ＮＤＴフラッシュ掲載記事一覧（平成 15 年 7 月～平成 21 年 12 月）
記事題名

掲載巻号

分類

分類

No.

紙面の都合上、記事題名を簡略化してあります。

No.

記事題名

掲載巻号
Vol.57No.07

1

ＲＴ１ 一次試験

Vol.54No.01

44ＰＴ（ＰＤ）２ 一般問題

2

ＲＴ１ 一般問題

Vol.55No.02

45

ＰＴ（ＰＤ）２ 専門問題

Vol.58No.07

3

ＲＴ１ 専門問題

Vol.55No.12

46

ＥＴ１ 一次試験

Vol.54No.07

4

ＲＴ１ 一般問題

Vol.58No.11

47

ＥＴ１ 一般問題

Vol.55No.10

5

ＲＴ２ 一次試験

Vol.53No.08

48

ＥＴ１ 専門問題

Vol.56No.06

6

ＲＴ２ 一般問題

Vol.54No.09

49

ＥＴ１ 一般問題

Vol.58No.09

7

ＲＴ２ 専門問題

Vol.55No.04

50

ＥＴ２ 一次試験

Vol.54No.02

8

ＲＴ２ 一般問題

Vol.57No.11

51

ＥＴ２ 一般問題

Vol.55No.029ＲＴ２ 専門問題

Vol.58No.06

52

ＥＴ２ 専門問題

Vol.55No.08

10

ＵＴ１ 一次試験

Vol.54No.02

53

ＥＴ２ 一般問題

Vol.57No.08

11

ＵＭ１ 一次試験

Vol.54No.03

54

ＥＴ２ 専門問題

Vol.58No.04

12

ＵＴ１ 一般問題

Vol.55No.04

55

ＳＭ１ 一次試験

Vol.54No.08

13

ＵＭ１ 一般問題

Vol.55No.05

56

ＳＭ１ 一般問題

Vol.55No.11

14

ＵＴ１ 専門問題

Vol.56No.01

57

ＳＭ１ 専門問題

Vol.56No.04

15

ＵＭ１ 専門問題

Vol.56No.02

58

ＳＭ１ 一般問題

Vol.58No.10

16

ＵＴ１ 一般問題

Vol.58No.04

59

ＳＭ１ 専門問題

Vol.58No.12

17

ＵＭ１ 一般問題

Vol.58No.05

60

ＳＭ２ 一次試験

Vol.54No.04

18

ＵＴ１ 専門問題

Vol.58No.07

61

ＳＭ２ 一般問題

Vol.55No.03

19

ＵＭ１ 専門問題

Vol.58No.08

62

ＳＭ２ 専門問題

Vol.55No.09

学科学科

20

ＵＴ２ 一次試験

Vol.53No.10

63

ＳＭ２ 一般問題

Vol.57No.10

21

ＵＴ２ 一般問題

Vol.54No.11

64

ＳＭ２ 専門問題

Vol.58No.05

22

ＵＴ２ 専門問題

Vol.55No.05

65

ＲＴ１ 二次試験の概要

Vol.53No.01

23

ＵＴ２ 一般問題

Vol.57No.05

66

ＲＴ１ 実技試験

Vol.56No.08

24

ＵＴ２ 専門問題

Vol.58No.01

67

ＲＴ１ 実技試験

Vol.57No.08

25

ＭＴ１(MC､ME)一次試験

Vol.54No.04

68

ＲＴ２ 実技試験

Vol.52No.08

26

ＭＴ１(MY､ME､MC)一次試験

Vol.54No.05

69

ＲＴ２ 実技試験

Vol.56No.02

27

ＭＴ１ 一般問題

Vol.55No.08

70

ＲＴ２ 実技試験

Vol.57No.04

28

ＭＴ１ 専門問題

Vol.56No.03

71

ＵＴ２ 実技試験

Vol.52No.07

29ＭＴ１(ME MC) 専門問題

Vol.56No.06

72

ＵＴ１,２ ﾃﾞｼﾞﾀﾙ探傷器持込みの要点

Vol.52No.1030

ＭＴ１ 一般問題

Vol.58No.06

