XPSX線光電子分光法分析により検出角度45度で測定した最表面のC炭素、O酸素、Si珪素のナロースペクトルから得られたSi比率が02atomic以下であることを特徴とする密着性の良好な未処理の二軸延伸PETフィルム或いはシート。前記請求項1記載の二軸延伸PETフィルム或いはシートにおいて、新たに熱が加わる工程を経た場合には再度XPS分析により検出角度45度で測定して得られるPET面のC炭素、O酸素、Si珪素のナロースペクトルからSi比率を確認する品質管理方法。本発明は、上記の技術的背景を考慮してなされたものであり、ぬれ性とは異なる指標で制限された密着性の良好な未処理の二軸延伸PETフィルム或いはシートとその品質管理方法を提供することを目的とする。上記の課題を解決するための手段として、請求項1に記載の発明は、XPSX線光電子分光法分析により検出角度45度で測定した最表面のC炭素、O酸素、Si珪素のナロースペクトルから得られたSi比率が02atomic以下であることを特徴とする密着性の良好な未処理の二軸延伸PETフィルム或いはシートである。また、請求項2に記載の発明は、前記請求項1記載の二軸延伸PETフィルム或いはシートにおいて、新たに熱が加わる工程を経た場合には再度XPS分析により検出角度45度で測定して得られるPET面のC炭素、O酸素、Si珪素のナロースペクトルからSi比率を確認する品質管理方法である。以上の様に、本発明の密着性の良好な未処理の二軸延伸PETフィルム或いはシートと品質管理方法によれば、PET表面から検出されるシリカフィラー由来のSi珪素比率をXPS分析により測定することにより、PET単体のみのぬれ性と誤認してしまうシリカフィラー添加剤の表面表出状態を制限することで、密着性の良好な未処理の二軸延伸PETフィルム或いはシートと、熱可塑性プラスチック特有の加温による粘弾性挙動で変化するシリカフィラー添加剤の表面表出状態を品質管理することができるようになる。以下、本発明の好ましい実施形態について詳細に説明する。本発明に係わる二軸延伸PETフィルム或いはシートは通常のTダイで押出し成形され、同時二軸延伸、或いは逐次二軸延伸されたものであり、その膜厚等は特に限定されない。また、結晶核剤やアンチブロッキング剤滑剤等として添加されている微粒子シリカフィラーの添加量や形状等も特に限定されず、密着性に作用するPET表面に表出したシリカフィラー量に着目している。ただ、微粒子シリカフィラーは通常数~数百μm程度の粒状、或いはフレーク状のものが多い。本発明に係わるぬれ張力は、JISK6768プラスチック-フィルム及びシート-ぬれ張力試験方法に基づき測定するものであり、表面張力が異なる一連の混合液を試料表面に塗布し、2秒間で試料を濡らすと判定された混合液の表面張力で示すものである。また、接触角は、水や使用溶剤などの液体を試料表面に滴下し形成した液滴のなす接触角θを測定するもので、接触角が小さい程、ぬれ性が高いと判断される。そして、得られた接触角θをYoungの式に代入して表面張力を求めたり、異なる表面張力の液体の接触角から作成したZismanプロットによりやはり試料面の表面張力を求めたりできる。二軸延伸PET基材に塗工される易接着材料やプライマー材料としては一般的にポリエステル系やポリアミド系、ポリウレタン系、エポキシ系、フェノール系、メタアクリル系、ポリ酢酸ビニル系が使用される。これらの樹脂を適宜溶剤に溶解、或いは分散させて、各種ロールコーター、各種グラビアコーター、コンマコーター、ブレードコーター、ナイフコーター、キスコーター、マイヤーバーコーター、ダイコーターなどにより塗工させる。前記の易接着材料やプライマー材料で使用される樹脂の表面張力は凡そ45~60dynecmのものであり、PETの43dynecmよりも高い傾向がある。そのため、PETの表面張力を上げた方がぬれ性は向上する。このため、コロナ処理やプラズマ処理等による酸素含有官能基を付与させ表面張力を上げる方法が取られる場合があるが、工程が増えコストが上がる等の理由で、未処理のPETをそのまま使用する場合も多い。