 入射器コミッショニング報告  目次
１．はじめに（榎本）
２．コミッショニング  経過（小川）３．Ａ１電子銃ビーム試験（大沢）

動機及び目的

加速器構成及びパラメータ

ビーム試験及び結果

課題

４．仮入射部ビーム試験
目的（榎本）
加速器構成（榎本）

初期パラメータの設定（榎本）
ビーム制御
 ＢＴデータベースの整備（榎本）
データベースの利用（古川）








 の利用（小磯）

ビーム調整


電子銃（大沢）

バンチャ系（大沢）

長パルスビームによるタイミング合わせ及びビーム粗調整（大沢）短パルスビームのタイミング合わせ（大沢）輸送パラメータの設定と初期調整（紙谷）

オプティックスとビームサイズ（小磯）

ソレノイド極性の問題（大沢）エネルギー測定

エネルギー分析系（紙谷）エネルギー測定（山口）エネルギー幅の調整及び安定化（大沢）ＳＬＥＤ利得の測定（大越）エミッタンス測定

ワイヤスキャナ（諏訪田）スクリーン測定系（紙谷）

画像処理システム（古川）

エミッタンス測定解析結果（小磯）

５．まとめ


ビーム試験の総括（生出）

今後の課題とコミッショニング予定（榎本）１．はじめに   電子陽電子線形加速器（以下「ライナック」と呼ぶ）は、  年度から５年計画で始まった  ファ
クトリ加速器（）建設で、エネルギーを  倍の 、陽電子の強度を従来の約  倍の  バンチに増強し、「 入射器」として生まれ変ろうとしている。
建設は、昨  年月から  か月間の長期シャットダウン工事に入り、 年度末までに、旧   ライナック 

ユニット（以下「既設部」と呼ぶ）の改造を基本的に完了した。
入射器のエネルギー増強は、この既設部に新規

 ユニットを増設して達成する（以下「増設部」と呼ぶ）。その増設建屋が今年  年１月に竣工し、 月から、建設に入った。
改造の完了した既設部は、連休明けの  月  日から、高周波コンディショニングを始め、 月  日から２週間、「仮入射部」によるビーム加速試運転を行った。
一方、増設部のビーム加速試験は  月から予定されているが、それに先立ち、既設部より新入射部に移設された 入射器電子銃の試験を  月  日から行った。
 入射器の試運転は、ライナック、リング双方の合同のコミッショニングチーム（現在  名ずつ）で進めている。
これはライナックからの入射効率がリングの積分衝突ルミノシティを稼ぐ上で重要な役割を果たし、入射器、リングのより緊密な連携による運転が必要になったからである。今回の運転では、毎朝  時

 分からミーティングを持ち、前日の報告とその日の予定を話し合った。

 コミッショニング（）経過   Ａ１電子銃ビーム試験経過 年６月９日から週間、Ａ１電子銃ビーム試験を行なった。これによって、 リニアックの電子銃からはじめてビームが出たことになる。ビーム試験経過を簡単にまとめると、以下のようになる（図）。

電子銃ビーム 

ビーム軌道の確認
軌道のズレがあるか？

 電子銃・磁気レンズ !直後のスクリーン での位置測定
 ソレノイド（集束）コイル終端の  での位置測定

軌道のズレの場所同定 
集束コイル内部か？

 電子銃加速電圧を変えて、 終端の  でビーム位置の回転を測定  入口のステアリングコイル #を振って同様の測定を行なう

軌道のズレの場所同定 電子銃直後か？

  ! の磁場を変えて、直後の  で位置を測定  ! の磁場を変えて、直後の  にフォーカスさせた
ときのビーム位置を測定

 外部磁場の影響評価
 周辺機器の残留磁場測定
ヒータ電流による磁場の大きさの測定 カソードの取付精度の測定

軌道のズレの原因追求

図

Ａ１電子銃ビーム試験経過この試験結果から、電子銃直後でビーム軌道にズレが生じていることが判明した。そこで、その対策として、電子銃の取付精度の改善を行なうとともに、電子銃直後にあらたにステアリングを追加することを検討している。
   仮入射部ビーム試験経過 年  月  日から２週間の仮入射部ビーム試験の大きな流れをまとめると、次のようになる（図）。

放射線安全検査  !$$ " とビームのタイミング調整
" とビームの位相調整

長パルスビームによる調整

 短パルスのトリガで長パルスビームを出す 短パルスビームのタイミング調整
 ! 短パルス用 # データ（計算値）のセット
エネルギースペクトルの測定（ セクタ終端）

短パルスビームの調整 信号の確認
 ノイズの低減（検出器の配置、遮蔽など）
フォトマルの高圧の最適化
 制御系の最適化（、ソフトウェアなど）
エミッタンスの測定（% &'( を変える）
ビームエネルギー依存性のチェック

ワイヤスキャナ試験， セクタの ! エネルギー利得測定! エネルギー利得測定 ビームサイズを小さく調整 ワイヤスキャナγノイズ低減のための調整  からの # データのセット試験

ビーム微調整 ランダムシャッタカメラのセット 画像解析エミッタンスの測定（% &'( を変える）
 ワイヤスキャナによる測定と比較

スクリーンモニタによるエミッタンスの測定（ワイヤスキャナ部と入射部）! ! 大電力試験

制御系試験

図

仮入射部ビーム試験経過

ビーム試験の間には、いくつかのトラブルや勘違いによるロスタイムがあったが、いずれも臨機応変に対処して事無きをえた。また、そのうちの大部分は、今後のコミッショニングに対する教訓として大いに役に立つものと思われる。ここでは、一つ一つのトラブル、判断ミスを箇条書きにして、今後のための反省材料としたい。なお、週間のコミッショニンググループとそのサポートグループによるビーム試験の詳細な経過については、運転日誌から抜粋・要約したものを本報告の付録として添付するので、興味ある方は参照されたい。

トラブル、判断ミス、誤操作、故障などの記録) * 電子銃バイアス電源出力短絡
／月 ：+',- 状態でもビームが出ていたため、調査した結果、電子銃バイアスが短絡していたことが判明した。
) * 長パルスビームのタイミング調整時の判断ミス・誤操作  セクタタイミング調整
／ 火 ：  ビームローディングを見てセクタのタイミングを調整するため、長パルス用トリガディレー全体② 、トリガディレー接続図については、図参照を動かした。しかし、 セクタは、すでに同日 ：  にタイミング

調整を行なっているので、それを保つためには反対の方向に同量動かす必要があったにもかかわらず、動かさなかった。
この結果、Ｃセクタのタイミングが狂ってしまった。なお、： の時点でのセクタタイミング調整時には、正しく セクタを反対方向に同量動かしていた。
  セクタタイミング調整
／ 火 ： ". . の " 波形を見て、ビームが ! 用位相反転の後にあることが判明したが、これはビームと  セクタ以降のタイミングは、昨年秋までの運転でタイミング調整済みであったにもかかわらず、長パルス用トリガ
ディレー全体②全体②

を、：、 ：  の時点で、動かしてしまったためである。そこで、長パルス用トリガディレー

を元に戻し、Ｃセクタタイミングを逆方向に同量動かした。また、 ，セクタのタイミングも同様に調整し直した。

"2! "µ4!5

⑤

21

③

⑨

!.

④

⑩

!.

③3

⑥

.

⑦

.

①

同期トリガ
短パルス用

②

.

①3

.

長パルス用

⑧

②3

/0"#!01

.
.

6 µ4 単位で可変図

 主制御室内トリガディレー接続図)* 短パルスビームのタイミング調整時の誤操作
／ 火 ： 短パルスビームのタイミングを " 波形を見て合わせるために、短パルスのトリガで長パルスが出るよ
うに、電子銃トリガ接続を変えた。さらにＣ、 、 、 セクタの ! を  とした。このとき、長パルスビームのトリガディレーと同量、短パルスのディレーを動かせば大体は良いタイミングとなると考えこれは正しい、ログブックを見て長パルストリガディレーの最初の時点での変化量を捜し、それと同じだけ短パルスディレーを動かした。ところが、既述のように、長パルスのトリガディレーは、最終的に元に戻しており、むしろ動かす方向は逆であった。この結果、ビームはセクタで見えなかった。これは、単なるミスであったが、気がつくまで時間半以上かかった。解決のきっかけは、 セクタのトリガディレーを変えて、ビームを ! 用位相反転前に持ってきて実はすでに反転前にいたのだが、さらにの位相を反転したところ、セクタでビームが見えたことであった。これにより、短パルスビームのタイミングが、位相反転前であることが判明した。したがって、 セクタの! を  すると逆にエネルギー利得が減ってしまうような位置にビームがきていたことになる。そこで、すべて元に戻し、短パルス用トリガディレーを最初とは逆方向に調整し直したところ、ビームがセクタを通った。

) *(78'977&':;&'< によるトラブル
／ 水 ： 電子銃の真空に関する (78'977&':;&'< のインターロックが働き、電子銃部のゲートバルブが閉
じてビーム調整が中断した。この現象はすでに何回かおきていて、ゲージコントローラの動作不良と考え、ゲージコン
トローラをリセットして回復させてきたが、この時点で回復不能となったので、担当者柿原に調査を依頼した。調査中にインターロック接点付近の端子台で短絡がおきて、シークエンサのボードが壊れたので交換したが、状況は変わらなかったので、インターロック接点を短絡し、インターロックを殺した。(7 8'977& ':;&'< の原因については、不明のままである。
)* 仮入射部プレバンチャパワー調整時のトラブル
／ 水〜木 深夜、プレバンチャの調整中にパワーが制御できないことが判明した。そこで、プレバンチャ系導波管
大気内にフェライトコア・ , を入れてパワー調整することにした。
)*% 電源ヒューズ交換／ 水〜木 深夜=、%また、% =%

 が <9> 表示となり、%

 は  できなくなり、ヒューズを交換した。

 も <9> 表示となり、ヒューズを交換した。

)* スクリーンモニタ . . の不具合
／ 金〜土 深夜、ビーム調整中に . . でビームを下方に合わせないと通らないことがわかった。#、スクリーンモニタリミットスイッチ、" ほかすべてチェックするが、原因不明であった。そこで、トンネルに入り現場をチェックしたところ、 . .

が上がりきっていないことが判明した。リミットスイッチの情報では、実際のスクリーン

の出入状況は分からなかったことになる。対策としては、 . . を強制的に上に固定し、当面使用禁止とした。
)*% . . 下流ゲートバルブの設置不具合% . . 下流ゲートバルブが傾いて設置されているのを発見した。このため、直前のベローズが約 ｍｍ垂れ下がっていたので、ビーム通過に支障をきたすと考え修正した。
)* クライストロンモジュレータのノイズによるランダムシャッタカメラシステムの動作不良
仮入射部出口でのエミッタンス測定のため、ランダムシャッタカメラを .

. に設置して画像解析しようとしたところ、モニタテレビに同期がかからなかった。近くのクライストロンモジュレータ（〜 ）の / を $$ したところ、動作が正常に戻った。
) * 〜 セクタ  系加速管、 ! 用冷却水温度の暴走
／ 木： 温度上昇に気づきエネルギーセンタに通報した。記録によれば、： 頃から冷却水温度の暴走が始まり、通常の ℃からおよそ ℃まで上昇していた。

)* 短パルスビーム  時のビーム歯抜け現象

／ 木 ：  短パルスビームを  するが、歯抜けが頻発するので調査を開始した。その結果、
 電子銃トリガモニタ用ケーブルがノイズを拾っていたのを改善 バロンケーブルのシールドを 1 に落とす
トリガ用ラックの 1 取り回しの改善などの処置によって歯抜け現象が改善された。
)* 仮入射部フォーカスコイル電源 .#.  の極性反転

／ 木：  仮入射部でのビーム透過率が低いので、入射部ソレノイド磁場のチェックを行なった。その結果、

.#. の極性が反転していることがわかった。ワイヤスキャナの試験が継続中であったので、当面反転のまま運

転することとした。その後、／金 ：  から、極性を正しく設定してビーム調整を行なった。最終的に、電子銃で約 ?、入射部で ? から ? にビームが増え、リニアック終端部までそのままビームが通った。

３．Ａ１電子銃ビーム試験


動機及び目的

電子ビームは、電子銃直後では低エネルギー（ >）で曲がりやすい。しかし、電子銃からバンチャ出口までは約 >
のソレノイド磁場中により輸送され、一度中心をはずれたビーム軌道をステアリングで補正することは困難であった。
従って、これまでは、バンチャを出た後で、ビームの位置と角度を調整していた。
 リニアックでは大電流ビームを長距離加速するために、ウェーク場によるビームエミッタンスの悪化を阻止しなければならない。従って、低エネルギーでのエミッタンス悪化の種を抑制するため、バンチャ及び第加速管における

