絶縁回路に対する入力信号がオン状態のときに光を発するように設けられた発光素子に対し、前記入力信号がオフ状態のときに所定の周期で電流が流れるように制御する電流制御器と、前記所定の周期で前記発光素子に電流が流れている際に、前記発光素子が発する光を受けた際に導通するように設けられた受光素子が前記所定の周期以上継続してオフ状態となる場合を前記発光素子の異常として検出する検出器と、を備えたことを特徴とする絶縁回路の健全性確認装置。前記電流制御器は、前記入力信号がオン状態のときにオン状態となって前記発光素子に電流が流れるように前記発光素子に直列に接続された制御用スイッチング素子と並列かつ前記発光素子と直列に接続された検出用スイッチング素子と、前記所定の周期でオン状態となるパルスを発生させるパルス発生器と、前記入力信号と前記パルスとの排他的論理和の結果を前記検出用スイッチング素子の制御端子に出力する論理回路と、を有し、前記検出器は、前記入力信号がオフ状態のときに前記受光素子が前記所定の周期以上継続してオフ状態となる場合又は前記入力信号がオン状態のときに前記受光素子が前記所定の周期でオフ状態となる場合を前記発光素子の異常として検出することを特徴とする請求項1記載の絶縁回路の健全性確認装置。前記電流制御器は、前記入力信号がオン状態のときにオン状態となって前記発光素子に電流が流れるように前記発光素子に直列に接続された制御用スイッチング素子と並列かつ前記発光素子と直列に接続された検出用スイッチング素子と、前記所定の周期でオン状態となるパルスを前記検出用スイッチング素子の制御端子に出力するパルス発生器と、を有し、前記検出器は、前記入力信号がオフ状態のときに前記受光素子が前記所定の周期以上継続してオフ状態となる場合又は前記入力信号がオン状態のときに前記受光素子が前記所定の周期でオン状態となる場合を前記発光素子の異常として検出することを特徴とする請求項1記載の絶縁回路の健全性確認装置。前記パルスの継続時間よりも長い時定数を有し、前記受光素子の出力に接続された遅れ要素、を備えたことを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の絶縁回路の健全性確認装置。前記電流制御器は、前記発光素子の異常が検出された場合に、前記発光素子に流れる電流の値を大きくすることを特徴とする請求項2~請求項4のいずれかに記載の絶縁回路の健全性確認装置。前記電流制御器は、前記発光素子の異常が検出された場合に、前記検出用スイッチング素子を閉じることを特徴とする請求項5記載の絶縁回路の健全性確認装置。前記電流制御器は、前記発光素子の異常が検出された場合に、前記発光素子にかかる電圧の値を大きくすることを特徴とする請求項5又は請求項6に記載の絶縁回路の健全性確認装置。しかしながら、例えば、一体型のフォトカプラにおいては、発光素子の発光量を物理的に測定することができない。この発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、その目的は、絶縁回路の発光素子の発光量を測定することなく、絶縁回路の健全性を確認することができる絶縁回路の健全性確認装置を提供することである。この発明に係る絶縁回路の健全性確認装置は、絶縁回路に対する入力信号がオン状態のときに光を発するように設けられた発光素子に対し、前記入力信号がオフ状態のときに所定の周期で電流が流れるように制御する電流制御器と、前記所定の周期で前記発光素子に電流が流れている際に、前記発光素子が発する光を受けた際に導通するように設けられた受光素子が前記所定の周期以上継続してオフ状態となる場合を前記発光素子の異常として検出する検出器と、を備えたものである。この発明によれば、絶縁回路の発光素子の発光量を測定することなく、絶縁回路の健全性を確認することができる。この発明を実施するための形態について添付の図面に従って説明する。なお、各図中、同一又は相当する部分には同一の符号を付しており、その重複説明は適宜に簡略化ないし省略する。実施の形態1.図1はこの発明の実施の形態1における絶縁回路の健全性確認装置を説明するための回路図である。