Agilent ICP-MS ジャーナル
2015 年 7 月/8 月 – 第 62 号

本号の内容
2-3 新登場! ルーチン分析に適した
Agilent 7800 ICP-MS

4-5 GC-ICP-QQQ で実現される ppb 以下の水素化物ガス
汚染物質の検出限界

678Agilent MAP: EMEAI 地域向けの新たな革新的サービス
ソフトウェアのヒントとコツ: ICP-MS MassHunter 4.2 への移行のすすめICP-MS によるナノ粒子分析の基礎を学べる
オンデマンドウェビナー、
新たな Agilent 7800
ICP-MS に関する文献、カンファレンス/会議/
セミナー、
Agilent ICP-MS に関する最新資料

新登場! ルーチン分析に適した Agilent 7800 ICP-MS

確かな実績に裏付けられた信頼性

新たな 7800 ICP-MS には、実績ある Agilent
7700x ICP-MS の優れた性能が引き継がれています。厳しい 分析条件でも確実に動作し、信ハー
頼性の高い結果を生み出すします。また、ドウェアは 分析を簡素化 するよう最適化されています。Agilent 7800 ICP-MS には以下のよ
うな利点があります。
• 高マトリックス導入 (HMI) 技術により、高い
堅牢性とマトリックス耐性 が 実現 されます。
一般的な ICP-MS システムの 10 倍以上の濃度に相当する最大 3 % の総溶解固形分 (TDS)を含 むサンプルにも対応できます。マトリックスに合わせて検量線用 の 標準液を調整 する必要がありません。
• ヘリウム (He) セルモードのみでマトリックス
由来の多原子干渉を除去できます。
• 10 桁のダイナミックレンジを実現する検出器を搭載し、主成分と微量元素を 1 回の分析で測定できます。範囲外の値による分析のやり直しを最小限に抑えることができます。

Ed McCurdy、山田知行、Steve Wilbur、アジレント・テクノロジー

図 1. 新たな Agilent 7800 ICP-MS が分析ワークフロー
を簡素化

Agilent 7800 ICP-MS は、メソッド開発や操作を簡単に行える分析システムを必要としている業界およびコントラクトラボに最適です。

MassHunter ソフトウェアと扱うサンプルの種類や分析要件、作業負荷に関しては、ひとつとして同じラボはありません
が、規定 のメソッドや標準メソッドに従っているという点 は 多くの 施設 に 共通 です。また、
このようなメソッドがなくても、日々のサンプ
ル 分析を管理 するアプリケーションワークフ
ローが明確に定義されているところがほとん
どです。このような 「ルーチン」試験ラボは、
選択 する機器に厳しい 条件を課しています。
すなわち、高性能で信頼性が高いことはもちろん、堅牢で使いやすく、生産性が高くなけ
ればなりません。新たな Agilent 7800 ICP-MS(図 1) は、こういった要件を抱えるラボにもご満足 いただけるシステムです。現場で実証された高性能の機能だけでなく、最適化ツー
ルおよび事前に定義されたバッチテンプレー
トも搭載されているため、システムの 設定やルーチン操作を簡素化できます。

プリセットメソッドでメソッド開発を簡素化

Agilent 7800 ICP-MS の優れた操作性を実現する
うえで決定的な役割を担っているのが Agilent

ICP-MS MassHunter です。このソフトウェアにより、システムの 設定をすばやく完了できます。
また、堅牢な自動最適化ツールと幅広 いシス
テムステータスモニタリング 機能 を備 えているため、常に優れた性能を確保できます。
ユーザー 向 けのチュートリアルディスクなど操作習得に役立つツールが用意されているため、7800 ICP-MS の操作を短期間で習得できます。初めて使用するユーザーでも、短期間でシステムの 操作やデータ解析をスピーディに行えるようになります。

プリセットメソッド

ICP-MS MassHunter に搭載されているプリセッ

トメソッドは、Agilent 7800 の操作を簡素化す
るうえで重要な役割を果たします。プリセット
メソッドでは、分析対象物リスト、優先同位体、

積分時間、セルモード、内部標準の割り当てなど、一般的 な 多くのアプリケーションの 分
析パラメータがあらかじめ定義されています。
ハードウェア設定 (HMI 希釈係数など) やオー
トチューン条件 も、メソッドのターゲットサン
プルタイプに応じて 自動的に設定 されます。
一般的なメソッドなら、そのままロードするだ
けで、プリセットメソッドで定義されているパラメータを使用して分析を実行できます。新たなメソッドが必要な場合も、メソッドウィザード
を使用すれば、サンプルに関する数個の質問に答えるだけで簡単に設定プロセスを完了できます。

