遅延時間τの関数である被測定レーザ光のコヒーレンス関数γを測定するレーザ光コヒーレンス測定方法であって、被測定レーザ光の周波数を線形に掃引し、前記周波数掃引されたレーザ光を2系統に分岐し、分岐された一方のレーザ光を光ファイバに入射して当該光ファイバで生じたレイリー散乱光を取り込み、前記レイリー散乱光と前記分岐された他方のレーザ光とを合波し、前記合波によって生じる光電流を検出し、前記検出された光電流の電流値をフーリエ変換してそのパワースペクトルを算出し、前記光電流の検出ならびにそのパワースペクトルの解析を複数回繰り返し行うことにより前記パワースペクトルのアンサンブル平均を遅延τの関数として求め、前記パワースペクトルのアンサンブル平均の遅延τにおける標準偏差を算出し、この標準偏差が遅延τにおけるコヒーレンス関数の絶対値に比例することを利用してコヒーレンス関数の絶対値を求めることを特徴とする光レーザコヒーレンス測定方法。前記コヒーレンス関数の絶対値が1eになる遅延τをもってコヒーレンス時間を求めることを特徴とする請求項1に記載のレーザ光コヒーレンス測定方法。遅延時間τの関数である被測定レーザ光のコヒーレンス関数γを測定するレーザ光コヒーレンス測定装置であって、前記被測定レーザ光の周波数を線形に掃引する周波数掃引手段と、前記周波数掃引されたレーザ光を2系統に分岐する光分岐手段と、前記分岐された一方のレーザ光を光ファイバに入射し当該光ファイバに生じるレイリー散乱光を取り込むレイリー散乱光取得手段と、前記光ファイバで生じたレイリー散乱光と前記光分岐手段で分岐された他方のレーザ光とを合波する光合波手段と、前記合波によって生じる光電流を検出する光電流検出手段と、前記検出された光電流の電流値をフーリエ変換してそのパワースペクトルを算出するパワースペクトル算出手段と、前記光電流検出手段及びパワースペクトル算出手段それぞれの検出結果及び算出結果に基づいて前記レーザ光のコヒーレンス関数の絶対値を求める解析手段とを具備し、前記解析手段は、前記光電流の検出ならびにそのパワースペクトルの解析を複数回繰り返し行うことにより前記パワースペクトルのアンサンブル平均を遅延τの関数として求め、前記パワースペクトルのアンサンブル平均の遅延τにおける標準偏差を算出し、この標準偏差が遅延τにおけるコヒーレンス関数の絶対値に比例することを利用して前記コヒーレンス関数の絶対値を求めることを特徴とする光レーザコヒーレンス測定装置。前記解析手段は、前記コヒーレンス関数の絶対値が1eになる遅延τをもってコヒーレンス時間を求めることを特徴とする請求項3に記載のレーザ光コヒーレンス測定装置。以上述べたように、従来のレーザ光のコヒーレンス長測定技術では、レーザ光のコヒーレンス長よりも長い遅延が得られていることが前提条件となっているため、レーザ光スペクトル幅の推測は可能であるものの、その測定結果に不確実性が含まれている。本発明は、上記の事情に着目してなされたもので、レーザ光のスペクトル線幅が狭く、コヒーレンス時間が長いレーザ光のコヒーレンス時間をより正確に測定することのできるレーザ光コヒーレンス長測定方法及び測定装置を提供することを目的とする。本発明に係るレーザ光コヒーレンス測定方法は、以下のような態様の構成とする。1遅延時間τの関数である被測定レーザ光のコヒーレンス関数γを測定するレーザ光コヒーレンス測定方法であって、被測定レーザ光の周波数を線形に掃引し、前記周波数掃引されたレーザ光を2系統に分岐し、分岐された一方のレーザ光を光ファイバに入射して当該光ファイバで生じたレイリー散乱光を取り込み、前記レイリー散乱光と前記分岐された他方のレーザ光とを合波し、前記合波によって生じる光電流を検出し、前記検出された光電流の電流値をフーリエ変換してそのパワースペクトルを算出し、前記光電流の検出ならびにそのパワースペクトルの解析を複数回繰り返し行うことにより前記パワースペクトルのアンサンブル平均を遅延τの関数として求め、前記パワースペクトルのアンサンブル平均の遅延τにおける標準偏差を算出し、この標準偏差が遅延τにおけるコヒーレンス関数の絶対値に比例することを利用してコヒーレンス関数の絶対値を求める態様とする。21の方法において、前記コヒーレンス関数の絶対値が1eになる遅延τをもってコヒーレンス時間を求める態様とする。