ＳＭレベル１

一次試験のポイント

部材のきずの検出あるいは構造部材の腐食や塗料の剥離の検査に直接適用することはできない。

ここでは，まず JIS Z 2305 に基づいて実施されている非破壊試験技術者資格試験のひずみ測定（ＳＭ）部門

問 2

国際（ＳＩ）単位系で Pa （パスカル）で表示さレベル１における一次試験の概要と出題範囲を紹介し，れる変数を次のうちから選び，記号で答えよ。

さらにこれまでに出題されたものと類似の問題例により（ａ）ひずみ （ｂ）荷重解答にあたってのポイントを解説する。

正答（ｃ）

（ｃ）応力

（ｄ）変形

ひずみ測定で使用されている変数の国際（ＳＩ）単位
１. ＳＭレベル１一次試験の概要と出題範囲系を知っておく必要がある。本単位系では，力又は荷重が N（ニュ−トン），応力が Pa（N／m2 ，パスカル）

ＳＭレベル１の一次試験は，一般試験と専門試験の問題で構成されている。問題数は各々 30 問，したがってで表示される。一方，ひずみは単位長さ当たりの変形量で表されるので無次元量になる。

合計 60 問である。問題は四者択一の形式で，試験時間また，国際単位系では一般に数値を 3 桁毎に区切り，は両方合わせて 120 分（２時間）になっている。合格のＧ (109：ギガ)，Ｍ (106：メガ)，ｋ (103：キロ)，ｍ(10-3：

基準は一般，専門各々 70％ 以上である。なお，従来のミリ)，μ (10-6：マイクロ) などの接頭語が用いられる

NDIS 0601 における１種試験は問題数が 30〜50 問，試ので，これを覚えておくことも重要である。

験時間が 60 分（１時間）であったのに対し，問題数も時間も違っているので注意をしてもらいたい。
一般試験の問題はひずみ測定の基礎的な知識に関する問3

長さ１m の丸棒が引張荷重を受けて 2 mm 伸びた。

このときのひずみを次のうちから選び，記号で答えよ。
2000×10-6

もので，ひずみ測定の目的，測定に必要な国際単位系，（ａ）

材料力学及び構造力学の初歩的な知識，電磁気学の基礎，（ｃ） 10000×10-6

試験結果の整理及び報告書の作成などについての問題で正答（ａ）ある。一方，専門試験の問題はひずみ測定に広く適用されている電気抵抗ひずみ測定法の実施に関するものが主（ｂ）

5000×10-6（ｄ） 20000×10-6

この場合のひずみεは伸び量（変形量）を△Ｌ，丸棒の長さをＬとすると，次の式で求められる。

ε＝△Ｌ／Ｌ

で，この方法の原理，ひずみゲ−ジの構造や特性，ひずみゲ−ジの接着，測定機器，測定実施の際の注意事項な

この式に各数値を代入すればひずみεは 0.002 になどに関するものである。なお，一般試験，専門試験双方るが，微小ひずみの場合は 10‑6（マイクロストレイン）とも参考書「ひずみ測定Ⅰ」に基づいて各問題が作成さの桁で表示される。この表示では 2000×10‑6 になる。

れているので，レベル１の受験者にとっては本参考書を十分勉強しておくことが重要である。

問 4

次の記述は材料の弾性係数について述べたものである。正しい記述を一つ選び，記号で答えよ。
２. 一般試験の類似問題（ａ）応力とひずみの積で換算される定数（ｂ）材料の破断までの関係を示す係数

