NDT フラッシュ Vol.72 No7

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NDT フラッシュの 10 年を振り返ってはじめに
NDTフラッシュは，NDIS 0601による技術者のための情報誌「インスパート」に替わり，機関誌の2003年7月号から巻末に掲載が開始され，この7月でちょうど21年目を迎えた。長きにわたり継続できているのも，執筆・編集に携わる方々の努力，ならびに読者の皆様の支援に他ならないであろう。現在では資格件数も86,206件(2022年4月1日時点)とNDTフラッシュが発刊された2003年時点から45%も増加しており，資格の新規取得や再認証に取り組まれる方はもとより，資格取得に間接的に携わる人々からもNDTフラッシュに対する要求が高くなっていると感じている。そのため記事内容については継続して改善に努めてきた。
発刊から10年目の振り返 りについては ，掲載開始に 尽力された当 時の認証広報 委員長の守井 隆史氏が機関 紙
Vol.61,No.12に寄稿しており，そちらを参照していただくこととし，ここでは，この10年間を中心に振り返ってみたい。
NDT フラッシュの編集と記事内容
記事は，この青地を特徴とした紙面に掲載されており，トピックス等により多少の変動はあるが 4 ページの分量が基本となっている。なお，協会ホームページ（http://www.jsndi.jp/qualification/index7n.html）にも 1 か月遅れではあるが PDFファイルで公開している。
編集は，委員長を含めて 10 数名の委員で組織されている認証広報委員会（以下，委員会）が担っている。各部会等で執筆された原稿は，複数人の委員で事前に査読を行い，委員会での審議を経たのち，掲載計画に則り発行されている。
委員全員が審議に関わることで，専門以外の人にも理解できる内容となるように務めており，幅広く非破壊検査技術の知識を得るための教材としても有益であろう。
記事の編集コンセプトは，掲載開始時から大きな変更はなく，主たる内容は大きく二つある。一つは試験問題の解説である。とくに正答率の低い問題の類題を用いて，間違いやすい箇所や理解すべきポイントを易しく解説しており，受験生だけでなく教育を担当されている方々にも評価を得ていると感じている。もう一つは受験情報である。これは受験者数や合格率，そして資格件数などの統計情報に加えて，試験方法や試験に使用する機器の変更などの情報の提供である。合格率は，受験者にすれば問題の難易度レベルの認識になるであろう。また教育側からは合格実績評価のベンチマークとしても活用されているであろう。その他には，認証資格関連でのトピックス等があれば随時掲載を行っている。
図 1 には，掲載記事ページ数の推移を示している。この 10 年では新たな企画として「技術者ウオッチング」を開始した。

図1

掲載記事ページ数の推移

技術者ウオッチングとは技術者ウオッチングは，主にレベル 3 資格を保有されている技術者の紹介記事である。人選は委員会での推薦が主であるが，委員以外の推薦や自薦も受け付けている。内容は本人のポートレイトならびに職歴や保有資格の基本的な情報に加えて，資格取得のための勉強の工夫や努力，資格取得が実務にどのように役に立っているか，また非破壊検査に対NDT フラッシュ Vol.72 No7

2/6する考えや想い，そして課題など，自らの経験を自由に執筆していただいている。これらを通して，これからレベル 3 を含めて資格を取得する方への受験勉強へのモチベーション向上につながるものと確信して企画したものである。もちろん受験される方だけでなく，すでに資格を保有し非破壊検査業務に関わっているみなさんにとっても，技術者としての生きざまなりを垣間見ることができる記事でもあることから，この分野への自負がさらに醸成されるに違いないであろう。
図 2 は本記事にて 2013 年から 2022 年に掲載した技術者の年齢分布を示している。この 10 年間で 35 名を紹介した。40 代と 50 代の中堅層の紹介が少ない点は課題として残るが，幅広い年齢層の方を紹介できていると考えている。同年輩の方々の活躍の様子は，自身への励みにもなるだろう。問題解説や試験情報などの直接的な記事とは違い，技術者の内

