ー次試験における合格率の比較（新規試験と再試験の比較を含む）
(社)日本非破壊検査協会で実施しているJIS Z 2305による非破壊試験技術者の資格試験で，新規受験グループと再試験グループの一次試験の合格率について比較を実施した。また，受験地域における差異についても比較した。データは，受験者の多いUT2とPT2から採取した。図1にUT2の2006年春期から2007年秋期までの4回の一次試験の合格準（全国平均の新規受験者と再試験者）を示す。図2に同様のPT2の試験結果を示す。新規受験者と再試験者の比較をした場合，UT2，PT2ともに新規受験者の方の合格率が高い。4回の試験結果においてUT2は14～17%，PT2は16～29%高いことが判った。新規受験者は１回目の試験での合格率であり，再試験受験者は２回目の試験である。当然２回目受験者は１回目で試験の様子が分かった上で再試験を受験しているわけであるから新規受験者に比べ有利であるはずであるが，結果的には１回目受験者より合格率は低くなっている。再試験に対応する場合は新規試験に比べ，より一層の努力が必要であることを示しているように思われる。再試験受験者の雑開を期待するものである。 2006年の奉期，秋期の試験について各試験地域別の合格率について，図3にUT2，図4にPT2の結果を示す。 UT2とPT2では全体的な合格率が，異なっている。この結果から，地域的な特徴が出ているとは考えにくく，全国的に多少の差はあるものの，大きな差はないと考えられる。UT2の2006年春期で札幌と新潟の合格率が高くなっているが，受験者数が少ないこともあり，この結果だけでは評価できない。また，新規受験者の合格率と再試験者の合格率を比較すると，一部地域で新規より再試験の合格率の良いところがあるものの、総じて再試験者の方が低くなっている。 2006年春期から2007年秋期の間のUT2及びPT2の全国平均の合格率を表1に示す。
図4   PT2   2006年地域別一次試験合格率注：仙台，新潟，高松，長崎は１年に１回の開催となっている。
ＳＭ１　実技試験のポイント
ひずみ測定（SM）レベル1技術者は，上級技術者の指導あるいは文書による指示により，電気抵抗ひずみ測定法によるひずみ測定の作業を一貫して行える能力が要求さている。したがって，SMレベル1技術者資格試験の二次試験は，この測定法によりひずみの測定が円滑にできるかを問う実技試験である。ここでは，この試験のポイントについて解説をする。
1. SM1の実技試験
この実技試験では，測定物表面へのひずみゲージの接着，ホイートストンプリッジ回路の構成，静ひずみ及び動ひずみの測定，解答用紙に記入する方式の測定結果の報告書作成が行われる。表１には試験の項目とこの時間配分を示してある。この作業では，試験片の表面処理を行い，接着位置にけがき線を入れ，ここにシアノアクリレート系接着剤でひずみゲージを接着する。この場合，確実に接着するには以下のような点に注意をする。まず，試験片の表裏両面の接着部分をひずみゲージの面積より広い範囲にわたってサンドペーバで円を描くような要領で磨く。この場合，表面を鏡面状にする必要はなく，＃150程度のサンドペーパで磨いた粗さが適当である。その後，磨いた表面をアセトンなどの溶剤で洗浄する。次にこの両面にシアノアクリレート系接着剤によりひずみゲージを接着するが，これにはひずみゲージの表裏をよく確認して裏面に接着剤を付ける。また，良好な接着を行うには接着剤の量を多くすればよいのではなく，接着後の接着剤のはみ出す部分が図2に示す程度にするのが最適の量である。
なお，試験時間は合計80分であるが，各項目ともこの表に示した時間内で作業を終了しなければならない。
2.ひずみゲージの接着とブリッジ回路の構成
