干渉除去により究極の性能を実現する
MS/MS テクノロジー
Agilent 8900 トリプル四重極 ICP-MS

分析結果にさらなる確信をもたらす ICP-MS
第 2 世代の Agilent 8900 ICP-QQQ はより確実

第 2 世代の Agilent 8900 ICP-QQQ は、幅広い機器構成により、分析ラボのルーチン分析から高度 な研究や高性能の材かつ容易な干渉除去を実現します。

2012 年、アジレントは MS/MS 機能を備えた世界初のトリプル四重極 ICP-MS（ICP-QQQ）、Agilent 8800 を発売しました。

この画期的 な機器により、世界中の数百ものラボに新たな分析の可能性が切り開かれました。

料分析まで、多様なアプリケーションで威力を発揮します。業界をリードするアジレントの四重極 ICP-MS システムが備えるヘリウムモードの優れた性能と生産性を引き継ぎつつ、さらにMS/MS モードを搭載することで、リアクションモードでの干渉除去をより一層確実なものにします。Agilent 8900 ICP QQQ
は、世界最高レベルの性能と柔軟性を兼ね備えています。

リアクションガスメソッドにおける MS/MS の利点
シングル四重極 ICP-MS

イオンガイド*質量数の選択機能なし

リアクションセル

オンマス干渉イオンを除去しますが、反応性の低い干渉物はそのまま残され、新しいプロダクトイオンが生成される可能性があります

すべてのイオンがセルに入ります

四重極マスアナライザ

分析対象物と同じ質量数のイオンをすべて検出器に向けて通過させます

多数のイオンと反応プロダクトイオンがセルで生成されます

干渉イオンとプロダクトイオンが測定信号として検出されるため、ばらつきや不正確な結果につながります* 四重極イオンガイドは低質量カットオフあるいはバンドパスフィルタとして使用でき、すべてではないものの、一部のノンターゲットイオンを排除します

Agilent トリプル四重極 ICP-MS と MS/MS
四重極マスフィルタ（Q1）セルに入る前にすべてのオフマスイオンを排除します

リアクションセル

化学反応を使用してオンマス干渉イオンから分析対象物を分離します

分析対象物とオンマス干渉イオンのみがセルに入ります2

四重極マスフィルタ（Q2）オフマスイオンを排除し、干渉を受けない分析対象物を検出器に向けて通過させます

分析対象イオン（およびオフマスイオン/プロダクトイオン）のみがセルで生成されます

ターゲットの分析対象イオンおよびターゲットイオンのプロダクトイオンのみが信号として検出されるため、正確で一貫性のある結果が得られます実績に裏付けられた ICP-QQQ 技術
アジレント独自のトリプル四重極 ICP-MS の MS/MS が世界中のラボの可能性を広げます。

半導体と材料

環境分析

ライフサイエンスおよびバイオ医薬品定することは、かつてないほど重要になっプチドを正確 に 定量することができます。

半導体 の製造では、プロセスで用 いられ環境中の微量濃度の汚染物質を正確に測きな問題になります。ICP-QQQ により、原ています。Agilent ICP-QQQ メソッドは 検

そのためには、MS/MS モードを使用して、濃度で存在する超微量汚染物質 をモニタため、希土類元素や放射性核種 などの新で正確に測定します。

欠陥率を最小限に抑えることができます。

グするには不可欠です。

る試薬や材料の溶解金属や異物粒子が大材料、バルク試薬、ウェハ処理において低リングすることで、製品 の 歩留りを高 め、出下限 が非常 に低く結果の信頼性 が高い

たな汚染物質を超微量レベルでモニタリン

食品

ナノ粒子

干渉 を効果的 に除去できるため、食品 サ粒子（NP）の測定 に対する関心 が高まっ

ICP-QQQ では、多原子および二価イオン環境、食品、および生物系に存在するナノンプルに低濃度で含まれるヒ素やセレンをています。ところが、シリカおよびチタン由

ICP-QQQ の優 れた感度により、これまで重極 ICP-MS での測定 は 容易ではありま分析が可能になります。

ら、複雑なサンプルに含まれる 50 nm 未より正確に測定することができます。また、以上に低濃度でのヒ素のスペシエーション

ICP-QQQ により、未知のタンパク質やペ硫黄 およびリンなどヘテロ 元素 を低濃度研究用途 のみ。診断目的では 使用できません。

地質学

アジレントの ICP-QQQ のリアクションセル
ケミストリでは、直接干渉する同重体を分離できます。鉛 204 に干渉する水銀 204、来の NP は粒子サイズが非常に小さく、四ルビジウムおよびストロンチウム 87、ハフせん。MS/MS 機能を備えた ICP-QQQ なびルテチウム 176 など、地質年代学で重満の NP の特性分析も可能です。

