NANOWORLD® SPM AND AFM PROBES
La nanotecnología es nuestro campo. La precisión es nuestra tradición.

POINTPROBE®

ULTRA -SHORT CANTILEVERS• la sonda más utilizada y más conocida de SPM y AFM
en el mundo• cantilevers ultracortos destinados a AFM de alta velocidad• sonda de SPM y AFM de silicio para imagen con alta
resolución• 3 tipos con frecuencia de resonancia muy alta (1.2 MHz - 5MHz) y constantes de alta fuerza para aplicaciones en modo
dinámico en aire

• ranuras de alineación
sobre el dorso del chip
portador•3
 tipos de frecuencias deresonancia altas y constantes debaja fuerza (0.15 N/m - 0.6 N/m)principalmente para aplicaciones enlíquido• radio típico de la punta< 8 nm, garantizado <12 nm• disponible con puntas deformas diferentes

PYREX-NITRIDE•p unta resistente al desgaste decarbono de alta densidad/ carbono
como diamante (HDC/DLC)				• radio típico de la punta < 10 nm

ARROW™

• puntas y cantilevers denitruro de silicio•posicionamiento optimizado mediante visibilidad máxima de la punta• destinado a diferentes
aplicaciones devisualización en modo decontacto o modo dinámico

•p unta con tres lados definidos por
los planos reales de cristal• puntas piramidales
afiladas medianteoxidación• radio típico de la punta < 10 nm• disponible con cantilevers triangulares o rectangulares• también disponible en versión sin punta• L a forma especial de la punta
permite escaneos muy simétricos• punta al mismo final del cantilever• radio típico de la punta < 10 nm, garantizado < 15 nm• También disponible como versión de alta velocidad con
frecuencia de resonancia de hasta 2 MHzPOINTPROBE®
SONDAS DE AFM DE SILICIO

Sonda de AFM y SPM de alta calidad, la más usada yconocida en el mundo

Punta Pointprobe® (Estándar)
La punta estándar Pointprobe® tiene forma piramidal con base polígono. Su ángulo
microscópico semicónico es de 20°´a 25° visto desde el eje del cantilever, 25° a 30°
visto de lado y prácticamente cero al mismo final de la punta. La punta Pointprobe® esde altura 10 - 15 µm con radio típico menor de 8 nm (garantizado menor de 12 nm).
General• sonda de SPM y AFM para imagen de resolución muy alta
• compatible con todos los conocidos SPMs y AFMs comerciales• cantilever and tip are supported by a single crystal silicon support chip• monolithic design of support chip, cantilever and tip

Pointprobe® Punta.

Características del material• silicio monocristalino altamente dopado (resistencia 0.01 - 0.025 Ohm cm)• sin tensión intrínseca y cantilevers absolutamente rectos• silicio químicamente inerte para aplicación en fluidos o células electromagnéticas

Pointprobe® Vista lateraldetector side
tip side

Una sección transversal trapezoidaldel cantilever y por lo tanto un lado deldetector del cantiléver 30% más ancho(por ejemplo NCH) entrega un ajuste más
fácil y rápido del láser. Además, porquesimplemente hay más espacio para
colocar y reflejar el rayo láser, se alcanza
una mayor señal SUM.

Cantilever• cantilever rectangular con sección transversal trapezoide• lado detector ancho para un fácil ajuste del láser (see sketch on left)• el pequeño lado de la punta reduce el amortiguamiento
Chip portador• el cantilever está integrado en un chip portador de silicio• las dimensiones del chip portador son muy reproducibles (3.4 mm x 1.6 mm x 0.3
mm)• las ranuras de alineación al dorso del chip portador de silicio junto al chip dealineación facilitan el cambio de las sondas sin reajuste significativo del haz delláser
Dimensiones del envase• envases pequeños de 10, 20 ó 50 sondas• oblea completa (wafer) con 380 hasta 388 sondas en dependencia del producto

Punta SuperSharpSilicon™ (SSS)
Para mejor resolución de las microasperezas y nanoestructuras hemos elaborado unproceso eficaz de fabricación de puntas que lleva a una mejora en su agudeza con
radio de la punta hasta 2 nm. Con estas puntas de AFM hemos ensanchado los límites
tecnológicos.

