"回路基板に搭載される検査対象体に対する良否検査を実行する検査装置であって、回路基板に搭載されていない状態の前記検査対象体に測定用信号を供給して当該検査対象体の抵抗値を測定する測定処理を実行すると共に当該測定処理における測定レンジを複数の測定レンジの中から切り替え可能に構成された測定部と、前記検査対象体に対して予め決められた規定範囲と前記測定部によって測定された抵抗値とを比較して前記検査対象体に対する良否検査を実行する検査部とを備え、前記測定部は、前記複数の測定レンジのうちの前記規定範囲における上限値に予め対応付けられている測定レンジで前記測定処理を実行し、前記検査部は、前記測定部によって前記測定処理が実行される測定レンジの上限値が予め決められた規定値以下のときには、良品の前記検査対象体が前記回路基板に搭載されている状態において測定されるべき抵抗値として予め決められた第1抵抗値と前記測定部によって測定された当該良品の検査対象体の抵抗値としての第2抵抗値との差分値、または当該第1抵抗値と当該第2抵抗値との比率を補正値として求め、前記測定部によって測定された前記検査対象体の抵抗値および前記規定範囲のいずれか一方を前記補正値で補正する補正処理を実行し、当該いずれか一方を用いて前記良否検査を実行する検査装置。前記補正値を求めた後に実行した前記測定処理の回数が予め決められた規定回数以上となったときに前記補正値を求める処理の再実行を促す報知処理を実行する請求項1記載の検査装置。前記検査部は、前記良否検査を同種類の複数の前記検査対象体に対して実行する際に、前記複数の検査対象体のうちの一部の検査対象体に対する前記良否検査が終了した中間時点における当該検査対象体の不良率が予め決められた規定率以上のときに、前記中間時点以後の良否検査において前記補正処理を実行する請求項1または2記載の検査装置。回路基板に搭載される検査対象体に対する良否検査を実行する検査方法であって、回路基板に搭載されていない状態の前記検査対象体に測定用信号を供給して当該検査対象体の抵抗値を測定する測定処理を複数の測定レンジの中から切り替えた測定レンジで実行し、前記検査対象体に対して予め決められた規定範囲と前記測定した抵抗値とを比較して前記検査対象体に対する良否検査を実行する際に、前記複数の測定レンジのうちの前記規定範囲における上限値に予め対応付けられている測定レンジで前記測定処理を実行し、前記測定処理を実行する測定レンジの上限値が予め決められた規定値以下のときには、良品の前記検査対象体が前記回路基板に搭載されている状態において測定されるべき抵抗値として予め決められた第1抵抗値と当該良品の検査対象体について測定した抵抗値としての第2抵抗値との差分値、または当該第1抵抗値と当該第2抵抗値との比率を補正値として求め、前記測定した検査対象体の抵抗値および前記規定範囲のいずれか一方を前記補正値で補正する補正処理を実行し、当該いずれか一方を用いて前記良否検査を実行する検査方法。前記補正値を求めた後に実行した前記測定処理の回数が予め決められた規定回数以上となったときに前記補正値を求める処理の再実行を促す報知処理を実行する請求項4記載の検査方法。前記良否検査を同種類の複数の前記検査対象体に対して実行する際に、前記複数の検査対象体のうちの一部の検査対象体に対する前記良否検査が終了した中間時点における当該検査対象体の不良率が予め決められた規定率以上のときに、前記中間時点以後の良否検査において前記補正処理を実行する請求項4または5記載の検査方法。ところが、上記の検査装置には、解決すべき以下の課題がある。すなわち、上記の検査装置では、上下限値を測定装置やプローブ毎に異なる補正値で補正した補正後の上下限値と抵抗値とを比較して検査対象体の良否を判定している。この場合、例えば、複数の検査装置を用いて数多くの検査対象体に対する良否検査を行うときには、上下限値を補正する計算する作業や、補正した上下限値を入力する作業が多くなり、計算誤りや入力誤りなどの人為的なミスが発生する可能性が高くなり、これに起因して、検査精度が低下するおそれがある。