⽇本照明⼯業会 セミナー（第13回）『測光試験所の品質システムと測定の不確かさ評価』
⽇ 時 ︓ 2023年 3⽉ 9⽇（⽊）
13︓30 〜16︓30
場 所 ︓ ZOOM（Web）+JLMA⼤会議室

講演 次第
時刻

受付開始（出席確認）1.

開 会（概要紹介及び受講時の諸事項）

2.

講 演

2.1

｢JNLA審査における指摘事例の紹介｣（講演:60分 Q＆A:5分）

13︓30〜
13︓35〜

講師︓⼟屋 年史 様

（独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構 認定センター 試験認証認定課）

2.2｢測光・放射測定におけるCIEでの最近の話題(不確かさ評価の動向ほか)｣（講演:40分 Q＆A:5分）
講師︓蔀 洋司 様

14︓40〜（国⽴研究開発法⼈産業技術総合研究所 計量標準総合センター
物理計測標準研究部⾨ 光放射標準研究G）

2.3「不確かさ評価の基礎」（講演:40分 Q＆A:5分）

15︓25〜

講師︓清⽔ 恵⼀ 様（⼀般社団法⼈⽇本照明⼯業会 技術部）
3.

総合Ｑ＆Ａ

4.

閉 会（アンケート依頼・受講証明書について）

16︓10〜

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）

一般社団法人日本照明工業会セミナー
2023年3月9日

ISO/IEC 17025:2017 への指摘の事例紹介
独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構
認定センター 試験認証認定課 ⼟屋年史

1

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）

本日の内容
１．JNLA審査における不適合、懸念事項の件数
２．不適合事項の事例紹介

2

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）

1． JNLA審査における不適合、懸念事項の件数
・2022年審査における不適合、懸念事項の件数（91審査案件の結果より）

不適合

懸念事項

80件

42件

JIS法、JNLA登録の⼀般要求事項に対する不適合等の件数は除いています。
不適合、懸念事項の指摘がなかった審査案件数︓50案件
3

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）

JNLA審査における不適合、懸念事項【不適合】
登録要求事項に対し、事業所が適合していることのエビデンスを示せなかった事項であって、不適合と判断できる客観的証拠がある事項。是正報告書の提出を要請します。
【懸念事項】
登録要求事項に対し、事業所側が現時点では適合していることを主張し、何らかのエビデンスが提示され、審査側も確認できたが、当該マネジメントシステムを継続的に運用した場合、いずれは「不適合」になる可能性があると懸念される根拠（証拠、状況）がある事項。回答書の提出を要請します。
＊不適合に対する是正報告書、懸念事項に対する回答書は、合意日の翌日より
登録試験事業者の２０営業日目までに提出をお願いしています。

4

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）

JNLA審査における指摘事項の傾向（2022年1⽉〜2022年12⽉︓91案件）
不適合（⻘）/懸念（オレンジ）の傾向

20
15
10

機密保持

組織要求事項要員

施設及び環境条件

設備

計量トレーサビリティ

外部から提供される製品及びサービス

依頼、⾒積仕様書及び契約のレビュー

方法の選定、検証及び妥当性確認

サンプリング

試験・校正品目の取扱い

技術的記録

測定不確かさの評価

結果の妥当性の確保

結果の報告

苦情

不適合業務

データの管理及び情報マネジメント

選択肢

マネジメントシステムの文書化（選択肢A）

マネジメントシステム文書の管理（選択肢A）

記録の管理（選択肢A）

リスク及び機会への取り組み（選択肢A）

改善（選択肢A）是正処置（選択肢A）

内部監査（選択肢A）

マネジメントレビュー（選択肢A）

0

公平性

5

4.1

4.2

5

6.2

6.3

6.4

6.5

6.6

7.1

7.2

7.3

7.4

7.5

7.6

7.7

7.8

7.9

7.10 7.11

8.1

8.2

8.3

8.4

8.5

8.6

8.7

8.8

8.9

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

5

認定センター（IAJapan）

ISO/IEC 17025:2017 箇条別の件数
ISO/IEC 17025:2017の要求事項
4 ⼀般要求事項
4.1

公平性

4.2

機密保持

5 組織構成に関する要求事項
6 資源に関する要求事項
6.1

⼀般

6.2

要員

6.3

施設及び環境条件

6.4

設備

6.5

計量トレーサビリティ

6.6

外部から提供される製品及びサービス

不適合

懸念事項

0
1
5

1
2
2

0
19
2
6
2
2

0
5
1
5
0
3
6

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）

ISO/IEC 17025:2017 箇条別の件数
ISO/IEC 17025:2017の要求事項
7 プロセスに関する要求事項
7.1

依頼，⾒積仕様書及び契約のレビュー

7.2

方法の選定，検証及び妥当性確認

7.3

サンプリング

7.4

試験・校正品目の取扱い

7.5

技術的記録

7.6

測定不確かさの評価

7.7

結果の妥当性の確保

7.8

結果の報告

7.9

苦情

7.10

不適合業務

7.11

データの管理及び情報マネジメント

不適合

懸念事項

1
１
0
1
1
6
2
7
2
5
2

0
1
0
0
2
2
4
1
1
2
2
7

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）

ISO/IEC 17025:2017 箇条別の件数
ISO/IEC 17025:2017の要求事項

不適合

懸念事項

1
4
0
1
0
2
3
4

1
2
2
0
0
1
1
1

8 マネジメントシステムに関する要求事項
8.1

選択肢

8.2

マネジメントシステムの文書化（選択肢A）

8.3

マネジメントシステム文書の管理（選択肢A）

8.4

記録の管理（選択肢A）

8.5

リスク及び機会への取組み（選択肢A）

8.6

改善（選択肢A）8.7

是正処置（選択肢A）

8.8

内部監査（選択肢A）

8.9

マネジメントレビュー（選択肢A）

注意︓8.2から8.9は、選択肢Bを選択した登録試験事業者の不適合等の件数も含めています。

8

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）

２．不適合事項の事例紹介＜5 組織構成に関する要求事項＞
5.2 ラボラトリは、そのラボラトリについて総合的な責任をもつ
ラボラトリマネジメントを特定しなければならない。
5.5 ラボラトリは、次の事項を⾏わなければならない。
b) ラボラトリ活動の結果に影響する業務を管理，実施⼜は検証する全ての要員の責任，
権限及び相互関係を規定する。
品質マニュアルのマネジメントシステム上の管理者の責任と権限を規定する項目において、ラボラトリマネジメントとしての事業所⻑の責任と権限が明確に規定されていない。

9

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜6.2 要員＞
6.2.2 ラボラトリは、学歴、資格、教育・訓練、技術的知識、技能及び経験に関する要求事項を含め、ラボラトリ活動の結果に影響を与える各職務に関する
⼒量要求事項を文書化しなければならない。

試験技術者の⼒量要求事項が文書化されていない。
品質管理者、技術管理者、報告書発⾏責任者の⼒量要求事項が文書化されていない。

10

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜6.2 要員＞
6.2.5 ラボラトリは、次の事項に関する手順をもち、記録を保持しなければならない。
a) ⼒量要求事項の決定
b) 要員の選定
c) 要員の教育・訓練d) 要員の監督
e) 要員への権限付与
f) 要員の⼒量の監視

内部監査員へのISO/IEC 17025︓2017の教育の記録が残されていない。
品質管理責任者、技術管理責任者についてパフォーマンスの監視が⾏われ
ていない。

11

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜6.4 設備＞
6.4.9 過負荷⼜は誤った取扱いを受けた設備，疑わしい結果を生じる設備，⼜は欠陥をもつ若しくは規定の要求事項を満たさないことが認められた設備は，業務使用を停止しなければならない。その設備は，それが正常に機能することが検証されるまで，使用を防止するため隔離するか，⼜は業務使用停止中であることを⽰す明瞭なラベル
付け若しくはマーク付けを⾏わなければならない。ラボラトリは，不具合⼜は規定された要求事項からの逸脱の影響を調査し，不適合業務の管理の⼿順を開始しなければならない。

不具合となった設備に対して不適合業務として開始していなかった。
○○（計測器）の外部校正を1回／3年と規定しているにも関わらず、この校正周期を超過して外部校正をしていたが、不適合業務の管理の⼿順を開始していなかった。

12

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜6.4 設備＞
6.4.13 ラボラトリ活動に影響を与え得る設備の記録を保持しなければならない。記録には、適用可能な場合、次の事項を含めなければならない。
e) 校正の日付、校正結果、調整、受入基準及び次回校正の期日⼜は校正周期。

校正対象機器について外部校正後の受入基準が設備の記録に含まれていない。
○○の受け入れ基準が明確ではなく、その記録が保持されていない。

13

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜7.6 測定不確かさの評価＞
7.6.1 ラボラトリは，測定不確かさへの寄与成分を特定しなければならない。測定
不確かさを評価する際，サンプリングから生じるものを含み，重大な全ての寄与成分を，適切な分析方法を用いて考慮しなければならない。
7.6.3 試験を実施するラボラトリは、測定不確かさを評価しなければならない。試験⽅法によって、厳密な測定不確かさの評価ができない場合、原理の理解⼜は試験⽅法の実施に関する実際の経験に基づいて推定しなければならない。
○○試験の測定不確かさの評価⼿順を「不確かさ⼿順書」に規定しているが、「△△の不確かさ」、及び「□□の不確かさ」の不確かさ要因の算出に不備がある。
試験実施者の⼈数が変わっているにも関わらず、測定不確かさが⾒直されていなかった。
14