横方向ビーム位置の初期オフセットをできる限り小さくする（ && 程度）ことが重要である。
従って、電子銃からバンチャまでのビーム軌道についても位置精度の改善が求められる。
そこで秋の運転開始前に、低エネルギー側における問題点の洗い出しと改善の方向をさぐるために、電子銃ビーム軌道の現状を調査し、プレバンチャ入口までのビーム試験を行った。
図

加速器構成及びパラメータに  ユニットのレイアウトを示す。表 に今回のビーム試験における電子銃及び輸送系の運転パラメータ

を示す。
表

 ビーム試験における電子銃及び輸送系の運転パラメータ

電子銃
カソード
カソードパルス
グリッドパルス

高圧
幅
電圧
幅

グリッドバイアス
ヒータ電流
エミッション電流
繰り返し
輸送系
ソレノイド磁場 5 
>
µ4

4



??4
>

  ビーム試験及び結果/@ と 

電子銃からプリバンチャ入口までのビーム軌道を調べた結果、以下のことが判明した。尚、/@ のサ

ブハーモニックバンチャの電力は入力しなかった。
（１） ステアリングコイルを使用しない状態で運転すると、プロファイルモニター上のビーム位置が明らかに中心からずれている。
（２） 電子銃の加速電圧を変えて（ A ）ビーム位置変化を３ヶ所のプロファイルモニターで測定したとこ
ろ、変化量（回転角の差）が集束コイル入口からの距離にほぼ比例した。また最初のステアリングコイルで補正（ｘ、ｙ共に１Ａ）すると、変化量が小さくなる。→原因が集束コイル入口以前にある。
（３） すべての集束コイルをオフにして、磁気レンズ（ !  ;

! ）電流を変えると、ビーム位置（第１プロファイル）が左右に移動した。磁気レンズがオフのときビーム位置が左下にあり、磁気レンズの電流を増やすと中央に寄ってくる。また磁気レンズでカソード面を第１プロファイル上に結像させたときに、像がほぼ中央にある。→電子銃出口でビームが（磁気レンズに対して左下に）既にずれている。
（４） 集束コイルをオンにしすると、ビーム位置が第１プロファイル上で左下に固定される。
以上のようなビームずれの原因を追求するために以下の調査を行った。
（１） 外部磁場の影響評価
電磁石の $$ と極性反転、近傍の永久磁石とシールド大扉の移動によるビーム位置変動（第１プロファイル）は見られない。
（２） 周辺機器の漏洩磁場測定
電子銃アセンブリには基本的に非磁性体を使用しているが、イオンポンプ等による漏洩磁場の影響を調べた（表 ）。
表    電子銃周辺機器の漏洩磁場
最大 〜 最大 〜
約 
約 

チェンバーフランジ周辺
カソードフランジ周辺
カソード面
カソード周囲のコバール（３） ヒータ電流が発生する磁場測定
ヒータ電流を流すとカソード近傍に磁場が発生する。ヒータ電流を状態では、ヒータ電流が  である。
）表  

 流して磁場を測定した。
（通常の運転に結果を示す。

表    カソード表面付近の漏洩磁場
カソード面からの距離
カソード中央;B
カソード中央周辺 ;B&&

@B&&



&&


&&


（４） カソードの取付精度（上流から見た場合）
ビームラインからの軸ずれと倒れ（カソードフランジとステムフランジ間の相対距離）を測定した（表   ）。
最初のカロードは、中心が左でやや下向きに取付られている。

表    カソードの取り付け精度
カソード交換前軸ずれ&&
倒れ&&
カソード交換後倒れ&&、補正前倒れ&&、補正後C

上

下

左

右






 







 








C補正は、フランジの増し締めによる。
尚、カソードフランジとグリッド取り付け面の平行度を、２個の例で測定したところ、相対距離の変化は µ&と µ& であった。
  課題（１） カソード及び周辺機器の取付精度向上と磁気レンズの磁場測定を行った上で、再度ビーム試験を行う。
（２） いずれにしてもカソード等の取付精度改善だけ解決するのは困難であると考えられるので、カソード取付精度の向上等とステアリングコイルの追加の２本立てで検討する。

４．仮入射部試験  目的建設第３年度の  年度末までに旧  ライナック  ユニットの改造を完了した。改造は大規模なものであり、今回のビーム試験の目的は、改造したライナックからビームを出し、秋からの運転に備えて  リングへの入射ビームを確立するとともに、 入射器建設の仕上がり具合をみることであった。以下に具体的な課題を上げる。
  仮入射部試験
昨年

月からの改造工事で旧  ライナックの入射部を  入射器の入射部（ ユニット）に移設した。その後には、 入射器建設期間中の  入射に供するために、旧陽電子ライナックで使用していた入射部の電子銃〜バンチャ間（「仮入射部」と称する）及びD ユニットを設置した。 入射器増設部と既設部（旧 ライナッ

クのD〜D 間）の接続を円滑に行うため、仮入射部の電子銃はビームラインから外し、 度偏向電磁石によって入射するようにした（「垂直入射電子銃」と称する）。仮入射部の電子銃ビームをプリバンチャ入り口まで導く試験は予め行っていたが、マイクロ波を投入したビーム加速試験により、エネルギースペクトル、エミッタンスを確認するのは今回が初めてであった。
  既設部高電界ビーム加速試験
今回のビーム試験で初めて入射部と陽電子発生部を含むD、D

ユニットを除く全てのユニットで  E クライスト

ロンと ! を用いた高電界加速モードでライナックが運転されることになった。加速管等の放電によるトリップがどの程度の頻度で生じるか、十分な加速利得があるか、エネルギー安定度はどうか等を調べる必要があった。
 ビーム輸送路の試験新設された仮入射部、 ユニット間では輸送路の構成が従来と変わった。又、 から  セクタでース入れ替えの改造工事があった。改造によりユニット加速利得が極電磁石のポールピ

倍以上増強され、全体としての最大加速エネルギ

ーが約  になった。この中で、今秋からの  入射用  ビームをどう輸送するか、新しいビーム輸送パラメータの確立が必要となった。

  ビーム制御系の試験 入射器ではより高品質で安定したビームをリングに入射するため、マイクロ波、ビーム輸送系等の計算機制御がますます重要になる。その中で、今回は、計算によるライナックのビームプロファイルとモニタした実際のプロファイ
ルを一致させるため、ライナックデータベースの整備を可能な限り精度良く行った。その結果を用いて、運転パラメー
タから計算したビームプロファイルとモニタした実際のプロファイルの差、モデル計算した電磁石値を設定したときの実際のプロファイルとの差等を調べることが課題であった。
  加速器   レイアウト
仮入射部以降のライナックのレイアウトを図   に示す。詳細は付録のライナック寸法データベース参照のこと。
  仮入射部
垂直入射電子銃システム、プリバンチャ、バンチャから成る。集束系はヘルムホルツコイル。モニタは電流モニタ及びスクリーンモニタ。高周波源は当面D ユニットのクライストロンから出力を下げて約  E を供給する。D は 
年  月末の  入射器増設部と既設部の結合までは仮のビームダンプになっており、加速ユニットは設置されないが、同年  月の  リングコミッショニングまでには組み上げる予定である。  月以降も仮入射部が併用される場
合には、D ユニットの高周波電力  E のうち  E を分配して使用することになる。
 D〜D 、D 〜D ユニット
これらの加速ユニットは標準型の加速ユニットで、 ｍ加速管

本に  E クライストロンからの出力を高周波パルス

圧縮器（以下 !）によって増幅して供給している。 ユニット当たりの加速利得はクライストロン出力

E に対して  7,- の設計である。 ! によるエネルギー増倍率は  である。４極電磁石はD ユニットでは第 、第加速管の後、D〜D ユニットではユニットの後、D〜D ユニットではユニット毎にユニットの後に設置される。加速管、電流モニタ、スクリーンモニタ、４極電磁石、ゲート弁等を含めた加速ユニットの全長は & で加速部の占有率は Fである。
 D

ユニット

陽電子生成標的直後にあり、 & 加速管本、 & 加速管本の特殊な加速管構成になっている。これらの加速管は全て

# のソレノイド磁場に浸っている。放電対策上、クライストロン出力は、パルス幅をら G4 に縮め、 E 以上出力する。 ! は使用しない。 & 管する。 & 加速管本、 & 加速管! 使用ユニットの G4 か本は導波管で直列に連結され、 & 管として使用

本へ供給される高周波電力の分配比は 6 6 である。加速ユニットの全長は &で加速部の占有率は  Fである。
 D
&管

、D  ユニット
本の加速管構成及び高周波源は標準型だが、 極電磁石を加速管上に設置し 00 型の集束系にしている。加

速ユニットの全長は  及び  & で加速部の占有率は F及び  Fである。
D
&管

、D  ユニット
本の加速管構成及び高周波源は標準型だが、 & 管

速管の間隔を空けて設置している。加速ユニットの全長はD 、D  ユニット

本それぞれの下流に極電磁石を設置できるように、加 & で加速部の占有率は  Fである。

&管本の加速管構成及び高周波源は標準型だが、 & 管本それぞれの下流に極電磁石を設置できるように、加速管の間隔を空けて設置している。加速ユニットの全長は & で加速部の占有率は Fである。
D ユニット
当面空きユニットになっている。  年  月までに設置予定。 & 管  本の加速管構成。高周波源は標準型で 6 6に電力を分配する。
   高周波源の改造と加速ユニットのコンディショニング 年度末までに大電力高周波源、サブブースタ電源等の改造が完了した。旧  ライナックの全モジュレータ電力が倍に増強された。クライストロンは  E の大電力クライストロンに置き換えられた。、を除き ! が積載された。 ! の使用に伴いドライブシステムも一新された。ドライブ高周波の位相を反転させる低電力系が整備され、サブブースタクライストロンも新型に置き換えられた。
 月  日  時から  月

日  時までの  シフト、 月  日  時から  日  時までの  シフトを、改造の完了した既設部のコンディショニングに当てた。コンディショニングの手順としては、最初 ! を離調してクライストロン
最大出力まで電力を投入する。この状態でクライストロンの入力調整を行い、カソード電流を測って出力データをとる。
又、1 による波形調整などを行う。次に! を同調して最大出力までコンディショニングを行う。新品のは低電力で周波数を合わせているので、電力をあげる途中で!、 回、周波数調整をやり直す。今回は計算機による自動コンディショニングを試みたが、うまくいかなかった。
新しく! を設置したユニット以外は最初の  週間で大部分のコンディショニングを完了した。 、 セクタを中心とする新規設置ユニットでは  週間で、平均運転出力である

E まで平均として達したが、いくつかのユニットで最大出力までは後しばらくの時間が必要となった。図   にコンディショニングの経過及び結果を示す。
  マスタオシレータ及びタイミングシステム
 加速器では、リングとライナックの高周波同期を精度よくとるため、従来の同期システムを変更する。新しいシステムでは、ライナック／リング共通のマスタオシレータ（ /@6 $、$ は同期周波数で   /@）を持

つことによって、互いの加速高周波（<,'9  /@6 $=;,( /@6 $）及びリングのビーム回転周波数に同期した基準トリガ信号（$HB >/@、H はリングハーモニックナンバ）等を生成する。ライナックトリガは電源同期の /@ と基準トリガ信号との同期をとって生成される。又、トリガー信号は装置に近い副制御室でもう一度 /@ と同期をとってジッタを押さえると同時に、ディレーステップも 4 に精度が上げられる。しかし、今回の運転では従来通りのシステムで運転した。図  ３に主制御室から  G4 単位で変更可能なトリガディレーのブロック
ダイヤグラムを示す。又、 〜 各セクタ副制御室には、

G4 単位で変更可能なサブブースタ高周波及びクライスト

ロン毎の高圧のトリガディレーがある。
! 運転をすることになり高周波パルスのタイミング合せにも変更が生じた。従来は、モジュレータ電力を最大限活用する観点から、クライストロン高圧パルスよりドライブ高周波パルスのパルス幅を十分長くし、高圧パルスの幅で出力パルス幅を決めていた。従って、ビームとのタイミングは高圧パルスのタイミングを調整していた。しかし、
入射器では、出来る限り立ち上がりが速く位相の揃った高周波を出力するため、パルス波形の整形し易いドライブ高周
波の方で出力高周波のパルス幅を決めるようにした。又、 ! 運転では、 G4 の高周波パルス幅のうち位相反転をする後半 G4 の部分が増幅され加速に寄与する。従って、高周波の位相反転タイミングをビームと正確に同期させることが必要となった。これらの事情により、クライストロン高圧、ドライブ高周波／位相反転のタイミングは予め高周波グループによって調整し固定した。そして、ビームと高周波とのタイミングは、クライストロン高圧、ドライブ高周波のディレーを全体として動かした。この中で、ドライブ高周波パルスのタイミング調整は従来余り行われなっかったせ
いか、主制御室で遠隔操作できるようになっていなかった。

