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参考文献・出典・引用
1. 堀田厚生 著；「半導体の基礎理論」、（株）技術評論社、初版 2001 年 11 月
2. 菊池正典 著：「半導体とシステム LSI」、（株）日本実業出版社、初版 2006 年 6 月
3. Behzad Razavi 著、黒田忠広

監 訳 ；「アナログ CMOS 集積回路の設計（基礎編）」、丸 善 ( 株 )4. Behzad Razavi 著、黒田忠広

監 訳 ；「アナログ CMOS 集積回路の設計（応用編）」、丸 善 ( 株 )5.谷口研二 著；「ＣＭＯＳアナログ回路入門」、ＣＱ出版（株）、初版 2005 年 1 月
6.遠坂俊昭 著；「ＰＬＬ回路の設計と応用」、ＣＱ出版（株）、初版 2003 年 11 月
7.小宮浩 著；「高周波ＰＬＬ回路のしくみと設計法」、ＣＱ出版（株）、初版 2009 年 10 月
8.米山寿一 著；「図解 Ａ／Ｄコンバータ入門」、（株）オーム社、初版 1993 年 3 月
9.枝均 著；「Verilog による論理合成の基礎」、（株）テクのプレス、初版 2005 年 1 月
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11. Design Wave Magazine 編集部 編；「SystemVerilog 設計スタ−トアップ入門」、ＣＱ出版（株）、
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12.堀桂太郎 著；「PSoice で学ぶ電子回路設計入門」（株）電気書院、2008 年 7 月
13.小野斉大・田谷文彦・三澤明 著；UNIX コマンドブック、2006 年 6 月、SoftBank Creative㈱14.Arnold Robbins・Nelson H.F.Beebe 著，日向あおい訳；詳解シェルスクリプト、2006 年 1 月、
オライリー・ジャパン㈱15.Cameron Newham・Bill Rosenblatt 著；入門 bash、2005 年 10 月、オライリー・ジャパン㈱16.Linda Lamb・Arnold Robbins 著；入門 vi、2002 年 5 月、オライリー・ジャパン㈱17.KENT WEB Perl 入門
http://www.kent-web.com/perl/
18.とほほの perl 入門
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19.平田豊 著；Perl トレーニングブック、2004 年 8 月。㈱ソーテック社
20.内田保雄・富田満 著；Perl スクリプティング入門、1998 年 8 月、㈱オーム社
21.Spartan-3E スタータキット・ボードユーザーガイド UG230 (v1.0)、Xilinx 社、2006 年 3 月
http://japan.xilinx.com/support/documentation/boards_and_kits/j_ug230.pdf
22.Spartan-3E FPGAファミリ・データシート

DS312-4 (v3.6)、Xilinx社、2007年5月

http://japan.xilinx.com/support/documentation/data_sheets/j_ds312.pdf
23.Quartus II マニュアル、Altera 社、

919

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28. Janick Bergeron 著 STARC/ARM/Synopsys 監訳;「ベリフィケーション・メソドロジ・マニュア
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29. 「OPENCAD® V5.3（第2版）スタティック・タイミング・チェック PrimeTimeTMインタフェース編」、
NECエレクトロニクス（株）、1999年11月
30.「半導体 品質/信頼性ハンドブック」、NECエレクトロニクス（株）
31.「静電気放電(ESD)破壊対策ガイド」、NECエレクトロニクス（株）
32．特許庁
http://www.jpo.go.jp/indexj.htm
33.三枝国際特許事務所
http://www.saegusa-pat.jp/index̲j.htm
34.オシロスコープ入門
http://www.cqpub.co.jp/column/books/2001a/11891osiro/default.htm
35.「HP-8560E ユーザーズ・ガイド スペアナ取扱説明書」、ヒューレット・パカード社
36. 安浦寛人 著；「ハードウェア設計特論」の資料、2007 年 5 月
37. 相良岩男 著；「Ａ／Ｄ・Ｄ／Ａ変換回路入門」、日刊工業新聞社、初版 2003 年 3 年
38. 岩田穆 著「VLSI工学-基礎・設計編」」、（株）コロナ社、初版2 0 0 6 年 1 0 月
39.「パッケージの紹介と解説」、富士通（株）
40.「SiPの現在と将来」、NECエレクトロニクス（株）
41.日本アルテラ株式会社の小原 也氏の 2008/10/31 資料
42.富士通「統計的ＳＴＡの実用化技術」の資料
43.富士通「統計的遅延解析技術」の資料
44.NEC OPENCAD V5.3 STAによるサインオフ編ユーザーズ・マニュアル
45.NEC OPENCAD V5.3 スタティック・タイミング・チェックPrimeTimeインタフェース編ユーザーズ・
マニュアル
46.STARC「ばらつき考慮設計」資料
49.小林春夫 著「完全デジタル PLL 回路 ADPLL を学ぶ」、日経エレクトロニクス 2009 年 6 月 1 日号

