２００３年秋期資格試験結果
２００３年秋期の JIS Z 2305 による資格試験の結果が発表された。新規試験結果（再試験を含む）の合格率はレベル１が 45.2%(春期 43.5%)，レベル２が 24.9%(同 22.1%)，レベル３が 10.5%(同 8.4%)であり，春期と概ね同様の合格率となった。NDIS 0601 の更新試験に相当する JIS Z 2305 方式への通常移行試験結果の合格率はレベル１が 67.3%(春期74.2%)，レベル２が 80.1%(同 67.1%)，レベル３が 75.4%(同 73.8%)であり，レベル２で浸透探傷試験の合格率が 93.8%と全体を押し上げた形となり，やや合格率が高くなっているが，その他の NDT 方法では概ね春期と同様となっている。
表の合格率は[合格者数／(申請者数―欠席者数)]で算出した値である。表１に新規試験結果を，表２にレベル３の基礎試験結果，表３に通常移行試験結果及び再認証試験結果を示す。
表１

新規試験結果（再試験を含む）
レベル１
ＮＤＴ方法

略称

申請者
数

レベル３＊1

レベル２

合格者
数

合格率 %

申請者
数

合格者
数

合格率 %

申請者
数

合格者
数

合格率 %

放射線透過試験RT

35

1238.7215

3116.79337.5

超音波探傷試験

UT

457

231

55.1

958

179

21.0

37515.6

超音波厚さ測定UM

1237971.1

―

―

―

―

―

―

磁粉探傷試験

MT

65

3353.2

668

132

21.7

21315.0

極間法磁粉探傷検査

MY

1534833.1100

2224.7―――

通電法磁粉探傷検査

ME28623.1

―

―

―

―

―

―

ｺｲﾙ法磁粉探傷検査

MC20738.9―

―

―

―

―

―

浸透探傷試験

PT

116

4037.81043

283

29.629626.0

溶剤除去性浸透探傷検査

PD

23666

30.6

2768131.3―――

水洗性浸透探傷検査

PW

18637.5―

―

―

―

―

―

渦流探傷試験

ET

23522.3

1032424.712981.8

SM

ひずみ測定

合表２

計

1135.5662235.5

2

2100

544

45.2

3429

774

24.9

110

2829.2

注レベル３基礎試験結果

ＮＤＴ方法

略称

申請者数

合格者数

合格率

―

27670

28.9%

基礎試験
表３351309＊1：レベル３の申請者数は１次試験の基礎試験合格者人数（値は二次試験の合格率）＊2：再認証試験結果は（合格者数/申請者数）の人数で表示している。

通常移行試験結果及び再認証試験結果

ＮＤＴ方法

略称

通常移行試験結果
レベル２(L2)

レベル１(L1)
申請者数

合格者数合格率%

レベル３(L3)

申請
者数

合格者数

合格率%

申請者数

合格者数

合格率%

再認証試験結果＊2
Ｌ１
Ｌ２
Ｌ３
合格/
申請

合格/
申請

合格/
申請

放射線透過試験

RT

231055.6

670

355

57.6

233

130

59.9

0/0

3/30/0

超音波探傷試験

UT

452

247

62.2

1218

933

82.5

324

258

84.0

1/1

7/90/0超音波厚さ測定UM

996979.3―

―

―

―

―

―

0/0―

―

磁粉探傷試験

MT

1

1

100

952

715

79.6

63

42

70.0

0/0

4/50/0極間法磁粉探傷検査

MY865269.3000―――0/00/0―

通電法磁粉探傷検査

ME

16321.4――――――0/0――

ｺｲﾙ法磁粉探傷検査

MC5480.0――――――0/0――

浸透探傷試験

PT

6583.31327

118493.8

523979.60/010/111/1

溶剤除去性浸透探傷

PD

19413376.4000―――1/10/0―

PW

3266.7――――――0/0――

検査
水洗性浸透探傷検査
渦流探傷試験

ET

10029220475.035351000/03/40/0ひずみ測定

SM8562.51257461.735

2273.30/00/00/0

894

531

67.3

4584

3465

80.1742526

75.4

2/227/321/1合計

単位：ｍｍＭＴ1実技試験の概要とポイントＮＤＩフラッシュでは、JIS Z 2305による資格試験におけ300る実技試験の概要についてシリーズで解説している。今月号ではＭＴレベル１の実技試験の概要とポイントについて解説する。

