JIS見直し（案）（電子分野）

資料2【認定機関としての対応案】

個別
No.

規格番号

規格名称

【JIS書誌情報】

公示予定（確認，改正，廃止又は“－”を入力）1

C0806-6

自動実装部品のパッケージング―第６部：表面実確認
装部品用バルクケースによるパッケージング

3

C2570-1

直熱形ＮＴＣサーミスタ―第１部：品目別通則4C2570-2

直熱形ＮＴＣサーミスタ―第２部：品種別通則―表
確認
面実装形ＮＴＣサーミスタ

5

C5005-2

品質評価システム―第２部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）

6

C5101-3

電子機器用固定コンデンサ―第３部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（ＭｎＯ２）電解コ 確認
ンデンサ

C5101-3-1

電子機器用固定コンデンサ―第３－１部：ブランク
個別規格：表面実装用固定タンタル固体（ＭｎＯ２） 確認
電解コンデンサ 評価水準ＥＺ

8C5101-4-1

電子機器用固定コンデンサ―第４－１部：ブランク
個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ― 確認
評価水準ＥＺ

9

C5101-4-2

電子機器用固定コンデンサ―第４－２部：ブランク
個別規格：アルミニウム固体（ＭｎＯ２）電解コンデ 確認
ンサ―評価水準ＥＺ

10 C5101-18-1

電子機器用固定コンデンサ―第１８－１部：ブラン
ク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体
確認（ＭｎＯ２）電解コンデンサ―評価水準ＥＺ

11 C5101-18-2

電子機器用固定コンデンサ―第１８－２部：ブラン
ク個別規格：表面実装用固定アルミニウム非固体 確認
電解コンデンサ―評価水準ＥＺ

7

確認

確認

左記理由

対応国際規格との整合【凡例】
1: IDT
2: MOD
3: NEQ
4: 無（提有）対応国際規格が存在せず、国際規格に提案中又は提案予定のもの。
5: 無（提無）対応国際規格が存在せず、国際規格に提案しないもの。
6: 無（提未）対応国際規格が存在せず、今後の対応未定のもの。 ）↓記号の説明は，凡例シートをご参照。

書誌情報
参照文書
（JSA調査結果）
備考

最新 公示

素案作成団体
規格番号及び
西暦年

種類

年月日

対応
引用
引用
国際
国際
JIS
規格
規格

対応国際規格

対応国際規格の
制定年月日
同等性

最新改正日

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められないため，確認とする。

2

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 0806-6:2006

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60286-6:2004

MOD

2006/03/25

対応国際規格、引用規格及び引用国際規格の改訂がある
が、技術的内容の変更の必要はないため、確認とする。

2

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 2570-1:2015

改正

2015/11/20

×

×

×

IEC 60539-1:2008

MOD

2006/01/20

2015/11/20

2 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 2570-2:2015

改正

2015/11/20

◎

×

-

IEC 605392:2003/AMENDMENT MOD
1:20102008/05/20

2015/11/20

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5005-2:2010

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 61193-2:2007

IDT

2010/05/20

1 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5101-3:2010

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 60384-3:2006

IDT

1998/07/20

2010/06/21

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5101-31:2010

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60384-3-1:2006

IDT

1998/07/20

2010/06/21

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5101-41:2010

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60384-4-1:2007

IDT

1998/07/20

2010/06/21

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5101-42:2010

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60384-4-2:2007

IDT

1998/07/20

2010/06/21

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5101-181:2010

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60384-18-1:2007 IDT

1999/02/20

2010/06/21

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5101-182:2010

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60384-18-2:2007 IDT

1999/02/20

2010/06/21

対応国際規格IEC 60539-2 ED2のIS発行が2019年8月に発行されたのでその内容を基に改正を行う予定である。2020年
度以降のJIS案作成開始となるため、確認とする。

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

対応国際規格が改訂されたが、2020年度にこの規格の改正の着手を検討するために、確認とする。

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

対応国際規格の改訂が無く、技術的内容の変更の必要が認められないため、確認とする。

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とす
る。

（1／）

12 C5101-20-1

電子機器用固定コンデンサ―第２０－１部：ブラン
ク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリフェ
確認
ニレンスルフィドフィルム直流コンデンサ 評価水準ＥＺ

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

13 C5101-21-1

電子機器用固定コンデンサ―第２１－１部：ブラン
ク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ 確認
種類１ 評価水準ＥＺ

14 C5101-22-1

電子機器用固定コンデンサ―第２２－１部：ブラン
ク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ 確認
種類２ 評価水準ＥＺ