図2

技術者ウオッチング掲載者年代面に訴求する記事として興味をもっていただけるだろう。
新たな情報提供の取組み
NDT フラッシュの主たる記事は，正答率の低い試験問題の類題による解説ではあるが課題もある。それは，取り上げるべき部門が多く，かつレベルの違い，さらに一次試験と実技試験などで細かく分類されることから，読者自身が希望する記事が頻度高く掲載されるわけではないということや，紙面の都合から，取り上げられる類題の数も限られたものになるということである。受験者にとってはより理解を深めるべき内容を広く認識する必要があるだろうし，また直近で受けた試験などでどのような問題の正答率が低かったかなどは，今後の受験準備へのフィードバックの意味でも重要である。教育に関係する人にとっても，受験者の不得意部分をタイムリーに把握して改善策に供することもできるだろう。そこで，認証広報委員会では，試験委員会とも協力して検討を行い，一次試験での正答率の低い問題について，項目のみとはなるが，全部門について早期に公開する仕組みを構築した。これらは公開の迅速性から，機関誌紙面ではなく協会ホームページの NDT フラッシュのコーナーに掲載予定である。この記事を目にする 7 月には 2023 年春期試験における結果が掲載されるであろう。NDT フラッシュの記事と合わせて，是非参考にしていただきたい。
今後の NDT フラッシュに向けて冒頭で資格件数について言及したが，図 3 には近年の資格件数の推移を示す。2003 年から 2012 年にかけては 43%の件数増加があったが，この 10 年はマクロ的には横ばいの傾向である。ミクロ的には 2017 年から漸減しているが，最も落ち込んだ 2020 年からは漸増傾向となっている。経年設備の老朽化問題が顕在化し，また原子力発電所の寿命延長が議論されているなど，今後の非破壊検査技術者の必要性は増えていくことは必然であろう。現に新規受験申請数だけでも年間で 10,000 件を超えている状況である。また，この 10 年での大きな出来事の一つは 2020 年初旬からの拡大した新型コロナウイルスの感染であろう。
現在は，ようやく落着きを見せてきてはいるものの，リモートワークの拡大など，働き方の様相を大きく変える要因ともなった。非破壊検査技術者にとっても業務や資格取得環境に少なからず影響があったと思われる。
NDT フラッシュでは，こういった社会や環境の変化に対して，求められる情報ニーズを的確に捕らえて，さらなる有益な情報提供ができるように今後も努めてゆきたい。
（元認証広報委員長藤原弘次）
図3

JIS Z 2305 資格登録件数推移

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ＰＴ・ＰＤレベル２

一般・専門試験のポイント

問３

PD

次の文は，きず指示模様の観察について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
PT 及び PD レベル２の一般・専門試験について，正答（ａ）染色浸透探傷試験の場合，試験面の照度は 1000 lx以上なければならない。

率の低い最近の問題の類題について解説する。
問題番号の後に PT とあるものは PT 向けの問題で，（ｂ）蛍光浸透探傷試験の場合，試験面の紫外線の放射照度は 80 lx 以下でなければならない。

PD とあるものは PT 及び PD の共通の問題である。

（ｃ）蛍光浸透探傷試験の場合，周囲を若干明るくする
一般試験の類題必要があり，少なくとも 20 lx 以上なければなら問１ない。

PT

水が混入すると能力が低下する探傷剤は次のうちどれか。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

（ｄ）染色浸透探傷試験，蛍光浸透探傷試験のいずれの場合も，観察は明視の距離で行うのがよい。

（ａ）水洗性浸透液（ｂ）溶剤除去性浸透液（ｃ）湿式現像剤（ｄ）後乳化性浸透液

正答

（ｄ）

JIS Z 2323:2017 において，色調コントラストによる方法，すなわち染色浸透探傷試験の場合，「観察時の試験面正答（ａ）の照度は，500 lx 以上でなければならない」と規定され水洗性浸透液には乳化剤が含まれており，水が混入すており（ａ）は誤りである。蛍光による方法の場合，「試ると一部が乳濁液となり粘度が上昇するため探傷剤とし験面の紫外線の放射照度は 10 W/m2 以上」で，「周囲の照ての能力は低下する。したがって正答は（ａ）である。

度は 20 lx 以下とする」とされており，（ｂ）（ｃ）は誤り溶剤除去性浸透液及び後乳化性浸透液は油が主成分で，である。

水だけでは洗い流せないことからもわかるように水とは疲れを感じることがなく明視を続けられる最も近い点容易に分離し，水の混入が探傷剤の能力に影響を与えるが「明視の距離」（通常は約 25 cm）であり，検査を連続ことはない。したがって（ｂ）及び（ｄ）は誤りである。

して行うにはこの距離で観察することが望ましい。した

湿式現像剤はもともと水に懸濁させて使用することから，がって正答は（ｄ）である。

多少の水が混入したとしても影響はなく（ｃ）も誤りである。
問４

PD

次の文は，指示模様の解釈の定義について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答え
問２

PD

次の文は，タイプ１対比試験片（めっき割れ対比試験片）について述べたものである。正しいものをよ。
（ａ）現像処理した試験体表面に適正な現像剤塗膜が塗一つ選び，記号で答えよ。

