太陽電池の受光領域を遮光し、前記太陽電池の受光領域が遮光された状態で、前記太陽電池の電流電圧特性を測定する測定方法。前記受光領域の全てが遮光された状態で前記電流電圧特性を測定し、さらに、前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態で前記電流電圧特性を測定する請求項1に記載の測定方法。測定された、前記受光領域の全てが遮光された状態の前記電流電圧特性と、前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態の前記電流電圧特性とを用いて、前記一部の受光領域の電流電圧特性を算出する請求項2に記載の測定方法。前記受光領域の開放する位置を決定し、決定された位置の前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態で、前記電流電圧特性を測定し、決定された位置の前記一部の受光領域の電流電圧特性を算出する請求項3に記載の測定方法。前記受光領域の開放する位置を変更しながら、前記電流電圧特性の測定と、前記一部の受光領域の電流電圧特性の算出とを繰り返すことにより、前記受光領域の全ての電流電圧特性を算出する請求項4に記載の測定方法。前記太陽電池は、複数のセルが直列に接続されるモジュールであり、開放される前記受光領域の位置を、前記セルを単位として決定し、決定された一部のセルが開放され、かつ、その他のセルが遮光された状態で、前記電流電圧特性を測定し、決定された一部のセルの電流電圧特性を算出する請求項3に記載の測定方法。開放するセルを変更しながら、前記電流電圧特性の測定と、前記セルの電流電圧特性の算出とを繰り返すことにより、全てのセルの電流電圧特性を算出する請求項6に記載の測定方法。さらに、前記受光領域の全てが開放された状態で前記電流電圧特性を測定する請求項2に記載の測定方法。開放された前記一部の受光領域に、太陽光のスペクトラムを再現した擬似太陽光を照射し、前記受光領域の一部が開放されて前記擬似太陽光が照射され、かつ、その他の部分が遮光された状態で前記電流電圧特性を測定する請求項2に記載の測定方法。前記太陽電池は、色素増感型太陽電池である請求項1に記載の測定方法。太陽電池の受光領域を遮光する遮光部と、前記太陽電池の受光領域が遮光された状態で、前記太陽電池の電流電圧特性を測定する測定部とを備える測定装置。前記測定部は、前記遮光部により前記受光領域の全てが遮光された状態で前記電流電圧特性を測定し、さらに、前記遮光部により前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態で前記電流電圧特性を測定する請求項11に記載の測定装置。前記測定部により測定された、前記遮光部により前記受光領域の全てが遮光された状態の前記電流電圧特性と、前記遮光部により前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態の前記電流電圧特性とを用いて、前記一部の受光領域の電流電圧特性を算出する演算部をさらに備える請求項11に記載の測定装置。前記遮光部は、前記照明部および前記太陽電池を内部の空間に配置する暗室と、前記暗室内において、前記照明部からの光を前記太陽電池に照射するか否かを制御する照射制御部とを有する請求項11に記載の測定装置。開放された前記一部の受光領域に光を照射する照明部をさらに備える請求項11に記載の測定装置。前記光は、太陽光のスペクトラムを再現した擬似太陽光である請求項15に記載の測定装置。前記遮光部は、前記太陽電池に対して移動可能であり、前記受光領域の全ての位置を開放可能であり、前記照明部は、前記遮光部とともに前記太陽電池に対して移動可能であり、前記遮光部が開放した前記受光領域の全ての位置に前記光を照射可能である請求項15に記載の測定装置。前記測定部により測定された前記太陽電池の電流電圧特性を記憶する記憶部をさらに備える請求項11に記載の測定装置。前記太陽電池は、複数のセルが直列に接続されるモジュールであり、前記遮光部は、一部のセルを開放し、その他のセルを遮光する請求項11に記載の測定装置。前記太陽電池は、色素増感型太陽電池である請求項11に記載の測定装置。しかしながら、例えば色素増感型太陽電池のように、シリコン結晶系の太陽電池と電気応答性や電流電圧特性が異なる太陽電池の場合、引用文献1に記載の手法で評価を行うことが困難であった。本開示は、このような状況に鑑みてなされたものであり、太陽電池の電流電圧特性をより容易に測定することにより、太陽電池の光電変換効率評価をより容易に行うことができるようにすることを目的とする。本開示の一側面は、太陽電池の受光領域を遮光し、前記太陽電池の受光領域が遮光された状態で、前記太陽電池の電流電圧特性を測定する測定方法である。前記受光領域の全てが遮光された状態で前記電流電圧特性を測定し、さらに、前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態で前記電流電圧特性を測定することができる。測定された、前記受光領域の全てが遮光された状態の前記電流電圧特性と、前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態の前記電流電圧特性とを用いて、前記一部の受光領域の電流電圧特性を算出することができる。前記受光領域の開放する位置を決定し、決定された位置の前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態で、前記電流電圧特性を測定し、決定された位置の前記一部の受光領域の電流電圧特性を算出することができる。