ラマン散乱光を利用してファイバの温度分布を測定するファイバ温度分布測定装置であって、前記ファイバの先端と後端とを光スイッチに接続して双方向ファイバとして、この双方向ファイバの前記光スイッチから同じ距離に前記双方向ファイバに設けられる温度が同一である同一温度区間と、この同一温度区間におけるストークス光とアンチストークス光との強度比に基づいて、前記双方向ファイバの温度分布を測定する演算部と、を備えたことを特徴とするファイバ温度分布測定装置。前記温度同一区間の温度を測定する基準温度計の温度に基づいて、前記温度分布の補正を行う温度補正部を備えたことを特徴とする請求項1記載のファイバ温度分布測定装置。前記演算部は、前記温度同一区間内で前記アンチストークス光と前記ストークス光との強度比を複数取得して、当該複数の強度比を平均化して前記双方向ファイバの温度分布を測定することを特徴とする請求項1または2記載のファイバ温度測定装置。ファイバ101には損失が上昇するダークニングといった現象が発生する。このダークニングが発生すると、前述した式3のLtotal、つまりファイバ101の全長の損失比が変化する。これにより、双方向測定によりファイバ101の温度分布の測定を行うときに、正確な温度分布の測定を行うことができなくなる。そこで、本発明は、ファイバの温度分布の双方向測定を行うときに、ファイバの損失が変化したとしても、正確な温度分布の測定を行うことを目的とする。以上の課題を解決するため、本発明のファイバ温度分布測定装置は、ラマン散乱光を利用してファイバの温度分布を測定するファイバ温度分布測定装置であって、前記ファイバの先端と後端とを光スイッチに接続して双方向ファイバとして、この双方向ファイバの前記光スイッチから同じ距離に前記双方向ファイバに設けられる温度が同一である同一温度区間と、この同一温度区間におけるストークス光とアンチストークス光との強度比に基づいて、前記双方向ファイバの温度分布を測定する演算部と、を備えたことを特徴とする。このファイバ温度分布測定装置によれば、双方向ファイバに同一温度区間を設けている。これにより、ファイバ全体の損失比を得ることができ、このファイバ全体の損失比に基づいて、双方向ファイバ全体の温度分布を測定することができる。また、前記同一温度区間の温度を測定する基準温度計の温度に基づいて、前記温度分布の補正を行う温度補正部を備えたことを特徴とする。光スイッチによりストークス光とアンチストークス光との強度は損失する。そこで、同一温度区間の温度を測定して、この温度で補正することで、光スイッチによる損失による温度分布の測定誤差を回避できる。また、前記演算部は、前記同一温度区間内で前記アンチストークス光と前記ストークス光との強度比を複数取得して、当該複数の強度比を平均化して前記双方向ファイバの温度分布を測定することを特徴とする。同一温度区間内でアンチストークス光とストークス光との強度比の複数のサンプルを取得して、平均化することで、温度分布の測定精度を向上させることができる。本発明は、双方向ファイバに同一温度区間を設けることで、双方向ファイバに損失の変化を生じても、正確なストークス光とアンチストークス光との強度比を算出でき、正確な温度分布の測定を行うことができる。以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。本実実施形態のファイバ温度分布測定装置は、温度分布測定部1にファイバ光ファイバ:ファイバセンサ2が接続されている。ファイバ2は先端と後端とが光スイッチ3に接続される双方向ファイバになる。光スイッチ3はチャネルA先端とチャネルB後端との何れかにスイッチを切り替えることで、ファイバ2と温度分布測定部1とを接続する。これにより、ファイバ2の温度分布の測定は双方向測定となる。なお、ファイバ2の先端および後端は光スイッチ3に接続されるが、光スイッチ3から温度分布測定部1の内部にまでファイバ2は延在されている。ここでは、光スイッチ3を基準としてループ状のファイバ2を双方向としている。温度分布測定部1は、パルス発生部11と光源12と方向性結合器13とフィルタ14と第1光電変換器15と第2光電変換器16と第1アンプ17と第2アンプ18と第1ADC19と第2ADC20と平均化回路21と演算部22と温度補正部23と温度基準部24とコネクタ25とを備えている。なお、図中において、光電変換器はO/E、ADCアナログデジタル変換器はA/Dとして示している。パルス発生部11から平均化回路21に同期したタイミングで光パルスを光源12から出力させる。この光パルスは方向性結合器13を経由して、コネクタ25から光スイッチ3に入力される。図1では光スイッチ3はチャネルAに接続されているため、光パルスはチャネルAからファイバ2に出力される。勿論、光スイッチ3はチャネルBに切り替えることもできる。光源12から発振したパルス光によりファイバ2でラマン散乱光が発生する。このラマン散乱光が温度分布測定部1に入力される。温度分布測定部1に入力したラマン散乱光は方向性結合器光分波器13によりフィルタ14に導かれる。このフィルタ14により、ラマン散乱光よりも短い波長側のアンチストーク光AS光と長い波長側のストークス光ST光とに分離される。ST光は第1の光電変換器15により光電変換されて電気信号になる。この電気信号は第1アンプ17により増幅される。そして、第1ADC19により、電気信号がアナログ信号からデジタル信号に変換される。このデジタル信号はST光の強度Istであり、この強度Istのデジタル信号が平均化回路21に入力される。AS光は第2の光電変換器16により光電変換されて電気信号になる。