920

参考文献・出典・引用50.小沢利行 著；「PLL 周波数シンセサイザ回路設計法」、総合電子出版
51.SystemVerilogテストベンチチュトリアル、JEITA資料【本書記載の社名および製品名について】「第８章 開発ツール」に記載されている「Xilinx」,ザイリンクスのロゴ，ブランド ウィンドウ，ISE WebPACK，Spartan-3E，iMPACT およびザイリンクスが所有する製品名等は，米国 Xilinx Inc. の
米国における登録商標です。
また、「Altera」、アルテラのロゴ，ブランド ウィンドウ，QuartusⅡおよびアルテラが所有する製品名等は，米国 Altera Inc. の米国における登録商標です．
また、「Cadence」、ケーデンスのロゴ，ブランド ウィンドウ，OrCAD およびケーデンスが所有する製品名等は，米国 Cadence Inc. の米国における登録商標です．
さらに、本書に記載されている社名および製品名やツール名は一般に開発メーカーの商標登録です。
Ｒ 、○Ｃ の各表示を省略して明記しておりません。
本文中では、ＴＭ、○

921

索引

索

引

数字／記号

Ｄ／Ａ変換回路・・・・・・・・・・・・ 165,172

１

Ｄ−ＦＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 332

１Ｔ−ＳＡＲＭ・・・・・・・・・・・・・・ 187

ＤＣＯ回路・・・・・・・・・・・・・・・・・ 131

１次ΔΣ変調・・・・・・・・・・・・・・・・ 170

Ｄラッチ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 332

１／Ｎ分周器・・・・・・・・・・・・・・・・ 126

ＤＦＭ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 569

２

ＤＦＴ・・・・・・・・・・・・ 422,431,434,457

２次ΔΣ変調・・・・・・・・・・・・・・・・ 162

ＤＦＴｃｏｍｐｉｌｅｒ・・・・・・・・・・・ 457

２ステップ抵抗型Ｄ／Ａ変換・・・・・・・・・ 177

ＤＬＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 122,123
ＤＲＡＭ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 192

英字／ギリシャ文字

ＤＲＢＦＭ・・・・・・・・・・・・・・・・ 887

Ａ

ＤＲＣ・・・・・・・・・・ 501,512,527,559,560

Ｅ

Ａ／Ｄ変換回路・・・・・・・・・・・・・・ 152
ＡＤＰＬＬ・・・・・・・・・・・・・・・・ 128

ＥＢ処理・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 565

always 文 ・・・・ 212,232,237,239,240,242,245

ＥＣＯ・・・・・・・・・・・・・・・・ 366,558

assign 文 ・・・・・・ 230,232,234,235,246,256

ｅＤＲＡＭ・・・・・・・・・・・・・・・・ 190

At-speed ・・・・・・・・・・・・ 422,434,444

ＥＭＣ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 827

ＡＴＰＧ ・・・・・・・・ 351,432,434,438,444

ＥＭＩ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 828

Ｂ

ＥＭＳ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 828

ＢＣＤコード・・・・・・・・・・・・・・・・ 165

ＥＯＳ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 534

ＢＧＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・・622,623

ＥＲＣ・・・・・・・・・・・・・・・・ 545,559

ＢＩＳＴ・・・・・・・・・・・ 447,448,449,450

ｅｍａｃｓ・・・・・・・・・・・・・・・・ 646

Ｆ

ＢＯＳＴ・・・・・・・・・・・・・・・ 451,453

Ｃ

False Path・・・・・・・・・・・・・・・・・ 398

Capture CIS・・・・・・・・・・・・・・・・・ 761

ＦＴＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 884

ＣＭＰ・・・・・・・・・・・・・・ 570,571,572

ＦＢＧＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 626

ＣＭＲＲ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 101

ＦｅＲＡＭ・・・・・・・・・・・・・・・・ 205

ＣＴＳ・・・・・・・・・・・・・・ 348,364,366

ＦＲＡＭ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 206

ＣＶＤ・・・・・・・・・・・・・・・・ 596,610

ＦＩＢ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 464

ＣＺ炉・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 589

ＦＩＦＯ・・・・・・・・・・・・・ 188,189,478,479

Ｄ

ＦＩＲ型フィルタ・・・・・・・・・・・・・・ 168

922

索引

Ｍ

ＦＭＥＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 883
ＦＰＧＡ・・・・・・・・・・・・・・ 452,696,718

