"開口部を有した基台と、搬送対象物を保持する第1ハンドを有し、該第1ハンドを前記開口部に対峙する位置まで移動させたのち、前記開口部に向けて移動させる第1搬送部と、搬送対象物を保持する第2ハンドを有し、該第2ハンドを前記開口部に対峙する位置まで移動させたのち、前記開口部に向けて移動させる第2搬送部と、前記第1搬送部の動作と前記第2搬送部の動作とを制御する制御部とを備えるハンドラーであって、前記第1ハンド及び前記第2ハンドが、互いに離間した位置から互いに異なる方向で前記開口部に対峙する位置まで移動したのち、前記開口部へ向けて移動することにより、当該第1ハンドと当該第2ハンドとが隣接して前記開口部に配置される状態を有することを特徴とするハンドラー。前記第1搬送部は、前記開口部において前記第1ハンドが配置される第1位置と前記第1ハンドによる搬送対象物の保持及び排出が行なわれる第1受け渡し位置との間で前記第1ハンドを移動させ、前記第2搬送部は、前記開口部において前記第2ハンドが配置される第2位置と前記第2ハンドによる搬送対象物の保持及び排出が行なわれる第2受け渡し位置との間で前記第2ハンドを移動させるものであり、前記第1位置に配置された前記第1ハンド及び前記第2位置に配置された前記第2ハンドが、前記開口部から離脱するように移動したのち、各々の受け渡し位置へ向けて互いに異なる方向へ移動する状態を有する請求項1に記載のハンドラー。前記第1ハンドの保持する前記搬送対象物を該第1ハンドに供給する第1供給トレイと前記第1ハンドの排出する前記搬送対象物を該第1ハンドから回収する第1回収トレイとが各別に設けられた第1シャトルと、前記第2ハンドの保持する前記搬送対象物を該第2ハンドに供給する第2供給トレイと前記第2ハンドの保持する前記搬送対象物を該第2ハンドから回収する第2回収トレイとが各別に設けられた第2シャトルとを備え、前記制御部は、前記第1シャトルの動作と前記第2シャトルの動作とを制御し、前記第1受け渡し位置に配置されるトレイを前記第1供給トレイと前記第1回収トレイとに交互に替えるとともに、前記第2受け渡し位置に配置されるトレイを前記第2供給トレイと前記第2回収トレイとに交互に替える請求項2に記載のハンドラー。前記第1受け渡し位置に前記第1供給トレイが配置され、且つ前記第2受け渡し位置に前記第2供給トレイが配置される状態を有する請求項3に記載のハンドラー。前記第1受け渡し位置に前記第1回収トレイが配置され、且つ前記第2受け渡し位置に前記第2回収トレイが配置される状態を有する請求項3又は4に記載のハンドラー。前記制御部は、前記第1受け渡し位置への前記第1供給トレイの配置と前記第2受け渡し位置への前記第2供給トレイの配置とが同じタイミングで行なわれるように前記第1シャトルの動作と前記第2シャトルの動作とを制御するとともに、前記第1受け渡し位置への前記第1回収トレイの配置と前記第2受け渡し位置への前記第2供給トレイの配置とが同じタイミングで行なわれるように前記第1シャトルの動作と前記第2シャトルの動作とを制御する請求項3~5のいずれか一項に記載のハンドラー。前記制御部は、前記第1ハンドによる前記搬送対象物の保持と前記第2ハンドによる前記搬送対象物の保持とが同じタイミングで行われるように前記第1搬送部の動作と前記第2搬送部の動作とを制御するとともに、前記第1ハンドによる前記搬送対象物の排出と前記第2ハンドによる前記搬送対象物の保持とが同じタイミングで行なわれるように前記第1搬送部の動作と前記第2搬送部の動作とを制御する請求項6に記載のハンドラー。電子部品を検査するテスターと、前記テスターが搭載され該テスターの検査ソケットに対して前記電子部品を押し込むハンドラーとを備える部品検査装置であって、前記ハンドラーは、前記検査ソケットを露出させる開口部を有した基台と、搬送対象物を保持する第1ハンドを有し、該第1ハンドを前記開口部に対峙する位置まで移動させたのち、前記開口部に向けて移動させる第1搬送部と、搬送対象物を保持する第2ハンドを有し、該第2ハンドを前記開口部に対峙する位置まで移動させたのち、前記開口部に向けて移動させる第2搬送部と、前記第1搬送部の動作と前記第2搬送部の動作とを制御する制御部とを備え、前記第1ハンド及び前記第2ハンドが、互いに離間した位置から互いに異なる方向で前記開口部に対峙する位置まで移動したのち、前記開口部へ向けて移動することにより、当該第1ハンドと当該第2ハンドとが隣接して前記開口部に配置される状態を有することを特徴とする部品検査装置。近年では、電子部品の検査効率を高めるために、一度の検査において、検査ソケットに嵌め込まれる電子部品の個数が増えつつある。しかしながら、ハンドによって押し込まれる電子部品の個数が増えることになれば、ハンドそのものの大型化や重量化が進み、電子部品の搬送速度の低下や電子部品の搬送距離の増大が余儀なくされる。そのため、上述したハンドラーでは、ハンドを大型化することによって、検査ソケットに嵌め込まれる電子部品を増やすことは可能ではあるものの、ハンドの大型化にともなう搬送速度の低下や搬送距離の増大に起因した搬送効率の低下を抑えるうえでは、依然として改善の余地が残されたものとなっている。本発明は、上記実情を鑑みてなされたものであり、その目的は、ハンドが保持可能な搬送対象物の数を維持しつつ、基台に設けられた開口部に配置される搬送対象物の個数を増やすとともに多数の搬送対象物の搬送を効率よく行なうことが可能なハンドラー及び部品検査装置を提供することにある。本発明の態様の一つは、開口部を有した基台と、搬送対象物を保持する第1ハンドを有し、該第1ハンドを前記開口部に対峙する位置まで移動させたのち、前記開口部に向けて移動させる第1搬送部と、搬送対象物を保持する第2ハンドを有し、該第2ハンドを前記開口部に対峙する位置まで移動させたのち、前記開口部に向けて移動させる第2搬送部と、前記第1搬送部の動作と前記第2搬送部の動作とを制御する制御部とを備えるハンドラーであって、前記第1ハンド及び前記第2ハンドが、互いに離間した位置から互いに異なる方向で前記開口部に対峙する位置まで移動したのち、前記開口部へ向けて移動することにより、当該第1ハンドと当該第2ハンドとが隣接して前記開口部に配置される状態を有する。また、本発明の態様の一つは、電子部品を検査するテスターと、前記テスターが搭載され該テスターの検査ソケットに対して前記電子部品を押し込むハンドラーとを備える部品検査装置であって、前記ハンドラーは、前記検査ソケットを露出させる開口部を有した基台と、搬送対象物を保持する第1ハンドを有し、該第1ハンドを前記開口部に対峙する位置まで移動させたのち、前記開口部に向けて移動させる第1搬送部と、搬送対象物を保持する第2ハンドを有し、該第2ハンドを前記開口部に対峙する位置まで移動させたのち、前記開口部に向けて移動させる第2搬送部と、前記第1搬送部の動作と前記第2搬送部の動作とを制御する制御部とを備え、前記第1ハンド及び前記第2ハンドが、互いに離間した位置から互いに異なる方向で前記開口部に対峙する位置まで移動したのち、前記開口部へ向けて移動することにより、当該第1ハンドと当該第2ハンドとが隣接して前記開口部に配置される状態を有する。本発明の態様の一つによれば、第1ハンドと第2ハンドとが開口部に対峙する位置に向けて互いに近づくように移動したのち、開口部に向けて移動することにより、開口部に並んで配置される状態を有する。そのため、第1ハンドのみによって開口部に搬送対象物が搬送される態様や第2ハンドのみによって開口部に搬送対象物が搬送される態様と比べて、該ハンドが保持可能な搬送対象物の個数を維持したうえで、開口部に搬送される搬送対象物の数を増やすことができる。すなわち、ハンドを大型化させることなく、開口部に搬送される搬送対象物の数を増やすことができる。それゆえに、ハンドの大型化にともなう搬送速度の低下や搬送距離の増大が抑えられることから、搬送先である開口部へ搬送される搬送対象物の個数を増やしつつ、多数の搬送対象物の搬送を効率よく行なうことができる。本発明の態様の一つは、前記第1搬送部は、前記開口部において前記第1ハンドが配置される第1位置と前記第1ハンドによる搬送対象物の保持及び排出が行なわれる第1受け渡し位置との間で前記第1ハンドを移動させ、前記第2搬送部は、前記開口部において前記第2ハンドが配置される第2位置と前記第2ハンドによる搬送対象物の保持及び排出が行なわれる第2受け渡し位置との間で前記第2ハンドを移動させるものであり、前記第1位置に配置された前記第1ハンド及び前記第2位置に配置された前記第2ハンドが、前記開口部から離脱するように移動したのち、各々の受け渡し位置へ向けて互いに異なる方向へ移動する状態を有する。本発明の態様の一つによれば、第1ハンドと第2ハンドとが開口部に対峙する位置から互いに遠ざかるように移動するため、後続する搬送対象物を第1ハンドが保持しながら移動するタイミングと、後続する搬送対象物を第2ハンドが保持しながら移動するタイミングとが重なりやすくなる。その結果、第1搬送部によって開口部に移動される第1ハンドと第2搬送部によって開口部に移動される第2ハンドとが、再び開口部で互いに隣接しやすくなる。それゆえに、上述した効果がより顕著なものとなる。