"分析静電トラップ14であって、当該静電トラップ14が、静電界体積を画定していて、静的で傾斜化されていない電位を有するトラップ電極を含んでいる、分析静電トラップ14での質量スペクトル分析の方法において、連続イオンビームを前記静電界体積の中へ注入する段階を備えている、方法。前記注入する段階は、前記静電トラップ14内での少なくとも100イオン振動より長い期間に亘って起こる、請求項1に記載の方法。前記静電トラップ14は、ドリフト長さを含んでおり、前記期間は、i前記静電トラップ14内での少なくとも300イオン振動より長い、ii前記静電トラップ14の前記ドリフト長さ全体をm/zの最も軽いイオンで満たすのに十分、及びiii前記静電トラップ14の前記ドリフト長さ全体をm/zの最も重いイオンで満たすのに十分、から成る群より選択されている、請求項1に記載の方法。トラップされた前記イオンの運動を起こさせる段階を更に備えている、請求項1から請求項3に記載の方法。無電界領域によって離間されている反射性電界領域を有する静電トラッピング電界であって、第1のX方向の等時性イオン振動と第2の横断するY方向の空間的集束による移動イオンの不定トラッピングとを提供していて、実質的に第3のZ方向に延ばされている、静電トラッピング電界、を形成する段階を更に備えており、前記トラップされたイオンの運動を起こさせる段階は、更に、iパルス式イオン励起、iiパルス式イオン分除去、iii制限された振動周波数スパン内でのイオンの共鳴励起、iv前記トラッピング電界のパルス式拡張又は収縮、及びv前記無電界領域内でのイオンパケットのパルス式反発、から成る群より選択されている、請求項4に記載の方法。分析静電トラップ14での質量スペクトル分析の方法において、無電界領域によって離間されている反射性電界領域を有する静電トラッピング電界であって、第1のX方向の等時性イオン振動と第2の横断するY方向の空間的集束による移動イオンの不定トラッピングとを提供していて、実質的に第3のZ方向に延ばされている、静電トラッピング電界、を形成する段階と、連続イオンビームを前記トラッピング電界の中へ前記第1のX方向に対して小さい傾斜角度で前記トラップ内での少なくとも100イオン振動より長い期間に亘って、注入する段階と、トラップされたイオンの運動を起こさせる段階と、振動する前記イオンによって生じる画像電流信号を検出する段階と、前記信号を、振動周波数のスペクトルへ変換し、それに続けてm/zスペクトルへ変換する段階と、を備えている方法。前記トラップされたイオンの運動を起こさせる段階は、更に、iパルス式イオン励起、iiパルス式イオン分除去、iii制限された振動周波数スパン内でのイオンの共鳴励起、iv前記トラッピング電界のパルス式拡張又は収縮、及びv前記無電界領域内でのイオンパケットのパルス式反発、から成る群より選択されている、請求項6に記載の方法。連続イオン注入の期間と期間の間に、イオンを高周波RF電界に中間的に蓄積する段階を更に備えている、上記何れかの請求項に記載の方法。前記反射性静電界領域は、iイオンミラーの電界、ii静電セクタの電界、及びiiiイオンミラーと静電セクタの両方の特徴を有するハイブリッド電界、から成る群より選択された少なくとも1つの電界領域を備えている、上記何れかの請求項に記載の方法。前記Z方向に延ばされている静電界は、i中空円柱形電界、及びii等時性エッジ有界電界を具備した平面状電界、から成る群より選択された二次元電界を備えている、請求項5から請求項9の何れかに記載の方法。前記オンビーム注入の段階は、iY方向への切り替え式イオン変位によって支援されている無電界空間を介しての注入、i前記無電界領域のZエッジを介しての注入、iii静電イオンミラーの切り替え式部分を介しての注入、及びiV静電セクタの切り替え式部分を介しての注入、から成る群より選択された1つの段階を備えている、上記何れかの請求項に記載の方法。前記静電界体積を多重化する段階と、前記連続ビームを前記静電界体積の中へ並行で独立した質量分析のために単一イオン源か又は複数イオン源のどちらかから分配する段階と、を更に備えている上記何れかの請求項に記載の方法。前記画像電流信号を周波数スペクトルへ変換する段階は、フーリエ分析か又はフィルタ対角化法FDMのどちらかを備えている、請求項6から請求項12の何れかに記載の方法。