早期移行試験の受験についてに早期移行している場合は，この訓練時間がレベル２の受験に1 概要必要な時間のみとなる。

2003 年春期より非破壊試験資格者の認証は，JIS Z 2305 によ(3) JIS Z 2343「非破壊試験―浸透探傷試験」を適用された場り実施されるようになった。従来から行われていた NDIS 0601

合，試験員は JIS Z 2305，JIS G 0431，JIS W 0965 のいずれかによる資格者は移行試験を受験し，合格することにより NDISの資格者を要求される。しかし，（社）日本非破壊検査協会では0601 資格から JIS Z 2305 資格に移行する。この移行試験には通会告で「NDIS 0601 を JIS Z 2305 と読み替えることができる」

常移行試験と早期移行試験がある。通常移行試験は春期，秋期との見解を示している。したがって，現状では多くの場合 NDISの定期試験時に実施している。早期試験は早期に NDIS 0601 か0601 資格で業務の遂行は可能であると思われるが，業務の中でら JIS Z 2305 資格へ，移行を希望する方のために現在年１回実

特に JIS 資格を要求される場合に対しては，予め計画的に早期施している。ここでは早期移行試験について説明する。

移行試験で JIS 資格に移行しておいた方が良い。

2 移行試験について

4 2004 年の早期移行試験

移行試験は従来の NDIS 0601 と新たな JIS Z 2305 の資格認証

2004 年の早期移行試験は 5 月 20 日（木）に実施される。申請の差異のある部分について追加試験を行い，JIS Z 2305 資格に書の受付期間は 2 月 23 日（月）〜3 月 5 日（金）である。試験移行するものである。JIS Z 2305 資格は国際規格 ISO 9712 と同の実施される場所は東京，大阪，福岡の３ヶ所である。早期移等のレベルになるようにしているため，ISO 9712 で要求してい行試験の実施は今のところ年１回の予定なので，早期に移行しる範囲と従来の NDIS 0601 資格で要求していた範囲の差異のあようとする方は忘れないように申請を行う必要がある。１種保る部分について追加試験する。１種はこの差異がないため申請有者の方についてもレベル 1 に移行を希望する方はこの期間にだけでレベル１に移行することができる。したがって，移行試申請を行っておく必要がある。早期移行試験の受験を希望する

験はこの差異のある２種と３種について行われる。

方は JSNDI から発行されている「早期移行の資格試験実施案内」

２種の不足な部分はレベル 1 技術者に対する NDT 指示書の作成であり，各部門毎に具体的な NDT 作業に対する NDT 指示書の作成を要求される。
また，３種の不足な部分は認証規定に関する知識で，JIS Z2305 などの認証規定に関する内容について試験される。
通常移行試験は従来の NDIS 0601 の有効期限時に更新試験（JIS では再認証試験）と移行試験を受験し双方が合格することにより，JIS Z 2305 資格に移行する。
早期移行試験は NDIS 0601 資格保持者が有効期限に達する前に JIS Z 2305 資格へ移行しようとするもので，受験し合格によを入手し，申請書に必要事項を記入して（社）日本非破壊検査協会に送付する。
早期移行試験の試験時間はレベル２，レベル３とも１時間の，筆記試験で，受験料は１部門消費税，手数料込み，計 6,570 円，レベル１，レベル３で申請のみの場合は認証手続料，消費税，手数料の計 3,420 円である。レベル３をｎ数申請する場合は，１受験料＋(n‑1)手続料が必要となる。
実施案内の詳細は協会 HP よりダウンロードすることができる。
5 移行試験の内容(1) レベル３

り JIS Z 2305 資格へ移行できる。ただし，この場合 JIS Z 2305

レベル３の移行試験問題は認証規定に関する問題で，各部門資格は従来有していた NDIS 0601 資格の残存有効期間が有効期共通である。問題は四者択一で 20 問以上である。70%以上の得限となる。
（この有効期限は従来 NDIS 0601 資格の取得から 6 年点を取得したものが合格となる。

目までである）したがって，有効期限までの期間の少ない方はレベル３は各部門共通であるため一度移行試験に合格すると多少のリスクがあっても，再認証試験時に移行試験を受験する

他の部門では移行試験は免除される。しかし申請をした部門のほうが，二度手間とならなくて良い。

みしか移行できないため，移行を希望する複数の資格を保有し3 早期移行試験受験の必要性ている場合は、各資格について申請が必要である。

(1) 新たにレベル３を受験しようとする方で，レベル２資格の(2) レベル２未保有者は実技試験が課される。実技試験のリスクを回避する

レベル２の移行試験問題は NDT 作業指示書作成の問題で，各ためにはレベル２を有している方が有利である。

部門の実務の作業を例にとって，添付されている作業手順書をこれは従来の NDIS 0601 の２種は，移行前はレベル２として認参照して解答する問題である。問題はレベル３と同様，四者択められていないためである。

