本記事は , 文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業 技術スタッフ表彰について紹介するものです .

文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム 令和 3 年度技術スタッフ表彰 技術支援貢献賞

より良き XRD の測定のための技術支援受賞者 東京大学 微細構造解析プラットフォーム 府川 和弘氏に聞く“ 全国 25 の大学・研究機関の最先端共用設備を自由に利用して，課題を速やかに解決しよう !!” と，文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事
業（NPJ）は，ナノテクノロジー関連科学技術において基本となる「微細構造解析」，「微細加工」，「分子・物質合成」の 3 技術領域に，最先端の研究設備とその利用・解析のノウハウを提供することにより，異分野融合を図り，イノベーションの創出に寄与することを目指してきた [1]．NPJ の最先端研究設備共用が根付き，異分野融合が進んで，毎
年 3,000 件の利用，1,000 件の論文，3,000 件の発表という成果が産まれた．多くの成果が産まれたのは，設備の共用だけでなく，利用・解析のノウハウを提供があったことによる．研究設備の管理・運営を担当する支援スタッフは，ノウハウを積み上げ，利用者に提供してきた．これに応えて，XRD 装置前の府川 和弘氏

NPJ は支援スタッフ表彰を行い，令和 3 年度（2021年度）は 7 人の支援スタッフが表彰され，技術支援貢献賞が東京大学 微細構造解析プラットフォーム 府川 和弘（ふかわ かずひろ）氏に贈られた [2]．表彰式は，第 21 回国際ナノテクノロジー総合展・技術会議（nano tech 2022）の併催会議（nano week 2022）として，2022 年 1 月 26 日に，東京ビッグサイトで行われた．受賞題目は，「より良き XRD 測定のための技術支援」であった．表彰式の司会者は，“1998 年（昭和 63 年）から東大で X 線に関する業務に従事して，サブナノレベル測定の XRD（X-ray Diffraction X 線回折）装置性能を維持し，ユーザー支援，講習会を行って，技術の裾野を広げることにも貢献した ” と紹介した．コロナ禍が続くため Web 会議により，どのような技術支援が行われたか，受賞者 東京大学大学院工学系研究科総合研究機構

府川 和弘氏に伺った．

研究科全体を支える共通基盤技術共用，社会連携プロジェ

１．
東京大学微細構造解析プラットフォー
ムの活動

クトなどの新しい試みを推進する，工学系研究科の戦略

１．１ 東京大学微細構造解析プラットフォームの成り立ち [3]行うとともに，超高圧電子顕微鏡，分析電子顕微鏡群，X

東京大学（東大）は NPJ の三つの技術領域のうち，微さらに，同センター内に設置された東大・日本電子産学

細構造解析，微細加工の 2 領域に参画する．東大微細構連携室や東大・リガク産学連携室とも連動し，効率的な造解析プラットフォーム（PF）は，「先端ナノ計測プラッ運用を展開するとしている [3][4]．ナノ工学研究センター

トフォーム拠点」（ACNP：Advanced Characterizationのメンバーは，結晶界面工学研究室，大矢研究室（スピンNanotechnology Platform）と称し，学内組織の大学院工トロニクス），超高圧電子顕微鏡室，電子顕微鏡室，X 線学系研究科 総合研究機構 ナノ工学研究センターが，実施実験室に配置され，府川氏は，平成 28 年度に「ネットワー機関となって運営されている．総合研究機構は，工学系クを重視した X 線装置利用支援体制」で技術支援貢献賞

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拠点と位置付けられる．その中で，ナノ工学研究センター
は，工学系研究科の共通基盤技術を軸とした研究展開を線分析装置群などと密接に連携し，学内外を問わず多数のユーザーが利用できる全国的な共用体制を構築した．

文部科学省ﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰﾌﾟﾗｯﾄﾌｫｰﾑ

令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-1

を受賞した沖津 康平氏 [5] と共に，X 線実験室に所属する．

携させて運用・管理してきた．
NPJ の活動は，（1）最先端計測解析設備群と高度な研１．
２

究支援の推進，（2）多元的なナノ計測解析機能による多東大微細構造解析 PF の構成 [3]

様な計測ニーズへの対応，（3）共用施設を中核とした産東大微細構造解析 PF は 2012 年に発足し，既存の大型官学の人材交流や効果的な人材育成，（4）我国のナノテ共有設備と新たに導入した最先端ナノ計測関連装置を連クノロジー研究の高度化と拡大，（5）産業界におけるナ

