W

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ｺｰﾄﾞ検証とは検証結果は、ｺｰﾄﾞの問題点、欠陥を表示します。ｱﾌﾟﾘｹｰｼｮﾝや程度により、ほとんど気付かない程度の小さな欠陥から全く読み取りさえできないほどの大きな欠陥までが存在します。その欠陥が与える影響は、ｱﾌﾟﾘｹｰｼｮﾝやｺｰﾄﾞ体系によっても異なってきます。

CEL

ﾘｰﾀﾞは、あくまで読み取りを目的とした読取機であり、ｺｰﾄﾞの品質を問わず、できる限り効率良く読み取りを行うように設計されています。つまり、ﾘｰﾀﾞでｺｰﾄﾞの品質管理を行おうとしても、それは単にﾘｰﾀﾞの読取能力を評価しているのに過ぎません。例えば、数種類のﾘｰﾀﾞを利用している場合に、ﾘｰﾀﾞによってﾃﾞｺｰﾄﾞ結果(読取結果)が異なる場合があります。これは、ﾘｰﾀﾞの能力に関係しているのでは無く、読み取り対象となったｺｰﾄﾞ自体の品質に起因しているのです。
REA 製のﾊﾞｰｺｰﾄﾞ検証機は、全て ISO/IEC 15416 に準拠しています。また、ｼﾝﾎﾞﾙ毎にそれぞれｵﾌﾟｼｮﾝﾊﾟﾗﾒｰﾀも用意されています。例えば、EAN/UPC ｺｰﾄﾞの場合は、ISO/IEC
15420 に準じています。

ｺｰﾄﾞ検証結果の相違

OM

同じｺｰﾄﾞを測定した場合でも、検証機ごと、または検証する度に結果が異なる場合があります。これは、検証ﾌﾟﾛｾｽが、下記の要因に大きく影響を受けるためです。
周囲照度、周囲背景色、光源
読取機と同様、検証機も LED やﾚｰｻﾞを利用し、光の反射を元にｺｰﾄﾞの測定を行っています。よって、光源波長の違い、周囲照度や周囲背景色(光沢のある机上など)、対象物表面の波打ち、光沢度などによって、光の反射に影響があるため、測定結果にも反映されます。
その他、考慮すべき要因z
ｲﾝｸ面の凹凸やｲﾝｸﾄﾞｯﾄの丸み
z
光源 LED/ﾚｰｻﾞ出力の揺れ, ﾊﾞﾗﾂｷz
電源ﾉｲｽﾞなど、ｴﾚｸﾘｯｸﾃﾞﾊﾞｲｽ特有のﾉｲｽﾞ

ｱﾊﾟﾁｬ

走査線DE

ｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞ
検証は、指定のｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞで行われます。つまり、ｺｰﾄﾞ上の 1 点を起点に左右直線状に走査を行っています。従って、ｺ-ﾄﾞ上の走査線位置が異なれば、下記のように検証結果も異なることになります。ｺｰﾄﾞ検証を行う場合は、複数の走査線位置を測定するﾏﾙﾁｽｷｬﾝ検証が推奨されています。
実際の拡大ｲﾒｰｼﾞｽﾎﾟｯﾄ(黒いシミ)

34ﾎﾞｲﾄﾞ(白い欠け)

ｺｰﾄﾞ検証を行う場合、基準最小ﾓｼﾞｭｰﾙ(X)の 80%が最適なｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞとされています。

GN2SI

1pg. 1

検証を行ったﾊﾞｰｺｰﾄﾞｼﾝﾎﾞﾙ名です。
ﾃﾞｺｰﾄﾞしたﾊﾞｰｺｰﾄﾞﾃﾞｰﾀです。

ISO/IEC 15416 及び 15420 に基づいて検証が行われたことを示しています。

CELW

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ﾏﾙﾁｽｷｬﾝ検証 2 回中の 1 回目の検証結果を意味します。
検証結果がﾚﾎﾟｰﾄされます。この例では、不合格/ｸﾞﾚｰﾄﾞ 0.0/6mil ｱ
ﾊﾟﾁｬ/670nm 光源がﾚﾎﾟｰﾄされています。合格の場合は、青色で Passとﾚﾎﾟｰﾄされます。
ｴﾗｰﾘｽﾄがﾚﾎﾟｰﾄされます。