ＭＩＳＲ・・・・・・・・・・・・・・・ 443,447

function 文・・・・・・・・・・・・ 230,232,237

ＭＲＡＭ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 204

Ｇ

Multi Cycle Path・・・・・・・・・・・・・・ 398

Gated Clock・・・・・・・・・・・・・・ 401,402

ＭＴＢＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 881

Gate DRC・・・・・・・・・・・・・・・・・ 399

ＭＴＴＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 881

generate 文・・・・・・・・・・・・・・ 230,232

ＭＴＴＲ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 882

Ｈ

ＭＵＸスキャン・・・・・・・・・・・・ 437,439
module・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 228

ＨＤＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 210

Ｎ

ＨｉＳＩＭモデル・・・・・・・・・・・・・ 775

Ｉ

ＮＡＮＤ型フラッシュメモリ・・・・・・・・ 203

Ｉｄｄｑテスト・・・・・・・・・・・・ 434、453

ＮＯＲ型フラッシュメモリ・・・・・・・・・ 203

Ｉｄｄｔテスト・・・・・・・・・・・・・・・ 454

ｎ回検出テスト・・・・・・・・・・・・・・ 452

Ｏ

ＩＩＲ型フィルタ・・・・・・・・・・・・・・ 168
inital 文・・・・・・・・・・・・・・・・・ 309

ＯＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 590

ＩＯセル・・・・・・・・・・・・・・・ 521,527,538

ＯＰＣ・・・・・・・・・・・・・・・・ 546,566

ＩＰ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 213,348,350

ＯｒＣＡＤ・・・・・・・・・・・・・・・・ 761

IR-Drop・・・・・・・・・・・・・・・・ 365,368,562

ＯＶＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 329

Ｐ

ＩＳＥ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 696
ＩＳＯ９０００・・・・・・・・・・・・・・ 855

ＰＣＢ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 455

Ｊ

Ｐｃｅｌｌ・・・・・・・・・・・・ 509,510,515
ＰＤＫ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 515

ＪＫ−ＦＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 331

Ｋ

ＰＤＣＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 875

Ｌｐｅｒｌ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 648

ＬＦＳＲ・・・・・・・・・・・・・・・ 447,448

ＰＬＬ・・・・・・・・・・・・・・・・ 122,123

ＬＩＮＵＸ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 630

ＰＮ接合・・・・・・・・・・・・ 27,29,30,32,36

ＬＳＩテスター・・・・・・・・・・・・・・・ 424

PrimeTime・・・・・・・・・・・・・・・・・ 398,405

ＬＯＣＯＳ分離・・・・・・・・・・・・・・・ 593

procedure 文・・・・・・・・・・・・・・・・ 277

ＬｏＣ方式・・・・・・・・・・・・・・・・・ 447,448

PSpice・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 738

Ｑ

ＬｏＳ方式・・・・・・・・・・・・・・・・・ 447,448
ＬＱＦＰ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 625

ＱＡ体系図・・・・・・・・・・・・・・・・・ 857

ＬＶＳ・・・・・・・・・・・・・・ 501,515,561

ＱＣ工程表・・・・・・・・・・・・・・・・・ 857

923

索引
ＱＣ七つ道具・・・・・・・・・・・・・・・・ 860

ＴＡＰ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 359

ＱＣ新七つ道具・・・・・・・・・・・・・・・ 866

task 文・・・・・・・・・・・・・・・・ 232,262

ＱuratusⅡ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 718

ＴＣＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 390

Ｒ

ＴＤＣ回路・・・・・・・・・・・・・・・・・ 130
TetraMax・・・・・・・・・・・・・・・ 458,460

Ｒ−２Ｒラダー抵抗型・・・・・・・・・・・ 177

Ｕ

ＲＡＭ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 181
ＲＡＭ・ＢＩＳＴ・・・・・・・・・・・・・・ 449

ＵＮＩＸ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 630,631

Ｖ

ＲＣ抽出・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 368
Rise／Fall 解析・・・・・・・・・・・・・・ 397

ＶＣＯ・・・・・・・・・・・・・・・・ 123,126

ＲＯＭ・・・・・・・・・・・・・・・・ 181,197

ＶＨＤＬ・・・・・・・・・・・・・・・ 265,267

ＲＳ−ＦＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 330

Virtuoso・・・・・・・・・・・・・・・ 513,514

ＲＴＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 210

Vi エディタ・・・・・・・・・・・・・・・・ 643

ＲＴＬチェッカー・・・・・・・・・・・・・・ 218

Verilog-AMS・・・・・・・・・・・・・・・・ 212

Ｓ

VerilogHDL・・・・・・・・・・・・・・・・ 222
ＶＭＭ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 327

