機器分析分野
Division of Instrumental Analysis
〒

―

岐阜市柳戸

番

E-mail：kiki@gifu-u.ac.jp
TEL：

―

―

FAX：

―

―

目

次

組織………………………………………………………………………………
．沿革……………………………………………………………………………
．教職員…………………………………………………………………………
．協力員・協力補助員…………………………………………………………
機器分析分野協力員に関する申し合わせ……………………………………
機器紹介 ………………………………………………………………………
．機器一覧 ……………………………………………………………………
柳戸地区（ ）
医学地区（ ）
．機器配置図 …………………………………………………………………
柳戸地区（ ）
医学地区（ ）
．機器紹介 ……………………………………………………………………
柳戸地区（ ）
医学地区（ ）
利用の手引き …………………………………………………………………
．機器分析分野利用の手順 …………………………………………………
．計測機器の利用に関する申し合わせ ……………………………………
別表
利用者資格 …………………………………………………………
柳戸地区（ ）
医学地区（ ）
別表
機器分析分野利用申請書 …………………………………………
柳戸施設（ ）
医学施設（ ）
別表時間外利用 …………………………………………………………
．岐阜大学生命科学総合研究支援センター受託試験、測定及び検査等取扱要項 ………
別表 試験等の基本利用料金 ………………………………………………
．受託試験等の手続き ………………………………………………………
別紙様式第 号 岐阜大学生命科学総合研究支援センター受託試験等依頼書 …
別紙様式第 号 岐阜大学生命科学総合研究支援センター機器等使用申請書 …
活動報告 ………………………………………………………………………
．機器の利用状況 ……………………………………………………………
柳戸施設
医学施設
別表 平成 年度 機器分析装置登録者数 ………………………………
柳戸施設
医学施設
．平成 年度活動状況報告 …………………………………………………
寒剤・高圧ガス取扱講習会 …………………………………………………
寒剤・高圧ガス取扱講習会（文教速報） …………………………………
第 回中学生のための大型精密機器高度利用公開セミナー ……………
第 回大型精密機器高度利用公開セミナー ………………………………
第 回大型精密機器高度利用公開セミナー ………………………………
．利用者研究論文一覧 ………………………………………………………
．機器分析分野教員の教育・研究活動等 …………………………………

組織
．沿革
昭和
昭和
平成
平成
平成
平成
平成

年度
年度
年度
年度
年度
年度
年度

岐阜大学統合移転に伴い、学内共同岐阜大学情報・計測センターを設置。
岐阜大学計測センター及び岐阜大学情報処理センターに改組。
省令化に伴い、岐阜大学機器分析センターとして新たに発足。
センター統合により生命科学総合実験センター機器分析分野に改名。
大型精密機器高度利用公開セミナー開始。学外向けの受託試験制度を整備。
生命科学総合研究支援センターへ名称変更。
人獣感染防御センターから機器移管により、医学施設を設置。

．教職員（ ）内は内線番号⑴ 専任教員准教授（分野長）
助教
助教
⑵ 職員
技術職員
技術補佐員

近江 靖則（鎌足 雄司（犬塚 俊康（）））

沢田 義治（杉山 知美（））．協力員・協力補助員
機器分析分野協力員に関する申し合わせ（趣旨）
第 条 この申し合わせは、岐阜大学生命科学総合研究支援センター（以下「センター」という。
）に置く機器分析分野協力員（以下「協力員」という。
）に関し、必要な事項を定める。
（定義）
第 条 協力員は、センターの機器分析分野が所有する機器及び設備（以下「機器等」という。
）を、責任をもって取扱うことができる者とする。
（組織）
第 条 協力員は、機器ごとに置き、センター長が推薦する岐阜大学の専任の教員をもって充て、学長が委嘱する。
（責任者）
第 条 協力員の互選により担当する機器ごとの責任者（以下「責任者」という。
）を選出する。
（任務）
第 条 協力員は、センターの教職員と協力して次の内容を協議し、業務を行う。
① 機器等の原理・使用法に関する講習会等に関すること。
② 機器等の維持管理に関すること。
③ 機器等の使用法等相談に関すること。
④ その他、機器等の円滑な運用に関すること。

―

―

（任期）
第 条 協力員の任期は二年とし、再任を妨げない。
（補助員）
第 条 協力員の業務を補助するために、協力員補助員（以下「補助員」という。
）を置くことができる。
補助員は、協力員の業務への補助が必要な機器ごとに置き、機器分析分野長が推薦する者をもって充て、センター長が委嘱する。
補助員の任期は二年とし、再任を妨げない。
H ． ．
◎：機器取扱責任者、＊：補助員
機 器 名

氏

名

電話番号

部 局

【柳戸地区】
大型電子顕微鏡（透過型 H形・TEM・日立）（透過型 JEM形・TEM・日本電子）
走査型電子顕微鏡（S・SEM、EDX）
走査型電子顕微鏡（SN・SEM）
高分解能電界放出型走査電子顕微鏡（S・SEM）
真空蒸着装置イオンスパッタ・エアポレーションユニット（カーボン専用）
ディンプルグラインダー
ガラスナイフ作成器
超ミクロ切片作製システム
ネオオスミウムコーター
イオンミリング
精密イオンポリッシング装置

◎大矢
豊
佐藤 節子
杉浦
隆
櫻田
修
吉田 道之
柿内 利文
嶋
睦宏
池田
将
宮本
学
西津 貴久
酒井 洋樹
矢野 倫子＊

工学部
教育学部
工学部
〃
〃
〃
〃
〃
〃
応用生物科学部〃〃【柳戸地区】
走査型 X 線光電子分光分析装置（Quantera SXM-GS）

◎櫻田
修
伊藤 貴司
大橋 史隆
高橋 紳矢

工学部
〃
〃
〃

【柳戸地区】
高分解能質量分析装置（JMS- 、AMSUN 、GCmate Ⅱ）
液体クロマトグラフ（Agilent-MSLC）

◎柳瀬
吉松
松居
村井
吉田
池田
大野
光永

【柳戸地区】
フーリエ変換核磁気共鳴装置（JNM-ECX P、JNM-ECA、固体 JNM-ECA【医学地区】
フーリエ変換核磁気共鳴装置（AVANCE 、AVANCE））【柳戸地区】
電子スピン共鳴装置（JES-FA ・ESR）【医学地区】
電子スピン共鳴装置（EMX Micro- ／ ・ESR）

笑子
三博
正樹
利昭
敏
将
敏
徹

応用生物科学部
教育学部
工学部
〃
〃
〃
〃
応用生物科学部◎満倉 浩一
吉松 三博
古山 浩子
海老原昌弘
纐纈
守
小村 賢一
窪田 裕大
光永
徹
柳瀬 笑子
桑田 一夫

工学部
教育学部
医学部
工学部
〃
〃
〃
応用生物科学部
〃
連合創薬

◎三輪
伊藤
大橋
桑田

―

―

洋平
貴司
史隆
一夫

工学部
〃
〃
連合創薬

【柳戸地区】
誘導結合プラズマ発光分析装置（ULTIMA
堀場）

◎櫻田
修
勝田 長貴
神原 信志
山本 朱美
古川 真一＊

工学部
教育学部
工学部
応用生物科学部〃【柳戸地区】
走査型プローブ顕微鏡システム
（AFM
E、AFM
L）

◎武野 明義
大矢
豊
大和 英弘

工学部
〃
〃

【柳戸地区】
超高速度現象解析システム◎高橋 周平
菊地
聡
宮坂 武志

工学部
〃
〃

【柳戸地区】
小型機器（UV-Vis・FT-IR・顕微FT-IR・ReactIR・IlluminatIR・CD・旋光度計）
蛍光分光光度計
蛍光寿命測定装置（Quantaurus-Tau）
絶対 PL 量子収率測定装置（Quantaurus-QY）
分光蛍光光度計（FP）
フェムト秒ファイバーレーザー（BS- -YS）
テラヘルツ分光走査型顕微鏡

◎沓水
吉松
惠良
石黒
芝原
亀山
窪田
吉田
光永
柳瀬

祥一
三博
聖一
亮
文利
啓一
裕大
弘樹
徹
笑子

工学部
教育学部
医学部
工学部
〃
〃
〃
〃
応用生物科学部〃【柳戸地区】
有機微量元素分析装置（CHNOS）（JM- 、JHA 、JMSU ）◎吉松 三博
勝田 長貴
古山 浩子
海老原昌弘
リム リーワ
寺本 好邦
古川 真一＊

教育学部
〃
医学部
工学部
〃
応用生物科学部〃【柳戸地区】
顕微レーザーラマン分光システム（NRS）◎久米 徹二
伊藤 貴司
大橋 史隆

工学部
〃
〃

【柳戸地区】
熱分析システム（DSC・TMA・TG-DTA）（EXSTAR）
レオメーター（AR-G Ⅱ KG）
動的粘弾性測定装置（DMA Q

◎沓水
萩原
武野
窪田
宮本
西津
岩本
寺本

祥一
宏明
明義
裕大
学
貴久
悟志
好邦

工学部
教育学部
工学部
〃
〃
応用生物科学部
〃
〃

◎西津
永井
吉田
岩本

貴久
学志
道之
悟志

応用生物科学部
工学部〃
応用生物科学部【医学地区】
X 線結晶解析装置（FR-E Super Bright）◎海老原昌弘
海老原章郎
桑田 一夫

工学部
応用生物科学部
連合創薬【柳戸地区】
蛍光 X 線分析装置（S -TIGER）◎勝田 長貴
櫻田
修
大谷 具幸
神原 信志

教育学部
工学部
〃
〃

KG）

【柳戸地区】次元物質微細構造解析システム
X 線マイクロ CT スキャン（Skyscan
粒子径・粒子形状測定装置（FPIA（ゼータサイザーナノ ZS）
デジタルマイクロスコープ（ライカ DVM）

）
）

―

―

機器紹介
．機器一覧
【柳戸地区】

H ． 現在品

名

納入年度．大型電子顕微鏡（TEM）STEM、EDX 付〃
ガラスナイフ作製器〃
超ミクロトーム
真空蒸着装置
実体顕微鏡
イオンスパッタ
ネオオスミウムコーター
ディンプルグラインダー
イオンミリング装置
精密イオンポリッシング装置
超音波ディスクカッター
ダイヤモンドワイヤーソー
スパッタコーター
カーボンコーター
走査型電子顕微鏡（FE-SEM）EDX 付
走査型電子顕微鏡（N-SEM）
高分解能電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）

規

格

H 年度
〃
S 年度
H 年度
〃
S 年度
H 年度
H 年度
H 年度
H 年度
H 年度
H 年度
H 年度
〃
〃
〃

日立 H、
日本電子 JEM三慶科学メッサー C
ライカ ガラスナイフメーカー EM KMR
ライカ ULTRACUT-UCT
日立 HUS- GB
ニコン SMZ
日立 E- 、E盟和商事 NEガタン MODEL N
日立 E形
ガタン MODEL
ガタン MODEL
メイワフォーシス DWS
メイワフォーシス SC
メイワフォーシス CADE-EHS

H
H
H
H

日立
日立
日立
堀場

年度
年度
年度
年度

S、堀場 EMAX EXSNSEMAX EX-

．走査型 X 線光電子分光分析装置

H 年度

アルバック・ファイ Quantera SXM-GS．高分解能質量分析装置（MS）
〃
〃
〃
〃

H 年度
H 年度
〃
H 年度
H 年度

日本電子
日本電子
日本電子
日本電子
島津

GCmateJMS−
AMSUN （K ）JMS­T LPAXIMA­Resonance．液体クロマトグラフ

H 年度
H 年度

Agilent
島津

MSnano LC．フーリエ変換核磁気共鳴装置（FT-NMR）
内訳： MHzMHz
MHz
固体測定補助装置付（ MHz）

H 年度
H 年度
〃
〃

日本電子
日本電子
日本電子
日本電子

JNM ECA（ MHz）JNM ECX P （ MHz）
JNM ECA（ MHz）
固体測定補助装置付（ MHz）

．電子スピン共鳴装置（ESR）

H 年度

日本電子 JES FA．誘導結合プラズマ発光分析装置（ICP-AES）

H 年度

堀場 JOVIN YBON ULTIMA．走査型プローブ顕微鏡システム（SPM）

H 年度

日立ハイテクサイエンス
高精度大型プローブ AFM
L
環境制御ユニット AFM
E

H
H
H
H
H
H

NAC FS
島津製作所 HyperVision HPV- A
NAC ILS
コダック HSNAC MEMECAM GXNAC DGニコン LAIRD ASH
セキテクノトロン SC
TEC
カンテル社 TwinsUltra （レーザー）オックスフォードレーザー社
ES ．-NI
（カメラ）
日本レーザー社 VPP- D（プロセッサ）．超高速度現象解析システム
内訳：超高速度撮影装置〃
光増幅光学装置
高速度ビデオ装置〃
パルスジェネレータ
熱画像解析装置〃
PIV システム
〃

年度
年度
年度
年度
年度
年度
〃
H 年度
H 年度
〃
〃

〃

―

―

LC

．紫外可視分光光度計（UV-Vis）
フーリエ変換型赤外分光光度計（FT-IR）
顕微・反射型赤外分光光度計（顕微 IR）
In Situ フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）
顕微・接触型赤外分光光度計
旋光計

H
H
H
H

年度
年度
年度
年度
〃
H 年度

パ−キンエルマー ラムダ
パーキンエルマー Spectrum
日本分光
Plus
メトラー・トレド ReactIR F-GU
米国 SensIR Technologies 社 IlluminatIR日本分光 P日本分光 P-．円二色性分散計（CD）

H 年度

日本分光 J-．有機微量元素分析装置（CHN）
オートサンプラー
硫黄分析ユニット

H 年度〃〃

J・Science・Lab JM
J・Science・Lab JMA
J・Science・Lab JMSUP

．顕微レーザーラマン分光システム

H 年度

日本分光 NRS-．熱分析システム（DSC、 TMA、 TG/DTA）
レオメーター（AR-G Ⅱ KG）
動的粘弾性測定装置（DMA Q
KG）

H 年度
H 年度
〃

エスアイアイ EXSTAR
TA・インスツルメント AR-G KG
TA・インスツルメント DMA Q
KG．フェムト秒ファイバーレーザー
テラヘルツ分光走査型顕微鏡

H 年度
H 年度

アイシン精機 フェムトライト BS- -YS
オザワ THz-TDS． 次元物質微細構造解析システム
内訳：X 線マイクロ CT スキャン
フロー式粒子像分解析装置
粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置
デジタルマイクロスコープ

H 年度
〃
〃
〃

東洋テクニカ SKYSCAN-GUMalvern 社 FPIA〃
ゼータサイザーナノ
ライカマイクロシステムズ DVM．蛍光寿命測定装置（Tau）
絶対 PL 量子収率測定装置（QY）
分光蛍光光度計（FL）