表1

表2

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東大微細構造解析 PF 共用装置

東大微細構造解析 PF の X 線回折装置

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-2

ノテクノロジー・材料分野の技術競争力の強化を主な目的とした．
東大微細構造解析 PF は，走査透過型電子顕微鏡 / 透過型電子顕微鏡 10 台をはじめ，X 線回折装置 8 台など多数の共用設備を提供する（表 1）．本稿の対象となる X 線回折装置の詳細は別表に示した（表 2）．これにより，最先端電子顕微鏡による原子構造解析や軽元素観察，多機能・高性能 X 線回折装置による結晶構造解析，NanoSIMS による高分解能微量元素分析を中心に各種の分析を行うことができる．

１．
３

図1

東大微細構造解析 PF の技術支援 [3]東大微細構造解析 PF 利用件数

東大微細構造解析 PF の利用者は，設備利用者を交えた技術相談を行ったのち，利用申請して，設備を利用する．

２．X 線回折測定

支援内容は表 3 のような形態に分かれている．利用者単独で計測を行う機器利用では，XRD など安全対策や機器操作の事前習得を要するものについて，講習会を開催し

２．１

X 線回折装置の概要 [6]ている．講習会，講演会等の開催は NPJ PF の活動として

X 線回折装置は，試料に X 線を照射した際，X 線が原実施し，最新の解析技術を利用者間で共有するようにし子の周りにある電子によって散乱，干渉した結果起こるている．東京大学日本電子産学連携ユーザーズミーティ

回折を解析することを測定原理とする [6]．

ング，東京大学リガク産学連携各種装置利用講習会，XPS

原子が規則正しく配列している物質に，原子の間隔 d

講習会，ナノテクノロジープラットフォーム公開講演会を開催し，東京大学リガク産学連携各種装置利用講習会と同程度の波長 λ を持つ X 線が入射すると，各原子に 所属する電子により X 線が散乱され，干渉し合って特定のの中に X 線回折解析講習会がある．

方向で強め合う（図 2 左）．X 線の入射角を θ とすると，

東大微細構造解析 PF は，日本全国の大学，公的研究機

2d sinθ ＝ nλ（n：整数）の条件（ブラッグ条件）を満た

関，企業，学内の研究者に利用され，利用件数は，平成
24 年の NPJ 発足時の 2,000 件弱から年々増加し，平成すときに回折 X 線が観測される．回折角 2θ とその X 線強度を測定すると，X 線回折パターンが得られる．図 2

27 年以降は 3,000 件を超えている（図 1）．

右は多結晶体を試料として扱う粉末 X 線回折法の例で，X

表3

東大微細構造解析 PF の支援内容

図2

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X 線回折測定の原理

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表4

X 線回折パターンから得られる情報

線回折パターンを解析して表 4 のような試料に関する情情報しか得られない．分解能を得るためには検出器の前報が得られる．にスリット（通常 0.15mm もしくは 0.3mm）が必要になる．
1 次元検出器は，2θ 方向に垂直となるように並んだ細長

２．2

X 線回折装置の構成 [7]いストリップ状の素子列で X 線を検出し，2θ 位置の情報を有しているため検出器の前で受光スリットを絞る必要

X 線回折装置は大きく分けて X 線発生部 ( 入射側 )，試がないため，0 次元検出の数十倍高い強度が得られ，分解料部，検出部 ( 受光側 ) で構成される（図 3）．各パート能（ピーク幅）も良くなる．このため，粉末試料の測定は試料部の中心を軸に回転でき，ゴニオメーターと呼ばに広く使われるようになった．2 次元検出は，100μm 程度のピクセルが縦横に整列している検出器を用い，広いれる．
X 線発生源には，封入式管球と回転対陰極があり，一範囲を直接観測できるため，配向や粗大粒など試料の状般的に回転対陰極は 5 〜 7 倍の X 線強度が得られ，微小態の把握が容易になる．ピクセルに分けて X 線を検出すピークをより短い測定時間で検出できる．XRD 測定には，るのでピクセルあたりの X 線強度が下がるので，より強反射法と，透過法があり，入射ビームは発散，平行，集力な X 線源を使う必要がある．

