一般財団法人日本規格協会

JIS 見直し並びに JIS 確認及び廃止の申出に係る審議について
日本産業規格（以下，JIS という。）は，産業標準化法に基づき，JIS を制定又は確認
若しくは改正した日から少なくとも 5 年を経過するまでに見直す必要があります。多数のJIS があることから効率的な運用のために，毎年度一括して JIS 見直しを行うこととしております。JIS の見直しの流れ及び産業標準作成委員会の審議方法は，別添 1 をご参照く
ださい。
なお，別添 1 のとおり「JIS 作成予定一覧表の公表」，「利害関係者の産業標準作成委員
会への参加の確保」及び「異議申立ての機会の確保及び廃止のみ意見受付公告」の過程で，利害関係者から意見等があった場合で，議決結果の変更又は意見等を採用しない場合
は，再度，産業標準作成委員会にお諮りいたします。また，字句等編集上の修正について
は，事務局に一任いただきますようお願いいたします。
（１）JIS 見直しの審議
2024 年度に見直し期限を迎える JIS について，当会にて関係各方面の意見を十分に調査し，別添 2 のとおり 2024 年度中に改正，確認又は廃止とするかの案を作成いたしましたので，ご審議をお願いいたします。ご承認いただいた JIS 見直しのうち，公示予定が「確認」，及び公示予定が「廃止」，かつ，これから廃止に着手する JIS については，その内容を利害関係者に公表するために JIS 作成予定一覧表として JSA ホームページに掲載いたします。
（２）JIS 確認及び廃止の申出の審議
上記別添 2 に基づき，別添 3 及び別添 4【別添 3 が確認の作成審議経過報告書，別添 4が廃止の作成審議経過報告書】に，2024 年度中の公示予定を「確認」又は「廃止」とする
JIS 及び作成審議経過等を作成いたしました。申出前までに利害関係者からのご意見等がない場合は，公示予定が「確認」及び「廃止」について，産業標準化法第 16 条において準用する同法第 14 条第 1 項の規定に基づき，主務大臣に申出してよろしいか，あわせてご審議をお願いいたします。

以上1別添1︓JISの⾒直しに関する審議（１）JIS⾒直しの流れ

審査・
METI
部会報告
JISC

確認の公示
JIS

確認の申出
JIS

METI

8⽉

9⽉

審査
METI

廃止の公示
JIS

廃止の申出
JIS
公示予定が廃止の場合

見直し対象 JISの公示予定 を精 査
（ METI，利害関係者との 調整 ）見直しの審議JIS
確認の申出に係る審議
JIS廃止の申出に係る審議
JIS案作成予定一覧表 の公 表 （ 確 認 ・ 廃 止 ）JIS
異議申立て受付の開始 （確 認・ 廃止 ）意見受付の開始 （廃止 ）公示予定が確認の場合

METI／
JISC

自身の WG又は素案作成団体への
JSA
見直し 調査1
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METI

METI
JSA
JSA
JSA
産業標準作成委員会

JSA
JSA

JSA

2024年
7〜8⽉

6⽉
3⽉以降
2024年
2⽉下旬
12⽉下旬
11⽉下旬〜12⽉中旬
10⽉〜11⽉中旬
2023年
6⽉中旬〜9⽉下旬

（２）JIS⾒直しの審議について
⽬的︓

次年度に5年⾒直し期限を迎えるJISについて、「改正」、「確認」⼜は「廃⽌」のいずれにするかの⾒直し⽅針を決定します。

１．利害関係者の意⾒を確認するため、JSAが⾒直し対象のJISを抽出し、調査します。
※※

⾒直し対象は、次年度に5年⾒直し期限を迎えるJISです。
技術的動向、対応国際規格や引用規格の改正・廃⽌などを背景に、JISを改正する必要があるのか、確認でよいのか、⼜は廃⽌するかなどを調査します。

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2

（２）JIS⾒直しの審議について（続き）
２．JSAが調査結果に基づき、それぞれのJISについて「改正」、「確認」⼜は「廃⽌」のいずれにするかの案（以下、JIS⾒直し案という。）を理由とともに作成します。
その際には、必要に応じて、JSA自身のWG⼜は素案作成団体に事実確認を⾏います。
その後、産業標準作成委員会にお諮りします。
※

当該JISが次に該当し、次年度までに「改正」⼜は「廃⽌」の公⽰を予定している
場合は、JIS⾒直し案を「改正」⼜は「廃⽌」とします。
※ 当該JISが次に該当し、これから改正⼜は廃⽌に着⼿するため、次年度までに「改正」若しくは「廃⽌」の公⽰ができない場合、⼜は次に該当しない場合は， JIS⾒直し案を「確認」とします。
改正又は廃止が必要な要因
市場実態又は技術動向に合わせ、最適な技術内容とすべく、規定内容の変更が必要
社会的要因で規定内容の変更が必要（環境問題など）
対応国際規格の改正又は廃止があり、規定内容の変更が必要
対応すべき国際規格が新たに制定され、それに整合することが必要
引用規格の改正及び/又は廃止があり、規定内容の変更が必要
引用すべきJISが新たに制定された引用（参照）法規の改正及び/又は廃止があり、規定内容の変更が必要
引用（参照）すべき法規が新たに制定された技術の陳腐化・利用の縮小等、JISの廃止が妥当
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3

（２）JIS⾒直しの審議について（続き）
３．産業標準作成委員会でJIS⾒直し案をご審議いただきます。
JIS⾒直し案︓【別添2】※ JIS⾒直し案の資料については、JSAで事実確認を⾏っております。
※ 対応国際規格などの改廃状況は、資料の参照⽂書（JSA調査結果）に記載しております。
※ ご承認いただいたJIS⾒直しのうち、公⽰予定が「確認」及び「廃⽌」のJISは、JIS作成予定一覧表としてJSAホームページに掲載します。
（利害関係者に対する産業標準作成委員会への参加の機会の確保及び異議申⽴ての機会の確保のため）

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4

（３）JIS確認及び廃止の申出に係る審議
⽬的︓利害関係者の意向を適切に反映するためのプロセスを通し、主務大臣にJISの確認及び廃⽌の申出をしてよいかどうかを決定します。

１．JIS⾒直しの審議と同時に、JSAが作成審議経過報告書（確認及び廃⽌）（案）を作成します。
※

当該報告書では、確認及び廃⽌の申出を⾏う対象JIS、確認及び廃⽌する理由、認定機関としてのプロセスの予定（JIS⾒直しの審議〜JIS作成予定一覧表の公表結果（確認及び廃⽌）（予定）、並びに意⾒受付公告結果（廃⽌）（予定））を⽰しております。

２．産業標準作成委員会で作成審議経過報告書（確認及び廃⽌）（案）に基づき、ご審議いただきます。
作成審議経過報告書︓確認【別添3】、廃⽌【別添4】３．審議後、JIS作成予定一覧表の公表（確認及び廃⽌）及び意⾒受付公告（廃⽌）によって、利害関係者の意向を確認します。
※

これによって利害関係者から意⾒等があった場合で、議決結果の変更⼜は
意⾒等を採用しない場合は、再度、産業標準作成委員会にお諮りいたします。
ただし、意⾒の提出がない、⼜は審議の結果に影響を与えない場合は
４．申出へと進みます。

４．産業標準作成委員会で承認されたJISは、JSAから主務大臣へJISの確認及び廃⽌の申出を⾏います。
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52024年度に見直し期限を迎えるJISの見直し（案）（電子分野）

別添２【JIS書誌情報】
書誌
情報

規格番号

規格名称

公示予定
（確認，改正，廃止又は“－”を入力）

左記理由

対応国際規格との整合

一次元シンボル（バーコード）及び二次元シンボルを使用 確認
した電子部品用容器包装ラベル

規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 4556:2009

工業用電子カウンタ

これから廃止に着手し，来年度中に廃止公示予定であ 6: 無（提未）対応国際規格が存在るため。【廃止する理由】工業用電子カウンタ機器とし せず、今後の対応未定のもの。
ては、IEC 61010を利用するのが一般的であるため。

JIS C 5064:2020

電子機器及び通信機器用固定インダクタ―表示記号

確認

最新 公示

素案作成団体

主務
大臣

専門
委員会

規格番号及び
西暦年

JIS C 0807:2020

廃止

備考

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

1: IDT

一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人
日本電気制御機器工業会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術
産業協会