また、数多くの検査対象体の検査を連続して行うときには、プローブが摩耗して、これに起因して抵抗値が変化することがある。この場合、その変化量が大きいときには、検査開始前に補正して入力した上下限値を、新たに補正し直した上下限値に更新する必要があり、検査効率が低下するという課題も存在する。本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、検査精度を向上させつつ検査効率を向上し得る検査装置および検査方法を提供することを主目的とする。上記目的を達成すべく請求項1記載の検査装置は、回路基板に搭載される検査対象体に対する良否検査を実行する検査装置であって、回路基板に搭載されていない状態の前記検査対象体に測定用信号を供給して当該検査対象体の抵抗値を測定する測定処理を実行すると共に当該測定処理における測定レンジを複数の測定レンジの中から切り替え可能に構成された測定部と、前記検査対象体に対して予め決められた規定範囲と前記測定部によって測定された抵抗値とを比較して前記検査対象体に対する良否検査を実行する検査部とを備え、前記測定部は、前記複数の測定レンジのうちの前記規定範囲における上限値に予め対応付けられている測定レンジで前記測定処理を実行し、前記検査部は、前記測定部によって前記測定処理が実行される測定レンジの上限値が予め決められた規定値以下のときには、良品の前記検査対象体が前記回路基板に搭載されている状態において測定されるべき抵抗値として予め決められた第1抵抗値と前記測定部によって測定された当該良品の検査対象体の抵抗値としての第2抵抗値との差分値、または当該第1抵抗値と当該第2抵抗値との比率を補正値として求め、前記測定部によって測定された前記検査対象体の抵抗値および前記規定範囲のいずれか一方を前記補正値で補正する補正処理を実行し、当該いずれか一方を用いて前記良否検査を実行する。また、請求項2記載の検査装置は、請求項1記載の検査装置において、前記補正値を求めた後に実行した前記測定処理の回数が予め決められた規定回数以上となったときに前記補正値を求める処理の再実行を促す報知処理を実行する。また、請求項3記載の検査装置は、請求項1または2記載の検査装置において、前記検査部は、前記良否検査を同種類の複数の前記検査対象体に対して実行する際に、前記複数の検査対象体のうちの一部の検査対象体に対する前記良否検査が終了した中間時点における当該検査対象体の不良率が予め決められた規定率以上のときに、前記中間時点以後の良否検査において前記補正処理を実行する。また、請求項4記載の検査方法は、回路基板に搭載される検査対象体に対する良否検査を実行する検査方法であって、回路基板に搭載されていない状態の前記検査対象体に測定用信号を供給して当該検査対象体の抵抗値を測定する測定処理を複数の測定レンジの中から切り替えた測定レンジで実行し、前記検査対象体に対して予め決められた規定範囲と前記測定した抵抗値とを比較して前記検査対象体に対する良否検査を実行する際に、前記複数の測定レンジのうちの前記規定範囲における上限値に予め対応付けられている測定レンジで前記測定処理を実行し、前記測定処理を実行する測定レンジの上限値が予め決められた規定値以下のときには、良品の前記検査対象体が前記回路基板に搭載されている状態において測定されるべき抵抗値として予め決められた第1抵抗値と当該良品の検査対象体について測定した抵抗値としての第2抵抗値との差分値、または当該第1抵抗値と当該第2抵抗値との比率を補正値として求め、前記測定した検査対象体の抵抗値および前記規定範囲のいずれか一方を前記補正値で補正する補正処理を実行し、当該いずれか一方を用いて前記良否検査を実行する。また、請求項5記載の検査方法は、請求項4記載の検査方法において、前記補正値を求めた後に実行した前記測定処理の回数が予め決められた規定回数以上となったときに前記補正値を求める処理の再実行を促す報知処理を実行する。また、請求項6記載の検査方法は、請求項4または5記載の検査方法において、前記良否検査を同種類の複数の前記検査対象体に対して実行する際に、前記複数の検査対象体のうちの一部の検査対象体に対する前記良否検査が終了した中間時点における当該検査対象体の不良率が予め決められた規定率以上のときに、前記中間時点以後の良否検査において前記補正処理を実行する。