この電気信号は第2アンプ18により増幅される。そして、第2ADC20により、電気信号がアナログ信号からデジタル信号に変換される。このデジタル信号はAS光の強度Iasであり、この強度Iasのデジタル信号が平均化回路21に入力される。平均化回路21では強度IstおよびIasに対してノイズ除去を行うための平均化処理が行われる。この平均化回路21とパルス発生部11との間では、同期を取るための信号の入出力が行われており、平均化回路21とパルス発生部11との間で同期が取られている。演算部22では、ストークス光の強度Istとアンチストークス光Iasとの強度比の演算を行う。この演算結果と温度基準部24が測定しているファイバ2の温度とに基づいて、ファイバ2の温度が得られる。温度補正部23は演算部22により得られた温度に対してラマンシフト周波数等のパラメータを用いて補正を行うようにしている。温度基準部24には方向性結合器13とコネクタ25との間に巻回されたファイバ101の温度を測定する温度センサ24Sが設けられており、実際のファイバ101の温度を温度センサ24Sが測定している。この温度センサ24Sが測定している温度が温度補正部23に対して出力される。図1に示すように、ファイバ2はループ状になっており、先端が光スイッチ3のチャネルAに接続され、後端が光スイッチ3のチャネルBに接続される。つまり、双方向測定になっている。光スイッチ3から延在する2本のファイバ2について、光スイッチ3から一定の距離だけ離間した区間を同一温度区間30とする。この同一温度区間30の内部にチャネルAに接続されるファイバ2とチャネルBに接続されるファイバ101とが内包される。従って、同一温度区間30における2本のファイバ101の温度は同一になる。以上が構成である。前述したようにファイバ2にダークニングが発生してストークス光とアンチストークス光との損失比が変化すると、測定されるGXの値が変化してしまい、ファイバ2の温度が正確に測定することができなくなる。本実施形態では、ファイバ2に同一温度区間30を設けている。光スイッチ3はチャネルAに接続されており、光源12から出力したパルス光はチャネルAを経由してファイバ2に出力される。図2はファイバ2を展開した図であり、同一温度区間30におけるX1の位置のIasとIstとの強度比GX1は、以下の式4で表される。GX1=G0T×LX1式4G0Tは同一温度区間30の温度TにおけるIasとIstとの比LX1はチャネルAの出口からX1の位置までのIasとIstとの損失比一方、ファイバ2の全長チャネルAからチャネルBまでの長さをmとしたときに、ファイバ2の遠端つまり、未接続のチャネルBからX1までの位置m-X1におけるIasとIstとの強度比Gm-X1は、以下の式5で表される。Gm-X1=G0T×Lm-X1式5式4を式5で除算すると、以下の式6が得られる。X1は同一温度区間30の中にあり、温度分布測定部1と非常に近接した位置にある。ファイバ2の全長は数Kmであるのに対して、チャネルAから位置X1までの距離は数m~数十mとなる。よって、ファイバ2の全長と比べると、非常に短い距離になる。このため、位置X1でのIasとIstとの損失比は無視できるものになり、LX1≒1となる。また、ファイバ2の全長mに対して、チャネルAから位置X1までの距離は非常に短いためつまり、X1は非常に小さいため、Lm-X1はほぼLmとみなせる。このLmはファイバ2の全長でのIasとIstとの損失比であり、Lm=Ltotalとなる。よって、以下の式7が得られる。従って、GX1およびGm-X1が得られれば、IasとIstとの損失比であるLtotalを得ることができる。GX1は位置X1でのIasとIstとの強度比であるため、光源12からパルス光を出力して、ラマン散乱光を測定することで、演算部22において、位置X1のIasとIstとの強度比GX1を測定することができる。同様に、ラマン散乱光を測定することで、演算部22において、位置m-X1におけるIasとIstとの強度比Gm-X1を得ることができる。従って、演算部22では、GX1およびGm-X1に基づいて、Ltotalを得ることができる。このLtotalはファイバ2の全長のIasとIstとの損失比を示しており、ダークニング等によりファイバ2の損失が変化したとしても、ファイバ2の全長のIasとIstとの損失比であるLtotalを得ることができる。演算部22はLtotalを得ることで、温度基準部24の温度を基準として、式3で説明したG0Xを得る。このG0Xは位置XにおけるIasとIstとの強度比であり、温度に依存した値になる。このため、温度基準部24の温度を基準として、ファイバ2の位置Xでの温度を得ることができる。前述したGX1およびGm-X1は、同一温度区間30の中でのIasとIstとの強度比になる。同一温度区間30は所定の長さを有しているため、同一温度区間30の中でX1を少しずつ例えば、数mずつずらして、Ltotalを測定して、Ltotalの平均値を取ることで、温度分布の測定の正確性をより向上させることができる。次に、図3に示すように、同一温度区間30の温度を測定する温度基準計41を設ける。この温度基準計41は同一温度区間30の温度を測定しており、測定した温度を温度補正部23に入力している。光スイッチ3では所定の損失が発生する。このために、基準温度計41が同一温度区間30の温度を計測して、温度補正部23に出力する。温度補正部23では演算部22が演算して得られる温度に対して、基準温度計41が計測する温度の補正を行うことで、光スイッチ3の損失による温度測定の誤差を是正している。これにより、正確な温度測定が可能になる。