NDT フラッシュ Vol.72 No.5 1/4

ＲＴレベル２

一般・専門試験のポイント

正答（ｄ）

IX80 は，超微粒子，低感度に設計されたフィルム
近年出題された一般試験と専門試験のうち，正答率ので，微細なきずの検出に適している。一般には増感紙な低かった問題の類題により試験のポイントを解説する。

し又は鉛箔増感紙と組み合わせて撮影し，アルミニウムなお，過去にも同様のポイントを解説した NDT フラッシュが日本非破壊検査協会のホームページで公開され合金溶接部等の検査に使用する。
IX100 は，微粒子，中感度に設計された標準タイプのフィルムで，広範囲に利用できる。一般には鉛箔増感紙ているので参考にしてほしい。と組み合わせて撮影し，鋼溶接部等の検査に使用する。
IX150 は，粗粒子，高感度に設計されたフィルムで，一般試験の類題
次の文は，X 線フィルムの代わりにイメージング

特に厚物の撮影に使用される。一般には鉛箔増感紙と組プレート（IP）を検出器として使い，X 線画像情報をデみ合わせて撮影し，厚肉鋼溶接部等の検査に使用する。

問１

ジタル処理により目的の画像に再構成して表示し，大幅IX300 は，粗粒子，超高感度に設計されたフィルムな小型化と処理能力の向上が図られているコンピューテ

で，使用する線源の種類に制限がある場合や，極厚肉物ッドラジオグラフィ（CR）システムについて述べたものの検査等の露出時間を長く必要とする検査において効果である。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

がある。一般には蛍光増感紙と組み合わせて撮影し，極（ａ）工業用としては，1980 年代の後半に発売され，現厚肉鋼溶接部，極厚肉鋳鋼品及びコンクリート等の検査在に至っている。に使用する。したがって，正答は（ｄ）である。

（ｂ）工業用としては，1990 年代の後半に発売され，現在に至っている。

問３（ｃ）工業用としては，2000 年代の前半に発売され，現在に至っている。

実施する際に適用すべき全ての必須の要素及び注意事項（ｄ）工業用としては，2000 年代の後半に発売され，現在に至っている。
正答

JIS Z 2305：2013「非破壊試験技術者の資格及び認証」における，規格，コード等に従って製品の NDT をについて記載した文書として，正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

（ａ）（ａ）仕様書（ｂ）NDT 要領書（ｃ）NDT 手順書（ｄ）NDT 指示書

IP を使用した CR システムは，1981 年に富士フイルム株式会社によって世界に先駆けて医療用として FCR

正答

（ｃ）

（FUJIFILM Computed Radiography）の名称で開発され

JIS Z 2305：2013 では，表 1 のように定義されておた。当時，医療用レントゲンフィルムに代わる画期的なり，正答は（ｃ）である。なお，NDT 要領書という用デジタル手法として国内外で大きな反響があった。

語は JIS Z 2305：2013 では用いられていない。

工業用としては，1989 年に発売され，高電圧電力用地下ケーブルのジョイント部検査への適用から始まり，

表1

原子力発電所，化学コンビナートの配管検査等で実績を用重ね，現在は航空機部品，自動車部品及び建設機械部品

仕様書

語等の検査でも利用されている。したがって，正答は（ａ）である。
問２

NDT 手順書（ｄ）IX300

要求事項を記載した文書の NDT を実施する際に適用すべき全ての必須の要素及び注意事項について確立された規格，コード，仕様書又はィルムで最も適するものを一つ選び，記号で答えよ。
（ｃ）IX150

