"映像を生成する映像生成部及び該映像が入射される光学部材を含む光学系と、温度を検知する温度検知部と、前記映像生成部で生成される前記映像のゲインを調整するゲイン調整部と、前記ゲイン調整部を制御する制御部と、前記光学系、前記ゲイン調整部、及び、前記制御部を収納する筐体と、を有し、前記制御部は、前記温度検知部により検知された前記温度が所定の閾値以上の場合、前記映像の前記ゲインを低下させるように前記ゲイン調整部を制御することを特徴とする投射型表示装置。前記映像生成部は、R、G、Bの液晶パネルであり、前記制御部は、前記R、G、Bの液晶パネルのそれぞれで生成される前記映像の前記ゲインを調整するように前記ゲイン調整部を制御することを特徴とする請求項1に記載の投射型表示装置。前記温度検知部は、前記筐体に収納され、前記光学部材の温度を検知することを特徴とする請求項1又は2に記載の投射型表示装置。前記温度検知部は、前記筐体の外側に設けられ、前記筐体の外部における外気温度を検知し、前記制御部は、前記外気温度から前記光学部材の温度を算出することを特徴とする請求項1又は2に記載の投射型表示装置。光源の劣化状態を判定する光源劣化判定部を更に有し、前記制御部は、前記外気温度と前記光源劣化判定部の判定結果に基づいて、前記光学部材の温度を算出することを特徴とする請求項4に記載の投射型表示装置。前記制御部は、前記温度検知部により検知された前記温度が所定の閾値以上の場合、前記映像の前記ゲインを時間の経過とともに段階的に低下させるように前記ゲイン調整部を制御することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の投射型表示装置。前記光学部材は偏光板であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の投射型表示装置。しかしながら、特許文献1では、装置の内部に光学部材を冷却する機構を設ける必要があるため、装置の内部構造が複雑になる。また、液晶パネルは高画質な映像を表示するために一定の温度を保つ必要があり、ファンの回転を増減して光学部材の温度上昇を抑制する場合、液晶パネルの温度変化を考慮した複雑な制御が要求される。また特許文献2では、ファンの回転制御のみならず光学部材に入射する光源からの光量を調整して光学部材の温度上昇を制御する。しかし、冷却ファンの回転数の増減や光源の光量により影響を受ける液晶パネルの温度を、高画質な映像を表示するために一定に保つように制御するには、複雑なアルゴリズムが必要となる。そこで本発明は、映像のゲインを調整して光学部材の温度上昇を抑制した投射型表示装置を提供する。本発明の一側面としての投射型表示装置は、映像を生成する映像生成部及び該映像が入射される光学部材を含む光学系と、温度を検知する温度検知部と、前記映像生成部で生成される前記映像のゲインを調整するゲイン調整部と、前記ゲイン調整部を制御する制御部と、前記光学系、前記ゲイン調整部、及び、前記制御部を収納する筐体とを有し、前記制御部は、前記温度検知部により検知された前記温度が所定の閾値以上の場合、前記映像の前記ゲインを低下させるように前記ゲイン調整部を制御する。本発明の他の目的及び特徴は、以下の実施例において説明される。本発明によれば、映像のゲインを調整して光学部材の温度上昇を抑制した投射型表示装置を提供することができる。以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。まず、図1を参照して、本発明の実施例1における投射型表示装置について説明する。図1は、本実施例における投射型表示装置100のブロック図である。1は投射型表示装置の筐体であり、後述の光学系10、ゲイン調整部3、及び、制御部4を収納する。2は、筐体1の内部の所定の部材光学部材の温度を検知する温度検知部である。本実施例において、温度検知部2は、後述の映像生成部11の光射出側に設けられた偏光板の温度を検知する。ただし、本実施例はこれに限定されるものではなく、NDフィルタ等の他の光学部材の温度を検知するようにしてもよい。3は、後述の映像生成部11により生成される各色の映像のゲインを調整するゲイン調整部である。4は、温度検知部2から温度情報、すなわち温度検知部2により検知された温度を取得し、取得した温度に応じて映像のゲインを調整するように、ゲイン調整部3に対してゲイン調整情報を送信する制御部である。後述のように、制御部4は、温度検知部2により検知された温度が所定の閾値以上の場合、映像のゲインを低下させるようにゲイン調整部3を制御する。