奈良工業高等専門学校
機器・設備リスト

目次・機械工学科

Ｐ1～

・電気工学科

Ｐ２～・電子制御工学科 Ｐ６～
・情報工学科

Ｐ８～

・物質化学工学科 Ｐ９～

名称 Ｍ1：サーボプレス成形設備 一式 Ｍ2：レーザ顕微鏡

Ｍ3：高速精密旋盤

最大加工荷重６０トンで様々な塑性加光学顕微鏡観察，電子顕微鏡観察， NC装置付きの高速旋盤で，主としてバ工が可能である．成形時のストローク
表面粗さ測定などの高解像度観察・高 イトによる各種被削時の切削データ収使途等に対して荷重や成形速度が測定でき集に使用できる．
精度測定が可能である。．
る．
規格 コマツ産機製（株）ｷｰｴﾝｽ社製
形状測定ﾚｰｻﾞﾏｲｸﾛｽｺｰﾌﾟ
VK-X200/X210

滝澤鉄工所 TAC510×1000型

Ｍ5：万能試験機

Ｍ6：鍛造シミュレーションシステム

画像機
械工学
科
Ｍ

名称 Ｍ4：旋盤

鍛造以外にも板プレスやロール成形な汎用式の高速精密旋盤で，主としてバ最大荷重500kNまで印加して，引張圧
ど様々な塑性加工のシミュレーション
使途等 イトによる各種被削時の切削データ収縮試験が可能である．
が可能である集に使用できる．
規格 ｼｮｳｳﾝｺｳｻｸｼｮ ST5X1000

島津ＵＨ-Ｆ500ｋＮＩ

独国simufact社製simufact forming

画像

Ｍ：機械工学科、Ｅ：電気工学科、Ｓ：電子制御工学科、Ｉ ：情報工学科、Ｃ：物質化学工学科

1

名称

Ｅ1：インピーダンス/ゲイン・フェーズアナライザ

Ｅ2：オートマチック
ポラリゼーションシステム

Ｅ3：グローブボックス

各種回路及び電気・電子デバイスの特 電流－電位曲線の測定ができ電気化 空気を窒素やアルゴンなどで置換し使途等 性について、周波数をスイープさせて 学反応の概略を掴むことができます。 て、酸素に触れない状態で実験ができます。サイズは、３０ｃｍ×６０ｃｍ程度
めっきの研究などに利用可能測定及び解析可能。
規格 エヌエフ回路設計ブロック ZGA5920

北斗電工 HSV-110

アズワン㈱製 ｽﾃﾝﾚｽ製
グローブボックス SGV-65V

画像

名称 Ｅ4：コンパクトサーモグラフィ

電気工学科

Ｅ5：スペクトラムアナライザ/ベクト Ｅ6：デジタル・フォスファ・
ルネットワークアナライザ 一式
オシロスコープ

使途等

赤外線を用いて非接触で温度分布を測定可能。

スペクトラム測定機能の周波数帯域は、9k～9GHzです。ベクトルネットワー
ク測定機能は、高周波回路網の通過 一般的オシロスコープで、波形解析におよび反射電力の強度と位相の周波 用いる。
数特性を測定でき､周波数帯域は5k～6GHzです。

規格

NEC Avio赤外線ﾃｸﾉﾛｼﾞｰ
Thermo Shot F30W

アンリツ MS2036C 外４点

日本ﾃｸﾄﾛﾆｸｽ DPO4034

Ｅ8：バイポーラ電源

Ｅ9：ＡＣ・ＤＣ用可変負荷抵抗器

Ｅ

画像

名称 Ｅ7：デジタルオシロスコープ

使途等

任意波形を増幅して出力。同機種連
一般的オシロスコープで、波形解析に携による出力UP可能。吸い込み可。
用いる。
1MHzまで。

ﾚｸﾛｲｼﾞｬﾊﾟﾝ
規格 WR6050A（高圧差動ﾌﾟﾛｰﾌﾞAD305含む）

エヌエフ回路設計ブロック HSA4014(上段）４ｋｗまでの電力に対応する負荷装置 （下段）各種ﾃﾞﾊﾞｲｽの模擬ができるプログラマブルＤＣ電源
昭和電子等

画像

Ｍ：機械工学科、Ｅ：電気工学科、Ｓ：電子制御工学科、Ｉ ：情報工学科、Ｃ：物質化学工学科

2

名称 Ｅ10：バイポーラ電源

使途等

任意波形を増幅して出力。吸い込み可。数10kHzまで。大電力用。

規格 （株）ｴﾇｴﾌ回路設計ﾌﾞﾛｯｸ BP4620

Ｅ11：フーリエ変換赤外分光光度計

Ｅ12：マスクアライナー

測定対象の物質に赤外線を照射し、フォトリソグラフィ―によるパターン形分光することで分子構造や状態を知る成を行うための紫外線露光装置。
ことができる装置。
日本分光 FT-IR-4100ST（制御用パーソナルコンピュータ
DELL Optiplex7010を含む）