 初期パラメータの設定  クライストロン出力
仮入射部（D）以降、 ! 付きの加速ユニットとして、D、D〜D 、D〜D 、D 〜D の  ユニット、 ! のない加速ユニットとして、Dの〜D、D 〜D 、D 〜D、D台がある。平均加速利得を、それぞれ 7,- 及び  7,- とすると、最大エネルギーは約  となる。
 入射ビームは  なので入射運転では  の加速エネルギーに相当する約半数のユニットを運転するだけで十分である。
今回の試運転では電力節減もあり、仮入射部、及び、D〜D
りの悪かったD  ユニットと! のないD

までの加速ユニットのうちコンディショニングで上がユニットを除く  ユニットを加速に使用することにした。クライスト

ロン高圧はコンディショニングの最終結果よりわずか（4 値Cで 〜 > 程度）下げた値を設定した（表  ）。
  高周波のタイミングと位相仮入射部のある  セクタ、

月からの工事で ! を設置した 、 セクタでは高周波ドライブシステムの変更があり、ビームとのタイミングも大幅にかわったが、初期値としては従来通りの値でスタートした。位相についても全く従来の運転値は当てにならないため、ビーム負荷の見やすい長パルスビームで調整することにした。参考のため表



にタ

イミング、位相の初期値を付加する。
 仮入射部パラメータ
電子銃パラメータとしては、位相調整のための長パルスビーム（ G4= I &）と入射ビームの短パルスビーム（ 4= &）が出せることが必要である。プリバンチャ、バンチャは従来の運転値を初期値とした。
（表 ）  集束系パラメータ
位相調整時は長パルスビームを加速するため ! を離調する。加速ユニットのエネルギー利得が入射ビームのときと異なる。そのそれぞれについて、ライナックデータベース及び設定したクライストロン高圧に対応するエネルギー利得を仮定して、計算コード #"1 0"# で電磁石値を求め、計算機から設定した。
表  に電磁石磁場値、設定電流を示す。
  ビーム制御  # データベースの整備 ライナック建設初期の段階に、実際の運転パラメータによる軌道計算をできるだけ高速に表示し、調整を容易にしようとする試みが行われたことがあった。これは、計算機の容量やデータベースの精度の問題で実際に役立てられるには至らなかった。しかし、 入射器では従来にないビームの品質や安定度が要求され、計算機をベースにしたビー
ム調整及び制御を避けて通ることができなくなった。
計算機制御のベースとなるライナックのレイアウトや装置に関するデータは膨大なもので、加速ユニット（榎本、大沢、
山口、大越）、高周波源（道園）、ビーム輸送系（紙谷、大越）、真空（柿原）、モニタ（小林、諏訪田）など各担当者が作業分担をしてデータを提供し、榎本、小川、古川がまとめた。これらの作業は J! 上で行った。
計算と実際のビームの差はこのデータベースの精度によるものであり、できるだけ詳細なデータベース作成を試みた。

加速器レイアウトでは  入射器は、入射部、陽電子発生部、アーク部など、 ライナックとは比べものにならな
いほど、不規則な加速ユニット、ビーム輸送系が多く、データベース構築は多大な労力を必要とするものであった。しかし、これが計算機制御の基礎となるものと考えて、まずこの作業に全力を注いだ。
このデータベースを用いた計算機制御については、# パラメータの設定、エミッタンスマッチング、エネルギー調整などの基本的な制御のほかに、それぞれについてのフィードバック等が必要になる。これについても分担して作業を進めることが必要であり、ネットワーク上に公開された共通かつ単一のデータベースを作ることを方針とした。
付録に今回ビーム試験を行った時点での、仮入射部以降のデータベースを掲載する。

データベース第列は機器の <':< であるが、従来のものは統一性に欠ける点もあり、今回一新することになった。形式は . 2.K である。アンダースコア.は読みやすくするためのもで、省いてもよい。ここで、 は機器名 文字、はセクタ、2 はユニット番号、K はゾーン、 はグループ番号である。
従来、機器名には ?;&、:?& のように  文字が混ざっていたが、今回全て文字に統一した。集束電磁石では水平面を基準にした集束、発散、偏向電磁石では水平偏向か垂直偏向かなどの属性でも名前の区別を行った。モニタに関しては、例えば、従来使用していたプロファイルモニタ、ビーム位置モニタなどには複数の異なる種類が存在するので、ス
クリーンモニタ（ ）、ストリップラインモニタ（ ）等形式で呼ぶ方法を採用した。表   ' に機器名一覧表を示す。
セクタ、ユニットは従来からの概念だが、従来2 と間にハイフンを入れて書き「 の 2」などと呼んでいたのを、ハ

イフンを省いて 2 と書き「 2 ユニット」と呼ぶように変えた。
ゾーンも従来からあるラベルづけの概念であるが、整理拡張した。標準的な加速ユニットに関しては、第流から第加速管の上流までを 、第加速管以降も同様に 、、 とする。第加速管の上加速管の上流に直接つくゲートバル

ブのみ  とする。従来と  の境界が曖昧だったがはっきり定義した。しばしば、加速ユニットの下流にアナライザ、

シケインなどが入ってゾーンが長くなる場合があることを考慮して、加速管以外にも偏向電磁石等の主要機器を指標にゾーンを増やした。又、入射部でも電子銃、バンチャ等を指標にゾーンを新たに定義した。
グループはゾーン内に同種の機器が複数できたときに区別するために、ゾーンを細分する目的で使用する。あくまでもゾーンの中の位置を示すもので、機器毎の通し番号ではなくした。
以上の様に、機器名の後の2.K は場所がわかりやすいようにすることを優先した。このため、同一機器に注目した

ときそれがユニットやセクタのなかで何番目であるとか、何台あるとかがわかりにくくなったが、これには目をつぶることにした。付録に、旧  ライナック機器の新旧ラベル対応表を掲げておく。
データベース第列目は -L? である。軌道計算にデータベースが利用されることを考慮して、各行がビーム輸送上どのような機能を持った区間なのかを示した。これには、計算コード #"1 0"# で定義されている -L? 9M を -HM,9'< 99<;'-; 4,(形式＊注（';L= !;+= "-H'9>;= #H,;M M; -;'4?;-= ' 9&?7-;?;(;'&$;M4,(,(9H';(M?';-,9<:'&-;'4?;-4L4-&4= 'L = ! "   ）を用いて記述した。表  : に -L? 9M 一覧を掲載する。区間の区切り方は、以下の様に、できるだけ詳細にビームライン上の装置の位置を示すようにした。
ドリフトスペースは、装置・ビームダクトの機械長がわかるようにフランジ端面で区切った。又、モニタの計測位置（スクリーン、アンテナ、電流測定用セラミックギャップの位置）、ステアリングによるビームキック中心位置、ユニット基準位置がわかるように、区切った。
偏向電磁石系ではドリフトスペースも含め偏向軌道に沿って測った長さをその長さと定義した。又、ポール端面の傾き、
偏向方向なども #"1 0"# の入力データの記述に従って情報を掲載した。
極電磁石、 極電磁石は物理長を入力した。
 入射器で使用されるプリバンチャ、バンチャ、及びレギュラー加速管は  分の πモードディスクロード型進行波管である。これらの進行波管における電子ビームの速さ及び加速高周波の波長は、プリバンチャではそれぞれ 9 及び  &（9 は光速）
、バンチャでは 〜 9、 〜   &、レギュラー加速管では 9、   &となるように設計されている。管は、入力結合空胴（

セル）、加速空胴、出力結合空胴（

セルは隣接するディスクで区切られ、ディスク中心間は  分の胴のセル）から構成される。空波長の長さになっている。データベースでは、結合空胴と加速空胴を区別した。プリバンチャ、バンチャでは加速空胴をセル毎に区切ったが、レギュラー加速管では
 波長（ & 管）、  波長（ & 管）をまとめて書いた。レギュラー加速管での加速利得は、現時点では、結合空胴では
 としている。
ソレノイドはプリバンチャ、バンチャ、レギュラー加速管と重ねて設置されている。データベースでは、その中心位置を示し、長さを  とした。ソレノイドを用いた軌道計算をする場合は別途入力データを工夫して生成する必要がある。
データベース第  列目  は 、 極電磁石で電源が同じで、直列に接続されているものを同じ番号で示した。この番号はセクタ毎の通し番号になっている。

データベース第列目は区切られた装置、空間の機械長を示した。

データベース第  列目では、ビームラインを真空路として考え、ビームダクト、加速管、モニタ等の全長を示した。
データベース第  列目では、各加速ユニット上流基準点からの装置の位置を示した。
データベース第  列目では、最上流加速ユニット（ ユニット）基準点から測った装置の位置を示した。
データベース第 〜

列は、加速管のデータである。順に、結合空胴を除く加速空胴の全長、加速高周波の波長、同じ

く充填時間、% 値、減衰係数、シャントインピーダンスを示した。
データベース第 〜  列は、加速高周波源のデータである。順に、クライストロン出力を計算する係数（ 次）、同（次）、 ! によるエネルギー増倍係数、導波管での減衰率を示した。
データベース第  列は、〜  列のデータによって計算した加速ユニットの単位長さ当たりのエネルギー利得である。
データベース第 〜  列は、電磁石に関するデータである。順に、磁場有功長、 、 極電磁石のボア半径又は偏向磁
石のギャップ、磁場／電流換算係数（ 次）、同（ 次）、同（ 次）、同（ 次）、同（ 次）、同（ 次）、偏向磁石の偏向角、ポール端面（入口）の傾き、ポール端面（出口）の傾きを示した。
以上のように、データベースにライナックの基本的な寸法、装置のパラメータをまとめることができた。しかし、ライ
ナックのアライメント、磁場設定値、加速利得などの誤差データについては次のステップでデータベースにしていかねばならない。
データベースの利用 の !,'9 の運転においては、実験効率がこれまで以上に求められるため、運転中に加速器の '&#;'4?;- の,&7<'-, を行なったり、その結果得られた最適運転 ';'&-; を直接運転に利用したりする、いわゆる

M<,(の機構は、たいへん重要になる。特に、'& 0;:,- を補正したり、加速器の診断を行なうことは日常的に必要になると思われる。
これまでの入射器の運転では基本的な運転 ';'&-; を運転前に 0$$<, で計算しておき、'& 調整の初期値として利用するが、その後の調整は '& の挙動を 0?;'-; が判断しながら試行錯誤的に行なうことが多かった。実際、
'&

,-; や制御系との接続などが十分でなく、また '& の特性についての要求が厳しくない場合には、時間

的な制約などからこの方法が適当である場合も多かったと思われる。しかし、長期的に見ると加速器の性能向上のために必要な検討項目が曖昧になるなど、弊害も多かったと思われる。
今後は -;,? <, 型の '& 位置モニタなどが整備され、重要な加速器 &?- がほとんど制御系から扱えるよ
うになるので、 M<,( を生かすために必要な環境が整って来たと言える。
入射器の制御  年から運転に使用された入射器の制御系は、  年頃から更新後の制御系の設計が始まり、  年から更新が実施された。入射器の制御は主として、加速器装置の -;<<; の物理的な処理を表現する下位層、及び加速器装置の論理的な処理を表現する上位層から構成されており、それらの制御処理 ;8,9 が ??<,9'-, ;(;'& に提供されている。下位層と上位層、及び上位層と ??<,9'-, ;(;'& の間は 1-+;> 透過な " "&- ;9M7;
'<< によって接続され、;(;'&&; は通常その存在を意識することはない。
現在の制御の下位層は新しい /';M+'; の増設のために大幅に変更されつつあり、それに伴って、下位層と上位層の間の取り決め（/';M+'; 特性情報や制御情報交換 ;-9<）も拡張されている。しかし、上位層と ??<,9'-,;(;'&の間の取り決めについての変更は最小限に押えられており、??<,9'-,;(;'& での変更はほとんど無い。
制御系内で  年以降接続された装置の基本 1-+;> は -H;- や  など国際標準規格に従ったものである。現場の 1-+;> は <L4-;

M7<'-; からの 1,4 を避けるために全て光伝送をしており、また、重要な部

分については規格上  重化されている  を含めて冗長性を持たせるよう配慮している。また、基本 ;-9< としては現在では業界標準になっている # # 及び 2 を使用している。古い -;<<; を持った装置も数多く使われており、それらについては !? = !?  と呼ばれる ,<M 1-+;> を経由して、# 接続された  に接続され使われている。
入射器の制御用の # 1-+;> は、安全性確保のため他の 1-+;> と独立しており、,;+'<< を通して所内
1-+;> に接続されている。また、",( の制御 1-+;> とは "7-; を通して接続する準備が進んでいる。
0$$,9 の計算機と入射器制御用の計算機の間は ,;+'<< を通して一部の機能について間接的に通信が可能である。
 計算機と制御用計算機の間も同じ事情であるが、秋の運転からは ",( の制御 1-+;> を通して直接通信させる予定である。
下位層を構成する制御装置としては、!? = !?  といった ,<M 1-+;> に接続された   ,(< ';M
&?7-; L4-& や # 1-+;> に直接接続された  、J、!、  などがある。通常これらの装置のための ;8; $-+'; が装置専用の ;8; 計算機や全体制御用の 2,N 計算機上にそれぞれ独立に存在し、-'-,9 '-':'4 に従って、装置情報の解釈や障害回避などの処理を行なう。単純な処理の $-+'; については、上位層の ;8; $-+'; の中に含まれる。
上位層については 2,N 計算機上にそれぞれの加速器構成要素ごとの ;8; $-+'; が用意されており、/';M+';
によって異なる下位層と通信し、 -'-,9'-':'4 に従って、'-''9H,(、単位換算や全体的な障害処理を行なう。
制御 $-+'; で使われている -'-,9'-':'4 は、表形式の ,4>,< を $-+'; 起動時に
/'4H<(;,-H& などを使って検索するもので、単純高速で十分な機能を提供する。
電磁石制御