問 1

ひずみ測定の主目的となる項目を次のうちから一（ｃ）材料の弾性限度の大きさを表す係数つ選び，記号で答えよ。

（ｄ）応力とひずみの比例関係の定数（ａ）橋げたの腐食部分の測定

正答（ｄ）（ｂ）構造物にかかる応力の監視

金属材料などでは，弾性限度以下における応力がひず（ｃ）防食塗料のはく離の検査みに比例する。この場合の比例定数が弾性係数になる。

（ｄ）構造部材の内部きずの検出
正答（ｂ）
ひずみ測定の主要目的は荷重を受けている構造物のひ

問 5次の部材のうちで，長手軸に直角な方向の荷重により曲げ変形を受けるものを一つ選び，記号で答えよ。

ずみを測定し，これから応力を求めて強度的信頼性や安（ａ）支柱全性を評価することである。また，ひずみ測定法を構造正答（ｃ）（ｂ）ワイヤ− （ｃ）はり（ｄ）車軸はりはここで述べられているような荷重により曲げ変形を受ける部材であるが，支柱は軸方向の荷重による圧（ｃ） 100 MΩ（ｄ） 100 GΩ

正答（ｃ）

縮変形を，ワイヤは引張荷重による伸びの変形を，車軸

電気抵抗ひずみ測定法でひずみを測定をするにあたり，は回転力によるねじれの変形を主に受ける部材である。

まず被測定物表面に接着されたひずみゲ−ジの接着状態，とくにこの接着層の絶縁が十分であるかを確認しなければならない。この絶縁抵抗値は 500 MΩ以上であること

３. 専門試験の類似問題が望ましいが，一般に 100 MΩ 以上あれば支障なく測
問 1

ひずみゲ−ジのような電気抵抗体に張力を加える定ができる。と電気抵抗が増加する。この理由として次のうちから正しいものを一つ選び，記号で答えよ。

問 4（ａ）比抵抗が小さくなるからチブゲ−ジ法によりブリッジ電源電圧 2Ｖで静ひずみ測（ｂ）長さが増加するから定をしたところ，500×10‑6 であった。このときの出力（ｃ）比抵抗が大きくなるから電圧を次のうちから一つ選び，記号で答えよ。

（ｄ）断面積が増加するから（ａ）0.5 mV（ｂ）0.8 mV

正答（ｂ）（ｃ）1.0 mV（ｄ）2.0 mV

ひずみゲ−ジのような電気抵抗体の抵抗は長さに比例

ゲ−ジ率 2.00 のひずみゲ−ジを使用し，１アク正答（ａ）

し断面積に反比例する。したがって，この抵抗体が張力

ひずみゲ−ジのゲ−ジ率をＫ，ブリッジ回路の電源電を受けて長さが増加し断面積が減少すると抵抗は増加す

圧をｅ0 とする。１アクチブゲ−ジ法でひずみがεのとる。また，圧縮を受けると長さが減少し断面積が増加す

き，ブリッジ回路の出力電圧 ｅ は下の式で与えられる。

るので抵抗は減少する。電気抵抗ひずみ測定法はこの現

14e = Κε e0象を利用したものである。

したがって，与えられている各値をこの式に代入すれ
問 2下の単軸ひずみゲ−ジの図で（ロ）で示された部

ば出力電圧が求められる。なお，１アクチブゲ−ジ法以分を何と呼ぶか。次のうちから正しいもの選び，記号で外の結線法の場合の同様な問題も出題されると思われる答えよ。

ので，参考書「ひずみ測定Ⅰ」に示されている各ゲ−ジ結線法の関係式を覚えておくことが大切である。
問 5

現場で 10 kHz 程度の周波数をもつ動ひずみの信号を記録し，再生して計算処理をしたい。この場合の最適な記録器を次のうちから一つ選び，記号で答えよ。
（ａ）ゲ−ジ長さ（ｂ）ゲ−ジ受感部（ａ）ペン書きオシログラフ（ｃ）ゲ−ジベ−ス（ｄ）ゲ−ジリ−ド（ｂ）サ−マルドットレコ−ダ

正答（ｄ）（ｃ）ブラウン管オシロスコ−プ

ひずみゲ−ジの構造各部分については参考書「ひずみ測定Ⅰ」に記載されている。この図の（イ）はゲ−ジベ−ス長さ，（ハ）はゲ−ジベ−ス幅，（ニ）はゲ−ジ受感部と呼ばれている。

