TestStation LH™ インサーキット テストシステム
リーズナブルな価格の高品質インサーキットテスト
主要機能
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高フォルト
カバレッジ

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安全性の高い低電圧テスト■

高テスト
スループット

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抜群の診断精度■実証済みのテスト信頼性■

スケーラブルなテスト機能■低い保有コスト■ハイピンカウント■

小フットプリント

TestStation LH は、好評を得ている受賞製品 プレクスまたは非マルチプレクスのピンカード
Teradyne TestStation 12X のファミリー製品 で構成可能で、4096テストピンまで、ローピンで、リーズナブルな価格、小フットプリント、 カウント／ハイピンカウントのいずれのアプスケーラブルな機能を持つインサーキット テ リケーションでも使用することができます。
ストシステムです。TestStation LH システムは、 TestStation LH ハードウェアおよびソフトウェ
新しい低電圧テクノロジの精度および信頼性、 ア の 機 能 は 拡 張 性 が あ り 、お 客 様 の テ ス ト
安全性の高い電力使用テスト向けのテラダインの ニーズの変化に合わせて、後から簡単に機能をSafeTest™ プロテクションテクノロジに電圧精度 付加することができます。とバックドライブ電流計測が搭載されています。 TestStation LH システムの電源を使用しない
TestStation LH システムは、エレクトロニクス テスト機能には、ショートおよびベクトルレス製品の量産製造メーカーにとって、費用対効果の オープンズ、アナログ試験が含まれます。電源高いインサーキットテストソリューションです。 使用のテスト機能には、デジタルデバイスのTestStation LH システムは、多くの製造メーカー ベクトル試験、アクセス箇所を低減したバウンが 228X および TestStation インサーキットテスタ ダリスキャン試験、高速 FLASH デバイスおよへの投資を無駄にしないように設計されてい び高速 ISP デバイスのプログラミング、周波数ます。テストプログラムおよび小さなテスト および時間イベント計測、同期ミクスドシグフィクスチャー（16ピンボードスロット未満を ナルデバイスの試験、機能クラスタの試験が使用している場合）を、余分なコストやプログ 含まれます。
ラム開発を必要とすることなく、直接移管す これらのテストはテラダインの自動テスト生成ることができます。LHシステム用に開発され ソフトウェアを使って自動的に生成されるか、たフィクスチャーやプログラムをテラダインの あるいはシンプルでパワフルなテストプログ
大型 7680 ピン TestStation LX プラットフォーム ラミング言語を使って手動で作成することがに簡単に移管できるため、他のコスト削減も実 できます。
現できます。
TestStation LH インサーキットテスタは、他のTestStation LH シ ス テ ム は 、228X お よ び インサーキットテスタでは不可能な、精度、
TestStation 12X モデルの過去のバージョンに必 信頼性、安全性の高い電力使用テストテクノ要だった多くのボードタイプを統合しました。 ロジを実現します。 特許取得 SafeTest プロテ
その結果、システムパワーの低減、システム信 クションテクノロジおよび高品質テストソフト
頼性の向上、52%のフットプリント縮小化、 ウェアの機能により、TestStation LH システム20%〜40%の価格引き下げを実現することがで は業界最高のインサーキット テストソリュー
きました。TestStation LH システムは、マルチ ションを実現します。