光を，目的に応じて使い分ける．また，入射角が広角か小角かで得られる情報に違いがある．
X 線 の 検 出 に は，0 次 元，1 次 元，2 次 元 測 定（0D，２．3

薄膜 X 線測定法 [8]1D，2D）の 3 種類がある（図 4）．0 次元測定では，検情報化社会を支える機器の多くは薄膜材料で作られる出器に 2θ 位置の情報がなく，X 線がどこに入っても強度機能デバイスで構成されるようになり，薄膜材料の評価，

図3

図4

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X 線回折装置の構成

X 線検出器の構成（左から 0 次元，1 次元，2 次元）

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図5

薄膜 X 線回折測定配置模式図 [8]XRD 測定のニーズが高まった．しかし，薄膜は半導体薄膜のエピタキシャル成長のように基板と結晶方位を合わ

２．4

XRD による測定・評価せて成長させるなど，配向性を持ち，面内と積層方向でXRD による測定は，回折パターンから成分を同定した特性が異なる異方性がある場合が多い．一般的な粉末用り格子定数を決めるといった材料評価から，対象試料，の XRD 装置を用いた測定では試料表面に平行な格子面か目的によって新たな測定法を開発して，進化してきた．

らの情報しか得られない．この測定は，格子面法線が試

XRD により表 5 のような評価項目が様々な測定手段に料表面から外側に出ていることから，「アウトオブプレーよって測定・評価される．

ン（Out-of-Plane）測定」と呼ぶ．薄膜 XRD 測定（図 5）では，格子面の法線が試料表面内にある「インプレーンXRD 測定で適用される評価項目は材料によって異なり，その例を表 6 に示した（In-Plane）測定」や，斜めの格子面を，斜め入射の X 線XRD による評価には，様々な手法が開発され，評価対で捉える「非対称反射測定」が行われる．また，微小角象により適切な手法は異なる．材料の形態，種類，評価入射を用いる X 線反射率法や X 線小角散乱法により，非の目的等を考慮して，手法を選び，測定間隔や時間等に晶質も含め，様々な情報が得られる．

注意を払って，XRD 測定を行わねば，有用な信頼性ある表5

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XRD 測定評価項目

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表6

XRD で測定される粉末・バルク材料と適用される評価項目の例

結果は得られない．受賞者の支援はこの認識に基づくも多目的Ｘ線回折装置 SmartLab」と名付け，「装置が最適のであった．

条件を教えてくれるガイダンス機能を実現」したとしている [10]．ガイダンス機能は，Ｘ線分析機器の専門メーカーであるリガクの分析ノウハウを凝縮したソフトウェ

３．
１

３．東大微細構造解析 PF における XRD
測定の技術支援 [9]アが，各アプリケーションに最適な光学系ユニット（装受賞者が技術支援に当たる主な XRD 装置

SmartLab3 台は，いずれも X 線発生に Cu 線源を用いる置のパーツ）の選択から，測定条件の設定・実行までの測定シーケンスを自動的に設定するという．東大 PF のが仕様が異なり，XRD 測定部は図 7 のような違いがある．

受賞者が担当している XRD 装置群の中で中核となってSmartLab（9kW）は，X 線源に 45kV-200mA の Cu ローいるのは，表 1 上段右に示す 3 台の SmartLab で，図 6ターターゲット（回転対陰極）を用いて，3 台の中で最ものように設置されている．メーカーのリガクは，「全自動X 線が高強度である．写真の赤ランプ近辺のミラーで X線を平行ビームにしている．2 次元検出器を搭載し，0D，1D，2D の測定ができる．また，インプレーンアームを搭載する．この装置は 3 台の中で最も薄膜測定に適する．
SmartLab（3kW）は 40kV － 50mA の Cu セラミック
ス管球，1 次元検出器，インプレーンアームを搭載する．
写真中央の試料台にドーム状に見える 900℃まで昇温可能な高温炉を搭載し，試料温度を変えた測定ができる．
高温炉を使わない時は通常の試料台を搭載する．XRD では集中法の場合，入射角 θ に対して，2θ に回折線が出るが，2θ ＋ α，2θ － α にも回折線が出る．1D 測定ではスリットごとにその位置を記憶しており，スリットの数だ