対応
引用
引用
国際
国際
JIS
規格
規格

対応国際規格

対応国際
規格の同
等性

制定年月日

IDT

2005/12/20 2020/03/23

種類

年月日

JIS C 0807:2020

改正

2020/3/23

経産 電子技術◎×◎

JIS C 4556:2009

確認

2019/10/21

経産 電子技術-×◎

JIS C 5064:2020

改正

2020/3/23

経産 電子技術◎◎-

IEC 61605:2016

IDT

2009/7/20 2020/03/23

JIS C 5101-111:2014

確認

2019/10/21

経産 電子技術◎×-

IEC 60384-111:2008

IDT

1998/7/20 2014/09/22

JIS C 510111:2014

確認

2019/10/21

経産 電子技術××-

IEC 6038411:2008

IDT

1998/7/20 2014/09/22

JIS C 5101-141:2020

改正

2020/3/23

経産 電子技術◎×-

IEC 60384-141:2016

MOD

1998/7/20 2020/03/23

JIS C 5101-142:2020

改正

2020/3/23

経産 電子技術◎×-

IEC 60384-142:2016

MOD

2009/2/20 2020/03/23

JIS C 5101-151:1998

確認

2019/10/21

経産 電子技術××-

JIS C 5101-152:1998

確認

2019/10/21

経産 電子技術××-

JIS C 5101-153:1998

確認

2019/10/21

経産 電子技術××-

IEC 62090:2017最新改正日

1987/2/1 2009/12/21

JIS C 5101-11-1:2014 電子機器用固定コンデンサ―第１１－１部：ブランク個別 確認
規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準ＥＺ

規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 5101-11:2014

電子機器用固定コンデンサ―第１１部：品種別通則：固 確認
定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ
ンサ
電子機器用固定コンデンサ―第１４－１部：ブランク個別 確認
規格―電源用電磁障害防止固定コンデンサ―評価水準
ＤＺ
電子機器用固定コンデンサ―第１４－２部：ブランク個別 確認
規格―電源用電磁障害防止固定コンデンサ―安全性試験
電子機器用固定コンデンサ―第１５部：ブランク個別規 確認
格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準Ｅ
電子機器用固定コンデンサ―第１５部：ブランク個別規 確認
格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準Ｅ
電子機器用固定コンデンサ―第１５部：ブランク個別規 確認
格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準Ｅ

これから改正に着手し，改正公示となるのが再来年度 1: IDT
以降となるため，確認する。

電子機器用固定コンデンサ―第１５部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

対応国際規格は改訂されているが，JIS（MOD）は使用
2: MODされており，規定内容の変更の必要がないため。

一般社団法人電子情報技術産業協会

JIS C 5101-15:1998
確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

×

電子機器用固定コンデンサ―第２４－１部：ブランク個別
JIS C 5101-24-1:2009 規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電 確認
解コンデンサ―評価水準ＥＺ

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般社団法人電子情報技術産業協会

JIS C 5101-24-1:2009
確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

-

IEC 60384-241:2006

IDT

2009/12/21

電子機器用固定コンデンサ―第２５－１部：ブランク個別
JIS C 5101-25-1:2009 規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分
確認子）電解コンデンサ―評価水準ＥＺ

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般社団法人電子情報技術産業協会

JIS C 5101-25-1:2009
確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

-

IEC 60384-251:2006

IDT

2009/12/21

JIS C 5101-8-1:2008

電子機器用固定コンデンサ―第８－１部：ブランク個別規確認
格：固定磁器コンデンサ 種類１ 評価水準ＥＺ

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般社団法人電子情報技術産業協会

JIS C 5101-8-1:2008
確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

-

IEC 60384-81:2005

IDT

1998/7/20 2008/12/20

JIS C 5160-2-1:2009

電子機器用固定電気二重層コンデンサ―第２－１部：ブ
ランク個別規格―パワー用電気二重層コンデンサ―評 確認
価水準ＥＺ

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般社団法人電子情報技術産業協会

JIS C 5160-2-1:2009
確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

-

IEC 62391-21:2006

IDT

2009/7/20

JIS C 5160-2:2009

電子機器用固定電気二重層コンデンサ―第２部：品種別確認
通則―パワー用電気二重層コンデンサ

対応国際規格の改訂が予定されており，その動向を踏まえて検討する必要があるため。

1: IDT

JIS C 5160-2:2009確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

-

IEC 62391-2:2006 IDT

2009/7/20

JIS C 5201-2-1:1998

電子機器用固定抵抗器―第２部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定抵抗器 評価水準Ｅ

確認

これから改正に着手し，改正公示となるのが再来年度
2: MOD以降となるため，確認する。

JIS C 5201-2-1:1998
確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

-

IEC 60115-21:1982

1998/7/20

JIS C 5201-2:2014

電子機器用固定抵抗器―第２部：品種別通則：低電力皮改正
膜固定抵抗器改正に着手しており，来年度中に改正公示予定である
1: IDT
ため。

JIS C 5201-2:2014確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

×

IEC 60115-2:2014 IDT

1998/7/20 2014/11/20-

IEC 60115-41:1983/AMENDME MOD
NT 1:1993

1998/7/20

×

IEC 601154:1982/AMENDME MOD
NT 1:1993

1998/7/20

JIS C 5101-14-1:2020

JIS C 5101-14-2:2020

JIS C 5101-15-1:1998

JIS C 5101-15-2:1998

JIS C 5101-15-3:1998

JIS C 5101-15:1998

JIS C 5201-4-1:1998

JIS C 5201-4:1998

電子機器用固定抵抗器―第４部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器 評価水準Ｅ

確認

確認

電子機器用固定抵抗器―第４部：品種別通則：電力形固改正
定抵抗器

1: IDT

参照文書（JSA調査結果）

参照文書の記号の説明：◎ 当該 JIS発効時の参照文書のすべてが、改廃されずに、存続している。
× 当該JIS発効時以降、参照文書の一部及び/又は全てが、改正及び/又は廃止されている（現状が不明なものも含む）。
－当該JISに参照文書がない。

対応国際規格の改訂が予定されており，その動向を踏まえて検討する必要があるため。

2: MOD

対応国際規格の改訂が予定されており，その動向を踏まえて検討する必要があるため。

2: MOD

一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会

対応国際規格は一部改訂されているが，JIS（MOD）は 2: MOD
使用されており，規定内容の変更の必要がないため。
対応国際規格は一部改訂されているが，JIS（MOD）は 2: MOD
使用されており，規定内容の変更の必要がないため。
規定内容の変更の必要がないため。

対応国際規格の改訂が予定されており，その動向を踏まえて検討する必要があるため。

2: MOD

一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会

2: MOD改正に着手しており，来年度中に改正公示予定である
2: MODため。

（1／7）

JIS C 5201-4-1:1998
確認

JIS C 5201-4:1998確認

2019/10/21 経産 電子技術

2019/10/21 経産 電子技術

◎

◎

×

×

IEC 6038415:1982/AMENDM
MOD;MOD
ENT 1:1987;IEC60384-15-1:1984
IEC 6038415:1982/AMENDM
MOD;MOD
ENT 1:1987;IEC60384-15-2:1984
IEC 6038415:1982/AMENDM
MOD;MOD
ENT 1:1987;IEC60384-153:1984/AMENDME
IEC 6038415:1982/AMENDM MOD
ENT 2:1992

MOD

1998/7/20

1998/7/20

1998/7/20

1998/7/20

2024年度に見直し期限を迎えるJISの見直し（案）（電子分野）

別添２【JIS書誌情報】
書誌
情報

規格番号

規格名称

公示予定
（確認，改正，廃止又は“－”を入力）

左記理由

対応国際規格との整合

備考

最新 公示

素案作成団体

主務
大臣

専門
委員会

規格番号及び
西暦年
年月日

対応
引用
引用
国際
国際
JIS
規格
規格

JIS C 5201-5-1:1998
確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

-

IEC 60115-51:1983

MOD

1998/7/20

JIS C 5201-5:1998確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

×

IEC 60115-5:1982 MOD

1998/7/20

種類

一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術
産業協会

参照文書（JSA調査結果）

参照文書の記号の説明：◎ 当該 JIS発効時の参照文書のすべてが、改廃されずに、存続している。
× 当該JIS発効時以降、参照文書の一部及び/又は全てが、改正及び/又は廃止されている（現状が不明なものも含む）。
－当該JISに参照文書がない。

対応国際規格

対応国際
規格の同
等性

制定年月日

最新改正日

JIS C 5201-5-1:1998

電子機器用固定抵抗器―第５部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器 評価水準Ｅ

確認

対応国際規格は廃止されているが，JIS（MOD）は使用
2: MODされており，現時点で廃止の必要がないため。

JIS C 5201-5:1998

電子機器用固定抵抗器―第５部：品種別通則：精密級固確認
定抵抗器

対応国際規格は廃止されているが，JIS（MOD）は使用
2: MODされており，現時点で廃止の必要がないため。

JIS C 5201-6-1:1999

電子機器用固定抵抗器―第６部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及び 確認
同一定格電力 評価水準Ｅ

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般社団法人電子情報技術産業協会

JIS C 5201-6-1:1999
確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

-

IEC 60115-61:1983

IDT

1999/2/20

JIS C 5201-6:1999

電子機器用固定抵抗器―第６部：品種別通則：個別測定
確認
可能な固定ネットワーク抵抗器

規定内容の変更の必要がないため。

2: MOD

一般社団法人電子情報技術産業協会

JIS C 5201-6:1999確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

×

IEC 601156:1983/AMENDME MOD
NT 1:1987

1999/2/20

JIS C 5201-8-1:2014

電子機器用固定抵抗器―第８－１部：ブランク個別規格：
一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器， 確認
製品性能水準Ｇ