前記受光領域の開放する位置を変更しながら、前記電流電圧特性の測定と、前記一部の受光領域の電流電圧特性の算出とを繰り返すことにより、前記受光領域の全ての電流電圧特性を算出することができる。前記太陽電池は、複数のセルが直列に接続されるモジュールであり、開放される前記受光領域の位置を、前記セルを単位として決定し、決定された一部のセルが開放され、かつ、その他のセルが遮光された状態で、前記電流電圧特性を測定し、決定された一部のセルの電流電圧特性を算出することができる。開放するセルを変更しながら、前記電流電圧特性の測定と、前記セルの電流電圧特性の算出とを繰り返すことにより、全てのセルの電流電圧特性を算出することができる。さらに、前記受光領域の全てが開放された状態で前記電流電圧特性を測定することができる。開放された前記一部の受光領域に、太陽光のスペクトラムを再現した擬似太陽光を照射し、前記受光領域の一部が開放されて前記擬似太陽光が照射され、かつ、その他の部分が遮光された状態で前記電流電圧特性を測定することができる。前記太陽電池は、色素増感型太陽電池であるようにすることができる。本発明の一側面は、太陽電池の受光領域を遮光する遮光部と、前記太陽電池の受光領域が遮光された状態で、前記太陽電池の電流電圧特性を測定する測定部とを備える測定装置である。前記測定部は、前記遮光部により前記受光領域の全てが遮光された状態で前記電流電圧特性を測定し、さらに、前記遮光部により前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態で前記電流電圧特性を測定することができる。前記測定部により測定された、前記遮光部により前記受光領域の全てが遮光された状態の前記電流電圧特性と、前記遮光部により前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態の前記電流電圧特性とを用いて、前記一部の受光領域の電流電圧特性を算出する演算部をさらに備えることができる。前記遮光部は、前記照明部および前記太陽電池を内部の空間に配置する暗室と、前記暗室内において、前記照明部からの光を前記太陽電池に照射するか否かを制御する照射制御部とを有することができる。開放された前記一部の受光領域に光を照射する照明部をさらに備えることができる。前記光は、太陽光のスペクトラムを再現した擬似太陽光であるようにすることができる。前記遮光部は、前記太陽電池に対して移動可能であり、前記受光領域の全ての位置を開放可能であり、前記照明部は、前記遮光部とともに前記太陽電池に対して移動可能であり、前記遮光部が開放した前記受光領域の全ての位置に前記光を照射可能であるようにすることができる。前記測定部により測定された前記太陽電池の電流電圧特性を記憶する記憶部をさらに備えることができる。前記太陽電池は、複数のセルが直列に接続されるモジュールであり、前記遮光部は、一部のセルを開放し、その他のセルを遮光することができる。前記太陽電池は、色素増感型太陽電池であるようにすることができる。本開示の一側面においては、太陽電池の受光領域が遮光され、太陽電池の受光領域が遮光された状態で、太陽電池の電流電圧特性が測定される。本開示によれば、太陽電池の電流電圧特性を測定することができる。特に、太陽電池の電流電圧特性をより容易に測定することができる。以下、本開示を実施するための形態以下、実施の形態と称するについて説明する。説明は以下の順序により行う。1.第1の実施の形態特性評価装置<1.第1の実施の形態>[太陽電池モジュールの特性評価]従来、太陽電池セル個々の太陽電池が直列接続された太陽電池モジュール太陽電池パネルに対して光電変換効率評価が行われる。例えば、初期不良を検出し、出荷物に対する品質保証を行うために、出荷前検査として、このような光電変換効率評価が行われる。また、経年変化の点検や、故障個所の特定および修理等のために、設置後検査として、このような光電変換効率評価が行われる。このような光電変換効率評価は、太陽電池に対して、太陽光のスペクトラムを再現した擬似太陽光を照射した状態で電圧掃印し電流計測を行うことにより得られる電流電圧特性を用いて行われる。シリコン結晶系の太陽電池の場合、一部のセルが遮光されると出力が極端に低下するので、太陽電池モジュールの全てのセルに、太陽光とスペクトラムが近似する擬似太陽光を照射することが可能な大型疑似太陽光照明機器と、電圧掃印電流計測機器とを用いて電流電圧特性の測定が行われる。シリコン結晶系の太陽電池は電気応答性が速い。したがって、シリコン結晶系の太陽電池モジュールの光電変換効率評価においては、パルス照射型大面積疑似太陽光照明機器を用いて、高速に電圧掃印し電流計測を行うことできる。しかしながら、例えば、色素増感型太陽電池のように電気応答性が遅い太陽電池の場合、このようなパルス照射型大面積疑似太陽光照明機器を用いた電流電圧特性の計測は困難であり、定常照射型の疑似太陽光照明機器が必要となる。しかしながら、モジュール全体に擬似太陽光を照射することができるほど大型の定常照射型の疑似太陽光照明機器は市販されておらず、新たに開発する必要がある。そのため、光電変換効率評価のコストが増大する恐れがあった。また、大型の疑似太陽光照明機器で擬似太陽光を定常照射した場合、それにより太陽電池モジュールの温度が上昇する恐れがあり、温度特性による変化により、電流電圧特性を正しく測定することが困難であった。なお、発熱量の少ないLEDを光源とする方法も考えられるが、その場合、太陽光のスペクトラムを正確に再現することができず、実際の使用環境に近い条件下での電流電圧特性を正確に測定することが困難であった。