&;L 上に展開し、

'& #;'4?;- に関係する電磁石については、下位層は !? に接続された  や # 1-+;> 接続の !
など  種類の装置があり（秋からは  種類）、それぞれの装置に対応した操作や障害回避などの処理を行なうための;8; $-+'; が   や 2,N ;8;、 ;8; 上に作られている。上位層では O&(O と呼ばれる ;8;
$-+'; が '-':'4 に従って、それぞれの下位層と通信し、全体的な処理を行なって ??<,9'-, ;(;'& からの要求に答える。
これまで加速器運転時の電磁石の制御については電流値を基本としてきたが、加速器運転には磁場または磁場勾配を基本とする方が適していると思われ、その準備を進めてきた。今回の &,44,,( ;7? の作業（特に紙谷氏による磁場勾配情報の整理分析）によって、必要な情報が揃ってきたので、電磁石の上位層の ;8;O&(O にその操作 &&'Mを実装した。
O&(O ;8; に対して O:4-O、O:(-O という &&'M を送ると、電磁石の磁束密度（勾配）値の設定、読み出しが行なえるようになっている。それらの内部で電磁石電源に与える電流値との間の単位変換を行なっており、磁束密度（勾配）の単位には # または #& を、電流の単位には  を使っている。
電磁石の -'-,9 '-':'4 は O&(-:<O と呼ばれるが、今回はそれには情報の追加は行なわずに、&(:-:< という
'-':'4 を作り、主に  次多項式で与えられた電流と磁場（勾配）の関係式を #M'-':'4 から抽出して収めた。
このような関係式には、測定点を全て通るような多項式に焼き直してから、区間ごとに低次の多項式で近似する方法（#;,4-' ",( で使われた）、などがあるようだが、今回の方法でも誤差範囲内で近似が良いようなので、全範囲を一つの多項式で表すことにしている。
当初、磁場（勾配）から電流への変換も別の多項式で表そうと考えていたが、その逆変換と一致しなくなるので、1+-
法によって解くことにした。必要な精度の解を得るために全範囲で 1+- 法の繰り返しが  回から  回になっているので、特に速度などの問題はないと考えている。
加速勾配情報
もう一つの '& #;'4?;- に関連する情報である加速勾配についても、今回の &&,44,,( ;7? の作業の中で情報が揃ったので、その値を扱う $-+'; を用意した。現在のところ、加速管という装置について他に扱う情報が無いので、制御上位層の ;8; $-+'; としては用意しておらず、通常の ??<,9'-, ;(;'& として作成した。
利用者から見ると大きな違いはないが、将来他の ;(;'& から利用する場合に不便である可能性もあるので、入射器標準の ;8; の形態を用意することも考えている。
この $-+';O'99M'-'O の中では <L4-; と #;,((; の ;8; から情報を集めている。<L4-; の ;8;O><LO
か ら は  <L4-; の  00$$ の 状 態 と 印 加 電 圧  4 の 値 を 取 得 し 、 ま た  #;,((; の 

;8; O-;,(O か ら は99<;'-, -'M :L（その加速管が電子の加速に使われているかどうか）の情報を取得した上で、<L4-; の出力を計算し、さらに加速管の平均加速勾配を計算している。その他に加速管の長さを掛けて加速 ', を算出している。
換算に必要な係数や加速管の長さなどの情報は #M'-':'4 から抽出して、O'9;$-:<O という '-':'4 に収めている。
<L4-; の出力については、現在 4 との関係を使った換算値から求めているが、" ;7? では J L4-& などを使った測定系も準備しつつあるので、準備でき次第そちらの情報も参照したいと考えている。
,9; 波の位相は最大加速の位置にあると仮定しているが、これは一般的ではないが、その考慮は ,&7<'-,;(;'&
側で処理することにしていて、加速勾配としては最大加速勾配を求めることにしている。

装置名
入射器の各要素装置の名前については、以前は加速管 ;7? が取り決めをしてきて、その後   年頃から  の計画に伴って制御 ;7? からいくつか提案をしてきた。装置の名前付けは重要なことであるという認識は入射器全体にあって、新しい 9-; の名前などが決まった。しかし、名前とくに装置の&,9 について妥協点が見つからな

いまま、今年になり、やっと &,44,,( ;7? が一般規約を取り決めるにいたった。その結果、名前は、機器名及び属性 、 9-; 名  、2,- 名 2、K 名 K、;7? 名  を使って . 2.K と表されることにな
った。

今回の

M<,( 機構で新しく準備するものは、できるだけ新しい名称を使うことにした。そのために例えば電磁石などについては、これまでの名称の別名として新しい名称を '-':'4O&(-:<O に登録した。
（その後、通常の 0?;'-,
との関係から、新しい名称を本格的に使用するのは、来年  月からということになった。
）
電磁石について、これまでは、電磁石電源を主な制御対象と考えてきて、名前も電磁石電源に付けてきた。しかし、'&#;'4?;- の計算に絡んでは、電磁石自体を制御対象と考えた方が自然である。現在のところ '-':'4 上で、別名を使って双方が扱えるようにしているが、今後は別階層にすることも含めて整理していきたいと考えている。
居室との情報交換
今回作成したM<,( の機構の中では、榎本氏の解説にある #M'-':'4 が重要な役割を果たしているが、その作成にあたっては関係者の間の情報交換が重要であることが予想された。主な情報交換の媒体としては、 ,9;4$- の表
計算 $-+'; である N9< が選ばれたが、利用する機種は

'9,-4H、E,M+4、及び 2,N（#N-;&'- のみ）と広範囲にわたった。また、計算のための O:-$,<O と呼ぶ入力 $,< もいくつかの計算機で共有する必要があった。そのため、これまで ;,-; 7??;- 以外についてはあまり公開していなかった 2,N ;8; による 0$$,9 ;4'<&?7-; の 7??;- を整備することにした。
'9,-4H と E,M+4 との情報交換には E,M+4 1# ;8; を経由するのが自然であるが、2,N とも情報交換するためには 2,N を ;8; とするのが現在のところ簡単である。 '9,-4H の ??<#'<> を 2,N で利用する
ために、入射器では OO という ; $-+'; を利用してきた。同様に E,M+4 の !'''(; 1-0 = を利用するために O '&:'O という ; $-+'; を利用している。2,N 計算機間の ,< 共有は 1  が標準である。今回これらを整備して、情報交換をしやすいようにした。
入射器制御開発用の 2,N 計算機である O<&MO と O '?<O で、OO と O '&:'O の ,< H';,( ;8; を動作させ、 '9,-4H と E,M+4、2,N が同じ ,;9-;L,< を共有できるようにした。それぞれの環境から見えるM<,( 用の ,;9-;L は以下の通りである。

'9,-4H??<#'<>??< H'; の環境 （標準の H4; の ??< H'; で7- する）

     !,'96!,'9-;<6!,'9 '-' という ,4> の -;'4?;     !,'96!,'9-;< 6!,'9 '-' という ,4> の -;'4?;E,M+4!' ''(;1-0 

 の環境 （標準の N?<;; の #< 7 で7- する）

    PP! 01P!,'9'-' という H'; の -;'4?;    PP !P!,'9'-' という H'; の -;'4?;-2,N1  の環境    <,'9$46&-74;4 9-;<M'-'-;'4?;    '<&M6&-74;4 9-;<M'-'-;'4?;    通常入射器の 2,N からは    A9-;<M'-'-;'4?;     計算機（'94'M ='94'M）からは    $4'<&M&-74;4 9-;<M'-'-;'4?;この ,;9-;L に N9< の ,< を入れる場合、N9< の標準形式の ,< は ON<4O という ,<'& N-4, を持たせることとし、また、2,N からも同じ ,< を読むために、-48#': ?';'-M'<74 の形式の ,< を O-48O という ,<'&N-4, で格納することにした。
上 の  ,;9-;L <M; O-;'4?;-O の 下 に  O#M,&4,O と い う  ,;9-;L <M; が あ り 、 そ の 中 に
#M,&4,N<4 と #M,&4,-48 という入射器全体の '& #;'4?;- 用の '-':'4 が収められている。計
算用の入力 ,< である O:-$,<O は O-;'4?;-O の直下に置かれる。また、  計算機との情報交換には O-;'4?;-Oの下の O$;&.4'MO という ,;9-;L も使用される。
'-'-;< の流れ
'& #;'4?;- 0?-,94 の 

M<,( ,&7<'-, 用 の  ;(;'& と し て は 、 入 射 器 で こ れ ま で 使 用 さ れ て き た

O#"1 0"#O と、 ",( の 4,( ,&7<'-, で実績を積む、O O を使用し、それらの特徴を生かすことにした。通常、#"1 0"# は入射器の制御用の計算機 '<&M または ?<7& で実行され、  は <74-;の '94'M で実行される。
#"1 0"# は入出力を ,< で行なうので、入射器の '-':'4 や制御系と情報をやりとりする場合には、#"1 0"# の規約と合わせるために入力 '-',< の準備や、出力 ,< の解釈を外部で行なわなくてはならない。
一方、  は自身の制御言語として  9;,?- という -;?;-; 言語を持っているので、比較的自由に入出力を選ぶことができる。
入力 '-' については、今回、いくつかの試行錯誤があったが、結局主に #"1 0"# に合わせた O:-$,<O と呼ぶ
'-' ,< を準備し、  からはそれを  9;,?- で解釈しながら入力することになった。ひとつの電磁石電源か
ら複数の電磁石に電流を供給する場合の情報の表現が #"1 0"# と  で異なることなどの理由で、効果的な共通の中間 ,< を持つことができなかったためである。しかし、そのために  の '-' 入力時に多少時間がかかっているので、改善の必要があるかもしれない。
出力の扱いについては、#"1 0"# では出力 ,< を外部の 9;,?- ;(;'& で変換して利用している。  については  9;,?- から必要な 9;,?- ;(;'& を直接起動することにした。この  9;,?- から起動する 9;,?は、  計算機と入射器の制御用計算機が ,;+'<< によって隔てられているために暫定的に作ったものである。

Linac Beam Line Static Database("BTdimension")(Linac Layout, Mechanical /Effective Length, etc.)(Initial Values)

Intermediate Files
Input Files for "Transport" / "SAD"("BTfile")"SAD "[SAD computers]"Transport "[Linac computers](Magnetic fields)

Linac Controls(Magnetic fields)(Acceleration fields)

Linac Control Static
Database ("*tbl")

Linac
図

 ,&7<'-, 計算における情報の流れ。'& !, の情報を #M,&4, という -'-,9'-':'4 から、また、加速器の運転情報を制御系から、それぞれ取り込み、0?-;,94 最適化などの計算を行なう。その結果は再び制御系を通して運転に反映することができる。

入力 '-' の作成
#M'-':'4 に計算に必要な入射器の情報が集約されたので、入力 '-' をほとんど機械的に準備することが可能になった。#M'-':'4 は表の形態になっているので、そのような情報の取り扱いがしやすい '+> という 9;,?- 言語で書いた ;(;'& を組合せて情報の抽出を行ない、:-$,< という入力 '-' ,< を作った。先に述べた &(:-:< や'9;$-:< といった制御用の '-':'4 の抽出も同じ手法によっている。:-$,< は、先に述べた情報交換用の共有
,;9-;L O-;'4?;-O に格納されている。（後に、'+> の計算精度が単精度  桁であることがわかり、多少問題があることがわかった。;< 9;,?- 言語への変換、または  言語への書換えを考えている。
）:-$,< の形式は、加速器用の ;(;'& で使われることが多く、比較的読みやすい 形式にできるだけ準拠することにした。単位系としては当初  単位の使用を検討していたが、#"1 0"# の制限などから >,< ('744 や
9-, &-; などが混在している。このため、制御系と接続するための 9;,?- や  9;,?- では変換が必要になっており、この部分は改良が必要と思われる。現在新しい ;4, の #"1 0"# での評価を行なっている。
#M'-':'4 の中で使用した項目は、機器の #L?、名前、機械長、加速管の ;$ 波長、電磁石の有効長、電磁石の ;

半径または '?、及び、電源の共有情報である。これらの情報を使って、有効長と機械長の変換計算、電源を共有している電磁石の処理などを行なっている。電磁石磁場強度と加速電界強度を変数としてあり、まずそれらの値が K; とした ,< が作られ、それに計算に必要な値を重ねるようになっている。
運転している入射器から初期値として情報を取り込む場合には、先に述べたような制御系の機能を通して、電磁石の磁束密度（勾配）と加速勾配を与える。 ,9; 波の位相は最大加速の位置にあると仮定しており、そうでない場合には、:-$,< にその情報を加え #"1 0"# にその計算をさせることが可能であるが、現在のところ、制御系との接続においてはまだ考慮されていない。別に、;(L '<L@; を用いた最大加速位相を求める L4-& を作ることになっているので、そちらを急いで作成し、情報交換する必要があると思われる。
計算結果の設定#"1 0"# の計算結果の磁場情報を入射器の運転 ';'&-; に設定する場合には、出力 ,< を 9;,?- ;(;'&に処理させて、さらに制御系の &( ;8; を通して、磁場設定を行なう。処理には現在のところ '+> や 4M といった単純機能の ;(;'& を組み合わせて 9;,?- として用いている。
 の場合には  9;,?- の中から入射器の ,;+'<< を通して  用の磁場設定の 9;,?- ;(;'& を起動する。この 9;,?- は ;4H "&- H<< N97-, を重ねて作ったもので、<9( の &&:; だけが使える。暫定的なものではあるが次のような機能がある。
'(- の数が複数の場合
  $4'<&M&-74;4 9-;<M'-'-;'4?;-$;&.4'M に適当な $,<
  名、例えば $,<$,< で M'-' を用意する。内容は    % &'(- '&  ,<M , #4<'&      例えば、    %.

