二次電池搭載機器試験・評価・解析
受託サービス

リチウムイオン二次電池の非破壊検査、破壊検査を行います

リチウムイオン二次電池調査
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/analysis/Li-ion.html

概要特長

リチウムイオン二次電池調査とは、採用前構造解析、事故発生後の調査などに対応した非破壊検査、破壊検査です。
● 発火、焼損など事故発生時の調査・原因究明（事故調査）にも対応● 最新のX線CT設備を用いて非破壊で内部構造情報の取得→高分解能：最大入力解像度約1400万画素
高階調：検出器階調65536階調● 分解解析、観察・分析の破壊解析により詳細な内部構造情報の取得→不活性ガス置換したグローブボックス内で分析処置による破壊解析

用途

島津製作所
inspeXio
SMX-225CT FPD HR● 事故調査（故障解析）、構造解析（良品解析）● X線CT検査装置による電極間距離、寸法、曲率などの解析（非破壊検査）

分解解析、観察・分析（破壊解析）
調査事例

以下は、実際にグローブボックス内で分解処理を行ったリチウムイオン二次電池の内部電極です。
事故や劣化の原因究明のために、分離したセルやセパレーターの拡大観察をします。

上段：正極セル（Al箔）

中段：セパレーター（負極側）

下段：負極セル（Cu箔）01

充放電特性不良リチウムイオン二次電池の解析事例
セパレータフィルム

Cu負極箔

Al正極箔
X線CT検査装置による観察の結果、
電極箔の乱れや捲れを確認しました

異物

グラファイト層Al正極箔
CoLio活性層

充放電特性不良のリチウムイオン二次電池をX線CT

異物検査装置で非破壊検査をしました。

Cu負極箔

正極グラファイト層は巻きの内側が多層で、層間に異物を確認しました。

CT観察の結果、電極箔の乱れや捲れ、正極グラファ
イト層の多層積層間に異物を確認しました。また、分解による破壊検査の結果、電極箔の乱れや捲れ部にショートの痕跡はありませんでした。

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TEL：03-5920-236602微細電子部品から大型基板の非破壊検査に対応します

透過X線解析

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概要

透過X線解析とは、非破壊にて試料内部の構造情報を高精度に取得することです。
故障解析や良品解析などの解析における様々な場面においてお役に立ちます。

特長● 微細電子部品から小型鋳造品まで幅広い分野での非破壊観察に対応● 業界トップレベルの高感度・高階調を誇る大型フラットパネルディテクター
● 撮影ニーズに合わせ画像最適化や高機能解析ソフトウェアによる各種解析● 透視観察、直交CT、斜めCTに対応● 管電圧：〜160kV、検査エリア：460×410
［mm］
、


搭載可能サンプルサイズ：800×500［mm］、搭載可能質量：5kg（直交CTは2kgまで）● リフローシミュレーターを搭載

透過X線装置を使った解析・観察
最新の高機能X線CTシステムは、ハイパワー X線源、高分解能や高階調検出器を搭載し、様々な角度
から非破壊で構造情報を取得します。
装置外観

用途

● 電 子部品の故障解析、良品解析、部品内部構造の解析、異常状態の観察● 透過X線による微小部品から大型基板の高倍率観察● 斜めCTによる基板実装部品や大型基板の高倍率なX線CT検査● 直交CTによる微小部品の高倍率なX線CT検査● X線CT取得データの立体像、多点断面像（MPR像）など多彩な

コメットテクノロジーズ・

データを出力→micro3Dslice（斜めCT機能）とFF CTソフトウェア、VG
studio maxを使用

ジャパン株式会社
Cheetah EVO

LEDのワイヤー観察例

ICの端子接合部観察例

断線

クラック
03

直交CTでの観察例 （BGA接合部、ワイヤーボンド、センサー部品）

BGA接合部（形成異常の事例）

BGA接合部（加工画像）

ワイヤーボンド（ワイヤー形状の事例）

センサー部品（画像加工）

斜めCTでの観察例 （基板スルーホール内部のボイド事例）

データ提供：コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 様

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TEL：03-5920-236604半導体・電子部品の代替調達における流通在庫品の真贋判定・信頼性試験
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/analysis/tyoutatu.html

概要

電子部品の新規採用や流通在庫品の採用にあたり、真贋判定・信頼性試験を実施します。
対象は主にLSI・パワーデバイス・抵抗・コンデンサー（積層セラミックコンデンサー；
MLCCなど）・LEDなどです。電気的測定、保管状態の確認、市場流通品の模造品識別などを試験します。

特長● 正規品と模倣品の外観比較、透過X線検査による真贋判定● 電気的特性評価による機能試験● 高温動作試験、温度サイクル試験などの加速試験による信頼性評価★これらの調査・試験を、ワンストップでご提供します。

流通在庫品と呼ばれる半導体・電子部品には、模倣品や保管状態の良くない製品、規格外の不良品が紛れていることがあります。それらは製品組み込み後に動作不良発生の原因となることがあります。
まず、調達した流通在庫品については真贋判定を行います。そして正規品と判断された製品に対しては機能試験を行い、さらに製品に搭載されてから市場での寿命までの動作を保証できるかを確認する信頼性試験（品質確認）を実施す
ることが望ましいと考えております。

