信 頼 性 向 上と環 境 保 全 に 貢 献 する
総 合 エ ン ジ ニ ア リ ン グ・サ ー ビ ス

私たちは、システマティックな信頼性評 価、環 境
システム技 術、計 測技 術とサポート体 制、そして多 彩 なソリューションを通じてお 客 様の 新たな挑戦に貢献します。
IECQ制度（IEC Quality Assessment System for Electronic Components：
IEC電子部品品質認証制度）

１.公正で中立な第三者の立場で評価・解析等を行い国際的に通用するデータをご提供します。

品質保証された電子部品の国際貿易を促進することを目的とした
国 際 認 証 制 度。そのな かで「独 立 試 験 所」は、ISO/I EC17025に基づいた品質認証に関する試験・検査を実施する試験所です。
OKI エンジ二アリングは1988 年11月に独 立試 験 所認定書を交付され、以後、毎年実施される厳格な再審査に合格しています。

２.お客様の情報を外部に漏洩しないように厳しい「機密保持」が義務づけられています。

お客様のご要望にお応えするため、各種認証資格を取得しています。

１.大気・水中の濃度レベルの計量証明をご提供します。

１.国家標準にトレーサブルなシステムにより校 正を行い、JCSS標章付き校正証明書をご提供します。

２.音圧レベルの計量証明をご提供します。

２. MRA ※対応事業者として国際的に通用する校正証明書をご提供します。

３.環境計量士としてのアドバイスを実施します。

※国際相互承認

計量法校正事業者登録制度
計量証明事業登録（Japan Calibration Service System：計量法トレーサビリティ制度）
本登録制度は、国際標準化機構及び国際電気標準会議が定めた校正機関に関する基準（ISO/IEC 17025）の要求事項に適合している校正事業者を審査し登録する制度です。
更に、MRA 対応事業者は、APLAC（アジア太平洋試験所認定協
力機構）、ILAC（国際試験所認定協力機構）が定めた要求事項にも適合しています。OKIエンジニアリングは MRA 対応 JCSS 認定事業者（登録番号 0055）です。

本登録制度は、経済産業省が各都道府県に委託し「量の基準を定める適正な計量の実施を確保し、経済の発展と向上を図る」ことを目的とした計量法第107条に基づく制度です。
OKI エンジニアリングは東京都計量検定所へ登録しています。

１

事業内容
OKIエンジニアリングは、“エンジニアリング・エキスパート”として信頼性・
環境・計測など各分野の専門技術をベースに、独自性のあるスピーディなエンジニアリングサービスを展開。お客様の多彩なニーズに対応したサー
ビス・サポートソリューションをご提供します。

電子部品の技術・環境情報調査
COINServ®-Net

信頼性評価
故障解析 良品解析
実装評価 環境試験(コインサーブネット)

P 09
P 03

材料評価・成分分析
有害物質分析
環境測定

ESD 保護・EPA 構成プランニングP 11

・ESD 試験、Latch-up 試験
・ESD 保護設計コンサル

P 05

環境システム技術
高精度地震動予測装置
汚染土壌調査・対策

デバイス / モジュールの
特性評価

P 13

パワーデバイス評価
電源モジュール評価
テスト環境構築P 06

EMC 試験
・
製品安全試験

計測器校正サービス
P 10

P 07

品質保証と秘密保持

会社概要

OKIエンジ二アリングは品質保証と機密保持こそが信頼の基礎と考え、「ISO9001」および「IECQ独立
試 験 所（ISO/IEC17025:2005）」の認 証を取得し、公正・中立で正確な信頼できるサービスを提供すると同時に、社内規程に基づき顧客資産や顧客情報の徹底した管理を行っています。

■社

名

■創
立
■資 本 金■社 員 数■所 在 地■電話■F A X■ 代表取締役社長

沖エンジニアリング株式会社（略称OEG）
Oki Engineering Co.,Ltd
1973年12月6日（昭和48年）
1億円
130名〒179-0084 東京都練馬区氷川台3-20-16
03 -5920 -2300（代表）
03 -5920 -2310
柴田 康典（平成 28 年 4 月 1 日現在）

２

信頼性技術事業部門
tel.(03)5920-2354 fax.(03)5920-2306
E-mail:oeg-rsales-g@oki.com

信頼性評価サービスの特徴

信頼性技術事業部門は電子機器、ユニット（モジュール・回路基板）、
各種電子部品（IC・電子部品・基板）、材料を対象とした信頼性評価受託サービスをご提供します。試験・評価・解析を融合したシステマティックな信頼性評価
技術とサポート体制で、高品質な情報を取得しワンストップで問題解決に導きます。当社は、ISO/IEC17025に基づいた独立試験所の認定を取得しており、公正で中立な第三者の立場で試験・評価・解析を行い国際的に通用するデータをご提供します。
T（Test：試験）、E（Evaluation：評価）、A（Analysis：解析）でワンストップの問題解決ソリューションをご提供●試験・評価から解析まで目的に即したサービスを提供します●材料・部品・モジュール・基板・機器まであらゆる対象に対応します●当社の見解を添えて報告します●次世代産業発展のために新たな評価技術を先駆けて導入します●お客様に価値のあるサービスとソリューションを創出し続けます
当社はエレクトロニクス分野を中心に各種信頼性試験、特性評価、故障解析・分析サービスを、それぞれの専門分野に精通したエンジニアが40年を越える実績と経験で幅広く対応致します。

信頼性評価の対応分野と技術ソリューション

脱着

良品解析

磨

故障解析

配線パターン異常
回路修正

FIBによる配線の切断接続

回路パターン
回路解析用界層作業（3）良品解析
良品解析は電子部品の作り込み状態、内部欠陥 断面TEMによる解析例の状況から、将来故障に至る危険性を推定する
絶縁膜解析手法です。これらのソリューシュンは、
製造工
コンタクト
程改善にも応用されます。実施例として、
LSI・パ
ワーデバイス・各種電子部品・プリント配線基板
ゲート電通
等の品質比較調査や様々な規格に対する合否判定を実施しています。また、製造工程の課題抽 ヴィアコンタクト底部の剥がれ出などにも用いられています。
この良品解析においてＬＳＩデバイス向けに当社
クレータリング解析例
独自の検査項目を設定したものが、「ＬＳＩプロセス診断」です。電気的に良品であっても、製造工程の変動による故障のリスク、または将来故障を誘発する可能性の高い欠陥が存在する場合があります。ＬＳＩプロセス診断では、当社が実施した過去の故障解析データに基づき独自に設定した５０以上の評価項目について、
微細な内在欠陥、 パッシベーション膜の欠陥
不具合構造を最適な解析手法で観察し、その影響度を考慮した判定基準でウェーハ・プロセスを評価します。さらに、アッセンブリ・プロセスの評価を併用すれば、LSIデバイスの総合的な品質・信頼性向上を図る有効な評価手段となります。

LITによる解析例

市場、製造工程などで生じた部品の故障状態を把握し、電気的特性測定、X線観察、ロックイン赤外線発熱解析（LIT：Lock-In Thermal emission）、樹脂開封、内部観察など、さまざまな非破壊および破壊的解析手法に
より故障原因を究明します。
お客さまはこの結果をフィードバックすることにより、障害 回路基板内のスルーホール部で発熱箇所を特定の拡大を最小限に抑え、製造または使用上の改善策を導き、製品の品質と信頼性を確保することができます。必要にマイクロＸ線ＣＴによる
応じて、再現試験、本質的な対策のお手伝いをします。
再 構成画像 解 析 例
LITによる解析例

多層基板の内層導体ショート部の積層部平面加工による特定断・研

組立不良解析
ロジックLSI、メモリ、アナログIC、
LCR、LED、ディスクリート、MOSFET、CAN〜MCPまで対応
X線CT,SATなど
バイポーラ、パワーデバイス、IGBT
非破壊試験
切断面観察など
熱解析
LED 総合評価
破壊試験
熱過渡特性測定 光学特性評価
チップ取り出し温度分布測定熱特性評価
再組立、リボール等
EMC試験
熱設計コンサル
評価支援技術
気密封止パッケージ内ガス分析■ 故障解析・良品解析・分析（1）故障解析

