Agilent ICP-MS ジャーナル
2008年4月 - 第34号

本号の内容
2-3 HMI-ICP-MSを使用した土壌分解液の無希釈分析

HMI特集号

4-5 HMI-ICP-MSによる高マトリクスサンプルの無希釈分析のMDL、第8回Agilent ICP-MSユーザミーティング

6

HMI-ICP-MSを使用した高純度金属中の微量汚染物質の分析

7

ICP-MS ChemStationの最新バージョン、
ICP-MSサプライ品クイックリファレンスリスト、標準物質に関する情報サイト

8

e-セミナー、4500サポート終了、展示会と国際会議、最新資料紹介

HMI-ICP-MSを使用した測定元素 - 同位体

セルガス

MDL（1）（mg/kg）

MDL（2）（mg/kg）

オランダで要求されているMDL（mg/kg）

Be 9

He

0.042

0.046

0.1

Eurofins Analytico、オランダ

V 51

He0.255

0.481

1Steven Wilbur、山田憲幸、

Cr 52

He

2.300

4.51715

土壌分解液の無希釈分析

Wim Proper
杉山尚樹

Co 59He0.1470.3481

アジレント・テクノロジー

Ni 60

He0.7700.9223

はじめに
アジレントでは、従来の ICP-MS を用いた希釈方法に替わる次なる分析手法として、高マトリクス導入（HMI）キットを開発しました。オクタポールリアクションシステム（ORS）搭載のAgilent 7500シ
リーズ ICP-MSのサンプル導入装置を改造して H M I キットを用いると、 To t a l
Dissolved Solids（TDS）が1%を超えるサンプルを直接測定できるようになります。そこで、今回はEurofins Analytico研究所（オランダ）との共同研究として、オランダの土壌汚染に関する規制ガイドライン（ AS3000 ）に準拠し、 A gilent
7500cx/HMIを用いて高TDSの土壌抽出物の直接分析を試みました。

HMI-ICP-MSを使用した王水分解による土壌の直接分析

Cu 63He0.5021.303

5Zn 66

He

1.704

3.104

17As 75

He0.549

1.079

4Se 78

H20.832

2.041

10Se 78

He1.064

1.991

10Mo 95

He

0.195

0.413

1.5Ag 107

He0.2780.701

1Cd 114

He0.058

0.066

0.17
6

Sn 118

He

0.589

1.353

Sb 121

He

0.333

0.401

1Te 125

He

1.217

2.112

10

Ba 135

He

3.041

6.227

15Hg 201

He0.014

0.025

0.05

Tl 203

He0.285

0.546

3Pb 208

He

1.197

2.844

13

表1. オランダの規制AS3000に従って算出された検出下限（MDL: Method Detection Limit（）mg/kg）
MDL（1）= 同一日に行われた10回の繰り返しの3σ
MDL（2）= 異なる日に行われた10回の繰り返しの3σ − 参考値

土壌分解液は、高いTDSレベルと酸濃度のため、 ICP-MS で分析する前に希釈する必要があります。現在 Analytico 研究 サンプル調製所では、 Agilent Integrated SampleIntroduction System（ISIS）を使用して Analytico に委託された土壌サンプル
オンライン希釈を行っていますが、この 1グラムに王水8mlを加えたのちにマイク
従来の希釈法を用いた分析には制限があ ロ ウ ェ ー ブ で 分 解 し 、 そ の 後 超 純 水るため、これに替わる高速、簡便、安価 （18.2 MΩ）を加えて最終量を50mLに調な代替方法としての HMI が期待されま 整しました。最終的な酸濃度は、 HNO 3す。そこで今回はHMI-ICP-MSを用いて 4%、HCl 12%でした。
パフォーマンスの評価を行いました。