（ｄ）デ−タレコ−ダ
正答（ｄ）
動ひずみ測定では時間的変化をする現象を記録器で記録するが，測定条件に適した記録器を選ばなければならない。この問の場合には測定周波数とデ−タ処理をする

問 3

ひずみゲ−ジの接着状態を確認するために絶縁抵必要からデ−タレコ−ダが最適である。なお，この他の抗をチェックした。一般に支障なくひずみ測定ができる記録器の性能についても出題される可能性があるので，絶縁抵抗は何Ω以上であるか。次のうちから一つ選び，詳細が示されている参考書「ひずみ測定Ⅰ」をよく学習記号で答えよ。

しておくことが望ましい。

（ａ） 100 kΩ（ｂ） 10 MΩ

ＭＴレベル３手順書問題のポイント

手順書作成の問題例（抜粋）
常時振動している回転機械に使用されていた高張力ボＭＴレベル３の二次試験は他の部門と同様に，一般試

ルト（直径 20mm，長さ 100mm，処理本数 20 本）の験（Ｃ 1 ），専門試験（Ｃ 2 ），及び手順書作成（Ｃ 3 ）

保守検査について，次に示すＮＤＴ仕様書に基づいて，の三つに分かれていて，これらそれぞれについて 70％以磁粉探傷試験ＮＤＴ手順書を作成せよ。
（ただし，反磁界上の得点取得により合格となる。Ｃ1 ，Ｃ2 試験のポイ

係数 N は L/D= 5 のとき 0.04 ，L/D=10 のとき 0.017

ントについては，これまでにこの紙面で解説を行った。とする｡)

ここでは，手順書作成のＣ3 問題について解説する。
この問題では各部門共，試験対象物を明示し，ＮＤＴ仕様を記載した仕様書が提示されている。この仕様書に基づいてＮＤＴ手順書を作成するものである。細部については各ＮＤＴ手法ごとに異なっている。
磁粉探傷試験におけるＮＤＴ手順書の作成は，試験対図１

象物及び準拠規格に基づいて行う。ＮＤＴ手順書の記載

高張力ボルトの磁化曲線

項目は受験者自身が決定し，その各項目に対して手順を記述する。試験対象物は，鋼構造物溶接部，圧延品，鋳高張力ボルトのＮＤＴ仕様書例

鍛造品，及び機械部品などのうちから一つが選ばれ出題

１．検査対象物の名称される。解答は各項目に対し規格，参考書，実務経験等

高張力ボルト（直径 20mm，長さ 100mm）から得た知識を参考にして，簡潔に要点を記載すること

２．検査対象物数が必要である。なお手順書に記載すべき事項・項目につ20 本

いては，「磁粉探傷試験Ⅲ」第３章に詳述され，また「磁３．準拠規格

粉探傷試験Ⅱ」巻末に例が示されているので参考にして頂きたい。以下にＮＤＴ手順書記載項目例，手順書作成の問題例及び解答例を示す。

JIS G 0565:1992
４．試験技術者
JIS Z 2305:2001 に規定する，MT レベル２又はMT レベル１（又は MC レベル１）技術者である

ＮＤＴ手順書記載項目例こと。
５．試験実施時期

１．適用範囲２．引用規格・準拠規格

運転開始○○○○時間後の分解点検時
６．探傷装置

３．試験技術者

使用装置は，対象とするきずの検出に対して適正

４．探傷装置な性能を有するものを使用すること。

５．試験の時期
６．試験範囲７．前処理
８．磁粉及び検査液
９．磁化条件（磁化方法及び探傷条件）

７．磁化方法
磁化方法は，対象とするきずの検出に対して適正な方法を選定すること。
８．合否判定基準円周方向の磁粉模様について

１０．検査液の適用(1)割れによる磁粉模様があってはならない。

１１．検査液の適用時期と通電時間(2)長さ 2mm 以上の線状磁粉模様があってはなら

１２．観察ない。

１３．記録
１４．判定基準

以下にＮＤＴ手順書問題の解答例を示す。

１５．後処理なお，一部の内容は省略し，特に注意しなければならない項目に解説を加えた。

手順書問題解答例(3)検査液濃度１．適用範囲注）以上は，対象とするきずの種類や大きさ，磁このＮＤＴ手順書は，○○株式会社○○事業所○○工場○○装置の○○部に使用する高張力ボルトの保守検査における磁粉探傷試験に適用する。