上述したように太陽電池モジュールの光電変換効率評価は品質保証やメンテナンスにおいて重要である。そのため、従来、色素増感型太陽電池のような、シリコン結晶型の太陽電池と電気特性が異なる太陽電池モジュールのより適切な電流電圧特性の測定を、より容易に実現する方法が求められていた。ところで、例えば色素増感型太陽電池は、遮光による出力電圧の低下が、その遮光された部分の出力電圧面積に略比例する。そこで以下においては、このような特性を利用して、小型の定常照射型疑似太陽光照明機器を用いて、より容易に実現可能な、太陽電池モジュールの電流電圧特性の測定方法について説明する。[特性評価装置]図1に示される特性評価装置100は、色素増感型太陽電池DSSCDyeSensitizedSolarCellモジュール101の電流電圧特性を測定し、その測定結果を用いて、DSSCモジュール101の光電変換効率を評価する装置である。DSSCモジュール101は、平面状若しくは曲面状に配置されたN個の色素増感型太陽電池のセルが直列に接続されている。図2に示される例の場合、DSSCモジュール101は、9個のDSSCセルDSSCセル151-1乃至DSSCセル151-9よりなる。このDSSCセル151-1乃至DSSCセル151-9は互いに直列に接続され、その両端は特性評価装置100に接続される。つまり、DSSCモジュール101の全てのDSSCセルが特性評価装置100に直列に接続される。色素増感型の太陽電池であるDSSCモジュール101は、シリコン結晶系の太陽電池の評価に用いられるパルス照射型大面積疑似太陽光照明機器を用いて光電変換効率評価を行うことができないほど、その電気応答性が遅い。また、色素増感型の太陽電池であるDSSCモジュール101は、シリコン結晶系の太陽電池の場合と異なり、遮光による出力電圧の低下が、その遮光された部分の出力電圧に略比例する。例えば、一部のDSSCセルが遮光されると、DSSCモジュール101の出力電流は維持されるが、DSSCモジュール101の出力電圧は、その遮光されたセルの出力電圧分だけ低減する。以下において、各DSSCセルを互いに区別して説明する必要が無い場合、単にDSSCセル151と称する。DSSCセル151の数Nは任意である。また、各DSSCセル151の大きさや形状も任意であり、全て同一であっても良いし、他と異なる物が存在してもよい。さらに、各DSSCセル151の配置位置は任意であり、図2に示されるように行列状であっても良いし、それ以外であってもよい。DSSCセル151は、平面状に配置されても良いし、曲面状に配置されても良い。図1に示されるように、特性評価装置100は、制御ユニット111、照明部112、遮光部113、測定部114、記憶部115、演算部116、および出力部117を有する。制御ユニット111は、特性評価装置100の各部を制御し、DSSCモジュール101の光電変換効率評価に関する処理を行わせる。照明部112は、制御ユニット111の制御部121に制御され、太陽光と略同様のスペクトラムを有する擬似太陽光をDSSCモジュール101に対して照射する光源である。照明部112は、少なくとも1つのDSSCセル151全体に対して均等な擬似太陽光を照射することができる。照明部112の光源としての大きさは、それ以上であれば任意であるが、市販されている大きさ、若しくは、安価に開発可能な大きさが望ましい。また、照明部112が擬似太陽光を定常的に照射してもDSSCモジュール101の温度が極力変化しない程度の大きさが望ましい。なお、照明部112は、DSSCモジュール101に対する相対位置を変更することができる移動可能とされている。照明部112は、DSSCモジュール101に対する相対位置を変えることにより、DSSCモジュール101の全てのDSSCセル151に対して、均一な擬似太陽光を照射することができる。照明部112から出射された擬似太陽光は、遮光部113を介してDSSCモジュール101に照射される。遮光部113は、制御部121に制御され、DSSCモジュール101の各DSSCセル151を遮光したり、遮光しなかったり開放したりする。遮光部113は、この遮光を所定の単位例えばDSSCセル151毎に行うことができる。例えば、遮光部113は、DSSCモジュール101の全てのDSSCセル151に光が入射しないように遮光する。また、例えば、遮光部113は、一部のn1≦n<N個のDSSCセル151に対してのみ照明部112からの擬似太陽光が照射されるように、その一部のDSSCセル151を開放し、その他のDSSCセル151を遮光する。なお、遮光部113は、照明部112からの擬似太陽光に対してのみDSSCセル151を開放する。つまり、遮光部113により遮光されたDSSCセル151には一切の光が入射せず、遮光部113により開放されたDSSCセル151には、照明部から出射された擬似太陽光のみが照射される。換言するに、照明部112から出射された擬似太陽光は、遮光部113により開放されているDSSCセル151にのみ照射される。この擬似太陽光が照射されるDSSCセル151の数nは、照明部112の光源としての大きさと、遮光部113が同時に開放することができる面積に依存する。例えば、照明部112がP個のセルに対して均等に擬似太陽光を照射可能であるとすると、遮光部113は、同時に開放するセルの数を1個乃至P個の範囲で選択することができる。図3に遮光の様子の例を示す。図3の例の場合、遮光部113は、DSSCモジュール101の光入射面全体を覆うような構造を有する。図3Aの例の場合、遮光部113は、全てのDSSCセル151を遮光している。