NDT フラッシュ Vol.65,No.11

ＰＴレベル 1

1/4

一般・専門試験のポイント（ｂ）乾式現像剤を浸漬法で適用するときは，試験体を現像剤の中に現像時間のあいだ，浸漬する。

これまでに PT レベル 1 の一般試験，専門試験については何回か本欄で解説してきた。今回は，最近の問題の（ｃ）速乾式現像剤は，浸漬法で適用してもよい。
（ｄ）速乾式現像剤は，はけを使った塗布方法を適用し中から正答率の良くないものに類似した問題について解てはならない。

説する。
正答
問１

次の文のうち，正しいものを一つ選び記号で答えよ。

（ｂ）

現像剤には，乾式，速乾式，湿式の 3 種類がある。これらの現像ごとに現像時間の考え方の異なることを理解（ａ）浸透探傷試験は，コンクリートや木材等にも広く適用することができる。
（ｂ）浸透探傷試験は，強磁性体にも適用することがでしておく必要がある。
（ａ）湿式現像剤に，試験体を現像剤の中に現像時間のあいだ，浸漬すると，きずの浸透液が現像剤中に出ることがある。

きる。
（ｃ）浸透探傷試験は，試験体が多孔質でさえなければどんな材料にも適用できる。
（ｄ）浸透探傷試験は，表面に開口しているきずなら，正答

問４

次は，浸透時間に影響を与えるものを挙げたものである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）予測されるきずの種類と大きさすべて検出することができる。

（ｂ）試験体の材質（ｂ）（ｃ）試験体の大きさ

浸透探傷試験の基本事項についての問である。
（ｄ）は，表面開口きずを対象とすることは正しいが，どのようなものでも検出できるわけではない。よって，正しくない。

（ｄ）試験体の温度
正答（ｃ）

浸透時間に大きな影響を与えるものは，（ａ）及び（ｄ）であり，少し影響を与えるものとして（ｂ）試験体の材

問２

次の文は，再試験について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

質がある。
（ｄ）試験体の大きさは，浸透液の適用に要する時間に影響を与えるが，浸透時間には影響しない。

（ａ）再試験とは，きず指示模様の判定を再度やり直すことである。
（ｂ）再試験は，試験面全面とは限らず部分的に行ってもよい。
（ｃ）再試験は，指示模様の判断が困難な場合に行うもので，再試験が必要な箇所の現像剤をとり除き再度現像処理を行う。

問５

ルタイプの洗浄液で前処理する場合の注意事項について述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）試験体表面に付着している無機質の汚れを落とすために洗浄剤を使用する。

（ｄ）再試験は，浸透時間が規定の時間より若干長くなり過ぎた場合に行う。
正答

次の文は，ほこり及び油脂類の付着した溶接部を溶剤除去性染色浸透探傷試験で検査する際，エアゾー（ｂ）試験体表面に洗浄液を吹き付けた後，直ちに布又（ｂ）はペーパータオルで拭き取る。

再試験は，指示模様の判断が困難な場合又は処理条件（ｃ）試験面に一回だけ洗浄液を吹き付けて終わらせる。

が適切でない場合などに実施する必要がある。
（ａ）の判（ｄ）汚れが十分に溶解するまで，しばらくの間，そのまま放置しておく。

定を再度実施するものではない。また，（ｃ）の再度現像だけを行うものでもない。
正答
問３

次の文は，現像処理について述べたものである。

正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）湿式現像剤を浸漬法で適用するときは，試験体を現像剤の中に現像時間のあいだ，浸漬する。

（ｄ）（ａ）の油脂以外の無機質の汚れは，ブラシでの除去又は水洗浄などを行う。洗浄液を適用する場合には汚れの原因の油脂の種類にもよるが，（ｂ），（ｃ）ではなく，（ｄ）のように溶解する時間を待つ必要がある。

NDT フラッシュ Vol.65,No.11

問６2/4

次のうち，乾式現像剤の適用法で使用されていない方法はどれか。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

を遮断する働きがある。
（ｄ）ブラックライトは，管球とフィルタで構成されている。

（ａ）浸漬法（ｂ）振り掛け法（ｃ）スプレ法（ｄ）エア・フライング法正答（ｃ）

紫外線は可視光より波長が短いため照度計で測定ができない。また，紫外線強度計は，可視光の有無に関係

正答

（ｃ）

乾式現像剤は，非常に軽い微粉末である。この適用方なく紫外線を検知できる。よって，（ａ），（ｂ）は誤りである。ブラックライトには，管球とフィルタだけでな法については，（ａ）の浸漬法，（ｂ）の振り掛け法，（ｄ）

