著作：電波環境協議会

第

28

号

ＥＭＣＣレポート第28号 目次● 一般社団法人K E C 関西電子工業振興センターのEMC活動 …………………………………………………… 1● 一般財団法人テレコムエンジニアリングセンターのEMC活動 ………………………………………………… 7● 妨害波委員会の活動
CISPR 15における放射妨害波測定法への３m法の導入に関する課題の調査研究報告 …………………… 12● イミュニティ委員会の活動
CISPR 35草案のDSLに関する課題の調査研究報告 …………………………………………………………… 19● 第35回講演会～CISPRソウル会議報告会～ ……………………………………………………………………… 25● 編集後記……………………………………………………………………………………………………………… 25

一般社団法人KEC関西電子工業振興センターのEMC活動
一般社団法人ＫＥＣ関西電子工業振興センター
試験事業部

泉

誠一

2.1 EMC研究会の活動
EMC に関わる諸問題について研究調査を行い、電1. はじめに

磁波障害問題解決と技術力向上を図ることを目的とし一般社団法人ＫＥＣ関西電子工業振興センター（以ています。活動実績は下記の通りです。

下、ＫＥＣ）は、経済産業省と大阪府のご支援を得て、⑴ 放射エミッション測定サイトの評価方法の検証

昭和 36 年に設立されました。以来、皆様の温かいご⑵ テストレシーバ比較実験

支援を頂き、電子工業界発展への貢献を目的に、技術⑶ CISPR/SC-F CDNE 実験検討の向上・製造の合理化等に関する調査研究や先端技術⑷ ANSI C63.4-2009 GHz 帯域アンテナチルト評価に情報を通じた技術者の育成活動としての委員会活動、関する実験ならびに安心・安全な製品の評価技術を実践する活動
としてのＥＭＣ・製品安全試験事業に取り組んでおり

2.2 電磁波障害分科会の活動
広く国内外の EMC 技術情報および動向について調ます。
委員会活動は、各種技術セミナー開催による先端技査を行い、業界への情報提供と技術レベル向上を図る

術 提 供 、技 術 者 育 成 の た め の 講 習 会 開 催 、米 国 のことを目的としています。活動実績は下記の通りです。

iNARTE (International Association for Radio
Telecommunications and Electromagnetics, 国際無線通信電磁気協会)との業務提携によるＥＭＣ・安全技術者の国際資格認定制度導入などを行っております。
ＥＭＣ・製品安全事業は、「けいはんな試験センター」の建設や最新鋭測定器投資などによる試験設備の充実、国内外の主要機関の試験所認定取得によるグ
ローバルな評価技術力の向上を図っております。

2. EMC専門委員会
図１にＫＥＣの委員会組織図を示します。この内、EMC に関わる調査・研究、情報提供の役割を EMC 専
門員会が担っておりますので、傘下の研究会、分科会の活動を紹介致します。

図1

−1−

委員会組織図⑴ 韓国ＥＭＣ規制動向セミナー

スタートし、本年（2012 年）で第 17 回の開催となり⑵ ラウンドロビンテストの実施ました。テーマは「これからの EMC 測定技術」で、⑶ 試験設備見学会の実施

平成 24 年 10 月 12 日にメルパルク京都にて開催しまし⑷ ECE R10 の翻訳版の出版た。基調講演では、LED 照明などのインバータ機器から発生する 30 MHz 以下の電磁妨害波の測定法に焦点を当て、測定サイトの評価方法等に関する技術的な

2.3 EMC技術分科会の活動
情報技術装置等の EMI 測定に関連する諸問題につ課題をご講演頂きました。一般講演では、ノイズ対策

いて、内外の規格・測定法、測定機材、ノイズ対策法の基本となる筺体の電磁シールドに関して、マイクロの検討および情報交換することにより EMI 測定の信波・ミリ波における評価手法についてご紹介頂きまし頼性を高め、更に、ノイズ対策のノウハウを集積するた。測定の基礎となる広帯域アンテナについて、動作ことで業界の発展に寄与することを目的としています。

原理の解説と最新技術動向をご講演頂きました。また、活動実績は下記の通りです。

EMC 試験所に関して試験・測定に関する技術力およ⑴ EMC 用語集の出版

び人員の力量を試験所認定規格と結び付けてご講演頂⑵ IEEE/ANSI C63.4-2009 翻訳版の出版きました。更に、KEC の活動報告として、一般電子⑶ ANSI C63.4-2009 解説セミナーを開催

機器の放射イミュニティ試験について、試験規格が要⑷ 測定サイト相関測定用の擬似 EUT を開発・試作

求する放射電界の均一性の改善手法について報告しました。今回のセミナーには講師を含め総勢 128 名の参加者があり、専門的な質疑・応答が活発になされまし2.4 不要輻射分科会の活動
北米の EMC 関連法規の調査・翻訳出版、東欧諸国

た。今後も、EMC 技術の最新動向を紹介し、専門家の安全規格調査・翻訳出版、および試験所調査を目的の皆様とのディスカッションの場を提供して行きます。

としています。活用実績は下記の通り。
⑴

不要輻射ハンドブック・インダストリ-カナダ規定集（2011 年版）の出版⑵

4. 設計者向けEMC技術基礎講座

不要輻射ハンドブック・FCC パート 15（2011 年

版）の出版

電子機器において EMC は重要性を増しており、EMC 問題が発生してからの事後的な対症療法対策で

3. EMC関西セミナー

は時間も費用も多くかかり、そのコストは製品コスト

EMC 関連技術の最新動向を専門家に講演頂き、業

設計段階において EMC 問題が発生しないような設計、

界での EMC 技術レベル向上を図るため、1995 年から更に事後対策を想定した設計を行うことによる上流段に跳ね返り、ひいては企業の経営的な問題となります。

階での EMC 問題発生の予防、対策の容易化が今後ますます重要になってきます。このように、設計者にはEMC の基本技術の習得が求められています。
本基礎講座では、設計者が EMC のセンスを身につけ、EMC を意識した設計ものづくりができるようになるための基礎知識習得を目的とし、若年電気系技術者（20 歳代〜30 歳代前半、設計歴数年）を対象とし、今まで特に EMC の勉強をしていない設計技術者に合わせたレベルとなっています。
図2

EMC関西2012

−2−

図3

理解進捗のステップ

本講座は２つのコースを設定しています。
・ コース１（EMC 基本技術）：
図4

EMC 技術のセンスを身につけるために必要な基礎

iNARTE認定書の例

知識（主としてアナログ技術）を学ぶ（7 回構成、約 27 時間）。

5.2 EngineerとTechnicianの違い
Engineer と Technician の区分詳細について表１を・ コース２（EMC 対策・設計技術）：
EMC 問題・規格規制の理解、具体的な対策部品と参照してください。両者には企画者と実践者という明対策技術、EMC を考慮した設計技術の基礎、測定確な違いがあるものの、共通の技術を根本に備える必法について学ぶ（8 回構成、約 36 時間）。

