一般財団法人日本規格協会
産業標準案作成対象テーマの審議について
日本産業規格（JIS）の制定、改正又は廃止のための産業標準案（以下、JIS 案という。）の作成に着手するに当たっては、当会認定産業標準作成機関 JIS 案作成規程に基づき、当該 JIS 案作成対象テーマが適切であることについて、主務大臣による事前調査、及び JSA 事務局による“JIS 案の作成開始要件”を満たすことの事前確認を経て、産業標準作成委員会にお諮りすることとなっております。
つきましては、次ページ以降の JIS 案作成対象テーマについて、理由（必要性）及び期待効果、JIS 案の作成開始要件への適合状況、作成開始予定などを記載しておりますので、JIS案の作成に着手してよろしいかご審議をお願いいたします。また、産業標準作成委員会の下に JIS 素案の調査審議及び作成を行うための WG を設置することについても併せてご審議をお願いいたします。
なお、字句等編集上の修正については、産業標準作成委員会事務局に一任いただきます
ようお願いいたします。また、ご承認いただいた JIS 案作成対象テーマは、利害関係者に公表するために JIS 作成予定一覧表として JSA ウェブサイト掲載いたします。

※選定基準 3（産業標準化の利点・欠点）各コードの内容につきましては、
下記リンク先の 5～6 ページにてご確認いただけます。
「産業標準案等審議・審査ガイドライン」
URL https://www.jisc.go.jp/jis-act/pdf/shingishinsa-guideline.pdf

1制定／ 規格番号
認定 産業標準作成（制定の場合機関 委員会 改正／
廃止 は，仮の番号）
JSA

JSA

06 電 制定
子

06 電 制定
子C5954-8

C5955-4

JIS案の名称

JIS案の英文名称

光伝送用能動部品－試験及び Fiber optic active
測定方法－第８部：発光素子及 components and devices
び受光素子- Test and measurment
procedures - Part 8:
Photoemitters andphotoreceivers

制定する理由（必要性）

期待効果

光伝送用能動部品の測定方法について，JISでは、IEC
この規格を制定することによって、60747-5:1992（Semiconductor devices, Discrete devicesa) 製品の効率的な開発・製造が可能とな
and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices） り、かつ、取引の円滑化も期待できる。
から対応する部品の測定方法を包含した、JIS C 5941（光 b) 製造者や利用者間における製品の相伝送用半導体レーザ測定方法），JIS C 5945（光伝送用半 互接続性の確保に寄与することで、市場導体レーザモジュール測定方法），JIS C 5951（光伝送用 の拡大が期待できる。
発光ダイオード測定方法）及びJIS C 5991（光伝送用フォトダイオード測定方法）が対応しており、部品種別ごとに異なるJISとなっている。
一方、IECでは1997年にIEC 60747-5から光伝送用に特化した測定方法を抽出してIEC 62007-2（Semiconductor
optoelectronic devices for fibre optic system applications Part 2: Measuring methods 1997年制定 2009年改訂）を再編し、基本特性の測定方法はIEC 60747-5に残された。その後、IEC 60747-5から各部品の基本特性測定方法を包含したIEC規格として、半導体レーザ（モジュールを含む）のIEC 60747-5-4（Semiconductor devices - Part 5-4:
Optoelectronic devices - Semiconductor lasers 2006年制
定 2022年改訂）、発光ダイオードのIEC 60747-5-6（Semiconductor devices - Part5-6: Optoelctronic devices- Light emitting diodes 2016年制定 2021年改訂）、フォトダ
イオードのIEC 60747-5-7（Semiconductor devices - Part5-7: Optoelctronic devices - Photodiodes andphtotransistors 2016年制定）を再編した。
このように、IEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているとともに、IECではそれぞれの部品の測定方法について、IEC 60747-5シリーズに規定されている基本特性測定
方法とIEC 62007-2に規定されている測定方法とを共に参照する必要があり不便であった。
よって、規格利用者の不整合による混乱を避けるとともに１つの規格とすることで利便性を向上させるために、現行規格JIS C 5941，JIS C 5945，JIS C 5951及びJIS C 5991を包含し、現行IEC規格と整合した光伝送用半導体部品の測定方法を新たにJIS C 5954-8として制定する。なお、これに伴い，重複するJIS C 5941，JIS C 5945，JIS C 5951及びJIS C
5991は廃止する。

光伝送用能動部品－性能標準 Fiber optic active
光伝送用半導体レーザ関連の性能標準テンプレートに関 この規格を制定することによって、テンプレート－第４部：光伝送用 components and devices する規格として,JISでは光伝送用半導体レーザに関しては a) 製品の効率的な開発・製造が可能とな半導体レーザ及び半導体レー - Performance standard JIS C5940（光伝送用半導体レーザ通則）が,光伝送用半導 り、かつ、取引の円滑化も期待できる。
template - Part 4:Laser 体レーザモジュールに関してはJIS C5944（光伝送用半導 b) 製造者や利用者間における製品の相ザモジュール
diodes and laser modules 体レーザモジュール通則）が制定されている。対応国際規 互接続性の確保に寄与することで、市場
for fiber optic
格は,半導体レーザについてはIEC60747-5の拡大が期待できる。
transmission（Semiconductor devices,Discrete devices and integrated
circuits - Part 5: Optoelectronic devices：1992年制定,1995年修正2発行）であり,半導体レーザモジュールについてはIEC62007-1（Semiconductor optoelectronic devices
for fibre optic system applications - Part 1: Specification
template for essential ratings and characteristics；1997年
制定,2015年改訂）である。なおIEC60747-5の一部として包含されていた半導体レーザについては,2006年にIEC60747-5-4（Semiconductor devices - Part 5-4: Optoelectronic
devices - Semiconductor lasers：2006年制定,2022年改訂）に移行している。JIS C5940及びJIS C5944では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついても項目が規定されており，さらに規定値として記述すべき数値の範囲や性能の試験条件として与えるべき数値の範囲が規定（JISC5940）又は推奨値として示され（JIS C5944）ている。しかし,IEC60747-5-4及びIEC62007-1のいずれもJISとは異なり,定格及び性能について規定すべき事項だけを規定し個々の数値については規定せず,環境試験及び耐久性試
験については規定が無い。これは光伝送用部品に関する
IEC規格が，応用により個々に規定すべき性能標準が異なることから，部品ごとの性能標準テンプレートは最小限の共通事項のみを規定し，環境試験及び耐久性試験も応用ごとに異なるので個々の応用に対応した性能標準テンプレー
ト又は性能標準で規定するという体系に変わってきたことによるものである。このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混乱を避けるために新たにIEC規格と整合した性能標準テンプレートの制定が必要である。
また,半導体レーザと半導体レーザモジュールは共通事項
が多いことから，１つの規格とすることで規格利用者の利便性向上を図るため，JIS C5940及びJIS C5944の両規格の内容を包含しIEC規格と整合した性能標準テンプレートとする
こととし，JIS C5955規格群（性能標準テンプレート）における新たな規格（JIS C5955-4）として制定する。なお，これに伴い重複するJIS C5940及びJIS C5944を廃止する。

規定項目又は改正点
主な規定項目は、次のとおり。
・適用範囲
・引用規格
・用語及び定義
・発光素子測定方法
・受光素子測定方法

対応する
制定・改正 対応する国際規格番号 国際規格
選定基準1
選定基準2
選定基準3
選定基準4
選定基準5
に伴う廃止
（JIS法第2条の産業標準化（JIS法第1条の法律の（産業標準化の利（国が主体的に取り組（市場適合性に関す
及び名称
との対応
JIS
の対象）
目的）
点・欠点）
む分野の判断基準）
る判断基準）の程度
C5941:
1997，
C5945:
2005，
C5951:
1997，
C5991:
1997

IEC 60747-5-4: 2022, MOD
Semiconductor devices Part 5-4: Optoelectronic
devices - Semiconductor
lasers

第2条の該当号：
4（測定方法）対象事項：
光伝送用能動部品

法律の目的に適合し 利点：
ている。
ア，オ

JIS素案作成委員会
（WG）

作成開始
予定

－

国際規格をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月－

国際規格をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

欠点：
いずれも該当しない。

IEC 60747-5-6: 2021,
Semiconductor devices Part 5-6: Optoelectronic
devices - Light emitting
diodesIEC 60747-5-7: 1997，
Semiconductor devices Part 5-7: Optoelectronic
devices - Photodiodes
and phototransistors
IEC 62007-2: 2009,
Semiconductor
optoelectronic devices
for fibre optic systemapplications - Part 2:
Measuring methods