73

ＵＴ１ 二次試験の概要

Vol.53No.02

31

ＭＴ１ 専門問題

Vol.58No.08

74

ＵＴ１ 実技試験

Vol.56No.10

32

ＭＴ２・ＭＹ２ 一次試験

Vol.53No.11

75

ＵＴ２ 実技試験

Vol.56No.04

33

ＭＴ２ 一般問題

Vol.54No.12

76

ＵＭ１ 実技試験の概要

Vol.53No.04

34

ＭＴ（ＭＹ）２ 専門問題

Vol.55No.06

77

ＵＭ１ 実技試験

Vol.56No.11

35

ＭＴ２ 一般問題

Vol.57No.06

78

ＭＴ１ 実技試験の概要

Vol.53No.03

36

ＭＴ２ 専門問題

Vol.58No.02

79

ＭＴ１(MY1)実技試験

Vol.56No.1237ＰＴ（ＰＤ）１ 一次試験

Vol.54No.06

80

ＭＴ２ 実技試験

Vol.52No.09

38ＰＴ（ＰＤ）１ 一般問題

Vol.55No.06

81ＭＴ(MY)２ 実技試験

Vol.56No.07

39ＰＴ（ＰＤ）１ 専門問題

Vol.56No.05

82ＰＴ１,２ 実技試験

Vol.52No.10

40ＰＴ（ＰＤ）１ 一般問題

Vol.58No.10

83

ＰＴ１,２ 実技試験

Vol.56No.08

41ＰＴ（ＰＤ）２ 一次試験

Vol.53No.12

84ＰＴ（ＰＤ）２ 実技試験の概要

Vol.58No.03

42

ＰＴ２ 一般問題

Vol.55No.01

85

ＥＴ 二次試験の概要

Vol.52No.12

43ＰＴ（ＰＤ）２ 専門問題

Vol.55No.07

86

ＥＴ１ 実技試験

Vol.56No.11

実技87

記事題名

掲載巻号

分類

分類

No.

紙面の都合上、記事題名を簡略化してあります。

No.

記事題名

掲載巻号

実技

Vol.56No.09

137

2004 年早期移行

Vol.54No.01

88

ＳＭ１ 二次試験の概要

Vol.53No.05

138

2004 年秋期

Vol.54No.03

89

ＳＭ１ 実技試験

Vol.57No.01139

2005 年春期

Vol.54No.09

90

ＳＭ２ 二次試験の概要

Vol.52No.11

140

2005 年早期移行

Vol.54No.1191

ＳＭ２ 実技試験

Vol.56No.10

1412005 年秋期

Vol.55No.0392

二次試験概要Vol.52No.12

142

2006 年春期

Vol.55No.09

93

基礎試験のﾎﾟｲﾝﾄ

Vol.53No.06

143

2006 年秋期

Vol.56No.03

94

一次基礎試験問題

Vol.55No.07

144

2007 年春期

Vol.56No.09

95

ＲＴ３ 二次(C1C2)

Vol.53No.07

145

2007 年秋期

Vol.57No.03

96

ＲＴ３ 二次手順書問題

Vol.54No.05

146

2008 年春期

Vol.57No.09

97

ＲＴ３ 二次 C1(基礎)Vol.57No.02

147

2008 年秋期

Vol.58No.03

試験結果

ＥＴ２ 実技試験

ＲＴ３ 二次 C2(適用)

Vol.58No.02

148

2009 年春期

Vol.58No.09

99ＵＴ３ 二次(C1C2)

Vol.53No.08

149

2004 年 7 月現在

Vol.53No.09

100

ＵＴ３ 二次手順書問題

Vol.54No.06

150

2005 年 1 月現在

Vol.54No.03

101

ＵＴ３ 二次 C1(基礎)Vol.57No.03

151

2005 年 4 月現在

Vol.54No.09

102

ＵＴ３ 二次 C2(適用)

