NDT フラッシュ Vol.62
Vol.6 No.11 1/6
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非破壊試験技術者
非破壊試験技術者資格登録
資格登録件数（201資格登録件
2013 年 4 月 1 日現在）
日現在）
2013 年 4 月
月時点での資格登録資格登録件数を表表１にまとめたまとめた。JISJIS Z 2305 と赤外線サーモグラフィサーモグラフィ試験
試験(NDISNDIS 0604)に加えて新0604
新たに漏れ試験
試験が NDIS 0605 として立ち上上がり，レベル 1 で 47 件の登録登録があった。
。集計の結果，，資格登録件数
資格登録件数は，JIS Z 2305
資格と NDIS 資格の総数でで 88,501 件となったとなった。NDTNDT 方法別比率をを図１に示す。
。また，2003 年以降年以降の JIS 資格者と資格者 NDIS
資格者の資格登録
資格登録件数の推移
推移を図２に示示す。JIS
JIS Z 2305 資格登録件
件数には，新規試験
新規試験による資格者
資格者と NDIS 0601 資格からからの移行者の両方両方を含んでいるんでいる。資格登録者
資格登録者の内訳は，，従来と同様ににおおよそレベル
おおよそレベル 1 が 20%，，レベル 2 が 70%，レベル70%
3が 10%である
る。資格登録件
件数は，JISJIS Z 2305 の認証制度制度開始時点とと比較して現在現在は約 1.4 倍であるである。

JIS Z 2305

表１ 非破壊試験技術者資格登録件数
非破壊試験技術者資格登録

単位：件単位

ﾚﾍﾞﾙ22

ＮＤＴ
ＮＤＴ方法

略称

放射線透過試験

RT

460

6,166

1,994

8,620

超音波探傷試験

UT

6,402

15,705

3,163

25,270超音波厚
超音波厚さ測定UM

3,101――

3,101

磁粉探傷試験

MT

670

10,460極間法磁粉探傷検査

MY906

648ME133

通電法磁粉探傷検査

ﾚﾍﾞﾙﾚﾍﾞﾙ1ｺｲﾙ法磁粉探傷検査
法磁粉探傷検査MC80――浸透探傷試験PT

2,124

21,269

溶剤除去性浸透探傷検査

PD

2,790

3,788

水洗性浸透探傷検査

PW

60―

渦流探傷試験

ET

228

3,958

ひずみ測定
測定

SM

214

赤外線ｻｰﾓｸﾞﾗﾌｨｻｰﾓｸﾞﾗﾌｨ試験

TT

118

LT

47

NDIS
漏れ試験
試験

総計

17,333

1,318

ﾚﾍﾞﾙ3

604―
―
―
1,252――

計11,734
1,554
133
80
24,645
6,578
60

577

4,763

266

1,798

―
―

―
―

63,312

7,856

118
47
88,501―：該当資格
該当資格なし

図２

非破壊試験技術者登録件数推移

図１

ＮＤＴ方法別比率
方法別比率

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このコーナは非破壊試験技術者として第１線で活躍されている若手技術者をご紹介しています。
新日鐵住金㈱尼崎研究開発センターにお勤めの太田祥之さんをご紹介します。