本発明に係るレーザ光コヒーレンス測定装置は、以下のような態様の構成とする。3遅延時間τの関数である被測定レーザ光のコヒーレンス関数γを測定するレーザ光コヒーレンス測定装置であって、前記被測定レーザ光の周波数を線形に掃引する周波数掃引手段と、前記周波数掃引されたレーザ光を2系統に分岐する光分岐手段と、前記分岐された一方のレーザ光を光ファイバに入射し当該光ファイバに生じるレイリー散乱光を取り込むレイリー散乱光取得手段と、前記光ファイバで生じたレイリー散乱光と前記光分岐手段で分岐された他方のレーザ光とを合波する光合波手段と、前記合波によって生じる光電流を検出する光電流検出手段と、前記検出された光電流の電流値をフーリエ変換してそのパワースペクトルを算出するパワースペクトル算出手段と、前記光電流検出手段及びパワースペクトル算出手段それぞれの検出結果及び算出結果に基づいて前記レーザ光のコヒーレンス関数の絶対値を求める解析手段とを具備し、前記解析手段は、前記光電流の検出ならびにそのパワースペクトルの解析を複数回繰り返し行うことにより前記パワースペクトルのアンサンブル平均を遅延τの関数として求め、前記パワースペクトルのアンサンブル平均の遅延τにおける標準偏差を算出し、この標準偏差が遅延τにおけるコヒーレンス関数の絶対値に比例することを利用して前記コヒーレンス関数の絶対値を求める態様とする。43の装置において、前記解析手段は、前記コヒーレンス関数の絶対値が1eになる遅延τをもってコヒーレンス時間を求める態様とする。以上のように、本発明は、測定値に対して統計処理を行うことにより、従来よりも信頼性を向上させることを特徴とする。具体的には、COFDRを応用して周波数掃引された被測定レーザ光のレイリー散乱強度を測定し、これによって得られたレイリー散乱強度の絶対値の標準偏差を算出し、τコヒーレンス時間におけるコヒーレンス関数の絶対値を求める。このように、本発明によれば、用意した光ファイバの全長の光の往復時間よりもτが小さい場合であっても、コヒーレンス関数の絶対値を求めることが可能となる。さらに、その値が1eに減ずるτを求めることにより、レーザ光のコヒーレンス時間を求めることも可能となる。本発明によるレーザ光コヒーレンス測定では、従来技術に対して以下の優位性を持つ。第1に、本発明によれば、コヒーレンス時間と同程度の光ファイバ長により測定が可能な上、仮にコヒーレンス時間がそれよりもはるかに長かった場合には、そのこと自体が測定により明らかにされるので、より長い光ファイバに置き換えて測定をやり直すなどの処置を取ることができる。よって、本発明は、従来技術よりも信頼性に優れた測定結果を提供するといえる。第2に、本発明によれば、単にコヒーレンス時間が測定されるだけでなく、そのコヒーレンス関数の絶対値の全容が遅延時間τの関数として掌握される。これにより、レーザ光の性質をより詳しく調査することができる。したがって、本発明によれば、レーザ光のスペクトル線幅が狭く、コヒーレンス時間が長いレーザ光のコヒーレンス時間をより正確に測定することのできるレーザ光コヒーレンス長測定方法及び測定装置を提供することができる。添付の図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。以下に説明する実施の形態は本発明の構成の例であり、本発明は、以下の実施の形態に制限されるものではない。図1は本実施形態のレーザ光コヒーレンス測定装置の構成を示すブロック図である。図1において、1は被測定レーザ光源であり、ここで発生された被測定レーザ光は周波数掃引装置2により、図2に示すように所定の期間内で規定幅の周波数掃引を受けた後、光分岐器3-1によって2系統に分岐される。分岐された一方の系統の伝送光は光サーキュレータ4によって光ファイバ5に導かれ、他方の系統の伝送光は光合波器3-2に導かれる。続いて、上記光ファイバ5内で生じた後方レイリー散乱光は光サーキュレータ4を経て光合波器3-2に導かれ、他方の伝送光と合波された後、バランス型受光素子6に受光される。上記バランス型受光素子6で得られた受光信号はデータ取得装置7によって所定のサンプリング周期でデータ化された後、パワースペクトル解析装置8によってビートスペクトル幅が解析されて順次メモリ装置9に蓄積される。