ダイオキシン類に係る底質調査測定マニュアル

平成１２年３月

環境庁水質保全局水質管理課

目

次

はじめに
1.

対象物質

2.

用語・略語の定義

3.

調査・測定方法の概要

4.

調査方法

5.

6.

………………………………………………………………………

1……………………………………………………………

1………………………………………………………

4………………………………………………………………………

64.1

試料採取時期及び試料採取地点………………………………………

6

4.2

採泥方法

…………………………………………………………………

6

4.3

採泥時に実施すべき事項

4.4

採泥時の試料の調製

4.5

その他

………………………………………………

6……………………………………………………

6……………………………………………………………………

6

測定分析方法 ……………………………………………………………………

7

5.1

前処理方法の概要………………………………………………………

7

5.2

試薬

………………………………………………………………………

8

5.3

器具及び装置

5.4

抽出操作

5.5

クリーンアップ

5.6

測定

5.7

同定及び定量5.8

検出下限及び定量下限5.9……………………………………………………………

13…………………………………………………………………

14…………………………………………………………

15………………………………………………………………………

18……………………………………………………………

23…………………………………………………

26

結果の報告

………………………………………………………………

28

測定精度の管理………………………………………………………………

32

6.1

測定データの信頼性の確保……………………………………………

32

6.2

測定操作における留意事項……………………………………………

32

6.3

精度管理に関する記録保管・報告……………………………………

34

はじめに
本マニュアルは、底質中のダイオキシン類濃度に関して調査を行う場合に活用されることを目的として、試料採取と分析の技術的手法を示したものである。調査に当たっては 、本マニュアルに示す手法に準じ 、調査対象域及びその周辺の状況 ・調査対象試料の性状などに応じて計画・方法を策定することが望ましい。
なお、調査対象域及びその周辺の状況・調査対象試料の性状などによっては 、本マニュアルの示す以外の適当な方法を用いることは差し支えない。
また、今後、科学的知見の集積などによって、必要に応じ本マニュアルの改定があり得るものであ
る。

1.

対象物質
本マニュアルでは、底質のダイオキシン類、すなわちテトラからオクタクロロジベンゾ-パラ-ジ オ

キシン（PCDDs ）、テトラからオクタクロロジベンゾフラン（PCDFs）及びコプラナーPCBs を対象物質とする。

2.

用語・ 略 語 の 定 義
本マニュアルの中で記載する用語・略語の定義を次のように定める。

( 1 ) ダ イ オ キ シ ン 類 ：ジベンゾ-パラ-ジオキシンとジベンゾフランで表される化合物の総称であるが、ここではこれに(22)で定義するコプラナー PCBs を含める。ジベンゾ-パラ-ジオキシンとジベンゾ
フランに関しては、本マニュアルではテトラ、ペンタ、ヘキサ、ヘプタ及びオクタクロロジベン
ゾ-パラ-ジオキシン及びテトラ、ペンタ、ヘキサ、ヘプタ及びオクタクロロジベンゾフランを示す。
(2)

異 性 体 ：異性の関係にある化合物。ここでは、各個別の化合物を指す。

(3)

同 族 体 ：塩素の置換数が同じで、置換位置だけを異にする化合物の一群を指す。

( 4 ) P C D D s ：ポリクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン( 5 ) P C D F s ：ポリクロロジベンゾフラン( 6 ) T e C D D s ：テトラクロロジベンゾ -パラ-ジオキシン又は四塩化ジベンゾ-パラ-ジオキシン( 7 ) P e C D D s ：ペンタクロロジベンゾ -パラ-ジオキシン又は五塩化ジベンゾ-パラ-ジオキシン( 8 ) H x C D D s ：ヘキサクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン又は六塩化ジベンゾ -パラ-ジオキシン(9)

H p C D D s ：ヘプタクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン又は七塩化ジベンゾ-パラ-ジオキシン( 1 0 ) O C D D ：オクタクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン又は八塩化ジベンゾ-パラ-ジオキシン(11) T e C D F s ：テトラクロロジベンゾフラン又は四塩化ジベンゾフラン( 1 2 ) P e C D F s ：ペンタクロロジベンゾフラン 又は五塩化ジベンゾフラン( 1 3 ) H x C D F s ：ヘキサクロロジベンゾフラン又は六塩化ジベンゾフラン( 1 4 ) H p C D F s ：ヘプタクロロジベンゾフラン又は七塩化ジベンゾフラン( 1 5 ) O C D F ：オクタクロロジベンゾフラン 又は八塩化ジベンゾフラン( 1 6 ) 2,3,7,8- 位 塩 素 置 換 異 性 体 ：2,3,7,8-位に置換塩素をもつテトラからオクタクロロジベンゾ -パラジオキシン７種とテトラからオクタクロロジベンゾフラン 10種の計 17異性体で以下に示すものである。
a)テ ト ラ か ら オ ク タ ク ロ ロ ジ ベ ン ゾ- パ ラ- ジ オ キ シ ン
2,3,7,8-テトラクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン (2,3,7,8-TeCDD)
1,2,3,7,8-ペンタクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン(1,2,3,7,8-PeCDD)
1,2,3,4,7,8-ヘキサクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン(1,2,3,4,7,8-HxCDD)
1,2,3,6,7,8-ヘキサクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン(1,2,3,6,7,8-HxCDD)−1−

1,2,3,7,8,9-ヘキサクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン(1,2,3,7,8,9-HxCDD)
1,2,3,4,6,7,8- ヘプタクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン (1,2,3,4,6,7,8-HpCDD)
オクタクロロジベンゾ-パラ-ジオキシン(OCDD)b)

テトラからオクタクロロジベンゾフラン
2,3,7,8-テトラクロロジベンゾフラン(2,3,7,8-TeCDF)
1,2,3,7,8-ペンタクロロジベンゾフラン(1,2,3,7,8-PeCDF)
2,3,4,7,8-ペンタクロロジベンゾフラン(2,3,4,7,8-PeCDF)
1,2,3,4,7,8-ヘキサクロロジベンゾフラン(1,2,3,4,7,8-HxCDF)
1,2,3,6,7,8-ヘキサクロロジベンゾフラン(1,2,3,6,7,8-HxCDF)
1,2,3,7,8,9-ヘキサクロロジベンゾフラン(1,2,3,7,8,9-HXCDF)
2,3,4,6,7,8-ヘキサクロロジベンゾフラン(2,3,4,6,7,8-HXCDF)
1,2,3,4,6,7,8- ヘプタクロロジベンゾフラン(1,2,3,4,6,7,8-HpCDF)
1,2,3,4,7,8,9- ヘプタクロロジベンゾフラン(1,2,3,4,7,8,9-HpCDF)
オクタクロロジベンゾフラン(OCDF)( 1 7 ) P C B s ：ポリクロロビフェニル又はポリ塩化ビフェニル( 1 8 ) T e C B s ：テトラクロロビフェニル 又は四塩化ビフェニル( 1 9 ) P e C B s ：ペンタクロロビフェニル又は五塩化ビフェニル( 2 0 ) H x C B s ：ヘキサクロロビフェニル 又は六塩化ビフェニル( 2 1 ) H p C B s ：ヘプタクロロビフェニル又は七塩化ビフェニル( 2 2 ) コ プ ラ ナ ーP C B s ：ポリクロロビフェニル(PCBs)のなかで PCDDs ・PCDFs と同様の毒性をもつ
異性体を指し、オルト位(2,2’,6 及び 6’)に置換塩素をもたない異性体 (ノンオルト体)及びオルト位に置換塩素が１個ある異性体(モノオルト体)の中の 次に示すもので、PCDDs ・PCDFs と同様にへん平構造を示す。
a)

ノンオルト体
3,4,4’,5-テトラクロロビフェニル [3, 4,4’, 5-TeCB(IUPAC＊ No.81)]
3,3’,4,4’-テトラクロロビフェニル [3,3’,4,4’ -TeCB(IUPAC No.77)]
3,3’,4,4’,5-ペンタクロロビフェニル [3,3’,4,4’,5-PeCB(IUPAC No.126)]
3,3’,4,4’,5,5’ -ヘキサクロロビフェニル[3,3’,4,4’,5,5’-HxCB(IUPAC No.169) ]b)

モノオルト体
2,3,3’, 4,4’ -ペンタクロロビフェニル [2,3,3’, 4,4’ -PeCB(IUPAC No.105)]
2,3,4,4’,5-ペンタクロロビフェニル [2,3,4,4’,5-PeCB(IUPAC No.114)]
2,3’,4,4’,5-ペンタクロロビフェニル [2,3’,4,4’,5-PeCB(IUPAC No.118)]
2’,3,4,4’,5-ペンタクロロビフェニル [2’,3,4,4’,5-PeCB(IUPAC No.123) ]2,3,3’,4,4’,5-ヘキサクロロビフェニル[2,3,3’,4,4’,5-HxCB(IUPAC No.156) ]2,3,3’,4,4’, 5’ -ヘキサクロロビフェニル[2,3,3’,4,4’, 5’-HxCB(IUPAC No.157)]
2,3’,4,4’,5,5’ -ヘキサクロロビフェニル[2,3’,4,4’,5,5’-HxCB(IUPAC No.167)]
2,3,3’,4,4’,5,5’-ヘプタクロロビフェニル[2,3,3’,4,4’,5,5’ -HpCB(IUPAC No.189)]( 2 3 ) 装 置 の 検 出 下 限 ：測定に使用する GC/MS で検出できる最小量。
( 2 4 ) 測 定 方 法 の 検 出 下 限 ：前処理から GC/MS による測定までの一連の操作において検出できる最小量。
( 2 5 ) 試 料 に お け る 検 出 下 限 ：検出できる試料中の最小濃度。
( 2 6 ) 装 置 の 定 量 下 限 ：測定に使用する GC/MS で定量が可能な最小量。
( 2 7 ) 測 定 方 法 の 定 量 下 限 ：前処理から GC/MS による測定までの一連の操作において定量が可能な最小量。
−2−

( 2 8 ) 試 料 に お け る 定 量 下 限 ：定量が可能な試料中の最小濃度。
( 2 9 ) T E F ：2,3,7,8-TeCDD 毒性等価係数（2,3,7,8-T eCDD Toxicity Equivalency Factor ）( 3 0 ) T E Q ：2,3,7,8-TeCDD 毒性等量（2,3,7,8-T eCDD Toxicity Equivalency Quantity ）( 3 1 ) R R F ：相対感度係数（Relative Response Factor ）注＊

International Union of Pure and Applied Chemistry の略。

−3−

3.

調査・ 測 定 方 法 の 概 要
試料 を採 取 し 、 ダ イ オ キ シ ン 類 を 抽 出 後 、 ク リ ー ン ア ッ プ し て ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ 質 量 分 析 計(GC/MS)で同定、定量する。この試料採取から測定の流れを図−1 に示す。
採取時期及び採取地点の選定

試料の採取

試料採取の準備

代表試料の採取

試料保存・運搬

試料からの抽出内標準物質の添加 （クリーンアップスパイク）

抽 出 液

クリーンアップ
内標準物質の添加 （シリンジスパイク)
GC/MS 測定用試料

GC/MS による同定と定量装置の維持管理、GC カラム取り付け
分解能(R>10,000)、透過率など調整
質量校正
標準液の測定（検量線）

検量線の直線性（毎回でなくてよい、定期的に）検出下限及び定量下限の確認
感度、クロマトグラムピーク形状（分離能）

実試料の測定操作ブランク二重測定

S/N 比評価、操作ブランク試験値確認
クロマトグラムピーク形状
妨害成分、感度変動

ダイオキシン類 の同定
相対保持時間の一致
塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比の評価
異性体の分離状況

ダイオキシン類 の定量
TEQ 算出ダイオキシン類 の濃度値確定

図 −1

試料の採取から測定の流れ−4−

本マニュアルにおいては、検出下限や操作ブランク値などの許容性を判断する基準として、試料における検出下限の目標値（以下、「目標検出下限」という）を導入した。目標検出下限は、本マニュア
ルにおいては原則として、表−1 に示すとおりとした。ダイオキシン類の毒性等量に換算すると 0.234
pg-TEQ/g に相当する（目標検出下限の 1/2 の値を用いた）。
表−1

目標検出下限ダイオキシン類の各異性体の目標検出下限

四〜五塩素化物
0.1pg/g

PCDD、PCDF
六〜七塩素化物
0.2pg/g

八塩素化物
0.5pg/g

コプラナー
PCB
0.5pg/g

表−1 に示した検出下限を得るには、GC/MS の装置の検出下限を四塩素化物で 0.1pg、測定用試料を 20μL （PCDDs ・PCDFs 用、コプラナーPCB 用それぞれ）、GC/MS への注入量を 2μL 、回収率
を 50%とした場合、底質試料の採取量は 40g 程度が目安となる。
また、本マニュアルに記載されている商品名は、このマニュアル使用者の便宜のために、一般に入手できるものとして例示したが、これらを推奨するものではない。これと同等以上の品質、性能のものを用いてもよい。

備考

ダイオキシン類は非常に有害性が高いので、吸入や誤飲、直接皮膚への接触などをできるだ

け避け、実験室の換気及び廃液や廃棄物の管理は十分に行う。また、その他の薬品、溶媒などでも吸入や誤飲により測定者の健康を損ねるものがあるので、取り扱いはできるだけ慎重に行い、実験室の十分な換気に注意する。

−5−

4.

調査方法

4 .1

試料採取時期及び試料採取地点

試料採取時期及び地点は、調査目的に合致した試料が採取できるように選定する。
4 .2

採泥方法

4.1 の各採泥地点において、エクマンバージ型採泥器又はこれに準ずる採泥器( 1 ) によって、原則底質表面から 10cm 程度の泥を３回以上採取し、それらを混合して採泥試料とする。
なお、深さ方向の調査が必要な場合には、柱状試料を各層から採取することとする。この柱状試料から表層の情報を得たい場合には、底質表面から 10cm 程度の泥を混合したものを試料とする。
注( 1 ) エクマンバージ型採泥器での採取が困難な場合は、これに準ずる採泥器を使用するものとし、使用器具名、泥状、採泥層厚などの情報を記録する。
4 .3

採泥時に実施すべき事項

採泥日時、採泥地点（図示すること及び緯度経度）、採泥方法（使用した採泥器の種類、大きさ）、
底質の状態（堆積物、砂、泥などの別、色、pH、臭気など）は直ちに目視あるいは 測定して記録する。
また、柱状採泥の場合は、コアの深さも記録する。なお、調査の目的に応じてその他の項目を適宜追
加する。
4 .4

採泥時の試料の調製

採泥試料を清浄なバットなど （ダイオキシン類の吸着、溶出などがない材質 （ステンレス製 など ）のものを使用する）に移し、小石、貝殻、動植物片などの異物を除いた後、 均一に混合し、その 500〜1,000g を密閉可能なガラス製容器に入れて、ポリエチレン袋などで密封し、クーラーボックス等に入れ氷冷して実験室に持ち帰るものとする。
試料はできるだけ速やかに分析する。直ちに分析が行えない場合には、遮光した状態において４℃
以下で保存することとする。
4 .5

その他

採取試料 の主な物理・化学的情報（水分、強熱減量、粒度組成、有機炭素量、硫化物）などを併せて分析することが望ましい。

−6−

5.