H 年度
〃
〃

浜松ホトニクス Quantaurus-Tau
浜松ホトニクス Quantaurus-QY
日本分光 FP-．波長分散型蛍光 X 線分析装置（XRF）

H 年度

Bruker AXS S TIGER kW．その他
超音波洗浄器
ミクロ天秤

H 年度
H 年度

BRANSONIC
Sartorius MC【医学地区】

H ． 現在
品

名

納入年度

規

格

．核磁気共鳴分光装置（NMR）
内訳： MHz
MHz

H 年度
〃

Bruker Biospin AVANCE Ⅲ
Bruker Biospin AVANCE Ⅲ．超高輝度 X 線回折装置

H 年度

Rigaku FR-E SuperBright．電子スピン共鳴装置（ESR）

H 年度

Bruker Biospin EMXmicro．機器配置図【柳戸地区】機器

名

質量分析装置（MS）

メーカー・型番

室 名

島津 AXIMA ResonanceA

日本電子 JMS-T

B

LP（AccuTOF LC-plus）

日本電子 JMS-

C

日本電子 GCmate ⅡD

日本電子 JMS-AMSUN
液体クロマトグラフ

フーリエ変換核磁気共鳴装置（FT-NMR）

場 所

（K- ）

E

島津 nanoLC

A

アジレント MS-LC

B

日本電子 JMN ECX-p

F

日本電子 JMN ECA-・固体

G

日本電子 JMN ECAレオメーター

TA・インスツルメント AR-G KG

動的粘弾性測定装置

TA・インスツルメント DMA Q

顕微フーリエ変換赤外分光光度計（顕微 IR）

日本分光

フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）

パーキンエルマー Spectrum

熱分析システム（DSC、TG/DTA、TMA）

SII EXSTAR――

Plus、IRT-

H
KG

I
J
K

円二色性分散計（CD）

日本分光 J-

顕微・接触型分光計

センサーテクノロジーズ Illuminat IR

P

L

プローブ式分光計

メトラートレド ReactIR

M

F-GU

紫外可視分光光度計（UV-Vis）パ−キンエルマー ラムダ

N

分光蛍光光度計（FL）

日本分光 FP-O

絶対 PL 量子収率測定装置（QY）

浜松ホトニクス Quantaurus-QY

P

蛍光寿命測定装置（Tau）

浜松ホトニクス Quantaurus-Tau

Q

フロー式粒子像分析装置

マルバーン FPIA-

R

精密天秤

ザルトリウス MC

R

粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置

マルバーン ゼータサイザーナノ ZS

旋光計

日本分光 P-

顕微レーザーラマン分光システム

日本分光 NRS-

有機微量元素分析装置（CHNS）

J-Science Lab JM /JAM

透過型電子顕微鏡（TEM）
デジタルマイクロスコープ
ガラスナイフ作製器
超ミクロトームST/JMSU /JMR

U

日本電子 JEM-

V

日立製作所 H-W

ライカマイクロシステムズ DVM三慶科学メッサー C

X

ライカガラスナイフメーカー EM
ライカ ULTRACUT-UCT

走査型電子顕微鏡（N-SEM）

日立製作所 S-

走査型電子顕微鏡（FE-SEM）

日立製作所 S-

エネルギー分散型 X 線分析装置

堀場製作所 EX-

高分解能電界放出型走査電子顕微鏡

日立製作所 S-

エネルギー分散型 X 線分析装置

堀場製作所 EX-N

Z
a

ネオオスミウムコーター

メイワフォーシス NE-

ダイヤモンドワイヤーソー

メイワフォーシス DWS

イオンスパッター

日立製作所 E-

スパッタコーター

POLARON SC

イオンミリング装置

日立製作所 E-

ディンプルグラインダー

ガタン MODEL

Y

b

、E-

c

N

精密イオンポリッシング装置

ガタン MODEL

超音波ディスクカッター

ガタン MODEL

真空蒸着装置日立製作所 HUS- GB

d

スパッタコーター

メイワフォーシス SC

カーボンコーター

メイワフォーシス CADE-EHS

e

走査型プローブ顕微鏡システム（SPM）

日立ハイテクサイエンス AFM

誘導結合プラズマ発光分析装置（ICP-AES）

堀場製作所・JOBIN YVON ULTIMA

L、AFM

マイクロ波加熱試料分解システム

CEM MDS-

電子スピン共鳴装置（ESR）

日本電子 JES-FA

波長分散型蛍光 X 線分析装置（XRF）

Bruker AXS S TIGER-MA kW

E

f
g
h

ビード作成装置

Katanax K Prime Electric Fluxer

粉砕機

伊藤製作所 MC- A

走査型 X 線光電子分光分析装置

アルバック・ファイ Quantera SXM-GS

j

X 線マイクロ CT スキャン

SKYSCAN SKYSCANk

テラヘルツ分光走査型顕微鏡

オザワ THz-TDS

フェムト秒ファイバーレーザー

アイシン精機 フェムトライト BS- -YS

超高速度撮影装置

NAC FS

熱画像解析装置

セキテクノトロン SC

超高速度撮影装置

i

-GU

l

STEC

島津製作所 HyperVision HPV- A
NAC HS--

PIV 測定装置

日本レーザー Visi Vector

超高速度撮影装置

NAC MEMRCAM GX-

熱画像解析装置

ニコンサーマルビジョン LAIRD ASH

その他：実体顕微鏡、レーザー照明装置、錠剤成型機、油圧プレス

―

―

セミナー室

m

【医学地区】
機器

核磁気共鳴分光装置（NMR）

名

メーカー・型番

場 所

Bruker Biospin AVANCE Ⅲ

A

Bruker Biospin AVANCE Ⅲ

B

電子スピン共鳴装置（ESR）

Bruker Biospin EMXmicroC

超高輝度 X 線回折装置

Rigaku FR-E SuperBright

D

―

―

．機器紹介【柳戸地区】．大型電子顕微鏡
当分野には、 台の透過型電子顕微鏡および 台の走査型電子顕微鏡が設置されている。
Ⅰ） 次元透過型電子顕微鏡（TEM）
当分野に設置されている電子顕微鏡（日本電子 JEM、日立 H）は、高分解能観察、電子
線回折、フィルムを用いずに CCD カメラに像が撮影（フィルムでの観察可能）を行うことが出来る。
日本電子 JEMは、STEM による観察、EDX による元素分析、対象を 次元で観察できる D
トモグラフも可能である。また、分解能も高く、STEM 像も CCD で撮影可能であり、EDX ではホ
ウ素より重い元素なら分析可能である。医学・生物科学および材料科学における試料の総合的分析が可能になっており、下記のような分析が日常的に行われている。
）日本電子 JEM-

、日立 H-

日本電子（透過像観察（TEM））（機器分析室 、 ）

日立 H-

JEM-

生物材料および非生物材料の超薄切片を 倍から 万倍に拡大し、内部の微細構造を観察することができる。分解能は、 ． Å（格子像）から ．Å（点観察像）である。加速電圧は kV まで上げることが出来、いろいろな種類の試料が使用可能である。透過型電子顕微鏡は電子を透過して観察する装置であるから、電子が透過するくらいの厚さまで試料を薄くすることが前処理として重要である。この前処理用の設備も備えている。また、試料の観察は蛍光板上に投影された像を見て行い、記録したい像は写真フィルムで撮影する。撮影した後は現像・定着等行い、ネガフィルムを得る。これ
らの操作には若干の熟練を要する。生物材料の場合には、通常、切片を種々の金属で染色して観察す
るが、染色操作を避けたい場合は、走査透過像（STEM）機能により、無染色の切片を明視野像として観察することもできる。また、傾斜角度を変えることにより、準超薄切片からステレオ電子顕微鏡
写真を作製することも可能である。さらに生きた細胞の内部構造を調べるためのフリーズエッチングや生体膜の内部構造を調べるためのフリーズフラクチャーも可能である。切片作製のための超ミクロ
トーム（機器分析室 ）および真空蒸着装置（機器分析室 ）も分野に設置してある。
TEM で可能な観察方法には、通常の明視野像、試料によって散乱された電子線のみを結像させる
暗視野像、さらに電子線を絞って試料に走査して像を得る走査透過像（STEM）等がある。試料が結――晶質であれば、結晶からのブラッグ反射を結像させると電子線回折像が得られ、これは結晶相の同定や結晶方位の決定などに用いられる。JEMでは、実像と回折像がよく調和するようにコンピュータで制御されている。
）（機器分析室 ））堀場製作所 EX― （X 線分析装置（EDX）
試料に電子ビームを当てると、試料中の元素から特性 X 線が放出される。この X 線のエネルギー
をシリコン検出器で分光し、スペクトルを得ることで含まれる元素の分析を行うことができる。STEM像、TEM 像を観察しながら希望の部位に電子線を絞って照射し、その部位の点分析を行ったり、絞った電子線で試料を走査して面分析を行うことができる。また、フィルム上に STEM 像と、元素の分布を重ね合わせるなどいろいろな表現方法が可能である。
）Gatan Model （ディンプルグラインダー）（機器分析室 ）セラミックス、半導体などの透過電子顕微鏡観察用の薄片試料作成のために用いる。試料表面をダ
イアモンドペーストあるいはアルミナペーストで研磨し、球面状の窪みを作成することができる。主として、イオンミリング処理の前処理に用いる。通常、最小厚さ部分が 〜 μm まで研磨が可能であるが、注意深い操作により μm まで薄くすることが可能である。
）Gatan PIPS- （精密イオンポリッシング装置）（機器分析室 ）主としてセラミックス、半導体などの透過電子顕微鏡観察用試料の作成の最終処理に用いられる。
あらかじめ数十 μm 以下の厚さにした試料表面に、高真空中で加速されたアルゴンイオンを照射し、試料に穴を開ける。この時、イオンビームをある角度で照射すると、穴のエッジ部分が数十〜数百 nmの厚さとなり、透過電子顕微鏡観察が可能となる。当分野に設置されている Gatan PIPS- は同時に加工できる試料数は 個であるが、加工スピードが著しく向上した。酸化物の試料でも数時間でTEM による観察が可能な状態である。
Ⅱ）走査型電子顕微鏡（SEM）
当分野に設置してある走査型電子顕微鏡は、日立製作所製 S、Sおよび SN である。
Sは、電界放出型電子銃（FEG）を備えた装置であり、高輝度・高分解能観察が可能で、EDXによる元素分析も可能な機種である。SN は、ESED や反射電子検出器を備えており、 Pa の低真空度での観察や無蒸着観察ができる機種である。
）日立 S（電界放出型電子顕微鏡）（機器分析室 ）この電子顕微鏡は冷陰極電界放出型電子銃を備えた装置であり、加速電圧が ．〜 kV の範囲で可変可能であり、倍率が 〜 ， 倍、分解能が ． nm（ kV）および． nm（ kV）である。高輝度電子銃であり、低加速電圧例えば kV でも高分解像を得ることが可能である。また低加速電圧では、無蒸着観察できる試料もある。さらに装備されている EDX は炭素からの分析が可能なタイプであり、定性・定量分析はもちろん、画像をパソコンに取り込んで組成像との合成も可能である。この SEM はすべてパソコンで制御できるタイプであり、撮影した像もデジタル情報として得られる。操作上注意すべき点は、EDX の X 線取り込み窓が非常に薄く、微粒子でさえ容易に破損の原因となることであり、試料を本体に挿入する前にはエアーブローワーで微粒子を取り除くことを励行する。また、電子銃近傍は非常に高い真空度に保つ必要があり、試料も前もって十分脱気する必要がある。

――

）日立 SN（低真空電子顕微鏡）（機器分析室 ）この電子顕微鏡は通常のタングステンヘアピンフィラメントを備えた装置であり、加速電圧が ．〜 kV の範囲で可変可能
で、倍率が 〜 ， 倍、二次電子像分解能は ． nm（高真空モード、加速電圧 kV）、反射電子像分解能は ． nm（低真空モード、加速電圧 kV）である。この電子顕微鏡の特徴は、低真空 Pa（約 torr）で試料の観察が可能なことである。含水量が少ない試料では、そのまま試料室に入れて無蒸着での観察が可能である。この観察には 環境 SED、 ESED または反射電子線検出器を用いる。生体試料はもちろん、ポリマーや通常の状態ではチャージアップが甚だしいものの観察を得意としている。
また試料室も大きく、観察範囲は × cm と広い。さらにパソコンによる自動化が進んでおり、初心者でも容易に鮮明な画像を得ることが可能である。また、この電子顕微鏡は高真空では普通のタン
グステンフィラメントの電子顕微鏡としても十分な能力がある。通常のタングステンフィラメントに必要な飽和点の検出やバイアスなどもすべて自動化されている、非常に使い勝手の良い装置であり、電子の加速電圧は kV 以下から kV まで広い範囲で使用可能である。
）日立 S（電界放出型電子顕微鏡）（機器分析室 ）より性能と使い勝手が向上した装置であり、以下にこの装
この電界放出型電子顕微鏡は、S―置の特徴を示す。
． kV で ． nm、 kV でも nm（リターディング機能を使うと ． nm）の高分解能．信号検出器が対物レンズの上下に各一個有り、 次電子線や反射電子線の信号の組合せが可能．試料の出し入れがボタンスイッチ（レバーを操作する必要がない）．試料の X-Y 移動および回転の 軸が電動
．Sより EDX 用有効素子面積が大きい。
これらの特徴を利用することで、非常に良い画像を撮影可能である。例えば、検出器や 次電子線と反射電子線を選択すること
で、エッジ効果がほとんど無い像を得ることが出来る。
リターディ
ング機能を使えば分解能が高くなるだけでなく、高電圧での電子線照射で問題になる試料のダメージも大幅に軽減できる。また、試料室はターボ分子ポンプで排気しており、液体窒素のアンチコ
ンタミネーショントラップを併用して清浄な雰囲気で観察が出来る。試料台は mmφ のネジでセットできるが、ワーキングディ
スタンスが小さく、背の高い試料は観察できないこともある。
）日立 E（イオンミリング装置）（機器分析室 ）このイオンミリング装置は、イオンガン中でアルゴンガスを放電・イオン化し、高電圧を印加してイオンを引き出して試料に衝突させ、研磨する装置である。試料の一部は遮蔽板で保護し、この遮蔽板によってきれいな断面の形成が可能になる。また、研磨速度も、ガラスやシリコンなどでは 時間にμm、イオンシニング装置より格段に大きいミリングレートが得られる。また、研磨された面は非常に平滑である。
．材料電子状態解析装置：X 線光電子分析装置（ESCA、XPS）
当分野にはアルバック・ファイ Quantera-SXM-GS の表面分析装置が設置されている。表面分析では、固体表面の最表面の数原子層についての化学組成分析が可能となる。X 線光電子分光分析（XPS）――

は、ESCA とも言われ、表面分析の中でも最もひろく使用されている分析法の一つである。超高真空中で Al- α 線あるいは Mg- α 線といった軟 X 線を試料表面に照射した時に試料表面からでる光電子の結合エネルギーをエネルギー・アナライザーで測定する。光電子ピークの結合エネルギーと強度から、元素の同定、定量分析の他、結合エネルギーの微妙なシフトから化学状態分析ができることが特徴である（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis、ESCA）。XPS の応用範囲は、高分子、触媒、半導体、電子材料といった様々な工業製品など多岐にわたり、今日必要不可欠な装置となっている。表面分析法で分析できる深さは ．〜 nm ほどであることから、走査電子顕微鏡に取り付けられたエネルギー分散型 X 線分析装置（SEM-EDX）やフーリエ変換赤外分光分析装置（FT-IR）と比べて試料の極表面だけの化学組成を分析するのに適している。極表面の情報しか得ることができな
いので、Ar イオンを照射によって表面をエッチングして測定することを繰り返すことによって、深さ方向で化学状態がどの様に変化するのかを追跡することもできる。
） アルバック・ファイ Quantera-SXM-GS （走査型 X 線光電子分光分析装置）（機器分析室 ）X 線源：分光された Al- α 線／測定モード：XPS（ESCA）（微小領域、線分析、面分析）
X 線の照射径を 〜μm で可変し、走査して試料表面に照射することが可能
標準試料台
× mm（試料厚さ＜ mm）
加熱・冷却測定．高分解能質量分析装置（MS）
質量分析装置は、有機化合物の同定に不可欠である。試料分子をイオン化させて生じる分子イオン
やフラグメントイオンを測定する。
当分野に設置されている装置では、分析に必要な試料の量は数ナノグラムである。試料は、直接、間接、ガスクロマトグラフィー（GC）等で導入され、主に、電子衝撃（EI）法、化学イオン化（CI）
法、高速原子衝突（FAB）法でイオン化される。
以下に示す 種類の装置が設置されている。化合物の種類や測定の目的別に機種を選択することができる。
）日本電子 JMS-MStation （二重収束）（機器分析室 ）【仕様】
測定質量範囲： 〜 ， ダルトン（加速電圧 kV で ， ）／
分解能： ， ／試料導入；直接、間接、GC（LC）／イオン源：EI、CI、FAB／測定モード：低分解能測定、高分解能測定、正・負イオン／その他：リンクトスキャン）日本電子 JMS-AMSUN ／GI（K ）（四重極型）
（機器
分析室 ）
【仕様】
測定質量範囲： 〜 ， ダルトン／分解能：＞ ， ／
試料導入：GC／イオン源：EI, CI／測定モード：低分解能測定――）日本電子 GC Mate Ⅱ（GCMS システム）（機器分析室 ）【仕様】
測定質量範囲： 〜 ， ダルトン（加速電圧 ． kV）、 〜 ，ダルトン（加速電圧 ． kV）／分解能： ， ， ， （コンピュータコントロール 段切り替え）／試料導入：直接導入、GC/
イオン源：EI, CI, FAB／測定モード：低分解能測定、正、負イオ
ン検出可）日本電子 JMS-T LP（AccuTOF LC-plus）（機器分析室 ）【仕様】
測定質量範囲： 〜 ， ダルトン（加速電圧 ． kV）／分解能： ， ／試料導入；直接、間接、GC（LC）／イオン源：ESI、DART／測定モード：
低分解能測定、高分解能測定、正・負イオン検出可）島津 AXIMA-Resinance（機器分析室 ）【仕様】
試料導入；直接、／イオン源：MALDI／測定モード：MS 測定、MS/MS
測定
amol；質MS 測定：質量範囲 m／z ― ， ；分解能＞ ， ；感度
量精度 ppm 外部標準
amol；質量精度 ppm
MS/MS 測定：質量範囲 m／z ― ， ；感度
外部標準．液体クロマトグラフ（HPLC）（機器分析室 ））アジレント MSLC
アジレント MSLC は、検出器として、紫外可視光分光検出器（ 〜nm）、蛍光検出器（ 〜nm）、示差屈折率検出器（屈折率 ． 〜 ． ；室温＋ 〜 ℃以上の範囲で一定に設定可能）を備えている。これらの検出器を使いこなすことによって、ほとんどの有機物の高感度検出が可能になる。また、HPLC と質量分析計とを接続することにより、流出物の連続質量分析が可能である（LC-MS）。
HPLC 本体は、次のような部分から成り立っている。
コントロールモジュール、制御 PC 及びソフト
ミクロデガッサ（溶媒中のガスを取り除き泡が出ないようにする）
バイナリーポンプ（高圧 液混合によってグラジエントを作り． 〜 ml／min の流量を調節できる）
カラム恒温槽（カラム温度を室温、− 〜 ℃以上の範囲で一定に保つ）
フラクションコレクター（サンプルを分取する）
HPLC で物質の分離を成功させるには、カラムの選択が重要である。
現在の HPLC においてはそのカラムでの分離モードとしては次の 種類が主に適用され、分析用と――分取用がある。
⑴ 順相クロマトグラフィー⑵ 逆相クロマトグラフィー⑶ サイズ排除クロマトグラフィー⑷ イオンクロマトグラフィー
この中で、特に頻繁に使われるのは逆相クロマトグラフィーである。
）島津 nano LC
ア ジ レ ン ト MSLC は、検 出 器 を 持 た な い た め、島 津
AXIMA-Resinance とペアで使用される。

