本記事は , 文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業 技術スタッフ表彰について紹介するものです .

文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム 令和 3 年度技術スタッフ表彰 技術支援貢献賞

質量分析装置群を利用した技術支援受賞者 奈良先端科学技術大学院大学 分子 ・ 物質合成プラットフォーム 西川 嘉子氏に聞く
文部科学省の委託事業であるナノテクノロジープラットフォーム事業（NPJ）は，全国 25 法人，37 の大学・研究機関が保有する最先端のナノテクノロジー施設・装置，並びに高度な技術支援を全国の産官学の幅広い研究者・技術者に対して提供してきた．NPJ ではこのナノテクノロジー・材料分野で重要な 3 つの技術領域である，「分子・物質合成」，「微細加工」，「微細構造解析」に応じてプラットフォームが設置されており，数々の成果を生み出してきた．
施設・装置の提供は，毎年約 3000 件に及び，それらを有効活用するには，設備の整備から装置使用上のノウハウ提供などの技術支援が不可欠である．NPJ では，実施機関において実際に支援に携わっている方々の貢献に対して，平成 26 年度より技術スタッフを対象とした表彰を実施してきた．
2022 年 1 月 26 日に東京ビッグサイトで開催された第21 回国際ナノテクノロジー総合展・技術会議（nano tech2022）の併催会議（nano week 2022）において 7 件の技術スタッフ表彰が行われ [1]，「質量分析装置群を利用した西川 嘉子氏技術支援」に対して技術支援貢献賞が奈良先端科学技術大学院大学 分子・物質合成プラットフォームの西川 嘉子（にしかわ よしこ）氏に贈られた．今回 Web 取材により，どの様な支援が実施されたか，またそのご苦労，成果について西川氏に伺った．

１．奈良先端科学技術大学院大学のナノテクノロジープラットフォーム事業とその利用状況
１．１ 奈良先端科学技術大学院大学のナノテクノロジープラットフォーム
奈良先端科学技術大学院大学（NAIST）は学部を置かない国立の大学院大学である．
2016 年には先端科学技術研究科の一学科のみに再編された．研究科間の垣根をなくし，関連する研究分野の教員が集結して最先端科学技術教育を行える柔軟な教育体制を構築しており，情報科学，バイオサイエンス，物質創成科学の三領域から構成されている [2]．組織図の抜粋
を図 1 に示す．
図1

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奈良先端科学技術大学院大学（NAIST）の組織図（抜粋）文部科学省ﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰﾌﾟﾗｯﾄﾌｫｰﾑ

令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-1

NAIST は NPJ に お い て は「 分 子・ 物 質 合 成 プ ラ ッ ト

めて 9 名である．その方々が，一部担当装置が重なる場フォーム」に参画している．そのプラットフォームは，合はあるが，分子・物質合成プラットフォームの共用装置物質創成科学領域の中に置かれ，教員の専門性，技術職をそれぞれ分担し，管理運営に当たっておられる．

員の高い技術レベルを背景に，先端大学院大学としての支援を実施してきた．

NAIST は 2021 年度からスタートしたマテリアル先端リサーチインフラ（ARIM Japan）にも参画している．京支援対象となる研究は「ナノテクノロジーを活用ある都大学をハブとする，マルチマテリアル化技術・次世代

いは深化させることで将来のイノベーションにつながる高分子マテリアル領域に所属しており，現行のナノプラと判断される高度な先端研究開発の中で，特に分子・物事業は令和３年度で終了するが，実質的に本事業に引き質合成に関する研究開発」で，その支援形態は①協力研究，継ぐとしている．

②技術代行，③機器利用，④利用相談としている．表 1に NAIST の研究支援に提供する設備群一覧を示す [3]．
西川氏は奈良先端科学技術大学院大学，研究・国際部，研究協力課に所属する技術職員である．技術職員は情報科

１．２ NAIST プラットフォームの質量分析装置群
利用状況

学，バイオサイエンス，物質創成科学の三領域それぞれにNAIST では今回の西川氏を含めて，4 名の方々が技術ス配置され，物質創成科学領域担当の技術職員は西川氏を含タッフ表彰を受賞されており [4][5][6]，NAIST の NPJ 事