本発明の態様の一つは、前記第1ハンドの保持する前記搬送対象物を該第1ハンドに供給する第1供給トレイと前記第1ハンドの排出する前記搬送対象物を該第1ハンドから回収する第1回収トレイとが各別に設けられた第1シャトルと、前記第2ハンドの保持する前記搬送対象物を該第2ハンドに供給する第2供給トレイと前記第2ハンドの保持する前記搬送対象物を該第2ハンドから回収する第2回収トレイとが各別に設けられた第2シャトルとを備え、前記制御部は、前記第1シャトルの動作と前記第2シャトルの動作とを制御し、前記第1受け渡し位置に配置されるトレイを前記第1供給トレイと前記第1回収トレイとに交互に替えるとともに、前記第2受け渡し位置に配置されるトレイを前記第2供給トレイと前記第2回収トレイとに交互に替える。ここで、供給トレイと回収トレイとが共通するトレイである場合、ハンドが該ハンドの保持していた搬送対象物を排出してから次の搬送対象物を保持するまでの間には、該ハンドから排出された搬送対象物をトレイから回収すること、該トレイに次の搬送対象物を供給すること、これらが順に実行される。すなわち、次の搬送対象物がトレイに供給されるまでハンドは待機していなければならず、これにより搬送対象物の搬送効率が著しく低下してしまう虞がある。この点、上述した態様であれば、各受け渡し位置に配置されるトレイが供給トレイと回収トレイとに交互に替えられる。そのため、受け渡し位置にて供給トレイから搬送対象物の供給を受けたハンドが再び受け渡し位置に戻ってくるまでの期間に、受け渡し位置に配置されるトレイを供給トレイから回収トレイに替えることが可能である。そして、受け渡し位置に回収トレイが配置されている期間には、供給トレイに対して次の搬送対象物を供給することが可能である。また、受け渡し位置に配置された回収トレイに対してハンドから搬送対象物が排出されると、ハンドに新たな搬送対象物を供給すべく、受け渡し位置に配置されるトレイが供給トレイに替えられる。供給トレイが受け渡し位置に配置されている期間には、回収トレイに排出された搬送対象物を回収することが可能である。つまり、上述した態様の一つでは、供給トレイへの搬送対象物の供給と、回収トレイからの搬送対象物の回収とが、各ハンドが移動している間に行なうことが可能である。その結果、供給トレイと回収トレイとが共通するトレイである場合に比べて、搬送対象物の保持及び排出に際してハンドの待機時間を短くすることが可能である。それゆえに、ハンドによる搬送対象物の供給及び回収が円滑に行なわれることとなる。本発明の態様の一つは、前記第1受け渡し位置に前記第1供給トレイが配置され、且つ前記第2受け渡し位置に前記第2供給トレイが配置される状態を有する。本発明の態様の一つによれば、第1受け渡し位置に第1供給トレイが配置され、且つ第2受け渡し位置に第2供給トレイが配置されるため、第1ハンドに対して搬送対象物が供給されるときに、第2ハンドに対して搬送対象物を供給することが可能となる。そのため、第1ハンドと第2ハンドとが開口部に対峙する位置に向けて互いに近づく前に、一方のハンドに対して搬送対象物の供給が完了することを他方のハンドが待つという期間を短くすることが可能となる。本発明の態様の一つは、前記第1受け渡し位置に前記第1回収トレイが配置され、且つ前記第2受け渡し位置に前記第2回収トレイが配置される状態を有する。本発明の態様の一つによれば、第1受け渡し位置に第1回収トレイが配置され、且つ第2受け渡し位置に第2回収トレイが配置されるため、第1ハンドの保持していた搬送対象物が回収されるときに、第2ハンドの保持していた搬送対象物を回収することが可能となる。そのため、第1ハンドと第2ハンドとが開口部に対峙する位置から互いに遠ざかった後に、一方のハンドに対する搬送対象物の回収が完了することを他方のハンドが待つという期間を短くすることが可能となる。本発明の態様の一つは、前記制御部が、前記第1受け渡し位置への前記第1供給トレイの配置と前記第2受け渡し位置への前記第2供給トレイの配置とが同じタイミングで行なわれるように前記第1シャトルの動作と前記第2シャトルの動作とを制御するとともに、前記第1受け渡し位置への前記第1回収トレイの配置と前記第2受け渡し位置への前記第2供給トレイの配置とが同じタイミングで行なわれるように前記第1シャトルの動作と前記第2シャトルの動作とを制御する。本発明の態様の一つによれば、第1シャトルと第2シャトルとが同じ動作をすることになるため、一方のハンドに対して搬送対象物の供給が完了することを他方のハンドが待つという期間を、より効果的に短くすることが可能になる。また、一方のハンドに対する搬送対象物の回収が完了することを他方のハンドが待つという期間を、より効果的に短くすることが可能にもなる。本発明の態様の一つは、前記制御部が、前記第1ハンドによる前記搬送対象物の保持と前記第2ハンドによる前記搬送対象物の保持とが同じタイミングで行われるように前記第1搬送部の動作と前記第2搬送部の動作とを制御するとともに、前記第1ハンドによる前記搬送対象物の排出と前記第2ハンドによる前記搬送対象物の保持とが同じタイミングで行なわれるように前記第1搬送部の動作と前記第2搬送部の動作とを制御する。本発明の態様の一つによれば、第1搬送部と第2搬送部とが同じ動作をすることになるため、一方のハンドに対して搬送対象物の供給が完了することを他方のハンドが待つという期間を、さらに効果的に短くすることが可能になる。また、一方のハンドに対する搬送対象物の回収が完了することを他方のハンドが待つという期間を、さらに効果的に短くすることが可能にもなる。以下、本発明のハンドラーを具体化した一実施形態について、図1~図14を参照して説明する。まず、ハンドラーが用いられた部品検査装置の構成について図1及び図2を参照して説明する。部品検査装置の構成図1に示されるように、ハンドラー10の基台11には、各種ロボットの搭載される搭載面11aが上面として設けられ、該搭載面11aの大部分が、カバー部材12によって覆われている。これらカバー部材12と搭載面11aとにより囲まれた空間である搬送空間は、部品検査装置の外部から供給されるドライエアーにより湿度と温度とが所定の値に維持されている。基台11の搭載面11aには、一つの方向に延びる4つのコンベアーが、該コンベアーの搬送方向と直交する方向に配列されている。4つのコンベアーのうち、コンベアーの配列方向であるX方向の一方側には、1つの供給用コンベアーC1が敷設され、X方向の他方側には、3つの回収用コンベアーC2,C3,C4が敷設されている。そして、供給用コンベアーC1では、供給用コンベアートレイC1aが、カバー部材12の外側から内側に向かって運ばれる。また、回収用コンベアーC2,C3,C4では、回収用コンベアートレイC2a,C3a,C4aが、カバー部材12の内側から外側に向かって運ばれる。なお、供給用コンベアートレイC1aには、搬送対象物である複数の電子部品Tが収容され、また、回収用コンベアートレイC2a,C3a,C4aには、検査後の複数の電子部品Tが収容されている。なお、本実施形態の供給用コンベアートレイC1a及び回収用コンベアートレイC2a,C3a,C4aには、X方向及びY方向に沿って複数の電子部品Tがマトリクス状に収容される。上記基台11の搭載面11a上には、X方向において互いに向い合う供給ロボット20と回収ロボット40とが搭載されている。供給ロボット20は、供給用コンベアーC1のY方向に配置され、また、回収ロボット40は、回収用コンベアーC2,C3,C4のY方向に配置されている。供給ロボット20は、Y方向に延びる固定軸である供給側固定ガイド21と、供給側固定ガイド21に連結された可動軸である供給側可動ガイド22と、供給側可動ガイド22に連結され、且つ供給側可動ガイド22に沿って移動する供給用ハンドユニット23とを有している。供給側可動ガイド22は、供給側固定ガイド21から回収ロボット40側へ延びる可動軸であって、供給側固定ガイド21に対し、Y方向に往動及び復動可能に連結されている。供給用ハンドユニット23は、供給側可動ガイド22の搭載面11a側に配置されたエンドエフェクターであって、供給側可動ガイド22に対し、X方向に往動及び復動可能に連結されている。また、供給用ハンドユニット23は、供給側可動ガイド22から搭載面11aに向けた下降と、搭載面11a側から供給側可動ガイド22に向けた上昇とが可能に、供給側可動ガイド22に連結されている。そして、供給側可動ガイド22が、供給側固定ガイド21に沿って供給用コンベアーC1側へ移動するとともに、供給用ハンドユニット23が、供給側可動ガイド22に沿って供給用コンベアートレイC1aの上方にまで移動する。これにより、供給用コンベアートレイC1aに載置された電子部品Tが、供給用ハンドユニット23の吸着パットに吸着され、その後、供給用コンベアートレイから持ち上げられる。また、この状態から、供給側可動ガイド22が、供給側固定ガイド21に沿って供給用コンベアーC1上から離れることによって、供給用ハンドユニット23に吸着された電子部品Tが、上述した搬送空間内の所定の位置へ供給される。なお、本実施形態の供給用ハンドユニット23は、複数の電子部品を同時に吸着保持する。回収ロボット40は、供給ロボット20と同じく、Y方向に延びる固定軸である回収側固定ガイド41と、回収側固定ガイド41に連結された可動軸である回収側可動ガイド42と、回収側可動ガイド42に連結され、且つ回収側可動ガイド42に沿ってX方向に移動する回収用ハンドユニット43とを有している。回収側可動ガイド42は、回収側固定ガイド41から供給ロボット20側へ延びる可動軸であって、回収側固定ガイド41に対し、Y方向に往動及び復動可能に連結されている。回収用ハンドユニット43は、回収側可動ガイド42の搭載面11a側に配置されたエンドエフェクターであって、回収側可動ガイド42に対し、X方向に往動及び復動可能に連結されている。