大熊ｴﾝｼﾞﾆｱﾘﾝｸﾞ OEMA－１２SN

Ｅ14：ミックスド・シグナル・オシロスコープ

Ｅ15：モバイル型アイマークレコーダ

画像

名称 Ｅ13マニュアルプローバ

アナログ4ｃｈ、デジタル16chを同時に電気特性を計測するため，実体顕微 計測できるオシロスコープ。アナログ「人はどこを見ているか？」を可視化・使途等 鏡により半導体集積回路・デバイス基 の帯域幅350MHz,サンプリング・レート計測可能にする視線計測システム
2Gサンプル/s,垂直分解能8ビット。デ板上に針状電極を接続する装置。
ジタルの最大入力周波数250MHz。
電気工学科

規格 大熊ｴﾝｼﾞﾆｱﾘﾝｸﾞ OEPV－１０２０

ｱｼﾞﾚﾝﾄﾃｸﾉﾛｼﾞｰ MSO6034A

ﾅｯｸｲﾒｰｼﾞﾃｸﾉﾛｼﾞｰ EMR-9 BasicＥ
画像

名称 Ｅ16共焦点顕微鏡システム 一式 Ｅ17：繰返しインパルスサージ電源 Ｅ18：高温酸化拡散炉
2インチ程度までの基板を1100度まで不要散乱光などの影響を受けず、高 高速・高電圧パルスを繰り返し発生さ加熱し，導入ガスにより酸化または熱使途等 解像度・高コントラストの画像が得られ せることができ、擬似的なインバーター処理が可能。酸化の際には，バブリンサージの実験などに使用可能る装置。
グによるウェット酸化も可能。
ﾚｰｻﾞｰﾃｯｸ OPTELICS Hybrid L3-R
規格 （制御用パーソナルコンピュータ
DELL OptiPlex7010を含む）

国際制御国際 IPS-BP05S

大熊ｴﾝｼﾞﾆｱﾘﾝｸﾞ OETKO－１３００

画像

Ｍ：機械工学科、Ｅ：電気工学科、Ｓ：電子制御工学科、Ｉ ：情報工学科、Ｃ：物質化学工学科

3

名称Ｅ19：EMC試験・マイクロ波測定システム

本システムは、小型電波暗室、スペクトラムアナライザ(9k～30GHz)、ベクトルシグナルジェネレータ(9k～6GHz)、コントローラ等で構成されます。対策用の簡易EMC試験（放射エミッション測定、雑音端子電圧測定）とマイクロ波アンテナパ使途等ターンの自動測定ができます。また、スペクトラムアナライザやベクトルシグナルジェネレータの単体機能を用いた各種応用測定も可能です。
電波暗室(シールド面内寸L3600×W2350×H2100mm)，スペクトラムアナライザ (R&S FSV30)，ベクトルシグナルジェネレータ(R&S SMBV100A)，ディジタルオシロスコープ(R&S RTO1024)，バイログアンテナ(Schwarzbeck VULB9161SE,規格25M～2GHz)，ブロードバンドホーンアンテナ(Schwarzbeck BBHA9120B, 1～10GHz)，LISN(R&S ENV216/16)，アンテ
ナタワー，アジマステーブル

画像

名称 Ｅ20：紫外可視分光光度計

Ｅ21：水晶振動子化学計測システム

Ｅ22：太陽電池特性評価教育
システム 一式

原子核を周回している電子が、エネル水溶液中の電気化学反応の測定がで 様々な太陽電池のI-V特性を評価する
使途等 ギーの高い軌道へ遷移する際の光吸きます。めっきの研究などに利用可能 装置。
収を測定する装置。
電気工学科

