目次

1. はじめに・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 1
2. 職員・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 2
3. 装置一覧・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 3
4. 装置概要・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 5
5. 購読雑誌・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 19
6. 利用規則・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 20
7. 時間外利用・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・21
8. 総合解析センター利用Webシステム・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・22
9. 使用と予約の方法・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・23
10. 学内及び学外共同利用・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・27
11. センターからのお願い・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・28
12. 館内地図・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 29

１．はじめに
総 合解 析 セン タ ー(Comprehensive Analysis Center)は 産 業科 学 研究 所 の改 組 に伴 い 、大 阪 大
学 産 業 科 学 研 究 所 に お け る 基 礎 か ら 応 用 に 至 る 幅 広 い 「 材 料 」、「 情 報 」、「 生 体 」 の 研 究 領 域に関わる有機、生体高分子、無機、金属等の組成分析や構造解析などを総合的に行うための共 通 施 設 と し て 、平 成 21 年 度 に 旧 セ ンタ ー と 旧 電 子 顕 微 鏡 室を 統 合 し 、 発 足 しま し た 。 そ の結 果 、セ ン ター 長 をは じ めと し て、 准 教授 1 名 （兼 任 3 名）、助 教 2 名 （ 兼任 2 名）、技 術 職
員 6 名 、非 常 勤職 員 1 名 から 構 成さ れ る組 織 に至 りま し た。
現在、産研が推進している研究は、基礎科学から応用まで極めて多様化しており、これに伴い、総合解析センターに求められる解析レベルはますます高度化しています。解析に用いられる機器類も、精密で多種類となり、適切な構造解析には総合的な専門知識が欠かせない時代となっています。総合解析センターの主な装置類はこの冊子に示すように、組成分析、状 態 分 析 、 分 光 分析 な ど が 能 率 よ く 行 え るよ う に 整 備 さ れ てい ま す。 こ れら の 機器 の 導入 は 、歴代の旧センターや旧電子顕微鏡室のセンター長や室長、職員を初めとする産研教職員の尽力無しにはなし得なかったものであり、その維持は、当センター専任職員と産研の協力教員により支えられております。専門的な知識を必要とする機器類については、必要に応じてセンターの職員が解析をサポートすると同時に、比較的容易に操作できる機器類は個々の研究者に終日開放されています。これらの機器を使いこなす上で重要な利用者講習会も、新入生の た め の 機 器 分 析講 習 会 を 皮 切 り に 、 毎 年精 力 的 に 開 催 い たし て お り ま す 。 平 成 20 年 度 か ら
は旧材料解析センターの利用者講習会が理学研究科の「化学アドバンスト実験」の単位として認定されています。また「いちょう祭」等の一般公開や高校生への見学会を通して先端機器や研究の紹介も数多く行われています。最近では大阪大学科学教育機器リノベーションセ
ンター、分子研を中心とする大学連携研究設備ネットワーク（旧化学系研究設備有効活用ネットワーク）と連携することで、装置が更新され、学内、学外の研究者による利用も増えてきています。現在は、リノベーションセンターの協力によりサポートスタッフ等の技術職員
が 加 わり ICP,EPMA,電顕 の依 頼 測定 へ の対 応 も可 能 とな り まし た 。
こ の 他 、 総 合 解 析 セ ン タ ー で は セ ン タ ー の 装 置 を駆 使 す る こ と に よ り 、 セン タ ー 職 員 に よ る
有 機 化学 、 有機 金 属化 学 、分 析 化学 に 関す る セン ター 独 自の 研 究も 行 われ て いま す 。
こ の 利 用 の 手 引 き は 総 合 解 析 セ ン タ ー の 装 置 を 有効 か つ 効 率 的 に 使 用 で きる た め の ル ー ル ブックですので、装置利用の前にご一読いただけると幸いです。今後も引き続き皆様方が、当センターの機能を最大限に活用して優れた研究成果を挙げられますよう、職員一同一層の努力 を して 参 りま す 。皆 様 方の ご 協力 を よろ し くお 願い 申 し上 げ ます 。
総合解析センター

1

２．職

員

身分

名前

所属

内線
電話

電子メール

*1）

居室(号室)
研究棟別館

8527

oiwa
suzuki-t
zhou
asano

N209
205-1
206
206

mnishino

F341
S605

センター長(併 任 )大岩顕

量子システム創成研究分野

8405

准教授

鈴木

健之

総合解析センター

8525

助教

周

大揚

総合解析センター

8526

助教

朝野

芳織

総合解析センター

准教授(兼任)

西野美都子

生体分子制御科学研究分野

8548

准教授(兼任)後藤知代

先端ハード材料研究分野

8436

goto

助教(兼任)

山下泰信

複合分子化学研究分野

8471

yyamashita

F527

助教(兼任)

