通常モードまたはテストモードを選択することができるモードスイッチと、基本処理コードおよびテスト処理コードならびにアプリ処理コードを格納するコード格納装置と、前記コード格納装置から転送されたコードを受信し記憶することができるメインメモリと、前記通常モードおよび前記テストモードの各々において前記コード格納装置から前記メインメモリへ転送すべきコードを示すブート処理コードを格納するブート処理コード格納メモリと、電源投入後に前記ブート処理コード格納メモリから前記ブート処理コードを読み込みブート処理を行う演算部とを備え、前記演算部は、前記モードスイッチにおいて前記通常モードが選択されたときは、前記ブート処理コードを用いて、前記基本処理コードおよび前記アプリ処理コードを前記メインメモリに転送させ、前記メインメモリに転送された前記基本処理コードおよび前記アプリ処理コードを読み込み、前記演算部に接続された制御対象機器の通常処理を行い、前記モードスイッチにおいて前記テストモードが選択されたときは、前記ブート処理コードを用いて、前記基本処理コードおよび前記テスト処理コードを前記メインメモリに転送させ、前記メインメモリに転送された前記基本処理コードおよび前記テスト処理コードを読み込み、前記制御対象機器へテスト処理出力を送信して前記制御対象機器にテスト動作を行わせ、このテスト動作の結果として前記制御対象機器からテスト処理入力を受信し、このテスト処理入力の異常判定を行うことによって前記制御対象機器のテスト処理を行うことを特徴とするデジタル制御装置。前記コード格納装置へコードを転送し格納させることができる外部コード格納装置をさらに備え、前記テスト処理コードは、前記コード格納装置に代えて前記外部コード格納装置に格納され、前記演算部は、前記モードスイッチにおいて前記テストモードが選択されたときは、前記外部コード格納装置に前記テスト処理コードを前記コード格納装置へ転送して格納させ、前記コード格納装置に転送し格納された前記テスト処理コードおよびあらかじめ前記コード格納装置に格納されている前記基本処理コードを前記メインメモリに転送し、前記メインメモリに転送された前記基本処理コードおよび前記テスト処理コードを読み込み前記テスト処理を行うことを特徴とする請求項1に記載のデジタル制御装置。前記モードスイッチにおいて前記テストモードが選択された後に前記通常モードが選択されたときにおいて、前記演算部は、前記コード格納装置へ転送され格納した前記テスト処理コードを前記コード格納装置から消去することを特徴とする請求項2に記載のデジタル制御装置。前記コード格納装置は、アプリテスト処理コードをさらに格納し、前記ブート処理コードはさらに前記コード格納装置内における前記アプリテスト処理コードの格納領域を示し、さらにアプリテストモードを選択することができる前記モードスイッチとを有し、前記演算部は、前記モードスイッチにおいて前記アプリテストモードが選択されたときは、前記外部コード格納装置に前記アプリテスト処理コードを前記コード格納装置へ転送して格納させ、前記コード格納装置に転送し格納された前記アプリテスト処理コードおよび前記基本処理コードを前記メインメモリに転送し、前記メインメモリに転送された前記基本処理コードおよび前記テスト処理コードを読み込み使用して前記アプリテスト処理を行うことを特徴とする請求項1に記載のデジタル制御装置。前記コード格納装置へコードを転送し格納させることができる外部コード格納装置をさらに備え、前記テスト処理コードおよび前記アプリテスト処理コードは、前記コード格納装置に代えて前記外部コード格納装置に格納され、前記演算部は、前記モードスイッチにおいて前記テストモードが選択されたときは、前記外部コード格納装置に前記テスト処理コードを前記コード格納装置へ転送して格納させ、前記コード格納装置に転送し格納された前記テスト処理コードおよびあらかじめ前記コード格納装置に格納されている前記基本処理コードを前記メインメモリに転送し、前記メインメモリに転送された前記基本処理コードおよび前記テスト処理コードを読み込み使用して前記テスト処理を行い、前記モードスイッチにおいて前記テストモードが選択されたときは、前記外部コード格納装置に前記アプリテスト処理コードを前記コード格納装置へ転送して格納させ、前記コード格納装置に転送し格納された前記アプリテスト処理コードおよびあらかじめ前記コード格納装置に格納されている前記基本処理コードおよび前記アプリ処理コードを前記メインメモリに転送し、前記メインメモリに転送された前記アプリテスト処理コードおよび前記基本処理コードならびに前記アプリ処理コードを読み込み使用して前記アプリテスト処理を行うことを特徴とする請求項4に記載のデジタル制御装置。前記モードスイッチにおいて前記テストモードが選択された後に前記通常モードが選択されたときにおいて、前記演算部は前記コード格納装置へ転送され格納した前記テスト処理コードを前記コード格納装置から消去し、前記モードスイッチにおいて前記アプリテストモードが選択された後に前記通常モードが選択されたときにおいて、前記演算部は前記コード格納装置に転送し格納した前記アプリテスト処理コードを前記コード格納装置から消去することを特徴とする請求項5に記載のデジタル制御装置。前記モードスイッチにおいてモードが切替えられたときにおいて、前記メインメモリに格納されているコードを消去する機能をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至請求項6の何れか一項記載のデジタル制御装置。モードスイッチにおいて通常モードまたはテストモードを選択する工程と、前記モードスイッチにおいて前記通常モードが選択されたときにおいて、コード格納装置に格納している基本処理コードおよびアプリ処理コードをメインメモリに転送させ、前記メインメモリに転送された前記基本処理コードおよび前記アプリ処理コードを演算部によって読み込み使用して、前記演算部に接続された制御対象機器の通常処理を行う工程と、前記モードスイッチにおいて前記テストモードが選択されたときにおいて、コード格納装置に格納している前記基本処理コードおよび前記テスト処理コードを前記メインメモリに転送し、前記メインメモリに転送された前記基本処理コードおよび前記テスト処理コードを演算部によって読み込み、前記制御対象機器へ前記制御入力としてテスト処理出力を送信して前記制御対象機器にテスト動作を行わせ、このテスト動作の結果として前記制御対象機器からテスト処理入力を受信し、このテスト処理入力の異常判定を行うことによってテスト処理を行う工程とを備えることを特徴とするデジタル制御装置の実行方法。従来、上述した特許文献1に記載の技術を実施するにあたっては、デジタル制御装置の電源投入時に、通常モードにおける通常処理を行うコードの中にテストモードにおけるテスト処理を行うコードを組み込んだコードをメインメモリへ転送して演算部に読み込ませ、通常モード時にはコード中の通常処理を行う部分を使用し、テストモード時にはコード中のテスト処理を行う部分を使用して制御対象機器を制御することが一般的であった。