静電トラップ質量分析計において、連続イオンビームを形成するためのイオン源12と、無電界領域によって離間されているイオン反射領域を有する静電トラップ14であって、当該静電トラップ電極の形状及び電位が、第1のX方向の等時性イオン振動と第2のY方向の空間的イオン閉じ込めを提供しており、前記トラップは実質的に第3のZ方向に延ばされている、静電トラップ14と、静電トラップ電位を傾斜させることなしに、前記連続イオンビームを前記静電トラップの中へ導入するための注入光学素子と、前記トラップ内へのイオンビーム注入期間に亘って前記イオンビームをX-Y平面内で前記X方向に対して小さい傾斜角度で方向決めするためのイオン操舵手段17と、トラップされたイオンの少なくとも一部の運動を起こさせるための手段18と、移動するイオン雲によって生じる画像電流信号を測定するための検出器と、検出器信号波形から質量スペクトルを再構築するための手段と、を備えている静電トラップ質量分析計。イオン蓄積のため、及び前記連続イオンビームの周期的放出を提供するための、高周波イオンガイド13を更に備えている、請求項14に記載のトラップ。前記静電トラップ14は、i少なくとも2つの静電イオンミラー、ii少なくとも2つの静電偏向セクタ、及びiii少なくとも1つのイオンミラーと少なくとも1つの静電セクタ、から成る群より選択された電極を備えている、請求項14及び請求項15に記載のトラップ。前記電極は、i静電トラップ電極が平行に直線状に延ばされている平面対称、及びii静電トラップ電極が円形で中空円柱形電界体積を形成している円柱対称、から成る群より選択された1つの電界対称を有する実質的に二次元の静電界を提供している、請求項14から請求項16に記載のトラップ。前記注入光学素子は、i前記静電トラップ電極のうちの1つの電極の開口、ii前記静電トラップ電極の一時的にバイアスされる部分の開口、iii無電界空間と検出器、iv平面的二次元電界を形成する細長い電極のエッジ、及びv前記静電トラップの一部分、から成る群より選択されている、請求項14から請求項17に記載のトラップ。前記イオン化手段は、質量分析計、及び断片化セルを従えたイオン移動度機器、から成る群より選択されている、請求項14から請求項18に記載のトラップ。前記電極のセットは、非常に多数のトラッピング静電界を形成する整列したスリットのセットを備えていており、前記注入光学素子は、イオン流れを前記トラッピング体積の間で多重化するための手段を備えている、請求項14から請求項18に記載のトラップ。このように、先行技術のEトラップは、静電トラップのパラメータに影響を及ぼす電荷の傾斜化又は切り替えが付随するイオンパケットのパルス式注入を採用している。ここに記載されているシステムは、前述の問題のうち少なくとも1つ又はそれ以上を未然に防ぐか又は軽減し、イオン流束スループット及び静電トラップ質量分析計のデューティサイクルを改善するものである。質量スペクトル分析の複数の方法が開示されている。或る実施形態では、方法は、連続イオンビームを、トラップ電極に静的で傾斜化されていない電位を用いる分析静電トラップの静電界体積の中へ、予め定められた期間に亘って、注入する段階を備えるものである。他にも可能性はあるが中でも特に、本方法は、WO特許第2011086430号に記載されている拡張型Eトラップに使用することができ、その場合、注入期間をイオン振動サイクルと比べて100乃至1000倍長くすることができる。或る実施形では、注入期間は、i静電トラップ内での少なくとも100イオン振動、ii静電トラップ内での少なくとも300イオン振動、iii静電トラップのドリフト長さ全体をm/zの最も軽いイオンで満たすのに十分な期間、及びiv前記静電トラップのドリフト長さ全体をm/zの最も重いイオンで満たすのに十分な期間、という群のうちの1つより長い。或る実施形では、本方法は、更に、トラップされたイオンの運動を起こさせる先鋭化段階を備えている。或る実施形では、質量スペクトル分析の方法は、a無電界領域によって離間されている反射性電界領域を有する静電トラッピング電界であって、第1のX方向の等時性イオン振動と第2の横断するY方向の空間的集束による移動イオンの不定トラッピングとを提供していて、実質的に第3のZ方向に延ばされている、静電トラッピング電界、を形成する段階と、b連続イオンビームを前記トラッピング電界の中へ前記第1のX方向に対して小さい傾斜角度で前記トラップ内での少なくとも100イオン振動より長い期間に亘って注入する段階と、cトラップされたイオンの運動を起こさせる段階と、d振動するイオンによって生じる画像電流信号を検出する段階と、e信号を、振動周波数のスペクトルへ変換し、それに続けてm/zスペクトルへ変換する段階と、を備えるものである。