２００６年春期資格試験結果
2006 年春期の資格試験の結果が発表された。新規試験結果（再試験を含む）の合格率はレベル１が 52.3%(2005 年秋期50.2%)，レベル２が 31.5%(同 31.0%)，レベル３が 16.2%(同 20.2%)であり，2005 年秋期試験と比較し，いずれのレベルもほぼ同様の合格率であった。通常移行試験結果の合格率は,レベル１が 67.5%(前期 57.0%)，レベル２が 67.9%(同 75.8%)，レベル３が 65.3%(同 76.2%)であった。 春期の資格試験は新規試験，再試験，再認証試験，通常移行試験を合わせ計 11,020名が申請した。これは 2005 年春期の受験者数 11,835 名（2005 年秋期 12,779 名）に比べやや減少となっている。
表の合格率は[合格者数／(申請者数―欠席者数)]で算出した値である。新規試験結果を表１に，レベル３の基礎試験結果を表２に，通常移行試験結果及び再認証試験結果を表３示す。

表１新規試験結果（再試験を含む）
レベル１
ＮＤＴ方法

略称

申請者
数

レベル３＊1

レベル２

合格者
数

合格率 %

申請者
数

合格者
数

合格率 %

申請者
数

合格者
数

合格率 %

放射線透過試験RT

31

1758.6

345

92

27.5

77

1828.5

超音波探傷試験

UT

398

249

59.8

1298

386

28.6

297

33

12.5

超音波厚さ測定

UM

173

107

56―

―

―

―

―

―
9.41

磁粉探傷試験

MT

76

32

37.6

840

178

19.3

1078

極間法磁粉探傷検査

MY782529.4962830.1―――

通電法磁粉探傷検査

ME12428.5

―

―

―

―

―

―

ｺｲﾙ法磁粉探傷検査

MC12220.0―

―

―

―

―

―

浸透探傷試験
溶剤除去性浸透探傷検査

PTPD

1349458.3

114648636.6

1322622.01819746.4361

184

46.7―

―

―

水洗性浸透探傷検査

PW

6228.5―

――

―

―

―

渦流探傷試験

ET

2713501929349.243720.0

ひずみ測定

SM合計

10981.8

522342.5

91

11.1

1,138

651

52.3

4,330

1,470

31.5

665

93

16.2

合格者数

合格率

13642.1%

表２ レベル３新規基礎試験結果
申請者数
ＮＤＴ方法
略称
基礎試験
表３―362

注＊1：各部門の申請者数は一次（新規, 再試験）と二次のみ（新規,再試験）の合計数＊2：再認証試験結果は（合格者数/申請者数）の人数で表示している。

通常移行試験結果及び再認証試験結果
再認証試験結果＊2

通常移行試験結果
ＮＤＴ方法

略称

レベル１（Ｌ１)申請者数

レベル２(Ｌ２)