日本分光 V-630ST
規格 （制御用パーソナルコンピュータ
DELL Optiplex7010を含む）

ｾｲｺｰ･ｲｰｼﾞｰ･ｱﾝﾄﾞｼﾞｰ(株)社製 QCA922

SAN-EI ELECTRIC
XES-40S1

名称 Ｅ23：直流大電流電源

Ｅ24：定格負荷電力
２ＫＷ電子負荷装置

Ｅ25：抵抗率計 ロレスタ-GP

使途等 大電力用直流電源。

定抵抗、定電圧、定電流動作可能な直流電子負荷で、DDコンや電気・電子 接触抵抗などの測定ができます。
デバイスの特性解析に用います。

高砂製作所
規格 定電圧/定電流直流電源
HX0300－50形

高砂 FK1000L，FK1000LB

Ｅ
画像

三菱化学ｱﾅﾘﾃｯｸ MCP-T610

画像

Ｍ：機械工学科、Ｅ：電気工学科、Ｓ：電子制御工学科、Ｉ ：情報工学科、Ｃ：物質化学工学科

4

名称 Ｅ26：振動試料型磁力計Ｅ27：半導体パラメータアナライザ Ｅ28：スマートエナジーシステム

材料の磁気特性（MH曲線）が測定でき 半導体集積回路・デバイスの電気的使途等 ます。サイズは、１ｃｍ角程度、厚さも１ 特性(I-V特性等）を計測するための装 自律協調分散電源システムの実験装置
置。分解能10fA, 0.2μV。
ｃｍ程度
電気工学
科

理研電子
規格 室温試験振動試料型磁力計
BHV－３５

ｱｼﾞﾚﾝﾄﾃｸﾉﾛｼﾞｰ
Agilent４１５５C（ﾃｽﾄﾌｨｸｽﾁｬｰ16442A含む）

アバール長崎等Ｅ
画像

Ｍ：機械工学科、Ｅ：電気工学科、Ｓ：電子制御工学科、Ｉ ：情報工学科、Ｃ：物質化学工学科

5

名称 Ｓ1：３次元プリンタ

Ｓ2：ジャイロ式
モーションキャプチャシステム

使途等 3次元プリンタ

慣性センサを用いた高精度の接触型3次元モーショントラッキングシステム。 金属その他のマイクロビッカース硬さ
高速で正確なデータを簡単に取得する が測定可能
ことが可能

規格 3D Systems製 Cube X Trio

Xsens MVN2-ProBIO

Ｓ3：硬度計㈱島津製作所製 微小硬度計 HMV-1

画像

Ｓ4：レーザー発生装置
ファイバーレーザー

名称

使途等電子
制御工学
科

Ｓ5：高周波誘導加熱装置

微細加工用のレーザー光源（波長1064 nm、パルス幅400 fs、繰り返し周波数 １００ｇ程度までの金属・合金の溶解が1 MHz、最大出力2 W）
可能㈱ミヤデン製
高周波誘導加熱装置 SSM-7S

規格 英国Fianium社製 FP1060S-PP-D

Ｓ
画像

名称 Ｓ6：顕微鏡

Ｓ7：顕微鏡白金イオンコーティング装置

Ｓ8：三次元人体・剛体運動計測システム

赤外線カメラによる光学式モーション
30～３０万倍まで拡大できる走査型電 非導電性物質を走査型電子顕微鏡で キャプチャシステム（非接触型）．複数
使途等 子顕微鏡二次電子像，反射電子像そ 観察できるようにするための白金イオ 人のトラッキングが可能，さらに人間だ
ンコーティング装置の他の像解析と元素分析も可能
けでなく剛体の運動を計測することが可能
規格 JSM-5900LVM

ｷﾝｿﾞｸｺｰﾃｨﾝｸﾞJFC-1600

NaturalPoint社 OTFP6-ME

画像

Ｍ：機械工学科、Ｅ：電気工学科、Ｓ：電子制御工学科、Ｉ ：情報工学科、Ｃ：物質化学工学科

6

名称

Ｓ9：自動ＸＹ軸
ステージシステム

Ｓ10：精密自動Ｚ軸ステージ

Ｓ11：多軸双腕ロボットアーム
制御実験システム 一式

最小刻み1 nm、最高速度300 mm/sに 最小刻み5 nm、最高速度10 mm/sに使途等 て最長100 mm、100 Nまでの物体を移 て最長5 mm、40 Nまでの物体を高さ方法に移動できるステージ
動できるステージ

双腕協調作業，遠隔操作，ロボット制
御における標準プラットフォームを提供．基礎学習から産業応用への研究が可能．

規格 Newport社製 XMS100-XPS

Newport Corporation社製 GTS30V

米国 Rethink Robotics社製
Baxter Research Robot

Ｓ13：熱流体可視化
実験システム 一式

Ｓ14：万能試験機

画像電子制御工学科Ｓ

名称

Ｓ12：対物レンズ用ピエゾアクチュエーター

風洞，およびPIVシステムから構成さ引張力が最大で１０kN，金属その他の対物レンズを1 nm程度の分解能にて れ，渦など，乱れを伴った熱，流体の引張試験が可能で，引張強さ，破断伸使途等
100μm長移動させることができる装置 流動現象に対する流体速度の計測にび，耐力などが測定可能
使用
規格