或る実施形では、トラップされたイオンの運動を起こさせる段階は、iパルス式イオン励起、iiパルス式イオン分除去、iii制限された振動周波数スパン内でのイオンの共鳴励起、iv前記トラッピング電界のパルス式拡張又は収縮、及びv前記無電界領域内でのイオンパケットのパルス式反発、という群のうちの1つの段階を備えていてもよい。或る実施形では、方法は、前記連続イオン注入の段階と段階の間の高周波RF電界での中間イオン蓄積を更に備えていてもよい。或る実施形では、反射性静電界領域は、iイオンミラーの電界、ii静電セクタの電界、及びiiiイオンミラーと静電セクタの両方の特徴を有するハイブリッド電界、という群のうちの少なくとも1つの電界領域を備えている。Z方向に延ばされている静電界は、i中空円柱形電界、及びii等時性エッジ有界電界を具備した平面状電界、という群のうちの二次元電界を備えていてもよい。質量スペクトル分析を加速するために、或る実施形では、方法は、更に、静電界体積を多重化する段階と、連続したイオンビームを複数の静電界体積の中へ並行で独立した質量分析のために単一イオン源か又は複数イオン源のどちらかから分配する段階と、を含んでいてもよい。或る実施形態では、画像電流信号を周波数スペクトルへ変換する段階は、フーリエ分析又はフィルタ対角化法FDMのどちらかを備えている。静電トラップ質量分析計も記載されている。或る実施形では、その様な分析計は、連続イオンビームを形成するイオン源、無電界領域によって離間されているイオン反射領域を有する静電トラップ、を備えていてもよい。或る実施形では、静電トラップ電極の形状及び電位は、第1のX方向の等時性イオン振動と第2のY方向の空間的イオン閉じ込めを提供するよう選択されていてもよく、前記トラップは実質的に第3のZ方向に延ばされている。或る実施形態では、分析計は静電トラップ電位の傾斜化なしに連続イオンビームを静電トラップの中へ導入するために注入光学素子を含んでいてもよい。加えて、前記トラップ内へのイオンビーム注入期間に亘ってイオンビームをX-Y平面内でX方向に対して小さい傾斜角度で方向決めするために、イオン操舵手段が組み込まれていてもよい。次に、トラップされたイオンの少なくとも一部分の運動を起こさせる手段先鋭化部が分析計へ組み込まれていてもよい。或る実施形では、分析計は、更に、移動するイオン雲によって生じる画像電流信号を測定する検出器を含んでいてもよい。分析計は、更に、検出器信号波形から質量スペクトルを再構築するための手段を含んでいてもよい。或る実施形では、静電トラップは、更に、イオン蓄積と連続イオンビームの周期的放出のための高周波RFイオンガイドを備えている。或る実施形では、静電トラップは、i少なくとも2つの静電イオンミラー、ii少なくとも2つの静電偏向セクタ、及びiii少なくとも1つのイオンミラーと少なくとも1つの静電セクタ、という群のうちの1つの電極セットを備えている。電極は、iEトラップ電極が平行に直線状に延ばされている平面対称、及びiiEトラップ電極が円形で中空円柱形電界体積を形成している円柱対称、という群のうちの一方の電界対称を有する実質的に二次元の静電界を提供していてもよい。注入光学素子は、iEトラップ電極のうちの1つの電極の開口、iiEトラップ電極の一時的にバイアスされる部分の開口、iii無電界空間と検出器、iv平面的二次元電界を形成する細長い電極のエッジ、及びv前記静電トラップの一部分、という群のうちの1つを備えていてもよい。イオン化手段は、質量分析計か又は断片化セルを従えたイオン移動度機器のどちらかを備えていてもよい。電極のセットは、非常に多数のトラッピング静電界を形成する整列したスリットのセットを備えていてもよく、その場合、前記注入光学素子は、イオン流れを前記トラッピング体積の間で多重化するための手段を備える。説明を目的とすることを前提に、これより、添付図面を参照しながら、本発明の様々な実施形態を配置構成と共に単に一例として説明してゆく。様々な図面中の同様の符号は同様の要素を表している。先行技術の静電トラップEトラップは、多くの場合、コンパクトなイオンパケットのパルス式注入を採用している。