チップ
パッケージ

層

半田技術評価
マイグレーションウィスカ
各種観察・強度試験等

開封

結晶欠陥から構造不良
異物までを検出
TEM・SEM・FIB
パッケージチップ（プロセス診断）
パワーデバイス
各種電子部品等

界
磨・実装技術評価LSI保護回路設計コンサル
組立ライン静電気管理コンサル

研

接続部クラックボイド
異物・腐食物観察
X線CT、EPMA
サーモグラフィ、LITなど

電子部品LSI

ESD対策

電気的特性評価

面

構造解析

切

分解

実装基板
不良解析

断

in-situ観察
PEM・液晶による動作不良箇所検出

環境試験：温度・湿度・
熱衝撃・振動・衝撃
特殊環境試験：塵埃・ガスなど
試験治具の考案
繰り返し曲げ試験繰り返し衝撃試験
マイグレーション
スクリーニング

EMC

測定
車載対応試験
無線対応試験
対応コンサル
電気安全試験

開封後の動作解析

各種信頼性試験

電子機器

LITで特定された部位の内部スルー
ホール間に導電性異物を特定（2）観察・分析
表面形状、断面形状などの光学顕微鏡を用いた観察、走査型電子顕微鏡・透過型電子顕微鏡観察および電子線マイクロ分析（EPMA-WDX、SEM-EDX、TEM-EDX）
による無機物の定性分析を行います。必要に応じて前処理加工、断面試料作製、微量検体の採取、純水抽出イオンの分析、
プラスチック材料の有機物分析、その他、熱分析などにも対応します。また、当社で扱えない高度分析にも協業社施設と連携した提供が可能です。

（4）気密封止パッケージ内水分・残留ガス分析
気密封止パッケージは高信頼性が要求される電子デバイスに使用されています。セラミック、メタル、ガラスなどで気密封止されたうえ不活性ガ
スで充填されていますが、この分析は、デバイスの空洞部に残留した水
蒸気量、ガス量を測定し製品品質の向上に役立てます。

３

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実装評価・環境試験（2）耐久試験■ 実装評価・劣化評価

電子部品やユニットは限界以下のストレスであっても長期の使用で劣化します。このような長期にわたるストレスに対する耐久性を評価するため、高温、低温保管、高温バイアス試験、恒温・恒湿バイアス試験などの各種耐久試験を実施します。
さらに製品の輸送および使用環境において受ける
環境ストレスに対する耐性を評価するため、
温度・湿度および振動を複合的に加える複合振動試験や温度減圧複合試験を実施します。また、ご要
望により、試験治具の製作や材料の評価試験も行います。

（1）鉛フリー実装評価
地球環境への配慮から、世界的に鉛フリーはんだ実装が要求され、現在では多くの分野で採用されています。鉛フリー化のためには、多くの種類のはんだ組成や端子メッキに対し、さまざまな評価が必要です。実装
時の熱による影響や、経年劣化、断面観察、分析など総合的な評価を行います。併せて、
ウィスカー対策の評価なども行います。

（2）劣化評価
電子部品などの劣化状態を把握するため、物理的・化学的な調査、加速試験による評価を行います。部品の適切な交換時期や製品・メンテナンス
内容を決定するためのデータとして利用できます。

（3）熱解析
EIA-JEDEC(Electronic Industries Alliance - Joint Electron
Device Engineering Council)で規格･標準化された手法による熱過渡特性測定を基軸に、温度分布測定、熱設計コンサルティングを行っています。
熱過渡特性測定は超高速でノイズの影響がなく精度の高い測定によりパワー･トランジスタ､ LEDをはじめあらゆる半導体パッケージ､ 回路
基板､放熱部品などの各構成材料の熱容量-熱抵抗特性を取得できます｡
また、様々な部品やユニットを対象とし、高性能サーモグラフィや熱電対を用いた温度・温度分布測定も提供します。熱設計コンサルティングでは、協業会社とのコラボレーションにより熱設計ソリューションを提供します。

恒温恒湿室

大型塩水サイクル試験機

複合環境動試験機

各種恒温槽（3）特殊環境試験
プラント・屋外など特殊環境下における電子部品の耐久性を調査するための試験です。ガス試験、塩水噴霧試験、塵埃試験（IP試験対応）などの特殊環境下での試験を実施します。また、大型製品に対応した恒温恒湿
室（内寸W2500 D3900 H3000mm）なども充実しています。

■ 信頼性・環境試験※（4）IP試験（International Protection）

電子部品やユニットが実装時や使用時に受ける熱的ストレス（温度サイ
クル、熱衝撃）や機械的ストレス（振動・衝撃）、または、その複合条件を想定した試験を行い、正常に機能することを確認する試験です。
信頼性試験は、規定の信頼性要求に即した判定をするための各種環境条件における試験の総称です。基準に基づき定量的な評価を行います。
個別の試験条件はあらかじめ、お打合せさせていただきます。ご要望により、試験条件のご提案、試験治具の作製も対応いたします。

電子機器の外郭（エンクロージャ）による固形物侵入および水の浸入に対する保護等級を評価するIP試験のフルライン・サービスを提供しています。固形物侵入はIP1X〜6X等級、水の浸入はIPX1〜X9K等級で試験を実施します。本サービスでは、国際規格「IEC 60529」に規定されたIP
試験を業界最短となる1日で評価します。また、試料の加温や冷却などの付加条件による試験サービスもご提供します。

（1）環境試験（5）イオンマイグレーション評価

環境試験は、信頼性試験のひとつであり、電子デバイス・部品の諸環境に対する耐性を確認し、設計面、製造面での不具合を見いだす有効な試験手段です。試験内容は、冷熱衝撃、温度サイクル、温湿度サイクル、高温・低温保存、蒸気加圧などの耐候ストレス試験、振動・衝撃・落下・定加速度などの機械的ストレス試験などを実施します。

イオンマイグレーションとは主にプリント基板の電気回路上で電極間の絶縁性が電気的、化学的または熱等の要因により不良となり、電極金属がイオン化して短絡現象を引き起こす現象のことです。当社ではプリント基板のイオンマイグレーションを評価する方法として、
高温高湿試験を行い一定時間毎に導体間の絶縁抵抗を測定する試験方法等を提案しています。

※IPとは、電気機器の外郭による異物、ホコリや水に対する保護構造を等級分類する方式です。

LED 総合評価
近年、低消費電力で長寿命という特徴を有することから、LED（Light Emitting Diode：発光ダイオード）が急速に市場を拡大しています。当社は LED 単体の作り込み品質はもとより、LED を使用した製品に関わる電気特性、熱特性、光学特性の測定および信頼性試験、構造解析などからなる「LED 総合評価サービス」を提供しています。大型照明器具に対応した直径約 2m の積分球を用い LED の放射エネルギー 5000W
までの全光束、色温度などの測定が可能です。また、
大型配光特性測定システムを使用した角度（1 度ステップ）ごとの分光分布測定などの配光特性評価サービスも実施します。
y

520nm
525nm
515nm

530nm
535nm
540nm

510nm

同じLEDでも電流値 /温度により明るさ/色が異なる

スペクトル軌跡

545nm
550nm

1.E+05

熱容量

0.8

1.E+03

560nm
565nm
570nm
500nm

1.E+02

0.35

575nm
580nm
590nm
595nm
600nm
605nm
610nm
620nm
635nm
665nm

495nm

490nm

0.2

0.345
y 0.34

25℃

485nm

475nm
470nm
460nm
440nm
360nm

0
0

60℃

0.335

480nm

0.2

0.6

赤み

90℃

0.33

純紫軌跡
0.4

0.8

x

0.3

0.31

x

I=200mA
I=300mA
I=400mA
0.32

Cth[Ws/K]