OM

DE設定されている判定基準ｸﾞﾚｰﾄﾞです。
SRP(Scan Reflectance Profile)ｸﾞﾚｰﾄﾞがﾚﾎﾟｰﾄされます。ｵﾌﾟｼｮﾝﾊﾟﾗﾒｰﾀを含む全測定結果の最低ｸﾞﾚｰﾄﾞ値が結果となります。ｵﾌﾟｼｮﾝﾊﾟﾗﾒｰﾀを評価に含めたくない場合は、無効に設定してください。
読み取り問題があるかを合格(4)/不合格(0)で判定します。
ｼﾝﾎﾞﾙｺﾝﾄﾗｽﾄ(SC)を 4~0 の 4 段階でｸﾞﾚｰﾄﾞ判定します。
ｴｯｼﾞｺﾝﾄﾗｽﾄ(EC)を合格(4)/不合格(0)で判定します。
ﾓｼﾞｭﾚｰｼｮﾝ(MOD)を 4~0 の 4 段階でｸﾞﾚｰﾄﾞ判定します。
Rmin/Rmax を合格(4)/不合格(0)で判定します。
ﾃﾞｨﾌｪｸﾄ(欠陥)を 4~0 の 4 段階でｸﾞﾚｰﾄﾞ判定します。
ﾃﾞｺｰﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨ(復号容易度)を 4~0 の 4 段階でｸﾞﾚｰﾄﾞ判定します。
測定により得られた一番低い値が、ﾃﾞｺｰﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨとなります。

SI

ﾓｼﾞｭｰﾙ偏差の平均値です。
Mean / Z-Module x 100 = 33um / 363um x 100 = 9%Z ﾓｼﾞｭｰﾙ 0.363mm x -9% = -0.03267
各項目の詳細は、補足を参照ください。

GNpg. 2W

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CELPCS(SC)を合格(4)/不合格(0)で判定します。
Bright Value(Rmax)を合格(4)/不合格(0)で判定します。
Dark Value(Rmin)を合格(4)/不合格(0)で判定します。
PCS(ECmin)を合格(4)/不合格(0)で判定します。
Bright Value(Rs)を合格(4)/不合格(0)で判定します。
Dark Value(Rb)を合格(4)/不合格(0)で判定します。

OM

ﾊﾞｰ偏差の極小値と極大値を合格(4)/不合格(0)で判定します。
ｽﾍﾟｰｽ偏差の極小値と極大値を合格(4)/不合格(0)で判定します。
E-Value の極小値と極大値を合格(4)/不合格(0)で判定します。
P-Value の極小値と極大値を合格(4)/不合格(0)で判定します。
ﾊﾞｰ偏差の平均値を合格(4)/不合格(0)で判定します。
Mean / Tb x 100 = 33um / 115um x 100 = 28.69%
Z ﾓｼﾞｭｰﾙを合格(4)/不合格(0)で判定します。
ﾊﾞｰｺｰﾄﾞｼﾝﾎﾞﾙｻｲｽﾞを意味します。SCx は、DIN 規格です。
倍率を意味します。
1 ｲﾝﾁ当たりのｷｬﾗｸﾀ数を意味します。
各項目の詳細は、補足を参照ください。

DE

Tb = +/-(0.470 x 0.363 - 0.055)mm = +/-0.11561
0.11561 x -29% = -0.0335269

ﾓｼﾞｭｰﾙﾊﾞｰｺｰﾄﾞのﾊﾞｰ及びｽﾍﾟｰｽを構成する基本最小単位。

先の Bar deviation(ﾓｼﾞｭｰﾙ偏差の平均)からの算出
Z ﾓｼﾞｭｰﾙ 0.363mm x -9% = -0.03267

ｴﾚﾒﾝﾄ
最小単位ﾓｼﾞｭｰﾙを組み合わせて形成したﾊﾞｰ及びｽﾍﾟｰｽ。

SI

誤差 0.0008569mm(0.8569μm)は内部での数値の丸めによるものです。

GNpg. 3CELW

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赤枠で囲んだ代表的な測定値の見方を次頁に示しています。

OM

測定値を相対値(%)では無く、絶対値(μm)で行いたい場合は、検証機の設定を変更する必要があります。
TransWin32 のﾒﾆｭｰから｢Configure｣…｢Evaluation｣を選択し、｢Deviation(1D)｣ﾀﾌﾞの｢As relativevalues(%)｣のﾁｪｯｸを外すと、絶対値(μm)で検証結果がﾚﾎﾟｰﾄされます。