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜7.8 結果の報告＞
7.8.2.2 ラボラトリは、その情報が顧客から提供されたものである場合を除き、報告書に記載された全ての情報について責任をもたなければならない。顧客によって提供された
データは、明確に識別されなければならない。さらに、その情報が顧客から提供されたもので、結果の妥当性に影響する可能性がある場合には、免責条項を報告書に記載しなければならない。ラボラトリがサンプリング段階に責任を持たない場合（例えば、試料が顧客から提供された場合）には、結果は受領した試料に適用される旨を報告書に記載しなければならない。
試験成績書内で、顧客によって提供されたデータについて明確に識別されていない。

15

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜7.10 不適合業務＞

7.10.1 ラボラトリは、そのラボラトリ活動の何らかの業務の側面、⼜はその結果が、ラボラトリの手順⼜は顧客との間で合意された要求事項に適合しない場合（例えば，設備⼜は環境条件が規定の限界を外れている場合、監視の結果が規定の基準を満たさない場合）に実施しなければならない手順をもたなければならない。
この手順は、次の事項を確実にしなければならない。
b) 処置（必要に応じて、業務を停止する⼜は繰り返すこと、及び報告書を保留することを含む。）を、ラボラトリの設定したリスクレベルに基づいて定める。
c) 以前の結果に関する影響分析を含め、不適合業務の重大さを評価する。
7.10.2 ラボラトリは、不適合業務及び7.10.1のb)〜f)に規定する処置の記録を保持しなければならない。
リスクレベルに基づく処置や不適合の重大性の評価をした記録が残されていない。
16

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜8.3 マネジメントシステム文書の管理＞
8.3.2 ラボラトリは、次の事項を確実にしなければならない。
a)⽂書の発⾏に先だって、権限をもった要員がその⽂書の妥当性について承認を与える。
b)⽂書を定期的に⾒直し、必要に応じて更新する。
c)⽂書の変更及び最新の改訂の状況が識別される。
d)適用される⽂書の適切な版が使用に際して⼊手でき，必要に応じてそれらの⽂書の配布が管理される。
e)⽂書に固有の識別を付す。
f)廃止⽂書の意図しない使用を防止する。目的を問わず，廃止⽂書を保持する場合は，それらに適切な識別を付す。
各種文書の改訂承認者は品質管理者であるが、品質管理者として認定される前の者が各種文書の承認を⾏なっていた。
現場で使用されている作業標準は、変更内容が分からない状況となっていた。
17

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜8.7 是正処置＞
8.7.1 不適合が発生した場合，ラボラトリは，次の事項を⾏わなければならない。
b) その不適合が再発⼜は他のところで発⽣しないようにするため，次の事項によって，その不適合の原因を除去するための処置をとる必要性を評価する。
－ 不適合をレビューし，分析する。
－ その不適合の原因を明確にする。
－ 類似の不適合の有無，⼜はそれらが発⽣する可能性を明確にする。
内部監査の指摘に対して類似の不適合の有無を確認していない。

18

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜8.8 内部監査＞
8.8.1 ラボラトリは，マネジメントシステムが次の状況にあるか否かに関する情報を提供するために，あらかじめ定めた間隔で内部監査を実施しなければならない。
a) 次の事項に適合している。
－ ラボラトリ活動を含めた，ラボラトリ自体のマネジメントシステムに関する要求事項－ この規格の要求事項b) 有効に実施され，維持されている。
2020年及び2021年に実施された内部監査で、指摘事項への是正処置が取られていることを報告書から確認できなかった。また、2年続けて同じ指摘がされ、有効な改善が⾏われていなかった。

19

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）＜8.9 マネジメントレビュー＞
8.9.2 マネジメントレビューへのインプットは、記録しなければならない。また、マネジメントレビューへのインプットには、次の事項に関係する情報を含めなければなら
ない。
a)〜o)
8.9.3 マネジメントレビューからのアウトプットは、少なくとも次の事項に関係する全ての決定及び処置を記録しなければならない。
a)マネジメントシステム及びそのプロセスの有効性
b)この規格の要求事項を満たすことに関係するラボラトリ活動の改善c)必要とされる資源の提供d)あらゆる変更の必要性
マネジメントレビューへのインプット項目とマネジメントレビューからのアウトプット
項目は、要求されている全ての項目の内容を網羅していない。
20

独⽴⾏政法⼈製品評価技術基盤機構

認定センター（IAJapan）

ご清聴ありがとうございました。
認定センター（IAJapan）ホームページ
https://www.nite.go.jp/iajapan/index.html
JNLAホームページ
https://www.nite.go.jp/iajapan/jnla/index.html
ASNITEホームページ
https://www.nite.go.jp/iajapan/asnite/index.html

測光・放射測定におけるCIEでの最近の話題（不確かさ評価の動向ほか）
国立研究開発法人産業技術総合研究所
計量標準総合センター (NMIJ, AIST)
蔀 洋司
1/36

2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

本日の講演内容
1. CIEについて（全般事項）
2. CIE第2部会の概要
3. 不確かさ評価に関する取り組み
4. 最近の話題
4.1 新設TC
4.2 CIE研究戦略の改訂に向けた検討
4.3 DXに関する諸検討
4.4 錐体分光感度に基づく分光視感効率
2/36

2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

国際照明委員会（CIE）の概要①

CIE（Commission Internationale de l'Eclairage）

設立：1913年
本部：ウィーン（オーストリア）
ミッション：光(Light)と照明(Lighting)に関連する…
1) 国際的な討議の場（International Forum）の提供
2) 計測(metrology)のための基礎的な標準や手順の開発
3) 国内・国際規格の作成のための指針の提供
4) 国際規格（ISO/CIE規格etc.）・技術文書などの作成・出版
5) 関連国際団体とのリエゾンや技術協力の構築・維持
組織構造（部会）：
第1部会（視覚と色）第2部会（光と放射の物理測定）
第3部会（屋内環境と照明設計）
第4部会（交通照明および屋外照明）
第6部会（光生物学と光化学）第8部会（画像技術）
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2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

CIE活動の国内体制①

標準化委託事業部門（IEC TC34）
技術関連部門、 認証事業関連部門
戦略企画部門、 国際関連部門
広報・企画関連部門、製品安全関連部門
事務局
CIE部門
CIE国内委員会

第１部会国内小委員会
第2部会国内小委員会
第3部会国内小委員会
第4部会国内小委員会
第6部会国内小委員会
第8部会国内小委員会

ISO TC274
国内審議委員会（一社）日本照明工業会に組織されたCIE部門（旧JCIE）が国内審議（投票・コメント対応、対処
方針協議、委員派遣など）を担当
日本照明工業会 資料（抜粋）に基づき作成

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2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

光・照明分野の国際標準化①• ISO(国際標準化機構)、IEC(国際電気標準会議)、CEN(欧州標準化機構)などとMoU（覚書）を締結→ CIE規格をISO, IECにFDISとしてファストトラック提案が可能→ デュアルロゴ規格（ISO/CIE規格、IEC/CIE規格）として発行• 2012年：ISO TC274（光と照明）設立• 2019年：ISOとCIEの間でパートナー規格開発団体（PSDO）協定を締結
・ISO TC274（光と照明）

国際審議・提案、国内対応の統括 ：日本照明工業会

照明機器のハード面などを主に担当

光・照明分野IEC

CIE

IEC/TC34
SC34A（ランプ）SC34B（口金）SC34C（安定器）
SC34D（照明器具）

・Div.1（視覚・色）・Div.2（測光・放射測定）
・Div.3（屋内照明）
・Div.4（交通照明・屋外照明）
・Div.6（光化学・光生物学）
・Div.8（画像技術）

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2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

CIE Brochure

6/36

光測定・評価などのソフト面を主に担当

ISO

https://bit.ly/3nDwfX6 （2022年7月発行）①

2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

CIE第2部会について②

CIE Division 2: Physical Measurement of Light and Radiation（光と放射の物理測定）
Terms of Reference（活動領域）
紫外・可視および赤外放射、一般的な放射、材料や照明器具の光学的特性などの評価のための標準的な手法について検討すると共に、これらの評価に必要とされる物理検出器およびその他の機器についての光学特性や性能について検討する。

照明器具、応用製品の評価（照明器具、LED照明、有機EL、非常
照明、園芸照明、ヘッドランプ etc.）

材料の光学特性評価（反射率、透過率、光沢、質感、BRDF、
測色器 etc.）
測光・放射測定技術（標準、トレーサビリティ、校正、分光測定、
イメージング測定、光生物学的安全性、
光計測器の性能評価、不確かさ etc.）

標準データ・用語（分光分布、照明用語、CIE物理測光システム、データフォーマット、 etc.）【CIE第2部会の活動領域】※ 2023年3月現在、18件のTC、7件のJTCおよび11件のレポーターが活動中
7/36

2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

CIE第2部会関連 技術委員会（TC）②

2023年3月現在
TC名称

No.