請求項1記載の検査装置、および請求項4記載の検査方法では、測定レンジの上限値が予め決められた規定値以下のときには、第1抵抗値と測定部によって測定された良品の第2抵抗値との差分値、または第1抵抗値と第2抵抗値との比率を補正値として求め、測定した検査対象体の抵抗値および規定範囲のいずれか一方を補正値で補正する補正処理を実行する。つまり、この検査装置および検査方法では、測定部の特性やプローブの形状等に拘わらず検査対象体に対して予め決められた同じ規定範囲を入力して、測定した検査対象体の抵抗値および入力した規定範囲のいずれか一方を補正して、補正したいずれか一方を用いて検査対象体の良否を検査する。このため、この検査装置および検査方法によれば、複数の検査装置を用いて複数の抵抗器に対する良否検査を行う場合や、プローブを交換した場合であっても、検査装置やプローブ毎に異なる補正値で規定範囲を補正したり、検査装置やプローブ毎に異なる補正値を入力したりする作業を不要とすることによって人為的なミスの発生を十分に低く抑えることができる結果、検査精度を十分に向上させることができる。また、これらの作業を不要とすることができる分、検査効率を十分に向上させることができる。また、請求項2記載の検査装置、および請求項5記載の検査方法によれば、補正値を求めた後に実行した測定処理の回数が予め決められた規定回数以上となったときに補正値を求める処理の再実行を促す報知処理を実行することにより、数多くの良否検査測定処理を実行することによってプローブが摩耗して、プローブと検査対象体との接触抵抗が変化したときに、その接触抵抗の変化に起因して検査結果が不正確となる事態を確実に防止することができる。また、請求項3記載の検査装置、および請求項6記載の検査方法によれば、同種類の複数の検査対象体のうちの一部の検査対象体に対する良否検査が終了した中間時点における検査対象体の不良率が予め決められた規定率以上のときに、中間時点以後の良否検査において補正処理を実行することにより、例えば、測定レンジの上限値が規定値よりも大きいために補正処理を実行しなかったことが原因で、不良率が実態とは異なる高い値となっているときに、補正処理を実行することでその不良率を実態に即した正しい値とすることができる。以下、検査装置および検査方法の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。最初に、検査装置1の構成について説明する。図1に示す検査装置1は、検査対象体の一例としての抵抗器100の良否を検査する良否検査を実行可能に構成されている。ここで、抵抗器100は、例えば、抵抗値が10mΩ~100mΩ程度に規定された低抵抗のシャント抵抗器であって、図2に示すように、回路基板200の導体パターン201に電極101が接続された状態で回路基板200に搭載される。また、この抵抗器100では、電極101を平面的に形成することにより、回路基板200の導体パターン201と電極101との接触面積を大きくして、これによって導体パターン201と電極101との間の接触抵抗の低減が図られている。一方、検査装置1は、図1に示すように、一対の電流供給用のプローブ11a,11b以下、区別しないときにはプローブ11ともいう、一対の電圧検出用のプローブ12a,12b以下、区別しないときにはプローブ12ともいう、プロービング機構13、測定部14、記憶部15、操作部16、表示部17、搬送機構18および制御部19を備えて構成されている。プローブ11a,11bは、後述する測定部14の電源部41に接続されている。プローブ12a,12bは、後述する測定部14の電圧検出部42に接続されている。プロービング機構13は、制御部19の制御に従い、抵抗器100の電極101,101に対してプローブ11a,11b,12a,12bをプロービング接触させる図5参照。