"負荷に交流電源を供給する主回路にサイリスタを逆並列に接続して構成された半導体交流スイッチの電流不導通検出装置において、前記交流電源から前記サイリスタに流れる電流の大きさを検出する電流検出手段と、前記交流電源の電圧信号から同期検出された同期信号によって相電圧に相当する位相を検出する位相検出手段と、前記電流検出手段で検出された電流から前記相電圧に相当する位相の半周期毎に二乗積分値演算により正負の実効電流値を求める演算手段と、前記実効電流値の正負の偏差が正の半周期と負の半周期との間で所定値を超えたとき、前記サイリスタのいずれかの不導通を検出する比較手段と、を備えたことを特徴とする半導体交流スイッチの電流不導通検出装置。前記半導体交流スイッチは、前記負荷に三相電源を配送するための各給電線にサイリスタを逆並列に接続して構成されたものであることを特徴とする請求項1記載の電流不導通検出装置。前記演算手段は、前記電流検出手段の検出値である瞬時値の二乗演算を行い、正負の半周期間で積分演算を行い、積分演算結果をサンプリング回数で除算し、さらに平方根演算を行うことによって、正負の実効電流値を求めることを特徴とする請求項1記載の電流不導通検出装置。前記演算手段は、前記電流検出手段の検出値である瞬時値の絶対値を積分することで得られた半周期毎の信号を正負の実効電流値に代えて出力することを特徴とする請求項1記載の電流不導通検出装置。負荷に交流電源を供給する主回路にサイリスタを逆並列に接続して構成された半導体交流スイッチの電流不導通検出方法において、線間電圧を電圧検出器にて検出するステップ、前記線間電圧の検出信号から同期検出を行うステップ、さらに、所定の位相だけ遅らせた相電圧に相当する位相信号を検出するステップ、その相電圧相当の位相信号に同期して前記サイリスタに流れる半周期毎の電流実効値を演算するステップ、および、正の半周期と負の半周期での実効電流値の偏差が所定値を超えたとき、前記サイリスタの不導通を検出するステップ、を含むことを特徴とする半導体交流スイッチの電流不導通検出方法。ところが、従来のサイリスタが開放あるいは不点弧で故障したか否かを検出するための方法、あるいは半導体交流スイッチ装置の素子故障検出装置では、負荷として整流負荷が接続され、その負荷電流が低減し、交流電流が断続状態となった場合、サイリスタ開放による電流断続との区別がつかずサイリスタ不導通を誤検出する可能性がある。本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、交流スイッチを構成するサイリスタスイッチの不導通をより確実に検出する電流不導通検出装置を提供することを目的とする。また、本発明の別の目的は、正負の半サイクル毎の実効値演算を行って、それらの互いの偏差を求め、それが所定の検出値以上の偏差として検出されたときサイリスタの不導通として検出する電流不導通検出方法を提供することである。本発明では、上記問題を解決するために、負荷に交流電源を供給する主回路にサイリスタを逆並列に接続して構成された半導体交流スイッチの電流不導通検出装置が提供される。この電流不導通検出装置は、前記交流電源から前記サイリスタに流れる電流の大きさを検出する電流検出手段と、前記交流電源の電圧信号から同期検出された同期信号によって相電圧に相当する位相を検出する位相検出手段と、前記電流検出手段で検出された電流から前記相電圧に相当する位相の半周期毎に二乗積分値演算により正負の実効電流値を求める演算手段と、前記実効電流値の正負の偏差が正の半周期と負の半周期との間で所定値を超えたとき、前記サイリスタのいずれかの不導通を検出する比較手段とから構成される。本発明によれば、電圧検出器、電流検出器、およびマイコンによる演算で、サイリスタの不導通をより確実に検出できるようになる。以下、図面を参照してこの発明の実施の形態について説明する。図1は、本発明の実施の形態に係る電流不導通検出装置を示す回路ブロック図である。電源1は三相交流電源であって、各相はそれぞれ2つのサイリスタ2Ua,2Ub,2Va,2Vb,2Wa,2Wbを互いに逆並列に接続して構成された半導体交流スイッチを介して負荷30に接続されている。