解説

プラズマ計測のためのマイクロ波反射計
江尻晶（東京大学大学院新領域創成科学研究科）

Microwave Reflectometry for Plasma Diagnostics
EJIRI Akira
Graduate School of Frontier Sciences, the University of Tokyo, Tokyo 113-0033, Japan(Received 28 April 2003)
Abstract
Microwave reflectometry is a plasma diagnostic that launches microwaves to a plasma and measures thewave reflected at a cutoff layer in the plasma. It is used mainly for density profile and density fluctuation measurements. Because of its high radial resolution, high sensitivity, and relatively easy implementation, microwave reflectometry has been used in many devices. In this report, highlights of the measurements, as wellas the features of reflectometry, are described.
Keywords:
microwave reflectometry, density profile, density fluctuation, O-mode, X-mode, transport

１．はじめになシステムで密度分布，密度揺動の情報が得られるといマイクロ波反射計とは，マイクロ波をプラズマに入射う特徴があり，多くのプラズマ装置に適用されている．

して，反射した波を測定することによってプラズマの情

一方，マイクロ波反射計ほど奥の深い測定はない．一口

報を得る計測器と定義される．マイクロ波が利用されるに反射計といっても原始的なものから，非常に複雑なシ#，お理由は，多くの実験室プラズマのプラズマ振動数 !

ステムが存在する．また，華々しい成果の一方で，測定!
"がマイクロ波帯（〜よび電子サイクロトロン周波数 !

結果の解釈について多くの議論を引き起こしてきた．当GHz）にあることと，波長がちょうどプラズマの代表的学会誌には，これまで優れた反射計の解説，講座があるな揺動の波長に対応するためである．マイクロ波反射計

が［１］，ここでは，非専門家を対象に反射計のおもしろさ

は反射という強い相互作用を測定するものであり，干渉・難しさを理解してもらうことを目的に，わかりやすい計や散乱計，その他の測定方法に比べ非常に感度のよい解説を試みる．また，この解説とは別にこれからプラズ測定が可能である．もうひとつの側面としてマイクロ波

マに反射計を適用しようとする初心者へのガイドとして技術の進展が上げられる．より短い波長の電磁波と異な「マイクロ波反射計を作ろう」という講座を予定していり，波の制御性がよく，高精度，高時間分解能の測定がる．本稿では，最初に反射計の原理と特徴を述べる．次可能である．

にプラズマ研究に大きなインパクトを与えた反射計の結マイクロ波反射計は，物理的にもコスト的にも小規模果を紹介する．これらの成果により，世界の研究者が反author’s e -mail: ejiri@k.u-tokyo.ac.jp
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J. Plasma Fusion Res. Vol.79, No.8 (2003)７
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Commentary

Microwave Reflectometry for Plasma Diagnostics

A. Ejiri

射計の有用性を認識しただけでなく，多くの研究者が反射計計測に従事するきっかけとなった．また，最近の成果も一部紹介する．最後に反射計の難しさとその理由を述べる．

２．反射計とは反射計の主な用途は，密度分布測定と密度揺動測定でFig. 1

Conceptual diagram of microwave reflectometry.

ある．原理については後述するが，粗っぽく言うと，反射計が測定するのはカットオフの位置である．Fig. 1 は沿う座標，! は電場，"(") は正常波または異常波の屈折反射計の概念図である．周波数 $の発振器からのマイク'"&#は真空での入射マイクロ波の波数率であり，%##%

ロ波をアンテナでプラズマへ入射する．プラズマ中を伝である．!，"(") は (の関数であるが，波長に比べて，播したマイクロ波は，（周波数で決まる）ある密度の場所"(") の変化のスケールが十分長いとすると（WKB 近似

で，カットオフとなり反射される．プラズマから再び外の考え方を用いて），電場は近似的にへ出てきた反射波をアンテナ，検出器で受信する．カッ$,!% +.-!
"(")%#("