義記載した文書

厚肉鋳鋼品及びコンクリート等の検査に使用する X 線フ（ｂ）IX100

定

規格，コード又は仕様書に従って製品蛍光増感紙と組み合わせて，極厚肉鋼溶接部，極（ａ）IX80

JIS Z 2305：2013 での用語と定義

NDT 指示書NDT 手順書に基づいて，NDT を実施する際に従わなければならない正確な手順を記載した文書

NDT フラッシュ Vol.72 No.5 2/4

専門試験の類題

正答（ｂ）

次の文は，JIS Z 3104：1995「鋼溶接継手の放射撮影方法と試験部の有効長さを示す記号の配置の原則

線透過試験方法」の附属書 1「鋼板の突合せ溶接継手のが JIS Z 3104：1995 の附属書 2 に定められている。なお，撮影方法及び透過写真の必要条件」に従って，鋼板の突ダブルフィルム撮影方法は，カセットにフィルムを 2 枚合せ溶接継手の放射線透過試験を行う場合の階調計の配挿入し，同じものを 2 枚撮影する方法であるため，試験置について述べたものである。正しいものを一つ選び，部の有効長さを示す記号の配置とは関係しない。ダブル記号で答えよ。

フィルム撮影方法以外の撮影方法と試験部の有効長さを（ａ）A 級の像質の場合，試験部の線源側に置くことが示す記号の配置の原則をまとめて表 2 に示す。したがっ問４原則である。て，正答は（ｂ）である。

（ｂ）B 級の像質の場合，試験部のフィルム側に置くことが原則である。

表2

撮影方法と有効長さを示す記号の配置の原則（ｃ）P1 級の像質の場合，試験部の線源側に置くことが原則である。
（ｄ）P2 級の像質の場合，試験部のフィルム側に置くことが原則である。

撮影方法

配置の原則

内部線源撮影方法(分割撮影，L1+L2＞r)
内部フィルム撮影方法
二重壁片面撮影方法

管の外側二重壁両面撮影方法
正答（ｂ）

JIS Z 3104：1995 の附属書 1 では，A 級と B 級の像質

問６

次の文は，放射線透過試験に関係する日本産業規について規定しており，P1 級及び P2 級については規定格について述べたものである。正しいものを一つ選び，していない。附属書 1 での A 級及び B 級の像質におい記号で答えよ。て，母材の厚さ 50 mm 以下の溶接継手に対して，試験部（ａ）JIS Z 3104：1995 では，鋳鋼品の撮影方法が規定さの有効長さの中央付近からあまり離れない母材部のフィルム側に階調計を配置することを原則としている。した

れている。
（ｂ）JIS G 0581：1999 では，鋼溶接継手の撮影方法ががって，正答は（ｂ）である。

規定されている。
（ｃ）JIS Z 2305：2013 では，工業用 X 線装置が規定さ

問５

次の文は，JIS Z 3104：1995「鋼溶接継手の放射線透過試験方法」の附属書 2「鋼管の円周溶接継手の撮れている。
（ｄ）JIS Z 4560：2018 では，工業用 γ 線装置が規定され影方法及び透過写真の必要条件」に従って，管の円周溶ている。

接継手の放射線透過試験を行う場合の試験部の有効長さを示す記号の配置について注意する点を述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。なお，L1＋L2

正答

（ｄ）

JIS Z 3104：1995「鋼溶接継手の放射線透過試験方法」

は線源とフィルム間の距離，r は管の半径とする。

は，鋼溶接継手の撮影方法，透過写真の必要条件及びき（ａ）内部線源撮影方法（分割撮影，L1＋L2＞r）と内部ずの分類方法が規定されている。

フィルム撮影方法では，管の内側に置く。

JIS G 0581：1999「鋳鋼品の放射線透過試験方法」は，（ｂ）内部フィルム撮影方法と二重壁片面撮影方法では，鋳鋼品の撮影方法，透過写真の必要条件及びきずの分類管の外側に置く。
（ｃ）二重壁片面撮影方法と二重壁両面撮影方法では，管の内側に置く。