測定部14は、図1に示すように、単体の状態回路基板200に搭載されていない状態であって、以下非搭載状態ともいうの抵抗器100にプローブ11a,11bを介して測定用信号交流定電流Imを供給して、抵抗器100の抵抗値Rmを測定する測定処理を実行可能に構成されている。具体的には、測定部14は、同図に示すように、電源部41、電圧検出部42および演算回路43を備えて構成されている。電源部41は、交流定電流Imを生成して出力する。この場合、電源部41から出力された交流定電流Imは、プローブ11a,11bを介して抵抗器100の電極101,101に供給される。電圧検出部42は、図1に示すように、抵抗器100の電極101,101に交流定電流Imが供給されたときに生じる電圧信号Vmを、プローブ12a,12bを介して入力してその電圧値を検出する。また、電圧検出部42は、切り替え可能な複数のレンジ抵抗を備えて構成され、このレンジ抵抗を切り替えることで、測定処理の実行時における測定レンジを複数の測定レンジの中から切り替えて設定することが可能となっている。一例として、この検査装置1では、0~100mΩ、0~1Ω、0~10Ω、0~50Ωおよび0~100Ωの5つの測定レンジの1つに切り替えて設定することが可能に構成されている。演算回路43は、交流定電流Imの電流値および電圧信号Vmの電圧値に基づいて抵抗器100の抵抗値Rmを算出測定する。記憶部15は、測定部14によって測定される抵抗値Rmを記憶する。また、記憶部15は、上限値Raおよび下限値Rb以下、上限値Raおよび下限値Rbを併せて上下限値Ra,Rbともいうを記憶する。この上下限値Ra,Rbは、制御部19によって実行される検査処理50図3参照において抵抗器100の良否を判定する際に用いられる値であって、操作部16に対する操作第1入力操作によって入力される。なお、上限値Raおよび下限値Rbは、抵抗器100毎に予め決められている。また、記憶部15は、操作部16に対する操作によって入力された予め決められた規定値Rr3を記憶する。この場合、上記した上限値Raがこの規定値Rr3以下のときには、検査処理50において、後述する補正値算出処理70図6参照が実行される。ここで、補正値算出処理70は、プローブ11,12と検査対象体との接触抵抗等に起因して高めに測定される抵抗値Rmを補正するのに必要な補正値を算出する処理であり、抵抗器100のような低抵抗の検査対象体の良否検査を正確に行うには、この補正値算出処理70を実行させて抵抗値Rmを補正する必要がある。一方、プローブ11,12と検査対象体との接触抵抗に比べて十分に高抵抗の検査対象体を検査するとき、つまり、抵抗値Rmを補正しなくても良否検査を十分正確に行うことができるときには、処理効率の観点から、補正値算出処理70を省略して、補正自体を省略するするのが好ましい。このため、補正値算出処理70の実行を必要する低い値例えば、500mΩ程度の値が規定値Rr3として決められている。さらに、記憶部15は、第1抵抗値Rr1を記憶する。この第1抵抗値Rr1は、検査対象の抵抗器100の良品サンプル100aゴールデンサンプルを回路基板200に搭載している状態図2に示す状態であって、以下搭載状態ともいうで測定したときに測定されるべき抵抗値であって、操作部16に対する操作第2入力操作によって入力される。また、記憶部15は、測定部14によって測定される良品サンプル100aの抵抗値Rmを第2抵抗値Rr2として記憶する。この第1抵抗値Rr1および第2抵抗値Rr2は、補正値算出処理70において用いられる。また、記憶部15は、補正値算出処理70において算出された補正値Rcを記憶する。また、記憶部15は、抵抗器100に対する良否検査の結果を記憶する。操作部16は、各種のスイッチやキーを備えて構成され、これらが操作されたときに操作信号Soを出力する。表示部17は、制御部19の制御に従い、各種の画面や画像を表示する。具体的には、表示部17は、上記した上限値Raおよび下限値Rbを入力するための第1入力画面G1図4参照、および上記した第1抵抗値Rr1を入力するための第2入力画面G2図7参照を表示する。