また、図3Bの例の場合、遮光部113は、DSSCセル151-3を開放し、それ以外のセルを全て遮光している。図3Bに示されるように、遮光部113は、DSSCセル151を開放する際、照明部112からの擬似太陽光のみがその開放されたDSSCセル151に照射されるようにし、それ以外の光は遮光するような構成を有する。図3Bにおいては、DSSCセル151-3を開放する例が示されているが、他のDSSCセル151を開放する場合も同様である。なお、遮光部113の構成は、図3の例に限らない。例えば、図4に示される例のように、遮光部113が、暗室113Aと照射制御部113Bとにより構成されるようにしてもよい。暗室113Aは、照明部112、照射制御部113B、およびDSSCモジュール101を全て囲み、照明部112からの擬似太陽光以外の光を全て遮光する。すなわち、照明部112、照射制御部113B、およびDSSCモジュール101が、外部からの光が遮光された暗室113A内の空間に配置される。照明部112は、この暗室113A内部で発光して擬似太陽光を照射し、照射制御部113Bは、その暗室113A内部において、擬似太陽光を各DSSCセル151に対して照射させるか否かを制御する。照射制御部113Bは、照明部112からの擬似太陽光が、開放していない他のDSSCセル151に照射しないようにする構造開放したDSSCセル151のみに擬似太陽光が照射されるようにする構造を有する。この場合も、照明部112は、図3の例の場合と同様に、DSSCモジュール101に対して移動することができる。これに対して、照明制御部113Bは、照明部112の位置に関わらず、照明部112に対して所定の位置にあるDSSCセル151に、均一な擬似太陽光が照射されるようにすることができる構造を有する。例えば、照明制御部113Bは、照明部112の移動に合わせて、照明部112と同様に移動することができるようにしてもよい。また、照明部112の移動に合わせて、開放する位置を変更することができるようにしてもよい。つまり、図4の例の場合も、照明部112および照明制御部113Bは、図3の場合と同様に、照明部112の移動により、DSSCモジュール101の全てのDSSCセル151に対して、均一な擬似太陽光が照射されるようにすることができる。なお、図4Aの例の場合、図3Aの場合と同様に、全てのDSSCセル151が遮光されている。また、図4Bの例の場合、図3Bの場合と同様に、DSSCセル151-3が開放され、それ以外のセルが全て遮光されている。図4Bにおいては、DSSCセル151-3を開放する例が示されているが、他のDSSCセル151を開放する場合も同様である。なお、遮光部113は、制御部121の制御に従って、各DSSCセル151を遮光するか開放するかを切り替えるようにしてもよいが、これに限らず、例えば、ユーザが手動で各DSSCセル151を遮光するか開放するかを切り替えるようにしてもよい。また、遮光部113が変形することにより、各DSSCセル151の開放遮光を切り替えるようにしてもよいが、各DSSCセル151の開放遮光のパターンが異なる遮光部113を置き換えることにより、各DSSCセル151の開放遮光を切り替えるようにしてもよい。図1に戻り、測定部114は、制御部121に制御され、DSSCモジュール101の電流電圧IV特性を測定する。測定は、遮光部113が全てのセルを遮光した状態全セル遮光状態と、遮光部113が一部のセルを開放した状態nセル照射状態において行われる。nセル照射状態は、必要に応じて、開放するセルを変えて複数回行われる。図3の例の場合、電流電圧特性の測定は、図3Aに示されるように全てのDSSCセル151が遮光部113により遮光された状態において必ず行われる。つまり、全てのDSSCセル151が遮光されることにより、入射光の影響を受けない状態のDSSCモジュール101の電流電圧特性基準となる電流電圧特性が測定される。また、電流電圧特性の測定は、図3Bに示されるように一部のDSSCセル151が遮光部113により開放された状態において、1回以上行われる。例えば、図3Bの例においては、DSSCセル151-3が開放されているが、同様に、DSSCセル151-1乃至DSSCセル151-9が1つずつ開放され、各状態において、電流電圧特性の測定が行われる。ここで測定される電流電圧特性は、全てのセルが遮光された場合の、基準となる電流電圧特性からの変化量である。測定部114は、制御部121に制御され、各状態において、例えば所定の範囲で電圧を掃引し、電流を計測することにより、電流電圧特性を得る。測定部114は、測定結果を記憶部115に供給し、記憶させる。記憶部115は、例えば、フラッシュメモリやハードディスク等に代表される任意の記憶媒体を有し、制御部121に制御され、測定部114から供給される測定結果を記憶する。また、記憶部115は、制御部121に制御されて、所定のタイミングにおいて、若しくは、演算部116や制御部121からの要求に従って、記憶している測定結果を、演算部116に供給する。演算部116は、制御部121に制御され、記憶部115から読み出した測定結果を用いて所定の演算を行う等して、DSSCモジュール101の光電変換効率の評価を行う。演算部116は、制御部121に制御され、その演算結果等を評価結果として記憶部115に供給し、記憶させる。記憶部115は、制御部121に制御され、演算部116から供給される情報評価結果を記憶する。また、記憶部115は、制御部121に制御され、所定のタイミングにおいて、若しくは、出力部117や制御部121からの要求に従って、記憶している評価結果を、出力部117に供給する。