1.真厩判定：模倣品であるか否かの確認（正規品との比較）
Step1
Step2

外観検査・X線検査
電気的特庄(Ⅰ-Ⅴ観測）検査・内部検査

2.電気的特性評価：半導体のスペック通りの機能で動作するか（機能試験）● デバイスのデータシートからテストパターンとテストプログラムを作成し、詳細な電気的特性測定を実施

3.信頼性試験：市場での動作を保証できるかどうか寿命確認（品質確認）● 高温動作試験、高温高湿試験、温度サイクル試験等の環境試験を実施し、

品質を確認

05

真贋判定フロー
Step1

Step2
ヒアリング

電気的特性検査（入手経緯等）

内部検査

外観検査

検査項目

透過Ｘ線検査● ロゴマーク● チップサイズ

真贋判定● 配線パターン報告● ボンディング状態

真贋判定
報告

流通在庫品を使用する際には、簡易的な検査でも真贋判定が可能です

真贋判定

検査事例
外観検査

透過X線検査電気的特性検査

内部フレーム構造に差異あり

電気特性に差異あり

正規品
インデックスマークあり

模造品
インデックスマークなし

所

見

インデックスマークに差異あり

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TEL：03-5920-236606単電池・組電池の耐温度環境、機械的要求を評価

二次電池および二次電池搭載機器の環境試験
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/Rel/environment.html

二次電池および二次電池搭載機器について、IEC62133（JIS C 8712)・JIS C 8713・JIS C 8714の規格に基づいて、温度環境特性や機械的特性の影響などを評価します。

概要● 高 温、温度サイクル、航空機輸送を想定した低圧（減圧）環境などの様々な模擬環境

特長にて試験可能● IEC、JIS規格の他、メーカー固有の規格にも条件により対応可能

対応可能な環境試験条件例 *1■ JIS C 62133-2（JIS C 8712）第2部：リチウム二次電池
試験項目

ポータブル機器用二次電池の安全性*2

環境試験条件

単電池

組電池

ー

○(3個)

ー

○(5個)

高温下での組電池容器の変形

70℃±2℃

振動試験

振動周波数範囲7Hz 〜 200Hz、掃引時間15分、12回/方向
3方向各3時間

温度サイクル試験

温度範囲-20 ～ 75℃、12時間／サイクル⇒5サイクル（60時間）

○(5個)

○(5個)

自然落下試験

1,000mm±10mm
3回落下

○(3個)

ー

加熱試験

昇温速度：5±2℃ /minで130±2℃まで上昇させる。
保持時間：30分間

○(5個)

ー

衝撃試験

正弦半波、ピーク加速度150gn、パルス時間6ms
3軸6方向各3回（合計18回）

ー

○(5個)

低圧試験

20±5℃

内部圧力11.6kPa（高度15,240m相当）６時間保存

○(3個)

ー

機器に装着した組電池の落下試験

JIS C 6905-1またはJIS C 6065に規定する落下の高さから落下させる。
落下床面：コンクリートもしくは、金属の板
落下方向：組電池に最も悪影響を与えると判断される方向
落下回数：1回

ー○(3個)■ JIS C 8713

7時間放置

任意方向でコンクリートの床または金属の床

密閉型小型二次電池の機械的試験*2

試験項目

試験数量

環境試験条件

単電池

組電池

振動試験

JIS C 60068-2-6、必要な場合はJIS C 60068-2-47
10 ～ 500Hz、振幅0.35mmのピーク又は最大50m/s^2
掃引速度1オクターブ/分、5回/方向、3軸方向

○(5個)

○(5個)

自然落下試験

JIS C 60068-2-32（JIS C 60068-2-31に統合）
落下面：堅木
落下高さ：単電池（全種類） 1.0ｍ
ハードケース電池：質量によって、1.0m、0.75m、0.5ｍのいずれかで実施する。
落下回数：3軸6方向各1回（合計6回）

○(5個)

○(5個)

■ JIS C 8714

携帯電子機器用リチウムイオン蓄電池の単電池および組電池の安全性試験*2

試験項目

環境試験条件

単電池の外部加熱試験

昇温速度：5±2℃／ minで130±2℃まで上昇させる。
保持時間：10分間

組電池の落下試験

JIS C 6905-1またはJIS C 6065に規定する落下の高さから落下させる。
落下床面：コンクリートもしくは、鉄板。
落下方向：組電池に最も悪影響を与えると判断される方向
落下回数：1回＊1：充電していない状態（State Of Charge 0%）、発煙発火無きことを前提としています。
お問い合わせください。 ＊3：上限試験温度および下限試験温度ごとの数量となります。

07

試験数量

試験数量

単電池

組電池

○(5個)*3

ー

ー

○(3個)

＊2：試験条件によっては対応できない場合がございます。詳細は

ガス・塩水・水・埃などの特殊環境に対する耐性を評価

二次電池および二次電池搭載機器の特殊環境試験
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/Rel/environment.html

概要

特長

二次電池および二次電池搭載機器に対して、腐食性ガスや塩分を含んだ環境に対する機器の筐体への影響および内部の腐食状況を評価します。また水や塵埃の侵入の有無についての確認を行います。