測定分析方法5.1

前処理方法の概要

風乾後、 試料をはかり取り、内標準物質を添加した後、有機溶媒により抽出を行う。抽出後、必要に応じて分取し、硫酸処理 -シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又は硫酸処理-多層シリカゲルカラ
ムクロマトグラフ操作を行い、PCDDs・PCDFs 測定用とコプラナーPCBs 測定用に分け、それぞれ活性炭カラムクロマトグラフ操作又はアルミナカラムクロマトグラフ操作（必要に応じて 2 つの操作）を行う。これらの操作によってクリーンアップされた試料をガスクロマトグラフ質量分析法によって測定する。図−2 に試料の前処理から測定までのフローの例を示す。

試

料

抽

出

内標準物質の添加（クリーンアップスパイク ）

抽 出 液

一部分取

硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作
又は硫酸処理−多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作

PCDDs・PCDFs 測定用

コプラナーPCBs 測定用

活性炭カラムクロマトグラフ操作又はアルミナカラムクロマトグラフ操作（必要に応じて 2 つの操作を実施する）

活性炭カラムクロマトグラフ操作又はアルミナカラムクロマトグラフ操作（必要に応じて 2 つの操作を実施する）

内標準物質の添加（シリンジスパイク）

測定用試料

測定用試料

図 −2

試 料 の 前 処 理か ら 測 定 ま で の フ ロ ー の 例

−7−

5 .2

試薬

全ての試薬類にはダイオキシン類 の測定分析に影響を及ぼす妨害成分が含まれていないことが要求される。使用に先立って確認試験を行うこと( 2 ) 。
(1)

水 ：JIS K 0557 に規定する A4(又は A3)の水。

(2)

メ タ ノ ー ル ：JIS K 8891 に規定するもの、又は同等の品質のもの。

(3)

ア セ ト ン：JIS K 8040 に規定するもの、又は同等の品質のもの。

(4)

ヘ キ サ ン：JIS K 8825 に規定するもの、又は同等の品質のもの。

(5)

ト ル エ ン：JIS K 8680 に規定するもの、又は同等の品質のもの。

(6)

ジ ク ロ ロ メ タ ン ：JIS K 8117 に規定するもの、又は同等の品質のもの。

(7)エ タ ノ ー ル ：JIS K 8093 に規定するもの、又は同等の品質のもの。

(8)デ カ ン ：測定に支障のない品質のもの。

(9)イ ソ オ ク タ ン ：測定に支障のない品質のもの。

( 1 0 ) ノ ナ ン ：測定に支障のない品質のもの。
(11) 硫酸 ：JIS K 8951 に規定するもの、又は同等の品質のもの。
( 1 2 ) 硫 酸 ナ ト リ ウ ム ：JIS K 8987 に規定するもの、又は同等の品質のもの。使用前に 450℃にて数時間加熱処理するとよい。
( 1 3 ) 水 酸 化 カ リ ウ ム ：JIS K 8574 に規定するもの、又は同等の品質のもの。
( 1 4 ) 硝 酸 銀 ：JIS K 8550 に規定するもの、又は同等の品質のもの。
( 1 5 ) 塩 化 ナ ト リ ウ ム ：JIS K 8150 に規定するもの、又は同等の品質のもの。使用前に 450℃にて数時間加熱処理するとよい。
( 1 6 ) ヘ キ サ ン 洗 浄 水 ：(1)の水を(4)のヘキサンで十分洗浄したもの。
( 1 7 ) ジ ク ロ ロ メ タ ン( 2 5 v o l % ) を 含 む ヘ キ サ ン 溶 液：ジクロロメタンとヘキサンを体積比 25:75 でよく混合したもの。
( 1 8 ) ジ ク ロ ロ メ タ ン( 2 v o l % ) を 含 む ヘ キ サ ン 溶 液 ：ジクロロメタンとヘキサンを体積比 2:98 でよく混合したもの。
( 1 9 ) ジ ク ロ ロ メ タ ン( 5 0 v o l % ) を 含 む ヘ キ サ ン 溶 液：ジクロロメタンとヘキサンを体積比 50:50 でよく混合したもの。
( 2 0 ) ジ ク ロ ロ メ タ ン( 5 v o l % ) を 含 む ヘ キ サ ン 溶 液 ：ジクロロメタンとヘキサンを体積比 5:95 でよく混合したもの。
( 2 1 ) シ リ カ ゲ ル ：カラムクロマトグラフ用シリカゲル（63〜212μm ）、又は同等の品質のもの。シリカゲルは必要に応じて次のメタノール洗浄を行う。適量 をビーカーなどに入れてメタノールで洗浄し、メタノールを十分揮散させる。これを層の厚さを 10mm 以下になるように蒸発皿又はビー
カーに入れ、130℃で約 18 時間乾燥した後、デシケーター内で約 30 分間放冷する。洗浄・乾燥後、密閉できる試薬ビンに入れ、デシケーター内で保存する。
( 2 2 ) 水 酸 化 カ リ ウ ム( 2 m a s s % ) シ リ カ ゲ ル ：(21)のシリカゲル 100g に対して、(13)の水酸化カリウムで調製した水酸化カリウム溶液(50g/L)40mL を加えた後、ロータリーエバポレーターを用いて約50℃で減圧脱水し、水分のほとんどを除去した後、温度を 50℃から 80℃に上げてさらに約１時
間減圧脱水を続けて粉末状にしたもの。調製後、密閉できる試薬ビンに入れ、デシケーター内で保存する。
( 2 3 ) 硫酸( 2 2 m a s s % ) シ リ カ ゲ ル：(21)のシリカゲル 100g に対して、(11)の硫酸 28.2g を添加後、十分振とうし粉末状にしたもの。調製後、密閉できる試薬ビンに入れデシケーター内で保存する。
( 2 4 ) 硫酸( 4 4 m a s s % ) シ リ カ ゲ ル：(21)のシリカゲル 100g に対して、(11)の硫酸 78.6g を添加後、十分振とうし粉末状にしたもの。調製後、密閉できる試薬ビンに入れデシケーター内で保存する。
( 2 5 ) 硝 酸 銀( 1 0 m a s s % )シ リ カ ゲ ル ：(21)のシリカゲル 100g に対して、 (14)の硝酸銀で調製した硝酸
銀溶液(400g/L)28mL を加えた後、ロータリーエバポレーターで水分を完全に除去したもの。硝酸−8−銀シリカゲルは褐色フラスコを使用して極力遮光して調製し、調製後は、密閉できる褐色ビンに入れ、デシケーター内で保存する。
( 2 6 ) ア ル ミ ナ ：カラムクロマトグラフ用アルミナ(塩基性、活性度Ⅰ)は、あらかじめ活性化したものが入手できる場合はそのまま使用してもよい。活性化する必要がある場合には、ビーカーに層の厚さを 10mm 以下にして入れて、130℃で約 18 時間乾燥、又はシャーレに層の厚さを約 5mm 程
度にして入れて 500℃で約 8 時間加熱処理した後、デシケーター内で約 30 分間の放冷後、密閉できる試薬ビンに保存する。活性化後は、速やかに使用する。
( 2 7 ) 銅粉 又 は 銅 チ ッ プ ：銅粉はあらかじめアセトン及びトルエンで洗浄する。銅チップは濃塩酸で表面の酸化皮膜を洗浄した後、水、アセトン、トルエンの順で洗浄する。
( 2 8 ) 活 性 炭 シ リ カ ゲ ル ：活性炭を含浸させたシリカゲル（活性炭埋蔵シリカゲル）。必要に応じて、トルエンで十分洗浄後、ロータリーエバポレーターで乾燥させ、密閉可能な容器に入れ、デシケーター内で保存する。
( 2 9 ) 質 量 校 正 用 標 準 物 質 ：ペルフルオロケロセン（ＰＦＫ）などの質量分析用高沸点成分を使用する。
(3 0 ) 標 準 物 質 ：内標準法による同定及び定量に使用する標準物質を表 −2 に示す。
(3 1 ) 内 標 準 物 質 ：すべての炭素又は塩素原子が 13 C 又は 37 Cl でラベルされた PCDDs 、PCDFs 及びコプラナーPCBs のうち適正な種類及び濃度のものを用いる。表 −3 に内標準物質を示す。内標
準物質には、以下の２種類があり、それぞれ別の異性体を用いる。
a)ク リ ー ン ア ッ プ ス パ イ ク 用 内 標 準 物 質 ：試料の抽出からクリーンアップまでの前処理操作全体の結果を確認し、PCDDs・PCDFs 及びコプラナーPCBs を定量するための基準となるために添加する内標準物質である。クリーンアップスパイク用として、表 −3 の標準物質のそれぞれラベ
ルされた内標準物質を用いる。アセトン溶液のものを添加する。

b ) シ リ ン ジ ス パ イ ク 用 内 標 準 物 質 ：GC/MS への試料液の注入を確認するために添加する内標準物
質で、クリーンアップスパイク用で使用したもの以外の内標準物質を用いる。ノナン( 3 ) 又はトルエン溶液のものを添加する。
(3 2 ) 検 量 線 作 成 用 標 準 液 ：(30)の標準物質と(31)のクリーンアップスパイク及びシリンジスパイクの内標準物質を混合して、GC/MS の定量範囲内で、0 を含めて GC/MS の検出下限の３倍程度の低濃度から 6 段階程度をノナン( 3 ) で希釈して調製する。検量線作成用標準液の調製例を表 −4 に示す。
(3 3 ) 円 筒 ろ 紙 ：ガ ラ ス 又は石英繊維製のものを使用する。使用に先立ってアセトン洗浄し、さらにジ
クロロメタンでソックスレー抽出器を用いて、予備洗浄するか、又は 450℃で数時間加熱処理し用いる。
注( 2 )

精製により PCDDs ・PCDFs 及びコプラナーPCBs の測定分析に影響を及ぼす成分が含まれていないことが確認されれば使用できる。

注( 3 )

デカン又はイソオクタンでもよい。

−9−

表 −2
P
C
D
D
s
・
P
C
D
F
s

測定に用いる標準物質

塩素置換体
四塩素化物

PCDDs
2,3,7,8-T eCDD

PCDFs
2,3,7,8-T eCDF

五塩素化物

1,2,3,7,8-P eCDD

六塩素化物

1,2,3,4,7,8-HxCDD
1,2,3,6,7,8-HxCDD
1,2,3,7,8,9-HxCDD

七塩素化物

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

1,2,3,7,8-P eCDF
2,3,4,7,8-P eCDF
1,2,3,4,7,8-H xCDF
1,2,3,6,7,8-H xCDF
1,2,3,7,8,9-H xCDF
2,3,4,6,7,8-H xCDF
1,2,3,4,6,7,8-H pCDF
1,2,3,4,7,8,9-H pCDF
1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD
3,3’,4,4’-T eCB(#77)**
3,4,4’,5-T eCB(#81)**
*
コ
五塩素化物
2,3,3’,4,4’ -P eCB(#105)***プ
2,3,4,4’,5-P eCB(#114)***ラ
2,3’,4,4’,5-P eCB(#118)***ナ
2’,3,4,4’,5-P eCB(#123)***｜3,3’,4,4’,5-P eCB(#126)**Ｐ
六塩素化物
2,3,3’,4,4’,5-HxCB(#156)***Ｃ
2,3,3’,4,4’, 5’ -HxCB(#157)***Ｂ
2,3’,4,4’,5, 5’ -HxCB(#167)***s
3,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#169)**
七塩素化物
2,3, 3’,4,4’,5,5’-HpCB(#189)***
注*( )内の数値は、 IUPAC No. を示す。
注**
ノンオルト体を示す。
注***
モノオルト体を示す。
八塩素化物
四塩素化物

−10−

表 −3
塩素置換体
四塩素化物
P
C
D
D
s
・
P
C
D
F
s

五塩素化物

六塩素化物

内標準物質

PCDDs
C 12-1,2,3,4-T eCDD
12
C 6 13 C 6 -1,2,3,4-T eCDD
13
C 12-1,2,6, 8-T eCDD
13
C 12-2,3,7,8-T eCDD
37
Cl4 -2,3,7,8-T eCDD
13
C 12-1,2,3,7,8-P eCDD
13
C 12-1,2,3, 4, 7-P eCDD
13

13

C 12-1,2,3,4,7,8-H xCDD
C 12-1,2,3,6,7,8-H xCDD
13
C 12-1,2,3,7,8,9-H xCDD
13
C 12-1,2,3, 4, 6,7-HxCDD
13

七塩素化物

13

八塩素化物

13

C 12-1,2,3,4,6,7,8-H pCDD

C 12-1,2,3,4,6,7,8,9- OCDD
C 12-2, 2’,5, 5’ -T eCB(#52)
13
C 12-2, 3’,4’, 5-T eCB(#70)
13
C 12-3,3’,4,4’ -T eCB(#77)
13
C 12-3,4,4’,5-T eCB(#81)
13
C 12-2, 3,3’,4,4’-PeCB(#105)
13
C 12-2,3,4,4’, 5-P eCB(#114)
13
C 12-2,3’,4,4’,5-PeCB(#118)
13
C 12-2’,3,4,4’,5-PeCB(#123)
13
C 12-3, 3’,4,4’,5-PeCB(#126)
13
C 12-2, 3,3’,4,4’,5-HxCB(#156)
13
C 12-2,3,3’,4,4’,5’ -HxCB(#157)
13
C 12-2,3’,4,4’, 5,5’ -HxCB(#167)
13
C 12-3, 3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#169)
13
C 12-2, 3,3’,4,4’,5,5’ -HpCB(#189)

