Utmost IV

デバイス特性の解析と SPICE モデリング概要

長年の経験に基づき構築された Utmost IV は、デバイスのキャラクタライズ、およびアナログ /RF 用途の高精度なコンパクト・モデル、マクロ・モデル、Verilog-A モデルの生成が可能な、強力で使いやすいツールです。

特長•••あらゆるデバイス・タイプに対応した、自動測定とSPICEモデル抽出

 00種類以上の測定器をサポートし、
1
すべての測定をフルコン
トロール

 ープン・アーキテクチャの機器ドライバは、ユーザーによる修オ正や作成が可能• コ
 ンパクト・モデル、マクロ・モデル、Verilog-A SPICEモデルを抽出
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直接抽出とパラメータの最適化技法を組み合わせて使用

 出データ値を含む、あらゆるデータの組み合わせをシミュレ
抽ーションおよび最適化可能

データ収集モジュールによるデバイス測 定•

あらゆるタイプの半導体デバイスに対応
•

再利用率向上のため、測定の設定に変数を使用可能
•
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測定を実施し、すべての測定条件を制御測定シーケンスに抽出を組み込むことで、測定の抽出結果を
別の測定条件に使用可能
100 を超える測定機器に対応

 ープン・インタフェースにより、ユーザーは機器のドライバのオ新規作成や修正が可能

シミュレーションからもデータの生成が可能であるため、モデ
ルタイプの変換に有用遺伝的アルゴリズムを含む先進のオプティマイザ群
高速マルチスレッドSmartSpiceインタフェース

SmartSpice、 HSPICE、Eldo、Spectre、LTSpice、QSpiceシ
ミュレータに対応

Verilog-Aモデルと抽出シーケンスを同時に開発可能なプラットフォーム
TCADツールとの統合により、プロセス・シミュレーションからSPICEモデル開発まで一貫したフローを実現
データをファイルまたはデータベースに保存 irebird リレーショナル・データベースによるデータの保存、F共有、再利用も選択可能

フレキシブルで使いやすいインタフェースにより、測定の設定が可能

Utmost IIIのレガシー・データ、TCADシミュレーション・ファイ
ル、サードパーティ製データ・ファイルから容易にデータをインポート

完全自動化された測定シーケンス

オプティマイズ・モジュールによる SPICE モデル生成•

直接パラメータ抽出とパラメータ最適化の組み合わせにより、
SPICE モデルを生成•

あらゆるテクノロジに対応•

SmartSpice
シミュレータへの高速インタフェースにより、1秒間に数百回のシミュレーションが可能• コンパクト・モデル、マクロ・モデル、Verilog-A モデル抽出に対応• マクロ・モデル使用時でも高速シミュレーションを維持

•

最適化を行うターゲット・データの組み合わせを選択可能•

デバイス性能指数のプロッ
ト、シミュレーション、最適化が可能• しきい値電圧など、デバイスのあらゆる性能指数を抽出し表示•••

最適化シーケンスにより、SPICE

モデル生成モードの完全自動化を実現

ラバーバンド・オプティマイズではパラメータを無制限に選択可能

インタラクティブなラバーバンド・スライダにより、シミュレー
ションした特性のモデル・パラメータ変更の効果をすぐに表示可能
下記の先進ローカル/ グローバル・オプティマイザ群に対応•Levenberg-Marquardt
•Genetic
Optimizer••••

Hooke-JeevesSimulatedAnnealing
Parallel
TemperingDifferential
Evolution• ハイブリッド・オプティマイズは、グローバル・オプティマイザ
のパワーとローカル・オプティマイザの速度を融合••モデルのパラメータを値または記述式により設定可能

記述式で設定されたパラメータを含む、
階層SPICE ライブラリ・ファイルからモデルを直接インポート可能• プロセス・コーナー・モデルまたはその他の複雑なモデル・
フォーマットをインポートしシミュレート可能•

ターゲットをすべて波形表示 / 最適化

外部モデル・ライブラリを使用したシミュレーションが可能

コーナー＆リターゲティング・モジュール• コーナーモデルの作成と既存モデルの再ターゲットが可能• 電気試験（ET）データテーブルとトレンドプロットを使用した迅
速なモデルチューニング
• 柔軟なターゲットと測定条件の定義• 高速シミュレーションエンジン• 最適化シーケンスとインタラクティブに動作するラバーバンド• ビンモデルとポイントモデルのサポート

クイック・スタート・テンプレート• ユーザのデータに合わせた最適化プロジェクトの作成を支援• テンプレートに基づいて簡単にプロジェクトを設定• 正確なモデルカードを素早く作成• 経験豊富なユーザーによるプロジェクトの微調整Verilog-A モデルの開発と抽出技法

リレーショナル・データベースによる作業環境の整備•

Utmost
IV は Verilog-A モデル開発ツールとして最適•

測定、TCAD
プロセス・シミュレーションおよびその他のSPICE モデル・シミュレーションを含むソースからのデータを使用し、新しい Verilog-A モデル・コードとパラメータを開発•