しかしながら、原子力発電所をはじめとする高い信頼性を要求されるプラントにおいては、デジタル制御装置の制御対象機器を制御するコードは、コードの設計要求との一致やコードの安定性が確実に検証される必要があり、さらに、第三者によるコードの妥当性確認、いわゆるVVVerificationValidationを求められることもある。したがって、特許文献1に記載の技術を適用したデジタル制御装置のコードの検証作業においては、試験モード時に用いるコード部分が通常モード時に用いるコード部分に及ぼす影響を検証する必要があり、労力および時間コストの増大の原因となっていた。さらに、特許文献2の技術は、通常モード時には演算部はデバッグ用コードを使用しないが、デバッグ用ROMと通常制御用ROMに各々コードを格納し、切替え回路によって演算部が読み込むROMを切替えているため、既存の演算部およびメインメモリから構成される一般的なデジタル制御装置に適用することは難しく、さらに切替え回路が複雑であるため信頼性に問題がある。そこで本発明は、簡易な構成でテストモード時に用いるコードが通常モードにおける処理に影響を及ぼすことを防ぐデジタル制御装置の提供を目的とする。上記目的を達成するために、本発明のデジタル制御装置は、通常モードまたはテストモードを選択することができるモードスイッチと、基本処理コードおよびテスト処理コードならびにアプリ処理コードを格納するコード格納装置と、コード格納装置から転送されたコードを受信し記憶することができるメインメモリと、通常モードおよびテストモードの各々においてコード格納装置からメインメモリへ転送すべきコードを示すブート処理コードを格納するブート処理コード格納メモリと、電源投入後にブート処理コード格納メモリからブート処理コードを読み込みブート処理を行う演算部とを備え、演算部は、モードスイッチにおいて通常モードが選択されたときは、ブート処理コードを用いて、基本処理コードおよびアプリ処理コードをメインメモリに転送させ、メインメモリに転送された基本処理コードおよびアプリ処理コードを読み込み、演算部に接続された制御対象機器の通常処理を行い、モードスイッチにおいてテストモードが選択されたときは、ブート処理コードを用いて、基本処理コードおよびテスト処理コードをメインメモリに転送させ、メインメモリに転送された基本処理コードおよびテスト処理コードを読み込み、制御対象機器へテスト処理出力を送信して制御対象機器にテスト動作を行わせ、このテスト動作の結果として制御対象機器からテスト処理入力を受信し、このテスト処理入力の異常判定を行うことによって制御対象機器のテスト処理を行うことを特徴とする。さらに、上記目的を達成するために、本発明のデジタル制御装置の実行方法は、モードスイッチにおいて通常モードまたはテストモードを選択する工程と、モードスイッチにおいて通常モードが選択されたときにおいて、コード格納装置に格納している基本処理コードおよびアプリ処理コードをメインメモリに転送させ、メインメモリに転送された基本処理コードおよびアプリ処理コードを演算部によって読み込み使用して、演算部に接続された制御対象機器の通常処理を行う工程と、モードスイッチにおいてテストモードが選択されたときにおいて、コード格納装置に格納している基本処理コードおよびテスト処理コードをメインメモリに転送し、メインメモリに転送された基本処理コードおよびテスト処理コードを演算部によって読み込み、制御対象機器へ制御入力としてテスト処理出力を送信して制御対象機器にテスト動作を行わせ、このテスト動作の結果として制御対象機器からテスト処理入力を受信することによってテスト処理を行う工程とを備えることを特徴とする。本発明によれば、デジタル制御装置において、簡易な構成でテストモード時に用いるコードが通常モードにおける処理に影響を及ぼすことを防ぐことができる。以下、本発明の実施形態を説明する。第1の実施形態構成以下、本発明の第1の実施形態に係るデジタル制御装置について図1および図2を参照して説明する。図1は、本発明の第1の実施形態に係るデジタル制御装置の通常モードにおける動作を示す概略ブロック図である。デジタル制御装置1は、演算部2と、モードスイッチ3と、コード格納装置4と、メインメモリ5と、入出力バス6と、信号入出力装置7と、ブート処理コード格納メモリ8と、保守ツール9とから構成される。さらに、デジタル制御装置1には、制御対象機器10が接続される。ここで、メインメモリ5には、SRAMStaticRandomAccessMemoryやDRAMDynamicRandomAccessMemory等の一般的なコンピュータの一次記憶装置として用いられる高速アクセスが可能なメモリを適用することができる。演算部2は、メインメモリ5内のデータを読み込み使用して演算を行い、外部に接続された機器と信号の入出力を行う装置であり、一般的なコンピュータのCPUCentralProcessingUnitプロセッサを適用することができる。コード格納装置4は、一般的なコンピュータの二次記憶装置として用いられ、電源喪失後も内部にデータを記憶できる記憶装置である。HDDHardDiscDriveや磁気ディスクを適用することも可能であるが、耐振動性が高く、耐用年数が長いFLASHメモリやEPROMErasableProgrammableReadOnlyMemory等の不揮発性メモリを適用することが望ましい。さらに、ブート処理コード格納メモリ8は、OTPROMOneTimeProgrammableReadOnlyMemoryやEPROM等の不揮発性メモリが適用され、デジタル制御装置1の電源投入後に演算部2がアクセスすることができるメモリである。モードスイッチ3は、通常モードとテストモードの何れかを選択することができるスイッチであり、手動スイッチまたはCRTモニタ上のタッチパネルによるスイッチ等を適用することができる。さらにモードスイッチ3は、通常モードまたはテストモードが選択されたことを示すモード選択信号41を送信することができるものとする。また保守ツール9は、後述する処理内容指定信号42を送信することができる装置である。信号入出力装置7は、図1に示す通常処理出力33および通常処理入力34を制御対象機器10と送受信し、さらに図2に示すテスト処理出力35およびテスト処理入力36を制御対象機器10と送受信することができる機器である。また、制御対象機器10は、図1に示すように信号入出力装置7から通常処理出力33を受信し、信号入出力装置7へ通常処理入力34を送信することによって通常処理を行うことができる機器である。さらに、制御対象機器10は、図2に示すように信号入出力装置7からテスト処理出力35を受信してテスト動作を行い、テスト動作の結果をテスト処理入力36として信号入出力装置7へ送信することによってテスト処理を行うことができるものである。信号入出力装置7および制御対象機器10の具体的な構成ならびに通常処理およびテスト処理の具体的な作用については後述する。演算部2は、コード転送指令部23と、コード実行部24とから構成される。また、コード格納装置4は、内部に基本処理コード格納領域11とアプリケーション処理コード格納領域12以下、アプリ処理コード格納領域12と称する。を有するものとする。さらにメインメモリ5は、内部に基本処理コード転送領域21とアプリケーション処理コード転送領域22以下、アプリ処理コード転送領域22と称する。