く，高圧を発生させる電源部も必要である。のエア・フライング法がある。エア・フライング法は，（注）これまで紫外線強度と呼称してきたが，今後は飛散防止のできる密室で空気とともに吹かせる方法であJIS Z 2323 に基づき紫外線放射照度と改められるので，る。基本的には（ｃ）のスプレ法の変形ともいえるが，注意が必要である。

乾式現像法においてスプレ法は使用しない。
問９
問７

次の文は，後乳化性浸透探傷試験の特徴について述べたものである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。

浸透探傷試験の乳化処理について述べたものである。
正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）試験体を静かに乳化剤に浸漬した後，直ちに引き上げ，乳化時間まで放置する。

（ａ）表面の粗い試験体に適した試験法である。
（ｂ）複雑な形状の試験体の探傷に適さない試験法であ（ｂ）試験体を静かに乳化剤に浸漬した後，試験体を軽くゆする。

る。
（ｃ）きず内部の浸透液を除去する危険性が他の試験法（ｃ）試験体を静かに乳化剤に浸漬し，乳化時間が経過した後，直ちに引き上げる。に比べ少ない。
（ｄ）微細きずの検出能力が他の方法より優れている。

次の文は水ベース乳化剤を使用した後乳化性蛍光（ｄ）溶接部などは，乳化剤は，はけで必要な部分だけ塗布する。

正答

（ａ）

後乳化性浸透探傷試験の特徴は，浸透液の表面に乳化正答（ｂ）剤を適用する方法で，（ｃ）及び（ｄ）の効果が期待でき水ベース乳化剤を使用した後乳化性蛍光浸透探傷試験る。言い換えると，あらかじめ乳化剤が浸透液に加えらの特徴は，油ベース乳化剤と異なり，乳化剤を希釈する

れた水洗性浸透液は，先乳化ということができ，洗浄性こと及び（ｂ）の乳化剤に浸漬した後，試験体を軽くゆはよいが，きずの浸透液も除去されやすいといえる。

することにより乳化の進行を管理できるため，乳化時間

しかし，後乳化性浸透探傷試験では，浸透液の表面に均の厳密な管理が要求されないことである。（ａ），（ｃ），

等に乳化を進行させる必要があり，表面の粗い試験体に（ｄ）は，不適切な適用である。

は適していない。
以上これまで出題されてきた問題の傾向を基に PT レ
問８

次の文は，ブラックライトについて述べたものである。正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）紫外線強度は，紫外線強度計又は照度計で測定することができる。
（ｂ）紫外線強度を測定する場合は，室内を暗くして測定しなければならない。
（ｃ）ブラックライトに使われるフィルタの役目は，人体に悪影響を及ぼす波長の短い紫外線と可視光線

ベル 1 に関する一般・専門試験の問題を解説してきた。
どの問題も，決して難しい問題ではないが，実際に試験に出題された類似の問題を見てみると正答率は高くないようである。本解説及び前回までの解説を参考にして，『浸透探傷試験Ⅰ』，『実技参考書』，『問題集』等の内容をよく学習してほしい。

NDT フラッシュ Vol.65,No.11

ＥＴレベル１

3/4

一般・専門試験のポイント合は, フィルタの設定値を変更する必要がある。したがって, 正答は（ｄ）である。

JIS Z 2305:2013「非破壊試験技術者の資格及び認証」

コイル間隔 gに基づく ET レベル 1 の新規一次試験は『渦電流探傷試

きずコイル験Ⅰ』の記述範囲内から出題される。試験結果を見ると,探傷速度 V

試験体

正答率の低い問題は，受験者の理解不足や誤解によると思われる。本稿では，最近出題された問題のうち,正答率の低かった問題を類似した例題によりポイントを解説す

時間 tる。

きず信号の周波数成分：

検出信号

fx ＝ 1/2T ＝ V/2gT = g/V

問１

線径φ0.1mm で長さが 2ｍのコイル巻線の銅線の直流抵抗が 6 Ω であった。線径が φ0.2 mm で長さはそ

図 1 コイルの間隔と検出信号の関係のままのとき抵抗はいくらとなるか。次の中から正しいものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）0.75 Ω（ｂ）1.5 Ω（ｃ）2 Ω