トオフまでの距離を測るために，受信した波の位相や，（３）となる．"(%")##であれば "(") は実数となり，電場は正

到着時刻を測定する．このようにしてある周波数に対応する密度の位置の情報が得られる．そこで，さまざまな弦的に振動する．一方，"(%")!#であれば，"(") は虚数

周波数で測定することにより密度分布がわかる．また，となり，電場は指数関数的に発散もしくは収束する．

ある周波数での位相の時間変化を測定することにより密WKB 近似では，（３）式の位相項を積分

度揺動が得られる．

('("%#*("'%#! "(")!
&(

原理についてもう少し説明しよう．通常，反射計では，
磁気面（〜等密度面）に垂直にマイクロ波を入射し，垂（４）

直に反射波が帰ってくる．したがって，電磁波のモードで表すことができる．WKB 近似はカットオフ付近で破としては正常波（O-mode）と異常波（X-mode）のみを考綻するが，通常の分布計測，揺動計測では，WKB 近似で慮すればよい．正常波のカットオフ周波数と屈折率の自十分な場合が多い．１次元波動方程式（２）は簡単に数値乗は計算することができる．Fig. 2 は放物型の密度分布での#%'+ ，
'$
%
-#
$
" #&+

%
$
"(%#$! -%$正常波の電場を計算したものである．２階常微分方程式
であるから，２つの独立解が存在し，Evanescent な領域（１）

で (が小さくなるに従って収束する解（A）と発散する解となる．異常波の場合は，これらは，密度だけでなく磁（A'）が存在する．右側の真空領域から左へ（プラズマ側場にも依存する．反射計では，カットオフからの反射波

へ）マイクロ波を入射する場合はほぼ解
（A）
となる．時

の位相を測定してカットオフの位置を検出する．正常波

間変化も考慮すると，この解は，左へ進む波と反射してのカットオフは密度に依存するので，密度分布，密度揺

右へ進む波がつくる定在波と解釈することができる．一動が得られる．一方，異常波を用いると磁場に関する情方解（A'）はプラズマ中の左端からマイクロ波が右側へ伝報が得られる．また，２つの異なる周波数（カットオフ）

播する解であり，激しい減衰を伴う．カットオフ付近のを測定することにより密度揺動の相関長が得られる．

密度勾配が（波長に比べて）滑らかであれば，この付近

１次元波動方程式を解くことにより反射の様子をうかで，"(%")が線形に変化すると近似することができ，解析がうことができる．定常状態で，正常波，異常波間の解はAiry関数で与えられる．カットオフ付近で波長が大モード間結合がない場合には，解くべき式は１変数の２

きくなることは，"(") が小さくなること（あるいは（３）階常微分方程式

式）から予想できる．実際には，Fig. 2 のようになり，最*%! ""% %%!##
("
)#
*(%

も内側の電場の山の幅をAiry幅と呼ぶ．密度分布がわず（２）かに変化し，カットオフの位置が動くと，位相の変化は，
カットオフ付近の波長，すなわちAiry幅に対応した変化となり，数値計算が可能である．ここで (は波動伝播にを示す．Fig. 2 の解（A）と解（B）
は密度の違う２つの場合
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３．活躍するマイクロ波反射計の波動を示したもので，右端での位相が丁度一周期異なるように密度を選んだ場合である．２つの解のずれは，プラズマにおける反射計は，電離層の測定が最初とさ

カットオフに近づくに従って大きくなることがわかる．

れている．これは，レーダーによって，遅れ時間から電

これは，カットオフに近づくに従って波長が長くなるか離層までの距離を測定したものである．基礎プラズマでらであり，密度変化に対する感度という意味では，カッも早い時期から測定がおこなわれている．磁場閉じ込め

トオフ付近の変化に敏感であること，すなわち，測定のプラズマでの測定も早くから試みられたが，分布測定と局所性を意味する．ただし，より正確には（Born 近似のいってよい結果が現れたのは，１９８５年である［５］．しかし考え方，すなわち密度変化を摂動として扱う場合には）ながら反射計の有用性が認識されたのは，１９９０年の AS-