また、回収用ハンドユニット43は、回収側可動ガイド42から搭載面11aに向けた下降と搭載面11a側から回収側可動ガイド42に向けた上昇とが可能に、回収側可動ガイド42に連結されている。そして、回収側可動ガイド42が、回収側固定ガイド41に沿って回収用コンベアーC2,C3,C4側へ移動するとともに、回収用ハンドユニット43が、回収側可動ガイド42に沿って、回収用コンベアートレイC2a,C3a,C4aの上方にまで移動する。これにより、回収用ハンドユニット43の吸着パットに吸着された電子部品Tが、回収用コンベアートレイC2a,C3a,C4aに載置される。なお、本実施形態の回収用ハンドユニット43は、供給用ハンドユニット23と同様、複数の電子部品を同時に吸着保持する。また、カバー部材12の内側面には、Y方向に延びる搬送ガイド31が、該内側面におけるX方向の略中央に固定されている。この搬送ガイド31における両端部の下方には、X方向に延びる第1シャトル32と、同じくX方向に延びる第2シャトル35とが配設されている。第1シャトル32は、搭載面11aに固設されたX方向に延びる第1シャトルガイド32cに連結されてX方向に沿って往動及び復動する。第1シャトル32における上記供給ロボット20側には、第1供給トレイとしての供給用シャトルトレイ32aが固定され、また、第1シャトル32における上記回収ロボット40側には、第1回収トレイとしての回収用シャトルトレイ32bが固定されている。供給用シャトルトレイ32aには、処理対象である検査前の複数の電子部品Tが収容され、また、回収用シャトルトレイ32bには、検査後の複数の電子部品Tが収容される。そして、第1シャトル32は、供給用シャトルトレイ32aが供給側可動ガイド22の下に配置され、且つ回収用シャトルトレイ32bが搬送ガイド31の下に配置される位置である供給位置に配置される。また、第1シャトル32は、供給用シャトルトレイ32aが搬送ガイド31の下に配置され、且つ回収用シャトルトレイ32bが回収側可動ガイド42の下に配置される位置である回収位置にも配置される。そして、第1シャトル32は、供給位置と回収位置との間をX方向に沿って往動及び復動する。すなわち、第1シャトル32は、供給用ハンドユニット23によって供給用シャトルトレイ32aに電子部品Tの供給が可能な供給位置と、回収用ハンドユニット43によって回収用シャトルトレイ32bから電子部品の回収が可能な回収位置との間を往復する。第2シャトル35は、これもまた、搭載面11aに固設されたX方向に延びる第2シャトルガイド35cに連結されてX方向に沿って往動及び復動する。第2シャトル35における上記供給ロボット20側には、第2供給トレイとしての供給用シャトルトレイ35aが固定され、また、第2シャトル35における上記回収ロボット40側には、第2回収トレイとしての回収用シャトルトレイ35bが固定されている。供給用シャトルトレイ35aには、搬送対象である検査前の複数の電子部品Tが収容され、また、回収用シャトルトレイ35bには、検査後の複数の電子部品Tが収容される。そして、第2シャトル35は、供給用シャトルトレイ35aが供給側可動ガイド22の下に配置され、且つ回収用シャトルトレイ35bが搬送ガイド31の下に配置される位置である供給位置に配置される。また、第2シャトル35は、供給用シャトルトレイ35aが搬送ガイド31の下に配置され、且つ回収用シャトルトレイ35bが回収側可動ガイド42の下に配置される位置である回収位置にも配置される。そして、第2シャトル35は、供給位置と回収位置との間をX方向に沿って往動及び復動する。すなわち、第2シャトル35は、供給用ハンドユニット23によって供給用シャトルトレイ35aに電子部品Tの供給が可能な供給位置と、回収用ハンドユニット43によって回収用シャトルトレイ35bから電子部品Tの回収が可能な回収位置との間を往復する。また、本実施形態の供給用シャトルトレイ32a,35a及び回収用シャトルトレイ32b,35bには、X方向及びY方向に複数の電子部品Tがマトリクス状に収容される。すなわち、供給用シャトルトレイ32a,35aは、供給用ハンドユニット23による電子部品Tの供給を2回受けることにより電子部品Tで満載される。また回収用シャトルトレイ32b,35bは、回収用ハンドユニット43による電子部品Tの回収を2回受けることにより全ての電子部品Tが回収される。また、搭載面11aのうち、搬送空間の略中央には、搭載面11aを貫通する矩形状の開口部45が形成されている。この開口部45には、ハンドラー10とは別の装置であるテスターのテストヘッド33が取り付けられている。テストヘッド33は、電子部品Tが嵌め込まれるソケットであって、該電子部品Tを検査するための検査回路に電気的に接続されている。テストヘッド33の上面には、複数の電子部品Tを同時に収容することの可能な検査用ポケット33aが凹設され、また、検査用ポケット33aの底面には、電子部品Tの雄端子と嵌合可能な複数の雌端子が凹設されている。そして、電子部品Tの有する雄端子が検査用ポケット33aの雌端子に嵌め込まれることによって、電子部品Tの電気的特性がテスターにより検査可能になる。テスターは、ハンドラーから検査開始を示す電気的な信号を受けて電子部品Tの検査を開始し、その検査結果をハンドラー10に出力する。また、上記搬送ガイド31には、第1搬送ユニット34と第2搬送ユニット36とがY方向に並んで連結されている。図2に示されるように、第1搬送ユニット34を構成する水平移動アーム51は、搬送ガイド31に沿って往動及び復動可能に連結されている。水平移動アーム51は、内蔵された搬送モーターMAが正転あるいは逆転されることにより、搬送ガイド31に沿って往動あるいは復動する。水平移動アーム51の下端部には、水平移動アーム51に対し上昇及び下降可能な垂直移動アーム52が連結されている。垂直移動アーム52は、水平移動アーム51に内蔵された押圧モーターMBが正転あるいは逆転されることにより、水平移動アーム51に対して上昇あるいは下降する。また、垂直移動アーム52の下端部には、例えば真空吸着によって電子部品Tを吸着することの可能なエンドエフェクターである複数の吸着部54を有する第1ハンド53が連結されている。吸着部54は、例えばノズル、該ノズルに接続された吸引ポンプ、該ノズルに圧縮空気を供給するリークバルブ等によって構成されている。なお、これら搬送ガイド31、水平移動アーム51、搬送モーターMA、垂直移動アーム52、押圧モーターMB、及び第1ハンド53を含み第1搬送部が構成されている。すなわち、第1搬送ユニット34は、第1ハンド53が第1シャトル32と互いに向かい合う状態と第1ハンド53が開口部45と互いに向かい合う状態とを有する。また、第1搬送ユニット34は、搬送ガイド31と搭載面11aとの間でZ方向に沿って第1ハンド53を上昇及び下降させる。そして、第1搬送ユニット34は、第1シャトル32の供給用シャトルトレイ32aに収容された検査前の電子部品Tを第1ハンド53で保持し、搬送元である第1シャトル32の上方からテストヘッド33の上方まで電子部品Tを搬送する。また、第1搬送ユニット34は、テストヘッド33にある検査後の電子部品Tを第1ハンド53で保持し、搬送元である第1シャトル32の上方に第1ハンド53を戻す。そして、第1搬送ユニット34は、第1ハンド53の保持した電子部品Tを第1シャトル32の回収用シャトルトレイ32bまで搬送する。なお、本実施形態では、第1ハンド53が移動する範囲のうち、第1ハンド53が第1検査位置に配置される状態で、テストヘッド33に電子部品Tが嵌め込まれる。また、第1ハンド53が移動する範囲のうち、第1ハンド53が第1受け渡し位置に配置される状態で、第1シャトル32におけるいずれかのトレイで電子部品Tの受け渡しが行われる。図2に示されるように、第2搬送ユニット36を構成する水平移動アーム56は、搬送ガイド31に沿って往動及び復動可能に連結されている。水平移動アーム56は、内蔵された搬送モーターMAが正転あるいは逆転されることにより、搬送ガイド31に沿って往動あるいは復動する。水平移動アーム56の下端部には、水平移動アーム56に対し上昇及び下降可能な垂直移動アーム57が連結されている。垂直移動アーム57は、水平移動アーム51に内蔵された押圧モーターMBが正転あるいは逆転されることにより、水平移動アーム51に対して上昇あるいは下降する。また、垂直移動アーム57の下端部には、例えば真空吸着によって電子部品Tを吸着することの可能なエンドエフェクターである複数の吸着部59を有する第2ハンド58が連結されている。吸着部59は、例えば吸着用のノズルと、該ノズルに接続された吸引ポンプ、該ノズルに圧縮空気を供給するリークバルブ等によって構成されている。なお、これら搬送ガイド31、水平移動アーム56、搬送モーターMA、垂直移動アーム57、押圧モーターMB、及び第2ハンド58を含み第2搬送部が構成されている。すなわち、第2搬送ユニット36は、第2ハンド58が第2シャトル35と互いに向い合う状態と第2ハンド58が開口部45と互いに向い合う状態とを有する。また、第2搬送ユニット36は、搬送ガイド31と搭載面11aとの間でZ方向に沿って第2ハンド58を上昇及び下降させる。そして、第2搬送ユニット36は、第2シャトル35の供給用シャトルトレイ35aに収容された検査前の電子部品Tを第2ハンド58で保持し、搬送元である第2シャトル35の上方からテストヘッド33の上方まで電子部品Tを搬送する。