高輝度放射光を用いた水素と材料の相互作用の実験的解明
町 田 晃 彦 齋 藤 寛 之
松 村 大 樹 竹 田 幸 治
放射光利用としては，高分解能 X 線回折パターンによっ.

は じめにて詳細に結晶構造を調べることが最も一般的な手法である．
結晶構造以外にも， X 線吸収分光など分光法を利用するこ

高性能水素貯蔵材料開発に対して，水素濃度(密度)，安定とで水素化に伴う電子状態変化などを調べることが可能であ性，耐久性，反応速度における性能向上が重要な課題である．電子状態の研究は基礎物性研究との認識から，材料研究る．水素貯蔵材料として水素貯蔵合金，化学系水素化物，吸へはこれまであまり適用されてこなかった．しかしながら水着系材料等が実用候補であり，それらについて広く研究が行素化による電子状態の変化は，水素とその周りの原子との結われている(1)．これらの材料中において水素とその周りの原合状態の変化に起因していると考えられるため，水素の移子との相互作用は水素貯蔵材料の性能に大きく影響している

動・拡散などの輸送機構，水素吸収・放出などの化学反応機と考えられる．水素吸蔵合金を例にとるとその水素吸蔵過程構の解明にかかわる知見を与えることが期待される．これらは，水素分子の金属表面での解離，表面から内部への拡散，は新規高性能水素貯蔵材料の開発にとって必要不可欠な情報水素固溶体の形成，そして水素化物の形成と進行する．このである．本稿では SPring8 の放射光利用による水素貯蔵材

過程は水素と周りの金属との結合の再編過程であるという見料研究に有効な装置・技術の開発やそれらを利用した研究の方ができる．したがって反応過程に支配的な水素と材料の相幾つかについて紹介したい．

互作用(結合状態)の解明は，新規水素貯蔵材料の開発，またはその材料の性能向上に向けて重要な知見を与えると考えら.

X 線回折によるその場観察れる．
放射光は物質中の原子間の結合状態を詳細に調べる有力な水素を多量に吸蔵した状態，すなわち高濃度状態の結晶構ツールの一つであり，構造だけでなく化学結合状態の解明に造は材料開発を行う上でも重要な知見を与える．水素吸蔵合

独 新エネルギー・産業技術総もその威力を発揮する．我々は

金ではその多くが水素圧力下でのみ水素化物としての状態を合開発機構(NEDO)の委託事業「水素貯蔵材料先端基盤研究安定に保持できる．このため，多量の水素を吸蔵した状態の事業(HYDROSTAR)」において，大型放射光施設 SPring

研究には水素圧力下でのその場観察が必要である．水素化物

8 の優れた光源特性を活かした水素貯蔵材料研究を展開しての研究において，その場観察は大別して二種類がある．一つきた．高輝度放射光を利用することによって，化学反応(水は水素雰囲気下のある温度・圧力平衡状態の観察，もう一つ素化反応)に伴う構造や電子状態変化を詳細に測定することは水素を吸蔵・放出している過程，すなわち平衡状態に至るが可能となる．しかし水素はその電子数が 1 であり X 線の過程の観察である．前者について特に数 GPa という高圧力散乱断面積が小さいため，物質中の水素を観測することは高下での測定に対して，また後者については反応過程の時分割輝度放射光でも非常に困難である．粉末 X 線回折パターン測定に対して高輝度放射光 X 線が威力を発揮する．

を最大エントロピー法によって解析し水素原子の電子状態密高温高圧力下では水素流体の化学ポテンシャルが増大し金度の導出に成功した例は MgH2 があるが(2) ，より重い金属属との反応性が著しく増加する．このため常圧近傍では実現からなる合金材料に対してはそれも難しいだろう．しかしなされなかった水素化反応の実現が期待される．このような高がら水素と結合している相手の原子に着目すれば，放射光を温高圧力下における水素化反応を利用した新規水素化物の探利用することで水素化に伴う構造変化，電子状態などの変化