Punta SuperSharpSiliconTM (SSS)

Características de la punta
La altura de la punta es de 10 -15 µm, el radio típico de SuperSharpSilicon™ es aprox.
2 nm. Garantizamos un radio menor de 5 nm (éxito garantizado: 80%). El ángulo
semicónico es menor de 10°en los últimos 200 nm de la punta.

Punta High Aspect Ratio (AR5/AR5T)
Para medición de muestras con ángulos laterales cerca de 90°, por ej. mediciones deconcavidades profundas u otras aplicaciones semiconductoras ofrecemos dos tipos diferentes depuntas que permiten la visualización de lados laterales casi verticales. Estas puntas tienen altura
total de 10 - 15 µm, que permite mediciones de muestras muy arrugadas. En los últimos micrómetros
las puntas muestran parte con alto coeficiente de longitud que es simétrica vista de lado o desde eleje del cantilever. El radio de la punta es típico de 10 nm (radio garantizado menor de 15 nm).
Punta High Aspect Ratio (AR5)Punta High Aspect Ratio AR5T
compensada por inclinación(AR5T)

Características de la punta
La parte con coeficiente alto de longitud de la punta AR5/AR5T es mayor de 2 μm y muestra uncoeficiente típico de longitud de 7:1 (el coeficiente mínimo garantizado es de 5:1).
Por consecuencia, el ángulo de semicono de la parte con coeficiente alto de longitud es típicamente
menor de 5°. Para obtener imágenes simétricas al escanear zanjas profundas es necesario quela punta sea perpendicular a la muestra. Por lo tanto, para compensar el más común ángulo de
inclinación de 13° utilizado en AFM comerciales, la parte con coeficiente alto de longitud de laversión AR5T está inclinada con 13° con respecto al eje central de la punta.

Punta Diamond Coated (DT), Punta Conductive Diamond Coated (CDT)

Para las aplicaciones SPM y AFM que requieren contacto duro entre la sonda y la muestra
recomendamos nuestra punta Diamond Coated (DT). Sus aplicaciones más típicas son las
mediciones de la fuerza de fricción, de la elasticidad de las muestras, así como mediciones deldesgaste o de las nanoestructuración. La punta Conductive Diamond Coated (CDT) ofrece también
recubrimiento conductor no pasivado.

Punta Diamond Coated (DT, CDT)

Características de la punta y del recubrimiento
Recubrimiento de diamante policristalino verdadero al lado de la punta con la dureza insupera-bledel diamante.
La altura de la punta es de 10 - 15 µm, y la espesor de la capa de diamante es aprox. 100 nm.
El radio macroscópico de la punta es entre 100 - 200 nm, pero muchas veces la punta muestra
nanoasperezas de aprox.10nm.
En caso de CDT la conductividad es entre 0.003 - 0.005 Ohm cm.

.

RECUBRIMIENTOS DISPONIBLES
Recubrimiento reflectante de aluminio• recubrimiento de aluminio con espesor de 30 nm al dorsodel cantilever• aumenta la reflectancia del láser con factor 2.5• previene la interferencia de la luz en el cantilever

Recubrimiento de diamante• Recubrimiento de diamante
policristalino de espesor de
100 nm al lado de la punta.
• dureza insuperable de la punta• resistancia <10 kOhm para
CDT

Recubrimiento magnético duro/Recubrimiento magnético blando• recubrimiento magnético duro: aleación de cobalto al lado de la
punta• recubrimiento magnético blando: al lado de la punta (coercividad
aprox. 0.75 Oe, magnetización remanente aprox. 225 emu/cm³)• magnetización permanente de la punta

PtIr5 Recubrimiento• Capa de 25 nm de cromo/platino-iridio5 de losdos lados de la sonda de barrido• compensa la tensión y resiste al desgaste• el recubrimiento al lado del detector aumenta lareflectancia del haz de láser con factor 2• permite mediciones eléctricas