を有するものとする。デジタル制御装置1の電源投入前において、コード格納装置4の基本処理コード格納領域11には、基本処理コード14およびテスト処理コード15があらかじめ格納されるものとする。また、コード格納装置4のアプリ処理コード格納領域12には、アプリケーション処理コード16以下、アプリ処理コード16と称する。があらかじめ格納されるものとする。さらに、ブート処理コード格納メモリ8には、ブート処理コード13があらかじめ格納されるものとする。さらに、デジタル制御装置1の電源投入前において、メインメモリ5においては上述したコードはいずれも格納されないものとする。次に、デジタル制御装置1の各構成の接続関係について説明する。モードスイッチ3は、モード選択信号41を演算部2のコード転送指令部23へ送信することができるように、モードスイッチ3と演算部2のコード転送指令部23は接続される。コード格納装置4は、演算部2のコード転送指令部23から基本処理コード転送指令31およびアプリ処理コード転送指令32を受信できるように、コード格納装置4と演算部2のコード転送指令部23は接続される。コード格納装置4は、基本処理コード格納領域11内の基本処理コード14およびテスト処理コード15のうち、後述する基本処理コード転送指令31によって転送すべきコードとして指令されたコードをメインメモリ5の基本処理コード転送領域21へ転送することができ、さらに、アプリ処理コード格納領域12内のアプリ処理コード16を、後述するアプリ処理コード転送指令32によって転送すべきコードとして指定されたときにメインメモリ5のアプリ処理コード転送領域22へ転送することができるように、コード格納装置4とメインメモリ5は接続される。メインメモリ5は、基本処理コード14およびテスト処理コード15のうち基本処理コード転送領域21内に転送されたコードを演算部2のコード実行部24に読み込ませ、さらにアプリ処理コード16がアプリ処理コード転送領域22内に転送されたときに、アプリ処理コード16を演算部2のコード実行部24に読み込ませることができるように、メインメモリ5と演算部2のコード実行部24は接続される。ブート処理コード格納メモリ8は、ブート処理コード13を演算部2のコード転送指令部23へ読み込ませることができるように、ブート処理コード格納メモリ8と演算部2のコード転送指令部23は接続される。保守ツール9は、処理内容指定信号42を演算部2のコード実行部24に送信できるように、保守ツール9と演算部2のコード実行部24は接続される。入出力バス6は、演算部2のコード実行部24から送信される通常処理出力33およびテスト処理出力35を対応する信号入出力装置7の各構成機器へ振り分けて送信し、さらに信号入出力装置7の各構成機器から送信される通常処理入力34およびテスト処理入力36を集約して演算部2のコード実行部24へ送信する機器である。信号入出力装置7は、演算部2のコード実行部24から送信される通常処理出力33およびテスト処理出力35を対応する制御対象機器10の受信に適合する形式に変換する機器である。さらに、信号入出力装置7は、制御対象機器10から送信される通常処理入力34およびテスト処理入力36を演算部2のコード実行部24の受信に適合する形式に変換する機器である。演算部2のコード実行部24は、図1に示す通常モード時において、入出力バス6および信号入出力装置7を介して制御対象機器10へ通常処理出力33を送信し、さらに制御対象機器10から入出力バス6および信号入出力装置7を介して通常処理入力34を受信することができるように、演算部2のコード実行部24は、入出力バス6および信号入出力装置7を介して制御対象機器10と接続される。さらに、演算部2のコード実行部24は、図2に示すテストモード時において、入出力バス6および信号入出力装置7を介して制御対象機器10へテスト処理出力35を送信し、さらに制御対象機器10から入出力バス6および信号入出力装置7を介してテスト処理入力36を受信することができるように、演算部2のコード実行部24は、入出力バス6および信号入出力装置7を介して制御対象機器10と接続される。作用以下、本発明の第1の実施形態の作用について説明する。まず、モードスイッチ3において通常モードを選択したときの作用について説明する。ここで通常モードとは、制御対象機器10の通常処理を行うモードである。制御対象機器10の通常処理とは、デジタル制御装置1によって制御対象機器10の本来の目的および働きを作用させる処理である。例えば、制御対象機器10が発電プラントの設備を監視する温度センサである場合には、発電プラントの通常運転時において温度センサによって設備の温度を測定し、デジタル制御装置1において測定結果の監視や記録を行う場合がこれに該当する。通常処理において、演算部2のコード実行部24は、制御対象機器10へ通常処理出力33を送信する。通常処理出力33には、制御対象機器10の動作指令や、制御対象機器10やこれに接続される他の装置に記憶させる情報等が含まれる。制御対象機器10は、通常処理出力33による動作や、通常処理出力33の他の装置への伝送、通常処理出力33の記録等を行う。さらに通常処理において、制御対象機器10は、演算部2のコード実行部24へ通常処理入力34を送信する。通常処理入力34には、コード実行部24の演算指令や、コード実行部24やこれに接続される他の装置に記憶させる情報等が含まれる。演算部2のコード実行部24は、通常処理入力34による演算や、通常処理入力34の他の装置への伝送、通常処理入力34の記録等を行う。モードスイッチ3において通常モードを選択した状態においてデジタル制御装置1の電源投入を行うと、演算部2のコード転送指令部23は、ブート処理コード格納メモリ8内に格納されるブート処理コード13を読み込む。ここで、ブート処理コード13は、デジタル制御装置1を起動し、通常モードまたはテストモードを作用させることができる状態にするブート処理を行うためのコードであり、一般的なコンピュータにおけるBIOSがこれに該当する。ブート処理においては、デジタル制御装置1を構成する機器を起動する起動処理とともに、コード格納装置4に格納されるコードをメインメモリ5へ転送するコード転送処理が行われる。したがって、ブート処理コード13には、起動処理に係る情報が格納されるとともに、コード格納装置4に格納される各コードの格納位置、および選択されたモードにおいてコード格納装置4からメインメモリ5へ転送すべきコードを指定する情報が格納される。ここで、通常モード時においてコード格納装置4からメインメモリ5へ転送すべきコードは、基本処理コード14およびアプリ処理コード16である。また、テストモード時においてコード格納装置4からメインメモリ5へ転送すべきコードは、基本処理コード14およびテスト処理コード15である。モードスイッチ3において通常モードが選択されたとき、通常モードが選択されたことを示すモード選択信号41が演算部2のコード転送指令部23へ送信される。演算部2のコード転送指令部23は、通常モードが選択されたことを示すモード選択信号41およびブート処理コード13を用いて通常モード時に用いるコードをメインメモリ5へ転送するコード転送処理を行う。