585nm

0.4

ヒートスプレッダ

Total Rth

1.E+04

555nm

505nm

緑み 0.6

全光束測定システム（積分球内径：1930mm）

1.E+01
1.E+00

A社製
B社製
C社製
D 社製

1.E-01
1.E-02
1.E-03フィン

1.E-04
1.E-05

B社製
0

5

LED素子

CIE1931 Yxy表色系の色度図例

Rth[K/W]

熱過度解析

４

10
熱抵抗

15

ヒートスプレッダからフィンにかけて、複数の接続不全箇所有り

配光測定システムType B（αβ座標系）

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ESD（静電気放電）保護トータルサービス●ESD試験＋LSIテストによるデバイスの実力評価サービス●TDR-TLP測定サービス●静電気トラブル対策／工程改良方法提案サービス●静電気保護エリアの構成方法提案サービス■ ESD試験+LSIテストによるデバイスの実力評価サービス■ TDR(Time-Domain-Reﬂection)-TLP測定サービス

各種公的標準規格（JEITA、JEDEC、IEC、AEC-Q）及びセットメーカ様
独自規格に対応したHBM、MM、CDM、ラッチアップ試験、コンデンサ
放電法ラッチアップ試験等を実施します。さらに、LSIテスタを使用した
正確な実力値評価をワンストップで提供します。

集 積回路のESD 保護設 計において、保護素子や保護される素子がESDサージのような時定数の短いパルス波に対して、どのようなI -V
特性で、どのくらいの電流まで許容できるかを把握しておくことは非常に重要です。TDR-TLP測定法は、測定素子（DUT）に矩形波を印加し、その時のDUTからの反射波をオシロスコープで観測し解析することにより、素 子のESD - Eve nt発 生時の動 作特 性を得る方法です。T L P
装置による測定は熱破壊を起こしにくく大電流領域（〜10A）の特性を確認・取得することができます。
TDR-TLP測定手法を用いることにより精度の良いESD -Event時の特性およびESDパラメータをご提供いたします。

ESD ／ LU ／イミュニティ試験

マルチ印加
機能

短納期試験
の提供

サージ電流
センス機能

正確な試験
の提供

P/F 判定による実力値評価を行なうには
HBM/MM/ラッチアップ試験装置

LSIテスタ判定

実力値試験

Logic : AdvantestT3347A(256ch. max.40MHz)
Soc : Advantest T6575(512ch. max.500MHz)
Analog: Wintest
WTS-700(24ch.)

TLP測定装置構成

CDM試験装置

試験報告書作成

Pass

LSIテスタ判定結果
・端子リークチェック
・電源電流チェック・ファンクションチェック

上位電圧印加RepeatFail

ESD/LU
試験結果報告書

実力値確定■ 静電気トラブル対策／工程改良方法提案サービス■ 静電気保護作業エリアの構成方法提案サービス万全を期したつもりのEPA内でも見逃されてしまう静電気トラブルの原因を調査／究明します。静電破壊試験による再現試験を行い、適切な改良プランを提案します。

静電気保護が未対策の作業エリアには、静電気トラブルの危険が多数存在します。作業内容に応じた最適なEPA（ESD Protected Area：
静電気保護区域）の構成プランを提案します。また、静電気に関する講習会を実施します。

静電気トラブル対策手順

未対策の作業エリア(非EPA）
保管棚（未対策）

故障再現

破壊モデルの特定

帯電過程 /放電
過程の調査

工程対策の
提案

保管容器（未対策）
包装材（プラスチック）

未対策の作業エリアには静電気トラブルの危険が多数存在します。

台車
車
（未対策）
策）

作業台（未対策）

人体帯電モデルマシンモデル

人員・機器の帯電量調査 /放電検出

人員・機器の接地対策済の作業エリア(EPA）

アース

（未対策）

床

（未対策）

トラブル発生品
同一症状

静電破壊試験による再現品

表示

保管棚（導電マット）
保管容器（導電性）

帯電体誘導モデル
ボード帯電モデル
デバイス帯電モデル
チップ帯電モデル

製造工程内の帯電物調査
ボード/デバイス/
チップの帯電調査 /
放電検出

帯電の抑制
危険な放電の回避

非ESD破壊（EOS破壊）電気的オーバースト
レス発生工程調査

電気的オーバー
ストレス要因の排除

椅子（未対策）台車

除電器（イオナイザ）

（対策品）

作業台
（導電マット）

LSIの故障原因は、1990年及び2009年
においても、静電気が約40％を占める。
（当社調査結果）

アース

導電床

椅子（対策品）■ ESD保護設計コンサル
半導体デバイスのESD保護設計に必要となる、お客様が使用されるプロセスのESDパラメータを抽出し、端子の特性を損なわない最適な
ESD保護回路の提案および実製品のESD保護設計支援などを提供します。TDR-TLP 測定方法を利用した独自のESD 保護設計手法を用いて実施します。他に、Latch-up保護設計支援、IO設計ガイドライン作成などのご要望にお応えします。
● ESD保護最適設計手法コンサル● Latch-up耐性設計コンサル

PC● ESD保護製品設計コンサル

５

リストストラップ
導電靴
作業衣服も対象

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tel.(03)5920-2366 fax.(03)5920-2306
E-mail:oeg-dsales-g@oki.com

デバイス／モジュールの特性評価●車載向け信頼性評価試験●ハイパワーデバイスの信頼性試験・特性測定●モジュールの信頼性評価・故障解析■ 車載向け信頼性評価試験●パワー温度サイクル試験（AEC-Q100対応）●不揮発性メモリの評価試験（AEC-Q100対応）
制御部

Condition

Temperature
Extremes
Degrees C.

Transition Time

Dwell Time at

Between Temp
Extreme, Max.

Each Temp
Extreme, Min.

A

-40(+0, -10)
to+85(+10,-0)

20 minutes

10 minutes

B-40(+0, -10)
to+125(+10, -0)

30 minutes

10 minutes

パワー温度サイクル試験

温度遷移条件メモリ メモリ メモリ
メモリ メモリ メモリ

電源
投入制御

Test

恒温槽

不揮発性
メモリ
IF信号

パワー温度サイクル試験は、デバイスの通電動作と温度環境を周期的に変化させて、耐性を確認する試験です。デバイスの通電動作に必要な治具製作から試験実施まで、ワンストップで対応します。

不揮発性
メモリ用
電源

電源

メモリ メモリ メモリ
メモリ メモリ メモリ

エンデュランス／リテンション試験
システムの構成

自社開発したエンデュランス／リテンション試験の制御部ボード

・不揮発性メモリへの同時ライト/同時リード/同時コンペアを実施できます。
・固有の電源投入初期化制御に対応できます。
・不揮発性メモリのコンペアエラーを監視し、エラー情報(累積エラー回数，
累積ライト/リード回数、エラーアドレス、エラーデータパターン、エラー
時の期待値、累積エラー回数)を取得できます。
・AEC-Q100で要求されている231個 個別に対応可能です。

標準的なパワー温度サイクル試験条件■ ハイパワーデバイスの信頼性試験・特性測定●パワーサイクル試験●大電流及び広範囲温度の電気的特性測定

パワーサイクル試験と熱過渡解析／電気的特性測定を組み合わせて実施でき、劣化の進行状況を非破壊にて確認することが可能です。具体的には、パワーサイクル試験中の構造関数、VCE（sat）、ゲートリーク
電流測定によりダイボンド材、ボンディングワイヤ、ゲート酸化膜等の劣化を検出できます。

・SiCデバイスの大電流（max500A）／広範囲温度（-60〜300℃）での測定が可能です。
・IGBTの重要な損失特性であるtf（ターンオフ時間）を正確に測定します。
Vg-Id
20

25deg
125deg175deg200deg225deg250deg-25deg-55degId [A]

1510
5
0

パワーサイクル試験実施中の
VCE
（sat）
の変化

超音波探傷観察によるワイヤ剥離観察
（非破壊）

0

2

4

6

8 10 12 14 16
Vg [V]