コヒーレンス関数解析装置10は、所定の周期でメモリ装置9に蓄積されたビートスペクトル幅のデータを読み込んで被測定レーザ光のコヒーレンス関数を解析し、その解析結果からレーザ光のコヒーレンス長を求める。上記周波数掃引装置2の掃引期間及びデータ取得装置7のデータ取得期間は、いずれも制御装置11から出される指示に従って決定される。上記構成において、以下にその測定方法とその手順について説明する。まず、被測定レーザ光源1が発する時間長Tのレーザ光の電界振幅E’を以下のように表すこととする。ここで、すなわち、式1はレーザ1から取り出される電界振幅のi番目のアンサンブルを意味している。以下に説明する本発明の実施形態において測定されるレーザ光のコヒーレンス関数γは、で与えられる量である。かっこ記号の<>はアンサンブル平均を意味し、多くのアンサンブルに対する平均を表す。尚、は位相共役を意味する。ここで、式2で表される量が持つ意味を考察しておく。もともとのレーザ光の電界は式1で表わされるが、これは中心周波数ωiを中心として位相揺らぎθiを持っている。しかるに、式2においては、中心周波数ωiは現われておらず、位相揺らぎθiのみに関係する量であることがわかる。すなわち、電界振幅のいくつかのアンサンブルを集めたときに、仮にそのアンサンブル間で中心周波数ωiが変化ドリフトしていたとしても、その効果は式2には現れず、1つのアンサンブルの中で観測される位相揺らぎθiすなわち発振周波数の揺らぎが測定されることになる。よって本発明で測量されるものは、レーザ光が一定時間Tだけ発振した時の位相もしくは周波数の揺らぎ幅を意味しており、これはレーザ光のスペクトルの広がりを評価する際には極めて有用な尺度になると考えられる。被測定レーザ光源1から発せられた光は、周波数掃引装置2によって、図2に示すように、その周波数が時間に対してT秒間線形に掃引される。周波数掃引幅をΔFで表す。周波数掃引装置2としては、例えば非特許文献2に記載の単一側波帯変調器を用いることにより実現することができる。すなわち、周波数掃引装置2により周波数掃引された光波の電界振幅は、式4で表される。周波数掃引されたレーザ光は、光分岐器3-1により2分岐され、一方は光サーキュレータ4を介して光ファイバに入射される。光ファイバ5内ではレイリー散乱と呼ばれる光散乱が生じ、その散乱光は光ファイバを逆方向に伝搬してサーキュレータ4に戻り、光合波器3-2に向かって進行する。分岐されたもう一方のレーザ光は、そのまま光合波器3-2に向かって進行する。光合波器3-2ではこれらのレーザ光が合波される。本構成は、同じく非特許文献2に説明されているコヒーレント光周波数領域反射計CoherentOpticalFrequencyDomainReflectometry:以下COFDRと呼ばれる反射分布測定装置の構成を応用したものであり、光ファイバ内の1つの反射点zmまでの光の往復時間をτmとすると、i番目の光電界のアンサンブルEiがこの反射点からの散乱されることによってバランス受光素子6に生じる光電流は、式5により表される。ここで複素数rmは反射点zmのレイリー反射係数であり、ランダムな値をとる確率変数である。式2より、実際の光電流は反射点zmの近傍の多数の反射点からの散乱光の和によって生じるから、観測される光電流の大きさは、と表される。データ取得装置7は、式7で表される光電流を数値化して取得し、データとして格納する。COFDRでは、光ファイバの距離zmからの散乱光の強度は、式7で表現される光電流のパワースペクトルにより算出される。COFDRの距離分解能は、遅延時間τmに換算して1ΔFであり、典型値として例えばΔF=10GHzと仮定すると、距離分解能に相当する遅延時間差は100psとなり、これは今考えているレーザのコヒーレンス時間典型的には1μsまたはそれ以上と比べて非常に小さいものである。COFDRが観測する距離zmにおける散乱光強度は、式7において、この距離分解能に相当する遅延時間差1ΔFにわたる範囲で、mについて和を取ったものである。パワースペクトル解析装置8は、上記光電流のパワースペクトルを算出する。すなわち、とすると、式7の光電流のパワースペクトルは、式10で表される。制御装置11により、上記の一連の測定は繰り返し行われる。