２０１１年春期資格試験結果
2011 年春期資格試験の結果が発表された。新規試験結果（再試験を含む）の合格率は，レベル 1 が 49.8%，レベル 2が 31.0%，レベル 3 が 17.5%であり，2010 年秋期試験と比較すると，レベル 3 が少し上昇しており、レベル 1，2 はほぼ同様であった。受験申請数は，新規試験，再試験，再認証試験を合わせて計 10,648 件であったが，東日本大震災の影響を受けた。このため試験実施日の延期を検討したが、この夏までに延期した試験を実施できなかったために約 4,000 件については一次試験を受験していただくことができなかった。この方々については，2011 年秋期試験に併合しての実施を予定している。この結果，実際の受験件数は 7,149 件となった。また JIS Z 2305 認証制度では，登録してから 10 年後の有効期限で再認証試験を受験することになっていることから，2011 年秋から徐々に増加することが予想される。
各表の合格率は［合格者数／（申請者数―欠席者数）］で算出した値である。新規試験結果を表１に，レベル 3 の新規基礎試験結果を表２に，再認証試験結果を表３に示す。

表１

ＮＤＴ方法

略称

新規試験結果（再試験を含む）

レベル１＊1

レベル２＊1

レベル３＊1

申請者数 合格者数 合格率 % 申請者数 合格者数 合格率 % 申請者数 合格者数 合格率 %放射線透過試験

RT

381848.7

510

148

32.6

125

3330.3

超音波探傷試験

UT

26412650.6

1201

32.3

514

5512.0超音波厚さ測定UM

1066063.8358－

磁粉探傷試験

MT

852735.51119

16115.4

213

179.76727.4－

極間法磁粉探傷検査

MY602034.5

通電法磁粉探傷検査

ME6240.0－ｺｲﾙ法磁粉探傷検査

MC100.0－

浸透探傷試験

PT22611253.61270

48041.2

溶剤除去性浸透探傷検査

PD793243.8357148－

44.9

10410－

10.6－－277－－

水洗性浸透探傷検査

PW

00

渦流探傷試験

ET4021―53.935388

26.7

79912.3

ひずみ測定

SM7457.1

97

37

42.5

116

60.0

912

422

49.8

5,011

1,430

31.0

1,219

187

17.5

合計

表２ レベル３新規基礎試験結果

ＮＤＴ方法
基礎試験

略称 申請者数 合格者数 合格率736
79 18.0%
―

表３

ＮＤＴ方法

略称放射線透過試験

RT

注＊1：各部門の申請者数は一次（新規, 再試験）と二次のみ（新規,再試験）の合計数

再認証試験結果

レベル１

レベル２

レベル３

＊2

申請者数 合格者数 合格率% 申請者数 合格者数 合格率% 申請者数 合格者数 合格率%
0000100.0－－

超音波探傷試験

UT22100.0

超音波厚さ測定UM00－

00－－00－－磁粉探傷試験

MT00－

00－

10.00－0－0－0－0－

極間法磁粉探傷検査

MY0

通電法磁粉探傷検査

ME0ｺｲﾙ法磁粉探傷検査

MC00－

－

浸透探傷試験

PT00－

3266.7

溶剤除去性浸透探傷検査

PD

00－

0PW

00－0－

－

水洗性浸透探傷検査
渦流探傷試験

ET00－

00－

00－

ひずみ測定

SM00－

00－

00－

22100.0

3266.7200.0合計

注＊2：レベル 3 クレジット申請は除く－－00－－－

非破壊試験技術者資格登録件数（2011 年 4 月 1 日現在）