出力部117は、制御部121に制御され、記憶部115から読み出した評価結果を、例えば画像としてモニタ等に表示したり、音声としてスピーカより出力したり、出力データとして、外部端子から他の装置に伝送したりする。このように、特性評価装置100は、遮光部113によってDSSCモジュール101の全てのDSSCセル151を遮光し、その状態で、測定部114により電流電圧特性を測定することができる。また、特性評価装置100は、遮光部113によって、DSSCモジュール101の一部のDSSCセル151に対して照明部112からの擬似太陽光を照射し、その状態で、測定部114により電流電圧特性を測定することができる。したがって、特性評価装置100は、全てのセルが遮光された状態と、所望のセルにのみ擬似太陽光を照射させた状態とで電流電圧特性を測定することができる。したがって、特性評価装置100は、DSSCモジュール101の任意のセルの電流電圧特性をより容易に測定することができる。図1に示されるように、制御ユニット111は、制御部121、入力部131、出力部132、記憶部133、通信部134、およびドライブ135を有する。制御部121は、CPUCentralProcessingUnit、ROMReadOnlyMemory、およびRAMRandomAccessMemory等を有し、照明部112乃至出力部117等の各部の動作を制御する。制御部121のCPUは、ROMに記憶されているプログラム、または記憶部133からRAMにロードされたプログラムに従って各種の処理を実行する。RAMにはまた、CPUが各種の処理を実行する上において必要なデータなども適宜記憶される。制御部121には、キーボード、マウス、タッチパネルなどよりなる入力部131が接続されている。制御部121にはまた、CRTCathodeRayTubeディスプレイやLCDLiquidCrystalDisplay等のディスプレイ、並びにスピーカなどよりなる出力部132も接続されている。制御部121にはさらに、フラッシュメモリ等SSDSolidStateDriveやハードディスクなどよりなる記憶部133も接続されている。制御部121にはまた、有線LANLocalAreaNetworkや無線LANのインタフェースやモデムなどよりなる通信部134も接続されている。通信部134は、インターネットを含むネットワークを介しての通信処理を行う。制御部121にはさらに、必要に応じてドライブ135が接続され、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、或いは半導体メモリなどのリムーバブルメディア141がそのドライブ135に適宜装着される。そして、そのドライブ135を介してリムーバブルメディア141から読み出されたコンピュータプログラムが、必要に応じて記憶部133にインストールされる。[評価処理の流れ]次に、図1の特性評価装置100により実行される評価処理の流れの例を、図5のフローチャートを参照して説明する。評価処理が開始されると、ステップS101において、制御部121は、遮光部113を制御し、全セルを遮光させる。遮光部113は、その制御に従って、DSSCモジュール101の全てのDSSCセル151を遮光する。ステップS102において、制御部121は、測定部114を制御し、この全セル遮光状態において、基準となる電流電圧特性を測定させる。測定部114は、その制御に従って、DSSCモジュール101に対して、所定の範囲で電圧を掃引し、電流を計測する。ステップS103において、制御部121は、記憶部115を制御し、ステップS102の処理により測定された、全セルを遮光した状態の電流電圧特性基準となる電流電圧特性を記憶させる。記憶部115は、その制御に従って、測定部114により測定された電流値を電圧に対応付け、基準となる電流電圧特性として記憶する。ステップS104において、制御部121は、例えばユーザ指示等、所定の条件や要求等に従って、DSSCモジュール101の一部のDSSCセル151を、電流電圧特性の測定対象測定対象セルに決定する。電流電圧特性の測定対象セルが決定されると、制御部121は、ステップS105において、照明部112および遮光部113を制御し、ステップS104において決定された測定対象セルに対してのみ、擬似太陽光を照射させる。照明部112は、その制御に従って位置を決定し、擬似太陽光を照射する。遮光部113は、その制御に従って、ステップS104において決定された測定対象セルのみを開放し、それ以外を遮光する。このようにすることにより、測定対象セルにのみ、均一な擬似太陽光が照射される。ステップS106において、制御部121は、測定部114を制御し、このnセル照射状態において、測定対象セルの電流電圧特性を測定させる。測定部114は、その制御に従って、DSSCモジュール101に対して、所定の範囲で電圧を掃引し、電流を計測する。これにより、測定対象セルの電流電圧特性基準に対する変化分が測定される。ステップS107において、制御部121は、記憶部115を制御し、ステップS106の処理により測定された、所望のDSSCセル151の電流電圧特性を記憶させる。記憶部115は、その制御に従って、測定部114により測定された電流値を電圧に対応付け、所望のDSSCセル151の電流電圧特性として記憶する。ステップS108において、制御部121は、例えばユーザ指示等、所定の条件や要求等に従って、予定していた全てのセルについて電流電圧特性の測定を行ったか否かを判定する。未測定のセルが存在すると判定した場合、制御部121は、処理をステップS104に戻し、それ以降の処理を繰り返す。