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参考文献・出典・引用
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2. 菊池正典 著：「半導体とシステム LSI」、（株）日本実業出版社、初版 2006 年 6 月
3. Behzad Razavi 著、黒田忠広

監 訳 ； 「アナログCMOS集積回路の設計（基礎編）」、丸 善 ( 株 )4. Behzad Razavi 著、黒田忠広

監 訳 ； 「アナログCMOS集積回路の設計（応用編）」、丸 善 ( 株 )5.谷口研二 著；「ＣＭＯＳアナログ回路入門」、ＣＱ出版（株）、初版 2005 年 1 月
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9.枝均 著；「Verilog による論理合成の基礎」、（株）テクのプレス、初版 2005 年 1 月
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11. Design Wave Magazine 編集部 編；「SystemVerilog 設計スタ−トアップ入門」、ＣＱ出版（株）、
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12.堀桂太郎 著；「PSoice で学ぶ電子回路設計入門」（株）電気書院、2008 年 7 月
13.小野斉大・田谷文彦・三澤明 著；UNIX コマンドブック、2006 年 6 月、SoftBank Creative㈱14.Arnold Robbins・Nelson H.F.Beebe 著，日向あおい訳；詳解シェルスクリプト、2006 年 1 月、
オライリー・ジャパン㈱15.Cameron Newham・Bill Rosenblatt 著；入門 bash、2005 年 10 月、オライリー・ジャパン㈱16.Linda Lamb・Arnold Robbins 著；入門 vi、2002 年 5 月、オライリー・ジャパン㈱17.KENT WEB Perl 入門
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19.平田豊 著；Perl トレーニングブック、2004 年 8 月。㈱ソーテック社
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http://japan.xilinx.com/support/documentation/data_sheets/j_ds312.pdf
23.Quartus II マニュアル、Altera 社、

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28. Janick Bergeron 著 STARC/ARM/Synopsys 監訳;「ベリフィケーション・メソドロジ・マニュア
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29. 「OPENCAD® V5.3（第2版）スタティック・タイミング・チェック PrimeTimeTMインタフェース編」、
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31.「静電気放電(ESD)破壊対策ガイド」、NECエレクトロニクス（株）
32．特許庁
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33.三枝国際特許事務所
http://www.saegusa-pat.jp/index̲j.htm
34.オシロスコープ入門
http://www.cqpub.co.jp/column/books/2001a/11891osiro/default.htm
35.「HP-8560E ユーザーズ・ガイド スペアナ取扱説明書」、ヒューレット・パカード社
36. 安浦寛人 著；「ハードウェア設計特論」の資料、2007 年 5 月
37. 相良岩男 著；「Ａ／Ｄ・Ｄ／Ａ変換回路入門」、日刊工業新聞社、初版 2003 年 3 年
38. 岩田穆 著「VLSI工学-基礎・設計編」」、（株）コロナ社、初版2 0 0 6 年 1 0 月
39.「パッケージの紹介と解説」、富士通（株）
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41.日本アルテラ株式会社の小原 也氏の 2008/10/31 資料
42.富士通「統計的ＳＴＡの実用化技術」の資料
43.富士通「統計的遅延解析技術」の資料
44.NEC OPENCAD V5.3 STAによるサインオフ編ユーザーズ・マニュアル
45.NEC OPENCAD V5.3 スタティック・タイミング・チェックPrimeTimeインタフェース編ユーザーズ・
マニュアル
46.STARC「ばらつき考慮設計」資料
49.小林春夫 著「完全デジタル PLL 回路 ADPLL を学ぶ」、日経エレクトロニクス 2009 年 6 月 1 日号

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参考文献・出典・引用50.小沢利行 著；「PLL 周波数シンセサイザ回路設計法」、総合電子出版
51.SystemVerilogテストベンチチュトリアル、JEITA資料【本書記載の社名および製品名について】「第８章 開発ツール」に記載されている「Xilinx」,ザイリンクスのロゴ，ブランド ウィンドウ，ISE WebPACK，Spartan-3E，iMPACT およびザイリンクスが所有する製品名等は，米国 Xilinx Inc. の
米国における登録商標です。
また、「Altera」、アルテラのロゴ，ブランド ウィンドウ，QuartusⅡおよびアルテラが所有する製品名等は，米国 Altera Inc. の米国における登録商標です．
また、「Cadence」、ケーデンスのロゴ，ブランド ウィンドウ，OrCAD およびケーデンスが所有する製品名等は，米国 Cadence Inc. の米国における登録商標です．
さらに、本書に記載されている社名および製品名やツール名は一般に開発メーカーの商標登録です。
Ｒ 、○Ｃ の各表示を省略して明記しておりません。
本文中では、ＴＭ、○

