浸漬ノズルの長手方向に該浸漬ノズルと一体に互いに分離されて形成されたカーボンからなる第1及び第2の導電性部分と、該第1の導電性部分に、第1の疑似ランダム信号を形成する基準マイクロ波信号を送信し、該第1の導電性部分、溶融金属及び該第2の導電性部分を伝搬した基準マイクロ波信号を該第2の導電性部分から受信し、該受信されたマイクロ波信号と、第1の疑似ランダム信号と同一のパターンで疑似ランダム信号の周波数がわずかに異なる第2の疑似ランダム信号を乗算して乗算値を算出し、該乗算値の信号または該乗算値を使用して生成した信号の時系列パターンから該基準マイクロ波信号の伝搬距離を測定する距離測定部と、を備えた溶融金属レベル測定装置。前記基準マイクロ波信号の周波数が600メガヘルツ以下であり、前記距離測定部は、前記乗算値を使用して生成した信号の時系列パターンからマイクロ波信号の位相を求め、該位相を使用して前記基準マイクロ波信号の伝搬距離を測定する請求項1に記載の溶融金属レベル測定装置。前記第1及び第2の導電性部分が、前記浸漬ノズルの長手方向に設けられた一対の溝に埋め込まれて、浸漬ノズルの表面の一部を形成するように設けられている請求項1から3のいずれかに記載の溶融金属レベル測定装置。したがって、煩雑な作業を伴わずに、高い精度で溶融金属のレベルを測定することのできる、電磁波を使用した溶融金属レベル測定装置に対するニーズがある。本発明の溶融金属レベル測定装置は、浸漬ノズルの長手方向に該浸漬ノズルと一体に互いに分離されて形成されたカーボンからなる第1及び第2の導電性部分と、該第1の導電性部分に、第1の疑似ランダム信号を形成する基準マイクロ波信号を送信し、該第1の導電性部分、溶融金属及び該第2の導電性部分を伝搬した基準マイクロ波信号を該第2の導電性部分から受信し、該受信されたマイクロ波信号と、第1の疑似ランダム信号と同一のパターンで疑似ランダム信号の周波数がわずかに異なる第2の疑似ランダム信号を乗算して乗算値を算出し、該乗算値の信号または該乗算値を使用して生成した信号の時系列パターンから該基準マイクロ波信号の伝搬距離を測定する距離測定部と、を備えている。本発明の溶融金属レベル測定装置において、第1及び第2の導電性部分は、カーボンからなり、浸漬ノズルの長手方向に該浸漬ノズルと一体に互いに分離されて形成されている。カーボンの融点は、溶鋼などの溶融金属の融点よりもはるかに高いので、融点が溶融金属の融点以下である金属製の電極棒のように溶融金属によって溶融することはない。また、浸漬ノズルの周辺には浸漬ノズルから常に溶鋼が供給されており、溶鋼が凝固することはない。したがって、第1及び第2の導電性部分が凝固した溶鋼に引き込まれることはない。このように、第1及び第2の導電性部分は、従来の電極棒と異なり、複数回の測定に繰り返し使用することができる。このため、測定ごとに電極棒を設置し、調整するという煩雑な作業が必要なくなる。さらに、第1及び第2の導電性部分を形成するカーボンは、浸漬ノズル自体の成分でもあるので、連続鋳造プロセスの化学反応に影響を与えることもない。本発明の第1の実施形態による溶融金属レベル測定装置は、前記基準マイクロ波信号の周波数が600メガヘルツ以下であり、前記距離測定部は、前記乗算値を使用して生成した信号の時系列パターンからマイクロ波信号の位相を求め、該位相を使用して前記基準マイクロ波信号の伝搬距離を測定する。本実施形態によれば、比較的低い周波数のマイクロ波信号を使用することにより、位相の変化のみを測定することにより正確に溶融金属のレベルを測定することができる。本発明の第2の実施形態による溶融金属レベル測定装置において、前記第1及び第2の導電性部分が、前記浸漬ノズルの長手方向に設けられた一対の溝に埋め込まれて、浸漬ノズルの表面の一部を形成するように設けられている。本実施形態においては、第1及び第2の導電性部分が浸漬ノズルに埋め込まれて浸漬ノズルの表面の一部を形成しているので、浸漬ノズルの外側の形状は変化しない。このため、連続鋳造プロセスにおける物理現象に影響を与えることはない。また、第1及び第2の導電性部分が浸漬ノズルに埋め込まれているので、浸漬ノズルから分離しにくい。