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般社団法人電子情報技術産業協会

JIS C 5201-8-1:2014
確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

×

IEC 60115-81:2014

IDT

1998/7/20 2014/11/20

JIS C 5260-1:2014

電子機器用可変抵抗器―第１部：品目別通則

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5260-1:2014確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

×

IEC 60393-1:2008 IDT

1999/2/20 2014/09/22

JIS C 5260-2-1:2000

電子機器用可変抵抗器―第２部：ブランク個別規格：ねじ確認
駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準Ｅ

国際規格は廃止されているが，JIS（MOD）は使用され
2: MODており，現時点で廃止の必要がないため。

JIS C 5260-2-1:2000
確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

-

IEC 60393-21:1989

MOD

2000/4/20

JIS C 5260-2-2:2000

電子機器用可変抵抗器―第２部：ブランク個別規格：ねじ確認
駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準Ｆ

国際規格は廃止されているが，JIS（MOD）は使用され
2: MODており，現時点で廃止の必要がないため。

JIS C 5260-2-2:2000
確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

-

IEC 60393-22:1992

MOD

2000/4/20

JIS C 5260-2:2000

電子機器用可変抵抗器―第２部：品種別通則：ねじ駆動
確認
形及び回転形半固定可変抵抗器対応国際規格は改訂されているが，JIS（MOD）は使用
2: MODされており，規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 5260-2:2000確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

×

IEC 60393-2:1989 MOD

2000/4/20

JIS C 5260-3-1:2000

電子機器用可変抵抗器―第３部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準Ｅ

これから廃止に着手し，廃止公示となるのが再来年度
2: MOD以降となるため。

JIS C 5260-3-1:2000
確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

-

IEC 60393-31:1992

MOD

2000/9/20

JIS C 5260-3:2000

電子機器用可変抵抗器―第３部：品種別通則：回転形精確認
密級可変抵抗器対応国際規格の改訂が予定されており，その動向を踏まえて検討する必要があるため。

JIS C 5260-3:2000確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

×

IEC 60393-3:1992 MOD

2000/9/20

JIS C 5260-4-1:2000

電子機器用可変抵抗器―第４部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準Ｅ

確認

これから廃止に着手し，廃止公示となるのが再来年度
2: MOD以降となるため。

JIS C 5260-4-1:2000
確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

-

IEC 60393-41:1992

MOD

2000/9/20

JIS C 5260-4-2:2000

電子機器用可変抵抗器―第４部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準Ｆ

確認

これから廃止に着手し，廃止公示となるのが再来年度
2: MOD以降となるため。

JIS C 5260-4-2:2000
確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

-

IEC 60393-42:1992

MOD

2000/9/20

JIS C 5260-4:2000

電子機器用可変抵抗器―第４部：品種別通則：単回転電確認
力形可変抵抗器対応国際規格の改訂が予定されており，その動向を踏まえて検討する必要があるため。

JIS C 5260-4:2000確認

2019/10/21 経産 電子技術

◎

×

×

IEC 60393-4:1992 MOD

2000/9/20

JIS C 5260-5-1:2000

電子機器用可変抵抗器―第５部：ブランク個別規格：単確認
回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準Ｅ

これから廃止に着手し，廃止公示となるのが再来年度
2: MOD以降となるため。

JIS C 5260-5-1:2000
確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

-

IEC 60393-51:1992

MOD

2000/4/20

JIS C 5260-5-2:2000

電子機器用可変抵抗器―第５部：ブランク個別規格：単確認
回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準Ｆ

これから廃止に着手し，廃止公示となるのが再来年度
2: MOD以降となるため。

JIS C 5260-5-2:2000
確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

-

IEC 60393-52:1992

MOD

2000/4/20

JIS C 5260-5:2000

電子機器用可変抵抗器―第５部：品種別通則：単回転低確認
電力形巻線及び非巻線可変抵抗器対応国際規格は改訂されているが，JIS（MOD）は使用
2: MODされており，規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 5260-5:2000確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

×

IEC 60393-5:1992 MOD

2000/4/20

JIS C 5310:1997

電子機器用電源変圧器品目別通則

確認

規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 5310:1997 確認

2019/10/21 経産 電子技術

-

◎

×

JIS C 5311:1994

電子機器用電源変圧器試験方法

確認

対応国際規格は改訂されているが，JIS（NEQ）は使用
3: NEQされており，規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 5311:1994 確認

2019/10/21 経産 電子技術

×

×

-

JIS C 5320:1994

電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則

確認

規定内容の変更の必要がないため。

6: 無（提未）対応国際規格が存在せず、今後の対応未定のもの。

JIS C 5320:1994 確認

2019/10/21 経産 電子技術

-

×

-

JIS C 5321:1997

電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 確認

規定内容の変更の必要がないため。

6: 無（提未）対応国際規格が存在せず、今後の対応未定のもの。

JIS C 5321:1997

2019/10/21 経産

確認

確認

2: MOD

2: MOD

5: 無（提無）対応国際規格が存在せず、国際規格に提案しないもの。

（2／7）

一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術
産業協会

確認

電子技術

-

×

-

1972/8/1 1997/02/20

IEC 61007:1990

NEQ

1974/9/1 1994/03/01

1972/10/1 1994/03/01

1973/8/1 1997/10/20

2024年度に見直し期限を迎えるJISの見直し（案）（電子分野）

別添２【JIS書誌情報】
書誌
情報

規格番号

規格名称

公示予定
（確認，改正，廃止又は“－”を入力）

左記理由

対応国際規格との整合

備考

最新 公示

素案作成団体JIS C 5381-11:2014

JIS C 5381-21:2014

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

対応国際規格はEd1.2に改訂されているが，JIS改正の要望はなく，規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5401-4001:2005

電子機器用コネクタ―第４－００１部：プリント配線板用コ
確認
ネクタ―品質評価付―ブランク個別規格

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5401-4:2005

電子機器用コネクタ―第４部：品種別通則―プリント配線
確認
板用コネクタ―品質評価付

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-1-1:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－１部：一般
試験―試験１ａ：外観

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-1100:2014

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－１００部：一
確認
般―試験方法規格一覧

これから改正に着手し，改正公示となるのが再来年度
2: MOD以降となるため，確認する。

JIS C 5402-1-2:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－２部：一般
試験―試験１ｂ：寸法及び質量確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-1110:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１０部：耐確認候性試験―試験１１ｊ：低温

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-1111:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１１部：耐確認候性試験―試験１１ｋ：減圧

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-1112:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１２部：耐確認候性試験―試験１１ｍ：温湿度サイクル

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-1113:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１３部：耐候性試験―試験１１ｎ：ガスタイト・無はんだラッピング接 確認
続規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-11-2:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－２部：耐候確認性試験―試験１１ｂ：低温・減圧・湿度複合シーケンス

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-11-3:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－３部：耐候確認性試験―試験１１ｃ：高温高湿（定常）

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-11-4:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－４部：耐候確認性試験―試験１１ｄ：温度急変

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-11-5:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－５部：耐候確認性試験―試験１１ｅ：かびの成長

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-11-6:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－６部：耐候確認性試験―試験１１ｆ：腐食，塩水噴霧

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-11-9:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－９部：耐候確認性試験―試験１１ｉ：高温

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-12-7:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－７部：はん確認
だ付け試験―試験１２ｇ：はんだ付け性，平衡法

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-13-5:2014

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１３－５部：機械確認
的動作試験―試験１３ｅ：極性及びキーイング

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT確認

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－１部：コネ
JIS C 5402-15-1:2014 クタ試験（機械的試験）―試験１５ａ：インサート内のコンタ 確認
クト保持
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－４部：コネ
JIS C 5402-15-4:2014 クタ試験（機械的試験）―試験１５ｄ：コンタクトの挿入，解 確認
放及び引抜力

専門委員会

規格番号及び
西暦年
種類

低圧サージ防護デバイス―第１１部：低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試 確認
験方法
低圧サージ防護デバイス―第２１部：通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス（ＳＰＤ）の要求性能及び 確認
試験方法

主務
大臣

一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術
産業協会

（3／7）

参照文書
（JSA調査結果）

対応
引用
引用
国際
国際
JIS
規格
規格

年月日

参照文書の記号の説明：◎ 当該 JIS発効時の参照文書のすべてが、改廃されずに、存続している。
× 当該JIS発効時以降、参照文書の一部及び/又は全てが、改正及び/又は廃止されている（現状が不明なものも含む）。
－当該JISに参照文書がない。

対応国際規格

対応国際
規格の同
等性

制定年月日

最新改正日

JIS C 5381-11:2014 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 61643-11:2011