857

索引

索

引

数字／記号

ＤＣＯ回路・・・・・・・・・・・・・・・・・ 128

１

Ｄラッチ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 304
ＤＦＭ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 508

１次ΔΣ変調・・・・・・・・・・・・・・・・ 168

２

ＤＦＴ・・・・・・・・・・・・ 324,343,351,355

２次ΔΣ変調・・・・・・・・・・・・・・・・ 160

ＤＦＴｃｏｍｐｉｌｅｒ・・・・・・・・・・・ 378

２ステップ抵抗型Ｄ／Ａ変換・・・・・・・・・ 175

ＤＬＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 121
ＤＲＢＦＭ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 823

英字／ギリシャ文字

ＤＲＣ・・・・・・・・・・・・・・・・ 441,469

ＡＥ

Ａ／Ｄ変換回路・・・・・・・・・・・・・・ 150

ＥＢ処理・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 505

ＡＤＰＬＬ・・・・・・・・・・・・・・・・ 126

ＥＣＯ・・・・・・・・・・・・・・・・ 338,497

always 文・・・・・・・・・・・ 200,202,210,232

ＥＭＣ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 761

assign 文・・・・・・・・・・・ 200,202,205,206

ＥＭＩ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 762

At-speed・・・・・・・・・・・・・・・・ 336,375

ＥＭＳ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 762

ＡＴＰＧ・・・・・・・・・・・・・・・ 351,376

ＥＯＳ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 473

Ｂ

ＥＲＣ・・・・・・・・・・・・・・・・ 455,469
ｅｍａｃｓ・・・・・・・・・・・・・・・・ 588

ＢＣＤコード・・・・・・・・・・・・・・・・ 163

Ｆ

ＢＧＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 561
ＢＩＳＴ・・・・・・・・・・・・・・・ 355,357,367

False Path・・・・・・・・・・・・・・・・・ 396

ＢＯＳＴ・・・・・・・・・・・・・・・ 370,371

ＦＡＴ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 820

ＣＦＢＧＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 564

Capture CIS・・・・・・・・・・・・・・・・・ 695

ＦＩＢ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 383

ＣＭＰ・・・・・・・・・・・・・・ 508,510,531

ＦＩＦＯ・・・・・・・・・・・・・ 425,433,436

ＣＭＲＲ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 99

ＦＩＲ型フィルタ・・・・・・・・・・・・・・ 166

ＣＴＳ・・・・・・・・・・・・・・・・ 320,338

ＦＭＥＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 819

ＣＶＤ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 534

ＦＰＧＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 481

ＣＺ炉・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 527

function 文・・・・・・・・・・・・ 200,202,207

ＤＧ

Ｄ／Ａ変換回路・・・・・・・・・・・・・ 152,170

Gated Clock・・・・・・・・・・・・・・・・ 400

Ｄ−ＦＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 304

generate 文・・・・・・・・・・・・・・ 200,202

858

索引

Ｈ

module・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 198

Ｎ

ＨＤＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 180
ＨｉＳＩＭモデル・・・・・・・・・・・・・ 708

ｎ回検出テスト・・・・・・・・・・・・・・ 372

ＩＯ

Ｉｄｄｑテスト・・・・・・・・・・・・ 355、361

ＯＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 528

Ｉｄｄｔテスト・・・・・・・・・・・・・・・ 374

ＯＰＣ・・・・・・・・・・・・・・・・ 485,505

ＩＩＲ型フィルタ・・・・・・・・・・・・・・ 166

ＯｒＣＡＤ・・・・・・・・・・・・・・・・ 695

inital 文・・・・・・・・・・・・・・・・・ 281

ＯＶＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 301

Ｐ

ＩＯセル・・・・・・・・・・・・・・・ 460,477
ＩＰ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 183,320