一で 20 問以上である。合否も同様に 70%以上の得点を取得した(2) 1 種資格保有者がレベル２を受験する場合は，レベル１とレものが合格となる。レベル２の問題は各部門で異なるため，そベル２を合わせた訓練時間が必要となるが，１種からレベル１れぞれの部門で申請し，受験する必要がある。

ＵＴレベル１，二次試験の概要とポイント

X
A
Y

ＵＴレベル１の二次試験は垂直探傷試験と斜角探傷試
験，データ整理・答案作成で行われる。試験時間の配分

Aの刻印がある面は表１に示すとおりである。試験時間はトータルで１時間１５分となる。

0 0 00 0

ここでは,レベル１の二次試験内容とポイントについて解説する。
表１

試験項目と時間

項

目

時

試験体番号

間

(1)試験内容の確認(2)実技試験①垂直探傷試験

１５分②斜角探傷試験

３０分③データ整理と答案作成

３０分

図１

垂直探傷用試験体の概要

が 25％を超えるエコーを測定対象のきずとする。次に，
１．試験内容の確認

個々のきずについて測定を行う。測定項目は，きずの深

実技試験に先立ち，試験内容の確認の時間がある。こさ，きずの平面位置（Ｘ，Ｙ），きずエコー高さと底面

こで，実技試験で実施する垂直探傷試験及び斜角探傷試

エコー高さとの比（F/BF）を dB 値で求める。これらの項

験の課題と各々の具体的なＮＤＴ指示書が手渡される。

目を要領よく測定するのが垂直探傷のポイントで，そのこの小冊子にはデータシートも添付されている。試験終注意点と測定手順の一例を次に紹介する。

了後，別室で探傷結果を整理してマークシート式の答案①垂直探触子の保持を作成する。

探触子の持ち方が悪いと，エコー高さが不安定となる。

ＮＤＴ指示書には試験対象となる試験体の概略寸法や実技参考書を参考にして，人差し指は探触子の中央から探傷条件，探傷の手順が書かれている。この時間内に試真下に圧力を加えるようにする。また，測定中はゲイン

験内容の課題について十分に理解しておくことが大切でつまみの操作，電卓の使用や記録などを行うときに左右ある。実技試験では，きずの位置とエコー高さを求めるの手で探触子を持ち替えるのは避けた方がよい。

だけでなく，指示書に従った探傷を実施したか否かも採②きずの検出点の対象となる。
なお，JIS Z 2305 の試験ではデジタル探傷器に限り持きずを見つけたら，最大エコー高さを示す位置に探触子を固定する。この後で，F/BF を求めるために所定のエ込み受験が認められている。

コー高さ（実技参考書では 80％）に合わせる操作を行う。

２．アナログ探傷器による実技試験

最大エコー高さを示す位置（きずの真上位置）を探す行

２．１

為とエコー高さの調整作業を同時に行っている人をよく垂直探傷試験

図１に示す試験体形状で，高さは 110 ㎜程度，探傷面見かけるが，初めに最大エコー高さを示す位置を探すこは一辺が 60 ㎜程度の正方形である。試験体形状は旧 NDISとに専念すべきである。このとき，きずエコー高さが 1000601 の１種と同じであるが，きずが２個になったこと％を超えるようであれば２dB ほどゲインを下げ，きずエと，きずの平面位置を測定する項目が追加された。

コー高さが 80％以下にならない感度で最大エコー高さ

アナログ探傷器で受験する場合には垂直探触子 5Z20N がを示す位置を求める。きずの最大エコー高さ位置を探す取り付けられている。探傷感度は試験体健全部の第１回

探触子の走査は，探触子を回転させたりするランダムな底面エコーＢＧが 80％程度になるようゲインを調整した走査でなく，Ｘ又はＹ方向いずれか一方向に方形走査し後，さらにゲインを 20dB 高め，これを探傷感度とする。て最大エコー高さを示す位置を探す。次にそれまでと直指示された探傷面を全面探傷し，表示器上のエコー高さ角方向に小さく走査すると最大エコー高さ位置が容易に求まる。