ＭＴレベル１には、MT1と磁化方法限定資格であるMY1、ME1、MC1の４資格がある。MT1の二次試験は、２つの実技

400

試験（1.極間式磁化器による溶接部の磁粉探傷試験、2.定図１ 溶接試験体の概略置式磁化装置による機械部品の磁粉探傷試験）が行われる。
試験時間は表１に示すとおりであり、計60分である。極間法のみを対象としたMY1では表１の(1)が、通電法のみを対

この試験では、探傷結果についての解答はもちろん、指象としたME1及びコイル法のみを対象としたMC1では表１の示書に基づいて決定した探傷条件や探傷手順についての解(2)が、各々30分の実技試験として課せられる。

答も要求される。この中では、この探傷試験に使用する装置の機能確認に関する知識、技能についても問われ、磁粉模様の転写を求められることがある。また極間式磁化器を

表１．試験項目と時間
試 験 項 目時 間用いて磁化する際の磁極の配置や探傷ピッチなどの磁化条件や、前処理から後処理までの探傷手順などの試験条件に(1)極間式磁化器による磁粉探傷試験

30分(2)定置式磁化装置による磁粉探傷試験

30分

対する解答も大きなウェイトを占める。そのため解答にあたっては、実習や実務で習得した技術、知識だけでなく、教科書や実技参考書の内容も十分に理解しておく必要がある。この試験条件に対する解答は、指示書の探傷手順に従また二次試験の当日には、試験開始前に控室に(1)及び(2)の NDT指示書が掲示されている。これには試験体の概略寸法及び試験条件、試験手順、記録方法が記述されているので、事前にこれをよく読んで、試験内容の課題を十分に理解しておくとともに、課題に沿った試験手順を検討しておくとよい。

1.極間式磁化器による溶接部の磁粉探傷試験
この試験の試験体は図１に示すような平板状で、鋼板の突合せ溶接部の極間法による磁粉探傷試験を想定している。
控室に掲示されたものと同じ指示書が渡されるのでこれに従って、溶接部の全ての方向のきずを対象として、黒色磁粉による検査液（濃度 2g／㍑、分散媒：水）を使用して極間法磁粉探傷試験を実施し、その試験条件及び探傷結果を各々の解答用紙に記録する。って探傷試験を進めて行くことで設問に解答することができる。
次に探傷試験の注意点について簡単に解説する。
①先ず始めに試験体の下に木片を入れて試験面に適度の傾斜を付け、検査液の緩やかな流れを作るとともに検査液が溜まらないようにする。
②次にスプレー式洗浄液で表面を脱脂洗浄した後、十分に撹拌した検査液を試験面に散布し、検査液のぬれ性を確認するとともに試験面がぬれ易くしておく。検査液でぬれたウェスで試験面を拭いてぬれ性を向上させてもよい。
③磁化する際の磁極の配置（直交した２方向）や探傷ピッチは指示書に従って決定するが、始めにたて割れ方向のきずから探傷するとよい。この場合、両磁極を結ぶ線を溶接線に直交して配置し、探傷ピッチは精密な探傷を考慮して50〜60mm程度にすると適当である。
④検査液の適用は連続法で行うが、できるだけ均一でゆるやかな散布をするように心掛ける。適用にあたってはオイ

φ20単位：ｍｍ

ラー内の検査液をよく振って撹拌し、試験範囲へ直接散布
40するのではなく、試験範囲の外側の高い位置へノズルの先端を付けて散布するとよい。
⑤適用時間や通電時間は指示書に従うが、一般には非蛍光100