図1において、1は絶縁回路である。絶縁回路1は、例えば、インバータ装置のインバータ信号等に対して利用される。2は絶縁回路1の入力端子である。3は絶縁回路1の出力端子である。本実施の形態の絶縁回路1は、フォトカプラからなる。絶縁回路1は、発光素子1aと受光素子1bとを備える。発光素子1aは、発光ダイオードからなる。受光素子1bは、フォトトランジスタからなる。発光素子1aのアノードには、第1電源4が接続される。発光素子1aのカソードには、第1抵抗5の一端が接続される。第1抵抗5の他端には、制御用トランジスタ制御用スイッチング素子6のコレクタが接続される。制御用トランジスタ6のエミッタには、第1グランド7が接続される。受光素子1bのコレクタには、第2電源8が接続される。受光素子1bのエミッタには、負荷抵抗9の一端が接続される。負荷抵抗9の他端には、第2グランド10が接続される。第2グランド10は、第1グランド7と絶縁される。11は電流制御回路電流制御器である。電流制御回路11は、第2抵抗12、検出用トランジスタ13、パルス発生器14、EXOR回路論理回路15を備える。第2抵抗12の一端は、発光素子1aのカソードに接続される。第2抵抗12は、第1抵抗5と同じ抵抗値を有する。第2抵抗12の他端には、検出用トランジスタ検出用スイッチング素子13のコレクタが接続される。検出用トランジスタ13のエミッタには、第1グランド7が接続される。すなわち、第2抵抗12、検出用トランジスタ13は、第1抵抗5、制御用トランジスタ6と並列に接続される。パルス発生器14は、パルスを発生させる機能を備える。パルスは、所定の周期T1で所定の時間T2だけオン状態を継続する。時間T2は、第1遅れ要素16の時定数や第2遅れ要素17の時定数よりも短くなるように設定される。EXOR回路15の入力端の一方には、入力信号が入力される。EXOR回路15の入力端の他方には、パルス発生器14からのパルスが入力される。EXOR回路15の出力端は、検出用トランジスタ13のベース制御端子に接続される。入力端子2とEXOR回路15の入力端の一方との間には、第1遅れ要素16が接続される。第1遅れ要素16は、例えば、CR回路からなる。受光素子1bのエミッタと出力端子3との間には、第2遅れ要素17が接続される。第2遅れ要素17は、例えば、CR回路からなる。受光素子1bと第2遅れ要素17との間の配線には、経年変化検出回路検出器18の入力端が接続される。次に、図2を用いて、絶縁回路1の健全性の確認方法を説明する。図2はこの発明の実施の形態1における絶縁回路の健全性確認装置を用いた絶縁回路1の健全性の確認を説明するためのタイミングチャートである。図2の最上段は、位置Aの電圧を示す。図2の上から2段目は、位置Bの電圧を示す。図2の上から3段目は、位置Cの電圧を示す。図2の上から4段目は、位置Dの電圧を示す。図2の上から5段目は、正常時における位置Eの電圧を示す。図2の上から6段目は、異常時における位置Eの電圧を示す。図2の最下段は、位置Fの電圧を示す。図2に示すように、位置Aの電圧は、絶縁回路1に対するシーケンス入力に対応する。位置Aの電圧は、ある時点で、オフLow状態からオンHi状態に変わる。このとき、位置Bの電圧は、第1遅れ要素16の時定数の分だけ遅れて、オフ状態からオン状態に変わる。これに対し、位置Cの電圧は、パルス発生器14の出力に応じて、周期T1で時間T2だけ継続してオン状態となる。まず、位置Bの電圧がオフ状態の場合を説明する。この場合、EXOR回路15の動作によって、位置Dの電圧は、周期T1で時間T2だけ継続してオン状態となる。その結果、検出用トランジスタ13は、周期T1で時間T2だけ継続してオン状態となる。すなわち、位置Bの電圧がオフ状態のときは、第1抵抗5に流れる電流が継続して遮断されるとともに、周期T1で時間T2だけ継続して、発光素子1aと第2抵抗12とに電流が流れる。このとき、発光素子1aの発光能力が劣化していなければ、発光素子1aは、周期T1で時間T2だけ継続して光を発する。当該光は、受光素子1bに受信される。このため、位置Eの電圧は、周期T1で時間T2だけ継続してオン状態となる。