ニウム 176 に干渉するイッテルビウムおよ要となる同位体時計を利用できるようになります。この分離能は、二重収束型高分解能 ICP-MS で得られる性能 をはるかに超えています。

3

ICP-MS/MS がもたらす信頼の性能
Agilent 8900 ICP-QQQ は、既存の多元素分析を行う ICP-MS アプリケーションで卓越した性能を発揮します。

また、従来の ICP-MS では不可能だった分析も可能になります。これまで分析困難だった元素の低い検出下限、同重体干渉の解決、新たに注目されているナノスケール物質の微量分析などにより、ICP-MS のアプリケーションに新たな可能性が切り開かれます。

Si および S の超微量分析

Si および S は 多原子干渉を受けやすく、従来の四重極 ICPMS では ng/L （ppt）レベルの 測 定 は 不 可 能 でした。ICPQQQ なら、MS/MS と反応性の高いセルガスを用いることで、きわめて高い信頼性で干渉を解決することができます。8900
ICP-QQQ の高度なアプリケーション向けおよび半導体向けの構成では、新たなガスフローシステムにより Si および S の汚染を最小限に抑え、シリコンおよび硫黄のバックグラウンド信号をきわめて厳密にコントロールすることができます。

下図の検量線は、8900 ICP-QQQ で MS/MS モードと O2 セルガスを使用した場合に、Si（上）と S（下）の検出下限（DL）が 10 ng/L 未満であることを示しています。

CPS

公称分解能 1 amu で動作する ICP-QQQ によって、二重収束型高分解能（HR） ICP-MS より格段 に優 れた分解能 が実現されるのはなぜなのでしょう。その答えは、MS/MS を用いた化学反応 の 選択性 にあります。ICP-QQQ の MS/MS モード
では、特定の元素とのみ反応するセルガスを選択することで、同重体干渉、すなわち204Hg に干渉する 204Pb のように、質量数は同じでも元素が異なる原子種を分離することができます。
こういった同重体の分離には、通常であれば、一般的な HRICP-MS の能力をはるかに超える質量分解能（M/DM）が必要になります。
地球化学、地質年代学、および核科学分野のアプリケーションには、同重体干渉によって正確な分析が困難になるものがあります。地質年代学の例としては、176Hf/177Hf 比の正確な測定、Pb/Pb および Pb/U の年代測定、Rb-Sr 比の分析などがあり

Si28 ➝ 44 si [02]x105同重体干渉の解決ます。核科学では、93Zr、151Sm、129I などの放射性同位体が別の元素の天然同位体とオーバーラップすることがよくあります。

y = 42320.7714 * x + 11108.6180
R = 0.9999DL = 0.009545 ppb
BEC = 0.2625 ppb

同重体は ICP-MS/MS と反応性セルガスで分離できます。

4205.0Conc (ppb)

10.0以下のスペクトルは、Agilent 8900 ICP-QQQ により、Hf をプロダクトイオン Hf （NH2）（NH3） 4+ として測定した結果です。MS/MS を用 いることで、m/z 176 で干渉する可能性 のある Lu、Yb、およびその他のマトリックス元素の存在下でも、176/177
Hf 同位体比を正確に測定することができます。

x105

Tune mode = NH3 : 005SMPL.d-004SMPL.dS
32 ➝ 48 S [02]CPSy = 22744.7396 * x + 1715.8070
R = 0.9999
DL = 0.005491 ppb
BEC = 0.07544 ppb

CPSx105
30.5Hf21025505.04Conc (ppb)