また、第2搬送ユニット36は、テストヘッド33にある検査後の電子部品Tを第2ハンド58で保持し、搬送元である第2シャトル35の上方に第2ハンド58を戻す。そして、第2搬送ユニット36は、第2ハンド58の保持した電子部品Tを第2シャトル35の回収用シャトルトレイ35bまで搬送する。なお、本実施形態では、第2ハンド58が移動する範囲のうち、第2ハンド58が第2検査位置に配置される状態で、テストヘッド33に電子部品Tが嵌め込まれる。また、第2ハンド58が移動する範囲のうち、第2ハンド58が第2受け渡し位置に配置される状態で、第2シャトル35におけるいずれかのトレイで電子部品Tの受け渡しが行われる。また、ハンドラー10の開口部45は、第1ハンド53と第2ハンド58とがY方向に並んで挿入されることの可能な大きさに形成されている。すなわち、開口部45は、第1ハンド53が保持している電子部品Tと第2ハンド58が保持している電子部品TとがY方向に並んで配置されて、これらの電子部品Tがテストヘッド33に装着可能となる大きさに形成されている。ハンドラー10の電気的構成上記部品検査装置の電気的構成についてハンドラー10の電気的構成を中心に図3を参照して説明する。上記ハンドラー10に備えられた制御部を構成する制御装置60は、中央処理装置CPU、不揮発性メモリーROM、及び揮発性メモリーRAMを有するマイクロコンピューターを中心に構成されている。制御装置60は、上記ROM及びRAMに格納された各種データ及びプログラムに基づいて、ハンドラー10の動作にかかわる各種制御を行う。制御装置60には、コンベアーモーターMCを回転駆動させるコンベアー駆動部61が電気的に接続されている。コンベアー駆動部61には、コンベアーモーターMCの回転位置を検出するエンコーダーEMCが接続されている。コンベアー駆動部61は、制御装置60から入力された位置指令と、エンコーダーEMCから入力されたコンベアーモーターMCの回転位置とに基づいて、コンベアーモーターMCの駆動電流を生成するとともに、該駆動電流をコンベアーモーターMCに出力する。コンベアーモーターMCは、上記駆動電流に応じた回転を行うことで、上記コンベアーC1~C4を駆動する。なお、上記コンベアー駆動部61及びコンベアーモーターMCは、コンベアーC1~C4毎に設けられ、また、エンコーダーEMCは各コンベアーモーターMCに対して設けられている。すなわち、制御装置60は、各コンベアーC1~C4の動作を互いに独立させた態様で制御する。また、制御装置60には、X軸モーターMXを回転駆動させるX軸ガイド駆動部62が電気的に接続されている。X軸ガイド駆動部62には、X軸モーターMXの回転位置を検出するエンコーダーEMXが接続されている。X軸ガイド駆動部62は、制御装置60から入力された位置指令と、エンコーダーEMXから入力された回転位置とに基づいて、X軸モーターMXの駆動電流を生成するとともに、該駆動電流をX軸モーターMXに出力する。X軸モーターMXは、入力された上記駆動電流に応じた回転を行うことで、上記ハンドユニット23,43を可動ガイド22,42に沿って往動及び復動させる。なお、上記X軸ガイド駆動部62及びX軸モーターMXは、供給用ハンドユニット23及び回収用ハンドユニット43の各々に対して設けられ、また、エンコーダーEMXは、各X軸モーターMXに対して設けられている。制御装置60には、Y軸モーターMYを回転駆動させるY軸ガイド駆動部63が接続されている。Y軸ガイド駆動部63には、Y軸モーターMYの回転位置を検出するエンコーダーEMYが接続されている。Y軸ガイド駆動部63は、制御装置60から入力された位置指令と、エンコーダーEMYから入力された回転位置とに基づいて、Y軸モーターMYの駆動電流を生成するとともに、該駆動電流をY軸モーターMYに出力する。Y軸モーターMYは、入力された上記駆動電流に応じた回転を行うことで、上記可動ガイド22,42を固定ガイド21,41に沿って往動及び復動させる。なお、上記Y軸ガイド駆動部63及びY軸モーターMYは、供給側可動ガイド22及び回収側可動ガイド42の各々に対して設けられ、また、エンコーダーEMYは、各Y軸モーターMYに対して設けられている。制御装置60には、ハンドモーター駆動部64aとバルブ駆動部64bとを有するハンドユニット駆動部64が接続されている。このうち、ハンドモーター駆動部64aには、ハンドモーターMZの回転位置を検出するエンコーダーEMZが接続されている。ハンドモーター駆動部64aは、制御装置60から入力された位置指令と、エンコーダーEMZから入力された回転位置とに基づいて、ハンドモーターMZの駆動電流を生成するとともに、該駆動電流をハンドモーターMZに出力する。ハンドモーターMZは、入力された上記駆動電流に応じた回転を行うことで、上記ハンドユニット23,43を上昇及び下降させる。バルブ駆動部64bには、ハンドユニット23,43の先端に設けられた吸引バルブSV1とリークバルブDV1が接続されている。バルブ駆動部64bは、制御装置60から入力された吸引バルブSV1の開閉指令に基づいて、吸引バルブSV1の駆動信号を生成するとともに、該駆動信号を吸引バルブSV1に出力する。吸引バルブSV1は、入力された上記駆動信号に応じた開閉動作を行うことで、所定の吸引力により上記電子部品Tを吸引する。また、バルブ駆動部64bは、制御装置60から入力されたリークバルブDV1の開閉指令に基づいて、リークバルブDV1の駆動信号を生成するとともに、該駆動信号をリークバルブDV1に出力する。リークバルブDV1は、入力された上記駆動信号に応じた開閉動作を行うことで、吸着パットから圧縮空気を送る。なお、上記ハンドユニット駆動部64、ハンドモーターMZ、吸引バルブSV1、及びリークバルブDV1は、供給用ハンドユニット23及び回収用ハンドユニット43の各々に対して設けられ、また、エンコーダーEMZは、ハンドモーターMZの各々に対して設けられている。すなわち、制御装置60は、供給用ハンドユニット23の動作と回収用ハンドユニット43の動作とを互いに独立させた態様で制御する。また、制御装置60には、シャトルモーターMSを回転駆動させるシャトル駆動部65が接続されている。シャトル駆動部65には、シャトルモーターMSの回転位置を検出するエンコーダーEMSが接続されている。シャトル駆動部65は、制御装置60から入力された位置指令と、エンコーダーEMSから入力された回転位置とに基づいて、シャトルモーターMSの駆動電流を生成するとともに、該駆動電流をシャトルモーターMSに出力する。シャトルモーターMSは、入力された上記駆動電流に応じた回転を行うことで、上記ガイド32c,35cに沿ってシャトル32,35をスライドさせる。なお、上記シャトル駆動部65及びシャトルモーターMSは、第1シャトル32及び第2シャトル35の各々に対して設けられ、また、エンコーダーEMSは、各シャトルモーターMSに対して設けられている。すなわち、制御装置60は、第1シャトル32の動作と第2シャトル35の動作とを互いに独立させた態様で制御する。また、制御装置60には、搬送モーター駆動部66a、押圧モーター駆動部66b、及び吸引バルブ駆動部66cを有した搬送ユニット駆動部66が接続されている。搬送モーター駆動部66aには、搬送モーターMAの回転位置を検出するエンコーダーEMAが接続されている。搬送モーター駆動部66aは、制御装置60から入力された位置指令と、エンコーダーEMAから入力された回転位置とに基づいて、搬送モーターMAの駆動電流を生成するとともに、該駆動電流を搬送モーターMAに出力する。搬送モーターMAは、入力された上記駆動電流に応じた回転を行うことで、上記水平移動アームを上記搬送ガイド31に沿って往動及び復動させる。なお、上記搬送モーター駆動部66aは、第1搬送ユニット34及び第2搬送ユニット36の各々に対して設けられ、また、エンコーダーEMAも、第1搬送ユニット34及び第2搬送ユニット36の各々に対して設けられている。押圧モーター駆動部66bには、押圧モーターMBの回転位置を検出するエンコーダーEMBが接続されている。押圧モーター駆動部66bは、制御装置60から入力された位置指令と、エンコーダーEMBから入力された回転位置とに基づいて、押圧モーターMBの駆動電流を生成するとともに、該駆動電流を押圧モーターMBに出力する。押圧モーターMBは、入力された上記駆動電流に応じた回転を行うことで、垂直移動アームを上昇及び下降させる。なお、上記押圧モーター駆動部66bは、第1搬送ユニット34及び第2搬送ユニット36の各々に対して設けられ、また、エンコーダーEMBも、第1搬送ユニット34及び第2搬送ユニット36の各々に対して設けられている。バルブ駆動部66cには、第1ハンド53及び第2ハンド58の各々に設けられた吸引バルブSV2とリークバルブDV2とが接続されている。バルブ駆動部66cは、制御装置60から入力された吸引バルブSV2の開閉指令に基づいて、吸引バルブSV2の駆動信号を生成するとともに、該駆動信号を吸引バルブSV2に出力する。そして、吸引バルブSV2は、入力された上記駆動信号に応じた開閉動作を行なうことで、所定の吸引力により上記電子部品Tを吸引する。また、バルブ駆動部66cは、制御装置60から入力されたリークバルブDV2の開閉指令に基づいて、リークバルブDV2の駆動信号を生成するとともに、該駆動信号をリークバルブDV2に出力する。そして、リークバルブDV2は、入力された上記駆動信号に応じた開閉動作を行なうことで、ハンドの吸着部から圧縮空気を送る。