陣内

青萌

ソフトナノマテリアル研究分野

8476

jinnai

F506

特任研究員

謝

4295

hsieh

技術職員

松崎

剛

技術室

8527

技術職員

羽子岡仁志

技術室

8526

技術職員

村上

洋輔

技術室

8531

技術職員

嵩原

綱吉

技術室

8528

技術職員

山中

卓也

技術室

6510
4782

matuzakihaneokamurakamitakehara
t-yamanaka*2）eguchi-n

8529

cac-secretary

S115
302
206
S105
206
S506
I405
201

明君

総合解析センター

技術職員

江口

奈緒

事務補佐員

和田

智子

コアファシリティー機構

総合解析センター*1） @sanken.osaka-u.ac.jp

大岩*2） @office.osaka-u.ac.jp

顕

鈴木健之

周

大揚

朝野芳織

和田智子

西野美都子

後藤知代

山下泰信

陣内青萌

松崎

剛

謝

明君

羽子岡仁志

村上洋輔

嵩原綱吉

山中卓也
2

江口奈緒

３．装

置 一

置

機種
（メ ー カー ）

分析
方法

自主分析の
場合

依

自

頼

主

特
別
指
導

予
約

時
間
外
利
用
*1)

設
置
場
所

詳
細
ペ

ー

装

覧

ジ
*2)

700 MHz

Avance Ⅲ -700 (BRUKER)

○

105

5

600 MHz

Avance Ⅲ -600 (BRUKER)

○

104

5

核 磁気

600 MHz

ECA-600 (JEOL)

○

106

6

共 鳴装 置400 MHz
400 MHz

質 量分 析 装 置

周
可

可

羽子岡

○

要

ECS-400(JEOL)

○

要

F428

6

山下

ECS-400(JEOL)

○

要

F507

6

陣内

JMS-700(JEOL)

○

要

可

可

303

7

AccuTOF-DART(JEOL)

○

要

可

可

303

7

Ultraflex Ⅲ (BRUKER)

○

要

可

可

304

8

micrOTOF Ⅱ (BRUKER)

相
談

304

8

LTQ Orbitrap XL(THERMO)

○

304

9

ITQ1100(THERMO)

○

要

可

可

304

9

飛 行時 間 型 二次 イ オン
質 量分 析 装 置

M6(IONTOF)

○

要

可

可

102

10

フ ーリ エ 変 換赤 外
分 光光 度 計

FT/IR4100(JASCO)

○

要

可

可

302

10

可

可

302

11

紫 外可 視 近 赤外
分 光光 度 計
旋 光計

担
当
者

相
談

React-IR45(METTLER)

○

朝野
松崎

江口

鈴木

V-770(JASCO)

○

要

可

可

302

11

P-2300(JASCO)

○

要

可

可

302

12

円 二色 性 分 散計

J-1500(JASCO)

○

要

可

可

302

12

高周波誘導結合プラズマ
発光分光分析装置ICPS-8100(SHIMADZU)

○

○

要

可

可

301

13

羽子岡

2400(PERKIN-ELMER)

○
○

302
302

13
14

松崎
嵩原

CHN 微 量 元 素分 析装 置

JM10(J-SCIENCS)

示 差熱 天 秤

TG8120(RIGAKU)

○

要

可

可

302

14

示 差走 査 熱 量計

DSC8270(RIGAKU)

○

要

可

可

302

14

3

羽子岡

江口

置

機種
（メ ー カー ）

自主分析の
場合

依

自

頼

主

特
別
指
導

予
約

時
間
外
利
用

設
置
場
所

詳
細
ペ

ー

装

分析
方法

担
当
者

ジ

*1)

*2)

X 線マイクロアナライザー

JXA-8800R(JEOL)

○

○

要

可

可

102

15

江口

走 査型 電 子 顕微 鏡

JSM-F100 (JEOL)

○

○

要

可

可

S107

15

村上
江口

JEM-ARM200F(JEOL)

○

S104

16

JEM-2100(JEOL)

○

F192

16

西野
吉田
村上

S113

－

村上

透 過型 電 子 顕微 鏡

○

要

可

可

集束イオンビーム装置

FB-2100(JEOL)○

ナ ノ ス ケー ル ハ イブ リ ッ ト顕 微 鏡

VN-8010(Keyence)

○

要

可

可

S107

－

村上

X 線光電子分光分析装置

JPS-9010MC(JEOL)

○

要

可

可

101

17

羽子岡

○

要

可

可

101

17

嵩原

○

要

可

可

101

18

後藤

○

要

可

可

203

18

嵩原

*3 )

○

全 自 動 水平 型 多 目的 X 線 回折 装 置

SmartLab(RIGAKU)

蛍光 X 線分折装置

ZSX100e(RIGAKU)

単 結晶 X線 自動 回 折装 置

XtaLAB PRO(RIGAKU)

*1)

○

可

「時間外利用」とは、「平日の 8:30-18:00」以外に施設を利用することです。（p.21）
館内地図をご覧下さい。（p.29）*3)
特殊測定のみ。
*2)