飲用水アプリケーション

飲料水の微量元素分析には、ICP-MS が広く使用されています。その一方で、操作、メソッド
開発、サンプルスループットなどに対する懸念
から、ICP-MS への切り替えに至っていないラボも多数あります。また、ICP-MS を導入したラボにおいても、ダイナミックレンジや干渉抑制などの潜在能力を十分に活用しきれていな
い場合があります。
飲料水のマトリックスは比較的単純ですが、必要 な 分析対象物 をすべて 正確 に 測定 するには、以下 のような 課題を解決しなければなりません。
• 原水に溶解している鉱物により、TDS の濃度が高くなる可能性がある• 多くの元素が多原子干渉を受ける• 主成分元素 (Na、Ca) が数百 mg/L (ppm) のレ
ベルで存在し、一部の ICP-MS 機器で検出範囲外の値になる可能性がある• Hg を維持するためにサンプルに塩素 (HCl)を添加する必要があり、これによって Cl 由来の干渉が深刻化する可能性がある

ルーチン分析に適した ICP-MS で日々の操作を簡素化
Agilent 7800 ICP-MS は、特にルーチンラボやハイスループットラボがメソッド開発 および操作を簡単に行 えるよう最適化 されています。自動最適化ツールおよびプリセットメソッドを搭載しています。これらの 機能 が 迅速 なシステ
ム設定、容易 なメソッド開発、信頼性 の 高 い
ルーチン操作を実現します。

2 Agilent ICP-MS ジャーナル 2015 7 /8 - 62
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月 第

号

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媒に容易に対処できます。また、標準の He モー
ドでは、一般的なすべての 多原子干渉を低減できます。これにより、信頼性の高い分析結果を実現し、干渉補正式は不要になります。

ISIS 3 および新たな SPS 4 オート
サンプラで生産性を向上

図 2. ICP-MS MassHunter ソフトウェアは、グラフィカルツールバーガジェットによる直感的なレイアウトを採用しています。操作方法を短時間で習得し、簡単に使用できます。

• Be、As、Se、Cd、Hg などの分析対象物はイ

7800 ICP-MS に搭載されている HMI 技術によオン化しにくく、感度が比較的低くなる

り、プラズマに対するサンプルマトリックス負最適化されたハードウェアを備えた 7800 ICPMS なら、これらの課題をすべて解決できます。堅牢なプラズマがイオン化を促進し、HMI技術が最大 3 % の TDS に対応できる優れた
マトリックス耐性を実現します。主成分および微量元素をすべて 1 回の分析で測定可能な
広 いダイナミックレンジ検出器を備えています。また、ヘリウム (He) モード (使用可能な場
合) では、HCl の添加により形成される Cl 由来の 多原子イオンなどの 干渉を低減できます。
これにより、信頼性の高い分析結果を実現し、干渉補正式は不要になります。

廃棄物分析アプリケーション

ICP-MS による排水や汚染土などの 廃棄物 のルーチン分析には、多くの 課題が伴 います。
通常、サンプルには複雑なマトリックスが多量に含まれ、主成分元素は数百または数千 mg/
L、塩化物、硫酸塩、炭素などその他のマトリッ
クス 成分 はパーセントレベルで 存在します。
このような 高濃度 のマトリックスは 信号 の 抑制につながり、ICP-MS スペクトルに多数の多原子干渉が現れる原因となります。また、マト
リックス濃度がサンプルごとに大きく異 なり、干渉を予測できないことが、この問題をさらに複雑化しています。コントラクトラボでは、サンプルに含まれる多数の規制対象成分や規制対象外の成分を限られた時間内に分析しなければなりません。そのため、廃棄物のルーチン分析には、サンプルタイプごとに大がかりなメソッド開発を行わなくても、多様なマトリックス中 のさまざまな 元素について正確 な
結果 が 確実に得られる堅牢 なメソッドが 求 め
られています。

廃棄物のルーチン分析を簡素化し、多様な高マトリックスサンプルで 正確 な 結果を確実に得るには、以下の 2 つの問題を解決しなければなりません。

• サンプルに多量に含まれる多様なマトリック
スにより引き起こされる信号 の 抑制を回避
または補正する必要があります。

• マトリックス元素由来の多原子イオンによるスペクトル干渉を低減する必要があります。

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荷が軽減します。マトリックス濃度が格段に高いサンプルのルーチン分析も可能です (最大
3 % のTDS)。これは、サンプルをさらに希釈する必要がなく、未知サンプルでも確信を持って測定できるということであり、結果的にラボ
ワークフローの簡素化につながります。