なお、吸引バルブSV2及びリークバルブDV2は、第1搬送ユニット34及び第2搬送ユニット36の各々に対して設けられており、また、バルブ駆動部66cも、第1搬送ユニット34及び第2搬送ユニット36の各々に対して設けられている。すなわち、制御装置60は、第1搬送ユニット34の動作と第2搬送ユニット36の動作とを互いに独立させた態様で制御する。また、制御装置60には、ハンドラー10に収納されるテスター69が電気的に接続される。制御装置60は、第1ハンド53が第1検査位置に配置され、且つ第2ハンド58が第2検査位置に配置されたときに、テスター69に対して検査を開始することを示す信号を出力する。テスター69は、検査開始信号を受けることで電子部品Tの検査を開始し、検査が終了するとその検査結果とともに検査の終了を示す信号を制御装置60に出力する。ハンドラー10の作動態様次に、上述した構成のハンドラー10の作動態様について図4~図14を参照して説明する。なお、以下では、互いに異なる4つの作動態様について説明するが、各作動態様においては、電子部品Tの検査がテスター69で実施される期間であるインデックスサイクルタイムが最少となる場合について説明する。図4,7,10,13の各々は、互いに異なる4つの作動態様を示すタイムチャートであって、横軸の1目盛りは0.2秒を示している。まず、ハンドラー10が行う動作のうち、下記動作A~動作Jについて説明する。<供給動作A>供給用ハンドユニット23は、供給用コンベアートレイに収容された電子部品Tを吸着したのち、供給対象である供給用シャトルトレイの上方へ移動する。そして、ハンドをZ方向に往復移動したのち、該供給用シャトルトレイに電子部品Tを供給する。これら一連の動作である供給動作Aには、2.2秒を要する。すなわち、1回の供給動作Aによって8個の電子部品Tを搬送すると、供給用ハンドユニット23は、供給用コンベアートレイの電子部品Tを供給用シャトルトレイに対して、1時間あたり最大13090個の電子部品Tを供搬送可能である。<供給昇降動作B>上記供給動作Aのうち、供給用ハンドユニット23は、Z方向に下降及び上昇して供給用コンベアートレイの電子部品Tを吸着する動作、また、Z方向に下降及び上昇して供給用シャトルトレイに電子部品Tを載置する動作、これら各々の動作である供給昇降動作Bに0.4秒を要する。<搬送動作C>搬送ユニット34,36は、受け渡し位置の上方から検査位置の上方までハンド53,58を移動する動作、また、検査位置の上方から受け渡し位置の上方までハンド53,58を移動する動作、これら各々の動作である搬送動作Cに、0.5秒を要する。この際、搬送ユニット34,36は、検査位置の上方である開口部45の上方に向けて2つのハンド53,58を互いに近づけるとともに、2つのハンド53,58を並べた状態で各々の検査位置に配置する。また、搬送ユニット34,36は、各々の検査位置にて並べられた状態から開口部45から上昇したのち、2つのハンド53,58が互いに遠ざかるように、2つのハンド53,58を移動させる。<ハンド昇降動作D>搬送ユニット34,36は、受け渡し位置の上方でハンドを下降及び上昇させて供給用シャトルトレイの電子部品Tをハンドに吸着する動作、また、受け渡し位置の上方でハンドを下降及び上昇させて回収用シャトルトレイに電子部品を排出する動作、これら各々の動作である昇降動作に0.3秒を要する。<シャトル動作F>各シャトル32,35は、供給位置と回収位置との間の移動に0.4秒を要する。<回収動作G>回収用ハンドユニット43は、回収用シャトルトレイの電子部品Tを吸着したのち、回収用コンベアートレイの上へ移動する。そして、ハンドをZ方向に往復移動したのち、次の回収対象となる電子部品Tを収容する回収用シャトルトレイの上に移動する。これら一連の動作である回収動作Gに対し、回収用ハンドユニット43は2,2秒を要する。すなわち、1回の回収動作Gによって回収される電子部品Tが8個であるとすると、回収用ハンドユニット43は、回収用シャトルトレイの電子部品Tを回収用コンベアートレイに対して、1時間あたり最大13090個の電子部品Tを搬送可能である。<回収昇降動作H>上記回収動作Gのうち、回収用ハンドユニット43は、Z方向に下降及び上昇して回収用シャトルトレイの電子部品Tを吸着する動作、また、Z方向に下降及び上昇して回収用コンベアートレイに電子部品Tを載置する動作、これら各々の動作である回収昇降動作Hに0.4秒を要する。<待機動作J>回収用ハンドユニット43は、供給用シャトルトレイ32aの電子部品Tを吸着するために第1ハンド53がZ方向の往復移動している間は、回収用シャトルトレイ32bから電子部品Tを回収せず、待機する。また、回収用ハンドユニット43は、供給用シャトルトレイ35aの電子部品Tを吸着するために第2ハンド58がZ方向の往復移動している間は、これもまた回収用シャトルトレイ35bから電子部品Tを回収せず、待機する。第1の作動態様次に、ハンドラー10における第1の作動態様について、図4~図6を参照して説明する。第1の作動態様においては、下記条件1~条件5の満たされるように、各シャトル32,35と各搬送ユニット34,36とが動作する。<条件1>各搬送ユニット34,36の搬送動作Cが互いに同調する。<条件2>各搬送ユニット34,36のハンド昇降動作Dのうち、回収用シャトルトレイに対するハンド昇降動作Dが互いに同調する。<条件3>各搬送ユニット34,36のハンド昇降動作Dのうち、供給用シャトルトレイに対するハンド昇降動作Dが互いに同調する。<条件4>各シャトル32,35の供給位置へのシャトル動作Fが互いに同調する。<条件5>各シャトル32,35の回収位置へのシャトル動作Fが互いに同調する。まず、図4に示されるタイミングt0では、各シャトル32,35が共に供給位置に配置され、各ハンド53,58が検査位置に配置され、各ハンド53,58に吸着された電子部品Tの検査が行われている図5a参照。そして、タイミングt0から0.8秒が経過すると、タイミングt1にて、電子部品Tの検査が終了する。電子部品Tの検査が終了すると、各ハンド53,58は、検査位置から上方へ移動し、続いて、受け渡し位置の上方に向けて互いに遠ざかるように搬送動作Cを行ったのち、さらに回収シャトルトレイに対して上記ハンド昇降動作Dを行う図5b参照。各ハンド53,58でハンド昇降動作Dが終了すると、タイミングt2にて、各シャトル32,35が、回収位置へのシャトル動作Fを開始する図5c参照。次いで、各シャトル32,35が回収位置に到達すると、タイミングt3にて、各ハンド53,58が、供給用シャトルトレイに対してハンド昇降動作Dを開始する。そして、供給用シャトルトレイ32a,35aの電子部品Tが、各ハンド53,58に吸着されると、各ハンド53,58は、タイミングt4にて、検査位置の上方に向けて互いに近づくように搬送動作Cを開始する。なお、タイミングt3からタイミングt4までの期間では、各シャトル32,35が回収位置に配置され、回収用ハンドユニット43が回収用シャトルトレイ32bの上方で上記待機動作Jを行う。この待機動作Jが終了すると、回収用ハンドユニット43は、回収用シャトルトレイ32bに対して上記回収動作Gを開始する。この際、タイミングt3から0.8秒が経過したタイミングt5では、図5dに示されるように、まず、回収用シャトルトレイ32bから一部の電子部品Tが回収される。次いで、タイミングt4から4.4秒が経過したタイミングt6では、図6aに示されるように、回収用シャトルトレイ32bの全ての電子部品Tが回収される。回収用シャトルトレイ32bの電子部品Tが回収されると、回収用ハンドユニット43は、タイミングt6にて、引き続き回収用シャトルトレイ35bに対して上記回収動作Gを開始する。この際、回収用ハンドユニット43は、まず回収用シャトルトレイ35bと回収用コンベアートレイC4aとの間を1回往復し、回収用シャトルトレイ35bの一部の電子部品Tを回収用コンベアートレイC4aに回収する。次いで、回収用シャトルトレイ35bにある残りの電子部品Tを吸着するために、回収用ハンドユニット43は、回収昇降動作Hを行う。そして、タイミングt6から2.6秒経過したタイミングt7にては、図6bに示されるように、回収用シャトルトレイ32bの全ての電子部品Tが回収される。第2シャトル35の電子部品Tが回収されると、各シャトル32,35は、タイミングt7から、供給位置へのシャトル動作Fを行う図6c参照。そして、シャトル動作Fが終了すると、供給用ハンドユニット23は、供給用シャトルトレイ32aに対してタイミングt8から上記供給動作Aを開始する。この際、第1シャトル32が供給位置に配置されるタイミングt8に合わせて電子部品Tの供給が開始されるように、タイミングt8の1.8秒前から、供給用ハンドユニット23は、検査前の電子部品Tを吸着して第1シャトル32の上方で待機する。そして、タイミングt8にて、供給用ハンドユニット23が供給昇降動作Bを開始する。次いで、供給用ハンドユニット23は、供給用コンベアートレイC1aと供給用シャトルトレイ32aとの間を再び往復して、供給用シャトルトレイ32aに残りの電子部品Tを供給する供給動作Aを行う図6d参照。第1シャトル32に電子部品Tが供給されると、供給用ハンドユニット23は、タイミングt9にて、引き続き供給用シャトルトレイ35aに対して上記供給動作Aを開始する。