8/36

委員長

TC2-62

イメージングフォトメータに基づくニアフィールド配光測定

TC2-67

自動車用ランプの測光

TC2-68

照明用有機ELの光学測定法

蔀 洋司 (JP)TC2-77

第2部会活動における基本戦略と相互交流

T. Bergen (AU)TC2-78

ランプおよび照明器具の配光測定

T. Bergen (AU)TC2-79積分球に基づく測光および分光放射測定

D-H. Lee (KR)TC2-81

絶対放射測定（CIE65の改訂）

M. Smid (CZ)

TC2-84

LEDパッケージの試験データの報告に関する推奨

A. Poppe (HU)

TC2-85

BRDF測定の幾何パラメータに関する推奨

G. Obein (FR)TC2-86

イメージング輝度測定装置によるグレア測定

J. Wienold (CH)

TC2-89光源および照明システムの時間的光変調の測定

Q. Li (CN)TC2-91

LEDパッケージおよびLEDアレイの光学測定方法

M. Schneider (DE)TC2-94

全透過率、拡散透過率およびヘーズの測定

K. Bredemeier (DE)T. Reiners (DE)

H-L. Yu (TW)2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

CIE第2部会関連 技術委員会（TC）②

2023年3月現在
No.

委員長

TC名称

TC2-94

全透過率、拡散透過率およびヘーズの測定

TC2-95

光害の測定

TC2-96

ISO/CIE 19476（照度計および輝度計の性能記述）の改訂

A. Sperling (DE)TC2-97

CIE S025（LED照明の試験方法）の改訂

A. Thorseth (DK)

TC2-98

CIE130-1998（反射率・透過率の実用測定方法）の改訂

C. Cooksey (US)JTC-1

CIE191 (薄明視測光システム)の屋外照明への適用（D1,D2,D4）

JTC-5

CIE S009/IEC62471の見直し（D6,D2,IEC）

S. Mucklejohn (GB)*D2: T. Goodman (GB)J. O'Hagan (GB)*D2: 蔀 洋司 (JP)JTC-8

光と照明に関する用語（D1,D2,D3,D4,D6,D8）

P. Zwick (AT)JTC-12

光輝感と粒状性の計測（D1,D2,D8）

A. Ferrero (ES)JTC-17

光沢度の測定および光沢の知覚（D1,D2,D8）

F. Leloup (BE)JTC-19

園芸用照明に関する用語（D6,D2）

JTC-20

ウェアラブル線量計によるα-opic量の測定（D6,D2）

H-L. Yu (TW)C. Bouroussis (GR)9/36

W. Zhang (CN)
*D2: P. Dekker (NL)
M. Spitschan (DE)
*D2: F. Stuker (CH)2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

CIE第2部会関連 レポーター②
2023年3月現在

TC名称

No.

委員長

DR2-64

分光測光器の特性記述法

DR2-69ニアフィールド配光測定装置の妥当性検証のためのガイド文書

DR2-80レーザ応用照明の測光・放射測定

A. Thorseth (DK)

DR2-81

閃光の実効光度の計算

D. Couzin (DE)DR2-82

adjustment, calibration, verificationの用語の使い分けに関するTN作成

T. Bergen (AU)DR2-87

光子計測における用語

D-H. Lee (KR)DR2-89色補正係数の補完

DR2-90

照明計算用ソフトの妥当性検証のための分光データおよび指標

P. Blattner (CH)DR2-91

紫外放射計の適切な校正および使用

T. Bergen (AU)DR2-92

最大視感効果度の標準化に関する推奨

T. Schneider (DE)DR2-93

CIE198-SP2へのモンテカルロ法の適用

U. Krueger (DE)10/36

E. Mofokeng (ZA)
J. Ledig (DE)A. Thorseth (DK)2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

最近の第2部会関連CIE出版物 -1②

 ISO/CIE 23539:2023 Photometry – The CIE system of physical photometry【CIE物理測光システム（改訂版） ← 測光量の導出方法を規定】
 CIE 251:2023 LED Reference Spectrum for Photometer Calibration【フォトメータの校正のための白色LEDの参照分光分布】
 CIE x049:2022 Proceedings of the CIE symposium on the advances inmeasurement of temporal light modulation, October 11, 2022, Athens, Greece【2022年10月開催のCIEシンポジウム（TLM関連）のProceedings集】
 CIE 250:2022 Spectroradiometric measurement of optical radiation sources【光源の分光放射測定（CIE63の改訂版）】
 CIE TN 013:2022 Terms related to Planckian radiation temperature for light sources【プランク放射温度に関連する用語 ← CIE114からの技術エッセンスの再編集】
 ISO/CIE11664-2:2022 Colorimetry — Part 2: CIE standard illuminants/ 2nd edition【CIE標準イルミナント（改訂版） ← D50をCIE標準イルミナントに追加】
11/36

2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

最近の第2部会関連CIE出版物 -2②

 CIE x048:2021 Proceedings of the Conference CIE 2021, September 27 - 29, 2021
【CIE2021中間大会（オンライン）のProceedings集】
 CIE 247:2021 Guide for the Gonioradiometric Measurement of Upper Air Ultraviolet
Germicidal Irradiation Luminaires【空気殺菌用UV照明器具の配光測定】
 CIE 244:2021 Characterization of Imaging Luminance Measurement Devices【イメージング輝度計（ILMD)の特性評価法】
 CIE TN 012:2021 Guidance on the Measurement of Temporal Light Modulation ofLight Sources and Lighting Systems【時間的光変調（TLM）の測定に関するガイド】

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2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

最近のCIE出版物（ISO/CIE規格等）②

1. CIE DIS 017-SP2:2023 ILV: International Lighting Vocabulary –Supplement 2:
Terms and Definitions for Horticultural Lighting
2. ISO/CIE 23539:2023 Photometry – The CIE system of physical photometry
3. ISO/CIE 11664-2:2022(E) Colorimetry — Part 2: CIE Standard Illuminants
4. ISO/CIE 11664-6:2022(E) Colorimetry-Part 6: CIE DE2000 Colour-Difference
Formula5. ISO/CIE TR 21783:2022(E) Light and lighting — Integrative lighting — Non-visual
effects
6. CIE DIS 027:2021 Photometry of road illumination devices, light signalling devices
and retroreflective devices for road vehicles.
7. CIE S 017/E:2020 ILV: International Lighting Vocabulary, 2nd Edition

13/36※青字は第2部会関連の内容を含む規格

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最近のCIE出版物（TR）②

1. CIE 251:2023 LED Reference Spectrum for Photometer Calibration
2. CIE 250:2022 Spectroradiometric measurement of optical radiation sources
3. CIE 249:2022 Visual Aspects of Time-Modulated Lighting Systems
4. CIE 248:2022 The CIE 2016 Colour Appearance Model for Colour Management
Systems: CIECAM16
5. CIE 247:2021 Guide for the Gonioradiometric Measurement of Upper Air
Ultraviolet Germicidal Irradiation Luminaires
6. CIE 246:2021 Colour Gamuts for Output Media
7. CIE 245:2021 Optical Safety of Infrared Eye Trackers Applied for Extended
Durations
8. CIE 244:2021 Characterization of Imaging Luminance Measurement Devices(ILMDs)9. CIE 243:2021 Discomfort Glare in Road Lighting and Vehicle Lighting
10. CIE 242:2020 Photometry of Curved and Flexible OLED and LED Sources
11. CIE 241:2020 Recommended Reference Solar Spectra for Industrial Applications
12. CIE 240:2020 Enhancement of Images for Colour-Deficient Observers
13. CIE 239:2020 Goniospectroradiometry of Optical Radiation Sources
14. CIE 238:2020 Characterization of AC-Driven LEDs for SSL Applications
15. CIE 237:2020 Non-Linearity of Optical Detector Systems
14/36※青字は第2部会関連の内容を含む技術報告書

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最近のCIE出版物（TNほか）②

テクニカルノート（TN):
1. CIE TN 013:2022 Terms related to Planckian radiation temperature for lightsources
2. CIE TN 012:2021 Guidance on the Measurement of Temporal Light Modulation ofLight Sources and Lighting Systems
3. CIE TN 011:2020 What to document and report in studies of ipRGC-influenced
responses to light※青字は第2部会関連の内容を含むテクニカルノート
その他：
1. CIE x049:2022 Proceedings of the CIE symposium on the advances inmeasurement of temporal light modulation, October 11, 2022, Athens, Greece
2. CIE x048:2021 Proceedings of the Conference CIE 2021, September 27–29,
2021, hosted by the CIE National Committee (NC) Malaysia online
3. CIE x047:2020 Collection of papers accepted for the 5th CIE Symposium on
Colour and Visual Appearance, April 21–22, 2020, Hong Kong, CN
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不確かさに関するCIE第2部会の基本方針③
 原則、CIE第2部会が扱う測定法などに関する技術報告書（TR）には、測定の不確かさに関する記述を含める
 対象とする計測技術に関する主要な不確かさ要因の例示
 測定の不確かさを評価する上での留意事項
 ただし、不確かさの算出手順の詳細は含めない（モデル式、不確かさバジェット表を例示しているTRもある）