JIS Z 2305 による資格認証制度が 2003 年に発足して 7 年が経過した。NDIS 0601 資格からの移行は昨年までで終了し，JIS Z 2305 資格に一本化された。今回 2011 年 4 月時点での資格登録件数をまとめた。集計の結果，資格登録件数は，約81,000 件となった。JIS Z 2305 資格の NDT 方法別資格登録件数を表１に示す。また，NDT 方法別比率を図１に示すが，PT と UT で全体の約 70％を占めること分かる。JIS Z 2305 資格登録件数には，
NDIS 0601 資格からの移行者の両方を含む。
また，2003 年以降の JIS 資格者と NDIS 資格者の資格登録件数の推移を図２に示す。資格登録者の内訳は，従来と同様におおよそレベル 1 が 20%，レベル 2 が 70%，レベル 3 が 10%である。資格登録件数の全体としては，JIS Z 2305 の認証制
度開始時点と比較すると年々漸次増加しており，現在は約 35%の増加となっている。

表１

非破壊試験技術者資格登録件数

ＮＤＴ方法

略称

単位：件

JIS Z 2305
ﾚﾍﾞﾙ1

ﾚﾍﾞﾙ2

ﾚﾍﾞﾙ3

放射線透過試験

RT

388

5,721

1,910

8,019

超音波探傷試験

UT

6,225

14,6093,001

23,835

超音波厚さ測定

UM

2,813

―

―

2,813

磁粉探傷試験

MT

491

9,617

536

10,644極間法磁粉探傷検査

MY888

573

1,461

通電法磁粉探傷検査

ME

129

ｺｲﾙ法磁粉探傷検査

MC

85―
――
――

浸透探傷試験

PT

1,610

19,3781,083

22,071

溶剤除去性浸透探傷検査

PD

2,783

3,145

PW

65―

――

5,928

水洗性浸透探傷検査
渦流探傷試験

ET

175

3,643535

4,353

ひずみ測定

SM179

1,189253

1,621

15,831

57,875

7,318

81,024

総計

ＳＭ2%

ＥＴ
5%

計

ＲＴ10%

ＵＴ
33%

ＰＴ35%

12985

ＭＴ15%

65

図１ ＮＤＴ方法別比率－：該当資格なし

件数
90,00080,000

JIS ﾚﾍﾞﾙ 3

70,00060,000

3種

NDIS

50,000

JIS ﾚﾍﾞﾙ 2

40,00030,00020,00010,000

NDIS

2種

NDIS

1種

JIS ﾚﾍﾞﾙ 102003

2004

2005

2006
図２20072008

非破壊試験技術者登録件数推移

20092010

2011
年

ＲＴレベル１

一次一般試験問題のポイント

しいものを選び，記号で答えよ。[ Ｅ ]（ａ）α 線は電子の流れである。

RT レベル 1 の一次試験については，54 巻 1 号に一般（ｂ）β 線はヘリウムの原子核の流れである。

試験問題及び専門試験問題を，55 巻 2 号及び 58 巻 11 号（ｃ）中性子線は陽子線，重陽子線の流れである。に一般試験問題を取り上げて解説を行った。今回は最近（ｄ）X 線，γ 線は電荷を持たない放射線である。の一次試験の一般試験問題で比較的解答にばらつきが多く，正答率が低かった問題を選んで解説を行い，受験者正答[ Ｅ ]（ｄ）

この問題も電離放射線の基本である α 線，β 線，中性の参考にしたい。
一般試験問題は 40 問出題され，四者択一形式により正子線，X 線及び γ 線について，それぞれの本性をしっかしいもの，又は誤っているものを選ぶ形式と，一つの文り理解していれば，なんでもない問題であるのに，解答章問題の中に複数問が設けられて，それぞれに四者択一はばらついていた。特に，（ｃ）にマークした者がかなりの解答が示されている形式がある点では，従来と変わっいて理解のあいまいさが覗えた。もう一度しっかりと確てはいない。専門試験問題と共に 70％以上の正答で合格認して欲しい。となる。
問３
問１