図6

技術支援に用いた XRD 装置

け同角度の強度を足し合わせることができるので，高強図7

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3 台の SmartLab 測定部

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-6

度が得られる．さらに，スリットが細いため精度が上がり，ることが重要で，これを行なってきた．
」と述べている．

集中法測定に効果的である．この装置は主に集中法測定装置の経年変化に対応し，新しい測定法も利用できるよに使われている．

うにパーツの変更など行って，可能な限り最善の測定がSmartLab（Kα1） は，SmartLab（3kW） と 同 じ 線 源，検出器を搭載するが，写真左の赤ランプ付近にあるようできるよう性能の維持に努めてきた．に対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系を入れることがため，安全管理に万全を期す必要がある．利用者，特にでき，Cu 線源を Kα1 線のみに単色化できる．通常は，学生には，X 線に関する基礎知識を与え，放射線取扱者

Kα1 線によるピークのごく近くに Kα2 線によるピークが登録を行い，講習会などセミナーを実施し，さらに利用出るため両者の分離が難しいが，ミラーで Kα1 線のみに単色化することができる．単色化によって綺麗な回折パの際に個別指導をしてきた．放射線取扱者登録は各企業ターンが得られ，分解能が上がる．ミラーを経由するのれるものが異なる部分もある．東京大学の場合は，理学で入射 X 線強度が下がり測定時間は増える．これを補う部で登録していても，工学部の装置を使うときは，工学ために，集光光学系での測定が可能である．試料部分に部で改めて講習を受け，登録する必要がある．

一方，X 線は人体に影響を与える放射線の一つであるや大学で行われている場合もあるが，施設ごとに求めら

は粉末試料を保持するキャピラリー（毛細管）を取り付

SmartLab は，X 線管球から検出器までの各パーツを含けられるようになっていて，回しながら回折パターンをめた光学系全てを囲ってシールドしている．このため部とることにより，粉末の試料の配向をなくして測定する

屋全体を放射線管理区域にする必要はなく，装置内のみこともできる．またフィルムを取り付けて透過測定できが放射線管理区域になった．しかし，年 2 回の漏洩検査るアタッチメントもある．この装置は主に集光光学系にを行い，装置の劣化や違法改造による漏洩がないかを検よる透過測定に使われている．

査している．装置全体の整備や調整も同様の頻度で行っ以上のように同じ SmartLab であっても，装置構成はており，エラーや故障発生時の対応は随時行っている．

大きく異なる．2 次元検出器，昇温可能な試料台，単色

最近はこれに，コロナウイルス感染対策が加わった．

化のミラー等，オプションを加えると，装置は大型化し，装置ごとに，図 6 に見られるアクリル板衝立の間仕切り高額になる．しかし，これによって XRD 測定の性能は向を設けた．装置の使用人数等に対応して作業スペースを上する．逆に利用者は，試料形状や測定目的を明確にし，変更できるよう，間仕切りは可動式にした．アルコール

それに合った装置を選び，装置性能を発揮できるよう操消毒，換気，加湿を行い，利用者には手袋・スリッパの作・測定することが求められる．

着用，体温測定を求めた．入退出者及び時刻を記録して入退出管理を行った．装置使用時間は，24 時間随時だっ

３．
２たのを制限せざるを得なかった．

より良き XRD 測定のための技術支援活動（2）講習会；X 線セミナー開催 [11]（1）装置の性能維持・安全管理
本稿冒頭に表彰式の受賞者紹介を手短かに記したが，XRD 測定には様々な手法があり，それぞれに測定上で「サブナノレベル測定のため，特性劣化，経年変化により注意すべきことは異なる．利用者のすべてが XRD に関し性能が劣化するので，常に装置性能を確認，維持し続けて十分な知識を持っているとは限らない．測定者自身が

図8

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2019 年度冬学期 X 線解析セミナーのご案内（抜粋）文部科学省ﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰﾌﾟﾗｯﾄﾌｫｰﾑ

令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-7

図9

X 線セミナー実施状況（左：装置実習，右：英語講義）

事前に XRD 測定に関する知識を得ていたほうが有意義な程度である．そのうち約 1 割の課題で SmartLab 装置を利測定が行える．知識習得の一助として「東京大学・リガ用している．課題数としては 20 件程度だが，SmartLabク産学連携室」「東京大学微細構造解析プラットフォーム」