③きず深さの測定

試験 体番 号

きずエコー高さを適当な高さ（80％）に調整し，ビー120

18約50

ム路程から深さを 0.5mm の単位で読み取る。
④エコー高さの比きず

前項③で調整したエコー高さのゲイン値を記録し，次に底面エコー（ＢF）を同じエコー高さになるようにつま基 準線差から F/BF を求める。なお，エコー高さの比はＢＦに対200みを調整してゲイン値を読み取る。これらのゲイン値のしてＦのエコー高さが小さければ F/BＦ(dB)は負（マイナス表示）となる。
⑤きずの平面位置A

試験体の探傷面左上にＡの刻印がある。この角を基準点として，きずのＸ，Ｙ方向の位置を求める。きず位置

図２

斜角探傷用仮想溶接試験体の概要（寸法は概略）

は探触子の中央部であるから，物差しを探触子の側面に当てたときの読取り値に探触子外形寸法の 1/2（半径）溶接部の斜角探傷は JIS Z 3060 に従って行うが，平成を加えることを忘れないよう注意すること。なお，振動15 年度の実技試験で与えられた課題では，0.5 スキップ

子径は 20 ㎜であるが，振動子の外側にリングがある。物の範囲内で探傷し，直射法のデータを求めることが指示

差しはこのリングを含めて測定するので，半径は 12 ㎜程されていた。指示書の確認が重要である。

度になる。なお，ここで紹介した手順は一例であって，③から⑤までの順番を入れ替えてもよい。
この一連の操作で，きず１つの探傷が完了する。この操作をもう一つのきずに対しても同様に適用する。
なお，きず番号の付け方は，どちらをきずⅠ，きずⅡ

斜角探傷の注意点と手順の一例を次に紹介する。
①対象となる探傷範囲についてジグザグ走査を行い，きず分布の概略を知ること。きずは２個あるので，おおよその位置をつかんでおくとよい。
②きず分布の概要が分かったら，一番目のきずの最大エとしてもよい。

コー高さを示す探触子位置を探す。きずのエコー高さが２．２100％を超えて，ピークエコーがつかめない場合は，ゲイ斜角探傷試験

板厚 18 ㎜の仮想突合せ溶接部を JIS Z 3060：2002「鋼ンつまみを操作して 100％以下に下げて，きずエコーの溶接部の超音波探傷試験方法」に基づいた斜角探傷試験ピークが確認できるようにする。

を実施する。試験体形状は図２に示すとおりである。

③きずからのピークエコーを捕えたら，探触子を動かさ仮想溶接部と表記したのは，試験体の探傷面は余盛のないようにしっかり保持し，ビーム路程，探触子・溶接削除と共に圧延肌の黒皮も研削除去しているからで，部距離（入射点から溶接中央部のけがき線までの距離）

STB‑A2 と同程度の面に仕上げられている。溶接ビードのを１㎜の単位で計測する。

代わりに，試験体先端から 50 ㎜の位置に，溶接の中心を④エコー高さの領域と基準の線から何 dB 高いかを計測表すけがき線が引かれている。なお，この試験体は旧する。きずエコー高さが領域Ⅲの場合，ゲインつまみをNDIS 0601 の２種で使用されていた試験体である。

使用してＭ線からの高さを読み取る。領域Ⅳでエコー高斜角探傷の探触子は 5Z10×10A70 で，STB‑A1 を用いて測さが 100％を超えている場合は，感度を６dB 下げて，今定範囲 125 ㎜に調整し，STB 屈折角を測定する。アナロまでＭ線としていた線をＨ線と読み替えてＨ線より何グ探傷器にはＪＳＮＤＩが作成したエコー高さ区分線がdB 高いかを測定する。この作業が終わったら，感度を元貼り付けられているので，受験者は STB‑A2 のφ4×4 のに戻すことを忘れてはいけない。データシートに記入しエコー高さを下から３番目のＨ線に合わせて探傷感度とた探傷感度と現在設定している探傷器のゲイン値とが一する。

致していることを時折確認しながら探傷作業を進める。

⑤指示長さの測定はＬ線を超えるエコーを示す探触子の側接栓が大レモ型接栓である。BNC 型接栓の探傷器につ移動範囲である。③で求めた探触子位置から左側に探触いては探傷ケーブルの接続に BNC・大レモの変換アダプ

子を左右走査によりエコー高さがＬ線をよぎる位置までターが必要となる。このアダプターは受験者が持参しな探触子を移動する。このとき若干の前後走査を交えながければならない。アダプターを持参しないときはデジタら左右走査をした方がきずのピーク位置を見失う恐れがル探傷器での受験はできなくなる。