この際、供給用ハンドユニット23は、第2シャトル35の供給用シャトルトレイ35aと供給用コンベアートレイC1aとの間を2回往復し、供給用コンベアートレイC1aの電子部品Tを供給用シャトルトレイ35aに供給する。そして、第2シャトル35に電子部品Tが供給されると、各シャトル32,35は、タイミングt11にて、先のタイミングt2における状態と等しい状態となる。ここで、先のタイミングt2に対するタイミングt1に相当するタイミングが、タイミングt11に対してはタイミングt10である。第1の作動態様では、このタイミングt10が検査終了のタイミングとして設定されると、タイミングt1からタイミングt10までの15.2秒がインデックスサイクルタイム、タイミングt5からタイミングt10までの13.2秒がテスト時間となる。言い換えれば、第1の作動態様では、電子部品Tのテスト時間が13.2秒以下であれば、インデックスサイクルタイム15.2秒が維持される。このときの1時間あたりの電子部品Tの処理数は、3600秒÷15.2秒×32個=236.8...×32≒236×32=7552個となる。一方、第1ハンド53の保持する電子部品Tと第2ハンド58の保持する電子部品Tとが交互に開口部45に配置される構成のハンドラーにおいて、各ハンド53,58の入替え時間を0.4秒、テスト時間を7,3秒とすると、1時間あたりの処理数は、3600秒÷7.7秒×16個=467.5...×16≒467×16=7472個となる。すなわち、電子部品Tのテスト時間が7.3秒以上であれば、第1の作動態様のハンドラー10の方がより多くの電子部品Tを検査することが可能である。第2の作動態様次に、ハンドラー10における第2の作動態様について、図7~図9を参照して説明する。第2の作動態様においては、上述した条件のうち、条件1~4のみが満たされるように、各シャトル32,35と各搬送ユニット34,36とが動作する。なお、第2の作動態様において、図7におけるタイミングt1からタイミングt5までの期間は、第1の作動態様におけるタイミングt1からタイミングt5までの期間と同じ動作を行う。そのため、第2の作動態様では、第1の作動態様と異なる部分について詳細に説明する。第1の作動態様と同様、回収用ハンドユニット43は、タイミングt4にて、回収用シャトルトレイ32bに対して上記回収動作Gを開始する。この際、回収用ハンドユニット43は、回収用シャトルトレイ32bと回収用コンベアートレイC3aとの間を1回往復し、回収用シャトルトレイ32bの電子部品Tを回収用コンベアートレイC3aに回収する。次いで、回収用シャトルトレイ35bにある残りの電子部品Tを吸着するために、回収用ハンドユニット43が回収昇降動作Hを行い、その後、第1シャトル32が供給位置へ移動する。これにより、タイミングt4の2.6秒後のタイミングt6では、図8aに示されるように、回収用シャトルトレイ32bの全ての電子部品Tが回収される。そして、タイミングt6の0.4秒後のタイミングt7では、図8bに示されるように、第1シャトル32が供給位置に配置される。第1シャトル32が供給位置に配置されると、供給用ハンドユニット23は、タイミングt7にて、供給用シャトルトレイ32aに対して上記供給動作Aを開始する。この際、第1シャトル32が供給位置に配置されるタイミングt7に合わせて電子部品Tが供給されるように、タイミングt7の1.8秒前から、供給用ハンドユニット23は、予め供給用ハンドユニット23に検査前の電子部品Tを吸着させて第1シャトル32の上方で待機する。そして、タイミングt7にて、供給用ハンドユニット23が供給昇降動作Bを開始する。また、供給用ハンドユニット23は、供給用コンベアートレイC1aと供給用シャトルトレイ32aとの間を再び往復し、電子部品Tを供給用シャトルトレイ32aに供給する。これにより、タイミングt7の2.6秒後のタイミングt9において、第1シャトル32の供給用シャトルトレイ32aに電子部品Tが満載される。一方、タイミングt7とタイミングt9の間であるタイミングt8にて、回収用ハンドユニット43は、回収用シャトルトレイ35bに対して上記回収動作Gを開始する。この際、タイミングt8は、回収用シャトルトレイ32bから電子部品Tが回収されたタイミングt6から1.8秒経過している。そこで、回収用ハンドユニット43は、タイミングt8に先駆けて、回収用シャトルトレイ35bの上方まで移動する図8c参照。そして、回収用ハンドユニット43は、タイミングt8から、第2シャトル35の回収用シャトルトレイ35bと回収用コンベアートレイC4aとの間を1回往復し、回収用シャトルトレイ35bの電子部品Tを回収用コンベアートレイC4aに回収する図8d参照。次いで、回収用シャトルトレイ35bにある残りの電子部品Tを吸着するために、回収用ハンドユニット43が回収昇降動作Hを開始し、図9aに示されるように、タイミングt8から2.6秒後のタイミングt10では、回収用シャトルトレイ35bの全ての電子部品Tが回収される。回収用シャトルトレイ35bから電子部品Tが回収されると、第2シャトル35は、タイミングt10から、供給位置へのシャトル動作Fを行う図9b参照。そして、シャトル動作Fが終了すると、供給用ハンドユニット23は、供給用シャトルトレイ35aに対してタイミングt11から上記供給動作Aを開始する。この際、第2シャトル35が供給位置に配置されるタイミングt11に合わせて電子部品Tの供給が開始されるように、供給用ハンドユニット23は、検査前の電子部品Tを吸着して第1シャトル32の上方で待機する。なお、タイミングt10の1.8秒前であるタイミングt9にて、供給用シャトルトレイ32aに電子部品Tが満載される。そこで、供給用ハンドユニット23は、第1シャトル32に対する電子部品Tの供給と第2シャトル35に対する電子部品Tの供給とを連続して行う。そして、供給用ハンドユニット23は、供給用シャトルトレイ35aに対して供給昇降動作Bを行ったのち、供給用シャトルトレイ35aに対する供給動作Aを行い、供給用シャトルトレイ35aに残りの電子部品Tを供給する。これにより、各シャトル32,35は、タイミングt13にて、先のタイミングt2における状態と等しい状態となる。ここで、先のタイミングt2に対するタイミングt1に相当するタイミングが、タイミングt13に対してはタイミングt12である。第2の作動態様では、このタイミングt12が検査終了のタイミングとして設定されると、タイミングt1からタイミングt12までの10.8秒がインデックスサイクルタイム、タイミングt5からタイミングt12までの8.8秒がテスト時間となる。言い換えれば、第2の作動態様では、電子部品Tのテスト時間が8.8秒以下であれば、インデックスサイクルタイム10.8秒が維持される。このときの1時間あたりの電子部品Tの処理数は、3600秒÷10.8秒×32個=333.3...×32≒333×32=10656個となる。一方、第1ハンド53の保持する電子部品Tと第2ハンド58の保持する電子部品Tとが交互に開口部45に配置される構成のハンドラーにおいて、各ハンド53,58の入替え時間を0.4秒、テスト時間を5.0秒とすると、1時間あたりの処理数は、3600秒÷5.4秒×16個=666.6...×16≒666×16=10656個となる。すなわち、電子部品Tのテスト時間が5.0秒を超えると、第2の作動態様のハンドラー10の方がより多くの電子部品Tを検査処理することが可能である。第3の作動態様次に、ハンドラー10における第3の作動態様について、図10~図12を参照して説明する。第3の作動態様においては、上述した条件のうち、条件1及び条件2のみが満たされるように、各シャトル32,35と各搬送ユニット34,36とが動作する。まず、図10に示されるタイミングt0では、第1シャトル32が供給位置に配置され、第2シャトル35が回収位置に配置され、また、各ハンド53,58が検査位置に配置され、各ハンド53,58に吸着された電子部品Tの検査が行われている図11a参照。そして、タイミングt0から0.6秒が経過すると、タイミングt1にて、第2シャトル35が供給位置へのシャトル動作Fを開始する。第2シャトル35が供給位置に到達すると、タイミングt3にて、供給用ハンドユニット23が供給用シャトルトレイ35aに対して供給動作Aを開始する。この際、第2シャトル35が供給位置に配置されるタイミングt3に合わせて電子部品Tの供給が開始されるように、タイミングt3の1.8秒前から、供給用ハンドユニット23は検査前の電子部品Tを吸着して第1シャトル32の上方で待機する。そして、タイミングt3になると、供給用ハンドユニット23は、供給昇降動作Bを行ったのち、供給用コンベアートレイC1aと供給用シャトルトレイ35aとの間を往復して供給動作Aを行う。一方、タイミングt1から0.2秒後が経過すると、タイミングt2にて、電子部品Tの検査が終了する。電子部品Tの検査が終了すると、各ハンド53,58は、検査位置から上方へ移動し、続いて、各受け渡し位置の上方に向けて互いに遠ざかるように搬送動作Cを行い、その後、回収シャトルトレイに対してハンド昇降動作Dを行う図11b参照。そして、タイミングt2から0.8秒が経過すると、第1シャトル32は、タイミングt4から、回収位置へのシャトル動作Fを行う図11c参照。第1シャトル32の回収位置へのシャトル動作Fが終了すると、第1ハンド53は、タイミングt5にて、供給用シャトルトレイに対してハンド昇降動作Dを開始する。そして、第1ハンド53がハンド昇降動作Dを終了することにより、第1ハンド53は、タイミングt6にて、供給用シャトルトレイ32aの電子部品Tを吸着する図11d参照。