検出下限MDLの計算装置構成
今回の実験では、Agilent 7500cx ICPMSにHMIを装備し、ネブライザはBurgener MiraMistを 使 用 し ま し た 。
HMIのプリセットモードは「ウルトラロバスト−レベル：高」に設定し、感度の最適化を行いました。セレン以外のすべての測定元素はヘリウムモードで測定を行ったため、ノーガスモードの必要性がなくなり、モード切り替えに必要な時間を削減することができました。セレンは、低い検出下限が必要であるため水素モードで測定を行いました。

2 Agilent ICP-MS ジャーナル 2008 4 - 34
年 月 第号

MDLは、要求されている値と同等か3 倍の濃度のサンプルにて、 10 回連続で測定されたものと、30日間中異なる10日測定されたものの 3 シグマから算出されました（表1）。その結果、MDLは要求されているすべての元素について、オランダの規制要件を大幅に上回りました。このため、 HMI を最大のロバスト条件（エアロゾル希釈率が最大の条件）で動作させても、十分な感度があることがわかりました。

サンプル分析
HMIを装備したAgilent ICP-MSの長期的なロバスト性を検証するために、検量線をはじめに作成し、その検量線を利用した後235 の土壌サンプルを23 時間のシーケンスで分析しました。一連のシーケン
ス中に両方のガスモード（HeとH2）で5つの内標準物質（ 6 Li 、 Ge 、 Rh 、 In 、 Ir ）の回収率をモニタリングし、ドリフトを測定しました。図 1 に、規格化した回収率（メソッドブランクとの相対関係）を示します。23時間で全体的に約20%下方向にドリフトをしていますが、これは内標準物質によって容易に補正されるもので、メソッドの精度や感度に不利な影響を与えるほどではありません。対照的に、HMI のない ICP-MS でこれらのサンプルを分析すると、シーケンスが完了する前に重大な感度損失（80%超）を受けることになります。
AS3000に遵守すると、12の各土壌サン
プルの測定後にCCV標準液（1mg/kg As、50mg/kg Hg、残留元素2mg/kg）を分析する必要があります。

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全ISTDのドリフト規格化した信号図1. 23時間シーケンス中の土壌分解液における規格化した内標準物質の回収率。凡例の各
ISTDに 続 く 数 字 は 、ORSガスモード（ #2 =H2、#3 = He）を示しています。

濃度[ppm]

235の土壌サンプルの分析中のCCV安定性

QC溶液番号
図2. 土壌と泥の235サンプルシーケンスに対する、HgとAsを除くすべての測定元素のCCV標準液回収率（n-21）。管理指標（90〜110%）は赤線で示されています。元素名に続く数字は、ORSモード（#2 - H2モード、#3 - Heモード）を示しています。

その測定結果を図 2 に示します。シーケンス全体に渡り、すべての CCV 回収率が±10%（図中で赤線で示された範囲）に収めることができました。この優れたキャリブレーション安定性によって、正確なサンプル結果が保証されるだけでなく、シーケンス中のCCVのエラーによる再解析の時間を最小限に抑えることができます。

また、HMIによって安定性も改善される これらの利点により、 Analytico は、土ため、再解析とサンプル再分析の必要性 壌分解液の分析に必要な複数台の装置も最小化され、平均 Run-to-Run 時間が （従来型ICP-MS、ICP-OES、および専用さらに短縮されます。今回の実験では、 の水銀分析装置を含む）を、 HMI 装備の235 の無希釈土壌分解液サンプルを23 時 1台の7500cx ICP-MSで置き換え、測定間測定した場合、 1 サンプルあたりにか することができました。
かった平均分析時間は5.9分でした。

生産性• 測定時間の短縮 − HMI では、サンプ

HMIではサンプル流量を常に一定の状態で使用するため、装置の安定化時間などが不要になり、生産性に悪影響を及ぼすことがありません。そのため、HMIを使用しても、 1 サンプルあたりの分析時間はHMIを使用しない場合と同等です。また、HMIは、サンプル取り込み時と洗浄時の両方で時間の浪費を最小化する、アジレントの先行リンスおよびインテリジェントリンスと完全な互換性があります。さらに、HMIでは多くの種類のサンプルを無希釈分析できるため、手動であれ自動であれ希釈の時間が不要になるため、サンプルあたり必要な測定時間（調製と分析の合計時間）は大幅に短縮されます。