He モードでは、オクタポールで構成されるコ
リジョン/リアクションセルが 非常に効果的に作用し、マトリックス由来のほとんどの多原子干渉を 1 つのセル条件セットで抑えることができます。これにより、メソッドを 単純化し、規制濃度レベルのあらゆる元素を確実かつ正確に定量できるようになります。反応性 の 高
いセルガスを用 いる一般的な手法 のようにメソッドが複雑化することはありません。

先日、Agilent 7900 ICP-MS と同時に第 3 世代の Agilent インテグレートサンプル導入システ
ム (ISIS 3) がリリースされました。この ISIS 3
を Agilent 7800 ICP-MS にオプションで接続することで、ラボのスループットを格段に高めることができます。ISIS 3 に搭載されている高速の取り込みポンプと 7 ポートスイッチングバ
ルブが高速ディスクリートサンプリングを実現
し、 サンプルスループットと生産性を最大限に引き上げます。

Agilent SPS 4 オートサンプラ (図 3) は次世代の高性能オートサンプラです。高速性、信頼性、および処理能力に優 れたオートサンプラを求めるハイスループットラボに最適です。SPS 4は ICP-MS を用いた超微量分析において威力を発揮します。また、FAAS、MP-AES、 および
ICP-OES での 使用にも対応できる耐久性と堅牢性を備えています。

医薬品アプリケーション

現在、医薬品およびその成分中の金属の分析
手法は変化の過程にあります。潜在的に有毒な元素不純物を測定するために、これまで使用されてきた比色分析法にかわって新たな機器メソッドが広がりつつあります。ICP-MS および ICP-OES を用いた新たなメソッドでは、必要なサンプルが少量で済み、不純物を個々に定量できます。また、新たな ICH-Q3D Step 4 お
よび USP<232> メソッドで規制されているす
べての元素も正確に回収できます。

製薬 ラボで 測定 する一部 のサンプルタイプ
は、ICP-MS で問題になることがあります。高濃度のマトリックスを含むサンプルや、有機溶媒に溶解したサンプルでは、プラズマに過剰な負荷がかかる可能性があります。また、ICHQ3D および USP<232> の規制対象となる成分には、低濃度では測定が困難な高い毒性を持
つ元素がいくつか含まれています。イオン化しにくいために感度が相対的に低い元素 (As、Cd、Hg) や、多原子干渉を受ける元素 (質量数75 で As+ に干渉する ArCl+ など) もあります。

7800 ICP-MS のハードウェアは、これらの問題をすべて解決 するよう最適化されています。

HMI 技術を搭載した堅牢なプラズマは、高濃度の溶解固形物 (最大 3 %) にも対応できます。ソリッドステート RF ジェネレータは有機溶

図 3. 原子分光分析アプリケーションのための
新たな Agilent SPS 4 オートサンプラ

優れた真度と精度、高速性、操作性、および耐腐食性を、同等のサンプル処理能力を持つ
一般的なオートサンプラの約 60 % のフットプ
リント (カバーを含む) で実現します。オプショ
ンの一体型のカバーを取り付ければ、ラボ環
境を有害 なサンプル 蒸気 から保護しながら、サンプルの完全性を最大限に高めることができます。また、サンプルおよび標準液の柔軟なラック構成により、幅広 いサンプル数に対応できます。例えば、4 ラック構成では、最大360 個の 10 mL サンプルバイアルまたは 768
マイクロタイターウェルを収容できます。
詳細については、以下をご覧ください。

www.agilent.com/chem/jp

Agilent ICP-MS ジャーナル 2015 年 7 月/8 月 - 第 62 号

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GC-ICP-QQQ で実現される
ppb 以下の水素化物ガス

表 2. ICP-QQQ の操作パラメータ

O2 モード汚染物質の検出限界

William Geiger、CONSCI, Ltd.、
Pasadena, Texas, USA

H2 モード

はじめに

1350 W

ました。DL 計算には、以下の 2 つの計算法を

サンプリング深さ

8.4 mm

使用しました。

アルゴンキャリア

0.85 L/min

1.「Peak to Peak」ノイズ法により求めた低濃度
標準液のホスフィンピークの S/N 比 (2 回)

ガス流量

引出し 1

-150 V

引出し 2-190 V

オメガバイアス-120 V

オメガレンズ

2.2 V

セル入射

-50 V

おそれがあります。

セル出射

-60 V

半導体産業では、ホスフィンは、III-V 属化合物
半導体 の 被覆層 のプリカーサとして、またダイオードやトランジスタなどの 半導体 デバイスの製造でドーパントとして使用されます。不要な水素化物ガスの不純物があると、最終的