PCDFs
C 12-2,3,7,8-T eCDF
12
C 6 13 C 6 -2,3,7,8-T eCDF
13
C 12-1,2,3,4-T eCDF
13
C 12-1,2,7, 8-T eCDF
13
C 12-1, 3,6, 8-T eCDF
13
C 12-1,2,3,7,8-P eCDF
13
C 12-2,3,4,7,8-P eCDF
12
C 6 13 C 6 -2,3,4,7,8-P eCDF
13
C 12-1,2,3,4,7,8-H xCDF
12
C 6 13 C 6 -1,2,3,4,7,8-HxCDF
13
C 12- 1,2,3,6,7,8-HxCDF
13
C 12- 1,2,3,7,8,9-HxCDF
13
C 12-2,3,4,6,7,8-H xCDF
13
C 12-1,2,3,4,6,7,8-H pCDF
12
C 6 13 C 6 -1,2,3,4,6,7,8-H pCDF
13
C 12-1,2,3,4,7,8,9-H pCDF
13
C 12- 1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF
13

13

*
コ
プ
ラ
ナ
｜
Ｐ
Ｃ
Ｂ
s

四塩素化物

五塩素化物

六塩素化物

七塩素化物

注* ( )内の数値は、IUPAC No. を示す。

−11−

表 −4
標準物質
2,3,7,8-T eCDD
1,2,3,7,8-P eCDD
1,2,3,4,7,8-H xCDD
1,2,3,6,7,8-H xCDD
1,2,3,7,8,9-H xCDD
1,2,3,4,6,7,8-H pCDD
OCDD
2,3,7,8-T eCDF
1,2,3,7,8-P eCDF
2,3,4,7,8-P eCDF
1,2,3,4,7,8-H xCDF
1,2,3,6,7,8-H xCDF
1,2,3,7,8,9-H xCDF
2,3,4,6,7,8-H xCDF
1,2,3,4,6,7,8-HpCDF
1,2,3,4,7,8,9-H pCDF
OCDF
13
C12 -2,3,7,8-T eCDD
13
C12 -1,2,3,7,8-P eCDD
13
C12 -1,2,3,4,7,8-HxCDD
13
C12 -1,2,3,6,7,8-HxCDD
13
C12 -1,2,3,7,8,9-HxCDD
13
C12 -1,2,3,4,6,7,8-H pCDD
13
C12 -OCDD
13
C12 -2,3,7,8-T eCDF
13
C12 -1,2,3,7,8-P eCDF
13
C12 -2,3,4,7,8-P eCDF
13
C12 -1,2,3,4,7,8-HxCDF
13
C12 -1,2,3,6,7,8-HxCDF
13
C12 -1,2,3,7,8,9-HxCDF
13
C12 -2,3,4,6,7,8-HxCDF
13
C12 -1,2,3,4,6,7,8-H pCDF
13
C12 -1,2,3,4,7,8,9-H pCDF
13
C12 -OCDF
3,3’,4,4’-TeCB(#77)
3,4,4’,5-T eCB(#81)
2,3,3’,4,4’-PeCB(#105)
2,3,4,4’,5-PeCB(#114)
2,3’,4,4’,5-P eCB(#118)
2’,3,4,4’,5-P eCB(#123)
3,3’,4,4’,5-P eCB(#126)
2,3,3’,4,4’,5-HxCB(#156)
2,3,3’,4,4’,5’-HxCB(#157)
2,3’,4,4’,5,5’-HxCB(#167)
3,3’,4,4’,5,5’-HxCB(#169)
2,3,3’,4,4’,5,5’-HpCB(#189)
13
C12 -3,3’,4,4’-TeCB(#77)
13
C12 -3,4,4’,5-T eCB(#81)
13
C12 -2,3,3’,4,4’-PeCB(#105)
13
C12 -2,3,4,4’,5-PeCB(#114)
13
C12 -2,3’,4,4’,5-P eCB(#118)
13
C12 -2’,3,4,4’,5-P eCB(#123)
13
C12 -3,3’,4,4’,5-P eCB(#126)
13
C12 -2,3,3’,4,4’,5-H xCB(#156)
13
C12 -2,3,3’,4,4’,5’-HxCB(#157)
13
C12 -2,3’,4,4’,5,5’-HxCB(#167)
13
C12 -3,3’,4,4’,5,5’-HxCB(#169)
13
C12 -2,3,3’,4,4’,5,5’-HpCB(#189)

検量線作成用標準液の調製例
濃度(ng/mL)
STD3
STD4

STD1

STD2

0.4

2.0

10

40

200

1.0

5.0

25

100

500

2.0

10

50

200

1000

0.4

2.0

10

40

200

1.0

5.0

25

100

500

2.0

10

50

200

1000

100

100

100

100

100

200

200

200

200

200

100

100

100

100

100

200

200

200

200

200

25

100

500

100

100

100

1.0

100

5.0

100

STD5

注) 別 途 、 こ の 標 準 液 の 中 に シ リ ン ジ ス パ イ ク 用 内 標 準 物 質 を 添 加 す る 。

−12−

5 .3.

器具及び装置

試料の前処理に用いる器具及び装置は、メタノール（アセトン）及びトルエン（ヘキサン、 ジ ク ロロメタン）で十分洗浄し、さらに、450℃で数時間加熱処理し用いるとよい。操作ブランク試験 に より測定に支障がないことを確認した上で用いる。
(1)

抽出用器具

a)

ガ ラ ス 器 具 ：JIS R 3503 及び JIS R3505 に規定するもの又はそれと同等の品質のもの。

b ) ソ ッ ク ス レ ー 抽 出 装 置 ：JIS R 3503 に規定するもの又はそれと同等の品質のもので、接続部にグリースを使用してはならない。必要な試料量が入るものを選択する。
c)

ロータリーエバポレーターd)乾 燥 器 ：ガラス器具及び試薬類を加熱処理する。450℃程度で連続使用可能なものがよい。

e)

電 気 炉 ：セラミック製品（主に GC/MS のイオン源部品など）を加熱処理する。1,000℃程度で連続使用可能なものがよい。

(2)

精製用器具

a)

カ ラ ム ク ロ マ ト グ ラ フ 管 ：内 径 10mm、長さ 300mm のカラムクロマトグラフ管、内径 12〜15mm、長さ 300mm のカラムクロマトグラフ管又は内径 10mm 、長さ 100mm のカラムクロマ
トグラフ管。

(3)ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ 質 量 分 析 計 （G C / M S ）a)

ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ( G C )①

試 料 導 入 部 ：スプリットレス又はオンカラム方式など、試料の全量をカラム内に導入可能なもの。

②

カ ラ ム ：内 径 0.25 〜0.32mm、長さ 25〜60m の溶融シリカ製のキャピラリーカラム( 4 ) 。
PCDDs 及び PCDFs の測定では、2,3,7,8-位塩素置換異性体を含む全ての異性体について、それぞれ分離が良好で、それらの各異性体のクロマトグラム上における溶出順位の判明しているカラムを使用する。様々な要因を考慮し、２種以上の極性の異なるキャピラリーカラムの併用が望ましい。
コプラナーPCBs の測定では、1２種類全ての異性体について、それぞれ分離が良好で、それらの各異性体のクロマトグラム上における溶出順位の判明しているカラムを使用する。

③

キャリヤーガス
純度 99.999％以上の高純度ヘリウム。

④

カ ラ ム 恒 温 槽 ：温度制御範囲が 50〜350℃であり、測定対象物質の最適分離条件の温度にできるような昇温プログラムが可能なもの。

b)

質 量 分 析 計( M S )①

方 式 ：二重収束方式②

分 解 能 ：10,000 以上。ただし、内標準物質として 13 C 12 -OCDF を使用する場合、キャピラリーカラムの選択によっては 12,000 程度が必要となる。

③

イ オ ン 検 出 方 法 ：質量校正用標準物質を用いたロックマス方式による選択イオン検出(SIM)法④

イ オ ン 化 法 ：電子衝撃イオン化(EI)法⑤

イ オ ン 源 温 度 ：250〜340℃⑥

イ オ ン 化 電 流 ：500〜1000μA⑦

電 子 加 速 電 圧 ：30〜70V⑧

イ オ ン 加 速 電 圧 ：5〜10kV
注( 4 )

PCDDs・PCDFs 測定用のカラムとしては、SP-2331(スペルコ社製)、HP-5(HP 社製)、
−13−

DB-17(J&W 社製)、CP-Sil88(クロムパック社製)などがあり、コプラナーPCBs 測定用としては、 DB-5MS(J&W 社製)、HT-8(SGE 社製)などがある。

5 .4

抽出操作

(1)

底質試料の前処理

実験室に持ち帰った試料は、汚染を受けないような状態で風乾する( 5 ) 。乾燥後、孔径 2mm のふるいを通し、さらに磁性乳鉢、ブレンダーなどで粉砕均一化する。これをデシケーター内で十分乾燥させる。
注( 5 ) 風乾の操作においては、試料中のダイオキシン類の拡散や外部からの汚染を最小限に抑えるよう注意深く行う。
(2)

内標準物質の添加（クリーンアップスパイク）

抽出前の試料に、クリーンアップスパイクとして内標準物質( 6 ) を一定量添加する。添加量は、通常、四から七塩素化物では 0.4〜2ng、八塩素化物では 0.8〜4ng、コプラナーPCBs では 0.4〜2ng である。
試料中の PCDDs・PCDFs 又はコプラナーPCBs の濃度が非常に高く、通常の内標準物質の添加量では定量範囲を超えてしまうことが予想される場合には、この範囲を超えて添加してもよい。
ただし、試料中の PCDDs ・PCDFs 又はコプラナーPCBs の濃度が予想できず、内標準物質の添加から再度行う可能性が考えられる場合には、試料からの抽出操作によって得られた抽出液を一定量にした後、その約 1/2 を正確に分取してから( 7 ) 、クリーンアップスパイク用内標準物質を添加する。
注( 6 ) クリーンアップスパイク用内標準物質は、PCDDs ・PCDFs については 2,3,7,8- 位塩素置換異性体 17 種類、コプラナーPCBs についてはノンオルト体及びモノオルト体の 12
種類それぞれ添加する。
添加する内標準物質は、シリンジスパイクとは別の異性体を用いるが、内標準物質によっては、GC/MS の測定条件により測定に妨害を与える場合があるので、その使用に際しては、十分に検討・確認をしておく。表 −2 にダイオキシン類の内標準物質の例を示す。
クリーンアップスパイクで添加した内標準物質の回収率は、シリンジスパイクした内標準物質を基準にして求め、50〜120% の範囲内でなければならない。その範囲内でない
場合には、再度前処理をやり直す。
注( 7 )(3)

残りの抽出液は、再測定をする場合に備えて一定期間冷暗所に保存する。

抽出10〜50g を円筒ろ紙にはかり取り、内標準物質を添加し、トルエンを用いて 16 時間以上ソックス
レー抽出 ( 8 ) ( 9) を行う。この抽出液をロータリーエバポレーターで濃縮し、10〜50mL の全量フラスコに入れ、トルエンを標線まで加えて一定量とする。
注( 8 )

硫黄分を除去するため、 抽出液中に銅粉又は銅チップを入れておく。

注( 9 )

次の２方法を用いることもできる。
(A)湿泥−ヘキサン抽出法
試料を孔径 2mm のふるいに通し、十分混合した後 10〜50g（乾燥重量当たりに換
算して） をフラスコにはかり取り、内標準物質を添加する。これに 1mol/L 水酸化カ
リウムエタノール溶液を適 量（おおむね湿重量当たりの 2 倍程度の容量）入れ、１ 夜
室温で放置する。これをガラス繊維ろ紙でろ過し、ろ液に 3〜5 倍量のヘキサン洗浄
水を加えた後、ヘキサン 100mL で 10 分間 3 回振とう抽出を行う。ヘキサン溶液中の水分を硫酸ナトリウムで除去した後、ロータリーエバポレーターを用いて濃縮する。
−14−

(B)湿泥−ソックスレー抽出法
試料を孔径 2mm のふるいに通し、十分混合した後 10〜50g（乾燥重量当たりに換
算して） をフラスコにはかり取り、内標準物質を添加する。これにアセトン 又はメタ
ノールを適量加え、十分混合した後、ガラス繊維ろ紙でろ過する。ろ紙上の試料はろ紙と共に乾燥させ、乾燥後トルエンを用いて 24 時間以上ソックスレー抽出を行う。
ろ液は、3〜5 倍量のヘキサン洗浄水を加えてトルエンで液／液抽出操作を行い、溶液中の水分を硫酸ナトリウムで除去した後、ソックスレー抽出液と混合する。抽出液はロータリーエバポレーターを用いて濃縮し、ヘキサンに転溶する。
5 .5

クリーンアップ(1) 硫 酸 処 理 − シ リ カ ゲ ル カ ラ ム ク ロ マ ト グ ラ フ 操 作 又 は 多 層 シ リ カ ゲ ル カ ラ ム ク ロ マ ト グ ラ フ 操 作
硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作の代わりに、硫酸処理−多層シリカゲルカラムク
ロマトグラフ操作を行ってもよい。
a)

硫酸処理
①

5 . 4 によって得られた抽出液の適量を分取して( 1 0) 、ロータリーエバポレーターで約 5mL 程度に濃縮し、次いで窒素気流によりトルエンを除去し( 1 1) 、約 500μL とする。

②

この溶液を分液ロート (300mL)にヘキサン 50〜150mL で洗い込みながら移し入れ、濃硫酸
10〜20mL を加え、穏やかに振とうし、静置後、硫酸層を除去する。この操作を硫酸層の着色が薄くなるまで 3〜4 回繰り返す( 1 2 ) 。

③

ヘキサン層をヘキサン洗浄水又は飽和塩化ナトリウム溶液 50mL で洗浄後の洗浄水がほぼ中性になるまで繰り返し洗浄し、硫酸ナトリウムで脱水後、ロータリーエバポレーターで約 2mLに濃縮し、シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又は多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操
作に供する。
注( 1 0 )再測定の必要な場合があるため、抽出液の一部を保存しておくことが望ましい。

注( 1 1 )

窒素気流による濃縮操作によって目的物質の損失を招かないように、溶液の表面が動いているのがようやく見える程度に窒素気流を調節して溶液が飛散しないように注意し、また、完全に乾固させてはならない。溶液に大きな渦ができるほど窒素を吹きつけたり、完全に乾固させると、目的物質の損失を招くことがある。
注( 1 2 ) 濃硫酸の添加は、硫酸と有機物の反応による溶媒の突沸に十分注意し、数 mL 程 度 から始め、着色の度合いにより徐々に添加する。また、必ず手袋やマスクなどの 保 護 具 を使用すること。
b)