IDT

2014/6/20

JIS C 5381-21:2014 確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

×

IEC 61643-21:2009

IDT

2004/3/20 2014/06/20

JIS C 5401-4-001:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 61076-4001:1996

IDT

2005/3/20

JIS C 5401-4:2005 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 61076-4:1995

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-1-1:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 60512-1-1:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-1-100:2014
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 60512-1100:2012

2002/3/20 2014/06/20

JIS C 5402-1-2:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 60512-1-2:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-11-10:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 60512-1110:2002

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-11-11:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

◎

IEC 60512-1111:2002

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-11-12:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 60512-1112:2002

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-11-13:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

-

IEC 60512-1113:2002

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-11-2:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

×

IEC 60512-112:2002

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-11-3:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 60512-113:2002

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-11-4:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

◎

IEC 60512-114:2002

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-11-5:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

×

IEC 60512-115:2002

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-11-6:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

×

IEC 60512-116:2002

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-11-9:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 60512-119:2002

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-12-7:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

-

IEC 60512-127:2001

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-13-5:2014
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

◎

IEC 60512-135:2006

IDT

2014/6/20

JIS C 5402-15-1:2014
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

-

IEC 60512-151:2008

IDT

2014/6/20

JIS C 5402-15-4:2014
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

-

IEC 60512-154:2008

IDT

2014/6/20

MOD2024年度に見直し期限を迎えるJISの見直し（案）（電子分野）

別添２【JIS書誌情報】
書誌
情報

規格番号

規格名称

公示予定
（確認，改正，廃止又は“－”を入力）

左記理由

対応国際規格との整合

備考

最新 公示

素案作成団体

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-2-2:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－２部：導通及び接触抵抗試験―試験２ｂ：接触抵抗―規定電流法

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-2-3:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－３部：導通及び接触抵抗試験―試験２ｃ：接触抵抗の変動

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-2-6:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－６部：導通及び接触抵抗試験―試験２ｆ：ハウジング（シェル）の導通 確認
性

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-20-2:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２０－２部：耐火確認性試験―試験２０ｂ：耐火性規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２３－３部：スク
JIS C 5402-23-3:2005 リーニング及びフィルタリング試験―試験２３ｃ：コネクタ 確認
及びアクセサリのシールド効果

専門委員会

規格番号及び
西暦年
種類

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－６部：コネ
JIS C 5402-15-6:2014 クタ試験（機械的試験）―試験１５ｆ：コネクタカップリング 確認
機構の効果
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－３部：コン
JIS C 5402-16-3:2014 タクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｃ：コ 確認
ンタクト曲げ強度
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－１部：導通
JIS C 5402-2-1:2005 及び接触抵抗試験―試験２ａ：接触抵抗―ミリボルトレベ 確認
ル法

主務
大臣

一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人
日本電気制御機器工業会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術
産業協会
一般財団法人マイクロマシンセンター

これから改正に着手し，改正公示となるのが再来年度
1: IDT以降となるため，確認する。

JIS C 5402-3-1:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第３－１部：絶縁試験―試験３ａ：絶縁抵抗確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-4-2:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第４－２部：電圧ストレス試験―試験４ｂ：部分放電

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-4-3:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第４－３部：電圧ストレス試験―試験４ｃ：耐電圧（絶縁被覆付クリンプバレ 確認
ル）

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-5-1:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第５－１部：電流容量試験―試験５ａ：温度上昇

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-5-2:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第５－２部：電流容量試験―試験５ｂ：電流・温度の軽減

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-6-1:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－１部：動的ストレス試験―試験６ａ：加速度（定常）確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-6-2:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－２部：動的ストレス試験―試験６ｂ：バンプ

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-6-3:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－３部：動的ストレス試験―試験６ｃ：衝撃確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5402-6-4:2005

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－４部：動的ストレス試験―試験６ｄ：正弦波振動

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5442:1996

制御用小形電磁リレーの試験方法

確認

対応国際規格の改訂が予定されており，その動向を踏まえて検討する必要があるため。

3: NEQJIS C 5564:1991

磁気テープ録音再生システム 第３部 磁気テープ録音
再生機器の特性測定方法

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5583:1992

８ｍｍビデオ―８ｍｍ磁気テープヘリカル走査ビデオカ
セットシステム確認

対応国際規格は改訂されているが，JIS改正の要望は
1: IDTなく，規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 5630-18:2014

マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第１８部：薄膜曲げ試験方
確認法

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT（4／7）

参照文書（JSA調査結果）

対応
引用
引用
国際
国際
JIS
規格
規格

年月日

参照文書の記号の説明：◎ 当該 JIS発効時の参照文書のすべてが、改廃されずに、存続している。
× 当該JIS発効時以降、参照文書の一部及び/又は全てが、改正及び/又は廃止されている（現状が不明なものも含む）。
－当該JISに参照文書がない。

対応国際規格

対応国際
規格の同
等性

制定年月日

最新改正日

JIS C 5402-15-6:2014
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

-

IEC 60512-156:2008

IDT

2014/6/20

JIS C 5402-16-3:2014
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

-

IEC 60512-163:2008

IDT

2014/6/20

JIS C 5402-2-1:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 60512-2-1:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-2-2:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 60512-2-2:2003 IDT

2005/12/20

JIS C 5402-2-3:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

-

IEC 60512-2-3:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-2-6:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

◎

IEC 60512-2-6:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-20-2:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 60512-202:2000

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-23-3:2005
確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

-

×

IEC 60512-233:2000

IDT

2005/3/20

JIS C 5402-3-1:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 60512-3-1:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-4-2:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

×

IEC 60512-4-2:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-4-3:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 60512-4-3:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-5-1:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

-

IEC 60512-5-1:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-5-2:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 60512-5-2:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-6-1:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

×

IEC 60512-6-1:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-6-2:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 60512-6-2:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-6-3:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 60512-6-3:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5402-6-4:2005確 認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 60512-6-4:2002 IDT

2005/3/20

JIS C 5442:1996

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

-

IEC 60255-7:1991

NEQ

1978/9/1 1996/04/01

JIS C 5564:1991

確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 60094-3:1979

IDT

1991/2/1

JIS C 5583:1992

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

-

-

IEC 60843:1987

IDT

1992/7/1

JIS C 5630-18:2014 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

-

IEC 62047-18:2013

IDT

2014/12/22

2024年度に見直し期限を迎えるJISの見直し（案）（電子分野）

別添２【JIS書誌情報】
書誌
情報

規格番号

規格名称

公示予定
（確認，改正，廃止又は“－”を入力）

左記理由

対応国際規格との整合

備考

JIS C 5630-19:2014

マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第１９部：電子コンパス

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5877-1:2015

偏光子―第１部：通則

確認

規定内容の変更の必要がないため。

6: 無（提未）対応国際規格が存在せず、今後の対応未定のもの。

JIS C 5900:2019

光伝送用受動部品通則

確認

規定内容の変更の必要がないため。

6: 無（提未）対応国際規格が存在せず、今後の対応未定のもの。

JIS C 5910-3:2015

波長選択性のない光ブランチングデバイス―第３部：シングルモード光ファイバピッグテール形１×Ｎ及び２×Ｎ光 確認
ブランチングデバイス

規定内容の変更の必要がないため。

2: MODJIS C 5921:2009

シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器

確認

これから改正に着手し，改正公示となるのが再来年度 6: 無（提未）対応国際規格が存在以降となるため，確認する。
せず、今後の対応未定のもの。

JIS C 5935:2005

光伝送用レンズ試験方法

確認

規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 5944:2005

光伝送用半導体レーザモジュール通則

廃止

JIS C 5945:2005

光伝送用半導体レーザモジュール測定方法

廃止

JIS C 5946:2005

光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール通則

確認

JIS C 5947:2005

光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール測定方法

確認

JIS C 5964-13:2015

光ファイバコネクタかん合標準―第１３部：ＦＣ－ＰＣ形光確認
ファイバコネクタ類（Ｆ０１形）

規定内容の変更の必要がないため。

2: MODJIS C 5964-18:2014

光ファイバコネクタかん合標準―第１８部：ＭＴ－ＲＪコネ
クタ類（Ｆ１９形）

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5964-20:2015

光ファイバコネクタかん合標準―第２０部：ＬＣ形光ファイ
確認
バコネクタ類規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 5965-1:2009

光ファイバコネクタ光学互換―第１部：シングルモード（１改正
３１０ｎｍゼロ分散形）光ファイバ用光学互換標準の通則

これから改正に着手し，来年度中に改正公示予定であ
1: IDT
るため。

JIS C 5970:2015

Ｆ０１形単心光ファイバコネクタ（ＦＣコネクタ）

確認

規定内容の変更の必要がないため。

6: 無（提未）対応国際規格が存在せず、今後の対応未定のもの。

JIS C 5982:2020

Ｆ１３形多心光ファイバコネクタ（ＭＰＯコネクタ）

確認

規定内容の変更の必要がないため。

6: 無（提未）対応国際規格が存在せず、今後の対応未定のもの。

JIS C 5988:2014

Ｆ１９形光ファイバコネクタ（ＭＴ－ＲＪコネクタ）

確認

規定内容の変更の必要がないため。

6: 無（提未）対応国際規格が存在せず、今後の対応未定のもの。

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 60068-2-58
JIS C 60068-283:2014

