"サンプルの少なくとも1つの特性を測定するための連続リファレンスを有する装置であって、放射パルス20を発生する放射源4と、リファレンス放射パルス22と前記サンプル14に向かうサンプル放射パルス24とをもたらすように前記放射パルス8を分離するための手段と、前記サンプル14と相互作用しない前記リファレンス放射パルス22と前記サンプルから生じる前記サンプル放射パルス24とを受信するために配置された検出器6と、を備えた装置。前記サンプル放射パルスは前記サンプル14から反射されたものである、請求項1に記載の装置。前記サンプル14を透過したサンプル放射パルス24を反射するように配置された第1のミラー12を更に備える、請求項1に記載の装置。前記リファレンス放射パルス22を前記単一の検出器6へ向けて反射するように配置された第2のミラー10を更に備える、請求項3に記載の装置。前記放射パルス8を分離するための前記手段からの前記リファレンスパルスと前記サンプルパルス22,24は、前記リファレンスパルス22が前記サンプルパルス24に対して異なる時間に前記検出器6に到達するように、時間的に隔てられている、請求項1に記載の装置。サンプルの少なくとも1つの特性を測定するための連続リファレンスを有する時間領域分光装置100であって、放射パルス20を発生する放射源4と、前記サンプル14と相互作用しないリファレンス放射パルス22と前記サンプル14に向かうサンプル放射パルス24とをもたらすように前記放射パルス8を分離するための手段と、前記サンプルを透過し又は前記サンプルから反射したサンプル放射パルス24を反射するように配置された第1のミラー12と、前記リファレンス放射パルス22を反射するように配置された第2のミラー10と、前記反射されたリファレンス放射パルス22と前記反射されたサンプル放射パルス24とを受信するために配置された検出器6と、を備えた時間領域分光装置。前記リファレンス放射パルスの検出に基づいて時間ジッタを補正するための手段125を更に備える、請求項6に記載の時間領域分光装置。前記リファレンス放射パルスの検出に基づいて振幅変動を補正するための手段125を更に備える、請求項6に記載の時間領域分光装置。放射パルスを発生する放射源4とサンプル14から生じた放射パルス24を受信する検出器6とを含んだ時間領域分光装置100の精度を向上させる方法であって、前記サンプル14と相互作用しないリファレンス放射パルス22と前記サンプル14に向かうサンプル放射パルス24とを形成するように、前記放射源4と前記検出器6との間の光路に沿ってビームスプリッタ8を配置するステップと、サンプル放射パルスを前記検出器6へ向けて反射するように第1のミラー12を配置するステップと、リファレンス放射パルス22を前記検出器へ向けて反射するように第2のミラー10を配置して、前記反射された放射パルスを、前記リファレンス放射パルスの位相と振幅のゆらぎをモニタするのに利用するステップと、を含む方法。前記リファレンスパルスと前記サンプルパルス22,24は単一の検出器6を用いて測定される、請求項9に記載の方法。0032本発明は、時間領域分光システムの精度を向上させるための手法に向けられており、当該システムは、通常の時間領域分光器を改良することによって実現されることが可能である。本発明はテラヘルツ時間領域分光器との関係で説明されるが、本発明は、放射パルスがサンプルに印加され、そのサンプルから生じた反射パルス又は透過パルスの時間分解特性が分析される、任意の時間領域分光器の精度を向上させるということが理解される。更に、テラヘルツ時間領域分光装置は透過型モードで説明されるが、本発明は、反射型モードにおいても適用可能であるということが理解される。0033図1は、通常の時間領域分光器における放射源4と検出器6の間に配置された、本発明の連続実時間リファレンス発生装置2の一実施態様を表している。ビームスプリッタ8は、放射源4からの入射光20を反射光22と透過光24に分離する。反射光22は、平面ミラー10によって反射され、ビームスプリッタ8を通って検出器6により受光される。