電場の大きなところで大きな感度を持つ［２］．密度揺ら

DEX における H モード時の周辺部の密度分布の変化にぎのスケールが波長よりも十分大きな場合には，密度揺よってである［６］．周辺部の詳細な密度が H-mode 遷移後

らぎと位相揺らぎの関係は，に徐々に増えて，輸送障壁の形成される様子を明確に示'% " $"% " ' " " '"!
!!
!
"% "% $# #
#
!& #
#

した（Fig. 3）．この結果により，反射計は，時間，空間分解能に優れた分布計測であると認識された．

（５）

揺動測定も早くから試みられ１９８５年には，MHD が観となる．ただし !&は密度の勾配長であり，"は実効的な測されている［７］．プラズマ研究に与えた影響という点波長である．数値計算の結果 "は真空中の波長 "!の約1.7

では，DIII-D における H モード遷移時の測定があげられ倍となる［３］．カットオフの手前でも，密度揺らぎが波長る［８］．Fig. 4 は異なる場所での反射計信号の高周波成分程度のスケールを持つときには，干渉（Bragg 散乱）にの変化を示したもので，遷移後に密度揺動が減少したとより大きな感度をもつ［４］．

解釈された．その後，減少している場所が局所シア，フローのある付近と一致することも確かめられた［９］．こFig. 2

Fig. 3

Solutions of the wave equation. (a)Density profiles (A, B).
(b)Two independent solutions. (c)Solutions for different
density profiles.

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Development of edge density gradient after L-H transition(a), and the perturbations (b) [6].

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A. Ejiriの成果から，反射計は局所的な密度揺動を測定できる優れた計測と認識されるようになった．
この２つの結果は，プラズマの研究者の予想とも一致
し，それがために，反射計に対して過度の期待と安心感を与えたようにも思われる．一方，この２つの結果後に形成された反射計の専門家集団内で，分布測定に対しても，揺動測定に対しても種々の論争が起きた．これについては後述するが，プラズマの研究者に与えた影響という意味では，この２つが大きな貢献をし，これ以降，異常輸送，輸送障壁は反射計のもっとも得意とする用途となった［１０］．ちなみに，JET の H-mode 遷移時に Fig. 4と同様の反射計信号の揺動の減少が観測されているが，密度勾配長の減少が激しく，密度揺動が減少したとは言えないと報告されている（（５）式参照）［１１］．
マイクロ波の周波数を変えることにより，異なる位置の揺動を測定することができる．このことから不安定性の径方向の構造を測定しようという試みは早くから行われてきたが，明瞭な構造が得られた例は意外に少ない．

Fig. 4

Variation of divertor D!, reflectometer signals and magnetic probe signals across the L to H transition [8].

Fig. 5Phase magnitude from reflectometer measurements. The
dashed lines indicate model density perturbations and thesolid lines indicate corresponding phase perturbations.
Profiles at two different timings are shown [12].

そのような中で Toroidal Alfvén Eigenmode（TAE）はマ
クロな現象であり，また時間的にコーヒーレントなので（すなわち特定の周波数をもつので），反射計で比較的容易に観測することができる．Fig. 5 は TFTR の DT プラ
ズマにおいてアルファ粒子によって駆動された TAE の構造を示したものである［１２］．この測定では，異常波を用いることで，弱磁場側の測定を可能としている．また，異なる位置を測定するために，３つの周波数を用い，さらにトロイダル磁場を１０％程度変化させて測定した．磁気揺動に同期した成分が弱磁場側と強磁場側で異なることを示し，TAE の理論から予測される構造との類似性と相違点が見つかった．
近年の異常輸送の研究においては，揺動の大きさだけでなく，相関長の測定が重要であると認識されている．
輸送をランダムウォークと考えると，輸送係数は，空間ステップの幅の２乗に比例し，時間ステップに反比例する．乱流輸送に当てはめて考えると，これらは，揺動の相関長と相関時間に対応する．したがって，輸送が増減したかどうかは，揺動レベルの増減だけでなく，相関長
や相関時間がどうなったかに依存する．特に輸送障壁では，シア流が揺動の空間的な成長を抑制し，相関長の長
い大きな構造（渦）を抑制することが，輸送の低減に寄与していると考えられる．したがって，揺動測定では，揺動レベルや周波数スペクトルだけでなく，相関長の測定が重要だと考えられようになってきた．反射計による径方向の相関の測定は，比較的早くから行われてきた
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Fig. 6

Radial profile of the correlation function outside (circles)
and inside (squares) the internal transport barrier [13].

