顕第 56 巻微鏡

第3号

2021 年目次■巻 頭 言博基93

その場観察から読み解く材料科学：最近の研究事例………………………………………………………… 村上恭和

94

液中における核生成過程の透過型電子顕微鏡その場観察…………………………………………………… 木村勇気95晶100

ファインマンのことば…………………………………………………………………………………………… 倉田■ 特集：その場観察から読み解く材料科学：最近の研究事例

環境制御型透過電子顕微鏡によるニッケル触媒のメタン雰囲気その場観察……………………………………………… 松田潤子，山本知一，高橋真司，佐々木一成，松村

液中電気化学ホルダーを用いた Zn デンドライト成長のその場観察……………………………………………………………… 佐々木祐生，吉田要，桑原彰秀，幾原雄一

105

外部場に伴う無機半導体材料の室温塑性変形挙動の変化…………………… 中村篤智，大島優，松永克志

110智史，山本和生，平山司，齋藤晃

116学，奥山健太郎，信藤知子，岡野栄之，芝田晋介

124

徳安法の基礎と応用……………………………………………………………………………………………… 小池正人

131

公恭139

一渡143

■ Microscopy Editor’s Choice より …………………………………………………………………………………………………

147

■解説
透過電子顕微鏡による圧縮センシング………… 野村

優貴，穴田

マルチビーム SEM と CLEM による広範囲試料の構造解析への応用……………………………………………… 早津■講座■ 最近の研究と技術
内部集光型レーザダイシングを用いた TEM 試料作製の前処理手法 ……… 岩田博之，高木誠，坂金属中欠陥の量子拡散の TEM その場観測 …………………………………………………………………… 荒河■ 会議報告大介，竹口雅樹

148■ 編集後記 ……………………………………………………………………………………………………………… 村上

日本顕微鏡学会第 77 回学術講演会開催報告 ………………………………………………… 藤田恭和

150

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表紙説明：隔膜式液体試料ホルダーおよびシリコン基板の電極パターンの概略図（左）．定電流印加による白金電極への亜鉛電析過程のその場 TEM 観察像（右）．
電流印加直後から電極上に亜鉛微粒子が生成し，その後微粒子は樹枝状結晶へと成長した．p. 106，p. 107
参照．

【著作権者：公益社団法人 日本顕微鏡学会】

KENBIKYO
Vol. 56, No. 3

2021

CONTENTS■ Foreword
Feynman’s Words ……………………………………………………………………………………………… Hiroki Kurata

93■ Feature Articles: Cutting-edge In-situ Microscopy Observations in Materials Science
Cutting-edge In-situ Microscopy Observations in Materials Science ………………………………… Yasukazu Murakami

94In-situ Transmission Electron Microscopy of Nucleation Processes in Liquids ……………………………… Yuki Kimura95

In situ Observation of Ni Catalysts under Methane Atmosphere using Environmental Transmission Electron Microscope…………………… Junko Matsuda, Tomokazu Yamamoto, Shinji Takahashi, Kazunari Sasaki and Syo Matsumura

100

In situ Transmission Electron Microscopic Observation of Zn Dendrite Growth………………………………………………… Yuki Sasaki, Kaname Yoshida, Akihide Kuwabara and Yuichi Ikuhara

105

Room-temperature Deformation Behavior of Inorganic Semiconductor Materials Depending on External Fields………………………………………………………… Atsutomo Nakamura, Yu Oshima and Katsuyuki Matsunaga

110■ Review
Compressed Sensing in Transmission Electron Microscopy………………………………… Yuki Nomura, Satoshi Anada, Kazuo Yamamoto, Tsukasa Hirayama and Koh Saitoh

116

Application for Structural Analysis of Large Sample by Using Multibeam SEM and CLEM……………………… Manabu Hayatsu, Kentaro Okuyama, Tomoko Shindo, Hideyuki Okano and Shinsuke Shibata

124

Tokuyasu Method: From Basics to Applications ……………………………………………………………… Masato Koike

131■ Lecture■ Research Today
Pre-treatment with Stealth Type Laser Dicing for TEM Sample Preparation…………………………………………………………………… Hiroyuki Iwata, Makoto Takagi and Hiroyasu Saka139

In-situ TEM Observation of Quantum Diffusion of Defects in Metal …………………………………… Kazuto Arakawa

143■ From Microscopy: Editor’s Choice Articles …………………………………………………………………………………

147■ Conference Report
Report on the 77th Annual Meeting of the Japanese Society of Microscopy ………… Daisuke Fujita and Masaki Takeguchi

148■ Staff Commentary …………………………………………………………………………………………… Yasukazu Murakami

150【著作権者：公益社団法人 日本顕微鏡学会】