● 腐 食環境下（塩水、ガス）を模擬した試験により、二次電池および二次電池を搭載した機器の筐体表面および内部の電池との接点、部品等の腐食評価が可能。メーカー規格も条件により対応可能● 二 次電池及び二次電池を搭載した機器の特殊な環境下（塵埃、水の侵入）での使用を模擬した各種の試験が可能

二次電池搭載機器の使用環境を模擬した特殊環境試験条件例*1
試験項目

目的

試験条件

ガス腐食試験
シングルガス、混合ガス

二次電池搭載機器の耐腐食性ガス環境下における耐久性を評価する

JIS C 60068-2-42、2-43、JIS C-60068-2-60、メーカー規格等

塩水噴霧試験
塩水サイクル試験

塩分を含んだ環境下に対する二次電池搭載機器の筐体などへの耐性を評価する

JIS C60068-2-11、メーカー規格等

IP（耐水）試験

二次電池機器の外郭への異物およびホコリや水に対する保護等級評価を行う

IEC 60529、JIS C 0920C、メーカー規格等

塵埃試験

二次電池搭載機器などの塵埃に対する耐塵性能を評価する

JIS C J60068-2-68、JIS D 0207、メーカー規格等

耐候性試験

太陽光・温度・湿度・降雨などの屋内外の条件を人工的に再現し、劣化を促進させて劣化状況・耐性を確認する

JIS K 7350-4、JIS D 0205、JIS B 7753、JIS K 7350-2、JIS B 7754、メーカー規格等

温度・減圧複合試験

減圧と温度の複合変化状態への耐性を評価する

JIS C 60068-2-13、JIS C 60068-2-40、JIS C 60068-2-41、メーカー規格等＊1：充電していない状態（State Of Charge 0%）、発煙発火無きことを前提としています。試験条件によっては対応できない場合がございます。
詳細はお問い合わせください。

■ 環境試験事例

振動試験

衝撃試験

塵埃試験

加圧破壊試験

温度・減圧試験槽

IPX1試験

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TEL：03-5920-2354

08安全を監視する電子監視ICの信頼性試験を行います

電池監視ICの信頼性評価試験
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/semicon/index.html

概要

電池監視ICは、二次電池搭載機器の充放電、過電流などをモニターしています。機器の安全面などから高信頼性が要求され、開発段階や部品選定において信頼性試験は欠かせません。JEDECやMILなどの規格に対応した試験はもちろん、試験前後における電気的特性測定にも対応しています。

特長● 放 置試験としての温度サイクル試験や高温保存試験などだけではなく、通電試験として高温動作試験やバイアス試験などにも対応● 信頼性試験前後の特性評価として、LSIテスタ等による電気的特性取得も対応

規格に対応した信頼性試験
JEDECやMILなど規格に対応した信頼性試験として、半導体デバイスのプロセス開発から量産までの各段階の故障モードを考慮した信頼性検証を目的としています。
● 初期故障の検証

試験項目

HTOL
（高温動作）

試験内容→故障率の低減LTOL
低温・高電圧で連続動作（低温動作）
HTS
高温で連続放置（高温放置）
THB
高温・高湿・高電圧で連続バイアス印加（高温高湿バイアス）
HAST
高温・高湿・高圧力・高電圧で連続バイアス印加（高温高湿バイアス） 不飽和蒸気加圧
PCT
高温・高圧・高圧力で連続放置
一般的には飽和蒸気加圧（蒸気加圧）
TC（温度サイクル）PC（耐リフロー性）
ELFR（初期故障率）バスタブ曲線（故障率曲線）

試験条件例

高温・高電圧で連続動作

125℃
1000時間－40℃
1000時間150℃
1000時間85℃／85％1000時間130℃／85％
96時間
121℃／100％
96時間

低温→高温→低温の繰り返し一般的には放置 －40℃／125℃
動作状態で実施する試験（PTC）もある
1000サイクル
はんだリフロー槽（同等装置）へ流し込み
べーク→吸湿→耐リフロー評価
高温・高電圧で連続動作

Max260℃ 3回
125℃
24時間

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09

よる検証→摩耗故障の障の信頼性向上● スクリーニング検査

耗故障が生じないか信頼性向上のため。

代表試験項目表● 信頼性試験に● ELFR試験による検証

目的：動作の初期段階で発生する故障は多いため、量産段階での初期故障率（ELFR）を把握し、スクリーニング検査で初期故障を低減させるため。
● 磨耗故障の検証
目的：想定される使用環境や使用期間において磨抽出したい故障現象

代表規格

ゲート酸化膜破壊
接合破壊、層間絶縁膜破壊
エレクトロマイグレーションなど

JESD22-A18
MIL-STD883 Method 1005

ホットキャリア注入

JESD22-A108

メタル配線・Viaのマイグレーションなど
不揮発性メモリーのデータ保持

JESD22-A103
MIL-STD883 Method

アルミパッド腐食など

JESD22-A101

アルミパッド腐食など

JESD22-A110

アルミパッド腐食など

JESD22-A102

パッケージの熱環境変化によるクラッ
ク、剥離などアルミ配線スライドなど

JESD22-A104
MIL-STD883 Method 1010

製造欠陥などの初期不良

JESD74A
AEC-Q100-008

チップ表面剥離、パッケージクラックなど

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J-STD-020-A102
JESD22-A113

TEL：03-5920-2366

劣化による内部ガスの分析・解析を行います

二次電池内部のガス分析
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/env_meas/fpd.html

