネルの形状を有し、その溝は互いに異なった長さを有し、その動きチャネルの長手方向に対し横方向の変位よりなる。チャネルはX線光ファイバ、例えばガラスファイバとして実現できる。しかしながら、かかるファイバは極めて細く、このためファイバで作られたコリメータは極めて多数のファイバよりなり、任意の形に容易に製造しえない。しかしながら、ファイバの積重を作ることは大いに可能であり、この積重は側面が例えば三角形を有し、かく形成されたコリメータをファイバの長手方向軸に対し横方向に変位させることにより、異なった長さのファイバがビーム中に供給される。本発明を図面を参照してより詳細に説明する。図中、同一参照符号は同一素子を示す。放射分析用装置がX線分析装置、特にX線回析装置により形成された一実施例を参照して本発明を説明する。ここで、分析用放射はX線放射の形を有する。しかしながら、本発明は、コリメータが分析放射ビーム用に用いられる全ての放射分析用装置に適用可能である。図1はこの場合X線回析装置である公知のX線分析装置の系統図を示す。この装置において、ゴニオメータ4がフレーム2に設けられる。このゴニオメータ4は、それに取付けられたX線源7及びそれに取付けられた検出装置9の角回転を測定する角度エンコーダを設けられる。ゴニオメータは更に試料10が配置される試料ホルダ8を設けられる。角度エンコーダは試料の角度回転の測定が重要な場合用に試料ホルダ上に設けられてもよい。X線源7は固定リング20によりホルダに固定されるX線管図示せず用のホルダ12を含む。このX線管は高圧とフィラメント電流を高圧ケーブル18を介してX線管に印加する高電圧コネクタ15を含む。X線管15の同じ側に、X線管の冷却水用の給水、排水ダクト22、24が設けられている。管ホルダ12は更にX線用出口窓44及びX線ビームの平行化用ユニット16ソラースリットコリメータを含む。ソラースリットコリメータ16の板は、X線源7により発生されたX線ビームが拡散ビームで試料10を照射するよう図の紙面に平行である。検出装置9はソラースリットコリメータ用のホルダ26、モノクロメータ水晶用ホルダ28、及び検出用30よりなる。ホルダ26中のソラースリットコリメータの板も図の紙面に平行である。X線源及び検出器が両方共試料の回りに回転しうる場合、試料を回転しうるよう設ける必要はない。しかしながら、容積の大きく重いX線源の場合に必要の様にX線源を静止状態に取付けることは可能である。図1に示す如きX線回析装置はまた種々の測定したデータを処理する処理装置を含む。この処理装置は記憶ユニット36を有する中央処理装置32と、種々のデータ表示及び測定され計算された結果の表示用のモニタ34とを含む。ゴニオメータ4に設けられたX線源7検出装置9、及び試料ホルダ8は全てゴニオメータの目盛に対して夫々の素子の角度位置を決定するユニット図示せずを設けられている。この角度位置を表わす信号は接続リード線38-1、38-2、38-3を介して中央処理装置32に送られる。図1はいわゆるブラッグ-ブレンターノBragg-Brentano配置を示し、ここでは単一点から出射したX線は、試料の表面が原点及び焦点を通る円に正接である場合、試料10による反射の後一点で合焦する。試料10はX線源7から出るX線により照射される。更には図示しないが、X線管の一部をなすアノード40をこのX線源中に模式的に示す。アノード40において、X線はこのアノードを高エネルギー電子にさらすことにより従来の方法で発生される。その結果、X線窓44から出射するX線42はアノードで発生される。図1に示す配置における源のこの点は、単一の点で形成されず、図の紙面に垂直なアノード上のラインフォーカス41で形成される。この焦点は検出器30の入口領域に試料を置くビーム45の結合点43により形成される。結果的に、この配置は図の紙面内にのみ合焦効果を有する。図2は、コリメータの板が四角形を有する可変ソラースリートコリメータの一実施例の斜視図を示す。図示のコリメータは間隔48を有する積重コリメータ板46よりなる。このコリメータの全ての板は同じ寸法を有する。開口角がコリメータでバウンドされる放射ビーム45はコリメータ板46の面と平行に入射する。放射ビームの開口角αは放射ビーム図2B参照にさらされる視準素子長Lに対する板46間の間隔dの比の2倍で与えられ、次式α=2d/Lが成り立つ。大きさLの値は、板46の面に垂直な軸50の回りにコリメータ板を回転させることにより変えられる、この目的のため、軸50及び駆動ユニット52により形成された本実施例では動かす機構が設けられ、軸50はコリメータが一部をなす分析装置に固定的に接続された軸受けに担持されている。駆動ユニットは、例えば、軸を回転させるモータからなり、そのモータは分析装置に属するコンピュータの一部を形成する制御ユニット54により制御される。分析装置によりなされるべき測定が必要とするのは、コリメータ板46は、正しい開口角が得られる迄、即ちαを所定値とする時式α=2d/Lが満足される迄、軸50の回りに回転される。図3は本発明による可変ソラースリットコリメータの第2実施例の斜視図である。本実施例は、放射ビームがコリメータ板に平行な面内で強く拡散又は収束する装置に特に顕著に適している。この状況は例えばブラッグ-ブレンターノ型のスペクトロメータでも同様である。非常に拡散するビームでは、L即ち放射ビーム45にさらされるコリメータの板の長さLの値は放射ビームの全ての放射線に対し同じではない。これは高度の正確性を要する測定には不利である。かかる要求に対し、楕円形の板を有するソラースリットコリメータはこの欠点を全くないしかなり除去することが示された。図2に示すコリメータと同様に、図3のコリメータは図2を参照して既に説明したのと同様に軸50を介して駆動される。図4は本発明によるX線光ファイバを有する可変ソラースリットコリメータの一実施例の斜視図を示す。X線の放射ビームに影響を与えるかかるファイバそれ自体は公知である。かかるファイバで、高度のコリメーション即ち放射ビームの非常に小さい開口角が得られる。図4に示すコリメータは2次元積重X線ファイバ60からなる。X線ファイバ60は同じ断面を有するが、積重の高さに依存する長さを有する、X線ファイバ60の軸方向を平行に、放射ビーム45は開口角が積重X線ファイバによりバウンドされる入射する。放射ビームの開口角は内部断面と中空ファイバの長さとの比によって決定される。開口角はコリメータを往復動させることにより変えられうる。このため、本実施例では動きの機構が設けられ、その機構は積重X線ファイバ用のホルダにより形成され、そのホルダは駆動ロード64により往復動される2つのガイド62よりなり、ガイド62は分析装置の配置の部分56に沿ってある。この動きの駆動は駆動ユニット52によりなされ、駆動ロード64は分析装置に固定的に接続された軸受けに担持されている。駆動ユニットは、例えば、駆動ロードを往復動させるモータを有し、このモータは分析装置に属するコンピュータの部分を形成する制御ユニット54により制御される。分析装置により実行されるべき測定が必要とする時、コリメータは正確な開口角が得られる迄往復動される。