コード転送処理は、起動処理とともに、または起動処理の後に行われるものとする。さらに、コード転送処理を行う前においてコード格納装置4内のコードの妥当性を検証する機能を設けてもよい。このとき、コードの妥当性に異常があった場合には、コード転送処理を行わずにデジタル制御装置1の異常停止をさせるものとする。演算部2のコード転送指令部23は、コード転送処理において、コード格納装置4の基本処理コード格納領域11に格納される基本処理コード14をメインメモリ5内の基本処理コード転送領域21へ転送させる基本処理コード転送指令31を送信する。コード格納装置4は、上述した基本処理コード転送指令31を受信すると、基本処理コード14をメインメモリ5内の基本処理コード転送領域21へ転送し記憶させる。さらに、演算部2のコード転送指令部23は、コード転送処理において、コード格納装置4のアプリ処理コード格納領域12に格納されるアプリ処理コード16をメインメモリ5内のアプリ処理コード転送領域22へ転送させるアプリ処理コード転送指令32を送信する。コード格納装置4は、上述したアプリ処理コード転送指令32を受信すると、アプリ処理コード16をメインメモリ5内のアプリ処理コード転送領域22へ転送し記憶させる。通常モードにおけるコード転送処理が終了すると、演算部2のコード実行部24は、メインメモリ5内の基本処理コード14およびアプリ処理コード16を読み込む。ここで、制御対象機器10の通常処理において、基本処理コード14はデジタル制御装置1を構成する機器の基本動作の制御や監視を行うコードであり、アプリ処理コード16をデジタル制御装置1において動作させる基本コードである。一般的なコンピュータにおけるオペレーティングシステムが基本処理コード14に該当する。またアプリ処理コード16は、通常処理における具体的な処理を制御するコードである。アプリ処理コード16には、通常処理出力33を送信することができる制御対象機器10を示す情報や、制御対象機器10へ送信することができる通常処理出力33の具体的内容を示す情報等が格納される。通常処理出力33の具体的内容とは、制御対象機器10の通常処理入力34による動作における指令となる信号や、制御対象機器10の通常処理入力34の他の装置への伝送における伝送すべき情報、制御対象機器10の通常処理入力34の記録における記録データ等を示す情報である。一般的なコンピュータにおけるオペレーティングシステムによって動作するソフトウエアがアプリ処理コード16に該当する。保守ツール9は、処理内容指定信号42を演算部2のコード実行部24へ送信する。処理内容指定信号42は、アプリ処理コード16が送信することができる通常処理出力33から実際に送信する通常処理出力33を指定する信号である。例えば、アプリ処理コード16が通常処理出力33を送信することができる制御対象機器10の内から実際に通常処理出力33を送信する制御対象機器10を絞り込んで指定し、また、アプリ処理コード16が送信することができる通常処理出力33の具体的内容のうち実際に送信する内容を絞り込み指定することができる。保守ツール9による通常処理出力33の指定は、運転員が手動で行ってもよいし、運転計画等を保守ツール9へ入力することによって自動で指定させてもよい。演算部2のコード実行部24は、アプリ処理コード16および処理内容指定信号42を用いて通常処理出力33を入出力バス6を介して信号入出力装置7へ送信する。具体的な通常処理出力33の例については後述する。信号入出力装置7は、演算部2のコード実行部24から受信した通常処理出力33を増幅やデジタル/アナログ変換、プロトコル変換等を行うことによって、接続された制御対象機器10の受信に適合する信号に変換を行い、変換した通常処理出力33を制御対象機器10へ送信する。制御対象機器10は、信号入出力装置7から通常処理出力33を受信し、上述した通常処理出力33による動作や、通常処理出力33の記録、通常処理出力33の他の装置への伝送等を行う。さらに制御対象機器10は、通常処理入力34を信号入出力装置7へ送信する。信号入出力装置7は、制御対象機器10から通常処理入力34を受信し、演算部2のコード実行部24の受信に適合するように変換し、変換した通常処理入力34を演算部2のコード実行部24へ送信する。演算部2のコード実行部24は、信号入出力装置7から通常処理入力34を受信し、アプリ処理コード16を用いて上述した通常処理入力34による演算や、通常処理入力34の他の装置への伝送、通常処理入力34の記録等を行う。このとき、保守ツール9によって、コード実行部24による通常処理入力34の処理内容を指定する処理内容指定信号42をコード実行部24へ送信してもよい。なお、通常処理入力34の記録に当たっては、演算部2のコード実行部24に接続された記憶装置によって記録すること、または制御対象機器10から演算部2のコード実行部24への信号経路において接続された記憶装置によって記録することによって行われる。以下、デジタル制御装置1における制御対象機器10の通常処理の具体例について説明する。まず、制御対象機器10がセンサ53およびアクチュエータ61であって、信号入出力装置7がリモート入出力制御基板51とリモート入出力制御基板51によって制御される入出力基板52から構成される場合について説明する。リモート入出力制御基板51と入出力基板52は、光ケーブルによって接続されるものとする。この場合の通常処理は、センサ53を測定させ、アクチュエータ61を動作させ、コード実行部24においてセンサ53の測定結果およびアクチュエータ61の動作結果を受信して監視を行うものとする。演算部2のコード実行部24は、制御対象機器10であるセンサ53を測定させ、アクチュエータ61を動作させる指令となる信号を通常処理出力33として電気信号によってリモート入出力制御基板51へ送信する。リモート入出力制御基板51は、電気信号の通常処理出力33を光信号へ変換して入出力基板52へ送信する。入出力基板52は、光信号へ変換された通常処理出力33を受信し、さらにセンサ53およびアクチュエータ61の受信に適合した形式に通常処理出力33を変換し、各々センサ53およびアクチュエータ61へ振り分け送信する。センサ53およびアクチュエータ61は、入出力基板52から通常処理出力33を受信すると各々測定および動作を行い、測定結果および動作結果を通常処理入力34として入出力基板52へ送信する。入出力基板52は、通常処理入力34を光信号に変換してリモート入出力制御基板51へ送信する。リモート入出力制御基板51は、光信号の通常処理入力34を演算部2の受信に適合する電気信号に変換し、演算部2のコード実行部24へ送信する。演算部2のコード実行部24は、電気信号の通常処理入力34を受信して、センサ53の測定結果およびアクチュエータ61の動作結果の監視や記録を行う。次に、制御対象機器10がデジタル制御装置1とデータを送受信する外部演算装置57であり、信号入出力装置7がデジタル制御装置1と外部演算装置57の信号の送受信を媒介する伝送基板56である場合について説明する。この場合の通常処理は、デジタル制御装置1と外部演算装置57との相互間でデータの送受信を行うものとする。