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結論

詳細情報

アジレントアプリケーションノート:
Direct Analysis of Undiluted Soil
ルの希釈作業や希釈したサンプルの安 Digests Using the Agilent High
定化に時間をとらわれません。また、 Matrix Introduction Accessory with
アジレントの先行リンスを使用できる the 7500cx ICP-MS、5989-7929EN

ため、取り込みが終了する前にサンプ （英語版）
ルチューブの洗浄を開始することができます。
• メンテナンス頻度の減少 − 交換しな
ければいけないチューブや、保守が必要な部品はありません。
• 簡便性 − 自動希釈につきもののタイミングの設定や複雑なチューブ構成がありません。
• 柔 軟 性 − H M I の 取り 付け 後に 伴うハードウェアの変更や再構成がないた
め、従来モードとHMIモードをその場で切り替えることができます。

Agilent ICP-MS ジャーナル 2008年4月 - 第34号

3

HMI-ICP-MSによる高濃度の酸マトリクス

高マトリクスサンプルの無希釈分析のMDL

分析対象元素/HMIあり HMIなし

MDL
MDL（1/10の希釈）
質量数
無希釈で環境サンプルを分析する際の問
mg/kg
mg/kg
題の一つは、土壌試料と廃液試料に対して USEPA の試料分解メソッド 3050B がAl / 27
4.1
5.8
Cliff Eaton、Ernie Walton
規定する最終酸濃度に関係しています。
TestAmerica Inc. Savannah、Sb / 121
0.026
0.031
このメソッドは10%のHClを使用します。
米国ジョージア州
また、溶液試料の分解に関するメソッド
As / 75
0.030.153010Aは、最終酸濃度として5%のHClを
Ba / 137
0.0530.17
目的規定します。HMIを使用する以前は、分解サンプルを希釈することでマトリクス
Be / 90.0210.018
TestAmerica Savannahの7500ce ICP- マッチングを行っていました。つまり、
B / 110.33
1.3
MS と高マトリクス導入（ HMI ）キットに 標準試料とこれらの両タイプのサンプル対する期待は、メソッド検出下限/報告下 中の酸濃度が一致するような調整が必要
Cd / 111
0.029
0.031
限（MDL/RL）を損なうことなく、従来か でした。しかし、HMIを使用し無希釈でCa / 40
5.78.4
らの希釈手順を省いて高マトリクスの環 分析する場合、このようなマトリクス
Cr / 52
0.0310.13
境サンプル（特に土壌試料）、および毒物 マッチングは不要になります。この場合、特性浸出法（TCLP ）抽出試料を分析する 5% HNO /5% HClの標準試料を両タイプ
Co / 59
0.00640.00943
ことです。のサンプル分析に使用しました。ネブラ
Cu / 630.0780.14
イザはTestAmerica Savannahの指定に会社紹介
Fe / 56
1.74.6
よりPFA-100 ネブライザを使いました。
このテフロン製ネブライザは7500cx標準
Pb / 208
0.0550.03
TestAmerica Savannahは1975年に設 のネブライザより高い効率を持つため、
Mg / 24
1.31.9
立され、約 5,100 平方メートルの最先端 内標準元素添加チャンネルを使用し、サ施設に 100 名以上の環境分析の専門家と ンプルをオンラインで 1:1 に希釈しましMn / 55
