■会議報告
The 14th International Conference on X
Ray Microscopy（XRM2018）会議報告
高野秀和（東北大学多元物質科学研究所）

2018 年 8 月 20 日～ 24 日の 5 日間に渡り，カナダサスカトゥーン（Saskatoon）で開催された X 線顕微鏡国際会議（ XRM2018）へ参加した。 XRM は X 線顕微鏡手法やその応用に関する最大規模の国際会議であり， 1983 年に初回がドイツゲッチンゲン（ Gottingen）で開催されて以来，今回で 14 回目を数えた。 2008 年までは 3 年毎の開催であったが，以降は隔年での開催となっている。 2005
年には日本（姫路）でも開催された。
今回の開催都市であるサスカトゥーンは人口約 20 万人の小規模都市であり，コンパクトながらゆったりした街並みが印象的だった。ただし，日本からのダイレクトフライトはなく，長時間の乗継時間のせいもあり非常に遠く感じた。また，酷暑の日本とは対照的に日中は爽快な気候であったが，滞在中の最低気温は摂氏 7 度と冷え込んだ。

メイン会場内の写真

会議は市街中心にある Teachers Credit Union Place で行われた。メイン会場は円卓が並ぶまさに結婚式場の雰囲気であり（写真参照），そのまま聴講するスタイルは筆者た方であり，会議 2 日目に急遽メモリアルセッションがにとって初めての経験であった。ちなみに，本会議開催前設けられた。

日 に は サ テ ラ イ ト ワ ー ク シ ョ ッ プ で あ る “ X ray
Microscopy ― Approaches

会議の内容であるが，パラレルセッションであり，筆者Generation

は測定技術の研究を行ってきた関係上，内容に偏重が生じSources”がサスカチュワン大学で開催され，主に次世代ると思うがご容赦願いたい。全体の印象であるが，手法をリング（CLS 2.0や MAX の話題が中心）における X 線問わず最終的な結果として示される像画質が向上している

顕微鏡コミュニティの関わりについての議論がなされた

印象を受けた。以前は，測定技術側と観察応用側の線引きが，こちらも円卓スタイルであった。

がはっきりとしていて，測定技術は分解能チャート等のパfortheNext

本会議の Conference Chair は Stephen Urquhart サスカ

フォーマンス評価に留まる報告が多かったのが，測定技術チュワン大教授が務め，現地組織委員は Canadian Light

側もアプリケーション応用まで踏み込み，アプリケーショSource（CLS）を主体とした運営であった。サスカトゥー

ン側もサイエンスを引出すために測定技術に踏み込んでいン市長の Opening Remarks で開始した会議の参加者は約るケースが多く見られた。目的が明確なので測定技術向上

300 名であり，毎朝の Plenary session 以後 2 会場でのパの方向性も明確であり，最適化やセグメンテーション等のラレルセッションを基本とし，Plenary 講演 7 件及び招待情報抽出の高度化等も併せて像質向上に寄与していると感講演24件を含む77件の講演が行われた。また，193件のポじた。測定技術向上の効果は多岐にわたり，空間分解能，スター発表は二つのグループに分けられ，各 2 回のセッ視野（深さ情報も含め），感度の向上，あるいは，エネルションタイムが設けられた。学生及びポスドクのポスター

ギー分解，時間分解，ベクトル分解等の次元追加，磁気散発表者の一部（各グループ10名）には 2 分間の Slam talk

乱やコンプトン散乱等の相互作用利用等，従来手法の拡張の機会が Plenary session 内で与えられた。その他， 22 のが達成されており， X 線顕微鏡技術が重要な分析ツール企業展示ブースも設置され，日本からも 3 社の出展があの一つとして確実に応用されている印象を受けた。一方った。

で，粗削りであっても斬新なアイデアを掲げた研究報告が会議開始直後には， X 線顕微鏡のパイオニアの一人で少ない印象はここ最近の会議と同様であったが，可視光である Gunter Schmahl 先生が 8 月14日に82歳で亡くなられ最近話題の“Ghost imaging”を X 線領域で試みた報告はたとの衝撃的なニュースがあった。 X 線領域での結像顕極めて興味深かった。また，自由電子レーザー関係の報告

微鏡像や Zernike 位相差顕微鏡像を世界に先駆けて示されが急減している点も気にかかった。

放射光 Nov. 2018 Vol.31 No.6 ● 399(C) 2018 The Japanese Society for Synchrotron Radiation Research