また、表示部17は、測定部14によって測定された抵抗値Rmや制御部19によって行われる抵抗器100に対する良否検査の結果を表示する。搬送機構18は、制御部19の制御に従い、検査対象の抵抗器100を供給位置から検査位置に搬送すると共に、検査が終了した抵抗器100を検査位置から取り出し位置に搬送する。制御部19は、操作部16から出力される操作信号Soに従ってプロービング機構13、測定部14および表示部17を制御する。また、制御部19は、検査部として機能して、図3に示す検査処理良否検査50を実行する。この場合、制御部19は、この検査処理50において、上記した上下限値Ra,Rbによって規定される規定範囲と測定部14によって測定された抵抗値Rmとを比較して抵抗器100の良否を検査する。次に、検査装置1を用いて、抵抗器100に対する良否検査を行う検査方法、およびその際の検査装置1の動作について、図面を参照して説明する。この検査装置1では、操作部16に対して検査開始の操作がされたときに、制御部19が、図3に示す検査処理50を実行する。この検査処理50では、制御部19は、まず、表示部17を制御して、図4に示す第1入力画面G1を表示させるステップ51。次いで、この第1入力画面G1の案内に従って操作部16を操作第1入力操作して、検査対象の抵抗器100に対して予め決められた上限値Raおよび下限値Rbを入力する。この際に、操作部16が第1入力操作に応じた操作信号Soを出力し、制御部19が操作信号Soに従い、上下限値Ra,Rbを記憶部15に記憶させるステップ52。また、制御部19は、測定部14による測定処理の実行時における測定レンジを特定する測定レンジ特定処理を実行するステップ53。この測定レンジ特定処理では、制御部19は、5つの測定レンジの中から上限値Ra規定範囲の上限値が属する測定レンジを特定し、その測定レンジが複数存在するときにはそれらのうちの最小の測定レンジ規定範囲の上限値に予め対応付けられている測定レンジの一例を測定処理の実行時における測定レンジとして特定する。この場合、例えば、上限値Raに予め決められた余裕分例えば、上限値Raの1.5倍の値を加えた値が属する測定レンジのうちの最小の測定レンジ規定範囲の上限値に予め対応付けられている測定レンジの他の一例を測定処理の実行時における測定レンジとして特定することもできる。続いて、制御部19は、特定した測定レンジの上限値が予め入力されている予め決められた規定値Rr3以下であるか否かを判別するステップ54。この場合、例えば、上記した第1入力操作によって入力された上限値Raが52mΩで下限値Rbが48mΩのときには、制御部19は、上記したステップ53において、0~100mΩの測定レンジを測定処理の実行時における測定レンジとして特定する。また、規定値Rr3が例えば500mΩのときには、制御部19は、ステップ54において、特定した測定レンジの上限値100mΩが規定値Rr3500mΩ以下であると判別して、補正値算出処理70図6参照を実行するステップ55。この補正値算出処理70では、制御部19は、表示部17を制御して、図7に示す第2入力画面G2を表示させるステップ71。次いで、この第2入力画面G2の案内に従って操作部16を操作第2入力操作して、検査対象の抵抗器100の良品サンプル100aに対して予め決められた第1抵抗値Rr1良品サンプル100aが回路基板200に搭載されている状態において測定されるべき抵抗値Rmを入力したときには、制御部19が、操作部16から出力される操作信号Soに従い、第1抵抗値Rr1を記憶部15に記憶させるステップ72。続いて、搬送機構18に抵抗器100の良品サンプル100aをセットして、操作部16に対してセット完了を示す操作を行う。次いで、制御部19は、操作部16からの操作信号Soに応じて搬送機構18を制御して、良品サンプル100aを検査位置に搬送させる。続いて、制御部19は、測定部14に対して、特定した測定レンジでの測定処理の実行を指示するステップ73。これに応じて、測定部14では、電源部41が交流定電流Imを生成して出力する。