方法が規定されている。
JIS Z 2305：2013「非破壊試験技術者の資格及び認証」
は，非破壊試験技術者の資格と認証が規定されている。

（ｄ）ダブルフィルム撮影方法と内部線源撮影方法（分JIS Z 4560：2018「工業用 γ 線装置」は，γ 線透過試験

割撮影，L1＋L2＞r）では，管の内側に置く。に用いる工業用 γ 線装置の性能，設計及び試験方法が規定されている。
したがって，正答は（ｄ）である。

NDT フラッシュ Vol.72 No.5

ＵＴレベル３

3/4

パートＤ試験のポイント利用されている。表面波は試験体の表面に沿って伝搬する波であるが横波ではない。

UT レベル 3 の主要方法試験のうちのパートＤの問題の紹介については 2015 年 1 月以来しばらく行われてい問３なかった。ここでは最近のパートＤの問題のうち，正答びきずの寸法測定について述べたものである。正しいも率が低い問題の類題について試験のポイント解説を行う。のを一つ選び，記号で答えよ。

次の文は，端部エコー法による探傷感度の調整及（ａ）端部エコー法とは，きずの長さの測定法である。
問１

次の式は，固体中の縦波の音速を求める計算式を（ｂ）端部エコー法は，融合不良や溶込み不良などの面状の内部きずの形状を推定する方法である。

示したものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。ただし，式中の記号は下記のとおりである。
C: 音速

E: 縦弾性係数（ｃ）端部エコー法によってきずの高さを測定する場合，

ν: ポアソン比通常の探触子でも高い周波数を用いれば，集束探ρ: 密度触子と同等の測定精度が得られる。

（ａ） 𝐶 =×（ｂ） 𝐶 =×（ｃ） 𝐶 =×（ｄ） 𝐶 =×（ｄ）端部エコー高さは，きずの先端の形状や寸法に依存して変化する。
正答（ｄ）

端部エコー法は，きずの端部から生ずる微小な回折波を捕らえて上端部及び下端部の位置を推定し，きずの高さ方向の寸法を測定する方法である。溶込み不良などの面状のきずの高さ方向の寸法は推定することがある程度できるが，形状を推定することはできない。端部エコー

正答

（ｃ）

はきず端部からの微小な回折波を捕らえるため，きずの超音波が媒質中を伝搬する速度は弾性係数と密度によ

端部の鋭さや形状に依存してエコー高さが変化する。こって決まり，縦波が固体中を伝搬する場合，縦弾性係数のため一般に用いられる斜角探触子よりエネルギ密度のと密度及びポアソン比から，（ｃ）に示す式で求められる。

高い集束斜角探触子を用いて測定する方が測定精度は高い。

問２

次の文は，超音波に関する用語について述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

問４（ａ）ガイド波は，細長い材料中を長手方向に伝搬するである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

超音波で，表面波，板波もガイド波に含まれる。

（ａ）横波垂直探触子は，くさびを使用して縦波を横波に変換している。

（ｂ）SH 波は，表面波の一種で試験体の表面を伝搬する。
（ｃ）SV 波は，進行方向に対して水平方向に振動する横（ｂ）横波垂直探触子には，横波を発生する振動子が組み込まれている。

波である。
（ｄ）表面波は，試験体の表面に沿って伝搬する横波で次の文は，横波垂直探触子について，述べたもの（ｃ）横波垂直探触子は，75 %以上のグリセリン水溶液を接触媒質として探傷を行う。

ある。

（ｄ）横波垂直探触子は，周波数と振動子直径が同じで正答あれば，近距離音場限界距離は縦波垂直探触子と（ａ）同じである。

ガイド波は，細長い又は薄い板状の材料を長手方向に伝搬する超音波と定義されており，広くは板を伝搬する板波や材料表面を伝搬する表面波も含まれる。SH 波，SV正答（ｂ）

波はともに横波で，SH 波は進行方向に対して水平方向横波垂直探触子は，せん断方向にすべり振動を起こすに振動し，SV 波は表面に垂直な断面内で進行方向に対振動子が探触子内に組み込まれており，水平方向に振動して垂直方向に振動する。一般の斜角探傷には SV 波がすることで横波を発生する。横波は水やグリセリンなど