索は以前から進められている(3)(5)．ここでは高温高圧力下を精密に測定することが可能になる．

における Al の水素化反応の放射光 X 線回折その場観察につ

独 日本原子力研究開発機構 量子ビーム応用研究部門副主任研究員(〒6795148 兵庫県佐用郡佐用町光都 111)
Advanced Research on HydrogenMetal Interactions of Hydrogen Storage Materials Using Synchrotron Radiation Xrays; Akihiko
Machida, Hiroyuki Saitoh, Daiju Matsumura, Yukiharu Takeda (Quantum Beam Science Directorate, Japan Atomic Energy Agency,Sayo, Hyogo)
Keywords: hydrogen storage materials, synchrotron radiation Xrays, insitu measurements, Xray diffraction, XAFS, Soft Xray emission
spectroscopy, Soft Xray absorption spectroscopy
2013年 1 月16日受理[doi:10.2320/materia.52.337]

ま て り あ 第52巻 第 7 号(2013)
Materia Japanいて紹介する．本手法を用いることで，水素化反応パスやメ温したところ AlH3 からの回折線はすべて消失した( c )．こ

カニズムについての知見を得ることが可能となった．

れは生成した AlH3 が Al と水素流体に分解したことを示し

AlH3 は軽量かつ水素を多量に含む化合物であり，水素貯ている．試料を再び650°Cまで冷却したところ，Al が再水素蔵材料として有望視されている物質の一つである．多くの水化されたことが確認された(d )．また Al を 10 GPa, 650°Cの素吸蔵合金が数 MPa の水素ガス中での直接反応によって水水素流体中で 24 時間処理することで，高圧セル中の約半分素化するのに対して， Al は水素ガス圧力下では水素化するの 体 積 の Al を 水 素 化 す る こ と に 成 功 し た(9) ． 得 ら れ た

ことができない．熱力学的には 1 GPa 以上の水素ガス(流AlH3 は無色透明の結晶で，その結晶粒の大きさは数 mm か体)圧力下で水素化すると予想されるが，これまでに直接反ら数十 mm である．高温高圧下合成法では，多量の水素化物応による AlH3 の合成は報告されていない．これは Al 金属の合成は困難であるが，生成物は純度が高く結晶性が良い．

表面に形成される不動態皮膜(酸化膜)が水素化反応を妨げる

そのため水素結合状態や水素放出温度などの材料物性研究に一つの要因であると考えられ，直接反応を実現するにはこの有用であると考えられる．実際に後述の電子状態観測には高酸化膜の影響を如何にして低減させるかが鍵となる．本研究

温高圧合成によって得られた AlH3 を使用している．

では，数百°C ，数 GPa という高温高圧下において極めて反高温高圧力下で水素化・脱水素化サイクルの観測，水素化応性が高い水素流体状態を実現し，水素流体中に浸された反応状態図の作成(6) ，また水素化の前駆現象と見られる Al

Al との直接反応によって AlH3 を合成することに初めて成金属結晶の微細化過程の観測(10)などによって，Al をベース功した(6) ．放射光 X 線を利用した反応過程のその場観察測にした新規水素貯蔵合金の開発に向けた基礎的な知見の蓄積

定の結果， Al 表面の酸化膜の影響が抑制され，水素化反応をすることに初めて成功した．また本手法は日本アルミニウが進行することが示された．

ム協会の協力を得て，車載用の高圧水素タンクのライナー材

水素流体中の Al の水素化，脱水素化反応過程は SPring8として使用されている A6061 T6 合金にも適用され(11)，そのビームライン BL14B1 に設置されたマルチアンビルプレの水素化条件を明らかにするなど水素貯蔵材料研究に留まらスと呼ばれる高圧発生装置を用いたその場 X 線回折実験にず広く水素関連技術の開発研究に貢献している．