ＰＣＢ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 375

IR-Drop・・・・・・・・・・・・・・・・ 340,502

Ｐｃｅｌｌ・・・・・・・・・・・・・・ 449,454

ＩＳＥ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 630

ＰＤＫ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 454

ＩＳＯ９０００・・・・・・・・・・・・・・ 791

ＰＤＣＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 811

Ｊｐｅｒｌ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 586
ＰＬＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 120,121

ＪＫ−ＦＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 303

Ｋ

ＰＮ接合・・・・・・・・・・・ 25,27,29,30,34

Ｌ

PrimeTime・・・・・・・・・・・・・・・・・ 396,404

ＬＦＳＲ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 367

procedure 文・・・・・・・・・・・・・・・・ 249

ＬＩＮＵＸ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 568

PSpice・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 694

Ｑ

ＬＳＩテスター・・・・・・・・・・・・・・・ 344
ＬＯＣＯＳ分離・・・・・・・・・・・・・・・ 532

ＱＡ体系図・・・・・・・・・・・・・・・・・ 793

ＬｏＣ方式・・・・・・・・・・・・・・・・・ 364

ＱＣ工程表・・・・・・・・・・・・・・・・・ 793

ＬｏＳ方式・・・・・・・・・・・・・・・・・ 365

ＱＣ七つ道具・・・・・・・・・・・・・・・・ 796

ＬＱＦＰ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 563

ＱＣ新七つ道具・・・・・・・・・・・・・・・ 802

ＬＶＳ・・・・・・・・・・・・・・ 452,455,469

ＱuratusⅡ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 638

Ｍ

Ｒ

ＭＩＳＲ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 368

Ｒ−２Ｒラダー抵抗型・・・・・・・・・・・ 175

Multi Cycle Path・・・・・・・・・・・・・・ 397

ＲＡＭ・ＢＩＳＴ・・・・・・・・・・・・・・ 369

ＭＴＢＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 817

ＲＣ抽出・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 349

ＭＴＴＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 818

Rise／Fail 解析・・・・・・・・・・・・・・ 395

ＭＴＴＲ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 819

ＲＳ−ＦＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 302

ＭＵＸスキャン・・・・・・・・・・・・ 257,360

ＲＴＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 181

859

索引
VerilogHDL・・・・・・・・・・・・・・・・ 183

ＲＴＬチェッカー・・・・・・・・・・・・・・ 188

Ｓ

ＶＭＭ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 291

Ｗ

Ｓ／Ｎ比・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 758
ＳＣＲ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 359

ＷＰＰ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 564

ＳＤＣフォーマット ・・・・・・・・・ 385,388

Ｘ

ＳＥＭ・・・・・・・・・・・・・・・・ 381,830

Ｙ

ＳｉＰ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 565

Ｚ

ＳＫＩＬＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 449

ZnS 構造・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 12

ＳｏＣ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 184

Δ

ＳＯＩ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 530
ＳＰＩＣＥ・・・・・・・・・・・・・・・・ 672

Δ型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・・・・・158

ＳＰＩＣＥモデル・・・・・・・・・・・・・ 702

ΔΣ型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・・・・158

ＳＳＴＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 412

五十音ＳＴＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 385

あSystemＣ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 182
SystemVerilog・・・・・・・・・・・・・ 182,266