装置は毎日稼働していて，装置によっては年 100 回以上，の主催による「X 線解析セミナー」と「留学生向け英語全体では年 200 〜 300 回利用されている．測定は 1 回で開催セミナー」を NPJ 発足当初の平成 24 年度夏学期か終わることもあれば継続して使うこともある．1 回の測定ら毎年開催してきた．学内の XRD 利用者には留学生も多

時間はものによってまちまちで，数分のものもあれば，1く，英語によるセミナーを平成 24 年冬学期から始めた．

日かかるものもある．長いものでは 3 日かかったことが英語セミナーには日本人も参加できる．それぞれ夏学期ある．と冬学期に開催した．図 8 はコロナ禍直前，2019 年度冬

利用形態は，「技術支援（補助）」「機器利用」が中心と学期の開催案内の Web ページを編集したものである [12]．

なる．技術代行は，基本的には受けていない．XRD は試「粉末 X 線回折コース」「薄膜 X 線回折基礎コース」の 2

料ごとに測定目的や測定手法が違うためである．技術代コースがあり，共に講義 1 日・実機実習 1 日の構成であ行では，測定の際に利用者が側にいない．テスト測定のる．「単結晶 X 線構造解析」「薄膜Ｘ線回折応用」などの結果から測定条件の再設定をすることが多く，支援者のコースを加えたこともある．募集定員は講義 50 名，実習主観で測定を進めることはできない．試料をよく知って8 名または 12 名だが，実習は 1 組織 1 名の制限を設けている本人が測定し，装置や手法を知っている支援者が加いる．粉末実習には状況に応じて複数台の装置を使用し，わって測定法を見直すといった補助をする方が良い結果それぞれに講師がついてグループに分ける．グループ分が得られる．10 年間で代行は数件に過ぎない．

けは参加者のレベルや測定に求めるもので行った．

利用者の技術支援ではまず，ユーザーには試料の量，このようなセミナーは他の機関ではやっていない．装大きさ，形状，表面処理等と，測定目的を確認する．電置購入時にメーカーが講習会を行うことはあるが，一般

子顕微鏡で測った試料を X 線で測ろうと言ってくるユーの人が参加できる実習を伴う NPJ のような無料講習会はザーもあるが，電子線と X 線では測定に必要な試料の大ない．このため，東京の本郷で行うが，北海道や九州かきさが違う．X 線回折には最低でも 5mm 角の試料が必らの参加もある．講習会参加は先着順で受け付けるが，要になる．粉末の場合，量は多いことが望ましいが，ど募集するとすぐ満員になる．このため大学の 1 研究室，1うしても少量しか用意できないことも多い．少量の場合，企業あたり 1 名といった参加制限を設けた．図 9 は，実何を優先するか決める必要がある．薄膜の捉え方は個人習風景で，英語セミナーの写真には髪を隠した女性の後差が大きい．分野によってはメッキを薄膜ととる方もいろ姿が見える．令和 2 年度はコロナ禍で中止，令和 3 年

るが，厚さは 1mm くらいのこともあり，X 線から見たら度は「粉末 X 線回折コース（初心者編

粉末Ｘ線回折法

これはバルク試料になる．試料の表面は鏡面が最も望まの基礎とアプリケーション紹介）」を，5 月と 12 月にウェ

しい．板状の試料に反りがあったり，凹凸があったりす

ビナー形式によるオンライン講義（インターネット配信，ると満足なデータが取れない場合がある．バルク試料は3 時間）で開催したところ，夏学期に 400 名超，冬学期加工してから測ることもある．粉末はガラス試料板のくに 300 名超の参加があった．一般に夏学期は，年度始めぼみに詰めて測定するのが一般的である．くぼみに粉末は学生が進級し，会社でも新しい人や装置が入るので，を詰める時は偏心誤差や配向のないように詰める必要が受講者も増える．セミナー開催後に PF 利用者が増える傾あり，試料の量や結晶構造によって詰め方が変わる．こ向がある．

ういったことをユーザーに話し，試料と測定目的を確認して，評価手段・項目，装置とその装置で使う測定パーツ，測定条件を提案する．SmartLab は自動化されているので，（3）XRD 装置利用者の技術支援装置が必要とする試料情報や測定目的を入力すると測定
東大微細構造解析 PF の XRD 利用年間課題数は 210 件

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条件を装置が決めてくれる．しかし，試料は様々なので，文部科学省ﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰﾌﾟﾗｯﾄﾌｫｰﾑ