シ リ カ ゲ ル カ ラ ム ク ロ マ ト グ ラ フ 操 作( 1 3 )①

内 径 10mm、長さ 300mm のカラムクロマトグラフ管の底部に石英ウールを詰め、ヘキサン
10mL で管内を洗浄し、石英ウール上部までヘキサンを残す。シリカゲル 3g をヘキサン 10mLを入れたビーカーにはかり取り、ガラス棒でゆるやかにかき混ぜて気泡を除き、カラムクロマ
トグラフ管に充てんする。ヘキサンを流下させ、シリカゲル層を安定させた後、その上に硫酸ナトリウムを約 10mm の厚さになるようにのせ、ヘキサン数 mL で管壁に付着している硫酸ナトリウムを洗い落とす。

②

ヘキサン 50mL を流速 2.5mL/min で流し、充てん物を洗浄し、液面を硫酸ナトリウムの上面まで下げ、5. 5(1)a)で調製した溶液をカラムに静かに移し入れ、ヘキサン 1mL で数回洗い込
み、液面を硫酸ナトリウム面まで下げる。ヘキサン 150mL の入った滴下用分液ロートをカラ
ムクロマトグラフ管の上部に装着し、約 2.5mL/min（毎秒１滴程度）の速度で展開溶出させる
( 14)

③

。

溶出液をロータリーエバポレーターで約 2mL に濃縮し、活性炭カラムクロマトグラフ操作−15−

又はアルミナカラムクロマトグラフ操作に供する。
注( 1 3 ) 硫黄分除去を硫酸処理の後に行う。硝酸銀シリカゲル又は銅チップ（塩酸処理した銅線を細かく切ったもの）をカラムに詰めて、試料液を通過させる。
注( 1 4 ) カラムクロマトグラフ操作における PCDDs・PCDFs 及びコプラナーPCBs の溶出条
件は、フライアッシュの抽出液などを用いて分画試験を行って確認しなければならない。
c)

多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操作①

内径 12〜15mm 、長さ 300mm のカラムクロマトグラフ管の底部に石英ウールを詰め、シリ
カゲル 0.9g、 水 酸 化 カ リ ウ ム(2mass%)シリカゲル 3g、シリカゲル 0.9g、 硫 酸 シ リ カ ゲ ル(44mass%) シ リ カ ゲ ル 4.5g 、 硫 酸 (22mass%) シ リ カ ゲ ル 6g、 シ リ カ ゲ ル 0.9g 、 硝 酸 銀(10mass%)シリカゲル 3g、硫酸ナトリウム 6g 及び銅粉又は銅チップ 1g を順次充てんする( 1 5) 。
このカラムの一例を図 −3 に示す。

②

ヘキサン 50mL を流速 2.5mL/min で流し、充てん物を洗浄し、液面を銅粉の上面まで下げる。

③

5. 5(1)a)で調製した溶液をカラムに静かに移し入れ、ヘキサン 1mL で数回洗い込み、液面を銅粉面まで下げる。

④

ヘキサン 1mL で抽出液の容器を洗浄し、洗液はカラム内壁を洗いながら入れる。この洗浄操作を 2〜3 回繰り返す。

⑤

ヘキサン 120mL の入った滴下用分液ロートをカラムクロマトグラフ管の上部に装着し、ヘキサンを約 2.5mL/min （毎秒１滴程度）の速度で展開溶出させる( 1 4) 。

⑥

溶出液をロータリーエバポレーターで約 2mL に濃縮し、活性炭カラムクロマトグラフ操作
又はアルミナカラムクロマトグラフ操作に供する。
注( 1 5 ) 硫酸処理と同様な効果は硫酸シリカゲルだけを用いた処理で得られるため、試料によっては多層シリカゲルカラムクロマトグラフ管の代わりに硫酸(22mass ％)シリカゲルカラ
ムクロマトグラフ管を用いてもよい。硝酸銀(10mass ％)シリカゲルは特に硫黄分が多い
試料に対して用いると効果的である。

銅粉または銅チップ 1g
硫酸ナトリウム 6g
硝酸銀(10mass％)シリカゲル 3g

硫酸(22mass％)シリカゲル 6g
硫酸(44mass％)シリカゲル 4.5g

シリカゲル 0.9g

水酸化カリウム(2mass％)シリカゲル 3g
石英ウール

図 −3

多層シリカゲルカラムの例

−16−

(2)

活性炭カラムクロマトグラフ操作又はアルミナカラムクロマトグラフ操作

5.5(1)で調製した試験溶液に対して活性炭カラムクロマトグラフ操作又はアルミナカラムクロマト
グラフ操作を行う。試料を更に精製する目的で、アルミナカラムクロマトグラフ操作を行った試料に対して活性炭カラムクロマトグラフ操作を行ってもよい。
a)

活性炭カラムクロマトグラフ操作①

内径 10mm、長さ 100mm のカラムクロマトグラフ管の底部に石英ウールを詰め、その上に硫酸ナトリウムを 3g、あらかじめトルエンで洗浄した 活性炭シリカゲルを 1g、硫酸ナトリウ
ム 3g を積層して充てんする。 ヘキサンを流下させてカラム内をヘキサンで置換する。

②

5. 5(1)で調製した試料をカラムに静かに移し入れ、少量の ヘキサンで洗い込み、液面を硫酸ナトリウム面まで下げ、ジクロロメタン(25vol%)を含むヘキサン溶液 150〜200mL の入った滴下用分液ロートをカラムクロマトグラフ管の上部に装着し、約 2.5mL/min（毎秒１滴程度）の速度で展開溶出させる。この第１画分にはノンオルト以外の PCBs が含まれる。

③

次いで、トルエン 200mL で溶出する。この第２画分には PCDDs ・PCDFs 及びノンオルト
PCBs が含まれる。

④

第１画分をロータリーエバポレーターで約 5mL に濃縮し、更に窒素気流により溶媒を揮散除去した後( 1 1) 、シリンジスパイク用内標準物質( 1 6 ) を検量線作成用標準液と同濃度になるように添加して、ノナン( 3 ) を加え、一定量（20〜100μL ）にしたものを、GC/MS 分析用溶液とする。

⑤

トルエン溶離液(第２画分)をロータリーエバポレーターで約 5mL に濃縮し、更に窒素気流により溶媒を揮散除去した後 ( 1 1) 、シリンジスパイク用内標準物質( 1 6 ) を検量線作成用標準液と同濃度になるように添加して、ノナン( 3 ) を加え、一定量（20〜100μL ）にしたものを、GC/MS 分
析用溶液とする。

⑥

第１画分と第２画分の濃縮液の一部を正確に分取混合してコプラナーPCBs 用測定試料とする。第２画分の濃縮液の一部を分取して PCDDs・PCDFs 測定試料とする。
注( 1 6 ) 注入量の補正を行うためシリンジスパイクを行う。シリンジスパイクには、クリーンア
ップスパイクで使用した以外の内標準物質を用いる。シリンジスパイクは GC/MS 測 定において測定毎に１種類使用する。

b)

アルミナカラムクロマトグラフ操作①

5. 5(1)で調製した試料を２分割し、 PCDDs ・PCDFs と コプラナーPCBs 用測定試料をそれぞれ調製する。

②

P C D D s ・P C D F s 用 測 定 試 料ⅰ)

内径 10mm 、長さ 300mm のガラス製カラムクロマトグラフ管の底部に石英ウールを詰め、ヘキサン 10mL で管内を洗浄し、石英ウール上部までヘキサンを残す。アルミナ( 1 7) 10g
をヘキサン 10mL を入れたビーカーにはかり取り、ガラス棒でゆるやかにかき混ぜて気泡を除き、カラムクロマトグラフ管に充てんする。ヘキサンを流下させ、アルミナ層を安定させた後、その上に硫酸ナトリウムを約 10mm の厚さになるようにのせ、ヘキサン数 mL で管壁に付着している硫酸ナトリウムを洗い落とす。ヘキサン 200mL を流速 2.5mL/min で流し、充てん物を洗浄し、液面を硫酸ナトリウムの上面まで下げる。
ⅱ)①で調製した試料液の適量を静かに移し入れ、ヘキサン 1mL で数回洗い込み、液面を 硫

酸ナトリウム面まで下げる。ジクロロメタン(2vol%)を含むヘキサン溶液 100mL の入った滴下用分液ロートをカラムクロマトグラフ管の上部に装着し、約 2.5mL/min （毎秒１滴程度）の速度で展開溶出させ、第１画分を得る( 1 4 ) 。この画分は測定が終了するまで保管する。
ⅲ)

さらに、ジクロロメタン(50vol%)を含む ヘキサン溶液 150mL を流速 2.5mL/min で流し、第２画分を得る( 1 4 ) 。
ⅳ)

第２画分をロータリーエバポレーターで約 5mL に濃縮し、更に窒素気流により溶媒を揮散除去した後( 1 1) 、シリンジスパイク用内標準物質( 1 6) を検量線作成用標準液と同濃度になるよ−17−うに添加して、ノナン( 3) を加え、一定量（20〜100μL ）にしたものを、 GC/MS 分析用溶液とする。
③

コ プ ラ ナ ーP C B s 用 測 定 試 料ⅰ)

内径 10mm 、長さ 300mm のガラス製カラムクロマトグラフ管の底部に石英ウールを詰め、ヘキサン 10mL で管内を洗浄し、石英ウール上部までヘキサンを残す。アルミナ( 1 7) 10g
をヘキサン 10mL を入れたビーカーにはかり取り、ガラス棒でゆるやかにかき混ぜて気泡を除き、カラムクロマトグラフ管に充てんする。ヘキサンを流下させ、アルミナ層を安定させた後、その上に硫酸ナトリウムを約 10mm の厚さになるようにのせ、ヘキサン数 mL で管壁に付着している硫酸ナトリウムを洗い落とす。ヘキサン 200mL を流速 2.5mL/min で流し、充てん物を洗浄し、液面を硫酸ナトリウムの上面まで下げる。
ⅱ)①で調製した試料液の適量を静かに移し入れ、ヘキサン 1mL で数回洗い込み、液面を 硫

酸ナトリウム面まで下げる。ヘキサン 40mL の入った滴下用分液ロートをカラムクロマトグ
ラフ管の上部に装着し、約 2.5mL/min（毎秒１滴程度）の速度で展開溶出させ、鎖状炭化水素などを溶出させる( 1 4) 。
ⅲ)

ジクロロメタン (5vol%)を含むヘキサン溶液 120mL を約 2.5mL/min（毎秒１滴程度）で流し、第１画分を得る 。第１画分にコプラナーPCBs が含まれる( 1 4) 。
ⅳ)

更にジクロロメタン(50vol%)を含むヘキサン溶液 150mL を流速 2.5mL/min で流し、第２画分を得る。第２画分に PCDDs・PCDFs が含まれる。原則としてこの画分は測定しな
いが、分析終了まで保管する。
ⅴ)

第１画分をロータリーエバポレーターで約 5mL に濃縮し、更に窒素気流により溶媒を揮散除去した後( 1 1) 、シリンジスパイク用内標準物質( 1 6) を検量線作成用標準液と同濃度になるよ
うに添加して、ノナン( 3) を加え、一定量（20〜100μL ）にしたものを、 GC/MS 分析用溶液とする。
注( 1 7 ) アルミナの極性は製造ロットや開封後の保存期間によってかなり変化が認められる。活性の低下したものでは、1,3,6,8-TeCDD 及び 1,3,6,8-TeCDF などが第１画分に溶出する。
また、八塩化物がジクロロメタン(50 vol%)を含むヘキサン溶液の規定量では第 2 画分に溶出しない場合もあるため、フライアッシュの抽出液などを用いた分画試験で活 性 度 を
確認する。

5 .6

測定

(1) GC/MS の 分 析 条 件 の 設 定 と 機 器 の 調 整
GC/MS 分析条件の一例を参考として示す。これを参考にして適宜設定する。
a)

ガスクロマトグラフ（ＧＣ）①

測 定 対 象 物 質 : TeCDDs、T eCDFs、P eCDFs の同族体及び 2,3,7,8- 位塩素置換異性体
使用カラム：SP-2331
内径：0.32mm, 長さ：60m, 液相膜厚 0.2μm
カラム温度：100℃(1.5min) →(20℃/min)→180℃→（3℃/min ）→260℃(25min)
注入口温度： 260℃
試料導入法：スプリットレス方式(90sec)②

測 定 対 象 物 質 : PeCDDs、HxCDDs、HxCDFs の同族体及び 2,3,7,8-位塩素置換異性体
使用カラム：SP-2331
内径：0.32mm, 長さ：60m, 液相膜厚 0.2μm
カラム温度：100℃(1.5min) →(20℃/min)−18−

→210℃ →（3℃/min ）→260℃(25min)
注入口温度： 260℃
試料導入法：スプリットレス方式(90sec)③

測 定 対 象 物 質 ：HpCDDs、HpCDFs、OCDD、OCDF の同族体及び 2,3,7,8-位塩素置換異性体
使用カラム： DB-5, DB-17, BPX 5,BPX50
内径：0.32mm, 長さ：30m, 液相膜厚 0.15μm
カラム温度：100℃(1.5min) →(20℃/min)→200℃→（10℃/min）→280℃(5min)
注入口温度：280℃
試料導入法：スプリットレス方式(90sec)④

測 定 対 象 物 質 ：コプラナーPCBs
使用カラム： DB-5MS,HT-8
内径：0. 32mm, 長さ：60m, 液相膜厚 0.25μm
カラム温度：150℃(1min) →(20℃/min)→180℃→(2℃/min )→245℃(3min)→(6℃/min)→290℃(10min)
注入口温度：280℃
試料導入法：スプリットレス方式(90sec)b)

質量分析計（ＭＳ）①

分 解 能 ：10,000 以上(10%谷)②

イ オ ン 化 法 ：電子衝撃イオン化(EI)法③

電 子 加 速 電 圧 ：30〜70V④

イ オ ン 化 電 流 ：500〜1000μA⑤

イ オ ン 源 温 度 ：280〜335℃⑥

キ ャ リ ヤ ー ガ ス ：ヘリウム(25psi)⑦

検 出 法 ：ロックマス方式による SIM 検出法⑧

測 定 質 量 数 ：試料及び内標準物質の各塩素化物ごとに２つ以上のモニターイオンとロックマ
ス用の質量数を設定する( 1 8 ) 。設定質量数の例を表 −5 に示す。
注( 1 8 )キャピラリーカラムによって得られるピークの幅は、5〜10 秒程度であるが、ピークを構成するデータポイントを確保するためには SIM 法における周期は最大でも１秒以下にしなければならない。１回の測定で設定可能なモニターチャンネルの数は、要求する感度との兼ね合いになるので、十分検討した上で、設定する必要がある。
クロマトグラム上の各ピークの保持時間を考慮して、時間分割によるグルーピング方
式によって測定してもよいが、この場合には各グループ毎に、適切な内標準物質ピークが出現するように条件の設定を行う必要がある。
c)