表1

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NAIST の研究支援に提供する設備群一覧

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-2

表2

質量分析装置群利用におけるナノプラ支援比率

業への貢献の高さがうかがえる．この要因についてお聞群のうち，3 台を学生にも開放したためとのことである．

きすると，① NAIST では設立当初から，技術職員は研究室の所属ではなく，専用の居室が用意され，常に NAIST全体の技術職員という意識を強く持っていること，②各

２． 受 賞 対 象 と な っ た 質 量 分 析 装置の概要と特徴

種装置で取り扱う材料は学内全体の材料と多岐にわたるため，視野も広がり，測定技術に対する造詣が深くなっていること，③分析・評価装置活用のプロという認識を

質量分析法は，分子をイオン化してその質量ごとに検強く持ち，各人が担当装置の進歩等を勉強し，その良さ出・分析するもので，感度が非常に高いため，微量分析を NAIST の先生方にお話して，装置購入の機会があれば，が可能で，環境，医学・薬学，生命科学，食品，地球科いつでも提案できる状況を作り出していること，等の要学等々の幅広い分野で利用されており，分析対象材料も因を挙げられている．

有機から無機，軽いガス等の低分子から，タンパク質等今回の受賞題目である質量分析装置群の利用実績を表 2の高分子までをカバーしている．例えば JAXA はやぶさに示す．年間依頼件数は学内等 NPJ を通さない利用を含-2 の帰還品の分析に質量分析が用いられたのも記憶に新む総利用件数である．ナノプラ支援件数は 9 年間で，3,000しいところである．また微量分析に限らず，材料成分の件を超え，質量分析装置群全体の依頼件数に対する割合は定性分析や定量分析の双方にも利用されている．

24% を占めている．特に，2015 年度から 2017 年度まで
はナノプラ支援件数は 1 年あたり 500 件を超えており，本装置群が多く活用されていることが分かる．2020 年 4２．１

質量分析装置の原理と構成

月に新型コロナウイルス感染症による緊急事態宣言が発

質量分析装置とは分子 1 個当たりの質量を測定する装令されて多くの社会活動が制限されたが，NAIST ナノテ置であり，「イオン化」「分離」「検出」という 3 つの基本

クノロジープラットフォームの装置活用状況に関しては，要素から構成される．図２に質量分析装置の仕組みを示

コロナの影響は軽微である．また 2017 年以降の年間依頼

す [7]．

件数の減少は，簡単な化学合成の確認は学生が自ら出来分子は試料導入部を経て，イオン化部にて，気相イオるようにと質量分析装置の利用法を教え，質量分析装置ンにされる．イオンはその質量／電荷数比（m/z ）によっ

図2

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質量分析装置の仕組み

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-3

て運動性が異なるため，その違いを利用した分離（分析）化させてから気化させる，③脱離して直接気相イオンに部を通してイオンを分離し，検出部にて質量／電荷数比する，である．

（m/z ）ごとに，強度を測定し，質量スペクトルを得る．

代表的なイオン化法の例を表３に示す．①としては，EI分離（分析）部および検出部は，イオンが他の粒子に法，CI 法，APCI 法，DART 法等がある．②としては ESI 法，衝突し，分離・検出が損なわれないよう，十分な平均自CSI 法等，③としては FAB 法，LSI 法，MALDI 法，FD 法

由行程が確保できる真空度に保たれている．

等がある．
また，イオン化法には，分子をバラバラの断片にする

２．
２

ハードなイオン化から，分子の分解が起こらないようなイオン化法

条件で温和にイオン化するソフトなイオン化まである．

イオン化法は質量分析において，最も重要な部分で，ハードなイオン化の代表例は EI 法で，気化した試料に新しい方法の開発も続いている．質量分析法が，幅広い熱電子をあててイオン化する．ソフトなイオン化の代表材料に適用できる理由はこのイオン化法の多様性に拠っ例は ESI 法，MALDI 法である．ESI 法は大気圧イオン化ている．の一種であり，高電圧印加したキャピラリーから噴霧さ試料は最終的には気相状態のイオンにする必要がある．

れて生成した帯電液体が，脱溶媒と静電反発により分裂気相イオンにするためには図３に示す 3 種の方法があるを繰り返してイオンを形成する．MALDI 法はレーザー光[8]．即ち，①気化させてからイオン化させる，②イオンによってイオン化されやすい物質をマトリックスとして