が，上記の観点で，プラズマ研究者に注目される結果を出したのは，JT-60U における内 部 輸 送 障 壁 の測定であった［１３］．いくつかの近接した周波数で揺動測定を行い，輸送障壁形成後に障壁中で相関長が減少していることが見出された（Fig. 6）．
反射計は電子サイクロトロン周波数帯，プラズマ周波数帯のマイクロ波を測定するが，より低いイオンサイク

Fig. 7

Radial profile of reflectometer signals during ICRF heating [14].

Fig. 8Doppler reflectometry spectra for two discharges withdifferent propagation velocities [16].

ロトロン周波数帯の信号は反射計の中間周波数部を工夫することにより，比較的容易に測定することができる．
一方，プラズマ加熱，電流駆動では，入射した波動がプ
ラズマ中を予想どおりに伝播し，減衰するかどうかが重要である．ここで反射計の局所測定を生かすことができる．Fig. 7 は GAMMA-10 におけるイオンサイクロトロン
加熱時の反射計測定結果である［１４］．加熱の効果が見られる時間帯とそうでない時間帯で波の径方向分布が異なることを示している．また，この例では，温度非等方性により励起されたアルヴェンイオンサイクロトロン波が観測されており，加熱効率への影響が示唆されている．
同種の測定は速波電流駆動実験でも行われている［１５］．
反射計と散乱計には共通点が多いが，通常の反射計は鏡面反射を測定する配位で行われるので，Fig. 2 を用いて説明したように !"!!に感度をもつ．一方，プラズマとその上に乗った摂動はしばしば回転しているので，回転回折格子と見なすことができる．すなわち，マイクロ波を等密度面に斜めに入射し，斜めに帰ってきたマイク
ロ波を観測すると，ドップラー効果により周波数がずれる．このような効果は早くから認識され後述する位相わかる．このドップラーシフト量は，回転回折格子ある

Runaway の一因と考えられてきた．逆にこの効果を積

いは，散乱計測の場合と同じであり，揺動の波数と（他

極的に用いることにより，摂動（揺動）の速度を求めるの計測器で求めた）速度で決まること確かめられた．こことができることを実証したのが W7-AS における実験

れにより，異常輸送の抑制に寄与すると考えられているである［１６］．Fig. 8 は揺動の速度が異なる場合の反射波

速度シアを反射計によって精度良く測定する可能性が開の周波数スペクトルを入射周波数を基準に示した図で，かれた．なお，別の手法として，回転方向に離れた２点

速度とともに，スペクトルのピークがシフトする様子がで反射計測定を行い，遅れ時間（相互相関関数のピーク）
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Commentary

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A. Ejiri

られたが，様々な試行錯誤の結果，最近では，密度の空
間的な揺らぎが引き起こす回折効果が主要な原因と考えられるようになった．なぜ回折効果が起こり，どのような条件で起こるか，どのような対策があるかを述べる．
また，わかりやすい解説が今までなかったので，その点に重点をおいた解説を行う．
!の整数倍，
フリンジジャンプとは，測定した位相が !
突然急激にジャンプする現象である．現象論的には，反射波のパワーが０に近づく時に起きる．そこで，これらに対する対策として，時間分解能の改善，精度の改善，
揺動の平滑化が試みられた．しかしながら，分解能，精度の改善には，あまり効果がないことがわかった．一方，Fig. 9Cross correlation between O- X-mode reflectometers.
The frequency of X-mode is 30 GHz, while that of O-mode
is swept [18].