主な規定項目は、次のとおり。
・適用範囲
・引用規格
・用語及び定義・形状及び分類・パッケージ情報
・レーザ構造及び半導体材料
・絶対最大定格規定
・電気的及び光学的性能規定項目
・附属性能説明項目

1

C5940:
1997，
C5944:
2005

IEC 60747-5-4: 2022, MOD
Semiconductor devices Part 5-4: Optoelectronic
devices - Semiconductor
lasersIEC 62007-1: 2015,
Semiconductor
optoelectronic devices
for fibre optic systemapplications - Part 1:
Specification templatefor essential ratings andcharacteristics

第2条の該当号：
1（性能）
対象事項：
光伝送用能動部品

法律の目的に適合し 利点：
ている。
ア，ウ，オ
欠点：
いずれも該当しない。

制定／ 規格番号
認定 産業標準作成（制定の場合機関 委員会 改正／
廃止 は，仮の番号）
JSA

JSA

06 電 制定
子

06 電 制定
子C5955-5

C5955-6

JIS案の名称

JIS案の英文名称

制定する理由（必要性）

期待効果

規定項目又は改正点

対応する
制定・改正 対応する国際規格番号 国際規格
選定基準1
選定基準2
選定基準3
選定基準4
選定基準5
に伴う廃止
（JIS法第2条の産業標準化（JIS法第1条の法律の（産業標準化の利（国が主体的に取り組（市場適合性に関す
及び名称
との対応
JIS
の対象）
目的）
点・欠点）
む分野の判断基準）
る判断基準）の程度

光伝送用能動部品－性能標準 Fiber optic active
テンプレート－第５部：光伝送用 components and devices
発光ダイオード- Performance stndard
template - Part 5: Lightemitting diodes for fiber
optic transmission

光伝送用発光ダイオードの性能標準テンプレートに関する この規格を制定することによって、規格として，JISではJIS C 5950（光伝送用発光ダイオード通 a) 製品の効率的な開発・製造が可能とな則）が制定されている。対応国際規格はIEC 60747-5:1992 り、かつ、取引の円滑化も期待できる。
+AMD1:1994（Semiconductor devices, Discrete devicesb) 製造者や利用者間における製品の相and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices） 互接続性の確保に寄与することで、市場である。IEC規格ではIEC 62007-1（Semiconductorの拡大が期待できる。
optoelectronic devices for fibre optic system applications Part 1:Specification template for essential ratings andcharacteristics）が光伝送用に特化した光伝送用半導体部
品性能標準テンプレートとして1997年に制定（2015年修正版発行）されており，この中に光伝送用発光ダイオードも含まれている。
JIS C 5950では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついても項目が規定されており，さらに規定値として記述すべき数値の範囲や性能の試験条件として与えるべき数値の範囲も規定されている。IEC 62007-1ではJIS C
5950とは異なり，基本性能及び特性について規定すべき事項だけを規定し，個々の数値については規定せず環境試験及び耐久性試験については規定が無い。これは光伝送用部品に関するIEC規格が，応用により個々に規定すべき性能標準が異なることから，部品ごとの性能標準テンプ
レートは最小限の共通事項のみを規定する，及び環境試
験及び耐久性試験も応用ごとに異なるので個々の応用に対応した性能標準テンプレート又は性能標準で規定するという体系に変わってきたことによるものである。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混乱を避けるために新たにIEC規格と整合した性
能標準テンプレートの制定が必要である。JISでは光伝送用能動部品の性能標準テンプレートはJIS C 5955規格群で構成されていることから，IEC 62007-1と整合した光伝送用
発光ダイオードの性能標準テンプレートを新たにJIS C
5955規格群（性能標準テンプレート）におけるJIS C 5955-5
として制定する。なお，これに伴い重複するJIS C 5950を廃止する。

主な規定項目は、次のとおり。
・適用範囲
・引用規格
・用語及び定義・構造及び半導体材料
・パッケージ情報
・絶対最大定格規定
・電気的及び光学的性能規定項目
・附属性能説明項目

C5950:
1997

光伝送用能動部品－性能標準 Fiber optic active
テンプレート－第６部：光伝送用 components and devices
フォトダイオード- Performance standard
templates - Part 6:
Photodiodes for fiber
optic transmission

光伝送用フォトダイオードの性能標準テンプレートに関する この規格を制定することによって、規格として，JISではJIS C 5990（光伝送用フォトダイオード a) 製品の効率的な開発・製造が可能とな通則）が制定されている。対応国際規格はIEC 60747
り、かつ、取引の円滑化も期待できる。
-5:1992+AMD1:1994（Semiconductor devices, Discreteb) 製造者や利用者間における製品の相devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic
互接続性の確保に寄与することで、市場
devices）である。IEC規格では，IEC 62007-1の拡大が期待できる。
（Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic
system applications - Part 1:Specificatoin template for
essential ratings and characteristics）が光伝送用に特化した光伝送用半導体部品性能標準テンプレートとして1997年に制定（2015年修正版発行）されており，この中に光伝送用フォトダイオードも含まれている。
JIS C 5990では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついても項目が規定されており，さらに規定値として記述すべき数値の範囲や性能の試験条件として与えるべき数値の範囲も規定されている。IEC 62007-1ではJIS C
5990とは異なり，基本性能及び特性について規定すべき事項だけを規定し, 個々の数値については規定せず，環境試験及び耐久性試験については規定が無い。これは光伝送用部品に関するIEC規格が，応用により個々に規定すべき性能標準が異なることから，部品ごとの性能標準テン
プレートは最小限の共通事項のみを規定する，及び環境試験及び耐久性試験も応用ごとに異なるので個々の応用に対応した性能標準テンプレート又は性能標準で規定するという体系に変わってきたことによるものである。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混乱を避けるために新たにIEC規格と整合した性
能標準テンプレートの制定が必要である。JISでは光伝送用能動部品の性能標準テンプレートはJIS C 5955規格群で構成されていることから，IEC 62007-1と整合した光伝送用
フォトダイオードの性能標準テンプレートを新たにJIS C
5955規格群（性能標準テンプレート）におけるJIS C 5955-6
として制定する。なお，これに伴い重複するJIS C 5990を廃止する。

主な規定項目は、次のとおり。
・適用範囲
・引用規格
・用語及び定義
・パッケージ形状分類
・レーザ構造及び半導体材料
・絶対最大定格規定
・定格規定及び特性規定項目
・電気的及び光学的性能規定項目
・附属性能説明項目

C5990:
1997

2

IEC 62007-1: 2015,
MOD
Semiconductor
optoelectronic devices
for fibre optic systemapplications - Part 1:
Specification templatefor essential ratings andcharacteristics

第2条の該当号：
1（性能）IEC 62007-1: 2015,
MOD
Semiconductor
optoelectronic devices
for fibre optic systemapplications - Part 1:
Specification templatefor essential ratings andcharacteristics

第2条の該当号：
1（性能）

対象事項：
光伝送用能動部品

対象事項：
光伝送用能動部品

法律の目的に適合し 利点：
ている。
ア，ウ，オ

JIS素案作成委員会
（WG）

作成開始
予定

－

国際規格をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月－

国際規格をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

欠点：
いずれも該当しない。

法律の目的に適合し 利点：
ている。
ア，ウ，オ
欠点：
いずれも該当しない。

制定／ 規格番号
認定 産業標準作成（制定の場合機関 委員会 改正／
廃止 は，仮の番号）
JSA

06 電 制定
子

JIS案の名称

JIS案の英文名称

C61757-2-2 光ファイバセンサ－第２－２部： Fiber optic sensors –温度測定－分布型センシング Part 2-2: Temperature
measurement –Distributed sensing

制定する理由（必要性）

期待効果

規定項目又は改正点

光ファイバセンサは、国内市場への普及を鑑みると仕様や この規格を制定することによって，光ファイ 主な規定項目は次のとおり。
評価方法の統一が必要であると判断され，2022年にJIS C バセンサの製品の開発・製造が容易にな
61757（光ファイバセンサ通則）が制定された。
り，かつ，取引の円滑化も期待される。ま ・適用範囲
一方、多種多様な光ファイバセンサのうち，特に多く利用 た，国際規格と整合することにより市場の ・引用規格
されている分布型温度センサの詳細な仕様及び評価方法 拡大が期待される。
・用語及び定義
を個別規格として統一すべきとの要望が出されている。この・性能パラメータの測定のための一般試験
ような状況から、市場の状況を踏まえ、分布型光ファイバ温系
度センサの仕様並びに試験及び測定方法について、
・性能パラメータの測定方法
IEC61757-2-2:2016を基に、JISを制定する必要がある。

