"フォトダイオードからの光をフォトトランジスタで検出する光検出回路であって、起動時に、前記検出電流についての設定データを受け取る通信手段と、通信手段によって受け取った設定データと、検出した電流を比較する比較手段と、前記検出した電流が設定データと一致するように、前記フォトトランジスタの電流を調整する調整手段と、を含み、起動時においてフォトトランジスタに流れる電流を設定データと一致するように制御する光検出回路。しかし、ホール素子は、比較的高価であり、また携帯電話、スマートフォン搭載カメラ用途などのため省スペースや、ユーザ要望の特殊な機構形状が望まれる場合に、十分対応できない場合もあり、他の検出手段も検討することが必要である。他の検出手段としては、例えば光学的な検出手段が考えられ、フォトレフレクタやフォトインタラプタなどの光検出器を利用することが考えられる。フォトレフレクタは、フォトダイオードから射出された光の対象物による反射光を、フォトトランジスタにより検出するものであり、レンズ位置によりフォトトランジスタでの受光量が変化するようにすることで、レンズ位置を検出することができる。このようなフォトレフレクタでは、その出力において、素子の経年劣化、電源電圧の変化や、温度変化の影響を受ける。そこで、これらを補正することが望まれる。本発明は、フォトダイオードからの光をフォトトランジスタで検出する光検出回路であって、起動時に、検出した電流についての設定データを受け取る通信手段と、通信手段によって受け取った設定データと、検出した電流を比較する比較手段と、前記検出した電流が設定データと一致するように、前記フォトトランジスタの電流を調整する調整手段と、を含み、起動時においてフォトトランジスタに流れる電流を設定データと一致するように制御する。本発明によれば、起動時にフォトトランジスタに流れる電流を調整することができ、素子の劣化などにも対応することができる。以下、本発明の実施形態について、図面に基づいて説明する。図1は、実施形態に係る光検出回路の構成を示す図である。光検出器としてのフォトリフレクタは、フォトダイオード10、フォトトランジスタ12を有し、これらが半導体集積回路20の外部に設けられる。フォトダイオード10から射出された光が、検出対象物で反射され、反射光がフォトトランジスタ12に入射することで、フォトトランジスタ12に入射光量に応じた電流が流れる。フォトダイオード10の発光量が一定であっても、レンズの位置に応じて検出対象物が移動し、フォトトランジスタ12での受光量が変化するようになっており、フォトトランジスタ12の電流量を検出することでレンズ位置を検出する。なお、レンズ位置はx,y方向の2方向検出するため、フォトレフレクタを2つ設け、x,y両方向のレンズ位置を検出する。また、検出対象物としては、レンズに取り付けた反射板などが利用される。半導体集積回路20内において、DAC22は、フォトダイオード10に流す定電流についての入力データに基づき、対応する定電圧を出力する。DAC22の出力は、アンプ24において安定化された後、nチャネルの出力トランジスタ26のゲートに供給される。出力トランジスタ26のドレインは電源に接続されており、ソースは端子28を介し外部のフォトダイオード10のアノードに接続されている。フォトダイオード10のカソードはアースに接続されており、従ってDAC22に供給されるデータに応じた定電流IFが電源から出力トランジスタ26を介し、フォトダイオード10に供給される。なお、出力トランジスタ26に流れる電流を検出し、DAC22の入力データをフィードバック制御するなど、定電流IFの制御手段を有しておくことも好適である。フォトトランジスタ12のコレクタは電源に接続され、エミッタは電流検出抵抗30を介しアースに接続されている。従って、上述したように、フォトトランジスタ12の受光量に応じた電流がフォトトランジスタ12、電流検出抵抗30に流れ、電流検出抵抗30の上側であるX点フォトトランジスタ12と電流検出抵抗30の接続点にフォトトランジスタ12に流れる電流に応じた検出電圧X点電圧が得られる。X点電圧は、端子32を介し、半導体集積回路20に取り入れられ、抵抗34を介し、オペアンプ36の負入力端に入力される。オペアンプ36の正入力端は、抵抗38,端子40、外付け抵抗42を介し半導体集積回路20の外部でアースに接続される。また、オペアンプ36の正入力端には、抵抗44の一端も接続されており、この抵抗44の他端には、DAC22からレンズが基準位置にある場合のフォトトランジスタ12の電流を示す基準電圧が供給される。従って、オペアンプ36の正入力端の電圧は、基準電圧を抵抗44と、抵抗38および外付け抵抗42の和、とで分圧された電圧設定電圧になる。なお、基準電圧は、DAC22に供給する基準電圧データに応じて設定される。オペアンプ36の正入力端の設定電圧は、DAC22に入力する基準電圧データを変更したり、外付け抵抗42の抵抗値を変更することで調整が可能である。オペアンプ36の出力端は、抵抗46を介し負入力端に帰還されている。従って、オペアンプ36の出力端の電圧は、正負入力端の差を抵抗34、抵抗46の抵抗値に応じて増幅した電圧となる。また、オペアンプ36の出力端は、抵抗48、端子50を介し、半導体集積回路20の外側で他端がアースに接続されたコンデンサ52に接続されている。従って、オペアンプ36の出力を積分ローパスした電圧信号が端子50に得られる。