0.5 g／ℓ

化条件，検査物の使用状況等を考慮して決定する。
９．磁化条件(1)磁化方法
磁化方法はコイル法とする。

２．準拠規格JIS G 0565:1992 （鉄鋼材料の磁粉探傷試験）(2)探傷条件
残留法により磁粉を適用する。磁化の際は両３．試験技術者
磁粉探傷試験は JIS Z 2305:2001 に規定する，MT端に継鉄棒をつなぐ。磁化電流は直流 8000

レベル２技術者又は MT レベル１（又は MC レベ

AT，通電時間は 1/2 秒とする。
注）磁化電流の種類や大きさは，試験体の磁気特性

ル１）技術者により行うこと。

， JIS G 0565，各種の理論式・実験式・経験式，

４．探傷装置(1)一般事項

使用装置などから適切な条件を考慮し決定する。別装置は定期的に点検校正されたものを使用する。
(2)磁化装置

途，磁化電流値設定の計算の経過の記述を要求される場合もある。特にコイル法の場合には，反磁界の直流（単相半波整流）5000Ａ（波高値）以上
交流5000Ａ（波高値）以上

最大通電時間10 秒以上存在を考慮しておく必要がある。
10．検査液の適用
通電後，コイル内で継鉄棒をつないだままオイラ少なくとも一方の電極は自由に移動でき，かつ確実に試験体及び補助コイルを圧着できること。
補助コイル，継鉄棒等の器材を有すること。

ーにより適用する。
11．観察
暗室内の明るさは 20 lx 以下であること。試験面における紫外線強度は 800μW/㎝ 2 以上であること。

(3)紫外線照射灯
320〜400nm の近紫外線を照射し，装置のフィルタ面から 38cm の距離において800μW/㎝ 2 以上の紫外線強度を有すること(4)磁気検出器（ミリテスラメータ，ガウスメータ）0.1mT（1G）が測定できる感度を有すること。

バックグラウンドに磁粉が付着し，磁粉模様の観察が困難な場合はゆすぎ操作を行う。
12．記録
割れが検出された場合は，記録様式 MT-1-1 に従い記録する。

注）これらは検査対象物の探傷に際し，どのような13．判定基準

機能・性能を有する機器装置が必要かを考慮して記省略述することが大切である。

14．後処理省略

５．試験の時期○○装置保守検査，分解点検時に実施する。
６．試験範囲以上，ＭＴレベル３二次試験の手順書問題に関する必ネジ部及び首下部全面の円周方向のきずを対象

要最小限の要点について紹介したが，それぞれの項目にとする。特にナットとの嵌合部に注目すること。

対してポイントを簡潔に記述することが重要である。特７．前処理に磁化条件については，磁化方法及び探傷条件を明確な磁粉模様形成の妨げとなるような錆，スケール，根拠を以て設定して頂きたい。また各試験条件の項目に凹凸，塗料，及び油脂類を除去すると共に，脱磁ついては，確実な探傷作業に必要な条件，手順を考慮しを行う。また，ボルトの頭部側面に， 1〜20 の一て記述してほしい。このためには，参考書，実技参考書，連番号を刻印する。

各種規格等を熟読されることをお薦めする。

８．磁粉及び検査液

また，どの項目についても提示された仕様書に忠実に(1)磁粉

蛍光，湿式，粒子径 2〜5μm(2)分散媒白灯油

記述することが大切である。