概要

リチウムイオン二次電池が劣化すると、筐体が膨らんでくることがあります。その原因のひとつに内部のガス発生があります。その内部に発生したガス成分の確認は劣化評価のひとつとなります。

特長● 二次電池に関するガス成分について分析→永久ガス、無機水溶性イオン成分、難揮発性有機化合物など● 内部ガス分析だけではなく、電池に関する試験をワンストップでご提供

事例

電池内部のガス分析● 本 事例は、劣化した電池と新品の二次電池の内部ガスを採取し、ガスクロマトグラフで分析した

結果です。
●リ
 チウムイオン二次電池の内部に、水素、メタン、二酸化炭素の発生がわかります（採取ならびに分析条件を水素よりにフォーカスしているため、空気の検出については評価対象外としています）。
電池内部ガス

ガスクロマトグラフ重ね書き

劣化品と新品の内部ガス存在比を比べると、劣化品は水素が少なくメタンが多い、それに対して新品は水素が多くメタンが少ないです。

こ れ は 有 機 系 電 解 質 が、分解しメタンを発生させていると推測されます。

OKIエンジニアリングのガス分析・解析は、故障原因の解析に始まり、原因材料の特定、障害対策のご提案、障害対策効果の評価までをワンストップでご提供いたします。
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お問い合わせ先

Email：oeg-env-div@oki.com

TEL：03-5920-2356

10

部品原材料などから発生するアウトガスの分析・解析を行います

二次電池搭載機器のアウトガス解析
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/env_meas/fpd.html

概要

二次電池搭載機器では、製品を構成する材料などからガス成分が発生することがあります。このガスはアウトガスと呼ばれ製品に不具合をきたす場合があります。これらのアウ
トガス解析により、原因材料特定だけではなく、原因解決のご提案から暴露試験による対策効果評価までを支援します。

特長● 測定対象は、低分子シロキサン・硫黄系ガス・揮発性有機化合物など● 不具合の原因に合わせた適切な手法をご提案● 低濃度で再現性の高い低分子シロキサン暴露試験が可能

アウトガス分析・解析とはアウトガスとは、部品原材料・成形品・製品などに熱を加えるなどのアクションを加えたときに発生するガス成分です。
アウトガスによる主な不具合は、「内部に使用している材料から発生し起こすもの」「梱包資材など製品の周辺環境から発生し起こすもの」「製品そのものから発生し周辺へ影響を及ぼすもの」があります。

試料【試料の例】● 部品原材料（樹脂など）● 成形品● 製品全体熱などを加えアウトガスを採取【試験条件】● 加熱時● 常温硬化時● バブリング時● 化学反応時

分析装置へ導入【使用装置】● ガスクロマトグラフ

GC/MS・GC-FPD等● イオンクロマトグラフ● 質量分析装置
など

その他にも、実際の環境濃度測定を目的として現地訪問など、ご要望に合わせた提案をさせていただきます。
OKIエンジニアリングのアウトガス分析・解析は、故障原因の解析に始まり、原因材料の特定、障害対策のご提案、障害対策効果の評価までをワンストップでご提供いたします。
11

事例１

LED電灯の発光色異常原因解析

バックランプに使用していたLEDの発光色に異常が発生しました。調査した結果、銀製のLED電極が黒変していることが分かりました。そこで、黒変部の分析を行った結果、硫化銀であることを確認しました。
素子部黒変の分析
S［硫黄］が検出

銀の硫化は、主に硫化水素など硫黄系のガスによって起きます。周辺部品を構成材料ごとに分けて硫黄系アウトガスの分析を行ったところ、硫黄系ガスが発生している部材を確認しました。
周辺部品を構成材料ごとに分割

事例２

アウトガスをGC-FPD分析

接点障害原因の解析

接点障害が発生し、調査したところ、接点上に異物が付着していることが分かりました。また、異物分析を行うとSiO2であることが確認されたため、低分子シロキサンによる接点障害を疑いました。
そこで、リレー周辺の使用部材などに低分子シロ
キサンを対象としたアウトガス分析をして、原因材料を突き止めました。
解決策として二次加硫処
理（熱処理）などのご提案をしました。

事例３

SEM像

C

O

Si

SEM像
マッピング分析

光学顕微鏡観察

暴露試験による障害対策効果の評価

構成部品などにアウトガス対策を実施した
後、その効果を評価するため、低分子シロキ
サン一定濃度環境下でリレーの接点開閉耐久試験を実施しました。
低分子シロキサン暴露試験
0.1ppm ～ 500ppmの安定した濃度調整が可能（環状シロキサンD4使用）

リレー動作制御用
シーケンサーhttps://www.oeg.co.jp/
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12

基板などの不具合の原因を究明します

二次電池周辺機器の異物解析
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/env_meas/sub.html

概要

二次電池の周辺機器※で発生する不具合※※の多くは異物が原因によるものです。異物を定性分析することで、その物質が混入した経路や経緯を特定する不具合原因の解析を行います。
特長※プリント基板やコネクタ等※※導通不良や、光学レンズのくもりなど● 異物の性状に合わせた適切な分析手法の選定● 得られた結果から不具合原因を特定● 不具合原因の対処方法をご提案