3

対応する
制定・改正 対応する国際規格番号 国際規格
選定基準1
選定基準2
選定基準3
選定基準4
選定基準5
に伴う廃止
（JIS法第2条の産業標準化（JIS法第1条の法律の（産業標準化の利（国が主体的に取り組（市場適合性に関す
及び名称
との対応
JIS
の対象）
目的）
点・欠点）
む分野の判断基準）
る判断基準）の程度－

IEC61757-2-2:2016
Fibre optic sensors Part 2-2: Temperature
measurement Distributed sensing

IDT－
第2条の該当号：
法律の目的に適合し 利点：
4（試験方法、測定方法） ている。
ア、ウ、エ、オ、ク、
コ
対象事項：
分布型光ファイバ温度セ
欠点：
ンサ
いずれも該当しない。

JIS素案作成委員会
（WG）

作成開始
予定

国際標準をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

制定／
認定 産業標準作成
機関 委員会 改正／
廃止
JSA

JSA

06 電 改正子

06 電 改正子

規格番号C5916-3

C5952-12

JIS案の名称
光ファイバ形分散補償器

JIS案の英文名称
Fiber optic chromatic
dispersion compensatorusing single-mode
dispersion compensating
fiber

改正する理由（必要性）

期待効果

規定項目又は改正点

対応する
制定・改正 対応する国際規格番号 国際規格
選定基準1
選定基準2
選定基準3
選定基準4
選定基準5
に伴う廃止
（JIS法第2条の産業標準化（JIS法第1条の法律の（産業標準化の利（国が主体的に取り組（市場適合性に関す
及び名称
との対応
JIS
の対象）
目的）
点・欠点）
む分野の判断基準）
る判断基準）の程度

この規格は，シングルモード光ファイバを用いた光伝送に 国内の通信事業者が使用している光ファ 主な改正点は次のとおり。
－
おいて屋内環境条件で使用するシングルモード分散補償 イバ通信システム用の光部品と同様の使 ・環境及び耐久性特性において、使用の実
光ファイバを用いた受動波長分散補償器（以下，光ファイ 用環境に対応した光ファイバ形分散補償 態に即して“光ファイバクランプ強度（ねじり）
バ形分散補償器という。）の定格，光学特性並びに環境及 器の調達が容易となり，調達コストの削試験”の規定を追加する。
び耐久性特性について規定したもので、IEC 61753-141 減，システムの拡張や災害・保守時の追 ・環境及び耐久性特性において、耐寒性及-2:2011を基に2013年に制定したものである。
加調達が迅速に行え，情報通信ネットワー び耐熱性の試験条件の挿入損失及び波長
光ファイバ通信システムは、情報化社会を支えるインフラ クの安定かつ発展的な運用が期待でき 分散について、より適切な結果を得るため、として必要不可欠なものであり，その長延化のために使用 る。
試験前後の測定に加えて「試験中に、1h以する光ファイバ形分散補償器は，ICT社会のさらなる発展
下の間隔で測定する。」旨を追加する。
に伴い，今後も多量導入が予想されている。光ファイバ形
・環境及び耐久性特性において、光ファイ分散補償器の個別規格としては，2011年に第1版として発バクランプ強度の軸方向引張り，横方向引行されたIEC 61753-141-2の光ファイバ形分散補償器の個張り及び繰返し曲げの試験条件の挿入損失
別規格は特に改訂はされていないが，環境及び耐久性特及び波長分散について、試験前後の測定性の試験方法で基にしている規格の更新に伴い，試験条に加えて「試験中及び試験前後に測定す件の規定内容と技術的な差異が生じている。具体的には，る。」旨を追加する。
耐環境性及び耐久性特性の試験項目として，現行規格には“光ファイバクランプ強度（ねじり）試験”がないために追加の必要がある。また，耐環境性及び耐久性特性の試験
項目［耐寒性，耐熱性，光ファイバクランプ強度（繰返し曲げ），光ファイバクランプ強度（軸方向引張り）及び光ファイ
バクランプ強度（横方向引張り）］において，それぞれの試
験の基としている規格とにおいて、挿入損失の試験条件に差異が生じている。このような状況から，これら技術的差異を解消し、技術の実態に即した内容とするために、JISを改正する必要がある。

光伝送用能動部品－パッケー Fiber optic active
この規格は、高速光伝送装置に用いられる同軸形高周波 この規格を改定することによって、ジ及びインタフェース標準－第 components and devices コネクタ付半導体レーザ送信モジュールの物理的インタa) 製品の効率的な開発・製造が可能とな
１２部：同軸形高周波コネクタ付 - Package and interface フェースの互換性を確立することを目的として、その仕様に り、かつ、取引の円滑化も期待できる。
半導体レーザ送信モジュール standards - Part 12:
ついて規定したものである。対応国際規格IEC 62148-12 b) 製造者や利用者間における製品の相Laser transmitters with a （Laser transmitters with a coaxial RF connector）が、互接続性の確保に寄与することで、市場
coaxial RF connector
Amendment1を取り込むためにEd. 1.0:2004からEd.
の拡大が期待できる。
1.1:2022に改訂され、体系見直しによる引用規格（IEC60169-15からIEC 61169-15へ）の入替え及び対象とする同軸形高周波コネクタ付半導体レーザ送信モジュールのデ
バイス分類上の区分変更（タイプ5からタイプ7へ）があった。国内においても、国際規格との整合性を図るとともに、技術の実態に即して改正する必要性があることから、このJISを改正する必要がある。

主な改正点は、次のとおり。
－
・電気的インターフェースの同軸コネクタにおいて、引用しているIEC 60169-15を、国際規格との整合のためIEC 61169-15に改める。
・分類において、同軸形高周波コネクタ付半導体レーザ送信モジュールがタイプ1からタ
イプ6のいずれにも当てはまらないことが分かったため、「タイプ5」から「タイプ7」に改める。

1

IEC 61753-141-2:2011, MOD
Fibre optic
interconnecting devices
and passive components- Performance standard- Part 141-2: Fibre
optic passive chromatic
dispersion compensatorusing single-mode
dispersion compensating
fibre for category C Controlled environments

第2条の該当号：
1（性能）IEC 62148-12:2022,
IDT
Fibre optic active
components and devices- Package and interface
standards - Part 12:
Laser transmitters with acoaxial RF connector

第2条の該当号：
1（種類、寸法、構造）

対象事項：
光ファイバ形分散補償器

対象事項：
光伝送用能動部品

法律の目的に適合し 利点：－ている。
ア、イ、ウ、エ、オ、キ

JIS素案作成委員会
（WG）

作成開始
予定

国際標準をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

国際規格をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

欠点：
いずれも該当しない。

法律の目的に適合し 利点：ている。
ア、イ、ウ、オ
欠点：
いずれも該当しな
い。

－

制定／
認定 産業標準作成
機関 委員会 改正／
廃止

規格番号

JIS案の名称

JIS案の英文名称

改正する理由（必要性）

期待効果

規定項目又は改正点

対応する
制定・改正 対応する国際規格番号 国際規格
選定基準1
選定基準2
選定基準3
選定基準4
選定基準5
に伴う廃止
（JIS法第2条の産業標準化（JIS法第1条の法律の（産業標準化の利（国が主体的に取り組（市場適合性に関す
及び名称
との対応
JIS
の対象）
目的）
点・欠点）
む分野の判断基準）
る判断基準）の程度

JIS素案作成委員会
（WG）

作成開始
予定

JSA

06 電 改正子

C5953-5

光伝送用能動部品−性能標準−第５部：半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生回路
内蔵ＡＴＭ－ＰＯＮ用光トラン
シーバ

Fiber optic active
この規格は，電気信号と光信号との相互変換に用いられる この規格を改正することによって、components and devices- 光トランシーバの性能標準について規定している。特に， a) 製品の効率的な開発・製造が可能とな
Performance standards- ITU-T Recommendation G.983.1及びIEEE 802.3で通信の り、かつ、取引の円滑化も期待できる。
Part 5 : ATM-PON
仕様が規定されている非同期転送モードパッシブ光ネット b) 製造者や利用者間における製品の相transceivers with LD
ワーク (ATM-PON）システムにおいて用いられる光トラン 互接続性の確保に寄与することで、市場シーバを対象としている。この規格の対応国際規格IECの拡大が期待できる。
driver and CDR Ics
62149-5の2020年改訂の際，分類の変更のため，箇条4の分類の記載が削除となるなど，現状ATM-PONシステムに用いる光トランシーバの性能標準にかかるIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じており，JISにも技術的内容の変更が必要となっている箇所が生じている。このような状況から，近年の技術の実態に即した内容とするため，このJISを改正する必要がある。