Vol.57No.09

152

2005 年 10 月現在

Vol.55No.03

103

ＭＴ３ 二次(C1 C2)

Vol.53No.09

153

2006 年 4 月現在

Vol.55No.10

104

ＭＴ３ 二次手順書問題

Vol.54No.08

1542006 年 10 月現在

Vol.56No.03

105

ＭＴ３ 二次 C1(基礎)Vol.57No.04

1552007 年 4 月現在

Vol.56No.09

106

ＭＴ３ 二次 C2(適用)

Vol.57No.10

1562007 年 10 月現在

Vol.57No.03

107

ＭＴ３ 二次 C3(手順書)

Vol.58No.11

157

2008 年 4 月現在

Vol.57No.09

108

ＰＴ３ 二次(C1 C2)

Vol.53No.10

1582008 年 10 月現在

Vol.58No.03

109

ＰＴ３ 手順書問題

Vol.54No.10

159

2009 年 4 月現在

Vol.58No.09

110

ＰＴ３ 二次 C1(基礎)Vol.57No.05

160

ﾚﾍﾞﾙ 1 の認証試験概要

Vol.52No.08

111

ＰＴ３ 二次 C2(適用)

Vol.57No.11

112

ＥＴ３ 二次試験 (C1 C2)

Vol.53No.11

113

ＥＴ３ 二次試験(C3)Vol.54No.12

114

ＥＴ３ 二次 C1(基礎)Vol.57No.06

115

ＥＴ３ 二次 C2(適用)

116
117

有資格者数

レベル３98

試験案内概要ﾚﾍﾞﾙ 2 の認証試験概要

Vol.52No.09

ﾚﾍﾞﾙ 3 の基礎試験及び再認証試験の概要

Vol.52No.11163

早期移行試験の受験について

Vol.53No.02

164

非破壊試験技術者資格試験要領について

Vol.54No.10

Vol.57No.12165

ACCP 認証取得について(その 1)

Vol.52No.08

ＳＭ３ 二次試験 (C1 C2)

Vol.53No.12

166

総合管理技術者の認証審査実施要領について

Vol.53No.01

ＳＭ３ 二次手順書問題

Vol.55No.01

167

2005 年の早期移行に関する予定

Vol.54No.01

118

ＳＭ３ 二次 C1(基礎)Vol.57No.07

168

2004 年秋期資格試験申請者年齢構成

Vol.54No.07

119

ＳＭ３ 二次 C2(適用)

Vol.58No.01

169

2006 年の早期移行に関する予定

Vol.54No.11

126

2003 年春期

Vol.52No.07

170

ﾚﾍﾞﾙ 3 資格通常移行状況

Vol.55No.09

127

2003 年秋期

Vol.53No.01

171ﾚﾍﾞﾙ 2 資格通常移行状況

Vol.55No.10

1282004 年春期

Vol.53No.07

172

PED NDT 承認制度について

Vol.55No.11

129

2004 年秋期

Vol.54No.01

173各支部､地方研究会 NDT 講習実施状況

Vol.56No.01

1302005 年春期

Vol.54No.07

174

PD 認証の実施状況について

Vol.56No.05

その他

受験状況

161
162

試験結果

131

2005 年秋期

Vol.54No.11

175

ACCP 認証取得について

Vol.56No.05

132

2006 年秋期

Vol.55No.12

176

PED ｻﾌﾟﾘﾒﾝﾄ試験実施状況について

Vol.56No.07

133

2003 年春期

Vol.52No.09

177

受験申請書の書き方(不備の多い事項について)

Vol.56No.12

134

2003 年早期移行

Vol.52No.10

135
136

2003 年秋期
2004 年春期

Vol.53No.03
Vol.53No.09

178

一次試験における合格率の比較(新規試験と再試験の比較を含む)