アーキテクチャ宣言・・・・・・・・・・・・ 240

Ｔ

アーリー効果・・・・・・・・・・・・・・・ 69

Ｔ−ＦＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 303

アイソレータ・・・・・・・・・・・・・・・ 518

ＴＡＢ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 558

アイ・パターン・・・・・・・・・・・・・・ 783

ＴＡＰ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 331

アクセプタ準位・・・・・・・・・・・

task 文・・・・・・・・・・・・・・・・・ 200,203

アクティブフィルタ・・・・・・・・・・・・・143

ＴＣＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 389

アサーション記述・・・・・・・・・・・ 268,279

ＴＤＣ回路・・・・・・・・・・・・・・・・・ 127

アサーション検証・・・・・・・・・・・・・・ 188

TetraMax・・・・・・・・・・・・・・ 378,379,345

アナログＰＬＬ・・・・・・・・・・・・・・・ 122

Ｕ23,24,32

アノテーション・・・・・・・・・・・・・・・ 455
アドホック手法・・・・・・・・・・・・・・・ 355

ＵＮＩＸ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 569,570

Ｖ

アライメント工程・・・・・・・・・・・・・・537

ＶＣＯ・・・・・・・・・・・・・・・・ 121,123

アバーチャ効果・・・・・・・・・・・・・・・ 166

ＶＨＤＬ・・・・・・・・・・・・・・・ 182,237

アンテナ対策・・・・・・・・・・・・・・・ 493,508

いVirtuoso・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 452
Vi エディタ・・・・・・・・・・・・・・・・ 581

イオン注入工程・・・・・・・・・・・・・・ 537,539

Verilog-AMS・・・・・・・・・・・・・・・・ 182

移動度・・・・・・・・・・・・・・・

860

18,29,48

索引
位相比較器・・・・・・・・・・ 122,123,124,125

可観測性・・・・・・・・・・・・・・・・・ 354

意匠権・・・・・・・・・・・・・・・・ 840,844

化合物半導体・・・・・・・・・・・・・・ 11,12

インゴット・・・・・・・・・・・・・・・・ 526

価電子帯・・・・・・・・・・・13,14,16,23,24,30

インスタンス文・・・・・・・・・・・・ 200,202

カスコード接続増幅回路・・・・・・・・

インバータ回路・・・・・・・・・・・・・・・ 462

仮想プロトタイピング・・・・・・・・・・・ 336

う87

加速度試験・・・・・・・・・・・・・・・・ 824
過度解析・・・・・・・・・・・・・・・・・ 678,690

ウェル形成・・・・・・・・・・・・・・・・・ 533

えカレントミラー回路・・・・・・・・・・・・・ 99,103

エッジ型同期化回路・・・・・・・・・・・・ 427

環境変数・・・・・・・・・・・・・・・・・ 570,577

エッチング工程・・・・・・・・・・・・・・・ 531

感応度解析・・・・・・・・・・・・・・・・・ 691

エネルギー準位・・・・・・・・・・・14,16,18､23

ガンメルプーンモデル・・・・・・・・・・・ 702

エレクトロマイグレーション・・・・・・・ 483,489,503

ガンメルプーン直流モデル・・・・・・・・・・ 703

エンハンスメント型 MOS・・・・・・・・・・・ 54

ガンメルプーン小信号モデル・・・・・・・・・ 706

演算子・・・・・・・・・ 235,205,244,245,277,590

ガンメルプーン大信号モデル・・・・・・・・・ 705

きエンティティ宣言・・・・・・・・・・・・・・240

お共有結合・・・・・・・・・・・・・・・

11,12

オシロスコープ・・・・・・・・・・・・・・・712

禁止帯・・・・・・・・・・・・・・・・・・

13

オフセット誤差・・・・・・・・・・・・・・・172

禁制帯・・・・・・・・・・・・・・・・・・

13

オープン故障・・・・・・・・・・・・・・・・ 347

基板バイアス・・・・・・・・・・・・・・・ 51

か寄生抵抗・・・・・・・・・・・・・・・・・ 52,74

カーネル・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 569

寄生容量・・・・・・・・・・・・・・・・・ 52,76

ガードリング・・・・・・・・・・・・・・・ 450,456,458

寄生インダクタンス・・・・・・・・・・・・

階層設計・・・・・・・・・・・・・・・・・ 222,337,486

機能カバレッジ・・・・・・・・・・ 182,269,292

階段接合・・・・・・・・・・・・・・・・・33,34

機能検証・・・・・・・・・・・・・・・ 269,319

カウンタ回路・・・・・・・・・・・・・・・ 308

許容入力範囲・・・・・・・・・・・・・・・・ 100

拡散・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 17帰還回路・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 108