4

4．装

置

の

概

要

超高感度核磁気共鳴装置 700MHzNMR

ブルカー・バイオスピンのAVANCEⅢ700は高レベルの先端デジタルNMR装置です。クライ オプ ロー ブと の組み 合わ せで 、超 高感度のNMR測定を実現します。 1 H、 13 C、 15 Nの超高感度三重共鳴プローブは 1H核と 13C核を観測するために最適化され てお り、2D,3D測定も高感 度、 迅速 に測 定が可 能で す。 測定 時間が大 幅に 短縮 され ます。 また 、自 動チ ューニン グ・ マッ チン ク機能 もあ り、 サン プルチ
ェ ンジ ャー と合 わせて 高速 、高 分解 能の全
自 動測 定が でき 、薬学 、生 命工 学、 化学、材料科学などの分野に使用出来ます。

高速回転固体核磁気共鳴装置 600MHzNMR(solid)

ブルカー・バイオスピンの先端固体NMRのAVANCEⅢ600WBはワイドボアの磁石をもつ、-140～+150℃の範囲内での測定が可能です。さらに4㎜CPMASプローブ、超高速回転 型 の 1.3㎜ CPMASプ ロ ー ブ と 組 み 合 わ せて、プロトン、多核、二次元まで従来測定が困難なものも、測定が可能です。これらによって、材料化学、固体触媒の解析から
生命科学まで幅広い分野にご使用頂ける高水準の固体NMR装置です。

5

高感 度多 核核 磁 気共 鳴 装置 600MHzNMR

日本電子のJNM-ECA600はデジタル技術と高周波数を駆使して開発されたFT-NMR装置です。JNM-ECA600MHzNMRはオートチューニン
グ、マッチングを取り入れて、Gradient Shimを有する装置です。再現性良い高品位なNM
Rスペ クトルが容易に得られます。また、軽水の消去測定や差スペクトルなどの 測定も簡単にできます。さらに低周波数のプローブを有します。ロジウム核までの測
定 も 可 能 で す 。 MICCS 装置も装着しているので、反応追跡測定も利用出来ます高感 度 磁気 共鳴 装 置 400MHzNMR

当センターに新たに導入した二台の日本電子のJNM-ECS400高感度磁気共鳴装置は小型化を実現した溶液２チャンネル測定装置
で す 。 漏 洩 磁 場 の小 さ い SCMと 組 み 合 わ せた省スペース設計となっています。優れた安定性をもつ分光計は、溶媒信号の消去や差スペクトル測定に威力を発揮します。オートチューンプロープも標準装備し、多種
多 様 な NMRス ペ ク ト ル を 美 しく 、 か つ 短 時
間で容易に測定することが可能になりまし
た 。 デ ー タ 処 理 ソ フ ト Deltaを採 用 して お
り、ユーザは自分のパソコンでDelta又はNet Alice等の解析ソフトを使い簡単且つ自由にデータを処理できます。

6

FAB質 量 分析 装置 FAB-MS(700)

虚像型立体二重収束イオン光学系を持った質量分析装置です。セットアップからイオン
源のチューニング、分解能の調整、データ測定、データ処理までを容易にオペレーション
することが可能です。難揮発性試料の高分解能質量測定するFABイオン化法用装置として使用されています。

DART質 量 分析 装置 DART-MS

JEOL社製の高分解能飛行時間型質量分析装置に専用のDARTイオン源（Direct Analysis
in Real Time）を装着した質量分析装置です。DARTは、試料を大気圧下、接地電位のもとで非接触で迅速に分析可能な新しいイオン源です。気体、液体、固体のすべてに対して応用可能です。特に物質表面にある化学物質に対して、前処理無しで分析することが可能で瞬時に測定を行うことができ、スクリーニングやハイスループット分析に有効です。

7

MALDI-TOF型 質 量分 析装 置 MALDI-MS

Bruker Daltonics社製のultraflexⅢは、レーザーとしてsmartbeamを用いることにより、感度と分解能が大幅に向上しています。このレーザーは焦点サイズを10～80μmの範囲に絞ってコンピューター制御できます。極小のレーザー焦点を試料に当てると、MALDIイメージング実験装置で非常に高いピクセル解像度で組織サンプル領域をスキャンでき、非常に高い感度と分解能が実現されます。広範な質量範囲と高分解能を実現するために開発されたPAN(panoramic) テクノロジーにより、1-500,000の質量
範囲と25,000の分解能を示します。

ク ライ オ スプ レ ーイ オン 化 質量 分析 装 置 CSI-MS

BRUKER社製のmicrOTOFⅡ（質量精度:1-2ppm, 質量分解能:16,500,測定可能質量範囲：50-20,000 m/z）に極低温イオン源（CryoSpray）を取り付けることにより、CryoSp
ray-TOF-MS測定が行えます。冷却されたイ
オン化条件下での低温測定が可能となりました。室温において不安定な化合物、有機
金属錯体、超分子複合体や反応中間体などの測定に最適です。

