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Keysight World Online

RFコース セミナー概要
タイトル

開催日

キーサイト

短時間で要点を理解

日本語で受講可能

最新技術、計測手法を学習＜RFコース＞
開催時間

内容

9月20日（水） 10:30～11:30

レーダー、通信の周波数帯域がミリ波に適用されるケースが増えてきており、部品等のパラメータ測定においてもミリ波対応のニーズが高まっています。本セミナーではミリ波対応のパッシブデバイス、アクティブデバイスの測定を取り上げ、ミリ波での部品測定について話をすすめていきます。

10月18日（水） 10:30～11:30

無線 LAN は様々な場所で日々活用されていますが、主に 2 つの改善が求められています。より高速な通信速度の実現とユーザ過密エリアでのスループット低減の解消です。802.11ax は現在の 802.11ac と比べ 4 倍のスループットを目指した規格です。規格の基礎と RF 測定方法を紹介します。

11月15日（水） 10:30～11:30

ご好評を頂いております基礎シリーズのネットワーク・アナライザ編です。
本セミナーではネットワーク・アナライザの基礎にふれてまいります。時間の限りはありますが質疑応答のお時間も設けておりますので、知識向上にぜひこの機会をご活用ください。

スペクトラム・アナライザの基礎
その2

12月20日（水） 10:30～11:30

ご好評を頂いております基礎シリーズのスペクトラム・アナライザ編です。
本セミナーではスペクトラム・アナライザの基礎にふれてまいります。時間の限りはありますが質疑応答のお時間も設けておりますので、知識向上にぜひこの機会をご活用ください。

5Gの基礎とソリューション

1月17日（水） 10:30～11:30

オリンピックを契機に 5G の実用化の加速が進んでおります。本セミナー
では 5G の動向にふれ、実際にお客様が研究開発などで必要になると想定される RF 系の測定ソリューションについて言及します。

ネットワーク・アナライザを用いたミリ波領域測定～ミリ波部品測定の基礎と応用～

新Wifi規格802.11axの基礎とRF測定

ネットワーク・アナライザの基礎
その2

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デジタルコース

セミナー概要 ＜デジタルコース＞

タイトル

これでわかる！
アイパターン・ジッタ評価の基礎

今改めてSIを考える！
信号劣化の裏に潜むものは?

誰もが陥る

DDR2/3メモリトラブル回避法

徹底解剖

DDR4／LPDDR4波形品質

パワーインテグリティーにおける問題解決の正しいアプローチ

12G-SDI対応
SDIインタフェース物理層の開催日

開催時間

9月13日（水） 9:20〜10:15

高速シリアル伝送ではアイパターンでの評価、ジッタ測定は基礎的かつ重要なものと言えます。これらの評価項目は良し悪しの判定だけで無く、デバッグにおいて足がかりとなるものですが、最新のインタフェースでは評価方法も複雑化しています。また、高速化が進むにつれ使用する測定器に求められる性能も厳しくなっています。あなたはその意味を理解していますか ? 本セミナーではアイパターンの正しい評価方法とその意味するところを解説し、さらにジッタの基礎とその解析手法についてお話します。

9月13日（水） 10:50〜12:00

高速化が進む SI において様々な規格が策定もしくは改定される中で、経験と高周波知識を持つ SI エンジニアはさらなる領域へ向かう一方、未経験者の参画はより高い障壁が存在しています。各種の参照設計や評価手法が提示されていますが、詳細の理解なくして設計や評価の向上は困難です。セミナーは >5Gbps を扱うエンジニアを対象とし SI 問題の基礎と今後を概観し、キーサイトの EDA と測定による諸問題への対応とソリューションを紹介します。

10月10日（火） 9:30〜10:10

DDR メモリは部品の入手性がよく簡単にシステムに導入できる反面、トラブルが多いのも事実です。物理層からプロトコルまで多岐にわたる問題により、不具合原因の切り分けは困難です。DDR2 から DDR3 といった高速な規格への移行もトラブル増加の要因となっています。どのような測定を行い、問題現象を切り分けていくのか、実例をベースにわかりやすく説明し、必要となる測定機器を紹介します。
DDR4 ／ LPDDR4 は、製品の高性能化や小型化と消費電力の削減を実現するための選択肢として注目されています。DDR3 から DDR4 へのデザインの変更や DDR4 と LPDDR4 の動作の違いを考慮した、開発技術

10月10日（火） 10:50〜12:00や測定手法のステップアップが求められます。本セミナーでは、基本的な測定手法として、オシロスコープを使用した Eye Mask テストや EyeContour plot 等、新しい波形の検証方法と困ったときに役立つデバッグ向けのソリューションを紹介します。