そして、端子50の電圧信号がADC54に入力される。すなわち、フォトトランジスタ12に流れる受光量に応じた電流量に対応する検出電圧と、設定電圧との差に応じた電圧がADC54に入力されることになる。このため、ADC54の出力において、レンズの位置に応じたデータを得ることができる。ADC54の出力は、制御部60に供給され、制御部60においてレンズ位置が把握される。制御部60は、得られたレンズ位置に応じて、レンズ駆動用アクチュエータを制御するなど各種の制御を行う。なお、アクチュエータは、例えばH-BridgeドライバをPWMパルスにより駆動することにより制御される。なお、実施形態の構成では、フォトトランジスタ12の電流Ioを電圧に変換し、設定電圧と比較してその比較結果からレンズ位置を検出しているが、電流Ioからレンズ位置を検出していることに変わりはない。また、外部のマイコンから、各種の制御データなどが半導体集積回路20に送られてくる。そこで、半導体集積回路20内には、通信インターフェース62が備えられており、外部から送られてくる制御データを、通信インターフェース62で受信する。そして、受信した制御データは制御部60に供給される。本実施形態では、起動時において、電源から出力トランジスタ26を介し、フォトダイオード10に供給される定電流電流IFを変更するため、DAC22のデータを変更する。これによってフォトトランジスタ12に流れる電流Ioが、設定値設定電圧に対応する値になるように起動時調整を行う。ここで、この起動時調整には、2つの方式があり、外部からの設定によっていずれかを選択できるようになっている。この選択もマイコンからのデータにより設定することが好適である。図2には、この一例が示されている。起動時において、まず設定電流についての制御データを受信したかを判定するS11。制御データを受信した場合には、アクチュエータを駆動して、レンズを定点に移動するS12。この定点についても、マイコンから通信で設定データを送るとよい。また、この定点は、レンズの初期位置とすることが好適である。例えば、起動時にレンズを∞位置や、移動範囲の中点に移動するように初期プログラムを設定しておき、そのレンズ初期位置でのバイアス電流値を抵抗44に供給する基準電圧に設定することができる。定点に移動した場合には、その時のフォトトランジスタの電流Ioを検出しS13、検出したIoが設定値に等しいかを判定するS14。この等しいかの判定は、設定値に対し、所定の範囲内か否かの判定とするとよい。S14の判定で、NOの場合には、Ioが設定値より大きいかを判定しS15、大きい場合には、予め定められている1ステップ分IF電流の基準値を減少しS16、小さい場合には予め定められている1ステップ分IF電流の基準値を増加しS17、S13に戻る。そして、S14において、YESとなった場合に、処理を終了する。このように、図2の処理においては、IF電流を予め定められているステップだけ順次変更して、フォトトランジスタ12の電流値の初期設定を行う。図3には、他の例が示されている。上述の場合と同様に、起動時において、制御データを受信した場合S21:YESには、レンズを定点に移動してS22、電流Ioを検出するS23。そして、検出したIoが設定値に等しいかを判定するS24。S14の判定で、NOの場合には、Ioと設定値との差分を計算するS25。そして、得られた差分に応じて、例えば差分の1/2などに調整値を設定し、IF電流を調整するS26。このバイアス電流の調整は、上述の場合と同様に出力トランジスタ26に出力する基準値を、DAC22のデータを変更することで行う。そして、S13に戻り、S14において、YESとなった場合に、処理を終了する。図4は、図2のような制御部60の処理をハードウェアで構成した場合を示している。起動時におけるレンズ位置についてのデータが記憶部86,96に記憶される。この状態で、所定のタイミングでレンズ位置が検出され、その検出値が、比較器80,90に入力され、それぞれ上限値または下限値と比較される。比較結果において、入力位置が上限値より大きかった場合には、比較器80からの出力がアクティブとなり、これによって予め定めた記憶部82に記憶されている1ステップ分のデータが加算器84に供給される。この加算器84には、記憶部86に記憶されているデータが供給されており、記憶部82から1ステップ分のデータが供給されることで、加算されたデータが記憶部86に記憶されて記憶部86の記憶内容が更新される。そして、記憶部86に記憶される更新したデータに基づき、フォトダイオード10に供給されるIF電流が制御され、次のタイミングでは、1ステップ分大きなIF電流に応じた発光量で検出されたレンズ位置のデータが入力され、上下限値の間に入ったことで処理が終了する。一方、比較結果において、入力位置が下限値より小さかった場合には、比較器90からの出力がアクティブとなり、上述の場合と同様にして、1ステップずつ、記憶部86の記憶内容が小さくなり、入力値が上下限値の間に入ったことで処理が終了する。記憶部86,96のいずれの出力を用いるかは、比較器80,90の比較結果によって決定しておけばよい。図5、図3のような制御部60の処理をハードウェアで構成した場合を示している。この場合、記憶部82,92に代えて、調整部88,98が設けられている。この調整部88,98は、比較器80,90の比較結果の差分信号をもらい、差分に応じて出力する調整値を変更する。従って、図3と同様の処理が行える。"