SiC MOSFET のVg-Id 特性

IGBTのtf（ ターンオフ時間）特性■ モジュールの信頼性評価・故障解析●SSD信頼性評価●電源モジュールの信頼性評価・故障解析

・ 自社で開発したSSD評価シス
テムにて、read／write耐性
試 験、データ保 持 耐 性 試 験、各試験におけるS.M. A .R.T.
情報＊の有効性評価を実施し、SSDの特性を明確に評価できます。
S.M.A.R.T.情報

オフィスや家庭用電子機器に多く使用される電源モジュール（ACアダ
プタ、オンボード電源）の安全性を確保することが重要になっています。
電源モジュールの評価試験・解析・安全検証及び対策提案などベンチ
マーキングのサービスを提供致します。

・ 最適なSSDを選定する為には、SSDの実力を把握すると同 時 に 、コントロール I C の性能、メーカーの信頼性・性能に関する考え 方を理 解することが重要です。

エンデュランス

10864○ 製品安全検証
・基本特性試験、回路設計上の安全性検証、信頼性試験など
・規定類（カタログや仕様書）
への適合性検証など○ 故障解析および対策提案
・製品の機能・性能に対する不具合要因の抽出
・安全検証結果の解析および対策案の提案

20
リテンション

転送レート
A社

B社

C社

赤外線温度分布像：良品

D社
ノイズPk-Pk
274mV

AC入力

＊：Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology
障害の早期発見・故障の予測などを目的として HDD/SSD に搭載されている機能

保持時間
DC出力

立上り遅延時間立下り時間

ch1 100V ch2 5.00V M 100ms

AC入力変動・瞬断評価例

６

DC出力

立上り時間

100mV 10,0μS

スイッチングノイズ評価例

赤外線温度分布像：不具合品

EMC事業部
tel.(0495)22-8411 fax.(0495)22-8410
E-mail:oeg-emc-div@oki.com

EMC（Electromagnetic Compatibility）試験

EMC認定試験 所（ISO/IEC17025）として、民生機器、医用電気機器、産業機器、車載機器など様々な製品に対応し、
各種国際規格のEMC認証試験をご提供します。また、豊富な実績と経験を積んだ専門技術者がEMC総合ソリューションをご提供します。

■ EMC試験サービス● 試験所認定（ISO/IEC17025など）
・JAB（公益財団法人 日本適合性認定協会）より、ISO/
IEC17025の試験所認定を取得
シンボルマーク付き試験報告書は相互承認に基づき、グローバルに通用するというメリットがあります。
・VCA（Vehicle Certiﬁcation Agency）
車載機器においては、VCAとの提携により、Eマーク取得の認定試験に対応しています

EMC：電磁的両立性（Electromagnetic Compatibility）
E M I：電磁妨害（Electromagnetic Interference）（Emission）
EMS：電磁耐性（Electromagnetic Susceptibility）（Immunity）● 試験所登録・V C C （I 情報処理装置等電波自主規制協議会）
・F C C （Federal Communications Commission）＊EMI：電子機器からの発生した不要輻射が他に影響を与えないこと（例：放射ノイズ、伝導ノイズ、高調波、フリッカ等）＊EMS：外部からの電磁波鑑賞により影響を受けないこと（例：放射電磁界、ESD、雷サージ等）● 対応規格例
1.CISPR/IEC（国際） 2.JIS（日本・医療機器 等） 3.VCCI（日本・情報処理装置）
4.FCC（米国） 5.EN（欧州） 6.CISPR/ISO/JASO/各社メーカー規格（車載関連）■ EMCソリューション

■ 試験形態●対応規格に関するご相談●各社自動車メーカー規格等の対応●規格内容の解説、試験計画の立案●試験にて規格クリアできない場合の技術相談●コストを考量した改善支援●iNARTE/EMC Engineerによる専門相談●立会試験
あらかじめ設備をご予約いただき、お客様立会いのもとで試験を実施します。

●依頼試験
装置をお預かりし、お客様立会いなしに試験実施します。遠方な方やスケ
ジュールが合わない方に対し、迅速・低コストにて試験を提供いたします。

■ 試験所の仕様＜試験所＞
・EMCセンター（埼玉県本庄市）：

外観

第一10ｍ法電波暗室

小型電波暗室

第二10m法電波暗室

第二車載電波暗室

第一シールドルーム

第一車載電波暗室

製品安全試験室（恒温恒湿室）ノイズ試験室

第一EMCセンター

第二シールドルーム

第二EMCセンター
EMCセンターサイトの種類−

1m

10 ／ 3ｍ

試 験 室 L：8ｍ×W:10m×H:4m

1m

−

−

5.0m ／ 2.0m

1.5m

−

−

5.0m ／ 3.0m

恒温恒湿室 L：2.5ｍ×W:3.5m×H:2.7m

−

−

−

耐荷重 3.0トン／ 1.0トン

1.0トン

−

−

3.0トン／ 1.0トン 温室度範囲 -10℃〜 +80℃/20 〜 95%rh

−

−

−

W3.0×H3.0

W1.5×H1.9

W2.0×H2.0

W1.6×H1.9

W1.8×H2.3

W1.8×H2.3

W1.8×H2.0

電 界 30MHz 〜 40GHz
磁 界 10KHz 〜 30MHz

30MHz 〜 2.6GHz−

ISO7637-2,3

9KHz 〜 30MHz

9KHz 〜 30MHz

直 径

伝 導

10KHz 〜 30MHz−

20Hz 〜 8GHz
100KHz 〜 200MHz

W3.0×H3.0
30MHz 〜 18GHz

20Hz 〜 26.5GHz

10KHz 〜 30MHz
9KHz 〜 30MHz

10KHz 〜 6GHz
IEC61000シリーズ

10KHz 〜 6GHz
IEC61000シリーズ

IEC61000シリーズ

ISO11452シリーズ

10KHz 〜 6GHz
IEC61000シリーズ

AC

1、3φ12kVA（MAX18kVA）

1、3φ12kVA

1、3φ12kVA（MAX18kVA）

100 ／ 200VDC

0 〜 65V、300A

0 〜 65V、150A

0 〜 65V、150A

0 〜 65V、100A

イミュニティ

供給電源

ノイズ試験室3ｍ

搬入間口（m）
エミッション

第二車載電波暗室 第二シールドルーム

10 ／ 3ｍ

EMI測定距離
ターンテーブル第一10ｍ法電波暗室

第一EMCセンター
第二EMCセンター
小型電波暗室 第一シールドルーム 第一車載電波暗室 第二10m法電波暗室
製品安全試験室

ISO10605

100KHz 〜 200MHz
−

G-TEM

ISO11452シリーズ

IEC61000シリーズ

1、3φ12kVA（MAX18kVA）

1、3φ12kVA

1、3φ12kVA

1、3φ12kVA

100V、60A

0 〜 500V、30A

0 〜 500V、30A

0 〜 60V、200A

７EMC事業部
tel.(0495)22-8411 fax.(0495)22-8410
E-mail:oeg-emc-div@oki.com

製品安全試験

医用電気機器認定試験所（ISO/IEC17025）としての認証試験および産業機器や電気用品安全法等お客さまのご要望に応じた試験をご提供します。また、豊富な実績と経験を積んだ専門技術者よる設計開発段階でのプリチェックサービスをご提供します。

製品安全試験サービス（規格適合及び指定項目試験の提供）①プリチェック②電気的試験

①プリチェック③構造的試験

②電気的試験

④報告書作成③構造的試験

入力電力試験

接触に対する保護

電圧及びエネルギーの制限

衝撃試験

外観検査

内部検査

アース導通試験

ボールプレッシャー試験

湿度試験
スプリングインパクトハンマー試験

部品の確認
漏洩電流試験

外装及び保護カバー

耐電圧試験

仕様資料確認

リスクアセスメント実施支援

温度上昇試験

機械的強度試験

異常試験（単一故障）

取り扱い説明書レビュー①プリチェック②電気的試験

③構造的試験

装 置 が 該 当規格 に適 合しているか、
目視による構造チェックを実施します。
設計段階から構造的不具合を摘出し、本試験において大きな設計変更等が生じない様にチェックします。認証が必要なパーツ類の確認も実施します。
また、リスクアセスメントについての説明や危険性の洗い出し、帳票類の提供なども支援します。