.      %       %     （符号は無視される。必要なら名前は . 2.K の標準名に変換される。
）
  その後    ;4H'<&M?7-Q&M'-'.$;&.4'M.'$,<$,<  という 4H<<9&&'M を呼ぶ。
'(- の数が一つの場合
    ;4H'<&M?7-Q&M'-'.$;&.4'M.:&'(-.'&$,<M.8'<7  例えば、    ;4H'<&M?7-Q&M'-'.$;&.4'M.:%   という 4H<<9&&'M を呼ぶ。
    （符号は無視される。必要なら名前は . 2.K の標準名に変換される。
）
一般的な &(9&&'M を実行する場合
    ;4H'<&M&(.$;&.4'M.:R&(9&&'M';(7&-4S
  例えば    ;4H'<&M&(.$;&.4'M.::(-%. .

    ;4H'<&M&(.$;&.4'M.:4-4 J.#.    （符号、名前の変換は行なわない。
）
秋の運転では、 ",( 制御用の 1-+;> が入射器と接続されるので、そこを経由してより直接的に制御情報を交換できるようになる。まだ、実用時期は確定してはいないが、  L4-& の基本 ;-9< である H'<9944を入射器が ;8,9 できるように  ;8; と呼ばれる $-+'; も準備している。
  L4-& は  ",( 制御で採用されており、入射器に  ;8; が用意されれば、",( との間での
$-+'; の共有・交換がやりやすくなるものと期待される。既に  からも H'< 9944 が使用できるようになっているので、磁場値などの設定もより容易になる。また、軌道補正などを行なうための情報の交換も  ;8; を通して行ないたいと考えている。
#"1 0"# の計算
入力 ,< として用意された O:-$,<O に必要な #"1 0"# 計算制御のための &&'M を追加して、計算を行なうが、この部分はまだ人手に頼っている。  と異なり #"1 0"# については計算の制御言語が単純な機能しか持たないので、入射器全体にわたって最適化を行なう場合の計算の繰り返しの指定などが、多少困難である。どの区間をどのような H'4 M8'9 で #;'4?;- するか、どのような制限を設けるか、などの指定をするわけであるが、それを単純な "7< で指定できるような 9;,?- を用意しようとはしているが、まだ完成していない。
また、多少なりとも計算を行ないやすくするための 2 を #9<#> と呼ばれる言語で、試作している。まだ、機能は不十分で、入出力 '-' ,< の変換や、計算自体、;'?H,94 表示など、それぞれ別々に起動しているが、手順が確立
してきたらできるだけ自動化し、必要に応じて 2 を拡張していきたいと考えている。
このようなことが確立してきたら、起動補正や運転状態の診断などの ??<,9'-, を開発する基盤ができてくるものと期待している。

＊の利用 を利用するに当りまず、ライナック・ビームラインを記述する  用計算台本が必要となる。 このため、ワーク
ステーション上の # データベース（N9< のデータをタブ区切りテキストとしてセーブしたもの、あるいは#"1 0"# 入力形式の #$,<）から、  用台本を自動作成する変換プログラムを用意した。このプログラム自体、
 9;,?- インタープリタ言語で書かれており、 

システム上で実行される。変換プログラムのチェックとして、同一の #$,< を読み込んだ場合、#"1 0"# と  でオプティクス計算結果が一致することを確認した。
 を利用することによって、オプティクス計算、各種データ解析を総合的に行うことが可能になる。今回の運転に関して、オプティクス計算のようにビーム力学に直結したものだけでなく、 
データ解析も全てで述べるエミッタンス測定に関連する

 によって（  に備わっているグラフィック関数、フィッティング用関数などを用いて）行われた。さらに、ワイヤスキャナのデータ解析パネルも #>,-; によって書かれ、J サーヴァ上のアプリケーションとして実用化された。
また から間接的にハードウエアにアクセスすることも可能で、例えば、磁石の設定値を予めワークステーション

上のファイルに書き込んでおき、  で
L4-&)T;4H'<&M?7-Q&M'-'.$;&.4'M.' ファイル名*とすると４極磁石の設定値を変更できる。 ビームエネルギーを変更した際に、実際にこの方法で全４極磁石をエネルギ
ーでスケールした値に設定し直すことができた。

＊  の概要については H--?6+++ '99 -H;L>>U? 4'M-H&< を参照。



ビーム調整





電子銃（大沢）

バンチャ系（大沢）

長パルスビームによるタイミング合わせ及びビーム粗調整（大沢）短パルスビームのタイミング合わせ（大沢）輸送パラメータの設定と初期調整

今回の仮入射部からのビーム調整にあたっては、# パラメータの初期設定値をなるべく妥当なものとするための努力が行われた。
（１）ビームラインレイアウト詳細データの作成
榎本、小川両氏を中心としてビームラインの各コンポーネント（加速管、電磁石、モニター類など）の寸法及び配置の精密なデータベースが作成された。このデータベースには電磁石の磁場有効長や励磁特性の情報も収められている。
（２）各ユニットでのエネルギーゲインの推定値の算出
山口氏による各加速管のシャントインピーダンスなどのパラメータのデータ（クライストロンから加速管までの導波管での減衰についても含まれている）、及び道園氏による各クライストロンの出力パワーのデータを基に各ユニットでのエネルギーゲインが算出された。
これらの情報を基に、   節に記述されているように、古川氏により #"1 0"# 9M で使用可能な形式のイ
ンプットデータファイルが作成された。これを使用してビームオプティクスの計算を行った。
１．ビーム初期 #+,44 パラメータ#"1 0"# 9M では <+ :-' 領域のビームバンチング部については取り扱えないので、バンチャー管出口の部
分をスタート点としてそれより下流の部分について計算を行う。これに用いるビーム初期 #+,44 パラメータについて
は、測定値およびシミュレーションによる計算値がまだ無いため、昨年暮れに  用入射部についての測定値で代用する。ビームマトリックスで表した値は以下の通りである。
4Q;-4

B  &&

4Q;-4

B &;'M

4Q;-4

B4Q;-4

B

(NB C  ?&&&;'M（ 4,(&'4?;'M）
4Q;-4B  &&
4Q;-4

B &;'M

4Q;-4 B4Q;-4 B
(LB C  ?&&&;'M（ 4,(&'4?;'M）
B  9
なおこの値はシングルバンチ大電流加速の際のものであるので、今回の仮入射部よりのビームに比べてエミッタンス値
がかなり過大評価されていると考えられる。また #+,44 パラメータ（ビームマトリックス形状）についても、入射部の収束磁場の強さの違い、バンチング条件の違いなどによりかなり現実とは異なる可能性があるため、これらについてはオプティクスのマッチングの修正調整が必要になると思われる。
２．仮入射部からレギュラーセクションへのマッチング
旧   部や   部では、ある程度エネルギーが上がるまで加速管１本ごとに %  をおいてアクセプタンスを大きくし、しかもスクリーンモニター等も多く設置してビームをロス無く通過させる調整がしやすいように設計されているが、仮入射部からのビーム加速については、レイアウト上の制約によりバンチング部の直後からレギュラーユニットになる。少しでもアクセプタンスを大きくするためにこの   ユニットの２本目と３本目の加速管の間に %  を追加したが、その代わりスクリーンモニター、ビーム電流モニターを撤去したため、ビームの様子を見ることができる場所は
この次のユニット中央部（.  ）までない。

周期的なオプティクスは % .

.  のところから始めることにする。この第１セクター部はレギュラーユニット（１つのユニットに %  が１台ずつ：% . .  のみがトリプレットであることを除いてほかは全て同じ形状のダブレット）であり、ベータトロン位相シフトが M(7,-B& となるようなオプティクスを設定する。 % .

.  の手前の   電極位置をマッチング基準点とすると、ここでマッチングさせるべき #+,44 パラメータの値は、
B 9
4Q;-4

B  &&;

4Q;-4

B4C4:-' NB&
B  

4Q;-4B  &&; B4 4Q;-4C4'<?H' NB :-' LB &
B '<?H' LB  である。% .#.、% .. 、% ..  の３台（M$974% と $974% は独立に動かせるから、全部で６つのパラメータが可変になる）を用いてマッチングを取る。このあたりではエミッタンス（の絶対値）がまだ大きいので、ビームサイズが大きくなる。このためビームサイズをあまり大きくしないようなオプティクスでマッチングを取る必要がある。計算上では、マッチングを取ることはそれほど難しくはないが、ビームサイズが大きくならないようにすることはできなかった。これは %  の間隔が長いためにアクセプタンスが確保できないためで、ある程度は仕方がない。またバンチング部出口での #+,44 パラメータもあまり良くなく、これを調整できればまだ改善の余地があるようであった。このようにビームサイズが大きくなりすぎることによるビームロスが予想されたので、当初は   ユニットは! をオフにして運転する予定であったが急遽ＲＦグループのご協力により ! を入れて運転できるようにコン
ディショニングしていただいた。これにより加速電界が高くなって収束が楽になりビームロスはかなり改善されたと思われる。
３．第２セクター（陽電子収束系）でのビームオプティクス
 ユニットには陽電子生成ターゲットとソレノイド集束系が設置されている。そしてこの下流は

 ユニットまで、

電子に比べてエミッタンスがほぼ一桁大きい陽電子ビームを通すために %  を密に並べた収束系になっている。しかし、電子ビームを通すにはそれほど強く収束を効かせる必要はない。また

 および

 ユニットについてはシング

レット %  の 00 系になっており、電源接続の関係で特定の % のみ効かせてダブレット或いはトリプレットとして働かせるのは難しい。そこで .  部のトリプレットより上流の 00 系の %  は全てオフにする。すると 00の手前の % .

. から % . .  まで %  の無い区間は約２ユニット分の長さになるが、これを M( 位相シ

フトのオプティクスでビームを通すことはアクセプタンスから考えて問題がない。そしてこれより下流も約２ユニット
長おきにある %  のみ効かせて、ベータトロン位相シフトが M( 7,-4AB & となるようなオプティクスを設定する。
なお、第１セクターからのオプティクスとのマッチングは、 % .

. の手前で#+,44 パラメータの値が、B  9

4Q;-4

B  &&;

4Q;-4B4C44Q;-4B  &&; B4 4Q;-4C4:-' NB  &
B

'<?H' NB  :-' LB  &
B'<?H' LB 

となるように、% . . =% . . =% .
４．第３セクター以降のビームオプティクス.  の３台のパラメータを調整してとる。

第３セクター前半では、第２セクターに引き続き、ベータトロン位相シフトが  度 7,-4AB & となるような
オプティクスを設定するが、% ..  部以降では  電子ビームのオプティクスに類似させて、  度7,-4AB & となるようにする。これは   ビームの場合、 度位相シフトにするには、磁場勾配強度が足りな
いためである。また、磁場勾配が低いほうが %  の中心をずれてビームが通過した場合の横運動量キックが小さいのでステアリング調整がやりやすい。
ただ  入射のみに関していえば、ビームエネルギーは   であるから  度位相シフトを実現することも可能であり、実際のビーム調整においてそれに近いオプティクスに調整することでビーム透過率が良くなった。
計算値により初期設定としては  度位相シフトとし、% ..  部手前で #+,44 パラメータの値が、B  9
4Q;-4

B  &&;

4Q;-4B44Q;-4B 

C4:-' NB  &
B

&&; B4 4Q;-4C4'<?H' NB  :-' LB &B

となるように、% . . =% .