KED

石油化学および半導体産業で使用されるプロセス試薬に含まれる重大な汚染物質です。ポリマーグレードのエチレンやプロピレン中にホ
スフィン、アルシン、硫化水素、硫化カルボニルが存在すると、ポリプロピレンプラスチックの生産に使用される触媒に悪影響をおよぼす

セルガス流量実験

使用機器と測定条件
Agilent 7890B GC と Agilent 8800 ICP-QQQ を Agilent
GC-ICP-MS インタフェースを使用して接続しました。GC の操作パラメータを表 1 に示します。このパラメータは、並行して行った Agilent 7900 ICPMS による GC-ICP-MS の実験でも使用しました。

100 m x 0.53 mm x 5.0 um
DB-1

流量

圧力コントロール: 等圧

-4 V

0V

0.35 mL/min

5.0 mL/min

低濃度のホスフィンの分析
今回の実験の目的は、GC-ICP-QQQ を理想的な条件で使用した場合のホスフィン (PH3) の検出限界を確立することです。Q1 を m/z 31 (プリカーサイオン 31P+) に設定し、Q2 を m/z 47に設定して、プロダクトイオン 31P16O+ を測定しました。溶出ピーク時間は 12 秒未満と比較的狭いため、合計スキャン時間を最大 1 秒に設定しました。ホスフィンの単元素分析 (PO+として測定) には、1.0 秒の積分時間を使用しました。PH3 の多点検量線を、濃度 8.2、18.8、および 50.8 ppb の標準液を用いて作成しました (図 1)。この検量線は、この汚染物質の測定に必要となる典型的な濃度範囲をカバーしがあります。

表カラム
1. GC の動作条件

2. 低濃度標準液を 7 回繰り返し分析して測定した濃度値の標準偏差

結果と考察な 機器 の 性能に重大 な 影響 を 与 える可能性@ 20 psigています。

カラム出口圧力

4 psig

温度

定温の周囲温度

サンプル量

400 uL (Valco 6 ポートバルブ)

度のホスフィン標準液 (約 0.42 ppb) を調製しRF 出力

(メークアップ)

ホスフィンやアルシンなどの水素化物ガスは、

また、検出限界 (DL) を計算するために、低濃図 2 のクロマトグラムでは、ホスフィンピーク
の S/N 比は 96.9 でした。この値と式 DL = 2 x((標準液の濃度) / (S/N)) を用いて検出限界の概算値を求めると、2 x ((0.42 ppb) / (96.9)) =8.67 ppt となります。低濃度の標準液を複数回繰り返し分析して標準偏差法により求 めた
検出限界は 19 ppt でした。
その他の水素化物ガスの分析

GC-ICP-QQQ メソッドにより、1 回の分析でゲルマニウム、アルシン、およびホスフィンを分析する多元素分析を実施しました。P (PO+) と同様に、Ge および As についても、O2 との反応

プロダクトイオン GeO+ および AsO+ として測定しました。
また、硫化水素 (H2S) と硫化カルボニル (COS)

も分析しました。この場合も、ICP-QQQ で O2 マ

スシフトモードを使用し、反応プロダクトイオン

S O (m/z 48) として硫黄を測定しました。

32 16 +

シランの分析では、H2 セルガスを使用して Siの主同位体 28Si を直接 (オンマス) 測定しました。28Si+ に干渉する主な多原子イオンとして、

C O および 14N2+ があります。これは、プラ

12 16 +

ズマへのアルゴン供給および空気混入により、プラズマ内に CO2、N2、および O2 が存在するためです。リアクションガスとして H2 を選択したのは、CO+ および N2+ のどちらの干渉イオンも容易に H2 セルガスと反応するためです。

一方、Si+ は反応しないため、干渉を受けずに元の質量数で測定することができます。

Ge、As、P、および S の測定には、8800 ICPQQQ を MS/MS マスシフトモードで動作させ、コリジョンリアクションセル (CRC) ガスとして酸素を使用しました。また、オンマスモードによる Si の主同位体 (m/z 28) の測定には、セルガスとして水素を使用しました。どちらのモードもチューニング条件 はほぼ 同じですが、運動エネルギー弁別 (KED) 電圧とセルガス流量のみ異なります。これを表 2 に示します。

4 Agilent ICP-MS ジャーナル 2015 7 /8 - 62
年

月

月 第

図 1. ホスフィンの検量線 (濃度範囲にわたって
R 値は 1.000)号

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分析対象物 (P-31および S-32) の場合は、MS/MS で O2 セルガスを使用し、マスシフトモー
ドで酸素添加反応プロダクトイオン PO+ および SO+ を測定することにより、格段に低い出限界を達成できます。また、MS/MS モードでH2 セルガスを用いると、質量数 28 におけるバックグラウンド干渉が効果的に除去され、Siを主同位体でオンマス測定できます。

