"撮像用の複数の画素のうち読出し対象として任意に指定された画素から光電変換後の電気信号を画素情報として出力可能である撮像部と、前記撮像部が実装される基板に設けられ、前記撮像部において読み出し対象として指示された画素から画素情報を読み出す読出し部と、前記基板に設けられ、前記撮像部による画素情報の出力処理および前記読出し部による画素情報の読み出し処理を制御する撮像側制御部と、前記読出し部が読出した画素情報から画像を生成する画像処理部と、前記画像処理部が生成した画像を表示する表示部と、前記撮像部における読み出し対象の画素を任意に設定可能である設定部と、前記設定部の設定に基づいて読出し対象の画素を変更する制御部と、前記読出し部が読み出した画素情報に異常があるか否かを判断し、前記読出し部が読み出した画素情報に異常があると判断した場合、前記撮像側制御部に異常発生時の制御を行わせるための通知信号を前記撮像側制御部に出力する異常判断部と、を備えたことを特徴とする撮像装置。前記撮像側制御部は、前記異常判断部によって出力された通知信号を受信した場合、前記読出し部における単位時間当たりの処理信号量が、正常な場合における単位時間当たりの処理信号量よりも少なくなるように前記読出し部による画素情報の読み出し処理を制御することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記異常発生時における前記撮像部および前記読出し部の制御条件を記憶する制御条件記憶部をさらに備え、前記撮像側制御部は、前記異常判断部によって出力された通知信号を受信した場合、前記制御条件記憶部に記憶された前記制御条件にしたがって前記撮像部による画素情報の出力処理および前記読出し部による画素情報の読出し処理を制御することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記撮像側制御部は、前記異常判断部によって出力された通知信号を受信した場合、前記撮像部の全画素から抽出した一部の画素を前記撮像部における読み出し対象の画素として設定し、前記読出し部は、前記撮像側制御部によって読出し対象の画素として設定された受光部の画素から画素情報を読み出すことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記撮像側制御部は、前記異常判断部によって出力された通知信号を受信した場合、前記読出し部による画素情報の読み出し速度を遅くすることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記読出し部が読み出した画素情報を含む信号をパラレル信号から所定ビット数単位で構成されるシリアル信号に変換して出力する第1の信号変換部と、前記第1の信号変換部から出力されたシリアル信号を伝送する伝送部と、前記伝送部から伝送された画素情報を含む信号をシリアル信号からパラレル信号に変換して前記画像処理部に出力する第2の信号変換部と、をさらに備え、前記異常判断部は、前記伝送部から前記第2の信号変換部に伝送されたシリアル信号が所定ビット数単位で構成されているか否かをもとに前記異常があるか否かを判断することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記画素情報は、輝度値を含み、前記読出し部は、光が入射する画素の画素情報を読み出すとともに光が入射しない画素の画素情報を読み出し、前記異常判断部は、前記読出し部が読み出した光が入射しない画素の画素情報の輝度値の変化をもとに前記異常があるか否かを判断することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記読出し部が読み出した画素情報を電気信号から光信号に変換して出力する第1の信号変換部と、前記第1の信号変換部から出力された光信号を伝送する伝送部と、前記伝送部から伝送された光信号を電気信号に変換して前記画像処理部に出力する第2の信号変換部と、をさらに備え、前記異常判断部は、前記伝送部が伝送する光信号の信号強度変化をもとに前記異常があるか否かを判断することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記撮像側制御部は、前記撮像部および前記読出し部に異常があるか否かを示す情報を含むステータス情報を保持し、前記ステータス情報の送信を命令された場合には前記ステータス情報を送信し、前記異常判断部は、前記撮像側制御部に状態情報の送信を命令し、前記撮像側制御部から送信されたステータス情報をもとに前記異常があるか否かを判断することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。前記基板に設けられ、前記基板の温度を検出する温度検出部をさらに備え、前記異常判断部は、前記温度検出部によって検出された前記基板の温度をもとに前記異常があるか否かを判断することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。被写体に光を照射する照射部をさらに備え、前記制御部は、前記異常判断部が前記読出し部が読み出した画素情報に異常があると判断した場合、前記照射部による光照射量を弱めるように前記照射部を制御することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。当該撮像装置は、体内に導入される先端部と信号処理装置とを有し、前記先端部と前記信号処理装置とが伝送部によって接続されている内視鏡装置であって、前記撮像部、前記読出し部および前記撮像側制御部は、前記先端部に設けられ、前記画像処理部、前記制御部および前記異常判断部は、前記信号処理装置に設けられることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。ここで、体内画像の高精細化のために、挿入部先端に内蔵される撮像素子として、受光部とともにノイズ除去回路やA/D変換回路などの各種回路も1チップに組み込んだ各種機能を有するCMOSセンサが採用されることがある。このCMOSセンサは、複雑な回路構成を有するとともに、高画素化対応のため高速で駆動するため、チップ温度が高い場合、ノイズ除去回路によるノイズ除去処理やA/D変換部によるA/D変換処理を正確に行えないことがある。このため、CMOSセンサを用いる場合には、チップからの放熱を円滑に行なう必要がある。しかしながら、挿入部先端は被検体の体腔内に導入されるため、CMOSセンサ用に使用できるスペースにも限界がある。このため、チップから効率的に放熱できず、挿入部先端では熱がこもってチップが高温化して破損し、撮像画像を安定して取得できない場合があった。また、内視鏡システムでは、高画素化に対応させて長い信号線に高速で信号を伝送させるため、熱によるCMOS撮像素子の動作不安定や接触不良などに起因した異常が画像信号に発生する可能性も高まる。特に、デジタル伝送系の場合、エラーの発生によって完全に画像が消失することも考えられる。本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、撮像した画像を安定的に取得可能である撮像装置を提供することを目的とする。