光を放射する光源と、前記光源から放射された光を反射する凹型の反射面を有する集光ミラーと、前記集光ミラーの反射面の近傍に設置され、当該反射面に入射する光を制限するマスクを有するマスク機構と、前記集光ミラーの反射面によって反射した光を分解する回折格子、および、前記回折格子の向きを変える駆動手段を有する分光器と、前記分光器で分解された光を検知する光検知手段と、前記マスク機構におけるマスクを移動させることで、前記集光ミラーの反射面に入射する光の面積を調節するマスク移動手段と、を備えることを特徴とする分光光度計。前記マスク移動手段は、前記回折格子に入射する光の面積が一定になるように、前記回折格子に入射する光の方向と、前記回折格子の回折面の法線と、のなす角度が大きいほど、前記集光ミラーの反射面に入射する光の面積が大きくなるように前記マスク機構におけるマスクを移動させることを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。前記マスク移動手段は、前記光検知手段によって得られる光の強度が全波長で一定になるように、光の波長に依存する発光強度に応じて前記マスク機構におけるマスクを移動させることを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。前記マスク移動手段と、前記駆動手段と、は動力源を共用することを特徴とする請求項2に記載の分光光度計。従来の分光光度計では、光の波長によって回折格子による分散角が異なることを利用して分光を行っている。ここで、分光によって得られる単色光のうち、例えば、1次または-1次の単色光が測定に使用される。そして、白色光を回折格子によって分解し、短波長側から長波長側の波長範囲の単色光をそれぞれ得る際に、短波長側の単色光を得ようとする場合は、長波長側の単色光を得る場合と比べて、回折格子の回折面の法線に対する白色光の入射角度を小さくする必要がある詳細は図2、図3を用いて後記。そのため、短波長側の単色光を用いた測定では、回折格子の回折面への入射光束の面積が、長波長側の単色光を用いた場合と比べて小さくなってしまうことにより、長波長側の単色光を用いた測定と比較して、S/N比や測光値のダイナミックレンジの悪化が起こっていた。その対策として、例えば、光検知器である光電子増倍管のダイノードの負高圧調整や信号処理などが行われてきたが、充分な効果は得られていない。そこで、本発明は、前記事情に鑑みてなされたものであり、分光光度計において、良好なS/N比や測光値の広いダイナミックレンジを実現することを課題とする。前記課題を解決するために、本発明は、光を放射する光源と、前記光源から放射された光を反射する凹型の反射面を有する集光ミラーと、前記集光ミラーの反射面の近傍に設置され、当該反射面に入射する光を制限するマスクを有するマスク機構と、前記集光ミラーの反射面によって反射した光を分解する回折格子、および、前記回折格子の向きを変える駆動手段を有する分光器と、前記分光器で分解された光を検知する光検知手段と、前記マスク機構におけるマスクを移動させることで、前記集光ミラーの反射面に入射する光の面積を調節するマスク移動手段と、を備える。その他の手段については後記する。本発明によれば、分光光度計において、良好なS/N比や測光値の広いダイナミックレンジを実現することができる。以下、本発明を実施するための形態以下、実施形態と称する。について、図面を参照して説明する。なお、本実施形態図2~図4参照で説明する光学系は、ダブルビーム方式のツェルニーターナー型分光器であるが、ほかに、瀬谷浪岡型分光器などの他の分光器であってもよく、また、シングルビーム方式の分光器であってもよい。実施形態1図1、図2に示すように、本実施形態の分光光度計100は、光源1、集光ミラー2、マスク機構4、駆動モータ5マスク移動手段、コンピュータ6、分光器7、集光ミラー20、光束分割手段21、ミラー22、試料室23、光検知手段26を備えて構成される。光源1は、光を放射する手段であり、例えば、可視光線測定用のタングステンランプと、紫外線測定用の重水素放電管によって実現することができる。集光ミラー2は、光源1から放射された光を反射する凹型の反射面を有する。マスク機構4は、集光ミラー2の反射面の近傍に設置され、当該反射面に入射する光を制限するマスク3を有する。マスク3は、遮光手段であり、詳細については図5等で後記する。駆動モータ5マスク移動手段は、コンピュータ6からの指示により、マスク機構4におけるマスク3を移動させることで、集光ミラー2の反射面に入射する光の面積を調節する。コンピュータ6は、予め記憶されたプログラムに基づいて、駆動モータ5や駆動モータ11に動作指示を与える。