．フーリエ変換核磁気共鳴装置（FT-NMR）
現在、核磁気共鳴（NMR）は分子の構造や物性を知る最も重要な分析法の一つで、有機化学，物
理化学のみならず農学、医学などの生命科学の研究にも広く使われている。さらに、天然物化学への寄与、医療分野での NMR イメージング（MRT 断層映像）などでも話題になっている。
物質を磁場の中に置いたとき、 H、 C といった原子の原子核の状態はいくつかのエネルギー準位に分裂し、これに共鳴周波数のラジオ波を照射することでその準位間の遷移が起こる。その遷移エネ
ルギー（すなわちラジオ波の共鳴周波数）は原子核の電子状態により微妙に異なっており（これを化学シフトという）。このことから各々の原子の状態、あるいはその原子を含む原子団（置換基）の化
学的性質を知ることができる。
超電導磁石による高磁場の実現、フーリエ変換法およびコンピュータなどの進歩により、ラジオ波
パルスによる測定が可能になり、種々の対象物を容易にかつ高精度に分析することが可能になった。
当分野には、次の 種の FT-NMR が設置されている。
）日本電子 ECA- （ MHz）
（機器分析室 ）通常測定（ H、 C、DEPT、COSY など）はもとより、パルス磁場勾配法（PFG）を用いることにより、効率的な 次元の測定や HMBC、
HMQC、TOCSY、DOSY を含むインバース測定などのいろいろな測定手法を実施することができる。当分野でも最高峰の機種であり、高い分解能を有している。
超伝導マグネット 基 準 磁 場： ． T／ボ ア 径： mm／プ ロ ー ブ：
オートチューン mm FG／TH チューナブルプローブ／観測核（プロー：− 〜＋ ℃ブ）
： H、 F、 N〜 P／温度可変範囲（プローブ）――

）日本電子 ECX- P（ MHz）
（機器分析室 ）上述の ECA- と同様に用いられている機種であり、こちらもいろい
ろな測定手法を実施することができる。
超伝導マグネット基準磁場： ． T／ボア径： mm／プローブ：オートチ ュ ー ン mm FG／TH チ ュ ー ナ ブ ル プ ロ ー ブ／観 測 核（プ ロ ー：− 〜＋ ℃ブ）
： H、 F、 N〜 P／温度可変範囲（プローブ））日本電子 ECA- （ MHz）
（機器分析室 ）通 常 測 定（ H、 C、DEPT、COSY、HMBC、HMQC、差 NOEなど）のみならず、パルス磁場勾配法（PFG）を用いることにより、効率的な 次元の測定、各種多核の測定、温度可変測定も非常に簡便に測定できる。また、固体 NMR 測定ユニットが装備され、固体
化学、生体高分子分野にも応用可能である。
固体 NMR 測定ユニット（NMCPM）／プローブ： mm 径、CP／MAS プローブ／観測核（プローブ）： H、 N、 Si〜 P．電子スピン共鳴装置（ESR）（機器分析室 ）電子スピン共鳴（Electron Spin Resonance；ESR）装置は，試料の形状（液体、気体、固体）に影響されることなく、非破壊で、選択的にフリーラジカルを測定できる唯一の手段である。ESR の測定対象は、不対電子（unpaired electron）であるため、不対電子を持つ物質はすべて測定可能である。鉄や銅などの金属イオンは、古くからそれらを含む錯体の構造解析が行われてきたが、これらの金属イオンを含むタンパク質も測定可能であり、酵素などの生体試料の構造機能解析に係る研究にも広く用いられるようになった。特に、これらの酵素の一部が生体内で作り出す活性酸素の研究も近年盛んに行われている。この分野で確立されたフリ−ラジカル測定の技
術は、光触媒効果の評価、ソノケミストリー、ダイオキシン分解などの環境関連分野でも利用されるようになっている。また、忘れてはならないのが格子欠陥というタイプの不対電子で、半導体ウェハ
やガラスファイバーなどの性能に大きく寄与することから、半導体材料の開発にも応用されている。
当分野の機種は、日本電子製 JES-FA シリーズのもので、フルコンピュータコントロール／Windows オペレーションの最新の ESR 装置である。従来の ESR 装置で、共振周波数を探し、フェーズとカップリングアイリスをマイクロ波のパワーを変えながら調整するのは、ある程度の慣れが必要でしたが、JES-FA では、ジャストカップリングのためのマイクロ波調整は AUTOTUNE ボタン
ひとつで完了できる。また、Windows オペレーションの画面において、スペクトル取りこみ画面とデータ処理画面のシンプルに構成されている。取りこみ画面では、ESR 測定条件のほか、連続測定−自動保存、測定温度設定（温度可変ユニットはオプション）、積算その他の取り込み条件を各ウィンドウから設定できるようになった。
JES-FA の基本的な仕様は次のようになる。
spins／ ． mT（
kHz 磁場変調にて最大出力mW）・感度： ×・分解能： ． μT 以上（ kHz 磁場変調にて空洞共振器内 × ． mm）
・磁場安定度短 期
× − または ． μT 以上
長 期
× − または ． μT 以上――

．誘導結合プラズマ発光分析装置（ICP-AES）（機器分析室 ）電子材料、セラミックス、超伝導材料等の先端材料や生体試料中に存在する微量元素、水、土壌、大気など環境中に存在する元素を解明することが、物質の諸性質を研究する上でしばしば必要となる。誘導結合プラズマ発光分析法（ICP-AES）は、このような目的に対して有用である。この方法では多元素を同時に極微量から高濃度までの広い濃度範囲にわたって定性的ならびに定量的に分析することができる。
ICP では、高周波の誘導コイルを使用してアルゴンガス流中に ， 〜 ， K の温度に加熱されたアルゴンイオンを作る（誘導結合プラズマ、ICP）。その高温プラズマが原子の励起を促進し、測定感度を向上する。そのため、測定条件を変更することなしに、 ppb 以下の極微量から ， ppm
またはそれ以上の濃度範囲にある元素を検出可能である。また、高い温度の励起源を用いることで、ほとんどすべての化合物をその構成元素に分解することができるため、他の原子スペクトル法で問題となっていた共存物質の影響や、分子種由来のバックグランドの影響を大幅に低減することができる。
観測される発光スペクトルの波長から試料中に存在する元素を特定ができ、その発光強度はその元
素の原子数に比例する。それゆえ、個々の波長で光を検出することによって試料の定性分析を、その強度を測定することによって分析対象元素の定量分析を行うことができる。ICP-AES では、ほとん
どの金属元素およびホウ素、炭素、ケイ素、リン、硫黄などのいくつかの非金属元素を含めた 以上の元素を一斉に定性・定量分析が可能である。
当分野には、以下の ICP-AES 装置に加え、試料の調製に必要な超純水の製造装置ならびに試料を分解して液体試料にするためのマイクロ波加熱試料分解装置が設置されている。
）堀場 Jobin Yvon ULTIMA
高周波電源部：周波数 ． MHz，出力 ．〜 ． kW
測定波長範囲： 〜nm
付 属 装 置：超音波ネブライザー、水素化物発生装置、フッ化水素酸試料用トーチ、有機溶
媒導入用トーチ、高塩濃度用トーチ）マイクロ波加熱試料分解システム（CEM、type MDS）
）純水製造装置（東洋製作所、Advantec RFD NB）．走査型プローブ顕微鏡システム（SPM）（機器分析室 ）走査型プローブ顕微鏡（SPM）は，測定試料と探針間に働く
原子間力またはトンネル電流を検出することにより，試料の表面のミクロな部分の形状，摩擦などの情報を得るものである。当分野の走査型プローブ顕微鏡は日立ハイテクサイエンスの AFM
L および AFM
E で、試料の大きさはそれぞれ、 インチ（ ． cm）Φ× mm（厚さ）程度、 mmΦ× mm（厚さ）まで対応可能である。ユニットの交換により、原子間力顕微鏡（AFM）、走査型トンネル顕微鏡（STM）、摩擦力顕微鏡、電気化学 AFM・STM、マイクロ粘弾性 AFM（VE-AFM）などの測定が可能であり、温度可変（− 〜 ℃）および真空下で測定できる設備を備えている。
本システムは装置制御とデータ処理を行うプローブステーショ
ンおよび 台の測定ユニット、高精度大型プローブ顕微鏡ユニット AFM
L と 環 境 制 御 型 ユ ニ ッ ト AFM
E か ら な る。
AFM 測定など多くは両方のユニットで測定可能だが、電気化学――

AFM・STM、真空中および温度制御には AFM
E を用いる必要がある。それぞれ、光学顕微鏡を備え、装置の調整、試料の位置合わせが容易にできる。データ処理部は高速フーリエ変換（FFT）
を始めとする各種のフィルタおよび画像解析プログラムをもち、視覚に訴える 次元画像を作成することができる。
【測定モード】コンタクト AFM、液中コンタクト AFM、電流同時測定 AFM、表面電位顕微鏡、DFM（ダイナミックフォースモード、サイクリックコンタクトまたはノンコンタクトモード AFM 測定）、液中
DFM、STM、電気化学 AFM、電気化学 STM、VE-AFM（マイクロ粘弾性測定モード）、FFM（摩擦力顕微鏡）、LM-FFM（横振動摩擦力顕微鏡）．超高速度現象解析システム
本システムでは、ナノ秒（ns）オーダーまでの自然界の様々な超高速度現象、たとえば稲妻の伝播
過程、材料の破壊過程、乱流の発生過程、さらにはミクロなレベルでの半導体中の電子―正孔反応などを、光もしくは熱によって、あるいはフォトルミネセンス現象を通してリアルタイムで追跡し、解析することができる。大きく分けて高速度撮影カメラ・ビデオシステムと時間分解フォトルミネセン
ス・蛍光分光光度計の つのシステムから構成されている。
Ⅰ）高速度撮影カメラ・ビデオシステム（セミナー室、持出可））NAC ウルトラナック標準セット、島津製作所 HyperVision HPV- A（超高速度撮影装置）， 〜 ， ， fps（frame per sec、したがって時間分解能は ． ms〜 ns）、 〜 枚のフ
レーミング撮影および ns／mm〜 μs／mm の掃引速度でのストリーク撮影が可能。フレーミング撮
影時、露出時間を各フレームごとに ns〜 μs の範囲で ns ステップで設定可能。撮影フレーム
間隔は ns〜
μs の範囲で ns ステップで任意に設定可能。レンズはニコン F マウント。撮影はポラロイドフィルムを使用。
）コダック・エクタプロ HS- 、NAC MEMECAM GX- （高速ビデオ装置）
白黒で、フルフレーム × の画素数では ， fps（したがって時間分解能はμs）まで、
分割フレームにすることで最高 ， fps（ × 画素時、時間分解能は μs）まで撮影可能。撮影枚数は ， （ ， fps 時に ． 秒間の現象撮影が可能）〜 ， 枚（ ， fps 時に ． 秒間の現象撮影が可能）。GP-IB で外部コンピュータにデータダウンロード可、Tiff format で変換保存可能。NTSC で出力することができる。C マウントまたはアタッチメントを介して F マウントのレンズが装着可能。 の光増幅光学装置、 のレーザー照明装置と組み合わせて使用することにより，高速な現象を高輝度で撮影することが可能。
）NAC ILS（光増幅光学装置）
直径 mm、最大光増幅率が ， 倍のイメージインテンシファイヤー。外部同期信号に同期して ns〜 ． ms の範囲で ns ステップまたは DC（連続）までのゲート時間設定が可能で、ゲー
トインターバルは MHz の外部同期信号まで対応できる。また、外部信号の各パルスに対して 回までの多重露光の設定が可能。
）ニコン サーマルビジョン LAIRD ASH、セキテクノトロ
ン SC
TEC（熱画像解析装置）
撮影速度は fps、検出波長は 〜 μ（PtSi ショットキー型
IR-CCD）。画素は、H ×V （シャッタ非動作時）、総画素数
は 万（H ×V ）。また、測定可能温度範囲は− 〜 ， ℃（フィルタにより− 〜 、 〜 、 〜 ， ℃を選択します）。レンズは F ．，
f mm（F はレンズの明るさ（の逆数）、――f は焦点距離）で、最短撮影距離 ． m となっている。出力は NTSC、RS C、NIKON 専用ディジ
タルコネクタと三種類可能。冷却方式はスターリングクーラ（つまり液体窒素などの供給は不要）
で、傾斜使用制限が液体窒素使用と比較して大幅に緩い。
）日本レーザー PIV（Perticle Image Velocimetry）システム
PIV システムは、ダブルパルス Nd：YAG レーザー、クロスコリレーションカメラおよび解析ソ
フトからなっており、高速な流れ場の速度情報を瞬時にかつ高分解能で測定することが出来る。カメラの画素数は約 ， × ， であり、非常に短い時間（＞ μsec）の間隔をあけて 枚の画像を最大Hz で撮影することが可能である。光源であるレーザーは つのフラッシュランプを持ち、任意のタイミングでカメラと同期させて作動させることができる。ユーザーは得られた画像の相互相関を解
析ソフトにより計算することで、速度場の 次元情報を得る。測定対象は、トレーサーとなるものが存在していれば気体・液体を問わず適用可能である。
この高速度撮影カメラ・ビデオシステムはすべて可搬型となっている。すなわち、測定を機器分析分野で行うのではなく、これを借り出して各自の実験室で測定することが可能である。
．分光光度計（紫外可視・赤外）Ⅰ）紫外可視分光光度計（機器分析室 ）物質による紫外及び可視領域（約 〜nm）の光の吸収は
その分子内の電子構造に依存しており、電子が基底状態における軌道から高いエネルギーの軌道へ遷移することによりおこる。例として、遷移金属化合物における d­d 遷移や二重結合を有する有機化合物の π−π＊があげられる。そのため、紫外可視吸収ス
ペクトルからそのような化合物の同定や定量が、さらには未知化合物の電子状態の検討が可能である。
当分野にはパーキンエルマー社のラムダ 型自記分光光度計が設置されている。この装置は通常の吸収スペクトルの測定以外に反射スペクトルの測定もできるように設計されている。
Ⅱ）赤外分光光度計
物質による赤外線（約 ， 〜
cm− ）の吸収はその分子の振動構造に依存しているが、 個の振動エネルギーの変化に伴って多数の回転エネルギー変化が起こるので、振動スペクトルは振動吸収
帯 として現れる。吸収の振動数あるいは波長は、振動部分の換算質量、化学結合の力の定数および原子の幾何学的配置に依存する。したがって、赤外スペクトルから分子構造を解析することができる。
）パーキンエルマー Spectrum （フーリエ変換型赤外分
光光度計）（機器分析室 ）この機器は、マイケルソン型干渉計を用いたフーリエ変換型である。このタイプの装置は、干渉計の制御にレーザー光を、またフーリエ変換という数学的操作を用いることにより高分解能、高い波数確度、高感度が実現でき、スペクトルの積算測定や高速測定が可能となり、またスペクトルの数学的な処理（加減乗除，微分積分など）が容易に行える。また HATR（水平型内部多重反射測定装置）の使用により、従来の赤外分光光度計では測定の難しかった水溶液、ペースト等についてもスペクトルを得ることができる。