現在の業務を教えてください。
製鐵所で使用する品質保証装置の開発です。その中でも，電磁気を応用した探傷技術を主体として，装置開発や実験，さらには現場での試験などを行っています。業
務に必要な知識は ET 資格試験取得を通して得ています
が，電気や磁場が目に見えないので理論通りに結果がでなかったり，また高校では金属材料の勉強がなかったので，いざ実務になると鉄でも色々な種類があり，ステンレス鋼でも磁性があったりなかったりと実験の度に毎度勉強をし直す日々です。
職場の先輩方からの指導はどうですか。
実のところ，自分が入社したときは，職場での基幹職の先輩とは 42 歳も年が離れていました。私の親より年配ですよ。今は退職されていますが，私自身が久しぶりのルーキーだったんです。そしてその人と一緒に仕事をすることになったのですが，やることなすことすべて見透かされていて，けがに繋がることは注意されますが，単なる失敗で済むことは，まず一旦自分でやってみて，駄目だということを認識させられて，それから手直しをさせられる，ということで実務面で教育されてました。
研究所なら NDI 資格の取得は不要ではないですか？
製品検査はしませんから，資格は必ずしも必要ではないのですが，資格取得を通して電磁気に関していろいろ勉強できたと思います。あと，現場では “研究所でレベル 3 をもっていない人は信用できない”という雰囲気を感じます。とくに社内の講習会に参加したときにも，現場の人からは「研究所の人は理論的なところは必ず押さえておいて欲しい。そのためにもレベル 3 をもっていて欲しい」と言われたことがあります。
お若いですが資格はいつ取られましたか？
ET はレベル 1 を入社１年目に，レベル 2 を 2 年目で取りました。ET2 の直後に MT2，続いて UT2 も取りました。ET レベル 3 は入社 4 年目の秋に合格したのですが，実務経験が丸 4 年間必要ということで，実際に資格を申請して証明書を頂いたのは入社 5 年目になります。
たぶんレベル 3 取得最年少記録ではないかと思っています。
資格取得の難易度はどうですか？
レベル 3 は一次試験での金属材料学が難しいです。それと 4 手法が必要で ET,UT,MT の他に PT を選択しましたが，これは全然やっていない。PT レベル 2 は受けたことがないのでかなり勉強しました。また専門試験

太田 祥之(23) 新日鐵住金㈱尼崎研究開発センター勤務。NDI 装置開発に従事。神戸市立科学技術高等学校卒。入社 6 年目。
保有資格 ET1~3, UT2,MT2も ET レベル 3 では，規格に加えて，難しい電磁気理論を覚えるのが大変でした。でも，社内の教育体制がとても整っており，受験資料もたくさんありましたし，また研究所の強みとして専門分野の講師もいるので，色々と質問できて助かりました。
ただ実技は何かと焦りました。MT 実技のコイル法では，先輩方の助言で周方向きずもあるはずと言われていましたが，実際の試験では指示が出ずに「落ちた！」と思いましたね。UT 実技では STB との感度補正をするのですが，練習と本番で感度補正量の差が 20dB くらいあって焦りました。ET の実技では試験途中でチャート用紙がつまって焦りました（笑）。
これから 2 年間，産業技術短期大学に留学するのですが，レベル 3 の一次試験の有効期間が 5 年間ありますので，在学中に UT3 を取ろうと思っています。その次はMT3 ですね。時間が許せば PT も実技を練習して，PT3を取得したいです。やはりレベル 3 は複数もっておきたいです。
これからレベル 3 を取る方へ一言お願いします。
レベル 3 を取得するというは，その分野のある意味エキスパートを目指す道だと思います。取得するだけでなく，そのあと自分の知識をどう活かすかが重要であると考えます。例えば環境や条件が変われば違う試験結果がでてくるので，知識を存分に活用して，なぜそのようになるかをよく考察してほしいと思います。
私はいま電磁気関係の探傷装置の開発を担当して，主に鋼管を対象としていますが，これからは厚板やその他の全社的な製品の開発におけるリーダシップをとれる人材を目指したいと思っています。
（インタビューア＆文責藤原 弘次）

本欄にて紹介したい技術者を募集しています（自薦・他薦を問わず）。詳しくは事務局(03-5821-5104)までお問い合わせください。

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ＰＴ・ＰＤレベル１

時間が長くかかる。

一般試験のポイント（ｂ）浸透液の温度が低くなると粘度が低くなる。
PT･PD レベル 1 の新規一次一般試験問題については，（ｃ）浸透液の粘度が低くなると，浸透液の密度（比重）

これまで何回か本欄で解説を行ってきた。
今回は，さらに基本的に理解してほしい問題及び説明は高くなるが，浸透時間は変わらない。
（ｄ）浸透液の粘度の変化は，浸透液の温度より浸透液の足りなかった例題について解説する。

問１

次の文は，試験準備・前処理について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。の種類の違いによる方が大きい。

