ランプと、ランプ内温度検出手段と、ランプ点灯制御手段と、温度比較手段と、ランプ点灯手段と、温度記憶手段を有し電源がオンされた際、前記ランプ内温度検出手段により検出されたランプ内温度と前記温度記憶手段に記憶された温度とを前記温度比較手段により比較して、前記ランプ内温度が記憶された温度より高い場合は比較を続けて、前記ランプ内温度が記憶された温度より低くなった場合は前記ランプ点灯制御手段はランプ点灯動作を行い、ランプが点灯しない場合は比較と点灯動作とをランプが点灯するまで繰り返すことを特徴としたプロジェクタ。ランプが点灯したら最後に検出された前記ランプ内温度を前記温度記憶手段に記憶することを特徴とする、請求項1に記載のプロジェクタ。しかしながら、上述の特許文献に開示された従来技術では、ランプの劣化により絶縁破壊電圧が変化することに対応できない。そこで、本発明の目的は、ランプの劣化によって温度と絶縁破壊電圧の関係が変化することにも対応して点灯動作に入るかどうかを選択することを可能にしたプロジェクタを提供することである。上記目的を達成するために、本発明は、ランプと、ランプ内温度検出手段と、ランプ点灯制御手段と、ランプ点灯手段と、温度記憶手段を有し、電源がオンされた際、前記ランプ内温度検出手段により検出されたランプ内温度と前記温度記憶手段に記憶された温度とを比較して、前記ランプ内温度が記憶された温度より高いうちは比較を続けて、前記ランプ内温度が記憶された温度より低くなった時に前記ランプ点灯制御手段はランプ点灯を行い、ランプが点灯しない場合は比較と点灯動作とをランプが点灯するまで繰り返し、ランプが点灯したら最後に検出された前記ランプ内温度を前記温度記憶手段に記憶することを特徴とする。本発明によれば、ランプの点灯可能温度を状況によって変化させることで、ランプ劣化した状態でも再点灯をすばやく電極損耗を少なくしたプロジェクタを提供することができる。以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。図1は、本発明の実施形態にかかわるブロック図であり、同図において1は放電ランプを表し、2は放電ランプを点灯させるためのランプ点灯手段としてのランプ点灯装置とする。3は制御部であり、31でランプ点灯の制御、32で温度比較を行う。4はランプ温度と相関する箇所の温度を検出する温度検出手段としての温度計であり、5は温度計4で測定した温度を記憶する温度記憶手段としてのメモリである。[実施例1]以下図1~図3を参照して、本発明の第1の実施例による、ランプ点灯時の動作について説明する。全体の流れとしては、まずランプ1を点灯する時に、温度計4でランプ温度を検出して、制御部3内の温度比較部32が、検出した温度とメモリ5に記録されているランプ点灯装置2で点灯可能な温度図3-T0とを比較して、点灯可能だと判断したら制御部3のランプ点灯制御部31が点灯動作をさせる。点灯できない時は温度の修正を行うという流れである。こうすることで再点灯の際の冷却を最小にすることができるし、電極へ与えるダメージも少なくできる。なお、図3に示す通り点灯時の温度が高ければ電極へのダメージが少ない。詳細な流れとしては、まず電源がオンされた後、ランプ温度を温度計4で検出する図2-S11。ランプ温度検出はランプ温度と相関が取れる箇所の温度を検出してもかまわない。次に検出された温度と、メモリ5に記憶されている温度――通常はランプが点灯可能な上限温度図3-T0――とを温度比較部32が比較する図2-S12。もしも記憶されている温度より検出された温度が高ければ、待機と温度検出と比較を繰り返す図2-S11~S13。検出された温度が点灯可能温度より低くなった時、ランプ点灯制御部31は点灯装置2にランプ点灯動作を行わせる図2-S14。ランプ点灯動作後、ランプ点灯制御部31はランプが点灯したか点灯しなかったかを判断する図2-S15。ランプが点灯しなかった場合は待機後図2-S13、再びランプ温度の検出図2-S11に戻る。ランプ点灯動作後、ランプが点灯した場合は、最後に検出した温度とメモリ5に記憶されている温度との比較及びランプ点灯動作後の待機した回数が一定以上かを判断する図2-S16。判断の結果、メモリ5に記憶されている温度が、現状におけるランプが点灯可能な上限温度図3-T0ではないとされれば、記憶されている温度を最後に検出した温度に修正する図2-S17。これら点灯後の動作図2-S16~S17より、ランプの劣化による絶縁破壊電圧の変化にも対応して点灯動作を行えるようになる。以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。