 測光・放射測定に係る不確かさ評価の詳細をまとめた
技術報告書をシリーズ物として作成する
 CIE198シリーズ
 測定事例ごとの付属書を順次出版する計画

 測光・放射測定分野における不確かさ評価の重要性の啓発、評価方法の普及などに力を入れていく
 CIE規格（試験規格）での不確かさの報告（表明）の要求
 不確かさ評価に関するチュートリアル等
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不確かさはなぜ必要か？

③

 計量トレーサビリティを表明するため
 切れ目のない校正の連鎖を確保するためには、文書化された不確かさ評価
手順、不確かさを伴う校正証明書が必要 【トレーサビリティの要件】

 計測の信頼性を示す手段として用いるため
 ISO/IEC 17025：校正・試験機関の能力に対する一般的要求事項
 校正能力の第三者認定には、適切な不確かさ評価の手順が必須

 計測結果の同等性を検証するため
 計測の信頼性（測定精度、値の整合性等）を検証する手段として活用

 国際規格や取り決め等で評価を求められているため
 不確かさの報告を必須要件とする国際規格もある
 適合性評価への不確かさの概念の取り込みを推奨する国際的な動きあり

 自らの測定結果を保証するため
 不確かさ → 真の値が存在する範囲の表明（統計学的な推定） 測定結果の一致の程度の相場観（≒ 不確かさの範囲内で一致）
 ユーザーへの必要な情報の提供
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相互比較における不確かさの利用③

同等性の程度（Degree of equivalence: DoE）

相互比較の結果（例）u(RV)

DoE (Di) = (報告された測定値 – 参照値) / 参照値

参加機関 →

Reference Value（不確かさ等を考慮して導いた参照値 ← 最良推定値）に対して、測定結果が不確かさの範囲内で一致することが重要
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適合性評価における不確かさの活用適合（合格）③

不適合（不合格）
適合判定（正しく判定）
適合判定（誤って判定）
不適合判定（誤って判定）

測定値
真の値
許容区間

不適合判定（正しく判定）
限界値

測定の不確かさ（の範囲）が許容区間（公差）の終端と重なる場合、適合性評価にはリスクが伴う
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CIE198シリーズ（不確かさガイド）③

CIE 198:2011 “Determination of Measurement Uncertainties in Photometry”→ GUM（ISO/IEC Guide 98-3:2008, JCGM100）の解説書
CIE 198 SP1:2011 “Supplement 1: Modules and Examples for theDetermination of Measurement Uncertainties ”→ 測光・放射測定への適用解説・実例集など••••

SP1.1:2011 “Modules for the Construction of Measurement Equations”【モデル式の構築に用いる基本モジュール】
SP1.2:2011 “Examples for Models with Individual Inputs”【測光における、モデル式の構築から不確かさバジェット表の作成までの事例】
SP1.3:2011 “Examples for Solving of Systems of Equations”【連立方程式の形式での評価、相関の取り扱い】
CIE 198-SP1.4:2011 “Examples for Models with Distributions”【フィッティングを伴う量（例：分布温度）の取り扱い】

CIE 198-SP2:2018 “Supplement 2: Spectral measurements and derivative
quantities” 【分光測定量、波長積分量に関する取り扱い】※ CIE第2部会では、テーマ別に順次、Supplementの検討を行っている
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CIE S025（LED光源等の試験規格）③

CIE S025/E:2015
Test Method for LED Lamps, LED Luminaires and LED Modules（LEDランプ、モジュール、照明器具の試験方法）
 特徴1： 測定の不確かさの報告（試験結果）を要求
試験結果での不確かさの報告が必須要件となっている
他の規格、技術文書と比して一歩踏み込んだ厳しい要求事項••

 特徴2： 試験条件の設定における不確かさの考慮を要求
標準条件＋許容区間（公差）を規定
不確かさ
許容区間を超えた場合→ 補正により標準条件での値を報告
許容区間内で試験する場合→ 標準条件への補正は任意
測定の不確かさを加味した許容区間→ ISO/IEC Guide 98-4: 2012 の概念の適用→ 精度管理幅（ガードバンド）と同様の考え方

•
•
•
•

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標準条件
（設定値）

不確かさ

採択区間

許容区間（公差）

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測定の不確かさの報告について③

 CIE S025での不確かさの報告に関する要求事項• 試験結果での不確かさの報告を必須要件とする• 代表的な製品タイプ別の不確かさを、一般的な値(Generic Value)で報告することを許容する- 蛍光体方式又はRGB(A)方式- コンパクト形又は直管形ランプ- 配光：無指向性か指向性（ビーム角がDUTの値の+50 %から -25 %）- 相関色温度がDUTの値±15 %以内

 CIE S025での不確かさの取り扱いに関するその他の運用• 指針として主要な不確かさ要因を本文中に明示する• 感度係数の取り扱い、不確かさバジェット表の例などを附属書（参考）として用意する

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CIE S025 Annex D（抜粋-1）③

表 D.1 - 不確かさのバジェットの例［球形光束計測（V(λ)受光器+積分球）によるLEDランプの全光束測定の場合］※ 反射率95 %、内径1.5 m積分球での例

参照標準の校正値
参照標準の経時変化
参照標準の点灯電流
周囲温度の測定
LEDランプの点灯電圧
異色測光誤差受光器の応答非直線性
自己吸収補正積分球の応答不均一性
測定系の再現性測定系の安定性
ニアフィールド吸収
LEDランプの再現性
参照標準の安定性【CIE S025 Annex Dから抜粋】

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CIE S025 Annex D（抜粋-2）③

表 D.2 - 不確かさのバジェットの例［分光放射計+積分球（sphere spectroradiometer）によるLEDランプの全光束測定の場合］※ 反射率95 %、内径1.5 m積分球での例

参照標準の校正値
参照標準の経時変化
参照標準の点灯電流
周囲温度の測定
LEDランプの点灯電圧
分光放射計の応答非直線性
分光放射計の波長精度
分光放射計の迷光分光放射計の再現性
自己吸収補正積分球の応答不均一性
測定系の再現性測定系の安定性
ニアフィールド吸収
LEDランプの再現性
参照標準の安定性【CIE S025 Annex Dから抜粋】

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CIE S025を補完する不確かさガイド③

 不確かさ報告の要求に対する審議過程での懸念事項：••••

IEC Guide115では、不確かさは必ずしも必須要件になっていない（不確かさを用いない合否判定方法を併記）
ISO/IEC17025の要求事項ですら、全ての試験結果に対する不確かさの「報告」は求めていない
不確かさ評価には多くの労力、コストを要する
具体的な不確かさ評価に関する知見（実用的方法）が十分に揃っていない• Expert tutorial/Symposium の開催• Modular Tutorial（オンラインツール）を整備する方針を確認→ タスクグループが結成され、具体的な検討に着手（2023年3月時点）• 実用ガイド文書の整備も引き続き検討中
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最近設立されたTC④-1● TC2-97 Revision of CIE S025（CIE S025の改訂）• 欧州の研究開発プロジェクトの成果に基づく提案• 最新の研究開発の知見を考慮した改訂を目指す• 2022年9月から活動開始• TC委員長：Anders Thorseth (DK)
• 日本からの委員：神門 賢二（産総研）、蔀 洋司（産総研）● TC2-98 Revision of CIE130-1998（CIE130の改訂）• CIE130-1998（反射率・透過率の実用測定方法）について、最新の研究開発、関連国際規格との整合などを考慮した改訂を目指す• 2022年9月からとして活動開始• TC委員長： Catherine Cooksey (US)• 日本からの委員：蔀 洋司（産総研）● JTC20 Wearable alpha-opic dosimetry and light logging methods, limitations,device calibration and data schemes（ウェアラブル線量計によるα-opic量の測定）• ウェアラブル線量計によるα-opic量（非視覚効果を含めた網膜由来の作用量）の評価・測定（測定装置、校正、データ様式等）ついて検討• 2023年2月に設立 → 現在、メンバー募集中• TC委員長： Manuel Spitschan (DE) / Florian Stuker (CH)
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CIE Research Strategy（研究戦略）④-2● CIEの掲げるTop ten priority topics（研究テーマ）：2015年策定
1. Recommendations for Healthful Lighting and Non-Visual Effects of Light【非視覚効果】
2. Colour Quality of Light Sources Related to Perception and Preference【演色性】
3. Integrated Glare Metric for Various Lighting Applications 【グレア】
4. New Calibration Sources and Illuminants for Photometry, Colorimetry, andRadiometry 【標準光源】
5. Adaptive, Intelligent and Dynamic Lighting 【スマート照明】
6. Application of CIE 2015 Cone-Fundamental-Based CIE Colorimetry 【測色】
7. Visual Appearance: Perception, Measurement and Metrics【アピアランス】
8. Support for Tailored Lighting Recommendations 【ウェルビーイング】
9. Metrology for Advanced Photometric and Radiometric Devices【先端計量】
10. Reproduction and Measurement of 3D Objects 【三次元技術】
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CIE Research Strategyの改訂に向けて ④-2
 CIE第2部会で検討している候補テーマ：
1. New Calibration Standards (Sources, Detectors and Illuminants) for
Photometry, Colorimetry, and Radiometry
校正基準（標準光源、検出器、イルミナント等） 【継続テーマ】
2. Metrology for Advanced Photometric and Radiometric Devices
精密計測法・計量（例：分光放射計やイメージング機器） 【継続テーマ】
3. Emerging and alternative measurement devices and techniques
新型デバイス（例：HMD）対応、簡易計測器の正しい取扱い、深層学習など
4. Application of germicidal UV for disinfection purposes
UV殺菌技術の高度化に資する技術活動、校正（光源、放射計）ほか
5. Implementation of the SI Digital Framework concept proposed by
CIPM/CGPM
デジタル対応（例：デジタル校正証明書）、ファイルフォーマット、計算ツールなど
6. Horticultural lighting
園芸照明に関する技術的事項（校正・評価方法、測定器、用語など）
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DXに関連する技術活動④-3• CIEの重点テーマに指定• CIE理事会傘下にDX Task Groupを設立• CIE-CIPM Joint Statement “Digital transformation in the international
scientific and quality infrastructure” → 校正におけるデジタルデータの取り扱い等• 主な重点検討課題：
1) 参照デジタルデータの整備
csv.形式でのCIE datasetsの提供を開始（例：分光視感効率・等色関数） https://cie.co.at/data-tables