結論

Agilent 8800 ICP-QQQ には、バックグラウンドが非常に低く、感度が非常に高いという特長があります。このため、GC-ICP-QQQ メソッドでは、
高純度ガス中の多様な汚染物質を、業界が求める低い検出レベルで測定できます。
シラン、ホスフィン、硫化水素、および硫化カ
図 2. 0.42 ppb の PH3 標準液のサンプルクロマトグラム (S/N: 96.9)

GC-ICP-QQQ と GC-ICP-MS の検出限界の比較
比較 の ため、GC-ICP-QQQ (8800 ICP-QQQ を使用) と GC-ICP-MS (7900 ICP-MS を使用) で
H2S、COS、PH3、GeH4、AsH3、および SiH4 を分析しました。このとき、従来型 Agilent 7900
トリプル四重極 ICP-MS でも同じ GC メソッドを

ルボニルの検出限界は、従来型の四重極 ICPMS を用いた GC-ICP-MS メソッドに比べて 5〜10
倍低く、シランで 200 ppt、ホスフィンで 15 ppt

使用しました。両方の技術の検出限界 (DL) を
表 3 にまとめます。

でした。

バックグラウンドノイズが 非常に低 い 分析対

詳細

象物 (Ge-74、As-75) については、GC-ICP-MS とGC-ICP-QQQ のどちらにおいても、1 桁の ppt
レベルの検出限界を容易に達成できます。一方、 バックグラウンドが 高くなる傾向 にある

詳細については、アジレントアプリケーション
ノート「Sub-ppb detection limits for hydride gas

contaminants using GC-ICP-QQQ」(5991-5849EN)をご覧ください。

CONSCI の詳細については、www.consci.com

をご覧ください。

表 3. GC-ICP-QQQ と GC-ICP-MS の検出限界の比較

8800 ICP-QQQ

ガス

7900 ICP-MS

DL、ppb
H2S

COS

PH3

GeH4

AsH3

SiH4

DL、ppb32 (ノーガス)

32 ->48 (O2)
MDL (7 回)

0.21

MDL (7 回)

0.62

MDL (2 x S/N)

0.11

MDL (2 x S/N)

0.22

32 (ノーガス)

32->48 (O2)
MDL (7 回)

0.12

MDL (7 回)

0.51

MDL (2 x S/N)

0.11

MDL (2 x S/N)

0.21

31 (ノーガス)

31->47 (O2)
MDL (7 回)

0.019

MDL (7 回)

0.139

MDL (2 x S/N)

0.009

MDL (2 x S/N)

0.077

74 (ノーガス)

74->90 (O2)
MDL (7 回)NA

MDL (7 回)

0.013

MDL (2 x S/N)

0.0038

MDL (2 x S/N)

0.001375->91 (O2)

75 (ノーガス)

MDL (7 回)NA

MDL (7 回)

0.016

MDL (2 x S/N)

0.0013

MDL (2 x S/N)

0.006

28->28 (H2)

28 (H2)

MDL (7 回)

0.14

MDL (7 回)

1.09

MDL (2 x S/N)

0.196

MDL (2 x S/N)

1.18

*NA = 該当値なし
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Agilent ICP-MS ジャーナル 2015 年 7 月/8 月 - 第 62 号

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Agilent MAP: EMEAI

地域向けの新たな革新的サービス
Jean-Pierre Lener

EMEAI 分光分析 MAP スペシャリスト

はじめに

アジレントの欧州、中東、アフリカ、およびインド (EMEAI) 販売部門は、この地域のお客様を対象とした新たなサービスを開始しました。

一連の MAP (Market and Application Program)
は、それぞれの分析ビジネスニーズに応じてお客様にぴったりのソリューションをお届けできるよう考案されています。

床、材料など、MAP の対象となる各市場を担当します。また、プログラムを管理し、お客様ごとにチームを 編成 する地域 の 「MAP チャ
ンピオン」のネットワークもあります。これらのチームが連携し、お客様それぞれに合った
サービス範囲を決めることができるため、 お客様のあらゆる期待をくみ取り、注目し、監視し、満たすことができます。