15 C5201-1

電子機器用固定抵抗器―第１部：品目別通則16 C5201-9

電子機器用固定抵抗器―第９部：品種別通則：個確認
別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

17 C5201-9-1

電子機器用固定抵抗器―第９－１部：ブランク個
別規格：個別測定可能な表面実装用固定ネット
ワーク抵抗器―評価水準ＥＺ

確認

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

18 C5381-311

低圧サージ防護デバイス用部品―第３１１部：ガス
確認入り放電管（ＧＤＴ）の要求事項及び試験回路

対応国際規格の改訂が無く、引用規格等は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

19 C5381-312

低圧サージ防護デバイス用部品―第３１２部：ガス
確認入り放電管（ＧＤＴ）の選定及び適用基準

20 C5401-1

電子機器用コネクタ―製品要求事項―第１部：品目別通則

21 C5401-2

電子機器用コネクタ―第２部：品種別通則―丸形
コネクタ―品質評価付

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5101-201:2010

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60384-20-1:2008 IDT

2000/04/20

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5101-211:2006

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60384-21-1:2004 IDT

2006/03/25

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5101-221:2006

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60384-22-1:2004 IDT

2006/03/25

2 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5201-1:2011

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 60115-1:2008

MOD

1998/02/20

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5201-9:2006

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60115-9:2003

IDT

2006/03/25

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5201-91:2006

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60115-9-1:2003

IDT

2006/03/25

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5381311:2016

改正

2016/3/22◎

××

IEC 61643-311:2013

IDT

2004/03/20

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5381312:2016

制定

2016/3/22◎◎-

IEC 61643-312:2013

IDT

2016/03/22

確認

対応国際規格の2019年改訂が追補の発行であること、及び
IEC/SC48Bにおいてこの規格を含む幾つかの総則及び通則の見直しに言及していることから、その見直しの方向性が明確になった後、改正要否を判断するため確認とする。

1 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5401-1:2015

改正

2015/11/20

×

×

×

IEC 61076-1:2006

IDT

2005/03/20

確認

対応国際規格、引用規格、引用国際規格の改訂/改正に伴い、JIS改正が必要であるが、2020年度以降のJIS案作成となるため、確認とする。

1 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5401-2:2005

確認

2015/10/20

×

×

×

IEC 61076-2:1998

IDT

2005/12/20

22 C5401-2-001

電子機器用コネクタ―第２－００１部：丸形コネクタ
確認―品質評価付―ブランク個別規格

対応国際規格、引用規格、引用国際規格の改訂/改正に伴い、JIS改正が必要であるが、2020年度以降のJIS案作成となるため、確認とする。

1 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5401-2001:2005

確認

2015/10/20

×

×

×

IEC 61076-2001:2001

IDT

2005/12/20

23 C5401-3

電子機器用コネクタ―第３部：品種別通則―角形
コネクタ―品質評価付

対応国際規格、引用規格、引用国際規格の改訂/改正に伴い、JIS改正が必要であるが、2020年度以降のJIS案作成となるため、確認とする。

1 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5401-3:2005

確認

2015/10/20

×

×

×

IEC 61076-3:1999

IDT

2005/12/20

確認

確認

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

対応国際規格の改訂がFDISまで進行しており、2020年度以降にJIS案作成を行う予定のため、確認とする。

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

2010/06/21

2011/01/20

2016/03/22

2015/11/20（2／）

24 C5401-3-001

電子機器用コネクタ―第３－００１部：角形コネクタ
確認―品質評価付―ブランク個別規格

対応国際規格、引用規格、引用国際規格の改訂/改正に伴い、JIS改正が必要であるが、2020年度以降のJIS案作成となるため、確認とする。

1 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5401-3001:2005

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 61076-3001:1999

IDT

2005/12/20

25 C5402-2-5

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２－５部：
導通及び接触抵抗試験―試験２ｅ：コンタクトディス 確認
ターバンス

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-25:2005

確認

2015/10/20

◎

-

-

IEC 60512-2-5:2003

IDT

2005/12/20

26 C5402-4-1

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第４－１部：
確認
電圧ストレス試験―試験４ａ：耐電圧対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-41:2005

確認

2015/10/20

◎

-

-

IEC 60512-4-1:2003

IDT

2005/12/20

27 C5402-7-1

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第７－１部：衝撃試験（可動形コネクタ）―試験７ａ：自由落下 確認（繰返し）

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-71:2016

制定

2016/3/22◎◎-

IEC 60512-7-1:2010

IDT

2016/03/22

28 C5402-8-1

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第８－１部：
静的な力試験（固定形コネクタ）―試験８ａ：静的な 確認
力，横方向対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-81:2016

制定

2016/3/22◎◎-

IEC 60512-8-1:2010

IDT

2016/03/22

29 C5402-8-3

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第８－３部：
静的な力試験（固定形コネクタ）―試験８ｃ：操作レ 確認
バーの強度対応国際規格の改訂に伴い、JIS改正が必要であるが、2020年度以降のJIS案作成となるため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-83:2016

制定

2016/3/22

×◎-

IEC 60512-8-3:2011

IDT

2016/03/22

30 C5402-9-1

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第９－１部：
確認
耐久試験―試験９ａ：機械的動作

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-91:2016

制定

2016/3/22◎◎-

IEC 60512-9-1:2010

IDT

2016/03/22

31 C5402-10-4

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１０－４
部：インパクト試験（可動形部品），静的負荷試験
確認（固定形部品），耐久試験及び過負荷試験―試験
１０ｄ：電気的過負荷（コネクタ）

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-104:2006

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 60512-10-4:2003 IDT

2002/03/20

2006/03/25

32 C5402-11-7

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－７
部：耐候性試験―試験１１ｇ：混合ガス流腐食確認

対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-117:2006

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60512-11-7:2003 IDT

2002/03/20

2006/03/25

33 C5402-11-14

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１４
確認
部：耐候性試験―試験１１ｐ：単一ガス流腐食対応国際規格の改訂が無く、引用規格は改正されているが、技術的内容の変更の必要性が認められないため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-1114:2006