主な改正点は、次のとおり。
－
a) 分類において、電気インタフェースと光イ
ンタフェースとの種類の組合せによって分類できる光トランシーバのタイプについて五つのタイプを例示していたが，対応国際規格の改訂に合わせて光トランシーバのタイプについて定義しているJISを記載するのみとした。
b) 引用規格において、廃止されたJISは削除し，それに代わり制定されたJISを記載した。

IEC 62149-5 : 2020,
MOD
Fibre optic active
components and devices- Performance standards- Part 5: ATM-PON
transceivers with LD
driver and CDR ICs

第2条の該当号：
法律の目的に適合し 利点：－
1（種類、構造、品質、性 ている。
ウ、オ
能）
欠点：
対象事項：
いずれも該当しな
光伝送用能動部品
い。

国際標準をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

JSA

06 電 改正子

C5954-2

光伝送用能動部品－試験及び Fiber optic active
この規格は，JIS C 5954規格群の一部であり，電気信号と この規格を改正することによって、
測定方法－第２部：ＡＴＭ－ＰＯ components and devices 光信号との相互変換に用いられる光トランシーバの光電気 a) 製品の効率的な開発・製造が可能とな
Ｎ用光トランシーバ- Test and measurement 特性の試験及び測定手順について規定している。特に， り、かつ、取引の円滑化も期待できる。
procedures - Part 2:
ITU-T Recommendation G.983.1で通信の仕様が規定され b) 製造者や利用者間における製品の相ATM-PON transceivers ている非同期転送モードパッシブ光ネットワーク (ATM互接続性の確保に寄与することで、市場
PON) システムで使用する光トランシーバを対象としていの拡大が期待できる。
る。この規格の対応国際規格IEC 62150-2の2010年改訂の際，ネットワーク拡大により光トランシーバの試験をより精緻に実施する必要が生じたため、7.3.3 平均出力の測定方法におけるパワーメータの飽和入力が平均出力の2倍以上を必要とする変更があった。このため，現状ATM-PONシステ
ムに用いる光トランシーバの光電気特性の試験及び測定
手順にかかるJISとIEC規格との対応関係に不整合が生じている。このような状況から，近年の技術の実態に合わせ，対
応国際規格との整合を図るために，このJISを改正する必要がある。

主な改正点は、次のとおり。
－
・平均出力の測定方法において，対応国際規格に合わせて，出力光平均パワーを測定する際に使用する光パワーメータの飽和光
パワーについて出力光平均パワーの2倍より高いことを必要とする旨の規定を追加する。

IEC 62150-2:2010,Fibre MOD
optic active components
and devices - Test andmeasurement procedures- Part 2: ATM-PON
transceivers

第2条の該当号：
4（試験方法）

国際標準をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

2

対象事項：
光伝送用能動部品

法律の目的に適合し 利点：
ている。
ア、オ
欠点：
いずれも該当しな
い。

－

制定／
認定 産業標準作成
機関 委員会 改正／
廃止
JSA

JSA

06 電 改正子

06 電 改正子

規格番号C5965-1

C5965-2-1

JIS案の名称

JIS案の英文名称

改正する理由（必要性）

期待効果

規定項目又は改正点

対応する
制定・改正 対応する国際規格番号 国際規格
選定基準1
選定基準2
選定基準3
選定基準4
選定基準5
に伴う廃止
（JIS法第2条の産業標準化（JIS法第1条の法律の（産業標準化の利（国が主体的に取り組（市場適合性に関す
及び名称
との対応
JIS
の対象）
目的）
点・欠点）
む分野の判断基準）
る判断基準）の程度

光ファイバ接続デバイス及び光 Fiber optic
この規格は，シングルモード（1310nmゼロ分散形）光ファイ この規格を改正することによって，最新の 主な改正点は、次のとおり。いずれも改訂さ －受動部品－シングルモード光 interconnecting devices バ用光学互換標準について規定されている。この規格に 引用規格、構成等を参照することが可能と れた対応国際規格との整合を図るためであ
ファイバ用光ファイバコネクタ光 and passive components は、この規格群の構成、光学互換標準の等級、光学互換 なり，規格の運用がさらに促進され、取引 る。
学互換標準－-Connector optical
標準で必要な規則、基準点に対する光ファイバコア位置、 の円滑化及び取引の合理化・効率化を図
第１部：１３１０ｎｍゼロ分散形光 interfaces for single主要パラメータ及び適切な試験方法が含まれており、2005 ることができる。
・表題の変更ファイバ用光学互換標準の通則 mode fibers 年に第1版として発行されたIEC 61755-1（以下，対応国際・概要（箇条0.1）国際規格にあるモード（現行名称：光ファイバコネクタ Part 1: Optical interfaces 規格という。）を基に技術的内容及び対応国際規格の構成
フィールド径の幅を追加。信頼性標準から
光学互換－第１部：シングル
for dispersion unshifted を変更することなく2009年に作成された。
信頼性技術報告へ表現の変更。
モード（１３１０ｎｍゼロ分散形）光 fibers その後、近年の光ファイバの技術の進歩、種類の増加によ
・引用規格（箇条2）反射減衰量、挿入損失
ファイバ用光学互換標準の通 General and guidance
り対応国際規格が2022年に第2版として改訂され、引用規の検査及び測定に関する国際規格の追加
則）(現行名称：Fiber optic 格の追加、光学性能に影響を及ぼすキーパラメータにモー・用語及び定義（箇条3）不要な用語及び定ドフィールド径のミスマッチの追加、多心光ファイバコネクタ
義の削除。
connector opticalinterfaces - Part 1:への対応、及び文章全体についても見直しが行われてい・構成（箇条4）表1の適用及びパラメータ例
Optical interfaces forる。よって対応国際規格の最新版に合わせたJISに改正すの内容を変更。
ることで規格の整合を図る必要がある。
・光学互換標準の等級（箇条7）基準点に対
single mode nondispersion shifted fibers する光ファイバコア位置の分類分けを追加。
General and guidance)
・主要パラメータ（箇条8）図2、図3、表4及びそれに係る文言の削除。

IEC 61755-1 ED2:2022, IDT
Fibre optic
interconnecting devices
and passive components- Connector opticalinterfaces for singlemode fibres - Part 1:
Optical interfaces fordispersion unshiftedfibres - General andguidance

第2条の該当号：
1（構造、等級、性能）

光ファイバ接続デバイス及び光 Fiber optic
受動部品－シングルモード光 interconnecting devices
ファイバ用光ファイバコネクタ光 and passive components
学互換標準－第２－１部：１３１０ - Connector optical
ｎｍゼロ分散形直角ＰＣ端面光 interfaces for singleファイバの接続パラメータmode fibers - Part 2-1:
（現行名称： 光ファイバコネクタ Connection parameters
光学互換－第2-1部：シングル of dispersion unshifted
モード直角PC端面光ファイバ光 physically contacting
fibers - Non-angled
学互換標準の指針）（現行名称：Fiber optic
connector opticalinterfaces - Part 2-1:
Optical interface
standard single mode
non-angled physicallycontacting fibers）

IEC 61755-2-1:2022,
IDT
Fibre optic
interconnecting devices
and passive components- Connector opticalinterfaces for singlemode fibres - Part 2-1:
Connection parametersof dispersion unshifted
physically contacting
fibres - Non-angled

第2条の該当号：
1（等級、性能）

この規格は、直角PC（Physical Contact）端面をもつシング 国際規格に合わせた改正を行うことによっ 主な改正点は次のとおり。
－
ルモード光ファイバ同士の接続において、挿入損失及び反 て、光ファイバコネクタ製品の光ファイバ端 ・規格名称において、規格の規定内容の変射減衰量の要求性能を満足する一連の要件についての指 面の外観品質を国際規格と整合すること 更に対応させ、また、国際規格との整合を針を示したものである。近年、光ファイバのPC端面の外観 ができ、取引の円滑化及び取引の合理 図った名称に改める。
検査技術が進歩したことに伴い、端面の欠陥サイズ及びス 化・効率化が図られるとともに、新企業の ・用語及び定義の箇条を新たに追加し、クラッチ幅並びにそれぞれの数量を規定する必要が生じて 参入を容易にするなど市場活性化を促す defect sizeの用語の定義が明確となるよう規おり、これに対応するために対応国際規格は2022年8月に ことが期待できる。
定する。
Ed.2として改訂されている。このような状況から国内におい・反射減衰量の等級及び基準において、反ても、近年の技術進歩に対応した内容とするとともに対応
射減衰量等級ごとの外観要求の詳細規定
国際規格との乖離を解消するため、外観検査の規定を改を追加する。
めるなど、このJISを改正する必要がある。
・反射減衰量の等級及び基準において、加工変質層と反射減衰量との関係についての記載を、参考の附属書として記載する。