――

）日本分光 FT-IR- Plus／IRT- - （顕微・反射型赤外分光光度計）（機器分析室 ）ナノ材料科学の目覚しい進歩とともに，極微小領域における新
しい表面分析技術はますます重要となっている。材料解析のための分光分析法として理想的なものは、材料の化学組成、その三次元的分布状態及び動的過程の三種の情報である。フーリエ変換顕微赤外分光法は、振動分光法が持つ高い分子識別能と空間分解能を合わせ持つ分析方法であり、材料の構造、分子間の相互作用、
化学組成などの情報を得ることができる。
FT-IR- Plus／IRT- - フーリエ変換型顕微赤外分光システ
ムは、微小、微量サンプルだけでなく、従来マクロ分析されていたサンプルも顕微鏡を使用することによってさらに容易に測定できる。そのことによって測定の応用範囲を広げている。例えば、数十 μm程度の微小・微量サンプル、あるいは不均一試料中の特定部位の非破壊測定が可能であるので、新素材、新しい微細デバイスの表面分析に威力を発揮できる。さらに、本システムは電場 ATR（全反射）ユニットを備えることにより、微小反応場におけるリアルタイムでの計測が可能で、それにより導電性ポリマーの重合過程、タンパク質結晶の成長メカニズム及び微小電極上での電気化学反応などの動的な解析が可能になる。このシステムはコンピュータの CRT 上でサンプルの測定部位を確認できる
CCD カメラシステムが内蔵され、マウス操作によりアパーチャの開口面積や角度を自由に制御できるなどの特徴を有しており、初心者でも容易に測定を行える。赤外顕微鏡ユニット IRT- は透過、反射の測定モードでの測定が可能で、特に透過性の低い金属や無機焼結体などの試料あるいは微量成分の検出に適している。また、試料ステージを 次元あるいは 次元的に駆動させ、多点のスペクトルを測定することによって、特定官能基の分布を捕らえることができる。
本システムの OS は、Windows を採用しており、優れた操作性を示すとともに、測定及び解析用
ソフトウェアも既にセンターに導入した他の機種との互換性があるので、ユーザーにとって違和感なく使用できると思われる。
）メトラー・トレド社 ReactIR（In Situ フーリエ変換
赤外分光光度計）（機器分析室 ）当分野にはが設置されている。このシステムは棒状のプローブ（φ ㎜）を溶液中に直接差込んで赤外吸収スペクトルを測定することが可能であり、連続的な測定により実際の反応条件における分子のリアルタイムな動的化学変化を定量的に可視化してくれる。例えば、化学反応中にのみ存在する微量の反応中間体の同定ができ、原料の消失速度、生成物の生成速度をピーク強度の変化から定量的に観察することができるため、化学反応機構、次数の解析に多いに役立つ。プローブ部の材質は化学的に極めて安定なダイヤモンド結晶と耐腐食性のハス
テロイであるため、ダイヤモンドの赤外吸収帯 ， 〜 ， cm− 付近の測定は原理的に制限されてしまうが、温度範囲− 〜 ℃、圧力範囲 〜 気圧、pH 範囲 〜 と極めて幅広い範囲の条件で測定できる。
）米 国 SensIR Technologies 社 IlluminatIR（顕 微・接 触型赤外分光光度計）（機器分析室 ）IlluminatIR は顕微 FT-IR の一種であり、 〜
μm の微小・
微量サンプルや不均一試料中の特定部位の非破壊測定が可能である。この装置はオリンパス社製の一般的な光学顕微鏡に IR 測定
ユニットと CCD カメラを追加しただけであり、操作方法が理解しやすいのが特徴です。この装置も接触式のダイヤモンド ATR
センサーで測定するため、赤外反射板などの特殊なステージは必――要ない（通常の反射測定モードもある）。また、測定部はダイヤモンドを通して直接目視することができるため正確な位置情報が得られ、またその映像は CCD カメラによりデジタルデータとして保存もできる。WindowsXP 上で動作する簡単なオペレーティングソフトウェアで操作できるので、初心者でもすぐに使いこなすことができる。
．円二色性分散計（CD）（機器分析室 ）分子が鏡に映った鏡像（対掌体）と重ね合わすことができない
立体配置をもつとき、その性質をキラリティーといい、その分子をキラルな分子という。この場合、この分子とその対掌体は光学異性体対をなし、一方の立体配置が 配置ならば、もう一方の配置は 配置と呼ばれる。生体物質では、キラリティーをもつ
立体配置の一方のみが実現しており、それらを構成する分子鎖が立体的にうまく折り畳まれた状態（高次構造）においてそれらの分子の固有の機能が発現する。代表的な例は、アミノ酸，ホルモン，酵素，タンパク質，核酸，糖類などに見られる。したがって、生体分子の高次構造の解明においてはこれら対掌体のうちのいずれが存在するかを決定すること（絶対構造の決定）は重要である。キラルな分子は、左回り円偏光と右回り円偏光を異なった強度で吸収する。この性質を円偏光二色性（optical circular dichroism［CD］）という。左回り円偏光と右回り円偏光に対する吸光度の差を波長に対してプロットしたものが CD スペクトルであるが、これはその分子の絶対配置に固有のパターンを示
し、従って、得られた CD スペクトルを絶対構造既知のスペクトルと比較検討することにより、未知物質の絶対配置の決定が可能となる。
【主な仕様】
光源：
波長測定範囲：波 長 精 度：W Xe ランプ（水冷方式）〜 ， nm〜nm：± ． nm； 〜
nm：± ． nm ;〜nm：± ． nm； 〜
nm：± ． nm;〜 ， nm：± nm
波 長 走 査： 〜 ， nm/min
C Dス ケ ー ル：± mdeg；±
mdeg；±
mdeg
入力チャンネル：内部入力チャンネル数： ；外部入力チャンネル数：
デ ー タ 処 理：スペクトル表示、重ね書き、四則演算、差スペクトル、ベースライン補正、微分、ピー
ク高さ・面積・半値幅算出、スムージング、
拡大縮小、ピーク検出、
データ変換（JCAMP­DX，テキスト形式）、印刷レイアウト機能（JASCO Canvas）等。
そ の 他：CD、UV スペクトルの同時測定可能；ペルチェ式温度コントローラ装備．有機微量元素分析装置（機器分析室 ）有機物は完全に燃焼分解すると，H O、CO 、N ガスになる。
元素分析装置 CHN コーダーは，試料を完全燃焼分解し，H O、
CO 、N ガスをそれぞれ熱伝導度検出器で定量して試料の構成元
素 C・H・N 量を測定するものである。その分析結果によって化合物の純度，組成などを求め，化合物の同定を行う。微量元素分
析は化学，医学，薬学及び農学などで広く利用されている。
当 分 野 は J・Science・Lab JM- 有 機 微 量 元 素 分 析 装 置 と、
オートサンプラー JMA 、硫黄分析ユニット JMSU を所有している。装置の制御及びデータ処理はコンピュータにより容易に行われ，分析データは Word や Excelなどへの貼り付けが可能である。
――

【仕 様】
測定元素：炭素、水素、窒素、または硫黄（硫黄分析キット装備）
測定範囲：炭素： 〜 ， μg；水素： ．〜μg；窒素： 〜 ， μg；硫黄： 〜 ，
測定精度：絶対誤差± ．％以内（CHN 分析）、± ．％以内（S 分析）、
試 料 量：通常 mg 前後 微量はかりにて秤量
分析能力： 〜 回／時、オートサンプラーにより 検体の連続分析が可能である
安定時間：スイッチオンから約 分で分析可能

μg．顕微レーザーラマン分光システム（機器分析室 ）レーザーラマン分光法は最も汎用性のある分光分析法の一つとして利用できる。この分光法では、照射されたレーザー光と物質との相互作用により散乱されるラマン光を測定することにより、化合物の分子種、原子団の種類、結合結晶構造、分子の配向特性などの情報が得られる。ラマン分光法は、赤外など他の分光法に比べて、サンプリングが容易、固体、液体、気体などを問わずに
非破壊分析できる、またはの分析ができるなどの特長を有する。そのため、半導体、ナノ材料、機能性有機高分子の構造解析に不可欠な手段となっている。特に最近、金属、半導体ナノ粒子の表面プラズモン現象を利用した表面増感ラマンでは、シングル DNA 分子の検出も可能となり、DNA、タンパク質などの生体分子の機能発現メカニズムに関する研究にも威力を発揮している。
従って、レーザーラマン分光技術は、ナノ材料科学と遺伝子工学の双方に有用である。
当分野は日本分光（株）製 NRSシリーズ高感度・小型顕微ラマンシステムを所有している。
装置の特徴として以下の つを挙げることができる。①励起レーザー波長はnm で、安定的に使用できるように空冷、 V の電源を使用されている。②レーザー光に対する安全対策としてクラス
Ⅰ（JIS 規格）相当でインターロックシステムに対応している。③高感度冷却型 CCD 検出器が搭載されており、nm 励起でラマンシフト値は 〜 ， cm− の範囲で測定可能である。④試料室
は、マイクロ（後方散乱）とマクロ（擬似後方散乱）の測定に両方対応でき、サンプルを設置したら、切替で両方の測定ができる。⑤内蔵 CCD とビデオキャプチャーにより試料の観察、レーザースポッ
ト、アパーチャ像を CRT モニター上に表示することができ、共焦点光学系により最小 μm までの試料を測定することができる。
本システムは、コンピュータは Windows OS で制御され、また、真空、高圧などを必要とせず、ミクロからマクロ分析まで対応できるなどの特徴がある。この装置によって、今日最も必要とされる
有機機能性材料、医薬、生体試料、半導体、環境試料などの分析や構造解析に関わる教育・研究を一層支援することができる。
（機器分析室 ）．Ⅰ）熱分析システム（DSC、TMA、TG／DTA）
熱分析は、温度変化にともなう物質・材料の構造変化を調べる方法である。当分野には、①熱の出入りを検出する示差走査熱量計（DSC）②重量変化を検出する熱重量・示差熱同時測定装置（TG／
DTA）③硬さや熱膨張、歪みを測定する熱・応力・歪測定装置（熱機械分析装置；TMA）からなる
熱分析システム EXSTAR（エスアイアイ・ナノテクノロジー製）が設置されている。

―

―

DSC

DSC

TMA/SSとTG/DTA

TMA/SS

このシステムの測定対象は、有機物か無機物であるかを問わず、低分子化合物はもとより高分子材
料や医薬品など、あらゆる分野の化合物・材料をカバーしている。本システムは、化合物や材料のさ
まざまな熱現象（融解、ガラス転移、結晶化、硬化や重合等の反応、昇華・蒸発、熱分解・脱水、熱膨張・熱収縮、熱履歴など）の解明といった基礎研究における利用はもとより、新規開発材料の熱特性の評価、生産部門での品質管理まで、幅広い研究・開発を支援。
以下に、各測定モードの使用をまとめる。
）エスアイアイ・ナノテクノロジー DSC
温度範囲：− 〜 ℃、感度： ． μW。 ℃までの通常測定では、アルミニウム製試料容器を使用。固体以外に液体も測定可能で、試料量は 〜 mg。試料容器をクリンプあるいはシールするのは、ボタン操作だけで可能な電動サンプルシーラ（左の写真）で行う。温度変化は全自動ガス冷却ユニットによりコンピュータ制御。
）エスアイアイ・ナノテクノロジー DSC
温度範囲：− 〜 ℃、感度： ． μW。生体分野におけるタンパク質溶液等の高感度測定用。冷却は液体窒素溜めクーリングカンを使用。DSCと DSC
は共通のベースユニット（コントロー
ルユニット）を使用。炉体とセンサーのみが別使用。
）エスアイアイ・ナノテクノロジー TG／DTA
水平差動方式、測定範囲：室温から℃、感度： ． μg。試料量は mg 程度。実際の測定温度範
囲に応じて、アルミニウム製、白金製、アルミナ製試料容器を使用。
）エスアイアイ・ナノテクノロジー TMA／SS
温度範囲：− 〜 ℃）エスアイアイ・ナノテクノロジー TMA／SS
温度範囲：室温〜℃と TMA／SSは 共 通 の 測 定 ユ ニ ッ ト を 使 用。炉 体 と プ ロ ー ブ の み が 別。石 英 製
TMA／SS（ ， ℃まで）およびアルミナ製膨張圧縮、針入、及び引っ張り用プローブを常備。最大試料形状
は φ× mm、TMA 範囲は± mm。

――

．Ⅱ） TA・インスツルメント AR-G KG （レオメーター）（機器分析室 ）ストレスレオメーターは応力（ストレス）を制御して主に液体サンプルの粘弾性特性を測定する装置である。米国ティー・エイ・インスツルメント社製
AR-G KG は、幅広いトルク範囲、優れた歪分解能、広範囲な周波数等の特徴を持ち、低粘度溶液、溶融ポリマー、固体、反応物質等、その応用は広く多種多様な粘弾性測定に対応できる。AR-G KG は超低ナノトルクコントロー
ルを可能にする磁気浮上方式ベアリングテクノロジーを世界で初めて採用した
レオメーターである。ドラッグカップモーター、
スマートスワップジオメトリ、
イーサネットコミュニケーション等色々な特徴がある。数々の点で改良された
AR-G KG の性能は突出しており、最も先端を行くストレスレオメーターといえる。
ペルチェプレート
最も一般的な温度コントロールオプションで、測定温度範囲が− ℃〜℃、昇温速度は最速 ℃／min、温度正確性は± ．℃。PRT（白金抵抗体
サーモメーター）がプレートの中央に設置されているため、正確な温度測定とコントロールを可能にする。
環境テストチャンバー（ETC）
加熱方法としてコンベクション（対流）／ラジアントヒーティング（放射加熱）
方式を採用している。これは特にポリマー評価に適し、パラレルプレート、
コーンプレート、ディスポーザブルプレート、と共に使用される。ETC 使用時の測定温度範囲は− 〜 ℃で、昇温速度は最大で ℃／min。また、液体窒素タンクを接続して低温測定も可能になる。
界面レオロジー測定用ダブルウォールリングシステム
界面とはある均一な気体、液体や固体の相が他の均一な相と混ざり合わずに接している境界のことであり、コロイド系で重要な特徴の一つとなる。従来より、レオメーターは物質のバルク特性を解析するために使用されてきた。医薬品、食品、パーソナルケア製品、コーティングなどの多くの物質には、明らかにレオロジー的な性質を持つ 次元的液／液、あるいは気／液相がある。ナノトルク感度を有する AR-G KG とダブルウォールリング（DWR）システムとを組み合わせることで、より高精度な界面の粘弾性測定が可能となった。
共軸円筒
非常に低粘度な溶液、安定性のない分散系測定には共軸円筒を使用する。ス
マートスワップ共軸円筒は、最速昇温速度 ℃／min で、− 〜 ℃の測定温度範囲を可能にするペルチェで温度コントロールを行う。

――

．Ⅲ）TA・インスツルメント DMA Q KG（動的粘弾性測定装置）（機器分析室 ）DMA は固体材料の粘弾性特性を測定する一般的な測定装置である。材料の弾性と粘性の両方の性質は つの正弦波（入力と出力）間の位相差で正弦波の歪（応力）と正弦波の応力（歪）を課して調べることができる。位相角は純粋な粘性材料では °、純
粋な弾性材料は °。動的粘弾性材料では変形の割合に応じて〜 °の間の位相角を示す。

右に得られたレオロジーパラメータの種類と正弦波の応答を示す。粘弾性パラメータは変形の振幅、周波数、時間、温度の関数として測定され、各々の重要な測定例が示される。

米国ティー・エイ・インスツルメント社製 Q シリーズは世界中で販売されている感度の優れた DMA である。非接触式で、応力を正確にコントロールするリニアドライブテクノロジーや低摩擦であるエアベアリング等の最先端技術を搭載している。歪は感度と分解能の高いオプティカルエンコーダテクノロジーを使って測定する。Q KG は一段と高い性能を有し、特に複合材料のような固い材料に最適である。
ガスクーリングアクセサリ
ガスクーリングアクセサリ（GCA）を使用すると− ℃の低温まで測定できるようになる。GCA は液体窒素冷却方式で正確な温度コントロー
ルを可能にする。GCA は、タンク内の液体窒素量が減少すると測定完了後に自動的に液体窒素を補充するので、液体窒素切れのために測定が途中で停止することはない。DMA Q KG は GCA を使用することにより−〜 ℃の全温度範囲にわたる測定ができる。
クランプシステム／パラレルプレートコンプレッション
サンプルを水平な台に置き、上部から別のプレートで圧縮して測定する。
低〜中弾性率の物質（発泡剤やエラストマー等）に適している。膨張または収縮の測定や接着剤のタックテストも可能である。

