"数モードファイバにおける各モードの光の伝搬損失を測定する際、一定の入射条件において前記数モードファイバの一端に入射光を入射させ、第1の長さの光ファイバの出射端から出射される出射光強度を測定し、当該ファイバを切り戻すことで第1の長さより短い第2の長さとし、当該第2の長さで出射光強度を再度を測定し、第2の長さと第1の長さとにおける出射光強度の強度差と、第1の長さと第2の長さとの差分とから、前記数モードファイバにおける光の伝搬損失を測定するカットバック法を用いた伝搬損失測定方法であり、波長可変光源が出射する光を前記入射光として、前記入射端に対して、順次異なる波長の前記入射光を入射させる過程と、前記数モードファイバの出力端における端面の出射光強度の光強度分布を2次元的に、波長毎に測定する過程と、前記波長可変光源が出射する波長毎に測定された前記出射光強度により、前記モード毎のモード光強度の強度比を計算する過程と、前記強度比により、前記端面の全体における出射光強度を案分し、各モードの光強度を求める過程とを有することを特徴とする伝搬損失測定方法。数モードファイバにおける各モードの光の伝搬損失を測定する際、一定の入射条件において前記数モードファイバの一端に入射光を入射させ、第1の長さの光ファイバの出射端から出射される出射光強度を測定し、当該ファイバを切り戻すことで第1の長さより短い第2の長さとし、当該第2の長さで出射光強度を再度を測定し、第2の長さと第1の長さとにおける出射光強度の強度差と、第1の長さと第2の長さとの差分とから、前記数モードファイバにおける光の伝搬損失を測定するカットバック法を用いる伝搬損失測定システムであって、出射する光の波長を任意に変更する、波長可変レーザからなる波長可変光源と、前記波長可変光源から出射される光の波長毎の光強度を均一化して、試験光として出力するモードスクランブラと、前記モードスクランブラから出力される前記試験光を、前記数モードファイバの入射端に対して導く光入射部と、前記数モードファイバの出射端における端面から出射される出射光の2次元的な強度分布を測定する光強度分布測定部と、前記強度分布から各モードの出射光の強度比を求め、前記強度比により、前記端面の全体における出射光強度を案分し、各モードの光強度を求める伝搬損失測定部とを有することを特徴とする伝搬損失測定システム。前記伝搬損失測定部が、前記波長可変光源の出射する前記光の波長を制御する波長可変光源制御部と、前記波長毎に、前記光強度分布測定部が測定する、前記数モードファイバの出射端の端面から出射される出射光の2次元的な強度分布を、測定データ記憶部に記憶させる強度分布測定部制御部と、前記強度分布の測定位置毎に前記測定データのフーリエ変換を行い、前記入射光からの位相ずれにより、光強度をモード毎に分離し、モード分離後データ記憶部に書き込むモード分離演算部と、前記モード分離後データ記憶部からモード毎の光強度を読み出し、モード強度比を求めるモード強度比演算部とを有し、前記強度比により、前記端面の全体における出射光強度を案分し、各モードの光強度を求めることを特徴とする請求項2に記載の伝搬損失測定システム。波長可変光源の出射する光の波長毎に光強度分布測定部が測定する、数モードファイバの出射端の端面から出射される出射光の2次元的な光強度分布から、数モードファイバにおける各モードの光の伝搬損失を測定する際、一定の入射条件において前記数モードファイバの一端に入射光を入射させ、第1の長さの光ファイバの出射端から出射される出射光強度を測定し、当該ファイバを切り戻すことで第1の長さより短い第2の長さとし、当該第2の長さで出射光強度を再度を測定し、第2の長さと第1の長さとにおける出射光強度の強度差と、第1の長さと第2の長さとの差分とから、前記数モードファイバにおける光の伝搬損失を測定するカットバック法を用いる伝搬損失測定装置であって、前記波長可変光源の出射する前記光の波長を制御する波長可変光源制御部と、前記波長毎に、前記光強度分布測定部が測定する前記端面の光強度分布の測定データを測定データ記憶部に記憶させる強度分布測定部制御部と、前記光強度分布の位置毎に前記測定データのフーリエ変換を行い、前記入射光からの位相ずれにより、光強度をモード毎に分離し、波長単位でモード分離後データ記憶部に書き込むモード分離演算部と、前記モード分離後データ記憶部からモード毎の光強度を読み出し、モード強度比を求めるモード強度比演算部とを有し、前記強度比により、前記端面の全体における出射光強度を案分し、各モードの光強度を求めることを特徴とする伝搬損失測定装置。