0.0370.11
サポート人員を擁しています。カスタム た。 HMI は、 " ウルトラロバスト " と呼ばMo / 95
0.0360.058
プロジェクト管理サービスに特化して、 れるエアロゾル希釈率最大の条件にセッ競争力のある価格と安定した品質性能に トしました。表 1 に、 HMI による土壌分
Ni / 600.0240.036
関して全国的な評価を確立しました。
析の MDL データ（ mg/kg ）を従来法と比K / 393.86.5
較して示します。 HMI を使用した場合、分析課題
Se / 780.130.044
試料分解液は直接分析しています（無希釈）。HMIを使用しない従来法の場合は、
Ag / 107
0.0050.0071
従来、TestAmerica Savannahは試料の 試料分解液を 1 ： 10 に希釈しています。
Na/231.815
分解に使用する酸とサンプル自体の両方 HMIを使用した場合、多数の元素のMDLに由来するマトリクス効果を低減するた が改善されました。
Sr / 88
0.0510.066
め、溶液分解試料は1：5に、また土壌分
Tl / 205
0.0260.015
解試料は1：10に希釈してICP-MSに導入 分析確度と再現性していました。しかしこの方法には次のSn / 118
0.1050.24
ようにいくつかの欠点があります。
HMIを用いた分析メソッドの確度と再現
Ti / 470.170.12• ピペット先端または希釈液からの汚染 性をテストするために、EPA 6020AおよV / 51
0.0410.096の可能性。
びEPA 200.8に従って、品質管理（QC）• 不正確な希釈をしてしまう " 人的 " ミス サンプルと共に試料分解サンプルを分析
Zn / 66
0.84
0.64の可能性（まれなケースですが）。
しました。マトリクス効果低減に対する• サンプル調製の時間や人件費、また試 HMIの有効性をテストするために、連続 表1. HMIと従来希釈法のMDL比較
薬のコスト。
希釈サンプル（serial dilution）と分解後（post-digestion spike）
標準添加サンプルを分析しています（表 2 ）。また、分析メ
ソッドの確度を確認するために、ラボ制
7500cx に HMI キットを装着する事で、 御 添 加 お よ び 添 加 重 複 サ ン プ ル
高濃度のマトリクスを含むサンプルを希 （LCS/LCSD）とマトリクス添加および添釈なしに ICP-MS に直接導入できるよう 加重複サンプル（MS/MSD）も分析しましになります。これにより従来型希釈に伴 た（表 2 ）。結果は、すべての元素が指定う問題を回避することができます。
された制御限界に収まりました。
従来型希釈とは異なり、HMIはエアロゾル希釈を使用し、 ICP-MS のプラズマに導入するサンプル量を制御します。プラ
ズマへのサンプル導入量が低減されることで従来型希釈と同様に、マトリクス効果やシグナル減感が最小化されます。

HMIによるメソッド

4 Agilent ICP-MS ジャーナル 2008 4 - 34
年 月 第号

結論
Agilent 7500ce ICP-MSと高マトリクス導入キット（HMI）を用いることで、EPAメソッドに従った土壌と溶液試料の無希釈分析が可能となりました。これにより分析コストを削減することができました。ＨＭＩを用いた新しい分析メソッドのQA/QC 要件への準拠を含めた性能は、標準の（HMIのない）システムによる従来メソッドと同等かそれ以上であり、検出下限（MDL）は若干改善されました。

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サンプル
分析対象元素連続希釈装置当たりのug/LRPD（%）