演算部2のコード実行部24は、外部演算装置57へ送信し記憶させるデータを通常処理出力33として送信する。信号入出力装置7である伝送基板56は、外部演算装置57の受信に適合するように通常処理出力33を変換し、外部演算装置57へ送信する。外部演算装置57は、通常処理出力33を受信し記憶するとともに、外部演算装置57からデジタル制御装置1へ送信し記憶させるデータを通常処理入力34として伝送基板56へ送信する。伝送基板56は、通常処理入力34を受信して、演算部2のコード実行部24に適合するように変換し、演算部2のコード実行部24は変換された通常処理入力34を受信し記憶する。なお、デジタル制御装置1は、制御対象機器10へ通常処理出力33を送信しない構成、または制御対象機器10から通常処理入力34を受信しない構成とすることもできる。例えば、制御対象機器10が常時運転されるセンサであって、測定結果を自動的に通常処理入力34として送信することができる場合は、コード実行部24は、制御対象機器10に測定を行う指令となる通常処理出力33を送信する必要はない。また、制御対象機器10が記録装置であって、デジタル制御装置1から制御対象機器10へ通常処理出力33を一方向に送信するのみであるとき、制御対象機器10からはデジタル制御装置1へ通常処理入力34を送信しない構成とすることができる。上述したように通常モードにおいては、基本処理コード14およびアプリ処理コード16のみが、コード格納装置4からメインメモリ5へ転送され、演算部2のコード実行部24において読み込まれる。したがって通常処理では、テスト処理コード15がコード格納装置4からメインメモリ5へ転送され、演算部2のコード実行部24において読み込まれない。次に、モードスイッチ3においてテストモードを選択したときの作用について説明する。ここで、テストモードとは、制御対象機器10のテスト処理を行うモードである。例えば、制御対象機器10が発電プラントの設備を監視する光センサである場合には、発電プラントの定期点検において、光センサへ模擬光信号を送信し、光センサから模擬光信号に対する応答を受信することによって光センサの健全性を確認する場合がテスト処理に該当する。テスト処理においては、図2に示すように、演算部2のコード実行部24によって制御対象機器10へテスト処理出力35を送信することによって、制御対象機器10はテスト処理出力35によるテスト動作を行う。さらに、制御対象機器10のテスト動作結果をテスト処理入力36として演算部2のコード実行部24へ送信することによって、演算部2のコード実行部24は、テスト処理入力36を用いた監視や異常判定、記録等を行う。図2は、本発明の第1の実施形態に係るデジタル制御装置のテストモードにおける動作を示す概略ブロック図である。モードスイッチ3においてテストモードを選択した状態においてデジタル制御装置1の電源投入を行うと、演算部2のコード転送指令部23は、ブート処理コード格納メモリ8内に格納されるブート処理コード13を読み込む。さらに、モードスイッチ3においてテストモードが選択されたことを示すモード選択信号41が演算部2のコード転送指令部23へ送信される。演算部2のコード転送指令部23は、テストモードが選択されたことを示すモード選択信号41およびブート処理コード13を用いてテストモード時に用いるコードをメインメモリ5へ転送するコード転送処理を行う。コード転送処理において演算部2のコード転送指令部23は、コード格納装置4の基本処理コード格納領域11に格納される基本処理コード14およびテスト処理コード15をメインメモリ5内の基本処理コード転送領域21へ転送させる基本処理コード転送指令31を送信する。コード格納装置4は、上述した基本処理コード転送指令31を受信すると、基本処理コード14およびテスト処理コード15をメインメモリ5内の基本処理コード転送領域21へ転送し記憶させる。テストモードにおけるコード転送処理が終了すると、演算部2のコード実行部24は、メインメモリ5内の基本処理コード14およびテスト処理コード15を読み込む。ここで制御対象機器10のテスト処理において、基本処理コード14は、テスト処理出力35の送信動作およびテスト処理入力36の受信動作自体を制御するコードである。また、テスト処理コード15は、基本処理コード14によって動作し、テスト処理における具体的な処理を制御するコードである。テスト処理コード15には、テスト処理出力35を送信することができる制御対象機器10を示す情報、および送信することができるテスト処理出力35の具体的内容を示す情報等が格納されるコードである。テスト処理出力35の具体的内容とは、制御対象機器10をテスト動作させる指令となる信号や、制御対象機器10のテスト動作の方法や時間、テスト動作を行うための模擬信号の強度や送信時間等を示す情報である。保守ツール9は、処理内容指定信号42を演算部2のコード実行部24へ送信する。処理内容指定信号42は、テスト処理コード15が送信することができるテスト処理出力35から実際に送信するテスト処理出力35を指定する信号である。例えば、テスト処理コード15がテスト処理出力35を送信することができる制御対象機器10の内から実際にテスト処理出力35を送信する制御対象機器10を絞り込んで指定し、また、テスト処理コード15が送信することができるテスト処理出力35の具体的内容のうち実際に送信する内容を絞り込み指定することができる。演算部2のコード実行部24は、テスト処理コード15および処理内容指定信号42を用いて、制御対象機器10のテスト処理を行うテスト処理出力35を入出力バス6を介して信号入出力装置7へ送信する。信号入出力装置7は、演算部2のコード実行部24から受信したテスト処理出力35を接続された制御対象機器10の受信に適合する信号に変換し、変換したテスト処理出力35を制御対象機器10へ送信する。制御対象機器10は、信号入出力装置7からテスト処理出力35を受信しテスト動作を行い、テスト動作結果をテスト処理入力36として信号入出力装置7へ送信する。信号入出力装置7は、制御対象機器10からテスト処理入力36を受信し、演算部2のコード実行部24の受信に適合した信号へ変換し、変換したテスト処理入力36を演算部2のコード実行部24へ送信する。演算部2のコード実行部24は、信号入出力装置7からテスト処理入力36を受信し、テスト処理入力36を用いた制御対象機器10の異常判定やテスト処理入力36の記録等を行う。さらに、デジタル制御装置1の電源投入が行われ、デジタル制御装置1が通常モードで動作している状態からテストモードへ切替えた場合、またはデジタル制御装置1がテストモードで動作している状態から通常モードへ切替えた場合には、再びブート処理コード13を用いて起動処理およびコード転送処理から構成されるブート処理を行うものとする。以下、デジタル制御装置1の制御対象機器10のテスト処理の具体例について説明する。まず、制御対象機器10がセンサ53およびアクチュエータ61であって、信号入出力装置7がリモート入出力制御基板51と入出力基板52から構成される場合について説明する。リモート入出力制御基板51と入出力基板52は、光ケーブルによって接続されるものとする。