10月11日（水） 9:20〜10:15

FPGA やメモリ、MPU といった高速 LSI の低電圧化、大電流化は益々進
み、LSI への安定した DC 電源の供給『パワーインテグリティー』の重要性は増すばかりです。本セミナーでは、今までは観測することさえ困難だった問題現象を把握（オシロによる電圧変動波形と周波数特性の観測）し、問題の原因追求（ネットアナによる IRドロップの原因となる電源インピーダンス測定）への正しいアプローチと勘所を紹介します。

10月11日（水） 10:50〜12:00

ネットワーク・アナライザ（オプション TDR）を使ったリターンロス測定、オシロスコープによる波形観測測定を中心に説明いたします。12G-SDI
では、より高速化することにより、波形品質の確保が難しくなりますが、どのように波形品質を評価するか、また波形品質が問題になったときにその原因をどう探るか ? 業界初のクロストーク解析機能などを交えながら紹介します。

10月12日（木） 9:30〜10:10

電源コネクタの問題を解決する画期的な USB パワーデリバリー。確実かつ安全性も求められる機器開発のためのテスト方法を紹介します。

評価手法

USBパワーデリバリーのテストとデバッグ

内容Type-CTM と関連規格は発展途上で現在も変化し続けています。このよ
60分で分かる
USB Type-CTM規格とテスト

TDR/VNAを使った高速伝送路評価

10月12日（木） 10:50〜12:00

10月13日（金） 9:20〜10:15

うな流動的な環境でも正しく安全に動作する機器を開発するためには、
Type-CTM 規格の知識と、適切な設計・評価が行えるテストソリューションおよびノウハウが必要です。USB Type-CTM 規格とコンプライアンス試
験プログラムの最新情報をお届けするとともに、テスト・デバッグソリューション情報をお届けします。

SI 確保のためには、伝送路の特性インピーダンスや伝送・リターンロス特性（ S パラメータ）の把握が重要です。伝送路特性の評価においては、TDR オシロスコープ、ネットワーク・アナライザの 2 つの代表的なソリューションがありますが、それぞれの利点・欠点について説明します。また、
2017 年 8 月にリリースした PNA ネットワーク・アナライザ、オプション
TDR についても説明し、最新ソリューションを紹介します。

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デジタルコース

セミナー概要 ＜デジタルコース＞

タイトル

開催日

MIPI®物理層測定解体新書

開催時間

10月13日（金） 10:50〜12:00

内容

MIPI® Alliance は、高性能な小型機器向けに多種多様なインタフェース標準を策定しています。内部配線向けの物理層仕様 D-PHYSM、C-PHYSM、M-PHY ® の測定手法について、波形の違いやジッタトレランステストの実際等、オシロスコープや任意波形発生器、BERT 、ネットワーク・アナライザを使用した測定を中心に、網羅的に紹介します。

車載向け画像インタフェースの評価

11月7日（火） 9:20〜10:15

車載向け画像インタフェースの代表的な規格を取り上げ、その評価方法について解説します。

HDMI2.1 の規格リリースが 10 月に予定されている中、HDMI2.1 の送信8Kがやってくる
HDMI2.1に向けた測定最前線

基礎から学べる
スイッチング電源設計と評価

ギガビット伝送を見据えた車載Ethernetの計測技術

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その他のコース

校正の基礎
校正証明書、トレーサビリティ、認定校正

温度依存評価法

レーザー測長の実際（1）〜誤差原因の究明〜

11月8日（水） 9:30〜10:10

電源回路設計は敬遠されがちで、過去の設計資産を流用するだけであったり、効率向上やノイズ低減を図りたいが、どうすればいいか分からない、といった悩みが多く聞かれます。本セミナーでは、スイッチング電源の種類から、IC の選定、周辺部品の選定方法など、電源回路設計の押さえておくべきポイントについて説明します。また、リップルや効率等の重要なパラメータを正確に測るためのノウハウについて紹介します。

11月8日（水） 10:50〜12:00

車載機器開発でもギガビット伝送を実現する設計技術が必要な時代となりました。自動運転を支える通信技術として ADAS 分野で導入が進む車
載 Ethernet でもギガビット伝送の技術検討が始まっています。本セミ
ナーでは、車載 Ethernet の評価に必要な計測技術の全体像を理解することを目的として、100Base-T1 および 1000Base-T1 の規格試験内容
およびギガビット伝送製品開発のデバッグに活用できる高周波計測技術について概観します。

セミナー概要 ＜その他のコース＞

タイトル

100MHzインピーダンス

11月7日（火） 10:50〜12:00

部の波形品質特性、受信部のジッタ耐力、ケーブルの特性品質等に高い性能が要求され、レーン間のクロストークも大きな問題となってきます。
そのため実際の設計では、測定器とシミュレーションを組み合わせたトータルの開発環境も重要となります。本セミナーでは HDMI 2.1 に向けた最新測定ソリューションを紹介し、HDMI2.1 の規格リリース後に開催される場合は規格仕様についても説明します。