よって観察された．実験の詳細につては他の解説等を参照さ

また，水素吸蔵・放出過程の結晶構造変化は主に反応メカれたい(7)(8) ．高温高圧実験では試料の周りは圧力発生や加ニズムに対して重要な知見を与える．ここでは放射光 X 線

熱，試料の密閉に必要なパーツで覆われているが，高輝度放による金属格子の変化に着目した相変態の研究を紹介した

射光 X 線は高温高圧実験用セルを透過することができるた

い．水素貯蔵材料の性能を評価する際に圧力組成等温曲線

め，試料からの粉末 X 線回折パターンを測定することが可上の水素平衡圧下での状態観測も重要であるが，水素の導入

能 で あ る ． 図  に 10 GPa に お い て Al を 水 素 化 ・ 脱 水 素から平衡圧に達するまでの過程を知ることも必要である．そ化・再水素化した際のその場観察 X 線回折パターンを示のため合金から水素化物を形成する過程の構造変化をリアルす．室温から 650 °C まで加熱した段階では AlH3 の生成は観タイムで観測するシステムをビームライン BL22XU に構築測されないが(a)，650°Cで約20分保持した後に aAlH3 の回し，水素吸蔵過程の構造変化を時分割で観測することを可能折線が出現し，時間の経過とともに強度が増加した(b)．以にした．装置の詳細についてはここでは割愛させて頂く．試後，AlH3 は aAlH3 のことを示すものとする．800°
Cまで昇料容器に封入する粉末試料は約 100 mg で放射光 X 線回折測定には十分な量であることはもちろんのこと，水素吸蔵に伴う圧力変化も観測可能である．しかしながら圧力変化は試料全体のマクロな変化を観測しているのに対し，回折パター
ンの変化は封入した試料の一部， X 線が照射されている部分の変化を観測しているため，それらの時間変化は必ずしも一致しない．このため現時点では吸蔵された水素量との関係にまで踏み込んだ議論をすることは難しい．しかしながら，水素吸蔵過程の相変化に関する詳細な情報だけでも反応速度を向上させるため物質設計に新たな知見を与えることが期待される．
水素吸蔵過程の時分割 X 線回折実験の例として LaNi4.5Al0.5 合金の結果を紹介したい． LaNi5 の Ni の一部を Al 等で置換することよって水素化特性が大きく変化することが知られているが(12)(13)，本研究では特に水素化物形成過程で出現する中間状態(固溶体と水素化物の間の格子体積を持つ状
図1

放射光 X 線回折その場観察により得られた Al の水素化・脱水素化・再水素化反応過程の X 線回折パターン．

態)に着目し，水素吸蔵過程の研究を実施した． LaNi4.5Al0.5
では LaNi5 の 80 °C の平衡水素圧力下で観測されている中間状態(14) が同様の条件で観測されていない． LaNi5 では室温

ミ ニ 特 集造を調べることが可能である．水素吸蔵合金は一般的に多数の金属元素から構成され，また化学系水素化物等はカイネテ
ィクス向上のために微量添加物を使用するが，こうした複雑な物質・材料系に対して XAFS 法はその特性の鍵となる元素に着目した情報を得ることができる．
Photon in Photon out の手法である XAFS 法は侵入長が長く，特に透過法による測定では試料全体を平均化しているとみなせるため試料表面の影響が無視できる．また硬 X 線を利用した XAFS 測定は一般的に試料の環境(雰囲気)に依らないことも，その場観察測定の適用を比較的容易にしている．このため XAFS 法は水素を吸蔵・放出している過程の元素選択的な電子状態や局所構造変化のその場観測に有効である．分散型光学系を利用すれば 100 Hz レベルで XAFS ス
ペ ク ト ル の 連 続 測 定 も 可 能 で あ る(18)(19) ． ビ ー ム ラ イ ン
図2( a ) LaNi4.5Al0.5 の水素固溶体相から水素化物相へ相変態が進行している水素吸蔵過程の時分割
X 線回折パターン．毎秒 1 フレームの速度で測定している．右に示した時間は試料セルに水素を導入してからの経過時間．( b ) 100秒経過時の回折パターンの Rietveld 解析結果．