このように制御部4がゲイン調整部3を制御することにより、映像生成部11の光射出側に設けられた光学部材の劣化を抑制することができる。11は、映像を生成するパネル等の表示部不図示を備えた映像生成部である。12は、映像生成部11の光射出側に設けられ、映像生成部11で生成された映像が入射される偏光板光学部材である。また、映像生成部11の光射出側には、偏光板12以外にもNDフィルタ等の光学部材が設けられていてもよい。10は光学系であり、光学系10は、映像生成部11、及び、映像生成部11の光射出側に設けられた偏光板12やNDフィルタ等の光学部材を含んで構成される。続いて、図2を参照して、投射型表示装置100による各色のゲイン補正について説明する。図2は、投射型表示装置100の内部における所定の部材光学部材の温度を検出し、各色のゲイン値を制御するゲイン制御方法ゲイン補正方法のフローチャートである。まずステップS001において、温度検知部2は液晶パネル映像生成部11の光射出側に設けられた偏光板12の現在の実温度現在温度tを検知し、制御部4は検知された現在の温度情報を取得する。尚、実温度とは、温度検知部2によって検知された温度である。続いてステップS002において、制御部4は、ステップS001で取得した現在温度tとゲイン補正制御の開始及び停止を判定するための閾値温度taとを比較する。ステップS002において現在温度tが閾値温度ta以上であると判定された場合にはステップS003に進む。一方、現在温度tが閾値温度taよりも小さいと判定された場合にはステップS001に戻る。本実施例において、温度閾値taは、温度と偏光板12の劣化の関係を考慮して、任意の値が予め定められている。ステップS003において、制御部4は、最小ゲイン補正係数a1温度単位あたりの補正係数、及び、現在温度tと閾値温度taとの温度差dd=t-taに基づいて、以下の式1で表されるようにゲイン補正係数aを求める。a=1-d×a1...1最小ゲイン補正係数a1は、例えば0.1°C単位の補正係数であるが、これに限定されるものではない。ゲイン補正係数aは、ステップS002及び、その他のステップにおいて適宜算出することができるが、偏光板12の温度毎に固定値を記憶部に予め記憶しておいてもよい。続いてステップS004において、制御部4は、各色のゲイン補正が行われていない場合ゲイン補正前のゲイン値g無補正ゲイン値に対し、ステップS003において算出されたゲイン補正係数aを用いて、式2のように補正ゲイン値gmを算出する。gm=g×a...2そしてステップS005において、制御部4は、映像生成部11で生成される映像の各色のゲイン値を、ステップS004で算出した各色の補正ゲイン値gmに更新する。これにより、偏光板12へ入射する光量を抑制し、偏光板12の温度上昇を妨げることができる。本実施例は、映像生成部11の光射出側に設けられた偏光板12を温度上昇の抑制対象としているが、これに限定されるものではない。映像生成部11の光射出側に設けられたNDフィルタやその他の光学部材を温度上昇の抑制対象劣化防止の対象とし、これらの光学部材の温度に応じてゲイン補正を行っても良い。映像生成部11は、R赤、G緑、B青の3枚の液晶パネルで構成することができるが、これに限定されるものでは無い。この映像生成部としては、RGB3色の映像を時分割で生成する1枚の液晶パネル単板構成でも良いし、1~3枚のDLPDigitalLightProcessingでも良い。以上のとおり、本実施例の投射型表示装置によれば、偏光板の温度に基づいて偏光板に入射する光量を調整できる。このため、偏光板の温度に応じて各色のゲイン値を調整することで偏光板に入射する光量を低下させ、偏光板の劣化を抑制することができる。尚、実施例1では偏光板の温度に応じてゲイン値を調整する例について説明したが、偏光板に限られず、その他の温度上昇により劣化しやすい光学部材例えばNDフィルタ等の温度に応じてゲイン値を調整してもよい。次に、図3a、bを参照して、本発明の実施例2における投射型表示装置について説明する。図3aは、本実施例における投射型表示装置200のブロック図である。1は投射型表示装置200の筐体であり、2は筐体1の内部の所定の部材光学部材の温度を検知する温度検知部である。本実施例において、温度検知部2は、後述の液晶パネル110の光射出側に設けられた偏光板12光学部材の温度を検知する。3は、R、G、Bのそれぞれの液晶パネル110のゲインを調整するゲイン調整部である。4は制御部であり、制御部4は、温度検知部2から温度情報を取得し、取得した温度に応じて、後述のR、G、Bの液晶パネル110のそれぞれで生成される映像のゲインを調整するようにゲイン調整部3を制御するゲイン調整部3にゲイン調整情報を送信する。