電気抵抗ひずみ測定法では，ひずみゲージを測定物表面に正確に接着することが重要である。このひずみゲージ接着の試験は，図１に示した軟鋼短冊形試験片の表面(図のA面)と爽面(図のB面)の指定された位置の長手方向にリード線付きの単軸ひずみゲージを接着する作薬である。シアノアクリレート系接着剤は指圧により接着をするが，これにはひずみゲージのセンターマークをけがき線に正確に合わせ，この上にポリエチレンシートをかぶせて圧力を加える。ひずみゲージ接着後は，接着状態を確認し，リード線をビニールテープで固定して絶縁抵抗を測定する。静ひずみの測定では上述の2枚のひずみゲージをデータロガーのスイッチボックスに取り付け，2ゲージ法によるプリッジ回路を構成する。また，動ひずみ測定ではオートバランス式動ひずみ測定器のプリッジボックスにひずみゲージを取り付け，この場合も2ゲージ法によるプリッジ回路を構成する。
3.静ひずみの測定
静ひずみの測定試験では，前述のひずみゲージが接着された試験片を図３のような測定装置に取り付け，自由端近傍に荷重をかけたときのひずみを測定する。また，この試験ではひずみの測定値をプリントアウトするが，この場合のプリッジ回路の構成や測定器の操作にあたっては使用するデータロガーの簡易操作マニュアルを参考にする。
4.動ひずみの測定
動ひずみの測定試験は図4に示したように、静ひずみの測定試験の場合と同様な装置に取り付けられた試験片の自由端近傍に重りを付け，曲げ一次の自由振動を与えたときの動ひずみを測定する。この動ひずみの測定試験では，測定器の簡易マニュアルを参考にして，試験片に重りを付けた状態で初期バランスをとり，校正値を設定して，振動を与えたときの出力波形をアナログレコーダにより記録する。この場合のレコーダの操作も簡易操作マニュアルを参考にする。動ひずみの測定では測定前に設定した校正ひずみの振幅と振動により記録された波形の振幅との比較でひずみを求める。このため，振幅の大きさを予測して動ひずみ測定器に適切な校正値を設定しないと測定精度が悪くなる。また，振動の周期を正確に測定できるようなレコーダ記録紙の送り速さの設定にも注意をする必要がある。
5.報告書の作成
報告書の作成では「計測結果解答用紙」に要求されている値を記入して提出する。 （1）ひずみゲージの接着この解答用紙には，まずひずみゲージ接着後の絶縁抵抗の測定値を記入するが，支障なくひずみ測定をするためにはこの絶縁抵抗が 100MΩ以上なければならないことを知っておく必要がある。 （2）静ひずみの測定結果静ひずみの測定結果の解答用紙には，測定されたひずみの値ε mと真の表面ひずみの値を記入する。この測定試験では測定器のゲージ率を2.00に固定して測定している。したがって，ε nはゲージ率が2.00の場合の測定値である。しかし，使用したひずみゲージのゲージ率Ｋ。は必ずしも2.00になっていない。このため，次の修正式で真のひずみぇを求めなければならない。 ε＝（2.00／ K ς）εmさらに，このεは曲げを受けた板の表と裏の同じ位置のひずみを２ゲージ法で測定した値なので，表面ひずみの２倍になっている。したがって，真の表面ひずみは半分になり，解答用紙にはεの1／2の値を記入しなけれぼならない。 (3)動ひずみの測定結果動ひずみの測定では図５のような記録波形が得られる。測定結果の解答用紙にはこの波形上の指定した測定点の片振幅からひずみを求めて記入する。さらに，この波形から振動の周期を測定し，周波数を求めて記入する。この場合の動ひずみ測定値ε 。は，レコーダ上の校正ひずみερの片振幅た。と測定点の片振幅カ〓とから次の式で求める。 &m=( h m /  h o )&o一方，レコーダの記録波形の横軸は時間を示しているので，波の間隔から周期Tが測定され，周波数fは次の式で求められる。
f = 1 / T
なお，この報告書の作成に必要な真のひずみε，動ひずみの場合の測定値ε,,周波数fを求める各式は解答用紙には示されていないので覚えておく必要がある。ここでは，SMレベル１の二次試験における実技試験のポイントついて解説した。レベル１技術者には竜気抵抗ひずみ測定法により静ひずみ，動ひずみ両方を正確に測定できる能力が要求されているので，この実技試験は特に重要視される。なお，この実技試験もSMレベル1技術者用の参考書「ひずみ測定Ｉ」に基づいて実施されているので、この参考書の勉強をしておくことも大切である。