BL14B1 においては水素放出過程における局所構造変化と水素放出温度特性とを直接的に関連付けるために， XAFS 測定とガス質量分析を同時測定するシステムを構築した．このシステムを利用した研究例として，ここでは Mg ( BH4 )2 への Ti 化合物添加効果について紹介したい．
Mg ( BH4 )2 は 15 もの高い水素重量密度を持つ有力な水以下での水素吸蔵過程の時分割 X 線回折測定によって中間素貯蔵材料候補の 1 つであるが，水素放出温度が350°C程度状態が観測されているが(15)(17) ， LaNi4.5Al0.5 においては本であるため，実用化するにはこれを大幅に低下させる必要が研究によって LaNi5 と同じように中間相が過渡的に形成さある．Mg(BH4)2 に対して TiCl3 を添加させると，水素放出れることが示された．図(a)に固溶体相から水素化物相へ開始温度が大きく低下し150°C程度になることが Li らにより相変態が進行している過程の時分割 X 線回折パターンを示明らかにされた(20) ．しかしながら添加物がどのように水素す．時間は試料セルに水素を導入してからの経過時間であ放出温度低下に寄与するかは不明であった．そこで本研究でる．試料セルの窓材としてカプトンを使用しているため，試は 10 mol  TiCl3 を添加した Mg ( BH4)2 に対して XAFS 測料以外の回折は出現しない．そのため相変態を明瞭に捉える定を実施し，微量添加物である TiCl3 の効果について調べことが可能であり，構造解析が容易になる．図 2(b )にはそた(21) ． XAFS と水素放出曲線の同時測定の結果を図に示の解析の一例を示すが，固溶体と水素化物の中間の格子体積す．水素放出曲線には100150°Cの低温放出ピークと，350を持つ中間状態が形成されていることが分かる．

370 °
C の高温放出ピークが存在する． TiCl3 添加によって低中間状態の形成がその水素吸蔵放出速度に影響を及ぼす可温放出ピークが新たに現れるが，高温放出ピークの出現温度能性は否定できない．過渡的な状態を経由することによる反は無添加の Mg ( BH4 )2 とほとんど同じである． XAFS 測定応速度への影響についてはさらに研究を進める必要がある．

によって得られた Ti 吸収端エネルギーに着目すると，100

この合金系に限らず，放射光を利用した時分割 X 線回折に150°Cにかけて大きく変化しており，水素放出曲線の低温放よる構造研究は，水素を吸収しているまさにその過程では実出ピークに位置も幅もほぼ一致する．一方で高温放出ピーク

際どのような変化が生じているか，そこには反応速度等に影に対応する温度領域では Ti 吸収端位置がほとんど変化して響を及ぼす因子が潜んでいるのか，という平衡圧下の測定だ

いない．XAFS スペクトルの詳細な解析の結果，Mg(BH4)2けでは分からなかった疑問の解明に有効なことは間違いない．の中に Ti が部分的に入り込み，一部の Ti が Ti(BH4)3 の局所構造を取っていることが明らかになった．水素放出温度の.