8イ オ ント ラッ プ 型質 量分 析 装置 FT-MS

リニアイオントラップ を搭 載し てい る高速・高感度のLTQ XLとOrbitrapを組み合わせ
た、ハイブリッド電場型フーリエ変換型質量分析計(FT-MS)です。高分解能(分解能100,000)、精度(3ppm)の高い性能を示し、低分子構造解析はもとより、多段階MS/MSによる
複雑なタンパク質の同定が可能です。スキャンスピードの高 速化 、サイクルタイムの短時 間化により、1サンプルあたりの測定時間が数分～５分と非常に短く、イオン化法についてもESI法、APCI法、APPI法が選択でき最高水準で幅広い試料測定が可能です。

ガ スク ロマ ト グラ フ 型質 量 分析 装置 GC-MS

Thermo Fisher Scientific社製のITQシ
リーズのITQ1100のGCMS装置(質量測定範囲：10-1100 m/z)で、MSn測定（n=5まで）が可能です。PQD(Pulsed Q Dissociation)が搭 載 さ れ て い る ため 、 MS n に お い て従 来 では得られなかった低質量領域における不検出の問題点が解消されています。また、Full ScanとMS/MSを同時に測定することが可能です。１回の測定でより多くのスペクト
ル情報を得ることが可能となりました。

9

飛行 時間 型 二次 イオ ン 質量 分 析装 置 TOF-SIMS

TOF-SIMSは試料表面に加速したイオンビームを照射し、発生した二次イオンを飛行
時間型の質量分析計で検出します。TOF-SI
MSはDynamic-SIMSとは異なり、パルスイオンによる最表面分析を行うことができます。本装置はスパッタ銃を備えているため、試料をスパッタしながら行う深さ方向分析も可能です。全元素および分子に対し、MS
スペクトルとデプスプロファイルの取得が可能です。また、他の表面分析手法と比較
して空間分解能に優れるため、微小領域の
分 析、MSイメージングも可能です。

フ ーリ エ 変換 赤 外分 光光 度 計 FT-IR

干渉波をコンピュータでフーリエ変換する方式の赤外分光装置で、小型ながら高感度で、安定性、操作性においても使いやす
く、ルーチン分析に適した装置です。ATR（全反射）測定装置も付属しておりフィル
ム状、粉末状試料も測定可能です。中赤外、近赤外、遠赤外に対応しており有機、無機を問わず、広範囲な試料の赤外線吸収スペクトルが得られます。ラピッドスキャン測定やイメージング測定にも拡張でき研究、材料開発用として活用いただけます。

10

反 応解 析赤 外 分光 光 度計 React-IR

最短５秒ごとの連続測定を行うことにより、溶液の中で起こるさまざまな変化を赤外スペクトルとして連続的にモニターすることができます。化学反応中にのみ存在す
る反応中間体の同定や原料の消失速度、生成物の生成速度をピーク強度の変化から観察することができるため、化学反応機構の解析に役立ちます。

紫 外 可視 近 赤外 分光 光 度計 UV･Vis･NIR

紫外領域から近赤外領域まで連続して測定することができます。検出器は紫外・可視用に光電子増倍管、近赤外用にPbS検出器を搭載し、測定波長により自動的に切り換られます。また積分球を使用することで固体表面の拡散反射や懸濁液の拡散透過の測定が可能です。試料に入射した光はあらゆる方向に反射・透過されますが、積分球によりほとんどの光を取り込みますので、より正確な測定が可能になります。

11

旋 光 計 P-2300

Naランプと水銀ランプが同時搭載され、偏光子にはグランテイラ－プリズムを使用
しています。589、578、546、436、365nmの波長を選択することができます。また各
種セルを取り揃えており試料100μlから測定が行えるようになっています。その他空冷ペルチェによる温度制御により高精度な測定が行えます 。

円 二色 性 分散 計J-1500 CD

円 二 色 性 分 散 計 （ Circular Dichroism
spec tr ometer） は タ ン パ ク ・ 核 酸 な どのバイオ分野に適した紫外・可視領域だ
けではなく、測定波長範囲が真空紫外から 近 赤 外 （ 163 ～ 16 0 0nm） ま で 幅 広 く 対
応しています。また最新のクワッドデジ
タルロックインアンプを採用しており、CD/LD、 FDCD/FDLD、 CD/FDCDな ど の 同 時
測 定 が可 能 と なっ て おり ま す。

12

高 周波 誘 導結 合 プラ ズマ 発光 分 光分 析 装置 ICP

シーケンシャル分光器を２台搭載し高分 解 能 ･高 速 を 両 立 し た 最 高 級 ICP発 光 分光分析装置です。試料にプラズマのエネ
ルギーを与え含まれている成分元素を励起します。その励起された原子が低いエ
ネルギー準位に戻るとき放出される発光線 を 測 定 す る 装 置 で す 。 溶 液 中 に ppbレ
ベルで含まれる極微量元素から組成分析のような高濃度分析まで、高い精度で幅広い分析が可能です。又、多元素を迅速に同時定量分析することが出来ます。

