"波形の初期変化点を検出する工程と、前記初期変化点からサンプリングを行う工程と、第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する工程とを有することを特徴とする波形比較方法。前記初期変化点を検出する工程は、前記波形の初期値からの変化量が一定以上となった前記初期変化点を検出することを特徴とする請求項1記載の波形比較方法。前記初期変化点を検出する工程は、初期状態からの立ち上がりで、前記波形の微分係数が一定以上となった前記初期変化点を検出することを特徴とする請求項1記載の波形比較方法。前記初期変化点を検出する工程は、アナログ波形とデジタル波形の遷移タイミングから前記初期変化点を検出することを特徴とする請求項1記載の波形比較方法。波形の初期変化点を検出する手段と、前記初期変化点からサンプリングを行う手段と、第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する手段とを有することを特徴とする試験装置。大規模回路をモデル化する際、時定数まで合わせ込むようなモデルを作るのは困難であり、回路とモデルの間には少なからず時間軸方向に誤差が生まれる。そのため、上記従来技術では、機能的な面だけ見れば等価性ありと見なすことができるモデルであっても、等価性なしと判断してしまうと言った問題があった。時間軸方向に誤差範囲を持たせることが考えられるが、その場合には、波形データを全て残しておく必要があり、大規模回路で長時間のシミュレーションを流した場合、波形データだけで数百GBに達する等の負荷が大きく、この方法は現実的ではない。開示の技術は、波形の初期変化点を検出する工程と、前記初期変化点からサンプリングを行う工程と、第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する工程とを有することを特徴とする波形比較方法のように構成される。開示の技術では、第一波形と第二波形との間に生じる時間軸方向の誤差を考慮した等価性を判定することができる。また、サンプリング値の比較により、波形データを全て記憶する場合に比べて、大幅に記憶領域を削減することができる。以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、本実施例に係る時間軸方向の誤差を考慮した波形比較方法について説明するための図である。図1中、縦軸に電圧、電流、又は消費電力等の値を示し、横軸に時間を示す。図1において、回路とモデル化された回路モデルとに同一の入力波形を与えた場合の、回路の出力波形を期待波形W1で示し、回路モデルからの出力波形を比較対象波形W2で示している。本実施例では、期待波形W1と比較対象波形W2とにおいて、最初に変化したと見なす初期変化値p1とp2とを夫々検出する。初期変化値p1とp2とが検出された時刻を初期変化点t1及びt2とする。初期変化値p1及びp2の夫々に相当する初期変化点t1及びt2からサンプリング周期Tでサンプリングした値を比較する。サンプリング周期Tは、例えば、回路の動作周波数の4倍程度、或いは、より精度を高く比較したい場合はそれ以上に設定する。そして、初期変化点t1Tii=0,...,nにおける期待波形W1の値と、初期変化点t2Tii=0,...,nにおける比較対象波形W2の値をそれぞれ比較し、不一致と認められる組があれば等価性なしと判定して結果を出力する。もし全ての組が一致すれば、等価性有りと判定して結果を出力する。上述した波形比較方法によって、回路モデルの動作を確認する試験装置は、例えば、図2に示されるようなハードウェア構成を有する。図2は、試験装置のハードウェア構成例を示す図である。図2において、試験装置100は、シミュレーション部2と、LPFLowPassFilter3と、初期変化点検出部4と、サンプリング部5と、サンプリング値比較部6と、比較結果出力部7とを有する。図2では、試験装置100における各部の接続関係を示し、シミュレーション部2とLPFとが接続され、LPFと初期変化点検出部4とが接続され、初期変化点検出部4とサンプリング部5とが接続され、サンプリング部5とサンプリング値比較部6とが接続され、サンプリング値比較部6と比較結果出力部7とが接続される。図2に示される試験装置100のハードウェア構成は、ユーザとのインターフェースを備えたパーソナルコンピュータ、ワークステーション等のコンピュータ装置の本体に備えられる。ユーザとのインターフェースとして、試験装置100として機能するコンピュータ装置は、LCDLiquidCrystalDisplay等の表示ユニット、プリンタ等の出力ユニット、マウス、キーボード等の入力ユニット、ハードディスク装置など周辺機器を備えている。シミュレーション部2は、少なくとも、CPUCentralProcessingUnit21と、回路モデル24の元となった回路22と、回路モデル24を記憶したメモリ23とを有する。