電気的特性の安全性に係わる試験を実施します。一部品が故障した時の影響等についても試験実施します。

構造・機械的特性の安全性に係わる試験を実施します。外装に衝撃を与え
壊れても安 全 が 確保できるか 等の試験も実施します。

危険要因●感電（漏れ電流の測定）●エネルギーによる危険（残留電圧の測定）●熱危険（火傷防止）●火災●機械的危機（指挟み、転倒など）●放射線の危険（X 線など） ●化学的危険（薬品など） ●患者への危険（医療のみ）■ 試験所認定（ISO/IEC17025）■ 安全評価試験の流れ

・JAB（公益財団法人

製品安全試験では、まず目視による構造検査を行い配線表示などの構造的な不具合箇所を洗い出し（プリチェック）、問題点は規格適合試験の前に解決します。次に、取得する規格に基づく電気的試験を実施し、規格に適合するまで不具合点の改善を行います。

日本適合性認定協会）■ 対応分野と規格

お問い合わせ
国際規格

日本

北米

欧州

情報処理装置 IEC60950 JIS C 6950

UL/CSA60950 EN60950

計

測

器

IEC61010

JIS C 1010

UL/CSA61010

EN61010

医 用 機 器

IEC60601

JIS T 0601-1

FDA

EN60601

計画打ち合わせプリチェック
本試験へ■ 製品安全ソリューション

部品表、取扱説明書などの提供資料の確認

・対応規格に関する解説とご相談
・試作段階からの構造チェック
・iNARTE/PS Engineerによる専門相談

電気的試験：漏れ電流測定、耐電圧など

構造的試験：表示、強度、安定性絶縁距離など■ EMC・製品安全ワンストップサービス
報告書作成

認証支援サービス、CEマーキングへの自己宣言サポートなどEMC・製品安全試験ワンストップでご提供します。
JAB認証取得範囲で発行された、シンボルマーク付き試験報告書は国際試験所認定協力機構（IL AC）及びアジア太平洋試験所認定協力機構（APLAC)の相互認証加盟国に受入れられます。

８部品情報事業部
tel.(048)420-7129 fax.(048)420-7087
E-mail:oeg-parts-div@oki.com

電気・電子部品の技術環境情報調査サービス
電子部品の情報検索サイトCOINServ®-Net■ 電気・電子部品の技術環境情報調査サービス

本サービスは、弊社で長年培ってきた経験と知識を基に部品情報の調査・収集を行います。環境情報だけでなく技術情報についてもお客様に代わって調査し、総合的に部品情報を収集します。また、メーカーへの問合わせ等では入手不可能な環境情報については、弊社の分析設備で分析・調査を行って情報を提供することも可能です。さらに、代替品で選定した部品の信頼性評価、良品解析も対応可能です。

貴社

部品メーカ

OKIエンジニアリング

調査対象・フォーマット等の事前確認

調査代行の了承・手順の事前整合
調査開始

調査票作成

部品リスト作成

各種問合せ回答・進捗状況により対応協議
調査結果受領
情報種類

技術情報
調査

環境情報
調査

回答記入

調査票回答確認

調査項目
（例）

調査内容

データシート情報調査
製造条件調査信頼性情報調査
代替品調査
製造中止部品調査

定格特性、機械的特性、外観図などが記載されたデータシート、仕様書の入手
リフロープロファイル、MSLレベルや保管条件、テーピング条件や梱包条件の入手
信頼性項目・条件、信頼性評価レポート、故障率（FIT数）の入手
製造中止部品の代替部品を当社の部品データベースおよびメーカー調査により選定
電子部品の製造中止情報をメーカー調査により入手

品名クレンジング

部品の重複登録や誤データの照合、テーピング部品等の区分けを明確化して登録情報を整理。
お客様リストを基にメーカー品名、型番を精査しリストを作成。

技術情報登録教育

情報収集、データベース登録時の留意点について当社ノウハウを基に説明会/講習会を実施（代行入力にも対応）

環境情報調査（REACH/RoHS）

電子部品のREACH/RoHS対応状況をメーカー調査し、非含有保証書や含有化学物質データを入手（chemSHERPA、JAMP-AIS、JAMA、JGPSSI、独自フォーマットに対応）

紛争鉱物調査環境情報データ作成支援

紛争鉱物（スズ、タンタル、タングステン、金）をメーカー調査により入手（EICC/GeSIテンプレート）
お客様所有の含有化学物質データを各種フォーマットでデータ化（メーカー独自フォーマット/AIS変換など）

CEマーキングRoHS適合調査
および技術文書作成支援

CEマーク取得（改正RoHS指令（2011/65/EU））
におけるRoHS適合調査、および適合性を証明するための技術文書作成をサポート。

環境情報登録教育

情報収集、調査フォーマット（JGPSSI、JAMP-AIS等）
について当社ノウハウを基に説明会/講習会を実施■ 電子部品の情報検索サイトCOINServ-Net
COINSer v-Netは、長年、電子機器開発で培った部品選定及び部品活用ノウハウと電子部品メーカ及び部品商社とのタイアップにより構築した「電子部品データベース」を活用し、使い勝手の良いASPとして最小限のコストでお客様に必要なさまざまな電子部品の技術・環境情報を提供する
情報検索サイトです。

サービス会員様

部品情報データベース

検索・閲覧

選定部品の代替品も確認したい

抽出・表示

代替部品検索

品名を基に同様品の表示

技術情報

部品メーカの互換情報が知りたい

http://www.coinserv-net.jp/

クロスリファレンス検索

メーカ・代理店情報より表示

特性を基に部品を選定したい

任意の情報を基に表示

複数部品の特性を比較したい

スペック横並比較検索
複数品名の特性を一覧表示

選定部品の定格・特性を知りたい

データシート検索

データシートをそのまま表示

環境情報

部品の含有化学物質が知りたい

含有化学物質検索

各メーカ情報を表示

部品の分析情報を知りたい

製造情報

基本情報

・実装条件
・はんだ条件
・保管条件
・梱包条件

・品名
・機能/特性
・外観図

品質情報

メーカ情報

・使用上の注意
・故障率
・安全規格
・化学物質

・メーカ名
・製造中止
・代替部品

カテゴリ検索化学物質分析検索

OEG独自分析結果を表示

９※COINServは、沖電気工業株式会社の登録商標です。

計測事業部
tel.(0495)22-7112 fax.(0495)22-0326
E-mail:oeg-keisoku-div@oki.com

計測器校正サービス

計量法に基づくJCSS認定事業者として国家標準からトレースされた豊富な標準器を保有し、1973年の当社創立以来、長年の実績に基づく高い技術と品質で、直流から高周波・光関連・IC関連試験 機器まで、国内外のメーカーの計測器の校正サービスをご提供します。また、お客様の計測器の一括受託、出張校正対応、一括管理・保管等の実施の他、校正時期に合わせた校正通知の発行も行っています。

■ 校正事業の特長●計測器校正サービス（一括受注可能）●短納期／出張校正・休日校正お客様がお持ちの全ての計測器の校正を一括して受託します。
電気関係測定器を中心に、機械系（測長機器）
・理化学系測定器の校正も行っております。また、メーカへの修理依頼も当社にて代行します。

短納期です。また、出張校正サービス、休日校正も対応します。

●引取（預かり）校正サービス
社有車および契約運送会社により無梱包にて計測機器を引取・納品致します。
（関東圏内・拠点近郊）
宅配便での引取・納品も致します。

■ 認定資格■ トレーサビリティ

計量法に基づく登録事業者および国際MRA対応認定事業者

トレーサビリティチャート
（全体図）は、無料です。閲覧されたい方は当社ホームページhttp//www.oeg.co.jpのお問い合わせから「トレー
サビリティチャート閲覧希望」と記入の上、申込み下さい。