次いで、制御部19は、プロービング機構13を制御して、図5に示すように、プローブ11a,11bおよびプローブ12a,12bを良品サンプル100aの電極101,101に接触させる。この際に、交流定電流Imがプローブ11a,11bを介して良品サンプル100aに供給される。続いて、測定部14の電圧検出部42が、交流定電流Imの供給に伴って生じた電圧信号Vmをプローブ12a,12bを介して入力して、その電圧値を検出する。次いで、演算回路43が、交流定電流Imの電流値、および電圧検出部42によって検出された電圧信号Vmの電圧値に基づいて良品サンプル100aの抵抗値Rmを算出する。続いて、制御部19は、演算回路43によって算出された抵抗値Rmを第2抵抗値Rr2として記憶部15に記憶させるステップ74。次いで、制御部19は、補正値Rcを算出するステップ75。この場合、制御部19は、一例として、第2抵抗値Rr2から第1抵抗値Rr1を減算して、その値両者の差分値Rr2-Rr1を補正値Rcとする図8参照。なお、同図では、測定部14によって測定される抵抗器100の抵抗値Rmつまり、非搭載状態における抵抗値Rmと、搭載状態における抵抗値とが等しいとき両者が1:1のときの両者の関係を破線で図示し、非搭載状態における抵抗値Rmの方が搭載状態における抵抗値よりも大きいときの両者の関係を実線で図示している。続いて、制御部19は、ステップ75で算出した補正値Rcを記憶部15に記憶させて、補正値算出処理70検査処理50のステップ55を終了する。次いで、制御部19は、表示部17を制御して、補正値算出処理70が終了した旨を表示させると共に、搬送機構18を制御して、良品サンプル100aを検査位置から取り出し位置に搬送させる。続いて、搬送機構18に検査対象の抵抗器100をセットして、操作部16に対してセット完了を示す操作を行う。次いで、制御部19は、操作部16からの操作信号Soに応じて搬送機構18を制御して、抵抗器100を検査位置に搬送させる。続いて、制御部19は、検査処理50のステップ56を実行して、測定部14に対して、上記した測定レンジでの測定処理の実行を指示する。これに応じて、測定部14が測定処理を実行して、抵抗器100の抵抗値Rmを測定する。次いで、制御部19は、判定処理を実行するステップ57。この判定処理では、制御部19は、記憶部15から補正値Rcを読み出して、続いて、測定部14によって測定された抵抗値Rm以下、この時点補正前の抵抗値Rmを抵抗値Rm1ともいうを補正値Rcで補正する補正処理を実行する。具体的には、制御部19は、この補正処理において、抵抗値Rm1から補正値Rcを差し引いて抵抗値Rm1を補正する以下、補正後の抵抗値Rmを抵抗値Rm2ともいう:図8参照。次いで、制御部19は、記憶部15から上下限値Ra,Rbを読み出して、抵抗値Rm2と上下限値Ra,Rb規定範囲とを比較する。この場合、制御部19は、抵抗値Rm2が上下限値Ra,Rbの範囲内のときには、抵抗器100を良好と判定して、抵抗値Rm2が上下限値Ra,Rbの範囲外のときには、抵抗器100を不良と判定する。続いて、制御部19は、判定結果を記憶部15に記憶させると共に、判定結果を表示部17に表示させる。また、制御部19は、搬送機構18を制御して、抵抗器100を検査位置から取り出し位置に搬送させる。次いで、制御部19は、検査終了が指示されたか否かその旨の操作信号Soが出力されたか否かを判別するステップ58。制御部19は、このステップ58において、検査終了が指示されたと判別したときには、検査処理50を終了する。また、制御部19は、検査終了が指示されていないと判別したきには、操作部16からセット完了を示す操作信号Soが出力されるまで待機して、その操作信号Soが出力されたときに、次の抵抗器100に対して上記したステップ56~58、つまり測定処理の実行指示、補正処理および判定処理を実行すると共に、判定結果の記憶および表示、並びに抵抗器100の搬送を実行させる。以後、制御部19は、この処理を繰り返すことにより、複数の抵抗器100に対する検査を連続的に実行する。