揺動の平滑化は効果がある．具体的には，測定した信号（複素振幅）を低域通過フィルタに通して，揺動成分を除去してから位相を計算するとフリンジジャンプや位相Runaway の少ない信号が得られ，ゆっくりとした密度から速度を求める方法がある．
ここまでは，正常波と異常波を特に区別せずに解説しの変化，位置の変化が測定できるようになる．また，フたが，異常波のカットオフは，密度だけでなく，磁場にリンジジャンプが相対的に急激に起きることを利用しも依存する．したがって，この２つを上手に利用すれば，て，フリンジジャンプをソフトウェア的に除去する方法

磁場に関する情報が得られる．例えば，２つのモードでが開発され，成果を上げた［１９］．密度分布の多価性は，測定した揺動レベルを比較することにより磁場揺動の大分布測定時の問題である．反射計の場合，密度の関数ときさを評価することができる［１７］．ここでは，相関反射

してカットオフの位置が求められるので，同じ位置に対計を用いた磁場強度測定の原理検証実験について紹介す

して，２つの密度が存在しうる（Fig. 10）．もちろんこれる．Fig. 6 の例にもある よ う に，一 般 に２つ の測定点

は，物理的にはありえない分布である．密度分布を測定（カットオフ）が離れるに従って，揺動の相関は下がってするためには，周波数を掃引するが，これには，一定のいく．そこで，一つの反射計は正常波，もう一方は異常時間がかかる．この時間内に密度が時間的に揺らぐと正波を測定して，両者の相関が最大になる条件を探す．当

しい分布が得られない．そこで，掃引時間を短くするこ

然これは，両者の測定しているカットオフの位置が一致とにより，密度揺らぎの影響を除去できると期待され，したときであるが，この時，正常波と異常波では周波数

事実これにより成果を上げた［２０］．しかしながら，これが異なる．この周波数の違いは磁場と密度に依存するのだけでは不十分で，下記に示すような平滑化が行われるで，その場所の密度と磁場の関係がわかる．反射計などのが普通である．入射マイクロ波の周波数を固定した測によって，密度分布が既知であれば，磁場強度分布を測

定では，上述した時間空間での平滑化（低域通過フィル

定することができる．Fig. 9 は NSTX における正常波異常波相関反射計の相関を示したものである［１８］．異常波
反射計の周波数を固定して，正常波反射計の周波数を時間とともに変化させると揺動の相関関数が得られる．相関が最大となる点で，２つのカットオフが一致し，その周波数から磁場の大きさを求めることができる．

４．反射計の難しさと解決策
実際に反射計でプラズマを計り始めると困難に直面することが多い．具体的には，フリンジジャンプ，位相Runaway，密度分布の多価性である．当初，これらの原

Fig. 10

因は，プラズマ中の密度が時間的に揺らぐことだと考え
７４７

Unreasonable density profile affected by fluctuations.

Journal of Plasma and Fusion Research Vol.79, No.8 August 2003タ）が有効であり，周波数を掃引する分布測定において置する必要がある．計算式を近似すると，干渉効果が顕は，周波数空間での平滑化が有効である．また，AM 反著になる距離，すなわち位相が 1 rad．程度理想的な値か

射計や，短パルスレーダー反射計のように広がりのある$"#%!
!+%（図の条件では， #"&#
らずれる距離は #"!!

周波数を測定する場合には，周波数空間での平滑化が測となる）と評価することができる．すなわち，プラズマ

定に組み込まれている．

の揺らぎの振幅や波数が大きいほど，この距離は短くな

次に，密度揺動の空間構造に起因する回折効果を説明$でわかるように，位相$，#!'(
る．また，図の #!'#

する．ここでは，単純化したモデルを導入する．測定しは非線形な変化をする．したがって，波数の大きな揺らたいカットオフ面がほぼ平面で，密度の揺らぎをこの平ぎを測定するためには，カットオフ面の非常に近くに受面上に局在する位相（波面）の揺らぎに置き換える．ま信アンテナを設置しなければならない．ところで，結像た，入射波として平面波を考える．位相揺らぎの局在は，光学系を用いることで，物空間焦点のイメージを像空間