要性から、試験問題の約３分の２以上は同じ分野からこのように設計者に EMC の素養を身につけて頂くの出題である、と考えてください。
従って、Engineer と Technician のどちらを選択する

ために活用頂いております。

かは、自らが将来目指す職種を定め、その方向に合った資格を取得されることを目指して学習されることを

5. iNARTE EMC Engineer/ Technician

お勧めします。
表1

5.1 iNARTE資格制度とはKEC では EMC の重要性を早期に認識し、米国にし共通1）iNARTEエンジニアとテクニシャンの資格は、実務に就いている一定の経験のある専門技術者及び技能者に適用される。なお、営業技術、コンサル、技術サー
ビスなどの他の職種従事者も適格者とみなす。
2）資格申請者はEMC全般の知識経験を持つと共に、自己の専門分野に精通していることが必要である。

エ
ン
ジ
ニ
ア

EMCの専門的知識・経験を有して、自ら企画・創造ができる。
1）EMCについての数学と物理学に精通していること。
2）各種企画書・報告書の作成に精通していること。
3）下記の内、１つ以上の任務を有していること。
装置の設計開発／材料試験／仕様書・構想書・企画書・市場調査書・報告書作成／研究調査／学術活動／上記関連の営業技術・コンサル・技術サービスなどの情宣・指導の任務
4）集団を統率し技術的・技能的任務を遂行することも技術者任務の範囲とする。

テ
ク
ニ
シ
ャ
ン

EMCの専門的知識・経験をもち、規格書・企画書の内容に基づいた業務を自主的に遂行できる。
1）測定機器の取扱い、測定手法を熟知しており、測定試験を実施できること。
2）試験装置等の故障トラブルに対し、自ら修復できる
か、あるいは原因を想定し修復の手段をとれること。
3）理論に基づく規範書に従って行動ができること。

かなかった EMC 分野での技術者認定資格制度、すな
わち iNARTE EMC エンジニア資格およびテクニシャ
ン資格を 1998 年より導入するとともに、日本における EMC 技術者の技術レベルと地位の向上を目指してきました。この資格制度では、EMC 分野における試験問題を解答し一定のレベルに達しているかどうかの判定とあわせ、受験者の実務経験の度合いにより資格の認定を行う制度です。
KEC にて実施する資格試験は、iNARTE 本部（米国）から届けられた試験問題（英文）を和訳し国内で実施しています。
この資格制度は EMC 技術に関する実務的な対応レベルの高さが国際的レベルであることを証明することができる唯一の資格です。

−3−

iNARTE Engineer / Technicianの区分

日本における iNARTE EMC の最近の合格率を表２⑴ 企業から高い評価（持っていることが強み）に示します。
表2

6.2 設計技術者に必須の資格
この資格制度は、EMC の課題に苦労する企業群

日本におけるiNARTE EMCの合格率

試験実施年から支持され、その方向付けの下で構築されてきた‘07年‘08年‘09年‘10年‘11年‘12年

ものです。主要な企業の中では、この資格取得と社

エ
ン
ジ
ニ
ア

受験者（人）

145

188

210

225

193

163

合格者（人）

85

69

109

110

83

121

合格率（%）

59

37

52

49

43

74

テ
ク
ニ
シ
ャ
ン

受験者（人）

15

20

25

33

27

27

合格者（人）

8

4

8

16

9

8

EMC 問題を克服できな

合格率（%）

53

20

32

48

33

30

い技術者ではいまややっ内評価制度との連動が計画されているところや、採用時の評価の尺度または加点対象として検討されているところもあります。
⑵ 高速ディジタル時代に必須の技術力アピールてゆけない時代です。
EMC 設計技術力を身につけた技術者としてのア

6. EMC設計技術者資格試験（EMC Design Engineer）

ピールに、より明確な指標となります。

図5

資格制度のロゴ

この資格は、電子機器や電気電子回路・プリント基板を設計する技術者の「EMC 対応設計力を評価し、認定する」資格です。KEC と米国 iNARTE が、「世界共

7. EMC・製品安全試験事業

通の資格」として共同で設立運営している制度であり、EMC 設計技術力が一定水準以上であることを認定す

7.1 試験事業の歴史るための試験を行っています。業界においては、この

KEC は 1970 年代に奈良県生駒市において生駒電波分野の技術力の強化育成が大きな課題であり、これを測定所を開設し、電子機器からの不要電波計測サービ

保有する技術者のニーズが高くなってきたことに応えスを開始しました。当時の主要設備は野外試験場

るものです。

（オープンサイト）でした。その後、1990 年代に欧州統一規格が強制適用されたことにより、イミュニティ

6.1 資格のねらい・役立ち

試験が必須となり、また、オープンサイト周辺の環境⑴

機 器 や プ リ ン ト 基 板 設 計 技 術 者に 求 め ら れ る

ノイズの悪化に伴い電波暗室の必要性が高まってきま

EMC 対応に必要な設計技術水準として、技術者自した。1993 年に電磁環境計測センターを竣工、関西

身の技術の向上、教育のレベル向上などの技術者育で第１号となる本格的 10m 暗室を稼働させ、欧州向け

成のトリガーとすることができます。
⑵ 機器設計メーカーやそれを利用・応用する企業な
どが、設計技術者の採用や評価を行う際に役立つ客観的評価尺度とすることができます（グローバル展
開に有利）。
⑶ こういう技術を持った技術者が製品設計している
ことが、その企業が高品質高性能な製品設計ができるポテンシャルを有していることの証になります（取引先へのアピール）。
⑷

EMC 設計分野の設計技術者の認知度や STATUSの向上に役立ちます。

図6

−4−

生駒・第１電波暗室（10ｍ）

AVC 機器、医療機器や産業機器等の EMC 評価で業界

7.3 試験所認定の取得に大いに貢献しました。

試験所として試験技術と品質が一定レベル以上の能

一方、防衛規格（Military Standard）による試験設備

力 で あ る か 、公 正 ・公 平 で あ る か を 国 際 的 な 基 準の導入を積極的に実施しました。このことが、今日の（ISO/IEC 17025）で専門分野の専門家に評価を受け認

車載機器ＥＭＣ試験の基礎となっています。

定機関から試験所認定を取得しております。
⑴ JAB（日本適合性認定協会）の認定
一般民生・産業機器、医療機器、航空機搭載機器、MIL 対応機器等の幅広い製品分野における EMC 試
験の認定を取得しています。
⑵ VLAC（電磁環境試験所認定センター）の認定
情報技術機器における EMC 試験の認定を取得しており、VLAC 認定取得の実績をもとに総務省経由で米国 FCC に適合性評価機関（CAB）として通知されております。
⑶ A2LA（The American Association for Laboratory Accreditation）の認定

図7

けいはんな・第10電波暗室（10ｍ）

車載機器の EMC 試験に特化した認定を取得しております。A2LA 認定の実績をもとに米国 Ford
Motor および General Motors の承認試験所となって7.2 けいはんな試験センター
2006 年に京都府「けいはんな学研都市」内に新試おります。