未処理の2軸延伸PET基材の場合、製品による表面粗さや結晶性においては、それ程差が無いが、ぬれ性評価を行うと、製品や同一製品でも表裏面によってぬれ性が若干異なる場合があり、その際、前記の理由から当然ぬれ性の高いPET製品やPET面を使用する方法が取られていた。しかしながら、本発明者らは、ぬれ性に作用している要因に添加されているシリカフィラーの表出量が関与していることを突き止めた。すなわち、PETの表面張力は約43dynecmに対してシリカフィラーの表面張力は約79dynecmと高く、PET表面にシリカフィラーの表出量が多いと表面張力が上がるのである。しかし、シリカフィラーは無機酸化物であるので、表出量が多いと当然有機物との密着性は低くなってしまう。そこで、PET表面をXPS光電子分光法分析による検出角度45度で測定してC炭素、O酸素、Si珪素のナロースペクトルから得られたSi比率が02atomic以下であることが易接着材料やプライマー層との密着性において好適であることを見出した。XPS分析は固体試料にMgkα線やAlkα線などのX線を当てて発生する元素特有の光電子を検出することにより、固体試料の元素組成比や化学結合状態を分析することができる。光電子の脱出深さすなわち、XPSの検出深さは諸説あるが、金属類では約4nm、非金属類では約6nmと言われている。通常、XPS分析では検出角度が45度なのでPET非金属類の場合、約6nm×sin45°≒4nmと推定される。また、本発明では、二軸延伸PETフィルム或いはシートにおいて、新たに熱が加わる工程を経た場合には再度XPS分析により検出角度45度で測定して得られるPET面のC炭素、O酸素、Si珪素のナロースペクトルからSi比率を確認する品質管理方法を提示している。これは、PET片面に易接着層やプライマー層を塗工する多く場合に加熱工程が入るが、PETの様な熱可塑性樹脂は加熱による粘弾性挙動の影響で表面近傍のシリカフィラー表出状態が変化することが判った。その為、易接着層やプライマー層を設けた面の裏面側も品質管理上、再度XPS分析によりSi比率を測定した方が良いと考えられる。従って、本発明に係わる密着性の良好な未処理の二軸延伸PETフィルム或いはシートと品質管理方法によれば、易接着層やプライマー層を設ける場合において、より密着性の良いPET製品やPET面を選択することが可能となり、加熱工程を経た場合にも、密着性の品質管理を行うことができる。次に、本発明を、具体的な実施例を挙げて以下に説明するが、本発明はこれらの例に限定されるものでない。後述の実施例では、先ず各PET製品面についてAFM原子間力顕微鏡分析で表面粗さとXRDX線回析分析で結晶性、そしてぬれ張力、及び水接触角を比較した。各分析方法や装置について以下に示す。AFM分析装置;MFP3DSAアサイラムテクノロジー社製各PET試料面について任意の10箇所を測定し、RMSnm二乗平均粗さの平均値を求めて比較した。測定条件...スキャン範囲;500×1μm、スキャン速度;10Hz、測定方法;ACモードXRD分析装置;RINT-ULTIMAIIIリガク社製各PET試料を約25mm□に5枚切り出しXRD測定を行い、最強線[面]強度を比較した。測定条件...X線源;CuKα、電圧、電流値;40kV、40mAスキャン方法;2θθ法測定範囲;10<2θ<80°試料台制御方法;回転モード光学系;平行ビーム走査条件...サンプリング幅;0.02°スキャンスピード;40°minぬれ張力試験JISK6768プラスチック-フィルム及びシート-ぬれ張力試験方法に基づき、各PET試料面について任意の10箇所のぬれ張力を測定し平均値を求めた。接触角測定自動接触角計CA-VE協和界面化学社製により、各PET試料面について任意の10箇所の接触角を測定し、平均値を求めた。測定溶液は純水を使用した。以下に、実施例を示す。<実施例1>市販のA社製の未処理250μm厚である二軸延伸PETシートの表裏巻外巻内面についてAFM分析を行い、続いてXRD分析行った。ただし、ポリマーのX線CuKαの垂直に入射した時の検出深さは、約1~3mm程度なので、[100面]の2θ≒26°であることから、225~675μm深さとなり、XRD測定面は表裏で殆ど差がない。そして、ぬれ張力と水接触角も測定した。