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図3

試料のイオン化方法

表3

イオン化法の代表例

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-4

サンプルと予め混合しておき，これにレーザーを照射す転速度（周波数）がイオンのｍ /z に依存することを利用る事でイオン化する手法であり，島津製作所の田中耕一する．速さを周波数として捉え，複数のイオンによる正氏がノーベル賞を得た技術でもある．

弦波関数をフーリエ変換して イオンの周波数成分（=m/z ）このようにイオン化技術は多種多様であり，材料，目へと分離する．

的に応じた最適な方法の選択が必要である．

２．
３

３．NAIST プ ラ ッ ト フ ォ ー ム に お け る
質量分析技術支援

分析（分離）法

分析（分離）部は気相化されたイオンをそのｍ /z の違いを利用して分離するもので，装置の感度および分解能はこの分離性能によって決定される．

３．１

NAIST の質量分析装置群

その分離方式によって，四重極型，セクター型（磁場型，NAIST の物質創成科学領域には表 4 に示す 6 台の質量二重収束型），飛行時間型（TOF），オービトラップ型等に分析装置がある．TOF 方式が 4 台（うち 1 台はスパイラ分類される．その原理図を図 4 に示す [9]．

ル TOF 方式）
，四重極方式が 1 台，セクター方式が 1 台

四重極型は 4 本の平行なロッドに印加する高周波電圧の計 6 台である．ただし，オービトラップ型質量分析装を調整して，特定のｍ /z のイオンだけをロッド空間を通置は NAIST の分子・物質合成プラットフォームにはない．

過させるもので，印加電圧を徐々に変化させ，ｍ /z の異なるイオンを順次通過させることにより分離する．

イオン化法としては，EI，CI，APCI，DART，ESI，CSI，FAB，MALDI の 8 種類を有している．

セクター型は扇形磁場でのローレンツ力を利用して，分離をしている．静電セクター，磁気セクター，またはこれら二つの組合せもあり，最新のセクター型分析計はイオンビームの方向および速度を収束させることのできる二重収束型である．

３．２

支援業務概要これまで質量分析装置の利用形態は機器利用が 1 ～ 2件程度で，あとは全て技術代行であった．機器利用は利飛行時間型は一定の加速電圧で加速されたイオンは同用者が装置を操作して分析するのに対し，技術代行では一の運動エネルギーを有するが，質量の相違により，そ利用者が試料を支援スタッフに渡し，スタッフが装置をの速度が異なることを利用し，一定の飛行距離を通過す操作して分析する．利用者は多くのイオン化，分析装置る時間で分離する．

を使いこなすことが難しいため，技術代行の形態を取る

オービトラップ型はイオントラップ型の一種で，質量ことが多くなっている．

分離部は中心電極と 2 個の紡錘形の電極を備えている．

高分解能質量分析装置では小数点第 3 位までの精度で一定の加速電圧で電極へ向けてイオンを注入すると，捕測定できるため，例えば，同じ整数質量の水とアンモニ捉されたイオンは，電極の周りを回転する．この際，回ウムの見分けや，計算精密質量から元素組成の予測も可

図 4 分離の方法
Q：四重極型，Sector：セクター型，TOF：飛行時間型，Orbitrap：オービトラップ型

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-5

表4

図5

NAIST の質量分析装置

イオン化法と分析法の組合せ能になり，物質同定の決定打にもなり得る．精度よく測測定依頼試料は大きな分子や新規の化合物など多岐にれるのは分析部の性能によるが，1 台で全ての材料の質わたっており，初めて測定する材料も多く，試料を入れ量分析を行なえる機器は無い．その為にイオン化法と分る前の準備，前処理が非常に重要である．

析部との組合せが重要で，6 台の質量分析装置と 8 種類

場合によっては依頼者側がイオン化法を指定する場合のイオン化方法を 1 か所で取り扱える NAIST 質量分析装もあるが，質量分析で何を求めているかを明確にし，ど置群は，様々な試料に対応可能であることが大きな特徴の組合せを使うかを相談の上決める様にしている．最適である．質量分析は，測定試料のイオン化法を決めれば，なイオン化法の選択のためにも，依頼者と測定者との情それに対応した分析装置が決まって来る．図 5 にイオン報交換を密にする事が重要で，「試料の状態や特性など，化法と分離法の組み合わせを示す．