分光器7は、集光ミラー2から受けた白色光を複数の単色光に分解し、所定の単色光を集光ミラー20に向けて出射するための手段であり、入射スリット8、第一コリメートミラー9、回折格子10、駆動モータ11、第二コリメートミラー18および出射スリット19を備える。入射スリット8、出射スリット19は、分解能を決定するためスリットである。第一コリメートミラー9、第二コリメートミラー18は、受けた光を反射して平行状態の光束光と同様の意味とする。回折格子10は、入射した白色光を複数の単色光に分解する。駆動モータ11は、コンピュータ6からの動作指示を受けて、回折格子10の向きを変える。集光ミラー20は、分光器7から受けた光を反射する。光束分割手段21は、集光ミラー20から受けた光束を分割する手段であり、例えば、ハーフミラーによって実現できる。ミラー22は、光束分割手段21から受けた光を反射する。試料室23は、サンプル24とリファレンス25を格納保持する手段である。光検知手段26は、サンプル24を透過した光を検知するサンプル用光検知器27と、リファレンス25を透過した光を検知するリファレンス用光検知器28と、を有する。次に、分光光度計100における光の動き等について説明する。図2に示すように、光源1から放射された白色光は、集光ミラー2へ入射する。集光ミラー2に入射する白色光およびそこから出射する白色光は、集光ミラー2の近傍に設置されたマスク機構4のマスク3によって光束サイズ面積を制限される。集光ミラー2から出射した白色光は、分光器7に入射し、複数の単色光に分解される。つまり、分光器7内では、光束は、入射スリット8を通過後、第一コリメートミラー9にて反射され、分光手段である回折格子10に入射して白色光から複数の単色光に分解される。なお、駆動モータ11によって回転移動する回折格子10の停止角度停止位置は、次の式1によって決定できる。また、前記したように、単色光としては、1次または-1次の単色光が使用される。kλ=2dsinφcosα式1k:回折次数0、±1、±2。λ:出射する単色光の波長d:回折格子の溝本数φ:回折格子10の回転角α:回折格子10に入射する光束の方向と回折格子10の法線とのなす角度そして、回折格子10の停止位置は、紫外線などの短波長光では図2のようになり、可視光などの長波長光では図3のようになる。図2、図3を比較し、また、下記の式2を参照すればわかるように、回折格子10に入射する光束サイズは、短波長光の場合図2のほうが小さい。x=a/sinφ式2x:回折格子10へ入射する光束の幅a:回折格子10に入射する光束の方向と回折格子10の法線の方向とが一致したときの光束の幅そこで、回折格子10に入射する光の面積が一定になるように、短波長光を用いた測定時には、図4に示すように、回折格子10に入射する光の方向と、回折格子10の回折面の法線と、のなす角度が大きいほど、集光ミラー2の反射面に入射する光の面積が大きくなるようにマスク機構4におけるマスク3を移動させる。これにより、図3と図4を比較すればわかるように、回折格子10へ入射する光束サイズが一定になる。回折格子10から出射した所定の単色光は、第二コリメートミラー18で反射され、出射スリット19を通過する。出射スリット19を通過した単色光は、集光ミラー20で反射され、光束分割手段21で光束が2本に分割される。光束分割手段21で分割された光束は、それぞれ、ミラー22で反射され、試料室23に入射し、サンプル24とリファレンス25に照射され、それぞれを透過後に光検知手段26のサンプル用光検知器27とリファレンス用光検知器28に入射する。光検知手段26において、サンプル用光検知器27とリファレンス用光検知器28で受けた光は電気信号に変換され、コンピュータ6で演算処理され、吸光度や透過率が得られる。次に、マスク機構4の詳細について説明する。図5に示すように、マスク機構4は、2つのマスク3のほかに、2つの縦方向用マスク12、2つのラック13、2つのスパーギア14、ピニオンギア15、プーリー16、および、ワイヤ17を有している。縦方向用マスク12は、図5の縦方向の光束を制限する遮光手段である。なお、縦方向の光束サイズは回折格子10の回転の影響を受けないため、縦方向用マスク12は非駆動固定である。また、マスク3は、図5の横方向の光束を制限する。ラック13は、マスク3に固着され、マスク3と一体に動く。スパーギア14は、ピニオンギア15の動力をラック13に伝達する。ピニオンギア15は、ワイヤ17の動力をスパーギア14に伝達する。プーリー16は、駆動モータ5の動力をワイヤ17経由でピニオンギア15に伝達する。このような構成によってマスク機構4におけるマスク3を図5の左右方向に移動させることで、回折格子10の停止角度停止位置にかかわらず、回折格子10に入射する光束の面積を一定にすることが可能となる。