国立標準研究機関：国家標準
標準供給機関：標準供給

当社は、認定基準としてJIS Q 17025（ISO/IEC 17025）を用い、認定
スキームをISO/IEC17011に従って運営されているJCSSの下で認定されています。JCSSを運営している認定機関（IAJapan）は、アジア太平洋試験所認定協力機構（APLAC）及び国際試験所認定協力機構（ILAC）の相互承認に署名しています。
当社校正室は、国際MRA対応JCSS認定事業者です。JCSS 0055は、
当校正室の認定番号です。

OKI エンジニアリング：一次標準
OKI エンジニアリング：二次標準
OKI エンジニアリング：常用標準
各 企 業：計 測 器■ 校正可能計測器・測長具の例● 電圧・電流・電力測定器● 記録装置

表面電圧計、RMS電圧計、RF電子電圧計、クランプ電流計、漏洩電流計、 ペンレコーダ、X-Yレコーダ、データロガー、ハイブリッドレコーダ、データレコーダ
高周波電流計、標準電圧電流発生器、エレクトロメータ、デジタルマルチメータ、 ● 温度・湿度関連装置
デジタルパワーメータ、RFパワーメータ、標準電池
温度計、温度調節器、湿度計、表面温度計、放射温度計、自記温湿度記録計、● 電源関連装置
温度記録計、熱電対、恒温槽、クリーンオーブン、雰囲気オーブン、温度サイクル
槽、熱衝撃試験槽、恒温恒湿槽、プレッシャークッカー、HAST CHAMBER
ＡＣ／ＤＣ安定化電源、定電圧・定電流電源、
ＡＣ／ＤＣ電子負荷装置● 増幅器● 回路定数等測定器
直流増幅器、電力増幅器、RF増幅器
標準抵抗器、可変抵抗器、標準コンデンサ、標準自己インダクタンス、
ローパス・ハイパスフィルタ、ミリオームメータ、微小容量測定器、● 半導体関連装置
LCRメータ、絶縁抵抗計、超絶縁計、耐圧試験器、Qメータ、アッテネータ
LSIテストシステム、ボードテスタ、ウェハプローバ、オートハンドラ、バーン
インシステム● 発振器・信号発生器● 光関連装置
標準周波数発生器、標準信号発生器、パルス発生器、ファンクションジェネレータ、
光マルチメータ、光チャネルセレクタ、光方向性結合器、光反射測定器、
白色雑音発生器、ノイズシミュレータ、ベクトル信号発生器
光スイッチ/光サーキュレータ、光増幅器● 周波数・時間・波形測定器● 機械系
周波数カウンタ、ユニバーサルカウンタ、周波数分析器、位相計、オシロスコープ、ノギス、マイクロメータ、ダイヤルゲージ、ハイトゲージ、ピンゲージ、変位計、
デジタルオシロスコープ、ストップウォッチ
工具顕微鏡、投影機、トルクドライバ、トルクレンチ、トルクメータ、トルクアナ
ライザ、電子天秤、プッシュプルゲージ、テンションゲージ、歪
（ひずみ）
計、シグ
● アナライザナルコンディショナ、マイクロプロトラクタ、傾斜測定器、圧力計、回転計
スペクトラムアナライザ、FFTアナライザ、トランジェントアナライザ、
ロジックアナライザ、プロトコルアナライザ、オーディオアナライザ、● その他
ネットワークアナライザ、モジュレーションアナライザ
照度計、騒音計、ベルト張力計、色濃度計、PXI計測ボード

１０

環境事業部
tel.(03)5920-2356 fax.(03)5920-2306
E-mail:oeg-env-div@oki.com

材料評価・成分分析にかかわるソリューション

電気・電子機器製品には種々の化学物質が使用されており、製品の特性に影響を与えるものも少なくありません。その物質が直接製品の特性に影響するものもあれば、その物質から副次的に発生し影響を及ぼすものもあり、影響を及ぼすモードは多岐にわたっています。
当社では、電気特性や物理特性だけでなく化学的見地から、問題解決に向けご提案いたします。

■ シロキサン解析ソリューション
シロキサンによる接点障害の対策として種々の測定・試験について、コンサルテーション含め承ります。

加熱条件 150℃／10min

アバンダンス●加熱発生ガス分析●シロキサン暴露試験● 異物解析

任意のシロキサン濃度に調整したチャンバ
内で、暴露試験をおこないます。製品の事前動作試験、不具合の再現試験に適用します。

400000350000試料D12

二次加硫による低分子シロキサン対策を施したシリコーンゴム

300000D11250000加熱条件

200000150℃／ 10ｍｉｎ

150000D7（環状シロキサン 7 量体）

100000

不具合の原因となった異物などの解析をおこない、シロキサンに起因するものか否かを判定します。

D15

D9
D7

1.00

2.00

3.00

4.00

5.00

6.00

7.00

8.00

D14

D10

D16（環状シロキサン 16 量体）検出

50000
時間

D13

TIC:11062503D￥DATASIM.MS

450000

試 料を任意の温 度に加熱したときの発生ガスを定量します。材料・部品から発生するシロキサンの種類と量を測定し、シロキサン障害の原因物かどうか判定します。
ナノグラムオーダーの検出が 可能です。また加熱 発 生ガス分析では、シロキサン
だけではなくVOC（揮発性有機化合物）にも適用可能です。

D16

D8

9.00 11.00 13.00 15.00 17.00 19.00 21.00 23.00 25.00 27.00 29.00 31.00
10.00 12.00 14.00 16.00 18.00 20.00 22.00 24.00 26.00 28.00 30.00■ 硫黄系アウトガス分析
電子機器の部品や基板が硫黄系ガスによって腐食し故障にいたることがあります。特に、LED照明器具では電極、配線に銀を用いることが多く、銀電極・配線の硫化による不具合が増加しています。硫黄系ガスを高感度・高選択で分析可能な手法を採用、硫黄系ガスの発生源を特定します。

●故障原因の確認

硫化水素

110

●硫黄系アウトガスの発生源特定
使用周囲環境の調査の他、梱包材、当該機器自体のアウトガスを調査、機器については
構成材料ごとに分析を実施します。

例 LED 構成材の発生ガスクロマトグラム
LED 基板から、硫化カルボニル、硫化水素、二硫化炭素の発生が認められた。

90

検出器濃度

腐食部分の元素分析を実施して、硫黄系のガスが不具合の原因であることを確認
します。

70
50
30

二酸化炭素
硫化カルボニル

10
-5

0

5

10

15

20

25

30

保持時間 (min）■ 樹脂熱特性測定■ 異物解析ソリューション

樹脂の熱 特 性は金 属に比べ温 度依 存性が 高く、通常の使 用温 度で容易に大きな変異を示し、不具合の原因となる場合があります。

製品・部品に付着した異物は様々な不具合を起こします。付着した異物を解析し、その原因を調査します。異物の種類は多岐に渡るため、経験をもとに適した分析手法を採択し、調査します。

●熱膨張係数・ガラス転移点（TMA：熱機械分析）
試料を加熱したときの試料伸張を測定し、単位温 度あたりの膨張量を算出します。また膨張直線の変位点を計測することにより、ガラス転移点を知ることができます。

●蛍光X線分析（XRF）
異物が無機化合物のときに適用します。試料を直接試料室に入れ、非破壊での測定が可能です。異物の元素構成がわかります。また異物の元素分布図を作成することも可能です。

●軟化点（TMA：熱機械分析） ●沸点･融点測定（示差走査熱量分析）
試料を針入プローブで押しながら加熱し、急激にプローブが押し込まれる温度を記録し、軟化点とします。
45.00
40.00

TMA um

35.00
30.00

==Av.Expansion(BIZ)==
Cel
Cel(1/cel)59.9 - 100.0 5.66031 5E-05
160.0 200.0 2.64222 3E-04

異物が有機化合物のときに適用します。異物を採取し、前処理後に赤外部の吸収スペクトルを採取します。有機化合物はその結合の種類により、特有のスペクトルパターンを示し、そのスペクトルパターン
認識で定性分析します。従来は判別が難しかった複合した成分の解析が可能です。