Piezosystem jena社
MIPOS100PLSG

本体 AG-10KNI

画像

Ｍ：機械工学科、Ｅ：電気工学科、Ｓ：電子制御工学科、Ｉ ：情報工学科、Ｃ：物質化学工学科

7

名称

Ｉ1：らくらくウェルネス(脳年齢計)Aタイプ

Ｉ2：加速度脈波測定システム

Ｉ3：視線計測装置

脳の機能年齢、ストレスなどのチェック 指先で脈拍を測定でき、自律神経機パソコン利用者の視線移動を計測・評使途等 およびトレーニングを行うことができま 能評価ができるだけでなく、血管老化価します
スコア等を知ることもできます。
す。
規格 ㈱ななせ社製 (脳年齢計)Aタイプ

株式会社ユメディカ アルテット
CDNタイプナックイメージテクノロジー製
EMR-AT-Voxer

画像

情報
工学
科

名称 Ｉ4：自転車シミュレーター

Ｉ5：生体センシング・インタフェース
Ｉ6：Eラーニングシステム 一式システム 一式

Ｉ
使途等

自転車の安全講習目的のものですが、自転車の走行を体験できます。

規格 Honda製 自転車シミュレーター ＴＧ02

脳波や脳血流，筋電位，発汗量，体温，心拍を計測

学科内でのe-Learningの実施と学習評価が可能なシステムです．

TMS ｲﾝﾀｰﾅｼｮﾅﾙ BV製
NeXus-10 Mark II

富士通製 CoursePower V1+各種サーバ

画像

Ｍ：機械工学科、Ｅ：電気工学科、Ｓ：電子制御工学科、Ｉ ：情報工学科、Ｃ：物質化学工学科

-8

名称

Ｃ1：電界放出形走査電子顕微鏡システム 一式

Ｃ2：前処理装置

Ｃ3：Ｘ線回折装置 一式

試料にＸ線を照射した際に、原子の周りに電子線を絞って電子ビームとして対象に照
大気非暴露冷却クロスセクションポリッ
ある電子によってX線が散乱、干渉した結射し、対象物から放出される二次電子、反シャー、貴金属コーター、カーボンコーター
使途等 射電子、透過電子を用いて高分解能で観 など。FE-SEMでの観察前の前処理装置と 果みられる回折の情報を解析し、無機物質の粉末や薄膜、金属部品など多様なサ察することができる電子顕微鏡。低加速電して幅広い機器を保有しております。
ンプルの測定が可能。
圧高倍測定可能。高分解能。

規格 日本電子（株）製 JSM-7800F 外日本電子（株）製（株）リガク社製
SmartLab3KW/PD/INP

画像

名称

物質
工学
科

Ｃ4：周波数変調方式走査型
プローブ顕微鏡 一式

Ｃ5：X線光電子分光分析装置 一式 Ｃ6：４００MHz核磁気共鳴装置

先端に据え付けた尖らせた探針を用いて、 無機固体や高分子などのサンプル表面に原子核を磁場の中に入れて核スピンの共試料表面をなぞるように動かして表面の凹 X線を照射し、生じる光電子のエネルギー鳴現象を観測することで、物質の分子構造使途等 凸、形状などの表面状態を観察することが を測定することで、サンプルの構成元素と を原子レベルで解析するための装置。固できる顕微鏡。試料と探針の原子間にはた その電子状態を分析することが可能。UPS体測定が可能。
装備。モノクロ光での測定が可能。
らく力を検出可能。

規格 （株）島津製作所製 FM-AFM特型

ｱﾙﾊﾞｯｸ･ﾌｧｲ 3057特型装置

日本電子㈱製JNM-ECX400/NM-93020CPM4N/
JNM-MY60FT/NR30

Ｃ

画像

名称

Ｃ7：液体クロマトグラフ
質量分析装置 一式

Ｃ8：高周波プラズマ発光分析装置 Ｃ9：走査型プローブ顕微鏡 一式

先端に据え付けた尖らせた探針を用いて、固定相と液体の移動相との親和性の差を 高周波誘導結合プラズマを光源とした発光
試料表面をなぞるように動かして表面の凹利用して物質を分離し、分離したものを 質 分析法で、溶液試料の元素分析に適して使途等 量分析器で検出することで定性・定量を行 いる。ツインシーケンシャル型で高分解能 凸、形状などの表面状態を観察することができる顕微鏡。STM観察など幅広い測定に測定が可能。
う装置。精密質量測定が可能。
対応。