上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる撮像装置は、撮像用の複数の画素のうち読出し対象として任意に指定された画素から光電変換後の電気信号を画素情報として出力可能である撮像部と、前記撮像部が実装される基板に設けられ、前記撮像部において読み出し対象として指示された画素から画素情報を読み出す読出し部と、前記基板に設けられ、前記撮像部による画素情報の出力処理および前記読出し部による画素情報の読み出し処理を制御する撮像側制御部と、前記読出し部が読出した画素情報から画像を生成する画像処理部と、前記画像処理部が生成した画像を表示する表示部と、前記撮像部における読み出し対象の画素を任意に設定可能である設定部と、前記設定部の設定に基づいて読出し対象の画素を変更する制御部と、前記読出し部が読み出した画素情報に異常があるか否かを判断し、前記読出し部が読み出した画素情報に異常があると判断した場合、前記撮像側制御部に異常発生時の制御を行わせるための通知信号を前記撮像側制御部に出力する異常判断部と、を備えたことを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、前記撮像側制御部は、前記異常判断部によって出力された通知信号を受信した場合、前記読出し部における単位時間当たりの処理信号量が、正常な場合における単位時間当たりの処理信号量よりも少なくなるように前記読出し部による画素情報の読み出し処理を制御することを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、前記異常発生時における前記撮像部および前記読出し部の制御条件を記憶する制御条件記憶部をさらに備え、前記撮像側制御部は、前記異常判断部によって出力された通知信号を受信した場合、前記制御条件記憶部に記憶された前記制御条件にしたがって前記撮像部による画素情報の出力処理および前記読出し部による画素情報の読出し処理を制御することを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、前記撮像側制御部は、前記異常判断部によって出力された通知信号を受信した場合、前記撮像部の全画素から抽出した一部の画素を前記撮像部における読み出し対象の画素として設定し、前記読出し部は、前記撮像側制御部によって読出し対象の画素として設定された受光部の画素から画素情報を読み出すことを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、前記撮像側制御部は、前記異常判断部によって出力された通知信号を受信した場合、前記読出し部による画素情報の読み出し速度を遅くすることを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、前記読出し部が読み出した画素情報を含む信号をパラレル信号から所定ビット数単位で構成されるシリアル信号に変換して出力する第1の信号変換部と、前記第1の信号変換部から出力されたシリアル信号を伝送する伝送部と、前記伝送部から伝送された画素情報を含む信号をシリアル信号からパラレル信号に変換して前記画像処理部に出力する第2の信号変換部と、をさらに備え、前記異常判断部は、前記伝送部から前記第2の信号変換部に伝送されたシリアル信号が所定ビット数単位で構成されているか否かをもとに前記異常があるか否かを判断することを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、前記画素情報は、輝度値を含み、前記読出し部は、光が入射する画素の画素情報を読み出すとともに光が入射しない画素の画素情報を読み出し、前記異常判断部は、前記読出し部が読み出した光が入射しない画素の画素情報の輝度値の変化をもとに前記異常があるか否かを判断することを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、前記読出し部が読み出した画素情報を電気信号から光信号に変換して出力する第1の信号変換部と、前記第1の信号変換部から出力された光信号を伝送する伝送部と、前記伝送部から伝送された光信号を電気信号に変換して前記画像処理部に出力する第2の信号変換部と、をさらに備え、前記異常判断部は、前記伝送部が伝送する光信号の信号強度変化をもとに前記異常があるか否かを判断することを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、前記撮像側制御部は、前記撮像部および前記読出し部に異常があるか否かを示す情報を含むステータス情報を保持し、前記ステータス情報の送信を命令された場合には前記ステータス情報を送信し、前記異常判断部は、前記撮像側制御部に状態情報の送信を命令し、前記撮像側制御部から送信されたステータス情報をもとに前記異常があるか否かを判断することを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、前記基板に設けられ、前記基板の温度を検出する温度検出部をさらに備え、前記異常判断部は、前記温度検出部によって検出された前記基板の温度をもとに前記異常があるか否かを判断することを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、被写体に光を照射する照射部をさらに備え、前記制御部は、前記異常判断部が前記読出し部が読み出した画素情報に異常があると判断した場合、前記照射部による光照射量を弱めるように前記照射部を制御することを特徴とする。また、本発明にかかる撮像装置は、体内に導入される先端部と信号処理装置とを有し、前記先端部と前記信号処理装置とが伝送部によって接続されている内視鏡装置であって、前記撮像部、前記読出し部および前記撮像側制御部は、前記先端部に設けられ、前記画像処理部、前記制御部および前記異常判断部は、前記信号処理装置に設けられることを特徴とする。本発明にかかる撮像装置は、異常発生時には、撮像部が実装される基板であって読出し部が設けられた基板の撮像側制御部が、撮像部による画素情報の出力処理および読出し部による画素情報の読出し処理の異常発生時に対応した制御を行うため、撮像した画像を安定的に取得することができる。以下に、本発明にかかる実施の形態として、挿入部先端に撮像素子を備え、患者等の被検体の体腔内の画像を撮像して表示する医療用の内視鏡システムについて説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。また、図面の記載において、同一部分には同一の符号を付している。また、図面は模式的なものであり、各部材の厚みと幅との関係、各部材の比率などは、現実と異なることに留意する必要がある。図面の相互間においても、互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれている。実施の形態1まず、実施の形態1における内視鏡システムについて説明する。図1は、本実施の形態1にかかる内視鏡システムの内視鏡部分の概略構成を示す図である。図1に示すように、本実施の形態1における内視鏡1は、細長な挿入部2と、この挿入部2の基端側であって内視鏡装置操作者が把持する操作部3と、この操作部3の側部より延伸する可撓性のユニバーサルコード4とを備える。ユニバーサルコード4は、ライトガイドケーブルや電気系ケーブルなどを内蔵する。