有 機微 量 元素 分 析装 置 CHN

有機化合物などの純粋な試料を燃焼酸化分解し、化合物を構成する元素の重量百分率を決定する元素分析法は、古くからの重要な定量分析法、純度検定法の一つです。主として合成化学物質の確認や天然物の化学構造の解明のために用いられる分析法で安定した物質かつ純度の高いサンプルであれば高い精度で分析値を得られます。測定元素は炭素、水素、窒
素 です 。

13

有 機 微量 元素 分 析装 置 EA

有機化合物などの 純粋な試料を燃焼酸化
分解し、化合物を構成する元素の重量百分率を決定する元素分析法は、古くからの重要な定量分析法、純度検定法の一つです。
主として合成化学物質の確認のために用いられます。測定元素は炭素、水素、窒素であり、同時に灰分の定量も可能です。

熱分 析装 置 TG8120,DSC8270

熱分析は物質のキャラクタリゼーションに多方面で応用でき、比較的少ないサンプルで、
簡単に精度の良い分析情報が得られるのがその理由です。材料研究、高分子、石油製品、生体物質の研究には不可欠な装置です。総合
解析センターでは固体材料の評価を行う上でEPMA、PXD等が設置されておりますがさらに
熱分析評価を加えることによりさらに充実した材料評価が行えます。今回設置された熱分
析装置は株式会社リガク製示差熱天秤Thermo
plus EVO II/TG-DTAシリーズ「差動型示差
熱天秤TG8120、高温型赤外線加熱TG-DTA」で室温から1500℃まで最高毎分1000℃の昇温速度を有しております。また同時に、同シリーズの高温型示差走査熱量計DSC8270も導入されました。TG-DTA,DSCの同時測定も可能です。

14

X線 マイ ク ロア ナラ イ ザー EPMA

EPMA(Electron Probe Micro-Analyser）
はW電子銃により発生した電子線を数十nmに細く絞り最大40ｋVまで加速し固体試料表面に照射します。発生する特性Ｘ線の波長により試料を構成している元素を同定し定量分析まで行えます。元素分布状態を知ることの出来るマッピング測定、線分析も可能となっております。測定元素範囲はＢ～Ｕまでで８分光結晶、４検出器が装備されています。本装置の特徴の一つとしてカ
ソード・ルミネッセンスも測定が行えます。金属・鉱物・セラミックスをはじめ半導体材料の評価に威力を発揮します。

走 査型 電 子顕 微鏡 FE-SEM

走査型電子顕微鏡（JSM-F100）は、電子 線の加速電 圧を10Vから30kVまで設定することができ、熱ダメージに弱い試料や絶縁物の試料にも対処することが可能です。また通常より低い真空度で観察を行うオプションも搭載されています。加え て 、EDSを 用い た元 素分 析の 性能 が大幅に向上しました。このJSM-F100は簡単な操作で観察と分析を切り替えながらデータを取得できるため、効率よく試料表面の解析を行うことができます。

15

超高分解能分析電子顕微鏡 FE-TEM

本装置はショットキー放出を利用した電子銃
で、陰極にZrO/Wエミッタ が使われ、熱電子銃と比べると輝度が高くて電子源が小さく、電界放出
電子銃よりも電流安定度が高く、大きなプローブ
電流が得られます。附属の球面収差補正装置（Cs
コレクター）は負の球面収差係数を作り出して磁界軸が対称のコンデンサーレンズの正の球面収差係数を打ち消すように働き、この機能により、より小さ く高強度の プローブ が得られより高分解能の元素分析等ができます。STEM像は薄膜試料を透過してきた電子を検出して得られたもので、散乱吸収コントラスト、回折コントラスト、位相コ
ントラストなどが得られます。STEM像は薄膜試料を透過してきた電子を検出して得られたもので、散乱吸収コントラスト、回折コントラスト、位相
コントラストなどが得られます。

生物 系 透過 型 電子 顕微 鏡 ３D-TEM

LaB6電子銃搭載型200kV透過型電子顕微鏡（JEM-2100）は、高分解能観察とハイコントラス
トを両立しており、生物系試料の観察に適しています。TEM像はCCDカメラでデジタルデー
タとして撮り込めます。高傾斜ホルダを用いて試料を最大±80°傾斜させることができ、T
EMトモグラフィシステムにより自動で連続傾斜像を取得することができ ま す 。PCにより試料の3D再構成、3D構造の可視化が行えます。

16

X線光 電 子分 光装 置 ・紫 外 光電 子 分光 装置 XPS・UPS

X線光電子分光分析装置（XPS）は試料の表面分析装置の一つで、金属、半導体、
有機物、セラミックスなど幅広い物質を対象としています。ほとんどの元素の測定が可能で化学状態などを分析できます。
試料表面から深さが６nm、分析面積が数
十mm 2と幅広い範囲で測定が可能です。またイオンエッチングによる深さ方向の分析も可能となっています。また本装置にはXPSの他にも紫外光電分光分析装置（UPS）もついており、電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面の価電子状態の知見を得ることが可能です。高エネルギ
ー分解能のため各種金属材料の仕事関数
評価にも用いられます。