Recubrimiento de oro(bajo pedido)• Recubrimiento de cromo/oro de 70
nm al dorso del cantilever• Recubrimiento de cromo/oro de 70
nm de los dos lados de la sonda

ARROW™
SONDAS DE AFM DE SILICIO
Posicionamiento optimizado debido a la visibilidad
máxima de la punta

General• sonda de SPM y AFM para imagen con alta resolución• compatible con todos los conocidos SPMs y AFMs comerciales• el cantilever y la punta están soportados por un chip portador de silicio monocristalino• diseño monolítico de chip soportador, cantilever y punta
Características del material• silicio altamente dopado monocristalino (resistencia 0.01 - 0.025 Ohm cm)• sin tensión intrínseca y cantilevers absolutamente rectos• silicio químicamente inerte para aplicación en fluidos o células electromagnéticas.

ArrowTM Vista superior

Cantilever• cantilever rectangular con libre final triangular• fácil posicionamiento de la punta en la zona de interés gracias a la forma Arrow™
• distancia uniforme entre la punta y el final del cantilever• sección transversal trapezoide con parte posterior ancha para fácil ajuste del láser
Arrow

TM

Chip portador• las dimensiones del chip portador son muy reproducibles (3.4 mm x 1.6 mm x 0.3 mm)• las partes cortadas del chip portador evitan el contacto entre el chip portador y la muestra

Vista frontal

Tilt 13°Punta• altura de la punta 10 - 15 µm y radio de la curva típico < 10 nm (garantizado < 15 nm)• ángulos macroscópicos semicónicos- de 30° a 35°, vistos del eje del cantilever- de 20° a 25°, vistos de lado
Dimensiones del envase• envases pequeños de 10, 20 ó 50 sondas de barrido• oblea completa (wafer) con mínimo 380 sondas de barrido

RECUBRIMIENTOS DISPONIBLES

Gracias a la forma especial de la punta se obtienen imágenes deescaneoextremadamente simétricos en
dirección x- y y- cuando la sonda está
inclinada debido a su instalación en lacabeza de AFM.

Recubrimiento reflectante• Recubrimiento de aluminio de espesor
de 30 nm al dorso del cantilever• aumenta la reflectancia del haz deláser con factor 2.5• evita que la luz interfiera dentro delcantilever

Recubrimiento PtIr5• Recubrimiento de 25 nm de platino iridio5 en
ambos lados de la sonda• estrés compensado y resistente al desgaste• el recubrimiento lateral del detector aumenta
la reflectancia del haz de láser con factor de 2
• permite mediciones eléctricas• Otros recubrimientos están disponibles bajo pedido

A R R O W ™ Sondas de escaneo de frecuencia ultra alta (UHF)A R R O W ™ Cantilevers y conjunto de cantilevers sin punta (TL)

Arrow™ UHF

Vista 3D de Arrow™ UHF

Las sondas NanoWorld Arrow™ UHF tienen un cantilever capaz de resonar con una
frecuencia de hasta 2 MHz. Estas sondas combinan una sensibilidad excepcional con una
rápida capacidad de escaneo. Como para todas las sondas de la serie Arrow™, las sondas
Arrow™ UHF son de hecho de silicio monolítico que está altamente dopado para disipar
la carga estática. Es químicamente inerte y ofrece un alto factor Q mecánico para una altasensibilidad.
Las sondas Arrow ™ UHF se caracterizan por un cantilever triangular de 35 μm de longitud
y una punta tetraédrica con una altura de 3 μm y un radio de curvatura menor a 10 nm.
La exclusiva forma de Arrow™ permite un fácil posicionamiento de la punta en la zona deinterés.

Primer plano de vista 3D deArrow™ UHF

El recubrimiento reflectante (aluminio u oro) en el lado del detector del cantilever mejora
la reflectancia del haz de láser en un factor de 2.5 y evita que la luz interfiera dentro delcantilever.