専門委員会

規格番号及び
西暦年
種類

環境試験方法―電気・電子―第２－５８部：表面実装部
品（ＳＭＤ）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及 確認
びはんだ耐熱性試験方法
環境試験方法―電気・電子―第２－８３部：試験Ｔｆ―ソル
ダペーストを用いた平衡法による表面実装部品（ＳＭＤ） 確認のはんだ付け性試験方法

主務
大臣

最新 公示

素案作成団体6: 無（提未）対応国際規格が存在せず、今後の対応未定のもの。
これから廃止に着手し，来年度中に廃止公示予定であるため。【廃止の理由】IEC67007シリーズの改訂に伴
2: MOD
い、IECとJISの対応関係に不整合が生じており、混乱を避けるため対応するJIS C 5945，C 5941，C 5951，C
これから廃止に着手し，来年度中に廃止公示予定であるため。【廃止の理由】IEC67007シリーズの改訂に伴
2: MOD
い、IECとJISの対応関係に不整合が生じており、混乱を避けるため対応するJIS C 5945，C 5941，C 5951，C
これから改正に着手し，改正公示となるのが再来年度
2: MOD以降となるため，確認する。
これから改正に着手し，改正公示となるのが再来年度
2: MOD以降となるため，確認する。

JIS C 6010-2:1998

電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ―
確認
第２部：２５ｍｍ実装のインタフェイス整合寸法

これから改正に着手し，改正公示となるのが再来年度
2: MOD以降となるため，確認する。

JIS C 61188-7:2020

プリント配線板及びプリント配線板実装―設計及び使用―第７部：ＣＡＤライブラリに用いる電子部品の基準点及 確認
び配置方向

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT（5／7）

一般財団法人マイクロマシン
センター
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術
産業協会

参照文書（JSA調査結果）

対応
引用
引用
国際
国際
JIS
規格
規格

年月日

参照文書の記号の説明：◎ 当該 JIS発効時の参照文書のすべてが、改廃されずに、存続している。
× 当該JIS発効時以降、参照文書の一部及び/又は全てが、改正及び/又は廃止されている（現状が不明なものも含む）。
－当該JISに参照文書がない。

対応国際規格

対応国際
規格の同
等性

最新改正日

JIS C 5630-19:2014 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

-

JIS C 5877-1:2015 確認

2019/10/21 経産

電子技術

-

×

-

2009/3/20 2015/03/20

JIS C 5900:2019改正

2019/10/21 経産

電子技術

-

◎

-

1987/3/1 2019/10/21

JIS C 5910-3:2015 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

◎

JIS C 5921:2009

確認

2019/10/21 経産

電子技術

-

×

×

2009/12/21

JIS C 5935:2005

確認

2019/10/21 経産

電子技術

-

×

-

2005/1/20

JIS C 5944:2005

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

-

IEC 62007-1:1999

MOD

1996/9/20 2005/04/20

JIS C 5945:2005

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

-

IEC 62007-2:1996

MOD

1996/9/20 2005/04/20

JIS C 5946:2005

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

-

IEC 62007-1:1999

MOD

2005/1/20

JIS C 5947:2005

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

-

IEC 62007-2:1999

MOD

2005/1/20

JIS C 5964-13:2015 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

-

IEC 61754-13:2006

MOD

2015/3/20

JIS C 5964-18:2014 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 61754-18:2001

IDT

2014/6/20

JIS C 5964-20:2015 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

-

IEC 61754-20:2012

IDT

2009/7/20 2015/03/20

JIS C 5965-1:2009 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

×

IEC 61755-1:2005

IDT

2009/7/20

JIS C 5970:2015

確認

2019/10/21 経産

電子技術

-

×

-

1987/6/1 2015/03/20

JIS C 5982:2020

改正

2020/1/20 経産

電子技術

-

×

◎

1997/11/20 2020/01/20

JIS C 5988:2014

確認

2019/10/21 経産

電子技術

-

×

◎

2005/12/20 2014/06/20

JIS C 60068-2-58 改正

2020/3/23 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 60068-258:2015/AMENDME
NT 1:2017

IDT

1994/4/1 2020/03/23

JIS C 60068-2-83:2014
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

-

IEC 60068-283:2011

IDT

2014/9/22

JIS C 6010-2:1998 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 60917-2:1992

MOD

1998/10/20

JIS C 61188-7:2020 改正

2020/3/23 経産

電子技術

◎

-

×

IEC 61188-7:2017

IDT

2014/9/22 2020/03/23

IEC 62047-19:2013

IEC 61753-0312:2014

IDT

制定年月日

MOD

2014/12/22

2015/3/20

2024年度に見直し期限を迎えるJISの見直し（案）（電子分野）

別添２【JIS書誌情報】
書誌
情報

規格番号

規格名称

公示予定
（確認，改正，廃止又は“－”を入力）

左記理由

対応国際規格との整合

備考

専門
委員会

規格番号及び
西暦年
種類

JIS C 61191-2:2020

プリント配線板実装―第２部：部門規格－表面実装はん確認
だ付け要求事項

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 61191-3:2020

プリント配線板実装―第３部：部門規格―挿入実装はん確認
だ付け要求事項

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 61191-4:2020

プリント配線板実装―第４部：部門規格―端子実装はん
確認
だ付け要求事項

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 6121-5-2:2019

光増幅器―第５－２部：品質評価規格―光ファイバ増幅
確認
器の信頼性評価

これから改正に着手し，改正公示となるのが再来年度
1: IDT以降となるため，確認する。

光増幅器―測定方法―第１０－１部：マルチチャネルパラ
JIS C 6122-10-1:2020 メータ―光スイッチ及び光スペクトラムアナライザを用い 確認
たパルス法
光増幅器―測定方法―第１０－２部：マルチチャネルパラ
JIS C 6122-10-2:2010 メータ―ゲート付き光スペクトラムアナライザを用いたパ 確認
ルス法

主務
大臣

最新 公示

素案作成団体

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

1: IDT

一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術
産業協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会

参照文書（JSA調査結果）

対応
引用
引用
国際
国際
JIS
規格
規格

年月日

参照文書の記号の説明：◎ 当該 JIS発効時の参照文書のすべてが、改廃されずに、存続している。
× 当該JIS発効時以降、参照文書の一部及び/又は全てが、改正及び/又は廃止されている（現状が不明なものも含む）。
－当該JISに参照文書がない。

対応国際規格

対応国際
規格の同
等性

制定年月日

最新改正日

JIS C 61191-2:2020 改正

2020/3/23 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 61191-2:2017

IDT

2006/3/25 2020/03/23

JIS C 61191-3:2020 改正

2020/3/23 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 61191-3:2017

IDT

2006/3/25 2020/03/23

JIS C 61191-4:2020 改正

2020/3/23 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 61191-4:2017

IDT

2006/3/25 2020/03/23

JIS C 6121-5-2:2019改 正

2019/8/20 経産

電子技術

◎

×

◎

IEC 61291-52:2017/CORRIGEND IDT
UM 1:20192007/3/20 2019/08/20

JIS C 6122-10-1:2020
改正

2020/2/20 経産

電子技術

◎

×

-

IEC 61290-101:2009

IDT

2007/3/20 2020/02/20

JIS C 6122-10-2:2010
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

◎

IEC 61290-102:2007

IDT

2010/3/23

JIS C 6123-4:2015 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

◎

IEC 61291-4:2011

IDT

2008/1/20 2015/03/20

JIS C 61300-1:2019 改正

2019/6/20 経産

電子技術

×

×

×

IEC 61300-1:2016

IDT

2009/7/20 2019/06/20

JIS C 61300-2-11:2015
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

-

IEC 61300-211:2012

IDT

2015/3/20

JIS C 61300-2-14:2020
改正

2020/2/20 経産

電子技術

×

◎

◎

IEC 61300-214:2012

IDT

2011/1/20 2020/02/20

JIS C 61300-2-18:2009
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 61300-218:2005

IDT

2009/7/20

JIS C 61300-2-45:2009
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 61300-245:1999

IDT

2009/7/20

JIS C 61300-2-48:2010
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

×

IEC 61300-248:2009

IDT

2010/3/23

JIS C 6123-4:2015

光増幅器―性能仕様テンプレート―第４部：マルチチャネ
確認
ル用光増幅器規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 61300-1:2019

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第１部：通則改正に着手しており，来年度中に改正公示予定である
1: IDT
ため。