フィルム／ファイバー引張クランプ
サンプルは固定され、移動可能なクランプとの間で引っ張られる。オシレーション測定中は、わずかな静的応力がサンプルに加えられ、サンプルの弛みがない様に制御される。フィルムやファイバーの測定に適してい
る。

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．Ⅰ）フェムト秒ファイバーレーザー（機器分析室 ）アイシン精機 フェムトライト BS- -YS は、クラス B のフェ
ムト秒ファイバーレーザーであり、波長nm、 ， nm の波 長 同 時 出 力 で、と も に パ ル ス 幅＜
fs、平 均 出 力＞
mW、繰り返し周波数 ± MHz である。ビームの出力形式は
ともに空間出力、TEM 、縦偏光で、ビーム径はそれぞれ ．±
． mm（
nm）
、 ．± ． mm（ ， nm）で あ る。電 源
は商用 AC V のみ、冷却水等は不要で、レーザーヘッドと制御装置のみで動作する。基本的に調整箇所と消耗品が無く、メンテナンス・フリーである。寸法はレーザーヘッドが × × mm、制御装置が × × mm で、質量は合計約 kg と小型で可搬である。同期信号出力端子（SMA）
より、レーザー繰り返し周波数に同期した電気パルス信号が出力されている。リモートコントロール
コネクタを介して、レーザー出停止、インタロック、レーザー出射状態のモニターができる。
．Ⅱ）テラヘルツ分光走査型顕微鏡（機器分析室 ）この装置で発生・検出する電磁波の周波数帯域は、未開拓領域と呼ばれるテラヘルツ THz（直線偏光）である。これは、電波と赤外線との中間であるため、双方の特徴を合わせ持っている。
すなわち、電波のように紙やプラスチックなどを透過し、光のよ
うに鏡やレンズで取り扱うことができる。電波より波長が短い
分、イメージングにおける空間分解能を期待できる。さらに、材料や試薬などのテラヘルツ帯における吸収スペクトルを計測に用いることができる。
オザワ THz-TDS の特徴を以下に記す。標準的には透過型のテラヘルツ分光走査型顕微鏡であるが、光学系の配置と制御ソフトウェアによって、空間分解の要／不要、透過型／反射型の計測ができる。具体的には、試料によって、空間分解しない／ 次元走査／ 次元走査と透過／反射が選択できる。光学系の配置を変更する際にはレーザーの精密な調整（＜ μm）が必要となるが、その為のレー
ザーのアライメントモジュールが用意されている。
クラス B のレーザーを用いているため、安全面には十分注意する必要がある。また、光学部品を汚損しない様にしなければならないが、それらにさえ留意すれば、容易にテラヘルツ波を扱うことの出来る装置である。
． 次元物質微細構造解析システム
Ⅰ）東陽テクニカ SKYSCAN-GU（X 線マイクロ CT スキャン）（機器分析室 ）工業材料・食品・生体試料・有機材料・軽金属等のサンプルの次元内部構造を非破壊・高分解能で観察できるマイクロ CT ス
キャナである。SKYSCAN-GU 型は撮像の拡大プロセスにおいてサンプルステージと X 線カメラが同時に移動する最新の設計アーキテクチャを採用したシステムですので、従来の X 線 CTと比較して、数倍の速さでスキャンを実行でき、最高空間分解能は μm 以下を達成する。測定手順は非常に簡単で、サンプルを試料台にセットし、倍率を決め、その透過像が 度または 度回転した時に測定範囲からはみ出ないことを確認すれば、あとは測定開始のコマンドをクリックするのみである。得られたデータの再構成は標準装備の NRecon ソフトウェアか高速再構成ソフトウェアの Instarecon により短時間で行うことができる。Instarecon ソフトウェアを使用すると K× K のデータが約 秒で再構成可能であり、再構成されたスライスデータは BMP、TIF、JPG 等のフォー
マット及び数値データフォーマットで保存できる。定量解析ソフトウェアも充実しており、CTAnalyzer を用いると、空隙、パーティクルの分布、体積や表面積計算を行うことができる。また、
つの直交象限を同時に表示する Data Viewer では任意の断面情報を観察でき距離を測定出来る。
――

さらに 次元表示ソフトウェアの CT-Volume、CT-Vox により測定結果の 次元表示イメージやビデオイメージを作成することも可能である。SKYSCAN-GU には標準ステージの他に、冷却ステー
ジ、加圧・引っ張り試験が可能な各種ステージも用意されている。
Ⅱ）マルバーン FPIA（フロー式粒子解析装置）（機器分析室 ）画像式で粒度分布を測定するこの装置は、これまで利用されてきた粒度分布測定装置とは異なり、粒子画像から粒子形状や径に関する情報を出す装置である。大きさと形の情報を 次元で解析することにより、これまでにない粒子の解析が可能となる。また個々の粒子の情報を計測するのみならず、多量の粒子を一度に測定することができるので、統計的信頼性を確保できる。測定範囲
は ． μm〜
μm で、レンズの交換により ． μm〜μmの範囲の粒子を測定が可能である。また、暗視野コンデンサーを使用することで輪郭が不明確な画像へ対応出来る。 回の測定で、最大約 万個の粒子を短時間（約分）で測定し、連続測定や結果の合算も可能である。
Ⅲ）マルバーン ゼータサイザーナノ（粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置）（機器分析室 ）レーザー散乱光を用いて粒子径を測定するこの装置は、散乱光検出技術を利用した各種の測定原理によって、ナノサイズ粒子の粒子径測定、ゼータ電位測定、及び分子量が 台で測定可能な装置である。各測定を組み合わせることにより構造や分子レベルでの修飾性の判断も可能である。
Ⅳ）ライカ DVM
（デジタルマイクロスコープ）（機器分析室 ）
本装置は高解像モニターが搭載され、高画質ライブ表示で観察ができる。最適な観察倍率に可変できるズーム機構で、従来の顕微鏡では難しかった、大きな対象物の非破壊検査、表面観察も容易に行える。ライカ伝統と実績の高い光学機能に、多機能な計測・解析モジュールを標準搭載したオールイ
ンワンシステムにより、 D 解析はもちろん、高度な D 解析も可能である。
．Ⅰ）浜松ホトニクス Quantaurus-Tau C- （小型蛍光寿命測定装置）（機器分析室 ）本装置は、サブナノ秒〜ミリ秒の蛍光寿命を測定する装置です。試料をサンプル室にセットし、計測ソフトウェアに数項目の指示を入れるだけの簡単操作で、高精度な蛍光寿命・PL スペクトルを短時間で測定することができる。基本的な測定ならば、わずか 秒ほどで解析結果まで導き出すことが可能である。蛍光寿命の応用は多岐に渡るが、代表的なものとして、有機金属錯体の分子内、分子間電子移動やエネルギー移動反応、有機 EL 素子の開発に欠かせない材料の蛍光やりん光寿命計測、蛍光蛋白質の FRET（エネルギー移動）、太陽電池や LED 用の化合物半導体の良否判定等がある。同じ波長でも蛍光寿命の異なる物が複数存在し、存在比率がどれほどであるかなど、より多くの情報を得ることが可能である。
特徴・フォトンカウンティング法による高感度計測
・
ps〜の時間分解能（デコンボリューションによる）・極低温（− ℃）での測定が可能（対象：溶液）・りん光計測が可能
・蛍光異方性の時間分解測定（オプション）・蛍光スペクトル測定――

・省スペース、コンパクトな設計
仕様
蛍光測定波長範囲： 〜nm
励 起 光 源：LED 光源 種類（ ， ， ， ， ， ， nm）
サ ン プ ル ホ ル ダ：溶液用（標準： mm 角セル対応）
測 定 時 間 レ ン ジ： ． ns〜 μs／full scale
り ん 光 計 測： μs〜 ms／full scale
り ん 光 励 起 波 長：（ ， ， ， ， ， ， nm）から選択
時 間 軸 チ ャ ネ ル： ， ， ， ch
総 合 時 間 分 解 能：＜ ns（IRF の FWHM において）解 析 機 能：最大 成分までの指数関数 Fitting による蛍光寿命解析、スペクトル解析- （絶対 PL 量子収率測定装置）（機．Ⅱ）浜松ホトニクス Quantaurus-QY C- ／C
器分析室 ）
本装置は、フォトルミネッセンス法により、発光量子収率の絶対値を瞬時に測定する装置である。
サンプルホルダをセットし、計測ソフトウェアに数項目の指示を入れるだけで、発光量子収率や励起波長依存性、PL 励起スペクトルなどを短時間で測定できる。基本的な測定ならば、わずか 分ほどで解析結果までを導き出すことが可能である。量子収率測定装置は、開発から研究分野における様々な分野で行われている。代表的な物に有機 EL 材料、白色 LED や FPD 用蛍光体など各種発光材料の品質向上、有機金属錯体の研究、色素増感太陽電池用色素の基礎特性の評価、生物分野における蛍光プローブの効率測定などがある。サンプルは、溶液、粉末、固体、薄膜に対応が可能で、溶液試料を
液体窒素温度に冷却する事もできる。
特長
・発光材料の絶対量子収率を測定（PL 計測）
・積分球の採用により全光束を測定
・裏面入射型冷却 CCD センサーの採用により、超高感度、高 S／N 測定
・極低温（− ℃）での測定が可能（対象：溶液）
・励起波長の自動制御
・省スペース、コンパクトな設計
・豊富な解析機能：発光量子収率測定・励起波長依存性
・発光スペクトル・PL 励起スペクトル仕様
P L 計 測 波 長 範 囲：
nm〜
nm（C
- ）
：
nm〜
nm（C
- ）
励 起 光 源：W Xe ランプ励 起 波 長：
nm〜
nm（C
- ）
：
nm〜
nm（C
- ）
バ ン ド 波 長：FWHM
nm 以下
励 起 波 長 制 御：自動波 長 分 解 能：＜ nm（C- ）／＜ ． nm（C- ）A D 分 解 能： bit、量子収率の励
ソ フ ト ウ ェ ア：発光量子収率の測定、蛍光体発光効率測定（量子収率×吸収率）
起波長依存性、発光スペクトル（ピーク波長、FWHM）、PL 励起スペクトル、
色計測（色度、色温度、演色性など）再吸収補正――．Ⅲ）日本分光 FP（分光蛍光光度計（FL）
）
（機器分析
室 ）
本装置は、光を試料に照射しエネルギーを吸収し、発光するフォ
トルミネッセンス（蛍光・燐光）を測定する装置である。また、検出感度を自動的に調整するオートゲイン、オート SCS 機能、
自動高次光カットフィルタを装備し、従来の燐光寿命測定と燐光スペクトル測定に加え、燐光による固定波長測定、定量測定、時間変化測定を行うことができる。
サンプルは、溶液、粉末、固体、薄膜に対応が可能で、溶液試料を液体窒素温度に冷却する事もできる。
仕様
光
源： W Xe ランプ
波 長 範 囲：励起側 −nm（励起）および 次光
蛍光側 −nm（蛍光）および 次光
バ ン ド 幅： ， ．， ， ， ，L ，L nm（励起）， ， ， ， ，L ，L nm（蛍光）波 長 分 解 能： ． nm（励起）、 ． nm（蛍光）（ ． nm において）
波 長 正 確 さ：± ． nm（励起）、± ． nm（蛍光）ソフトウェア：励起・蛍光スペクトル測定、定量測定、固定波長測定、時間変化測定、 D スペクト
ル測定
．波長分散型蛍光 X 線分析装置（XRF）
本装置は、粉末、薄膜、機能材料など様々な物質に X 線を照射すことにより、物質から蛍光 X 線
が放出することを利用し、物質に含まれる元素を定性・定量を行うことが可能な装置である。また、軽元素から重元素まで、固体・液体・粉体、ppb レベルまで測定が可能である。
）ブルカー・AXS 社製 S TIGER-MA kW（機器分析室 ）本装置は、ゴニオメータの角度再現性（± ． °）が良く、かつ高速であり（スキャンスピードは ， °／分）、優れた分析
精度を有する。測定可能元素は B から U であり、また試料形態
は固体・粉末・液体であることから、様々な分野で使用可能である。検量線が引けない未知試料の分析にはファンダメンタルパラ
メーターソフトウエアによる最速 分のデジタルスキャンスク
リーニング分析が可能である。
【医学地区】．核磁気共鳴分光装置（NMR）
外部静磁場に置かれた原子核が固有の周波数の電磁波と相互作用する現象（核磁気共鳴）を用い物質を分析する装置。溶液状態で測定が出来、原子レベルの分解能を持つ。医学施設には、下記の 台の NMR が設置されている。

――

）Bruker Biospin AVANCE III ＋クライオプローブ（生命科学棟
・主にタンパク質をはじめとする生体高分子の立体構造解析・運動性の解析、相互作用部位の同定等に使用可能。
・磁場強度は ．T（水素の共鳴周波数
MHz）。
・ H、 C、 N、 H 核を照射し H で高感度の測定を行う多重共鳴測定が可能。
・クライオプローブによる測定感度の飛躍的な向上により、少し前では測定が難しいと考えられていたサンプル量でも測定可能となり、測定にかかる時間を飛躍的に短縮、 倍のサンプルス
ループットを実現している。
・検出器の自動最適化が可能。
・− 〜 ℃の温度範囲で± ．℃以下の温度制御が可能。

））Bruker Biospin AVANCE III ＋クライオプローブ（生命科学棟
・主にタンパク質をはじめとする生体高分子の立体構造解析・運動性の解析、相互作用部位の同定等に使用可能。
・磁場強度は ． T（水素の共鳴周波数
MHz）。
・ H、 C、 N、 P、 H 核を照射し H で高感度の測定を行う多重共鳴測定が可能。
・クライオプローブにより測定感度は、飛躍的に向上。
・検出器の自動最適化が可能。
・− 〜 ℃の温度範囲で± ．℃以下の温度制御が可能。

）．Rigaku FR-E SuperBright（超高輝度 X 線回折装置）（生命科学棟）・回転対陰極式 Cu Ka 線光源（波長 ． Å）。
・イメージングプレート（R-AXIS VII）によるデジタルデータ取得。
・高輝度光源と高感度検出器の組み合わせにより、実験室内機でありながら〜 ．mm 角サイズのタンパク質結晶に対して ．Å
程度以上の高分解能スポットを取得可能。
・冷却窒素ガス噴き付け機構により、データ取得中の試料冷却が可能。
・タンパク質結晶に最適化されたデータ半自動取得ソフトを搭載。概ね一晩で セット分の回折デー
タが取得可能。
・データ処理は、各回折スポットの積分強度の算出までは対応可能。電子密度マップの算出について
は、実験手法に大きく依存するので要相談。
・タンパク質と阻害剤低分子化合物との複合体の構造解析などに威力を発揮。

――

．Bruker Biospin EMXmicro（電子スピン共鳴装置（ESR））（生命科学棟
磁場の影響下に置かれた試料中の不対電子は、ある特定のエネルギーを持つ（周波数の）マイクロ波を吸収し、高いエネルギー準位へと遷移する。
この現象を利用することで不対電子の検出を行うのが電子スピン共鳴である。遷移金属イオンもしくは有機化合物中のフリーラジカルの検出に用い
られる。

―

―

）

利用の手引き．機器分析分野利用の手順
利用者登録
利用予定者（利用資格については の別表 をご参照下さい。
）に機器利用講習会参加申し込み及び機器利用申請書（の別表 ）を提出していただきます。
↓
利用者講習会
測定機器を初めて使われる方には主に 月から 月にかけて行う利用者講習会を受講して頂きます。
↓
利用の申し込み
日時を機器分析分野職員に相談のうえ、測定希望日を決定いたします。
↓
装置の利用
原則として利用者が自ら測定機器を運転・操作していただきます。時間外の利用（夜間および土日）を希望する人は時間
外利用届をご提出ください。
↓
運転日誌
利用者が実際の利用時間、利用状況を測定機器に備え付けの記録簿に記入します。万一測定機器を破損した場合、あるいは異常を認めた場合はただちに機器分析分野職員に連絡してください。
↓
研究成果を公表される場合
研究結果が公表された場合は、機器分析分野の機器名を明記するとともに、その成果物（論文、報告書、特許等）を電子媒体で提出してください。生命科学総合研究支援センター年報の論文リストに掲載するとともに、機器分析分野発行の利用報告書等の資料にさせていただきます。

