BL01B1蛍光検出器クイックリファレンス
Quick Reference of Fluorescence Detectors for BL01B1 Users

36SSD

19SSD

36ピクセルGe半導体検出器
36 pixels Ge detector
2024年度運⽤開始

2024年4⽉19⽇更新

7SDD

19素⼦Ge半導体検出器
19 elements Ge detector
1997年から運⽤

7素⼦シリコンドリフト検出器
7 elements silicon drift detector
BL39XUから借⽤して運⽤中検出器の特性、信号処理やデータ転送の⽅式が異なりますので、ご留意ください。
いずれも極めて⾼額な精密機器ですので、取り扱いには⼗分にご注意ください。

【注意!!! Caution!!!】
冷却していない状態で⾼電圧を印加してはならない
Never apply high voltage before the detector has fully cooled down.

プリアンプ電源投⼊前に⾼電圧印加しない
Do not apply high voltage before turning on the preamplifier.

⾼電圧をかける前にX線を照射しない
Do not irradiate X-rays before applying high voltage.

Be窓に接触したり物を当てたりしない
Do not touch or apply any object to the Be window.

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19SSD

19素⼦SSDへの⾼電圧の印加
Applying high voltage to 19 elements Ge-SSD① 検出器が液体窒素冷却されていて、プリアンプの電源が⼊っていることを確認する。
Check that the detector is cooled and the preamplifier ispowered on.

②② HVモジュールの電源が⼊っていて、設定が正しい（POLARITY：−、CONTR：DAC）ことを確認する。
Check that the HV module is powered on.

③ プログラム”Detector High Voltage”を実⾏し、READランプが消えるまでしばらく待つ。
Start the program “Detector High Voltage” and wait for awhile until READ goes out.

④ 19-SSDタブに切り替え、トグルスイッチをONにする。‒1000 V印加されるまでしばらく待つ。
Switch to the 19-SSD tab and turn on the HV switch. Wait
for a while until -1000 V is applied.

④

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19SSD

19素⼦SSDを⽤いた蛍光強度の確認とROIの設定
Checking X-ray intensity with 19 elements Ge-SSD and setting ROI①メニュー>Detectorタブ>19SSD Count Check APN504を選択して実⾏[注意] iniファイルは
D:\BL01_Data\APN504_ini\にあるファイルを使⽤してください。

②①③⑤④②プログラムを実⾏（⽩⽮印）する。
③ iniファイルを指定する。
④ ROIのStartとEndを⼊⼒する。
（この時点で不明な時はスキップ）⑤ Startボタンを押すと、dwell timeの時間カウントした結果が表⽰される。
⑥ ROIをどこにするかを決める場合は、MCAの図の横軸を拡⼤し、低エネルギー側と⾼エネルギー側のbinの値をメモする。→④に⼊⼒して再度カウントする。
⑦ X線強度の調整はICRが10万cps程度に抑えられ、SCAは⼤きくなるような条件を⾒つける。

⑦⑥拡⼤ツール
表⽰ロックQuick Reference for SPring-8 BL01B1 Users

APN504のゲイン調整
Adjusting fine gain to align peaks for each elements[注意] この⼿順は毎回⾏う必要はありません。
素⼦ごとの蛍光X線ピークがずれている場合のみ、実施してください。
[Caution] This procedure is not necessary everytime. It should only be performed if the X-ray
fluorescence peaks for each element are oﬀ.

19SSD① 測定PC上でDSP MCAを起動する。

②② File>open configを選択し、元となるiniファイルを選択する。

①③ 蛍光X線を観測できる条件（標準試料をセット／⼊射X線は吸収端より⾼エネルギー側／スリットは狭め）にし、Startを押す。
④ CHタブ内のMCAが表⽰されることを確認する。

⑥③⑦⑧⑤ 蛍光X線付近を拡⼤し、ピークがずれているチャンネルの「digital fine gain」を調整する。0.001程度の精度で⼗分。
⑥ 表⽰されているCHのピークがそろったら他のmodule（DSP1~5）についても⑤を繰り返す。ただし、使えないチャンネルや分解能が低下している素⼦もある。

⑤⑦ File>save configでiniファイルを保存する。
⑧ カウントをStopし、プログラムをquitする。
⽴ち上げたままだと他のプログラムと⼲渉する。

④拡⼤ツール

表⽰ロックQuick Reference for SPring-8 BL01B1 Users

19SSD

19素⼦SSDのデッドタイム測定
Measurement of data for dead time correction of 19 elements Ge-SSD⑥ʼ⑤⑥⑦① ⼊射X線のエネルギーに近いアッテネータの円盤をI0イオンチャンバー上流側の回転ステージに取り付ける。
Attach the attenuator disk for energy close to the incident X-ray
to the rotating stage upstream of the I0 ion chamber.