この場合のテスト処理は、センサ53に模擬信号の測定をさせ、模擬信号の測定結果を受信して異常判定を行い、アクチュエータ61にテスト動作をさせ、テスト動作結果を受信して異常判定を行うものとする。演算部2のコード実行部24は、センサ53を測定させる指令となる信号および測定対象となる模擬信号をテスト処理出力35としてリモート入出力制御基板51へ送信する。さらに、演算部2のコード実行部24は、アクチュエータ61をテスト動作させる指令となる信号をテスト処理出力35としてリモート入出力制御基板51へ送信する。リモート入出力制御基板51は、テスト処理出力35を光信号へ変換して入出力基板52へ送信する。入出力基板52は、光信号であるテスト処理出力35をセンサ53およびアクチュエータ61の受信に適合する形式へ変換し、各々センサ53およびアクチュエータ61へ振り分け送信する。センサ53は、テスト処理出力35を受信して模擬信号の測定を行い、アクチュエータ61は、テスト処理出力35を受信してテスト動作を行う。センサ53は、模擬信号の測定結果をテスト処理入力36として入出力基板52へ送信する。さらに、アクチュエータ61は、テスト動作結果をテスト処理入力36として入出力基板52へ送信する。入出力基板52は、テスト処理入力36を光信号へ変換してリモート入出力制御基板51へ送信する。リモート入出力制御基板51は、光信号のテスト処理入力36を演算部2のコード実行部24の受信に適合する形式へ変換して送信する。演算部2のコード実行部24は、テスト処理入力36を受信し、センサ53の模擬信号の測定結果の異常判定や、アクチュエータ61のテスト動作結果の異常判定を行う。さらに、本構成においては、信号入出力装置7を構成する入出力基板52を制御対象機器10としたテスト処理を行うこともできる。演算部2のコード実行部24は、入出力基板52の光モジュールを強制発光させる指令信号をテスト処理出力35としてリモート入出力制御基板51へ送信する。リモート入出力制御基板51は、テスト処理出力35を光信号へ変換して入出力基板52へ送信する。入出力基板52は、テスト処理出力35を受信して光モジュールの強制発光を行い、この強制発光した光信号をテスト処理入力36としてリモート入出力制御基板51へ送信する。リモート入出力制御基板51は、光信号のテスト処理入力36を演算部2のコード実行部24に適合する形式へ変換して送信する。演算部2のコード実行部24は、テスト処理入力36を受信して、制御対象機器10である入出力基板52のテスト動作結果の異常判定や記録を行う。次に、制御対象機器10が外部演算装置57であり、信号入出力装置7が伝送基板56である場合について説明する。この場合のテスト処理は、デジタル制御装置1から外部演算装置57へ模擬演算信号を送信し、外部演算装置57に模擬演算をさせ、外部演算装置57の模擬演算結果を受信して異常判定することによって、外部演算装置57の健全性の確認を行うものとする。デジタル制御装置1の演算部2のコード実行部24は、外部演算装置57への模擬演算信号をテスト処理出力35として伝送基板56に送信する。伝送基板56は、テスト処理出力35を外部演算装置57が受信に適合した形式へ変換し、外部演算装置57へ送信する。外部演算装置57は、テスト処理出力35を受信して模擬演算を行い、模擬演算結果をテスト処理入力36として伝送基板56へ送信する。伝送基板56は、演算部2のコード実行部24に適合した形式へテスト処理入力36を変換する。演算部2のコード実行部24は、伝送基板56から変換されたテスト処理入力36を受信して、外部演算装置57の模擬演算結果を用いた異常判定や記録を行う。効果本発明の第1の実施形態によれば、通常モード時においてメインメモリ5へ基本処理コード14およびアプリ処理コード16のみを転送して、演算部2のコード実行部2に読み込み使用させて通常処理を行うことによって、通常処理におけるテスト処理コード15による影響を防ぐことができ、基本処理コード14にテスト処理コード15が組み込まれる場合に比べ、コードの妥当性の確認、検証にかかる時間を削減することができる。さらに、通常モード時およびテストモード時に用いるコードをメインメモリ5に転送するときにおいて切替え回路等を用いていないので、一般的なコンピュータに本実施形態を適用することが可能である。第2の実施形態構成以下、本発明の第2の実施形態に係るデジタル制御装置について図3を参照して説明する。第1の実施形態に係るデジタル制御装置1の各部と同一部分には同一符号を付し、同一の構成についての説明は省略する。図3は、本発明の第2の実施形態に係るデジタル制御装置のアプリケーションテストモード以下、アプリテストモードと称する。における動作を示す概略ブロック図である。第2の実施形態が第1の実施形態と異なる点は、モードスイッチ3においてアプリテストモードをさらに設け、コード格納装置4のアプリ処理コード格納領域12内にアプリケーションテスト処理コード17以下、アプリテスト処理コード17と称する。をさらに格納した点である。さらに、ブート処理コード13は、さらにコード格納装置4のアプリ処理コード格納領域12内のアプリテスト処理コード17の格納位置を示す情報が付加されるものとする。なお、デジタル制御装置1が複数の演算部2を有するときは、複数の演算部2の各々を外部ブリッジ等を介して1つの入出力バス6へ接続することによって、複数の演算部2について1つの入出力バス6を介して信号入出力装置7との信号の送受信をすることができる。作用以下、本発明の第2の実施形態の作用について説明する。通常モードおよびテストモードにおける作用の説明は省略し、モードスイッチ3においてアプリテストモードを選択したときの作用について説明する。ここでアプリテストモードとは、制御対象機器10のアプリケーションテスト処理以下、アプリテスト処理と称する。を行うモードである。制御対象機器10のアプリテスト処理とは、基本処理コード14およびアプリ処理コード17を用いて行われる上述した制御対象機器10の通常処理の動作確認ならびに異常判定を行うことである。したがって、通常モードにおける作用と同様に、演算部2と制御対象機器10との間では通常処理出力33および通常処理入力34の送受信による通常処理が行われる。モードスイッチ3においてアプリテストモードを選択すると、モードスイッチ3はアプリテストモードが選択されたことを示すモード選択信号41を演算部2のコード転送指令部23へ送信する。演算部2のコード転送指令部23は、ブート処理コード13およびモード選択信号41を用いて、コード格納装置4の基本処理コード格納領域11に格納される基本処理コード14をメインメモリ5内の基本処理コード転送領域21へ転送させる基本処理コード転送指令31を送信する。コード格納装置4は、上述した基本処理コード転送指令31を受信すると、基本処理コード14をメインメモリ5内の基本処理コード転送領域21へ転送し記憶させる。さらに、演算部2のコード転送指令部23は、コード格納装置4のアプリ処理コード格納領域12内のアプリ処理コード16およびアプリテスト処理コード17をメインメモリ5内のアプリ処理コード転送領域22へ転送させるアプリ処理コード転送指令32を送信する。