Proceedings of the 10th Annual Meeting of Particle Accelerator Society of Japan (August 3-5, 2013, Nagoya, Japan)

金メッキされたタンタル製ビームパイプサンプルにおける光子の先端散乱
TIP-SCATTERING MEASUREMENT FOR SAMPLE OF GOLD PLATED TANTALUM
BEAM PIPE
石橋拓弥#, A), 金澤健一 A), 田中 秀治 B)
Takuya Ishibashi#, A), Ken-ichi KanazawaA), Shuji TanakaB)A)
KEK Accelerator LaboratoryB)
KEK Institute of Particle and Nuclear Studies

Abstract
In an interaction region of SuperKEKB, a particle detector named Belle II will be installed around beam pipes. Thebeam pipes up- and downstream of the collision point is made from gold plated tantalum to reduce the backgrounds,
derived from the synchrotron radiation in the final focusing magnets, of SVD and PXD in Belle II. The inner surface ofthe tantalum beam pipe has ridges to scatter the photons and improve the backgrounds. However there is a potential forthe increase in the backgrounds by the tip-scattering, thus we measured the distribution of the tip-scattering with 9 keVphotons at Cornell High Energy Synchrotron Source, G2-line.

1.

はじめにSuperKEKB の衝突点付近では、素粒子検出器である Belle II がビームパイプを囲むように据え付けられ、その中心部で電子・陽電子ビームが互いに衝突を繰り返す。Interaction Region(IR)のビームパイプおよびその周辺にある検出器の構成を図 1 に示す。の散乱分布によってはバックグラウンドを増大させてしまう可能性もある。この強度分布を定量的に評
価 す る た め 、 コ ー ネ ル 大 学 に あ る Cornell HighEnergy Synchrotron Source(CHESS)の G2-line を利用してリッジ先端における光子散乱の測定を行ったので、本年会ではその結果について報告する。

2.

実験構成

2.1

サンプル

光子散乱測定に使用したサンプルを図 2 に示す。
寸法は 30 mm×30 mm×3 mm で、片面にリッジが加工されている。ベースの材質はタンタルで、リッジのある面と側面に厚さ 100 μm の金メッキが施されている。リッジ部を実測した結果(図 2(b))からリッジの高さは 0.96 mm で、先端には 0.36 mm の Rがついていることが分かる。
Figure 1: Configuration of beam pipes and detectors in IR
衝突点のビームパイプは物質量を極力抑える必要があり、SuperKEKB では機械的強度も有しているベリリウムが使用される。衝突点のビームパイプには最終偏向電磁石および最終収束電磁石内で発生したシンクロトロン放射光が侵入する。この放射光は最内層にあるピクセル型検出器(PXD), シリコンストリップ型検出器(SVD)のバックグラウンドとなる。
バックグラウンドを低減するため、このビームパイプには厚さ 20 μm の金メッキが施される。これにより 10 keV 以下の光子はほぼ阻止できる。また上流からのシンクロトロン放射光が直接ベリリウム部に当たらないように、ビームパイプの衝突点への入り口は直径 10 mm に絞られている。さらに衝突点付
近では物質量の大きいタンタル製ビームパイプが使用され、この内壁面にリッジ構造をつけることにより散乱光の範囲を制限し、散乱光が衝突点のベリリウムパイプへ到達することを阻止している。このタンタルビームパイプのリッジ先端部における放射光(a) appearance- 1173 -Proceedings of the 10th Annual Meeting of Particle Accelerator Society of Japan (August 3-5, 2013, Nagoya, Japan)(a) side view(b) geometry (provided by Metal Technology Co., Ltd.)
Figure 2: Au plated Ta sample with ridge
2.2