波長可変光源の出射する光の波長毎に光強度分布測定部が測定する、数モードファイバの出射端の端面から出射される出射光の2次元的な光強度分布から、数モードファイバにおける各モードの光の伝搬損失を測定する際、一定の入射条件において前記数モードファイバの一端に入射光を入射させ、第1の長さの光ファイバの出射端から出射される出射光強度を測定し、当該ファイバを切り戻すことで第1の長さより短い第2の長さとし、当該第2の長さで出射光強度を再度を測定し、第2の長さと第1の長さとにおける出射光強度の強度差と、第1の長さと第2の長さとの差分とから、前記数モードファイバにおける光の伝搬損失を測定するカットバック法を用いる伝搬損失測定装置の動作をコンピュータに実行させるプログラムであり、波長可変光源制御部が前記波長可変光源の出射する前記光の波長を制御する処理と、強度分布測定部制御部が前記波長毎に、前記光強度分布測定部が測定する前記端面の光強度分布の測定データを測定データ記憶部に記憶させる処理と、強度分布測定部制御部が前記光強度分布の位置毎に前記測定データのフーリエ変換を行い、前記入射光からの位相ずれにより、光強度をモード毎に分離し、波長単位でモード分離後データ記憶部に書き込む処理と、モード強度比演算部が前記モード分離後データ記憶部からモード毎の光強度を読み出し、モード強度比を求める処理と、伝搬損失測定部が前記強度比により、前記端面の全体における出射光強度を案分し、各モードの光強度を求める処理とをコンピュータに実行させるプログラム。しかしながら、上述したS2法において、非特許文献1では、レーザからの試験光としての出力光を、単一モード光ファイバを用いて、検査対象のマルチモードファイバに導いている。この方式により、マルチモードファイバにおける伝搬として、単一モード光ファイバの基底モードが選択的に励起されることになる。このため、試験光の測定結果において、マルチモードファイバにおける基底モードと高次モードとで伝搬される試験光の強度比が、1/10倍-10dB、また条件によって1/1000倍-30dB以下となり、高次モードにおける伝搬損失を測定するには適さない。また、S2法において、非特許文献2では、マルチモードファイバの一端入射端に入射させる試験光として白色光源を用いている。そして、マルチモードファイバの他端出射端から出射される試験光を分光し、各モードにおける伝搬光分光された試験光の光強度の2次元分布を求めている。しかしながら、試験光を複数のモードに対応させて分光するため、分光結果の波長当たりの光強度が、入射された試験光の1/100倍-20dB以下に低下するため、マルチモードファイバにおける伝搬損失の測定には適していない。本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、数モードファイバ所謂マルチモードファイバにおける光の伝搬損失の測定精度を向上させることが可能な伝搬損失測定方法、伝搬損失測定システム、伝搬損失測定装置及びそのプログラムを提供することを目的とする。本発明の伝搬損失測定方法は、数モードファイバにおける各モードの光の伝搬損失を測定する際、一定の入射条件において前記数モードファイバの一端に入射光を入射させ、第1の長さの光ファイバの出射端から出射される出射光強度を測定し、当該ファイバを切り戻すことで第1の長さより短い第2の長さとし、当該第2の長さで出射光強度を再度を測定し、第2の長さと第1の長さとにおける出射光強度の強度差と、第1の長さと第2の長さとの差分とから、前記数モードファイバにおける光の伝搬損失を測定するカットバック法を用いた伝搬損失測定方法であり、波長可変光源が出射する光を前記入射光として、前記入射端に対して、順次異なる波長の前記入射光を入射させる過程と、前記数モードファイバの出力端における端面の出射光強度の光強度分布を2次元的に、波長毎に測定する過程と、前記波長可変光源が出射する波長毎に測定された前記出射光強度により、前記モード毎のモード光強度の強度比を計算する過程と、前記強度比により、前記端面の全体における出射光強度を案分し、各モードの光強度を求める過程とを有することを特徴とする。