◇それぞれの申込み用紙は機器分析分野のホームページに掲載してあります。
◇各機器の使用の際は、装置に備え付けの簡易マニュアルをご参照下さい。
◇問い合わせ機器分析分野の利用手順に関する質問 → 機器分析分野専任教員および職員にご相談下さい。
機器分析分野の機器に関する質問（全般）→ 機器分析分野専任教員および職員にご相談下さい。
なお、利用者が機器分析分野のどの機器を利用してどのような研究を行っているかについては巻末の利用者研究論文一覧（）をご参照ください。
機器分析分野の機器の細かい測定のノウ → 機器分析分野専任教員および協力員が相談に応じま
ハウ・使用手順等す。
機器分析分野の運営に関するご意見・ご → 機器分析分野専任教員、あるいは各部局の運営委員
質問等にご連絡下さい。

．計測機器の利用に関する申し合わせ

機器分析分野（趣旨）
第 条 岐阜大学生命科学総合研究支援センター機器分析分野（以下「機器分析」という。
）に設置され、別表 に定められた計測機器（附属品を含む。以下「計測機器」という。
）の利用については、
この申し合わせの定めるところによるものとする。
（管理）
計測機器とその測定室及び測定準備室の管理は、分野長の命により機器分析職員及び各計測機器毎に定められた協力員が行う。
（利用者の資格）
計測機器を利用できる者は、別表 に掲げた利用者の資格に該当する者とする。ただし、機器分析が行う講習会を受講した者に限る。
――

（利用の申請）
計測機器を利用しようとする者は機器利用講習会参加申し込み及び機器利用申請書を分野長に提出しなければならない。
（利用の承認）第 条 分野長は、前条の申請が適当であると認めたときには、これを承認するものとする。
（変更の届出）第 条 前条の承認を得た者は、機器利用講習会参加申し込み及び機器利用申請書の記載事項に変更が生じたときは、速やかにその旨を分野長に届け出なければならない。
（利用手続）
第 条 利用に先立って、利用者は、あらかじめ利用日時を機器分析職員に相談のうえ、測定申込簿に記入し予約しなければならない。
前項の予約を変更、若しくは中止する場合は遅滞なく機器分析職員に届け出なければならない。
利用者は、測定終了後、直ちに所定の記録簿に利用の項目を記入し、室内の清掃後機器分析職員に連絡しなければならない。
（注意義務）
第 条 利用者は、計測機器の正常運用が維持されるよう万全の注意を払い、かつ測定に関する所定の操作法を厳守しなければならない。万一、異常を認めたときは、直ちに機器分析職員又は協力員に連絡しなければならない。
（経費の負担）第 条 測定経費は別表 に定める計測機器の測定料金によるものとする。なお予約時間をもって使用時間とし、超過した場合は超過時間を加算するものとする。
利用者が、故意又は過失により、装置及び測定室等に障害・破損等を引き起こした場合は、現状に復する費用を負担しなければならない。
（利用時間）
第 条 計測機器の利用時間は原則として機器分析の休業日以外の別表 に定める時間とする。ただし、必要と認められる場合はこの限りではない。
利用者が、午後 時から翌朝午前 時までの間に利用を希望する場合は、利用当日の午後 時までに必ず機器分析職員に届け出なければならない。
（利用の取消等）
第 条 利用者が、この申し合わせに違反し、又は測定機器の正常運用の維持に重大な支障を生じさせた場合、又はそのおそれのある場合は、分野長は利用の承認を取消し、又は一定期間の利用を停止することができる。
（雑則）
第 条 この申し合わせの実施に関し、必要な事項は分野長が定める。
附 則
この申し合わせは、平成
附 則
この申し合わせは、平成
附 則
この申し合わせは、平成
附 則
この申し合わせは、平成
附 則
この申し合わせは、平成
附 則
この申し合わせは、平成年 月 日から施行する。
年 月 日から施行する。
年 月 日から施行する。
年 月 日から施行する。
年 月 日から施行する。
年 月 日から施行する。
―

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別表
利用者資格
（柳戸地区）
計測機器名（略称）

利用者の資格（注 、 ）利用時間および貸出し（注 、 ）本学の職員、大学院の学生および教育学部、地域科学部 年生
月曜日〜金曜日 ： 〜 ：透過型電子顕微鏡（工学部、応用生物科学部に於いては、資格を有する 金曜日の ： から月曜日の ： 迄は原（TEM、STEM、EDX）
教員または大学院生の立ち会いのもとで ヶ月以上使 則として利用できない。
用した者）

走査型電子顕微鏡（SEM）

電子顕微鏡関連
小型機器

X 線光電子分析装置（XPS）

SEMSEM-

本学の職員、大学院の学生および教育学部、地域科学部 年生（工学部、応（EDX 付）
用生物科学部に於いては、資格を有する教員または大学院生の立ち会いのもとで ヶ月以上使
用した者）

SEM-

（N-SEM）

本学の職員、本学 年生以上

蒸 着 装 置、イ オ ン ス
パッター、ミクロトー
ム、メッサー、ディン
プルグラインダー、イ
本学の職員、本学 年生以上
オンミリング、精密イ
オンポリッシング、ス
パッタコーター、カー
ボンコーター

オスミウムコーター

本学の職員、大学院の学生および教育学部、地域科学部 年生（工学部、応用生物科学部に於いては、資格を有する教員または大学院生の立ち会いのもとで ヶ月以上使用した者）

Quantera­SXM

本学の職員、大学院の学生（ 年生に於いては、資格を有する教員または大学院生の立ち会いのもとで ヶ月以上使用した者）

JMS−

K

高分解能質量分析装置（MS）
GCmate Ⅱ

月曜日〜金曜日 ： 〜 ：

月曜日〜金曜日 ： 〜 ：

月曜日〜金曜日 ： 〜 ：

月曜日〜金曜日： 〜 ：JMS− においては、各月の 第 ・ 週
本学の職員、
資格を有する教員が認めた大学 の月火曜日を FAB イオン源の優先期間とする。
院の学生および 年生
月曜日〜金曜日： 〜 ：
月曜日〜金曜日： 〜 ：ヶ 月 の 内、第 週 か ら 第 週 を GC 測
定、第 週の月曜日から水曜日の午前まで
を EI、 DIhighmass 測 定、水 曜 日 の 午 後から 金 曜 日 の 夕 方 ま で を FAB 測 定 と す
本学の職員、
資格を有する教員が認めた大学 る。
た だ し、EI, DIhighmass 測 定・FAB 測 定
院の学生および 年生については、前の週の金曜日の午前中までに予約がない場合、引き続き第 週も GC
測定の週とする。
月曜日〜金曜日： 〜 ：AccuTOF、 AXIMA
液体クロマトグラフ 本学の職員、資格を有する教員が認めた大学院の学生（Agilent、nanoLC） および 年生――

月曜日〜金曜日： 〜 ：フーリエ変換
核磁気共鳴装置（FT­NMR）

MHz
MHz
MHz
固体（

本学の職員、本学 年生以上
MHz）

月曜日〜金曜日： 〜 ：本学の職員、大学院の学生

電子スピン共鳴装置（ESR）

本学の職員、本学 年生以上

月曜日〜金曜日： 〜 ：誘導結合プラズマ
発光分析装置（ICP­AES）

本学の職員、本学 年生以上

月曜日〜金曜日： 〜 ：本学の職員、本学 年生以上

月曜日〜金曜日： 〜 ：超高速度撮影装置（UHC）

月曜日〜金曜日： 〜 ：貸出し： 日および 週間単位で最大 週間まで延長可旧装置貸出し：最長 ヶ月（ 月〜 月）、
最長 か月（ 月〜 月）

高速度ビデオ装置（HV）

月曜日〜金曜日： 〜 ：貸出し： 日および 週間単位で最大 週間まで延長可旧装置貸出し：最長 ヶ月（ 月〜 月）、
最長 か月（ 月〜 月）

走査型プローブ
顕微鏡システム（SPM）
超高速度現象解析システム

光増幅光学装置（Ⅱ）

月曜日〜金曜日： 〜 ：貸出し： 日および 週間単位で最大 週間まで延長可本学の職員、大学院の学生およ
原則として高速度ビデオとセットで利用すび本学職員立ち会いのもと本学
ること。
年生

パルス
ジェネレータ（PG）

月曜日〜金曜日： 〜 ：貸出し： 日および 週間単位で最大 週間まで延長可原則として PG 単独の貸出しは行わない。

熱画像解析装置（TC）

月曜日〜金曜日： 〜 ：貸出し： 日および 週間単位で最大 週間まで延長可旧装置貸出し：最長 ヶ月（ 月〜 月）、
最長 か月（ 月〜 月）

PIV システム

月曜日〜金曜日： 〜 ：貸出し： 日および 週間単位で最大 週間まで延長可蛍光寿命測定装置（Tau）
蛍光分光光度計

絶対 PL 量子収率測定装置（QY） 本学の職員、本学 年生以上

月曜日〜金曜日： 〜 ：分光蛍光光度計（FL）
紫外可視分光光度計（UV­Vis）

本学の職員、本学 年生以上

月曜日〜金曜日： 〜 ：透過型
フーリエ変換型
赤外分光光度計（FT­IR）

顕微反射型
プローブ式

本学の職員、本学 年生以上

月曜日〜金曜日
： 〜 ：

顕微接触型
月曜日〜金曜日： 〜 ：円二色性分散計 （CD） 本学の職員、本学 年生以上
有機微量元素分析装置（CHNS）

月曜日〜金曜日： 〜 ：本学の職員、大学院の学生――

顕微レーザーラマン分 本学の職員、
光システム
本学 年生以上
熱分析システム（DSC、TMA、TG/DTA）

月曜日〜金曜日： 〜 ：本学の職員、大学院の学生
本学 年生は、指導教員が特に許可した者

月曜日〜金曜日： 〜 ：貸出し： 日および 週間単位で最大 週間まで延長可フェムト秒ファイバー 本学の職員、レーザー
本学 年生以上
テラヘルツ分光
走査型顕微鏡本学の職員、本学 年生以上

月曜日〜金曜日： 〜 ：X 線マイクロCT スキャン

本学の職員、博士課程（工学部に於いては博士後期課程）の学生
修士（博士課程前期）課程は指導教員が任命した研究室代表者）

月曜日〜金曜日： 〜 ：デジタルマイクロスコープ
粒子径・ゼーター電位・分子量測定装置
フロー式粒子像分析装置
本学の職員、
旋光度計
本学 年生以上
レオメーター
動的粘弾性測定装置
波長分散型蛍光 X 線分析装置
（XRF）
注
注
注
注

月曜日〜金曜日： 〜 ：

月曜日〜金曜日： 〜 ：：利注 ：利用者は、分野長が特に適当と認めた者を利用可能とする。
：いずれも大学院の学生には、医学部および応用生物科学部獣医学科の 、 年生を含む。
： ： 以降の利用希望者は「時間外利用届」を ： 迄に提出下さい。
：貸出しに際しては本学職員の立ち会いのもとに行うこと。 週間を越えてさらに貸出し利用を希望する場合は改めて申請すること。

（医学地区）
計測機器名（略称）フーリエ変換
核磁気共鳴装置（FT-NMR）

超高輝度 X 線
回折装置

電子スピン共鳴装置（ESR）

利用者の資格（注 、 ）MHz
MHz

利用時間（注 ）本学職員、センター教員および指導教員が許可した大学院生

月曜日〜金曜日： 〜 ：本学の職員、博士課程（工学部に於いては博士後期課程）の学生修士（博士課程前期）課程は指導教員が任命した研究室
代表者）
利用する前に、放射線作業従事者の講習会を受講する
こと

月曜日〜金曜日： 〜 ：本学の職員、本学 年生以上

月曜日〜金曜日： 〜 ：注 ：利用者は、分野長が特に適当と認めた者を利用可能とする。
注 ：いずれも大学院の学生には、医学部および応用生物科学部獣医学科の 、 年生を含む。
注 ： ： 以降の利用希望者は「時間外利用届」を ： 迄に提出下さい。

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別表

機器分析分野利用申請書

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別表

時間外利用

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．岐阜大学生命科学総合研究支援センター受託試験、測定及び検査等取扱要項（趣旨）
第岐阜大学生命科学総合研究支援センター（以下「センター」という。
）において、岐阜大学受
託研究取扱規則第 条の規定に基づき行う定型的な試験、測定及び検査等の受託研究（以下「試験等」という。
）の取扱いについては、この要項の定めるところによる。
（申込みの方法）
第試験等の申込みは、別紙様式第 号により行うものとする。
（受入条件）
第試験等の受入れの条件は、次の各号に掲げるものとする。
一 第 条に定める試験等の料金は原則として前納するものとする。ただし生命科学総合研究支援センター長（以下「センター長」という。
）が特別の事由があると認めた場合には後納とすることができる。
二 委託者からの申し出により試験等を中止した場合においても料金は返還しない。ただし、特別の事情がある場合には、その全部または一部を返還することがある。
次に掲げる場合には、委託者の受ける損害に対してセンターはその責任を負わない。
イ やむを得ない事由によって試験等を中止したため損害が生じたとき。
ロ 試験等を行うために提出された材料等（以下「材料等」という。
）に損害が生じたとき。
ハ 第 号の場合において、センターの機器等を使用する者の責による事由によって損害が生じたとき。
三 試験等の実施上センター長が必要と認めたときは、材料等の再提出を求めることができる。
四 材料等の搬入及び搬出は、すべて委託者が行うものとする。
五 センター長が受入れできないと判断した材料等に係る試験等については、受入れをしないことができる。
六 委託者が学内担当者の指導・立会の下で直接センターの機器等を使用する場合は、別紙様式
第 号の使用申請書を提出し、同書の確認事項を遵守し試験等を行うこととする。ただし、使用者は、センターが行う機器分析の使用に関する講習会を受講した者に限る。
（受入れ及び結果の通知）
第試験等の受入れ及びその結果の通知は、センター長の定める手続を経て行うものとする。
（秘密の保持等）
第センター及び委託者は、試験等の実施で知り得た相手方の秘密、知的財産等を相手方の書面による同意なしに公開してはならない。
測定で得られたデータを委託者が公表する場合、原則として岐阜大学名を使用することはできない。また、岐阜大学を特定できる表現も同様とする。ただし、センター長が大学名の使用を許可した場合にはこの限りではない。
（試験等の料金）
第試験等の料金は、別表のとおりとする。ただし、研究教育上センター長が必要と認めて試験等のための材料等の提供を要請した場合には料金を収納しないことができる。
試験等の料金は、岐阜大学が発行する請求書により収納する。
附 則
この要項は、平成
附 則
この要項は、平成
附 則
この要項は、平成
附 則
この要項は、平成
附 則
この要項は、平成
附 則
この要項は、平成
附 則
この要項は、平成年 月 日から実施する。
年 月 日から実施する。
年 月 日から実施する。
年 月 日から実施する。
年 月 日から実施する。
年 月 日から実施する。
年 月 日から実施する。
――

別表 試験等の基本利用料金（注 、 ）
機

器

名

数 量

料金（円）

超伝導高分解能フーリエ変換核磁気共鳴装置
H-NMR

検体

，

C-NMR

検体

，

D NMR（COSY）

検体，

その他特殊測定
電子スピン共鳴装置（ESR）

応相談
基本測定 件，その他特殊測定応相談

質量分析装置
低分解能測定検体，

高分解能測定

検体

，

時間ごと

，

検体

，

透過型電子顕微鏡（TEM）

検体，

走査型電子顕微鏡（SEM）

基本測定 件，その他特殊測定応相談

質量分析装置用液体クロマトグラフ
有機微量元素分析装置
電子顕微鏡

走査型 X 線光電子分光分析装置（Quantera）-GS（ワイドスキャンを含む、 元素まで），
その他の特殊測定

超高速度現象解析システム

応相談

検体

，

時間分解蛍光分光光度計

基本測定 件，

走査型プローブ顕微鏡（SPM）

基本測定 件，その他特殊測定

応相談

検体（ 元素まで），

元素追加ごと，透過型分光計

基本測定 件，

顕微・反射型分光計

基本測定 件，プローブ式分光計

時間ごと，

顕微・接触型分光計

時間ごと，

紫外可視分光光度計

基本測定 件，円二色性分散計

基本測定 件，検体，

顕微レーザーラマン分光計

基本測定 件，X 線マイクロ CT スキャン

検体，

粒子形状・粒子径測・ゼータ電位・分子量測定装置

基本測定 件，

デジタルマイクロスコープ

基本測定 件，

誘導結合プラズマ発光分析装置（ICP）
フーリエ変換赤外分光光度計

熱分析装置（注 ）消費税は料金には含まれておらず、別途請求する。
（注 ）前処理等が必要な場合については、別途相談の上、確定する。

―

―

機

器

核磁気共鳴装置（AVANCIII

核磁気共鳴装置（AVANCIII

名

数 量

料金（円）

型）
H-NMR

検体

，

C-NMR／ D NMR

検体

，

D NMR

検体

，

H-NMR

検体

，

C-NMR／ D NMR

検体

，

D NMR

検体

，

高分解能測定検体，型）（注 ）消費税は料金には含まれておらず、別途請求する。
（注 ）前処理等が必要な場合については、別途相談の上、確定する。

―

―

―

―

．受託試験等の手続き．受託試験等のご相談受託試験や分析のご相談がありましたら、電話等にてご連絡ください。機器分析分野の職員が適切な機器担当者をご紹介いたします。
．打合せ日の決定
担当職員と試験について打合せを行う日程を調整してください。
．試験打合せ機器分析分野にお越しいただき、担当の職員と試験内容、実施日等の打合せを行ないます。その時に試験サンプルや試験に関する資料がございましたら、一緒にお持ちください。なお、試験の内容や試験サンプルの形状によっては、試験が行なえない場合もあります。
．受託試験のお申し込み
受託試験を申し込まれる時は、依頼書にご記入いただき、利用料金をお支払いただきます。
．試験等の実施
試験等実施日には、試験サンプルをお持ち込みいただき測定に同席してください。
．データの受領
同席していただきながら得られたデータを基に担当の教職員と内容について協議し、データをお持ち帰り下さい。