また、ステップS108において、予定した全てのセルについて電流電圧特性の測定を行ったと判定した場合、制御部121は、処理をステップS109に進める。ステップS109において、制御部121は、演算部116を制御し、例えばユーザ指示等、所定の条件や要求等に従って、所望のセルの電流電圧特性を算出させる。演算部116は、その制御に従って、ステップS103やステップS107において記憶された測定結果を用いて、所望のセルの電流電圧特性を算出する。例えば、演算部116は、ステップS103において記憶された全セル遮光状態の電流電圧特性基準となる電流電圧特性と、1セルずつ計測され、ステップS107において記憶された各DSSCセル151の電流電圧特性とを用いて、DSSCモジュール101全体の電流電圧特性を算出する。ステップS110において、制御部121は、演算部116を制御し、ステップS109において算出された電流電圧特性を評価させる。演算部116は、その制御に従って、ステップS109において算出された電流電圧特性を所定の方法で評価する。この評価方法は任意である。制御部121は、必要に応じてこの評価結果を記憶部115に記憶させ、出力部117に出力させる。ステップS110の処理を終了すると、制御部121は、評価処理を終了する。このように評価処理を行うことにより、特性評価装置100は、太陽電池モジュールの電流電圧特性をより容易に測定することができ、太陽電池モジュールの光電変換効率の評価をより容易に行うことができる。[特性評価方法]光電変換効率の評価方法について、より具体的な例を説明する。まず、上述したように、特性評価装置100の測定部114は、全セル遮光状態で電流電圧特性を測定し、さらに、DSSCセル151を1つ開放した状態の電流電圧特性を、DSSCモジュール101の全てのDSSCセル151について、測定する。図6に示されるグラフの曲線201は、DSSCモジュール101の全てのDSSCセル151を遮光した場合の逆バイアスIV特性を示す。また、図6に示されるグラフの曲線202は、任意の1セルのみに均一な擬似太陽光を照射した場合の逆バイアスIV特性を示す。曲線201に示される、DSSCモジュール101の全てのDSSCセル151を遮光した場合の逆バイアスIV特性は、例えば図3Aや図4Aに示されるように遮光した状態で測定を行うことにより得られる。曲線202に示される、DSSCモジュール101の任意の1セルのみに均一な擬似太陽光を照射した場合の逆バイアスIV特性は、例えば図3Bや図4Bに示されるように遮光した状態で測定を行うことにより得られる。演算部116は、このような逆バイアスIV特性に対して、図7に示されるように、DSSCモジュール101の全てのDSSCセル151を遮光した場合の逆バイアスIV特性曲線201の接線211と、X軸電圧軸I=0との交点の電圧であるVBASEを算出する。この接線211は、曲線201の、この電圧VBASEよりも低い電圧範囲における、傾きが略一定の部分と略同じ傾きを持つ直線である。また、演算部116は、任意の1セルのみに均一な擬似太陽光を照射した場合の逆バイアスIV特性曲線202の接線212と、X軸電圧軸I=0との交点の電圧であるVENDを算出する。この接線212は、曲線202の、この電圧VENDよりも低い電圧範囲における、接線211と略同じ傾きを持つ部分と略同じ傾きを持つ直線である。さらに、演算部116は、接線211と、任意の1セルのみに均一な擬似太陽光を照射した場合の逆バイアスIV特性曲線202の接線213との交点の電圧であるVTOPを算出する。この接線213は、曲線202の、接線211と略同じ傾きを持つ部分よりも低い電圧範囲における、略水平な部分電流値の変化が見られない部分と同じ傾きを持つ直線である。次に、演算部116は、図8に示されるように、DSSCモジュール101の全てのDSSCセル151を遮光した場合の逆バイアスIV特性曲線201の接線211から、任意の電流I0乃至Imに対する電圧値となるVBASE0乃至VBASEmを算出する。次に、演算部116は、図9に示されるように、任意の1セルのみに均一な擬似太陽光を照射した場合の逆バイアスIV特性曲線202の、VTOPからVENDまでの電圧範囲のIV特性曲線202Aを抽出する。そして、演算部116は、図10に示されるように、任意の1セルのみに均一な擬似太陽光を照射した場合の逆バイアスIV特性曲線202の、VTOPからVENDまでの電圧範囲のIV特性曲線202Aから、任意の電流I0乃至Imに対する電圧値となるVx0乃至Vxmを算出する。演算部116は、全ての測定対象セルn個について、1セルのみに均一な擬似太陽光を照射した場合の逆バイアスIV特性を求め、それぞれについて、上述したのと同様の方法で、任意の電流I0乃至Imに対する電圧値となるVx0乃至Vxmを算出する。つまり、演算部116は、n組の、任意の電流I0乃至Imに対する電圧値となるV1~n0乃至V1~nmを算出する。以上のように算出した、電圧VBASE1乃至VBASEmと、電圧V1~n1乃至V1~nmを用い、所望のセルにおける任意の電流I0乃至Imに対する出力電圧を算出する。例えば、電流電圧特性を測定したn個のセル全体の出力電圧は、以下の式のように、各セルの出力電圧を加算することにより算出することができる。I0:VBASE0V10V20Vn20Vn10Vn0I1:VBASE1V11V21Vn21Vn11Vn1I2:VBASE2V12V22Vn22Vn12Vn2Im2:VBASEm2V1m2V2m2Vn2m2Vn1m2Vnm2Im1:VBASEm1V1m1V2m1Vn2m1Vn1m1Vnm1Im:VBASEmV1mV2mVn2mVn1mVnmつまり、図11に示されるように、各測定対象セルについての、1セルのみに均一な擬似太陽光を照射した場合の逆バイアスIV特性曲線202の、VTOPからVENDまでの電圧範囲のIV特性曲線202A-1乃至曲線202A-nの総和が、全測定対象セルのIV特性を示す曲線となる。