77

く拡散工程・・・・・・・・・・・・・・・・・ 531
拡散係数・・・・・・・・・・・・・・・・・ 19,20

偶発故障・・・・・・・・・・・・・・

拡散容量・・・・・・・・・・・・・・・・・

31

組合せ回路・・・・・・・・・・・・・・ 204,254

19,26,27,28

グレー・コード・・・・・・・・・・・・・・ 162,435

拡張スキャン・・・・・・・・・・・・・ 364,366

グレーコードカウンタ・・・・・・・・・ 312,426

可制御性・・・・・・・・・・・・・・・・・ 354

クロックト・コンパレータ・・・・・・・・・ 157

拡散電流・・・・・・・・・・・・

861

343,817

索引
クロックスキュー・・・・・・・・・・・・・ 315

サブルーチン・・・・・・・・・・・・・・・ 604

クロックゲーティング・・・・・・・・・・・ 324

サンプルホールド回路・・・・・・・・・・・ 164,168

クロスカバレッジ・・・・・・・・・・・・・ 293

参照渡し・・・・・・・・・・・・・・・・・ 278

しクロストーク・・・・・・・・・・・・・ 416,457
グローバル配線・・・・・・・・・・・・・・ 492,493

シーケンス演算子・・・・・・・・・・・・・ 288

け時間制御・・・・・・・・・・・・・・・ 249,263

ゲート接地回路・・・・・・・・・・・・・・・ 58,90

シグナルインテグリティ検証・・・・・・ 341,501

ゲートアレー方式・・・・・・・・・・・・・ 481

実装工程・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 522

形式検証・・・・・・・・・・・・・ 186,319,334

ジッタ・・・・・・・・・・・・・・ ・・・138,782

傾斜接合・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 33,34

ジッタ抑圧・・・・・・・・・・・・・・・・ 138

ゲイン誤差・・・・・・・・・・・・・・ 172,173

実用新案・・・・・・・・・・・・・・・・・ 843

元素半導体・・・・・・・・・・・・・・・・

シフトレジスタ回路・・・・・・・・・・・・ 313

11,12

こ

シミュレータ・・・・・・・・・・・・・ 181,186

格子間隔・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 13

シリコンウェハ・・・・・・・・・・・・・・ 526

後置フィルタ・・・・・・・・・・・・・ 170,171

シリサイド・・・・・・・・・・・・・・・・ 551

合成制約・・・・・・・・・・・・・・・・・ 189

弱反転領域・・・・・・・・・・・・・・・・ 83

工程能力指数（Ｃｐｋ）
・・・・・・・・・・・ 810

シェル・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 569

交流解析（ＡＣ解析）
・・・・・・・・・・・・ 686

シェルスクリプト・・・・・・・・・・・・・ 580

故障解析・・・・・・・・・・・・・・・ 380,828

順序回路・・・・・・・・・・・・・・・ 211,254

故障検出率・・・・・・・・・・・・・・・・ 342

出力段バッファ回路・・・・・・・・・・・・ 117

故障診断・・・・・・・・・・・・・・・ 381,830

縮退故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 347

故障モード・・・・・・・・・・・・・・・ 380,816

冗長故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 350

故障モデル・・・・・・・・・・・・・・ 346,347

状態密度関数・・・・・・・・・・・・・・ 14,16

コンタクト・・・・・・・・・・・・・・・・ 462

初期故障領域・・・・・・・・・・・・・・・ 343

コンパレータ・・・・・・・・・・・・・・・・ 151,156

商標権・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 845

コンポーネント宣言・・・・・・・・・・・・ 257

ジョンソン・カウンタ・・・・・・・・・・・ 311

さ

真性半導体・・・・・・・・・ 10,14,15,16,20,22

再結合・・・・・・・・・・・・・・・・・ 16,28

真空準位・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 35

再生フィルタ・・・・・・・・・・・・・・・ 170

シングル・ダマシン・・・・・・・・・・・・ 509,548

サイリスタ・・・・・・・・・・・・・・・・ 480

信号代入文・・・・・・・・・・・・・・・・ 246

サインオフ検証・・・・・・・・・・・・・・・ 320,339

信頼性試験・・・・・・・・・・・・・・・・ 824

す差動増幅回路・・・・・・・・・・・・・・・・ 97