本発明の伝搬損失測定システムは、数モードファイバにおける各モードの光の伝搬損失を測定する際、一定の入射条件において前記数モードファイバの一端に入射光を入射させ、第1の長さの光ファイバの出射端から出射される出射光強度を測定し、当該ファイバを切り戻すことで第1の長さより短い第2の長さとし、当該第2の長さで出射光強度を再度を測定し、第2の長さと第1の長さとにおける出射光強度の強度差と、第1の長さと第2の長さとの差分とから、前記数モードファイバにおける光の伝搬損失を測定するカットバック法を用いる伝搬損失測定システムであって、出射する光の波長を任意に変更する、波長可変レーザからなる波長可変光源と、前記波長可変光源から出射される光の波長毎の光強度を均一化して、試験光として出力するモードスクランブラと、前記モードスクランブラから出力される前記試験光を、前記数モードファイバの入射端に対して導く光入射部と、前記数モードファイバの出射端における端面から出射される出射光の2次元的な強度分布を測定する光強度分布測定部と、前記強度分布から各モードの出射光の強度比を求め、前記強度比により、前記端面の全体における出射光強度を案分し、各モードの光強度を求める伝搬損失測定部とを有することを特徴とする。本発明の伝搬損失測定システムは、前記伝搬損失測定部が、前記波長可変光源の出射する前記光の波長を制御する波長可変光源制御部と、前記波長毎に、前記光強度分布測定部が測定する、前記数モードファイバの出射端の端面から出射される出射光の2次元的な強度分布を、測定データ記憶部に記憶させる強度分布測定部制御部と、前記強度分布の測定位置毎に前記測定データのフーリエ変換を行い、前記入射光からの位相ずれにより、光強度をモード毎に分離し、モード分離後データ記憶部に書き込むモード分離演算部と、前記モード分離後データ記憶部からモード毎の光強度を読み出し、モード強度比を求めるモード強度比演算部とを有し、前記強度比により、前記端面の全体における出射光強度を案分し、各モードの光強度を求めることを特徴とする。本発明の伝搬損失測定装置は、波長可変光源の出射する光の波長毎に光強度分布測定部が測定する、数モードファイバの出射端の端面から出射される出射光の2次元的な光強度分布から、数モードファイバにおける各モードの光の伝搬損失を測定する際、一定の入射条件において前記数モードファイバの一端に入射光を入射させ、第1の長さの光ファイバの出射端から出射される出射光強度を測定し、当該ファイバを切り戻すことで第1の長さより短い第2の長さとし、当該第2の長さで出射光強度を再度を測定し、第2の長さと第1の長さとにおける出射光強度の強度差と、第1の長さと第2の長さとの差分とから、前記数モードファイバにおける光の伝搬損失を測定するカットバック法を用いる伝搬損失測定装置であって、前記波長可変光源の出射する前記光の波長を制御する波長可変光源制御部と、前記波長毎に、前記光強度分布測定部が測定する前記端面の光強度分布の測定データを測定データ記憶部に記憶させる強度分布測定部制御部と、前記光強度分布の位置毎に前記測定データのフーリエ変換を行い、前記入射光からの位相ずれにより、光強度をモード毎に分離し、波長単位でモード分離後データ記憶部に書き込むモード分離演算部と、前記モード分離後データ記憶部からモード毎の光強度を読み出し、モード強度比を求めるモード強度比演算部とを有し、前記強度比により、前記端面の全体における出射光強度を案分し、各モードの光強度を求めることを特徴とする。本発明のプログラムは、波長可変光源の出射する光の波長毎に光強度分布測定部が測定する、数モードファイバの出射端の端面から出射される出射光の2次元的な光強度分布から、数モードファイバにおける各モードの光の伝搬損失を測定する際、一定の入射条件において前記数モードファイバの一端に入射光を入射させ、第1の長さの光ファイバの出射端から出射される出射光強度を測定し、当該ファイバを切り戻すことで第1の長さより短い第2の長さとし、当該第2の長さで出射光強度を再度を測定し、第2の長さと第1の長さとにおける出射光強度の強度差と、第1の長さと第2の長さとの差分とから、前記数モードファイバにおける光の伝搬損失を測定するカットバック法を用いる伝搬損失測定装置の動作をコンピュータに実行させるプログラムであり、波長可変光源制御部が前記波長可変光源の出射する前記光の波長を制御する処理と、強度分布測定部制御部が前記波長毎に、前記光強度分布測定部が測定する前記端面の光強度分布の測定データを測定データ記憶部に記憶させる処理と、強度分布測定部制御部が前記光強度分布の位置毎に前記測定データのフーリエ変換を行い、前記入射光からの位相ずれにより、光強度をモード毎に分離し、波長単位でモード分離後データ記憶部に書き込む処理と、モード強度比演算部が前記モード分離後データ記憶部からモード毎の光強度を読み出し、モード強度比を求める処理と、伝搬損失測定部が前記強度比により、前記端面の全体における出射光強度を案分し、各モードの光強度を求める処理とをコンピュータに実行させるプログラムである。