高炉内装入物の炉頂部の表面形状を測定する測定方法であって、炉内の中心軸を通る直径方向に、高炉内装入物の炉頂部の表面の深さを、同一方向に同じ速度パターンで複数回測定し、複数回の測定値の差から、前記炉内の直径方向の位置毎の装入物降下速度を求め、前記位置毎の装入物降下速度と、測定開始時から各位置の1回目の測定時までの時間差から、前記時間差による装入物の降下量を算出して補正量とし、各位置の1回目の測定値に前記補正量を加えて補正することにより、測定開始時の装入物のプロフィルを推定することを特徴とする、高炉内装入物のプロフィル測定方法。高炉内装入物の炉頂部の表面を測定する測定装置の、高炉内装入物の炉頂部の表面での測定点を、炉内の中心軸を通る直径方向に2往復走査させ、往路における測定データを測定値として採用し、復路の測定データは採用しないか或いは復路では測定を行わず、前記復路は前記往路よりも高速で走査させることを特徴とする、請求項1に記載の高炉内装入物のプロフィル測定方法。しかしながら、前述のように、高炉内装入物の降下速度が炉内の位置によって異なるため、特許文献3の場合、図5に示すように、得られた推定プロフィルは正確な装入プロフィルではないという問題がある。本発明の目的は、炉内の位置による装入物の降下量を考慮し、高精度なプロフィル測定を行うことができる高炉内装入物のプロフィル測定方法を提供することにある。上記問題を解決するため、本発明は、高炉内装入物の炉頂部の表面形状を測定する測定方法であって、炉内の中心軸を通る直径方向に、高炉内装入物の炉頂部の表面の深さを、同一方向に同じ速度パターンで複数回測定し、複数回の測定値の差から、前記炉内の直径方向の位置毎の装入物降下速度を求め、前記位置毎の装入物降下速度と、測定開始時から各位置の1回目の測定時までの時間差から、前記時間差による装入物の降下量を算出して補正量とし、各位置の1回目の測定値に前記補正量を加えて補正することにより、測定開始時の装入物のプロフィルを推定することを特徴とする、高炉内装入物のプロフィル測定方法を提供する。前記高炉内装入物のプロフィル測定方法においては、高炉内装入物の炉頂部の表面を測定する測定装置の、高炉内装入物の炉頂部の表面での測定点を、炉内の中心軸を通る直径方向に2往復走査させ、往路における測定データを測定値として採用し、復路の測定データは採用しないか或いは復路では測定を行わず、前記復路は前記往路よりも高速で走査させることが好ましい。本発明によれば、炉内の位置による装入物の降下量を考慮して、高精度に高炉内装入物のプロフィルが測定できる。したがって、装入物表面のプロフィルの変化を正確に把握することができ、高炉の炉況悪化を未然に防止して、高炉の操業を安定化させることができる。以下、本発明の実施の形態を、図を参照して説明する。なお、本明細書および図面において、実質的に同一の機能構成を有する要素においては、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。図1は、本発明の測定方法を実施するためのプロフィル測定装置1を高炉2に設置した例を示す。高炉2の炉口部にはベルレス式装入装置5が設けられ、鉄鉱石やコークス等の装入物4が、炉周方向に旋回可能な分配シュート6を通って炉内に装入される。本実施形態では、プロフィル測定装置1は、炉頂部付近の、炉体3よりも外側に、一個所設置されている。なお、プロフィル測定装置1を複数台、高炉2の炉頂部の外側に配設してもよい。図2は、プロフィル測定装置1の内部構造を示す図であり、測定装置1は、アンテナ11および反射板12と、これらのアンテナ11および反射板12を支持、駆動、制御する導波管13、マイクロ波送受信器14、駆動軸15、反射板駆動装置16を有している。アンテナ11は、例えばφ250~φ360mm程度のパラボラアンテナであり、導波管13を介して、マイクロ波送受信器14に連結されている。マイクロ波送受信器14は、周波数が一定範囲で連続的に時間変化するマイクロ波を発生し、当該マイクロ波の発信および受信が可能である。マイクロ波送受信器14には、データ処理部20が信号線で接続されている。