一方、回収用ハンドユニット43は、タイミングt6にて、回収用シャトルトレイ32bに対して上記回収動作Gを開始する。なお、タイミングt5からタイミングt6までの間、回収用ハンドユニット43は、回収用シャトルトレイ32bの上方で上記待機動作Jを行う。この際、回収用ハンドユニット43は、回収用シャトルトレイ32bと回収用コンベアートレイC3aとの間を1回往復し、回収用シャトルトレイ32bの一部の電子部品Tを回収用コンベアートレイC3aに回収する。次いで、回収用シャトルトレイ32bにある残りの電子部品Tを吸着するために、回収用ハンドユニット43が回収昇降動作Hを行う。一方、供給用シャトルトレイ35aに対して供給動作Aが終了すると、第2シャトル35は、タイミングt7にて、回収位置へのシャトル動作Fを開始する。これにより、タイミングt7から0.4秒が経過したタイミングt8では、図12aに示されるように、供給用シャトルトレイ35aに電子部品Tが満載された状態で第2シャトル35が回収位置に配置され、且つ第1シャトル32の回収用シャトルトレイ32bから一部の電子部品Tが回収される。また、第2ハンド58は、タイミングt8にて、供給用シャトルトレイ35aに対してハンド昇降動作Dを行う。そして、第2ハンド58と、既に電子部品Tを吸着している第1ハンド53とが、各々の検査位置の上方に向けて互いに近づくように搬送動作Cを開始する。これにより、タイミングt8から0.8秒が経過したタイミングt9にて、電子部品Tの検査が開始される。電子部品Tの検査が開始されると、各ハンド53,58は、タイミングt10にて、検査位置に配置され、且つ回収用シャトルトレイ32bから全ての電子部品Tが回収される図12b参照。また、第1シャトル32は、タイミングt10にて、供給位置へのシャトル動作Fを開始する。そして、タイミングt10から0.4秒が経過すると、第1シャトル32は、タイミングt11にて供給位置に配置される図12c参照。第1シャトル32が供給位置に配置されると、供給用ハンドユニット23は、供給用シャトルトレイ32aに対して供給動作Aを開始する。この際、第1シャトル32が供給位置に配置されるタイミングt11に合わせて電子部品Tが供給されるように、タイミングt11の1.8秒前から、供給用ハンドユニット23は、検査前の電子部品Tを吸着して第1シャトル32の上方で待機する。そして、タイミングt11にて、供給用ハンドユニット23が供給昇降動作Bを開始する。次いで、供給用ハンドユニット23は、供給用シャトルトレイ32aと供給用コンベアートレイC1aとの間を再び往復して、タイミングt13までに、供給用シャトルトレイ32aに残りの電子部品Tを供給する供給動作Aを行う。また、タイミングt11とタイミングt13の間にあるタイミングt12にて、回収用ハンドユニット43は、回収用シャトルトレイ35bに対して回収動作Gを開始する。なお、タイミングt10からタイミングt12までに、回収用ハンドユニット43は、電子部品Tを回収用コンベアートレイC3aに排出して、回収用シャトルトレイ35bの上方まで移動する。回収用ハンドユニット43は、タイミングt12にて、回収用シャトルトレイ35bと回収用コンベアートレイC4aとの間を往復し、回収用シャトルトレイ35bの電子部品Tを回収する。そして、回収用シャトルトレイ35bにある残りの電子部品Tを吸着するために、回収用ハンドユニット43は、回収昇降動作Hを行う。すなわち、タイミングt12の2.6秒後のタイミングt14では、図11aに示すタイミングt1と同じく、供給用シャトルトレイ32aに対する電子部品Tの供給が終了した第1シャトル32が供給位置に配置されている。また、供給用シャトルトレイ35a及び回収用シャトルトレイ35bが空の状態で第2シャトル35が回収位置に配置されている。第2シャトル35は、タイミングt14にて、供給位置へのシャトル動作Fを開始する。そして、供給用ハンドユニット23は、タイミングt14の0.4秒後のタイミングt16にて、供給用シャトルトレイ35aに対して供給動作Aを開始する。この際、第2シャトル35が供給位置に配置されるタイミングt16に合わせて電子部品Tの供給が開始されるように、供給用ハンドユニット23は、検査前の電子部品Tを吸着して第1シャトル32の上方で待機する。なお、タイミングt16の1.8秒前であるタイミングt13にて、供給用シャトルトレイ32aに電子部品Tが満載される。そこで、供給用ハンドユニット23は、第1シャトル32へ電子部品Tを供給と第2シャトル35に対する電子部品Tの供給とを連続して行う。そして、供給用ハンドユニット23は、供給用シャトルトレイ35aに対して供給昇降動作Bを行ったのち、供給用シャトルトレイ35aに対する供給動作Aを行い、供給用シャトルトレイ35aに残りの電子部品Tを供給する。これにより、各シャトル32,35は、タイミングt16にて、先のタイミングt3における状態と等しい状態となる。ここで、先のタイミングt3に対するタイミングt2に相当するタイミングが、タイミングt16に対してはタイミングt15である。このタイミングt15が検査終了のタイミングとして設定されると、タイミングt2からタイミングt15までの8.8秒がインデックスサイクルタイム、タイミングt9からタイミングt15までの4.8秒がテスト時間となる。言い換えれば、第3の作動態様では、電子部品Tのテスト時間が4.8秒以下であれば、インデックスサイクルタイム8.8秒が維持される。このときの1時間あたりの電子部品Tの処理数は、3600秒÷8.8秒×32個=409.0...×32≒409×32=13088個となる。一方、第1ハンド53の保持する電子部品Tと第2ハンド58の保持する電子部品Tとが交互に開口部45に配置される構成のハンドラーにおいて、各ハンド53,58の入替え時間を0.4秒、テスト時間を4.0秒とすると、1時間あたりの処理数は、3600秒÷4.4秒×16個=818.1...×16≒818×16=13088個となる。すなわち、電子部品Tのテスト時間が4.0秒を超えると、第3の作動態様のハンドラー10の方がより多くの電子部品Tを検査処理することが可能である。第4の作動態様次に、ハンドラー10における第4の作動態様について、図13~図14を参照して説明する。第4の作動態様においては、他の作動態様と比べて、供給動作A及び回収動作Gに要する時間が異なる。すなわち、供給動作A及び回収動作Gの各々に1,4秒要する。また、第4の作動態様においては、上述した条件のうち、条件1のみが満たされるように、各シャトル32,35と各搬送ユニット34,36とが動作する。なお、第4の作動態様においてはタイミングt1において電子部品Tの検査が終了する。このタイミングt1におけるハンドラー10は、各シャトル32,35に関しては第3の作動態様におけるタイミングt0と同じ状態である。そのため、第4の作動態様のタイミングt1については、図14aに図示することによりその詳細な説明は省略する。タイミングt1において電子部品Tの検査が終了すると、各ハンド53,58は、検査位置から上方へ移動し、続いて、各受け渡し位置の上方に向けて互いに遠ざかるように搬送動作Cを行い、その後、第1ハンド53のみが回収用シャトルトレイ32bに対してハンド昇降動作Dを行う。第2シャトル35は、タイミングt1から0.6秒が経過したタイミングt2にて、供給位置へのシャトル動作Fを開始する。そして、タイミングt2から0.4秒が経過したタイミングt4にて、第2ハンド58が回収用シャトルトレイ35bに対してハンド昇降動作Dを行う。また、タイミングt4にて、供給用ハンドユニット23は、供給用シャトルトレイ35aに対して供給動作Aを開始する。この際、第2シャトル35が供給位置に配置されるタイミングt4に合わせて電子部品Tが供給されるように、タイミングt4の1.0秒前であるタイミングt1から、供給用ハンドユニット23は、検査前の電子部品Tを吸着して第2シャトル35の上方で待機する。そして、タイミングt4になると、供給用ハンドユニット23は、供給昇降動作Bを行ったのち、供給用コンベアートレイC1aと供給用シャトルトレイ35aとの間を往復して供給動作Aを行う。一方、第1シャトル32は、タイミングt1から0.8秒が経過したタイミングt3にて、回収位置へのシャトル動作Fを開始する。そして、タイミングt3の0.4秒後のタイミングt5にて、第1ハンド53は、供給用シャトルトレイ32aに対してハンド昇降動作Dを行う。また、回収用ハンドユニット43は、タイミングt5から0.4秒後のタイミングt6にて、回収用シャトルトレイ32bに対して回収動作Gを開始する。なお、タイミングt5からタイミングt6までの間は、回収用ハンドユニット43は、回収用シャトルトレイ32bの上方で待機動作Jを行う。そして、回収用ハンドユニット43は、タイミングt6にて、回収用シャトルトレイ32bと回収用コンベアートレイC3aとの間を1回往復して回収動作Gを行う図14b参照。続いて、回収用シャトルトレイ32bにある残りの電子部品Tを吸着するために、回収用ハンドユニット43は、回収昇降動作Hを行う。すなわち、タイミングt6から1.8秒後のタイミングt9にて、回収用シャトルトレイ32bから全ての電子部品Tが回収される。第1シャトル32は、上記タイミングt9にて、供給位置へのシャトル動作Fを開始する。供給用ハンドユニット23は、タイミングt9から0.4秒後のタイミングt10にて、供給用シャトルトレイ32aに対して供給動作Aを開始する。