ＴＥＭ

ＣＥＬＬ

ＥＴＣシリーズ<概略仕様 Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ>
Ｍｏｄｅｌ

ETC-1200 ETC-1200H ETC-802 ETC-802H ETC-805W ETC-805F ETC-150 ETC-150S ETC-150F ETC-50

周波数帯域

DC～

Frequency Range

120MHz200MHz400MHz500MHz

インピーダンス

800MHz

1000MHz

3000MHz

SMA-R

N-R

50Ω

Impedance

ＲＦポート

N-R

RF Port

ＶＳＷＲ

≦1.2

≦1.8

≦1.2

最大通過電力

≦1.8

≦1.2

≦1.8

≦1.2

300W

Max. Input Power

セル外形寸法

50W

20W

Ｌ

2420

1420

630

310

215

Ｗ

1340

840

440

240

122

Ｈ

1320

840

450

Outer Dimension

Stand[mm]Height

使用可能
テストエリアUsable Max.
Test Area

65030029592－Ｌ

600

3501507545ofＷ6003501507530[mm]

Ｈ300

175Ｌ

40023310050－

Ｗ

40023310050－

Ｈ200116Size

精密測定最大テストエリア
Max. Test Area forPrecise Measurement

[mm]

監視窓

295

Application [Standards]

1005067375025○Monitoring window

用途 [対象規格]7533Option

12－－*電子機器のＥＭＩ（不要輻射）測定 [IEC61000-4-20][ANSI C63.4(FCC)][JASO D008]
EMI (ElectroMagnetic Interference) measurement of electronics equipment.
*電子機器のイミュニティ試験 [IEC61000-4-3 Annex D][IEC61000-4-20][ISO11452/3][SAE J1113/24][JASO D011]
Immunity test for electronics equipment.
*無線通信機器の送受信感度測定
Sensitivity measurement of transmission/receiving for wireless communication device.
*電界プローブの校正*集積回路試験

Calibration of electric field probe. [IEEE Std 1309]

Integrated circuit test. [SAE J1752/3]

ELENA ELECTRONICS CO., LTD.

<概要 Ｇｅｎｅｒａｌ>
ＴＥＭ Ｃｅｌｌは、ＮＩＳＴ（米国連邦標準局）で開発されました。その構造は、同軸ケーブルを拡大した形状をしており、シールド被膜に相当する外部導体の内側に同軸線に相当する板状の内部導体があります。ＴＥＭ
Ｃｅｌｌに電力を通すと、内部において自然界を伝播する状態と同様なＴＥＭ波（電磁波）が発生し、その電界強度は通過電力を変化させることで任意に設定することが可能です。また、その原理からＴＥＭ Ｃｅｌｌ内に電波を放射させるＥＵＴがある場合、その強度はＴＥＭ Ｃｅｌｌの端子より読み取ることが出来ます。アンテナと比較して、電界の発生効率に優れることから、イミュニティ試
験においては強電界を発生させやすく、またＥＭＩ測定においては高感度で測定出来ます。小型電子部品・機器及び車載電動品などのＥＭＣ評価やキーレスエント
リー・電波時計などの感度測定には最適な装置です。

TEM Cell has been developed in NIST (National Institute ofStandards and Technology). Its construction is formed byexpending co-axial cable and consisted of outer conductor
corresponding to shielding coat and inner conductor of plate
corresponding to co-axial wire.
When power is supplied to TEM Cell, TEM wave (Electromagnetic was) similar to condition of propagation in natural
world is generated inside of it, and its field strength can be set
voluntarily by varying applied power. Also, as its principle, if
there is EUT (Equipment Under Test) radiating radio wave in
TEM Cell, its field strength can be read out from terminal ofTEM Cell. In comparison with antenna, due to superiority ingeneration efficiency of electric field, for immunity test,
generation of strong electric field is easy and for EMI
measurement, it can be made with high sensitivity. This is themost suitable device for EMC evaluation of small electronicparts/devices and electronic/electric device equipped in
automobile, and sensitivity measurement of key-less entry,
radio wave clock and etc.

１．ＥＭＩ測定 [EMI Measurement]
ＥＭＩレシーバーは以下の測定器に置き換えられます
EMI receiver can be replaced with following equipment.
●スペクトラムアナライザ＋プリアンプSpectrum Analyzer + Pre-amplifier

２．イミュニティ試験 [Immunity Test]

３．感度測定 [Sensitivity Measurement]

４．集積回路試験 [IC Test]※仕様及び外観は予告無く変更する場合がございますので、予めご了承下さい。
Specifications and appearance may be changed without prior notice.

販売店

ELECTRONICS CO.,LTD.

エレナ電子株式会社〒215-0033 神奈川県川崎市麻生区栗木 2-7-1
TEL:044-712-8501 FAX:042-712-8502
2-7-1 Kurigi Asao-ku kawasaki-shi Kanagawa
215-0033 Japan
E-Mail: sales@elena-e.co.jp
URL: http://www.elena-e.co.jp