図3は、本発明の一実施形態による溶融金属レベル測定装置の第1の導電性部分1001A、第2の導電性部分1001B及びその周辺部分の構成を示す図である。第1の導電性部分1001A及び第2の導電性部分1001Bは、それぞれ、特許文献1に記載された溶融金属レベル測定装置の第1電極及び第2電極に相当する。本実施形態においては、第1の導電性部分1001A及び第2の導電性部分1001Bが浸漬ノズル100の長手方向に浸漬ノズル100と一体に形成されている。第1の導電性部分1001Aは、信号出力端子1003Aに接続され、信号出力端子1003Aには同軸ケーブル1005Aが接続されている。同様に、第2の導電性部分1001Bは、信号出力端子1003Bに接続され、信号出力端子1003Bには同軸ケーブル1005Bが接続されている。同軸ケーブル1005A及び同軸ケーブル1005Bは、溶融金属レベル測定装置の距離測定部に接続される。距離測定部については後で説明する。図4は、第1及び第2の導電性部分と一体に形成された浸漬ノズルの構成の一例を示す図である。図4は、浸漬ノズルの長手方向に直交する面の断面図である。図4bは、浸漬ノズルの側面図である。本例において、及び浸漬ノズル110の表面には、長手方向に互いに分離された一対の溝が設けられ、その溝に埋め込まれて、浸漬ノズルの表面の一部を形成するように第1の導電性部分1101A及び第2の導電性部分1101Bが設けられている。図4に示すように、浸漬ノズル110の水平断面において、第1の導電性部分1101A及び第2の導電性部分1101Bは、浸漬ノズル110の中心と第1の導電性部分1101Aの中心とを結ぶ線分と、浸漬ノズル110の中心と第2の導電性部分1101Bの中心とを結ぶ線分とが180°の角度を形成するように配置されている。すなわち、浸漬ノズル110の水平断面において、第1の導電性部分1101A及び第2の導電性部分1101Bは、対向する位置に配置されている。図5は、第1及び第2の導電性部分と一体に形成された浸漬ノズルの構成の他の例を示す図である。図5は、浸漬ノズルの長手方向に直交する面の断面図である。図5bは、浸漬ノズルの側面図である。本例において、浸漬ノズル120の表面には、長手方向に互いに分離された一対の溝が設けられ、その溝に埋め込まれて、浸漬ノズルの表面の一部を形成するように第1の導電性部分1201A及び第2の導電性部分1201Bが設けられている。図5に示すように、浸漬ノズル120の水平断面において、第1の導電性部分1201A及び第2の導電性部分1201Bは、浸漬ノズル120の中心と第1の導電性部分1201Aの中心とを結ぶ線分と、浸漬ノズル120の中心と第2の導電性部分1201Bの中心とを結ぶ線分とが約50°の角度を形成するように配置されている。すなわち、浸漬ノズル120の水平断面において、第1の導電性部分1201A及び第2の導電性部分1201Bは、互いに分離されているが比較的狭い間隔で配置されている。浸漬ノズル110及び120は、酸化アルミニウムを主成分として、二酸化ケイ素やカーボンをある比率で混合して形成される。第1の導電性部分1101A、1201A及び第2の導電性部分1101B、1201Bは、カーボンで形成される。浸漬ノズル110及び120の成分の一部として使用されているカーボンは、他の物質と混合しているため電気抵抗が高く導電体になりえない。第1の導電性部分1101A、1201A及び第2の導電性部分1101B、1201Bには、カーボンのみが使用されるため、導電体となり導波路として機能する。また、炭素の融点は、溶融金属、たとえば溶鋼の融点よりもはるかに高いので、特許文献1に記載された溶融金属レベル測定装置の電極棒のように溶融することはない。さらに、溶鋼の凝固層は、モールドに接している部分で発生し、浸漬ノズルの周辺には浸漬ノズルから常に溶鋼が供給されており、溶鋼が凝固することはない。したがって、第1の導電性部分1101A、1201A及び第2の導電性部分1101B、1201Bが凝固した溶鋼に引き込まれることはない。