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60512-1114:2003

IDT

2002/03/20

2006/03/25

34 C5402-13-1

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１３－１
部：機械的動作試験―試験１３ａ：結合力及び離脱 確認
力

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-131:2015

改正

2015/11/20

◎

◎

-

IEC 60512-13-1:2006 IDT

2002/03/20

2015/11/20

35 C5402-14-2

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－２
部：封止（気密性）試験―試験１４ｂ：封止（気密性） 確認―微小エアリーク

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-142:2016

制定

2016/3/22◎◎-

IEC 60512-14-2:2006 IDT

2016/03/22（3／）

36 C5402-14-4

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－４
確認
部：封止（気密性）試験―試験１４ｄ：浸せき―防水

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-144:2016

制定

2016/3/22◎◎-

IEC 60512-14-4:2006 IDT

2016/03/22

37 C5402-14-5

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－５
確認
部：封止（気密性）試験―試験１４ｅ：浸せき（減圧）対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-145:2016

制定

2016/3/22◎◎-

IEC 60512-14-5:2006 IDT

2016/03/22

38 C5402-14-6

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－６
部：封止（気密性）試験―試験１４ｆ：インタフェー
シャルシーリング確認

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-146:2016

制定

2016/3/22◎◎-

IEC 60512-14-6:2006 IDT

2016/03/22

39 C5402-16-8

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－８
部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―確認
試験１６ｈ：インシュレーショングリップの有効性（圧着接続）

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-168:2015

制定

2015/4/20◎

×-

IEC 60512-16-8:2008 IDT

2015/04/20

40 C5402-16-9

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－９
部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験― 確認
試験１６ｉ：接地コンタクトスプリングの保持力

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-169:2015

制定

2015/4/20◎◎-

IEC 60512-16-9:2008 IDT

2015/04/20

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－１３
部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―
41 C5402-16-13
確認
試験１６ｍ：ラッピングの巻き戻し，無はんだラッピ
ング接続

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-1613:2015

制定

2015/4/20◎◎◎

IEC 60512-1613:2008

IDT

2015/04/20

42 C5402-17-1

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１７－１
部：ケーブルクランプ試験―試験１７ａ：ケーブルク 確認
ランプ強度

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-171:2015

制定

2015/4/20◎◎-

IEC 60512-17-1:2010 IDT

2015/04/20

43 C5402-17-2

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１７－２
部：ケーブルクランプ試験―試験１７ｂ：ケーブルク 確認
ランプ強度（ケーブルの回転）

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-172:2015

制定

2015/4/20◎◎-

IEC 60512-17-2:2011 IDT

2015/04/20

44 C5402-17-4

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１７－４
部：ケーブルクランプ試験―試験１７ｄ：ケーブルク 確認
ランプ強度（ケーブルのねじり）

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-174:2015

制定

2015/4/20◎◎-

IEC 60512-17-4:2010 IDT

2015/04/20

45 C5402-23-4

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２３－４
部：スクリーニング及びフィルタリング試験―試験２ 確認
３ｄ：時間領域での伝送線路の反射