磁粉の適用時間は５秒以上が必要であり、かつ検査液の流40れが止まるまで通電することはもちろんである。
図２ 機械部品試験体の概略⑥観察は検査液の適用中から始め、検査液の流れが停止し、通電を停止した後も続ける。きずを検出したら、きずの長さが最大になるように磁極を配置し、検査液を静かに適用し、再度探傷してきずの全長を求めスケッチする。
また探傷の際は、適用操作だけでなく、磁極回りの不感帯にも十分な注意が必要である。

試験条件に対する解答では1.の極間式磁化器による試験と同様に、この試験に使用される装置、器材の機能や調整の知識、技能についても問われる。探傷にあたっては、磁化方法は電流貫通法とコイル法が指定されており、探傷の順序も電流貫通法から先に実施するように、また試験面のこのような基本的な探傷技術を身に付けていれば、明瞭分割数や通電時間なども詳しく指示されている。

なきず磁粉模様を見落としなく検出することができる。検出された磁粉模様がきず磁粉模様か疑似模様であるかを判

次に探傷試験上の注意点について説明する。

断するには、再試験や表面状態の観察が不可欠である。打

①試験場では前処理された試験体が渡される。試験体を置

ちきず、すりきず、ひっかききず等は記録の対象とするき

くときに蛍光磁粉で汚れた装置の上には置かない方がよい。

ずではないので注意して欲しい。

この場合、洗浄水の入ったバケツの中などを利用するとよ検出されたきず磁粉模様は、探傷結果の解答用紙に赤鉛い。

筆で概略の大きさ、形状、分布状態が分かるようにスケッ②磁化は電流貫通法から実施する。電流貫通法では穴に入チし、そのきず磁粉模様の寸法（単独きずの場合は最大長るできるだけ太い電流貫通棒を選択すると適切な磁化がでさ、群きずの場合は溶接線方向の長さ）及び基準面からのきる。試験体に貫通棒を通して電極間にセットし、指示書位置を１mm単位で測定し記録する。の磁化条件に従って電流の種類（直流・交流）の選択、電このとき、基準面を明らかにするために、試験片番号を流値の調整を行う。このとき、装置の電流調整器を左方向解答用紙の図面上の正しい位置に記載すること。

へ回しきり電流が流れない状態にしてから、足踏みスイッ

もし、磁粉模様の記録に誤りがあった場合には、訂正した

チを踏み、電流が低い値から徐々に増加させて調整すると、い部分を青鉛筆でなぞって、正しいものを新たに赤で書き磁化電流値が指定された値を越えることがなく調整できる。

加える。

③探傷は両端面から始める。検査液は水平に保持した試験体の両端面に、上方から緩やかに流れ落ちるように連続法

2.定置式磁化装置による機械部品の磁粉探傷試験
この試験は図２に示すような機械部品の電流貫通法及びで適用する。観察は貫通棒を抜き取り、紫外線照射灯に近づけて両端面を観察する。きず磁粉模様を検出したら解答コイル法による磁粉探傷試験を想定している。極間法の場

用紙の対応する図面位置に記録する。

合と同様に、控室に掲示されたものと同じ指示書に従い、④その後水平に保持した外周面を一面ずつ探傷するとよい。

この指示書に忠実に、蛍光磁粉を用いた検査液（濃度0.2

まず紫外線照射灯を上面全体によく照射されるように距離g／㍑、分散媒：水）により外周面全面について磁粉探傷や角度を調整する。

試験を実施し、その試験条件と探傷結果を各々の解答用紙検査液を緩やかに適用した後、通電中にゆっくり前後に数に記録する。

回揺らす(図３参照)ように傾斜させてやると、きず磁粉模様が形成されやすくなる。

たなら、白色光下で試験面の表面状態を観察したり再試験を実施するなどしてよく確認し、疑似模様を記録しないようにしなければならない。また試験面を洗浄水でよく洗浄し清浄にしておくことも、疑似模様の判別には有効である。
図３ 検査液の適用方法