'<?H' LB .  の２台のパラメータを調整してマッチングをとる。

５．O#"1 0"#O 計算値に基づく # パラメータ設定#"1 0"# 9M による計算値では、結果は %  の磁場勾配値で与えられる。これを基に、各電磁石の励磁特性を考慮して各電磁石電源の設定電流値へ換算し、それを設定させるソフトウエアが古川氏により開発された。これにより、計算値が得られるとすぐにそれを運転用 # パラメータとして設定することができる。また、逆に設定されている
# パラメータから、O#"1 0"#O 計算用のインプットファイルを作ることもできる。これにより、現在の設定値
によるオプティクスがどのようになっているかをすぐに計算することが可能になった。
今回のビーム調整でショートパルスビーム用初期値として用いたオプティクスの計算値を図＃に示す。
６．ビーム初期調整
まず " 加速位相調整のためのロングパルスビーム用の # パラメータ計算値（ ! をオフで加速するためエネ
ルギーゲイン値が異なる）を設定し、ビーム調整を始めた。 " パルスとビームのタイミングの調整、ビームローディ
ングを見ての加速位相の粗調整などが行われたが、それにより # パラメータは初期設定値のままでもある程度のビー
ム電流がずっと下流まで通過している。わずか数台の %  の強さとステアリングの微調整でかなりのビーム電流値が第３セクターまで通り、ビーム誘起波による " 加速位相調整を行うことができた。
そこでいよいよ各 ! をオンにして入射用ショートパルスビーム用の # パラメータ計算値を設定して、ビーム調整を始めた。するとこれまた、 # パラメータは初期設定値のままでもある程度のビーム電流が通っている。後はス
クリーンモニターのビームスポットの形状及び位置が良くなるように、そしてビーム電流モニターでなるべく下流までたくさんのビーム電流が通るように %  および # を調整したが、ごくわずかな台数を調整するだけでもかなり通過
電流値が増えた。あとは、ワイヤースキャナーによるビームサイズ測定試験のためビームロスによるバックグラウンドを減らしてほしいとの要望に応えて、詳細な調整を行なった。また小磯氏によるオプティクスを大きく変更しての調整も行われ、これについては次節に詳述されるが、収束を強くすることによりビーム透過率の改善が見られた。
７．まとめ
今回得られた最大の成果は、ビームラインレイアウト詳細データ、電磁石特性データ（磁場有効長、励磁特性）とエ
ネルギーゲインの推定値を用いたオプティクス計算による # パラメータが実際の運転に十分有効であることが示されたことである。
今後の課題を列記する。
（１）秋からの増設部のビーム調整の際には、まずオプティクス計算の初期値となるバンチング部出口でのビームパラ
メータをなるべく精確に測定し、それに基づいた # パラメータを用いるようにしたい。
（２）各ユニットのエネルギーゲイン値を推定値でなく、エネルギーアナライザーで測定したより正確な値を使用できるようにしたい。
（３）計算値によるオプティクスはビーム調整初期値としては有効であったが、調整後の実際のオプティクスについての計算値は、測定されたビームエンベロープの形状を必ずしもうまく再現するものではなかった。この不一致についての原因がどこにあるかを探る必要がある。


オプティクスとビームサイズ

ビーム収束系の初期調整後、スクリーン・モニタで観測されるビームサイズを小さく且つ水平／垂直サイズ比〜１とするという方針で、収束系の手動調整を行い、２種類のオプティクスを用意した。


強収束系 :-$,<-N-   第１のオプティクスは４極磁石設定値を強める方向に調整を行った。その結果、３セク

タ初めから４セクタ終りまで（ほぼ８ユニットセル分に対応する）の位相進行は水平方向〜π、垂直方向〜 πで、セル当たり位相進行に換算すると  度以上となった。このオプティクスは過収束ぎみでバックグラウンドが多く、ワイ
ヤスキャナ測定に不適当であった。


弱収束系 :-$,< -N-   第２のオプティクスは第１のオプティクスを元にして、上流側は変更せず、３セクタ以降の４極磁石設定値を半分程度に弱め再調整を行った。３セクタ初めから４セクタ終りまでの位相進行は水平垂直ともに〜 π（セル当たり位相進行が〜  度に対応する）。この弱収束系オプティクスをワイヤスキャナ測定システムのテストに使用した。
これらのオプティクスについて、  で計算した

σビームサイズを図  ス、#+,44 パラメタの初期値は入射部での測定結果（表 

に示す。計算にあたって、エミッタン参照）を、磁場・加速電場は設定値を読み返したものを、使用した。５セクタ前半まで、 σビームサイズは両オプティクスとも && 以下に収まっている。

図     で計算した σビームサイズ（上）強収束系 :-$,<-N- （下）弱収束系 :-$,< -N-






ソレノイド極性の問題（大沢）エネルギー測定

エネルギー分析系

今回のエネルギー測定には

 ユニット下流のエネルギーアナライザーを用いた。分析系のレイアウトを図＃に示す。

偏向電磁石は、以前  アナライザーとして用いられていたものと同型器である。これの磁極形状は ;9-'(7<';型で、磁極長＝  &&（実測値）、磁場有効長＝   &&（磁場分布の台形積分より算出）、磁極幅＝ &&、磁極間距離＝ && 、最大磁場値＝ #V （実測値）である。アナライザーラインの偏向角は  度である。実効曲率半径は ;B! 4,'<? B   4,  B&& であり、磁場強度とビームエネルギーの関係は ?9)* B  CC; B C )#* となる。励磁特性については５次式でフィットしたデータが図＃にあるので、正確な値が必要な時はそれを用いる。
アナライザーの性能値として、スクリーンでの位置の ,4?;4, の大きさを求めると（#"1 0"# 9M による?<$'9;-'-, を考慮した値として）、１台目と２台目のスクリーンのそれぞれの位置で、4 B  &、4 B& となる。



エネルギー測定（山口）エネルギー利得の計算
定電界型加速管の加速電界強度， は次式で与えられる：E=(1 − e −2τ )Pir0
L

，

 

ここで，τ ：加速管の減衰定数，
 ：加速管に投入される " 電力，
 ：加速管の単位長さ当たりのシャント抵抗，

：加速管の長さB )&&*セル× セルB  )&*．
入射器の加速管は準定電界型であるから， 式を用いるのは厳密には正しくないが，ここでは，とりあえずこの式を用いることにする．

τ の値は，" の充填時間，  の測定値平均値より次式を用いて算出した：
 τ =

ωt f

2Q



．

，  の値は， 2" /8 

 により計算した表 

参照．

 の値は次式より計算した：                      α  ，                                                              
ここで，  ：クライストロンの出力電力，α ：導波管E"W での減衰，：導波管の長さB)&*．

  の値は，パルス電源の 4 の値と出力電力の関係を一次関数に最小自乗フィッティングした式を使って求めた．
α の値は，次式より計算した：，

 

ここで，  ：管壁の表皮抵抗B  )Ω*，
ξ ：自由空間の波動インピーダンスB)Ω*，
λ ：" の自由空間波長B  )&&*，：導波管の幅B  )&&*，：導波管の高さB )&&*．
 式に数値を代入すると，α B )1?&*B )M&*．これに導波管の長さ， B)&*をかけると，αBM →  となる．
表1

加速管のパラメータ
入口


加速管
タイプ

)&&*









出口




平均




) Ω&*) Ω&*)µ4*τ) Ω&*)&&*

        



 

 





 









 



 

 

  

 







 









 







 





 



 











エネルギー幅の調整及び安定化（大沢）ＳＬＥＤ利得の測定（大越）エミッタンス測定  ワイヤースキャナ は、ファクトリ・マシンであり，ルミノシティを稼ぐために，できうる限り短時間で最適条件に到達し，かつできうる限り安定に運転を続ける事が求められる。そのためには，ビ−ム状態を診断及び監視するためのビ−ム診断モニタ−・ツ−ルが重要である。 電子陽電子入射器（入射器）及びビーム輸送路（ＢＴ）において，その様なツ−ルの一つとして，ワイヤスキャナ（ＷＳ）の設置が予定されている。ＷＳの特徴は，ビ−ムを破壊せずに，ビ−ム形状，
ビ−ムサイズを精密に測定できる事である。このＷＳを入射器とＢＴの必要とされる場所に４台を一組として設置し，
ビ−ムのエミッタンス及び #+,44 パラメタを測定する事に用いられる。この #+,44 パラメタは，ビーム輸送の光学的マッチングに用いられるなど，ビ−ム・チュ−ニング上重要なツ−ルになる。設置場所は，具体的には，入射器においては，入射部，アーク部の入口／出口，５セクタ終端の総計４ケ所（１４台），一方，ＢＴにおいては，第１アーク手前の直線部に電子陽電子用のＷＳが２ケ所（８台）設置が計画されている。ＷＳは，それぞれ４台を一組として設置されるが，入射器の入射部は，１台のみを設置する予定である。
本年４月に，入射器／ＢＴの合同メンバによるＷＳの開発グループが発足した。ＷＳ自体の開発は，過去に，入射器／
ＢＴ双方において開発を行っていたが，試作機の製作という段階にとどまり，マンパワーの関係で，ビームテストには至っていなかった。今回，ＢＴが開発した試作機を用いて，ビ−ムテストを行った。今回の実験の主目的は，とにかく，初めてのビームテストなので，信号が見えるか，バックグランドレベルはどのくらいか，検出器の設置をどうすればよ
いか，また，システム動作のチェック等といった基本的なテストに重点をおいた。中でも，ビ−ムバックグラウンドは，マシンやマシンの運転状態に大きく依存するので，実際のビ−ムで試してみる意味が大きいと考えられた。
実験準備と測定器の配置
ＷＳの信号検出は，ワイヤとビームの衝突により生じる２次電子或いは光子の検出により行う。ワイヤをビーム軸に垂直な面上で，水平（又は垂直）方向に移動させながらこれらの散乱粒子の強度変化を検出することにより，水平（又は垂直）方向のビームサイズを精密に測定することができる（図１参照）。散乱粒子は，主に以下の二つの過程により発生する。
（'） φ<<;49'--;,( による２次電子（:）;&44-;'H<7( による光子
ビ−ムの前方方向では（:）が，また大角度方向では（'）が，それぞれ主成分であると思われる。この事をより定量的に評価するために，現在，

を用いた計算を準備している。

本実験では，図２に示すように，ビーム軸超前方に光子検出器（( ，( ）を２台，Eすぐ後方に電子検出器（ ）を１台，ビームラインと同じ高さに設置した。この時の，検出角度及び検出立体角は，電子検出器に対し X， Y  4;，光子検出器に対し  X，  Y  4;，及び X，  Y  4; である。また，各検出器は鉛ブロックで十分遮蔽し（１検
出器当り１００個の鉛ブロックを使用した）ＷＳ中心を見込むように設置した。検出器設置におけるポイントは，以下の通りである。また，これらの課題は，本実験における主要目的である。
°鉛シールドは，十分か？
°光子検出器の設置角度の違いで，Ｓ／Ｎがどのように違うか？
°電子検出及び光子検出のどちらが，Ｓ／Ｎよく測定できるか？
°ビームテューニングの効果は，どれくらい有効か？
ここで，Ｓ（シグナル強度）は，ある程度計算に乗るが，Ｎ（バックグラウンド）は，実際にやってみて判断するしかない。
ＷＳ本体は，入射器の第４セクタ終端部に設置した。実験で用いたビーム条件を以下に示す。
ビームエネルギー： 

ビーム電流： ?7<4
ビームパルス幅： 4（E/ ）繰り返し数：５/@
ビーム輸送モード：ＰＦ入射モード
測定システム
図３にＷＳの内部構造を示す。図４ー（'）にＷＳ本体の写真を，また，図４ー（:）に光子検出器の設置様子を示す。
ワイヤは，図３に示すようにワイヤホルダに一筆巻に巻かれていて，それぞれ， ーワイヤ（垂直方向スキャン），2 ー
ワイヤ（４５度方向スキャン），Ｈーワイヤ（水平方向スキャン）と呼び，この３つのワイヤにより３方向にビーム断面を横切る。ワイヤホルダは，パルスモータからの回転運動をボールネジを通して，直線導入器（リニアガイド）により直線運動に変換し，斜め４５度の方向（2 ーワイヤに垂直な方向）に駆動する。試作機では，２台のリニアガイドがホ
ルダ両端部に接続しているので，ワイヤ駆動に伴うブレは，非常に小さくなる設計になっている（  && 程度と考えている）。図５に，検出器測定系及びワイヤ駆動系のシステムブロック図を示す。