験センターを開設、２基目となる 10ｍ暗室を稼働、⑷ JNLA の認定

CISPR 16-1-5 に規定されたアンテナ校正用サイトに要

電気安全（絶縁試験、外観・構造試験、温度試求される CALTS の理論値 CATLS±1.0dB を満足する験）に関する認定を取得しております。

画期的な電波暗室として注目されました。そして、車の電子化に対応すべく、車載機器の EMC 試験専用の7.4 試験施設のご利用

小型電波暗室を３基建設し、国内自動車メーカー向け

試験施設のご利用は、電話（0774‐29‐9139）、まのみならず、米国 Big-3 に認められた試験設備としてたはメール（inquiry@kec.jp）でお問い合わせくださ

実 績 を 高 め て お り ま す 。更 に 、航 空 機 搭 載 機 器 のい。図９の予約フローにてご対応致します。

EMC 試験、軍規格対応の EMC 試験等、幅広い製品分⑴ EMC 依頼試験
製品をお預かりし試験所職員が試験を実施し、各野に対応した EMC 試験を実施しております。

国電波法規の認証のための試験報告書を作成、また、CE マークや VCCI 等の適合証明のための試験報告書を作成します（立会試験が可能です）。
⑵ EMC 自主試験
お客様ご自身が製品を持参され、ご自身で試験設
備を使用され試験を実施されるシステムです。ご利用前に試験設備の使用方法をご説明致します。また、ご希望により試験をサポート致します。
⑶ 安全依頼試験
電気用品安全法、欧州低電圧指令や欧州 R&TTE
図8

指令等の安全規格による電子・電気機器（TV、ビ

車載機器用の電波暗室−5−デオ、音響機器、無線機器、等）の製品安全に関する依頼試験や技術相談を承っております。

8. おわりにKEC は委員会活動と EMC・製品安全試験活動が連係して EMC 技術の向上と試験サービスの強化を図っております。特に今年度は新規分野での EMC 試験を強化しております。
・ 再生可能エネルギー分野
・ EV および PHV 用充電器
・ 軽車両および鉄道分野
今後も関連企業・関連業界の発展に寄与すべく、情報発信・教育活動・EMC 安全試験事業を推進してゆ
きます。

図9

試験お申込みの流れ−6−一般財団法人テレコムエンジニアリ
ングセンターのEMC活動
一般財団法人テレコムエンジニアリングセンター

幸 島

徹

室、EMC（エミッション・イミュニティ）や SAR な

1. はじめにど、各種の試験設備を備える東京品川の本部。オープ

一般財団法人 テレコムエンジニアリングセンター

面電波暗室などの電磁環境試験設備と、測定器の較正（TELEC）は、1978（昭和 53）年に無線機器の型式検（校正）のための設備を持つ千葉県の松戸試験所。そ定や性能証明の業務を行うため（財）無線設備検査検して、大阪、長野、名古屋にサービスセンターを開設

定協会（MKK）として設立され、その後の制度の変しています。

ンサイトと３m 法電波暗室、マイクロ波･ミリ波用６更などにより、特定無線設備の技術基準適合証明、測定器の較正（校正）、情報技術装置（ITE 機器）の試
験や、微弱無線機器の性能証明などの業務を行ってき

2. EMCと無線通信を広くカバーするTELECのサービスています。1998（平成 10） 年には（財）テレコムエン
ジニアリングセンターに改称し、設立以来一貫して公益的な立場から電波の有効利用と電波環境の維持改善

2.1 業界をリードする試験･認証機関に携わってきましたが、2012 年７月、新しい公益法

今日の生活に欠くことのできない携帯電話、無線人制度の中で「一般財団法人」に移行し、新たなス

LAN などの無線設備や、様々な仕事を支える業務用

タートを切ったところです。

の無線設備は、「技術基準適合証明」を受けることで活動の拠点としては、技術基準適合証明･工事設計容易に利用することができるようになっています。

の認証業務のための試験設備、大型（10m 法）電波暗TELEC は総務大臣の「登録証明機関」として、総務省が定める全ての種類の特定無線設備の技術基準適合証明（技適・認証）を行い業界をリード。電波と社会の適正なコンパチビリティと、無線機器メーカ様の製品のスムーズな市場導入をサポートしています。
最近ではあらゆる機器に無線が搭載されるようにな
り、技適･認証を取得されるお客様の層も広がってきています。初めてのお客様には「お客様相談室」がご要望に応じた対応をさせていただいています。
R 001･･･はTELECの無線認証□
ラベル

東京品川のTELEC本部−7−

各種リモコン、センサ、おもちゃなどの通信で、今器の CE マーキングのための EMC を含む適合試験を

日広く利用されているものに微弱無線設備があります。

行い、無線機器を海外に向けて出荷されるメーカ様を発射する電波が微弱な無線設備は免許を取る必要はあサポートしていますが、従来 TELEC は日本と EU のりませんが、TELEC ではこれらの機器が微弱無線設

MRA（相互承認協定）に基づき、EU 委員会から適合備の規格に合っているかどうかを第三者として測定し性評価機関として認定（通知）されています。
（ノー

性能証明を行うことで、製品を出荷されるベンダ様を

ティファイドボディ番号：1780）これにより携帯電話

支援しています。また、VCCI（一般財団法人 VCCIなどの R&TTE 指令に基づく適合性評価も実施可能に協会）による ITE 機器（情報技術装置）の適合確認のなっています。

ための EMI 試験や、誘導式読み書き通信設備（RFID）、

米国 FCC（Federal Communications Commission：

超音波関連機器などの高周波利用設備の型式指定申請

連邦通信委員会）、カナダ IC（Industry Canada：カに対応した試験を行っています。

ナダ産業省）の認可を取得する高周波機器･無線機器の各 EMC 規格･電波規格による試験や、今後市場の発微弱無線設備の許容値

展が予想されるアジアの国々の認可取得の窓口業務を行うため、適合性評価サービスの海外ネットワークを拡充しています。今日の国際化した市場では、諸外国の技術基準や適合性評価制度の情報取得が重要になっていますが、TELEC では米国の無線認証機関やメー
カなどが集まる協議会「TCB Council」と、欧州の同様な組織「R&TTECA」にそれぞれ加盟し、各地域の正確な情報をリアルタイムで入手して、お客様へのサービスに活用しています。

微弱無線設備の性能証明ラベル

これら国内外の試験業務と認可取得サポートを合わ
せてご利用いただくことで、お客様の省力化に貢献で最近注目度が高まっている携帯電話などからの人体きると考えています。

への電波の吸収量 （SAR：後述）や基地局の電波強度

1780はTELECがEU委員会から割り当てられたノーティファイドボ
ディ番号の評価は、国内外で無線機器の認可制度にも取り入れられています。TELEC ではこれら新たな分野の EMC
測定にも取り組んでいます。

2.3 指定較正機関の測定器較正サービス
無線機器の点検で使用する測定器は、年に一度国がま た 、大 型 の 高 周 波 利 用 設 備 、電 波 暗 室 の 特 性（遮蔽率、サイトアッテネーション）の出張測定など指定する較正機関で較正しなければなりません。