電流検出器4U,4V,4Wは、電源1と半導体交流スイッチの間の主回路に設けられている。三相交流電源1のU相とV相の間に電圧検出器40を設けて、U相-V相間の線間電圧信号を検出し、同期検出回路50へ入力する。同期検出回路50では比較器91にて0Vと比較し、同期信号線間電圧信号を検出する。開放検出回路10は、マイコン6、加算器7,8および比較器9から構成されている。電流検出器4U,4V,4Wは主回路電流を電圧信号に変換する電流検出手段であり、電流検出信号はマイコン6に供給されている。マイコン6は、正負の実効電流値を演算するための実効値演算回路11,12を含んで構成される。加算器7は、同期検出回路50にて検出した同期信号線間電圧信号からさらに30°の位相を遅らせた相電圧に相当する同期信号相電圧信号を出力する。加算器7から出力される同期信号相電圧信号は割込み信号発生回路60に供給され、それぞれ実効値演算回路11,12での演算タイミングを決定している。マイコン6では実効値演算結果は加算器8に出力されている。加算器8では実効値演算回路11,12から出力される実効電流値により正負の偏差値が演算され、それが比較器9に出力される。比較器9には、マイコン6からの偏差値とともに所定の判定値が供給されている。ここでは、実効電流値の正負の偏差が正の半周期と負の半周期との間で判定値を超えたとき、2つのサイリスタ2Ua,2Ubのいずれかが不導通であると検出して、開放検出信号を出力する。図2は、図1の電流不導通検出装置における不導通非検出状態での各部信号波形を示すタイミング図である。同図Aには、サイリスタ2Ua,2Ubへの入力である線間電圧信号U-Vを実線により示している。また、破線および点線により他の線間電圧信号W-U,V-Wを示す。同図B、Cは、それぞれ線間電圧信号U-Vのゼロクロスタイミングに同期する同期信号、および30°遅れの同期信号を示している。加算器7では、2つの同期信号から位相を30°遅れさせた相電圧に相当する信号に補正する。マイコン6では、補正して得られた相電圧に相当する同期信号の正の期間0~180°と負の期間180°~360°とに二分割する。この正負の期間は相電圧に同期した信号から、例えばPLLフェイズロックドループ回路によって、図2Dに示すように位相を6分割することで得られる60°毎のマイコン6への割込み信号を形成することができる。電流検出器4Uからの検出信号は、図2FにU相電流検出値として示されている。ここでは、60°毎の割込み信号とは別により高速にサンプリングされた瞬時値として、マイコン6に取り込まれている。図2Eには、高速なサンプリング信号として、400μsの定周期割込み信号を示している。同期信号の周波数が60Hzの場合、十分な分解能が得られるよう200~400μs程度に選択することで、半周期に20から40回程度のサンプリングが可能となる。なお、400μsの定周期割込み信号は、割込み信号発生回路60における例えば60°毎の割り込み信号とは非同期であっても構わない。マイコン6では、実効値演算回路11,12によりそれぞれ相電圧に相当する位相の半周期毎に二乗積分値演算が行われ、正負の実効電流値rmsとして平方根演算が実施される。図2Gには、二乗演算結果を示す。また、同図H、Iには、それぞれ正負電流の二乗積分値を示す。その際、サンプリング毎400μs毎に電流検出器4Uから入力された瞬時値信号を用いて、二乗積分演算を行い、60°毎の割込み信号の0°あるいは180°のときの実効値が正負の期間に分割されて実効値演算を行う。また、半周期毎に演算された実効電流値rmsは、次の演算結果が得られる半周期だけその値が保持され、新たに演算結果が得られると、その都度リセットされ、新しい二乗積分演算結果によって更新される。その結果、同図J、Kに示すように、U相の正負電流は360°毎にデータ更新される。図3は、図1の電流不導通検出装置における不導通検出時の各部信号波形を示すタイミング図である。図2に示す場合と同様に、半周期毎に演算された実効値は次に演算結果が得られるまで、その値が保持され、新たに演算結果が得られる度に新しい値に更新される。