Ｓ／Ｎ比・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 824

Ｗ

ＳＣＲ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 439
ＳＤＣフォーマット ・・・・・・・・・ 387,390

ＷＰＰ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 626

ＳＥＭ・・・・・・・・・・・・・・・・ 462,894

Ｘ

ＳｉＰ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 626

ＹＳＫＩＬＬ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 510

Ｚ

ＳｏＣ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 218

ZnS 構造・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 14

ＳＯＩ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 592

Δ

ＳＰＩＣＥ・・・・・・・・・・・・・・・・ 738
ＳＰＩＣＥモデル・・・・・・・・・・・・・ 738

Δ型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・・・・・160

ＳＲＡＭ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 183

ΔΣ型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・・・・160

ＳＳＴＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 413

五十音ＳＴＡ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 387

あSystemＣ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 212
SystemVerilog・・・・・・・・・・・・・ 212,294

アーキテクチャ宣言・・・・・・・・・・・・ 268

Ｔ

アーリー効果・・・・・・・・・・・・・・・ 71

Ｔ−ＦＦ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 331

アイソレータ・・・・・・・・・・・・・・・ 579

ＴＡＢ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 620

アイ・パターン・・・・・・・・・・・・・・ 848

924

索引
アクセプタ準位・・・・・・・・・・・

25,26,34

オシロスコープ・・・・・・・・・・・・・・・778

アクティブフィルタ・・・・・・・・・・・・・145

オフセット誤差・・・・・・・・・・・・・・・175

アサーション記述・・・・・・・・・ 294,295,307

オープン故障・・・・・・・・・・・・・・・・ 427

かアサーション検証・・・・・・・・・・・・・・ 218
アナログＰＬＬ・・・・・・・・・・・・・・・ 207

カーネル・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 631

アノテーション・・・・・・・・・・・・・・・ 516

ガードリング・・・・・・・・・・・・・・・ 511,517,519

アドホック手法・・・・・・・・・・・・・・・ 343

階層設計・・・・・・・・・・・・・・・・・ 251,364,547

アライメント工程・・・・・・・・・・・・・・599

階段接合・・・・・・・・・・・・・・・・・35,36

アバーチャ効果・・・・・・・・・・・・・・・ 168

カウンタ回路・・・・・・・・・・・・・・・ 330

アンテナ対策・・・・・・・・・・・・・・・ 569

拡散・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 19

い拡散工程・・・・・・・・・・・・・・・・・ 583

イオン注入工程・・・・・・・・・・・・ 598,601

拡散係数・・・・・・・・・・・・・・・・・ 21,22,28

移動度・・・・・・・・・・・・・・・

拡散容量・・・・・・・・・・・・・・・・・

20,22,5032

位相比較器・・・・・・・・・・ 124,125,126,134

拡散電流・・・・・・・・・・・・・ 21,28,29,30

意匠権・・・・・・・・・・・・・・・・ 903,907

拡張スキャン・・・・・・・・・・・・・ 444,446

インゴット・・・・・・・・・・・・・・・・ 589

可制御性・・・・・・・・・・・・・・・・・ 433

インスタンス文・・・・・・・・・・・・ 230,232

可観測性・・・・・・・・・・・・・・・・・ 433