X 線吸収分光によるその場観察

低 下 は 局 所 的 な Ti ( BH4 )3 の 分 解 に 起 因 し て い る こ と がXAFS 測定により示された．

X 線吸収分光法である X 線吸収微細構造(Xray Absorp-

また添加された TiCl3 は 10 mol の量であったのにもかtion Fine Structure, XAFS)測定では，前述の X 線回折法でかわらず，低温放出ピークで生じている水素量は全体の 3は長距離秩序を持った結晶の平均構造が得られるのに対して，割ほどに達している点にも注目したい．これは Mg ( BH4 )2subnm 程度の結合距離以内のみに敏感な局所構造に関する内に固溶した Ti は配位している[ BH4 ]－ を分解して水素を情報が得られる．このため，溶液，アモルファス，微粒子等

放 出 さ せ る の み な ら ず ， そ の 周 辺 の Mg に 配 位 し て い るの，長距離秩序構造を持たない物質に対して，大きな威力を[BH4]－ からもある程度水素を放出させることを示唆してい発揮する手法である．また元素選択的であるため，複数の元る．これは添加物の影響が添加量以上にその周囲にまで及ん素からなる物質に対しても，ある特定の元素に対する局所構でいると考えることができる．

ま て り あ 第52巻 第 7 号(2013)
Materia Japan




図4

図310 molTiCl3 を添加した Mg(BH4)2 の水素放出過程の Ti 吸収端での XAFS 測定と水素放出曲線の同時測定結果．

Al と AlH3 の軟 X 線発光分光スペクトルと内殻吸収分光スペクトル．

ク的な電子状態を有効に調べることができる．一方で吸収分光では非占有準位伝導帯の電子状態が実験的に得られる．この場合も全蛍光収量法を用いて測定を行うことにより，絶縁体試料のバルクの電子状態を測定することが可能となる．こ

水素放出特性の改善を目論んで微量に添加された TiCl3 はれらの手法を代表的な軽元素系水素化物である AlH3(22) とボールミリングによる混合によって Ti(BH4)3 といった異なLiNH2(23) に適用し，その電子状態を実験的に調べることにる局所構造に変質していた．自らの構造を大きく変化させる成功した．ここでは AlH3 の結果について紹介したい．

TiCl3 という添加物は，触媒の元々の定義である「自らの状AlH3 の電子状態については，多数の理論研究があるにも態を変化させずに反応を促進させるもの」には当てはまらなかかわらず，イオン結合的か共有結合的かという問題の決着い．しかし，微量添加物による性能向上を広い意味での触媒がついていなかった．実験的にその解決を図るため水素原子と捉え，「自らの形を積極的に変えて材料内に侵入し性能のとの結合に重要な役割を果たすと考えられる Al 3p 電子状態向上をもたらす」という，より進んだ概念を構築することがに注目し，軟 X 線発光分光および吸収分光実験をビームラ可能であると考えている．

イ ン BL27SU に お い て 実 施 し た ． 図  に 測 定 し た Al とAlH3 の発光スペクトルと吸収スペクトルを示す．これらは

.

軟 X 線分光法による電子状態の解明

Al 3p 電子状態を反映しているが，Al と AlH3 のスペクトルには主に 2 点の明確な違いが観測された．一つは Al に比べここまでは一般的に良く利用されている X 線回折法およ

AlH3 は Al 3p 電子状態の状態密度が増加していること(矢印び XAFS 法による構造研究を紹介してきた．ここでは，放 )，もう一つは AlH3 にはエネルギーギャップが形成され◯射光を利用研究の一つの特長である電子状態研究について紹 )である．仮に AlH3 がイオン結合性であていること(矢印◯介したい．

れば，電気陰性度が Al よりも大きい水素に Al 3p 電子が移

軽元素系水素化物は高重量密度を持つ水素貯蔵材料の候補動するため Al 3p の状態密度が減少すると予想されるが，実として期待されている．軽元素系水素化物は一般に絶縁体で験結果はその逆である．したがって完全なイオン結合であるあるため，電子状態の代表的な研究手法である光電子分光法という描像は本結果によって直ちに否定されることになる．