例えば、DSSCモジュール101の全てのセルを測定対象とするn=Nことにより、演算部116は、以上のような演算により、DSSCモジュール101全体のIV特性を算出することができる。また、n=N-1とすれば、演算部116は、DSSCモジュール101のDSSCセル151の内、いずれか1つを遮光した場合の、DSSCモジュール101全体のIV特性を算出することができる。同様に、演算部116は、nの値に応じて、任意の数のDSSCセル151を遮光した場合のDSSCモジュール101全体のIV特性を算出することができる。なお、図6に示されるように、各状態のIV特性は、電流値が負となる範囲まで測定可能である。したがって、図12に示される例のように、発電領域以外のIV特性も求めることができる。図12の例は、直列に接続された8個のDSSCセル151よりなるDSSCモジュールの、全てのセルを開放した場合のIV特性、並びに、1個乃至8個のセルを遮光した各場合のIV特性を示している。実際には、図12に示されるように、DSSCモジュールは、電圧や電流が負の領域においても、発電領域と同様の遮光特性を有している。したがって、演算部116は、このようなデータから電流値および電圧値が正の部分を抽出することによっても、例えば図13に示されるような発電領域のIV特性のデータを得ることができる。演算部116は、制御部121の制御に従って、このようなデータを出力部117に供給し、図13に示されるようなグラフ画像をモニタに表示させたり、データを他の装置に伝送させたりする。もちろん、演算部116が、このようなデータに対してさらに所定の演算を行い、例えば故障箇所不具合箇所の特定等、新たな評価を行うようにしてもよい。以上のように、特性評価装置100は、全セル遮光状態とnセル照射状態においてIV特性を測定することにより、特殊な光源を用意したり、温度や照射光のスペクトラム特性等を考慮した補正を行う必要無く、より容易に、より正確かつより多様な評価を行うことができる。[減光]以上においては、遮光する範囲の制御をセルを単位として行うように説明したが、これに限らず、任意の単位で行うようにしてもよい。例えば、色素増感型の太陽電池の場合、セルの一部を遮光すると、そのセルの出力電圧が、遮光された部分の出力電圧に応じて低下する。したがって、例えば、全てのセルが互いに同一の大きさおよび形状を有し、互いに同一かつ均一な電流電圧特性を有する場合、色素増感型の太陽電池モジュールの出力電圧は、遮光されたセルの数に関わらず、遮光された面積に比例する。つまり、このような太陽電池においては、遮光は、任意の大きさの部分領域毎に行うことができる。例えば、図14に示されるDSSCモジュール301を測定対象とするとする。図14に示されるように、DSSCモジュール301は、8個のDSSCセル351DSSCセル351-1乃至DSSCセル351-8が直列に接続され、その両端が測定部114に接続されている。このようなDSSCモジュール301に対して、遮光部113が、斜線部361に示されるように、各セルの一部を遮光する各セルを減光すると、演算部116は、例えば、図12や図13のグラフに示される減光セルの曲線のようなIV特性を得ることができる。したがって、例えば、遮光部113が、この遮光する面積の制御単位をより細かくすることにより、演算部116は、DSSCモジュールのより詳細な評価を行うことができる。以上においては、遮光部113が、照明部112からの擬似太陽光を遮光するか否かを制御するように説明したが、これだけでなく、遮光部113が、フィルタ等を用いて、DSSCモジュール101の各セルに照射される擬似太陽光の光量を制御することができるようにしてもよい。また、以上においては、色素増感型の太陽電池を測定対象とするように説明したが、測定対象は、色素増感型の太陽電池に限らず、同様の特性を有する太陽電池であればどのような太陽電池であっても良い。さらに、以上においては、照明部112が擬似太陽光を照射するように説明したが、これに限らず、照明部112は、任意のスペクトラムの光を照射することができるようにしてもよい。ただし、評価検査として要求される仕様に応じたスペクトラムの光とするのが望ましい。上述した一連の処理は、ハードウエアにより実行させることもできるし、ソフトウェアにより実行させることもできる。上述した一連の処理をソフトウェアにより実行させる場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが、ネットワークや記録媒体からインストールされる。この記録媒体は、例えば、装置本体とは別に、ユーザにプログラムを配信するために配布される、プログラムが記録されているリムーバブルメディア141図1により構成される。このリムーバブルメディア141には、磁気ディスクフレキシブルディスクを含むや光ディスクCDROMやDVDを含むが含まれる。さらに、光磁気ディスクMDMiniDiscを含むや半導体メモリ等も含まれる。また、上述した記録媒体は、このようなリムーバブルメディア141だけでなく、装置本体に予め組み込まれた状態でユーザに配信される、プログラムが記録されている制御部121図1のROMや、記憶部133図1に含まれるハードディスクなどにより構成されるようにしてもよい。