2) 計算ツールの妥当性評価
有効数字、測定量の定義、波長補間方法など

3) メタデータファイルのフォーマットの検討
機械可読な測定データ（単位、不確かさなどを含む）
例えば、XML, JSON（JavaScript Object Notation）など
https://doi.org/10.25039/CIE.SC.4taqevcd
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DX対応に関するCIEの戦略④-3

Digital products clustering and prioritizing*CIE D2 annual meeting 202022資料（部会長報告）より抜粋
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錐体分光感度に関する問題提起④-4

第25回CCPR（測光・放射測定諮問委員会）会議（2022年5月）でのCIE会長からの話題提供
 主な論点：• CIE標準分光視感効率V(λ)は、1924年に制定された値に基づく。
（注：内外挿や平滑化などの諸検討を経て、1972年にCIIPMで採択）• その後の研究により、V(λ)は必ずしも視覚を代表しているとは言えないことが分かっている（短波長側の値、視野条件など）。
• 網膜の知覚情報に基づく科学的な解析等により、視覚表現のシステムを明らかにする取り組みが、長年続けられてきた。
• その集大成の一つとして、CIEでは2つの技術報告書（CIE170-1:2006、
CIE170-2: 2015）を出版し、錐体分光感度（Cone-fundamental）に基づく等色関数および分光視感効率VF(λ)を提唱している。
 CIE会長からの提案：• こうした動向を考慮し、カンデラの定義に基づく測光単位の実現において適用される分光視感効率をV(λ)からVF(λ)に置き換える可能性について、その科学的価値や産業上のインパクトなどの様々な側面から検討する時期に来ているのではないか？
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分光視感効率 V(λ)およびVF(λ)④-4CIE標準分光視感効率 V(λ)
錐体分光感度に基づく
分光視感効率 VF(λ)V(λ)とVF(λ)の差32/36

図 V(λ)およびVF(λ)の値の比較

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V(λ)からVF(λ)への置換えによる影響（例） ④-4
 代表的な白色光源における測光量の値の差(1) CIEイルミナントA（CCT = 2855.5 K）(6) 三波長型蛍光ランプ（CCT = 6500 K）(2) CIEイルミナントD65（CCT = 6503 K） (7) メタルハライドランプ（CCT = 4280 K）(3) 白色LED（Blue/YAG）（CCT = 6800 K） (8) 高圧水銀灯(* 365 nmを除いた場合)(4) 白色LED（温白色）（CCT = 2850 K）(9) 高圧ナトリウム灯(5) 白色LED（RGB）（CCT = 3300 K）

概ね5 %程度、測光量の値が大きくなる
測光量の値の差は、分光分布に依存する

図 V(λ)をVF(λ)に置き換えた場合の測光量の値の差（代表的な光源の例）
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2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）VF(λ)への置換えに係る国際審議の動向④-4 測光・放射測定諮問委員会（CCPR）の戦略企画WG（WG-SP）に、タスクグループ（TG16）を設置•

CCPR WG SP TG 16 “Cone-fundamental-based photometry”（錐体分光感度に基づく測光）• TG長：Yoshi Ohno (US)• ToR: To investigate the needs and benefits of introducing the conefundamental-based spectral luminous efficiency functions (and the colormatching functions) defined in CIE 170-2:2015 into the SI photometricquantities, and if appropriate, to propose approaches and strategies for
introducing the cone-fundamental-based functions and resulting
photometric quantities (and basic colorimetric quantities) in the SI.

 国際照明委員会（CIE）でも、同様の観点から技術課題等を検討する
ための分野横断型の枠組み（Research Forum: RF）を設立する
動きあり•

CIE2023（2023年9月、スロベニア）でワークショップを開催予定

 第26回CCPR会議（2024年6月）で合同ワークショップの計画あり
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2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

国際審議において重要な論点④-4• カンデラの実現に用いる分光視感効率を、V(λ)からVF(λ)に置換えることに対するメリット、デメリットの明確化が必要• 賛否両面から、かつ多面的な議論が必要• 様々な観点から、広くステークホルダーの意見を募る必要あり
 現行の分光視感効率を採用し続けることの何が問題であるか？
 新たな分光視感効率を導入することの科学的な意義および度量衡としての意義 産業界での実運用に際しての影響
 従来の運用からの連続性、一貫性
 V(λ)を置き換えることなく、代替するシステムの有無
参考文献： 蔀ほか、第25回測光・放射測定諮問委員会（CCPR）：出席報告、照明学会誌 106(6), 322-326 (2022).
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2022年度JLMAセミナー（2023.3.9）

CIE第2部会関連会議の開催計画● 2023年度：リュブリャナ（スロベニア）
CIE2023（第30回CIE大会）に併設
開催計画：
2023年9月18日から同20日 Conference（研究発表）
2023年9月21日 CIE第2部会会議（半日程度）※ 2023年8月頃に報告事項メインのオンライン会議を開催予定
2023年9月21日から同23日 TC会議など● 2024年度： 未定
CIE第2部会内にCall for nominations - D2 2024 Annual Meetingが回覧された（2022年11月）● 2025年度： 未定
CIE中間大会（開催場所未定）に併設して開催予定
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一般社団法人日本照明工業会 セミナー
「測光試験所の品質システムと不確かさ評価」

不確かさ評価の基礎

開催日：2023年 3月9日（木）場所：ZOOM会議＋JLMA大会議室を併用（一社）日本照明工業会 技術部

清水 恵一
1

目 次
はじめに
1. バジェットシートの作成手順
2. 不確かさの要因
2.1 参照光源に関するもの
2.2 測定対象（DUT）に関するもの
2.3 測定設備に関するもの
3. バジェットシートの作成
4. バジェットシートの例
5. 問題事例まとめ2

はじめに （不確かさの概念と用語）
不確かさとは，真の値は知り得ないとを前提に，すべての測定結果をばらつきとして標準偏差に相当する標準不確かさで表す。このばらつきを，実験結果から統計処理するもの（タイプＡと呼ぶ）と，それ以外の方法で求めるもの（タイプＢと呼ぶ）に分類する。二乗和の平方根として合成して，測定系全体の不確かさを求める。
不確かさを
二乗和の
平方根として
合成する

繰り返し性
精密さ

ばらつき

Type A の不確かさ（統計的手法）

再現性
それぞれの要因の不確かさを標準偏差に相当する標準不確かさで表す

精度

正確さ
（真度）

かたより

合成標準
不確かさ

拡張
不確かさ

包含係数を掛けて信頼の水準を一定に揃える

Type B の不確かさ（統計的手法以外）

従来の精度・誤差評価

不確かさ表現の概念（真の値の存在を前提）（真の値は知りえないことを前提）

3

はじめに （バジェットシートの例）
内容説明に先立ち，最終的なバジェットシートのフォームの例を紹介する。
一般的なバジェットシート例は，次のとおり。
全光束の不確かさ
ﾀｲﾌﾟ

値

確率
分布

除数

標準
不確かさ

感度
係数

標準
不確かさ
（％）

B

1.4%

正規

2

0.7%

1

0.70

標準電球の経時変化による不確B

0.45% 矩形

√3

0.26%

1

0.26

u03 点灯電圧の精度による不確かさ

B

0.2V

矩形

√3

0.115V

3.5
%/V

0.40

u04 相対分光分布・・

MCS

0.25%

1

0.25%

1

0.25

u05 波長ズレ・・・

B

1.04% 矩形

√3

0.6%

1

0.60

u23 DUTの再現性による不確かさ

A

0.31%

1

0.31%

1

0.31

記号

不確かさの要因

u01 校正値の不確かさ
u02

ucw

合成標準不確かさ

1.78

uw

拡張不確かさ (k =2)