課題: 進化するビジネス動向

アジレントは、長年にわたるお客様との緊密な協力関係を通して、多くの 企業 のビジネスモデル
がさまざまな形に変化していることに気付きました。その 1 つの大きな動向が、かつては多くの分野で競争上の大きな強みとみなされてきた社
内専門知識 の 構築からの 脱却です。いまや、焦点は生産性の最大化へとシフトし、これをコスト削減と同時に、しかも社内技術エキスパートの最小限の関与で実現することが求められています。

アジレントは、多くのお客様が、新たな機器や一般的 なトレーニングコースに留まらず、 それぞれが抱える分析要件を満たすことのできる総合的なソリューションを求めていることを理解しています。また、前述のとおり、多くのラボには、かつてのように独自に手法を開発する時間もリソースも専門知識もなくなっています。このような状況を踏まえ、2010 年、アジレントは MAP プログラムの開発に着手しました。このプログラムでは、総合的な分析ソ
リューションの提供を目指して、お客様と密接に協力するエキスパートチームを編成します。

供されます。この SOP には、パートナーラボ
で開発および検証されたサンプル前処理手順が記載されており、アジレントが全面的にサ
ポートします。SOP には、実際に据付直後から機器を活用するうえで必要なすべての情報が含まれています。

MAP とは

詳細合った「ソリューション」を提供します。適切なサービス内容 の 選択後、MAP のサービス範囲に従って、製品 の 納入 および 据付 から、
アプリケーション固有 のトレーニングやメソッド開発まで、契約に含まれるあらゆるサービ
スが調整されます。これらのサービスは、必要とされるサポートレベルによって異なってき

ご覧ください。

MAP では、 お客様 の 分析または測定要件にソリューション: MAP のサービス内容

一方、レベル 5 パッケージでは、さらに最新の規制に準拠した完全かつ専用の SOP が提ます。

MAP のさまざまなレベル

ニーズはお客様によってさまざまです。アジ詳細については、以下の MAP ウェブサイトを

www.solutions-to-win.com/
新たな規制や改定された規制の発表、技術資
料、イベント、カンファレンス、およびアジレン
トのパートナーラボや付加価値リセラー (VAR)など、市場固有の豊富な情報をご覧いただけます。また、リンクから、幅広い製品情報、ア
プリケーションおよび手法 の 紹介ビデオ、オンデマンド e セミナーもご利用いただけます。

レントは、お客様が必要なサービスをお選びいただけるよう 5 つの MAP パッケージを用意しました。例えば、レベル 1 では、技術資料

アプリケーションおよび 市場 の 知識を広くカの提供やデモ時の分析の実施、据付/操作習
得後 のアプリケーションコンサルタントをご利用いただけます。一方、レベル 5 では、アジレントがサポートする、完成度 の 高 い 検証済みの標準操作手順書 (SOP) もご利用いたバーします。また、アジレントは、多数のチャだけます。

アジレントの専門家に加え、新たなハードウェ
ア機能を発信し、アプリケーションを開発 す
る公共および民間部門の 23 のパートナーラ
ボで構成されるネットワークにより、あらゆるネルパートナーとも提携しています。一般に、ICP-MS による飲料水の分析: MAP

チャネルパートナーは、アプリケーションコン

アプローチの例

サルタントを 通してお 客様 のコンセプトから

レベル 1 の MAP では、このアプリケーション据付までのプロジェクトニーズに対処し、保証期間 にわたってサポートを 提供します。MAP
では、関連するメンバーがこれまで以上に緊密に連携します。

に 必要 なサ ービス 内容 を 特定します。そ のMAP e - ニュースレターの例

MAP ニュースレターは、市場、製品、およびアプリケーションの 最新情報を詳しく紹介 する月刊電子出版物です。MAP ニュースレターに購読お申し込みいただいたお客様には、定期的に最新情報をお届けします。

サービス範囲に従って、詳細なワークフロー
を参照できる技術資料とコンサルタントが提供されます。

MAP マネージャである Armando Miliazza 率いる管理チームが、食品、環境、法医学および

毒物学、化学およびエネルギー、医薬品、臨6 Agilent ICP-MS ジャーナル 2015 7 /8 - 62
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号

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ソフトウェアのヒントとコツ

ICP-MS MassHunter 4.2 への移行のすすめ

Steve Wilbur

Agilent ICP-MS ソフトウェアプロダクト

マネージャ

MassHunter 4.2 で ICP-MS の機能を拡張

Agilent ICP-MS MassHunter 4.2 では、ユーザー
環 境 (ワークフロ ー および ユ ー ザ ー インタ
フェース) を簡素化する多くの機能拡張が搭載されています。操作をより簡単に習得でき、より直感的に使用できるようになりました。さらに重要な改善点は、分析に役立つ新機能がいくつか追加され、特定のアプリケーションで既存の Agilent 7700、7900、または 8800 機器の機能をさらに有効に活用できるようになったことです。また、新たな Agilent 7800 ICP-MS にも対応しています。