合格
者数

合格率%

申請
者数

合格者数

合格率%

レベル３(Ｌ３)
申請者数

合格者数

合格率%

Ｌ１

Ｌ２

Ｌ３

合格/
申請

合格/
申請

合格/
申請

放射線透過試験

RT

12650.0

386

281

80.5

127

89

74.1

1/1

7/100/0

超音波探傷試験

UT

463

279

65.4

853

468

58.2

303

159

56.5

5/5

22/38

4/6

超音波厚さ測定

UM

83

51

67.1

―

―――――0/0――

磁粉探傷試験

MT

4

375.0

621

369

63.8

3925

65.7

0/0

10/110/0

極間法磁粉探傷検査

MY812635.1000―――

1/20/0―通電法磁粉探傷検査

ME14857.1――――――0/0――ｺｲﾙ法磁粉探傷検査

MC7685.7――――――0/4――

浸透探傷試験

PT

99100.01125

79174.3473890.4

0/018/291/1

溶剤除去性浸透探傷検査

PD

209

16485.4000―――2/30/0―

水洗性浸透探傷検査

PW

7457.1――――――0/0――

渦流探傷試験

ET

6250.0

232

132

61.1

2318

81.8

1/1

3/51/1

ひずみ測定

SM5360.0956271.2

1710

62.5

0/0

2/20/0

900

561

67.5

3,3122,103

67.9

556

339

65.3

10/16

62/95

6/8合計

レベル３資格通常移行状況

社会に認められるものとなると考えられる。
レベル 3 試験の合格率は必ずしも高いものではないが，2003 年春期より JIS Z 2305 による非破壊試験資格認証試験が開始された。それまで実施していた NDIS 0601 にこのように 4 回の機会の結果で見れば資格を継続している方が多い。

よる資格を有していた資格者は，通常移行試験を受験し

レ ベル3 資格への通常移行率（ 有効期限： 2 0 0 4 年3 月3 1 日）て JIS Z 2305 の資格に移行を行ってきた。
この度この移行状況について 2003 年から 2006 年まで

失効の 6 回の試験で，通常移行対象者がどの程度移行を行っているか，それぞれの移行試験のチャンス 4 回の受験状4回目合格
1回目合格

況について調査し，移行状況を調査した。
2003 年春期試験から 2005 年秋期試験までに 6 回の通3回目合格

常移行が実施されており、その間に 4 回の通常移行の受験機会を完了している有効期限の資格を対象とした。
（例：有効期限 2005 年 3 月 31 日の場合、①2004 年春期、②2004 年秋期、③2005 年春期、④2005 年秋期の 4回の受験機会を完了している。）
なお，当初から JIS Z 2305 資格を取得し，再認証試験の 4 回の受験機会を完了している資格は，存在しないた
め今回の調査対象からは外した。

2回目合格

図1

レベル 3 資格への通常移行率（有効期限：2004 年 3 月 31 日）
レベル3 資格への通常移行率（ 有効期限： 2 0 0 4 年9 月3 0 日）

また，4 回目の受験機会に受験申請をしてこなかった失効者についても再認証の意志なしと見なし通常移行率の対象から外した。

4回目合格
1回目合格

図 1 に 2004 年 3 月末有効期限の方の通常移行試験の3回目合格

結果を示している。図 1 は 1 回目の試験で約半数の方が合格し，移行している。引き続き 2 回目，3 回目と受験され徐々に割合は少なくなっているが，4 回目の試験で2回目合格合格され移行されているのが分かる。図 2 に 2004 年 9月末有効期限の方，図 3 に 2005 年 3 月末有効期限の方の図2

移行試験状況を示す。それぞれ多少の違いはあるが，4（有効期限：2004 年 9 月 30 日）
レ ベル3 資格への通常移行率（ 有効期限： 2 0 0 5 年3 月3 1 日）

回の通常移行で対象者の 90％超えの方が JIS Z 2305 資格

レベル 3 資格への通常移行率への移行を済ませていることが分かる。
失効

今回の調査で、4 回目の受験機会に受験申請をしてこ4回目合格

1回目合格

なかった資格者の年齢分布を調べたところ，50 歳以上が60％以上を占めていることが分かった。中には業務が変3回目合格更になった方，リタイヤで必ずしも資格が必要でなくなった方などがいることを考慮すれば，資格を必要とする資格者はほぼ 100%に近い方が移行を完了しているので2回目合格はないかと考えられる。
日常の業務を遂行しながら，資格試験を受験し，資格を継続してゆくのは並たいていの努力では補えないが，

図3

これらの試験を乗り越えて，その時期における技術を理（有効期限：2005 年 3 月 31 日）解することによって，この資格は更に有効な資格としてレベル 3 資格への通常移行率