Arrow™ TL (Cantilevers sin punta para aplicaciones especiales)
Las sondas Arrow™ TL SPM y AFM tienen cantilevers sin punta y están disponibles con
1 cantilever o un conjunto de de 2 o 8 cantilevers rectangulares con un libre extremo
triangular.
ArrowTM UHF

Para todos los tipos de la serie Arrow™ TL existe también la opción con recubrimiento deoro en la parte superior del cantiléver.
Datos del cantilever
Frecuencia de resonancia

6 kHz

Constante de fuerza

0.03 N/mLongitud

500 µmAnchura (parte rectangular)

100 µmEspesor1.0 µm

Paso (en el caso de TL2 y TL8)

250 μmArrow™ TL1
Cantilever sin punta, cantileverúnico sobre un chip portador desilicio monocristalino

Arrow™ TL2
Conjunto de cantilevers sin puntas,
2 cantilevers sobre chip portador
de silicio monocristalino

Arrow™ TL8
Conjunto de cantilevers sin puntas,
8 cantilevers sobre chip portador
de silicio monocristalino

CANTILEVERS ULTRACORTOS (USC)
Para AFM de alta velocidad

GeneralLos cantilevers ultracortos (USC) de NanoWorld para AFM de alta velocidad (HS-AFM)
combinan cantilevers muy pequeños hechos de un material similar al cuarzo que están
diseñados para resonar a frecuencias de hasta 5 MHZ y una alta densidad muy fuerte yresistente al desgaste punta de carbono/ carbono como diamante (HDC/ DLC).

Vista 3D de cantilever USC• especialmente diseñado para aplicaciones de escaneo de alta velocidad• no se puede utilizar en todos los SPM y AFM comerciales debido a las pequeñas
dimensiones de los cantilevers (ver la página siguiente)• el cantilever y la punta se soportan por un solo chip portador de silicio monocristalino• sin estrés intrínseco y cantilevers absolutamente rectos
Cantilever• cantilever rectangular con ángulos redondeadas en el extremo libre• cantilever de material similar al cuarzo

Vista 3D de chip portador de USC

Vista frontal de la punta USC

Chip portador• las dimensiones del chip portador son muy reproducibles (3.4 mm x 1.6 mm x 0.3 mm)• las esquinas grabadas y bajadas del chip portador evitan el contacto entre el chip
portador y la muestra• las ranuras de alineación en la parte posterior del chip portador de silicio junto con el chipde alineación aseguran el reemplazo de las sondas sin un reajuste importante del haz de
láser
Punta
• punta nanotools® de carbono de alta densidad/carbono como diamante (HDC/DLC)• altura típica de la punta de 2.5 μm y radio típico de la curvatura < 10 nm• coeficiente típico de longitud de la punta 5:1 y compensación de inclinación de 8°
Dimensiones del envase• paquete de 10 sondas AFM

RECUBRIMIENTOS DISPONIBLES
Detalle de la punta de USC

Recubrimiento reflectante de oro• recubrimiento reflectante de oro de espesor de 20/30 nm en ambos lados de la sonda• mejora la reflectancia del haz de láser• la punta se mantiene sin recubrimiento

Para cubrir una amplia gama de posibles aplicaciones con AFM de alta velocidad, se han
desarrollado seis diferentes tipos de cantilevers ultracortos (USC): tres tipos con frecuencias
de resonancias muy altas (1.2 MHz – 5 MHz) y constantes de alta fuerza principalmentepara aplicaciones en modo dinámico en aire y tres tipos con altas frecuencias de baja
fuerza (0.15 N/m - 0.6 N/m) principalmente para aplicaciones en líquidos.
USC-F5-k30 Vista 3D Cantilever

USC principalmente para aplicaciones en modo dinámico en aire• frecuencia de resonancia de 1.2 MHz y superior• rigidez de 3.0 N/m y superior• diseñado principalmente para aplicaciones en modo sin contacto en aire, pero también
se puede utilizar para otras aplicaciones