全 自 動水 平型 多 目的 X線 回折 装 置 XRD

45kV、200mA(Cu)の強力X線を固体材料に照射し、試料から生じた散乱、回折X線を測定します。特に薄膜試料に驚異的な威力を発揮します。インプレーン測定をはじめ膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定、ロッキングカーブ測定など多目的測定装置です。測定はガイダンス機能により初心者にも容易にデータを得ることが出来ます。X
線入射源にはGe二結晶、四結晶が選択でき
高分解能測定が可能です。また、シンチレーション検出器と数分で高速測定が行える
一次元検出器が用意されています。さらに、
ICDD（Ver2.1102）も搭載されています。

17

蛍 光 X線 分折 装置

XRF

波長分散型（WDX）の本装置は、X線源にRh4kW管球を使用し、試料から発生した蛍光X線を6枚の分光結晶（LiF、PET、Ge、RX-25、RX-75、TAP）で回折させ、2種類の検出器（シンチレーションカウンタおよびプ
ロポーショナルカウンタ）を用いることで、BからUまで(但し、C, N, Oは除く）の幅広
い元素の定性・定量分析を感度良く行うことができます。試料は粉末、バルク、液体試料に対応し、最大12個までセットして連続測定を行うことができます（ターレット式）。また、定性分析の結果からFP法により標準試料なしで半定量を行うSQXプログ
ラムや、経験の浅い方でもマニュアルなし
でSQX分析が可能なEZスキャンモードを搭載しています。

単 結晶 自動 Ｘ 線回 折 装置 SC-XRD

回転対陰極型高輝度X線源とX線集光ミ
ラーを組み合わせ、κ型ゴニオメータに1光子 検 出型 ハ イ ブリ ッ ドピ ク セル 検 出
器 を 搭載 し た 単結 晶 X線 構造 解 析装 置 です。X線源はMoおよびCuの2線源から選択できます。検出器は、ゼロノイズ、広い
ダ イ ナミッ クレ ンジ によ り、 高いS/Nで微弱な反射と強い反射を同時に検出でき、さらに、シャッターレスの高速測定も可能です。測定・データ処理ソフトウ
ェアにはCrysAlisProを採用し、自動解析プラグインAutoChemによる効率的な分析が可能です。分析試料は金属錯体や低分子化合物のみならず、タンパク質結晶など幅広く対応します。

18

5．購読雑誌
総合解析センターでは下記の雑誌を購読しています。
雑誌1）分析化学1952～

2）ぶんせき1975～3）Ｘ線分析の進歩

1974～2016

分析学習ビデオ（放送大学

物質の科学・有機構造解析）

総合解析センターパンフレット、利用の手引き

196．利用規則
総合解析センターでは以下のような利用規則を定めていますので、よろしくご承知の上、順守下さい。

・

玄関開扉時間：8:30～18:00 (土曜日、日曜日、祝日を除く。)

・

施設の利用

：「総合解析センター利用 Web システム」（p.22）
による手続きが必要。

（総合解析センターのホームページ内「総合解析センターCAC Web システム」
より入る。）
・

時間外利用：平日18:00 以降の利用、および土、日曜日、祝日の利用にISIRカードが必要（p.21）。

・

土足厳禁(全館)：玄関下駄箱の専用スリッパ利用。

・

禁

：全館

・

論文別刷り

煙

： 研 究 成 果 を 論 文 等 を 発 表 する 際 は 謝 辞を 入 れ 、 別 刷り を 提出する。→センター玄関に掲示させて頂きます。

(例） We thank the members of the Comprehensive Analysis Center, ISIR, Osaka University, for spectral
measurements, X-ray diffraction data, and microanalyses.

207．時間外利用
総合解析センターを、平日 18:00か ら 翌 日 8:30 ま で と、土・日・祭日（全日）に利用す
るには、ISIRカードが必要です。

1.

時間外のセンターへの入館、退館及び、実験室への入室は産業科学研究
所発行の ISIR カード（図 1）のみで可能となりますので、必ずカードを着用して下さい。

2.

電子錠コントローラ（図 2）に ISIR
カード（図１）をかざしてドアの開閉をおこなって下さい。

3.

図1

電気錠コントローラーは非接触式なので ISIR カード
は財布等の中に入れたままで使用可能です。

4.

実験中の実験室電気錠は自動的に施錠されます。
退室時は室内側より電気錠を開錠して下さい。

5.

各扉の開け放し状態が 30 秒以上続くとアラームが鳴ります。扉の閉まりが確認されるとアラームが止まると共に施錠されます。

6.

予期せぬ停電等には電気錠は全て開錠されます。

7.