に対応し、通信機器の研究開発や製品試験のために電TELEC は長年にわたって総務大臣の「指定較正機関」

波暗室や各種測定設備をご利用いただいたり、技術基として、松戸試験所と地方のサービスセンターをベー

準適合証明の試験で用いるものと同等な試験設備をおスに電波法に基づく測定器の較正サービスを行ってい

客様の製品開発でご利用いただける、「サイトレンタ

ます。
指定較正の対象以外の測定機器についても各種校正、ルサービス」（公開利用）もご用意しています。

JCSS（Japan Calibration Service System）に登録した高品質の校正や、アンテナの利得の校正などの業務

2.2 無線機器の試験で海外展開をサポート
日本の技術基準適合証明を取得されるお客様が、同にも対応しています。

様な製品の海外展開のために諸外国の無線機器認可も取得したいとご相談に来られるケースが増えています。
こういったご要望にお応えするため、EU 向け無線機−8−

指定較正ラベルVCCI 適合確認試験や CE マーキングのための EN 規格による放射エミッション試験、米国 FCC・カナダ IC

3. EMCをスペシャリスト集団
がバックアップ

それぞれの登録サイトでの試験と、各国の認可取得サポートなどが可能です。

3.1 幅広い活動でEMCと電波界の発展に貢献

VLACのISO/IEC 17025試験所認定
マーク

TELEC では EMC や電波の測定と無線通信に関係する調査研究をはじめ、様々なご要望に応じた委託研
究 を 請 け 負 い 、ま た 、行 政 機 関 か ら の 委 託 に よ り
CISPR 事務局の業務を行うなど、長い間国内外のまた、お客様の特別なご要望に応じた測定とサイト
レンタルにも対応しています。

EMC 関係の活動に貢献してまいりました。さらに、これらの測定サービスでは、熟練した技術員がお客

EMC や電波測定に携わる研究者の皆様の活動と、ワー様のご要望をお聞きし、試験の実施や試験法のご説明、クショップなどの研究集会を支援するためのプログラ

測定設備の操作、さらにはお客様の製品の品質評価とム「公益的調査研究助成活動」を運営することで、この改善対策のお手伝いなど、お申込の内容に最適なサ分野での技術の振興にも協力させていただいています。

ポートをさせていただいています。

一方、センターでは VCCI の教育研修プログラムを支援し、「VCCI 測定技術者研修会」を第１回から継続

3.3 イミュニティ試験への取組

して開催しています。TELEC で EMI 測定の研修を受

欧州 CE マーキングの必須要求事項には EN 規格にけられた技術者の方々が日本の EMC 業界で多数活躍

よる EMC 試験がありますが、TELEC では特に無線されています。

通信機器の（R&TTE 指令による）整合 EMC 規格で国際活動としては、APT（アジア･太平洋電気通信

ある EN 301 489 シリーズの試験に対応し、EN55022 の共同体）をはじめ世界の国々で無線設備の適合性評価

エミッション試験や IEC 61000-4 シリーズによる放射、に携わる人たちを対象とした研修コースを行うなど、伝導、静電気放電、パルス/サージなどのイミュニ

EMC と無線通信の人材育成をグローバルに後押しし

ティ試験の設備をそろえています。CE 適合宣言のたています。

めの試験では、ISO/IEC 17025 認定品質のテストレ
ポートも発行。放射/伝導の RF イミュニティ試験では、GSM や W-CDMA 携 帯 電 話 な ど に 特 有 の 「Audio

3.2 EMC測定サイトについて
TELEC では本部に 10m 電波暗室、松戸試験所にBreakthrough」試験にも対応しています。

オープンサイトと 3m 電波暗室、それぞれのサイトにセンターではこのように、無線機器の RF（電波法

伝導妨害波測定設備を持ち、VLAC（（株）電磁環境試令）
・EMC（エミッション/イミュニティ）・SAR の試

験所認定センター）の ISO/IEC 17025 認定品質による験をセットでご利用いただけます。

（左）TELEC松戸試験所のオープンサイトと、（右）本部10m法電波暗室−9−周波数帯とSAR試験対象機器の例
周波数帯

SAR試験対象機器

450MHz

簡易無線、アマチュア無線機器

750MHzW-CDMA、LTE機器

835MHz

GSM、W-CDMA、LTE機器

900MHz

簡易無線、GSM、W-CDMA、LTE
機器

1450MHz

W-CDMA、LTE機器

1640MHz

衛星通信用機器（イリジウム、インマルサット等）

1765MHz

GSM、W-CDMA、LTE機器

1900MHz

PHS、GSM、W-CDMA、LTE機器

1950MHz

W-CDMA、LTE機器

Rate：比吸収率）があります。SAR は人体が電波に2450MHz

Wi-Fi機器さらされることによって、単位質量の組織に吸収され2600MHz

WiMAX、AXGP、LTE機器

5GHz帯

Wi-Fi（W52、W53、W56、W58）機器

携帯電話にも対応可能な
RF放射イミュニティ試験用電波暗室

3.4 SARへの取組
近年、国内外で無線機器に対して規格適合が必須条件となっている問題として SAR（Specific Absorption

る電力のことで、電波と人体の両立性の指標とも言われます。
TELEC では日本の電波法をはじめ、欧米諸国の規SAR試験規格 （ISO/IEC 17025対応）

格と様々な周波数帯に対応した SAR 試験を、ISO/IEC

無線設備規則第十四条の二 総務省告示第88号

17025 認定クォリティで提供。多くのお客様にご利用

IEC 62311, EN 62311, EN 50360, IEC 62479, EN 62479

いただけるように、品川本部に設備を増設しています。

IEC 62209-1, EN 62209-1, IEC 62209-2, EN 62209-2
EN 50385, EN 50383
FCC OET 65 Supplement C, ANSI/IEEE 1528, RSS-102

3.5 “TELEC Quality”品質管理への取組
TELEC では「公平中立正確・お客様の満足」を品質方針の基本に掲げ、ISO/IEC 17025 などの国際標準を取り入れた品質管理活動を展開しています。センターの業務は試験･較正（校正）と、認証を含む適合性評価など広範囲にわたっていますが、前者にはISO/IEC 17025、後者にはISO/IEC GUIDE 65のそれぞれのマネジメントシステムを導入し、外部機関の認定取得または準拠･参照することで、たゆみない品質管
理と改善の活動に取り組み、お客様の満足度向上に努めています。
SAR試験装置− 10 −TELECの業務分野と品質管理業

務分認定/準拠/参照
マネジメントシステム

野・ITE（情報処理装置）のEMI（VCCI/FCC/ENなど）
試験・海外向け無線機器/携帯電話のEMC/電波規格（FCC/EN）
・電波法による技術基準適合証明

較正（校正）

認証
適合性評価

ISO/IEC 17025（JIS Q 17025）

・電波法による指定較正
・一般較正（校正）・MRAによる海外適合性評価（CEマーキングR&TTE指令ノーティファイドボディ）
・電波法による技術基準適合証明と工事設計の認証