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5402-234:2006

確認

2015/10/20

◎

-

-

IEC 60512-23-4:2001 IDT

2006/03/25

46 C5412

高周波同軸Ｃ０２形コネクタ

確認

引用規格のC5410が改正されているが、2020年度にこの規格の改正に着手を検討するために、確認とする。

5 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5412:1995

確認

2015/10/20

-

×

-

1970/10/01

1995/11/01

47 C5413

高周波同軸Ｃ０３形コネクタ

確認

引用規格のC5410が改正されているが、2020年度にこの規格の改正に着手を検討するために、確認とする。

5 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5413:1995

確認

2015/10/20

-

×

-

1970/10/01

1995/11/01（4／）

48 C5414

高周波同軸Ｃ０４形コネクタ

確認

引用規格のC5410が改正されているが、2020年度にこの規格の改正に着手を検討するために、確認とする。

5 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5414:1995

確認

2015/10/20

-

×

-

1970/10/01

1995/11/01

49 C5415

高周波同軸Ｃ０５形コネクタ

確認

引用規格のC5410が改正されているが、2020年度にこの規格の改正に着手を検討するために、確認とする。

5 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5415:1995

確認

2015/10/20

-

×

-

1970/10/01

1995/11/01

50 C5419

高周波同軸Ｃ１１形コネクタ

確認

引用規格のC5410が改正されているが、2020年度にこの規格の改正に着手を検討するために、確認とする。

5 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5419:1995

確認

2015/10/20

-

×

-

1970/10/01

1995/11/01

51 C5432

電子機器用丸形Ｒ０１コネクタ

確認

引用規格の廃止に伴い、JIS改正が必要であるが、2020年度
以降のJIS案作成となるため、確認とする。

5 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5432:1994

確認

2015/10/20

-

×

-

1970/03/01

1994/03/01

52 C5502

マイクロホン

確認

引用規格の改正があるが、技術的内容の変更はないため、確認とする。

5

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5502:1991

確認

2015/10/20

-

×

-

1952/06/21

1991/02/01

53 C5569

録音再生機器における速さ変動の測定方法

確認

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5569:1991

確認

2015/10/20

◎

-

-

54 C5602

電子機器用受動部品用語

確認

対応国際規格は存在しないが、多くのIEC TCのJIS，書類などで引用されており、必要なJISであり、技術的内容の変更が必要ないため、確認とする。

6

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5602:1986

確認

2015/10/20

-

×

-

1986/02/01

55 C5610

集積回路用語確認

規格の改正及び廃止がなく、また、技術的内容の変更はない
ため、確認とする。

5

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 5610:1996

確認

2015/10/20

-

-

-

1972/06/01

56 C5630-20

マイクロマシン及びＭＥＭＳ―第２０部：小型ジャイ
確認ロ

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般財団法人マイクロマシ
ンセンター

JIS C 5630-20:2015

制定

2015/11/20

◎

-

-

IEC 62047-20:2014

IDT

2015/11/20

57 C5750-3-4

ディペンダビリティ マネジメント―第３－４部：適用の指針―ディペンダビリティ要求事項仕様書作成 確認の指針基礎となる対応国際規格は存続しており、引用規格の変更
は最新版に読み換えることで支障は無いため、確認とする。

2

無JIS C 5750-34:2011

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 60300-3-4:2007

MOD

2003/11/20

58 C5750-3-5

ディペンダビリティ管理―第３－５部：適用の指針―信頼性試験条件及び統計的方法に基づく試験
原則

確認

基礎となる対応国際規格は存続しており、引用規格の変更
は最新版に読み換えることで支障は無いため、確認とする。

1

無JIS C 5750-35:2006

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 60300-3-5:2001

IDT

2006/03/25

59 C5750-4-3

ディペンダビリティ マネジメント―第４－３部：シス
テム信頼性のための解析技法―故障モード・影響 確認
解析（ＦＭＥＡ）の手順

対応国際規格が改訂されたが、2020年度にこの規格の改正の着手を検討するために、確認とする。

1 暫定確認無JIS C 5750-43:2011

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 60812:2006

IDT

2011/01/20

IEC 60386:1972

IDT

1991/02/01

1996/08/01

2011/01/20（5／）

ディペンダビリティ マネジメント―第４－４部：シス
テム信頼性のための解析技法―故障の木解析（Ｆ 確認
ＴＡ）

基礎となる対応国際規格は存続しており、引用規格の変更
は最新版に読み換えることで支障は無いため、確認とする。

1

無JIS C 5750-44:2011

確認

2015/10/20

◎

×

◎

61 C5871

干渉フィルタ試験方法

確認

引用JISの内、JISC0025がJISC60068-2-14に置き換えら
れ、JISC5860、JISC5900、JISC60068-1及びJISC60068-278が改正されているが、技術的影響はないため、確認とする。

5

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5871:2011

確認

2015/10/20

-

×

-

62 C5912

波長スイッチ通則確認

引用JISの内、JISC5900 が改正されているが、技術的影響はないため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5912:2006

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 62099:2001

MOD

2006/03/25

63 C5920-1

光伝送用パワー制御受動部品―第１部：通則

確認

対応国際規格が改訂されているが、国内に流通していない製品の技術情報に関する部分の改訂のため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5920-1:2015

制定

2015/11/20

×

×

-

IEC 60869-1:2012MOD

2015/11/20

64 C5925-1

光伝送用ＷＤＭデバイス―第１部：通則確認

引用JISの内、C5900 及びC61300規格群が改正／制定されているが、技術的影響はないため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5925-1:2016

改正

2016/3/22◎

×-

IEC 62074-1:2014

MOD

2011/10/20

65 C5925-3

シングルモード光ファイバピッグテール形Ｃ／Ｌバ
ンドＷＤＭデバイス

確認

引用規格のC61300-2-17、C61300-2-19などが改正中であり、それらの改正作業後にこの規格の改正要否を判断する
ため、確認とする。

2 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5925-3:2011

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 61753-0832:2007MOD

2011/01/20

66 C5925-4

シングルモード光ファイバピッグテール形９８０／１
確認
５５０ｎｍＷＷＤＭデバイス

引用規格のC61300-2-17、C61300-2-19などが改正中であり、それらの改正作業後にこの規格の改正要否を判断する
ため、確認とする。

2 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5925-4:2011

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 61753-0842:2007/TechnicalCorrigendum 1:2008MOD

2011/01/20

67 C5930-1

光伝送用スイッチ―第１部：通則確認

引用JISの内、C5931がC5930-2に置き換えられ、C5630-1及びC61300規格群が改正／制定されているが、技術的影響はないため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5930-1:2016

制定

2016/3/22◎

×-

IEC 60876-1:2014MOD

2016/03/22

68 C5942

再生用及び記録用半導体レーザ通則

確認

対応国際規格IEC 60747-5-2がほかのIECに置き換えられ、また、引用規格の一部が改正・廃止されたが、技術的内容の変更はないため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5942:2010

確認

2015/10/20

×

×

×

IEC 60747-54:2006;IEC 60747-52:1997

MOD;MOD

1990/01/01

2010/05/20

69 C5943

再生用及び記録用半導体レーザ測定方法

確認

引用規格の一部が改正されたが、技術的内容の変更はない
ため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5943:2010