862

索引
スキュー抑圧・・・・・・・・・・・・・・・・138

即時アサーション・・・・・・・・・・・・・ 280

スキャンテスト・・・・・・・・・・・・・・・ 356

素子設計・・・・・・・・・・・・・・・・・ 441

スキャンパス・・・・・・・・・・・・・・・・356,357

素子分離法・・・・・・・・・・・・・・・・ 532

なスキャン・チェーン・・・・・・・・・・・・・ 362
スキャンオーダリング・・・・・・・・・・・・ 359

なぜなぜ分析手法・・・・・・・・・・・・・ 812

スコアボード・・・・・・・・・・・・・・・ 295

なだれ破壊・・・・・・・・・・・・・・・・・ 30

スケジューリング機能・・・・・・・・・・・ 298

名前渡し・・・・・・・・・・・・・・・・・ 279に

スタティック検証・・・・・・・・・・・・・ 187
ステッパー・・・・・・・・・・・・・・ 537,538

二重積分型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・ 153

ぬ

スパッタリング・・・・・・・・・・・・・・・ 541
スペクトラム・アナライザ・・・・・・・・・ 732

熱ノイズ（熱雑音）
・・・・・・・・・・・・・ 778

ね

スラック・・・・・・・・・・・・・・・・・ 392

せネットリスト・・・・・・・・・・・・・・・・ 674の制御構文・・・・・・・・・・・・・・・ 202,208
静電気対策・・・・・・・・・・・・・・・・ 472

ノイズ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 758

静電シールド・・・・・・・・・・・・・・・ 768

ノイズ解析・・・・・・・・・・・・・・ 692,766

た

静電気破壊モード・・・・・・・・・・・・・ 472
成膜工程・・・・・・・・・・・・・・・ 531,534

体積抵抗・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 10

正規表現・・・・・・・・・・・・・・・・・ 610

多重故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 348

積分型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・・・ 152

ダイシング・・・・・・・・・・・・・・ 522,556

セットアップ解析・・・・・・・・・ 387,389,390

ダイナミック検証・・・・・・・・・・・ 187,333

セットアップ時間・・・・・・・・・・・・・ 391,496

ダイナミック・パワー・・・・・・・・・・・ 514

接合破壊・・・・・・・・・・・・・・・・・ 473

ダイボンディング・・・・・・・・・・・・・ 556

セルフアライン・・・・・・・・・・・・・・・ 53

タイミング検証・・・・・・・・・・ 319,385,485

セルベース方式・・・・・・・・・・・・・・ 482

タイミング制約・・・・・・・・・・・・・・・ 385,387

閃亜鉛（ZnS）構造・・・・・・・・・・・・・ 12

タイミング調整・・・・・・・・・・・・・・・ 498

線形領域・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 48,51

タイミングＥＣＯ・・・・・・・・・・・・・ 420

洗浄工程・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 539

ダイヤモンド構造・・・・・・・・・・・・・ 11,12,13

そ

タグチメソッド・・・・・・・・・・・・・・・ 815

ソース接地回路・・・・・・・・・・・・・ 60,87

ダマシン・・・・・・・・・・・・・・・・ 508,542

相互コンダクタンス・・・・・・・・・・・ 58,72

単一縮退故障・・・・・・・・・・・・・・・・ 348

増幅回路・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 86

短チャンネル・・・・・・・・・・・・・・・ 85

863

索引
電流加算 D/A 変換器・・・・・・・・・・・・・ 176

短絡故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 348

ち

電流増幅率・・・・・・・・・・・・・ 52,53,59,60

遅延故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 348

電流源回路・・・・・・・・・・・・・・・・・ 94

遅延モデル・・・・・・・・・・・・・・・・ 406

電流シンク回路・・・・・・・・・・・・・・・ 96と逐次比較型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・・ 154
蓄積層・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 41