ISO/IEC GUIDE 65（JIS Q 0065）

その中で、高い技術力の獲得や良質なサービスの提供、柔軟な事業展開などを目標に掲げ、各部門で実現に向

4. これからのTELEC

けて行動を開始しています。

近年、電波通信産業の著しい技術革新と市場のグお客様のお役に立てるためのサービスの開発･改善

ローバル化が進み、規制緩和により競争は激化。社会と併せて、幅広い活動で社会と業界に貢献してまいりとお客様からは一層の安心･安全を求められるなど、試ますので、EMC のご関係の皆様には引き続きご指導

験･認証業務を行う環境も大きく変化しています。

ご鞭撻をいただきますよう、よろしくお願い申し上げ

このような中で一般財団法人に移行した TELEC は、ます。

中期的な指針を示した「新 5 ヶ年ビジョン」を策定。

− 11 −CISPR15における放射妨害波測定法への3m法の導入に関する課題の調査研究報告
一般社団法人日本照明器具工業会
CISPR15合同委員会

平伴喜光

2．測定サンプル

1. はじめに2006年 の CISPR15の 第 ７ 版 の 修 正 １ に お い て 、

2.1 測定サンプルの選定基準

30MHz〜300MHzの放射妨害波測定の要求が設定され調査対象となる照明器具のサンプルは、器具の大きた。その際の測定方法は、CISPR22の第10項に準拠す

さや光源の種類において出来る限り広い範囲を網羅でることが明記されており、具体的な測定方法は10m法

きるようにしたく、以下の６品種を設定した。

で今日に至っている。ご存知のように10m法では非常一般家庭で使用される蛍光灯シーリング器具と卓上に大きな設備が必要となり、CISPR22においては、測スタンド、店舗、事務所や工場で使用される直管蛍光定方法の要求項目の備考において3m法の可能性を肯灯器具とLEDダウンライト、公園などで使用される

定している。

HID庭園灯である。

今回、CISPR15の放射妨害波測定への３m法導入のために、10m法に対する３m法の使用の可能性を検討

2.3 測定サンプルの仕様調査対象となる照明器具の仕様は、表2.1のとおり

する必要性がある。
このような背景から、電波環境協議会（EMCC）の妨害波委員会で平成23年度の調査研究テーマとして、である。各照明器具の外観形状を写真2.1〜写真2.6に示す。

日本照明器具工業会にて調査委託を受けることとなった。
ここでは、照明器具の放射妨害波測定における10m法に対する３m法の妥当性の調査結果を報告する。

3．測定方法
3.1 準拠規格及び測定設備仕様
照明器具のEMC測定の準拠規格及び測定方法を表3.1に示す。

表2.1

試験に用いたサンプル一覧− 12 −

写真2.1

写真2.3

Hf32×2灯用器具

写真2.2

Hf86×2灯用器具

家庭用シーリング・ライト

写真2.4

卓上電気スタンド

写真2.6

LEDダウンライト

写真2.5

HID庭園灯

表3.1 準拠規格及び測定方法㻨㻰㻦 㡧┘

‵ᣈぜ᰹

ῼᏽ᪁Ἢ

࿔ἴᩐ⠂ᅑ

スᐖೋ

ᨲᑏጄᐐἴ

㻦㻬㻶㻳㻵㻔㻘

ࣁ࢕ࢤࢼ࢜ࣜ࢓ࣤࢷࢻ࡚ᨲᑏࡈࡿࡾ

㻖㻓㻰㻫㼝㻃㻐㻃㻕㻖㻓㻰㻫㼝㻃㻖㻓㼇㻥㻋䃒㻹㻒㼐㻌㻨㼇㻚㻑㻕㞹⏲ᙁᗐࢅῼᏽ㸝10mἪ㸞㻕㻖㻓㻰㻫㼝㻃㻐㻃㻖㻓㻓㻰㻫㼝㻃㻖㻚㼇㻥㻋䃒㻹㻒㼐㻌

波 数 は 30MHz〜 300MHzで 測 定 し た 。 試 験 品 は 、3.2 測定手順と機器の配置
測定は、（一財）電気安全環境研究所（JET）の横CISPR15の附属表Cに基づき発泡スチロール製試験台

浜事業所の10m電波暗室と3m電波暗室とで、7月19日、（約100×50×80cm）の天面に、ターン・テーブルの20日と21日の三日間で行った。

回転軸の中心に配置した。測定に用いた設備の外観を放射妨害波測定は、10m電波暗室A（17×11×7.6ｍ）

写真3.1〜写真3.2に示す。また、各電波暗室の電源イと３m電波暗室C（6×9×6m）にて実施した。測定周

ンピーダンスの影響を抑制するために、電源には補助− 13 −

写真3.1

Hf32×2灯器具の配置

写真3.2

バイコニカル・アンテナ

クランプ（KT−20）を写真3.1のように配置し挿入した。

垂直成分と水平成分を有するデータ数とその範囲でのQP値測定においては、器具の最外郭とアンテナと成分の有効性を整理したものが表4.1である。取得しの距離が３ｍとなるようにアンテナの位置を移動してた全データ数14の12データ（86％）が垂直偏波の方が測定を行った。

大きく、残りの2データについてもその差は１dB以内であり差がないと推定される。
また、垂直偏波のデータのアンテナ高さの分布を確認したのが、図4.5であり、78％が高さ１mでのデータ

4. 測定結果
4.1 周波数範囲30MHz〜300MHzでの放射妨害波

表4.1 QP測定データにおける同一周波数での垂直成分と水平成分の優位性比較の特徴
照明器具での全測定結果は紙面の都合上全てを掲載できないので、一部のHID庭園灯の結果を図4.1〜4.4に示す。
測定波形を確認すると赤色（水平偏波）に対して青色（垂直偏波）の方が高いことがわかる。この結果は、他の照明器具においても同じであった。同一周波数で

図4.1：HID機器における10m電波暗室での10m法の結果

図4.2：HID機器における10m電波暗室での3m法の結果

図4.3：HID機器における3m電波暗室での3m法の結果

図4.4：10m電波暗室での暗雑音− 14 −

であり、その他は最大高さ2.7mまで均一にばらついて⊿マージン＝マージン（３m）−マージン（10m）いる。

（※表4.2 にHID庭園灯の一例を示す。
）

上記結果から、照明器具の30M〜300MHzにおける前項で検討した結果から、照明器具では周波数範囲

放射妨害波は、照明器具の電源線から放射されている

30M〜300MHzでの放射妨害波は電源線から放射されものが支配的であると言える。

ているものが支配的であることが推定される。その電源線は、CISPR15のAnnex Cではテーブルのように中央から垂直に降ろされているので、CISPR22のような器具の最外殻をアンテナの距離の始点とした場合とでは10m法と３m法において測定値への影響が異なる。
図4.7のように器具の長手寸法を１mとした場合、電源
線は器具中央部分にあるため0.5mの差が生じる。0.5mの差は10m法においては5％の距離に相当するが、３m法では16.6％の距離になる。