コード格納装置4は、上述したアプリ処理コード転送指令32を受信すると、アプリ処理コード16およびアプリテスト処理コード17をメインメモリ5内のアプリ処理コード転送領域22へ転送し記憶させる。アプリテストモードにおけるコード転送処理が終了すると、演算部2のコード実行部24は、メインメモリ5内の基本処理コード14およびアプリ処理コード16ならびにアプリテスト処理コード17を読み込む。ここで、アプリテスト処理コード17は、基本処理コード14によって動作し、アプリテスト処理における通常処理の動作確認ならびに異常判定を制御するコードである。アプリテスト処理コード17には、動作確認や異常判定をすることができる制御対象機器10や、異常判定に用いることができる閾値やロジックを示す情報等が格納される。保守ツール9は、処理内容指定信号42を演算部2のコード実行部24へ送信する。ここで処理内容指定信号42は、アプリ処理コード16によって行うことができる通常処理の動作確認ならびに異常判定のうち、実際に行う動作確認ならびに異常判定を指定する信号である。例えば、動作確認や異常判定をすることができる制御対象機器10の内から実際に動作確認や異常判定を行う制御対象機器10を絞り込み指定し、さらに異常判定に用いることができる閾値やロジックを示す情報から実際に用いる閾値やロジックを絞り込み指定することができる。演算部2のコード実行部24は、メインメモリ5内の基本処理コード14およびアプリ処理コード16ならびにアプリテスト処理コード17ならびに処理内容指定信号42を使用して制御対象機器10のアプリテスト処理を行う。制御対象機器10のアプリテスト処理は、基本処理コード14およびアプリ処理コード16ならびに処理内容指定信号42を用いて、上述した制御対象機器10の通常処理を行うとともに、通常処理において送受信される通常処理出力33および通常処理入力34の異常判定および記録を行うことにより、通常処理の動作確認ならびに異常判定をすることによって行われる。以下、デジタル制御装置1における制御対象機器10のアプリテスト処理の具体例について説明する。制御対象機器10がセンサ53であって、信号入出力装置7がリモート入出力制御基板51とリモート入出力制御基板51によって制御される入出力基板52から構成される場合について説明する。ここで、リモート入出力制御基板51と入出力基板52は、光ケーブルによって接続されるものとする。この場合のアプリテスト処理は、センサ53に測定動作をさせ、センサ53の測定結果を受信して監視を行う一連の通常処理の動作確認ならびに異常判定を行うものとする。演算部2のコード実行部24は、制御対象機器10であるセンサ53を測定動作させるべき通常処理出力33を電気信号によって信号入出力装置7のリモート入出力制御基板51へ送信する。リモート入出力制御基板51は、電気信号の通常処理出力33を光信号へ変換して入出力基板52へ送信する。入出力基板52は、光信号へ変換された通常処理出力33を受信し、さらにセンサ53の受信に適合した形式に通常処理出力33を変換する。センサ53は、入出力基板52から通常処理出力33を受信すると、通常処理に係る測定動作を行い、測定結果を通常処理入力34として入出力基板52へ送信する。入出力基板52は、通常処理入力34を光信号に変換してリモート入出力制御基板51へ送信する。リモート入出力制御基板51は、光信号の通常処理入力34を演算部2に適合する電気信号に変換し、演算部2のコード実行部24へ送信する。演算部2のコード実行部24は、電気信号の通常処理入力34を受信して、センサ53の測定結果の監視や記録を行う。さらに、演算部2のコード実行部24は、アプリテスト処理コード17および処理内容指定信号42を用いて、通常処理出力33の送信内容のチェックや、通常処理出力33に対する通常処理入力34の応答時間や応答内容のチェックを行う。本実施形態における通常モードならびにテストモードの動作は、上述した第1の実施形態と同様に行われる。したがって通常モードの選択時において、アプリテスト処理コード17はメインメモリ5に転送されないので、通常モードにおける制御対象機器10の通常処理にアプリテスト処理コード17は影響を及ぼさない。効果本発明の第2の実施形態によれば、モードスイッチ3においてアプリテストモードを設け、コード格納装置4にアプリテスト処理コード17をさらに格納し、アプリテストモード時にのみアプリテスト処理コード17をメインメモリ5に転送してアプリテスト処理を行うことによって、制御対象機器10の通常処理における動作確認ならびに異常判定を行うことができ、さらに通常モードにおける制御対象機器10の通常処理にアプリテスト処理コード17が影響を及ぼすことを防ぐことができる。なお、モードスイッチ3においてテストモードとアプリテストモードを同一のモードとし、モードスイッチ3においてテストモードが選択されたときに、メインメモリ5へ基本処理コード14、テスト処理コード15、アプリ処理コード16、アプリテスト処理コード17をコード格納装置から転送させ、上述した制御対象機器10のテスト処理とアプリテスト処理を同時に行うことも可能である。第3の実施形態構成以下、本発明の第3の実施形態に係るデジタル制御装置について図4乃至図6を参照して説明する。第1の実施形態に係るデジタル制御装置1の各部と同一部分には同一符号を付し、同一の構成についての説明は省略する。図4は、本発明の第3の実施形態に係るデジタル制御装置のテストモードにおける動作を示す概略ブロック図である。第3の実施形態が第2の実施形態と異なる点は、あらたに外部コード格納装置25を設けた点である。外部コード格納装置25は、テスト処理コード15およびアプリテスト処理コード17を格納するものとする。さらに、演算部2のコード転送指令部23は、外部コード格納装置25内のコードをコード格納装置4へ転送し格納させるコード格納指令37を送信できるものとする。さらに、コード格納装置4には、電源投入前において基本処理コード14およびアプリ処理コード16が格納され、テスト処理コード15およびアプリテスト処理コード17は格納されないものとする。外部コード格納装置25は、演算部2のコード転送指令部23からコード格納指令37を受信することができるように、外部コード格納装置25と演算部2のコード転送指令部23は接続される。さらに、外部コード格納装置25は、テスト処理コード15をコード格納装置4の基本処理コード格納領域11へ転送し格納させることができ、さらにアプリテスト処理コード17をコード格納装置4のアプリ処理コード格納領域12へ転送し格納させることができるように、外部コード格納装置25と演算部2のコード転送指令部23は接続される。作用以下、本発明の第3の実施形態の作用について説明する。まず、デジタル制御装置1のテストモードにおける作用について説明する。図5に示すように、モードスイッチ3においてテストモードが選択されたとき、演算部2のコード転送指令部23は、テスト処理コード15をコード格納装置4の基本処理コード格納領域11へ転送し格納させるコード格納指令37を外部コード格納装置25へ送信する。