CHESS G2-line

CHESS の G-line は Cornell Electron StorageRing(CESR, 電子ビームエネルギー: 5.3 GeV)のウィ
グラー電磁石で発せられた放射光を利用する施設で、3 つの実験ステーションがある[1]。本測定には 9keV の X 線を提供している G2-line を使用した。各 (b) top view
機器の構成を図 3 に示す。これらの機器は大気中に Figure 4: Angle definitions of diffractometer at G2-line.
置かれている。X 線は図中左から右に向かって照射される。サンプルホルダーは回折計のステージに散乱試験結果乗っている。サンプルホルダーには穴が開けられて 3.
おり、これに繋がっている排気ポンプを作動させることによりサンプルを固定する。サンプルの上下流 3.1 分解能
ダイレクトビームを使って面内角方向の分解能をにはそれぞれスリットが備え付けられている。また検出器の pile-up を回避するため、サンプルの上流に 測定した(図 5)。スリットサイズは幅 2 mm, 高さはアッテネータがあり、これにより検出器に入る X 0.05 mm にセッティングしている。分解能は FWHM線の強度を調整できる。回折計の可動軸の定義を図 で 0.19 度である。
4 に示す。それぞれ、z: サンプル高さ、η: X 線入
射角 、δ: 検出器面内角、ν: 検出器面外角、φ:
サンプル回転角に対応する自由度がある。

Figure 5: Angular resolution using direct beam
Figure 3: Setup at G2-line
3.2

バックグラウンド

先端における光子散乱の測定は散乱角が小さいた- 1174 -Proceedings of the 10th Annual Meeting of Particle Accelerator Society of Japan (August 3-5, 2013, Nagoya, Japan)

め、光子の空気による散乱がバックグランドとなる。 レクトビームの強度を 1 としている。サンプルの高バックグラウンドを評価するため、検出器の各面内 さは図 6(b)における先端散乱のピーク位置(z: -3.93
角δにおけるサンプル高さと散乱光子強度の依存性 mm)に設定している。図中赤色、青色のプロットはを測定した(図 6)。サンプルの高さを変化させると それぞれリッジの垂直壁の方向、もしくはスロープ先端散乱によるピークが観測される。δが 0.15 度の の方向から X 線を照射したデータである。第 3.2 節
とき、サンプル高さがおよそ-4.3 mm から-4.1 mm の で述べた通り、面内角がおよそ 0 から 0.3 度の範囲範囲に散乱光子が見られるが(図 6(a))、δを 0.4 度に でこの強度分布は空気散乱によるバックグランドをするとこれが見られなくなる(図 6(b))。前者では検 含んでいる。X 線照射方向の違いによる散乱分布の出器と X 線入射軸とが小角に位置しており、空気に 差は非常に少ないが、これはどちらの場合も X 線がより散乱された光子が検出器に到達している。後者 図 2(b)に見られるリッジ先端の R 部に照射されていでは先端散乱と空気散乱が分離できており、バック るためと考えられる。
IR 部チェンバーのリッジ部において、散乱角がグラウンドは見られない。なお、両者ともサンプル高さが約-3.65 mm 以上でカウントがないのは、サン 1.96 度以上であると散乱光子はベリリウムチェン
プルにより X 線が遮られ、光子が検出器に到達して バーに到達する[2]。図 7 の測定結果から 1.9 度以上
ではダイレクトビームに対して散乱光子の強度はいないためである。
10-8 以下の割合であり、これは検出器のバックグラウンドには問題にならないと考えられる。

(a) δ: 0.15 deg.

Figure 7: Tip-scattering distribution

4.

まとめ

コーネル大学 CHESS の G2-line において IR ビームパイプリッジ部の先端散乱測定を行った。先端散乱の強度はダイレクトビームと比べて数桁落ち、これによる検出器のバックグラウンドは非常に小さいと考えられる。

謝辞
この測定をサポートしてくださったコーネル大学
CLASSE の Kiran Sonnad 博士、CHESS の Arthur
Woll 博士に心より感謝いたします。
(b) δ: 0.4 deg.
Figure 6: Sample height scans with different delta andattenuator.
3.3

先端散乱の強度分布

先端散乱の強度分布を図 7 に示す。ここではダイ

参考文献[1] CHESS G-line, http://www.chess.cornell.edu/gline/[2] 村上 潤, “Belle II 検出器の衝突点ビームパイプ内面で散乱されたシンクロトロン光の振る舞いの検討”,
2012 年修士論文- 1175 -