Vol.57No.01

179

資格試験に関する JSNDI ﾎｰﾑﾍﾟｰｼﾞの利用について

Vol.57No.02

ＳＭレベル１

一次専門試験問題のポイント

正答（ｃ）
ひずみゲージの測定物表面への接着には各種の接着剤

ＳＭレベル１の新規一次専門試験では，電気抵抗ひずが使用されているが，室温の測定では短時間で接着するみ測定法に関する問題が 30 問出題される。非破壊検査

ことのできる瞬間接着剤，すなわちシアノアクリレート

誌 Vol.56，No.４（2007）では，主に数値計算を伴うよ系接着剤が広く使われている。したがって，（ｃ）が正答うな問題の例に対する解説がされている。そこで今回はである。しかし，この接着剤の使用限度が 100℃程度でまだ紹介されていない，とくに最新の参考書「ひずみ測あるので，これよりも高温度でのひずみ測定をする場合定Ⅰ」に準じて出題された試験問題と同様な形式及び内には使用できないことも知っておく必要がある。

容の問題例を取り上げ，解答に当たっての解説をする。
問４
問１

次のひずみゲージの構成部分で，電気的な絶縁材料を使う必要のあるものはどれか。正しいものを一つ選

次のひずみゲージ接着状態のチェックに関する記述で正しいものを一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）リード線などが断線している場合にゲージ抵抗値

び，記号で答えよ。

を測定すると，この値が零になっている。

（ａ）ゲージ受感部（ｂ）ゲージタブ（ｃ）ゲージリード（ｄ）ゲージベース（ｂ）ゲージの接着が良好な場合は，ゲージ表面を軽く押すと指示値が大きく変化する。
（ｃ）ゲージリードなどで短絡していると，ゲージ抵抗正答（ｄ）値が非常に大きくなる。

金属などの導電材料のひずみ測定では，測定物表面に（ｄ）ゲージの接着が良好な場合は，測定器に接続して接着されたひずみゲージのゲージベースが電気的に絶縁平衡をとったときの零点が安定している。

された材料でなければならない。したがって，（ｄ）が正答である。この部分には，絶縁性のプラスチックフィル正答（ｄ）ムが使われている。また，正確な測定をするには，接着ゲージの接着状態は，測定器に接続して平衡をとった部分の絶縁抵抗が 100ＭΩ以上なければならない。このときの零点が安定していることで良好であることが確認

ゲージベースの材料や接着後の絶縁抵抗値に関する問題でき，（ｄ）が正答になる。なお，リード線などが断線しも出題されているので，知っておいてもらいたい。ているとゲージ抵抗値は非常に大きくなり，ゲージの接着が良好の場合は表面を軽く押しても指示値はあまり変問２

一般に使われている金属はくひずみゲージのゲー化しない。また，ゲージリードなどの部分が短絡していジ率を次のうちから一つ選び，記号で答えよ。

ると，この抵抗は零に近い値になる。したがって，（ａ），（ａ）0.5 ～ 0.8（ｂ）1.8 ～ 2.2（ｂ），（ｃ）の記述はいずれも間違っている。

（ｃ）30 ～ 50（ｄ）100 ～ 150
問５

正答（ｂ）
電気抵抗ひずみ測定法では，ひずみがゲージ抵抗体の抵抗変化率に比例することを利用している。この場合の下の図はブリッジ電圧がＥで，Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４の抵抗により構成されたホイートストンブリッジ回路である。この回路でＲ１・Ｒ３＝Ｒ２・Ｒ４のときの出力電圧ｅを次のうちから一つ選び，記号で答えよ。

比例定数がゲージ率である。現在使用されている銅・ニッケルはくひずみゲージなどでは，ゲージ率が２前後の値になるように製作されており，（ｂ）が正答になる。
問３

瞬間接着剤と言われている接着剤を使ってひずみゲージの接着をした。ここで使用した接着剤を次のうちから一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）エポキシ系接着剤（ｂ）ニトロセルローズ系接着剤（ｃ）シアノアクリレート系接着剤（ａ）ｅ＝０（ｂ）ｅ＝Ｅ（ｄ）ポリエステル系接着剤（ｃ）ｅ＝２Ｅ（ｄ）ｅ＝４Ｅ