カットオフ手前での密度揺らぎの影響を無視することに焦点のイメージに変換することができる．ここにアレイ対応する．

状の検出器を配置すれば， #!#（カットオフ面）にアン$，振幅 0.5 rad の位
Fig. 11 は，左端（ #!#）に波長 $#テナを設置したことと等価になり，このような回折の影

相揺らぎがあったときに右側へ伝搬した波の各 #での $響を受けない（Fig. 12）．この手法は，イメージング反射

方向の位相の変化を示したもので波面の形と見なすこと計と呼ばれ，TEXTOR での初期実験では，上記の考え方ができる．右端のスケールが５倍異なることに注意．こが正しいことが示された［２１］．ただし，結像させるため,!
"

れ は２次 元 的 な ス カ ラ ー 波 * !"# の 波 源 が #!#でには，大きな立体角を確保しなければならず，これが実

"#)
!+$
-.!
の初期位相分布を持っているとしてホイヘ#"

用上の困難である．また，カットオフ以外の場所での揺ン ス の 原 理 を 用 い て 計 算 し た も の で あ る．この図で動が大きいと，曇りガラスを通して観測することになり#!%#$では左端の位相変化をほぼ忠実に再現している

結像は難しくなる．実用上のもう一つの問題は，カットが，さらに右に進むと波面が歪みはじめ，位相情報がな

オフ面が移動すると結像条件が変わり，ピンぼけが起きくなっていく．これは， $方向の構造による回折のためることである．そこで，光学系による結像の代わりに，である．したがって，反射計によって，位相変化を測定

レンズの位置に多数のアンテナ（あるいは検出器）を配するためには，波面が歪まない位置に受信アンテナを設置する方法が考えられる．結像は計算機上で行うので，結像条件の変化を考慮したイメージの再構成が可能であると期待されているが，理論的検討，実験による検証がされていない．イメージング反射計は，今の所もっとも完璧で，もっともコストのかかる反射計と見なされている．その一因は，アレイ状の検出器であるが，研究開発の盛んな分野であり，今後の発展が期待される［２２］．ここでは，結果のみを示したが，干渉条件の導出過程，

Fig. 11

Phase as a function of y for several x. Initial phase perturbation is given at x = 0 and the phase is distorted as
the wave propagates in x-direction.

Fig. 12

７４８

Schematic drawing of the imaging reflectometer.

Commentary

Microwave Reflectometry for Plasma Diagnostics［５］F. Simonet, Rev. Sci. Instrum. 56, 664 (1985).
［６］F. Wagner et al., Plasma Phys. Controlled Nuclear Fusion Research 1990, IAEA Vienna 1991 Vol.1 277-290;
M.E. Manso et al., 18th Europ. Conf. on Contr. Fusion andPlasma Phys. Berlin, (1991) 15C I-393.
［７］TFR Group, Plasma Phys. Control. Fusion 27, 1299

カットオフ面の曲率，アンテナの指向性の影響，より正確な取り扱い方法については，講座にて述べる．
イメージング反射計と別のアプローチとして散乱法がある．Fig. 8はその一例であるが，アンテナが十分遠方にあり，かつ，ある条件を満たすと揺動を回折格子とみなし，配位で決まる波数を選別して測定することができ(1985).
［８］K.H. Burrell et al., Phys. Fluids B 2 1405 (1990); E. Doyleet al., Rev. Sci. Instrum. 61, 3016 (1990).
［９］E. Doyle et al.,Phys. Fluids B 3, 2300 (1991).
［１０］N. Oyama and K. Shinohara, Rev. Sci. Instrum. 73, 1169
(2002).
［１１］G.J. Kramer et al., Plasma Phys. Control. Fusion, 35,
1685 (1993).
［１２］R. Nazikian et al. Phys. Plasmas 5, 1703 (1998).
［１３］K. Shinohara et al.,Rev. Sci. Instrum. 70, 4246 (1999);
R. Nazikian et al., Fusion Energy 1998 (IAEA Vienna,

