部会
光受動部品

規 格 名 称番 号
空間ビーム光用受動部品通則
JIS C 5860
1
空間ビーム光用受動部品通則（追補１)
JIS C 5860
2 干渉フィルタ通則
JIS C 5870
3 干渉フィルタ試験方法
JIS C 5871
空間ビーム光用光アイソレータ通則
JIS C 5872
空間ビーム光用光アイソレータ試験方法
JIS C 5873
4 位相子通則
JIS C 5876-1
5 偏光子－第1部：通則
JIS C 5877-1
6 偏光子試験方法
JIS C 5877-2
7 光伝送用受動部品通則
JIS C 5900
光伝送用受動部品試験方法
JIS C 5901
光ブランチングデバイス通則（波長選択性のないもの）
JIS C 5910
波長選択性のない光ブランチングデバイス－
8
JIS C 5910-1
第1部：通則
波長選択性のない光ブランチングデバイス－
9 第3部：シングルモード光ファイバピッグテール形1×N及び2×N JIS C 5910-3
光ブランチングデバイス10 波長スイッチ通則
JIS C 5912
11 光サーキュレータ通則
JIS C 5914
光伝送用サーキュレータ -第3部：シングルモード光ファイバピッ
12
JIS C 5914-3
グテール形光サーキュレータ
シングルモード光ファイバピッグテール型
JIS C 5915
光サーキュレータ
JIS C 5916
13 光伝送用分散補償器通則
光伝送用分散補償器通則（追補1)
JIS C 5916
14 光ファイバ形分散補償器
JIS C 5916-3
15 光伝送用パワー制御受動部品-第1部：通則
JIS C 5920-1
光伝送用パワー制御受動部品-第3部：シングルモード光ファイバ
16
JIS C 5920-3
ピッグテール形電気制御式可変光減衰器
光伝送用パワー制御受動部品-第4部：シングルモード光ファイバ
17
JIS C 5920-4
プラグレセプタクル形固定光減衰器
シングルモード光ファイバピッグテール型
18
JIS C 5921
固定光減衰器19 光伝送用WDMデバイス -第1部：通則
JIS C 5925-1
シングルモード光ファイバピッグテール形 C／Lバンド
20
JIS C 5925-3
WDMデバイス
シングルモード光ファイバピッグテール形980／1 550 nmWWDM
21
JIS C 5925-4
デバイス
光伝送用WDMデバイス-第5部：シングルモード光ファイバピッグ
22
JIS C 5925-5
テール形中規模1×N DWDMデバイス
23 光伝送用光フィルタ－第１部：通則
JIS C 5926-1
24 光伝送用スイッチ-第1部：通則
JIS C 5930-1
25 光伝送用スイッチ-第2部：試験方法
JIS C 5930-2
光スイッチ試験方法
JIS C 5931
光アイソレータ通則JIS C 5932
26 光アイソレータ -第1部：通則
JIS C 5932-1
27 光アイソレータ -第2部：試験方法
JIS C 5932-2
光アイソレータ -第3部：シングルモード光ファイバ
28
JIS C 5932-3
ピッグテール形光アイソレータ
光アイソレータ試験方法
JIS C 5933
29 光伝送用レンズ通則JIS C 5934
30 光伝送用レンズ試験方法
JIS C 5935
シングルモード光ファイバピッグテール形
光アイソレータ
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
基本試験及び測定手順－第1部：通則
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
32
基本試験及び測定手順－第2-1部：正弦波振動試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
33
基本試験及び測定手順－第2-9部：衝撃試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
34
基本試験及び測定手順－第2-12部：落下衝撃試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
35
基本試験及び測定手順－第2-14部：高光パワー試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
36
基本試験及び測定手順－第2-17部：低温試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
37
基本試験及び測定手順－第2-18部：高温試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
38 基本試験及び測定手順－第2-19部：高温高湿試験定常状態
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
39
基本試験及び測定手順―第2-21部：混合温湿度サイクル試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
40
基本試験及び測定手順－第2-22部：温度サイクル試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
41
基本試験及び測定手順－第2-26部：塩水噴霧試験
31

改
改
改
改
廃
廃
制
改
制
改
廃
廃

制定改正日
2012/11/20* 2023/０2/20
2009/03/20
2011/01/20
2006/11/20
2012/11/20
2009/03/20
2015/03/20
2012/01/20
2019/10/21
2018/09/20
2014/03/20