正答

（ａ）

浸透液の粘度が高くなると，流動性が悪くなり，きず（ａ）試験面についた固形異物を除去する場合，固形異の中に浸透する時間は長くかかる。したがって，（ａ）は物の種類にかかわらず有機溶剤を使用した方が水正しい。浸透液の成分は有機溶剤が主成分であるため，を使用するより除去しやすい。

温度が低くなると粘度は高くなる。したがって，（ｂ）は（ｂ）試験準備や前処理として油脂類の除去に使用されるものは，一般に界面活性剤である。

誤っている。
浸透液の粘度が低くなっても，浸透液の密度（比重）（ｃ）試験面の塗装，さび等を除去する作業は，試験準はほとんど変化しないと考えてよく，また，浸透時間は備に含まれるので，専門部署に任せるべきである。

短くなる。したがって，（ｃ）も誤っている。浸透液の粘（ｄ） 製造検査及び保守検査における前処理では，同様度は浸透液の種類やメーカーにより異なるが，その程度な前処理方法を選択する必要がある。

は温度による変化の方がはるかに大きい。したがって，（ｄ）も誤っている。

正答

（ｃ）

泥や汚れ等の固形物の除去には，一般的にブラシ又はウエスを用いて水洗い又は界面活性剤を入れた水洗いで落とすことができる。強く付着しているものはグライン

問３

誤っているものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）スプレで適用するときは，試験面から 30cm 以上ダ等機械的に除去することが必要になる。固形物は一般に有機溶剤に溶解しない。したがって（ａ）は誤ってい離して塗布するとよい。
（ｂ）溶接部を試験する場合は，溶接金属部と熱影響部を含めた範囲に塗布する。

る。油脂類の除去には一般に有機溶剤が用いられている。
（ｂ）も誤っている。

（ｃ）浸透時間が長くなる場合は，浸透液が乾燥しない

前処理とは，有機溶剤等を用いて試験体及びきず中を清浄にし，浸透処理に適した状態にすることをいい，試次の文は，浸透処理について述べたものである。

ように注意が必要である。
（ｄ）浸透時間を適用するときの，試験体と浸透液の標準的な温度は 10～50℃の範囲である。

験準備とは指示書の準備，探傷器材の準備，試験環境の整備，及び試験体表面を前処理の適用が可能な状態にすることをいう。塗装・さびの除去は専門的知識を有する作業であり試験準備に含まれる。したがって，（ｃ）は正正答（ａ）

スプレ法で浸透液を適用するときは試験体の形状・大しい。ただ，どこまでが前処理でどこまでが試験準備できさに合わせて適切な距離を保たなければならない。近あるという明確な区切りはなく，試験準備として行われすぎると浸透液の跳ね返りが大きくなるし，また，遠くる作業を前処理として行う場合もある。

なると液が拡散して広がり余分なところまで塗布される。

製造検査・保守検査では試験体の表面状態も異なり，また，検出対象きずの種類も異なるため，当然前処理の方法も異なってくる。したがって，（ｄ）は誤っている。

そのため試験体に応じた適切な距離が必要となる。したがって，（ａ）は誤っている。
溶接部の試験範囲は溶接金属部と熱影響部を含めたものとなる。したがって（ｂ）は正しい。一般的には浸透問２

次の文は，浸透液の粘性について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）浸透液の粘度が高くなると，きずの中に浸透する液を塗布した場合，よほど浸透時間が長くならない限り乾燥することはないが，高温での探傷の場合には乾燥することも考えられる。したがって，（ｃ）も正しい。

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浸透探傷試験の JIS Z 2343-1:2001「浸透探傷試験－第式現像剤は，きず部にのみ現像剤が付着するので指示模一部」に，浸透探傷の試験温度は 10～50℃と規定されて様のにじみはほとんどないと考えてよい。したがっている。したがって，（ｄ）も正しい。