このような制御部4の動作により、液晶パネル110の光射出側に設けられた偏光板12の劣化を抑制することができる。110は、R、G、Bのそれぞれの色に対して設けられた液晶パネルである。12は、R、G、Bの液晶パネル110の光射出側に設けられた偏光板である。101は色分離光学系であり、R、G、Bの液晶パネル110、及び、液晶パネル110の光射出側に設けられた偏光板12を含んで構成される。図3bに、実施例2における投射型表示装置の構成図を示す。光源ランプの発光部1001から全方向に射出した光束は放物面リフレクタ1002によって略平行光となって射出される。この平行光束は、UVをカットするIRカットフィルタ1003に入射し、第1のレンズアレイ1004によって複数の部分光束に分割され、その各々の部分光束が集光される。各々の分割光束は第2のレンズアレイ1005近傍に集光され、各々の部分光束が各々光源像2次光源像を形成する。第2のレンズアレイ1005を射出した分割光束は、コンデンサーレンズ1006によって集光され、映像生部である反射型の液晶パネル110を重畳的に照明する。以上のIRカットフィルタ1003からコンデンサーレンズ1006により、照明光学系が構成される。図1中のダイクロイックミラー1007はBとRの色光を反射し、Gの色光を透過するダイクロイックミラーであり、1008は透明基板に偏光素子を貼着したG用の入射側偏光板Gであり、S偏光光のみを透過する。1009はP偏光光を透過し、S偏光光を反射する第1の偏光ビームスプリッターであり、偏光分離面を有する。110R,110G,110Bはそれぞれ入射した光を反射するとともに画像変調する赤用の反射型の液晶パネル映像生成部、緑用の反射型液晶パネル、青用の反射型液晶パネルである。110R,110G,110Bはそれぞれ、赤用の1/4波長板、緑用の1/4波長板、青用の1/4波長板である。1011は透明基板にS偏光光を透過する偏光素子を貼着し入射側偏光板、1012はBの色光の偏光方向を90度変換し、Rの色光の偏光方向は変換しない第1の色選択性位相差板である。1013はP偏光を透過し、S偏光を反射する第2の偏光ビームスプリッターであり、偏光分離面を有する。1014はRの色光の偏光方向を90度変換し、Bの色光の偏光方向は変換しない第2の色選択性位相差板である。12は出射側偏光板偏光素子であり、S偏光のみを透過する。1015はP偏光を透過し、S偏光を反射する第3の偏光ビームスプリッター色合成手段であり、偏光分離面を有する。以上のダイクロイックミラー1007から第3の偏光ビームスプリッター1015までの光学部材により、色分離合成光学系101が構成される。1016は投射レンズ光学系であり、上記照明光学系,色分離合成光学系および投射レンズ光学系により画像表示光学系が構成される。2は温度検知部であり、偏光板12の温度を検出する。3はゲイン調整部であり、4の制御部が温度検知部2から取得した温度によって、ゲイン調整部3経由で液晶パネル110のゲインを制御することによって、光射出側に設けられた偏光板12の劣化を防止する。続いて、図4を参照して、投射型表示装置200によるR、G、Bの液晶パネル110に対するゲイン補正について説明する。図4は、投射型表示装置200の内部における所定の部材光学部材の温度を検出し、R、G、Bのゲイン値を制御するゲイン制御方法ゲイン補正方法のフローチャートである。まずステップS101において、制御部4は、液晶パネル110の光射出側に設けられた偏光板12の現在温度実温度を取得する。続いてステップS102において、制御部4はステップS101で取得した現在温度tと閾値温度taとを比較し、現在温度tが閾値温度ta以上であると判定した場合にはステップS103へ進む。一方、制御部4は、現在温度tが閾値温度taよりも小さいと判定した場合、ステップS101に戻る。実施例1と同様に、閾値温度taは温度と偏光板12の劣化との関係を考慮して適宜決定される。ステップS103において、制御部4は、最小ゲイン補正係数a1、及び、現在温度tと閾値温度taとの温度差dに基づいて、上記の式1のようにゲイン補正係数aを算出する。続いてステップS104において、制御部4は、ゲイン補正前のR、G、Bの液晶パネル110のそれぞれのゲイン値無補正ゲイン値gに対し、ステップS103にて算出されたゲイン補正係数aを用いて、上記の式2のように補正ゲイン値gmを算出する。そして制御部4は、ステップS105において、R、G、Bの液晶パネル110それぞれの現在のゲイン値を、ステップS104で算出した補正ゲイン値gmに更新する。