10.0256257258 259

260 261 262
Q2 mass

263 264265266267MS/MS による硫黄および硫黄同位体比の正確な分析

S は、O2 セルガスを使用することにより、プロダクトイオン
SO+ として m/z 48（主同位体 32S）、49、および 50 で測定できます。複数の同位体を測定することで、S の同位体比の分析と同位体希釈法（ID）を用いた正確な定量が可能になります。
下図に示すように、このアプリケーションでは、MS/MS を使用しないで SO+ プロダクトイオンが測定された場合に、炭素、カルシウム、およびチタンが干渉する可能性があるため、8900
ICP-QQQ の MS/MS モードが不可欠です。

x106

8900 ICP-QQQ は、わずか 0.1 ms のドウェルタイムで超高感度の高速時間分析（TRA）に対応できます。感度と高速性 を効果的 な干渉除去と組み合 わせることで既存のナノ粒子分析の可能性が広がり、Si、S、Fe、Ti などの粒子の分析も可能になります。これらのナノ粒子は、四重極 ICP-MS では測定困難です。

以下の例に示すように、50 nm の SiO2 NPs とブランク超純水の信号を容易に区別することができます（A）。周波数分布をプロットし（B）、粒子サイズを正確に測定することができます（C）。

Tune mode = SQ O2 : 002SMPL.d
Overlaid Data
002SMPL.d
007SMPL.d
011SMPL.d012SMPL.d

Ax106x1054

Deionized water

11.00.5

Response (cps)

CPS

1.5

単一粒子/セル ICP-MS（sp/scICP-MS）によるナノ粒子（NP）の特性解析

SO42434445464748 49
Q2 mass

505152535455

26.88

26.92x1054

50 nm SiO2 NPS

20021.60

21.64

Time (s)

21.68

21.72

1000000

10000000

B300

Frequency

SOCPS

2Signal (cps)0.5Tune mode = MSMS : 002SMPL.d
Overlaid Data
002SMPL.d
007SMPL.d
011SMPL.d012SMPL.d

26.84

26.80

1MS/MS を使用しない場合、Ca（緑）、Ti（ピンク）、および C（青）によるSO+ プロダクトイオンへの干渉が生じます。
x105

00x106

0

20.5

1200

100010000

100000043

4445464748 49
Q2 mass

505152535455

MS/MS を使用すると、Ca+、Ti+、および C+ イオンが Q1 で排除されるため干渉が生じず、正確かつ一貫性のある SO+ プロダクトイオンの測定結果が得られます。

CNormalized Frequency42Signal (cps)10050050100Particle Size (nm)1502005干渉除去により究極の性能を実現する MS/MS テクノロジー
超高マトリックス導入（UHMI）

UHMI によりマトリックス耐性が高まり、総溶解固形分（TDS） 25 % までのサンプルに対応できるようになります。UHMI は 8900 の標準仕様およびアドバンス仕様に標準搭載されています。マトリックス抑制 が解消され、高マトリックスサンプルのルーチン分析が可能になります。

サンプル導入低流量 のペルチェ冷却 サンプル 導入 システムがサンプルの安定性と一貫性を確保します。オプションのインテグレートサンプル導入システム（ISIS 3）を用 いてピストンポンプと 7 ポートスイッチングバルブを追加すれば、高速 ISIS-DS 測定が可能になります。

ガス制御部

プラズマガス用の 4 チャネルのアルゴンマスフローコントロール。高度なアプリケーション向けおよび半導体向けの構成には、第 5（オプション）ガスコントローラと Si/S 汚染を抑えたアルゴン流路 が搭載されています。

27 MHz プラズマ RF ジェネレータ

高速の周波数マッチング RF ジェネレータがきわめて高い出力伝達効率を実現します。揮発性有機溶媒などのサンプルマトリックスの変化にも対応できます。

プラズマおよびシールドトーチシステム（STS）

高エネルギーを供給することで効果的にマトリックスを分解し、厳密なイオンエネルギー制御により、ヘリウムモードでの効率的な干渉除去を可能にします。トーチは、日常のメンテナンス後に自動的にアライメントが行われます。

インターフェースコーン

Ni または Pt 製のコーンが卓越したマトリックス耐性と感度を実現します。日常のメンテナンス時に容易に取り外せるネジ構造です。

イオンレンズ

2 つの引き出しレンズとオフアクシスオメガレンズが、最適化された単一のインタフェースで優 れたイオン透過率とマトリックス耐性を実現します。イオンレンズは 高真空領域の外にあるため、定期メンテナンスの際のアクセス図にはオプションが含まれています。