改

2019/02/20

制

2015/03/20

制改2006/03/25
2013/03/21

制

2017/03/21

廃

2017/03/21

改
改
制
制

*

2012/05/21
2023/02/20
2013/11/20
2015/11/20

制

2017/03/21

制

2019/07/22

制

2009/12/21

改2016/03/22

制

2011/01/20

制

2011/01/20

改2020/06/22

制
制
制
廃
廃
制
制

2014/03/20
2016/03/22
2019/03/20
2019/03/20
2019/10/21
2019/10/21
2019/03/20

制

2018/05/21

廃制
制

2019/03/20
1999/07/20
2005/01/20

JIS C 5936-3

廃2018/05/21

JIS C 61300-1

改

2019/06/20

JIS C 61300-2-1 制

2012/11/20

JIS C 61300-2-9 制

2012/11/20

JIS C 61300-2-12 制

2011/01/20

JIS C 61300-2-14 改

2020/02/20

JIS C 61300-2-17 改

2020/11/20

JIS C 61300-2-18 制

2009/07/20

JIS C 61300-2-19 改

2020/11/20

JIS C 61300-2-21 制

2012/11/20

JIS C 61300-2-22 制

2012/01/20

JIS C 61300-2-26 制

2013/03/21

部会

規 格 名 称番 号
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
JIS C 61300-2-45 制
42
基本試験及び測定手順－第2-45部：浸水試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
JIS C 61300-2-46 改
43
基本試験及び測定手順－第2-46部：試験－湿熱サイクル
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
JIS C 61300-2-47 制
44
基本試験及び測定手順－第2-47部：熱衝撃試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
JIS C 61300-2-48 制
45
基本試験及び測定手順－第2-48部：温湿度サイクル試験
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
46 基本試験及び測定手順－第3-2部：シングルモード光デバイスの JIS C 61300-3-2 制
光損失の偏光依存性
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
47 基本試験及び測定手順－第3-3部：挿入損失及び反射減衰量変 JIS C 61300-3-3 制化のモニタ方法
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
48
JIS C 61300-3-6 制
基本試験及び測定手順－第3-6部：反射減衰量測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
49 基本試験及び測定手順－第3-7部：シングルモード光部品の光 JIS C 61300-3-7 制
損失及び反射減衰量の波長依存性測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
50 基本試験及び測定手順－第3-14部：可変光減衰器の減衰量の JIS C 61300-3-14 制
設定の誤差及び再現性測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
51 基本試験及び測定手順－第3-20部：波長選択性のない光ブラン JIS C 61300-3-20 制
チングデバイスのディレクティビティ測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
JIS C 61300-3-21 制
52
基本試験及び測定手順－第3-21部：切替時間測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
JIS C 61300-3-28 改53
基本試験及び測定手順－第3-28部：過渡損失測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
JIS C 61300-3-31 廃
基本試験及び測定手順－第3-31部：光ファイバ光源の結合パワー比測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
54 基本試験及び測定手順－第3-32部：光受動部品の偏波モード分 JIS C 61300-3-32 制
散測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
55 基本試験及び測定手順－第3-38部：群遅延，波長分散及び位 JIS C 61300-3-38 制
相リップル測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
56 基本試験及び測定手順－第3-43部：光ファイバ光源のモードトラ JIS C 61300-3-43 制
ンスファファンクション測定
光ファイバ接続デバイス及び光受動部品－
57 基本試験及び測定手順－第3-50部：光スイッチのクロストーク測 JIS C 61300-3-50 制
定光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手
順―第３−５３部：検査及び測定―マルチモード導波路（光ファイJIS C 61300-3-53 制
58
バを含む）からの２次元ファーフィールドデータに基づくエンサー
クルドアンギュラーフラックス（ＥＡＦ）測定方法（注）制：制定年月日，改：改正年月日，廃：廃止年月日を示す

制定改正日
2009/07/20
2021/09/21
2012/01/202010/03/23
2012/01/20
2009/07/20
2011/01/20
2012/11/20
2016/06/20
2009/07/20
2016/03/22
2020/09/23
2018/09/20
2013/03/21
2015/11/20
2012/11/20
2016/03/22*

2022/09/20