は試料の帯電による影響のため困難であり，実験的な研究例これまでの理論研究では AlH3 だけを対象にしており，母はほとんど見られない．このような絶縁体の軽元素系水素化物質である Al との比較で電子状態がどのように変化するか物の電子状態研究に対して，軟 X 線発光分光および全蛍光を調べていなかった．実験の結果を踏まえ，Al 金属と AlH3収量法による軟 X 線吸収分光法を適用しその有効性を示すの電子状態をバンド計算でそれぞれ求め，Al 3p 電子状態がことに成功した．

どのように変化するのかを調べた．その結果，水素化物が形発光分光法では占有状態，吸収分光法では非占有状態の部成されることにより Al 3p 電子の増加，エネルギーギャップ分状態密度を得ることができる．軟 X 線発光分光は物質にの形成という実験結果を定性的に説明できることが明らかに軟 X 線を照射することにより生成された内殻正孔に価電子な っ た ． こ の 結 果 は AlH3 で の Al と 水 素 の 結 合 に お い て

帯から電子が遷移した際に放出する蛍光のエネルギー分布をは，共有結合が重要な役割を果たしていることを示すもので分析することにより，価電子帯の電子状態を実験的に調べるある．

測定手法である．放出された光を検出する測定のため，絶縁

軟 X 線発光分光および全蛍光収量法による吸収分光によ体に対しても測定を行うことが可能である．固体中への軟って，これまで電子状態の測定が困難であった絶縁体の軽金

X 線の侵入深さは数十から数百 nm であるため，固体のバル属水素化物の電子状態を初めて実験的に明らかにすることがミ ニ 特 集できた．これらの分光法は，電子状態の測定法の中では検出深さが深く，今後様々な試料形態を持つ水素化物の電子状態の研究において威力を発揮するものと期待される．また得られた実験的な電子構造解析結果を理論計算に利用することでシミュレーションの精度を大幅に上げる効果も期待できる．

.

ま とめ

放射光を利用した水素貯蔵材料の研究について， X 線回折 ， XAFS ， 軟 X 線 分 光 に よ る 幾 つ か の 研 究 例 を 紹 介 した．材料研究全体を見ても放射光の重要度は増してきている．その中で水素貯蔵材料研究に放射光の特徴を活かしたその場観察や電子状態測定を適用することによって新しい知見を得ることができたことは，水素関係材料研究に放射光測定技術が有効であることを示すと同時に，まだ隠れている特性を引き出すことができる可能性も示すものである．本稿では紹介できなかった放射光メスバウアー分光(24)(25)や表面光電子分光(26) 等によるその場観察手法の開発や多数の実験結果が本事業の成果として報告することができた．それらを含め，これまでに培った測定手法・技術が水素関係材料研究に広く活用されることを期待している．
本稿で紹介した研究は HYDROSTAR プロジェクトのもと NEDO の委託を受けて実施されたものである．放射光利用研究はその関係者多くの協力によってなされたものである．ここに感謝の意を示したい．また本稿で紹介した放射光利用実験は SPring 8 の実験課題 2007B3609,