-19.60-19.60例 TMA（熱機械分析）チャート-19.60

傾きが熱膨張係数を示し、傾きの変位点がガラス転移点を示す。

-19.60

25.00
20.00

1stRun Green
2ndRun Red

15.00-19.60

可塑剤

充填材

潤滑油

-19.60134.6Cel

10.00-19.60

5.00
0.00
0.0

●赤外分光分析（FT-IR）

Load mN

50.00

試 料 を加 熱したときの 熱 量の出 入りを 測 定し、熱 量 が 低くなった（吸熱反応）を記録し、沸点・融点を知ることができます。

PVC: 主剤

Tg= ガラス転移点

20.0

40.0

60.0

80.0

100.0

120.0

140.0

160.0

180.0

-19.60200.0

Temp Cel

１１

環境事業部
tel.(03)5920-2356 fax.(03)5920-2306
E-mail:oeg-env-div@oki.com

有害物質分析
■ 改正RoHS指令に係わる有害物質分析■ REACH規則に係わる高懸念物質（SVHC）分析

電気・電子機器などの製品に含まれる微量なカドミウム、鉛等の含有がヨーロッパ諸国を中心に環境問題の観点から注目されております。
これらの規制で許容レベルを超えると判断された場合は、製品の出荷が困難になります。

REACH規則ではSVHCを付属書に掲載し、これらを0.1%以上含む
場合は、消費者からの要求があったときに45日以内の情報提供をおこなう義務を負わせています。SVHCリストの掲載物質数は毎年増加し、2020年までに約600物質程度と想定されています。当社では全ての物質に対応しており、簡易分析の困難であった物質についてアプリケー
ションを開発し、いままでにない短納期を実現しました。

規制物質

略称

最大許容濃度

主な用途

カドミウム

Cd

0.01wt%（100ppm） 樹脂不純物

鉛Pb

0.1wt%（1000ppm） はんだ・合金

六価クロム（1000ppm） めっき
Cr（Ⅵ） 0.1wt%

水銀Hg

ポリ臭素化ジフェニルエーテル（1000ppm） 難燃剤
PBDE 0.1wt%

ポリ臭素化ビフェニル

PBB

ＩＣＰ発光分光分析

0.1wt%（1000ppm） 蛍光灯
島津製作所製
ICPS8000

0.1wt%（1000ppm） 難燃剤

フタル酸ジニエチルへキシル DEHP 0.1wt%（1000ppm） 電線の被覆、（CAS No.117-81-7）
プラスチック類などの可塑剤
フタル酸ジブチル
0.1wt%（1000ppm） 可塑剤、接着剤、印刷インクの添加剤
DBP（CAS No.84-74-2）
ポリサルファイド系樹脂の可塑剤
フタル酸ブチルベンジル BBP
0.1wt%（1000ppm）（CAS No.85-68-7）
建築用のポリサルファイド系シーリング材
フタル酸ジイソブチル（CAS No.84-69-5）

ＩＡ／ＭＳ分析

DIBP+

熱抽出ＧＣ／ＭＳ分析

キャノンアネルバ製
IA−Lab

誘導体化ＧＣ／ＭＳ分析

ゲステル製 TDS2＋CIS4
アジレントテクノロジー製
5975inert

0.1wt%（1000ppm） 可塑剤

アジレントテクノロジー製
5975c■ その他の有害物質分析
RoHS指令・REACH規則以外にも、JIG（ジョイントインダストリガイドライン）リスト、各電機メーカーのグリーン調達などで有害物質情報が要求される場合が多々あります。当社では、お客様のニーズにあった迅速でコストパフォーマンスの高い分析方法を提案します。

■ その他の臭素系難燃剤の分析
RoHS指令、REACH規則では、PBB、PBDE、HBCDDなど一部の臭素系難燃剤が規制対象となっていますが、グリーン調達共通化協議会（JIGなど）
では「その他の臭素系難燃剤」というくくりで十数種類の物質が規定されています。通常のスクリーニング分析では蛍光X線分析装置により臭素量を測定します。ただし、この方法では臭素が検出された場合、含有している臭素はどの物質に相当するのか、わかりませんので、二次スクリーニングとして
IA/MS（イオン付着型質量分析装置）を用い、特有のマススペクトルの確認と質量数から、臭素系難燃剤含有の有無とその識別を行います。
・試料
・使用機器
・分析条件
・イオン化室温度：樹脂：イオン付着型質量分析装置 キヤノンアネルバ製 IA-Lab：30℃→（128℃/min）→190℃→（64℃/min）→310℃（5min）：220℃

・検出物質：デカブロモジフェニルエタン（DBDPE）
・CAS：No 84852-53-9・質量数 ：mWWWz=971+7（Liイオン源）［Spectrum］3..157-22 BP=979［1001889］TIC=14667024 R.T=00:09..07:49

Area : 716397262

1.0E+06

構造式：

Br

741.3

02:00

03:00

04:00

05:00

0.0E+00
m/z

06:00

700

Br
Br

Br

01:00

Br

Br Br

Br

5.0E+05

3 : 978
R.T

978.7

デカブロモジフェニルエタン（DBDPE）
分子式：C14H4Br10
分子量：971
ＣＡＳ ：84852-53-9

750

Br Br

900.9
821.1

788.8
800

850

900

950

1000

環境測定
■ 特定化学物質・有機溶剤使用環境の作業環境測定■ 環境計量証明事業

作業環境測定法に基づいた各種測定をおこないます。
また、ご要望により、作業環境改善対策も提案します。

大気汚染防止法・水質汚濁防止法・騒音防止法等、各法律に基づく測定をおこない、計量証明書を発行します。

作業環境測定登録

計量証明事業登録 東京都 濃度 595号 音圧レベル 910号

東京都

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■ 環境影響評価にかかわる調査・コンサルティング■ その他の環境測定

有害物質使用による周辺環境に対する調査解析および環境修復に関する総合的なコンサルティングをおこないます。

半導体製造工程から排出される半導体材料（シラン・ホスフィンなど）
ガスなどの測定、クリーンルーム空気のイオン成分測定など、法で定められた測定以外の測定も、お客様のニーズに合わせて提案します。

土壌調査・悪臭測定etc

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環境事業部
tel.(03)5920-2356 fax.(03)5920-2306
E-mail:oeg-env-div@oki.com

環境システム技術

半導体や太陽電池製造排ガス処理装置、排水処理・回収再利用装置など製造プロセス固有の各種ガス、液体の最適処理装置、プラント・システムの構築から運営・管理業務、さらに水質・土壌・大気調査をはじめとした各種分析・測定およびコンサルテーションをご提供します。

お客様のニーズにお応えし環境システムのカスタム設計を行います。

純水供給装置

工場・事務所■ 排ガス処理装置

廃水処理装置半導体、太陽電池、その他高負荷な排ガスに特化した湿式排ガス処理装置を御提供します。

ガス供給装置

部品材料評価（化学分析）

生産設備

排ガス処理装置● EPI用排ガス処理装置（モノシラン、DCS、TCS等）● CVD用排ガス処理装置（シラン系各種）● 高負荷排ガス処理装置（SiF4、HF、F2、他）

部品洗浄装置騒音・振動測定
リサイクル装置

ISOコンサル

土壌浄化システム

産廃処理システム

環境調査

地下水浄化
システム

■ 純水供給装置■ 排水処理装置

半導体、太陽電池などの製造に必要な超純水製造装置を工場に合わせて設計・施工致します。

各工場から排水される廃水及び廃液について、目的に応じた排水処理システムを構築します。

● 純水／超純水製造、供給設備● 希薄排水純水リサイクルシステム● 重金属系排水処理装置● フッ素系排水処理装置● 研磨系排水処理装置● 有機系排水処理装置■ 各種リサイクル、膜分離システム■ 省エネ・環境施設保全・改修