白色光で目視できる打ちきず、すりきず、ひっかききず等は記録の対象とならないので注意したい。以上の探傷作業

きず磁粉模様を検出したら解答用紙にスケッチし、基準の注意事項は磁粉探傷試験実技参考書等にも詳述されてい面からの位置、寸法等を記録し、次の試験面の探傷に移る。

るので参考にして欲しい。

次の面を探傷する場合、必ずブラシと洗浄水を用いて試験各試験面で検出されたきず磁粉模様はそのつど疑似模様面の洗浄を行うようにする。

でないかを確認し、きず磁粉模様であれば探傷結果の解答⑤次にコイル法を実施する場合には、常に反磁界の存在を用紙に赤鉛筆でその大きさ、形状、分布状態をできるだけ考慮に入れて探傷試験を実施しなければならない。またコ

忠実にスケッチし、基準面からの位置・きずの寸法を記録

イルを電極間にセットする場合には、できるだけ水平になする。記録方法やその訂正方法は1.の極間式磁化器によるるようにセットすると検査液の適用が均一になりやすい。

溶接部の磁粉探傷試験と同様である。同一のきずでも磁化磁化電流値の設定は必ず試験体をコイルに入れ、磁化する方法、磁化方向が異なると、きず磁粉模様の形状が変化す状態で設定する。継鉄棒を使用する場合は、継鉄棒と試験ることがあるので、そのつど書き加えること。

体が同一面になるように設置する。

試験結果は、主として探傷結果と試験条件の記録が重要⑥試験体上面に検査液を適用して電流貫通法の外面と同様な項目であるが、それ以外に、試験作業で指示された電流に、通電中にゆっくり前後に数回揺らすように傾斜させて値よりも過大な電流を通電したか否か、すなわち指示書にやると、きず磁粉模様が形成されやすくなる。この場合、忠実に探傷試験を実施したか否かについても採点される。

試験体を継鉄棒ごとコイルの内壁に沿わせて移動させると揺らしやすい。

なお、定置式磁化装置を用いた磁粉探傷試験については、きず磁粉模様を検出したらコイルから取り出し、解答用装置の取扱説明書が控室に掲示されているので事前によく紙の対応する図面位置にスケッチし、基準面からの位置、読んで確認をしておく必要がある。できることならば事前寸法等を記録し、次の試験面の探傷に移る。に実習などで装置の使用方法をよく理解し、探傷技術や手電流貫通法、コイル法のどちらの磁化方法でも連続法で検査液を適用し、指定された磁化電流値でかつ十分な通電順を十分に習得しておくことが望ましい。
なおME1またはMC1の試験ではMT1と同一形状の試験体を、時間を取り、静かな検査液の流れとなるように適用する必

電流貫通法のみまたはコイル法のみで探傷試験を実施して要がある。また、磁化中に指を使って排液操作をしておく解答する。試験の手順については前述の各方法の注意点をと観察や記録が容易になる。(図４参照)

参考にして欲しい。

試験時間が従来のMT1種よりも長くなり、新たに限定資格ではないレベル１であるMT1が設けられた。これらレベ
ル１の４資格のいずれの試験も、磁粉探傷試験の知識と技図４ 検査液の排液方法術を十分に学習していれば、与えられた指示書をよく理解でき、指示書の試験内容や設問には全て解答でき、かつ確

蛍光磁粉を使用した場合の観察は紫外線照射灯の照射状

実な探傷試験を実施して正確な解答を作成することができ態の適否が試験結果を大きく左右することがある。観察は、る。本解説の注意点を参考に、レベル１の二次試験を突破

紫外線照射灯を近付け、適切な照射角で試験面に適切な紫されんことを切に望むものである。

外線強度が得られるようにして、きず磁粉模様の見逃しがないようにしなければならない。また磁粉模様が検出されなお、本概要は平成15年春期時点のものであり、今後変更になることもあるので注意されたい。