JIS C 61300-211:2015

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－１１部：光ファイバクランプ強度試験 確認（軸方向圧縮）規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 61300-214:2020

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－１４部：高光パワー試験

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 61300-218:2009

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－１８部：高温試験

改正

改正に着手しており，来年度中に改正公示予定である
1: IDT
ため。

JIS C 61300-245:2009

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－４５部：浸水試験

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 61300-248:2010

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－４８部：温湿度サイクル試験

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及JIS C 61300-2-7:2015 び測定手順―第２－７部：かん合部締結強度試験（曲げ 確認
モーメント）

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般財団法人光産業技術振興協会

JIS C 61300-2-7:2015
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

-

IEC 61300-2-7:2013 IDT

2015/3/20

JIS C 61300-320:2009

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－２０部：波長選択性のない光ブランチ 確認
ングデバイスのディレクティビティ測定

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般財団法人光産業技術振興協会

JIS C 61300-3-20:2009
確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 61300-320:2001

IDT

2009/7/20

JIS C 61300-325:2019

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－２５部：直角端面フェルール及び光ファイバ取付け直角端面フェルールの同心度測定

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般財団法人光産業技術振興協会

JIS C 61300-3-25:2019改正

2019/7/22 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 61300-325:2016

IDT

2014/12/22 2019/07/22

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及JIS C 61300-3-3:2009 び測定手順―第３－３部：挿入損失及び反射減衰量変化 確認のモニタ方法規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般財団法人光産業技術振興協会

JIS C 61300-3-3:2009
確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

×

IEC 61300-3-3:2003 IDT

2009/7/20

JIS C 61300-340:2014

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－４０部：偏波面保存光ファイバ付き光 確認
ファイバコネクタプラグの偏波消光比測定

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

一般財団法人光産業技術振興協会

JIS C 61300-3-40:2014
確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

-

-

IEC 61300-340:1998

IDT

2014/12/22

JIS C 62025-2:2009

高周波誘導部品―非電気的特性及び測定方法―第２部：非電気的特性の試験方法

確認

対応国際規格は改訂されているが，JIS改正の要望は
1: IDTなく，規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 62025-2:2009 確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

×

IEC 62025-2:2005

IDT

2009/7/20

JIS C 62137-3:2014

電子実装技術―第３部：はんだ接合部耐久性試験方法
の選定指針

確認

規定内容の変更の必要がないため。

JIS C 62137-3:2014 確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

◎

×

IEC 62137-3:2011

IDT

2014/9/22

改正

一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会

1: IDT（6／7）

2024年度に見直し期限を迎えるJISの見直し（案）（電子分野）

別添２【JIS書誌情報】
書誌
情報

規格番号

規格名称

公示予定
（確認，改正，廃止又は“－”を入力）

左記理由

対応国際規格との整合

備考

最新 公示

素案作成団体

主務
大臣

専門
委員会

規格番号及び
西暦年

JIS C 62623:2014

パーソナルコンピュータの消費電力測定方法

確認

規定内容の変更の必要がないため。

2: MODJIS C 6421:1994

放送受信機用中間周波変成器

確認

規定内容の変更の必要がないため。

5: 無（提無）対応国際規格が存在せず、国際規格に提案しないもの。

JIS C 6435:1989

低周波変成器及びコイル試験方法

確認

規定内容の変更の必要がないため。

5: 無（提無）対応国際規格が存在せず、国際規格に提案しないもの。

JIS C 6760:2014

弾性表面波デバイス用単結晶ウェハ―仕様及び測定法 確認

対応国際規格の改訂が予定されており，その動向を踏まえて検討する必要があるため。

2: MOD

一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術
産業協会
日本水晶デバイス工業会

JIS C 6823:2010

光ファイバ損失試験方法

確認

規定内容の変更の必要がないため。

2: MODJIS C 6824:2009

マルチモード光ファイバ帯域試験方法

改正

これから改正に着手し，来年度中に改正公示予定であ
2: MODるため。

JIS C 6827:2015

光ファイバ波長分散試験方法

確認

規定内容の変更の必要がないため。

2: MODJIS C 6828:2019

光ファイバ構造パラメータ測定器校正方法

確認

規定内容の変更の必要がないため。

1: IDT

JIS C 6829:2005

光ファイバ波長分散測定器校正方法

改正

改正に着手しており，来年度中に改正公示予定である
1: IDT
ため。

JIS C 7030:1993

トランジスタ測定方法

確認

規定内容の変更の必要がないため。

3: NEQJIS C 7031:1993

小信号用半導体ダイオード測定方法

確認

規定内容の変更の必要がないため。

2: MODJIS C 9921-5:2009

テレビジョン受信機（ブラウン管のものに限る）の設計上の標準使用期間を設定するための標準使用条件

確認

規定内容の変更の必要がないため。

6: 無（提未）対応国際規格が存在せず、今後の対応未定のもの。

（7／7）

一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般財団法人光産業技術振興協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術産業協会
一般社団法人電子情報技術
産業協会

参照文書（JSA調査結果）

対応
引用
引用
国際
国際
JIS
規格
規格

参照文書の記号の説明：◎ 当該 JIS発効時の参照文書のすべてが、改廃されずに、存続している。
× 当該JIS発効時以降、参照文書の一部及び/又は全てが、改正及び/又は廃止されている（現状が不明なものも含む）。
－当該JISに参照文書がない。

対応国際規格

対応国際
規格の同
等性

種類

年月日

JIS C 62623:2014

確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

-

-

JIS C 6421:1994

確認

2019/10/21 経産

電子技術

-

×

-

1950/7/28 1994/03/01

JIS C 6435:1989

確認

2019/10/21 経産

電子技術

-

×

-

1953/11/7 1989/11/01

JIS C 6760:2014

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

-

IEC 62276:2012

IEC 62623:2012

MOD

MOD

制定年月日

最新改正日

2014/12/22

2014/6/20

JIS C 6823:2010

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

-

IEC 60793-11:2008;IEC 60793-11989/1/1 2010/03/23
40:2001;IEC 60793- MOD;MOD;MOD;MOD;MOD
1-46:2001;IEC
60793-1-

JIS C 6824:2009

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

×

IEC 60793-141:2003

MOD

1989/1/1 2009/12/21

JIS C 6827:2015

確認

2019/10/21 経産

電子技術

◎

×

-

IEC 60793-142:2013

MOD

1989/1/1 2015/03/20

JIS C 6828:2019改正

2019/11/20 経産

電子技術

◎

-

-

IEC 61745:2017

IDT

2004/3/20 2019/11/20

JIS C 6829:2005

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

×

IEC 61744:2001

IDT

2005/1/20

JIS C 7030:1993

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

-

IEC 607477:1988;IEC 607478:1984

NEQ;NEQ

1961/6/1 1993/02/01

JIS C 7031:1993

確認

2019/10/21 経産

電子技術

×

×

-

IEC 60747-3:1985

MOD

1963/9/1 1993/02/01

JIS C 9921-5:2009 確認

2019/10/21 経産

電子技術

-

-

-

2009/3/20

別添 3

日本産業規格作成審議経過報告書（確認）１．確認の申出を行う日本産業規格
JIS C 0807
包装ラベル

一次元シンボル（バーコード）及び二次元シンボルを使用した電子部品用容器

外１２５件（別紙 1 のとおり）

２．確認の申出を行う日本産業規格に係る主務大臣
経済産業大臣専管

３．確認の理由
別紙 1 の日本産業規格は、産業標準化法第 17 条の規定による見直し期限を 2024 年度に迎えるものであるが、認定産業標準作成機関として、関係各方面の意見を調査し検討した結果、現行の日本産業規格がなお適正であると認められることから、確認すべきものとして申出する。

４．確認の申出を行う日本産業規格の作成及び審議に関する事項(1) 認定産業標準作成機関名；一般財団法人日本規格協会（JSA）(2) 法令上の区分；
産業標準化法第 16 条において準用する同法第 14 条第 1 項に基づく申出(3) 産業標準作成委員会名；
電子分野産業標準作成委員会(4) 産業標準作成委員会の委員構成表及び開催状況；
別紙 2 に記載のとおり。
(5) 作成審議経過
別紙 2 に記載のとおり。