パルス式スキームでは、aイオンパケットが微小体積内に蓄積され、その結果、イオンの空間電荷反発が引き起こされる、bイオンパケットが強力な電界で抽出され、その結果、数百電子ボルトという比較的大きなエネルギーの広がりが引き起こされる、c蓄積トラップと分析Eトラップの間に飛行時間型分離が起こることで注入される質量範囲が制限されることがある、及びdイオンが分析Eトラップの中へパルス式に入射させられることでパルス電位及び関連する分析Eトラップ電圧不安定化が生じ得る、ことが原因で、イオンパケットのパラメータが制限される可能性がある。或る態様では、一定した静電位を有するEトラップの中への連続イオンビームの長時間注入を使用するシステムが提供されている。或る実施形では、イオンビームは、確実にEトラップ体積がイオンで完全に且つ均一に満たされるようにするのを助力するべく、少なくとも100イオン振動サイクルに亘って提供されている。或る実施形では、無電界領域を有するEトラップが使用されていることとEトラップが実質的にドリフト方向に沿って延ばされていることにより、長時間注入が実施可能になっている。或る実施形では、振動周波数を画像電流検出器によって検出するために、トラップされている移動イオンの集まりが次いで先鋭化されてもよい。記載されている様々な先鋭化技法は、システムが、明瞭に画定されたm/z非依存性の長さを有する引き伸ばされたEトラップ振動経路と同程度のイオンパケットを得られるようにしており、ひいては、信号処理を改善し、より高次の信号調波を除去することができる。図1を参照すると、静電トラップEトラップ質量分析計の1つの実施形態11は、連続イオン源12、蓄積のための高周波RFイオンガイド13、それに続く差動ポンプ式イオン移送光学素子図示せず、ドリフト空間16によって離隔されている2つの格子無しイオンミラー15で形成されている静電中空円柱形トラップ14、操舵手段17、トラップ14内でイオン運動を起こさせるための手段18、及びドリフト空間16の遮蔽電極へ接続されている画像電流回路19、を備えている。図は、更に、14T1及び14T2として表示されているT1時とT2時における瞬間のトラップ14の輪切りを示している。作動時、2つの平面状格子無しイオンミラー15は、平行に整列していて、遮蔽電極点線で示されている内に配設されている無電界領域16によって離間されている。或る実施形では、ミラーは、X-Z平面に対し対称に設定されている。それぞれのミラーは、一例として、実質的に二次元の静電界を有する中空円柱形体積を形成するように少なくとも4対の円形電極図示せずで構成されていてもよい。或る実施形態では、それぞれのミラーは、引き寄せレンズ電極を備えていてもよい。イオンミラーの中の電界は、Y方向の空間的イオン集束、Y方向の空間的角度的なビーム発散に対するX方向のイオンエネルギーについての等時性、及び少なくともテイラー展開2次までのクロスターム収差の補償、ひいては少なくとも3次までの時間対エネルギー集束の補償、を提供するように、適合されていてもよい。或る実施形では、少なくとも1対の向かい合うリング電極は、イオンパケットを半径方向に操舵するように調節可能な電圧バイアスを有しており、この様にしながらイオンを周回Z軸付近に引き留める。イオン源12は、連続イオンビームを提供していてもよい。イオンビームは、出口端のDC反発又はRF反発によって支援されていてイオン射出のサイクルとサイクルの間の衝突性イオン減衰のために0.01-10mbarの中間ガス圧力で作動しているトラッピングRFガイド13に蓄積する。トラッピングイオンガイド13の出口は周期的に開いて出口電極について傾斜した電圧プロファイルの記号で図示、引き伸ばされたイオン流れを好適には鋭いイオンスパイクを形成することなしに生み出す。或る実施形では、イオン流れは、Eトラップ充填サイクル全体に亘って、典型的には数ミリ秒の時間尺度で提供されている。その結果、連続イオンビーム太い矢印で図示は、無電界領域16及び操舵手段17を介し、X軸に対し小さい角度αで、例えばX軸に対して1乃至3度の傾斜角度で、Eトラップ14に進入する。操舵手段17は、ミラー電極を迂回するべくY方向へのイオンビーム変位を提供する。次に、イオンビームは、イオンミラー15によって反射され、その結果、周回Z方向に伝搬する。Eトラップ14が長い外周を有している結果として、ミラーによる大凡100乃至300のイオン反射を経てイオンがトロイダルEトラップ内で完全に一周し終え注入領域に進入する前に、X方向への少なくとも100イオン振動サイクル又はその程度の長い時間数ミリ秒がかかる。1つの方法では、トラップされたイオンの外乱を回避するべく、RFトラップ13は閉じられ、操舵手段17はオフに切り替えられる。