布されていることを確認した後，正しい観察条件（ａ）割れの深さが一定である。の下で浸透液による指示の有無を調べる行為をい（ｂ）大きな割れと小さな割れが混在している。

う。

（ｃ）材質はアルミニウムである。
（ｄ）繰り返し使用はできない。

（ｂ）指示が認められたならば，指示の発生状況，発生個所などから指示の発生原因を考え，合否判定の対象にされている種類のきずによる指示模様であ正答（ａ）るかどうかを探る行為をいう。

タイプ１対比試験片は，黄銅板上に一定の厚さのめっ（ｃ）指示模様を評価した結果，受け入れ基準の対象とき（ニッケルめっき及びクロムめっき）を行い，めっきされている種類のきずによる指示と判断された場

面を外側にして曲げてめっき層に細かな割れを発生させ合に，その形状，寸法，個数，分布状態などを測たものである。割れの深さはめっき層の厚みと等しいこ定し，受け入れ基準により受け入れられるきずなとから一定で，繰り返し使用可能である。したがって，のか，受け入れられないきずなのか，に分類する

正答は（ａ）で（ｂ）（ｃ）（ｄ）は誤りである。

行為をいう。

NDT フラッシュ Vol. 72 No. 7 4/6（ｄ）各種の診察技術を用いてきずの有無を調べ，きず（ｂ）溶接直後で適当に温度が下がった状態であれば有機溶剤による前処理は必要ない。の状態，きず発生の原因を判断し，受け入れ基準に基づいて受容され得る性状のものか，そうでな（ｃ）溶接ビード部のスラグは無機質であるため，除去いかを検討すると同時に，そのまま機器の使用をしなくても浸透探傷試験には影響はない。

継続した場合と，直ちに除去し補修した場合に起（ｄ）溶接部の浸透探傷試験では，浸透液は溶接ビードこり得る利害得失を比較し，総合的見地から事後からはみ出さないように塗布するのがよい。の処置を決定する行為をいう。
正答
正答

（ｂ）

（ｂ）

スパッタやスラグ等が表面にあると余剰浸透液を除去（ａ）は観察，（ｂ）は解釈，（ｃ）は評価，（ｄ）は診しにくくなり疑似指示の原因となるなどの影響を受ける

断のそれぞれ定義である。したがって（ｂ）が正答であため，（ａ）及び（ｃ）は誤りである。溶接の直後では油る。

脂類等の汚染はないため，有機溶剤で洗浄する必要はな
く，（ｂ）は正しい。溶接ビードに隣接した熱影響部にも専門試験の類題割れが発生するおそれがあるため，浸透液は隣接した母問５

材部分にも塗布する必要があり，（ｄ）は誤りである。

PD

溶接部に溶剤除去性染色浸透探傷試験を実施する際の前処理と除去処理に使用する溶剤について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）除去処理に使用する場合，スプレー缶入りのものは適切ではない。
（ｂ）除去処理に使用する場合，油脂類の溶解性は要求

問７（ａ）保守検査では，機器の使用中に発生したきず以外は判定の対象ではないため，放置してよい。
（ｂ）組立部品は，分解して検査をするのが一般的であるため，分解前の点検は必要ない。

（ｃ）前処理に使用する場合，油脂類の溶解性が要求されるが，揮発性は要求されないため遅乾性のもの（ｃ）油脂類の脱脂に有機溶剤を用いた蒸気洗浄を利用した場合，試験体の温度が高くなると脱脂効果がが望ましい。

悪くなる。

（ｄ）前処理に使用する場合，同じ溶剤であれば，スプレー缶の方が効果的である。

次の文は，小形部品の保守検査について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

されないが，揮発性は要求されるため速乾性のものが望ましい。

PT（ｄ）機器の使用中に発生するきずは，大きく明瞭であり，使用応力等の関係から検出される位置もほぼ正答推定が可能である。

（ｄ）

除去処理ではいったん溶剤をウエス等に吹き付けてから行うため，スプレー缶入りのものも使用でき，（ａ）は誤りである。また，余剰浸透液を溶解する必要があるため，（ｂ）は誤りである。

正答

（ｃ）

検出されたきずは，発生時期によらず評価が必要であり（ａ）は誤りである。組立部品はその構造にもよるが，前処理に使用する場合，きずの中に入りこんだ溶剤は必ずしも分解して検査する必要がない場合も多く，（ｂ）