3

対象事項：
光ファイバコネクタ

対象事項：
光ファイバコネクタ

法律の目的に適合し 利点：
ている。
ウ、オ

JIS素案作成委員会
（WG）

作成開始
予定

－

国際規格をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月－

国際規格をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

欠点：
いずれも該当しない。

法律の目的に適合し 利点：
ている。
ウ、オ
欠点：
いずれも該当しない。

制定／
認定 産業標準作成
機関 委員会 改正／
廃止
JSA

JSA

06 電 改正子

06 電 改正子

規格番号C5965-2-2

C6122-3-2

JIS案の名称

JIS案の英文名称

改正する理由（必要性）

期待効果

規定項目又は改正点

対応する
制定・改正 対応する国際規格番号 国際規格
選定基準1
選定基準2
選定基準3
選定基準4
選定基準5
に伴う廃止
（JIS法第2条の産業標準化（JIS法第1条の法律の（産業標準化の利（国が主体的に取り組（市場適合性に関す
及び名称
との対応
JIS
の対象）
目的）
点・欠点）
む分野の判断基準）
る判断基準）の程度

光ファイバ接続デバイス及び光 Fiber optic
受動部品－シングルモード光 interconnecting devices
ファイバ用光ファイバコネクタ光 and passive components
学互換標準－第２－２部：１３１０ - Connector optical
ｎｍゼロ分散形斜めＰＣ端面光 interfaces for singleファイバの接続パラメータmode fibers - Part 2-2:
（現行名称： 光ファイバコネクタ Connection parameters
光学互換－第2-2部：シングル of dispersion unshifted
モード斜めPC端面光ファイバ光 physically contacting
学互換標準の指針）
fibers - Angled（現行名称：Fiber optic
connector opticalinterfaces - Part 2-2:
Optical interface
standard single mode
angled physicallycontacting fibers）

この規格は、8 度斜め PC（Physical Contact）端面をもつシ 国際規格に合わせた改正を行うことによっ 主な改正点は次のとおり。
－
ングルモード光ファイバ（以下，APC端面光ファイバといて、光ファイバコネクタ製品の光ファイバ端 ・規格名称において、規格の規定内容の変う。）同士の接続において，挿入損失及び反射減衰量の要 面の外観品質を国際規格と整合すること 更に対応させ、また、国際規格との整合を求性能を満足する一連の要件についての指針を示したも ができ、取引の円滑化及び取引の合理 図った名称に改める。
のである。近年、光ファイバのPC端面の外観検査技術が進 化・効率化が図られるとともに、新企業の ・用語及び定義の箇条を新たに追加し、歩したことに伴い、端面の欠陥サイズ及びスクラッチ幅並び 参入を容易にするなど市場活性化を促す defect sizeの用語の定義が明確となるよう規にそれぞれの数量を規定する必要が生じており、これに対 ことが期待できる。
定する。
応するために対応国際規格は2022年9月にEd.2として改訂
・反射減衰量の等級及び基準において、反されている。このような状況から国内においても、近年の技
射減衰量等級を満たす外観要求の詳細規術進歩に対応した内容とするとともに対応国際規格との乖定を追加する。
離を解消するため、外観検査の規定を改めるなど、このJIS・反射減衰量の等級及び基準において、端を改正する必要がある。
面角度と反射減衰量との関係についての記
載を、参考の附属書として記載する。

IEC 61755-2-2:2022,
IDT
Fibre optic
interconnecting devices
and passive components- Connector opticalinterfaces for singlemode fibres - Part 2-2:
Connection parametersof dispersion unshifted
physically contacting
fibres - Angled

第2条の該当号：
1（等級、性能）

光増幅器－測定方法－第３-２ Optical amplifiers-Test
部：雑音指数パラメータ－電気 methods-Part 3-2:Noise
スペクトラムアナライザ試験方法 figure parametersElectrical spectrum
analyzer method

この規格は、現在商用化されている希土類が添加されたア この改正によって、半導体光増幅器、ラマ 主な改正点は、次のとおり。
－
クティブ光ファイバを使用した光ファイバ増幅器（OFA）の ン増幅を用いた光増幅器及び平面形光 ・適用範囲において、現行規格での光ファイ雑音指数パラメータによる電気スペクトラムアナライザ試験 導波路増幅器にも本測定方法を適用でき バ増幅器に加えて、昨今の市場での光増幅方法について規定したもので、電気スペクトラムアナライザ るようになり、光ファイバ増幅器以外の光 器の普及状況を踏まえて半導体光増幅器、を用いた光ファイバ増幅器の雑音指数パラメータの測定方 増幅器技術の普及が加速する効果も期待 ラマン増幅を用いた光増幅器及び平面形光法を規定するため、2003年に発行されたIEC 61290-3-2 できる。
導波路増幅器も試験の対象とするなるよう改（以降、対応国際規格という。）の第1版を基に、2006年にめる。
制定された。その後、対応国際規格は、光ファイバ増幅器
・記号及び略語において、附属書の参考と以外の半導体光増幅器などにも試験対象を拡張し、さらにして記載しているものを、規格本体に移行し最新の技術を反映し、2008年に7月に第2版として改訂されて規定する。
た。このような状況から、対応国際規格との乖離を解消するとともに、より広くJISの適用を図るなど技術の実態に即した内容にするため、JISを改正する必要がある。

IEC 61290-3-2:2008,
IDT
Optical amplifiers - Test
methods - Part 3-2:
Noise figure parameters- Electrical spectrum
analyzer method

第2条の該当号：
4（測定方法）4

対象事項：
光ファイバコネクタ

対象事項：
電気スペクトラムアナライ
ザ

法律の目的に適合し 利点：
ている。
ウ、オ

JIS素案作成委員会
（WG）

作成開始
予定

－

国際規格をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月－

国際標準をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

欠点：
いずれも該当しない。

法律の目的に適合し 利点：ている。
ア、エ、オ、キ
欠点：
いずれも該当しない。

制定／
認定 産業標準作成
機関 委員会 改正／
廃止
JSA

JSA

06 電 改正子

06 電 改正子

規格番号
C6122-4-1

C6122-4-3

JIS案の名称

JIS案の英文名称

光増幅器－測定方法－第４−１ Optical amplifiers-Test
部：過渡パラメータ－二波長法 methods-Part 4-1:を用いた利得パラメータ測定
Transient parametersMeasurement of gain
parameters using twowavelength method

光増幅器－測定方法－第４-３
部：過渡パラメータ－パワー制
御単一チャネル光増幅器のパワーパラメータ測定

改正する理由（必要性）

期待効果

規定項目又は改正点

対応する
制定・改正 対応する国際規格番号 国際規格
選定基準1
選定基準2
選定基準3
選定基準4
選定基準5
に伴う廃止
（JIS法第2条の産業標準化（JIS法第1条の法律の（産業標準化の利（国が主体的に取り組（市場適合性に関す
及び名称
との対応
JIS
の対象）
目的）
点・欠点）
む分野の判断基準）
る判断基準）の程度

この規格は，EDFA 及び光増幅器（OA）を含む光サブシス このJISの改正によって、海外との商取引 主な改正点は，次のとおり。
－
テムの，二波長法による過渡パラメータ測定方法について の場合の市場の混乱を低減する効果が期 ・用語及び定義において、一般事項として規定したもので、2011年に第1版として発行されたIEC待できる。
規定している「過渡応答」などに関しては、
61290-4-1（以下、対応国際規格という。）を基に技術的内測定装置の箇条へ移行する。
容及び構成を変更することなく，2013年に制定された。その・手順において、同じ規格群のJIS C 6122-4
後、対応国際規格は，2016年に，最新の技術情報を反映-3に合わせて測定準備及び測定条件で構し，適用範囲を光増幅器へ拡張し，用語及び定義の一般成する規定に改める。
事項として規定している「過渡応答」などに関して、既存の・測定結果において、同じ規格群のJIS C
測定装置の箇条に合体し，手順の箇条，データ分析の箇
6122-4-3に合わせて測定設定及び測定
条，試験結果の箇条を，IEC 61290-4規格群の他のパート
データで構成する規定に改める。
の構成に合わせた改訂が行われた。このような状況から、
光増幅器の産業分野では，国内でも半導体光増幅器などの市場適用が進んでおり，これらの規格群に基づいた適切な測定を行うため、対応国際規格に合わせたJISの改正が必要である。