同様に、透過光24は、サンプル14を透過して、その後平面ミラー12によりビームスプリッタ8へ向けて反射され、そこで検出器6の中へ反射される。装置2がテラヘルツ分光器を拡張したものである場合、放射源と検出器は、例えば、光伝導アンテナとすることが可能である。テラヘルツ放射に関して、好ましいビームスプリッタは、高い抵抗率>10,000Ωcmを有したシリコン板の厚い小片からなる。ビームスプリッタの厚さは、ビームスプリッタの裏面からの反射が観測ウィンドウの外側に存在するように、十分に大きく選択される。もし、より薄いビームスプリッタが使用されると、裏側からの多重反射がウィンドウ内に入るため、パルス形状が異なって見えるだろう。原理的には、どちらの構成も本発明と共に利用されることが可能である。厚いビームスプリッタの方が、振動をより生じさせにくいので好ましい。高い抵抗率を有したシリコン板は、テラヘルツ周波数においてまずまずの吸収と高い屈折率を有しているので、ビームスプリッタとして用いるのに特に適している。あるいはまた、サファイアやポリエチレンは、シリコンよりも高い吸収を有しているが、ビームスプリッタとして用いられることが可能であろう。0034動作時には、レーザパルス16及び18がそれぞれ放射源4と検出器6へと導かれる。初めに、テラヘルツ放射パルスが光伝導アンテナ放射源4によって発生し、シリコンのビームスプリッタ8に45度の角度で入射して、直角な方向に伝搬する2つのパルスが生じる。一方のパルスはサンプル14を透過し、他方のパルスは時間及び振幅におけるゆらぎを観測するのに利用される。この2つのパルスは同時に同じ場所で発生したものであるため、それらの位相と振幅は非常に強い相関を有しており、測定誤差を補正するのにこの相関が利用される。この方法は、光ファイバを用いた時間領域テラヘルツ分光器に特に適しており、当該分光器では、ファイバの曲げや温度ゆらぎが振幅及び位相の測定精度に大きな悪影響を及ぼすであろう。本発明の特徴は、1つの検出器6だけが必要であるということである。ただ1つの検出器の利用により、第2の検出器に伴う一組の変数の導入が回避される。0035図1の連続実時間リファレンス発生装置が、図5に示され本明細書において更に説明されるTHz-TDS透過型シート測定システムに組み込まれた。当該システムをそのように改良することによって、テラヘルツ分光器の放射源により発生したそれぞれのパルスに関して、ビームスプリッタは、2つのパルス、即ち測定対象のサンプルを通り抜ける一方のパルスと、空気中を伝搬する他方のパルスとを発生する。図2は、ビームスプリッタによって生成された2つの代表的なパルスを表す。各パルスは特有のプロファイルとピークを有しており、左のパルスを左側パルス、右のパルスを右側パルスと称する。この2つのパルスを隔てる中間部のどこか任意の点が選択されることが可能である。以下の分析では、右側パルスが、リファレンス即ち、当該パルスは空気中を伝搬するとサンプルパルス即ち、当該パルスはサンプルを通り抜けて伝搬するの両方として利用される。それらは、交互に行われる2つの別々の測定である。0036連続リファレンスの手順を実現する1つの方法は、初めに1組のリファレンスパルスを集めることである。当該1組の中で、2つのパルス左側及び右側が空気中を伝搬する。その後、測定対象のサンプルが分光器のアームの一方即ち右のアームに挿入され、新たな1組のデータが収集される。これで、リファレンスとサンプルの右側パルスの測定を用いて、全ての分析が実施可能となる。右側パルスの時間及び振幅における変化を観測するために、左側パルスが利用される。左側パルスにおけるどんな変化も、ほとんどの場合右側パルスに現れるので、右側パルスを補正しそれによってジッタの影響を低減するために、左側パルスがモニタされ利用されることが可能であろう。0037図3は、100個の異なる測定パルスについての、左側パルスと右側パルスの間のパルス間時間ジッタを示す。x軸におけるインデックスという表示は、グラフ上の各点が1組の左側及び右側パルスに対応するように、実験の測定番号1-100を表している。