持っている情報は全て出して欲しい，一緒に考えれば，

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-6

表5

図6

MALDI 法スパイラル TOFMS（JMS-S3000）

デンドリマーの構造式

結構何とかなります！！」とのことである．また，一旦を下げても飛ばすことが出来る DCTB（trans-2-[3-(4-tert-方式が決まると，イオン化部や分析部の電圧チューニン

ブチルフェニル )-2- メチル -2- プロペニリデン ] マロノ

グを行い，どのピークを一番シャープにみせるか等の技ニトリル）を選択した．カチオン化剤に TFANa（Sodium

術によって，質量分析の精度が変わるところが，腕の見Trifluoroacetate） を 用 い，MALDI-TOFMS の Autoflex IIせ所でもあるとのお話もされている．

（ブルカーダルトニクス社製）で，ピークが検出される様になった [10]．しかしながら，分解能が悪いため，同位体ピークが確認できない等の問題もあり，新しく導入したスパイラル TOFMS の JMS-S3000 に切り替えて測定を４．技術支援事例試みた．スパイラル TOFMS は飛行距離を長くすることで，４．１ MALDI 法によるデンドリマーのカチオン化剤添加による測定検証

質量分解能を上げ，質量誤差を小さくすることが出来る
が，飛行時間が延びるため，壊れ易いサンプルは飛行中に失活し，検出できなくなる欠点もある．カチオン化剤

京都工芸繊維大学，中建介教授からの依頼により，図 6

としては TFANa だけでなく，イオン半径の異なる TFALi，に示す 2 種のかご型シルセスキオキサン核有機無機ハイTFAK，TFAAg 等も導入した．その結果を表 5 に示す．2

ブリッドデンドリマーの質量分析を実施した．

試料とも，狙ったデンドリマーが合成されていることがいずれも分子量が 6,000 を超える固体材料であるため，イオン化法として MALDI 法を選択した．

径の大きいイオンの方が付加し易く，感度が高くなるこ

当初はスペクトルが得られず，マトリックス材料として 10 種以上の材料を検討し，最終的にはレーザーパワー

図7

NanotechJapan Bulletin Vol. 15, No. 1, 2022分かった．またカチオン化剤としては Ag イオンなど，半とが確認できた．図 7 に C256H584O116Si16 の質量スペクト
ルを示す．

C256H584O116Si16 の質量スペクトル

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-7

現在ではデンドリマー系の質量分析の手法はほぼ確立含むスペクトルは観測されなかった．ClO4 －と包接化合物出来たと考えており，依頼元からも新規デンドリマーのL の結合が弱く，結合したままでのイオン化が出来なかっ確定等，精度の必要な測定については継続的に依頼があたと考え，イオン化法の再検討を行なった．依頼者に材る．

料特性等を再確認し，この包接化合物が固体状態で結晶

４．
２分子カプセルを利用した蛍光プローブの開発

大阪歯科大学の牧田佳真講師より，蛍光プローブ用に合成した金属錯体の確認のために質量分析の依頼を受けた．
合 成 し た 金 属 錯 体 は 図 8 に 示 す よ う に 分 子 L：
C69H75N3O15 に Zn2 ＋が内包され，外側に ClO4―が緩く結合されている化合物である．
依頼者より，イオン化法として ESI 法を用いたいとの希望があり，大気圧イオン化飛行時間型質量分析装置 JMST100LP を用いて分析を行った．試料を AcCN（アセトニトリル）に溶解させ，移動相をメタノールとし，ESI 法で得た質量分析スペクトルを図 9 に示す．強度は小さいが，[L+Zn2+-H] ＋ は検出されている．しかしながら，ClO4 － を

図9

図 10

図8Zn2+ 内蔵包接化合物

ESI 法イオン化＋ TOF 型分離による質量スペクトル

MALDI 法イオン化＋スパイラル TOF 型分離による質量スペクトル

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-8

化しているとの情報を得たため，MALDI 法を用いればイていたが，NAIST のプラットフォームの存在を知り，質オン化の可能性もあると考え，マトリックスとして DCTB