SIDE
GN

全ての偏差値は、実測による Z ﾓｼﾞｭｰﾙ(実測細ｴﾚﾒﾝﾄ平均幅)を基準に算出されます。

pg. 4

W

Left Guard (Start)

B1

P
B1S1B2QZ

Next Character

Target EAN-8 Image

B2
S1
E2
V

E1
P

Measurement detail says
B1=-25%B2=-45%
S1=23%
E1=-5%
E2=-47%
P=-52%
V(Decodability)=82%

CEL

E2
E1

Char Set = AB1S1

P
B1 S2B2

S1

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Next Character

E2
E1

Measurement detail says
B1=-41%
B2=3%
S1=41%
S2=15%
E1=-0%
E2=-56%E3=-41%
P=-20%
V(Decodability)=79%

B1
S1
E1
P

Center GuardP
S1B1S2B2S3

B2
S2
E2
V1

S3
E3
V2

E2

E4

Next Character

E1
E2
E3

Measurement detail says
B1=-35%
B2=-61%S1=40%
S2=24%
E1=-11%E2=-45%E3=-80%P=-34%
V(Decodability)=88%

Right Guard (Stop)

E4

Measurement detail saysB1=-46%
B2=-10%
S1=7%
S2=33%
S3=13%
E1=-83%E2=-28%E3=94%
E4=51%
P=-20%V1(Decodability)=72%
V2(Decodability)=63%

ｷｬﾗｸﾀ 1,2,7,8についても同様にV1,V2の小さい方の値をVとする
JIS X0507（ISO/IEC 15420)参照

E1
P
QZ

E1
E2

B2
S1
E2
V

Measurement detail says
B1=-31%B2=-45%
S1=22%
E1=-20%E2=-49%P=-60%
V(Decodability)=95%

JIS X0507（ISO.IEC 15420)では、b2,b1,e2,e1など右から左への定義が行われている場合がありますがREA検証機では、全ての測定結果を上記の説明のように左から右へﾚﾎﾟｰﾄするよう統一しています。

GN

Vは、小さい方の値を適用するV=63%

B1

P
B1S1B2

Front Character

S2E3SIE3

S1 B2S2Center Gard

E3

Next Character

E1B1

B2S1E2VDE

Front Character

E2E1PPOM

E3B2S2
E1V

B1Char Set = Cpg. 5

W

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JIS X0507(ISO/IEC 15420) EAN/UPC許容値の計算
zz

CELz

Tb は、ﾊﾞｰ幅及びｽﾍﾟｰｽ幅の許容値(附属書 F 図 F.1 の”b”で示した三つの寸法)。
Te は、ｼﾝﾎﾞﾙｷｬﾗｸﾀ内の隣り合ったﾊﾞｰ及びｽﾍﾟｰｽの許容値。附属書 F 図 F.1 の”e”で示した二つの寸法。この寸法は、ﾊﾞｰの先頭ｴｯｼﾞから次のﾊﾞｰの先頭ｴｯｼﾞまで、又はﾊﾞｰの末尾ｴｯｼﾞから次のﾊﾞｰの末尾ｴｯｼﾞまでを測った長さである。
Tp は、ｼﾝﾎﾞﾙｷｬﾗｸﾀ全体の幅に対する許容値(附属書 F 図 F.1 の”p”で示した寸法)。