（ａ）は誤っており，（ｃ）は正しい。
浸透探傷試験において観察時間という定義は決められ

問４

水洗性浸透探傷試験の特徴として正しいものを一つ選び記号で答えよ。（PT のみ）（ａ）浸透液を塗布した後に乳化剤を適用して洗浄するする探傷方法である。
（ｂ）複雑な形状あるいは表面の粗い試験体に対して有効である。
（ｃ）浅くて幅の広いきずの検出に適している。
（ｄ）前処理で使用した水分が残っていてもそのままの状態で浸透処理できる。ておらず，前述したように速乾式及び湿式現像剤は時間が経過すると指示模様のにじみが考えられるので現像時間経過後すみやかに観察を終えるようにしなければならない。したがって，（ｂ）は誤っている。
現像剤粉末の原料は，一般に速乾式現像剤は酸化マグネシウム等の金属酸化物，湿式現像剤はベントナイト等が用いられている。したがって（ｄ）も誤っている。レベル 1 としては現像剤粉末の成分までは覚える必要はな
いが，現像剤の種類によって異なっていることは覚えておく必要がある。

正答

（ｂ）

浸透液を塗布した後に乳化剤を適用して洗浄する探傷
方法は後乳化性浸透探傷試験であり，（ａ）は誤っている。
水洗性浸透探傷試験は余剰浸透液を水で洗浄するため，

問６

次の文は，指示模様の評価について述べたものである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）製品検査において，線状のきず指示模様が検出さ複雑な形状あるいは表面の粗い試験体に対して有効にれた場合は，そのきずは割れと考えてよい。

洗浄できる。ただし，浅くて幅の広いきずの場合には過（ｂ）指示模様が，割れによるものかどうかを確認する洗浄になりやすいため，注意が必要である。したがって，には，その部分の現像剤を取り除き明るいところ（ｂ）は正しく，（ｃ）は誤っている。

で拡大鏡で観察するのがよい。

水洗性浸透液に水が混入するとゲル化を起こし，浸透（ｃ）何回再試験を行っても，きずかどうかの判断がつ液の粘度が高くなり，浸透能力が低下するので試験体表かないときは，浸透探傷試験がその試験体の試験面及びきず内部は十分に乾燥しなければならない。したに適していないことがあるので，他の試験方法での試験を検討する。

がって，（ｄ）も誤っている。

（ｄ）割れによる指示模様が必ず線状に現れるとは限ら
問５

次の文は，現像剤の性質について述べたものであないので指示模様を観察する場合は十分に注意する。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

る必要がある。

（ａ）すべての現像剤は，時間が経過すると指示模様がにじんでくる。
（ｂ） すべての現像剤は，現像時間が経過した後の観察時間を決めておかなければならない。
（ｃ）現像剤の種類によっては，きず指示模様の経時変化の程度が異なる。

正答

（ａ）

きず指示模様は，試験体表面のきずのおおよその形状を現しているだけであり，きずの種類や内部形状等を推定することはできない。したがって（ａ）は誤っており，（ｄ）は正しい。きずの種類を確認するためには現像剤（ｄ）現像剤に使われる粉体は全て同じ原料で作られてを取り除き，表面状態を拡大鏡等で確認する必要がある。

おり，水又は有機溶剤に分散して使用するか，粉したがって，（ｂ）は正しい。浸透探傷試験のみならず他体のままで使用するかにより名称が異なる。の試験方法においてもきずの判断ができない場合がある。
その場合には他の試験方法の適用を検討することが必要

正答

（ｃ）

である。したがって，（ｃ）も正しい。

現像剤には速乾式，湿式，乾式の三種類がある。このうち速乾式と湿式は試験体表面に現像塗膜が形成されるため，時間が経過すると指示模様がにじんでくるが，乾本解説及び前回までの解説を参考にして，参考書，実技参考書，問題集等の内容をよく学習してほしい。

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ＥＴレベル１

一般・専門試験のポイント（ａ）試験周波数の増加に伴い，渦電流が減少し，渦電流による反発磁界は小さくなる。

JIS Z 2305:2001 非破壊試験‐技術者の資格及び認証‐（ｂ）試験周波数の増加に伴い，反磁界の作用を受けるに基づく ET レベル 1 の新規一次試験は『渦流探傷試験Ⅰ』の記述範囲内から出題されるものとしているが，試試験コイルの磁界は増加する。
（ｃ）試験コイルの磁界は渦電流の反磁界により減少す験の結果を見てみると受験者の理解不足や誤解によると思われる正答率の低い問題が見受けられる。本稿では，る。
（ｄ）導体にきずがあると渦電流が増加するため，試験コイルの磁界が増加する。