ここで、抵抗器100における電極101とプローブ11,12との間の接触抵抗は、一般的に、抵抗器100が搭載される回路基板200の導体パターン201と電極101との間の接触抵抗と比較すると大きい。このため、測定部14によって測定される抵抗器100の抵抗値Rmつまり、非搭載状態における抵抗値Rmと搭載状態における抵抗値との関係は、両者が等しい関係図8に破線で示す関係とはならず、同図に実線で示すように、接触抵抗が大きい分、非搭載状態における抵抗値Rmの方が搭載状態における抵抗値よりも大きい関係となる。一方、抵抗器100の良否判定に用いる上下限値Ra,Rbは、搭載状態における抵抗器100の抵抗値が適正であるか否かを判定するためのものである。このため、搭載状態で測定したときに測定されるべき良品サンプル100aの抵抗値Rmの許容範囲、具体的には、良品サンプル100aの電極101と回路基板200の導体パターン201とを半田付け等によって接続してその導体パターン201を測定部14の電源部41および電圧検出部42に繋いでつまり、プローブ11,12を用いることなく測定したときの抵抗値Rmの許容範囲がこの上下限値Ra,Rbとして規定されている。したがって、抵抗器100の良否を正確に判定するためには、非搭載状態における抵抗値Rmと搭載状態における抵抗値との差分値つまり、同図に示す補正値Rcに基づいて何らかの補正を行う必要がある。この場合、従来の検査装置では、抵抗器100のような低抵抗の検査対象体の良否検査に際しては、測定部14の特性やプローブ11,12の形状などに応じた補正値で上下限値Ra,Rbを補正して、その補正後の上下限値Ra,Rbと測定した抵抗値Rmとを比較して良否の判定を行っている。このため、例えば、数多くの抵抗器100に対する良否検査を、従来の検査装置を複数用いて行うときには、上下限値Ra,Rbを各検査装置毎に異なる補正値で補正計算したり、補正した上下限値Ra,Rbを入力する作業が多くなる結果、計算誤りや入力誤りなどの人為的なミスが発生する可能性が高くなり、これに起因して、検査精度が低下するおそれがある。また、これらの作業に起因して、検査効率が低下する。これに対して、この検査装置1では、測定部14の特性やプローブ11,12の形状等に拘わらず、検査対象体に対して予め決められた同じ上下限値Ra,Rbを入力して、入力した上下限値Ra,Rbをそのままとし補正せずに、測定部14によって測定された抵抗値Rm1を制御部19が自動的に補正して補正後の抵抗値Rm2と上下限値Ra,Rbとを比較して抵抗器100の良否を検査する。このため、この検査装置1では、複数の検査装置1を用いて数多くの抵抗器100に対する良否検査を行う場合や、プローブ11,12を交換した場合であっても、検査装置1やプローブ11,12毎に異なる補正値で上下限値Ra,Rbを補正したり、検査装置1やプローブ11,12毎に異なる補正値を入力したりする作業が不要となって人為的なミスの発生が十分に低く抑えられる結果、検査精度を十分に向上させることが可能となっている。また、これらの作業が不要な分、検査効率を十分に向上させることが可能となっている。一方、上記した検査処理50のステップ54において、特定した測定レンジの上限値が予め決められた規定値Rr3を超えている規定値Rr3以下ではないと判別したときには、制御部19は、ステップ55補正値算出処理70を実行することなくステップ56を実行して測定部14に対して測定処理の実行を指示する。また、制御部19は、特定した測定レンジの上限値が予め決められた規定値Rr3を超えていると判別したときには、ステップ57判定処理において、測定部14によって測定された抵抗値Rmを補正することなく、上下限値Ra,Rbと比較する。したがって、特定した測定レンジの上限値が規定値Rr3を超えているとき、つまり、抵抗値Rmを補正しなくても良否検査を十分正確に行うことができる程度に検査対象体が高抵抗のときに、補正値算出処理70の実行を省略することで、処理効率を十分に高めることが可能となる。このように、この検査装置1および検査方法では、測定レンジの上限値が規定値Rr3以下のときには、第1抵抗値Rr1と測定部14によって測定された良品サンプル100aの第2抵抗値Rr2との差分値を補正値Rcとして求め、その補正値Rcで測定部14によって測定された抵抗器100の抵抗値Rm1を補正する補正処理を実行する。