以上

別紙 1
確認の申出を行う日本産業規格
No.
1

規格番号
C0807

2
3

C5064
C5101-11-1

4

C5101-11

5

C5101-14-1

6

C5101-14-2

7

C5101-15-1

8

C5101-15-2

9C5101-15-3

10C5101-15

11

C5101-24-1

12

C5101-25-1

13

C5101-8-1

14

C5160-2-1

15

C5160-2

16

C5201-2-1

17

C5201-4-1

18

C5201-5-1

19
20

C5201-5
C5201-6-1

21

C5201-6

22

C5201-8-1

23
24

C5260-1
C5260-2-1

規格名称
一次元シンボル（バーコード）及び二次元シンボルを使用した電子部品
用容器包装ラベル
電子機器及び通信機器用固定インダクタ―表示記号
電子機器用固定コンデンサ―第１１－１部：ブランク個別規格：固定ポ
リエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水
準ＥＺ
電子機器用固定コンデンサ―第１１部：品種別通則：固定ポリエチレン
テレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ
電子機器用固定コンデンサ―第１４－１部：ブランク個別規格―電源用
電磁障害防止固定コンデンサ―評価水準 ＤＺ
電子機器用固定コンデンサ―第１４－２部：ブランク個別規格―電源用
電磁障害防止固定コンデンサ―安全性試験
電子機器用固定コンデンサ―第１５部：ブランク個別規格：はく電極形
固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準Ｅ
電子機器用固定コンデンサ―第１５部：ブランク個別規格：焼結形固定
タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準Ｅ
電子機器用固定コンデンサ―第１５部：ブランク個別規格：焼結形固定
タンタル固体電解コンデンサ 評価水準Ｅ
電子機器用固定コンデンサ―第１５部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
電子機器用固定コンデンサ―第２４－１部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデンサ―評価水準ＥＺ
電子機器用固定コンデンサ―第２５－１部：ブランク個別規格：表面実
装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コンデンサ―評価水準
ＥＺ
電子機器用固定コンデンサ―第８－１部：ブランク個別規格：固定磁器
コンデンサ 種類１ 評価水準ＥＺ
電子機器用固定電気二重層コンデンサ―第２－１部：ブランク個別規格―パワー用電気二重層コンデンサ―評価水準ＥＺ
電子機器用固定電気二重層コンデンサ―第２部：品種別通則―パワー用
電気二重層コンデンサ
電子機器用固定抵抗器―第２部：ブランク個別規格：低電力非巻線固定
抵抗器 評価水準Ｅ
電子機器用固定抵抗器―第４部：ブランク個別規格：電力形固定抵抗器
評価水準Ｅ
電子機器用固定抵抗器―第５部：ブランク個別規格：精密級固定抵抗器
評価水準Ｅ
電子機器用固定抵抗器―第５部：品種別通則：精密級固定抵抗器
電子機器用固定抵抗器―第６部：ブランク個別規格：個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及び同一定格電力 評価水準Ｅ
電子機器用固定抵抗器―第６部：品種別通則：個別測定可能な固定ネッ
トワーク抵抗器
電子機器用固定抵抗器―第８－１部：ブランク個別規格：一般電子機器
向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器，製品性能水準Ｇ
電子機器用可変抵抗器―第１部：品目別通則
電子機器用可変抵抗器―第２部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準Ｅ

25

C5260-2-2

26

C5260-2

27

C5260-3-1

28
29

C5260-3
C5260-4-1

30

C5260-4-2

31
32

C5260-4
C5260-5-1

33

C5260-5-2

34

C5260-5

35
36
37
38
39

C5310
C5311
C5320
C5321
C5381-11

40

C5381-21

41

C5401-4-001

42

C5401-4

43

C5402-1-1

44

C5402-1-100

45

C5402-1-2

46

C5402-11-10

47

C5402-11-11

48

C5402-11-12

49

C5402-11-13

50

C5402-11-2

51

C5402-11-3

52

C5402-11-4

53

C5402-11-5

電子機器用可変抵抗器―第２部：ブランク個別規格：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準Ｆ
電子機器用可変抵抗器―第２部：品種別通則：ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器
電子機器用可変抵抗器―第３部：ブランク個別規格：回転形精密級可変抵抗器 評価水準Ｅ
電子機器用可変抵抗器―第３部：品種別通則：回転形精密級可変抵抗器
電子機器用可変抵抗器―第４部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準Ｅ
電子機器用可変抵抗器―第４部：ブランク個別規格：単回転電力形可変抵抗器 評価水準Ｆ
電子機器用可変抵抗器―第４部：品種別通則：単回転電力形可変抵抗器
電子機器用可変抵抗器―第５部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準Ｅ
電子機器用可変抵抗器―第５部：ブランク個別規格：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準Ｆ
電子機器用可変抵抗器―第５部：品種別通則：単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器
電子機器用電源変圧器品目別通則
電子機器用電源変圧器試験方法
電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法
低圧サージ防護デバイス―第１１部：低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法
低圧サージ防護デバイス―第２１部：通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス（ＳＰＤ）の要求性能及び試験方法
電子機器用コネクタ―第４－００１部：プリント配線板用コネクタ―品
質評価付―ブランク個別規格
電子機器用コネクタ―第４部：品種別通則―プリント配線板用コネクタ―品質評価付
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－１部：一般試験―試験１
ａ：外観
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－１００部：一般―試験方法
規格一覧
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－２部：一般試験―試験１
ｂ：寸法及び質量
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１０部：耐候性試験―試
験１１ｊ：低温
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１１部：耐候性試験―試
験１１ｋ：減圧
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１２部：耐候性試験―試
験１１ｍ：温湿度サイクル
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１３部：耐候性試験―試
験１１ｎ：ガスタイト・無はんだラッピング接続
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－２部：耐候性試験―試験
１１ｂ：低温・減圧・湿度複合シーケンス
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－３部：耐候性試験―試験
１１ｃ：高温高湿（定常）
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－４部：耐候性試験―試験
１１ｄ：温度急変
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－５部：耐候性試験―試験
１１ｅ：かびの成長54

C5402-11-6

55

C5402-11-9

56

C5402-12-7

57

C5402-13-5

58

C5402-15-1

59

C5402-15-4

60

C5402-15-6

61

C5402-16-3

62

C5402-2-1

63

C5402-2-2

64

C5402-2-3

65

C5402-2-6

66

C5402-20-2

67

C5402-23-3

68

C5402-3-1

69

C5402-4-2

70C5402-4-3

71

C5402-5-1

72

C5402-5-2

73

C5402-6-1

74

C5402-6-2

75

C5402-6-3

76

C5402-6-4

77
78

C5442
C5564

79

C5583

80

C5630-18

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－６部：耐候性試験―試験
１１ｆ：腐食，塩水噴霧
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－９部：耐候性試験―試験
１１ｉ：高温電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－７部：はんだ付け試験―
試験１２ｇ：はんだ付け性，平衡法
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１３－５部：機械的動作試験―
試験１３ｅ：極性及びキーイング
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－１部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ａ：インサート内のコンタクト保持
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－４部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｄ：コンタクトの挿入，解放及び引抜力
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－６部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｆ：コネクタカップリング機構の効果
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－３部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｃ：コンタクト曲げ強度
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－１部：導通及び接触抵抗試
験―試験２ａ：接触抵抗―ミリボルトレベル法
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－２部：導通及び接触抵抗試
験―試験２ｂ：接触抵抗―規定電流法
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－３部：導通及び接触抵抗試
験―試験２ｃ：接触抵抗の変動
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－６部：導通及び接触抵抗試
験―試験２ｆ：ハウジング（シェル）の導通性
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２０－２部：耐火性試験―試験
２０ｂ：耐火性
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２３－３部：スクリーニング及びフィルタリング試験―試験２３ｃ：コネクタ及びアクセサリのシール
ド効果
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第３－１部：絶縁試験―試験３
ａ：絶縁抵抗電子機器用コネクタ―試験及び測定―第４－２部：電圧ストレス試験―
試験４ｂ：部分放電
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第４－３部：電圧ストレス試験―
試験４ｃ：耐電圧（絶縁被覆付クリンプバレル）
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第５－１部：電流容量試験―試験
５ａ：温度上昇電子機器用コネクタ―試験及び測定―第５－２部：電流容量試験―試験
５ｂ：電流・温度の軽減
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－１部：動的ストレス試験―
試験６ａ：加速度（定常）電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－２部：動的ストレス試験―
試験６ｂ：バンプ
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－３部：動的ストレス試験―
試験６ｃ：衝撃
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第６－４部：動的ストレス試験―
試験６ｄ：正弦波振動
制御用小形電磁リレーの試験方法
磁気テープ録音再生システム 第３部 磁気テープ録音再生機器の特性測定方法
８ｍｍビデオ―８ｍｍ磁気テープヘリカル走査ビデオカセットシステ
ム
マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第１８部：薄膜曲げ試験方法