挿入部2は、撮像素子としてCMOSセンサを内蔵した先端部5と、複数の湾曲駒によって構成され湾曲自在な湾曲部6と、この湾曲部6の基端側に設けられた長尺であって可撓性を有する長尺状の可撓管部7とを備える。ユニバーサルコード4の端部にはコネクタ部8が設けられている。コネクタ部8には、光源装置に着脱自在に接続されるライトガイドコネクタ9、CMOSセンサで光電変換した被写体像の電気信号を信号処理用の制御装置に伝送するため制御装置に接続される電気接点部10、先端部5のノズルに空気を送るための送気口金11などが設けられている。ここで、光源装置は、白色光源や特殊光源などを有し、白色光源あるいは特殊光源からの光を、ライトガイドコネクタ9を介して接続された内視鏡1へ照明光として供給する。また、制御装置は、撮像素子に電源を供給し、撮像素子から光電変換された電気信号が入力される装置であり、撮像素子によって撮像された電気信号を処理して接続する表示部に画像を表示させるとともに、撮像素子のゲイン調整などの制御および駆動を行なう駆動信号の出力を行なう。操作部3には、湾曲部6を上下方向および左右方向に湾曲させる湾曲ノブ12、体腔内に生検鉗子、レーザプローブ等の処置具16を挿入する処置具挿入部13、制御装置、光源装置あるいは送気、送水、送ガス手段などの周辺機器の操作を行なう複数のスイッチ14が設けられている。処置具挿入部13から挿入された処置具16は、内部に設けられた処置具用チャンネルを経て挿入部2先端の開口部15から表出する。たとえば処置具16が生検鉗子の場合には、生検鉗子によって患部組織を採取する生検などを行なう。次に、挿入部2の先端部5における構成を説明する。図2は、図1に示す内視鏡1の先端部5の内部構成の概略を説明する断面図である。図2に示すように、内視鏡1の先端部5先端には、照明レンズ22、観察窓23、処置具用チャンネル33と連通する処置具表出用の開口部15および送気送水用ノズル図示しないが設けられている。照明レンズ22からは、グラスファイバ束等で構成されるライトガイド21を介して光源装置から供給された白色光あるいは特殊光が出射する。観察窓23には、レンズ24a,24bからなる光学系の結像位置に、2次元的にマトリックス状に配置された撮像用の複数の画素を有する受光部28が配置される。受光部28は、レンズ24a,24bからなる光学系を介して入射した光を受光して体腔内を撮像する。受光部28の受光面側には、カバーガラス25が設けられている。カバーガラス25と受光部28との間には、受光部28の画素の配列に対応してR,GあるいはBのフィルタが配列するオンチップフィルタ27が設けられる。受光部28は、受光部28に撮像タイミングを指示するとともに受光部28による画像信号を読出して電気信号に変換するIC29やチップコンデンサ30などとともに回路基板26に実装される。この回路基板26には、電極32が設けられる。この電極32は、電気信号を制御装置に伝送する集合ケーブル31と、たとえば異方性導電性樹脂フィルムを介して接続する。集合ケーブル31は、受光部28が出力した電気信号である画像信号を伝送する信号線あるいは制御装置から制御信号を伝送する信号線など複数の信号線を備える。次に、本実施の形態1にかかる内視鏡システムの構成について説明する。図3は、本実施の形態1にかかる内視鏡システムの構成を示すブロック図である。図3に示すように、実施の形態1にかかる内視鏡システム100は、先端部5に設けられたCMOS撮像素子80と複数の信号線を有する集合ケーブル31を介して接続する制御装置40、白色光あるいは特殊光を供給する光源装置60、CMOS撮像素子80が撮像した体内画像を表示する表示部71を有し、体内観察に関する情報を出力する出力部73、体内観察に要する各種指示情報を入力する入力部72および体内画像等を記憶する記憶部74を備える。先端部5には、CMOS撮像素子80が設けられる。CMOS撮像素子80は、受光部28、タイミングジェネレータ34、制御回路35、ノイズ除去部37とA/D変換部38とによって構成されるAFEAnalogFrontEnd部36、および、入力したデジタル信号をパラレル信号からシリアル信号に変換するP/S変換部39によって構成される。受光部28が実装される基板には、制御回路35、タイミングジェネレータ34、AFE部36、および、P/S変換部39が設けられている。このため、CMOS撮像素子80は、受光部28、タイミングジェネレータ34、制御回路35、AFE部36、および、P/S変換部39が1つの基板をもとに1チップ化された構成を有する。受光部28は、2次元的にマトリックス状に配置された撮像用の複数の画素のうち読出し対象として任意に指定された画素から光電変換後の電気信号を画素情報として出力する。各画素情報は、輝度値を含む。タイミングジェネレータ34は、制御装置40から出力されたタイミング信号にしたがって駆動し、読出アドレス設定部53の設定に応じた読み出し順にしたがって、受光部28を構成する複数の画素において読出し対象として指定された位置アドレスの画素から光電変換後の電気信号を画素情報として出力させる。制御回路35は、制御装置40から出力された設定データにしたがって、受光部28に対する撮像処理、受光部28の撮像速度、受光部28の画素からの画素情報の読出し処理および読出した画素情報の伝送処理を制御する。ノイズ除去部37は、受光部28の所定の画素から出力された画素情報の信号のノイズを除去する。A/D変換部38は、ノイズ除去された画素情報の信号をアナログ信号からデジタル信号に変換し、P/S変換部39に出力する。タイミングジェネレータ34およびAFE部36が受光部28から読み出した画素情報を含む信号は、P/S変換部39によってパラレル信号から所定ビット数単位で構成されるシリアル信号の画像信号に変換された後に、集合ケーブル31の所定の信号線を介して、制御装置40に伝送される。タイミングジェネレータ34およびAFE部36は、特許請求の範囲における読出し部として機能する。先端部5には、さらに制御条件記憶部81が設けられる。制御条件記憶部81は、CMOS撮像素子80を構成する基板に接続する。制御条件記憶部81は、異常発生時における受光部28による画素情報の出力処理、タイミングジェネレータ34とAFE部36とによる画素情報の読み出し処理、および、P/S変換部39による変換処理の制御条件を記憶する。制御回路35は、後述する制御装置40の異常判断部57によって出力された異常発生時の制御を行わせるための異常モード通知信号を受信した場合、受光部28による画素情報の出力処理、タイミングジェネレータ34とAFE部36とによる画素情報の読出し処理、および、P/S変換部39における変換処理を直接制御する。制御回路35は、異常判断部57によって出力された異常モード通知信号を受信した場合、制御条件記憶部81に記憶された制御条件にしたがって受光部28による画素情報の出力処理、タイミングジェネレータ34とAFE部36とによる画素情報の読出し処理、および、P/S変換部39における変換処理を制御する。制御回路35は、特許請求の範囲における撮像側制御部として機能する。制御装置40は、画像信号を処理して表示部71に体内画像を表示させるとともに、内視鏡システム100の各構成部位を制御する。制御装置40は、S/P変換部41、画像処理部42、明るさ検出部51、調光部52、読出アドレス設定部53、CMOS駆動信号生成部54、制御部55、基準クロック生成部56および異常判断部57を有する。