NDT フラッシュ Vol.72 No.54/4の液体には伝達しないため，接触媒質として粘度の高い専用の接触媒質を用いる。近距離音場限界距離は，振動③底面までの規準化距離

子の直径の 2 乗に比例し，波長に反比例するので縦波探触子の近距離音場限界距離とは異なる。
問５次の文中の［A］に適する数値を一つ選び，記④きずまでの規準化距離

𝑛==𝑛==𝑛 === 2.95.

= 5.90.

.

= 1.42号で答えよ。ただし，図 1 に示す DGS 線図を用いて求め⑤音場の拡散だけを考えたときの B1/B2 の理論値は，DGSるものとし，探傷面での反射損失及び底面での反射損失線図の B/B0 線上で𝑛 =2.95 と𝑛 =5.90 の 2 点間の dBは，無視できるものとする。

差より，(-6.2)-(-11.8)=5.6 dB と読み取ることができる。

垂直探触子 5Z20N（試験周波数 5.0 MHz）を用い，両面平行な厚さ 250 mm の鍛鋼品（縦波音速 5900 m/s）を探傷したところ，探傷面から深さ 120 mm の位置にきず⑥題意から(B1/B2)＝(-26)-(-41.5) = 15.5 dB⑦減衰係数 α は，探傷面及び反射面での反射損失が無視できるので，エコーを検出した。底面エコー高さ及びきずエコー高さ

𝛼=を 80 %の高さになるように調整したときのゲイン調整

𝐵 /𝐵
5.6 15.5 5.6== 0.02 dB/mm
2 × 250500⑧減衰補正した[F/BG]は次式で表される。

器の値は次のとおりであった。
健全部の B1：26.0 dB，健全部の B2：41.5 dB，[F/BG]= (F/BG）- 2α(T-x)

F：34.0 dB= -(34 – 26) – 2×0.02(250 – 120)

検出したきずを円形平面きずと仮定すると，DGS 線図= -13.2 dB

により求められるきずの直径は［（ａ）3.2（ｂ）3.8A（ｃ）5.4］mm となる。
（ｄ）8.2⑨以上の結果から DGS 線上できずの S 値を求めると，[F/B0] = [F/BG] + [BG/B0] = - 13.2 + (- 6.2) = - 19.4nF = 1.42 と[F/B0] = - 19.4 dB を DGS 線図から読み取り
S = 0.19 と読む。
⑩きずの直径は，d = 振動子径×S = 20×0.19= 3.8 mm
問６次の文は，広帯域探触子を使用した場合の特徴を，同じ公称周波数の狭帯域探触子と比較して述べたものである。正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）広帯域探触子の方が，超音波パルスの持続時間が長くなる。
図1

DGS 線図（ｂ）広帯域探触子の方が，遠距離分解能が向上する。
（ｃ）広帯域探触子の方が，方位分解能が向上する。

正答（ｄ）広帯域探触子の方が，林状エコーが発生しやすい。

（ｂ）

この問題は，ビーム路程を近距離音場限界距離で除した規準化距離に置き換える必要がある。また，健全部の正答（ｂ）

B1，B2，エコー高さと DGS 線図の B/B0 との比較で減衰

広帯域探触子は，超音波の波数をできるだけ少なくしを考慮する必要がある。これらのことを考慮して，きずて分解能を向上させた探触子で，波数が少ないことからの大きさを推定すると以下のようになる。

パルスの持続時間は短く，周波数帯域は狭帯域に比べて①波長𝜆=Ｃ×=５×ｆ②近距離音場限界距離広くなる。波数が少なく，干渉が小さくなり，また低周= 1.18 mm
𝑥 == × .

波成分が残るため林状エコーは少ない。
= 84.75 mm