非常時は玄関内側の電気錠非常カバーを外すか、各階の非常口を用いて下さい。

図2

21

8．総合解析センター利用Webシステム
全ての装置を利用するにあたって「総合解析センター利用Webシステム」を利用します。
装置の横に設置した専用コンピュータもしくは各研究室のコンピュータで作業を行ってください。流れは下記のようになっています。
① 総合解析センターのホームページ（トップページ）の「総合解析センター利用Webシステム」を選択します。次のページで装置予約とセミナー予約の画面に移ります。
http://133.1.58.227/cacwebs/souti_list.php をクリックします。（図3）② 使 用し た い 装 置を 選択 しま す。（ 図 4）使 用 状況 は、 装置 名 下に 記載 され て いま す。
使 え な い ボ タ ン は グ レ ー ア ウ ト に な っ て いま す 。 青 のU： 装 置を 使 う 時 、終 了 す る 時。 緑のW：現在使用中の装置を次に使いたい場合。赤のRS：時間指定をして装置を予約する時。
黄色のRQ：リクエストでスタッフに分析をお願いする時。
③ 総 合解 析 セン ター Webシ ステ ム（ 図 5）の 画 面よ りEmail address,Passwordを入 力して
ロ グ イ ン し ま す 。（ 初 め て ご 利 用 の 方 は 、 CREATE ACCOUNT か ら ア カ ウ ン ト を 作 成 し て 下
さい。）④ 装置ごとに選択事項がありますので、出力画面に従って操作して下さい。
⑤ 入力作業を終了するときには、画面右上のLogoutをクリックして下さい。
注意：30分間以上操作をしないと接続が自動的に切断されるので、再度ログインする必要があります。

図3

図4

図5

22

9．使用と予約の方法
・自主測定① 総 合 解 析 セ ン タ ー の ホー ム ペ ー ジ （ト ッ プ ペ ージ ） の 「 総合 解 析 セ ン ター 利 用 Webシステム」を選択し、使用装置の「U]をクリックし、ログインします。（P22、図4.5）。
②使用時間など選択し、測定開始時には「Start」ボタンをクリックします（図6）。
③ 測定終 了時に は必要 事項 を入力 し、「 Stop」ボ タンを クリッ クしま す。（図7）。FundCod
eは 、 使 用 料 を ど の お 金 で 支 払 う か のコ ー ド に な りま す 。 こ のコ ー ド 番 号は 研 究 室 の先 生や秘書さんが把握していますので研究室のスタッフに確認の上選択して下さい。
Methodと Solvent（ 質 量 分析 装 置 の 場合 は サン プ ル数 を選 択し 、 必要 であ れば コ メン トを入力します。(図8.9)※Wait Listに名前がある場合は必ず次の方に電話連絡をすること。

図6

図7

図8

図9

23

装置が使用中の場合（waitボタンの使用について）① 使 用 装 置 の 「 W」 ボ タ ン を ク リ ッ クす る と 使 用 時間 を 選 択 する 欄 と 待 ち状 況 が 表 示さ れます。使用時間を選択し「Wait」ボタンをクリックします。(図10)※測定開始時に「start」ボタンを押して下さい。

図10
特定の日時に測定を行いたい場合、または夜間長時間測定を行いたい場合①使用装置の「RS」ボタンをクリックすると利用する日時と目的を入力する表示がされます。使用時間を選択して「RESERVE」をクリックします。(図11)※ 「 RESERVE」 は 現 在の 時 間 か ら ３時 間 以 降 の予 約 の み 可能 で す 。 ３ 時間 前 の 予 約は
「Waiting」を使用して下さい。

図11
リザーブボタンとwaitボタンの注意事項
どちらのボタンで予約しても利用時間が来たら「U]のボタンを押してスタートして、終了時にまた「U]のボタンを押してストップして下さい。次に予約を取り消したい場合は、リ
ザーブボタンをクリックすると、自身が予約した欄にキャンセルボタンが表示されますのでそこからキャンセルを行って下さい。キャンセルせずそのまま放置しますと課金が発生します。
最後に、Waitボタンで予約をされ、NextUserになった場合は5分以内にUボタンをクリック
し、スタートして下さい。5分以内にスタートしない場合、予約は無効になり次の方がNex
tUserとなります。

24

・依頼測定特殊な測定法や測定核種を希望される方、または利用経験のない方のために依頼測定を受付ています。
① 総 合 解 析 セ ン タ ー の ホー ム ペ ー ジ の「 総 合 解 析セ ン タ ー 利用 Webシ ス テム 」 を 選 択し 、使用装置のRequestの黄色い「RQ]をクリックし、ログインします。（P22、図4.5）。
②試料に関する情報を入力して、「REQUEST」をクリックします（図12）。
③帳票が作成されるので（図13）、印刷をして試料と一緒に測定担当者に提出して下さい。