この発明によれば、伝搬損失を評価する試験光光において、数モード光ファイバにおける基底モードから高次モードまでの励起強度を同等とし、各モードの伝搬評価を行う試験光の減衰量を低下させ、各モードにおける伝搬損失の測定精度を向上させ、かつ数モード光ファイバのモード毎の伝搬損失を、容易に測定することが可能となる。伝搬損失の測定法として、非特許文献3においては挿入損失法、OTDROpticalTimeDomainReflectometer法などの測定に対する規定もあるが、試験光のモード間の光強度の比が求められないため、本実施形態ではカットバック法を用いている。以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。図1は、この発明の一実施形態による伝搬損失測定システムの構成例を示す概念図である。この図において、被測定光ファイバ100は、伝搬損失を測定する対象の数モードファイバ数モード光ファイバであり、JISに規定する径のボビンに巻いて静置されている。数モードファイバを伝搬中にも光のモード変換が生じ、モードごとの伝搬損失の測定誤差となるが、カットバック法で用いる長さの数モードファイバを上記のごとく静置した場合、モード変換の量は測定精度に対して無視できる。波長可変光源1は、被測定ファイバ100に対し、入射される制御信号の指示する波長の試験光を、モードスクランブラ2に対して出射する。モードスクランブラ2は、被測定ファイバ100の一端である入射端に接続され、この入射端から入射される試験光の光強度を、基底モードから高次モードまで均等に光強度が分布するように全モードの励振が起こる状態となるように制御する。このモードスクランブラ2は、長周期ファイバグレーティングなどにより構成されるモードコンバータを用い、任意の高次モードにおける光の強度分布を強めるように構成しても良い。また、モードスクランブラ2は、被測定ファイバ100の入射端波長可変光源1に接続された端部側の数メートルにランダムな側圧を印可し、マイクロベンドによりモード結合を促進させた構成を用いても良い。光強度分布測定部3は、被測定ファイバ100の他端である出射端に接続され、入射される制御信号の指示に対応し、出射端から出射される出射光の光強度を測定する。ここで、光強度分布測定部3は、被測定ファイバ100の出射端の端面における試験光の2次元の各座標位置における強度分布を、近視野像として測定し、座標毎の光強度の測定データを伝搬損失測定部4に対して出力する。ここで、各モードは、被測定ファイバ100の個体毎に出射面の端面における光強度の分布形状が異なるため、光強度の強度分布の測定を、端面の2次元平面の各座標点において、2次元的に行う必要がある。また、光強度分布測定部3は、上述した被測定ファイバ100の出射端における端面2次元の各座標の光強度とともに、全モードの光強度の合計値である、端面の全面から出力される全光強度を測定する。上述した配置において、被測定ファイバ100は、伝搬損失測定システムにおけるモードスクランブラ2と光強度分布測定部3とに取り付け、静置する。特に、被測定ファイバ100の入射端は、全測定期間を通して、試験光の入射条件が変化しないように固定する必要がある。伝搬損失測定部4は、光強度分布測定部3から供給される、被測定ファイバ100の出射端の端面における光強度の2次元分布の測定データから、被測定ファイバ100のモードの光強度の強度比を求め、この強度比と、被測定ファイバ100から出射される全光出力強度とから、各モードの光の出力強度を求める。ここで、伝搬損失測定部4は、波長可変光源1からの出力が安定した後予め安定する間が測定されて、内部に記憶されている、光強度分布測定部3に対して、被測定ファイバ100の出力端の光強度を測定する指示を出す。