この繰り返し測定の目的は、上記のパワースペクトルを多数取得することによって、そのアンサンブル平均を求めることにある。よって繰り返しの回数は大きければ大きいほど精度よくアンサンブル平均を求めることができるが、現実的には測定回数には限度があり、許容される測定時間等の制約から決定されるものである。メモリ装置9には繰り返し測定されたパワースペクトラムが格納される。ここで、上記において求められたパワースペクトルのアンサンブル平均と、本発明で測定される光源のコヒーレンス関数との関係を考察する。まず式9より、であることがわかる。よって、それらのアンサンブル平均は、適当な比例係数を除きお互いに等しい。すなわち、Kは適当な比例係数であるが、以下の説明には影響しないため、以後1とおくことにする。このことより、光電流のアンサンブル平均は式13のように表すことができる。ここで、nimはそのアンサンブル平均iについての平均が0であるような、相関をもたない複素数、すなわちである。一方、γはiには依存しない、すなわち繰り返し測定の間で一定の値をとる複素数である。式13を式11に代入し、Aの値は何であっても以下の説明に影響しないため、Aを1とおくと、となる。そして、式14より、であるから考えているτmの範囲ではコヒーレンス関数の絶対値はほとんど変化しないので、となる。したがって、である。これを式15に代入すると、となる。次に、遅延τm=0、すなわち距離0におけるパワースペクトルを計算する。遅延0においては完全にコヒーレントであるので、繰り返し測定の間に観測されるパワースペクトルは常に同じでiには依存しない。従って、この場合はiによらず、とおいてよい。したがって、式11より、となる。ここで式16と式18により求められたとを比較する。これらのパワースペクトルは、ランダムな確率変数であるレイリー散乱係数rmの関数である。すなわち、光ファイバの観測点近傍の複数のランダムな反射の干渉によって与えられ、その結果このパワースペクトルは遅延τmによりランダムに変動する。この変動は、いわゆるスペックルと呼ばれて知られている現象であり、式18における右辺はこの変動を含むパワースペクトルを与えている。次に、式16をみると、第1項は、式18に類似していることがわかる。相違点は、まず全体がγ2倍になっている。次に括弧{}内の第2項にexpが付加されているが、これはrmがもともとランダムな確率変数であるから、変動の統計量を変えるものではない。また、式16の第2項については、完全にインコヒーレントな成分であり、干渉によるスペックルを生じることはなく、τmには依存しない均一なパワースペクトルを与えるだけである。以上のことから、式16の変動の振幅を見る限り、式18のγ2倍になっていることがわかる。よって、両者の標準偏差を、σ0とστとすると、またはの関係があることがわかる。以上の考察により、コヒーレンス関数解析装置10は、遅延0の近傍のパワースペクトルの標準偏差と遅延τの付近での標準偏差とを解析する。これより式19または式20を用いて、任意の遅延τにおけるコヒーレンス関数の絶対値γを求めることができる。さらに、その値が1eに減ずるτを求めることにより、レーザ光のコヒーレンス時間を求めることも可能となる。以上のように、本発明によるコヒーレンス関数並びにコヒーレンス時間測定方法は、従来技術に対して以下の優位性を持つ。第1に、コヒーレンス時間と同程度の光ファイバ長により測定が可能な上、仮にコヒーレンス時間がそれよりもはるかに長かった場合には、そのこと自体が測定により明らかにされるので、より長い光ファイバに置き換えて測定をやり直すなどの処置を取ることができる。よって、本発明は、従来技術よりも信頼性に優れた測定結果を提供することができる。第2に、単にコヒーレンス時間が測定されるだけでなく、そのコヒーレンス関数の絶対値の全容が遅延時間τの関数として掌握される。これにより、レーザ光の性質をより詳しく調査することができる。尚、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成を削除してもよい。さらに、異なる実施形態例に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。