最近行われた試験のうち正答率の低かった問題を，類似した例題によりポイントを解説する。

正答

（ｃ）

試験コイルに流している電流は一定であることから，
問 1次の文は，コイルのインダクタンスについて述べコイルから発生する磁力線の強さは試験周波数に依存せたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

ず一定である。導体内に誘起される渦電流の量は，試験（ａ）周波数により変化しない。

周波数が高くなるほど多くなる。渦電流により発生する（ｂ）周波数により変化する。

反磁界（コイルから発生した磁界と逆向き）の強さは渦（ｃ）コイルの巻数により変化しない。

電流の増加に伴い増加する。したがって，（ａ）は不正解（ｄ）コイルの直径と幅により変化しない。

である。コイル内の磁界の強さは，コイルから発生した正答

磁力線による磁界と渦電流による反磁界との合成磁界で（ａ）渦電流試験機器のセンサーとなるコイルの性能を表すあり，（ｂ）は不正解である。導体にきずが存在すると見一つの指標がインダクタンス L であり，単位はヘンリー

掛けの電気抵抗が増加し，渦電流が減少し，（ｄ）は不正（H）である。インダクタンスは抵抗 R やコンデンサ C解である。したがって，正答は（ｃ）となる。

と共に電気回路要素の性質を表す量の一つで，電圧と電流変化率との比であり，式(1)で示される。

問 3

次の文は，貫通コイルを用いて渦電流探傷する場

L = Nφ/ I （H）・・・・・・・・(1)合の，試験体の材質と適正な試験周波数の関係を示し

式(1)において，I は電流(A) ，N はコイルの巻き数，φたものである。ただし，試験体の形状と寸法は同一とは発生する磁束(Wb)である。インダクタンスはコイルのする。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

巻き数に比例するため，（ｃ）は不正解である。インダク（ａ）タングステンよりもアルミニウムの試験周波数は高く設定する。

タンスは形状で決まる定数であり，（ｄ）は不正解である。
また，インダクタンスは周波数に依存しないため，（ｂ）（ｂ）アルミニウムよりも銅の試験周波数は高く設定する。

は不正解である。したがって，正答は（ａ）となる。

（ｃ）銅よりもタングステンの試験周波数は低く設定す問2

図 1 は渦電流探傷試験の原理を示したものである。

次の文は，試験コイルに一定電流の交流を流した場合る。
（ｄ）アルミニウムよりもタングステンの試験周波数はのコイルと渦電流による磁界について述べたものである。ただし，導体は非磁性体とする。正しいものを一高く設定する。
正答（ｄ）

この問題を解くにあたって，渦電流の表皮深さ δ を参つ選び記号で答えよ。
コイル
交流磁力線

考とし，表皮深さを一定にすることを考えればよい。式(2)は渦電流の表皮深さを示したものである。

発信器

=ଵඥగ௙ఓఙ

 ・・・・・・(2)

3 つの試験体は全て非磁性であり透磁率 µ は一定であ
渦電流による磁力線る。渦電流の表皮深さを一定とするためには，試験体のきず導体
渦電流

図１ 渦電流探傷試験の原理

導電率 σ と試験周波数 f は反比例する。導電率と抵抗率
ρ は逆数関係にあり，3 つの金属のうちタングステンがNDT フラッシュ Vol.62 No.11 6/6

最も抵抗率が高いので，正答は（ｄ）となる。

ル 1 の資格取得を目指す人は理解しておく必要がある。

なお，代表的な金属の抵抗率は，『渦流探傷試験Ⅰ』のp.20 や p.105 に記載されており，資格取得を目指す人は理解しておく必要がある。この問題は貫通コイルについて示されているが，内挿コイルや上置コイルについても同様の考え方でよい。