図4.5

4.2

垂直成分データのアンテナ高さの分布

10m電波暗室における10m法と3m法の測定

結果の関係
先ず、電波暗室の大きさによる影響を避けるために、10m電波暗室における10m法と３m法との測定結果を比較した。それらのQP値とその許容値（QP）とのマージンとの差を比較した結果を図4.6に示す。比較は３mでのマージンから10mでのマージンを引いたものである。この結果から、３m法の方が10m法よりも⊿マー
ジンが−1.6dBから8.3dBとなり、マージンの大きいこ

図4.7 器具寸法１mにおける距離3mと10mでの器具寸法の影響（上：3m、下：10m）とが判る。

4.3 EUT寸法を考慮した測定距離換算での比較
前項の結果に基づいて、各器具の器具寸法を考慮してアンテナの位置をテーブルの中央からそれぞれ
10m、３mに置き換えた場合での換算を行い、比較した結果の一例を表4.3（HID庭園灯での一例）に示す、
その換算結果を基に10m法と３m法での各許容値とのマージンについて比較した結果を図4.8に示す。
この結果からは３m法の方が10m法よりも−3.7dB
図4.6 10m電波暗室における10m法と3m法との許容値とのマージンの差
表4.2 HID庭園灯照明器具における各マージンと差の算
出例

から6.5dB大きいことになる。しかし、4.2項の実測値よりは小さくなっている。
表4.3 HID照明器具における器具寸法を考慮した各マージンと差の算出例− 15 −

シミュレーションに際しては、EUTをダイポー
ル・アンテナと仮定し、金属大地上におけるハイト・
パターンや10m法と３m法との差を、モーメント法を用いてシミュレーションした。その結果を以下に示す。

5.1 自由空間における電界強度の距離特性
波源を長さ0.1mのダイポール・アンテナとし、アンテナから0.5〜100mの距離における自由空間での電界
図4.8 10m電波暗室における10m法と3m法との許容値とのマージンの差（距離換算）

を正規化したものが図5.1である。
上記シミュレーション結果から以下が確認できる。
⑴ 300MHzでは距離0.5m〜100m間で、1/ｒに比例する。

4.4 10m電波暗室と3m電波暗室での3m法同士の⑵比較

30MHzでは距離2m以上ではほぼ1/ｒに比例す

10mと３mの両電波暗室での３m法の結果を比較しるが、距離2m以下では1/ｒから外れる。

たものが図4.9である。全てのデータによる相関係数

よって、距離3mと10mとでは1/ｒに比例するとは0.92となり、また一箇所、著しく飛び出てデータを考えてよい、と判断する。

削除すると相関係数は0.97となる。
この結果からは、３m法どうしでは電波暗室の違いの係らず非常に高い相関性があることが判る。

図5.1：シミュレーションにおける自由空間での距離特性

5.2 金属大地上における放射測定の距離特性
波源を長さ0.1mのダイポール・アンテナとし、金属大地上の高さ１mにアンテナを配置し、1〜100mの距

図4.9 10m電波暗室と3m電波暗室における3m法での測定結果の比較

離における最大受信値をシミュレーションした結果を以下に示す。図5.2に水平偏波での結果を、図5.3に垂直偏波での結果を示す。

5. 理論からの3m法の妥当性の検討

この結果より以下が確認される。
水平偏波では周波数範囲30MHz〜300MHzにおける放射妨害波測
定距離３mと10mにおいて、理論的な裏づけを理論式用いたシミュレーションより考察した。

⑴ 300MHzにおいては、距離3m〜10m間ではほぼ1/ｒに比例する。
⑵− 16 −

30MHzにおいては、距離3m〜10m間では1/ｒ

図5.2

金属大地での距離特性（水平偏波）

図5.4

図5.3

水平偏波

金属大地での距離特性（垂直偏波）

図5.5と1/ｒ^2の間になる。

垂直偏波

信値を測定結果としている。

垂直偏波では

図5.4は水平偏波の結果であり、波源を金属大地上⑶ 30MHzと300MHzともに、距離3mと10mではほぼ1/ｒに比例する。

の1ｍと1.5ｍに配置している。図5.5は垂直偏波の結果であり、波源を金属大地上の１ｍと0.5ｍに配置して以上の結果より、30M〜300MHzにおいては、距離いる。

3m〜10mでは金属大地上においてもほぼ1/ｒに比例すると考えても問題ではない。

これらの結果より、周波数によりレベル差は異なり、且つ水平偏波と垂直偏波とで周波数特性が異なることが判る。例えば、水平偏波で、高さ1ｍ（黒丸）では

5.3 10m放射測定と3m放射測定の差の周波数特性

電界強度の周波数特性によるレベル差は10〜12dBの一般的に10ｍ法と３ｍ法との許容値でのレベル差はバラツキがある。一方、垂直偏波で、高さ1ｍ（黒丸）一律10dBとされているが、前記同様にシミュレー

では3.5〜8.5dBのバラツキとなっている。この結果かションで確認した結果を図5.4と図5.5に示す。波源はら、許容値に一律10dBでの差を持たせて使用することもに長さ0.1ｍのダイポール・アンテナであり、そとが危険であることが判る。

れぞれアンテナの高さを1〜4ｍに昇降させて、最大受− 17 −

い相関性があることが確認できた。
④

6. まとめンにおいて、垂直偏波（波源の高さ0.5ｍ）では周波今回の測定結果より、①

10ｍ法と３ｍ法との放射測定の差のシミュレーショ

数特性により5〜9dBのバラツキがあることが推定

周波数範囲30M〜300MHzで、全ての照明器具において、水平偏波よりも垂直偏波の方が高いレベル

され、一般的な一律10dBの許容値の差については検討の必要性があることが推定される。

を示しており、且つアンテナ高さも１〜1.7m範囲内以上の結果から照明器具の放射妨害波測定においであることから、照明器具における主要な雑音放射ては、照明器具の中心からアンテナとの距離を設定

源が電源線であることが推定される。

することで、10m法に加え、簡便法として3m法を②

10m電波暗室における10m法と３m法を比較した使用できる可能性がある。しかし、許容値について場合、全般的に3m法の結果が許容値に対するマーは一律10dBについては何らかの検討と確認が必要

ジンが大きい、言い換えると測定レベルが低い値にと考える。

なっている。

今回はEUTとアンテナ間距離に関して、30M〜

これについて、前述した照明器具の主要な雑音放300MHzの周波数範囲で、距離３m〜10m間では距射源が電源線であるとすると、EUTとアンテナ間離に逆比例するという特性に基づいて、数値換算よ距離をCISPR22のように、照明器具の最外殻から求り推定して評価した。

める方法では、10m法に対して３m法の方が器具寸

今後、機会があれば、上記条件に基づく放射妨害法の影響が大きく、その結果３m法が許容値に対す波実測定を実施して再確認を行いたい。また、シミるマージンが大きくなっていると想定される。