/@ のパルス列発生器#により発生したパルス列は，チュ−ナ・コントローラを経由し，モータドライバを駆動しパルスモータを回転させる。このチュ−ナ・コントロ−ラは，定常運転時はバイパスされるが，テスト運転時には，マニュアルで，パルス列を発生し，駆動試験等に用いらる。一方，ワイヤ駆動位置は，マグネスケールにより検出され，そのデータは，ＲＳー２３２Ｃ（光ファイバ）経由で，  の 2 に取り込まれる。パルスモータの最小駆動距離及びマグネスケールの最小読取精度は，両者供に１μ& である。検出器系は， ／（!;LE）により，フォトマル出力信号の電荷積分を測定する。また，ビーム強度変動を補正するために，短パルス用電流モニタ（壁電流モニタ）の信号も同時に  により測定する。 へのゲート信号は，ビームトリガ信号を用いて 1

のゲート信号発生器により供給した。この測定系によりビーム強度のパルス毎でのモニタが可能となる。
ビームテストビームチュ−ニング
本格的なビームテストに入る前に充分ビームチューニングを行った。ここでいうビ−ムチュ−ニングとは，ＷＳ上流でのビ−ムロスが，バックグラウンドの原因になるので，このビ−ムロスをできうる限り小さくする，つまりビ−ム輸送
効率を高める事を意味する。予備的な信号計測で，ビームチュ−ニングによるＳ／Ｎの変化は劇的によくなることを確かめた。ＷＳでよいデ−タを取るためには，丹念にビームチュ−ニングを行うことは，非常に重要でり，もちろんこの事は，最適な運転条件を探すという意味でも必要であることは言うまでもない。本実験では，よって，ビームチュ−ニ
ングとビーム計測を平行して行うことにし，ビームチュ−ニングの効果を調べた。
フォトマルの設置方法
まず，最適なフォトマル（ＰＭ）の設置方法を決めるために，いくつかの種類のＰＭを用意した。最適な設置方法とは，
Ｓ／Ｎが最大にするような置き方である。すなわち，ビームバックグランドに強い設置の仕方と言える。図６にその設置の仕方を模式的に示した。ポイントは，フォトマルの縦置き及びライトガイド付きのフォトマルを使用して，設置高さをビームラインから極力離して配置しビームバックグランドの影響がどうなるかを調査することにある。
ＨＶスキャン
次に，ＰＭ用高電圧（ＨＶ）を最適値に調整した。図７は，１例として，セットアップ［１ '］における電子検出器に対するＨＶ曲線を示す。測定は，高電圧を変化させながら，電子検出器又は光子検出器からの出力パルス波高値をオシ
ロスコープにより計測し行った。図中のグラフは，ワイヤがビームに当たっている（ワイヤオン）状態から，ワイヤが引込んでいる状態（ワイヤオフ）のパルス波高値を差っ引いた値（すなわち，ビームバックグランドを差引いたもの）とその

1 をそれぞれＨＶの関数としてプロットしたものである。ＨＶの最適値は，Ｓ／Ｎを最大にするという条件から決めた。すなわち，ＨＶ値が大きくなりすぎると，ＰＭの線形応答領域から外れるためにシグナル（Ｓ）が小さくなるために，Ｓ／Ｎが小さくなり，また逆に，ＨＶ値が小さくなりすぎると，ノイズ（Ｎ）がリニアに小さくならない（あるいは一定値にとどまる）ために，やはりＳ／Ｎが小さくなることにより，Ｓ／Ｎの最大値が，決まると考えられる。
ＨＶ値は，電子検出器に対し /Ｖ＝ー８００Ｖ，( 検出器に対し /Ｖ＝ー８００Ｖ，( 検出器に対し /Ｖ＝ー９５０
Ｖをセットした。また，このＨＶ調整は，検出器セットアップを変更したり，ビーム調整又は条件を変更した時には，その都度行い最適値をセットした。
テスト結果
ＰＭ設置方法の最適化
次に，ＰＭセットアップの最適化を行った結果について述べる。前章で述べたように，検出器のセットアップを図６に示す場合について，Ｓ／Ｎの違いを調べた。図６に得られたＳ／Ｎを示す。ただし，計測したＳ／Ｎは３本のワイヤによる測定値の平均値とした。この結果より，電子検出の方（) '*又は) :*）が，光子検出に比べビームバックグランドに対して有利であることがわかる（定量的には，Ｓ／Ｎは約１０倍違う）。これは，光子検出器は，ビームライン超前方に設置しているために，上流で発生したビームバックグランドを同時に検出しやすいためであると考えられる。一方電子検出器は，ビームラインに対し大角度で設置しているので，鉛シールドの効果により充分遮蔽されていると考えられる。また，大角度に検出器を置いた場合，直接見るビ−ムパイプの長さが，（小角度の場合に比べて）短くなることもバックグラウンド抑制に有利に働く。一方，大角度の場合，検出粒子の強度が小さくなるが，今回のＰＭ設置方法では，検出立体角が，（小角度の場合に比べて）かなり大きく，このことがＳの低下（によるＳ／Ｎの低下）を抑えている。
電子検出器を見ると縦置き横置きに対し，Ｓ／Ｎにはそれほど違いはない。設置方法) *は，鉛シールドを少し薄くした場合（ビーム上流側の側面のブロックを１層取り省いた）で，やはり，この結果からシールドは充分必要であることがわかった。
ビームサイズ測定
次にビームサイズの精密測定結果を述べるが，その前に，ビームサイズ測定におけるＷＳ駆動系の設定条件を以下に示しておく。
（'）ビームサイズに対し充分な測定点数が得られるぐらいワイヤのステップ（駆動）長を短くすること（&&4-?，
測定点数  点），（:）ワイヤの停止時／駆動開始時にワイヤの振動を極力押さえるために測定開始までに若干の待ち時間（  &4）を考慮したこと，（9）１つのデータ点を１０回平均により測定を行うこと，（M）３本のワイヤが完全にビーム断面を横切ること（全駆動距離 &&）。
以上の条件及び計測時間をなるべく短くするという兼ね合いのもとで，１回の計測時間は約１０分となった。図８ー（'）=（:）=（9） に，セットアップ  ) '*，( ) '*，( ) 9*における測定結果をそれぞれ示す。電子検出及び光子検出に対し，それぞれ，きれいな３つのピークが見えているのがわかる。この時のビームサイズ（１σ）は，電子検出器によると垂直方向に対し， &&，水平方向に対し，   && であった。この値は，ＷＳの５ｍ前後に設置されているスク
リーンモニタによる観測とほぼ一致していることを確かめた。なお，この計測は充分なビーム輸送系の調整があって初めて観測に成功した。
1 とバックグランド
充分なビームチューニングの後（ 1 が良くなった後），Ｓ／Ｎに対する種々の測定量を定量的に議論するために，ＷＳの  & 上流に位置する四重極電磁石（ＱＦ４ー４４）の強さを標準設定値に対して最大±１５％変化させ（これは，疑似的にビームバックグランドを大きくすることに相当する），ビームバックグランド，Ｓ／Ｎ比，ビームサイズ及びその測定精度の変化を調べた。また，このデータは，そのまま，エミッタンス計測のデータとして使用し解析を行った。
図９は，バックグランドレベルに対して，検出器のＳ／Ｎがどう変化するかを調べたもので，このグラフから，Ｓ／Ｎ
は，バックグランドレベルに対して，指数関数的に増加することがわかる。また，電子検出器のＳ／Ｎは，最大４００程度に達するのに対し，光子検出系の方は，双方ともに，電子検出器に比べて低い（最大１００程度）。図１０は，電子検出に対する光子検出のＳ／Ｎの相関をプロットしたもので，明らかに，電子検出の方が，Ｓ／Ｎがよいことがわかる（最大で，１ケタ違う）。バックグランドの主な原因は，上流部でのビームロスに伴い発生した ( 線及び２次電子線が，ビームラインにほぼ平行に走り，下流部の検出器にまで到達してしまうのが原因と考えられる（５．１参照）。また，バックグランドを極力避けるために，光子検出器の方は，設置角度を変えｇ(１，ｇ(２の２台のセットアップ行ったが，双方ともにバックグランドは余り変わらず，本物の信号の方が小さくなってしまった。また，(２セットアップは，設置角度が大きすぎることがわかった。次に，図１１に電子検出器と光子検出器により測定したビームサイズの相関を調べた。図中直線は，双方の検出器において，ビームサイズが一致する線である。本来なら，この直線上に測定誤差の範囲内で分布するはずであるが，光子検出器の方が，やや太って見える。データ点数が少ないので，何とも結論できないが，可能性としてＷＳ本体のビーム下流側面のチェンバ（厚さ： 2 １ｃｍ）に，散乱光子が当たって，電磁シャワーを起し見掛け上ビームサイズが大きくしているのではないかと考えている。また，電子検出器の方は，ＷＳ本体すぐ近くに設置したため，取出窓から取り出される散乱電子対するアパーチャが取出窓の口径或いは鉛ブロック遮蔽入口の口径により制限されているのではないかと指摘されたが，後者に関しては，実験後の測定器配置の再調査により可能性を排除した。この問題は， による詳細なシミュレーションを行って定量的に評価すべきと考えている。

精度
次に，ビームサイズ測定の精度であるが，図１２に示すように，Ｓ／Ｎに対するビームサイズの測定精度をプロットすると都合がよい。ここで，測定精度とは，ビームサイズ（１4）の統計誤差のビームサイズに対する比（M44F）である。図から，明らかなように，Ｓ／Ｎが大きいほど，精度よく計測できることがわかる。本実験の達成精度は，データ
点を外装することにより約３％である。また，Ｓ／Ｎ値が１００近い所で，その精度は頭打ちになっているが，これは，統計誤差に起因するもの，すなわち，ＷＳの駆動ステップを小さくするかデータ取得回数を増やせば改善されると考えている。また， 入射器の本番の運転では，５０Ｈｚの繰り返しで運転されるので本実験に比べ１０倍の統計が増分するので，本実験で得た達成精度は，充分改善すると考えている。
エミッタンス計測
前節で議論したように，ＷＳ上流の四重極電磁石の強さを変えながら，ビームサイズの変化を計測し，パラボーラ関数
フィッティングによりエミッタンスを導出した。水平（N）方向，垂直（L）方向に対するエミッタンス曲線を図１３ー（'）=（:） にそれぞれ示す。測定結果は，それぞれ，(NB?&&．&;'M=  (LB ?&&．&;'M で，この結果は，５ｍ下流に位置するスクリーンモニタを用いた計測結果と測定誤差の範囲内でほぼ一致した。スクリーンモニタを用いた計測システム及び測定結果については，他章で詳しく述べられる。
電子測定系電子取出窓について
本実験では，散乱電子の取出時の減衰を極力小さくするために，取出窓として && 厚のカプトンシートを用いたが，これを実機に採用するのは，真空漏及び耐久性を考えると好ましくない。実機では，金属箔を使用すべきと考えている。
よって，金属箔を用いた時の散乱電子の減衰量を調べることにした。テストでは，カプトン窓の直前に厚）の窓を置いて信号強度の減衰を調べた。信号強度は， 2
り実機における取出窓は， 22 （ &&の窓を置くことにより約１／３になった。この結果によ&& 厚程度のものを用いれば問題なく使えると考えている。また， 2

&& 厚は，

真空大気圧間の圧力差を考慮し充分な厚さである。

ビームエネルギーを半減させた時のビームテスト
最後に，３セクタ後半のクライストロンをオフすることによりビームエネルギーをほぼ半減し（１．５ に設定，これは，入射器アーク部のビームエネルギーに対応する）検出量が十分かどうかを測定した。結果は，信号強度についてはほぼ同程度の強度を得たので，入射器アーク部に設置しても，充分使用できると考えられる。
結論°ＷＳ実験において丹念なビームチューニングは，重要かつ必須の作業であることがわかった。

°試作機によるビームテストでは，電子検出器の方が光子検出器に比べＳ／Ｎが約１桁大きく（Ｓ／Ｎの最大値〜４００，なおこの値は，ビームチューニングに大きく依存する）有効であることがわかった。
°鉛シールド厚は，標準ブロック（１０＊２０＊５9&）を用いると少なくとも１０9& 厚必要であることがわかった。
°検出器としてのフォトマルの置き方は，ビームラインと同じ高さにセットし，縦置き又は横置きの場合を比べると，
Ｓ／Ｎの観点からはどちらも同程度であった。また，光子検出器に対しても，フォトマルの置き方に対するＳ／Ｎの変化は同程度であった。
°電子検出器により測定したビームサイズは，光子検出器によるサイズを比べると後者の方が，やや大きく（１０％程度）測定された。この問題は，現在調査中である。
°ビームサイズの測定精度は，本実験において約３％を達成した。この値は，ワイヤ駆動のステップ長を小さく，及びビーム繰り返しを上げることにより１％は実現できると考えている。
°電子取出用真空窓（実験ではカプトンを用いた）は， 2