このように、第1及び第2の導電性部分は、従来の電極棒と異なり、複数回の測定に繰り返し使用することができる。このため、測定ごとに電極棒を設置し、調整するという煩雑な作業が必要なくなる。さらに、第1の導電性部分1101A、1201A及び第2の導電性部分1101B、1201Bを形成するカーボンは、浸漬ノズル自体の成分でもあるので、連続鋳造プロセスの化学反応に影響を与えることもない。第1の導電性部分1101A、1201A及び第2の導電性部分1101B、1201Bは、浸漬ノズルの表面に、長手方向に互いに分離されて設けられた一対の溝に埋め込まれて、浸漬ノズルの表面の一部を形成するように設けられているので、浸漬ノズルの外側の形状は変化しない。このため、連続鋳造プロセスにおける物理現象に影響を与えることはない。また、第1及び第2の導電性部分が浸漬ノズルに埋め込まれているので、浸漬ノズルから分離しにくい。図6は、本発明の一実施形態による溶融金属レベル測定装置の構成を示す図である。本実施形態による溶融金属レベル測定装置は、浸漬ノズル100と一体に形成された第1の導電性部分1001A、第2の導電性部分1001B、その周辺部分及び距離測定部200を含む。浸漬ノズル100と一体に形成された第1の導電性部分1001A、第2の導電性部分1001B及びその周辺部分については、図3乃至図5を使用して説明した。以下に距離測定部200について説明する。なお、距離測定部200の構造は、特許文献1に示したものと同じである。距離測定部200は、第1クロック発生器201、第2クロック発生器203、第1疑似ランダム信号発生器205、第2疑似ランダム発生器207、第1乗算器209、第2乗算器211、第1ローパスフィルタ213、第2ローパスフィルタ215、演算部217を含む。図6において、第1及び第2疑似ランダム信号発生器は、PN符号器と記載している。第1クロック発生器201は、1クロック当たり周波数f1たとえば、1500.001MHzの周波数を発生し、第2クロック発生器203は1クロック当たりf1よりわずかに小さい周波数f2たとえば、1500.000MHzの周波数を発生する。第1疑似ランダム信号発生器205は周期P1の第1疑似ランダム信号M1を発生し、第2疑似ランダム信号発生器207はM1と同一パターンで周期P2がP1よりわずかに異なる第2疑似ランダム信号M2を発生する。第1乗算器209は第1疑似ランダム信号発生器205から伝送線路Lcを通ったM1と第2疑似ランダム信号発生器207から伝送線路Laを通ったM2を乗算する。第2乗算器211は第1疑似ランダム信号発生器205から伝送線路Ldを通ったM1と第2疑似ランダム信号発生器207から伝送線路Lbを通ったM2を乗算する。第1ローパスフィルタ213は第1乗算器209の出力より高周波成分を除き、最大相関値間を1周期とする時系列パターンを出力する。第2ローパスフィルタ215も同様に第2乗算器211の出力より高周波成分を除き、最大相関値間を1周期とする時系列パターンを出力する。演算部217は第1ローパスフィルタ213と第2ローパスフィルタ215の時系列パターンの最大相関値間の時間差から伝送線路Ldの伝搬時間と伝送線路Lcの伝搬時間との差を求める。伝送線路Ldは、溶融金属を介して接続された、第2の導電性部分1001B及び第1の導電性部分1001Aの溶融金属レベルより高い部分を含むので、伝送線路Ldの伝搬時間と伝送線路Lcの伝搬時間との差から溶融金属レベルを求めることができる。上記の方法によれば、信号の伝搬時間が約150万倍遅延化されたこととなり、信号処理を容易、かつ精度よく行うことができる。図7は、本発明の他の実施形態による溶融金属レベル測定装置の構成を示す図である。本実施形態による溶融金属レベル測定装置は、浸漬ノズル100と一体に形成された第1の導電性部分1001A、第2の導電性部分1001B、その周辺部分及び距離測定部300を含む。浸漬ノズル100と一体に形成された第1の導電性部分1001A、第2の導電性部分1001B及びその周辺部分については、図3乃至図5を使用して説明した。以下に距離測定部300について説明する。