A/D変換して得られる計測信号を収集するデータ収集装置であって、計測センサにおいて第1クロック信号に基づいて計測条件が順次周期的に切り替わることで得られる、前記計測条件に対応する信号が連なった一連の計測信号の入力を受け、第2クロック信号のタイミングでA/D変換を行い順次レジスタに重ね書きして一時記憶するA/D変換ユニットと、前記第1クロック信号に基づいて生成されるサンプリングパルスのタイミングで、レジスタに一時記憶した計測信号を読み出し、前記サンプリングパルスのパルス発生回数に応じて定まる格納位置に記憶するメモリと、を有する、ことを特徴とするデータ収集装置。前記第2クロック信号のクロック周期は、前記計測条件の切り替わる周期に比べて短い、請求項1に記載のデータ収集装置。さらに、前記メモリの前記格納位置に記憶された計測信号を取り出してデータ処理を行うとき、前記格納位置に基づいて前記計測条件を識別して前記データ処理を行うデータ処理部、を有するデータ収集装置。前記計測信号は、不定期で間歇的に前記A/D変換ユニットに入力される、請求項1~3のいずれか1項に記載のデータ収集装置。A/D変換して得られる計測信号を収集し、データ処理をする計測装置であって、計測信号を出力する計測センサと、前記計測センサにおいて第1クロック信号に基いて計測条件が順次周期的に切り替わることで得られる、前記計測条件に対応する計測信号が連なった一連の計測信号の入力を受け、第2クロック信号のタイミングでA/D変換を行い順次レジスタに重ね書きして一時記憶するA/D変換ユニットと、前記第1クロック信号に基づいて生成されるサンプリングパルスのタイミングで、レジスタに一時記憶した計測信号を読み出し、前記サンプリングパルスのパルス発生回数に応じて定まる格納領位置に記憶するメモリと、前記メモリの前記格納位置に記憶された計測信号を取り出してデータ処理を行うとき、前記格納位置に基づいて前記計測条件を識別して前記データ処理を行うデータ処理装置と、を有する、ことを特徴とする計測装置。前記計測センサは、計測対象物に対して相対的に一方向に移動することにより、前記計測対象物の計測位置を走査し、前記A/D変換ユニットは、前記設定された移動距離毎に、前記一連の計測信号の入力を受ける、請求項5に記載の計測装置。前記計測センサは、前記計測条件として変調周波数を変更しながら電波を放射するレーダであり、前記A/D変換ユニットは、前記設定された移動距離毎に発生するパルスをトリガーパルスとして、前記サンプリングパルスが発生し、前記データ処理部は、前記計測条件に基づいて計測対象物の距離情報を求める、請求項6に記載の計測装置。A/D変換して得られる計測信号を収集するデータ収集方法であって、計測センサにおいて第1クロック信号に基づいて計測条件が順次周期的に切り替わることで得られる、前記計測条件に対応する計測信号が連なった一連の計測信号の入力を受けるステップと、第2クロック信号のタイミングでA/D変換を行い順次レジスタに重ね書きして一時記憶するステップと、前記第1クロック信号に基づいて生成されるサンプリングパルスのタイミングで、レジスタに一時記憶した計測信号を読み出し、前記サンプリングパルスのパルス発生回数に応じて定まるメモリの格納位置に記憶するステップと、を有する、ことを特徴とするデータ収集方法。今日、レーダ装置等の計測センサから出力される計測信号は、A/D変換回路を用いて高速かつ正確にA/D変換され得るが、より高速かつ正確にA/D変換して12ビット以上の信号にするA/D変換回路が求められている。そこで、本発明は、センサからの計測信号をより高速かつ正確にA/D変換を行うことができるデータ収集装置およびデータ収集方法、およびデータ収集装置を組み込んだ計測装置を提供することを目的とする。本発明の一態様は、A/D変換して得られる計測信号を収集するデータ収集装置である。当該装置は、計測センサにおいて第1クロック信号に基づいて計測条件が順次周期的に切り替わることで得られる、前記計測条件に対応する信号が連なった一連の計測信号の入力を受け、第2クロック信号のタイミングでA/D変換を行い順次レジスタに重ね書きして一時記憶するA/D変換ユニットと、前記第1クロック信号に基づいて生成されるサンプリングパルスのタイミングで、レジスタに一時記憶した計測信号を読み出し、前記サンプリングパルスのパルス発生回数に応じて定まる格納位置に記憶するメモリと、を有する。前記第2クロック信号のクロック周期は、前記計測条件の切り替わる周期に比べて短い、ことが好ましい。さらに、前記メモリの前記格納位置に記憶された計測信号を取り出してデータ処理を行うとき、前記格納位置に基づいて前記計測条件を識別して前記データ処理を行うデータ処理部、を有することが好ましい。前記計測信号は、不定期で間歇的に前記A/D変換ユニットに入力される、ことが好ましい。また、本発明の他の一形態は、A/D変換して得られる計測信号を収集し、データ処理をする計測装置である。当該計測装置は、計測信号を出力する計測センサと、前記計測センサにおいて第1クロック信号に基いて計測条件が順次周期的に切り替わることで得られる、前記計測条件に対応する計測信号が連なった一連の計測信号の入力を受け、第2クロック信号のタイミングでA/D変換を行い順次レジスタに重ね書きして一時記憶するA/D変換ユニットと、前記第1クロック信号に基づいて生成されるサンプリングパルスのタイミングで、レジスタに一時記憶した計測信号を読み出し、前記サンプリングパルスのパルス発生回数に応じて定まる格納領位置に記憶するメモリと、前記メモリの前記格納位置に記憶された計測信号を取り出してデータ処理を行うとき、前記格納位置に基づいて前記計測条件を識別して前記データ処理を行うデータ処理装置と、を有する。前記計測センサは、計測対象物に対して相対的に一方向に移動することにより、前記計測対象物の計測位置を走査し、前記A/D変換ユニットは、前記設定された移動距離毎に、前記一連の計測信号の入力を受ける、ことが好ましい。また、前記計測センサは、前記計測条件として変調周波数を変更しながら電波を放射するレーダであり、前記A/D変換ユニットは、前記設定された移動距離毎に発生するパルスをトリガーパルスとして、前記サンプリングパルスが発生し、前記データ処理部は、前記計測条件に基づいて計測対象物の距離情報を求める、ことが好ましい。また、本発明の他の一形態は、A/D変換して得られる計測信号を収集するデータ収集方法である。当該方法は、計測センサにおいて第1クロック信号に基づいて計測条件が順次周期的に切り替わることで得られる、前記計測条件に対応する計測信号が連なった一連の計測信号の入力を受けるステップと、第2クロック信号のタイミングでA/D変換を行い順次レジスタに重ね書きして一時記憶するステップと、前記第1クロック信号に基づいて生成されるサンプリングパルスのタイミングで、レジスタに一時記憶した計測信号を読み出し、前記サンプリングパルスのパルス発生回数に応じて定まるメモリの格納位置に記憶するステップと、を有する。上述のデータ収集装置、データ収集方法および計測装置によれば、センサからの計測信号をより高速かつ正確にA/D変換を行うことができる。