このように、偏光板12へ入射する光量を低下させて偏光板12の温度上昇を妨げることができる。図5は、偏光板12の温度差d現在温度tと閾値温度taとの差とゲイン補正係数aとの関係を示すグラフである。偏光板12の温度差dが大きくなるに従い、ゲイン補正係数aの値は小さくなるように変化する。また図6は、ゲイン補正係数aと偏光板12へ入射する光量との関係を示すグラフである。図6に示されるように、ゲイン補正前のR、G、Bそれぞれのゲイン補正係数aを1、光量の値を100とする。このとき、ゲイン補正係数aを用いてR、G、Bそれぞれのゲイン値を補正することによりゲイン補正係数に応じて、偏光板12に入射する光量は図6のように変化する。以上のとおり、本実施例の投射型表示装置によれば、偏光板の温度を検出して偏光板に入射する光量を調整できる。このため、偏光板の温度に応じてR、G、Bそれぞれのゲイン値を調整し、偏光板へ入射する光量を低下させて偏光板の劣化を抑制することが可能である。また、本実施例の投射型表示装置は、偏光板を冷却するための特別な機構を必要とせず、簡便な制御によって偏光板の温度上昇を抑制することができる。尚、実施例2では、偏光板の温度に応じてゲイン値を調整する例について説明したが、例えば偏光板12の他に、不図示の投射レンズ光学系1016に使用しているプラスチックレンズの温度に応じてゲイン値を調整してもよい。あるいは、3D映像表示用に投射レンズとスクリーンとの間に配置した偏光板の温度に応じてゲイン値を調整してもよい。つまり、劣化を防止したい光学部材の温度に応じてゲイン値を調整してもよい。尚、温度検知部2の場所は、図3bに示した場所に限られず温度上昇を抑えたい対象の光学部材の温度が検知可能な位置であればよい。また、実施例2のように光学部材偏光板の周辺の温度を検知してもよいし、光学部材の温度を直接検知しても良い。次に、図7を参照して、本発明の実施例3におけるゲイン補正について説明する。図7は、本実施例の投射型表示装置によるRGBのゲイン値を制御するゲイン制御方法ゲイン補正方法のフローチャートである。本実施例において、制御部4は、温度検知部2により検知された温度が所定の閾値以上の場合、映像のゲインを時間の経過とともに段階的に低下させるようにゲイン調整部3を制御する。まずステップS201において、制御部4は、液晶パネル110の光射出側に設けられた偏光板12の現在温度tを温度検知部2から取得する。続いてステップS202において、制御部4は、ステップS201で取得した現在温度tが追従補正温度tmより最大補正温度幅tw以上高いか、すなわち現在温度tと追従補正温度tmとの差t-tmが最大補正温度幅tw以上であるかを判定する。この判定は、温度差dに基づいて行われる。その判定の結果、現在温度tが追従補正温度tmより最大補正温度幅tw以上高い場合にはステップS203へ進む。一方、現在温度tが追従補正温度tmより最大補正温度幅twよりも低い場合にはステップS204へ進む。ステップS204において、制御部4は、ステップS201で取得した現在温度tが追従補正温度tmより最大補正温度幅tw以上低いか、すなわち追従補正温度tmと現在温度tとの差tm-tが最大補正温度幅tw以上であるかを判定する。この判定は、温度差dに基づいて行われる。その判定の結果、現在温度tが追従補正温度tmより最大補正温度幅tw以上低い場合には、ステップS205へ進む。一方、現在温度tが追従補正温度tmより最大補正温度幅twよりも高い場合には、S201へ戻る。ここで、最大補正温度幅twとは、現在温度tが閾値温度ta以上である場合に、現在温度tと追従補正温度tmとの温度差分のゲイン補正を数回に分けて段階的に行う際に、1回あたりに補正可能な最大の温度幅である。また追従補正温度tmは、現在温度tに対する温度差を追従しながら最大補正温度幅tw単位で段階的にゲイン補正を行うにあたって、現在追従補正をしている温度値である。ステップS202にて現在温度tが追従補正温度tmよりも最大補正温度幅tw以上高い場合には、ステップS203において制御部4は追従補正温度tmに最大補正温度幅twを加算する追従補正温度を更新する。また、現在温度tが温度閾値ta以上であるが、ステップS204にて追従補正温度tmよりも最大補正温度幅tw以上低い場合には、ステップS205において制御部4は追従補正温度tmから最大補正温度幅twを減算する追従補正温度を更新する。そしてステップS206において、制御部4は追従補正温度tmと閾値温度taとを比較する。追従補正温度tmが閾値温度ta以上である場合にはステップS207へ進む。一方、追従補正温度tmが温度閾値taよりも低い場合にはステップS208へ進む。