ドープ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 17,19

知的財産権・・・・・・・・・・・・・・・・ 838

等価故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 337

チャージポンプ回路・・・・・・・・・・・・・ 122

透過質量・・・・・・・・・・・・・・・・・

長チャンネル・・・・・・・・・・・・・・・・ 85

同期化回路・・・・・・・・・・・・・・・・ 415

直流増幅利得・・・・・・・・・・・・・・・・ 97

同期式カウンタ回路・・・・・・・・・・・・・ 297

直流解析（ＤＣ解析）
・・・・・・・・・・685,690

同期リセット・・・・・・・・・・・・・・・ 298

著作権・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 846

統計処理・・・・・・・・・・・・・・・・・ 785

つ13

統計的タイミング解析・・・・・・・・・・・ 400
同相分除去比・・・・・・・・・・・・・・・・ 93

ツェナー破壊・・・・・・・・・・・・・・・ 30て独占禁止法・・・・・・・・・・・・・・・・ 813

データ到達時間・・・・・・・・・・・・・・ 393

特許権・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 814

データ所要時間・・・・・・・・・・・・・・ 393

ドナー順位・・・・・・・・・・・・・・・・ 16

テイル電流・・・・・・・・・・・・・・・・・ 97

ドリフト・・・・・・・・・・・・・・・・・ 12,13

低域フィルタ・・・・・・・・・・・・・・・ 134,171

ドリフト電流・・・・・・・・・・・・・・・ 15,20定電圧回路・・・・・・・・・・・・・・・・・ 104

ドレイン接地回路・・・・・・・・・・・・ 60,88

抵抗型Ｄ／Ａ変換・・・・・・・・・・・・・・ 174

トレンチ分離・・・・・・・・・・・・・・・ 517

はディプリーション型 MOS・・・・・・・・・・・・ 54
テクノロジ・マッピング・・・・・・・・・・ 189

パーシャル・ハンドシェイク方式・・・・・・・ 420

デザインレビュー（ＤＲ）
・・・・・・・・・・ 822

パーテショニング・・・・・・・・・・・・・・ 358

デジタルＰＬＬ・・・・・・・・・・・・ 122,125

バイアスポイント解析・・・・・・・・・・・ 671

テストベンチ・・・・・・・・・・・・・・・ 277

配線鎔断・・・・・・・・・・・・・・・・・ 459

テスト容易化設計・・・・・・・・・・・・・ 342

バイナリ・カウンタ・・・・・・・・・・・・ 299

デユアル・ダマシン・・・・・・・・・・509, 543,548

バイナリ・コード・・・・・・・・・・・・・ 155

電圧制御発振器・・・・・・・・・・・・・ 122,130,132

バイナリ抵抗型・・・・・・・・・・・・・・・ 167

電磁シールド・・・・・・・・・・・・・・・ 768

パイプライン型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・ 154

伝導帯・・・・・・・・・・・・ 13,14,15,18,21

バウンダリ・スキャン・・・・・・・・・・・ 361

伝導性ノイズ・・・・・・・・・・・・・・・ 763

波形ビュア・・・・・・・・・・・・・・・・ 178

864

索引
ハザード・・・・・・・・・・・・・・・・・ 296

フォルスパス・・・・・・・・・・・・・・・ 320

バスタブカーブ・・・・・・・・・・・・・・・ 331

フォワードアノテーション・・・・・・・・・・ 443

パターン圧縮スキャン・・・・・・・・・・・・ 351

不純物半導体・・・・・・・・・・・・・・・ 7,10

バックトラッキング・・・・・・・・・・・・・ 340

不純物拡散工程・・・・・・・・・・・・・・ 506

バックアノテーション・・・・・・・・・・・・ 443

不正競争防止法・・・・・・・・・・・・・・ 828

バックエンド設計・・・・・・・・・・・・・ 176

物理解析・・・・・・・・・・・・・・・・・ 370

パッケージ宣言・・・・・・・・・・・・・・ 229

フラッシュ型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・ 149

パッケージ文・・・・・・・・・・・・・・・ 230

プラグマ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 188

パラメトリック解析・・・・・・・・・・・・ 678

フリッカノイズ・・・・・・・・・・・・・・ 756

パルス型同期化回路・・・・・・・・・・・・ 418

ブリッジ故障・・・・・・・・・・・・・・・ 335

反転層・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 34,35,42

フリップチップボンディング・・・・・・・・ 542

パンチスルー・・・・・・・・・・・・・・・

46