S/P変換部41は、集合ケーブル31の所定の信号線から伝送されたデジタル信号である画像信号をシリアル信号からパラレル信号に変換して、画像処理部42に出力する。画像処理部42は、S/P変換部41から出力されたパラレル信号の画像信号、すなわち、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読出した画素の画素情報から、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読出した受光部28の画素のアドレスをもとに表示部71に表示される体内画像を生成する。画像処理部42は、同時化部43、WB調整部44、ゲイン調整部45、γ補正部46、D/A変換部47、フォーマット変更部48、サンプル用メモリ49および静止画像用メモリ50を備える。同時化部43は、入力された各R,G,B画素の画像信号を画素ごとに設けられたメモリ図示しないに入力し、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読出した受光部28の画素のアドレスに対応させて、各メモリの値を入力された各画像信号で順次更新しながら保持するとともに、これら3つのメモリの各画像信号をRGB画像信号として同時化する。同時化されたRGB画像信号は、WB調整部44に順次出力されるとともに、同時化されたRGB画像信号のうちのいくつかは明るさ検出などの画像解析用にサンプル用メモリ49にも出力され、保持される。WB調整部44は、RGB画像信号のホワイトバランスを調整する。ゲイン調整部45は、RGB画像信号のゲイン調整を行う。γ補正部46は、表示部71に対応させてRGB画像信号を階調変換する。D/A変換部47は、階調変換後のRGB画像信号をデジタル信号からアナログ信号に変換する。フォーマット変更部48は、アナログ信号に変換された画像信号をハイビジョン方式などのフォーマットに変更して表示部71に出力する。この結果、表示部71には、1枚の体内画像が表示される。なお、ゲイン調整部45によってゲイン調整されたRGB画像信号のうちの一部は、静止画像表示用、拡大画像表示用または強調画像表示用として、静止画像用メモリ50にも保持される。明るさ検出部51は、サンプル用メモリ49に保持されたRGB画像信号から、各画素に対応する明るさレベルを検出し、検出した明るさレベルを明るさ検出部51内部に設けられたメモリに記憶する。また、明るさ検出部51は、検出した明るさレベルをもとにゲイン調整値および光照射量を算出する。算出されたゲイン調整値はゲイン調整部45へ出力され、算出された光照射量は、調光部52に出力される。さらに、明るさ検出部51による検出結果は、制御部55にも出力される。調光部52は、制御部55の制御のもと、明るさ検出部51から出力された光照射量をもとに、各光源に供給する電流量、減光フィルタの駆動条件を設定して、設定条件を含む光源同期信号を光源装置60に出力する。調光部52は、光源装置60が発する光の種別、光量、発光タイミングを設定する。読出アドレス設定部53は、受光部28における読出し対象の画素および読出し順序を任意に設定可能である。すなわち、読出アドレス設定部53は、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出す受光部28の画素のアドレスを任意に設定可能である。また、読出アドレス設定部53は、設定した読出し対象の画素のアドレスを同時化部43に出力する。CMOS駆動信号生成部54は、受光部28とCMOSセンサ周辺回路とを駆動するための駆動用のタイミング信号を生成し、集合ケーブル31内の所定の信号線を介してタイミングジェネレータ34に出力する。なお、このタイミング信号は、読出し対象の画素のアドレスを含むものである。したがって、読出アドレス設定部53は、CMOS駆動信号生成部54を介して、設定した読み出し対象の画素に対する読み出し処理を指示する指示信号をタイミングジェネレータ34に出力する。制御部55は、CPUなどによって構成され、図示しないメモリに格納された各種プログラムを読み込み、プログラムに示された各処理手順を実行することで、各構成部の各駆動制御、これらの各構成部に対する情報の入出力制御、および、これらの各構成部との間で各種情報を入出力するための情報処理とを行う。制御装置40は、撮像制御のための設定データを、集合ケーブル31内の所定の信号線を介して先端部5の制御回路35に出力する。設定データは、受光部28の撮像速度、受光部28の任意の画素からの画素情報の読出し速度を指示する指示情報、および、読出した画素情報の伝送制御情報などを含む。制御部55は、読出アドレス設定部53の設定に基づいて読出し対象の画素および読み出し順序を変更する。基準クロック生成部56は、内視鏡システム100の各構成部の動作基準となる基準クロック信号を生成し、内視鏡システム100の各構成部に生成した基準クロック信号を供給する。光源装置60は、制御部55の制御のもと光照射処理を行う。光源装置60は、LEDなどによって構成される白色照明光を照射する白色光源61、白色照射光とは波長帯域が異なる光であって狭帯域バンドパスフィルタによって狭帯域化したRGBいずれかの光を特殊光として照射する特殊光光源62、調光部52から送信された光源同期信号にしたがって白色光源61あるいは特殊光光源62に供給する電流量や減光フィルタの駆動を制御する光源駆動回路63、白色光源61あるいは特殊光光源62に光源駆動回路63の制御のもと所定量の電流を供給するLEDドライバ64を備える。白色光源61あるいは特殊光光源62から発せられた光は、ライトガイド21を介して挿入部2に供給され、先端部5先端から外部に出射する。異常判断部57は、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断する。異常判断部57は、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があると判断した場合、先端部5のCMOS撮像素子80内の制御回路35に異常発生時の制御を行わせるための異常モード通知信号を制御回路35に出力する。異常判断部57は、集合ケーブル31の所定の信号線からS/P変換部41に伝送されたシリアル信号が所定ビット数単位で構成されているか否かをもとに、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断する。この実施の形態1にかかる内視鏡システム100では、異常判断部57がタイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があると判断した場合、制御装置40は、先端部5のCMOS撮像素子80内の制御回路35に異常発生時の制御を行わせるための異常モード通知信号を制御回路35に出力するだけである。そして、制御装置40ではなく、異常モード通知信号を受信した先端部5の制御回路35が、受光部28による画素情報の出力処理、タイミングジェネレータ34およびAFE部36による画素情報の読出し処理、およびP/S変換部39による変換処理を直接制御する。図3に示す内視鏡システム100の体内画像表示処理について説明する。図4は、図3に示す内視鏡システム100の体内画像表示処理の処理手順を示すフローチャートである。