量分析法による合成材料の最終確認を試したいとのことを用い，スパイラル飛行時間型質量分析装置 JMS-S3000であった．
イオン化は MALDI 法，装置は JMS-S3000 とし，マトで分析を行った．
得 ら れ た 結 果 を 図 10 に 示 す． 強 度 は 弱 い が，[L ＋リックスに DCTB，カチオン化剤として TFANa（Sodium2+－＋が検出され，依頼者の意図通りの材料がTrifluoroacetate）を用いて分析した．その結果を図 12 に合成されていることが確認できた．イオン化法を変えた示す．この初期試料（A）は分子 C180H228N12O18 のピークことにより，感度が上がったと考えられる．

以外にも高分子量側にピークが観測された．そこで元素

Zn ＋ ClO4 ]分析担当の技術職員に元素分析の精度を確認し，エラー

４．３ カラミチックーディスコチック双液晶性アゾベンゼンートリフェニレン誘導体

値は± 0.3% 以内で，質量分析の精度と比較すると低い

龍谷大学の内田欣吾教授より，図 11 に示す構造式のカ成・精製を実施した．その再合成試料（B）は初期試料

ラミチックーディスコチック双液晶性アゾベンゼンート（A）と明らかに異なる物性を示し，質量分析でも不純物リフェニレン誘導体の質量分析依頼があった．末端直鎖のないカラミチック－ディスコチック双液晶性アゾベンのアルキル数の相違による液晶相転移の違いを検証する

ゼンートリフェニレン誘導体であることを確認した．そ研究用の試料である．これまで，合成物の確認は NMR との結果，論文提出前の訂正に間に合ったと感謝された．

ことから，試料に -CH2 数の異なる試料が混在している可能性が高いと考え，依頼者に報告．依頼者側は再度合元素分析だけで実施しており，今回も元素分析を済ませ４．４

質量分析による金属クラスターの測定

NAIST 物質創成科学領域の光反応分子科学研究室では，表面の配位子設計を通じて，Ag29(BDT)12(TPP)4 などの金属ナノクラスタ（NCs：Nano Clusters）の機能開拓に取り組んでいる．ナノクラスタとは，数個から数百個の原子・分子が集合した数ナノメーターサイズの超微粒子である．
本案件の Ag29 ベースナノクラスタは，ピリジン中での光照射により，近赤外領域に量子効率の高い発光を示す状態が存在することを示しており，その論文は Chem.
Comm. に掲載されている [11]．西川氏も共著者の一人とし て， 光 励 起 す る 錯 体 試 料 で あ る，Ag29(BDT)12(TPP)4，Na カチオン導入のナノクラスタ，Au による Ag の部分置換ナノクラスタ等，論文中に使用される全ての Ag ナノクラスタ材料の ESI-TOFMS による確認を担当している．
ESI-TOFMS 測定には JEOL JMS-T100LP を用いた．
Ag 29(BDT) 12(TPP) 4 は
図 11 カラミチック－ディスコチック
双液晶性アゾベンゼンートリフェニレン誘導体

図 13 に示

す BDT（1,3benzenedithiol：1,3 ベンゼンジチオール）配位子と TPP（triphenylphosphine：トリフェニルホスフィン）配位子

図 12 C180H228N12O18 の質量分析（A）初期試料，（B）再合成試料

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令和 3 年度技術ｽﾀｯﾌ表彰（技術支援貢献賞）-9

図 13BDT，TPP の構造式

図 14[Ag29(BDT)12(TPP)x]3―，[NaAg29(BDT)12(TPP)x(NaNO3)y]2―の質量分析スペクトルに保護された錯体である．

おける目的化合物の分布を画像として表示する技術），②

図 14 に，その一例として，[Ag29(BDT)12(TPP)x]3―及び，2－NaNO3 が付加した [NaAg29(BDT)12(TPP)x(NaNO3)y]の質量分析スペクトルを示す．

コンパクト化等であるが，この質量分析分野はこれからも更に発展が続く技術領域であると大きな期待を持たれている．また，西川氏は多段階質量分析計など，次に使ESI 法で錯体を測定する際は，使用する移動相と濃度，いたい機種なども明確で，こうした装置も使用して，更に，さらに装置側の電圧調整がポイントになる．この錯体は活躍エリアを拡げたいと仰っている．NPJ 業務では，仕多価イオンとして存在しており，そこにカウンターとし事は大変忙しくなったが，幅広い材料を取り扱い，面白て配位子が入って行く試料であったが，電圧を下げていく，また対応力がさらに高まったとのことであった．こくことにより最適に配位子が入った状態で測定すること