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 60747-5-4:2006

MOD

1990/01/01

2010/05/20

70 C5976

Ｆ０７形２心光ファイバコネクタ

確認

引用JISの内、C5961、C5962及びC6820が改正され、C5963
が廃止されたが、技術的影響がないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5976:2001

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 61754-16:1999

IDT

1990/06/01

2001/03/20

71 C5987

Ｆ１８形光ファイバコネクタ

確認

引用JISの内、B0601、C5961、C5962及びC6820が改正されたが、技術的影響がないため、確認とする。

5

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 5987:2005

確認

2015/10/20

-

×

-

60 C5750-4-4

IEC 61025:2006

IDT

2011/01/20

1992/09/01

2011/01/20

2016/03/22

2005/12/20

（6／）

確認

現行の対応国際規格は2016年12月に改訂版が発行されたが、その時点で再度改訂が予定されており、現在その作業中である。その改訂が済んだ後にJISの改正の要否を検討する
ため、確認とする。

1 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 6011-1:2015

改正

2015/11/20

×

×

×

IEC 61587-1:2011

IDT

2011/01/20

2015/11/20

確認

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 6011-2:2015

改正

2015/11/20

◎

×

×

IEC 61587-2:2011

IDT

2011/01/20

2015/11/20

電子装置用きょう体の試験方法―第３部：キャビ
確認
ネット及びサブラックの電磁シールド性能試験方法

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 6011-3:2015

改正

2015/11/20

◎

×

×

IEC 61587-3:2013

IDT

2011/01/20

2015/11/20

電子機器用の機械的構造―４８２．６ｍｍ（１９ｉｎ）シリーズの機械的構造寸法―フロントパネル，サ75 C6012-3-100
確認ブラック，シャシ，ラック及びキャビネットの基本寸法

対応国際規格の改訂が無く、JIS改正の必要性が認められな
いため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 6012-3100:2015

制定

2015/11/20

◎

◎

◎

IEC 60297-3100:2008

IDT

2015/11/20

76 C6114-1

光変調器モジュール通則

確認

対応国際規格が改正され、また、引用規格の一部が改正・廃止されたが、技術的内容の変更はないため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6114-1:2006

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 62007-1:1999

MOD

2006/01/20

77 C6114-2

光変調器モジュール測定方法

確認

引用規格の一部が改正されたが、技術的内容の変更はない
ため、確認とする。

5

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6114-2:2006

確認

2015/10/20

-

×

-

78 C6115-1

ｐｉｎ-ＦＥＴモジュール通則

確認

対応国際規格が改正され、また、引用規格の一部が改正・廃止されたが、技術的内容の変更はないため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6115-1:2006

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 62007-1:1999

MOD

2006/01/20

79 C6115-2

ｐｉｎ-ＦＥＴモジュール測定方法

確認

対応国際規格が改正され、また、引用規格の一部が改正されたが、技術的内容の変更はないため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6115-2:2006

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 62007-2:1999

MOD

2006/01/20

80 C6122-1-1

光増幅器―測定方法―第１－１部：パワーパラ
メータ及び利得パラメータ―光スペクトラムアナラ
イザ法

確認

対応国際規格が改訂作業中であり、改訂後に改正を予定しているが、2020年度内の改訂版発行を見込んでいるため、確認とする。

1 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6122-11:2011

確認

2015/10/20

×

◎

-

IEC 61290-1-1:2006

IDT

2011/03/22

81 C6122-1-2

光増幅器―測定方法―第１－２部：パワーパラ
メータ及び利得パラメータ―電気スペクトラムアナ 確認
ライザ法

引用国際規格のIEC 60793-1-40が改訂されたが、技術的な影響はなく、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6122-12:2011

確認

2015/10/20

◎

◎

×

IEC 61290-1-2:2005

IDT

2011/03/22

83 C6122-3

光増幅器―測定方法―第３部：雑音指数パラメー
確認
タ

対応国際規格、引用JIS、引用国際規格の改訂/改正はなく、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6122-3:2011

確認

2015/10/20

◎

◎

◎

IEC 61290-3:2008

IDT

2001/08/20

84 C6122-3-2

光増幅器―測定方法―第３－２部：雑音指数パラ
確認
メータ―電気スペクトラムアナライザ試験方法

対応国際規格の改訂、引用JISの改正、引用国際規格の改訂があるが、対応国際規格の適用範囲の拡大並びに、用語及び略語の移動だけであり、技術的な影響がないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6122-32:2006

確認

2015/10/20

×

×

×

IEC 61290-3-2:2003

IDT

2006/01/20

72 C6011-1

電子装置用きょう体の試験方法―第１部：屋内設
置のキャビネット，ラック，サブラック及びシャシの耐環境性能の試験及び安全性の評価

73 C6011-2

電子装置用きょう体の試験方法―第２部：キャビ
ネット及びラックの耐震試験方法

74 C6011-3

2006/01/20

2011/03/22（7／）

85 C6122-5-1

光ファイバ増幅器―測定方法―第５－１部：光反
射率パラメータ測定方法―光スペクトラムアナライ 確認
ザを用いた測定方法

対応国際規格が改訂、引用JISの改正があるが、対応国際規格の適用範囲の拡大だけのため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6122-51:2001