インバータ回路・・・・・・・・・・・・・・・ 522

化合物半導体・・・・・・・・・・・・・・ 13,14う

価電子帯・・・・・・・・・・・15,16,18,25,26,32

ウェル形成・・・・・・・・・・・・・・・・・ 595

カスコード接続回路・・・・・・・・・・・・・89

ウェハ化・・・・・・・・・・・・・・・・・ 590

仮想プロトタイピング・・・・・・・・・・・ 364

ウェハ調達・・・・・・・・・・・・・・・・・ 592

加速度試験・・・・・・・・・・・・・・・・ 888

ウェハ洗浄・・・・・・・・・・・・・・・・・ 593

過度解析・・・・・・・・・・・・・・・・・ 744,756

えカレントミラー回路・・・・・・・・・・ 100,105

エッジ型同期化回路・・・・・・・・・・・・ 472

環境変数・・・・・・・・・・・・・ 632,638,639

エッチング工程・・・・・・・・・・・・・・・ 593

感応度解析・・・・・・・・・・・・・・・・・ 757

エネルギー準位・・・・・・・・・・・16,18,20､25

ガンメルプーンモデル・・・・・・・・・・・ 769

エレクトロマイグレーション・・・・・・・ 544,550,564

ガンメルプーン直流モデル・・・・・・・・・・ 769

エンハンスメント型 MOS・・・・・・・・・・・ 56

ガンメルプーン小信号モデル・・・・・・・・・ 772

演算子・・・・・・・・・・ 234,235,272,274,652

ガンメルプーン大信号モデル・・・・・・・・・ 771

きエンティティ宣言・・・・・・・・・・・・・・268

お共有結合・・・・・・・・・・・・・・・・ 13,14

925

索引
禁止帯・・・・・・・・・・・・・・・・・・

15

工程能力指数（Ｃｐｋ）
・・・・・・・・・・・ 874

禁制帯・・・・・・・・・・・・・・・・・・

15

交流解析（ＡＣ解析）
・・・・・・・・・・・・ 752

基板バイアス・・・・・・・・・・・・・・・ 53

故障解析・・・・・・・・・・・・・・・ 461,893

寄生抵抗・・・・・・・・・・・・・・・・・ 54,76

故障検出率・・・・・・・・・・・・・・・・ 426

寄生容量・・・・・・・・・・・・・・・・・ 54,78

故障シミュレーション・・・・・・・・・・・ 430

寄生インダクタンス・・・・・・・・・・・・

79

故障診断・・・・・・・・・・・・・・・ 462,894

機能カバレッジ・・・・・・・・・・ 212,297,320

故障モード・・・・・・・・・・・・・・・ 461,880

機能検証・・・・・・・・・・・・・ 215,297,347

故障モデル・・・・・・・・・・・・・・ 426,427

許容入力範囲・・・・・・・・・・・・・・・・ 101

コンタクト・・・・・・・・・・・・・・・・ 524

帰還回路・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 110

コンパレータ・・・・・・・・・・・・・・・・ 153,158

くコンポーネント宣言・・・・・・・・・・・・ 285

さ

偶発故障・・・・・・・・・・・・・・・・423,881
組合せ回路・・・・・・・・・・・・・・ 234,282

再結合・・・・・・・・・・・・・・・・・ 18,30

グレー・コード・・・・・・・・・・・・・・ 165,480

再生フィルタ・・・・・・・・・・・・・・・ 172

グレーコードカウンタ・・・・・・・・・ 339,481

サイリスタ・・・・・・・・・・・・・・・・ 541

クロックト・コンパレータ・・・・・・・・・ 159

サインオフ検証・・・・・・・・・・・・・・・ 348,367

クロックスキュー・・・・・・・・・・・・・ 342,552

差動増幅回路・・・・・・・・・・・・・・・・ 99

クロックゲーティング・・・・・・・・・・・ 352

サブルーチン・・・・・・・・・・・・・・・ 666,667

クロスカバレッジ・・・・・・・・・・・・・ 321

サンプルホールド回路・・・・・・・・・ 165,166

クロストーク・・・・・・・・・・・・・ 417,517

参照渡し・・・・・・・・・・・・・・・・・ 306

しグローバル配線・・・・・・・・・・・・・・ 553,554

け

シーケンス演算子・・・・・・・・・・・・・ 611

ゲート接地回路・・・・・・・・・・・・・・ 60,92

時間制御・・・・・・・・・・・・・・・ 277,291

ゲートアレー方式・・・・・・・・・・・・・ 542

シグナルインテグリティ検証・・・・・・ 369,562

形式検証・・・・・・・・・・・・・ 216,347,362,483

実装工程・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 584

傾斜接合・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 35,36

ジッタ・・・・・・・・・・・・・・ ・・・140,847

ゲイン誤差・・・・・・・・・・・・・・ 174,175