IEC 61290-4-1:2016,
IDT
Optical amplifiers - Test
methods - Part 4-1:
Gain transientparameters - Twowavelength method

第2条の該当号：
4（測定方法）Optical amplifiers-Test この規格は，光増幅器の出力光パワーの過渡特性の測定 この改正によって、JISの使用者の混乱を 主な改正点は，次のとおり。
－
methods-Part 4-3: Power 方法について規定したもので、2015年に第1版として発行さ 防止し、正確及び高信頼性の測定方法を ・装置において、パワー過渡測定系の図
transient parametersれたIEC61290-4-3（以下、対応国際規格という。）を基に、 提供することができることから，円滑な商取 の、光検出器の前に可変光減衰器（VOA）
Single channel optical
2018年に制定された。その後，対応国際規格は，2018年に 引を促進する効果が期待される。
を追加する。
amplifiers in output
第2版として改訂され，信号パワーに対する自然放出光
・単一波長EDFAにおける出力過渡現象に
power control(ASE) の測定値の定義が、IEC 61290-3-3（Optical
関する背景の附属書において、自然放出光
amplifiers - Test methods - Part 3-3: Noise figure(ASE) の測定値の定義を関連JIS及び対応
parameters - Signal power to total ASE power ratio）の定
国際規格と整合させる。
義と整合された。
一方、JISにおいても、IEC 61290-3-3の対応JISであるJIS C
6122-3-3（光増幅器－測定方法－第3-3部：雑音指数パラ
メータ－信号対総ASEパワー比）が、日本国内の実態に合わせて当該の定義を改めるため、2016年に改正された。このような状況から、この規格においても，当該測定値の定義を関連JISや対応国際規格に整合させ，使用者に適切な情報を提供するためにJISの改正が必要である。

IEC 61290-4-3:2018,
IDT
Optical amplifiers - Test
methods - Part 4-3:
Power transientparameters - Single
channel opticalamplifiers in output
power control

第2条の該当号：
4（測定方法）

5

対象事項：
光増幅器

対象事項：
光増幅器

法律の目的に適合し 利点：ている。
ア、エ、オ、キJIS素案作成委員会
（WG）

作成開始
予定

－

国際標準をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月－

国際標準をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

欠点：
いずれも該当しない。

法律の目的に適合し 利点：ている。
ア、エ、オ、キ
欠点：
いずれも該当しない。

制定／
認定 産業標準作成
機関 委員会 改正／
廃止
JSA

06 電 改正子

規格番号

JIS案の名称

JIS案の英文名称

改正する理由（必要性）

期待効果

規定項目又は改正点

対応する
制定・改正 対応する国際規格番号 国際規格
選定基準1
選定基準2
選定基準3
選定基準4
選定基準5
に伴う廃止
（JIS法第2条の産業標準化（JIS法第1条の法律の（産業標準化の利（国が主体的に取り組（市場適合性に関す
及び名称
との対応
JIS
の対象）
目的）
点・欠点）
む分野の判断基準）
る判断基準）の程度

C61300-3-45 光ファイバ接続デバイス及び光 Fiber optic
この規格は，JIS C 5964 規格群で規定する，直角フィジカ 最新の技術状況を盛り込んだこの規格を 主な改正点は次のとおり。
－
受動部品－基本試験及び測定 interconnecting devices ルコンタクト及び斜めPCの1列多心角形フェルール光ファイ 改正することによって、測定及び試験を行 ・引用規格において、対応国際規格との整手順－第３－４５部：検査及び測 and passive components バコネクタのランダム接続時の挿入損失の性能パラメータ う励振条件を正確に引用することができ、 合を図るため、IEC 63267の記載を追加す
定－多心光ファイバコネクタのラ - Basic test andについて規定するもので、損失の統計分布及び平均値を 規格の運用をさらに促進することができる。
ンダム接続時の挿入損失
measurement procedures 測定するための手順について規定している。
る。
・測定方法の概要において、技術の実態と対応国際規格は2023年6月にEd.2として改訂され、最新の対応国際規格との整合を図るため、試料数- Part 3-45:
Examinations and
技術状況を反映させるため、1列多心光ファイバから1列のを示した表に12心以上の項目を追加すると
measurements 文言が削除され、12心を超える光ファイバコネクタ用サンプ
ともに方法2の試料数の表にアプタの項目を
ル数の追加、及びマルチモード測定方法の追加が行われ追加する。
Attenuation of randommated multi-fiber
た。このような状況から国内についても、技術の実態に即し・測定手順において、対応国際規格との整
connectors
た内容とするため、また、対応国際規格との乖離を解消す合を図るため、8心、10心及び12心光コネク
るとともに、測定方法の統一を図るために、このJISを改正す
タに対する測定方法1並びに測定方法2のる必要がある。
図に12心以上の項目を追加する。

6

IEC 61300-3-45,Fibre IDT
optic interconnecting
devices and passive
components - Basic test
and measurement
procedures - Part 3-45:
Examinations andmeasurements Attenuation of randommated multi-fibre
connectors

第2条の該当号：
法律の目的に適合し 利点：
4（試験方法、測定方法） ている。
ウ、オ
対象事項：
光ファイバ接続デバイス

欠点：
いずれも該当しない。

－

JIS素案作成委員会
（WG）

作成開始
予定

国際規格をJIS化する 一般財団法人光産業
もの技術振興協会のWG

2024年4月

産業標準案作成対象テーマ一覧（廃止）
制定／
改正／
廃止

産業標準作
認定機関
成委員会

JIS案の英文名称
JIS案の名称（廃止の場合は，現行規格番号 （廃止の場合は，現行
JISの英文名
JISの名称）称）廃止する理由対応する国際規格
番号
及び名称

対応する国
際規格との
対応の程度

JIS素案作成委員 作成開始
会（WG）
予定

この規格は，光源として使用する光伝送用半導体レーザ（電子回路内蔵形を除く。）の用語，分類，最大定格，性能などの一般的共通事項について規定するものである。対応国際規格は，IEC 60747-5（Semiconductor devices, Discrete devices and integrated
circuits - Part 5: Optoelectronic devices：1992年制定，1995年修正2版発行）である。なお，IEC 60747-5の一部として包含されていた半導体レーザについては，2006年にIEC 60747-5-4（Semiconductor devices - Part 5-4: Optoelectronic devices Semiconductor lasers：2006年制定，2022年改訂）に移行している。また，JIS C 5940に関連するJISとしてJIS C 5944（光伝送用半導体レーザモジュール通則）が制定されており，対応国際規格はIEC 62007-1（Semiconductor optoelectronic devices for ﬁbre
optic system applications - Part 1: Speciﬁcation template for essential ratings and characteristics；1997年制定、2015年改訂）である。
JIS C 5940（JIS C 5944も同様）では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついても項目が規定されており，さらに規定値として記述すべき数値の範囲や性能の試験条件として与えるべき数値の範囲が規定されている（JIS C 5944では数値は推奨値と
JSA

06 電子

廃止

C5940

光伝送用半導体レーザ通則

General rules of laser diodes for fiber optic
transmission

なっている）。しかし，IEC 60747-5-4ではJISとは異なり，定格及び性能について規定すべき事項だけを規定し個々の数値については規定せず，環境試験及び耐久性試験については規定が無い（IEC 62007-1も同様）。これは光伝送用部品に関するIEC規格が，個々に規定すべき性能は応用により異なることから部品ごとの性能標準テンプレートは最小限の共通事項のみを規定する，及び環
境試験及び耐久性試験も応用ごとに異なるので個々の応用ごとに対応した性能標準テンプレート又は性能標準で規定するという体系に変わってきたことによるものである。このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混乱を避けるために新たにIEC規格と整合したJISの制定が必要である。そのため，半導体レーザと半導体レーザモジュールは共通事項が多いことから，JIS C 5940と関連したJIS C 5944の両JISの内容を包含した１つの規格とすることで規格利用者の利便性向上を図り，IEC規格と整合した性能標準テンプレートとすることとしJIS C 5955規格群（性能標準テンプレート）における新たな規格（JIS C 59554）を制定する。これに伴い重複するJIS C 5940を廃止する。