精度 – UltraPin Driver/Sensor はこれまでに開発されたピンの中 安全性 – TestStation のマルチレベルのデジタル アイソレー
で 最 も 精 度 の 高 い イ ン サ ー キ ッ ト テ ス ト ピ ン で す 。 ションソフトウェアが、操作しているあらゆるネットにカスタム設計された、クローズドループ、低インピーダンスドラ 自動的にデバイス出力を分離します。これにより、バックイバーは、最悪のバックドライブおよび欠陥ボード状態でも、 ドライブ状態を最小限化し、バックドライブした出力がプログラムされた電圧を低電圧コンポーネントに正確に供給 ロジック状態を突然変えた場合に発生する有害な電圧スパします。45mV センサーの精度は、今日の 0.8V 低電圧ロジック イクを防ぎます。特殊デジタルコントローラは迅速にテスコンポーネントにおいてさえ、ロジックの高しきい値および トベクタを実行し、バックドライブ電流時間を最小限化し、低しきい値を簡単に識別することができます。
オンボードアクティビティから起こる電圧スパイクの発生を信頼性 – UltraPin カードの独自の回路は、リアルタイムで 減らします。
バックドライブ電流を計測し、正しく分離していないコン TestStation LH インサーキット テストシステムは、Teradyne のポーネントを報告することが可能です。また、過剰なバック グ ロ ー バ ル サ ポ ー ト ＆ サ ー ビ ス ロ ケ ー シ ョ ン お よ び 、ドライブ電流を必要とする不確かなテストも識別することが Teradyne's Support Network (TSN) の有資格フィクスチャーおできます。ロジックレベルおよびバックドライブ電流、 よびプログラミングサービズ会社により、ワールドワイドにバックドライブ時間しきい値はすべて、ピンごとにプログ サポートされています。TestStation LH システム、Teradyne のラマブルで、有害な電圧および電流がボードに（たとえ欠陥が グローバルサポートロケーション、Teradyne Support Networkの詳しい情報は、Webサイト www.teradyne.com/cbtiを参照してあるボードであっても）適用されるのを確実に防ぎます。
ください。

General System Features
PC based programming and test using Windows® XP orWindows NT® operating systems
Choice of multiplexed or non-multiplexed pin board options- TS121 LH (All real pins - max pincount 2048)- TS124 LH (one-to-four multiplexing ratio - max pincount 2048)- TS128 LH (one-to-eight multiplexing ratio - max pincount 2048)- TS128L LH (one-to-eight multiplexing ratio - max pincount 4096)- TS124L LH (one-to-four multiplexing ratio - max pincount 4096)

Hi gh Performance analog instrumentation and 8 channel
measurement matrix- Fast shorts and opens impedance measurements- Precision resistor, inductor, capacitor, diode, transistor, FET,OPAMP, SCR, and Zener device testing- Comprehensive vectorless test techniques for detecting open pins
on connectors and components- Frequency and timing event measurements- Fully synchronized analog and digital subsystems for testing of
mixed-signal devices such as ADC, DAC and CODECs

High-Performance Digital Vector Testing:- Independent clock, sync, and trigger pins
- Specialized digital controller able to emulate complex device
timing sequences- Independent dual-level Driver and Sensor thresholds- Driver/sensor timing and voltage thresholds programmable per pin- Per pin programmable slew rates

SafeTest Protection Technologies:- Low impedance pin driver enables testing ofl ow voltage devices
under backdrive conditions- 45mV sensor accuracy- Real-time backdrive current measurement reports- Programmable backdrive current and duration thresholds- Automatic driver verification- Fast test vector execution- Multi-Level Digital Isolation (MLDI) software

Comprehensive and Fast Automatic Test Generation Software- Fast and simple CAD preparation using Teradyne's D2B
Alchemist™ software- Selectable program preparation environments (228X or Navigate)- Analog, Digital, Boundary Scan, and Hybrid test generators anddevice model libraries- BasicSCAN model generator for devices with Boundary Scan
testability circuitry- Tree2DTS model generator for devices with XOR and NAND tree
testability circuitry- Panel Test development software- Automatic multi-level digital isolation and analog guarding- Scan pathfinder reduced access boundary scan test solution- Onboard programming software for performing FLASH andISP PLD programming- Powerful test program language for easy creation of custom tests- Optional Chinese Operator User Interface

Automated Test Quality Measurement and Debug Software:- Analyze software reports fault coverage and test reliability information- AutoDebug software attempts to debug failing or marginal tests- AutoAdjust software shifts or widens test limits to improve test reliability- AutoOptimize software optimizes instrument and program settings
for maximum test throughput- Powerful data collection and data display software

Easy to integrate with manufacturing automation equipment
Compact footprint (43.5 x 35 inches)
Program and fixture compatibility with most 228X andTestStation models

Because Technology Never Stops
Ter adyne, Inc.
Assembly T est Di vision
600 Riverpark DriveNorth Reading, MA 01864 U.S.A.
+1.978.370.2700
www.teradyne.com/atd

イーグローバレッジ株式会社
イーグローバレッジ株式会社

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