CPU21は、入力波形を回路22に入力して回路22を動作させ出力波形を得、また、同一入力波形を回路モデル24に入力して回路モデル24を動作させて出力波形を得るためのシミュレーションを行う。このようなシミュレーションを実行するためのプログラムは、メモリ23に記憶されている。CPU21と回路22とメモリ23とは、バスを介して接続されている。回路22からの出力波形は図1の期待波形W1に相当し、回路モデル24からの出力波形は図1の比較対象波形W2に相当する。後段の処理において、期待波形W1と比較対象波形W2とで処理に差異はないため、単に、出力波形として説明する。回路モデル24は、例えば、ハードウェア記述言語により回路22のモデル化したものであり、メモリ23に格納され、シミュレーションによって回路22の動作を擬似的に実行する。LPF3は、高周波ノイズ等による微小変位で初期変化点が誤検出されないように、シミュレーション部2から出力される出力波形の所定の高周波部分を遮断して、初期変化点検出部4へ入力する。初期変化点検出部4は、LPF3を介して入力された波形から図1に示すような初期変化値p1又はp2を検出する。初期変化点検出方法は後述される。初期変化点検出部4は、初期変化値p1又はp2を検出した時点で、LPF3を介して入力された波形をサンプリング部5へと出力を開始する。サンプリング部5は、初期変化点検出部4から入力される波形をサンプリング周期Tでサンプリングし、周期T毎の波形の値をサンプリング値比較部6へ出力する。サンプリング値比較部6は、第1サンプリング値領域61及び第2サンプリング値領域62を備えたメモリ60を有し、第1サンプリング値領域61及び第2サンプリング値領域62から夫々、初期変化値p1及びp2から周期Tでサンプリングした値を読み出して、2つの値を比較する。第1サンプリング値領域61は、期待波形W1のサンプリング値を格納する領域であり、第2サンプリング値領域62は、比較対象波形W2のサンプリング値を格納する領域である。周期T毎の値の比較において不一致となった時点で、回路モデル24は回路22と等価ではないと判断し、等価性無しを示す値を比較結果出力部7へ出力する。一方、不一致となることなく、全てのサンプル値の比較が終了した場合、回路モデル24は回路22と等価であると判断し、等価性有りを示す値を比較結果出力部7へ出力する。比較結果出力部7は、サンプリング値比較部6から入力された比較結果を保持する記憶領域である。比較結果出力部7によって保持された比較結果は、表示ユニットに表示又は出力ユニットに出力されユーザへ通知される。上述したように、シミュレーション部2から出力される波形を表す波形データそのものを記憶することがないため、記憶領域を削減することができる。また、サンプリングした値同士の比較であるため、処理の仕組みを簡潔な構成で実現することができる。図2に示されるメモリ23とメモリ60とが個別に例示されているが、一つのメモリ内にシミュレーション部2に割り当てられた記憶領域と、サンプリング値比較部6に割り当てられた記憶領域であってもよい。比較結果出力部7についても同様である。回路モデル24の動作を確認するための波形比較処理について、図3、図4、及び図5で説明する。図3は、波形比較処理を説明するためのフローチャート図である。図3において、サンプリング周期Tを設定するステップS11。サンプリング部5に対してサンプリング周期Tが設定される。次に、シミュレーション部2は、入力波形を回路22に入力して期待波形W1を取得するシミュレーションを実行するステップS12。シミュレーション部2は、回路22から出力される期待波形W1を、LPF3を介して初期変化点検出部4へ入力する。LPF3を介してノイズ除去された期待波形W1が初期変化点検出部4へ入力される。初期変化点検出部4は、期待波形W1の入力に応じて、後述される初期変化点検出方法によって初期変化値p1を検出するステップS13。初期変化点検出部4は、初期変化値p1に対応する初期変化点t1から期待波形W1をサンプリング部5へ入力する。期待波形W1の入力に応じて、サンプリング部4は、周期Tでサンプリングを実行するステップS14。メモリ60の第1サンプリング値領域61には、時系列に、初期変化点t1Tii=0,...,nにおける期待波形W1の値が格納される。期待波形W1の取得が終了すると、シミュレーション部2は、ステップS12にて回路22に入力したのと同一入力波形を回路モデル24に入力して比較対象波形W2を取得するシミュレーションを実行するステップS15。シミュレーション部2は、回路モデル24から出力される比較対象波形W2を、LPF3を介して初期変化点検出部4へ入力する。LPF3を介してノイズ除去された比較対象波形W2が初期変化点検出部4へ入力される。初期変化点検出部4は、比較対象波形W2の入力に応じて、後述される初期変化点検出方法によって初期変化値p2を検出するステップS16。初期変化点検出部4は、初期変化値p2の検出時点から比較対象波形W2をサンプリング部5へ入力する。