令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-8自動化された条件では十分でない場合も多く，東大 PF で有機物質は高い有孔性を持ちうるが，高温で孔が潰れたの測定では，ユーザーと支援者が話し合って選んだ測定

り，化合物が分解する．この研究では，高誘電性溶媒か条件で測定を始める．支援者は，ユーザーが測定するのらの結晶化により，芳香族分子を合成した．穴の壁が複に立ち合い，装置の操作を補助し，測定状況により評価雑な構造をした多孔性結晶が得られた．多孔性構造は法や測定条件を見直して，測定を繰り返して，ユーザー202℃まで安定で，一旦潰れても溶媒蒸気に曝すと回復すがより良い XRD 測定を行うよう支援する．

る強さ（Robust）があった．図 10 は，溶媒蒸気に曝すと支援者の技術，ノウハウを詰め込んだ XRD 測定が行わ非晶質（黒線）から結晶質（赤線）に変化することを示れ，多数の支援実績，研究成果が上がっている．

す X 線回折パターンの例である．

３．
３（3）ナノグラフェン金属有機構造体（MOF）の合成とXRD 技術支援の実績

吸着ガスによる構造変化 [14]（1）支援実績の概要
ジカルボン酸誘導体に Zn2+ を組み込んで大面積の層状
表 7 に最近 5 年間の支援実績を件数で示した．年間 20

ナノグラフェン MOF を合成した（図 11）．単結晶 XRD〜 30 件の XRD 測定課題を支援し，その結果，課題数の解析で構造を調べると，二次元層が Zn2+ 複合体からな倍近い学会発表が行われ，課題数に近い数の論文が公開り，層間の弱い結合によって多孔質になっていることがされている．

分かった．二酸化炭素や炭化水素ガスの収着等温線はヒステリシスを示し，粉末 XRD 同時観察により構造変化が表7

最近 5 年間の XRD 支援実績（件数）起こっていることを確かめた．

この支援実績に対し，府川氏は，支援の成果例を挙げて詳しく説明するのは難しいという．XRD は基礎的な材料評価としてデータをとることが多い．例えば，ある機能発現を目的に物質を合成したとき，XRD は成分や構造の確認に使われ，最終目的の機能評価は別の手段で行われる．XRD 測定そのものが論文の表に出たり，XRD 測定で何か違った結果になったことで論文になったりというものは最近少ないという．
この点を承知した上で，XRD の支援を受けた研究から生まれた論文に触れてみよう．
（2）自己集合による高温安定な有機多孔性物質の合成 [13]図 11

多孔質材料はガスの分離や触媒担持などに使われる．

ナノグラフェン MOF（4）原子数を用いたスクリーニングによる量子材料の探索 [15]エネルギー準位が帯状から離散的になる 10nm 程度以下の微粒子の量子ドットは，色素に用いればサイズによって色が変わり，半導体レーザーを作れば温度安定性が向上する．サブナノになると量子効果により機能性が増すが，サブナノ粒子を原子数や成分を制御して合成することは難しかった．原子レベル制御ができる，カゴ状の有機分子を鋳型にして複数金属をクラスター化する原子混
図 10結晶化を示す X 線回折パターン

NanotechJapan Bulletin Vol. 15, No. 1, 2022

合法（AHM）が考案されたので，これを用いてインジウムー

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-9図 12

サブナノ量子材料の探索

錫（In-Sn）二元系で機能性を持ったサブナノ粒子のスクaward/リーニングを試みた．この結果，熱力学的に不安定な構[3] 東京大学

造で持続的発光機能を持った組成が見出された（図 12）．
サブナノ粒子の最適な合成条件を得るため等に SmartLab

微細構造解析プラットフォーム，https://lcnet.t.u-tokyo.ac.jp[4] 東京大学大学院工学系研究科 総合研究機構，http://sogo.t.u-tokyo.ac.jp（Kα1）でのキャピラリ回転測定を行った．

[5] ＜平成 28 年度技術支援貢献賞＞ネットワークを重視した X 線装置利用支援体制

NanotechJapan BulletinVol. 10, No. 3, 2017，https://www.nanonet.go.jp/

４．おわりにmagazine/feature/outstanding-staff/7.html

100 年以上の歴史ある XRD 測定の奥深さ，手法や評価項目の広がり，十分な知識と測定のノウハウの重要性を改めて感じさせる Web 取材であった．

[6] Ｘ線回折装置の原理と応用 | JAIMA，https://www.
jaima.or.jp/jp/analytical/basic/xray/xrd/[7] 長尾 圭悟，「粉末 X 線回折法