質量分析計の調整
質量分析計の調整は、装置が作動している状態で必要な項目の条件を設定した後、質量校正用
標準物質 (PFK など)を導入し、質量校正用プログラムにより行う。質量目盛、分解能(10,000 以
上、10％谷)などを測定目的に応じて所定の値に校正する。特に、分解能は測定質量範囲全域で10,000 以上に調整しなければならない。通常、一連の測定の最初に行う。

d)

SIM 測定①

GC/MS を所定の条件に設定する。

②

質量校正用標準物質を導入しながら、そのモニターチャンネルの応答が安定したら、測定試
料の測定を行う。

③

設定した各塩素化物の質量数についてクロマトグラムを記録する。
−19−

④

測定終了後、データ処理作業に入る前に個々の試料ごとに質量校正用標準物質のモニターチ
ャンネル、妨害成分の有無、2,3,7,8-位塩素置換異性体の分離の確認を行う( 1 9 ) 。
表 −5

設 定 質 量 数( モ ニ タ ー イ オ ン) ＊ の 例 ．

塩素置換体
T eCDDsM+
319.8965(M+2)+
321.8936(M+4)+P eCDDs
HxCDDsHpCDDs
OCDD
T eCDFs
P eCDFs
HxCDFsHpCDFs
OCDF
13
C 12 -T eCDDs
37
Cl 4 -P eCDDs
13
C 12 -P eCDDs
13
C 12 -HxCDDs
13
C 12 -HpCDDs
13
C 12 -OCDD
13
C 12 -T eCDFs
13
C 12 -P eCDFs
13
C 12 -HxCDFs
13
C 12 -HpCDFs
13
C 12 -OCDF
TeCBs
PeCBs
HxCBs
HpCBs
13
C 12-TeCBs
13
C 12-PeCBs
13
C 12-HxCBs
13
C 12-HpCBs
質量校正用
標準物質 (PFK)353.8576
387.8186

355.8546
389. 8156
423. 7767
457.7377
305.8987
339.8597
373. 8207
407.7818
441.7428
333.9339

357. 8517 ＊ ＊391.8127 ＊ ＊425.7737459.7348

367.8949
401.8559
435.8169
469.7779
317.9389
351.9000
385.8610
419.8220453.7830
291.9194325.8804
359.8415
393.8025
303.9597
337.9207
371.8817
405.8428

369.8919
403.8530437.8140
471.7750

303.9016

439.7457
331.9368
327.8847
365.8978399.8589

315.9419

341. 8568
375.8178
409. 7788
443.7398

353.8970
387.8580
421.8191
455.7801
293.9165
327.8775
361.8385
395.7995
305.9567
339. 9178
373.8788
407.8398

451.7860
289.9224
323.8834
357.8444
391.8054
301.9626
335. 9237
369.8847
403.8457
PCDDs 及び PCDFs
330.9792(4,5- 塩素化物定量用)
380.9760(5,6- 塩素化物定量用)
430.9729(7,8- 塩素化物定量用)
442.9729(7,8- 塩素化物定量用)
コプラナーPCBs
304.9824
330.9792
380.9760* ：質量数は、IUPAC, Element by element review of their atomic weight, Pure Appl Chem., 56, [6]p.695-768(1984)を基にして算出した。
** ：試料中の PCBs 濃度が高い場合、この質量数は妨害を受ける可能性があるので注意が必要である。
注( 1 9 )質量校正用標準物質のモニターチャンネルのクロマトグラムが波を打つなどの変動があった場合で、特に測定対象成分の出現位置においてこの現象が認められた場合には、正確にピークを捕らえていない可能性があり、大きな精度低下が生じているため、その成分については定量してはならない。主な要因として、試料の前処理が不十分であることが考えられるので、 試料の前処理を再度十分に行い、ロックマスの変動を最小限 に 抑える必要がある。
−20−

(2)

検量線

a)

標準液の測定
各検量線作成用標準液を１濃度に対して最低３回 GC/MS に注入し、SIM 測定操作を行って、全濃度領域で合計 15 点以上のデータを得る。

b)

ピーク面積の強度比の確認得られたクロマトグラムから、各標準物質の対応する２つの質量数のイオンのピーク面積の強度比を求め、塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比とほぼ一致することを確認する。

c)

相対感度の算出①

各標準物質及び内標準物質のピーク面積を求め、各標準物質の対応するクリーンアップスパ
イク内標準物質に対するピーク面積の比と注入した標準溶液中のその標準物質と内標準物質の濃度の比を用いて検量線を作成し、相対感度(RRFcs)を算出する。測定対象の標準物質とそれに対応する内標準物質の例を表 −6 に示す。
表 −6

標準物質と内標準物質の対応例
対応するクリーンアップスパイク
内標準物質

標準物質
2,3,7,8-T eCDD
2,3,7,8-T eCDF
1,2,3,7,8-P eCDD
1,2,3,7,8-P eCDF
2,3, 4, 7,8-P eCDF
1,2,3,4,7,8-HxCDD
1,2,3,6,7,8-HxCDD
1,2,3,7,8,9-HxCDD
1,2,3, 4,7,8-HxCDF
1,2,3,6,7,8-HxCDF
1,2,3,7,8,9-HxCDF
2,3,4,6,7,8-HxCDF
1,2,3,4,6,7,8-HpCDD
1,2,3,4,6,7,8-HpCDF
1,2,3,4,7,8,9-HpCDF
1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD
1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF
3,3’,4,4’-T eCB(#77)
3,4,4’,5-T eCB(#81)
2,3,3’,4,4’ -P eCB(#105)
2,3,4,4’,5-P eCB(#114)
2,3’,4,4’,5-P eCB(#118)
2’,3,4,4’,5-P eCB(#123)
3,3’,4,4’,5-P eCB(#126)
2,3,3’,4,4’,5-HxCB(#156)
2,3,3’,4,4’, 5’ -HxCB(#157)
2,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#167)
3,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#169)
2,3, 3’,4,4’,5,5’-HpCB(#189)13

C 12-2,3,7,8-T eCDD
C 12-2,3,7,8-T eCDF
13
C 12-1,2,3,7,8-P eCDD
13
C 12-1,2,3,7,8-P eCDF
13
C 12-2,3,4, 7,8-P eCDF
13
C 12-1,2,3,4,7,8-H xCDD
13
C 12-1,2,3, 6,7,8-H xCDD
13
C 12-1,2,3,7,8,9-H xCDD
13
C 12-1,2,3,4,7,8-H xCDF
13
C 12-1,2,3, 6,7,8-H xCDF
13
C 12-1,2,3, 7,8,9-HxCDF
13
C 12-2,3,4,6,7,8-HxCDF
13
C 12-1,2,3,4,6,7,8-H pCDD
13
C 12-1,2,3,4,6,7,8-H pCDF
13
C 12-1,2,3,4,7,8, 9-HpCDF
13
C 12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD
13
C 12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF
13
C 12-3,3’,4,4’ -T eCB(#77)
13
C 12-3,4,4’,5-T eCB(#81)
13
C 12-2,3,3’,4,4’-PeCB(#105)
13
C 12-2,3,4,4’,5-P eCB(#114)
13
C 12-2,3’,4,4’,5-PeCB(#118)
13
C 12-2’,3,4,4’,5-PeCB(#123)
13
C 12-3, 3’,4,4’,5-PeCB(#126)
13
C 12-2,3,3’,4,4’,5-HxCB(#156)
13
C 12-2,3,3’,4,4’,5’ -HxCB(#157)
13
C 12-2,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#167)
13
C 12-3, 3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#169)
13
C 12-2, 3,3’,4,4’,5,5’ -HpCB(#189)
13

RRFcs は、式(1)によって各濃度ごとに求めたものを平均する。この場合、データの変動係数
が 5%以内でなければならない。また、最小二乗法で一次回帰直線を求め、その傾きを RRFcs
としてもよい。この場合、直線性が十分であるとともに回帰式の切片がほぼ０でなければならない。
RRFcs =

Qcs
Qs

×

As
Acs

LLLLLLL (1 )−21−

ここに、 RRFcs：測定対象物質のクリーンアップスパイク内標準物質との相対感度
Qcs：標準液中のクリーンアップ スパイク内標準物質の量(pg)Qs：標準液中の測定対象物質の量(pg)As：標準液中の測定対象物質のピーク面積
Acs：標準液中のクリーンアップスパイク内標準物質のピーク面積②

同様にして、クリーンアップスパイク内標準物質のシリンジスパイク内標準物質に対する相対感度(RRFrs)を式(2)により算出する。クリーンアップスパイク内標準物質とシリンジスパイ
ク内標準物質との対応の例を表−7 に示す。
RRFrs =

Qrs Acs×
LL LLL LL ( 2 )Qcs Ars

ここに、 RRFrs：クリーンアップスパイク内標準物質のシリンジスパイク内標準物質との相対感度
Qrs：標準液中のシリンジスパイク内標準物質の量 (pg)Qcs：標準液中の クリーンアップスパイク内標準物質の量(pg)
Acs：標準液中のクリーンアップスパイク内標準物質のピーク面積
Ars：標準液中のシリンジスパイク内標準物質のピーク面積
表 −7

クリーンアップスパイク内標準物質とシリンジスパイク内標準物質との対応の例

クリーンアップスパイク内標準物質13C 12-2,3,7,8-T eCDD
13
C 12-2,3,7,8-T eCDF
13
C 12-1,2,3,7,8-P eCDD
13
C 12-1,2,3,7,8-P eCDF
13
C 12-2,3,4, 7,8-P eCDF
13
C 12-1,2,3,4,7,8-H xCDD
13
C 12-1,2,3, 6,7,8-H xCDD
13
C 12-1,2,3,7,8,9-H xCDD
13
C 12-1,2,3,4,7,8-H xCDF
13
C 12-1,2,3, 6,7,8-H xCDF
13
C 12-1,2,3, 7,8,9-HxCDF
13
C 12-2,3,4,6,7,8-HxCDF
13
C 12-1,2,3,4,6,7,8-H pCDD
13
C 12-1,2,3,4,6,7,8-H pCDF
13
C 12-1,2,3,4,7,8, 9-HpCDF
13
C 12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD
13
C 12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF
13
C 12-3,3’,4,4’ -T eCB(#77)
13
C 12-3,4,4’,5-T eCB(#81)
13
C 12-2,3,3’,4,4’-PeCB(#105)
13
C 12-2,3,4,4’,5-P eCB(#114)
13
C 12-2,3’,4,4’,5-PeCB(#118)
13
C 12-2’,3,4,4’,5-PeCB(#123)
13
C 12-3, 3’,4,4’,5-PeCB(#126)
13
C 12-2,3,3’,4,4’,5-HxCB(#156)
13
C 12-2,3,3’,4,4’,5’ -HxCB(#157)
13
C 12-2,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#167)
13
C 12-3, 3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#169)

13

(3)
a)

対応するシリンジスパイク内標準物質13C 12-1,2,3,4-T eCDD
又は13
C 12-1, 3,6, 8-T eCDＦ

13

C 12-1,2,3, 4, 6,7-HxCDD
又は12

C 6 13 C 6 -1,2,3,4,7,8-HxCDF

13

C 12-2, 2’,5, 5’ -T eCB(#52)
又は13

C 12-2, 3’,4’, 5-T eCB(#70)

C 12-2, 3,3’,4,4’,5,5’ -HpCB(#189)

試料の測定
検量線の確認−22−

検量線作成用標準液を 5. 6(1)d)の SIM 測定操作に従って測定し、5.6(2)と同様にして各異性体のそれに対応したクリーンアップスパイク内標準物質に対する相対感度(RRFcs)を求める。さらに、クリーンアップスパイク内標準物質のそれに対応したシリンジスパイク内標準物質に対する相対感度 (RRFrs) を求める。
これらの相対感度が、5. 6(2)で求めた検量線作成時の相対感度（RRFcs 及び RRFrs）に対して、±20%以内であることを確認し、これを超えて感度が変動する場合は、その原因を取り除き、再測定を行う。
b)

試料の測定
5.5 で調製した GC/MS 測定用試料を 5. 6(1)d)の SIM 測定操作に従って測定し、各塩素化物の質量数についてクロマトグラムを得る( 2 0 ) 。

c)

感度の確認
ある一定の周期(１日に１回以上)で、検量線作成用標準液の中から中間程度の濃度のものを選
び、5. 6(1)d)の SIM 測定操作に従って測定し、5.6(2)と同様にして各異性体のそれに対応したク
リーンアップスパイク内標準物質に対する相対感度(RRFcs)を求める。この値が a)で求めた値に対して± 20%以内であることを確認し、これを超えて感度が変動する場合は、その原因を取り除
き、試料の再測定を行う。
さらに、保持時間についても、その変動を調べ、保持時間が一日に±5%以上、内標準物質との相対保持比が±2% 以上変動する場合には、その原因を取り除き、その直前に行った一連の試料の再測定を行う。
注( 2 0 )底質試料の場合、同族体・異性体の濃度が大きく異なる場合があるので、検量線の最高濃度のレスポンスを超えないように注意する（特にOCDD）。

5 .7

同定及び定量(1)

ピークの検出a)

ピークの検出クロマトグラム上において、ベースラインのノイズ幅(N) に対して３倍以上のピーク高さ (S)であるピーク、すなわち、ピーク高さで S/N=3 以上となるピークについて、次の同定・定量の操作を行う。
ここで、ノイズ幅(N)及びピーク高さ(S)は、一般に次のようにして求める。まず、ピークの近傍（ピークの半値幅の 10 倍程度の範囲）のノイズを計測し、その標準偏差の２倍をノイズ幅(N)とするか、経験的にノイズの最大値と最小値との幅はおよそ標準偏差の５倍となるため、その幅の 2/5 をノイズ幅 （N ）とする。一方、ノイズの中央値をベースラインとし、べースラインのノイズを基にピークトップを 決めてこの幅をピーク高さ(S)とする。
なお、得られたクロマトグラムのベースラインは、必ず装置のゼロ点よりも高くならなければノイズを計測することはできないので、測定に先立ってベースラインを確認、必要に応じてオフセットなどを適切に調節しなければならない。

b)