このプロットは、左側パルスと右側パルスの間におけるペアワイズな時間遅延を示す。この相関プロットは、更に、当該2つのパルスが同期的に動くことを明らかにしており、パルスの一方における時間ジッタの補正を可能としている。この比較は、ジッタの標準偏差が2分の1に低減できたことを示している。0038精密な位相測定が特に重大な意味を持つ光ファイバを用いたテラヘルツ時間領域分光器に関して、本発明の手法は、温度や、それ以外の面で位相測定の妨げとなり得る他の要因による悪影響を補償することが可能である。特に、光ファイバを用いた分光器に関しては、サンプルをスキャンする際のセンサの動きに伴ってファイバがねじれたり又は引き伸ばされたりする結果、偏光及び/又は光路長の変化が生じる。図4の上側のプロットは、抄紙機に典型的に用いられるスキャン型システムにおける動きの影響をシミュレートすべくテラヘルツ時間領域分光器のファイバ接続に人為的にねじれが与えられた場合の、200個の異なる測定パルスについての左側パルスと右側パルスの間のパルス間時間ジッタである。このプロットは、偏光の変化がパルスの遅延に影響を及ぼすということを示している。図4の下側のプロットは、2つのパルスが同じように影響を受けて一方のパルスが他方のパルスにおける変化を観測するのに使用できることから、本発明の手法は、上記の遅延を観測し補正するために利用されることが可能である、ということを示している。0039この連続した1組のリファレンスパルスが得られると、サンプルパルスの位相と振幅が、必要に応じて観測され補正されることが可能である。例えば、当該リファレンスパルスを利用して、サンプルパルスに対して遅延を付加し又は差し引くことにより、時間ジッタが補正されることが可能である。当該リファレンスパルスを用いて振幅の変動を補正するには、倍数係数によるサンプル振幅のスケーリングが、その振幅の大きさを増加又は減少させるように利用されることが可能である。0040本発明は、時間領域分光システムにおいて実施されることが可能である。近THz又はTHz-TDSをinsituで使用して、水重量、物理的な厚みキャリパー及び乾燥重量体積分率を含むシート材料の1つ又は複数のパラメータ/特性を同時に取得することができることが明らかとされてきた。シート材料は、紙又はプラスチックを含むことができる。1つ又は複数の較正パラメータと組み合わせてこれらパラメータ/特性から、シート材料のPM及び/又はWWを含むキャリパー、坪量及び水分含有量を取得することができる。0041較正パラメータは、概して、電磁スペクトルのTHz又は近THzスペクトル領域における水の誘電率、試験対象の紙又は他のシート材料の乾燥成分屈折率、試験対象の紙の乾燥成分の密度、及び透過又は反射サンプル信号の電力に対するリファレンス信号の電力比の対数に対する水重量の適合係数を取得するダブルdoubleデバイDebyeモデルで使用される既知のデバイパラメータを含む。0042含水率パーセント水分PMで表されるもの等及びWWを、サンプルを透過する近THz若しくはTHz電力又は電界を測定し、それをリファレンスパルスサンプルなしと比較し、したがって水がどれだけパルスを減衰させたかを得ることにより、取得することができる。本技術分野において既知であるように、PMは以下の関係式を介してWWに関連する。すなわち、PM=WW/BWであり、ここでBWは坪量を表す以下の式12で繰り返す。BW=WWDWであり、ここでDWは乾燥重量を表す水は存在しない。この減衰測定値及びたとえば実験室の較正からの較正データから、シート材料に存在する水の量に関連する測定値を確定することができる。0043含水率PM又はWWとして表わされるもの等はまた、反射配置を有するシステムにおいて同様の方法を介して得ることができる。反射型システムでは、THz送信機/放射源及びTHz受信機/検出器はサンプルの同じ側にある。こうしたシステムでは、リファレンス信号は、水を含まない反射面から取得され、サンプル信号は、サンプルからの反射したTHz信号又は近THz信号である。