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 61290-5-1:2000

IDT

2001/08/20

86 C6122-11-1

光増幅器―測定方法―第１１－１部：偏波モード分
散パラメータ―ジョーンズマトリクス固有値解析（Ｊ 確認
ＭＥ）法

対応国際規格の改訂はなく、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6122-111:2010

確認

2015/10/20

◎

-

-

IEC 61290-11-1:2008 IDT

2010/05/20

87 C6180

レーザ出力測定方法

確認

引用JISの改正は軽微であり、本規格の技術的内容の変更は必要ないため、確認とする。

5

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6180:1991

確認

2015/10/20

-

×

-

88 C6181

レーザ放射パワー及びエネルギー測定用検出器，確認
測定器及び測定装置

対応国際規格が廃止されたため、廃止しても問題ないか検討の上、2020年度以降に廃止手続きに着手する予定である
ため、確認とする。

1 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6181:1995

確認

2015/10/20

×

-

×

IEC 61040:1990

IDT

1995/01/01

89 C6182

レーザビーム用光パワーメータ試験方法

確認

対応国際規格が廃止されている。利害関係者に確認中であり、廃止しても問題ないことのめどが立ち次第、2020年度以降に廃止手続きに着手する予定であるため、確認とする。

3 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6182:1991

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 61040:1990

NEQ

1991/08/01

90 C6443

普通級炭素系可変抵抗器

確認

対応国際規格の改訂や引用規格の改正が行われているが、技術的内容の修正の必要がないため、確認とする。

2

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 6443:1995

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 60393-5:1992

MOD

1959/10/01

1995/11/01

91 C6444

電子機器用炭素系混合体可変抵抗器―特性Ｙ，
Ｗ及びＵＣ

確認

対応国際規格の改訂や引用規格の改正が行われているが、技術的内容の修正の必要がないため、確認とする。

3

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 6444:1991

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 60393-5:1992

NEQ

1959/10/01

1991/01/01

92 C6445

巻線形可変抵抗器確認

対応国際規格の改訂や引用規格の改正が行われているが、技術的内容の修正の必要がないため、確認とする。

2

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 6445:1995

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 60393-5:1992

MOD

1960/03/01

1995/11/01-

IEC 604181:1974/AMENDMENT
2:1981;IEC 604182:1976/AMENDMENT MOD;MOD;MOD;MOD
1984/01/01
1:1981;IEC 604183:1976;IEC 604184:1976

1996/04/01

1996/04/01

93 C6461

電子機器用可変コンデンサ品目別通則

確認

対応国際規格の改訂や引用規格の改正が行われているが、技術的内容の修正の必要がないため、確認とする。

2

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 6461:1996

確認

2015/10/20

××

1991/08/01

94 C6462

電子機器用可変コンデンサの試験方法

確認

対応国際規格の改訂や引用規格の改正が行われているが、技術的内容の修正の必要がないため、確認とする。

2

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 6462:1996

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 604181:1974/AMENDMENT
2:1981;IEC 604182:1976/AMENDMENT MOD;MOD;MOD;MOD
1984/01/01
1:1981;IEC 604183:1976;IEC 604184:1976

95 C6560

単頭プラグ・ジャック確認

対応国際規格の改訂及び引用規格の廃止に伴い、JIS改正が必要だが、2020年度以降のJIS案作成となるため、確認とする。

3 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 6560:1994

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 60130-8:1976;IEC
NEQ;NEQ
60603-11:1992

1968/01/01

1994/03/01

96 C6831

光ファイバ心線確認

引用規格の対応国際規格が改訂中のため、それらの改訂完了後にこの規格の改正要否を検討する。時期は2021年以降になるため、確認とする。

2 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6831:2001

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 607932:1998;IEC/CDV
60794-3 Ed.3.0:2000

1989/03/01

2001/08/20

MOD;MOD（8／）

98 C6850

光ファイバケーブル通則

確認

対応国際規格の改訂を受けてこの規格を見直すこととしているが、改正申出・公示予定時期が2021年度以降となるため、確認とする。

2 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6850:2006

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 60794-1-1:2001

MOD

2001/03/20

99 C6870-3-10

光ファイバケーブル―第３－１０部：屋外ケーブル―ダクト・直埋用及びラッシング形架空用光ファイ 確認
バケーブル品種別通則

対応国際規格の改訂を受けてこの規格を見直すこととしているが、改正申出・公示予定時期が2021年度以降となるため、確認とする。

2 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6870-310:2011

確認

2015/10/20

×

×

×

IEC 60794-3-10:2009 MOD

2011/01/20

100 C6870-3-20

光ファイバケーブル―第３－２０部：屋外ケーブル―自己支持形架空用光ファイバケーブル品種別 確認
通則

対応国際規格の改訂を受けてこの規格を見直すこととしているが、改正申出・公示予定時期が2021年度以降となるため、確認とする。

2 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 6870-320:2011

確認

2015/10/20

×

×

×

IEC 60794-3-20:2009 MOD

2011/01/20

101 C9914

オーディオ，ビデオ，情報及び通信技術機器―環
確認
境配慮設計

対応国際規格の改訂があり、JIS化を検討中であるが、改正申出・公示予定時期が2021年度以降となるため、確認とする。

1 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 9914:2010

確認

2015/10/20

×

×

×

IEC 62075:2008

IDT

2010/07/20

環境試験方法―電気・電子―第２－２０部：試験―102 C60068-2-20 試験Ｔ―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ 確認
耐熱性試験方法