そうして、軽いイオンは体積全体を満たし、重いイオンはEトラップ体積の一部を満たすことになる。別の方法では、注入サイクルは、m/zの最も重いイオンがトラップ体積全体を満たすまで持続する。すると、m/zのより軽いイオンは部分的に失われることになり、注入デューティサイクルはイオンm/zの平方根に比例する。更に別の方法では、振動サイクル当たりイオン変位がZ方向に操舵手段17の厚さより長くなるように、傾斜角度が選定されてもよい。そうすると、イオンビームの相当部分は操舵手段を迂回し、次の一周を開始することになろう。前述の方法は、より均一なm/z当たりデューティサイクルを可能にすることであろう。充填サイクルが完了すると、トラッピングガイド13は閉じ、入来するイオンは次の注入サイクルまでガイド13内に貯蔵される。次の平衡段階では、トラップされたイオンはミラー間で振動を続行している。トラップされたイオンはZ方向に広がって混ざり合い、トラップをX方向に均質に満たす。操舵手段17例えば一対の偏向板は、イオン経路内に電極を存在させないために設けられているものであり、操舵手段はスイッチオフレジームではイオン運動を妨げない。この段階では、画像電流回路19上にコヒーレント信号はない。次の先鋭化段階では、T1時、手段18は、T1段階のトラップ14T1について示されている様に、トラップされたイオンの運動を起こさせるようにオンに切り替えられる。或る実施形態では、無電界領域16内の全てのイオンを偏向させるように短い電圧パルスが遮蔽電極間に印加される。イオンミラー内でたまたま飛行しているイオンは、アイコン14T2に示されている様に対向方向に振動する一対のイオンパケットを形成する。こうして形成されたイオンパケットの長さはイオンm/zに非依存である。次の検出段階では、残留しているイオンの振動が回路19上に信号波形を生じさせる。或る実施形で、波形は、イオン振動の周波数F、対応するm/z値m/z~F2を抽出し、そして対応する信号強度、即ち質量スペクトルを抽出するため、フーリエ変換か又はフィルタ対角化法FDMのどちらかを用いて分析される。或る実施形では、典型的な検出段階は、Eトラップの寸法及び要求されている分解能に依り、また信号分析方法に依り、0.01-1秒持続する。1つの数値例では、トラップのX方向の寸法ミラーキャップ間距離は200mm、Eトラップの直径は300乃至500mm、加速電圧は8keV、そして目標分解能は100,000である。そうすると、m/z=1000amuイオンについての振動期間は5usとなる。FDM分析法を使用すれば、信号捕捉は、大凡20,000サイクルに亘って、即ち0.1秒間、持続するはずである。同じ数値例について、イオン充填段階は、100乃至1000反射サイクル、即ち0.5乃至5msかかる。分析は100msかかるので、中間貯蔵イオンガイドは、0.05mBarまで下げた比較的低いガス圧力ではあるがイオン放出のサイクルとサイクルの間の衝突性イオン減衰にはなお十分な圧力に保持されるものである。説明されている中間イオン貯蔵法は、RF四重極イオンガイドがCトラップの様なパルス式抽出イオントラップの容量3E6イオンを遥かに超える1E8乃至1E9イオンを保持することができるので、並はずれたイオン容量を提供する。抽出される連続イオンビームの位相空間は、横断方向のビーム放射が約1-10mm2meVを生み軸方向のエネルギーの広がりは1eV未満となることから、パルス式抽出イオンパケットのそれよりかなり小さくなる。パルス式トラップは、際立って広い横断方向放射RFトラップ中の局在化したイオン雲の空間電荷反発に起因と数百電子ボルトという軸方向のエネルギーの広がりを発生させる。結果として、開示されているシステムは、イオン運動のより優れた等時性、ひいてはより高い分解能力を有するEトラップをもたらす。新規な注入方法は、イオンミラーでの精密な電位のパルス化を避けており、それが更に精度及び分解能力をもたらす。Eトラップ内での細長いイオンパケットの形成は、Eトラップの電荷容量を拡大する。或る実施形では、Eトラップが200mmのキャップ間距離と300mmのトロイダル直径を有していれば、イオン雲によって占められる空間は50,000mm3と推定できる。1E4イオン/mm3の空間電荷閾値を仮定すると、代表例のEトラップの空間電荷容量は1E9イオン/注入と推定される。加えて、m/z非依存性の長さを有する細長いイオンパケットの形成はFDM信号分析に適しており、というのも、それは正弦波形を提供し、高調波を回避しているからである。