② 標準試料を⽤い、スリットを広げるなどして実際の測定時よりもICRカウントを少し多め（10万 cps/素⼦以上）にしておく。
Use a standard sample and widen the slit to obtain a higher ICR
count (>100 kcps) than the actual measurement.

③ “Dead Time Correction”を起動する。
Launch the program “Dead Time Correction”.

④ APN504を選択する。
Select “APN504”.

④⑤ プログラムを実⾏する。
Run the program.

⑥ Readボタンを押してiniファイルとROIの範囲を読み込む。
Press the Read button to read the ini file and the ROI range.

[注意]
実⾏中はSSDに関係するCount check、DSP
MCA、XAFS測定などのプログラムを実⾏しないこと。

⑦ Startし、データ保存ファイル名を指定する。ファイルはユーザーごとのフォルダに保存し、吸収端、運転モード、使⽤した円盤が分かるファイル名を推奨。
例：deadtime_Co-K_8keV_H-mode_20221024.dat
Start the measurement and enter a save file name as shown inthe example.

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19SSD

19素⼦SSDを⽤いたXAFS測定（step scan）
Step-scanning XAFS measurement with 19 elements Ge-SSD① プログラムを実⾏する。
Launch and run the program “XAFS Measure”.

② SSD CounterをAPN504にする。

④ Readボタンを押してiniファイルとROIの範囲を読み込む。
Press the Read button to read the ini file and the ROI range.

Select APN504 in SSD Counter.

⑤数え落とし補正⽤データがある場合、データファイル（_tau.txtではない⽅）を指定し、補正をONにする。

③ 測定パラメーターを設定する。

If you have data for dead time correction, specify the file (not ~tau.txt)
and turn on correction.

Enter the measurement parameters.

①⑥ 測定開始。

②Start measurement.

③⑤⑥④

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19SSD

19素⼦SSDを⽤いたQuick XAFS測定
Quick XAFS measurement with 19 elements Ge-SSD① QXAFS5プログラムを起動し、 ② Measurementタブ内の測定パラメーターを⼊⼒する。1点あたりの計測時間が40 ms以上実⾏する。
Launch and run the program “QXAFS5”. となるようにスキャン時間を設定する。
Enter the parameters in the “measurement” tab. Set thescan time so that the measurement time per point is atleast 40 ms.

③ counter & triggerタブに移動し、19SSD CounterでAPN504を選択する。
Go to the “counter & trigger” tab and select“APN504”.

④ Readボタンを押してiniファイルとROIの範囲を読み込む。

①Press the Read button to read the ini file andthe ROI range.

⑤ 数え落とし補正⽤データがある場合、データファイル（_tau.txtではない⽅）を指定し、補正をONにする。
If you have data for dead time correction,
specify the file (not ~tau.txt) and turn oncorrection.

⑥ 測定開始。
Start measurement.

⑥②④③⑤⑦ 測定を中断する時はSTOPボタンを押す。スキャン途中の場合、DSPにダミートリガーを打つプログラムが⾃動で起動するので、処理が終わるまで待つ。
To interrupt measurement, press the STOP
button. If you stop during scanning, wait until
the program that sends dummy triggers to theDSP is automatically started and the process
is completed.

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7素⼦SDDを⽤いた蛍光強度の確認とROIの設定
Checking X-ray intensity with 7 elements SDD and setting ROI① APP508XGを起動する。
② Startを実⾏し、ヒストグラムを取得する。
③ ⽬的の蛍光X線を含むようにROIを設定する。

準備中
in preparation

7SDD

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7SDD

APU508のゲイン調整
Adjusting fine gain to align peaks for each elements

準備中
in preparation

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7SDD

7素⼦SDDのデッドタイム測定
Measurement of data for dead time correction of 7 elements SDD① ⼊射X線のエネルギーに近いアッテネータの円盤をI0イオンチャンバー上流側の回転ステージに取り付ける。
Attach the attenuator disk for energy close to the incident Xray to the rotating stage upstream of the I0 ion chamber.

⑤② 標準試料を⽤い、スリットを広げるなどして実際の測定時よりもICRカウントを少し多めにしておく。

⑥Use a standard sample and widen the slit to obtain a higher
ICR count than the actual measurement.