――

別紙様式第 号――

別紙様式第 号

―

―

活動報告
１．機器の利用状況（柳戸施設）

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―

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―

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―

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（医学施設）

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―

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別表
平成 年度 機器分析装置登録者数（柳戸施設）

―

―

―

―

別表
平成 年度 機器分析装置登録者数（医学施設）――

．平成 年度活動状況報告．機器分析分野協力員会議＊質量分析装置（JMS- ・JMS-K ・GCmate
Ⅱ・AccuTOF）
第 回質量分析装置協力員会議
平成 年 月 日（水）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊電子スピン共鳴装置
第 回電子スピン共鳴装置協力員会議
平成 年 月 日（木）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊電子顕微鏡
第 回電子顕微鏡協力員会議
平成 年 月 日（水）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊誘導結合プラズマ発光分析装置
第 回誘導結合プラズマ発光分析装置協力員
会議
平成 年 月 日（金）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊フェムト秒ファイバーレーザー＊テラヘルツ分光走査型顕微鏡
第 回フェムト秒ファイバーレーザー・テラ
ヘルツ分光走査型顕微鏡協力員会議
平成 年 月 日（火）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊超高速度現象解析システム
第 回超高速度現象解析システム協力員会議
平成 年 月 日（火）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊X 線光電子分析装置
第 回 X 線光電子分析装置協力員会議
平成 年 月 日（金）議題⑴昨年度の議事録の確認および新任協力―員の紹介⑵講習会について⑶その他＊フーリエ変換核磁気共鳴装置
第 回フーリエ変換核磁気共鳴装置協力員会議
平成 年 月 日（金）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊走査型プローブ顕微鏡システム
第 回走査型プローブ顕微鏡システム協力員
会議
平成 年 月 日（金）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊有機微量元素分析装置
第 回有機微量元素分析装置協力員会議
平成 年 月 日（火）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊分光蛍光光度計システム
第 回分光蛍光光度計システム協力員会議
平成 年 月 日（木）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊顕微レーザーラマン分光システム
第 回顕微レーザーラマン分光システム協力員会議
平成 年 月 日（金）議題⑴昨年度の議事録の確認および新任協力員の紹介⑵講習会について⑶その他＊熱分析システム装置＊レオメーター＊動的粘弾性装置
第 回熱分析・レオメーター・動的粘弾性協
力員会議
平成 年 月 日（金）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他―

＊小型機器（IR・UV・CD・旋光計）
第 回小型機器協力員会議
平成 年 月 日（月）議題⑴昨年度の議事録の確認および新任協力員の紹介⑵講習会について⑶その他＊ 次元物質微細構造解析システム（X 線マイクロ CT スキャン・粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置・デジタルマイクロスコープ・
フロー式粒子像解析装置）
第 回 次元物質微細構造解析システム協力員会議
平成 年 月 日（火）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊超高輝度 X 線回折装置（XRD）
第 回超高輝度 X 線回折装置協力員会議
平成 年 月 日（金）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他＊蛍光 X 線分析装置
第 回蛍光 X 線分析装置協力員会議
平成 年 月 日（火）議題⑴昨年度の議事録の確認⑵講習会について⑶その他．平成 年度国立大学機器・分析センター協
議会
平成 年 月 日（金）場 所：栃木県総合文化センター 第 会議
室
当番校：国立大学法人 宇都宮大学
地域共生研究開発センター
先端計測部門議題⑴会計監査報告⑵幹事会報告⑶アンケート集計結果報告⑷国立大学法人機器・分析センター協議会の今後について
出席者；分野長 近江靖則
技術職員 沢田義治―．センター見学＊平成 年 月 日（月）
学内内覧会
＊平成 年 月 日（火）筑波大学
＊平成 年 月 日（金）愛知県立木曽川高等学校

計

名

計 名
計 名

．各種講習会及びセミナー＊講習会（別表参照）＊平成 年度
寒剤・高圧ガス取扱講習会
平成 年 月 日（水）講師 七尾 和夫 巴商会
近江 靖則 生命科学総合研究支援センター
西津 貴久 応用生物科学部
参加人数名（職員 名 学生 名）
SPM・SEM・TEM 講習会
平成 年 月 日（水）参加人数名（職員 名 学生 名）★平成 年度第 回大型精密機器高度利用公開
セミナー
平成 年度 中学生のための公開セミナー―最先端の装置で見える世界―
平成 年 月 日（月）参加人数名（保護者 名含む）
講師
高橋 周平／工学部 機械システム工学科
講師
櫻田修／工学部 機能材料工学科
講師
吉田 道之／工学部 機能材料工学科
講師
西津 貴久／応用生物科学部
講師
佐藤 節子／教育学部
講師
近江 靖則／機器分析分野★岐阜科学塾 電子顕微鏡体験（小・中学生対象）
平成 年 月 日（土）〜 日（日）平成 年 月 日（日）
参加人数
名
講師
近江 靖則／機器分析分野★平成 年度第 回大型精密機器高度利用公開
セミナー「粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置および粒子径・形状分析装置の原理および応用例の紹介」
平成 年 月 日（金）参加人数
名 （学外 名 学内 名）．
「粒 子 径・ゼ ー タ 電 位・分 子 量 測 定 装 置
ゼータサイザーナノ ZS 及び粒子径・形状―

分析装置 FPIAの原理および応用例の紹介」
松尾 亮太郎／（株）スペクトリス マルバーン事業部．
「測定実習（標準粒子を使った測定デモン
ストレーション）」松尾 亮太郎／（株）スペクトリス マルバーン事業部．生命科学総合研究支援センター機器分析分
野 見学会（希望者のみ）★平成 年度第 回大型精密機器高度利用公開
セミナー「極低温プローブの紹介および qNMR の実際」
平成 年 月 日（水）参加人数名（学外 名 学内 名）．
「極低温プローブの紹介および qNMR の実際」
江口恵二／（JEOL RESONANCE ソリュー
ションマーケティング部 販促チーム）．
「JEOL の NMR を用いた qNMR の測定（デモンストレーション）」
末松孝子／（JEOL RESONANCE ソリュー
ションマーケティング部 アプリサポート
チーム）．機器分析分野受託試験等依頼実績
ESR（ 件）UV-Vis（ 件）TEM（ 件）NMR（ 件）
蛍光寿命（ 件）レオメーター（ 件）X 線 CT スキャン（ 件）
元素分析（ 件）
計 件
．機器分析分野機関誌の原稿作成等
生命科学総合研究支援センター年報 第 号
ホームページ（http://www .gifu-u.ac.jp/~lsrc/dia）

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．利用者研究論文一覧（順不同）○原著論文：．T. Terada, T. Takahashi, H. Arikawa, S. Era, Secondary structure and thermal stability of FcαRIβchain polymorphism（L I, L V, E G）
,
,S （
）
（
: CD）
．T. Takahashi, T. Terada, T. Minami, H. Arikawa, Y. Matsuyama, S. Era, Comparative studies on
the post-translational modification of recombinant and plasma-derived human serum albumin :thiol oxidation, glycation and carbonylation,
,S （
）
（
: CD）
．T. Minami, T. Terada, T. Takahashi, H. Arikawa, Y. Matsuyama, K. Kizaki, S. Era, Comparative
studies on the heterogeneity of plasma-derived and recombinant human albumins in laboratory
）
（
: CD）
use,
, ― （
．M. Suzuki, M.Takashima­Hirano, H. Ishii, C. Watanabe, K. Sumi, H. Koyama, H. Doi, Synthesis of
C-labeled retinoic acid,［ C］ATRA, via an alkenylboron precursor by Pd（ ）-mediated rapid ,
―
（
）
（
: MS）
［ C］methylation,．E. Matsumoto, T. Makioka, S. Yamamoto, E. Yanase, and Nakatsuka, S., Establishment of methods
for analyzing sesamin and asarinin（ episesamin ）with HPLC-chiral column, and proving that）（
: NMR）
sesamin from Asiasari Radix is mixture of d, l-form.
, ― （．E. Matsumoto, T. Makioka, S. Yamamoto, E. Yanase, and Nakatsuka, S., Analysis of shikonins bychiral-HPLC and development of easy method for preparing（R）-shikonin and（S）-shikonin using
characteristic of the RS mixture in the shikonins from “Kōshikon”［the roots of Lithospermum
erythrorhizon Siebold et Zuccarini（ Boraginaceae ）］and “ Nanshikon ”（ the roots of Arnebia）（: NMR）
euchroma）,, ― （． K. Ogawa, S. Hirose, H. Yamamoto, M. Shimada, S. Nagaoka, E. Yanase, Synthesis ofoolongtheanins and their inhibitory activity on micellar cholesterol solubility in vitro,― （）（: MS, NMR, IR, UV）,．H. Nagata, Y. Sugimoto, Y. Ito, M. Tanaka, M. Yoshimatsu, Nickel-palladium-catalyzed hydroami―
nation/cyclization of sulfur-substituted , -diynes with secondary amines,,（）（: MS, NMR, IR, CHN）
．M. Yoshimatsu, Y. Ito, Metal-free reductive cyclization and isomerization of sulfanyl- , -diynes―（）（: MS, NMR, IR, CHN）
using sodium borohydride,,．Y. Ito, M. Yoshimatsu, Deuterative cylcization of sulfanyl , -diynes: complete and monodeutera―,（）:（ MS, NMR, IR,tion of functional groups on heterocycles,,
CHN）．H. Hagiwara, R. Minoura, S. Okada, Y. Sunatsuki, Synthesis, Structure, and Magnetic Property of a
New Mononuclear Iron（II）Spin Crossover Complex with a Tripodal Ligand Containing Three ,― （）（: IR, CHN）
, -Triazole Groups,,．Oka, N.; Kajino, R.; Takeuchi, K.; Nagakawa, H.; Ando, K. α-Selective ribofuranosylation of alcohols―（）:
with ribofuranosyl iodides and triphenylphosphine oxide,,（MS, NMR）．T. Takahashi, S. Yoshida, Distribution of Glycolipid and Unsaturated Fatty Acids in Human Hair.
― （
）
（
: MS）
.
,
．K. Kumabe, Y. Nishimura, S. Kambara, H. Moritomi, Kinetic study of subcritical steam gasification―（）:
of coal using calcium-based carbon dioxide sorbent,,（CHNO, TG-DTA）．M. Yamaga, Y. Masui, N. Kodama, Temperature dependence of persistent phosphorescence in Eu―（）（: UV-Vis-NIR，PL，量子収率・蛍光燐光+­ doped Ba SiO ,,――寿命測定装置）．K. Funabiki, Y. Saito, M. Doi, K. Yamada, Y. Yoshikawa, K. Manseki, Y. Kubota, M. Matsui, Tetrazole thiolate/disulfide organic redox couples carrying long alkyl groups in dye-sensitized solar―（）:（ MS, NMR,
cells with Pt-free electrodes,,
CHO）．M. Matsui, Y. Kubota, K. Funabiki, Low Melting-Point -Pyridinium Styryl Dyes,）（: MS, NMR, CHO, DSC, DG-DTA，分光蛍光 光 度 計，絶 対 PL 量 子, ― （収率測定装置）．M. Matsui, N. Tanaka, Y. Ono, Y. Kubota, K. Funabiki, J. Jin, T. Inuzuka, T. Yoshida, S. Higashijima, H. Miura, Performance of new singlerhodanineindolinedyesinzincoxide dye-sensitized solar― （）（: MS, NMR, CHO，分光蛍光光度計）
cell,,． Y. Kubota, Y. Sakuma, K. Funabiki, M. Matsui, Solvatochromic Fluorescence Properties of―Pyrazine-Boron Complex Bearing a β-Iminoenolate Ligand,,（）（: MS, NMR, CHO，分光蛍光光度計，絶対 PL 量子収率測定装置，小型蛍光寿命測定装置）．K. Funabiki, T. Komeda, K. Nishikawa, K. Yamada, Y. Kubota, M. Matsui, Commercially available
simple ionic liquids-promoted dehydrative carbon-carbon bond-forming reaction of diarylmetha―
nols and triarylmethanols with pyrroles, thiophene, furan and indoles,,（）（: MS, NMR, CHO）
．M. Matsui, Y. Kubota, K. Funabiki, Liquid -Pyridinium Styryl Dyes having Oxaalkyl Units,― （）（: MS, NMR, CHO, DSC，分光蛍光光度計，絶対 PL 量 子,
収率測定装置）．S. Biradar, Y. Shigemitsu, Y. Kubota, K. Funabiki, H. Sato, M. Matsui, Effects of the alkyl group in（dialkylamino）perfluorophenazines on the melting point and fluorescence properties,―（）（: MS, NMR, CHO, DSC，分光蛍光光度計，絶対 PL 量子収率測定装置，小,型蛍光寿命測定装置）． Y. Uematsu, T. Kakiuchi, M. Nakajima, Y. Nakamura, S. Miyazaki, H. Makino, Fatigue crack
propagation of AZ magnesium alloy under controlled humidity and visualization of hydrogen― （）:（ FE-SEM,
diffusion along the crack wake,,
EDX）．Y. Bai, M. Akita, Y. Uematsu, T. Kakiuchi, Y. Nakamura, M. Nakajima, Improvement of fatigue
properties in typestainless steel by annealing treatment in nitrogen gas,― （）（: FE-SEM, EDX）,
．M. Nakajima, Y. Nakamura, K. Suzuki, Y. Bai, Y. Uematsu, Effect of solution treatment after ni―
triding on fatigue properties in typestainless steel,,（）.:（FE-SEM, EDX）
／AZ 異種金属摩．植松美彦，柿内利文，戸崎康成，麻地剛史，渦溝ツールにより作製した A）（: FE-SEM, EDX）
擦攪拌スポット接合継手の疲労挙動，日本機械学会論文集， ― （．S. Nishida, H. Muta, and S. Kuribayashi, Effect of Gas Flow Rate on High Rate Localized Silicon
,
― （
,
）
（
: 顕微ラマン）Deposition by Jet in SiH /H PE-CVD,．T. Murai, D. Nishi, S. Hayashi, W. Nakanishi, Aromatic selenoic, selenothioic, and diselenoic acidsalts: isolation, characterization, and Se NMR spectra, together with theoretical elucidation,
― （
）
（
: MS）
,
．T. Murai, K. Yamaguchi, F. Hori, T. Maruyama, T. Reaction of selenoamide dianions with thio- andselenoformamides leading to the formation of -aminoselenazoles : photophysical and electro―
（
）
（
: MS）
chemical properties,,．T. Murai. T. Miwa, Kinetic Resolution of secondary -aryl- -cycloalkanols with phosphoroselenoyl
）
（
: MS）
chloride with a binaphthyl group,
， ― （
―