分解後添加（装置当たりのug/L）

添加後回収率（%）

アルミニウム / 27

12430026750

7.3123000

NC

アンチモン / 121

2.377

0.8908NC

22.59101

ヒ素 / 75

39.26

9.552

19.559.66

102

バリウム / 1371153

231.40.31180

NC

ベリリウム / 9

6.402

1.315

2.7

26.31

100

カドミウム / 111

2.073

0.4975

18.2

21.07

95

カルシウム / 40

30320

6477

6.6

31990

84

クロム / 52

182.7

38.5

5.2

202

97

コバルト / 59

81.52

17.43

6.7

101.3

99

銅 / 63

105.3

22.08

4.7

125.5

101

鉄 / 5616280035320

8.11630001099

鉛 / 208

76.63

15.6

1.8

96.46

マグネシウム / 24

28860

6308

8.9

30360

75

マンガン / 55

8311

1818

9.0

8563

NC

モリブデン / 95

5.722

1.107

3.3

26.79

105

ニッケル / 60

156.6

34.62

10.0

177.2

103

カリウム / 39

10780

2302

6.6

12910

107

セレン / 78

1.081

0.191911.918.38

86

銀 / 1070.33050.06239

5.8

20.62

101

ソジウム / 233716

797.2

7.0554391

ストロンチウム / 88

233.8

53.62

13.7268.8

NC

タリウム / 205

1.707

0.2635

NC

5.631

98

スズ / 118

21.55

4.123

4.4

43.79

111

チタン / 475848

1232

5.25924

NC

バナジウム / 51

405

86.42

6.5426.1

106

亜鉛 / 66

331.1

86.18

26.2

353.8

114

表2. 連続希釈（1/5）に対する相対差異率（RPD）、および添加回収率が示されています。添加量が元のサンプル濃度の25%未満の場合は、添加回収率を計算していません（NC）。

第8回オーストラリア
Agilent ICP-MSユーザ
ミーティング
アジレントのユーザミーティングへの取り組みに関しては、 ICP-MS ジャーナル
第29号でも紹介しましたが、今回はオーストラリアでのミーティングの様子をご紹介しましょう。
第 8回オーストラリア Agilent ICP-MS
ユーザミーティングは、2008年4月22〜23日にオーストラリア西部の街、パースで開催されました。ミーティングは、Western Australia大学のJohn Watling教授と教授のグループによって主催されました。司会は、アジレント東南アジア担当シニア ICP-MS アプリケーションス
ペシャリストの Fred Fryerが務めました。ミーティングでは、多くのユーザ様からご講演をいただき、そのトピックは、法医学、ネズミの脳内の金属分布の " イメージ解析"、多くの分析サンプルを抱える臨床ラボでのサンプルスループットの向上、レーザ -ICP-MS の基礎研究など、非常に多岐に渡りました。
www.agilent.com/chem/icpms

Q&Aセッションでは活発な意見交換が行われ、また、歴史あるFremantle地区のレストラン兼ビール醸造所"LittleCreatures"での夕食会では、参加者同士の交流も盛んに行われました。

次回のユーザミーティングは2009 年3 月に Tasmania で開催されます。どうぞお楽しみに。

参加者は全部で 24 人のユーザと 4 人のアジレントスタッフで、古くからのメンバーの他に、何人か新たなメンバーも加わりました。ミーティングではいつものように、様々なアイデアや ICP-MS 活用のコツを情報交換する有益な場となりました。

John Watling氏（UWA）、
David Bishop氏（UTS）、
Alison Beavis氏（UTS）、
Vesna Dolic氏（Glass Expansion）、Cameron Scudding氏（TSW Analytical）、Matthew Baxter氏（Sullivan & Nicolaides）、Greg O Neill氏（South Australia Water）、
Leonid Danyushevski氏（University ofTasmania）、Tamara Pilgrim氏（TSW Analytical）、Mike Whitby氏のご協力に深く感謝いたします。

Agilent ICP-MS ジャーナル 2008年4月 - 第34号

5HMI-ICP-MSを使用した高純度金属中の微量不純物の分析
片桐啓喜、加納雅宏、山本太一
日本環境株式会社

鹿籠康行、酒井徹志
アジレント・テクノロジー

はじめに元素（m/z）

Mg（24）Ti（47）
Cr（52）
Mn（55）
Fe（56）Cu（63）
Zn（68）
Zr（90）

セルガス

認証値

HeHeHeHeHeHe
He
He

mg/kg
2.82 ± 0.13
1.96 ± 0.07
1.13 ± 0.06
1.73 ± 0.06
9.4 ± 0.3
3.48 ± 0.11
2.03 ± 0.13
2.02 ± 0.13