以下、分光光度計100の変形例について説明する。実施形態2図5に示した実施形態1におけるマスク機構4と比較して、図6に示すように、マスク機構4a4において、ピニオンギア15を省略し、駆動モータ5の動力をワイヤ17からスパーギア14に直接伝達するようにしてもよい。実施形態3図5に示した実施形態1におけるマスク機構4と比較して、図7に示すように、マスク機構4b4において、プーリー16とワイヤ17を省略し、駆動モータ5の動力をピニオンギア15に直接伝達するようにしてもよい。実施形態4図5に示した実施形態1におけるマスク機構4と比較して、図8に示すように、マスク機構4c4において、ピニオンギア15とプーリー16とワイヤ17を省略し、駆動モータ5の動力をスパーギア14に直接伝達するようにしてもよい。実施形態2~4によれば、使用する部品の点数を減らすことで、コストや故障率を低減したり、マスク機構4をコンパクト化したりすることができる。実施形態5図5に示した実施形態1におけるマスク機構4の代わりに、図9、図10図9のA-A断面図に示すマスク機構4d4を用いてもよい。マスク機構4dは、図5の場合と同様のプーリー16、ワイヤ17、2つのマスク3のほかに、2つのマスク固定板29を備える。2つのマスク3は、2つのマスク固定板29にそれぞれ固定される。一方のマスク固定板29図9の手前のマスク固定板29がプーリー16とワイヤ17を介して駆動モータ5の動力で動かされると、他方のマスク固定板29図9の奥のマスク固定板29も、ギア32によってその逆方向に動く。なお、各マスク固定板29において、ギア32と接する部分はラック構造となっており、互いの歯車が噛み合って動く詳細な図示を省略。図11、図12図11のB-B断面図は、図9、図10と比較して、2つのマスク3が遠ざかって、マスク3間の開口部が広がった状態を示す。このような構造のマスク機構4dにより、図5~8の場合に比較して、マスク機構4のコンパクト化を実現することができる。実施形態6図9に示した実施形態5におけるマスク機構4dと比較して、図13に示すように、マスク機構4e4を、プーリー16とワイヤ17を省略し、ピニオンギア15略記の動力を一方のマスク固定板29ピニオンギア15が噛み合う部分はラック構造図示を省略に直接伝達するようにしてもよい。実施形態7図1に示した実施形態1における分光光度計100と比較して、図14に示すように、分光光度計100a100において、マスク機構4におけるマスク3を移動させる動力に駆動モータ5を使用せず、駆動モータ11を共有して用いてもよい。そうすれば、駆動モータが1つで済む。実施形態8実施形態1~7では、回折格子10に入射する光の面積が一定になるように、マスク機構4におけるマスク3を移動させるものとしたが、そのほかに、光検知手段26で得られる光の強度が全波長で一定ほぼ一定も含む。になるように、光の波長に依存する発光強度に応じてマスク機構4におけるマスク3を移動させるようにしてもよい。ここで、マスク機構4におけるマスク3を移動させない場合に、光検知手段26で得られる発光強度のスペクトルの形状が図15に示す発光強度スペクトル33であるときについて考える。そして、マスク機構4によるマスク3間の開口部が、スペクトルの発光強度が強い波長では狭く、発光強度が弱い波長では広くなるようにマスク3を移動させれば、図16に示すような一定の発光強度スペクトル34を得ることができる。このように、本実施形態に係る分光光度計100によれば、マスク機構4におけるマスク3を移動させ、集光ミラー2の反射面に入射する光の面積を調節することで、回折格子10の回折面に入射する光の面積を調節し、良好なS/N比や測光値の広いダイナミックレンジを実現することができる。以上で本実施形態の説明を終えるが、本発明の態様はこれらに限定されるものではない。例えば、回折格子10は、反射型でなくても、スリット透過型などの他のタイプのものであってもよい。また、光源1の個数は、1個以上であれば何個でもよい。また、光検知手段26をサンプル用光検知器27とリファレンス用光検知器28の2つで構成する代わりに、1つの光検知器を用いて、光束を時間的に選択するチョッパーミラー等を用いてサンプル24とリファレンス25を透過してきた光束を選択検知するようにしてもよい。また、出射スリット19より後の光学系の構成は別の構成であってもよい。また、マスク機構4において、各種ギア歯車を用いる場合に、バックラッシュ調整いわゆるガタ取りのために、板バネ等の調整手段を使用してもよい。また、各種ギア歯車機構の代わりに、摩擦力によって同作用をする摩擦体機構などを用いてもよい。その他、具体的な構成について、本発明の主旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能である。