次の文は，電磁波とスペクトルについて述べたものである。
［ Ａ ］～[ Ｄ ]に入れる適切な語句を解答

次の文は，Ｘ線装置の接続手順について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。[ Ｆ ]（ａ）制御器をアース→制御器と X 線発生器を低圧ケーブルで接続→制御器と電源間を電源ケー群からそれぞれ一つ選び，記号で答えよ。
金属原子の外郭電子（軌道電子）が励起されることにブルで接続→電源を確認よって発生する電磁波を[ Ａ ]といい，そのスペクトル（ｂ）制御器と X 線発生器を低圧ケーブルで接続は[ Ｂ ]である。また，原子核壊変によって発生する電制御器と電源間を電源ケーブルで接続磁波を[ Ｃ ]といい，そのスペクトルは[ Ｄ ]である。

器をアース→電源を確認（ｃ）電源を確認→制御器と電源間を電源ケーブル[解答群][ Ａ ]（ａ）特性 X 線（ｃ）連続スペクトル[ Ｂ ]（ａ）特性 X 線で接続（ｄ）線スペクトル発生器を低圧ケーブルで接続[ Ｃ ]（ａ）特性 X 線（ｃ）連続スペクトル[ Ｄ ]（ａ）特性 X 線制御器と X 線

制御器をアース→制御器と→制御器と（ｂ）γ 線

電源間を電源ケーブルで接続（ｄ）電源を確認→→

X 線発生器を低圧ケーブルで接続（ｄ）線スペクトル（ｂ）γ 線（ｃ）連続スペクトル制御器をアース

制御（ｄ）線スペクトル（ｂ）γ 線（ｃ）連続スペクトル→（ｂ）γ 線→→（ｄ）線スペクトル

正答[ Ｆ ]（ｄ）

携帯式の一体形 X 線装置を撮影の現場などで接続を行う場合には，基本的な順序がある。（ｄ）が正答であり，正答[ Ａ ]（ａ），[ Ｂ ]（ｄ），まず最初に電源を確認することが大切である。次に制御[ Ｃ ]（ｂ），[ Ｄ ]（ｄ）

器をアースし，低圧ケーブル，電源ケーブルの順で接続

連続 X 線と特性 X 線の発生の仕組み，連続スペクトルすることを，しっかりと覚えておこう。と線スペクトルの違い，γ 線の発生の仕組みという基本的なことを明確に理解していれば，全く問題ないはずで

問４次の文は，線量率について述べたものである。

あるが[ Ｂ ]の解答で（ｃ）の連続スペクトルにマーク[ Ｇ ] ～[ Ｊ ]に入れる適切な数値を解答群からそした者がかなりいた。連続 X 線は連続スペクトル，特性れぞれ一つ選び，記号で答えよ。

X 線は線スペクトルであることをもう一度確認して欲しX 線焦点から 1 m 離れた点での線量率を 1 としたとき，80 cm と 60 cm 離れた点での線量率は，それぞれの[ Ｇ ]い。

倍及び[ Ｈ ]倍である。また，逆に 1.2 m，1.4 m 離れれ
問２

次の文は，放射線について述べたものである。正ば，それぞれ[ Ｉ ]倍及び[ Ｊ ]倍となる。

かなりいた。

[解答群][ Ｇ ]（ａ）1.56 （ｂ）1.67 （ｃ）2（ｄ）2.78[ Ｈ ]（ａ）1.56 （ｂ）1.67 （ｃ）2（ｄ）2.78[ Ｉ ]（ａ）0.51 （ｂ）0.69 （ｃ）0.71 （ｄ）0.83[ Ｊ ]（ａ）0.51 （ｂ）0.69 （ｃ）0.71 （ｄ）0.83

問６

次の文中の[ Ｏ ]～[ Ｒ ]に適する語句を解答群からそれぞれ一つ選び，記号で答えよ。
(1) 透過写真の濃度は[ Ｏ ]を使用して測定する。
(2) 濃度の測定方法を大別すると[ Ｐ ]と視覚式がある。

正答[ Ｇ ]（ａ），[ Ｈ ]（ｄ），[ Ｉ ]（ｂ），[ Ｊ ]（ａ）(3) 濃度計は，アナログ方式又はデジタル方式で，濃度値が数字で表示される。

放射線の線量率は，焦点からの距離の自乗に反比例の(4) 濃度計は[ Ｑ ]に[ Ｒ ]しなければならない。
[解答群]