ジッタ抑圧・・・・・・・・・・・・・・・・ 140

元素半導体・・・・・・・・・・・・・・・・

実用新案・・・・・・・・・・・・・・・・・ 907

13,14

こ

シフトレジスタ回路 ・・・・・・・・・ 330,340

格子間隔・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 15

シミュレータ・・・・・・・・・・・・・ 210,216

後置フィルタ・・・・・・・・・・・・・・・ 173

シリコンウェハ・・・・・・・・・・・・・・ 588

合成制約・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 219

シリサイド・・・・・・・・・・・・・・・・ 613

926

索引
弱反転領域・・・・・・・・・・・・・・・・ 85

静電破壊保護・・・・・・・・・・・・・・・ 536

シェル・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 631

静電シールド・・・・・・・・・・・・・・・ 834

シェルスクリプト・・・・・・・・・・・・・ 642

静電気破壊モード・・・・・・・・・・・・・ 533

順序回路・・・・・・・・・・・・・・・ 240,282

成膜工程・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 595

出力段バッファ回路・・・・・・・・・・・・ 119

正規表現・・・・・・・・・・・・・・・・・ 672

冗長故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 430

積分型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・・・ 154

状態密度関数・・・・・・・・・・・・・・ 16,18

セットアップ解析・・・・・・・・・ 389,391,392

初期故障領域・・・・・・・・・・・・・・・ 423

セットアップ時間・・・・・・・・・・・・・ 393,557

商標権・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 909

接合破壊・・・・・・・・・・・・・・・・・ 534

ジョンソン・カウンタ・・・・・・・・・・・ 339

セルフアライン・・・・・・・・・・・・・・・ 55

真性半導体・・・・・・・・・ 12,16,17,18,22,24

セルベース方式・・・・・・・・・・・・・・ 542

真空準位・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 37

閃亜鉛（ZnS 構造・・・・・・・・・・・・・

シングル・ダマシン・・・・・・・・・・・・ 570,605

線形領域・・・・・・・・・・・・・・・・・50,53

信号代入文・・・・・・・・・・・・・・・・ 279

洗浄工程・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 612

14

そ

信頼性試験・・・・・・・・・・・・・・・・ 888

すソース接地回路・・・・・・・・・・・・・ 62,89

スキュー抑圧・・・・・・・・・・・・・・・・140

相互コンダクタンス・・・・・・・・・・・ 60,74

スキャンＦＦ・・・・・・・・・・・・・・・ 438

増幅回路・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 88

スキャンテスト・・・・・・・・・・・・・・・ 436

即時アサーション・・・・・・・・・・・・・ 308

スキャンパス・・・・・・・・・・・・・・・・436,437

素子設計・・・・・・・・・・・・・・・・・ 501

スキャン・チェーン・・・・・・・・・・・・・ 438

素子分離法・・・・・・・・・・・・・・・・ 593

なスキャンオーダリング・・・・・・・・・・・・ 439
スコアボード・・・・・・・・・・・・・・・ 324

なぜなぜ分析手法・・・・・・・・・・・・・ 876

スケジューリング機能・・・・・・・・・・・ 326

なだれ破壊・・・・・・・・・・・・・・・・・ 32

スタティック検証・・・・・・・・・・・・・ 217

名前渡し・・・・・・・・・・・・・・・・・ 307にステッパー・・・・・・・・・・・・・・・・・ 600
スパッタリング・・・・・・・・・・・・・・・ 603

二重積分型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・ 155

スペクトラム・アナライザ・・・・・・・・・ 798

ぬ

スラック・・・・・・・・・・・・・・・・・ 394

ねせ熱ノイズ（熱雑音）
・・・・・・・・・・・・・ 843,844
ネットリスト・・・・・・・・・・・・・・・・ 740,741

制御構文・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 237の静電破壊対策・・・・・・・・・・・・・・・ 533