問6

次は，外径φ160mm の鋼管を渦電流探傷試験するときに用いられる試験コイルについて示したものである。
正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）相互誘導形標準比較方式（ｂ）相互誘導形自己比較方式

問 4

次の文は，渦電流探傷器の同期検波器について述（ｃ）自己誘導形標準比較方式

べたものである。誤っているものを一つ選び記号で答（ｄ）自己誘導形自己比較方式えよ。

正答（ｂ）（ａ）きずに対応した振幅変化を取り出す働きをする。

渦電流試験機器に用いられる試験コイルの分類として（ｂ）探傷器の構成回路上では，増幅器回路の後に位置は，構造から分類する方法（自己比較方式／標準比較方する。

式）や電磁気的に分類する方法（自己誘導形／相互誘導（ｃ）信号の振幅に基づく信号処理を行う。
（ｄ）二つの同期検波回路により信号のベクトル表示が正答形）などがある。
このうち，自己比較方式のコイルとは，2 つのコイル可能になる。

を接近させて配置して一体化しておき，ブリッジ回路や（ｃ）差動増幅器などを用いてその信号の差を求めて信号とす

この問題を解くにあたって，『渦流探傷試験Ⅰ』の p.45るものであり，探傷を目的としている。標準比較方式のに記載されている図 4.2 の渦電流探傷器のブロック図をコイルは，2 つのコイルを別々に設置し，コイル 1 には理解する必要がある。試験コイルを含むブリッジからの標準となる試験片をセットしておき，コイル 2 で試験体信号は微弱なため，信号処理できるレベルまで増幅するを挿入し，標準の試験片と試験体を比較する形で試験が必要があり，（ｂ）は正しい。増幅された信号は，試験周行われるので，材質判別を目的としており，（ａ）と（ｃ）波数のいわば搬送波の成分を含んでいるので，同期検波は不正解である。また，自己誘導形は，1 つのコイルに器により搬送波を除去してきず信号に対応した振幅変化巻線を 1 つしか持たず，1 つの巻線で渦電流を誘導するを取り出すので，（ａ）は正しい。図 4.2 に示されているための励磁と，渦電流の変化を検出することを行う。構ベクトル出力型の渦電流探傷器は同期検波器を 2 回路持造が比較的に簡単である。これに対し，相互誘導形は磁っており，それぞれが，インピーダンス平面上の横軸(X)束を発生させるための励磁コイルの巻線と，起電力としと縦軸(Y)に対応した成分を抽出する働きがを有しておて信号を取り出す検出コイルの巻線の 2 つを持っている。

り，（ｄ）は正しい。したがって，正答は（ｃ）となる。

外径 φ160mm の大きな径の鋼管の渦電流探傷のような特定の目的を持つ場合は，設計の自由度が高い相互誘導

問 5

導電率を表す単位はどれか。次の中から正しいも形が用いられる。したがって，正答は（ｂ）となる。のを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）[Ω・m]（ｂ）[S／m]（ｃ）[A／m]（ｄ）[Ω]

正答（ｂ）

以上，最近行われた試験のうち正答率の低かった問題を類似した例題によりポイントを解説した。他に，最近の出題傾向として，試験周波数，渦電流の表皮深さ，試（ａ）の [Ω・m] は抵抗率の単位であり不正解である。

験 体 の 導 電 率 を 計 算 で 求 め る 内 容 も 見 ら れ ， Vol.60（ｃ）の [A／m] は磁界の単位であり不正解である。
（ｄ）

No12(2011)「ET レベル 1 一次一般試験問題のポイント」の [Ω] は抵抗の単位であり不正解である。導電率 σ は電を参考にして欲しい。ET レベル 1 の資格取得を目指す人

気の流れやすさを表し抵抗率 ρ の逆数であり，単位はは，参考書を何回も読み返し記載内容を正しく理解する[S／m]である。したがって，正答は（ｂ）となる。

ことを奨める。

その他，渦電流探傷試験に用いられる単位には，電圧[V] ，電流[A] ，周波数[Hz] ，角周波数[rad／s] ，透磁率[H／m] ，渦電流の表皮深さ[m]などがあり，ET レベ