0044透過型システムの場合:サンプルのキャリパー及び乾燥重量体積分率を、単層フィルムたとえば1枚の紙に対する透過率関数のモデルを、実験的に取得された透過THzパルスのモデルに適合させることによって得ることができる。使用することができる1つの物理モデルは以下の通りである。MボーンBornM及びEウルフWolfE著、光学原理第4版PrinciplesofOptics4theditionPergamonPress1970を参照されたい。ここで、t12及びt23は、それぞれ第1のフィルム層界面及び第2のフィルム層界面における透過係数であり、r12及びr23は、それぞれ第1のフィルム層界面及び第2のフィルム層界面における反射係数であり、β=ω/cnphである。ここで、ωは、THz放射の角周波数であり、cは光の速度であり、hはフィルム厚みであり、npは、フィルムたとえば紙の複素屈折率である。式1の透過係数及び反射係数は以下によって与えられる。ここで、na及びnpは、それぞれ、空気及び紙又は他のシート材料の屈折率である。空気の屈折率は、およそ1に等しく、紙の屈折率は、古典的Bruggemanモデル等の有効媒質理論を用いて決定される。乾燥成分屈折率は、概して較正ステップを介して得られ、著者により、紙のタイプによって決まることが分かった。水の屈折率は、その誘電関数を介して得られ、誘電関数を、概して、以下の形式のダブルデバイモデルで正確に記述することができる。ここで、εsは静的誘電率であり、ε∞は高周波数での極限値誘電率であり、ε2は誘電率の中間値であり、時定数τ1及びτ2は、並進拡散及び回転拡散、水素結合再配置及び構造再配置に関連する。本明細書では、水の誘電率を記述するために概してダブルデバイモデルについて説明するが、他のモデル、たとえばシングルsingleデバイモデル又はいくつかの非デバイベースモデルを使用することも可能である。シート材料の屈折率を、Bruggemanモデルを用いてシート材料たとえば紙の誘電率を介して得ることができる。ここで、fw及びfdは、水の体積分率及び紙等の乾燥シート材料の体積分率である。紙が水及び乾燥成分たとえばセルロースのみを含む場合、fw=1-fdである。本発明者らは、εdを、当該周波数範囲にわたる実定数として近似することができることが分かった。しかしながら、時間領域分光システムは、フィルムの誘電率が吸収的誘電率に対して非ゼロ虚数成分でありかつ分散的であり得る場合を含むことができる。0045屈折率は、以下の式により誘電関数に関連する。0046一実施形態では、紙を通るTHzパルスの透過率は、式1によって与えられる透過率関数を用いてモデル化される。そして、実験的に取得された透過THzパルスに対する上記モデルの2パラメータ最小二乗適合を実行することができる。適合から得られる2つの適合パラメータは、乾燥成分体積分率及び物理的な厚みである。上述したように、含水量を、透過パルスの振幅から得ることができる。0047反射ベースシステムの場合:透過率システム構成の場合に上述したものと同じ方法を、反射構成で使用することができる。この構成では、透過率に対する式式1の代りに、以下の反射率に対する式を使用することができる。0048図5は、本発明の一実施形態による例示的なTHz又は近THz-TDS透過型シート測定システム100の簡略図である。図5に示されたTHz-TDSシステムでは、ジッタがシステムの測定精度を制限するということが明らかとなった。本発明による連続的なリファレンスの手法の実施は、その精度を大幅に向上させるだろうということが期待される。種々の他のTHz-TDSに基づく測定システム構成を使用してもよく、それは、本発明の実施形態が、概して、水分含有率PM及び/又はWW等、キャリパー厚み及び坪量を含むシート材料の複数の特性のinsitu同時測定を可能にする新たなアルゴリズム及び関連較正データによって支持される、THz又は近THz-TDSシステムに対する新たな使用を含むためである。