セミナーでユーザーに基礎知識を持たせ，ユーザーから試料に関する情報，測定目的を聞き出し，30 年かけて積み上げたノウハウの惜しみない提供のもと，使用する装置，手法，測定条件を提案し，親身なコミュニケーショ

基礎講座第 1 回」
，リ

ガクジャーナル Vol. 51, No. 1, 2020, pp. 13-17，https://www.rigaku.co.jp/members/year/pdf/vol.51/J0511013TN3.pdf[8] 稲葉 克彦，「薄膜 X 線測定法

基礎講座

第 1 回」，ン，ユーザーに寄り添った測定・解析の指導・補助で，リガクジャーナル Vol. 38, No. 2, 2007, pp. 11-15，

XRD 測定をより良いものにしてきた．この結果，XRD は

https://www.rigaku.co.jp/members/year/pdf/vol.38/

影に隠れがちだが，多くの研究成果が生まれている．

J0382011TN1.pdf

今後は，さらに新しい技術を習得し，持てる技術の幅[9] より良き XRD 測定のための技術支援，https://www.

や質を高めたいという．一方，NPJ の始まりに導入した

nanonet.go.jp/pages/research_support_award/R03_

装置の更新がどのように進められるか不安を感じている．
後進の育成に努めたいが，人が集まらないという悩みもAward_4.pdf[10] SmartLab

全自動多目的Ｘ線回折装置，https://ある．NPJ が根付かせた装置共用は，先端装置の利用を

japan.rigaku.com/ja/products/xrd/smartlab

広めたが，知識や認識不足の利用者も生んだ．ユーザー[11] 東京大学・リガク産学連携室 セミナー，https://には，試料への理解とともに，どのようなことがどこまでわかれば良いか目的を明確にし，条件を変えて繰り返

www.rigaku.co.jp/sangaku/seminar/index.html[12] 東京大学・リガク産学連携室

2019 年度冬学期

し測定する時間をかけられるか，明らかにして欲しいと

Ｘ線解析セミナー・シラバス，https://www.rigaku.

いう．ユーザーの目的意識が問われる．

co.jp/sangaku/seminar/seminar1911.html「より良い XRD 測定のための技術支援」は，共用装置[13] Hiroshi Yamagishi, Hiroshi Sato, Akihiro Hori, Yoheiの活用，よりよき利用に向けて心すべき教訓を残すもの

Sato, Ryotaro Matsuda, Kenichi Kato, And Takuzoとなった．

Aida, “Self-assembly of lattices with high structuralcomplexity from a geometrically simple molecule”,
Science • 21 Sep 2018 • Vol 361, Issue 6408, pp.
1242-1246

参考文献[14] Shun Suginome, Hiroshi Sato, Akihiro Hori, Akio

[1] 文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業，
https://www.nanonet.go.jp

Matsuda, Jenny Pirillo, Yuh Hijikata, and Takuzo Aida,[2] 技術スタッフ表彰，https://www.nanonet.go.jp/ntj/

NanotechJapan Bulletin Vol. 15, No. 1, 2022

Mishima, Yuki Harada, Shinpei Kusaka, Ryotaro“One-Step Synthesis of an Adaptive Nanographene

文部科学省ﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰﾌﾟﾗｯﾄﾌｫｰﾑ

令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-10

MOF: Adsorbed Gas-Dependent Geometrical

American Chemical Society, 2020, Vol. 142, Issue 45,Diversity”, Journal of the American Chemical Society,pp. 19078–1908.

2019, Vol. 141, Issue 39, pp. 5649–15655．
[15] Takamasa Tsukamoto, Akiyoshi Kuzume, Masanari

図は全て府川氏から提供された

Nagasaka, Tetsuya Kambe, and Kimihisa Yamamoto,“Quantum Materials Exploration by Sequential（古寺 博）

Screening Technique of Heteroatomicity”, Journal of

NanotechJapan Bulletin Vol. 15, No. 1, 2022

文部科学省ﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰﾌﾟﾗｯﾄﾌｫｰﾑ

令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-11