USC-F5-k30 Vista superior Cantilever

USC-F1.2-k0.15 Vista 3D Cantilever

USC-F1.2-k0.15 Vista superior
Cantilever

Tipo

USC-F5-k30

USC-F2-k3

USC-F1.2-k7.3

Frecuencia de resonancia

5.0 MHz

2.0 MHz

1.2 MHz

Constante de fuerza

30 N/m

3.0 N/m

7.3 N/mLongitud de cantilever

10 μm

10 μm

20 μm

Anchura de cantilever

5 μm

5 μm

10 μm

Espesor

0.68 μm

0.28 μm

0.67 μm

USC principalmente para aplicaciones en líquidos• frecuencia de resonancia de 1.5 MHz e inferior• rigidez de 0.6 N / m e inferior• diseñado principalmente para aplicaciones en líquido, pero también se puede usar para
aplicaciones en aire (según la aplicación)
Tipo

USC-F1.5-k0.6

USC-F1.2-k0.15

USC-F0.3-k0.3

Frecuencia de resonancia

1.5 MHz

1.2 MHz

0.3 MHz

Constante de fuerza

0.6 N/m

0.15 N/m

0.3 N/mLongitud de cantilever

7 μm

7 μm

20 μm

Anchura de cantilever

3 μm

2 μm

10 μm

Espesor de cantilever

0.10 μm

0.08 μm0.19 μm* Valores en aire

Para obtener más información sobre los desarrollos en curso de las sondas AFM para AFM
de alta velocidad y para ver ejemplos de aplicación, consulte: www.highspeedscanning.com

Limitaciones del sistema: debido a sus pequeños tamaños de cantilevery sus muy altas frecuencias de resonancia, las sondas USC actualmente
no se pueden usar en todos los SPM y AFM disponibles en el mercado.
Solo los AFM con un punto láser suficientemente pequeño y una electrónica que son capaces de manejar altas frecuencias de resonancia dehasta 5 MHz pueden funcionar con las sondas USC. Si tiene dudas si
estas sondas se pueden usar en su AFM, le solicitamos que nos consulteo se ponga en contacto con su fabricante de AFM.

PYREX-NITRIDE-AFM-PROBES
El nivel más alto de afilado y durabilidad

General• sondas de SPM y AFM para amplia gama de aplicaciones en modo contacto y modo
dinámico• compatibles con todos los conocidos SPMs y AFMs comerciales• cantilevers y puntas de nitruro de silicio• los cantilevers se soportan por un chip portador fabricado de vidrio borosilicato• se suministran como chips portadores por separado para manejo más fácil
Primer plano de la sonda AFM denitruro de Pyrex

Características del material• nitruro de silicio con baja tensión para mínima flexión del cantilever• dureza perfecta para resistencia a desgaste y una vida prolongada
Cantilevers• modelo con cantilevers rectangulares ó cantilevers triangulares a cada chip• • versión de palanca única con un cantilever triangular(compatible con el modo PeakForce Tapping™ y ScanAsyst®)• recubrimiento reflectante de oro en el lado del detector de los cantilevers• compensación de la tensión con flexión inferior a 2°

Dibujo 3D de cantilevers
triangulares de nitruro de Pyrex

Chip portador• chips portadores fabricados de vidrio borosilicato (3.4 mm x 1.6 mm x 0.5 mm)• manejo fácil debido a los chips portadores únicos
Puntas• puntas piramidales afiladas mediante oxidación• altura de la punta 3.5 µm y radio típico de la curvatura de la punta < 10 nm• ángulos macroscópicos semicónicos 35°

Dibujo 3D de cantileversrectangulares de nitruro de Pyrex(Dinving Board)

Dimensiones del envase• envases de 20 o 50 sondas AFM

RECUBRIMIENTOS DISPONIBLES

Dibujo 3D de Cantilevers
triangulares simples de nitruro de
Pyrex para PeakForce Tapping™ y
ScanAsyst®

Recubrimiento de oro• El recubrimiento reflectante de oro de espesor de 70 nm en el lado deldetector de los cantilevers mejora la reflectancia del haz del láser• recubrimiento de oro opcional de espesor de 35 nm en el lado de la punta(parte frontal) de los cantilevers

PYREX-NITRIDE-AFM-PROBES
Cantilevers triangulares (PNP-TR)
Cantilevers en forma de trampolín (PNP-DB)
Cantilever triangular simple (PNP-TRS)