ュレーションで、10ｍ法と3ｍ法との差において周そこで、この器具寸法を考慮した測定距離換算を

波数特性があることが確認できた。一方、測定結果行った結果、10m法と３ｍ法とでの差は小さくなっの図4.8においても何らかの周波数特性の存在があた。

りそうであるが詳細な検討は出来なかった。上記同③

次に、10mと３mの両電波暗室内における３m法同士での比較に関しては、図4.9のように非常に高− 18 −

様、将来、機会があれば、これらの検討も行いたい。

CISPR 35草案のDSLに関する課題の調査研究報告
一般社団法人 情報通信ネットワーク産業協会 (CIAJ)
電磁妨害対策技術委員会

青谷嘉久

以上2011年度に実施した実験結果とCISPR 35草案に関するCISPR国際会議の審議に寄与した内容を報告

1. はじめにする。

イミュニティ委員会では、CISPR SCIで作成を進めているマルチメディア機器のイミュニティ規格CISPR
35草案について研究・調査を行っている。

2．実験の概要CISPR 35草案に関する審議経過を図１に示す。

2.1 EUTの選定
DSLに関して、EFT/B試験と広帯域インパルス試
験 を 実 施 す る た め 、 DSLの 代 表 的 な 装 置 と し て 、
VDSL2（DMT）方式の装置を表１のように選んだ。
表1

図1

CISPR 35草案の審議経過と主な提案

EUT一覧表

EUT名称

通信方式

INP機能

EUT-A

VDSL2（DMT）

有

EUT-B

VDSL2（DMT）

無

2.2 EFT/B試験概要

2011年に開催された東京会合にて、2010年度までに雑音の印加方法はIEC 61000-4-4で定義された容量性行ってきた実験の成果が反映され、CISPR/I/380/CD

クランプを用いた方法である。雑音条件については、案作成に貢献した。2011年度は、

CISPR/I/380/CDのCISPR 35草案と、CISPR 24 Ed.2

1）DSL装置のEFT/Bイミュニティ試験について、と、ITU-Tの勧告K.48との間で、表2のように異なる

INP機能 注）との相関を明らかにすること。

条件がDSLに関して個別に定義されている。

注釈）INPとは、インパルス雑音保護で、インパルス性の雑音に対する通信能力を高める機能である。
一般的にINP機能を使うと通信速度低下や遅延時間が増加する。

今回の実験の目的は、上記３種類の試験方法を使いDSL装置を評価するとともに、それぞれの試験においてINP機能の有無でどのような影響があるかを検証することが目的である。

2）広帯域インパルス試験の雑音キャリブレーション方法に関する検証実験をおこなうこと。

判定基準は上記いずれの試験もDSLがリトレイン（再同期シーケンスの実行）しないことである。

についての調査・実験を行った。

− 19 −

表2

試験構成１の他、図３に示すように、フェライトク

EFT/B試験法比較

試験法

繰り返し
周波数

試験時間

CISPR/I/380CD

5kHz（Tbl=15ms）

1分

CISPR 24 Ed.2

100kHz（Tbl=0.75ms）

1分

ITU-T K.48

５秒間の印加を
100kHz１分の間隔をあ（Tbl=0.75ms）
けて12回印加

ランプを容量性クランプ側に挿入した構成を試験構成
2とし、フェライトクランプを挿入しない試験構成を
試験構成３として定義した。

図2の破線部分を上記構成に置き換えて、
EFT/Bイミュニティ試験構成2と3を定義する。

2.3 広帯域インパルス試験概要
2011年のCISPR東京会合において、広帯域インパル

図3

ス試験の雑音条件に関して、雑音レベルの大きさに変EFT/Bイミュニティ試験構成2と3化はないものの、雑音レベルのキャリブレーション（調整）方法に配慮し、レベルの単位と補正式に修正

2）実験結果（試験法の比較）が加えられた。今回の実験では、雑音のキャリブレー

試験構成１を使って、表２に示す３種類の試験法でションを実際に行い、雑音レベルの検証を行い、過去

EFT/Bイミュニティ試験を行った結果を表３に示す。

に実施した試験結果との比較を行った。
表3

3．実験結果3.1 EFT/B実験結果
1）試験構成試験構成は、図２に示すような構成で実験を行った。
EUTとAEの間に容量性クランプの他、線路とフェラ
イトクランプを挿入し、フェライトクランプをAE側に接続した構成を試験構成１とした。

図2

EFT/Bイミュニティ試験構成1− 20 −

各試験法のEFT/B試験結果比較

表３の結果より、測定し、図５に示すCIPSR 35草案に規定されたレベ・CISPR 35草案（380CD）では、EUT-AとEUT-Bとルになるよう信号発生器出力を調節した。

もにすべての設定でリトレインが発生し、判定基準を満足する結果を１つも得られない結果となった。
・CISPR 24 Ed.2では、INP機能が有効な場合に限り、
図4

判定基準を満足する結果が見られ、INP設定は少な

広帯域インパルス雑音のキャリブレーション

くとも８以上にする必要がある。
・勧告K.48の試験法では、INP機能の実装がなくとも、判定基準を満足できることを確認した。
本結果をまとめCISPRソウル会合で報告し、CISPR
35草案の内容をCISPR 24 Ed.2もしくは勧告K.48の内容に変更することを提案した。
審議の結果、CISPR 24 Ed.2と同じ内容にすることで承認された。

図5

CISPR/I/380/CD案の雑音条件

3）実験結果（試験構成の比較）
ITU-T勧告K.48の試験法にて、各試験構成の比較実

2）実験結果雑音が図５の雑音印加レベルになるように信号発生験を行った結果を表４に示す。
表4

器の出力レベルを調整した結果を、図６（印加条件１）

各試験構成のEFT/B試験結果比較と図７（印加条件２）の上段に示す。また、レベル調
整結果を検証するために、CISPR東京会合修正前の方法（dBm/Hz peak）で調整後の出力レベルを測定した結果を図６および図７の下段に示す。
図６および図７の a）と b）を比較すると、a）の測定
値は安定しており、b）の不安定な波形に比べレベル調整が容易であることがわかる。
また、b）の測定法では測定時間中、最大値が更新され、測定時間を長くしてもこの不安定な波形は変らず、最大値の更新に伴い全体的にレベルが高くなることで

表４の結果のごとく、フェライトクランプがAE側

収束状態を確認する事が困難である。

への雑音の回り込みの低減に効果がある結果をCRCエ

一方 a）の測定法では、平均値を計算するので、あラーによって確認出来なかった。一方、EUT-A（ノる程度の平均のための時間は要するものの、測定結果

イズマージン6dB）において、フェライトクランプのにブレがなく、精度よくレベルの調整ができる。
このように実際の測定系にて、CISPR東京会合の成効果が見えているが、フェライトクランプがEUTに作用したのかAEに作用したのかは確認することがで果が確認できた。
しかし、b）で測定したレベルが、図８に示すCISPR

きなかった。

東京会合前のCISPR 35草案（CISPR/I/330/NP）のレ

3.2 広帯域雑音のキャリブレーション検証結果

ベルより約6dB高いことが確認され、調査の結果、

1）試験構成CISPR/I/380/CDに記載された補正式が６dB誤った内雑音のキャリブレーションは、図４に示すような構容になっていることを今回の検証実験で発見した。