比較対象波形W2の入力に応じて、サンプリング部4は、ステップS14と同一周期Tでサンプリングを実行するステップS17。メモリ60の第2サンプリング値領域62には、時系列に、初期変化点t2Tii=0,...,nにおける比較対象波形W2の値が格納される。上述した、ステップS12~S14での処理と、ステップS15~S17での処理は、並列に行ってもよい。サンプリング部5は、期待波形W1及び比較対象波形W2のサンプリングの終了後、カウンタiをゼロに初期化してステップS18、サンプリング部5は、第1サンプリング値領域61と第2サンプリング値領域62とから順に値を読み出して比較するステップS19。第1サンプリング値領域61から順に初期変化点t1Tii=0,...,nにおける期待波形W1の値が読み出され、また、第2サンプリング値領域62から順に初期変化点t2Tii=0,...,nにおける比較対象波形W2の値が読み出され、2つの値が比較される。そして、サンプリング部5は、期待波形W1と比較対象波形W2のサンプリング値が一致するか否かを判断するステップS20。サンプリング値が一致しない場合、サンプリング部5は、比較対象波形W2は期待波形W1と等価性がないと判断し、等価性なしを示す比較結果を比較結果出力部7に出力するステップS24。そして、波形比較処理が終了する。ステップS20にて、サンプリング値が一致する場合、サンプリング部5は、全てのサンプリング値を比較したか否かを判断するステップS21。全てのサンプリング値の比較を終了していない場合、サンプリング部5は、カウンタiを1インクリメントしてステップS22、第1サンプリング値領域61と第2サンプリング値領域62とから次の値を取得して比較するためにステップS19へと戻り、上述同様の処理を繰り返す。一方、ステップS21にて、全てのサンプリング値の比較を終了したと判断した場合、サンプリング部5は、比較対象波形W2は期待波形W1と等価性があると判断し、等価性ありを示す比較結果を比較結果出力部7に出力するステップS23。そして、波形比較処理が終了する。図3に示すフローチャート図において、ステップS12からS14までの処理と、ステップS15からS17までの処理とを入れ替えることも可能である。ステップS13及びS16における初期変化点検出部5によって行われる初期変化点検出処理を図4で説明する。図4は、ステップS13及びS16における初期変化点検出処理を説明するためのフローチャート図である。図4において、初期変化点検出部5は、シミュレーション部2によるシミュレーションの実行後、所定の微小時間待機した後ステップS41、シミュレーションによる出力波形期待波形W1又は比較対象波形W2の値を取得するステップS42。初期変化点検出部5は、出力波形の値が大きな変化を起こしたと見なせるか否かを判断するステップS43。後述する初期変化点検出方法によって、出力波形の値が大きな変化を起こしたか否かが判断される。初期変化点検出部5は、初期変化点t1又はt2を検出するための大きな変化がないと判断した場合、ステップS41へ戻り、上述同様の処理を行う。一方、ステップS43において出力波形の値が大きな変化を起こしたと判断した場合、出力波形の値が初期変化値p1又はp2に達したと判断し、その時刻を初期変化点t1又はt2として取得してステップS44、初期変化点検出処理を終了する。図5は、試験装置におけるデータの流れを説明するための図である。図5中に示す矢印はデータの流れを示し、期待波形W1と比較対象波形W2によるデータの流れを個別に示しているが、データの流れによって接続関係を限定するものではない。シミュレーション部2から出力された回路22から得た期待波形W1は、LPF3を介してノイズ除去された後に初期変化点検出部4に入力される。初期変化点検出部4によって、期待波形W1の初期変化点t1が取得されると、サンプリング部5は初期変化点検出部4から入力される期待波形W1の初期変化点t1から周期Tでサンプリングして、そのサンプリング値を第1サンプリング値領域61に出力する。一方、シミュレーション部2から出力された回路モデル24から得た比較対象波形W2は、LPF3を介してノイズ除去された後に初期変化点検出部4に入力される。初期変化点検出部4によって、比較対象波形W2の初期変化点t2が取得されると、サンプリング部5は初期変化点検出部4から入力される比較対象波形W2の初期変化点t2から周期Tでサンプリングして、そのサンプリング値を第2サンプリング値領域62に出力する。サンプリング値比較部6は、第1サンプリング値領域61から初期変化点t1から周期T毎のサンプリング値を読み出し、同時に、第2サンプリング値領域62から初期変化点t2から周期T毎のサンプリング値を読み出して、2つのサンプリング値を比較することにより等価性の判断を行う。回路モデル24に等価性があると判断した場合、等価性ありを示す比較結果が比較結果出力部7に出力される。