キーサイト・テクノロジー ウェブセミナーのご案内
Keysight World Online
2018年

自席のPCから参加できて出張不要、約60分で学べる無料ウェブセミナー。
「RFコース」、「デジタルコース」、Keysight World Onlineは、「電子デバイスコース」、「その他のコース」で構成されています。

3月～5月
開催分

お申し込み方法
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（受講無料：事前登録制）

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Keysight World Online

デジタルコース

セミナー概要 ＜車載 Ethernet Day＞

タイトル

開催日

開催時間

10:30

物理層規格試験の全体像

11:30

待望！車載Ethernetの波形分離ソリューション

13:30
2018年
4月10日（火）～～Sパラと治具の理解が鍵！
車載Ethernet

14:15

14:30

車載Ethernetでのレイヤ2-4試験ソリューション

15:45

～

車載向け
画像インタフェースの評価

～

15:30

16:30

内容
車載 Ethernet の物理層規格試験に合格するためには S パラと治具の理解が不可欠です。送信機試験でも波形測定は一部の項目でしかありません。民生と比べて圧倒的に厳しい仕様が要求されるモード変換 Sdc11 測定のコツを解説するとともに、車載 Ethernet の物理層規格試験全体像を送信機、受信機、ハーネスに分類して概観します。
従来不可能と言われていた車載 Ethernet の波形分離ソリューションが完成しました。これにより実車環境でのリアルな波形観測が可能になります。この新提案も含め、車載ならではの様々なトラブルを解決するには、S パラの理解、実測とシミュレーションの実践が必要です。本セミナーでは波形分離のデモ、事例をもとに測定器の応用とその可能性について説明します。
本セミナーは、車載映像機器およびインタフェースの動向、数 100 Mbps を超えるインタフェースの設計に必要な知識、トラブル事例とその対応技術、さらに評価やデバック方法について実例を交えて説明します。
車載 Ethernet では低遅延や帯域幅の保証が求められ、単純な疎通試験だけではなくプロトコルの正常性評価やパフォーマンスの検証が必要になります。それらのL2-4 試験に対応した、上位レイヤの試験ソリューションについてお話しします。

02 | Keysight | キーサイト・テクノロジー ウェブセミナーのご案内 | 2018年 3月〜5月開催分
Keysight World Online

RFコース

セミナー概要 ＜RFコース＞
開催日

インピーダンス測定の基礎

2018年
3月15日（木）

10:30

2018年
4月12日（木）

10:30

2018年
4月12日（木）

13:30

2018年
4月13日（金）

10:30

2018年
5月16日（水）

10:30

2018年
5月17日（木）

10:30

RF設備メンテナンスにおける測定ベーシック

Keysight World Onlineデジタルコース
タイトル

デジタルエンジニア向け
Sパラメータ入門

これでわかる！
アイパターン・ジッタ評価の基礎

誰もが陥る

DDR2/3メモリ
トラブル回避法

〜〜

11:30

内容
低周波における回路素子の抵抗率は複素数のインピーダンスで記載され、その正確な測定は、回路シミュレーションで必要とされます。また、誘電率、透磁率などもインピーダンスから導出可能です。本セミナーでは、インピーダンスの基礎から話をはじめ適切な測定方法を紹介します。
材料を評価する上で誘電率は電気的特性を特定させるのに重要な指標です。誘電率を正確に測定し知ることが材料を用いた実際の製品を正確に設計することを可能にします。本セミナーにより、しっかりとした材料に対する誘電率測定のアプローチを身につけていただけます。
絶縁シート、ノイズ抑制シート向けに薄い材料の誘電率・透磁率を正しく測定することが求められています。厚さの薄いフィルム・薄膜材料の測定においては、接触法でのエアギャップの影響が大きくなる、形状や厚さが安定しないといった課題があります。本セミナーでは、それらの課題を解決するソリューションや測定事例の紹介を行います。
屋外通信機器、レーダー機器、大型搭載機器のメンテナンスの効率的な実行のために近年スペクトラム・アナライザ、ネットワーク・アナライザのバッテリー動作タイプの製品が増えてきています。本セミナーではそういった機器を用いた効率的なメンテナンス時の測定方法を紹介します。

5G 、IEEE802.15.3e 、IEEE802.11ad/ay 、ミリ波レーダーなどミリ波の応用が進み、材料の誘電率、誘電損失の評価の必要性が増しています。本セミナーで
は、周波数が上がり、測定が困難になるミリ波における材料誘電率測定の各種手法を紹介します。
近年、多数の高速無線通信が必要とされる各種アプリケーションが立ち上がりを見せており、IEEE802.15.3e や IEEE802.11ad/ay といったミリ波通信がいよいよ本格的に離陸しようとしています。本セミナーでは、ミリ波測定で必須であるOTA（ Over The Air ）測定などを含むミリ波の測定方法について、またミリ波測定に対応する測定機材について紹介します。