波長可変光源1は、出射する試験光の出力が安定する時間が、使用する個体によって異なる。これにより、光強度測定部3は、被測定ファイバ100の出射端における端面の各位置における強度分布、及びこの端面における全光強度を測定する。光強度測定部3は、被測定ファイバ100の出射端における端面の各部分における強度分布を測定する測定部と、被測定ファイバ100の出射端における端面の全光強度を測定する測定部とを別筐体として構成しても良い。次に、図2は図1における伝搬損失測定部4の構成例を示す図である。伝搬損失測定部4は、演算部41、一時記憶部42、記憶部43、測定用インターフェース部44及び入出力用インターフェース部45を有している。演算部41は、測定用インターフェース部44を介して、波長可変光源1に対して、出射する試験光の波長を制御するための制御信号を出力する。演算部41は、測定用インターフェース部44を介して、被測定ファイバ100の出射端から出射される出射光試験光が伝搬した光の光強度の測定を行う制御信号を強度分布測定部3に対して出力し、またこの制御信号に対応して強度分布測定部3から供給される光強度のデータを入力する。演算部41は、入出力用インターフェース部45を介して、キーボードやマウスなどの入力装置6からのデータを入力する。演算部41は、入出力用インターフェース部45を介して、ディスプレイやプリンタなどの出力装置5に対してデータを出力する。一時記憶部42は、測定用インターフェース部44や入出力用インターフェース部45とデータを送受信する際、これらのデータを一旦記憶させるために用いられる。記憶部43には、CPUCentralProcessingUnitなどから構成される演算部41を動作させるプログラムが予め書き込まれて記憶されている。次に、図3は、図2の演算部41の構成例を示す図である。演算部41は、波長可変光源制御部411、強度分布測定部制御部412、モード分離演算部413、モード強度比演算部414、モード強度演算部415、測定データ記憶部416、モード分離後データ記憶部417を有している。波長可変光源制御部411は、波長可変光源1の出射する試験光の波長すなわち中心波長を、予め設定された波長に変化させる制御信号を波長可変光源1に対して出力する。強度分布測定部制御部412は、波長可変光源1が波長の異なる試験光を出力している期間毎に、強度分布測定部3に対して被測定ファイバ100から出射される光強度の測定を指示する制御信号を出力する。また、強度分布測定部制御部412は、制御信号に対応して強度分布測定部3が出力する光強度を波長単位に、出射端の端面の2次元座標の座標点毎に測定データ近視野像の画素毎における所定期間での光強度の測定値として、測定データ記憶部416に書き込んで記憶させる。以下、波長可変光源制御部411が数モードファイバのモード数と同一数の種類の波長に変化させる場合におけるモード分離演算部413の動作を説明する。すなわち、各モードを波長中心波長の試験光との位相のずれの違いにより、被測定ファイバ100における光伝搬のモードの分離を行う。モード分離演算部413は、波長毎の測定データ所定の期間において取得した試験光の強度データを、出射端の端面における2次元座標の座標点毎にフーリエ変換を行う。そして、モード分離演算部413は、波長毎に各モードの位相変化が異なるため、各座標点のフーリエ変換の結果として得られた試験光との位相ずれと、各位相における強度値とからモードの分離を行う。ここで、モード分離演算部413は、異なる波長毎において、同様な位相変化を有する、すなわち、他のモードと同様な位相ずれの差を有する各座標点におけるピーク強度を、同一のモードで伝搬した伝搬後の試験光モード数で強度が均一に分割されている入射光の光強度とする。そして、モード分離演算部413は、モード分離後データ記憶部417に設けられたモード単位の座標点の光強度を記憶する領域に、フーリエ変換により得られた各モードの入射光のピーク強度を光強度として、波長を識別する波長識別信号とともに書き込んで記憶させる。モード分離後データ記憶部417には、被測定ファイバ100の出射端の端面における光強度の測定点としての座標点全ての測定データを記憶する領域が、モード単位に設定されている。