OM

倍率 M の許容値 Tb,Te 及び Tp を次のように規定する。

M<=1 であれば、Tb=+/-(X-0.229)mm、M>1 であれば、Tb=+/-(0.470X-0.055)mm
Te=+/-0.147X
Tp=+/-X

DE

Tb
Te
Tp

検証機の場合、X は、実測から得られた Z ﾓｼﾞｭｰﾙ(実測細ｴﾚﾒﾝﾄ平均幅)で置き換えられます。従って、上記の検証結果の場合は、下記のようになります。
倍率(MF)が 1.2 倍なので検証機内では、丸められる前の実測値で計算されるため、上記の計算結果とは差異があります。

GN(*)上記文書は、JIS X0507 附属書 F より一部を引用しています。

SITb = +/-(0.470 x 0.395 - 0.055)mm = +/-0.13065
Te = +/-0.147 x 0.395 = 0.058065mm
Tp= +/-0.290 x 0.395 = 0.11455mm

pg. 6

W

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Copyright © 2012, WELCOM DESIGN KKµm検証結果例

CELOM
SIDEGNpg. 7

CEL

W

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Copyright © 2012, WELCOM DESIGN KKOM
SIDE
GN

pg. 8

W

補足

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Decodeﾃﾞｺｰﾄﾞ(読み取り)に影響を与える要因があるかの判定結果を表示します。判定は、0/F(不合格)と 4/A(合格)の 2 段階で行われます。

CEL

不合格となる要因は、下記の通りです。
zzzzzz

ﾁｪｯｸﾃﾞｼﾞｯﾄに誤りがある。
ｸﾜｲｴｯﾄｿﾞｰﾝが狭すぎる。
ｺｰﾄﾞの長さに問題がある。(ｺｰﾄﾞ規格に規定がある場合のみ)
ｺｰﾄﾞ内容に問題がある。(ｺｰﾄﾞ規格に規定がある場合のみ)
Element determination ｴﾗｰがある。(下記を参照)
Edge determination ｴﾗｰがある。(下記を参照)

OM

Element determination ｴﾗｰ
下図の■のﾎﾟｲﾝﾄが、Element determination ｴﾗｰで、ｴﾚﾒﾝﾄ全体の反射率が、ｸﾞﾛｰﾊﾞﾙｽﾚｯｼｮﾙﾄﾞ(赤線)に達していない場合に発生するｴﾗｰです。例えば、下記の例では、ｽﾍﾟｰｽｴﾚﾒﾝﾄ全体の反射率が、ｸﾞﾛｰﾊﾞﾙｽﾚｯｼｮﾙﾄﾞに達していません。

Element determination ｴﾗｰ
下図の指を差しているﾎﾟｲﾝﾄが、Edge determination ｴﾗｰで、ｴﾚﾒﾝﾄ内に反射率がｸﾞﾛｰﾊﾞﾙｽﾚｯｼｮﾙﾄﾞに達していない箇所が１つ以上ある場合に発生するｴﾗｰです。例えば、
下記の例では、ｽﾍﾟｰｽｴﾚﾒﾝﾄの反射率 1 箇所が、ｸﾞﾛｰﾊﾞﾙｽﾚｯｼｮﾙﾄﾞに達していません。

SIDEGNpg. 9

W

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Copyright © 2012, WELCOM DESIGN KKSymbol Contrast
ｼﾝﾎﾞﾙｺﾝﾄﾗｽﾄ(SC)の値と判定結果を表示します。ｼﾝﾎﾞﾙｺﾝﾄﾗｽﾄの計算方法及びｸﾞﾚｰﾄﾞは、下記を参照ください。

CEL

ｼﾝﾎﾞﾙｺﾝﾄﾗｽﾄ(SC) = Rmax – Rmin

ｸﾞﾚｰﾄﾞ
43210

ｼﾝﾎﾞﾙｺﾝﾄﾗｽﾄ(SC)>=70%>=55%>=40%>=20%<20%OM

Edge Contrast
ｴｯｼﾞｺﾝﾄﾗｽﾄ(ECmin)の値と判定結果を表示します。ｴｯｼﾞｺﾝﾄﾗｽﾄの計算方法及びｸﾞﾚｰﾄﾞは、下記を参照ください。
ｴｯｼﾞｺﾝﾄﾗｽﾄ(ECmin) = Rs – Rb