ピーク面積の算出a)で検出されたピークについて、そのピーク面積を求める。

( 2 ) P C D D s ・P C D F s 及 び コ プ ラ ナ ーP C B s の 同 定a)

P C D D s ・P C D F s の 同 定
モニターした２つ以上のイオンにおけるクロマトグラム上のピーク面積の比が標準物質のものとほぼ同じであり、表 −8 に示す塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比に対して±15%以内(検出下限の３倍以下の濃度では± 25%)であれば、そのピークは PCDDs・PCDFs−23−

によるものであるとする。標準物質のない異性体の同定は、文献などを参考にして行う。
b)

2,3,7,8- 位 塩 素 置 換 異 性 体 の 同 定同定された PCDDs・PCDFs の中の 2,3,7,8-位塩素置換異性体は、クロマトグラム上のピークの保持時間が標準物質とほぼ同じであり、対応する内標準物質との相対保持時間が標準物質と一致することで同定する。

c)

コ プ ラ ナ ーP C B s の 同 定
コプラナーPCBs の各異性体は、モニターした２つ以上のイオンにおけるクロマトグラム上のピーク面積の比が標準物質のものとほぼ同じであり、表 −8 に示す塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比に対して±15%以内(検出下限の３倍以下の濃度では± 25%)であり、さらにピークの保持時間が標準物質とほぼ同じであり、対応する内標準物質との相対保持時間が標
準物質と一致することで同定する。
表 −8

塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比

各塩素数毎に存在比が最も高い質量数の存在比を100として示してある。
塩素置換体

Ｍ

Ｍ+2

Ｍ+4

Ｍ+6

Ｍ+8

Ｍ+10

Ｍ+12

Ｍ+14

TeCDDsPeCDDsHxCDDsHpCDDs
OCDD

77.43
62.06
51.79
44.43
34.54

100.00100.00100.00100.00
88.80

48.74
64.69
80.66
96.64
100.00

10.72
21.08
34.85
52.03
64.48

0.94
3.50
8.54
16.89
26.07

0.01
0.25
1.14
3.32
6.78

0.07
0.37
1.11

0.02
0.11

TeCDFsPeCDFsHxCDFsHpCDFs
OCDF

77.55
62.14
51.84
44.47
34.61

100.00100.00100.00100.00
88.89

48.61
64.57
80.54
96.52
100.00

10.64
20.98
34.72
51.88
64.39

0.92
3.46
8.48
16.80
25.98

0.24
1.12
3.29
6.74

0.07
0.37
1.10

0.02
0.11

TeCBs
PeCBs
HxCBs
HpCBs

76.67
61.42
51.22
43.93

100.00100.00100.00100.00

49.11
65.29
81.48
97.67

10.83
21.43
35.51
53.09

0.93
3.56
8.75
17.38

1.17
3.43

( 3 ) P C D D s ・P C D F s 及 び コ プ ラ ナ ーP C B s の 定 量a)各異性体の定量
抽出液全量中の同定された 2,3,7,8-位塩素置換異性体又はコプラナーPCB の量(Qi)は、それに対応するクリーンアップスパイク内標準物質の添加量を基準にして、内標準法で式(3)に よ っ て求める。他の異性体についても同様にして求める。測定対象の標準物質とそれに対応する内標準物質の例を表 −9 に示す。
Ai
Qcsi
×
LL LL LLL ( 3 )Acsi RRFcs
ここに、 Qi：抽出液全量中の異性体の量(pg)Qi =Ai：クロマトグラム上の異性体のピーク面積
Acsi：対応するクリーンアップスパイク内標準物質のピーク面積
Qcsi：対応するクリーンアップスパイク内標準物質の添加量( 2 1 ) (pg)
RRFcs：対応するクリーンアップスパイク内標準物質との相対感度( 2 2)
注( 2 1 )試料を抽出後、分取し、内標準物質を添加した場合はその補正をする。

注( 2 2 ) 2,3,7,8-位塩素置換異性体以外の異性体については 、各塩素化物毎に 2,3,7,8-位塩素置
換異性体の相対感度の平均値を用いる。

−24−

表 −9

測定対象物質、標準物質及びクリーンアップスパイク内標準物質の対応例

測定対象物質
2,3,7,8-T eCDD
その他の T eCDD
2,3,7,8-T eCDF
その他の T eCDF
1,2,3,7,8-P eCDD
その他の P eCDD

標準物質

対応するクリーンアップスパイク
内標準物質

2,3,7,8-T eCDD

13

C 12-2,3,7,8-T eCDD

2,3,7,8-T eCDF

13

C 12-2,3,7,8-T eCDF

1,2,3,7,8-P eCDD

13

C 12-1,2,3,7,8-P eCDD

13

C 12-2,3,4, 7,8-P eCDF

1,2,3,7,8-P eCDF

1,2,3,7,8-P eCDF

2,3, 4, 7,8-P eCDF

2,3, 4, 7,8-P eCDF

その他の P eCDF

1,2,3,7,8-P eCDF と 2,3, 4,7,8-P eCDF の相対感度の平均

1,2,3,4,7,8-HxCDD

1,2,3,4,7,8-HxCDD

13

C 12-1,2,3,4,7,8-H xCDD

1,2,3,6,7,8-HxCDD

13

C 12-1,2,3, 6,7,8-H xCDD

1,2,3,7,8,9-HxCDD

1,2,3,7,8,9-HxCDD

13

C 12-1,2,3,7,8,9-H xCDD

その他の HxCDD

1,2,3,4,7,8-HxCDD〜1,2,3,7,8,9-H xCDD の相対感度の平均

1,2,3, 4,7,8-HxCDF

1,2,3, 4,7,8-HxCDF

13

C 12-1,2,3,4,7,8-H xCDF

1,2,3,6,7,8-HxCDF

13

C 12-1,2,3, 6,7,8-H xCDF

1,2,3,7,8,9-HxCDF

1,2,3,7,8,9-HxCDF

13

C 12-1,2,3, 7,8,9-HxCDF

2,3,4,6,7,8-HxCDF

2,3,4,6,7,8-HxCDF

13

C 12-2,3,4,6,7,8-HxCDF

その他の HxCDF

1,2,3, 4,7,8-HxCDF〜2,3,4,6,7,8-HxCDF の相対感度の平均

1,2,3,6,7,8-HxCDD

1,2,3,6,7,8-HxCDF

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

1,2,3,4,6,7,8-HpCDD

13

C 12-1,2,3,4,6,7,8-H pCDD

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

13

C 12-1,2,3,4,6,7,8-H pCDF

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

1,2,3,4,7,8,9-HpCDF

13

C 12-1,2,3,4,7,8, 9-HpCDF

その他の HpCDF

1,2,3,4,6,7,8-HpCDF と 1,2,3,4,7,8,9-HpCDF の相対感度の平均

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

13

C 12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

13

C 12-1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF

3,3’,4,4’-T eCB(#77)
3,4,4’,5-T eCB(#81)

3,3’,4,4’-T eCB(#77)
3,4,4’,5-T eCB(#81)

13

C 12-3,3’,4,4’ -T eCB(#77)
C 12-3,4,4’,5-T eCB(#81)

2,3,3’,4,4’ -P eCB(#105)

2,3,3’,4,4’ -P eCB(#105)

13

C 12-2,3,3’,4,4’-PeCB(#105)

2,3,4,4’,5-P eCB(#114)

2,3,4,4’,5-P eCB(#114)

13

C 12-2,3,4,4’,5-P eCB(#114)

2,3’,4,4’,5-P eCB(#118)

13

C 12-2,3’,4,4’,5-PeCB(#118)

2’,3,4,4’,5-P eCB(#123)

13

C 12-2’,3,4,4’,5-PeCB(#123)

3,3’,4,4’,5-P eCB(#126)

3,3’,4,4’,5-P eCB(#126)

13

C 12-3, 3’,4,4’,5-PeCB(#126)

2,3,3’,4,4’,5-HxCB(#156)

2,3,3’,4,4’,5-HxCB(#156)

13

C 12-2,3,3’,4,4’,5-HxCB(#156)

2,3,3’,4,4’, 5’ -HxCB(#157)

13

C 12-2,3,3’,4,4’,5’ -HxCB(#157)

2,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#167)

13

C 12-2,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#167)

3,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#169)

3,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#169)

13

C 12-3, 3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#169)

2,3, 3’,4,4’,5,5’-HpCB(#189)

2,3, 3’,4,4’,5,5’-HpCB(#189)13

C 12-2, 3,3’,4,4’,5,5’ -HpCB(#189)

その他の HpCDD
1,2,3,4,6,7,8-HpCDF

2,3’,4,4’,5-P eCB(#118)
2’,3,4,4’,5-P eCB(#123)

2,3,3’,4,4’, 5’ -HxCB(#157)
2,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#167)

−25−

13

b)

濃度の算出
得られた各異性体の量から、試料中の濃度を式(4)によって算出し、特に指定がない場合は JIS
Z 8401 の規定によって数値を丸め、有効数字を２桁とする。
1
LL LLL LL ( 4 )W
ここに、 Ci：試料中の異性体の濃度(pg/g)
Ci = ( Qi− Qt ) ×

Qi：抽出液全量中の異性体の量(pg)
Qt：空試験での異性体の量(pg)
W：試料採取量(乾燥重量)(g)5 .8

検出下限及び定量下限(1)

装置の検出下限及び定量下限

最低濃度（各標準物質をそれぞれ四塩素化物及び五塩素化物で 0.1〜0.5pg、六塩素化物及び七塩素化物で 0.2〜1.0pg、八塩素化物で 0.5〜2.5pg、コプラナーPCB で 0. 2〜1.0pg 含む）の検量線作成用標準液を GC/MS で測定し、各 2,3,7,8-位塩素置換異性体を定量する。この操作を５回以上繰り返し、得られた測定値から式(5)によって 標準偏差を求め、その３倍を装置の検出下限、10 倍を装置の定量下限とする。
ここで得られた装置の検出下限が、四塩素化物及び五塩素化物で 0.1pg、六塩素化物及び七塩素化物で 0.2pg、八塩素化物で 0.5pg、コプラナーPCB で 0.2pg より大きいときには、器具、機器などをチェックして、これらの値以下になるように調整する。
この装置の検出下限及び定量下限は、使用する GC/MS の状態などによって変動するため、ある一定の周期で確認し、常に十分な値が得られるように管理する。また、使用する GC/MS や測定条件を変更した場合などには必ず確認する。

s＝∑( X i−X )n−1

2
LL LL LLL ( 5 )ここに、 s：標準偏差
Xi：個々の測定値(pg)X：測定値の平均値(pg)n：測定回数(2)

測定方法の検出下限及び定量下限測定に用いるのと同量の抽出溶媒を濃縮した抽出液に式(6)により算出した量の標準物質を添加し、前処理、GC/MS 測定及び同定・定量を行う。これを５回以上行い、得られた測定値の標準偏差を式(5)によって 求め、その３倍を測定方法の検出下限、10 倍を測定方法の定量下限とする。
v
Q = QL ' × LL LL LLL ( 6 )vi
ここに、 Q：標準物質の添加量 (pg)QL’ ：装置の定量下限(pg)v：測定用試料の液量(μL )vi：GC/MS 注入量(μL)
さらに、 式(7)及び(8)によって試料における検出下限及び定量下限を算出する。
この測定方法の検出下限及び定量下限は、前処理操作や測定条件により変動するため、ある一定の周期で確認し、常に十分な値が得られるように管理する。また、前処理操作や測定条件を変更した場−26−

合などには必ず確認する。
試料における検出下限及び定量下限は、試料採取量などにより、異なってくるため、各試料ごとに求める。

v VE 1
×× LLLLLLLLLL (7 )vi VE' W
v V
1
CQL = QL × × E' × LLLLLLLLLL (8)vi VE W
CDL = DL ×

ここに、 CDL ：試料における検出下限 (pg/g)
CQL ：試料における定量下限 (pg/g)
DL：測定方法の検出下限 (pg)
QL：測定方法の定量下限 (pg)vi：GC/MS 注入量(μL)
v：測定用試料の液量(μL )W：試料採取量(g)VE ：抽出液量(mL)
V’E ：抽出液 の分取量(mL)(3)

試料測定時の検出下限及び定量下限の確認

実際の試料の測定において、少なくとも 2,3,7,8-位塩素置換異性体の中でピークが検出されなかったものについては、そのクロマトグラム上において、検出下限及び定量下限を次のように確認する。
まず、対象とする 2,3,7,8-位塩素置換異性体のピーク近傍のベースラインのノイズ幅を求め、ノイズ幅の 3 倍に相当する高さに相当するピーク面積を標準液のクロマトグラムから推定する。そのピー
ク面積を用いて検量線から その量を算出し、試料測定時の検出下限とする。同様にして、ノイズ幅の10 倍の高さに相当するピーク面積を推定し、検量線からその量を算出し、試料測定時の定量下限とする。
ここで算出されたそれぞれの値は、測定方法の検出下限及び定量下限以下でなければならない。それぞれの値が測定方法の検出下限及び定量下限を超える場合は、前処理操作 、測定操作に問題がなかったかどうかを確認し、再測定し、少なくとも試料測定時の検出下限及び定量下限から算出される試料における検出下限及び定量下限が、最初に設定した値以下になるようにする。
(4)

回収率の確認

クリーンアップスパイク内標準物質のピーク面積とシリンジスパイク内標準物質のピーク面積の比及び対応する相対感度(RRFrs) を用いて式(9)によって回収率を計算し、クリーンアップの回収率を確認する。
このクリーンアップの回収率が 50%以上 120% 以下の範囲からはずれるときは再度前処理を行い、再測定する。

Rc =

Acsi
Qrsi
100
×
×
LLLLLLLLLL(9)Arsi RRFrs Qcsi

ここに、 Rc ：クリーンアップ回収率(%)
Acsi：クリーンアップスパイク内標準物質のピーク面積
Arsi：対応するシリンジスパイク内標準物質のピーク面積
Qrsi：対応するシリンジスパイク内標準物質の添加量(pg)
RRFrs：対応するシリンジスパイク内標準物質との相対感度
Qcsi：対応するクリーンアップスパイク内標準物質の添加量( 2 3 ) (pg)−27−

注( 2 3 )内標準物質添加後の分取・分割の補正をする。

5 .9

結果の報告

(1)

結果の表示方法a)