モード強度比演算部414は、モード分離後データ記憶部417から、モード毎に全波長における同一識別信号が付加されている光強度を全座標点において加算、すなわち各モードの全波長における、被測定ファイバ100の出射端の端面の光強度の合計値を求める計算を行う。そして、モード強度比演算部414は、各モード間における光強度の合計値の比を求め、これをモード間の試験光の強度比として出力する。モード強度演算部415は、強度分布測定部3の測定した出射端の端面における全光強度を、モード強度比演算部414が求めた強度比により案分し、各モードの光強度を求める。このモードによる光強度の座標における分布を計算して、強度比を求める方法は、光ファイバにおいて伝搬する光の全光強度全モードの光強度の合計値が、光ファイバの全モードの線形結合で表されるという物理的な事実に基づいている。モード強度演算部415は、試験単位に、この求めたモード毎の光強度を、各モードの識別信号と対応づけて、記憶部43に書き込んで記憶させる。また、上述した各モードの光強度を求め第1の試験て、各光被測定ファイバ100の出射端を光強度分布測定部3から取り外し、この出射端側を所定の長さ分だけ切り戻し、被測定ファイバ100の長さを短くした後、再度、各モードの光強度を求める処理第2の試験を行うカットバック法。そして、演算部41は、第1の試験の際の光強度と、第2の試験の際の光強度との差分の光強度差を各モード毎に求め、この光強度差を切り戻した所定の長さで除算し、単位長さ当たりの伝搬損失をモード毎に算出する。上述したように、本実施形態によれば、モードスクランブラ2により、低次モードから高次モードまで、伝搬モードを均一に励振させて、各モードの光強度を均一化した後、波長を変えてモード毎の光強度を集計し、モード間の光強度の強度比を求め、この強度比により全光強度を案分して各モードの光強度を求めているため、出射端の端面の各モードの光強度を従来に比較して高い精度で求めることが可能となる。したがって、本実施形態によれば、カットバック法により、数モードファイバのモード毎の伝搬損失を精度良く求めることができる。本実施形態において、モード分布を計算する方法は光ファイバ中を伝搬する光は光ファイバのモードの線形結合で表されるという物理的な事実に基づいている。すなわち、強度分布測定部3で得られた被測定ファイバ100の出力強度分布は、被測定ファイバ100の入力の強度分布をファイバのモードで展開し、各々のモードが被測定ファイバ100を伝搬した際に伝搬損失強度特性と位相変化位相特性を受けたものの合成となっている。したがって、未知数はモードの数の2倍となる。ここで、測定波長を変化させて測定することにより、モード毎に異なった伝搬損失と位相変化を受けるため、モードの数の2倍の波長で測定を行う事で各モードの伝搬損失と位相変化を求めることができる。ここで、各モードを分離し、かつ波長依存性を求める測定に必要な繰り返し回数、すなわち波長数は、被測定ファイバ100のモード数の2倍以上であり、被測定ファイバ100のモード数の3倍程度で十分である。さらに多くの種類の波長により、光強度を測定し、フーリエ変換を用いたモード分離を行う解析時において、中心波長をずらしながらフーリエ変換を行うことで、上述したように、伝搬損失の波長依存性を求めることもできる。また、本実施形態においては、モードコンバータを使用する事により、基底モードに加え、選択的に任意の高次モードを励振することにより、その高次モードの伝搬損失の測定精度を向上させることができる。また、本実施形態においては、モードスクランブラとしてマルチモードファイバ、ないし数モードファイバをコイル状に巻いたものを用いる事で、高次モードを含む励起を行うことができる。また、本実施形態においては、モードスクランブラとしてNAの大きな空間光学系を用いることにより、高次モードを含む励起を行うことができる。また、本実施形態においては、モードスクランブラとして長周期ファイバグレーティングを用いることによりモード変換を促進する事である次数の高次モードを選択的に励起することができるNAndermahrandCFallnichLongPeriodFiberGratingsforTransverseModeConversionInducedbytheOpticalKerrEffectCLEO2010paperCWL6。次に、図4は、出力装置5に出力する被測定ファイバ100における各モード間の光強度の強度比を求める動作例を示すフローチャートである。