ｸﾞﾚｰﾄﾞ
40

正確には、最小ｴｯｼﾞｺﾝﾄﾗｽﾄ(ECmin)と呼ばれます。

ｴｯｼﾞｺﾝﾄﾗｽﾄ(ECmin)>=15%<15%DE

Modulation
ﾓｼﾞｭﾚｰｼｮﾝ(MOD)の値と判定結果を表示します。ﾓｼﾞｭﾚｰｼｮﾝの計算方法及びｸﾞﾚｰﾄﾞは、下記を参照ください。
ﾓｼﾞｭﾚｰｼｮﾝ(MOD) = ECmin / SC
ﾓｼﾞｭﾚｰｼｮﾝ(MOD)>=70%>=60%>=50%>=40%<40%SI

ｸﾞﾚｰﾄﾞ
43210GNpg. 10WEAN Verification Report
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Rmin/Rmax
Rmin/Rmax の値と判定結果を表示します。下記のようにｸﾞﾚｰﾄﾞ判定しています。

CEL

ｸﾞﾚｰﾄﾞ
40

Rmin/Rmax
Rmin/Rmax <=50%
Rmin/Rmax >50%

Rmin は、ﾊﾞｰの一番反射率の低い値、Rmax は、ｽﾍﾟｰｽの一番反射率の高い値です。
Defects
ﾃﾞｨﾌｪｸﾄ(欠陥)の値と判定結果を表示します。ﾃﾞｨﾌｪｸﾄの計算方法及びｸﾞﾚｰﾄﾞは、下記を参照ください。
ﾃﾞｨﾌｪｸﾄ(Defects) = ERNmax / SCOM
ｸﾞﾚｰﾄﾞ
43
2
10

ﾃﾞｨﾌｪｸﾄ(Defects)<=15%<=20%<=25%<=30%>30%

Decodability
ﾃﾞｺｰﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨの値と判定結果を表示します。ﾃﾞｺ-ﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨのｸﾞﾚｰﾄﾞは、下記を参照ください。

Space
最小/最大ｽﾍﾟｰｽ偏差値と判定結果を表示します。

GNP-Value
P-Value の値と判定結果を表示します。

ﾃﾞｺｰﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨ>=62%>=50%>=37%>=25%<25%SIBar
最小/最大ﾊﾞｰ偏差値と判定結果を表示します。

DEｸﾞﾚｰﾄﾞ
43210pg. 11

W

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Mean
算術平均ﾊﾞｰ偏差絶対値を表示します。

CEL

PCS(SC)PCS(SC)の値と判定結果を表示します。PCS(SC)は想定される一番良い PCS 値を意味します。PCS(SC)の計算方法は、下記をください。
PCS(SC) = (Rmax – Rmin) / Rmax

Brightness(Rmax)
Rmax の値と判定結果を表示します。Rmax は、ｽﾍﾟｰｽの一番高い反射率値を意味します。(下図を参照)
Darkness(Rmin)
Rmin の値と判定結果を表示します。Rmin は、ﾊﾞｰの一番低い反射率値を意味します。(下図を参照)

OM

PCS(ECmin)
PCS(ECmin)の値と判定結果を表示します。PCS(ECmin)は想定される一番悪い PCS 値を意味します。PCS(ECmin)の計算方法は、下記をください。
PCS(ECmin) = (Rs – Rb) / Rs

Brightness(Rs)Rs の値と判定結果を表示します Rs は、隣り合ったﾊﾞｰとｽﾍﾟｰｽの反射率差異が一番小さい箇所のｽﾍﾟｰｽ反射率を意味します。(下図を参照)
Darkness(Rb)
Rb の値と判定結果を表示します。Rb は、隣り合ったﾊﾞｰとｽﾍﾟｰｽの反射率差異が一番小さい箇所のﾊﾞｰ反射率を意味します。(下図を参照)

SIDE
GN

pg. 12W

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Z-Module
Z-Module の値と判定結果を表示します。Z-Module は、測定したﾅﾛｰｴﾚﾒﾝﾄ幅の平均値です。(実測細ｴﾚﾒﾝﾄ平均幅)