0049システム100は、光パルスのビームを放出する少なくとも1つのパルスレーザ源たとえばフェムト秒fsレーザ105を含む近THz又はTHz発生器を備えている。ビームスプリッタ106が、光ビームを2つのビーム、すなわち反射ビーム102及び透過ビーム103に分割する。反射ビーム102は、ダミー遅延段を含む反射遅延構成光学系108に向けられる。ダミー遅延の目的は、THz-TDSシステム100の発信源送信機アーム及び受信機検出器アームの両方が、名目上等しい光路長を有するようにすることであり、これにより、発信源fsパルス及び受信機fsパルスが同じ元のfsパルスから導出されることになる。ダミー遅延の意図はノイズを最小限にすることである。しかしながら、このダミー遅延は概して必要ではなく、いくつかの応用形態では、THz-TDSシステム100を、概してダミー遅延なしに動作させることも可能である。0050透過ビーム103は、ミラー104を介して、線形遅延段として示す遅延構成光学系109に向けられる。遅延構成光学系108及び109は、反射ビーム102の検出器110への光路長を、透過ビーム103の近THz又はTHz送信機111への光路長に名目上等しくするように構成されている。0051近THz又はTHz送信機111は、シート材料のサンプル位置に0.05THz~50THzの周波数を有するTHz又は近THz放射パルスを放出するように動作可能な送信アンテナを有している。THz送信アンテナには、概して、バイアス電圧が印加され図5には示さず、そのバイアス電圧を、システム100においてロックイン検出方式を利用するために変調することができる。検出器110は、入射放射によって照射されるサンプル130上の位置によって透過される近THz又はTHz放射を受信するように動作可能な受信アンテナを有している。本発明の実施形態は、本明細書に記載されている光伝導アンテナの使用には限定されない。たとえば、テルル化亜鉛ZnTe等の結晶を用いる光整流等の他の方法を用いてもよい。THz検出器110は、受信アンテナに結合され、また、シート材料サンプル130によって透過されるTHz又は近THz放射を同時に検出するために、遅延構成光学系108から遅延した光パルスを受け取るようにも結合されている。検出器110は、電気検出信号を発生する。図5は、サンプル130と相互作用するTHz集束ビームを示すが、当業者には、平行配置等の他の光学配置を使用することも可能であることが理解される。0052検出器110には、電気検出信号を受け取る信号処理システム125が結合されている。信号処理システム125は、概して、シート材料の水分含有量、キャリパー又は坪量の計算を可能にする較正係数の形式である較正データを格納するメモリ126を備えている。メモリ126はまた、シート材料の乾燥サンプルの屈折率及びシート乾燥成分の密度に対する格納された推定値も含むことができる。信号処理システム125はまた、概して、トランスインピーダンス電流から電圧増幅器、フィルタ及びアナログ対デジタルA/D変換器を含む、処理電子回路128も備えている。プロセッサたとえばDSP127が、処理電子回路128から処理された電気信号増幅され、フィルタリングされ、デジタル信号に変換された電気信号を受け取る。プロセッサ127は、透過パルスに関連する信号を較正データ及びリファレンス信号パルスと合わせて結合することにより、水分含有量、坪量及びキャリパーから選択されたシート材料サンプルの少なくとも1つの特性を確定する。0053リファレンスパルスと補正を適用する手法とに関して、信号処理システム125図5のプロセッサ127は、連続した1組のリファレンスパルスをサンプルパルスと比較し、時間ジッタ及び振幅変化に対する必要な補正を実行することが可能である。0054検出電子回路は、概して、変調されたバイアス電圧が送信アンテナに印加されるロックイン検出方式図5には示さずを利用する。この変調信号はまた、システムの信号対雑音比を向上させると共にあらゆる背景雑音の影響を最小限にするロックイン検出電子回路にも供給される。発信源のフェムト秒レーザビーム105において、DCバイアス電圧がアンテナに印可される場合、機械式チョッパを使用してロックイン検出を具現化することができる。