ステップS207において、制御部4は、最小ゲイン補正係数a1温度単位あたりの補正係数、及び、追従補正温度tmと閾値温度taとの温度差dd=tm-taに基づいて、上記の式1で表されるようにゲイン補正係数aを求める。またステップS208において、制御部4は、ステップS203又はステップS205において更新された追従補正温度tmの値を更新前の状態に戻す。この処理終了後は、ステップS201へ戻り、補正処理を再開する。ステップS209において、制御部4は、各色のゲイン補正が行われていない場合ゲイン補正前のゲイン値g無補正ゲイン値に対し、ステップS207において算出されたゲイン補正係数aを用いて補正ゲイン値gmを算出する。R、G、Bそれぞれの補正ゲイン値gmは、上記の式2で表されるように算出される。そしてステップS210において、制御部4は、映像生成部11で生成される映像のR、G、Bそれぞれのゲイン値を、ステップS209で算出したR、G、Bの補正ゲイン値gmに更新する。制御部4は、ゲイン調整後、ステップS201へ戻り、上記フローを繰り返す。図8は、本実施例における偏光板の現在温度温度差dとゲイン補正係数aとの関係を示すグラフである。図8において、偏光板の現在温度tと追従補正温度tmとの温度差dがd3である場合、温度差d3の時に対応するゲイン補正係数a3を用いてゲイン補正を行うものとする。このとき、制御部4は、現在温度tと追従補正温度tmとの温度差dをd1、d2、d3のように段階的に更新し、ゲイン補正係数aもa1、a2、a3のように段階的にR、G、Bそれぞれのゲイン値を補正する。図9は、このときのゲイン補正係数aと偏光板へ入射する光量との関係を示すグラフである。図9に示されるように、R、G、Bのゲイン補正係数aを段階的に変更することで、偏光板へ入射する光量も段階的に変化することが分かる。本実施例における投射型表示装置によれば、偏光板の温度を検出して偏光板に入射する光量を調整する際に、偏光板の温度変化を追従して段階的にゲインの補正を行うことができる。このため、投射映像の輝度の変化によるユーザーに与える不快感を抑制することが可能である。なお本実施例は、偏光板だけでなくNDフィルタ等の他の光学部材にも適用可能である。次に、図10を参照して、本発明の実施例4における投射型表示装置について説明する。図10は、本実施例における投射型表示装置300のブロック図である。本実施例における投射型表示装置300は、実施例2図3の投射型表示装置200の各構成に加えて、光源不図示の劣化状態を判定する光源劣化判定部5を備えている。また、投射型表示装置300の温度検知部2は、投射型表示装置300の筐体1の外側に設けられ、筐体1の外部における温度外気温度を検知する。制御部4は、温度検知部2から取得した外気温度と偏光板12の温度との相関、及び、光源劣化判定部5から取得した光源の劣化情報に基づいて、光源の劣化による偏光板12への入射光の変化量を考慮した偏光板12の現在温度tを算出する。このように制御部4は、外気温度から偏光板12等の光学部材の温度を算出し、制御部4は好ましくは、外気温度と光源劣化判定部5の判定結果に基づいて光学部材の温度を算出する。そして制御部4は、算出された現在温度tに基づいてゲイン値を補正する。なお、偏光板12の現在温度tを算出するにあたり、外気温度と偏光板温度の相関や光源の光量劣化による偏光板12の温度への影響は、事前に調査して偏光板12の現在温度tを算出するためのパラメータとして記憶部不図示に保持されている。なお、光源劣化判定部5は、光源の光量を検出する光センサや、光源の使用時間をカウントするカウンタシステムでもよい。本実施例の投射型表示装置によれば、偏光板の温度を検出して偏光板に入射する光量を調整する際に、偏光板の温度を検出するセンサを設けない構成であっても、偏光板の温度を算出してゲイン補正を行うことが可能である。なお本実施例は、偏光板だけでなくNDフィルタ等の他の光学部材についても適用可能である。上記各実施例は、透過型の液晶パネルを用いた形態にも適用することができる。温度検知部2が、光学部材の温度あるいはその周辺温度を検知し、その温度に応じて制御部4が透過型の液晶パネルのゲイン値を補正する。これにより、光学部材に対する入射光量が下がるので劣化を抑えることが可能となる。また、画像光と不要光の射出方向を異ならせることが可能なパネル映像生成部を用いた投射型画像表示装置に対して適用することで、本願発明の効果を得ることができる。以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。"