異物解析手法
異物を観察し形状、状態を確認
マイクロスコープ

光学顕微鏡

SEM

光沢成分確認
光沢なし
NO

光沢あり
YES

100μm以上

100μm以上

NO

有機系

NO

顕微FT-IR

FT-IR

TOF-SIMS

GC/MS

SEM-EDXEDX

SEM-EDX

EPMA

SEM-EDX

EPMA

無機系

走査型電子顕微鏡
（SEM）
13

YES

電子線マイクロアナライザー（EPMA）

ガスクロマトグラフ
質量分析装置(GC/MS）

YES

EDX

赤外分光分析装置
（FT-IR）

赤外分光分析（FT-IR分析）装置と事例● 最小3μmまでの異物の定性● 積層構造物の分析● 規格に基づいた試験後の実際の劣化具合の評価● マッピング解析により成分の分布の把握● 主体成分の評価＋添加剤、複合成分の解析

従来の分析結果と新規設備の分析結果

新規設備の分析結果

例：ゴムの定性分析

可塑剤

従来の結果

充填材
潤滑油
PVC：主剤

従来では複合した成分の判別が難しく、主体成分のみの解析結果しか出せませんでした。
新規設備の導入により複合成分の解析が可能となりました。これにより今まで以上に詳細な解析結果のご提供が可能になりました。
マッピング解析の提案

0.15 成分: 1CV

例：塗装片の解析例

無機物

0.10
0.05
0.00

CV

0.2

無機物

塗装片について、4 層の分布が確認できました

成分: 2

0.2

PET

PET

0.1
0.0
0.15

CV

アルキド樹脂-1

PET+1510cm

0.1

0.0

CV

PET
＋1510cm－1

成分: 6

成分: 5

ALKYD

0.10
0.05
0.00
4000

3500

3000

2500

2000

1500

1000

Wavenumbers (cm-1)

マッピング解析によって、積層構造物の解析、見た目では分からない化学成分の存在の把握、汚れの拡散状態、多成分の重なりや範囲の把握が可能です。
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調査、製品開発工数の削減、短納期化をサポート

電池製品の環境／技術情報調査
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/ele-part/index.html

概要
特長

電池製品の環境／技術情報収集をお客様に代わり調査することで、製品開発工数の削減、短納期化をサポートします。
● 電池指令をはじめ各種指令・法令・お客様のご要望に適切な調査方法をご提案● 情報収集だけでなくRoHSⅡ判定、Technical Document（CEマーク対応）の作成を支援→電池を含むユニットや機器の場合● SCIP判定、SCIP情報収集、登録データ作成を支援

貴社

OKIエンジニアリング

調査対象・フォーマット等の事前確認
部品リスト作成

部品メーカー

調査代行の了承・手順の事前整合

調査票作成

調査開始

各種問い合わせ回答・進捗状況により対応協議
調査結果受領調査票回答確認

回答記入

電池指令／RoHS／REACHなど含有化学物質調査
トピックス：chemSHERPAデータはグローバル化対応のため、2023年冬までに製品名/階層名/部品
名称の日本語表記など全角文字が使用不可となります
全角文字を使用されている場合は読み込みエラーになるため、ご注意ください
chemSHERPAデータ変換サービスをご提供しております● 業界標準書式のchemSHERPAや、お客様独自書式など全ての調査書式に対応

（JAMP-AISなど旧業界標準書式からのchemSHERPA書式への変換等も対応可能）● 収集データ集計による電池指令/RoHS/REACH判定、他書式への書換えもサポート●収
 集データよりCEマーク自己宣言のTechnical Document エビデンス資料、SCIP情報の作成サポート●c hemSHERPA成分情報・遵法判断情報

chemSHERPA成分

それぞれについてデータチェックが可能
chemSHERPA遵法

米国TSCA規制 PBT5物質（※）や欧州REACH規則で有機フッ素化合物（PFAS類）を規制化する動向があり、関連する物質の環境情報収集のニーズが高まっています
特にPFASは炭素とフッ素等の元素が結合した有機化合物の総称でPFOSやPFOAなどの数千種類の化学物質があるといわれており、熱に強い、水油をはじくという特性から様々な製品に使用されています
chemSHERPA書式にてTSCA調査・PFAS調査もサポートいたします
ご不明な点・ご要望ございましたら何なりとご相談ください（※）PIP（3:1）リン酸トリスは2024年10月末まで規制猶予期間
15

電池を含むユニットや機器の紛争鉱物調査● 紛争鉱物（タンタル・錫・タングステン・金）および拡張鉱物(コバルト・マイカ等)の調達ルート

を業界標準（CMRT/EMRT）書式にて情報収集●部
 品個々のCMRT/EMRTデータチェックやSmelter List精錬所情報の重複集約（名寄せ）などもサポート

同じ精錬所情報が重複記入されたり、旧フォーマット情報が記入された回答もあります

重複集約（名寄せ）します

電池を含むユニットや機器の構成部品製造中止情報調査● 最新の部品製造中止情報について情報を収集● 製造中止情報だけでなく、参考リードタイム・拡販非推奨・メーカ指定代替品の情報も収集