つまり、この検査装置1では、測定部14の特性やプローブ11,12の形状等に拘わらず検査対象体に対して予め決められた同じ上下限値Ra,Rbを入力して、入力した上下限値Ra,Rbをそのままとし、測定部14によって測定された抵抗値Rm1を制御部19が自動的に補正して、補正後の抵抗値Rm2と上下限値Ra,Rbとを比較して抵抗器100の良否を検査する。このため、この検査装置1によれば、複数の検査装置1を用いて複数の抵抗器100に対する良否検査を行う場合や、プローブ11,12を交換した場合であっても、検査装置1やプローブ11,12毎に異なる補正値で上下限値Ra,Rbを補正したり、検査装置1やプローブ11,12毎に異なる補正値を入力したりする作業を不要とすることによって人為的なミスの発生を十分に低く抑えることができる結果、検査精度を十分に向上させることができる。また、これらの作業を不要とすることができる分、検査効率を十分に向上させることができる。なお、上記した検査装置1および検査方法は、一例であって、適宜変更することができる。例えば、補正値算出処理70および補正処理において、第1抵抗値Rr1と第2抵抗値Rr2との差分値を補正値Rcとして、その補正値Rcを測定部14によって測定された抵抗値Rm1から差し引くことによって抵抗値Rm1を補正する構成例について上記したが、第1抵抗値Rr1と第2抵抗値Rr2との比率で抵抗値Rm1を補正する構成および方法を採用することもできる。具体的には、第1抵抗値Rr1と第2抵抗値Rr2との比率例えば、Rr1/Rr2を補正値補正率として、その補正値を測定部14によって測定された抵抗値Rm1に乗算してつまり、Rm1×Rr1/Rr2抵抗値Rm1を補正する。この構成においても、上記した検査装置1と同様の効果を実現することができる。また、補正値Rcを抵抗値Rm1から差し引く構成および方法に代えて、上限値Raおよび下限値Rbに補正値Rcをそれぞれ加えて上下限値Ra,Rb規定範囲を補正し、その補正後の規定範囲と抵抗値Rmとを比較して良否検査を実行する構成および方法を採用することもできる。さらに、上記した補正値補正率としての第1抵抗値Rr1と第2抵抗値Rr2との比率例えば、Rr1/Rr2で上限値Raおよび下限値Rbを除算して上下限値Ra,Rb規定範囲を補正し、その補正後の規定範囲と抵抗値Rmとを比較して良否検査を実行する構成を採用することもできる。また、上記した検査処理50において、補正値算出処理70を実行して補正値Rcを求め、その後に同種類の複数の抵抗器100に対する良否検査を繰り返して行い、その検査回数抵抗値Rmを測定する測定処理の回数が予め決められた規定回数以上となったときに、補正値Rcを求める処理の再実行を促す報知処理を実行する構成および方法を採用することもできる。この構成によれば、数多くの良否検査測定処理を実行することによってプローブ11,12が摩耗して、プローブ11,12と電極101との接触抵抗が変化したときに、その接触抵抗の変化に起因して検査結果が不正確となる事態を確実に防止することができる。また、同種類の複数の抵抗器100に対して良否検査を実行する際に、複数の抵抗器100のうちの一部の抵抗器100に対する良否検査が終了した中間時点における抵抗器100の不良率が予め決められた規定率以上のときに、その中間時点以後の良否検査において補正処理を実行する構成および方法を採用することもできる。この構成および方法によれば、例えば、上限値Ra規定範囲の上限値が属する測定レンジの上限値が規定値Rr3よりも大きいために補正処理を実行しなかったことが原因で、不良率が実態とは異なる高い値となっているときに、補正処理を実行することでその不良率を実態に即した正しい値とすることができる。また、検査対象体としての低抵抗の抵抗器100に対して検査を行う例について上記したが、これには限定されず、スイッチ等の各種の電気部品を検査対象体とすることができるのは勿論である。"