詳細については、アジレントの担当者にお問い合わせください。

6が容易です。

最初の四重極マスフィルタ（Q1）高周波の双曲面四重極マスフィルタ。MS/MS モードでは、分解能が 0.7 u の Q1 において、ターゲット分析対象物と異なる質量数を持つイオンがすべて排除されるため、リアクションセルでの化学反応を制御できます。

第 4 世代オクタポールリアクションシステム（ORS4）

柔軟 なセルガスメソッドを可能にする 4チャネルのガスコントローラを搭載した温度制御コリジョンリアクションセル。
ヘリウム（He）モードで優 れた 性能 を発揮する他、MS/MS を使用したリアクションモードでは、干渉イオンを効果的かつ確実に抑制します。また、軸方向の加速機能（アドバンス仕様 および半導体仕様）により、高次プロダクトイオンの生成を抑え、分析感度を高めます。

エレクトロンマルチプライア検出器

デュアルモードのエレクトロンマルチプライアが最大 11 桁のダイナミックレンジを実現します。最小ドウェルタイムが短い（0.1 ms）ため、高速時間分析にも対応できます（Cap-LC、GC、単一ナノ粒子、単一細胞、およびレーザーアブレーションに最適）。

2 番目の四重極マスフィルタ（Q2）

2 番目の高周波双曲面四重極マスフィルタも、通常は 0.7 u の分解能で動作します。Q2 は、リアクションセル出口から送り込まれたイオンをフィルタリングし、ターゲットの分析対象イオン/プロダクトイオンのみを検出器へと送り出します。

真空システムスプリットフローターボポンプとターボポンプ（各 1 台）、および外付けロータリーポンプで構成される高性能 ポンプシステム。優 れた真空性能が 8900 ICP-QQQ の超高感度と低バックグラウンドを支IUPAC では、「トリプル四重極」（または QQQ）は、「直列する 2 つの透過型四重極で構成され、コリジョンセルとして機能する（イオンの選えており、MS/MS に必要な <1 u の分解能機能を Q1 で発揮できるようにしています。

択は行 わない） RF のみの四重極（またはその他の多重極）がその中間に位置する、タンデム質量分析計」として定義されています。IUPAC

2013 勧告、用語 538。

7

パワフルで柔軟、直感的な ICP-MS ソフトウェア
プリセットメソッドと自動化
ICP-MS MassHunter ソフトウェアは、直感的 なタスクナビ
ゲータとツールバーレイアウトを採用しているため、操作方法を短時間で習得し、簡単に使用できます。

– ホームタブから、スタートアップ、バッチ、取り込みキューなどの一般的な設定および操作機能に簡単にアクセスできます。

ICP-MS MassHunter のプリセットメソッドとレポートテンプレートを使用すれば、一般的 なアプリケーションのメソッドをわずか数クリックで設定できます。または、メソッドウィザードを使用して、サンプルの種類やアプリケーションをもとに最適なメソッドを新たに作成することもできます。オプションの ICP

Go のシンプルなユーザーインターフェースを使用すれば、ルーチンバッチ分析をこれまでになく簡単に行うことができます。

ICP-MS MassHunter ソフトウェアは、プラズマ点火後の自動– 取り込み画面には、チューニング設定、元素選択、取り込みパラメータの 機能 がまとめられています。IntelliQuant
Assistant によって各成分に適したセルモードが事前選択

スタートアップチェックから、メソッドの設定とシーケンス、積– シーケンス画面にはサンプルリストが表示されます。キュー

分に引き出せるシステムチェックが含まれています。

分データの解析、最終的なレポート作成まで、ICP-MS 分析を総合的にサポートします。ICP-MS MassHunter には、あらゆされるため、メソッド設定が容易です。

る分析ニーズに対応し、Agilent 8900 ICP-QQQ の性能を存

画面には、現在のタスクと予定されているタスク、現在のICP-MS MassHunter ソフトウェアの互換性

バッチ進捗状況、分析中のサンプルのリアルタイム取り込みモニタが表示されます。

– データ解析画面のデータバッチテーブルは、シーケンシングの進行に従ってリアルタイムに更新されます。データテーブ

ルはインタラクティブで、現在選択中のサンプルのスペクトルまたはクロマトグラム、内部標準と QC 回収率、および検量線が表示されます。

– カスタマイズ可能な外 れ値フラグと、LabQC チャート、添加回収率の機能、およびメソッド固有の性能レポートを利用できます。

医薬品製造 など 厳しい 規制 が 課 される 業界 では、ICP-MS

MassHunter ソ フ ト ウ ェ ア に Agilent OpenLab Server、ECM、または SDA を組み込むことにより、1 台のワークステーションから国際企業レベルの 環境 にまで対応できるデータセ