製造中止情報の調査結果
No

型 式

1

ABC-EFG2

3

4

ABC-HIJ

ABC-KLM

123-456

品目番号

111-222

名 称

コンデンサ

111-333

コンデンサ

111-444

AA-BB-CC

ダイオード

IC

製造メーカ

○△電機

○△電機

○△電機

㈱ＡＡＡ

①

購入先

製造中止
計画無し

○○精機㈱

②

○○精機㈱

㈱ＣＣＣ

④

既に
６ヶ月以内
製造中止 製造中止

●

○○精機㈱

①～④のいずれか該当箇所に●印にて

③

●

備

111-555●●

考１年以内 （調査過程で知り得た代替品情報,クレンジング
製造中止 による正式型式情報 等）

新規採用を推奨しない

電池を含むユニットや機器の構成部品代替品調査● 最低限の仕様変更で部品置換えができるコンパチブルな代替部品情報をご提供● 調査は1部品から対応。特急対応も申し受けます。

調査部品情報区分 メーカ型番

分類

メーカ名

主要寸法（ｍｍ）
国

パッケージ種類

寸法図

T

L1

L2

W

P

0.7±0.1

0.8±0.1

1.6±0.2

1.6±0.2

0.5

現行品
AXXXX
(調査元)

抵抗内蔵型
○○電気
PNPトランジスタ

日本

SC-75A
3Pin

1:IN(ベース)
2:GND(エミッタ)
3:OUT(コレクタ)

代替品
BXXXX
候補

抵抗内蔵型
ABC工業
PNPトランジスタ

米国

SOT-523
3pin

1:IN
2:GND
3:OUT

0.8
0.8±0.05＋0.1/−0.2

1.6±0.15

1.6±0.1

0.5

代替品
CXXXX
候補

抵抗内蔵型
DEF電機
PNPトランジスタ

オランダ

SC-75
3pin

1:ベース
2:エミッタ
3:コレクタ

0.6〜0.95

1.45〜1.75

1.4〜1.8

0.5

https://www.oeg.co.jp/
お問い合わせ先

0.7〜0.9

Email：oeg-parts-div@oki.com

TEL：03-5920-2356

16

ISO/IEC17025＊1認定試験所での試験対応

二次電池搭載機器のEMC試験
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/emc/index.html

概要● 製品の試作段階から規格適合までEMC試験を提供●E
 MC技術を熟知したiNARTEエンジニアが規格解説などの技術対応●電 磁波ノイズの可視化や電磁環境シミュレーションなどの各種評価試験を提供

特長● JAB

認定試験所として信頼性の高い試験をご提供● 認定マーク付きの試験報告書を発行可能
相互承認協定（MRA＊3）により、世界の52地域、65認定機関で受け入れ可能● 自己適合宣言、認証取得等を総合的に対応
＊2

試験規格例

EMC試験

情報・産業・医用
評価試験

大型電波暗室 2基

製品カテゴリ
認証取得
支援

小型電波暗室

サイトの種類

第一EMCセンター
第一10m法電波暗室

小型電波暗室マルチメディア機器
産業機器
医用機器

主な規格
EMC
CISPR32/35
CISPR11、IEC61326
IEC60601-1-2

シールドルーム 2室

EMCセンター第一シールドルーム

第二EMCセンター
第二10m法電波暗室

恒温恒湿室

第二シールドルーム

EMI測定距離10 / 3ｍ
3ｍ－
10 / 3ｍ－
直径5.0m / 2.0m
1.5m－
5.0m / 3.0m－
ターンテーブル 耐荷重
3.0t / 1.0t
1.0t－
3.0t / 1.0t－
搬入間口
W3.0×H3.0m
W1.5×H1.9m
W2.0×H2.0m
W3.0×H3.0m
W1.8×H2.3m
電界 30MHz～18GHz 30MHz～2.6GHz
30MHz～18GHz
エミッ
磁界
10kHz～30MHz 10kHz～30MHz－
10kHz～30MHz－
ション
伝導
9kHz～30MHz
9kHz～30MHz
9kHz～30MHz
10kHz～6GHz
10kHz～6GHz
10kHz～6GHz
IEC61000シリーズ
IEC61000シリーズ
イミュニティ
IEC61000シリーズ
IEC61000シリーズ IEC61000シリーズ
1、3φ12kVA
1、3φ12kVA
1、
3φ12kVA
AC
1、
3φ12kVA
1、
3φ12kVA（Max18kVA）（Max18kVA）（Max18kVA）
供給電源
0～65V、
0～65V、150A
100V、60A
0～500V、30A
DC
0～65V、150A
MAX300A＊1：国際標準化機構が策定した「試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項」で、試験所が正確な試験結果を生み出す能力があるかどうかを、第三者認定機関が認定する規格 ＊2：(Japan Accreditation Board) 日本適合性認定協会 ＊3：(Mutual Recognition Arrangement) 輸出国側の政府が指定した第三者機関
が輸入国側の基準及び適合性評価手続に基づき適合性評価を行った場合に、輸入国側がその評価結果に対して輸入国内で実施した適合性評価と同等の保証を与えることについて、お互いに受け入れることを取り決めた協定