距離測定部300は、第1クロック発生器301、第2クロック発生器303、第1疑似ランダム信号発生器305、第2疑似ランダム発生器307、搬送波発振器309、位相器313、第1乗算器311、第2乗算器315、第3乗算器317、第4乗算器319、第5乗算器321、第1ローパスフィルタ323、第2ローパスフィルタ325、第3ローパスフィルタ327、演算部329を含む。第1クロック発生器301は、1クロック当たり周波数f1たとえば、100.004MHzの周波数を発生し、第2クロック発生器303は1クロック当たりf1よりわずかに小さい周波数f2たとえば、99.996MHzの周波数を発生する。第1疑似ランダム信号発生器305は周期P1の第1疑似ランダム信号M1を発生し、第2疑似ランダム信号発生器307はM1と同一パターンで周期P2がP1よりわずかに異なる第2疑似ランダム信号M2を発生する。図7において、第1及び第2疑似ランダム信号発生器は、PN符号器と記載している。第1乗算器311は、搬送波発振器309からの周波数500MHzの搬送波と第1疑似ランダム信号M1との乗算を行い、搬送波を位相変調したスペクトル拡散信号を同軸ケーブル1005Bへ送る。第2乗算器315は第1疑似ランダム信号発生器305から伝送線路Lcを通ったM1と第2疑似ランダム信号発生器307から伝送線路Laを通ったM2を乗算する。第1ローパスフィルタ323は第2乗算器315の出力より高周波成分を除き、最大相関値間を1周期とする時系列パターンを出力する。すなわち、第1ローパスフィルタ323の出力は第1及び第2疑似ランダム信号の位相が一致した場合に0以外の値を示す基準信号を形成する。第3乗算器317は第1疑似ランダム信号発生器305から伝送線路Ldを通ったM1と第2疑似ランダム信号発生器307から伝送線路Lbを通ったM2を乗算する。第3乗算器317の出力は、R1及びR2として、第4乗算器319及び第5乗算器321へ供給される。搬送波発振器309から搬送波を供給された位相器313は、入力信号に対して同相成分の信号Iと直角成分の信号Qとを出力し、それぞれ第4乗算器319及び第5乗算器321へ供給する。第4乗算器319は、位相器313からのI信号と第3乗算器317からのR1とを乗算する。第2ローパスフィルタ325は第4乗算器319の出力より高周波成分を除き、最大相関値間を1周期とする時系列パターンを出力する。第5乗算器321は、位相器313からのQ信号と第3乗算器317からのR2とを乗算する。第3ローパスフィルタ327は第5乗算器321の出力より高周波成分を除き、最大相関値間を1周期とする時系列パターンを出力する。第2ローパスフィルタ325の出力の、基準信号の1周期間における最大値I’と第3ローパスフィルタ327の出力の、基準信号の1周期間における最大値Q’を求め、以下の式によって伝送線路Ldを通ったM1の位相θを求める。本発明者の新たな知見によれば、浸漬ノズル100と一体に形成される第1の導電性部分1001A及び第2の導電性部分1001Bにマイクロ波を伝搬させる場合には、搬送波の周波数を600メガヘルツ以下に低下させても、距離測定部300は、高い精度で測定を実施することができる。そこで、たとえば、搬送波の周波数を500メガヘルツとすると、1波長の長さは600ミリメータである。たとえば、鉄鋼における連続鋳造機の溶鋼レベルの測定レンジは、約400ミリメータであるから1波長の長さに収まる。一般的に、電磁波の伝搬距離lとラジアンを単位とする位相θとの関係は、波長をλとして以下の式で表せる。本実施形態において、伝送線路Ldを通った場合の搬送波の伝搬距離lは、第1の導電性部分1001A及び第2の導電性部分1001Bの溶融金属レベルよりも上の部分の長さxと固定長と和である。そこで、固定長を2αとして式1にl=2x2αを代入すると、以下の式が成立する。したがって、伝送線路Ldを通ったM1の位相θを求めれば、式から溶融金属レベルxを求めることができる。このように本実施形態によれば、搬送波の周波数を600メガヘルツ以下として、搬送波の位相のみを測定することにより、溶融金属レベルを正確に測定することができる。