外部コード格納装置25は、コード格納指令37を受信すると、テスト処理コード15をコード格納装置4の基本処理コード格納領域11へ転送し格納させる。コード格納装置4におけるテスト処理コード15の格納が終了すると、演算部2のコード転送指令部23は、基本処理コード14およびテスト処理コード15をメインメモリ5へ転送させる基本処理コード転送指令31をコード格納装置4へ送信する。コード格納装置4は、基本処理コード転送指令31を受信すると、基本処理コード14およびテスト処理コード15をメインメモリ5へ転送させる。メインメモリ5への基本処理コード14およびテスト処理コード15の転送が終了すると、演算部2のコード実行部2は、基本処理コード14およびテスト処理コード15を読み込み使用して、上述した制御対象機器10のテスト処理を行う。次に、デジタル制御装置1のアプリテストモードにおける作用について説明する。図5は、本発明の第3の実施形態に係るデジタル制御装置のアプリテストモードにおける動作を示す概略ブロック図である。モードスイッチ3においてアプリテストモードが選択されたとき、演算部2のコード転送指令部23は、アプリテスト処理コード17をコード格納装置4のアプリ処理コード格納領域12へ転送し格納させるコード格納指令51を外部コード格納装置25へ送信する。外部コード格納装置25は、コード格納指令51を受信すると、アプリテスト処理コード17をコード格納装置4のアプリ処理コード格納領域12へ転送し格納させる。演算部2のコード転送指令部23は、基本処理コード14をメインメモリ5へ転送させる基本処理コード転送指令31をコード格納装置4へ送信する。さらにコード格納装置4におけるアプリテスト処理コード17の格納が終了すると、演算部2のコード転送指令部23は、アプリ処理コード16およびアプリテスト処理コード17をメインメモリ5へ転送させるアプリ処理コード転送指令32をコード格納装置4へ送信する。コード格納装置4は、基本処理コード転送指令31を受信すると、基本処理コード14をメインメモリ5の基本処理コード転送領域21へ転送させる。さらに、コード格納装置4は、アプリ処理コード転送指令32を受信すると、アプリ処理コード16およびアプリテスト処理コード17をメインメモリ5のアプリ処理コード転送領域22へ転送させる。メインメモリ5への基本処理コード14およびアプリ処理コード16ならびにアプリテスト処理コード17の転送が終了すると、演算部2のコード実行部24は、基本処理コード14およびアプリ処理コード16ならびにアプリテスト処理コード17を読み込み使用して、上述した制御対象機器10のアプリテスト処理を行う。最後に、デジタル制御装置1の通常モードにおける作用について説明する。図6は、本発明の第3の実施形態に係るデジタル制御装置の通常モードにおける動作を示す概略ブロック図である。モードスイッチ3において通常モードが選択されたとき、演算部2のコード転送指令部23は、コード格納指令37を外部コード格納装置25へ送信しない。したがって、通常モードにおいてテスト処理コード15およびアプリテスト処理コード17は、コード格納装置4へ転送し格納されない。第1の実施形態と同様に、演算部2のコード転送指令部23は、基本処理コード14をメインメモリ5へ転送させる基本処理コード転送指令31をコード格納装置4へ送信し、さらにアプリ処理コード16をメインメモリ5へ転送させるアプリ処理コード転送指令32をコード格納装置4へ送信する。コード格納装置4は、基本処理コード転送指令31を受信すると、基本処理コード14をメインメモリ5へ転送させる。さらに、コード格納装置4は、アプリ処理コード転送指令32を受信すると、アプリ処理コード16をメインメモリ5へ転送させる。メインメモリ5への基本処理コード14およびアプリ処理コード16の転送が終了すると、演算部2のコード実行部24は、基本処理コード14およびアプリ処理コード16を読み込み使用して、上述した制御対象機器10の通常処理を行う。さらに、モードスイッチ3においてモードの切り替えが行われたときには、コード格納装置4内に外部コード格納装置25から転送され格納されたコードを消去するものとする。効果本発明の第3の実施形態によれば、外部コード格納装置25にテスト処理およびアプリテスト処理にのみ用いるコードを格納しておき、テストモードおよびアプリテストモードが選択されたときにのみ、これらのコードをコード格納装置4に転送し格納させることによって、通常モードにおいてテスト処理およびアプリテスト処理にのみ用いるコードがメインメモリ5に転送され使用されることをより防ぐことができる。なお、本発明の実施形態は上述した実施形態に限られないことは言うまでもない。例えば、コード格納装置4内の基本処理コード格納領域11およびアプリ処理コード格納領域12の領域分けは、ブート処理コード13によってコードの格納位置を領域分けなしに直接示すことができるとき、コード格納装置4内の領域分けを省くことができる。同様に、メインメモリ5内の基本処理コード転送領域21およびアプリ処理コード転送領域22の領域分けは、演算部2のコード実行部24が領域分けなしに基本処理コード14やアプリ処理コード16を区別して読み込むことができるとき、メインメモリ5内の領域分けを省くことができる。また、デジタル制御装置1に接続される制御対象機器10が1種類であって、入出力バス6によるテスト処理出力35の振り分けおよび入出力バス6によるテスト処理入力36の集約の必要がないときなどは入出力バス6の構成を省くことができる。さらに、演算部2のコード実行部24が、制御対象機器10が直接受信できる信号形式のテスト処理出力35を送信し、制御対象機器10から送信されるテスト処理入力36を直接受信できるときなどは、信号入出力装置7の構成を省くことができる。また、デジタル制御装置1が通常モードで動作している状態からテストモードへ切替えた場合、またはデジタル制御装置1がテストモードで動作している状態から通常モードへ切替えた場合には、再びブート処理コード13を用いて起動処理およびコード転送処理から構成されるブート処理を行うだけでなく、モード選択によって電源投入が行われる構成とし、モードスイッチ3が切替えられたときには、デジタル制御装置1の再起動や電源のリセットを行わせてもよい。さらに、電源投入が行われたまま、初期化および起動処理を行わずにモードを切替える場合には、メインメモリ5内に転送されたコードを消去する機能を新たに設け、モードスイッチ3におけるモードの切替えをトリガーとしてメインメモリ5内に転送されたコードを消去した後に、ブート処理コード13によって新たにコード転送処理を行う構成とする。また、デジタル制御装置1の電源投入後にモードスイッチ3のモードを選択するときには、演算部2におけるコード転送指令部23は、モードスイッチ3においてモードが選択され、モード選択信号41を受信することによってコード転送処理を始めるものとする。さらに、通常モードおよびテストモードにおいて、アプリ処理コード16の内容を全て用いてシーケンス制御によって制御対象機器10の通常処理およびテスト処理ができるときは、アプリ処理コード16からさらに処理内容を指定する保守ツール9の構成を省くことができる。なお、第1から第3の実施形態は適宜組み合わせられるものとする。