素早く蒸発する必要があり，揮発性は必要で，（ｃ）は誤は誤りである。蒸気脱脂では試験体の温度が高くなるとりである。溶剤をスプレー缶で適用すると，物理的な圧効果が低下するため，正答は（ｃ）である。使用中に発力によりきずの中に入り込んだ油脂類を押し出す効果が生するきずには，疲労割れや応力腐食割れなど，微細な期待できることから，正答は（ｄ）である。

ものもあり（ｄ）は誤りである。

問６

次の文は，溶接部の浸透探傷試験について述

要求の基本となる JIS Z 2343-1:2017～-6:2012 だけでなくべたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

JIS Z 2323:2017 などの関連する規格類についても，各参（ａ）溶接部のスパッタは，除去しなくても浸透探傷試考書などを参照し，その規定の根拠を含め理解しておいPD験に悪影響を及ぼさない。てほしい。

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ＥＴレベル２一般・専門試験のポイント

リアクタンス，及びインダクタンスについての解説は電気回路の基礎的な資料を参照することをお勧めする。

JIS Z 2305:2013「非破壊試験技術者の資格及び認証」に基づく ET レベル 2 の新規一次試験は主に参考書であ

問２次の図は渦電流探傷器の表示画面のきず信号を示る『渦流探傷試験Ⅱ』から出題される。本稿では，最近したものである。次は，探傷器の直交出力電圧成分𝑝 ，行われた試験のうち，正答率の低かった問題に類似した

𝑝 と，きず信号の位相角𝜃との間にある関係について示

例題により解答のポイントを解説する。

したものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

一般試験の類題
問１

次の文は，試験コイルに非磁性体金属の試験体を近づけたときの試験コイルのインダクタンスとリアクタンスについて述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）インダクタンス，リアクタンスともに減少する。
（ｂ）インダクタンスは減少，リアクタンスは増加する。
（ｃ）インダクタンス，リアクタンスともに増加する。
（ｄ）インダクタンスは増加，リアクタンスは減少する。

図 2-1 渦電流探傷器の表示画面のきず信号
𝑝 /𝑝（ａ）tan 𝜃
正答（ｂ）tan 𝜃（ａ）

コイルのリアクタンス𝑋は次の式で表される。
𝑋𝜔𝐿

(1-1)

𝑝 /𝑝（ｃ）tan𝜃

𝑝 /𝑝（ｄ）tan𝜃

𝑝 /𝑝𝐿はインダクタンスを示す。コイルの鎖交磁束𝜙とインダクタンスの関係は次の式で表される。
𝑁𝜙

𝐿𝐼

正答
(1-2)

𝑁はコイルの巻数，𝐼は電流を表す。

（ｂ）

図 2-1 の直交座標系において𝑝 ，𝑝 と，きず信号の位相角𝜃の関係は以下のように表せる。

式(1-1)からインダクタンスとリアクタンスは正の比tan

例関係にある。したがって，変化の向きが逆になる（ｂ），（ｄ）は誤りである。ここで試験体が非磁性体金属である場合を考える。非磁性体の比透磁率は空気と同じほぼ1 でありコイル周辺の磁束密度は増加しない。一方で，tan 𝜃𝑝 /𝑝𝑝 /𝑝𝜃

(2-1)
(2-2)

したがって，正答は（ｂ）となる。
上式は渦電流探傷器の表示画面からきず信号の位相を導出するために必要となる。

非磁性体金属の表面にはコイルの発生させる磁束を打ち次は，正弦波交流電圧𝑣 𝑡

𝑉 sin 𝜔𝑡𝜋/4 があ消す方向に渦電流が発生する。つまり，コイルを鎖交す

問３る磁束は減少する。本問題ではコイルの巻数と電流は一り，これと同一周波数で大きさが等しく，1/2 周期だけ位定であると仮定できるので，式(1-1),式(1-2)からインダ相がずれている交流電圧の式について示したものである。

