12/09/13	  JPS	 RHIC-­‐PHENIX実験におけるシリコン崩壊点検出器を用いた方位角異方性のη依存性測定	 
中込宇宙	 for	  the	  PHENIX	  collabora:on	  筑波大学	 

1	 RIKEN-­‐CCJを使用	 

l導入	  方位角異方性	  	 	  	  	  動機	  lシリコン崩壊点検出器(VTX)	  lVTXを用いたv2測定	  	  	  	  	  -­‐	  v2	  のpt依存性	 	  	   VTX	  Standalone	  trackを使用	 	  	  	  	  -­‐	  v2のη依存性	  	  	  	  	  -­‐	  PHOBOSのv2との比較	  	  	  	  	  -­‐	  non-­‐ﬂow	  効果	  	  VTX	  Cluster(hit	  情報)を使用	 
lまとめと今後	  12/09/13	  JPS	 

目次	 

2	 方位角異方性	 
高エネルギー原子核・原子核衝突では、衝突関与部から生成される粒子は集団的膨張運動(Flow)をする。	  

密度勾配	 発生粒子分布は運動量空間で異方性を持ち	  検出される	 	 

12/09/13	  JPS	 

衝突関与部の初期の幾何学的な異方性	 

放出粒子分布を反応平面を基準にフーリエ級数展開する	 y (x, y)dN
= N 0 (1+ # 2vn cos(n(! ! " n )))
!
d!
!2

x	 
n=2 平面と放出粒子	 

vn =< cos(n(! ! " n )) >（異方性）	 

3	 

systematic uncertaintin Figure 5. The pseu#%*
3 centrality bins is sim)# $%(minimum-bias data. F#
already has a non-zer
The overall shape of
dependent within the$%$'(%*only by a scale factor!#!($(#of Fig. 5, which show
dto central data arou$%$&constant. However, it
data around mid-rap
distribution, given theIn summary, we ha$%$"dence of v2 (η) in Au+
Excellent agreement w
validates the use of th$%$#allowed for the study
0#&123#&'(!)4-+-5./
largerange of η cove617+8#$%&'(!),-+4-./
silicondetectors. The!"#$%&'(!)*+,-./
v2 decreases with inc$
GeV Au+Au collision!"!#$#"dresults with four partthat our flow measure
flow effects, over the rFIG. 5: Elliptic flow as a function of pseudorapidity(v(η))
22from 200-GeV Au+Au collisions for the threecentrality
bins
predominant fePhys.	  Rev.	  C72,	  051901(R)	  (The2005)	 
(3 − 15% circles, 15 − 25% triangles, 25 − 50% squares). Data
not change significant
for η > 0 are determined by reflecting the hit-based results#Npart $ ∼ 290 to #Npa
about mid-rapidity and then combining them with the trackone moves away frombased results and are shown with the corresponding combined
data can be used to m
90% C.L. statistical and systematic uncertainties. The samedependence of the v2
data are reflected around η = 0 and shown as open symbols.
This work was pa
In the range where the methods overlap, the insert shows thegrants
DE-AC02-98
ratio of the peripheral to central results, with the appropriate
DE-FC02-94ER40818
90% C.L. combined uncertainties.
99ER41099, and W9603486, 9722606 a2
1-P03B-06227, andresults and the track-based resultswith similar η binning

12/09/13	  JPS	 +,-./0,-1234,56-12

動機	 

PHOBOS実験で測定されたv のη依存性	 

Peripheral/Mid-­‐centralでは三角形の形をしている	 
PHENIX実験でもVTXの導入により、広いラピディティー領域を連続的に覆う事が可能。	  
PHENIX実験でのv のη依存性はどうなるか？	  

4	 

シリコン崩壊点検出器(VTX)	 
VTX検出器	 12/09/13	  JPS	 PHENIX検出器	 

p 4層構造(内側2層:ピクセル型、外側2層:ストリップ型)	  p Δφ~2π	  p |η|<1.2	  p 飛跡再構成(Standalone	  Tracking)が可能	  5	 y(x, y)ob2

< cos 2(! ! " ) >v2 ="tr" =< cos 2(" ob!
"22 )>!2!

x	 ! ob
2 : Event	  Plane(粒子が多く放出された角度)	 

! :放出粒子の方位角	 

Event	  Planeと放出粒子	 

12/09/13	  JPS	 Event	  Plane法	 6	 Event	  Plane法(EP:BBC,	  yφ:VTX)	 
(x, y)< cos 2(! ! " ob2 )>v2 ="tr" =< cos 2(" ob!
"22 )>!2Event	  Planeと放出粒子	 

BBC	  North	  BBC	  South	  +	  North	 < cos2(! ob2 " ! tr2 ) >12/09/13	  JPS	 x	 ! ob
2 :BBC	  South	  Δφ	 !