③ “Dead Time Correction”を起動する。
Launch the program “Dead Time Correction”.

④ 7SDDを選択する。
Select “7SDD”.

⑤ プログラムを実⾏する。
Run the program.

⑥ Startし、データ保存ファイル名を指定する。
ファイルはユーザーごとのフォルダに保存し、吸収端、運転モード、使⽤した円盤が分かるファイ
ル名を推奨。
例：7SDD_deadtime_Co-K_8keV_H-mode_20221024.dat
Start the measurement and enter a save file name as shownin the example.

④

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7SDD

7素⼦SDDを⽤いたQuick XAFS測定
Quick XAFS measurement with 7 elements SDD① QXAFS5プログラムを起動し、実⾏する。
Launch and run the program “QXAFS5”.

④ 数え落とし補正⽤データがある場合、データファイル（~tau.txtではない⽅）を指定し、補正をONにする。

② Measurementタブ内の測定パラメーターを⼊⼒する。

If you have data for dead time correction, specify the file (not~tau.txt) and turn on correction.

Enter the parameters in the “measurement” tab.

③ counter & triggerタブに移動し、19SSD Counterで7SDD & CT16-01を選択する。

⑤ 測定開始。
Start measurement.

Go to the “counter & trigger” tab and select “7-SDD & CT16-01”.

①⑤③④

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36SSD

36ピクセルSSDへの⾼電圧の印加
Applying high voltage to 36 pixels Ge-SSD① 検出器本体のLEDインジケータで、冷却状態かつ電源が⼊っていること（T°CONTROL：消灯、RESET COUNTS：GREEN点灯）を確認する。状態が異なる場合は操作を続けず担当者に連絡する。
Check that the LED on the detector is the same as the image. If
not, contact the staff.

①② HVモジュールの電源が⼊っていて、設定が正しい（POLARITY：−、CONTR：DAC）ことを確認する。
Check that the HV module is powered on.

③ プログラム”Detector High Voltage”を起動し、実⾏後、READランプが消えるまでしばらく待つ。
Start the program “Detector High Voltage” and wait for awhile until READ goes out.

③④ 36-SSDタブに切り替え、ボタンを押す。
-800 V印加されるまで約5分待つ。

②④Switch to the 36-SSD tab and press the button. Wait 5
minutes for -800 V to be applied.

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36ピクセルSSDを⽤いた蛍光強度の確認
Checking X-ray intensity with 36 pixels Ge-SSD

準備中
in preparation

36SSD

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36SSD

APU536のゲイン調整
Adjusting fine gain to align peaks for each elements① リモートデスクトップで36SSD⽤サーバ（192.168.3.192）に接続する。
Connect to the server for 36SSD (192.168.3.192) via remote desktop.

②② アプリAPP536XGのウィンドウを表⽰する。起動していない場合は起動する。

③Display the APP536XG window. If it is not running, start it.

③ ToolメニューからAuto Gainを開始する。
Start “Auto Gain” from the “Tool” menu.

④ Checkボタンを押し込んだ状態でStartを押し、ヒストグラムを取得する。
After clicking the Check button, press Start to obtain the histogram.

⑩⑥⑦⑤④⑨⑤ 対象の蛍光X線ピークを含む範囲にROIを設定する。

⑧

Set a target channel to align the peaks. This value should be within the ROI range.

Set the ROI to the area containing the target X-ray fluorescence peak.

⑥ ピークを揃える⽬標チャンネルを設定する。この値はROIの範囲内に収めること。
⑦ 調整⽅法を選択する。まずはanalog onlyで調整し、不都合な場合はdigitalを使⽤すること。
Select the adjustment method. First, use “analog only” for adjustment, then use “digital” if it
is inconvenient.

⑧ Startを押してピーク位置の調整を⾏う。
Press Start to adjust the peak position.

⑨ やり直したい場合は、Resetを押し④に戻る。
To start over, press “Reset” and return to step ④.

⑩ File>Closeするとメインウィンドウに調整後のgainが適⽤される。
“File > Close” will apply the adjusted fine gain values to the main window.

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36ピクセルSSDのデッドタイム測定
Measurement of data for dead time correction of 36 pixels Ge-SSD

準備中
in preparation

36SSD

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36ピクセルSSDを⽤いたQuick XAFS測定
Quick XAFS measurement with 36 pixels Ge-SSD

準備中
in preparation

36SSD