81
82
83
84

C5630-19
C5877-1
C5900
C5910-3

85
86
87
88
89

C5921
C5935
C5946
C5947
C5964-13

90

C5964-18

91

C5964-20

92
93
94
95

C5970
C5982
C5988
C60068-2-58

96

C60068-2-83

97

C6010-2

98

C61188-7

99
100
101
102
103

C61191-2
C61191-3
C61191-4
C6121-5-2
C6122-10-1

104

C6122-10-2

105
106

C6123-4
C61300-2-11

107

C61300-2-14

108

C61300-2-45

109

C61300-2-48

110

C61300-2-7

111

C61300-3-20

112

C61300-3-25

マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第１９部：電子コンパス
偏光子―第１部：通則
光伝送用受動部品通則
波長選択性のない光ブランチングデバイス―第３部：シングルモード光ファイバピッグテール形１×Ｎ及び２×Ｎ光ブランチングデバイス
シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器
光伝送用レンズ試験方法
光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール通則
光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール測定方法
光ファイバコネクタかん合標準―第１３部：ＦＣ－ＰＣ形光ファイバコ
ネクタ類（Ｆ０１形）
光ファイバコネクタかん合標準―第１８部：ＭＴ－ＲＪコネクタ類（Ｆ１９形）
光ファイバコネクタかん合標準―第２０部：ＬＣ形光ファイバコネクタ
類
Ｆ０１形単心光ファイバコネクタ（ＦＣコネクタ）
Ｆ１３形多心光ファイバコネクタ（ＭＰＯコネクタ）
Ｆ１９形光ファイバコネクタ（ＭＴ－ＲＪコネクタ）
環境試験方法―電気・電子―第２－５８部：表面実装部品（ＳＭＤ）のはんだ付け性，電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
環境試験方法―電気・電子―第２－８３部：試験Ｔｆ―ソルダペースト
を用いた平衡法による表面実装部品（ＳＭＤ）のはんだ付け性試験方法
電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ―第２部：２５ｍｍ実装のインタフェイス整合寸法
プリント配線板及びプリント配線板実装―設計及び使用―第７部：ＣＡ
Ｄライブラリに用いる電子部品の基準点及び配置方向
プリント配線板実装―第２部：部門規格－表面実装はんだ付け要求事項
プリント配線板実装―第３部：部門規格―挿入実装はんだ付け要求事項
プリント配線板実装―第４部：部門規格―端子実装はんだ付け要求事項
光増幅器―第５－２部：品質評価規格―光ファイバ増幅器の信頼性評価
光増幅器―測定方法―第１０－１部：マルチチャネルパラメータ―光ス
イッチ及び光スペクトラムアナライザを用いたパルス法
光増幅器―測定方法―第１０－２部：マルチチャネルパラメータ―ゲー
ト付き光スペクトラムアナライザを用いたパルス法
光増幅器―性能仕様テンプレート―第４部：マルチチャネル用光増幅器
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－１１部：光ファイバクランプ強度試験（軸方向圧縮）
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－１４部：高光パワー試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－４５部：浸水試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－４８部：温湿度サイクル試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第２－７部：かん合部締結強度試験（曲げモーメント）
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－２０部：波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティ
ビティ測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－２５部：直角端面フェルール及び光ファイバ取付け直角端面フェルールの同心度測定

113

C61300-3-3

114

C61300-3-40

115

C62025-2

116
117
118
119
120
121
122
123
124
125
126

C62137-3
C62623
C6421
C6435
C6760
C6823
C6827
C6828
C7030
C7031
C9921-5

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－３部：挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第３－４０部：偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタプラグの偏波消光比測定高周波誘導部品―非電気的特性及び測定方法―第２部：非電気的特性の試験方法
電子実装技術―第３部：はんだ接合部耐久性試験方法の選定指針
パーソナルコンピュータの消費電力測定方法
放送受信機用中間周波変成器
低周波変成器及びコイル試験方法
弾性表面波デバイス用単結晶ウェハ―仕様及び測定法
光ファイバ損失試験方法
光ファイバ波長分散試験方法
光ファイバ構造パラメータ測定器校正方法
トランジスタ測定方法
小信号用半導体ダイオード測定方法
テレビジョン受信機（ブラウン管のものに限る）の設計上の標準使用期間を設定するための標準使用条件

別紙 2
１．産業標準作成委員会の委員構成表
１．１ 電子分野産業標準作成委員会構成員名簿
氏名
所属（ 委 員 長 ） 平本 俊郎
東京大学
（委員）
西城 武志
総務省 国際戦略局 通信規格課
藤井 哲郎
東京都市大学山田 誠
大阪公立大学渋谷 隆
株式会社白山諏訪 正樹
KOA株式会社
石井 紀彦
日本放送協会
河村 真紀子主婦連合会
内藤 恵美子公益社団法人日本消費生活アドバイザー・コンサルタ
ント・相談員協会
松井 隆
日本電信電話株式会社（ 関 係 者 ） 内藤 智男
経済産業省 産業技術環境局 国際電気標準課（ 事 務 局 ） 鐘築 利仁
一般財団法人日本規格協会
桑原 克佳
一般財団法人日本規格協会
清水 祐貴
一般財団法人日本規格協会
２．委員会開催状況
開催年月日
委員会区分
2 0 2 3 年 1 2 月 X X 日（ 予 定 ） 産 業 標 準 作 成 委 員 会

出席者数又は回答者数（名）〇 /10

３．作成審議経過（予定）①産業標準案作成対象テーマの審議（JIS 見直しの審議）、並びに産業標準案の作成及び審議（確認の申出に係る審議）；
2023 年 12 月 X X 日 産業標準作成委員会議決②JIS 作成予定一覧表の公表；
2023 年 12 月 X X 日～申出予定日（2024 年 2 月下旬）まで JSA ウェブサイト掲載③利害関係者の産業標準作成委員会への参加の確保；
2023 年 12 月 X X 日～申出予定日（2024 年 2 月下旬）まで JSA ウェブサイト掲載④異議申立ての機会の確保；
2023 年 12 月 X X 日～申出予定日（2024 年 2 月下旬）まで JSA ウェブサイト掲載⑤議事録及び委員会資料の公開；
2023 年 12 月 X X 日 JSA ウェブサイト掲載
４．利害関係者の産業標準作成委員会への参加に関する内容（ 予 定 ）参加： 無
５．異議申立てに関する内容及び結果（ 予 定 ）異議申立ての有無： 無

種別
中立者

生産者
使用者

－

別添 4

産業標準案作成経過報告書（廃止）1．日本産業規格の番号及び名称
規格番号 JIS C 4556
規格名称 工業用電子カウンタ
2. 主務大臣
経済産業大臣3．廃止の理由等に関する事項（1）廃止の理由
工業用電子カウンタ機器としては、IEC 61010を利用するのが一般的であるため。
（2）廃止となる規格の移行先がある場合には、移行先の規格番号
無（3）強制法規・公共調達基準等への引用
無（4）JISマーク表示制度の適用の有無
無4．産業標準案作成に関する事項（1）産業標準案作成状況
認定産業標準作成機関
一般財団法人日本規格協会（JSA）（2）産業標準作成委員会名
電子分野産業標準作成委員会（3）産業標準作成委員会構成
a.生産者側委員
2名
b.使用消費者側委員
4名
c.販売側委員-名
d.中立者側委員
4名
備考）産業標準作成委員会の構成表及び開催状況（WG がある場合は，WG を含む。）並びに作成審議
経過（別紙に記載のとおり）

別紙
１．産業標準案名
工業用電子カウンタ
２．産業標準作成委員会の構成表
２．１ 電子分野産業標準作成委員会
氏名
所属
（委員長）
平本 俊郎
東京大学
（委員）
西城 武志
総務省 国際戦略局 通信規格課
藤井 哲郎
東京都市大学山田 誠
大阪公立大学渋谷 隆
株式会社白山諏訪 正樹
KOA株式会社
石井 紀彦
日本放送協会
河村 真紀子主婦連合会
内藤 恵美子公益社団法人日本消費生活アドバイザー・コンサルタント・
相談員協会
松井 隆
日本電信電話株式会社
（関係者）
内藤 智男
経済産業省 産業技術環境局 国際電気標準課
（事務局）

鐘築

利仁

一般財団法人日本規格協会

桑原克佳

一般財団法人日本規格協会

清水祐貴

一般財団法人日本規格協会

TPM

３.委員会開催状況
開催年月日

委員会区分

2023 年 12 月 X X 日（予定） 産業標準作成委員会

出席者数（名）〇/10

４．作成審議経過（予定）①産業標準案作成対象テーマの審議、並びに産業標準案の作成及び審議；
2023年12月X X 日 産業標準作成委員会議決②JIS作成予定一覧表の公表；
2023年12月X X 日～申出予定日（2024年7月上旬）までJSAウェブサイト掲載③利害関係者の産業標準作成委員会への参加の確保；
2023年12月X X 日～申出予定日（2024年7月上旬）までJSAウェブサイト掲載④異議申立ての機会の確保；
2023年12月X X 日～申出予定日（2024年7月上旬）までJSAウェブサイト掲載⑤意見受付公告；
2023年12月X X 日～2023年2月X X 日までJSAウェブサイト掲載⑥議事録及び委員会資料の公開；
2023年12月X X 日 JSAウェブサイト掲載
５．利害関係者の産業標準作成委員会への参加に関する内容（予定）
参加： 無
６．異議申立てに関する内容及び結果（予定）異議申立ての有無： 無７．意見受付公告に関する内容及び結果（予定）
意見受付の有無： 無

種別
中立者

生産者
使用者

－