セミナー概要 ＜デジタルコース＞
開催日

2018年
3月14日（水）

開催時間

9:30
〜

ミリ波OTA（Over The Air）

11:30

10:30

2018年
3月14日（水）

10:50

2018年
4月11日（水）9:30〜

ミリ波における材料誘電率測定最前線

11:30

12:00

〜

ハンドヘルド機器の活用（スペアナ/ネットアナ）

14:30

〜

誘電率・透磁率 測定

11:30

〜

フィルム/薄膜材料の11:30〜

材料の誘電率測定 基礎

開催時間

〜

タイトル

10:10

内容
デジタルエンジニアにも伝送路、信号の反射、定在波、スミスチャート、S パラメー
タなど普段聞きなれない知識が必要になっています。本セミナーでは S パラメータの基本的なことから、それが波形にどう影響するのか ? アイパターンがどのように変わるか ? どの程度の周波数からクロストークを気にしないといけないか ? など、適切な伝送路のデザインをイメージできるよう解説します。
高速シリアル伝送ではアイパターンでの評価、ジッタ測定は基礎的で重要な評価項目で、Go/NG の判定だけではなく、デバッグにおいて足がかりとなるものです。最新の高速化されたインタフェースではその評価方法も複雑化しており、高速化が進むにつれ使用する測定器に求められる性能も厳しくなっています。その意味をご理解いただけていますか。本セミナーではアイパターンの正しい評価方法とその意味するところを解説し、さらにジッタの基礎とその解析手法について詳しく説明します。

DDR メモリは部品の入手性がよく簡単にシステムに導入できる反面、トラブルが多いのも事実です。物理層からプロトコルまで多岐にわたる問題により、不具合原因の切り分けは困難です。DDR2 から DDR3 といった高速な規格への移行もトラブル増加の要因となっています。どのような測定を行い、問題現象を切り分けていくのか、実例をベースにわかりやすく説明し、必要となる測定機器を紹介します。

03 | Keysight | キーサイト・テクノロジー ウェブセミナーのご案内 | 2018年 3月〜5月開催分

セミナー概要 ＜デジタルコース＞ 続き

パワーインテグリティーにおける問題解決の正しいアプローチ

TDR/VNAを使った高速伝送路評価

今改めてSIを考える！
信号劣化の裏に潜むものは?

Keysight World Online

電子デバイスコースタイトル

2018年
5月9日（水）2018年
5月9日（水）2018年
5月10日（木）2018年
5月11日（金）

〜

12:00

9:30
〜

基礎から学べる
スイッチング電源設計と評価

10:50

10:10

10:30
〜

DDR4/LPDDR4波形品質

2018年
4月11日（水）

開催時間

11:30

10:30
〜

徹底解剖

開催日

11:30

10:30
〜

タイトル

11:40

内容

DDR4/LPDDR4 は、製 品 の 高 性 能 化や 小 型 化と消 費 電 力 の 削 減を実 現 するための選択肢として注目されています。DDR3 から DDR4 へのデザインの変更やDDR4 と LPDDR4 の動作の違いを考慮した、開発技術や測定手法のステップアップが求められます。本セミナーでは、基本的な測定手法として、オシロスコープを使用した Eye Mask テストや Eye Contour plot 等、新しい波形の検証方法と困ったときに役立つデバッグ向けのソリューションを紹介します。
電源回路は簡単なようでとても奥の深い回路の 1 つです。効率向上やノイズ低減、コストダウンを図りたいが、どうすればよいかわからない、といった悩みも多く聞かれます。本セミナーでは、スイッチング電源の種類から、IC の選定、周辺部品の選定方法など、電源回路設計の押さえておくべきポイントについて説明します。
また、リップルや効率等の重要なパラメータを正確に測るためのノウハウについて紹介します。

FPGA やメモリ、MPU といった高速 LSI の低電圧化、大電流化は益々進み、LSI への安定した DC 電源の供給『パワーインテグリティー』の重要性は増すばかりです。
本セミナーでは、今までは観測することさえ困難だった問題現象を把握（オシロによる電圧変動波形と周波数特性の観測）し、問題の原因追求（ネットアナによる IRドロップの原因となる電源インピーダンス測定）への正しいアプローチと勘所を紹介します。

Signal Integrity（ SI ）確保のためには、伝送路の特性インピーダンスや伝送・リターンロス特性（ S パラメータ）の把握が重要です。伝送路特性の評価においては、TDR オシロスコープ、ネットワーク・アナライザの 2 つの代表的なソリューションがありますが、それぞれの利点・欠点について説明します。また、2017 年8 月にリリースした PNA ネットワーク・アナライザ オプション TDR についても説明し、最新ソリューションを紹介します。
高速化が進む SI において様々な規格が策定もしくは改定される中で、経験と高周波知識を持つ SI エンジニアはさらなる領域へ向かう一方、未経験者の参画はより高い障壁が存在しています。各種の参照設計や評価手法が提示されていますが、詳細の理解なくして設計や評価の向上は困難です。本セミナーは 5 Gbps 以上の信号を扱うエンジニアを対象とし SI 問題の基礎と今後を概観し、キーサイトのEDA と測定による諸問題への対応とソリューションを紹介します。