問３（ｄ）6 Ω

次は, 対比試験片の使用目的について述べたものである。誤っているものを一つ選び記号で答えよ。
（ａ）探傷器の性能測定

正答

（ｂ）

導体の抵抗 R は，R = ρ×(L/S) の式で示される。
ρ:抵抗率(Ωm)であって，物質固有の値を有している。ま（ｂ）探傷装置の探傷条件設定（ｃ）探傷装置の総合性能の確認（ｄ）探傷作業が一定時間経過した後の性能の点検

た，L:長さ(m)，S:断面積(m2)であり，抵抗は導体の断面積に反比例し，長さに比例する。この問題は, 長さが等しいが, 線径が 2 倍となり断面積は 4 倍となる。

正答

（ａ）

渦電流探傷試験に用いる対比試験片の使用について,抵抗は 1/4 となり 1.5Ωとなる。したがって, 正答は（ｂ）次の 4 項目があり JIS 規格にも規定されている。例えば,である。

鋼管に関する規格 JIS G 0583:2012 及び JIS Z 2316:2014
を例に示すと, 次の通りである。

問２

次の文は, 渦電流探傷試験においてフィルタの設定値を変更する必要がある場合について述べたものでⅰ）探傷作業開始前の探傷条件の設定。
ⅱ）探傷作業が一定時間経過した後, 及び作業終了時のある。正しいものを一つ選び記号で答えよ。

性能の点検。

（ａ）試験周波数を変更したとき。

ⅲ）合否判定基準の設定。

（ｂ）感度を変更したとき。

ⅳ）総合性能の確認（定期点検, 特性点検）（ｃ）位相を変更したとき。

したがって, （ｂ）～（ｄ）は正しい。

（ｄ）探傷速度を変更したとき。

探傷器の性能測定は, 対比試験片を用いるのではなく,校正された計測器を用いて行われる。したがって, 正答正答（ｄ）は（ａ）である。

渦電流探傷試験においてフィルタの設定値を変えるということは, きず信号の周波数成分が変わったというこ

問４

次の文は, 鋼管を貫通プローブによって渦電流探とである。きず信号の周波数成分は, 試験周波数, 感度傷試験をする場合について述べたものである。正しい及び位相を変えても変わらない。したがって, （ａ）～ものを一つ選び記号で答えよ。

（ｃ）は不正解である。
図 1 は, 差動方式の貫通プローブ内をきずが通過した（ａ）試験体の搬送振動により生じる雑音を, リフトオ
フ雑音という。

場合の, コイルの間隔 g と検出信号の関係を示したもの（ｂ）試験体の磁気特性の不均一によって発生する磁気である。コイルの間隔は一定であり, きず信号の周波数ノイズを防ぐため, 探傷前に脱磁を行う。

成分 fx は探傷速度 V に比例する。探傷速度を変更した場（ｃ）試験体の搬送振動によるインピーダンス変化と,NDT フラッシュ Vol.65,No.11 44/4/4

きずによるインピーダンスきずによるインピーダンス変化変化
変化ににに位相位相位相差差ががが少少少ない
ない

なす
なす角度
角度 θ にに現現れる現れるれる。
。この。この角度
この角度が角度が大大きいほどきず
大きいほどきず
きいほどきず検検出
検出力
力

ときはときは,, 弁別弁別することができるすることができるすることができる。
。

（SN（SN 比比））ががが高高いことをいことを 示いことを示示している
している。
している。

（ｄ）
（ｄ）試験体試験体
試験体ののの端
端では
では端末効果では端末効果
端末効果がが起起起きるのできるのできるので,, その範囲
その範囲
では
では探傷
探傷
探傷できないできないできない。
。この範囲
この範囲を範囲を端末不感帯を端末不感帯という端末不感帯という。という 。

『渦『渦電電流探傷試験
電流探傷試験Ⅰ
流探傷試験 Ⅰ』』p.
』p.26
26 ににもも示も示されるようにされるように , アルミ
されるように,ニウム合金及ニウム合金及合金及びび合金鋼ではび合金鋼
合金鋼では 100～
100 ～500
500
500ｋｋHzHz がが用用いられて用いられており, 導電率の導電率 の低低いチタニウム
いチタニウム合金やステンレス鋼やステンレス 鋼ははおり,
いチタニウム合金合金やステンレス正答～6 Ｍ
Hz が用いられている
用いられている
したがって, 正答は正答 は（ｄ）
11～ＭHzが用いられている。
。したがってがって,（ｄ）（ｄ（ｄ））