ＳＭレベル２

一次専門試験問題のポイント

問2

抵抗体が銅・ニッケル合金で，ゲージ率Ｋが 2.00のひずみゲージを炭素鋼のひずみを測定する自己温度補現在実施されている JIS Z 2305 に基づいたひずみ測償ゲージとして使いたい。銅・ニッケル合金の線膨張係定（SM）レベル 2 技術者資格試験の一次試験は，ひずみ数 αｇは 15.5×10−６／℃，炭素鋼の線膨張係数 αｍは測定の基礎知識に関する一般試験と，主要な方法である11.0×10−６／℃である。また，抵抗体の抵抗温度係数を電気抵抗ひずみ測定法に関する専門試験で構成されていβｇ，測定器の設定ゲージ率Ｋｍとすると，温度が△Ｔ変る。非破壊検査誌 Vol.54,No.4 及び Vol.55, No.3 のＮＤ化したときの見掛けのひずみεＴ は次式で与えられる。

Ｔフラッシュ欄では，この一次試験の問題全般について

εＴ＝［｛βｇ＋Ｋ（αｍ―αｇ）｝△Ｔ］／Ｋｍの概要と簡単な解説並びに一般試験の問題例の解答に対

この場合の抵抗温度係数β ｇ の値を次のうちから一つ選する詳細な解説をした。引き続きここでは専門試験としび，記号で答えよ。て出題されている問題と同じ内容の問題例を取り上げ，(a) 4.5×10−６(b) 9.0×10−６

この解答に対する詳細な解説をする。

(c) 11.0×10−６(d) 15.5×10−６

正答 (b)
一次専門試験問題例と解説
温度変化のある環境下でひずみ測定をする場合はひず
問 1

下の図は単軸ひずみゲージの構造を示す模式図でみゲージの抵抗体も被測定物も温度変化により膨張あるある。この図の抵抗体についての記述で正しいものを一いは収縮をする。また，一般にひずみゲージの抵抗体とつ選び，記号で答えよ。

被測定物とでは線膨張係数が異なるので，これによる見掛けのひずみεＴが生じる。このεＴ は設問に与えられた式で表されるが，この式でβｇ＋Ｋ（αｍ―αｇ）＝０にすればεＴ＝０となり，温度変化による影響を消去することができる。このようにしたひずみゲージが自己温度補償ゲージである。したがって，本問題の自己温度補償ゲージの抵抗温度係数βｇは(a) ひずみゲージの抵抗体には抵抗温度係数の大きい材料が用いられている。

βｇ＝―2.00×（11.0−15.5）×10―６＝9.0×10−６となり，(b)が正答になる。

(b) ひずみゲージの抵抗体には比抵抗の小さい材料が用いられている。
(c) ひずみゲージの抵抗体の材料には経年変化の大きいものが用いられている。
(d) ひずみゲージの抵抗体にはひずみ感度の大きい材料が用いられている。
正答 (d)

問 3

搬送波型の動ひずみ測定器を用いたひずみ測定で容量分の平衡（Ｃバランス）がとれない。この場合の対策法として述べられているものを次のうちから一つ選び，記号で答えよ(a) 2 ゲージ法にして隣り合う辺に入れたゲージのリード線長さを等しくする。
(b) ひずみゲージのリード線に雑音を防ぐシールド線

電気抵抗ひずみ測定法は図に示したようなひずみゲー
ジ抵抗体の電気抵抗がこの伸縮により変化することを利用している。また，ひずみと電気抵抗変化は比例するとしており，このときの比例定数がゲージ率である。しかし，温度変化によってもこの抵抗は変化してしまう。この抵抗体の材料としては経年変化が小さく安定性がよいを使用する。
(c) 抵抗の値を小さくすることのできる太いリード線による配線をする。
(d) ひずみゲージの抵抗値のところにさらに並列に固定抵抗を挿入する。
正答(a)こと，比抵抗が大きく抵抗温度係数が小さいこと，ひずみ感度が大きいことなどの特性が要求される。したがって，ここでは(d)が正答になる。

搬送波型の動ひずみ測定器では抵抗の平衡（Ｒバランス）だけでなく，容量分の平衡（Ｃバランス）もとる必要がある。しかし，リード線が長いとき，あるいはリーか。次のうちから正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