2008A3604,2008B3612,

2008B3619,2009A3616( 以 上 BL14B1 ) ,2010A3703,2010B3702,

2011A3703( 以 上 BL22XU ) ,(10) H. Saitoh, Y. Okajima, Y. Yoneda, A. Machida, D. Kawana, T.
Watanuki, Y. Katayama and K. Aoki: J. Alloys Compd., 496(2010), L25L28.
( 11 ) 齋藤寛之，町田晃彦，片山芳則，青木勝敏，秋葉悦男日本
金属学会誌，76(2012), 139143.
(12) Y. Nakamura, K. Oguro, I. Uehara and E. Akiba: J. Alloys
Compd., 298(2000), 138145.
(13) K. Sakaki, E. Akiba, M. Mizuno, H. Araki and Y. Shirai: J.
Alloys Compd., 473(2009), 8793.
(14) S. Ono, K. Nomura, E. Akiba and H. Uruno: J. LessCommonMet., 113(1985), 113117.
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(17) E. MacA. Gray, T. P. Blach, M. P. Pitt and D. J. Cookson: J.
Alloys Compd., 509(2011), 16301635.
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Taniguchi, M. Uenishi and H. Tanaka: J. Phys.: Conf. Ser.,
190(2009), 012154.
(19) D. Matsumura, Y. Nishihata, J. Mizuki, M. Taniguchi, M.
Uenishi and H. Tanaka: J. Appl. Phys., 107(2010), 124319.
(20) H.W. Li, K. Kikuchi, Y. Nakamori, K. Miwa, S. Towata andS. Orimo: Scr. Mater., 57(2007), 679682.
(21) D. Matsumura, T. Ohyama, Y. Okajima, Y. Nishihata, H.W.
Li and S. Orimo: Mater. Trans., 52(2011), 635640.
(22) Y. Takeda, Y. Saitoh, H. Saitoh, A. Machida, K. Aoki, H.
Yamagami, T. Muro, Y. Kato and T. Kinoshita: Phys. Rev. B,
84(2011), 153102.
(23) N. Kamakura, Y. Takeda, Y. Saitoh, H. Yamagami, M.
Tsubota, B. Paik, T. Ichikawa, Y. Kojima, T. Muro, Y. Katoand T. Kinoshita: Phys. Rev. B, 83(2011), 033103.
(24) T. Mitsui, N. Hirao, Y. Ohishi, R. Masuda, Y. Nakamura, H.
Enoki, K. Sakakie and M. Seto: J. Synchrotron Rad., 16(2009), 723
729.
(25) R. Masuda, T. Mitsui, K. Ito, Y. Kobayashi, S. Kitao and M.
Seto: J. Phys. Soc. Jpn, 81(2012), 034714.
(26) J. R. Harries, Y. Teraoka, M. Tode and A. Yoshigoe: Appl.
Phys. Express, 5(2012), 031802.
★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★

2008B2195 (BL27SU)で実施された．

文献( 1 ) L. Schlapbach and A. Z äuttel: Nature, 414(2001), 353
358.
( 2 ) T. Noritake, M. Aoki, S. Towata, Y. Seno, Y. Hirose, E.
Nishibori, M. Takata and M. Sakata: Appl. Phys. Lett., 81(2002), 2008
2010.
( 3 ) A. Kamegawa, Y. Goto, R. Kataoka, H. Takamura and M.
Okada: Renewable Energy, 33(2008), 221225.
( 4 ) 竹市信彦，田中秀明，栗山信宏高圧力の科学と技術， 17(2007), 257
263.
( 5 ) 京井大典，亀川厚則，高村 仁，岡田益男，北村直之，境哲男高圧力の科学と技術，17(2007), 264270.
( 6 ) H. Saitoh, A. Machida, Y. Katayama and K. Aoki: Appl. Phys.
Lett., 93(2008), 151918.
( 7 ) 齋藤寛之高圧力の科学と技術，20(2010), 166174.
( 8 ) 齋藤寛之，町田晃彦，片山芳則，青木勝敏セラミックス，38(2011), 5561.
( 9 ) H. Saitoh, A. Machida, Y. Katayama and K. Aoki: Appl. Phys.
Lett., 94(2009), 151915.

ま て り あ 第52巻 第 7 号(2013)
Materia Japan

町田晃彦

2001年 4 月 日本学術振興会特別研究員(DC2)2002 年 3 月 名古屋大学大学院工学研究科博士課程後期課程修了
2002 年 4 月 日本原子力研究所 放射光科学研究センター 研究員
2005 年 10 月 日本原子力研究開発機構 量子ビーム応用研究部門 研究員
現職
2011年10月
専門分野構造物性，高圧物質科学◎放射光および中性子を利用した高圧力下における構造研究に従事．最近は時分割放射光 X 線回折による水素化過程の構造研究にも取り組んでいる．

★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★★

齋藤寛之

松村大樹

竹田幸治