測定結果
回収率（%）

mg/kg
2.841
2.073
1.098
1.730
10.016
3.738
2.117
2.000

101
106
97
100
107
107
10499

表1. JSAC 0121（高純度アルミニウム）の認証値に対する回収率

高純度金属分析は、マトリクス金属濃度が非常に高いサンプル導入下で、非常に低い検出下限が必要であるために難しい分析です。また、強い酸混合物質を導入すると、 ICP-MS インターフェースに損傷を与えることがあります。今回の作業
では、 HMI キットを搭載した A gilent
7500cxを使用して、高純度金属認定標準物質（CRM）であるJSAC 01211アルミニ
ウムおよび NIST 3982銅を分析しました。サンプルは、 1 グラムのサンプルを20% の王水または 10% の硝酸 100mL にゆっくりと溶解して調製し、直接分析しました。CRM JSS003-53鉄に対する結果を参照資料[1]に示します。20%の王水を分析する場合でも、 Ni サンプリングコーンとNiスキマーコーンの使用が可能であったことは画期的なことです。

Fe（56）
Ni（60）
Zn（68）
As（75）Se（78）
Ag（107）
Sn（118）
Sb（121）
Te（125）
Pb（208）Bi（209）セルガス認証値

HeHeHeHeHeHeHeHeHeHeHe

mg/kg
11.4 ± 0.5
7.0 ± 0.1
24 ± 125.0 ± 3
17.5 ± 0.8
20.1 ± 0.2
4.8 ± 0.6
7.5 ± 0.1
10.1 ± 0.2
9.9 ± 0.6
2.0 ± 0.3

測定結果

mg/kg
11.52
7.04
24.18
27.62
17.33
19.75
5.46
7.25
10.12
10.15
2.09

回収率（%）

101
101
101
110
99
98
114
97
100
103
105

表2. NIST 398（高純度銅）の認証値に対する回収率

HMIの利点詳細情報

HMIキットを搭載したAgilent 7500cxを使

1. アジレントアプリケーションノート: 高マトリクス導入キットを搭載したAgilent
7500cx ICP-MSを使用したハイテク製造
における金属の分析、5989-8095JAJP

用すると、前処理希釈なしに、高マトリックスTDS、強酸による金属分解液を簡単に直接分析できます。標準試料高純度金属の分析結果では、認証値との比較において優れた一致が示されました。1%のCu溶液に対する150サンプルシーケンスでの内標準元素のカウントの変化は小さく、長期的な分析安定性は優れていました。

内部標準強度

認証値、測定値、および回収率を表 1 お
よび 2 に示します。 1% の Cu 溶液（ 10% 硝酸ベース）を繰り返し分析し（ n=150 ）、内標準元素について、分析開始前の信号強度からの変化をモニタリングすることで長期的な分析安定性を評価しました。
（図1を参照）

元素（m/z）

サンプル番号
図1. 150サンプルシーケンスでの内標準シグナル安定性 - 10%硝酸中の1%銅溶液

6 Agilent ICP-MS ジャーナル 2008 4 - 34
年 月 第号

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ICP-MS ChemStationの最新バージョン（B.03.07）
Katja Kornetzky

ソリューションマネージャQA/QC、Agilent Technologies

山田知行
ICP-MSプロダクトマネージャ、アジレント・テクノロジー

ICP-MS ChemStationソフトウェアの最新バージョン（B.03.07 ）では、高マトリクス導入（ H M I ）キットをサポートし、OpenLAB Enterprise Content Manager、GC/LC ChemStationなどのソフ（ECM）
トウェア製品との統合を強化しています。