927

索引
ノイズ・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 824

ツェナー破壊・・・・・・・・・・・・・・・ 32てノイズ解析・・・・・・・・・・・・・・・758,832

た

データ到達時間・・・・・・・・・・・・ 393,394

体積抵抗・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 12

データ所要時間・・・・・・・・・・・・ 393,394

多重故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 428

テイル電流・・・・・・・・・・・・・・・・・ 99

ダイシング・・・・・・・・・・・・・・ 584,618

低域フィルタ・・・・・・・・・・・・・・・ 136

ダイナミック検証・・・・・・・・・・・ 217,361

定電圧回路・・・・・・・・・・・・・・・・・ 107

ダイナミック・パワー・・・・・・・・・・・ 575

抵抗型Ｄ／Ａ変換・・・・・・・・・・・・・・ 176

ダイボンディング・・・・・・・・・・・・・ 584

ディプリーション型 MOS・・・・・・・・・・・・ 56

タイミング検証・・・・・・・・・・・・・ 347,387

テクノロジ・マッピング・・・・・・・・・・ 219

タイミング制約・・・・・・・・・・・・・・・ 389

デザインレビュー（ＤＲ）
・・・・・・・・・・ 886

タイミング調整・・・・・・・・・・・・・・・ 559

デジタルＰＬＬ・・・・・・・・・・・・・・ 127

タイミングＥＣＯ・・・・・・・・・・・・・ 421

テストベンチ・・・・・・・・・・・・・ 294,305

ダイヤモンド構造・・・・・・・・・・・・・ 13,14,15

テスト容易化設計・・・・・・・・・・・・・ 422

タグチメソッド・・・・・・・・・・・・・・・ 879

デュアル・ダマシン・・・・・・・・・・570, 605

ダマシン・・・・・・・・・・・・・・・・ 569,604

デュアル・ポートＳＲＡＭ・・・・・・・・・187

単一縮退故障・・・・・・・・・・・・・・・・ 428

電圧制御発振器・・・・・・・・・・・・・ 123,134,136

縮退故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 427

電磁シールド・・・・・・・・・・・・・・・ 834

短チャンネル・・・・・・・・・・・・・・・ 87

伝導帯・・・・・・・・・・・・ 15,16,18,20,23

短絡故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 428

伝導性ノイズ・・・・・・・・・・・・・・・ 829

ち

電流加算 D/A 変換器・・・・・・・・・・・・・ 178

遅延故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 428

電流増幅率・・・・・・・・・・・・・ 54,55,61,62

遅延モデル・・・・・・・・・・・・・・・・ 426

電流源回路・・・・・・・・・・・・・・・・・ 96

逐次比較型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・・・ 156

電流シンク回路・・・・・・・・・・・・・・・ 98と蓄積層・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 43
知的財産権・・・・・・・・・・・・・・・・ 902

ドープ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 19,21

チャージポンプ回路・・・・・・・・・・・・・ 124

等価故障・・・・・・・・・・・・・・・・・ 429

長チャンネル・・・・・・・・・・・・・・・・ 87

等価性検証・・・・・・・・・・・・・・・・ 484

直流増幅利得・・・・・・・・・・・・・・・・ 98

透過質量・・・・・・・・・・・・・・・・・

直流解析（ＤＣ解析）
・・・・・・・・・・751,756

同期化回路・・・・・・・・・・・・・・・・ 469

著作権・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 910

同期式カウンタ回路・・・・・・・・・・ 335,336

つ15

同期リセット・・・・・・・・・・・・・・・ 337

928

索引
統計処理・・・・・・・・・・・・・・・・・ 873

バンドギャップ・・・・・・・・・・・・・・ 16,17,24,26

統計的タイミング解析・・・・・・・・・・・ 413

バンドギャップ電圧源・・・・・・・・・・・・ 108

同相分除去比・・・・・・・・・・・・・・・・ 95

バンドギャップ定電圧回路・・・・・・・・ 109

独占禁止法・・・・・・・・・・・・・・・・ 903

半導体回路配置利用権・・・・・・・・・・・ 913

ひ特許権・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 904
ドナー順位・・・・・・・・・・・・・・・・ 18

