顕第 54 巻微鏡第1号

2019 年目次■巻 頭 言
昭和，平成，そして令和………………………………………………………………………………………… 樋田一徳

1

■ 特集：原子変位を観る司，木本浩司

2

高精度化した STEM 像による結晶構造の解析 ……………………………………………………………… 木本浩司

3

格子歪みの定量解析について…………………………………………………………………………………… 石塚

特集にあたって…………………………………………………………………………………… 平山■解和夫

8

原子分解能 STEM による酸化物へテロ界面における酸素変位の直接観察 ……………………………… 麻生亮太郎

14

走査型透過電子顕微鏡法による陽イオン微小変位計測を用いた構造解析… 小林剛久，幾原雄一

19

電子顕微鏡ボリュームイメージングにおける試料作製・観察技術の最近の進歩………………………… 大野伸彦

24司

31

明美

39俊介，山本説
高精度位相シフト電子線ホログラフィーによるⅢ - Ⅴ族化合物半導体の精密解析と高速観察への可能性……………………………… 山本■講和生，穴田智史，仲野靖孝，野村優貴，松本実子，平山座
FIB-SEM を用いた表皮顆粒層における層板顆粒およびトランスゴルジネットワークの 3 次元構造解析……………………………………………………………………………… 山西治代，相馬勤，山本■ 最近の研究と技術
TEM 内その場変形トモグラフィー観察システムの開発…………… 波多聰，佐藤和久，工藤博幸，古河弘光，川本克巳，堀井則孝，加茂勝己，
光宏

44■ Microscopy Editor’s Choice より …………………………………………………………………………………………………

49宮崎伸介，權堂貴志，宮崎裕也，斉藤光，村山■ 会議報告報告 ……………………………………………………………………………………………………… 田中信夫

50

■ 編集後記 ……………………………………………………………………………………………………………… 平山

IMC19

司

51

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表 紙 説 明：BaTiO3 の 変 位 角 度 θTi と 変 位 量 dTi の 模式 図（ 上 段 左 図 ）．BaTiO3 薄 膜 に 形 成 さ れ る 各 相の HAADF STEM 像 と 分 極 軸（ 上 段 右 図 ）．HAADFSTEM 像（下段左図）と Ti イオン変位ベクトルマッ
プ（下段中図）．広範囲の取得画像による Ti イオン変位ベクトルマップ（下段右図）．p. 22 参照．

【著作権者：公益社団法人 日本顕微鏡学会】

KENBIKYO
Vol. 54, No. 1

2019CONTENTS■ Foreword
Showa, Heisei, and Reiwa ……………………………………………………………………………………… Kazunori Toida

1■ Feature Articles: Observation of Atomic Displacements
Introduction to Observation of Atomic Displacements ……………………………… Tsukasa Hirayama and Koji Kimoto2

Crystal Structure Analysis Using STEM with High Precision ………………………………………………… Koji Kimoto

3

Quantitative Analysis of Lattice Distortion and Strain ……………………………………………………… Kazuo Ishizuka

8

Direct Observation of Oxygen Displacement in Oxide Heterointerface by Atomic-Resolution STEM ……… Ryotaro Aso

14

Structural Analysis of Slight Cation Displacements Using Scanning Transmission Electron Microscopy………………………………………………………… Shunsuke Kobayashi, Takahisa Yamamoto and Yuichi Ikuhara

19■ Reviews
Recent Advancement in Sample Preparation and Observation for Electron Microscopic Volume Imaging…………………………………………………………………………………………………………… Nobuhiko Ohno

24

Accurate Analysis of Group III–V Compound Semiconductors by High Precision Phase-Shifting Electron
Holography and Possibility to High Speed Observation………Kazuo Yamamoto, Satoshi Anada, Kiyotaka Nakano, Yuki Nomura, Miko Matsumoto and Tsukasa Hirayama

31■ Lectures
Three-Dimensional Ultrastructural Analysis of Lamellar Granules and Trans-Golgi Network in Stratum Granulosum
by Focused ion Beam Scanning Electron Microscopy……………………………………………………… Haruyo Yamanishi, Tsutomu Soma and Akemi Ishida-Yamamoto

39■ Research TodayDevelopment of An In-Situ Straining and Tomography System in TEM………… Satoshi Hata, Kazuhisa Sato, Hiroyuki Kudo, Hiromitsu Furukawa, Katsumi Kawamoto, Noritaka Horii,Katsumi Kamo, Shinsuke Miyazaki, Takashi Gondo, Hiroya Miyazaki, Hikaru Saito and Mitsuhiro Murayama

44■ From Microscopy: Editor’s Choice Articles …………………………………………………………………………………

49■ Conference Report
A Report on IMC19 …………………………………………………………………………………………… Nobuo Tanaka

50■ Staff Commentary ………………………………………………………………………………………………Tsukasa Hirayama

51【著作権者：公益社団法人 日本顕微鏡学会】