なお、コンピュータが実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであっても良いし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであっても良い。また、本明細書において、記録媒体に記録されるプログラムを記述するステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理をも含むものである。また、本明細書において、システムとは、複数のデバイス装置により構成される装置全体を表すものである。また、以上において、1つの装置または処理部として説明した構成が、複数の装置または処理部として構成されるようにしてもよい。逆に、以上において複数の装置または処理部として説明した構成が、まとめて1つの装置または処理部として構成されるようにしてもよい。また、各装置または各処理部の構成に上述した以外の構成が付加されるようにしてももちろんよい。さらに、システム全体としての構成や動作が実質的に同じであれば、ある装置または処理部の構成の一部が他の装置または他の処理部の構成に含まれるようにしてもよい。つまり、本開示の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。1太陽電池の受光領域を遮光し、前記太陽電池の受光領域が遮光された状態で、前記太陽電池の電流電圧特性を測定する測定方法。2前記受光領域の全てが遮光された状態で前記電流電圧特性を測定し、さらに、前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態で前記電流電圧特性を測定する前記1に記載の測定方法。3測定された、前記受光領域の全てが遮光された状態の前記電流電圧特性と、前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態の前記電流電圧特性とを用いて、前記一部の受光領域の電流電圧特性を算出する前記2に記載の測定方法。4前記受光領域の開放する位置を決定し、決定された位置の前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態で、前記電流電圧特性を測定し、決定された位置の前記一部の受光領域の電流電圧特性を算出する前記3に記載の測定方法。5前記受光領域の開放する位置を変更しながら、前記電流電圧特性の測定と、前記一部の受光領域の電流電圧特性の算出とを繰り返すことにより、前記受光領域の全ての電流電圧特性を算出する前記4に記載の測定方法。6前記太陽電池は、複数のセルが直列に接続されるモジュールであり、開放される前記受光領域の位置を、前記セルを単位として決定し、決定された一部のセルが開放され、かつ、その他のセルが遮光された状態で、前記電流電圧特性を測定し、決定された一部のセルの電流電圧特性を算出する前記3乃至5のいずれかに記載の測定方法。7開放するセルを変更しながら、前記電流電圧特性の測定と、前記セルの電流電圧特性の算出とを繰り返すことにより、全てのセルの電流電圧特性を算出する前記6に記載の測定方法。8さらに、前記受光領域の全てが開放された状態で前記電流電圧特性を測定する前記2乃至7のいずれかに記載の測定方法。9開放された前記一部の受光領域に、太陽光のスペクトラムを再現した擬似太陽光を照射し、前記受光領域の一部が開放されて前記擬似太陽光が照射され、かつ、その他の部分が遮光された状態で前記電流電圧特性を測定する前記2乃至8のいずれかに記載の測定方法。10前記太陽電池は、色素増感型太陽電池である前記1乃至9のいずれかに記載の測定方法。11太陽電池の受光領域を遮光する遮光部と、前記太陽電池の受光領域が遮光された状態で、前記太陽電池の電流電圧特性を測定する測定部とを備える測定装置。12前記測定部は、前記遮光部により前記受光領域の全てが遮光された状態で前記電流電圧特性を測定し、さらに、前記遮光部により前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態で前記電流電圧特性を測定する前記11に記載の測定装置。13前記測定部により測定された、前記遮光部により前記受光領域の全てが遮光された状態の前記電流電圧特性と、前記遮光部により前記受光領域の一部が開放され、かつ、その他の部分が遮光された状態の前記電流電圧特性とを用いて、前記一部の受光領域の電流電圧特性を算出する演算部をさらに備える前記11または12に記載の測定装置。14前記遮光部は、前記照明部および前記太陽電池を内部の空間に配置する暗室と、前記暗室内において、前記照明部からの光を前記太陽電池に照射するか否かを制御する照射制御部とを有する前記11乃至13のいずれかに記載の測定装置。15開放された前記一部の受光領域に光を照射する照明部をさらに備える前記11に記載の測定装置。16前記光は、太陽光のスペクトラムを再現した擬似太陽光である前記15に記載の測定装置。17前記遮光部は、前記太陽電池に対して移動可能であり、前記受光領域の全ての位置を開放可能であり、前記照明部は、前記遮光部とともに前記太陽電池に対して移動可能であり、前記遮光部が開放した前記受光領域の全ての位置に前記光を照射可能である前記15または16に記載の測定装置。18前記測定部により測定された前記太陽電池の電流電圧特性を記憶する記憶部をさらに備える前記11乃至17のいずれかに記載の測定装置。19前記太陽電池は、複数のセルが直列に接続されるモジュールであり、前記遮光部は、一部のセルを開放し、その他のセルを遮光する前記11乃至18のいずれかに記載の測定装置。20前記太陽電池は、色素増感型太陽電池である前記11乃至19のいずれかに記載の測定装置。