キュリティ、インテグリティ、トレーサビリティソリューションを実現できます。

ICP-MS MassHunter は、統計 にもとづいて ICP-MS デー
タセットを詳細 に 評価するためのツールが 含 まれる Agilent
Mass Profiler Professional（MPP）との互換性もあります。

MassHunter は、多様な Agilent MS プラットフォームに渡って 利用 できる共通 のソフトウェアです。Agilent 四重極 ICP-MS、ICP-QQQ、LC/MS、GC/MS 製品のトレーニングを簡略化することができます。

ICP-MS MassHunter のデータ解析画面。インタラクティブなバッチテーブル、外れ値フラグ、選択されているサンプルのスペクトル、およびキャリブレーションの要約が表示されています。

8

ナノ粒子分析とシングルセル分析のさらなる可能性
ナノ粒子およびシングルセル分析のプリセットメソッド

ICP-MS MassHunter の 単 一 ナノ粒 子 アプリケーションモ
ジュール （オプション）には、単一粒子分析（spICP-MS）用およびフィールドフロー 分離（FFF-ICP-MS）を用 いたナノ粒子分析用のプリセットメソッドが含まれています。単一細胞内統合 NP データ解析

オプションの 単一 ナノ粒子アプリケーションモジュールでは、NP または単一細胞信号を処理するための包括的 なデータ解
析ツールを利用できます。

ピーク積分モード（短い積分時間を使用し、各粒子信号「プの金属含有量の測定（scICP-MS）にも対応しています。

ルーム」に 渡って 複数 の 測定 を行う場合）およびシングルスザーが入力する値を使用して、重要メソッドの変数を計算しまのカリキュレータが含まれています。

spICP-MS メソッドウィザードは、前もって設定された値とユーす。粒子 のサイズと個数 のキャリブレーションは、spICP-MS

キャンモード（積分時間 が 粒子信号 の 期間より長 い場合）用

アジレント独自のアルゴリズムにより、微粒子をバックグラウンの特定のリファレンスサンプルの分析によって自動的に実行さド信号から明確に区別することができます。また、バックグラウ組み込みのツールによってネブライザ効率が計算されます。こ検出粒子サイズの推定も可能です。

れます。の値は、粒子数を計算し、測定された粒子信号を粒子サイズに変換するために必要になります。

ンド相当径の計算が自動的に実行されるため、メソッドの最小モジュールには 高速多元素ナノ粒子解析モードが組 み込まれており、1 回のサンプル取り込みで、ナノ粒子の多元素データを測定できます。

ICP-MS MassHunter の 単 一 ナノ粒 子 アプリケ ーションモジュール （オプション）には、単一粒子（上）モードまたはフィールドフロー 分離（FFF）モードのパラメータを自動的 に 設定 できるメソッドウィザードが搭載されています。統合データ解析では、ICP-MS
MassHunter のバッチテーブル（右）で生の信号を選択することにより、NP 特性解析の定量結果を確認できます。

9実績のスペシエーション機能

ICP-QQQ による統合スペシエーション

環境、食品の安全性、医薬品、一般消費財に関する規制の厳格化により、元素種を同定するだけでなく、その総濃度を定量する必要性がますます高まっています。アジレントは、LC、GC、CE、IC、FFF など、ICP-QQQ 用の統合スペシエーションシス

GC インタフェース

アジレント独自の GC-ICP-MS インターフェースは、インジェクタの先端まで加熱（最高 300 ºC）されるため、高沸点化合物のルーチン分析に最適です。柔軟なトランスファーラインとトーチインジェクタは 不活性 な材質（Sulfinert® 処理）を採用しテムおよびメソッドを幅広く提供しています。ています。この不活性度 は、 シロキサン分析や臭素化難燃剤対し、より低い検出下限要件を満たすためには、優れた感度とケーションに不可欠です。