! : Standalone	  track	 -­‐3.9	  -­‐3.1	  -­‐1.2	 

VTX	 
VTX	 

BBC	  North	 0	 BBC	  	  South	 2π	 

1.2	  3.1	  3.9	 

7	 η	 centrality	  [%]	 

v2:pt依存性	 
ppg132
0.2

0.2

0.2

0.2

Systematic Error TypeA
Systematic Error TypeB

30 ~ 40 %40 ~ 50 %

50 ~ 60 %

0.15

0.15

0.15

0.1

0.1

0.1

0.1

0.05

0.05

0.050.05

v20.15
0000.5

11.5

p [GeV/c]
T000.5

11.5

p [GeV/c]
T12/09/13	  JPS	 

20 ~ 30 %

000.5

11.5

p [GeV/c]
T00.5

11.5

p [GeV/c]
Tp 	  PRL107.252301	  (2007)でCNT	  trackを使用して測定されたv2と	  	  	  	  	  VTX	  	  Standalone	  trackを使用して測定したv2で比較。	  	  	  	  	  -­‐Standalone	  track	  では0.25<pt<1[GeV/c]を使用	  	  	  	  	  -­‐Systema:c	  Error	  	  	  	  	  	  	  	  Type	  A:	  track	  cutと3パターンのRP(BBC	  N/S/NS)	  +	  sin項	  	  	  	  	  	  	  Type	  B:	  1[GeV/c]でのPRL107.252301	  (2007)との差	 

8	 

12/09/13	  JPS	 v2:η依存性	 

pv2のη依存性を測定した	  	  	  	  	  -­‐	  0.25<pt	  <	  1[GeV/c]	  	  	  	  	  -­‐	  centrality	  20-­‐60%までを10%ステップ	  9	 

12/09/13	  JPS	 v2:PHOBOSのv2と比較	 

pPHOBOSのv2と比較	  	  	  	  	  -­‐	  PHOBOS	  :	  centrality	  25-­‐60%,	  pt>	  0[GeV/c]	  	  	  	  	  -­‐	  PHENIX（本解析）:	  centrality	  20-­‐60%,	  0.25<pt<	  1[GeV/c]	  10	 

Event	  Plane法(EP:VTX,	  φ:VTX)	 
y (x, y)< cos 2(! ! " ob2 )>v2 ="tr" =< cos 2(" ob!
"22 )>!2!

! ob
2 : VTX	  0.5η	  スライス	 ! :VTX	  cluster(荷電粒子のhit情報)	 

Event	  Planeと放出粒子	 
この領域でEPを測定	 

12/09/13	  JPS	 x	 

layer3	 layer2	 
layer1	 
この領域の	  クラスターの座標からv2を測定	 

layer0	 

Z	 
011	 

v2:non	  ?low効果1	 

12/09/13	  JPS	 

EP測定領域(0.5<η<1)	 

η	 pクラスター(荷電粒子のhit情報)を用いて測定したv2	  	  	  	  	  -­‐	  BGやptを選んでいないパフォーマンスプロット	  	   EPの測定領域の前後両サイドが盛り上がっている	  p	  	  	  	  -­‐	  non	  ﬂow効果(ﬂow以外の寄与でv2の値が大きくなる)	  	  	  	  	  	  	  →Event	  Plane法ではΔη=1.5程度空ける必要がある	  12	 

v2:non	  ?low効果1	 

12/09/13	  JPS	 

EP測定領域(0.5<η<1)	 

η	 pクラスター(荷電粒子のhit情報)を用いて測定したv2	  	  	  	  	  -­‐	  BGやptを選んでいないパフォーマンスプロット	  p
	   EPの測定領域の前後両サイドが盛り上がっている	  	  	  	  	  -­‐	  non	  ﬂow効果(ﬂow以外の寄与でv2の値が大きくなる)	  	  	  	  	  -­‐	  EP測定領域の両サイドで盛り上がり方が違う	  	  	  	  	  	  	  Mid-­‐rapidity側:Δη=1.5	  ,	  Forward	  rapidity側:Δη=1 	  13	 

v2:non	  ?low効果2	 
0.5<|η|<1	 1<|η|<1.5	 

1.5<|η|<2	 12/09/13	  JPS	 0<|η|<0.5	 p他のrapidity領域で測定したEPを使用して測定したv2	  	  	  	  -­‐EPを測定した領域の前後の幅が違う	  	  η	 14	 pVTXのStandalone	  trackを用いてv2の測定が可能である事を確認(pt<1[GeV/c])	  	  	  	  	  -­‐	  他の解析にもStandalone	  trackは使用可能	  pv2のη依存性を測定	  	  	  	  	  -­‐	  Systema:c	  Errorが大きく分布の議論は難しい	  pNon-­‐ﬂow効果がEPを測定した前後のη領域で違う	  12/09/13	  JPS	 

まとめ	 

今後	 pVTXのStand	  alone	  trackを用いてv3の解析を行う	  15