3.6
4

1.1 バジェットシートの作成手順
測光設備を導入して，いきなり不確かさのバジェットシートを作成しようとしても，行き詰まる。
不確かさの見積もり以前に必要な事項及びバジェットシートの作成手順（フローチャート）を次に示す。

バジェットシートの作成手順

不確かさの見積もり
以前に必要な事項

不確かさ要因の抽出

測定設備の確定測定設備の文書化

データ収集
ｴﾋﾞﾃﾞﾝｽの入手・文書化準備

要員の確定・教育不確かさ要因の取捨選択

測定手順の確定・文書化
運用方法の確定・文書化

バッジェトシートの作成

エビデンスの文書化試験所の運用目標とする精度基準を満足するか評価
5

1.2 バジェットシートの作成手順（つづき）
・バジェットシートは，測定量目ごとに作ることが一般的。

効率の不確かさ・不確かさの要因は，測定量目ごとに影響の大きいものを抽出するので，各シートの不確かさの要因を形式的に共通化することは推奨できない。

消費電力の不確かさ
光源色の不確かさ
全光束の不確かさ

ﾀｲﾌﾟ

値

確率
分布

除数

標準
不確かさ

感度
係数

標準
不確かさ
（％）

u01 校正値の不確かさ

B

1.4%

正規

2

0.7%

1

0.70

u02 標準電球の経時変化による不確

B

0.45%

矩形

√3

0.26%

1

0.26

u03 点灯電圧の精度による不確かさ

B

0.2V

矩形

√3

0.115Vu04 相対分光分布・・

MCS

0.25%

1

0.25%

3.5
%/V
1

u05 波長ズレ・・・

B

1.04%

√3

0.6%

1

0.60

u23

DUTの再現性による不確かさ

A

0.31%

1

0.31%

1

0.31

ucw

合成標準不確かさ

1.78

uw

拡張不確かさ (k =2)

3.6

記号

不確かさの要因

矩形

0.40
0.25

6

2 不確かさの要因の抽出
不確かさの要因は，各試験所で使用する設備，管理状況，測定手順などに依存するので，個々のケースに応じて抽出する必要がある。測光試験所における測定方法は，測定標準を基準とする比較測定なので，①参照光源（標準電球）に関する要因，②測定対象（DUT）に関する要因，③測定設備に関する要因，に分けて検討すると整理しやすい。
不確かさの要因の例 （球形光束計で全光束を測定する場合）①測定標準（標準電球）に関する要因の例
測定標準の校正値の不確かさ
測定標準の安定性・再現性などに基づく不確かさ
測定標準の経時変化に基づく不確かさ
測定標準の点灯条件に基づく不確かさなど②測定対象（DUT）に関する要因の例
DUTの安定性・再現性などに基づく不確かさ
DUTの点灯条件に基づく不確かさなど③測定設備に関する要因の例
積分球及び受光器のV(λ)特性からのずれに基づく不確かさ
積分球の空間的な応答特性の不均一に基づく不確かさ（DUTの配光に関連する）
受光器及び電気系の非線形性に基づく不確かさなど

7

2.1 測定標準（標準電球）に関する要因
測定標準には，JCSS校正証明書のある白熱（ﾊﾛｹﾞﾝ）電球を用いる場合が多い。
動作原理の異なる参照光源（標準LEDなど）を用いる場合や使用する設備，管理状況，測定手順
によってはここに示す要因以外を考慮する必要がある場合もある。
測定標準（標準電球）に関する要因の一般的な例① 測定標準の校正値の不確かさ （全光束測定の場合）
校正証明書に記載されている校正値の不確かさ（k=2)の1/2を標準不確かさとして計上
相対分光分布の不確かさに基づく影響も計上が望ましい。（光源色測定では必須）② 測定標準の安定性・再現性などに基づく不確かさ
一般に，標準電球の着脱，繰り返し点滅，要員の違いなどに基づくばらつきを，タイプAとして評価し，実験標準偏差を標準不確かさとして計上③ 測定標準の経時変化に基づく不確かさ
一般に，標準電球の校正間隔（例：1年 or 点灯時間:30 h）
における校正値の変化に基づき，タイプBとして評価④ 測定標準の点灯条件に基づく不確かさ
点灯電圧（電流）の不確かさに基づく光束の変化をタイプBとして計上
感度係数（後述）を考慮する
注意：WSを使用する場合は，測定標準→WS，WS→DUTの2階層のバジェットを作成する。

8

2.2 測定対象（DUT）に関する要因
測定対象（DUT）に関する不確かさの要因は，測定標準と共通することが多い。
測定標準及びDUTの特性を考慮して，取捨選択する。

不確かさの要因測定標準の場合

DUTの場合① 校正値の不確かさ

測定の基礎となる不確かさーーー② 安定性・再現性などに基づく不確かさ

実験的に評価して計上する③ 経時変化に基づく不確かさ

必須

ーーー

④ 点灯電圧に基づく不確かさ

必須

測定対象のうち，最も影響の大
きいデータを計上

実験的に評価して計上⑤ 電源高調波などの影響

DC点灯なので無関係影響がある場合は計上⑥ 周囲温度に基づく不確かさ

白熱（ﾊﾛｹﾞﾝ）電球では省略できる場合が多い

測定対象のうち，最も影響の大
きいデータを計上⑦ 測定時間中の特性変化（ドリフト）

必要あれば，安定性・再現性などとして計上する測定時間が長い場合（例：配光測定）は，測定時間中のDUT特性変化を計上92.3 測定設備に関する要因（球形光束計）
測光設備に関する不確かさの要因の基礎として，V(λ)受光器つき 球形光束計の設備に関する一
般的な例を次に示す。

V(λ)受光器つき 球形光束計の設備に関する一般的な例① 積分球及び受光器のV(λ)特性からのずれに基づく不確かさ
受光器のｆ１‘と不確かさの評価事例がある(p.25参照)
内面塗装の分光反射率を考慮する必要がある② 積分球の空間的な応答特性の不均一に基づく不確かさ（p.26参照）
遮光板等による空間的な応答特性の不均一の影響はかなり大きい③ 自己吸収の補正後に残る不確かさ
補正の手順，自己吸収補正用光源の安定性。再現性に留意する必要がある④ 受光器及び電気系の非線形性に基づく不確かさ⑤ 温度などの環境条件⑥ 校正間隔における応答特性の安定性⑦ 内面塗装の蛍光／斜入射特性10

2.3 測定設備に関する要因（分光放射計つき球形光束計）
光源色，演色評価数などを測定する場合は，分光放射計つきの球形光束計を使用する。
V(λ)受光器つき 球形光束計に関する要因に加えて，分光放射計に関連する要因を追加して評価する必要がある。
分光放射計つき 球形光束計の設備に関する一般的な例① 積分球及び受光器のV(λ)特性からのずれに基づく不確かさ→ V(λ)特性からのずれの原因となる標準電球の分光分布の不確かさに基づきMCS等を利用して不確かさを評価する場合が増えている② 分光放射計に関連する不確かさ
1)波長ズレに起因する
2)非線形性に起因する
3)迷光に起因する
4)繰り返し性に起因する
5) スリット波長幅と計算の波長きざみに関連する
11

3.1 不確かさに関するデータ収集の方法
不確かさに関するデータ収集には，①実験による，②既存の情報を利用する，③MCSを利用するなどの方法がある。
データ利用に際しては，試験所（設備）の適用範囲を明確定義にすることが重要。
・ DUTの寸法，質量・ DUTの消費電力，入力電流・ DUTの全光束の値
・ DUTの分光分布（白熱電球，蛍光体方式LED，ﾒﾀﾙﾊﾗｲﾄﾞﾗﾝﾌﾟ，低圧ﾅﾄﾘｳﾑﾗﾝﾌﾟ）・ 配光の違い（全般配光・・・・・・狭配光，軸対称／非対称配光・・・・）
DUT毎に不確かさを表明することは負担が重い → 適用範囲を包括する不確かさを表明する
特性により不確かさの値が変化する場合は，必要に応じて場合分けして作成するとよい110.0%

1.2

105.0%
100.0%

0.8

光出力（%）

相対強度

1

0.6
0.4

95.0%
90.0%

－0.12％／℃

85.0%
0.2

～
－0.62%／℃

80.0%

0

75.0%
380

480

580

680

780

10.0

20.0

30.0

40.0

50.0

波長 (nm)

周囲温度（℃）

DUTの分光分布の例

DUTの温度特性の例

60.0

12

3.2 確率分布と除数
タイプ

確率分布
の例

除数の例

繰り返し測定を行い，実験結果を統計的に処理する

タイプA

正規

1

不確かさの要因に対応する変動を与え，影響を評価する

タイプB

矩形

√3

校正証明書に記載の校正の不確かさ（k=2）を利用する

タイプB

正規

2

設備の仕様書（準拠JIS）などのデータを利用する場合

タイプB

矩形

√3

正規

1

不確かさに関するデータ収集の方法① 実験による場合② 既存のデータを利用する場合③ モンテ・カルロ シミュレーション（MCS）を利用する場合
標準偏差に相当するMCSの結果を採用する
不確かさのテキストには，三角分布やU字分布が紹介されているが，測光のバジェットシートでは，ほとんど利用する機会がない。
13