ド線の種類により浮遊容量などで容量リアクタンスが無視できなくなり，このためにＣバランスがとれなくなることがある。これには 2 枚のひずみゲージをブリッジ回路の隣り合う辺に入れて 2 ゲージ法にし，各ゲージのリード線長さを等しくする対策がとられている。したがって，この問題では(a)が正答になる。
問 4

電気抵抗ひずみ測定法で構造物の振動特性を調べた。下の図はこのときのブラウン管オシロスコープで記(a) 1.3 倍(b) 2.0 倍(c) 2.6 倍(d) 4.0 倍

正答(d)

録した出力信号で，ＡとＢの間は 200ms（ミリ秒），波数10.3 であった。この構造物の振動数（周波数）を次のうちから一つ選び，記号で答えよ。

電気抵抗ひずみ測定法を応用した片持はり形の荷重計
では，一般に表面と裏面の同じ位置に 2 枚づつひずみゲージを接着し，これによる 4 アクチブゲージ法が適用されている。各ブリッジ回路構成法の出力電圧とひずみの関係は参考書「ひずみ測定Ⅱ」などで学んでおくことが重要であるが，4 アクチブゲージ法では，ゲージ率ＫのＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄのひずみゲージに生じるひずみをεＡ，εＢ，εＣ，εＤ，ブリッジ回路の電源電圧をＥとすると，出力電圧ｅは次の式で与えられる。

ｅ＝ＥＫ（εＡ−εＢ＋εＣ−εＤ）／4(a)19.4 Hz(b)

38.8 Hz

また，表面と裏面の同じ位置にひずみゲージが接着さ(c)51.5 Hz(d)64.6 Hz

れたはりが曲げを受けた場合には，表面と裏面では大き正答(c)さが同じで符号が異なるひずみが生じる。このため，表面に生じているひずみをεとすると，動ひずみ測定では，記録器で現象波形を記録して解析する方法がとられている。この問題例はブラウン管オシロスコープで記録された振動波形である。この波形の振幅は減衰しているが，周期は一定であり，この周期をＴとすると，Ｔ＝ 200 ms／10.3 ＝ 19.4 ms になる。したがって，振動数（周波数）ｆはｆ＝１／Ｔ＝１／19.4×10−３ ＝ 51.5 Hzになり，(c)が正答になる。
なお，ブラウン管オシロスコープは 100 MHz 程度まで

εＡ＝εＣ＝ε， εＢ＝εＤ＝−εになる。この関係を上の式に代入すると，

ｅ＝4ＥＫε／4＝ＥＫεになる。
一方，1 枚のひずみゲージによる 1 アクチブゲージ法の場合は，出力電圧ｅが次の式で与えられる。

ｅ＝ＥＫε／4
したがって，この荷重計の場合の出力電圧は 4 倍になり，(d)が正答になる。の振動や衝撃のような高速現象の記録に適用できるので，これについての出題も予想される。

すでに，非破壊検査誌 Vol.54，No.4 のＮＤＴフラッシュ欄でも SM レベル 2 一次専門試験問題のいくつかの問 5

次の図は上面にＡ，Ｃ，下面にＢ，Ｄのひずみゲ問題例とこの解答に対する解説をした。ここでは，専門ージを接着して４アクチブゲージ法にした片持はり形の問題としてこれ以外の問題例を取り上げ，解答に対する荷重計とブリッジ回路である。使用しているひずみゲー詳細な解説をした。これらの問題例は SM レベル 2 の技ジのゲージ率が同じであるとすると，この荷重計の出力術者にとって重要な知識に関するものであり，一次の専電圧は片持はり表面にひずみゲージを１枚だけ接着して門試験では同様な内容の問題が出題されているので，受１アクチブゲージ法にした場合の出力電圧の何倍になる験に当たっての参考にしてもらいたい。