対応国際規格の改訂がなく、引用規格の改正等は技術的内容に影響しないため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 60068-220:2010

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 60068-2-20:2008 IDT

1985/11/01

2010/05/20

103 C60068-2-45

環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性（洗浄溶剤
確認
浸せき）試験方法

対応国際規格の最新版に対応しており、技術的改正の必要はないため、確認とする。

1

無JIS C 60068-245:1995

確認

2015/10/20

◎

-

-

IEC 60068-245:1980/AMENDMENT IDT
1:1993

1986/08/01

1995/03/01

108 C61280-2-8

光ファイバ通信サブシステム試験方法―Ｑ値測定
確認を用いた低ビット誤り率の決定法

対応国際規格の改訂はなく、技術的内容の変更はないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61280-28:2010

確認

2015/10/20

◎

-

-

IEC 61280-2-8:2003

IDT

2010/05/20

109 C61280-2-9

光ファイバ通信サブシステム試験方法―高密度波
確認
長分割多重システムの光信号対雑音比測定

対応国際規格が改訂され、 フィルタリングによる測定誤差に関する追加が主な変更点であるが、これは参考情報を附属書として追加したものであり、実質的に光信号対雑音比を測る試験法には影響を及ぼさないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61280-29:2010

確認

2015/10/20

×

-

×

IEC 61280-2-9:2002

IDT

2010/05/20

光ファイバ通信サブシステム試験方法―光信号品
110 C61280-2-11 質評価のための強度ヒストグラム評価を用いた平 確認
均化Ｑ値測定対応国際規格及び引用国際規格に変更がなく、引用国際規格の改正は技術的内容に影響を及ぼさないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61280-211:2010

確認

2015/10/20

◎

-

×

IEC 61280-2-11:2006 IDT

2010/05/20

確認

対応国際規格は改訂されており、改訂個所が多岐にわたるので、この規格の改正を行う必要があるが、申出・公示予定
時期が2021年度以降になるため、確認とする。

1 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61280-44:2015

制定

2015/11/20

×

-

◎

IEC 61280-4-4:2006

IDT

2015/11/20

1 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61281-1:2010

確認

2015/10/20

×

×

×

IEC 61281-1:1999

IDT

2010/05/20

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-22:2011

確認

2015/10/20

◎

×

◎

IEC 61300-2-2:2009

IDT

2011/03/22

111 C61280-4-4

光ファイバ通信サブシステム試験方法―第４－４
部：ケーブル設備及びリンク―既設リンクの偏波
モード分散測定112 C61281-1

光ファイバ通信サブシステム通則

確認

対応国際規格は改訂されており、データコムに対応した記載を追加する等が行われているので、この規格の改正を行う必要があるが、申出・公示予定時期が2021年度以降になるため、確認とする。

113 C61300-2-2

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
確認
験及び測定手順―第２－２部：繰返しかん合試験

引用JISの内、C61300-3-4が改正されたが、技術的影響がないため、確認とする。

2006/01/20（9／）

引用JISの内、C61300-3-4が改正されたが、技術的影響がないため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-212:2011

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 61300-2-12:2009 MOD

2011/01/20

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
115 C61300-2-24 験及び測定手順―第２－２４部：応力印加によるセ 確認
ラミック割りスリーブのスクリーニング試験

対応国際規格が変更されておらず、引用JIS及び引用国際規格がないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-224:2016

制定

2016/3/22◎--

IEC 61300-2-24:2010 IDT

2016/03/22

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
験及び測定手順―第２－４０部：ＳＭ調心円筒形
116 C61300-2-40
確認
斜めＰＣ端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失
スクリーニング試験

引用JIS（C61300-3-4）が改正されたが、技術的影響がない
ため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-240:2015

制定

2015/11/20

◎

×

-

IEC 61300-2-40:2000 MOD

2015/11/20

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
験及び測定手順―第２－４１部：ＳＭ調心円筒形
117 C61300-2-41
確認
直角ＰＣ端面光ファイバコネクタプラグの挿入損失
スクリーニング試験

引用JIS（C61300-3-4）が改正されたが、技術的影響がない
ため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-241:2015

制定

2015/11/20

◎

×

-

IEC 61300-2-41:1998 IDT

2015/11/20

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
118 C61300-2-44 験及び測定手順―第２－４４部：光ファイバクラン 確認
プ強度試験―繰返し曲げ

引用JISの内、C61300-1及びC61300-3-4が改正されたが、技術的影響がないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-244:2015

制定

2015/11/20

◎

×

-

IEC 61300-2-44:2013 IDT

2015/11/20

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
119 C61300-2-46
確認
験及び測定手順―第２－４６部：湿熱サイクル試験

対応国際規格が改訂されており、電子部品の規定と整合を取るために、規定の値を含む技術的な変更がされているので、この規格の改正を行う必要があるが、申出・公示予定時
期が2021年度以降になるため、確認とする。