ところが、図3J、Kに示すように、例えば正期間でのデータ更新サイクルの直後にサイリスタ2Ubが不導通となって負期間のU相電流だけが失われた場合には、負電流の二乗積分値がそれ以前の値と比較して小さくなる。そのため、負期間でのデータ更新サイクルになると、同図Lに示すように、負電流の実効電流値rmsは大きく減少する。一方、正期間のU相電流は以前と同じ大きさの電流値として検出されるため、その二乗積分値はやや減少するものの、正期間でのデータ更新サイクルになっても実効電流値rmsの変化は小さい。したがって、こうして得られた正負それぞれの期間の実効電流値を比較し、比較した値が予め設定した判定値以上になった場合、同図Mに示すように、サイリスタ2Ua,2Ubのいずれかの不導通を検出することができる。図4は、サイリスタ電流の瞬時値を二乗積分する演算手順を示すフローチャートである。400μsの割込み演算処理は、ステップS11でU相の電流検出値を検出し、ステップS12で二乗演算を行い、ステップS13で400μs毎にU相電流の二乗演算結果に対する積算演算を行って、積分値を求めている。さらに、ステップS14ではサンプリング回数を1だけ加算する。図5は、サイリスタ不導通検出プログラムにおける判定手順を示すフローチャートである。ここでは、ステップS21で0°の割込みタイミングであればステップS22に進み、ステップS23で180°の割込みタイミングであればステップS24に進む。さらに、それぞれステップS22,S24では、図4に示す400μsの割込み演算処理によって得られた電流の二乗積分とサンプリング回数の演算を行う。400μs割込みでは単に積分演算とサンプリングの回数をカウントし、演算結果は0°割込み、または180°割込みで使用し、次の期間のための0クリアも0°または180°割込みから行う。図5で0°割込みが発生した場合、それまで180°から360°までの演算結果が400μs割込みに残っているので、ステップS25で負の期間の実効値演算を行い、それを保存する。そして、次の正の半周期での処理のため、積分値とサンプリング回数をステップS27とS29で0クリアする。同様に180°割込みが発生した場合、0°から180°までの演算結果が400μs割込みに残っているので、ステップS26で正の期間の実効値演算を行ってそれを保存し、次の負の半周期での処理のため、積分値とサンプリング回数をステップS28とS30で0クリアする。なお、ステップS21では0°の割込みが、ステップS23では180°の割込みが発生したどうかを判定し、0°、180°以外の60°,120°,240°、あるいは300°の割込みのタイミングでは何らの処理もしないで終了する。その後、正負の期間に保存した実効値演算結果により、ステップS31で実効値の偏差の絶対値を求め、この偏差の絶対値が予め設定された判定値を超えたかどうかをステップS32で比較する。こうして、サイリスタ2Ua,2Ubの不導通が半周期毎に判定される。なお、ステップS31における電流実効値演算では判定値である瞬時値の二乗演算を行い、半周期間の積分演算を行い、積分演算結果をサンプリング回数で除算し、さらに平方根演算を行っている。しかし、ここでの実効値演算を簡略化して、サンプリング回数の除算と平方根演算とを省略することも可能である。また、二乗演算を省略して、単に電流検出値の絶対値を積分し、それによって得られた半周期毎の信号を比較することによっても、上述したものと同等の故障検出ができる。三相交流電源20の開放検出回路10では、U相以外のV相、W相を入り切りする半導体交流スイッチのサイリスタ2Va,2Vbおよび2Wa,2Wbについては、U相から120°ずつ位相をずらした期間、すなわちV相の場合には120°~300°を正の期間、300°~120°を負の期間とし、また同様にW相の場合には240°~60°と60°~240°をそれぞれ正、負の半周期間とすればよい。これにより、U相について説明したものと同様の演算がV相、W相についても可能となり、V相およびW相について、それぞれ半導体交流スイッチを構成するサイリスタ2Va,2Vbおよび2Wa,2Wbの不導通を検出することができる。"