この際、第1シャトル32が供給位置に配置されるタイミングt10に合わせて電子部品Tが供給されるように、タイミングt10の1.0秒前のタイミングt7から、供給用ハンドユニット23は、検査前の電子部品Tを吸着して第1シャトル32の上方で待機する。そして、タイミングt10になると、供給用ハンドユニット23は、供給用シャトルトレイ32aに対して供給昇降動作Bを開始する。続いて、供給用ハンドユニット23は、供給用シャトルトレイ32aと供給用コンベアートレイC1aとの間を再び往復し、残りの電子部品Tを供給用シャトルトレイ32aに供給する供給動作Aを行う。すなわち、タイミングt10の1.8秒後であるタイミングt13にて、供給用シャトルトレイ35aに電子部品Tが満載される。他方、第2シャトル35は、上記タイミングt7にて、回収位置へのシャトル動作Fを開始する。すなわち、第2シャトル35は、図14cに示されるように、供給用シャトルトレイ35aに電子部品Tが供給された状態で、回収位置へのシャトル動作Fを開始する。そして、タイミングt7から0.4秒が経過したタイミングt8にて、第2ハンド58は、供給用シャトルトレイ35aに対する供給昇降動作Bを行い、その後、各ハンド53,58は、各々の検査位置の上方に向けて互いに近づくように搬送動作Cを行う。すなわち、図14dに示されるように、タイミングt8の0.8秒後のタイミングt11では、各ハンド53,58が検査位置に配置されており、且つ第1シャトル32の供給用シャトルトレイ32aに一部の電子部品Tが供給されている。回収用ハンドユニット43は、上記タイミングt11から0.4秒後のタイミングt12にて、回収用シャトルトレイ35bに対して回収動作Gを開始する。なお、回収用ハンドユニット43は、タイミングt9からタイミングt12までに、回収した電子部品Tを回収用コンベアートレイC3aに排出して、回収用シャトルトレイ35bの上方まで移動する。そして、回収用ハンドユニット43は、タイミングt12にて、回収用シャトルトレイ35bと回収用コンベアートレイC4aとの間を往復して回収動作Gを行う。続いて、回収用ハンドユニット43は、回収用シャトルトレイ35bにある残りの電子部品Tを吸着するために回収昇降動作Hを行う。すなわち、タイミングt12から1.8秒が経過したタイミングt14では、第2シャトル35の回収用シャトルトレイ35bから全ての電子部品Tが回収される。これにより、各シャトル32,35は、タイミングt14にて、先のタイミングt2における状態と等しい状態となる。ここで、先のタイミングt2に対するタイミングt1に相当するタイミングが、タイミングt14に対してはタイミングt13である。このタイミングt13が検査終了のタイミングとして設定されると、タイミングt1からタイミングt13までの5.6秒がインデックスサイクルタイム、タイミングt11からタイミングt13までの1.6秒がテスト時間となる。言い換えれば、電子部品Tのテスト時間が1.6秒以下であれば、インデックスサイクルタイム5.6秒が維持される。このときの1時間あたりの電子部品Tの処理数は、3600秒÷5.6秒×32個=642.8...×32≒642×32=20544個となる。一方、第1ハンド53の保持する電子部品Tと第2ハンド58の保持する電子部品Tとが交互に開口部45に配置される構成のハンドラーにおいて、テスト時間を1,6秒とすると、テスト時間が短すぎるため供給用及び回収用ハンドユニット23,43の搬送能力に応じた分のみが処理される。すなわち、電子部品Tのテスト時間が1.6秒以下であれば、第4の作動態様のハンドラー10の方がより多くの電子部品Tを検査処理することが可能である。以上説明したように、本実施形態によれば、以下に列挙する効果が得られるようになる。1基台11には、第1ハンド53と第2ハンド58とが並んで配置することができる開口部45が形成されている。そのため、テストヘッド33に対して、第1ハンド53の電子部品Tと第2ハンドの電子部品Tとが並んで嵌め込まれることとなる。すなわち、こうした2つのハンドで構成されるハンドラー10において、最も多くの電子部品Tを同時期に検査することが可能である。その結果、各ハンド53,58の一方が保持している電子部品Tのみがテストヘッド33に嵌め込まれる構成のハンドラーのように、開口部45に同時期に配置される電子部品Tの数を増やすうえで各ハンド53,58を大型化させる必要がない。すなわち、装置の大型化が抑えられるとともに、各ハンド53,58が保持可能な電子部品Tの数を維持したうえで、開口部45に配置される電子部品Tの数を増加させることができる。それゆえに、ハンドの大型化にともなう搬送速度の低下や搬送距離の増大が抑えられることから、開口部45へ搬送される電子部品Tの個数を増やしつつ、電子部品Tの搬送を効率よく行なうことができる。2第1ハンド53による電子部品Tの吸着と排出とが同じ第1受け渡し位置で行われることから、これらが異なる位置で行われる構成に比べて、第1ハンド53の移動経路及び第1ハンド53を移動させる機構の複雑化を抑えることが可能である。同様に、第2ハンド58による電子部品Tの吸着と排出とが同じ第2受け渡し位置で行われることから、これらが異なる位置で行われる構成に比べて、第2ハンド58の移動経路及び第2ハンド58を移動させる機構の複雑化を抑えることが可能である。これらのことから、ハンドラー10の大型化を抑えることが可能である。3搬送ガイド31に沿って第1ハンド53及び第2ハンド58を移動させる搬送モーターが互いに異なることから、Z方向で開口部45に対峙する位置に各ハンド53,58の各々を同じタイミングで配置すること、異なるタイミングで配置すること、それらが可能である。4第1シャトル32において、検査前の電子部品Tが収納される供給用シャトルトレイ32aと検査後の電子部品Tが収容される回収用シャトルトレイ35bが異なるとともにいずれか一方が第1受け渡し位置に配置される。そのため、回収用シャトルトレイ32bが第1受け渡し位置に配置されている場合には、供給用シャトルトレイ32aに対して電子部品Tを供給することが可能である。一方、供給用シャトルトレイ32aが第1受け渡し位置に配置されている場合には、回収用シャトルトレイ32bに排出された電子部品Tを回収することが可能である。第2シャトル35についても同様である。すなわち、各ハンド53,58による電子部品Tの吸着ならびに排出を円滑に行うことができる。5検査前の電子部品Tは、供給用ハンドユニット23によって各シャトル32,35の供給用シャトルトレイ32a,35aに供給される。また、検査後の電子部品Tは、回収用ハンドユニット43によって各シャトル32,35の回収用シャトルトレイ32b,35bから回収される。こうした構成によれば、各シャトル32,35の各々に対応するように供給用ハンドユニット23ならびに回収用ハンドユニット43が設けられる構成に比べて、ハンドラーが大型化することを抑えることが可能である。6第1の作動態様及び第2の作動態様では、各ハンド53,58による検査後の電子部品Tの排出と検査前の電子部品Tの吸着とを短い期間で行うことができることから、他の作動態様に比べてテスト時間が長い電子部品Tであってもインデックスサイクルタイムを維持することが可能である。7第2の作動態様、第3の作動態様、及び第4の作動態様では、供給位置に各シャトル32,35が配置されるタイミング、及び回収位置に各シャトル32,35が配置されるタイミングのうちで少なくとも1つが異なるタイミングで行われている。こうした構成によれば、例えば、供給用ハンドユニット23を用いた第1シャトル32に対する電子部品Tの供給と、回収用ハンドユニット43を用いた第2シャトル35に対する電子部品Tの回収とを同時期に行うことができる。それゆえに、インデックスサイクルタイムを第1の作動態様よりも短くすることができる。8第3の作動態様及び第4の作動態様では、各ハンド53,58が電子部品Tを吸着するタイミング、及び各ハンド53,58が電子部品Tを排出するタイミングのうちで少なくとも1つが異なるタイミングで行われている。こうした構成によれば、例えば、各シャトルに電子部品Tを供給するタイミング、各シャトルから電子部品Tを回収するタイミングに関する自由度を向上させることができる。それゆえに、インデックスサイクルタイムのさらなる短縮化が見込まれる。なお、上記実施形態は、以下のように適宜変更して実施することもできる。搬送対象物は、複数の供給用ハンドユニットによって複数の供給用トレイの各々に供給される構成であってもよい。このような構成によれば、複数の供給用トレイの各々に対して同じタイミングで搬送対象物を供給することが可能にもなる。搬送対象物は、複数の回収用ハンドユニットによって複数の回収用トレイの各々から回収される構成であってもよい。このような構成によれば、複数の回収用トレイの各々に対して同じタイミングで搬送対象物の回収を行うことが可能にもなる。一つのハンドに対して搬送対象物が供給される位置と、該一つのハンドから搬送対象物が回収される位置とが、互いに異なる構成であってもよい。2つのハンドを移動させる搬送モーターは、共通する一つのモーターであってもよい。このような構成によれば、2つのハンドの動作を同調させることが容易なものとなる。開口部から上げられた2つのハンドが互いに異なるタイミングで搬送元に戻る態様であってもよい。部品検査装置は、テスターとハンドラーとが各別に設けられる態様に限らず、テスターとハンドラーとが一体的に設けられる態様であってもよい。"