FOCUS on e-JSSNT

No. 8 (2004 March )operated by The Surface Science Society of Japan with Japan Science and Technology Agency

ホームページ：http://www.sssj.org/ejssnt
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1118

1465

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990

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685

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. jp

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229

229

150

218

93

118

224

219

他

122

207

193

163

215

183

112

94

116

総数
21720

3125

ポイントカソード熱電子銃での空間電荷の数値解析
リメートされた陽電子ビームを作り出した。全反射
Numerical analysis of space charge in a point cathode 効果によって表面最表面に敏感な回折パターンおよthermionic emission gun (Conf. Paper –ALC’03-)
びロッキングカーブを観測することができた。
(http://dx.doi.org/10.1380/ejssnt.2003.147)
Si(111)-7×7 表面のロッキングカーブ解析から、アド―R. Iiyoshi, Vol. 1, pp. 147-151. (December 27, 2003) ― アトムが電子回折から求められていた位置よりさら

熱電子放射型ポイントカソードでの空間電荷効果の詳細を数値解析した。まず、ポアッソン方程式から電場を求め、その中での３次元光線追跡を行い、それをもとに空間電荷を求め、それをポアッソン方程式に戻し、これらが首尾一貫するまで繰り返すという方法をとった。カソード先端周辺の電場分布を異なるウエネルト・バイアス電圧および異なるカソード温度で求めた。その結果、放射領域の大きさが空間電荷によって影響されることがわかった。に真空側に飛び出ていることがわかった。また、SiC
表面について、Si 面は C 面に比べて酸素吸着に対して不安定であり、酸素原子が T1 サイトに吸着していることが分った。

非接触 AFM による原子選別とマニピュレーション
Atom Selective Imaging and Mechanical Atom Manipulation based on Noncontact Atomic Force MicroscopeMethod (Conf. Paper –ALC’03-) http://dx.doi.org/10.1380/ejssnt.2003.158) ―S. Morita, N. Oyabu, R. Nishi, K.
Okamoto, M. Abe, O. Custance, I. Yi, Y. Seino, Y. Sugawara,
Vol. 1, pp. 158-170 (December 29, 2003)―

陽電子線の全反射回折による表面構造解析
Top Most Surface Studies by Total Reflection Positron
Diffraction (Conf. Paper –ALC’03-)(http://dx.doi.org/10.1380/ejssnt.2003.152)
原子分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡(NC-AFM)―A. Kawasuso, T. Ishimoto, Y. Fukaya, and K. Hayash, A. は顕微鏡を超えたさまざまな機能を持つ。探針最先端
Ichimiya, Vol. 1, pp. 152-157 (December 27, 2003)―の原子と試料表面の原子との間に働く力を３次元的反射高速陽電子回折(RHEPD)を開発し、それを用いて Si(111) および SiC(0001)表面構造を解析した。
静電レンズを用いて可干渉距離 17 nm 程度の良くコにマッピングすることが可能となり、その力の起源・性質を明らかにできる。また、そのような情報から原子種を区別したり、原子分解能での点電荷をも検出したりできる。さらには原子間力の制御により、個々の離散的なエネルギー準位を持つ１次元系のポテン原子のマニピュレーションが実現した。NC-AFM は導 シャル分布を数値的に求めた。これは、最近の半導体体・絶縁体を問わずに、原子・分子レベルでのイメー 微細加工技術によって形成される量子ドットやアンジング・構造解析・加工を可能とする。
チドット列などが示す異常な輸送特性の研究に応用される。多数のエネルギー準位を取り込むとポテンシ
ャルの振動の振幅が大きくなり、また細かな振動を示し、フラクタル構造を見せる。このような１次元メゾスコピック系は量子化カオス現象を示す可能性がある。この結果は２つの異なる理論的な取り扱いによって再現性よく得られた。

多価イオンによる表面ナノ構造の形成
Slow Highly Charged Ions -A New Tool For Surface
Nanostructuring?- (Conf. Paper –ALC’03-)(http://dx.doi.org/10.1380/ejssnt.2003.171)―F. Aumayr and H. Winter,
Vol. 1, pp. 171-174 (December 29, 2003)―

シンクロトロン放射光による光電子顕微鏡
Chemical Specific Imaging and Spectroscopy of Interfaces and Dynamic Surface Processes with Synchrotron多価イオンを固体表面に衝突させると、その大きな Based X-ray Microscopy (Conf. Paper –ALC’03-)
ポテンシャルエネルギーが解放されて、低速の場合で (http://dx.doi.org/10.1380/ejssnt.2004.1)
もきわめて高い効率でスパッタリングが起きたり、特 ―M. Kiskinova, Vol. 2, pp. 1-7 (January 19, 2004)―
異なナノメータスケールの欠陥を形成することができる。これにより、通常の高速イオンビームを試料に光電子顕微鏡には、放射された光電子を結像させる照射したときに生じる不要なダメージを避けること X 線光電子顕微鏡(XPEEM)と、励起光を収束させて試ができ、表面・超薄膜層のエッチングやナノ加工に応 料を横方向に走査させてマッピングする走査型光電用できる可能性を秘めている。この論文では”ソフト・ 子顕微鏡(SPEM)の２種類がある。それらを比較しながスパッタリング“による表面クリーニング、表面改質、 ら最新性能を示すデータを紹介する。サブミクロン空多価イオンによるリソグラフィ・パターニング、ナノ 間分解能で可能な化学種別イメージングやスペクトドット形成などの応用例を示す。
ル分解イメージングなどの例を、表面化学反応や熱拡散・エレクトロマイグレーションに伴う質量輸送などの現象を例にとって示す。XPEEM では LEEM/LEED機能と組み合わせ、微小領域での構造と化学状態の両方の情報を得ることができる。

ナノスケール１次元保存系
Numerical Evidence of Nano-scale One-dimensional
Conservative System with GOE-type Quantum Level
Statistics (Conf. Paper –ALC’03-)(http://dx.doi.org/10.1380/ejssnt.2003.175)―M. Tomiya and S. Sakamoto,Vol. 1, pp. 175-180 (December 29, 2003)―