マイクロ波送受信器14で発生した、周波数が連続的に変化するマイクロ波は、アンテナ11により反射板12を経て測定対象に向けて放射され、測定対象物で反射したマイクロ波反射波をマイクロ波送受信器14で受信して検出する。データ処理部20では、アンテナ11でのマイクロ波の放射から受信までの間の周波数の変化分ΔFから、アンテナ11から測定対象装入物表面までのマイクロ波の往復時間ΔTが求められ、アンテナ11から測定対象までの距離が算出される。この測定は、マイクロ波を発射する電気信号と、装入物表面からの反射波を受信して得られる電気信号とをミキシングして測定するFMCWFrequencyModulatedContinuousWave方式周波数変調連続波方式と呼ばれる。当該方式のマイクロ波距離計は、市販の装置を用いてもよい。なお、このようなマイクロ波による距離測定方式は、実施形態として使用可能な一例である。測定に用いるマイクロ波の発信周波数帯域は、10GHz以上、好ましくは24GHz程度とし、周波数を高くするほど、アンテナ11を小型化できる。マイクロ波を用いることにより、温度や粉塵等の環境の影響を受けにくく、高炉2内のプロフィルを正確に測定できる。また、パラボラアンテナは指向性が高いため、高精度に所望する位置にマイクロ波を放射できる。さらに、放射時のマイクロ波の広がりが抑制されるために、炉内に向けた開口を小さくすることができるので好ましい。アンテナ11のマイクロ波の送受信方向中心軸線方向の延長上に、反射板12と反射板駆動装置16とを連結する駆動軸15が設けられている。すなわち、駆動軸15の中心軸線が、アンテナ11の中心軸線と一致するように、駆動軸15が設けられている。図2に示すように、反射板12は、アンテナ11の中心軸線に対して略45°の角度で駆動軸15に固定されている。反射板12は、例えばステンレスの板材からなり、アンテナ11の正面側から見た面積が、アンテナ11よりも少し大きいものとする。形状は限定しないが、操作性の上では円形が好ましい。反射板駆動装置16により駆動軸15をその中心軸の周りに回転往復運動させることで、アンテナ11からその中心軸方向に放射されたマイクロ波を、反射板12で、例えば図2に示すように、高炉2の炉内側へ向けて反射し、高炉2の中心軸を通る直径方向に走査する。以上のようなプロフィル測定装置1は、高炉2内部のガスや粉塵等が外部へ漏洩するのを防止するために、耐圧容器10に収納される。さらに、高炉2内部のガスや粉塵等が耐圧容器10内に侵入するのを防ぐために、測定時には、耐圧容器10内に、例えば炉内圧の1.1倍程度の圧力になるように窒素ガスを供給し、耐圧容器10内を高炉内部に比べて正圧にすることが好ましい。以下、プロフィル測定装置1を用いた本発明にかかる高炉内装入物のプロフィル測定方法について、図3に基づいて説明する。先ず、プロフィル測定装置1の反射板12の向きを初期位置に向けて、マイクロ波送受信器14からマイクロ波を発信する。マイクロ波は、導波管13、アンテナ11を介して、反射板12により反射されて高炉内装入物4に照射され、装入物4までの距離Dを測定する。そして、反射板12を、直下側の炉壁に接する装入物までの距離を測定する初期位置から、炉の中心軸を通って、内径方向反対側の炉壁に接する装入物までの距離を測定する位置までの間、反射板駆動装置16により回転させる。所望の空間分解能に応じて予め設定した角度ごとに、装入物4までの距離を測定してその距離データが、また、反射板駆動装置16はそのときの走査角度データが、データ処理部20へ送られる。この往路測定は、例えば50秒かけて等しい角速度で行われる。復路は、例えば5秒程度で初期位置に戻るように反射板12を高速で回転させる。そして、1回目の測定から例えば1分など所定の時間間隔をあけて、1回目と同じ速度で反射板12を回転させて2回目の往路測定を行う。データ処理部20は、入力された走査角度データおよびそのときの距離データに基づいて、高炉内の各位置の装入物プロフィルを演算し、図3aの破線で示すように、1回目および2回目の測定プロフィルが求められる。このとき、炉の内径方向の各位置において、1回目の測定時刻taでの距離データDitaと、2回目の測定時刻tbでの距離データDitbから、それぞれの位置における高炉内装入物4の降下速度Viを演算する。