リフトオフ
雑音は雑音 は,, 上置プローブを上置 プローブを用いたとき
リフトオフ雑音
プローブを用用いたときいたとき,, 検査である。
である。

部位と検出コイルの距離の変化の変化伴発生する雑音
する雑音
雑音であ
であ
部位とと検出検出コイルのコイルの距離距離の変化にに伴伴いい発生発生するる。
る
貫通プローブを用 いたときに用いたときにの搬送振動に。貫通貫通プローブをプローブを用いたときに,, 試験体試験体のの搬送振動搬送振動に

問６
問６

上置プローブ
上置プローブによる探傷試験による探傷試験に探傷試験 にはインピーダンスプローブによるより生じる
雑音
はガタ 雑音といわれはガタ雑音
雑音 といわれは不正解
不正解
でより生生じる
じる雑音
雑音はガタといわれ,, （ａ）（ａ）は不正解で平面表示型の機器の機器が用いられ , 表示画面のいられ,表示画面 の垂直垂直軸と水平面表示型の機器がが用いられ垂直軸軸と水ある。
試験体の磁気特性の不均一の不均一によって発生する発生するする磁気磁気ある。
。試験体
試験体のの磁気特性磁気特性の不均一によってによって発生平軸の感度比を変感度比をえて使用することがある。次の使用平軸軸の感度比を変えてえて使用使用することがあるすることがある。
。次のの使用

ノイズを防ぐためには , 試験体をぐためには,試験体 を磁気飽和磁気飽和しながらしながら探傷探傷ノイズを防防ぐためには磁気飽和しながら目的のうちから目的のうちから誤のうちから 誤っているものっているものを 一つを一つ選びつ選
記号で答えっているものを選び記号記号でで答えする必要がありは不正解不正解である 。
である。
する必要必要がありがあり,, （ｂ）（ｂ）は不正解であるよ。
よ。

試験体の搬送振動によるインピーダンス変化
変化 と,, きず変化と試験体のの搬送振動
搬送振動によるインピーダンスによるインピーダンス（ａ）きず（ａ）
きず 信号ときず信号
信号 とリフトオフ
信号との信号 との位相差との 位相差がさくとリフトオフ
リフトオフ信号
位相差がが小小さく
さく,,によるインピーダンス変化
変化 の位相変化の位相がなるように
試験周によるインピーダンス位相がが異異なるようになるように試験周

きず信号
きず信号の信号の識別性悪場合に場合に用いるいるの識別性
識別性がが悪悪いい場合に用いる。
。

波数を設定を用用
いる
ことにより信号をを弁別弁別
波数をを設定設定しし,, 同期検波同期検波を用いる
いることによりことにより信号
信号を（ｂ）磁性金属（ｂ）
磁性金属 の探傷
磁性金属ののように , 透磁率変動による走査による走査の探傷のように探傷のように,透磁率変動によるすることができる。
位相差 が少
位相差が少ない
ときは弁別すること弁別することすることができる。
。位相差少ない
ないときはときは弁別

ノイズ（水平方向（水平方向への輝点の 動きの動き）がき）
大きいノイズ（水平方向へのへの輝点輝点の）が大大きい場合
きい場合ができないので（ｃ）は不正解である 。したがってである。
したがってしたがって,, 正ができないないのでので,, （ｃ）はは不正解不正解であるに用いる。
用いるいる。に用（ｃ）複雑（ｃ）
複雑 な表面形状
複雑な表面形状 を持持つ部品の部品 の探傷
探傷 や,探傷やが粗いな表面形状を持 つ部品
や , 表面
表面がが 粗い

答は答（ｄ）である。
は（ｄ）（ｄ）であるである。

鋳造品 や鍛造品
や 鍛造品の鍛造品 の探傷
探傷のように,のように , リフトオフ変動
リフトオフ 変動
探傷のように

問５
問
５はプローブを用てチタニウム合金
チタニウム合金合金の渦次
次はは,, 上置
上置プローブをプローブを用用い
いててチタニウムの渦や端末効果による端末効果 による走査ノイズ
ノイ ズ((水平方向水平方向 への輝点
水平方向へのや端末効果による走査
走査ノイへの輝点