セミナー概要 ＜電子デバイスコース＞
開催日

IV測定の基礎

開催時間

2018年
4月24日（火）10:30

半導体エンジニアのためのCV(容量・電圧）測定基礎

2018年
4月25日（水）10:30

次世代デバイス評価の鍵：
高速電流変動測定手法

2018年
4月26日（木）10:30〜

微小電流測定、4端子抵抗測定のテクニックと評価装置

〜

11:20

〜

11:2011:30

内容

IV 測定は、半導体、太陽電池、材料など様々な分野で必要とされる基本的な測定項目ですが、簡単な測定原理、測定手法を取得していないと安定した測定をおこなうことはできません。本セミナーでは、IV 測定の評価装置、微小電流測定のテクニック、4 端子抵抗測定のテクニックについて解説します。
半導体の界面準位の評価など、容量測定はデバイスの評価において重要ですが、電圧 ･ 電流（ IV) 測定時の配線とは異なった対応が必要になるなど、的確に対応するにはノウハウが必要となります。本セミナーでは、デバイスの容量測定における問題点を取り上げ、測定のノウハウと事例を紹介します。
次世代メモリ、ワイドバンドギャップ半導体、IoT 機器、車載センサーなどに向けた新規デバイスの評価は、µA オーダーの微小電流における、µｓ以下の高速な電流応答の評価が求められます。本セミナーでは、高速な電流変動評価に対応するソリューションを取り上げ、測定のノウハウと事例を紹介します。

04 | Keysight | キーサイト・テクノロジー ウェブセミナーのご案内 | 2018年 3月～5月開催分
Keysight World Online

その他のコースタイトル

セミナー概要 ＜その他のコース＞
開催日

IATF16949規格とISO/IEC 17025認定校正に

開催時間

10:30

E-calモジュールユーザ必見、
2018年
3月16日（金）E-calの校正とコネクタケア

10:30

こんなに簡単！

2018年
4月6日（金）

10:30

2018年
4月27日（金）10:30

レーザー測長の基礎～原理と誤差対策～

2018年
5月15日（火）10:30

プログラミング不要
自動計測で効率アップ

2018年
5月30日（水）10:30

Excel VBAで2018年
5月30日（水）13:30

簡単自動計測入門

～
～
～

11:30

11:10

～

超高温制御下での高周波インピーダンス測定

11:30

11:30

～

高速伝送路のシミュレーション方法

11:30

11:30

～

みるリスク回避～2018年
3月1日（木）14:30

内容
校正を適切に行えていないことにより考えられるリスクとそれを回避するために必要な校正について説明します。さらに自動車産業品質マネジメントシステム規格である IATF16949 の要求事項を交えて、ISO/IEC17025 認定校正についても説明します。校正を実施しないことのリスクに関心がある方はぜひお聞きください。
あなたのネットアナ測定は大丈夫 ? ネットワーク・アナライザの測定の結果に影響を及ぼしかねない状況で E-cal モジュールを使用されているケースが実在します。
お使いの E-cal モジュールの校正を実施する意味を理解し、普段のケア、特にコネクタのケアの実践などを説明します。
実機検証の段階でジッタが多い、アイパターンが開かないといった現象の経験はありませんか ? それは、基板のレイアウトの問題かもしれません。
「 ADS」を使用すれば、アートワークデータをもとに高速伝送路の特性を解析できます。本セミナーはシミュレータを使用したことがないエンジニアを対象に、高速伝送路の特性の解析からアイパターンのシミュレーションまでのフローを解説します。
本セミナーでは、固体酸化物形燃料電池（ SOFC）の電解質評価に最適なソリューションを紹介し、ガスフロー可能な 800 ℃温度可変インピーダンス測定用試料容器なども解説します。
弊社レーザー干渉計を使用されているお客様はもちろん、これからレーザー干渉計を使用するお客様、ご検討されるお客様などに最適な内容です。原理と誤差要因を理解することは、確度の高い測定に必須ですし、測定結果の妥当性を判断するためにも必要です。* 本セミナーは、2017 年実施のレーザー測長の基礎シリーズ「～測長原理を知る～」「～誤差要因とその対策～」を 1 回にまとめたものです。
煩わしい日々の繰り返し測定を自動化しましょう！ オシロや電源などの制御やテストシーケンス作成が簡単にできるソフト BenchVue を使って、簡単に計測を自動化する方法を紹介します。
普段の測定データ処理に使用している Excel に自動計測プログラムを組み込むことで、日々の業務の効率化が期待できます。PC と計測器を接続するための準備、測定値を Excel に取り込むまでの基本的な手順に加えて、知っていると便利な小技も紹介します。

今後の開催予定等、最新情報は随時ウェブでご案内します。詳細、お申し込みはこちら（受講無料（受講無料：事前登録制）：事前登録制）http://www.keysight.co.jp/find/kw_online-dk

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本社〒192-8550 東京都八王子市高倉町9-1

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Published in Japan, February 21, 2018
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