<実施例2>前記実施例1で使用したPETシートを市販のB社製の未処理250μm厚である二軸延伸PETシートに変えた以外は実施例1と同じ手順を行った。<実施例3>前記実施例1で使用したPETシートを市販のC社製の未処理250μm厚である二軸延伸PETシートに変えた以外は実施例1と同じ手順を行った。<実施例4>前記実施例1で使用したPETシートを市販のD社製の未処理250μm厚である二軸延伸PETシートに変えた以外は実施例1と同じ手順を行った。次に、AFM、及びXRD分析結果とぬれ張力、及び水接触角の結果を表1に示す。上記の表1の結果から、実施例1から4まで表面粗さや結晶性においては差異は認められなかったが、ぬれ張力や水接触角では差があり、ぬれ張力と水接触角は相関性が見られた。次に、各実施例のPET表面のXPS分析を行い、C炭素、O酸素、Si珪素のナロースペクトルからSi比率を求めた。そして、密着性評価を行いSi比率と比較した。各分析方法や装置について、以下に示す。XPS分析装置;Quantum2000アルバックファイ社製各PET試料面について、先ずワイドスペクトルを測定し、表面汚染が無いことを確認した後、C炭素、O酸素、Si珪素についてナロースペクトルを測定し、Si比率を算出した。測定箇所は試料面の任意な点を10箇所測定し、Si比率の平均値を出した。測定条件...X線源;モノクロAlX線出力;25W15kVステップ分解能;0125eVパスエネルギー;5870eV積算回数;5回密着性評価○サンプル作成...以下のウレタン系接着剤を調合した。主剤;TM-232ポリエステル系ポリオール硬化剤;CAT-10SL-3Kポリイソシアネート希釈溶剤;酢酸エチル調合質量比;主剤/硬化剤/溶剤=16/1/10この接着剤を各PET試料面に対してバーコーター♯30で手塗りし、80度のオーブンで1分間乾燥し、溶剤を揮発させた。その後、塗工面に対し試料Aの巻外面を貼り合わせ、80度でラミネートし、剥離試験用サンプルとした。形成したウレタン膜の厚さは断面観察より約20μmであった。○剥離試験方法...剥離試験機STA-1225オリエンテック社製を用いて、下記条件で剥離試験を行った。この試験で得られた荷重曲線のうち、荷重値が一定値を示した範囲の平均を試料片幅で割り、密着強度とした。測定条件...剥離強度;T字型剥離速度;300mm/min試験片幅;150mm次に、XPS分析、及び密着性評価結果と前記のぬれ張力、及び水接触角の結果を対比させた表2に示す。そして、この表2の結果よりSi比率をX軸にして剥離強度とぬれ張力をY軸にプロットしたグラフを図1に示す。上記の表2を見ると、Si比率と剥離強度に相関性があることが分かり、グラフ化した図1より、Si比率が01及び02atomicの時は何れも剥離強度で差は無いものの、Si比率が03、そして04atomicと増加すると剥離強度が低下していく傾向が確認された。すなわち、本発明に係わるXPSX線光電子分光法分析により検出角度45度で測定して得られる最表面のC炭素、O酸素、Si珪素のナロースペクトルから得られたSi比率が02atomic以下であれば、密着性の良好な未処理の二軸延伸PETフィルム或いはシートと考えられる。次に、密着性評価においてオーブンでの乾燥時と、さらにラミネート時に80度の加熱工程を経た各実施例のラミネート面とは反対側のPET表面について再度XPS分析を行い、Si比率を算出した結果を表3に示す。この表3の結果を見ると、Si比率は初期密着性評価前に比べ密着性評価後は何れの実施例でも増加しており、Si比率が02atomic以下の時は2倍、それ以上の時は約13倍に増加した。おそらく、PETのTg以上の80度という加熱工程によりPETの粘弾性挙動が作用して、添加されたシリカフィラーがブリードして表出量が増加したと推察される。従って、熱ラミネート後はラミネートした反対側の面について再度XPS分析によりSi比率を把握することで、次の塗工や貼り合わせ工程での密着性の指標となり品質管理として役立つと考えられる。以上から、本発明方法によるXPS分析でSi比率が02atomic以下であれば良好な密着性を有しているPET基材であることを確認した。また、新たに加熱工程を経るとSi比率が増加することも確認できた。