米国ｳｫｰﾀｰｽﾞﾃｸﾉﾛｼﾞｰｽﾞｺｰﾎﾟﾚｰｼｮﾝ
規格 社製
Xevo G2-S Qtof 外（株）島津製作所製 ICP-8100（株）島津製作所製 SPM-9700

画像

Ｍ：機械工学科、Ｅ：電気工学科、Ｓ：電子制御工学科、Ｉ ：情報工学科、Ｃ：物質化学工学科

9

名称 Ｃ10：触媒評価分析装置

Ｃ11：自動比表面積／細孔分布測定装置

Ｃ12：紫外可視近赤外分光光度計

触媒評価に必要なTPD、TPR、TPO、金属定容量法ガス吸着法により吸脱着等温線
紫外可視-近赤外領域波長の吸光度を測分散度（金属表面積）、BET１点法比表面使途等 積、パルス法化学吸着量測定などの分析 を自動測定し、試料の比表面積、細孔分 定する装置。恒温測定可能。
布を高精度で解析可能。
が可能。

規格 日本ベル（株）製 BELCAT-A-C

日本ベル（株）製 BELSORP-miniⅡBELPREF-vacⅡ

島津製作所 UV-3600

Ｃ14：示差走査熱量分析装置

Ｃ15：GPC分析装置 一式

画像物質工学科

名称 Ｃ13：熱重量示差熱分析装置

Ｃ分子サイズの差に基づいて分離を行なう
サンプルを加熱することによって生じる重 サンプルを加熱することによって生じる熱液体クロマトグラフィーの一種であり、高分使途等 量変化（TG）、示差熱（DTA）を測定可能。 量（DSC）を測定可能。高性能・高感度モデ 子物質の分子量分布、および平均分子量ル。
高性能・高感度モデル。
分布を測定可能。

規格 ｴｽｱｲｱｲ･ﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰ TG/DTA7200

ｴｽｱｲｱｲ･ﾅﾉﾃｸﾉﾛｼﾞｰ X-DSC7000

液ｸﾛｻｲｴﾝｽ製ﾋﾞﾙﾄﾞｱｯﾌﾟGPCｼｽﾃﾑ
GPC-101BUS

画像-

名称 Ｃ16：ガスクロマトグラフ

物質
工学
科
Ｃ

Ｃ17：フーリエ変換赤外分光光度計 Ｃ18：円二色性分散計

気体を移動相とし、カラムと呼ばれる管の試料に赤外光を照射し、透過または反射し内部構造がキラルな物質が円偏光を吸収中に保持された固定相と物質の相互作用た光量を測定することで、分子構造や状態使途等 によって混合物を分離、検出する分析法。 など分子の特性を知るための装置。ATR する際に左円偏光と右円偏光に対して吸光度に差が生じる現象を読み取る装置。
気化しやすい化合物の同定・定量に用いら装備。
れる。キャピラリーカラム装備。

規格 米国ｱｼﾞﾚﾝﾄ･ﾃｸﾉﾛｼﾞｰ 6850

島津製作所 IRAffinity-1

日本分光㈱製 円二色性分散計 J-820SR

名称 Ｃ19：分光蛍光光度計

Ｃ20：超高純度水素発生装置

Ｃ21：ドラフトチャンバー

高純度の水素を発生させる装置（付属設備）

有害な気体が発生するときや、揮発性の有害物質を取り扱うときに安全のために用いる局所排気装置。

（株）エアーテック製 NM-H300

アズワン（株）製 ASSRE ﾋｭｰﾑﾌｰﾄﾞ AS1200-TSC

種々の波長の励起光を物質に当て，発す

使途等 る蛍光の波長の特性を測定できる装置。
恒温測定可能。

規格 島津製作所 RF-5300

Ｍ：機械工学科、Ｅ：電気工学科、Ｓ：電子制御工学科、Ｉ ：情報工学科、Ｃ：物質化学工学科

10

マスコットキャラクタ
ナナ・コット- NaNa・ＣＯＴ

独立行政法人国立高等専門学校機構
奈良工業高等専門学校 産学交流室〒639-1080 奈良県大和郡山市矢田町22番地
TEL 0743-55-6173 FAX 0743-55-6019
E-mail:syomu@jimu.nara-k.ac.jp
http://www.nara-k.ac.jp/(2014年９月26日

作成)