IEC 60747-5:1992 Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices,IEC 607475:1992/AMENDMENT 1:1994
Amendment 1 - Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:

MOD

一般財団法人光産業技術振興協会のWG

2024年4月

Optoelectronic devices, IEC 607475:1992/AMENDMENT 2:1995
Amendment 2 - Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices

この規格は、光源として使用する光伝送用半導体レーザ（電子回路内蔵型を除く。ただし、必要に応じモニタ用フォトダイオードを含む。）の測定方法を規定しているものである。この規格の対応国際規格はIEC 60747-5:1992（Semiconductor devices,
Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices）であるが，この中にあった半導体レーザの測定方法について、基本特性測定方法についてはIEC 60747-5-4（Semiconductor devices - Part5-4: Optoelectronic devices Semiconductor lasers 2006年制定 2022年改訂）に、光伝送用に特化した測定方法は光伝送用半導体部品の測定方法を集めたIEC
62007-2（Semiconductor optoelectronic devices for ﬁbre optic system applications - Part 2: Measuring methods 1997年制定
2009年改訂）に包含された。IEC 62007-2では光伝送用半導体レーザ、光伝送用半導体レーザモジュール、光伝送用発光ダイオー
ド及び光伝送用フォトダイオードを、発光デバイスと受光デバイスという分類で纏めて規定している。IEC 62007-2制定の際に半導体レーザの基本特性測定方法はIEC 60747-5に残され、2006年にIEC 60747-5-4に置き換えられた。このため、IEC規格ではIEC
JSA

06 電子

廃止

C5941

光伝送用半導体レーザ測定方法

Measuring methods of laser diodes for fiber
optic transmission

60747-5-4に規定されている基本特性測定方法とIEC 62007-2に規定されている測定方法を共に参照する必要がある。
また，JISにおける光伝送用半導体部品の測定方法は、JIS C 5941（光伝送用半導体レーザ測定方法）に加え、JIS C 5945（光伝送用半導体レーザモジュール測定方法）、JIS C 5951（光伝送用発光ダイオード測定方法）及びJIS C 5991（光伝送用フォトダイ
オード測定方法）がIEC 60747-5に対応している。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じていることから、規格利用者の混乱を避けるとともに１つのJISとすることで利便性を向上させるため、現行規格JIS C 5941、JIS C 5945、JIS C 5951及びJIS C 5991を包含し、現行IEC規格と整合した測定方法を新たにJIS C 5954-8として制定する。これに伴い重複するJIS C 5941は廃止とする。

IEC 60747-5:1992 Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices,IEC 607475:1992/AMENDMENT 1:1994
Amendment 1 - Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:

MOD

一般財団法人光産業技術振興協会のWG

2024年4月

Optoelectronic devices, IEC 607475:1992/AMENDMENT 2:1995
Amendment 2 - Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices

この規格は、光源として使用する光伝送用半導体レーザモジュールの用語，最大定格，性能などの一般的共通事項について規定したものである。対応国際規格は，IEC 62007-1（Semiconductor optoelectronic devices for ﬁbre optic system applications - Part
1: Speciﬁcation template for essential ratings and characteristics；1997年制定、2015年改訂）である。JIS C 5944に関連するJIS
としてJIS C 5940（光伝送用半導体レーザ通則）が制定されており，対応国際規格は，IEC 60747-5（Semiconductor devices,
Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices：1992年制定，1995年修正2版発行）である。なお，
IEC 60747-5の一部として包含されていた半導体レーザについては，2006年にIEC 60747-5-4（Semiconductor devices - Part 5-4:
Optoelectronic devices - Semiconductor lasers：2006年制定，2022年改訂）に移行している。
JIS C 5944（JIS C 5940も同様）では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついても項目が規定されており，さらに規定
JSA

06 電子

廃止

C5944

光伝送用半導体レーザモジュール通則

General rules of laser diodefiber optic transmission

modules for

IEC 62007-1:1999 Semiconductor

値として記述すべき数値の範囲や性能の試験条件として与えるべき数値の範囲が推奨値として示されている（JIS C 5940では示さ

optoelectronic devices for fibre optic

れている数値の範囲は規定となっている）。しかし，IEC 62007-1ではJISとは異なり，定格及び性能について規定すべき事項だけ

system applications - Part 1:を規定し個々の数値については規定せず，環境試験及び耐久性試験については規定が無い（IEC 60747-5-4も同様）。これは光伝Specification template for essential

送用部品に関するIEC規格が，個々に規定すべき性能は応用により異なることから部品ごとの性能標準テンプレートは最小限の共

ratings and characteristics

通事項のみを規定する，及び環境試験及び耐久性試験も応用ごとに異なるので個々の応用ごとに対応した性能標準テンプレート又は性能標準で規定するという体系に変わってきたことによるものである。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混乱を避けるために新たにIEC規格と整合したJISの制定が必要である。そのため，半導体レーザモジュールと半導体レーザは共通事項が多いことから，JIS C 5944と関連したJIS C 5940の両JISの内容を包含した１つの規格とすることで規格利用者の利便性向上を図り，IEC規格と整合した性能標準テンプレートとすることとしJIS C 5955規格群（性能標準テンプレート）における新たな規格（JIS C 5955-4）を制定する。これに伴い重複するJIS C 5944を廃止する。

MOD

一般財団法人光産業技術振興協会のWG

2024年4月

この規格は、光源として使用する光伝送用半導体レーザモジュール（光ファイバピグテイル又は光ファイバ接続用のレセプタクルをもち、必要に応じモニタ用フォトダイオード、電子冷却素子、温度センサ、光アイソレータなどの簡単な素子を内蔵するものである。）の測定方法を規定している。この規格の対応国際規格IEC 62007-2 （Semiconductor optoelectronic devices for ﬁbre
optic system applications - Part 2: Measuring methods）はIEC 60747-5:1992（Semiconductor devices, Discrete devices andintegrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices）の中で光伝送用に特化した測定方法を抽出して規定したもので1997年に制定され、光伝送用半導体レーザモジュール以外に，光伝送用半導体レーザ，光伝送用発光ダイオード及び光伝送用フォトダイオード

JSA

06 電子

廃止

C5945

光伝送用半導体レーザモジュール測定方法

を、発光デバイスと受光デバイスという分類で纏めて記載している。半導体レーザ及び半導体レーザモジュールの基本特性測定方

IEC 62007-2:1996 Semiconductor

Measuring methods of laser diode modules

法はIEC 62007-2制定の際にIEC 60747-5に残され、2006年にIEC 60747-5-4（Semiconductor devices - Part 4: Optoelectronic

optoelectronic devices for fibre optic

for fiber optic transmission

devices - Semiconductor lasers）に置き換えられた。このため、IEC規格ではIEC 60747-5-4に規定されている基本特性測定方法

system applications - Part 2:とIEC 62007-2に規定されている測定方法を共に参照する必要がある。

Measuring methods

MOD

一般財団法人光産業技術振興協会のWG

2024年4月

また、JISにおける光伝送用半導体部品の測定方法は、JIS C 5945（光伝送用半導体レーザモジュール測定方法）に加え、JIS C
5941（光伝送用半導体レーザ測定方法）、JIS C 5951（光伝送用発光ダイオード測定方法）及びJIS C 5991（光伝送用フォトダイ
オード測定方法）がIEC 60747-5に対応している。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じていることから、規格利用者の混乱を避けるとともに１つのJISとすること
で利便性を向上させるため、現行規格JIS C 5945、JIS C 5941、JIS C 5951及びJIS C 5991を包含し、現行IEC規格と整合した測定方法を新たにJIS C 5954-8として制定する。これに伴い重複するJIS C 5945は廃止とする。

JSA

06 電子

廃止

C5950

光伝送用発光ダイオード通則

この規格は、光源として使用する光伝送用発光ダイオード（電子回路内蔵形を除く）の用語，記号，分類，最大定格，性能などのIEC 60747-1:1983 Semiconductor

一般的共通事項について規定したものである。この規格の対応国際規格はIEC 60747-5:1992+AMD1:1994（Semiconductor

devices - Discrete devices - Part 1:

devices, Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices）であるが，IEC 60747-5の一部として包含さGeneral IEC 60747-

れていた光伝送用発光ダイオードは1997年に他の光伝送用半導体部品とともに光伝送用半導体部品に特化したIEC 62007-1

1:1983/AMENDMENT 1:1991（Semiconductor optoelectronic devices for ﬁbre optic system applications - Part 1: Speciﬁcation template for essential