Cantilevers triangulares (PNP-TR)• cantilevers de forma triangular• modelo con varios cantilevers• recubrimiento reflectante de oro en ellado del detector de los voladizos• disponible en variante con
recubrimiento de oro en ambos ladosde la sonda

Cantilever #
Forma

1

2
Triangular

Cantilevers en forma detrampolín (PNP-DB)

Cantilever triangular simple(PNP-TRS)• Cantilevers rectangulares en forma
de trampolín• modelo con varios cantilevers• recubrimiento reflectante de oro
en el lado del detector de loscantilevers• cantilever de forma triangular simple

Cantilever #Cantilever #

1

Forma

2

Rectangular• un cantilever por chip• recubrimiento reflectante de oro enel lado del detector del cantilever• diseñado para PeakForce TappingTM
y ScanAsyst® Mode*
1

Forma

Triangular

Frecuencia deresonancia

67 kHz

17 kHzFrecuencia deresonancia

67 kHz

17 kHzFrecuencia deresonancia

67 kHzConstante de fuerza

0.32 N/m

0.08 N/m

Constante de fuerza

0.48 N/m

0.06 N/m

Constante de fuerza

0.32 N/mLongitud

100 µm200 µmLongitud

100 µm200 µmLongitud

100 µm2 x 13.5 µm 2 x 28 µm

Anchura

40 µm

40 µm

Anchura2 x 13.5 µm

Espesor

600 nm

600 nmEspesor

600 nmAnchuraEspesor

600 nm

600 nmPNP sin punta (PNP-TR-TL)• las sondas triangulares denitruro de Pyrex también están
disponibles en una versión sin
punta• recubrimiento reflectante deoro en el lado del detector delos cantilevers• disponible con recubrimientode oro en ambos lados de lasonda

Pyrex-Nitride AFM Probe
Cantilever triangular sin punta

Pyrex-Nitride AFM Probe
Cantilever largo triangular sin punta
Close-up

Pyrex-Nitride AFM Probe
Cantilever corto triangular sin punta
Close-up* PeakForce TappingTM y ScanAsyst® son marcas comerciales registradas de Bruker Corp.

TABL A DE SELECCIÓN RÁPIDA

Modo de contacto

Aplicación

Modo de contacto

Recubrimiento

Recubrimiento

Punta/PartedelanteraParte deldetector

Arrow CONT

--

-

CONT

-

Arrow CONTR

-

CONTR

-

ZEILR

-

Arrow CONTPt

PtIr5

Reflex (Al)PtIr5

CONTPtModo de contacto(cantilever corto)

Modo de contacto /Contacto intermitente

Tipo

Modo de contacto
o contacto
intermitente

CONTSC-CONTSCR-

Reflex (Al)-

Reflex(Cr/Au)PNP-TR(triangularcantilevers)

Cantilever 1

PNP-TR-Au(triangularcantilevers)

Cantilever 1

Cantilever 2
Cr/Au

Cr/Au

Cantilever 2

PNP-DB
Cantilever 1(rectangular
Cantilever 2
cantilevers)-

Arrow NC--

Arrow NCPt

ConstantedefuerzaCantilever Longitud x
Anchura x Espesor

Arrow™

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm

Pointprobe®

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

Arrow™

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

27 kHz1.6 N/m

450 x 55 x 4 μm

Arrow™

14 kHz0.2 N/m

450 x 45 x 2 μm

Pointprobe®

13 kHz0.2 N/m

450 x 50 x 2 μm

Pointprobe®

25 kHz0.2 N/m

225 x 48 x 1 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.5 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.5 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.5 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.5 μm

67 kHz0.48 N/m 100 x 40 x 0.5 μm

17 kHz0.06 N/m 200 x 40 x 0.5 μm

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

330 kHz125 x 30 x 4 μm

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

330 kHz125 x 30 x 4 μm

285 kHz160 x 45 x 4.6 μm

Pointprobe-

Arrow™

Reflex (Al)

PtIr5

NCHPt

®

Arrow™
Pointprobe

PtIr5

®

Nitruro de silicio
piramidal

Pointprobe

NCHR
Modo de no
contacto /Contacto intermitente(alta frecuencia)