図4のフローチャートに示すように、まず、制御装置40の制御部55は、入力部72等から入力される指示情報をもとに、体内画像の表示の開始の指示があるか否かを判断するステップS1。制御部55は、体内画像の表示の開始の指示があると判断するまでステップS1の判断処理を繰り返す。制御部55は、体内画像の表示の開始の指示があると判断した場合ステップS1:Yes、まず、通常モードに設定するステップS2。この通常モードは、たとえば、受光部28のセンサ領域Si内の全画素の画素情報を標準フレームレートで読み出すように設定している。したがって、読出アドレス設定部53は、制御部55の制御のもと、受光部28の全画素を読出し対象の画素として設定する。先端部5では、光源装置60からの光照射タイミングに対応させて受光部28が撮像処理を行ったステップS3後、タイミングジェネレータ34およびAFE部36は、所定のタイミング信号にしたがって、受光部28の全画素から画素情報を読み出す読み出し処理を行うステップS4。読み出された画素情報を含む信号は、P/S変換部39によってシリアル信号に変換され、集合ケーブル31に出力される。集合ケーブル31によって制御装置40に伝送されたシリアル信号は、S/P変換部41においてパラレル信号に変換されてから画像処理部42に出力される。画像処理部42は、受光部28の全画素による画像信号を処理して、一枚の高精細な体内画像を生成する画像処理を行うステップS5。表示部71は、画像処理部42によって生成された画像を表示するステップS6。異常判断部57は、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断する異常判断処理を行いステップS7、判断結果を制御部55に出力する。具体的には、異常判断部57は、S/P変換部41において、規定の所定ビット数に足りないビット数で集合ケーブル31からシリアル信号の画像信号が入力した頻度をカウントし、ある一定数に達した場合、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があると判断する。制御部55は、異常判断部57が異常判断処理においてタイミングジェネレータ34およびAFE部36およびP/S変換部39が読み出して出力した画素情報に異常があると判断したか否かを判断するステップS8。制御部55は、異常判断部57が異常判断処理においてタイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常がないと判断した場合ステップS8:No、後述するステップS17に進む。制御部55は、異常判断部57が異常判断処理においてタイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があると判断した場合ステップS8:Yes、出力部73に、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常がある旨を示す警告を出力させるステップS9。続いて、異常判断部57は、制御部55を介して、先端部5の基板の制御回路35に異常発生時の制御を行わせるための異常モード通知信号を出力するステップS10。制御回路35は、異常判断部57によって出力された異常モード通知信号を受信し、制御条件記憶部81から異常発生時における受光部28、タイミングジェネレータ34、AFE部36およびP/S変換部39の制御条件を取得するステップS11。この異常発生時の制御条件は、CMOS撮像素子80の動作負荷が通常モード時よりも低くなるように設定される。そして、先端部5では、制御回路35が取得した制御条件にしたがって、制御回路35の制御のもと、受光部28が異常モード用撮像処理を行ったステップS12後、タイミングジェネレータ34およびAFE部36は、受光部28の所定の画素から画素情報を読み出す異常モード用読み出し処理を行いステップS13、読み出された画素情報を含む信号は、P/S変換部39によってシリアル信号に変換され、集合ケーブル31に出力される。このとき、制御装置40からの制御信号よりも制御回路35からの制御信号を優先して、異常モード用撮像処理および異常モード用読み出し処理が行われる。画像処理部42は、異常モード用読み出し処理によって読み出されS/P変換部41においてパラレル信号に変換された画素情報を含む信号を処理して、一枚の体内画像を生成する画像処理を行うステップS14。この場合、制御部55は、異常モード用の読み出し処理に対応させて、制御装置40内の画像信号の受け取り、および、画像処理部42による画像生成処理を、通常モードに対応した処理条件から異常モードに対応した処理条件に変更する。表示部71は、画像処理部42によって生成された画像を表示するステップS15。続いて、制御部55は、入力部72等から入力される指示情報をもとに、画像表示の終了が指示されたか否かを判断するステップS16。制御部55は、画像表示の終了が指示されたと判断した場合ステップS16:Yes、画像表示処理を終了する。一方、制御部55は、画像表示の終了が指示されていないと判断した場合ステップS16:No、ステップS7に戻り、異常判断部57が異常判断処理を行い、制御部55は、異常判断処理において異常があると判断されたか否かを判断するステップS8。制御部55は、異常判断部57が異常判断処理において異常がないと判断した場合ステップS8:No、今回の異常判断処理において異常から正常に回復したか否かを判断するステップS17。制御部55は、今回の異常判断処理において、異常から正常に回復したと判断した場合ステップS17:Yes、表示部71に、通常モードに回復する旨を表示させるステップS18。制御部55は、通常モード回復表示処理ステップS18が終了した後、または、正常状態を維持しており、今回の異常判断処理において異常から正常に回復したと判断した場合でない場合ステップS17:No、通常モードに設定するステップS19。その後、制御部55は、入力部72等から入力される指示情報をもとに、画像表示の終了が指示されたか否かを判断するステップS20。制御部55は、画像表示の終了が指示されたと判断した場合ステップS20:Yes、画像表示処理を終了する。一方、制御部55は、画像表示の終了が指示されていないと判断した場合ステップS20:No、ステップS3に戻り、通常モードでの条件で、撮像処理ステップS3、タイミングジェネレータ34およびAFE部36による全画素に対する読みだし処理ステップS4、画像処理部42による画像処理ステップS5、および、表示部71による表示処理ステップS6が行なわれる。次に、異常発生時における制御回路35の制御処理について説明する。制御回路35は、異常モード通知信号を受信した場合、異常モード用読み出し処理として、CMOS撮像素子80の動作負荷が通常モード時よりも低くなるように、受光部28の全画素ではなく、受光部28の全画素から所定間隔で抽出した一部の画素のみを、受光部28における読み出し対象の画素として設定する。ここで、通常モードでは、図51に示すように、読出アドレス設定部53は、制御部55の制御のもと、たとえば数十万画素レベルの高精細画像が生成されるように受光部28の全画素を読み出し対象として設定する。これに対して、異常モード時においては、図52に示すように、制御回路35は、受光部28の全画素のうち所定間隔で画素を間引きした残りの画素を読出し対象の画素として設定する。