一方、発光素子1aの発光能力が劣化していれば、周期T1で時間T2だけ継続して発光素子1aと第2抵抗12とに電流が流れていても、発光素子1aは光を発しない。すなわち、受光素子1bは、周期T1以上継続して光を受けなくなる。このため、位置Eの電圧は、周期T1以上継続してオフ状態となる。次に、位置Bの電圧がオン状態の場合を説明する。この場合、EXOR回路15の動作によって、位置Dの電圧は、周期T1で時間T2だけ継続してオフ状態となる。その結果、検出用トランジスタ13は、周期T1で時間T2だけ継続してオフ状態となる。すなわち、位置Bの電圧がオン状態のときは、発光素子1aと第1抵抗5とに電流が継続して流れるとともに、周期T1で時間T2だけ継続して、第2抵抗12に流れる電流が遮断される。このとき、発光素子1aの発光能力が劣化していなければ、発光素子1aは、継続して光を発する。当該光は、受光素子1bに受信される。このため、位置Eの電圧は、継続してオン状態となる。一方、発光素子1aの発光能力が劣化していれば、発光素子1aに流れる電流の値が周期T1で時間T2だけ継続して小さくなると、発光素子1aは光を発しなくなる。すなわち、受光素子1bは、周期T1で時間T2だけ継続して光を受けなくなる。このため、位置Eの電圧は、周期T1で時間T2だけ継続してオフ状態となる。このように、発光素子1aの発光能力の劣化状況によって、位置Eの電圧の状態が変化する。そこで、経年変化検出回路18は、位置Eの電圧の状態に基づいて、発光素子1aの発光能力の劣化を検出する。具体的には、位置Bの電圧がオフ状態のとき、経年変化検出回路18は、位置Eの電圧が周期T1以上継続してオフ状態となる場合を、発光素子1aの発光能力の劣化として検出する。これに対し、位置Bの電圧がオン状態のとき、経年変化検出回路18は、位置Eの電圧が周期T1で時間T2だけ継続してオフ状態となる場合を、発光素子1aの発光能力の劣化として検出する。なお、発光素子1aの発光能力が劣化していない場合であっても、位置Bの電圧がオフ状態であれば、位置Eの電圧は、周期T1で時間T2だけ継続してオン状態となる。しかしながら、オン状態が継続する時間T2は、第2遅れ要素17の時定数よりも短い。このため、位置Bの電圧がオフ状態であれば、位置Fの電圧のオフ状態が維持される。すなわち、絶縁回路1の出力信号は、パルス発生器14からのパルスの影響を取り除いたものとなる。以上で説明した実施の形態1によれば、絶縁回路1に対する入力信号がオフ状態のときに、発光素子1aに周期T1で電流が流れる。この際、受光素子1bが周期T1以上継続してオフ状態となると、発光素子1aの発光能力の劣化が検出される。このため、発光素子1aの発光量を測定することなく、絶縁回路1の健全性を確認することができる。また、絶縁回路1に対する入力信号がオン状態のときは、受光素子1bが周期T1でオフ状態となると、発光素子1aの発光能力の劣化が検出される。このため、絶縁回路1に対する入力信号がオン状態のときでも、発光素子1aの発光量を測定することなく、絶縁回路1の健全性を確認することができる。このように、絶縁回路1に対する入力信号の状態に応じて、発光素子1aの発光能力の劣化が適切に検出される。すなわち、絶縁回路1に対する入力信号の状態に関係なく、絶縁回路1の健全性を確認することができる。また、第2遅れ要素17の時定数は、パルス発生器14が発生させるパルスの継続時間よりも長い。このため、絶縁回路1の出力信号から、パルス発生器14からのパルスの影響を取り除くことができる。実施の形態2.図3はこの発明の実施の形態2における絶縁回路の健全性確認装置を説明するための回路図である。なお、実施の形態1と同一又は相当部分には同一符号を付して説明を省略する。実施の形態1においては、パルス発生器14の出力端と検出用トランジスタ13のベースとの間には、EXOR回路15が接続されていた。一方、実施の形態2においては、パルス発生器14の出力端と検出用トランジスタ13のベースとの間には、切換スイッチ19の一方が接続されている。