れから引き継がれる ARIM でも，こうした専門の分析技が出来た．

術者の存在が大きな成果を出すための下支えだと強く感錯体試料を測定する時は試料を反応後の出来るだけフじ，これからの益々のご活躍に期待したい．

レッシュな状態で測定することが重要である．このケースでは，適宜，依頼者と会話して，詳細な試料情報とフレッシュな試料を得たことが，成功のポイントであったとのことである．

参考文献[1] ナノテクノロジープラットフォーム令和 3 年度秀でた
利用成果と技術スタッフ表彰者が決定，https://www.
nanonet.go.jp/ntj/topics_gov/?mode=article&article_

５．おわりにno=5858

西川氏が NAIST の質量分析を始めた当初は，装置は二[2] 組織図｜奈良先端科学技術大学院大学（naist.jp），

重収束質量分析計 JMS700 だけであったが，その後の 20

https://www.naist.jp/about/organization/chart.html

年の間に，NAIST の先生方に質量分析装置の有用性をア[3] ナノテクノロジープラットフォーム 研究支援に提供すピールし続ける等の努力もあり，現在の 6 台までに増える設備一覧，https://www.nanonet.go.jp/ntj/english/てきた．多数の装置を熟知し，それらの活用，メンテナ

setsubi/Setsubi-Nara-MolSynth.pdf

ンスから，学生達への指導，及び進化する装置技術への[4] 平成２７年度若手技術奨励賞

クライオ電子顕微鏡

目配り等も含めて，質量分析一筋の道を進んでおられる法を用いた技術支援，https://www.nanonet.go.jp/

ことが分かった．

magazine/content/files/mag_pdf/Staff_Aw_pdf/

現在の課題は，後継者の育成，装置の老朽化対応等で，特に後継者の育成は，常勤職員の雇用が難しく，非常勤Award_for_technical_staff_2016-4.pdf[5] 令和元年度技術スタッフ表彰

技術支援貢献賞

単の補佐員の習熟度が上がっても，継続雇用ができないの結晶 X 線構造解析による技術支援，https://www.

が現状で，最大の課題とされている．

nanonet.go.jp/magazine/content/files/mag_pdf/

今後については，質量分析技術の現在のトレンドは①イメージングマス（組織切片上でダイレクトに質量分析を行い，生体分子や投与薬剤を直接検出し 生体組織上にNanotechJapan Bulletin Vol. 15, No. 1, 2022

Staff_Aw_pdf/Award_for_technical_staff_2020-5.pdf[6] 令和２年度技術スタッフ表彰

技術支援貢献賞

Ｘ線光電子分光を中心としたナノ材料評価支援，文部科学省ﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰﾌﾟﾗｯﾄﾌｫｰﾑ

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https://www.nanonet.go.jp/magazine/content/a Single-Component POSS Hybrid, M. Nagao, T.

files/mag_pdf/Staff_Aw_pdf/Award_for_technical_Hayashi, H. Imoto, K. Naka Langmuir, 2021, 37,

staff_2021-4.pdf

1477-1478[7] マススペクトロメトリーってなぁに，日本質量分析学会出版委員会編

ミュージアム図書（2007. 07）[11] The emergence of intense near-infrared
photoluminescence of silver nanoclusters, W. Ishii, S.
Kato, Y. Nishikawa, Y. Okajima, A. Hatori, M. Ehara, T.

[8] 質量学会誌『Coffee Break』，M.Takayama, J. ofthe Mass Spectrometry Society of Japan, Vol.44,

Kawai, T. Nakashima, Chem. Comm., 2021,57, 6483-655(1996).

6486[9] マススペクトロメトリー
Gross 著

原著第 3 版，Jurgen H.

日本質量分析学会出版委員会訳

丸善出版（図表は全て西川氏より提供された）（2020. 04）（金久 修）[10] Unsymmetric Dumbbell-Shaped Polyhedral
Oligomeric Silsesquioxane (POSS) Compound as

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