HMI機能の設定画面の使いやすさ向上

GCおよびLCとICP-MSアプリケーションとの結合の強化※本機能は英語版のみ対応です。
Agilent GC/LC ChemStationリビジョ 無機標準物質（ RM ）に関する情報をお探ンB.03.02は、ICP-MS ChemStationと し の 場 合 に 役 立 つ サ イ ト の ひ と つ が 、The Database of Natural Matrix
同じPCにインストールすることが可能になりました。LC/GC ChemStationのメ Reference Materials です。
ソッドをICP-MS ChemStationシーケン International Atomic Energy Agency
ス の 一 部 と し て 分 析 で き ま す 。 ま た 、 （ IAEA ）に準拠したこのデータベースに
B.03.07では、背面と前面のGCインジェ は、自然界の生体物質、食品、および環クタがサポートされます（以前の版では、 境試料中の微量元素や構成成分に関連する、1751 ものRM に関する情報が掲載さ前面インジェクタのみをサポート）。
れています。
注: デュアル注入はサポートされません。

ICP-MS ChemStationのアップグレード

この新しいユーザインタフェースでは、1 つの画面から全ての HMI 設定条件を選択できます。さらに、この新しいバー 詳細情報
ジョンでは、設定条件を読み込んだ後でもチューニングファイルを切り替えら • 高マトリクス導入キット:
www.agilent.com/chem/hmi
れ、自由度が向上しました。

強化※本機能は英語版のみ対応です。
21 CFR Part 11に準拠するためにICPMS ChemStation ECM IntegrationをICP-MS User Access Control Packと共に使用しているユーザ様向けには、アクセスセキュリティ機能が強化されました。
User Access Control Pack （G3263A）を 使 用 し て い る 場 合 は 、"ChemStationのロック/ロック解除" 機能を使用できます。権限のないユーザによるICP-MS ChemStationの操作の心配がなく、オペレータを交代することができます。

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The Database of Natural Matrix
Reference Materials には、次のURLからアクセスできます。
現在 B.0x.0x 版をお使いのユーザ様は、 www-naweb.iaea.org/nahu/
Agilent ICP-MS WebサイトからB.03.07 nmrm/nmrm2003/index.htm（注： Windows XP専用）へのアップグ
レード版を無料でダウンロードできます。

Agilent 7500cx用の高マトリクス導入 www.agilent.com/chem/jp（ H M I ）キ ッ ト を 使 用 す る と 、 T D S （[分析機器とサービス]から[ICP-MS]に（Total Dissolved Solids）濃度1%のサン 行き、[ICP-MS ソフトウェア]セクショ
プルを直接分析できます。そのHMI機能 ンの[ICP-MS ケミステーションアップ。の設定と使用方法が簡単になりました。 デートとダウンロード]より）

ECM Integration でセキュリティ

標準物質に関する情報サイト• ア プ リ ケ ー シ ョ ン ノ ー ト : Agilent
ICP-MS ChemStation - 21 CFR Part11への準拠、 5989-4850EN

ICP-MSサプライ品

クイックリファレンス
リスト
Rich Quashne
マーケティングプログラムマネージャ、Agilent Technologies、USA
ラボの生産性を最大化するためには、アジレントの純正消耗品をお使いください。純正消耗品を使うことにより、装置の性能を最大限に引き出し、一貫した結果を得ることができます。必要な部品・消耗品の注文に便利なサプライ品の一覧を用意しています。下記ホームページのオンラインライブラリからご覧いただけます。資料番号で検索可能です。『 7500
ICP-MS 部品クイックリファレンスガイ（資料番号：5989-6725JAJP）。
ド』

www.agilent.com/chem/jp
部品・消耗品のご注文は、担当営業あるいは代理店までご用命ください。

Agilent ICP-MS ジャーナル 2008年4月 - 第34号

7Free ICP-

無料のICP-MS
e-Seminars
eセミナー

新しいAgilent ICP-MSユーザの皆様へ
Agilent ICP-MSを導入いただいたすべての企業および研究機関の皆様のユーザフォーラムへのご参加を心から歓迎致します。 Agilent ICP-MSユーザフォーラム（英語版）は、Webをベースとした交流の場で、7500に関する情報を交換できます。