開示されている方法は、更に、信号分析にとって好都合であるイオン振動の精密な初期位相を組み込んでいる。説明されている装置及び方法には実行可能な多様な変形がある。或る実施形では、Eトラップは、中空円柱形Eトラップ図1に示されているであってもよいし又はZエッジ静電プラグを有する平面状Eトラップであってもよい。更に、Eトラップは、イオンミラー、静電セクタ、それらの何れかの組合せ、従ってイオンミラーとセクタの両方の特徴を有するハイブリッド電界、で形成されていてもよい。1つの例では、Eトラップは、半径方向偏向電界を使用しながら、強力な軌道運動を可能にしている。或る実施形では、中間イオン貯蔵トラップは、三次元RFイオントラップ又は何れかの形態のイオンガイドを備えていてもよい。例えば、それは、四重極、より高次の多重極イオンガイド、リング、チャネルRFイオンガイド、など、であってもよい。或る実施形では、イオンのトラッピング及び連続放出はRFバリア又はDCバリアによって支援されていてもよい。ソフトイオン放出は、小さい振幅でバリアをパルス化するか又はバリアを緩やかに下降傾斜させるかの何れかで形成することができよう。ICP源を越えた高強度イオンビーム例えば、1E11イオン/秒に関連して、イオンガイド段階を省略し、イオンビームをイオン源12から直接入来させてもよく、但し1乃至5のデューティサイクルでということになろうイオンビームは約1乃至5msの充填時間しか利用されず、その上、ビームは信号捕捉時間中に失われる。それでもなお、注入されるイオンの数は、高いダイナミックレンジの信号分析にとって十分であり1E6乃至1E7と推定、更にEトラップの空間電荷容量にも見合っている。Eトラップの中へのイオン注入は、パルス式操舵手段図1に示されているの支援を受けた無電界空間を介するか、又はより低い電位を一時的に有するイオンミラーの部分を介するか、又は平面状EトラップのZエッジを介するか、の何れかにより整備することができる。Eトラップに貯蔵されたイオンクラウドの先鋭化のために、多様な代わりの方法が使用できるであろう。1つの代わりのやり方は、イオンを、パルス式でもm/z共鳴でもよいが、X方向に励起して、限られたm/zスパン内での励起を提供する例えば、スペクトルのデコーディングを簡略化するため。別の代わりのやり方は、イオン貯蔵空間を調節することであって、例えば、追加の減速用硬性ミラーによってイオンをより短いX方向領域内にトラップし、次いでその様な追加の減速をオフに切り替え、イオンをより長い分析トラッピング体積の中へ放出することによって、調節される。その様なミラーは、Eトラップの中間平面に電極のセットとして配設されていてもよく、従って格子無しミラーを形成していてもよい。前述の方法は、イオンを節約できることから好都合ではあろうが、機械的及び電気的な制約の結果としてより長いトラップの使用が必要となる。電圧浮動配設は様々に異なっていてもよい。1つの代わりのやり方では、中間イオントラップは、ほぼ大地電位で提供されていてもよく、無電界空間は浮動させられてもよい。そうすると、画像電流検出器を浮動させなくてはならず、それにより検出器上に追加の電子ノイズが持ち込まれるかもしれない。別の代わりのやり方では、中間イオントラップは、検出器を大地バイアスに維持しておくために、イオン注入に先立って一時的に浮動させられている。図2を参照して、分析スループットを高めるために、新規な注入方法は多重化されたEトラップと組み合わされてもよい。或る実施形では、静電トラッピング電界の複数の体積25が、同じ電極サンドイッチ26内に、整列したスリットのセットを切り込むことによって配設されている。直線状のEトラップのセットは、Z方向にイオンをトラップするためのZ静電プラグ27を具備していてもよい。単一のイオン源22が、複数のRFトラッピング体積23へ準連続イオンビームを供給する。或る実施形では、複数のEトラップ間でのイオン流れの連続的分配又はパルス式交互分配のどちらかのために、操舵用のセット24が採用されている。代わりに、複数のEトラップの中への並行イオン注入のために、複数のイオン源が採用されていてもよい。多重化配設は、分析のスピードとダイナミックレンジを改善する。好適な実施形態を参照しながら本発明を説明してきたが、形態及び詳細事項における様々な修正が、付随の特許請求の範囲に述べられている本発明の範囲から逸脱することなくなされ得ることが当業者には自明であろう。"