クタンスとリアクタンスは減少する。したがって，正答正しいものを一つ選び記号で答えよ。

は（ａ）となり，「増加」である（ｃ）は誤りである。

（ａ）𝑣 𝑡𝑉 sin 2𝜔𝑡𝜋/4

試験コイルに強磁性体金属を近づけたときは，金属表（ｂ）𝑣 𝑡

𝑉 sin 𝜔𝑡5𝜋/4面に発生する渦電流によって減少する磁束よりも，非磁（ｃ）𝑣 𝑡

2𝑉 sin 𝜔𝑡𝜋/4性体金属より強磁性体金属の数百から数千倍高い比透磁（ｄ）𝑣 𝑡𝑉 sin 𝜔𝑡3𝜋/4率によってコイル周辺の磁束が増加することから，インダクタンスとリアクタンスは増加する。
渦電流探傷試験の測定結果を説明するうえでインダクタンスとリアクタンスは最も重要な要素の一つである。

正答（ｂ）

1 周期は2𝜋，1/2 周期は𝜋である。位相が 1/2 周期進んだ式は以下の式で表される。

NDT フラッシュ Vol.72 No.76/6𝑉 sin 𝜔𝑡𝑣

𝑉 sin 𝜔𝑡

𝜋4ジの𝑅 , 𝑅 とコイル𝐿 , 𝐿 のインピーダンスの大小関係

𝜋5𝜋/4が大きく崩れると SN 比が悪化するため，𝑘は 1/2～1/4，(3-1)

又は 2～4 程度を用いることが多い。

位相が 1/2 周期遅れた式は以下の式で表される。
𝑉 sin 𝜔𝑡𝑣

𝑉 sin 𝜔𝑡𝜋
43𝜋/4𝜋(3-2)

位相を2𝜋の整数分ずらした波形はずらす前の波形と一致することから式(3-1)と式(3-2)は同一波形を表す。選択肢には式(3-1)があることから正答は（ｂ）となる。
図 4-1

ホイートストンブリッジ回路(図の右側)

専門試験の類題
問４

次の文は，内挿プローブを用いた多重周波数法に

問５

電磁誘導試験により，最も容易にめっきや被膜の厚ついて述べたものである。正しいものを一つ選び記号でさ測定ができるものはどれか。次のうちから一つ選び記号答えよ。

で答えよ。

（ａ）渦電流の表皮深さの違いを利用した方法である。

（ａ）ほうろうに塗布したエポキシ樹脂膜（ｂ）厚肉の磁性鋼管の探傷が可能である。

（ｂ）アルミニウム地金上の銅箔（ｃ）雑音の原因が管の外側にある場合，基準となる試（ｃ）鋼板上の亜鉛膜

験周波数とその整数倍の試験周波数を適用する。

（ｄ）鋼板上のニッケル膜（ｄ）雑音の原因が管の内側にある場合には，基準となる試験周波数とその 1/2～1/4 倍程度の試験周波数を適用する。

正答（ｃ）

電磁誘導を用いた被膜厚さ測定は，試験体の母材と被膜の表皮深さの違いを利用している。表皮深さは導電率

正答と透磁率の積のルートに反比例するため，母材の導電率（ａ）

多重周波数法は周波数によってきず信号と雑音信号のと透磁率の積が，被膜のそれに比べて大きく，かつその振幅や位相が異なることを利用し，複数の励磁周波数を比が最も大きい組み合わせが答えとなる。表 5-1 に示す同時に用いてベクトル演算により検出信号から雑音信号ように，電磁気的特性の差が最も大きい組み合わせは（ｃ）のみを選択的に軽減する手法である。きずを最もよく検である。

出できる周波数𝑓 を決定し，雑音の原因に応じて次式で
表 5-1 材質の電磁気的特性(常温)示されるように周波数𝑓 を決定する。
𝑓𝑘𝑓

(4-1)

材質

導電率(IACS％)

比透磁率𝑓 は表皮深さの違いを利用してきず信号より雑音が大きほうろう―1くなる周波数を選択する必要がある。よって正答は（ａ）

エポキシ樹脂―1である。雑音の原因が管外面にある場合は𝑘は 1/2～1/4 程アルミニウム59.51度を用いる。よって（ｃ）は誤りである。雑音の原因が

銅

100

1

管内面にある場合は𝑘は 2～4 程度を用いる。よって（ｄ）

亜鉛28.41

ニッケル24.2100~600

鋼(SPCC 炭素量約 16

数百~数千は誤りである。渦電流探傷は肉厚になるほど探傷は困難になる。多重周波数法を用いてもその特徴は変わらない。
よって（ｂ）は誤りである。
𝑘が 1/10 や 10 などの極端に小さい，又は大きな値を選択すると，コイルのインピーダンスは概ね𝑓 のときの 1/10，又は 10 倍になる。内部に図 4-1 に示すホイートストン
ブリッジを持つ渦電流探傷器は，ホイートストンブリッ

0.05%)