ミーゲージにして図のようなブリッジ回路を組むと，ひ

正答（ａ）
ひずみ測定器の抵抗変化を電圧変化に変換するのに用ずみと温度による変化の両方を受けるアクティブゲージ

いられている図のようなホイートストンブリッジ回路のＧ１の指示値から温度による変化が消去され，ひずみの抵抗が題意のようにＲ１・Ｒ３＝Ｒ２・Ｒ４のときは，このみを測定することができる。この結線はアクティブ・ダ回路が平衡状態になっている場合である。このような場ミー法と言われていて，（ｄ）が正答である。

合には，ブリッジ電圧Ｅに関係なく，出力電圧はｅ＝０になっている。したがって，（ａ）が正答である。なお，

問８

測定前にこの条件を満たすよう抵抗値を調整すれば，ひ測定することができるが，次のうちで静ひずみと動ひずずみが零の場合，すなわち初期平衡状態のブリッジ回路みの測定とでは異なる項目を一つ選び，記号で答えよ。にすることができる。

（ａ）出力の記録法（ｂ）ひずみゲージの種類（ｃ）ブリッジの結線法（ｄ）ゲージの接着法

問６

電気抵抗ひずみ測定法では静ひずみも動ひずみもリード線が温度変化を受ける環境で，１アクティブゲージ法によるひずみの測定をしたい。この場合に適したリード線を次のうちから一つ選び，記号で答えよ。

正答（ａ）
現在，電気抵抗ひずみ測定法による静ひずみ測定では（ａ）４線平行リード線（ｂ）３線平行リード線

デジタル静ひずみ測定器（データロガー）が使用されて（ｃ）２線平行リード線（ｄ）単線リード線いる。この場合のひずみの値は測定器に内臓されたプリンタで出力される。一方，動ひずみ測定の場合は出力が正答（ｂ）

時間とともに変化するので，この出力を記録する記録器

１アクティブゲージ法でリード線の抵抗が温度変化のが必要になる。このように，静ひずみと動ひずみの測定影響を受ける場合，この影響を除くには３線結線法が適では出力の記録方法が異なるので，（ａ）が正答になる。

用される。したがって，この場合には３線平行リード線

この他，使用するひずみゲージの種類，ブリッジの結線を使用することになるので，（ｂ）が正答になる。

法，ひずみゲージの接着法は静ひずみ測定，動ひずみ測定いずれの場合も同じである。

問７

同一材料にＧ１，Ｇ２のひずみゲージを接着し，同一温度環境下でＧ２は温度変化のみ受けるようにしてあ問９る。この２枚のひずみゲージで下図のようなホイートスわれるが，次のうちからサーマルドットレコーダに関す

動ひずみの測定では記録器あるいは記録装置が使トンブリッジ回路を組んだ。この場合の結線法を次のうる記述を一つ選び，記号で答えよ。

ちから一つ選び，記号で答えよ。

（ａ）ガルバノメータで記録紙に出力波形などを描かせる記録器である。
（ｂ）電子を蛍光面に当て出力波形を描かせ，写真撮影などで記録する方式である。
（ｃ）発熱素子を利用して，記録紙に出力波形などを描かせる記録器である。
（ｄ）計測データを磁気テープに記録し，電気的に再生処理をする装置である。
正答（ｃ）（ａ）４アクティブゲージ法

この問では各種の記録器について述べられているが，（ｂ）２アクティブゲージ法

ガルバノメータを用いている記録器はペンレコーダであ（ｃ）１アクティブゲージ法

る。蛍光面に電子を当てて波形を観察する装置はブラウ（ｄ）アクティブ・ダミー法

ン管オシロスコープである。発熱素子を利用して波形を描かせる記録器がサーマルドットレコーダである。デー

正答（ｄ）
同一材料に２枚のひずみゲージを接着し，このうちの１枚，この場合のＧ２が温度変化だけを受けるようなダタを磁気テープに記録して必要なデータを再生できるよ
うにした装置はデータレコーダである。したがって，ここでは（ｃ）が正答になる。