関係が成立する。
X 線の焦点から d1 の位置における線量率を I1 ,d2 の[ Ｏ ]（ａ）濃度計（ｂ）輝度計

位置における線量率を I2 とした場合に，I2 ／I1 =( d1／（ｃ）照度計（ｄ）温度計ｄ2 )2 であるから，d1 を 1 m，d2 を 0.8 m とすれば，I2[ Ｐ ]（ａ）携帯式（ｂ）輝度式は(1／0.8)2 =1.56 となる。同様に，（1／0.6）2 =2.78, ( 1（ｃ）光電式（ｄ）据置式

22／1.2 ) = 0.69, ( 1／1.4 ) =0.51 が得られる。

[ Ｑ ]（ａ）定期的（ｃ）不具合時

問５

次の文は，Ｘ線フィルムについて述べたものであ[ Ｒ ]（ａ）電池交換（ｃ）校正る。[ Ｋ ]～[ Ｎ ]に入れる適切な語句を解答群から（ｂ）5 年経過後（ｄ）数十年後（ｂ）廃棄（ｄ）オーバーホールそれぞれ一つ選び，記号で答えよ。
X 線フィルムは，主に[ Ｋ ]と[ Ｌ ]によって分類さ正答れる。前者は微細なきずの検出に影響する。一般に[ Ｍ ]フィルムは粒状性が良く，増感紙なし又は[ Ｎ ]増感紙

[ Ｏ ]（ａ）,[ Ｐ ]（ｃ）,[ Ｑ ]（ａ）,[ Ｒ ]（ｃ）

濃度計についての問題であるが、[ Ｐ ]において（ｂ）と組み合わせて使用される。の輝度式にマークした者がかなりいた。問題では測定方[解答群]法を聞いているのであるから、光電式しかない。

[ Ｋ ]（ａ）感度（ｂ）濃度（ｃ）フィルムコントラスト[ Ｌ ]（ａ）階調（ｃ）粒状性[ Ｍ ]（ａ）高感度（ｃ）蛍光[ Ｎ ]（ａ）高感度（ｃ）蛍光（ｄ）重さ

問７

次の文は，電離放射線障害防止規則について述べ（ｂ）ベース材料たものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

（ｄ）厚さ

[ Ｓ ]

（ｂ）金属箔

（ａ）放射線業務従事者の受ける実効線量は 1 年間に30 mSv を超えてはならない。

（ｄ）低感度（ｂ）金属箔

（ｂ）放射線業務従事者の受ける実効線量は 1 年間に30 μSv を超えてはならない。

（ｄ）低感度（ｃ）放射線業務従事者の受ける実効線量は 5 年間に正答[ Ｋ ]（ａ）,[ Ｌ ]（ｃ）,[ Ｍ ]（ｄ）,[ Ｎ ]（ｂ）

100 mSv を超えてはならない。
（ｄ）放射線業務従事者の受ける実効線量は 5 年間に工業用 X 線フィルムは感度と粒状性によって分類され，100 μSv を超えてはならない。

使用目的によって選択される。作業能率から考えれば，感度の高いものが有利であるが，微細なきずの検出には正答[ Ｓ ]（ｃ）

感度を犠牲にしても，低感度の粒状性のよいフィルムが電離放射線障害防止規則は放射線検査を行う技術者に選択される。また，低感度フィルムは粒状性を損なわなとっては，しっかり理解しておく必要のある規則である。

いように，増感紙なし又は鉛箔のような金属箔増感紙とこの問題のような重要な規制値は，特にあいまいな記憶の組み合わせで使用される。[ Ｍ ]において（ａ）の高では問題である。解答がばらつき（ａ）にマークした者感度に，[ Ｎ ]において（ｃ）の蛍光にマークした者ががかなりいたことは残念である。