P C D D s ・P C D F s
PCDDs・PCDFs 濃度の測定結果には、 2,3,7,8-位塩素置換の各異性体の濃度( 2 4) 、四塩素化物から八塩素化物(TeCDDs〜OCDD 及び TeCDFs〜OCDF)の同族体濃度、それらの総和を記載する。
各異性体の濃度は、試料における定量下限以上の値はそのまま記載し、試料における検出下限
以上定量下限未満のものは 、定量下限以上の値と同等の精度が保証できない値であることがわかるような表示方法（例えば、括弧付きにするなど）で記載する。試料における検出下限未満のものは、検出下限未満であったことがわかるように記載する。
各同族体濃度及びそれらの総和は、検出された異性体の濃度で算出する。
これらの表示方法は表 −10 のとおりとし、試料における検出下限及び定量下限も明記する。
また、5.9(3)の毒性等量（TEQ 濃度）を求めて結果をまとめる場合には、表 −12 を参考にするとよい。
注( 2 4 ) 汚 染 源 を 推 定 す る 場 合 な ど 、 必 要 に 応 じ て 、 1,3,6,8-TeCDD 、 1,3,7,9-TeCDD 、
1,2,7,8-TeCDF などの異性体の濃度も定量し記載する。

b)

コ プ ラ ナ ーP C B s
コプラナーPCBs 濃度の測定結果には、各異性体の濃度とそれらの総和を a)と同様に記載する。
表示方法は表 −11 のとおりとし、試料における検出下限及び定量下限も明記する。また、5.9(3)の毒性等量（TEQ 濃度）を求めて結果をまとめる場合には、表 −12 を参考にするとよい。

(2)

濃度の単位

PCDDs・PCDFs 及びコプラナー PCBs の実測値は、乾燥重量当たりの pg/g で表示する。
(3)

毒 性 等 量( T E Q ) へ の 換 算定量された PCDDs・PCDFs 及びコプラナーPCBs の濃度を毒性等量に換算する場合は、測定濃度に毒性等価係数（TEF,2,3,7,8-TeCDD Toxicity Equivalency Factor ）を乗じて pg-TEQ/g として表示する。
a)

毒 性 等 価 係 数( T E F )PCDDs・PCDFs については表− 13 に、コプラナーPCBs については表−14 に、それぞれ示
す TEF を使用して毒性等量を求める（WHO-TEF(1998)を採用）。

b)

毒 性 等 量( T E Q ) の 算 出
各異性体の毒性等量を算出し、その合計を毒性等量とする。その算出方法は、次のとおりとする。
①

定量下限以上の値と定量下限未満で検出下限以上の値はそのままその値を用い、検出下限未満のものは試料における検出下限の 1/2 の値を用いて各異性体の毒性等量を算出し、それらを合計して、毒性等量を算出する。

②

定量下限以上の値はそのままその値を用い、定量下限未満検出下限以上の値と検出下限未満のものは０（ゼロ）として各異性体の毒性等量を算出し、それらを合計して毒性等量を算出す
る。

−28−

(4)

数値の取り扱い

濃度の表示における数値の取り扱いは、次による。
a)

濃度については、JIS Z 8401 によって数値を丸め、有効数字を２桁として表し、検出下限未満の場合には検出下限未満であったことを表示する。ただし、試料における検出下限の桁までとし、それより下の桁は表示しない。

b)

検出下限については、JIS Z 8401 によって数値を丸め、有効数字を１桁として表示する。

c)

毒性等量の算出に当たっては、各異性体の毒性等量を計算し、その合計の値をもって有効数字
２桁で a)と同様に数値を丸める。つまり、個々の異性体の毒性等量については丸めの操作は行わない。
表 −1 0塩素置換体

P C D D s ・P C D F s の 同 族 体 及 び 異 性 体 の 表 示 方 法
同族体

四塩素化物

TeCDDs五塩素化物

PeCDDs六塩素化物

HxCDDs

七塩素化物

HpCDDs

八塩素化物

OCDD
PCDDs

Σ(四塩素化物〜八塩素化物)

表 −1 1PCDDs
異性体
2,3,7,8その他
1,2,3,7,8その他

同族体
TeCDFsPeCDFs

1,2,3,4,7,81,2,3,6,7,81,2,3,7,8,9その他

HxCDFs

1,2,3,4,6,7,8その他

HpCDFs

1,2,3,4,6,7,8,9−

OCDF
PCDFs
PCDDs + PCDFs

PCDFs
異性体
2,3,7,8その他
1,2,3,7,82,3,4,7,8その他
1,2,3,4,7,81,2,3,6,7,81,2,3,7,8,92,3,4,6,7,8その他
1,2,3,4,6,7,81,2,3,4,7,8,9その他
1,2,3,4,6,7,8,9-

コ プ ラ ナ ーP C B s の 異 性 体 の 表 示 方 法

塩素置換体
四塩素化物
(TeCB)
五塩素化物(PeCB)

ノンオルト体
3,3’,4,4’-(#77)
3,4,4’,5-(#81)
3,3’,4,4’,5-(#126)

六塩素化物(HxCB)

3,3’,4,4’,5,5’ -(#169)

七塩素化物(HpCB)
全ノンオルト体

モノオルト体

2,3,3’,4,4’ -(#105)
2,3,4,4’,5-(#114)
2,3’,4,4’,5-(#118)
2’,3,4,4’,5-(#123)
2,3,3’,4,4’,5-(#156)
2,3,3’,4,4’,5-(#157)
2,3’,4,4’,5,5’ -(#167)
2,3,3’,4,4’,5,5’-(#189)

全モノオルト体
全コプラナーPCBs

−29−

−

表 −1 2ダ イ オ キ シ ン 類 測 定 分 析 結 果 の 表 記 例 ．W H O - T E F (1 9 9 8 )化合物の名称など(1,3,6,8-T eCDD)*(1,3,7,9-T eCDD)*
2,3,7,8-T eCDD
TeCDDs
1,2,3,7,8-P eCDD
P
PeCDDsC
1,2,3,4,7,8-HxCDD
C
1,2,3,6,7,8-HxCDD
D
1,2,3,7,8,9-HxCDD
s
HxCDDs
1,2,3,4,6,7,8-HpCDD
HpCDDs
OCDD
Total PCDDs(1, 2, 7,8-T eCDF)*
2,3,7,8-T eCDF
TeCDFs
1,2,3,7,8-P eCDF
2,3,4,7,8-P eCDF
PeCDFsP
1,2,3,4,7,8-HxCDF
C
1,2,3,6,7,8-HxCDF
D
1,2,3,7,8,9-HxCDF
F
2,3,4,6,7,8-HxCDF
s
HxCDFs
1,2,3,4,6,7,8-HpCDF
1,2,3,4,7,8,9-HpCDF
HpCDFs
OCDF
Total PCDFs
Total PCDDs + Total PCDFs
3,3’,4,4’-T eCB# 77
3,4,4',5−T eCB# 81
3,3’,4,4’,5-P eCB#126
3,3’,4,4’,5,5’ -HxCB#169
Co Non-ortho CBs
2,3,3’,4,4’-P eCB#105
P 2,3,4,4’,5-P eCB#114
C 2,3’,4,4’,5-P eCB#118
B 2’,3,4,4’,5-P eCB#123s
2,3,3’,4,4’,5-HxCB#156
2,3,3’,4,4’, 5’ -HxCB#157
2,3’,4,4’,5,5’ -HxCB#167
2,3,3’,4,4’,5,5’ -HpCB #189
Mono-ortho CBs
Total Coplanar CBs

実測濃度(pg/g-dry)

毒性等量(pg-TEQ/g-dry)

試料における 試料における
定量下限値
検出下限値
(pg/g-dry)(pg/g-dry)
−
−
×1

①

②

−
−

−
−

−

−

−

−

−

−

−

−

−

−

−

−

−

−

−

−

−

−

×1
× 0.1
× 0.1
× 0.1
× 0.01−−

× 0.0001−−
× 0.1
× 0.05
× 0.5
× 0.1
× 0.1
× 0.1
× 0.1
× 0.01
× 0.01

−
−

−
−

−

−

−
−

−
−

× 0.0001−−
× 0.0001
× 0.0001
× 0.1
× 0.01−
× 0.0001
× 0.0005
× 0.0001
× 0.0001
× 0.0005
× 0.0005
× 0.00001
× 0.0001−−−
ダイオキシン類−−
備考 1. 実測濃度中の括弧付の数値は、検出下限以上定量下限未満の濃度であることを示す。
2. 実測濃度中の ”N.D.”は、検出下限未満であることを示す。
3. 毒性等価係数は、 WHO-TEF(1998)を適用した。
4. 毒性等量は、①検出下限未満のものは試料における検出下限の 1/2 の値を用いて算出したもの、②定量下限未満のものは０（ゼロ）として算出したものである。
* :これら３化合物に関しては、必要であれば表示する。

−30−

表 −1 3
PCDDs

PCDFs

異性体
2,3,7,8-T eCDD
1,2,3,7,8-P eCDD
1,2,3,4,7,8-HxCDD
1,2,3,6,7,8-HxCDD
1,2,3,7,8,9-HxCDD
1,2,3,4,6,7,8-HpCDD
1,2,3,4,6,7,8,9-OCDD
その他
2,3,7,8-T eCDF
1,2,3,7,8-P eCDF
2,3, 4, 7,8-T eCDF
1,2,3,4,7,8-HxCDF
1,2,3,6,7,8-HxCDF
1,2,3,7,8,9-HxCDF
2,3,4,6,7,8-HxCDF
1,2,3,4,6,7,8-HpCDF
1,2,3,4,7,8,9-HpCDF
1,2,3,4,6,7,8,9-OCDF
その他
表 −1 4

ノンオルト体モノオルト体P C D D s ・P C D F s の 毒 性 等 価 係 数
WHO-TEF(1998)
1
1
0.1
0.1
0.1
0.01
0.0001
0
0.1
0.05
0.5
0.1
0.1
0.1
0.1
0.01
0.01
0.00010

コ プ ラ ナ ーP C B s の 毒 性 等 価 係 数

異性体
3,4,4’,5-T eCB(#81)
3,3’,4,4’-T eCB(#77)
3,3’,4,4’,5-P eCB(#126)
3,3’,4,4’,5,5’ -HxCB(#169)
2’,3,4,4’,5-P eCB(#123)
2,3’,4,4’,5-P eCB(#118)
2,3,3’,4,4’ -P eCB(#105)
2,3,4,4’,5-P eCB(#114)
2,3’,4,4’,5, 5’ -HxCB(#167)
2,3,3’,4,4’,5-HxCB(#156)
2,3,3’,4,4’, 5’ -HxCB(#157)
2,3, 3’,4,4’,5,5’-HpCB(#189)−31−

WHO-TEF(1998)
0.00010.00010.1
0.01
0.00010.00010.00010.00050.00001
0.00050.00050.00016.

測定精度の管理ダイオキシン類 の測定は、極めて低濃度の測定であるため、測定精度の管理を十分に行う必要がある。測定精度の管理は、次による。
6.1

測定データの信頼性の確保(1)内標準物質の回収率

5.8(4)による。
(2)

検出下限及び定量下限の確認

a)

装置の検出下限及び定量下限
5.8(1)による。

b)

測定方法の検出下限及び定量下限
5.8(2)による。

c)

試料測定時の検出下限及び定量下限の確認
5.8(3)による。

(3)

操作ブランク試験

操作ブランク試験は、試料の前処理及び GC/MS への導入操作などに起因する汚染を確認し、測定に支障のない測定環境を設定するために行うもので、試料の前処理に用いるのと同じ試薬を同じ量用いて前処理操作及び GC/MS 測定を試料と同様に行う。
操作ブランク試験は、特に断らない限り試料数の 10％程度の頻度で行わなければならない。
備考

操作ブランク試験値が大きいと測定方法の検出下限及び定量下限が悪くなるばかりでなく 、測定値の信頼性が低下するため、操作ブランク試験値は極力低減を図らなければならない。
そのため、必要に応じてクリーンドラフトの中で前処理操作を行うことが望ましい。

(4)

二重測定

前処理操作及び GC/MS 測定操作における総合的な信頼性を確保するために、同一試料から二つ以上の測定試料について同様に測定し、2,3,7,8-位塩素置換の各異性体（17 異性体）及びコプラナーPCBsの検出下限の 3 倍以上の測定値について、その平均値を求め、個々の測定値が平均値の±30％以内であること確認する。
差が大きい場合には、測定操作を細かく確認して原因を究明し、改善した後、再度測定を行う。
二重測定は、特に断らない限り試料数の 10％程度の頻度で行わなければならない。
(5)

標準物質

測定値は、採取試料と標準物質の測定結果を比較することによって得られるため、測定値の信頼性を確保するためには、可能な限りトレーサビリティーの保 証された標準物質を用いる必要がある。また、これらの標準溶液は、溶媒の揮散などによって濃度変化がないようにガラス製の密閉容器に入れて冷暗所にて保管し、厳重な管理下で保管する。

6.2

測定操作における留意事項(1)

試 料 の 採 取 ：試料の採取においては、次の点に注意する。

a)

採 泥 器 、 試 料 容 器 の 準 備 と 保 管 ：使用する採泥器、試料容器は、十分に洗浄を行ってから使用する。また、洗浄後、外部からの汚染を受けないよう保管する。

b)

試 料 の 保 管 ・ 運 搬 ：採取後の試料は、外部からの混入や分解などを防ぐため、密封 ・ 遮 光 で きる容器に入れ、保管・運搬する。また、測定に用いた試料の残りを長期間保存する場合は凍結保
−32−

存する。
c)

試 料 の 代 表 性 の 確 保 ：目的とする調査対象に対して代表試料の採取が適切に行われなければな
らない。

(2)

前 処 理 操 作 ：前処理操作においては、次の点に注意する。

a)

試 料 か ら の 抽 出 ：試料からの抽出には、次の点に注意する。
①

ソックスレー抽出においては、抽出を行う円筒ろ紙は十分に乾いていることを確認する。

②

液−液抽出においては、目的の溶媒層への抽出が十分に行なわれるように溶媒の選択や抽出条件を確認する。

b)