0055以下、システム100等のTHz又は近THz-TDSシステムから、紙であるものとして説明するシート材料サンプルのキャリパー厚み、坪量及びパーセント水分を同時に取得する例示的な方法200について説明する。図6を参照すると、ステップ201において、紙の各グレードに対して、本技術分野において既知である標準的な手続きに従って、絶乾サンプル本質的に水分のないサンプル、以下乾燥サンプルを作製する。ステップ202において、紙の各グレードに対して、種々の既知の水分レベルの広がりを有する加湿したサンプルのセットを用意する。これらのサンプルは、本システムが概して動作する水分範囲を網羅するべきである。ステップ203は、THz又は近THz-TDSシステムを使用するリファレンス空気走査すなわち、サンプルなしの走査を含む。ステップ204において、ステップ201で用意した乾燥サンプルをTHz-TDSシステムに挿入し、乾燥サンプル走査を取得する。ステップ205において、乾燥サンプルの厚みを独立して測定する。乾燥サンプルの厚みを測定する1つの方法は、labTAPPIゲージである。0056ステップ206において、周波数の関数としての乾燥成分屈折率を、ステップ205で測定した乾燥サンプル厚みを用いて物理モデルを適合することによって確定する。そして、透過型システムの場合の透過率関数に対してモデルを適合することにより、サンプルの乾燥成分屈折率を計算することができる式1又は反射型システムの場合は反射率関数式7。適合を実行すると、ステップ205からの厚み測定値たとえばTAPPIキャリパーゲージからを入力し、概して、サンプルの屈折率に対する水の寄与がごくわずかであり、すなわち、乾燥成分分率が1であるものと想定する。この適合から、概して較正パラメータのうちの1つを構成する乾燥成分屈折率が得られる。紙の場合、この乾燥成分屈折率パラメータは、通常THz領域において1.3~1.5にある。0057ステップ206の物理モデルは、空気、乾燥成分セルロース及び灰及び水の混合物を含む薄い誘電体スラブとしてシート材料たとえば紙をモデル化することを含むことができる。混合物の比率及びシート材料の厚みを変化させることができるBruggemanモデルが利用された。種々の温度でのTHz帯の水の誘電率に対する既存のデータを取得することができる。ダブルデバイモデルを使用して、近THz又はTHz周波数で水の電磁応答をモデル化することができる。0058たとえば、ステップ206のモデル適合は、最小二乗適合を実行することを含むことができる。サンプルは、完全に乾燥サンプルから成るすなわち、0水分と想定することができる。0059ステップ207は、THz-TDSシステムを使用して、ステップ202で用意した紙の加湿サンプルを測定することにより、透過型システムの場合は透過電力又は透過電界、反射型システムの場合は反射電力又は反射電界を取得することを含む。透過型システムの場合、その後、透過電力又は透過電界を、ステップ203で取得したリファレンス透過電力サンプルなしの透過電力と比較する。図7に示すように、WWに対する較正曲線を表示することができる。以下の関数を、図7にプロットしている。ここで、WWは、グラム/平方メートルGSMでの水重量であり、yitはリファレンスパルス又は入射パルスサンプルなしであり、yotは出力パルス又はサンプルパルスサンプルありであり、m及びCは較正定数である。PSDは、積分したパワースペクトル密度を意味し、ノルム二乗フーリエ変換の周波数にわたる積分として定義される。リファレンスパルス電力とサンプルパルス電力との比の対数に対してプロットされている、図7に示すWWを、本質的に線形であるように示すが、線形関数である必要はない。ステップ202において加湿サンプルセットから得られた同じデータセットを使用して、別の較正パラメータ、すなわち乾燥成分の密度ρfを得ることができる。この較正パラメータを、水分含有率対vf/1-vfのプロットを構成し、ρfを得るように式9で与える式を適合することによって得ることができる。