石油化学アプリケーションにおいて、より幅広い分析対象物に分析、燃料中の硫黄種分析などの高度な GC-ICP-MS アプリ厳密な干渉抑制が必要です。また、ライフサイエンス分野のバクロマトグラムデータ解析ソフト

Cl などの元素を正確に定量分析できることが大きな成果につながります。それを可能 にするのが Agilent 8900 ICP-QQQす。積分パラメータを手動で入力する必要はありません。

イオ分析では、従来の四重極 ICP-MS では測定困難な S、P、です。

LC-ICP-MS キット

LC/IC は ICP-MS でのスペシエーション分析法として広く利用されています。アジレントは、キャピラリおよびナノフロー LC-ICP-MS、および従来の HPLC/IC-ICP-MS 用に、そのまま利用できる幅広いキットを提供しています。優 れた感度を備え、確実な干渉抑制を実現する Agilent 8900 ICP-QQQ は、高度なLC/IC-ICP-MS アプリケーションに最適なソリューションです。

10

Agile2 インテグレータでは、LC または GC のピークと同様に、パラメータ不要積分により正確で一貫したピーク検出を行えまオプションとアクセサリSPS 4 オートサンプラ

最大 360 のバイアルポジションを提供

インテグレートオートサンプラ（I-AS）

インテグレートサンプル導入システム（ISIS 3）

高いサンプルスループットのアプリケー

よび少量サンプル （0.5 mL）の分析にイッチングバルブにより、個別サンプリバーがほこりや空気中の汚染物質からク構成により、最大で 89 本のバイアルするラック構成 を備 えた、中程度 からション 適したサンプラです。一体型 カサンプルを守ります。

高純度半導体試料での超微量分析、お最適です。フレキシビリティの 高 いラッと 3 本の洗浄バイアルを搭載できます。

統合ソフトウェアによるサードパーティ製アクセサリの設定およびコントロール

サードパーティ製アクセサリのサプライヤは、ICP-MS MassHunter のソフトウェア開

高速取り込 みポンプおよび 7 ポートス

ングでサンプルあたり 1 分未満の高速分析が可能です。

アジレント部品と消耗品

きわめて厳しい仕様にもとづく製造によ発キット（SDK）を使用して、自社製品用のドライバを ICP-MS MassHunter ワーク

り最高レベルの品質が、また厳格 な試らシームレスに動作する、メソッド設定および実行コントロールインタフェースを実装されています。

フローに組み込むことができます。ICP-MS MassHunter ワークステーション PC かできます。

験により最高レベルの機器性能が実現

SDK プラグインにより、サードパーティ製アクセサリの機能が追加され、ICP-MS の操作の幅が広がります。

豊富なオプションとアクセサリ

ネブライザオプション：低流量、同軸型、耐フッ酸、パラレル型など、サンプルの種類やボリュームに応じて幅広いネブライザからお選びいただけます。

耐フッ酸導入キット：O-リングを使用しない PFA 製のキットが汚染レベルを低く抑えます。フッ酸に対する耐性があり、高純度試薬の分析にも適しています。

有機溶媒導入キット：多くの有機溶媒の分析に必要なサンプル導入パーツが含まれています。

レーザーアブレーション（LA-ICP-MS）：統合ソフトウェアコントロールにより、長い取り込み時間（24 時間以上）を必要とするイメージングアプリケーションなどのバルクおよび時間分析アプリケーションにおいて、固体サンプルを直接分析することができます。

フィールドフロー分離（FFF） Agilent 8900 ICP-QQQ と非対称フロー FFF （AF4）を組み合わせることで、サンプル中のナノ粒子の特性解析に最適な分離および検出アプローチが実現されます。

11

Agilent CrossLab「見えない価値」を「目に見える成果」へ

機器という枠を越えて、サービス、消耗品、ラボ全体のリソース管理から構成されるCrossLab は、ラボの効率の向上、運用の最適化、機器の稼働時間の延長、ユーザースキルの開発などを支援します。

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カストマコンタクトセンタ

0120-477-111

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本製品は一般的な実験用途での使用を想定しており、医薬品医療機器等法に基づく登録を行っておりません。

本文書に記載の情報、説明、製品仕様等は予告なしに変更されることがあります。

アジレント・テクノロジー株式会社© Agilent Technologies, Inc. 2020
Printed in Japan, November 9, 2020
5991-6900JAJP
DE44140.8991435185