• オプションの 単一 ナノ粒子分析 モジュール(G5714A) は、単一粒子モードおよびフィール
ドフロー分離モード i によるナノ粒子分析プ
ロセス全体を自動化します。詳細について
は、Agilent ICP-MS MassHunter 4.2 のカタロ
グ (近日発行) をご覧ください。
• 時間分析 (TRA) の最大採取時間が 2.8 時間
未満から最大 24 時間に延長されました。この 機能 により、レーザーイメージングユー
ザーは、データを連続して 1 つのデータファイルを採取し、サードパーティ製イメージン

グソフトウェアに簡単に入力できます。

• USP <232>/<233> のQA/QC 要件ii にすべて対応しています。これには、添加回収率、USP<233> に準拠した精度 および堅牢性 の計算と レポートが含まれます。 また、プリセットメソッドがアップデートされ、これまで以上にすばやく簡単にシステムの 設定 およびバリデーションを行えるようになりました。
• ハ イ フ ネ ート さ れ た ICP-MS シ ス テ ム(GC-ICP-MS、LC-ICP-MS など) がさらに完全にサポートされます。Agilent LC および GCのコントロールがより緊密に統合され、クロマトグラフィデータの 統合 データ解析機能が強化され、より簡単に使用できるようになりました。

• 新たな Agilent SPS 4 オートサンプラに対応しています。

MassHunter 4.2 へのアップデート

MassHunter 4.2 は、MassHunter 4.1 用に設定さこれより古いバージョンの ICP-MS MassHunter
をお持ちの、最新の SMA をご利用でないお客様も、現在のコアソフトウェアおよび購入済み
オプションから最新製品にお手頃な価格でアップグレードできます。詳細については、最寄りのアジレント販売店にお問い合せください。

iフィールドフロー分離 (FFF) を利用するには、サンプル導入用 のサードパーティ製 FFF 装置が必要です。ICP-MS MassHunter ソフトウェアから FFF ソフト
ウェアをコントロールすることはできません。また、

MassHunter に FFF ソフトウェアは組み込まれません。
ii

一般に、医薬品の製造または品質管理を行っている企業では、アジレントの SDA、OpenLAB Data Store、

OpenLab ECM (Enterprise Content Manager) などセキュ
リティ強度の高い電子記録ストレージソリューション
も利用している場合があります。

れたシステムでそのまま実行できます。コン
ピュータのハードウェアおよびオペレーティン
グシステムの 変更やアップデートは 必要 ありません。
ライセンスコードには上位互換性があるため、

MassHunter 4.1 のコアソフトウェアおよび購入
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図 1. リアルタイムチューニング信号が表示されている ICP-MS MassHunter 4.2 の機器コントロールペイン

agilent.com/chem/jp

Agilent ICP-MS ジャーナル 2015 年 7 月/8 月 - 第 62 号

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ICP-MS によるナノ粒子分析の基礎を学べる
オンデマンドウェビナー

ナノ粒子は、私たちの日常生活に身近なものになりつつあります。そのため、体内 および

環境におけるナノ粒子 の 挙動について 解明することが 不可欠となっています。このようなナノスケールの 物質 のさまざまな 特性 を測定できる技術は多数 あります。ただし、サ
ンプル中 のナノ粒子 のサイズとサイズ分布、
元素組成、および濃度 (粒子数/体積および質量/体積) と、溶解している金属濃度を 1 回の高速分析で同時に測定できるのは ICP-MS だ
けです。
このオンデマンドウェビナーでは、ICP-MS によるナノ粒子分析の原理と制限について説明します。紹介するシステムでは、ICP-MS およびトリプル四重極 ICP-MS (ICP-QQQ) に非対称
フィールドフロー分離 (AF4) とキャピラリー電気泳動 (CE) を組み合わせ、単一粒子モードおよびバルク分析モードを使用しています。

以下の内容を取り上げています。
• リスク評価における「ナノ粒子」の定義• ナノ粒子分析におけるハイフネートされた
ICP-MS 技術と単一粒子 ICP-MS の違い• 単一ナノ粒子分析の最適化において重要となる ICP-MS の性能要因の理解
参照物質と実際のサンプルを分析した結果も紹介します。
この Steve Wilbur によるウェビナーを生放送でご覧になれなかった方も、今ならオンデマンド