各工場から排水される廃水及び廃液を、各負荷及び回収目的に合わせてリサイクルシステムを構築します。

● 工場省エネ診断、各種エコ提案● CR空調設計及びシミュレーション、熱源及び空調機エコ改修● 排水／排ガス処理装置の設備保全● 騒音・振動測定、環境調査（水・ガス・土壌）● 地下水浄化システム、土壌浄化システム● 金属有価物回収システム（硫化物処理システム）● BG／ダイサー系排水リサイクル（樹脂系、シリコン系）● 無機／有機希薄系排水リサイクルシステム● UF・RO・MF・CF等の膜処理リサイクルシステム● 界面活性剤リサイクルシステム

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高精度地震動予測装置「緊急地震速報」※と「P波地震計」による半導体などの工場プラント向け地震防災システムの販売、サポートをご提供します。高精度地震動予測装置からの信号で音声警報、設備緊急停止、エネルギー遮断などを作動し、大きな揺れが起こる前に安全を確保して、多くの二次災害（火災や有害汚染）を防ぐことが可能です。

■ 高精度地震動予測装置

KXA-300X（半導体・太陽電池・自動車等の大規模プラント向け）「緊急地震速報」※より得た情報と、現地P波地震計の観測データから、今いる場所までのS波到達時間、到達震度を高精度地震動予測装置が瞬時に予測します。この2つを組み合わせることで、より精度の高い情報で安全確実に既存の防災システムを制御し、大きな揺れが来る前に音声警報、設備の緊急停止、エネルギーの遮断などを作動させることが可能です。震源地との距離にもよりますが、「 緊急地震速報」※受信・現地P波観測からS波到達までの余裕時間は数秒〜数十秒あります。

この時間を有効に活用することで、安全を確保し多くの二次災害を防止できます。さらに、内陸で発生する直下型地震の震源付近では「緊急地震速報」※の発表は大きな揺れの到達後となる場合があります。この場合でも現地P波地震計は大きな揺れの到達前にP波をキャッチできます。現地P波地震計の到達震度予想と、複数台設置による多数決判定で確実に地震であることを判断、揺れの直前に防災システムを作動させます。

※「緊急地震速報」：震源に近い地震計でとらえた観測データを解析して震源や地震の規模、各地の震度や大きな揺れの到達時刻を推定し、通知するもの

緊急地震

速報

Ｓ波
高精度
地震動予測装置

Ｐ波■ 高精度地震動予測装置

KXA-R（病院・商業施設・中小型プラント向け）

KXA-300Xの主要機能はそのままに、装置をスリム化した廉価版装置です。現地P波地震計及び予測演算ソフトにより、緊急地震速報が間に合わない様な直下型の地震に対しても、地震計の情報を連携させていち早く、地震予測、外部出力を行なうことができます。

汚染土壌調査・対策・コンサルティング
土壌汚染問題は、製造工場等にて過去に使用された化学物質が、地表面から土壌に浸透し、地下水を通じて広域拡散につながる
可能性のある環境問題です。当社では有害物使用による周辺への影響調査と環境修復への対策及びコンサルティングを行います。
土壌汚染は、地表面下の問題であるため目に見えません。有害物質は、地下水を経由した拡散の他、直接暴露や摂食により健康被害を及ぼす可能性があることと、地下水にまで拡散すると近隣の土地まで被害がおよぶなど問題が複雑化する可能性があります。当社では以下のステップで基本方針の策定から調査・分析、土壌浄化まで実施いたします。
● 汚染土壌の現状調査・基本方針の策定● 土壌汚染対策法に基づいた調査・分析

土壌汚染対策法で定める特定有害物質● 汚染された土壌の浄化対策
区

飲料水として使用している地下水が汚染されている場合は深刻です。

ガス相
第一帯水層
粘土層
第二帯水層

物 質 名
四塩化炭素、1.2-ジクロロエタン、
第一種特定有害物質 1.1-ジクロロエチレン、シス-1.2-ジクロロエチレン、（揮発性有機化合物等） 1.3-ジクロロプロペン、ジクロロメタン、
テトラクロロエチレン、1.1.1-トリクロロエタン、
1.1.2-トリクロロエタン、トリクロロエチレン、ベンゼン
第二種特定有害物質 カドミウム、六価クロム、シアン、水銀、（重金属等）
アルキル水銀、セレン、鉛、砒素、ふっ素、ほう素

吸着相
原液相

溶解相

分

第三種特定有害物質（農薬等）

スクリーンが何カ所にもある井戸は、
汚染地下水を下方に拡散させてしま
います。

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シマジン、チオベンカルブ、チウラム、PCB、有機りん化合物

認定資格[国際資格]◎ISO 9001の認証登録
登録：1997年4月21日
登録番号：QC97J1001（JACO）
対
象：本社（東京）
及びサービス拠点（蕨、本庄、東久留米）◎ISO 14001の認証登録
登録：1997年2月25日
登録番号：EC99J2072◎IECQ独立試験所の認定取得（ISO/IEC17025：2005による）認
定：1988年11月29日
認定番号：IECQ-L JQAJP 13.0002◎JAB試験所認定取得（ISO/IEC 17025:2005による）認定：2010年7月6日（電磁両立性）
認定：2016年6月21日（医療用電気機器）
認定番号：RTL03100[国内資格]◎計量法に基づく登録事業者および国際MRA対応認定事業者
初回登録日：平成7年6月21日
登録番号：0055
登録に係る区分：電気（直流、低周波）、電気（高周波）、時間◎計量証明事業登録
登録：1993年11月1日
登録番号：東京都計量検定所 595号 濃度(大気、水及び土壌中の物質の濃度)
東京都計量検定所 910号 音圧レベル◎作業環境測定機関登録

当社は、認定基準としてJIS Q 17025（ISO/IEC 17025）を用い、認定ス
キームをISO/IEC17011に従って運営されているJCSSの下で認定されています。JCSSを運営している認定機関（IAJapan）
は、アジア太平洋試験所認定協力機構（APLAC）及び国際試験所認定協力機構（ILAC）の相互承認に署名しています。
当社校正室は、国際MRA対応JCSS認定事業者です。JCSS 0055は、当校正室の認定番号です。

登
録：1977年5月2日
登録番号：東京労働基準局 13-12
作業環境測定法施行規則別表第1号（鉱物性粉塵）／第3号（特定化学物質）
第4号（金属類）／第5号（有機溶剤）◎特定建設業の許可
登録：1983年12月5日
許可番号：東京都知事許可 特27第68027号

所在地（試験所／分析室／校正室／ブランチ）
■本
社
■本庄地区
計測センター
EMCセンター
北関東試験センター■西 東 京 地 区
西東京試験センター■蕨 地 区
部品情報ブランチ
■宮城地区
仙台営業所

〒179-0084 東京都練馬区氷川台3-20-16

TEL.
（03）
5920-2300

FAX.
（03）5920-2310〒367-8686 埼玉県本庄市小島南4-1-1 OKI本庄工場内〒367-8686 埼玉県本庄市小島南4-1-1 OKI本庄工場内〒367-8686 埼玉県本庄市小島南4-1-1 OKI本庄工場内

TEL.
（0495）
22-7112 FAX.
（0495）22-0326
TEL.
（0495）
22-8411 FAX.
（0495）
22-8410（0495）
22-8140 FAX.
（0495）22-8141
TEL.

〒203-0042 東京都東久留米市八幡町1-1-12 機振協技研内

TEL.
（042）
471-5142 FAX.
（042）472-4961〒335-8510 埼玉県蕨市中央1-16-8 OKIシステムセンター内

TEL.
（048）
420-7129 FAX.
（048）420-7087〒983-0035 宮城県仙台市宮城野区日の出町1-1-21

TEL.
（022）
788-2310 FAX.
（022）
788-2315■ お問い合せ先
ドルフィンクラブ・
スイミングスクールN

トミンハイム
練馬氷川台

西武運輸㈱

シマスタジオ〒179 - 0084

東京都練馬区氷川台3-20 -16
代表 TEL.03（5920）2300
FAX.03（5920）2310
URL http://www.oeg.co.jp/

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