Frecuencia
deresonancia

Reflex(Cr/Au)NCH
Arrow NCR

Forma de la punta®

Arrow™
Pointprobe®

SSS-NCH--

SuperSharpSilicon™

AR5-NCHR-

Reflex (Al)High Aspect Ratio (5:1)

Non-Contact Mode / TappingMode

AR5T-NCHR(Tilt Compensated)
AR10-NCHR
DT-NCHR

42 N/m

330 kHz125 x 30 x 4 μm

High Aspect Ratio(10:1)
Diamante

Reflex (Al)Diamante

NCST

-

-

Pointprobe®

NCSTR

-

Reflex (Al)Pointprobe

NCL

-

-

Pointprobe®

NCLR

-

Reflex (Al)

NCLPt

PtIr5

Ptlr5

SSS-NCL--

SuperSharpSilicon™

AR5-NCLR-

Reflex (Al)High Aspect Ratio (5:1)

DT-NCLR

Diamante

Reflex (Al)Diamond

SEIHR-

Reflex (Al)Pointprobe®

SSS-SEIH--

SuperSharpSilicon™

400 kHz

80 N/m

125 x 30 x 4 μm

160 kHz

7.4 N/m

150 x 27 x 2.8 μm

190 kHz

48 N/m225 x 38 x 7 μm

130 kHz

15 N/m225 x 33 x 5 μm

CDT-NCHR
Non-Contact/
Soft-Tapping
Mode

Modo de no
contacto /Contacto intermitente(cantilever largo))®

CDT-NCLR
Modo de no
contacto/
Contacto intermitente(Modo de no
contacto Seiko)Pointprobe®

Arrow™

Pyrex-Nitride

Ultra-Short Cantilevers

TABL A DE SELECCIÓN RÁPIDA
Aplicación

High-Speed AFM

Modo decontacto

Tipo

USC-F1.5-k0.6
USC-F1.2-k0.15
USC-F0.3-k0.3

Modo de no
contacto /Contacto
intermitente

USC-F5-k30
USC-F2-k3
USC-F1.2-k7.3

Recubrimiento

Recubrimiento

Punta/PartedelanteraParte deldetectorAu(la punta
permanece
sin recubrimiento)

Reflex (Au)Au(la punta
permanece
sin recubrimiento)

Reflex (Au)

Arrow UHF

Reflex (Al)Arrow UHF-AuD

Forma de la
punta

Frecuencia
deresonancia

ConstantedefuerzaCantilever Longitud x
Anchura x Espesor

Deposición
con haz deelectrones(EBD) pico

1.5 MHz

0.6 N/m

7 x 3 x 0.10 μm

1.2 MHz0.15 N/m

7 x 2 x 0.08 μm

0.3 MHz

0.3 N/m

20 x 10 x 0.19 μm

Deposición
con haz deelectrones(EBD) pico

5.0 MHz

30 N/m20 x 5 x 0.68 μm

2.0 MHz

3.0 N/m

10 x 5 x 0.28 μm

1.2 MHz

7.3 N/m

20 x 10 x 0.67 μm

Arrow™

hasta
2.0 MHz-35 x 42 x 0.7 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

Reflex (Au)PeakForce
PNP-TRS
TappingTM /ScanAsyst® Mode-

Reflex (Al)

Nitruro desiliciopiramidal

Arrow FM--

Arrow™

FM
Modo demodulaciónde fuerza

240 x 35 x 3 μm

Pointprobe®

Arrow FMR-

Reflex (Al)FMR
DT-FMR

75 kHz2.8 N/m

225 x 28 x 3 μm

Arrow™

240 x 35 x 3 μm

Pointprobe®

225 x 28 x 3 μm

Diamante

Reflex (Al)Diamante

105 kHz

6.2 N/m

225 x 28 x 3 μm

75 kHz2.8 N/m

240 x 35 x 3 μm

Aplicaciones especiales

CDT-FMR
Microscopia
de fuerza
electrostática

Arrow EFM

PtIr5

PtIr5

Arrow™

EFM

PtIr5

PtIr5

Pointprobe

Microscopia
de fuerzamagnética

MFMR

Duro
magnéticoReflex (Al)BlandomagnéticoReflex (Al)