フルスキャン・・・・・・・・・・・・・・・ 347

バンドギャップ・・・・・・・・・・・・・・ 11,12

フルハンドシェイク方式・・・・・・・・・・ 419

バンドギャップ電圧源・・・・・・・・・・・・ 99

プリプロセッサ・・・・・・・・・・・・・・ 187

半導体回路配置利用権・・・・・・・・・・・ 823

フロアプラン・・・・・・・・・・・ 328,436,474

ひプロセス文・・・・・・・・・・・・・・・・ 236

ビア・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 496

プロパティ演算子・・・・・・・・・・・・・ 273

表面準位・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 12,40

フロントエンド設計・・・・・・・・・・・・ 176

非飽和特性領域・・・・・・・・・・・・・・・ 78

分周器・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 117

非同期式カウンタ回路・・・・・・・・・・・ 297

分離テスト・・・・・・・・・・・・・・・・・ 345

へ

非同期検証・・・・・・・・・・・・・・・・ 411
非同期リセット・・・・・・・・・・・・・・・ 298

ベース抵抗・・・・・・・・・・・・・・・・・ 63

品質機能展開（ＱＦＤ）
・・・・・・・・・・・ 787

平均自由時間・・・・・・・・・・・・・・・・ 13

ふ並列アサーション・・・・・・・・・・・・・・ 271

ファンアウト・・・・・・・・・・・・・・・ 336

並列比較型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・ 149

フェルミ・ディラック分布関数・・・・・・ 9,10,12

変数宣言・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 192

フェルミ準位・・・・・・・・・・・ 10,11,16,20,31

変数代入文・・・・・・・・・・・・・・・・ 241

ほフィードバック回路・・・・・・・・・・・・・ 101
フィンガタイプ・・・・・・・・・・・・・・ 428

ポート文・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 232

フォトマスク・・・・・・・・・・・・・・・ 508

ホールド解析・・・・・・・・・・・・・・・・387,389

フォトリソグラフィ・・・・・・・・・・・・・ 521

ホールド時間・・・・・・・・・・・・・・・・ 391,496

フォトレジスト・・・・・・・・・・・・・・ 522

飽和特性領域・・・・・・・・・・・・・・・・ 78

865

索引
放射性ノイズ・・・・・・・・・・・・・・・ 741

リソグラフィ・・・・・・・・・・・・・・・ 506

保護回路・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 462

リムーバル解析・・・・・・・・・・・・・・ 380

保護素子・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 465

リングカウンタ・・・・・・・・・・・・・・・ 300

るポリシリコン・・・・・・・・・・・・・・・ 41,48

まれマウント・・・・・・・・・・・・・・・・・ 541

レイアウトエディタ・・・・・・・・・・・・ 438

摩耗故障領域・・・・・・・・・・・・・・ 331

レイアウト検証・・・・・・・・・・・・・・・ 440

３２マルチスキャン・・・・・・・・・・・・・・

レベル型同期化テスト回路・・・・・・・・・ 416

ろ362
マルチＶｔｈ設計・・・・・・・・・・・・・ 504

ローパスフィルタ・・・・・・・・・・・・・ 132

みローカル配線・・・・・・・・・・・・・・・ 481

むロジックＢＩＳＴ・・・・・・・・・・・・・ 358

め論理圧縮・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 189
論理合成・・・・・・・・・・・・・・・ 188,313

メタステーブル・・・・・・・・・・・・・・ 295

わメモリＢＩＳＴ・・・・・・・・・・・・・・ 358

もワイブル解析・・・・・・・・・・・・・・・・ 809
ワイヤボンディング・・・・・・・・・・・・ 541

文字列操作・・・・・・・・・・・・・・・・ 590
モンテカルロ解析・・・・・・・・・・・・・ 673

やゆよ容量アレーＤ／Ａ変換・・・・・・・・・・・・ 176ら
ライブラリ宣言・・・・・・・・・・・・・・・ 229
ラグフィルタ・・・・・・・・・・・・・・・・ 136
ラグリードフィルタ・・・・・・・・・・・・・ 134,138
ランダム関数・・・・・・・・・・・・・・・・ 268
ランダム検証・・・・・・・・・・・・・ 259，277

りリーク・パワー・・・・・・・・・・・・・・・ 501
リオ−ダリング・・・・・・・・・・・・・・・ 349
リカバリー解析・・・・・・・・・・・・・・ 380

866