Amendment 1 - Semiconductor

ratings and characteristics）に定格及び性能が包含された。

devices - Discrete devices and

JIS C 5950では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついても項目が規定されており，さらに規定値として記述すべき数値

integrated circuits - Part 1: General,

General rules of light emitting diodes forの範囲や性能の試験条件として与えるべき数値の範囲が規定されている。一方，IEC 62007-1では，JIS C 5950とは異なり，光伝送 IEC 60747-5:1992 Semiconductor

fiber optic transmission

用発光ダイオードの定格と性能について規定すべき事項だけを規定し，個々の数値については規定せず，環境試験及び耐久性試験 devices - Discrete devices andについては規定が無い。これは光伝送用部品に関するIEC規格が，個々に規定すべき性能は応用により異なることから部品ごとのintegrated circuits - Part 5:

性能標準テンプレートは最小限の共通事項のみを規定する，及び環境試験及び耐久性試験も応用ごとに異なるので個々の応用ごと

Optoelectronic devices,IEC 60747-に対応した性能標準テンプレート又は性能標準で規定するという体系に変わってきたことによるものである。

5:1992/AMENDMENT 1:1994

MOD

一般財団法人光産業技術振興協会のWG

2024年4月

このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混乱を避けるために新たにIEC規格と整合したJISの制定が必要 Amendment 1 - Semiconductorである。そのため，IEC規格と整合した性能標準テンプレートとすることとしJIS C 5955規格群（性能標準テンプレート）における devices - Discrete devices and新たな規格（JIS C 5955-5）を制定する。これに伴い重複するJIS C 5950を廃止する。

integrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices

この規格は、光源として使用する光伝送用発光ダイオード（電子回路内蔵型を除く。）の測定方法を規定している。この規格の対
応国際規格はIEC 60747-5:1992（Semiconductor devices, Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic
devices）であるが，この中にあった光伝送用発光ダイオードの測定方法について、基本特性測定方法はIEC 60747-5-6（Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelctronic devices - Light emitting diodes 2016年制定 2021年改訂）に、光伝送用に特化した測定方法は光伝送用半導体部品の測定方法を集めたIEC 62007-2（Semiconductor optoelectronic devices for ﬁbre optic
system applications - Part 2: Measuring methods 1997年制定 2009年改訂）に包含された。IEC 62007-2では、光伝送用発光ダイ
オード以外に、光伝送用半導体レーザ、光伝送用半導体レーザモジュール及び光伝送用フォトダイオードを、発光デバイスと受光
JSA

06 電子

廃止

C5951

光伝送用発光ダイオード測定方法

Measuring methods of light emitting diodes デバイスという分類で纏めて規定している。IEC 62007-2制定の際に発光ダイオードの基本特性測定方法はIEC 60747-5に残され、for fiber optic transmission

2016年にIEC 60747-5-6に置き換えられた。このため、IEC規格ではIEC 60747-5-6に規定されている基本特性測定方法とIEC
62007-2に規定されている測定方法を共に参照する必要がある。
また，JISにおける光伝送用半導体部品の測定方法は、JIS C 5951（光伝送用発光ダイオード測定方法）に加え、JIS C 5941（光伝送用半導体レーザ測定方法）、JIS C 5945（光伝送用半導体レーザモジュール測定方法）及びJIS C 5991（光伝送用フォトダイ
オード測定方法）がIEC 60747-5に対応している。

IEC 60747-5:1992 Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices,IEC 607475:1992/AMENDMENT 1:1994

MOD

Amendment 1 - Semiconductor

一般財団法人光産業技術振興協会のWG

2024年4月

devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices

このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じていることから、規格利用者の混乱を避けるとともに１つのJISとすること
で利便性を向上させるため、現行規格JIS C 5941、JIS C 5945、JIS C 5951及びJIS C 5991を包含し、現行IEC規格と整合した測定方法を新たにJIS C 5954-8として制定する。これに伴い重複するJIS C 5951は廃止とする。
この規格は、光伝送用フォトダイオード（電子回路内蔵形を除く。）の用語，記号，分類，最大定格，性能などの一般的共通事項
について規定したものである。この規格の対応国際規格は，IEC 60747-5:1992+AMD1:1994（Semiconductor devices, Discrete
devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices）であるが，1997年にIEC 60747-5の一部として包含されていた
光伝送用フォトダイオードは他の光伝送用半導体部品とともに光伝送用半導体部品に特化したIEC 62007-1（Semiconductor
optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 1: Specification template for essential ratings andcharacteristics）に定格と性能とが包含された。
JIS C 5990では定格及び性能に加え環境試験及び耐久性試験ついても項目が規定されており，さらに規定値として記述すべき数値の範囲や性能の試験条件として与えるべき数値の範囲が推奨値として示されている。しかし，IEC 62007-1では，JIS C 5990とは異
JSA

06 電子

廃止

C5990

光伝送用フォトダイオード通則

General rules of photodiodes for fiber optic

なり，光伝送用フォトダイオードの定格と性能について規定すべき事項だけを規定し，個々の数値については規定せず，環境試験

transmission

及び耐久性試験については規定が無い。これは光伝送用部品に関するIEC規格が，個々に規定すべき性能は応用により異なること
から部品ごとの性能標準テンプレートは最小限の共通事項のみを規定する，及び環境試験及び耐久性試験も応用ごとに異なるので個々の応用ごとに対応した性能標準テンプレート又は性能標準で規定するという体系に変わってきたことによるものである。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じているので，混乱を避けるために新たにIEC規格と整合したJISの制定が必要である。そのため，IEC規格と整合した性能標準テンプレートとすることとしJIS C 5955規格群（性能標準テンプレート）における新たな規格（JIS C 5955-6）を制定する。これに伴い重複するJIS C 5990を廃止する。

IEC 60747-5:1992 Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices,IEC 607475:1992/AMENDMENT 1:1994
Amendment 1 - Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices

MOD

一般財団法人光産業技術振興協会のWG

2024年4月

この規格は、光伝送用フォトダイオード（電子回路内蔵形を除く。）の測定方法について規定している。この規格の対応国際規格
IEC 60747-5:1992（Semiconductor devices, Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices）であるが、この中にあった光伝送用フォトダイオードの測定方法について、基本特性測定方法はIEC 60747-5-7（Semiconductor devices- Part 5-7: Optoelectronic devices - Photodiodes and phototransistors 2016年制定）に、光伝送用に特化した測定方法は光伝送用半導体部品の測定方法を集めたIEC 62007-2（Semiconductor optoelectronic devices for ﬁbre optic system applications - Part
2: Measuring methods 1997年制定 2009年改訂）に包含された。IEC 62007-2では、光伝送用フォトダイオード以外に光伝送用半導体レーザ，光伝送用半導体レーザモジュール及び光伝送用発光ダイオードを、発光デバイスと受光デバイスという分類で纏めて
JSA

06 電子

廃止

C5991

光伝送用フォトダイオード測定方法

Measuring methods of photodiodes for fiber 記載している。IEC 62007-2制定の際に光伝送用フォトダイオードの基本特性測定方法はIEC 60747-5に残され，2006年にIEC
optic transmission

60747-5はIEC 60747-5-6に置き換えられた。このため、IEC規格ではIEC 60747-5-7に規定されている基本特性測定方法とIEC
62007-2に規定されている測定方法を共に参照する必要がある。
また、JISにおける光伝送用半導体部品の測定方法は、JIS C 5991（光伝送用フォトダイオード測定方法）に加え，JIS C 5941（光伝送用半導体レーザ測定方法）、JIS C 5945（光伝送用半導体レーザモジュール測定方法）、及びJIS C 5951（光伝送用発光ダイ
オード測定方法）がIEC 60747-5に対応している。
このようにIEC規格とJISとの対応関係に不整合が生じており，規格利用者の混乱を避けるとともに１つの規格とすることで利便性を向上させるため，現行規格JIS C 5941、JIS C 5945、JIS C 5951及びJIS C 5991を包含し、現行IEC規格と整合した測定方法を新たにJIS C 5954-8として制定する。これに伴い重複するJIS C 5991は廃止とする。

IEC 60747-5:1992 Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices,IEC 607475:1992/AMENDMENT 1:1994
Amendment 1 - Semiconductor
devices - Discrete devices andintegrated circuits - Part 5:
Optoelectronic devices

MOD

一般財団法人光産業技術振興協会のWG

2024年4月