モデルのバージョン比較が可能


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Verilog-A
モデル・コードを修正し、シミュレーションした特性に対する効果をすぐに確認可能

インタラクティブなラバーバンド・スライダにより、パラメータ
の制限値を短時間で検討可能•

Verilog-A
モデルとモデル抽出技法の並行開発が可能•

複雑なファイルシステムによる多数のファイル保管やファ
イルの重複を回避
情報へのアクセスを、ユーザーやグループ単位の許可設定
で完全に制御可能
データの共有や検索が簡単

実績ある
Borland Firebird リレーショナル・データベースを使用

スクリプト・モジュールを使用した自動化のカスタマイズ

TCAD デジタル・ツイン・シミュレーションによるSPICE モデルの生成•

一般的なファイル・ストレージのほか、リレーショナル・
データベースによる測定データと プロジェクトの保存が可能

•


TCAD
プロセス・シミュレーションから SPICE モデル生成への完全なフロー (DTCO/FTCO)•• プロセス立ち上げ前でも設計者に「レベル 0」の SPICEモデルを提供••

あらゆる測定、シミュレーション、抽出、最適化を実行• すべてのデータベースやファイルへのアクセスが可能•• プロセスの変更による回路性能の変化を予測•Utmost
IV のパワーと JavaScript プ ロ グラミング言語のカ
スタマイズしやすさを結合

TCAD シミュレーションとプロセスの測定データを比較可能

TCAD
と測定データを組み合わせて SPICE モデルを開発

データ収集プロジェクトまたはオプティマイズ・プロジェクト
のスクリプト・バージョンのエクスポートにより、短期間のスクリプト開発が可能

DeckBuild/Victory DOE ツールとシームレスに連携

SPICE シミュレータ

Utmost III
レガシー・データ
TCAD
シミュレーション・データ

他社データ

測定機器

Utmost IV
入力/出力

ファイル・システム

Firebird
リレーショナル・データベース

デバイス測定SPICE モデル
コーナー・モデル

使用できる測定機器
DC Instruments

Scanners (con’t)

Probers (con’t)

agilent_b1500

LCR (Capacitance)
Instruments (con’t)

hp_3235

signatone_wavelink_350

agilent_b1505

keithley_590

hp_3488

tokyo_seimitsu_3000

agilent_e5260

keithley_595

hp_3495

tokyo_seimitsu_4000

agilent_e5270

keysight_b1500

hp_3852

tokyo_seimitsu_5000

agilent_hp_4155a

keysight_b1505

hp_4084

tokyo_seimitsu_6000

agilent_hp_4155b

quadtech_7600

hp_4085

tokyo_seimitsu_amp90aagilent_hp_4155c

hp_4086

wentworth_uk

agilent_hp_4156akeithley_7001

wentworth_us

agilent_hp_4156b

AC (s-parameter)keithley_7002

agilent_hp_4156c

Instrumentskeithley_705

hp_4141

agilent_ena

keithley_706

Thermal Controllers

hp_4142agilent_pna

keithley_707

cascade_velox

hp_4145

anritsu_37xxxD

keithley_708

delta_9010

keithley_4200

hp_8510ckeysight_b2200

delta_9388

keysight_b1500

hp_8719d

keysight_b2201

electroglas_tc2000

keysight_b1505

hp_8719es

keysight_e5250

ers_sp53

keysight_e5260

hp_8720d

ers_sp62

keysight_e5270

hp_8720es

etac_fx4050

tektronic_370

hp_8722d

Probers

micronics_wec10

tektronic_371

hp_8722es

alessi_rel2500

ransco_900

hp_8753a

alessi_rel4500

temptronic_tp03000

LCR (Capacitance)
Instruments

hp_8753b

alessi_rel5500

temptronic_tp03100

hp_8753c

alessi_rel6171

temptronic_tp04100

agilent_b1500

hp_8753d

cascade_summit_11500

tenney_junioragilent_b1505

hp_8753ecascade_summit_12000

thermonics_t2420

agilent_e4980

hp_8753es

electroglas_1034

thermonics_t2500

hp_4274

keysight_ena

electroglas_2001

thermonics_t2600

hp_4275

keysight_pna

electroglas_4080

thermonics_t2820

hp_4276

rohde_schwarz_znb

electroglas_commander

thermotronkarl_suss_pa200

triotech_tc1000
triotech_tc2800

hp_4277
hp_4279

Scanners

karl_suss_pe100

hp_4280

agilent_b2200

mpi_sentio

hp_4284

agilent_b2201

rucker_kolls_680

hp_4285agilent_hp_e5250

rucker_kolls_681

hp_4294

WWW.SILVACO.COM

rucker_kolls_691

株式会社シルバコ・ジャパ ン
お問い合わせ : jpsales@silvaco.com

横浜本社〒 220-8136
神奈川県横浜市西区みなとみらい 2-2-1
横浜ランドマークタワー 36F
T E L ： 0 4 5 - 6 4 0 - 6 1 8 8 FA X ： 0 4 5 - 6 4 0 - 6 1 8 1

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