この適合を図8に示し、図8は、コピー用紙を含むサンプルから得られた、測定された水分の割合の値に基づく較正曲線適合を示す。この図の横座標はvf/1-vfであり、vfは、透過THzパルスに対する物理的適合から得られる乾燥重量体積分率である。図8の縦座標は、試験対象のサンプルの含水率である。この含水率を、独立した測定技法を用いて取得することができ、通常は、実験室で重量測定によって取得することができる。乾燥紙成分の密度を、以下のモデルに対する最小二乗パラメータ適合によって取得することができる。ここで、PMはパーセント水分であり、ρw及びρfは水及び乾燥紙成分の密度である。水の密度を、公開文献から取得することができる。0060図9に、シミュレーションにより得られたTHz-TDSからの典型的な入力時間パルス及び出力時間パルスを示す。上部トレースは、THz-TDSシステムから得られた時間リファレンス及びサンプルパルスに対する電界の時間トレース時間はピコ秒を示し、下部トレースはそれらのフーリエ変換周波数はTHzである。0061ステップ208において、透過率システムの場合、シート材料サンプルの物理的な厚み及び乾燥重量体積分率を得るために、シート材料の透過率関数を使用することができる上述した式1を参照されたい。透過率関数のパラメータを、計算された透過パルスと測定された透過パルスとの間の最小二乗誤差を最小化するように調整することができ、それにより、2パラメータ最小二乗適合を使用して物理モデルを適合する。図10は、THzパルスが紙を透過することによって得られる信号データに対して適合された物理モデルを示す。透過率関数を用いてリファレンスパルスの畳み込み時間領域におけるを使用することにより、計算された透過パルスを見つけることができる。以下のように定義する。誤差関数を以下のように定義することができる。h:物理的な厚みvf:乾燥重量体積分率上記誤差関数を最小化することにより、紙又は他のシート材料の物理的な厚みh及び乾燥重量体積分率vfを提供することができる。ステップ209において、PM及びBWを以下のように計算することができる。ここで、ρw:繊維密度、ρf:水密度である。0062図11は、シート材料たとえば紙作製プロセス中にシート材料の複数の特性のinsitu同時測定を可能にする例示的な閉ループ制御シート材料製造システム700のブロック図である。後述するように提供される閉ループ制御は、プロセス変数を、生産物の品質を維持し不合格品の量を最小限にするように制御するのに役立つ。システム700は、シート材料製造装置720と、insitu測定システム715からのinsitu測定値を使用するプロセスコントローラー730とを備えている。測定システム715は、反射型システムか、又は図1に示すシステム100等の透過型システムであり得る。システム700のコンポーネント間の通信は、接続されたワイヤとして示すが、有線、光たとえば光ファイバ若しくは無線たとえばRF又はそれらの組合せであり得る。0063コントローラー730は、受け取った電気検出信号を処理し、1つ又は複数の紙品質特性、たとえば達成された水分プロファイル、及び製紙プロセス中に水分プロファイルが、製紙システムの場合にウェットエンドからプレスまでかつプレスからドライエンドにおける乾燥機までどのように更新されるべきかを確定することができる。本技術分野において既知であるように、水分プロファイルは、シート張力プロファイル、シート破断、収縮、ワインダ効率、印刷所運転等、製紙プロセスにおける既知の変数に著しい影響を与える可能性がある。0064以上は、本発明の原理、好適な実施態様、及び動作の形態を説明してきた。しかしながら、本発明は、論じられた特定の実施態様に限定されるものと解されるべきではない。したがって、上述された実施態様は、限定的ではなく例証的であるとみなされるべきであり、以下の特許請求の範囲によって規定される本発明の範囲から逸脱することなく、当業者はそれら実施態様において変形を加えることができる、ということが認識されるべきである。"