ビア・・・・・・・・・・・・・・・・・ 570,571

ドリフト・・・・・・・・・・・・・・・・・ 14,15

表面準位・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 13

ドリフト電流・・・・・・・・・・・・・・・ 17,22非飽和特性領域・・・・・・・・・・・・・・・ 85

ドレイン接地回路・・・・・・・・・・・・ 62,90

非同期ＳＲＡＭ・・・・・・・・・・・・・・・ 186

トレンチ分離・・・・・・・・・・・・・・・ 594

非同期式カウンタ回路・・・・・・・・・ 335,336

は非同期検証・・・・・・・・・・・・・・・・ 466

パーシャル・ハンドシェイク方式・・・・・・・ 474

非同期リセット・・・・・・・・・・・・・・・ 337

バイアスポイント解析・・・・・・・ 740,756,767

品質機能展開（ＱＦＤ）
・・・・・・・・・・・ 875

ふ

配線溶断・・・・・・・・・・・・・・・・・ 534
バイナリ・カウンタ・・・・・・・・・・・・ 337

ファンアウト・・・・・・・・・・・・・・・ 336

バイナリ・コード・・・・・・・・・・・・・ 339

フィードバック回路・・・・・・・・・・・・ 110

バイナリ抵抗型・・・・・・・・・・・・・・・ 176

フェルミ・ディラック分布関数・・・・・・ 16,18

パイプライン型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・ 163

フェルミ準位・・・・・・・・・・・ 16,17,24,26,27

バウンダリ・スキャン・・・・・・・・・・・ 455

フォトマスク・・・・・・・・・・・・・・・ 585

波形ビュア・・・・・・・・・・・・・・・・ 217

フォトリソグラフィ・・・・・・・・・・・・・ 597

ハザード・・・・・・・・・・・・・・・・・ 334

フォトレジスト・・・・・・・・・・・・・・ 598

バスタブカーブ・・・・・・・・・・・・・ 880,881

フォルスパス・・・・・・・・・・・・・・・ 360

パターン圧縮スキャン・・・・・・・・・・・・ 442

フォワードアノテーション・・・・・・・・・・ 516

バックトラッキング・・・・・・・・・・・・・ 433

不純物半導体・・・・・・・・・・・ 14,17,18,22

バックアノテーション・・・・・・・・・・・・ 516

不純物拡散工程・・・・・・・・・・・・・・ 583

バックエンド設計・・・・・・・・・・・ 347,348

不正競争防止法・・・・・・・・・・・・・・ 913

パッケージ宣言・・・・・・・・・・・・・・ 267

物理解析・・・・・・・・・・・・・・・・・ 463

パッケージ文・・・・・・・・・・・・・・・ 269

フラッシュ型Ａ／Ｄ変換・・・・・・・・・・ 158

パラメトリック解析・・・・・・・・・・・・ 767

フラッシュメモリ・・・・・・・・・・・・・ 200

パルス型同期化回路・・・・・・・・・・・・ 472

プラグマ・・・・・・・・・・・・・・・・・ 227

反転層・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 41,42,48,51

フリッカノイズ・・・・・・・・・・・・・・ 844

パンチスルー・・・・・・・・・・・・・・・

ブリッジ故障・・・・・・・・・・・・・・・ 426,427

58

929

索引
フリップチップボンディング・・・・・・・・ 619

みフルスキャン・・・・・・・・・・・・・・・ 438

む

フルハンドシェイク方式・・・・・・・・・・ 474

めプリプロセッサ・・・・・・・・・・・・・・ 226

メタステーブル・・・・・・・・・・・・・・ 466,467

フロアプラン・・・・・・・・・・・ 348,363,548

メモリＢＩＳＴ・・・・・・・・・・・・・・ 434,448,449

プロセス文・・・・・・・・・・・・・・・・ 274

メモリ回路・・・・・・・・・・・・・・・・ 181

もプロパティ演算子・・・・・・・・・・・・・ 311
フロントエンド設計・・・・・・・・・・・・ 216,347

文字列操作・・・・・・・・・・・・・・・・ 670

分離テスト・・・・・・・・・・・・・・・・・ 436

モンテカルロ解析・・・・・・・・・・・・・ 758

へや

ベース抵抗・・・・・・・・・・・・・・・・・ 69

ゆ平均自由時間・・・・・・・・・・・・・・・・ 20よ並列アサーション・・・・・・・・・・・・・・ 309

容量アレーＤ／Ａ変換・・・・・・・・・・・・ 178ら

変数宣言・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 230
変数代入文・・・・・・・・・・・・・・・・ 279

ライブラリ宣言・・・・・・・・・・・・・・・ 267

ほラグフィルタ・・・・・・・・・・・・・・・・ 142

ポート文・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 270

ラグリードフィルタ・・・・・・・・・・・・・ 142,145

ホールド解析・・・・・・・・・・・・・・・・389,391

ランダム関数・・・・・・・・・・・・・・・・ 306

ホールド時間・・・・・・・・・ 391,398,472,557

ランダム検証・・・・・・・・・・・・・ 297，315

り

飽和特性領域・・・・・・・・・・・・・・ 85,86
放射性ノイズ・・・・・・・・・・・・・・・ 830

リーク・パワー・・・・・・・・・・・・・・・ 575

保護回路・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 536

リオ−ダリング・・・・・・・・・・・・・・・ 440

保護素子・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 540

リカバリー解析・・・・・・・・・・・・・・ 392

ポリシリコン・・・・・・・・・・・・・・ 37,48

リソグラフィ・・・・・・・・・・・・・・・ 585,601

ポリシリコンゲート・・・・・・・・・・・・・ 55

リムーバル解析・・・・・・・・・・・・・・ 392

まリングカウンタ・・・・・・・・・・・・・・・ 338

マウント・・・・・・・・・・・・・・・・・ 618

る

摩耗故障領域・・・・・・・・・・・・・・ 423

れマスクＲＯＭ・・・・・・・・・・・・・・・ 197

レイアウトエディタ・・・・・・・・・・・・ 544

マルチＶｔｈ設計・・・・・・・・・・・・・ 577

レイアウト検証・・・・・・・・・・・・・・・ 515

マルチスキャン・・・・・・・・・・・・・・ 442

レベル型同期化テスト回路・・・・・・・・・ 471

ろマルチフィンガタイプ・・・・・・・・・・・・ 502

930

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索引
ローパスフィルタ・・・・・・・・・・・・・ 125
ローカル配線・・・・・・・・・・・・・・・ 555
ロジックＢＩＳＴ・・・・・・・・・・・・ 448,450
論理圧縮・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 213
論理合成・・・・・・・・・・・・・・・ 218,370
論理合成制約・・・・・・・・・・・・・・・ 370

わ
ワイブル解析・・・・・・・・・・・・・・・・ 897
ワイヤボンディング・・・・・・・・・・・・ 618,619,628

931