―

．K. Fukumoto, A. Sakai, T. Murai, H. Nakazawa, Transformation of RN=CHPh to R（Rʼ Si）NCH Ph
in the catalytic desulfurization of secondary thioamide with Rʼ SiH promoted by an iron complex,
（
）
（
: MS）
， ―
． T. Murai, T. Hayashi, K. Yamada, Y. Maekawa, M. Minoura Fluorinative hydrolysis of phosphorothioic acid esters with a binaphthyl group through axis-to-center chirality transfer leading―
to the formation of P-chiral phosphorothioic monofluoridic acid salts,
（
）
（
: MS）
．K. Tsuchida, K. Kudô, N. Ishiguro, Genetic structure of an introduced paper wasp, Polistes chinen―
sis antennalis（ Hymenoptera, Vespidae ）in New Zealand.
,（）．Y. Hirate, H. Tampo, S. Minoura, H. Kadowaki, A. Nakane, K. Kim, H. Shibata, S. Niki, and H. Fujiwara, Dielectric functions of Cu ZnSnSe and Cu SnSe semiconductors,）（: Raman）,: ― （．D. Murata, T. Yuguchi and H. Fujiwara, Characterization of a-Si: H thin layers incorporated into
textured a-Si: H/c-Si solar cell structures by spectroscopic ellipsometry using a tilt-angle optical― （）（: SEM）
configuration,,．Y. Tanaka, N. Matsuki, and H. Fujiwara, Characterization of a-Si: H thin layers incorporated into
textured a-Si: H/c-Si solar cell structures by spectroscopic ellipsometry using a tilt-angle opticalconfiguration,
,
― （
）
（
: SEM）．K. Sago, H. Kuramochi, H. Iigusa, K. Utsumi, and H. Fujiwara, Ellipsometry characterization ofpolycrystalline ZnO layers with the modeling of carrier concentration gradient: Effects of grain）:boundary, humidity, and surface texture,
,
: ― （
（SEM）
．Y. O. Kamatari, S. Ohta, Y. Inoshima, M. Oda, T. Maruno, Y. Kobayashi, N. Ishiguro. Identificationand characterization of a multispecific monoclonal antibody G against chicken prion protein,―（）（: NMR）,．R. P. Honda, K. I. Yamaguchi, K. Kuwata, Acid-induced Molten Globule State of a Prion Protein:
Crucial Role of Strand -Helix -Strand Segment.
pii: jbc.M―（）（: NMR）.
,,．H. Suzuki, Y. Ito, Y. Noroa, M. Koketsu, M. Kamijima, M. Tomizawa, Organophosphate agents induce plasma hypertriglyceridemia inmouse via single or dual inhibition of the endocannabinoidhy― （）（: NMR）
drolyzing enzyme（s）,,．M. Menjo, H. Tamai, H. Ando, H. Ishida, M. Koketsu, M. Kiso, GLYCOSIDATION REACTIONS―（）:
OF BENZYL-TYPE SELENOGLYCOSIDE DONORS,,（MS，NMR，旋光計）．M. Ninomiya, T. Aoki, M. Adfa, T. Yoshimura and M. Koketsu, Comparison of antitermite proper―
ties of -thioxocoumarins against Coptotermes formosanus Shiraki,,（）（: IR, NMR, MS）．T. Itoh, A. Tsuchida, Y. Muramatsu, M. Ninomiya, M. Ando, Y. Tsukamasa, M. Koketsu, Antimicrobial and anti-inflammatory properties of nostocionone isolated from Nostoc commune Vauch）（: IR, NMR, MS）
and its derivatives against Propionibacterium acnes,, ― （．H. Hara, R. Ikeda, M. Ninomiya, T. Kamiya, M. Koketsu, T. Adachia, Newly Synthesized ʻHidabeniʼ
Chalcone Derivatives Potently Suppress LPS-Induced NO Production via Inhibition of STAT ,―（）:
but Not NF-κB, JNK, and p , Pathways in Microglia,,（IR, NMR, MS）．A. Kakumu, M. Ninomiya, M. Efdi, M. Adfa, M. Hayashi, K. Tanaka, M. Koketsu, Phytochemical
analysis and antileukemic activity of polyphenolic constituents of Toona sinensis,
―

―

（
,
）
:
―
（NMR, MS）
．D. R. Garud, A. R. Jadhav, S. V. Lahore, N. M. Kahar, R. R. Joshi, R. A. Josh, M. Koketsu, First iodocyclization reaction of allene-thioureas: an efficient approach to bicyclic b-lactams.
―（）（: NMR, MS）,．H.-Ky. Lee, H. E. Song, H.-B. Lee , C.-S. Kim, M. Koketsu, L. T. M. Ngan, Y.-J. Ahn, Growth Inhibitory, Bactericidal, and Morphostructural Effects of Dehydrocostus Lactone from Magnolia sieboldii Leaves on Antibiotic-Susceptible and -Resistant Strains of Helicobacter pylori,,e（）（: NMR, UV）．T. Itoh, M. Koketsu, N. Yokota, S. Touho, M. Ando, Y. Tsukamasa, Reduced scytonemin isolated
from Nostoc commune suppresses LPS / IFNc-induced NO production in murine macrophageRAW
cells by inducing hemeoxygenase- expression via the Nrf /ARE pathway,― （）（: NMR, UV）,．大野勝也，中村浩平，高見澤一裕，活性汚泥由来微生物の生成物によるテトラクロロエチレンの）：（HPLC）
分解，環境技術， ， ― （．K. Mishiro, Takahiko Imai, S. Sugitani, A. Kitashoji, Y. Suzuki, T. Takagi, H. Chen, Y. Oumi, K. Tsuruma, M. Shimazawa, H. Hara, Diabetes mellitus aggravates hemorrhagic transformation after
ischemic stroke via mitochondrial defects leading to endothelial apoptosis,
,
（
）
（
: CD）
．M. Miyamoto, R. Hayakawa, Y. Makino, Y. Oumi, S. Uemiya, M. Asanuma, CO methanation combined with NH decomposition by in situ H separation using a Pd membrane reactor,―（）（: SEM）,○特許． S. Kagabu, M. Mitomi, S. Kitsuda, R. Horikoshi, Y. Onozaki, S. Nakamura, NITROGENCONTAINING HETEROCYCLIC DERIVATIVE HAVING -IMINO GROUP AND PEST. US（. MS, NMR, IR）． S. Kagabu, M. Mitomi, S. Kitsuda, R. Horikoshi, M. Nomura, Y. Onozaki, PEST CONTROLAGENT, CL
. AR
. AU
. AU
. MX
. CN
.
. IL
. EP
. EP
. US
. CN
.
KR
. KR
MA
（
. MS, NMR, IR）．S. Kagabu, M. Mitomi, S. Kitsuda, R. Horikoshi, M. Nomura, Y. Onozaki, Noxious organism control
agent. AU（. MS, NMR, IR）．S. Kagabu, M. Mitomi, S. Kitsuda, R. Horikoshi, M. Nomura, Y. Onozaki, Noxious organism control
agent. AU（. MS, NMR, IR）． S. Kagabu, T. Miyake, K. Yamamoto, S. Hatakeyama, THIAZOLIDINEDIONE AND PYR.
ROLIDINEDIONE DERIVATIVES, AND GERMICIDE HAVING SAME AS. WO（MS, NMR, IR）．S. Kagabu, T. Miyake,HYDROXYISOXAZOLE DERIVATIVE AND GERMICIDE CONTAINING SAME. WO（. MS, NMR, IR）○参考資料：．隈部和弘，Fischer-Tropsch 合成を経由したバイオマスおよび石炭からの代替航空燃料の製造，（）：（MS，SEM，XRF）
日本エネルギー学会誌， ， ― ，――

．機器分析分野教員の教育・研究活動等）教育活動〈工学研究科・工学部〉「機器分析特論」（選択科目、対象学生：工学研究科、 単位）（近江）「分離材料工学特論」（選択科目、対象学生：工学研究科、 単位）（近江）「機能材料工学演習第 」 （必須科目、対象学生：機能材料工学専攻、 単位）（近江）「機能材料工学演習第 」 （必須科目、対象学生：機能材料工学専攻、 単位）（近江）「機能材料工学演習第 」 （必須科目、対象学生：機能材料工学専攻、 単位）（近江）「機能材料工学演習第 」 （必須科目、対象学生：機能材料工学専攻、 単位）（近江）「機能材料工学研究」（必須科目、対象学生：機能材料工学専攻、 単位）（近江）「機器分析」（必須科目、対象学生：機能材料工学科、 単位）（近江）「卒業研究」（必須科目、対象学生：機能材料工学科、 単位）（近江）「スペクトル有機化学」（専門総合科目、対象学生：応用化学科、 単位）（犬塚）「工学基礎実験」（基礎科目、対象学生：工学部、 単位）（犬塚）「基礎化学実験」（学科共通科目、対象学生：化学・生命工学科、 単位）（犬塚）〈生命科学総合研究支援センター〉「NMR 測定ベーシックコース」（対象学生：全学）（犬塚、鎌足）「タンパク質研究ベーシックコース」 （対象学生：全学）
（鎌足）
）研究活動
〈原著論文・著書等〉．“Diabetes mellitus aggravates hemorrhagic transformation after ischemic stroke via mitochondrial defects leading to endothelial apoptosis”, K. Mishiro, Takahiko Imai, S. Sugitani, A. Kitashoji,
Y. Suzuki, T. Takagi, H. Chen, Y. Oumi, K. Tsuruma, M. Shimazawa, H. Hara,,（）.
．“CO methanation combined with NH decomposition by in situ H separation using a Pd membrane reactor”, M. Miyamoto, R. Hayakawa, Y. Makino, Y. Oumi, S. Uemiya, M. Asanuma,
―
（
）
.
,
．“An inhibitor of the adipogenic differentiation of T -L cells, yoshinone A, and its analogs, isolated from the marine cyanobacterium Leptolyngbya sp”, T. Inuzuka, K. Yamamoto, A. Iwasaki,―（）.
O. Ohno, K. Suenaga, Y. Kawazoe, D. Uemura,,．“Amdigenols E and G, long carbon-chain polyol compounds, isolated from the marine dinoflagel―
latesp.” T, Inuzuka, K, Yamada, D, Uemura,,（）.
．“Synthesis and spectral properties of perylene-rhodamine dyads with lipophilic dendritic auxilia―（）.
ries”, M. Takahashi, M. Ui, T, Inuzuka, T, Sengoku, H, Yoda,．“Performance of new single rhodanine indoline dyes in zinc oxide dye-sensitized solar cell”, M.
Matsui, N. Tanaka, Y. Ono, Y. Kubota, K. Funabiki, J. Jin, T. Inuzuka, T. Yoshida, S. Higashijima, H.
― （）.
Miura, Sol.
,．“Identification and characterization of a multispecific monoclonal antibody G against chicken
prion protein”, Y. O. Kamatari, S. Ohta, Y. Inoshima, M. Oda, T. Maruno, Y. Kobayashi, N. Ishiguro,―（）.
Protein Sci., ,〈学会発表〉（国際学会）“ Synthsis and characteristic of novel layered silicate SSA- ” , S. Takahashi, M. Miyamoto, S.
――

Uemiya, T. Ikeda, Y. Oumi, th International FEZA conference, Leipzig（Germany）, September ,.
“Influence of the seed crystal in the synthesis of silicalite membrane”, K. Ueno, A. Kazuya, M. Miyamoto, S. Uemiya, H. Negishi, T. Ikegami, Y. Oumi, th International FEZA conference, Leipzig（Germany）, September ,.
“ Long Carbon-Chain Polyols Isolated from the Marine Dinoflagellate
sp ” , T.
Inuzuka, st Joint International Seminar of Faculty of Science and Technology（Universiti Kebangsaan Malaysia）and Faculty of Engineering（Gifu University）“”, Gifu, August ,.
（国内学会）
Silicalite膜によるバイオエタノールの分離における有機酸の影響、上野恭平、根岸秀之、池上徹、宮本学、上宮成之、近江靖則、化学工学会第 回秋季大会、福岡、
年 月 日
平野智之、宮本学、近江靖則、上宮成之、山田博史、田川智彦、化学工学会第 回秋季大会、福岡、
年 月 日
GaAlMFI を用いた低級アルケン芳香族化における silicalite- 被覆が生成物選択性に及ぼす影
響、宮本学、鎌田純、近江靖則、上宮成之、化学工学会第 回秋季大会、福岡、
年 月 日
フォトリソグラフィーを用いた Pd 複合膜の作製における Pd 層の緻密薄膜化，村瀬達也、原田真吾、膜反応器を用いた脱硫灯油の水蒸気改質における予備改質触媒の性能評価、鵜飼泰成、荒川真望、宮本学、近江靖則、上宮成之、第 回石油・石油化学討論会、旭川、
年 月 日
アミン修飾メソポーラスシリカの細孔内状態と CO 吸着特性の関係，宮本学、樋口達大、近江靖
則、上宮成之、ゼオライト学会第 回ゼオライト研究発表会、東京、
年 月 日
UiO- の吸着性能に及ぼす合成条件の影響、高谷直輝、山口真代、宮本学、上宮成之、近江靖則、ゼオライト学会第 回ゼオライト研究発表会、東京、
年 月 日
新規層状ケイ酸塩の合成、高橋翔太、酒向祐斗、池田卓史、宮本学、上宮成之、近江靖則、ゼオ
ライト学会第 回ゼオライト研究発表会、東京、
年 月 日
TON 型ゼオライトの Al 分布に及ぼす有機テンプレートの影響、河村亮宏、宮本学、上宮成之、
近江靖則、ゼオライト学会第 回ゼオライト研究発表会、東京、
年 月 日
層状ケイ酸塩 HUS- の層間シリル化による新規細孔構造の構築、津野地直、結城創太、関川みゆき、佐々木優吉、近江靖則、定金正洋、佐野庸治、ゼオライト学会第 回ゼオライト研究発表
会、東京、
年 月 日
渦鞭毛藻
由来の様々な炭素鎖長から成るポリオール化合物群の構造解析、犬塚俊康、山田 薫、上村大輔、日本化学会第 春季年会、名古屋、
年 月 日
構造生物学・医学・論理的創薬拠点の必要性、鎌足雄司、第三回岐阜構造生物学・医学・論理的創薬研究会シンポジウム、岐阜、
年 月 日
異なるペプチドを認識する抗体 G の一本鎖 Fv 抗体の創製／Generation of single-chain Fv antibody G recognizing different peptides、清水翔平、鎌足雄司、丸野孝浩、小林祐次、石黒直隆、
織田昌幸、第 回日本蛋白質科学会年会、横浜、
年 月 日
タンパク質機能発現におけるキャビティの重要性／Importance of cavities for protein function、
鎌足雄司、赤坂一之、李華、第 回日本蛋白質科学会年会、横浜
年 月 日
タンパク質の構造揺らぎと機能発現、論理的創薬、鎌足雄司、第 回若手 NMR 研究会、千葉、
年 月 日
新規プリオンアプタマーの探索とその構造研究／Search for novel aptamer against prion protein
and its structural study、Tsukasa Mashima、Fumiko Nishikawa、Yuji O. Kamatari、Takashi Nagata、Satoshi Nishikawa、Kazuo Kuwata、Masato Katahira、第 回日本生物物理学会年会
（BSJ
）
、札幌、
年 月 日
抗体 G の複数の抗原を特異的に認識する機構／Mechanism of multispecific recognition of mon――oclonal antibody G 、Yuji O. Kamatari、Masayuki Oda、Takahiro Maruno、Shohey Shimizu、Yuji
Kobayashi、Naotaka Ishiguro、第 回日本生物物理学会年会（BSJ
）
、札幌、
年 月
日
抗体を用いた抗原蛋白質の揺らぎの検出／Detection of conformational dynamics of protein antigen by antibody、Shohey Shimizu、Yoshito Abe、Yuji O. Kamatari、Tadashi Ueda、Takachika
Azuma、Masayuki Oda、第 回日本生物物理学会年会（BSJ
）
、札幌、
年 月 日
プリオンの制御方法を学ぶ、鎌足雄司、桑田一夫、第 回日本生化学会大会、京都、
年 月日
Sup 天然変性領域のアミロイド構造多形形成機構の解明／Local compact structure in an intrinsically disordered protein Sup -NM determines amyloid conformation、大橋祐美子、山口芳樹、
鎌足雄司、花島慎弥、桑田一夫、田中元雅、第 回 NMR 討論会、大阪、
年 月 日
抗プリオン化合物の作用機構による分類、鎌足雄司、岐阜長崎プリオンミーティング、長崎、
年 月 日
蛋白質の構造揺らぎと機能発現、鎌足雄司、第 回鴨叡会・生命分子化学科セミナー、京都、
年 月 日）補助金関連採択状況（代表）「渦鞭毛藻の生産する巨大分子の構造解．平成 ― 年度科学研究費補助金若手研究（B）
析研究・巨大分子の機能解明へ向けて」
（犬塚）
（代表）
「低分子化合物を用いた揺らぎの制御に．平成 ― 年度科学研究費補助金基盤研究（C）
よるプリオン蛋白質の構造変換抑制」
（鎌足）
）その他
（講師等）
．平成 年度国立大学法人機器・分析センター協議会総会依頼講演（近江、宇都宮、
年 月日）．平成 年度岐阜大学生命科学総合研究支援センター公開講座講師（近江、岐阜、
年 月 日）（役員等）．ゼオライト学会幹事（近江）．日本生物物理学会分野別専門委員（鎌足）――