3.3 感度係数について
バジェットシートに記載する数値に対する量と，不確かさとして評価する量（の次元）が異なる場合
は，感度係数を使う必要がある
白熱電球の電圧と全光束の関係
140%
120%
全光束(%)

100%
全光束(%)

80%
60%
40%
20%
0%
0

20

40

60

80

100

120

105%
104%
103%
102%
101%
100%
99%
98%
97%
96%
95%

グラフの勾配：3.5%／1V
98

99

電圧（V)

100

101

102

例：
全光束のバジェットシート
において，標準電球の点
灯電圧の精度に基づく
不確かさを計上する場合，白熱電球の点灯電圧vs.
全光束の特性に基づき，
次のように感度係数を
利用する。

電圧（V)

全光束の不確かさ
記号

不確かさの要因

u03 点灯電圧の精度による不確かさ

ﾀｲﾌﾟ

B

値

0.2V

確率
分布
矩形

除数

√3

標準
不確かさ

標準
感度
エビデ
不確かさ ンス
係数0.115V

3.5
%/V

（％）

0.40

No.03

14

3.4 不確かさ要因の取捨選択
影響の大きな要因を見逃さない／総合的に適切に評価することが重要メーカーの試験所の場合，「塵も積もれば山となる」的なバジェットシートは適切ではない
第三者が理解しやすいバジェットシート作成のために不確かさ要因は多すぎないことが適切
不確かさ要因取捨選択の指針
基本の考え方抽出したもの全てをバジェットシートに加える必要はない
影響が大きな要因を漏れなく抽出することが重要
再現性などに関しては，関連する複数の要因をまとめて計上し，要因の数が増えすぎないようにする配慮も有効
最終的な合成標準不確かさに与える影響が小さい要因は切り捨てる

切り捨ての目安

一番大きな要因の1/10以下のものを選ぶとよい
注意事項

不確かさの値は，DUTによりは異なるので，一律に切り捨てるのではなく，扱うDUTの範囲を考慮して，最悪値を探す努力が必要
不確かさの値が小さくても，一般的な設備・方法では主要な不確かさと認識されている要因は，あえて残しておく場合もある
15

3.5 バジェットシートの作成
一般的なバジェットシート書式の例は，次のとおり。
不確かさの要因ごとに，タイプ，値，確率分布，除数，標準不確かさを記入し，必要に応じて感度係数を掛けて，標準不確かさを明示する。各要因の標準不確かさの二乗を加算し，その平方根として，合成標準不確かさを求める。包含係数(k=2)を掛けて、信頼区間約95%に相当する
拡張不確かさを求める。
全光束の不確かさ
記号

不確かさの要因

ﾀｲﾌﾟ

値

確率
除数
分布

標準
不確かさ

標準
感度
エビデ
不確かさ ンス
係数（％）

u01 校正値の不確かさ

B

1.4%

正規

2

0.7%

1

0.70

u02 標準電球の経時変化による不確B

0.45% 矩形

√3

0.26%

1

0.26

u03 点灯電圧の精度による不確かさ

B

0.2V

矩形

√3

0.115Vu04 相対分光分布・・

MCS

0.25%

1

0.25%

3.5
%/V
1

u05 波長ズレ・・・

B

1.04%

√3

0.6%

1

0.60

u23 DUTの再現性による不確かさA

0.31 %

1

0.31%

1

0.31

ucw 合成標準不確かさ
uw

拡張不確かさ (k =2)

矩形

0.40
0.25

1.78
3.6

16

3.6 測定量目と不確かさの関係
・ バジェットシートは，測定量目ごとに作成する・ 各測定量目の不確かさは，相互に関係があるので，設備，校正方法，測定手順などに従い適切な順序で連鎖的に組み立てることが適切である。代表的な例を次に示す① 効率のバジェットの例（一般例）
全光束のバジェット

効率のバジェット

電力のバジェット
② 最大光度のバジェット（全光束標準で校正する配光測定法の場合）
光度のバジェット

全光束のバジェット

最大光度のﾊﾞｼﾞｪｯﾄ

逆二乗則からのずれなど

最大光度推定方法③ ビーム光束のバジェット（配光測定法の場合）
全光束のバジェット

ビーム光束のバジェット

ビームの開きのﾊﾞｼﾞｪｯﾄ④ 光源色のバジェット

Tcp，duvのバジェット

x,y 座標のバジェット

17

3.7 要因毎のエビデンスとの紐つけ
バジェットシートの内容を第三者に理解してもらうために必須・ 各要因には，識別する記号を付与する 例：u01
・ 1要因に対して，1葉のエビデンスシートを作成することが望ましい
要 因

記号

除数

標準不
確かさ

エビ
デン
ス

u01

校正値の不確かさ

1

0.7 %

No.01

u02

経時変化・・・√3

0.26 %

No.02

u03

点灯電圧・・・

√3

0.4 %

No.03

u04

相対分光分布・・√3

0.25 %

No.04

u05

波長ズレ・・・

√3

0.6 %

No.05

1

0.31 %

No.23┃
DUTの再現性による不確かさucw 合成標準不確かさ

u23

uw

拡張不確かさ1.78 %
3.6 %シート：No.23
記号：u23
DUTの再現性による不確かさの根拠
評価方法：DUTの全光束繰返し測定
実験結果：
測定値1
測定値2
測定値3
測定値4
測定値5
測定値6
測定値7
測定値8
測定値9
測定値10

807.3 lm
806.4 lm
812.6 lm
809.5 lm
808.0 lm
813.6 lm
812.5 lm
809.9 lm
810.3 lm
812.9 lm

平均値
810.3 lm
実験標準偏差2.54 lm
標準偏差／平均0.31%

結論： u23の値を0.31 % と見積もる。 18

3.8 目標とする精度基準を満足するか評価
JLMA指定試験所の精度基準値と比較してみる。基準値を満足しない場合は，不確かさの値が大きい要因を重点として，管理水準を上げるなどの方策を検討して改善を行う。
過少な見積もりを避けること，評価・運営の作業量が増大することを避けるために，不確かさの値を小さくすることに対して，欲張り過ぎない方がよい。
全光束などの精度基準
拡張不確かさの試験項目
上限値 (k=2)
全光束

4.0 %

効率

4.5 %

最大光度

4.0 %

ﾋﾞｰﾑの開き1.6 °ﾋﾞｰﾑ光束

5.6 %

色度

x

0.004

y

0.004
19

4.1 バジェットシートの例
積分球による全光束測定ﾊﾞｼﾞｪｯﾄｼｰﾄの例
要 因

測
定
標
準

DUT

設
備

全光束標準電球の全光束値の不確かさ
標準電球の経時変化
標準電球点灯電圧による不確かさ
標準電球の相対分光分布の不確かさ基づく
分光放射計の波長ズレによる不確かさ
分光放射計の直線性による不確かさ
分光放射計の迷光による不確かさ
自己吸収補正後に残る不確かさ
空間的な応答特性の不均一に基づく不確かさ
DUTの周囲温度による不確かさ
DUTへの供給電圧による不確かさ
DUTの再現性による不確かさ

合成標準不確かさ
拡張不確かさ (k =2)

標準不確かさ0.70 %
0.26 %
0.40 %
0.25 %
0.60 %
0.50 %
0.20 %
0.50 %
1.08 %
0.45 %
0.20 %
0.30 %

1.78 %
3.6 %
注記：上記の数値は，一例である

20

4.2 バジェットシートの例
積分球による光源色ﾊﾞｼﾞｪｯﾄｼｰﾄの例
まず，x,y座標の不確かさを求め，Tcpなど他の測光量の不確かさに変換する
x

標準不確かさy

Tcp

標準電球の相対分光分布の不確かさによる

0.00110.001445標準電球の経時変化

0.00010.00015分光放射計の波長ズレによる不確かさ

0.00040.000716分光放射計の直線性による不確かさ

0.00070.000328

分光放射計の迷光による不確かさ

0.00070.0011

28

DUTの再現性による不確かさ

0.00020.000310合成標準不確かさ

0.00170.002063

拡張不確かさ (k =2)0.00330.0039

126

要 因

測
定
標
準
設
備
DU
T

注記：上記の数値は，仮想の例である

21

4.3 バジェットシートの例
積分球による演色評価数ﾊﾞｼﾞｪｯﾄｼｰﾄの例
不確かさの要因は，x,y座標の場合と共通でよいと考えられるが，非線形な応答をする場合があるので，入力の変動幅の見積もりには注意を要する。
Ra

標準不確かさR9R15標準電球の相対分光分布の不確かさによる

0.67

3.80

1.27

標準電球の経時変化

0.10

0.60

0.20

分光放射計の波長ズレによる不確かさ

0.08

0.35

0.15

分光放射計の直線性による不確かさ

0.23

0.80

0.45

分光放射計の迷光による不確かさ

0.14

0.62

0.25

DUTの再現性による不確かさ

0.18

0.90

0.35

合成標準不確かさ

0.76

4.09

1.44

拡張不確かさ (k =2)