CEL

Ratio
ﾚｼｵの値と判定結果を表示します。ﾚｼｵは、ｲﾝﾀｰﾘｰﾌﾞﾄﾞ 2/5 やｺｰﾀﾞﾊﾞｰなど 2 値ﾀｲﾌﾟｺｰﾄﾞのﾅﾛｰｴﾚﾒﾝﾄとﾜｲﾄﾞｴﾚﾒﾝﾄの比率を意味します。
CPI
CPI の値と判定結果を表示します。CPI は、Character Per Inch の略で、1 ｲﾝﾁ(24.5mm)当たりのｷｬﾗｸﾀ数を意味します。

OM
SIDE
GN

pg. 13W

参考

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Decodability : ﾃﾞｺｰﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨ

C
EL

JIS X 0520(ISO/IEC 15416)では、復号容易度と訳されているﾊﾟﾗﾒｰﾀで、その名の示す通り、読取機(ﾘｰﾀﾞ)から見たﾃﾞｺｰﾄﾞのしやすさ、読み取りやすさを数値化して、5 段階にｸﾞﾚｰﾄﾞ分けします。算出方法は、各ﾊﾞｰｺｰﾄﾞｼﾝﾎﾞﾙの標準規格内で定義されています。また、JIS X 0520(ISO/IEC 15416)に基本となる算出方法が定義されており、幾つかのﾊﾞｰｺｰﾄﾞｼﾝﾎﾞﾙでは、それをそのまま適用することが可能です。
下記にｸﾞﾚｰﾄﾞ表を示します。

ﾃﾞｺｰﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨ(%)>= 62%>= 50%>= 37%>= 25%< 25%OM

ｸﾞﾚｰﾄﾞ
43210

ﾃﾞｺｰﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨは、読取機(ﾘｰﾀﾞ)の観点に立って評価する性質上、かなり不正確な印字品質であっても、良い評価結果が得られるｹｰｽがあります。また、逆に小さな変化によって、大きく評価を落とすｹｰｽもあります。
もし、ｱﾌﾟﾘｹｰｼｮﾝが、ﾃﾞｺｰﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨの結果を優先し、印字工程での品質を気にしないのであれば、問題の無いﾊﾞｰｺｰﾄﾞであると判断しても良いでしょう。但し、品質管理が目的であれば、ﾃﾞｺｰﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨのみで判断、改善を行うのは、不十分です。ｵﾌﾟｼｮﾝﾊﾟﾗﾒｰﾀを使用し、改善すべき点がどこにあるのかを知った上で、印字品質改善を行わなければいけません。ﾃﾞｺｰﾀﾞﾋﾞﾘﾃｨのみに頼った品質管理は、現場の混乱を招くことになるでしょう。

SIDE
GNpg. 14W

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ｵﾌﾟｼｮﾝ測定ﾊﾟﾗﾒｰﾀCEL

ｵﾌﾟｼｮﾝ測定ﾊﾟﾗﾒｰﾀは、ﾊﾞｰ幅, ｽﾍﾟｰｽ幅及びﾊﾞｰ幅とｽﾍﾟｰｽ幅を組み合わせた実測幅と各ﾊﾞｰｺｰﾄﾞｼﾝﾎﾞﾙの規格で定義された基準幅から偏差値を導き出して、評価が行なわれます。偏差値は、許容値とともに絶対偏差値 µm 又は相対偏差値 %(ﾊﾟｰｾﾝﾄ) の何れかでﾚﾎﾟｰﾄされます。
評価は、下記の図式に従って行われます。

::
:

OM

A-Value
B-Value
P-Value

ﾊﾞｰ幅
隣接するﾊﾞｰとｽﾍﾟｰｽを組み合わせた幅(E-value)
1 ｷｬﾗｸﾀを構成するｼﾝﾎﾞﾙｷｬﾗｸﾀ幅DE

右図のﾊﾞｰに描かれている赤色の点線は、ﾊﾞｰｺｰﾄﾞｼﾝﾎﾞﾙの標準規格に沿った基準幅を示しており、実際に測定されたﾊﾞｰ幅は、黒色の長方形で描かれています。ﾊﾞｰ幅偏差
値は、常に測定した実際のﾊﾞｰ幅と基準幅から導き出されます。
値が、ﾏｲﾅｽの場合、実際のﾊﾞｰ幅が基準幅に対して、細り過ぎであることを示し、ﾌﾟﾗｽの場合は、逆に太り過ぎであることを示しています。青色の表に列挙されている値
は、実測によるﾊﾞｰ幅偏差値で、この例では、許容値が+/-115µm で、極値が、-110µm と+120µm となっています。
許容値は、各ﾊﾞｰｺｰﾄﾞｼﾝﾎﾞﾙの標準規格によって定義されており、一般的に大きなﾊﾞｰｺｰﾄﾞ(X 寸法が大きい)ほど、許容値も大きくなります。
E-Value や P-Value など他の寸法測定でも、同じ図式、手法が使われます。

SI

計算例
許容誤差が、0.1mm(100µm)、基準ﾊﾞｰ幅が、0.34mm(340µm のﾊﾞｰｺｰﾄﾞｼﾝﾎﾞﾙを検証したところ、ﾊﾞｰ幅が 0.33mm(330µm)と実測されたとします。この場合、ﾊﾞｰ幅偏差値は、0.33mm - 0.34mm = -0.01mm(-10µm)となり、相対偏差値は、許容誤差が 0.1mm(100µm)なので、-0.01 = -10%になります。
::

ﾊﾞｰ幅偏差値 -10µm, 許容値 +/-100µm
ﾊﾞｰ幅偏差値 -10%, 許容値 +/-100%

尚、相対偏差値の許容値は、常に+/-100%となります。

GN

絶対表示
相対表示

pg. 15W

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Bar Width Deviation : ﾊﾞｰ幅偏差CEL

ﾊﾞｰ幅偏差は、検証結果ﾚﾎﾟｰﾄ に｢Bar｣という項目で表示されます。測定から得られた全ての偏差値から極値が判別され、常に極大値と極小値の 2 つの値が表示されます。
ﾊﾞｰ幅偏差の理想値は、基準ﾊﾞｰ幅に対して、全く誤差が無いことを意味する極大値 0 と極小値 0 になります。
表示単位は、絶対表示の µm 又は相対表示の % となります。前節 ｢ｵﾌﾟｼｮﾝ測定ﾊﾟﾗﾒｰﾀ｣を参照ください。
絶対表示例(µm)
Bar
相対表示例(%)
Bar+24µm+5µm+/-80µm-30%6%+/-100%

OM

下記は、TransWin32 のｸﾞﾗﾌｨｯｸ表示例です。この例では、極大値 3%、極小値-29%、平均値-14%となっています。ｸﾞﾗｯﾌｨｸ表示により、視覚的に評価結果を瞬時に把握することが可能になります。

SIDE

Average Bar Width Deviation : 平均ﾊﾞｰ幅偏差

ﾊﾞｰ幅偏差は、検証結果ﾚﾎﾟｰﾄ に｢Mean｣という項目で表示されます。平均ﾊﾞｰ幅偏差は、先の測定から得られた全てのﾊﾞｰ幅偏差から算出した平均値です。実際の個々のﾊﾞｰ偏差は、ﾌﾟﾗｽ値であたり、ﾏｲﾅｽ値であったり、ばらつきがあるため、平均ﾊﾞｰ幅偏差は、大きな意味を持つ値ではなく、計算から求められた参照値に過ぎません。例えば、極値がﾌﾟﾗｽ値とﾏｲﾅｽ値に大きく異なる場合でも、平均値は、0 又はそれに近い値を示すからです。よって、この値を基準に、ﾊﾞｰｺｰﾄﾞの補正を行うことは、完全に間違ったｱﾌﾟﾛｰﾁとなります。

GNpg. 16W

EAN Verification Report
Copyright © 2012, WELCOM DESIGN KKSpace Width Deviation : ｽﾍﾟｰｽ幅偏差E-Value : Eﾊﾞﾘｭｰ

CEL

ｽﾍﾟｰｽ幅偏差は、検証結果ﾚﾎﾟｰﾄ に｢Space｣という項目で表示されます。ﾊﾞｰでは無く、ｽﾍﾟｰｽに対しての偏差であることを除けば、ﾊﾞｰ幅偏差と同様です。｢Bar WidthDeviation｣を参照ください。