17ISO/IEC17025＊1認定試験所での試験対応

二次電池搭載機器の車載EMC試験
詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/emc/auto_emc.html

概要● 車載EMC試験を試作段階から規格適合まで自動車メーカー規格試験で貢献● 車載EMC技術を熟知したiNARTEエンジニアが規格解説などの技術対応●実
 力評価、特殊試験など、豊富な経験と実績による提案から試験まで幅広く対応

特長● JAB

認定試験所として信頼性の高い試験をご提供＊4● 認証機関 立会いのもと電気／電子サブアセンブリ（ESA）の
Eマーク取得試験が可能● 10m法電波暗室で車両のUN R10に準じた実力評価試験が可能
＊2

試験規格例
製品カテゴリ

試験設備の仕様例
主な規格

エミッションCISPR25、JASO Dシリーズ、
UN R10

イミュニティ

ISO11452シリーズ、JASO Dシリーズ、
ISO7637シリーズ、ISO10605、
UN R10

車載電波暗室 6室

サイトの種類EMI測定距離
搬入間口
電界
エミッ
磁界
ション
伝導
イミュニティ
供給
電源容量

AC
DC

ノイズ試験室 2室

リバブレーション
チャンバー
1m
－
－
W1.6m×H1.9m W1.8m×H2.0m W1.2m×H2.0m
9KHｚ～ 6GHz－－
100KHz ～ 30MHz－－
100KHz ～ 200MHz－－
ISO7637-2,3
ISO11452-11
ISO11452シリーズ
ISO10605
80M ～ 6GHz
10k ～ 6GHz
100/200V
100/200V
100/200V
0 ～ 500V、100A 0 ～ 60V、50A
0 ～ 60V、60A
車載電波暗室ノイズ試験室リバブレーションチャンバー

サージ試験

UN R10 車両評価試験

https://www.oeg.co.jp/
お問い合わせ先

Email：oeg-emc-div@oki.com

TEL：0495-22-8411

18計測器管理を総合的にサポート

計測器校正

詳細はこちら ▶ https://www.oeg.co.jp/keisoku/index.html

概要

研究、製造、試験・検査など各工程において様々な計測器が使用されています。これらは正確な測定をするために定期的な校正が必要です。ISO/IEC17025認定の高品質な校正サービスを提供し、引取・出張校正対応、校正周期管理など計測器管理を総合的にサポートします。

特長● ISO/IEC17025認定取得（A2LA）、50年の実績と確かな品質● 国家標準へトレーサブルな体系を確立した校正● メーカーを問わない計測器の校正

特急対応

引取納品

最短3営業日

無梱包で可

一括受託

管理サービス

アウトソーシング

校正時期の連絡

出張校正

休日も対応

納期

標準：2週間ISO17025認定事業者として、国際標準へトレーサビリティが確保された校正を実施します。
IATF16949（自動車関係）、ISO13485（医療関係）、電波法などの校正に対応します。

A2LA
A2LA（American Association for Laboratory Accreditation） 
米国試験所認定協会

Certiﬁcate #4727.01

ISO/IEC17025認定校正
電圧、電流
電力測定器

実施可能機器デジタルマルチメータ

漏洩電流計

標準信号発生器

ファンクションジェネレータ

RFパワーメータ/センサ クランプオン電流計

発振器、電源シンセサイザ
信号発生器
直流安定化電源
分析器
波形測定器

標準電圧電流発生器

デジタルパワーメータ

スペクトラムアナライザ
EMIテストレシーバ
周波数カウンタ

ノイズシミュレータ

定電圧、定電流発生器

ネットワークアナライザ
デジタルオシロスコープ
データロガー※A2LA校正は認定された校正ポイントで対応いたします。詳細はご相談ください。

19

回路定数等
測定器
EMC
関連機器
温湿度関連
機械系

標準抵抗器

標準コンデンサ

同軸可変減衰器

インピーダンスアナライザ

ISN、CDN

雷サージシミュレータ

可変抵抗器
LISN

EM CLAMP

恒温恒温槽

温度サイクル槽
熱衝撃試験槽LCRメータカレントプローブ
バースト試験器

温度データロガー

トルクレンチ

歪（ひずみ）計校正可能測定器例 （記載のないものは、ぜひお問い合わせください）
電圧・電流・電力測定器
標準電池
表面電位計
RMS電圧計クランプオン電流計
漏洩電流計
標準電圧電流発生器
デジタルマルチメーター
デジタルパワーメーター
RFパワーメーター
直流・交流 電圧電流計
回路定数等測定器
標準抵抗器
可変抵抗器
標準コンデンサー
キャパシタンスブリッジ
容量計
標準自己インダクタンス
可変抵抗減衰器
擬似ケーブルフィルター
ミリオームメーター
LCRメーター
インピーダンスアナライザー
絶縁・耐圧試験器
電源関係装置
直流安定化電源
定電圧・定電流電源
電子負荷装置
温度・湿度関連装置
温度計・湿度計
温度記録計