開催日

開催時間

内容

9月20日（水） 13:30〜14:10

校 正 証 明 書 には いった い 何 が 求 められ、何 が 記 載 さ れて い るの か。
ISO9001 や ISO17025 の要求事項と証明書、試験成績書の紐解き方、IATF16949 や EMC などでも必要とされる ISO17025 認定校正や電波法による電波法指定較正、様々な校正の種類の中からどのような観点で選択すればよいかを解説します。

9月26日（火） 10:30〜11:30

固体電解質や半導体物性の温度依存性評価において、MHz 以上のインピーダンス測定は困難がつきまといます。本セミナーではその困難を克服するためのインピーダンス測定手法の紹介をします。

9月27日（水） 10:00〜11:00

レーザー干渉計を使用していらっしゃるお客様に、干渉計（測長器）のご使用に際して必要な情報を提供するシリーズの第 4 弾です。今回は、実際に得られた測長データを誤差要因のセオリーに展開し、誤差原因を特定するための解析方法について説明します。 データは取れたが何かおかしい 、 明らかに誤差が大きい といった場合での、解析の視点の整理、考え方を説明します。また、実際の測定データを用いてその適用方法を説明します。

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電子デバイスコース

セミナー概要 ＜電子デバイスコース＞

タイトル

開催日

開催時間

内容

10月24日（火） 9:30～10:20

IV 測定は、半導体、太陽電池、材料など様々な分野で必要とされる基本的な測定項目ですが、簡単な測定原理、測定手法を取得していないと安定した測定を行なうことはできません。本セミナーでは、IV 測定の評価装置、微小電流測定のテクニック、4 端子抵抗測定のテクニックについて解説します。

10月24日（火） 10:50～11:40

半導体の界面準位の評価など、容量測定はデバイスの評価において重要ですが、電圧・電流（IV）測定時の配線とは異なった対応が必要になるなど、的確に対応するにはノウハウが必要となります。本セミナーでは、デバイスの容量測定における問題点を取り上げ、測定のノウハウと事例を紹介します。

10月25日（水） 10:00～11:00

次世代メモリ、ワイドバンドギャップ半導体、IoT 機器、車載センサーなどに向けた、新規デバイスの評価は、µA オーダーの微小電流における、µs以下の高速な電流応答の評価が求められます。本セミナーでは、高速な電流変動評価に対応するソリューションを取り上げ、測定のノウハウと事例を紹介します。

接続が肝心
パワーデバイスの容量測定

10月26日（木） 9:30～10:20

ゲート絶縁膜の界面準位評価など物性評価やパッケージ品の端子容量評価など、容量測定はパワーデバイスのロス低減に向けた評価に不可欠です。一方、DC 測定とは勝手が違う容量測定手法について悩まれるのが実情です。本セミナーでは、長年の容量測定の経験に基づき、パワーデバイスの容量測定の勘所を紹介します。

SW回路構築前の選別が可能
寄生L評価

10月26日（木） 10:50～11:10

電力変換回路のスイッチングの高速化に伴い、サージの増大が課題となっています。本セミナーではサージの要因となる寄生 L の評価手法を紹介します。

最新オシロで変わるパワーデバイス波形観測

10月26日（木） 11:40～12:00

サージ波形、ノイズ波形を正確に観測することが、次世代パワーデバイス回路の最適化に重要です。最新のオシロスコープによる波形測定を紹介します。

シミュレーションを活用したパワエレ高速スイッチング回路設計

10月27日（金） 9:30～10:30

電力変換回路の効率化、小型化の実現に向け、高速スイッチング可能なSiC、GaN など新デバイスの採用が加速しています。高速スイッチング
は、サージによる誤動作、デバイス破壊、EMI などの問題を引き起こし、回路設計の障害となります。シミュレーションの活用で開発期間・コストを削減することが求められますが、「パワエレの回路シミュレーションが合わない」との声を耳にします。本セミナーでは、その疑問を解決し、効率的な回路設計を行う手法を紹介します。

実測と合う！
パワーデバイスのモデリング10月27日（金） 11:00～11:25「パワー半導体のデバイスモデルは合わない」と思っていませんか ? 正確な特性データとモデルを用いれば、実測と合うデバイスモデルが作成できます。

IV測定の基礎
微小電流測定、4端子抵抗測定のテクニックと評価装置

半導体エンジニアのためのCV（容量・電圧）測定基礎

次世代デバイス評価の鍵：
高速電流変動測定手法

12 月以降の開催分も順次ウェブでご案内します。詳細、お申し込みはこちら（受講無料（受講無料：事前登録制）：事前登録制）http://www.keysight.co.jp/find/kw_online-dk
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計測お客様窓口

受付時間 9：00-18：00（土・日・祭日を除く）

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Published in Japan, August 25, 2017
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