この間引きした画素の画素情報をもとに画像処理部42において生成される間引き画像は、たとえば10万程度の画素レベルであり、観察にも十分使用可能な画像である。制御回路35は、異常モード用の読み出し処理として、図6に示すように、2ラインごとに画素情報を読み出すようにラインL1~L7のうちラインL1,L2およびラインL5,L6の画素を読み出し対象の画素として設定する。これ以外にも、制御回路35は、R,GあるいはG,Bの2画素を交互に読み出すように設定してもよい。具体的には、図7に示すように、ブロックB1を構成するR,G,G,Bの画素については、R,Gの2つの画素P1,P2が読み出し対象に設定され、残りの画素P3,P4は読み出し対象外となる。そして、ブロックB1に隣り合うブロックB2については、B,Gの2つの画素P7,P8が読み出し対象に設定され、残りの画素P5,P6は読み出し対象外となる。もちろん、制御回路35は、縦方向の2ラインごとに読み出させるように読み出し対象の画素を設定してもよく、4画素以上の所定数の画素を1ブロックとして全画素をブロック分けし、ブロック単位で読み出し対象の画素を設定してもよい。このように、実施の形態1においては、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があった場合、制御回路35の制御のもと、受光部28の全画素ではなく一部の画素のみから間引きして画素情報を読み出すようにタイミングジェネレータ34、AFE部36およびP/S変換部39が制御される。言い換えると、制御回路35は、異常判断部57によって出力された異常モード通知信号を受信した場合、AFE部36およびP/S変換部39における単位時間当たりの処理信号量が、正常な場合における単位時間当たりの処理信号量よりも少なくなるようにタイミングジェネレータ34およびAFE部36による画素情報の読み出し処理を制御する。すなわち、実施の形態1では、異常があった場合、制御回路35は、CMOS撮像素子80を構成する各回路の動作条件を緩和して低速で動作させ、集合ケーブル31に単位時間当たりに伝送される信号量を減らしている。このため、実施の形態1では、異常発生時にはCMOS撮像素子80の動作負荷が通常モード時よりも低くなるため、全画素を読み出す場合と比較して、チップからの発熱量を減らすことができ、CMOS撮像素子80を構成する各構成回路の動作を安定化することができる。したがって、実施の形態1では、チップ温度の高温化を防止でき、チップ自体の破損も確実に回避できる。そして、実施の形態1では、熱によるCMOS撮像素子の動作不安定や接触不良などに起因する信号異常の発生も低減した状態で、適切に画素情報を伝送できる。このため、実施の形態1によれば、撮像した画像を安定的に取得可能になる。また、実施の形態1では、異常発生時には、制御装置40ではなく、CMOS撮像素子80内の制御回路35が、受光部28、タイミングジェネレータ34、AFE部36およびP/S変換部39を制御する。したがって、制御装置40は、異常発生時においては、受光部28、タイミングジェネレータ34、AFE部36およびP/S変換部39それぞれに制御信号を送信する必要がなく、先端部5の制御回路35に異常モード通知信号を出力するだけで足りる。この結果、実施の形態1では、異常発生時に対応した制御を行なうために制御装置40から先端部5に伝送する信号量を減らすことができ、効率的に異常時に対応できる。なお、CMOS撮像素子80の動作負荷を通常モード時よりも低くするには、画素の間引き読み出しに限らない。たとえば、制御回路35は、異常発生時におけるフレームレートが、通常モード時の標準フレームレートよりも遅くなるように、受光部28における撮像タイミングおよびタイミングジェネレータ34およびAFE部36における読出し速度を制御する。なお、制御部55は、異常モード通知信号を出力した後には、異常モードの遅い読み出し速度に対応させて、光源装置60における発光処理も制御する。制御回路35は、たとえば図81のように通常モード時の標準フレームレートが60f/secである場合には、異常発生時には、図82のように標準フレームレートの2分の1の30f/secで、受光部28における撮像タイミングとタイミングジェネレータ34およびAFE部36における読出し速度とを制御する。この結果、異常発生時においては、AFE部36およびP/S変換部39における単位時間当たりの処理信号量は、通常モードの2分の1となる。このように、異常があった場合には、制御回路35の制御のもとCMOS撮像素子80の動作負荷を通常モード時よりも低くすることによって、通常モード時と比較して発熱量を減らし、各構成回路の安定化を図る。また、制御回路35は、異常発生時においては、フレームレートが通常モード時の標準フレームレートよりも遅くなるように、受光部28における撮像タイミングとタイミングジェネレータ34およびAFE部36における読出し速度とを制御するとともに、受光部28の全画素ではなく一部の画素のみから間引きして画素情報を読み出すようにタイミングジェネレータ34、AFE部36、および、P/S変換部39を制御してもよい。また、制御条件記憶部81は、異常の程度に応じて異常発生時の読み出し処理における画素の間引き量やフレームレートがそれぞれ設定された複数の制御条件を記憶していてもよい。制御回路35は、制御条件記憶部81が記憶する複数の制御条件の中から、異常モード通知信号で示された異常の程度に応じた制御条件を選択してタイミングジェネレータ34、AFE部36、および、P/S変換部39を制御してもよい。さらに、制御部55は、異常判断部57がタイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があると判断した場合、白色光源61または特殊光光源62による光照射量を弱めるように白色光源61または特殊光光源62を制御することで、さらに先端部5のチップ温度の低下を図り、受光部28、タイミングジェネレータ34、AFE部36およびP/S変換部39の処理動作の安定化を図ってもよい。この場合、CMOS撮像素子80内で画像信号を増幅させてから出力するほか、制御装置40側で画像信号を増幅してから画像処理を行う。また、異常判断部57は、通信プロトコルの異常を検出した場合に、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があると判断して、CMOS撮像素子80が設けられた先端部5の基板に異常を通知してもよい。実施の形態1の変形例1次に、実施の形態1の変形例1について説明する。図9は、実施の形態1の変形例1にかかる内視鏡システムの構成を示すブロック図である。図9に示すように、内視鏡システム100aの制御装置40aは、図3に示す制御部55に代えて、制御部55と同様の機能を有する制御部55aを備える。ここで、A/D変換時の基準レベルを取得するために、受光部28には、ラインごとに光が入射しない遮光した画素が設けられている。制御部55aは、先端部5のタイミングジェネレータ34およびAFE部36に、光が入射する画素の画素情報を読み出させるとともに光が入射しない遮光した画素の画素情報を読み出させ、制御装置40aに出力させる。制御部55aは、サンプル用メモリ49に、画像信号とともに、遮光した画素の画素情報も蓄積させる。