回路モデル24に等価性がないと判断した場合、等価性なしを示す比較結果が比較結果出力部7に出力される。次に、初期変化点検出方法について、図6、図7、及び図8で説明する。図6は、初期変化点検出方法の第1実施例を説明するための図である。図6では、期待波形W1と比較対象波形W2の初期値からの変化値ΔV1とΔV2が、ユーザより指定された値ΔVexpを超えた時刻を、初期変化点t1とt2として検出する方法を示している。検出された初期変化点t1とt2とから夫々サンプリングを開始する。ΔVexpは想定されるノイズ量よりも大きく、振幅よりも小さな値を指定する。図7は、初期変化点検出方法の第2実施例を説明するための図である。図7では、初期状態からの立ち上がりで、期待波形W1と比較対象波形W2の微分係数α1とα2とが、ユーザより指定された値αexpを超えた時刻を、初期変化点t1とt2として検出する方法を示している。検出された初期変化点t1とt2とから夫々サンプリングを開始する。αexpは対象回路のスペック上のスルーレートを指定する。これにより、もし回路モデル24がスルーレートのスペックを満たしていない場合に等価性なしと判定されるため、より厳しい条件下での等価性が判定できる。図8は、初期変化点検出方法の第3実施例を説明するための図である。図8では、アナログ波形の期待波形W1とデジタル波形の比較対象波形W2の比較を行う場合の初期変化点の検出方法を示している。デジタル波形の比較対象波形W2が最初に遷移する初期変化点t2については簡単に取得可能である。アナログ波形の期待波形W1の遷移タイミングについては、期待波形W1が最小値Vminと最大値Vmaxの中間値Vmidになった時間を遷移タイミングつまり初期変化点t1と定め、その初期変化点t1からサンプリングを開始する。上述した初期変化点検出方法の第1、第2、第3実施例のいずれかを適用することにより、回路22と回路モデル24との時間誤差を補正することができる。試験装置100による回路モデル24の等価性の判定例について図9で説明する。図9は、時間誤差を考慮した回路モデルの等価性の判定例を示す図である。図9中、回路22と回路モデル24との時間誤差teにより、初期変化点t1と初期変化点t2とにズレがあることを示している。図9Aに示す期待波形W1と比較対象波形W2において、時間誤差teを含むが、その誤差を補正することにより一致するため、回路モデル24は等価性ありと判定される場合を示している。図9Bに示す期待波形W1と比較対象波形W2において、時間誤差teを含み、その誤差を補正しても一致しないため、回路モデル24は等価性なしと判定される場合を示している。上述したように、回路22と回路モデル24との間に生じる時間軸方向の誤差を考慮した回路モデル24の回路22に対する等価性を判定できるため、従来手法よりも精度の高い等価性検証が可能になる。また、波形データを全て保持しておく必要がないため、等価性を判定するために必要となる記憶領域を大幅に削減することができる。本発明は、具体的に開示された実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲から逸脱することなく、種々の変形や変更が可能である。以上の第1から第3実施例を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。付記1波形の初期変化点を検出する工程と、前記初期変化点からサンプリングを行う工程と、第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する工程とを有することを特徴とする波形比較方法。付記2前記初期変化点を検出する工程は、前記波形の初期値からの変化量が一定以上となった前記初期変化点を検出することを特徴とする付記1記載の波形比較方法。付記3前記初期変化点を検出する工程は、初期状態からの立ち上がりで、前記波形の微分係数が一定以上となった前記初期変化点を検出することを特徴とする付記1記載の波形比較方法。付記4前記初期変化点を検出する工程は、アナログ波形とデジタル波形の遷移タイミングから前記初期変化点を検出することを特徴とする付記1記載の波形比較方法。付記5回路に入力波形を入力して動作させるシミュレーションを行う工程と、前記回路をモデル化した回路モデルに前記入力波形を入力して動作させるシミュレーションを行う工程とを有し、前記第一波形は前記回路から出力される波形であり、前記第二波形は前記回路モデルから出力される波形であることを特徴とする付記1乃至4のいずれか一項記載の波形比較方法。付記6前記初期変化点を検出する工程の前段にノイズを除去する工程を有することを特徴とする付記1乃至5のいずれか一項記載の波形比較方法。付記7波形の初期変化点を検出する手段と、前記初期変化点からサンプリングを行う手段と、第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する手段とを有することを特徴とする試験装置。"