新たな Agilent 7800 ICP-MS に関する文献
新 たな Agilent 7800 ICP-MS の 詳細 については、http://www.chem-agilent.com/contents.
php?id=1003612 をご覧ください。このページでは、以下の最新文献もご覧いただけます。
• カタログ: 信頼性の高い分析結果を簡単に実現できる ICP-MS (5991-5874JAJP)• ソリューションフライヤー : Agilent 7800 ICP-MS による金属分析の高速化 (5991-5926JAJP)• ソリューションフライヤー : Agilent 7800 ICP-MS による環境廃棄物の高速分析 (5991-5877JAJP)• ソリューションフライヤー : Agilent 7800 ICP-MS による飲料水分析の高速化 (5991-5875JAJP)• ソリューションフライヤー : Agilent 7800 ICP-MS による製薬分析の高速化 (5991-5880JAJP)• アプリケーションノート: 飲料水分析における Agilent 7700x ICP-MS の優位性 (5990-4315JAJP)• アプリケーションノート: Simple, Reliable Analysis of High Matrix Samples According to US EPA Method 6020A using
the Agilent 7700x/7800 ICP-MS (5990-5514EN)• アプリケーションノート: Using Qualifier Ions to Improve ICP-MS Data Quality for Waste Water Analysis (5990-5890EN)• アプリケーションノート: Analysis of flue gas desulfurization wastewaters by Agilent 7700x/7800 ICP-MS(5990-8114EN)• アプリケーションノート: USP ジェネラルチャプター <232>/<233> 草案に従った医薬品成分中の元素不純物測定における Agilent 7700x ICP-MS のバリデーション (5990-9365JAJP)• アプリケーションノート: Enhancing the productivity of food sample analysis with the Agilent 7700x/7800 ICP-MS(5991-0107EN)• 技術フライヤー : Agilent 7800 ICP-MS: 効率に優れた水銀の低濃度分析 (5990-7173JAJP)• 技術フライヤー : Agilent 7800 ICP-MS: ヘリウムモードのセル性能強化による ICP-MS の干渉除去の向上 (59907573JAJP)• 技術フライヤー : Agilent 7800 ICP-MS: ORS4 とヘリウムモードによる複雑なサンプルにおける干渉除去性能の向上 (5990-7574JAJP)• 技術フライヤー : Agilent 7800 ICP-MS: ICP-MS の堅牢なプラズマによる低 CeO/Ce 比の実現 (5990-8060JAJP)

カンファレンス/会議/セミナー• Geoanalysis Leoben 2015、8 月 8 〜 14 日、スティリア (オーストリア)、http://geoanalysis.info/• Goldschmidt 2015、8 月 16 〜 21 日、プラハ (チェコ共和国)、http://goldschmidt.info/2015/• JASIS、9 月 2 〜 4 日、幕張 (日本、千葉県)、http://www.jasis.jp/en/• ICEEN 2015、9 月 6 〜 10 日、ウィーン (オーストリア)、https://nanoenvironment2015.univie.ac.at/• 17th Agilent ICP-MS User Meeting、9月 16 〜 17 日、ビットブルク (ドイツ)• SciX、9 月 27 日〜 10 月 2 日、プロビデンス (米国ロードアイランド州)、www.scixconference.org/• ISTERH 2015、10 月 18 〜 23 日、ドゥブロヴニク (クロアチア)、http://isterh2015.com/• 2016 Winter Conference on Plasma Spectrochemistry、2016 年 1 月 11 〜 16 日、ツーソン (米国アリゾナ州)、
http://icpinformation.org

Agilent ICP-MS 関連資料

ICP-MS に関する最新の文献を参照およびダウンロードいただけます。
www.agilent.com/chem/jp• アプリケーションノート: Rapid determination of five arsenic species in polished rice using HPLC-ICP-MS、(5991-5933EN)• アプリケーションノート: Accurate and sensitive analysis of arsenic and selenium in foods using the Agilent 8800 ICPMS to remove REE doubly charged interferences (5991-5860EN)• アプリケーションノート: Determination of chromium, selenium, and molybdenum in nutritional products by ICP-MS(5991-5865EN)• アプリケーションノート: Sub-ppt detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ (5991-5849EN)版としてご視聴いただけます。時間: 1 時間
ウェビナーを 視聴 するには、以下 のページの 「Webcasts」タブをクリックしてください。

www.spectroscopyonline.com

本資料に記載の情報は、予告なしに変更されることがあります。
アジレント・テクノロジー株式会社© Agilent Technologies, Inc. 2015
Printed in Japan July 17, 2015
5991-6091JAJP

Agilent ICP-MS ジャーナル編集者

Karen Morton、アジレント・テクノロジー
E メール: icpms@agilent.com