この説明においては、波長可変光源制御部411が波長可変光源1を制御する波長の種類の数は、被測定ファイバ100のモード数の3倍として説明する。ステップS1:ユーザは、入力装置6から測定波長範囲被測定ファイバ100の伝搬特性に応じて予め設定されているの中心である測定中心波長と、被測定ファイバ100である数モードファイバのモード数とを伝搬損失測定システムに入力する。ステップS2:モード分布測定部制御部412は、測定データ記憶部416に対し、モード数×3個の配列を確保する。また、波長可変光源制御部411は、測定波長範囲を、入力された測定中心波長からモード数×3個の分割波長範囲に分割する。そして、波長可変光源制御部411は、例えば、測定波長範囲の最も小さな波長の分割波長範囲の中心波長を測定開始波長として、測定波長に設定する。ステップS3:演算部41は、ステップS3とステップS7までの処理を、繰り返し回数がモード数×3となるまで繰り返して行う。すなわち、演算部41は、i=1から実行を開始し、ループ処理を繰り返して行い、iがモード数×31になると処理をステップS8へ進め、一方、iがモード数×31未満であると処理をステップS4へ進める。ステップS4:波長可変光源制御部411は、測定波長を波長可変光源1波長可変レーザに対して設定するため、この測定波長を含む制御信号を、波長可変光源1に対して出力する。また、波長可変光源制御部411は、強度分布測定部制御部412に対して、測定波長を示す波長識別番号を出力する。これにより、波長可変光源1は、出射する試験光の波長を、測定波長に設定し、測定波長の試験光を出射する。ステップS5:強度分布測定部制御部412は、波長可変光源制御部41から測定波長識別番号が供給されると、強度分布測定部3に対して、被測定ファイバ100の出射端から出射される出射光の測定を開始することを指示する制御信号を出力する。ステップS6:強度分布測定部制御部412は、測定データ記憶部416における1つの配列に、波長識別情報を付加し、所定のサンプリング周期によって測定した各座標における所定期間の測定データを書き込んで記憶させる。そして、波長可変光源制御部411は、測定波長を、次に大きな波長の分割波長範囲の中心波長とする。ステップS7:モード分離演算部413は、1回のループにおいて、i=i1を実行し、処理をステップS3へ戻す。ステップS8:モード分離演算部413は、測定データ記憶部416に記憶されている各波長単位の測定データから、各座標の光強度をモード毎に分離し、分離した光強度をモード分離後データ記憶部417に書き込んで記憶させる処理は後述。ステップS9:モード強度比演算部414は、モード分離後データ記憶部417に記憶されているモード毎の光強度を積算し、各モード間の強度比を算出する処理は後述。次に、図5は図4におけるステップS8の光強度を分離する演算の処理を示すフローチャートである。モード分離演算部413は、以下に示すように、n行m列の測定点である2次元座標のy座標行において、このy座標におけるx座標列を変化させ、y座標におけるx座標が終了すると、次のy座標に変更し、x座標を変化させる処理を繰り返し、各座標における光強度のモード分離を行う。ステップS81:モード分離演算部413は、被測定ファイバ100の出射端の端面における2次元座標におけるy座標の座標値を1から開始し、y座標の座標値がn1未満であると処理をステップS82へ進め、一方、y座標の座標値がn1となると処理を終了する図4のフローチャートのステップS9へ進める。ステップS82:モード分離演算部413は、被測定ファイバ100の出射端の端面における2次元座標におけるx座標の座標値を1から開始し、x座標の座標値がm1となると処理をステップS88へ進め、一方、x座標の座標値がm1未満であると処理をステップS83へすすめる。ステップS83:モード分離演算部413は、現在のx,y座標に対応する測定データを、測定データ記憶部416に記憶されている波長全てにおいて読み出す。ステップS84:モード分離演算部413は、波長毎の測定データの各々を、個別にフーリエ変換する。ステップS85:そして、モード分離演算部413は、フーリエ変換における波長毎の位相ずれの大きさから、すなわちモード間の位相ずれの差分の大きさから、各モードのピーク強度をフーリエ変換によって得られたスペクトルから分離し、波長毎に波長識別番号を付加する。