X 線顕微鏡手法は大まかに結像（あるいは投影）法，メージング法を拡張した Marie-Christine Zdora 氏が受賞

走査法を利用した実空間計測と，コヒーレント散乱やタイした。二方ともに女性研究者の受賞である。本賞は日本人

コグラフィ等を利用した逆空間計測として分けることがで未受賞であり近い将来の若手研究者受賞に期待したい。

きる。今回の会議では逆空間計測法が本格的にアプリケー

会議の内容について個々の報告にはほとんど触れていなションに活かされるフェーズに来た印象を受けた。特にタいが，本会議のプロシーディングスは講演申込時に提出す

イコグラフィは走査型顕微鏡のマルチモーダル計測手法のる方式となっており（これは XRM では初めての試みであメインとして一般的に利用されてきている。実空間計測法る），Microscopy and Microanalysis Vol. 24 Supplementの空間分解能も向上しており，逆空間計測法と相補的に利S2（Cambridge university press）として既に公開されて用する報告が多く見られた。

いるので，具体的な内容に興味がある方は是非ご参照願い

X 線顕微鏡応用は放射光利用によるものが大半である

たい。

が，実験室光源を利用した報告の多さも目立った。市販の会議の運営に関しては全体的には満足のいくものであっ

X 線顕微鏡（特に Carl Zeiss 社の製品）やマイクロフォーたが，いくつか不満な点があった。まず，パラレルセッシ

カス X 線源を利用した測定報告だけでなく，それらをョンの配分については不満であり，聞きたい講演の重複ベースとした in situ 測定や位相計測等のプラスアルファや，セッション中に会場間を行き来することが多かった。

を付加する開発報告が多数見られた。小型レーザーコンプ手法と応用が組み合わさった報告が多いため，カテゴリートン光源や構造化 X 線源を利用した装置開発の報告もあ分けが難しいとは思うがもう少し考慮してほしかった。次り，今後の発展が大いに期待できる。に，3 日目終了後に行われた Banquet である。ニューヨー

X 線顕微鏡において重要な要素技術が X 線光学素子でクタイムズ紙に“52 places to go in 2018”の一つとして挙ある。最も一般的であるフレネルゾーンプレートの開発もげられた Remai Modern Art Museum で行われた。立派な進められているが，その発展形である多層膜ラウエレンズ美術館であり，ピカソ作品展示のギャラリーが解放されたの高度化と応用が進んだ印象である。数年前から数値としが，肝心の Banquet 自体の内容が不満であり，実際筆者てはサブ10 nm の性能を謳ってきているが，その性能がいは飲み物以外を口に入れられないままであった。もう一つ

よいよ本物として認知できるデータがいくつも見られた。

は，会議終了後に行われた CLS ツアーである。時間的にまた，色収差がない非球面反射鏡は，走査顕微鏡やタイコタイトなスケジュールでビームラインを見て回ったため，グラフィにおける集光素子として標準となってきたが，結質問や議論する時間がほとんどなかったのは不満であった。

像素子としても高い性能を示しており，分光顕微鏡としてXRM の開催地は次々回の開催希望地の代表がプレゼンの応用が拡がっていくと感じた。屈折レンズアレイに関すテーションを行い，参加者の投票によって決定されるのがる研究も一定数の報告があった。性能も着実に向上してお通例である。今回は XRM2022の開催地としてスウェ－デり，その特性を活かした利用も報告され，存在感を示してンルンド（ MAX ），フランスパリ（ SOLEIL），ドいた。

イツハンブルグ（DESY，PETRA，EuroFEL）が立候

XRM では博士号取得研究（取得見込みから取得後 2 年まで）の研究に対する賞として The Werner Meyer-Ilse補した結果，強烈で印象的なプレゼンを行ったルンドに決定した。

Memorial Award を1999年より設けている。今回は 8 名の

次回の XRM2020は台湾新竹での開催予定である。び

候補者のうち，円偏光を利用したタイコグラフィを用いてっくりするような新技術や新アイデア，キラーアプリケー

磁 性 材 料 内 部 の 磁 気 構 造 を 3 次 元 可 視 化 し た Claireション応用等を目にできることを期待したい。

Donnelly 氏 ， 構 造 化 照 明 パ タ ー ン の 解 析 に よ る 位 相 イ

400 ● 放射光 Nov. 2018 Vol.31 No.6