硫酸処理−シリカゲルカラムクロマトグラフ操作又は多層シリカゲルカラムクロマトグラフ操
作①②

硫酸処理においては、抽出液の着色が うすくなったことを確認する。
カラムクロマトグラフ操作においては、分画条件は使用する充てん剤の種類や活性度、あるいは溶媒の種類および量によって異なるので、あらかじめフライアッシュ抽出液のように全異性体が含まれたものを用いて分画試験を行って条件を確認しておく。

c)ア ル ミ ナ カ ラ ム ク ロ マ ト グ ラ フ 操 作 ：アルミナの極性は製造ロットや開封後の保存状態および保存期間によってかなり変化が認められる。活性の低下したものでは、PCDDs ・PCDFs の場合、
1,3,6,8-TeCDD や 1,3,6,8-TeCDF などが第 1 画分に溶出したり、八塩素化物がジクロロメタン(50vol%)を含むヘキサン溶液の規定量では溶出しなかったりすることがあり、コプラナーPCBsの場合、一部がヘキサン溶出画分に溶出することがあるので、あらかじめフライアッシュ抽出液のように 多くの異性体が含まれたものを用いて分画試験を行って条件を確認しておく。

d)

活 性 炭 カ ラ ム ク ロ マ ト グ ラ フ 操 作 ：あらかじめフライアッシュ抽出液のように多くの異性体が含まれたものを用いて分画試験を行って条件を確認しておく。

(3)

同定及び定量a ) ガ ス ク ロ マ ト グ ラ フ 質 量 分 析 計 （G C / M S ）：使用する GC/MS は目的に応じて測定条件を設定し、試料の測定が可能なように機器を調整する。この際、応答の直線性、安定性 などのほか、測定の誤差となる干渉の有無及びその大きさ、その補正法など、十分信頼できる測定ができるかどうか確認しておく。
①

M S の 調 整 ：M S に質量校正用標準物質（ペルフルオロケロセン ：PFK など） を 導 入 し 、MS の質量校正用プログラム などによってマスパターン及び分解能（10,000 以上、10％谷 ）などの校正を行うとともに、装置の感度などの基本的な確認を行う。

②

G C の 調 整 ：カラム槽温度、注入口温度、キャリヤーガス流量などの条件を設定し、応答が安定していること、各塩素化物の保持時間が適切な範囲にあり、かつ、ピークが十分に分離されていることなどを確認する。スプリットレスの時間、パージガス流量などを適切な値に設定する。
キャピラリーカラムは、測定対象成分と他成分との分離が十分でない場合には新品と交換する。ただし、キャピラリーカラムを 300mm 程度切断（両端又は片端）することによって測定対象物質と他成分との分離に問題がなければ交換しなくてもよい。

③

G C / M S の 操 作 条 件 ：キャピラリーカラムによって得られるピークの幅は、 5〜10 秒程度であるが、 １つのピーク当たりの測定点を十分確保するためには選択イオン検出のサンプリングの周期は１秒以下にしなければならない。1 回の測定で設定可能なモニターチャンネルの数は、要求される感度との兼ね合いとなるので、十分に検討した上で設定する必要がある。
クロマトグラム上の各ピークの保持時間を考慮して、時間分割によるグルーピング方式によって測定してもよい が、この場合には各グループ毎に、適切な内標準物質ピークが出現す−33−

るように条件の設定を行う必要がある。
④

装 置 の 維 持 管 理 ：GC/MS の性能を維持するには、日常的な保守管理を欠かしてはならない。
特に、GC とのインターフェイス及びイオン化室内の汚れは、感度及び分解能、測定精度の低下に大きく影響するので、適宜洗浄する必要がある。

b)

装 置 の 感 度 変 動 ：1 日 1 回以上、定期的に検量線の中間程度の濃度の標準溶液を測定して、内標準物質の感度が検量線作成時に比べ大きく変動していないことを確認する。
また、PCDDs・PCDFs 及びコプラナーPCB の各塩素置換体と内標準物質の相対感度の変動が、検量線作成時の相対感度に比べて±20％以内にあることを確認し、この範囲を 超えて変動する場
合には、その原因を取り除き、それ以前の試料の再測定を行う。
さらに、保持時間については、分離カラムの劣化などの場合のように徐々に保持時間が変動する場合には、必要に応じて対応をとればよいが、比較的短い間に変動（通常、1 日に保持時間が±5％の範囲外、内標準物質との相対保持比が± 2％の範囲外）する場合には、その原因を取り除き、それ以前の試料の再測定を行う。

c ) 検 量 線 の 検 定 ：定常的な検量線の検定は、いくつかの標準液を測定して 相対感度 を求め、検定用の検量線作成時に得られた 相対感度と比較して行うか、検量線作成時に実試料を同時に測定して得た試料を標準試料として常に同時に測定して行う。 もし、その時の 相対感度 が 検 定 用 の相対感度 の±20％以内でなかったり、その標準試料の測定結果に誤差が生じるときには、装置の調整に問題があるので、その原因を検討し、再度検量線の検定および試料を測定する。
(4)

異 常 値 の 取 扱 い ：測定機器の感度の変動が大きい、操作ブランク値が大きい、二重測定の結果が大きく異なるなどの場合には、測定値の信頼性に問題があるため、再測定を 行わなければならない。
このような問題が起こると、多大な労力、時間、経費がかかるだけでなく、調査結果全体の評価に影響を及ぼすことになるため、事前の確認などを十分に行い、異常値を出さないように注意しなけ
ればならない。また、異常値が出た経緯を十分に検討し、記録に残して、以後の再発防止に役立てることが重要である。

6.3

精度管理に関する記録保 管 ・報告

精度管理に関する以下の情報を記録保管し、必要があれば 測定分析結果表と共に報告する。
(1)

現場調査

a)

現 場 使 用 調 査 機 材 な ど の 記 録 ：使用した調査機材に関する情報を記録する。
①

器材の名称

②

メーカー名

③

品名，型式，製造番号などの識別b)c)

現場調査の記録①

現場調査の担当責任者の所属及び氏名②

試料採取場所：試料を採取した場所の略図、緯度経度 など。

③

調査日時：現場調査を行った日時。

④

試料採取日時：各試料に関して試料を採取した日時。

⑤

採取した試料媒体
試 料 採 取 方 法 ：このマニュアルに準じている場合，そのマニュアルの名称と共に『マニュアルに準拠』と記載すればよい。
d)

採 取 試 料 数 ：各媒体に関する試料数 。

e)

試 料 採 取 時 の 写 真 ：印画紙の原本でなくても良い（カラーコピーあるいはデジタル画像の印刷物でもよい）。
−34−

(2)試料確認の記録

試料採取後、試験機関に試料が入る段階（試料の受付）における試料の確認を記録。これには次の内容が含まれていること。
a)

試料を確認した日時b)

試 料 を 確 認 し た 職 員 の 所 属 と 氏 名 ：試料が搬送された手段。

c)

試 料 が 搬 送 さ れ た 状 態 ：例えば、遮光、冷蔵、冷凍などの情報。

d)

試 料 の 媒 体 ：元来の試料の媒体名称。

e)

試料の形状

f)

試料の入っていた容器の種類・性状 ・ サ イ ズ

g)

保管する場合、その保管場所 ・保管方法

h)

運送業者を利用した場合、その配送伝票の複製

i)

試料の測定分析検体としての識別

(3)

測定分析

a)

分 析 室 の 管 理 記 録 ：どのような実験室環境で測定分析が行われたかが判明するように実験室の構造などを記載した書類を保管する。また、測定分析が行われた実験室環境を客観的に判断可能な記録、例えば、使用する分析室の清浄度や温度を、測定器を用い計測し記録したものなど。

b)

使 用 器 具 ：測定分析に使用した器具（ガラス器具類など）に関して次の内容を記載する。
①

メニスカスなどに関しては誤差などに関わる性能②

洗浄方法などの準備方法c ) 使 用 機 器 ・ 装 置 ：測定分析に使用した機器・装置（天秤， 乾燥器、ロータリーエバポレーター、
GC/MS など）に関して次の内容を記載する。
①

メーカー名

②

品名、型式、製造番号などの識別

③

仕様概略

d)

使 用 試 薬 ：使用した試薬類（各種試薬、円筒ろ紙など）に関して次の内容を記載する。
①

メーカー

②

製品名

③

等級

④

精製 ・調整などをおこなった場合はその方法

e)

標 準 物 質 及 び 内 標 準 物 質 ：使用した標準物質及び内標準物質に関して次の内容を記載する。
①

メーカー名

②

製品名 (Product No. など)③

製造番号 (Lot No. など)④

希釈、混合の記録

f)

分 析 前 処 理 の 記 録 ：行われた分析実験操作に関して次の内容を記載する。
①

試料の名称などの識別 （管理番号など）②

各前処理工程における担当分析者の所属・氏名③

分析の各段階における操作日時④

分析に供した量とその状態（湿重量か乾燥重量か）⑤

各使用試薬の量⑥

添加した内標準物質の種類、濃度及び量g)

G C /MS の記録①

GC/ MS 日常点検記録 ：GC/ MS の日常点検結果（冷却水、真空ポンプ、真空度、水漏れ、オ
イル漏れ、振動、臭いなどの基本的な事項）の記録。
−35−

GC/ MS 保守管理記録：GC/ MS に関して日常点検の範疇を超える点検・調整事項（修理、磁②場調整など日常的には発生しない事柄）が存在すればその記録。
③

GC/ MS 測定分析条件の記録④

使用 GC カラムの記録：測定に使用した GC キャピラリーカラムに関して次の内容を記録する。メーカー名、製品名、液相の種類、カラム長さ、カラム内径、液相膜厚GC/ MS 使用状況記録 ：GC/ MS の使用状態（各種消耗品の交換、イオン源の交換、GC カラ⑤

ムの交換、GC カラムエージング、フライトチューブベーキング、イオン源ベーキング、測定検体数など、どの様な状況で使用されたか）の記録。
⑥

MS 分解能の記録：測定時に必要な MS 分解能が得られていることを確認できる記録｡⑦

透過率の記録：設定分解能時のイオン透過率の記録｡⑧

GC 分離能の記録：測定時に必要な GC カラム分離能が得られていることを確認できるクロ
マトグラムの記録を使用したキャピラリーカラム毎に保管する。分離を確認する化合物の組み合わせ、分離能などに関しては測定機関内で基準を決めておくこと。この基準と共にクロマト
グラムを 保管すること。
GC/ MS 感度の記録：測定時に目標とする検出下限値あるいは定量下限値に対して必要な感⑨度が得られていることを確認できる記録（クロマトグラム など）｡
装置の検出下限付近の濃度の標準溶液を 5 回以上測定し、その面積値の標準偏差から感度を確認する。又は、クロマトグラムから S/N 比を確認できること。ただし、各測定質量数のレスポンスデータ取り込みに関してスムージングなどの処理を行っている GC/MS の場合は、S/N 比を求めることができない。
⑩

標準物質の塩素同位体比の確認：測定した標準物質中の各化合物に関して、各標準物質の対応する２つの質量数のイオンのピーク面積 の強度比を求め、塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比と を比較・確認できる記録。 塩素原子の同位体存在比から推定されるイ
オン強度比に対して± 15%以内(検出下限の３倍以下の濃度では± 25%)であること。
測定順の記録（Injection List）：GC-MS による測定の順番の記録。標準溶液、ブランク、⑪

操作ブランク、試料、二重測定（同一バイアルからの GC/ MS 測定）、二重測定（試料採取からの二重測定）など試料の測定順番の記録｡ 同一の報告書に含まれない試料に関する測定が存在する場合、その測定に関しては示す必要はない。GC/ MS に付属するソフトウェアから加工することなしに印刷したもの。
⑫

クロマトグラムの記録 ：標準溶液、最終溶媒ブランク、操作ブランク、試料のクロマトグラ
ムの保管。測定した全ての質量数に関してクロマトグラムを保管する。

⑬

ロックマスモニターの記録：質量校正に用いるロックマスのモニタークロマトグラムの保管。
ロックマスモニターのクロマトグラムは、定量するピークの出現する時間で大きな乱れがないこととする。
RRF の記録：検量線測定時の標準溶液各濃度における RRF と試料測定時の標準溶液におけ⑭

る RRF との比較結果を保管する。検量線測定時の標準溶液各濃度における RRF の平均値±
20% に試料測定時の標準溶液における RRF の値が入っていること。
標準溶液の濃度確認：複数のロットを比較し、各々の濃度が平均値との 差で 5%以内である⑮ことを確認する。
(4)a)

計算
計 算 工 程 の 記 録 ：標準溶液の濃度、内部標準の添加量、GC/MS 測定面積値、試料採取量から最終濃度までの計算過程がトレース可能である記録。

b)

同 位 体 比 の 確 認 記 録 ：試料中の各化合物に関して、２つの質量数のイオンのピーク面積の強度比を求め、塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比（あるいは同じ測定グループ内−36−

で測定された標準物質の２つの質量数のイオンのピーク面積の強度比）との差が判明する記録。
上記計算の工程に含まれていてもよい。各化合物塩素同位体比が標準物質のものとほぼ同じであり、塩素原子の同位体存在比から推定されるイオン強度比に対して±15%以内( 検出下限の３倍以下の濃度では±25%)であること。
c)

回 収 率 の 確 認 記 録 ：シリンジスパイクを用いて補正したクリーンアップ回収率の計算結果を 確認できる 記録。上記計算の工程に含まれていてもよい。回収率は 17 種類の PCDDs・PCDFs の各 2,3,7,8-位塩素置換異性体及び 12 種類の コプラナー PCBs において有効数字 2 桁で各々50〜120%の範囲であること。

(5)a)

ブランク試験
内 標 準 物 質 に 含 ま れ る 1 2 C 化 合 物 ブ ラ ン ク レ ベ ル の 検 査 記 録 ：使用する内標準物質中に存在す
る 12 C 化合物が、用いる添加量で定量に影響を与えないことを確認した記録。使用する内標準物
質全てについて行う。内標準物質を新たに調整した場合は新たに検査を行う。

b ) 操 作 ブ ラ ン ク 試 験 の 記 録 ：操作ブランク試験は、 操作ブランクは試験分析検体数の 10％程度の頻度で行う。
(6)a)

二重測定
二 重 測 定 ：前処理操作及び GC/MS 測定操作における総合的な信頼性を確保するために、同一
試料から二つ以上の測定試料について同様に測定し、2,3,7,8-位塩素置換の各異性体（17 異性体）及びコプラナーPCB の検出下限の 3 倍以上の測定値について、その平均値を求め、個々の測定
値が平均値の±30％以内であること。
二重測定は、試験分析検体数の 10％程度の頻度で行う。

b ) G C / M S 二 重 測 定 ：GC/ MS による二重測定を、分析検体数 の 10％程度の頻度で行う。GC/ MSによる二重測定は試料媒体毎に行う必要はない（異なったどのような媒体の組み合わせでも同一の GC/ MS の測定検体数の 10％程度の頻度で行えばよい）。

−37−