成で行い、スペクトラムアナライザによってレベルを− 21 −

図6

図8

印加条件１の実測値

図7

CISPR/I/330/NP案の雑音印加レベル

図9

印加条件２の実測値

広帯域インパルス試験構成

2）実験結果（連続印加試験）3.2 広帯域インパルス試験結果
1）試験構成EUT-A,Bに対して、CISPR 35草案に記載された連図９に試験構成を示す。

続印加試験を行った結果、表5に示すように、雑音レ

今回の実験は、3.2節のキャリブレーションで述べ

ベルが6dB高い条件においても特に問題はない結果をた過去の実験と比較して6dB高い雑音レベルで試験を

確認した。

行った。

− 22 −

表５
EUT
A
B

ズマージンが15dB確保されていれば、判定基準を満

雑音印加条件２による試験結果

ノイズ
マージン

試験結果

6dB

リトレイン無、CRCエラー無

15dB

リトレイン無、CRCエラー無

6dB

リトレイン無、CRCエラー無

15dB

リトレイン無、CRCエラー無

たすことが確認されている。
表8

分離印加試験結果（バースト長0.24ms）

そこで、参考用データとして、図５に示す雑音印加
条件１を使って試験を行った。表６にその結果を示す
通りすべての条件でリトレインの発生を確認した。
表６
EUT
A
B

雑音印加条件１による試験結果

ノイズ
マージン

試験結果

6dB

リトレイン発生

15dB

リトレイン発生

6dB

リトレイン発生

15dB

リトレイン発生

4）実験結果（分離印加試験:バースト長10ms）
バースト長10msでの分離インパルス試験結果を表9にまとめる。
表9

分離印加試験結果（バースト長10ms）

過 去 に 行 っ た 実 験 で は 、 INP機 能 を 使 う こ と で
VDSL２のイミュニティ耐力向上が確認されており、INP機能を実装しているEUT-Aで再度雑音印加条件１による試験を行った結果を表７に示す。
表7
INP

INP機能を実装したEUT-Aの試験結果

雑音印加条件

試験結果

印加条件1
4
（補正値未修正）

リトレイン発生

印加条件1（補正値未修正）

リトレイン発生

8

EUT-AとEUT-Bともに判定基準を満足する結果となった。これは、過去の実験と同じ結果である。
5）実験結果（分離印加試験:バースト長300ms）

印加条件1
リトレイン無、CRCエラー無（補正値修正）バースト長300msでの分離インパルス試験結果を表10にまとめる。

表７の結果のように、キャリブレーションの補正式のミスで6dBレベルが高くなったことによって試験結果に差が生じることが確認された。
3）実験結果（分離印加試験:バースト長0.24ms）
バースト長0.24msでの分離インパルス試験結果を表8にまとめる。
表８の結果では、INP機能が判定基準達成のために必須である結果となっているが、雑音レベルが今回より6dB低い過去の実験では、INP機能がなくともノイ− 23 −

表10

分離印加試験結果（バースト長300ms）

表10の結果ではすべての場合で判定基準を満足しな周波数をCISPR 24 Ed.2と整合性を図り、同じ条

い結果となったが、過去の雑音レベルが6dB低い実験

件とすること。

では、ノイズマージン設定を15dBで判定条件を満た

2）CISPR/I/380/CD案に記載された広帯域インパ

している。

ルス試験の雑音条件に関して、印加雑音のキャ
リブレーションに用いる補正式の誤りを指摘し、正しい内容に修正したこと。

4．CISPR国際会合でのCISPR35草案への寄与

5．おわりに2011年10月に開催されたソウル（韓国）会合へ出席
し、今回の実験結果を報告するとともに、CISPR 35

CISPR 35草案の審議におけるDSLのイミュニティ

草案へコメントを提出し、ソウル会合の後に開催されについての課題は、2011年度の実験でひとまず完了したシンガポール会合においても積極的に審議に参加たと言える。しかし、機能別イミュニティ規格である

し、今回の実験で明らかとなった下記2点の項目を

CISPR 35の審議には、例えば電話端末機能における2012年6月に発行したCDV草案へ盛り込み、CISPR 35

可聴雑音評価など、まだ実験を通して検証すべき課題

草案の作成に寄与した。

が残っており、関係各位と連携しながら課題の解決に

1）EFT/B試験において、DSLに適用する繰り返し向け検討を進めている。

− 24 −

第35回講演会〜CISPRソウル会議報告会〜
2011年の国際無線障害特別委員会（CISPR）会議は、韓国のソウルにおいて10月11日から10月20日までの10日間にわたり開催されました。
我が国からは、電波利用環境委員会主査（藤原 修 名古屋工業大学大学院 教授）をはじめ、総勢35名の方が参加されました。当協議会では、参加された方々に講師としてご協力をいただき、第35回講演会「CISPRソウル会
議報告会」を平成24年２月16日（木）に東海大学校友会館において開催いたしました。
【講演会講師の方々】
・総会

藤 原

修氏

・SC/A

篠 塚

隆氏

・SC/B

吉岡 康哉 氏・SC/F

平伴 喜光 氏

・SC/H

松 本

・SC/I（１）

雨宮不二雄 氏・SC/I（２）

堀

泰氏
和行 氏

なお、講演資料および報告書「CISPRの現状と動向 〜ソウル会議の結果を踏まえて〜」は、協議会ホームペー
ジ内会員ページの「CISPR報告会」および「CISPR報告書」にpdf形式で掲載しておりますのでご利用ください。

編 集 後 記今回は、協議会会員団体のEMC活動として、一般社団法人KEC関西電子工業振興センターの泉様に「関西電子工業振興センターのEMC活動」と題して、一般財団法人テレコムエンジニアリングセンターの幸島様に「テレコムエンジニアリングセンターのEMC活動」と題して、それぞれの団体のEMC活動の状況をご紹介いただきました。
また、専門委員会の平成23年度活動報告として、調査研究成果報告を２件掲載しました。
妨害波委員会の活動については、「CISPR15における放射妨害波測定法への３m法の導入に関する課題の調査
研究」について、一般社団法人日本照明器具工業会の平伴様に解説を寄稿していただきました。イミュニティ委員会の活動については、「CISPR35草案のDSLに関する課題の調査研究」について、一般社団法人情報通信ネッ
トワーク産業協会（CIAJ）の青谷様に解説を寄稿いただきました。
編集にあたり、執筆者の皆様をはじめ、ご協力をいただきました方々に感謝申し上げます。
（事務局）− 25 −

−無断転載を禁ず−

ＥＭＣＣレポート第28号
平成25年１月
著

作：電波環境協議会
Electromagnetic Compatibility Conference Japan〒100 −0013 東京都千代田区霞が関1−4−1（日土地ビル）
一般社団法人電波産業会内
電波環境協議会事務局
TEL ０３‐５５１０‐８５９６
FAX ０３‐３５９２‐１１０３