ない。きずエコーがこのＬ線を超えるときの探触子位置３．１

垂直探傷試験をきずの始端とし，探触子の中央部から試験体左端まで

デジタル探傷器であっても，試験の課題はアナログ器の距離を１㎜の単位で計測する。なお，探触子の側面まと同じである。デジタル探傷器での探傷作業において，での距離を測定した場合は，探触子の幅（14 ㎜）の１/2

必ずゲートを効果的に使用し，きずの深さやエコー高さをこの距離に加えることを忘れないこと。次に探触子をを表示させること。アナログ探傷器的に時間軸目盛から右側に左右走査し，Ｌ線を切る点をきずの終端とする。

ビーム路程を読み取る行為はデジタル探傷器本来の使用⑥同様の手順でもう一つのきずも計測する。きずは２個方法から逸脱していることになる。

ある。きず番号は，どちらをⅠ，Ⅱとしてもよい。

３．２

３．デジタル探傷器による実技試験

斜角探傷試験

探傷の手法並びに手順はアナログ器と同じである。た2004 年 1 月現在，ＪＳＮＤＩが持込み可能と認めた探だし，持ち込み探傷器による場合は，試験前にイニシャ傷器を表２に示す。デジタル探傷器にて受験を希望するライズされるので，事前に設定した探傷条件や事前に描者は受験申請時に登録しておかなければならない。ただいたエコー高さ区分線を使用することはできない。受験し，同一の企業から複数の受験者が一台の装置を共用す者自身でＮＤＩが用意した斜角探触子により STB‑A2 をるのは，二次試験の受験日や時間を調整する事務処理が使用してエコー高さ区分線を作成する。この作成は探傷システム上困難であるため，一人一台の探傷器を準備しも含めて 30 分の試験時間中に行う。区分線はデジタル探ておく必要がある。

傷器の持つ区分線作成支援機能を用いて作成してよい。

二次試験では，試験開始前と終了後に係員が探傷器の探傷に際しては，あらかじめ屈折角を入力し，ゲートをイニシャライズ（初期化・工場出荷状態）の措置をとる。

設定してきずの深さやエコー高さデータを画面に表示さこれは，あらかじめ作成した探傷条件を記憶させて試験せながら探傷すること。アナログ探傷器的に時間軸目盛会場に持込むのを防ぐためである。

からビーム路程を読み取り，電卓を使用してきずの深さ

初期化された状態からの電源 ON でスタートすると，日や探触子・きず距離を求めるような操作はデジタル探傷常使用しているときの電源 ON の状態とは異なることが器の本来的な使用方法ではない。なお，確認のために電ある。探傷器の目盛表示がインチ/㎜表示の選択，一振動卓を使用するのはこの限りではない。

子/二振動子の選択，エコー高さ区分線の ON/OFF 選択な

表２

持込み可能なデジタル探傷器

2004.1 現在

どの諸設定が必要となる。垂直探傷に必要な初期設定はメーカー等

機

垂直探傷 15 分の時間に含まれるので，デジタル探傷器使

ｶｰﾙﾄﾞｲﾁｪ（日本ﾏﾃｯｸ）

ECHOGRAPH 1086

用に当たっては取扱説明書を熟読し，初期化からの操作

ｸﾗｳﾄｸﾚｰﾏｰ(日本ｱｸﾞﾌｧｹﾞﾊﾞﾙﾄ)

USM25J，USM25S，
USN52RJ, USN52LJ

湘菱電子／三菱電機

UI‑23，UI‑25

ｽﾃﾌﾞﾘｰ（栄進化学）

SONIC‑1000i,
SONIC‑1200S+合せをしておくことが必要であろう。二次試験会場の指ｽﾄﾚｽﾃﾙ(信明ｾﾞﾈﾗﾙ/ｱｲ･ｴｽ･ｴﾙ)

Flaw MIKE DAC

定の位置に着席したら，探傷器を AC 電源に接続するが，ﾄｷﾒｯｸ

SM‑300

持参したバッテリーを使用してもよい。ただし，試験時

日本ｸﾗｳﾄｸﾚｰﾏ

USI500,USI550

間中に切れることがないよう注意すること。

ﾊﾟﾅﾒﾄﾘｸｽ(日本ﾊﾟﾅﾒﾄﾘｸｽ)

EPOCH4,EPOCH4B,EPOCHⅢ，EPOCHⅢB

を十分にトレーニングしておくことが最も重要である。
装置の取扱説明書にはこの初期化方法が解説されていないものもある。該当する機種についてはメーカーに問卓上に置かれているＮＤＩの探傷ケーブルは，探傷器種

本記事は２００３年の二次試験についての解説である。今後変更する場合もあるので留意されたい。