1.6

8.2

2.9

要 因

測定
標準

設備

DUT

注記：上記の数値は，仮想の例である

22

5.1 問題事例（その1）V(λ)受光器を使う場合における異色測光の不確かさ（配光測定など）
JIS C 1609のAA級照度計を受光器とし，色補正を施さない場合，f1’の値として6%を見込む必要があり，受光器のV(λ)特性からのずれに基づく不確かさとして，大きな値を見積もる必要がある。（ﾐﾗｰの分光反射率を考慮すると更に拡大）
指定試験所の精度基準を満足できない可能性がある
色補正を実施するには，分光放射測定器を必要とするほか，そのﾄﾚｰ
ｻﾋﾞﾘﾃｨ確保のための標準器･手順が必要である。また，色補正係数に対する不確かさを表明する必要がある。

+4.5 %

6%
受光器の f1’と色補正係数の関係（CIE S025 annexC から引用）

23

5.2 問題事例（その2）積分球の空間応答度及びDUTの配光特性による不確かさ
積分球には，光源から受光器への直射光を遮る遮光板が設けられている。この遮光板の影響によって，積分球の空間的な応答特性は均一ではなくなる。下のグラフは，空間的な応答特性の試算例であり，配光の狭いDUTを測定する場合は，無視できない不確かさを生じるので，適切に評価してバジェットシートに計上することが必要。
遮光板以外にも，DUTの取付ジグ，開閉部の合わせめなどが不均一性の原因となる。
120%

遮光板の直径
φ0.3m
φ0.2m

115%
110%

応答度

105%

φ0.1m

100%
95%
90%
85%

積分球： 直径 1m， 反射率0.93

80%
0

45

90

135

180

角度

遮光板の影響による積分球の空間応答度試算例
24

5.3 問題事例（その3）“既知のかたより”を不確かさとして計上する場合は，そのかたよりは確定的に発生するものなので，確率分布を仮定した除数は適用せず，その値自体を不確かさとして扱う。
校正証明書の例

バジェットシートの例(1) 効率の不確かさ(1) 電力
レンジ

周波数

力率

表示値

校正値

校正の不確かさ300 V／5 A

50 Hz

1

1500.0 W

1497.8 W

0.3 W

150 V／1 A

50 Hz

1

150.00 W

150.18 W

0.03 W

校正方法：JCSS校正マニュアル***による。
校正条件：温度 23±1 ℃

湿度 55 %±10 %measuring mode RMS
付Line filter

OFF

記：校正の不確かさは，包含係数k=2とした拡張不確かさであり，約95％の信頼の水準を

要 因

標準不確かさ全光束測定の不確かさ

1.60 %

電力測定の不確かさ

0.90 % 0.52 %

標準不確かさ1.84 % 1.68 %拡張不確かさ(k=2)

3.7 % 3.4 %もつと推定される区間を与える。

(1) 表示値と校正値の差分を不確かさと捉える。
150.18 W －150.00 W＝0.18 W(2)上で求めた不確かさを 測定する電力に対する比率（％値）に換算する。
0.18W ÷ 20 W ＝ 0.90 %（測定する電力を20 Wと仮定）(3) 矩形分布と仮定し √3で除して標準不確かさを求める。

0.90 % ÷√3 ＝0.52 %(3) 既知のかたよりは，その値自体を不確かさとして扱う。

25

まとめ
1. 測定の不確かさを表明するバジェットシートは，設備を導入しただけ
では作成できない。試験所の運用方法，測定手順，扱うDUTの範囲などを定めて，文書化し，運用実績を積む必要がある。
2. 測定の不確かさの要因は，測定設備，測定方法，試験環境によって大きく異なり，画一的なものは無い。
3. 測定不確かさ評価とは，試験所の要員が漠然と感じていた測定のバラツキの定量化作業であり，これによって試験結果の信頼性が実証される。
4. 個々の要因の評価法を具体的に示すことは困難だが，できる限り
参考文献等を紹介するので，各試験所のレベルアップに活用願いたい。（次頁：参考文献7）
謝辞
この資料の作成にあたり，ご指導を賜った 独立行政法人製品評価技術基盤機構 認定センター（IA Japan）の石毛浩美様に感謝いたします。
26

参考文献
1. CIE S 025/E:2015“Test Method for LED Lamps, LED Luminaires and LED Modules”
URL http://cie.co.at/publications/test-method-led-lamps-led-luminaires-and-led-modules
1.5 JCIE-００３ CIE S 025/E:2015「LEDランプ，モジュールおよび照明器具の試験方法」解説
URL https://www.jlma.or.jp/siryo/pdf/jcie_shuppan.pdf
2. TS Z 0033:2012 “測定における不確かさの表現のガイド”
URL http://www.jisc.go.jp/app/jis/general/GnrTSTRSearch.html
3. 光における不確かさの要因項目として，JCSSの技術的要求事項適用指針
登録に係る区分：光 JCT21400 NITEURL http://www.nite.go.jp/data/000001491.pdf
4. 不確かさの入門ガイド ASG104 NITEURL http://www.nite.go.jp/data/000050641.pdf
5. CIE 198 Determination of Measurement Uncertainties in Photometry
URL https://cie.co.at/publications/determination-measurement-uncertainties-photometry
6. CIE 198 SP1 Determination of Measurement Uncertainties in Photometry Supplement1 :Modules and Examples for the Determination of Measurement Uncertainties
URL https://cie.co.at/publications/determination-measurement-uncertainties-photometrysupplement-1-modules-and-examples-0
7. 工業会指定試験所制度 不確かさ文献リスト
URL http://jlma.or.jp/labo/sikenjo/pdf/jlma_sikenjo_futasikasa_bunken.pdf
27

2.3.3 測定設備に関する要因（配光測定装置）
配光測定装置に関する不確かさの要因は，分光応答特性については，V(λ)受光器つき球形光束計の場合を参考に抽出できる。そのほか，配光測定に特有な不確かさの要因の例を次に示す。

V(λ)受光器つき 配光測定装置の設備に関する一般的な例① 受光器のV(λ)特性からのずれに基づく不確かさ
光路にミラーがある場合は，ミラーの分光反射率を考慮する② 測定角度間隔に基づく不確かさ
角度座標の繰り返し性・再現性についても検討することが望ましい③ 迷光による不確かさ（測定室の床，壁などの反射）④ ミラーの平坦度及び偏光の影響⑤ 取付け部，ジグ，遮光板などによる遮光（ケラレ）に基づく影響⑥ 受光器及び電気系の非線形性，時間的応答性⑦ 温度などの環境条件に基づく不確かさ⑧ 校正間隔における応答特性の安定性
28

3.8 目標とする精度基準を満足するか評価
JLMA指定試験所の精度基準値と比較してみる。基準値を満足しない場合は，不確かさの値が大きい要因を重点として，管理水準を上げるなどの方策を検討して改善を行う。
過少な見積もりを避けること，評価・運営の作業量が増大することを避けるために，不確かさの値を小さくすることに対して，欲張り過ぎない方がよい。
全光束などの精度基準
拡張不確かさの試験項目
上限値 (k=2)

相関色温度Tcp，演色評価数
拡張不確かさの試験項目
上限値 (k=2)

全光束

4.0 %

Tcp

0.0305×Tcp – 33 K

効率

4.5 %

Ra

1.7

最大光度

4.0 %

ﾋﾞｰﾑの開き

1.6 °

R9
R 10
R 11

0.000353×Tcp + 5.9
4.0
4.0a)
- 0.000093×Tcp + 3.5b)

R 12
R 13
R 14
R 15

8.0a)

- 0.000259×Tcp + 4.8b)
2.5
1.5
2.8

a) 4880 K ≦Tcp≦5120 Kb)Tcp＜ 4880 K or 5120 K＜Tcp

ﾋﾞｰﾑ光束
色度

5.6 %
x

0.004

y

0.004

29

4.4 バジェットシートの例
配光測定装置による全光束ﾊﾞｼﾞｪｯﾄｼｰﾄの例
要 因

測
定
標
準

DUT

設
備

全光束標準電球の全光束値の不確かさ
標準電球の経時変化
標準電球点灯電圧による不確かさ
受光器（ﾐﾗｰを含む）のV(λ)特性からのずれに基づく不確かさ
受光器の直線性による不確かさ
空間迷光による不確かさ
DUTの周囲温度による不確かさ
DUTの点灯電圧による不確かさ
DUTの測定時間中ﾄﾞﾘﾌﾄのによる不確かさ
DUTの再現性による不確かさ

合成標準不確かさ
拡張不確かさ (k =2)

標準不確かさ0.80 %
0.40 %
0.40 %
2.1 %
0.30 %
0.60 %
0.30 %
0.20 %
0.30 %
0.30 %

2.48 %
5.0 %
注意：上記の数値は，一例である

30

5.4 問題事例（その4）配光測定における迷光の見積もり

受光器

ミラー

ミラー
受光器

ミラーと受光器の位相を反転させて，上方空間から反射して来る光を迷光として評価→床面と天井（壁面）の反射を経た光を評価するので，見積もり不足となる
床面からの反射を照明
器具の背面から見込む状態が，迷光の大きな成分を形成する
上半球全体から反射して来る光を迷光として評価することが望ましい
31

ご清聴ありがとうございました

END