E-Value は、検証結果ﾚﾎﾟｰﾄに｢E-Value｣という項目で表示されます。下図に示すように、隣接するﾊﾞｰとｽﾍﾟｰｽを組み合わせた幅の偏差です。これは、ｺｰﾄﾞ 128 や UPC/EANなど一部のﾊﾞｰｺｰﾄﾞｼﾝﾎﾞﾙのﾃﾞｺｰﾃﾞｨﾝｸﾞに用いられています。ﾊﾞｰ幅偏差と同様、測定から得られた全ての偏差値から極値が判別され、常に極大値と極小値の 2 つの値が表示されます。｢Bar Width Deviation｣を参照ください。

OM
DE

P-Value : Pﾊﾞﾘｭｰ

P-Value は、検証結果ﾚﾎﾟｰﾄに｢P-Value｣という項目で表示されます。1 ｷｬﾗｸﾀ(又はｺｰﾄﾞﾜｰﾄﾞ)を構成するｼﾝﾎﾞﾙｷｬﾗｸﾀ幅の偏差でﾊﾞｰ幅偏差と同様、測定から得られた全ての偏差値から極値が判別され、常に極大値と極小値の 2 つの値が表示されます。｢Bar Width Deviation｣を参照ください。
一部のｹｰｽを除き、通常、ﾊﾞｰ幅偏差, ｽﾍﾟｰｽ幅偏差, E-Value が規格範囲内であれば、P-Value も適切であると仮定されます。

SIGN

pg. 17W

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正しいｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞ

ﾊﾞｰｺｰﾄﾞ検証を行う場合、基準最小ﾓｼﾞｭｰﾙ(X)の 80%が最適なｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞとされています。80%ﾙｰﾙに基づいた推奨ｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞと基準最小ﾓｼﾞｭｰﾙ(X)の対応表を下記に示します。

CEL
ｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞ
6 mil
8 mil
10 mil20 mil基準最小ﾓｼﾞｭｰﾙ(X)>= 187 ㎛ (0.187mm)>= 250 ㎛ (0.250mm)>= 312 ㎛ (0.312mm)>= 625 ㎛ (0.625mm)｢GS1 General Specification｣では、下記の表のようにﾊﾞｰｺｰﾄﾞｼﾝﾎﾞﾙ毎にｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞが規定されています。

OM
SIDE(*)｢GS1 General Specification｣ﾊﾞｰｼﾞｮﾝ 10 からの抜粋です。最新情報は、GS1 の WEB ｻｲﾄを参照ください。

使用場所が限定されているｱﾌﾟﾘｹｰｼｮﾝの場合は、使用するﾊﾞｰｺｰﾄﾞﾘｰﾀﾞのｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞに合わせて検証を行えば良いでしょう。

GN大き過ぎるｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞを使用した場合、検証対象ｺｰﾄﾞのﾅﾛｰﾊﾞｰ/ﾅﾛｰｽﾍﾟｰｽより幅広いｱﾊﾟﾁｬとなり、正しい検証が行えません。この場合、ｴｯｼﾞｺﾝﾄﾗｽﾄの評価が悪くなり、結果として、ﾓｼﾞｭﾚｰｼｮﾝも悪くなってしまいます。

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EAN Verification Report
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推奨より小さいｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞを使用した場合でも、検証対象が高品質ﾊﾞｰｺｰﾄﾞであれば、特に影響はありません。但し、より細かいﾎﾞｲﾄﾞやｽﾎﾟｯﾄを検出することになるため、ﾃﾞｨﾌｪｸﾄ(欠陥)の結果に大きく影響を与えることになります。
ﾎﾞｲﾄﾞ(Void)は、白い欠けを意味します。

CEL

ｽﾎﾟｯﾄ(Spot)は、黒いしみを意味します。

OM
基準最小ﾓｼﾞｭｰﾙ(X)の 80%以下のｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞ

SI

ｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞとﾓｼﾞｭｰﾙｻｲｽﾞが同じ(推奨できない)DE

ｱﾊﾟﾁｬｻｲｽﾞが大き過ぎGN

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