切換スイッチ19の他方は、第1遅れ要素16の出力端と検出用トランジスタ13のベースとの間に接続されている。経年変化検出回路18の出力端には、フリップフロップ回路20の入力端が接続されている。次に、図4を用いて、絶縁回路1の健全性の確認方法を説明する。図4はこの発明の実施の形態2における絶縁回路の健全性確認装置を用いた絶縁回路1の健全性の確認を説明するためのタイミングチャートである。図4の最上段は、位置Aの電圧を示す。図4の上から2段目は、位置Bの電圧を示す。図4の上から3段目は、位置Cの電圧を示す。図4の上から4段目は、正常時における位置Eの電圧を示す。図4の上から5段目は、異常時における位置Eの電圧を示す。図4の6段目は、正常時における位置Fの電圧を示す。図4の最下段は、異常時における位置Fの電圧を示す。位置Bの電圧がオフ状態の場合は、実施の形態1と同様である。これに対し、位置Bの電圧がオン状態の場合は、実施の形態1と異なる。具体的には、位置Bの電圧がオン状態の場合、位置Cの電圧は、周期T1で時間T2だけ継続してオン状態となる。その結果、検出用トランジスタ13は、周期T1で時間T2だけ継続してオン状態となる。すなわち、位置Bの電圧がオン状態のときは、発光素子1aと第1抵抗5とに継続して、電流が流れるとともに、周期T1で時間T2だけ継続して、第2抵抗12に電流が流れる。このとき、発光素子1aの発光能力が劣化していなければ、発光素子1aは、継続して光を発する。当該光は、受光素子1bに受信される。このため、位置Eの電圧は、継続してオン状態となる。一方、発光素子1aの発光能力が劣化していれば、周期T1で時間T2だけ継続して発光素子1aに流れる電流の値が大きくなったときだけ、発光素子1aは、光を発する。当該光は、受光素子1bに受信される。このため、位置Eの電圧は、周期T1で時間T2だけ継続してオン状態となる。位置Bの電圧がオフ状態のとき、経年変化検出回路18は、位置Eの電圧が周期T1以上継続してオフ状態となる場合を、発光素子1aの発光能力の劣化として検出する。これに対し、位置Bの電圧がオン状態のとき、経年変化検出回路18は、位置Eの電圧が周期T1で時間T2だけ継続してオン状態となる場合を、発光素子1aの発光能力の劣化として検出する。経年変化検出回路18が発光素子1aの発光能力の劣化を検出すると、フリップフロップ回路20は、切換スイッチ19の一方を開いて、切換スイッチ19の他方を閉じる。その結果、検出用トランジスタ13は、制御用トランジスタ6と同じタイミングで開閉する。このため、位置Bの電圧がオン状態の場合は、発光素子1aに流れる電流の値が大きくなる。すなわち、発光素子1aの発光能力が劣化しても、発光素子1aが光を発する。その結果、位置Bの電圧がオン状態であれば、位置Fの電圧のオン状態が維持される。以上で説明した実施の形態2によれば、絶縁回路1に対する入力信号がオン状態のときは、受光素子1bが周期T1でオン状態となると、発光素子1aの発光能力の劣化が検出される。このため、絶縁回路1に対する入力信号がオン状態のときでも、発光素子1aの発光量を測定することなく、絶縁回路1の健全性を確認することができる。また、発光素子1aの発光能力の劣化が検出された場合に、発光素子1aに流れる電流の値が自動的に大きくなる。具体的には、発光素子1aの発光能力の劣化が検出された場合は、検出用トランジスタ13が閉じる。このため、発光素子1aの発光能力が劣化した場合であっても、入力信号に対して正しく出力信号を出力することができる。なお、発光素子1aの発光能力の劣化が検出された場合に、第1電源4の電圧Vcc1の値を大きくしてもよい。この場合も、入力信号に対して正しく出力信号を出力することができる。実施の形態2においては、発光素子1aに流れる電流の初期値を小さくすることができる。このため、発光素子1aの劣化を遅くすることができる。すなわち、発光素子1aの劣化特性を改善することができる。また、絶縁回路1が光リンクの場合であっても、実施の形態1及び2の健全性確認装置を利用することができる。この場合も、絶縁回路1の発光素子1aの発光量を測定することなく、絶縁回路1の健全性を確認することができる。