&& 厚の真空窓を用いても問題無いことがわかった。

この時の信号強度は約１／３になった。
°ビームエネルギーを   から   にほぼ半減して検出をおこなったが，信号は，ほぼ同程度の強度が得られた。この結果から，入射器アーク部（ビームエネルギー ）での使用は，可能と考えている。
°ＷＳの   & 上流に位置する四重極電磁石（ＱＦ４ー４４）の強度を変化させて，エミッタンスを計測した。計測
結果は，水平垂直方向それぞれに対し，(NB ?&&．&;'M=  (LB  ?&&．&;'M であった。この結果は，スクリーンによる計測結果と誤差の範囲内（２０％程度）で一致することを確かめた。
今後の開発予定（本年度）°実機タイプによる試作機の製作
X片持ちリニアガイド
Xワイヤ厚を && に変更する。
X電子取出窓を 2

&& に変更する。

Xモータドライバコントローラの変更により高速駆動化を計る（目標１分／スキャン）。
Xワイヤ位置読取機構は，耐放射線を考慮し巻き線タイプのロータリエンコーダを用いる。
°実機タイプによる試作機のワイヤ駆動に伴う横／縦ブレの精密測定を行う。
° ４コードを用いた散乱粒子の実際の測定系を考慮した検出効率の定量的評価を行う。
°エミッタンス測定の自動化（ソフトウエア開発）。
スクリーン測定系

スクリーンによるエミッタンス測定において、通常のビデオカメラを使用するとビームにより蛍光板が発光する時間に対してとカメラのビデオシャッターがさまざまなタイミングで撮影されてしまうため、発光中と光が減衰した時とで測定されるスポットサイズが変化してしまい測定値の大きな誤差となる。これを防ぐため、ビームトリガーに同期してシャッターが切れるランダムシャッターカメラ（竹中システム機器 #  ）を用いた。
また通常のカメラは明るいところでも暗いところでもよく見えるように、ゲインが自動調整になっているがこれでは光量の絶対強度の比較ができなくなり、またスポットサイズの見え方も変化する危険があるので、このカメラはゲインが一定で光量に対して出力がリニアに変化するような特性（γ＝１）にしてある。このため、光量が強すぎると出力が飽和してしまい半値幅の算出に誤差を生む。そこでまずビデオ出力をオシロスコープで測定しながら、ビームスポット
がもっとも小さくなり明るくように %  を設定して、さらにビームとシャッターのタイミングを調整し出力が最大になるようにした上で、スポット中心部でも飽和しないようなシャッター開放時間（ &49 程度）を設定する。
なお今回の測定においてはビデオ信号をイメージ解析システムで処理することにより、スポットサイズを求めた。このシステムの詳細については古川氏による記述を参照されたい。


画像処理システム入射器では以前 ;4'< &?7-; を利用した、画像処理 L4-& があったが、制御系との接続の問題などで、有効活用するにはいたらなかった。現在の処理 L4-& は、画像を ,(,-,@ する部分と、それを処理して表示する 2 の部分に分かれている。それらは # 1-+;> で結ばれており、制御系とは直接接続が可能であるとともに、将来
それぞれの /';M+'; を交換可能なように考慮している。
現在、画像 ,(,-,@; は 入射器制御用の   の予備を利用して構築されている。画像は最も単純な ;'&;'::;';M で取り込まれ、0  を 0?;'-,( L4-& とした側に送り出している（図-;<' 2 で、情報を 2'9>- として、2 ）。現在はこの 2 が他の計算機などに比べ速くないので、律速段階になっている。

将来はこの部分を交換することによって、速度の向上をはかる可能性がある。
2 側は 2,N 計算機上に J E,M+ の ??<,9'-, として作られており、JJ- を使用して 0?;'-; の指示を受けながら、画像に対して処理を行なうことができる。現在は、処理範囲の指定、画像の大きさの較正、'9>(;7M!8< の設定と引き算、縦横方向への積分、移動平均処理、'& ,@ の半値幅の算出などが行なえる。しかし、運転に使用するためには機能が不足しており、まだ $-+'; にも問題が残っているので、増強が検討されている。

RandomShutter
Camera

VME
68040
+
Video
FrameGrabber(Trigger)Unix Server

Processing
Software

UDP/IP

X11
ProtocolOther
Software

Linac
Control
RPC
ProtocolLinac
Controls

図X-Terminal   現在の画像処理 L4-& の構成。'&;' から得られた画像信号が   の ;'&;'::;で ,(,-',@ され、処理 $-+'; に送られる。J E,M+ 上で 0?;'-; の指示にしたがって処理が行なわれる。



エミッタンス測定解析結果

１）原理
１台のビームサイズ・モニタでエミッタンスを測定するには、ビームライン上流の適切なて、それにともなうビームサイズの変化をモニタで測ればよい。
ビームサイズ２乗σN２極磁石１台の設定値を変え極磁石を薄レンズ近似で考えると、モニタ位置でのは、エミッタンスε、 極磁石入口における #+,44 パラメタα= β、 極磁石出口からモニタまでの転送行列 &、 極磁石の有効積分磁場勾配 > $$ によって次式のように表わせる。
2


2
2
2
2 1 +α ≡ a k1eff + b + c
σ x = ε  β m11 − m12k1eff − 2α m11 − m12 k1eff m12 + m12

β 

(

)

(

)

(

)

ここで、 > $$ は極磁石有効長 !Q の１次までとって、とする。
（> は通常の積分磁場勾配。
）測定されたビームサイズ２乗を > $$ の２次多項式としてフィットし、係数R'=:=9Sを求めれば、以下の関係式からエミッタンスεと #+,44 パラメタα= βが得られる。

ε=

a
m 
a
k = β= =k1 − k12=Lαq /=6  b + 11 
c
m12
m12 
c
ac

2 1eff

精度の良い測定結果を得るには、測定範囲にビームサイズの極小点が含まれるように

極磁石の設定値を振る必要がある。
２）測定条件４セクタ終端〜５セクタ先頭（ビームエネルギー  ）と  セクタ終端〜１セクタ先頭（ビームエネルギー   ）の２ヵ所で合計６種類の測定（〜）を行った。測定結果のまとめを表  =モニタ（ワイヤスキャナ E 1、スクリーン =  ）の配置を図 

に、使用した極磁石とに示す。図中のビームサイズは測定結果から計算した一例を表わしている。４セクタにおける測定は、ワイヤスキャナとスクリーンの両方で行なったが、
 セクタではスクリーンのみを使用した。
測定時のオプティクスは :-$,< （弱収束系）で、測定に使用するに固定して測定を行った。但し、の場合のみ、% 

極磁石台のみ設定値を変化させ、他は標準設定値

をオフにし（% からモニタまでが単なるドリフト空間となるように）、%  を標準設定値の  のあたりで変化させて測定した。
３）解析結果
データ解析には %7'M&,-   9MM :L 0,M +,-H  9;,?-及びその改良版を使用し、最小２乗法によりエミッタンス等を求めた。解析結果（図  〜 ）を測定時間順に表  =

にまとめてある。ワイヤスキャナによる測定値としては、電子シグナルから得られた結果のみを用い、生データから非対称ガウシアンを仮定してビームサイズを求めた際のフィッティング・エラーを測定誤差として与えた。一方、スクリーンによる測定値に関しては、誤差についてはっきりとした指標がないので、測定誤差が一定として解析を行い、自由度当たりのχ２が１となるように測定誤差を見積もった。誤差の与え方を変えれば（例えば、測定誤差の測定値に対する割合が一定とすると）、結果は 〜 F変化する。結果について全般的傾向をまとめると、．規格化エミッタンスは〜   & で、小電流時のエミッタンスとしては妥当な値と思われる。なお、測定 は異常値を与えているが、これについては今だ原因不明。
．垂直エミッタンスが水平エミッタンスよりも小さい。
．４セクタにおける規格化エミッタンスは、 セクタの 〜 倍。
また、４セクタにおけるワイヤスキャナとスクリーンモニタによる測定の間で測定結果に整合性はあるが、現状ではワ
イヤスキャナによる測定の方が、１）１点の測定時間が長く（これは、繰り返しが上がれば大幅に改善される）、２）ビームの変動に敏感で極磁石の可変範囲が狭い、ため測定範囲及び測定点数が限られているので、今後の改良が望まれる。一方、スクリーンモニタに関しても、データの飛びや極小値近傍での頭打傾向などパラボラからの系統的ずれが見られることがあるので、画像解析システムを再検討し、併せて測定誤差の評価を行う必要がある。

表 3.6.5‑1 ビームエネルギー 2.70 GeV。Twiss パラメタは全て QF444 入り口での値に換算した。 QF444 を用いた測定 A),B)について、ワイヤスキャナとスクリーンの結果は、垂直方向 Twiss パラメタ以外、1.5σ以内で一致している。 QF484 とスクリーンを用いた測定 C) のみ、エミッタンス値が数倍大きい。上で述べた測定条件の違いには注意を要するが、今のところ原因不明。（続けて行われたワイヤスキャナによる測定

D)では、エミッタンス値は小さくなり A),B)に近づいている。）
M'-
6A 6
6A 6
6A 6
6A6 γεN  &Z 
 Z 
 Z
 Z 

αN

Z  
 
Z
 
Z 

Z

βN
γεL
&
  & Z  Z 
 

Z Z  Z  ZZ  Z

αL

Z

Z

Z 

Z

(M44χ２βL/上=下&  Z      
Z
      Z     Z    Q7'M
&,-;
%

%
E 1
% 

% 
E 1

表 3.6.5‑2 ビームエネルギー 0.18 GeV。Twiss パラメタは全て QDC84 入り口での値に換算した。 E),F)はの結果は 1.5σ以内で一致している。垂直エミッタンスが小さく、垂直／水平エミッタンス比〜1/2。
M'-

A 6

6A

γεN
  &

Z

Z

αN

Z 

Z

βN
&

Z 
 
Z

γεL
  & Z Z

αL
 
Z

Z 

βL
&

Z 

Z 

(M44χ２/上=下       Q7'M
&,-;
%

%


図 3.6.5‑1 エミッタンス測定に使用した四極磁石、モニタ配置。（上）WSCAN（ワイヤスキャナ）, SC512 近
傍（下）SC112 近傍。

５．まとめ


ビーム試験の総括（生出）今回のリナックのコミッショニングは多くの人々の協力で幸先のよいスタートを切ることができたと思います。技術的な面では、大部分の加速管で ! を用いて、今回の到達目標である  入射条件を満たすビームを安定に達成したこと、ワイア・スキャナによるビーム診断に成功したこと、加速器のモデルと現実の統合へ一歩を進めたことなど、いく
つかの達成があったと思います。これはコミッショニングチームのメンバーの方々のきわめて意欲的な努力の結果でもあると同時に、ハードウエア・グループの方々がこれまで整備されてきた機器の完成度の高さを表わすものであると思います。
今回はまた、これまでリング・リナックそれぞれに属していた方々がさまざまな面で協力することができたのではないかと思われます。既にリングの人々の何人かは自分でリナックのビームの調整をできるようになりつつあります。これは、ひとえにリナックの方々の適切な指導と多少の過誤をもゆるす寛容さに支えられた結果であると思います。
また、今回は毎朝  時

 分から短いコミッショニングミーティングを持つことができ、だれもが前日の到達点と、当日の課題をある程度認識でき、問題に素早く対処できたのは素晴しいことであったと思います。私は  全体のコミ

ッショニングに向けてもこのようなスタイルを強化すべきであると信じております。

  今後のコミッショニング予定と課題 入射器の試運転は、   年  月の  入射器電子銃試験及び既設部ビーム加速試験、   年 Aの増設部 A セクタビーム加速試験、  年 A 月の増設部 〜 セクタビーム加速試験、 運転の

月

ステップ

に分けて行われる。
今回の  入射器電子銃試験で電子銃ビームのソレノイド磁場への入射軸がずれていて改善が必要なことがわかった。
仮入射部を用いた既設部ビーム加速試験では、データベースと計算機システムの整備により、ライナックビームの診断と制御に前進がみられた。
この秋からいよいよ増設部の試運転にはいる。 A
テム、制御システムによるシングルバンチ

月の増設部 A セクタビーム加速試験では、新しい高周波シス

 の大電流ビームの生成と加速が最初の課題となる。そのためのハード

ウェア、ソフトウェアの整備が現在進められている。
 年 A 月の増設部 〜 セクタビーム加速試験では、アークの試験を中心課題として増設部全体の性能試験が行われる。
メインイベントとなる、  年 A 月の 〜 セクタ総合試験では大電流ビームを標的まで導き、陽電子を生成、加速すること、電子／陽電子ビームの加速モードの切り替え、 ／それぞれについて細かな作業テーマがひしめいている。

によるビーム品質の改善などの大課題があり、