ここで、低次モードから高次モードとなる毎に、波長が増加した際の位相ずれの大きさが大きくなる。ステップS86:モード分離演算部413は、モード毎に分離したピーク強度に波長を示す波長識別番号を付加し、それぞれ対応するモード分離後データ記憶部417におけるモード毎に設定したx、y座標の記憶領域に、波長毎に記憶させる。ステップS87:モード分離演算部413は、1回のループにおいて、x座標値に1を加算して、処理をステップS81へ戻す。ステップS88:モード分離演算部413は、1回のループにおいて、y座標値に1を加算して、処理をステップS82へ戻す。次に、図6は図4におけるステップS9の各モード間の光強度の強度比を求める演算の処理を示すフローチャートである。以下のステップS9の処理においては、モード毎の座標点x,yの記憶領域の光強度を加算し、各モード間における被測定ファイバ100を伝搬した後の強度比を求める。ステップS91:モード強度比演算部414は、低次モードから高次モードまで、例えば0次モードからk次モードまでの処理において、0次モードから開始し、k次モードまでモードの値を加算していき、k次モードとなると処理をステップS94へ進め、一方、k次モード未満であると、処理をステップS92へ進める。ステップS92:モード強度比演算部414は、モード分離後データ記憶部417における、現在のモードに対応する座標値x、yに対応する記憶領域の光強度を読み出し、全ての波長において加算し、被測定ファイバ100の出射面の端面におけるモード毎の光強度の合計値を求める。ステップS93:モード強度比演算部414は、1回のループにおいて、モードの次数を1つ上げて、処理をステップS91へ戻す。ステップS94:モード強度比演算部414は、低次モードから高次モードまで、例えば0次モードからk次モードまでの処理において、0次モードから開始し、k次モードまでモードの値を加算し、加算値として求め、k次モードとなると処理を終了し図4のフローチャートのステップS10へ進め、一方、k次モード未満であると、処理をステップS95へ進める。ステップS95:モード強度比演算部414は、現在のモードの光強度の合計値を、0次モードの合計値で除算し、0次モードの合計値による規格化の処理を行う。すなわち、各モードの合計値を、0次モードにより除算して、0次モードの合計値による規格化の処理を行う。そして、モード強度比演算部414は、規格化された合計値を、各モードに対応させて、モード分離後データ記憶部417に書き込んで記憶させる。ステップS96:モード強度比演算部414は、1回のループにおいて、モードの次数を1つ上げて、処理をステップS94へ戻す0次モードの合計値による規格化の処理を行う。。上述した処理において、実施形態においては、被測定ファイバ100のモード数の3倍の波長を用いて、位相変化の大きさからモードの特定を行っている。このとき、モード毎に複数種類上述した例においては3種類の波長の光強度が得られるため、すでに述べたカットバック法により、波長毎の伝搬損失の変化も同時に検出することができる。また、図1における演算部41の機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより各モードの光強度を求める処理を行ってもよい。なお、ここでいうコンピュータシステムとは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、コンピュータシステムは、WWWシステムを利用している場合であれば、ホームページ提供環境あるいは表示環境も含むものとする。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD-ROM等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらにコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良く、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであっても良い。以上、この発明の実施形態を図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。"