ICP-MSの最新技術とアプリケーションの最新情報をお知らせするために、3つのeセ
このフォーラムにアクセスするには、アジレントのウェブサイトにログインしてくだミナー（ダウンロード版）をお届けします。
さい。未登録の場合には登録を行ってください。初回のログイン時には、お使いの装最初のeセミナーでは、アジレントの新し置のシリアル番号の入力が必要です。ICP-MSユーザフォーラムへのリンクは、以下い高マトリクス導入（HMI ）キットを使用のサイトから可能です。
して、従来ではICP-OES で分析していた
www.agilent.com/chem/icpms
ようなTDS（Total Dissolved Solids）サンプルの直接分析を説明しています。2つ目のプレゼンテーションでは、環境分析に関連する規制について解説しています。
Agilent 4500シリーズICP-MSの公式サポート期間は2007年10月31日に終了しました。
最後のセミナーでは、ICP-MSを使用した、詳細はアジレントの販売代理店または営業担当にお問い合わせください。
元素ラベル化された有機化合物の同定とwww.agilent.com/chem/jp
定量、タンパク質やペプチド内の硫黄やリンなどのヘテロ元素の測定方法について説明しています。

4500シリーズの公式サポート終了

展示会と国際会議

eセミナー：ICP-MSをICP-OESの領域に拡張する−アジレント高マトリクス導入
キット
プレゼンター：Steve Wilbur、シニアア
プリケーションサイエンティスト、Agilent Technologies, Inc.
eセミナー：環境ICP-MS-EPAメソッドのアップデート情報
プレゼンター：Steve Wilbur、シニアア
プリケーションサイエンティスト、Agilent Technologies, Inc.
eセミナー：ICP-MS - ライフサイエンス
研究における元素質量分析の役割
プレゼンター：Joseph Caruso博士、University of Cincinnati
eセミナーには、ご都合のよいときにweb

2008 分析展、2008年9月3日〜5日､幕張メッセ http://www.jaimashow.jp
2008 Asia Pacific Winter Conference、2008年11月16〜21日、つくば市
http://envsun.chem.chuo-u.ac.jp/plasma/2008apwc.htm

Agilent ICP-MS関連資料
最新の資料の閲覧、ダウンロードは、www.agilent.com/chem/jpの「ライブラリ」から検索してください。

• Agilent 7500シリーズICP-MS用アクセサリ高マトリクス導入（HMI）キットの特長（5989-7737JAJP）• アプリケーション（英語版）:
Direct Analysis of Undiluted Soil Digests Using theAgilent High Matrix Introduction Accessory with the 7500cx ICP-MS（59897929EN）• アプリケーション: 高マトリクス導入キット搭載のAgilent 7500cx ICP-MSを使用したハイテク業界における金属の分析（5989-8095JAJP）• アプリケーション: コリジョン/リアクションセルICP-MSによるサプリメント中の重金属の多元素定量（5989-7959JAJP）

サイトからいつでも視聴することができます。詳細については、www.agilent.com/chem/icpms-eseminarsを参照してください。

表紙写真:

Agilent ChinaのICP-MSチームメンバ（左から）:
プロダクトスペシャリストWang Wenqi、Song Juan、アプリケーションエンジニア
Jing Miao
別枠: プロダクトスペシャリストChen Cheng-Xiang

Agilent ICP-MSジャーナル編集者
本誌に記載の情報は予告なく変更される場
合があります。また、発行時点で終了しているキャンペーンやイベントが含まれる場合があります。

© Agilent Technologies, Inc.
2008 Printed in Japan.
August 31, 2008 5989-8345JAJP

Karen Morton、Agilent Technologies
e-mail: editor@agilent.com