表面温度計
デジタル温度計
放射温度計
サーモグラフィ
熱電対
恒温恒湿槽
熱衝撃試験槽
冷熱衝撃装置超低温恒温恒湿器槽
プレッシャークッカー
クリーンオーブン
自記記録温度計
発振器・信号発生器
標準周波数発生器
シンセサイザー
標準信号発生器
ベクトル信号発生器
スイープジェネレーター
パルス発生器ファンクションジェネレーター
白色雑音発生器
ノイズシミュレーター
分析器（アナライザー）
スペクトラムアナライザー
FFTアナライザー
ロジックアナライザー
プロトコルアナライザー
オーディオアナライザー
モジュレーションアナライザー
ネットワークアナライザー
周波数・時間・波形測定器
ユニバーサルカウンター

周波数分析器
位相計
ミリセコンドメーター
デジタルオシロスコープ
デジタルメモリスコープ
ストップウォッチ
光関連装置
光パワーメーター／センサー
光減衰器
光マルチメーター
光源・可変波長光源
光波長計
光スペクトラムアナライザー
光チャンネルセレクター
光方向性結合器
光終端器
光反射測定器
光増幅器
光プレシジョンリフレクトメーター
記録装置
X-Yレコーダー
ハイブリッドレコーダー
データロガー
増幅器
直流増幅器
電力増幅器
RF増幅器
半導体関連装置
LSIテストシステム
オートハンドラー
ウエハープローバー
バーンインシステム

機械系
ノギス
マイクロメーター
トルクメーター
トルクアナライザー・テスター
トルクドライバー・レンチ
工具顕微鏡・投影機
秤・電子天秤
プッシュプルスケール
テンションゲージ
ピンゲージ
ダイヤルゲージ
ハイトゲージ
変位計
動／静歪計
膜厚計
圧力計
角度計・プロトラクター
傾斜計
その他
騒音計
照度計
電話試験器
モデムテスター
符号歪測定器PCMテスターベルト張力計
回転計
反射濃度計
PXI計測ボード
振動計

計測器校正の流れ（お問い合わせ～納品まで）
品名・型式・メーカー名をご連絡いただければ、すぐにお見積いたします。お気軽にご連絡ください。

1

お問い合わせ2

お打合せ・お見積り● 御社のご要望に応じた校正方法を提案し見積書をご提示します。

3

ご注文● 弊社営業担当者にご連絡ください。

4

測定器引取り● 弊社所有車または契約運送会社により無梱包にて引取いたします。

5

校正実施

● 校正内容はメーカー仕様等により良否判断をしています。

6

納入書類・測定器納入● 検査成績書／校正証明書、トレーサビリティチャートを発行いたします。

● お電話、Web、電子メール、FAXなどにてお問い合わせください。

● 引取り納品方法をお打ち合わせさせて頂きます。

● 弊社校正依頼書にご記入の上、FAXなどで送付頂いても結構です。

● 宅配便でもお預かりいたします。クッション材使用など梱包にご注意ください。

● 不合格時、メーカーへの修理依頼なども行います。

● ご希望により、校正ラベルを貼付けいたします。

https://www.oeg.co.jp/
お問い合わせ先

Email：oeg-keisoku-div@oki.com

TEL：0495-22-7112

20

サービス利用のご案内

認定資格● ISO 9001の認証登録
登録：1997年4月21日
登録番号：QC97J1001（JACO）
対
象：本社（東京）および
サービス拠点（蕨、本庄、東久留米）● ISO 14001の認証登録

登録：1997年2月25日
登録番号：EC99J2072● IECQ独立試験所の認証取得

認
定：1988年11月29日
認定番号：IECQ-L JQAJP 13.0002● JAB試験所認定取得（ISO/IEC 17025：2017による）認
定：2010年7月6日（EMC試験所）
認定番号：RTL03100
認
定：2019年12月17日（環境試験所）
認定番号：RTL04710● A2LA校正機関として認定取得

認

定：2018年3月7日

認定番号：4727.01
対象：EMIテストレシーバー、
デジタルマルチメータ、
オシロスコープ、恒温恒湿槽 等

お客様の求める高品質を実現します。
お客様のお困りごとを解決できる
ご提案を致します。

ご要望に応じて、オンラインでのご相談、立ち会い試験・解析も承っております。
お気軽にご相談ください。

1. お問い合わせ
OKIエンジニアリングのホームページのお問い合わせからお申し込みください。
https://www.oeg.co.jp/company/
support.html
E-mail：oeg-web-adm@oki.com
でも受け付けております。

2. 打ち合わせ・お見積もり
お客様のご要望に応じた、試験・評価・解析・分析・
校正・調査方法をご提案し、お見積もりをご提示いたします。

3. ご依頼
見積書をご確認後、注文書等および対象試料等をお送りください。

4. 試験・評価・解析・分析・校正・調査
ご依頼内容に応じた、試験・評価・解析等を実施いたします。

5. ご報告・納品
試験・評価・解析等終了後に報告書を提出、校正品を納品いたします。ご要望に応じ、出張報告または説明会なども実施いたします。

6. お支払い
お支払い条件に基づき、当社指定口座にお振込みいただきます。

お問い合わせ先〒179-0084
                東京都練馬区氷川台3-20-16
代表（5920）
2300
TEL. 03

URL https://www.oeg.co.jp/

サミット

ファミリーマート© Oki Engineering Co.,Ltd. N.2024.03