る．また，このような考え方でデータ解析を行っている例もある［２３］．一般的な条件で，どのような配位が最適で，どのような解析を行うべきかについては，必ずしも整理されていない．

５．まとめ
この解説では主に磁場閉じ込めプラズマにおけるマイ
クロ波反射計の成果を紹介してきたが，プラズマ研究，
特に輸送の研究に大きな役割を果たしてきたことがわか1999) Vol.4 p.1689.
［１４］A. Mase et al., Rev. Sci. Instrum. 66, 821 (1995).
［１５］J. H. Lee et al., Rev. Sci. Instrum. 66, 1225 (1995).
［１６］M. Hirsch et al., Plasma Phys. Control. Fusion 43, 1641
(2001).
［１７］A. Mase et al., Phys. Fluids B 5, 1677 (1993).
［１８］M. Gilmore et al., Rev. Sci. Instrum. 74, 1469 (2003).
［１９］A. Ejiri, K. Shinohara and K. Kawahata, Plasma Phys.
Control. Fusion 39, 1963 (1997); M.Gilmore, W.A.
Peebles and X.V. Nguyen, Rev. Sci. Instrum. 72, 293(2001).
［２０］T. Tokuzawa et al., Rev. Sci. Instrum. 68, 443 (1997).
［２１］E. Mazzucato et al., Phys. Plasmas 9, 1955 (2002).
［２２］間瀬 淳他：プラズマ・核融合学会誌 78, 439 (2002).
［２３］K. Shinohara, Y. Miura and K. Hoshi, J. Plasma Fusion
Res. 74, 607 (1998).

る．その一因は，異常輸送のスケールとマイクロ波の波
長が同じオーダであり，プラズマの変化に対して反射計が高い感度を持つことである．もう一つの理由は，反射計には計測手法としての柔軟性があり，様々な需要に応えることができたという点である．ここで紹介した実験
結果は，主としてプラズマ研究に与えた影響という観点から選んだものであるが，それぞれの手法を初めて適用したものではない．すなわち，これらは，手法がある程度成熟した後に，その時の研究のニーズに応えられたものである．これには，反射計の専門家集団の存在が大きな貢献をしている．また，この解説では取り上げなかったが，反射計の理論的研究も活発で，それらの成果が実験を支えていることも見逃せない．
淳先生［１］間 瀬 淳 他：プ ラ ズ マ・核 融 合 学 会 誌 74, 1382
(1998).；間 瀬 淳 他：プ ラ ズ マ・核 融 合 学 会 誌 71,
49 (1995).；永津雅章：プラズマ・核融合学会誌 71,
132 (1995).
［２］E. Mazzucato and R. Nazikian, Plasma Phys. Control.
Fusion 33, 261 (1991).
［３］A.E. Costley, in International School of Plasma Phys.
Bologna, 1986, p. 379-396.
［４］X.L. Zou, L.Laurent and J.M. Raz, Plasma Phys. Control.
Fusion 33, 903 (1991).

!!!!!!!!!!!!!!!!!!

参考文献!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!
じり

あきら

江 尻

え

晶

１
９
６
５年生まれ．１
９
９
２年に東京大学大理学系
研 究 科 退 学 後，核 融 合 科 学 研 究 所 を 経て，１９９
９年より新領域創成科学研究科．最近の研究テーマは，球状トカマクを用いた!!!!!!!!!!!!!!!!!!

にこの場をかりて感謝いたします．

MHD 不安定性の研究，揺動計測手法の開発です．学生の研究
テーマとは微妙に異なっており，学生を手足のように使うというよりは，学生の手足となることが多いようです．また，
現在の趣味は育児と家事です（共働きの方には，この意味がわかると思いますが）．

!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!

最後に助言をいただいた田中謙治先生，間瀬A. Ejiri

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