顕第 54 巻微鏡第3号

2019 年目次■巻 頭 言会長就任にあたって……………………………………………………………………………………………… 幾原雄一

107

■ 日本顕微鏡学会創立 70 周年記念式典について …………………………………………………………………… 牛木辰男

108

学

109

晶，Jean-Marc Costantini

110■ 特集：電子線照射下における材料挙動
特集にあたって…………………………………………………………………………………………………… 石丸
超高圧電子顕微鏡－カソードルミネッセンス分光法の照射損傷研究への応用…… 安田和弘，渡辺恭志，Pooreun Seo，AKM Islam Saiful Bhuian，松村環樹，渡辺精一

116

会龍，J.P. McGrady，S.R. Oh，保田英洋，柴山環樹

122

低エネルギー電子線照射によるアモルファス GeSn の結晶化 ……………………………… 石丸学，仲村龍介

126

単粒子構造解析は創薬に役立つか……………………………………………………………………………… 岩崎憲治

131丈晴

138広志，真柳みゆき

144

複合量子ビーム超高圧電子顕微鏡によるイオンと電子の重畳効果その場観察…………… 柴山
鉄鋼中の材料強化因子の電子照射誘起不安定化現象のその場観察実験……………………阿部■解■講弘亨，叶野翔，楊説座
集束イオンビーム装置による薄片試料作製技術……………………………………………………………… 加藤
分析走査電子顕微鏡を用いた硬組織の石灰化の進行と成熟過程の検討……………………………………………… 笹野泰之，中村恵，逸見晶子，大方■ 最近の研究と技術
厚さ増加に伴う TEM 像強度減衰とトモグラフィーへの影響 ……………………………………………… 山﨑順149■ Microscopy Editor’s Choice より …………………………………………………………………………………………………

153■ 会議報告FEMMS2019 会議報告 …………………………………………………………………………………………… 石川亮

154■ 編集後記 ……………………………………………………………………………………………………………… 石丸

学

155「顕微鏡」に関するご意見は下記発行所へお寄せ下さい．
ホームページ

http://www.microscopy.or.jp

E-mail address

jsm-post@microscopy.or.jp

表紙説明：FIB 装置で作製した薄片試料の TEM 像．
上図は陽極酸化膜上のシリカ多層膜の断面 TEM 像で，陽極酸化膜のガス通過路とガス分離活性層であるシリカ多層膜（矢印は積層膜の境界）を明示．下図は窒化ホウ素／ダイヤモンド接合界面の平面 TEM 像で，格子ミスフィットによる転位ネットワークを明瞭に観察．p. 139 参照．

【著作権者：公益社団法人 日本顕微鏡学会】

KENBIKYO
Vol. 54, No. 3

2019

CONTENTS■ Foreword
My Vision as the President of the JSM………………………………………………………………………… Yuichi Ikuhara

107■ The 70th Anniversary Celebration of the Japanese Society of Microscopy ……………………………… Tatsuo Ushiki108■ Feature Articles: Material Behavior under Electron Beam Irradiation
Introduction ………………………………………………………………………………………………… Manabu Ishimaru

109

Development and Application of High Voltage Electron Microscopy—Cathodoluminescence (HVEM-CL) Technique to Radiation Damage Study…………………… Kazuhiro Yasuda, Yasushi Watanabe, Pooreun Seo, AKM Islam Saiful Bhuian, Syo Matsumuraand Jean-Marc Costantini

110In-situ Observation of Superposition Effects on Ion and High Energy Electrons by Multi-Qunatum Beam High Voltage
Electron Microscope ……………………………………………………… Tamaki Shibayama and Seiichi Watanabe

116

In-situ Observations of Instability of Strengthened Factors in Steels under Irradiations……Hiroaki Abe, Sho Kano, Huilong Yang, John P. McGrady, Sunryung Oh, Hidehiro Yasuda and Tamaki Shibayama

122

Low-Energy Electron-Beam Induced Crystallization of Amorphous GeSn …… Manabu Ishimaru and Ryusuke Nakamura

126■ Reviews
Does Single-Particle Reconstruction Facilitate Pharma Drug Discovery? ……………………………………Kenji Iwasaki

131■ Lectures
Specimen Preparation Techniques Using Focused Ion Beam Systems ……………………………………… Takeharu Kato

138

Propagation and Maturation of Calcification in Bones and Teeth Demonstrated by Analytical Scanning Electron Microscopy………………………… Yasuyuki Sasano, Megumi Nakamura, Akiko Henmi, Hiroshi Okata and Miyuki Mayanagi

144■ Research TodayIntensity Attenuation in TEM Images with Increasing Thickness and Its Influence on Tomography………… Jun Yamasaki

149■ From Microscopy: Editor’s Choice Articles …………………………………………………………………………………

153■ Conference Report
The 17th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science ………………………………………………Ryo Ishikawa

154■ Staff Commentary ……………………………………………………………………………………………… Manabu Ishimaru

155【著作権者：公益社団法人 日本顕微鏡学会】