このとき、制御部55aは、画像信号とともに読み出された遮光した画素の画素情報を画像信号から分離してサンプル用メモリ49に蓄積させてもよい。制御装置40aは、サンプル用メモリ49に蓄積された光が入射しない遮光した画素の画素情報の輝度値の変化をもとにタイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出して出力した画素情報に異常があるか否かを判断する異常判断部57aを備える。異常判断部57aは、サンプル用メモリ49に蓄積された光が入射しない遮光した画素の画素情報の輝度値の平均レベルが、所定値に達した場合、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があると判断する。また、異常判断部57aは、遮光した画素のうち前後する画素の画素情報の輝度値の平均レベルの差分をモニタしていき、所定値を超えた場合、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出して出力した画素情報に異常があると判断してもよい。判断基準となる各所定値は、基板の温度上昇によって増加するA/D変換時の基準レベルのノイズ量に対応してそれぞれ設定される。この実施の形態1の変形例1のように、光が入射しない画素の画素情報をタイミングジェネレータ34およびAFE部36に読み出させ、この光が入射しない画素の画素情報の輝度値の変化をもとにタイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断してもよい。実施の形態1の変形例2次に、実施の形態1の変形例2について説明する。実施の形態1の変形例2にかかる内視鏡システムは、CMOS撮像素子が出力する電気信号の画像信号を光信号化して光ファイバーケーブルで伝送する構成を有する。図10は、実施の形態1の変形例2にかかる内視鏡システムの構成を示すブロック図である。図10に示すように、実施の形態1の変形例2にかかる内視鏡システム100bは、内視鏡の先端部5bと制御装置40bとを光ファイバーケーブル31cで接続し、画像信号を光信号化して伝送することで、大容量の信号を伝送可能にしている。この場合には、内視鏡の先端部5bに、CMOS撮像素子80から出力される画素情報を含む電気信号を光信号に変換して光ファイバーケーブル31cに出力するE/O変換部39cをさらに加えた構成とする。そして、光信号を電気信号に変換し、変換した電気信号をS/P変換部41を介して画像処理部42に出力するO/E変換部41cを、制御装置40bに設ければよい。制御装置40bは、図3に示す制御部55に代えて、制御部55と同様の機能を有する制御部55bを備える。そして、制御装置40bは、光ファイバーケーブル31cが伝送する光信号の信号強度変化をもとに、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断する異常判断部57bを備える。異常判断部57bは、光ファイバーケーブル31cが伝送する光信号の信号強度が所定値まで低下した場合、光ファイバーケーブル31cに破損が生じることによって、画素情報が異常となると判断する。この実施の形態1の変形例2のように、光ファイバーケーブル31cが伝送する光信号の信号強度変化をもとにタイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断してもよい。なお、実施の形態1においては、図11に示す内視鏡システム100cのように、制御回路35cではなく、制御装置40cの制御部55cが、異常判断部57が判断した異常に対応させて、受光部28、タイミングジェネレータ34、AFE部36およびP/S変換部39を制御するための異常モード用設定データを先端部5cのCMOS撮像素子80cに出力して、CMOS撮像素子80cの各構成回路を制御することももちろん可能である。実施の形態2次に、実施の形態2について説明する。図12は、実施の形態2にかかる内視鏡システムの構成を示すブロック図である。図12に示すように、内視鏡システム200の先端部205は、図3に示すCMOS撮像素子80に代えて、制御回路235を有するCMOS撮像素子280を備える。制御回路235は、図3に示す制御回路35と同様の機能を有するとともに、受光部28、タイミングジェネレータ34、AFE部36およびP/S変換部39に異常があるか否かを示す情報を含むステータス情報を保持する機能を有するとともに、ステータス情報の送信を制御装置240側から命令された場合には、制御装置240にステータス情報を送信する。内視鏡システム200の制御装置240は、図3に示す制御部55に代えて、制御部55と同様の機能を有するとともに異常判断部257を有する制御部255を備える。異常判断部257は、先端部205の制御回路235に制御部255を介してステータス情報の送信を命令し、制御回路235から送信されたステータス情報をもとにタイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断する。次に、図12に示す内視鏡システム200の体内画像表示処理について説明する。図13は、図12に示す内視鏡システム200の体内画像表示処理の処理手順を示すフローチャートである。図13のフローチャートに示すように、制御部255は、図4のステップS1と同様に、体内画像の表示の開始の指示があるか否かを判断するステップS201。制御部255は、体内画像の表示の開始の指示があると判断するまでステップS201の判断処理を繰り返す。制御部255は、体内画像の表示の開始の指示があると判断した場合ステップS201:Yes、図4のステップS2~ステップS6と同様に、通常モード設定処理ステップS202、受光部28による撮像処理ステップS203、タイミングジェネレータ34およびAFE部36による全画素の読み出し処理ステップS204、画像処理部42による高精細画像に対する画像処理ステップS205、表示部71による高精細画像の表示処理ステップS206を行なわせる。その後、異常判断部257は、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断する異常判断処理を行いステップS207、判断結果を制御部255に出力する。制御部255は、異常判断部257が異常判断処理においてタイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があると判断したか否かを判断するステップS208。制御部255が異常判断部257が異常判断処理において異常があると判断した場合ステップS208:Yes、図4のステップS9~ステップS16と同様に、出力部73による警告出力ステップS209、制御回路235への異常モード通知処理ステップS210、制御回路235による異常モードに対応する制御条件取得処理ステップS211、受光部28による異常モード用撮像処理ステップS212、タイミングジェネレータ34およびAFE部36による異常モード用読み出し処理ステップS213、画像処理部42による異常モード用画像処理ステップS214、表示部71による異常モード用表示処理ステップS215、画像表示終了を判断する判断処理ステップS216が行なわれる。