Cantilevers
sin puntas

S-MFMR
Arrow TL1

1 cantilever--

Arrow TL1-Au

1 cantilever

Ti/Au

-

Arrow TL2

Conjunto de 2 cantilevers--

Arrow TL2-Au

Conjunto de 2 cantilevers

Ti/Au

-

Arrow TL8

Conjunto de 8 cantilevers--

Arrow TL8-Au

Conjunto de 8 cantilevers

Ti/Au

-

PNP-TR-TL

cantilevers
triangulares

Cantilever 1-

cantilevers
triangulares

Cantilever 1

PNP-TR-TL-Au

Cantilever 2

Cantilever 2

Au

Reflex (Au)

225 x 28 x 3 μm®

Pointprobe®

75 kHz2.8 N/mSilicio sin
puntas

6 kHz

0.03 N/m 500 x 100 x 1 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.6 μm

67 kHz0.32 N/m 100 x 13.5 x 0.6 μm

17 kHz0.08 N/m 200 x 28 x 0.6 μm

Nitruro desilicio sin
puntas225 x 28 x 3 μm

Para obtener más información, visite nuestro sitio web en www.nanoworld.com. Todos los datos están sujetos a cambios. NanoWorld® y Pointprobe® son marcas comerciales registradas deNanoWorld AG. PeakForce TappingTM y ScanAsyst® son marcas comerciales registradas de Bruker Corp.

POINTPROBE®

Acerca de NanoWord
La nanotecnología es nuestro campo. La precisión es nuestra tradición.
La innovación es nuestra herramienta clave.
Por eso estamos ubicados en Suiza,
una de las áreas más fuertes e innovadoras en Europa.
Aprovechando nuestros conocimientos y sondas de alta precisión, nuestros
clientes puedenconseguir los mejores resultados con la Microscopia de Sondas
de Barrido (SPM) y en particular con la Microscopia de Fuerza Atómica (AFM).

ARROW™

La amplia selección de formas de punta, constantes de resorte, frecuencias deresonancia y recubrimientos se traduce en la sonda más adecuada tanto para su
investigación, como en aplicaciones industriales.
Las sondas AFM Pointprobe® Silicon son las sondas AFM más utilizadas y
conocidas en todo el mundo y se han convertido en las sondas estándar
en muchos laboratorios. Las sondas AFM de la serie Pointprobe® están
disponibles en diferentes versiones de cantilevers y formas de punta.

ULTRA -SHORTCANTILEVERSPYREX-NITRIDE

Las sondas AFM de la serie Arrow ™ tienen una forma de punta única que
permite posicionamiento fácil de la punta en la zona de interés. La versión
Arrow ™ UHF es diseñado para escaneo de alta velocidad con una frecuencia
de resonancia de hasta 2 MHz.
Con la serie Ultra Short Short Cantilevers, NanoWorld ahora ofrece una gamacompleta de sondas AFM para AFM de alta velocidad. Están diseñados para
resonar con frecuencia de hasta 5 MHz y presenta una punta de carbono
de alta densidad/ carbono como diamante (HDC/ DLC)muy resistente aldesgaste. Tres versiones diferentes principalmente para aplicaciones en aire ytres versiones diferentes principalmente para aplicaciones en líquido están
disponibles actualmente.
Las sondas PNP de nitruro de silicio AFM están disponibles como versiones con
múltiples cantilevers triangulares, una versión con un solo cantilever triangular,
así como un versión con múltiples cantilevers rectangulares. Cuentan con una
punta de nitruro de silicio piramidal con un radio de curvatura inferior a 10 nm.
También están disponibles cantilevers triangulares de nitruro de silicio sin punta
con recubrimiento de oro en el lado del detector o en ambos lados de loscantilevers.

NanoWorld AG
Sede
Rue des Saars 10
CH-2000 Neuchâtel
Suiza

Teléfono: +41 325 521 515
Fax: +41 325 521 516
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