図12

切り取って試料容器に貼って下さい

NMR帳票例

質量分析帳票例
図1325

切り取って試料容器に貼って下さい

有機微量元素分析帳票例

・その他依頼方法について
透 過 型電 子 顕微 鏡 は、 毎 週木 曜 日 10 時よ り 第 2 研 究 棟 105 号 室で 予 約が 可 能で す 。
※総 合 解析 セ ンタ ー 利用 Web シ ステ ム では 予 約で き ませ ん 。
(a) 依頼 測 定
・ 測定 に 関 す る 相 談 は 随時 、 受 け 付 け ま すの で 、第 2 研 究 棟 105 号 室 試 料作 製 室ま で 、
お越 し 下さ い 。試 料 作製 方法 を 検討 し ます 。
(b) 自主 測 定・電 子 顕微 鏡 の経 験 があ り担 当 者が 許 可し た 人の み 使 用で き ます 。
(c) 試料 作 製に つ いて・希 望 があ れ ば随 時 講習 しま す 。

26

10．学内および学外共同利用
大 学 連携 研 究設 備 ネッ ト ワー ク
平 成 19年 度 よ り 自 然 科 学 研 究 機 構 分 子 科 学 研 究 所 を 核 と し て 始 ま っ た 大 学 連 携 研 究 設 備 ネ ッ
トワーク（旧化学系研究設備有効活用ネットワーク）は、学外共同利用を促進するためのネッ ト ワ ー ク で す 。 尚 、 本 ネ ッ ト ワ ー ク で は 大 阪 大 学 は 、 西 近 畿 地 区 に 分 類 さ れ 、 令 和 3年 度 より 総 合解 析 セン タ ーの 鈴 木准 教 授が 西 近畿 地 区の 委員 長 を担 当 して い ます 。

大学連携研究設備ネットワーク

http://chem-eqnet.ims.ac.jp/index.html

科 学 機器 リ ノベ ー ショ ン ・工 作 支援 セ ンタ ー
総合解析センターに設置されている装置の一部は、科学機器リノベーション・工作支援セ
ンターと連携し学内外の共同利用に供しています。科学機器リノベーション・工作支援セン
タ ー で は 、「 大 阪 大 学 に お け る 施 設 整 備 に 関 す る マ ス タ ー プ ラ ン 」 に 基 づ き 、 全 学 共 同 利 用 に供するリユース可能な設備・機器の修理・アップグレード等に要する経費を支援し、学内外への共同利用の促進を図り、研究環境の向上・充実に向けた取り組みを強化・推進しています。
平 成 29年 10月 現 在 、 98台 の 装 置 が リ ユ ー ス 機 器 と し て 全 学 共 同 利 用 に 供 さ れ て お り （ う ち
総 合 解 析 セ ン タ ー の 装 置 は 11台 ）、 科 学 機 器 リ ノ ベ ー シ ョ ン ・ 工 作 支 援 セ ン タ ー が 窓 口 と な って、機器に関する情報提供を行ったり、利用しやすい環境を整えたりするなど、利用の促進
を 図 って い ます 。
また、機器利用者の知識・技術の向上のための取り組みも行っています。利用者向けの機器 利 用 講 習 会 や 機 器 分 析 に 関 す る セ ミ ナ ー の 開 催 、 そ れ に 加 え 平 成 28年 度 よ り 機 器 分 析 者 向
け の e-ラ ー ニ ン グ を 科 学 機 器 リ ノ ベ ー シ ョ ン ・ 工 作 支 援 セ ン タ ー HP上 で 公 開 し 、 利 用 者 へ の更 な る技 術 支援 を 図っ て いま す 。

科学 機器 リ ノベ ー ショ ン ・工 作 支援 セ ンタ ー

27https://www.reno.osaka-u.ac.jp/

11．センターからのお願い
大阪大学の国立大学法人化に伴い、総合解析センターの研究への貢献度が何らかの形で説得力をもって示されなければならない状況になっております。
総合解析センターの機器を使用して行った研究の成果を学会誌等に発表される場合は、
論 文 に 謝 辞 等 を 御 記 載 し て い た だ き ま す よう 何 卒 お 願い 申 し 上 げ ます (総合 解 析 セ ンタ ー
利 用 の 手 引き p.20を 御参 照 下 さ い）。 ま た 、論 文 が 印 刷・ 公表 さ れた 時に は、 総 合解 析センターに、別刷１部づつを御寄贈下さるようよろしくお願い申し上げます。
総合解析センターでは、利用者の皆様がセンター機器を利用して得られた研究成果（論文等）をセンター年報に掲載します。また寄贈いただきました別刷りは総合解析センター
1階 玄 関 前 に 掲 示 し て お り ま す 。 こ れら の 論 文 は 総合 解 析 セ ンタ ー を 利 用す る 研 究 者の み
ならず、総合解析センターに来訪される高校生や一般の見学者からも好評を得ています。
今後とも、総合解析センターの機器を御利用いただき、皆様の研究が益々発展することを心より祈願しております。

28

12．館内地図29