制御部255は、異常判断部257が異常判断処理において異常がないと判断した場合ステップS208:No、図4に示すステップS17~ステップS20と同様に、今回の異常判断処理において異常から正常に回復したか否かの判断処理ステップS217を行なった後、通常モード回復表示処理ステップS218、通常モード設定処理ステップS219、画像表示終了を判断する判断処理ステップS220が行なわれる。次に、図13に示す異常判断処理について説明する。図14は、図13に示す異常判断処理の処理手順を示すフローチャートである。図14に示すように、異常判断部257は、制御部255を介して、先端部205の制御回路235にステータス情報の送信を命令しステップS231、制御回路235にこのステータス情報を送信させて、ステータス情報を取得するステップS232。続いて、異常判断部257は、取得したステータス情報が正常または異常を示すかを判断するステップS233。異常判断部257は、取得したステータス情報が正常を示すと判断した場合ステップS233:正常、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報は正常であると判断するステップS234。これに対して、異常判断部257は、取得したステータス情報が異常を示すと判断した場合ステップS233:異常、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報は異常であると判断するステップS235。この実施の形態2のように、先端部205のCMOS撮像素子280における制御回路235に、CMOS撮像素子280の各構成部位の状態を監視してステータス情報を保持する機能を持たせ、制御装置240の異常判断部257において、先端部205から送信されたステータス情報をもとに、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断してもよい。実施の形態3次に、実施の形態3について説明する。図15は、実施の形態3にかかる内視鏡システムの構成を示すブロック図である。図15に示すように、内視鏡システム300の先端部305は、図3に示すCMOS撮像素子80に代えて、CMOS撮像素子380を構成する基板の温度を検出する温度センサ382を同じ基板内にさらに設けたCMOS撮像素子380を備える。CMOS撮像素子380は、図3に示す制御回路35に代えて、制御回路35と同様の機能を有するとともに、温度センサ382が検出した基板の温度を制御装置340に出力制御する制御回路335を備える。制御装置340は、図3に示す制御部55に代えて、制御部55と同様の機能を有するとともに異常判断部357を有する制御部355を備える。異常判断部357は、温度センサ382によって検出されたCMOS撮像素子380を構成する基板の温度をもとに、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断する。図15に示す内視鏡システム300の体内画像表示処理について説明する。内視鏡システム300は、図13に示す処理手順と同様の処理手順を行なうことによって、体内画像を表示する。そして、図16を参照して、図15に示す内視鏡システム300における異常判断処理について説明する。図16は、図15に示す内視鏡システム300における異常判断処理の処理手順を示すフローチャートである。先端部305の制御回路335は、温度センサ382に基板の温度検出を行なわせ、基板の温度データを制御装置340に出力させる。これによって、図16のフローチャートに示すように、異常判断部357は、制御部355を介して、基板の温度データを取得するステップS331。このとき、制御回路335は、温度センサ382に定期的に温度検出を行なわせて温度データを制御部355に出力する。または、制御回路335は、異常判断部357から制御部355を介して温度データの出力指示データが送信された場合に、温度センサ382に温度検出を行なわせて制御装置340に温度データを出力する。なお、温度センサ382が検出した温度は、制御回路335によって取り込まれ、CMOS撮像素子380内の図示しない内部レジスタあるいは制御条件記憶部81に保持される。続いて、異常判断部357は、取得した温度データが示す基板の温度が規定温度以上であるか否かを判断するステップS332。この規定温度は、通常モード時において、受光部28、タイミングジェネレータ34、AFE部36およびP/S変換部39が正常動作可能である基板の温度範囲をもとに設定される。異常判断部357は、取得した温度データが示す基板の温度が規定温度未満であると判断した場合ステップS332:No、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報は正常であると判断するステップS333。これに対して、異常判断部357は、取得した温度データが示す基板の温度が規定温度以上であると判断した場合ステップS332:Yes、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があると判断するステップS334。この実施の形態3のように、先端部305のCMOS撮像素子380内に温度センサ382を設け、この温度センサ382の検出結果をもとに、制御装置340の異常判断部357において、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送された画素情報に異常があるか否かを判断してもよい。なお、制御回路335自身が、温度センサ382の検出した基板の温度が規定温度以上であるか否かをもとに、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送される画素情報の異常の有無を判断する機能を持っていてもよい。この場合、温度センサ382の検出した基板の温度が規定温度以上であるとき、制御回路335は、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送される画素情報に異常があると判断し、異常モードに対応する制御条件で受光部28、タイミングジェネレータ34、AFE部36およびP/S変換部39を制御する。さらに、制御回路335は、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送される画素情報に異常がある旨を制御装置340に通知する。制御部355は、この通知を受けて、画素情報に異常がある旨を示す警告を出力部73に出力させる。また、実施の形態3においては、先端部のCMOS撮像素子を構成する基板に温度センサを設けた場合について説明したが、もちろんこれに限らず、図17の内視鏡システム300aのように、CMOS撮像素子80とは別に、制御装置340aの制御部355aと接続する温度センサ382aを先端部305aに設けてもよい。この場合、制御装置340aの異常判断部357aは、異常判断部357と同様に、この温度センサ382aから直接出力された温度データをもとに、タイミングジェネレータ34およびAFE部36が読み出し、P/S変換部39による信号変換後に伝送される画素情報の異常の有無を判断する。また、本実施の形態は、内視鏡システムに限らず、デジタルカメラ、デジタル一眼レフカメラ、デジタルビデオカメラ又はカメラ付き携帯電話等の撮影装置に適用しても、効率化が可能である。"