電流探傷試験
における試験周波数について述べたもの
べたもの
電流探傷試験におけるにおける試験周波数試験周波数についてについて述である。
しいものを一 つ選
一つ選
記号
でえよ。
えよ。
である。
。正
正しいものをしいものを一選び
び記号記号でで答答えよ（ａ） 10～10～100～100 Hz（ｂ）～
10 kHz11～～10（ｃ）
100～（ｃ）100100～500～500 kHz（ｄ）～6 MHz11～～6の動 き)動き)がが大きいきい場合用いる。の動が大きい場合に場合に用用いるいる。
（ｄ）
きず検出力（検出力 （SNSN 比）改善す
改善す
る場合用
場合用
いる。
（ｄ）きずｄ）きず検出力比））をを改善する
場合用いる
いる。

正答

（ｄ）

上置プローブによる上置プローブによる渦電流探傷
プローブによる渦電流探傷
器 で,器で, 表示画面の垂直渦電流探傷器
表示画面のの垂直
正答

ｄ（（ｄｄ））

軸と水平軸 の感度比水平軸の感度比を変えることによるることによる効果
は,
電軸と水平軸感度比をを変ええることによる効果
効果はは, 『渦『渦電流探傷試験Ⅰ流探傷試験』 p.65
』p.
65 に示
されている 。一般的されている。には, リフⅠ』に示されている
一般的にはには,トオフによる信号が信号 が水平軸水平軸となるように水平軸となるように設定となるように設定
し,信トオフによる信号設定しし, きず
きず信
号の最大値 の垂直軸成分最大値の垂直軸成分を評価対象評価対象としている。としている 。
号の最大値垂直軸成分をを評価対象としている
磁性金属の磁性金属の探傷
探傷のように,のように , 透磁率変動に透磁率変動 による走査
よる 走査ノイの探傷のように走査ノイズが大きい
きい 場合や場合 や,な表面形状
表面形状 を持
持 つ部品の持つ部品 の探傷
探傷のズ が大大きい場合
や , 複雑複雑なな表面形状を探傷のように,, リフトオフように変動
や端末効果
端末効果 による 走査ノ
走査 ノイ
イズがリフトオフ変動
変動やや端末効果によるイ ズが大きい場合 に,, 水平軸の水平軸 の感度
感度を下げることにより
, きず
大きい場合
きい場合に感度をを下げることによりげることにより,信号の識別性が向上が向上
する。また
信号とリフトオフ信号のの識別性識別性が向上するする。
。また,また, きず信号とリフトオフa) 100 kHzkHzb) 1 ＭHz
ＭHz

図 2 試験周波数の選定
試験周波数のの選定

信号との位相差 が小位相差がさい場合にも,にも , 水平軸 の感度を下げ
信号とのとの位相差が 小さ
さ い場合
場合にもの感度感度をを 下げることにより信号識別性が向上するが向上
向上する
ることにより,, きず
きず信号信号のの識別性識別性がする。
。

表示画面の表示画面の感度比を変えることは , 見掛 けえることは,上のきず
信の感度比
感度比をを 変えることは
け上
上のきず
のきず信

上置プローブを用いた
渦電流探傷試験
試験周波数は上置プローブをプローブを用用いた
いた渦電流探傷試験
渦電流探傷試験のの試験周波数
試験周波数はは,,号の識別性 は向上
識別性は向上するが向上するが（SNSN 比）を改善
す
号の識別性するが,, きず検出力検出力（比））を改善
改善す

試験対象の材質
厚さにより設定される
図2は上置
プ
試験対象のの材質
材質やや厚厚さによりさにより設定設定されるされる。
。図は上置
上置プ

ることはできないことはできない 。したがって
したがって , 正答は（ｄ）したがって,は（ｄ）である（ｄ）である。
ることはできない。
である。

ローブ
組込
まれているコイルの試験周波数の試験周波数の違違いに
いに
ローブにに組組みみ込
込まれているコイル
まれているコイルのの試験周波数の違よる変化を 示したものであるを示したものである。
よるインピーダンス
インピーダンス
インピーダンス変化変化をしたものである。
きず信号
はリフトオフ曲線と導電率が減少する曲線がきず信号
信号はリフトオフ
はリフトオフ曲線
曲線とと導電率導電率がが減少減少するする曲線
曲線が

ET レベル 1 の資格取得を目指
目指す人
人
は，
，本稿に限
らず
この資格取得
資格取得を目指す人は本稿にに限ららずこ
れまでの解説
記事も記事 も一読一読することを 奨めます
することを奨。
れまでの解説
解説記事一読することをめます。