1 暫定確認一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-246:2011

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 61300-2-46:2006 IDT

2011/03/22

120 C61300-3-6

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
確認
験及び測定手順―第３－６部：反射減衰量測定

引用JISの内、C61300-1が改正されているが、技術的影響はないため、確認とする。

2

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-36:2011

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 61300-3-6:2008MOD

2011/01/20

121 C61300-3-21

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
確認
験及び測定手順―第３－２１部：切替時間測定

引用JISの内、C61300-1が改正されているが、技術的影響はない。また、C61300-3-4が改正されているが、改正後の最新版を引用するのが妥当であるため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-321:2016

制定

2016/3/22◎

×-

IEC 61300-3-21:2014 IDT

2016/03/22

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
122 C61300-3-26 験及び測定手順―第３－２６部：光ファイバとフェ 確認
ルール軸との角度ずれの測定

引用JISのB0615がB0615-1及びB0615-2に分割されたが、技術的影響がないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-326:2011

確認

2015/10/20

◎

×

-

IEC 61300-3-26:2002 IDT

2011/03/22

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
験及び測定手順―第３－３０部：多心光ファイバコ
123 C61300-3-30
確認
ネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位
置測定

対応国際規格が変更されておらず、引用JIS及び引用国際規格がないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-330:2010

確認

2015/10/20

◎

-

-

IEC 61300-3-30:2003 IDT

2010/05/20

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
124 C61300-3-38 験及び測定手順―第３－３８部：群遅延，波長分 確認
散及び位相リップルの測定

対応国際規格、引用規格に変更がないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-338:2015

制定

2015/11/20

◎

-

◎

IEC 61300-3-38:2012 IDT

2015/11/20

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
125 C61300-3-50 験及び測定手順―第３－５０部：光スイッチのクロ 確認
ストーク測定引用JISの内、C61300-1が改正されているが、技術的影響はないため、確認とする。

1

一般財団法人 光産業技術
振興協会

JIS C 61300-350:2016

制定

2016/3/22◎

×-

IEC 61300-350:2013/CORRIGEND IDT
UM 2:20152016/03/22

114 C61300-2-12

光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試
確認
験及び測定手順―第２－１２部：落下衝撃試験（10／）

126 C62024-1

高周波誘導部品―電気的特性及び測定方法―第確認
１部：ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ

対応国際規格の改訂があり、JIS化を検討中であるが、改正申出・公示予定時期が2021年度以降となるため、確認とする。

1 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 62024-1:2011

確認

2015/10/20

×

×

-

IEC 62024-1:2008

IDT

2006/03/25

2011/01/20

127 C62025-1

高周波誘導部品―非電気特性及び測定方法―第１部：電子機器及び通信機器用表面実装固定イン 確認
ダクタ及びフェライトビーズ

対応国際規格の改訂がなく、JISの改正の必要性がないた
め、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 62025-1:2011

確認

2015/10/20

◎

◎

-

IEC 62025-1:2007

IDT

2006/03/25

2011/01/20

128 C62137-1-1

表面実装技術―はんだ接合部耐久性試験方法―
確認第１－１部：引きはがし強度試験方法

対応国際規格の改訂がなく、引用規格の改正等があるが技術的内容に影響を及ぼさないため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 62137-11:2010

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 62137-1-1:2007

IDT

2010/05/20

129 C62137-1-2

表面実装技術―はんだ接合部耐久性試験方法―
確認
第１－２部：横押しせん断強度試験方法

対応国際規格の改訂がなく、引用規格の改正等があるが技術的内容に影響を及ぼさないため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 62137-12:2010

確認

2015/10/20

◎

×

×

IEC 62137-1-2:2007

IDT

2010/05/20

130 C62137-4

電子実装技術―第４部：エリアアレイ形表面実装
部品のはんだ接合部耐久性試験方法

確認

対応国際規格の改訂がなく、引用国際規格の改正等がある
が技術的内容に影響を及ぼさないため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 62137-4:2016

制定

2016/3/22◎◎

×

IEC 62137-4:2014

IDT

2016/03/22

131 C62448

マルチメディアのシステム及び機器―マルチメディ
アの電子出版及び電子書籍―電子出版のための 確認
共通フォーマット

対応国際規格が改訂されており、この規格の改正を検討す
るが、申出・公示予定時期は2022年度以降になるので、確認とする。

1 暫定確認

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 62448:2016

制定

2016/3/22

×◎-

IEC 62448:2013

IDT

2016/03/22

132 C62739-1

溶融鉛フリーはんだを用いたウエーブソルダリング
装置の侵食試験方法―第１部：表面処理を施さな 確認
い金属材料の侵食試験方法

対応国際規格の改訂がなく、引用国際規格の改正等がある
が技術的内容に影響を及ぼさないため、確認とする。

1

一般社団法人 電子情報技
術産業協会

JIS C 62739-1:2015

制定

2015/4/20◎

×◎

IEC 62739-1:2013

IDT

2015/04/20

135 C5750-2

ディペンダビリティ マネジメント－第２部：ディペン
ダビリティ マネジメントのための指針

対応国際規格の改訂後、C5750-1を改正しそれに伴い本JISの廃止を検討する予定である。対応国際規格の改正にしば
らく時間がかかることから、今回は確認する。

2 暫定確認無JIS C 5750-2:2010

確認

2014/10/20

×

×

-

IEC 60300-2:2004

MOD

2000/10/20

確認

2010/03/23（11／）