1回目の測定と2回目の測定の間の各位置における降下速度Viは、以下の1式で求められる。Vi=Dita-Ditb/tb-ta1降下速度Viは、炉の形状等の影響により、通常、図3bに示すように、炉の中央が最も小さく、炉壁に向かって大きくなる傾向がある。次に、測定した距離データの補正値を求める。上記1式により求められた各位置の降下速度Viと、測定開始時から各位置の1回目の測定時までの時間差により、その時間の降下量補正量diを求め、各位置の1回目の距離データの実測値に、それぞれの位置毎の降下量を加える。これにより、測定開始時の装入物のプロフィルを推定する。すなわち、先ず、測定位置ごとに、初期位置を測定した測定開始時からの経過時間taと、上記1式で求めた降下速度Viとの積により、補正量diを求める。補正量diは、図3cに示すように、初期位置では0であり、反対側の炉壁に向けて増加する。そして図3aに示すように、補正量diを1回目の距離データの実測値Ditaに加えて、測定開始時のプロフィルを示す各位置の距離Di0が求められる。つまり、補正された距離Di0は、以下の2式で求められる。Di0=DitaVi×ta2本実施形態によれば、炉の内径方向の各位置において、1回目と2回目の測定時間間隔が全て等しいため、各位置での降下速度Viの演算を容易に行える。そして、各位置での降下速度Viは、同一方向の測定値を用いて求められるため、走査駆動装置の機械的ガタの影響を受けにくい。本実施形態において、反射板を炉の内径方向に往復させる際、往路、復路ともに距離測定を行い、データ処理時に往路の距離データのみを採用するようにしてもよいし、往路のみ距離測定を行うようにしてもよい。また、往路を低速にすることにより、測定データを多く取得でき、復路を高速にすれば、時間の無駄を削減できる。尚、本発明では、往路と復路の速度が等しくても構わない。この場合、測定装置の操作速度、例えば図2のプロフィル測定装置1では反射板12の回転速度を、一定に保ったままで測定を行うことができる。表1は、プロフィル測定方法による測定精度および測定時間を比較したものである。従来例1は前述の特許文献3の方法、従来例2は、マイクロ波を往復させて任意の点で降下速度を測定し、往路の測定データにその降下速度に基づいた補正を行う方法である。本発明例1は、上記実施の形態において、往路と復路の速度を等しくした場合、本発明例2は、復路を往路よりも高速にした場合である。表1に示すように、従来例1では精度が低く、従来例2は、従来例1よりは精度が上がるものの、十分な精度は得られない。一方、本発明例1は、測定時間は従来例の1.5倍かかるが高精度な結果が得られ、本発明例2は、測定時間が従来例とほとんど変わらず、高精度な結果が得られる。尚、上記の実施形態では、往路測定を等角速度で行うこととしたが、1回目と2回目を同じ角速度パターンで測定すれば、角速度が変動しても構わない。また、往路測定を3回以上行って位置毎の装入物降下速度を求めてもよい。また、上記の実施形態では、プロフィル測定装置により、一方の炉壁から対向側の炉壁まで、炉内の直径方向全体の測定を行ったが、装入物が中心軸に対して対称であると仮定して、直径方向の半分だけを測定して全体のプロフィルを推定してもよい。また、本発明に用いるプロフィル測定装置は、図2に示すものには限らず、例えばマイクロ波を放射するホーン形のアンテナを回転させて、炉内にマイクロ波を走査する構造のものでもよい。また、図4に示すように、炉体3の側面から炉体3の軸心に向けて、マイクロ波距離計を備えた計測ランス9を挿入し、マイクロ波を高炉内装入物4へ向けて発信して、高炉内装入物4の表面までの距離を測定する方式の測定装置であってもよい。その他、高炉内装入物のプロフィル測定に従来から用いられている、装入物表面を走査する、または複数の測定点で測定するタイプの測定装置でも、同様に実施することができる。以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到しうることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。例えば、上記実施形態では、高炉内装入物の降下速度を求める際に2回測定を行うこととしたが、3回以上の複数回であっても構わない。